(57)【要約】【課題】試験対象に接続される所定数のハーネスのハーネス長さを容易に変更できるだけでなく各ハーネス位置の再現性を容易に確保し得る試験用治具を提供する。【解決手段】ハーネス２０ａ〜２０ｃを試験用ハーネス長さよりも短く分断した所定数の分断ハーネスが支持部材１１に対してそれぞれ一方向に沿い所定の間隔にて同じ長さで固定されており、このように構成される支持部材１１が、分断ハーネスの上記一方向の長さが異なるように複数種類用意されている。そして、分断ハーネスの両端部には、他の支持部材に固定される分断ハーネスと電気的に接続するためのコネクタ３０がそれぞれ設けられている。【選択図】図１
2015017821.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象（Ｒ）に接続される所定数のハーネス（２０ａ〜２０ｃ）が固定される試験用治具（１０）であって、
前記ハーネスを試験時に要求されるハーネス長さよりも短く分断した前記所定数の分断ハーネス（２１ａ〜２１ｃ，２２ａ〜２２ｃ，２３ａ〜２３ｃ，２４ａ〜２４ｃ，２５ａ〜２５ｃ，２６ａ〜２６ｃ，２７ａ〜２７ｃ，２８ａ〜２８ｃ，５１ａ，５２ａ，５３ａ〜５３ｃ，５４ａ〜５４ｃ，５５ａ〜５５ｃ，５６ａ〜５６ｃ）がそれぞれ一方向に沿い所定の間隔にて同じ長さで固定される支持部材（１１，１１ａ〜１１ｎ）を、前記分断ハーネスの前記一方向の長さが異なるように複数種類備え、
前記分断ハーネスの両端部には、他の前記支持部材に固定される前記分断ハーネスと電気的に接続するための接続手段（３０，３１，３２，３３ａ〜３３ｃ，３４ａ〜３４ｃ，３５ａ〜３５ｃ，３６ａ〜３６ｃ）がそれぞれ設けられることを特徴とする試験用治具。
【請求項２】
前記複数種類の支持部材の１つとして、固定される前記所定数の分断ハーネスの少なくともいずれか１つにノイズを印加するノイズ印加手段（４０）を組み付けるための組付部（１２，１２ａ）が形成された支持部材（１１ｆ，１１ｇ）を備えることを特徴とする請求項１に記載の試験用治具。
【請求項３】
前記接続手段は、前記所定数の分断ハーネスの端部同士をそれぞれまとめたコネクタ（３０）であることを特徴とする請求項１または２に記載の試験用治具。
【請求項４】
試験対象（Ｒ）に接続される所定数のハーネス（２０ａ〜２０ｃ）が固定される試験用治具（１０）であって、
前記ハーネスを試験時に要求されるハーネス長さよりも短く分断した前記所定数の分断ハーネス（２１ａ〜２１ｃ，２２ａ〜２２ｃ，２３ａ〜２３ｃ，２４ａ〜２４ｃ，２５ａ〜２５ｃ，２６ａ〜２６ｃ，２７ａ〜２７ｃ，２８ａ〜２８ｃ，５１ａ，５２ａ，５３ａ〜５３ｃ，５４ａ〜５４ｃ，５５ａ〜５５ｃ，５６ａ〜５６ｃ）がそれぞれ一方向に沿い所定の間隔にて同じ長さで固定される支持部材（１１，１１ａ〜１１ｎ）を、前記分断ハーネスの前記一方向の長さが異なるように複数種類備え、
前記分断ハーネスの両端部には、前記所定数の端部同士をそれぞれまとめたコネクタ（３０）が、他の前記支持部材に固定される前記分断ハーネスと電気的に接続するための接続手段としてそれぞれ設けられ、
前記コネクタ間に接続されることで、前記コネクタ同士が直接接続される場合に接続される各分断ハーネスの接続状態と異なる接続状態に切り替えるための中継コネクタを備えることを特徴とする試験用治具。
【請求項５】
前記所定数の分断ハーネスは、接着部材（１３）により前記支持部材に接着されて固定されることを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の試験用治具。
【請求項６】
前記支持部材は、試験時に当該支持部材が載置される載置面（Ｔ）と固定される前記所定数の分断ハーネスとの間に空間（Ｓ）が介在するように形成されることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の試験用治具。
【請求項７】
前記所定数の分断ハーネスは、封止材（１５）により封止されて前記支持部材に固定されることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項に記載の試験用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象に接続されるハーネスが固定される試験用治具に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＢＣＩ試験（バルクカレント注入試験）やアンテナ近接試験などのＥＭＣ（Electromagnetic Compatibility：電磁両立性）試験の試験時には、試験系を構成するハーネスの位置等が試験結果に影響を及ぼす可能性がある。このため、試験者等が、試験対象に接続されるハーネス等を試験の度にその試験規格に応じて所定の位置に配置して試験系レイアウトの再現性を確保していた。しかしながら、人の手で試験の度にその試験規格に応じてハーネス等を所定の位置に配置する必要があるため、試験作業効率が悪いという問題があった。
【０００３】
この問題を解決するため、ハーネス等を固定する試験用治具に関する技術として、下記特許文献１に開示される配線誘導ノイズ試験用治具が知られている。この配線誘導ノイズ試験用治具は、試験対象に接続される電線（ハーネス）、ノイズを電線に注入する注入用電流プローブ、注入されたノイズにより電線に誘導される誘導ノイズを測定する測定用電流プローブ等を規格通りの配置に固定するための治具である。配線誘導ノイズ試験用治具は、電線や各プローブを挟み込んで収容固定するための基台および蓋体を備えており、これら基台および蓋体には、収容した電線や各プローブを位置決めするための溝や凹所がそれぞれ形成されている。
【０００４】
そして、試験時には、基台の第１，第２収容凹所に注入用電流プローブおよび測定用電流プローブを配置するように収容溝に電線を配置し、収容溝および第１，第２収容凹所と第２収容溝および第３，第４収容凹所とが相対向するように基台と蓋体とで挟み込む。これにより、電線や各プローブが基台および蓋体により挟み込まれて規定位置に固定されるため、ＥＭＣ試験時の試験対象に接続される電線やプローブの位置の再現性を確保している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平０８−０１５３５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述のように基台と蓋体とによりハーネスや各プローブを挟み込んで収容する構成では、ハーネスの長さやノイズ印加位置（プローブの位置）が基台および蓋体の収容構成に依存するため、基台および蓋体を別途用意しない限り、ハーネスの長さやノイズ印加位置を変更することができない。そうすると、ハーネスの長さ等の試験条件が異なる試験を行う場合には、試験条件ごとに収容構成の異なる治具を用意する必要があるという問題がある。例えば、試験対象に接続されるハーネスが３本であり、各ハーネスそれぞれにノイズを印加するパターンと３本同時にノイズ印加するパターンの計４パターンに対してそれぞれノイズ印加位置が３パターンあると、計１２種類の治具を用意しなければならない。
【０００７】
また、複数のハーネスが試験対象に接続されることから上述した収容溝および第２収容溝に各ハーネスを束ねて収容する場合には、各ハーネスを決められた束ね方で束ねることが困難であるため、ハーネス間における位置関係の再現性の確保が非常に困難であるという問題がある。
【０００８】
本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、試験対象に接続される所定数のハーネスのハーネス長さを容易に変更できるだけでなく各ハーネス位置の再現性を容易に確保し得る試験用治具を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、特許請求の範囲の請求項１に記載の発明は、試験対象（Ｒ）に接続される所定数のハーネス（２０ａ〜２０ｃ）が固定される試験用治具（１０）であって、前記ハーネスを試験時に要求されるハーネス長さよりも短く分断した前記所定数の分断ハーネス（２１ａ〜２１ｃ，２２ａ〜２２ｃ，２３ａ〜２３ｃ，２４ａ〜２４ｃ，２５ａ〜２５ｃ，２６ａ〜２６ｃ，２７ａ〜２７ｃ，２８ａ〜２８ｃ，５１ａ，５２ａ，５３ａ〜５３ｃ，５４ａ〜５４ｃ，５５ａ〜５５ｃ，５６ａ〜５６ｃ）がそれぞれ一方向に沿い所定の間隔にて同じ長さで固定される支持部材（１１，１１ａ〜１１ｎ）を、前記分断ハーネスの前記一方向の長さが異なるように複数種類備え、前記分断ハーネスの両端部には、他の前記支持部材に固定される前記分断ハーネスと電気的に接続するための接続手段（３０，３１，３２，３３ａ〜３３ｃ，３４ａ〜３４ｃ，３５ａ〜３５ｃ，３６ａ〜３６ｃ）がそれぞれ設けられることを特徴とする。
なお、特許請求の範囲および上記手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
【発明の効果】
【００１０】
請求項１の発明では、ハーネスを試験時に要求されるハーネス長さ（以下、試験用ハーネス長さともいう）よりも短く分断した所定数の分断ハーネスが支持部材に対してそれぞれ一方向に沿い所定の間隔にて同じ長さで固定されており、このように構成される支持部材が、分断ハーネスの上記一方向の長さが異なるように複数種類用意されている。そして、分断ハーネスの両端部には、他の支持部材に固定される分断ハーネスと電気的に接続するための接続手段がそれぞれ設けられている。
【００１１】
これにより、各支持部材が上記一方向に沿い配置されるように、接続手段を介して各分断ハーネスをそれぞれ直列に接続することで、各分断ハーネスがそれぞれ接続されてなる所定数のハーネスが、一方向に沿い所定の間隔にて同じ長さで構成される。すなわち、要求される試験用ハーネス長さに応じて適当な長さの分断ハーネスを組み合わせるように直列に接続することで、試験対象に接続される所定数のハーネスのそれぞれの長さを試験用ハーネス長さにあわせることができる。
【００１２】
その際、各分断ハーネスは所定の間隔にて支持部材に固定されているため、各接続手段を介した接続時に、試験用ハーネス長さに応じて選択された各支持部材を上記一方向に沿うように位置決めして配置することで、所定数のハーネスであってもハーネス長さを容易に変更できるだけでなく各ハーネス位置の再現性を容易に確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本実施形態に係る試験用治具の概略構成を示す斜視図である。
【図２】第１支持部材の概略構成を示す斜視図である。
【図３】第２支持部材の概略構成を示す斜視図である。
【図４】第３支持部材の概略構成を示す斜視図である。
【図５】第４支持部材の概略構成を示す斜視図である。
【図６】第５支持部材の概略構成を示す斜視図である。
【図７】第６支持部材の概略構成を示す斜視図である。
【図８】図７の第６支持部材にノイズ印加用プローブが組み付けられた状態を概略的に示す断面図である。
【図９】ＣＩＳＰＲ２５のＡＬＳＥ法に基づく試験を実施する場合に構成される試験用治具を示す斜視図である。
【図１０】試験用ハーネス長さが1000mmとなるＢＣＩ試験を実施する場合に構成される試験用治具を示す斜視図である。
【図１１】試験用ハーネス長さが1700mmとなるＢＣＩ試験を実施する場合に構成される試験用治具を示す斜視図である。
【図１２】第７支持部材の概略構成を示す斜視図である。
【図１３】図１２の第７支持部材にノイズ印加用プローブが組み付けられた状態を概略的に示す断面図である。
【図１４】各分断ハーネスが隣接した状態で支持部材に固定される状態を例示する断面図である。
【図１５】載置面と各分断ハーネスとの間に空間が介在する支持部材を例示する断面図である。
【図１６】各分断ハーネスが封止される封止材と支持台とにより構成される支持部材を例示する断面図である。
【図１７】雄型端子および雌型端子を介して分断ハーネス同士を電気的に接続する構成を例示する説明図である。
【図１８】パッドを介して分断ハーネス同士を電気的に接続する構成を例示する斜視図である。
【図１９】図１８に示す凹部と凸部とを係合してパッド同士を接続する接続方法を説明する断面図である。
【図２０】Ｕ字状端子およびピン端子を介して分断ハーネス同士を電気的に接続する構成を例示する斜視図である。
【図２１】Ｕ字状端子とピン端子とを接続する接続方法を説明する断面図である。
【図２２】一方向の両側面に連結部がそれぞれ形成された第１支持部材を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の試験用治具を具現化した一実施形態について、図面を参照して説明する。図１は、本実施形態に係る試験用治具１０の概略構成を示す斜視図である。
本実施形態に係る試験用治具１０は、試験対象として、自動車用エレクトロニクス製品、例えば、センサ，ＥＣＵ，パワーコントロールユニットなどの供試品に対して、ＢＣＩ試験やアンテナ近接試験等のＥＭＣ試験を実施する際に用いられる治具である。この試験用治具１０は、試験対象である供試品に接続されるハーネスに関し、ＥＭＣ試験時の試験系を構成するハーネス等を位置決めする治具として機能する。本実施形態では、供試品Ｒに対して３つのハーネス２０ａ〜２０ｃが接続されるように構成されている。
【００１５】
図１に例示するように、試験用治具１０は、予め用意される複数種類の支持部材１１のうちの数個（図１の例では４個）を一方向（図１の左右方向）に沿うように連結することで構成される。すなわち、単位ブロックとして様々な種類に構成される支持部材１１を複数種類組み合わせることで試験用治具１０が構成される。
【００１６】
各支持部材１１の上面には、ハーネス２０ａ〜２０ｃの一部を構成するための３つの分断ハーネスがそれぞれ一方向に沿い所定の間隔にて同じ長さで固定されている。試験時には、支持部材１１の３つの分断ハーネスを、１または２以上の他の支持部材１１の分断ハーネスに対してそれぞれ直列に接続することで、試験時に要求されるハーネス長さ（試験用ハーネス長さ）のハーネス２０ａ〜２０ｃが構成される。このため、各分断ハーネスは、ハーネス２０ａ〜２０ｃを試験用ハーネス長さよりも短く分断するようにして形成されている。また、各支持部材１１は、ハーネスと試験用治具１０が載置される試験ステージとの間の誘電率を決められた規定値以下（εｒ≦１．４）にするため、低誘電率の絶縁材料、例えば、発泡樹脂材料などにより構成されている。
【００１７】
本実施形態では、複数種類の支持部材１１の一部として、例えば、６種類の支持部材１１ａ〜１１ｆが用意されている。以下、各支持部材１１ａ〜１１ｆの構成について、図２〜図８を用いて詳細に説明する。なお、図２は、第１支持部材１１ａの概略構成を示す斜視図である。図３は、第２支持部材１１ｂの概略構成を示す斜視図である。図４は、第３支持部材１１ｃの概略構成を示す斜視図である。図５は、第４支持部材１１ｄの概略構成を示す斜視図である。図６は、第５支持部材１１ｅの概略構成を示す斜視図である。図７は、第６支持部材１１ｆの概略構成を示す斜視図である。図８は、図７の第６支持部材１１ｆにノイズ印加用プローブ４０が組み付けられた状態を概略的に示す断面図である。
【００１８】
図２に示すように、第１支持部材１１ａの上面には、３つの分断ハーネス２１ａ〜２１ｃが全長に渡って一方向に沿うように固定されており、各分断ハーネス２１ａ〜２１ｃの両端部には、接続手段として、一側端部同士、他側端部同士をそれぞれまとめたコネクタ３０が接続されている。各分断ハーネス２１ａ〜２１ｃは、コネクタ３０間の距離Ｌａが300mmとなるようにその一方向の長さがそれぞれ設定されている。
【００１９】
また、図３に示すように、第２支持部材１１ｂの上面には、両端にコネクタ３０が接続される３つの分断ハーネス２２ａ〜２２ｃが全長に渡って一方向に沿うように固定されている。各分断ハーネス２２ａ〜２２ｃは、コネクタ３０間の距離Ｌａが600mmとなるようにその一方向の長さがそれぞれ設定されている。
【００２０】
また、図４に示すように、第３支持部材１１ｃの上面には、両端にコネクタ３０が接続される３つの分断ハーネス２３ａ〜２３ｃが全長に渡って一方向に沿うように固定されている。各分断ハーネス２３ａ〜２３ｃは、コネクタ３０間の距離Ｌａが100mmとなるようにその一方向の長さがそれぞれ設定されている。
【００２１】
また、図５に示すように、第４支持部材１１ｄの上面には、両端にコネクタ３０が接続される３つの分断ハーネス２４ａ〜２４ｃが固定されている。特に、各分断ハーネス２４ａ〜２４ｃは、長手部分が一方向に沿い残りの短手部分が長手部分に直交するように配置されている。各分断ハーネス２４ａ〜２４ｃは、長手部分と短手部分との接続点から長手部分側のコネクタ３０までの距離Ｌｂが100mmとなるようにその一方向の長さがそれぞれ設定されている。また、各分断ハーネス２４ａ〜２４ｃは、上記接続点から短手部分側のコネクタ３０までの距離が50mmとなるようにその長さがそれぞれ設定されている。
【００２２】
また、図６に示すように、第５支持部材１１ｅの上面には、両端にコネクタ３０が接続される３つの分断ハーネス２５ａ〜２５ｃが固定されている。特に、各分断ハーネス２５ａ〜２５ｃは、長手部分が一方向に沿い残りの短手部分が長手部分に直交するように配置されている。各分断ハーネス２５ａ〜２５ｃは、長手部分と短手部分との接続点から長手部分側のコネクタ３０までの距離Ｌｂが100mmとなるようにその一方向の長さがそれぞれ設定されている。また、各分断ハーネス２５ａ〜２５ｃは、上記接続点から短手部分側のコネクタ３０までの距離が50mmとなるようにその長さがそれぞれ設定されている。
【００２３】
また、図７に示すように、第６支持部材１１ｆの上面には、両端にコネクタ３０が接続される３つの分断ハーネス２６ａ〜２６ｃが全長に渡って一方向に沿うように固定されている。各分断ハーネス２６ａ〜２６ｃは、コネクタ３０間の距離Ｌａが300mmとなるようにその一方向の長さがそれぞれ設定されている。
【００２４】
また、第６支持部材１１ｆには、後述するノイズ印加用プローブ４０を組み付けて固定するための貫通穴１２が設けられている。この貫通穴１２は、図８に示すように、各分断ハーネス２６ａ〜２６ｃを挿通させたノイズ印加用プローブ４０を位置決めするためのものであって、位置決めされたノイズ印加用プローブ４０から供試品側のコネクタ３０までの一方向に沿う方向の距離が150mmとなるように形成されている。なお、ノイズ印加用プローブ４０は、必ずしもその挿通穴４１の中心に各分断ハーネス２６ａ〜２６ｃが位置するように配置される必要はなく、各分断ハーネス２６ａ〜２６ｃとの相対位置が常に一定となるように位置決めされればよい。
【００２５】
そして、各支持部材１１ａ〜１１ｆは、その高さｈが共通な数値、例えば50mmに設定されている。また、各支持部材１１ａ〜１１ｅは、その幅Ｗ１が例えば100mmに設定されており、第６支持部材１１ｆは、その幅Ｗ２が例えば200mmに設定されている。なお、各分断ハーネスは、支持部材１１に対して低誘電率の接着剤を用いて位置決めされた状態で固定されている。
【００２６】
次に、上述のように構成される試験用治具１０を用いたＥＭＣ試験について、以下に説明する。
まず、ＥＭＣ試験の一例として、国際無線障害特別委員会（ＣＩＳＰＲ）の規格ＣＩＳＰＲ２５のＡＬＳＥ法に基づく試験を実施する場合に構成される試験用治具１０について、図９を用いて説明する。図９は、ＣＩＳＰＲ２５のＡＬＳＥ法に基づく試験を実施する場合に構成される試験用治具１０を示す斜視図であり、図９（Ａ）は試験用ハーネス長さが1600mmである場合を示し、図９（Ｂ）は試験用ハーネス長さが2000mmである場合を示す。
【００２７】
ＣＩＳＰＲ２５のＡＬＳＥ法に基づく試験では、ハーネス２０ａ〜２０ｃを介して接続される供試品Ｒおよび電源（例えば、１２Ｖのバッテリ等）Ｂを試験ステージの載置面Ｔ上に載置し、供試品Ｒを動作させたときに、この供試品Ｒから放射されるノイズ電界強度を計測する。
【００２８】
この試験の際、供試品Ｒおよび電源Ｂを接続するハーネス２０ａ〜２０ｃについて、供試品Ｒに接続されて直線状に配置される供試品側部分の長さと、電源Ｂに接続されて直線状に配置される電源側部分の長さと、供試品側部分および電源側部分の双方に直角に接続されて直線状に配置される直線部分の長さとの総計を、要求されるハーネス長さ（試験用ハーネス長さ）にあわせる必要がある。本実施形態では、上記試験用ハーネス長さとして、1600mm、2000mmの２種類について用意する。
【００２９】
そこで、試験用ハーネス長さが1600mmである試験用治具１０を構成する場合には、図９（Ａ）に示すように、電源側から、第４支持部材１１ｄ、第２支持部材１１ｂ、第３支持部材１１ｃ、第２支持部材１１ｂ、第５支持部材１１ｅの５つの支持部材１１が直線状に並ぶように位置決めしてコネクタ３０同士を接続して連結する。これにより、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２４ａ、２２ａ、２３ａ、２２ａ、２５ａによって試験用ハーネス長さが1600mmとなるハーネス２０ａが構成され、その上記直線部分が一方向に沿うように配置される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２４ｂ、２２ｂ、２３ｂ、２２ｂ、２５ｂによって試験用ハーネス長さが1600mmとなるハーネス２０ｂが構成され、その上記直線部分が一方向に沿うように配置される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２４ｃ、２２ｃ、２３ｃ、２２ｃ、２５ｃによって試験用ハーネス長さが1600mmとなるハーネス２０ｃが構成され、その上記直線部分が一方向に沿うように配置される。
【００３０】
このように、５つの支持部材１１ｄ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｂ、１１ｅを連結するように各分断ハーネスを電気的に接続することで、ＣＩＳＰＲ２５のＡＬＳＥ法に基づく試験について、試験用ハーネス長さが1600mmとなる試験用治具１０を構成することができる。
【００３１】
また、試験用ハーネス長さが2000mmである試験用治具１０を構成する場合には、図９（Ｂ）に示すように、電源側から、第３支持部材１１ｃ、第３支持部材１１ｃ、第４支持部材１１ｄ、第２支持部材１１ｂ、第３支持部材１１ｃ、第２支持部材１１ｂ、第５支持部材１１ｅ、第３支持部材１１ｃ、第３支持部材１１ｃの９つの支持部材１１がコ字状に並ぶように位置決めしてコネクタ３０同士を接続して連結する。これにより、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ａ、２３ａ、２４ａ、２２ａ、２３ａ、２２ａ、２５ａ、２３ａ、２３ａによって試験用ハーネス長さが2000mmとなるハーネス２０ａが構成され、その上記直線部分が一方向に沿うように配置される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｂ、２３ｂ、２４ｂ、２２ｂ、２３ｂ、２２ｂ、２５ｂ、２３ｂ、２３ｂによって試験用ハーネス長さが2000mmとなるハーネス２０ｂが構成され、その上記直線部分が一方向に沿うように配置される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｃ、２３ｃ、２４ｃ、２２ｃ、２３ｃ、２２ｃ、２５ｃ、２３ｃ、２３ｃによって試験用ハーネス長さが2000mmとなるハーネス２０ｃが構成され、その上記直線部分が一方向に沿うように配置される。
【００３２】
このように、９つの支持部材１１ｃ、１１ｃ、１１ｄ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｂ、１１ｅ、１１ｃ、１１ｃを連結するように各分断ハーネスを電気的に接続することで、ＣＩＳＰＲ２５のＡＬＳＥ法に基づく試験について、試験用ハーネス長さが2000mmとなる試験用治具１０を構成することができる。
【００３３】
次に、ＥＭＣ試験の一例として、規格ISO11452-4:2005に基づくＢＣＩ試験を実施する場合に構成される試験用治具１０について、図１０および図１１を用いて説明する。図１０は、試験用ハーネス長さが1000mmとなるＢＣＩ試験を実施する場合に構成される試験用治具１０を示す斜視図であり、図１０（Ａ）はノイズ注入位置が150mmである場合を示し、図１０（Ｂ）はノイズ注入位置が450mmである場合を示し、図１０（Ｃ）はノイズ注入位置が750mmである場合を示す。図１１は、試験用ハーネス長さが1700mmとなるＢＣＩ試験を実施する場合に構成される試験用治具１０を示す斜視図であり、図１１（Ａ）はノイズ注入位置が150mmである場合を示し、図１１（Ｂ）はノイズ注入位置が450mmである場合を示し、図１１（Ｃ）はノイズ注入位置が750mmである場合を示す。なお、図１０および図１１では、便宜上、ノイズ印加用プローブ４０等の図示を省略している。
【００３４】
ＢＣＩ試験では、ハーネス２０ａ〜２０ｃを介して接続される供試品Ｒおよび電源Ｂを試験ステージの載置面Ｔ上に載置し、ハーネス２０ａ〜２０ｃに対して供試品Ｒとの接続位置から所定の距離だけ離れた位置（ノイズ注入位置）に、ノイズ印加手段としてノイズ印加用プローブ４０を設置する。そして、ノイズ注入装置（図示略）にて発生させたノイズをノイズ印加用プローブ４０を介してハーネス２０ａ〜２０ｃに対して直接印加し、この印加したノイズの影響を電源Ｂに接続される計測器（図示略）を用いて計測する。
【００３５】
この試験の際、供試品Ｒおよび電源Ｂを接続するハーネス２０ａ〜２０ｃを直線状に配置してその全長（直線部分の長さ）を、要求されるハーネス長さ（試験用ハーネス長さ）にあわせる必要がある。また、既定のノイズ注入位置にノイズ印加用プローブ４０を配置する必要がある。本実施形態では、上記試験用ハーネス長さとして、1000mm、1700mmの２種類について用意するとともに、ノイズ注入位置として、150mm、450mm、750mmの３種類について用意する。
【００３６】
そこで、試験用ハーネス長さが1000mmであってノイズ注入位置が150mmである試験用治具１０を構成する場合には、図１０（Ａ）に示すように、電源側から、第３支持部材１１ｃ、第２支持部材１１ｂ、第６支持部材１１ｆの３つの支持部材１１が直線状に並ぶように位置決めしてコネクタ３０同士を接続して連結する。そして、ノイズ印加用プローブ４０を、その挿通穴４１に各分断ハーネス２６ａ〜２６ｃが挿通するように、第６支持部材１１ｆの貫通穴１２に位置決めして固定する。
【００３７】
これにより、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ａ、２２ａ、２６ａによって試験用ハーネス長さが1000mmとなるハーネス２０ａが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｂ、２２ｂ、２６ｂによって試験用ハーネス長さが1000mmとなるハーネス２０ｂが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｃ、２２ｃ、２６ｃによって試験用ハーネス長さが1000mmとなるハーネス２０ｃが一方向に沿うように構成される。また、各ハーネス２０ａ〜２０ｃに対してノイズ注入位置が150mmとなる位置にノイズ印加用プローブ４０が組み付けられる。
【００３８】
このように、３つの支持部材１１ｃ、１１ｂ、１１ｆを連結するように各分断ハーネスを電気的に接続してノイズ印加用プローブ４０を組み付けることで、ＢＣＩ試験について、試験用ハーネス長さが1000mm、ノイズ注入位置が150mmとなる試験用治具１０を構成することができる。
【００３９】
また、試験用ハーネス長さが1000mmであってノイズ注入位置が450mmである試験用治具１０を構成する場合には、図１０（Ｂ）に示すように、電源側から、第３支持部材１１ｃ、第１支持部材１１ａ、第６支持部材１１ｆ、第１支持部材１１ａの４つの支持部材１１が直線状に並ぶように位置決めしてコネクタ３０同士を接続して連結する。そして、ノイズ印加用プローブ４０を第６支持部材１１ｆの貫通穴１２に位置決めして固定する。
【００４０】
これにより、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ａ、２１ａ、２６ａ、２１ａによって試験用ハーネス長さが1000mmとなるハーネス２０ａが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｂ、２１ｂ、２６ｂ、２１ｂによって試験用ハーネス長さが1000mmとなるハーネス２０ｂが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｃ、２１ｃ、２６ｃ、２１ｃによって試験用ハーネス長さが1000mmとなるハーネス２０ｃが一方向に沿うように構成される。また、各ハーネス２０ａ〜２０ｃに対してノイズ注入位置が450mmとなる位置にノイズ印加用プローブ４０が組み付けられる。
【００４１】
このように、４つの支持部材１１ｃ、１１ａ、１１ｆ、１１ａを連結するように各分断ハーネスを電気的に接続してノイズ印加用プローブ４０を組み付けることで、ＢＣＩ試験について、試験用ハーネス長さが1000mm、ノイズ注入位置が450mmとなる試験用治具１０を構成することができる。
【００４２】
また、試験用ハーネス長さが1000mmであってノイズ注入位置が750mmである試験用治具１０を構成する場合には、図１０（Ｃ）に示すように、電源側から、第３支持部材１１ｃ、第６支持部材１１ｆ、第２支持部材１１ｂの３つの支持部材１１が直線状に並ぶように位置決めしてコネクタ３０同士を接続して連結する。そして、ノイズ印加用プローブ４０を第６支持部材１１ｆの貫通穴１２に位置決めして固定する。
【００４３】
これにより、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ａ、２６ａ、２２ａによって試験用ハーネス長さが1000mmとなるハーネス２０ａが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｂ、２６ｂ、２２ｂによって試験用ハーネス長さが1000mmとなるハーネス２０ｂが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｃ、２６ｃ、２２ｃによって試験用ハーネス長さが1000mmとなるハーネス２０ｃが一方向に沿うように構成される。また、各ハーネス２０ａ〜２０ｃに対してノイズ注入位置が750mmとなる位置にノイズ印加用プローブ４０が組み付けられる。
【００４４】
このように、３つの支持部材１１ｃ、１１ｆ、１１ｂを連結するように各分断ハーネスを電気的に接続してノイズ印加用プローブ４０を組み付けることで、ＢＣＩ試験について、試験用ハーネス長さが1000mm、ノイズ注入位置が750mmとなる試験用治具１０を構成することができる。
【００４５】
また、試験用ハーネス長さが1700mmであってノイズ注入位置が150mmである試験用治具１０を構成する場合には、図１１（Ａ）に示すように、電源側から、第３支持部材１１ｃ、第３支持部材１１ｃ、第２支持部材１１ｂ、第２支持部材１１ｂ、第６支持部材１１ｆの５つの支持部材１１が直線状に並ぶように位置決めしてコネクタ３０同士を接続して連結する。そして、ノイズ印加用プローブ４０を第６支持部材１１ｆの貫通穴１２に位置決めして固定する。
【００４６】
これにより、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ａ、２３ａ、２２ａ、２２ａ、２６ａによって試験用ハーネス長さが1700mmとなるハーネス２０ａが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｂ、２３ｂ、２２ｂ、２２ｂ、２６ｂによって試験用ハーネス長さが1700mmとなるハーネス２０ｂが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｃ、２３ｃ、２２ｃ、２２ｃ、２６ｃによって試験用ハーネス長さが1700mmとなるハーネス２０ｃが一方向に沿うように構成される。また、各ハーネス２０ａ〜２０ｃに対してノイズ注入位置が150mmとなる位置にノイズ印加用プローブ４０が組み付けられる。
【００４７】
このように、５つの支持部材１１ｃ、１１ｃ、１１ｂ、１１ｂ、１１ｆを連結するように各分断ハーネスを電気的に接続してノイズ印加用プローブ４０を組み付けることで、ＢＣＩ試験について、試験用ハーネス長さが1700mm、ノイズ注入位置が150mmとなる試験用治具１０を構成することができる。
【００４８】
また、試験用ハーネス長さが1700mmであってノイズ注入位置が450mmである試験用治具１０を構成する場合には、図１１（Ｂ）に示すように、電源側から、第３支持部材１１ｃ、第３支持部材１１ｃ、第１支持部材１１ａ、第２支持部材１１ｂ、第６支持部材１１ｆ、第１支持部材１１ａの６つの支持部材１１が直線状に並ぶように位置決めしてコネクタ３０同士を接続して連結する。そして、ノイズ印加用プローブ４０を第６支持部材１１ｆの貫通穴１２に位置決めして固定する。
【００４９】
これにより、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ａ、２３ａ、２１ａ、２２ａ、２６ａ、２１ａによって試験用ハーネス長さが1700mmとなるハーネス２０ａが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｂ、２３ｂ、２１ｂ、２２ｂ、２６ｂ、２１ｂによって試験用ハーネス長さが1700mmとなるハーネス２０ｂが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｃ、２３ｃ、２１ｃ、２２ｃ、２６ｃ、２１ｃによって試験用ハーネス長さが1700mmとなるハーネス２０ｃが一方向に沿うように構成される。また、各ハーネス２０ａ〜２０ｃに対してノイズ注入位置が450mmとなる位置にノイズ印加用プローブ４０が組み付けられる。
【００５０】
このように、６つの支持部材１１ｃ、１１ｃ、１１ａ、１１ｂ、１１ｆ、１１ａを連結するように各分断ハーネスを電気的に接続してノイズ印加用プローブ４０を組み付けることで、ＢＣＩ試験について、試験用ハーネス長さが1700mm、ノイズ注入位置が450mmとなる試験用治具１０を構成することができる。
【００５１】
また、試験用ハーネス長さが1700mmであってノイズ注入位置が750mmである試験用治具１０を構成する場合には、図１１（Ｃ）に示すように、電源側から、第３支持部材１１ｃ、第３支持部材１１ｃ、第２支持部材１１ｂ、第６支持部材１１ｆ、第２支持部材１１ｂの５つの支持部材１１が直線状に並ぶように位置決めしてコネクタ３０同士を接続して連結する。そして、ノイズ印加用プローブ４０を第６支持部材１１ｆの貫通穴１２に位置決めして固定する。
【００５２】
これにより、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ａ、２３ａ、２２ａ、２６ａ、２２ａによって試験用ハーネス長さが1700mmとなるハーネス２０ａが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｂ、２３ｂ、２２ｂ、２６ｂ、２２ｂによって試験用ハーネス長さが1700mmとなるハーネス２０ｂが一方向に沿うように構成される。また、各コネクタ３０を介して接続された分断ハーネス２３ｃ、２３ｃ、２２ｃ、２６ｃ、２２ｃによって試験用ハーネス長さが1700mmとなるハーネス２０ｃが一方向に沿うように構成される。また、各ハーネス２０ａ〜２０ｃに対してノイズ注入位置が750mmとなる位置にノイズ印加用プローブ４０が組み付けられる。
【００５３】
このように、５つの支持部材１１ｃ、１１ｃ、１１ｂ、１１ｆ、１１ｂを連結するように各分断ハーネスを電気的に接続してノイズ印加用プローブ４０を組み付けることで、ＢＣＩ試験について、試験用ハーネス長さが1700mm、ノイズ注入位置が750mmとなる試験用治具１０を構成することができる。
【００５４】
以上説明したように、本実施形態に係る試験用治具１０では、ハーネス２０ａ〜２０ｃを試験用ハーネス長さよりも短く分断した所定数の分断ハーネス（２１ａ〜２１ｃ，２２ａ〜２２ｃ，２３ａ〜２３ｃ，２４ａ〜２４ｃ，２５ａ〜２５ｃ，２６ａ〜２６ｃ）が支持部材１１（１１ａ〜１１ｆ）に対してそれぞれ一方向に沿い所定の間隔にて同じ長さで固定されており、このように構成される支持部材１１（１１ａ〜１１ｆ）が、分断ハーネスの上記一方向の長さが異なるように複数種類用意されている。そして、分断ハーネス（２１ａ〜２１ｃ，２２ａ〜２２ｃ，２３ａ〜２３ｃ，２４ａ〜２４ｃ，２５ａ〜２５ｃ，２６ａ〜２６ｃ）の両端部には、他の支持部材に固定される分断ハーネスと電気的に接続するためのコネクタ３０がそれぞれ設けられている。
【００５５】
これにより、各支持部材１１が上記一方向に沿い配置されるように、コネクタ３０を介して各分断ハーネスをそれぞれ直列に接続することで、各分断ハーネスがそれぞれ接続されてなる３つのハーネス２０ａ〜２０ｃが、一方向に沿い所定の間隔にて同じ長さで構成される。すなわち、要求される試験用ハーネス長さに応じて適当な長さの分断ハーネスを組み合わせるように直列に接続することで、供試品（試験対象）Ｒに接続される３本のハーネス２０ａ〜２０ｃのそれぞれの長さを試験用ハーネス長さにあわせることができる。
【００５６】
その際、各分断ハーネスは所定の間隔にて支持部材１１に固定されているため、各コネクタ３０を介した接続時に、試験用ハーネス長さに応じて選択された各支持部材１１を上記一方向に沿うように位置決めして配置することで、３本のハーネス２０ａ〜２０ｃであってもハーネス長さを容易に変更できるだけでなく各ハーネス２０ａ〜２０ｃの位置関係（近接するハーネスとの距離、並べ方、重なり方等）の再現性を容易に確保することができる。
【００５７】
また、複数種類の支持部材１１の１つとして、固定される分断ハーネス２６ａ〜２６ｃにノイズを印加するノイズ印加用プローブ４０を組み付けるための貫通穴１２が形成された第６支持部材１１ｆが用意されている。
【００５８】
これにより、ノイズ印加用プローブ４０を第６支持部材１１ｆの貫通穴１２に位置決めすることで、ノイズ印加用プローブ４０と各ハーネス２０ａ〜２０ｃとの相対位置が一定になる、このため、各ハーネス２０ａ〜２０ｃに対するノイズ印加用プローブ４０のノイズ印加位置だけでなく相対位置の再現性をも確保することができる。
【００５９】
なお、第６支持部材１１ｆには、ノイズ印加用プローブ４０等のノイズ印加手段を位置決めする構成として、貫通穴１２が形成されることに限らず、例えば、ノイズ印加手段に接触等して位置決めするための凹部などの組付部が形成されてもよい。
【００６０】
また、接続手段として、各分断ハーネスの端部同士をそれぞれまとめたコネクタ３０が採用されるため、各分断ハーネスの電気的接続を容易に実施することができる。
【００６１】
図１２は、第７支持部材１１ｇの概略構成を示す斜視図である。図１３は、図１２の第７支持部材１１ｇにノイズ印加用プローブ４０が組み付けられた状態を概略的に示す断面図である。
なお、複数種類の支持部材１１の１つとして、固定される所定数の分断ハーネスのうち、一部のものに対してのみノイズを印加するノイズ印加手段を組み付けるための組付部が形成された支持部材を採用してもよい。このような支持部材として、例えば、図１２に例示する第７支持部材１１ｇを採用することができる。
【００６２】
図１２に示すように、第７支持部材１１ｇでは、分断ハーネス２７ａの中間部位と分断ハーネス２７ｂ，２７ｃの中間部位とが互いに離れて位置するように固定されている。また、第７支持部材１１ｇには、図１３に例示するように、分断ハーネス２７ｂ，２７ｃを除き、挿通穴４１ａを挿通する分断ハーネス２７ａの中間部位に対してノイズを印加するノイズ印加用プローブ４０を組み付けて位置決めするための貫通穴１２ａが形成されている。
【００６３】
これにより、分断ハーネス２７ａがハーネス２０ａの一部を構成するとともに分断ハーネス２７ｂ，２７ｃがそれぞれハーネス２０ｂ，２０ｃの一部を構成するように第７支持部材１１ｇを他の支持部材１１と連結することで、ハーネス２０ａのみにノイズを印加する試験用治具１０を構成することができる。
【００６４】
特に、第７支持部材１１ｇの両コネクタ３０に対して、分断ハーネス２７ａと分断ハーネス２７ｂとを入れ替えるための中継コネクタをそれぞれ接続して、第７支持部材１１ｇの分断ハーネス２７ａ〜２７ｃと他の支持部材１１の分断ハーネスと接続することができる。この場合には、第７支持部材１１ｇを利用してハーネス２０ｂのみにノイズを印加する試験用治具１０を構成することができる。
【００６５】
また、第７支持部材１１ｇの両コネクタ３０に対して、分断ハーネス２７ａと分断ハーネス２７ｃとを入れ替えるための中継コネクタをそれぞれ接続して、第７支持部材１１ｇの分断ハーネス２７ａ〜２７ｃと他の支持部材１１の分断ハーネスと接続することができる。この場合には、第７支持部材１１ｇを利用してハーネス２０ｃのみにノイズを印加する試験用治具１０を構成することができる。
なお、中継コネクタは、第７支持部材１１ｇの分断ハーネスと他の支持部材１１の分断ハーネスとを接続する場合に両コネクタ３０間に接続されることに限らず、第７支持部材１１ｇと異なる支持部材１１同士の分断ハーネスを接続する場合に両コネクタ３０間に接続されてもよい。
この場合には、中継コネクタは、コネクタ３０同士が直接接続される場合に接続される各分断ハーネスの接続状態と異なる接続状態に切り替えるための中継部材として機能する。これにより、供試品Ｒや電源Ｂの端子の並び順の入れ替えが必要な場合であっても容易に対応することができる。
【００６６】
図１４は、各分断ハーネス２８ａ〜２８ｃが隣接した状態で支持部材１１に固定される状態を例示する断面図である。
上記実施形態の第１変形例として、各分断ハーネスは、所定の間隔として一定の隙間をあけた状態で接着剤を用いて支持部材１１に固定されることに限らず、所定の間隔として互いに隣接した状態で接着剤を用いて支持部材１１に固定されてもよい。例えば、図１４に例示する支持部材１１のように、各分断ハーネス（２８ａ〜２８ｃ）を、所定の間隔として互いに隣接した状態で接着剤１３を用いて支持部材１１に固定することができる。
【００６７】
また、各分断ハーネスは、支持部材１１に対して、接着剤１３を用いて位置決めされた状態で固定されることに限らず、例えば、粘着テープを用いて位置決めされた状態で固定されもよい。この場合、各分断ハーネスは、所定の間隔として、一定の隙間をあけた状態で支持部材１１に固定されてもよいし、互いに隣接した状態で支持部材１１に固定されてもよい。このとき、接着剤１３や粘着テープの誘電率はできるだけ支持部材１１に近いものを用いるのが望ましい。
【００６８】
図１５は、載置面Ｔと各分断ハーネス２８ａ〜２８ｃとの間に空間Ｓが介在する支持部材１１を例示する断面図である。
上記実施形態の第２変形例として、ハーネスと試験用治具１０が載置される試験ステージとの間の誘電率を決められた規定値以下にするため、支持部材１１は、試験ステージの載置面Ｔと固定される所定数の分断ハーネスとの間に空間Ｓが介在するように形成されてもよい。
【００６９】
例えば、図１５に例示する支持部材１１のように、各分断ハーネス２８ａ〜２８ｃが粘着テープ等を用いて固定された支持片１４ａを２つの支柱１４ｂにより挟み込んで構成される支持部材１１により、載置面Ｔと各分断ハーネス２８ａ〜２８ｃとの間に空間Ｓを介在させることができる。これにより、各分断ハーネスに対する支持部材１１自体の誘電率の影響が抑制されて、支持部材１１として採用可能な材料の制約を緩和することができる。なお、各分断ハーネスは、図１５に例示するように支持片１４ａの下面に固定されることに限らず、支持片１４ａの上面に固定されてもよい。
【００７０】
また、支持片１４ａおよび両支柱１４ｂにより載置面Ｔと各分断ハーネスとの間に空間Ｓを形成することに限らず、例えば、支持部材１１の下面のうち各分断ハーネスが投影される部位に凹部等を形成することで載置面Ｔと各分断ハーネスとの間に空間Ｓを形成してもよい。また、支持部材１１自体を別の支持部材で挟み込んで支持することで、支持部材１１の下面と載置面Ｔとの間に空間Ｓを形成してもよい。
【００７１】
図１６は、各分断ハーネス２８ａ〜２８ｃが封止材１５により封止されて固定される支持部材１１を例示する断面図である。
上記実施形態の第３変形例として、図１６に例示するように、各分断ハーネス（２８ａ〜２８ｃ）は、封止材１５により封止されて支持部材１１に固定されてもよい。
【００７２】
ここで、封止材１５としては、例えば、シリコーンゴムを発泡させたもの（発泡倍率３０倍時のεｒ＝１．０９）やエチレンプロピレンジエンゴム（発泡倍率３０倍時のεｒ＝１．０９）を採用することができる。このようにしても、ハーネスと試験用治具１０が載置される試験ステージとの間の誘電率を決められた規定値以下にすることができる。特に、上述した材料では、いずれも押出成形で分断ハーネスを封止するように封止材１５を製造できるため、封止材１５を容易に製造することができる。
【００７３】
図１７は、雄型端子３１および雌型端子３２を介して分断ハーネス同士を電気的に接続する構成を例示する説明図である。図１８は、パッド３３ａ〜３３ｃ，３４ａ〜３４ｃを介して分断ハーネス同士を電気的に接続する構成を例示する斜視図である。図１９は、図１８に示す凹部１６ａと凸部１６ｂとを係合してパッド３３ａ〜３３ｃ，３４ａ〜３４ｃ同士を接続する接続方法を説明する断面図である。図２０は、Ｕ字状端子３５ａ〜３５ｃおよびピン端子３６ａ〜３６ｃを介して分断ハーネス同士を電気的に接続する構成を例示する斜視図である。図２１は、Ｕ字状端子３５ａ〜３５ｃとピン端子３６ａ〜３６ｃとを接続する接続方法を説明する断面図である。
【００７４】
上述した支持部材１１において、各分断ハーネスは、一側端部同士、他側端部同士をそれぞれまとめたコネクタ３０を介して電気的に接続されることに限らず、他の接続手段を介して電気的に接続してもよい。例えば、図１７に例示する支持部材１１ｈの分断ハーネス５１ａの一側端部に固定される雄型端子３１と支持部材１１ｉの分断ハーネス５２ａの他側端部に固定される雌型端子３２とのように、分断ハーネスの一側端部に個々に固定される各雄型端子を、分断ハーネスの他側端部に個々に固定される各雌型端子にそれぞれ挿入することで、対応する分断ハーネス同士を電気的に接続することができる。なお、雄型端子３１および雌型端子３２の支持部材１１の側面からの突出長さは、コネクタ３０と同様に、端子同士の接続時に接続された分断ハーネスにより構成されるハーネスの長さが試験用ハーネス長さに等しくなるように設定されている。
【００７５】
また、上述した支持部材１１において、各分断ハーネスは、他の接続手段として、端部に設けられるパッド同士を介して電気的に接続してもよい。具体的には、例えば、図１８に例示するように、支持部材１１ｊに形成される凹部１６ａの上方を閉塞して補強する補強部１７の下面に対して、分断ハーネス５３ａ〜５３ｃの一側端部に個々に接続するパッド３３ａ〜３３ｃを配置する。また、凹部１６ａに係合可能に支持部材１１ｋに形成される凸部１６ｂの上面に対して、分断ハーネス５４ａ〜５４ｃの一側端部に個々に接続するパッド３４ａ〜３４ｃを配置する。
【００７６】
そして、図１９からわかるように、パッド３３ａ〜３３ｃとパッド３４ａ〜３４ｃとを面接触させるように凹部１６ａと凸部１６ｂとを係合することで、支持部材１１ｊの分断ハーネス５３ａ〜５３ｃと支持部材１１ｋの分断ハーネス５４ａ〜５４ｃとが電気的に接続される。このようにしても、対応する分断ハーネス同士を電気的に接続することができる。特に、凹部１６ａと凸部１６ｂとが係合した状態で電気的接続がなされるため、コネクタ３０や雄型端子３１および雌型端子３２を用いて電気的に接続する場合と比較して一方向への位置ずれが抑制されるので、ハーネスの一方向長さの変動をより小さくすることができる。
【００７７】
また、他の接続手段として、例えば、図２０に例示する支持部材１１ｍの分断ハーネス５５ａ〜５５ｃの一側端部に固定されるＵ字状端子３５ａ〜３５ｃと支持部材１１ｎの分断ハーネス５６ａ〜５６ｃの他側端部に固定されるピン端子３６ａ〜３６ｃとのような端子を採用することができる。この場合には、分断ハーネスの一側端部に個々に固定される各Ｕ字状端子を、分断ハーネスの他側端部に個々に固定される各ピン端子に対して上方から組み付けるように接続することで（図２１参照）、対応する分断ハーネス同士を電気的に接続することができる。
【００７８】
特に、Ｕ字状端子３５ａ〜３５ｃは、支持部材１１ｍの上面の縁から外方へ突出しないように配置されており、ピン端子３６ａ〜３６ｃは、支持部材１１ｎの上面の縁から一方向に沿い突出するように配置されている。このため、支持部材１１ｍの側面と支持部材１１ｎの側面とを当接させた状態でＵ字状端子およびピン端子を介して対応する分断ハーネス同士を電気的に接続することができる。これにより、コネクタ３０や雄型端子３１および雌型端子３２を用いて電気的に接続する場合と比較して一方向への位置ずれが抑制されるので、ハーネスの一方向長さの変動をより小さくすることができる。
【００７９】
なお、本発明は上記各実施形態および変形例に限定されるものではなく、例えば、以下のように具体化してもよい。
（１）図２２は、一方向の両側面１８に連結部がそれぞれ形成された第１支持部材１１ａを示す斜視図である。
支持部材１１は、分断ハーネス同士の電気的接続時に他の支持部材１１との位置決めを容易にするため、一方向の側面に、電気的接続時（連結時）に他の支持部材１１と係合するための連結部を設けてもよい。具体的には、例えば、図２２に例示する第１支持部材１１ａのように、各支持部材１１の一方向の両側面１８のそれぞれに、連結時における位置決め用の連結用突起１８ａと連結用穴１８ｂとが形成される。そして、各分断ハーネス同士を接続する際に、連結用突起１８ａおよび連結用穴１８ｂと他の支持部材１１の連結用穴１８ｂおよび連結用突起１８ａとを嵌合等して連結することで、支持部材１１同士の位置決めを容易に実施することができる。
【００８０】
（２）試験用治具１０に固定されるハーネスは、ハーネス２０ａ〜２０ｃの３本に限らず、１本または２本でもよいし、４本以上であってもよい。この場合、各支持部材１１には、ハーネスと同数の分断ハーネスが上述のようにそれぞれ固定される。
【００８１】
（３）本発明に係る試験用治具１０は、上述したように自動車用エレクトロニクス製品のＥＭＣ試験用の治具として採用されることに限らず、他の電気製品のＥＭＣ試験等に採用することができる。
（４）上記各ＥＭＣ試験では、試験内容に応じて、電源Ｂに代えて負荷等を接続するように構成されてもよい。
【符号の説明】
【００８２】
１０…試験用治具
１１，１１ａ〜１１ｎ…支持部材
１２，１２ａ…貫通穴（組付部）
１３…接着剤（接着部材）
１５…封止材
２０ａ〜２０ｃ…ハーネス
２１ａ〜２１ｃ，２２ａ〜２２ｃ，２３ａ〜２３ｃ，２４ａ〜２４ｃ，２５ａ〜２５ｃ，２６ａ〜２６ｃ，２７ａ〜２７ｃ，２８ａ〜２８ｃ，５１ａ，５２ａ，５３ａ〜５３ｃ，５４ａ〜５４ｃ，５５ａ〜５５ｃ，５６ａ〜５６ｃ…分断ハーネス
３０…コネクタ（接続手段）
４０…ノイズ印加用プローブ（ノイズ印加手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
2015017821.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
2015017821.tif 000017
【図１６】
2015017821.tif 000018
【図１７】
2015017821.tif 000019
【図１８】
2015017821.tif 000020
【図１９】
2015017821.tif 000021
【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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