(57)【要約】【課題】どのスロットに挿入されている巻線で短絡が発生したのかを特定することのできる巻線短絡箇所の診断システムを提供する。【解決手段】診断対象となる回転機の固定子もしくは回転子における巻線１両端に電圧を印加するための電圧発振部２と、電圧発振部２から巻線１に電圧が印加されている状態で、巻線１が挿入されている各スロット毎に周辺の磁束密度を計測し得る磁界センサ３と、磁界センサ３で計測された１つのスロットにおける磁束密度の値を、正常な巻線が挿入されているスロットにおける値と比較して、所定以上の差がある場合に、当該スロット内の巻線１に短絡が発生していると診断する診断部８と、診断部８での診断結果を表示する表示部９とを備えている。【選択図】図１１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
診断対象となる回転機の固定子もしくは回転子における巻線両端に電圧を印加するための電圧発振部と、
該電圧発振部から前記診断対象の巻線に電圧が印加されている状態で、巻線が挿入されている各スロット毎に周辺の磁束密度を計測し得る磁界センサと、
該磁界センサで計測された１つのスロットにおける前記磁束密度の値を、正常な巻線が挿入されているスロットにおける値と比較して、所定以上の差がある場合に、当該スロット内の巻線に短絡が発生していると診断する診断部と、
該診断部での診断結果を表示する表示部と、
を備えていることを特徴とする巻線短絡箇所の診断システム。
【請求項２】
前記巻線両端に印加する電圧の周波数を商用周波数より高い周波数とすることを特徴とする請求項１に記載の巻線短絡箇所の診断システム。
【請求項３】
前記各スロットの真上で前記磁界センサにより磁束密度を計測することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の巻線短絡箇所の診断システム。
【請求項４】
前記磁界センサ内の磁界計測用コイル面を前記スロットの真上の垂直軸から４５度以内の傾きにして、磁束密度を計測することを特徴とする請求項３に記載の巻線短絡箇所の診断システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、回転機の固定子もしくは回転子における巻線において短絡が発生している箇所を特定することのできる巻線短絡箇所の診断システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】  巻線の良否を診断する技術としては、これまでにいくつか提案されている。
例えば、非特許文献１に開示されている技術は、どの相の巻線で短絡が発生しているのか、すなわち短絡がＵ相で発生しているのか、それともＶ相やＷ相で発生しているのかを特定可能な技術である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【非特許文献１】  株式会社電子制御国際  インパルス巻線試験機ＤＷＸ−０１、ＤＷＸ−０５  取扱説明書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】  上記非特許文献１に開示されている技術では、短絡がどの相で発生しているかの特定は可能であるが、Ｕ相に相当する巻線も、いろいろな箇所に分布して巻かれているため、非特許文献１の技術では、具体的にどのスロットに挿入されている巻線で短絡が発生しているのかを特定することまでは不可能であった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】  本発明は、電動機や発電機のような回転機の内部の巻線において、短絡が発生しているスロットを特定することのできる巻線短絡箇所の診断システムの提供を目的とし、この目的の少なくとも一部を達成するために以下の手段を採った。
本発明の巻線短絡箇所の診断システムは、
診断対象となる回転機の固定子もしくは回転子における巻線両端に電圧を印加するための電圧発振部と、
該電圧発振部から前記診断対象の巻線に電圧が印加されている状態で、巻線が挿入されている各スロット毎に周辺の磁束密度を計測し得る磁界センサと、
該磁界センサで計測された１つのスロットにおける前記磁束密度の値を、正常な巻線が挿入されているスロットにおける値と比較して、所定以上の差がある場合に、当該スロット内の巻線に短絡が発生していると診断する診断部と、
該診断部での診断結果を表示する表示部と、
を備えていることを要旨とする。
【発明の効果】
【０００６】  本発明では、１つのスロットにおける磁束密度の値が、正常な巻線が挿入されているスロットにおける値と比較して所定以上の差がある場合に、診断部は、当該スロット内の巻線に短絡が発生していると診断するので、どのスロットに挿入されている巻線で短絡が発生しているのかを特定することができる。
どのスロットの巻線に短絡が発生したのかを特定することができれば、短絡が発生しやすい傾向にあるスロットを知ることができるので、その貴重な情報を回転機の設計段階へフィードバックすることで、短絡が起こりやすいスロットに挿入されている巻線に対する構造的もしくは強度的な対策を施すことができ、電動機や発電機といった回転機の短絡発生割合を低下させることにつながり、大きなメリットとなる。【０００７】  また、本発明の巻線短絡箇所の診断システムにおいて、前記巻線両端に印加する電圧の周波数を商用周波数より高い周波数とすることができる。
こうすれば、周波数を上げてゆくと、短絡が発生している箇所では、測定する磁束密度の値が正常な箇所に比してどんどん下がってゆくので、正常な箇所と短絡が発生している箇所では測定される磁束密度の値の差が大きく現れるため、短絡が発生している箇所を確認しやすくなる。【０００８】  また、本発明の巻線短絡箇所の診断システムにおいて、前記各スロットの真上で前記磁界センサにより磁束密度を計測することができる。
こうすれば、正確な計測が可能となる。【０００９】  また、本発明の巻線短絡箇所の診断システムにおいて、前記磁界センサ内の磁界計測用コイル面を前記スロットの真上の垂直軸から４５度以内の傾きにして、磁束密度を計測することができる。
こうすれば、磁界センサ下のスロットに挿入されている巻線から発せられる磁界の強さ、すなわち磁束密度をより正確に計測し得るものとなる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】  巻線正常時の電流と磁束（磁界）の説明図である。
【図２】  巻線に短絡が発生した説明図である。
【図３】  短絡発生後の電流と磁束（磁界）の向きの説明図である。
【図４】  汎用誘導電動機（回転機）の固定子巻線の概略断面図である。
【図５】  固定子のスロットに挿入されている巻線の要部拡大斜視図である。
【図６】  磁界センサ内の磁界計測用コイル面をティースの上面に対して直角にして計測した場合の、巻線両端に印加する電圧周波数６０ヘルツの時の磁界センサからの出力電圧νＢを示す図である。
【図７】  電圧周波数６０ヘルツの時の磁界センサからの出力電圧νＢを絶対値で表示した図である。
【図８】  磁界センサ内の磁界計測用コイル面をティースの上面に対して直角にして計測した場合の、巻線両端に印加する電圧周波数１ｋＨｚの時の磁界センサからの出力電圧νＢを絶対値で表示した図である。
【図９】  磁界センサ内の磁界計測用コイル面をティースの上面に対して直角にして計測した場合の、巻線両端に印加する電圧周波数３ｋＨｚの時の磁界センサからの出力電圧νＢを絶対値で表示した図である。
【図１０】  磁界センサ内の磁界計測用コイル面をティースの上面に対して平行にして計測した場合の、巻線両端に印加する電圧周波数１ｋＨｚの時の磁界センサからの出力電圧νＢを絶対値で表示した図である。
【図１１】  巻線短絡箇所の診断システムのシステム構成図である。
【図１２】  磁界センサ内の磁界計測用コイル面をスロットの真上の垂直軸から４５度以内の傾きにして計測する説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】  先に本発明の原理について説明する。
巻線において短絡が発生すると、その巻線の中には短絡によって新たな閉ループが誕生する。そして、閉ループに鎖交する磁束（磁界）が時間的に変化すると、閉ループ内にはその磁束の変化を妨げる向きの磁束を発生させようとする誘導起電力が発生する。この閉ループに生じる誘導起電力により発生する磁束の影響を受けて、巻線周辺の磁束は変化する。
【００１２】  この現象を、図を用いて説明する。
巻線が正常な場合、巻線両端に交流電圧を印加して巻線に電流を流すと、電流は図１のような経路で流れている。
いま、図２のように、巻線に短絡Ｐが発生したとする。この場合、流れる電流は、図３のように抵抗がほとんどゼロの短絡箇所Ｐを流れ、短絡間の巻線には流れなくなる。このとき巻線に流れる電流をｉ０、電流ｉ０により生じる磁界の強さをＨ０とする。また、短絡により新たに発生した閉ループをＣＳとする。
【００１３】  閉ループＣＳには磁束（磁界）が通過することで、誘導起電力ｅが発生する。この誘導起電力の向きは、磁束の変化を妨げる方向の磁束を発生させる向きである。この誘導起電力ｅにより閉ループＣＳ内を流れる電流をｉｓ、電流ｉｓによりできるＨ０とは逆方向の磁界の強さをＨｓ、巻線周辺の磁界の強さをＨａとすると、Ｈａは
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となる。
【００１４】  閉ループＣＳの抵抗値は極めて小さい。そのため、電流ｉｓは大きな値となる。電流ｉｓが大きくなると磁界の強さＨｓも大きくなる。その結果、巻線周辺の磁界の強さＨａは、巻線正常時に比べて減少するようになる。
一般に、誘導起電力ｅは
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の式で与えられる。ここでｎは閉ループの巻線の巻き数、φは磁束である。
【００１５】  そこで、巻線に流れる電流ｉ０によって作られる磁界の強さＨ０が
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で与えられたとすると、閉ループＣＳと鎖交する磁束φ０は
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で表される。ただしμ０は透磁率、Ｂ０は磁束密度、Ｓは面積である。
【００１６】  さらに（４）式を（２）式のφに代入して展開すると、
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と変形できる。
【００１７】  （５）式より誘導起電力ｅは、巻線に印加する電圧の時間変化の割合、すなわち、周波数ｆの関数であることが分かる。
誘導起電力ｅを大きくすると、磁界の強さＨｓを大きくすることができる。
【００１８】  このことから、巻線両端に印加する電圧の周波数ｆを高くすることで、磁界の強さＨｓのみを意図的に大きくすることができ、巻線の周辺の磁界の強さＨａの減少割合が巻線正常時に比べてより一層顕著となり、どのスロットに挿入されている巻線で短絡が発生しているのかを特定することが可能となる。
このように、短絡によって生じる閉ループ内を流れる電流が作る磁界に注目し、巻線に印加する電源の周波数を高くして磁界の強さを計測することで、短絡が発生しているスロットを特定できるようになる。
【００１９】  図１１には、巻線短絡箇所の診断システムのシステム構成図を示す。
巻線短絡箇所の診断システムは、診断対象となる回転機の固定子もしくは回転子における巻線１の両端に電圧を印加するための電圧発振部２を備えており、この電圧発振部２は、例えば、周波数を可変可能な交流電圧を印加するファンクションジェネレータで構成される。
また、巻線１が挿入されている各スロット毎に周辺の磁束密度もしくは磁束密度の大きさに比例した電圧を計測し得る磁界センサ３を備えており、この磁界センサ３内には、磁界計測用コイル４と、信号を増幅させる増幅器５が設けられている。
また、本体部６内には、アナログ信号をデジタル化するＡ／Ｄ変換部７と、磁界センサ３で計測された１つのスロットにおける磁束密度の値もしくは磁束密度の大きさに比例した電圧の値を、正常な巻線が挿入されているスロットにおける値と比較して、所定以上の差がある場合に、当該スロット内の巻線に短絡が発生していると診断する診断部８と、診断部８での診断結果を表示する表示部９とが設けられている。
【００２０】  このような診断システムにおいて、診断する際には、先ず、診断対象とする回転機の固定子もしくは回転子の巻線１間に交流電圧を印加して、巻線１に磁界を発生させる。この場合、巻線１間には電圧発振部２から５０Ｖ以下の電圧を印加する。なお、電圧発振部２からの交流電圧の周波数は可変とする。
端子間の巻線１に電流を流した状態で、固定子や回転子のスロットの真上で、磁界センサ３を使って磁束密度を計測する。
【００２１】  磁界センサ３内には、磁界計測用のコイル４が巻かれており、それにより磁束密度の大きさに比例した電圧νＢを出力する。
【００２２】  磁界の強さは磁束密度と比例関係にあり、磁界センサ３から出力される電圧νＢも磁束密度と比例関係にある。そのため、磁界センサ３側で電圧νＢの値から磁束密度に変換して出力してもよいし、そのまま電圧νＢを出力してもよい。なお、この電圧νＢは小さいので、増幅器５などで信号増幅させたのち出力する。以後の説明では、増幅された後の信号を電圧νＢとする。
磁界センサから出力された電圧νＢ、もしくは磁束密度はアナログ信号なので、Ａ／Ｄ変換部７によりデジタル化する。それを診断部８に送る。
【００２３】  一つのスロット真上の電圧νＢ（もしくは磁束密度）の計測が終了すれば、次は隣のスロットの電圧νＢ（もしくは磁束密度）の計測を行う。そして、すべてのスロット真上での電圧νＢ（もしくは磁束密度）の計測を行う。
【００２４】  診断部８では、すべてのスロット真上の電圧νＢ（もしくは磁束密度）を基に診断する。
短絡が含まれる巻線が挿入されているスロット真上の電圧νＢ（もしくは磁束密度）は低下する。そのため、隣どうしのスロットの電圧νＢ（もしくは磁束密度）の値と比較し、両者の値の差に閾値を設けておくことで、その値が閾値を超えると、短絡が発生しているスロットと判断する。これにより、固定子もしくは回転子のどのスロットに挿入されている巻線において短絡が発生しているのかを判定することができる。
最後に、表示部９で診断結果を表示する。
【００２５】  診断システムにおいて診断する別方法を以下に示す。
別方法では、診断対象と同じ型番の正常な巻線に対して電圧を印加して、そのとき観測される電圧νＢ（もしくは磁束密度）の値を、例えば診断部８内の記憶部に記憶させておく前処理を行う。
次に、実際の診断対象の巻線１に対して、前処理と同じ大きさで同じ周波数の電圧を印加する。そして、磁界センサ３を用いて電圧νＢ（もしくは磁束密度）の値を求め、この値を診断部８に送る。
診断部８では、前処理で求めておいた電圧νＢ（もしくは磁束密度）と、いま計測された電圧νＢ（もしくは磁束密度）の値を比較する。
両者の値の差に閾値を設けておくことで、その値が閾値を超えると、短絡が発生している箇所と判断する。これにより、固定子もしくは回転子のどのスロットに挿入されているコイルにおいて短絡が発生しているのかを判定することができる。
最後に、表示部９で診断結果を表示する。
【実施例】
【００２６】  実施例では、回転機として誘導電動機１０を用い、この誘導電動機１０の固定子を用いて検証試験を行った。
誘導電動機１０の容量は０．７５ｋＷであり、この誘導電動機１０の固定子巻線は、４極の１スター結線の巻線構造である。そして巻線１が挿入されているスロット数は３６個である。この３６個の各スロット１２上の磁界の強さを計測する。
図４には、誘導電動機１０の固定子巻線の概略断面を示し、図５には、固定子の各スロット１２に挿入されている巻線１の要部を拡大して示す。
図５に示すように、スロット１２は、左右のティース１１，１１間に溝状の空間として形成されており、内部に巻線１が挿入されている。【００２７】  図４に示すように、誘導電動機１０の後部から見て最も下部に位置するスロット１２をＮｏ．１として、時計回りにＮｏ．２、Ｎｏ．３、・・・と順番にＮｏ．３６まで割り振っていく。この固定子巻線は、スロットＮｏ．１−Ｎｏ．１２間に３５回巻線１が巻かれ、次に、スロットＮｏ．２−Ｎｏ．１１間に３５回巻線１が巻かれ、次に、スロットＮｏ．３−Ｎｏ．１０間に３５回巻線１が巻かれた、分布巻の構造となっている。
今回の短絡は、スロットＮｏ．１−Ｎｏ．１２間に挿入された巻線１に存在する。そしてこれは固定子巻線のＵ相に相当する。また、今回の電動機は４極であり、スロットＮｏ．１と対称な位置関係にあるスロットはＮｏ．１９であり、スロットＮｏ．１２と対称な位置関係にあるスロットはＮｏ．３０である。【００２８】  （巻線両端への電圧の印加）
短絡がＵ相であることから、Ｕ相の巻線を含むＵ−Ｖ間、もしくはＵ−Ｗ間に交流電圧を印加して、固定子内部に磁界を発生させる。ここではＵ−Ｖ間の巻線に交流電圧を印加する。交流電圧にはファンクションジェネレータを用いる。
ファンクションジェネレータを用いることで、巻線１両端に印加する電圧の周波数を様々な値に可変することができる。また、印加する電圧の大きさは、ピーク−ピーク間電圧を５．０ボルトとする。
巻線１両端に印加する電圧において、ピーク−ピーク間電圧を５．０ボルト程度まで下げると、電圧発振部の電子回路をさらに安価に仕上げることができるだけでなく、電圧発振部に供給する電源をさらに小型化することができ、診断システムのコストが一層安くなるといった利点が生じる。
なお、実験では印加する電圧のピーク間電圧を５．０Ｖとしているが、印加電圧のピーク間電圧を５０Ｖ以下の範囲内で選択可能である。【００２９】  磁界の計測では、磁束密度を計測することが一般的であるので、ここでは磁束密度を計測する。
磁束密度の計測を、図５に示すように、左右のティース１１，１１のティース上面１１ａ，１１ａの間のスロットの上に磁界センサ３を配置させてスロット１２上の磁界の強さを計測する。
磁界センサ３内には検出したい磁界の強さに応じて磁界計測用コイル４が数ターンから場合によっては数十ターン程度、巻かれている。【００３０】  この磁界計測用コイル４を磁界が通過することで、その磁界計測用コイル４の両端には磁界の強さに比例した電圧νＢが生じる。
磁界の強さと磁束密度は比例関係にあり、この電圧νＢと磁束密度も比例関係にある。
磁束密度がいくつのとき磁界センサ３から出力される電圧νＢが何ボルトかを予め知っておくことで、電圧νＢの値から実際の磁束密度の値を換算することができる。
しかしここでは磁束密度の値を知るのが目的ではないことから、磁束密度の値と比例関係にある磁界センサ３からの出力電圧νＢの値そのものを用いて、固定子のどのスロット１２で短絡が発生しているのかを診断する。
巻線両端に印加する電圧が交流電圧であるので、磁界センサ３からの出力電圧νＢも交流電圧である。この実施例では、磁界センサ３から出力される交流電圧のピーク間の電圧を磁界センサ３からの出力電圧νＢとする。【００３１】  固定子の各スロット１２上の磁束密度を計測する場合には、図５にも示すように、磁界センサ３内にある磁界計測用コイル４の面が、スロット１２のほぼ中央にくるように設置する。
また、磁界計測用コイル４の面がスロット１２両側のティース１１の上面１１ａとできるだけ垂直になるようにする。
磁界計測用コイル４の面とティース１１の上面１１ａとができるだけ垂直になることで、磁界センサ３下のスロット１２から発せられる磁界の強さ、すなわち磁束密度をより正確に計測することができる。【００３２】  より正確に磁束密度を計測するために、磁界計測用コイル４の面とティース１１の上面１１ａが垂直であることが望ましい。しかし、磁界計測用コイル４の面が傾くことがある。その場合には、図１２に示すように、その傾きがスロット１２の真上の垂直軸から４５度以内の傾きであればよい。【００３３】  さらに、磁界計測用コイル４の面がスロット１２の長手方向（巻線１の挿入方向）とできるだけ平行になるようにする。磁界計測用コイル４の面とスロット１２の長手方向が平行になることで、磁界センサ３下のスロット１２から発せられる磁界の強さ、すなわち磁束密度をより正確に計測することができる。
今回の磁束密度の測定では、各スロット１２から発する磁束密度を検出するために、磁界センサ３の磁界計測用コイル４の中心が固定子ティース１１の上面１１ａから３ｍｍの点で行う。そして、磁界センサ３の磁界計測用コイル４がモータ固定子のほぼ中央にくるようにする。【００３４】  （試験結果−周波数６０Ｈｚ）
はじめに、巻線両端に印可する電圧の周波数ｆを６０ヘルツと設定する。このとき各スロット１２真上の磁束密度を計測する。ここでは磁束密度に比例した磁界センサ３からの出力電圧νＢを図６に示す。
図６において、横軸はスロット番号、縦軸は各スロット１２真上で検出された磁束密度の大きさに比例する出力電圧νＢである。
また、スロット毎に計測される磁束密度の相対比較をより明確化するために、図６の電圧を絶対値表記として、それを新たに図７とする。以降の図では、図７のように、出力電圧νＢの絶対値で表示する。【００３５】  この固定子では、スロットＮｏ．１と対称な位置関係にあるスロットはＮｏ．１９であり、Ｎｏ．１２と対称な位置関係にあるスロットはＮｏ．３０なので、短絡した巻線コイルが挿入されているスロットＮｏ．１とＮｏ．１２の真上で計測される磁束密度と、巻線が正常な状態のスロットＮｏ．１９とＮｏ．３０の真上で計測される磁束密度をそれぞれ比較する。【００３６】  スロットＮｏ．１の真上の電圧νＢをＮｏ．１９上の電圧νＢと、スロットＮｏ．１２上の電圧νＢをＮｏ．３０上のものと比較すると、スロットＮｏ．１の電圧νＢが０．２０４ボルトなのに対してＮｏ．１９の電圧νＢは０．２１０ボルト、スロットＮｏ．１２の電圧νＢが０．２５５ボルトなのに対してＮｏ．３０の電圧νＢは０．２７３ボルトとなる。
この図を見る限り、６０ヘルツの低い周波数では、閉ループＣＳの作る磁界の影響が小さいため、結果的に、電圧νＢの減少がほとんどないことが確認できる。【００３７】  （試験結果−周波数１ｋＨｚ）
（５）式に示したが、短絡により生じる閉ループＣＳに発生する磁界の強さのみを大きくするには、電源周波数ｆを高くしてやればよい。そこで、磁界Ｈ０の周波数ｆを１キロヘルツとして、６０ヘルツのときと同様に、各スロット１２真上の電圧νＢを計測し、結果を図８に示す。ここでも図７と同様に電圧νＢを絶対値表記している。【００３８】  周波数ｆを高くすると、巻線１のインピーダンスが増加することで、電流ｉ０が小さくなるため、磁界の強さＨａも減少する。このため、観測される電圧νＢも図７と比較して図８の方が小さくなる。しかしながら、スロットＮｏ．１とＮｏ．１２では、両隣りのスロットと比較して電圧νＢが減少していることが確認できる。
正常状態にあるＮｏ．１９−Ｎｏ．３０の電圧νＢと、短絡状態のＮｏ．１−Ｎｏ．１２の電圧νＢを比較すると、その違いは明確である。【００３９】  （試験結果−周波数３ｋＨｚ）
さらに、電圧周波数ｆを３キロヘルツに上げて、各スロット１２上の電圧νＢの計測を行ったときの結果を図９に示す。
スロットＮｏ．１での電圧νＢが０．０１７ボルトなのに対してＮｏ．１９の電圧νＢは０．０５６ボルト、スロットＮｏ．１２の電圧νＢが０．０１６ボルトなのに対してＮｏ．３０の電圧νＢは０．０６８ボルトとなり、周波数ｆを３キロヘルツとすることで、Ｎｏ．１とＮｏ．１２のスロットの電圧νＢの減少はＮｏ．１９やＮｏ．３０に比べて一層顕著となっていることがわかる。そして、短絡を有する巻線１が挿入されたスロットＮｏ．１とＮｏ．１２では、両隣りのスロットとの違いがより明確化する。【００４０】  以上の結果から、電源周波数ｆを１キロヘルツ以上に設定することで、短絡している巻線１が挿入されているスロット１２をより明確にすることができるようになる。【００４１】  これまでは、磁界センサ３内の磁界計測用コイル４面をティース上面１１ａに対し垂直にして計測した場合の結果を示したが、磁界センサ３内の磁界計測用コイル４面をティース上面１１ａに対し平行にした場合の計測も行った。
電源周波数を１ｋＨｚとしたときの磁界計測用コイル４面をティース上面１１ａに対し平行にして計測した計測結果を図１０に示す。
ティース上面１１ａに対して磁界計測用コイル４面が平行である場合には、短絡している巻線１が巻かれてあるスロットＮｏ．１−Ｎｏ．１２の方は電圧νＢが全体的に低下している傾向にあることは確認できる。しかしながら、電圧νＢの値が明らかに小さくなるスロットまでは特定することはできない。
一方、上記したティース上面１１ａに対して磁界計測用コイル４面が垂直である場合には、電源周波数が１ｋＨｚであれば図８のように、スロットＮｏ．１とＮｏ．１９、もしくはＮｏ．１２とＮｏ．３０の間に変化が確認できる。このことからも、磁界センサ３内の磁界計測用コイル４面がティース上面１１ａに対して垂直であることが望ましいと言える。【００４２】  以上の結果から、短絡によって生じる磁界の変化に着目した本発明により、短絡した巻線１が挿入されている固定子内のスロットを特定することができるようになる。
なお、実施例では、磁界センサ３は、磁束密度の大きさに比例した電圧νＢを出力するものとしたが、前述したように、何テスラの磁束密度のときに磁界センサ３から何ボルトの電圧が出力されるのかの関係を明らかにすることで、電圧νＢの値から具体的な磁束密度の値を換算でき、この具体的な磁束密度の大きさを判定の指標に用いてもよい。【００４３】  これまでの説明では、固定子のスロットに巻かれた巻線を対象にして説明したが、巻線型の回転子に対しても、同様に適用してもよい。
【符号の説明】
【００４４】  １  巻線
２  電圧発振部
３  磁界センサ
４  磁界計測用コイル
８  診断部
９  表示部
１０  汎用誘導電動機（回転機）
１１  ティース
１１ａ  ティース上面
１２  スロット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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