(57)【要約】【課題】磁気検出手段が出力する位置検出信号への変動する飛び込み磁界を効果的に補正し、位置検出精度を向上させることができる位置検出装置を提供する。【解決手段】レンズ２０４を駆動するソレノイドコイル２０１と、所定パターンに着磁されたスケーラー２０６と、スケーラー２０６との相対移動に応じて２相以上の正弦波状の位置検出信号を出力するＭＲセンサ２０５とを備えるフォーカスレンズ装置２００を備える。フォーカスレンズ装置２００が、位置検出信号の各々について変曲点を検出し、検出された変曲点のカウント数毎に、位置検出信号の出力値に基づいて、位置検出信号の補正値を算出する。そして、フォーカスレンズ装置２００が、上記補正値に基づいて、補正対象の位置検出信号に対してゲイン調整とオフセット調整とを実行する。【選択図】図１
2015017918.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被駆動部材を駆動する駆動手段と、
所定パターンに着磁された磁気部材と、
前記磁気部材との相対移動に応じて２相以上の正弦波状の位置検出信号を出力する磁気検出手段と、
前記位置検出信号の各々について変曲点を検出する変曲点検出手段と、
前記検出された変曲点のカウント数毎に、前記位置検出信号の出力値に基づいて、前記位置検出信号の補正値を算出する算出手段と、
前記補正値に基づいて、補正対象の位置検出信号に対してゲイン調整とオフセット調整とを実行する補正手段とを備える
ことを特徴とする位置検出装置。
【請求項２】
前記変曲点検出手段は、前記磁気検出手段による前記位置検出信号の出力値によって決まる前記磁気部材の移動方向と前記出力値の変化とに基づいて、前記変曲点を検出する
ことを特徴とする請求項１に記載の位置検出装置。
【請求項３】
前記変曲点検出手段は、前記位置検出信号に応じた出力波形上の極点を前記変曲点として検出する
ことを特徴とする請求項２に記載の位置検出装置。
【請求項４】
前記算出手段は、前記位置検出信号の変曲点間の出力値の最大値／最小値に基づいてオフセットを算出し、前記最大値／最小値に応じて決まるｐｅａｋ  ｔｏ  ｐｅａｋ値に基づいてゲインを算出し、前記算出されたオフセットとゲインとを前記補正値として出力する
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項５】
前記変曲点のカウント数は、前記位置検出信号における基準位置からの波数に対応する
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載に記載の位置検出装置。
【請求項６】
前記算出手段は、前記補正値が算出された時の前記変曲点のカウント数に対応付けて前記補正値を記憶手段に記憶し、
前記補正手段は、前記補正対象の位置検出信号から検出される、現時点の変曲点のカウント数に対応する補正値を前記記憶手段から取得し、前記取得した補正値を用いて前記補正対象の位置検出信号に対してゲイン補正とオフセット補正を実行する
ことを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項７】
前記算出手段は、さらに、前記駆動手段の駆動電圧毎に、前記変曲点のカウント数に対応付けて前記補正値を前記記憶手段に記憶し、
前記補正手段は、現時点における前記駆動電圧と、前記現時点の変曲点のカウント数に対応する補正値を前記記憶手段から取得し、前記取得した補正値を用いて前記補正対象の位置検出信号に対して前記ゲイン調整と前記オフセット調整とを実行する
ことを特徴とする請求項６に記載の位置検出装置。
【請求項８】
前記駆動手段は、前記磁気部材と相対移動し、
前記補正手段は、前記磁気部材と相対移動する前記駆動手段から前記位置検出信号への飛び込み磁界を補正する
ことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項９】
前記被駆動部材は、レンズであり、
前記駆動手段は、ソレノイドコイルである
ことを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項１０】
被駆動部材を駆動する駆動手段と、所定パターンに着磁された磁気部材と、前記磁気部材との相対移動に応じて２相以上の正弦波状の位置検出信号を出力する磁気検出手段とを備える位置検出装置の制御方法であって、
前記位置検出信号の各々について変曲点を検出するステップと、
前記検出された変曲点のカウント数毎に、前記位置検出信号の出力値に基づいて、前記位置検出信号の補正値を算出するステップと、
前記補正値に基づいて、補正対象の位置検出信号に対してゲイン調整とオフセット調整とを実行するステップとを有する
ことを特徴とする制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、位置検出装置および制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
撮像装置の光学系合焦に用いる位置検出装置が提案されている。この位置検出装置では、高い位置決め精度を実現するため、レンズの位置検出を行うセンサに磁気検出素子を用いている。
【０００３】
磁気検出素子を用いた位置検出装置は、Ｓ極とＮ極が所定の等間隔ピッチで配されている磁気スケーラーと、磁気スケーラーの動きに合わせて信号成分を出力させる磁気検出センサとを備える。
【０００４】
磁気検出センサの一例であるＭＲ（Magnetic Resistance）センサを備える位置検出装置について説明する。ＭＲセンサは、磁気スケーラーによる磁界の変動により磁気検出素子の抵抗長を変化させることで磁気スケーラーの動きを検出し、２相以上の複数相の正弦波状の信号成分を出力する。位置検出装置は、ＭＲセンサから出力される複数相の正弦波状の位置検出信号から直線性に優れた信号成分を抽出し、抽出した信号成分を演算処理して、レンズ位置を検出している。
【０００５】
位置検出の精度を上げるため、ＭＲセンサから出力される正弦波状の信号成分の振幅および振幅中心を整えるように信号成分の調整を行う必要がある。通常、ＭＲセンサから出力される正弦波状の信号成分は、ＭＲセンサと磁気スケーラーのエアギャップや温度変化、磁界を作る周辺部材の影響を受ける。これらの影響を考慮して、適切な信号成分の調節を行うための手法が提案されている。例えば、特許文献１は、温度変化による位置検出信号のゲイン変動およびオフセット変動を調整する位置調整装置を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００４−３７１２１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ＭＲセンサの周辺部材が作る磁界が一定である場合の位置検出信号を補正する方法（一定した飛び込み磁界の補正方法）が提案されている。しかし、ＭＲセンサの周辺部材が作る磁界が変動してＭＲセンサへ入ってくる場合の位置検出信号を補正する位置検出装置は提案されていない。
【０００８】
例えば、ＭＲセンサを固定し、位置検出対象のレンズを磁気スケーラーと共に動かすことでセンサと磁気スケーラーを相対動作させる場合、レンズを動作させるためのアクチュエータもＭＲセンサに対して相対動作する。アクチュエータは磁界を周囲に出す。コンパクトカメラ等の小型カメラでは、構造上、ＭＲセンサとアクチュエータの距離が近くなるので、アクチュエータによる変動する磁界がＭＲセンサに飛び込むと、本来検出したいスケーラー動作によるセンサ出力信号にアクチュエータによる磁界が出力値に乗る。その結果、精度良く位置検出を行うことができなくなる。上記変動する飛び込み磁界は、一定した飛び込み磁界の補正方法の適用では、補正効果を得ることが難しい。
【０００９】
本発明は、磁気検出手段が出力する位置検出信号への変動する飛び込み磁界を効果的に補正し、位置検出精度を向上させることができる位置検出装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の一実施形態の位置検出装置は、被駆動部材を駆動する駆動手段と、所定パターンに着磁され、前記駆動手段とともに移動可能に構成された磁気部材と、前記磁気部材との相対移動に応じて２相以上の正弦波状の位置検出信号を出力する磁気検出手段と、前記位置検出信号の各々について変曲点を検出する変曲点検出手段と、前記検出された変曲点のカウント数毎に、前記位置検出信号の出力値に基づいて、前記位置検出信号の補正値を算出する算出手段と、前記補正値に基づいて、補正対象の位置検出信号に対してゲイン補正とオフセット補正を実行する補正手段とを備える。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の位置検出装置によれば、磁気検出手段が出力する位置検出信号への変動する飛び込み磁界を効果的に補正し、位置検出精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本実施形態の位置検出装置の構成例を示す図である。
【図２】フォーカスレンズ装置の機能ブロック図の一例である。
【図３】変動する磁界による位置検出への影響を説明する図である。
【図４】変曲点の検出による１波長間隔の検出を説明する図である。
【図５】フォーカスレンズ装置の動作処理の例を説明するフローチャートである。
【図６】フォーカスレンズ装置の動作処理の例を説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
図１は、本実施形態の位置検出装置の構成例を示す図である。図１に示す例では、フォーカスレンズ装置２００が、レンズ２０４の位置を検出する位置検出装置として機能する。フォーカスレンズ装置２００は、例えば、デジタルカメラ等の撮像装置に設けられ、レンズ２０４の位置の検出結果は、撮像装置が備える制御手段による焦点調節処理に用いられる。
【００１４】
図１（Ａ）は、フォーカスレンズ装置２００をＭＲセンサの正面から見た図である。また、図１（Ｂ）は、図１（Ａ）のフォーカスレンズ装置２００を右９０度回転させた時の図である。
【００１５】
フォーカスレンズ装置２００は、フォーカスレンズ２０８と、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）とを備える。ソレノイドコイル２０１と、レンズ２０４と、磁気スケーラー２０６とがモールド２０７にて一体形成されて、フォーカスレンズ２０８を構成している。以下では、磁気スケーラー２０６を、単にスケーラーと記述する。
【００１６】
ＶＣＭは、ソレノイドコイル２０１、マグネット２０２、ヨーク２０３を備える。スケーラー２０６は、所定パターンに着磁された磁気部材である。スケーラー２０６には、Ｓ極とＮ極が等間隔ピッチにて交互に配されている。マグネット２０２と、ヨーク２０３と、ＭＲセンサ２０５は、フォーカスレンズ装置２００の外装（図では省略）に固定設置されている。
【００１７】
フォーカスレンズ２０８は、ＶＣＭ可動範囲内において、図１（Ａ）中の矢印で示すＹ＋方向（繰り出し方向）またはＹ−方向（繰り込み方向）へ移動可能である。フォーカスレンズ２０８は、後述する位置算出部３０７（図２）によるフォーカスレンズ２０８の位置の算出結果に基づくＶＣＭの駆動によって、所望の位置へ移動する。ＶＣＭの動作原理については公知技術であるので、説明を省略する。
【００１８】
ＭＲセンサ２０５は、以下のようにして、フォーカスレンズ２０８の移動を検知する。ＭＲセンサ２０５は、図１（Ｂ）に示すように、ギャップＸの距離を置いて対向配置されているスケーラー２０６の移動を検知することを通じて、スケーラー２０６と一体形成されているフォーカスレンズ２０８の移動を検知する。ＭＲセンサによるフォーカスレンズの移動の検知技術については公知であるので、説明を省略する。
【００１９】
ＭＲセンサ２０５は、スケーラー２０６との相対移動に応じて、正弦波状の２相以上の位置検出信号を出力する磁気検出手段として機能する。出力された各々の位置検出信号は、オフセット・ゲイン調整部３０５（図２）によって補正される。そして、位置算出部３０７（図２）が、補正後の位置検出信号に基づいて、互いの位相の進み又は遅れから移動方向を検出し、信号成分から直線性に優れた信号成分を抽出し、演算処理を行う。これにより、スケーラー２０６と一体形成しているフォーカスレンズ２０８の位置が算出される。
【００２０】
図２は、フォーカスレンズ装置の機能ブロック図の一例である。
フォーカスレンズ装置２００は、レンズ２０４、スケーラー２０６、ＭＲセンサ２０５、ＶＣＭ２０１の他、以下の処理部を備える。すなわち、フォーカスレンズ装置２００は、アンプ３０１、ＡＤ（Analog-to-digital）コンバータ３０２、変曲点数演算部３０３、補正値演算部３０４を備える。また、フォーカスレンズ装置２００は、オフセット・ゲイン調整部（以下、単に調整部と記述する）３０５、記憶媒体３０６、位置算出部３０７、制御部３０８、駆動回路３０９を備える。
【００２１】
ＭＲセンサ２０５は、被駆動部材であるレンズ２０４と一体形成されているスケーラー２０６の移動を検知して、位置検出信号を出力する。本実施形態では、ＭＲセンサ２０５は、２相の正弦波状の位置検出信号を出力するが、ＭＲセンサ２０５が、２相以上の複数相の位置検出信号を出力するようにしてもよい。
【００２２】
アンプ３０１は、ＭＲセンサ２０５によって出力された位置検出信号を増幅する。ＡＤコンバータ３０２が、増幅された位置検出信号をアナログ信号からデジタル信号へ変換する。
【００２３】
変曲点数演算部３０３は、デジタル変換された位置検出信号に基づいて、出力波形上の変曲点を検出する変曲点検出手段として機能する。変曲点数演算部３０３は、検出した変曲点のカウント数（変曲点数）を出力する。変曲点数の詳細については、後述する。
【００２４】
補正値演算部３０４は、変曲点数毎（カウント数毎）に、位置検出信号の出力値に基づいて、位置検出信号の補正値を算出する。具体的には、補正値演算部３０４は、検出された変曲点間の出力値から最大値と最小値を算出し、最大値／最小値から平均値を算出することでオフセットを算出する。また、補正値演算部３０４は、最大値／最小値に応じて決まるｐｅａｋ−ｔｏ−ｐｅａｋ値を算出し、所望の信号振幅値に除算することでゲインを算出する。補正値演算部３０４は、オフセットとゲインとを補正値として、変曲点数と対応付けて記憶媒体３０６に格納する。
【００２５】
調整部３０５は、補正対象の位置検出信号から検出される、現時点の変曲点数に対応する補正値を記憶媒体３０６から取得する。そして、調整部３０５は、取得した補正値に基づいて、位置検出信号のそれぞれの相についてゲイン調整とオフセット調整とを行う。
【００２６】
位置算出部３０７は、ゲインおよびオフセットが調整された位置検出信号に基づいて、レンズ２０４の位置を算出する。制御部３０８が、算出されたレンズ２０４の位置に基づいて、ＶＣＭ２０１の動作制御信号を生成する。駆動回路３０９は生成された動作制御信号に基づいて、ＶＣＭ２０１の駆動信号を生成し、ＶＣＭ２０１へ信号を送る。ＶＣＭ２０１は、送られた駆動信号により動作し、レンズ２０４を動作させる。
【００２７】
本実施形態では、フォーカスレンズ装置２００は、位置検出信号の変曲点を検出することを通じて、位置検出信号の補正値を算出し、算出した補正値を用いて、補正対象の位置検出信号を補正する。説明を容易にするために、図３、図４の説明をした後に、図５および図６のフローチャートを用いて、フォーカスレンズ装置２００の動作処理について説明する。
【００２８】
図３は、変動する磁界による位置検出への影響を説明する図である。図３（Ａ）は、ＭＲセンサ２０５が検出する位置検出信号の例を示す。この例では、位置検出信号は、ｓｉｎ波とｃｏｓ波の２相である。図３（Ａ）に示すように、フォーカスレンズ装置２００は、ｓｉｎ波とｃｏｓ波それぞれの相の正負を反転させた信号を生成することで、信号成分のうち直線性に優れた信号成分を抽出し、位置検出信号として用いる。
【００２９】
しかし、通常、検出された位置検出信号は、振幅および振幅中心レベルが異なっている。したがって、フォーカスレンズ装置２００は、図３（Ｂ）に示すように、振幅および振幅中心がそろうようにゲインおよびオフセットを調整することで、位置検出精度を上げる。しかし、上記の調整は、ＭＲセンサ２０５に対して、スケーラー２０６以外の磁界が常に一定した場合に、補正効果を発揮するが、変動する飛び込み磁界に対しては、補正効果が少ない。
【００３０】
変動する飛び込み磁界とは、例えば、本実施形態では、アクチュエータとして使用しているソレノイドコイル２０１（図１）からの磁界が該当する。ソレノイドコイル２０１は、無限長においては、電流によって生み出される磁界同士が相殺されて外部への磁界は無くなることが知られているが、有限長では相殺されずに外部へ磁界を出す。放出された磁界は、ＭＲセンサ２０５へ飛び込むことになる。ＭＲセンサ２０５が受ける飛び込み磁界の強さは、ＭＲセンサ２０５とソレノイドコイル２０１の位置関係により変化する。
【００３１】
本実施形態のように、ソレノイドコイル２０１が可動部のアクチュエータとして使用された場合、ソレノイドコイル２０１はＭＲセンサ２０５に対して、スケーラー２０６同様に相対的に動く。したがって、ソレノイドコイル２０１の位置に応じて、ＭＲセンサ２０５に対する磁界の強さが変動する。変動する飛び込み磁界は、図３（Ｃ）に示すように、ＭＲセンサ２０５が検出する位置信号を乱すので、精度良く位置検出をすることができなくなる。
【００３２】
また、フォーカスレンズ装置２００のアクチュエータとしてＶＣＭを使用する場合、ソレノイドコイル２０１の印加電圧は、カメラの動作モードにより異なる場合がある。例えば、フォーカスレンズの駆動する速度によっても印加電圧は異なり、また、レンズ位置を保持するための保持電圧についても、フォーカスレンズの姿勢に応じて印加電圧を変える場合がある。
【００３３】
上述したような、センサとアクチュエータとの位置関係、アクチュエータの印加電圧の変動に応じて、ＭＲセンサ２０５への飛び込み磁界の強さが変動する。その結果、位置検出信号に対する一律なゲイン、オフセット調整では、精度良くゲイン、オフセット調整を行うことができない。
【００３４】
変動する飛び込み磁界を適切に補正するためには、変動要因を加味するため、フォーカスレンズ装置を駆動させ、かつアクチュエータ動作時に駆動電圧の変更があるのであれば駆動電圧の変動を考慮して補正値を算出する必要がある。また、変動磁界がある場合の位置検出信号のゲインおよびオフセットの調整を行うには、複数相の正弦波状の検出信号の１波長毎にオフセット補正値およびゲイン補正値を算出する必要がある。
【００３５】
１波長毎にオフセット、ゲイン補正を行うには、正確な１波長間隔を検出することが必要となるが、複数の要因により磁界の強さが変動する飛び込み磁界により、正確な１波長間隔の検出は困難である。そこで、本実施形態では、補正時の１波長間隔の検出に、ＭＲセンサ２０５の出力波形の変曲点を用いる。具体的には、フォーカスレンズ装置２００は、ＭＲセンサ２０５の出力波形の変曲点をカウントして、補正値を変曲点のカウント値と対応付けて記憶手段に記憶しておく。そして、フォーカスレンズ装置２００は、位置検出信号の補正時は、変曲点の現在のカウント数に対応する補正値を記憶手段から取得し、取得した補正値を用いて補正する。
【００３６】
図４は、変曲点の検出による１波長間隔の検出を説明する図である。図４（Ａ）に示すように、ＭＲセンサ２０５からの出力波形の、ゼロクロス点によって決まる波長間隔は、スケーラー以外の磁界の影響により、正確に検出できないことがある。ＭＲセンサ２０５へ入ってくる磁界によっては、出力波形がゼロクロス点を有さない１波長がある状態も考えられる。この状態で、ゼロクロス点によって決まる波長をカウントすると、本来の位置とカウントした波長数とに誤差が出る恐れがある。そして、この状態で、フォーカスレンズ装置２００が、１波長毎のオフセット、ゲイン補正値を算出すると、補正時に適切なタイミングで補正することが困難である。
【００３７】
ゼロクロス点による適切な１波長をカウントするには、フォーカスレンズ装置２００は、一度、概略の出力調整値を取得して、センサ出力値をある程度の精度にしてから波数を検出する必要がある。しかし、変動する飛び込み磁界がある場合は、一律な調整では補正効果が少ない。また、誤差となる変動する飛び込み磁界の要因は、複数存在し、飛び込み磁界が必ずしも前回時と同様になるとは限らない。飛び込み磁界が変動すれば、検出した波数が正しい値である保証はない。上記の理由により、正確な１波長間隔を検出するためには、変動する飛び込み磁界による影響を受けない検出方法が望ましい。そこで、本実施形態では、フォーカスレンズ装置２００は、ＭＲセンサからの出力波形の変曲点を用いて、１波長間隔を検出する。
【００３８】
図４（Ｂ）に示すように、出力波形の変曲点間隔は、変動する飛び込み磁界に因らない。変動する飛び込み磁界は、出力波形の振幅およびオフセットに影響を与えるが、出力波形の周期へ影響を与えない。したがって、出力波形の変曲点で１波長間隔を検出し波数をカウントすれば、補正前の出力波形についても、常に正確な波長間隔で波数を検出することが可能である。
【００３９】
フォーカスレンズ装置２００が備える変曲点数演算部３０３は、２相の位置検出信号の各々に対して変曲点の検出を行う。具体的には、変曲点数演算部３０３は、デジタル変換されたＭＲセンサ２０５からの出力値から、移動方向を検出した上で、前回および前々回検出した出力サンプリング値と、現在検出した出力サンプリング値とを比較し、比較結果に基づいて、変曲点を検出する。すなわち、変曲点数演算部３０３は、位置検出信号の出力値によって決まるスケーラー（およびレンズ）の移動方向と出力値の変化とに基づいて、変曲点を検出する。
【００４０】
例えば、図４（Ｂ）の点５０１が変曲点であるかを検出する処理について説明する。変曲点数演算部３０３は、前回検出した値が前々回検出した値より増加であったとして、現在検出した出力サンプリング値が前回検出した値より増加していた場合、点５０１が変曲点では無いとして、そのまま比較を続ける。現在検出した出力サンプリング値が前回検出した値より減少していた場合、点５０１を変曲点としてカウントする。
【００４１】
同様に、図４（Ｂ）の点５０２が変曲点であるかを検出する処理について説明する。変曲点数演算部３０３は、前回検出した値が前々回検出した値より減少であったとして、現在検出した出力サンプリング値が前回検出した値より減少していた場合、点５０２が変曲点では無いとして、そのまま比較を続ける。現在検出した出力サンプリング値が前回検出した値より増加していた場合、点５０２を変曲点としてカウントする。変曲点のカウント数は、位置検出信号における基準位置からの１波長間隔および波数に対応する。なお、変曲点数演算部３０３が、位置検出信号の出力波形の極点を変曲点として検出するようにしてもよい。上述した変曲点の検出方法以外に、出力値から変曲点を検出できる任意の方法を本発明に適用することができる。
【００４２】
図４を参照して説明した本実施形態における変曲点の検出方法を適用することにより、ゼロクロス点による検出では困難であった調整前のＭＲセンサ出力値の１波長間隔および波数の検出が可能となる。これにより、ＭＲセンサ２０５に対する変動する飛び込み磁界があった場合でも、正確な１波長間隔および波数を検出し、１波長間隔ごとに補正値を算出できる。具体的には、本実施形態では、位置検出信号の１変曲点間の出力値から補正値を算出する。
【００４３】
図５および図６は、フォーカスレンズ装置の動作処理の例を説明するフローチャートである。図５のフローチャートが示す動作処理は、変曲点数カウントによる補正値の取得処理である。補正値の取得処理は、電源投入時、またはリセット時に実行される。図６のフローチャートが示す動作処理は、位置検出信号の補正処理である。位置検出信号の補正処理は、撮影時に実行される。なお、以下の処理は、ＭＲセンサ２０５が出力する位置検出信号の２相それぞれについて行われる。
【００４４】
まず、フォーカスレンズ装置２００の制御部３０８が、フォーカスレンズ２０８を端から端へ移動させる（ステップＳ１０１）。具体的には、制御部３０８は、位置検出は行わずに、フォーカスレンズ２０８を任意の一定速度にてメカ端まで移動させる。
【００４５】
次に、変曲点数演算部３０３が、フォーカスレンズ２０８が端から端へ移動することに応じてＭＲセンサ２０５から出力される波形の極点を変曲点として検出してカウントする（ステップＳ１０２）。
【００４６】
次に、変曲点数演算部３０３が、フォーカスレンズ２０８が端まで移動したかを判断する（ステップＳ１０３）。フォーカスレンズ２０８が端まで移動していない場合は、処理がステップＳ１０１に戻る。フォーカスレンズ２０８が端まで移動した場合、変曲点数演算部３０３が、検出した変曲点の情報を記憶手段に保存する（ステップＳ１０４）。続いて、変曲点数演算部３０３が、変曲点数カウンタをリセットする（ステップＳ１０５）。変曲点数カウンタは、変曲点数をカウントするためのカウンタである。変曲点数カウンタは、補正値に対応付ける変曲点数をカウントするために用いられる。
【００４７】
次に、制御部３０８が、フォーカスレンズ２０８を、移動した端から移動前の端へ移動させる（ステップＳ１０６）。フォーカスレンズ動作には関与しないが、他に動作するアクチュエータがある場合は、実際の撮影時の動作シーケンスを考慮して、ＶＣＭと共に動作するアクチュエータを動かしつつ補正値を取得することで、より補正精度を向上させることができる。
【００４８】
フォーカスレンズ装置２００は、フォーカスレンズ２０８を端から端へ移動させながら、ＭＲセンサ２０５から出力値を検出する（ステップＳ１０７）。具体的には、補正値演算部３０４が、上記ステップＳ１０４において記憶手段に記憶された変曲点の情報に基づいて、変曲点間の出力値を検出する。
【００４９】
次に、補正値演算部３０４が、検出した変曲点間の出力値から最大値と最小値を算出する（ステップＳ１０８）。続いて、補正値演算部３０４が、１変曲点分の移動を完了したかを判断する（ステップＳ１０９）。１変曲点分の移動を完了していない場合は、処理がステップＳ１０６に戻る。１変曲点分の移動を完了した場合は、処理がのステップＳ１１０に進む。
【００５０】
次に、補正値演算部３０４が、ステップＳ１０８において算出した最大値と最小値とに基づいて、補正値を算出する（ステップＳ１１０）。そして、補正値演算部３０４が、補正値の情報（補正情報）を、変曲点数とＶＣＭの駆動電圧とに対応づけて、記憶媒体３０６へ格納する（ステップＳ１１１）。この例では、補正値演算部３０４は、記憶媒体３０６内に駆動電圧毎に用意された補正値テーブルに、変曲点数と補正情報とを対応づけて格納する。
【００５１】
次に、変曲点数演算部３０３が、変曲点カウンタのカウンタ数をインクリメントする（ステップＳ１１２）。続いて、補正値演算部３０４が、取得した変曲点間の出力値の最大値および最小値をリセットする（ステップＳ１１３）。
【００５２】
次に、制御部３０８が、フォーカスレンズ２０８が端まで移動したかを判断する（ステップＳ１１４）。フォーカスレンズ２０８が端まで移動していない場合は、処理がステップＳ１０６に戻る。フォーカスレンズ２０８が端まで移動した場合は、処理がステップＳ１１５に進む。
【００５３】
続いて、制御部３０８が、予め決められた全ての駆動電圧で補正値を取得したかを判断する（ステップＳ１１５）。全ての駆動電圧で補正値を取得した場合は、処理が図６のステップＳ６０１に進む。補正値を取得していない駆動電圧がある場合、制御部３０８が、駆動電圧値を変更して（ステップＳＳ１１６）、処理がステップＳ１０６に戻る。これにより、複数の駆動電圧がある場合は、各駆動電圧に対応付く補正値が記憶媒体３０６に保持される。
【００５４】
図６は、位置検出信号の補正処理の例を説明するフローチャートである。
まず、調整部３０５が、駆動電圧に変更があったかを判断する（ステップＳ６０１）。駆動電圧に変更がない場合は、処理がステップＳ６０４に進む。駆動電圧に変更があった場合は、処理がステップＳ６０２に進む。
【００５５】
次に、調整部３０５が、現在の駆動電圧を読み出す（ステップＳ６０２）。駆動電圧は、カメラモードなどの、駆動電圧を規定する動作がユーザ操作によって指示された時に、逐次読み出される。また、現在の鏡筒位置を保持する保持電圧を得るために姿勢差による電圧を変更する場合、姿勢差を検出することでアクチュエータの駆動電圧を検出してもよい。姿勢差の検出には、加速度センサなどを用いるなどして、鏡筒に対しての重力方向を検出し、検出値により駆動電圧変更の有無を判断するようにしてもよい。
【００５６】
次に、調整部３０５が、記憶媒体３０６から、読み出された駆動電圧に対応する補正値テーブルを選択する（ステップＳ６０３）。続いて、ＭＲセンサ２０５が、フォーカスレンズ２０８の移動に応じた位置検出信号を取得する（ステップＳ６０４）。
【００５７】
次に、変曲点数演算部３０３が、取得された位置検出信号から現在の変曲点数を算出する（ステップＳ６０５）。そして、調整部３０５が、算出された変曲点数に対応付く補正値を、上記ステップＳ６０３において選択された補正値テーブルから取得する（ステップＳ６０６）。
【００５８】
次に、調整部３０５が、取得された補正値を用いて、位置検出信号を補正し（ステップＳ６０７）、処理がステップＳ６０１に戻る。以後、フォーカスレンズ２０８の動作毎にステップＳ６０１からＳ６０７の処理が繰り返される。
【００５９】
本実施形態の位置検出装置は、ＭＲセンサからの出力波形の変曲点を検出し、変曲点のカウント数に対応する１波長間隔毎および駆動電圧毎に、位置検出信号の補正値を算出する。したがって、本実施形態の位置検出装置によれば、磁界の変動要因であるアクチュエータのＭＲセンサに対する相対動作と駆動電圧の変動とを補正値に反映することができ、位置検出精度を向上させることが可能となる。
【符号の説明】
【００６０】
２００  フォーカスレンズ装置
２０１  コイル
２０４  レンズ
２０５  ＭＲセンサ
２０６  スケーラー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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