(57)【要約】【課題】複数の光トランシーバの並列測定を実現でき、検査時間をより短縮させることが可能な光トランシーバ検査装置を提供する。【解決手段】検査制御部５は、複数の光トランシーバ３のそれぞれに対応するように設けられ、光トランシーバ３毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数の個別検査制御部７を備え、複数の個別検査制御部７は、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成され、検査制御部５は、任意の個別検査制御部７が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の個別検査制御部７に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している個別検査制御部７に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部８を備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査用の複数の検査機器と、
検査対象となる複数の光トランシーバのそれぞれを、任意の前記検査機器に接続可能に構成された光スイッチ回路と、
前記検査機器と前記光スイッチ回路とを制御し、前記複数の光トランシーバの検査を実行する検査制御部と、を備え、
前記検査制御部は、前記複数の光トランシーバのそれぞれに対応するように設けられ、前記光トランシーバ毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数の個別検査制御部を備え、
前記複数の個別検査制御部は、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、前記測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の前記測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成され、
前記検査制御部は、任意の前記個別検査制御部が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の前記個別検査制御部に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している前記個別検査制御部に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部を備えている
ことを特徴とする光トランシーバ検査装置。
【請求項２】
前記個別検査制御部は、特定の測定項目の実行時に、他の個別検査制御部の特定の測定項目が終了していないとき、当該他の個別検査制御部の特定の測定項目が終了するまで待機する測定制約制御を行うように構成されている
請求項１記載の光トランシーバ検査装置。
【請求項３】
前記測定項目は、安定化待ち時間が必要となる制御コマンド毎に区切って設定されている
請求項１または２記載の光トランシーバ検査装置。
【請求項４】
前記光スイッチ回路は、前記光トランシーバ毎に設けられる複数の第１の光スイッチと、前記検査機器毎に設けられる複数の第２の光スイッチと、を有し、前記第１の光スイッチと前記第２の光スイッチとを接続して構成されている
請求項１〜３いずれかに記載の光トランシーバ検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光トランシーバ検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光トランシーバの検査を行う際には、例えば、温度を低温、常温、高温と変更して調整や測定を行う。そのため、光トランシーバの検査を１個ずつ順次行ったのでは、温度を調整するための時間がその度に必要となり経済的ではない。そこで、従来より、複数の光トランシーバの検査を並行して検査することが行われている。
【０００３】
従来の光トランシーバ検査装置として、例えば、図３に示すものが知られている。
【０００４】
図３に示すように、従来の光トランシーバ検査装置３１は、検査用の複数の検査機器３２と、検査対象となる２個の光トランシーバ３３（ＤＵＴ（Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔ））のそれぞれを、任意の検査機器３２に接続可能に構成された光スイッチ回路３４と、検査機器３２と光スイッチ回路３４とを制御し、複数の光トランシーバ３３の検査を実行する検査制御部３５と、を備えている。
【０００５】
検査機器３２としては、中心波長やＳＭＳＲ（Ｓｉｄｅ  Ｍｏｄｅ  Ｓｕｐｐｒｅｓｓｉｏｎ  Ｒａｔｉｏ）の測定に用いる光スペクトラムアナライザ、消光比等の測定に用いるＤＣＡ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ  Ａｎａｌｙｚｅｒ）、送信エラーカウントの測定に用いるマスターレシーバ、光出力の測定等に用いる光パワーメータ、受信ＯＭＡ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ）の測定に用いるマスタートランスミッタ等が用いられる。
【０００６】
光スイッチ回路３４は、両光トランシーバ３３のいずれかから入力された光を検査機器３２のいずれかに出力する送信側光スイッチ３４ａと、マスタートランスミッタから入力された光を２つの光トランシーバ３３のいずれかに出力する受信側光スイッチ３４ｂとから構成されている。検査制御部３５は、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）等の演算装置を用いて実現される。
【０００７】
各光トランシーバ３３には、温度コントローラ３６がそれぞれ設けられ、検査制御部３５は、この温度コントローラ３６を制御することにより、測定時の温度を調整するように構成されている。
【０００８】
図４に示すように、従来の光トランシーバ検査装置３１では、測定時の温度を徐々に上昇させて低温（例えば１５℃）、常温（例えば４０℃）、高温（例えば６５℃）でそれぞれ調整を行い、その後、高温、低温で測定（特性検査）を行うようになっている（高温、常温、低温で測定を行う場合もある）。ここで、調整とは、光出力パワーや消光比などが規定の範囲内となるようにする送信側の調整（つまりＬＤの設定）、受信側の調整、電源電圧モニタ、温度モニタ等の各種モニタの調整等が含まれる。
【０００９】
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、特許文献１がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００４−６１５１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、従来の光トランシーバ検査装置３１では、一方の光トランシーバ３３の温度調整時に、他方の光トランシーバ３３の調整や測定を行うことはできるものの、両光トランシーバ３３で調整や測定を同時に実行することはできなかった。
【００１２】
つまり、従来の光トランシーバ検査装置３１では、調整や測定を順次実行するシーケンシャルな制御を行っており、検査時間の短縮の効果が小さいという問題がある。図４の例では、２つの光トランシーバ３３を並列測定するのにかかる時間が長く、さらなる検査時間の短縮が望まれる。
【００１３】
検査時間を短縮するためには、検査対象となる複数の光トランシーバ３３で同時に調整や測定を行う並列測定を実現する必要がある。
【００１４】
そこで、本発明の目的は、上記課題を解決し、複数の光トランシーバの並列測定を実現でき、検査時間をより短縮させることが可能な光トランシーバ検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明は上記目的を達成するために創案されたものであり、検査用の複数の検査機器と、検査対象となる複数の光トランシーバのそれぞれを、任意の前記検査機器に接続可能に構成された光スイッチ回路と、前記検査機器と前記光スイッチ回路とを制御し、前記複数の光トランシーバの検査を実行する検査制御部と、を備え、前記検査制御部は、前記複数の光トランシーバのそれぞれに対応するように設けられ、前記光トランシーバ毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数の個別検査制御部を備え、前記複数の個別検査制御部は、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、前記測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の前記測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成され、前記検査制御部は、任意の前記個別検査制御部が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の前記個別検査制御部に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している前記個別検査制御部に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部を備えている光トランシーバ検査装置である。
【００１６】
前記個別検査制御部は、特定の測定項目の実行時に、他の個別検査制御部の特定の測定項目が終了していないとき、当該他の個別検査制御部の特定の測定項目が終了するまで待機する測定制約制御を行うように構成されていてもよい。
【００１７】
前記測定項目は、安定化待ち時間が必要となる制御コマンド毎に区切って設定されていてもよい。
【００１８】
前記光スイッチ回路は、前記光トランシーバ毎に設けられる複数の第１の光スイッチと、前記検査機器毎に設けられる複数の第２の光スイッチと、を有し、前記第１の光スイッチと前記第２の光スイッチとを接続して構成されていてもよい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、複数の光トランシーバの並列測定を実現でき、検査時間をより短縮させることが可能な光トランシーバ検査装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の一実施形態に係る光トランシーバ検査装置の概略構成図である。
【図２】図１の光トランシーバ検査装置における検査の流れを説明する図である。
【図３】従来の光トランシーバ検査装置の概略構成図である。
【図４】図３の従来の光トランシーバ検査装置における検査の流れを説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明の実施形態を添付図面にしたがって説明する。
【００２２】
図１は、本実施形態に係る光トランシーバ検査装置の概略構成図である。
【００２３】
図１に示すように、光トランシーバ検査装置１は、検査用の複数の検査機器２と、検査対象となる複数の光トランシーバ３のそれぞれを、任意の検査機器２に接続可能に構成された光スイッチ回路４と、検査機器２と光スイッチ回路４とを制御し、複数の光トランシーバ３の検査を実行する検査制御部５と、を備えている。
【００２４】
本実施形態では、２個の光トランシーバ３の並列測定を行う場合について説明するが、光トランシーバ３の数はこれに限定されるものではなく、３個以上の光トランシーバ３を並列測定するように構成しても構わない。以下、２個の光トランシーバ３のそれぞれを、第１光トランシーバ３ａ、第２光トランシーバ３ｂと呼称する。
【００２５】
検査機器２としては、中心波長やＳＭＳＲの測定に用いる光スペクトラムアナライザ２ａ、消光比等の測定に用いるＤＣＡ２ｂ、送信エラーカウントの測定に用いるマスターレシーバ２ｃ、光出力の測定等に用いる光パワーメータ２ｄ、受信ＯＭＡの測定に用いるマスタートランスミッタ２ｅを用いる。ここでは、マスタートランスミッタ２ｅを２つ備え、受信側の測定を両光トランシーバ３ａ，３ｂで同時に行えるように構成したが、受信側の測定を順次行う場合にはマスタートランスミッタ２ｅは１つでもよい。なお、検査機器２はこれに限定されるものではなく、実行する検査の種類等に応じて適宜選択可能である。
【００２６】
光スイッチ回路４は、光トランシーバ３毎に設けられる複数（ここでは２つ）の第１の光スイッチ４ａと、検査機器２毎に設けられる複数（ここでは６つ）の第２の光スイッチ４ｂと、を有し、第１の光スイッチ４ａと第２の光スイッチ４ｂとを接続して構成されている。光スイッチ回路４では、多段の光スイッチ４ａ，４ｂを備えることで、両光トランシーバ３ａ，３ｂをそれぞれ別の検査機器２に同時に接続して、両光トランシーバ３ａ，３ｂの検査を同時進行できるように構成されている。
【００２７】
具体的には、第１の光スイッチ４ａは、１入力４出力のスイッチで構成され、光スペクトラムアナライザ２ａ、ＤＣＡ２ｂ、およびマスターレシーバ２ｃに対応する第２の光スイッチ４ｂは２入力１出力、光パワーメータ２ｄに対応する第２の光スイッチ４ｂは４入力１出力、マスタートランスミッタ４ｅに対応する第２の光スイッチ４ｂは１入力２出力のスイッチで構成されている。
【００２８】
２つの第１の光スイッチ４ａは、入力が光トランシーバ３の光出力に接続され、各出力が、送信側の測定に用いる検査機器２である光スペクトラムアナライザ２ａ、ＤＣＡ２ｂ、マスターレシーバ２ｃ、光パワーメータ２ｄに出力が接続された第２の光スイッチ４ｂに接続されている。
【００２９】
マスタートランスミッタ４ｅの光出力に入力が接続された第２の光スイッチ４ｂは、その出力が、光パワーメータ２ｄに出力が接続された第２の光スイッチ４ｂと、光トランシーバ３の光入力に接続されている。
【００３０】
検査制御部５は、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）等の演算装置を用いて実現される。両光トランシーバ３ａ，３ｂには、温度コントローラ６がそれぞれ設けられており、検査制御部５は、この温度コントローラ６を制御することにより、測定時の温度を調整するように構成されている。
【００３１】
さて、近年、検査制御部５として用いるＰＣの性能は大きく向上しており、測定経路切替、測定値読込等の処理指令時間（制御コマンドの実行時間）は、例えば数１０μｓと大きく短縮されている。そのため、調整や測定にかかる時間については、処理指令を行った後の安定化待ち時間（例えば、測定経路を切り替えた際や、測定対象のチャンネルを切り替えた際の待ち時間、あるいは測定値が安定するのを待つ時間）が大部分を占める状態になってきている。本発明者らは、この点に着目し、一方の光トランシーバ３の制御において安定化待ち時間となっているときに、他方の光トランシーバ３の制御コマンドを実行させることで、検査時間の短縮を図ろうと考え、本発明に至った。
【００３２】
本実施形態に係る光トランシーバ検査装置１では、検査制御部５は、複数（ここでは２個）の光トランシーバ３のそれぞれに対応するように設けられ、光トランシーバ３毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数（ここでは２つ）の個別検査制御部７を備えている。以下、第１光トランシーバ３ａに対応した個別検査制御部７を第１個別検査制御部７ａ、第２光トランシーバ３ｂに対応した個別検査制御部７を第２個別検査制御部７ｂと呼称する。
【００３３】
本実施形態では、測定項目は、安定化待ち時間（例えば３００μｓ以上の待ち時間）が必要となる制御コマンド毎に細かく区切って設定されている。従来技術では、一方の低温調整後に他方の低温調整を行うといったように、調整や測定ごとに両光トランシーバ３ａ，３ｂで検査を切り替えていたが、本実施形態では、調整や測定をさらに、複数の測定項目に細分化し、安定化待ち時間の有効利用を図っている。
【００３４】
さらに、本実施形態では、個別検査制御部７ａ，７ｂは、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成される。
【００３５】
つまり、個別検査制御部７ａ，７ｂは、制御コマンドの実行が終了し測定項目が終了すると制御実行権利を放棄し、その後、安定化待ち時間が経過すると制御実行権利を要求するように構成されている。
【００３６】
その上で、検査制御部５は、任意の個別検査制御部７が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の個別検査制御部７に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している個別検査制御部７に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部８を備えている。
【００３７】
このように構成することで、例えば、第１個別検査制御部７ａが安定化待ち時間に入り制御実行権利を放棄すると、その後、両個別検査制御部７ａ，７ｂのいずれかで制御実行権利の要求があれば、速やかに制御実行権利が設定され、制御実行権利の要求がなされた順番に両個別検査制御部７ａ，７ｂの制御（つまり光トランシーバ３ａ，３ｂの検査）が進んでいくことになる。なお、例えば、第２個別検査制御部７ｂが制御実行権利を要求したときに、第１個別検査制御部７ａに制御実行権利が設定されているときは、第１個別検査制御部７ａが制御実行権利を放棄するまで、第２個別検査制御部７ｂは待機状態となる。
【００３８】
つまり、個別検査制御部７ａ，７ｂと周期タイマタスク制御部８とを備えることにより、２つの光トランシーバ３ａ，３ｂの検査を、擬似的に、同時進行で実施することが可能になる。
【００３９】
また、本実施形態では、個別検査制御部７ａ，７ｂは、特定の測定項目の実行時に、他の個別検査制御部７ｂ，７ａの特定の測定項目が終了していないとき、当該他の個別検査制御部７ｂ，７ａの特定の測定項目が終了するまで待機する測定制約制御を行うように構成されている。
【００４０】
測定制約制御は、１台しかない検査機器２（検査の同時進行が行えない検査機器２）が重複して使用されることを避けるための制御であり、例えば、第２個別検査制御部７ｂでは、低温調整での消光比の調整は、第１個別検査制御部７ａが低温調整で消光比の調整を行った後に行う、といったように調整や測定の順番が予め設定される。
【００４１】
なお、ここでは調整や測定の順番を予め設定しておく場合を説明したが、これに限らず、例えば、一方の個別検査制御部７で消光比の調整を実行する際に、他方の個別検査制御部７が消光比の調整を行っている場合には、他方の個別検査制御部７の消光比の調整が終了してから、一方の個別検査制御部７の消光比の調整を実行する、といった条件を設定することにより、測定制約制御を行うようにしてもよい。
【００４２】
図２に示すように、光トランシーバ検査装置１では、基本的に、測定時の温度を徐々に上昇させて低温（例えば１５℃）、常温（例えば４０℃）、高温（例えば６５℃）でそれぞれ調整を行い、その後、高温、低温で測定（特性検査）を行うようになっている。
【００４３】
低温、常温、高温の各調整では、光パワーメータ２ｄを用いて光トランシーバ３の光出力パワーが規定の範囲内となるようにする調整や、ＤＣＡ２ｂを用いて光トランシーバ３の出力光の消光比が規定の範囲内となるようにする調整、および、受信側の調整、電源電圧モニタや温度モニタ等の各種モニタの調整等を行う。
【００４４】
高温、低温の各測定では、光スペクトラムアナライザ２ａを用いた中心波長とＳＭＳＲの測定、ＤＣＡ２ｂを用いた消光比とマスクマージンの測定、マスターレシーバ２ｃを用いた送信エラーカウントの測定、光パワーメータ２ｄを用いた光出力パワーと送信ＯＭＡの測定、マスタートランスミッタ２ｅや光パワーメータ２ｄを用いた受信ＯＭＡの測定やアサート／デアサートレベルの測定等を行う。なお、測定事項はこれに限定されるものではなく、適宜変更可能である。
【００４５】
なお、図２では図示していないが、各調整や各測定は測定項目に細分化されており、測定項目ごとに制御実行権利の放棄と要求が繰り返され、両光トランシーバ３ａ，３ｂの検査が並行して行われることになる。また、同じ検査機器２を用いる検査については測定制約制御が行われるが、例えば、一方で光出力パワーの調整をしているときは、他方で消光比の調整を行うことが可能であり、調整や測定は同時に並行して実行される。
【００４６】
図２の例では、両光トランシーバ３ａ，３ｂの検査に係る時間は、従来の装置で同じ内容の検査を行った図４の場合と比較して約３０％の時間短縮が可能となり、検査時間を大幅に短縮することが可能になる。
【００４７】
以上説明したように、本実施形態に係る光トランシーバ検査装置１では、検査制御部５は、複数の光トランシーバ３のそれぞれに対応するように設けられ、光トランシーバ３毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数の個別検査制御部７を備え、複数の個別検査制御部７は、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成され、検査制御部５は、任意の個別検査制御部７が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の個別検査制御部７に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している個別検査制御部７に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部８を備えている。
【００４８】
このように構成することで、複数の光トランシーバ３で調整や測定を並行して実行することが可能となる。よって、所望の特性が得られなかったときの再測定等により測定時間が変動したとしても、トータルの検査時間を短縮することが可能になる。
【００４９】
つまり、本実施形態によれば、複数の光トランシーバ３の並列測定を低コストで実現でき、検査時間をより短縮させることが可能になる。
【００５０】
本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加え得ることは勿論である。
【符号の説明】
【００５１】
１  光トランシーバ検査装置
２  検査機器
３  光トランシーバ
４  光スイッチ回路
５  検査制御部
７  個別検査制御部
８  周期タイマタスク制御部
【図１】
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【図２】
2015219091.tif 000004
【図３】
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【図４】
2015219091.tif 000006