(57)【要約】  同期されたデータパケットの所定のＵＬ試験シーケンスを使用しながら、試験測定を事前に設定することによって、及び被試験デバイス（ＤＵＴ）からデータパケットの部分を多重化し、かつインターリーブすることによって複数のデジタルデータパケットトランシーバを同時に試験する方法。
2013509027.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のデータ信号トランスミッタを、データ信号解析器を用いて試験する方法であって、
複数Ｎ個のパケットデータ信号を、対応する複数Ｎ個のデータ信号トランスミッタから同時に受信する工程であって、
前記複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルを有し、
前記複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれが、信号インターバル持続時間Ｉを有し、
前記複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれの間に、対応するパケットデータ信号特性を有する、工程と、
前記複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれから、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの対応する部分をキャプチャする工程であって、該工程により、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分を提供するところの工程であって、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの前記複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれが、キャプチャされた信号持続時間Ｃを有する、工程と、
前記複数のシーケンシャル信号インターバルの前記複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれを、これらと関連する試験持続時間Ｔを有する信号試験に従って処理する工程であって、
前記キャプチャされた信号持続時間Ｃが、
前記試験持続時間Ｔが前記信号インターバル持続時間Ｉの部分Ｉ／Ｎより大きい場合には前記試験持続時間Ｔ以上であり、
前記試験持続時間Ｔが前記信号インターバル持続時間Ｉの前記部分Ｉ／Ｎ以下である場合には前記信号インターバル持続時間Ｉの前記部分Ｉ／Ｎ以下である、工程と、を含む、方法。
【請求項２】
前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルが、対応する複数のシーケンシャル信号のタイムスロットを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記対応する複数のパケットデータ信号の前記複数のデータ信号トランスミッタによって、同時送信を開始する工程を更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記対応する複数のパケットデータ信号の前記複数のデータ信号トランスミッタによって、同期送信を開始する工程を更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記複数のデータ信号トランスミッタのそれぞれにトリガー信号を同時に送信することによって、前記対応する複数のパケットデータ信号の前記複数のデータ信号トランスミッタによる送信を開始する工程を更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの前記複数Ｎ個のキャプチャされた部分が、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個の時間インターリーブされた部分を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
複数のデータ信号トランスミッタを、データ信号解析器を用いて試験する方法であって、該方法は、
複数Ｎ個のパケットデータ信号を、対応する複数Ｎ個のデータ信号トランスミッタから同時に受信する工程であって、
前記複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルを有し、
前記複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれが、信号インターバル持続時間Ｉを有し、
前記複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれの間に、対応するパケットデータ信号特性を有する、工程と、
前記複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれから、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの対応する部分をキャプチャする工程であって、該工程により、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分を提供するところの工程であって、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの前記複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれが、キャプチャされた信号持続時間Ｃを有する、工程と、
前記複数のシーケンシャル信号インターバルの前記複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれを、これらと関連する試験持続時間Ｔを有する信号試験に従って処理する工程であって、
前記キャプチャされた信号持続時間Ｃが、前記試験持続時間Ｔが前記信号インターバル持続時間Ｉの部分Ｉ／Ｎより大きい場合には前記試験持続時間Ｔ以上である、工程と、を含む、方法。
【請求項８】
前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルが、対応する複数のシーケンシャル信号のタイムスロットを含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記対応する複数のパケットデータ信号の前記複数のデータ信号トランスミッタによって、同時送信を開始する工程を更に含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
前記対応する複数のパケットデータ信号の前記複数のデータ信号トランスミッタによって、同期送信を開始する工程を更に含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１１】
前記複数のデータ信号トランスミッタのそれぞれにトリガー信号を同時に送信することによって、前記対応する複数のパケットデータ信号の前記複数のデータ信号トランスミッタによる送信を開始する工程を更に含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１２】
前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの前記複数Ｎ個のキャプチャされた部分が、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個の時間インターリーブされた部分を含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１３】
複数のデータ信号トランスミッタを、データ信号解析器を用いて試験する方法であって、該方法は、
複数Ｎ個のパケットデータ信号を、対応する複数Ｎ個のデータ信号トランスミッタから同時に受信する工程であって、
前記複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルを有し、
前記複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれが、信号インターバル持続時間Ｉを有し、
前記複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれの間に、対応するパケットデータ信号特性を有する、工程と、
前記複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれから、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの対応する部分をキャプチャする工程であって、該工程により、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分を提供するところの工程であって、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの前記複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれが、キャプチャされた信号持続時間Ｃを有する、工程と、
前記複数のシーケンシャル信号インターバルの前記複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれを、これらと関連する試験持続時間Ｔを有する信号試験に従って処理する工程であって、
前記キャプチャされた信号持続時間Ｃが、前記試験持続時間Ｔが前記信号インターバル持続時間Ｉの前記部分Ｉ／Ｎ以下である場合には前記信号インターバル持続時間Ｉの前記部分Ｉ／Ｎ以下である、工程と、を含む、方法。
【請求項１４】
前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルが、対応する複数のシーケンシャル信号のタイムスロットを含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記対応する複数のパケットデータ信号の前記複数のデータ信号トランスミッタによって、同時送信を開始する工程を更に含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１６】
前記対応する複数のパケットデータ信号の前記複数のデータ信号トランスミッタによって、同期送信を開始する工程を更に含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１７】
前記複数のデータ信号トランスミッタのそれぞれにトリガー信号を同時に送信することによって、前記対応する複数のパケットデータ信号の前記複数のデータ信号トランスミッタによる送信を開始する工程を更に含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１８】
前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの前記複数Ｎ個のキャプチャされた部分が、前記対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個の時間インターリーブされた部分を含む、請求項１３に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
関連出願の相互参照
本出願は、米国仮特許出願第６１／２５２，８９３号（２００９年１０月１９日出願）に基づくものであり、その全体は参照により組み込まれる。
【０００２】
発明の分野
本発明は、所定のアップリンク（ＵＬ）試験シーケンスを利用し、ＵＬ試験シーケンスの異なるセグメントに関して試験機器測定を構成し、かつそれによって全体の試験時間を減少させながら、複数のデジタル信号トランシーバを並列（パラレル）で試験するためのシステム及び方法に関する。
【背景技術】
【０００３】
今日の携帯用デバイスの多くは、電話、デジタルデータ転送、地理的位置決め等に無線「接続」を利用している。周波数スペクトル、変調方法、及びパワースペクトル密度における差異にもかかわらず、無線接続性の規格は、同期データパケットを使用してデータを送受信する。
【０００４】
一般に、これらの無線接続性機能の全て（例えばＷｉＦｉ、ＷｉＭＡＸ、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ等）は、これらの接続性機能を有するデバイスが順守しなければならないパラメータや制限を規定する業界認定規格（例えばＩＥＥＥ  ８０２．１１及びＩＥＥＥ  ８０２．１６）によって定義されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
一連のデバイス開発に沿ったいずれかの時点において、デバイスがその規格の仕様内で動作するということを試験し、かつ検証する必要があり得る。試験は時間がかかり、専門機器を必要とし、かかるデバイスの製造コストを増大させる。したがって、要求される完全性に関して妥協することなく、全体の試験時間を低減することができる発明が非常に望ましい。
【０００６】
デバイスが同時に（すなわち並列で）試験されるとき、単位当たりの試験時間はデバイスの数によって低減される。例えば単一のデバイスを試験するのに１００秒かかり、それらの４つを、本質的に同じ測定機器を使用して同時に試験することが１２０秒で実施され得るのであれば、デバイス当たりの試験時間は３０秒となる。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明によると、複数のデジタルデータパケットトランシーバは、同期データパケットの所定のＵＬ試験シーケンスを使用しながら、試験測定を事前に設定することによって、及び被試験デバイス（ＤＵＴ）からデータパケットの部分を多重化し、かつインターリーブすることによって、同時に試験されることができる。
【０００８】
本発明のひとつの実施形態によると、複数のデータ信号トランスミッタを、データ信号解析器を用いて試験する方法は、
複数Ｎ個のパケットデータ信号を、対応する複数Ｎ個のデータ信号トランスミッタから同時に受信する工程であって、
この複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルを有し、
複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれが、信号インターバル持続時間Ｉを有し、
複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれの間に、対応するパケットデータ信号特性を有する、工程と、
対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分を提供するために、複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれから、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの対応する部分をキャプチャする工程であって、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれが、キャプチャされた信号持続時間Ｃを有する、工程と、
複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれを、これらと関連する試験持続時間Ｔを有する信号試験に従って処理する工程であって、
キャプチャされた信号持続時間Ｃが、
試験持続時間Ｔが信号インターバル持続時間Ｉの部分Ｉ／Ｎより大きい場合には試験持続時間Ｔ以上であり、
試験持続時間Ｔが信号インターバル持続時間Ｉの部分Ｉ／Ｎ以下である場合には信号インターバル持続時間Ｉの部分Ｉ／Ｎ以下である、工程と、を含む。
【０００９】
本発明の他の実施形態によると、複数のデータ信号トランスミッタをデータ信号解析器を用いて試験する方法は、
複数Ｎ個のパケットデータ信号を、対応する複数Ｎ個のデータ信号トランスミッタから同時に受信する工程であって、
この複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルを有し、
複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれが、信号インターバル持続時間Ｉを有し、
複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれの間に、対応するパケットデータ信号特性を有する、工程と、
対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分を提供するために、複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれから、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの対応する部分をキャプチャする工程であって、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれが、キャプチャされた信号持続時間Ｃを有する、工程と、
複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれを、これらと関連する試験持続時間Ｔを有する信号試験に従って処理する工程であって、
キャプチャされた信号持続時間Ｃが、試験持続時間Ｔが信号インターバル持続時間Ｉの部分Ｉ／Ｎより大きい場合には試験持続時間Ｔ以上である、工程と、を含む。
【００１０】
本発明の他の実施形態によると、複数のデータ信号トランスミッタをデータ信号解析器を用いて試験する方法は、
複数Ｎ個のパケットデータ信号を、対応する複数Ｎ個のデータ信号トランスミッタから同時に受信する工程であって、
この複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルを有し、
複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれが、信号インターバル持続時間Ｉを有し、
複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれが、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルのそれぞれの間に、対応するパケットデータ信号特性を有する、工程と、
対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分を提供するために、複数Ｎ個のパケットデータ信号のそれぞれから、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの対応する部分をキャプチャする工程であって、対応する複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれが、キャプチャされた信号持続時間Ｃを有する、工程と、
複数のシーケンシャル信号インターバルの複数Ｎ個のキャプチャされた部分のそれぞれを、これらと関連する試験持続時間Ｔを有する信号試験に従って処理する工程であって、
キャプチャされた信号持続時間Ｃが、試験持続時間Ｔが信号インターバル持続時間Ｉの部分Ｉ／Ｎ以下である場合には信号インターバル持続時間Ｉの部分Ｉ／Ｎ以下である、工程と、を含む。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、ＷＣＤＭＡなどの無線規格を採用する被試験デバイス（ＤＵＴ）の送信（ＴＸ）関数を試験するための従来の方法を示す図であり、ここでは送信シーケンスは、解析のためにベクトル信号解析器（ＶＳＡ）に送られる。
【図２】図２は、最大パワーが５タイムスロットにわたって送信され、中域（中間）パワーが５タイムスロットにわたって送信され、最小パワーが５タイムスロットにわたって送信される、所定の試験シーケンスを示す図である。その後、次の７５の単一スロットの持続時間にわたって、信号のパワーは最大パワーから最小パワーの限度まで等しい増分で逓減される。
【図３】図３は、ＵＬパケットにおいて異なる所定のシーケンスを示す図である。ここで、最大パワーは５スロットにわたって送られ、中間パワーは５スロットにわたって送られ、単一スロットのパワーレベルのシーケンスは２つの指定されたパワー限度の間で、まず減少しながら送られ、次いで増加しながら送られる。
【図４】図４は、解析のためにＶＳＡに送られる送信シーケンスを開始するベクトル信号発生器（ＶＳＧ）からトリガー信号を送信するための１つの方法を示す図である。
【図５】図５は、同じ所定のＴＸシーケンスを送信する複数のＤＵＴを示す図である。
【図６】図６は、複数のＤＵＴを示す図であり、ＶＳＧがトリガー信号をそれぞれに対して同時に送信し、所定のＴＸシーケンスを同期する。
【図７】図７は、図６の構成で使用される時分割多重化を示す図である。
【図８】図８は、複数のＤＵＴの並列試験を可能にし得る所定のＴＸシーケンスを示す図である。
【図９】図９Ａないし図９Ｃは、周波数分割複信（ＦＤＤ）キャプチャのための信号の周波数分割多重化を示す。
【図１０】図１０Ａないし図１０Ｃは、複数のＤＵＴを試験するための、ＦＤＤキャプチャと組み合わされた時分割複信（ＴＤＤ）を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下の詳細な説明は、添付図面を参照して本発明の例示の実施形態を説明するものである。かかる説明は、本発明の範囲に関して例示的なものであり、限定するものではないことを意図している。かかる実施形態は、当業者が本発明を実施することを可能にするように十分詳細に説明されており、本発明の思想又は範囲を逸脱することなく、いくらかの変形によって他の実施形態が実施され得るということが理解されよう。
【００１３】
本発明に係る開示を通じて、文脈から反対であるという明示がない限り、説明するような個々の回路素子は、数において単数の場合もあれば複数の場合もあることが理解されるであろう。例えば「回路（circuit）」及び「回路構成（circuitry）」という用語は、説明される関数を提供するために単一の構成要素又は複数の構成要素のいずれかを含み得るものであり、能動(アクティブ)及び／又は受動(パッシブ)であり、かつ互いに接続されるか又は他の方法で結合されてよい（例えば、１つ又はそれより多くの集積回路（ＩＣ）チップとして）。更に、「信号」という用語は、１つ又はそれよりも多くの電流、１つ又はそれよりも多くの電圧、又はデータ信号を指す場合がある。図面内では、同様の又は関連の素子は、同様の又は関連の英字、数字、又は英数字の表記を有する。更に、本発明は、個別の電子回路構成（好ましくは、１つ又はそれよりも多くのＩＣチップの形態）を使用する実装の関連で説明されているが、このような回路構成の任意の部分の関数が、代替的に、処理される信号周波数又はデータ転送速度により、１つ又はそれよりも多くの適切にプログラムされたプロセッサを使用する実装であってもよい。
【００１４】
図１を参照すると、ＷＣＤＭＡなどの無線規格を試験するための従来の試験システムは、解析のためＶＳＡに信号を送ることによって、ＤＵＴ１０１の送信シーケンスを試験する。典型的なシナリオでは、ＤＵＴ１０１は１つ以上の制御信号（図示せず）を介して、ＶＳＡ１０２によって制御されるであろう。あるいは、ＤＵＴ１０１及びＶＳＡ１０２は、コントローラ（図示せず）、例えばパーソナルコンピュータ（ＰＣ）によって、１つ以上の対応する制御信号（図示せず）を介して制御され得る。
【００１５】
図２を参照して、ＤＵＴ１０１によってＶＳＡ１０２に提供されるＴＸパケットは、先の段落で説明されたように、ある業界標準規格（例えばＷＣＤＭＡ）に従って特定のパラメータ試験を可能にするように事前設定されてもよい。ＵＬシーケンスの第１部分２０１は、特定の持続時間の間に最大パワーで信号を送信する。この場合、例示のためＷＣＤＭＡを用いて、ＵＬはタイムスロットに細分割することができ、ここでは１０ミリ秒の持続時間において、１５の等しいスロットがスロット当たり０．６７ミリ秒を示す。例えば、５スロットの持続時間は５＊０．６７ミリ秒であり、パワースペクトル密度（ＰＳＤ）マスクの評価をサポートするのに十分長いであろう。同様に、次のセットの５スロットにおいて、中間パワー信号２０２が送られ、最小パワー信号部分は次の５スロット持続時間２０３で送られる。次いで、インナーループパワー制御（ＩＬＰＣ）の試験に則り、単一スロットのパワーレベルのシーケンスは１ｄＢｍステップで、＋２５ｄＢｍから−５０ｄＢｍまで送られる。所定のＵＬシーケンスなしでは、これらの１ｄＢｍパワーレベルの持続時間は通常１スロットの時間よりも長く、試験機器（例えば、ＶＳＧ又はＶＳＡ）とＤＵＴとの間の通信は、全体の試験時間に待ち時間を追加しながら、各ステップに先行することに注目されたい。
【００１６】
容易に理解されるように、各タイムスロットは独自のそれぞれのパケットデータ信号特性（例えばピークパワー、平均パワー、パワースペクトル密度、変調等）を有し、これらのそれぞれは、何の試験が望まれているかにより、あるタイムスロットから他のタイムスロットへと異なってもよく、または同様であってもよく、あるいはいずれか他の先行する若しくは後続のタイムスロットのものと異なってもよく、または同様であってもよい。これはまた、任意のＤＵＴによって任意のタイムスロット中に送信される信号に関しても言えることである。
【００１７】
図３を参照すると、異なる所定のＴＸシーケンスが示されており、ここでは２つのパワーレベルのみ（最大及び中間）がシーケンシャル（順次的）な５スロット信号持続時間３０１、３０２にわたって送られ、その後、＋２５ｄＢｍから−５０ｄＢｍに逓減し、次いで−５０ｄＢｍから＋２５ｄＢｍに逓増する単一スロット信号パワーレベルのシーケンスが続く。パワーにおける段階的な減少、次いで段階的な増加を測定することは、デバイスを識別する１つの方法であり、これらのデバイスは一方に対して他方に異なる結果を出現させる。このようなデバイスでは、下降するパワーステップの試験が仕様を満たす一方で、上昇するパワーステップのそれは仕様を満たさない場合がある。したがって、このシーケンスは、例えば、ある規格のＩＬＰＣの仕様の準拠性を試験するために使用され得る。再び、全体のシーケンス３０１、３０２、３０３をサポートするために、試験機器とＤＵＴとの間に介在する通信は必要ではないということに注意されたい。必要なのは、ＵＬシーケンスが適切な試験測定構成と対応するように、試験機器及びＤＵＴが同期されるということである。
【００１８】
図４を参照して、これは、ＶＳＡ４０１及びＶＳＧ４０２の組み合わせを使用する試験システムが、トリガー信号をＤＵＴ４０３へ送信し、所定のＴＸシーケンス４０４を引き出すためにどのように使用され得るかということを示す。
【００１９】
図５を参照して、適切に制御されることがない限り、例えば、ＤＵＴ５０１のそれぞれに（例えば、ＶＳＡ（図示せず）又はＰＣ（図示せず）から）提供される１つ以上の個別の制御信号（図示せず）によって制御されることがない限り、ＤＵＴによって送信されるそれぞれのＴＸシーケンスは同期されず、実質的に同時でさえない。本発明に従って、複数のＴＸシーケンスは、時間において対応するように同期されるのが好ましい。
【００２０】
図６を参照して、ここでは複数のＤＵＴのセットが試験システムに接続され、ＶＳＧはトリガー信号を、信号ルーティング回路構成６０２（例えば信号スイッチング又は合成回路構成）を介して、全てのＤＵＴに同時に送り、それによってそれらの所定のＴＸシーケンスを同期する。これらのシーケンスが異なる周波数で送られる場合は、デジタル信号処理を使用して結果を合計し（sum 602 the results）、信頼性のある試験結果を得ることが可能である（例えば、信号を複数の個々の信号に分離し、それらを別々に解析してもよく、又は他の周知の技法を使用してもよい）。これらのシーケンスが同じ周波数で送信される場合は、時分割多重又は時分割複信（ＴＤＤ）に関する周知の技法を使用して、各ＤＵＴからの信号の部分がキャプチャされ、ＤＵＴの全てが並列に、例えば時間インターリーブされた信号の部分を、解析のためにＶＳＡ６０１に入力することによって試験され得る（以下により詳細に記載される）。
【００２１】
図７を参照して、図６においてＤＵＴ６０４を使用して作られた同時発生ＴＸパケット７０７ａ〜ｄのＵＬ３ａ、ＵＬ３ｂ、ＵＬ３ｃ、ＵＬ３ｄは、スイッチング回路７０８によって多重化され、コントローラ（図示せず）（例えばＶＳＡ又はＰＣ）によって提供される１つ以上の制御信号（図示せず）を介して制御され得る。それによって４つのＴＸパケットのそれぞれの一部分のみが、１パケットの合計持続時間以内で実際にシーケンシャルにスイッチされる。よって、例えば１００マイクロ秒のスイッチサンプリングインターバルにより、各ＴＸパケットの部分はスイッチ７０８によってシーケンシャルに転送され、信号が元のＴＸパケット７０７ａ〜ｄの１００マイクロ秒の部分ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４のシーケンスからなるインターリーブされたパケット７０９を作る。再びここで、このスイッチング方法は、限定的なものではなく、むしろ例示的なものである。例えば、同じ結果を得るために、１：４スイッチが使用されてもよく、一対の１：２スイッチが使用されてもよく、またはプログラム可能な減衰器がプログラムされてもよい。ＶＳＡ７１０は時間インターリーブされたパケット７０９を受信し、同期を介して、例えば、コントローラ（図示せず）（例えばＶＳＡ又はＰＣ）によって提供される１つ以上の制御信号（図示せず）に従って、受信パケットのどの部分が、どのＴＸパケット７０７ａ〜ｄに寄与されたものかを識別することができる。パワーの測定に関しては、例えば、パケットの小部分のみが測定されれば足りる。４つのＴＸパケット７０７ａ〜ｄの小部分をインターリーブすることによって、ＶＳＡは１回の０．６７ミリ秒のインターバル内で、４つのＤＵＴ全ての出力を試験することができる。パワー測定はＤＵＴ較正の重要な構成要素であり、しばしば、より長い試験手順の１つである。時間インターリーブされたキャプチャと組み合わせた並列試験を通じて、較正試験の主要な構成要素を削減することは、試験時間効率に著しい影響を有し得る。
【００２２】
図８を参照すると、この図は、ＴＸパケットが事前に定義され、図７の説明に記載されているように４つのＤＵＴを同時に試験することを可能にし得る１つの方法を示している。インターバル８０１の持続時間は２０スロットの時間であり、長いＰＳＤ試験の要件を満たすために、各ＤＵＴの信号部分をキャプチャし、これを処理するのに十分な時間を与えている。インターバル８０２では、持続時間は再び、同じ理由から２０スロットの時間である。しかしながら、２０タイムスロットを必要としない場合がある。スペクトル特性が、例えば４．２５タイムスロットで測定され得る場合は、たった１７タイムスロット（すなわち４＊４．２５）のみが必要となる。同様に、実施されるべき試験が、１タイムスロット全体より小さいが０．５タイムスロット以上のタイムスロット（例えば０．７５）を必要とする場合、より少ないが依然として複数のタイムスロットが必要となる（例えば４＊０．７５＝３タイムスロット）。ＩＬＰＣが検証されるインターバル８０３において、単一スロットの時間は、１スロットの持続時間中に４つの全てのＤＵＴが試験されるのを可能にするのに十分である。単一のＤＵＴ試験では、典型的にタイムスロットを細分割することができないため、ＰＳＤ測定に関しては５タイムスロットを割り当てることが必要な場合があり、したがって、情報が最小タイムスロットを超えている場合でさえも、送信時間は並列で試験されるデバイスの数に比例して増える必要はない。所定のＴＸシーケンスと、周波数分割又は時分割多重のいずれかとの、この組み合わせは試験時間の削減を達成する。
【００２３】
したがって、時分割多重又は時分割複信（ＴＤＤ）方式において、完了までに時間Ｔを要する試験（例えばＰＳＤ）を実施するために、Ｉのタイムスロット持続時間を有する信号を送信するＮ個のＤＵＴを試験するためには、キャプチャされた信号の持続時間Ｃは、試験時間Ｔがタイムスロット持続時間Ｉの部分Ｉ／Ｎより大きい場合には試験時間Ｔ以上であり、試験時間Ｔがタイムスロット持続時間Ｉのかかる部分Ｉ／Ｎ以下である場合にはタイムスロット持続時間のかかる部分Ｉ／Ｎ以下である。
【００２４】
更に、本発明によると、ＴＤＤ又はシーケンスキャプチャ、上記の技法は、複数のＤＵＴが並列で、しかし異なる周波数で動作するＦＤＤキャプチャと組み合わされてもよい。
【００２５】
図９Ａを参照して、ＦＤＤ動作におけるスペクトル測定を実行する場合、隣接する（周波数において）ＤＵＴからの信号はしばしば、試験目的で測定が行われる周波数範囲と重なる。図９Ｂ〜９Ｃを参照すると、しかしながら、帯域内信号特性（例えばエラーベクトルマグニチュード（ＥＶＭ）等）を評価するために、受信した信号（図９Ｂ）にフィルタ関数を適用することによって、例えば、ハードウェアフィルタを用いて信号をフィルタリングする、又はデジタルフィルタを用いて信号処理することによって、フィルタリングされた信号（図９Ｃ）を作ることができる。以下により詳細に記載するように、これは試験時間を更に削減するのに使用することができる。
【００２６】
上述のように、パワー測定は単一のタイムスロット内でＴＤＤを使用して既に実施され得る。ＦＤＤを使用して、信号をフィルタリングすることによって個々のＤＵＴの信号パワーを測定することもまた可能であるが、それはＴＤＤを使用することよりも有利ではないだろう。なぜなら、信号をフィルタリングするのに必要な解析は単純なパワー測定よりも複雑であることが多く、試験持続時間は変化しないまま（１タイムスロット）だからである。
【００２７】
しかしながら、典型的な信号品質により、必要な測定を実施するために１タイムスロット全体又はそれ以上が一般的に必要とされるＥＶＭ試験に関しては、かかる測定は、ＦＤＤを使用して、異なる周波数でＤＵＴを並列で操作することによって実施され得る。（しかしながら、他の測定、例えばマスクは、上述のように、複数のタイムスロットにわたって操作することの潜在的な利益を提供するＴＤＤの使用を一般的に必要とする。）
【００２８】
図１０Ａを参照して、例えば、周波数ｆ１及びｆ３においてそれぞれ３．５タイムスロットを必要とする２つのマスク測定と、周波数ｆ１、ｆ２、ｆ３及びｆ４において、それぞれ１タイムスロット全体を必要とする４つのＥＶＭ測定が示されている。以下の実施例の目的のために、４つのＤＵＴ、すなわち、ＤＵＴ１、ＤＵＴ２、ＤＵＴ３、ＤＵＴ４（図示せず）が、第１実施例ではシーケンシャルに動作している。マスク測定は上記のとおり４タイムスロットを必要とする。
【００２９】
図１０Ｂを参照して、上記のとおりＴＤＤ技法を使用することは、各マスク測定を１４タイムスロット（４＊３．５）まで低減することができるが、各ＥＶＭ測定は全体にシーケンシャルな測定と同じ時間を必要とする。しかしながら、それにもかかわらず、上記のとおりここで、並列解析ダウンストリームを実施することができることからいくらかの利点が得られる。
【００３０】
図１０Ｃを参照すると、上記のＴＤＤ及びＦＤＤ技法は組み合わせることができる。マスクはＴＤＤ技法を使用して測定され、したがって１４タイムスロット（４＊３．５）を占有する。ＥＶＭは、周波数ローテーション（ｆ１、ｆ２、ｆ３、ｆ４、ｆ１、ｆ２、ｆ３、ｆ４、．．．）と共に、ＦＤＤ技法を使用して測定される。例えば、ＤＵＴ１はまずｆ１において、次いでｆ２において、次いでｆ３において、次いでｆ４においてＥＶＭを測定する。その一方で、ＤＵＴ２はまずｆ２において、次いでｆ３において、次いでｆ４において、次いでｆ１においてＥＶＭを測定する。同様に、ＤＵＴ３はまずｆ３において、次いでｆ４において、次いでｆ１において、次いでｆ２においてＥＶＭを測定し、ＤＵＴ４はまずｆ４において、次いでｆ１において、次いでｆ２において、次いでｆ３においてＥＶＭを測定する。これらの周波数シーケンスは、各ＤＵＴが同時に同じ周波数において送信しない限り、別のように実装可能であることは容易に理解されるだろう。
【００３１】
これらの実施例は、要求されるＥＶＭ測定の数がＤＵＴの数と等しい好ましいシナリオを説明している。要求されるＥＶＭ測定の数がＤＵＴの数未満である場合、より大きな（すなわち、ＤＵＴの数と等しい）数のＥＶＭ測定が、より少ない周波数に対してＥＶＭを読み出すために必要とされる（ＥＶＭが全てのＤＵＴに関して同じ周波数において測定されると仮定した場合）。例えば、４つのＤＵＴを試験すると同時に、３つのＥＶＭ測定（例えばｆ１、ｆ２、及びｆ３の周波数において）が要求される場合、この３つの周波数に関してＥＶＭを読み出すために依然として４つのＥＶＭ測定を要するだろう。
【００３２】
一方で、上記のＦＤＤ技法を実装することは、ＤＵＴハードウェアに更に負荷を与える場合がある。例えば４つのハイポートの周波数を機器に送信することはしばしば、パワーレベルを約６ｄＢ上昇させ、機器の高い線形性を維持することができない限り、相互変調積が生じる可能性がある。しかしながら、周波数計画における最悪の相互変調積は、ＥＶＭ測定に関して最も適した周波数を選択することによって対処され得る。あるいは、測定されるべき同時トランスミッタの数は低減され得る。したがって、より複雑な試験シーケンスが必要とされ（各ＤＵＴが異なるシーケンスを実行）、周波数計画が、測定される送信品質又は他の要求の厳しい測定に影響を与える相互変調積を避けるように実施されるべきではあるが、上記のとおりＦＤＤ及びＴＤＤ技法を組み合わせることは、更に短い試験時間をもたらすことができる（例えばハードウェアフィルタリングを使用することによって、フィルタリングが、別に得られる時間的利益よりも長くかからないという条件で）。
【００３３】
本発明の範囲及び思想から逸脱することなく、本発明の構造及び動作方法の様々な他の修正及び変更を行えることが当業者に明らかであろう。本発明は、特定の好ましい実施形態に関連して説明したが、本発明は、このような特定的な実施形態に不当に限定されるべきではないことが理解されるべきである。以下の特許請求の範囲が本発明の範囲を規定し、それによって本発明の範囲内の構成及び方法とそれらに均等なものが包含されることを意図している。
【図１】
2013509027.tif 000003
【図２】
2013509027.tif 000004
【図３】
2013509027.tif 000005
【図４】
2013509027.tif 000006
【図５】
2013509027.tif 000007
【図６】
2013509027.tif 000008
【図７】
2013509027.tif 000009
【図８】
2013509027.tif 000010
【図９】
2013509027.tif 000011
【図１０】
2013509027.tif 000012
【国際調査報告】
2013509027.tif 000013
2013509027.tif 000014