(57)【要約】【課題】共通配線の電圧を直接測定することができる液晶表示装置を提供する。【解決手段】液晶表示装置であって、第１の金属層に配置された複数の走査信号線と、前記第１の金属層を覆う第１の絶縁層の上方に位置する第２の金属層に配置された複数の映像信号線と、前記第２の金属層を覆う第２の絶縁層の上方に配置された共通電極と、前記共通電極に共通電圧を供給する、第３の金属層に配置された複数の共通配線と、前記共通電極に対向し、前記画素に配置された画素電極と、前記画素が形成された表示領域と、前記表示領域の外側の周辺領域に、前記共通配線に共通電圧を供給する、それぞれの前記共通配線に接続された共通電圧供給線と、前記共通配線に直接接続された、前記共通配線に供給された電圧を測定するための共通電圧測定線と、を備え、前記共通電圧供給線及び前記共通電圧測定線は、互いに別の層に配置され、前記共通電圧供給線と前記共通電圧測定線とが平面視で重畳する、ことを特徴とする。【選択図】図１
2015106017.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素から構成される表示領域と、前記表示領域の外側を囲む周辺領域と、を備え、
前記表示領域は、
第１の金属層に配置された複数の走査信号線と、
前記第１の金属層を覆う第１の絶縁層の上方に位置する第２の金属層に配置された複数の映像信号線と、
前記第２の金属層を覆う第２の絶縁層の上方に配置された共通電極と、
前記共通電極に共通電圧を供給する、第３の金属層に配置された複数の共通配線と、
前記共通電極に対向し、前記画素に配置された画素電極と、を備え、
前記周辺領域は、
前記共通配線に共通電圧を供給する、それぞれの前記共通配線に接続された共通電圧供給線と、
前記共通配線に直接接続された、前記共通配線に供給された電圧を測定するための共通電圧測定線と、を備え、
前記共通電圧供給線及び前記共通電圧測定線は、互いに別の層に配置され、前記共通電圧供給線と前記共通電圧測定線とが前記周辺領域において平面視で重畳する、
ことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項２】
請求項１に記載の液晶表示装置において、
前記共通配線と前記共通電圧測定線とは同一の金属層において直接接続される、
ことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の液晶表示装置において、
前記共通電圧供給線は前記第２の金属層に配置される、
ことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか一項に記載の液晶表示装置において、
前記共通電圧測定線は、前記周辺領域において導電材を介して接続された前記第３の金属層に配置された部分と前記第１の金属層に配置された部分とを有する、
ことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか一項に記載の液晶表示装置において、
前記共通電圧測定線は、前記表示領域の前記映像信号線に沿う辺側において前記共通配線に直接接続される、
ことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項６】
請求項１から４のいずれか一項に記載の液晶表示装置において、
前記共通電圧測定線は、前記表示領域の前記走査信号線に沿う辺側において前記共通配線に直接接続される、
ことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項７】
請求項１から６のいずれか一項に記載の液晶表示装置において、
前記共通電圧供給線は、前記周辺領域に環状に配置される、
ことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項８】
請求項１に記載の液晶表示装置において、
前記電圧を検知する共通電圧測定端子と、
前記共通電圧測定端子の検知結果に基づいて所定の共通電圧を供給する共通電圧供給端子とを更に備える、
ことを特徴とする液晶表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶表示装置に関し、特に液晶表示装置の表示性能向上に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、ＩＰＳ方式のような横電界駆動方式の液晶表示装置において、共通配線が接続されたコモンバスラインにコモンセンシングラインを接続してコモンバスラインの電圧を測定し、共通配線に加えるコモン電位の調整にフィードバックする技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−２７５８１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記技術では、実際に共通配線に供給された電圧を測定することができず、コモン電位の調整を効率的に行えないおそれがある。
【０００５】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、共通配線に供給された電圧を精度よく測定することができる液晶表示装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の液晶表示装置は、上述した課題を解決するため、以下のような特徴を有する。
（１）液晶表示装置であって、複数の画素から構成される表示領域と、前記表示領域の外側を囲む周辺領域と、を備え、前記表示領域は、第１の金属層に配置された複数の走査信号線と、前記第１の金属層を覆う第１の絶縁層の上方に位置する第２の金属層に配置された複数の映像信号線と、前記第２の金属層を覆う第２の絶縁層の上方に配置された共通電極と、前記共通電極に共通電圧を供給する、第３の金属層に配置された複数の共通配線と、前記共通電極に対向し、前記画素に配置された画素電極と、を備え、前記周辺領域は、前記共通配線に共通電圧を供給する、それぞれの前記共通配線に接続された共通電圧供給線と、前記共通配線に直接接続された、前記共通配線に供給された電圧を測定するための共通電圧測定線と、を備え、前記共通電圧供給線及び前記共通電圧測定線は、互いに別の層に配置され、前記共通電圧供給線と前記共通電圧測定線とが前記周辺領域において平面視で重畳する、ことを特徴とする。
（２）上記（１）に記載の液晶表示装置において、前記共通配線と前記共通電圧測定線とは同一の金属層において直接接続される、ことを特徴とする。
（３）上記（１）又は（２）に記載の液晶表示装置において、前記共通電圧供給線は前記第２の金属層に配置される、ことを特徴とする。
（４）上記（１）から（３）のいずれか一項に記載の液晶表示装置において、前記共通電圧測定線は、前記周辺領域において導電材を介して接続された前記第３の金属層に配置された部分と前記第１の金属層に配置された部分とを有する、ことを特徴とする。
（５）上記（１）から（４）のいずれか一項に記載の液晶表示装置において、前記共通電圧測定線は、前記表示領域の前記映像信号線に沿う辺側において前記共通配線に直接接続される、ことを特徴とする。
（６）上記（１）から（４）のいずれか一項に記載の液晶表示装置において、前記共通電圧測定線は、前記表示領域の前記走査信号線に沿う辺側において前記共通配線に直接接続される、ことを特徴とする。
（７）上記（１）から（６）のいずれか一項に記載の液晶表示装置において、前記共通電圧供給線は、前記周辺領域に環状に配置される、ことを特徴とする。
（８）上記（１）に記載の液晶表示装置において、前記電圧を検知する共通電圧測定端子と、前記共通電圧測定端子の検知結果に基づいて所定の共通電圧を供給する共通電圧供給端子とを更に備える、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の液晶表示装置によれば、共通電圧測定線が共通配線に直接接続されるため、共通配線に供給された電圧をより精度よく測定し、フィードバックすることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置の平面図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置の断面図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置の平面図である。
【図４】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置の断面図である。
【図５】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置の断面図である。
【図６】本発明の他の実施形態に係る液晶表示装置の平面図である。
【図７】本発明の他の実施形態に係る液晶表示装置の平面図である。
【図８】本発明の他の実施形態に係る液晶表示装置の平面図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本発明の実施形態に係る液晶表示装置について、以下に図面を参照して説明する。尚、図面については、同一または同等の要素には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
【００１０】
図１は、本発明の一実施形態に係る液晶表示装置の配線基板の平面図である。また、図２は、配線基板の断面を示す図である。本実施形態に係る液晶表示装置は、所謂ＩＰＳ方式と呼ばれる横電界駆動方式の液晶表示装置である。図１に示すように、配線基板１は、画像が表示される表示領域６と、表示領域を囲む周辺領域を有し、例えば、透明であるガラス等の矩形状の基板の表面の上に金属層、半導体層、絶縁層及び配線層等が配置されたものである。図２は、配線基板１の表示領域６の一部分の断面を示している。
【００１１】
図２に示すように、配線基板１には、例えば、図中のｘ方向に複数の走査信号線ＧＬが配置されている（走査信号線ＧＬは、図１では省略）。走査信号線ＧＬは、ガラス基板ＳＵＢの上に配置された、銅等の金属から成る第１の金属層Ｍ１に配置されている。走査信号線ＧＬは、例えば、周知のフォトリソグラフィーの技術を用いて第１の金属層Ｍ１をエッジングすることにより形成されている。
【００１２】
また、図２に示すように、配線基板１には、例えば、ｘ方向と直交するｙ方向に複数の映像信号線ＤＬが配置されている（映像信号線ＤＬは、図１では省略）。映像信号線ＤＬは、第１の金属層Ｍ１を覆う第１の絶縁層ＰＡＳ１の上に配置された、銅等の金属から成る第２の金属層Ｍ２に配置されている。映像信号線ＤＬは、例えば、周知のフォトリソグラフィーの技術を用いて第２の金属層Ｍ２をエッジングすることにより形成されている。
【００１３】
また、図１に示すように、配線基板１のｙ方向に沿った一辺である左側の辺には、走査信号線ＧＬに走査信号を供給する走査信号ドライバ２を有する複数のフレキシブルプリント回路基板３が配置されている。そして、図示は省略しているが、走査信号ドライバ２が配置された側の各走査信号線ＧＬの端部は、走査信号ドライバ２に向かって折れ曲がり、走査信号ドライバ２に接続されている。
【００１４】
また、図１に示すように、配線基板１のｘ方向に沿った一辺である上側の辺には、映像信号線ＤＬに映像信号を供給する映像信号ドライバ４を有する複数のフレキシブルプリント回路基板５が配置されている。そして、図示は省略しているが、映像信号ドライバ４が配置された側の各映像信号線ＤＬの端部は、映像信号ドライバ４に向かって折れ曲がり、映像信号ドライバ４に接続されている。
【００１５】
配線基板１上の隣り合う走査信号線ＧＬと隣り合う映像信号線ＤＬで囲まれた領域には、それぞれＴＦＴ素子９、共通電極ＣＴ及び画素電極ＰＸが配置され（図２参照）、この領域が、表示画像を構成する１つの画素に相当する。つまり、配線基板１上で画素が配置されている領域が、表示領域６である。周辺領域は、これに対し、配線基板１上の表示領域６を囲む領域である。
【００１６】
図２に示すように、ＴＦＴ素子９のドレイン電極ＳＤ１及びソース電極ＳＤ２は、映像信号線ＤＬと同様にして第２の金属層Ｍ２に配置されている。また、ＴＦＴ素子９のチャネルとしての機能を持つ半導体ＳＣＮは、第１の絶縁層ＰＡＳ１の上方に第２の金属層Ｍ２と接するように配置された、アモルファスシリコン等から成る半導体層に配置されている。半導体ＳＣＮは、例えば、周知のフォトリソグラフィーの技術を用いてこの半導体層をエッジングすることにより形成されている。
【００１７】
図２に示すように、共通電極ＣＴは、第２の金属層及び半導体層を覆う第２の絶縁層ＰＡＳ２の上方に配置された、ＩＴＯ等の透明な導電材料から成る第１の透明導電層Ｔ１に配置されている。共通電極ＣＴは、例えば、周知のフォトリソグラフィーの技術を用いて第１の透明導電層Ｔ１をエッジングすることにより形成されている。
【００１８】
図２に示すように、第２の絶縁層ＰＡＳ２の上方には、この他、共通電極ＣＴに接するように共通配線ＣＬが配置されている。共通配線ＣＬは、第２の絶縁層の上方に配置された、銅等の金属から成る第３の金属層Ｍ３に配置されている。共通配線ＣＬは、例えば、周知のフォトリソグラフィーの技術を用いて第３の金属層Ｍ３をエッジングすることにより形成されている。共通電圧は、共通配線ＣＬを介して共通電極ＣＴに供給される。尚、第２の絶縁層ＰＡＳ２には、図２に示すように、例えば、アクリル系の樹脂材料から成る有機絶縁膜ＯＰＡＳが積層されていても良い。
【００１９】
図２に示すように、画素電極ＰＸは、第２の金属層Ｍ２及び第１の透明導電層Ｔ１を覆うように配置された第３の絶縁層ＰＡＳ３の上方に配置された、ＩＴＯ等の透明な導電材料から成る第２の透明導電層Ｔ２に配置されている。画素電極ＰＸは、例えば、周知のフォトリソグラフィーの技術を用いて第２の透明導電層Ｔ２をエッジングすることにより形成されている。また、画素電極ＰＸとソース電極ＳＤ２の重畳部分の一部にはスルーホールＴＨが設けられ、画素電極ＰＸとソース電極ＳＤ２とが層間接続されている。また、画素電極ＰＸの共通電極ＣＴと対向する部分には、スリットが設けられている（不図示）。
【００２０】
また、図１に示すように、配線基板１には、上記の他に、共通電圧供給端子７及び共通電圧測定端子８が周辺領域に配置されている。共通電圧供給端子７は、共通配線ＣＬに供給する共通電圧が外部から印加される端子である。共通電圧供給端子７には、共通配線ＣＬに供給するための共通電圧を生成する、図示しない共通電圧生成回路が接続されている。共通電圧測定端子８は、測定した共通配線ＣＬの電圧を外部に出力するための端子である。共通電圧測定端子８には、測定された共通配線ＣＬの電圧を、生成する共通電圧の調整にフィードバックさせる、図示しないフィードバック回路が接続されている。
【００２１】
また、図１に示すように、共通電圧供給端子７及び共通電圧測定端子８には、第１の金属層Ｍ１に配置された共通電圧供給接続線ＣＢＣ及び共通電圧測定線ＣＳＬがそれぞれ接続されている。共通電圧供給接続線ＣＢＣは、フレキシブルプリント回路板３を経由して、走査信号ドライバ２の外側を通って、後述の共通電圧供給線ＣＢＬに至るように配置されている。また、共通電圧測定線ＣＳＬは、フレキシブルプリント回路板３を経由して、走査信号ドライバ２の外側を通って、共通配線ＣＬに至るように配置されている。これにより、共通電圧供給接続線ＣＢＣ及び共通電圧測定線ＣＳＬは、表示領域６の内側から伸びて走査信号ドライバ２に接続されている走査信号線ＧＬとの交差を避けている。
【００２２】
また、図１に示すように、配線基板１上には、共通電圧供給線ＣＢＬが配置されており、供給電圧供給端子７に供給された共通電圧は、共通電圧供給接続線ＣＢＣを経た後に、共通電圧供給線ＣＢＬを介して共通配線ＣＬに供給される。共通電圧供給線ＣＢＬは、例えば、表示領域６の周囲に環状に配置されており、そのｙ方向に沿った辺は第２の金属層Ｍ２に配置されており、そのｘ方向に沿った辺は第１の金属層Ｍ１に配置されている。これにより、共通電圧供給線ＣＢＬは、ｙ方向に沿った辺では第１の金属層Ｍ１に配置された走査信号線ＧＬとの接触を避けており、ｘ方向に沿った辺では第２の金属層Ｍ２に配置された映像信号線ＤＬとの接触を避けている。
【００２３】
図３は、図１中の一点鎖線Ａ部の拡大図であり、周辺領域６の近傍の共通電圧供給接続線ＣＢＣ及び共通電圧測定線ＣＳＬを表す平面図である。図３に示すように、第１の金属層Ｍ１に配置された供給電圧供給接続線ＣＢＣと第２の金属層Ｍ２に配置された共通電圧供給線ＣＢＬは、ＩＴＯ等を材料とする第２の透明導電層Ｔ２に配置された層間接続部材ＣＭを介して接続されている。また、第２の金属層Ｍ２に配置された共通電圧供給線ＣＢＬと第３の金属層Ｍ３に配置された共通配線ＣＬは、第２の透明導電層Ｔ２に配置された層間接続部材ＣＭを介して接続されている。また、第１の金属層Ｍ１に配置された共通電圧測定線ＣＳＬは、第３の金属層Ｍ３に配置された共通電圧測定線ＣＳＬに第２の透明導電層Ｔ２に配置された層間接続部材ＣＭを介して接続されており、共通電圧測定線ＣＳＬは、共通電圧供給接続線ＣＢＣ及び共通電圧供給線ＣＢＬを跨いでいる。共通電圧測定線ＣＳＬの先端は、共通配線ＣＬに直接接続されている。尚、共通電圧供給接続線ＣＢＣは、図１に示す通り、複数の分岐を有して、それらのそれぞれがスルーホールＴＨを介して共通電圧供給線ＣＢＬに接続されるようにしても良い。
【００２４】
図４は、図３におけるIV‐IV断面を示す図である。IV‐IV断面は、共通電圧供給線ＣＢＬと、共通電圧供給接続線ＣＢＣ及び共通配線ＣＬとのそれぞれの接続部を通る断面である。図４に示すように、共通電圧供給接続線ＣＢＣ及び走査信号線ＧＬが第１の金属層Ｍ１に配置され、共通電圧供給線ＣＢＬが第２の金属層Ｍ２に配置され、共通配線ＣＬが第３の金属層Ｍ３に配置されている。そして、共通電圧供給接続線ＣＢＣ及び共通電圧供給線ＣＢＬの一部の上にはスルーホールＴＨが設けられている。これらのスルーホールＴＨの部分において、第１の金属層Ｍ１に配置された共通電圧供給接続線ＣＢＣと第２の金属層Ｍ２に配置された共通電圧供給線ＣＢＬとがＩＴＯ等を材料とする第２の透明導電層Ｔ２に配置された層間接続部材ＣＭを介して層間接続されている。また、共通電圧供給線ＣＢＬ及び共通配線ＣＬの一部の上にはスルーホールＴＨが設けられている。これらのスルーホールＴＨの部分において、第２の金属層Ｍ２に配置された共通電圧供給線ＣＢＬと第３の金属層Ｍ３に配置された共通配線ＣＬとが第２の透明導電層Ｔ２に配置された層間接続部材ＣＭを介して層間接続されている。これにより、共通電圧供給端子７から第１の金属層Ｍ１に配置された共通電圧供給接続線ＣＢＣに供給された共通電圧は、第２の金属層Ｍ２に配置された共通電圧供給線ＣＢＬに供給され、そして第３の金属層Ｍ３に配置された共通配線ＣＬに供給される。
【００２５】
図５は、図３におけるV‐V断面を示す図である。V‐V断面は、共通電圧供給接続線ＣＢＣの配線経路を通る断面である。図５に示すように、共通電圧測定線ＣＳＬ、共通電圧供給接続線ＣＢＣ及び走査信号線ＧＬが第１の金属層Ｍ１に配置され、共通電圧供給線ＣＢＬが第２の金属層Ｍ２に配置され、共通電圧測定線ＣＳＬ及び共通配線ＣＬが第３の金属層Ｍ３に配置されている。
【００２６】
図５に示すように、第１の金属層Ｍ１に配置された共通電圧測定線ＣＳＬ及び第３の金属層Ｍ３に配置された共通電圧測定線ＣＳＬの一部の上にはスルーホールＴＨが設けられ、これらのスルーホールＴＨの部分において、第１の金属層Ｍ１に配置された共通電圧測定線ＣＳＬと第３の金属層Ｍ３に配置された共通電圧測定線ＣＳＬとが第２の透明導電層Ｔ２に配置された層間接続部材ＣＭを介して層間接続されている。これにより、共通電圧測定線ＣＳＬは、第１の金属層Ｍ１に配置された共通電圧供給接続線ＣＢＣ及び走査信号線ＧＬ、及び第２の金属層Ｍ２に配置された共通電圧供給線ＣＢＬと立体的に交差している。
【００２７】
また、図５に示すように、第３の金属層Ｍ３に配置された共通電圧測定線ＣＳＬと第３の金属層Ｍ３に配置された共通配線ＣＬとは、第３の金属層Ｍ３において連続的に形成されている。即ち、共通電圧測定線ＣＳＬと共通配線ＣＬとは直接接続されている。
【００２８】
本実施形態によると、共通電圧測定線ＣＳＬと共通配線ＣＬとを直接接続することができる。
【００２９】
また、本実施形態によると、共通配線ＣＬと共通電圧測定線ＣＳＬとを直接接続できることから、共通電圧供給線ＣＢＬよりも表示領域６側に配置された共通配線ＣＬの電圧を直接測定することができる。これにより、生成する共通電圧の調整に用いられる共通配線ＣＬの電圧のフィードバックの精度を高め、共通配線ＣＬにおける共通電圧を安定させ、液晶表示装置の画質を向上させることができる。
【００３０】
共通電圧測定線ＣＳＬと共通配線ＣＬとを直接接続するのは、以下に説明する理由があるからである。
【００３１】
画素電極ＰＸに入力される共通電圧は、液晶パネルに印加される画像の形態に応じて歪む可能性がある。この共通電圧の歪みは、映像信号線ＤＬと共通電極ＰＸ間の寄生容量を介して共通配線ＣＬが映像信号線ＤＬの電圧波形の影響を受けて発生する。非表示領域であるバスラインで共通電圧を測定しても、映像信号線ＤＬの電圧の影響をほとんど受けないので共通電圧の歪みはほとんどない。それに対して、表示領域においては、映像信号線ＤＬの影響を受けて共通電圧の歪みが発生する。つまり、画質を向上させるため共通電圧の歪みを補正する場所としては表示領域が最適である。
【００３２】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形実施が当業者にとって可能であるのはもちろんである。
【００３３】
例えば、図６に示すように、表示領域６の走査信号線ＧＬに沿う辺側、例えば、下側の辺側において共通電圧測定線ＣＳＬと第３の金属層Ｍ３に配置された共通配線ＣＬとを直接接続してもよい。この場合も上記と同様に、第１の金属層Ｍ１に配置される当該辺側の共通電圧供給線ＣＢＬと、共通電圧測定線ＣＳＬとが周辺領域において立体的に交差するように、例えば、共通電圧測定線ＣＳＬを第３の金属層Ｍ３に配置すればよい。また、この場合、例えば、共通電圧測定線ＣＳＬは、第１の透明導電層Ｔ１に配置されている共通電極ＣＴに直接接続しても良い。
【００３４】
また例えば、図７に示すように、共通配線ＣＬを、第３の金属層Ｍ３の映像信号線ＤＬに沿う方向に配置し、表示領域６の走査信号線ＧＬに沿う辺側、例えば、下側の辺側において共通電圧測定線ＣＳＬと第３の金属層Ｍ３に配置された共通配線ＣＬとを直接接続してもよい。この場合も上記と同様に、第１の金属層Ｍ１に配置される当該辺側の共通電圧供給線ＣＢＬと、共通電圧測定線ＣＳＬとが周辺領域において立体的に交差するように、例えば、共通電圧測定線ＣＳＬを第３の金属層Ｍ３に配置すればよい。
【００３５】
また例えば、図８に示すように、共通配線ＣＬを、第３の金属層Ｍ３の走査信号線ＧＬに沿う方向及び映像信号線ＤＬに沿う方向に配置し、表示領域６の映像信号線ＤＬに沿う辺側、例えば、左側の辺側において共通電圧測定線ＣＳＬと第３の金属層Ｍ３の映像信号線ＤＬに沿う方向に配置された共通配線ＣＬとを直接接続してもよい。この場合も上記と同様に、第２の金属層Ｍ２に配置される当該辺側の共通電圧供給線ＣＢＬと、共通電圧測定線ＣＳＬとが周辺領域において立体的に交差するように、例えば、共通電圧測定線ＣＳＬを第３の金属層Ｍ３に配置すればよい。
【００３６】
また、共通配線ＣＬが第３の金属層Ｍ３の走査信号線ＧＬに沿う方向及び映像信号線ＤＬに沿う方向に配置される場合には、例えば、図１に示したものと同様に、表示領域６の映像信号線ＤＬに沿う辺側において共通電圧測定線ＣＳＬと第３の金属層Ｍ３の走査信号線ＧＬに沿う方向に配置された共通配線ＣＬとを直接接続してもよいし、例えば、図６に示したものと同様に、表示領域６の走査信号線ＧＬに沿う辺側において共通電圧測定線ＣＳＬと第３の金属層Ｍ３の走査信号線ＧＬに沿う方向に配置された共通配線ＣＬとを直接接続してもよいし、例えば、図７に示したものと同様に、表示領域６の走査信号線ＧＬに沿う辺側において共通電圧測定線ＣＳＬと第３の金属層Ｍ３の映像信号線ＤＬに沿う方向に配置された共通配線ＣＬとを直接接続してもよい。これら場合も上記と同様に、第２の金属層Ｍ２又は第１の金属層Ｍ１に配置される共通電圧供給線ＣＢＬと、共通電圧測定線ＣＳＬとが周辺領域において立体的に交差するように、例えば、共通電圧測定線ＣＳＬを第３の金属層Ｍ３に配置すればよい。
【符号の説明】
【００３７】
１  配線基板、２  走査信号ドライバ、３，５  フレキシブルプリント回路基板、４  映像信号ドライバ、６  表示領域、７  共通電圧供給端子、８  共通電圧測定端子、９  ＴＦＴ素子、ＣＬ  共通配線、ＣＢＬ  共通電圧供給線、ＣＢＣ  共通電圧供給接続線、ＣＳＬ  共通電圧測定線、ＧＬ  走査信号線、ＤＬ  映像信号線、ＴＨ  スルーホールＴＨ、ＳＵＢ  ガラス基板、ＳＤ１  ドレイン電極、ＳＤ２  ソース電極、ＳＣＮ  半導体、ＣＴ  共通電極、ＰＸ  画素電極、Ｍ１  第１の金属層、Ｍ２  第２の金属層、Ｍ３  第３の金属層、Ｔ１  第１の透明導電層、Ｔ２  第２の透明導電層、ＰＡＳ１  第１の絶縁層、ＰＡＳ２  第２の絶縁層、ＰＡＳ３  第３の絶縁層、ＯＰＡＳ  有機絶縁膜。
【図１】
2015106017.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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