(57)【要約】  本発明は、ＣＣＤアレイ（２）を装備した分光計（１）の校正方法に関し、この方法では、ＣＣＤアレイによって参照体積放射体からのスペクトルが記録され、このときに記録された生データに基づいて、この場合に生じる干渉現象効果を説明する機能が作成され、この機能は、体積放射体から得られる測定のための修正機能（Ｋ）として分光計の中に保存される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＣＣＤアレイを装備した分光計の校正方法であり、前記ＣＣＤアレイによって、第１の校正スペクトルと第２の校正スペクトルとが記録され、これらの前記校正スペクトルを生成するため、参照構造が照射され、該参照構造は、これらの前記参照構造から発生する光の脱出深さに関して顕著に異なっている、方法。
【請求項２】
これらの前記両方の校正スペクトルから修正システムが検出され、該修正システムにより、それぞれ使用されるＣＣＤアレイの記録信号が個別に標準化されることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記修正システムは、例えば特性曲線、又はパラメータ化された修正機能として、分光計の制御装置内に保存されることを特徴とする、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
特定の物質に対する多数の前記修正システムが作成されることを特徴とする、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
例えば、選択された組織成分又は血液成分を測定するのに、それぞれ最適な前記修正システムが用いられることを特徴とする、請求項１〜４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
記録される光の元の深さに関する深さの情報が、前記測定により評価工程の中で得られることを特徴とする、請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
前記深さ情報に基づいて、前記修正システムがさらに適合されることを特徴とする、請求項１〜６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項８】
様々な濃度の参照物質が含まれている多数の参照サンプルを使用することによって、多数の前記修正システムが作成されることを特徴とする、請求項１〜７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項９】
ＣＣＤアレイを装備した分光計の校正方法であり、前記ＣＣＤアレイによって参照体積放射体からのスペクトルが記録され、このときに記録された生データに基づいて、この場合に生じる干渉現象効果を説明する機能が作成され、この前記機能は、体積放射体からの測定のための修正機能として前記分光計の中に保存される、方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、生体組織から測定信号を収集するための、特に、体液の成分組成、並びに必要に応じて一時的に血管に粘着している物質の成分組成を検出するための方法及び測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
該当する組織範囲に移動分光計を取り付け、この移動分光計によって、組織から発生する反射光のスペクトルを記録することにより、一時的に血管に粘着している物質の分析が行われる測定方法が知られている。記録されたスペクトルに基づき、検査された組織範囲に存在する様々な物質を検知することができる。この分光計は、標準的な分光計として構成されることができ、この分光計の場合、入射する光は光学的手段によって分解されて波長に割り当てられ、分解された光の強度が測定される。可動部品を回避するため、分光計は、波長に従って分解された光がＣＣＤアレイに向けられ、このＣＣＤアレイによって分析されるように形成することができる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明は、ＣＣＤアレイを用いた分光測定法において、特に高い有意性を特徴とする測定値が得られる解決方法を提供するという課題に基づいている。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
この課題は、本発明に基づき、ＣＣＤアレイを装備した分光計の校正方法によって解決され、本方法の場合、ＣＣＤアレイによって、第１の校正スペクトルと第２の校正スペクトルとが記録され、その際、これらの校正スペクトルを作成するため、参照構造が照射され、これらの参照構造は、それぞれの参照測定においてこれらの参照構造から発生する光の脱出深さに関して顕著に異なっている。
【０００５】
これにより、有利な方法で、修正システムを決定することが可能となり、この修正システムにより、それぞれ使用されるＣＣＤアレイの記録特性が書き込まれ、ユニット内部で正規化され得る。
【０００６】
この修正システムは、例えば特性曲線、又はパラメータ化された修正機能として、分光計の制御装置内に保存され得る。
【０００７】
本発明の特に好ましい実施形態によれば、特定の物質に対する多数の修正システムが作成されるため、例えば、選択された組織成分又は血液成分を測定するのに、それぞれ最適な修正システムを用いることができる。
【０００８】
好ましくは、一方の試料は面放射体であり、他方の試料は体積放射体である。この参照放射体は、これらが主として白色光を発するように形成されることができる。
【０００９】
測定は、記録される光の元の深さに関する深さ情報が、この測定により評価工程の中で得られるように、設定することが可能である。この深さ情報に基づき、必要に応じて、さらにこの修正システムを適合させることができる。この深さ情報は、特に、混濁効果によって引き起こされる信号変動を考慮し、データ技術的に処理することによって得ることができる。
【００１０】
好ましくは、様々な濃度の参照物質が含まれている多数の参照サンプルを使用することによって、多数の修正システムが作成される。好ましくは、それぞれの物質について１つの参照サンプルが提供され、このことは、照射光が深く侵入することなく、光が放射されるのを保証する。好ましくは、この同じ物質を含む参照サンプルは、半透明のベースの中にこの物質が埋め込まれているように形成することができる。この半透明のベースは、その濁度特性に関して、分光分析を行う体部位に典型的な濁度特性と一致するように形成することができる。
【００１１】
本発明に基づく分光計の校正は、有利な方法では、この分光計が、放射される光の元の深さに関して異なっている多数の参照サンプルに通されることによって行うことができる。そのようにして得られたこれらのスペクトルは、修正システムを作成するために、直接分光計の中に組み込まれている電子信号処理装置によって用いられることができる。しかし、好ましくは、得られたスペクトルがインタフェース装置によって読み取られ、独立したコンピュータシステムに送られることである。このコンピュータシステムにより、次の工程の中で分光計の評価装置に保存される修正機能を作成することができる。
【００１２】
また、例えばインターネットにアクセスできるコンピュータを介して、分光計の識別コードに割り当てることで、この修正機能を保存することも可能である。この特殊な修正機能には、分光計のユーザー又はスペクトルの評価を委託されたユーザーだけがアクセスできる。
【００１３】
また、分光計のユーザーによって校正パターンが要求され、顕著に異なる反射深さから２つのスペクトルを得ることができるように、本発明に基づく方法を実現することも可能である。ユーザーによって得られたスペクトルは、次に、この校正パターンについて他の用途で検出された基準スペクトルを用いて比較することもできる。その比較に基づき、分光計の校正又は測定値の標準化を行うことができる。
【００１４】
本発明のその他の詳細及び特徴は、図を用いた以下の説明によって生じる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】図１は、２つの校正試料から放射される光の分解において、同一物質の光学密度又はスペクトル成分の強度の相違を示す図であり、２つの校正試料は、これらが顕著に異なる光の放射深さを生じるように形成されている。
【図２】図２は、図１による二重の参照測定から作成された修正機能を示す図である。
【図３】図３は、標準化された測定値を提供する本発明に基づく修正機能の適用を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
図１は、ＣＣＤアレイを含む分光計を使用して得られた２つのスペクトルを示している。これらのスペクトルは、２つの試料（図３のＰ１及びＰ２）から得られた。これらの試料は校正パターンとして働き、この校正パターンにおけるそれぞれ１つの参照物質が、一方の校正パターンについては、検査する光の放射が極めて表面近くから生じるように調整され、これに対して他方の校正パターンは、検査する光が、より深く、深さが異なる箇所から放射されるように形成されている。
【００１７】
これらの両方のスペクトルの違いにより、ＣＣＤアレイ、詳細にはＣＣＤアレイの酸化被膜に起因する系統的な信号記録効果を定量化し、これに基づいて校正システム即ち標準化システムを適合させることが可能となる。
【００１８】
この標準化システムは、特性曲線として、又は図２に例が示されているように、修正機能として表されることができる。この修正機能は分光計の中に保存され得るため、この分光計が、直接、標準化された測定結果を供給する。この修正機能は、他の用途でも、例えば様々な装置によって検出された測定結果を互いに関連させなければならない場合に、特殊な後処理のためなどに考慮され得る。
【００１９】
図３から分かるように、試料Ｐ１及びＰ２のスペクトルが記録され、その際、これらの試料は、それぞれ分光計の中に接続された光Ｌが、一方はほぼ完全に極めて表面に近い部分から放射され、試料Ｐ２では、深い箇所から、好ましくはさらに分散した深さから放射されるように形成されている。
【００２０】
収集された光は分光計１に送られ、この分光計はＣＣＤアレイ２を含んでいる。このＣＣＤアレイ２によって検知された信号は、第１のメモリ３の中に、例えば光学密度ＯＤの未処理数値として保存される。これらの未処理数値は、校正コンピュータ４によって読み取られる。校正コンピュータ４は、少なくとも２つの特殊な試料Ｐ１及びＰ２について測定されたスペクトルに基づいて校正機能Ｋを作成する（図２を参照）。この校正機能Ｋは、測定装置の信号処理装置５の中に保存される。後の測定のため、最終的にユ-ザーに提供される測定結果Ｍは、信号処理装置５内にあるこの校正機能を考慮して標準化される。
【００２１】
試料Ｐ１とＰ２の一方は、体積放射体を形成している。この試料は、好ましくは、これが生体組織に典型的な混濁を引き起こすように形成されている。
【００２２】
校正機能Ｋは、この混濁により、スペクトルの中に生じる動的特性が説明されるように形成することができる。分散した深さからの測定では、狭い波長範囲についてそれぞれ動的値が検出され、その値に基づいて光学密度の代表値が決定される。この修正機能は、この場合、干渉現象と呼ばれる生データの分散を導関数の形で表す。
【符号の説明】
【００２３】
１      分光計
２      ＣＣＤアレイ
３      第１のメモリ
４      校正コンピュータ
５      信号処理装置
Ｋ      修正機能
Ｌ      光
Ｐ１、Ｐ２      試料
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【国際調査報告】
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