(57)【要約】【課題】内蔵電源の劣化度合を的確に推定することが可能な電子機器を提供する。【解決手段】電子機器１の推定回路２７は、充電回路２５による内蔵電源２４に対する定電流充電が行われている際に、工場出荷時等の初期状態において制御部２２が各機能部を制御して内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadが一定になる状態を形成させた状態と同じ状態で制御部２２に各機能部を制御させて、内蔵電源から放電される負荷電流Ｉloadが一定になる状態を形成させ、その状態の下で所定時間Δｔの間に電圧検出回路２６が検出する内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶを算出し、算出した電圧Ｖの増加分ΔＶと、予め記憶されている初期状態における内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ０とを比較して内蔵電源２４の劣化度合を推定する。【選択図】図８
2015001411.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
充電可能な内蔵電源と、
外部電源からの電力の供給を受けて前記内蔵電源に対する充電を行う充電回路と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出回路と、
前記内蔵電源の劣化度合を推定する推定回路と、
を備え、
前記推定回路は、
前記充電回路による前記内蔵電源に対する定電流充電が行われている際に、
初期状態において制御部が各機能部を制御して前記内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させた状態と同じ状態で制御部に各機能部を制御させて、前記内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させ、
その状態の下で所定時間の間に前記電圧検出回路が検出する前記内蔵電源の電圧の増加分を算出し、算出した前記電圧の増加分と、予め記憶されている前記初期状態における前記電圧の増加分とを比較して前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする電子機器。
【請求項２】
前記推定回路は、算出した前記電圧の増加分の、前記初期状態における前記電圧の増加分に対する比を算出し、算出した前記比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項３】
前記推定回路は、前記電圧検出回路が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて、前記充電回路による前記内蔵電源に対する定電流充電が、少なくとも前記所定時間の間継続するか否かを判定し、定電流充電が少なくとも前記所定時間の間継続すると判定した場合に前記内蔵電源の劣化度合の推定処理を行うことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子機器。
【請求項４】
前記推定回路は、前記充電回路による前記内蔵電源に対する定電流充電が行われている際に、所定期間の間、ユーザーによる操作が行われない場合に、制御部に各機能部を制御させて前記内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させて、前記内蔵電源の劣化度合の推定処理を行うことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の電子機器。
【請求項５】
算出した前記電圧の増加分をΔＶ、当該電圧を検出した際の前記所定時間をΔｔ、前記初期状態における前記電圧の増加分をΔＶ０、前記初期状態における前記所定時間をΔｔ０とするとき、
前記推定回路は、算出した前記電圧の増加分ΔＶと、前記初期状態における前記電圧の増加分ΔＶ０とを用いる代わりに、算出した前記電圧の増加分ΔＶ、当該電圧を検出した際の前記所定時間Δｔ、前記初期状態における前記電圧の増加分ΔＶ０、および前記初期状態における前記所定時間Δｔ０を用いて前記内蔵電源の劣化度合の推定処理を行うことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の電子機器。
【請求項６】
算出した前記電圧の増加分をΔＶ、当該電圧を検出した際の前記所定時間をΔｔ、前記初期状態における前記電圧の増加分をΔＶ０、前記初期状態における前記所定時間をΔｔ０とするとき、
前記推定回路は、算出した前記電圧の増加分ΔＶと、前記初期状態における前記電圧の増加分ΔＶ０とを用いる代わりに、前記電圧の単位時間あたりの増加分ΔＶ／Δｔと、前記初期状態における前記電圧の単位時間あたりの増加分ΔＶ０／Δｔ０を比較して、またはそれらの比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合の推定処理を行うことを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の電子機器。
【請求項７】
さらに、前記推定回路が算出した前記電圧の増加分、前記比、前記電圧の単位時間あたりの増加分、若しくは前記電圧の単位時間あたりの増加分の比、または、推定した前記内蔵電源の劣化度合を報知する報知手段を備えていることを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の電子機器。
【請求項８】
さらに、前記推定回路が算出した前記電圧の増加分、前記比、前記電圧の単位時間あたりの増加分、若しくは前記電圧の単位時間あたりの増加分の比、または、推定した前記内蔵電源の劣化度合が、所定の閾値以上である場合に警告する警告手段を備えていることを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の電子機器。
【請求項９】
前記推定回路は、算出した前記電圧の増加分、前記比、前記電圧の単位時間あたりの増加分、若しくは前記電圧の単位時間あたりの増加分の比の履歴、または、推定した前記内蔵電源の劣化度合の履歴を保存する記憶手段を備えていることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の電子機器。
【請求項１０】
請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の電子機器と、
報知装置と、
を備え、
前記電子機器は、前記推定回路が算出した前記電圧の増加分、前記比、前記電圧の単位時間あたりの増加分、若しくは前記電圧の単位時間あたりの増加分の比、または、前記推定回路が推定した前記内蔵電源の劣化度合を前記報知装置に送信し、
前記報知装置は、前記電子機器から送信されてきた前記電圧の増加分、前記比、前記電圧の単位時間あたりの増加分、若しくは前記電圧の単位時間あたりの増加分の比、または、前記内蔵電源の劣化度合を報知することを特徴とする充電システム。
【請求項１１】
請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の電子機器と、
警告装置と、
を備え、
前記電子機器は、前記推定回路が算出した前記電圧の増加分、前記比、前記電圧の単位時間あたりの増加分、若しくは前記電圧の単位時間あたりの増加分の比、または、前記推定回路が推定した前記内蔵電源の劣化度合を前記警告装置に送信し、
前記警告装置は、前記電子機器から送信されてきた前記電圧の増加分、前記比、前記電圧の単位時間あたりの増加分、若しくは前記電圧の単位時間あたりの増加分の比が所定の値以下である場合、または、前記内蔵電源の劣化度合が閾値以上である場合に警告することを特徴とする充電システム。
【請求項１２】
請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の電子機器と、
記憶装置と、
を備え、
前記電子機器は、前記推定回路が算出した前記電圧の増加分、前記比、前記電圧の単位時間あたりの増加分、若しくは前記電圧の単位時間あたりの増加分の比、または、前記推定回路が推定した前記内蔵電源の劣化度合を前記記憶装置に送信し、
前記記憶装置は、前記電子機器から送信されてきた前記電圧の増加分、前記比、前記電圧の単位時間あたりの増加分、若しくは前記電圧の単位時間あたりの増加分の比の履歴、または、推定した前記内蔵電源の劣化度合の履歴を保存することを特徴とする充電システム。
【請求項１３】
充電可能な内蔵電源と、
外部電源からの電力の供給を受けて前記内蔵電源に対する充電を行う充電回路と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出回路と、
を備える電子機器と、
前記内蔵電源の劣化度合を推定する推定装置と、
を備え、
前記電子機器は、
前記充電回路による前記内蔵電源に対する定電流充電が行われている際に、
初期状態において制御部が各機能部を制御して前記内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させた状態と同じ状態で制御部に各機能部を制御させて、前記内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させ、
その状態の下で所定時間の間に前記電圧検出回路が検出する前記内蔵電源の電圧の増加分を算出し、算出した前記電圧の増加分を前記推定装置に送信し、
前記推定装置は、前記電子機器から送信されてきた前記電圧の増加分と、予め記憶されている前記初期状態における前記電圧の増加分とを比較して前記電子機器の前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする充電システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器および充電システムに係り、特に電子機器の使用中に電子機器の内蔵電源を充電可能な電子機器および充電システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器は、キャパシターやバッテリー、二次電池、蓄電デバイス等からなる内蔵電源を内蔵しているものが多い。そして、このような内蔵電源を充電する際には、例えば内蔵電源に一定の電流を供給して定電流充電を行ったり、或いは、一定の電圧を供給して定電圧充電を行ったり、或いはそれらの充電の仕方を組み合わせて充電が行われるように構成されることも少なくない（例えば特許文献１、２等参照）。
【０００３】
そして、例えば携帯電話等のように、電子機器を充電装置に装填して内蔵電源の充電を行うように構成されている電子機器もあるが、電子機器を外部電源に接続した状態でユーザーが電子機器を使用している間に内蔵電源の充電を行うことができるように構成されている電子機器も少なくない。
【０００４】
ところで、このような内蔵電源の劣化が進んで内蔵電源から正常な値の電力が出力できなくなると、電子機器の動作が異常になったり、或いは、電子機器が動作しなくなったりする。そこで、内蔵電源を充電している間の時間を利用して、内蔵電源の劣化判定を行う技術が種々開発されている。
【０００５】
特許文献３には、例えば内蔵電源に対する定電流充電を行っている間に、充電を途中で一時的に中断する。すると、内蔵電源の電圧は、充電を中断する直前の電圧から少し低下する。これは、充電時に内部抵抗を有する内蔵電源に電流を流すことによって内部抵抗による電圧上昇が生じていたが、電流の供給を一時的に中断したことにより、この内部抵抗による電圧上昇分がなくなったためである。
【０００６】
そして、この電圧の変化量を、充電時に流していた電流の値で除算することで、内蔵電源の内部抵抗の値を算出する等し、算出した内部抵抗の値等と内部抵抗値の限界値等とを比較して劣化判定を行うことが記載されている。
【０００７】
また、特許文献４には、例えば内蔵電源に対する定電流充電を行う間に、内蔵電源の電圧が所定の電圧値から所定の電圧値まで上昇するのに要する時間を測定したり、時間を横軸にとり内蔵電源の電圧を縦軸にとったばあいの内蔵電源の電圧の上昇の傾きを算出する等して、内蔵電源の劣化判定を行うことが記載されている。
【０００８】
そして、これらは、車両に搭載された主電源（すなわちいわゆる車両のバッテリー）の電圧が低下した場合等に電力を出力して、バッテリーの電圧低下分を補う補助電源としての内蔵電源に関する技術として記載されているが、上記の劣化判定は、通常の電子機器の内蔵電源に対する劣化判定法として採用することができる技術である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２００８−１０４２７０号公報
【特許文献２】特開２００９−７７５０１号公報
【特許文献３】特開２００５−２８９０８号公報
【特許文献４】特開２００９−９２６２８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、本発明者らの研究によれば、上記のような劣化判定法を、通常の電子機器（例えば後述する放射線画像撮影装置等）に対して採用して内蔵電源の劣化を判定すると、判定処理を行うごと（すなわち内蔵電源に対して充電を行うごと）に、劣化の判定結果が異なる結果になる場合があることが分かってきた。
【００１１】
すなわち、内蔵電源に対する充電の際に判定処理を行うごとに、判定された内蔵電源の劣化の度合にばらつきが生じるために、内蔵電源の劣化の度合を正確に判定することが難しい場合があることが分かってきた。
【００１２】
そして、このように判定された内蔵電源の劣化の度合にばらつきがあると、内蔵電源の劣化が相当進んでいるにもかかわらず、劣化が進んでいないと判定して内蔵電源を使い続けてしまい、内蔵電源から正常な値の電力が出力できなくなってしまったり、或いは、逆に、内蔵電源の劣化があまり進んでいないにもかかわらず、劣化が進んでいると判定してしまい、まだ使える内蔵電源を交換する等して廃棄してしまう等の問題が生じ得る。
【００１３】
本発明は、上記の点を鑑みてなされたものであり、電子機器の内蔵電源の劣化度合を的確に推定することが可能な電子機器および充電システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
前記の問題を解決するために、本発明の電子機器は、
充電可能な内蔵電源と、
外部電源からの電力の供給を受けて前記内蔵電源に対する充電を行う充電回路と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出回路と、
前記内蔵電源の劣化度合を推定する推定回路と、
を備え、
前記推定回路は、
前記充電回路による前記内蔵電源に対する定電流充電が行われている際に、
初期状態において制御部が各機能部を制御して前記内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させた状態と同じ状態で制御部に各機能部を制御させて、前記内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させ、
その状態の下で所定時間の間に前記電圧検出回路が検出する前記内蔵電源の電圧の増加分を算出し、算出した前記電圧の増加分と、予め記憶されている前記初期状態における前記電圧の増加分とを比較して前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする。
【００１５】
また、本発明の充電システムは、
充電可能な内蔵電源と、
外部電源からの電力の供給を受けて前記内蔵電源に対する充電を行う充電回路と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出回路と、
を備える電子機器と、
前記内蔵電源の劣化度合を推定する推定装置と、
を備え、
前記電子機器は、
前記充電回路による前記内蔵電源に対する定電流充電が行われている際に、
初期状態において制御部が各機能部を制御して前記内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させた状態と同じ状態で制御部に各機能部を制御させて、前記内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させ、
その状態の下で所定時間の間に前記電圧検出回路が検出する前記内蔵電源の電圧の増加分を算出し、算出した前記電圧の増加分を前記推定装置に送信し、
前記推定装置は、前記電子機器から送信されてきた前記電圧の増加分と、予め記憶されている前記初期状態における前記電圧の増加分とを比較して前記電子機器の前記内蔵電源の劣化度合を推定することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明のような方式の電子機器および充電システムによれば、内蔵電源に対する定電流充電が行われている際に、電子機器の制御部に電子機器の各機能部を制御させて内蔵電源から放電される負荷電流が一定になる状態を形成させる。その際、電子機器の工場出荷時等の初期状態において、制御部が各機能部を制御して負荷電流が一定になる状態を形成させた状態と同じ状態で制御部に各機能部を制御させて、負荷電流が一定になる状態を形成させる。
【００１７】
そのため、内蔵電源から放電され一定になった際の負荷電流の値が、初期状態において内蔵電源から放電され一定になった際の負荷電流の値と同じ値になり、内蔵電源内を流れる電流が、初期状態の際も、その後の電子機器の内蔵電源の劣化度合の推定処理を行う際も、同じ電流値になる。
【００１８】
そのため、内蔵電源の劣化度合の推定処理において算出した内蔵電源の電圧の増加分と、予め記憶されている初期状態における内蔵電源の電圧の増加分とを比較することで、内蔵電源の劣化度合を的確に精度良く推定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】電子機器の例としての放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
【図３】ケーブルを接続した状態の放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。
【図４】図１の放射線画像撮影装置の回路構成を表すブロック図である。
【図５】電子機器の内蔵電源の充電にかかわる構成等を説明するブロック図である。
【図６】定電流充電および定電圧充電における内蔵電源の（Ａ）電圧および（Ｂ）電流の時間的推移を表すグラフである。
【図７】内蔵電源の負荷電流が時間ごとに変化する状態を説明するグラフである。
【図８】所定時間の間内蔵電源の負荷電流が一定になる状態を形成すること、および内蔵電源の電圧の増加分等を説明するグラフである。
【図９】充電システムの構成例を表す図である。
【図１０】変形例９における新たな電源等の構成例を説明するブロック図である。
【図１１】変形例１０における新たな電源等の構成例を説明するブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明に係る電子機器および充電システムの実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００２１】
なお、以下では、電子機器が放射線画像撮影装置（Flat Panel Detector：ＦＰＤ）である場合について説明するが、本発明は、この形態に限定されない。
【００２２】
［第１の実施の形態］
［電子機器の例としての放射線画像撮影装置の構成例について］
以下、本発明の第１の実施形態に係る電子機器の例として、放射線画像撮影装置１の構成例について簡単に説明する。図１は、放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図であり、図２は、図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
【００２３】
放射線画像撮影装置１は、図１や図２に示すように、筐体状のハウジング２内にシンチレーター３や基板４等で構成されるセンサーパネルＳＰが収納されて構成されている。本実施形態では、筐体２は、放射線入射面Ｒを有する中空の角筒状のハウジング本体部２Ａの両側の開口部を蓋部材２Ｂ、２Ｃで閉塞することで形成されている。
【００２４】
図１に示すように、筐体２の一方側の蓋部材２Ｂには、電源スイッチ３７や切替スイッチ３８、コネクター３９、内蔵電源２４（図２や後述する図４参照）の状態や放射線画像撮影装置１の稼働状態等を表示するＬＥＤ等で構成されたインジケーター４０等が配置されている。
【００２５】
なお、後述するように、本実施形態では、電子機器としての放射線画像撮影装置１は、図３に示すように、コネクター３９に、ケーブルＣａの先端に設けられたコネクターＣを接続し、図示しない外部電源から電力を供給して内蔵電源２４の充電が行われるようになっている。なお、図示を省略するが、放射線画像撮影装置１等の電子機器を、クレードル等の充電装置に装填して充電する場合にも本発明を適用することが可能である。
【００２６】
また、図示を省略するが、本実施形態では、筐体２の反対側の蓋部材２Ｃに、放射線画像撮影装置１が外部装置と信号等の送受信を無線方式で行うための図示しないアンテナ装置が、例えば蓋部材２Ｃに埋め込まれるようにして設けられている。
【００２７】
図２に示すように、筐体２の内部には、基板４の下方側に図示しない鉛の薄板等を介して基台３１が配置され、基台３１には、電子部品３２等が配設されたＰＣＢ基板３３や内蔵電源２４等が取り付けられている。また、基板４やシンチレーター３の放射線入射面Ｒには、それらを保護するためのガラス基板３４が配設されており、センサーパネルＳＰと筐体２の側面との間に緩衝材３５が設けられている。
【００２８】
図示を省略するが、基板４の検出部Ｐ上には、フォトダイオード等からなる複数の放射線検出素子７が二次元状（マトリクス状）に配列されており、各放射線検出素子７にスイッチ手段としての薄膜トランジスター（Thin Film Transistor。以下、ＴＦＴという。）８や走査線５、信号線６、バイアス線９等が接続されている。また、シンチレーター３が、基板４の検出部Ｐに対向するように設けられるようになっている。
【００２９】
放射線画像撮影装置１の回路構成を、図４に示すブロック図を用いて説明する。本実施形態では、複数の放射線検出素子７が基板４上に二次元状に配列されて検出部Ｐが形成されている。また、各放射線検出素子７の第２電極７ｂにはそれぞれバイアス線９が接続されており、各バイアス線９は結線１０に接続されてバイアス電源１４に接続されている。そして、結線１０および各バイアス線９を介して各放射線検出素子７の第２電極７ｂにそれぞれバイアス電源１４から逆バイアス電圧が印加されるようになっている。
【００３０】
走査駆動手段１５では、電源回路１５ａからゲートドライバー１５ｂに配線１５ｃを介してオン電圧やオフ電圧が供給され、ゲートドライバー１５ｂで走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧との間で切り替えて、各ＴＦＴ８のオン状態とオフ状態とを切り替えることで、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理等を行うようになっている。
【００３１】
各信号線６は、読み出しＩＣ１６内に形成された各読み出し回路１７にそれぞれ接続されており、読み出し回路１７は、増幅回路１８と相関二重サンプリング回路１９（図４ではＣＤＳと記載されている。）等で構成されている。読み出しＩＣ１６内には、さらに、アナログマルチプレクサー２１と、Ａ／Ｄ変換器２０とが設けられている。
【００３２】
そして、例えば、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理の際には、ゲートドライバー１５ｂからオン電圧が印加された走査線５に接続されているＴＦＴ８がオン状態になり、オン状態になったＴＦＴ８に接続されている放射線検出素子７から信号線６に電荷が放出され、放出された電荷が読み出し回路１７の増幅回路１８で電荷電圧変換される。
【００３３】
そして、増幅回路１８の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路１９で、放射線検出素子７から電荷が放出される前後の増幅回路１８からの出力値の差分を算出し、算出した差分をアナログ値の画像データとして出力する。そして、出力されたアナログ値の画像データが、アナログマルチプレクサー２１を介して順次Ａ／Ｄ変換器２０に送信され、Ａ／Ｄ変換器２０で順次デジタル値の画像データに変換されて出力され、記憶手段２３に順次保存される。このようにして、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理が順次行われる。
【００３４】
制御部２２は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、入出力インターフェース等がバスに接続されたマイクロコンピュータや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等により構成されている。そして、制御部２２は、放射線画像撮影装置１の走査駆動手段１５や読み出し回路１７、バイアス電源１４等の各機能部の動作等を制御するようになっている。
【００３５】
また、制御部２２には、ＳＲＡＭ（Static ＲＡＭ）やＳＤＲＡＭ（Synchronous ＤＲＡＭ）等で構成される記憶手段２３が接続されている。また、図４では図示を省略するが、本実施形態では、制御部２２には、前述した電源スイッチ３７や切替スイッチ３８、コネクター３９、インジケーター４０（図１参照）等やアンテナ装置等も接続されている。
【００３６】
また、制御部２２には、制御部２２や走査駆動手段１５、読み出し回路１７、バイアス電源１４等の各機能部に電力を供給するための内蔵電源２４が接続されている。本実施形態では、内蔵電源２４として、リチウムイオンキャパシター（ＬｉＣ）が用いられているが、本発明はこれに限定されず、充電可能な内蔵電源であれば、電気二重層キャパシター等の蓄電デバイスやリチウムイオンバッテリー等のバッテリーや二次電池等であってもよい。
【００３７】
［電子機器の内蔵電源の充電にかかわる構成等について］
次に、本実施形態に係る電子機器（放射線画像撮影装置１）の推定回路における内蔵電源２４の劣化度合の推定処理について説明する前に、上記の放射線画像撮影装置１等の電子機器の内蔵電源２４の充電にかかわる構成等について説明する。なお、以下では、放射線画像撮影装置１等の電子機器を電子機器１として一般的な形で説明する。
【００３８】
図５は、電子機器１の内蔵電源２４の充電にかかわる構成等を説明するブロック図である。なお、図５や後述する図１０では、図３に示したように、電子機器１のコネクター３９にコネクターＣが接続され、ケーブルＣａを介して外部電源（図５では「ＡＣ」と記載）から電力が供給される場合が示されている。
【００３９】
前述したように、電子機器１内では、内蔵電源２４と制御部２２等の各機能部とが電気的に接続されている。なお、図５では、制御部２２以外の走査駆動手段１５、読み出し回路１７、バイアス電源１４（図４参照）等の各機能部が、センサーパネルＳＰとしてまとめて記載されている。そして、内蔵電源２４から制御部２２等の各機能部に電力が供給されるが、この内蔵電源２４からの電力の供給が、内蔵電源２４の放電に相当し、また、その際に内蔵電源２４から各機能部に供給される電流が、負荷電流ということになる。
【００４０】
コネクター３９から内蔵電源２４に至る充電用の電力供給経路３０上には、内蔵電源２４の充電を行うための充電回路２５が設けられている。なお、図示を省略するが、充電回路２５とコネクター３９との間に、例えば充電回路２５側からコネクター３９側に電流が逆流しないようにするための逆流防止回路等を設けることも可能である。
【００４１】
そして、充電回路２５は、コネクターＣ、３９を介して外部電源から充電用の電力が供給されてもすぐには内蔵電源２４の充電を開始せず、電子機器１の制御部２２から充電開始を指示する制御信号を受信した時点で初めて内蔵電源２４に電力を供給して内蔵電源２４の充電を行うようになっている。
【００４２】
本実施形態では、充電回路２５は、内蔵電源２４を充電する際に、例えば図６（Ａ）、（Ｂ）に示すように、内蔵電源２４の電圧Ｖが設定された電圧値Ｖ１に達するまでは、内蔵電源２４に所定の電流値Ｉｓの定電流を供給して定電流充電を行う。そして、内蔵電源２４の電圧Ｖが設定された電圧値Ｖ１に達した後は、今度は、内蔵電源２４に目標電圧Ｖ２の定電圧を供給して定電圧充電を行うようにして、内蔵電源２４の充電を行うようになっている。
【００４３】
そして、充電回路２５は、定電圧充電の際に内蔵電源２４に供給する電流の値が充電終了値Ｉｅまで低下した時点で、内蔵電源２４に対する充電を終了するように構成されている。
【００４４】
しかし、充電回路２５は、このように、定電流充電の後に定電圧充電を行うように構成されているものに限定されず、少なくとも定電流充電を行うものであればよい。そして、本発明は、充電回路２５が内蔵電源２４を充電する際に少なくとも定電流充電を行う期間を有するものであれば、どのような電子機器１にも適用することが可能である。
【００４５】
本実施形態では、電子機器１は、内蔵電源２４の充電にかかわる構成として、さらに、電圧検出回路２６と推定回路２７とを備えている。なお、図５では、電圧検出回路２６と推定回路２７が電子機器１の制御部２２とは別々に記載されているが、それらのうちのいずれか一方或いは両方を制御部２２内に構築するように構成することも可能である。すなわち、電子機器１の制御部２２が、電圧検出回路２６や推定回路２７として機能するように構成することも可能である。
【００４６】
電圧検出回路２６は、内蔵電源２４の電圧Ｖを検出するようになっている。なお、上記の充電回路２５の内部にも内蔵電源２４の電圧Ｖを検出する回路が形成されているため、その回路を電圧検出回路２６とし、その回路が検出した内蔵電源２４の電圧Ｖの情報を用いるように構成することも可能である。
【００４７】
［電子機器の推定回路における内蔵電源の劣化度合の推定処理について］
次に、電子機器１の推定回路２７における内蔵電源２４の劣化度合の推定処理について説明する。また、本実施形態に係る電子機器１の作用についてもあわせて説明する。
【００４８】
前述した特許文献３や特許文献４に記載された技術と同様に、本実施形態においても、推定回路２７は、充電回路２５が内蔵電源２４に対して定電流充電（図６参照）を行っている間に電圧検出回路２６が検出した内蔵電源２４の電圧Ｖに基づいて、内蔵電源２４の劣化度合を推定するように構成されている。
【００４９】
［従来の内蔵電源の劣化度合の推定処理の問題点について］
しかし、単に内蔵電源２４の電圧Ｖに基づいて内蔵電源２４の劣化度合を推定すると、前述したように、推定結果にばらつきが生じてしまう場合がある。そして、本発明者らの研究では、例えば図３に示したように、電子機器１のコネクター３９にケーブルＣａを接続する等して、外部電源から電力を供給した状態で電子機器１の使用中に内蔵電源２４を充電する場合に、特に上記の推定結果のばらつきが発生し易くなることが分かってきた。
【００５０】
このような現象が生じる原因について本発明者らが研究を重ねた結果、電子機器１の内蔵電源２４に対して定電流充電を行う際に、内蔵電源２４から電子機器１の制御部２２等の各機能部に供給される電流すなわち負荷電流Ｉloadが必ずしも一定でないことが、上記の現象が生じる１つの原因であることが分かってきた。
【００５１】
具体的に説明すると、電子機器１が稼動中である場合には、内蔵電源２４から電子機器１の制御部２２等の各機能部（すなわち例えば走査駆動手段１５、読み出し回路１７、バイアス電源１４等（図４参照））に、各機能部が必要とする量の電力が各機能部に必要とされるタイミングで供給される。そのため、例えば図７に示すように、内蔵電源２４の負荷電流Ｉloadが時間ごとに変化する状態になる。
【００５２】
なお、図７において、負荷電流Ｉloadが一定の時間間隔でパルス状に大きな値になっているのは、例えば、電子機器１としての放射線画像撮影装置１（図１等参照）が撮影室等に持ち込まれて放射線撮影に使用される際に、放射線画像撮影装置１の図示しないアンテナ装置が、撮影室の図示しないアクセスポイントとの間で定期的に信号のやり取りを行っているためである。
【００５３】
そして、上記のように内蔵電源２４に定電流充電を行って、充電回路２５（図５参照）から一定値Ｉｓ（図６（Ｂ）参照）の電流Ｉを内蔵電源２４に供給しても、内蔵電源２４が放電される負荷電流Ｉload（図７参照）の値が時間的に一定の値にならないため、内蔵電源２４の電圧Ｖの上昇率が一定にならない。
【００５４】
すなわち、充電により内蔵電源２４に入ってくる電流Ｉが一定（すなわち図６（Ｂ）の場合はＩｓ）であっても、放電により負荷電流Ｉloadとして内蔵電源２４から出て行く電流が多ければ、内蔵電源２４に蓄えられる電力は少なくなり、内蔵電源２４の電圧Ｖの上昇率は小さくなる。また、放電により負荷電流Ｉloadとして内蔵電源２４から出て行く電流が少なければ、内蔵電源２４に蓄えられる電力が多くなり、内蔵電源２４の電圧Ｖの上昇率は大きくなる。
【００５５】
そのため、上記のように内蔵電源２４に定電流充電を行って充電回路２５から一定値Ｉｓの電流Ｉを内蔵電源２４に供給しても、内蔵電源２４が放電される負荷電流Ｉloadの値が時間的に一定の値にならなければ、内蔵電源２４の電圧Ｖの上昇率も一定にならない。
【００５６】
なお、図６（Ａ）では、定電流充電を行っている間、内蔵電源２４の電圧Ｖが一定の上昇率で上昇するように記載されているが、実際には、負荷電流Ｉloadが時間的に増加したり減少したりするため（図７参照）、内蔵電源２４の電圧Ｖの上昇率は一定にはならず、実際には、電圧Ｖの上昇率が大きくなったり小さくなったりしている。すなわち、図６（Ａ）の定電流充電時のグラフの傾きは実際には一定ではなく、大きくなったり小さくなったりしている。
【００５７】
そして、上記のように、負荷電流Ｉloadが時間的に変化することで内蔵電源２４の電圧Ｖの上昇率が一定にならないため、例えば前述した特許文献３に記載されているように、内蔵電源２４に対する定電流充電を行っている間に、充電を途中で一時的に中断した際に検出される内蔵電源２４の電圧Ｖの変化量が、内蔵電源２４の容量や内部抵抗の値等が同じであっても必ずしも一定の値にならない。
【００５８】
また、負荷電流Ｉloadが時間的に変化することで内蔵電源２４の電圧Ｖの上昇率が一定にならないため、例えば前述した特許文献４に記載されているように、内蔵電源２４に対する定電流充電を行う間に、内蔵電源２４の電圧Ｖが所定の電圧値から所定の電圧値まで上昇するのに要する時間が、内蔵電源２４の状態が同じであっても必ずしも一定の時間にならない。
【００５９】
そして、このように、内蔵電源２４の状態が仮に全く同じであっても、負荷電流Ｉloadが時間的に変化することで内蔵電源２４の電圧Ｖの上昇率が一定にならず、内蔵電源２４の電圧Ｖの変化量（特許文献３の場合）や時間（特許文献４の場合）が必ずしも一定にならないため、それに基づいて推定される内蔵電源２４の劣化度合の推定結果が同じにならずにばらつきが生じてしまうのである。
【００６０】
［本発明に特有の構成等について］
そこで、上記のように、本実施形態に係る電子機器１においても、推定回路２７（図５参照）は、内蔵電源２４の定電流充電中に、電圧検出回路２６が検出した内蔵電源２４の電圧Ｖに基づいて内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うように構成されているが、その際、図８に示すように、内蔵電源２４の負荷電流Ｉloadが一定になる状態（図中Ａで示される期間参照）にしたうえで、電圧検出回路２６に内蔵電源２４の電圧Ｖを検出させるようになっている。
【００６１】
すなわち、推定回路２７は、電子機器１の制御部２２（図４や図５参照）に電子機器１の各機能部を制御させて内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadが一定になる状態を形成させる。
【００６２】
この場合、例えば、制御部２２は、電子機器１の走査駆動手段１５、読み出し回路１７、バイアス電源１４等の各機能部がそれぞれ行っている動作を停止させるように制御し、そのうえで各機能部にそれぞれ予め設定した一定の電流を供給する状態にして、内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadが一定になる状態を形成する。
【００６３】
そして、本実施形態では、推定回路２７は、その状態の下で、図８に示すように、所定時間Δｔの間に電圧検出回路２６が検出する内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶを算出する。すなわち、負荷電流Ｉloadを一定にした時点から所定時間Δｔが経過する前後に電圧検出回路２６が検出した内蔵電源２４の電圧Ｖの差分を、内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶとして算出する。
【００６４】
一方、推定回路２７は、例えば電子機器１の工場出荷時等の初期状態で、予め上記と同じ条件で内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ０を算出しておくようになっており、この初期状態における内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ０をメモリー２８（図５参照）内に保持している。
【００６５】
そして、推定回路２７は、今回の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理で上記のようにして算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶと、予め記憶されている初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０とを比較して内蔵電源２４の劣化度合を推定するようになっている。
【００６６】
なお、上記の説明では、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理で内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶを算出したのと同じ条件で、初期状態において内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ０を算出しておくように記載したが、実際には、その逆で、初期状態において内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ０を算出したのと同じ条件で、その後の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理において内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶを算出するように構成される。
【００６７】
すなわち、電子機器１の工場出荷時等の初期状態において、内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadが一定になる状態を形成するために、電子機器１の制御部２２が、各機能部の動作を停止させて、各機能部にそれぞれ予め設定した一定の電流を供給した状態と同じ状態を、その後の電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行う際に、電子機器１の制御部２２が再現するようになっている。
【００６８】
このように構成すると、電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行う際に、内蔵電源２４から放電され一定になった際の負荷電流Ｉloadの値が、初期状態において内蔵電源２４から放電され一定になった際の負荷電流Ｉloadの値と同じ値になる。
【００６９】
そのため、初期状態においても、また、電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行う際も、定電流充電により内蔵電源２４に入ってくる電流Ｉは同じ値Ｉｓ（図６（Ｂ）参照）であり、放電により負荷電流Ｉloadとして内蔵電源２４から出て行く電流の値も同じ値になる。
【００７０】
そのため、このような状態で内蔵電源２４内を流れる電流（すなわち入ってくる電流Ｉｓと出て行く電流Ｉloadとの差分）は、初期状態においても、また、電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行う際も、同じ電流値になる。
【００７１】
そして、例えば、初期状態と、電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理時で、内蔵電源２４の容量Ｃの大きさが同じであれば、
ΔＶ＝（Ｉｓ−Ｉload）・Δｔ／Ｃ    …（１）
の関係から、所定時間Δｔの間の内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶは同じ大きさになる。
【００７２】
また、内蔵電源２４が劣化して容量Ｃの大きさが変われば、所定時間Δｔの間の内蔵電源２４の電圧Ｖの上昇分ΔＶは、初期状態と、電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理時で、異なる大きさになる。
【００７３】
そのため、本実施形態のように、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理において算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶと、予め記憶されている初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０とを比較することで、内蔵電源２４の劣化度合を推定することが可能となるのである。
【００７４】
内蔵電源２４が劣化すると、通常、内蔵電源２４の容量Ｃが小さくなるため、上記のように内蔵電源２４内を流れる電流の大きさが初期状態と推定処理時で同じ電流値であれば、内蔵電源２４が劣化するほど、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶが大きくなり、初期状態における増加分ΔＶ０との乖離が大きくなる。
【００７５】
そのため、本実施形態のように、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶと、予め記憶されている初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０とを比較することで、内蔵電源２４の劣化度合を的確に推定することが可能となる。
【００７６】
［変形例１］
なお、本実施形態のように、推定回路２７が、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶと、初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０とを比較するように構成する代わりに、或いはそれと並行して、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶの、初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０に対する比ΔＶ／ΔＶ０を算出し、算出した比ΔＶ／ΔＶ０に基づいて内蔵電源２４の劣化度合を推定するように構成することも可能である。
【００７７】
上記のように、内蔵電源２４が劣化するほど、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶが大きくなるため、初期状態における増加分ΔＶ０と比ΔＶ／ΔＶ０は、内蔵電源２４の劣化が進むほど大きくなっていく。そのため、比ΔＶ／ΔＶ０を算出することで、内蔵電源２４の劣化度合を数値（すなわちΔＶ／ΔＶ０）として評価することが可能となる。
【００７８】
［変形例２］
また、上記の電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理は、内蔵電源２４に対する定電流充電が行われている間に行われる必要がある。すなわち、定電流充電を行っている間に推定処理（すなわち内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶの算出処理）を開始したが、その途中で、図６（Ａ）に示したように、充電の仕方が定電圧充電に切り替わる等して定電流充電が終わってしまうと、内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶを算出することができなくなり、推定処理を行うことができなくなる。
【００７９】
そこで、例えば、定電流充電を行っているが、内蔵電源２４の電圧Ｖがまだ十分に低く、上記のように、所定時間Δｔの間、内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadを一定にしても（図８参照）、その所定時間Δｔが経過する間に定電流充電が終わることがないと判断される場合に、推定回路２７による上記の推定処理を行うように構成することが可能である。
【００８０】
すなわち、推定回路２７は、電圧検出回路２６が検出した内蔵電源２４の電圧Ｖに基づいて、充電回路２５（図５参照）による内蔵電源２４に対する定電流充電が、少なくとも上記の所定時間Δｔの間継続するか否かを判定し、定電流充電が少なくとも所定時間Δｔの間継続すると判定した場合に、上記の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うように構成すること可能である。
【００８１】
このように構成すれば、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行っている間に定電流充電が終了してしまうことを的確に防止することが可能となり、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を的確に行うことが可能となる。
【００８２】
［変形例３］
また、上記のように、外部電源から電力を供給した状態（図３や図５参照）でユーザーが電子機器１を使用している間に内蔵電源２４の充電を行う際、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行っている最中にユーザーによる電子機器１に対する操作があった場合には、通常、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理よりも、ユーザーの操作の方が優先されるように構成される。
【００８３】
このように、ユーザーが電子機器１を使用する場合には、基本的に、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うことができない。
【００８４】
そこで、推定回路２７は、内蔵電源２４の定電流充電時に、所定期間（上記の所定時間Δｔではない。）の間、ユーザーによる電子機器１に対する操作が行われていない場合に、上記の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うように構成することが可能である。また、ユーザーから指示があった場合に、上記の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うように構成することも可能である。
【００８５】
このように構成すれば、ユーザーが電子機器１を使っていない状態、或いは、推定処理のために電子機器１が使えなくなることをユーザーが認識している状態で、上記の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うことが可能となる。
【００８６】
そのため、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行っている最中にユーザーによる電子機器１に対する操作がある可能性が低い状態、或いはその可能性がない状態で内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うことが可能となり、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を的確に行うことが可能となる。
【００８７】
［変形例４−１］
なお、上記の実施形態では、初期状態においても、また、実際に内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行う場合においても、内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadを一定にする所定時間Δｔ（図８参照）を同じ時間とすることを前提として説明した。
【００８８】
しかし、実際に内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行う場合において、内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadを一定にする所定時間Δｔを、初期状態における所定時間Δｔ０と同じ時間だけとれない場合もあり得る。
【００８９】
また、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理の際に、上記の［変形例２］で述べたように定電流充電が推定処理の途中で終わってしまったり、或いは、上記の［変形例３］で述べたように内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行っている最中にユーザーによる電子機器１に対する操作があった場合、推定処理が中断されるまでの所定時間Δｔが、推定処理を精度良く行うために十分な時間であれば、その所定時間Δｔにおける電圧Ｖの増加分ΔＶを用いて内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うことも可能である。
【００９０】
そこで、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理における上記の所定時間Δｔ（図８参照）を、初期状態における上記の所定時間Δｔ０とは異なる時間とするように構成することも可能である。なお、この場合、推定回路２７は、前述した初期状態における内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ０の他に、初期状態における上記の所定時間Δｔ０もメモリー２８内に保持しておくように構成される。
【００９１】
そして、本実施形態のように、推定回路２７は、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶと、初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０とを用いて内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行う代わりに、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ、当該電圧Ｖを検出した際の所定時間Δｔ、初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０、および初期状態における所定時間Δｔ０を用いて内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うように構成することが可能である。
【００９２】
具体的には、例えば、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理において、推定回路２７が算出した、所定時間Δｔの間の内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶをΔｔ０／Δｔ倍してΔＶ・Δｔ０／Δｔを算出することで、電圧Ｖの増加分ΔＶを、初期状態における所定時間Δｔ０に対応する値に換算することができる。
【００９３】
そして、このΔＶ・Δｔ０／Δｔと、初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０とを比較することで、上記の実施形態の場合と同様に、内蔵電源２４の劣化度合を的確に推定することが可能となる。
【００９４】
また、上記の［変形例１］で説明したように、上記のΔＶ・Δｔ０／Δｔの、初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０に対する比（（ΔＶ・Δｔ０／Δｔ）／ΔＶ０）を算出して、内蔵電源２４の劣化度合を数値として評価することも可能である。
【００９５】
［変形例４−２］
この場合、上記の比は、
（ΔＶ・Δｔ０／Δｔ）／ΔＶ０＝（ΔＶ・Δｔ０）／（ΔＶ０・Δｔ）
＝（ΔＶ／Δｔ）／（ΔＶ０／Δｔ０）…（２）
と変形することができる
【００９６】
そこで、上記のように、推定回路２７が、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ、当該電圧Ｖを検出した際の所定時間Δｔ、初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０、および初期状態における所定時間Δｔ０を用いて内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うように構成する代わりに、算出した電圧Ｖの増加分ΔＶと所定時間Δｔから内蔵電源２４の電圧Ｖの単位時間あたりの増加分ΔＶ／Δｔを算出し、それと、予め算出しておいた初期状態における電圧Ｖの単位時間あたりの増加分ΔＶ０／Δｔ０とを比較して内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うように構成することも可能である。
【００９７】
また、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの単位時間あたりの増加分ΔＶ／Δｔと、初期状態における電圧Ｖの単位時間あたりの増加分ΔＶ０／Δｔ０とを上記（２）式に代入し、それらの比（ΔＶ／Δｔ）／（ΔＶ０／Δｔ０）に基づいて内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行うように構成することも可能である。
【００９８】
［変形例５］
また、推定回路２７が算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶと初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０（上記の本実施形態の場合）や、それらの比ΔＶ／ΔＶ０（変形例１の場合）、電圧Ｖの単位時間あたりの増加分ΔＶ／ΔｔとΔＶ０／Δｔ０（変形例４−１の場合）、或いは、電圧Ｖの単位時間あたりの増加分の比（ΔＶ／Δｔ）／（ΔＶ０／Δｔ０）（変形例４−２の場合）を報知する報知手段を電子機器１が備えるように構成することも可能である。
【００９９】
例えば、電子機器１に図示しないディスプレイを設け、このディスプレイ上に上記の内容を表示して報知するように構成することが可能である。この場合は、このディスプレイが報知手段ということになる。
【０１００】
また、例えば、報知手段に、推定回路２７が推定した内蔵電源２４の劣化度合を報知させるように構成することも可能である。
【０１０１】
例えば、推定回路２７が推定した内蔵電源２４の劣化度合の大きさに応じて、電子機器１としての放射線画像撮影装置１のインジケーター４０（図１や図５参照）を緑、黄、赤等に色分けして点灯させたり、所定の仕方で点滅させる等して、ユーザーに内蔵電源２４の劣化度合を報知するように構成することも可能である。この場合は、インジケーター４０が報知手段ということになる。
【０１０２】
なお、電子機器１に設けられた報知手段で、上記のように内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶと初期状態における電圧Ｖの増加分ΔＶ０等や、内蔵電源２４の劣化度合等を報知する仕方は、上記の場合に限定されない。また、電子機器１から音声を発する等して報知するように構成することも可能であり、上記の内容をユーザーに的確に報知することが可能であれば、報知手段の構成や報知の仕方等は、電子機器１の構成や機能等に応じて適宜決められる。
【０１０３】
［変形例６］
また、上記に関連して、推定回路２７が算出した上記の内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ等や、推定回路２７が推定した内蔵電源２４の劣化度合が、所定の閾値以上に大きく、内蔵電源２４がもはや使えない状態になっているような場合に、ユーザーに警告する警告手段を電子機器１が備えるように構成することも可能である。
【０１０４】
特に、劣化が進んだ内蔵電源２４を充電すると、ガスが発生したり、発熱したり、或いは発火する場合があるため、この場合も、電子機器１のディスプレイにその旨を表示したり、インジケーター４０を点灯、点滅させたり、或いは、音声でその旨を発声して警告するように構成することで、上記のような事態が発生することを防止することが可能となる。
【０１０５】
なお、この場合、例えば、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理の結果、内蔵電源２４がもはや使えない状態になっていると推定回路２７が判断した場合に、その時点で行っている内蔵電源２４の充電処理を停止させるように、推定回路２７から電子機器１の制御部２２に指示を出すように構成することも可能である。
【０１０６】
この場合、推定回路２７から指示を受けた電子機器１の制御部２２は、充電回路２５（図５参照）に充電処理の停止信号を送信して、充電回路２５による内蔵電源２４の充電処理を停止させる。
【０１０７】
［変形例７］
また、例えば、推定回路２７は、算出した上記の内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ等の履歴や、推定した内蔵電源２４の劣化度合の履歴を、メモリー２８（図５参照）や記憶手段２３（図４参照）等の記憶手段に保存するように構成することが可能である。
【０１０８】
このように構成すれば、例えば、記憶手段に保存されている上記の内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ等の履歴や内蔵電源２４の劣化度合の履歴を読み出して解析することで、内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ等や内蔵電源２４の劣化度合が時系列的にどのように変化しているかを分析して、内蔵電源２４の劣化の進み具合を認識したり、内蔵電源２４が使えなくなる時期を推定したりすることが可能となる。
【０１０９】
［効果］
以上のように、本実施形態に係る電子機器１によれば、推定回路２７は、充電回路２５による内蔵電源２４に対する定電流充電が行われている際に、電子機器１の制御部２２に各機能部を制御させて内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadが一定になる状態を形成させる。
【０１１０】
その際、推定回路２７は、電子機器１の工場出荷時等の初期状態において、制御部２２が各機能部を制御して内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadが一定になる状態を形成させた状態と同じ状態で制御部２２に各機能部を制御させて、内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadが一定になる状態を形成させる。
【０１１１】
そのため、内蔵電源２４から放電され一定になった際の負荷電流Ｉloadの値が、初期状態において内蔵電源２４から放電され一定になった際の負荷電流Ｉloadの値と同じ値になり、内蔵電源２４内を流れる電流（すなわち電流Ｉｓと電流Ｉloadとの差分）が、初期状態の際も、その後の電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行う際も、同じ電流値になる。
【０１１２】
そして、例えばΔＶ＝Ｉ・Ｒの関係において、上記のように内蔵電源２４内を流れる電流Ｉは初期状態の際もその後の電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を行う際も同じ電流値になるから、所定時間Δｔの間の内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶを算出すれば、算出された電圧Ｖの増加分ΔＶは、例えば内蔵電源２４の容量Ｃを的確に反映したものとなる。
【０１１３】
そのため、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理において算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶと、予め記憶されている初期状態における内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ０とを比較することで、内蔵電源２４の劣化度合を的確に精度良く推定することが可能となる。
【０１１４】
なお、従来の推定処理では、内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadを一定にする処理が行われていなかったため、上記（１）式の関係における内蔵電源２４内を流れる電流Ｉｓ−Ｉloadの値がばらついてしまったために、検出された電圧Ｖの増加分ΔＶに対応して算出される内蔵電源２４の容量Ｃの値がばらついてしまい、内蔵電源の劣化度合を必ずしも的確に推定することができなかった。
【０１１５】
［変形例８］
なお、上記の実施形態では、特に電子機器１の使用中に内蔵電源２４の充電を行う場合に、図７に示したように負荷電流Ｉloadが一定しない状態が発生し易いため、このように電子機器１の使用中に内蔵電源２４の充電を行うことを前提として説明した。
【０１１６】
しかし、例えば、電子機器１を充電装置に装填して充電を行う場合等のように、電子機器１を使用していない状態で内蔵電源２４を充電する際にも、充電中に電子機器１がその内部で各種の処理を行う場合があり、このような場合も、負荷電流Ｉloadが一定しない状態が生じ得る。
【０１１７】
そのため、電子機器１を使用していない状態で内蔵電源２４を充電する際にも本発明を適用することができる。そして、そのような場合に本発明を適用することで、上記と同様に有益な効果を得ることが可能となる。
【０１１８】
［第２の実施の形態］
上記の第１の実施の形態では、［変形例５］〜［変形例７］で、電子機器１自体が、推定回路２７が算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ等や推定した内蔵電源２４の劣化度合を報知したり（変形例５の場合）、ユーザーに警告したり（変形例６の場合）、或いは、それらの履歴を記憶手段に保存（変形例７の場合）するように構成することについて説明した。
【０１１９】
しかし、例えば図９に示すように、電子機器１とは別体の報知装置５１や警告装置５２、記憶装置５３を設け、それらの報知装置５１等と電子機器１との間の有線方式や無線方式で行われる通信を、中継器７０やアクセスポイント７１で中継する充電システム１００を構築するように構成することも可能である。
【０１２０】
なお、中継器７０やアクセスポイント７１は、報知装置５１等が内蔵するように構成されていてもよい。また、報知装置５１や警告装置５２、記憶装置５３を別々の装置として構成することも可能であり、それらの全て或いは一部を一体の装置として構成することも可能である。また、報知装置５１等を専用の装置として構成することも可能であり、汎用のコンピューター等を用いて構成することも可能である。
【０１２１】
また、報知装置５１等を、電子機器１に充電用の電力を供給する充電装置や外部電源と一体的に設けるように構成することも可能である。推定回路２７が算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ等や推定した内蔵電源２４の劣化度合を報知したり、ユーザーに警告したり、或いは、それらの履歴を保存できるものであれば、報知装置５１等の構成等は特定の構成等に限定されない。
【０１２２】
このように構成することで、第１の実施形態で説明した有益な効果、すなわち、内蔵電源２４の劣化度合を的確に精度良く推定することが可能となるといった有益な効果を奏することが可能となる。
【０１２３】
また、このように、報知装置５１等を電子機器１とは別体の装置として構成することで、ユーザーが最も見易い場所に報知装置５１等を配置したり、或いは、サーバーコンピューター等を記憶装置５３として用いるなど、電子機器１や報知装置５１等を含む充電システム１００を、ユーザーの使い勝手がよいものとすることが可能となるといったメリットがある。
【０１２４】
［第３の実施の形態］
また、上記の第２の実施形態をさらに進めて、第１の実施形態で説明した電子機器１の推定回路２７における内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を、電子機器１とは別体の推定装置６０（図９参照）で行うように構成することも可能である。
【０１２５】
この場合、電子機器１の推定回路２７や制御部２２は、上記の第１の実施形態と同様にして、内蔵電源２４の定電流充電の間に、制御部２２に各機能部を制御させて内蔵電源２４から放電される負荷電流Ｉloadが一定になる状態を形成させ、その状態の下で所定時間Δｔの間に電圧検出回路２６が検出する内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶを算出する。そして、算出した内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分Δを、推定装置６０に送信するように構成される。
【０１２６】
そして、推定装置６０は、第１の実施形態で電子機器１内の推定回路２７が行った処理と同様に、電子機器１から送信されてきた内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶと、予め記憶されている初期状態における内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ０とを比較して当該電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合を推定するように構成される。
【０１２７】
そのため、この場合も、例えば図９に示すように、電子機器１と推定装置６０との間の有線方式や無線方式で行われる通信を、中継器７０やアクセスポイント７１で中継する充電システム１００を構築するように構成される。
【０１２８】
なお、その際、中継器７０やアクセスポイント７１を推定装置６０が内蔵するように構成されていてもよい。また、推定装置６０が、上記の第２の実施形態における報知装置５１や警告装置５２、記憶装置５３としても機能するように構成することも可能である。
【０１２９】
このように構成すれば、第１の実施形態における推定回路２７と同じ推定処理を推定装置６０で行うことになり、第１の実施形態で説明した有益な効果、すなわち、内蔵電源２４の劣化度合を的確に精度良く推定することが可能となるといった有益な効果を奏することが可能となる。
【０１３０】
また、例えば、複数の電子機器１について、推定装置６０が、各電子機器１の初期状態における内蔵電源２４の電圧Ｖの増加分ΔＶ０をそれぞれ予め記憶しておくことで、複数の電子機器１に関する内蔵電源２４の劣化度合の推定処理を１台の推定装置６０で一元的に行い、各電子機器１の内蔵電源２４の劣化度合を１台の推定装置６０で一元的に管理することが可能となるといったメリットがある。
【０１３１】
［変形例９］
なお、上記の各実施形態において、例えば、ユーザーが電子機器１を使用している間に電子機器１の内蔵電源２４の充電を行う場合、ユーザーが電子機器１を使い続けていて内蔵電源２４の充電を行うタイミングがとれない場合があり得る。そして、この状態が続くと、内蔵電源２４がいわば空になり、内蔵電源２４からの電力の供給ができなくなる。
【０１３２】
また、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理の結果、内蔵電源２４の劣化が進み、もはや使えない状態になっており、例えば警告手段や警告装置５２が警告しているにもかかわらず、ユーザーがそれに気付かずに（或いは気付いていても）電子機器１を使い続ける場合もあり得る。
【０１３３】
そして、例えば上記のように（変形例６参照）、電子機器１の制御部２２が充電回路２５（図５参照）による内蔵電源２４の充電処理を停止させるように構成されていると、その場合も、いずれ内蔵電源２４が空になってしまい、内蔵電源２４からの電力の供給ができなくなる。
【０１３４】
そして、いずれの場合も、結局、内蔵電源２４から電子機器１の各機能部への電力の供給ができなくなるため、電子機器１が動作しなくなる。
【０１３５】
例えば、電子機器１が前述した放射線画像撮影装置１である場合には、放射線画像撮影装置１が撮影中に動かなくなると、被写体を介して放射線画像撮影装置１に放射線を照射しても、放射線画像撮影装置１で画像データを読み出すことができなくなるため、放射線の照射が無駄になる。
【０１３６】
また、放射線画像撮影装置１の内蔵電源２４を充電したり交換したりした後で、再度、被写体を介して放射線画像撮影装置１に放射線を照射して再撮影を行うことが必要になるが、被写体に放射線を複数回照射することになるため、被写体である患者の被曝線量が増えてしまうという問題が生じる。
【０１３７】
そして、上記のように、内蔵電源２４が空になっても、ユーザーが電子機器１を使ってその時点で行っている一連の動作が終了するまではその動作を継続することができるように電子機器１が構成されていれば、その電子機器１は、ユーザーにとって使い勝手がよいものとなる。
【０１３８】
そこで、内蔵電源２４が空になっても一連の動作が終了するまでは電子機器１の動作を継続させることができるようにするために、例えば、図１０に示すように、電子機器１に、内蔵電源２４とは別体の電源２４Ａを設けるように構成することが可能である。
【０１３９】
この場合、電源２４Ａとして、内蔵電源２４と同様に、リチウムイオンキャパシターや、電気二重層キャパシター等の蓄電デバイスやリチウムイオンバッテリー等のバッテリーや二次電池等を用いることができる。また、電源２４Ａは、電子機器１から取り出して交換することができるように構成することが可能である。
【０１４０】
また、この場合、図１０に示すように、内蔵電源２４と新たな電源２４Ａのいずれから電子機器１の制御部２２等の各機能部に電力を供給するかを切り替える電源選択回路２９を設けるように構成される。
【０１４１】
そして、例えば、電子機器１の使用により電圧検出回路２６が検出する内蔵電源２４の電圧Ｖが低下して、内蔵電源２４を使用可能な下限電圧Ｖlowや、下限電圧Ｖlowより若干高い電圧に設定された保護電圧Ｖｐに達した時点で、電子機器１の制御部２２が、電源選択回路２９を制御して、新たな電源２４Ａから電子機器１の各機能部に電力を供給するように切り替えるように構成することが可能である。
【０１４２】
また、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理の結果、推定回路２７が、内蔵電源２４の劣化が進み、もはや使えない状態になったと判断したにもかかわらず、電子機器１がさらｎ継続して使用される場合も、推定回路２７から報告を受けた電子機器１の制御部２２が、電源選択回路２９を制御して、新たな電源２４Ａから電子機器１の各機能部に電力を供給するように切り替えるように構成することが可能である。
【０１４３】
このように構成すれば、ユーザーが電子機器１を使い続けていて内蔵電源２４の充電を行うことができず、内蔵電源２４が空になった場合や、内蔵電源２４の劣化度合の推定処理の結果、内蔵電源２４の劣化が進み、もはや使えない状態になった場合等に、新たな電源２４Ａから電子機器１の各機能部に電力を供給することが可能となり、少なくとも電子機器１が行っている一連の動作が終了するまでは電子機器１がその動作を継続することが可能となる。
【０１４４】
そのため、電子機器１がユーザーにとって使い勝手がよいものとなる。また、例えば、電子機器１が放射線画像撮影装置１である場合に、放射線画像撮影装置１が撮影中に動かなくなり再撮影が必要になって患者の被曝線量が増えてしまう等の問題が生じることを的確に防止することが可能となる。
【０１４５】
なお、例えば、新たな電源２４Ａから電子機器１の各機能部に電力を供給している間に内蔵電源２４の充電処理を行うように構成することも可能である。そして、例えば、内蔵電源２４の充電がある程度行われて、内蔵電源２４の電圧Ｖが所定の電圧まで増加した時点で、電子機器１の各機能部に電力を供給する電源を、新たな電源２４Ａから、再度、内蔵電源２４に切り替えるように構成することも可能である。
【０１４６】
また、新たな電源２４Ａの電圧Ｖを検出する等して、内蔵電源２４に残存する電力と新たな電源２４Ａに残存する電力とで、電子機器１が行っている一連の動作を最後まで行わせることができるか否かを判定する機構を有するように構成することも可能である。
【０１４７】
すなわち、当該機構で、例えば、電子機器１としての放射線画像撮影装置１が、現在行われている１回の撮影、すなわち画像データの読み出し処理等の一連の処理を、内蔵電源２４に残存する電力と新たな電源２４Ａに残存する電力とを用いて行うことができるか否かを判定する。
【０１４８】
そして、当該機構が、当該撮影を行うことができると判定した場合には、内蔵電源２４と新たな電源２４Ａの電力を用いて当該撮影を行わせる。また、当該機構が、内蔵電源２４と新たな電源２４Ａの電力を用いても当該撮影における一連の処理を行うことができないと判定した場合は、例えば、被写体を介して放射線画像撮影装置１に放射線が照射される前に、表示や音声等でユーザーに内蔵電源２４の充電や新たな電源２４Ａの交換を促す等するように構成することが可能である。
【０１４９】
なお、上記のように構成する場合、図１０では図示を省略したが、例えば、電源２４Ａを電子機器１に取り付けると電圧検出回路２６とが接続され、電源２４Ａの電圧を電圧検出回路２６で検出することができるように構成することが望ましい。また、図１０では、新たな電源２４Ａを１つだけ設けるように記載したが、新たな電源２４Ａを複数設けるように構成することも可能である。
【０１５０】
［変形例１０］
また、上記の実施形態や変形例では、電子機器１のコネクター３９にケーブルＣａのコネクターＣを接続し、外部電源から電子機器１の充電回路２５に電力が供給される状態で電子機器１を使用したり内蔵電源２４を充電したりする場合について説明した（図５や図１０等参照）。
【０１５１】
しかし、電子機器１をケーブルＣａ（すなわち外部電源）に接続しない状態で使用されることも多い。そして、このような場合には、内蔵電源２４を充電しようとしても、電子機器１が外部電源に接続されていないため充電できず、上記の［変形例９］の場合と同様に、電子機器１が動かなくなってしまう可能性がある。
【０１５２】
そして、この場合も、例えば電子機器１が前述した放射線画像撮影装置１である場合には、放射線画像撮影装置１が撮影中に動かなくなり、被写体を介して放射線画像撮影装置１に照射した放射線の照射が無駄になったり、再撮影が必要になって、患者の被曝線量が増えてしまう等の問題が生じる。
【０１５３】
そして、この場合も、内蔵電源２４を充電できずに内蔵電源２４が空になっても、ユーザーが電子機器１を使ってその時点で行っている一連の動作が終了するまではその動作を継続することができるように電子機器１が構成されていれば、その電子機器１は、ユーザーにとって使い勝手がよいものとなる。
【０１５４】
そこで、内蔵電源２４が空になっても内蔵電源２４を適切に充電して一連の動作が終了するまでは電子機器１の動作を継続させることができるようにするために、例えば、図１１に示すように、電子機器１に、内蔵電源２４を充電するための新たな電源２４Ａを設けるように構成することが可能である。
【０１５５】
この場合も、新たな電源２４Ａとして、リチウムイオンキャパシター等を用いることが可能であり、また、電源２４Ａを、電子機器１から取り出して交換することができるように構成することも可能である。
【０１５６】
また、この場合、図１１に示すように、外部電源（図１１では図示省略。図５や図１０のＡＣ参照）と新たな電源２４Ａのいずれから充電回路２５に電力を供給するかを切り替える電源選択回路２９が、例えば電子機器１のコネクター３９と充電回路２５との間に設けられる。
【０１５７】
そして、例えば、電子機器１の使用により電圧検出回路２６が検出する内蔵電源２４の電圧Ｖが所定の電圧まで低下した時点で、電子機器１の制御部２２が、電源選択回路２９を制御して、新たな電源２４Ａから充電回路２５に電力を供給するように切り替えるように構成することが可能である。
【０１５８】
このように構成すれば、電子機器１が外部電源に接続されていなくても、新たな電源２４Ａで内蔵電源２４を充電することが可能となり、電子機器１が、少なくともその時点で行っている一連の動作が終了するまでは電子機器１がその動作を継続することが可能となる。
【０１５９】
そのため、電子機器１がユーザーにとって使い勝手がよいものとなる。また、例えば、電子機器１が放射線画像撮影装置１である場合に、放射線画像撮影装置１が撮影中に動かなくなり再撮影が必要になって患者の被曝線量が増えてしまう等の問題が生じることを的確に防止することが可能となる。
【０１６０】
なお、この場合も、新たな電源２４Ａの電圧Ｖを検出する等して、内蔵電源２４に残存する電力と新たな電源２４Ａに残存する電力とで、電子機器１が行っている一連の動作を最後まで行わせることができるか否かを判定する機構を有するように構成することも可能である。
【０１６１】
また、図１１では、新たな電源２４Ａを１つだけ設けるように記載したが、新たな電源２４Ａを複数設けるように構成することも可能である。
【０１６２】
なお、本発明が上記の実施形態や変形例に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜変更可能であることは言うまでもない。
【符号の説明】
【０１６３】
１  電子機器、放射線画像撮影装置
１４  バイアス電源（機能部）
１５  走査駆動手段（機能部）
１７  読み出し回路（機能部）
２２  制御部
２３  記憶手段
２４  内蔵電源
２５  充電回路
２６  電圧検出回路
２７  推定回路
２８  メモリー（記憶手段）
４０  インジケーター（報知手段、警告手段）
５１  報知装置
５２  警告装置
５３  記憶装置
６０  推定装置
１００  充電システム
Ｉload  負荷電流
Ｖ  電圧
Δｔ  所定時間
Δｔ０  初期状態における所定時間
ΔＶ  電圧の増加分
ΔＶ０  初期状態における電圧の増加分
ΔＶ／Δｔ  電圧の単位時間あたりの増加分
ΔＶ０／Δｔ０  初期状態における電圧の単位時間あたりの増加分
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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