(57)【要約】【課題】磁気転写で製造される磁気ディスクの検査工程に要する時間を短縮する。【解決手段】記録媒体制御装置は、磁気記録媒体と、記憶手段と、判定手段と、シーク制御手段とを備える。磁気記録媒体には、転写マスタから転写されたサーボ情報が記憶されている。記憶手段は、前記転写マスタからの転写に起因する欠陥セクタの位置情報を記憶している。欠陥セクタ予測手段は、シーク経路を予測し、前記欠陥セクタの位置情報を参照して、予測した予測シーク経路に欠陥セクタが含まれるか否かを予測する。シーク制御手段は、前記予測シーク経路中に欠陥セクタが含まれると予測された場合には、前記欠陥セクタのサーボ情報の読み込みを回避してシーク制御を行う。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
転写マスタから転写されたサーボ情報が記録された磁気記録媒体と、
前記転写マスタからの転写に起因する欠陥セクタの位置情報を記憶する記憶手段と、
シーク経路を予測し、前記欠陥セクタの位置情報を参照して、予測した予測シーク経路に欠陥セクタが含まれるか否かを予測する欠陥セクタ予測手段と、
前記予測シーク経路中に欠陥セクタが含まれると予測された場合には、前記欠陥セクタのサーボ情報の読み込みを回避してシーク制御を行うシーク制御手段と、
を備えることを特徴とする記録媒体制御装置。
【請求項２】
前記記憶手段は、同一の前記転写マスタによって前記サーボ情報が転写された、他の磁気記録媒体を備える他の磁気記憶装置が記憶する前記欠陥セクタの位置情報と同一の位置情報を記憶すること、を特徴とする請求項１に記載の記録媒体制御装置。
【請求項３】
前記記憶手段は、欠陥セクタの位置情報と、該欠陥セクタに代わって情報をリードライトする代替セクタの位置情報とを対応付けて記憶する代替セクタテーブル、または、欠陥セクタのサーボ情報の代わりに読み込ませる代替値を記憶する補完テーブル、または、欠陥セクタが含まれるシーク経路の開始位置のサーボ情報と、シーク制御の開始時間を遅延させるシークディレイ時間とを対応付けたシークディレイテーブル、のうち少なくともいずれか１つを記憶し、
前記シーク制御手段は、前記代替セクタテーブルを参照して前記代替セクタのサーボ情報を読み込むこと、または、前記補完テーブルから前記代替値を読み込むこと、または、前記シークディレイテーブルに基づいて、前記開始位置からのシーク制御の開始時間を前記シークディレイ時間だけ遅延させること、のうちいずれか１つにより、前記欠陥セクタのサーボ情報の読み込みを回避すること、
を特徴とする請求項１または２に記載の記録媒体制御装置。
【請求項４】
前記記憶手段は、欠陥セクタが含まれるシーク経路に対して、前記欠陥セクタを回避する代替シーク経路を格納した代替シーク経路テーブルを記憶し、
前記シーク制御手段は、前記代替シーク経路を経由してシーク制御を行うことにより、前記欠陥セクタのサーボ情報の読み込みを回避すること、
を特徴とする請求項１または２に記載の記録媒体制御装置。
【請求項５】
前記シーク制御手段は、前記欠陥セクタにおいてサーボゲートを短縮すること、または、前記欠陥セクタに対してはサーボ情報を読み込む時間を短縮すること、または、前記欠陥セクタに対しては、読み込んだサーボ情報を有効なサーボ情報であると見なす許容レベルを引上げること、のうちいずれか１つにより、前記欠陥セクタのサーボ情報の読み込みを回避すること、
を特徴とする請求項１または２に記載の記録媒体制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、記録媒体制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ハードディスク等の磁気ディスクには、ディスク上の位置情報を示すサーボ情報として、サーボアドレスマーク（ＳＡＭ）等のサーボパターンが書き込まれている。ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）等の磁気ディスク装置は、このサーボパターンからサーボ情報を読み取ることにより、目標とするトラックにデータ再生または記録する磁気ヘッドを正確に移動させることができる。
【０００３】
近年、磁気ディスクの記憶容量が増加しており、ユーザデータ領域の高密度化だけでなく、磁気ディスクにサーボ情報を書き込む際の位置精度についてもより高い精度が求められている。サーボ情報を高精度に書き込む方法の一つとして、磁性体部分がパターニングされた転写マスタと、スレーブ体である磁気記憶ディスクとを接触させて磁界を印加することにより、転写マスタのサーボパターンをスレーブ体に磁気的に転写する磁気転写法がある。
【０００４】
ところが、磁気転写法では転写マスタとスレーブ体を接触させるため、マスタ表面に存在する欠陥がスレーブ体に転写されることとなる。従って同一の転写マスタによって製造されたスレーブ体の磁気ディスクには、転写マスタの欠陥位置と同じ位置に欠陥が転写される。また、転写マスタに欠陥が無い位置であっても、同一の磁気転写工程においてスレーブ体の同じ位置に欠陥が生じる場合がある。
【０００５】
このように磁気ディスク上に欠陥が存在する場合には、再生用ヘッドが欠陥セクタから誤ったタイミングでＳＡＭを読み込んでしまい、次のセクタが正常である場合であっても、その後サーボ情報が読み込めない状態に陥ってしまう。
【０００６】
これに対して従来は、磁気転写後の磁気ディスクを工場出荷前に検査し、欠陥セクタの位置を磁気ディスク１枚１枚について検出している。そして、検出した欠陥位置を磁気ディスク装置の記憶部に書き込んでおき、データの再生時または記録時にこの欠陥位置情報を参照して、欠陥セクタ上をシークしないようにシーク制御する技術が各種開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平８−７７７２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、磁気ディスクの欠陥位置の検出には時間を要するため、出荷前の検査作業に時間がかかるという課題がある。
【０００９】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、磁気転写で製造される磁気ディスクの検査工程に要する時間を短縮することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
実施形態の記録媒体制御装置は、磁気記録媒体と、記憶手段と、判定手段と、シーク制御手段とを備える。磁気記録媒体には、転写マスタから転写されたサーボ情報が記憶されている。記憶手段は、前記転写マスタからの転写に起因する欠陥セクタの位置情報を記憶している。欠陥セクタ予測手段は、シーク経路を予測し、前記欠陥セクタの位置情報を参照して、予測した予測シーク経路に欠陥セクタが含まれるか否かを予測する。シーク制御手段は、前記予測シーク経路中に欠陥セクタが含まれると予測された場合には、前記欠陥セクタのサーボ情報の読み込みを回避してシーク制御を行う。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、磁気ディスクの構造を示す模式図である。
【図２】図２は、サーボ領域とデータ領域の構造を概略的に示す模式図である。
【図３】図３は、実施の一形態にかかる磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図４】図４は、磁気ディスク装置のソフトウェア構成を示すブロック図である。
【図５】図５は、転写マスタ上の欠陥セクタの位置を示す模式図である。
【図６】図６は、奇数ヘッド用の欠陥リストの一例を示す図である。
【図７】図７は、偶数ヘッド用の欠陥リストの一例を示す図である。
【図８】図８は、予測シーク経路を模式的に示す図である。
【図９】図９は、代替シーク経路を示す模式図である。
【図１０】図１０は、代替シーク経路のその他の例を示す模式図である。
【図１１】図１１は、磁気ディスク装置が実行するシーク制御処理の手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に、記録媒体制御装置を適用した磁気ディスク装置の一実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。また、以下に説明する実施形態により本発明が限定されるものではない。
【００１３】
図１は、実施の一形態にかかる磁気ディスク１１の構造を示す模式図である。本実施の形態の磁気ディスク１１は、同心円状に複数のトラック１１２を有し、各トラック１１２は複数のセクタ１１３から構成されている。また、各セクタ１１３は、サーボ情報が記録されたサーボ領域１１０と、データの書き込みが可能であるデータ領域１１１とから構成されている。
【００１４】
図２は、サーボ領域１１０とデータ領域１１１の構造を概略的に示す模式図である。図２に示すように、サーボ領域１１０は、プリアンブル領域２０１と、アドレス領域２０２と、バースト領域２０３とによって構成されている。
【００１５】
プリアンブル領域２０１は、クロック同期を行うためのプリアンブル信号が記録された領域である。このプリアンブル領域２０１は、サーボ信号再生用クロックを同期させるＰＬＬ（Phase  Lock  Loop）処理や信号再生振幅を適正に維持するＡＧＣ（Auto  Gain  Control）処理を行うために使用される。
【００１６】
アドレス領域２０２には、サーボアドレスマーク（ＳＡＭ）２０４とアドレスコード２０５とが含まれている。ＳＡＭ２０４は、各サーボ領域１１０を識別するコードとして特定のパターン信号を含んでいる。アドレスコード２０５は、各サーボ領域１１０のシリンダアドレスとセクタアドレスとを含んでいる。
【００１７】
バースト領域２０３は、各サーボ領域１１０のシリンダにおけるヘッドの相対的な位置情報（位置誤差）を生成するためのバースト信号を含んでいる。
【００１８】
図３は、実施の一形態にかかる磁気ディスク装置１００の構成を示すブロック図である。同図に示すように、本実施の形態にかかる磁気ディスク装置１００は、磁気ディスク１１と、磁気ディスク１１を回転させるＳＰＭ（Spindle  Motor）１２と、ヘッドアクチュエータ１５と、ＶＣＭ（Voice  Coil  Motor）１７とを主に備えている。また、図３に示すように、ヘッドアクチュエータ１５の先端には磁気ヘッド１６が取り付けられている。図示はしないが、磁気ヘッド１６には、磁気ディスク１１のデータを読み込む再生ヘッドと、磁気ディスク１１にデータを書き込む記録ヘッドが設けられている。
【００１９】
また、磁気ディスク装置１００は、ＳＰＭ１２を駆動するＳＰＭ駆動回路１８と、ＶＣＭ１７を駆動させるＶＣＭ駆動回路１９と、プリアンプ２０と、ＲＤＣ（Read  Write  Channel）２１と、を備えている。プリアンプ２０は、再生ヘッドが磁気ディスク１１から読み出した信号を増幅する。また、磁気ディスク１１に書き込まれるデータは、プリアンプ２０で増幅された後に記録ヘッドによって磁気ディスクに書き込まれる。
【００２０】
ＲＤＣ２１は、磁気ディスク１１に書き込む情報をエンコードし、磁気ディスク１１から読み取った信号をデコードする。尚、ＲＤＣ２１が読み取るデータには、データ領域１１１（図１参照）に書き込まれたユーザデータと、サーボ領域１１０に書き込まれたサーボ情報とが含まれる。
【００２１】
また、磁気ディスク装置１００は、磁気ディスク装置１００の制御を行うＭＣＵ（Micro  Controller  Unit）３０と、ＭＣＵ３０に接続される書き換え可能な不揮発性メモリ４０を備えている。さらに、磁気ディスク装置１００は、ＨＤＣ（Hard  Disk  Controller）２４と、バッファ２５と、ホストインターフェース２６とを備えており、ホストインターフェース２６を介してホストコンピュータ２３と接続可能に構成されている。
【００２２】
ＨＤＣ２４は、磁気ディスク装置１００のホストコンピュータ２３との間で送受信するデータの誤り訂正などを行う。また、ＨＤＣ２４は、ＲＤＣ２１がデコードしたデータから、サーボ情報を抽出する。より具体的には、ＨＤＣ２４はパルス状のサーボゲート信号を生成して、パルスがオン状態の場合には、読み取ったデータはサーボ情報から読み取ったサーボ情報であると判定し、パルスがオフ状態の場合には、読み取ったデータはデータ領域１１１から読み取ったユーザデータであると判定する。即ち、ＨＤＣ２４がサーボ領域１１０からＳＡＭ２０４を読み取るタイミングは、所定時間のオン状態を保持するパルス状となる。
【００２３】
バッファ２５は、ＨＤＣ２４がホストコンピュータ２３との間で送受信するデータをバッファリングする。
【００２４】
次に、磁気ディスク装置１００の機能的構成について説明する。図４は、磁気ディスク装置１００のＭＣＵ３０による磁気ディスク制御プログラムの実行で実現されるソフトウェア構成を示したブロック図である。図４に示すように、磁気ディスク装置１００のＭＣＵ３０は、不揮発性メモリ４０に格納された制御用ファームウェアに含まれる、磁気ディスク制御プログラムを起動させることで、シーク経路予測部３１と、欠陥セクタ予測部３２と、シーク制御部３３と、によるブロック構成を実現する。また、不揮発性メモリ４０には、欠陥リストＬが格納されている。また、不揮発性メモリ４０には、欠陥回避情報格納部Ｔと、予測経路情報格納部Ｐと、が設けられている。
【００２５】
ここで、磁気転写に用いられる転写マスタの欠陥位置について、図５を用いて説明する。図５は、転写マスタ上における欠陥セクタの位置を示す模式図である。図５では、塗りつぶされた箇所に欠陥が存在していることを示し、一例として、セクタアドレスが６で、シリンダアドレスが６ないし８である位置において欠陥が存在することを示している。そして、このように転写マスタ上に欠陥が存在する場合には、磁気転写時に各欠陥も転写されて、転写先の磁気ディスク（スレーブ体）には図５と同じ位置に欠陥セクタが形成される。
【００２６】
さらに、転写マスタ上に欠陥が無い場所であっても、転写マスタから磁気転写する工程において、複数のスレーブ体の同じ位置に欠陥が生じる場合もある。
【００２７】
本実施の形態の欠陥リストＬには、転写マスタからの転写に起因する欠陥セクタの位置情報として、同一の転写マスタによってサーボ情報が転写された磁気ディスク１１（スレーブ体）における欠陥セクタのシリンダアドレスおよびセクタアドレスが格納される。なお、磁気転写時に形成される欠陥セクタとしては、上述のように、転写マスタに元来存在する欠陥セクタが転写される場合や、転写マスタには欠陥が存在しないが、磁気転写工程において形成される場合などがある。
【００２８】
また、転写マスタからの転写に起因する欠陥セクタの位置情報は、転写マスタからスレーブ体にサーボ情報を転写する磁気転写工程が行われた後に、当該スレーブ体から少なくとも一枚を被検査体として抽出し、その被検査体に対して従来と同様の欠陥検出検査を行うことで検出される。そして、検出された欠陥セクタの位置情報は、欠陥リストＬとして不揮発性メモリ４０に登録される。
【００２９】
これにより、不揮発性メモリ４０は、同一の転写マスタによってサーボ情報が転写された他の磁気ディスクを備える他の磁気ディスク装置が格納する欠陥リストＬと同一の欠陥リストＬを備えることとなる。即ち、転写元の転写マスタが同一である複数のスレーブ体に対して、１つの欠陥リストＬを共有することができる。
【００３０】
また、欠陥リストＬは、それぞれの記録面に対応する磁気ヘッド１６ごとに設けても良いし、複数の磁気ヘッド１６に対して１つの欠陥リストＬを設けても良い。
【００３１】
例えば、磁気ディスク装置１００に複数枚の磁気ディスク１１が備えられる場合や、一枚の磁気ディスク１１に対して表面と裏面の両面に磁気ヘッド１６が設けられる場合等には、磁気ディスク装置１００に複数の磁気ヘッド１６が存在することとなる。このような場合には、奇数ヘッドと、偶数ヘッドとのそれぞれに対して欠陥リストＬを設けてもよい。
【００３２】
図６および図７は、欠陥リストＬの一例を示す図である。図６は、奇数ヘッド用の欠陥リストＬ１の一例を示す図である。また、図７は、偶数ヘッド用の欠陥リストＬ２の一例を示す図である。図６、図７に示すように、欠陥リストＬ（Ｌ１、Ｌ２）には欠陥セクタの位置情報として、欠陥セクタのシリンダアドレスおよびセクタアドレスが格納される。
【００３３】
欠陥回避情報格納部Ｔには、シーク制御用の各種パラメータや各種テーブル等が格納される。欠陥回避情報格納部Ｔは、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の読み込みを回避するために用いられる。欠陥回避情報格納部Ｔには、一例として、代替セクタテーブルや、補完テーブルや、シークディレイテーブルや、代替シーク経路テーブル等のうち、少なくともいずれか１つが格納される。
【００３４】
代替セクタテーブルは、各欠陥セクタの位置情報（シリンダアドレスおよびセクタアドレス）と、該欠陥セクタに代わって情報をリードライトする代替セクタの位置情報（シリンダアドレスおよびセクタアドレス）とを対応付けて格納するものである。補完テーブルは、欠陥セクタの位置に関わらず、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の代わりに読み込ませる代替値として、所定のＳＡＭ２０４の値を格納するものである。
【００３５】
シークディレイテーブルは、欠陥セクタが含まれるシーク経路の開始位置のＳＡＭ２０４と、シーク制御の開始時間を遅延させるシークディレイ時間とを対応付けるものである。代替シーク経路テーブルは、欠陥セクタが含まれる予測シーク経路に対して、欠陥セクタを回避する代替シーク経路を記憶するものである。
【００３６】
予測経路情報格納部Ｐは、後述するシーク経路予測部３１が予測した予測シーク経路にかかる位置情報として、予測通過点の位置を格納するものである。
【００３７】
シーク経路予測部３１は、磁気ヘッド１６の現在位置のサーボ情報と、ＭＣＵ３０から指示された目標位置のサーボ情報とから、磁気ヘッド１６が移動する際のシーク経路（予測シーク経路）を予測する。
【００３８】
シーク経路の予測処理は、従来一般的に行われている処理方法を用いればよい。一例として、シーク経路予測部３１は、磁気ディスク１１において複数個のサンプリング点を設定し、各サンプリング点でのシリンダアドレス（例えば０〜ｎ）とセクタアドレス（例えば１〜ｍ）を計算し、予測シーク経路に含まれる複数の予測通過点の位置を計算する。またこの場合に、シーク経路予測部３１は、ＶＣＭ１７に加えられる電流量から磁気ヘッド１６の加速度を求め、さらに、磁気ヘッド１６の加速度を積分することにより磁気ヘッド１６の速度および予測通過点の位置を求めることができる。
【００３９】
シーク経路予測部３１は、このように算出した予測通過点の位置を、予測シーク経路にかかる位置情報として、不揮発性メモリ４０の予測経路情報格納部Ｐに格納する。
【００４０】
図８は、予測シーク経路の一例を示す模式図である。ＭＣＵ３０は、ホストコンピュータ２３からの指示に応じて、磁気ヘッド１６のシーク開始位置を（セクタ１、シリンダ２）に、シーク目標位置を（セクタ８、シリンダ９）に設定する。シーク経路予測部３１は、予測シーク経路を図８において矢印で示されるように予測し、予測シーク経路中の（セクタ２、シリンダ３）、（セクタ３、シリンダ４）…などの予測通過点を不揮発性メモリ４０の予測経路情報格納部Ｐに格納する。
【００４１】
欠陥セクタ予測部３２は、欠陥リストＬに格納された欠陥セクタの位置情報と、予測経路情報格納部Ｐに格納された予測通過点の位置情報とを照合して、予測シーク経路に欠陥セクタが含まれるか否かを判定する。
【００４２】
磁気転写において形成される欠陥セクタの特徴として、連続したトラックにおいて、１セクタ分だけ欠陥が存在し、次のセクタでは正常であることが多い。ところが、磁気ディスク装置１００は、欠陥セクタにおいてＳＡＭ２０４を読み込んでしまうと、欠陥セクタにおいてＳＡＭ２０４は正しく読み取れないため、次のセクタが正常であっても次のセクタ以降でＳＡＭ２０４が検出できない状態に陥ってしまう。従って、欠陥セクタではＳＡＭ２０４を読み込まないことが望まれる。
【００４３】
そこで、シーク制御部３３は、欠陥セクタ予測部３２によって、予測シーク経路中に欠陥セクタが含まれると判定された場合には、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の読み込みを回避しつつ、磁気ヘッド１６を目的位置まで移動させる欠陥回避シーク制御を行う。欠陥回避シーク制御方法については、従来から幾つかの方法が用いられており、シーク制御部３３は、従来提案されているシーク制御方法のうちいずれか１つを実行する。
【００４４】
例えば、欠陥回避情報格納部Ｔに上述の代替セクタテーブルが格納されている場合には、シーク制御部３３は、代替セクタテーブルを参照して、欠陥回避シーク制御を行う。即ち、シーク制御部３３は、代替セクタテーブルから、欠陥セクタに代わって情報をリードライトする代替セクタのシリンダアドレスおよびセクタアドレスを読み込み、磁気ヘッド１６を当該代替セクタに移動させる。これにより、磁気ヘッド１６の再生ヘッドは代替セクタのＳＡＭ２０４を読み込むこととなり、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の読み込みを回避することができる。
【００４５】
また、欠陥回避情報格納部Ｔに上述の補完テーブルが格納されている場合には、シーク制御部３３は、欠陥セクタのＳＡＭ２０４を読み込む代わりに、補完テーブルからＳＡＭ２０４の代替値を読み込んで、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の読み込みを回避する。
【００４６】
また、欠陥回避情報格納部Ｔに上述のシークディレイテーブルが格納されている場合には、シーク制御部３３は、シーク経路の開始位置からのシーク制御を、シークディレイテーブルに記憶されたシークディレイ時間だけ遅延することにより、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の読み込みを回避する。
【００４７】
図９は、代替シーク経路を示す模式図である。図９に示すように、シーク制御部３３は、２セクタ時間分（シークディレイ時間）だけシーク動作の開始タイミングを遅らせることにより、欠陥セクタを通過せずに目標位置までシークすることが可能となる。
【００４８】
或いは、欠陥回避情報格納部Ｔに上述の代替シーク経路テーブルが格納されている場合には、シーク制御部３３は、代替シーク経路テーブルに格納された代替シーク経路を経由してシーク制御を行うことにより、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の読み込みを回避する。
【００４９】
図１０は、代替シーク経路のその他の例を示す模式図である。図１０に示すように、シーク制御部３３は、シーク速度を増加させることにより、欠陥セクタを通過せずに目標位置までシークすることが可能となる。
【００５０】
さらに、シーク制御部３３は、欠陥セクタにおいてサーボゲートを短縮することにより、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の読み込みを回避するとしてもよい。
【００５１】
さらに、シーク制御部３３は、欠陥セクタに対して、ＳＡＭ２０４を読み込む時間を短縮してＳＡＭ２０４をタイムアウトさせてしまうことにより、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の読み込みを回避するとしてもよい。
【００５２】
さらに、シーク制御部３３は、欠陥セクタに対しては、読み込んだＳＡＭ２０４を有効なＳＡＭであると見なす許容レベル（トレランス）を引上げることにより、欠陥セクタのＳＡＭ２０４の読み込みを回避するとしてもよい。
【００５３】
次に、磁気ディスク装置１００が実行するシーク制御処理の手順について、図１１を用いて説明する。図１１は、磁気ディスク装置１００が実行するシーク制御処理の手順を示すフローチャートである。
【００５４】
ＭＣＵ３０は、ホストコンピュータ２３からシーク命令を受け取ると（ステップＳ１）、磁気ヘッド１６が現在の位置でＳＡＭ２０４を読み取れているか否か判定する（ステップＳ２）。ＳＡＭ２０４が読み取れている場合（ステップＳ２：Ｙｅｓ）には、ステップＳ４に移行する。
【００５５】
上述したように、ＨＤＣ２４がＳＡＭ２０４を読み取るタイミングは、所定時間のオン状態を保持するパルス状となる。ＭＣＵ３０は、ＳＡＭ２０４が読み取れている場合（ステップＳ２：Ｙｅｓ）には、ＳＡＭ２０４とＳＡＭ２０４を検出した間隔であるサーボ間隔を算出し、このサーボ間隔とサーボ間隔の基準値とを比較することにより、サーボゲート信号のタイミングを調整することができる。
【００５６】
一方で、ＳＡＭ２０４が読み取れていない場合（ステップＳ２：Ｎｏ）には、サーボ間隔の算出が出来ない。そこで、ＭＣＵ３０は、従来行われている方法によってサーボ間隔を擬似的に算出し、ＳＡＭ２０４の補間処理（パルス抜け処理）を行う（ステップＳ３）。これによりＭＣＵ３０は、サーボゲート信号のタイミングを調整することができる。
【００５７】
次に、シーク経路予測部３１は上述のように予測シーク経路を算出して、予測通過点の位置を不揮発性メモリ４０の予測通過情報格納部Ｐに格納する（ステップＳ４）。
【００５８】
欠陥セクタ予測部３２は、不揮発性メモリ４０に格納されている予測通過点の位置情報と、欠陥リストＬに格納された欠陥セクタの位置情報とを比較して（ステップＳ５）、予測シーク経路に欠陥セクタが含まれるか否かを判断する（ステップＳ６）。予測シーク経路に欠陥セクタが含まれる場合（ステップＳ６：Ｙｅｓ）、シーク制御部３３は、上述した欠陥回避シーク制御を行う（ステップＳ７）。
【００５９】
一方、予測シーク経路に欠陥セクタが含まれない場合（ステップＳ６：Ｎｏ）には、通常のシーク制御を行って（ステップＳ８）、磁気ヘッド１６が目的位置に達した場合にシーク制御を終了する。
【００６０】
以上説明したとおり、本実施形態によれば、同一の転写マスタによってサーボ情報が転写された磁気ディスク１１における欠陥セクタの位置情報が予め欠陥リストＬに格納されているため、当該欠陥位置における欠陥検出工程を省略することができる。従って、磁気転写で製造される磁気ディスク１１の検査工程に要する時間を短縮することができる。
【００６１】
尚、上述では、磁気ディスク装置１００の不揮発性メモリ４０に欠陥リストＬが格納されるとしたが、欠陥リストＬの格納場所は、これに限定されるものではない。その他の例として、磁気ディスク１１のサーボ領域１１０（図２参照）に隣接する領域などに、磁気ディスク１１の径方向に欠陥リスト格納領域を設けておき、サーボライタ等により欠陥リストＬを書き込むとしてもよい。
【００６２】
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施形態に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
【符号の説明】
【００６３】
１００  磁気ディスク装置（記録媒体制御装置）
１１  磁気ディスク
１２  ＳＰＭ
１５  ヘッドアクチュエータ
１６  磁気ヘッド
１７  ＶＣＭ
１１０  サーボ領域
１１１  データ領域
１１２  トラック
１１３  セクタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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