(57)【要約】【課題】所望の表面状態の線材を得ることを目的とする。【解決手段】表面処理が行われた線材９０の表面状態をリアルタイムで評価する線材評価装置１であって、所定方向に走行する線材９０の表面を撮像する撮像部３と、撮像部３から出力された画像データに基づいて、線材表面の光沢度を算出する光沢度算出部（画像処理装置４）と、表面処理の方法および線材９０の材質に応じて定められた閾値と、算出した光沢度とに基づいて、線材９０の表面状態を評価する表面状態評価部（画像処理装置４）と、を備える。【選択図】図１
2015001486.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表面処理が行われた線材の表面状態をリアルタイムで評価する線材評価装置であって、
所定方向に走行する前記線材の表面を撮像する撮像部と、
前記撮像部から出力された画像データに基づいて、前記表面の光沢度を算出する光沢度算出部と、
前記表面処理の方法および前記線材の材質に応じて定められた閾値と、前記算出した光沢度とに基づいて、前記線材の表面状態を評価する表面状態評価部と、
を備えたことを特徴とする線材評価装置。
【請求項２】
前記撮像部は、
前記線材の表面を撮像するカメラと、
前記所定方向に垂直な面において、前記カメラと前記線材を結ぶ光軸に対し、対称な位置から前記線材を照らすように配置された２台の照明と、
により構成されていることを特徴とする請求項１に記載の線材評価装置。
【請求項３】
前記所定方向に垂直な面において、前記光軸の角度がそれぞれ異なる複数の撮像部を備えていることを特徴とする請求項２に記載の線材評価装置。
【請求項４】
前記線材の前記撮像部の撮像範囲部分の振動を抑制する振動抑制部を備えたことを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の線材評価装置。
【請求項５】
前記線材を当該線材の軸を中心として回転させる回転機構を備えたことを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載の線材評価装置。
【請求項６】
前記線材の、前記表面状態が不良と評価された部分に印をつけるマーキング部を備えたことを特徴とする請求項１ないし５のいずれか１項に記載の線材評価装置。
【請求項７】
線材に所定の表面処理を行う表面処理工程と、
請求項１ないし６のいずれか１項に記載の線材評価装置を用いて、前記表面処理が行われた線材の表面状態を評価する表面状態評価工程と、
前記表面状態評価工程で前記表面状態が不良と評価された部分があったとき、当該部分に前記表面処理を再度行う再処理工程と、
を含むことを特徴とする線材の表面処理方法。
【請求項８】
線材に所定の表面処理を行う表面処理工程と、
請求項６に記載の線材評価装置を用いて、前記表面処理が行われた線材の表面状態を評価し、前記表面状態が不良と評価された部分に印をつける表面状態評価工程と、
前記線材のうち、前記印がつけられた部分を除外する選別工程と、
を含むことを特徴とする線材の表面処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、線材の表面状態を評価するための線材評価装置および線材の製造方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
線材は、例えば、接着接合する際の強度向上のため、ブラスト処理、メッキ処理などの表面処理が施されることが多い（例えば、特許文献１ないし３参照。）。その際、研磨剤の投射に伴い線材が暴れると、処理状態が不安定になるため、例えば、ブラストが通過できるよう開口が形成された保持板を噴射方向に対して所定角度で交わるように配置する加工方法等が開示されている（例えば、特許文献３参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−１９８３１２号公報（段落００２６〜００２８、図４）
【特許文献２】特開２００８−３００８４号公報（段落００３１、００４１、００７５）
【特許文献３】特開２０１１−１１５８８６号公報（段落００４７〜００８４、図２〜図４）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、線材の暴れを防止しただけでは、所望の表面状態が得られることを保証することはできない。そのため、一部の表面処理が不十分であった場合、例えば、線材表面の接着力を低下させる膜、すなわち外表面の不活性な膜が残存することになり、接着力や密着性が十分に得られず、接着剥離等の不具合を引き起こす要因となることがある。そのため、表面処理が確実に行われたか否かを確認する必要がある。しかし、従来の表面処理装置では、処理のばらつきにより、表面状態が異なっていても、それを判別する機構を備えておらず、十分な処理が行われたか判別することができなかった。
【０００５】
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、所望の表面状態の線材を得ることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明にかかる線材評価装置は、表面処理が行われた線材の表面状態をリアルタイムで評価する線材評価装置であって、所定方向に走行する前記線材の表面を撮像する撮像部と、前記撮像部から出力された画像データに基づいて、前記表面の光沢度を算出する光沢度算出部と、前記表面処理の方法および前記線材の材質に応じて定められた閾値と、前記算出した光沢度とに基づいて、前記線材の表面状態を評価する表面状態評価部と、を備えたことを特徴とする。
【０００７】
本発明にかかる線材の製造方法は、線材に所定の表面処理を行う表面処理工程と、上述した線材評価装置を用いて、前記表面処理が行われた線材の表面状態を評価する表面状態評価工程と、前記表面状態評価工程で前記表面状態が不良と評価された部分があったとき、当該部分に前記表面処理を再度行う再処理工程と、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
この発明によれば、製造中にリアルタイムで線材の表面状態を評価できるので、所望の表面状態の線材を容易に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施の形態１にかかる線材評価装置の構成を説明するための模式図である。
【図２】本発明の実施の形態１にかかる線材評価装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図３】本発明の実施の形態１にかかる線材評価装置で、評価例１の結果を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態１にかかる線材評価装置で、評価例２の結果を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態１にかかる線材評価装置の振動抑制機構部分の構成を説明するための模式図である。
【図６】本発明の実施の形態２にかかる線材評価装置の構成を説明するための模式図である。
【図７】本発明の実施の形態４にかかる線材評価装置の構成を説明するための模式図である。
【図８】本発明の実施の形態５にかかる線材評価装置の構成を説明するための模式図である。
【図９】本発明の実施の形態６にかかる線材評価装置の構成を説明するための模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明の各実施の形態にかかる線材評価装置は、線材の表面状態、例えば、外表面の残膜の有無や被覆の欠損の有無を評価するための装置である。そして、線材としては、例えば、異形の単線や、円や異形の単線を撚った撚線などの表面状態が均一でない長尺物をいい、その材質は鋼、軽合金、樹脂などの光沢を有するものを指す。また、表面処理とは、例えば化成処理やブラスト処理やメッキ処理などがあげられる。
【００１１】
実施の形態１．
図１〜図５は、本発明の実施の形態１にかかる線材評価装置について説明するための図である。図１は線材評価装置の構成を説明するためのもので、図１（ａ）は線材評価装置の全体構成を示す模式図、図１（ｂ）は線材の表面状態を撮像する撮像部の構成を説明するための線材の走行方向に垂直な面内での配置図、図２は線材評価装置の動作を説明するためのフローチャート、図３は本実施の形態にかかる線材評価装置を用いて、評価例１としてブラスト処理を行った線材の表面状態を評価した結果を示す図、図４は本実施の形態にかかる線材評価装置を用いて、評価例２としてメッキ処理を行った線材の表面状態を評価した結果を示す図である。また、図５は線材評価装置における線材の振動を抑制するための振動抑制部の構成を説明するための模式図である。
【００１２】
本発明の実施の形態１にかかる線材評価装置１は、図１（ａ）に示すように、走行中の線材９０の表面状態を撮像するための撮像部３と、撮像部３で撮像した画像データに基づいて線材９０の表面状態を評価する画像処理装置４とを備えるものである。そして、撮像部３を構成するカメラ３１と２つの照明３２は、筐体２に固定された支柱３４により、後述するように所定の位置関係になるように配置されている。
【００１３】
また、線材９０の走行方向（ｘ方向）における撮像部３の前後には、線材９０がカメラ３１の撮像範囲内から逸脱しないように、線材９０を拘束して振動を抑制するための振動抑制部６が設けられている。また、画像処理装置４による評価結果を表示させるためのモニタ５を備えている。
【００１４】
本発明者は、表面処理した線材９０は表面の凹凸形状が変化するため、光の反射状態が変化するので、線材９０の表面状態が光沢度（光沢部の割合）によって評価できることを見出した。そこで、本実施の形態１にかかる線材評価装置１では、画像処理装置４は、画像データの輝度（階調）によって光沢部の割合を評価するようにした。そのため、撮像部３は、２台の照明３２から照射された光のうち、線材９０によって反射した光のみがカメラ３１に入射するように配置されている。具体的には、図１（ｂ）に示すように、線材９０の走行方向に垂直な面（ｙｚ面）内で、２台の照明３２のそれぞれの光軸Ｘｓが、カメラ３１の光軸Ｘｃを対称線として一定の角度（Ａ１、Ａ２）をなすように配置する。
【００１５】
例えば、線材９０表面の凹凸サイズが０．５ｍｍ±０．１ｍｍ程度で、カメラ３１と線材９０間の距離を６０±１０ｍｍ、照明３２と線材９０間の距離を４０±１０ｍｍ、照明３２に白色光を用いた場合は、照明３２とカメラ３１（厳密には光軸ＸｓとＸｃ）のなす角度Ａ１、Ａ２を６０±５°とするのが良い。照明３２とカメラ３１の角度を上記範囲に規定することで、対象とする表面状態が均一でない線材９０においても、周方向に対し１２０°程度の範囲の表面状態を１台のカメラ３１で撮像できる。照明３２から出射された照明光は、斜めから入射して、線材９０の表面を照らす。照明３２はそれぞれ調光器３３に接続されており、調光器３３により明るさを調整できる。
【００１６】
この線材９０に照明光を入射させる照明３２はライン形状もしくはスポット形状であることが望ましく、後述するようにカメラ３１の撮像範囲よりも広い範囲を照射するように設定する。例えば、照明３２としてライン形状を用いた場合は、線材９０の長手方向（走行方向）と照明３２の長手方向が平行になるように設置することが望ましい。また、評価対象の線材９０の直径よりもカメラ３１の撮像範囲の方が大きなことが望ましい。さらに、カメラ３１の絞りを絞ることで、被写界深度を線材９０の半径より深くすれば、線材９０の表面を安定して撮像することが可能になる。
【００１７】
照明３２から出射された照明光は、線材９０の表面で散乱反射をしてカメラ３１に入射するが、カメラ３１の撮像範囲における背景は、黒色化するなど光を透過や反射しにくくした筐体２などによって遮光されている。筐体２により遮光されていることで、外部からの光の影響を受けず、正確な評価を行うことができる。
【００１８】
このとき、線材９０は一直線上に張設され、その長手方向に走行するが、線材９０の移動に伴う振動が生じる。線材９０に多少の振動が生じても測定ばらつきが生じないように、カメラ３１の撮像範囲は線材９０の直径よりも広い範囲を撮像することとする。なお、照明３２ならびにカメラ３１は、剛性の高い支柱３４にて固定され、線材９０の走行に伴う振動の影響で、撮像範囲にずれが生じない構造とする。
【００１９】
つぎに、本実施の形態１にかかる線材評価装置１の動作、あるいは線材の評価方法について、図２のフローチャートを用いて説明する。
はじめに、評価対象の線材９０の種類（金属／樹脂等の材質、撚線／単線等の構成等、特に材質）や表面処理の方法、あるいは、撮像部３の配置等の選定を行う（ステップＳＰ０１０）。この選定は、例えば、モニタ５に設けた入出力機能等により直接入力する、あるいはあらかじめ記憶された条件から選択（読込）できるようにしておけばよく、選定（入力）された条件に応じて、後述する処理における閾値等の処理条件が設定される。
【００２０】
そして、線材９０を走行させながらカメラ３１により画像データを取得する（ステップＳＰ０２０）と、取得した画像データは画像処理装置４に出力され、画像処理装置４は、設定された条件に応じて画像データを、例えば画素ごとやフレームごとに二値化処理する（ステップＳＰ０３０）。そして例えば、画素ごとに二値化処理した場合はフレーム内でのデータ、あるいはフレームごとに二値化処理した場合は単位時間当たりのデータを統計処理することで、線材９０における光沢部の割合（光沢度）を算出（ステップＳＰ０４０）する。
【００２１】
つぎに、画像処理装置４は、算出した光沢度と設定された閾値とを比較し、光沢度が所定範囲内に入っていれば（ステップＳＰ０５０で「Ｙ」）、「ＯＫ」を示す表示をして、あるいは、表示を保ったまま（ステップＳＰ０７０）、ステップＳＰ０２０に移行する。一方、光沢度が所定範囲内に入っていなければ（ステップＳＰ０５０で「Ｎ」）、例えば、「ＮＧ」を示す表示をして（ステップＳＰ０６０）、ステップＳＰ０２０に移行する。なお、図では、後述する実施の形態３〜６の動作を反映させ、ステップＳＰ０２０に移行する前に、例えば、不具合部分をマーキングしたり、その位置を再び処理したりするなどの対応処理（ステップＳＰ２００）を行う部分も記載している。
【００２２】
なお、そのような自動的な処理がなされなくても、例えば、処理が不十分と判断された線材９０は、例えば、判断された時間と、走行速度に基づいて場所を特定し、後に、対応する部分を補修すればよい。いずれにせよ、表面処理を含む線材の製造方法において、線材評価装置１の評価結果に基づいて、処理に不具合があることが判明したときに、不具合がある部分を補修できるように線材の製造工程を切り替えるようにすればよい。
【００２３】
ステップＳＰ０３０での二値化は、対象となる部分が、光沢しているかいないかに選別することである。表面処理が、例えば、ブラスト処理のように線材９０の表面被覆をはがす処理の場合、処理された部分は凹凸が増えるので光の反射状態が変化し、光沢が低下する。そのため、線材９０での反射光が入射するように設定された画像データの輝度をブラスト処理に応じて設定された閾値に基づいて二値化処理することで、その部分の光沢が条件に合致しているか否かを判定することができる。そのため、ステップＳＰ０４０による統計処理で、条件に合致した光沢部の面積をカウントすることで、光沢度が算出できる。
【００２４】
そして、ステップＳＰ０５０では、光沢度が範囲内に入っているか否か、具体的には、光沢度が設定閾値より大きければ残膜があり、閾値以下なら残膜がないというように、残膜の有無を判別する。つまり、所望の表面状態が得られたか否かを判別することができる。
【００２５】
二値化の閾値は処理方法により異なるが、例えばメッキ処理と比較し、ブラスト処理は凹凸が深く、撮像画像に明暗が生じやすいため、二値化の閾値は大きくなる。また、残膜を検出する場合、検出可能な残膜の大きさは、使用カメラの画素数による。例えば、測定対象の線材９０の表面状態が均一でない場合、反射光強度は周方向で位置ばらつきが生じる。そのような場合でも、安定な検出を達成するため、撮像画像は周方向、すなわち線材９０の直径に対して平均処理した値で光沢部面積を算出する。平均化処理する長手方向の長さは、任意の値に設定できるが、範囲が広がるほど、未処理部の距離が短い場合に検出できなくなるが、誤検出を抑制できる。平均化範囲の調整により、種々の測定対象ならびに処理方法に対応できる。
【００２６】
＜評価例１＞
本評価例１では、表面処理として化成処理やブラスト処理が行われた線材を評価する例について説明する。表面を化成処理やブラスト処理すると、線材表面の凹凸が大きくなる。そのため、上述したように、処理が行われ、線材表面の凹凸が大きくなると、光が散乱しやすくなり、所望の表面状態の領域の画像は、二値化処理後は黒色となる。そのため、安定に処理が行われると得られる光沢度は設定閾値と比較して、低い値となる。図３に示すように、ここでは、ロットＡ〜Ｄのうち、Ａ，Ｂの光沢度が閾値より低いため良品、Ｃ，Ｄの光沢度が閾値より高いため不良品と判定されている。
【００２７】
＜評価例２＞
本評価例２では、表面処理としてメッキ処理が行われた線材を評価する例について説明する。表面をメッキ処理すると、線材表面の凹凸が小さくなる。そのため、処理が行われ、線材表面の凹凸が小さくなると、光が散乱せず、二値化処理後は白色となる。そのため、安定に処理が行われると得られる光沢度は設定閾値と比較して、高い値となる。図４に示すように、ここでは、ロットＡ〜Ｄのうち、Ａ，Ｂの光沢度が閾値より高いため良品、Ｃ，Ｄの光沢度が閾値より低いため不良品と判定されている。
【００２８】
つまり、どのような処理であっても、カメラで撮像し、読み取られた画像を二値化処理し、白と黒の面積の割合（光沢部面積）により、長尺物である線材９０の表面処理の状態を判別できる。この光沢度による表面状態の評価は、画像処理により、リアルタイムで行うことが可能なため、インラインで短時間に、且つ、長手方向の表面状態変化を定量的に評価できる。よって、線材９０のような長尺物においても、ライン速度を落とすことなく、かつ、連続的に確実な検査（評価）を行うことができる。これにより例えば、外表面膜残りによる接着剥離等の不具合も防止できる。
【００２９】
また、振動抑制部６による線材９０の振動抑制方法について説明する。図５に示すように、線材９０をカメラ３１の撮像範囲内に拘束するため、振動抑制部６はｙ軸とｚ軸の位置ずれを抑制する機構を有する。また、振動抑制部６に弾性体６２を介して位置決めされた回転体６１を用いることで、回転体６１との摩擦による線材９０の消耗を極力抑えるとともに、長尺物を連続して製造できる機構を備える。回転体６１の直径は大きいほど消耗を防止でき、線材９０の直径の３０倍以上が望ましい。
【００３０】
例えば、評価例１のように、ブラスト処理される線材９０を評価する場合、ブラスト処理は硬質微粒子を線材９０に噴射し、表面処理を行うため、振動が激しくなることが予想される。しかし、上述した振動抑制部６を備えることで、線材の振動を抑制し、安定に表面状態の評価を行うことができる。
【００３１】
また、被膜を除去するような表面処理後の線材９０の表面は活性化されるため、処理後時間が経過すると、外表面に膜が再付着してしまうので、表面処理の直後に活性表面の保護剤を塗布することが多い。表面状態の評価は、表面処理工程と表面保護剤塗布工程の間で行うことが望ましいが、これらの工程では振動が生じ、線材９０も振動するため、撮像画像に線材９０が収まらず、誤検出する可能性がある。しかし、上述した振動抑制部６を備えることで、安定した表面状態の評価が期待できる。さらに振動抑制部６に回転体６１を用いるため、回転体６１が送り機構を兼ね、線材９０のような長尺物を連続して検査（評価）・製造することができる。
【００３２】
以上のように、本発明の実施の形態１にかかる線材評価装置１によれば、表面処理が行われた線材９０の表面状態をリアルタイムで評価する線材評価装置１であって、所定方向（ｘ）に走行する線材９０の表面を撮像する撮像部３と、撮像部３から出力された画像データに基づいて、線材表面の光沢度を算出する光沢度算出部（が構築された画像処理装置４）と、表面処理の方法（例えば、ブラスト、メッキ等の種類）および線材９０の材質に応じて定められた閾値と、算出した光沢度とに基づいて、線材９０の表面状態を評価する表面状態評価部（が構築された画像処理装置４）と、を備えるように構成したので、表面状態が均一でない長尺状の線材９０においても、線材表面の表面状態（例えば、残膜の有無）を評価できる。この光沢度による表面状態の評価は画像処理装置４で行うことが可能なため、インラインで短時間に、且つ、長手方向の表面状態変化を定量的に検査できる。よって、線材９０のような長尺物においても、ライン速度を落とすことなく、かつ、連続的に確実な検査を行うことができる。これにより、所望の表面状態の線材を容易に得ることができ、例えば、外表面膜残りによる接着剥離等の不具合を防止できる。
【００３３】
とくに、撮像部３は、線材９０の表面を撮像するカメラ３１と、所定方向（線材９０の走行方向：ｘ）に垂直な面（ｙｚ面）において、カメラ３１と線材９０を結ぶ光軸Ｘｃに対し、対称な位置から線材９０を照らすように配置された２台の照明３２と、により構成するようにしたので、表面状態が均一でない線材９０においても、周方向に対し広い範囲の表面状態を評価することができる。
【００３４】
また、線材９０の撮像部３の撮像範囲部分の振動を抑制する振動抑制部６を備えるようにしたので、とくに、振動が生じやすいブラストのような表面処理の状態も正確に評価することができる。
【００３５】
実施の形態２．
本実施の形態２にかかる線材評価装置では、複数の撮像部を線材の周方向の異なる位置に配置し、線材の全周を撮像できるようにしたものである。図６は本実施の形態２にかかる線材評価装置の構成を説明するためのもので、図６（ａ）は線材評価装置の全体構成を示す模式図、図６（ｂ）は線材の走行方向に沿って配置された複数の撮像部の線材に対する配置を説明するためのもので、３つの撮像部のそれぞれ線材の走行方向に垂直な面内での配置図である。なお、本実施の形態２において、実施の形態１と同様の部分については、説明を省略し、図２〜５については援用する。
【００３６】
図６（ａ）に示すように、本実施の形態２にかかる線材評価装置１では、複数台（３台）の撮像部３（撮像部３Ａ、撮像部３Ｂ、撮像部３Ｃ）を線材９０の走行方向に沿って並べている。そして、図６（ｂ）に示すように、各撮像部３でのカメラ３１の光軸Ｘｃの線材９０の周方向での位置（線材９０を中心とするｙｚ面での光軸Ｘｃの角度）が互いに異なるようにしている。ただし、カメラ３１（の光軸Ｘｃ）に対する照明３２（の光軸Ｘｓ）の角度（相対位置）は、どの撮像部でも同じである。つまり、一台のカメラ３１に対し、二台の照明３２を配置するため、本実施の形態２においては、カメラの台数×２の照明３２を設置することになる。
【００３７】
これにより、例えば、線材９０が、円形の断面形状を有するロープのようなものであった場合、評価対象の範囲を増大させることができる。例えば、図６（ｂ）では、撮像部３Ａ〜３Ｃのカメラ３１は、それぞれ、線材９０を中心として１２０°間隔で変化するように、光軸Ｘｃが０時、４時、８時の位置を示すように設置した場合を示す。実施の形態１で説明したように、好適な撮像ができるように配置されたカメラ３１の撮像範囲は、線材９０の周方向において１２０°相当のため、このように撮像部３を３組用いれば、線材９０の全周を撮像して評価することができる。なお、３つのカメラ３１のそれぞれの撮影範囲での背景の映りこみを避けるため、カメラ３１は、線材９０の走行方向に沿って互いに離間して配置することが望ましい。
【００３８】
振動抑制部６についても、例えば線材９０の剛性が低い場合などは、線材９０を各カメラ３１の撮像範囲内に拘束するために、カメラ３１の間ごとに計４か所配置することが望ましい。
【００３９】
以上のように、本実施の形態２にかかる線材評価装置１によれば、線材９０の走行方向（ｘ）に垂直な面（ｙｚ面）において、光軸Ｘｃの角度がそれぞれ異なる複数の撮像部３を備えるようにしたので、例えば、線材９０が円形の断面形状を有するロープのようなものであった場合でも、評価対象の範囲を増大させることができる。
【００４０】
実施の形態３．
本実施の形態３では、線材９０の駆動系が回転機構を有することで、線材９０自体が回転しながら線材評価装置１を通過することを特徴とする。線材９０が回転することにより、一台のカメラ３１の評価範囲を広くすることができる。ただし、実施の形態２で説明したように、複数の撮像部を配置した場合に適用してもよい。
【００４１】
以上のように、本実施の形態３にかかる線材評価装置１によれば、線材９０を線材９０の軸を中心として回転させる回転機構を備えたので、一台のカメラ３１の評価範囲を広くすることができる。
【００４２】
実施の形態４．
上記実施の形態２、３は、実施の形態１に対して、線材の評価範囲を拡大するための構成について説明した。本実施の形態４では、表面処理に不具合が見つかった部分を特定するための構成について説明する。図７は本実施の形態４にかかる線材評価装置の全体構成を示す模式図である。なお、図７は基本的には実施の形態１で説明した図１の線材評価装置に、不良個所をマーキングする構成を追記したものである。そのため、本実施の形態４において、実施の形態１と同様の部分については、説明を省略し、図２〜５については援用する。
【００４３】
図７に示すように、本実施の形態４にかかる線材評価装置１は、表面状態が不十分であった際に、不良個所をマーキングするマーキング部７１を線材評価装置１の下流側に設けたものである。マーキング手法としては、その後、目視により瞬時に不良箇所を判別できる手法が望ましく、カラースプレーの吹き付けや、タグやシールの貼り付けなどを含む。このような機構を追加することで、表面処理中に限らず、表面処理後であっても目視にて不良箇所を特定でき、容易に補修を行うことができる。
【００４４】
あるいは、表面処理後にマーキングした部分を除外する選別工程を経ることでも、所望の表面状態の線材９０のみを使用することができるようになる。
【００４５】
なお、本実施の形態４では、実施の形態１で説明した線材評価装置にマーキング機能を付加する例について説明したが、これに限ることはなく、例えば、実施の形態２、３あるいはそれを組み合わせたものに付加するようにしてもよい。
【００４６】
以上のように、本実施の形態４にかかる線材評価装置１によれば、線材９０の、表面状態が不良と評価された部分に印をつけるマーキング部７１を備えるように構成したので、製造中に限らず、製造後であっても目視にて不良箇所を特定でき、容易に補修を行うことができる。
【００４７】
以上のように、本実施の形態４にかかる線材の表面処理方法によれば、線材９０に所定の表面処理を行う表面処理工程と、本実施の形態４にかかる線材評価装置１を用いて、表面処理が行われた線材９０の表面状態を評価し、表面状態が不良と評価された部分に印をつける表面状態評価工程と、を含み、線材９０のうち、印がつけられた部分を再度補修する再処理工程または除外する選別工程と、を含むように構成したので、所望の表面状態の線材を容易に得ることができる。
【００４８】
実施の形態５．
上記実施の形態４にかかる線材評価装置は、不具合を検出した部分を線材自体に表示（マーキング）するための構成について説明した。本実施の形態５にかかる線材評価装置では、線材中の不具合を検出した部分を装置自体が認識するための構成について説明する。図８は本実施の形態５にかかる線材評価装置の全体構成を示す模式図である。なお、図８は基本的には実施の形態４で説明した図７の線材評価装置に、マーキングした部分を読み取る構成を追記したものである。そのため、本実施の形態５において、実施の形態４と同様の部分については、説明を省略し、実施の形態１の説明で用いた図２〜５についても援用する。
【００４９】
図８に示すように、本実施の形態５にかかる線材評価装置１は、実施の形態４で用いたマーキング部７１と、マーキング部７１の下流に配置され、マーキングされた位置を読み取るための位置読取部７２とで構成された不良位置認識部７を備えるものである。
【００５０】
位置読取部７２は、線材９０の表面につけられたマーキングを読み取り、例えば、線材９０の長尺（走行）方向における位置（例えば、線材９０の巻始め部分からの距離）として認識するものである。読み取る方法は、例えば、光学的に読み取ったり、磁気的に読み取ったり、凹凸のような物理的な形状等、マーキングの種類に応じて適宜変更可能である。これにより、不良箇所を使用せず、歩留りよく製品に仕上げることができる。
【００５１】
なお、上記例では、位置読取部７２は、線材９０につけられたマーキングを基に位置を認識する例を示したが、これに限ることはない。例えば、撮像部３を通過してから、不良と判定されるまでの時間と、線材９０の走行速度に基づいて位置を算出するように、ソフト上で構築するようにしてもよい。
【００５２】
その際、線材評価装置１の下流側に不良部分を補修するための再処理を行えるような再処理装置を配置しておけば、不良と認識した部分のみに再処理を行うことができる。
【００５３】
あるいは、その位置情報に基づいて、不良部分を削除するように選別する装置を配置してもよい。
【００５４】
実施の形態６．
本実施の形態６にかかる線材評価装置は、不具合を検出した部分を再処理するため、製造工程中に表面処理装置に送り返す機能を有するように構成したものである。図９は本実施の形態６にかかる線材評価装置の全体構成を示す模式図である。図９は基本的には実施の形態５で説明した図８の線材評価装置に、駆動装置と表面処理装置部分を追記したものである。そのため、本実施の形態６において、実施の形態５と同様の部分については、説明を省略し、実施の形態１の説明で用いた図２〜５についても援用する。
【００５５】
図９に示すように、本実施の形態６にかかる線材評価装置１は、線材９０を駆動する駆動系８を構成する巻出しドラム８Ｆと巻取りドラム８Ｗとの間に、表面処理装置１００と連動するように配置されている。そして、画像処理にて不良と判断された場合、駆動系８によって、不良位置認識部７で認識されたその部分が再び、表面処理装置１００に戻り、不良部分に再度表面処理が施される。このような機構を追加することで、巻取りドラム８Ｗに巻き取られた線材９０は、全て良品となる。なお、図中９０ｒは表面処理装置１００による表面処理前の線材を示している。
【００５６】
なお、不良部分を表面処理装置１００に戻すにあたっては、例えば、駆動系８を制御する図示しない制御部は、不良位置認識部７と連動し、不良を認識した際の不良個所と表面処理装置１００までの距離に応じて、線材９０を巻き戻すように制御する。
【００５７】
以上のように、本実施の形態６にかかる線材評価装置１によれば、線材９０の駆動系８が、不良が見つかった時に、不良部分を表面処理装置１００に送り返すように構成したので、所望の表面状態の線材９０を容易に得ることができる。
【００５８】
つまり、線材９０に所定の表面処理を行う表面処理工程と、実施の形態１〜５にかかる線材評価装置１を用いて、表面処理が行われた線材９０の表面状態を評価する表面状態評価工程と、表面状態評価工程で表面状態が不良と評価された部分があったとき、当該部分に表面処理を再度行う再処理工程と、を含むように構成すれば、不良部分のない、所望の表面状態の線材９０を容易に得ることができる。
【符号の説明】
【００５９】
１：線材評価装置、  ２：筐体、  ３：撮像部、  ４：画像処理装置（光沢度算出部、表面状態評価部）、  ５：画像表示部、  ６：駆動系、  ６Ｆ：巻出しドラム、  ６:振動抑制部、  ６Ｗ：巻取りドラム、  ７：位置検出部、  ８：表面処理装置、  ３１：カメラ、  ３２：照明、  ３３：調光器、  ６１：回転体、  ７１：マーキング部、  ７２：位置読取部、  ９０：線材、  Ｘｃ：カメラの光軸、  Ｘｓ：照明の光軸。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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