(57)【要約】【課題】被写体を適正な露光で撮像可能とする技術を提供する。【解決手段】撮像部と、撮像部による撮像範囲を照明する照明部と、撮像部による第１画像の撮像に先立って、照明部に基準の量の光を放出させるプレ発光を行わせる制御部と、プレ発光に先立って撮像範囲を撮像して得た第２画像とプレ発光時に撮像範囲を撮像して得た第３画像とに基づき、撮像範囲に含まれる各ブロックの明るさがプレ発光により変化した度合いを示す第１比を求める第１算出部と、２以上のブロックをそれぞれ含む複数の第１領域の少なくとも一つが、第１比が第１の閾値以上のブロックを第１の割合以上含むことを検出した場合に、検出した第１領域に含まれる各ブロックについて算出された第１比のうち、第１の閾値以上の第１比の平均値を、撮像範囲に含まれる被写体の明るさのプレ発光による変化の大きさを示す指標値として求める評価部とを有し、制御部は、指標値と基準の量とに基づき、第１画像を撮像する際に照明部に放出させる光の量を調整する。【選択図】      図１
2015012441.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像部と、
前記撮像部によって撮像される撮像範囲を照明する照明部と、
前記撮像部による第１画像の撮像に先立って、前記照明部に基準の量の光を放出させるプレ発光を行わせる制御部と、
前記プレ発光に先立って前記撮像部で前記撮像範囲を撮像することで得られる第２画像と前記プレ発光の際に前記撮像部で前記撮像範囲を撮像することで得られる第３画像とに基づいて、前記撮像範囲に含まれる複数のブロックのそれぞれの明るさが前記プレ発光により変化した度合いを示す第１比を求める第１算出部と、
２以上の前記ブロックをそれぞれ含む複数の第１領域の少なくとも一つに、前記第１比が第１の閾値以上のブロックが第１の割合以上含まれることを検出した場合に、前記検出した第１領域に含まれる各ブロックについて算出された前記第１比のうち、前記第１の閾値以上の値を持つ第１比の平均値を、前記撮像範囲に含まれる被写体の明るさの前記プレ発光による変化の大きさを示す指標値として求める評価部と
を備え、
前記制御部は、前記指標値と前記基準の量とに基づいて、前記撮像部により前記第１画像を撮像する際に前記照明部に放出させる光の量を調整する
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記評価部は、前記第１領域のいずれにおいても前記第１比が前記第１の閾値以上のブロックの割合が前記第１の割合に満たない場合に、前記第１算出部により算出された第１比の平均値を示す第２比を算出し、算出した第２比を前記指標値として前記制御部に渡す
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の撮像装置において、
前記評価部は、
前記複数の第１領域のそれぞれに含まれるブロックについて算出された第１比の平均値が最大となる第１領域において、前記第１比が前記第１の閾値以上のブロックが前記第１の割合以上含まれている場合に、前記平均値が最大となる第１領域を検出する
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項４】
請求項３に記載の撮像装置において、
前記評価部は、
前記平均値が最大となる第１領域において、前記第１比が前記第１の閾値以上のブロックの割合が前記第１の割合に満たない場合に、前記平均値が最大となる第１領域の一部と前記平均値が最大となる第１領域にそれぞれ隣接する少なくとも一つの第１領域の一部とを含めて設定される複数の第２領域から、前記第１比が前記第１の閾値以上のブロックが前記第１の割合以上含まれている第２領域を検出する検出部と、
前記検出部により検出された第２領域に含まれる各ブロックについて前記第１算出部で算出された前記第１比のうち、前記第１の閾値以上の値を持つ第１比の平均値を算出し、算出した平均値を前記指標値として前記制御部に渡す第２算出部とを有する
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項５】
撮像部による第１画像の撮像に先立って、照明部に基準の量の光を放出させるプレ発光を行わせることで、前記撮像部によって撮像される撮像範囲を照明させ、
前記プレ発光に先立って前記撮像部で前記撮像範囲を撮像することで得られる第２画像と前記プレ発光の際に前記撮像部で前記撮像範囲を撮像することで得られる第３画像とに基づいて、前記撮像範囲に含まれる複数のブロックのそれぞれの明るさが前記プレ発光により変化した度合いを示す第１比を求め、
２以上の前記ブロックをそれぞれ含む複数の第１領域の少なくとも一つに、前記第１比が第１の閾値以上のブロックが第１の割合以上含まれることを検出した場合に、前記検出した第１領域に含まれる各ブロックについて算出された前記第１比のうち、前記第１の閾値以上の値を持つ第１比の平均値を、前記撮像範囲に含まれる被写体の明るさの前記プレ発光による変化の大きさを示す指標値として求め、
前記指標値と前記基準の量とに基づいて、前記撮像部により前記第１画像を撮像する際に前記照明部に放出させる光の量を調整する
ことを特徴とする撮像方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置及び撮像方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラなどの撮像装置でフラッシュを用いた撮像を行う前に、撮像時の光量よりも小さい光量の光を放出するプレ発光を行い、プレ発光時に得られた測光結果から算出した被写体の明るさに基づいて、実際の撮像時に放出させる光量を制御する技術がある。
【０００３】
例えば、撮像画面を区分して設けた複数の測光エリア毎に、プレ発光前の明るさに対するプレ発光時の明るさの比を求め、求めた比に応じた重みをつけた加重平均により、被写体の明るさを示す指標を求める技術が提案されている(例えば、特許文献１参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−２７５２６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述の従来技術では、複数の測光エリアについて求めた明るさの比の中の最大値に近い比が得られた測光エリアが撮像画面においてどのように分布しているかにかかわらず、各測光エリアでの明るさの増分の加重平均を被写体の明るさを示す指標として求めている。しかしながら、例えば、被写体の背景に鏡などの反射率の高い物体が点在している場合などには、上述した加重平均で求めた指標は、被写体の明るさを示さない可能性がある。なぜなら、明るさの比の最大値が反射率の高い物体からの光が入射する測光エリアで測定した明るさの比となり、被写体からの光が入射する測光エリアよりも反射率の高い物体からの光が入射する測光エリアでの明るさの増分の指標への影響が大きくなるためである。このため、従来技術によってフラッシュの発光量を制御すると、所望の被写体を適正な露光で撮像することが困難になる場合がある。
【０００６】
本件開示の撮像装置および撮像方法は、被写体を適正な露光で撮像可能とする技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
一つの観点によれば、撮像装置は、撮像部と、撮像部によって撮像される撮像範囲を照明する照明部と、撮像部による第１画像の撮像に先立って、照明部に基準の量の光を放出させるプレ発光を行わせる制御部と、プレ発光に先立って撮像部で撮像範囲を撮像することで得られる第２画像とプレ発光の際に撮像部で撮像範囲を撮像することで得られる第３画像とに基づいて、撮像範囲に含まれる複数のブロックのそれぞれの明るさがプレ発光により変化した度合いを示す第１比を求める第１算出部と、２以上のブロックをそれぞれ含む複数の第１領域の少なくとも一つに、第１比が第１の閾値以上のブロックが第１の割合以上含まれることを検出した場合に、検出した第１領域に含まれる各ブロックについて算出された第１比のうち、第１の閾値以上の値を持つ第１比の平均値を、撮像範囲に含まれる被写体の明るさのプレ発光による変化の大きさを示す指標値として求める評価部とを備え、制御部は、指標値と基準の量とに基づいて、撮像部により第１画像を撮像する際に照明部に放出させる光の量を調整する。
【０００８】
別の観点によれば、撮像方法は、撮像部による第１画像の撮像に先立って、照明部に基準の量の光を放出させるプレ発光を行わせることで、撮像部によって撮像される撮像範囲を照明させ、プレ発光に先立って撮像部で撮像範囲を撮像することで得られる第２画像とプレ発光の際に撮像部で撮像範囲を撮像することで得られる第３画像とに基づいて、撮像範囲に含まれる複数のブロックのそれぞれの明るさがプレ発光により変化した度合いを示す第１比を求め、２以上のブロックをそれぞれ含む複数の第１領域の少なくとも一つに、第１比が第１の閾値以上のブロックが第１の割合以上含まれることを検出した場合に、検出した第１領域に含まれる各ブロックについて算出された第１比のうち、第１の閾値以上の値を持つ第１比の平均値を、撮像範囲に含まれる被写体の明るさのプレ発光による変化の大きさを示す指標値として求め、指標値と基準の量とに基づいて、撮像部により第１画像を撮像する際に照明部に放出させる光の量を調整する。
【発明の効果】
【０００９】
本件開示の撮像装置および撮像方法は、被写体を適正な露光で撮像することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】撮像装置及び撮像方法の一実施形態を示す図である。
【図２】図１に示した撮像装置の動作を示す図である。
【図３】図１に示した撮像範囲における第１領域の設定例を示す図である。
【図４】図１に示した撮像範囲における被写体の位置の例を示す図である。
【図５】撮像装置の別実施形態を示す図である。
【図６】図１及び図５に示した撮像装置のハードウェア構成例を示す図である。
【図７】図６に示した撮像装置の動作を示す図である。
【図８】条件を満たす第２領域を探索する処理を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面に基づいて、実施形態を説明する。
【００１２】
図１は、撮像装置及び撮像方法の一実施形態を示す。図１に示した撮像装置１０は、例えば、デジタルカメラなどである。撮像装置１０は、撮像部１１と、照明部１２と、制御部１３と、第１算出部１４と、評価部１５とを含んでいる。
【００１３】
撮像部１１は、撮像範囲Ｖｗを撮像することで、撮像範囲Ｖｗに対応する画像を生成し、生成した画像を出力する。撮像部１１に搭載される撮像素子は、ＣＣＤ(Charge Coupled Device)やＭＯＳ(Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサなど、２次元的に配列された複数の画素を含むものであれば、個々の画素の形状や配列の仕方はどのようなものでもよい。なお、以下の説明では、撮像部１１が、２次元配列状に配置された矩形の画素を有する撮像素子を搭載している場合について説明する。
【００１４】
照明部１２は、制御部１３からの指示に応じた量の光を放出することで、撮像部１１によって撮像される撮像範囲Ｖｗを照明する。
【００１５】
図１に示した撮像範囲Ｖｗは、人物Ｑｔとともに、人物Ｑｔの背景の一部として、人物Ｑｔよりも反射率の高い物体Ｑｍを含んでいる。物体Ｑｍは、例えば、光沢のあるタイルやプラスチック板、あるいはガラスや鏡などである。以下では、撮像装置１０により撮像範囲Ｖｗを撮像する際に、図１に示した人物Ｑｔに焦点及び露出を合わせる場合について、すなわち、人物Ｑｔを主要な被写体とする場合について説明する。
【００１６】
制御部１３は、撮像部１１による実際の撮像である第１画像の撮像に先立って、照明部１２に基準の量の光を放出させる動作であるプレ発光を行わせる。制御部１３は、例えば、利用者によるレリーズスイッチの操作を示す信号Ｃｍにより、レリーズスイッチの半押し操作を検出したことが示されたタイミングで、上述のプレ発光を行わせることが望ましい。
【００１７】
第１算出部１４は、上述のプレ発光より前の第１タイミングと、プレ発光中の第２タイミングとにおいて、撮像部１１によって撮像範囲Ｖｗをそれぞれ撮像することで得られる第２画像及び第３画像を受ける。
【００１８】
第１タイミングに撮像部１１による撮像で得られる第２画像において、撮像範囲Ｖｗを区切ることで得られる複数のブロックのそれぞれに対応する部分の明るさは、撮像範囲Ｖｗの各ブロックのプレ発光前の明るさを示している。また、第２タイミングに撮像部１１による撮像で得られる第３画像において、上述の複数のブロックのそれぞれに対応する部分の明るさは、撮像範囲Ｖｗの各ブロックのプレ発光時の明るさを示している。
【００１９】
したがって、第１算出部１４は、各ブロックに対応する第２画像の部分の明るさを示す第１計測値で、第３画像の対応する部分の明るさを示す第２計測値を除算することで、各ブロックの明るさがプレ発光により増大した度合いを示す第１比を求めることができる。
【００２０】
第１算出部１４は、例えば、第１タイミングに撮像部１１から受けた第２画像において、撮像範囲Ｖｗの各ブロックに対応する部分に含まれる各画素の明度値を平均することで、各ブロックに対応する第１計測値を取得する。また、第１算出部１４は、第２タイミングに撮像部１１から受けた第３画像において、撮像範囲Ｖｗの各ブロックに対応する部分に含まれる各画素の明度値を平均することで、各ブロックに対応する第２計測値を取得する。そして、第１算出部１４は、各ブロックについて取得した第１計測値で、対応するブロックについて取得した第２計測値を除算することで、上述の複数のブロックそれぞれに対応する第１比を算出する。
【００２１】
第１算出部１４は、例えば、撮像範囲Ｖｗを縦横にそれぞれ３２分割して得られる１０２４個のブロックのそれぞれについて第１比を求め、求めた第１比を評価部１５に渡す。なお、撮像部１１に搭載された撮像素子が撮像に寄与する約４００万個の画素を含んでいる場合に、撮像範囲Ｖｗを１０２４分割して得られるブロックのそれぞれは、第２画像および第３画像において、縦６４画素×横６４画素の矩形の範囲に相当する。
【００２２】
評価部１５は、２以上のブロックを含む領域である第１領域のそれぞれについて、第１算出部１４によって算出された第１比が所定の閾値以上であるブロックが含まれている割合を求める。また、評価部１５は、第１比が所定の閾値以上であるブロックを所定の割合以上含む第１領域を検出し、検出した第１領域に含まれるブロックのうち、第１比が閾値以上であるブロックを抽出し、抽出したブロックについて算出された第１比の平均値を求める。そして、評価部１５は、求めた平均値を、撮像範囲Ｖｗに含まれる被写体の明るさのプレ発光による変動の大きさを示す指標値として制御部１３に渡す。
【００２３】
例えば、評価部１５は、上述した１０２４個のブロックを縦６個×横６個の合計３６個ずつまとめることで設定した第１領域のそれぞれにおいて、所定の閾値以上の値を持つ第１比が算出されたブロックの数と第１領域内のブロックの総数との比として割合を求める。例えば、撮像装置１０によって図１に示した人物Ｑｔを撮影する場合に、評価部１５は、標準的な距離だけ撮像部１１から離れた位置にいる人物の明るさがプレ発光によって変化する度合いを示す値を閾値として用いることが望ましい。すなわち、標準的な距離だけ撮像部１１から離れた位置にいる人物の明るさがプレ発光によって変化する度合いは、評価部１５において、第１比との比較に用いる第１の閾値の一例である。また、評価部１５は、図４および図５を用いて後述する手法によって求めた値を閾値として設定してもよい。
【００２４】
ここで、図１に示した撮像範囲Ｖｗにおいて、第１比が上述の閾値以上であるブロックは、プレ発光により、標準的な被写体と同じ程度またはそれ以上に明るさが増大したブロックである。したがって、図１に示した撮像範囲Ｖｗにおいて、第１比が上述の閾値以上であるブロックは、標準的な被写体と同じ程度またはそれ以上に輝度が変化する物体を含むことを示している。つまり、評価部１５は、第１比が閾値以上であるブロックが第１領域のそれぞれにおいて占める割合を求めることで、第１領域のそれぞれに、プレ発光により、標準的な被写体と同程度以上に輝度が変化する物体が含まれる度合いを評価することができる。
【００２５】
例えば、図１に示した撮像範囲Ｖｗに含まれる人物Ｑｔを主要な被写体として撮像する際に、人物Ｑｔの画像は、撮像範囲Ｖｗに対応する画像において、複数の第１領域をあわせた範囲に相当する大きさを持つ可能性が高い。この場合に、人物Ｑｔの一部を含んでいる第１領域の少なくとも１つについて、評価部１５は、第１比が閾値以上であるブロックの割合が半分を超えていることを示す評価結果を得る可能性が高い。
【００２６】
一方、図１に示した撮像範囲Ｖｗに背景の一部として含まれる物体Ｑｍが人物Ｑｔよりも小さい物体である場合に、これらの物体Ｑｍの画像の面積が、第１領域のいずれかに対応する画像の部分の半分以上を占める可能性は低い。つまり、物体Ｑｍが含まれる第１領域について、評価部１５は、第１比が閾値以上であるブロックの割合が半分未満であることを示す評価結果を得る可能性が高い。
【００２７】
したがって、ある第１領域において、第１比が閾値以上であるブロックの割合が例えば半分以上であれば、当該第１領域に含まれる物体は、撮像装置１０の利用者が撮像の対象としている主要な被写体である可能性が高いと判断できる。つまり、評価部１５は、上述の閾値以上の第１比が算出されたブロックが所定の割合以上を占める第１領域を検出することで、主要な被写体が含まれている第１領域を特定することができる。すなわち、「半分」は、評価部１５において、第１領域の検出に用いる第１の割合の一例である。
【００２８】
また、検出した第１領域に含まれるブロックから、第１比が閾値以上であるブロックを抽出することで、評価部１５は、検出した第１領域のうち、主要な被写体の明るさを反映しているブロックを抽出することができる。そして、評価部１５は、抽出したブロックについて得られた第１比の平均値として、主要な被写体の明るさがプレ発光によって増大した度合いを示す指標値を求めることができる。
【００２９】
また、評価部１５は、求めた指標値を制御部１３に渡すことで、本発光の際に照明部１２に放出させる光の量に、プレ発光によって被写体の明るさが変化した度合いを反映させ、被写体を撮像する際に適正露光となる明るさで照明させることができる。
【００３０】
制御部１３は、上述した評価部１５で得られた指標値とプレ発光で放出された光の量とに基づいて、撮像部１１による実際の撮像を行う際に照明部１２に放出させる光の量、すなわち、本発光の光量の調整を行う。制御部１３は、例えば、評価部１５から指標値を受けた際に、本発光の光量を算出しておき、レリーズスイッチの全押し操作を検出したことを示す信号Ｃｍを受けたタイミングで、算出した光量に基づいて照明部１２による光の放出を制御することが望ましい。
【００３１】
ここで、物体Ｑｍと撮像部１１までの距離と、人物Ｑｔと撮像部１１までの距離とがほぼ同等であり、物体Ｑｍの反射率が人物Ｑｔの反射率よりも大きい場合には、プレ発光により、物体Ｑｍの明るさが人物Ｑｔの明るさよりも大きく増大する場合がある。このような場合でも、物体Ｑｍの画像の面積が、画像において上述の第１領域に相当する範囲の半分以下であれば、評価部１５は、物体Ｑｍが主要な被写体である可能性は低いと判断することができる。即ち、評価部１５は、撮像範囲Ｖｗに人物Ｑｔよりも反射率の高い物体Ｑｍがある場合でも、物体Ｑｍの明るさの影響を受けることなく、主要な被写体である人物Ｑｔのプレ発光による明るさの変化を反映した指標値を取得することができる。なお、評価部１５は、人物Ｑｔの背景に複数の物体Ｑｍがある場合でも、個々の物体Ｑｍが人物Ｑｔに比べて小さければ、各物体Ｑｍの明るさの影響を受けることなく、人物Ｑｔのプレ発光による明るさの変化を反映した指標値を取得することができる。
【００３２】
以上に説明したように、評価部１５による評価結果として得られる指標値は、例えば、人物Ｑｔのプレ発光により明るさが増大する度合い、即ち、主要な被写体の明るさへの照明部１２による照明の効果の大きさを示している。
【００３３】
したがって、撮像範囲Ｖｗを撮像部１１によって実際に撮像することで第１画像を取得する際に、評価部１５によって得られた指標値に基づいて、制御部１３が照明部１２に放出させる光の量を調整することで、主要な被写体を適正な明るさに照明することができる。
【００３４】
これにより、上述の第１算出部１４及び評価部１５を有する図１に示した撮像装置１０は、例えば、人物Ｑｔなどの主要な被写体の背景に、被写体よりも明るく見える物体Ｑｍがある場合でも、被写体を適正な露光で撮像することが可能である。
【００３５】
図２は、図１に示した撮像装置１０の動作を示す。即ち、図２は、図１に示した撮像装置１０による撮像方法の一実施形態を示す。
【００３６】
ステップＳ３００において、第１算出部１４は、撮像部１１により図１に示した撮像範囲Ｖｗを撮像することで得られる第２画像を受け、第２画像に基づいて、撮像範囲Ｖｗに含まれる各ブロックのプレ発光前の明るさを示す第１計測値を取得する。例えば、第１算出部１４は、第２画像において、撮像範囲Ｖｗに含まれる各ブロックに対応する範囲の画素の明度値を平均することで、各ブロックに対応する第１計測値を取得する。
【００３７】
ステップＳ３０１において、制御部１３は、図１に示した信号Ｃｍにより、レリーズスイッチの半押し操作を検出したことが示されたタイミングで、照明部１２にプレ発光を行わせる。
【００３８】
ステップＳ３０２において、第１算出部１４は、撮像部１１により撮像範囲Ｖｗを撮像することで得られる第３画像を受け、第３画像に基づいて、撮像範囲Ｖｗに含まれる各ブロックのプレ発光時の明るさを示す第２計測値を取得する。例えば、第１算出部１４は、第３画像において、撮像範囲Ｖｗに含まれる各ブロックに対応する範囲の画素の明度値を平均することで、各ブロックに対応する第２計測値を取得する。
【００３９】
ステップＳ３０３において、第１算出部１４は、上述のステップＳ３００の処理で得られた第１計測値で、Ｓ３０２の処理で得られた第２計測値を除算することで、各ブロックに対応する第１比を算出する。
【００４０】
ステップＳ３０４において、評価部１５は、上述の第１領域のそれぞれについて、第１比が閾値以上であるブロックの割合を求める。
【００４１】
ステップＳ３０５において、評価部１５は、ステップＳ３０４の処理で、第１比が閾値以上であるブロックの割合が、例えば半分程度に設定された所定の割合以上となる第１領域があるか否かを判定する。
【００４２】
第１比が閾値以上であるブロックを所定の割合以上含む第１領域を検出した場合に（ステップＳ３０５の肯定判定(ＹＥＳ)）、評価部１５は、ステップＳ３０６の処理を実行する。例えば、撮像装置１０の利用者が、図１に示した人物Ｑｔを撮像する場合に、人物Ｑｔの画像の一部を含む少なくとも一つの第１領域において、第１比が閾値以上であるブロックが所定の割合以上となり、これらの第１領域が評価部１５によって検出される。
【００４３】
ステップＳ３０６において、評価部１５は、検出した第１領域に含まれるブロックについて得られた第１比のうち、閾値以上の値を持つ第１比の平均値を被写体の明るさへのプレ発光の効果の大きさを示す指標値として求める。例えば、評価部１５は、検出した第１領域において、第１比が閾値以上であるブロックを抽出し、抽出したブロックについて得られた第１比の平均値を求めることで、被写体の明るさへのプレ発光の効果の大きさを示す指標値を求める。
【００４４】
ステップＳ３０７において、制御部１３は、ステップＳ３０６の処理で求められた指標値を評価部１５から受け、受けた指標値に基づいて、本発光で照明部１２に放出させる光の量、すなわち、本発光の光量を算出する。なお、制御部１３は、指標値の算出に用いられたブロックについて、上述のステップＳ３００，Ｓ３０２の処理でそれぞれ得られた第１計測値及び第２計測値を示す情報を第１算出部１４から受け、受けた情報を本発光の光量の算出に用いてもよい。
【００４５】
一方、第１領域のいずれにおいても第１比が閾値以上であるブロックが所定の割合に満たない場合に(ステップＳ３０５の否定判定(ＮＯ))、評価部１５は、ステップＳ３０８の処理を実行する。例えば、図１に示した撮像部１１が空に向けられている場合や撮像装置１０の利用者が風景を撮像しようとしている場合などに、評価部１５は、第１領域のいずれにおいても第１比が閾値以上であるブロックが所定の割合に満たないと判定する可能性がある。
【００４６】
ステップＳ３０８において、評価部１５は、ステップＳ３０３の処理で全てのブロックについてそれぞれ算出した第１比を平均することで、撮像範囲Ｖｗの全体への平均的な照明の効果の度合いを反映した第２比を算出する。なお、ステップＳ３０８の処理は、上述したステップＳ３０３の処理の完了後であれば実行可能である。したがって、例えば、評価部１５は、ステップＳ３０５の判定処理に先立って、ステップＳ３０４の処理と並行して、ステップＳ３０８の処理を実行してもよい。
【００４７】
ステップＳ３０９において、制御部１３は、評価部１５で得られた指標値として、ステップＳ３０８の処理で求められた第２比を受け、受けた第２比に基づいて、本発光の光量を算出する。
【００４８】
ステップＳ３０５の肯定判定ルートの処理と否定判定ルートの処理とは、ステップＳ３１０において合流する。
【００４９】
ステップＳ３１０において、制御部１３は、上述の信号Ｃｍにより、レリーズスイッチを全押しする操作を検出したことが示されたタイミングで、照明部１２に本発光を行わせることで、撮像部１１による第１画像の撮像と同期して撮像範囲Ｖｗを照明する。ステップＳ３０５の肯定判定ルートの処理の後にステップＳ３１０の処理を行う場合に、制御部１３は、被写体の明るさへのプレ発光の効果の大きさを示す指標値に基づいて、ステップＳ３０７の処理で求めた光量の光を照明部１２に放出させる。一方、ステップＳ３０５の否定判定ルートの処理の後にステップＳ３１０の処理を行う場合に、制御部１３は、撮像範囲Ｖｗの全体への平均的な照明の効果の度合いを反映した第２比に基づいて、ステップＳ３０９の処理で求めた光量の光を照明部１２に放出させる。
【００５０】
即ち、図１に示した撮像装置１０は、標準的な被写体と同程度に照明部１２による照明の影響を受ける被写体が撮像範囲Ｖｗに含まれている場合に、当該被写体への照明の効果の度合いを示す指標値に基づいて調整された光量の本発光を行う。これにより、撮像装置１０は、被写体を適正露光で撮影できる。一方、利用者が風景を撮像しようとしている場合などに、撮像装置１０は、上述の第２比に基づいて調整された光量の本発光を行うことで、撮像範囲Ｖｗの全体への平均的な照明の効果の度合いを反映した光量で撮像範囲Ｖｗを照明することができる。
【００５１】
ところで、撮像装置１０の利用者は、人物Ｑｔを撮像する際に、例えば、図３に示すように、人物Ｑｔを撮像範囲Ｖｗのほぼ中央の下寄りの位置に捉えるように撮像範囲Ｖｗを設定する場合が多い。したがって、撮像範囲Ｖｗの中央部を含む所定の範囲内を区分することで設定した複数の第１領域について、図２に示したステップＳ３０４、Ｓ３０５の処理を行うことで、評価部１５は、人物Ｑｔからの光が入射している第１領域を検出することができる。
【００５２】
図３は、図１に示した撮像範囲Ｖｗにおける第１領域の設定例を示す。なお、図２に示した要素のうち、図１に示した要素と同等のものについては、同一の符号を付して示し、その説明は省略する。
【００５３】
図３において、撮像範囲Ｖｗを実線で囲んだ矩形で示す。また、撮像範囲Ｖｗを点線で区切ることで示した区画のそれぞれはブロックを示す。
【００５４】
また、図３の例では、撮像範囲Ｖｗの中央部を含む１８ブロック×１８ブロックの範囲を縦横にそれぞれ３等分することで、太い破線で囲んで示す９個の領域Ａ１、Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５，Ａ６，Ａ７，Ａ８，Ａ９が設定されている。なお、領域Ａ１〜Ａ９を含む範囲は、図１に示した撮像範囲Ｖｗの上端からの距離Ｌｕよりも、撮像範囲Ｖｗの下端からの距離Ｌｄの方が短くなる位置に設定されることが望ましい。図３の例では、領域Ａ１〜Ａ９を含む範囲の上端と撮像範囲Ｖｗの上端との距離Ｌｕは１０ブロック分の長さに相当し、上述の範囲の下端と撮像範囲Ｖｗの下端との距離は４ブロック分の長さに相当する。
【００５５】
例えば、人物Ｑｔが、撮像範囲Ｖｗにおいて、領域Ａ１，Ａ２，Ａ４，Ａ５，Ａ７，Ａ８に跨って含まれる場合を考える。なお、図３においては、第１比が上述の閾値以上であるブロックを、網掛けを付して示した。この場合に、図１に示した評価部１５は、上述の９つの領域Ａ１〜Ａ９について、閾値以上の第１比が得られたブロックが領域において占める割合を調べることで、人物Ｑｔの少なくとも一部が含まれている第１領域の一つを特定することができる。例えば、図３の例では、評価部１５は、第１比が閾値以上であるブロックを所定の割合以上含んでいる第１領域の一つとして、領域Ａ７を特定することができる。
【００５６】
つまり、評価部１５が、閾値以上の第１比が得られたブロックの割合を調べる範囲を、図３に示したように設定された領域Ａ１〜Ａ９に絞り込んでも、撮像範囲Ｖｗの全体について調べた場合と同等の結果を得ることができる。
【００５７】
すなわち、評価部１５において、撮像範囲Ｖｗの中央部を含む所定の範囲内を区分することで複数の第１領域を設定することで、撮像素子１１１全体を区分して第１領域を設定した場合に比べて、被写体の一部を含む第１領域を効率よく探索することができる。
【００５８】
なお、評価部１５は、撮像範囲Ｖｗの中央部を含む所定の範囲として、上述した１８ブロック×１８ブロックよりも大きい範囲を設定してもよい。また、評価部１５は、撮像範囲Ｖｗの中央部を含む所定の範囲として設定した範囲を、上述した９等分よりも細かく区分することで９個以上の第１領域を設定してもよいし、逆に、９等分よりも粗く区分することで９個未満の第１領域を設定してもよい。
【００５９】
ところで、図１に示した人物Ｑｔは、例えば、図４に示すように、領域Ａ１，Ａ４，Ａ７を含む範囲と領域Ａ２，Ａ５，Ａ８を含む範囲とにほぼ半分ずつ含まれる場合もある。
【００６０】
図４は、図１に示した撮像範囲Ｖｗにおける被写体の位置の例を示す。なお、図４に示した要素のうち、図３に示した要素と同等のものについては、同一の符号を付して示し、その説明は省略する。
【００６１】
図４の例では、領域Ａ１，Ａ２，Ａ４，Ａ５，Ａ７，Ａ８のいずれにおいても、閾値以上の第１比が算出されたブロックの数は、各領域に含まれるブロックの総数（例えば、３６ブロック）の半分以下になっている。つまり、被写体が撮像範囲Ｖｗを区切って設けた複数の第１領域の境界にまたがる位置にある場合に、図１に示した評価部１５では、被写体の一部を含む第１領域を特定することが困難になる可能性がある。
【００６２】
次に、撮像範囲Ｖｗにおける被写体の位置にかかわらず、被写体の一部を含む第１領域を特定可能とする技術について説明する。併せて、被写体の一部を含む第１領域を特定する際に、好適な閾値の例について説明する。
【００６３】
図５は、撮像装置１０の別実施形態を示す。なお、図５に示した構成要素のうち、図１に示した構成要素と同等のものについては、同一の符号を付して示し、その説明は省略する。
【００６４】
図５に示した評価部１５は、保持部１５１と、設定部１５２と、検出部１５３と、第２算出部１５４とを含んでいる。
【００６５】
保持部１５１は、第１算出部１４によって各ブロックに対応して算出された第１比を保持する。例えば、保持部１５１は、各ブロックを示すブロック番号に対応して、第１算出部１４で算出された第１比の値を保持する。
【００６６】
設定部１５２は、複数の第１領域のそれぞれに含まれる各ブロックにつき算出された第１比の平均値が最大となる第１領域にて、当該第１領域に含まれるブロックにつき算出された第１比の中の最大値に基づいて、各ブロックの第１比と比較される閾値を設定する。
【００６７】
例えば、設定部１５２は、まず、図３または図４に示した領域Ａ１〜Ａ９のそれぞれについて、領域Ａ１〜Ａ９のそれぞれに含まれるブロックについて算出された第１比の平均値を求める。次いで、設定部１５２は、領域Ａ１〜Ａ９について求めた平均値を比較し、最大の平均値が得られた領域を特定することで、領域Ａ１〜Ａ９の中で最も被写体の一部が含まれている可能性が高い領域を特定する。更に、設定部１５２は、例えば、特定した領域に含まれるブロックに対応して保持部１５１に保持された第１比の中の最大値に所定の係数を乗じることで、各ブロックの第１比との比較に用いる閾値を決定する。
【００６８】
設定部１５２は、閾値を求める際に用いる係数に、例えば、０．５程度の値を設定することが望ましい。なぜなら、人物などの被写体の反射率や被写体の各部位と撮像部１１との間の距離にはばらつきがあるため、同一の被写体の一部をそれぞれ含むブロックについて算出される第１比はばらつきを持つためである。
【００６９】
被写体が標準的な反射率の人物である場合に、被写体の一部を含むブロックに対応して第１算出部１４で算出される第１比は、プレ発光により最も明るさが増大した箇所に対応する第１比に０．５程度の値を持つ係数を用いて求めた閾値よりも大きい可能性が高い。一方、背景に対応する画像を含むブロックについて得られた第１比は、上述の閾値以下の値を持つ可能性が高い。したがって、０．５程度の値を持つ係数を用いて求めた閾値を用いれば、各ブロックについて求めた第１比と閾値との比較により、被写体からの光が入射しているブロックと背景からの光が入射しているブロックとを判別することができる。
【００７０】
なお、被写体と撮像装置１０との距離や被写体と背景との距離を様々に設定したシーンを撮像した際に、被写体を含むブロックと背景に対応するブロックとについて第１比を求める実験を行い、実験結果に基づいて係数を設定してもよい。例えば、被写体を含むブロックについて求めた第１比の最大値と最小値の比と、被写体を含むブロックについて求めた第１比の最大値と背景に対応するブロックについて求めた第１比の最大値との比との間に含まれる値を上述の係数を設定してもよい。
【００７１】
ここで、設定部１５２は、上述した閾値を求める過程において、第１領域毎に第１比の平均値を求めることで、ブロック毎に算出された第１比を空間的に平均化している。また、設定部１５２は、第１比を空間的に平均化した結果である第１比の平均値が最大となる第１領域を検出し、検出した領域に含まれるブロックに対応する第１比の中の最大値に基づいて閾値を決定する。これにより、設定部１５２は、図４に示した物体Ｑｍなどに対応して得られる局所的に大きな第１比が閾値に反映される可能性を低減することができる。なぜなら、各第１領域について求められる第１比の平均値は、局所的に大きな第１比が得られたブロックを含む第１領域に比べて、例えば、標準的な被写体と同等の値の第１比が得られたブロックが集中して含まれる第１領域の方が大きい値を示すからである。つまり、設定部１５２は、第１比が局所的に大きくなっている箇所の有無にかかわらず、プレ発光により明るさが増大したブロックが他の領域よりも多く集まっている第１領域の情報に基づいて閾値を求め、求めた閾値を検出部１５３に設定することができる。
【００７２】
また、プレ発光により明るさが増大したブロックが他の領域よりも多く集まっている第１領域の情報に基づいて設定された閾値は、撮像範囲Ｖｗに実際に含まれる主要な被写体の明るさがプレ発光により増大した度合いを忠実に反映している可能性が高い。したがって、図５に示した設定部１５２によって設定された閾値を用いることにより、検出部１５３は、標準的な被写体の反射率などに基づいて設定した閾値を用いる場合に比べて、高い精度で主要な被写体の画像を含む領域を特定することができる。
【００７３】
検出部１５３は、まず、上述の設定部１５２により、第１比の平均値が最大であるとして特定された第１領域に含まれる各ブロックにつき算出された第１比と上述の閾値とを比較し、当該第１領域において、第１比が閾値以上であるブロックが占める割合を求める。
【００７４】
第１比の平均値が最大である領域として特定された第１領域が、第１比が閾値以上であるブロックが所定の割合以上であるという条件を満たす場合に、検出部１５３は、当該第１領域に主要な被写体の一部が含まれると判断し、当該第１領域を検出する。そして、検出部１５３は、検出した第１領域を示す情報を第２算出部１５４に渡す。例えば、図４に示した領域Ａ７について求めた割合が例えば半分程度に設定された所定の割合以上である場合に、検出部１５３は、領域Ａ７に含まれる各ブロックを示す情報を第２算出部１５４に渡してもよい。
【００７５】
第２算出部１５４は、まず、検出部１５３から受け取った情報で示された第１領域に含まれる各ブロックに対応する第１比を保持部１５１から読み出す。また、第２算出部１５４は、保持部１５１から読み出した第１比のうち、上述の閾値以上の値を持つ第１比を抽出し、更に、抽出した第１比の平均値を求める。そして、第２算出部１５４は、求めた平均値を被写体の明るさが照明部１２による照明の影響を受ける度合いを示す指標値として制御部１３に送出する。
【００７６】
一方、設定部１５２で特定された第１領域が上述の条件を満たさない場合に、検出部１５３は、次に述べる探索処理を行う。まず、検出部１５３は、特定された第１領域の一部と当該第１領域にそれぞれ隣接する複数の第１領域のそれぞれの一部を含めて第２領域を設定し、設定した第２領域のそれぞれについて、閾値以上の値を持つ第１比が算出されたブロックの割合を求める。
【００７７】
例えば、図４に示した領域Ａ７について求めた割合が所定値未満である場合に、検出部１５３は、領域Ａ７の位置から左右方向及び上下方向にそれぞれずらした位置に設定した第２領域Ａｍについて閾値以上の値を持つ第１比が算出されたブロックの割合を求める。なお、図４に点線で囲んで示した第２領域Ａｍは、領域Ａ７の位置から右方向及び上方向にそれぞれ２ブロックに相当する距離を移動させた位置に設定された第２領域の例を示している。また、図４に二点鎖線で囲んで示した範囲Ｅｔは、図５に示した検出部１５３が上述した第２領域Ａｍを設定する位置を移動させることにより、上述の条件を満たす第２領域を探索する探索範囲の例を示している。
【００７８】
つまり、検出部１５３は、設定部１５２で特定された第１領域の位置を基準として第２領域Ａｍを設定する位置を移動させながら、第１比が閾値以上であるブロックが所定の割合以上となる第２領域Ａｍを探索する。
【００７９】
また、検出部１５３は、上述の探索の過程で、上述の条件を満たす第２領域Ａｍを検出した場合に、検出した第２領域Ａｍに主要な被写体の一部が含まれると判断する。そして、検出部１５３は、設定部１５２で特定された第１領域を示す情報の代わりに、上述の探索によって検出した第２領域Ａｍに含まれる各ブロックを示す情報を第２算出部１５４に渡す。
【００８０】
例えば、図４に点線で囲んで示した位置に設定した第２領域Ａｍについて、上述の条件を満たすと判定した場合に、検出部１５３は、図４に示した第２領域Ａｍに含まれる各ブロックを示す情報を第２算出部１５４に渡す。そして、第２算出部１５４は、受けた情報で示される各ブロックに対応して保持部１５１に保持された第１比のうち、閾値以上の値を持つ第１比の平均値を求め、求めた値を被写体の明るさが照明部１２による照明の影響を受ける度合いを示す指標値とする。
【００８１】
以上に説明したように、図５に示した評価部１５によれば、撮像範囲Ｖｗにおける主要な被写体の位置にかかわらず、主要な被写体の明るさが照明部１２による照明の影響を受ける度合いを示す指標値を求めることができる。
【００８２】
なお、検出部１５３において、上述の条件を満たす第２領域Ａｍを探索する範囲は、図４に示した範囲Ｅｔに限らず、設定部１５２で特定された第１領域の一部とこの第１領域に隣接する第１領域の一部とを含む第２領域を設定可能な範囲であればよい。例えば、各第１領域の大きさが６ブロック×６ブロックである場合に、検出部１５３は、設定部１５２で特定された第１領域を中心とした１６ブロック×１６ブロックの範囲まで拡張した探索範囲内において第２領域を探索してもよい。
【００８３】
ところで、人物などの標準的な被写体よりも小さい物体が撮像範囲Ｖｗ内に散在しているシーンを撮影する場合などには、検出部１５３により、閾値以上の第１比が得られたブロックの割合が所定値以上という条件を満たす第２領域Ａｍが検出されない可能性がある。そして、検出部１５３により、上述の条件を満たす第２領域Ａｍが検出されない場合に、撮像範囲Ｖｗ内に散在する物体のうちどれが主要な被写体であるのかを判別することは困難である。
【００８４】
そこで、上述の条件を満たす第２領域が検出されない場合に、検出部１５３は、主要な被写体を特定しないと判断する。この場合に、検出部１５３は、制御部１３に渡す指標値の算出に、撮像範囲Ｖｗに含まれる全てのブロックについて算出された第１比を用いる旨を第２算出部１５４に指示する。検出部１５３から受けた指示に応じて、第２算出部１５４は、保持部１５１に各ブロックに対応して保持された第１比を平均することで、画面全体への照明部１２による照明の効果の平均的な大きさを示す指標値を求め、求めた指標値を制御部１３に送出する。
【００８５】
以上に説明した撮像装置１０に含まれる第１算出部１４及び評価部１５は、デジタルカメラなどの撮像装置に搭載されたプロセッサ及びメモリなどのハードウェアにより、例えば、図２に示した撮像方法に基づくプログラムを実行することで実現できる。
【００８６】
図６は、図１及び図５に示した撮像装置１０のハードウェア構成例を示す。なお、図６に示した構成要素のうち、図１または図５に示した構成要素と同等のものについては、同一の符号を付して示し、その説明は省略する。
【００８７】
デジタルカメラ２０は、プロセッサ２１と、メモリ２２と、信号処理回路２３と、撮像素子１１１と、レリーズスイッチＳｒを含む操作パネル２４と、メモリカードスロット２５と、フラッシュ駆動回路２７と、発光素子２８とを含んでいる。更に、デジタルカメラ２０は、撮影レンズ及びシャッタを含む撮像光学系３１と、撮像光学系３１の動作を制御する光学系制御部３２と、表示制御部３３と、液晶表示部３４と、汎用インタフェース３５とを含んでいる。上述のプロセッサ２１と、メモリ２２と、信号処理回路２３と、操作パネル２４と、メモリカードスロット２５と、フラッシュ駆動回路２７と、光学系制御部３２と、表示制御部３３と、汎用インタフェース３５とは、バスを介して互いに接続されている。また、デジタルカメラ２０は、汎用インタフェース３５を介して、コンピュータ装置ＣＯＭと接続可能である。
【００８８】
また、プロセッサ２１と、メモリ２２と、信号処理回路２３と、撮像素子１１１と、フラッシュ駆動回路２７と、発光素子２８とは、撮像装置１０に含まれている。撮像素子１１１と信号処理回路２３とは、図１及び図５に示した撮像部１１に相当する。信号処理回路２３は、撮像素子１１１に含まれる各画素の出力信号をデジタルデータに変換する処理とともに、各画素に対応するデジタルデータに補間処理を適用することにより、図１に示した撮像範囲Ｖｗに対応する画像を生成する処理を行う。また、フラッシュ駆動回路２７及び放電管などの発光素子２８は、図１及び図５に示した照明部１２に相当する。また、図１及び図５に示した制御部１３と第１算出部１４と評価部１５とは、プロセッサ２１が、メモリ２２に格納されたアプリケーションプログラムを実行することによって実現される。
【００８９】
また、プロセッサ２１は、メモリ２２に格納されたデジタルカメラ２０のオペレーティングシステムを実行することにより、操作パネル２４を介して入力される利用者の指示に基づき、光学系制御部３２を介して撮像光学系３１の動作を制御する。また、プロセッサ２１は、上述のオペレーティングシステムを実行することにより、撮像部１１によって撮像された画像を表示制御部３３に渡すとともに、表示制御部３３が画像を液晶表示部３４に表示させる動作を制御する。
【００９０】
また、メモリカードスロット２５は、メモリカード２６などのリムーバブルメディアを装着可能であり、プロセッサ２１は、メモリカードスロット２５を介して、装着したメモリカード２７に記録された情報の読出およびメモリカード２６への記録を行う。
【００９１】
図６に示したメモリ２２は、デジタルカメラ２０のオペレーティングシステムとともに、プロセッサ２１が図２に示した撮像方法に含まれる処理を実行するためのアプリケーションプログラムを格納している。なお、上述の撮像方法に含まれる処理を実行するためのアプリケーションプログラムは、例えば、メモリカード２６に記録して頒布することができる。そして、このメモリカード２６をメモリカードスロット２５に装着して読み込み処理を行うことにより、上述の撮像方法に含まれる処理を実行するためのアプリケーションプログラムを、メモリ２２に格納させてもよい。また、プロセッサ２１は、コンピュータ装置ＣＯＭおよび汎用インタフェース３５を介して、上述の撮像方法に含まれる処理を実行するためのアプリケーションプログラムを取得し、取得したアプリケーションプログラムをメモリ２２に読み込ませてもよい。
【００９２】
図７は、図６に示した撮像装置１０の動作を示す。なお、図７に示したステップのうち、図２に示したステップと同等のものについては、同一の符号を付して示す。図７に示したステップＳ３００〜ステップＳ３１６の各処理は、撮像装置１０による撮像処理のためのアプリケーションプログラムに含まれる処理の一例である。また、これらのステップＳ３００〜ステップＳ３１６の各処理は、例えば、操作パネル２４からレリーズスイッチＳｒを半押しする操作を検出したことを示す情報を受けた際などに、図６に示したプロセッサ２１によって実行される。
【００９３】
ステップＳ３００において、プロセッサ２１は、信号処理回路２３を介して、撮像素子１１１の各画素の出力信号に対応する明度値を示す情報を取得し、取得した情報に基づいて、図３に示した各ブロックのプレ発光前の明るさを示す第１計測値を求める。例えば、プロセッサ２１は、信号処理回路２３を介して、撮像範囲Ｖｗに対応する画像を受け、受けた画像において各ブロックに対応する箇所に含まれる各画素の明度値を平均することで第１計測値を求める。
【００９４】
ステップＳ３０１において、プロセッサ２１は、フラッシュ駆動回路２７を介して発光素子２８に基準の量に対応する駆動信号を供給させることで、プレ発光を行う。
【００９５】
ステップＳ３０２において、プロセッサ２１は、プレ発光中に撮像素子１１１の各画素の出力信号に対応する明度値を示す情報を信号処理回路２３から取得し、取得した情報に基づいて、各ブロックのプレ発光中の明るさを示す第２計測値を求める。例えば、プロセッサ２１は、信号処理回路２３を介して、撮像範囲Ｖｗに対応する画像を受け、受けた画像において各ブロックに対応する箇所に含まれる各画素の明度値を平均することで第２計測値を求める。
【００９６】
ステップＳ３０３において、プロセッサ２１は、図３に示したブロック毎に、ステップＳ３０２で求めた第２計測値をステップＳ３００で求めた第１計測値で除算することで、各ブロックに対応する第１比を算出する。
【００９７】
ステップＳ３００と、ステップＳ３０２及びステップＳ３０３の処理をプロセッサ２１が実行することにより、図１及び図５に示した第１算出部１４の機能を実現することができる。なお、プロセッサ２１は、図６に示したメモリ２２の記憶領域の一部を用いることで、図５に示した保持部１５１に設けてもよい。また、プロセッサ２１は、メモリ２２内に設けた保持部１５１に、ステップＳ３０３の処理で算出した第１比を各ブロックに対応して保持させることが望ましい。更に、プロセッサ２１は、ステップＳ３００の処理で求めた第１計測値及びステップＳ３０２の処理で求めた第２計測値を、上述の保持部１５１に各ブロックに対応して保持させてもよい。
【００９８】
ステップＳ３１１において、プロセッサ２１は、図３に示した領域Ａ１〜領域Ａ９のそれぞれについて、各領域に含まれるブロックについて算出された第１比の平均値を求め、求めた平均値が最大値となる第１領域を特定する。例えば、プロセッサ２１は、まず、領域Ａ１〜領域Ａ９のそれぞれについて、メモリ２２に設けられた保持部１５１から各領域に含まれるブロックのそれぞれに対応する第１比を読み出し、読み出した第１比の平均値を求める。次いで、プロセッサ２１は、各領域について求めた平均値を互いに比較することで、平均値の最大値を見つけ、見つけた最大の平均値に対応する領域を主要な被写体の画像の一部が含まれている可能性の高い第１領域として特定する。
【００９９】
ステップＳ３１２において、プロセッサ２１は、ステップＳ３１１の処理で特定した第１領域に含まれる各ブロックについて算出された第１比に基づいて、ステップＳ３１３の処理で用いる閾値を決定する。例えば、プロセッサ２１は、特定した第１領域に含まれる各ブロックに対応して保持部１５１に保持された第１比の中から最大の第１比を見つけ、見つけた第１比の値に０．５程度に設定された所定の係数を乗じた値を閾値とする。
【０１００】
上述のステップ３１１及びステップＳ３１２の処理をプロセッサ２１が実行することは、図５に示した設定部１５２の実施形態の一つである。
【０１０１】
ステップＳ３１３において、プロセッサ２１は、ステップＳ３１１の処理で特定した第１領域において、ステップＳ３１２の処理で設定した閾値以上の値の第１比が算出されたブロックが占める割合を求める。
【０１０２】
ステップＳ３１４において、プロセッサ２１は、ステップＳ３１３の処理で求めた割合が例えば半分程度に設定された所定の割合以上であるか否かを判定する。
【０１０３】
ステップＳ３１３の処理で求めた割合が所定の割合以上である場合に、プロセッサ２１は、ステップ３１４の肯定判定(ＹＥＳ)ルートに進み、ステップＳ３０６及びステップＳ３０７の処理を実行する。
【０１０４】
ステップＳ３０６において、プロセッサ２１は、ステップＳ３１１の処理で特定した第１領域内の各ブロックにつき算出された第１比のうち、閾値以上の値を持つ第１比の平均値を、プレ発光により、被写体の明るさが変動した大きさを示す指標値として求める。例えば、プロセッサ２１は、メモリ２２に設けられた保持部１５１に上述の領域に含まれる各ブロックに対応して保持された第１比の中から閾値以上の値を持つ第１比を読み出し、読み出した第１比の平均値を求めればよい。
【０１０５】
ステップＳ３０７において、プロセッサ２１は、ステップＳ３０６で求めた指標値に基づいて、実際の撮像時にフラッシュ駆動回路２７から発光素子２８に駆動信号を供給することで放出させる光量を算出する。
【０１０６】
一方、ステップＳ３１３の処理で求めた割合が所定の割合に満たない場合に、プロセッサ２１は、ステップ３１４の否定判定(ＮＯ)ルートに進み、ステップＳ３１５及びステップＳ３１６の処理を実行する。
【０１０７】
ステップＳ３１５において、プロセッサ２１は、図４を用いて説明したように、ステップＳ３１１の処理で特定した第１領域の周囲に設定した探索範囲において、「閾値以上の第１比の割合が所定値以上である」という条件を満たす第２領域を探索する。プロセッサ２１は、図８を用いて説明する手順で、上述の条件を満たす第２領域を探索する処理を実行してもよい。
【０１０８】
ステップＳ３１６において、プロセッサ２１は、ステップＳ３１５の処理により、上述の条件を満たすとされた第２領域が検出されたか否かを判定する。
【０１０９】
ステップＳ３１５の処理により、上述の条件を満たすとされた第２領域が検出された場合に、プロセッサ２１は、ステップＳ３１６の肯定判定ルート(ＹＥＳ)に進み、上述のステップＳ３０６及びステップＳ３０７の処理を実行する。
【０１１０】
プロセッサ２１が、ステップＳ３１６の肯定判定ルートの処理としてステップＳ３０６の処理を実行することで、図５に示した検出部１５３により、条件を満たす領域が検出された場合に、第２算出部１５４が上述の指標値を算出する機能を実現することができる。
【０１１１】
一方、ステップＳ３１５の処理により、上述の条件を満たす第２領域が検出されなかった場合に、プロセッサ２１は、ステップＳ３１６の否定判定ルート(ＮＯ)に進み、ステップＳ３０８及びステップＳ３０９の処理を実行する。
【０１１２】
ステップＳ３０８において、プロセッサ２１は、ステップＳ３０３の処理で撮像範囲Ｖｗに含まれるブロックのそれぞれについて算出された第１比を平均することで、撮像範囲Ｖｗ全体の特徴を平均的に反映した第２比を求める。プロセッサ２１は、例えば、メモリ２２に設けられた保持部１５１に各ブロックに対応して保持された第１比を全て読み出し、読み出した第１比の平均値を第２比として求めればよい。
【０１１３】
ステップＳ３０９において、プロセッサ２１は、ステップＳ３０８で求めた第２比を指標値として用いて、実際の撮像時にフラッシュ駆動回路２７から発光素子２８に駆動信号を供給することで放出させる光量を算出する。
【０１１４】
プロセッサ２１が、ステップＳ３１６の否定判定ルートにおいてステップＳ３０８の処理を実行することで、図５に示した検出部１５３により、条件を満たす第２領域が検出されない場合に、第２算出部１５４が上述の第２比を算出する機能を実現することができる。
【０１１５】
即ち、プロセッサ２１が、ステップ３１４の否定判定ルートにおいて、ステップＳ３１５及びステップＳ３１６の処理を実行することは、図５に示した検出部１５３の実施形態の一つである。
【０１１６】
ステップＳ３１４の肯定判定ルートと否定判定ルートとはステップＳ３１０において合流する。
【０１１７】
ステップＳ３１０において、プロセッサ２１は、ステップＳ３０７あるいはステップＳ３０９の処理で求めた光量に対応する駆動信号の生成をフラッシュ駆動回路２７に指示することで、撮像素子１１１による画像の取得と本発光とを同期して実行させる。例えば、プロセッサ２１は、操作パネル２４からレリーズスイッチＳｒを全押しする操作を検出したことを示す情報を受けたタイミングで、フラッシュ駆動回路２７に駆動信号の生成及び発光素子２８への供給を指示すればよい。
【０１１８】
以上に説明したように、プロセッサ２１が、図７に示した処理を実行することで、プレ発光により被写体の明るさが増大する度合いを示す指標値を求め、求めた指標値に基づいて本発光の光量を調整することができる。これにより、撮像素子１１１による撮像範囲に被写体よりも明るく見える物体が含まれている場合でも、被写体に対する照明の効果を反映した光量で被写体を照明することができるので、被写体を適正な露光で撮像することが可能である。
【０１１９】
次に、図８を用いて、図７に示したステップＳ３１５の処理の一例を説明する。
【０１２０】
図８は、条件を満たす第２領域を探索する処理を示す。図８に示したステップＳ３２１〜ステップＳ３２７の各処理は、撮像装置１０による撮像処理のためのアプリケーションプログラムに含まれる処理の一例であり、図７に示したステップＳ３１５の処理の一例である。また、これらのステップＳ３２１〜ステップＳ３２７の各処理は、図６に示したプロセッサ２１によって実行される。
【０１２１】
ステップＳ３２１において、プロセッサ２１は、図４を用いて説明したようにして、上述したステップＳ３１１の処理で特定した第１領域の位置を基準として、条件を満たす第２領域を探索する範囲である探索範囲を決定する。例えば、プロセッサ２１は、図７に示したステップＳ３１１の処理で特定した第１領域を中心とする縦横１６ブロック四方の範囲と、図４に示した領域Ａ１〜Ａ９を含む範囲とが重複する範囲を探索範囲として設定してもよい。
【０１２２】
ステップＳ３２２において、プロセッサ２１は、ステップＳ３２１の処理で決定した探索範囲の内部において、ステップＳ３１１の処理で特定した第１領域の位置を基準としてブロック単位でずらした位置に新たな第２領域を設定する。プロセッサ２１は、例えば、ステップＳ３１１の処理で特定した第１領域に隣接する第１領域のうち、まず、閾値以上の第１比が得られたブロックの割合が最も高い第１領域に近づく方向にずらした位置に新たな第２領域を設定する処理を行ってもよい。その後、プロセッサ２１は、他の方向にずらした位置に第２領域を設定する処理を行ってもよい。
【０１２３】
ステップＳ３２３において、プロセッサ２１は、ステップＳ３２２の処理で設定された第２領域において、閾値以上の値を持つ第１比が算出されたブロックが占める割合を求める。
【０１２４】
ステップＳ３２４において、プロセッサ２１は、ステップＳ３２３の処理で求めた割合が所定の割合以上であるか否かを判定する。
【０１２５】
ステップＳ３２３の処理で求めた割合が所定の割合以上である場合に、プロセッサ２１は、ステップＳ３２４の肯定判定ルート(ＹＥＳ)に進み、ステップＳ３２５の処理を実行する。
【０１２６】
ステップＳ３２５において、プロセッサ２１は、条件を満たす第２領域を検出したことを示す検出結果を図７に示したステップＳ３１６の処理に渡し、条件を満たす第２領域を探索する処理を終了する。なお、プロセッサ２１は、条件を満たす第２領域を検出したことを示す検出結果とともに、ステップＳ３２３の処理で設定された第２領域を示す情報を図７に示したステップＳ３１６の処理に渡すことが望ましい。
【０１２７】
一方、ステップＳ３２３の処理で求めた割合が所定の割合未満である場合に、プロセッサ２１は、ステップＳ３２４の否定判定ルート(ＮＯ)に進み、ステップＳ３２６の処理を実行する。
【０１２８】
ステップＳ３２６において、プロセッサ２１は、ステップＳ３２１の処理で設定した探索範囲内での探索処理が完了したか否かを判定する。
【０１２９】
探索範囲内にまだ第２領域が設定されていない箇所がある場合に、プロセッサ２１は、ステップＳ３２６の否定判定ルート(ＮＯ)に進み、ステップＳ３２２の処理に戻り、新たに設定した第２領域についての処理を開始する。
【０１３０】
一方、探索範囲内で設定可能な全ての第２領域についての処理が完了している場合に、プロセッサ２１は、ステップＳ３２６の肯定判定ルート(ＹＥＳ)に進み、ステップＳ３２７の処理を実行する。
【０１３１】
ステップＳ３２７において、プロセッサ２１は、探索範囲内において条件を満たす第２領域を検出しないことを示す検出結果を図７に示したステップＳ３１６の処理に渡し、条件を満たす第２領域を探索する処理を終了する。
【０１３２】
上述のステップＳ３２１〜ステップＳ３２７の処理では、プロセッサ２１が、最初に検出した第２領域を示す情報を図７に示したステップＳ３０６の処理に渡すことで、探索範囲全体を探索する場合に比べて、被写体に対応する指標値を高速に求めるができる。
【０１３３】
また、プロセッサ２１は、探索範囲全体について条件を満たす第２領域の探索を行い、探索で検出された第２領域のうち、閾値以上の第１比を持つブロックの割合が最も大きい第２領域、即ち、探索範囲内で最もよく条件を満たす第２領域を見つけてもよい。ここで、探索範囲内で最もよく条件を満たす第２領域は、最初に検出した第２領域に比べて、被写体の一部を多く含んでいる可能性が高い。したがって、探索範囲内で最もよく条件を満たす第２領域の情報に基づいて指標値を求めることで、最初に検出した第２領域の情報に基づいて指標値を求める場合に比べて、被写体の明るさが照明部１２による照明の影響を受ける度合いを高い精度で評価できる。
【０１３４】
以上の詳細な説明により、実施形態の特徴点及び利点は明らかになるであろう。これは、特許請求の範囲が、その精神および権利範囲を逸脱しない範囲で、前述のような実施形態の特徴点および利点にまで及ぶことを意図するものである。また、当該技術分野において通常の知識を有する者であれば、あらゆる改良および変更を容易に想到できるはずである。したがって、発明性を有する実施形態の範囲を前述したものに限定する意図はなく、実施形態に開示された範囲に含まれる適当な改良物および均等物に拠ることも可能である。
【０１３５】
以上の説明に関して、更に、以下の各項を開示する。
(付記１)
撮像部と、
前記撮像部によって撮像される撮像範囲を照明する照明部と、
前記撮像部による第１画像の撮像に先立って、前記照明部に基準の量の光を放出させるプレ発光を行わせる制御部と、
前記プレ発光に先立って前記撮像部で前記撮像範囲を撮像することで得られる第２画像と前記プレ発光の際に前記撮像部で前記撮像範囲を撮像することで得られる第３画像とに基づいて、前記撮像範囲に含まれる複数のブロックのそれぞれの明るさが前記プレ発光により変化した度合いを示す第１比を求める第１算出部と、
２以上の前記ブロックをそれぞれ含む複数の第１領域の少なくとも一つに、前記第１比が第１の閾値以上のブロックが第１の割合以上含まれることを検出した場合に、前記検出した第１領域に含まれる各ブロックについて算出された前記第１比のうち、前記第１の閾値以上の値を持つ第１比の平均値を、前記撮像範囲に含まれる被写体の明るさの前記プレ発光による変化の大きさを示す指標値として求める評価部と
を備え、
前記制御部は、前記指標値と前記基準の量とに基づいて、前記撮像部により前記第１画像を撮像する際に前記照明部に放出させる光の量を調整する
ことを特徴とする撮像装置。
(付記２)
付記１に記載の撮像装置において、
前記評価部は、前記領域のいずれにおいても前記第１比が前記第１の閾値のブロックの割合が前記第１の割合に満たない場合に、前記第１算出部により算出された第１比の平均値を示す第２比を算出し、算出した第２比を前記指標値として前記制御部に渡す
ことを特徴とする撮像装置。
(付記３)
付記１または付記２に記載の撮像装置において、
前記評価部は、
前記複数の第１領域のそれぞれに含まれる各ブロックについて算出された第１比の平均値が最大となる第１領域において、前記第１領域に含まれるブロックについて算出された第１比の中の最大値を特定し、特定した最大値に基づいて前記第１の閾値を設定する設定部を有する
ことを特徴とする撮像装置。
(付記４)
付記１乃至付記３のいずれか一に記載の撮像装置において、
前記評価部は、
前記複数の第１領域のそれぞれに含まれるブロックについて算出された第１比の平均値が最大となる第１領域において、前記第１比が前記第１の閾値以上のブロックが前記第１の割合以上含まれている場合に、前記平均値が最大となる第１領域を検出する
ことを特徴とする撮像装置。
(付記５)
付記４に記載の撮像装置において、
前記評価部は、
前記平均値が最大となる第１領域において、前記第１比が前記第１の閾値以上のブロックの割合が前記第１の割合に満たない場合に、前記平均値が最大となる第１領域の一部と前記平均値が最大となる第１領域にそれぞれ隣接する少なくとも一つの第１領域の一部とを含めて設定される複数の第２領域から、前記第１比が前記第１の閾値以上のブロックが前記第１の割合以上含まれている第２領域を検出する検出部と、
前記検出部により検出された第２領域に含まれる各ブロックについて前記第１算出部で算出された前記第１比のうち、前記第１の閾値以上の値を持つ第１比の平均値を算出し、算出した平均値を前記指標値として前記制御部に渡す第２算出部とを有する
ことを特徴とする撮像装置。
(付記６)
付記１乃至付記５のいずれか一に記載の撮像装置において、
前記第１領域のそれぞれは、前記撮像範囲の中央部を含む所定の範囲を区切ることで設定される
ことを特徴とする撮像装置。
(付記７)
付記６に記載の撮像装置において、
前記所定の範囲は、前記撮像範囲の上端に対応する辺からの距離よりも下端に対応する辺からの距離の方が短くなる位置に設定される
ことを特徴とする撮像装置。
(付記８)
撮像部による第１画像の撮像に先立って、照明部に基準の量の光を放出させるプレ発光を行わせることで、前記撮像部によって撮像される撮像範囲を照明させ、
前記プレ発光に先立って前記撮像部で前記撮像範囲を撮像することで得られる第２画像と前記プレ発光の際に前記撮像部で前記撮像範囲を撮像することで得られる第３画像とに基づいて、前記撮像範囲に含まれる複数のブロックのそれぞれの明るさが前記プレ発光により変化した度合いを示す第１比を求め、
２以上の前記ブロックをそれぞれ含む複数の第１領域の少なくとも一つに、前記第１比が第１の閾値以上のブロックが第１の割合以上含まれることを検出した場合に、前記検出した第１領域に含まれる各ブロックについて算出された前記第１比のうち、前記第１の閾値以上の値を持つ第１比の平均値を、前記撮像範囲に含まれる被写体の明るさの前記プレ発光による変化の大きさを示す指標値として求め、
前記指標値と前記基準の量とに基づいて、前記撮像部により前記第１画像を撮像する際に前記照明部に放出させる光の量を調整する
ことを特徴とする撮像方法。
【符号の説明】
【０１３６】
１０…撮像装置；１１…撮像部；１２…照明部；１３…制御部；１４…第１算出部；１５…評価部；１１１…撮像素子；１５１…保持部；１５２…設定部；１５３…検出部；１５４…第２算出部；２１…プロセッサ；２２…メモリ；２３…信号処理回路；２４…操作パネル；２５…メモリカードスロット；２６…メモリカード；２７…フラッシュ駆動回路；２８…発光素子；３１…撮像光学系；３２…光学系制御部；３３…表示制御部；３４…液晶表示分；３５…汎用インタフェース；Ｖｗ…撮像範囲；Ｑｔ…人物；Ｑｍ…物体；Ｃｍ…レリーズスイッチの操作を示す信号；ＣＯＭ…コンピュータ装置；Ｓｒ…レリーズスイッチ；Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５，Ａ６，Ａ７，Ａ８，Ａ９…第１領域；Ａｍ…第２領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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