(57)【要約】【課題】磁気共鳴画像の画質の安定化および高水準化を実現可能とする技術を提供する。【解決手段】磁気共鳴イメージング装置の制御部１００は、磁気共鳴画像を撮像するための撮像パラメータセットを複数設定するパラメータ候補設定部と、撮像断面の異なる複数の磁気共鳴画像を、撮像パラメータセット毎に取得する断面画像取得部と、取得された複数の磁気共鳴画像を用いて、撮像パラメータセット毎に画質評価指標を算出する画質評価指標算出部と、画質評価指標が所定の基準値を満たす前記撮像パラメータセットを抽出するパラメータ決定部とを有する。【選択図】図１
2015054040.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気共鳴画像を撮像するための撮像パラメータセットを複数設定するパラメータ候補設定部と、
撮像断面の異なる複数の磁気共鳴画像を、前記撮像パラメータセット毎に取得する断面画像取得部と、
取得された複数の前記磁気共鳴画像を用いて、前記撮像パラメータセット毎に画質評価指標を算出する画質評価指標算出部と、
前記画質評価指標が所定の基準値を満たす前記撮像パラメータセットを抽出するパラメータ決定部と、
を有する磁気共鳴イメージング装置。
【請求項２】
請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記断面画像取得部は、既に取得した前記磁気共鳴画像が所定の基準値を満たさないと判定する場合、まだ取得していない前記磁気共鳴画像の取得をスキップする、磁気共鳴イメージング装置。
【請求項３】
請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記画質評価指標算出部は、複数の画質個別評価指標を前記磁気共鳴画像ごとに算出し、算出した前記画質個別評価指標に基づき、前記画質評価指標を算出する、磁気共鳴イメージング装置。
【請求項４】
請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記画質評価指標算出部は、前記撮像パラメータセットを構成する撮像パラメータに応じた重みづけ値を前記画質個別評価指標に乗算することで、前記画質評価指標を算出する、磁気共鳴イメージング装置。
【請求項５】
請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記画質評価指標算出部は、前記画質個別評価指標のばらつきの程度に応じた値を反映させて前記画質評価指標を算出する、磁気共鳴イメージング装置。
【請求項６】
請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記画質評価指標算出部は、コントラストに関する前記画質個別評価指標と輝度の揺らぎに関する前記画質個別評価指標とに基づいて前記画質評価指標を算出する、磁気共鳴イメージング装置。
【請求項７】
請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記画質評価指標算出部は、位置ずれに関する前記画質個別評価指標と形状変化に関する前記画質個別評価指標とに基づいて前記画質評価指標を算出する、磁気共鳴イメージング装置。
【請求項８】
請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記画質評価指標算出部は、断面方向に応じて異なる手法で前記画質個別評価指標を算出する、磁気共鳴イメージング装置。
【請求項９】
請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記画質評価指標算出部は、画質が所定の基準よりも高い参照画像の前記画質評価指標と前記磁気共鳴画像の前記画質評価指標との差分に基づき、前記画質評価指標を算出する、磁気共鳴イメージング装置。
【請求項１０】
パラメータ候補設定部により、磁気共鳴画像を撮像するための撮像パラメータセットを複数設定する撮像パラメータセット設定ステップと、
断面画像取得部により、撮像断面の異なる複数の磁気共鳴画像を、前記撮像パラメータセット毎に取得する断面画像取得ステップと、
画質評価指標算出部により、取得された複数の前記磁気共鳴画像を用いて、前記撮像パラメータセット毎に画質評価指標を算出する画質評価指標算出ステップと、
パラメータ決定部により、前記画質評価指標が所定の基準値を満たす前記撮像パラメータセットを抽出する撮像パラメータセット抽出ステップと、
を有する、磁気共鳴画像の撮像パラメータ決定方法。
【請求項１１】
請求項１０に記載の撮像パラメータ決定方法において、
前記撮像パラメータセット設定ステップは、パラメータ候補設定部により、磁気共鳴画像を撮像するための撮像パラメータセットを所定の第１間隔よりも広い第２間隔ごとに複数設定する第１撮像パラメータセット設定ステップであり、
前記パラメータ候補設定部により、前記撮像パラメータセット抽出ステップにて抽出された前記撮像パラメータセットのパラメータ値を基準に前記第１間隔よりも狭い間隔である第３間隔ごとに前記撮像パラメータセットを設定する、第２撮像パラメータセット設定ステップを有する、磁気共鳴画像の撮像パラメータ決定方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の撮像パラメータ決定方法において、
前記画質評価指標算出部は、前記第３間隔ごとに設定された前記撮像パラメータセットから一つの撮像パラメータセットと、前記撮像パラメータセットにて撮像された前記磁気共鳴画像とを表示する表示ステップとをさらに有する、磁気共鳴画像の撮像パラメータ決定方法。
【請求項１３】
パラメータ候補設定部により、磁気共鳴画像を撮像するための撮像パラメータセットを複数設定する撮像パラメータセット設定ステップと、
断面画像取得部により、撮像断面の異なる複数の磁気共鳴画像を、前記撮像パラメータセット毎に取得する断面画像取得ステップと、
画質評価指標算出部により、取得された複数の前記磁気共鳴画像を用いて、前記撮像パラメータセット毎に画質評価指標を算出する画質評価指標算出ステップと、
パラメータ決定部により、前記画質評価指標が所定の基準値を満たす前記撮像パラメータセットを抽出する撮像パラメータセット抽出ステップと、
を磁気共鳴イメージング装置を構成するコンピュータに実行させる、撮像パラメータ決定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気共鳴イメージング装置および撮像パラメータ決定方法ならびに撮像パラメータ決定プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、磁気を利用して生体の磁気共鳴画像を撮像する磁気共鳴イメージング（Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ  Ｉｍａｇｉｎｇ）装置が医療分野で広く普及している。磁気共鳴イメージング装置を利用することで、病変部と正常組織とのコントラストが良い磁気共鳴画像を得ることができる。
【０００３】
磁気共鳴イメージング装置は、均一な静磁場中に置かれた撮像対象に対し、高周波磁場を照射し、これによって撮像対象の一部から生じる核磁気共鳴（以下、ＮＭＲ（Ｎｕｃｌｅａｒ  Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ））信号を検出し、これらを画像化する。
【０００４】
ここで、ＮＭＲ信号に位置情報を付加するために、撮像空間には一般に３軸（ｘ軸、ｙ軸、ｚ軸）方向に磁場強度を変化させた傾斜磁場が印加される。しかし、磁気共鳴イメージング装置では、静磁場や傾斜磁場に誤差が生じると適切な位置におけるＮＭＲ信号を検出できず、磁気共鳴画像に画質不良が発生する。実際、画質不良は、静磁場の不均一性、過電流による傾斜磁場波形の歪みなどの要因によって生じる。
【０００５】
磁気共鳴イメージング装置においては診断を適切に行うことができる磁気共鳴画像を提供することが重要である。そして、磁気共鳴イメージング装置が撮像する磁気共鳴画像を高画質化するためには、工場出荷時および機器据付時に撮像パラメータごとに撮像パラメータ値（例えば、傾斜磁場の強さと方向、高周波磁場を照射する時間と頻度、ＮＭＲ信号を検出するまでの時間、撮像範囲など）を調整する必要がある。しかし、現状では、撮像パラメータごとの撮像パラメータ値は、ボリュームデータの各磁気共鳴画像を複数サンプリングし、サービス員が目視判断で調整している。そして、撮像パラメータごとの撮像パラメータ値を調整後の磁気共鳴画像の画質が、サービス員の能力に大きく依存する上に、調整に数時間〜十数時間要するということが問題であった。
【０００６】
ここで、磁気共鳴画像の撮像過程の磁場誤差に起因して発生する画質不良を低減するため、傾斜磁場の出力誤差を考慮に入れて磁気共鳴画像を再構成する方法が提案されている。例えば、国際公開第２０１０／０４７２４５号（特許文献１）では、傾斜磁場の出力誤差を求めるためのパラメータ値によって、ＮＭＲ信号の計測空間上での座標位置を補正し、画質不良を低減する方法が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】国際公開第２０１０／０４７２４５号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１に記載された技術では、磁気共鳴画像を再構成する際に用いるパラメータ値については考慮されているが、磁気共鳴イメージング装置が磁気共鳴画像を撮像するための撮像パラメータごとの撮像パラメータ値を調整することについては、考慮されていない。撮像パラメータごとに調整される撮像パラメータ値が正しくない場合、磁気共鳴画像の画質が低くなるため、ＮＭＲ信号の計測空間上で座標位置を修正して得られる磁気共鳴画像の画質も低くなるという問題がある。また、磁気共鳴イメージング装置では、撮像対象を複数の断面位置および断面方向で撮像することが多く、これら複数の断面位置および断面方向を撮像した複数の磁気共鳴画像からなるボリュームデータ全体において高い画質を得ることが重要である。そのため、ボリュームデータを構成する各磁気共鳴画像の画質が高くなるように撮像パラメータごとに撮像パラメータ値を調整することが重要になる。
【０００９】
本発明の目的は、磁気共鳴画像の画質の安定化および高水準化を実現可能とする技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次の通りである。
【００１１】
本発明の一実施の形態は、磁気共鳴画像を撮像するための撮像パラメータセット毎に画質評価指標を算出し、算出した画質評価指標が所定の基準値を満たす前記撮像パラメータセットを抽出する。
【発明の効果】
【００１２】
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。
【００１３】
本発明の一実施の形態によれば、磁気共鳴画像の画質の安定化および高水準化が実現可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置の全体構成例の概要を示す図である。
【図２】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、制御部の構成例の概要を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、全体処理の概要を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、画質評価指標算出処理の概要を示す図である。
【図５】（ａ）〜（ｅ）は、本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、磁気共鳴画像の例を示す図である。（ａ）は、標準画像を（ｂ）は、輝度の揺らぎが大きい場合の例を（ｃ）は、コントラストが低い場合の例を（ｄ）は、ノイズ量が多い場合の例を（ｅ）は、エッジ鮮鋭度が低い場合の例を示す図である。
【図６】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、磁気共鳴画像の例を示す図である。（ａ）は、標準画像を（ｂ）は、位置ずれが発生した場合の例を（ｃ）は、形状変化が発生した場合の例を示す図である。
【図７】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、画質個別評価指標を算出する例を示す図である。
【図８】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、画質個別評価指標を算出する例を示す図である。
【図９】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、画質個別評価指標を算出する例を示す図である。
【図１０】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、画質評価指標を算出する例を示す図である。
【図１１】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、断面の方向が異なる磁気共鳴画像の例を示す図である。
【図１２】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、画質評価指標を算出する例を示す図である。
【図１３】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、画質評価指標を算出する例を示す図である。
【図１４】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、（ａ）は、画質が所定の基準よりも高い参照画像の画質評価指標と磁気共鳴画像の画質評価指標との差分に基づき、画質評価指標を算出する例を示す図であり、（ｂ）は、参照画像の各画質個別評価指標と磁気共鳴画像の各画質個別評価指標の差分の中で最大の値に基づき、画質評価指標を算出する例を示す図である。
【図１５】本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、磁気共鳴画像の撮像がスキップされる例を示す図である。
【図１６】本発明の実施の形態２における磁気共鳴イメージング装置において、全体処理の概要を示す図である。
【図１７】本発明の実施の形態２における磁気共鳴イメージング装置において、応答画面の例を示す図である。
【図１８】本発明の実施の形態２における磁気共鳴イメージング装置において、（ａ）は、第１間隔を（ｂ）は、第２間隔を（ｃ）は、第３間隔を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一部には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【００１６】
本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置は、磁気共鳴画像を撮像するための撮像パラメータセットを複数生成する。そして、生成したこれら撮像パラメータセットにて撮像された磁気共鳴画像の画質を定量評価することで、最適な撮像パラメータセットを決定する。これにより、撮像パラメータの調整に要する時間を短縮できるようになる。
【００１７】
[実施の形態１]
本発明の実施の形態１を図１〜図１５を用いて説明する。
【００１８】
＜全体構成例＞
図１は、本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置の全体構成例の概要を示す図である。本発明の一実施の形態における磁気共鳴イメージング装置は例えば、制御部１００と、ＣＰＵ２０１と、シーケンサ２０２と、静磁場系２１０と、傾斜磁場系２２０と、送信系２３０と、受信系２４０と、記憶部２５０と、操作部２６０とを有する。
【００１９】
また、磁気共鳴イメージング装置は、所定のハードウェアおよびソフトウェアが実装される。例えば、磁気共鳴イメージング装置は、プロセッサやメモリなどを有し、プロセッサによるメモリ上のプログラムの実行により、磁気共鳴イメージング装置として、コンピュータを機能させる。
【００２０】
静磁場系２１０は、永久磁石方式あるいは超伝導方式の磁場発生手段により、撮像対象の周囲に均一な静磁場を、撮像対象の体軸方向または体軸方向と直交する方向に発生させる。
【００２１】
傾斜磁場系２２０は、静磁場が発生する方向を例えばｚ軸方向であり、これと直交する２方向がｘ軸、ｙ軸である場合、これら３軸方向に傾斜磁場を発生する３つの傾斜磁場コイル２２１と、各傾斜磁場コイルを駆動する傾斜磁場電源２２２とを有する。
【００２２】
送信系２３０は、高周波発振器２３１と、変調器２３２と、高周波増幅器２３３と、高周波照射コイル２３４とを有する。高周波発振器２３１により発生される高周波パルスは、変調器２３２により所定のエンベロープの信号へと変調される。その後、高周波増幅器２３３により増幅され、高周波照射コイル２３４に印加されることにより、撮像対象を構成する原子の原子核にＮＭＲ信号を発生させる高周波信号が照射される。
【００２３】
受信系２４０は、高周波受信コイル２４１と、増幅器２４２と、直交位相検波器２４３と、Ａ／Ｄ変換器２４４とを有する。高周波照射コイル２３４から照射された高周波信号の応答として、撮像対象から発生されたＮＭＲ信号は、高周波受信コイル２４１により検出され、増幅器２４２にて増幅される。その後、直交位相検波器２４３を介してＡ／Ｄ変換器２４４によりデジタル信号に変換され、二系列の収集データとして記憶部２５０に記憶される。
【００２４】
ＣＰＵ２０１はシーケンサ２０２を制御する。シーケンサ２０２は、撮像対象のデータ収集に必要な命令を上述した傾斜磁場系２２０と、送信系２３０と、受信系２４０とに送信する。特に、傾斜磁場系２２０が発生する傾斜磁場および、送信系２３０が発生する高周波パルスの照射タイミングならびに、受信系２４０による、ＮＭＲ信号の検出のタイミングは、シーケンサ２０２を介してパルスシーケンス（このパルスシーケンスは、撮像方法によって決まる）により制御される。
【００２５】
記憶部２５０は、光磁気ディスクと、磁気ディスクと、ＲＯＭと、ＲＡＭとを有し、例えば、計測プログラムの不変パラメータ、検出されたＮＭＲ信号、再構成された磁気共鳴画像を表示するための画像データなどを記憶する。
【００２６】
操作部２６０は、マウス、キーボードなどの入力手段と、ＧＵＩが表示されるとともに制御部１００における処理結果と撮像により得られた磁気共鳴画像とが表示されるディスプレイ２６１とを有する。ＣＰＵ２０１が行う各種処理や制御に必要な情報は、操作部２６０を介して入力を受け付ける。
【００２７】
制御部１００は、ＣＰＵ２０１において受信系２４０が受信したデジタル信号にフーリエ変換、画像再生等の種々の信号処理を行う。
【００２８】
＜制御部の構成＞
図２は、本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、制御部１００の構成例の概要を示す図である。
【００２９】
制御部１００は、パラメータ候補設定部１１０と、断面画像取得部１２０と、画質評価指標算出部１３０と、パラメータ決定部１４０とを有する。
【００３０】
パラメータ候補設定部１１０は、複数の撮像パラメータと各撮像パラメータへの撮像パラメータ値との組み合わせである撮像パラメータセットを生成する。
【００３１】
断面画像取得部１２０は、パラメータ候補設定部１１０が設定した撮像パラメータセットにて撮像された磁気共鳴画像を取得する。
【００３２】
画質評価指標算出部１３０は、画質評価指標を算出する。ここで、画質評価指標とは、撮像パラメータセットにより撮像された磁気共鳴画像の画質を定量評価するための指標であり、撮像パラメータセットごとに算出される。なお、画質評価指標はスカラー値でも良いし、スカラー値の組でも良い。
【００３３】
パラメータ決定部１４０は、画質評価指標の値に基づき、磁気共鳴イメージング装置が撮像に用いる撮像パラメータセットを決定する。
【００３４】
＜全体処理＞
図３は、本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、全体処理の概要を示す図である。
【００３５】
まず、Ｓ３０１にて、パラメータ候補設定部１１０は、複数の撮像パラメータと所定の第１間隔ごとの撮像パラメータ値との組み合わせを網羅させて複数の撮像パラメータセットＰ１〜Ｐｍを生成する。
【００３６】
次に、Ｓ３０２にて、パラメータ候補設定部１１０は、撮像パラメータセットを識別するための撮像パラメータセット番号ｉに１を設定する。
【００３７】
次に、Ｓ３０３にて、パラメータ候補設定部１１０は、撮像パラメータセットとしてＰｉを設定し、その後、画質評価指標算出処理（後述、図４）が行われ、撮像パラメータセットＰｉの画質評価指標が算出される。
【００３８】
次に、Ｓ３０４にて、パラメータ候補設定部１１０は、ｉがＳ３０１で生成された撮像パラメータセットの数であるｍ未満か否かを判定する。パラメータ候補設定部１１０が、ｉがｍ未満であると判定する場合（Ｓ３０４−Ｙｅｓ）、Ｓ３０５へ進み、パラメータ候補設定部１１０は、ｉをインクリメントし、その後、Ｓ３０３へ進む。一方、パラメータ候補設定部１１０が、ｉがｍ未満でないと判定する場合（Ｓ３０４−Ｎｏ）、Ｓ３０６へ進む。
【００３９】
Ｓ３０６にて、パラメータ決定部１４０は、画質評価指標の値が所定値以上である撮像パラメータセットを抽出する。なお、パラメータ決定部１４０は、画質評価指標の値が最も高い撮像パラメータセットを抽出するようにしても良い。
【００４０】
次に、Ｓ３０７にて、パラメータ決定部１４０は、Ｓ３０６で抽出した撮像パラメータセット番号と撮像パラメータセットと画質評価指標とボリュームデータとを対応付けて記憶部２５０に記憶する。
【００４１】
なお、Ｓ３０１にて、パラメータ候補設定部１１０は、磁気共鳴画像を撮像するための撮像パラメータセットＰｉをひとつだけ生成し、Ｓ３０４にて、撮像パラメータと、この撮像パラメータへの撮像パラメータ値との全ての組み合わせをパラメータ候補設定部１１０が設定したか否かを判定し、全ての組み合わせを設定していないと判定する場合に、前回生成した撮像パラメータセットを構成する撮像パラメータの撮像パラメータ値を少しだけ変更した撮像パラメータセットをＳ３０３にて新たに生成し、設定するようにしても良い。
【００４２】
＜画質評価指標算出処理＞
図４は、本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置において、画質評価指標算出処理の概要を示す図である。
【００４３】
本画質評価指標算出処理にて、画質評価指標算出部１３０は、撮像パラメータセットＰｉにて取得される、図１１に示すファントム（磁気共鳴イメージング装置の特性を調べるために用いられる人工物）の、基準位置におけるＡｘｉａｌ断面画像であるＱ１と、基準位置とＺ軸の座標が異なるオフセット位置における２枚のＡｘｉａｌ断面画像であるＱ２およびＱ３からなるボリュームデータＱ１〜Ｑ３について、画質個別評価指標を算出し、算出した画質個別評価指標に基づいて、撮像パラメータセットＰｉの画質評価指標を算出する。ここで、画質個別評価指標は、画質不良の要因ごとに定義され、画質不良の要因としては、例えば、輝度の揺らぎ、コントラスト、ノイズ量、エッジ鮮鋭度、位置ずれ、形状変化が該当する。
【００４４】
まず、Ｓ４０１にて、断面画像取得部１２０は、パラメータ候補設定部１１０から、撮像パラメータセットＰｉを取得する。
【００４５】
次に、Ｓ４０２にて、断面画像取得部１２０は、Ａｘｉａｌ断面画像を識別するための断面画像番号であるｊに１を設定する。
【００４６】
次に、Ｓ４０３にて、断面画像取得部１２０は、撮像パラメータセットＰｉにて撮像されたＡｘｉａｌ断面画像であるＱｊを取得する。
【００４７】
次に、Ｓ４０４にて、画質評価指標算出部１３０は、断面画像取得部１２０がＳ４０３にて取得したＱｊの画質個別評価指標を算出する処理（後述、図５、図６）をする。この画質個別評価指標を算出する処理では、例えば、輝度の揺らぎ、コントラスト、ノイズ量、エッジ鮮鋭度、撮像位置ずれ、形状変化に関する画質個別評価指標が算出される。
【００４８】
次に、Ｓ４０５にて、断面画像取得部１２０は、画質が所定の基準を満たしているか否かを判定する。なお、所定の基準としては、例えばコントラスト値、ＳＮ比、画質個別評価指標、同撮像パラメータセットＰｉにてこれまでに算出された画質個別評価指標に基づいて算出される画質評価指標などが該当し、これらが所定の値以上である場合、断面画像取得部１２０は、画質が所定の基準を満たしていると判定する。断面画像取得部１２０が、画質が所定の基準を満たしていない判定する場合（Ｓ４０５−Ｎｏ）、図１５に示すように、画質が所定の基準を満たさない（つまり、画質が悪い）と判定された以降のＡｘｉａｌ断面画像の撮像がスキップされ、画質評価指標算出処理は終了する。一方、断面画像取得部１２０が、画質が所定の基準を満たしていると判定する場合（Ｓ４０５−Ｙｅｓ）、Ｓ４０６へ進む。
【００４９】
次に、Ｓ４０６にて、断面画像取得部１２０は、ｊをインクリメントする。
【００５０】
次に、Ｓ４０７にて、断面画像取得部１２０は、ｊの値が３以下か否かを判定する。断面画像取得部１２０が、ｊの値が３以下であると判定する場合（Ｓ４０７−Ｙｅｓ）、Ｓ４０３へ進む。一方、断面画像取得部１２０が、ｊの値が３以下ではないと判定する場合（Ｓ４０７−Ｎｏ）、Ｓ４０８へ進む。
【００５１】
次に、Ｓ４０８にて、画質評価指標算出部１３０は、３枚のＡｘｉａｌ断面画像それぞれについて算出された画質個別評価指標に基づき、撮像パラメータセットＰｉの画質評価指標を算出し、画質評価指標算出処理を終了する。
【００５２】
なお、画質評価指標算出部１３０は、図１１に示す、基準位置におけるＡｘｉａｌ断面画像であるＱ１と、基準位置とＺ軸の座標が異なるオフセット位置における２枚のＡｘｉａｌ断面画像であるＱ２およびＱ３と、基準位置におけるＳａｇｉｔｔａｌ断面画像であるＱ４と、基準位置とＸ軸の座標が異なるオフセット位置における２枚のＳａｇｉｔｔａｌ断面画像であるＱ５およびＱ６と、基準位置におけるＣｏｒｏｎａｌ断面画像であるＱ７と、基準位置とＹ軸の座標が異なるオフセット位置における２枚のＣｏｒｏｎａｌ断面画像であるＱ８およびＱ９とからなるボリュームデータＱ１〜Ｑ９について、画質個別評価指標を算出するようにしても良い。
【００５３】
また、異なる手法で画質評価指標算出部１３０は、Ａｘｉａｌ断面画像と、Ｃｏｒｏｎａｌ断面画像と、Ｓａｇｉｔｔａｌ断面画像とで、画質個別評価指標を算出するようにしても良い。例えば、Ａｘｉａｌ断面画像については、円周に沿った領域を抽出し、抽出した領域について画質個別評価指標を算出するようにし、Ｃｏｒｏｎａｌ断面画像およびＳａｇｉｔｔａｌ断面画像については、ファントムの縁と平行な領域を抽出し、抽出した領域について画質個別評価指標を算出するようにしても良い。Ａｘｉａｌ断面画像とＣｏｒｏｎａｌ断面画像とＳａｇｉｔｔａｌ断面画像とで、異なる手法で画質個別評価指標を算出することで、ハード特性で異なる形状の断面ごとに固有の画像特定が生じている場合でも適切な撮像パラメータセットを決定できるようになる。
【００５４】
以下、図５および図６を用いて、画質個別評価指標の例を説明した上で、図７〜図１０および図１２〜図１４を用いて、画質評価指標を算出する例を説明する。
【００５５】
図５において、磁気共鳴画像５０１，５０２，５０３は、異なる撮像パラメータセットにて撮像されている。また、グラフ５０６は、磁気共鳴画像５０１の線分ＡＡ’上の輝度プロファイルを示し、グラフ５０７は、磁気共鳴画像５０２の線分ＡＡ’上の輝度プロファイルを示し、グラフ５０８は、磁気共鳴画像５０３の線分ＡＡ’上の輝度プロファイルを示す。画質評価指標算出部１３０が算出する輝度の揺らぎに関する画質個別評価指標の値は、輝度の揺らぎ中の最大輝度と最少輝度との差が大きいほど低くなる。また、コントラストに関する画質評価指標算出部１３０が算出する画質個別評価指標の値は、ファントム外部の輝度に対するファントム内部の輝度の大きさが所定の基準よりも小さくなるほど低くなる。また、画質評価指標算出部１３０が算出するノイズ量に関する個別評価指標の値は、ノイズ量が多くなるほど低くなる。また、画質評価指標算出部１３０が算出するエッジ鮮鋭度に関する個別評価指標の値は、エッジ鮮鋭度が低くなるほど低くなる。
【００５６】
図５（ａ）に示す磁気共鳴画像５０１は、適切な撮像パラメータセットにて撮像された標準画像であり、グラフ５０６が示すようにファントム内部およびファントム外部の輝度はいずれも均一である。よって、画質評価指標算出部１３０は、この磁気共鳴画像５０１の輝度の揺らぎに関する画質個別評価指標の値を最も高い値として算出する。また、磁気共鳴画像５０１のファントム外部の輝度に対するファントム内部の輝度の大きさは所定の基準を満たしている。よって、画質評価指標算出部１３０は、この磁気共鳴画像５０１のコントラストに関する画質個別評価指標の値を最も高い値として算出する。
【００５７】
次に、図５（ｂ）に示す磁気共鳴画像５０２は、グラフ５０７が示すように輝度の揺らぎが発生している。よって輝度の揺らぎについて画質評価指標算出部１３０が算出する磁気共鳴画像５０２の画質個別評価指標の値は、輝度の揺らぎ中の最大輝度と最少輝度との差５０９が大きくなるほど低くなる。また、磁気共鳴画像５０２のファントム外部の輝度に対するファントム内部の輝度の大きさは輝度の揺らぎが発生した分だけ小さくなっており、その分だけ、画質評価指標算出部１３０は、この磁気共鳴画像５０２のコントラストに関する画質個別評価指標を小さな値として算出する。
【００５８】
次に、図５（ｃ）に示す磁気共鳴画像５０３は、グラフ５０８が示すようにファントム内部およびファントム外部の輝度はいずれも均一である。よって、画質評価指標算出部１３０は、この磁気共鳴画像５０３の輝度の揺らぎについての画質個別評価指標の値を最も高い値として算出する。また、磁気共鳴画像５０３のファントム外部に対するファントム内部の輝度は、所定の基準よりも小さくなっており、その分だけ、画質評価指標算出部１３０は、この磁気共鳴画像５０３のコントラストに関する画質個別評価指標の値を小さな値として算出する。
【００５９】
次に、図５（ｄ）に示す磁気共鳴画像５０４は、ノイズ量が多く、その分だけ、画質評価指標算出部１３０は、この磁気共鳴画像５０４のノイズ量に関する画質評価指標の値を小さな値として算出する。
【００６０】
次に、図５（ｅ）に示す磁気共鳴画像５０５は、エッジ鮮鋭度が低く、その分だけ、画質評価指標算出部１３０は、この磁気共鳴画像５０５のエッジ鮮鋭度に関する画質評価指標の値を小さな値として算出する。
【００６１】
磁気共鳴イメージング装置では、横方向あるいは縦方向に対する輝度の揺らぎおよびコントラストの低下が発生しやすい場合がある。図５（ｂ）〜（ｅ）に関する画質個別評価指標に基づいて画質評価指標を算出することで、横方向あるいは縦方向に対する輝度の揺らぎおよびコントラストの低下が発生しにくい撮像パラメータセットを抽出できるようになる。
【００６２】
図６において、磁気共鳴画像６０１，６０２，６０３は、異なる撮像パラメータセットにて撮像されている。また、グラフ６０４は、磁気共鳴画像６０１の線分ＡＡ’上の輝度プロファイルを示し、グラフ６０５は、磁気共鳴画像６０２の線分ＡＡ’上の輝度プロファイルを示し、グラフ６０６は、磁気共鳴画像６０３の線分ＡＡ’上の輝度プロファイルを示す。画質評価指標算出部１３０が算出する位置ずれに関する画質個別評価指標の値は、磁気共鳴画像６０１，６０２，６０３の中心からファントムの中心までの距離が長くなるほど低くなる。また、画質評価指標算出部１３０が算出する形状変化に関する画質個別評価指標の値は、ファントムの中心からファントムの淵までの距離の標準偏差が大きくなるほど低くなる。
【００６３】
磁気共鳴画像６０１は、適切な撮像パラメータセットにて撮像された標準画像であり、位置ずれも形状変化も発生していない。よって、画質評価指標算出部１３０は、位置ずれに関するこの磁気共鳴画像６０１の画質個別評価指標の値および形状変化に関する画質個別評価指標の値を、最も高い値として算出する。
【００６４】
次に、磁気共鳴画像６０２は、グラフ６０５が示すように、磁気共鳴画像６０２の中心６０７からファントムの中心６０８まで所定の距離６０９がある。よって、画質評価指標算出部１３０は、この磁気共鳴画像６０２の位置ずれに関する画質個別評価指標の値をこの距離６０９の長さに応じて小さな値として算出する。
【００６５】
次に、磁気共鳴画像６０３は、ファントムの中心６０８からファントムの淵までの各距離６１０の標準偏差が０以上である。よって、画質評価指標算出部１３０は、この磁気共鳴画像６０３の画質個別評価指標の値を、標準偏差が大きさに応じて小さな値として算出する。
【００６６】
磁気共鳴イメージング装置では、位置ずれおよび形状変化が発生しやすい場合がある。図６（ｂ），（ｃ）に関する画質個別評価指標に基づいて画質評価指標を算出することで、位置ずれおよび形状変化が発生しにくい撮像パラメータセットを抽出できるようになる。
【００６７】
図７、図８は、コントラストに関する画質個別評価指標とノイズ量に関する画質個別評価指標とに基づいて画質評価指標を算出する例を示す図である。
【００６８】
図７に示すように、画質評価指標算出部１３０は、Ｓ４０４にて算出されたコントラストに関するＱ１の画質個別評価指標とＱ２の画質個別評価指標とＱ３の画質個別評価指標との平均値を算出する。また、画質評価指標算出部１３０は、Ｓ４０４にて算出されたノイズ量に関するＱ１の画質個別評価指標とＱ２の画質個別評価指標とＱ３の画質個別評価指標との平均値を算出する。
【００６９】
その後、画質評価指標算出部１３０は、コントラストに関する画質個別評価指標の平均値に所定の重みづけ値（例えば３）を乗算した値と、ノイズ量に関する画質個別評価指標の平均値に所定の重みづけ値（例えば４）を乗算した値とを加算することで、画質評価指標を算出する。なお、各画質個別評価指標の平均値に乗算される重みづけ値は、視認性への影響の度合いを考慮して、適宜設定できるようにしても良い。
【００７０】
なお、図８に示すように、画質評価指標算出部１３０は、Ｑ１〜Ｑ３のコントラストに関する各画質個別評価指標の最小値とノイズ量に関する画質個別評価指標の最小値とを取得し、その後、コントラストに関する画質個別評価指標の最小値に所定の重みづけ値を乗算した値と、ノイズ量に関する画質個別評価指標の最小値に所定の重みづけ値を乗算した値とを加算することで画質評価指標を算出するようにしても良い。
【００７１】
図９において、磁気共鳴画像１１０１〜１１０３は、撮像パラメータセット１にて撮像されたＺ軸の座標が異なる３枚のＡｘｉａｌ断面画像である。また、磁気共鳴画像１１０４〜１１０６は、撮像パラメータセット２にて撮像されたＺ軸の座標が異なる３枚のＡｘｉａｌ断面画像である。
【００７２】
磁気共鳴画像１１０１〜１１０６は、ノイズ量に関する画質個別評価指標が１０点満点で算出されており、磁気共鳴画像１１０１の画質個別評価指標は１０点、磁気共鳴画像１１０２の画質個別評価指標は１０点、磁気共鳴画像１１０３の画質個別評価指標は６点、磁気共鳴画像１１０４の画質個別評価指標は８点、磁気共鳴画像１１０５の画質個別評価指標は８点、磁気共鳴画像１１０６の画質個別評価指標は８点と算出されている。
【００７３】
図１０は、画質評価指標を算出する例を示す図であり、ノイズ量に関する画質個別評価指標と画質個別評価指標のばらつきの程度（例えば、標準偏差）とに基づいて画質評価指標を算出する例を示す。
【００７４】
図１０に示すように、画質評価指標算出部１３０は、Ｓ４０４にて算出されたＱ１〜Ｑ３のノイズ量に関する画質個別評価指標の平均値を算出する。また、画質評価指標算出部１３０は、磁気共鳴画像１１０１〜１１０３の画質個別評価指標の標準偏差を算出し、標準偏差に応じた値を算出する。この標準偏差に応じた値は、標準偏差が大きくなるほど低くなり、標準偏差が小さくなるほど高くなる。
【００７５】
その後、画質評価指標算出部１３０は、ノイズ量に関する画質個別評価指標の平均値に所定の重みづけ値（例えば１）を乗算した値と、標準偏差に応じた値に所定の重みづけ値（例えば２）を乗算した値とを加算することで、画質評価指標を算出する。図９の例の場合、標準偏差は、撮像パラメータセット２で撮像された磁気共鳴画像１１０４〜１１０６の方が、撮像パラメータセット１で撮像された磁気共鳴画像１１０１〜１１０３よりも小さい。よって、撮像パラメータセット２で撮像された磁気共鳴画像１１０４〜１１０６のばらつきに関する画質評価指標の値は、撮像パラメータセット１で撮像された磁気共鳴画像１１０１〜１１０３の画質個別評価指標の値よりも高くなる。
【００７６】
このように、画質個別評価指標のばらつきの程度を画質評価指標の算出に反映させることで、画質個別評価指標のばらつきを少なくするのに適切な撮像パラメータセットを決定できるようになる。
【００７７】
図１２は、撮像パラメータの種類に応じて、画質個別評価指標に乗算される重みづけの値を決定する例を示す図である。
【００７８】
撮像パラメータは、種類によって、特定の画質不良に与える影響が大きいものがある。例えば、図１３に示すようにコントラストに与える影響が大きい撮像パラメータＡが存在することがある。その場合、撮像パラメータＡの撮像パラメータ値を小さくするとコントラストが低くなり、撮像パラメータＡの撮像パラメータ値を大きくするとコントラストが高くなる。また、他の例として、図１３に示すようにエッジ鮮鋭度に与える影響が大きい撮像パラメータＢが存在することがある。その場合、撮像パラメータＢの撮像パラメータ値を小さくするとエッジ鮮鋭度が低くなり、撮像パラメータＢの撮像パラメータ値を大きくするとエッジ鮮鋭度が高くなる。
【００７９】
撮像パラメータごとの重みづけ値は予め記憶されており、撮像パラメータＡと、コントラストに関する重みづけ値ＷＡＣおよびエッジ鮮鋭度に関する重みづけ値ＷＡＥとは、予め対応付けて記憶されている。また、撮像パラメータＢと、コントラストに関する重みづけ値ＷＢＣおよびエッジ鮮鋭度に関する重みづけ値ＷＢＥとは、予め対応付けて記憶部２５０に記憶されている。
【００８０】
上述したように撮像パラメータＡは、コントラストに与える影響が大きいため、撮像パラメータＡのコントラストに関する重みづけ値ＷＡＣは、ＷＡＥよりも大きな値が記憶されている。また、撮像パラメータＢは、エッジ鮮鋭度に与える影響が大きいため、撮像パラメータＢのエッジ鮮鋭度に関する重みづけ値ＷＢＥは、値ＷＢＣよりも大きな値が記憶されている。
【００８１】
例えば、図１２に示すスイッチ１４０１は、撮像パラメータＡをキーに対応する重み付け値ＷＡＣ，ＷＡＥを取得し、コントラストに関する画質個別評価指標に乗算される重みづけ値として重みづけ値ＷＡＣを設定し、エッジ鮮鋭度に関する画質個別評価指標に乗算される重みづけ値として重みづけ値ＷＡＥを設定する。
【００８２】
図１４（ａ）は、画質が所定の基準よりも高い参照画像の画質評価指標と磁気共鳴画像の画質評価指標との差分に基づき、磁気共鳴画像の撮像に用いられた撮像パラメータセットの最終的な画質評価指標を算出する例を示す図である。
【００８３】
まず、画質評価指標算出部１３０は、断面を撮像した複数の参照画像それぞれに対して画質個別評価指標を算出する。次に、画質評価指標算出部１３０は、取得した各画質個別評価指標に基づき、画質評価指標を算出する。
【００８４】
そして、画質評価指標算出部１３０は、参照画像の画質評価指標から磁気共鳴画像の画質評価指標を減算し、参照画像の画質評価指標と磁気共鳴画像の画質評価指標との差分を算出する。
【００８５】
最後に、画質評価指標算出部１３０は、算出した差分に基づき、磁気共鳴画像の撮像に用いられた撮像パラメータセットの最終的な画質評価指標を算出する。なお、差分の値が小さいほど、参照画像の画質に磁気共鳴画像の画質が近いことを意味する。そして、最終的な画質評価指標は、例えば、以下の式で算出される。
最終的な画質評価指標＝１０−（参照画像の画質評価指標−磁気共鳴画像の画質評価指標）
図１４（ｂ）は、参照画像の各画質個別評価指標と磁気共鳴画像の各画質個別評価指標の差分の中で最大の値に基づき、参照画像の撮像に用いられた撮像パラメータセットの画質評価指標を算出する例を示す図である。
【００８６】
まず、画質評価指標算出部１３０は、断面を撮像した複数の参照画像それぞれに対して画質個別評価指標を算出する。また、画質評価指標算出部１３０は、断面を撮像した複数の磁気共鳴画像それぞれに対して画質個別評価指標を算出する。
【００８７】
そして、画質評価指標算出部１３０は、参照画像の各画質個別評価指標と磁気共鳴画像の各画質個別評価指標との差分を磁気共鳴画像Ｑ１〜Ｑ３ごとに算出する（より詳細には、参照画像Ｑ１の画質個別評価指標と磁気共鳴画像Ｑ１の画質個別評価指標の差分を算出し、参照画像Ｑ２の画質個別評価指標と磁気共鳴画像Ｑ２の画質個別評価指標の差分を算出し、参照画像Ｑ３の画質個別評価指標と磁気共鳴画像Ｑ３の画質個別評価指標の差分を算出する）。
【００８８】
次に、画質評価指標算出部１３０は、算出された磁気共鳴画像Ｑ１〜Ｑ３の差分の中から最大値を抽出する。なお、最大値が小さいほど、参照画像の画質に磁気共鳴画像の画質が近いことを意味する。そして、磁気共鳴画像の撮像に用いられた撮像パラメータセットの最終的な画質評価指標は、例えば、以下の式で算出される。
最終的な画質評価指標＝１０−最大値
ここで、Ｓ３０１が撮像パラメータセット設定ステップに相当し、Ｓ４０３が断面画像取得ステップに相当し、Ｓ４０５が断面画像取得ステップに相当し、Ｓ４０８が画質評価指標算出ステップに相当し、Ｓ３０６が撮像パラメータセット抽出ステップに相当する。
【００８９】
＜実施の形態１の効果＞
以上説明した本発明の実施の形態１における磁気共鳴イメージング装置によれば、撮像パラメータセット毎に画質評価指標を算出し、算出した画質評価指標が所定の基準値を満たす前記撮像パラメータセットを抽出することで、磁気共鳴画像の画質の安定化および高水準化が可能となる上に、撮像パラメータの調整に要する時間を短縮できるようになる。
【００９０】
また、既に取得した磁気共鳴画像が所定の基準値を満たさないと判定される場合、まだ取得していない磁気共鳴画像の取得をスキップすることで、撮像パラメータの調整に要する時間をさらに短縮できるようになる。
【００９１】
また、複数の画質個別評価指標を磁気共鳴画像ごとに算出し、算出した画質個別評価指標に基づき、画質評価指標を算出することで、複数の画質不良が画質に与える影響を画質評価指標に反映できるようになる。
【００９２】
また、撮像パラメータに応じた重みづけ値を前記画質個別評価指標に乗算することで、前記画質評価指標を算出することで、妥当な画質評価指標の値を算出できるようになる。
【００９３】
また、画質個別評価指標のばらつきの程度に応じた値を反映させて画質評価指標を算出することで、画質個別評価指標が平均的に良い撮像パラメータセットを抽出できるようになる。
【００９４】
また、コントラストに関する画質個別評価指標と輝度の揺らぎに関する画質評価指標とに基づいて画質評価指標を算出することで、横方向あるいは縦方向に対する輝度の揺らぎおよびコントラストの低下（これらは、磁気共鳴イメージング装置にて発生しやすい）が発生しにくい、撮像パラメータセットを抽出できるようになる。
【００９５】
また、位置ずれに関する画質個別評価指標と形状変化に関する画質評価指標とに基づいて画質評価指標を算出することで、位置ずれおよび形状変化（これらは、磁気共鳴イメージング装置にて発生しやすい）が発生しにくい、撮像パラメータセットを抽出できるようになる。
【００９６】
また、断面方向に応じて異なる手法で画質個別評価指標を算出することで、磁気共鳴イメージング装置のハード特性および撮像対象の形状の違いなど各撮像断面の画像特性に対応した画質個別評価指標を算出できるようになる。
【００９７】
また、画質が所定の基準よりも高い参照画像の画質評価指標と磁気共鳴画像の画質評価指標との差分に基づき、画質評価指標を算出することで、参照画像の画質に近い磁気共鳴画像を撮像できる撮像パラメータセットを抽出できるようになる。
【００９８】
[実施の形態２]
本実施の形態２が実施の形態１と異なる点は、最初に広い間隔ごとに撮像パラメータセットを設定することで、所定の基準値を満たす撮像パラメータセットを抽出し、その後、この抽出した撮像パラメータセットの撮像パラメータ値を所定値間隔で少しずつ変更させながら生成した複数の撮像パラメータセットを設定する点である。
【００９９】
また、本実施の形態２が実施の形態１と異なる点は、抽出された撮像パラメータセットの撮像パラメータセット番号付近を、撮像パラメータセット番号をｘ軸、画質評価指標をｙ軸とするグラフを磁気共鳴画像とともに表示する点である。
【０１００】
以下、本実施の形態２を実施の形態１と異なる点を主に、図１６、図１７を用いて説明する。
【０１０１】
＜全体処理＞
図１６は、本発明の実施の形態２における磁気共鳴イメージング装置において、全体処理の概要を示す図である。
【０１０２】
まず、Ｓ１６０１にて、パラメータ候補設定部１１０は、複数の撮像パラメータと図１８（ａ）に示す第１間隔よりも広い間隔である図１８（ｂ）に示す第２間隔ごとの撮像パラメータ値との組み合わせを網羅させて複数の撮像パラメータセットＰ１〜Ｐｔを生成する。
【０１０３】
次に、Ｓ１６０２にて、パラメータ候補設定部１１０は、撮像パラメータセットを識別するための撮像パラメータセット番号ｉに１を設定する。
【０１０４】
次に、Ｓ１６０３にて、パラメータ候補設定部１１０は、撮像パラメータセットとしてＰｉを設定し、その後、画質評価指標算出処理（前述、図４）が行われ、撮像パラメータセットＰｉの画質評価指標が算出される。
【０１０５】
次に、Ｓ１６０４にて、パラメータ候補設定部１１０は、ｉがＳ１６０１で生成された撮像パラメータセットの数であるｔ未満か否かを判定する。パラメータ候補設定部１１０が、ｉがｔ未満であると判定する場合（Ｓ１６０４−Ｙｅｓ）、Ｓ１６０５へ進み、パラメータ候補設定部１１０は、ｉをインクリメントし、その後、Ｓ１６０３へ進む。一方、パラメータ候補設定部１１０が、ｉがｔ未満でないと判定する場合（Ｓ１６０４−Ｎｏ）、Ｓ１６０６へ進む。
【０１０６】
次に、Ｓ１６０６にて、画質評価指標の値が最も高い撮像パラメータセットを抽出する。
【０１０７】
次に、Ｓ１６０７にて、パラメータ候補設定部１１０は、複数の撮像パラメータと、Ｓ１６０６にて抽出した撮像パラメータセットの撮像パラメータ値の付近の撮像パラメータ値であって第１間隔よりも狭い間隔である図１８（ｃ）に示す第３間隔ごとの撮像パラメータ値との組み合わせを網羅させて複数の撮像パラメータセットＰ１〜Ｐｆを生成する。なお、撮像パラメータセットＰ１〜Ｐｆは、最初に生成される撮像パラメータセットＰ１から順番に撮像パラメータの撮像パラメータ値を少しずつ変更させながら生成され、例えば、撮像パラメータセットＰ２は、撮像パラメータセットＰ１の撮像パラメータ値を若干変更することで生成される。
【０１０８】
次に、Ｓ１６０８にて、パラメータ候補設定部１１０は、撮像パラメータセットを識別するための撮像パラメータセット番号ｋに１を設定する。
【０１０９】
次に、Ｓ１６０９にて、パラメータ候補設定部１１０は、撮像パラメータセットとしてＰｋを設定し、その後、画質評価指標算出処理（前述、図４）が行われ、撮像パラメータセットＰｋの画質評価指標が算出される。
【０１１０】
次に、Ｓ１６１０にて、パラメータ候補設定部１１０は、ｋがＳ１６０７で生成された撮像パラメータセットの数であるｆ未満か否かを判定する。パラメータ候補設定部１１０が、ｉがｆ未満であると判定する場合（Ｓ１６１０−Ｙｅｓ）、Ｓ１６１１へ進み、パラメータ候補設定部１１０は、ｋをインクリメントし、その後、Ｓ１６０９へ進む。一方、パラメータ候補設定部１１０が、ｋがｆ未満でないと判定する場合（Ｓ１６１０−Ｎｏ）、Ｓ１６１２へ進む。
【０１１１】
次に、Ｓ１６１２にて、パラメータ決定部１４０は、パラメータセット番号１〜ｆと
パラメータセットＰ１〜Ｐｆと、画質評価指標とボリュームデータとを対応付けて記憶部２５０に記憶し全体処理を終了する。
【０１１２】
＜応答画面例＞
図１７は、本発明の実施の形態２における磁気共鳴イメージング装置において、ディスプレイ２６１に表示される応答画面の例を示す図である。なお、この応答画面は、上述したＳ１６１２にて記憶部２５０に記憶された情報に基づいて表示される。
【０１１３】
画質評価指標が所定値以上の撮像パラメータセットにて撮像されたボリュームデータＱ１〜Ｑ９が表示される。
【０１１４】
また、ウィンドウ１９０１には、撮像パラメータセット番号をｘ軸、画質評価指標をｙ軸とするグラフが表示されている。また、最も高い画質評価指標と撮像パラメータセット番号とから特定される座標には、「推奨」という注釈がつけられ、画質確認のために選択している画質評価指標と撮像パラメータセット番号とから特定される座標には、「確認中」という注釈がつけられる。
【０１１５】
セル１９０２には、画質評価指標の値が最も高い撮像パラメータセットの撮像パラメータ番号が表示され、セル１９０３には、画質評価指標の値が最も高い撮像パラメータと撮像パラメータ値とが表示される。
【０１１６】
セル１９０４には、画質確認中の撮像パラメータセットの撮像パラメータ番号が表示され、セル１９０５には、画質確認中の撮像パラメータと撮像パラメータ値とが表示される。
【０１１７】
ウィンドウ１９０６には、画質評価指標の値が最も高い撮像パラメータセットにて撮像されたボリュームデータＱ１〜Ｑ９が表示される。また、ウィンドウ１９０７には、画質確認中の撮像パラメータセットにて撮像されたボリュームデータＱ１〜Ｑ９が表示される。
【０１１８】
上述したように、撮像パラメータセットＰ１〜Ｐｆは、最初に生成される撮像パラメータセットＰ１から順番に撮像パラメータの撮像パラメータ値を少しずつ変更させながら生成される。よって、推奨の撮像パラメータセットの撮像パラメータセット番号と撮像パラメータセット番号が近い撮像パラメータセットの撮像パラメータ値は、推奨の撮像パラメータセットの撮像パラメータ値から若干変更されたものである。
【０１１９】
上述した応答画面により、撮像パラメータセットと各磁気共鳴画像の画質との対応関係が把握できるようになる。
【０１２０】
ここで、Ｓ１６０１が、第１撮像パラメータセット設定ステップに相当し、Ｓ１６０７が、第２撮像パラメータセット設定ステップに相当する。
【０１２１】
＜実施の形態２の効果＞
以上説明した本発明の実施の形態２における磁気共鳴イメージング装置によれば、最初に広い間隔ごとに撮像パラメータセットを設定することで、実施の形態１と異なる効果として、所定の基準値を満たす撮像パラメータセットを抽出し、その後、この抽出した撮像パラメータセットの撮像パラメータ値を所定値間隔で少しずつ変更させながら生成した複数の撮像パラメータセットを設定することで、万遍なく撮像パラメータセットを設定する実施の形態１に対して、撮像パラメータセットが抽出される時間を短縮できるとともに、高い精度で撮像パラメータセットを調整できるようになる。
【０１２２】
また、一つの撮像パラメータセットと、この撮像パラメータセットにて撮像された磁気共鳴画像とを表示することで、撮像パラメータセットと各磁気共鳴画像の画質との対応関係が把握できるようになり、抽出された撮像パラメータセットの妥当性を判定しやすくなる。
【０１２３】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【符号の説明】
【０１２４】
１００    制御部
１１０    パラメータ候補設定部
１２０    断面画像取得部
１３０    画質評価指標算出部
１４０    パラメータ決定部
２０１    ＣＰＵ
２０２    シーケンサ
２１０    静磁場系
２２０    傾斜磁場系
２２１    傾斜磁場コイル
２２２    傾斜磁場電源
２３０    送信系
２３１    高周波発振器
２３２    変調器
２３３    高周波増幅器
２３４    高周波照射コイル
２４０    受信系
２４１    高周波受信コイル
２４２    増幅器
２４３    直交位相検波器
２４４    Ａ／Ｄ変換器
２５０    記憶部
２６０    操作部
２６１    ディスプレイ
５０１，５０２，５０３，５０４，５０５，６０１，６０２，６０３，１１０１，１１０２，１１０３，１１０４，１１０５，１１０６  磁気共鳴画像
５０６，５０７，５０８，６０４，６０５，６０６  グラフ
１４０１  スイッチ
１９０１，１９０６，１９０７  ウィンドウ
１９０２，１９０３，１９０４，１９０５  セル
【図１】
2015054040.tif 000003
【図２】
2015054040.tif 000004
【図３】
2015054040.tif 000005
【図４】
2015054040.tif 000006
【図７】
2015054040.tif 000007
【図８】
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【図１０】
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【図１２】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１８】
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【図５】
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【図６】
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【図９】
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【図１１】
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【図１３】
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【図１７】
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