(57)【要約】【課題】新たな部品等を用いることなく迷光によるＴＥ信号生成の影響を抑制する。【解決手段】本発明は、メインビームとサブビームによるメディアからの戻り光を個別に受光する光検出器と、受光された戻り光に応じてトラッキングエラー信号を生成する信号処理手段と、を有する光ピックアップ装置のトラッキング信号調整方法である。この調整方法は、半導体レーザの位置を非点収差が最小となるよう調整する第１ステップと、トラッキングエラー信号の変動量を計測し、計測されたトラッキングエラー信号の変動量が所定範囲に収まるよう光検出器の光軸方向での位置を調整する第２ステップと、半導体レーザの位置を非点収差が最小となるよう調整する第３ステップと、を有する。【選択図】図５
2015106423.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を出射する半導体レーザと、前記光をメインビームとサブビームに分割する回折格子と、前記メインビームと前記サブビームによる前記メディアからの戻り光を個別に受光する光検出器と、前記受光された戻り光に応じてトラッキングエラー信号を生成する信号処理手段と、を有する光ピックアップ装置のトラッキング信号調整方法であって、
前記半導体レーザの位置を非点収差が最小となるよう調整する第１ステップと、
前記トラッキングエラー信号の変動量を、変動量計測手段を用いて計測し、計測された前記トラッキングエラー信号の変動量が所定範囲に収まるよう前記光検出器の光軸方向での位置を調整する第２ステップと、
前記半導体レーザの位置を非点収差が最小となるよう調整する第３ステップと、を有することを特徴とする光ピックアップ装置のトラッキング信号調整方法。
【請求項２】
前記変動量計測手段は、所定周期において前記トラッキングエラー信号の振幅レベルのピークを検出し、検出された前記振幅レベルのピークの最大値と最小値との差分をもとに、前記トラッキングエラー信号の変動量を計測する、ことを特徴とする前記請求項１に記載の光ピックアップ装置のトラッキング信号調整方法。
【請求項３】
前記所定周期は、メディアの１回転当たりの周期である、ことを特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ装置のトラッキング信号調整方法。
【請求項４】
前記半導体レーザは出射する光の波長を、ＤＶＤに対応する第１波長と、ＣＤに対応する第２波長と、に切り替えることができ、
前記光検出器は、前記第１波長における光を受光する第１の受光部と、前記第２波長における光を受光する第２の受光部とを別々に有し、
前記第２ステップでは、前記光検出器は、前記メインビーム、及びサブビームに非点収差を発生させるシリンドリカルレンズと一体となって、位置の調整が行われる、ことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の光ピックアップ装置のトラッキング信号調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ装置で用いられるトラッキング信号を調整するためのトラッキング信号調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ピックアップ装置では、対物レンズの焦点をメディアの情報記録層に形成されたトラックに追従させるトラキング制御を行う。このトラッキング制御では、メディアから反射する戻り光を光検出器で受光し、後段の信号処理回路により戻り光の受光強度に応じたトラッキングエラー信号（ＦＥ信号）を生成する。そして、生成されたＦＥ信号をもとに、対物レンズの位置調整を行う。また、トラッキング制御の一種に、光源から出射する光をメインビームとサブビームとに分離し、２つのビームをもとにメディアから反射された戻り光からＦＥ信号を生成するものが知られている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
メディアが多層の情報記録層を有する場合、意図する情報記録層からの戻り光（再生光）の他に、読み取り又は書き込みの対象とならない他の情報記録層からの反射光（迷光）が発生する場合がある。迷光は、光検出器の受光量を変化させるため、ＦＥ信号が適切に生成できない場合があった。特に、サブビームを用いてＴＥ信号を生成する場合、迷光による影響を受けやすい。
【０００４】
このような問題を改善するために、半導体レーザに高周波を重畳させることで、迷光の影響を抑制するものが知られている。また、迷光を遮光する遮光板や、偏光素子等を用いて迷光の影響を低減するものも知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００９−１４６４８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、半導体レーザに高周波信号を重畳する構成や、新たな部品を用いる構成では、製品のコストアップに繋がる。
【０００７】
本発明は、上記課題にかんがみてなされたもので、新たな部品等を用いることなく迷光によるＴＥ信号生成の影響を抑制することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の一態様では、光を出射する半導体レーザと、前記光をメインビームとサブビームに分割する回折格子と、前記サブビームと前記サブビームによる前記メディアからの戻り光を個別に受光する光検出器と、前記受光された戻り光に応じてトラッキングエラー信号を生成する信号処理手段と、を有する光ピックアップ装置のトラッキング信号調整方法であって、前記半導体レーザの位置を非点収差が最小となるよう調整する第１ステップと、前記トラッキングエラー信号の変動量を変動量計測手段を用いて計測し、計測された前記トラッキングエラー信号の変動量が所定範囲に収まるよう前記光検出器の光軸方向での位置を調整する第２ステップと、前記半導体レーザの位置を非点収差が最小となるよう調整する第３ステップと、を有する
【０００９】
上記のように構成された発明は、メインビームとサブビームとを光検出器で受光してトラッキング信号を生成する光ピックアップ装置のトラッキング信号の調整方法に関する。  そして、トラッキング信号の調整方法では、第１ステップで、半導体レーザの位置を非点収差が最小となるよう調整する。次に、第２ステップで、トラッキングエラー信号の変動量を変動量計測手段を用いて計測し、計測されたトラッキングエラー信号の変動量が所定範囲に収まるよう光検出器の光軸方向での位置を調整する。そして、第３ステップで、半導体レーザの位置を非点収差が最小となるよう調整する。
そのため、迷光が生じる場合でも、新たな部品等を用いることなく、光検出器と半導体レーザとの位置関係の調整のみで、迷光のＴＥ信号生成の影響を抑制することができる。
【００１０】
また、本発明の一態様では、前記変動量計測手段は、所定周期において前記トラッキングエラー信号の振幅レベルのピークを検出し、検出された前記振幅レベルのピークの最大値と最小値との差分をもとに、前記トラッキングエラー信号の変動を計測する、構成としてもよい。
上記のように構成された発明では、トラッキングエラー信号の振幅レベルのピークを用いた簡易な処理により、トラッキングエラー信号の変動量を計測することができる。
【００１１】
そして、本発明の一態様では、前記所定周期は、メディアの１回転当たりの周期である構成としてもよい。
上記のように構成された発明では、メディアの１回転当たりの周期をもとに、トラッキングエラー信号の変動量を計測することができ、トラッキングエラー信号の調整に要する時間を短くすることができる。
【００１２】
さらに、本発明の一態様では、前記半導体レーザは出射する光の波長を、ＤＶＤに対応する第１波長と、ＣＤに対応する第２波長と、に切り替えることができ、前記光検出器は、前記第１波長における光を受光する第１の受光部と、前記第２波長における光を受光する第２の受光部とを別々に有し、前記第２ステップでは、前記光検出器は、前記メインビームと前記サブビームとに非点収差を発生させるシリンドリカルレンズと一体となって、位置の調整が行われる、構成としてもよい。
上記のように構成された発明では、光検出器がシリンドリカルレンズと一体となって位置が調整されることで、シリンドリカルレンズにより非点収差が与えられたレーザ光の第１の受光部および第２の受光部に受光する位置を一体で調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】光ピックアップ装置の外観を説明する斜視図である。
【図２】光路を構成する各部品の配置を説明する図である。
【図３】ＤＶＤ用レーザの取り付け構造を説明する図である。
【図４】光検出器の取り付け構造を説明する図である。
【図５】ＴＥ信号の調整方法を説明するフローチャートである。
【図６】ＴＥ信号の変動量を説明する波形図である。
【図７】バランス検出部がＴＥ信号の振幅バランスを検出する手法を説明するフローチャートである。
【図８】第２の実施形態における光ピックアップ装置１０の構成を示す図である。
【図９】ＴＥ信号の調整方法を説明するフローチャートである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、下記の順序に従って本発明の実施形態を説明する。
１．第１の実施形態：
（１．１）光ピックアップ装置の構成
（１．２）ＴＥ信号の調整方法
２．第２の実施形態：
（２．１）光ピックアップ装置の構成
（２．２）ＴＥ信号の調整方法
３．第３の実施形態：
４．その他の実施形態：
【００１５】
１．第１の実施形態：
（１．１）光ピックアップ装置の構成
図１は、光ピックアップ装置の外観を説明する斜視図である。また、図２は、ピックアップベース１１に収容される各部品の配置を説明する図である。
【００１６】
図１、図２に示すように、光ピックアップ装置１０は、ピックアップベース１１、半導体レーザ２０、光検出器２１、コントローラ２２（信号処理部２３、変動量計測部２４）、光学部品３０、を備える。この第１の実施形態では、光ピックアップ装置１０はメディアとしてＤＶＤ（Digital Versatical Disk）またはＣＤ（Compact Disc）に情報の再生や記録を行うことができる。
【００１７】
ピックアップベース１１は、半導体レーザ２０、光検出器２１、光学部品３０、を収容する凹部である収容空間Ｓ（図中点線で示す。）を有する。この収容空間Ｓには、光学部品３０が図２に示す位置関係を保って配置されている。ピックアップベース１１は、例えば、樹脂により形成されている。
【００１８】
ピックアップベース１１には、半導体レーザ２０がレーザホルダ１２を介して取り付けられている。図３は、ピックアップベース１１に取り付けられる半導体レーザ２０を説明する図である。図３（ａ）は、レーザホルダ１２と、半導体レーザ２０とを示す分解斜視図である。また、図３（ｂ）は、ピックアップベース１１に取り付けられた半導体レーザ２０を示す正面図である。
【００１９】
図３に示す半導体レーザ２０は、フレームタイプの半導体レーザであり、フレーム２０ａの一方の面に半導体レーザチップ２０ｂが取り付けられている。この半導体レーザチップ２０ｂは、ＤＶＤ用のレーザ光（例えば波長６５０ｎｍ帯のレーザー光）とＣＤ用のレーザ光（例えば波長７８０ｎｍ帯のレーザー光）とをそれぞれ出射することができる。また、半導体レーザ２０は、高周波重畳を行わないものである。
【００２０】
レーザホルダ１２は、ベース部１２ａと、このベース部１２ａの一方の面から延設する位置決め片１２ｂ、１２ｃと、位置決め片１２ｂ、１２ｃとの間に形成された貫通孔１２ｄと、を有する。半導体レーザ２０は、レーザホルダ１２の位置決め片１２ｂ、１２ｃの間に位置決めされた状態で保持される。また、レーザホルダ１２に位置決めされた半導体レーザ２０の半導体レーザチップ２０ｂは、貫通孔１２ｄから露出し、この貫通孔１２ｄを通じてレーザ光を出射することができる。
【００２１】
そして、図３（ｂ）に示すように、半導体レーザ２０を位置決め固定したレーザホルダ１２は、ピックアップベース１１の収容空間Ｓ内部の、所定位置（図２に示す位置）に接着固定される。また、レーザホルダ１２をピックアップベース１１に接着するのに先立って、半導体レーザ２０の光軸が狙いの位置となるよう位置調整される。この位置調整は、治具（図示しない）を用いて、図３（ｂ）に示すｘ方向、ｙ方向の位置が調整される。例えば、この位置調整により半導体レーザ２０から出射されるレーザ光の非点収差が調整される。
【００２２】
ピックアップベース１１の収容空間Ｓには、光学部品３０が図２に示す位置関係を保って収容されている。光学部品３０は、回折格子３１、ビームスプリッタ３２、１／４波長板３３、コリメートレンズ３４、反射ミラー３５、対物レンズ３６、シリンドリカルレンズ３７を備える。
【００２３】
図２を用いて、半導体レーザ２０から出射される光の光路を説明する。半導体レーザ２０から出射されたレーザ光は、回折格子３１によってメインビームとサブビームとに分けられる。回折格子３１を経たレーザ光（メインビーム、サブビーム）はビームスプリッタ３２で反射され、１／４波長板３３及びコリメートレンズ３４を透過する。コリメートレンズ３４を透過したレーザ光は、反射ミラー３５によって所定角度に反射され、対物レンズ３６へと至る。
【００２４】
対物レンズ３６は、入射したレーザ光をメディアの情報記録層に集光する。そして、メディアに集光したレーザ光は情報記録層で反射し、戻り光と成る。戻り光は対物レンズ３６を通過後、反射ミラー３５により反射され、コリメートレンズ３４、１／４波長板３３、ビームスプリッタ３２を順に透過する。そして、ビームスプリッタ３２を透過した戻り光は、シリンドリカルレンズ３７により非点収差が与えられ、光検出器２１に集光される。
【００２５】
図４は、光検出器２１を説明する図である。図４（ａ）は、光検出器２１の受光面を示す図である。また、図４（ｂ）は、光検出器２１をピックアップベース１１に固定する方法を説明する分解斜視図である。
【００２６】
光検出器２１は、ＤＶＤ用の波長のレーザ光が受光される第１の受光部２１１と、ＣＤ用の波長のレーザ光が受光される第２の受光部２１２とを上下方向（Ｙ軸方向）に配置している。第１の受光部２１１は、メイン検出部２１１ａと、サブ検出部２１１ｂ、２１１ｃとを備える。メイン検出部２１１ａはメインビームが受光される面である。また、サブ検出部２１１ｂ、２１１ｃは２つのサブビームが受光される面である。また、第２の受光部２１２は、メイン検出部２１２ａと、サブ検出部２１２ｂ、２１２ｃとを備える。
【００２７】
光検出器２１は、シリンドリカルレンズ３７と一体となっている。光学部品３０は、ＤＶＤ用の光軸とＣＤ用の光軸とがずれており、光軸のずれに合わせて第１の受光部２１１と第２の受光部２１２とは、上下方向（図４のＢ方向）にずれて配置されている。そのため、光検出器２１がシリンドリカルレンズ３７と一体となっていることで、光検出器２１を調整する際、シリンドリカルレンズ３７により非点収差が与えられたレーザ光の第１の受光部２１１または第２の受光部２１２に受光する位置を一体で調整することができる。
【００２８】
光検出器２１は、取り付けプレート１３を用いてピックアップベース１１に固定される。取り付けプレート１３は例えば、板状の部材であり、光検出器２１を位置決め固定する固定部位（図示しない）を有する。ピックアップベース１１には、取り付けプレート１３の外周と比べて大きな固定溝１４を有している。この固定溝１４には、戻り光が通過する貫通孔１５が形成されている。
【００２９】
光検出器２１をピックアップベース１１に固定する場合、まず、取り付けプレート１３の光検出器２１が固定されている面を、固定溝１４内の貫通孔１５と対向するよう治具（図示しない）を用いて位置合わせする。このとき、光検出器２１の受光状態を確認しつつ、治具を用いて図４に示すＡ方向、Ｂ方向、Ｃ方向に取り付けプレート１３の位置を調整する。なお、Ｃ方向は貫通孔１５を通じて入射する戻り光の光軸と平行な向きである。
【００３０】
コントローラ２２は、光検出器２１に接続され、光検出器２１から出力される電気信号を受光する。本実施形態では、コントローラ２２は、信号処理部２３と、変動量計測部２４とを有している。例えば、コントローラ２２は、ＣＰＵや、ＲＯＭ、ＲＡＭを備えている。
【００３１】
信号処理部２３は、光検出器２１の受光量に応じて生成された電気信号から、再生信号、フォーカスエラー（ＦＥ）信号、トラッキングエラー（ＴＥ）信号を生成する。こられ、再生信号、ＦＥ信号、ＴＥ信号は、ＤＶＤ又はＣＤを再生する際に用いられる。ＦＥ信号は、対物レンズ３６の焦点距離を検出するための信号である。このＦＥ信号を用いて、図示しないアクチュエータが対物レンズ３６の焦点距離を調整するフォーカス制御が行われる。また、ＴＥ信号は、対物レンズ３６がメディアの情報記録層に形成されたトラックに追従しているか否かを検出するための信号である。このＴＥ信号を用いて、図示しないアクチュエータが対物レンズ３６のメディアに対する位置を調整するトラッキング制御が行われる。
【００３２】
下記式（１）は、信号処理部２３が光検出器２１の受光量をもとにＴＥ信号を生成する例を示す。
ＴＥ＝（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）−ｋ（（Ｅ＋Ｈ＋Ｉ＋Ｌ）−（Ｆ＋Ｇ＋Ｊ＋Ｋ））
…（１）
なお、式（１）において各アルファベットは、図４に示す第１の受光部２１１の各領域（Ａ〜Ｌ）における受光量を示す。また、ｋは補正係数を示す。そのため、ＴＥ信号は、上記式（１）に示すように、メインビームとサブビームとの受光量に応じて生成される信号である。
【００３３】
変動量計測部（変動量計測手段）２４は、信号処理部２３が生成したＴＥ信号の変動量を計測する。例えば、変動量計測部２４は、図示しないディスプレイに接続されており、作業者に対して、ディスプレイに計測した変動量を数値として表示させることができる。  
変動量計測部２４は、光ピックアップ装置１０の一部である以外にも、光ピックアップ装置１０とは別の装置であって、コントローラ２２に接続される回路や、治具の一部であってもよい。なお、ＴＥ信号の変動量については後述する。
【００３４】
（１．２）ＴＥ信号の調整方法
次に、光ピックアップ装置１０においてＴＥ信号を調整する手法を説明する。
図５は、ＴＥ信号の調整方法を説明するフローチャートである。
図６は、ＴＥ信号の変動量を説明する波形図である。
【００３５】
図５に示すＴＥ信号の調整は、光ピックアップ装置１０の組み立て過程において行われる。具体的には、ＴＥ信号の調整は、作業者が光学部品をピックアップベース１１の所定位置に配置させた後、半導体レーザ２０と光検出器２１との位置を調整することで実行される。
【００３６】
まず、図５のステップＳ１では、作業者は、半導体レーザ２０の位置をレーザ光の非点収差が低減する位置に調整する。半導体レーザ２０は、その特性に応じてレーザ光に非点収差が発生する。そのため、半導体レーザ２０のピックアップベース１１への取り付け位置は、レーザ光の非点収差が低減される位置に調整される必要がある。そのため、作業者は、治具を用いて、半導体レーザ２０が固定されたレーザホルダ１２のピックアップベース１１に対する取り付け位置（図３のＸ軸、Ｙ軸方向）を非点収差が低減される位置（非点隔差の中心）に調整する。なお、このステップＳ１では、レーザホルダ１２とピックアップベース１１とは接着されない。
【００３７】
ステップＳ２では、作業者は、光検出器２１の光軸上の位置（図４のＣ方向の位置）をＴＥ信号の変動量に応じて調整する。即ち、本発明では、光検出器２１の取付け位置を、ＴＥ信号の変動量をもとに決定する。例えば、作業者は、光検出器２１が固定された取り付けプレート１３をピックアップベース１１に取り付ける位置を治具を用いて調整する。このとき、作業者は、取り付けプレート１３（光検出器２１）の位置を、所定周期におけるＴＥ信号の変動量が最も小さくなる位置に調整する。ＴＥ信号の変動量は変動量計測部２４により検出される。
【００３８】
図６を用いて、ＴＥ信号の変動量を説明する。図６（ａ）は、理想的なＴＥ信号の変動量を示す。また、図６（ｂ）は、迷光が重畳した状態で生成されたＴＥ信号の変動量の一例を示す。図６（ａ）（ｂ）では、横軸を時間として、縦軸を信号の振幅レベルとしている。
【００３９】
ＴＥ信号は、上記した式（１）にもとづいて生成される。図６（ａ）に示すように、理想的なＴＥ信号では、光検出器２１が受光する受光量の変化が一定となっており、ＴＥ信号の振幅レベルは、振幅基準ＳＴｕ、ＳＴｄの間を上下する。しかし、迷光が生じることで、光検出器２１の受光量が変化すると、ＴＥ信号の振幅は図６（ｂ）に示すように、振幅基準ＳＴｕ、ＳＴｄに達しない領域が発生し、ＴＥ信号の振幅変化が一定とならない。
【００４０】
そのため、本発明では、ある周期（時間）において、ＴＥ信号の振幅変化のバランスを変動量として規定する。変動量が低い場合、図６（ａ）に示すように、ある周期における振幅変化のバランスは、規則的（ＳＴｕからＳＴｄへの変化）となる。一方、変動量が高い場合、図６（ｂ）に示すように、ある周期における振幅変化のバランスは、規則的とならない。
【００４１】
図７は、変動量計測部２４がＴＥ信号の変動量を検出する手法を説明するフローチャートである。
ステップＳ１１では、変動量計測部２４は、ある周期Ｔｎ（ｎ＝１〜Ｎ）におけるＴＥ信号のピーク値を取得する。この周期Ｔｎにおいて、変動量計測部２４は、ＴＥ信号のピーク値を取得する。図６（ｂ）では、変動量計測部２４は、周期Ｔ１（ｎ＝１）において、ＴＥ信号のピーク値Ｐ１を計測する。なお、ＴＥ信号のピーク値Ｐｎの取得方法は、周期Ｔｎにおける振幅レベルの最大値を用いてもよいし、周期Ｔｎにおける振幅レベルを平均した値を用いてもよい。
【００４２】
本実施形態では、周期Ｔｎは、メディアの１回転当たりの周期をＮ分割した周期としている。そのため、メディアの１回転当たりの周期をもとに、トラッキングエラー信号の変動量を計測することができ、計測に要する時間を短くすることができる。
【００４３】
ステップＳ１２では、変動量計測部２４は、全ての周期（メディアの１回転当たりの周期）においてＴＥ信号のピーク値Ｐｎを計測していないため（ステップＳ１２：ＮＯ）、ステップＳ１３に進み、計測対象を次の周期Ｔｎとする（Ｔｎ→Ｔｎ＋１）。
【００４４】
以下、変動量計測部２４は、全ての周期においてＴＥ信号のピーク値Ｐ（ｎ）を計測するまでステップＳ１１〜Ｓ１３の処理を繰返す。
【００４５】
全ての周期において変動量計測部２４がＴＥ信号のピーク値を計測した場合（ステップＳ１２：ＹＥＳ）、変動量計測部２４はステップＳ１４に進む。ステップＳ１４では、変動量計測部２４は、各周期（Ｔ１〜ＴＮ）で計測されたピーク値Ｐｎの中で、最大値Ｍａｘを参照する。図６（ｂ）では、周期Ｔ１で計測されたピーク値Ｐ１が最大値Ｍａｘとなっている。
【００４６】
ステップＳ１５では、変動量計測部２４は、各周期（Ｔ１〜ＴＮ）で計測されたピーク値Ｐｎの内で、最小値Ｍｉｎを参照する。図６（ｂ）では、周期Ｔ２で計測されたピーク値Ｐ２が最小値Ｍｉｎとなっている。
【００４７】
ステップＳ１６では、変動量計測部２４は、ステップＳ１４で取得された最大値ＭａｘとステップＳ１５で取得された最小値Ｍｉｎとの差分を算出する。このステップＳ１６で算出された最大値Ｍａｘと最小値Ｍｉｎとの差分が、ＴＥ信号の変動量を示す値となる。なお、変動量計測部２４が検出する変動量は、光検出器２１の位置が変更されるごとに取得される。また、変動量としては、最小値に対する最大値の比率が１４パーセント以下となることが望ましい。
【００４８】
図５に戻り、治具を用いて光検出器２１の位置調整が終了すると、ステップＳ３では、作業者は、半導体レーザ２０の位置をレーザ光の非点収差が低減する位置に調整する。即ち、作業者は、光検出器２１の位置を調整した後（ステップＳ２）、再度、ステップＳ１と同様に、半導体レーザ２０の位置を調整する。
【００４９】
ステップＳ４では、信号処理部２３により生成されたＴＥ信号が良好である場合（ステップＳ４：ＹＥＳ）、ステップＳ５では、作業者は、半導体レーザ１０および光検出部２１を現状の位置でピックアップベース１１に接着固定する。接着剤としては、例えば、紫外線硬化性接着剤（ＵＶ接着剤）が用いられる。
一方、信号処理部２３により生成されたＴＥ信号が良好でない場合（ステップＳ４：ＮＯ）、作業者はステップＳ１に戻り、ＴＥ信号を調整する処理を繰返す。ＴＥ信号の判定は、例えば、一定期間、メディアを回転させてＴＥ信号の変動量が少ない等により判断される。
【００５０】
以上説明したように、本発明では、迷光が生じる場合でも、光検出器の光軸方向での位置を調整することで適切なトラッキング信号を生成させることができる。そのため、半導体レーザに高周波信号を重畳せず、新たな部品を追加することなく、迷光の影響によるＴＥ信号の乱れを抑制することができる。
また、トラッキングエラー信号の変動量を計測するに際し、トラッキングエラー信号の振幅レベルのピークを用いた簡易な処理により計測を行うことができる。
【００５１】
２．第２の実施形態
（２．１）光ピックアップ装置の構成
この第２の実施形態では、光ピックアップ装置１０は、波長の異なる２つの半導体レーザ２０、２４を用いる構成が異なる。この第２の実施形態においても、調整対象は、ＤＶＤ又はＣＤ用の半導体レーザからのレーザ光に応じて生成されたＴＥ信号である。
【００５２】
図８は、第２の実施形態における光ピックアップ装置１０の構成を示す図である。ピックアップベース１１（図１）の収容空間Ｓには、波長の異なる２つの半導体レーザ２０、２５が収容されている。第１の半導体レーザ２０は、第１の実施形態同様、ＤＶＤ（Digital Versatical Disk）用のレーザ光とＣＤ（Compact Disc）用のレーザ光とをそれぞれ出力することができる。第２の半導体レーザ２５は、ＢＤ（Blue-ry Disk 登録商標）用のレーザ光（例えば波長４０５ｎｍ帯のレーザ光）を出射することができる。この第２の半導体レーザ２５は、ＣＡＮパッケージタイプの半導体レーザである。ＣＡＮパッケージタイプでは、半導体レーザチップが金属製のステム上に固定され、円筒形の金属キャップで半導体レーザチップが保護されている。
【００５３】
この第２の実施形態では、第２の半導体レーザ２５の光路を形成するために、光学部品３０は、偏光ビームスプリッタ３８、ＢＤ用反射ミラー３９、ＢＤ用対物レンズ４０を有する。また、ＢＤからの戻り光をもとにＴＥ信号を生成するために、ホログラム光学素子２６を備える。
【００５４】
図８を用いて、第２の半導体レーザ２５から出射された光の光路を説明する。第２の半導体レーザ２５から出射されたレーザ光は、偏光ビームスプリッタ３８で反射され、１／４波長板３３及びコリメートレンズ３４を透過する。コリメートレンズ３４を透過したレーザ光は、ＢＤ用反射ミラー３９によって所定角度に反射され、ＢＤ用対物レンズ４０へと至る。
【００５５】
ＢＤ用対物レンズ４０は、入射したレーザ光をメディア（ＢＤ）の情報記録層に集光する。そして、メディアに集光したレーザ光は情報記録層で反射し、戻り光と成る。戻り光は、ＢＤ用対物レンズ３９を通過後、ＢＤ用反射ミラー３９により反射され、コリメートレンズ３４、１／４波長板３３、偏光ビームスプリッタ３８を順に透過する。そして、ビームスプリッタ３２を透過した戻り光は、ホログラム光学素子２６により受光される。なお、ホログラム光学素子２６は、第２の半導体レーザ２５からのレーザ光のみを受光し、第１の半導体レーザ２０からのレーザ光を透過する。
【００５６】
ホログラム光学素子２６は、第２の半導体レーザ２５から出射されたレーザ光の受光量に応じて、ＴＥ信号を生成する。なお、ＴＥ信号以外のＦＥ信号及び再生信号は、ＤＶＤと同様の手法により生成される。
なお、第１の半導体レーザ２５を用いたメディアの記録は、第１の実施形態と同様であるため、説明を省略する。
【００５７】
（２．２）ＴＥ信号の調整方法
次に、光ピックアップ装置１０において第１の半導体レーザ２０からのレーザ光によりＴＥ信号を調整する手法を説明する。図９は、ＴＥ信号の調整方法を説明するフローチャートである。図９に示すＴＥ信号の調整は、第１の実施形態同様、光ピックアップ装置１０の組み立て過程において行われる。
【００５８】
まず、図９のステップＳ２１では、作業者は、第２の半導体レーザ２５の位置を固定する。第２の実施形態では、第２の半導体レーザ２５を接着剤を用いて固定してもよい。
【００５９】
次に、ステップＳ２２では、作業者は、光検出器２１を第２の半導体レーザ２５からのレーザ光の非点収差が低減するよう調整する。
【００６０】
ステップＳ２３では、作業者は、第１の半導体レーザ２０の位置をレーザ光の非点収差が低減する位置に調整する。なお、このステップＳ２３では、レーザホルダ１２とピックアップベース１１とは接着されない。
【００６１】
ステップＳ２４では、作業者は、光検出器２１の光軸上の位置（図４のＣ方向の位置）をＴＥ信号の変動量に応じて調整する。ステップＳ２４における光検出器２１の調整は、第１の実施形態における図５のステップＳ２と同様の処理を行なう。即ち、作業者は、取り付けプレート１３（光検出器２１）の位置を、ＴＥ信号の変動量が最も小さくなる位置に調整する。第１の実施形態同様、ＴＥ信号の変動量は変動量計測部２４により検出される。
【００６２】
そして、ステップＳ２５では、作業者は、第１の半導体レーザ２０の位置をレーザ光の非点収差が低減する位置に調整する。即ち、作業者は、光検出器２１の位置を調整した後（ステップＳ２４）、再度、半導体レーザ２０の位置を調整する。
【００６３】
ステップＳ２６では、信号処理部２３により生成されたＴＥ信号が良好である場合（ステップＳ２６：ＹＥＳ）、ステップＳ２７では、作業者は、半導体レーザ１０および光検出部２１を現状の位置でピックアップベース１１に接着固定する。接着剤としては、例えば、紫外線硬化性接着剤（ＵＶ接着剤）が用いられる。
一方、信号処理部２３により生成されたＴＥ信号が良好でない場合（ステップＳ２６：ＮＯ）、作業者はステップＳ２３に戻り、ＴＥ信号を調整する処理を繰返す。
【００６４】
以上説明したように、この第２の実施形態では、第１の実施形態が奏する効果に加えて以下の効果を奏する。即ち、出力光の波長が異なる２つの半導体レーザを有する場合でも、本発明のＴＥ信号の調整を行うことができる。
【００６５】
３．第３の実施形態：
上記した第２の実施形態において、図９に示すステップＳ２５の次に、第２の半導体レーザ２５の位置を調整するステップを加えてもよい。上記構成とすることで、第２の半導体レーザ２５においても、精度良く調整を行うことができる。
【００６６】
４．その他の実施形態：
本発明は、様々な実施形態が存在する。
例えば、変動量計測部２４は、メディア１回転当たりの周期を２分割して、ＴＥ信号の変動量を計測してもよい。上記構成とすることで、ＴＥ信号の変動量を計測するのに要する時間を短縮することができる。
【００６７】
なお、本発明は上記実施例に限られるものでないことは言うまでもない。
即ち、上記実施例の中で開示した相互に置換可能な部材および構成等を適宜その組み合わせを変更して適用してもよい。
公知技術であって上記実施例の中で開示した部材および構成等と相互に置換可能な部材および構成等を適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用してもよい。
公知技術等に基づいて当業者が上記実施例の中で開示した部材および構成等の代用として想定し得る部材および構成等と適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用してもよい。
【符号の説明】
【００６８】
１０…光ピックアップ装置、１１…ピックアップベース、１２…レーザホルダ、１２ａ…ベース部、１２ｂ…位置決め片、１２ｃ…位置決め片、１２ｄ…貫通孔、１３…取り付けプレート、１４…固定溝、１５…貫通孔、２０…半導体レーザ、２０ａ…フレーム、２０ｂ…半導体レーザチップ、２１…光検出器、２２…コントローラ、２３…信号処理部、２４…変動量計測部、３０…光学部品、３１…回折格子、３２…ビームスプリッタ、３３…１／４波長板、３４…コリメートレンズ、３５…反射ミラー、３６…対物レンズ、３７…シリンドリカルレンズ、２１１…第１の受光部、２１１ａ…メイン検出部、２１１ｂ、２１１ｃ…サブ検出部、２１２…第２の受光部、２１２ａ…メイン検出部、２１２ｂ、２１２ｃ…サブ検出部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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