(57)【要約】      （修正有）【課題】シャッタの露出時間精度の向上を可能にした撮像装置を提供する。【解決手段】常温領域かつ、シャッタ精度変化判定手段が所定値以上の変化と判定し、シャッタ精度変化カウント手段が所定回以上と判定した場合はシャッタの疲労補正値のフィードバック補正をする。また、常温領域外かつ、シャッタ精度変化判定手段が所定値以上の変化と判定し、シャッタ精度変化カウント手段が所定回以上と判定し、温度カウント手段が所定回数以上と判断した場合は常温領域外においてもシャッタの疲労補正値のフィードバック補正をする。また、常温領域外かつ、シャッタ精度変化判定手段が所定値以上の変化と判定し、シャッタ精度変化カウント手段が所定回以上と判定し、温度カウント手段が所定回数未満と判断した場合はシャッタの温度補正値のフィードバック補正をする。【選択図】図１
2015203820.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
先幕シャッタの動作開始信号から先幕動作を検出するまでの時間（ＴＳ）と、後幕シャッタの動作開始信号から後幕動作を検出するまでの時間（ＴＡ）を検出するシャッタ動作検出手段（１０７）と、
ＴＡとＴＳの差（ΔＴ）を算出する演算手段（１１４ａ）と、
出荷時のＴＡとＴＳの差（ΔＴ０）を記録する記録手段（１１５）と
カメラ内部の温度を検出する温度検出手段（１１６）と、
前記検出手段の結果に基づいて温度領域を判定する温度領域判定手段（１１４ｂ）と、
前記温度領域判定部によって低温領域判定中のシャッタの動作回数を記録する低温カウント手段（１１４ｃ）と、
前記温度領域判定部によって高温領域判定中のシャッタの動作回数を記録する高温カウント手段（１１４ｄ）と、
前記シャッタ動作検出手段より、シャッタの走行特性が変化しているか判定するシャッタ精度変化判定手段（１１４ｅ）と、
前記シャッタ精度御判定手段に基づいてシャッタ精度変化回数をカウントするシャッタ精度変化カウント手段（１１４ｆ）を備えたカメラにおいて
前記温度領域判定手段により、常温領域かつ、前記シャッタ精度変化判定手段が所定値以上の変化と判定し、前記シャッタ精度変化カウント手段が所定回以上と判定した場合はシャッタの疲労補正値のフィードバック補正をする。
また、前記温度領域判定手段により、常温領域外かつ、前記シャッタ精度変化判定手段が所定値以上の変化と判定し、シャッタ精度変化カウント手段が所定回以上と判定し、前記温度カウント手段が所定回数以上と判断した場合は常温領域外においてもシャッタの疲労補正値のフィードバック補正をする。
また、前記温度領域判定手段により、常温領域外かつ、前記シャッタ精度変化判定手段が所定値以上の変化と判定し、シャッタ精度変化カウント手段が所定回以上と判定し、前記温度カウント手段が所定回数未満と判断した場合はシャッタの温度補正値のフィードバック補正をすることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
シャッタの疲労補正値と温度補正値のフィードバック補正量は一定の値を加えることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
シャッタの疲労補正値と温度補正値のフィードバック補正量は前記シャッタ精度変化手段によって変化したと判断された量を補う値とすることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置及びその制御方法に関し、特にメカニカルシャッタを有する撮像装置及びその制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、一眼レフタイプやミラーレスタイプのデジタルカメラには、メカニカルシャッタだけで構成されたシャッタと、メカニカルシャッタと電子シャッタを併用して構成されたシャッタで撮像動作を行うものがある。これらのデジタルカメラは撮像素子へ露光開始タイミングを制御する先幕シャッタと、先幕の走行開始後に露光終了タイミングを制御する後幕シャッタにより撮像が行われている。こうした機構を備えたデジタルカメラはレリーズ動作によるシャッタの疲労による走行特性変化や、使用する温度環境による走行特性が変化し、露出時間に影響を及ぼす可能性がある。
【０００３】
そのため、メカニカルシャッタタイプのデジタルカメラでは先幕と後幕の走行特性の変化に応じてフィードバック補正や、耐久補正、温度補正が行われており、メカニカルシャッタと電子シャッタの併用タイプのデジタルカメラでは後幕のメカニカルシャッタの走行特性の変化に応じてフィードバック補正や、耐久補正、温度補正が行われている。
【０００４】
特許文献１では生産工程で初期のメカニカルシャッタの走行特性をカメラに初期時間として記憶させ、レリーズ動作毎に出荷時の露出時間と比較し、ずれた場合に補正する耐久補正と、温度毎に一律に補正する温度補正が開示されている。特許文献２ではカメラが検出した温度によって補正値が変化する温度補正カーブが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−９２４９４号公報
【特許文献２】特開平９−３２５３８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述の特許文献に開示された従来技術では、メカニカルシャッタによる露出時間が変化した時、またはカメラ内の温度検出結果に応じてシャッタの走行開始タイミングを変える事で露出時間を補正している。しかし、温度によるシャッタの走行特性の変化量は個体差があるにもかかわらず、一律の温度補正であるため、露出時間が必ずしも適正になるとは限らず、露出時間変化の原因がレリーズ動作によるシャッタの疲労か、シャッタの温度特性か判断していないため、フィードバック補正が影響を及ぼす可能性がある。
【０００７】
例えば、温度環境によってシャッタの走行特性が変化し、温度補正が働いたにもかかわらず適正露出にならない場合、レリーズ動作によりフィードバック補正も働き、２つの補正を行う事で撮影時の温度環境において適正露出となる。しかし、次に撮影する場合に温度環境が変化していると、温度補正値は温度に応じて変化しているが、前温度環境で行ったフィードバック補正値が露出時間にズレを生じさせる可能性がある。
【０００８】
そこで、本発明の目的は、シャッタによる露出時間が変化した時にシャッタ疲労によるシャッタの走行特性変化であるか、シャッタの温度特性によるシャッタ走行特性変化であるかを判定し、それに応じて出荷時のシャッタ動作時間を基準とした露出時間のフィードバック補正を可能にした撮像装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するための本発明に係る撮像装置の構成は、
先幕の動作開始信号（Ｓ−ＭＧ）と、先幕走行中の検出信号（Ｓ−ＰＩ）と、後幕の動作開始信号（Ａ−ＭＧ）と、後幕走行中の検出信号（Ａ−ＰＩ）と、Ｓ−ＭＧからＳ−ＰＩの立下りまでの時間（ＴＳ）と、Ａ−ＭＧからＡ−ＰＩの立下りまでの時間（ＴＡ）を検出するシャッタ検出手段と、ＴＡとＴＳの差（ΔＴ）を算出する演算手段と、
出荷時のＴＡとＴＳの差（ΔＴ０）を記録する記録手段と、
前記ΔＴ０−ΔＴの演算結果が、所定値（Ｓｈ＿ｈ）以上または、所定値（Ｓｈ＿ｌ）未満の場合はシャッタ精度が変化したと判定するシャッタ精度変化判定手段と、
カメラ内部の温度を検出する温度検出手段と、
前記温度検出手段の結果に基づいて複数ある温度領域を識別する温度領域判定手段と、
前記温度領域判定手段により、低温領域と判断され、かつレリーズ動作が行われたときにＣＰＵ内でシャッタ走行回数をカウントする低温領域中のレリーズカウント手段と、
前記低温領域中のレリーズカウント手段のカウント回数が所定回数以上かを判定し、所定回数以上の場合はシャッタの疲労によるシャッタ走行特性変化と判定し、所定回数未満は環境温度によるシャッタの走行特性変化と判定する、低温領域中のシャッタ走行特性判定手段と、
前記温度領域判定手段により、高温領域と判断され、かつレリーズ動作が行われたときにＣＰＵ内でシャッタ走行回数をカウントする高温領域中のレリーズカウント手段と、
前記高温領域中のレリーズカウント手段のカウント回数が所定回数以上かを判定し、所定回数未満の場合はシャッタの疲労によるシャッタ走行特性変化と判定し、所定回数未満は環境温度によるシャッタの走行特性変化と判定する、高温領域中のシャッタ走行特性判定手段を備えたカメラにおいて、
常温領域中にシャッタ精度変化が判定された場合と、常温領域外かつシャッタの疲労によるシャッタ走行特性変化が判定された場合は、シャッタ疲労補正値に補正更新値をフィードバック補正として加算し、また、常温領域外かつ環境温度によるシャッタの走行特性変化が判定された場合はシャッタ温度補正値に補正更新値をフィードバック補正として加算することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、個体毎にバラつく温度によるシャッタ走行特性の変化量を検出することで、温度補正値をフィードバック補正する事ができ、低温や高温といった環境下でシャッタ疲労によるシャッタの走行特性変化が発生した場合にシャッタ疲労補正値にフィードバック補正する事ができ、シャッタによる露出時間精度の向上を可能にした撮像装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】撮像システムの構成を示すブロック図
【図２】シャッタの精度補正に関するタイミングチャート（初期）
【図３】シャッタの精度補正に関するタイミングチャート（精度変化後）
【図４】シャッタの精度補正に関するタイミングチャート（補正後）
【図５】シャッタの温度による精度変化に応じた補正カーブ
【図６】常温領域中の撮像に関するフローチャート
【図７】常温領域中のシャッタ精度のフィードバック補正に関するフローチャート
【図８】低温領域中の撮像に関するフローチャート
【図９】低温領域中のシャッタ精度のフィードバック補正に関するフローチャート
【図１０】高温領域中の撮像に関するフローチャート
【図１１】高温領域中のシャッタ精度のフィードバック補正に関するフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。ただし、本形態において例示される構成部品の寸法、形状、それらの相対配置などは、本発明が適用される装置の構成や各種条件により適宜変更されるべきものであり、本発明がそれらの例示に限定されるものではない。
【実施例１】
【００１３】
図１は、本発明の第１の実施形態にかかわる撮像システムの構成を示すブロック図である。第１の実施形態にかかわる撮像システムは、撮像装置であるカメラ本体Ｓ１００と、カメラ本体Ｓ１００に装着される、撮影光学系としての着脱可能なレンズユニット１０１とを有している。
【００１４】
まず、レンズユニット１０１内の構成について説明する。１１８は撮影レンズであり、図１では、１つのレンズとして表しているが、実際には、フォーカスレンズやズームレンズ等、複数のレンズ群から構成されている。
【００１５】
レンズＣＰＵ１２０は、レンズ駆動回路１１９を介して撮影レンズ１１８の駆動を制御すると共に、絞り駆動回路１２１を介して絞り１２２を駆動し、撮影動作時の被写体輝度に応じた絞りの制御を行う。レンズＣＰＵ１２０は、レンズユニット１０１側の通信接点１２３及びカメラ本体Ｓ１００側の通信接点１２４を介して、後述するカメラ本体Ｓ１００内のカメラＣＰＵ１１４と通信し、レンズ情報をカメラＣＰＵ１１４の要求に応じて通知する。
【００１６】
次に、カメラ本体Ｓ１００の構成について説明する。撮像装置が非撮影状態（図１に示す状態）にある場合、レンズユニット１０１の撮影レンズ１１８及び絞り１２２を通過した被写体光束のうちの一部の光束は、撮影光路内に位置するミラー１０２で反射されてファインダ光学系１０３に導かれる。これにより、撮影者は、ファインダ光学系１０３を介して被写体像を観察することができる。
【００１７】
後述する不図示のレリーズ釦が押されて非撮影状態から撮影状態に移行すると、ミラー１０２は撮影光路から退避する。これにより、レンズユニット１０１からの被写体光束は、ＣＭＯＳセンサやＣＣＤなどにより構成される撮像素子１０４へ向かう。
【００１８】
撮像素子１０４の各画素は、露光されている間、レンズユニット１０１により結像された被写体光学像を光量に応じて光電変換し、得られた電荷を蓄積する。撮像素子１０４には、パルス発生回路１０８から走査クロック（水平駆動パルス）や所定の制御パルスが供給される。パルス発生回路１０８で発生した走査クロックのうち、垂直走査用のクロックは垂直駆動変調回路１０９によって所定のクロック周波数に変調されて、撮像素子１０４に入力される。この垂直駆動変調回路１０９によって電子先幕シャッタの走査パターンが決定される。
【００１９】
また、パルス発生回路１０８は、後述する信号処理回路１１０にもクロック信号を出力する。撮像素子１０４に対して物体側（レンズ側）には、メカニカルシャッタ１０５が配置されている。メカニカルシャッタ１０５は、複数の遮光羽根で構成された後幕（以下、「メカ後幕」と呼ぶ。）を有し、撮像素子１０４を遮光する。
【００２０】
カメラＣＰＵ１１４は、シャッタ精度演算部１１４ａと、温度領域判定部１１４ｂと、低温領域中のレリーズカウントを行う低温カウント１１４ｃと、高温領域中のレリーズカウントを行う高温カウント１１４ｄと、シャッタ精度の変化を判定するシャッタ精度判定部１１４ｅと、シャッタ精度の変化した回数をカウントするシャッタ精度変化カウント部１１４ｆを備え、シャッタ駆動回路１０６を介してメカニカルシャッタ１０５の駆動を制御する。シャッタ動作検出部１０７は、例えばフォトリフレクタやフォトインタラプタ等センサで構成され、メカニカルシャッタ１０５の動作状況を検出し、カメラＣＰＵ１１４に検出結果を供給する。
【００２１】
信号処理回路１１０は、撮像素子１０４から読み出された信号に対して二重相関サンプリング処理（ＣＤＳ）やゲイン（ＡＧ）処理、及び所定の処理（色処理やガンマ補正等）を施すことにより画像データを生成する。生成された画像データは、画像表示回路１１１を介して表示装置１１７に出力されて撮影画像として表示されたり、画像記録回路１１２に記録されたりする。
【００２２】
スイッチユニット１１３は、主電源のＯＮ／ＯＦＦを制御するスイッチや、撮影条件等を設定するために操作されるスイッチや、撮影準備動作および撮影動作を開始させるために操作されるスイッチ（レリーズ釦）を含む。レリーズ釦の半押し操作（スイッチＳＷ１のＯＮ）で撮影準備動作（測光動作や焦点調節動作等）が開始される。更に、全押し操作（スイッチＳＷ２のＯＮ）で撮影動作（撮像素子１０４の露光及び電荷信号の読み出し、及び電荷信号を処理して得られた画像データの記録媒体への記録）が開始される。
【００２３】
カメラＣＰＵ１１４は、スイッチユニット１１３の操作に応じた動作を行う。情報格納部１１５は、後述するような耐久補正値や温度補正値を複数記憶する。温度測定部１１６は、カメラ内部の温度を検出し、カメラＣＰＵ１１４に検出値を供給する。
【００２４】
上記構成を有する本実施の形態におけるカメラ本体Ｓ１００は、通常複数の遮光羽根で構成される先幕と後幕に加えて、撮像素子１０４の画素を順次リセットし、電荷蓄積を開始する電子シャッタである電子先幕シャッタも備えている。
【００２５】
次に図２、図３、図４を用いてシャッタの疲労によるメカニカルシャッタの走行特性変化とシャッタ疲労補正値のフィードバック補正について説明する。説明にあたって関連する要素を以下とし、後の説明では省略する。
ΔＴ：レリーズ動作毎にカメラ自身で検出するシャッタ動作検出時間
ΔＴ０：出荷時のシャッタ動作検出時間
Ｒｓｈ：シャッタの疲労補正値
Ｔｓｈ：シャッタの温度補正値
図２は、出荷時のシャッタ走行カーブと、シャッタのタイミングチャートの関係を示した図である。シャッタの走行カーブの横軸はシャッタ走行時の時間経過を表わし、縦軸はシャッタ走行の距離を表わす。走行カーブを示す図の下側はシャッタの走行開始位置、上側は走行終了位置となる。
【００２６】
先幕の動作開始信号をＳ−ＭＧ、後幕の動作開始信号をＡ−ＭＧとし、シャッタ動作開始信号よりシャッタが走行すると先幕走行カーブは１０５−１、後幕走行カーブは１０５−２となる。さらに、ＰＩセンサなどのシャッタ動作検出部により撮像領域１０４−ａから１０４−ｂ間のシャッタの走行を検出し、先幕の走行信号をＳ−ＰＩ、後幕の走行信号をＡ−ＰＩとする。
【００２７】
また、Ｓ−ＭＧからＳ−ＰＩの立下りまでの時間をＴＳ、Ａ−ＭＧからＡ−ＰＩの立下りまでの時間をＴＡとし、Ｓ−ＰＩの立下り信号からＡ−ＰＩの立下り信号まではカメラのシャッタ秒時にあたる露出時間ＴＰとなる。カメラはレリーズ動作毎にＴＡ−ＴＳをシャッタ動作検出時間ΔＴとして算出し、特に出荷時のΔＴを基準のシャッタ動作検出時間ΔＴ０として情報格納部に記憶する。
【００２８】
ΔＴ０  ＝  ＴＡ−ＴＳ
図３はカメラレリーズによるシャッタ疲労後のシャッタ走行カーブと、シャッタのタイミングチャートの関係を示した図である。シャッタ疲労により、後幕の動作開始信号のＡ−ＭＧから後幕シャッタの走り出しが遅くなったため、後幕走行カーブが１０５−２´、後幕シャッタの動作検出時間がＴＡ´、シャッタの露出時間がＴＰ´となる。  この時のシャッタ動作検出時間ΔＴは
ΔＴ  ＝  ＴＡ´−ＴＳ  となり、ＴＡ´の増加量だけ露出オーバーになったことを示す。
【００２９】
図４は露出オーバー後にシャッタの疲労補正値のフィードバック補正を行った時のシャッタ走行カーブと、タイミングチャートの関係を示した図である。レリーズ動作を行うと前述したようにカメラがΔＴを算出し、情報格納部に記憶されたΔＴ０との差を算出する。
【００３０】
次にΔＴ０とΔＴの差を算出することで、シャッタ動作による露出時間（以下、シャッタ精度と称する）の変化量を判定する。変化量が所定以上の場合は、シャッタの疲労補正Ｒｓｈを後幕の走行開始タイミングＡ−ＭＧに加えることで、Ａ−ＭＧの立ち上がり信号のタイミングが補正され、後幕走行カーブが１０５−２´´となり、ＴＡ´がＴＡ´´となる。これにより、ＴＰ´がＴＰ´´となる。
また、シャッタの疲労補正が行われたことで、次のレリーズからのシャッタ精度変化量を求める式は
シャッタ精度変化量＝（ΔＴ＋Ｒｓｈ）−ΔＴ０
となる。
さらに、後に説明する環境温度によるシャッタの走行特性変化に応じた温度補正が加わるとシャッタ精度の変化量を求める式は
シャッタ精度変化量＝（ΔＴ＋Ｒｓｈ＋Ｔｓｈ）−ΔＴ０
となる。
【００３１】
次に、図５を用いて環境温度によるシャッタの温度補正について説明する。温度補正に関する要素を以下とし、後の説明では省略する。
Ｔ：温度検出部の検出温度［℃］
Ｔｌ：常温領域と低温領域の閾値［℃］
Ｔｈ：常温領域と高温領域の閾値［℃］
Ａ：低温領域の温度補正関数の傾き
Ｂ＝Ａ×（０［℃］−Ｔｌ）：低温領域の温度補正関数の切片
Ｃ：高温領域の温度補正関数の傾き
Ｄ＝Ｃ×（０［℃］−Ｔｈ）：高温領域の温度補正関数の切片
Ａ×Ｔ＋Ｂ：低温領域の温度補正関数
Ｃ×Ｔ＋Ｄ：高温領域の温度補正関数
図５は温度に応じて変化するシャッタの温度補正値をプロットした初期温度補正カーブである。横軸は温度、縦軸は補正量を表し、温度は低温領域、常温領域、高温領域の３つにわかれ、各温度領域で温度補正値の算出は異なる。
【００３２】
低温領域では、
Ｔｓｈ＝Ａ×Ｔ＋Ｂ
によって温度補正値算出し、低温であるほどシャッタ精度を露出オーバー側へ補正することを表している。
【００３３】
常温領域では温度補正は行わず、高温領域では、
Ｔｓｈ＝Ｃ×Ｔ＋Ｄ
によって算出し、高温であるほどシャッタ精度を露出アンダー側へ補正することを表している。
【００３４】
この温度補正値はシャッタの疲労補正同様、シャッタの走行開始タイミングに加える事でシャッタ精度を補正する。また、前記温度補正はカメラ内の温度検出部による検出結果に基づいて行うため、レリーズ動作は不要であるが、レリーズ動作による温度補正値のフィードバック補正については後ほど説明する。
【００３５】
次に、常温領域のシャッタ補正について図６、図７のフローを用いて説明する。シャッタ補正に関する要素を以下とし、後の説明では省略する。
ＳＷ１：レリーズ釦半押し
ＳＷ２：レリーズ釦全押し
Ｓｈ＿ｌ：シャッタ精度変化判定の下限閾値
Ｓｈ＿ｈ：シャッタ精度変化判定の上限閾値
Ｃｘ：シャッタ精度がアンダーに変化しているカウント回数
Ｃｙ：シャッタ精度がオーバーに変化しているカウント回数
Ｃｓｈ：シャッタ精度変化判定カウント閾値
Ｅ：シャッタ精度がアンダーと判断された場合の、シャッタの疲労補正値のフィードバック補正量
Ｆ：シャッタ精度がオーバーと判断された場合の、シャッタの疲労補正値のフィードバック補正量
図６は常温領域の撮影フローである。Ｓ１００ではＳ１が押されたか判定し、Ｓ１が押されるとＳ１０１へ進み、押されるまで待機状態となる。Ｓ１０１では温度検出部よりカメラ内の温度情報（Ｔ℃）を取得し、Ｓ１０２へ進む。Ｓ１０２ではＳ１０１で取得したＴ℃がＴｌ℃以上かつ、Ｔｈ℃未満か判定する。Ｔｌ℃以上かつ、Ｔｈ℃未満の場合はＳ１０３へ進む。Ｔｌ℃以上かつ、Ｔｈ℃未満外の場合はＳ１１０へ進む。
【００３６】
Ｓ１１０ではＳ１０１で取得したＴ℃がＴｌ℃未満か判定する。Ｔｌ℃未満の場合はＳ１１１へ進み、低温領域フロー、Ｔｌ℃未満外の場合は高温領域フローへ進む。Ｓ１０３では情報格納部からシャッタの疲労補正値（Ｒｓｈ）を取得し、Ｓ１０４へ進む。Ｓ１０４ではＳＷ２が押されたか判定し、ＳＷ２が押された場合はＳ１０５へ進み、押されない場合はＳ１００へ戻り、待機状態となる。
【００３７】
Ｓ１０５では撮像動作を行い、シャッタ動作検出部より、先幕シャッタ動作時間（ＴＳ）と、後幕シャッタ動作時間（ＴＡ）を検出し、情報格納部より基準のシャッタ動作検出時間（ΔＴ０）を取得する。その後Ｓ１０６へ進む。Ｓ１０６ではＴＡ−ＴＳより、シャッタ動作検出時間（ΔＴ）を算出し、Ｓ１０７へ進む。Ｓ１０７ではシャッタ精度変化量が所定の範囲内か判定する。
（ΔＴ＋Ｒｓｈ＋Ｔｓｈ）−ΔＴ０がＳｈ＿ｌ以上かつＳｈ＿ｈ未満の場合はＳ１０９へ進み、Ｓｈ＿ｌ以上かつＳｈ＿ｈ未満外の場合はＳ１０８へ進む。
【００３８】
Ｓ１０８ではシャッタの疲労補正値のフィードバック補正を行い、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。Ｓ１０９ではＣｘとＣｙをリセットし、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。
【００３９】
また、Ｓ１０８のシャッタの疲労補正値のフィードバック補正について図７を用いて詳細に説明する。次に、図７はＳ１０８のシャッタの疲労補正値のフィードバック補正について詳細に説明するためにＳ１２０〜Ｓ１３５に分解したフローである。
【００４０】
Ｓ１２０ではシャッタ精度変化量が露出アンダー側に変化しているかを判定する。つまり、（ΔＴ＋Ｒｓｈ＋Ｔｓｈ）−ΔＴ０がＳｈ＿ｌ未満であるか判定し、（ΔＴ＋Ｒｓｈ＋Ｔｓｈ）−ΔＴ０がＳｈ＿ｌ未満の場合はＳ１２１へ進み、そうでない場合はシャッタ精度変化量が露出オーバー側に変化していると判定し、Ｓ１３１へ進む。Ｓ１２１ではカウントＣｙをリセットし、Ｓ１２２へ進む。Ｓ１２２ではカウントＣｘに１を加算し、Ｓ１２３へ進む。Ｓ１２３ではカウントＣｘがＣｓｈ回以上であるかを判定し、カウントＣｘがＣｓｈ回以上の時はＳ１２４へ進み、カウントＣｘがＣｓｈ回未満の場合はＳ１００へ戻り、待機状態となる。
【００４１】
Ｓ１２４ではシャッタの疲労補正値Ｒｓｈにフィードバック補正量Ｅを加算し、Ｒｓｈに上書きする。その後Ｓ１２５へ進む。Ｓ１２５ではカウントＣｘをリセットしてＳ１００へ戻り、待機状態となる。Ｓ１３１ではカウントＣｘをリセットし、Ｓ１３２へ進む。Ｓ１３２ではカウントＣｙに１を加算し、Ｓ１３３へ進む。
【００４２】
Ｓ１３３ではカウントＣｙがＣｓｈ回以上であるかを判定し、カウントＣｙがＣｓｈ回以上の時はＳ１３４へ進み、カウントＣｙがＣｓｈ回未満の場合はＳ１００へ戻り、待機状態となる。Ｓ１３４では耐久補正値Ｒｓｈにフィードバック補正量Ｆを加算し、Ｒｓｈに上書きする。その後Ｓ１３５へ進む。Ｓ１３５ではカウントＣｙをリセットしてＳ１００へ戻り、待機状態となる。
【００４３】
次に、低温領域のシャッタ補正について図８、図９のフローを用いて説明する。低温、高温領域におけるシャッタ補正に関する要素を以下とし、後の説明では省略する。
Ｃｌ：低温領域中のシャッタ動作カウント回数
Ｃｈ：高温領域中のシャッタ動作カウント回数
Ｘ：常温領域外かつ、シャッタ精度がアンダーと判断された場合の、シャッタの温度補正値のフィードバック補正量
Ｙ：常温領域外かつ、シャッタ精度がオーバーと判断された場合の、シャッタの温度補正値のフィードバック補正量
図８は低温領域時の撮影フローである。Ｓ２０１では情報格納部からシャッタの疲労補正値（Ｒｓｈ）を取得し、Ｓ２０２へ進む。Ｓ２０２ではＳ１０１で取得したＴ℃と低温領域の温度補正関数Ａ×Ｔ＋Ｂより温度補正値（Ｔｓｈ）を算出し、Ｓ２０３へ進む。Ｓ２０３ではレリーズ釦が全押し（ＳＷ２）されたか判定し、ＳＷ２が押された場合はＳ２０４へ進み、押されない場合はＳ１００へ戻り、待機状態となる。
Ｓ２０４では撮像動作を行い、シャッタ動作検出部より、先幕シャッタ動作時間（ＴＳ）と、後幕シャッタ動作時間（ＴＡ）と、情報格納部から基準のシャッタ動作検出時間ΔＴ０を取得する。その後Ｓ２０５へ進む。
【００４４】
Ｓ２０５ではＴＡ−ＴＳよりシャッタ動作検出時間（ΔＴ）を算出し、Ｓ２０６へ進む。Ｓ２０６ではシャッタ精度変化量（ΔＴ＋Ｒｓｈ＋ＴＳｈ）−ΔＴ０がＳｈ＿ｌ以上かつＳｈ＿ｈ未満であるか判定し、（ΔＴ＋ＲＳｈ＋ＴＳｈ）−ΔＴ０がＳｈ＿ｌ以上かつＳｈ＿ｈ未満の場合はＳ２０８へ進み、Ｓｈ＿ｌ以上かつＳｈ＿ｈ未満外の場合はＳ２０７へ進む。
【００４５】
Ｓ２０７ではシャッタの疲労補正値もしくは、シャッタの温度補正値のフィードバック補正を行い、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。Ｓ２０７のフィードバック補正については後で詳細に説明する。Ｓ２０８ではカウントＣｘとＣｙをリセットしてＳ２０９へ進む。Ｓ２０９ではカウントＣｌに１を加算し、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。
【００４６】
次に、Ｓ２０７のシャッタの疲労補正値と温度補正値のフィードバック補正について図９を用いて詳細に説明する。Ｓ２２０ではシャッタ精度変化量が露出アンダー側に変化しているかを判定する。つまり、（ΔＴ＋ＲＳｈ＋ＴＳｈ）−ΔＴ０がＳｈ＿ｌ未満であるか判定し、アンダーの場合はＳ２２１へ進む。また、アンダーでない場合はシャッタ精度変化量が露出オーバー側に変化していると判定しＳ２３１へ進む。
Ｓ２２１ではカウントＣｙをリセットし、Ｓ２２２へ進む。
Ｓ２２２ではカウントＣｌに１を加算し、Ｓ２２３へ進む。
Ｓ２２３ではカウントＣｘに１を加算し、Ｓ２２４へ進む。
Ｓ２２４ではカウントＣｘがＣｓｈ回以上であるかを判定し、カウントＣｘがＣｓｈ回以上の時はＳ２２５へ進み、カウントＣｘがＣｓｈ回未満の場合はＳ１００へ戻る。
【００４７】
Ｓ２２５ではカウントＣｌがＣｓｈｒ回以上であるかを判定し、カウントＣｌがＣｓｈｒ回以上の時はＳ２２６へ進む、カウントＣｌがＣｓｈｒ未満の場合はＳ２２７へ進む。Ｓ２２６ではシャッタ精度変化の原因がシャッタの疲労と判断し、シャッタの疲労補正値Ｒｓｈにフィードバック補正量Ｅを加算し、Ｒｓｈに上書する。その後Ｓ２２９へ進む。
【００４８】
Ｓ２２７ではシャッタ精度変化の原因が使用環境温度と判断し、温度補正値Ｔｓｈにフィードバック補正量Ｘを加算し、Ｔｓｈに上書きする。その後Ｓ２２８へ進む。
Ｓ２２８ではフィードバック補正された温度補正値Ｔｓｈに基づいて低温領域中の補正関数の係数Ａと傾きＢを更新し、Ｓ２２９へ進む。
Ｓ２２９ではカウントＣｘをリセットし、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。
Ｓ２３１ではカウントＣｘをリセットし、Ｓ２３２へ進む。
Ｓ２３２ではカウントＣｌに１を加算し、Ｓ２３３へ進む。
Ｓ２３３ではカウントＣｙに１を加算し、Ｓ２３４へ進む。
Ｓ２３４ではカウントＣｙがＣｓｈ回以上であるかを判定し、カウントＣｙがＣｓｈ回以上の時はＳ２３５へ進み、カウントＣｙがＣｓｈ回未満の場合はＳ１００へ戻り待機状態となる。
【００４９】
Ｓ２３５ではカウントＣｌがＣｓｈｒ回以上であるかを判定し、カウントＣｌがＣｓｈｒ回以上の時はＳ２３６へ進み、カウントＣｌがＣｓｈｒ未満の場合はＳ２３７へ進む。Ｓ２３６ではシャッタ精度変化の原因がシャッタの疲労と判断し、シャッタの疲労補正値Ｒｓｈにフィードバック補正量Ｆを加算し、Ｒｓｈに上書する。その後Ｓ２３９へ進む。
【００５０】
Ｓ２３７ではシャッタ精度変化の原因が使用環境温度と判断し、温度補正値Ｔｓｈにフィードバック補正量Ｙを加算し、Ｔｓｈに上書きする。その後Ｓ２３８へ進む。
Ｓ２３８ではフィードバック補正された温度補正値Ｔｓｈに基づいて低温領域中の補正関数の係数Ａと傾きＢを更新し、Ｓ２３９へ進む。
Ｓ２３９ではカウントＣｙをリセットし、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。
【００５１】
次に、高温領域のシャッタ補正について図１０、図１１のフローを用いて説明する。
図１０は高温領域時の撮影フローである。Ｓ３０１では情報格納部からシャッタの疲労補正値（Ｒｓｈ）を取得し、Ｓ３０２へ進む。Ｓ３０２ではＳ１０１で取得したＴ℃と高温領域の温度補正関数Ｃ×Ｔ＋Ｄより温度補正値（Ｔｓｈ）を算出し、Ｓ３０３へ進む。
【００５２】
Ｓ３０３ではレリーズ釦が全押し（ＳＷ２）されたか判定し、ＳＷ２が押された場合はＳ３０４へ進み、押されない場合はＳ１００へ戻り、待機状態となる。Ｓ３０４では撮像動作を行い、シャッタ動作検出部より、先幕シャッタ動作時間（ＴＳ）と、後幕シャッタ動作時間（ＴＡ）と、情報格納部から基準のシャッタ動作検出時間ΔＴ０を取得する。その後Ｓ３０５へ進む。Ｓ３０５ではＴＡ−ＴＳより、シャッタ動作検出時間（ΔＴ）を算出し、Ｓ３０６へ進む。
【００５３】
Ｓ３０６ではシャッタ精度変化量（ΔＴ＋Ｒｓｈ＋ＴＳｈ）−ΔＴ０がＳｈ＿ｌ以上かつＳｈ＿ｈ未満であるか判定し、（ΔＴ＋ＲＳｈ＋ＴＳｈ）−ΔＴ０がＳｈ＿ｌ以上かつＳｈ＿ｈ未満の場合はＳ３０８へ進み、Ｓｈ＿ｌ以上かつＳｈ＿ｈ未満外の場合はＳ３０７へ進む。
【００５４】
Ｓ３０７ではシャッタの疲労補正値もしくは、シャッタの温度補正値のフィードバック補正を行い、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。Ｓ３０７のフィードバック補正については後で詳細に説明する。Ｓ３０８ではカウントＣｘとＣｙをリセットしてＳ３０９へ進む。Ｓ３０９ではカウントＣｈに１を加算し、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。
【００５５】
次に、Ｓ３０７のシャッタの疲労補正値と温度補正値のフィードバック補正について図１１を用いて詳細に説明する。Ｓ３２０ではシャッタ精度変化量が露出アンダー側に変化しているかを判定する。つまり、（ΔＴ＋ＲＳｈ＋ＴＳｈ）−ΔＴ０がＳｈ＿ｌ未満であるか判定し、アンダーの場合はＳ３２１へ進む。また、アンダーでない場合はシャッタ精度変化量が露出オーバー側に変化していると判定しＳ３３１へ進む。
Ｓ３２１ではカウントＣｙをリセットし、Ｓ３２２へ進む。
Ｓ３２２ではカウントＣｌに１を加算し、Ｓ３２３へ進む。
Ｓ３２３ではカウントＣｘに１を加算し、Ｓ３２４へ進む。
Ｓ３２４ではカウントＣｘがＣｓｈ回以上であるかを判定し、カウントＣｘがＣｓｈ回以上の時はＳ２２５へ進み、カウントＣｘがＣｓｈ回未満の場合はＳ１００へ戻る。
【００５６】
Ｓ３２５ではカウントＣｌがＣｓｈｒ回以上であるかを判定し、カウントＣｈがＣｓｈｒ回以上の時はＳ３２６へ進む、カウントＣｈがＣｓｈｒ未満の場合はＳ３２７へ進む。Ｓ３２６ではシャッタ精度変化の原因がシャッタの疲労と判断し、シャッタの疲労補正値Ｒｓｈにフィードバック補正量Ｅを加算し、Ｒｓｈに上書する。その後Ｓ３２９へ進む。
【００５７】
Ｓ３２７ではシャッタ精度変化の原因が使用環境温度と判断し、温度補正値Ｔｓｈにフィードバック補正量Ｘを加算し、Ｔｓｈに上書きする。その後Ｓ３２８へ進む。
Ｓ３２８ではフィードバック補正された温度補正値Ｔｓｈに基づいて低温領域中の補正関数の係数Ａと傾きＢを更新し、Ｓ３２９へ進む。
Ｓ３２９ではカウントＣｘをリセットし、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。
Ｓ３３１ではカウントＣｘをリセットし、Ｓ３３２へ進む。
Ｓ３３２ではカウントＣｈに１を加算し、Ｓ３３３へ進む。
Ｓ３３３ではカウントＣｙに１を加算し、Ｓ３３４へ進む。
Ｓ３３４ではカウントＣｙがＣｓｈ回以上であるかを判定し、カウントＣｙがＣｓｈ回以上の時はＳ３３５へ進み、カウントＣｙがＣｓｈ回未満の場合はＳ１００へ戻り待機状態となる。
【００５８】
Ｓ３３５ではカウントＣｈがＣｓｈｒ回以上であるかを判定し、カウントＣｈがＣｓｈｒ回以上の時はＳ３３６へ進み、カウントＣｈがＣｓｈｒ未満の場合はＳ３３７へ進む。Ｓ３３６ではシャッタ精度変化の原因がシャッタの疲労と判断し、シャッタの疲労補正値Ｒｓｈにフィードバック補正量Ｆを加算し、Ｒｓｈに上書する。その後Ｓ２３９へ進む。
【００５９】
Ｓ３３７ではシャッタ精度変化の原因が使用環境温度と判断し、温度補正値Ｔｓｈにフィードバック補正量Ｙを加算し、Ｔｓｈに上書きする。その後Ｓ３３８へ進む。Ｓ３３８ではフィードバック補正された温度補正値Ｔｓｈに基づいて低温領域中の補正関数の係数Ａと傾きＢを更新し、Ｓ３３９へ進む。Ｓ３３９ではカウントＣｙをリセットし、Ｓ１００へ戻り、待機状態となる。
【００６０】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、例えば、レリーズ耐久によってシャッタ精度が変化した時の補正更新値ＥおよびＦや、使用環境温度の変化によってシャッタ精度が変化した時の補正更新値Ｇ、Ｈに加算されるＸ、Ｙは固定値としたが、（ΔＴ＋ＲＳＨ＋ＴＳＨ）−ΔＴ０の差や、それに基づいた値であっても良い。その他、範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【符号の説明】
【００６１】
１０５：メカシャッタ、１０５−１：初期の先幕走行カーブ、
１０５−１´：補正後の先幕走行カーブ、１０５−２：初期の後幕走行カーブ、
１０５−２´：レリーズ耐久後の後幕走行カーブ、１０７：シャッタ動作検出部、
１１４：カメラＣＰＵ、１１４ａ：シャッタ精度演算部、１１４ｂ：温度領域判定部、
１１４ｃ：低温カウント、１１４ｄ：高温カウント、
１１４ｅ：シャッタ精度変化判定部、１１４ｆ：シャッタ精度変化カウント、
１１５：情報格納部、１１６：温度検出部
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図１】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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