(57)【要約】【課題】伝送装置間の通信負荷が少ない場合であっても、現用光線路と迂回光線路の二重化光線路間の遅延差を測定し得る二重化光線路の光路遅延測定方法とその測定装置を提供する。【解決手段】ＯＮＵから送られる光信号（ランダム性を有する）を試験光として利用することで、信号処理及び結果表示部でランダムパルス信号のパルス列の類似性（相関）の一致から遅延差を計測する。信号処理及び結果表示部は、現用及び迂回光線路の信号パターン２１から、データ信号の位置を検出し、現用光線路信号パターンを複数のクラスに分け、各クラス内の平均の二乗の値２２を計算する。そして、各クラス内の平均の二乗の値２２から相互相関関数を計算し、計算値が最大となる遅延時間を測定する。【選択図】      図２
2015109605.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
伝送装置間を結ぶ光ファイバによる現用光線路に対して光ファイバによる迂回光線路の両端部を第１及び第２の光カプラにより結合して構成される二重化光線路の光路遅延を計測する光路遅延測定方法であって、
加入者側伝送装置から発せられる第１の波長の上り信号光を前記第１の光カプラにて二分岐し、
前記分岐された上り信号光を、前記迂回光線路を伝搬させ、試験光として第１の波長から第２の波長へ波長変換し、
前記第２の波長に変換された試験光を、もう一方に分岐され前記現用光線路を伝搬した第１の波長の上り信号光と前記第２の光カプラで合波し、
前記合波された上り信号光と試験光を、波長分割光カプラで第１の波長と第２の波長の光信号に分波し、
前記分波された第１の波長及び第２の波長の各信号の光電流を検出し、
前記検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出し、
前記ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出し、
前記抽出された２つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定することを特徴とする二重化光線路の光路遅延測定方法。
【請求項２】
前記ランダムパターン位置を検出することは、前記検出された上り信号光及び試験光のうち少なくとも１つの信号を複数のクラスに分割し、各クラス毎に平均の二乗の値を計算し、計算値が基準値より大きな位置を前記ランダムパターンの開始地点として前記ランダムパターン位置を検出することを特徴とする請求項１記載の二重化光線路の光路遅延測定方法。
【請求項３】
伝送装置間を結ぶ光ファイバによる現用光線路に対して光ファイバによる迂回光線路の両端部を第１及び第２の光カプラにより結合して構成される二重化光線路の光路遅延を計測する光路遅延測定方法であって、
制御端末にて、加入者側伝送装置から保守フレームを含む第１の波長の上り信号光を発して局側伝送装置へ送信し、
前記上り信号光を前記第１の光カプラにて二分岐し、
前記分岐された上り信号光を、前記迂回光線路を伝搬させ、試験光として第１の波長から第２の波長へ波長変換し、
前記第２の波長に変換された試験光を、もう一方に分岐され前記現用光線路を伝搬した第１の波長の上り信号光と前記第２の光カプラで合波し、
前記合波された上り信号光と試験光を、波長分割光カプラで第１の波長と第２の波長の光信号に分波し、
前記分波された第１の波長及び第２の波長の各信号の光電流を検出し、
前記検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出し、
前記ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出し、
前記抽出された２つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定することを特徴とする二重化光線路の光路遅延測定方法。
【請求項４】
前記ランダムパターン位置を検出することは、前記検出された上り信号光及び試験光のうち少なくとも１つの信号を複数のクラスに分割し、各クラス毎に平均の二乗の値を計算し、計算値が基準値より大きな位置を前記ランダムパターンの開始地点として前記ランダムパターン位置を検出することを特徴とする請求項３記載の二重化光線路の光路遅延測定方法。
【請求項５】
伝送装置間を結ぶ光ファイバによる現用光線路に対して光ファイバによる迂回光線路の両端部を結合して構成される二重化光線路の光路遅延を計測する光路遅延測定装置であって、
加入者側伝送装置から発せられる第１の波長の上り信号光を二分岐する第１の光カプラと、
前記分岐された上り信号光を、前記迂回光線路を伝搬させ、試験光として第１の波長から第２の波長へ波長変換する波長変換手段と、
前記第２の波長に変換された試験光を、もう一方に分岐され前記現用光線路を伝搬した第１の波長の上り信号光と合波する第２の光カプラと、
前記合波された上り信号光と試験光を、第１の波長と第２の波長の光信号に分波する波長分割光カプラと、
前記分波された第１の波長及び第２の波長の各信号の光電流を検出する第１の検出手段と、
前記検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出する第２の検出手段と、
前記ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出する抽出手段と、
前記抽出された２つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定する測定手段と
を具備することを特徴とする二重化光線路の光路遅延測定装置。
【請求項６】
前記第２の検出手段は、前記検出された上り信号光及び試験光のうち少なくとも１つの信号を複数のクラスに分割し、各クラス毎に平均の二乗の値を計算し、計算値が基準値より大きな位置を前記ランダムパターンの開始地点として前記ランダムパターン位置を検出することを特徴とする請求項５記載の二重化光線路の光路遅延測定装置。
【請求項７】
伝送装置間を結ぶ光ファイバによる現用光線路に対して光ファイバによる迂回光線路の両端部を結合して構成される二重化光線路の光路遅延を計測する光路遅延測定装置であって、
保守フレームを含む第１の波長の上り信号光を局側伝送装置へ送信するように前記加入者側伝送装置を制御する制御端末と、
前記上り信号光を二分岐する第１の光カプラと、
前記分岐された上り信号光を、前記迂回光線路を伝搬させ、試験光として第１の波長から第２の波長へ波長変換する波長変換手段と、
前記第２の波長に変換された試験光を、もう一方に分岐され前記現用光線路を伝搬した第１の波長の上り信号光と合波する第２の光カプラと、
前記合波された上り信号光と試験光を、第１の波長と第２の波長の光信号に分波する波長分割光カプラと、
前記分波された第１の波長及び第２の波長の各信号の光電流を検出する第１の検出手段と、
前記検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出する第２の検出手段と、
前記ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出する抽出手段と、
前記抽出された２つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定する測定手段と
を具備することを特徴とする二重化光線路の光路遅延測定装置。
【請求項８】
前記第２の検出手段は、前記検出された上り信号光及び試験光のうち少なくとも１つの信号を複数のクラスに分割し、各クラス毎に平均の二乗の値を計算し、計算値が基準値より大きな位置を前記ランダムパターンの開始地点として前記ランダムパターン位置を検出することを特徴とする請求項７記載の二重化光線路の光路遅延測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、支障移転工事等における光線路切替時の一時的な迂回路を構成するために二重化された光伝送路の光路遅延測定技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光通信網の支障移転工事等において、通信サービスを維持しながら、現用光線路から迂回光線路にサービス移転させることを可能とするサービス無瞬断切替技術が開発されている（例えば、非特許文献１を参照）。この技術では、現用光線路と迂回光線路を伝搬する光信号の遅延差を正確に把握し、迂回光線路信号の遅延量を調整して現用光線路信号の伝搬遅延と一致させ、両線路を二重化する必要がある。遅延調整は、光電変換によって電気的に遅延を調整する方式を採用している。
【０００３】
これまで、当該技術における現用および迂回光線路の遅延差の計測手段として、信号パターンの類似性から現用光線路及び迂回光線路の遅延差を計測する方式（例えば、非特許文献２を参照）がある。この方式は、現用光線路及び迂回光線路を伝搬する試験光のランダムパルス信号のパルス列の類似性（相関）の一致から遅延差を計測する。
【０００４】
非特許文献２で示されたパルス信号の相関から遅延差を計測する方式では、ランダムパルスパターン信号を任意に生成し上部から入射し、その反射信号を試験光として利用しているため、反射信号に往復分の伝送路損失が生じる。伝送路損失が大きい場合、反射された試験光強度は受光器の検出限界以下となるため、試験光としてＯＮＵ上り信号を適用する方式が提案されている（例えば、非特許文献３）。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】真鍋他：  “可変電気遅延器を用いた光線路無瞬断切替システムの基本検討”，信学技報， OFT2012-46, pp. 23-26, 2012.
【非特許文献２】井上他：  “パルス相関解析と位相検出器を用いる二重化伝送路間の広範囲・高精度な遅延差計測”，信学技報， OFT2013-16, pp. 17-20, 2013.
【非特許文献３】井上他：   “二重化伝送路間の遅延差計測におけるONU上り信号の試験光への適用”，電子情報通信学会2013年ソサイエティ大会講演論文集，B-10-21，2013．
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
信号間の相関解析から正常に遅延差を計測するためには、試験光のパルス列は十分なランダム性を有している必要がある。しかしながら、通信負荷が少ない時や無通信（アイドル）時のＯＮＵ上り信号のパターンは周期的であるため（アイドルパターン）、 ＯＬＴ−ＯＮＵ間の通信負荷が少ない場合や無通信時の場合は、現用光線路信号と迂回光線路信号に類似性の一致（相関あり）が周期的に見られ、正常に遅延差を計測できない問題がある。
【０００７】
また、現用及び迂回光線路信号のＯＮＵ信号から送信されたフレームの内容（プリアンブルやＦＣＳ（Frame Check Sequence）等）を検出して、検出した時間差から遅延差を計測することもできるが、予めフレームの構造を知る必要があることや伝送符号を復号する回路が必要となり構成が複雑になる問題がある。
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、伝送装置間の通信負荷が少ない場合であっても、現用光線路と迂回光線路の二重化光線路間の遅延差を測定し得る二重化光線路の光路遅延測定方法とその測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題を解決するため、本発明に係る二重化光線路の光路遅延測定方法は、以下の２つの態様で構成される。
（１）伝送装置間を結ぶ光ファイバによる現用光線路に対して光ファイバによる迂回光線路の両端部を第１及び第２の光カプラにより結合して構成される二重化光線路の光路遅延を計測する光路遅延測定方法であって、加入者側伝送装置から発せられる第１の波長の上り信号光を前記第１の光カプラにて二分岐し、前記分岐された上り信号光を、前記迂回光線路を伝搬させ、試験光として第１の波長から第２の波長へ波長変換し、前記第２の波長に変換された試験光を、もう一方に分岐され前記現用光線路を伝搬した第１の波長の上り信号光と前記第２の光カプラで合波し、前記合波された上り信号光と試験光を、波長分割光カプラで第１の波長と第２の波長の光信号に分波し、前記分波された第１の波長及び第２の波長の各信号の光電流を検出し、前記検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出し、前記ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出し、前記抽出された２つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定することを特徴とする。
【００１０】
（２）伝送装置間を結ぶ光ファイバによる現用光線路に対して光ファイバによる迂回光線路の両端部を第１及び第２の光カプラにより結合して構成される二重化光線路の光路遅延を計測する光路遅延測定方法であって、制御端末にて、加入者側伝送装置から保守フレームを含む第１の波長の上り信号光を発して局側伝送装置へ送信し、前記上り信号光を前記第１の光カプラにて二分岐し、前記分岐された上り信号光を、前記迂回光線路を伝搬させ、試験光として第１の波長から第２の波長へ波長変換し、前記第２の波長に変換された試験光を、もう一方に分岐され前記現用光線路を伝搬した第１の波長の上り信号光と前記第２の光カプラで合波し、前記合波された上り信号光と試験光を、波長分割光カプラで第１の波長と第２の波長の光信号に分波し、前記分波された第１の波長及び第２の波長の各信号の光電流を検出し、前記検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出し、前記ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出し、前記抽出された２つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定することを特徴とする。
【００１１】
また、本発明に係る二重化光線路の光路遅延措定装置は、以下の２つの態様で構成される。
（１）伝送装置間を結ぶ光ファイバによる現用光線路に対して光ファイバによる迂回光線路の両端部を結合して構成される二重化光線路の光路遅延を計測する光路遅延測定装置であって、加入者側伝送装置から発せられる第１の波長の上り信号光を二分岐する第１の光カプラと、前記分岐された上り信号光を、前記迂回光線路を伝搬させ、試験光として第１の波長から第２の波長へ波長変換する波長変換手段と、前記第２の波長に変換された試験光を、もう一方に分岐され前記現用光線路を伝搬した第１の波長の上り信号光と合波する第２の光カプラと、前記合波された上り信号光と試験光を、第１の波長と第２の波長の光信号に分波する波長分割光カプラと、前記分波された第１の波長及び第２の波長の各信号の光電流を検出する第１の検出手段と、前記検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出する第２の検出手段と、前記ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出する抽出手段と、前記抽出された２つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定する測定手段とを具備することを特徴とする。
【００１２】
（２）伝送装置間を結ぶ光ファイバによる現用光線路に対して光ファイバによる迂回光線路の両端部を結合して構成される二重化光線路の光路遅延を計測する光路遅延測定装置であって、保守フレームを含む第１の波長の上り信号光を局側伝送装置へ送信するように前記加入者側伝送装置を制御する制御端末と、前記上り信号光を二分岐する第１の光カプラと、前記分岐された上り信号光を、前記迂回光線路を伝搬させ、試験光として第１の波長から第２の波長へ波長変換する波長変換手段と、前記第２の波長に変換された試験光を、もう一方に分岐され前記現用光線路を伝搬した第１の波長の上り信号光と合波する第２の光カプラと、前記合波された上り信号光と試験光を、第１の波長と第２の波長の光信号に分波する波長分割光カプラと、前記分波された第１の波長及び第２の波長の各信号の光電流を検出する第１の検出手段と、前記検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出する第２の検出手段と、前記ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出する抽出手段と、前記抽出された２つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定する測定手段とを具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明では、加入者側伝送装置から送られる試験光のランダムパターン位置を検出することで、試験光のパルス列の類似性（相関）の一致から遅延差を計測することを可能とする。
【００１４】
従って、本発明によれば、加入者側伝送装置−局側伝送装置間の負荷が少ない場合であっても、加入者側伝送装置からの上り信号を試験信号として用いて、一度の測定で現用光線路と迂回線路の光路遅延を測定可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明に係る第１の実施形態である、二重化光線路とその光路遅延測定装置の構成を示すブロック図。
【図２】同第１の実施形態における信号処理動作を説明するために示す図。
【図３】本発明に係る第２の実施形態である、二重化光線路とその光路遅延測定装置の構成を示すブロック図。
【図４】同第２の実施形態において、無通信時の信号及びループバック試験時の信号を説明するために示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施の形態は本発明の構成の一例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。
【００１７】
（第１の実施形態）
図１は、本発明に係る第１の実施形態である、二重化光線路とその光路遅延測定装置の構成を示すブロック図である。図１において、１１は局側の伝送装置（ＯＬＴ：Optical Line Terminal）、１２は加入者側の伝送装置（ＯＮＵ：Optical Network Unit）、１３，１４は光カプラ、１１５は電気−光変換器、１８，１９，１１３は光−電気変換器、１７は波長分割多重方式（ＷＤＭ：Wavelength Division Multiplexing）光カプラ、１５は現用光線路、１６は迂回光線路、１１４は電気遅延器、１１０，１１１はアナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換器、１１２は信号処理及び結果表示部である。
【００１８】
伝送装置（ＯＬＴ）１１と伝送装置（ＯＮＵ）１２の間は、現用光線路１５で結ばれており、データ信号が送受信されている。迂回光線路１６は、一対の光カプラ１３，１４を用いて現用光線路１５の両端に結合される。迂回光線路１６は、光−電気変換器１１３、電気遅延器１１４、電気−光変換器１１５で構成されており、光−電気変換器１１３にて受光した信号を電気信号に変換し、当該電気遅延器１１４において信号の遅延を制御し、電気−光変換器１１５にて再度光信号に変換し出射する。この迂回光線路１６の構成によれば、MICREL社の半導体ディレイラインを用いることで10 psの分解能で信号の遅延を制御することができる。
【００１９】
尚、本第１の実施形態では、迂回光線路１６は伝送装置（ＯＮＵ）１２からの光信号のみ伝送装置（ＯＬＴ）１１へ通すものとする。伝送装置（ＯＬＴ）１１と伝送装置（ＯＮＵ）１２との間で光信号を相互に送受信する場合は、伝送装置（ＯＬＴ）１１から伝送装置（ＯＮＵ）１２へ光信号を通す迂回光線路１６と同じ迂回光線路を別個に用意する。
【００２０】
以下に、現用光線路１５と迂回光線路１６の光路遅延を計測する方法を説明する。  
ＯＮＵ１２からはイーサネット（登録商標）規格に準拠した波長λ1の光信号が出射され、光カプラ１４にて二分岐された後、それぞれ現用光線路１５及び迂回光線路１６に入射される。迂回光線路１６に入射されたデータ光信号は光−電気変換器１１３に入力され、ここで電気信号に変換される。この電気信号は、電気遅延器１１４にて遅延制御された後、電気−光変換器１１５にて波長λ1とは異なる波長λ2の光信号に変換される。
【００２１】
一方、現用光線路１５を通った波長λ1の光信号は、光カプラ１３にて迂回光線路１６を通った波長λ2の光信号と合波される。当該合波した光信号はＷＤＭカプラ１７にて波長λ1とλ2の光信号に分波され、各々光−電気変換器１８，１９にて電気信号に変換された後、Ａ／Ｄ変換器１１０，１１１でサンプリングされ、信号処理及び結果表示部１１２で信号解析される。信号処理及び結果表示部１１２は、解析結果から現用光線路１５と迂回光線路１６の光路遅延差を測定し、図示しない表示器に表示する。
【００２２】
信号処理及び結果表示部１１２は、光電流検出機能と、ランダムパターン位置検出機能と、信号抽出機能と、測定機能とを備えている。光電流検出機能は、波長λ1及び波長λ2の各信号の光電流を検出する。ランダムパターン位置検出機能は、上記光電流検出機能により検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出する。信号抽出機能は、ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出する。測定機能は、抽出された２つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定する。
【００２３】
次に、上記構成における信号処理について、図２を用いて説明する。
上記Ａ／Ｄ変換器１１０，１１１で時間Tだけサンプリングされた現用及び迂回光線路１５，１６の信号パターン２１は、主に、ランダム性を有するデータ信号と周期的なパターンを繰り返すアイドル信号に大別される。
【００２４】
信号パターンの相関から遅延差を計測する場合は、データ信号のランダムパターンが重要であるため、まずは信号パターンからデータ信号の位置を検出する。データ信号の位置検出方法は、アイドル信号のbitパターンとなる「０」と「１」の個数差が零と規程されていることを利用し、現用光線路信号パターンf (t)をN個毎のクラス（例えば、２０サンプリング点毎に１クラス作成）に分け、次の式を用いて、各クラス内の平均の二乗の値２２を計算する。
【数１】
2015109605.tif 000003
信号強度を１と−１に規格化した場合、アイドル信号のクラス平均は零となるが、データ信号のbitパターンでは個数差が生じるため、零より大きくなる。
【００２５】
次に、クラス平均の二乗の値２２が零より大きい位置（つまりは、ランダム成分を有するデータ信号の開始地点）を始点とした±Tmの時間だけ現用光線路信号および迂回光線路信号のデータを抽出する（図２の符号２３）。ここで、時間Tmは遅延差計測の計測範囲となる。なお、クラス平均が零以外の場合には、零以外の予め決められた基準値より大きい位置をランダム成分を有するデータ信号の開始地点とする。
【００２６】
次に、抽出したデータから相関解析を用いて遅延差を計測する方法を述べる。時間2Tmだけサンプリングされた現用及び光線路の信号パターンの相互相関関数は、次のように定義される。
【数２】
2015109605.tif 000004
但し、τは遅延時間である。ここで、g(t-τ)は時間τ秒だけ遅らせ信号パターンg(t)である。
【００２７】
したがって、ψ（τ）は時間τ秒だけ遅らせたg(t)とf (t)の類似性（相関）を表示するものである。遅延時間τを-Tmから+Tmに可変して相関をみる（図２の符号２４）。ψ（τi）＝１の時、信号パターンの類似性の一致を示し、つまりτiが測定すべき遅延差である。
【００２８】
本第１の実施形態のメリットして、以下が挙げられる。
（ａ１）計測範囲をTmと区切ることで相互相関関数の演算回数を減らすことができる（例えば、サンプリング時間Ｔが１sであり、τを０．８ ns間隔で可変したとすると演算回数は1.25 x109回の演算回数となるが、計測範囲±Tmを±0.1 msとした場合は2.5 x105でよい）。
（ａ２）現用もしくは迂回光線路信号にランダム性を含むデータ信号の有無の判別が容易である（現用もしくは迂回光線路信号どちらかの信号のみで判別可能であり、繰り返し演算を要することがないため演算量も少ない）。
【００２９】
以上のように上記第１の実施形態では、ＯＮＵ１２から送られる光信号（ランダム性を有する）を試験光として利用することで、信号処理及び結果表示部１１２でランダムパルス信号のパルス列の類似性（相関）の一致から遅延差を計測することを可能とする。
【００３０】
従って、第１の実施形態によれば、ＯＬＴ１１−ＯＮＵ１２間の通信負荷が少ない場合であっても、ＯＮＵ１２からの上り信号を試験信号として用いることで、現用光線路１５と迂回光線路１６の光路遅延を測定可能となる。
【００３１】
前述の信号処理において、現用光線路信号のデータ部分の位置を検出したが迂回光線路信号のデータ部分の位置を検出してもよい。前述のデータ信号はアナログ信号、デジタル信号のどちらを用いてもよい。
【００３２】
（第２の実施形態）
上記第１の実施形態では、通信負荷が少ない場合の現用及び迂回光線路間の遅延差計測方法を示した。第２の実施形態では、通信負荷が少ない場合に加えて、無通信時であっても遅延差を計測する方法を示す。
【００３３】
図３は、本発明に係る第２の実施形態である、二重化光線路とその光路遅延測定装置の構成を示すブロック図である。なお、図１と重複する箇所は説明を省略する。図１と異なる点は、制御端末３１を追加した点である。制御端末３１としては、汎用のコンピュータ等が使用される。
【００３４】
尚、本第２の実施形態では、迂回光線路１６は伝送装置（ＯＮＵ）１２からの光信号のみ伝送装置（ＯＬＴ）１１へ通すものとする。伝送装置（ＯＬＴ）１１と伝送装置（ＯＮＵ）１２との間で光信号を相互に送受信する場合は、伝送装置（ＯＬＴ）１１から伝送装置（ＯＮＵ）１２へ光信号を通す迂回光線路１６と同じ迂回光線路を別個に用意する。
【００３５】
以下に、現用光線路１５と迂回光線路１６の光路遅延を計測する方法を、図４を用いて説明する。  
ＯＮＵ１２からは、無通信状態の場合に、周期的なパターンであるアイドル信号４１が出射される。この場合、ＯＬＴ１１及びＯＮＵ１２が持つ保守機能の一つであるループバック試験機能を用いる。
【００３６】
ループバック試験機能は、制御端末３１にて制御され、試験開始の命令（コマンド）をＯＬＴ１１に指示し、ループバック試験開始フレームを有する波長λ1の光信号をＯＮＵ１２へ送信することができる。当該フレームを受信したＯＮＵ１２は、ループバック試験フレームをＯＬＴ１１へ送信する。ループバック試験フレームは、伝送装置に依存したアイドル信号とは異なる信号パターンを含み、ランダム性を有する（図４の符号４２）。当該ループバック試験フレームを試験光として用いる。
【００３７】
ＯＮＵ１２から送信された上記ループバック試験フレームを含む波長λ1の光信号は、光カプラ１４にて二分岐された後、それぞれ現用光線路１５及び迂回光線路１６に入射される。迂回光線路１６に入射された波長λ1の光信号は光−電気変換器１１３に入力され、ここで電気信号に変換される。この電気信号は、電気遅延器１１４にて遅延制御された後、電気−光変換器１１５にて波長λ1とは異なる波長λ2の光信号に変換される。
【００３８】
一方、現用光線路１５を通った光信号は、光カプラ１３にて迂回光線路１６を通った波長λ2の光信号と合波される。当該合波した光信号はＷＤＭカプラ１７にて波長λ1とλ2のデータ光信号に分波され、各々光−電気変換器１８，１９にて電気信号に変換された後、Ａ／Ｄ変換器１１０，１１１でサンプリングされ、信号処理及び結果表示部１１２で信号解析される。信号処理及び結果表示部１１２は、解析結果から現用光線路１５と迂回光線路１６の光路遅延差を測定し、図示しない表示器に表示する。
【００３９】
本第２の実施形態のメリットして、以下が挙げられる。 
（ｂ１）無通信時においても相関解析を用いて現用及び迂回光線路１５，１６の遅延差を正常に計測できる。
【００４０】
以上のように上記第２の実施形態では、ＯＬＴ１１に制御端末３１を接続し、制御端末３１からＯＬＴ１１に試験開始のコマンドを送信し、ＯＬＴ１１からＯＮＵ１２へループバック試験開始フレームを送信し、そのループバック試験フレームを含む光信号（ランダム性を有する）を試験光として利用することで、信号処理及び結果表示部１１２でランダムパルス信号のパルス列の類似性（相関）の一致から遅延差を計測するようにしている。
【００４１】
従って、第２の実施形態によれば、ＯＬＴ１１とＯＮＵ１２間で通信負荷が少ない場合や無通信（アイドル）の場合であっても、現用及び迂回光線路１５，１６の間の正確な遅延量測定が可能となる。
【００４２】
（第１及び第２の実施形態による効果）
第１及び第２の実施形態によれば、ＯＬＴ１１−ＯＮＵ１２間の通信負荷が少ない場合であっても、ＯＮＵ１２からの上り信号を試験信号として利用することで、現用光線路１５と迂回光線路１６の光路遅延を測定可能となる。
【００４３】
（その他の実施形態）  
なお、この発明は、上記各実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記各実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【符号の説明】
【００４４】
１１…伝送装置（ＯＬＴ：Optical Line Terminal）、
１２…伝送装置（ＯＮＵ：Optical Network Unit）、
１３，１４…光カプラ、
１５…現用光線路、
１６…迂回光線路、
１１５…電気−光変換器、
１８，１９，１１３…光−電気変換器、
１７…波長分割多重方式（ＷＤＭ：Wavelength Division Multiplexing）光カプラ、
１１４…電気遅延器、
１１０，１１１…Ａ／Ｄ変換器、
１１２…信号処理及び結果表示部、
３１…制御端末。
【図１】
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【図３】
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【図４】
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【図２】
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