【事件の表示】
　特許第６４２９７９１号発明「疎水化球状シリカ微粉末及びその用途」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第６４２９７９１号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１〜６〕について訂正することを認める。
　特許第６４２９７９１号の請求項１、２に係る特許を維持する。
【理　由】
　第１　手続の経緯
　本件特許第６４２９７９１号（以下、「本件」という。）の請求項１〜６に係る特許についての出願は、２０１４年（平成２６年）１０月２９日（優先権主張　平成２５年１０月３０日　日本国（ＪＰ））を国際出願日とし、平成３０年１１月９日に特許権の設定登録がなされ、同年１１月２８日に特許掲載公報が発行されたものである。
　その後、本件の請求項１〜６に係る特許のうちの請求項１、請求項２に係る特許に対し、令和１年５月２８日付けで特許異議申立人　丹羽良子（以下「異議申立人」という。）により甲第１号証〜甲第６号証が添付された特許異議の申立てがされ、同年７月２２日付けで異議申立人に審尋が行われ、また、同年同月同日付けで特許権者にも審尋が行われ、それらの指定期間内である、同年８月７日付けで異議申立人より甲第７号証〜甲第９号証が添付された回答書が提出され、また、同年同月同日付けで特許権者より乙第１号証〜乙第５号証が添付された回答書が提出され、同年９月５日付けで異議申立人に対して、同年８月７日付けの特許権者の回答書が提出された旨を通知して期間を指定して意見を求め、また、同年同月同日付けで特許権者に対しても、同年８月７日付けの異議申立人の回答書が提出された旨を通知して期間を指定して意見を求めたところ、それらの指定期間内である、同年１０月３日付けで特許権者より意見書が提出され、また、同年同月１０日付けで異議申立人より甲第１０号証が添付された意見書が提出されたものであり、同年１０月２９日付けで特許権者に対して、同年同月１０日付けの異議申立人の意見書を送付するとともに、取消理由を通知し、その指定期間内である、同年１２月２６日付けで特許権者より意見書の提出及び訂正（以下、「本件訂正」という。）請求がされ、令和２年１月１６日付けで異議申立人に対して、特許権者の同年１０月３日付けの意見書を送付するとともに、訂正請求があった旨を通知して期間を指定して意見を求めたが、その指定期間内に異議申立人から意見書の提出がなかったものである。
  
  
　第２　本件訂正について  
　本件訂正の請求の趣旨、及び、訂正の内容は、本件訂正請求書の記載によれば、それぞれ以下のとおりのものである。  
　１．　請求の趣旨  
本件の特許請求の範囲を、本件訂正請求書に添付した訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項１〜６について訂正することを求める。  
  
　２．　訂正の内容
　本件訂正請求による訂正の内容は以下の訂正事項１のとおりである。（当審注：訂正箇所には下線を付加した。）
　訂正事項１ 
特許請求の範囲の請求項１に「疎水化球状シリカ微粉末」とあるのを、
「疎水化球状シリカ微粉末
（但し、フェニル処理による疎水化された球状シリカ微粉末を除く）
  
　３．　訂正の適否についての判断
（１）　訂正事項１ 
　訂正事項１は、訂正前の請求項１〜６の疎水化球状シリカ微粉末から、フェニル処理による疎水化された球状シリカ微粉末を除く訂正事項であるから、特許請求の範囲の減縮を目的とするものであって、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。
（２）　一群の請求項について  
　訂正前の請求項２〜６は、訂正前の請求項１を直接的又は間接的に引用する請求項であり、請求項１〜６は一群の請求項であるところ、訂正事項１の訂正は、その一群の請求項に対して請求されたものであるから、その訂正事項１を含む本件訂正は特許法１２０条の５第４項の規定に適合する。
（３）　独立特許要件について 
　本件の請求項１〜６のうち、請求項３〜６については、特許異議の申立てがされていないので、請求項３〜６についての訂正事項１には、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第７項の規定が適用されるが、訂正事項１は、特許要件を備えたものとして特許された訂正前の請求項３〜６の特許請求の範囲を減縮するものであるから、訂正事項１による訂正後の請求項３〜６も特許要件を備えたものと認める。
　したがって、請求項３〜６についての訂正事項１は、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第７項の規定に適合する。  
　４．　小括 
　以上のとおりであるから、本件訂正請求による訂正は特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号に掲げる事項を目的とするものであり、かつ、同条第９項において準用する同法第１２６条第５項から第７項までの規定に適合するので、訂正後の請求項〔１〜６〕について訂正することを認める。
  
  
　第３　本件訂正発明
　上記第２のとおり訂正することを認めるので、本件の特許請求の範囲の請求項１〜６に係る発明は、本件訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲の請求項１〜６に記載された事項により特定される、次のとおりのものである。
「【請求項１】
　粉体抵抗が１．０×１０１３Ω・ｃｍ以上３．０×１０１４Ω・ｃｍ以下であり、水分量が０．５ｗｔ％以下であり、タップ密度が０．１０ｇ／ｃｍ３以上０．４０ｇ／ｃｍ３以下であることを特徴とする疎水化球状シリカ微粉末（但し、フェニル処理による疎水化された球状シリカ微粉末を除く）。
【請求項２】
　前記疎水化球状シリカ微粉末のレーザー回折散乱式粒度分布測定機にて測定された平均粒子径が０．０８０μｍ以上０．２００μｍ以下であり、前記疎水化球状シリカ微粉末の最大粒子径が０．８００μｍ以下であることを特徴とする請求項１に記載の疎水化球状シリカ微粉末。
【請求項３】
　前記疎水化球状シリカ微粉末において顕微鏡法による投影面積円相当径０．１００μｍ以上の粒子は、平均球形度０．８８以上であり、
　前記顕微鏡法による投影面積円相当径０．１００μｍ以上の粒子の総数を１００%とした場合、球形度０．８５以下の粒子の個数割合が２０％以下であり、
　前記顕微鏡法による投影面積円相当径０．１００μｍ以上の粒子の総数を１００%とした場合、球形度０．８０以下の粒子の個数割合が１０％以下であることを特徴とする請求項１又は２に記載の疎水化球状シリカ微粉末。
【請求項４】
　温度３５℃以上５５℃以下、絶対湿度４０ｇ／ｍ３以上１００ｇ／ｍ３以下の条件下で
２４時間以上放置した球状シリカ微粉末に、前記球状シリカ粉末１ｍ２当たり、４．０×１０−６ｍｏｌ以上１．５×１０−５ｍｏｌ以下のヘキサメチルジシラザンを噴霧することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の疎水化球状シリカ微粉末の製造方法。
【請求項５】
　前記球状シリカ微粉末は、水分量が０．４ｗｔ％以下であり、レーザー回折散乱式粒度分布測定機にて測定された平均粒子径が０．０７０μｍ以上０．１７０μｍ以下であり、最大粒子径が０．３００μｍ以下であることを特徴とする請求項４に記載の疎水化球状シリカ微粉末の製造方法。
【請求項６】
　請求項１から３のいずれか１項に記載の疎水化球状シリカ微粉末を含有することを特徴とする静電荷像現像用トナー外添剤。」
　以下では、本件の特許請求の範囲の請求項１、請求項２に係る発明を、それぞれ、「本件訂正発明１」、「本件訂正発明２」といい、これらをまとめて、「本件訂正発明」ということがある。
  
  
　第４　特許異議の申立てについて
　１．　申立理由の概要
　異議申立人は、以下の甲第１号証〜甲第１０号証を提出して、以下の申立理由１〜３によって、訂正前の請求項１〜２に係る発明（以下、「本件発明１〜２」という。）に係る特許を取り消すべきものである旨主張している。
（１）　申立理由１ 
　本件発明１は、本件の優先日前に公知の甲第１号証により公然実施された発明、または、同甲第１号証に記載された発明（以下、単に「甲１発明」ということがある。）であるので、本件発明１に係る特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである（特許異議申立書第７頁第１〜６行）。
  
（２）　申立理由２ 
　本件発明１〜２は、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるので、本件発明１〜２に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである（特許異議申立書第７頁第１〜１７行）。
（３）　申立理由３
　本件発明１〜２に係る特許は、発明の詳細な説明の記載が不備のため、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない発明に対してされたものである、または、特許請求の範囲の記載が不備のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない発明に対してされたものである（特許異議申立書第７頁第１９行〜第８頁第５行）。
  
［異議申立人が提出した証拠方法］ 
甲第１号証：製品紹介、アドマナノ（登録商標）／製品一覧、
　　　　　　株式会社アドマテック、［ｏｎｌｉｎｅ ］、２０１６年、
　　　　　　Ａｄｍａｔｅｃｈｓ．、［２０１９年５月２０日検索］、イン
　　　　　　ターネット＜ＵＲＬ：https://www.admatechs.co.jp/product-
　　　　　　admanano-list.html＞ 
甲第２号証：ＹＡ０１０Ｃ−Ｇｏｏｇｌｅ検索、［ｏｎｌｉｎｅ］、
　　　　　　２０１２年１１月３０日、株式会社アドマテック、
　　　　　　［２０１９年５月２０日検索］、インターネット
　　　　　　＜ＵＲＬ：https://www.google.com/search?q=YA010Csource=
　　　　　　lnttbs=cdr%3A1%2Ccd_min%3A%2Ccd_max%3A10%2F29%2F2013tb
　　　　　　m=＞ 
甲第３号証：期間指定は「ピリオド２つ」　あなたの知らない検索ワザ、
　　　　　　ＭＯＮＯ　ＴＲＥＮＤＹ、ＮＩＫＫＥＩ　ＳＴＹＬＥ、
　　　　　［ｏｎｌｉｎｅ］、一歩先行くグーグル検索のコツ（上）、
　　　　　　２０１４年８月２２日［２０１９年５月２０日検索］、
　　　　　　インターネット＜ＵＲＬ：https://style.nikkei.com/article
　　　　　　/DGXMZO75419030Y4A800C1000000?page=2＞ 
甲第４号証：実験成績証明書（粉体抵抗値の測定結果）
甲第５号証：実験成績証明書（水分量の測定結果）
甲第６号証：実験成績証明書（タップ密度の測定結果）
甲第７号証：粉体抵抗測定報告書、２０１９年３月８日、株式会社ＭＣエバ
　　　　　　テック　尼崎事業所尼崎分析センター
甲第８号証：ＳＥＭ室の写真及び実験室１〜２の写真、２０１９年８月１日
　　　　　　撮影、令和１年８月７日　丹羽良子提出
甲第９号証：アドマナノ（登録商標）　ＹＡ０１０Ｃ−ＳＰ３のラベルの
　　　　　　写真及び納品書（２０１６年２月２８日納入）の写し、
　　　　　　令和１年８月７日　丹羽良子提出
甲第１０号証：取扱説明書　タップ密度測定器タップデンサーＫＹＴ−
　　　　　　　５０００ｋ、改正２、２０１３年１１月１日、株式会社セイ
　　　　　　　シン企業
  
　２．　取消理由の概要 
　本件発明１に係る特許に対して、令和１年１０月２９日付けで特許権者に通知した取消理由の概要は、次のとおりである。　
（１）　本件発明１は本件の優先日前に公知の甲第１号証に記載された発明であるので、本件発明１に係る特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである（以下、「取消理由１」という。）。
  
  
　３．　当審の判断
（１）　甲各号証の記載事項  
（１−１）　甲第１号証の記載事項  
１ア．　「  
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」 
  
１イ．　「  
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」 
  
１ウ．　「　ＹＡ０１０Ｃ 
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
  
（１−２）　甲第２号証の記載事項  
「   
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」 
  
（１−３）　甲第３号証の記載事項 
「  
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」 
  
（１−４）　甲第４号証の記載事項 
　甲第４号証には、株式会社アドマテックスのアドマナノ（登録商標）ＹＡ０１０Ｃ（フェニル処理品、品番ＹＡ０１０Ｃ−ＳＰ３、Ｌｏｔ．Ｎｏ．ＶＡＢ１６１−１）（以下、単に、「フェニル処理したＹＡ０１０Ｃ」という。）について、本件明細書の００１０段落の方法に準拠して粉体抵抗値を測定した結果、８．１０×１０１３Ω・ｍ（当審注：甲第７号証の記載によれば、単位は「Ω・ｃｍ」の誤記と認める。）であったことが記載されている。 
  
（１−５）　甲第５号証の記載事項 
　甲第５号証には、フェニル処理したＹＡ０１０Ｃについて、本件明細書の００１２段落の方法に準拠して水分量を測定した結果、０．４６ｗｔ％であったことが記載されている。 
  
（１−６）　甲第６号証の記載事項 
　甲第６号証には、フェニル処理したＹＡ０１０Ｃについて、本件明細書の００１４段落の方法に準拠するも、ストローク長は１０ｍｍにして、タップ密度を測定した結果、０．３４ｇ／ｃｍ３であったことが記載されている。 
　なお、異議申立人に対する令和１年９月５日付けの通知書に対して、異議申立人が令和１年１０月１０日付けで提出した意見書によれば、フェニル処理したＹＡ０１０Ｃについて、本件明細書の００１４段落の方法に準拠し、ストローク長を１８ｍｍにして、タップ密度を測定し直した結果、０．３６ｇ／ｃｍ３であったとされている。 
  
  
（２）　甲第１号証に示されている発明 
　上記３．（１−１）の１ア．〜１ウ．によれば、甲第１号証には、メタクリル、ビニル、フェニル等にて表面処理した、動的光散乱式粒度分布計にて測定した粒径が１０ｎｍであり、水分量が２％未満であり、ＥＣが２０μＳ／ｃｍ未満であるシリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃが示されており、当該シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃは、上記３．（１−２）〜（１−３）によれば、本件の優先日前に公知の真球状シリカ微粒子であると認められる。 
　してみると、甲第１号証には、本件訂正発明の優先日前に公知の真球状シリカ微粒子として、次の発明（以下、「甲１発明」という。）が記載されていると認められる。 
「メタクリル、ビニル、フェニル等にて表面処理した真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃであって、動的光散乱式粒度分布計にて測定した粒径が１０ｎｍであり、水分量が２％未満であり、ＥＣが２０μＳ／ｃｍ未満である、真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃ。」 
  
  
（３）　取消理由１についての検討  
　上記２．に示した、本件発明１は本件の優先日前に公知の甲第１号証に記載された発明（甲１発明）である旨の取消理由１について、以下に検討する。
（３−１）　本件訂正発明１と甲１発明との対比  
　本件訂正発明１と、上記（２）に示した、甲１発明とを対比すると、甲１発明における、「メタクリル、ビニル、フェニル等にて表面処理」すること、「真球状」、「シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃ」は、それぞれ、本件訂正発明１における、「疎水化」、「球状」、「シリカ微粒子」に相当するから、両者は、以下の点で一致し、以下の点で、相違していると認められる。  
＜一致点＞  
「疎水化球状シリカ微粉末」の点。 
  
＜相違点＞  
相違点１：　粉体抵抗について、本件訂正発明１は、「１．０×１０１３Ω・ｃｍ以上３．０×１０１４Ω・ｃｍ以下であ」るとの発明特定事項を備えているのに対し、甲１発明は、前記の発明特定事項を備えているのか明らかではない点。 
  
相違点２：　水分量について、本件訂正発明１は、「０．５ｗｔ％以下であ」るとの発明特定事項を備えているのに対し、甲１発明は、水分量が２％未満であるものの、前記の発明特定事項を備えているのか明らかではない点。 
  
相違点３：　タップ密度について、本件訂正発明１は、「０．１０ｇ／ｃｍ３以上０．４０ｇ／ｃｍ３以下である」との発明特定事項を備えているのに対し、甲１発明は、前記の発明特定事項を備えているのか明らかではない点。
相違点４：　疎水化球状シリカ微粉末について、本件訂正発明１は、「（但し、フェニル処理による疎水化された球状シリカ微粉末を除く）」との発明特定事項を備えているのに対し、甲１発明は、メタクリル、ビニル、フェニル等にて表面処理（疎水化）した真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃである点。
  
（３−２）　上記相違点についての検討 
ア．　事案に鑑み、まず、上記相違点４について検討するに、甲１発明は、メタクリル、ビニル、フェニル等にて疎水化した真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃであり、これらのうちの、メタクリル、ビニルにて疎水化した真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃは、本件訂正発明１において除かれたものではない。
　してみると、上記相違点４は実質的な相違点とはいえない。
イ．　次に、上記相違点１について検討する。
（ア）　甲１発明の真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃは、ＥＣが２０μＳ／ｃｍ未満であるところ、前記ＥＣとは、その単位からして、導電率を意味しており、その逆数が粉体抵抗であることから、甲１発明の真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃは、５０００Ω・ｃｍよりも大きい粉体抵抗を有するものであると認められる。
（イ）　上記（ア）に示した、甲１発明の粉体抵抗（５０００Ω・ｃｍよりも大きい粉体抵抗）は、一応、上記相違点１に係る本件訂正発明１の、「１．０×１０１３Ω・ｃｍ以上３．０×１０１４Ω・ｃｍ以下であ」るとの発明特定事項の範囲と重複してはいるものの、その範囲以外の粉体抵抗、例えば本件訂正発明の比較例の粉体抵抗をも包含するほどに、広範囲なものである。
（ウ）　ここで、上記（１）の（１−４）によれば、甲１発明のうちの、フェニル処理（疎水化）した真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃの粉体抵抗は８．１０×１０１３Ω・ｃｍとされているが、本件訂正発明１は、当該ＹＡ０１０Ｃを除くものである。
　また、上記（１）の（１−１）〜（１−６）等の甲各号証の記載事項を参照しても、甲１発明のうちの、メタクリル、ビニルにて疎水化した真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃについて、この粉体抵抗が「１．０×１０１３Ω・ｃｍ以上３．０×１０１４Ω・ｃｍ以下であ」ると把握（理解）することはできず、また、上記微粒子の粉体抵抗を上記範囲にすることが、本件優先日の技術常識であるともいえない。
（エ）　上記（ア）〜（ウ）の検討によれば、上記相違点１は実質的な相違点である。
（３−３）　小括
　上記（３−２）ア．〜イ．の検討によれば、上記相違点１は実質的な相違点である。
　してみると、上記相違点２〜３について検討するまでもなく、本件訂正発明１は、甲１発明と同じものとはいえず、取消理由１が妥当なものとはいえない。
（４）　申立理由についての検討  
　上記１．に示した申立理由１〜３のうちの、申立理由１は、上記２．に示した取消理由１と同じものであり、上記（３）で検討したとおり、妥当なものとはいえない。
　そこで、申立理由２〜３につき検討する。
（４−１）　申立理由２について
　申立理由２は、本件発明１〜２は、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである旨の申立理由である。
ア．　そして、上記（３−２）ア．〜イ．の検討によれば、上記相違点４は実質的な相違点とはいえないが、上記相違点１は実質的な相違点である。
　そこで、まず、甲１発明が、上記相違点１に係る本件訂正発明１の発明特定事項を備えるようにすることが容易になし得る技術事項であるかにつき、以下に、検討を行う。
（ア）　甲第１号証のメタクリル、ビニルにて疎水化した真球状シリカ微粒子は、粉体抵抗が５０００Ω・ｃｍよりも大きい特定値を有するものであるとしても、甲第１号証は、上記微粒子の粉体抵抗を「１．０×１０１３Ω・ｃｍ以上３．０×１０１４Ω・ｃｍ以下」の範囲に限定することを記載も示唆もするものではない。
（イ）　さらに、上記（３−２）イ．で検討したとおり、上記（１）の（１−４）によれば、甲１発明のうちの、フェニル処理（疎水化）した真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃの粉体抵抗は８．１０×１０１３Ω・ｃｍとされているが、本件訂正発明１は、当該ＹＡ０１０Ｃを除くものであるし、また、上記（１）の（１−１）〜（１−６）等の甲各号証の記載事項を参照しても、甲１発明のうちの、メタクリル、ビニルにて疎水化した真球状シリカ微粒子ＹＡ０１０Ｃについて、この粉体抵抗が「１．０×１０１３Ω・ｃｍ以上３．０×１０１４Ω・ｃｍ以下であ」ると把握（理解）することはできず、また、上記微粒子の粉体抵抗を上記範囲にすることが、本件優先日の技術常識であるともいえない。
（ウ）　上記（ア）〜（イ）の検討によれば、甲１発明が、上記相違点１に係る本件訂正発明１の発明特定事項を備えるようにすることが容易になし得る技術事項であるとはいえない。
イ．　上記ア．の検討によれば、上記相違点２〜３について検討するまでもなく、本件訂正発明１は、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
ウ．　また、本件訂正発明２は、本件訂正発明１の全ての発明特定事項を備えたものであるから、本件訂正発明２も、本件訂正発明１と同様、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
エ．　したがって、申立理由２は妥当なものとはいえない。
（４−２）　申立理由３について
ア．　申立て理由３について、タップ密度にて本件発明が特定されているところ、異議申立人は特許異議申立書で、タップ密度の測定において、ストローク長のタップ密度の測定値に与える影響が大きいことは技術常識であるにもかかわらず、ストローク長についてはどのように選択すべきかの指標すら本件明細書に開示されていないので、本件明細書の開示では、タップ密度にて本件発明を特定することができず、発明の詳細な説明の記載が不備のため、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない本件発明１〜２に対して特許されたものである、または、特許請求の範囲の記載が不備のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない本件発明１〜２に対して特許されたものである旨主張している。
イ．　本件訂正発明１は、上記第３に示されるとおり、「タップ密度が０．１０ｇ／ｃｍ３以上０．４０ｇ／ｃｍ３以下である」との特定事項を備えるものであり、当該特定事項について、本件明細書には、「疎水化球状シリカ微粉末のタップ密度はパウダテスターを用いて測定することが出来る。測定装置には、ホソカワミクロン社製「ＰＴ−Ｅ型」を使用した。温度２５℃、相対湿度５５％の条件下で２４Ｈｒ静置させた疎水化球状シリカ微粉末を１００ｍｌのカップに入れ、１秒に１回の速さで１８０回タッピング後に見掛け密度を測定した。」（【００１４】）との記載があるものの、「ストローク長」についての開示はされていない。
ウ．　ここで、特許権者が令和１年８月７日付けの回答書に添付した、乙第１〜２号証によれば、上記イ．のように本件明細書に記載の、タップ密度の測定装置である、ホソカワミクロン社製「ＰＴ−Ｅ型」は、ストローク長が１８ｍｍに固定されている測定装置であると認められる。
エ．　上記イ．〜ウ．の検討によれば、タップ密度の測定について、本件明細書の開示では、「ストローク長」が不明確であるとはいえないから、申立理由３も妥当なものとはいえない。
（４−３）　小括
　上記（４−１）〜（４−２）の検討によれば、申立理由２〜３は妥当なものとはいえないから、本件訂正発明１〜２に係る特許は、それらの申立理由によって、取り消されるべきものではない。
　第５　むすび 
　以上のとおり、取消理由、特許異議の申立理由によっては、本件訂正発明１〜２に係る特許を取り消すことができない。
　さらに、他に本件訂正発明１〜２に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
令和２年３月２５日（２０２０．３．２５）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】
　粉体抵抗が１．０×１０１３Ω・ｃｍ以上３．０×１０１４Ω・ｃｍ以下であり、水分量が０．５ｗｔ％以下であり、タップ密度が０．１０ｇ／ｃｍ３以上０．４０ｇ／ｃｍ３以下であることを特徴とする疎水化球状シリカ微粉末
（但し、フェニル処理による疎水化された球状シリカ微粉末を除く）
　【請求項２】
　前記疎水化球状シリカ微粉末のレーザー回折散乱式粒度分布測定機にて測定された平均粒子径が０．０８０μｍ以上０．２００μｍ以下であり、前記疎水化球状シリカ微粉末の最大粒子径が０．８００μｍ以下であることを特徴とする請求項１に記載の疎水化球状シリカ微粉末。
　【請求項３】
　前記疎水化球状シリカ微粉末において顕微鏡法による投影面積円相当径０．１００μｍ以上の粒子は、平均球形度０．８８以上であり、
　前記顕微鏡法による投影面積円相当径０．１００μｍ以上の粒子の総数を１００％とした場合、球形度０．８５以下の粒子の個数割合が２０％以下であり、
　前記顕微鏡法による投影面積円相当径０．１００μｍ以上の粒子の総数を１００％とした場合、球形度０．８０以下の粒子の個数割合が１０％以下であることを特徴とする請求項１又は２に記載の疎水化球状シリカ微粉末。
　【請求項４】
　温度３５℃以上５５℃以下、絶対湿度４０ｇ／ｍ３以上１００ｇ／ｍ３以下の条件下で
２４時間以上放置した球状シリカ微粉末に、前記球状シリカ粉末１ｍ２当たり、４．０×１０−６ｍｏｌ以上１．５×１０−５ｍｏｌ以下のヘキサメチルジシラザンを噴霧することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の疎水化球状シリカ微粉末の製造方法。
　【請求項５】
　前記球状シリカ微粉末は、水分量が０．４ｗｔ％以下であり、レーザー回折散乱式粒度分布測定機にて測定された平均粒子径が０．０７０μｍ以上０．１７０μｍ以下であり、最大粒子径が０．３００μｍ以下であることを特徴とする請求項４に記載の疎水化球状シリカ微粉末の製造方法。
　【請求項６】
　請求項１から３のいずれか１項に記載の疎水化球状シリカ微粉末を含有することを特徴とする静電荷像現像用トナー外添剤。