(57)【要約】【課題】低温時における電池電圧の急激な降下によるシャットダウンを抑制すること。【解決手段】電子機器１００は、自機器のプロセッサに電圧を供給する電池１０１と、電池の温度を計測する計測部１０２と、制御部１０３と、設定部１０４と、を有する。制御部１０３は、プロセッサの処理能力の制御を所定の時間間隔によって行う。設定部１０４は、計測部１０２が計測した温度に基づいて、制御部１０３が制御を行う時間間隔の設定を行う。設定部１０４は、温度が高い場合に、時間間隔が長くなるようにし、温度が低い場合に、時間間隔が短くなるようにする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
自機器のプロセッサに電圧を供給する電池と、
前記電池の温度を計測する計測部と、
前記プロセッサの処理能力の制御を行う制御部と、
前記計測部が計測した前記温度に基づいて、前記制御部が前記制御を行う時間間隔の設定を行う設定部と、
を有することを特徴とする電子機器。
【請求項２】
前記設定部は、前記計測部が計測した前記温度が第１温度の場合、前記時間間隔を第１間隔にし、前記計測部が計測した前記温度が前記第１温度よりも高い第２温度の場合、前記時間間隔を前記第１間隔より長い第２間隔にすることを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項３】
前記設定部は、前記設定を所定の第２時間間隔によって行い、前記計測部が計測した前記温度に基づいて、前記第２時間間隔の設定を行うことを特徴とする請求項１または２に記載の電子機器。
【請求項４】
前記制御部は、前記計測部が計測した前記温度の読み出し結果に基づく前記処理能力の制御を行い、
前記設定部は、前記制御部が前記制御を行う度に前記読み出し結果に基づく前記設定を行うことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに記載の電子機器。
【請求項５】
前記制御部は、前記電池の充電が終了してからの前記電圧の減少量と、前記電池の充電が終了してからの経過時間と、に基づく前記電圧の時間当たりの変化量を導出し、導出した前記変化量に基づく前記処理能力の制御を行うことを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、起動時の電力消費を抑制するために、起動時において測定した電池の温度が所定の値以下の場合は、補助記憶装置とバックライトを除く各部に電力を供給し、つぎに補助記憶装置に電源供給しスピンアップした後バックライトに電力を供給する技術が公知である（例えば、以下特許文献１参照。）。
【０００３】
また、負荷の駆動停止後に電源の物理量を所定の時間間隔で測定して電源回復情報を出力し、電源回復情報に基づいて負荷の駆動指示を行う技術が公知である（例えば、以下特許文献２参照。）。
【０００４】
また、連続的に通話する場合の電池の残り使用時間及び連続的に待ち受け受信をする場合の電池の残り使用時間を検出することにより、電池の残り使用時間を把握する技術が公知である（例えば、以下特許文献３参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−２２２０８１号公報
【特許文献２】国際公開第２００８／０１３２９９号
【特許文献３】特開２００３−３７９４５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来、例えば携帯端末装置などの電子機器に使用されるリチウムイオン二次電池などの二次電池は、低温時において、内部抵抗の増大によって電池電圧の急激な降下が生じやすくなる。そのため、低温時において、電池残量があるにも関わらず電池残量不足を検出して電子機器がシャットダウンするという問題点がある。
【０００７】
１つの側面では、本発明は、低温時における電池電圧の急激な降下によるシャットダウンを抑制することができる電子機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一側面によれば、自機器のプロセッサに電圧を供給する電池と、前記電池の温度を計測する計測部と、前記プロセッサの処理能力の制御を行う制御部と、前記計測部が計測した前記温度に基づいて、前記制御部が前記制御を行う時間間隔の設定を行う設定部と、を有する電子機器が提案される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の一態様によれば、低温時における電池電圧の急激な降下によるシャットダウンを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本発明にかかる電子機器の一動作例を示す説明図である。
【図２】図２は、温度による起動時ドロップ電圧例を示す説明図である。
【図３】図３は、電子機器のハードウェア構成例を示すブロック図である。
【図４】図４は、電圧変化量例を示す説明図である。
【図５】図５は、設定される時間間隔例を示す説明図である。
【図６】図６は、制御テーブル群例を示す説明図である。
【図７】図７は、電子機器が行う処理手順例を示すフローチャート（その１）である。
【図８】図８は、電子機器が行う処理手順例を示すフローチャート（その２）である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下に添付図面を参照して、本発明にかかる電子機器の実施の形態を詳細に説明する。
【００１２】
図１は、本発明にかかる電子機器の一動作例を示す説明図である。電子機器１００は、例えば、充電式の電池１０１を有する機器であり、例えば、携帯電話やスマートフォンなどの携帯端末装置である。電池１０１は、例えば、リチウムイオン二次電池である。
【００１３】
例えば、携帯端末装置の場合、携帯端末装置を保有する利用者の移動に伴い低温環境や高温環境にて操作される場合がある。従来、携帯端末装置が低温環境にて操作される場合、携帯端末装置に搭載される電池１０１の特性として出力できる電圧が低下し、電池１０１の内部抵抗が上昇する。そのため、低温環境下において携帯端末装置のシステム起動時やカメラなどのアプリケーションの操作時に電池電圧がソフトウェアシャットダウンの検出電圧以下まで降下し、携帯端末装置がソフトウェアシャットダウンする可能性がある。
【００１４】
そこで、例えば、プロセッサの負荷状況に応じてプロセッサに供給するクロックの周波数を下げるなどのプロセッサの処理能力を制御することにより、電池電圧のドロップ量の抑制を図ることができる。また、例えば、電池温度が低温だった際にプロセッサに供給するクロックに制限をかけるなどのプロセッサの処理能力を制御することによって電池電圧のドロップ量を低減させて携帯端末装置がシャットダウンすることを抑制することができる。
【００１５】
しかしながら、低温環境下であると、電池残量があるにも関わらず、電池残量不足を検出して電子機器がシャットダウンする場合がある。そこで、例えば、プロセッサの処理能力を制御する時間間隔をより短くすることにより、携帯端末装置がシャットダウンすることを抑制することができる。しかしながら、時間間隔を短くすると、プロセッサの処理能力を制御するための処理の回数が多くなるため、電池１０１の減少が早くなる。
【００１６】
そこで、本実施の形態では、プロセッサの処理能力の制御の時間間隔を電池温度によって設定する。これにより、高温時における当該制御による電池電圧の低減を抑制しつつ、低温時における電池電圧の急激な降下によるシャットダウンを抑制することができる。
【００１７】
まず、例えば、電子機器１００は、電池１０１と、計測部１０２と、制御部１０３と、設定部１０４と、を有する。電池１０１は、例えば、電子機器１００が有するプロセッサに電圧を供給する電池１０１である。電池１０１は、例えば、充電式の電池１０１である。計測器は、例えば、直接的または間接的に電池１０１の温度を計測する。直接的に温度を計測するとは、例えば、計測器が電池１０１の近傍に設けられ、計測器が近傍の温度を計測することである。間接的に温度を計測するとは、例えば、計測器が赤外線などで電池１０１の近傍の温度を計測することである。
【００１８】
制御部１０３と設定部１０４との処理は、例えば、電子機器１００が有するプロセッサによって実現されてもよいし、プロセッサを制御可能なコントローラによって実現されてもよい。制御部１０３は、プロセッサの処理能力の制御を所定の時間間隔によって行う。所定の時間間隔は、例えば、設定された時間間隔である。設定された時間間隔は、繰り返し利用されてもよいし、１回だけ利用されてもよい。例えば、所定の時間間隔が繰り返し利用される場合、制御部１０３は、プロセッサの処理能力の制御を所定の時間間隔ごとに行う。例えば、所定の時間間隔が１回だけ利用される場合、制御部１０３は、プロセッサの処理能力の制御を前回の制御から所定の時間間隔が経過した後に行い、設定部１０４があらたに所定の時間間隔を設定する。プロセッサの処理能力の制御は、例えば、プロセッサに供給されるクロック信号の周波数の変更などが挙げられる。また、例えば、プロセッサが複数のコアを有する場合、プロセッサの処理能力の制御は、複数のコアのうち決定したコアにクロック信号や電圧を供給するなどの制御を行う。このため、制御部１０３は、プロセッサの処理能力の制御を行うことによって電池電圧の制御処理を行う。これにより、電池１０１の電圧の減少度合いが制御可能である。
【００１９】
設定部１０４は、計測部１０２が計測した温度に基づいて、制御部１０３が制御を行う時間間隔の設定を行う。例えば、設定部１０４は、計測部１０２が計測した温度が第１温度の場合、時間間隔を第１間隔ｉ１にする。設定部１０４は、計測部１０２が計測した温度が第１温度よりも高い第２温度である場合、時間間隔を第１間隔ｉ１より長い第２間隔ｉ２にする。計測された温度が第２温度であれば、例えば高温であると判断され、計測された温度が第１温度であれば、例えば低温であると判断されてもよい。
【００２０】
これにより、高温時における当該制御による電池電圧の低減を抑制しつつ、低温時における電池電圧の急激な降下によるシャットダウンを抑制することができる。
【００２１】
図２は、温度による起動時ドロップ電圧例を示す説明図である。近年、携帯電話やスマートフォンなどの携帯端末装置に搭載されるＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）は、処理能力の向上によってＰＣに搭載されるＣＰＵと同等の性能を有する。そのため、携帯端末装置では、高負荷なアプリケーションソフトウェアなども実行可能となっている。
【００２２】
一方、携帯端末装置が低温環境にて操作される場合、携帯端末装置に搭載されるバッテリの特性として出力できる電圧が低下し、バッテリの内部抵抗が上昇する。そのため、低温環境下において携帯端末装置のシステム起動時やカメラなどのアプリケーションの操作時に電池電圧がソフトウェアシャットダウンの検出電圧以下まで降下し、携帯端末装置がシャットダウンする可能性がある。
【００２３】
そこで、例えば、ＣＰＵの負荷状況に応じてＣＰＵに供給するクロックの周波数を下げることにより、電池電圧のドロップ量の抑制を図ることができる。また、例えば、電池温度が低温だった際にＣＰＵに供給するクロックに制限をかけることによって電池電圧のドロップ量を低減させて携帯端末装置がシャットダウンすることを抑制することができる。
【００２４】
しかしながら、図２に示すように、低温環境下において、電池残量がある程度残っていても、高負荷なアプリケーションソフトウェアの起動により電池電圧に急激な電圧ドロップが発生する。これにより、ＣＰＵに供給するクロックに制限をかける前に携帯端末装置がソフトウェアシャットダウンしてしまう場合がある。また、ＣＰＵに供給するクロックに制限をかけるために電池電圧を監視する周期をより短くすることにより、携帯端末装置がソフトウェアシャットダウンすることを抑制することができるが、電池の減りが早くなる。
【００２５】
そこで、本実施の形態では、電池温度に応じて電池電圧を取得する周期を変更することにより、携帯端末装置がシャットダウンすることを抑制しつつ、電池の減りを遅くすることが可能となる。
【００２６】
（電子機器１００のハードウェア構成例）
図３は、電子機器のハードウェア構成例を示すブロック図である。電子機器１００は、ＣＰＵ３０１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）３０２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）３０３と、電源コントローラ３０４と、クロックコントローラ３０５と、カメラ３０６と、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）３０７と、無線Ｉ／Ｆ（ＩｎｔｅｒＦａｃｅ）３０８と、サーミスタ３０９と、バッテリ３１０と、を有する。各部は、バス３１１を介して接続される。
【００２７】
ＣＰＵ３０１は、電子機器１００の全体の制御を司るプロセッサである。ＣＰＵ３０１は、複数のコアを有する。ＲＯＭ３０２は、ブートプログラムなどのプログラムを記憶している。ＲＡＭ３０３は、ＣＰＵ３０１のワークエリアとして使用される。
【００２８】
無線Ｉ／Ｆ３０８は、通信回線を通じてＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ＷＡＮ（Ｗｉｄｅ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、インターネットなどのネットワークＮＥＴに接続され、このネットワークＮＥＴを介して他の装置に接続される。
【００２９】
クロックコントローラ３０５は、各部にクロック信号を供給する。また、ＣＰＵ３０１は、クロックコントローラ３０５を制御することによって各部に供給するクロック信号の周波数を変更可能である。また、ＣＰＵ３０１は、クロックコントローラ３０５を制御することによってＣＰＵ３０１に含まれるコアの稼働数を制御することができる。
【００３０】
電源コントローラ３０４は、各部に電源を供給する。また、ＣＰＵ３０１は、電源コントローラ３０４を制御することによってＣＰＵ３０１に含まれるコアの稼働数を制御することができる。サーミスタ３０９は、基板の温度を測定可能なセンサである。バッテリ３１０は、サーミスタ３２２と、電池３２１と、を有する。サーミスタ３２２は、電池３２１の温度を測定可能なセンサであり、計測部１０２である。本実施の形態では、サーミスタ３２２によって測定された温度を電池温度と称する。電池３２１は、充電や自発電などによって得た電力を蓄電する。本実施の形態では、電池３２１の電圧を電池電圧と称する。また、電子機器１００は、カメラ３０６などの入力装置やＬＣＤ３０７などの出力装置を有する。
【００３１】
また、図示していないが、例えば、不揮発メモリ、タッチパネルなどの入力装置などが設けられていてもよい。
【００３２】
（電子機器１００の機能的構成例）
また、図１に示したように、電子機器１００は、電池１０１と、計測部１０２と、制御部１０３と、設定部１０４と、を有する。制御部１０３と設定部１０４との処理は、例えば、図３に示すＣＰＵ３０１がアクセス可能なＲＡＭ３０３、ＲＯＭ３０２などの記憶装置に記憶されたプログラムにコーディングされている。そして、ＣＰＵ３０１が記憶装置から該プログラムを読み出して、プログラムにコーディングされている処理を実行する。これにより、制御部１０３の処理が実現される。また、制御部１０３と設定部１０４との処理結果は、例えば、ＲＡＭ３０３、ＲＯＭ３０２などの記憶装置に記憶される。
【００３３】
制御部１０３は、ＣＰＵ３０１の処理能力の制御を所定の時間間隔によって行う。上述したように、所定の時間間隔は、例えば、設定された時間間隔である。設定された時間間隔は、繰り返し利用されてもよいし、１回だけ利用されてもよい。例えば、所定の時間間隔が繰り返し利用される場合、制御部１０３は、プロセッサの処理能力の制御を所定の時間間隔ごとに行う。例えば、所定の時間間隔が１回だけ利用される場合、制御部１０３は、プロセッサの処理能力の制御を前回の制御から所定の時間間隔が経過した後に行い、後述する設定部１０４があらたに所定の時間間隔を設定してもよい。ＣＰＵ３０１の処理能力の制御は、例えば、ＣＰＵ３０１に供給されるクロック信号の周波数の変更などが挙げられる。また、例えば、ＣＰＵ３０１の処理能力の制御は、複数のコアのうち決定したコアにクロック信号や電圧を供給するなどの制御を行う。このため、制御部１０３は、ＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行うことによって電池電圧の制御処理を行う。これにより、電池電圧の減少度合いが制御可能である。
【００３４】
また、制御部１０３は、電池１０１の充電が終了した時の電池電圧からの減少量と、電池１０１の充電が終了した時からの経過時間と、に基づく電池電圧の時間当たりの変化量を導出する。
【００３５】
図４は、電圧変化量例を示す説明図である。例えば、バッテリ３１０の充電が終了した時のバッテリ３１０の電圧値をＶ０とし、バッテリ３１０の充電が終了した時からの経過時間をΔｔとする。例えば、制御部１０３は、ある時間ｔ１における電圧をＶｔ１とした時の電池電圧の時間当たりの変化量ΔＶを以下式（１）によって算出可能である。
【００３６】
ΔＶ＝（Ｖ０−Ｖｔ１）／Δｔ・・・（１）
【００３７】
（Ｖ０−Ｖｔ１）が電池１０１の充電が終了した時の電池電圧からの減少量である。そして、例えば、制御部１０３は、制御部１０３が導出した変化量ΔＶに基づくＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う。制御例については後述する。
【００３８】
また、制御部１０３は、計測部１０２が計測した電池温度の読み出し結果に基づくＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う。電池温度に基づくＣＰＵ３０１の処理能力の制御例の詳細については後述する。
【００３９】
設定部１０４は、計測部１０２が計測した温度に基づいて、制御部１０３が制御を行う第１時間間隔の設定を行う。また、設定部１０４は、計測部１０２が計測した温度が第１温度の場合、第１時間間隔を第１間隔ｉ１にし、計測部１０２が計測した温度が第１温度よりも高い第２温度の場合、第１時間間隔を第１間隔ｉ１より長い第２間隔ｉ２にする。第１時間間隔の計測は、電子機器１００が有するタイマによって行われる。タイマは、例えば、物理的なタイマであってもよいし、ＣＰＵ３０１が実行可能なソフトウェアプログラムのタイマであってもよい。
【００４０】
図５は、設定される時間間隔例を示す説明図である。図５（１）に示すように、電池温度が高くなるほど、第１時間間隔が長くなるように第１時間間隔が設定され、電池温度が低いほど第１時間間隔が短くなるように設定されてもよい。
【００４１】
また、図５（２）に示すように、電池温度に閾値を設けて、第１時間間隔が設定されてもよい。また、図５（３）に示すように、電池温度に複数の閾値を設けて第１時間間隔が設定されてもよい。後述する詳細な説明では、図５（３）に示す例を挙げる。
【００４２】
また、設定部１０４は、設定を所定の第２時間間隔によって行い、計測部１０２が計測した温度に基づいて、第２時間間隔の設定を行う。第２時間間隔の計測は、電子機器１００が有するタイマによって行われる。タイマは、例えば、物理的なタイマであってもよいし、ＣＰＵ３０１が実行可能なソフトウェアプログラムのタイマであってもよい。これにより、高温時における電池温度の読み出しによる電池電圧の低減を抑制しつつ、低温時における電池電圧の急激な降下によるシャットダウンを抑制することができる。また、設定部１０４は、計測部１０２が計測した温度が第１温度の場合、第２時間間隔を第１間隔ｉ１にし、計測部１０２が計測した温度が前記第１温度よりも高い第２温度の場合、第２時間間隔を第１間隔ｉ１より長い第２間隔ｉ２にする。第２時間間隔は、第１時間間隔と同様に設定されてもよい。
【００４３】
また、制御部１０３は、計測部１０２が計測した電池温度の読み出し結果に基づく処理能力の制御を行う。そして、設定部１０４は、制御部１０３が前記制御を行う度に読み出し結果に基づく設定を行う。この場合、第１時間間隔と第２時間間隔とが同じであり、第１時間間隔による制御のタイミングと、第２時間間隔による設定のタイミングとが、同一のトリガによって行われる。これにより、制御部１０３と、設定部１０４と、が同一の電池温度の読み出しにより各処理を行うこととなるため、電池温度の読み出しによる電池電圧の低減を抑制することができる。
【００４４】
つぎに、具体的な制御および設定例について説明する。本実施の形態では、制御部１０３は、例えば、処理能力を制御するための複数の制御テーブルから、変化量ΔＶと電池温度とに基づき選択した制御テーブルによってＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う。
【００４５】
図６は、制御テーブル群例を示す説明図である。制御部１０３は、図６の中央に記載された電池温度と変化量ΔＶとの関係を示すグラフに示すように、制御部１０３は、電池温度が高いほど、ＣＰＵ３０１に供給されるクロック信号の周波数が高くなるような制御テーブルを選択する。また、図６の中央に記載されたグラフに示すように、制御部１０３は、変化量ΔＶが小さいほど、自機器の動作が速くなるように制御テーブルを選択する。図６の例では、制御テーブルは、Ａ１ａと、Ａ１ｂと、Ａ２ａと、Ａ２ｂと、Ａ３ａと、Ａ３ｂと、がある。
【００４６】
制御テーブルの各々は、ＣＰＵ３０１の動作上限と、機器内温度と、のフィールドを有する。ＣＰＵ３０１の動作上限のフィールドは、さらに、例えば、クロックと、コア数のフィールドを有する。クロックのフィールドには、クロック周波数が設定される。コア数のフィールドには、ＣＰＵ３０１に含まれるコアのうちの稼働させるコアの数が設定される。
【００４７】
機器内温度のフィールドは、さらに、設定温度と、解除温度と、のフィールドを有する。設定温度は、記述された温度以上となった場合に、動作上限を１段階下げる温度である。解除温度は、記述された温度以上となった場合に、動作上限を１段階上げる温度である。機器内温度Ｔｂは、例えば、ＣＰＵ３０１の外部にあるサーミスタ３０９から取得した温度である。Ｔ（ｃｐｕ０）〜Ｔ（ｃｐｕ３）は、例えば、ＣＰＵ３０１に含まれるコアの各々が有するサーミスタから取得した温度である。ここでは、ＣＰＵ３０１にコアが４つ含まれる例を挙げる。
【００４８】
ここで、電池温度についての閾値は、Ｔ１とＴ２とする。Ｔ１とＴ２との関係は、Ｔ１＞Ｔ２である。例えば、Ｔ１とＴ２とは、予め電子機器１００の設計者や利用者によって定められ、ＲＯＭ３０２やＲＡＭ３０３などの記憶装置に記憶されてある。また、変化量についての閾値は、ΔＶａとする。例えば、ΔＶａは、予め電子機器１００の設計者や利用者によって定められ、ＲＯＭ３０２やＲＡＭ３０３などの記憶装置に記憶されてある。
【００４９】
例えば、制御部１０３は、電池温度が閾値Ｔ１以上であるか否かを判断する。また、例えば、制御部１０３は、電池温度が閾値Ｔ２以上であるか否かを判断する。また、例えば、制御部１０３は、変化量ΔＶが閾値ΔＶａ以上であるか否かを判断する。
【００５０】
電池温度が閾値Ｔ１以上であり、かつ変化量ΔＶａ以上でないと判断された場合、例えば、制御部１０３は、制御テーブルＡ１ａに基づいてＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う。また、電池温度が閾値Ｔ１以上であり、かつ変化量ΔＶａ以上であると判断された場合、例えば、制御部１０３は、制御テーブルＡ１ｂに基づいてＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う。
【００５１】
電池温度が閾値Ｔ１未満であり閾値Ｔ２以上であり、かつ変化量ΔＶａ以上でないと判断された場合、例えば、制御部１０３は、制御テーブルＡ２ａに基づいてＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う。また、電池温度が閾値Ｔ１未満であり閾値Ｔ２以上であり、かつ変化量ΔＶａ以上であると判断された場合、例えば、制御部１０３は、制御テーブルＡ２ｂに基づいてＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う。
【００５２】
電池温度が閾値Ｔ２未満であり、かつ変化量ΔＶａ以上でないと判断された場合、例えば、制御部１０３は、制御テーブルＡ３ａに基づいてＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う。また、電池温度が閾値Ｔ２未満であり、かつ変化量ΔＶａ以上であると判断された場合、例えば、制御部１０３は、制御テーブルＡ３ｂに基づいてＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う。
【００５３】
また、ここでは、例えば、時間間隔ＣはＣ１とＣ２とＣ３とに設定可能であり、Ｃ１とＣ２とＣ３との関係は、Ｃ１＞Ｃ２＞Ｃ３である。例えば、設定部１０４は、電池温度が閾値Ｔ１以上であるか否かを判断する。また、例えば、設定部１０４は、電池温度が閾値Ｔ２以上であるか否かを判断する。
【００５４】
例えば、電池温度が閾値Ｔ１以上であると判断された場合、制御部１０３は、時間間隔Ｃを時間間隔Ｃ１に設定する。このように、電池温度が高い場合に、ＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う時間間隔を行う周期を長くする。このため、ＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行うことによるバッテリ３１０の持ちが悪くなることを抑制することができる。例えば、電池温度が閾値Ｔ１未満であり、電池温度が閾値Ｔ２以上であると判断された場合、制御部１０３は、時間間隔Ｃを時間間隔Ｃ２に設定する。例えば、電池温度が閾値Ｔ２未満であると判断された場合、制御部１０３は、時間間隔Ｃを時間間隔Ｃ３に設定する。このように、電池温度が低い場合に、ＣＰＵ３０１の処理能力の制御を行う時間間隔を短くする。このため、低温環境下によるソフトウェアシャットダウンを抑制することができる。
【００５５】
また、制御部１０３による電池温度と閾値Ｔ１，Ｔ２との比較処理と、設定部１０４による電池温度と閾値Ｔ１，Ｔ２との比較処理とは同一処理であるため、いずれか一方の部が他方の部の処理結果を流用してもよい。
【００５６】
（電子機器１００が行う処理手順例）
図７および図８は、電子機器が行う処理手順例を示すフローチャートである。電子機器１００は、時間間隔Ｃに基づく読み出しタイミングであるか否かを判断する（ステップＳ７０１）。時間間隔Ｃに基づく読み出しタイミングでない場合（ステップＳ７０１：Ｎｏ）、電子機器１００は、ステップＳ７０１へ戻る。時間間隔Ｃに基づく読み出しタイミングである場合（ステップＳ７０１：Ｙｅｓ）、電子機器１００は、電池温度Ｔｘと電池電圧Ｖｘとを取得する（ステップＳ７０２）。電子機器１００は、電圧の時間当たりの変化量ΔＶを導出する（ステップＳ７０３）。
【００５７】
電子機器１００は、電池温度Ｔｘ≧閾値Ｔ１であるか否かを判断する（ステップＳ７０４）。電池温度Ｔｘ≧閾値Ｔ１であると判断された場合（ステップＳ７０４：Ｙｅｓ）、電子機器１００は、電圧変化量ΔＶ≧ΔＶａであるか否かを判断する（ステップＳ７０５）。電圧変化量ΔＶ≧ΔＶａでないと判断された場合（ステップＳ７０５：Ｎｏ）、電子機器１００は、電源電圧ＶとＣＰＵ負荷率と制御テーブルＡ１ａとに基づきＣＰＵ３０１の処理能力を制御し（ステップＳ７０６）、ステップＳ７０８へ移行する。
【００５８】
電圧変化量ΔＶ≧ΔＶａであると判断された場合（ステップＳ７０５：Ｙｅｓ）、電子機器１００は、電源電圧ＶとＣＰＵ負荷率と制御テーブルＡ１ｂとに基づきＣＰＵ３０１の処理能力を制御し（ステップＳ７０７）、ステップＳ７０８へ移行する。ステップＳ７０６とステップＳ７０７のつぎに、電子機器１００は、時間間隔Ｃ＝Ｃ１に設定し（ステップＳ７０８）、一連の処理を終了する。
【００５９】
また、ステップＳ７０４において、電池温度Ｔｘ≧閾値Ｔ１でないと判断された場合（ステップＳ７０４：Ｎｏ）、電子機器１００は、電池温度Ｔｘ≧閾値Ｔ２であるか否かを判断する（ステップＳ８０１）。電池温度Ｔｘ≧閾値Ｔ２であると判断された場合（ステップＳ８０１：Ｙｅｓ）、電子機器１００は、電圧変化量ΔＶ≧ΔＶａであるか否かを判断する（ステップＳ８０２）。
【００６０】
電圧変化量ΔＶ≧ΔＶａでないと判断された場合（ステップＳ８０２：Ｎｏ）、電子機器１００は、電源電圧ＶとＣＰＵ負荷率と制御テーブルＡ２ａとに基づきＣＰＵ３０１の処理能力を制御し（ステップＳ８０３）、ステップＳ８０５へ移行する。電圧変化量ΔＶ≧Ｖａであると判断された場合（ステップＳ８０２：Ｙｅｓ）、電子機器１００は、電源電圧ＶとＣＰＵ負荷率と制御テーブルＡ２ｂとに基づきＣＰＵ３０１の処理能力を制御し（ステップＳ８０４）、ステップＳ８０５へ移行する。ステップＳ８０３とステップＳ８０４のつぎに、電子機器１００は、時間間隔Ｃ＝Ｃ２に設定し（ステップＳ８０５）、一連の処理を終了する。
【００６１】
ステップＳ８０１において、電池温度Ｔｘ≧閾値Ｔ２でないと判断された場合（ステップＳ８０１：Ｎｏ）、電子機器１００は、電圧変化量ΔＶ≧ΔＶａであるか否かを判断する（ステップＳ８０６）。電圧変化量ΔＶ≧ΔＶａでないと判断された場合（ステップＳ８０６：Ｎｏ）、電子機器１００は、電源電圧ＶとＣＰＵ負荷率と制御テーブルＡ３ａとに基づきＣＰＵ３０１の処理能力を制御し（ステップＳ８０７）、ステップＳ８０９へ移行する。
【００６２】
電圧変化量ΔＶ≧ΔＶａであると判断された場合（ステップＳ８０６：Ｙｅｓ）、電子機器１００は、電源電圧ＶとＣＰＵ負荷率と制御テーブルＡ３ｂとに基づきＣＰＵ３０１の処理能力を制御し（ステップＳ８０８）、ステップＳ８０９へ移行する。ステップＳ８０７とステップＳ８０８のつぎに、電子機器１００は、時間間隔Ｃ＝Ｃ３に設定し（ステップＳ８０９）、一連の処理を終了する。
【００６３】
以上説明したように、電子機器１００は、ＣＰＵの処理能力の制御の時間間隔を電池温度によって設定する。これにより、高温時における当該制御による電池電圧の低減を抑制しつつ、低温時における電池電圧の急激な降下によるシャットダウンを抑制することができる。
【００６４】
また、電子機器１００は、計測した温度が第１温度の場合、時間間隔を第１間隔ｉ１にし、計測した温度が第１温度よりも高い第２温度の場合、時間間隔を第１間隔ｉ１より長い第２間隔ｉ２にする。これにより、高温時における当該制御による電池電圧の低減を抑制しつつ、低温時における電池電圧の急激な降下によるシャットダウンを抑制することができる。
【００６５】
また、電子機器１００は、時間間隔の設定を所定の第２時間間隔によって行い、計測した温度に基づいて、第２時間間隔の設定を行う。これにより、高温時における電池電圧の読み出しによる電池電圧の低減を抑制しつつ、低温時における電池電圧の急激な降下によるシャットダウンを抑制することができる。
【００６６】
また、電子機器１００は、計測した温度が第１温度の場合、第２時間間隔を第１間隔ｉ１にし、計測した温度が第１温度よりも高い第２温度の場合、第２時間間隔を第１間隔ｉ１より長い第２間隔ｉ２にする。
【００６７】
また、電子機器１００は、計測した温度の読み出し結果に基づく処理能力の制御を行う。電子機器１００は、制御を行う度に読み出し結果に基づく設定を行う。制御処理のための温度の読み出しと、設定処理のための温度の読み出しとが共通化されることによって、電池電圧の読み出しによる電池電圧の低減の抑制を図ることができる。
【００６８】
また、電子機器１００は、電池の充電が終了してからの電圧の減少量と、電池の充電が終了してからの経過時間と、に基づく電圧の時間当たりの変化量を導出し、導出した変化量に基づく処理能力の制御を行う。これにより、電池電圧の劣化量に応じて処理能力の制御を行うことができ、電池電圧の低減を抑制しつつ、処理性能の低下を抑制することができる。
【００６９】
なお、本実施の形態で説明した設定方法は、予め用意された設定プログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現することができる。本設定プログラムは、ＲＯＭや不揮発メモリなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また、設定プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布してもよい。
【００７０】
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【００７１】
（付記１）自機器のプロセッサに電圧を供給する電池と、
前記電池の温度を計測する計測部と、
前記プロセッサの処理能力の制御を行う制御部と、
前記計測部が計測した前記温度に基づいて、前記制御部が前記制御を行う時間間隔の設定を行う設定部と、
を有することを特徴とする電子機器。
【００７２】
（付記２）前記設定部は、前記計測部が計測した前記温度が第１温度の場合、前記時間間隔を第１間隔にし、前記計測部が計測した前記温度が前記第１温度よりも高い第２温度の場合、前記時間間隔を前記第１間隔より長い第２間隔にすることを特徴とする付記１に記載の電子機器。
【００７３】
（付記３）前記設定部は、前記設定を所定の第２時間間隔によって行い、前記計測部が計測した前記温度に基づいて、前記第２時間間隔の設定を行うことを特徴とする付記１または２に記載の電子機器。
【００７４】
（付記４）前記設定部は、前記計測部が計測した前記温度が第１温度の場合、前記第２時間間隔を第１間隔にし、前記計測部が計測した前記温度が前記第１温度よりも高い第２温度の場合、前記第２時間間隔を前記第１間隔より長い第２間隔にすることを特徴とする付記３に記載の電子機器。
【００７５】
（付記５）前記制御部は、前記計測部が計測した前記温度の読み出し結果に基づく前記処理能力の制御を行い、
前記設定部は、前記制御部が前記制御を行う度に前記読み出し結果に基づく前記設定を行うことを特徴とする付記１〜４のいずれか一つに記載の電子機器。
【００７６】
（付記６）前記制御部は、前記電池の充電が終了してからの前記電圧の減少量と、前記電池の充電が終了してからの経過時間と、に基づく前記電圧の時間当たりの変化量を導出し、導出した前記変化量に基づく前記処理能力の制御を行うことを特徴とする付記１〜５のいずれか一つに記載の電子機器。
【００７７】
（付記７）プロセッサと、
前記プロセッサに電圧を供給する電池と、
前記電池の温度を計測する計測部と、
を有する電子機器の設定プログラムであって、
前記プロセッサに、
前記プロセッサの処理能力の制御を行い、
前記計測部が計測した前記温度に基づいて、前記制御を行う時間間隔の設定を行う、
処理を実行させることを特徴とする設定プログラム。
【００７８】
（付記８）プロセッサと、
前記プロセッサに電圧を供給する電池と、
前記電池の温度を計測する計測部と、
を有する電子機器の設定方法であって、
前記プロセッサが、
前記プロセッサの処理能力の制御を行い、
前記計測部が計測した前記温度に基づいて、前記制御を行う時間間隔の設定を行う、
処理を実行することを特徴とする設定方法。
【符号の説明】
【００７９】
１００  電子機器
１０１  電池
１０２  計測部
１０３  制御部
１０４  設定部
３０１  ＣＰＵ
３１０  バッテリ
３２１  電池
３２２  サーミスタ
ｉ１  第１間隔
ｉ２  第２間隔
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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