(57)【要約】  記憶装置搬送ステーションは、第１スロットと、第２スロットと、コンベヤー・アセンブリと、を含む。コンベヤー・アセンブリは、記憶装置が垂直に積層され、かつ互いに離間した関係にあるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。コンベヤー・アセンブリは記憶装置を第１スロットと第２スロットとの間で搬送するように動作可能である。
2013522808.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶装置搬送ステーションであって、
第１スロットと、
第２スロットと、
複数の記憶装置を、該記憶装置が垂直に積層され、互いに離間された関係にあるように受け取り、かつ支持するように構成されるコンベヤー・アセンブリであって、前記コンベヤー・アセンブリは前記記憶装置を前記第１スロットと前記第２スロットとの間で搬送するように動作可能である、コンベヤー・アセンブリと
を含む、記憶装置搬送ステーション。
【請求項２】
前記コンベヤー・アセンブリは、複数の記憶装置をそれらの間に受け取るように配置された一対の連続ループを含む、請求項１に記載の記憶装置搬送ステーション。
【請求項３】
前記連続ループは、ベルト、金網、又はチェーンを含む、請求項２に記載の記憶装置搬送ステーション。
【請求項４】
前記コンベヤー・アセンブリは、
連続ループと、
前記連続ループから外向きに延びる複数のプラットフォームであって、前記複数のプラットフォームのそれぞれは、記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される、複数のプラットフォームと
を含む、請求項１に記載の記憶装置搬送ステーション。
【請求項５】
前記複数のプラットフォームのそれぞれは、
前記連続ループに接続される第１部分と、
前記第１部分に枢動可能に接続される第２部分と
を含む、請求項４に記載の記憶装置搬送ステーション。
【請求項６】
アクチュエータを更に含み、前記アクチュエータは記憶装置を少なくとも部分的に前記コンベヤー・アセンブリから外へ、及び少なくとも部分的に前記第２スロット内へ前進させるように配置される、請求項１に記載の記憶装置搬送ステーション。
【請求項７】
フィーダー・コンベヤーを更に含み、前記フィーダー・コンベヤーは、前記第１スロットを通じた記憶装置の移動を支援するように配置される、請求項１に記載の記憶装置搬送ステーション。
【請求項８】
前記第２スロット内の記憶装置の存在を検出するように配置された検出器と、
センサと通信する制御電子機器と
を更に含み、
前記制御電子機器は、少なくとも一部分において、前記検出器から受信される信号に基づいて前記コンベヤー・アセンブリの動作を制御するように構成される、請求項１に記載の記憶装置搬送ステーション。
【請求項９】
前記コンベヤー・アセンブリは、前記記憶装置を重力下において前記第１スロットと前記第２スロットとの間で搬送するように動作可能である、請求項１に記載の記憶装置搬送ステーション。
【請求項１０】
前記コンベヤー・アセンブリに駆動自在に接続される電動モータと、
前記電動モータと通信する制御電子機器と
を更に含み、
前記制御電子機器は、前記電動モータを介して前記コンベヤー・アセンブリの動作を制御するように構成される、請求項１に記載の記憶装置搬送ステーション。
【請求項１１】
記憶装置試験システムであって、
１つ以上の試験ラックと、
前記試験ラックによって支持される複数の試験スロットであって、前記複数の試験スロットのそれぞれは、試験のために記憶装置を受け取るように構成される、複数の試験スロットと、
記憶装置搬送ステーションと、
前記記憶装置搬送ステーションと前記複数の試験スロットとの間で記憶装置を搬送するように構成される自動機械装置と
を含み、
前記記憶装置搬送ステーションは、
（ｉ）第１スロットと、
（ｉｉ）第２スロットと、
（ｉｉｉ）複数の記憶装置を、該記憶装置が垂直に積層され、互いに離間された関係にあるように受け取り、かつ支持するように構成されるコンベヤー・アセンブリであって、前記コンベヤー・アセンブリは前記記憶装置を前記第１スロットと前記第２スロットとの間で搬送するように動作可能である、コンベヤー・アセンブリと
を含む、記憶装置試験システム。
【請求項１２】
前記第１スロットは、オペレータから記憶装置を受け取るように構成される、請求項１１に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１３】
前記第１スロットは、オペレータから１つずつ記憶装置を受け取るように構成される、請求項１１に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１４】
前記第２スロットは、前記自動機械装置によるサービスのために、記憶装置を提示するように構成される、請求項１１に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１５】
前記第２スロットは、前記自動機械装置によるサービスのために、１つずつ記憶装置を提示するように構成される、請求項１１に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１６】
前記第２スロットは、前記自動機械装置から記憶装置を受け取るように構成され、並びに前記第１スロットは、オペレータによる回収のために記憶装置を提示するように構成される、請求項１１に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１７】
前記第２スロットは、前記自動機械装置から１つずつ記憶装置を受け取るように構成され、前記第１スロットは、オペレータによる回収のために１つずつ記憶装置を提示するように構成される、請求項１１に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１８】
記憶装置試験システムであって、
１つ以上の試験ラックと、
前記試験ラックによって支持される複数の試験スロットであって、前記複数の試験スロットのそれぞれは、試験のために記憶装置を受け取るように構成される、複数の試験スロットと、
入力／出力ステーションと、
前記入力／出力ステーションと前記複数の試験スロットとの間で記憶装置を搬送するように構成される自動機械装置と
を含み、
前記入力／出力ステーションは、
（ｉ）記憶装置を受け取るように、
（ｉｉ）前記受け取った記憶装置を互いに離間した関係で保管するように、及び
（ｉｉｉ）前記自動機械装置によるサービスのために前記記憶装置を提示するように構成される入力搬送ステーションと、
前記自動機械装置から試験された記憶装置を受け取り、前記試験された記憶装置を互いに離間した関係で保管し、かつ回収のために前記試験された記憶装置を提示するように構成される出力搬送ステーションと
を含む、記憶装置試験システム。
【請求項１９】
前記入力搬送ステーションは、オペレータから記憶装置を直接受け取るように構成される、請求項１８に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２０】
前記入力搬送ステーションは、オペレータから１つずつ記憶装置を直接受け取るように構成される、請求項１８に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２１】
前記出力搬送ステーションは、オペレータによる回収のために、試験した記憶装置を提示するように構成される、請求項１８に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２２】
前記出力搬送ステーションは、オペレータによる回収のために、試験した記憶装置を１つずつ提示するように構成される、請求項１８に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２３】
記憶装置を記憶装置試験システムに供給する方法であって、前記方法は、
複数の記憶装置を記憶装置搬送ステーション内に手動でローディングすることと、
自動機械装置を作動させて、前記複数の記憶装置のうちの１つの記憶装置を前記記憶装置搬送ステーションから回収することと、
前記自動機械装置を作動させて、前記１つの記憶装置を前記記憶装置試験システムの試験スロットに送達し、前記１つの記憶装置を前記試験スロット内に挿入することと
を含み、
前記記憶装置搬送ステーションは、複数の記憶装置が互いに離間した関係で維持されるように前記複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される、方法。
【請求項２４】
前記複数の記憶装置を手動でローディングすることは、前記記憶装置を前記記憶装置搬送ステーション内へ１つずつローディングすることを含む、請求項２３に記載の方法。
【請求項２５】
前記複数の記憶装置を手動でローディングすることは、前記搬送ステーションの第１スロットを通じて前記複数の記憶装置を前記記憶装置搬送ステーション内に供給することを含む、請求項２３に記載の方法。
【請求項２６】
前記記憶装置搬送ステーションは、複数の記憶装置が互いに離間した関係で垂直に積層されるように前記複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される、請求項２３に記載の方法。
【請求項２７】
記憶装置搬送ステーションであって、
第１スロットと、
第２スロットと、
複数の記憶装置が互いに離間した関係で維持されるように前記複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される、コンベヤー・アセンブリと
を含み、
前記コンベヤー・アセンブリは、重力下において前記第１スロットと前記第２スロットとの間で前記複数の記憶装置を送達するように構成される、記憶装置搬送ステーション。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
（関連出願の相互参照）
本特許出願は、２０１０年３月２３日出願の米国特許仮出願第６１／３１６，６６７号の利益を主張する。米国特許仮出願第６１／３１６，６６７号は本明細書で完全に説明されたものとして、参照により全て本出願に組み込まれる。
【０００２】
本開示は、記憶装置試験システムへの、及びこれらからの記憶装置のバルク搬送、並びに記憶装置試験システムのための搬送ステーションに関する。
【背景技術】
【０００３】
記憶装置メーカーは典型的には、一連の要件を順守するために製造した記憶装置を試験する。大量の記憶装置を連続的に又は並列式で試験するための、試験機器及び技術が存在する。メーカーは大量の記憶装置をバッチで同時に試験する傾向がある。記憶装置試験システムは典型的には、試験のための記憶装置を受け取る多数の試験スロットを有する１つ以上のラックを含む。
【０００４】
現在の記憶装置試験システムは、オペレータ、ロボットアーム、又はコンベヤーベルトを使用して記憶装置を個々に、試験のために試験システム内にローディングするための搬送位置まで供給する。他の現在の記憶装置のテスターは、トート又は可動式トートを使用して、複数の記憶装置を搬送位置まで同時にロード又はアンロードする。試験システムのロボットアームは、記憶装置を個々又は小さなバッチで搬送位置から回収し、それらを試験のために試験スロットにおいてロードする。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００５】
一般的に、本開示は、記憶装置試験システムへの、及びこれらからの記憶装置のバルク搬送、及び記憶装置試験システムのための搬送ステーションに関する。
【０００６】
一態様において、記憶装置搬送ステーションは、第１位置と、第２位置と、コンベヤー・アセンブリと、を含む。このコンベヤー・アセンブリは、記憶装置が垂直に積層され（例えばカラム内に）、かつ互いに離間した関係にあるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。コンベヤー・アセンブリは記憶装置を第１位置と第２位置との間で搬送するように動作可能である。
【０００７】
別の態様において、記憶装置試験システムは、１つ以上の試験ラックと、この試験ラックによって支持される複数の試験スロットと、記憶装置搬送ステーションと、記憶装置搬送ステーションと試験スロットとの間で記憶装置を搬送するように構成される自動機械装置と、を含む。各試験スロットは、試験のために記憶装置を受け取るように構成される。記憶装置搬送ステーションは、第１位置と、第２位置と、コンベヤー・アセンブリと、を含む。このコンベヤー・アセンブリは、複数の記憶装置が垂直に積層され、かつ互いに離間した関係にあるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。コンベヤー・アセンブリは、第１位置と第２位置との間で複数の記憶装置を搬送するように動作可能である。
【０００８】
更なる態様において、記憶装置試験システムは、１つ以上の試験ラックと、この試験ラックによって支持される複数の試験スロットと、入力／出力ステーションと、記憶装置搬送ステーションと試験スロットとの間で記憶装置を搬送するように構成される自動機械装置と、複数の試験スロットと、を含む。複数の試験スロットは、試験のために記憶装置を受け取るように構成される。入力／出力ステーションは、記憶装置を受け取り、記憶装置を互いに離間した関係で保管し、かつ自動機械装置によるサービスのために記憶装置を提示するように構成される入力搬送ステーションを含む。入力／出力ステーションはまた、自動機械装置から試験された記憶装置を受け取り、試験された記憶装置を互いに離間した関係で保管し、かつ回収のために試験された記憶装置を提示するように構成される出力搬送ステーションを含む。
【０００９】
他の態様によると、方法は、複数の記憶装置を記憶装置搬送ステーション内に手動でローディングすることと、自動機械装置を作動させて、複数の記憶装置のうちの１つの記憶装置を記憶装置搬送ステーションから回収することと、自動機械装置を作動させて、１つの記憶装置を記憶装置試験システムの試験スロットに送達し、１つの試験装置を試験スロット内に挿入することと、を含む。記憶装置搬送ステーションは、複数の記憶装置が互いに離間した関係で維持されるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。
【００１０】
開示される方法の実施形態、システム、及び装置は、１つ以上の以下の特徴を含み得る。
【００１１】
いくつかの実施形態では、コンベヤー・アセンブリは、複数の記憶装置をそれらの間に受け取るように配置された一対の連続ループを含む。連続ループはベルト、金網、又はチェーンを含み得る。
【００１２】
いくつかの場合では、コンベヤー・アセンブリは連続ループ、及びこの連続ループから外側に延在する複数のプラットフォームを含み得る。複数のプラットフォームのそれぞれは、記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成され得る。複数のプラットフォームのそれぞれは、連続ループに接続される第１部分、及び第１部分に枢動可能に接続される第２部分を含み得る。
【００１３】
いくつかの実施形態では、記憶装置搬送ステーションは、少なくとも部分的にコンベヤー・アセンブリから外へ、及び少なくとも部分的に第２スロット内へ記憶装置を前進させるように配置されるアクチュエータを含むこともできる。
【００１４】
いくつかの場合では、記憶装置搬送ステーションは、第１スロットを通じた記憶装置の移動を支援するように配置されるフィーダー・コンベヤーも含み得る。
【００１５】
いくつかの実施形態では、記憶装置搬送ステーションは検出器、及びこの検出器と通信する制御電子機器も含み得る。検出器は、第２スロット内の記憶装置の存在を検出するように配置されてもよく、制御機器は、少なくとも一部分において、検出器から受信される信号に基づいてコンベヤー・アセンブリの動作を、制御するように構成され得る。
【００１６】
いくつかの場合では、コンベヤー・アセンブリは、重力下において第１スロットと第２スロットとの間で複数の記憶装置を搬送するように動作可能である。
【００１７】
いくつかの実施形態では、記憶装置搬送ステーションは、コンベヤー・アセンブリに駆動自在に接続される電動モータ、及びこの電動モータと通信する制御電子機器を含む。制御電子機器は、電動モータを介してコンベヤー・アセンブリの動作を制御するように構成され得る。
【００１８】
いくつかの場合では、第１スロットは、例えばオペレータから１つずつ記憶装置を受け取るように構成される。
【００１９】
いくつかの実施形態では、第２スロットは、自動機械装置によるサービスのために、例えば１つずつ記憶装置を提示するように構成される。
【００２０】
いくつかの場合では、第２スロットは、例えば自動機械装置から１つずつ記憶装置を受け取るように構成され、第１スロットは、オペレータによる回収のために１つずつ記憶装置を提示するように構成される。
【００２１】
いくつかの実施形態では、試験スロットのそれぞれは、試験のために記憶装置を運ぶ記憶装置輸送器を受け取り、かつ支持するように構成される。
【００２２】
いくつかの実施形態では、入力搬送ステーションは、例えばオペレータから１つずつ記憶装置を直接受け取るように構成される。
【００２３】
いくつかの場合では、出力搬送ステーションは、オペレータによる回収のために、試験した記憶装置を例えば１つずつ提示するように構成される。
【００２４】
複数の記憶装置を手動でローディングすることは、記憶装置を記憶装置搬送ステーション内へ１つずつローディングすることを含み得る。
【００２５】
複数の記憶装置を手動でローディングすることは、搬送ステーションの第１スロットを通じて記憶装置を記憶装置搬送ステーション内に搬送することを含み得る。
【００２６】
いくつかの実施形態では、記憶装置搬送ステーションは、記憶装置が互いに離間した関係で垂直に積層されるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。
【００２７】
特定の実施形態では、記憶装置搬送ステーションは、入力ステーション又は出力ステーションの一方として、又はこれらの両方として使用され得る。例えば、入力ステーションはいったん空になると、出力供給ステーションとなることができ、逆もまた同様である。
【００２８】
記憶装置（例えばディスクドライブ）は、カラム内に積層され、底部まで降下し、そこでは、記憶装置はロボットマニピュレータにより保持される記憶装置輸送器によって回収され得る。手動ローディングは単純であり、オペレータには、カラムが満杯になるまで、記憶装置を同じスロット内に何度も繰り返して挿入することのみを必要とする。
【００２９】
同様の方法は記憶装置をアンロードするのに使用されてもよい。ロボットは、記憶装置輸送器を使用しながら、出力カラムの頂部において、出力されたドライブをロードする。カラムが満杯のとき（又は実際にはいつでも）オペレータはカラムから手で１つずつドライブを取り出すことができる。
【００３０】
システムは複数の入力カラム及び出力カラムと、これに加えて、ドライブをロード又はアンロードするための待ち時間を低減させる又は待ち時間なく最大スループットを達成するために、カラムが空であるとき又は満杯であるときを知らせる信号システムを使用することができる。カラムは空間効率がよいため、何千もの記憶装置を比較的小さな空間で待ち行列にすることができる。複数の出力カラムの使用はまた、出力された記憶装置をそれらの試験結果により事前に仕分けするのを可能にする。
【００３１】
記憶装置は単純に互いの上に積層され、重力によって供給され得る。
【００３２】
あるいは、又はそれに加えて、記憶装置は、それらが互いに接触したり、又はスクラッチすることがないように、Ｕ型（ＰＣボード用のカードガイドのような）のガイドに配置することができる。減衰システムは重力が依然として原動力であるのを可能にする。
【００３３】
あるいは、又はそれに加えて、電動式ベルト式エレベータ、チェーン式エレベータ、又ギア駆動エレベータを使用して、記憶装置を移動させてもよい。
【００３４】
あるいは、又はそれに加えて、オペレータはカラムの前面全体を見ることができ、かつ、同じスロット内に繰り返しロード／アンロードするよりもむしろ、個々のスロットに記憶装置を手動でロード／アンロードすることができる。これは、ローディング又はアンローディング時に記憶装置間でエレベータを前進させる必要性を排除する。
【００３５】
あるいは、又はそれに加えて、記憶装置はカラムの底部から、又は底部付近からロードされてもよく、並びにロボットは記憶装置をカラムの上部から、又は上部付近から規則装置を取り出すことができる。これによりカラムは人の到達可能な高さよりも大きいことが可能である。
【００３６】
あるいは、又はそれに加えて、ドライブは記憶装置輸送器と共にロードされてもよく、ロボットはこの組合せを操作する。
【００３７】
あるいは、又はそれに加えて、カラムはベルト又はチェーンを使用しながら、連続ループを形成することができる。それは１つの連続ロード又はアンロードループであってもよく、又は一方の側はロードに使用され、他方はアンロードに使用されてもよい（同期していない場合でも依然として両側にアクセスできるように、前面全体が露出された場合にのみ）。
【００３８】
あるいは、又は追加として、これらの方法はシステムから記憶装置をロード又はアンロードするのに使用されてもよい。
【００３９】
あるいは、又はそれに加えて、これらの方法は、プロセス工程間で単に一部の待機又は緩衝をもたらすために自動化工場で使用されてもよい。例えば、手動ローディング及びアンローディングは、コンベヤー又はロボットインターフェースによって交換されてもよい。
【００４０】
実施形態では、以下の利点の１つ以上を挙げることができる。
【００４１】
開示されるシステム、方法、及び装置の実施形態は、記憶装置を記憶装置試験システム内へローディング／記憶装置試験システムからのアンロードに関連する、オペレータの待ち時間を低減するのに役立つことができる。例えば、いくつかの実施形態では、バルクロード／アンロード搬送ステーションは、人間のオペレータが、多くの記憶装置を試験システム内に一度にロード／アンロードするのを可能にし、これによってオペレータは自由にロード／アンロード操作の間に他の仕事を実施することができる。
【００４２】
バルクロード／アンロードシステムは、記憶装置の取り扱いを改善するためのより多くの機会を可能にすることができる。例えば、一人の人間のオペレータが多くの記憶装置を一度にロードした場合（例えば、限定された継続時間の単一のローディング操作中に連続的に）、長期間にわたって連続的に記憶装置をローディングするのと比較して、記憶装置提示エラーにつながる機会の数は低減される。
【００４３】
バルクロード／アンロードシステムはまた、異なる待ち行列又は容器への出力された記憶装置の事前の仕分けを可能にすることができる。
【００４４】
いくつかの実施形態では、開示されたシステム、方法、及び装置は、多くの記憶装置が、入力及び／又は出力のために待ち行列にあることを可能にすることができる。
【００４５】
いくつかの実施形態は、特殊のトート又は他の特殊の容器を使用せずに、例えば記憶装置試験システム内への記憶装置のバルク搬送を可能にする。
【００４６】
いくつかの実施形態では、開示されたシステム、方法、及び装置は、手動ではあるがバルク配置された入力／出力ステーションを使用して、完全に自動化された工場の多くの利点（例えば信頼性、再現性、及び密度）を達成する手段を提供する。
【００４７】
記憶装置のバルク供給は、人間の介入の量を低減することによって、増加したスループットをもたらすのに役立つことができる。
【００４８】
記憶装置のバルク供給は、別個の及び離間したインターバルの時間に対する人間の介入の量を限定することによって、増加したスループットをもたらすのに役立つことができる。これは、例えば長時間にわたって、オペレータが連続的に記憶装置をシステム内に供給する（又はシステムから記憶装置を取り出す）システムと比較して、オペレータが時間と共に注意又は集中を失うという可能性を低減することによって、表示エラーを低減するのを役立つことができる。
【００４９】
記憶装置のバルクの待機／保管は、空間（例えば工場の床面積）の効率のよい利用を可能にすることができる。
【００５０】
他の態様、特徴、及び利点は、明細書、図面、及び請求の範囲にある。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】記憶装置試験システムの斜視図。
【図２】試験スロットアセンブリの斜視図。
【図３Ａ】搬送（入力／出力）ステーションの斜視図。
【図３Ｂ】搬送（入力／出力）ステーションの斜視図。
【図４Ａ】記憶装置試験システムの側面図又は上面図。
【図４Ｂ】記憶装置試験システムの側面図又は上面図。
【図５Ａ】記憶装置搬送器の斜視図。
【図５Ｂ】記憶装置搬送器の斜視図。
【図６Ａ】記憶装置を支持する記憶装置輸送器の斜視図。
【図６Ｂ】試験スロット内への挿入のために位置合わせされた記憶装置を運ぶ、記憶装置輸送器の斜視図。
【図７Ａ】コントローラを含む記憶装置試験システムの斜視図及び上面図。
【図７Ｂ】コントローラを含む記憶装置試験システムの斜視図及び上面図。
【図８Ａ】記憶装置搬送ステーションの上面図及び側面図。
【図８Ｂ】記憶装置搬送ステーションの上面図及び側面図。
【図８Ｃ】線８Ｃ−８Ｃに沿ってとった図８Ａの記憶装置搬送ステーションの断面側面図。
【図８Ｄ】線８Ｄ−８Ｄに沿ってとった図８Ｂの記憶装置搬送ステーションの断面正面図。
【図９Ａ】コンベヤー・アセンブリの正面図。
【図９Ｂ】コンベヤー・アセンブリの平面図。
【図１０Ａ】図８Ｃからとった記憶装置搬送ステーションの第１スロットの詳細な断面側面図。
【図１０Ｂ】図８Ｄからとった記憶装置搬送ステーションの第１スロットの詳細な断面側面図。
【図１１Ａ】図８Ｃからとった記憶装置搬送ステーションの第２スロットの詳細な断面側面図。
【図１１Ｂ】図８Ｄからとった記憶装置搬送ステーションの第２スロットの詳細な断面側面図。
【図１２Ａ】基台を含む、記憶装置搬送ステーションの第２スロットの詳細な断面側面図。
【図１２Ｂ】基台を含む、記憶装置搬送ステーションの第２スロットの詳細な断面正面図。
【図１３Ａ】円筒形のレイアウトを有する、記憶装置試験システムの斜視図及び上面図。
【図１３Ｂ】円筒形のレイアウトを有する、記憶装置試験システムの斜視図及び上面図。
【図１３Ｃ】リフトを示す（試験ラックは取り除かれた状態で）、図１３Ａ及び１３Ｂの記憶装置試験システムの斜視図。
【図１４Ａ】記憶装置搬送ステーションの斜視図。
【図１４Ｂ】図１４Ａの記憶装置搬送ステーションの断面正面図。
【図１４Ｃ】図１４Ａの記憶装置搬送ステーションの断面側面図。
【図１５Ａ】電動式コンベヤー・アセンブリを含む、記憶装置搬送ステーションの断面側面図及び正面図。
【図１５Ｂ】電動式コンベヤー・アセンブリを含む、記憶装置搬送ステーションの断面側面図及び正面図。
【図１６】変位可能な（上昇する）基台を含む、記憶装置搬送ステーションの断面側面図。
【図１７Ａ】記憶装置搬送ステーションの斜視図。
【図１７Ｂ】記憶装置搬送ステーションの断面側面図。
【図１７Ｃ】図１７Ａの記憶装置搬送ステーションのコンベヤー・アセンブリの斜視図。
【図１８Ａ】電動式コンベヤー・アセンブリを含む、記憶装置搬送ステーションの断面側面図及び正面図。
【図１８Ｂ】電動式コンベヤー・アセンブリを含む、記憶装置搬送ステーションの断面側面図及び正面図。
【図１９】置換可能な（上昇する）基台を含む、記憶装置搬送ステーションの断面側面図。
【００５２】
異なる図面における同様の参照符合は同様の要素を示す。
【発明を実施するための形態】
【００５３】
システムの概要
図１に示されるように、記憶装置試験システム１０は、１つ以上の試験ラック１００と、搬送ステーション２００と、搬送ステーション２００（すなわち入力／出力ステーション）と試験ラック１００との間で記憶装置６００を搬送するように動作可能なロボット３００と、を含む。
【００５４】
本明細書で使用されるとき、記憶装置には、ディスクドライブ、ソリッド・ステートドライブ、メモリ装置、及び検証のために非同期試験を必要とする任意の装置が挙げられる。ディスクドライブは一般に、磁気表面を備える高速回転する円盤上にデジタルでコード化されたデータを格納する不揮発性の記憶装置である。ソリッド・ステートドライブ（ＳＳＤ）は、永続データを保存するために半導体メモリを使用するデータ記憶装置である。ＳＲＡＭ又はＤＲＡＭ（フラッシュメモリの代わりに）を使用するＳＳＤは、ＲＡＭドライブと呼ばれることが多い。用語「ソリッド・ステート」は一般にソリッド・ステート電子機器を電気機械的な装置と区別する。
【００５５】
各試験ラック１００は一般的に、複数の試験スロットアセンブリ１２０を含む。図２に示されるように、各試験スロットアセンブリ１２０は、記憶装置輸送器４００及び試験スロット５００を含む。記憶装置輸送器４００は、搬送ステーション２００と試験スロット５００との間で記憶装置６００を輸送するために、例えばロット３００と協働して使用される。
【００５６】
図３Ａ及び３Ｂを参照すると、いくつかの実施では、搬送ステーション２００は、入力搬送ステーション２１０ａ及び出力搬送ステーション２１０ｂを含む。入力搬送ステーション２１０ａは、ハウジング２１２ａ、第１スロット２１４ａ、第２スロット２１６ａ、及びステータス指示ライト２１８ａを含む。第１スロット２１４ａは、例えばオペレータから１つずつ記憶装置６００を受け取るように構成される。受け取られた記憶装置６００は、例えばハウジング２１２ａ内で、垂直の積層体において、かつ互いに離間した関係でバルクで積層される。第２スロット２１６ａは、例えば、ロボット３００によるサービスのために、記憶装置６００のストックを１つずつ提示するように構成される。ステータス指示ライト２１８ａは例えばオペレータに、入力搬送ステーション２１０ａのステータスの視覚的な指示を提供する。例えば、ステータス指示ライト２１８ａは、例えばストックを補給するために、入力搬送ステーション２１０ａにおいて１つ以上の追加の記憶装置６００のための空間が存在するとき、着色された光（例えば黄色の光）を点灯する、又は放射するように構成されてもよい。
【００５７】
出力搬送ステーション２１０ｂはまた、ハウジング２１２ｂ、第１スロット２１４ｂ、第２スロット２１６ｂ、及びステータス指示ライト２１８ｂを含む。第２スロット２１６ｂは、例えばロボット３００から１つずつ記憶装置６００を受け取るように構成される。受け取られた記憶装置６００は、例えば出力搬送ステーション２１０ｂのハウジング２１２ｂ内で、垂直の積層体で、かつ互いに離間した関係でバルクで積層される。出力搬送ステーション２１０ｂの第１スロット２１４ｂは、（例えばオペレータによる）取り出しのために、記憶装置６００のストックを、例えば１つずつ提示するように構成される。ステータス指示ライト２１８ｂはオペレータに視覚的な指示、例えば出力搬送ステーション２１０ｂのステータスを提供する。例えば、ステータス指示ライト２１８ｂは、出力搬送ステーション２１０ｂから回収される準備ができている記憶装置６００（例えば試験された記憶装置）が存在するときに、着色された光（例えば緑色の光）を点灯する、又は放射するように構成され得る。
【００５８】
図４Ａ及び４Ｂに示されるように、ロボット３００はロボットアーム３１０、及びこのロボットアーム３１０の遠位端に配置されたマニピュレータ３１２を含む。マニピュレータの詳細な記載、並びに本明細書に記載のものと適合性のある他の詳細及び特徴は、添付の同時出願の、以下の米国特許出願；割り当てられたシリアル番号第１２／１０４，５３６号を有する表題「Ｔｒａｎｓｆｅｒｒｉｎｇ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅｓ  Ｗｉｔｈｉｎ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍｓ」（代理人整理番号：１８５２３−０７３００１、発明者：Ｅｖｇｅｎｙ  Ｐｏｌｙａｋｏｖら）に見出すことができ、前述の出願の全ての内容は参照により本明細書に組み込まれる。ロボットアーム３１０は、床部表面３１６に垂直である第１軸（図４Ａ）を画定し、ロボットの動作領域３１８内で、第１軸３１４を中心に所定の弧を通って回転し、第１軸３１４から放射状に延びるように動作し得る。
【００５９】
ロボット３００はガイドシステム３２０上に配置されてもよい。いくつかの実施（implantation）では、ガイドシステム３２０は、試験ラック１００に隣接して沿ってロボット３００を動かすように構成されるリニアアクチュエータを含み、ロボット３００が２つ以上のラック１００の試験スロット５００をサービスするのを可能にする。他の実施において、ロボット３００は、ガイドシステム３２０に沿ってロボット３００を動かすように構成される駆動システム３２２を含んでもよい。例えば、ロボット３００は、レールシステム３２４上に設置されてもよく、駆動システム３２２はこのレールシステム３２４に沿ってロボット３００を動かす。ガイドシステム３２０は拡張可能であってもよく（例えば長さにおいて）、かつ複数のロボットを収容して、例えば、より長い試験ラック１００を支持するために、又は各ロボット３００によってサービスされる面積を更に低減して、スループットを増加させ、及び／又はより短い試験時間に適応してもよい。
【００６０】
ロボットアーム３１０は、入力搬送ステーション２１０ａと試験ラック１００との間で記憶装置６００を搬送することによって、各試験スロット５００を個別にサービスするように構成される。特に、ロボットアーム３１０は、マニピュレータ３１２を用いて試験スロット５００のうちの１つから記憶装置輸送器４００を取り出し、次いで記憶装置輸送器４０を用いて、記憶装置輸送器４００を用いて、入力搬送ステーション２１０ａにおいて第２スロット２１６ａから記憶装置６００を拾得し、次いで、その内部の記憶装置６００と共に、記憶装置６００の試験のために記憶装置輸送器４００を試験スロット５００に戻すように構成される。試験の後で、ロボットアーム３１０は、試験スロット５００のうちの１つから記憶装置輸送器４００を、支持された記憶装置６００と共に回収し、それを記憶装置輸送器４００の操作によって（すなわち、マニピュレータ３１２を用いて）出力搬送ステーション２１０ｂの第２スロット２１６ｂに戻す（又は、それを試験スロット５００の別のものに移動させる）。
【００６１】
図５Ａ及び５Ｂを参照して、記憶装置輸送器４００は、フレーム４１０及びクランプ機構４５０を含む。フレーム４１０は面板４１２を含む。図５Ａに示されるように、第１表面４１４に沿って、面板４１２はくぼみ４１６を画定する。くぼみ４１６は、ロボットアーム３１０のマニピュレータ３１２（図４Ａ及び４Ｂ）によって開放可能に係合されてもよく、これはロボットアーム３１０が輸送器４００を把持し、動かすことを可能にする。使用時に、記憶装置輸送器４００のうちの１つは、ロボットアーム３００を用いて試験スロット５００のうちの１つから取り除かれてもよい（例えば把持することにより、ないしは別の方法で輸送器４００のくぼみ４１６をロボット３００のマニピュレータ３１２と係合することによって）。フレーム４１０は、共同でフレーム４１０が、入力搬送ステーション２１０ａの第２スロット２１６ａから記憶装置６００を回収するために使用されるのを可能にする側壁４１８及び基部プレート４２０によって形成される実質的にＵ型の開口部４１５を画定する。
【００６２】
図６Ａ及び６Ｂに図示されるように、記憶装置６００のうちの１つがフレーム４１０内の定位置にある状態で、記憶装置輸送器４００及び記憶装置６００は一緒に、試験スロット５００のうちの１つ内における配置のために、ロボットアーム３１０（図４Ａ）により移動されてもよい。マニピュレータ３１２（図４Ａ）はまた、記憶装置輸送器４００内に配置されるクランプ機構４５０の作動を開始するように構成される。これは、輸送器４００がトート２２０から試験スロット５００に移動する前に、クランプ機構４５０の作動を可能にし、移動中にディスクドライブ輸送器４００に対するディスクドライブ６００の動作を阻止する。試験スロット５００内への挿入の前に、マニピュレータ３１２が再びクランプ機構４５０を作動して、フレーム４１０内のディスクドライブ６００を解放し得る。これは試験スロット５００のうちの１つへの記憶装置輸送器４００の挿入を可能にする。クランプ機構４５０はまた、一度内部に受け取られると、試験スロット５００と係合し、試験スロット５００に対する記憶装置輸送器４００の動作を阻止するように構成され得る。かかる実施において、いったん記憶装置６００が試験スロット５００における試験位置に完全に挿入されると、クランプ機構４５０が再び係合し（例えば、マニピュレータ３１２により）、記憶装置輸送器４００の試験スロット５００に対する動作を阻止する。このような方法で、記憶装置輸送器４００をクランプすることは、試験中の振動の低減を助け得る。クランプ機構４５０の詳細な記載、並びに本明細書に記載のものと適合性のある他の詳細及び特徴は、割り当てられたシリアル番号第１１／９５９，１３３号を有する以下の米国特許出願、表題「ＤＩＳＫ  ＤＲＩＶＥ  ＴＲＡＮＳＰＯＲＴ，ＣＬＡＭＰＩＮＧ  ＡＮＤ  ＴＥＳＴＩＮＧ」（２００７年１２月１８日出願、代理人整理番号：１８５２３−０６７００１、発明者：Ｂｒｉａｎ  Ｍｅｒｒｏｗら）に見出すことができ、その出願の全ての内容は参照により本明細書に組み込まれる。
【００６３】
図７Ａ及び７Ｂを参照して、いくつかの実施形態では、ディスクドライブ試験システム１０はまた、試験ラック１００のそれぞれと通信する少なくとも１つのコントローラ１３０（例えば、演算装置）、搬送ステーション２００、及びロボット３００を含む。コントローラ１３０は、入力搬送ステーション２１０ａ及び出力搬送ステーション２１０ｂのステータスをモニターし、並びに、入力搬送ステーション２１０ａ及び出力搬送ステーション２１０ｂのステータスに少なくとも部分的に基づき、ロボット３００による試験スロット５００のサービスを調整することができる。
【００６４】
搬送（入力／出力）ステーション
上記のように、搬送ステーション２００は入力搬送ステーション２１０ａ及び出力搬送ステーション２１０ｂを含む。入力搬送ステーション２１０ａ及び出力搬送ステーション２１０ｂは両方とも、同じ一般構成を有してもよい。例えば、図８Ａ〜８Ｄは、入力搬送ステーションとして、及び／又は出力搬送ステーションとして使用され得る搬送ステーション２１０を図示する。搬送ステーション２１０は、ハウジング２１２の第１表面２１５に沿って配置される第１スロット２１４を備えるハウジング２１２（例えば、シート金属エンクロージャ）を含む。第１スロット２１４は、オペレータと搬送ステーション２１０との間のインターフェースとして機能する。第２スロット２１６は、ハウジング２１２の第２表面２１７に沿って配置される。第２スロット２１６は、ロボット３００と搬送ステーション２１０との間のインターフェースとして機能する。ハウジング２１２内に配置されるのは、コンベヤー・アセンブリ２２０である。コンベヤー・アセンブリ２２０は、記憶装置６００（例えばディスクドライブ）を受け取り、保管し、かつ第１スロット２１４と第２スロット２１６との間で記憶装置６００を搬送するように動作する。
【００６５】
図９Ａ及び９Ｂに示されるように、コンベヤー・アセンブリ２２０は、連続ループ２２１の平行な対、及び複数のヒンジで連結されたプラットフォーム２２２を含む。プラットフォーム２２２のそれぞれは、ループ２２１の対応する１つに接続されている第１部分２２３ａと、第１部分２２３ａに枢動可能に接続される第２部分２２３ｂとを含む。ヒンジで連結されているプラットフォーム２２２は対で配置され、これによってプラットフォーム２２２の各対はループ２２１の間で記憶装置６００を受け取り、これを支持することができる。複数の記憶装置６００が、ループ２２１の長さに沿って互いに対して離間された関係で支持され、かつ維持され得るように、プラットフォーム２２２の連続的な対はループ２２１の長さに沿って互いから離間される。記憶装置６００の間隔は、記憶装置６００が互いに擦れたり、スクラッチするのを防ぐのを役立つことができる。ループ２２１は、ベルト（例えばプラスチック若しくはゴムベルト）、金網、又はチェーンであってもよい。プラットフォーム２２２は金属（例、シートメタル）又はプラスチックで形成されてもよく、並びに接着剤、溶接又は金属製品（例、ネジ）を介してループ２２１に接続されてもよい。
【００６６】
ループ２２１は回転可能なスピンドル２２４上に設置され、これはループ２２１が回転するのを可能にし、これによって記憶装置６００をループ２２１の長さに沿った位置の間で搬送する。一対のスピンドル２２４（それぞれループ２２１の対応する１つ結合している）は、電動モータ２２５（例えばスピンドルモータ）に、動力伝達系２２６を介して駆動自在に接続される。図９Ｂを参照すると、動力伝達系２２６は、それぞれがスピンドル２２４の関連付けられた１つに接続されている一対の駆動シャフト２２７と、差動装置２２８と、を含む。出力側上では、差動装置２２８は、直角ギア２２９を介して駆動シャフト２２７のそれぞれに駆動自在に接続される。入力側上では、差動装置２２８は、電動モータ２２５のシャフト２３０に駆動自在に接続される。シャフト２３０の回転は、動力伝達系２２６を通じてスピンドル２２４を駆動させる。モータ２２５は、モータ２２５の動作を制御する制御電子機器２３２に電気的に接続される。
【００６７】
図１０Ａ及び１０Ｂを参照して、第１スロット２１４と関連付けられているのは、第１フィーダー・コンベヤー２３３、第１検出器２３４及び第１リニアアクチュエータ２３５（例えばソレノイド）である。これらの装置は、搬送ステーション２１０内へ及び／又はこれから外への記憶装置の動作を支援する。入力搬送ステーション２１０ａとして使用されたとき、オペレータは第１スロット２１４内へ記憶装置６００を挿入するであろう。複数のホイール又はローラー２３６が、第１スロット２１４の下面２３７上に提供され、これは記憶装置６００が、記憶装置６００の底面を摺動することなく、かつ潜在的にこれをスクラッチすることなく、第１スロット２１４の長さに沿って移動するのを可能にする。第１フィーダー・コンベヤー２３３は、第１スロット２１４内に少なくとも部分的に配置され、かつ第１スロット２１４内の記憶装置６００の上面に接触するように配置される。
【００６８】
第１フィーダー・コンベヤー２３３は一般的に、駆動ベルト２３８（例えばゴムベルト）、スピンドル２３９ａ、２３９ｂ、及びスピンドル２３９ａの最初の１つに駆動自在に接続されるモータ２４０（図１０Ｂ）を含む。モータ２４０は、制御電子機器２３２に電気的に接続され、かつこれによって電気的に制御可能である。記憶装置６００が第１スロット２１４に挿入されたとき、それは駆動ベルト２３８によって係合され、駆動ベルト２３８の動作は（これはスピンドル２３９ａ、２３９ｂを介してモータ２４０によって駆動される）は、第１スロット２１４を通じ、並びにコンベヤー・アセンブリ２２０内の所定の位置への記憶装置６００の移動を支援する。
【００６９】
第１検出器２３４は、制御電子機器２３２と協働して動作し、第１スロット２１４を通過する記憶装置６００の位置をモニターする。例えば、搬送ステーション２１０が入力搬送ステーション２１０ａとして使用されるとき、第１検出器２３４は、挿入された記憶装置６００がコンベヤー・アセンブリ２２内で完全に密閉されたかどうか、及びいつ完全に密閉されたかということを決定するために使用される。これに関して、第１検出器２３４は、記憶装置６００が第１スロット２１４内に配置されているかどうかを検出するように位置決めされてもよい。第１検出器２３４から受信した信号に基づいて、記憶装置６００が第１スロット２１４内に位置決めされているということを制御電子機器２３２が決定した場合、第１フィーダー・コンベヤー２３３が駆動され、記憶装置６００を第１スロット２１４を通じて前進させる。第１検出器２３４は、１つ以上の検出装置、例えば光学検出器及び／又は電気機械スイッチなどを含み得る。
【００７０】
第１リニアアクチュエータ２３５は、コンベヤー・アセンブリ２２０から外に記憶装置６００を押し出すために、並びに、例えば搬送ステーション２１０が出力搬送ステーション２１０ｂとして使用されるときに、第１スロット２１４内へ押すために提供される。より具体的には、第１リニアアクチュエータ２３５は、第１スロット２１４に直接隣接する位置において、コンベヤー・アセンブリ２２０において支持される記憶装置６００を係合するように、並びに記憶装置６００を少なくとも部分的にコンベヤー・アセンブリ２２０から外へ、及び少なくとも部分的に第１スロット２１４内へ前進させるように位置決めされる。第１検出器２３４との通信を介して記憶装置６００が第１スロット２１４内に前進されているということを、制御電子機器２３２が決定したとき、第１フィーダー・コンベヤー２３３が作動して、第１スロット２１４を通じて記憶装置６００の一部分が第１スロット２１４から（例えばオペレータによって）取り除かれるために外側に延びる位置の方へ、記憶装置６００を更に前進させる。
【００７１】
図１１Ａ及び１１Ｂを参照して、第２スロット２１６と関連付けられているのは第２フィーダー・コンベヤー２４１、第２検出器２４２、及び第２リニアアクチュエータ２４３（例えばソレノイド）である。これらの装置は、第２スロット２１６を通じて、搬送ステーション２１０内へ、及び／又はこれから外への記憶装置６００の移動を支援する。第２リニアアクチュエータ２４３は、コンベヤー・アセンブリ２２０から外に記憶装置６００を押し出すために、並びに、例えば搬送ステーション２１０が入力搬送ステーション２１０ｂとして使用されるときなど、第２スロット２１６内へ記憶装置６００押すために提供される。この関連で、第２リニアアクチュエータ２４３は、コンベヤー・アセンブリ２２０において、第２スロット２１６に直接隣接する位置において支持される記憶装置６００を係合するように、並びに記憶装置６００を少なくとも部分的にコンベヤー・アセンブリ２２０から外へ、及び少なくとも部分的に第２スロット２１６内へ前進させるように位置決めされる。
【００７２】
複数のホイール又はローラー２４４が、第２スロット２１６の下面２４５上に提供され、これは記憶装置６００が、記憶装置６００の底面を摺動することなく、かつ潜在的にこれをスクラッチすることなく、第２スロット２１６の長さに沿って移動するのを可能にする。第２フィーダー・コンベヤー２４１は、第２スロット２１６内に少なくとも部分的に配置され、かつ第２スロット２１６の長さに沿って記憶装置６００を前進させるために、第２スロット２１６内で記憶装置６００の上面に接触するように位置決めされる。
【００７３】
第２フィーダー・コンベヤー２４１は一般的に、駆動ベルト２４６（例えばゴムベルト）、スピンドル２４７ａ、２４７ｂ、及びスピンドル２４７ａの最初の１つに駆動自在に接続されるモータ２４８（図１１Ｂ）を含む。モータ２４８は、制御電子機器２３２に電気的に接続され、かつこれによって制御可能である（図８Ｃ及び８Ｄ）。記憶装置６００が第２スロット２１６内に挿入されたとき、それは駆動ベルト２４６と係合し、スピンドル２４７ａ、２４７ｂを介してモータ２４８によって駆動される駆動ベルト２４６の動作は、第２スロット２１６を通じる記憶装置６００の移動、及び第２スロット２１６内のピックアップ位置内への移動を支援する。
【００７４】
第２検出器２４２は、制御電子機器２３２（図８Ｃ及び８Ｄ）と協働して動作し、第２スロット２１６内に配置される記憶装置６００の存在及び／又は位置を検出する。第２検出器２４２は、１つ以上の検出装置、例えば光学検出器及び／又は電気機械スイッチなどを含み得る。第２検出器２４２から受信した信号に基づいて、記憶装置６００が第２スロット２１６内に位置決めされたということを制御電子機器２３２が決定した場合、第２フィーダー・コンベヤー２４１は、第２スロット２１６を通じて、ロボット３００によってそれがピックアップされ得るピックアップ位置の方へ記憶装置６００を前進させるように駆動される。この関連で、ローラー２４４が輸送器４００のＵ型の開口部４１５内に適合した状態で、記憶装置輸送器４００（図５Ｂ）を記憶装置６００の下に位置決めし、次いで輸送器４００を上昇させ、記憶装置６００をローラー２４４から離して持ち上げることによってロボット３００が記憶装置６００をすくうことができるように、ローラー２４４は記憶装置６００を支持するように寸法決めされてもよい。
【００７５】
図１２Ａ及び１２Ｂを参照すると、いくつかの実施形態では第２スロット２１６はまたピックアップ位置において基台２４９を含んでもよい。記憶装置６００を送達して、それがロボット３００によってピックアップされ得る基台２４９の上に位置するように第２フィーダー・コンベヤー２４１及びローラー２４４は配置されてもよい。基台２４９は、第２スロット２１６の下面２４５の上で上昇した位置において記憶装置を保持するように寸法決めされてもよい。記憶装置輸送器４００が、基台２４９上に支持される記憶装置６００の下で位置決めされることができ、かつ基台２４９が、記憶装置輸送器４００のＵ型の開口部４１５内に収容されるように、基台２４９の幅は、記憶装置輸送器４００の側壁４１８が基台２４９の周囲に適合するのを可能にする。
【００７６】
搬送ステーション２１０が出力搬送ステーション２１０ｂとして使用されるとき、ロボット３００は試験された記憶装置６００を第２スロット２１６に配置することができる。制御電子機器２３２は、第２検出器２４２との通信を介して、記憶装置６００が第２スロット２１６内に挿入されているということを決定するとき、第２フィーダー・コンベヤー２４１が作動され、第２スロット２１６を通じて及びコンベヤー・アセンブリ２２０内のある位置内に記憶装置６００が更に前進させる。
【００７７】
操作の方法
使用時に、オペレータは複数の記憶装置６００を例えば１つずつ入力搬送ステーション２１０ａの第１スロット２１４ａ内に、（入力搬送ステーション２１０ａの）コンベヤー・アセンブリ２２０が記憶装置６００で完全にストックされるまで供給する。入力搬送ステーション２１０ａのコンベヤー・アセンブリ２２０のステータスは、ステータス指示ライト２１８ａを制御する（入力搬送ステーション２１０ａの）制御電子機器２３２によってモニターされる。追加の記憶装置６００に対して（入力搬送ステーション２１０ａの）コンベヤー・アセンブリ２２０において空間が利用可能であるとき、入力搬送ステーション２１０ａ上のステータス指示ライト２１８ａが点灯する（例えば黄色の光を照射する）。（入力搬送ステーション２１０ａの）コンベヤー・アセンブリ２２０が記憶装置６００で完全にストックされたとき、ステータス指示ライト２１８ａは消灯する（又は異なる色のライトを提供する）。
【００７８】
記憶装置６００が入力搬送ステーション２１０ａの第１スロット２１４ａ内に挿入されると、（入力搬送ステーション２１０ａ）の制御電子機器２３２は、例えば第１検出器２３４を介して、第１スロット２１４ａにおける記憶装置６００の存在を検出し、並びに第１フィーダー・コンベヤー２３３を作動させて、（入力搬送ステーション２１０ａの）コンベヤー・アセンブリ２２０における位置内に記憶装置６００を前進させる。いったん記憶装置６００が、（入力搬送ステーション２１０ａの）コンベヤー・アセンブリ２２０における位置に完全に供給されると、（入力搬送ステーション２１０ａの）制御電子機器２３２は、コンベヤー・アセンブリ２２０を作動させて、受け取った記憶装置６００（received storage device 220）を第２スロット２１６ａの方へ上方に移動させ、他の記憶装置６００のための空間を作る。これは、入力搬送ステーション２１０ａ内に供給される各記憶装置６００に関して、（入力搬送ステーション２１０ａの）コンベヤー・アセンブリ２２０が記憶装置６００で完全にストックされるまで繰り返され、その時点でオペレータは自由に離れて、他のタスクを実施できる。
【００７９】
入力搬送ステーション２１０ａが記憶装置６００で完全にストックされたとき、入力搬送ステーション２１０ａ内に供給された第１記憶装置６００は第２スロット２１６ａと位置合わせされる。この点において、（入力搬送ステーション２１０ａの）制御電子機器２３２は、（入力搬送ステーション２１０ａの）第２リニアアクチュエータ２４３を作動させて、記憶装置６００を第２スロット２１６ａ内に押す。（入力搬送ステーション２１０ａの）制御電子機器２３２は次いで、第２スロット２１６ａにおける記憶装置６００の存在を（第２検出器２４２を介して）検出し、それに応じて（入力搬送ステーション２１０ａの）第２フィーダー・コンベヤー２４１を作動させて、記憶装置６００をピックアップ位置内に前進させ、そこでは記憶装置６００はロボットアーム３００によって回収され得る。記憶装置６００がロボット３００によって入力搬送ステーション２１０ａから取り除かれた後、（入力搬送ステーション２１０ａの）制御電子機器２３２は、第２スロット２１６ａが空であるということを検出し、それに応じて次の記憶装置６００を、第２スロット２１６と位置合わせさせて（例えば、入力搬送ステーション２１０ａのコンベヤー・アセンブリ２２０の動作を介して）、次いでコンベヤー・アセンブリ２２０から外へ、そして第２スロット２１６ａにおけるピックアップ位置内へと移動させる。このプロセスは、入力搬送ステーション２１０ａに保管される、それぞれ後に続く記憶装置６００に関して繰り返されてもよい。したがって、複数の記憶装置６００が入力搬送ステーション２１０ａにおいて保管され、かつ待ち行列にされてもよく、記憶装置６００が例えば１つずつ入力搬送ステーション２１０ａによってロボット３００に自動的に供給されている間、オペレータが他のタスクを実施するのを可能にする。
【００８０】
ロボット３００は、記憶装置輸送器４００のうちの１つを使用して、入力搬送ステーション２１０ａから記憶装置６００を回収することができる。次いで、ロボット３００は記憶装置輸送器４００及び回収された記憶装置６００を、記憶装置６００の試験のために試験スロット５００のうちの１つに送達することができる。このプロセスは、入力搬送ステーション２１０ａにおいて保管された記憶装置のそれぞれに関して繰り返されてもよい。
【００８１】
ロボット３００はまた、記憶装置６００を支持する記憶装置輸送器４００を、試験スロット５００から取り除くことによって、試験スロット５００のうちの１つから試験された記憶装置６００を取り除く。ロボット３００は次いで、試験された記憶装置６００を出力搬送ステーション２１０ｂの第２スロット２１６ｂまで送達する。出力搬送ステーション２１０ｂの制御電子機器２３２は、（出力搬送ステーション２１０ｂの）第２検出器２４２を介して、第２スロット２１６ｂにおける記憶装置６００の存在を検出し、それに応じて、（出力搬送ステーション２１０ｂの）第２フィーダー・コンベヤー２４１を作動させて、出力搬送ステーション２１０ｂのコンベヤー・アセンブリ２２０内に記憶装置６００を供給する。これは、（出力搬送ステーション２１０ｂの）コンベヤー・アセンブリ２２０が記憶装置６００で完全にストックされるまで、出力搬送ステーション２１０ｂ内に供給される各記憶装置６００に関して繰り返され得る。
【００８２】
出力搬送ステーション２１０ｂが記憶装置６００で完全にストックされたとき、出力搬送ステーション２１０ｂ内に供給された第１記憶装置６００は第１スロット２１４ｂと位置合わせされる。この点において、出力搬送ステーション２１０ｂの制御電子機器２３２は（出力搬送ステーション２１０ｂの）第１リニアアクチュエータ２３５を作動させて、記憶装置６００を第２スロット２１６ｂ内に押す。（出力搬送ステーション２１０ｂの）制御電子機器２３２は次いで（出力搬送ステーション２１０ｂの第１検出器２３４を介して）第１スロット２１４ｂにおける記憶装置６００の存在を検出し、それに応じて、（出力搬送ステーション２１０ｂの）第１フィーダー・コンベヤー２３３を作動させて、その記憶装置６００をピックアップ位置内に前進させ、そこでは記憶装置６００は第１スロット２１４ｂから外側へ延び、これによって記憶装置６００が、例えばオペレータにより回収されるのを可能にする。記憶装置６００がオペレータによって出力搬送ステーション２１０ｂから取り出された後、（出力搬送ステーション２１０ｂの）制御電子機器２３２は、第１スロット２１４ｂが空であるということを検出し、それに応じて次の記憶装置６００を移動させて、出力搬送ステーション２１０ｂのコンベヤー・アセンブリ２２０の動作を介して第１スロット２１４ｂと位置合わせさせ、次いで（出力搬送ステーション２１０ｂの）コンベヤー・アセンブリ２２０から外へ、そして第１スロット２１４ｂにおけるピックアップ位置内に移動させる。このプロセスは、出力搬送ステーション２１０ｂに保管される、それぞれ後に続く記憶装置６００に関して繰り返されてもよい。
【００８３】
出力搬送ステーション２１０ｂのコンベヤー・アセンブリ２２０のステータスは、ステータス指示ライト２１８ｂを制御する（出力搬送ステーション２１０ｂの）制御電子機器２３２によってモニターされる。出力搬送ステーション２１０ｂ上のステータス指示ライト２１８ｂは、（出力搬送ステーション２１０ｂの）コンベヤー・アセンブリ２２０が試験された記憶装置６００によって完全にストックされ、空になる準備ができているときに点灯する（例えば緑色の光を照射する）。（出力搬送ステーション２１０ｂの）コンベヤー・アセンブリ２２０が、試験された記憶装置６００を空にされたとき、ステータス指示ライト２１８ｂは消灯する（又は異なる色のライトを提供する）。
【００８４】
出力搬送ステーション２１０ａ、２１０ｂのステータスに基づいてロボット３００が制御され得るように、入力搬送ステーション２１０ａ及び出力搬送ステーション２１０ｂの対応する制御電子機器２３２は、コントローラ１３０と通信する状態で配置され得る。
【００８５】
他の実施形態
特定の実施形態について上記に記載したが、他の実施形態も可能である。
【００８６】
例えば、図１３Ａ〜１３Ｃは、記憶装置試験システム２０の実施形態を説明し、ここでは試験ラック１００及び入力搬送ステーション２１０ａ及び出力搬送ステーション２１０ｂは、ロボット３００を中心に円形のアレイで配置される。試験ラック１００及び搬送ステーション２１０ａ、２１０ｂがロボット３００によるサービスのための、各試験スロット５００のアクセスビリティに関して、作業包囲３３０内で配置されている状態で、ロボット３００は実質的に円筒形の作業包囲体積３３０を画定する。実質的に円筒形の作業包囲体積３３０は小さな設置面積をもたらし、一般的に高さの制約によってのみ容量が制限される。いくつかの実施例において、ロボット３００は床部表面３１６上の基台又はリフト３４０（図１３Ｃ）上で上昇され、かつ支持される。ロボット３００が上方だけでなく、下方にもまた到達して、試験スロット５００及び／又は搬送ステーション２１０ａ、２１０ｂにサービスすることを可能にすることにより、基台又はリフト３４０は作業包囲体積３３０の寸法を増大させる。作業包囲体積３３０の大きさは、垂直作動装置を基台又はリフト３４０に追加することによって更に増加させることができる。
【００８７】
図１４Ａ〜１４Ｃは搬送ステーション７００の他の実施形態を説明する。搬送ステーション７００は、ハウジング７１２の上面７１５に沿って配置される第１スロット７１４を備える、ハウジング７１２（例えば、シート金属エンクロージャ）を含む。第１スロット７１４は、オペレータと搬送ステーション７００との間のインターフェースとして機能する。第２スロット７１６は、ハウジング７１２の第２表面７１７に沿って配置される。第２スロット７１６は、ロボット３００と搬送ステーション７００との間のインターフェースとして機能する。ハウジング内に配置されるのは、コンベヤー・アセンブリ７２０である。コンベヤー・アセンブリ７２０は、記憶装置６００（例えばディスクドライブ）を受け取り、保管し、かつ第１スロット７１４と第２スロット７１６との間で記憶装置６００を搬送するように動作する。
【００８８】
図１４Ｂ及び１４Ｃに示されるように、コンベヤー・アセンブリ７２０は、連続ループ７２１の平行な対、及び複数の支持体７２２を含む。支持体７２２のそれぞれは、ループ７２１の対応する１つに接続される、又はこれと一体形成される第１端部７２３ａと、カンチレバー方式で結合したループ７２１から外側に延びる第２端部７２３ｂと、を含む。支持体７２２は、支持体７２２の各対がループ７２１の間で記憶装置６００を受け取り、これを支持できるように配置される。複数の記憶装置６００が、ループ７２１の長さに沿って互いに対して離間された関係で支持され、かつ維持され得るように、支持体７２２の連続的な対はループ７２１の長さに沿って互いから離間される。ループ７２１は、ベルト（例えばプラスチック若しくはゴムベルト）、金網、又はチェーンであってもよい。支持体７２２は金属（例、シートメタル）又はプラスチックで形成されてもよく、並びに接着剤、溶接又は金属製品（例、ネジ）を介してループ７２１に接続されてもよく、又はこれと一体形成されてもよい（例えば成形される）。
【００８９】
ループ７２１は回転可能なスピンドル７２４上に設置され、これはループ７２１が回転するのを可能にし、これによって記憶装置６００をループ７２１の長さに沿った位置の間で搬送する。ループ７２１は重力下において、例えば記憶装置の重量下で回転し、記憶装置６００を第１スロット７１４から第２スロット７１６まで送達することができる。
【００９０】
第１スロット７１４はハウジング７１２内へのアクセスを提供し、これによってオペレータは記憶装置６００を、例えば１つずつコンベヤー・アセンブリ７２０内に取り入れることを可能にする。
【００９１】
第２スロット７１６は基台７４９を含む。基台７４９は、第２スロット７１６の下面７４５の上の、上昇した位置において記憶装置６００を保持するように寸法決めされる。例えばオペレータによって搬送ステーション７００内に供給された記憶装置６００は、第１スロット７１４において、例えば１つずつ基台７４９に、ループ７２１の回転を介して供給され、ここでそれらはロボット３００によって回収され得る。記憶装置輸送器４００が、基台７４９上に支持される記憶装置の下で位置決めされることができ、かつ基台７４９が、記憶装置輸送器４００のＵ型の開口部４１５内に収容されるように、基台７４９の幅は、記憶装置輸送器４００の側壁４１８が基台７４９の周囲に適合するのを可能にする。
【００９２】
検出器７３４（例、任意のセンサ又はスイッチ）は基台７４９上の記憶装置の存在を検出するために、第２スロット７１６と関連付けられる。検出器７３４は制御電子機器７３２と通信し、これは検出器７３４から受信した信号に基づいて第２スロット７１６のステータスをモニターする。
【００９３】
搬送ステーション７００はまた、制御電子機器７３２と通信する作動装置７３５（例えばソレノイド）を含んでもよい。制御電子機器７３２の制御下にある作動装置７３５は、コンベヤー・アセンブリ７２０と係合するように配置され、ループ７２１の動作を抑制することができる。例えば、作動装置７３５は、支持体７２２を阻害するように配置され、ループ７２１の更なる回転を抑制する（例えば阻止する）ことができる。
【００９４】
ロボット３００によって回収されるのを待ちながら、記憶装置６００が基台７４９上に位置決めされているということを制御電子機器７３２が決定したとき、制御電子機器７３２は、記憶装置６００が基台７４９から取り除かれ、基台７４９が再び他の記憶装置６００を受け入れるように準備されるまで、作動装置７３５を作動させてコンベヤー・アセンブリ７２０の更なる動作を抑制することができる。
【００９５】
あるいは、又はそれに加えて、搬送ステーション７００は、ループ７２１の動作を制御するために、コンベヤー・アセンブリ７２０に駆動自在に接続された電動モータを含むことができる。例えば、図１５Ａ及び１５Ｂは、電動モータ７２５が動力伝達系７２６（図１５Ｂ）を介して、コンベヤー・アセンブリ７２０の一対のスピンドル７２４に駆動自在に接続される搬送ステーション７００’の実施形態を示す。動力伝達系７２６は一対の駆動シャフト７２７を含み、それぞれは、スピンドル７２４の関連付けられた１つ及び差動装置７２８に接続される。出力側上では、差動装置７２８は、直角ギア７２９を介して駆動シャフト７２７のそれぞれに駆動自在に接続される。入力側上では、差動装置７２８は、電動モータ７２５のシャフト７３０に駆動自在に接続される。モータシャフト７３０の回転は、動力伝達系７２６を通じてスピンドル７２４を駆動させる。モータ７２５は、モータ７２５の動作を制御する電子機器７３２に電気的に接続される。
【００９６】
いくつかの実施形態では、基台７４９はまた上昇されて、記憶装置６００を第２スロット７１６からコンベヤー・アセンブリ７２０内に組み込むのを助けることができる。例えば、図１６は、制御電子機器７３２によって制御されるリニアアクチュエータ７５０上に基台７４９が設置される、搬送ステーション７００”の実施形態を示す。これは搬送ステーション７００”が出力搬送ステーションとして使用されるのを可能にする。例えば、ロボット３００は基台７４９に記憶装置を送達することができる。次いで、制御電子機器７３２の制御下において、リニアアクチュエータ７５０が作動されて、記憶装置６００がループ７２１間に受け取られるよう位置決めされるように、基台７４９を上昇させることができる。この場合では、電動モータ７２５は基台７４９から第１スロット７１４の方へ記憶装置６００を送達するように駆動されてもよく、ここでは、それは例えばオペレータによって回収され得る。
【００９７】
図１７Ａ〜１７Ｃは、搬送ステーション８００の他の実施形態を説明する。搬送ステーション８００は、ハウジング８１２の上面８１５に沿って配置される第１スロット８１４を備える、ハウジング８１２（例えば、シート金属エンクロージャ）を含む。第１スロット８１４は、オペレータと搬送ステーション８００との間のインターフェースとして機能する。第２スロット８１６は、ハウジング８１２の第２表面８１７に沿って配置される。第２スロット８１６は、ロボット３００と搬送ステーション８００との間のインターフェースとして機能する。ハウジング８１２内に配置されるのは、コンベヤー・アセンブリ８２０である。コンベヤー・アセンブリ８２０は、記憶装置６００（例えばディスクドライブ）を受け取り、保管し、かつ第１スロット８１４と第２スロット８１６との間で記憶装置６００を搬送するように動作する。
【００９８】
図１７Ｂ及び１７Ｃに示されるように、コンベヤー・アセンブリ８２０は、連続ループ８２１、及び複数のヒンジで連結されたプラットフォーム８２２を含む。プラットフォーム８２２のそれぞれは、ループ８２１に接続されている第１部分８２３ａと、第１部分８２３ａに枢動可能に接続されている第２部分８２３ｂとを含む。プラットフォーム８２２の第２部分８２３ｂは、側壁８５６及び基部プレート８５８によって形成される実質的にＵ型の開口部８５５をなど、記憶装置輸送器４００と類似の形状を有し、側壁８５６及び基部プレート８５８は記憶装置６００を、それが第１スロット８１４と第２スロット８１６との間に搬送されるときに支持する。
【００９９】
ループ８２１はベルト（例、プラスチック又はゴムベルト）であってもよい。プラットフォーム８２２は金属（例、シートメタル）又はプラスチックで形成されてもよく、並びに接着剤、溶接又は金属製品（例、ネジ）を介してループ８２１接続されてもよい。
【０１００】
ループ８２１は回転可能なスピンドル８２４上に設置され、これはループ８２１が回転するのを可能にし、これによって第１スロット８１４と第２スロット８１６との間で記憶装置６００を搬送する。ループ８２１は重力下において、例えば記憶装置の重量下で回転し、記憶装置６００を第１スロット８１４から第２スロット８１６まで送達することができる。
【０１０１】
第１スロット８１４はハウジング８１２内へのアクセスを提供し、これによってオペレータが記憶装置６００を、例えば１つずつコンベヤー・アセンブリ８２０内にと取り入れることを可能にする。第２スロット８１６は基台８４９を含む。基台８４９は、第２スロット８１６の下面８４５の上の、上昇した位置において記憶装置６００を保持するように寸法決めされる。例えばオペレータによって搬送ステーション８００内に供給された記憶装置６００は、第１スロット８１４において、例えば１つずつ基台８４９に、重力下においてループ８２１の回転を介して供給され、ここでそれらはロボット３００によって回収され得る。記憶装置輸送器４００が、基台８４９上に支持される記憶装置６００の下で位置決めされることができ、かつ基台８４９が、記憶装置輸送器４００のＵ型の開口部４１５内に収容されるように、基台８４９の幅は、記憶装置輸送器４００の側壁４１８が基台８４９の周囲に適合するのを可能にする。
【０１０２】
検出器８３４（例、任意のセンサ又はスイッチ）は基台８４９上の記憶装置６００の存在を検出するために、第２スロット８１６と関連付けられる。検出器８３４は制御電子機器８３２と通信し、これは検出器８３４から受信した信号に基づいて第２スロット８１６のステータスをモニターする。
【０１０３】
搬送ステーション８００はまた、制御電子機器８３２と通信する作動装置８３５（例えばソレノイド）を含んでもよい。制御電子機器８３２の制御下にある作動装置８３５は、コンベヤー・アセンブリ８２０と係合するように配置され、ループ８２１の動作を抑制することができる。例えば、作動装置８３５は、プラットフォーム８２２を阻害するように配置され、ループ８２１の更なる動作を抑制する（例えば阻止する）ことができる。
【０１０４】
ロボット３００によって回収されるのを待ちながら、記憶装置６００が基台８４９上に位置決めされているということを、例えば検出器８３４から受信した信号に基づいて制御電子機器８３２が決定したとき、制御電子機器８３２は、記憶装置６００が基台８４９から取り除かれ、基台８４９が再び他の記憶装置６００を受け入れるように準備されるまで、作動装置８３５を作動させてコンベヤー・アセンブリ８２０の更なる動作を抑制することができる。
【０１０５】
あるいは、又はそれに加えて、搬送ステーション８００は、ループ８２１の動作を制御するためにコンベヤー・アセンブリ８２０に駆動自在に接続された電動モータを含むことができる。例えば、図１８Ａ及び１８Ｂは、電動モータ８２５がコンベヤー・アセンブリ８２０のスピンドル８２４のうちの１つに駆動自在に接続される搬送ステーション８００’の実施形態を示す。モータシャフト８３０の回転はスピンドル８２４を駆動させる。モータ８２５は、モータ８２５の動作を制御する電子機器８３２を制御するように電気的に接続される。
【０１０６】
いくつかの実施形態では、基台８４９もまた上昇されて、記憶装置６００を第２スロット８１６からコンベヤー・アセンブリ８２０内に組み込むのを助けることができる。例えば、図１９は、制御電子機器８３２によって制御されるリニアアクチュエータ８５０上に基台８４９が設置されている、搬送ステーション８００”の実施形態を示す。これは搬送ステーション８００”が出力搬送ステーションとして使用されるのを可能にする。例えば、ロボット３００は基台８４９に記憶装置を送達することができる。次いで、制御電子機器８３２の制御下において、リニアアクチュエータ８５０が作動されて、記憶装置６００が、プラットフォーム８２２のうちの１つの側壁８５６（図１７Ｃ）間に受け取られるよう位置決めされるように、基台８４９を上昇させることができる。この場合では、電動モータ８２５は基台４８９から第１スロット８１４の方へ記憶装置６００を送達するように駆動されてもよく、ここでは、それは例えばオペレータによって回収され得る。
【０１０７】
いくつかの実施形態では、記憶装置試験システムは複数の入力搬送ステーション及び／又は複数の出力搬送ステーションを含む。
【０１０８】
いくつかの場合では、記憶装置が、例えばロボットによるサービスのために記憶装置輸送器のうちの１つと共に提示されるように、搬送ステーションは記憶装置輸送器に支持される記憶装置を受け取るように構成されてもよい。
【０１０９】
その他の実施形態は、以下の請求項の範囲内にある。 
【図１】
2013522808.tif 000003
【図２】
2013522808.tif 000004
【図３Ａ】
2013522808.tif 000005
【図３Ｂ】
2013522808.tif 000006
【図４Ａ】
2013522808.tif 000007
【図４Ｂ】
2013522808.tif 000008
【図５Ａ】
2013522808.tif 000009
【図５Ｂ】
2013522808.tif 000010
【図６Ａ】
2013522808.tif 000011
【図６Ｂ】
2013522808.tif 000012
【図７Ａ】
2013522808.tif 000013
【図７Ｂ】
2013522808.tif 000014
【図８Ａ】
2013522808.tif 000015
【図８Ｂ】
2013522808.tif 000016
【図８Ｃ】
2013522808.tif 000017
【図８Ｄ】
2013522808.tif 000018
【図９Ａ】
2013522808.tif 000019
【図９Ｂ】
2013522808.tif 000020
【図１０Ａ】
2013522808.tif 000021
【図１０Ｂ】
2013522808.tif 000022
【図１１Ａ】
2013522808.tif 000023
【図１１Ｂ】
2013522808.tif 000024
【図１２Ａ】
2013522808.tif 000025
【図１２Ｂ】
2013522808.tif 000026
【図１３Ａ】
2013522808.tif 000027
【図１３Ｂ】
2013522808.tif 000028
【図１３Ｃ】
2013522808.tif 000029
【図１４Ａ】
2013522808.tif 000030
【図１４Ｂ】
2013522808.tif 000031
【図１４Ｃ】
2013522808.tif 000032
【図１５Ａ】
2013522808.tif 000033
【図１５Ｂ】
2013522808.tif 000034
【図１６】
2013522808.tif 000035
【図１７Ａ】
2013522808.tif 000036
【図１７Ｂ】
2013522808.tif 000037
【図１７Ｃ】
2013522808.tif 000038
【図１８Ａ】
2013522808.tif 000039
【図１８Ｂ】
2013522808.tif 000040
【図１９】
2013522808.tif 000041
【国際調査報告】
2013522808.tif 000042
2013522808.tif 000043