(57)【要約】      （修正有）【課題】飛行体の構成要素部品のような大きな試験体の圧縮試験に適した装置を提供する。【解決手段】装置３０は、ベースアセンブリ６０に取り付けられ、複数の窓部分４４を有する支持アセンブリ３２を有する。前記装置３０は、前記支持アセンブリ３２内に設置され、破砕可能であり、前記支持アセンブリ３２及び前記ベースアセンブリ６０を、圧縮試験中に生成された破壊荷重から保護するように構成されたコアアセンブリを有する。前記ベースアセンブリ６０、前記支持アセンブリ３２、及び前記コアアセンブリは全体で、切欠き部分を有する試験片の圧縮試験のための装置３０を形成する。前記装置３０は、光学歪み測定システムを使用するために構成される。前記試験片が前記支持アセンブリ３２に設置されると、前記試験片及び前記切欠き部分は、前記複数の窓部分４４を通して、前記光学歪み測定システムから見ることができる。【選択図】図２Ａ
2015021970.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
圧縮試験のための装置（３０）であって、前記装置（３０）は、
ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた端部荷重要素（７４）を有するベースアセンブリ（６０）であって、硬質であるベースアセンブリ（６０）、
前記ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた支持アセンブリ（３２）であって、複数の窓部分（４４）を有する支持アセンブリ（３２）、及び  
前記支持アセンブリ（３２）内に設置されたコアアセンブリ（４６）であって、破砕可能であり、前記支持アセンブリ（３２）及び前記ベースアセンブリ（６０）を、圧縮試験中に生成された破壊荷重（５３）から保護するように構成されたコアアセンブリ（４６）
を備え、
前記ベースアセンブリ（６０）、前記支持アセンブリ（３２）、及び前記コアアセンブリ（４６）は全体で、切欠き部分（８２）を有する試験片（８０）の圧縮試験のための装置（３０）を備え、前記装置（３０）は、光学歪み測定システム（１２０）との使用のために構成され、前記試験片（８０）が前記支持アセンブリ（３２）に設置されると、前記試験片（８０）及び前記切欠き部分（８２）は、前記複数の窓部分（４４）を通して、前記光学歪み測定システム（１２０）から見ることができる、装置（３０）。
【請求項２】
前記支持アセンブリ（３２）は、第２の支持格子（３４ｂ）への取付けのために構成された第１の支持格子（３４ａ）を備え、前記コアアセンブリ（４６）及び前記試験片（８０）は、前記第１の支持格子（３４ａ）と前記第２の支持格子（３４ｂ）との間に設置される、請求項１に記載の装置（３０）。
【請求項３】
前記第１の支持格子（３４ａ）及び前記第２の支持格子（３４ｂ）は各々、フレーム部分（３６）、複数の垂直部材（４０）、及び複数の水平部材（４２）を備え、前記複数の垂直部材（４０）及び前記複数の水平部材（４２）は、前記複数の窓部分（４４）を形成する、請求項２に記載の装置（３０）。 
【請求項４】
前記コアアセンブリ（４６）は、複数の垂直コア要素（４８）を備え、各垂直コア要素（４８）は、ハニカムサンドイッチコアアセンブリ（４７）を備える、請求項１に記載の装置（３０）。 
【請求項５】
前記コアアセンブリ（４６）は、前記試験片（８０）が前記支持アセンブリ（３２）に設置されると、前記試験片（８０）の前記切欠き部分（８２）の場所に対応する破砕帯（５０）を有する、請求項１に記載の装置（３０）。 
【請求項６】
第１のグリップ固定具（５６ａ）及び第２のグリップ固定具（５６ｂ）をさらに備え、前記第１のグリップ固定具（５６ａ）は、前記ベースアセンブリ（６０）に結合され、前記試験片（８０）が前記支持アセンブリ（３２）に設置されると、前記試験片（８０）の第１の端部（８５ａ）を保持するように構成され、かつ前記第２のグリップ固定具（５６ｂ）は、前記試験片（８０）の第２の端部（８５ｂ）に取り付けられ、前記試験片（８０）の前記第２の端部（８５ｂ）にわたって圧力荷重（５９）を加えるように構成される、請求項１に記載の装置（３０）。 
【請求項７】
前記端部荷重要素（７４）は、取り外し可能であり、交換可能であり、かつ前記ベースアセンブリ（６０）を圧縮試験中に保護するように構成される端部荷重摩耗ストリップ（７４ａ）を備える、請求項１に記載の装置（３０）。 
【請求項８】
圧縮試験のためのシステム（１００）をさらに備え、前記システム（１００）は、装置（３０）を備え、前記装置（３０）は、
前記試験片（８０）を含む前記装置（３０）が前記試験機（１０２）に設置されると、一又は複数の圧縮荷重（１０９）を前記試験片（８０）に加えるように構成された試験機（１０２）、
前記試験機（１０２）に結合され、前記試験機（１０２）の動作を制御するように構成された試験機コントローラ（１１０）、及び
前記光学歪み測定システム（１２０）に結合されたデータ取得システム（１３０）
を備え、
前記装置（３０）、前記試験機（１０２）、前記試験機コントローラ（１１０）、前記光学歪み測定システム（１２０）、及び前記データ取得システム（１３０）は全体で、前記試験片（８０）の圧縮試験のための一つのシステム（１００）を備える、請求項１に記載の装置（３０）。 
【請求項９】
前記試験機（１０２）に設置された前記装置（３０）に結合された一又は複数の荷重レベリングデバイス（９２）をさらに備える、請求項８に記載のシステム（１００）。 
【請求項１０】
前記支持アセンブリ（３２）は、第２の支持格子（３４ｂ）への取付けのために構成された第１の支持格子（３４ａ）を備え、前記第１の支持格子（３４ａ）及び前記第２の支持格子（３４ｂ）は各々、フレーム部分（３６）、複数の垂直部材（４０）、及び複数の水平部材（４２）を備え、前記複数の垂直部材（４０）及び前記複数の水平部材（４２）は、前記複数の窓部分（４４）を形成する、請求項８に記載のシステム（１００）。 
【請求項１１】
前記コアアセンブリ（４６）は、前記試験片（８０）が、前記装置（３０）の前記支持アセンブリ（３２）に設置されると、前記試験片（８０）の切欠き部分（８２）の場所（８４）に対応する破砕帯（５０）を有する、請求項８に記載のシステム（１００）。 
【請求項１２】
圧縮試験のための方法（１６０）であって、前記方法（１６０）は、
試験片（８０）の圧縮試験のための装置（３０）を形成するステップであって、前記装置（３０）は、
ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた端部荷重要素（７４）を有するベースアセンブリ（６０）であって、硬質であるベースアセンブリ（６０）、
前記ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた支持アセンブリ（３２）であって、複数の窓部分（４４）を有する支持アセンブリ（３２）、及び
前記支持アセンブリ（３２）内に設置されたコアアセンブリ（４６）であって、破砕可能であり、前記支持アセンブリ（３２）及び前記ベースアセンブリ（６０）を、圧縮試験中に生成された破壊荷重（５３）から保護するように構成されたコアアセンブリ（４６）
を備える、形成するステップ、
切欠き部分（８２）を前記試験片（８０）に形成するステップ、
前記試験片（８０）を前記支持アセンブリ（３２）内であって、前記コアアセンブリ（４６）に隣接して設置するステップ、 
前記装置（３０）を圧縮試験のための試験機（１０２）に設置するステップ、
前記試験片（８０）及び前記切欠き部分（８２）が、前記複数の窓部分（４４）を通して、光学歪み測定システム（１２０）から見ることができるように、前記光学歪み測定システム（１２０）を前記装置（３０）に対して位置付けるステップ、
一又は複数の圧縮荷重（１０９）を前記試験片（８０）に加えるステップ、並びに
前記試験片（８０）の歪みデータ（１２７）を前記光学歪み測定システム（１２０）で測定するステップ
を含む方法（１６０）。 
【請求項１３】
前記歪みデータを測定するステップの後に、前記歪みデータ（１２７）をデータ取得システム（１３０）で処理するステップをさらに含む、請求項１２に記載の方法（１６０）。 
【請求項１４】
前記歪みデータ（１２７）を処理するステップの後に、損傷した場合に前記端部荷重要素（７４）を交換し、前記コアアセンブリ（４６）の任意の損傷部分を交換するステップをさらに含む、請求項１３に記載の方法（１６０）。 
【請求項１５】
前記装置（３０）を前記試験機（１０２）に設置するステップは、一又は複数の荷重レベリングデバイス（９２）を前記装置（３０）に結合することを含む、請求項１２に記載の方法（１６０）。
【請求項１６】
前記歪みデータを測定するステップは、光学測定値（１２６）を前記試験片（８０）の複数の場所（１５２）で取り込み走査するために、二以上の光学デバイス（１２２）を使用することを含む、請求項１２に記載の方法（１６０）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の開示は、概して、試験片の圧縮試験のための装置アセンブリ、システム及び方法に関し、より具体的には、飛行体の構成要素部品のパネルのような、大きな切欠き圧縮試験パネルの圧縮試験のための装置アセンブリ、システム及び方法に関する。 
【背景技術】
【０００２】
構成要素部品、又は構成要素部品の試験片の機械的試験は、航空機、回転翼航空機、宇宙船、及び他の飛行体のような飛行体の製造で、しばしば実行される。機械的試験は、強度、硬さ及び延性などの材料特性データ、並びに、圧縮、張力、荷重及び温度などの様々な条件下で試験された材料についての他のデータを提供する。同様に、機械的試験は、その意図された用途のための材料の適合性に関連する情報を提供する。このような情報は、期待どおりに機能する構成要素部品の設計に役立つ。 
【０００３】
飛行体の構成要素部品の機械的試験は、圧縮試験を含むことがある。圧縮試験は、複合材料又は金属材料などの材料の性質を、圧縮荷重条件下で判定する。圧縮試験は、試験パネル又は「クーポン」と呼ばれる積層体の平坦な一片などの試験片を、試験用固定具の二つの支持板の間に装着することにより、行うことができる。 
【０００４】
試験装置は、通常は、例えば、万能試験機などの試験機に設置される。試験機は、圧縮力又は荷重を試験片に適用することができ、試験片を、破壊又は破損するまで長手方向に圧縮することができる。試験機は、試験片を破壊又は破損するために必要な力を記録することができる。試験片材料の圧縮強度は、試験片材料の変形に対して加えられた力又は荷重をプロットすることにより、測定することができる。本明細書で使用されるように、「圧縮強度」とは、試験片材料が破壊又は破損前に耐えることができる最大圧縮荷重又は応力を意味する。 
【０００５】
飛行体の構成要素部品の圧縮試験のための試験装置、装置アセンブリ、及び方法が存在する。例えば、図１は、既存の大きな切欠き圧縮（ｌａｒｇｅ  ｎｏｔｃｈ  ｃｏｍｐｒｅｓｓｉｏｎ：ＬＮＣ）試験装置１０ａの形態のような、圧縮試験用の既存の試験用固定具１０の正面斜視図である。図１で示されるように、既存の試験用固定具１０は、試験片パネル２８を挟む第１の支持板１２ａ及び第２の支持板１２ｂを有する。試験片パネル２８は、大きな切欠き圧縮（ＬＮＣ）パネルの形態とすることができる。 
【０００６】
図１でさらに示されるように、既存の試験用固定具１０の第１の支持板１２ａ及び第２の支持板１２ｂは、試験片パネル２８を完全に覆い、試験片パネル２８のいかなる視界をも遮る。したがって、このような既存の試験用固定具１０の使用は、試験片パネル２８の歪み測定に関する情報を光学的に得るために使用することができる既存の光学歪み測定システムでの使用を妨げる。 
【０００７】
既存の光学歪み測定システムを使用する代わりに、既存の試験用固定具１０は、試験片パネル２８の歪みを測定するために、複数の歪みゲージ１４（図１を参照）の使用を必要とする。図１で示されるように、各歪みゲージ１４は、第１の支持板１２ａを横切って横方向に位置付けることができ、各歪みゲージ１４は、既存の試験用固定具１０のフレーム部分１８に載置されたヒンジ取付け要素１６に結合することができる。 
【０００８】
しかし、そのような歪みゲージ１４（図１を参照）の使用は、膨大な設置時間及び労力を伴い、その結果、フロー時間が増大することもある。さらに、そのような歪みゲージ１４（図１を参照）の使用は、試験に先立って、歪みゲージ機への接続のみならず、正確な位置合わせ及び較正作業を必要とすることもある。これにより、同様に、試験時間及び試験費用が増大することもある。既存の試験用固定具１０（図１を参照）の歪みゲージ１４（図１を参照）の設置に伴う膨大な時間のため、試験片パネル２８は、１日に１つ又は２つの試験片パネル２８の試験速度で試験することしかできない。 
【０００９】
図１でさらに示されるように、既存の試験用固定具１０は、ベース部分２２及び側面支持部分２４（各側面に１つ）を有する。しかしながら、ベース部分２２は、数回の圧縮試験後に薄くなり摩耗することがある。ベース部分２２を補強し、第１の支持板１２ａ、第２の支持板１２ｂ、及び試験片パネル２８を所定の位置に保持するために、シミングが必要とされることがある。例えば、シム２０（図１を参照）が、既存の試験用固定具１０（図１を参照）に設置されてもよい。しかし、このようなシミングのプロセスは、試験に先立って、膨大な設置時間及び労力を伴うことがある。これにより、同様に、試験時間及び試験費用が増大することもある。 
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ゆえに、大きな切欠き圧縮パネルなどの試験片パネルの圧縮試験のための既存の方法は、高価であり、完成するまでに４週間から１０週間又はそれ以上かかることもある。したがって、既知の装置アセンブリ、システム及び方法に利益を提供する、飛行体の構成要素部品の大きな切欠き圧縮試験パネルのような、試験片の圧縮試験のための改良された装置、システム及び方法についての技術が要求される。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
飛行体の構成要素部品の大きな切欠き圧縮試験パネルのような、試験片の圧縮試験のための改良された装置、システム及び方法の要求は、本発明の開示により満たされる。以下の詳細な説明で述べられるように、飛行体の構成要素部品の大きな切欠き圧縮試験パネルのような、試験片の圧縮試験のための改良された装置、システム及び方法の実施形態は、重要な利益を既知の装置アセンブリ、システム及び方法に提供することができる。   
【００１２】
本発明の一つの実施形態では、圧縮試験のための装置が提供される。前記装置は、ベースアセンブリに取り付けられた端部荷重要素を有し、硬質であるベースアセンブリを備える。前記装置は、前記ベースアセンブリに取り付けられ、複数の窓部分を有する支持アセンブリをさらに備える。前記装置は、前記支持アセンブリ内に設置され、破砕可能であり、前記支持アセンブリ及び前記ベースアセンブリを、圧縮試験中に生成された破壊荷重から保護するように構成されたコアアセンブリをさらに備える。 
【００１３】
前記ベースアセンブリ、前記支持アセンブリ、及び前記コアアセンブリは全体で、切欠き部分を有する試験片の圧縮試験のための装置を備える。前記装置は、光学歪み測定システムと使用するために構成される。前記試験片が前記支持アセンブリに設置されると、前記試験片及び前記切欠き部分は、前記複数の窓部分を通して、前記光学歪み測定システムから見ることができる。
【００１４】
本発明の別の実施形態では、圧縮試験のためのシステムが提供される。前記システムは、圧縮試験のための装置を備える。前記装置は、ベースアセンブリに取り付けられた端部荷重要素を有し、硬質であるベースアセンブリを備える。前記装置は、前記ベースアセンブリに取り付けられ、複数の窓部分を有する支持アセンブリをさらに備える。前記装置は、前記支持アセンブリ内に設置され、破砕可能であり、前記支持アセンブリ及び前記ベースアセンブリを、圧縮試験中に生成された破壊荷重から保護するように構成されたコアアセンブリをさらに備える。
【００１５】
前記システムは、切欠き部分を有する試験片をさらに備える。前記試験片は、前記装置の前記支持アセンブリに設置される。前記システムは、前記試験片を有する前記装置が試験機に設置されると、一又は複数の圧縮荷重を前記試験片に加えるように構成された試験機をさらに備える。前記システムは、前記試験機に結合され、前記試験機の動作を制御するように構成された試験機コントローラをさらに備える。
【００１６】
前記システムは、前記試験片及び前記切欠き部分が、前記複数の窓部分を通して、光学歪み測定システムから見ることができるように、前記試験機に設置された前記試験片を有する前記装置に対して位置付けられた前記光学歪み測定システムをさらに備える。前記システムは、前記光学歪み測定システムに結合されたデータ取得システムをさらに備える。前記装置、前記試験片、前記試験機、前記試験機コントローラ、前記光学歪み測定システム、及び前記データ取得システムは全体で、前記試験片の圧縮試験のためのシステムを備える。 
【００１７】
本発明の別の実施形態では、圧縮試験のための方法が提供される。前記方法は、試験片の圧縮試験のための装置を形成するステップを含む。前記装置は、ベースアセンブリに取り付けられた端部荷重要素を有し、硬質であるベースアセンブリを備える。前記装置は、前記ベースアセンブリに取り付けられ、複数の窓部分を有する支持アセンブリをさらに備える。前記装置は、前記支持アセンブリ内に設置され、破砕可能であり、前記支持アセンブリ及び前記ベースアセンブリを、圧縮試験中に生成された破壊荷重から保護するように構成されたコアアセンブリをさらに備える。 
【００１８】
前記方法は、切欠き部分を試験片に形成するステップをさらに含む。前記方法は、前記試験片を前記支持アセンブリ内部であって前記コアアセンブリに隣接して設置するステップをさらに含む。前記方法は、前記装置を圧縮試験のための試験機に設置するステップをさらに含む。 
【００１９】
前記方法は、前記試験片及び前記切欠き部分が、前記複数の窓部分を通して、光学歪み測定システムから見ることができるように、前記光学歪み測定システムを前記装置に対して位置付けるステップをさらに含む。前記方法は、一又は複数の圧縮荷重を前記試験片に加えるステップをさらに含む。前記方法は、前記試験片の歪みデータを、前記光学歪み測定システムで測定するステップをさらに含む。 
【００２０】
既に説明した特徴、機能及び利点は、本発明の様々な実施形態で独立して実現することが可能であるか、以下の説明及び図面を参照してさらなる詳細が理解できる、さらに別の実施形態で組み合わせることが可能である。
【００２１】
本発明の開示は、好ましく、例示的な実施形態を示す添付図面と併せて、以下の詳細な説明を参照することでよりよく理解されるが、これらの図面は必ずしも正確な縮尺で描かれているわけではない。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】圧縮試験のための既存の試験用固定具の正面斜視図である。
【図２Ａ】本発明の圧縮試験のための装置の例示的な実施形態の正面斜視図である。
【図２Ｂ】図２Ａの装置の背面斜視図である。
【図２Ｃ】図２Ａの装置のベースアセンブリの正面斜視図である。
【図２Ｄ】図２Ａの装置の支持格子の正面斜視図である。
【図２Ｅ】図２Ｃのベースアセンブリに取り付けられた図２Ｄの支持格子の正面斜視図である。
【図２Ｆ】図２Ａの装置で使用されるコアアセンブリの正面斜視図である。
【図２Ｇ】図２Ｅの支持格子及びベースアセンブリに取り付けられた図２Ｆのコアアセンブリの正面斜視図である。
【図２Ｈ】図２Ａの装置で使用される試験片の正面斜視図である。
【図２Ｉ】コアアセンブリ前面及び図２Ｅのベースアセンブリ上に設置された図２Ｈの試験片の正面斜視図である。
【図２Ｊ】荷重レベリングデバイスとの使用を示す、図２Ａの装置の正面斜視図である。
【図３Ａ】本発明の圧縮試験のためのシステムの例示的な実施形態の概念図である。
【図３Ｂ】図３Ａのシステムで使用することができる荷重レベリングデバイスの例示的な実施形態の正面斜視図である。
【図３Ｃ】図３Ａのシステムで使用することができる試験機の例示的な実施形態で設置される図２Ａの装置の正面斜視図である。
【図４Ａ】本発明の装置の前面に位置付けられた光学歪み測定システムを示す、図３Ａのシステムで使用することができる光学歪み測定システムの例示的な実施形態の側面図である。
【図４Ｂ】本発明の装置の前面に位置付けられた図４Ａの光学歪み測定システムの上面図である。
【図４Ｃ】図４Ａの光学歪み測定システムのカメラ焦点を示す、図４Ａの装置の正面斜視図である。
【図４Ｄ】窓部分を通して見ることができる切欠き部分を示す、支持格子の拡大正面斜視図である。
【図５】本発明の圧縮試験のためのシステム及び装置の実施形態のブロック図である。
【図６】本発明の方法の例示的な実施形態のフロー図である。
【図７】本発明の装置、システム及び方法の実施形態で試験及び評価することができる一又は複数の構造を有する航空機の斜視図である。
【図８】航空機の製造及び保守方法を示すフロー図である。
【図９】本発明の航空機の実施形態の機能ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
本発明の実施形態について、添付図面を参照して以下でさらに詳しく説明するが、添付図面には開示されるすべての実施形態が示されているわけではない。実際には、複数の異なる実施形態が提供可能であり、これらの実施形態は、本明細書で説明される実施形態に限定されるものではない。むしろ、これらの実施形態は、この開示内容が完全なものであり、かつ本発明の開示範囲を当業者に十分に伝えられるように、提供される。 
【００２４】
ここで図を参照すると、図２Ａは、本発明の試験片８０（図２Ｈを参照）の圧縮試験のための装置３０の例示的な実施形態の正面斜視図である。図２Ｂは、図２Ａの装置３０の背面斜視図である。図２Ａ及び図２Ｂで示されるように、装置３０は、例えば、大きな切欠き圧縮試験用固定具などの試験用固定具３０ａの形態とすることができる。  
【００２５】
図２Ａ及び図２Ｈで示されるように、試験片８０は、試験パネル８０ａの形態とすることができる。試験パネル８０ａ（図２Ａ及び図２Ｈを参照）は、例えば、航空機２００ａ（図７を参照）のパネル２２０（図７を参照）、又はパネル２２０の部分を含むことができる。試験パネル８０ａの形態などの試験片８０は、複合材料、若しくは、アルミニウム又は別の適する金属材料のような金属材料から作成することができる。試験片８０はまた、例えば、平坦な一片の積層体、又は好ましくは矩形の平面構成及び矩形の断面を有する別の適する試験片などのクーポンの形態とすることもできる。図２Ｈで示されるように、試験片８０は、好ましくは、以下でさらに詳しく述べられる切欠き部分８２を有する。 
【００２６】
図２Ａ及び図２Ｂでさらに示されるように、装置３０は、ベースアセンブリ６０に取り付けられた端部荷重要素７４を有するベースアセンブリ６０を備える。図２Ｃは、  図２Ａの装置３０のベースアセンブリ６０の正面斜視図である。好ましくは、ベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）は、硬質で頑丈である。好ましくは、ベースアセンブリ６０は、鋼又は別の適する硬質の金属材料などの硬質材料で作成される。
【００２７】
図２Ａから図２Ｃに示されるように、ベースアセンブリ６０は、ベースプラットフォーム６２を備える。図２Ａから図２Ｃでさらに示されるように、ベースプラットフォーム６２は、上面６６ａ及び底面６６ｂを有する第１のプラットフォーム部分６４ａを備える。図２Ａから図２Ｃでさらに示されるように、ベースプラットフォーム６２は、上面６８ａ及び底面６８ｂを有する第２のプラットフォーム部分６４ｂを備える。 
【００２８】
図２Ａから図２Ｃでさらに示されるように、ベースプラットフォーム６２は、例えば、第１のベース支持要素７０ａ、第２のベース支持要素７０ｂ、及び第３のベース支持要素７０ｃなどのベース支持要素７０を備える。ベース支持要素７０は、好ましくは、第１のプラットフォーム部分６４ａと第２のプラットフォーム部分６４ｂとの間に位置付けられ、好ましくは、互いに離間される。 
【００２９】
ベースアセンブリ６０は、側面支持部分７２（図２Ｃを参照）をさらに備える。側面支持部分７２（図２Ｃを参照）は、好ましくは、第２の側面支持部分７２ｂ（図２Ｃを参照）に対向しかつ第２の側面支持部分７２ｂから離間された第１の側面支持部分７２ａ（図２Ｃを参照）を備える。側面支持部分７２（図２Ｃを参照）は、好ましくは、ベースプラットフォーム６２（図２Ｃを参照）の第１のプラットフォーム部分６４ａ（図２Ｃを参照）の上面６６ａ（図２Ｃを参照）に取り付けられる。 
【００３０】
好ましくは、側面支持部分７２は、鋼又は別の適する硬質の金属材料などの硬質材料で作成される。側面支持部分７２は、支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）に支持を提供し、具体的には、支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）の第２の支持格子３４ｂ（図２Ａ、図２Ｅを参照）に直接の支持を提供する。 
【００３１】
図２Ａ及び図２Ｇに示されるように、端部荷重要素７４は、端部７８間で（図２Ａを参照）、第１のプラットフォーム部分６４ａの上面６６ａを横切り（図２Ｇを参照）、ベースアセンブリ６０に取り付けることができる。図２Ａ及び図２Ｇに示されるように、端部荷重要素７４は、ねじ７６ａ又は他の適する取付け要素の形態などの取付け要素７６で、ベースアセンブリ６０に取り付けることができる。好ましくは、端部荷重要素７４は、端部荷重摩耗ストリップ７４ａ（図２Ａ及び図２Ｇを参照）の形態である。 
【００３２】
端部荷重要素７４は、好ましくは、行われる具体的な圧縮試験に基づき、金属材料又は他の適する材料から作成される。例えば、端部荷重要素７４は、アルミニウム、銅、スズ、又はより容易に適合できる別の軟質金属などの軟質金属を含むことができる。別の方法では、端部荷重要素７４は、より耐久性のある硬質金属を含むことができる。また、端部荷重要素７４は、セラミック材料、プラスチック材料、木材、又は耐久性及び耐摩耗性のある別の適する材料から作成することができる。
【００３３】
端部荷重要素７４（図２Ｇを参照）は、好ましくは、試験後に損傷した場合に、取り外し可能であり、かつ交換可能である。端部荷重要素７４（図２Ｇを参照）は、一又は複数の圧縮試験後に交換することができ、好ましくは、圧縮試験中にベースアセンブリ６０（図２Ｇを参照）を保護するように構成される。好ましくは、ベースアセンブリ６０は、いくつかの既存の試験用固定具の薄いベース構造と比較して、多くの圧縮試験にわたって摩損に耐えるよう設計される。 
【００３４】
図２Ａ及び図２Ｂで示されるように、装置３０は、ベースアセンブリ６０に取り付けられた支持アセンブリ３２をさらに備える。好ましくは、支持アセンブリ３２は、ベースアセンブリ６０に溶接される。しかしながら、他の取付け手段が適することもある。 
【００３５】
図２Ａ及び図２Ｂ並びに図２Ｄ及び図２Ｅで示されるように、支持アセンブリ３２は、一又は複数の支持格子３４を備える。図２Ｄは、図２Ａの装置３０の支持格子３４の正面斜視図である。図２Ｅは、図２Ｃのベースアセンブリ６０に取り付けられた図２Ｄの支持格子３４の正面斜視図である。支持格子３４（図２Ａ及び図２Ｅを参照）は、好ましくは、鋼又は別の適する硬質金属などの硬質金属から作成される。 
【００３６】
図２Ａ及び図２Ｄで示されるように、支持格子３４は、好ましくは、第１の支持格子３４ａ及び第２の支持格子３４ｂを備える。第１の支持格子３４ａは、好ましくは、前方位置に置かれる。第２の支持格子３４ｂは、好ましくは、後方位置の第１の支持格子３４ａの背後に置かれる。第１の支持格子３４ａは、好ましくは、第２の支持格子３４ｂへの取付けのために構成される。 
【００３７】
第１の支持格子３４ａ（図２Ａを参照）及び第２の支持格子３４ｂ（図２Ｅを参照）は各々、フレーム部分３６（図２Ａ及び図２Ｄを参照）及び格子部分３８（図２Ａ及び図２Ｄを参照）を備える。図２Ａ及び図２Ｄに示されるように、各格子部分３８は、複数の垂直部材４０、及び複数の垂直部材４０を横切る複数の水平部材４２を備える。当然のことながら、「垂直」及び「水平」という用語は、利便性及び明瞭さのために、複数の垂直部材４０（図２Ａ及び図２Ｄ）及び複数の水平部材４２（図２Ａ及び図２Ｄ）の相対的な位置を述べており、圧縮試験中のそれらの実際の位置を記述していないこともある。
【００３８】
図２Ａ及び図２Ｂに示されるように、支持アセンブリ３２は、複数の窓部分４４を有する。複数の垂直部材４０（図２Ａ及び図２Ｂを参照）並びに複数の水平部材４２（図２Ａ及び図２Ｂを参照）は、複数の窓部分４４（図２Ａ及び図２Ｂを参照）を形成する。好ましくは、複数の窓部分４４（図２Ａ及び図２びを参照）を有する支持格子３４（図２Ａ及び図２Ｂを参照）は、シースルーの支持システムを提供する。ゆえに、第１の支持格子３４ａ（図２Ａを参照）及び第２の支持格子３４ｂ（図２Ｂを参照）は、好ましくは、それらそれぞれの複数の窓部分４４（図２Ａ及び図２Ｂを参照）を介して、両方がシースルーである。 
【００３９】
好ましくは、第１の支持格子３４ａ（図２Ａを参照）及び第２の支持格子３４ｂ（図２Ｂを参照）は各々、７０から８０又はそれ以上の窓部分４４を有することができる。より好ましくは、第１の支持格子３４ａ（図２Ａを参照）及び第２の支持格子３４ｂ（図２Ｂを参照）は各々、７７の窓部分４４を有することができる。
【００４０】
複数の窓部分４４（図２Ａ及び図２Ｂを参照）は、好ましくは、試験片８０（図２Ｈを参照）の厚さに基づき、かつ隣接する垂直部材４０（図２Ａ及び図２Ｂを参照）間の幅に基づき、サイズが決定される。例えば、各窓部分４４（図２Ａを参照）は、約２インチから約３インチまでの幅を有することができ、かつ約４インチから約８インチまでの長さを有することができる。しかしながら、各窓部分４４は、より長い又はより短い幅及び／又は長さを有することができる。 
【００４１】
隣接する垂直部材４０間の幅は、圧縮試験中に試験片８０（図２Ｈ）の座屈の最小化又は除去を助けることができる。例えば、１つの垂直部材４０の中心線から隣接する垂直部材４０の中心線までの幅は、好ましくは、約１インチから約３インチまで離すことができ、より好ましくは、約１インチ離すことができる。 
【００４２】
図２Ａ及び図２Ｂに示されるように、試験用固定具３０ａの形態などの装置３０は、第１の支持格子３４ａを第２の支持格子３４ｂに取り付ける又は結合するための複数のヒンジ要素５４を含むことができる。ヒンジ要素５４（図２Ａを参照）は、複数の第１の側面ヒンジ要素５４ａ（図２Ａを参照）、及び複数の第２の側面ヒンジ要素５４ｂ（図２Ａを参照）を備えることができる。ヒンジ要素５４は、好ましくは、ばねで留められ、鋼又は別の硬質金属などの硬質金属から作成することができる。第１の支持格子３４ａが、第２の支持格子３４ｂに対して、ドアのように開くことができるように、ピン及びクレビス継手を有するヒンジ要素５４が構成されてもよい。 
【００４３】
装置３０は、支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）内に設置されたコアアセンブリ４６（図２Ｆを参照）をさらに備える。図２Ｆは、図２Ａの装置３０で使用されるコアアセンブリ４６の正面斜視図である。コアアセンブリ（図２Ｆを参照）は、好ましくは、破砕することができ、支持アセンブリ３２及びベースアセンブリ６０を圧縮試験中に生成された破壊荷重５３（図５を参照）から保護するように構成される。そのような破壊荷重５３（図５を参照）は、試験片８０が圧縮試験中に破壊又は破損されると、コアアセンブリ（図２Ｆを参照）に隣接して位置付けられた試験片８０（図２Ｈを参照）により生成することができる。 
【００４４】
コアアセンブリ４６は、圧縮試験中に試験片８０（図２Ａ、図２Ｈを参照）を安定させるように設計され、切欠き部分８２（図２Ｈを参照）などにおいて、試験片８０（図２Ａ及び図２Ｈを参照）が破壊または破損されると、試験片８０から横向きに解放されるエネルギーを破砕及び吸収するように設計される。圧縮試験中に試験片（図２Ａ及び図２Ｈを参照）の破壊又は破損から生成又は形成される破壊荷重５３（図５を参照）を吸収することにより、コアアセンブリ４６は、主に周囲の支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）を保護し、またベースアセンブリ６０も保護する。 
【００４５】
コアアセンブリ（図２Ｆを参照）は、ゆえに破壊荷重５３（図５を参照）又は破損荷重から支持アセンブリ３２及びベースアセンブリ６０を保護し、次に、試験用固定具３０ａ（図２Ａを参照）のような装置３０（図２Ａを参照）の寿命を延ばすことができ、軽量な装置３０の設計を可能にすることができる。本明細書中で使用されるように、「破壊荷重」は、試験片８０が圧縮試験を受けるときに、試験片８０（図２Ｈを参照）の破壊点又は破損点で、より具体的には、試験片（図２Ｈを参照）の切欠き部分８２（図２Ｈを参照）で、生成される荷重を意味する。 
【００４６】
コアアセンブリ４６（図２Ｆを参照）及び試験片８０（図２Ｈを参照）は、好ましくは、第１の支持格子３４ａ（図２Ａを参照）と第２の支持格子３４ｂ（図２Ａを参照）との間に設置される。ベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）、支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）、及びコアアセンブリ４６（図２Ａを参照）は全体で、切欠き部分８２（図２Ｈを参照）を有する試験片８０（図２Ｈを参照）の圧縮試験のための装置３０を備える。 
【００４７】
図２Ｆに示されるように、コアアセンブリ４６は、複数の垂直コア要素４８を備える。当然のことながら、「垂直」という用語は、利便性及び明瞭さのために、複数の垂直コア要素４８（図２Ｆ）の相対的な位置を述べており、圧縮試験中のそれらの実際の位置を記述していないこともある。 
【００４８】
図２Ｆでさらに示されるように、垂直コア要素４８は、端部垂直コア要素４８ａ及び中心垂直コア要素４８ｂを備えることができる。図２Ｆは、２つの端部垂直コア要素４８ａ間に６つの中心垂直コア要素４８ｂを示す。しかしながら、試験条件及び使用される試験機次第では、より多くの又はより少ない垂直コア要素４８が使用されてもよい。 
【００４９】
端部垂直コア要素４８ａ（図２Ｆを参照）は、好ましくは、中心垂直コア要素４８ｂ（図２Ｆを参照）よりも大きな幅を有する。例えば、端部垂直コア要素４８ａ（図２Ｆを参照）は、約２インチから約４インチ又はそれ以上の幅を有することができ、中心垂直コア要素４８ｂ（図２Ｆを参照）は、各々、約０．５インチから約１インチまでの幅を有することができる。垂直コア要素４８の各々は、好ましくは、約０．５インチの厚さを有することができる。 
【００５０】
また、図２Ｆに示されるように、端部垂直コア要素４８ａの各々は、細長いスロット５２を有する。図２Ｆに示されるように、各垂直コア要素４８の間には、空間部分５１がある。
【００５１】
各垂直コア要素４８（図２Ｆを参照）は、例えば、０．５インチの厚さのアルミニウム表面板及びコアを備える、ハニカムサンドイッチコアアセンブリ４７（図２Ｆを参照）を備えることができる。別の方法では、各垂直コア要素４８（図２Ｆを参照）は、硬質の発泡材料又は別の適する硬質材料を含むことができる。好ましくは、垂直コア要素４８（図２Ｆを参照）は、３００ｋｉｐｓ（重量キロポンド）／平方インチの力の圧縮荷重に耐えるほど十分に硬質であり、さらに好ましくは、約３００ｋｉｐｓ（重量キロポンド）／平方インチの力から、約５００ｋｉｐｓ（重量キロポンド）／平方インチの力まで、又はそれ以上の範囲で圧縮荷重に耐えるほど十分に硬質である。 
【００５２】
図２Ｆに示されるように、コアアセンブリ４６は、破砕帯５０を有する。図２Ｆに示されるように、破砕帯５０は、端部垂直コア要素４８ａの細長いスロット５２を含む。破砕帯５０は、好ましくは、試験片８０（図３Ａを参照）が支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）の設置位置１０１（図３Ａを参照）に設置されると、試験片８０（図２Ｈを参照）の切欠き部分８２（図２Ｈを参照）の場所８４（図２Ｈを参照）に対応する。例えば、試験片８０（図２Ａを参照）は、装着されると、切欠き部分８２（図２Ａを参照）で、試験片８０（図２Ａを参照）にわたって水平に破壊され、破損し又は故障するように設計される。これにより、破壊点、破損点、又は故障点での試験片８０の表面に対して垂直な、過剰な移動が生じる。破砕帯５０（図２Ｆを参照）を有するなど、破砕に十分なエリアを提供することにより、装置３０（図２Ａを参照）は、増大する荷重に耐えることができる。
【００５３】
コアアセンブリ４６（図２Ｆを参照）は、好ましくは、試験片８０が圧縮試験中に横向きに座屈を開始する場合に、試験片８０を保持するほど十分に剛性がある。しかしながら、試験片８０が圧縮試験で破損、破壊又は故障すると、試験片８０の衝撃及び力は、荷重が装置３０（図２Ａを参照）に誘導されないように、コアアセンブリ４６の、特に破砕帯５０（図２Ｆを参照）において、垂直コア要素４８のうちの一又は複数を局所的に破砕することができる。 
【００５４】
各垂直コア要素４８（図２Ｆを参照）は、セグメント化することができ、例えば、一又は複数の６インチの長さのセグメント、若しくは新たな垂直コア要素４８（図２Ｆを参照）、又は垂直コア要素４８（図２Ｆを参照）の損傷していない残りのセグメントに接続することができる新たなセグメント又は部分と容易に交換することができる別の適する長さのセグメントのような、一又は複数のセグメント４９（図２Ｆ及び図２Ｉを参照）を備えることができる。ゆえに、垂直コア要素４８が各々、セグメント化された構成においてセグメント４９（図２Ｆ及び図２Ｉを参照）を有するときに、コアアセンブリ４６（図２Ｆを参照）の垂直コア要素４８（図２Ｆを参照）の任意の損傷部分を、容易に交換することができる。 
【００５５】
図２Ｇは、第２の支持格子３４ｂの形態などで支持格子３４に取り付けられ、かつ図２Ｅのベースアセンブリ６０に取り付けられた、図２Ｆのコアアセンブリ４６の正面斜視図である。図２Ｇで示されるように、装置３０は、一又は複数のグリップ板８８をさらに備えることができる。図２Ｇでさらに示されるように、グリップ板８８は、好ましくは、グリップ板８８の底がベースアセンブリ６０の上面６６ａに隣接した状態で、コアアセンブリ４６の底にわたって取り付けられる。図２Ｇで示されるように、グリップ板８８は、ねじ又はボルト、若しくは別の適する取付け要素などの一又は複数の取付け要素９０で、コアアセンブリ４６に取り付けることができる。 
【００５６】
グリップ板８８（図２Ｇを参照）は、第１の支持格子３４ａ（図２Ａを参照）及び第２の支持格子３４ｂ（図２Ａを参照）が間隙８６（図２Ａを参照）によりわずかに互いに離間される方法で、コアアセンブリ４６（図２Ｇを参照）に取り付ける又は結合することができる。図２Ａに示されるように、間隙８６は、下部間隙８６ａ及び上部間隙８６ｂを備えることができる。間隙８６（図２Ａを参照）の存在により、試験機１０２（図３Ａを参照）の上部プラテン１０４（図３Ａを参照）及び下部プラテン１０６（図３Ａを参照）全体のわずかな移動が、試験片８０（図３Ａを参照）の圧縮強度を試験し、装置３０（図３Ａを参照）を通してのいかなる圧縮荷重１０９（図５を参照）の反応をも回避するために、可能になる。 
【００５７】
図２Ｇに示されるように、装置３０は、締め金具５７の形態などの、一又は複数のグリップ固定具５６をさらに備える。試験片８０（図２Ａを参照）を間隙８６（図２Ａを参照）にわたって支持し、間隙８６（図２Ａを参照）での試験片８０（図２Ａを参照）の好ましくない座屈を防止するために、一又は複数のグリップ固定具５６（図２Ａを参照）は、試験片８０（図２Ａを参照）に取り付けることができる。 
【００５８】
図２Ａに示されるように、グリップ固定具５６は、第１のグリップ固定具５６ａ及び第２のグリップ固定具５６ｂを備えることができる。第１のグリップ固定具５６（図２Ａを参照）は、好ましくは、ベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）に結合され、試験片８０（図２Ａを参照）が支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）に設置されると、試験片８０（図２Ｈを参照）の第１の端部８５ａ（図２Ｈを参照）を保持するように構成される。 
【００５９】
図２Ａに示されるように、第１のグリップ固定具５６ａは、ボルト５８ａ（図２Ａを参照）の形態などの一又は複数の取付け要素５８（図２Ａを参照）、若しくは別の適する取付け要素を介して、試験片８０（図２Ａを参照）に結合することができる。第１のグリップ固定具５６ａは、好ましくは、締め金具荷重などの圧力荷重５９（図５を参照）を、試験片８０（図２Ａ及び図２Ｈを参照）の第１の端部８５ａ（図２Ｈを参照）にわたって加えるように構成される。 
【００６０】
図２Ａ、図２Ｂ及び図２Ｈに示されるように、第２のグリップ固定具５８ｂは、試験片８０の第２の端部８５ｂ（図２Ｈを参照）に取り付けられる。第２のグリップ固定具５８ｂは、ネジ５８ｂの形態などの一又は複数の取付け要素５８、若しくは別の適する取付け要素を介して、試験片８０の第２の端部８５ｂに取り付けることができる。第２のグリップ固定具５８ｂは、好ましくは、締め金具荷重などの圧力荷重５９（図５を参照）を、試験片８０（図２Ａ及び図２Ｈを参照）の第２の端部８５ｂ（図２Ｈを参照）にわたって加えるように構成される。 
【００６１】
装置３０（図２Ａを参照）は、以下で詳しく述べられる、光学歪み測定システム１２０（図３Ａを参照）と使用するために構成される。試験片８０（図２Ｈ及び図３Ａを参照）が支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）に設置されると、試験片８０（図２Ｈ及び図３Ａを参照）並びに切欠き部分８２（図２Ｈ及び図３Ａを参照）は、複数の窓部分４４（図２Ａを参照）を通して、光学歪み測定システム１２０（図３Ａを参照）から見ることができる。
【００６２】
本発明の別の実施形態では、圧縮試験のためのシステム１００が提供される。図５は、先ほど述べられた圧縮試験のための装置３０を含む、圧縮試験のためのシステム１００の実施形態のブロック図である。図３Ａは、本発明の圧縮試験のためのシステム１００の例示的な実施形態の概念図である。 
【００６３】
図３Ａ及び図５に示されるように、システム１００は、圧縮試験のための装置３０を備える。装置３０は、試験機３０ａ（図３Ａを参照）の形態とすることができる。先ほど詳細が述べられたように、装置３０（図３Ａ及び図５を参照）は、ベースアセンブリ６０（図５を参照）に取り付けられた端部荷重要素７４（図５を参照）を有するベースアセンブリ６０（図５を参照）を備える。装置３０（図５を参照）は、ベースアセンブリ６０（図５を参照）に取り付けられた支持アセンブリ３２（図５を参照）をさらに備える。支持アセンブリ３２は、複数の窓部分４４（図５を参照）を有する。 
【００６４】
装置３０（図５を参照）は、支持アセンブリ３２（図５を参照）内に設置されたコアアセンブリ４６（図５を参照）をさらに備える。コアアセンブリ４６は、好ましくは、破砕することができ、切欠き部分８２（図２Ｈを参照）などの試験片８０（図２Ａ及び図２Ｈを参照）の破壊又は破損における破損荷重エネルギーを吸収するように設計される。コアアセンブリ４６（図５を参照）及び試験片８０（図５を参照）は、好ましくは、第１の支持格子３４ａ（図５参照）と第２の支持格子３４ｂ（図５を参照）との間に設置される。
【００６５】
図２Ｈ、図３Ａ及び図５に示されるように、システム１００は、切欠き部分８２を有する試験片８０をさらに備える。図２Ｈは、図２Ａの装置３０で使用される試験片８０の正面斜視図である。試験片８０（図２Ｈを参照）は、好ましくは、装置３０（図５を参照）の支持アセンブリ３２（図５を参照）に設置される。図３Ａ及び図３Ｃに示されるように、試験片８０は、装置３０内かつ試験機１０２内の位置１０１に設置される。 
【００６６】
図２Ｈで示されるように、試験片８０は、試験パネル８０ａの形態とすることができる。試験パネル８０ａは、例えば、航空機２００ａ（図７を参照）のパネル２２０（図７を参照）、又はパネル２２０の部分を含むことができる。試験パネル８０ａの形態などの試験片８０は、複合材料、若しくは、アルミニウム又は別の適する金属材料のような金属材料から作成することができる。試験片８０はまた、例えば、平坦な一片の積層体、又は好ましくは矩形の平面構成及び矩形の断面を有する別の適する試験片などのクーポンの形態とすることもできる。試験パネル８０ａの形態などの試験片８０は、好ましくは、約２０インチの幅、約６０インチの長さ、及び約０．２５インチから約０．１０インチまでの厚さを有することができる。しかしながら、試験片８０はまた、試験条件及び使用される試験機次第では、別の適する幅、長さ、若しくは厚さであってもよい。 
【００６７】
図２Ｈに示されるように、試験片８０は、装置３０（図２Ａを参照）に設置されると、好ましくはベースアセンブリ６０（図２Ｉを参照）に隣接する、第１の端部８５ａを有する。図２Ｈに示されるように、試験片８０は、先ほど述べられたように、好ましくは、第２のグリップ固定具５６ｂの形態などのグリップ固定具５６に取り付けられる第２の端部８５ｂを有する。 
【００６８】
図２Ｈに示されるように、試験片８０の切欠き部分８２は、試験片８０の場所８４で、好ましくは中心の場所で形成される。切欠き部分８２（図３Ｃを参照）は、好ましくは、試験機１０２（図３Ｃを参照）により試験片８０（図３Ｃを参照）に加えられる一又は複数の圧縮荷重１０９（図５を参照）の方向１０９ａ（図３Ｃを参照）に垂直である。切欠き部分８２は、好ましくは、約４インチの幅、及び約０．２５インチから約０．１０インチの厚さを有することができる。しかしながら、切欠き部分８２は、試験条件次第では、別の適する幅又は厚さであってもよい。 
【００６９】
図２Ｉは、コアアセンブリ４６（図２Ｇを参照）の前面及び図２Ｅのベースアセンブリ上に設置された図２Ｈの試験片８０の正面斜視図である。図２Ｉに示されるように、試験片８０は、ハニカムサンドイッチコアアセンブリ４７の形態のようなコアアセンブリ４６（図２Ｇを参照）上に、かつ第２の支持グリッド３４ｂ上に設置される。
【００７０】
図３Ａ、図３Ｃ及び図５に示されるように、システム１００は、圧縮機１０２ａの形態などの試験機１０２をさらに備える。図３Ｃは、図３Ａのシステム１００で使用することができる、圧縮機１０２ａの形態などの、試験機１０２の例示的な実施形態において設置される図２Ａの装置３０の正面斜視図である。圧縮機１０２ａは、例えば、ミネソタ州ミネアポリスのＭＴＳ社により製造されるＭＴＳ機を含むことができる。しかしながら、他の適する試験機１０２が使用されてもよい。 
【００７１】
図３Ａ及び図３Ｃに示されるように、圧縮機１０２ａの形態などの試験機１０２は、上部プラテン１０４、下部プラテン１０６、フレーム１０８、荷重セル１０７（図３Ａを参照）、及び脚１４６（図３Ｃを参照）を備える。上部プラテン１０４及び下部プラテン１０６は、図３Ａに示される閉じた位置と図３Ｃに示される開いた位置との間で移動することができる。
【００７２】
図２Ｊは、荷重レベリングデバイス９２との使用を示す、図２Ａの装置３０の正面斜視図である。図２Ｊに示されるように、第１の荷重レベリングデバイス９２ａは、第１の荷重レベリングデバイス９２ａを、矢印９４により示される下に向かう方向に、第２のグリップ固定具５６ｂに結合することにより、第２のグリップ固定具５６ｂに結合することができる。別の方法では、第１の荷重レベリングデバイス９２ａ（図３Ｂを参照）は、第２のグリップ固定具５６ｂ（図２Ａを参照）の代わりに使用することができ、試験片８０（図２Ｈを参照）の第２の端部８５ｂ（図２Ｈを参照）に結合することができる。 
【００７３】
図２Ｊでさらに示されるように、第２の荷重レベリングデバイス９２ｂは、第２の荷重レベリングデバイス９２ｂを、矢印９６により示される上に向かう方向に、ベースアセンブリ６０に結合することにより、ベースアセンブリ６０に結合することができる。別の方法では、第２の荷重レベリングデバイス９２ｂは、第１のグリップ固定具５６ａに結合することができ、又は第２の荷重レベリングデバイス９２ｂは、第１のグリップ固定具５６ａの代わりに使用することができ、試験片８０（図２Ｈを参照）の第１の端部８５ａ（図２Ｈを参照）に結合することができる。 
【００７４】
図３Ａに示されるように、一又は複数の荷重レベリングデバイス９２は、試験機１０２に設置された装置３０に結合することができる。荷重レベリングデバイス９２は、好ましくは、試験片８０及び装置３０の自己整列、自己平衡、又は自己レベリングを助ける。一つの実施形態では、図３Ａに示されるように、配置は、試験機１０２の上部プラテン１０４、第１の荷重レベリングデバイス９２ａ、試験用固定具３０ａ、第２の荷重レベリングデバイス９２ｂ、及び試験機１０２の下部プラテン１０６を含むことができる。   
【００７５】
図３Ａに示されるように、第１の荷重レベリングデバイス９２ａは、試験用固定具３０ａ（図３Ａを参照）の形態などの装置３０の上面に結合することができる。別の方法では、第１の荷重レベリングデバイス９２ａ（図３Ｂを参照）は、第２のグリップ固定具５６ｂ（図２Ａを参照）の代わりに使用することができる。第１の荷重レベリングデバイス９２ａ（図３Ｂを参照）は、圧縮荷重１０９（図５を参照）が圧縮試験中に試験片８０に加えられると、試験片８０の装着されたエッジが広がる又は展開する（ｂｒｏｏｍｉｎｇ  ｏｒ  ｓｐｒｅａｄｉｎｇ  ｏｕｔ）ことを防止するために、試験片８０の第２の端部８５ｂ（図２Ｈを参照）の最初の１〜２インチに結合する又は取り付けることができる。
【００７６】
第１の荷重レベリングデバイス９２ａに対する別の方法では、又はそれに加えて、第２の荷重レベリングデバイス９２ｂは、装置３０の底面に結合することができ、若しくは、別の方法では、第２の荷重レベリングデバイス９２ｂは、第１のグリップ固定具５６ａ（図２Ａを参照）に結合する、又は第１のグリップ固定具５６ａ（図２Ａを参照）の代わりに使用することができる。荷重レベリングデバイス９２は、試験片８０（図２Ｈを参照）の第１の端部８５ａ（図２Ｈを参照）及び第２の端部８５ｂ（図２Ｈを参照）が、試験片８０（図２Ｈを参照）の長い端部に沿っていずれかの点で装着されることを確実にするために、荷重の平衡を保つ。荷重レベリングデバイス９２は、圧縮試験中の圧縮状態で装着されると、試験片８０の装着されたエッジの広がり又は展開を防止する又は最小化するために役立つ。 
【００７７】
図３Ｂは、図３Ａのシステム１００で使用することができる、第１の荷重レベリングデバイス９２ａの形態などの、荷重レベリングデバイス９２の例示的な実施形態の正面斜視図である。第１の荷重レベリングデバイス９２ａは、第２のグリップ固定具５６ｂ（図２Ａを参照）の代わりに使用することができる。図３Ｂに示されるように、荷重レベリングデバイス９２は、試験片８０（図３Ａを参照）を挿入するためのスロット１３６を有する整列部分１４２を備える。図３Ｂにさらに示されるように、荷重レベリングデバイス９２は、試験片８０（図３Ａを参照）にしっかりと締め付けるために使用することができる、ねじ（図示せず）のような取付け要素（図示せず）を受けるように構成された開口１３８を備えることができる。 
【００７８】
図３Ｂでさらに示されるように、荷重レベリングデバイス９２は、取付け要素（図示せず）の移動又は浮き沈みを可能にする、一又は複数の円形要素１４０を備えることができる。そのような移動は、試験片８０及び装置３０の自己整列、自己平衡、又は自己レベリングを促進することができる。図３Ｂにさらに示されるように、第１の荷重レベリングデバイス９２ａの形態などの、荷重レベリングデバイス９２は、圧縮試験中に荷重レベリングデバイス９２を全体で保持することを助けるリンク部材１４４を備えることができる。 
【００７９】
図３Ｃに示されるように、圧縮機１０２ａの形態などの、試験機１０２は、好ましくは、試験片８０を含む装置３０が試験機１０２に設置されると、一又は複数の圧縮荷重１０９（図５を参照）を、方向１０９ａに向かって、試験片８０に加えるように構成される。図３Ｃに示されるように、試験片８０の切欠き部分８２は見ることができる。 
【００８０】
図３Ａ及び図５に示されるように、システム１００は、試験機１０２に結合され、試験機１０２の動作を制御するように構成された試験機コントローラ１１０をさらに備える。試験機コントローラ１１０は、適する有線又は無線接続などの接続要素１１２により、試験機１０２に結合される。 
【００８１】
図３Ａ及び図５に示されるように、システム１００は、接続要素１１８を介して試験機コントローラ１１０に結合された、第１の処理ユニット１１４ａなどの処理ユニット１１４をさらに備えることができる。接続要素１１２は、適する有線又は無線接続を備えることができる。図３Ａ及び図５に示されるように、処理ユニット１１４は、第１のコンピュータ１１６ａなどのコンピュータ１１６を備えることができる。 
【００８２】
図３Ａ及び図５に示されるように、システム１００は、試験片８０が装置３０に設置され、装置３０が試験機１０２に設置された状態で、装置３０に対して位置付けられた光学歪み測定システム１２０をさらに備える。図３Ａに示されるように、試験片８０を含む装置３０は、試験片８０及び切欠き部分８２が、複数の窓部分４４（図４Ｃ及び図４Ｄを参照）を通して、光学歪み測定システム１２０から見えるように、好ましくは、試験機１０２に設置される。装置３０（図３Ａを参照）の第１の支持格子３４ａ（図３Ｃを参照）は、好ましくは、光学歪み測定システム１２０（図３Ａを参照）に対して正面を向く。
【００８３】
光学歪み測定システム１２０（図３Ａ、図４Ａ及び図４Ｂ）は、好ましくは、二以上の光学デバイス１２２（図４Ａ及び４Ｂを参照）を備える。光学デバイス１２２は、第１の光学デバイス１２２ａ（図４Ａを参照）及び第２の光学デバイス１２２ｂ（図４Ａを参照）を備えることができる。 
【００８４】
光学歪み測定システム１２０は、好ましくは、光学デバイス１２２がカメラ１２４（図４Ａ及び図４Ｂを参照）の形態であるカメラベースのシステムである。カメラ１２４は、試験片８０（図４Ａ及び図４Ｂを参照）の表面で、ドット又は点の形態などの複数の場所１５２（図４Ａ及び図４Ｂを参照）を監視及び追跡する。カメラ１２４は、第１のカメラ１２４ａ（図４Ａを参照）及び第２のカメラ１２４ｂ（図４Ａを参照）を備えることができる。しかしながら、他の適する光学デバイス１２２が使用されてもよい。 
【００８５】
光学歪み測定システム１２０は、好ましくは、光学測定値１２６（図３Ａ、図４Ａ及び図４Ｂを参照）を、装置３０（図４Ａを参照）に設置された試験片８０（図４Ａ及び図４Ｂを参照）の表面の複数の場所１５２（図４Ａ及び図４Ｂを参照）で、取り込み走査するように構成された、二以上の光学デバイス１２２を備える。使用できる光学歪み測定システム１２０の例は、ドイツのＧＯＭｍｂＨ社から得られるアラミス光学３次元変形解析（Ａｒａｍｉｓ  Ｏｐｔｉｃａｌ  ３Ｄ  Ｄｅｆｏｒｍａｔｉｏｎ  Ａｎａｌｙｓｉｓ）光学歪み測定システムを含む。しかしながら、他の適する光学歪み測定システムもまた使用することができる。
【００８６】
光学歪み測定システム１２０は、試験片８０（図２Ｈを参照）の材料特性を判定するために使用することができ、例えば、表面歪み値、座屈歪み、及び歪み速度のような歪みデータ１２７（図５を参照）を得るために使用することができ、３次元変位及び表面座標を得るために使用することができ、かつ他の適するデータを得るために使用することができる。光学歪み測定システム１２０は、測定エリアを有効にかつ良好な精度で取込み評価するために使用することができる。適するソフトウェアは、結果を、試験片８０（図４Ａ及び図４Ｂを参照）の表面の複数の場所１５２（図４Ａ及び図４Ｂを参照）で光学測定値１２６（図３Ａ、図４Ａ及び図４Ｂを参照）に提供するために、光学歪み測定システム１２０で使用することができる。 
【００８７】
図４Ａは、図３Ａのシステム１００で使用することができる光学歪み測定システム１２０の例示的な実施形態の側面図である。図４Ａは、装置３０の前面に位置付けられた光学歪み測定システム１２０を示す。図４Ａに示されるように、第１のカメラ１２４ａの形態などの第１の光学デバイス１２２ａは、装置３０の第１の支持格子３４ａの上半分の前面に位置付けられる。図４Ａにさらに示されるように、第１のカメラ１２４ａの形態などの第１の光学デバイス１２２ａは、装置３０に設置された試験片８０（図４Ａを参照）の表面の複数の場所１５２（図４Ａを参照）で、上部水平光学測定値１２６ａなどの光学測定値１２６を取り込み走査するように位置付けられる。
【００８８】
図４Ａにさらに示されるように、第２のカメラ１２４ｂの形態などの第２の光学デバイス１２２ｂは、装置３０の第１の支持格子３４ａの下半分の前面に位置付けられる。図４Ａに示されるように、第２のカメラ１２４ｂの形態などの第２の光学デバイス１２２ｂは、装置３０に設置された試験片８０（図４Ａを参照）の表面の複数の場所１５２（図４Ａを参照）で、下部水平光学測定値１２６ｂなどの光学測定値１２６を取り込み走査するように位置付けられる。
【００８９】
図４Ａに示されるように、第１のカメラ１２４ａは、好ましくは、第１のカメラ１２４ａと第２のカメラ１２４ｂとの間の中心線１５０上にある。第２のカメラ１２４ｂは、好ましくは、中心線１５０の下にある。第１のカメラ１２４ａ及び第２のカメラ１２４ｂは、装置３０に設置された試験片８０（図３Ａを参照）から十分な距離に位置付けることができる。好ましくは、第１のカメラ１２４ａ及び第２のカメラ１２４ｂは、装置３０から約１０フィートの距離１５１（図４Ｂを参照）に位置付けることができる。しかしながら、第１のカメラ１２４ａ及び第２のカメラ１２４ｂは、装置３０からより長い距離又はより短い距離に位置付けられてもよい。 
【００９０】
図４Ａは、第２のカメラ１２４ｂ上の距離１４８に位置付けられた第１のカメラ１２４ａを示す。好ましくは、第１のカメラ１２４ａは、第１のカメラ１２４ａと第２のカメラ１２４ｂとの間の中心線１５０上の約１５インチに位置付けることができる。好ましくは、第２のカメラ１２４ｂは、第１のカメラ１２４ａと第２のカメラ１２４ｂとの間の中心線１５０下の約１５インチに位置付けることができる。しかしながら、第１のカメラ１２４ａ及び第２のカメラ１２４ｂは、中心線１５０上又は中心線１５０下のより長い距離又はより短い距離に位置付けられてもよい。 
【００９１】
図４Ｂは、装置３０の第１の支持格子３４ａ前面に位置付けられた図４Ａの光学歪み測定システム１２０の上面図である。図４Ｂに示されるように、カメラ１２４の形態などの第１の光学デバイス１２２ａを備える光学デバイス１２２は、装置３０の第１の支持格子３４ａの上半分の前面に位置付けられる。図４Ｂにさらに示されるように、カメラ１２４の形態などの第１の光学デバイス１２２ａは、装置３０に設置された試験片８０（図４Ｂを参照）の表面の複数の場所１５２（図４Ｂを参照）で、上部垂直光学測定値１２６ｃ及び下部垂直光学測定値１２６ｄなどの光学測定値１２６を取り込み走査するように位置付けられる。
【００９２】
図４Ｃは、図４Ａの光学歪み測定システム１２０の、第１の光学デバイス１２２ａ及び第２の光学デバイス１２２ｂなどの光学デバイス１２２を示す、図４Ａの装置３０の正面斜視図である。光学デバイス１２２は、好ましくはカメラ１２４（図４Ａ及び図４Ｂを参照）の形態であるが、好ましくは、試験パネル８０ａの形態などの試験片８０に焦点が合わせられる。 
【００９３】
図４Ｃは、上部の点線サークルにより示される荷重平衡１５６ａの形態などの荷重平衡１５６が、第１のカメラ１２４ａ（図４Ａを参照）又は上部カメラなどの第１の光学デバイス１２２ａで見られ測定される様子を示す。図４Ｃは、下部の点線サークルにより示される荷重平衡１５６ｂの形態などの荷重平衡１５６が、第２のカメラ１２４ｂ（図４Ａを参照）又は下部カメラなどの第２の光学デバイス１２２ｂで見られ測定される様子をさらに示す。 
【００９４】
図４Ｃは、中央の点線サークルにより示される荷重平衡１５６ｃの形態などの荷重平衡１５６が、第１のカメラ１２４ａ（図４Ａを参照）又は上部カメラなどの第１の光学デバイス１２２ａ、並びに第２のカメラ１２４ｂ（図４Ａを参照）又は下部カメラなどの第２の光学デバイス１２２ｂの両方で見られ測定される様子を示す。図４Ｃに示されるように、切欠き部分８２は、中央の点線サークルにより示される荷重平衡１５６ｃ内にある。
【００９５】
図４Ｄは、装置３０の、第１の支持格子３４ａの形態などの支持格子３４の拡大正面斜視図である。図４Ｄは、試験パネル８０ａの形態などの試験片８０、及び窓部分４４を通して見ることができる、場所８４の切欠き部分８２を示す。図４Ｄに示されるように、切欠き部分８２は、垂直部材４０と水平部材４２との間の中心に位置付けられる。 
【００９６】
図３Ａ及び図５に示されるように、システム１００は、接続要素１２８を介して、光学歪み測定システム１２０に結合されたデータ取得システム１３０をさらに備える。接続要素１２８は、適する有線又は無線接続を備えることができる。 
【００９７】
図３Ａ及び図５に示されるように、データ取得システム１３０は、光学歪み測定システムコントローラ１３２、及び第２の処理ユニット１１４ｂなどの処理ユニット１１４を備えることができる。図３Ａ及び図５に示されるように、処理ユニット１１４は、第２のコンピュータ１１６ｂなどのコンピュータ１１６を備えることができる。 
【００９８】
図３Ａに示されるように、歪み測定システムコントローラ１３２は、接続要素１３４を介して、第２の処理ユニット１１４ｂに結合することができる。接続要素１３４は、適する有線又は無線接続を備えることができる。
【００９９】
装置３０（図５を参照）、試験片８０（図５を参照）、試験機１０２（図５を参照）、試験機コントローラ１１０（図５を参照）、光学歪み測定システム１２０（図５を参照）、及びデータ取得システム１３０（図５を参照）は全体で、試験片８０（図５を参照）の圧縮試験のためのシステム１００（図５を参照）を備える。 
【０１００】
図５に示されるように、支持アセンブリ３２は、第２の支持格子３４ｂへの取付けのために構成された第１の支持格子３４ａを備える。第１の支持格子３４ａ及び第２の支持格子３４ｂは各々、フレーム部分３６、複数の垂直部材４０、及び複数の水平部材４２を備える。複数の垂直部材４０（図２Ａ及を参照）及び複数の水平部材４２（図２Ａを参照）は、複数の窓部分４４（図２Ａを参照）を形成する。 
【０１０１】
本発明の別の実施形態では、試験片８０（図２Ｈを参照）の圧縮試験のための方法１６０（図６を参照）が提供される。図６は、本発明の方法１６０の例示的な実施形態のフロー図である。図６で示されるように、方法１６０は、試験片８０（図２Ｈを参照）の圧縮試験のための装置３０（図２Ａを参照）を形成するステップ１６２を含む。 
【０１０２】
先ほど詳細が述べられたように、装置３０（図２Ａを参照）は、ベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）に取り付けられた端部荷重要素７４（図２Ａを参照）を有するベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）を備える。ベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）は、好ましくは、硬質で頑丈である。 
【０１０３】
装置３０（図２Ａを参照）は、ベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）に取り付けられた支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）をさらに備える。支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）は、複数の窓部分４４（図２Ａを参照）を有する。 
【０１０４】
装置３０は、支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）内に設置されたコアアセンブリ４６（図２Ｆを参照）をさらに備える。コアアセンブリ（図２Ｆを参照）は、好ましくは、破砕することができ、支持アセンブリ３２及びベースアセンブリ６０を圧縮試験中に生成された破壊荷重５３（図５を参照）から保護するように構成される。そのような破壊荷重５３（図５を参照）は、試験片８０が試験片８０の圧縮試験中に破壊又は破損されると、コアアセンブリ（図２Ｆ及び図２Ｉを参照）に隣接して位置付けられた試験片８０（図２Ｈを参照）により生成することができる。試験片８０（図２Ｈを参照）の圧縮試験中に発生することがある圧縮荷重１０９（図５を参照）は、約３００ｋｉｐｓ（重量キロポンド）／平方インチの力から約５００ｋｉｐｓ（重量キロポンド）／平方インチの力までの範囲にありうる。しかしながら、圧縮荷重１０９は、適するものとして、もっと高くてもよく低くてもよい。
【０１０５】
図６で示されるように、方法１６０は、切欠き部分８２（図２Ｈを参照）を試験片８０（図２Ｈを参照）に形成するステップ１６４をさらに含む。図６に示されるように、方法１６０は、試験片８０（図２Ｈを参照）を支持アセンブリ３２（図２Ａを参照）内に、かつコアアセンブリ４６（図２Ｆ及び図２Ｉを参照）に隣接して設置するステップ１６６をさらに含む。 
【０１０６】
図６に示されるように、方法１６０は、装置３０（図２Ａを参照）を、圧縮試験のための、圧縮機１０２ａのような試験機１０２（図３Ａを参照）に設置するステップ１６８をさらに含む。装置３０（図２Ａを参照）を試験機１２０（図３Ａを参照）に設置するステップ１６８は、一又は複数の荷重レベリングデバイス９２（図３Ａを参照）を装置３０（図３Ａを参照）に結合することを含むことができる。
【０１０７】
図６で示されるように、方法１６０は、光学歪み測定システム１２０（図３Ａを参照）を装置３０（図３Ａを参照）に対して位置付けるステップ１７０をさらに備える。光学歪み測定システム１２０（図３Ａを参照）は、試験片８０（図３Ａを参照）及び切欠き部分８２（図３Ａを参照）が、複数の窓部分４４（図４Ｃを参照）を通して、光学歪み測定システム１２０（図３Ａを参照）から見ることができるように、位置付けられる。 
【０１０８】
図６に示されるように、方法１６０は、一又は複数の圧縮荷重１０９（図５を参照）を、方向１０９ａ（図３Ｃを参照）に向かって、試験片８０（図３Ｃを参照）に加えるステップ１７２をさらに含む。一又は複数の圧縮荷重１０９（図３Ｃを参照）は、好ましくは、圧縮機１０２ａの形態などの試験機１０２の上部プラテン１０４（図３Ｃを参照）及び下部プラテン１０６（図３Ｃを参照）を介して、試験片８０（図３Ｃを参照）に加えられる。 
【０１０９】
図６に示されるように、方法１６０は、試験片８０（図３Ａを参照）の歪みデータ１２７（図５を参照）を光学歪み測定システム１２０（図３Ａを参照）で測定するステップ１７４をさらに含む。歪みデータ１２７を測定するステップ１７４は、光学測定値１２６（図４Ａ及び図４Ｂを参照）を、試験片８０（図４Ａ及び図４Ｂを参照）の複数の場所１５２（図４Ａ及び図４Ｂを参照）で取り込み走査するために、二以上の光学デバイス１２２（図４Ａ及び図４Ｂを参照）を使用することを含む。 
【０１１０】
方法１６０は、ステップ１７４の後に、試験片８０（図３Ａを参照）の、座屈歪みなどの歪みに関する追加の情報、又は他の材料特性を判定するために、歪みデータ１２７（図５を参照）をデータ取得システム１３０（図３Ａを参照）で処理するステップをさらに含むことができる。歪みデータ１２７（図５を参照）が処理された後で、追加の圧縮試験が行われる場合に、端部荷重要素７４（図２Ａを参照）は、損傷があれば、ベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）で除去又は交換することができる。また、コアアセンブリ４６（図２Ｆを参照）の任意の損傷部分が、コアアセンブリ（図２Ｆを参照）で交換できる。 
【０１１１】
図７は、先ほど述べられたように、本発明の装置３０（図２Ａを参照）、システム１００（図５を参照）及び方法１６０（図６を参照）の実施形態で試験及び評価することができる、パネル２２０の形態などの一又は複数の構造２１８を有する、航空機２００ａなどの飛行体２００の斜視図である。図７で示されるように、航空機２００ａの形態などの飛行体２００は、胴体２０２、機首２０４、操縦席２０６、翼２０８、一又は複数の推進ユニット２１０、並びに垂直尾翼部分２１４、及び水平尾翼部分２１６を備える尾部２１２を備える。 
【０１１２】
図７に示される航空機２００ａは、概して、パネル２２０の形態などの一又は複数の構造２１８を有する民間旅客機を表しているが、本発明の実施形態の知識は、他の旅客機に適用することができる。例えば、本発明の実施形態の知識は、貨物航空機、軍用機、回転翼機、及び他の種類の航空機又は飛行体、並びに航空宇宙飛行体、衛星、宇宙発射飛行体、ロケット、及び他の航空宇宙飛行体に適用することができる。 
【０１１３】
図８は、航空機の製造及び保守方法３００を示すフロー図である。図９は、本発明の航空機３２０の実施形態の機能ブロック図である。図８及び図９を参照すると、本発明の実施形態は、図８に示す航空機の製造及び保守方法３００と、図９に示す航空機３２０の観点から説明することができる。 
【０１１４】
製造前の段階では、航空機の製造及び保守方法３００は、航空機３２０の仕様及び設計３０２及び材料の調達３０４を含みうる。製造段階では、航空機３２０の構成要素及びサブアセンブリの製造３０６と、システムインテグレーション３０８とが行われる。その後、航空機３２０は、認可及び納品３１０を経て運航３１２に供される。顧客により運航３１２される間に、航空機３２０は定期的な整備及び保守３１４（改造、再構成、改修、及び他の適切な保守も含みうる）を受ける。
【０１１５】
航空機の製造及び保守方法３００の各工程は、システムインテグレーター、第三者、及び／又はオペレーター（例えば顧客）によって実施又は実行されうる。この説明のために、システムインテグレーターは限定しないが、任意の数の航空機メーカー、及び主要システムの下請け業者を含むことができる。第三者は限定しないが、任意の数の供給メーカー、下請け業者、及びサプライヤを含むことができる。オペレーターは、リース会社、軍事団体、サービス組織、及び他の適するオペレーターを含むことができる。
【０１１６】
図９に示されるように、航空機の製造及び保守方法３００によって製造された航空機３２０は、複数のシステム３２４及び内装３２６を有する機体３２２を含みうる。複数のシステム３２４の例には、推進システム３２８、電気システム３３０、油圧システム３３２、及び環境システム３３４のうちの一又は複数が含まれる。任意の数の他のシステムが含まれてもよい。航空宇宙産業の例を示したが、本開示の原理は、自動車産業などの他の産業にも適用しうる。
【０１１７】
本明細書で実施される方法とシステムは、航空機の製造及び保守方法３００の一又は複数の任意の段階で採用することができる。例えば、構成要素及びサブアセンブリの製造３０６に対応する構成要素又はサブアセンブリは、航空機３２０の運航中３１２に製造される構成要素又はサブアセンブリと類似の方法で作製又は製造されうる。また、一又は複数の装置の実施形態、方法の実施形態、又はこれらの組み合わせは、例えば、航空機３２０の組立てを実質的に効率化するか、又は航空機３２０のコストを削減することにより、構成要素及びサブアセンブリの製造３０６及びシステムインテグレーション３０８の段階で利用することができる。同様に、装置の実施形態、方法の実施形態、或いはそれらの組み合わせのうちの一又は複数を、航空機３２０の運航中３１２に、例えば限定しないが、整備及び保守３１４に利用することができる。
【０１１８】
装置３０（図２Ａを参照）、システム１００（図３Ａ及び図５を参照）、並びに方法１６０（図６を参照）の開示された実施形態により、試験が、ある既存の試験用固定具を使用して試験を実行するよりもずっと高速の試験速度で、試験パネル８０ａ（図２Ｈを参照）の形態などの試験片８０（図２Ｈを参照）で実行できる。これは、試験の設定および試験に必要とされる時間の短縮による。 
【０１１９】
たとえば、装置３０（図２Ａを参照）、システム１００（図３Ａ及び図５を参照）、並びに方法１６０（図６を参照）の開示された実施形態を使用する、試験パネル８０ａ（図２Ｈを参照）の形態などの試験片８０（図２Ｈを参照）は、１日に１０〜２０の試験片８０の試験速度で試験を行うことができる。これに対し、例えば、既存の大きな切欠き圧縮試験用固定具１０ａ（図１を参照）などの既存の試験用固定具１０（図１を参照）を使用する試験片２８（図１を参照）は、通常、１日にたった１〜２の試験片パネル２８の試験速度でしか試験を行うことができない。 
【０１２０】
さらに、装置３０（図２Ａを参照）、システム１００（図３Ａ及び図５を参照）、並びに方法１６０（図６を参照）の開示された実施形態は、試験のための歪みゲージ１４（図１を参照）の使用及び設置を必要としない。これにより、試験に必要な労力、設置及びフロー時間が削減される。これにより、同様に、試験の時間及び費用が結果として全体的に削減されることもある。このような試験の時間及び費用は、好ましくは、例えば、既存の大きな切欠き圧縮試験用固定具１０ａ（図１を参照）のような既存の試験用固定具１０（図１を参照）を使用する試験の時間及び費用と比べて、１０〜２０倍も削減することができる。
【０１２１】
さらに、装置３０（図２Ａを参照）、システム１００（図３Ａ及び図５を参照）、並びに方法１６０（図６を参照）の開示された実施形態は、試験に使用される装置３０（図２Ａを参照）の支持格子３４（図２Ａを参照）のシースルー構成のために、光学歪み測定システム１２０（図３Ａ及び図４Ａを参照）で使用することができる。それに対し、例えば、既存の大きな切欠き圧縮試験用固定具１０ａ（図１を参照）などの既存の試験用固定具１０（図１を参照）は、光学歪み測定システム１２０（図３Ａ及び図４Ａを参照）を使用することができない。これは、既存の大きな切欠き圧縮試験用固定具１０ａの第１の支持板１２ａ（図１を参照）及び第２の支持板１２ｂ（図１を参照）が、試験片パネル２８（図１を参照）を完全に覆い、試験片パネル２８のいかなる視界をも遮るからである。 
【０１２２】
また、装置３０（図２Ａを参照）、システム１００（図３Ａ及び図５を参照）、並びに方法１６０（図６を参照）の開示された実施形態は、硬質で破砕可能であるベースプラットフォーム６２（図２Ａを参照）を利用し、かつベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）に装着された端部荷重要素７４（図２Ａを参照）を利用する。端部荷重要素７４（図２Ａを参照）は、一又は複数の圧縮試験後に交換することができ、圧縮試験中にベースアセンブリ６０（図２Ａを参照）を保護するように設計される。 
【０１２３】
ゆえに、ベースアセンブリ６０は、いくつかの既存の試験用固定具のベース構造と比較して、多くの圧縮試験にわたって摩損に耐えるよう設計される。例えば、既存の大きな切欠き圧縮試験用固定具１０ａ（図１を参照）などの既存の試験用固定具１０（図１を参照）のベース部分２２（図１を参照）は、薄く、数回の圧縮試験のすぐ後に摩耗することもある。 
【０１２４】
また、装置３０（図２Ａを参照）、システム１００（図３Ａ及び図５を参照）、並びに方法１６０（図６を参照）の開示された実施形態は、ベースプラットフォーム６２（図２Ａを参照）を補強するためにシミングを必要としないベースプラットフォーム６２を利用する。これにより、結果として、試験ごとにシミングを設定する時間及び費用を削減することができる。これに対し、例えば、既存の大きな切欠き圧縮試験用固定具１０ａ（図１を参照）などの既存の試験用固定具１０のベース部分２２（図１を参照）は、ベース部分２２（図１を参照）を補強するためにシム２０（図１を参照）の使用を必要とすることがある。 
【０１２５】
最終的に、装置３０（図２Ａを参照）、システム１００（図３Ａ及び図５を参照）、及び方法１６０（図６を参照）の開示された実施形態は、試験片８０（図２Ｈを参照）の圧縮試験中に荷重の自己レベリング又は自己平衡を行うために使用することができる、一又は複数の荷重レベリングデバイス９２（図３Ｂを参照）を使用する。 
【０１２６】
上述の説明及び関連する図面に提示された知識の利点を有するこのような発明に関連する当業者であれば、本明細書に記載した多数の変形例および他の実施形態が想起されよう。本明細書に記載された実施形態は、例示することを意図するものであって、限定的であること又は網羅的であることを意図するものではない。本明細書では特定の用語を使用しているが、それらは、一般的及び説明的な意味でのみ使用されており、限定を目的として使用されているものではない。
【０１２７】
本発明はまた、以下の条項による実施形態について説明する。
【０１２８】
条項１
圧縮試験のための装置（３０）であって、前記装置（３０）は、
ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた端部荷重要素（７４）を有するベースアセンブリ（６０）であって、硬質であるベースアセンブリ（６０）、
前記ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた支持アセンブリ（３２）であって、複数の窓部分（４４）を有する支持アセンブリ（３２）、及び
前記支持アセンブリ（３２）内に設置されたコアアセンブリ（４６）であって、破砕可能であり、前記支持アセンブリ（３２）及び前記ベースアセンブリ（６０）を、圧縮試験中に生成された破壊荷重（５３）から保護するように構成されたコアアセンブリ（４６）
を備え、
前記ベースアセンブリ（６０）、前記支持アセンブリ（３２）、及び前記コアアセンブリ（４６）は全体で、切欠き部分（８２）を有する試験片（８０）の圧縮試験のための装置（３０）を備え、前記装置（３０）は、光学歪み測定システム（１２０）との使用のために構成され、
前記試験片（８０）が前記支持アセンブリ（３２）に設置されると、前記試験片（８０）及び前記切欠き部分（８２）は、前記複数の窓部分（４４）を通して、前記光学歪み測定システム（１２０）から見ることができる、装置（３０）。
【０１２９】
条項２
前記支持アセンブリ（３２）は、第２の支持格子（３４ｂ）への取付けのために構成された第１の支持格子（３４ａ）を備え、前記コアアセンブリ（４６）及び前記試験片（８０）は、前記第１の支持格子（３４ａ）と前記第２の支持格子（３４ｂ）との間に設置される、条項１に記載の装置（３０）。
【０１３０】
条項３
前記第１の支持格子（３４ａ）及び前記第２の支持格子（３４ｂ）は各々、フレーム部分（３６）、複数の垂直部材（４０）、及び複数の水平部材（４２）を備え、前記複数の垂直部材（４０）及び前記複数の水平部材（４２）は、前記複数の窓部分（４４）を形成する、条項２に記載の装置（３０）。 
【０１３１】
条項４
前記コアアセンブリ（４６）は、複数の垂直コア要素（４８）を備え、各垂直コア要素（４８）は、ハニカムサンドイッチコアアセンブリ（４７）を備える、条項１に記載の装置（３０）。 
【０１３２】
条項５
前記コアアセンブリ（４６）は、前記試験片（８０）が前記支持アセンブリ（３２）に設置されると、前記試験片（８０）の切欠き部分（８２）の場所に対応する破砕帯（５０）を有する、条項１に記載の装置（３０）。 
【０１３３】
条項６
第１のグリップ固定具（５６ａ）及び第２のグリップ固定具（５６ｂ）をさらに備え、前記第１のグリップ固定具（５６ａ）は、前記ベースアセンブリ（６０）に結合され、前記試験片（８０）が前記支持アセンブリ（３２）に設置されると、前記試験片（８０）の第１の端部（８５ａ）を保持するように構成され、かつ前記第２のグリップ固定具（５６ｂ）は、前記試験片（８０）の第２の端部（８５ｂ）に取り付けられ、前記試験片（８０）の前記第２の端部（８５ｂ）にわたって圧力荷重（５９）を加えるように構成される、条項１に記載の装置（３０）。 
【０１３４】
条項７
前記端部荷重要素（７４）は、取り外し可能であり、交換可能であり、かつ前記ベースアセンブリ（６０）を圧縮試験中に保護するように構成される端部荷重摩耗ストリップ（７４ａ）を備える、条項１に記載の装置（３０）。 
【０１３５】
条項８
圧縮試験のためのシステム（１００）であって、前記システム（１００）は、 
ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた端部荷重要素（７４）を有するベースアセンブリ（６０）であって、硬質であるベースアセンブリ（６０）、
前記ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた支持アセンブリ（３２）であって、複数の窓部分（４４）を有する支持アセンブリ（３２）、及び
前記支持アセンブリ（３２）内に設置されたコアアセンブリ（４６）であって、破砕可能であり、前記支持アセンブリ（３２）及び前記ベースアセンブリ（６０）を、圧縮試験中に生成された破壊荷重（５３）から保護するように構成されたコアアセンブリ（４６）
を備える装置（３０）、
切欠き部分（８２）を有する試験片（８０）であって、前記装置（３０）の前記支持アセンブリ（３２）に設置された試験片（８０）、
前記試験片（８０）を含む前記装置（３０）が前記試験機（１０２）に設置されると、一又は複数の圧縮荷重（１０９）を前記試験片（８０）に加えるように構成された試験機（１０２）、
前記試験機（１０２）に結合され、前記試験機（１０２）の動作を制御するように構成された試験機コントローラ（１１０）、
前記試験片（８０）及び前記切欠き部分（８２）が、前記複数の窓部分（４４）を通して、光学歪み測定システム（１２０）から見ることができるように、前記試験機（１０２）に設置された前記試験片（８０）を含む前記装置（３０）に対して位置付けられた光学歪み測定システム（１２０）、並びに 
前記光学歪み測定システム（１２０）に結合されたデータ取得システム（１３０）
を備え、
前記装置（３０）、前記試験片（８０）、前記試験機（１０２）、前記試験機コントローラ（１１０）、前記光学歪み測定システム（１２０）、及び前記データ取得システム（１３０）は全体で、前記試験片（８０）の圧縮試験のためのシステムを備える、システム（１００）。 
【０１３６】
条項９
前記試験機（１０２）に設置された前記装置（３０）に結合された一又は複数の荷重レベリングデバイス（９２）をさらに備える、条項８に記載のシステム（１００）。 
【０１３７】
条項１０
前記支持アセンブリ（３２）は、第２の支持格子（３４ｂ）への取付けのために構成された第１の支持格子（３４ａ）を備え、
前記第１の支持格子（３４ａ）及び前記第２の支持格子（３４ｂ）は各々、フレーム部分（３６）、複数の垂直部材（４０）、及び複数の水平部材（４２）を備え、前記複数の垂直部材（４０）及び前記複数の水平部材（４２）は、前記複数の窓部分（４４）を形成する、条項８に記載のシステム（１００）。 
【０１３８】
条項１１
前記コアアセンブリ（４６）は、前記試験片（８０）が、前記装置（３０）の前記支持アセンブリ（３２）に設置されると、前記試験片（８０）の切欠き部分（８２）の場所（８４）に対応する破砕帯（５０）を有する、条項８に記載のシステム（１００）。 
【０１３９】
条項１２
前記試験片（８０）は、航空機（２００ａ）の試験パネル（８０ａ）を備える、条項８に記載のシステム（１００）。 
【０１４０】
条項１３
前記試験片（８０）の前記切欠き部分（８２）は、前記試験機（１０２）により前記試験片（８０）に加えられる一又は複数の圧縮荷重（１０９）の方向（１０９ａ）に垂直である、条項８に記載のシステム（１００）。 
【０１４１】
条項１４ 
前記光学歪み測定システム（１２０）は、光学測定値（１２６）を、前記試験片（８０）の複数の場所（１５２）で取り込み走査するように構成された二以上の光学デバイス（１２２）を備える、条項８に記載のシステム（１００）。
【０１４２】
条項１５ 
前記試験機コントローラ（１１０）に結合された第１の処理ユニット（１１４ａ）、及び前記データ取得システム（１３０）の第２の処理ユニット（１１４ｂ）をさらに備え、前記第２の処理ユニット（１１４ｂ）は、前記データ取得システム（１３０）の光学歪み測定システムコントローラ（１３２）に結合される、条項８に記載のシステム（１００）。   
【０１４３】
条項１６
圧縮試験のための方法（１６０）であって、前記方法（１６０）は、
試験片（８０）の圧縮試験のための装置（３０）を形成するステップであって、前記装置（３０）は、
ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた端部荷重要素（７４）を有するベースアセンブリ（６０）であって、硬質であるベースアセンブリ（６０）、
前記ベースアセンブリ（６０）に取り付けられた支持アセンブリ（３２）であって、複数の窓部分（４４）を有する支持アセンブリ（３２）、及び
前記支持アセンブリ（３２）内に設置されたコアアセンブリ（４６）であって、破砕可能であり、前記支持アセンブリ（３２）及び前記ベースアセンブリ（６０）を、圧縮試験中に生成された破壊荷重（５３）から保護するように構成されたコアアセンブリ（４６）
を備える装置（３０）を形成するステップ、
切欠き部分（８２）を試験片（８０）に形成するステップ、
前記試験片（８０）を前記支持アセンブリ（３２）内部であって、前記コアアセンブリ（４６）に隣接して設置するステップ、
前記装置（３０）を圧縮試験のための試験機（１０２）に設置するステップ、
前記試験片（８０）及び前記切欠き部分（８２）が、前記複数の窓部分（４４）を通して、光学歪み測定システム（１２０）から見ることができるように、前記光学歪み測定システム（１２０）を前記装置（３０）に対して位置付けるステップ、
一又は複数の圧縮荷重（１０９）を前記試験片（８０）に加えるステップ、並びに
前記試験片（８０）の歪みデータ（１２７）を前記光学歪み測定システム（１２０）で測定するステップ
を含む方法（１６０）。 
【０１４４】
条項１７
前記歪みデータを測定するステップの後に、前記歪みデータ（１２７）をデータ取得システム（１３０）で処理するステップをさらに含む、条項１６に記載の方法（１６０）。
【０１４５】
条項１８
前記歪みデータ（１２７）を処理するステップの後に、損傷した場合に前記端部荷重要素（７４）を交換し、前記コアアセンブリ（４６）の任意の損傷部分を交換するステップをさらに含む、条項１７に記載の方法（１６０）。 
【０１４６】
条項１９
前記装置（３０）を前記試験機（１０２）に設置するステップは、一又は複数の荷重レベリングデバイス（９２）を前記装置（３０）に結合することを含む、条項１６に記載の方法（１６０）。
【０１４７】
条項２０
前記歪みデータを測定するステップは、光学測定値（１２６）を前記試験片（８０）の複数の場所（１５２）で取り込み走査するために、一又は複数の光学デバイス（１２２）を使用することを含む、条項１６に記載の方法（１６０）。
【符号の説明】
【０１４８】
１０    試験用固定具
１２ａ、１２ｂ    支持板
１４    歪みゲージ
１６    ヒンジ取付け要素
１８    フレーム部分
２０    シム
２２    ベース部分
２４    側面支持部分
２８    試験片パネル
３０    装置
３０ａ  試験用固定具
３２    支持アセンブリ
３４    支持格子
３６    フレーム部分
３８    格子部分
４０    垂直部材
４２    水平部材
４４    窓部分
４６    コアアセンブリ
４８    垂直コア要素
５０    破砕帯
５２    細長いスロット
５４    ヒンジ要素
５６    グリップ固定具
５８    取付け要素
５９    圧力荷重
６０    ベースアセンブリ
６２    ベースプラットフォーム
６４    プラットフォーム部分
６６ａ、６８ａ    上面
６６ｂ、６８ｂ    底面
７０    ベース支持要素
７２    側面支持部分
７４    端部荷重要素
７６    取付け要素
７６ａ  ねじ
７８    端部
８０    試験片
８２    切欠き部分
８４    場所
８６    間隙
８８    グリップ板
９０    取付け要素
９２    荷重レベリングデバイス
９４、９６    矢印
１００    システム
１０１    設定位置
１０２    圧縮機
１０４    上部プラテン
１０６    下部プラテン
１０７    荷重セル
１０８    フレーム
１１０    試験機コントローラ
１１２    接続要素
１１４    処理ユニット
１１６    コンピュータ
１２０    光学歪み測定システム
１２２    光学デバイス
１２４    カメラ
１２６    光学測定値
１２６ａ  上部水平光学測定値
１２６ｂ  下部水平光学測定値
１２７    歪みデータ
１３６    スロット
１３８    開口
１４０    円形要素
１４２    整列部分
１４４    リンク部材
１４６    脚
１５０    中心線
１５１    距離
１５２    場所
１５６    荷重平衡
２００    飛行体
２００ａ  航空機
２０２    胴体
２０４    機首
２０６    操縦席
２０８    翼
２１０    推進ユニット
２１２    尾部
２１４    垂直尾翼部分
２１６    水平尾翼部分
２１８    構造
２２０    パネル
【図１】
2015021970.tif 000003
【図２Ａ】
2015021970.tif 000004
【図２Ｂ】
2015021970.tif 000005
【図２Ｃ】
2015021970.tif 000006
【図２Ｄ】
2015021970.tif 000007
【図２Ｅ】
2015021970.tif 000008
【図２Ｆ】
2015021970.tif 000009
【図２Ｇ】
2015021970.tif 000010
【図２Ｈ】
2015021970.tif 000011
【図２Ｉ】
2015021970.tif 000012
【図２Ｊ】
2015021970.tif 000013
【図３Ａ】
2015021970.tif 000014
【図３Ｂ】
2015021970.tif 000015
【図３Ｃ】
2015021970.tif 000016
【図４Ａ】
2015021970.tif 000017
【図４Ｂ】
2015021970.tif 000018
【図４Ｃ】
2015021970.tif 000019
【図４Ｄ】
2015021970.tif 000020
【図５】
2015021970.tif 000021
【図６】
2015021970.tif 000022
【図７】
2015021970.tif 000023
【図８】
2015021970.tif 000024
【図９】
2015021970.tif 000025
【外国語明細書】
2015021970000001.pdf
2015021970000002.pdf
2015021970000003.pdf
2015021970000004.pdf