(57)【要約】【課題】設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となる光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスクに光を照射し、該光ディスクからの反射光に応じた信号を生成する光ピックアップ部と、前記信号を用いて前記光ディスクの再生を実行する再生部と、前記光ディスクの再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理として、第１調整処理および第２調整処理を含む設定調整処理を実行する調整部と、を備え、前記調整部は、前記再生品質と相関性がある評価項目のうちの、第１調整処理の実行の要否の指標となる第１評価項目、および、第２調整処理の実行の要否の指標となる第２評価項目の各値を測定し、第１評価項目の値の測定結果に応じて、第１調整処理の実行を省略し、第２評価項目の値の測定結果に応じて、第２調整処理の実行を省略する光ディスク装置とする。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに光を照射し、該光ディスクからの反射光に応じた信号を生成する光ピックアップ部と、
前記信号を用いて前記光ディスクの再生を実行する再生部と、
前記光ディスクの再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理として、第１調整処理および第２調整処理を含む設定調整処理を実行する調整部と、を備え、
前記調整部は、
前記再生品質と相関性がある評価項目のうちの、第１調整処理の実行の要否の指標となる第１評価項目、および、第２調整処理の実行の要否の指標となる第２評価項目の各値を測定し、
第１評価項目の値の測定結果に応じて、第１調整処理の実行を省略し、
第２評価項目の値の測定結果に応じて、第２調整処理の実行を省略することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記調整部は、
第１調整処理の一部として第２調整処理を実行するものであって、
第１調整処理の実行を省略するときには、第２評価項目の値の測定を省略することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記調整部は、
前記設定調整処理のうちの第１調整処理および第２調整処理を除く各処理の実行後に、第１評価項目の値を測定することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記調整部は、
第１評価項目の値を測定した後に、該測定の結果に基づいて第１調整処理の実行の要否を判別し、
実行不要と判別したときには、前記設定調整処理を終了させることを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
第１評価項目は、
前記信号についてのジッタであることを特徴とする請求項１から請求項４の何れかに記載の光ディスク装置。
【請求項６】
第１調整処理には、
前記信号の振幅調整、前記信号のイコライザ調整、フォーカスゲイン調整、およびトラッキングゲイン調整のうちの少なくとも一つの処理が含まれることを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
第２評価項目は、
前記信号の振動の幅と前記信号の絶対値のピークとの比であることを特徴とする請求項１から請求項６の何れかに記載の光ディスク装置。
【請求項８】
第２調整処理には、
フォーカスバランスの調整、ビームエキスパンダの調整、およびチルトの調整のうちの少なくとも一つの処理が含まれることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記設定調整処理を含んだスピンアップ処理を実行する請求項１から請求項８の何れかに記載の光ディスク装置であって、
前記再生部は、
前記スピンアップ処理の終了に応じて、前記光ディスクの再生を開始することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクを用いた処理を行うディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクの再生等を行う光ディスク装置が広く利用されている。このような光ディスク装置は、光ディスクの再生を開始する前に、光ディスクの再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理（以下、「設定調整処理」と称することがある）を実行する。設定調整処理には、リード精度の向上等を目的とした光ピックアップ装置の調整などが含まれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−２２１７０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
設定調整処理の実行により、必要な光ディスクの再生品質を確保することが可能となる。但し光ディスク装置は、例えば設定調整処理の実行途中であっても、既に必要な再生品質が得られる状態となっていることがある。
【０００５】
この場合には、必要な再生品質が得られると判明した段階で設定調整処理が終了するようになっていれば、不要となる処理の実行を省略することが可能である。なお再生までの待機時間を極力減らすこと等の観点から、光ディスク装置は、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能であることが望ましい。
【０００６】
本発明は上述した事情に鑑み、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となる光ディスク装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクに光を照射し、該光ディスクからの反射光に応じた信号を生成する光ピックアップ部と、前記信号を用いて前記光ディスクの再生を実行する再生部と、前記光ディスクの再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理として、第１調整処理および第２調整処理を含む設定調整処理を実行する調整部と、を備え、前記調整部は、前記再生品質と相関性がある評価項目のうちの、第１調整処理の実行の要否の指標となる第１評価項目、および、第２調整処理の実行の要否の指標となる第２評価項目の各値を測定し、第１評価項目の値の測定結果に応じて、第１調整処理の実行を省略し、第２評価項目の値の測定結果に応じて、第２調整処理の実行を省略する構成とする。
【０００８】
本構成によれば、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となる。なおここでの第１調整処理および第２調整処理は、何れも、上記各種設定のうちの少なくとも一つを調整する処理を含む。また光ディスク装置による光ディスクの再生は、当該光ディスク装置が再生画像の表示等を行う形態の他、当該光ディスク装置が再生用信号を外部機器へ出力する形態（外部機器に再生画像の表示等を行わせる形態）なども含む概念である。
【０００９】
また上記構成としてより具体的には、前記調整部は、第１調整処理の一部として第２調整処理を実行するものであって、第１調整処理の実行を省略するときには、第２評価項目の値の測定を省略する構成としてもよい。本構成によれば、不要となる第２評価項目の値の測定を省略する分だけ、無駄な処理の実行を抑えることが可能となる。
【００１０】
また上記構成としてより具体的には、前記調整部は、前記設定調整処理のうちの第１調整処理および第２調整処理を除く各処理の実行後に、第１評価項目の値を測定する構成としてもよい。本構成によれば、当該各処理の実行後に第１評価項目が良好となる場合に、第１調整処理の実行を省略することが可能となる。
【００１１】
また上記構成としてより具体的には、前記調整部は、第１評価項目の値を測定した後に、該測定の結果に基づいて第１調整処理の実行の要否を判別し、実行不要と判別したときには、前記設定調整処理を終了させる構成としてもよい。本構成によれば、設定調整処理に要する時間を短くし、例えば再生までの待機時間を極力減らすことが可能となる。
【００１２】
また上記構成としてより具体的には、第１評価項目は、前記信号についてのジッタである構成としてもよい。また当該構成としてより具体的には、第１調整処理には、前記信号の振幅調整、前記信号のイコライザ調整、フォーカスゲイン調整、およびトラッキングゲイン調整のうちの少なくとも一つの処理が含まれる構成としてもよい。
【００１３】
また上記構成としてより具体的には、第２評価項目は、前記信号の振動の幅と前記信号の絶対値のピークとの比である構成としてもよい。また当該構成としてより具体的には、第２調整処理には、フォーカスバランスの調整、ビームエキスパンダの調整、およびチルトの調整のうちの少なくとも一つの処理が含まれる構成としてもよい。
【００１４】
また前記設定調整処理を含んだスピンアップ処理を実行する上記構成の光ディスク装置において、前記再生部は、前記スピンアップ処理の終了に応じて、前記光ディスクの再生を開始する構成としてもよい。本構成によれば、光ディスクの再生を迅速かつ自動的に開始させることが可能となる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明に係る光ディスク装置によれば、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本実施形態に係る光ディスク装置の外観図である。
【図２】本実施形態に係る光ディスク装置のブロック図である。
【図３】光ピックアップ部およびその周辺についての構成図である。
【図４】第１実施形態に係る設定調整処理に関するフローチャートである。
【図５】ＭＯＤに関する説明図である。
【図６】第２実施形態に係る設定調整処理に関するフローチャートである。
【図７】第３実施形態に係る設定調整処理に関するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
本発明の実施形態について、第１から第３実施形態の各々を例に挙げて説明する。
【００１８】
１．第１実施形態
［光ディスク装置の全体構成］
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置１の外観図である。本図に示すように光ディスク装置１は、各種部品が筐体２０に収納された本体と、本体の遠隔操作を可能とするリモコン（リモートコントロール）送信機１７ｃを有している。
【００１９】
図２は、光ディスク装置１の構成に関するブロック図である。本図に示すように光ディスク装置１は、ディスク処理部１０、再生信号生成部１５、制御部１６、操作部１７、表示部１８、および調整部１９などを備えている。
【００２０】
ディスク処理部１０は、ディスクトレイ１１、ディスクモータ１２、クランパ１３、および光ピックアップ部１４等を有している。
【００２１】
ディスクトレイ１１は、ユーザによって光ディスク（例えばＣＤやＤＶＤ）がセットされる部分である。より具体的に説明すると、ディスクトレイ１１は、図１に示すように筐体２０の前面側に設けられており、ＯＰＥＮ／ＣＬＯＳＥ方向へ可動に形成されている。ディスクトレイ１１がＯＰＥＮ状態（筐体２０から引き出された状態）のとき、ユーザは、ディスクトレイ１１に光ディスク２をセットすることが出来る。
【００２２】
ディスクモータ１２（スピンドルモータ）は、光ディスク２を回転駆動させるモータである。クランパ１３は、ディスクモータ１２へ光ディスクを押し付けるようにして、光ディスク２をディスクモータ１２へクランプする役割を果たす。
【００２３】
光ディスク２をセットしたディスクトレイ１１がＣＬＯＳＥ状態（筐体２０に収納された状態）になると、光ディスク装置１は、光ディスク２のクランプを実行した上で、スピンアップ処理を開始させることが可能となる。なお光ディスク装置１は、光ディスク２をセットしたディスクトレイ１１がＣＬＯＳＥ状態とされたときに、当該クランプを実行した上でスピンアップ処理を開始させる動作を、自動的に実行するよう設定されていても良い。
【００２４】
光ピックアップ部１４は、制御部１６の指示に応じて、光ディスク２に記録されている情報（画像情報等）を読取って後段側に送出する。なお光ピックアップ部１４の構成については、改めて詳細に説明する。
【００２５】
再生信号生成部１５は、光ピックアップ部１４から送出される情報を受取り、この情報を再生させるための再生信号を生成する。生成された再生信号は、例えば外部機器（画像表示装置など）へ出力され、光ディスク２に記録されている情報の再生に利用される。なお光ディスク装置１自体が画像表示装置などを備え、再生画像等を表示するようになっていても良い。
【００２６】
制御部１６は、例えばＣＰＵによって形成されており、光ディスク装置１が適切に動作するように、光ディスク装置１の各部を制御する。
【００２７】
操作部１７は、図１に示すように、筐体２０の前面側に設けられた操作スイッチ１７ａ、およびリモコン装置（リモコン受光部１７ｂとリモコン送信機１７ｃを含む）を有しており、ユーザの操作を受付ける。ユーザによる操作の内容は制御部１６に伝えられる。これにより、光ディスク装置１の動作にユーザの意図を反映されることが可能である。
【００２８】
表示部１８は、図１に示すように、筐体２０の前面側に設けられたディスプレイ１８ａを有しており、現在時刻や再生状況などの簡易な情報表示を行う。
【００２９】
調整部１９は、光ディスク２の再生に関わる各種設定を調整する役割を果たす。例えば調整部１９は、スピンアップ処理の開始に伴って設定調整処理を実行する。この設定調整処理は、光ディスク２の再生に関わる各種設定を調整するための一連の処理であり、設定調整処理の具体的内容については改めて詳細に説明する。
【００３０】
次に、光ピックアップ部１４およびその周辺の構成について、図３を参照しながら以下に説明する。光ピックアップ部１４は、レーザダイオード４０、ビームスプリッタ４１、ビームエキスパンダ４２、レンズアクチュエータ４３、フォトダイオード４４、およびサーボ部４５を備えている。
【００３１】
レーザダイオード４０は、レーザ光を出力するように形成されている。ビームスプリッタ４１は、レーザダイオード４０から出力されたレーザ光を、予めセットされている光ディスク２へ導くように配置されている。またビームスプリッタ４１と光ディスク２の間には、ビームエキスパンダ４２およびレンズアクチュエータ４３が配置されている。
【００３２】
ビームエキスパンダ４２は、レーザ光の径を拡大する部品である。ビームエキスパンダ４２は、凹レンズと凸レンズにより構成されており、例えば光ディスク２の厚みの誤差により球面収差が発生した場合に、凹レンズを駆動することによってその収差を補正するように動作する。
【００３３】
レンズアクチュエータ４３は、光ディスク２の情報記録面にレーザ光を集光させる対物レンズを有しており、当該対物レンズを駆動させることが可能である。ビームスプリッタ４１から出たレーザ光は、当該対物レンズを介して光ディスク２へ当たり、反射することになる。これにより光ディスク２には、レーザ光による光スポットが形成される。
【００３４】
フォトダイオード４４は、光ディスク２に当たって反射したレーザ光（反射光）を検出する。より具体的に説明すると、フォトダイオード４４は、反射光が入射する位置に配置されており、反射光の強さに応じた電気信号を生成する。
【００３５】
フォトダイオード４４が生成する電気信号としては、光ディスク２の記録情報を表すＲＦ信号や、各種サーボに用いられるサーボ用信号が挙げられる。ＲＦ信号は再生信号生成部１５に送出され、サーボ用信号はサーボ部４５へ送出される。なおＲＦ信号は、光ディスク２の再生の他、後述する設定調整動作の実行時にも用いられる。
【００３６】
サーボ部４５は、フォーカスサーボ部４５ａ、トラッキングサーボ部４５ｂ、およびチルトサーボ部４５ｃを有しており、対物レンズのサーボ制御を実行する。
【００３７】
フォーカスサーボ部４５ａは、サーボ用信号に基づいてフォーカスエラー（光スポットのフォーカス方向のずれ）を検出し、この検出結果に基づいて（例えばフォーカスエラーがゼロとなるように）フォーカスサーボを実行する。フォーカスサーボは、レーザ光が光ディスク２の面に集光するように、対物レンズのフォーカス方向の位置を調節する制御である。
【００３８】
トラッキングサーボ部４５ｂは、サーボ用信号に基づいてトラッキングエラー（光スポットのトラッキング方向のずれ）を検出し、この検出結果に基づいて（例えばトラッキングエラーがゼロとなるように）トラッキングサーボを実行する。トラッキングサーボは、光スポットが光ディスク２の情報トラックに追従するように、対物レンズのトラック方向の位置を調節する制御である。なおトラッキングエラー信号の生成手法としては、例えば、プッシュプル法や差動プッシュプル法などが採用され得る。
【００３９】
チルトサーボ部４５ｃは、サーボ用信号に基づいてチルトエラー（光スポットのチルト方向のずれ）を検出し、この検出結果に基づいて（例えばチルトエラーがゼロとなるように）チルトサーボを実行する。チルトサーボは、レーザ光が光ディスク２の面に直角に照射されるように、対物レンズの傾きの角度（チルト）を調節する制御である。
【００４０】
［設定調整処理］
先述したように調整部１９は、スピンアップ処理の開始に伴って、光ディスク２の再生品質に関わる各種設定を調整するための設定調整処理（後述するステップＳ１１〜Ｓ４６）を実行する。この設定調整処理の具体的内容について、図４に示すフローチャートを参照しながら以下に説明する。
【００４１】
調整部１９は、測定カウントを初期化するとともに各種調整を行い、フォーカスオン（FcOn）およびトラッキングオン（TrOn）が行われるようにする（ステップＳ１１）。なおこの測定カウントは、設定調整処理の流れに影響を与えるカウント値であり、その意義は後述の説明により明らかとなる。測定カウントは、初期化されることによって「０」に設定される。
【００４２】
次に調整部１９は、フォーカスゲイン（FcGain）およびトラッキングゲイン（TrGain）の粗調整を実行する（ステップＳ１２）。また更に調整部１９は、光ピックアップ部１４をStill-On（ＲＦ信号を利用する調整のため、例えば光スポットを同一トラックに留める状態）として、測定カウントを１だけ増大させる（ステップＳ１３）。
【００４３】
次に調整部１９は、測定カウントが「１」であるか否かを判別する（ステップＳ１４）。測定カウントが「１」であると判別された場合には（ステップＳ１４のＹＥＳ）、調整部１９は、イコライザ（EQ）の初期値設定を実行する（ステップＳ１５）。イコライザの初期値設定は、ＲＦ信号に対して行うイコライザ処理に関する設定値（イコライザ調整値）を、予め決められた初期値に設定する動作である。
【００４４】
次に調整部１９は、ＲＦ信号の振幅調整を実行する（ステップＳ１６）。この振幅調整は、例えばＲＦ信号の振幅が所定の許容範囲内に収まるように、ＲＦ信号のゲインを制御することにより達成される。その後、調整部１９は、光ピックアップ部１４をStill-Off（Still-Onから離脱した状態）とする（ステップＳ１７）。
【００４５】
次に調整部１９は、ＢＤＯ［Black Drop Out］の精細な調整を実行する（ステップＳ１８）。なおディスク装置１においては、例えばフォトダイオード４４が四分割のフォトダイオードを有する場合に、これらのフォトダイオードの出力（Ａ、Ｂ、Ｃ、およびＤ信号）を加算した信号が、トラッキングサーボに用いられる信号とされ得る。
【００４６】
この信号は、光ディスク２の状態が良好であれば、振幅はほぼ一定となるが、光ディスク２にキズ等があると弱くなる。ディスク装置１は、この原理を利用して、当該信号の振幅を閾値と比較することにより、光ディスク２のキズ検知を行うことが可能である。上述したＢＤＯの調整は、このキズ検知が精度良く行われるようにするため、例えば当該閾値を適切に調整する動作である。
【００４７】
次に調整部１９は、所定のアドレスリードと最終処理を行い（ステップＳ１９）、その後、測定カウントが「１」であるか否かを判別する（ステップＳ２０）。測定カウントが「１」であると判別された場合には（ステップＳ２０のＹＥＳ）、調整部１９は、ＲＦ信号についてのジッタ（以下、単に「ジッタ」と称することがある）の測定を実行する（ステップＳ２１）。
【００４８】
また調整部１９は、測定されたジッタが所定の閾値Ｔ１を下回っているか否かを判別する（ステップＳ２２）。下回っていると判別された場合には（ステップＳ２２のＹＥＳ）、光ディスク装置１は既に必要な再生品質が得られる状態であるとみなされ、今回の設定調整処理は終了する。
【００４９】
またステップＳ２０の処理において、測定カウントが「１」ではないと判別された場合には（ステップＳ２０のＮＯ）、ステップＳ２１およびＳ２２の処理は省略され、今回の設定調整処理は終了する。設定調整処理が終了した後は、スピンアップ処理の残処理が行われ、スピンアップ処理は終了する。
【００５０】
なお光ディスク装置１は、スピンアップ処理の終了に応じて光ディスク１の再生を開始するように、設定されていても良い。これにより光ディスク装置１は、スピンアップ処理の終了後、迅速かつ自動的に光ディスク１の再生を開始させることが可能となる。
【００５１】
一方、ステップＳ２２の処理において、測定されたジッタが閾値Ｔ１を下回っていないと判別された場合（ステップＳ２２のＮＯ）、調整部１９は、ＭＯＤ（modulation）の測定を実行する（ステップＳ３１）。このＭＯＤは、ＲＦ振幅とＲＦピークの比（ＭＯＤ＝ＲＦ振幅／ＲＦピーク）である。ＲＦ振幅とＲＦピークの説明を付記したＲＦ信号の概念図を、図５に示す。本図に示すように、ＲＦ振幅はＲＦ信号の振動の幅に相当し、ＲＦピークはＲＦ信号の絶対値のピークに相当する。
【００５２】
そして調整部１９は、ＭＯＤが所定の閾値Ｔ２を下回っているか否かを判別する（ステップＳ３２）。下回っていると判別された場合には（ステップＳ３２のＹＥＳ）、調整部１９は、ＭＯＤカウントを１だけ増大させ（ステップＳ３３）、再度ステップＳ１３以降の処理を実行する。
【００５３】
一方、ステップＳ３２の処理において下回っていないと判別された場合には（ステップＳ３２のＮＯ）、調整部１９は、ステップＳ３３の処理を省略して、再度ステップＳ１３以降の処理を実行する。なおＭＯＤカウントは、設定調整処理の流れに影響を与えるカウント値であり、その意義は後述の説明により明らかとなる。ＭＯＤカウントは、設定調整処理の開始時には「０」に設定されている。
【００５４】
またステップＳ１４の処理において、測定カウントが「１」ではないと判別された場合には（ステップＳ１４のＮＯ）、調整部１９は、ＭＯＤカウントが「１」であるか否かを判別する（ステップＳ４１）。ＭＯＤカウントが「１」であると判別された場合には（ステップＳ４１のＹＥＳ）、調整部１９は、フォーカスバランス（Fbal）の調整、ビームエキスパンダ４２（Bex）の調整、およびチルト（Tilt）の調整を実行する（ステップＳ４２）。そして更に調整部１９は、ＲＦ信号の振幅調整を実行する（ステップＳ４３）。
【００５５】
その後、調整部１９は、イコライザの調整（例えば先述したイコライザ調整値を最適化する処理）を実行する（ステップＳ４４）。なおステップＳ４１の処理において、ＭＯＤカウントが「１」ではないと判別された場合には（ステップＳ４１のＮＯ）、調整部１９は、ステップＳ４２およびＳ４３の処理の実行を省略し、ステップＳ４４の処理を実行する。
【００５６】
次に調整部１９は、光ピックアップ部１４をStill-Offとし（ステップＳ４５）、フォーカスゲインおよびトラッキングゲインの精細な調整を実行する（ステップＳ４６）。その後、調整部１９は、ステップＳ１８以降の処理を実行する。
【００５７】
なお設定調整処理の全体のフローは上述した通りであるが、実際に行われるフローのパターンは、設定調整処理の実行中におけるジッタやＭＯＤの測定結果によって、第１〜第３の各パターンに分類される。以下、これらのパターンについて順に説明する。
【００５８】
第１パターンは、ステップＳ２２の処理でジッタの測定値が閾値Ｔ１を下回ると判別される場合のパターンである。第１パターンの場合には設定調整処理として、ステップＳ１１〜Ｓ２２の各処理が順に実行される。
【００５９】
第２パターンは、ステップＳ２２の処理でジッタの測定値が閾値Ｔ１を下回らないと判別され、かつ、ステップＳ３２の処理でＭＯＤの測定値が閾値Ｔ２を下回ると判別される場合のパターンである。第２パターンの場合、ステップＳ１１〜Ｓ２２→ステップＳ３１〜Ｓ３３→ステップＳ１３〜Ｓ１４→ステップＳ４１〜Ｓ４６→ステップＳ１８〜Ｓ２０、という順序で設定調整処理が実行される。
【００６０】
第３パターンは、ステップＳ２２の処理でジッタの測定値が閾値Ｔ１を下回らないと判別され、かつ、ステップＳ３２の処理でＭＯＤの測定値が閾値Ｔ２を下回らないと判別される場合のパターンである。第３パターンの場合、ステップＳ１１〜Ｓ２２→ステップＳ３１〜Ｓ３２→ステップＳ１３〜Ｓ１４→ステップＳ４１→ステップＳ４４〜Ｓ４６→ステップＳ１８〜Ｓ２０、という順序で設定調整処理が実行される。
【００６１】
このことから明らかであるように、設定調整処理の実行中におけるジッタおよびＭＯＤの測定結果によって、設定調整処理の一部の実行が省略（スキップ）されるようになっている。
【００６２】
より詳細に説明すると、ステップＳ３１〜Ｓ３３およびステップＳ４１〜Ｓ４６の処理は、実行されるか否かがジッタの測定結果に依拠する処理（ジッタ依拠処理）となっている。またステップＳ４２〜Ｓ４３の処理は、実行されるか否かがＭＯＤの測定結果に依拠する処理（ＭＯＤ依拠処理）となっている。
【００６３】
そして、ジッタの測定値が閾値Ｔ１を下回ると判別されたときには（ステップＳ２２のＹＥＳ）、ジッタ依拠処理（本実施形態ではＭＯＤ依拠処理も含む）の実行は省略される。またジッタ依拠処理が実行される場合であっても、ＭＯＤの測定値が閾値Ｔ２を下回らないと判別されたときには（ステップＳ３２のＮＯ）、ＭＯＤ依拠処理の実行は省略される。
【００６４】
なおジッタとＭＯＤは、それぞれ光ディスク２の再生品質と相関性がある評価項目であり、ジッタの値が小さいほど再生品質は良好となる傾向にあり、ＭＯＤの値が大きいほど再生品質は良好となる傾向にある。そして更にジッタは、ジッタ依拠処理の実行の要否の指標となり、ＭＯＤは、ＭＯＤ依拠処理の実行の要否の指標となる。
【００６５】
すなわち、ジッタの値が良好である（閾値Ｔ１を下回る）ときには、ジッタ依拠処理を実行するまでもなく必要な再生品質を得ることが可能となるため、ジッタ依拠処理の実行は不要であると見込まれる。なおジッタの値が良好ではない（閾値Ｔ１を下回らない）場合であっても、その後にジッタ依拠処理が実行されることによって、ジッタの改善が見込まれる。
【００６６】
またＭＯＤの値が良好である（閾値Ｔ２を下回らない）ときには、ＭＯＤ依拠処理を実行するまでもなく必要な再生品質を得ることが可能となるため、ＭＯＤ依拠処理の実行は不要であると見込まれる。なおＭＯＤの値が良好ではない（閾値Ｔ２を下回る）場合であっても、その後にＭＯＤ依拠処理が実行されることによって、ＭＯＤの改善が見込まれる。
【００６７】
光ディスク装置１はこの原理を利用して、ジッタの値が閾値Ｔ１を下回るときには、不要となるジッタ依拠処理の実行を省略し、ＭＯＤの値が閾値Ｔ２を下回らないときには、不要となるＭＯＤ依拠処理の実行を省略する。このように光ディスク装置１は、複数の評価項目の観点から、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略するようになっている。
【００６８】
その結果、光ディスク装置１は、再生までの待機時間を極力減らすこと等が可能である。なお光ディスク２の種類等によって差はあるが、ジッタ依拠処理の実行が省略される場合には、光ディスク２のセットから再生までに要する時間を１５〜２５％程度削減できると見込まれる。
【００６９】
なおＭＯＤの値は、光ピックアップ部１４の調整状態に依存する値であるとも言えるため、この調整状態を評価する指標となり得る。そのためジッタの測定値が良好ではない場合、ＭＯＤを測定することにより、その主な要因が光ピックアップ部１４の調整状態にあるのか否かを判断することが可能である。またＭＯＤの値が閾値Ｔ２を下回っていないことが判明した場合、必要な光ディスク２の再生品質を得る上で、光ピックアップ部１４の調整は基本的に不要であると判断することが出来る。
【００７０】
また本実施形態では、ＭＯＤの判定に関するステップＳ３１〜Ｓ３３の処理（ＭＯＤ判定フロー）も、ジッタ依拠処理に含まれている。これにより光ディスク１は、ジッタ依拠処理の実行を省略するときには、不要となるＭＯＤ判定フローの処理（ＭＯＤの値の測定も含まれる）の実行も省略するようになっている。
【００７１】
なおジッタに関する閾値Ｔ１は、ジッタ依拠処理の実行の省略可否を決める重要な値であり、所定の手法によって、予め決められた適切な値に設定される。閾値Ｔ１を決める手法としては、例えば、光ディスクの規格に定められたジッタの値を基準として決める手法や、実際のドライブや光ディスクを使用し、再生可能なジッタの値を統計的に求めた上で決める手法等が挙げられる。
【００７２】
またＭＯＤに関する閾値Ｔ２は、ＭＯＤ依拠処理の実行の省略可否を決める重要な値であり、所定の手法によって、予め決められた適切な値に設定される。閾値Ｔ２を決める手法としては、例えば、ＬＰＰ情報として記録された光ディスク毎の推奨ＭＯＤを基準として決める手法や、実際のドライブや光ディスクを使用し、再生時のＭＯＤの値を統計的に求めた上で決める手法等が挙げられる。
【００７３】
２．第２実施形態
次に第２実施形態について説明する。なお第２実施形態は、設定調整処理に関する点を除き、基本的には第１実施形態と同様である。以下の説明においては、第１実施形態と異なる部分の説明に重点をおき、共通する部分については説明を省略することがある。
【００７４】
調整部１９は、スピンアップ処理の開始に伴って、光ディスク２の再生品質に関わる各種設定を調整するための設定調整処理（後述するステップＳ５１〜Ｓ７４）を実行する。この設定調整処理の具体的内容について、図６に示すフローチャートを参照しながら以下に説明する。
【００７５】
調整部１９は、測定カウントを初期化するとともに各種調整を行い、フォーカスオン（FcOn）およびトラッキングオン（TrOn）が行われるようにする（ステップＳ５１）。次に調整部１９は、フォーカスゲイン（FcGain）およびトラッキングゲイン（TrGain）の粗調整を実行する（ステップＳ５２）。また更に調整部１９は、光ピックアップ部１４をStill-Onとして、測定カウントを１だけ増大させる（ステップＳ５３）。
【００７６】
次に調整部１９は、測定カウントが「１」であるか否かを判別する（ステップＳ５４）。測定カウントが「１」であると判別された場合には（ステップＳ５４のＹＥＳ）、調整部１９は、イコライザ（EQ）の初期値設定を実行する（ステップＳ５５）。
【００７７】
次に調整部１９は、ＭＯＤ（＝ＲＦ振幅／ＲＦピーク）の測定を実行する（ステップＳ５６）。そして調整部１９は、ＭＯＤが閾値Ｔ２を下回っているか否かを判別する（ステップＳ５７）。下回っていると判別された場合には（ステップＳ５７のＹＥＳ）、調整部１９は、フォーカスバランス（Fbal）の調整、ビームエキスパンダ４２（Bex）の調整、およびチルト（Tilt）の調整を実行する（ステップＳ５８）。
【００７８】
その後、調整部１９は、ＲＦ信号の振幅調整を実行する（ステップＳ５９）。なおステップＳ５７の処理において、ＭＯＤが閾値を下回っていないと判別された場合には（ステップＳ５７のＮＯ）、調整部１９はステップＳ５８の処理の実行を省略し、ステップＳ５９の処理を実行する。
【００７９】
次に調整部１９は、光ピックアップ部１４をStill-Offとし（ステップＳ６０）、ＢＤＯの精細な調整を実行する（ステップＳ６１）。そして調整部１９は、所定のアドレスリードと最終処理を行い（ステップＳ６２）、その後、測定カウントが「１」であるか否かを判別する（ステップＳ６３）。
【００８０】
測定カウントが「１」であると判別された場合には（ステップＳ６３のＹＥＳ）、調整部１９はジッタの測定を実行する（ステップＳ６４）。そして調整部１９は、測定されたジッタが閾値Ｔ１を下回っているか否かを判別する（ステップＳ６５）。下回っていると判別された場合には（ステップＳ６５のＹＥＳ）、光ディスク装置１は既に必要な再生品質が得られる状態であるとみなされ、今回の設定調整処理は終了する。
【００８１】
またステップＳ６３の処理において、測定カウントが「１」ではないと判別された場合には（ステップＳ６３のＮＯ）、ステップＳ６４およびＳ６５の処理は省略され、今回の設定調整処理は終了する。設定調整処理が終了した後は、スピンアップ処理の残処理が行われ、スピンアップ処理は終了する。
【００８２】
一方、ステップＳ６５の処理において、測定されたジッタが閾値以上であると判別された場合（ステップＳ６５のＮＯ）、調整部１９は、再度ステップＳ５３以降の処理を実行する。またステップＳ５４の処理において、測定カウントが「１」ではないと判別された場合には（ステップＳ５４のＮＯ）、調整部１９は、ＲＦ信号の振幅調整を実行する（ステップＳ７１）。
【００８３】
次に調整部１９は、イコライザの調整を実行し（ステップＳ７２）、光ピックアップ部１４をStill-Offとする（ステップＳ７３）。その後に調整部１９は、フォーカスゲインおよびトラッキングゲインの精細な調整を実行する（ステップＳ７４）。その後、調整部１９は、ステップＳ６１以降の処理を実行する。
【００８４】
第２実施形態においても、設定調整処理の実行中におけるジッタおよびＭＯＤの測定結果によって、設定調整処理の一部の実行が省略されるようになっている。
【００８５】
より詳細に説明すると、ステップＳ７１〜Ｓ７４の処理は、実行されるか否かがジッタの測定結果に依拠する処理（ジッタ依拠処理）となっている。またステップＳ５８の処理は、実行されるか否かがＭＯＤの測定結果に依拠する処理（ＭＯＤ依拠処理）となっている。
【００８６】
そして、ジッタの測定値が閾値Ｔ１を下回ると判別されたときには（ステップＳ６５のＹＥＳ）、ジッタ依拠処理の実行は省略される。またＭＯＤの測定値が閾値Ｔ２を下回らないと判別されたときには（ステップＳ５７のＮＯ）、ＭＯＤ依拠処理の実行は省略される。
【００８７】
第２実施形態においても、ジッタの値が閾値Ｔ１を下回るときには、不要となるジッタ依拠処理の実行を省略し、ＭＯＤの値が閾値Ｔ２を下回らないときには、不要となるＭＯＤ依拠処理の実行を省略する。このように光ディスク装置１は、複数の評価項目の観点から、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略するようになっている。その結果、光ディスク装置１は、再生までの待機時間を極力減らすこと等が可能である。
【００８８】
３．第３実施形態
次に第３実施形態について説明する。なお第３実施形態は、設定調整処理に関する点を除き、基本的には第１実施形態と同様である。以下の説明においては、第１実施形態と異なる部分の説明に重点をおき、共通する部分については説明を省略することがある。
【００８９】
先述した第１実施形態においては、ステップＳ２２の処理でジッタの測定値が閾値Ｔ１を下回らない（ジッタが良好ではない）と判別されると、その後はジッタ依拠処理が最後まで実行されることになる。しかしジッタ依拠処理の実行途中においてジッタが改善される可能性があり、この場合には、ジッタが改善された段階で設定調整処理を終了させても問題が無いと言える。
【００９０】
このようにジッタが改善された段階で設定調整処理を終了させることが出来れば、ジッタ依拠処理が最後まで実行される場合に比べて、再生までの待機時間を減らすこと等が可能となる。特に、多くの時間を要する調整（例えばビームエキスパンダ４２の調整）の実行前に設定調整処理を終了させることが出来れば、その効果は非常に大きいと言える。
【００９１】
そこで第３実施形態の光ディスク装置１は、ジッタ依拠処理の実行途中に再びジッタを測定して、この測定値が閾値Ｔ１を下回ったと判別された場合（ジッタが改善されたと判別された場合）には、設定調整処理を終了させるようになっている。
【００９２】
第３実施形態の光ディスク装置１が行う設定調整処理について、図７に示すフローチャートを参照しながら以下に説明する。なお第３実施形態の設定調整処理は、ステップＳ４２の処理に代えてステップＳ４２ａ〜Ｓ４２ｄの処理が行われる点において、第１実施形態とは相違している。以下、この相違点について説明する。
【００９３】
調整部１９は、ステップＳ４１の処理においてＭＯＤカウントが「１」であると判別された場合には（ステップＳ４１のＹＥＳ）、フォーカスバランス（Fbal）の調整およびチルト（Tilt）の調整を実行する（ステップＳ４２ａ）。その次に調整部１９は、ジッタの測定を実行する（ステップＳ４２ｂ）。
【００９４】
また調整部１９は、今回のジッタの測定値が閾値Ｔ１を下回っているか否かを判別する（ステップＳ４２ｃ）。下回っていると判別された場合には（ステップＳ４２ｃのＹＥＳ）、光ディスク装置１は既に必要な再生品質が得られる状態であるとみなされ、今回の設定調整処理は終了する。その後、スピンアップ処理の残処理が行われ、スピンアップ処理は終了する。
【００９５】
一方、ステップＳ４２ｃの処理において、測定されたジッタが閾値以上であると判別された場合（ステップＳ４２ｃのＮＯ）、調整部１９は、ビームエキスパンダ４２（Bex）の調整を実行する（ステップＳ４２ｄ）。その後に調整部１９は、ステップＳ４３以降の処理を実行する。
【００９６】
第３実施形態の設定調整処理によれば、ジッタ依拠処理の途中におけるジッタに関する判別処理（ステップＳ４２ｃ）により、ジッタが改善されていたと判別された場合には、ステップＳ４２ｄ以降の処理が省略される。そのため、ステップＳ４２ｄ以降の処理が省略される分だけ、設定調整処理を早く終了させることが可能である。
【００９７】
なおこのようなジッタに関する判別処理を行うタイミングは、本実施形態のようにステップＳ４２ａの処理を実行した直後には限られず、他の様々なタイミングとすることが可能である。またこのようなジッタに関する判別処理は、本実施形態のように一回だけでなく、必要に応じて二回以上行われるようになっていても良い。
【００９８】
４．その他
以上に説明した通り、各実施形態に係る光ディスク装置１は、光ディスク２に光を照射し、この光ディスク２からの反射光に応じたＲＦ信号を生成する光ピックアップ部１４と、ＲＦ信号を用いて光ディスク２の再生を実行する機能部（再生部）を備えている。また光ディスク装置１は、光ディスク２の再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理として、ジッタ依拠処理（第１調整処理）およびＭＯＤ依拠処理（第２調整処理）を含む設定調整処理を実行する機能部（調整部）を備えている。
【００９９】
この調整部は、当該再生品質と相関性がある評価項目のうちの、ジッタ依拠処理の実行の要否の指標となるジッタ（第１評価項目）、および、ＭＯＤ依拠処理の実行の要否の指標となるＭＯＤ（第２評価項目）の各値を測定する。そして調整部は、ジッタの値の測定値が閾値を下回ったときに（ジッタの値の測定結果に応じて）、ジッタ依拠処理の実行を省略し、ＭＯＤの値の測定値が閾値を下回らなかったときに（ＭＯＤの値の測定結果に応じて）、ＭＯＤ依拠処理の実行を省略する。
【０１００】
そのため光ディスク装置１によれば、第１評価項目と第２評価項目の複数の評価項目に着目することで、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となっている。なお第１評価項目や第２評価項目については、本発明の主旨を逸脱しない限り、他の評価項目が採用されても構わない。例えば第１評価項目としては、ジッタの代わりに、ＲＦ信号についてのエラーレート等が採用されても構わない。
【０１０１】
また第１実施形態について、光ディスク装置１は、ジッタ依拠処理の一部としてＭＯＤ依拠処理を実行するものであって、ジッタ依拠処理の実行を省略するときには、ＭＯＤの値の測定を省略する。これにより光ディスク装置１は、ＭＯＤの値の測定を省略する分だけ、無駄な処理の実行を抑えることが可能である。
【０１０２】
また光ディスク装置１は、設定調整処理のうちのジッタ依拠処理およびＭＯＤ依拠処理を除く各処理（ステップＳ１１〜Ｓ２０）の実行後に、ジッタの値を測定する。そのため光ディスク装置１によれば、当該各処理の実行後にジッタが良好となる場合に、ジッタ依拠処理の実行を省略することが可能である。
【０１０３】
また光ディスク装置１は、ジッタの値を測定した後に、該測定の結果に基づいてジッタ依拠処理の実行の要否を判別する（ステップＳ２１〜Ｓ２２）。そして光ディスク装置１は、実行不要と判別したときには設定調整処理を終了させるようになっている。これにより設定調整処理に要する時間を短くし、再生までの待機時間を極力減らすこと等が可能となる。
【０１０４】
また本発明の構成は、上記実施形態のほか、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。すなわち、上記実施形態は、全ての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の技術的範囲は、上記実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内に属する全ての変更が含まれると理解されるべきである。また本発明は、光ディスクに関する処理を行う光ディスク装置等に利用することができる。
【符号の説明】
【０１０５】
１      光ディスク装置
２      光ディスク
１０    ディスク処理部
１１    ディスクトレイ
１２    ディスクモータ
１３    クランパ
１４    光ピックアップ部
１５    再生信号生成部
１６    制御部
１７    操作部
１７ａ  操作スイッチ
１７ｂ  リモコン受光部
１７ｃ  リモコン送信機
１８    表示部
１８ａ  ディスプレイ
１９    調整部
２０    筐体
４０    レーザダイオード
４１    ビームスプリッタ
４２    ビームエキスパンダ
４３    レンズアクチュエータ
４４    フォトダイオード
４５    サーボ部
４５ａ  フォーカスサーボ部
４５ｂ  トラッキングサーボ部
４５ｃ  チルトサーボ部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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