(57)【要約】【課題】表示の焼き付き現象を抑制する。【解決手段】発光量算出部３０２、危険度算出部３０３、危険度更新部３０４によって、映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度を算出し、算出した劣化危険度を累積することで累積劣化危険度を算出する。特徴量算出部３０５は、累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する。ゲイン算出部３０６は、算出した特徴量と画素毎の発光量と輝度に基づき画素毎に補正ゲインを算出する。乗算器３９０は、補正ゲインを用いて映像信号の信号レベルを補正する。このように、隣接画素の発光量差に基づく累積劣化危険度に応じて補正ゲインが算出されるため、隣接画素の発光素子の劣化量に起因する表示の焼き付きを効果的に抑制できる。【選択図】        図２
2015219306.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度を算出し、算出した前記劣化危険度を累積することで累積劣化危険度を算出する累積劣化危険度算出部と、
前記累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する特徴量算出部と、
前記算出した特徴量と前記画素毎の発光量と輝度に基づき画素毎に補正ゲインを算出するゲイン算出部と、
前記補正ゲインを用いて前記映像信号の信号レベルを補正する補正部と
を備える映像信号処理装置。
【請求項２】
前記特徴量算出部は、前記累積劣化危険度から許容可能な劣化危険度を減算して補正対象劣化危険度を算出して、補正対象劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する
請求項１記載の映像信号処理装置。
【請求項３】
前記特徴量算出部は、算出された前記補正対象劣化危険度における最大発光量から発光量の減少に伴い前記補正対象劣化危険度を減少させて、減少後の補正対象劣化危険度が前記算出された補正対象劣化危険度よりも少なくなる場合は、前記算出された補正対象劣化危険度に置き換えて、置き換え後の補正対象劣化危険度を発光量の減少に伴い減少させて、特徴量を算出する
請求項２記載の映像信号処理装置。
【請求項４】
前記特徴量算出部は、算出された前記補正対象劣化危険度の最大値を前記特徴量とする
請求項２記載の映像信号処理装置。
【請求項５】
前記特徴量算出部は、算出された前記補正対象劣化危険度の増加方向の最大傾きと減少方向の最大傾きを算出して前記特徴量とする
請求項２記載の映像信号処理装置。
【請求項６】
前記特徴量算出部は、前記算出された補正対象劣化危険度毎に、最小発光量からの補正対象劣化危険度の傾きと、最大発光量までの補正対象劣化危険度の傾きを算出して、算出した傾きから前記増加方向の最大傾きと前記減少方向の最大傾きを選択して前記特徴量とする
請求項５記載の映像信号処理装置。
【請求項７】
前記特徴量算出部は、算出された前記補正対象劣化危険度における最大値を基準として算出された他の補正対象劣化危険度毎に傾きを算出して、算出した傾きから前記増加方向の最大傾きと前記減少方向の最大傾きを選択して前記特徴量とする
請求項５記載の映像信号処理装置。
【請求項８】
前記ゲイン算出部は、発光量と前記特徴量に基づく発光量抑制後の発光量との関係を示すトーンマッピング関数を用いて、前記画素の輝度に対する補正後の輝度を取得して、取得した輝度と前記画素の輝度から前記補正ゲインを算出する
請求項２記載の映像信号処理装置。
【請求項９】
前記ゲイン算出部は、前記トーンマッピング関数に対して低域フィルタ処理を行い、低域フィルタ処理後のトーンマッピング関数を用いて、前記画素の輝度に対する補正後の輝度を取得する
請求項８記載の映像信号処理装置。
【請求項１０】
前記累積劣化危険度算出部は、表示画面全体を分割した領域毎に、領域内の前記発光量差の最大値を画素の発光量毎に累積して前記累積劣化危険度を算出する
請求項１記載の映像信号処理装置。
【請求項１１】
前記特徴量算出部は、前記領域毎に算出された前記累積劣化危険度を統合して、統合後の前記累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する
請求項１０記載の映像信号処理装置。
【請求項１２】
前記累積劣化危険度算出部は、劣化危険度を累積する際に時間方向の安定化を行う
請求項１記載の映像信号処理装置。
【請求項１３】
累積劣化危険度算出部で、映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度を算出し、算出した前記劣化危険度を累積することで累積劣化危険度を算出する工程と、
特徴量算出部で、前記累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する工程と、
ゲイン算出部で、前記算出した特徴量と前記画素毎の発光量と輝度に基づき画素毎に補正ゲインを算出する工程と、
補正部で、前記補正ゲインを用いて前記映像信号の信号レベルを補正する工程と
を含む映像信号処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この技術は、映像信号処理装置と映像信号処理方法に関し、表示の焼き付き現象を抑制する。
【背景技術】
【０００２】
平面で薄型の表示装置として、液晶を用いた液晶表示装置等が実用化されている。液晶表示装置は、バックライトを設け、電圧の印加によって液晶分子の配列を変化させることで、バックライトからの光を通過させたり遮断したりすることで画像を表示する表示装置である。
【０００３】
また、近年においては、電圧を印加すると素子自体が発光する有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）素子を用いた自発光型の表示装置が実用化されている。有機ＥＬ素子は、電界によってエネルギーを受けると、基底状態から励起状態へ変化し、励起状態から基底状態に戻るときに、差分のエネルギーを光として放出する。有機ＥＬ表示装置は、この有機ＥＬ素子が放出する光を用いて画像を表示する表示装置である。
【０００４】
自発光型表示装置は、素子が自ら発光するためバックライトが不要となり、液晶表示装置に比べて装置を薄く構成できる。また、有機ＥＬ表示装置は、液晶表示装置と比べて、動画特性、視野角特性、色再現性等が優れている。
【０００５】
しかし、有機ＥＬ素子は、電圧を印加し続けると発光特性が劣化し、同じ電流を入力しても輝度が低下する。その結果、発光頻度の高い画素は、他の画素に比べて発光特性が劣化した状態となって、いわゆる「焼き付き」現象が生じる場合がある。したがって、自発光型表示装置では、例えば特許文献１で開示されているように、電流量を制御して焼き付きを補正することが行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】国際公開第２００８／１４９８４２号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、特許文献１に記載の方法では、劣化度合いの大きい画素に対して焼き付きを抑えるための輝度制御が、この画素だけでなく全画面に対して一律に行われている。このため、焼き付き部分が目立たなくなるように画面の輝度を制御することが困難である。
【０００８】
そこで、本技術は、表示の焼き付き現象を効果的に抑制できる映像信号処理装置と映像信号処理方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この技術の第１の側面は、
映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度を算出し、算出した前記劣化危険度を累積することで累積劣化危険度を算出する累積劣化危険度算出部と、
前記累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する特徴量算出部と、
前記算出した特徴量と前記画素毎の発光量と輝度に基づき画素毎に補正ゲインを算出するゲイン算出部と、
前記補正ゲインを用いて前記映像信号の信号レベルを補正する補正部と
を備える映像信号処理装置にある。
【００１０】
この技術において、累積劣化危険度算出部では、映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度が例えば表示画面全体を分割した領域毎に算出されて、算出した劣化危険度を累積することで領域毎に累積劣化危険度が算出される。また、劣化危険度を累積する際に時間方向の安定化が行われる。
【００１１】
特徴量算出部では、累積劣化危険度から許容可能な劣化危険度を減算して補正対象劣化危険度を算出して、補正対象劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量が算出される。特徴量算出部は、例えば算出された補正対象劣化危険度における最大発光量から発光量の減少に伴い補正対象劣化危険度を減少させて、減少後の補正対象劣化危険度が算出された補正対象劣化危険度よりも少なくなる場合は、算出された補正対象劣化危険度に置き換えて、置き換え後の補正対象劣化危険度を発光量の減少に伴い減少させて特徴量が算出される。また、特徴量算出部は、例えば算出された補正対象劣化危険度の最大値を特徴量とする。また、特徴量算出部は、例えば算出された補正対象劣化危険度の増加方向の最大傾きと減少方向の最大傾きを算出して特徴量とする。さらに、特徴量算出部は、領域毎に算出された累積劣化危険度を統合して、統合後の累積劣化危険度に基づき特徴量を算出する。
【００１２】
ゲイン算出部では、算出した特徴量と画素毎の発光量と輝度に基づき画素毎に補正ゲインが算出される。ゲイン算出部は、例えば発光量と特徴量に基づく発光量抑制後の発光量との関係を示すトーンマッピング関数や、このトーンマッピング関数に対する低域通過フィルタ処理後のトーンマッピング関数を用いて、画素の輝度に対する補正後の輝度を取得して、取得した輝度と画素の輝度から補正ゲインが算出される。
【００１３】
この技術の第２の側面は、
累積劣化危険度算出部で、映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度を算出し、算出した前記劣化危険度を累積することで累積劣化危険度を算出する工程と、
特徴量算出部で、前記累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する工程と、
ゲイン算出部で、前記算出した特徴量と前記画素毎の発光量と輝度に基づき画素毎に補正ゲインを算出する工程と、
補正部で、前記補正ゲインを用いて前記映像信号の信号レベルを補正する工程と
を含む映像信号処理方法にある。
【発明の効果】
【００１４】
この技術によれば、累積劣化危険度算出部は、映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度を算出し、算出した劣化危険度を累積することで累積劣化危険度を算出する。特徴量算出部は、累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量が算出する。ゲイン算出部は、算出した特徴量と画素毎の発光量と輝度に基づき画素毎に補正ゲインを算出する。補正部は、補正ゲインを用いて映像信号の信号レベルを補正する。このように、隣接画素の発光量差に基づく累積劣化危険度に応じて補正ゲインが算出されることから、隣接画素の発光素子の劣化量に起因する表示の焼き付きを効果的に抑制できる。なお、本明細書に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものではなく、また付加的な効果があってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】表示装置の構成を例示した図である。
【図２】第１の実施の形態の構成を例示した図である。
【図３】ブロック内の画素と隣接画素の発光量を示した図である。
【図４】危険度更新部で行われる処理を説明するための図である。
【図５】発光量と補正対象劣化危険度の関係を例示した図である。
【図６】ゲイン算出部で生成される関数を例示した図である。
【図７】第１の実施の形態の動作を示したフローチャートである。
【図８】画素の劣化危険度の算出処理を示したフローチャートである。
【図９】ブロック累積劣化危険度の更新処理を示したフローチャートである。
【図１０】特徴量の取得処理を示したフローチャートである。
【図１１】特徴量の算出動作を示すフローチャートである。
【図１２】補正ゲインの算出処理を示すフローチャートである。
【図１３】第２の実施の形態の特徴量算出部の動作を説明するための図である。
【図１４】第２の実施の形態のゲイン算出部で生成される関数を例示した図である。
【図１５】第３の実施の形態の特徴量算出部の動作を説明するための図である。
【図１６】第３の実施の形態のゲイン算出部で生成される関数を例示した図である。
【図１７】第４の実施の形態の特徴量算出部の動作を説明するための図である。
【図１８】第４の実施の形態のゲイン算出部で生成される関数を例示した図である。
【図１９】第５の実施の形態の特徴量算出部の動作を説明するための図である。
【図２０】第５の実施の形態のゲイン算出部で生成される関数を例示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本技術を実施するための形態について説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．表示装置について
２．第１の実施の形態
３．第２の実施の形態
４．第３の実施の形態
５．第４の実施の形態
６．第５の実施の形態
【００１７】
＜１．表示装置について＞
図１は表示装置の構成を例示している。表示装置１０は、制御部１１、記録部１２、信号処理部２０、過電流検出部６１、データドライバ６２、ガンマ回路６３およびパネル６５を含んで構成される。
【００１８】
信号処理部２０は、エッジぼかし部２１、Ｉ／Ｆ（インタフェース）部２２、リニア変換部２３、パターン生成部２４、色温度調整部２５、静止画検波部２６、長期色温度補正部２７、発光時間制御部２８を含んで構成される。また、信号処理部２０は、信号レベル補正部３０、記憶部４０、ムラ補正部５１、ガンマ変換部５２、ディザ処理部５３、信号出力部５４、長期色温度補正検波部５５、ゲートパルス出力部５６、およびガンマ回路制御部５７を含んで構成される。
【００１９】
表示装置１０は、映像信号の供給を受けると、その映像信号を分析して、分析した内容にしたがって、後述するパネル６５の内部に配置される画素を点灯することで、パネル６５を通じて画像を表示する。
【００２０】
制御部１１は、信号処理部２０の制御を行うものであり、Ｉ／Ｆ部２２との間で信号の授受を行う。また、制御部１１はＩ／Ｆ部２２から受け取った信号に対して各種信号処理を行う。
【００２１】
記録部１２は、制御部１１において信号処理部２０を制御するための情報を格納する。記録部１２としては、表示装置１０の電源が切れている状態でも情報が消えずに格納することができるメモリを用いることが好ましい。記録部１２として採用するメモリとして、例えば電気的に内容を書き換えることができるＥＥＰＲＯＭ（Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory）を用いることが望ましい。ＥＥＰＲＯＭは基板に実装したままでデータの書き込みや消去を行うことができる不揮発性のメモリであり、刻一刻と変化する表示装置１０の情報を格納するために好適なメモリである。
【００２２】
信号処理部２０は、映像信号を入力し、入力された映像信号に対して信号処理を施す。信号処理部２０は、入力された映像信号に対する信号処理を、信号処理部２０の内部の各部で行う。
【００２３】
エッジぼかし部２１は、入力された映像信号に対してエッジをぼかすための信号処理を行う。具体的には、エッジぼかし部２１は、パネル６５への画像の焼き付き現象を防ぐために、画像を意図的にずらす処理を行ってエッジをぼかすことで、画像の焼き付き現象を抑える。
【００２４】
リニア変換部２３は、入力に対する出力がガンマ特性を有する映像信号を、ガンマ特性からリニア特性を有するように変換する信号処理を行う。リニア変換部２３で、入力に対する出力がリニア特性を有するように信号処理を行うことで、パネル６５で表示する画像に対する様々な処理が容易になる。
【００２５】
パターン生成部２４は、表示装置１０の内部の画像処理で使用するテストバターンを生成する。表示装置１０の内部の画像処理で使用するテストパターンとしては、例えばパネル６５の表示検査に用いるテストパターンがある。
【００２６】
色温度調整部２５は、表示装置１０のパネル６５で表示する画像の色温度を調整する。図１には図示していないが、表示装置１０には色温度を調整するための色温度調整手段を備えており、利用者が色温度調整手段を操作することで、画面に表示される画像の色温度を手動で調整することができる。
【００２７】
長期色温度補正部２７は、有機ＥＬ素子のＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）各色の輝度−時間特性（ＬＴ特性）が異なることによる経年変化を補正するものである。有機ＥＬ素子には、Ｒ、Ｇ、Ｂ各色のＬＴ特性が異なるため、発光時間の経過に伴って色のバランスが崩れてくる。その色のバランスを補正するものである。
【００２８】
発光時間制御部２８は、画像をパネル６５に表示する際のパルスのデューティ比を算出して、有機ＥＬ素子の発光時間を制御するものである。表示装置１０は、パルスが発光期間を示す状態の間にパネル６５内部の有機ＥＬ素子に対して電流を流すことで、有機ＥＬ素子を発光させて画像の表示を行う。
【００２９】
信号レベル補正部３０は、画像の焼き付き現象等を効果的に抑制するために映像信号の信号レベルを補正して、パネル６５に表示する映像の輝度を調整する。信号レベル補正部３０は、映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度を算出して、算出した劣化危険度を累積することで累積劣化危険度を算出する。また、信号レベル補正部３０は、累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出して、特徴量と画素毎の発光量に基づき画素毎に補正ゲインを算出する。さらに、信号レベル補正部３０は、補正ゲインを用いて映像信号の信号レベルを補正する。信号レベル補正部３０の構成および動作については後に詳述する。
【００３０】
長期色温度補正検波部５５は、長期色温度補正部２７で補正するための情報を検知する。長期色温度補正検波部５５で検知した情報は、Ｉ／Ｆ部２２を通じて制御部１１に送られ、制御部１１を経由して記録部１２に記録される。
【００３１】
ムラ補正部５１は、パネル６５に表示される画像や映像のムラを補正する。ムラ補正部５１において、パネル６５の横筋、縦筋および画面全体の斑を、入力信号のレベルや座標位置を基準に補正を行う。
【００３２】
ガンマ変換部５２は、リニア変換部２３でリニア特性を有するように変換した映像信号に対して、ガンマ特性を有するように変換する信号処理を行う。ガンマ変換部５２で行う信号処理は、パネル６５が有するガンマ特性をキャンセルし、信号の電流に応じてパネル６５の内部の有機ＥＬ素子が発光するようにリニア特性を有するような信号に変換する信号処理である。
【００３３】
ディザ処理部５３は、ガンマ変換部５２で、変換された信号に対してディザリングを施す。ディザリングは、使用可能な色数が少ない環境で中間色を表現するために、表示可能な色を組み合わせて表示することである。ディザ処理部５３で、ディザリングを行うことで、本来パネル上では表示できない色を、見かけ上作り出して表現することができる。
する。
【００３４】
信号出力部５４は、ディザ処理部５３で、ディザリングが施された後の信号をデータドライバ６２に対して出力する。信号出力部５４からデータドライバ６２に渡される信号はＲ、Ｇ、Ｂ各色の発光量に関する情報が含まれた信号であり、発光時間の情報が含まれた信号はゲートパルス出力部５６からパルスの形式で出力される。
【００３５】
ゲートパルス出力部５６は、パネル６５の発光時間を制御するパルスを出力する。ゲートパルス出力部５６から出力されるパルスは、発光時間制御部２８で算出したデューティ比によるパルスである。ゲートパルス出力部５６からのパルスによって、パネル６５での各画素の発光時間が決定される。
【００３６】
ガンマ回路制御部５７は、ガンマ回路６３に設定値を与える。ガンマ回路制御部５７が与える設定値は、データドライバ６２の内部に含まれるＤ／Ａ変換器のラダー抵抗に与えるための基準電圧である。
【００３７】
記憶部４０は、信号レベル補正部３０で輝度を補正する際に用いる情報が記憶される。記憶部４０は、例えば表示装置１０の動作が開始されたときに前回の動作終了時に用いられている情報や、信号レベル補正部３０の処理で用いる所定の情報を記憶する。この場合、記憶部４０は、記録部１２と同様に例えば電気的に内容を書き換えることができるＥＥＰＲＯＭ（Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory）を用いることが望ましい。また、記憶部４０は、例えば表示装置１０の動作開始後に生成された情報のみを記憶する場合、電源が切れると内容が消去されるようなメモリ、例えばＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）を用いることが望ましい。また、記憶部４０は、ＥＥＰＲＯＭとＳＤＲＡＭを用いて構成して、記憶する情報に応じてメモリを使い分けてもよい。
【００３８】
過電流検出部６１は、基板のショート等で過電流が生じた場合にその過電流を検出し、ゲートパルス出力部５６に通知する。過電流検出部６１からの過電流発生通知により、過電流が生じた場合にその過電流がパネル６５に印加されるのを防ぐことができる。
【００３９】
データドライバ６２は、信号出力部５４から受け取った信号に対して信号処理を行い、パネル６５に対して、パネル６５で画像を表示するための信号を出力する。データドライバ６２には、図示しないが、Ｄ／Ａ変換器が含まれており、Ｄ／Ａ変換器はデジタル信号をアナログ信号に変換して出力する。
【００４０】
ガンマ回路６３は、データドライバ６２の内部に含まれるＤ／Ａ変換器のラダー抵抗に基準電圧を与える。ラダー抵抗に与えるための基準電圧は、上述のようにガンマ回路制御部５７で生成される。
【００４１】
パネル６５は、データドライバ６２からの出力信号およびゲートパルス出力部５６からの出力パルスを入力し、入力した信号およびパルスに応じて、自発光素子の一例である有機ＥＬ素子を発光させて動画像や静止画像を表示する。パネル６５は、画像を表示する面の形状が平面である。有機ＥＬ素子は電圧を印加すると発光する自発光型の素子であり、その発光量は電圧に比例する。したがって、有機ＥＬ素子のＩＬ特性（電流発光量特性）も比例関係を有することとなる。
【００４２】
パネル６５には、図示せずも、走査周期で画素を選択する走査線、画素を駆動するための輝度情報を与えるデータ線、輝度情報に基づいて電流量を制御して電流量に応じて発光素子である有機ＥＬ素子を発光させる画素回路が、マトリクス状に配置されている。このように走査線、データ線および画素回路が構成されていることで、表示装置１０は映像信号にしたがって画像を表示することができる。
【００４３】
なお、表示装置１０は、リニア変換部２３で、リニア特性を有するように映像信号を変換した後、変換後の映像信号をパターン生成部２４に入力したが、パターン生成部２４とリニア変換部２３とを入れ替えた構成であってもよい。また、表示装置１０の信号処理部２０は、図１に示す構成に限らず、一部の機能ブロックが省略された構成であってもよく、新たな機能を有する機能ブロックが追加されている構成であってもよい。
【００４４】
＜２．第１の実施の形態＞
次に、本技術の第１の実施の形態について説明する。図２は、本技術の映像信号処理装置を信号処理部に適用した第１の実施の形態の構成を例示している。
【００４５】
第１の実施の形態の信号処理部２０における信号レベル補正部３０は、輝度算出部３０１、発光量算出部３０２、危険度算出部３０３、危険度更新部３０４、特徴量算出部３０５、ゲイン算出部３０６、乗算器３９０とを含んで構成される。また、記憶部４０は、危険度記憶部４０１と発光素子劣化特性記憶部４０２とを含んで構成される。なお、第１の実施の形態および後述する実施の形態における輝度算出部３０１乃至危険度更新部３０４は請求項の累積劣化危険度算出部に相当し、乗算器３９０は補正部に相当する。
【００４６】
輝度算出部３０１は、リニア変換部２３で変換されたリニア特性を有する映像信号から輝度を算出する。輝度算出部３０１は、算出した輝度を発光量算出部３０２とゲイン算出部３０６に出力する。例えば映像信号が三原色信号（Ｒ，Ｇ，Ｂ）であり、ＩＴＵ−Ｒ  ＢＴ．６０１の規定を用いた場合には、式（１）に基づき輝度Ｙを算出できる。
【００４７】
【数１】
2015219306.tif 000003
【００４８】
発光量算出部３０２は、輝度算出部３０１で算出した輝度と発光時間制御部２８で算出したパルスのデューティ比に基づいて、１フレームあたりのパネル６５の各画素の発光量を算出する。ＯＬＥＤパネルにおける有機ＥＬ素子は、電流と発光量との間にリニアな（線形な）関係を有している。したがって、発光量算出部３０２は、輝度算出部３０１で算出した輝度Ｙに発光時間制御部２８で算出したパルスのデューティ比ＤＲを乗じて得られる（輝度×デューティ比で得られる）値を各画素の１フレームあたりの発光量Ｅとする。発光量算出部３０２は、算出した発光量を危険度算出部３０３に出力する。
【００４９】
危険度算出部３０３は、発光量算出部３０２で算出した発光量に基づいて、発光量に対応する発光量パラメータを算出する。発光量パラメータは、画素の焼き付きの危険性の度合いを示すものである。以下、危険度算出部３０３で、算出する発光量パラメータを劣化危険度と称する。
【００５０】
危険度算出部３０３は、例えばパネル６５の表示画面を分割した領域毎に、領域内の各画素について、隣接画素との発光量差最大値Ｅｄを算出する。危険度算出部３０３は、例えば表示画面全体を１画素または複数画素からなるブロックに区分して、ブロック内の各画素について、隣接画素との発光量差最大値Ｅｄを算出する。図３はブロック内の画素と隣接画素の発光量を示している。ここで、ブロック内の画素Ｐ［x,y］の発光量を発光量Ｅ［x,y］とする。また隣接する画素Ｐ[x,y-1]，Ｐ[x-1,y]，Ｐ[x+1,y]，Ｐ[x+1,y+1]のそれぞれの発光量を発光量Ｅ[x,y-1]，Ｅ[x-1,y]，Ｅ[x+1,y]，Ｅ[x+1,y+1]とする。この場合、危険度算出部３０３は式（２）に基づいて発光量差最大値ＥＤ[x,y]を算出する。また、発光量差を計算できない画面端では、該当分の発光量差をゼロとみなして計算すればよい。なお、発光量差最大値ＥＤ[x,y]は符号を有する。
【００５１】
【数２】
2015219306.tif 000004
【００５２】
危険度算出部３０３は、ブロック内の各画素について発光量差最大値を算出する。さらに、危険度算出部３０３は、ブロック内の画素の発光量毎に発光量差最大値を選択して、発光量に対する発光量差最大値を決定する。すなわち、危険度算出部３０３は、式（３）に基づいて、ブロック番号ｎのブロック内における発光量毎に発光量差最大値を算出して劣化危険度ＤＴ0［ｎ，Ｅ［xt,yt］］とする。なお、［xt,yt］はブロック内の全画素を示している。
【００５３】
【数３】
2015219306.tif 000005
【００５４】
また、危険度算出部３０３は、ブロック毎に式（３）の処理を行い、各ブロックにおける劣化危険度を算出する。危険度算出部３０３は、ブロック毎に算出した劣化危険度を危険度更新部３０４に出力する。
【００５５】
危険度更新部３０４は、ブロック毎に、危険度算出部３０３で算出された劣化危険度を用いて累積劣化危険度を更新する。累積劣化危険度は、例えばフレーム毎に算出された劣化危険度のブロック毎の累積値である。累積劣化危険度は、所定タイミング例えば表示装置１０の動作開始、日毎の最初の動作開始、表示装置１０の入手後の最初の動作開始等からの劣化危険度の累積値である。
【００５６】
また、累積劣化危険度の更新では、累積劣化危険度の更新について時間安定化を図るため、現フレームの劣化危険度ＤＴ0［n,i］と既に算出されている累積劣化危険度ＤＴ［n,i］の割合を調整して加算する。なお、「ｉ」は発光量を示している。
【００５７】
図４は、危険度更新部で行われる処理を説明するための図である。係数Ｋt（０≦Ｋt＜１）は時間安定化を図るための係数であり、予め所定値にまたは所定値から変更可能に設定されている。危険度更新部３０４は、危険度算出部３０３で算出された現フレームの劣化危険度ＤＴ0［n,i］に係数（１−Ｋt）、既に算出されている累積劣化危険度ＤＴ［n,i］に係数Ｋtを乗算する。さらに、危険度更新部３０４は、係数（１−Ｋt）を乗算した劣化危険度ＤＴ0［n,i］を、係数Ｋtを乗算した累積劣化危険度ＤＴ［n,i］に加算して、既に算出されている累積劣化危険度ＤＴ［n,i］を更新する。すなわち、危険度更新部３０４は、式（４）の演算を行い累積劣化危険度ＤＴ［n,i］を更新する。なお、式（４）の演算はＩＩＲフィルタに相当する。なお、係数Ｋtが大きくなると累積劣化危険度のフレーム間の変化が少なくなり時間安定性が高くなる。
【００５８】
【数４】
2015219306.tif 000006
【００５９】
危険度更新部３０４は、ブロック単位で、例えば記憶部４０の危険度記憶部４０１に記憶された累積劣化危険度ＤＴ［n,i］と現フレームの劣化危険度ＤＴ0［n,i］と係数Ｋtを用いて、新たな累積劣化危険度ＤＴ［n,i］を算出する。また、危険度更新部３０４は、更新後の累積劣化危険度ＤＴ［n,i］と次のフレームの劣化危険度ＤＴ0［n,i］と係数Ｋtを用いて新たな累積劣化危険度ＤＴ［n,i］を算出する。このような累積劣化危険度の更新をブロック単位で例えばフレーム毎または所定のフレーム間隔毎等に行い、更新後の累積劣化危険度ＤＴ［n,i］をゲイン算出部３０６と危険度記憶部４０１に出力する。なお、危険度更新部３０４は、次の動作開始時に前回の動作終了時から継続して累積劣化危険度の更新を行うことができるように、動作終了時に危険度記憶部４０１に記憶されている累積劣化危険度の更新を行うようにしてもよい。また、累積劣化危険度の更新のフレーム間隔を長くすることで時間安定性が高くなる。
【００６０】
特徴量算出部３０５は、ブロック毎に算出した劣化危険度を統合して、表示画面全体の劣化危険度を算出する。特徴量算出部３０５は、発光量毎に、各ブロックの発光量毎の劣化危険度から、発光量毎に最大値を選択して劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。特徴量算出部３０５は、式（５）に基づき劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。なお式（５）において、「Ｎ」は表示画面全体のブロック数を示している。
【００６１】
【数５】
2015219306.tif 000007
【００６２】
次に、特徴量算出部３０５は、記憶部４０の発光素子劣化特性記憶部４０２に記憶されている発光素子劣化特性に基づいた最小劣化危険度を用いて、映像信号の輝度レベル補正に用いる補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]を算出する。なお、最小劣化危険度は、劣化危険度が最小劣化危険度以下であれば劣化量を許容できる劣化危険度である。
【００６３】
特徴量算出部３０５は、式（６）に基づき、劣化危険度ＤＴＡ[i]から最小劣化危険度ｄｇｒMinを減算してゼロ以上の値を補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]とする。なお、「ｐ０」は補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]を最適化するための係数であり、予めパネル６５の特性等に基づいて設定されている。
【００６４】
【数６】
2015219306.tif 000008
【００６５】
次に、特徴量算出部３０５は、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する。特徴量算出部３０５は、例えば、算出された補正対象劣化危険度における最大発光量から発光量の減少に伴い補正対象劣化危険度を減少させる。特徴量算出部３０５は、減少後の補正対象劣化危険度が補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]よりも少なくなる場合は、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]に置き換えて、置き換え後の補正対象劣化危険度を発光量の減少に伴い減少させることで特徴量を算出する。
【００６６】
図５は、発光量と補正対象劣化危険度の関係を例示しており、図５の（Ａ）は補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉ]と発光量の関係、図５の（Ｂ）は特徴量である補正対象劣化危険度ＤＴＣ[ｉ]と発光量の関係である。なお、特徴量の算出については後述する。特徴量算出部３０５は、特徴量の算出を行うことにより得られた発光量ｉ毎の補正対象劣化危険度ＤＴＣ[i]をゲイン算出部３０６に出力する。
【００６７】
ゲイン算出部３０６は、特徴量算出部３０５から供給された発光量ｉ毎の補正対象劣化危険度ＤＴＣ[i]に基づき、画素の輝度レベルに応じて補正ゲインを算出する。ゲイン算出部３０６は、補正対象劣化危険度ＤＴＣ[i]に基づいて式（７）に示すトーンマッピング関数値ＴＭＡＰ０[i]を生成する。図６は、ゲイン算出部３０６で生成される関数であり、図６の（Ａ）はトーンマッピング関数を示しており、トーンマッピング関数は、画素の発光量に対する焼き付き現象の抑制時の発光量を示した関数である。
【００６８】
【数７】
2015219306.tif 000009
【００６９】
また、ゲイン算出部３０６は、トーンマッピング関数に対して低域通過フィルタ処理を行い、発光量ｉの違いによる変化が穏やかとされたトーンマッピング関数値ＴＭＡＰ１[i]を算出する。式（８）はゲイン算出部３０６で行われる低域通過フィルタ処理を示している。なお、図６の（Ｂ）はフィルタ処理後のトーンマッピング関数を示している。
【００７０】
【数８】
2015219306.tif 000010
【００７１】
さらに、ゲイン算出部３０６は、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換する。なお、トーンマッピング関数値は上述のように劣化危険度から算出されており、劣化危険度は上述のように発光量差から算出されているので、トーンマッピング関数値も輝度値に変換される。すなわち、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換すると、図６の（Ｂ）に示すトーンマッピング関数は、図６の（Ｃ）に示す輝度関数に変換される。ゲイン算出部３０６は、輝度算出部３０１で算出された輝度Ｙ[x,y]と、この輝度Ｙ[x,y]に対する関数値ＴＭＡＰ２[Ｙ[x,y]]から式（９）に示すように補正ゲインＧａｉｎOut[x,y]を決定して乗算器３９０に出力する。
【００７２】
【数９】
2015219306.tif 000011
【００７３】
乗算器３９０は、映像信号にゲイン算出部３０６で算出した補正ゲインを乗算して出力する。
【００７４】
図７は、第１の実施の形態の動作を示したフローチャートである。ステップＳＴ１で信号レベル補正部３０は、発光量を算出する。信号レベル補正部３０は、入力された映像信号の輝度とデューティ比を乗算することで発光量を算出してステップＳＴ２に進む。
【００７５】
ステップＳＴ２で信号レベル補正部３０は画素の劣化危険度を算出する。信号レベル補正部３０は、劣化危険度算出対象画素と隣接画素の発光量差に基づき劣化危険度算出対象画素の劣化危険度を算出する。図８は画素の劣化危険度の算出処理を示したフローチャートである。
【００７６】
ステップＳＴ１１で信号レベル補正部３０は画素を選択する。信号レベル補正部３０は、劣化危険度を算出する画素を選択してステップＳＴ１２に進む。
【００７７】
ステップＳＴ１２で信号レベル補正部３０は、画素が属するブロック番号を算出する。信号レベル補正部３０は、ステップＳＴ１１で選択した画素の画素位置に基づき、当該画素が属するブロックの番号を算出してステップＳＴ１３に進む。
【００７８】
ステップＳＴ１３で信号レベル補正部３０は隣接画素との発光量差から劣化危険度を算出する。信号レベル補正部３０は、上述の式（２）の演算を行い、選択した画素の劣化危険度を発光量差に基づいて算出してステップＳＴ１４に進む。
【００７９】
ステップＳＴ１４で信号レベル補正部３０は、当該ブロックの最大劣化危険度であるか判別する。信号レベル補正部３０は、選択した画素が属するブロック番号のブロックにおいて、ステップＳＴ１３で算出した劣化危険度が最大劣化危険度であるか判別する。信号レベル補正部３０は、ステップＳＴ１３で算出した劣化危険度が最大劣化危険度である場合はステップＳＴ１５に進み、最大劣化危険度でない場合はステップＳＴ１６に進む。
【００８０】
ステップＳＴ１５で信号レベル補正部３０は、当該ブロックの最大劣化危険度を更新する。信号レベル補正部３０は、当該ブロックの最大劣化危険度をステップＳＴ１３で算出した劣化危険度で更新してステップＳＴ１６に進む。
【００８１】
ステップＳＴ１６で信号レベル補正部３０は、全画素を選択したか判別する。信号レベル補正部３０は、表示画面内の全画素の選択が完了していない場合はステップＳＴ１１に戻り、選択されていない画素から新たに画素を選択して上述の処理を行う。また、信号レベル補正部３０は、表示画面内の全画素の選択が完了した場合は劣化危険度の算出を終了する。
【００８２】
図７に戻り、ステップＳＴ２で画素の劣化危険度の算出を行いステップＳＴ３に進むと、信号レベル補正部３０は、ブロック累積劣化危険度を更新する。図９はブロック累積劣化危険度の更新処理を示したフローチャートである。
【００８３】
ステップＳＴ２１で信号レベル補正部３０はブロックを選択する。信号レベル補正部３０は、劣化危険度を更新するブロックを選択してステップＳＴ２２に進む。
【００８４】
ステップＳＴ２２で信号レベル補正部３０は、ブロック累積劣化危険度を取得する。信号レベル補正部３０は、例えば記憶部４０の危険度記憶部４０１から、ステップＳＴ２１で選択したブロックに対応するブロック累積劣化危険度を読み出してステップＳＴ２３に進む。
【００８５】
ステップＳＴ２３で信号レベル補正部３０は、現フレームの劣化危険度を取得する。信号レベル補正部３０は、ステップＳＴ２１で選択されたブロックに対する現フレームで算出した劣化危険度を取得してステップＳＴ２４に進む。
【００８６】
ステップＳＴ２４で信号レベル補正部３０は、ブロック累積劣化危険度を更新する。信号レベル補正部３０は、ステップＳＴ２２で取得したブロック累積劣化危険度にステップＳＴ２３で取得した現フレームの劣化危険度を加算することで、ブロック累積劣化危険度を更新してステップＳＴ２５に進む。
【００８７】
ステップＳＴ２５で信号レベル補正部３０は、更新後のブロック累積劣化危険度を保存する。信号レベル補正部３０は、ステップＳＴ２４で得られた更新後のブロック累積劣化危険度を例えば記憶部４０の危険度記憶部４０１に記憶させることで、既に記憶されているブロック累積劣化危険度を更新してステップＳＴ２６に進む。
【００８８】
ステップＳＴ２６で信号レベル補正部３０は、全ブロックを選択したか判別する。信号レベル補正部３０は、表示画面内の全ブロックの選択が完了していない場合はステップＳＴ２１に戻り、選択されていないブロックから新たにブロックを選択して上述の処理を行う。また、信号レベル補正部３０は、表示画面内の全ブロックの選択が完了した場合はブロック累積劣化危険度の更新処理を終了する。
【００８９】
図７に戻り、ステップＳＴ３でブロック累積劣化危険度の更新を行いステップＳＴ４に進むと、信号レベル補正部３０は表示画面全体における劣化危険度の特徴量を取得する。図１０は特徴量の取得処理を示したフローチャートである。ステップＳＴ３１で信号レベル補正部３０は、ブロック累積劣化危険度を統合する。信号レベル補正部３０は、上述した式（５）の演算を行い、各ブロックのブロック累積劣化危険度から発光量毎に最大値を選択してステップＳＴ３２に進む。
【００９０】
ステップＳＴ３２で信号レベル補正部３０は、補正対象劣化危険度を算出する。信号レベル補正部３０は、上述した式（６）の演算を行う。信号レベル補正部３０は、選択した発光量毎の劣化危険度と発光素子劣化特性に基づく最小劣化危険度（劣化量の許容量）から、最小劣化危険度を超える劣化危険度である補正対象劣化危険度ＤＴＢ［i］を発光量毎に算出してステップＳＴ３３に進む。
【００９１】
ステップＳＴ３３で信号レベル補正部３０は、特徴量の算出を行う。信号レベル補正部３０は、算出した補正対象劣化危険度から、表示画面全体についての補正対象劣化危険度を発光量毎に示す補正対象劣化危険度ＤＴＣ［i］を算出して特徴量とする。
【００９２】
図１１は、特徴量の算出動作を示すフローチャートである。ステップＳＴ４１で信号レベル補正部３０は、最大発光量ｉmaxから「１」を減算して処理対象発光量ｉtとしてステップＳＴ４２に進む。
【００９３】
ステップＳＴ４２で信号レベル補正部３０は、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉt−１]と補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉt]−１を比較する。信号レベル補正部３０は、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉt−１]が補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉt]−１以上である場合にステップＳＴ４３に進み、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉt−１]が補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉt]−１未満である場合にステップＳＴ４４に進む。
【００９４】
ステップＳＴ４３で信号レベル補正部３０は、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉt−１]を補正対象劣化危険度ＤＴＣ[ｉt−１]としてステップＳＴ４５に進む。
【００９５】
ステップＳＴ４４で信号レベル補正部３０は、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉt]から所定量ｉ_ofstを減算して、減算結果を補正対象劣化危険度ＤＴＣ[ｉt−１]としてステップＳＴ４５に進む。
【００９６】
ステップＳＴ４５で信号レベル補正部３０は、処理対象発光量ｉtが「２」以下であるか判別する。信号レベル補正部３０は、処理対象発光量ｉtが２以下でない場合はステップＳＴ４６に進み、処理対象発光量ｉtが２以下である場合は処理を終了する。
【００９７】
ステップＳＴ４６で信号レベル補正部３０は、処理対象発光量ｉtから「１」を減算して、減算結果を新たな処理対象発光量ｉtとしてステップＳＴ４２に戻る。
【００９８】
なお、所定量ｉ_ofstは例えば「０」よりも大きく「１」以下の値とする。また、所定量ｉ_ofstを「１」未満の小数値とする場合、ＤＴＣ[ｉt−１]は四捨五入等の処理が行われた整数値とする。
【００９９】
信号レベル補正部３０は、このような処理を行い、図５の（Ａ）に示す補正対象劣化危険度ＤＴＢ[ｉ]から、図５の（Ｂ）に示す補正対象劣化危険度ＤＴＣ[ｉ]を算出する。
【０１００】
図７に戻り、ステップＳＴ４で劣化危険度の特徴量を算出してステップＳＴ５に進むと、信号レベル補正部３０は画素毎に補正ゲインを算出する。信号レベル補正部３０は、画素毎に算出した劣化危険度に応じて、補正ゲインを画素毎に算出する。図１２は、補正ゲインの算出処理を示すフローチャートである。ステップＳＴ５１で信号レベル補正部３０はトーンマッピング関数を算出する。信号レベル補正部３０は、上述した式（７）の演算を行い、トーンマッピング関数を算出してステップＳＴ５２に進む。
【０１０１】
ステップＳＴ５２で信号レベル補正部３０は、低域通過フィルタ処理を行う。信号レベル補正部３０は、例えば上述した式（８）の演算を行い、トーンマッピング関数に対して低域通過フィルタ処理を行ってステップＳＴ５３に進む。
【０１０２】
ステップＳＴ５３で信号レベル補正部３０は、輝度関数に変換する。信号レベル補正部３０は、フィルタ処理後のトーンマッピング関数を輝度関数に変換してステップＳＴ５４に進む。
【０１０３】
ステップＳＴ５４で信号レベル補正部３０は、画素を選択する。信号レベル補正部３０は、補正ゲインの算出対象である画素を選択してステップＳＴ５５に進む。
【０１０４】
ステップＳＴ５５で信号レベル補正部３０は、補正ゲインを算出する。信号レベル補正部３０は、ステップＳＴ５３で得られた輝度関数に基づき、ステップＳＴ５４で選択した画素の輝度に応じた補正ゲインを算出してステップＳＴ５６に進む。
【０１０５】
ステップＳＴ５６で信号レベル補正部３０は、全画素を選択したか判別する。信号レベル補正部３０は、表示画面内の全画素の選択が完了していない場合はステップＳＴ５４に戻り、選択されていない画素から新たに画素を選択してゲインを決定する処理を行う。また、信号レベル補正部３０は、表示画面内の全画素の選択が完了した場合は補正ゲインの算出処理を終了する。
【０１０６】
図７に戻り、ステップＳＴ５で補正ゲインを算出してステップＳＴ６に進むと、信号レベル補正部３０は、映像信号の信号レベル補正を行う。信号レベル補正部３０は、算出した補正ゲインで映像信号の信号レベルを画素毎に補正する。
【０１０７】
このような第１の実施の形態によれば、隣接画素間の発光量差に応じて領域毎の劣化危険度が領域毎に累積されて、累積された領域毎の劣化危険度に基づき、表示画面全体における画素の発光量に対する発光低減量を示す特徴量が算出される。さらに算出された特徴量と画素毎の輝度に応じて補正ゲインが算出される。このため、隣接画素の発光素子の劣化量に起因する表示の焼き付きを効果的に抑制できる。また、映像信号の輝度制御に用いる補正ゲインは、表示画面全体で一律でないことから、視認性の低下を抑制できる。
【０１０８】
＜３．第２の実施の形態＞
次に、本技術の第２の実施の形態について説明する。第２の実施の形態は、第１の実施の形態に比べて、より安定した補正動作を行える実施の形態である。なお、第２の実施の形態は、第１の実施の形態と同様に構成して、特徴量算出部３０５とゲイン算出部３０６で、第１の実施の形態と異なる動作を行う。
【０１０９】
特徴量算出部３０５は、ブロック毎に算出した劣化危険度を統合して、表示画面全体の劣化危険度を算出する。特徴量算出部３０５は、発光量毎に、各ブロックの劣化危険度から、発光量毎に最大値を選択して劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。特徴量算出部３０５は、上述の式（５）に基づき劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。
【０１１０】
次に、特徴量算出部３０５は、記憶部４０の発光素子劣化特性記憶部４０２に記憶されている発光素子劣化特性に基づいた最小劣化危険度を用いて、映像信号の輝度レベル補正に用いる補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]を算出する。なお、最小劣化危険度は、劣化危険度が最小劣化危険度以下であれば劣化量を許容できる劣化危険度である。
【０１１１】
特徴量算出部３０５は、上述の式（６）に基づき、劣化危険度ＤＴＡ[i]から最小劣化危険度ｄｇｒMinを減算してゼロ以上の値を補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]とする。
【０１１２】
その後、特徴量算出部３０５は、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]の劣化危険度最大値ＤＬmaxを選択して特徴量とする。なお、図１３および式（１０）は特徴量算出部の動作を示している。
【０１１３】
【数１０】
2015219306.tif 000012
【０１１４】
ゲイン算出部３０６は、特徴量算出部３０５から供給された劣化危険度最大値ＤＬmax（特徴量）に基づき、画素の輝度レベルに応じて補正ゲインを算出する。ゲイン算出部３０６は、劣化危険度最大値ＤＬmaxをシフト量ｐ_sftとする。さらに、ゲイン算出部３０６は、式（１１）に示すように、シフト量ｐ_sftを用いてトーンマッピング関数値ＴＭＡＰ０[i]を算出する。図１４は、ゲイン算出部３０６で生成される関数であり、図１４の（Ａ）はトーンマッピング関数を示している。
【０１１５】
【数１１】
2015219306.tif 000013
【０１１６】
このように、トーンマッピング関数は一次関数となり、劣化危険度最大値ＤＬmaxに応じて発光量に対するトーンマッピング関数値がシフトされる。
【０１１７】
また、ゲイン算出部３０６は、トーンマッピング関数に対して上述の式（８）のように低域通過フィルタ処理を行い、発光量ｉの違いによる変化が穏やかとされたトーンマッピング関数値ＴＭＡＰ１[i]を算出する。なお、図１４の（Ｂ）はフィルタ処理後のトーンマッピング関数を示している。
【０１１８】
さらに、ゲイン算出部３０６は、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換する。なお、トーンマッピング関数値は上述のように劣化危険度から算出されており、劣化危険度は上述のように発光量差から算出されているので、トーンマッピング関数値も輝度値に変換できる。すなわち、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換すると、図１４の（Ｂ）に示すトーンマッピング関数は、図１４の（Ｃ）に示す輝度関数に変換される。ゲイン算出部３０６は、輝度算出部３０１で算出された輝度と、この輝度に対する関数値から補正ゲインを決定して乗算器３９０に出力する。
【０１１９】
このような第２の実施の形態によれば、隣接画素間の発光量差に応じて領域毎の劣化危険度が領域毎に累積されて、累積された領域毎の劣化危険度に基づき表示画面全体における画素の発光量に対する発光低減量の最大値が特徴量として算出される。さらに算出された特徴量と画素毎の輝度に応じて補正ゲインが算出される。このため、第１の実施の形態と同様に、隣接画素の発光素子の劣化量に起因する表示の焼き付きを効果的に抑制できる。また、映像信号の輝度制御に用いる補正ゲインは、特徴量と画素毎の輝度に応じて算出されており、表示画面全体で一律でないことから視認性の低下を抑制できる。さらに、第２の実施の形態では、累積された領域毎の劣化危険度から発光低減量の最大値のみを特徴量として算出するので、第１の実施の形態に比べて構成が簡単で発光低減量が一定であることから安定した補正動作を行うことができるようになる。
【０１２０】
＜４．第３の実施の形態＞
次に、本技術の第３の実施の形態について説明する。第３の実施の形態は、第１の実施の形態に比べて、より安定した補正動作を行える実施の形態である。なお、第３の実施の形態は、第１の実施の形態と同様に構成して、特徴量算出部３０５とゲイン算出部３０６で、第１の実施の形態と異なる動作を行う。
【０１２１】
特徴量算出部３０５は、ブロック毎に算出した発光量毎の劣化危険度を統合して、表示画面全体の劣化危険度を算出する。特徴量算出部３０５は、発光量毎に、各ブロックの発光量の毎劣化危険度から、発光量毎に最大値を選択して劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。特徴量算出部３０５は、上述の式（５）に基づき劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。
【０１２２】
次に、特徴量算出部３０５は、記憶部４０の発光素子劣化特性記憶部４０２に記憶されている発光素子劣化特性に基づいた最小劣化危険度を用いて、映像信号の輝度レベル補正に用いる補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]を算出する。なお、最小劣化危険度は、劣化危険度が最小劣化危険度以下であれば劣化量を許容できる劣化危険度である。
【０１２３】
特徴量算出部３０５は、上述の式（６）に基づき、劣化危険度ＤＴＡ[i]から最小劣化危険度ｄｇｒMinを減算してゼロ以上の値を補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]とする。
【０１２４】
その後、特徴量算出部３０５は、表示画面全体における発光量と補正対象劣化危険度の関係を示す特徴量を算出する。特徴量算出部３０５は、例えば算出された補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]の増加方向の最大傾きと減少方向の最大傾きを算出して特徴量とする。特徴量算出部３０５は、式（１２）（１３）に基づき、最大傾きＤＧmax0，ＤＧmax1を算出してゲイン算出部３０６に出力する。図１５は、特徴量算出部の動作を説明するための図である。特徴量算出部３０５は、算出された補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]の危険度毎に、最小発光量からの補正対象劣化危険度の傾きと、最大発光量までの補正対象劣化危険度の傾きを算出する。特徴量算出部３０５は、算出した傾きから増加方向の最大傾きＤＧmax0と減少方向の最大傾きＤＧmax1を選択して特徴量とする。
【０１２５】
【数１２】
2015219306.tif 000014
【０１２６】
ゲイン算出部３０６は、特徴量算出部３０５から供給された最大傾きＤＧmax0，ＤＧmax1（特徴量）に基づき、画素の輝度レベルに応じて補正ゲインを算出する。ゲイン算出部３０６は、最大傾きＤＧmax0に応じた劣化危険度傾きｐ_grad0を式（１４）から、また、ゲイン算出部３０６は、最大傾きＤＧmax1に応じた劣化危険度傾きｐ_grad1を式（１５）から算出する。
【０１２７】
【数１３】
2015219306.tif 000015
【０１２８】
さらに、ゲイン算出部３０６は、劣化危険度傾きｐ_grad0，ｐ_grad1を用いてトーンマッピング関数値ＴＭＡＰ０[i]を、式（１６）のように生成する。図１６は、ゲイン算出部３０６で生成される関数であり、図１６の（Ａ）はトーンマッピング関数を示している。
【０１２９】
【数１４】
2015219306.tif 000016
【０１３０】
また、ゲイン算出部３０６は、トーンマッピング関数に対して低域通過フィルタ処理を行う。すなわち、ゲイン算出部３０６は、上述の式（８）の演算を行い、発光量ｉの違いによる変化が穏やかとされたトーンマッピング関数を算出する。なお、図１６の（Ｂ）は、フィルタ処理後のトーンマッピング関数を示している。
【０１３１】
さらに、ゲイン算出部３０６は、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換する。なお、トーンマッピング関数値は上述のように劣化危険度から算出されており、劣化危険度は上述のように発光量差から算出されているので、トーンマッピング関数値も輝度値に変換される。すなわち、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換すると、図１６の（Ｂ）に示すトーンマッピング関数は、図１６の（Ｃ）に示す輝度関数に変換される。ゲイン算出部３０６は、輝度算出部３０１で算出された輝度と、この輝度に対する関数値から補正ゲインを決定して乗算器３９０に出力する。
【０１３２】
このような第３の実施の形態によれば、隣接画素間の発光量差に応じて領域毎の劣化危険度が領域毎に累積されて、累積された領域毎の劣化危険度に基づき表示画面全体における発光量と補正対象劣化危険度の関係を示す特徴量が算出される。さらに算出された特徴量と画素毎の輝度に応じて補正ゲインが算出される。このため、第１の実施の形態と同様に、隣接画素の発光素子の劣化量に起因する表示の焼き付きを効果的に抑制できる。さらに、発光量に対する発光低減量は、算出された補正対象劣化危険度の増加方向の最大傾きと減少方向の最大傾きが算出されて、所定の発光量までは発光量の増加に伴い最大傾きで発光低減量が増加される。また、所定の発光量を超えると発光量の増加に伴い最大傾きで発光低減量が減少される。したがって、第１の実施の形態に比べて安定した補正動作を行うことができる。また、発光量に係らず発光低減量が一定である第２の実施の形態に対して、第３の実施の形態では、信号レベルの補正をより最適に行うことができる。
【０１３３】
＜５．第４の実施の形態＞
次に、本技術の第４の実施の形態について説明する。第４の実施の形態は、第１の実施の形態に比べて、より安定した補正動作を行える実施の形態である。なお、第４の実施の形態は、第１の実施の形態と同様に構成して、特徴量算出部３０５とゲイン算出部３０６で、第１の実施の形態と異なる動作を行う。
【０１３４】
特徴量算出部３０５は、ブロック毎に算出した劣化危険度を統合して、表示画面全体の劣化危険度を算出する。特徴量算出部３０５は、発光量毎に、各ブロックの劣化危険度から、発光量毎に最大値を選択して劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。特徴量算出部３０５は、上述の式（５）に基づき劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。
【０１３５】
次に、特徴量算出部３０５は、記憶部４０の発光素子劣化特性記憶部４０２に記憶されている発光素子劣化特性に基づいた最小劣化危険度を用いて、映像信号の輝度レベル補正に用いる補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]を算出する。なお、最小劣化危険度は、劣化危険度が最小劣化危険度以下であれば劣化量を許容できる範囲を示す劣化危険度である。
【０１３６】
特徴量算出部３０５は、上述の式（６）に基づき、劣化危険度ＤＴＡ[i]から最小劣化危険度ｄｇｒMinを減算してゼロ以上の値を補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]とする。
【０１３７】
その後、特徴量算出部３０５は、表示画面全体における発光量と補正対象劣化危険度の関係を示す特徴量を算出する。特徴量算出部３０５は、例えば算出された補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]の増加方向の最大傾きと減少方向の最大傾きを算出して特徴量とする。特徴量算出部３０５は、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]が最大となる発光量ｉを劣化危険度最大発光量ｉbaseとする。特徴量算出部３０５は、発光量ｉが劣化危険度最大発光量ｉbase以下である場合は、式（１７）に基づき、最大傾きＤＧmax0を算出する。また、特徴量算出部３０５は、発光量ｉが劣化危険度最大発光量ｉbaseよりも大きい場合は、式（１８）に基づき、最大傾きＤＧmax1を算出する。特徴量算出部３０５は、算出した最大傾きＤＧmax0，ＤＧmax1をゲイン算出部３０６に出力する。図１７は、特徴量算出部の動作を説明するための図である。特徴量算出部３０５は、算出された補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]における最大値を基準として算出された他の補正対象劣化危険度毎に傾きを算出して、算出した傾きから増加方向の最大傾きＤＧmax0と減少方向の最大傾きＤＧmax1を選択して特徴量とする。
【０１３８】
【数１５】
2015219306.tif 000017
【０１３９】
ゲイン算出部３０６は、特徴量算出部３０５から供給された最大傾きＤＧmax0，ＤＧmax1（特徴量）に基づき、画素の輝度レベルに応じて補正ゲインを算出する。ゲイン算出部３０６は、最大傾きＤＧmax0に応じた劣化危険度傾きｐ_grad0を上述の式（１４）から、また、ゲイン算出部３０６は、最大傾きＤＧmax1に応じた劣化危険度傾きｐ_grad1を上述の式（１５）から算出する。
【０１４０】
さらに、ゲイン算出部３０６は、劣化危険度傾きｐ_grad0，ｐ_grad1を用いてトーンマッピング関数値ＴＭＡＰ０[i]を、式（１９）のように生成する。なお、劣化危険度最大発光量ｉbaseの場合の劣化危険度Ｍbaseは、式（２０）から算出する。図１８は、ゲイン算出部３０６で生成される関数であり、図１８の（Ａ）はトーンマッピング関数を示している。なお、式（１９）におけるＣＬＩＰ（）は、式（２１）に示す処理である。
【０１４１】
【数１６】
2015219306.tif 000018
【０１４２】
また、ゲイン算出部３０６は、トーンマッピング関数に対して低域通過フィルタ処理を行う。すなわち、ゲイン算出部３０６は、上述の式（８）の演算を行い、発光量ｉの違いによる変化が穏やかとされたトーンマッピング関数を算出する。なお、図１８の（Ｂ）は、フィルタ処理後のトーンマッピング関数を示している。
【０１４３】
さらに、ゲイン算出部３０６は、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換する。なお、トーンマッピング関数値は上述のように劣化危険度から算出されており、劣化危険度は上述のように発光量差から算出されているので、トーンマッピング関数値も輝度値に変換される。すなわち、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換すると、図１８の（Ｂ）に示すトーンマッピング関数は、図１８の（Ｃ）に示す輝度関数に変換される。ゲイン算出部３０６は、輝度算出部３０１で算出された輝度と、この輝度に対する関数値から補正ゲインを決定して乗算器３９０に出力する。
【０１４４】
このような第４の実施の形態によれば、隣接画素間の発光量差に応じて領域毎の劣化危険度が領域毎に累積されて、累積された領域毎の劣化危険度に基づき表示画面全体における発光量と補正対象劣化危険度の関係を示す特徴量が算出される。さらに算出された特徴量と画素毎の輝度に応じて補正ゲインが算出される。このため、第１の実施の形態と同様に、隣接画素の発光素子の劣化量に起因する表示の焼き付きを効果的に抑制できる。
【０１４５】
さらに、特徴量として、補正対象劣化危険度が最大となる発光量を基準として、補正対象劣化危険度の増加方向の最大傾きと減少方向の最大傾きが算出される。この特徴量に基づき、発光量に対する発光低減量は、補正対象劣化危険度が最大となる発光量までは発光量の増加に伴い最大傾きで発光低減量が増加される。また、補正対象劣化危険度が最大となる発光量を超えると発光量の増加に伴い最大傾きで発光低減量が減少される。したがって、第１の実施の形態に比べて安定した補正動作を行うことができる。また、発光量に係らず発光低減量が一定である第２の実施の形態に対して、第４の実施の形態では、信号レベルの補正をより最適に行うことができる。
【０１４６】
＜６．第５の実施の形態＞
次に、本技術の第５の実施の形態について説明する。第５の実施の形態では、上述の第２乃至第４の実施の形態のいずれかを組み合わせて行うことで、より安定した補正動作を行う場合を例示している。なお、第５の実施の形態は、第１の実施の形態と同様に構成して、特徴量算出部３０５とゲイン算出部３０６で、例えば第２の実施の形態と第３の実施の形態を統合した動作を行う場合について説明する。
【０１４７】
特徴量算出部３０５は、ブロック毎に算出した劣化危険度を統合して、表示画面全体の劣化危険度を算出する。特徴量算出部３０５は、発光量毎に、各ブロックの劣化危険度から、発光量毎に最大値を選択して劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。特徴量算出部３０５は、上述の式（５）に基づき劣化危険度ＤＴＡ[i]を算出する。
【０１４８】
次に、特徴量算出部３０５は、記憶部４０の発光素子劣化特性記憶部４０２に記憶されている発光素子劣化特性に基づいた最小劣化危険度を用いて、映像信号の輝度レベル補正に用いる補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]を算出する。なお、最小劣化危険度は、劣化危険度が最小劣化危険度以下であれば劣化量を許容できる劣化危険度である。
【０１４９】
特徴量算出部３０５は、上述の式（６）に基づき、劣化危険度ＤＴＡ[i]から最小劣化危険度ｄｇｒMinを減算してゼロ以上の値を補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]とする。
【０１５０】
その後、特徴量算出部３０５は、上述の式（１０）に示す処理によって、補正対象劣化危険度ＤＴＢ[i]の劣化危険度最大値ＤＬmaxを選択する。また、特徴量算出部３０５は、上述の式（１２）（１３）に示す処理によって、最大傾きＤＧmax0，ＤＧmax1を算出する。特徴量算出部３０５は、選択した劣化危険度最大値ＤＬmaxと、算出した最大傾きＤＧmax0，ＤＧmax1をゲイン算出部３０６に出力する。なお、図１９は、特徴量算出部の動作を説明するための図である。
【０１５１】
ゲイン算出部３０６は、特徴量算出部３０５から供給された劣化危険度最大値ＤＬmax（特徴量）と最大傾きＤＧmax0，ＤＧmax1（特徴量）に基づき、画素の輝度レベルに応じて補正ゲインを算出する。ゲイン算出部３０６は、劣化危険度最大値ＤＬmaxをシフト量ｐ_sftとする。また、ゲイン算出部３０６は、上述の式（１４）に基づき最大傾きＤＧmax0に応じた劣化危険度傾きｐ_grad0を算出して、上述の式（１５）に基づき最大傾きＤＧmax1に応じた劣化危険度傾きｐ_grad1を算出する。
【０１５２】
さらに、ゲイン算出部３０６は、シフト量ｐ_sftと劣化危険度傾きｐ_grad0，ｐ_grad1を用いてトーンマッピング関数値ＴＭＡＰ０[i]を、式（２２）のように生成する。図２０は、ゲイン算出部３０６で生成される関数であり、図２０の（Ａ）はトーンマッピング関数を示している。
【０１５３】
【数１７】
2015219306.tif 000019
【０１５４】
また、ゲイン算出部３０６は、トーンマッピング関数に対して低域通過フィルタ処理を行う。すなわち、ゲイン算出部３０６は、上述の式（８）の演算を行い、発光量ｉの違いによる変化が穏やかとされたトーンマッピング関数を算出する。なお、図２０の（Ｂ）は、フィルタ処理後のトーンマッピング関数を示している。
【０１５５】
さらに、ゲイン算出部３０６は、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換する。なお、トーンマッピング関数値は上述のように劣化危険度から算出されており、劣化危険度は上述のように発光量差から算出されているので、トーンマッピング関数値も輝度値に変換される。すなわち、発光量を輝度に逆変換して、トーンマッピング関数を輝度関数に変換すると、図２０の（Ｂ）に示すトーンマッピング関数は、図２０の（Ｃ）に示す輝度関数に変換される。ゲイン算出部３０６は、輝度算出部３０１で算出された輝度と、この輝度に対する関数値から補正ゲインを決定して乗算器３９０に出力する。
【０１５６】
このような第５の実施の形態によれば、隣接画素間の発光量差に応じて領域毎の劣化危険度が領域毎に累積されて、累積された領域毎の劣化危険度に基づき表示画面全体における発光量のと劣化危険度の補正対象劣化危険度を示す特徴量が算出される。さらに算出された特徴量と画素毎の輝度に応じて補正ゲインが算出される。このため、第１の実施の形態と同様に、隣接画素の発光素子の劣化量に起因する表示の焼き付きを効果的に抑制できる。さらに、発光量に対する発光低減量は、算出された補正対象劣化危険度の最大値、補正対象劣化危険度の増加方向の最大傾きと減少方向の最大傾きに基づき発光低減量が発光量に応じて算出される。したがって、第１の実施の形態に比べて安定した補正動作を行うことができる。また、第２の実施の形態または第３の実施の形態に比べて、信号レベルの補正をより最適に行うことが可能となる。
【０１５７】
明細書中において説明した一連の処理はハードウェア、またはソフトウェア、あるいは両者の複合構成によって実行することが可能である。ソフトウェアによる処理を実行する場合は、処理シーケンスを記録したプログラムを、専用のハードウェアに組み込まれたコンピュータ内のメモリにインストールして実行させる。または、各種処理が実行可能な汎用コンピュータにプログラムをインストールして実行させることが可能である。
【０１５８】
例えば、プログラムは記録媒体としてのハードディスクやＳＳＤ（Solid State Drive）、ＲＯＭ（Read Only Memory）に予め記録しておくことができる。あるいは、プログラムはフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory），ＭＯ（Magneto optical）ディスク，ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-Ray Disc（登録商標））、磁気ディスク、半導体メモリカード等のリムーバブル記録媒体に、一時的または永続的に格納（記録）しておくことができる。このようなリムーバブル記録媒体は、いわゆるパッケージソフトウェアとして提供することができる。
【０１５９】
また、プログラムは、リムーバブル記録媒体からコンピュータにインストールする他、ダウンロードサイトからＬＡＮ（Local Area Network）やインターネット等のネットワークを介して、コンピュータに無線または有線で転送してもよい。コンピュータでは、そのようにして転送されてくるプログラムを受信し、内蔵するハードディスク等の記録媒体にインストールすることができる。
【０１６０】
なお、本明細書に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものではなく、記載されていない付加的な効果があってもよい。また、本技術は、上述した技術の実施の形態に限定して解釈されるべきではない。この技術の実施の形態は、例示という形態で本技術を開示しており、本技術の要旨を逸脱しない範囲で当業者が実施の形態の修正や代用をなし得ることは自明である。すなわち、本技術の要旨を判断するためには、特許請求の範囲を参酌すべきである。
【０１６１】
また、本技術の映像信号処理装置は以下のような構成も取ることができる。
（１）  映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度を算出し、算出した前記劣化危険度を累積することで累積劣化危険度を算出する累積劣化危険度算出部と、
前記累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する特徴量算出部と、
前記算出した特徴量と前記画素毎の発光量と輝度に基づき画素毎に補正ゲインを算出するゲイン算出部と、
前記補正ゲインを用いて前記映像信号の信号レベルを補正する補正部と
を備える映像信号処理装置。
（２）  前記特徴量算出部は、前記累積劣化危険度から許容可能な劣化危険度を減算して補正対象劣化危険度を算出して、補正対象劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する（１）に記載の映像信号処理装置。
（３）  前記特徴量算出部は、算出された前記補正対象劣化危険度における最大発光量から発光量の減少に伴い前記補正対象劣化危険度を減少させて、減少後の補正対象劣化危険度が前記算出された補正対象劣化危険度よりも少なくなる場合は、前記算出された補正対象劣化危険度に置き換えて、置き換え後の補正対象劣化危険度を発光量の減少に伴い減少させて、特徴量を生成する（２）に記載の映像信号処理装置。
（４）  前記特徴量算出部は、算出された前記補正対象劣化危険度の最大値を前記特徴量とする（２）または（３）に記載の映像信号処理装置。
（５）  前記特徴量算出部は、算出された前記補正対象劣化危険度の増加方向の最大傾きと減少方向の最大傾きを算出して前記特徴量とする（２）乃至（４）のいずれかに記載の映像信号処理装置。
（６）  前記特徴量算出部は、前記算出された補正対象劣化危険度毎に、最小発光量からの補正対象劣化危険度の傾きと、最大発光量までの補正対象劣化危険度の傾きを算出して、算出した傾きから前記増加方向の最大傾きと前記減少方向の最大傾きを選択して前記特徴量とする（５）に記載の映像信号処理装置。
（７）  前記特徴量算出部は、算出された前記補正対象劣化危険度における最大値を基準として算出された他の補正対象劣化危険度毎に傾きを算出して、算出した傾きから前記増加方向の最大傾きと前記減少方向の最大傾きを選択して前記特徴量とする（５）に記載の映像信号処理装置。
（８）  前記ゲイン算出部は、発光量と前記特徴量に基づく発光量抑制後の発光量との関係を示すトーンマッピング関数を用いて、前記画素の輝度に対する補正後の輝度を取得して、取得した輝度と前記画素の輝度から前記補正ゲインを算出する（２）乃至（７）のいずれかに記載の映像信号処理装置。
（９）  前記ゲイン算出部は、前記トーンマッピング関数に対して低域フィルタ処理を行い、低域フィルタ処理後のトーンマッピング関数を用いて、前記画素の輝度に対する補正後の輝度を取得する（８）に記載の映像信号処理装置。
（１０）  前記累積劣化危険度算出部は、表示画面全体を分割した領域毎に、領域内の前記発光量差の最大値を画素の発光量毎に累積して前記累積劣化危険度を算出する（１）乃至（１０）のいずれかに記載の映像信号処理装置。
（１１）  前記特徴量算出部は、前記領域毎に算出された前記累積劣化危険度を統合して、統合後の前記累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量を算出する（１０）記載の映像信号処理装置。
（１２）  前記累積劣化危険度算出部は、劣化危険度を累積する際に時間方向の安定化を行う（１）乃至（１１）のいずれかに記載の映像信号処理装置。
【産業上の利用可能性】
【０１６２】
この技術の映像信号処理装置と映像信号処理方法では、累積劣化危険度算出部で、映像信号に基づく画素毎の発光量から隣接画素間の発光量差に基づき劣化危険度を算出し、算出した劣化危険度を累積することで累積劣化危険度が算出される。また、特徴量算出部では、累積劣化危険度に基づき、表示画面全体における発光量に対する発光低減量を示す特徴量が算出される。また、ゲイン算出部では、算出した特徴量と画素毎の発光量と輝度に基づき画素毎に補正ゲインが算出される。さらに、補正部では、補正ゲインを用いて映像信号の信号レベルが補正される。このように、隣接画素の発光量差に基づく累積劣化危険度に応じて補正ゲインが算出されるため、隣接画素の発光素子の劣化量に起因する表示の焼き付きを効果的に抑制できる。したがって、自発光素子である有機ＥＬ素子等を用いた携帯通信端末や情報処理装置、映像表示装置等に適している。
【符号の説明】
【０１６３】
１０・・・表示装置
２０・・・信号処理部
３０・・・信号レベル補正部
６５・・・パネル
３０１・・・輝度算出部
３０２・・・発光量算出部
３０３・・・危険度算出部
３０４・・・危険度更新部
３０５・・・特徴量算出部
３０６・・・ゲイン算出部
３９０・・・乗算器
４０１・・・危険度記憶部
４０２・・・発光素子劣化特性記憶部
【図１】
2015219306.tif 000020
【図２】
2015219306.tif 000021
【図３】
2015219306.tif 000022
【図４】
2015219306.tif 000023
【図５】
2015219306.tif 000024
【図６】
2015219306.tif 000025
【図７】
2015219306.tif 000026
【図８】
2015219306.tif 000027
【図９】
2015219306.tif 000028
【図１０】
2015219306.tif 000029
【図１１】
2015219306.tif 000030
【図１２】
2015219306.tif 000031
【図１３】
2015219306.tif 000032
【図１４】
2015219306.tif 000033
【図１５】
2015219306.tif 000034
【図１６】
2015219306.tif 000035
【図１７】
2015219306.tif 000036
【図１８】
2015219306.tif 000037
【図１９】
2015219306.tif 000038
【図２０】
2015219306.tif 000039