(57)【要約】【課題】被写体に与える余分な被ばくを低減することが可能なＸ線出力装置を提供する。【解決手段】複数のＸ線源を有し、Ｘ線を出力するＸ線出力部と、Ｘ線を遮断し、Ｘ線を透過させることが可能な位置が可変するシールド部と、Ｘ線出力部におけるＸ線の出力と、シールド部におけるＸ線を透過させる位置とを制御する制御部とを備え、シールド部は透過孔を含むシールドを備え、制御部は、シールドを移動させることによりシールド部におけるＸ線を透過させる位置を時分割で制御し、時分割の各時点において、シールド部が含む透過孔の形状のうち、所定の時点における透過孔の形状は、他の時点における形状と異なり、制御部は、シールド部を透過した時分割の各時点におけるＸ線それぞれに基づくＸ線画像が、他のＸ線画像と重複する領域が存在しないように、シールド部におけるＸ線を透過させる位置を制御する、Ｘ線出力装置が提供される。【選択図】図１４
2015016237.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のＸ線源を有し、平行ビームのＸ線を出力するＸ線出力部と、
出力された平行ビームのＸ線を遮断し、前記平行ビームのＸ線を透過させることが可能な位置が可変するシールド部と、
前記Ｘ線出力部における前記平行ビームのＸ線の出力と、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置とを制御する制御部と、
を備え、
前記シールド部は、前記平行ビームのＸ線を透過させる透過孔を含み、前記透過孔以外の部分では前記平行ビームのＸ線を遮断するシールドを備え、
前記制御部は、前記シールド部が備える前記シールドを移動させることにより、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御し、
時分割の各時点において、前記平行ビームのＸ線を透過させる前記シールド部が含む前記透過孔の形状のうち、所定の時点における前記透過孔の形状は、他の時点における形状と異なり、
前記制御部は、前記シールド部を透過した、時分割の各時点における前記平行ビームのＸ線それぞれに基づくＸ線画像が、他の前記Ｘ線画像と重複する領域が存在しないように、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する、Ｘ線出力装置。
【請求項２】
前記所定の時点において前記シールド部を透過した、前記平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像は、他の時点において前記シールド部を透過した前記Ｘ線画像それぞれを補正する基準となる、請求項１に記載のＸ線出力装置。
【請求項３】
前記シールド部は、含まれる透過孔の形状がシールドごとに異なる複数の前記シールドを備え、
前記制御部は、時分割で前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する各時点において、前記シールド部が備える複数の前記シールドのうちの、複数のシールドを用いて、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する、請求項１に記載のＸ線出力装置。
【請求項４】
前記シールド部は、含まれる透過孔の形状がシールドごとに異なる複数の前記シールドを備え、
前記制御部は、時分割で前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する各時点において、前記シールド部が備える複数の前記シールドのうちの、いずれか１つのシールドを用いて、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する、請求項１に記載のＸ線出力装置。
【請求項５】
前記シールド部は、
前記透過孔を含む第１シールドと、
含まれる前記透過孔の形状が前記第１シールドと異なる第２シールドと、
を備える、請求項１に記載のＸ線出力装置。
【請求項６】
前記第１シールドが含む前記透過孔の形状は、方形を組み合わせた非対称な形状であり、
前記第２シールドが含む前記透過孔の形状は、方形である、請求項５に記載のＸ線出力装置。
【請求項７】
前記第１シールドが含む前記透過孔の形状と、前記第２シールドが含む前記透過孔の形状とは、前記第１シールドと前記第２シールドとを重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状が、前記第１シールドと前記第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、方形を組み合わせた非対称な形状、または、方形、となる形状である、請求項５に記載のＸ線出力装置。
【請求項８】
前記第１シールドが含む前記透過孔の形状は、方形よりも円に近い多角形であり、
前記第２シールドが含む前記透過孔の形状は、方形である、請求項５に記載のＸ線出力装置。
【請求項９】
前記第１シールドが含む透過孔の形状は、八角形である、請求項８に記載のＸ線出力装置。
【請求項１０】
前記第１シールドが含む前記透過孔の形状と、前記第２シールドが含む前記透過孔の形状とは、前記第１シールドと前記第２シールドとを重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状が、前記第１シールドと前記第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、方形よりも円に近い多角形、または、方形、となる形状である、請求項５に記載のＸ線出力装置。
【請求項１１】
前記シールド部は、複数の形状の透過孔を含む１つのシールドを備える、請求項１に記載のＸ線出力装置。
【請求項１２】
前記制御部は、
前記シールド部が備える前記シールドを移動させる場合には、前記Ｘ線出力部における前記平行ビームのＸ線の出力を停止させ、
前記シールドの移動が完了した後に、前記Ｘ線出力部に、前記平行ビームのＸ線を出力させる、請求項１に記載のＸ線出力装置。
【請求項１３】
前記制御部は、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置に対応する位置に対してのみ、前記Ｘ線出力部に、前記平行ビームのＸ線を出力させる、請求項１２に記載のＸ線出力装置。
【請求項１４】
前記シールド部は、前記Ｘ線出力部における前記平行ビームのＸ線の出力方向に設けられ、かつ、前記Ｘ線出力部と、前記平行ビームのＸ線が当てられる被写体との間に設けられる、請求項１に記載のＸ線出力装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、Ｘ線出力装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、線源から出力されるＸ線を利用したＣＴ（Computed  Tomography）装置（またはＣＴシステム。以下、同様とする。）や、Ｘ線を利用したトモシンセシス機能を有する装置（またはシステム。以下、同様とする。）は、例えば医療分野などにおいて広く用いられている。
【０００３】
また、Ｘ線源から出力されるＸ線として平行ビームのＸ線を想定する技術も開発されている。平行なＸ線を異なる角度で複数回被写体に入射させ、得られた複数の投影画像を合成することによりトモシンセシス画像を作成する技術としては、例えば、例えば下記の特許文献１に記載の技術が挙げられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−２５２９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
Ｘ線は、Ｘ線を出力するＸ線源と、被写体またはＸ線を検出する検出器との間の距離が離れれば離れるほど、広がる性質を有する。そのため、Ｘ線の照射領域を何ら制御しない場合には、被写体の特定部分（例えば、Ｘ線検査対象の領域）に対してＸ線源から出力されたＸ線が、被写体の特定部分以外の他の部分にまで当たることから、被写体に余分な被ばくを与えてしまう可能性が高い。
【０００６】
ここで、例えば、上記のような被写体に余分な被ばくを与えてしまう事態の発生を防止するための方策としては、例えば、上記特許文献１に示すようにコリメータの設計を工夫することなどによって、平行ビームのＸ線を出力させて、Ｘ線の広がりを抑えることが考えられる。
【０００７】
しかしながら、例えば上記のように平行ビームのＸ線を出力させることによって、Ｘ線の広がりを抑えたとしても、Ｘ線の広がりをなくすことはできない。よって、例えば上記特許文献１のように、コリメータの設計を工夫することなどによって、Ｘ線の広がりを抑えたとしても、被写体に与える余分な被ばくを十分に低減させることができるとは限らない。
【０００８】
また、上記のような被写体に余分な被ばくを与えてしまう事態を防止するための他の方策としては、Ｘ線源と、被写体またはＸ線を検出する検出器との間の距離を近づけることが考えられる。しかしながら、Ｘ線出力時においてＸ線源は非常に高温となることから、Ｘ線の広がりの影響を無視できるほど、Ｘ線源と、被写体またはＸ線を検出する検出器との間の距離を近づけることは困難である。
【０００９】
本開示では、被写体に与える余分な被ばくを低減することが可能な、新規かつ改良されたＸ線出力装置を提案する。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本開示によれば、複数のＸ線源を有し、平行ビームのＸ線を出力するＸ線出力部と、出力された平行ビームのＸ線を遮断し、上記平行ビームのＸ線を透過させることが可能な位置が可変するシールド部と、上記Ｘ線出力部における上記平行ビームのＸ線の出力と、上記シールド部における上記平行ビームのＸ線を透過させる位置とを制御する制御部と、を備え、上記シールド部は、上記平行ビームのＸ線を透過させる透過孔を含み、上記透過孔以外の部分では上記平行ビームのＸ線を遮断するシールドを備え、上記制御部は、上記シールド部が備える上記シールドを移動させることにより、上記シールド部における上記平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御し、時分割の各時点において、上記平行ビームのＸ線を透過させる上記シールド部が含む上記透過孔の形状のうち、所定の時点における上記透過孔の形状は、他の時点における形状と異なり、上記制御部は、上記シールド部を透過した、時分割の各時点における上記平行ビームのＸ線それぞれに基づくＸ線画像が、他の上記Ｘ線画像と重複する領域が存在しないように、上記シールド部における上記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する、Ｘ線出力装置が提供される。
【発明の効果】
【００１１】
本開示によれば、被写体に与える余分な被ばくを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本実施形態に係るＸ線出力装置を含む本実施形態に係るＸ線検査システムの構成の一例を示す説明図である。
【図２】本実施形態に係る画像処理装置におけるＸ線検出データの処理の一例を示す説明図である。
【図３】本実施形態に係る画像処理装置におけるＸ線検出データの処理の一例を説明するための説明図である。
【図４】本実施形態に係る画像処理装置におけるＸ線検出データの処理の一例を説明するための説明図である。
【図５】本実施形態に係る被ばく低減方法を説明するための説明図である。
【図６】本実施形態に係る被ばく低減方法を説明するための説明図である。
【図７】本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を説明するための説明図である。
【図８】本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第１の例を説明するための説明図である。
【図９】本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第１の例を説明するための説明図である。
【図１０】本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第２の例を説明するための説明図である。
【図１１】本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第２の例を説明するための説明図である。
【図１２】本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第２の例を説明するための説明図である。
【図１３】本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第２の例を説明するための説明図である。
【図１４】本実施形態に係るＸ線出力装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図１５】本実施形態に係るＸ線出力装置のハードウェア構成の一例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下に添付図面を参照しながら、本開示の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００１４】
また、以下では、下記に示す順序で説明を行う。
１．本実施形態に係る被ばく低減方法
２．本実施形態に係るＸ線出力装置
３．本実施形態に係るプログラム
【００１５】
（本実施形態に係る被ばく低減方法）
本実施形態に係るＸ線出力装置の構成を適宜説明しつつ、本実施形態に係る被ばく低減方法について説明する。以下では、本実施形態に係る被ばく低減方法が、本実施形態に係るＸ線出力装置を含む本実施形態に係るＸ線検査システムにおいて行われる場合を例に挙げて説明する。
【００１６】
［１］本実施形態に係るＸ線検査システムの構成の一例
図１は、本実施形態に係るＸ線出力装置１００を含む本実施形態に係るＸ線検査システム１０００の構成の一例を示す説明図である。Ｘ線検査システム１０００は、例えば、Ｘ線出力装置１００と、検出装置２００と、画像処理装置３００とを有する。Ｘ線検査システム１０００では、Ｘ線出力装置１００から出力されて被写体Ｏの内部を透過したＸ線を、検出装置２００において検出することによって、被写体Ｏが検査される。
【００１７】
Ｘ線出力装置１００は、平行ビームのＸ線を出力する。なお、Ｘ線出力装置１００の構成の一例については、後述する。
【００１８】
検出装置２００は、例えば、Ｘ線を検出する検出器を有する検出部（図示せず）を備え、Ｘ線を検出してＸ線検出データを生成する。ここで、検出装置２００が備える検出器としては、例えば、ＦＰＤ（Flat  Panel  Detector。平面Ｘ線検出器）や、フォトダイオードなどが挙げられる。また、本実施形態に係るＸ線検出データとは、例えば、検出器によって検出された、被写体を透過したＸ線の検出強度を示すデータである。
【００１９】
また、検出装置２００は、例えば、ＭＰＵ（Micro  Processing  Unit）や各種処理回路などで構成される処理部（図示せず）や、ＲＯＭ（Read  Only  Memory。図示せず）、ＲＡＭ（Random  Access  Memory。図示せず）、通信部（図示せず）などを備えていてもよい。
【００２０】
検出装置２００が備える処理部（図示せず）は、例えば、生成したＸ線検出データをＸ線投影画像として２次元投影することによって、投影データ（２次元投影データ）に変換する。検出装置２００が備える処理部（図示せず）は、例えば、ラドン変換によって、Ｘ線検出データを投影データに変換する。なお、検出装置２００は、例えば、Ｘ線検出データを投影データに変換しなくてもよい。Ｘ線検出データを投影データに変換しない場合、検出装置２００は、例えば、通信部（図示せず）や外部通信デバイスを介して、Ｘ線検出データを外部装置へ送信させる。
【００２１】
検出装置２００が備えるＲＯＭ（図示せず）は、検出装置２００が備える処理部（図示せず）が使用するプログラムや演算パラメータなどの制御用データを記憶する。検出装置２００が備えるＲＡＭ（図示せず）は、検出装置２００が備える処理部（図示せず）により実行されるプログラムなどを一時的に記憶する。
【００２２】
検出装置２００が備える通信部（図示せず）は、検出装置２００が備える通信手段であり、ネットワークを介して（あるいは、直接的に）、画像処理装置３００などの外部装置と無線／有線で通信を行う役目を果たす。
【００２３】
ここで、検出装置２００が備える通信部（図示せず）としては、例えば、通信アンテナおよびＲＦ（Radio  Frequency）回路（無線通信）や、ＩＥＥＥ８０２．１５．１ポートおよび送受信回路（無線通信）、ＩＥＥＥ８０２．１１ｂポートおよび送受信回路（無線通信）、あるいはＬＡＮ（Local  Area  Network）端子および送受信回路（有線通信）などが挙げられる。また、検出装置２００が備える通信部（図示せず）は、例えば、ＵＳＢ（Universal  Serial  Bus）端子および送受信回路など通信を行うことが可能な任意の規格に対応する構成や、ネットワークを介して外部装置と通信可能な任意の構成をとることができる。また、本実施形態に係るネットワークとしては、例えば、ＬＡＮやＷＡＮ（Wide  Area  Network）などの有線ネットワーク、無線ＬＡＮ（ＷＬＡＮ；Wireless  Local  Area  Network）や基地局を介した無線ＷＡＮ（ＷＷＡＮ；Wireless  Wide  Area  Network）などの無線ネットワーク、あるいは、ＴＣＰ／ＩＰ（Transmission  Control  Protocol/Internet  Protocol）などの通信プロトコルを用いたインターネットなどが挙げられる。
【００２４】
画像処理装置３００は、例えば、検出装置２００から送信されるＸ線検出データまたは投影データを処理する。画像処理装置３００は、例えば、ＭＰＵや各種処理回路などで構成される処理部（図示せず）や、ＲＯＭ（図示せず）、ＲＡＭ（図示せず）、通信部（図示せず）などを備える。
【００２５】
画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）は、例えば、検出装置２００から送信されるＸ線検出データまたは投影データを処理する役目を果たす。
【００２６】
ここで、画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）におけるＸ線検出データまたは投影データの処理としては、例えば、Ｘ線検出データが変換された投影データから３次元データを再構成することによって、Ｘ線検出データに基づくＸ線画像を構成する処理が挙げられる。検出装置２００から投影データが送信される場合には、画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）は、画像処理装置３００が備える通信部（図示せず）または外部通信デバイスにより受信された投影データを処理する。また、検出装置２００からＸ線検出データが送信される場合には、画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）は、画像処理装置３００が備える通信部（図示せず）または外部通信デバイスにより受信されたＸ線検出データを投影データに変換し、変換した投影データを処理する。
【００２７】
なお、画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）におけるＸ線検出データまたは投影データの処理は、上記に限られない。本実施形態に係る画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）におけるＸ線検出データまたは投影データの処理としては、例えば、複数回の撮像結果から１枚の画像を完成させるために画像を張り合わせるスティッチング処理（張り合わせ処理）や、Ｘ線源の出力におけるＸ線強度のゆらぎを補正するためのオフセット処理、熱雑音や電源ノイズなどゆらぎのあるノイズを除去する（または低減する）ためのノイズ除去処理などが挙げられる。
【００２８】
図２は、本実施形態に係る画像処理装置３００におけるＸ線検出データの処理の一例を示す説明図であり、画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）における本実施形態に係るスティッチング処理の一例を示している。ここで、図２に示すＡ〜Ｄは、例えば、検出装置２００において時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく複数のＸ線画像の一例を示している。また、図２に示すＥは、画像処理装置３００におけるスティッチング処理により得られる、Ｘ線により撮像された被写体に対応するＸ線画像（完成した画像）の一例を示している。
【００２９】
例えば、図２のＡ〜Ｄに示すような時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく複数のＸ線画像を、重ね合わせることによって、図２のＥに示すような被写体に対応するＸ線画像（完成した画像）が得られる。
【００３０】
ここで、例えば図２に示すように、時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく複数のＸ線画像を重ね合わせることによって、例えば、Ｘ線出力装置１００が備えるＸ線出力部（後述する）における隣り合って配置されるＸ線源など、Ｘ線源から出力されるＸ線の相互の影響を低減することができる。また、例えば図２に示すように、時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく複数のＸ線画像を重ね合わせることによって、例えば、後述するＸ線の拡散により生じうる検出されるＸ線における強度ムラの影響を低減することができる。
【００３１】
なお、図２では、画像処理装置３００が、図２のＡ〜Ｄに示す４つのＸ線画像を重ね合わせることによって、被写体に対応するＸ線画像（完成した画像）を得る例を示しているが、画像処理装置３００が重ね合わせるＸ線画像の数は、４つに限られない。画像処理装置３００は、例えば、時分割で検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく、２以上のＸ線画像を重ね合わせることによって、被写体に対応するＸ線画像を得ることが可能である。より具体的には、画像処理装置３００は、例えば、Ｘ線による撮像回数、Ｘ線による撮像順序、Ｘ線出力装置１００が備えるＸ線出力部（後述する）においてＸ線が出力される位置など、様々な条件下において時分割で検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく、複数のＸ線画像を重ね合わせることによって、被写体に対応するＸ線画像を得ることができる。
【００３２】
例えば図２のＥに示すように、画像処理装置３００は、図２のＡ〜Ｄに示すような、他のＸ線画像と重複する領域が存在しない、時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく複数のＸ線画像を重ね合わせる。例えば図２のＥに示すように、他のＸ線画像と重複する領域が存在しない、時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく複数のＸ線画像を重ね合わせることによって、画像処理装置３００は、被写体に対応するＸ線画像を得ることができる。
【００３３】
図３は、本実施形態に係る画像処理装置３００におけるＸ線検出データの処理の一例を説明するための説明図であり、画像処理装置３００が処理において用いる、Ｘ線検出データに基づく複数のＸ線画像の一例を示している。ここで、図３に示す“１”〜“４”は、例えば検出装置２００において時分割で検出された検出順序を示している。つまり、図３に示す例は、画像処理装置３００は、図２に示す例と同様に、４つのＸ線画像（１回目の検出結果に対応するＸ線画像（図３の“１”に対応するＸ線画像）〜４回目の検出結果に対応するＸ線画像（図３の“４”に対応するＸ線画像））を重ね合わせることによって、被写体に対応するＸ線画像を得る場合における、Ｘ線画像の例を示している。
【００３４】
例えば図３に示すように、“１”〜“４”それぞれに対応するＸ線画像には、他のＸ線画像と重複する領域が存在しない。よって、本実施形態に係る画像処理装置が図３に示す“１”〜“４”それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることによって、画像処理装置３００は、被写体に対応するＸ線画像を得ることができる。
【００３５】
なお、画像処理装置３００が処理において用いることが可能な、Ｘ線検出データに基づく複数のＸ線画像は、図３に示すような、他のＸ線画像と重複する領域が存在しない、時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づくＸ線画像に限られない。
【００３６】
例えば、本実施形態に係る、時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく複数のＸ線画像には、図３に示すような他のＸ線画像と重複する領域が存在しない複数のＸ線画像に加え、さらに、重複する領域が存在しない複数のＸ線画像それぞれと重複する領域が存在するＸ線画像が含まれていてもよい。以下では、説明の便宜上、図３、図４に示すような、他のＸ線画像と重複する領域が存在しない、時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく複数のＸ線画像を、「第１Ｘ線画像」と示す。また、以下では、説明の便宜上、複数の第１Ｘ線画像それぞれと重複する領域が存在する、時分割で複数回検出された検出結果のうちの一の検出結果を示すＸ線検出データに基づくＸ線画像を、「第２Ｘ線画像」と示す。
【００３７】
本実施形態に係る、時分割で複数回検出された検出結果それぞれを示すＸ線検出データに基づく複数のＸ線画像に、複数の第１Ｘ線画像と、第２Ｘ線画像とが含まれる場合、画像処理装置３００は、例えば、第２Ｘ線画像を基準として、複数の第１Ｘ線画像それぞれを補正する。そして、本実施形態に係る画像処理装置は、補正された複数の第１Ｘ線画像を重ね合わせる。
【００３８】
図４は、本実施形態に係る画像処理装置３００におけるＸ線検出データの処理の一例を説明するための説明図であり、画像処理装置３００が処理において用いる、Ｘ線検出データに基づく複数のＸ線画像の他の例を示している。ここで、図４に示す“１”〜“５”は、例えば検出装置２００において時分割で検出された検出順序を示している。つまり、図４に示す例では、１回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“１”に対応するＸ線画像）〜４回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“４”に対応するＸ線画像）が、第１Ｘ線画像に該当する。また、図４に示す例では、５回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“５”に対応するＸ線画像）が、第２Ｘ線画像に該当する。
【００３９】
なお、図４では、１回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“１”に対応するＸ線画像）〜４回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“４”に対応するＸ線画像）と、５回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“５”に対応するＸ線画像）との大きさが、同一である例を示しているが、画像処理装置３００が処理において用いることが可能な、Ｘ線検出データに基づく複数のＸ線画像は、上記に限られない。例えば、１回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“１”に対応するＸ線画像）〜４回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“４”に対応するＸ線画像）と、５回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“５”に対応するＸ線画像）との大きさは、異なっていてもよい。また、例えば、１回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“１”に対応するＸ線画像）〜４回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“４”に対応するＸ線画像）と、５回目の検出結果に対応するＸ線画像（図４の“５”に対応するＸ線画像）との形状についても、同一であってもよいし、異なっていてもよい。
【００４０】
ここで、第１Ｘ線画像それぞれは、Ｘ線出力装置１００から時分割で出力された平行ビームのＸ線が、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像である。そのため、Ｘ線出力装置１００から時分割で出力される平行ビームのＸ線の間には、例えば、Ｘ線出力装置１００が備える複数のＸ線源（後述する）それぞれの劣化の度合いの相違や、Ｘ線の出力などによる熱の影響の相違などによって、Ｘ線強度のムラなどに非対称性（または非対称系）が存在する可能性がある。
【００４１】
また、上記のように、Ｘ線出力装置１００から時分割で出力される平行ビームのＸ線の間に非対称性が存在する場合には、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることにより得られる被写体に対応するＸ線画像が、当該非対称性に起因する偏りのあるＸ線画像となる恐れがある。ここで、上記非対称性に起因する偏りのあるＸ線画像としては、例えば、図４に示す水平方向に偏りのあるＸ線画像などが挙げられる。
【００４２】
また、上記のようなＸ線出力装置１００から時分割で出力される平行ビームのＸ線の間の非対称性を補正しようとする場合、第１Ｘ線画像それぞれの間の関係は対等である。そのため、上記のようなＸ線出力装置１００から時分割で出力される平行ビームのＸ線の間の非対称性を補正しようとする場合には、何回目の検出結果に対応する第１Ｘ線画像を基準として補正を行えば、上記に示すような非対称性に起因する偏りのあるＸ線画像となることを防止できるかが、明確ではない。
【００４３】
これに対して、本実施形態に係る第２Ｘ線画像は、複数の第１Ｘ線画像それぞれと重複する領域が存在するＸ線画像である。そのため、例えば、画像処理装置３００が、第２Ｘ線画像を基準として複数の第１Ｘ線画像それぞれを補正すれば、“本実施形態に係る合成処理により得られる被写体に対応するＸ線画像が、上記に示すような非対称性に起因する偏りのあるＸ線画像となること”を、防止することが可能となる。ここで、第２Ｘ線画像を基準とした、複数の第１Ｘ線画像それぞれの補正としては、例えば、第１Ｘ線画像のＸ線強度の補正（レベル補正）などが挙げられる。
【００４４】
よって、例えば、画像処理装置３００において、第２Ｘ線画像を基準として複数の第１Ｘ線画像それぞれが補正される場合には、さらに、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることにより得られる被写体に対応するＸ線画像の高画質化を図ることが可能となる。
【００４５】
画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）は、例えば図２〜図４に示すような処理を行うことが可能である。例えば図２〜図４に示すような処理を行うことによって、画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）は、被写体に対応するＸ線画像を得ることができる。
【００４６】
画像処理装置３００が備えるＲＯＭ（図示せず）は、画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）が使用するプログラムや演算パラメータなどの制御用データを記憶する。画像処理装置３００が備えるＲＡＭ（図示せず）は、画像処理装置３００が備える処理部（図示せず）により実行されるプログラムなどを一時的に記憶する。
【００４７】
画像処理装置３００が備える通信部（図示せず）は、画像処理装置３００が備える通信手段であり、ネットワークを介して（あるいは、直接的に）、検出装置２００などの外部装置と無線／有線で通信を行う役目を果たす。
【００４８】
ここで、画像処理装置３００が備える通信部（図示せず）としては、例えば、通信アンテナおよびＲＦ回路（無線通信）や、ＩＥＥＥ８０２．１５．１ポートおよび送受信回路（無線通信）、ＩＥＥＥ８０２．１１ｂポートおよび送受信回路（無線通信）、あるいはＬＡＮ端子および送受信回路（有線通信）などが挙げられる。また、画像処理装置３００が備える通信部（図示せず）は、例えば、ＵＳＢ端子および送受信回路など通信を行うことが可能な任意の規格に対応する構成や、ネットワークを介して外部装置と通信可能な任意の構成をとることができる。
【００４９】
本実施形態に係るＸ線検査システム１０００は、例えば、図１に示す構成を有する。なお、本実施形態に係るＸ線検査システムは、図１に示す構成に限られない。例えば、本実施形態に係るＸ線検査システムは、図１に示す画像処理装置３００を備えない構成であってもよい。
【００５０】
［２］本実施形態に係る被ばく低減方法の概要
次に、本実施形態に係る被ばく低減方法の概要について説明する。以下では、本実施形態に係る被ばく低減方法が、図１に示すＸ線検査システム１０００を構成する本実施形態に係るＸ線出力装置１００に適用される場合を例に挙げて、本実施形態に係る被ばく低減方法について説明する。
【００５１】
［２−１］
図５は、本実施形態に係る被ばく低減方法を説明するための説明図である。図５では、Ｘ線出力装置１００の構成の一部であるＸ線出力部１０２と、検出装置２００と、被写体Ｏとの一例を示している。
【００５２】
Ｘ線出力部１０２は、複数のＸ線源１１０を有し、平行ビームのＸ線を出力する。また、Ｘ線出力部１０２における平行ビームのＸ線の出力は、例えば、後述する本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を主導的に行う制御部（後述する）によって制御される。
【００５３】
より具体的には、Ｘ線出力部１０２は、例えば、Ｘ線を発生するための電子管であるＸ線管を含むＸ線源１１０と、Ｘ線管が発生させたＸ線から平行ビームのＸ線を形成するコリメータ１１２とを、複数備えることによって、平行ビームのＸ線を出力する。ここで、図５では、Ｘ線出力部１０２が、Ｘ線源１１０とコリメータ１１２とが、二次元平面状に配列された面線源である例を示している。
【００５４】
コリメータ１１２としては、Ｘ線を透過させることが可能なスリット部分を有する、Ｘ線を遮断することが可能な金属（例えば鉛や鉄など）が挙げられる。なお、コリメータ１１２は、Ｘ線を透過させることが可能なスリット部分を有する金属に限られず、Ｘ線を遮断する部分とＸ線を透過させる部分とを有し、平行ビームのＸ線を形成することが可能な、任意の構造、素材で構成されていてもよい。
【００５５】
なお、本実施形態に係るＸ線出力部の構成は、図５に示す構成に限られない。例えば、本実施形態に係るＸ線出力部は、Ｘ線源１１０とコリメータ１１２とが一体となったＸ線源を備えることによって、平行ビームのＸ線を出力することも可能である。また、図５では、Ｘ線源１１０とコリメータ１１２とが一対一に対応している例を示しているが、例えば、複数のＸ線源１１０とコリメータ１１２とが対応する構成など、Ｘ線源１１０とコリメータ１１２とは、一対一に対応していなくてもよい。
【００５６】
Ｘ線出力部１０２から出力される平行ビームのＸ線は、被写体Ｏを透過して、検出装置２００の検出器によって検出される。ここで、上述したように、平行ビームのＸ線を出力させることによってＸ線の広がりを抑えたとしても、Ｘ線の広がりをなくすことはできない。よって、例えば図５のＲに示すように、複数のＸ線源１１０から出力された平行ビームのＸ線が重複して照射される領域（以下、「重複照射領域」と示す。）が生じる可能性がある。
【００５７】
図６は、本実施形態に係る被ばく低減方法を説明するための説明図であり、重複照射領域の一例を示している。ここで、図６では、４つのＸ線源１１０から出力された平行ビームのＸ線によって生じうる重複照射領域Ｒ１〜Ｒ４の一例を示している。
【００５８】
図６のＲ１〜Ｒ４に示すように、重複照射領域では、複数のＸ線源１１０から出力された平行ビームのＸ線が重複して照射される。ここで、重複照射領域Ｒ１〜Ｒ４では、Ｘ線が当たる他の領域と比較して被ばく量が大きくなる。そのため、重複照射領域Ｒ１〜Ｒ４における被写体の被ばくは、被写体における余分な被ばくに相当する「無効被ばく」となる。
【００５９】
そこで、Ｘ線出力装置１００は、Ｘ線出力部１０２に加え、さらに、出力された平行ビームのＸ線を遮断し、平行ビームのＸ線を透過させることが可能な位置が可変するシールド部を備える。ここで、本実施形態に係るシールド部は、平行ビームのＸ線を透過させる透過孔を含み、透過孔以外の部分では平行ビームのＸ線を遮断する、１、または２以上のシールドを備える。なお、本実施形態に係るシールド部が備えるシールドの一例については、後述する。
【００６０】
そして、Ｘ線出力装置１００は、Ｘ線出力部１０２における平行ビームのＸ線の出力と、本実施形態に係るシールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置とを制御することによって、図６のＲ１〜Ｒ４に示すような無効被ばくを削減して、被写体に与える余分な被ばくの低減を図る。
【００６１】
［２−２］
また、例えば図４を参照して示したように、画像処理装置３００において、第１Ｘ線画像を重ね合わせる処理が行われる場合には、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることにより得られる被写体に対応するＸ線画像が、非対称性に起因する偏りのあるＸ線画像となる恐れがある。そのため、例えば画像処理装置３００において、第１Ｘ線画像を重ね合わせる処理が行われる場合には、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることにより得られる被写体に対応するＸ線画像の高画質化を図ることができるとは限らない。
【００６２】
ここで、例えば図４を参照して示したように、画像処理装置３００において、第２Ｘ線画像を基準として複数の第１Ｘ線画像それぞれが補正される場合には、さらに、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることにより得られる被写体に対応するＸ線画像の高画質化を図ることが可能となる。
【００６３】
しかしながら、本実施形態に係る第２Ｘ線画像は、複数の第１Ｘ線画像それぞれと重複する領域が存在する、時分割で複数回検出された検出結果のうちの一の検出結果を示すＸ線検出データに基づくＸ線画像である。そのため、画像処理装置３００において、例えば図４を参照して示したように、第２Ｘ線画像を基準として複数の第１Ｘ線画像それぞれが補正される場合には、第２Ｘ線画像を得るために被写体の被ばく量を増やしてしまう。
【００６４】
そこで、Ｘ線出力装置１００は、本実施形態に係るシールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御することによって、被写体の被ばく量の増加を防止しつつ、画像処理装置３００においてより高画質な被写体に対応するＸ線画像を取得させる。
【００６５】
Ｘ線出力装置１００は、例えば、本実施形態に係るシールド部が備えるシールドを移動させることによって、実施形態に係るシールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御する。なお、例えば、本実施形態に係るシールド部が備えるシールドが、シャッタ機構などによって、シールドの所望の部分を選択的に透過孔とすることが可能な構成である場合には、Ｘ線出力装置１００は、例えば、シャッタ機構などを制御してシールドにおける透過孔となる部分の位置を変更することによって、実施形態に係るシールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御してもよい。以下では、Ｘ線出力装置１００が、本実施形態に係るシールド部が備えるシールドを移動させることによって、実施形態に係るシールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御する場合を例に挙げる。
【００６６】
ここで、シールド部１０４が備えるシールドを移動させる場合、Ｘ線出力装置１００は、例えば、Ｘ線出力部１０４における平行ビームのＸ線の出力を停止させる。そして、Ｘ線出力装置１００は、例えば、シールド部１０４が備えるシールドの移動が完了した後に、Ｘ線出力部１０２に、平行ビームのＸ線を出力させる。
【００６７】
なお、Ｘ線出力装置１００における、Ｘ線出力部１０２における平行ビームのＸ線の出力の制御に係る処理は、上記に限られない。例えば、Ｘ線出力装置１００は、Ｘ線出力部１０２に平行ビームのＸ線を出力させる場合において、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置に対応する位置に対してのみ、Ｘ線出力部１０２に平行ビームのＸ線を出力させてもよい。Ｘ線出力装置１００は、例えば、Ｘ線出力部１０２が備えるＸ線源１１０それぞれの平行ビームのＸ線の出力、非出力を制御することによって、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置に対応する位置に対してのみ、平行ビームのＸ線を出力させる。
【００６８】
本実施形態に係るシールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置の時分割による制御について、より具体的に説明すると、Ｘ線出力装置１００は、本実施形態に係るシールド部を透過した、時分割の各時点における平行ビームのＸ線それぞれに基づくＸ線画像が、他のＸ線画像と重複する領域が存在しないように、本実施形態に係るシールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する。つまり、時分割の各時点において、本実施形態に係るシールド部を透過した、平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像それぞれは、上述した本実施形態に係る第１Ｘ線画像に相当する。
【００６９】
また、Ｘ線出力装置１００は、上記時分割での制御に際して、時分割の各時点において、平行ビームのＸ線を透過させる本実施形態に係るシールド部が含む透過孔の形状のうち、所定の時点における透過孔の形状が、他の時点における形状と異なるように、本実施形態に係るシールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する。
【００７０】
ここで、上記時分割での制御における本実施形態に係る所定の時点において本実施形態に係るシールド部を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像は、上記時分割での制御における他の時点において本実施形態に係るシールド部を透過したＸ線画像それぞれを補正する基準となる。以下では、説明の便宜上、上記時分割での制御における本実施形態に係る所定の時点において本実施形態に係るシールド部を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像を、「第３Ｘ線画像」と示す。また、以下では、説明の便宜上、上記時分割での制御における他の時点において本実施形態に係るシールド部を透過したＸ線画像を、「第４Ｘ線画像」と示す。
【００７１】
つまり、本実施形態に係る第３Ｘ線画像（上記時分割での制御における本実施形態に係る所定の時点において本実施形態に係るシールド部を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像）は、上述した本実施形態に係る第１Ｘ線画像の役目に加え、さらに、上述した本実施形態に係る第２Ｘ線画像の役目を果たすこととなる。
【００７２】
Ｘ線出力装置１００が上記のような本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合、画像処理装置３００は、例えば、図４において第２Ｘ線画像を基準として複数の第１Ｘ線画像それぞれを補正したときと同様に、第３Ｘ線画像を基準として複数の第４Ｘ線画像それぞれを補正する。また、上記の場合には、画像処理装置３００は、例えば、第３Ｘ線画像と、補正された複数の第４Ｘ線画像それぞれとを重ね合わせる。
【００７３】
よって、Ｘ線出力装置１００が上記のような本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合には、画像処理装置３００は、例えば図５を参照して説明した処理を行う場合と同様に、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることにより得られる被写体に対応するＸ線画像の高画質化を図ることができる。
【００７４】
また、Ｘ線出力装置１００が上記のような本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像（第３Ｘ線画像、および第４Ｘ線画像）には、他のＸ線画像と重複する領域が存在しない。よって、Ｘ線出力装置１００が上記のような本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合には、例えば図４を参照して示したように第２Ｘ線画像を基準として複数の第１Ｘ線画像それぞれが補正される場合よりも、被写体の被ばく量を低減することができる。
【００７５】
したがって、Ｘ線出力装置１００が上記のような本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行うことによって、被写体に与える余分な被ばくを低減しつつ、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることにより得られる被写体に対応するＸ線画像の高画質化を図ることが、できる。
【００７６】
［３］本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理
次に、本実施形態に係るＸ線出力装置における、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理について説明する。以下では、本実施形態に係るＸ線出力装置が、図１に示すＸ線検査システム１０００を構成するＸ線出力装置１００である場合を例に挙げて、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理について説明する。
【００７７】
図７は、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を説明するための説明図である。図７では、Ｘ線出力装置１００の構成の一部であるＸ線出力部１０２およびシールド部１０４と、検出装置２００と、被写体Ｏとの一例を示している。
【００７８】
シールド部１０４は、出力された平行ビームのＸ線を遮断する。また、シールド部１０４では、平行ビームのＸ線を透過させることが可能な位置が可変する。また、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置は、例えば、後述する本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を主導的に行う制御部（後述する）によって制御される。
【００７９】
シールド部１０４は、平行ビームのＸ線を透過させる透過孔を含み、透過孔以外の部分では平行ビームのＸ線を遮断するシールドを備える。ここで、図７では、シールド部１０４が１つのシールドを備えている例を示しているが、シールド部１０４が備えるシールドの数は、１つに限られない。シールド部１０４は、例えば、複数のシールドを備えていてもよい。シールド部１０４が備えるシールドの一例については、後述する。
【００８０】
ここで、シールド部１０４が備えるシールドとしては、例えば、鉛や鉄などのＸ線を遮断することが可能な金属を含む金属板や、当該金属を含むガラスなどが挙げられる。なお、シールド部１０４が備えるシールドは、Ｘ線を遮断することが可能であれば、任意の物質で構成されていてもよい。
【００８１】
図７に示すＲは、平行ビームのＸ線を透過させることが可能な位置に対応する領域の一例を示している。例えば、図７に示す領域Ｒは、シールド部１０４を構成する１つのシールドに含まれる透過孔、または、シールド部１０４を構成する複数のシールドを重ね合わせた際に形成される透過孔によって、形成される。以下では、説明の便宜上、“シールド部１０４を構成する１つのシールドに含まれる透過孔”と、“シールド部１０４を構成する複数のシールドを重ね合わせた際に形成される透過孔”とを、総称して単に「透過孔」、または「シールド部１０４における透過孔」と示す場合がある。
【００８２】
Ｘ線出力装置１００は、シールド部１０４が備えるシールドを移動させることにより、例えば図７の領域Ｒに示すような、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で変えることによって、当該位置を時分割で制御する。
【００８３】
より具体的には、シールド部１０４が１つのシールドを備える場合には、Ｘ線出力装置１００は、例えば、シールドを移動させることにより、当該シールドが含む透過孔の位置を時分割で変える。ここで、シールド部１０４が１つのシールドを備える場合、当該シールドは、複数の形状の透過孔を含む。シールド部１０４が１つのシールドを備える場合に、当該シールドに含まれる複数の形状の透過孔の例は、後述するシールド部１０４が複数のシールドを備える場合において用いられる透過孔の例と、同様である。
【００８４】
また、シールド部１０４が、含まれる透過孔の形状がシールドごとに異なる複数のシールドを備える場合には、Ｘ線出力装置１００は、例えば、時分割でシールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する各時点において、シールド部１０４が備える複数のシールドのうちの、いずれか１つのシールドを用いて、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する。Ｘ線出力装置１００は、例えば、シールド部１０４が備えるシールドそれぞれを適宜移動させることによって、いずれか１つのシールドを、Ｘ線出力部１０２から出力される平行ビームのＸ線を透過させることが可能な状態とする。また、Ｘ線出力装置１００は、例えば、シールド部１０４が備えるシールドそれぞれを適宜移動させることによって、他のシールドを、Ｘ線出力部１０２から出力される平行ビームのＸ線を透過させることが不能な状態とする。
【００８５】
なお、シールド部１０４が、含まれる透過孔の形状がシールドごとに異なる複数のシールドを備える場合における処理は、上記に限られない。
【００８６】
例えば、シールド部１０４が、含まれる透過孔の形状がシールドごとに異なる複数のシールドを備える場合には、Ｘ線出力装置１００は、時分割でシールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する各時点において、シールド部１０４が備える複数のシールドのうちの、複数のシールドを用いて、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御することも可能である。Ｘ線出力装置１００は、例えば、シールド部１０４が備える複数のシールドの重ね合わせ方を、時分割で変えることによって、複数のシールドを重ね合わせた際に形成される透過孔の位置や形状を変化させる。
【００８７】
以下では、説明の便宜上、シールド部１０４が、透過孔を含む第１シールドと、含まれる透過孔の形状が第１シールドと異なる第２シールドとの２つのシールドを備える場合（複数のシールドを備える場合の一例）を主に例に挙げて、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の一例を説明する。
【００８８】
なお、上述したように、シールド部１０４は、１つのシールドを備える構成であってもよい。シールド部１０４が１つのシールドを備える構成である場合、当該シールドは、例えば、本実施形態に係る第１シールドが含む透過孔と、本実施形態に係る第２シールドが含む透過孔との双方の透過孔を含む。そして、Ｘ線出力装置１００は、例えば、シールド部１０４が備える１つのシールドを移動させることによって、本実施形態に係る第１シールド、本実施形態に係る第２シールドのうちの、いずれか１つのシールドを用いる場合と同様の状況を作り、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する。
【００８９】
［３−１］本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第１の例
図８は、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第１の例を説明するための説明図である。
【００９０】
ここで、図８に示すＡ１〜Ａ５は、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置の一例を、Ａ１〜Ａ５の順で時系列で示している。つまり、図８に示す例は、Ａ１〜Ａ５の５回、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置が、時分割で制御された例を示している。図８に示す例のように、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置が、時分割で制御される場合には、検出装置２００は、図８のＡ１〜Ａ５の各時点において、Ｘ線を検出する。
【００９１】
また、図８は、シールド部１０４が、図８のＡ１〜Ａ４に示すような“方形を組み合わせた非対称な形状の透過孔”を有する第１シールドと、図８のＡ５に示すような“方形の透過孔”を有する第２シールドとを備える場合における、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置の一例を示している。より具体的には、図８に示すＡ１〜Ａ４は、シールド部１０４が備える第１シールドが、図８における右方向に移動させられることによって、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置が制御される例を示している。また、図８に示すＡ５は、シールド部１０４が備える第２シールドが、図８のＡ５に示す位置に移動させられることによって、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置が制御される例を示している。
【００９２】
また、図８のＡ１〜Ａ５に示す領域Ｒは、シールド部１０４における同一の領域を示している。また、図８に示すＢ１〜Ｂ５は、シールド部１０４の領域ＲにおけるＸ線の透過状態を示しており、図８に示すＢ１〜Ｂ５それぞれは、図８のＡ１〜Ａ５の各時点に対応する。
【００９３】
例えば、図８のＡ１〜Ａ４に示すような“方形を組み合わせた非対称な形状の透過孔”と、図８のＡ５に示すような“方形の透過孔”とが用いられることによって、例えば図８のＢ５に示すように、透過するＸ線が重複することなく、シールド部１０４における領域Ｒ全体に対してＸ線を透過させることができる。
【００９４】
ここで、図８のＡ５に示す時点においてシールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像は、図８のＡ１〜Ａ４に示す時点それぞれにおいてシールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像それぞれと隣接する領域を有する画像である。よって、図８のＡ５に示す時点においてシールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像は、他の時点（図８のＡ１〜Ａ４に示す時点）においてシールド部１０４を透過したＸ線画像それぞれを補正する基準とすることが可能である。つまり、図８では、Ａ１〜Ａ５に示す時分割の各時点のうち、Ａ５に示す時点が、本実施形態に係る所定の時点に該当し、また、図８のＡ５に示す時点においてシールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像は、本実施形態に係る第３Ｘ線画像に該当する。
【００９５】
なお、本実施形態に係る所定の時点は、図８に示すような、時分割の最後の時点に限られない。例えば、Ｘ線出力装置１００は、シールド部１０４が備えるシールドを移動させて、例えば図８のＡ５に示す時点と同様の状況を作り出すことによって、時分割の任意の時点を、本実施形態に係る所定の時点に設定することが可能である。
【００９６】
また、例えば図８に示すように、時分割の各時点において、平行ビームのＸ線を透過させるシールド部１０４が含む透過孔の形状のうち、所定の時点（図８の例では、図８に示すＡ５の時点）における透過孔の形状は、他の時点（図８の例では、図８に示すＡ１〜Ａ４の時点）における形状と異なる。
【００９７】
Ｘ線出力装置１００は、例えば、図８のＡ１〜Ａ４それぞれの時点では、“方形を組み合わせた非対称な形状の透過孔”を有する第１シールドと、図８のＡ５に示すような“方形の透過孔”を有する第２シールドとのうちの、第１シールドを用いて、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する。また、Ｘ線出力装置１００は、例えば、図８のＡ５の時点では、“方形を組み合わせた非対称な形状の透過孔”を有する第１シールドと、図８のＡ５に示すような“方形の透過孔”を有する第２シールドとのうちの、第２シールドを用いて、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する。
【００９８】
なお、本実施形態に係る第１シールドが含む透過孔の形状と、本実施形態に係る第２シールドが含む透過孔の形状とは、例えば図８に示すような“方形を組み合わせた非対称な形状”や“方形”に限られない。
【００９９】
例えば、本実施形態に係る第１シールドが含む透過孔の形状と、本実施形態に係る第２シールドが含む透過孔の形状とは、本実施形態に係る第１シールドと本実施形態に係る第２シールドとを重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状が、本実施形態に係る第１シールドと本実施形態に係る第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、“方形を組み合わせた非対称な形状”、または、“方形”となる形状であってもよい。
【０１００】
図９は、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第１の例を説明するための説明図である。図９に示すＡは、本実施形態に係る第１シールドの一例を示しており、図９に示すＢは、本実施形態に係る第２シールドの一例を示している。また、図９に示すＣ１は、図９のＡに示す第１シールドと図９のＢに示す第２シールドとの重ね合わせにより実現される透過孔の第１の例を示しており、図９に示すＣ２は、図９のＡに示す第１シールドと図９のＢに示す第２シールドとの重ね合わせにより実現される透過孔の第２の例を示している。
【０１０１】
例えば、図９のＣ１のＲ１に示すように、第１シールドと第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状は、図８のＡ１〜Ａ４に示すような“方形を組み合わせた非対称な形状”となる。また、例えば、図９のＣ２のＲ２に示すように、第１シールドと第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状は、図８のＡ５に示すような“方形”となる。
【０１０２】
よって、例えば図９のＣ１のＲ１に示す透過孔と、例えば図９のＣ２のＲ２に示す透過孔とを、例えば図８のＡ１〜Ａ５に示すように、時分割の各時点において適宜用いることによって、例えば図８のＢ５と同様に、透過するＸ線が重複することなく、シールド部１０４における領域Ｒ全体に対してＸ線を透過させることが可能となる。
【０１０３】
なお、本実施形態に係る第１シールドと本実施形態に係る第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、“方形を組み合わせた非対称な形状”、または、“方形”となる透過孔の形状を実現することが可能な、本実施形態に係る第１シールド、本実施形態に係る第２シールドの形状が、図９のＡに示す形状、図９のＢに示す形状に限られないことは、言うまでもない。
【０１０４】
［３−２］本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第２の例
上記第１の例に係る本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理では、Ｘ線出力装置１００が、時分割の各時点において、シールド部１０４における“方形を組み合わせた非対称な形状の透過孔”または“方形の透過孔”の位置を制御することによって、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する例を示した。例えば、シールド部１０４における透過孔の形状を、方形、または、方形を組み合わせた非対称な形状とする場合には、シールドの加工が容易であるという利点を有する。また、シールド部１０４における透過孔の形状を、方形、または、方形を組み合わせた非対称な形状とする場合には、検出装置２００が備えるＦＰＤのような格子状の検出器との対応付けもとり易いという利点もある。しかしながら、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理は、上記第１の例に係る処理に限られない。
【０１０５】
図１０は、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第２の例を説明するための説明図である。ここで、図１０は、Ｘ線出力部１０２において、コリメータ１１２を介して出力された平行ビームのＸ線の拡散の一例と、Ｘ線の拡散により生じうる検出されるＸ線の強度ムラの一例とを示している。
【０１０６】
例えば図１０のＡに示すように、Ｘ線出力部１０２においてコリメータ１１２を介して平行ビームのＸ線が出力されたとしてもＸ線の拡散は生じ、当該Ｘ線の拡散によって検出装置２００の検出器により検出されるＸ線には、強度ムラが生じうる。
【０１０７】
図１１は、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第２の例を説明するための説明図である。図１１に示すＡは、検出装置２００の検出器により検出されるＸ線の強度ムラの一例を示している。ここで、図１１に示すＡは、被写体Ｏが存在しない場合における、検出装置２００の検出器により検出されるＸ線の強度ムラの一例を示している。また、図１１に示すＢは、上記第１の例に係るシールド部１０４における透過孔の形状の一例を示しており、図１１に示すＣは、第２の例に係るシールド部１０４における透過孔の形状の一例を示している。
【０１０８】
例えば図１１に示すようなＸ線の強度ムラの影響をより低減するためには、シールド部１０４における透過孔の形状は、例えば、図１１のＢに示すような、上記第１の例に係る
“方形を組み合わせた非対称な形状”よりも、図１１のＣに示すような、できるだけ中心位置から近い距離の、円に近い形状とする方が有利である。
【０１０９】
また、シールド部１０４における透過孔の形状を、例えば図１１のＣに示すような、できるだけ中心位置から近い距離の円に近い形状とすることによって、周縁部形状の局所性が中心部からの距離を想定したものとなる。よって、シールド部１０４における透過孔の形状を、例えば図１１のＣに示すような、できるだけ中心位置から近い距離の円に近い形状とすることによって、例えば、画像処理装置３００では、より安定したＸ線照射部分に対応するＸ線画像を用いて、被写体に対応するＸ線画像（全体画像）を構築することが、可能となる。
【０１１０】
ここで、図１１のＣでは、シールド部１０４における透過孔の形状が、八角形である例を示しているが、第２の例に係るシールド部１０４における透過孔（複数のシールドの重ね合わせにより形成される透過孔も含む。以下、同様とする。）の形状は、八角形に限られない。例えば、第２の例に係るシールド部１０４における透過孔の形状は、六角形や十角形など、方形よりも円に近い様々な多角形であってもよい。以下では、第２の例に係るシールド部１０４における透過孔の形状が、八角形である場合を例に挙げる。
【０１１１】
図１２は、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第２の例を説明するための説明図である。図１２に示すＡは、本実施形態に係る第１シールドの一例を示しており、図１２に示すＢは、本実施形態に係る第２シールドの一例を示している。また、図１２に示すＣは、図１２のＡに示す第１シールドと図１２のＢに示す第２シールドとの重ね合わせにより実現される透過孔の一例を示している。
【０１１２】
ここで、図１２のＣに示す“１”〜“５”は、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置の一例を、“１”〜“５”の順で時系列で示している。つまり、図１２に示す例は、“１”〜“５”の５回、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置が、時分割で制御された例を示している。図１２に示す例のように、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置が、時分割で制御される場合には、検出装置２００は、図１２の“１”〜“５”の各時点において、Ｘ線を検出する。
【０１１３】
また、図１２のＣに示す“１”〜“４”は、シールド部１０４が備える第１シールドが、図１２のＣの“１”〜“４”に示す位置に移動させられることによって、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置が制御される例を示している。また、図１２のＣに示す“５”は、シールド部１０４が備える第２シールドが、図１２のＣの“５”に示す位置に移動させられることによって、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置が制御される例を示している。
【０１１４】
例えば、図１２のＡに示すような“八角形の透過孔”が、図１２のＣに示す“１”〜“４”の時点で用いられ、また、図１２のＢに示すような“方形の透過孔”が、図１２のＣに示す“５”の時点で用いられることによって、例えば図１２のＣに示すように、透過するＸ線が重複することなく、シールド部１０４における、平行ビームのＸ線の透過対象となる領域全体に対してＸ線を透過させることができる。
【０１１５】
ここで、図１２のＣに示す“５”の時点においてシールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像は、図１２のＣに示す“１”〜“４”の時点それぞれにおいてシールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像それぞれと隣接する領域を有する画像である。よって、図１２のＣに示す“５”の時点においてシールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像は、他の時点（図１２のＣに示す“１”〜“４”の時点）においてシールド部１０４を透過したＸ線画像それぞれを補正する基準とすることが可能である。つまり、図１２に示すＣでは、“１”〜“５”で示される時分割の各時点のうち、“５”に示す時点が、本実施形態に係る所定の時点に該当し、また、図１２のＣに示す“５”の時点においてシールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像は、本実施形態に係る第３Ｘ線画像に該当する。
【０１１６】
なお、本実施形態に係る所定の時点は、図１２のＣに示す“５”の時点のような、時分割の最後の時点に限られない。例えば、Ｘ線出力装置１００は、シールド部１０４が備えるシールドを移動させることにより、例えば図１２のＣに示す“５”の時点と同様の状況を作り出すことによって、時分割の任意の時点を、本実施形態に係る所定の時点に設定することが可能である。
【０１１７】
また、例えば図１２に示すように、時分割の各時点において、平行ビームのＸ線を透過させるシールド部１０４が含む透過孔の形状のうち、所定の時点（図１２の例では、図１２のＣに示す“５”の時点）における透過孔の形状は、他の時点（図１２の例では、図１２のＣに示す“１”〜“４”の時点）における形状と異なる。
【０１１８】
Ｘ線出力装置１００は、例えば、図１２のＣに示す“１”〜“４”それぞれの時点では、図１２のＡに示すような“八角形の透過孔”を有する第１シールドと、図１２のＢに示すような“方形の透過孔”を有する第２シールドとのうちの、第１シールドを用いて、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する。また、Ｘ線出力装置１００は、例えば、図１２のＣに示す“５”の時点では、図１２のＡに示すような“八角形の透過孔”を有する第１シールドと、図１２のＢに示すような“方形の透過孔”を有する第２シールドとのうちの、第２シールドを用いて、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する。
【０１１９】
なお、本実施形態に係る第１シールドが含む透過孔の形状と、本実施形態に係る第２シールドが含む透過孔の形状とは、例えば、図１２のＡに示すような“八角形”や、図１２のＢに示すような“方形”に限られない。
【０１２０】
例えば、本実施形態に係る第１シールドが含む透過孔の形状と、本実施形態に係る第２シールドが含む透過孔の形状とは、本実施形態に係る第１シールドと本実施形態に係る第２シールドとを重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状が、本実施形態に係る第１シールドと本実施形態に係る第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、“八角形”、または、“方形”となる形状であってもよい。
【０１２１】
図１３は、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理の第２の例を説明するための説明図である。図１２に示すＡは、本実施形態に係る第１シールドの一例を示しており、図１２に示すＢは、本実施形態に係る第２シールドの一例を示している。また、図１２に示すＣ１は、図１２のＡに示す第１シールドと図１２のＢに示す第２シールドとの重ね合わせにより実現される透過孔の第１の例を示しており、図１２に示すＣ２は、図１２のＡに示す第１シールドと図１２のＢに示す第２シールドとの重ね合わせにより実現される透過孔の第２の例を示している。
【０１２２】
例えば、図１３のＣ１に示すように、第１シールドと第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状は、図１２のＡに示すような“八角形”となる。また、例えば、図１３のＣ２に示すように、第１シールドと第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状は、図１２のＢに示すような“方形”となる。
【０１２３】
よって、例えば図１３のＣ１に示す透過孔と、例えば図１３のＣ２のＲ２に示す透過孔とを、例えば図１２のＣの“１”〜“５”に示すように、時分割の各時点において適宜用いることによって、例えば図１２のＣと同様に、透過するＸ線が重複することなく、シールド部１０４における、平行ビームのＸ線の透過対象となる領域全体に対してＸ線を透過させることができる。
【０１２４】
なお、本実施形態に係る第１シールドと本実施形態に係る第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、“八角形”、または、“方形”となる透過孔の形状を実現することが可能な、本実施形態に係る第１シールド、本実施形態に係る第２シールドの形状が、図１３のＡに示す形状、図１３のＢに示す形状に限られないことは、言うまでもない。
【０１２５】
（本実施形態に係るＸ線出力装置）
次に、上述した本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行うことが可能な、本実施形態に係るＸ線出力装置の構成の一例について、説明する。以下では、本実施形態に係るＸ線出力装置が、図１に示すＸ線検査システム１０００を構成するＸ線出力装置１００である場合を例に挙げて、本実施形態に係るＸ線出力装置の構成の一例について、説明する。
【０１２６】
図１４は、本実施形態に係るＸ線出力装置１００の構成の一例を示すブロック図である。Ｘ線出力装置１００は、例えば、Ｘ線出力部１０２と、シールド部１０４と、制御部１０６とを備える。
【０１２７】
また、Ｘ線出力装置１００は、例えば、ＲＯＭ（図示せず）や、ＲＡＭ（図示せず）、通信部（図示せず）などを備えていてもよい。Ｘ線出力装置１００は、例えば、データの伝送路としてのバス（bus）により上記各構成要素間を接続する。
【０１２８】
ＲＯＭ（図示せず）は、制御部１０６が使用するプログラムや演算パラメータなどの制御用データを記憶する。ＲＡＭ（図示せず）は、制御部１０６により実行されるプログラムなどを一時的に記憶する。
【０１２９】
通信部（図示せず）は、Ｘ線出力装置１００が備える通信手段であり、ネットワークを介して（あるいは、直接的に）、画像処理装置３００などの外部装置と無線／有線で通信を行う役目を果たす。
【０１３０】
ここで、通信部（図示せず）としては、例えば、通信アンテナおよびＲＦ回路（無線通信）や、ＩＥＥＥ８０２．１５．１ポートおよび送受信回路（無線通信）、ＩＥＥＥ８０２．１１ｂポートおよび送受信回路（無線通信）、あるいはＬＡＮ端子および送受信回路（有線通信）などが挙げられる。また、通信部（図示せず）は、例えば、ＵＳＢ端子および送受信回路など通信を行うことが可能な任意の規格に対応する構成や、ネットワークを介して外部装置と通信可能な任意の構成をとることができる。
【０１３１】
［Ｘ線出力装置１００のハードウェア構成例］
図１５は、本実施形態に係るＸ線出力装置１００のハードウェア構成の一例を示す説明図である。ここで、図１５では、ＦＰＤなどの検出装置２００の一例を併せて示している。また、図１５では、被写体Ｏの一例として、人間を示している。
【０１３２】
Ｘ線出力装置１００は、例えば、各構成要素を保持するアーム１５０と、被写体撮影台１５２と、多点平行Ｘ線源１５４と、シールド１５６とを備える。また、図１５では図示していないが、Ｘ線出力装置１００は、例えば、アーム１５０の内部に、上述した本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を主導的に行う制御部１０６として機能する、ＭＰＵ（図示せず）や各種処理回路を備える。また、Ｘ線出力装置１００は、例えば、シールド１５６を移動させるための駆動デバイスを備える。
【０１３３】
アーム１５０は、Ｘ線出力装置１００の各構成要素や、検出装置２００を保持する。また、被写体撮影台１５２は、被写体Ｏを保持する。
【０１３４】
多点平行Ｘ線源１５４は、例えば、複数のＸ線管と複数のコリメータとを有して平行ビームのＸ線を出力し、Ｘ線出力部１０２として機能する。多点平行Ｘ線源１５４は、Ｘ線管によりＸ線を発生させて、コリメータによって発生させたＸ線を平行ビームのＸ線に形成して、図１５に示す下方向に向けて、平行ビームのＸ線を出力する。
【０１３５】
シールド１５６は、例えば鉛や鉄などのＸ線を遮断することが可能な金属で構成され、シールド部１０４として機能する。例えば図１５に示すように、シールド部１０４の役目を果たすシールド１５６は、Ｘ線出力部１０２の役目を果たす多点平行Ｘ線源１５４における平行ビームのＸ線の出力方向に設けられ、かつ、Ｘ線出力部１０２の役目を果たす多点平行Ｘ線源１５４と、平行ビームのＸ線が当てられる被写体Ｏとの間に設けられる。
【０１３６】
Ｘ線出力装置１００は、例えば図１５に示す構成によって、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う。なお、本実施形態に係るＸ線出力装置１００のハードウェア構成は、図１５に示す構成に限られない。
【０１３７】
例えば、図１５では、１つのシールド１５６を備える構成を示しているが、上述したように、本実施形態に係るＸ線出力装置１００は、複数のシールドを備える構成であってもよい。
【０１３８】
また、例えば上記では、Ｘ線出力装置１００と検出装置２００とが別体の装置であるものとして説明したが、Ｘ線出力装置１００と検出装置２００とは、一体の装置であってもよい。Ｘ線出力装置１００と検出装置２００とが一体の装置である場合、図１５に示す検出装置２００は、例えば、Ｘ線出力部１０２から出力された平行ビームのＸ線を検出する検出部として機能することとなる。
【０１３９】
また、Ｘ線出力装置１００は、例えば、本実施形態に係る画像処理装置などの外部装置と無線／有線で通信を行う通信デバイスをさらに備えていてもよい。上記通信デバイスは、例えば、Ｘ線出力装置１００において通信部（図示せず）の役目を果たす。ここで、Ｘ線出力装置１００が備える通信デバイスとしては、例えば、通信アンテナおよびＲＦ回路（無線通信）や、ＩＥＥＥ８０２．１５．１ポートおよび送受信回路（無線通信）、ＩＥＥＥ８０２．１１ｂポートおよび送受信回路（無線通信）、あるいはＬＡＮ端子および送受信回路（有線通信）などが挙げられる。また、Ｘ線出力装置１００が備える通信デバイスは、例えば、ＵＳＢ端子および送受信回路など通信を行うことが可能な任意の規格に対応するデバイスや、ネットワークを介して外部装置と通信可能な任意のデバイスであってもよい。
【０１４０】
再度図１４を参照して、Ｘ線出力装置１００の構成の一例について説明する。Ｘ線出力部１０２は、上述したように、複数のＸ線源１１０を有し、平行ビームのＸ線を出力する。また、Ｘ線出力部１０２における平行ビームのＸ線の出力は、制御部１０６により制御される。
【０１４１】
より具体的には、Ｘ線源１１０では、例えば、制御部１０６から伝達される信号に応じて、Ｘ線出力部１０２のＸ線源１１０を構成するＸ線管の陰極フィラメントに電流が流れることにより、Ｘ線管の陽極のターゲットに電子がぶつかることによって、Ｘ線が発生される。そして、Ｘ線源１１０では、例えば、Ｘ線出力部１０２のコリメータ１１２が、発生されたＸ線を平行ビームのＸ線に形成する。
【０１４２】
シールド部１０４は、出力された平行ビームのＸ線を遮断する。また、シールド部１０４は、例えば図８、図９、図１２、図１３に示すような、平行ビームのＸ線を透過させる透過孔を含み、透過孔以外の部分では平行ビームのＸ線を遮断するシールドを備える。シールド部１０４では、例えばシールドが移動されて透過孔の位置が変わることによって、平行ビームのＸ線を透過させることが可能な位置が、可変する。ここで、シールド部１０４が備えるシールド移動は、例えば、図８のＡ１〜Ａ５や、図１２のＣの“１”〜“５”に示すように、時分割で行われ、シールド部１０４が備えるシールドの移動は、制御部１０６によって制御される。
【０１４３】
制御部１０６は、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を主導的に行う役目を果たし、Ｘ線出力部１０２における平行ビームのＸ線の出力と、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置とを制御する。制御部１０６は、例えば、ＭＰＵや各種処理回路などで構成される。
【０１４４】
制御部１０６は、例えば、シールド部１０４が備える１または２以上のシールドを移動させることによって、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御する。より具体的には、制御部１０６は、例えば、図８のＡ１〜Ａ５に示すような、第１の例に係る本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理や、図１２のＣに示すような、第２の例に係る本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行い、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御する。
【０１４５】
ここで、シールド部１０４が備えるシールドの移動は、例えば、Ｘ線出力装置１００が備える駆動デバイスにより行われる。上記駆動デバイスは、例えば、制御部１０６を構成するデバイスであってもよいし、制御部１０６とは別体のデバイスであってもよい。制御部１０６は、例えば、上記駆動デバイスに対して、駆動を制御する制御信号を伝達して、シールド部１０４が備える１または２以上のシールドを時分割で移動させることによって、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御する。
【０１４６】
また、制御部１０６は、シールド部１０４が備えるシールドを移動させる場合、例えば、Ｘ線出力部１０４における平行ビームのＸ線の出力を停止させる。そして、制御部１０６は、例えば、シールド部１０４が備えるシールドの移動が完了した後に、Ｘ線出力部１０２に、平行ビームのＸ線を出力させる。
【０１４７】
ここで、制御部１０６は、Ｘ線出力部１０２が備える複数のＸ線源１１０それぞれからの平行ビームのＸ線の出力を、同期して制御するが、制御部１０６におけるＸ線出力部１０２の制御は、上記に限られない。例えば、制御部１０６は、Ｘ線出力部１０２が備える複数のＸ線源１１０それぞれを個別に制御することによって、Ｘ線出力部１０２に平行ビームのＸ線を出力させる場合において、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置に対応する位置に対してのみ、Ｘ線出力部１０２に平行ビームのＸ線を出力させてもよい。
【０１４８】
なお、制御部１０６における処理は、上記に限られない。
【０１４９】
例えば、制御部１０６は、Ｘ線出力部１０２における平行ビームのＸ線の出力とシールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置との制御に対応する表示（本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理に対応する表示）を、シールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線のＸ線検出データに基づく画像を表示させる装置に行わせてもよい。以下では、シールド部１０４を透過した平行ビームのＸ線のＸ線検出データに基づく画像を表示させる装置が、画像処理装置３００である場合を例に挙げる。
【０１５０】
より具体的には、制御部１０６は、例えば、表示制御情報を、Ｘ線出力装置１００が備える通信部（図示せず）または外部通信デバイスに、画像処理装置３００に対して送信させる。ここで、本実施形態に係る表示制御情報としては、例えば、時分割の各時点に対応する表示を制御する情報（データ）が挙げられる。
【０１５１】
本実施形態に係る表示制御情報には、例えば、時分割の各時点を示す情報が含まれる。また、本実施形態に係る表示制御情報には、表示方法を示す情報が含まれていてもよい。本実施形態に係る表示方法としては、例えば、“時分割の各時点に対応する領域ごとに、割り当てられた色を混ぜて表示する表示方法”や、“時分割の各時点に対応する領域を、時分割の時点ごとに、時分割で表示する表示方法”などが挙げられる。
【０１５２】
本実施形態に係る表示制御情報を受信した画像処理装置３００は、例えば、検出装置２００から伝達されるＸ線検出データ（または投影データ）と、本実施形態に係る表示制御情報とに基づいて、“Ｘ線出力装置１００における平行ビームのＸ線の出力と平行ビームのＸ線を透過させる位置との制御”に対応する表示を、表示画面に表示させる。
【０１５３】
Ｘ線出力装置１００が、本実施形態に係る表示制御情報を、画像処理装置３００に対して送信させることによって、画像処理装置３００は、例えば、“時分割の各時点に対応する領域ごとに、割り当てられた色を混ぜて表示する表示方法”などの本実施形態に係る表示方法を用いて、被写体に対応するＸ線画像を、表示画面に表示させる。また、本実施形態に係る表示方法を用いて表示画面に表示された被写体に対応するＸ線画像をみたユーザは、例えば、目にしているＸ線画像が時分割における何番目の撮像による画像であるのかや、目にしているＸ線画像がスティッチング処理後の画像であるのか否かを、より容易に把握することができる。また、本実施形態に係る表示方法を用いて表示画面に表示された被写体に対応するＸ線画像をみたユーザは、例えば、より精度良い重ね合わせの修正処理を行う際に、当該処理を行いやすくなる
【０１５４】
したがって、Ｘ線出力装置１００が、例えば、平行ビームのＸ線の出力と平行ビームのＸ線を透過させる位置との制御に対応する表示を、画像処理装置３００に行わせることによって、ユーザの利便性の向上を図ることができる。
【０１５５】
Ｘ線出力装置１００は、例えば図１４に示す構成によって、Ｘ線出力部１０２における平行ビームのＸ線の出力と、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置とを制御し、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う。
【０１５６】
ここで、シールド部１０４は、平行ビームのＸ線を透過させる透過孔を含み、透過孔以外の部分では平行ビームのＸ線を遮断するシールドを備え、Ｘ線出力装置１００は、シールド部１０４における平行ビームのＸ線を透過させる位置を時分割で制御する。
【０１５７】
したがって、Ｘ線出力装置１００は、例えば図６のＲ１〜Ｒ４に示すような無効被ばくを削減して、被写体に与える余分な被ばくを低減することができる。
【０１５８】
また、Ｘ線出力装置１００が、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合、画像処理装置３００は、例えば、図４において第２Ｘ線画像を基準として複数の第１Ｘ線画像それぞれを補正したときと同様に、本実施形態に係る第３Ｘ線画像を基準として複数の本実施形態に係る第４Ｘ線画像それぞれを補正し、本実施形態に係る第３Ｘ線画像と、補正された複数の本実施形態に係る第４Ｘ線画像それぞれとを重ね合わせる。よって、Ｘ線出力装置１００が本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合には、画像処理装置３００は、例えば図５を参照して説明した処理を行う場合と同様に、例えば継ぎ目が目立たない、より高画質な被写体に対応するＸ線画像を得ることが可能となる。
【０１５９】
また、Ｘ線出力装置１００が本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像（本実施形態に係る第３Ｘ線画像、および本実施形態に係る第４Ｘ線画像）には、他のＸ線画像と重複する領域が存在しない。よって、Ｘ線出力装置１００が本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合には、例えば図４を参照して示したように第２Ｘ線画像を基準として複数の第１Ｘ線画像それぞれが補正される場合よりも、被写体の被ばく量を低減することができる。
【０１６０】
したがって、Ｘ線出力装置１００が本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行うことによって、被写体に与える余分な被ばくを低減しつつ、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることにより得られる被写体に対応するＸ線画像の高画質化を図ることが、できる。
【０１６１】
また、Ｘ線出力装置１００が、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合、画像処理装置３００は、例えば、本実施形態に係る第３Ｘ線画像と、補正された複数の本実施形態に係る第４Ｘ線画像それぞれとを重ね合わせる。よって、Ｘ線出力装置１００が、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合には、画像処理装置３００は、複雑なＸ線画像のブレンディング計算を行うことなく、比較的単純な加算演算を行うことによって、例えば継ぎ目が目立たない、より高画質な被写体に対応するＸ線画像を得ることができる。
【０１６２】
したがって、Ｘ線出力装置１００が、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を行う場合には、画像処理装置３００における処理のリアルタイム性をより向上させることができ、また、画像処理装置３００が処理に要する演算メモリ量を削減させることもできる。
【０１６３】
なお、本実施形態に係るＸ線出力装置の構成は、図１４に示す構成に限られない。
【０１６４】
例えば、本実施形態に係るＸ線出力装置は、図１に示す検出装置２００と同様の機能、構成を有する検出部（図示せず）をさらに備えていてもよい。また、本実施形態に係るＸ線出力装置は、例えば、図１に示す画像処理装置３００と同様の機能、構成を有する画像処理部（図示せず）をさらに備えていてもよい。
【０１６５】
また、本実施形態に係るＸ線出力装置は、１つの装置で構成されることに限られない。例えば、本実施形態に係るＸ線出力装置は、“制御部１０６と、Ｘ線出力部１０２および／またはシールド部１０４とが別体の装置で構成されるシステム”など、複数の装置で構成されるＸ線出力システムであってもよい。本実施形態に係るＸ線出力装置が、複数の装置で構成される場合、制御部１０６の役目を果たす装置が、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を主導的に行って、Ｘ線出力部１０２の役目を果たす装置とシールド部１０４の役目を果たす装置とを制御することによって、被写体に与える余分な被ばくを低減することが可能なＸ線出力システムが実現される。
【０１６６】
以上、本実施形態としてＸ線出力装置を挙げて説明したが、本実施形態は、かかる形態に限られない。本実施形態は、例えば、ＣＴ（Computed  Tomography）装置（３６０度方向の投影データを用いる装置）やマンモグラフィなどのＸ線撮像装置、トモシンセシス機能を有する装置（例えば１８０度未満など、制限された角度方向の投影データを用いる装置）など、様々な機器に適用することができる。
【０１６７】
（本実施形態に係るプログラム）
コンピュータを、本実施形態に係るＸ線出力装置として機能させるためのプログラム（例えば、図１４に示す制御部１０６として機能させるためのプログラムなど、本実施形態に係る被ばく低減方法に係る処理を実行することが可能なプログラム）が、コンピュータにおいて実行され、Ｘ線出力部における平行ビームのＸ線の出力と、シールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置とが制御されることによって、被写体に与える余分な被ばくを低減することができる。また、コンピュータを、本実施形態に係るＸ線出力装置として機能させるためのプログラムが、コンピュータにおいて実行され、Ｘ線出力部における平行ビームのＸ線の出力と、シールド部における平行ビームのＸ線を透過させる位置とが制御されることによって、時分割で検出された検出結果それぞれに対応するＸ線画像を重ね合わせることにより得られる被写体に対応するＸ線画像の高画質化を図ることができる。なお、上記Ｘ線出力部と上記シールド部とは、例えば、上記コンピュータが備えるデバイスであってもよいし、コンピュータの外部デバイスであってもよい。
【０１６８】
また、コンピュータを、本実施形態に係るＸ線出力装置として機能させるためのプログラム（例えば、図１４に示す制御部１０６における“平行ビームのＸ線の出力と平行ビームのＸ線を透過させる位置との制御に対応する表示を、シールド部を透過した平行ビームのＸ線のＸ線検出データに基づく画像を表示させる装置に行わせる処理”を実行することが可能なプログラム）が、コンピュータにおいて実行されることによって、ユーザの利便性の向上を図ることができる。
【０１６９】
以上、添付図面を参照しながら本開示の好適な実施形態について詳細に説明したが、本開示の技術的範囲はかかる例に限定されない。本開示の技術分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。
【０１７０】
例えば、上記では、コンピュータを、本実施形態に係るＸ線出力装置として機能させるためのプログラム（コンピュータプログラム）が提供されることを示したが、本実施形態は、さらに、上記プログラムを記憶させた記録媒体も併せて提供することができる。
【０１７１】
上述した構成は、本実施形態の一例を示すものであり、当然に、本開示の技術的範囲に属するものである。
【０１７２】
なお、以下のような構成も本開示の技術的範囲に属する。
（１）
複数のＸ線源を有し、平行ビームのＸ線を出力するＸ線出力部と、
出力された平行ビームのＸ線を遮断し、前記平行ビームのＸ線を透過させることが可能な位置が可変するシールド部と、
前記Ｘ線出力部における前記平行ビームのＸ線の出力と、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置とを制御する制御部と、
を備え、
前記シールド部は、前記平行ビームのＸ線を透過させる透過孔を含み、前記透過孔以外の部分では前記平行ビームのＸ線を遮断するシールドを備え、
前記制御部は、前記シールド部が備える前記シールドを移動させることにより、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を、時分割で制御し、
時分割の各時点において、前記平行ビームのＸ線を透過させる前記シールド部が含む前記透過孔の形状のうち、所定の時点における前記透過孔の形状は、他の時点における形状と異なり、
前記制御部は、前記シールド部を透過した、時分割の各時点における前記平行ビームのＸ線それぞれに基づくＸ線画像が、他の前記Ｘ線画像と重複する領域が存在しないように、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する、Ｘ線出力装置。
（２）
前記所定の時点において前記シールド部を透過した、前記平行ビームのＸ線に基づくＸ線画像は、他の時点において前記シールド部を透過した前記Ｘ線画像それぞれを補正する基準となる、（１）に記載のＸ線出力装置。
（３）
前記シールド部は、含まれる透過孔の形状がシールドごとに異なる複数の前記シールドを備え、
前記制御部は、時分割で前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する各時点において、前記シールド部が備える複数の前記シールドのうちの、複数のシールドを用いて、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する、（１）または（２）に記載のＸ線出力装置。
（４）
前記シールド部は、含まれる透過孔の形状がシールドごとに異なる複数の前記シールドを備え、
前記制御部は、時分割で前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する各時点において、前記シールド部が備える複数の前記シールドのうちの、いずれか１つのシールドを用いて、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置を制御する、（１）または（２）に記載のＸ線出力装置。
（５）
前記シールド部は、
前記透過孔を含む第１シールドと、
含まれる前記透過孔の形状が前記第１シールドと異なる第２シールドと、
を備える、（１）〜（４）のいずれか１つに記載のＸ線出力装置。
（６）
前記第１シールドが含む前記透過孔の形状は、方形を組み合わせた非対称な形状であり、
前記第２シールドが含む前記透過孔の形状は、方形である、（５）に記載のＸ線出力装置。
（７）
前記第１シールドが含む前記透過孔の形状と、前記第２シールドが含む前記透過孔の形状とは、前記第１シールドと前記第２シールドとを重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状が、前記第１シールドと前記第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、方形を組み合わせた非対称な形状、または、方形、となる形状である、（５）に記載のＸ線出力装置。
（８）
前記第１シールドが含む前記透過孔の形状は、方形よりも円に近い多角形であり、
前記第２シールドが含む前記透過孔の形状は、方形である、（５）に記載のＸ線出力装置。
（９）
前記第１シールドが含む透過孔の形状は、八角形である、（８）に記載のＸ線出力装置。
（１０）
前記第１シールドが含む前記透過孔の形状と、前記第２シールドが含む前記透過孔の形状とは、前記第１シールドと前記第２シールドとを重ね合わせた場合において形成される透過孔の形状が、前記第１シールドと前記第２シールドとの重ね合わせ方に応じて、方形よりも円に近い多角形、または、方形、となる形状である、（５）に記載のＸ線出力装置。
（１１）
前記シールド部は、複数の形状の透過孔を含む１つのシールドを備える、（１）または（２）に記載のＸ線出力装置。
（１２）
前記制御部は、
前記シールド部が備える前記シールドを移動させる場合には、前記Ｘ線出力部における前記平行ビームのＸ線の出力を停止させ、
前記シールドの移動が完了した後に、前記Ｘ線出力部に、前記平行ビームのＸ線を出力させる、（１）〜（１１）のいずれか１つに記載のＸ線出力装置。
（１３）
前記制御部は、前記シールド部における前記平行ビームのＸ線を透過させる位置に対応する位置に対してのみ、前記Ｘ線出力部に、前記平行ビームのＸ線を出力させる、（１２）に記載のＸ線出力装置。
（１４）
前記シールド部は、前記Ｘ線出力部における前記平行ビームのＸ線の出力方向に設けられ、かつ、前記Ｘ線出力部と、前記平行ビームのＸ線が当てられる被写体との間に設けられる、（１）〜（１３）のいずれか１つに記載のＸ線出力装置。
【符号の説明】
【０１７３】
１００    Ｘ線出力装置
１０２    Ｘ線出力部
１０４    シールド部
１０６    制御部
２００    検出装置
３００    画像処理装置
１０００  Ｘ線検査システム
【図１】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図２】
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【図１１】
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