(57)【要約】  露光差を検出するための装置（１）および方法であって、少なくとも２つの隣接する光電センサ素子群（２，３）を有し、当該光電センサ素子群には調整可能な露光時間中に光が入射し、該光はそれぞれ電荷量に変換され、該電荷量は露光時間中にそれぞれのセンサ素子群に入射する光の光量に対応し、さらに検出器を有し、該検出器は、前記２つの光電センサ素子群により発生される電荷量のうちの最小電荷量を検出し、当該最小電荷量を前記２つの光電センサ素子群から減算する。本発明の装置および方法は多種多様に適用することができ、とりわけデジタルカメラおよび医用機器に適用することができる。ウェーブレット係数を直接機械的またはセンサ的に形成することができ、さらなる信号処理に使用することができる。
2013538532.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
露光差を測定するための方法であって、
（ａ）少なくとも２つの隣接する光電センサ素子群（２，３）を光により露光時間（ＴＢ）中に露光するステップ（Ｓ１）を有し、
ただし前記各光電センサ素子群（２，３）は光をそれぞれ、当該露光時間（ＴＢ）中にそれぞれの前記センサ素子群（２，３）に入射する光の光量（ＬＡ，ＬＢ）に対応する電荷量（ＱＡ，ＱＢ）に変換し、
（ｂ）前記２つの隣接する光電センサ素子群（２，３）を露光時間（ＴＢ）中に以下のように放電するステップ（Ｓ２）を有し、
当該放電では、前記２つの光電センサ素子群（２，３）のうち当該２つの光電センサ素子群（２，３）の他方の群よりも弱い光強度で光が入射する方の群が電荷を有さないように、かつ前記２つの光電センサ素子群（２，３）のうち前記他方の群が、当該２つの隣接するセンサ素子群（２，３）に入射する光量の間の露光差に相当する電荷量を有するように行う、方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法において、
前記２つの隣接する光電センサ素子群（２，３）は、前記露光時間中に連続的に放電されるか、または同じ電荷値でもって非連続的に放電される方法。
【請求項３】
請求項１または２に記載の方法において、
前記２つの隣接する光源センサ素子群（２，３）のうち露光時間（ＴＢ）中に比較的強い光強度の光が入射する群から、当該光電センサ素子群（２，３）の飽和を回避するために規則的に所定の時間間隔（Δｔ）で電荷の一部が取り出される方法。
【請求項４】
請求項３に記載の方法において、
前記取り出された電荷の一部は１つの電荷量に累積加算され、当該電荷量が前記２つの隣接するセンサ素子群（２，３）に入射する光量間の露光差に相当する方法。
【請求項５】
請求項１から４までのいずれか一項に記載の方法において、
前記各光電センサ素子群（２，３）は、ウェーブレット係数を直接求めるために、１つのセンサ素子フィールドにそれぞれ２・２２ｎの数の互いに隣接する光電センサ素子を有し、ここでｎはｎ≧０の整数である方法。
【請求項６】
請求項５に記載の方法において、
前記センサ素子フィールドの複数の光電センサ素子が露光前に、１つの光電センサ素子群（２，３）に統合接続される方法。
【請求項７】
請求項１から６までのいずれか一項に記載の方法において、
前記光源センサ素子群（２，３）はＣＭＯＳセンサ素子からなる方法。
【請求項８】
請求項１から７までのいずれか一項に記載の方法において、
前記２つの隣接する光電センサ素子群（２，３）は前記露光時間（ＴＢ）の経過後に、信号評価のために読み出される方法。
【請求項９】
請求項１から８までのいずれか一項に記載の方法において、
前記２つの隣接するセンサ素子群（２，３）に入射する光量間の露光差に相当する前記発生する電荷量が、前記２つの隣接するセンサ素子群（２，３）のうち、露光時間中に比較的強い光強度の光が入射するセンサ素子群から読み出され、当該電荷量は、前記差に対して読み出された符号を備えるウェーブレット係数に相当する方法。
【請求項１０】
請求項１から９までのいずれか一項に記載の方法において、
前記センサ素子群（２，３）の光電センサ素子は、所定の周波数範囲の電磁ビームに対して感度を有する方法。
【請求項１１】
露光差を検出するための装置（１）であって、当該装置は、
（ａ）少なくとも２つの隣接する光電センサ素子群（２，３）を有し、当該光電センサ素子群には調整可能な露光時間（ＴＢ）中に光が入射し、該光はそれぞれ電荷量（ＱＡ，ＱＢ）に変換され、該電荷量は露光時間（ＴＢ）中に前記それぞれのセンサ素子群（２，３）に入射する光の光量（ＬＡ，ＬＢ）に対応し、
（ｂ）検出器（４）を有し、該検出器は、前記２つの光電センサ素子群（２，３）により発生される電荷量（ＱＡ，ＱＢ）のうちの最小電荷量（Ｑｍｉｎ）を検出し、当該最小電荷量を前記２つの光電センサ素子群（２，３）から減算する装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の装置において、
読み出し回路（５）が設けられており、該読み出し回路は、露光時間（ＴＢ）の経過後に信号評価のために前記光電センサ素子群（２，３）を信号評価回路（６）に読み出す装置。
【請求項１３】
請求項１１または１２に記載の装置において、
前記光電センサ素子群（２，３）は、ウェーブレット係数を直接求めるために、１つのセンサ素子フィールドにそれぞれ２・２２ｎの数の互いに隣接する光電センサ素子を有し、ここでｎはｎ≧０の整数である装置。
【請求項１４】
請求項１１から１３までのいずれか一項に記載の装置において、
制御回路が設けられており、該制御回路は、前記複数の光電センサ素子を、露光時間（ＴＢ）の開始前に１つのセンサ素子群（２，３）に統合接続する装置。
【請求項１５】
請求項１１から１４までのいずれか一項に記載の装置において、
１つのセンサ素子フィールドが設けられており、該センサ素子フィールドの前記各光電センサ素子が次々にスイッチング可能に露光されるか、または
複数のセンサ素子フィールドが重なり合って配置されているか、または
複数のセンサ素子フィールドが重なり合ってまたは並んで配置されており、前記複数のセンサ素子フィールドからの画像を多重化するためにビームスプリッタが設けられている装置。
【請求項１６】
請求項１１から１５までのいずれか一項に記載の装置を有するデジタルカメラ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、とりわけデジタルカメラ用の露光差を測定するための方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の画像形成装置では、各感光性センサ素子または各ピクセルで、それぞれの感光性センサ素子により受光された光量、すなわちそこに衝突した光子の数が電荷に変換され、対応する電圧値が出力される。したがってこの従来の装置では受光された光量の絶対値が検出され、引き続き信号処理回路によってさらに処理される。例えば検出された絶対値はハードウエアまたはソフトウエアにより、いわゆるウェーブレット係数にさらなる処理のために変換される。ここではセンサにより検出された、隣接するセンサ素子間またはセンサ素子群間の光強度値または電圧値の差分形成が行われる。
【０００３】
この従来の構成の欠点は、光電センサ素子間または光電センサ素子群間の露光差を検出することが必要であり、そのために多くの適用に対して差形成を実行するには、付加的な処理技術的信号処理ステップが必要なことである。
【０００４】
この従来の構成のさらなる欠点は、センサ素子が過露光された際に発生する飽和効果を補正できないことである。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
したがって本発明の課題は、露光差を直接測定することのできる方法および装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この課題は本発明により、請求項１に記載の発明特定事項を備える方法によって解決される。
【０００７】
本発明は以下のステップにより露光差を測定する方法を達成する。すなわち、
・少なくとも２つの隣接する光電センサ素子群を光により露光時間中に露光するステップを有し、ただし前記光電センサ素子群は光をそれぞれ、当該露光時間中にそれぞれのセンサ素子群に入射する光の光量に対応する電荷量に変換し、
・前記２つの隣接する光電センサ素子群を露光時間中に次のように放電するステップを有し、当該放電では、前記２つの光電センサ素子群のうち、当該２つの光電センサ素子群の他方の群よりも弱い光強度で光が入射する方の群が電荷を有さず、前記２つの光電センサ素子群の前記他方の群が、当該２つの隣接するセンサ素子群に入射する光量の間の露光差に相当する電荷量を有するように行う。
【０００８】
したがって本発明の方法では、それぞれ少なくとも１つのセンサ素子からなる２つの隣接するセンサ素子群間の露光差が直接測定され、信号として出力される。この出力された信号は、アナログ／デジタル変換の実行後にはウェーブレット係数に対応し、このウェーブレット係数はデータ処理装置で直接処理することができる。したがって本発明の方法では、光電センサ素子群（アクティブピクセルセンサ）を有する１つのセンサチップで差分形成が直接実行される。
【０００９】
本発明の方法の可能な実施形態では、２つの隣接する光電センサ素子群が露光時間中に同時に連続的に同じ電荷値で放電される。
【００１０】
本発明の方法の可能な択一的実施形態では、２つの隣接する光電センサ素子群が露光時間中に同時に非連続的に放電される。
【００１１】
本発明の方法の可能な実施形態では、２つの隣接する光電センサ素子群のうち、露光時間中に比較的高い光強度で光が入射する群から、当該光電センサ素子群の飽和を回避するために規則的に所定の時間間隔で電荷成分が取り出される。
【００１２】
可能な実施形態では、取り出された電荷成分が電荷量に累積加算され、この電荷量は２つの隣接するセンサ素子群に入射する光量間の露光差に相当する。
【００１３】
本発明の方法の可能な実施形態では、各光電センサ素子群が、１つのセンサ素子フィールドに互いに隣接する２・２２ｎの数の光電センサ素子を有し、ここでｎは整数ｎ≧０である。
【００１４】
本発明の方法の可能な実施形態では、センサ素子フィールドの複数の光電センサ素子が露光前に、１つの光電センサ素子群にまとめられる。
【００１５】
本発明の方法の可能な実施形態では、光電センサ素子群はＣＭＯＳセンサ素子からなる。
【００１６】
本発明の方法の可能な実施形態では、２つの隣接する光電センサ素子群が露光時間の経過後に信号評価のために読み出される。
【００１７】
本発明の方法の別の可能な実施形態では、２つの隣接するセンサ素子群に入射する光量間の露光差に対応して発生する電荷量が、２つの隣接するセンサ素子群のうち、露光時間中に比較的強い光強度の光が入射するセンサ素子群から読み出され、これはウェーブレット係数に相当する。
【００１８】
本発明の方法の可能な実施形態では、センサ素子群の光電センサ素子は、所定の周波数範囲の電磁ビームに対して感度を有する。
【００１９】
さらに本発明は露光差を検出する装置に関するものであり、この装置は、
・少なくとも２つの隣接する光電センサ素子群を有し、該光電センサ素子群には調整可能な露光時間中に光が入射し、該光はそれぞれ電荷量に変換され、該電荷量は露光時間中にそれぞれのセンサ素子群に入射する光の光量に対応し、
・さらに検出器を有し、該検出器は、前記２つの光電センサ素子群により発生される電荷量のうちの最小電荷量を検出し、当該最小電荷量を前記２つの光電センサ素子群から減算する。
【００２０】
本発明の装置の実施形態では、この装置が読み出し回路を有し、該読み出し回路は光電センサ素子群を露光時間の経過後に信号評価のために信号評価回路に読み出し、前記読み出し回路は前記信号評価回路に好ましくは差電荷と当該差電荷の符号を通知または通報する。
【００２１】
本発明の装置の可能な実施形態では、光電センサ素子群がセンサ素子フィールドにそれぞれ互いに隣接する２・２２ｎの数の光電センサ素子を有し、ここでｎは≧０の整数である。
【００２２】
本発明の装置の別の可能な実施形態では、複数の光電センサ素子が、露光時間の開始前に１つのセンサ素子群に統合接続される。
【００２３】
本発明の装置の別の可能な実施形態では、複数のセンサ素子フィールドが重なり合って配置されている。
【００２４】
可能な実施形態では、複数のセンサ素子フィールドが並んで配置されており、その前方に画像多重化のためにビームスプリッタが設けられている。
【００２５】
さらに本発明は、露光差を検出するための装置を有するデジタルカメラを提供する。このデジタルカメラは、
・少なくとも２つの隣接する光電センサ素子群を有し、当該光電センサ素子群には調整可能な露光時間中に光が入射し、該光はそれぞれ電荷量に変換され、該電荷量は露光時間中にそれぞれのセンサ素子群に入射する光の光量に対応し、
・さらに検出器を有し、該検出器は、前記２つの光電センサ素子群により発生される電荷量のうちの最小電荷量を検出し、当該最小電荷量を前記２つの光電センサ素子群から減算する。
【００２６】
さらに露光差を検出するための本発明の装置および本発明の方法の可能な実施形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】露光差を検出するための本発明の装置の可能な実施形態のブロック回路図である。
【図２】露光差を測定するための本発明の方法の可能な実施形態の簡単なフローチャートである。
【図３】第１変形実施形態による露光差を検出するための本発明の方法および装置の機能を説明するための信号線図である。
【図４】露光差を検出するための本発明の方法および装置の第２変形実施形態で基礎となる問題を説明するための信号線図である。
【図５】露光差を検出するための本発明の方法および装置の第２変形実施形態の機能を説明するための信号線図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
図１から分かるように、そこに示された実施形態による本発明の装置１は、隣接する少なくとも２つの光電センサ素子群２，３を有し、それらの群はそれぞれ複数の光電センサ素子２−ｉ，３−ｉからなる。図１に示された実施形態では、２つの隣接する光電センサ素子群２，３はそれぞれ、２つの光電センサ素子２−１，２−１と３−１，３−２を有する。一般的に各光電センサ素子群２，３は、ウェーブレット係数を求めるために、１つのセンサ素子フィールドにそれぞれ２・２２ｎの数の互いに隣接する光電センサ素子を有し、ここでｎはｎ≧０の整数である。すなわち２、８等の数のセンサ素子である。対応して各センサ素子群２，３はこの実施形態では、ウェーブレット係数を直接求めるために少なくとも２つの光電センサ素子を有する。択一的実施形態では別の適用事例のために、１つのセンサ素子群２，３は少なくとも１つのセンサ素子またはピクセルからなることもできる。２つの隣接するセンサ素子群２，３には、それぞれ調整可能な露光時間ＴＢ中に光が入射する。図１に示された実施形態では、第１の光電センサ素子群２に光量ＬＡが入射し、第２の光電センサ素子群３に光量ＬＢが入射する。それぞれの光電センサ素子群２，３に入射する光は、それぞれ所属の光電センサ素子群２，３によって対応する電荷量ＱＡ，ＱＢに変換される。この電荷量ＱＡ，ＱＢは、露光時間ＴＢ中にそれぞれのセンサ素子群２，３に入射した光の光量ＬＡ，ＬＢに対応する。装置１はさらに検出器４を有し、この検出器は、前記２つの光電センサ素子群２，３により発生される電荷量ＱＡ，ＱＢのうちの最小電荷量Ｑｍｉｎを検出し、当該最小電荷量を前記２つの光電センサ素子群２，３からそれぞれ減算する。
【００２９】
さらに図１に示した実施形態で、装置１には読み出し回路５が設けられており、読み出し回路は光電センサ素子群２，３を、露光時間ＴＢの経過後、それらの信号評価のために信号評価回路６に読み出す。
【００３０】
図１に示した実施形態では、露光差を検出するための装置１に読み出し回路５が組み込まれている。択一的実施形態では、露光差を検出するための装置１が光電センサ素子群と検出器４だけを有する。
【００３１】
本発明の装置１の別の実施形態では、付加的に（図１に図示しない）制御回路が設けられており、この制御回路は複数の光電センサ素子を１つのセンサ素子群１，３に露光時間の開始前に統合接続する。センサ素子群２，３の大きさまたは規模は制御回路によって調整することができ、図１に示した光電センサ素子２−ｉ，３−ｉは、多数の光電センサ素子を有する大きなセンサ素子フィールドの一部を形成することができる。
【００３２】
別の可能な実施形態では、このセンサ素子フィールドは多数の光電感知性ＣＭＯＳセンサ素子からなる。図１に示された実施形態では、装置１が１つのセンサ素子フィールドを有する。択一的な実施形態で装置１は、重なり合うように配置された複数のセンサ素子フィールドを有することもできる。さらに複数のセンサ素子フィールドを並べて配置し、１つのビームスプリッタを画像多重化のために設けることができる。ピクセルまたはセンサ素子の面積は変化しても良い。さらに統合接続されたセンサ素子の数は適合または調整することができる。可能な実施形態では、この適合は動的に例えば光強度に依存して行われる。
【００３３】
本発明の装置１の可能な実施形態では、センサ素子フィールドの光電センサ素子が所定の周波数範囲ΔＦの電磁光線に対して感度を有する。例えば光電センサ素子は、可視領域の光に対して感度を有する。択一的実施形態では、センサ素子フィールドが他の周波数範囲に対して、例えば紫外線または赤外線に対して感度を有する。別の可能な実施形態では、光電センサ素子が例えばＸ線に対して感度を有する。
【００３４】
別の可能な実施形態では、重なり合って配置された複数のセンサ素子フィールドが、同じ周波数範囲の電磁ビームに対して感度を有する。択一的な実施形態では、重なり合うように配置されたセンサ素子フィールドが、異なる周波数範囲の電磁ビームに対して感度を有する。
【００３５】
別の可能な実施形態では、図１に示された露光差を測定するための装置がデジタルカメラに組み込まれている。択一的実施形態では、図１に示された実施形態が、例えばＸ線検出器またはコンピュータトモグラフに設けられている。
【００３６】
図１に示した装置１では、各光電センサ素子またはピクセルがセンサノードと接続されており、このセンサノードは局所的に形成された電荷Ｑを隣接の検出器４に通報する。２つの隣接するセンサ素子群２，３の確定された比較的小さい方の電荷が、２つの隣接するセンサ素子群の目下の電荷から検出器４によって減算される。これにより、２つの隣接するセンサ素子群２，３の一方の目下の電荷Ｑが常にゼロになり、それぞれ他方のセンサ素子群は、センサ素子群２，３に入射する２つの光量ＬＡ，ＬＢの差に相当する電荷Ｑを有する。この差電荷ΔＱまたは光量差は読み出し回路５によって露光時間ＴＢの経過後に読み出され、さらなる信号評価のために信号評価回路６に出力される。さらに読み出し回路５は、差電荷ΔＱの符号を信号評価回路６に通報する。信号評価回路６は例えばアナログ／デジタル変換器を有することができ、このアナログ／デジタル変換器は差電荷または光量差をデジタル値に変換し、このデジタル値はウェーブレット係数に直接対応する。したがって本発明の装置１により直接形成されたウェーブレット係数を直接電子的にさらに処理することができ、例えば信号圧縮、ノイズ除去および後修正することができる。さらに記録されたウェーブレット係数を逆ウェーブレット変換によって実データにバックトランスレーションすることができる。
【００３７】
本発明の露光差を検出するための装置１は、とりわけ散乱光、例えば太陽光にも適する。
【００３８】
本発明の装置１は、画像のウェーブレット係数を測定するために使用される。本発明の構成は全画像センサに対して格段のダイナミックゲインを提供する。すなわち，画像センサ上のウェーブレット変換は高ダイナミックレンジ（ＨＤＲ）センサである。
【００３９】
図２は、露光差を測定するための本発明の方法の実施形態を示すフローチャートである。
【００４０】
第１のステップＳ１で、隣接する少なくとも２つの光電センサ素子群２，３が、露光時間ＴＢ中に光により露光される。可能な実施形態では露光時間ＴＢが調整可能である。
【００４１】
可能な実施形態では、センサ素子が露光時間ＴＢ中に感光性にアクティブに切り替えられ、露光時間ＴＢの経過後に再び非作動にされる。このことは時間発生器またはタイマを有する制御回路によって行うことができる。
【００４２】
択一的に実施形態では露光時間ＴＢが、センサフィールドの前方にある絞りの制御によって調整される。この絞りは露光時間中、開放される。
【００４３】
２つの隣接する光電センサ素子群２，３は、発生する光をそれぞれステップＳ１で電荷量ＱＡ，ＱＢに変換する。この電荷量は、露光時間ＴＢ中にそれぞれのセンサ素子群２，３に入射する光Ｌの光量ＬＡ，ＬＢに相当する。さらに露光時間ＴＢ中にステップＳ２で２つの隣接する光電センサ素子群２，３の放電が次のように行われる。この放電では、２つの光電センサ素子群２，３のうち、他方の光電センサ素子群よりも弱い光強度の光が入射する光電センサ素子群が電荷を有さず（Ｑ＝０）、２つの光電センサ素子群２，３のうち前記他方の光電センサ素子群が、２つの隣接するセンサ素子群２，３に入射する光量ＬＡ，ＬＢの露光差ΔＬ（ΔＬ＝｜ＬＡ−ＬＢ｜）に相当する電荷量Ｑまたはこれに比例する電荷量（Ｑ〜ΔＬ）を有するように行われる。
【００４４】
２つの隣接する光電センサ素子群２，３の露光時間ＴＢ中の放電は、可能な実施形態では連続的に行うことができる。択一的な実施形態では、２つの隣接する光電センサ素子群２，３の放電が露光時間ＴＢ中に非連続的に行われる。
【００４５】
図３は、露光差を測定するための本発明の方法と本発明の装置１の機能を説明するための信号線図である。図３から分かるように、露光によって形成された電荷Ｑが時間ｔについて示されている。ここには、露光時間ＴＢ中の２つの隣接する光電センサ素子ピクセル１、ピクセル２の電荷経過が図示されている。図３に示された線形経過は一例である。すなわち露光時間ＴＢ中の電荷増加は必ずしも線形である必要はない。図３に示された例では、隣接する第２のピクセル２よりも多くの光量が第１のピクセル１に入射し、これにより発生する電荷Ｑ（ｔ）は、第１のピクセル１が図示の例で飽和限界に達するまで増加する。本発明の方法では、この比較的に強く露光される第１のピクセル１から、比較的弱く露光される第２のピクセル２により発生される電荷量が常時引き出される。図３から分かるように図示の例では、これにより第１のピクセル１が露光時間ＴＢ中に飽和に達せず、したがって露光時間ＴＢの終了時に測定された露光差は実際の光量差に相当する。
【００４６】
したがって本発明の方法では、電荷、すなわち光子によって発生する電子が、比較的に弱く露光されるセンサ素子群の電荷量をゼロに維持するために２つのセンサ素子またはセンサ素子群、ピクセル１，ピクセル２から同時に引き出される。比較的強く露光されるセンサ素子群により形成された電荷Ｑが露光時間の経過後に読み出される。この電荷Ｑはちょうど光量差ΔＬに相当する。図３から分かるように、露光差を測定するための本発明の方法と本発明の装置１は、多くの場合、電気センサ素子群の飽和を阻止することができ、したがって測定された差の歪みを阻止できることが利点である。
【００４７】
とりわけ図４に示すように、対応して露光時間ＴＢが長い場合、または光強度が強い場合には、２つの隣接する光電センサ素子群２，３のうち比較的強く露光される方が飽和に達することがある。これにより測定された差が実際の光量差ΔＬに対して歪んでしまう。このことは本発明の方法の可能な変形実施形態では、図５に示すように比較的強く露光されるセンサ素子群を規則的に放電することによって阻止される。ここでは２つの隣接する光源センサ素子群２，３のうち露光時間ＴＢ中に比較的強い光強度の光が入射する群から、比較的強く露光される光電センサ素子群の飽和を回避するために規則的に所定の時間間隔Δｔで電荷成分が取り出される。このようにして比較的に弱く露光される光電センサ素子群、すなわち図５の実施例ではピクセル１の飽和を阻止することができる。取り出された電荷成分Ｍｉは１つの電荷量に累積加算され、この電荷量が２つの隣接するセンサ素子群２，３に入射する光量ＬＡ，ＬＢ間の露光差ΔＬに相当する。可能な実施形態では、電荷成分を取り出すための所定の時間間隔Δｔは調整可能である。図５に示した実施例では、電荷成分を取り出すために露光時間ＴＢが４つの時間間隔に分割される。図５に示した実施例では、電荷成分を取り出すための時間間隔Δｔは同じ大きさである。別の可能な変形実施形態では、電荷成分を取り出すための時間間隔Δｔは異なっている。電荷成分を取り出すための時間間隔Δｔが短く調整されていれば、２つの光電センサ素子群２，３またはピクセル１，ピクセル２が飽和に至る確率も小さい。この変形実施形態はとりわけ、光強度が高い場合にセンサ素子群またはセンサ素子が過励振されるのを阻止する。
【００４８】
別の可能な変形実施形態では、それぞれのセンサ素子群の過飽和を阻止するために、飽和限界に達するとセンサ素子群の放電が自動的に行われ、またはトリガされる。したがってこの実施形態では、形成された電荷が監視され、閾値と比較される。
【００４９】
露光差を測定するための本発明の方法または本発明の装置１は、任意に大きなダイナミックレンズまたはコントラスト範囲を提供する。ここでは同じハードウエアを異なる環境に対して使用することができる。本発明の方法または本発明の装置１により、オンチップデータ圧縮と別個のメモリスペースが可能である。カメラにより記録された構造体、例えばグリッドの高い周波数または空間周波数を記録の際に抑圧または除去することができる。可能な実施形態では、ピクセル容量の充電電流の検出と、この電流の対応する制御が行われる。択一的な実施形態では、コンデンサまたはピクセル容量の電圧が検出され、同時の電荷放出により電圧が相応に調整される。
【００５０】
露光差を測定するための本発明の方法または本発明の装置１は、とりわけ医用技術、例えばＸ線検出器またはコンピュータトモグラフに適する。さらなる可能な使用分野は超高度偵察、例えば地図製作のための衛星画像の形成である。さらに本発明の方法および装置１はとりわけエンドユーザのデジタルカメラに適する。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際調査報告】
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