(57)【要約】      （修正有）【課題】テストパネルを圧縮試験のために位置調整するシステム及び方法を提供する。【解決手段】テストパネル１５０を試験機１０２に合わせて位置調整するための位置調整装置３００は、レーザー測定システム３０２と、調節機構４００とを含むことができる。レーザー測定システム３０２は、試験装置２００及び／又は試験機１０２に結合された少なくとも一つのレーザー測定装置３０４を含み、試験機１０２の上方プラテン１１４及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の向きを表すレーザー測定データを生成することができる。調節機構４００は、レーザー測定データに基づいて、上方プラテン１１４及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節する。【選択図】図１３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストパネル（１５０）を試験機（１０２）に合わせて位置調整する位置調整装置（３００）であって、
試験装置（２００）及び／又は試験機（１０２）に結合され、前記試験機（１０２）の上方プラテン（１１４）及び／又は負荷軸（１２０）に対するテストパネル（１５０）の向きを表すレーザー測定データを生成するように構成された少なくとも一つのレーザー測定装置（３０４）を含むレーザー測定システム（３０２）と、
前記テストパネル（１５０）を移動させて、前記プラテン及び／又は前記負荷軸（１２０）に合わせて実質的に位置調整することで圧縮試験の負荷（１２２）が前記テストパネル（１５０）のパネル端全体に実質的に均一に分配されるように、前記レーザー測定データに基づいて、前記プラテン及び／又は前記負荷軸（１２０）に対する前記テストパネル（１５０）の位置及び／又は向きを調節するように構成された調節機構（４００）と
を備える、位置調整装置（３００）。
【請求項２】
前記レーザー測定装置（３０４）は、前記上方プラテン（１１４）に対する前記テストパネル（１５０）のパネル端の向きを表すレーザー測定データを生成するように構成される、請求項１に記載の位置調整装置（３００）。
【請求項３】
前記レーザー測定装置（３０４）は、前記負荷軸（１２０）に対する前記テストパネル（１５０）の中心線（１６４）及び／又は中立軸（１６６）の位置及び／又は向きを表すレーザー測定データを生成するように構成される、請求項１に記載の位置調整装置（３００）。
【請求項４】
前記レーザー測定装置（３０４）から前記レーザー測定データを受信するように構成されたプロセッサ（３２０）と、
前記調節機構（４００）に動作可能に結合され、前記プロセッサ（３２０）に通信可能に結合されたモータ（４１２）と
をさらに備え、
前記プロセッサ（３２０）は、前記レーザー測定データに基づき、前記テストパネル（１５０）を移動させて前記プラテン及び／又は前記負荷軸（１２０）に合わせて実質的に位置調整するように前記調節機構（４００）を動作させるコマンドを生成するように構成されている、請求項１に記載の位置調整装置（３００）。
【請求項５】
プロセッサ（３２０）をさらに備え、
前記レーザー測定装置（３０４）は、前記プロセッサ（３２０）に通信可能に結合され、前記テストパネル（１５０）及び／又は試験装置（２００）の表面形状をスキャンし、前記表面形状を表すスキャンデータを生成するように構成されたレーザースキャナー（３１４）であり、
前記プロセッサ（３２０）は、前記レーザースキャナー（３１４）からスキャンデータを受信して、前記スキャンデータに基づいて、前記プラテン及び／又は前記負荷軸（１２０）に対する前記テストパネル（１５０）の位置及び／又は向きを決定するように構成されている、請求項１に記載の位置調整装置（３００）。
【請求項６】
前記調節機構（４００）に動作可能に結合され、前記プロセッサ（３２０）に通信可能に結合されたモータ（４１２）をさらに備え、
前記プロセッサ（３２０）は、前記スキャンデータに基づいて、前記負荷軸（１２０）に対する前記テストパネル（１５０）の中立軸（１６６）の位置及び／又は向きを決定するように構成されており、
前記プロセッサ（３２０）は、前記テストパネル（１５０）の前記中立軸（１６６）を移動させて前記負荷軸（１２０）に合わせて実質的に位置調整するように前記調節機構（４００）を動作させるように前記モータ（４１２）に命令するように構成される、請求項５に記載の位置調整装置（３００）。
【請求項７】
前記調節機構（４００）は、下記：
前記プラテン及び／又は前記負荷軸（１２０）に対する試験装置（２００）の位置及び／又は向き、
前記試験機（１０２）に対する前記プラテン及び／又は前記負荷軸（１２０）の位置及び／又は向き
のうちの少なくとも一つを調節するように構成される、請求項１に記載の位置調整装置（３００）。
【請求項８】
前記調節機構（４００）は、試験装置（２００）の基部アセンブリ（２４０）にねじ結合されているねじ式ロッド部材（４０６）を含み、
前記ねじ式ロッド部材（４０６）は、下方プラテン（１１６）と接触する軸受先端部（４０８）を有し、前記ねじ式ロッド部材（４０６）の回転により、前記ねじ式ロッド部材（４０６）が前記基部アセンブリ（２４０）に対して軸方向へ移動し、前記基部アセンブリ（２４０）の変位をもたらす、請求項１に記載の位置調整装置（３００）。
【請求項９】
テストパネルのパネル端（１５４）に位置決めされるように構成された負荷伝送境界面（２０２）をさらに備え、
前記レーザー測定システムは、前記負荷伝送境界面（２０２）の第１の端部（２０８）及び第２の端部（２１０）にそれぞれ配置された第１及び第２のレーザー測定装置（３０４）を含み、前記第１及び第２のレーザー測定装置（３０４）は、前記プラテンと、前記第１の端部（２０８）及び第２の端部（２１０）それぞれとの間の第１の距離（２１２）及び第２の距離（２１４）それぞれを示す値を決定するように構成され、
前記調節機構（４００）は、前記第１の距離（２１２）及び第２の距離（２１４）を実質的に等しくし、これにより前記負荷伝送境界面（２０２）が前記パネルの端に合わせて位置調整され、前記テストパネルの第１の側端全体に圧縮試験の負荷（１２２）が均一に分配されるように、前記負荷伝送境界面（２０２）の第１の端部（２０８）及び／又は第２の端部２１０を上げる又は下げることによって、前記テストパネル（１５０）の向きを調節するように構成される、請求項１に記載の位置調整装置（３００）。
【請求項１０】
テストパネル（１５０）に圧縮試験の負荷（１２２）を加える試験機においてテストパネル（１５０）を位置調整する方法であって、
試験機（１０２）にテストパネル（１５０）を取り付けることと、
試験装置（２００）及び／又は前記試験機（１０２）に結合されたレーザー測定装置（３０４）を使用して、前記試験機（１０２）のプラテン及び／又は負荷軸（１２０）に対する前記テストパネルの向きを表すレーザー測定データを生成することと、
前記テストパネル（１５０）が前記プラテン及び／又は前記負荷軸（１２０）に合わせて実質的に位置調整されるように、前記レーザー測定データに基づいて、前記プラテン及び／又は前記負荷軸（１２０）に対する前記テストパネル（１５０）の位置及び／又は向きを調節することと
を含む方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は概して構造試験に関し、さらに具体的には、テストパネルを圧縮試験のために位置調整するシステム及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
負荷担持構造の設計及び開発にはしばしば、上記構造に使用される構成要素及び材料の構造試験が含まれる。構造試験により、温度及び相対湿度等の異なる環境条件下でテストされた構成要素及び材料の強度及び故障モード等の機械特性データが得られる。機械特性データを構造の設計及び分析に使用して、サービス環境において動作する時に構造が意図されるような性能を発揮するようにすることができる。
【０００３】
圧縮試験は、試験片に圧縮試験負荷をかける種類の構造試験である。試験片は、長方形のテストパネル、又は所定のサイズの試験クーポンとして供給することができる。テストパネルは複合材料（すなわち、繊維強化ポリマーマトリクス材料）及び／又は金属材料でできたものであってよい。テストパネルは、試験装置の基部アセンブリ上にテストパネルの下端が支持され、これにより試験機の下方プラテン上に支持されうるように、試験機の中にセットすることができる。負荷伝送境界面を、テストパネルの上端の上に取り付けることができる。試験機には、負荷伝送境界面の上に位置づけされた垂直方向に可動の負荷ヘッドが含まれうる。負荷ヘッドは、圧縮試験の負荷をテストパネルの長さ（すなわち垂直）方向に沿ってテストパネルに軸方向にかけることができるように、負荷伝送境界面と軸受接触するように下方に移動させることができる上方プラテンを含むことができる。
【０００４】
試験の精度のために、圧縮試験の負荷を上方及びパネルの下端全体に均一に分配させることが好ましい。しかしながら、テストパネルの端が互いに直交していない、又は上方及びパネルの下端が互いに平行していないためにパネルの上端の一方の端がパネルの上端の反対側の端よりも高くなっている、わずかに不ぞろいな形のテストパネルが供給されることもある。この結果、上方プラテンはまず、圧縮試験の負荷をパネルの上端の高いところの端部にかけ、テストパネルの下方端部は最初負荷がかからない場合があり、圧縮試験の負荷がパネルの上端全体に均一に分配される代わりに、パネルの上端の対向端部のうちの一つのみに負荷が偏る。圧縮試験の負荷の不均一な分配により、テストパネルが早期故障を起こし、試験データも無効になる。
【０００５】
従来の実行形態では、テストパネルの位置調整は、負荷伝送境界面と上方プラテンとの間の小さい隙間を視覚的に探し、隙間ゲージ一式を使用して隙間の幅を測定し、隙間の測定値にしたがってシムを作製し、その後基部アセンブリと下方プラテンとの間にシムを設置することによって確認し調節することができた。隙間、及び隙間の場所特定及び測定プロセスについての試験の設定が確認され、シムが作製され、負荷伝送境界面と上方プラテンとの間の隙間が実質的に除去されるまで試行錯誤しながら、シムの設置を繰り返すことができる。残念ながら、シムの作製及び設置、及び隙間の再確認後の隙間の場所特定及び測定プロセスは時間がかかり、大きな労働力を要するプロセスであり、構造試験の全体的な時間と費用が大幅に上がることになる。
【０００６】
以上のことから、当技術分野において、従来の試行錯誤する隙間の場所特定及び測定、及びシムの製造及び設置のプロセスに関連する時間と費用を回避する、試験機におけるテストパネルの向きを決定し調節するシステム及び方法が必要である。
【発明の概要】
【０００７】
翼に関連する上述した必要は、テストパネルを試験機に合わせて位置調整する位置調整装置を提供する本発明によって具体的に対処される。位置調整装置は、レーザー測定システム及び調節機構を含むことができる。レーザー測定システムは、試験装置及び／又は試験機に結合された少なくとも一つのレーザー測定装置を含むことができる。レーザー測定システムは、試験機のプラテン及び／又は負荷軸に対するテストパネルの向きを表すレーザー測定データを生成することができる。調節機構は、テストパネルが移動しプラテン及び／又は負荷軸に合わせて実質的に位置調整されるように、レーザー測定データに基づいて、プラテン及び／又は負荷軸に対するテストパネルの位置及び／又は向きを調節することができるように構成されうる。
【０００８】
さらなる実施形態では、圧縮試験システム用の位置調整装置が開示される。圧縮試験システムは、圧縮試験の負荷をテストパネルにかけるプラテンを有することができる。位置調整装置は、テストパネルの端に位置決めされるように構成される負荷伝送境界面を含むことができる。加えて、位置調整装置は、負荷伝送境界面の第１及び第２の端部にそれぞれ配置された第１及び第２のレーザー測定装置を含むことができる。第１及び第２のレーザー測定装置は、プラテン及び第１及び第２の端部それぞれとの間の第１及び第２の距離それぞれを示す値を決定することができる。位置調整装置はさらに、試験装置の基部アセンブリに配置される調節機構を含むことができる。位置調整装置は、第１及び第２の距離を実質的に等しくして負荷伝送境界面がパネルの端に合わせて位置調整されるように、負荷伝送境界面の第１の端部及び／又は第２の端部を上げる又は下げることによってテストパネルの向きを調節することができる。このように、圧縮試験の負荷は、テストパネルの第１の側端部全体に均一に分配されうる。
【０００９】
テストパネルに圧縮試験の負荷をかけるために、試験機においてテストパネルを位置調整する方法も開示されている。この方法は、試験機においてテストパネルを取り付けることを含むことができる。この方法はさらに、試験装置及び／又は試験機に結合されたレーザー測定装置を使用して、試験機のプラテン及び／又は負荷軸に対するテストパネルの向きを表すレーザー測定データを生成することを含むことができる。この方法は加えて、テストパネルがプラテン及び／又は負荷軸に合わせて実質的に位置調整されるように、レーザー測定データに基づいて、プラテン及び／又は負荷軸に対するテストパネルの位置及び／又は向きを調節することを含むことができる。テストパネル１５０の向きを調節するステップが、プラテン及び／又は負荷軸１２０に対する試験装置２００の位置及び／又は向きを調節し、試験機１０２に対するプラテン及び／又は負荷軸１２０の位置及び／又は向きを調節することを含むため、有益である。あるいは、テストパネル１５０は、負荷伝送境界面２０２が取り付けられたパネルの端１５４を含み、テストパネル１５０の向きを調節するステップは、負荷伝送境界面２０２がプラテン１１４に合わせて実質的に位置調整されるようにテストパネル１５０の第１の端部２０８及び／又は第２の端部２１０を上げる及び／又は下げるために、試験装置２００に結合された調節機構４００を調節することを含む。
【００１０】
レーザー測定データを生成し、テストパネル１５０を調節するステップは、試験機１０２のプラテン１１４に対するパネルの端１５４の向きを表すレーザー測定データを生成することと、パネルの端１５４がプラテン１１４に合わせて実質的に位置調整されるように、テストパネル１５０の向きをレーザー測定データに基づいて調節することとを含むため、有益である。あるいは、レーザー測定データを生成し、テストパネル１５０を調節するステップが、負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の中心線１６４の位置及び／又は向きを表すレーザー測定データを生成し、中心線１６４が負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整されるように、テストパネル１５０の向きをレーザー測定データに基づいて調節することを含む。
【００１１】
レーザー測定データを生成し、テストパネル１５０を調節するステップが、負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の中立軸１６６の位置を表すレーザー測定データを生成し、レーザー測定データに基づき、負荷軸１２０が中立軸１６６を通過するようにテストパネル１５０の向きを調節することとを含むことが好ましい。モータ４１２は調節機構４００に動作可能に結合されており、レーザー測定データを生成し、テストパネル１５０を調節するステップが、モータ４１２に通信可能に結合されたプロセッサ３２０においてレーザー測定データを受信し、プロセッサ３２０を使用して、テストパネル１５０を移動させてプラテン及び／又は負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整するように調節機構４００を調節するようにモータ４１２に命令することとを含むため、有益である。レーザー測定データを生成するステップが、レーザースキャナーを使用して、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００の表面形状をスキャンすることと、表面形状を表すスキャンデータを生成することと、プロセッサ３２０を使用して、スキャンデータに基づき、プラテン及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを決定することとを含むことが好ましい。さらに具体的には、テストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節するステップが、プロセッサ３２０を使用して、テストパネル１５０を移動させてプラテン及び／又は負荷軸１２０に合わせて実質的に位置合わせするように調節機構４００のモータ４１２に命令することを含むことがさらに好ましい。レーザー測定データを生成し、テストパネル１５０を調節するステップが、スキャンデータに基づきプロセッサ３２０を使用して外板１５８に結合されたスティフナー１６０を有するテストパネル１５０の中立軸１６６の位置を判断することと、プロセッサ３２０を使用して、テストパネル１５０を移動させて負荷軸１２０が中立軸１６６を通過するように調節機構４００を調節するモータ４１２に命令することとを含むことがさらに好ましい。調節機構４００は代替的に、プラテン及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節するように構成された垂直調節機構４０２及び／又は横調節機構４０４を備えることができる。
【００１２】
上述の特徴、機能、及び利点は、本開示の様々な実施形態において独立して達成可能であるか、又は、以下の説明および図面を参照してさらなる詳細が理解可能であるさらに別の実施形態において組み合わせることもできる。
【００１３】
本発明のこれらの及び他の特徴は、図面を参照することにより明確となり、ここでは全図を通して類似の番号が類似の部分を指す。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】試験装置内に取り付けられ、テストパネルの圧縮試験用の汎用試験機が設置されたテストパネルを備える試験システムの前面概略図である。
【図２】試験装置にセットすることができ、テストパネルの圧縮強度を決定するために試験機によって圧縮試験の負荷をかけることができる、中央に切抜部のあるテストパネルの一実施形態の斜視図である。
【図３】圧縮試験中にテストパネルを支持する試験装置の一実施形態の斜視図である。
【図４】図２の試験装置の側面図である。
【図５】テストパネルの圧縮試験用の汎用試験機の上方プラテンと軸受接触するように配置される負荷伝送境界面の対向端部に取り付けられたレーザー測定装置を示す、図２の試験装置の前面図である。
【図６】テストパネルの上端から分離した負荷伝送境界面の分解斜視図である。
【図７】負荷伝送境界面の各端部において、負荷伝送境界面と上方プラテンとの間の距離を測定するために、上方プラテンに向けてレーザー光線を放射するレーザー測定装置を示す、パネルの上端に取り付けられた負荷伝送境界面の斜視図である。
【図８】パネルの上端に取り付けられた負荷伝送境界面の側面断面図である。
【図９】上方プラテンのプラテン表面との間の距離を測定するために、上方プラテンのプラテン表面に向けてレーザー光線を放射するレーザー変位センサの側面断面図である。
【図１０】試験機のプラテン及び／又は負荷軸に対するテストパネルの向きを調節するために、試験装置の基部アセンブリに取り付けられた調節機構の側面図である。
【図１１】試験機の下方プラテンに対して基部アセンブリが軸方向に上向きに移動した結果、ねじ式ロッド部材が回転しているところを示す調節機構の側面図である。
【図１２】基部アセンブリと下方プラテンとの間のシムの設置を示す基部アセンブリの側面断面図である。
【図１３】レーザー測定装置からレーザー測定データを受信し、テストパネルの位置及び／又は向きを調節する一又は複数の電動調節機構に送信される一又は複数の命令を生成するデータ取得装置及びプロセッサを含む試験システムの一実施形態の前面図である。
【図１４】レーザー測定装置からプロセッサが受信したレーザー測定データに基づいて、テストパネルを自動的に調節するために、プロセッサから命令を受信するために、プロセッサに通信可能に結合されたモータ及びモータコントローラを含む電動調節機構の一例の側面図である。
【図１５】テストパネル及び／又は試験装置の表面形状をスキャンし、負荷軸に対するテストパネルの中立軸及び／又は中心線を決定するためにプロセッサが受信したスキャンデータを生成する複数のレーザースキャナーを含む試験システムの一実施形態の前面図である。
【図１６】スティフナーを有し、レーザースキャナーが、負荷軸に合わせて位置調整用にテストパネルの中立軸及び／又は中心線を決定するために、テストパネルの表面形状をスキャンすることができる湾曲したテストパネルの概略斜視図である。
【図１７】テストパネル及び／又は試験装置の表面形状をスキャンするために、試験機の垂直ポストに取り付けられた複数のレーザースキャナーを示す、図１５の線１７に沿って切り取った試験システムの一実施形態の上面概略図である。
【図１８】試験機に対するテストパネル及び／又は試験装置の位置及び／又は向きを調節する、複数の横調節機構及び複数の縦調節機構を示す、図１５の線１８に沿って切り取った試験システムの上面概略図である。
【図１９】負荷軸に合わせて正しく位置調整されていないテストパネルの中立軸を示す、図１８の線１９に沿って切り取ったテストパネル／試験装置の側面断面図である。
【図２０】テストパネルの中立軸が試験機の負荷軸に合わせて位置調整されるように、横調節機構を使用することにより、テストパネルの横方向の位置の調節した後の、テストパネル／試験装置の側面断面図である。
【図２１】負荷軸に対してある角度をなして配向されたテストパネルの中立軸を示す、図１８の線２１に沿って切り取ったテストパネル／試験装置の側面断面図である。
【図２２】負荷軸に合わせてテストパネルの中立軸が位置調整されるように縦調節機構を使用してテストパネルの向きを調節した後のテストパネル／試験装置の側面断面図である。
【図２３】試験機の中に組み込まれ、テストパネルを負荷軸及び／又はプラテンに合わせて位置調整するために、試験機の構成要素を調節するように構成された、調節機構を有する試験システムの代替実施形態の前面図である。
【図２４】試験機基部に取り付けられ、下方プラテンを動かすように構成された横調節機構の一例を示す、図２３の線２４に沿って切り取った試験機の断面図である。
【図２５】下方プラテンの位置を調節する横調節機構の配置を示す、図２４の線２５に沿って切り取った試験機の側面断面図である。
【図２６】調節機構を使用して試験機基部に対する下方プラテンの位置を調節した後の、試験機の側面断面図である。
【図２７】試験機に合わせてテストパネルを位置調整する方法に含まれうる、一又は複数の動作を有するフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
ここで図面を参照すると、本発明の好ましい実施形態及び様々な実施形態が例示的に示され、図１は、テストパネル１５０の圧縮試験用の試験システム１００の実施形態を示す。テストパネル１５０は、汎用試験機１０２に設置された試験装置２００内に取り付けられているところが示されている。しかしながら、本明細書に開示されたシステム及び方法を、試験装置２００の支援なしでテストパネル１５０の試験に使用することができる。図示した実施形態では、試験機１０２は、一又は複数の垂直ポスト１０８又は円柱がクロスヘッド１０６に対して上向きに延在しうる基部１０４を含むことができる。
【００１６】
試験機１０２は、基部１０４に取り付けられた下方プラテン１１６を含むことができる。試験装置２００は、下方プラテン１１６に取り付けることができる。試験機１０２はさらに、クロスヘッド１０６から下向きに延在するシャフト１１０に取り付けられた負荷ヘッド１１２を含むことができる。
【００１７】
負荷ヘッド１１２は、一定の負荷ヘッド移動速度で下向きに移動し、試験機１０２の負荷軸１２０に沿ってテストパネル１５０に圧縮試験の負荷１２２をかけるように構成されうる。試験機１０２は、負荷ヘッド１１２のヘッド移動速度等の試験機１０２の動作を制御する機器コントローラ（図示せず）を含みうる。
【００１８】
図１では、試験機１０２は、負荷ヘッド１１２に取り付けられた上方プラテン１１４を含みうる。上方プラテン１１４は、プラテン表面１１８と、少なくともテストパネル１５０の上端１５４と同様の広さの幅を有しうる。ある例では、上方プラテン１１４は、プラテン表面１１８の向きが負荷軸１２０に直交するように負荷ヘッド１１２に結合されうる。上方プラテン１１４を負荷ヘッド１１２に固定結合させることができる。ある実施形態では、上方プラテン１１４は、負荷軸１２０に対してプラテン表面１１８の向きを調節することにより、後にさらに詳しく説明するように、レーザー測定データに基づいてプラテン表面１１８をテストパネル１５０及び／又は試験装置２００に合わせて位置調整しやすくするため負荷ヘッドに対するプラテン表面１１８の向きを調節することができるように、負荷ヘッド１１２に調節可能に結合（例：回転可能に結合）させることができる。圧縮試験の負荷１２２をかけている間、プラテン表面１１８は、テストパネル１５０の上端１５４に、又はその上に取り付けることができる負荷伝送境界面２０２と軸受接触するように配置されうる。ある例では、テストパネル１５０は、図２に示し後に説明する試験装置２００内に支持されうる。試験装置２００は、圧縮試験の負荷１２２をかけている間に、テストパネル１５０を面外偏位から保護することができる。圧縮試験の負荷１２２は、テストパネル１５０が壊れるまで、テストパネル１５０が単一の軸方向に圧縮されるようにかけることができる。
【００１９】
本明細書に開示された試験システム１００は、テストパネル１５０に圧縮試験の負荷１２２をかける前に、試験機１０２のプラテン及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節する位置調整装置３００を含みうることが有益である。例えば、位置調整装置３００は上方プラテン１１４に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節するように構成されうる。調整装置３００は、試験装置２００及び／又は試験機１０２に結合されうる一又は複数のレーザー測定装置３０４を含むレーザー測定システム３０２を含むことができる。レーザー測定システム３０２及び／又は装置３０４は、試験機１０２の上方プラテン１１４及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の向き及び／又は位置を表すレーザー測定データを生成するように構成されうる。例えば、レーザー測定装置３０４は、試験機１０２の上方プラテン１１４に対するテストパネル１５０の上端１５４の向きを表すレーザー測定データを生成するように構成されうる。位置調整装置３００はさらに、テストパネル１５０が移動してプラテン及び／又は負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整されるように、プラテン及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節するように構成される一又は複数の調節機構４００を含みうる。
【００２０】
ある例では、調節機構４００は試験装置２００の基部アセンブリ２４０に取り付けることができ、テストパネル１５０の中心線１６４及び／又は中立軸１６６が試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整されるまで、テストパネル１５０／試験装置２００を傾けることができるように、基部アセンブリ２４０の一又は複数の側面の垂直方向の高さを調節する手段を提供することができる。調節機構４００は、レーザー測定システム３０２によって生成されるレーザー測定データに基づいて、テストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節する手段を提供しうる。例えば、調節機構４００は、テストパネル１５０の中心線１６４及び／又は中立軸１６６の位置及び／又は向きを、試験機１０２の負荷軸１２０の位置及び／又は向きに合わせて位置調整する手段を提供し、これにより一連のテストパネル１５０の圧縮試験の精度及び繰り返し性を改善することができる。一実施形態では、調節機構４００は、パネルの上端がプラテン表面１１８に対して実質的に平行になるようにテストパネル１５０を方向づけする手段を提供することができ、圧縮試験の負荷１２２がテストパネル１５０の端全体に実質的に均一に分配され、これにより、誤差のある、又は無効な試験結果につながりうるパネルの上端１５４の一方の側への負荷が回避される。
【００２１】
図２において、本明細書に開示された試験システム１００及び方法を使用してテストすることができるテストパネル１５０の一実施形態が示される。テストパネル１５０は、側面がほぼまっすぐなおおむね長方形で平坦なパネル部材であってよく、所定の又は標準の寸法で供給されうる。例えば、ある実施形態では、一連の同様に構成されたテストパネル１５０が供給されうる。各テストパネル１５０は、約２０インチの幅と約６０インチの長さをそれぞれ有しうる。テストパネル１５０は、テストパネル１５０の厚さ方向に延在する水平方向に配向され、中心に位置づけされた切抜部１６２を含むことができる。ある実施形態では、切抜部１６２は、約４インチの長さと、約０．２５インチの幅を有しうる。その他の実施形態では、テストパネル１５０の幅は約５インチであり、長さは約１５インチであり、約１インチの長さと約０．２５インチの幅を有する水平方向に配向された切抜部１６２を含みうる。しかしながら、テストパネル１５０及び／又は切抜部１６２はいかなるサイズで供給されてもよい。
【００２２】
繊維強化ポリマーマトリクス材料（例：黒鉛／エポキシ、繊維ガラス等）でできた複合プライの積層体として形成されたテストパネル１５０については、テストパネル１５０は約０．１０〜０．８０インチの厚さを有しうるが、０．１０〜０．８０インチの範囲外の厚さのテストパネル１５０が供給されることもある。これに関して、テストパネル１５０は限定されることなく、任意のサイズ（長さ、幅、又は厚さ）、形状、及び構成で供給可能である。例えば、テストパネル１５０は、後に説明するように、負荷軸１２０に対して弓状の又は湾曲した断面形状（図１５参照）で供給されうる。さらに、テストパネル１５０は、テストパネル１５０の対向側面の一方あるいは両方にスティフナー１６０（図１５）を含みうる。テストパネル１５０は金属材料でできていてもよく、又は複合材料及び金属材料の合成物でできていてもよい。テストパネル１５０は、一対の金属製及び／又は複合表面シートとの間に挟まれたハニカム又は発泡体のコアを有する複合サンドイッチ（図示せず）として形成することもできる。
【００２３】
試験プログラムの最中に、同様に構成された一連のテストパネル１５０の端部に、試験機１０２によってパネルの上端１５４にかけることができる圧縮試験の負荷１２２を加えることができる。圧縮試験の負荷１２２は、テストパネル１５０が壊れるまで、一定の負荷ヘッド移動速度で移動する負荷ヘッド１１２を使用してかけることができる。各テストパネル１５０に圧縮試験の負荷１２２をかけている間、圧縮力対負荷ヘッドの移動を継続的に記録することができる。テストパネル１５０の歪みは、テストパネル１５０に予め取り付けておける歪みゲージ（図示せず）のシステムによって、及び／又は光学歪み計測システム（図示せず）を使用することによって測定することができる。圧縮力と負荷ヘッドの移動の継続的な記録に応じて、テストパネル１５０の異なる位置の歪みが継続的に記録されうる。各テストパネル１５０の圧縮強度は、テストパネル１５０の破壊点での圧縮試験の負荷１２２の大きさに基づき、またテストパネル１５０の断面積に基づいて計算されうる。
【００２４】
図３を参照すると、おおむね平坦で平面のテストパネル１５０を支持する試験装置２００の一実施形態が示されている。上述したように、試験装置２００は、圧縮試験の負荷１２２をかけている最中に、面外の曲げ、たわみ、及び／又は座屈からパネルを保護するように構成されうる。試験装置２００は、試験機１０２の下方プラテン１１６に取り付けることができる実質的に剛性で柔軟性のない基部アセンブリ２４０を含むことができる。基部アセンブリ２４０は、一連のウェブ２４６で相互に連結された上方基部プレート２４２と下方基部プレート２４４から成るものであってよい。試験装置２００はさらに、基部アセンブリ２４０に付着させることができる支持アセンブリ２１６を含むことができる。支持アセンブリ２１６は、支持格子２１８間に形成された隙間２３８内部につながれたテストパネル１５０と互いに結合されうる支持格子２１８の対を含むことができる。例えば、支持格子２１８は、試験装置２００の片側に一連のヒンジ２３０によってヒンジ結合させることができ、試験装置２００の反対側に一連のラッチ２３２を使用して互いにラッチ結合させることができる。
【００２５】
各支持格子２１８は、フレーム２２４の対の間に位置決めされた複数の垂直部材２２２と複数の水平部材２２０を含むことができる。水平部材２２０及び垂直部材２２２は、テストパネル１５０を光学歪み計測システム（図示せず）によって見る又は結像することができる複数の窓２２６を作るために交差させることができる。試験装置２００はさらに、各支持格子２１８内部に取り付けられた破砕可能なハニカムサンドイッチコア等の複数の破砕可能なコア要素（図示せず）を含むことができる。コア要素は、テストパネル１５０の破壊中に、テストパネル１５０によって生じる破壊荷重のために支持格子２１８又は基部アセンブリ２４０が損傷を受けることを防止するためにテストパネル１５０と支持格子２１８との間に位置決めされうる。基部アセンブリ２４０は、パネルの下端１５６を支持することができる取り外し可能な及び／又は交換可能な端部負荷要素２３６を含むことができる。端部負荷要素２３６は、圧縮試験中に基部アセンブリ２４０を摩耗から保護することができる。基部アセンブリ２４０は、基部アセンブリ２４０に取り付けられ、圧縮試験中にパネルの下端１５６を保持するように構成されたグリップ装置２３４を含むことができる。
【００２６】
図４は、試験装置内に取り付けられたテストパネル１５０を有する試験装置２００を示す側面図である。試験装置２００は、支持格子２１８の一つを基部アセンブリ２４０に結合させ、支持格子２１８を維持することにより、テストパネル１５０を基部アセンブリ２４０に対して実質的に直交する向きに維持する一又は複数の側面支持部２２８又は支柱を含むことができる。パネルの上端１５４は、試験装置２００の上部から突出させることができる。負荷伝送境界面２０２をパネルの上端１５４に取り付けて、上方プラテン１１４とのインターフェースを提供することができる。一又は複数のレーザー測定装置３０４を、負荷伝送境界面２０２の対向端部２０８、２１０に取り付けることができる。各レーザー測定装置３０４は、負荷伝送境界面２０２の端部と上方プラテン１１４の表面との間の距離を測定するように構成されうる。試験装置２００は、基部アセンブリ２４０に配置された一又は複数の調節機構４００を含むことができる。上述したように、各調節機構４００は、テストパネル１５０を傾けて、負荷伝送境界面２０２の端部２０８、２１０の片方又は両方を上げる又は下げることによって、テストパネル１５０／試験装置２００の向きを調節するように構成することができる。
【００２７】
図５は、負荷伝送境界面２０２の第１の端部２０８及び第２の端部２１０のそれぞれに位置決めされた第１のレーザー測定装置３０４と第２のレーザー測定装置３０４を示す図である。一実施形態では、一又は複数のレーザー測定装置３０４はレーザー変位センサ３０６として構成されうる。第１及び第２のレーザー測定装置３０４は、プラテン表面１１８と、第１の端部２０８及び第２の端部２１０それぞれとの第１の距離２１２及び第２の距離２１４をそれぞれ示す値を決定するように構成されうる。負荷伝送境界面２０２の上方軸受面２０４がパネルの上端１５４と平行すると仮定し、負荷伝送境界面２０２の第１の端部２０８及び第２の端部２１０それぞれのレーザー測定装置３０４が負荷伝送境界面２０２の上方軸受面２０４の下に同じ距離で位置づけされていると仮定すると、第１の距離２１２と第２の距離２１４との差は、負荷伝送境界面２０２の上方軸受面２０４に対してプラテン表面１１８が平行していない状態を示しうる。
【００２８】
図５は、基部アセンブリ２４０の反対側に配置された調節機構４００の対も示す。各調節機構４００は、試験装置２００の対応する側を垂直方向４１８に沿って上げ又は下げて、試験装置２００を傾けるように構成することができる。試験装置２００を傾けることによって、調節機構４００は、負荷伝送境界面２０２がプラテン表面１１８に合わせて位置調整されるように第１の距離２１２及び第２の距離２１４を（例えば約０．００２インチ以下に）実質的に均等化する手段を提供する。このように、上方プラテン１１４によって負荷伝送境界面２０２に圧縮試験の負荷１２２がかかる時に、負荷伝送境界面２０２の一方の端部とのみ接触する代わりに、一度に負荷伝送境界面２０２の長さと接触するように、軸受面２０４はプラテン表面１１８に対して実質的に平行している。上方プラテン１１４が一度に負荷伝送境界面２０２の全長と接触するため、圧縮試験の負荷１２２は、テストパネル１５０の一方の側１５２に偏心する代わりに、パネルの上端１５４の長さ全体に均一に分配される。
【００２９】
図６〜７は、試験装置２００から突出したパネルの上端１５４と相互接続された負荷伝送境界面２０２を示す図である。レーザー測定装置３０４は、負荷伝送境界面２０２の第１の端部２０８及び第２の端部２１０のそれぞれに取りつけることができる。例えば、負荷伝送境界面２０２の端部２０８及び２１０のそれぞれに垂直板を固定することができる。レーザー測定装置３０４を、垂直パネルのそれぞれに取り付けることができる。しかしながら、上方プラテン１１４とパネルの上端１５４との間の距離を測定するためにレーザー測定装置３０４を試験装置２００の任意の場所に取り付けることができ、負荷伝送境界面２０２の対向端部２０８、２１０に取り付けることに限定されない。レーザー測定装置３０４を、上方プラテン１１４のプラテン表面１１８に向けて伝送光線３１０を放射するレーザー変位センサ３０６として構成することができる。伝送光線３１０はレーザー変位センサ３０６から、上方プラテン１１４のプラテン表面１１８に対してわずかに角度（すなわち非正規角）をつけて放射させることができる。レーザー変位センサ３０６は、プラテン表面１１８から反射光線３１２を感知するように構成することができる。レーザー変位センサ３０６は、後に説明するようにレーザー測定データを処理するために、ケーブル３０８を介してデータ取得システム（図１３）及び／又はプロセッサ３２０（図１３）に結合させることができる。
【００３０】
図８は、パネルの上端１５４に取り付けられた負荷伝送境界面２０２の断面図である。負荷伝送境界面２０２は、圧縮試験の負荷１２２をパネルの上端１５４にかけるために上方プラテン１１４を受け入れるように構成された軸受面２０４を含む。負荷伝送境界面２０２を、クランプ部材２０６によってパネルの上端１５４に締め付けることができる。クランプ部材２０６は、パネルの上端１５４に沿って長さ方向に延在し、ビーム部の間に挟まれたテストパネル１５０に機械的なファスナーによって互いに締め付けることができるビーム部の対を備えることができる。クランプ部材２０６は、テストパネル１５０の厚さに平行する負荷伝送境界面２０２の下面を維持するように構成することができる。同様に、クランプ部材２０６は、圧縮試験の負荷１２２がパネルの上端１５４の厚さ全体に均一にかかるように、上方プラテン１１４のプラテン表面１１８に平行に負荷伝送境界面２０２の軸受面２０４を維持するように構成することができる。
【００３１】
図９は、レーザー変位センサ３０６と上方プラテン１１４のプラテン表面１１８との間の距離を測るために、上方プラテン１１４のプラテン表面１１８に向けてレーザー光線を放射するレーザー変位センサ３０６の断面図である。レーザー変位センサ３０６は、上方プラテン１１４からの反射光線３１２を検出するように構成された電荷結合素子等のセンサ表面を含むことができる。センサ表面は、反射光線３１２がセンサ表面にぶつかる場所に基づいて、レーザー変位センサ３０６からプラテン表面１１８までの距離を決定することができる。本発明では、レーザー測定システム３０２にレーザー変位センサ３０６が含まれるものとして説明したが、レーザー測定システム３０２は、限定することなく、上方プラテン１１４と、上方プラテン１１４の反対側のパネルの上端１５４との間の距離を決定することができる任意の種類の非接触光学センサを含むことができる。レーザー測定システム３０２は、上方プラテン１１４と負荷伝送境界面２０２との間の距離の読取値をデジタル的に示すように構成することができ、例えば０．００２インチ以下等、精度が比較的高いことが好ましい。
【００３２】
図１０は、試験装置２００の基部アセンブリ２４０に取り付けられた調節機構４００の一実施形態の側面図である。調節機構４００は、試験機１０２のプラテン及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の向きを調節するように構成することができる。一実施形態では、調節機構４００は、負荷伝送境界面２０２の側面を上げる又は下げる手段として、テストパネル１５０を支持する試験装置２００の片側を上げる又は下げるように構成される縦調節機構４０２として構成することができる。このように、負荷伝送境界面２０２の軸受面２０４は、上方プラテン１１４のプラテン表面１１８に対して実質的に平行するように移動される。一実施形態では、調節機構４００は、基部アセンブリ２４０にねじ結合されたねじ式ロッド部材４０６として供給されうる。例えば、ねじ式ロッド部材４０６は、基部アセンブリ２４０の下方基部プレート２４４に締め付けられた板又はブラケット４１０を通って延在する六角頭ボルト又は六角穴付きボルトとして構成することができる。ねじ式ロッド部材４０６は、下方プラテン１１６と軸受接触状態に配置されるように構成される軸受先端部４０８を含むことができる。図１１は、取り付けブラケット４１０を介して、試験装置２００の基部アセンブリ２４０に取り付けられた調節機構４００の側面図である。ねじ式ロッド部材４０６がブラケット４１０に対して回転すると、ねじ式ロッド部材４０６が軸方向に移動し、基部アセンブリ２４０が試験機１０２の下方プラテン１１６に対して垂直方向に変位する。このように、調節機構４００は、パネルの上端１５４／負荷伝送境界面２０２が、上方プラテン１１４のプラテン表面１１８に対して平行に位置決めされるように、テストパネル１５０／試験装置２００を傾けることができる。テストパネル１５０を再方向付けすることにより、負荷伝送境界面２０２と上方プラテン１１４との間の隙間を減らす又は取り除くことができ、これにより、圧縮試験の負荷１２２をパネルの上端１５４全体に均一に分配することが可能になり、パネルの上端１５４の一方の端部に応力が集中するのを避けることができる。
【００３３】
図１２は、基部アセンブリ２４０と下方プラテン１１６との間へのシム２４８の設置を示す、基部アセンブリ２４０の側面図である。パネルの上端１５４及び／又は負荷伝送境界面２０２を上方プラテン１１４のプラテン表面１１８に合わせて（例：平行して）方向付けするために調節機構４００を調節した後で、下方プラテン１１６の基部アセンブリ２４０との間の隙間２３８を、製造されうる一連のシム２４８において測定することができる。テストパネル１５０への圧縮試験の負荷１２２を加えている間、テストパネル１５０／試験装置２００の向きを維持するために追加物を設置することができる。一実施形態では、レーザー変位センサ３０６は、負荷伝送境界面２０２の対向端部２０８及び２１０の間の距離のデジタル読取値を生成することができるため、有益である。レーザー変位センサ３０６のデジタル読取値に表示された値（例：距離）の差を利用して、基部アセンブリ２４０と、試験装置２００の少なくとも片側の下方プラテンとの間に設置すべきシム２４８の適切な厚さを決定することができる。
【００３４】
図１３は、試験機１００に対してテストパネル１５０を自律的に、又は半自律的に調節することを可能にする試験システム１００の一実施形態を示す前面概略図である。図示した実施形態では、試験システム１００は、一又は複数のレーザー測定装置３０４に通信可能に結合されたデータ取得装置３１８及び／又はプロセッサ３２０を含むことができる。データ取得装置３１８及び／又はプロセッサ３２０は、一又は複数のレーザー測定装置３０４からレーザー測定データを受信することができる。レーザー測定装置３０４は、各端部２０８、２１０（図５）における負荷伝送境界面２０２と上方プラテン１１４との間の距離２１２、２１４（図５）を測定し、距離２１２と２１４の差を決定するように構成することができる。上述したように、距離２１２と距離２１４との差は、負荷伝送境界面２０２の軸受面２０４が上方プラテン１１４のプラテン表面１１８に合わせて正しく位置調整されていないことを潜在的に表しうる。データ取得装置３１８は、プロセッサ３２０にレーザー測定データを送信することができる。
【００３５】
図１３では、試験システム１００は、試験機１０２のプラテン１１４、１１６及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節する一又は複数の電動調節機構４００を含むことができる。例えば、各調節機構４００は、軸受先端部４０８を有するロッド部材４０６に動作可能に結合させることができるモータ４１２を含むことができる。モータ４１２は、プロセッサ３２０に通信可能に結合させることができ、レーザー測定データに基づいてプロセッサ３２０から命令を受け取ることができるモータコントローラ４１４を含むことができる。調節機構４００は、軸受先端部４０８が試験機１０２又は試験装置２００の構成要素と接触するように取り付けることができる。各モータ４１２は、後にさらに詳しく説明するように、調節すべき（例えば試験装置２００、又は試験機１０２のシャフト１１０、プラテン１１４、１１６等の）構成要素の横方向の位置、縦方向の位置、及び／又は角度方向を変更する手段として、軸受先端部４０８の軸方向の位置を調節するように動作しうる。ある例では、ロッド部材４０６は、図１４に関して後にさらに詳しく説明するように、ロッド部材４０６の軸受先端部４０８を軸方向に変位させるために、モータ４１２によって回転可能に駆動されうるねじ式ロッド部材４０６であってよい。
【００３６】
ある例では、調節機構４００を、プロセッサ３２０によって発行されたコマンドに基づき、プラテン及び／又は負荷軸１２０に対する試験装置２００の位置及び／又は向きを調節するように構成することができる。他の例では、調節機構４００は、試験機１０２に対するプラテン１１４、１１６及び／又は負荷軸１２０の位置及び／又は向きを調節するために、プロセッサ３２０からコマンドを受けとることができる。例えば、一又は複数の調節機構４００を、レーザー測定データに基づいてプロセッサ３２０から受信したコマンドに応じて、試験装置２００の傾斜角を自律的に調節するために、試験装置２００の基部アセンブリ２４０に取り付けることができる。
【００３７】
図１３では、一又は複数の調節機構４００は、試験機１０２の下部においてシャフト１１０に動作可能に嵌合させることができる。ある実施例では、一又は複数の調節機構４００は、試験機基部１０４の中に延在するシャフト１１０の一又は複数の側面に位置づけすることができる。試験機基部１０４の調節機構４００を、プロセッサ３２０によって生成されるコマンドに応じてシャフト１１０の横方向の位置を調節するように構成することができる。上述したように、試験機１０２の下部のシャフト１１０は下方プラテン１１６を支持することができ、下方プラテン１１６は試験装置２００を支持することができる。ある実施形態では、試験機基部１０４の調節機構４００を、シャフト１１０の角度方向を調節するように構成することができる。シャフト１１０の角度方向を調節するために調節機構４００を使用することにより、下方プラテン１１６の角度方向を調節して、パネルの上端１５４（図９）を移動させて、上方プラテン１１４のプラテン表面１１８（図９）と実質的に平行に位置調整されるように試験装置２００を傾けることができる。試験機基部１０４の調節機構４００を、テストパネル１５０の中立軸１６６及び／又は垂直中心線１６４が移動して、試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整されるように、シャフト１１０の横方向の位置及び／又は角度方向を調節するようにも構成することができる。
【００３８】
ある例では、一又は複数の調節機構４００を、試験機１０２の上部に位置づけすることができる。例えば、図１３は、試験機１０２のクロスヘッド１０６の中に上向きに延在するシャフト１１０に動作可能に嵌合された調節機構４００の対を示す。図示した実施形態では、調節機構４００は、クロスヘッド１０６の中に延在するシャフト１１０の側面に位置づけすることができる。クロスヘッド１０６の調節機構４００は、圧縮試験の負荷１２２がテストパネル１５０の中立軸１６６及び／又は垂直中心線１６４に合わせて実質的に位置調整されるように、シャフト１１０の横方向の位置を調節するように構成することができる。他の例では、クロスヘッド１０６の調節機構４００は、負荷軸１２０がテストパネル１５０の中立軸１６６及び／又は垂直中心線１６４に合わせて位置調整されるように、シャフト１１０の角度方向を調節するように構成することができる。調節機構４００は、シャフト１１０と、シャフト１１０に取り付けられる上方プラテン１１４の角度方向を調節するように構成することもできる。上方プラテン１１４の角度方向を調節するのに調節機構４００を使用することによって、上方プラテン１１４のプラテン表面１１８（図９）を移動して、テストパネル１５０の上端１５４と実質的に平行に位置調整することができる。
【００３９】
図１４は、電動調節機構４００の一例の側面概略図である。図示した実施形態では、調節機構４００のねじ式ロッド部材４０６を、プロセッサ３２０に通信可能に結合されたモータコントローラ４１４によって制御可能なモータ４１２に動作可能に結合させることができる。プロセッサ３２０は一又は複数の電動調節機構４００に、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００の位置及び／又は向きが試験機１０２に合わせて実質的に位置調整されるように調節するよう命令することができる。例えば、プロセッサ３２０は、モータ４１２を動作させてねじ式ロッド部材４０６を回転させることにより、負荷伝送境界面２０２が移動して上方プラテン１１４と実質的に平行に位置調整されるように、基部アセンブリ２４０の片側が下方プラテン１１６に対して縦方向に変位するようにモータコントローラ４１４に命令することができる。調節機構４００の構成は、基部アセンブリ２４０にねじ嵌合された回転可能なねじ式ロッド部材４０６に限定されないことに留意すべきである。例えば、調節機構４００は、回転可能なロッド部材の代わりに軸方向に可動のロッド部材を含むことができる。これに関しては、調節機構４００は、非限定的に、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００の位置及び／又は向きを調節することができる任意の構成で供給されうる。例えば、調節機構４００は、油圧アクチュエータ、電気機械アクチュエータ、又は試験機１０２に対する試験装置２００及び／又はテストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節するように構成されたその他任意の種類の機構、素子、又はシステムとして構成することができる。
【００４０】
本明細書に開示された実施形態はすべて、テストパネル１５０が位置調整され、圧縮試験の負荷１２２がテストパネル１５０に最初に加えられた後で、一又は複数のレーザー測定装置３０４はテストパネル１５０及び／又は試験装置２００を継続的にスキャンすることができる、及び／又は試験機１０２と、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００との間の距離を継続的に測って、レーザー測定データをデータ取得装置３１８に送ることができることにも留意すべきである。データ取得装置３１８は、上述したように、負荷ヘッド移動速度と及び／又はその他の試験パラメータによって、数秒ごと等の所定の頻度でレーザー測定データをサンプリングするように構成することができる。このように、データ取得装置３１８は、テストパネル１５０に圧縮負荷をかけるプロセスにおいて、試験機１０２に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きの変化を測定及び／又は記録する手段を提供することができる。データ取得装置３１８は、圧縮負荷プロセスの間ずっとテストパネル１５０が壊れるまでレーザー測定データを定期的に又は継続的にサンプリングするように構成することができる。レーザー測定データを圧縮力対負荷ヘッド変位の記録と、圧縮試験の負荷１２２を加えている間のテストパネル１５０の歪みの記録に関連付けることができる。
【００４１】
図１５は、複数のレーザースキャナー３１４を有し、一又は複数の調節機構４００を含む試験システム１００の一実施形態の概略図である。テストパネル１５０及び／又は試験装置２００を、図１に示し上述した試験機１０２と類似した汎用試験機１０２内に取り付けることができる。テストパネル１５０は、パネルの上端１５４とパネルの下端１５６を含むことができる。下方端部負荷要素２３６は、テストパネル１５０のパネルの下端１５６と、試験機１０２の下方プラテン１１６との間に位置決めすることができる。上方端部負荷要素２３６は、圧縮試験の負荷１２２を加えている間、テストパネル１５０の上端１５４と、試験機１０２の上方プラテン１１４との間に位置決めすることができる。一実施形態では、一又は複数のレーザースキャナー３１４を、試験機１０２の垂直ポスト１０８のうちの少なくとも一つに等、試験機１０２に取り付けることができる。レーザースキャナー３１４を、複数のレーザースキャナー３１４からスキャンデータを受信するように構成しうるデータ取得装置３１８に通信可能に結合させることができる。レーザースキャナー３１４は、スキャン角３１６でスキャンし、テストパネル１５０をチェックしこの試験機１０２に合わせて位置調整するプロセスの最中に、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００の表面形状をスキャンするように構成することができる。加えて、レーザースキャナー３１４は、圧縮試験の負荷１２２をテストパネル１５０に加えている間に、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００を継続的にスキャンし、テストパネル１５０の位置及び／又は向きのすべての変化を記録するように構成することができる。圧縮試験の負荷１２２を加えている間、データ取得装置３１８は、レーザースキャンデータを所定のデータサンプリング速度でサンプリングすると同時に、テストパネルからの歪みデータ、圧縮試験の負荷データ、及び負荷ヘッド移動データをサンプリングするように構成することができる。
【００４２】
図１５には試験装置２００は図示されていないが、テストパネル１５０を実質的に垂直の向きに支持するように構成することができる、及び／又は圧縮試験の負荷１２２を加えている間、テストパネル１５０を面外の曲げ、たわみ及び／又は座屈からテストパネル１５０を守るように構成することができる試験装置２００内にテストパネル１５０を取り付けることができる。試験装置２００は、テストパネル１５０は試験装置２００内に取り付けられた時に全く見えない、部分的に見える、又は完全に見えるように構成することができる。試験装置２００内のテストパネル１５０が部分的に見える、又は完全に見えることにより、光学歪み計測システム（図示せず）が、圧縮試験の負荷１２２を加えている間にテストパネル１５０の歪みを測定し記録することが可能になる。レーザースキャナー３１４は、試験装置２００及び／又はテストパネル１５０の表面及び端等の表面形状をスキャンするように構成することができる。レーザースキャナー３１４は、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００の表面形状を表すスキャンデータを生成し、表面形状を表すスキャンデータ（例：ポイントクラウド）を生成するように構成することができる。
【００４３】
一実施形態では、プロセッサ３２０は、レーザースキャナー３１４からスキャンデータを受信し、試験機１０２に対するテストパネル１５０及び試験装置２００の位置及び／又は向きを決定するように構成することができる。例えば、テストパネル１５０及び試験装置２００の既知の関係に基づき、プロセッサ３２０を、試験機１０２のプラテン及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の上端１５４、中心線１６４、及び／又は中立軸１６６の位置及び／又は向きを決定するように構成することができる。一実施形態では、プロセッサ３２０は、試験機１０２の上方プラテン１１４及び／又は負荷軸１２０に対してテストパネル１５０及び／又は試験装置２００が正しく位置調整されていないことを表すデジタルデータ又は値（例：距離の値、角度の値）を生成するように構成することができる。プロセッサ３２０によって生成されたデータ（例：値）に基づいて、調節機構４００を、ねじ式ロッド部材４０６を回転させて、テストパネル１５０が上方プラテン１１４及び／又は負荷軸１２０に合わせて位置調整されるまで、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００の片側又は両側１５２を上げる及び／又は下げること等によって手動で調節することができる。
【００４４】
図１５を参照すると、ある実施例では、一又は複数の調節機構４００を電動式にすることができ、プロセッサ３２０に通信可能に結合させることができる。例えば、非限定的な実施形態では、調節機構４００は、プロセッサ３２０に通信可能に結合させることができるモータコントローラ４１４を有するモータ４１２を含むことができる。
【００４５】
モータ４１２は、上述したように、基部アセンブリ２４０に取り付けられたねじ式ロッド部材４０６に動作可能に結合させることができる。プロセッサ３２０は、レーザースキャナー３１４によって生成されたレーザー測定データに基づいて、試験機１０２に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを自動的に調節するために、一又は複数の調節機構４００のモータ４１２又はモータコントローラ４１４に送ることができるコマンドを生成するように構成することができる。例えば、上述したように、一又は複数のレーザースキャナー３１４は、試験機１０２の負荷軸１２０の位置及び／又は向きに対するテストパネル１５０の中心線１６４及び／又は中立軸１６６の位置及び／又は向きを表すレーザー測定データを生成することができる。
【００４６】
プロセッサ３２０は、レーザー測定データに基づいて、テストパネル１５０の中心線１６４及び／又は中立軸１６６が移動して、試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整されるように、一又は複数の調節機構４００のモータ４１２を動作させるコマンドを生成することができる。ある例では、プロセッサ３２０は自動的にコマンドを生成し、一又は複数の調節機構４００のモータ４１２に自動的に送ることができる。他の例では、プロセッサ３２０は、技術者の手動指示の後に、一又は複数の調節機構４００へのコマンドを生成することができる。例えば、プロセッサ３２０は、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００が負荷軸１２０に対して位置的にどの程度ずれているかを示す視覚データ又はデジタルデータを表示することができる。その後技術者は、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００を負荷軸１２０に合わせて再方向付けするためにコマンドを生成し、調節機構４００に送るようにプロセッサ３２０に手動で指示することができる。本明細書で説明した全ての例において、上方プラテン１１４が負荷伝送境界面２０２又はテストパネル１５０の上端１５４に対して正しく位置調整されていない、又は平行していないと決定された時に、自動的にコマンドを生成し調節機構４００へ送るようにプロセッサ３２０を構成することもできる。
【００４７】
図１６は、位置調整装置３００と本明細書に開示された方法を使用して、試験機１０２に位置調整することが可能なテストパネル１５０の一例の概略図である。テストパネル１５０は、湾曲した断面形状に形成される外板１５８を含むことができる。一又は複数のスティフナー１６０は、外板１５８の側面のうちの少なくとも一つに結合させることができる。外板１５８は、プライ積層順序で配置された複数の複合プライ（例：グラファイト／エポキシ、繊維ガラス等）の積層体であってよい。スティフナー１６０は、外板１５８の長さに沿って軸方向に延在することができ、複合材料でできていてもよく、テストパネル１５０の一方又は両方の側面に同時硬化、又は同時接着させることができる。しかしながら、上述したように、外板１５８は金属材料でできていてよい、あるいは金属及び複合材料の組み合わせとして形成することができる。外板１５８は、円周フレームセグメント（図示せず）等の追加の硬化又は強化構造を含むことができる。テストパネル１５０のサイズ、形状、又は構成に係らず、テストパネル１５０を試験機１０２に取り付けることができ、レーザースキャナー３１４は、テストパネル１５０の表面形状をスキャンして、試験機１０２に対する外板１５８の位置及び／又は向き（例：中心線１６４及び／又は中立軸１６６）を決定することができる。プロセッサ３２０は、スキャンデータに基づき、テストパネル１５０の中心線１６４及び／又は中立軸１６６の位置及び／又は向きを決定することができる。
【００４８】
図１７は、試験機１０２の垂直ポスト１０８に取り付けられたレーザースキャナー３１４の配置を示す試験システム１００の一実施形態の上面概略図である。４つのレーザースキャナー３１４が図示されているが、任意の数のレーザースキャナー３１４を含むことができ、試験機１０２の任意の位置に取り付けることができる。レーザースキャナー３１４は、圧縮試験が行われうる場所（例：試験ラボ）の床、壁、又はその他の支持構造等の試験機１０２以外の場所に任意に取り付けることができる。レーザースキャナー３１４は、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００の表面形状をスキャンすることができる。レーザースキャナー３１４に結合させることができるデータ取得装置３１８（図１４）及び／又はプロセッサ３２０においてスキャンデータを受信することができる。一実施形態では、プロセッサ３２０は、スキャンデータを活用して、試験機１０２に対するテストパネル１５０の向きを決定するように構成することができる。例えば、プロセッサ３２０はスキャンデータを使用して、テストパネル１５０のポイントクラウドを生成し、テストパネル１５０の側端１５２又はパネルの上端１５４等のテストパネル１５０の特徴に対するテストパネル１５０の垂直中心線１６４及び／又は中立軸１６６の位置及び向きを決定することができる。スティフナー１６０を有するテストパネル１５０については、中立軸１６６は、外板１５８の中央面からずれていてよい。プロセッサ３２０は、スティフナー１６０を有するテストパネル１５０の中立軸１６６の位置を決定するように構成することができるため、有益である。
【００４９】
図１８は、テストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節するための複数の調節機構４００を有する試験システム１００の一実施形態の上面概略図である。図示した例では、調節機構４００は、複数の縦調節機構４０２と、複数の横調節機構４０４とを含むことができる。各調節機構４００は、ねじ式ロッド部材を含むことができる。横調節機構４０４の各ロッド部材４０６は、テストパネル１５０、及び／又はテストパネル１５０を支持することができる端部負荷要素２３６と軸受接触状態に置くことができる軸受先端部４０８を有していてよい。各縦調節機構４０２のロッド部材４０６の軸受先端部４０８を、試験機基部１０４と軸受接触状態に置くことができる。図１８は４つの縦調節機構４０２と６つの横調節機構４０４を示しているが、位置調整装置３００は、任意の数の縦調節機構４０２と任意の数の横調節機構４０４を含むことができ、これには縦又は横調節機構４０２、４０４のうちの一つのみが含まれる。
【００５０】
ある例では、横調節機構４０４は、負荷軸１２０に対してテストパネル１５０を横方向に動かす、又は再位置づけするように協調的に駆動させることができる。例えば、横調節機構４０４は各々、プロセッサ３２０からコマンドを受信することができるモータ４１２又はモータコントローラ４１４を含むことができる。コマンドは、テストパネル１５０が試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて正しく位置調整されていないことがプロセッサ３２０によって判断されたことに応じて生成することができる。コマンドをモータ４１２又はモータコントローラ４１４へ送信して、テストパネル１５０の中心線１６４及び／又は中立軸１６６が移動して、試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整されるように、下方プラテン１１６に対して端部負荷要素２３６を移動させることにより、横方向４１６に沿ってテストパネル１５０を横方向に変位させることができる。同様に、一又は複数の縦調節機構４０２はプロセッサ３２０から一又は複数のコマンドを受信し、テストパネル１５０の中心線１６４及び／又は中立軸１６６が移動して、試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整されるように、テストパネル１５０の向きを変更する手段として、試験機基部１０４に対して下方プラテン１１６の一又は複数の側面の高さを縦方向に調節することができる。
【００５１】
図１９は、試験機１０２の負荷軸１２０からずれている、又は負荷軸１２０に合わせて正しく位置調整されていないテストパネル１５０の中立軸１６６を示すテストパネル１５０／試験装置２００の側面図である。下方プラテン１１６に結合された横調節機構４０４の対も図示されている。各調節機構４００は、ブラケット４１０によって下方プラテン１１６にねじ嵌合させることができるねじ式ロッド部材４０６を含む。上述したように、各ねじ式ロッド部材４０６は、テストパネル１５０を支持する下方端部負荷要素２３６と接触する軸受先端部４０８を有することができる。各横調節機構４０４は、プロセッサ３２０（図１５）に通信可能に結合させることができるモータ４１２によって操作することができる。上述したように、レーザースキャナー３１４（図１５）は、テストパネル１５０の表面及び端をスキャンすることができ、スキャンデータをデータ取得装置３１８に送ることができ、そしてデータ取得装置３１８はスキャンデータをプロセッサ３２０に送信することができる。プロセッサ３２０は、スキャンデータに基づき、負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の中立軸１６６の位置を決定することができる。
【００５２】
図２０は、試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて位置調整するために移動させたテストパネル１５０の中立軸１６６を示す、テストパネル１５０の側面図である。下方プラテン１１６に結合された横調節機構４０４の対も図示されている。横調節機構４０４のモータ４１２をプロセッサ３２０によるコマンドで駆動させて、協調的にテストパネル１５０を移動させることができる。例えば、各横調節機構４０４のモータ４１２は、水平方向に配向したねじ式ロッド部材４０６を回転させてテストパネル１５０を支持している下方端部負荷要素２３６を横方向に変位させるように構成することができる。中立軸１６６が移動して、試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて位置調整された後、圧縮試験の負荷１２２を加えている間、対向するねじ式ロッド部材４０６の軸受先端部４０８は端部負荷要素と接触したまま、テストパネル１５０の横方向の位置を安定化することができる。
【００５３】
図２１は、負荷軸１２０に対して誇張角度で配向しているテストパネル１５０の中立軸１６６を示す、テストパネル１５０／試験装置２００の側面図である。また、下方プラテン１１６に結合された縦調節機構４０２の対も示す。一又は複数の縦調節機構４０２のモータ４１２は、プロセッサ３２０からのコマンドで駆動させて、テストパネル１５０を協調的に傾けることができる。縦調節機構４０２のモータ４１２は縦方向に配向したねじ式ロッド部材４０６を回転させて、テストパネル１５０の中立軸１６６が移動して、試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて位置調整されるまで、端部負荷要素２３６の片側を縦方向に変位させることができる。
【００５４】
図２２は、縦調節機構４０２を使用してテストパネル１５０の向きを調節し、負荷軸１２０に合わせてテストパネル１５０の中立軸１６６を位置調整した後の、テストパネル１５０／試験装置２００の側面図である。中立軸１６６を負荷軸１２０に合わせて位置調整した後で、シム２４８を任意で、下方プラテン１１６と、試験機基部１０４との間の隙間２３８に設置して、圧縮試験の負荷１２２を加えている間に下方プラテン１１６が動かないように安定させることができる。ある例では、圧縮試験の負荷１２２を加えている間、レーザースキャナー３１４で連続的にテストパネル１５０の表面形状をスキャンすることができ、試験機１０２に対するテストパネル１５０の向き及び／又は位置の測定値を記録することができる。
【００５５】
図２３は、負荷軸１２０及び／又は試験機１０２の上方プラテン１１４に合わせてテストパネル１５０を位置調整する手段として、試験機１０２の一又は複数の構成要素を調節するように構成された調節機構４００を有する試験システム１００の代替実施形態を示す。図示した実施形態では、試験機１０２は、上方プラテン１１４が取り付けられたシャフト１１０の横方向の位置及び／又は角度方向を調節するように構成された一又は複数の調節機構４００を含むことができる。例えば、一又は複数の調節機構４００は、クロスヘッド１０６の中へ上向きに延在するシャフト１１０に動作可能に嵌合させることができる。調節機構４００は、図１４に示し上述した調節機構４００と同様に構成することができる。しかしながら、本明細書に開示されたすべての実施形態において、調節機構４００は、試験機１０２又は試験装置２００のすべての構成要素の横方向の位置、縦方向の位置、及び／又は角度方向を調節することができる任意の構成で供給することができ、図１４に示す調節機構の配置に限定されない。
【００５６】
図２３では、調節機構４００は、圧縮試験の負荷１２２がテストパネル１５０の中立軸１６６及び／又は垂直中心線１６４に合わせて実質的に位置調整されるように、シャフト１１０の位置及び／又は角度方向を調節するように構成することができる。試験機１０２は、試験機基部１０４に結合され、上述したようにレーザースキャナー３１４によって提供されたレーザー測定データに応じて、プロセッサ３２０が生成したコマンドに基づき、下方プラテン１１６を位置ぎめする、及び／又は傾ける、又は角度方向を調節するように構成された一又は複数の調節機構４００を含むこともできる。
【００５７】
図２４は、試験機基部１０４に結合され、試験機基部１０４に対する下方プラテン１１６の横方向の位置を調節するように構成された複数の調節機構４００の配置の一例を示す。一実施形態では、各調節機構４００を試験機基部１０４に固定結合させることができ、試験機基部１０４に取り付けられた取り付けブラケット４１０に形成されたねじ式穴を通って延在するねじ式ロッド部材４０６を含むことができる。プロセッサ３２０は、試験機基部１０４に対して下方プラテン１１６を横方向に変位させるために調節機構４００が協調的に動作可能となるように、一又は複数の調節機構４００にコマンドを生成するように構成することができる。その他の実施形態では、試験機１０２は、図２１〜２２に示し、上述したように、下方プラテン１１６の一又は複数の側面を垂直方向に変位させることによって、下方プラテン１１６の角度方向を調節するように構成された調節機構４００を含むことができる。
【００５８】
図２５は、下方プラテン１１６の横方向の位置を調節する横調節機構４００の配置を示す試験機１０２の側面図である。図示した実施形態では、各調節機構４００は、下方プラテン１１６の側面等で下方プラテン１１６と接触するように置くことができる軸受先端部４０８を有するねじ式ロッド部材４０６を含むことができる。試験装置２００及び／又はテストパネル１５０の表面形状をスキャンした後で、レーザースキャナー３１４によって生成されるレーザー測定データに基づいて、プロセッサ３２０は調節機構４００のモータコントローラ４１４（例：図１４）に送信することができるコマンドを生成することができる。
【００５９】
図２６は、調節機構４００を使用して試験機基部１０４に対する下方プラテン１１６の横方向の位置を調節するところを示す試験機１０２の側面断面図である。調節機構４００は、テストパネル１５０の中立軸１６６及び／又は垂直中心線１６４を移動させて、試験機１０２の負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整するために協調的に動作させることができる。上述したように、試験システム１００は、レーザースキャナー３１４からのレーザー測定データに基づき、プロセッサ３２０から生成されたコマンドに応じて調節機構４００が自律的に動作するように構成することができる。
【００６０】
図２７は、テストパネル１５０を試験機１０２に合わせて位置調整する方法に含まれうる一又は複数の工程を有するフロー図である。ある例では、方法５００は、テストパネル１５０を試験機１０２に設置した後、そしてテストパネル１５０に圧縮試験の負荷１２２を加える前に実行することができる。ある実施形態では、後に説明する一又は複数の工程を、テストパネル１５０に圧縮試験の負荷１２２を加えている間に実行することができる。
【００６１】
図２７の方法５００のステップ５０２は、試験機１０２にテストパネル１５０を取り付けることを含むことができる。ある例では、テストパネル１５０は、図１３に示すように、試験装置２００を使用しないで試験機１０２にセットすることができる。例えば、テストパネル１５０のパネルの下端１５６を、下方端部負荷要素２３６で支持することができ、下方端部負荷要素２３６は試験機１０２の下方プラテン１１６で支持することができる。テストパネル１５０の上端１５４は、上方プラテン１１４との境界面の役割を果たす上方端部負荷要素２３６を含むことができる。その他の例では、テストパネル１５０は、図１〜５に示す試験装置２００等の試験装置２００において支持することができる。試験装置２００はそれから、試験装置２００の基部アセンブリ２４０が試験機１０２の下方プラテン１１６に支持されるように試験機１０２にセットすることができる。テストパネル１５０を位置調整している間、上方プラテン１１４を、図６〜９に示すように、パネルの上端１５４に取り付けることができる負荷伝送境界面２０２と距離を置いて位置決めすることができる。
【００６２】
図２７の方法５００のステップ５０４は、試験機１０２のプラテン及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の向きを表すレーザー測定データを生成することを含むことができる。レーザー測定データは、一又は複数のレーザー測定装置３０４を含むことができるレーザー測定システム３０４によって生成されうる。ある例では、レーザー測定装置３０４は、試験装置２００及び／又は試験機１０２に結合させることができる。その他の例では、一又は複数のレーザー測定装置３０４を、試験機１０２以外、例えば試験機１０２近くに位置づけされる他の構造等に取り付けることができる。
【００６３】
図２７の方法５００のステップ５０６は、レーザー測定データに基づいて試験機１０２のプラテン及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節することを含むことができる。テストパネル１５０の位置及び／又は向きは、テストパネル１５０がプラテン及び／又は負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整されるように調節することができる。ある例では、テストパネル１５０は、負荷伝送境界面２０２を取り付けることができるパネルの上端１５４を含むことができる。負荷伝送境界面２０２は、図５に示し上述したように、第１の端部２０８と第２の端部２１０とを含むことができる。上記の例では、方法は、テストパネル１５０の第１の端部２０８及び／又は第２の端部２１０を上げて及び／又は下げて、負荷伝送境界面２０２がプラテン１１４に合わせて実質的に位置調整されるようにテストパネル１５０を傾けるために、一又は複数の調節機構４００を調節することを含むことができる。これに関しては、方法は、試験機１０２の上方プラテン１１４に対するパネルの上端１５４の向きを表すレーザー測定データを生成することを含むことができ、方法は、レーザー測定データに基づいて、パネルの上端１５４が上方プラテン１１４に合わせて実質的に位置調整される、又は上方プラテン１１４と平行して配向されるようにテストパネル１５０の向きを調節することを含むことができる。
【００６４】
他の例では、方法は、負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の長手（例：垂直）中心線１６４の位置及び／又は向きを表すレーザー測定データを生成することを含むことができる。例えば、レーザー測定システム３０２は、テストパネル１５０の表面及び端をスキャンし、スキャンに基づいてテストパネル１５０の中心線１６４の位置を決定するように構成することができる複数のレーザースキャナー３１４を含むことができる。位置調整装置３００は、中心線１６４が負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整されるように、レーザー測定データに基づきテストパネル１５０の向きを調節するように構成することができる。本発明では、テストパネル１５０の中心線１６４は、テストパネル１５０の対向側面１５２の端の中間に位置づけされる垂直方向の中心線として定義することができる。
【００６５】
さらなる実施形態では、方法は、負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の中立軸１６６の位置を表すレーザー測定データを生成することを含むことができる。例えば、図１５に示すスティフナー１６０を有する湾曲したテストパネル１５０は、スティフナー１６０が結合された外板１５８の中央平面からずれていてよい中立軸１６６を含むことができる。方法は、レーザースキャナー３１４を使用してスティフナー１６０と外板１５８の表面形状をスキャンすることと、スキャンデータを使用して、負荷軸１２０に対する中立軸１６６の位置を決定することとを含むことができるため、有益である。方法はさらに、レーザー測定データを処理することと、図１８に示すように負荷軸１２０が中立軸１６６を通過するようにテストパネル１５０の位置及び／又は向きを調節することを含むことができる。上述したように、位置調整装置３００のある実施形態は、プロセッサ３２０に通信可能に結合させることができるモータ４１２を有する電動式調節機構４００を含むことができる。上記実施形態では、方法は、プロセッサ３２０においてレーザー測定データを受信することと、テストパネル１５０を（例えば横方向に変位させる、傾ける等）移動させて、プラテン及び／又は負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整するように調節機構４００のモータ４１２に命令することとを含むことができる。調節機構４００は、プラテン１１４、１１６及び／又は負荷軸１２０に対する試験装置の位置及び／又は向きを調節することによって、試験機基部１０４又はクロスヘッド１０６に対する一又は複数のプラテン１１４、１１６の位置及び／又は向きを調節することによって、及び／又は試験機１０２に対する負荷軸１２０の角度方向を調節することによって、テストパネル１５０の向きを調節するように動作することができる。
【００６６】
上述したように、方法はさらに、テストパネル１５０及び／又は試験装置２００の表面形状をスキャンし、表面形状を表しうるレーザー測定データを生成するために一又は複数のレーザースキャナー３１４を使用することを含むことができる。方法はさらに、プロセッサ３２０においてスキャンデータを受信することと、スキャンデータに基づいて、試験機１０２のプラテン及び／又は負荷軸１２０に対するテストパネル１５０の位置及び／又は向きを決定することとを含むことができる。これに関しては、方法は、テストパネル１５０を移動させてプラテン及び／又は負荷軸１２０に合わせて実質的に位置調整するように、一又は複数の調節機構４００のモータ４１２に命令することを含むことができる。
【００６７】
本発明のさらなる修正及び改良は、当業者には明らかであろう。したがって、本明細書に記載される部分の特定の組み合わせは、本発明のある特定の実施形態を表すことを意図するのみであり、本発明の精神及び範囲内にある代替的な実施形態又は装置を限定するものではない。
【符号の説明】
【００６８】
１００    試験システム
１０２    汎用試験機
１０４    基部
１０６    クロスヘッド
１０８    垂直ポスト
１１０    シャフト
１１２    負荷ヘッド
１１４    上方プラテン
１１６    下方プラテン
１１８    プラテン表面
１２０    負荷軸
１２２    圧縮試験の負荷
１５０    試験板
１５２    試験板の側面
１５４    試験板の上端
１５６    試験板の下端
１５８    外板
１６０    スティフナー
１６２    切抜部
１６４    試験板の中心線
１６６    試験板の中立軸
２００    試験装置
２０２    負荷伝送接触面
２０４    上方軸受面
２０６    クランプ部材
２０８    負荷伝送接触面の対向端部
２１０    負荷伝送接触面の対向端部
２１２    プラテン表面と第１の端部との間の第１の距離
２１４    プラテン表面と第２の端部との間の第２の距離
２１６    支持アセンブリ
２１８    支持格子
２２０    水平部材
２２２    垂直部材
２２４    フレーム
２２６    窓
２２８    側面支持部
２３０    ヒンジ
２３２    ラッチ
２３４    グリップ装置
２３６    端部負荷要素
２３８    隙間
２４０    基部アセンブリ
２４２    上方基部プレート       
２４４    下方基部プレート
２４６    ウェブ
２４８    シム
３００    位置調整装置
３０２    レーザー測定システム
３０４    レーザー測定装置
３０６    レーザー変位センサ
３０８    ケーブル
３１０    伝送光線
３１２    反射光線
３１４    レーザースキャナー
３１６    スキャン角
３１８    データ取得装置
３２０    プロセッサ
４００    調節機構
４０２    縦調節機構
４０４    横調節機構
４０６    ロッド部材
４０８    軸受先端部
４１０    ブラケット
４１２    モータ
４１４    モータコントローラ
４１６    横方向
４１８    垂直方向
５００    試験板を試験機に合わせて位置調整する方法
【図１】
2015155898.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2015155898.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【外国語明細書】
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2015155898000002.pdf
2015155898000003.pdf
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