(57)【要約】【課題】  実装ばらつきが発生せず、常に安定した実装状態を得ることができるコネクタを提供する。【解決手段】  コネクタ１００は、中心導体１と、中心導体１の外周に形成された絶縁部材２と、絶縁部材２の外周に形成された外導体３と、フランジ４を備え、フランジ４に、貫通孔５ａ、６ａを備えた留め具５、６が形成されていることを特徴とする。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
中心導体と、
前記中心導体の外周に形成された絶縁部材と、
前記絶縁部材の外周に形成された外導体と、
前記外導体と電気的に接続されるフランジを備えたコネクタにおいて、
前記フランジに、貫通孔を備えた留め具が形成されていることを特徴とするコネクタ。
【請求項２】
前記中心導体の一方端部は前記フランジの一方主面から突出するように配置され、前記留め具は前記フランジの一方主面側に配置されていることを特徴とする請求項１に記載のコネクタ。
【請求項３】
前記留め具の前記貫通孔の内壁に、メス型ネジ山が形成されていることを特徴とする、請求項１または請求項２に記載されたコネクタ。
【請求項４】
外周にオス型ネジ山が形成された固定棒をさらに備え、
前記固定棒の前記オス型ネジ山が、前記留め具の前記貫通孔の内壁に形成された前記メス型ネジ山に螺合されていることを特徴とする、請求項３に記載されたコネクタ。
【請求項５】
前記留め具が１対からなることを特徴とする、請求項１〜４のいずれか1項に記載されたコネクタ。
【請求項６】
前記１対の留め具が、当該コネクタを実装する相手先の基板を挟み込むことができる間隔を設けて形成されていることを特徴とする、請求項５に記載されたコネクタ。
【請求項７】
前記１対の留め具の貫通孔が同一方向に配置されていることを特徴とする、請求項５または請求項６に記載されたコネクタ。
【請求項８】
メス型コネクタであることを特徴とする、請求項１〜７のいずれか1項に記載されたコネクタ。
【請求項９】
請求項１〜８のいずれか１項に記載されたコネクタが実装されたことを特徴とする特性測定用基板。
【請求項１０】
請求項１〜８のいずれか１項に記載されたコネクタを少なくとも２個備え、１個のコネクタの前記留め具と、他の１個のコネクタの前記留め具が、単一の固定棒により固定されていることを特徴とする、請求項９に記載された特性測定用基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はコネクタに関し、さらに詳しくは、電子部品等の特性を測定するのに使用する特性測定用基板に実装して使用するのに適したコネクタに関する。
【０００２】
また、本発明は、上記コネクタが実装された特性測定用基板に関する。
【背景技術】
【０００３】
電子部品の設計開発や、電子部品の製造においては、電子部品の特性を測定する工程が必要になる。
【０００４】
電子部品の特性の測定は、例えば、測定対象の電子部品を特性測定用基板にはんだ付け等により実装し、その特性測定用基板に測定装置を接続しておこなわれる。特性測定用基板と測定装置の接続は、例えば、特性測定用基板に実装されたコネクタと、測定装置から延出されたケーブルの先端に取付けられたコネクタとを接合することによりおこなわれる。
【０００５】
特性測定用基板には、例えば、特許文献１（特開２００１−３３８７３１号公報）に開示されたコネクタ３００が実装される。
【０００６】
図５（Ａ）、（Ｂ）に、従来のコネクタ３００を示す。ただし、図５（Ａ）は正面図、図５（Ｂ）は部分断面図である。
【０００７】
コネクタ３００は、金属製の中心導体１０１と、絶縁部材（誘電体）１０２と、金属製の外導体１０３を備える。絶縁部材１０２は、中心導体１０１と外導体１０３の間に配置され、両者を絶縁している。
【０００８】
中心導体１０１の先端には、オス型コネクタ（図示せず）の中心導体と嵌合させるためのスリット部１０１ａが形成されている。中心導体１０１の後端には、実装の際に使用する接続部１０１ｂが形成されている。
【０００９】
外導体１０３の外周には、オス型コネクタ（図示せず）の外導体に形成されたメス型ネジ山と螺合させるためのオス型ネジ山１０３ａが形成されている。
【００１０】
コネクタ３００は、さらにフランジ（固定部）１０４を備える。コネクタ３００においては、フランジ１０４は、金属製からなり、外導体１０３と一体的に形成されている。
【００１１】
図６に、コネクタ３００を、特性測定用基板１５０に実装した状態を示す。
【００１２】
特性測定用基板１５０は、基板１５１の表面に、信号ライン１５２と、接地ライン（図示せず）が形成されている。
【００１３】
そして、特性測定用基板１５０の信号ライン１５２に、コネクタ３００の中心導体１０１の接続部１０１ｂが、はんだ１６１により接合されている。また、特性測定用基板１５０の接地ライン（図示せず）に、コネクタ３００のフランジ１０４が、はんだ（図示せず）により接合されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１４】
【特許文献１】特開２００１−３３８７３１号公報
【発明の概要】
【００１５】
上述した従来のコネクタ３００には、特性測定用基板１５０に実装した場合に、次のような課題があった。
【００１６】
まず、コネクタ３００の中心導体１０１の接続部１０１ｂと特性測定用基板１５０の信号ライン１５２の接合と、コネクタ３００のフランジ１０４と特性測定用基板１５０の接地ライン（図示せず）の接合が、両方ともはんだによりおこなわれているため、実装ばらつきが発生しやすく、実装状態によって特性に影響が発生するという問題があった。具体的には、例えば、コネクタ３００が、特性測定用基板１５０に対して傾いて実装されてしまう問題があった。また、実装されたコネクタ３００と特性測定用基板１５０の間に、不要なすき間ができてしまう問題があった。
【００１７】
また、従来において、コネクタの実装ばらつきを防ぐために、図７に示すように、コネクタ４００に固定用の４つの脚部１７１を形成する方法も検討されたが、この方法では、１つの特性測定基板に複数のコネクタ４００を相互に角度を持たせて実装しようとした場合に、脚部１７１同士が衝突し干渉し合うため、高密度実装ができないという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本願発明は、上述した従来の課題を解決するためになされたものであり、その手段として本願発明に係るコネクタは、中心導体と、中心導体の外周に形成された絶縁部材と、絶縁部材の外周に形成された外導体と、フランジを備え、フランジに、貫通孔を備えた留め具が形成されていることを特徴とする。
【００１９】
留め具の貫通孔の内壁に、メス型ネジ山を形成するようにしても良い。この場合には、外周にオス型ネジ山が形成された固定棒を使用して、特性測定用基板等に実装することができる。なお、外周にオス型ネジ山が形成された固定棒は、予め、留め具の貫通孔の内壁に形成されたメス型ネジ山に螺合させておいても良い。
【００２０】
留め具の数は、１つであっても良く、１対であっても良く、それ以上であっても良い。なお、留め具が１対の場合は、そのコネクタを実装する相手先の基板を挟み込むことができる間隔を設けて形成しておくことが好ましい。
【００２１】
コネクタは、例えば、メス型コネクタとすることができる。なお、メス型コネクタを特性測定用基板に実装した場合には、測定装置から延出されたケーブルの先端に取り付けられるコネクタをオス型コネクタにする。逆に、オス型コネクタを特性測定用基板に実装した場合には、測定装置から延出されたケーブルの先端に取り付けられるコネクタをメス型コネクタにする。
【発明の効果】
【００２２】
本願発明に係るコネクタは、上述した構成としたため、特性測定用基板等への実装の際に、実装ばらつきが発生せず、常に安定した実装状態を得ることができ、特性に悪い影響を与えない。具体的には、特性測定用基板等に対して傾いて実装されてしまうことがない。また、実装されたコネクタと特性測定用基板等の間に、不要なすき間ができてしまうことがない。
【００２３】
また、１つの特性測定基板等に、複数のコネクタを高密度実装することができる。この場合において、複数のコネクタを、相互に角度を持たせて実装することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】第１実施形態に係るコネクタ１００を示し、図１（Ａ）は斜視図、図１（Ｂ）は断面図、図１（Ｃ）は側面図である。
【００２５】
【図２】第１実施形態に係るコネクタ１００が実装された特性測定用基板５０を示し、図２（Ａ）は斜視図、図２（Ｂ）は断面図、図２（Ｃ）は側面図である。
【図３】第１実施形態に係るコネクタ１００が１０個実装された別の特性測定用基板６０を示し、図３（Ａ）は平面図、図３（Ｂ）はコネクタ１００が取り外された分解平面図である。
【図４】第２実施形態に係るコネクタ２００を示し、図４（Ａ）は分解斜視図、図４（Ｂ）は斜視図である。
【図５】従来のコネクタ３００を示し、図５（Ａ）は正面図、図５（Ｂ）は断面図である。
【図６】従来のコネクタ３００が実装された特性測定用基板１５０を示す断面図である。
【図７】従来の他のコネクタ４００を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、図面とともに、本発明の実施形態について説明する。
［第１実施形態］
図１（Ａ）〜（Ｃ）に、本発明の第１実施形態に係るコネクタ１００を示す。ただし、図１（Ａ）は斜視図、図１（Ｂ）は断面図、図１（Ｃ）は側面図である。
【００２７】
コネクタ１００は、メス型コネクタである。ただし、本願発明に係るコネクタはメス型コネクタには限定されず、オス型コネクタであっても良い。
【００２８】
コネクタ１００は、中心導体１を備える。中心導体１は、黄銅からなる。ただし、中心導体１の材質は黄銅には限定されず、Cu-Ni-Si合金、Cu-Sn合金等の他の金属であっても良い。
【００２９】
中心導体１の先端には、オス型コネクタ（図示せず）の中心導体と嵌合させるためのスリット部１ａが形成されている。中心導体１の後端には、実装の際に使用する接続部１ｂが形成されている。
【００３０】
中心導体１の外周には、絶縁部材２が形成されている。絶縁部材２は、例えば、樹脂からなる。
【００３１】
絶縁部材２の外周には、外導体３が形成されている。外導体３は、ベリリウム銅からなる。ただし、外導体３の材質はベリリウム銅には限定されず、チタン銅、Cu-Ni-Si合金等の他の金属であっても良い。外導体３は、絶縁部材２により中心導体１と絶縁されている。外導体３の外周には、オス型コネクタ（図示せず）の外導体に形成されたメス型ネジ山と螺合させるためのオス型ネジ山３ａが形成されている。
【００３２】
コネクタ１００は、さらにフランジ４を備える。コネクタ１００においては、フランジ４は、外導体３と同一の金属からなり、外導体３と一体的に形成されている。
【００３３】
フランジ４には、本発明の特徴的な構成である、１対の留め具５、６が形成されている。留め具５、６にはそれぞれ、貫通孔５ａ、６ａが形成されている。そして、貫通孔５ａ、６ａの内壁にはそれぞれ、メス型ネジ山が形成されている。留め具５、６は、例えば、ステンレス鋼からなる。ただし、留め具５、６の材質はステンレス鋼には限定されず、例えば、絶縁性の材質で形成されていても良い。なお、本発明において、貫通孔５ａ、６ａの内壁のメス型ネジ山は必須ではなく、省略することも可能である。
【００３４】
留め具５、６は、図１（Ａ）から分かるように、水平方向に間隔を設けて形成されている。また、留め具５、６は、図１（Ａ）〜（Ｃ）から分かるように、垂直方向に間隔を設けて形成されている。留め具５、６が垂直方向に間隔を設けて形成されているのは、このコネクタ１００が実装される先となる基板等を、その間隔内に挟み込むためである。
【００３５】
以上の構造からなる、第１実施形態に係るコネクタ１００は、図２（Ａ）〜（Ｃ）に示すように、例えば、特性測定用基板５０に実装して使用される。ただし、図２（Ａ）は斜視図、図２（Ｂ）は断面図、図２（Ｃ）は側面図である。
【００３６】
特性測定用基板５０は、基板５１の表面に、１本の信号ライン５２と、２本の接地ライン５３が形成されている。
【００３７】
基板５１には、コネクタを固定するための、内壁にメス型ネジ山が形成された1対の孔５４が形成されている。本実施形態では、孔５４は、２本の接地ライン５３の終端近傍部分に形成されている。なお、図２（Ａ）においては、一方の孔５４は留め具５に隠れており、他方の孔５４からは後述するネジ８の先端が露出している。
【００３８】
コネクタ１００の特性測定用基板５０への実装には、1対の金属製のネジ（固定棒）７、８が使用される。ネジ７、８の外周には、オス型ネジ山が形成されている。
【００３９】
コネクタ１００は、留め具５と６の間に基板５１を挟み込み、留め具５をネジ７で一方の孔５４へ固定し、留め具６をネジ８で他方の孔５４へ固定することにより特性測定用基板５０へ固定されている。なお、このとき、ネジ７、８のオス型ネジ山と、孔５４のメス型ネジ山が螺合している。
【００４０】
さらに、コネクタ１００の中心導体１の固定部１ｂが、信号ライン５２に、はんだ９により接続固定されている。
【００４１】
以上の構造からなるコネクタ１００の特性測定用基板５０への実装は、留め具５、６、およびネジ７、８を使用しておこなわれているため、実装状態が安定している。
【００４２】
なお、ネジ７、８は、コネクタ１００を特性測定基板５０へ実装する際に、別途、用意しても良いが、予めコネクタ１００の孔５、６に螺合させておいても良い。
【００４３】
なお、本実施形態においては、留め具５、６が金属製であり、導電性を有し、ネジ７、８も金属製であり、導電性を有するため、フランジ４と接地ライン５３の電気的接続を、留め具５、６およびネジ７、８を経由しておこなっているが、留め具５、６およびネジ７、８のいずれかが導電性を有さない場合には、フランジ４と接地ライン５３の電気的接続を、別途、はんだ等でおこなうようにしても良い。さらに、留め具５、６およびネジ７、８の両方が導電性を有する場合であっても、フランジ４と接地ライン５３の電気的接続を、別途、はんだ等でおこなうようにしても良い。
【００４４】
図３（Ａ）、（Ｂ）に、第１実施形態に係るコネクタ１００が１０個実装された別の特性測定用基板６０を示す。なお、図３（Ａ）は平面図、図３（Ｂ）はコネクタ１００が取り外された分解平面図である。
【００４５】
特性測定用基板６０は、１０角形の基板６１を備える。
【００４６】
基板６１の表面には、１０本の信号ライン６２と、１０本の接地ライン６３が、交互に、放射状に形成されている。
【００４７】
また、基板６１には、コネクタを固定するための１０個の孔６４が形成されている。孔６４は、各接地ライン６３の終端近傍部分に形成されている。なお、本実施形態においては、孔６４の内壁にメス型ネジ山は形成されていない。
【００４８】
基板６１には、１０個のネジ（固定棒）６８を用いて、１０個のコネクタ１００が固定されている。なお、隣接するコネクタ１００は、１０角形の基板６１に合せて、相互に角度を持たせて固定されている。
【００４９】
具体的には、あるコネクタ１００の留め具５の孔５ａにネジ６８を通し、次にネジ６８を基板６１の孔６４に通したうえで、ネジ６８の先端を隣接するコネクタ１００の留め具６の孔６ａに固定している。なお、このとき、ネジ６８の先端部分のオス型ネジ山と、留め具６の孔６ａのメス型ネジ山が螺合している。すなわち、本実施形態においては、各ネジ６８が、隣接するコネクタ１００の双方の固定に使用されている。
【００５０】
各コネクタ１００の中心導体１の接続部１ｂが、それぞれ信号ライン６２に、はんだ６９により接続固定されている。
【００５１】
以上のように、コネクタ１００は、複数個を、相互に角度を持たせて基板に実装した場合にも、留め具５、６が相互に衝突せず、干渉しないため、複数個を高密度に実装することができる。
［第２実施形態］
図４（Ａ）、（Ｂ）に、本発明の第２実施形態に係るコネクタ２００を示す。ただし、図４（Ａ）は分解斜視図、図４（Ｂ）は斜視図である。
【００５２】
なお、以下の説明および図４（Ａ）、（Ｂ）においては、図１（Ａ）〜（Ｃ）に示した第１実施形態に係るコネクタ１００と同一の部材には同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００５３】
コネクタ２００は、金属製の固定用補助具７１、７２を備える。固定用補助具７１、７２は、いずれも、２端面および４側面を備えた直方体形状からなり、４側面のうちの１側面が開口状態になった、いわゆるキャップ構造からなる。
【００５４】
固定用補助具７１には、貫通孔５ａが形成された留め具５が形成されている。
【００５５】
固定用補助具７２には、貫通孔６ａが形成された留め具６が形成されている。
【００５６】
固定用補助具７１、７２は、コネクタ２００のフランジ４の相対向する端面にそれぞれ固定されている。
【００５７】
固定用補助具７１、７２のフランジ４への固定は、キャップ構造の開口部をフランジに圧入することによりおこなわれている。なお、固定方法は、圧入には限定されず、はんだ等を用いて固定するようにしても良い。
【００５８】
本実施形態のように、固定用補助具７１、７２を使用すると、安価な汎用されているコネクタを使用して、本発明を実施することができる。
【００５９】
以上、本発明の第１実施形態および第２実施形態について説明した。しかしながら、本発明が上記の内容に限定されることはなく、発明の主旨に沿って、種々の変更をなすことができる。
【００６０】
例えば、コネクタ１００、２００では、１対の留め具５、６を備えているが、留め具の個数はこれには限定されず、１個、または３個以上であっても良い。
【００６１】
また、コネクタ１００、２００では、留め具５、６の貫通孔５ａ、６ａの内壁のメス型ネジ山が形成されているが、これは必須ではなく、省略することも可能である。
【００６２】
さらに、固定棒としてネジ７、８、６８を使用しているが、固定棒の構造はこれらには限定されず、種々の構造のものを採用することができる。
【符号の説明】
【００６３】
１：中心導体
１ａ：スリット部
１ｂ：接続部
２：絶縁部材
３：外導体
４：フランジ
５、６：留め具
５ａ、６ａ：貫通孔
７、８、６８：ネジ（固定棒）
９、６９：はんだ
５０、６０：特性測定用基板
５２、６２：信号ライン
５３、６３：接地ライン
５４、６４：孔
７１、７２：固定用補助具
１００：コネクタ（第１実施形態）
２００：コネクタ（第２実施形態）
【図１】
2015046260.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2015046260.tif 000008
【図７】
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