(57)【要約】      （修正有）【課題】人間により感知される欠陥画素が本撮影画像の明るさに応じて変わることが考慮された、より実効的な欠陥画素検出を行う。【解決手段】撮像素子への露光を制御する露光制御手段と、露光制御手段による露光遮断中に撮像素子の動作を制御して暗露光撮影させると共に該露光制御手段による露光中に該撮像素子の動作を制御して本撮影させる撮像素子制御手段と、本撮影による本撮影画像の輝度値を取得する輝度値取得手段と、輝度値取得手段により取得された輝度値に基づいて撮像素子の欠陥画素を検出するための所定の基準閾値を補正する閾値補正手段と、閾値補正手段により補正された補正後閾値と暗露光撮影による暗露光撮影画像の各画素値との比較結果に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段とを備える。【選択図】図２
2015090987.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子と、
前記撮像素子への露光を制御する露光制御手段と、
前記露光制御手段による露光遮断中に前記撮像素子の動作を制御して暗露光撮影させると共に該露光制御手段による露光中に該撮像素子の動作を制御して本撮影させる撮像素子制御手段と、
前記本撮影による本撮影画像の輝度値を取得する輝度値取得手段と、
前記輝度値取得手段により取得された輝度値に基づいて前記撮像素子の欠陥画素を検出するための所定の基準閾値を補正する閾値補正手段と、
前記閾値補正手段により補正された補正後閾値と前記暗露光撮影による暗露光撮影画像の各画素値との比較結果に基づいて前記欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
を備える、
撮影装置。
【請求項２】
前記閾値補正手段は、
前記輝度値取得手段により取得された輝度値が所定の第一の輝度値より高いとき、前記基準閾値を該基準閾値より高い所定の第一の閾値に補正し、
前記輝度値取得手段により取得された輝度値が所定の第二の輝度値より低いとき、前記基準閾値を該基準閾値より低い所定の第二の閾値に補正する、
請求項１に記載の撮影装置。
【請求項３】
前記本撮影画像を領域分割することで複数の分割領域画像を定義する分割領域画像定義手段
を備え、
前記分割領域画像毎に、
取得された輝度値に基づく前記基準閾値の補正及び前記補正後閾値と前記暗露光撮影画像の各画素値との比較結果に基づく前記欠陥画素の検出
を行う、
請求項１又は請求項２に記載の撮影装置。
【請求項４】
前記基準閾値は、
前記本撮影の露光時間、撮像素子の温度及び撮影感度の少なくとも１つに応じて値が修正される、
請求項１から請求項３の何れか一項に記載の撮影装置。
【請求項５】
前記暗露光撮影は、
前記本撮影の直前又は直後に行われる、
請求項１から請求項４の何れか一項に記載の撮影装置。
【請求項６】
前記暗露光撮影を行うか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段により前記暗露光撮影を行わないと判定されたとき、該暗露光撮影の実行を中止する暗露光撮影中止手段と、
所定の欠陥画素アドレスデータを格納する欠陥画素格納手段と、
前記暗露光撮影中止手段により暗露光撮影の実行が中止されたとき、前記欠陥画素格納手段に格納された欠陥画素アドレスデータにより指定される欠陥画素を補間する画素補間手段と、
を備える、
請求項１から請求項５の何れか一項に記載の撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子の画素欠陥を検出することが可能な撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラ等の撮影装置には、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサやＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサ等の撮像素子が搭載されている。この種の撮像素子は、その特性上、暗電流に起因して画素欠陥が生じる。例えば特許文献１に、欠陥画素を補間することで、画素欠陥による撮影画像の画質劣化を抑えること可能な撮影装置の具体的構成が記載されている。
【０００３】
特許文献１に記載の撮影装置は、撮影に必要な露光時間が所定の標準露光時間以下の場合、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）に予め格納されている欠陥画素アドレスデータを用いて欠陥画素を補間する。一方、撮影に必要な露光時間が所定の標準露光時間より長い場合は、撮像素子の受光面をシャッタ装置によって遮光した状態でテスト撮影（暗黒下での撮影）を行う。特許文献１に記載の撮影装置は、暗黒下での撮影により得られた各画素の出力値と所定の基準レベルとを比較し、その比較結果に基づいて欠陥画素を検出して補間する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第４２６６４４５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このように、特許文献１では、撮像素子の欠陥画素を検出するため、暗黒下での撮影画像の各画素の出力値を一律に所定の基準レベルと比較している。しかし、このような一律の比較結果に基づく欠陥画素の検出・補間では、撮影画像の画質劣化が抑えられないことがある。例えば、欠陥画素の検出漏れによる白キズの残存が顕著に現れたり、欠陥画素の過剰検出・過剰補間により空間周波数が低下したりする等により、撮影画像の画質が劣化することがある。
【０００６】
本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、撮影画像の画質劣化を抑えるための、より実効的な欠陥画素検出を行うことが可能な撮影装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の実施形態に係る撮影装置は、撮像素子と、撮像素子への露光を制御する露光制御手段と、露光制御手段による露光遮断中に撮像素子の動作を制御して暗露光撮影させると共に該露光制御手段による露光中に該撮像素子の動作を制御して本撮影させる撮像素子制御手段と、本撮影による本撮影画像の輝度値を取得する輝度値取得手段と、輝度値取得手段により取得された輝度値に基づいて撮像素子の欠陥画素を検出するための所定の基準閾値を補正する閾値補正手段と、閾値補正手段により補正された補正後閾値と暗露光撮影による暗露光撮影画像の各画素値との比較結果に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段とを備える。
【０００８】
本実施形態によれば、人間により感知される欠陥画素が本撮影画像の明るさに応じて変わることが考慮された、より実効的な欠陥画素検出が行われる。
【０００９】
閾値補正手段は、例えば、輝度値取得手段により取得された輝度値が所定の第一の輝度値より高いとき、基準閾値を該基準閾値より高い所定の第一の閾値に補正する。また、例えば、輝度値取得手段により取得された輝度値が所定の第二の輝度値より低いとき、基準閾値を該基準閾値より低い所定の第二の閾値に補正する。
【００１０】
撮影装置は、本撮影画像を領域分割することで複数の分割領域画像を定義する分割領域画像定義手段を備えており、分割領域画像毎に、取得された輝度値に基づく基準閾値の補正及び補正後閾値と暗露光撮影画像の各画素値との比較結果に基づく欠陥画素の検出を行う構成としてもよい。
【００１１】
基準閾値は、例えば、本撮影の露光時間、撮像素子の温度及び撮影感度の少なくとも１つに応じて値が修正される。
【００１２】
暗露光撮影は、例えば、本撮影の直前又は直後に行われる。
【００１３】
撮影装置は、暗露光撮影を行うか否かを判定する判定手段と、判定手段により暗露光撮影を行わないと判定されたとき、該暗露光撮影の実行を中止する暗露光撮影中止手段と、所定の欠陥画素アドレスデータを格納する欠陥画素格納手段と、暗露光撮影中止手段により暗露光撮影の実行が中止されたとき、欠陥画素格納手段に格納された欠陥画素アドレスデータにより指定される欠陥画素を補間する画素補間手段とを備える構成としてもよい。
【発明の効果】
【００１４】
本実施形態によれば、撮影画像の画質劣化を抑えるための、より実効的な欠陥画素検出を行うことが可能な撮影装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の実施形態の撮影装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態の画像撮影フローを示す図である。
【図３】図２の処理ステップＳ１６（本撮影画像の輝度値の取得）の説明を補助する説明補助図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態の撮影装置について図面を参照しながら説明する。以下においては、本発明の一実施形態として、デジタル一眼レフカメラについて説明する。なお、撮影装置は、デジタル一眼レフカメラに限らず、例えば、ミラーレス一眼カメラ、コンパクトデジタルカメラ、カムコーダ、タブレット端末、ＰＨＳ（Personal Handy phone System）、スマートフォン、フィーチャフォン、携帯ゲーム機など、撮影機能を有する別の形態の装置に置き換えてもよい。
【００１７】
［撮影装置１の構成］
図１は、本実施形態の撮影装置１の構成を示すブロック図である。図１に示されるように、撮影装置１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１００、操作部１０２、絞り・シャッタ駆動回路１０４、撮影レンズ１０６、絞り１０８、シャッタ１１０、イメージセンサ１１２、信号処理回路１１４、画像処理エンジン１１６、バッファメモリ１１８、カード用インタフェース１２０、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）制御回路１２２、ＬＣＤ１２４、ＲＯＭ（Read Only Memory）１２６及び外部接続インタフェース１２８を備えている。
【００１８】
操作部１０２には、電源スイッチやレリーズスイッチ、撮影モードスイッチなど、ユーザが撮影装置１を操作するために必要な各種スイッチが含まれる。ユーザにより電源スイッチが押されると、図示省略されたバッテリから撮影装置１の各種回路に電源ラインを通じて電源供給が行われる。ＣＰＵ１００は電源供給後、ＲＯＭ１２６にアクセスして制御プログラムを読み出してワークエリア（不図示）にロードし、ロードされた制御プログラムを実行することにより、撮影装置１全体の制御を行う。
【００１９】
レリーズスイッチが操作されると、ＣＰＵ１００は、撮影装置１に内蔵されたＴＴＬ（Through The Lens）露出計（不図示）で測定された測光値に基づき適正露出が得られるように、絞り・シャッタ駆動回路１０４を介して絞り１０８及びシャッタ１１０を駆動制御する。より詳細には、絞り１０８及びシャッタ１１０の駆動制御は、プログラムＡＥ（Automatic Exposure）、シャッタ速度優先ＡＥ、絞り優先ＡＥなど、撮影モードスイッチにより指定されるＡＥ機能に基づいて行われる。また、ＣＰＵ１００はＡＥ制御と併せてＡＦ（Autofocus）制御を行う。ＡＦ制御には、アクティブ方式、位相差検出方式、コントラスト検出方式等が適用される。なお、この種のＡＥ及びＡＦの構成及び制御については周知であるため、ここでの詳細な説明は省略する。
【００２０】
被写体からの光束は、撮影レンズ１０６、絞り１０８、シャッタ１１０を通過してイメージセンサ１１２により受光される。イメージセンサ１１２は、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサやＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサであり、撮像面上の各画素で結像した光学像を光量に応じた電荷として蓄積して電気信号に変換し、信号処理回路１１４に出力する。信号処理回路１１４は、イメージセンサ１１２より入力される電気信号（撮影データ）に対して所定の信号処理を施して、画像処理エンジン１１６に出力する。
【００２１】
画像処理エンジン１１６は、信号処理回路１１４より入力される信号に対して色補間、マトリクス演算、Ｙ／Ｃ分離等の所定の信号処理を施して輝度信号Ｙ、色差信号Ｃｂ、Ｃｒを生成し、ＪＰＥＧ（Joint Photographic Experts Group）等の所定のフォーマットで圧縮する。バッファメモリ１１８は、画像処理エンジン１１６による処理の実行時、処理データの一時的な保存場所として用いられる。
【００２２】
カード用インタフェース１２０のカードスロットには、メモリカード２００が着脱可能に差し込まれている。
【００２３】
画像処理エンジン１１６は、カード用インタフェース１２０を介してメモリカード２００と通信可能である。画像処理エンジン１１６は、生成された圧縮画像信号（撮影画像データ）をメモリカード２００（又は撮影装置１に備えられる不図示の内蔵メモリ）に保存する。
【００２４】
また、画像処理エンジン１１６は、Ｙ／Ｃ分離後の信号に所定の信号処理を施して、フレームメモリ（不図示）にフレーム単位でバッファリングする。画像処理エンジン１１６は、バッファリングされた信号を所定のタイミングで各フレームメモリから掃き出して所定のフォーマットのビデオ信号に変換し、ＬＣＤ制御回路１２２に出力する。ＬＣＤ制御回路１２２は、画像処理エンジン１１６より入力される画像信号を基に液晶を変調制御する。これにより、被写体の撮影画像がＬＣＤ１２４の表示画面に表示される。ユーザは、ＡＥ制御及びＡＦ制御に基づいて適正な輝度及びピントで撮影されたリアルタイムのスルー画を、ＬＣＤ１２４の表示画面を通じて視認することができる。
【００２５】
画像処理エンジン１１６は、ユーザにより撮影画像の再生操作が行われると、操作により指定された撮影画像データをメモリカード２００又は内蔵メモリより読み出して所定のフォーマットの画像信号に変換し、ＬＣＤ制御回路１２２に出力する。ＬＣＤ制御回路１２２が画像処理エンジン１１６より入力される画像信号を基に液晶を変調制御することで、被写体の撮影画像がＬＣＤ１２４の表示画面に表示される。
【００２６】
外部接続インタフェース１２８は、ＰＣ（Personal Computer）等の外部装置と接続するためのインタフェースである。外部接続インタフェース１２８は、ＨＤＭＩ（High-Definition Multimedia Interface、ＨＤＭＩは登録商標）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）等の有線接続プロトコルや、Wi-Fi、Bluetooth（登録商標）、IrDA等の無線接続プロトコルを用いてＰＣ等と通信可能である。
【００２７】
［画像撮影フロー］
次に、撮影装置１による画像撮影フローを説明する。図２は、本発明の実施形態の画像撮影フローを示す。図２に示される画像撮影フローは、レリーズスイッチが全押しされた時点で開始される。
【００２８】
［図２のＳ１１（本撮影の開始）］
本処理ステップＳ１１では、本撮影が開始される。本実施形態において、本撮影とは、ＡＥやマニュアル操作によって決められた露光時間で行われる撮影を指す。
【００２９】
［図２のＳ１２（本撮影画像の保存）］
本処理ステップＳ１２では、本撮影による本撮影画像データがバッファメモリ１１８に保存される。
【００３０】
［図２のＳ１３（暗露光撮影の実施判定）］
本処理ステップＳ１３では、各種撮影条件により暗露光撮影を実施すべきか否かが判定される。各種撮影条件には、本撮影の露光時間、イメージセンサ１１２のＩＳＯ感度及びイメージセンサ１１２の温度の少なくとも１つが含まれる。なお、イメージセンサ１１２の温度は、イメージセンサ１１２の周辺に設置された温度センサ（不図示）により検知される。
【００３１】
暗電流に起因する欠陥画素は、露光時間が長秒化したり、イメージセンサ１１２のＩＳＯ感度が高かったり、イメージセンサ１１２の温度が上昇したりするほど生じやすくなる。例えば、露光時間が数１０秒以上におよぶ場合、欠陥画素が生じやすい。このような撮影条件化では暗露光撮影を実施すべきと判定されて（図２のＳ１３：ＹＥＳ）、図２の処理ステップＳ１４（暗露光撮影の開始）に進められる。反対に、露光時間が短秒であったり、イメージセンサ１１２のＩＳＯ感度が低かったり、イメージセンサ１１２の温度が低かったりするほど、暗電流に起因した欠陥画素が生じにくくなる。このような撮影条件化では暗露光撮影を実施する必要がないと判定されて（図２のＳ１３：ＮＯ）、図２の処理ステップＳ２０（欠陥画素アドレスデータの読み出し）に進められる。
【００３２】
［図２のＳ１４（暗露光撮影の開始）］
本処理ステップＳ１４では、暗露光撮影が開始される。本実施形態において、暗露光撮影とは、シャッタ１１０の全閉中（イメージセンサ１１２の撮像面への露光が遮断されている期間中）に行われる撮影を指す。なお、暗露光撮影は、本実施形態では本撮影の直後に行われているが、別の実施形態では本撮影の直前に行われてもよい。
【００３３】
［図２のＳ１５（暗露光撮影画像の保存）］
本処理ステップＳ１５では、暗露光撮影による暗露光撮影画像データがバッファメモリ１１８に保存される。
【００３４】
［図２のＳ１６（本撮影画像の輝度値の取得）］
本処理ステップＳ１６では、バッファメモリ１１８に保存された本撮影画像の輝度値が取得される。ここで、図３に、本処理ステップＳ１６の説明補助図を示す。本実施形態では、図３（ａ）に示されるように、本撮影画像が領域分割されることで複数の分割領域画像（３行×３列の９分割領域画像）が定義される。３行×３列の９分割領域は、例えば、撮影装置１の９分割評価測光の各測光エリアに対応する。本撮影画像の輝度値は、９つの分割領域画像毎に計算され求まる（図３（ｂ）参照）。計算により求まる輝度値は、例えば分割領域画像内に属する各画素の輝度値の平均値である。図３（ｂ）においては、説明の便宜上、輝度値が高い分割領域画像に「高」を記し、輝度値が中程度の分割領域画像に「中」を記し、輝度値が低い分割領域画像に「低」を記す。
【００３５】
［図２のＳ１７（閾値の設定）］
本処理ステップＳ１７では、欠陥画素を検出するための閾値が設定される。ここで、本実施形態では、予め、欠陥画素検出の対象となる各画素に一律の基準閾値が対応付けられている。しかし、一律の基準閾値をそのまま用いて欠陥画素検出を行うと、欠陥画素の検出漏れによる白キズの残存が顕著に現れたり、欠陥画素の過剰検出・過剰補間により空間周波数が低下したりすることがある。すなわち、一律の基準閾値をそのまま用いて欠陥画素検出を行うと、欠陥画素補間による本撮影画像の画質改善効果が十分には見込めない。
【００３６】
そこで、本処理ステップＳ１７において、基準閾値は、図２の処理ステップＳ１６（本撮影画像の輝度値の取得）にて求められた輝度値に基づいて分割領域画像毎に補正される。具体的には、輝度値「高」の分割領域画像内の各画素に対応付けられた基準閾値は、当該基準閾値よりも高い値に補正される。輝度値「低」の分割領域画像内の各画素に対応付けられた基準閾値は、当該基準閾値よりも低い値に補正される。輝度値「中」の分割領域画像内の各画素に対応付けられた基準閾値は補正されない。
【００３７】
本実施形態では、説明の便宜上、図２の処理ステップＳ１６（本撮影画像の輝度値の取得）にて求まる輝度値として「高」、「中」、「低」の３つの輝度値を示している。しかし、実際に求まる輝度値はビット数に対応する値であり（８ビットであれば０〜２５５）、「高」、「中」、「低」の３パターンに収まらない。欠陥画素補間による本撮影画像の画質改善効果を高めるには、基準閾値に対する補正値を画素の輝度値毎に個別に設定することが望ましい。具体的には、基準閾値は、対応付けられた画素の輝度値が所定の基準輝度値と比べて高いほど一層高い値に補正され、また、対応付けられた画素の輝度値が所定の基準輝度値と比べて低いほど一層低い値に補正されるように補正値が設定されるとよい。換言すると、基準閾値は、本撮影画像が明るいほど一層高い値に補正され、本撮影画像が暗いほど一層低い値に補正されるとよい。なお、基準閾値は、対応付けられた画素の輝度値が所定の基準輝度値と一致する場合には補正されない。
【００３８】
基準閾値は、本撮影の露光時間、本撮影時のイメージセンサ１１２のＩＳＯ感度及び温度の少なくとも１つの撮影条件に応じて値が修正されてもよい。この場合、値が修正された基準閾値に対して図２の処理ステップＳ１６（本撮影画像の輝度値の取得）にて求められた輝度値に基づく補正が行われる。
【００３９】
［図２のＳ１８（欠陥画素の検出）］
本処理ステップＳ１８では、暗露光撮影画像の各画素について、画素の出力値と当該画素に対応付けられた閾値（図２の処理ステップＳ１７（閾値の設定）後の閾値）との比較が行われ、その比較結果に基づいて当該画素が欠陥画素か否かが判定される。欠陥画素として検出された画素アドレスデータは、バッファメモリ１１８に保存される。
【００４０】
［図２のＳ１９（本撮影画像データの補正）］
本処理ステップＳ１９では、本撮影画像データから暗露光撮影画像データ（ノイズ成分）が減算されることにより、本撮影画像データが補正される。
【００４１】
［図２のＳ２０（欠陥画素アドレスデータの読み出し）］
図２の処理ステップＳ１３（暗露光撮影の実施判定）にてＮＯ判定になったとき又は図２の処理ステップＳ１９（本撮影画像データの補正）にて本撮影画像データが補正された後、本処理ステップＳ２０が実施される。本処理ステップＳ２０では、欠陥画素アドレスデータの読み出しが行われる。前者の場合、例えば製品出荷段階でＲＯＭ１２６に予め保存されている欠陥画素アドレスデータが読み出される。後者の場合、図２の処理ステップＳ１８（欠陥画素の検出）にて検出された欠陥画素アドレスデータがバッファメモリ１１８より読み出される。
【００４２】
［図２のＳ２１（欠陥画素の補間）］
本処理ステップＳ２１では、欠陥画素アドレスデータにより指定される本撮影画像の画素に対して周知の画素補間が行われる。画素補間は、ＲＯＭ１２６に予め保存されている欠陥画素アドレスデータにより指定される本撮影画像の画素及び図２の処理ステップＳ１８（欠陥画素の検出）にて検出された欠陥画素アドレスデータにより指定される本撮影画像の画素に対して行ってもよい。また、画素補間では、例えば、補間処理に利用される周辺画素数や補間演算の重み付けを適宜設定変更してもよい。
【００４３】
［図２のＳ２２（欠陥画素補間後の画像の出力）］
本処理ステップＳ２２では、本撮影画像がＬＣＤ１２４やＰＣ等の外部モニタに出力され表示される。これにより、ユーザは、欠陥画素が補間された本撮影画像を視ることができる。
【００４４】
このように、本実施形態では、高輝度領域内では暗電流に起因する欠陥画素が人間に感知されにくく目立ちにくいことから、高輝度領域に対応する欠陥画素検出用の閾値が上昇補正される。欠陥画素検出用の閾値が上昇補正されることにより、図２の処理ステップＳ１８（欠陥画素の検出）にて欠陥画素として検出されるものが絞り込まれて、過剰検出・過剰補間による空間周波数の低下（不要な解像感の劣化）が抑えられる。一方、低輝度領域内では暗電流に起因する欠陥画素が人間に感知されやすく目立ちやすいことから、低輝度領域に対応する欠陥画素検出用の閾値が下降補正される。欠陥画素検出用の閾値が下降補正されることにより、画像が暗い場合に限り白キズとして目立つ潜在的な欠陥画素の検出漏れが抑えられる。
【００４５】
ここで、本発明の数値実施例を２例示す。
【００４６】
（実施例１）
基準閾値                                    ：１８０
基準閾値の補正値                            ：−２０
本露光輝度値「低」の分割領域画像内の画素Ａの暗露光輝度値：１７０
本露光輝度値「低」の分割領域画像内の画素Ｂの暗露光輝度値：２００
本露光輝度値「低」の分割領域画像内の画素Ｃの暗露光輝度値：２５５
【００４７】
本実施例１において、画素Ａ〜Ｃに対応付けられた基準閾値は１８０である。基準閾値をこのまま適用すると、画素Ｂ及びＣは欠陥画素として検出されるが、画素Ａは欠陥画素として検出されない。しかし、画素Ａは、低輝度領域内の画素であることを考えると暗露光輝度値が比較的高い（＝１７０）ため、低輝度領域内では白キズとして知覚される可能性が高い。そこで、本実施例１では、基準閾値が１８０から１６０に補正される。これにより、白キズとして知覚される可能性の高い画素Ａも欠陥画素として漏れなく検出される。
【００４８】
（実施例２）
基準閾値                                    ：１８０
基準閾値の補正値                            ：＋３０
本露光輝度値「高」の分割領域画像内の画素Ａの暗露光輝度値：１７０
本露光輝度値「高」の分割領域画像内の画素Ｂの暗露光輝度値：２００
本露光輝度値「高」の分割領域画像内の画素Ｃの暗露光輝度値：２５５
【００４９】
本実施例２において、画素Ａ〜Ｃに対応付けられた基準閾値は１８０である。基準閾値をこのまま適用すると、画素Ａは欠陥画素として検出されないが、画素Ｂ及びＣは欠陥画素として検出される。しかし、画素Ｂは、高輝度領域内の画素であることを考えると、暗露光輝度値が比較的低い（＝２００）ため、高輝度領域内では白キズとして知覚されない可能性が高い。そこで、本実施例２では、基準閾値が１８０から２１０に補正される。これにより、白キズとして知覚されない可能性の高い画素Ｂが欠陥画素として検出されなくなる。欠陥画素の過剰検出・過剰補正が抑えられるため、空間周波数の低下（不要な解像感の劣化）が抑えられる。
【００５０】
以上が本発明の例示的な実施形態の説明である。本発明の実施形態は、上記に説明したものに限定されず、本発明の技術的思想の範囲において様々な変形が可能である。例えば明細書中に例示的に明示される実施形態等又は自明な実施形態等を適宜組み合わせた内容も本願の実施形態に含まれる。
【００５１】
例えば、図２の処理ステップＳ１３（暗露光撮影の実施判定）にてＮＯ判定となる場合であっても、処理ステップＳ１４（暗露光撮影の開始）から処理ステップＳ１９（本撮影画像データの補正）を実施してもよい。但し、この場合の暗露光撮影の露光時間は、例えば、処理ステップＳ１３（暗露光撮影の実施判定）にてＹＥＳ判定となる場合に実施される暗露光撮影の露光時間の半分である。
【００５２】
また、過去の画像撮影フローの実行により、ＲＯＭ１２６に予め保存されている欠陥画素アドレスデータと、図２の処理ステップＳ１８（欠陥画素の検出）にて検出された欠陥画素アドレスデータとが異なることが判明した場合を考える。この場合、図２の処理ステップＳ１３（暗露光撮影の実施判定）での判定条件が適宜変更されるようにしてもよい。
【符号の説明】
【００５３】
１  撮影装置
１００  ＣＰＵ
１０２  操作部
１０４  絞り・シャッタ駆動回路
１０６  撮影レンズ
１０８  絞り
１１０  シャッタ
１１２  イメージセンサ
１１４  信号処理回路
１１６  画像処理エンジン
１１８  バッファメモリ
１２０  カード用インタフェース
１２２  ＬＣＤ制御回路
１２４  ＬＣＤ
１２６  ＲＯＭ
１２８  外部接続インタフェース
２００  メモリカード
【図１】
2015090987.tif 000003
【図２】
2015090987.tif 000004
【図３】
2015090987.tif 000005