(57)【要約】【課題】  Ｕスリット端子のＵスリット周辺部を溝内に露出した状態のＵ溝を、Ａ、Ｂ両線用の複数のＵスリット端子について、各々整列して設けたＡ、Ｂ線用Ｕスリット端子保持片を有し、これら保持片の間にジャンパー線出口間隙が設けてある保安器サブモジュール等用Ｕスリットハウジングに装着された際、不用意な離脱を防ぎ所期の回線試験を効率よく行えるテストプローブを提供する。【解決手段】  １回線用の２個のＵスリット端子間距離に対応した間隔で並置され、前記ハウジングの前記２個のＵスリット端子に接触可能の２つのプローブ素子１１Ａ１、１１Ｂ１と、これら素子間に配置され、幅寸法が前記ジャンパー線出口間隙の幅よりも若干大きくなされた弾性片１２とを有する。【選択図】  図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
Ｕスリット端子のＵスリット周辺部を溝内に露出した状態のＵ溝を、Ａ線用の複数のＵスリット端子及びＢ線用の複数のＵスリット端子について、Ｕスリットへのジャンパー線の差込口を前面に揃えた状態で、それぞれ直列的に整列して設けたＡ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片が互いに平行に設けてあり、これらＡ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片の間にジャンパー線出口間隙が設けてあり、前記Ｕ溝はその側方において前記ジャンパー線出口間隙に開放している構成のＵスリットハウジングに適用される通信用保安器用テストプローブであって、
Ｕスリットハウジングの厚さ方向にＡ線及びＢ線用として対向配置された１回線用の２つのＵスリット端子間の距離に対応した間隔を以って並置され、前記Ｕスリットハウジングの前面から前記Ｕ溝へ進入してＵスリット端子に接触可能の寸法を有する２つのピン状プローブ素子と、
前記２つのプローブ素子間に配置され、前記プローブ素子に対する方向の幅寸法が前記ジャンパー線出口間隙の幅よりも若干大きくなされた弾性片と
を有していることを特徴とする通信用保安器用テストプローブ。
【請求項２】
前記弾性片が、前記Ａ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片のジャンパー線出口間隙側内側面と接触する側面に、前記Ｕ溝の溝幅寸法と同等か或いは該溝幅寸法より僅かに狭幅の案内リブを有していることを特徴とする請求項１に記載のテストプローブ。
【請求項３】
前記プローブ素子及び弾性片はケーシングに保持されており、該ケーシングは、前記各プローブ素子に関して前記弾性片の反対側に該プローブ素子に対して並置された２つの爪片を有しており、これら爪片は前記プローブ素子に面する側に同プローブ素子対して平行に伸延する案内面を有し、これら両案内面間の間隔寸法は、前記Ａ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片の外方側側面間の間隔に対応していることを特徴とする請求項１又は２に記載のテストプローブ。
【請求項４】
前記プローブ素子が前記ケーシングに固定されたプローブ管片に嵌合保持されており、更に該プローブ管片から押し出される方向へバネ賦勢されていることを特徴とする請求項１〜３の１つに記載のテストプローブ。
【請求項５】
前記弾性片がウレタンゴム製であることを特徴とする請求項１〜４の１つに記載のテストプローブ。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、テストプローブに関するものであり、特に局内電話交換機やＰＢＸ（構内交換機）などの通信装置が設置される場所において、交換機側と加入者の通信回路とのインターフェイス部に施設される本配線盤に搭載される通信用保安器サブモジュールや端子板用のテストプローブに関する。
【背景技術】
【０００２】
テストプローブは、通信回線における話中等の回線状態や電圧等の電気的特性を試験するために、本配線盤に実装された保安器サブモジュールや端子板と、各種の回線試験装置とを接続するために使用される。その際、保安器サブモジュールや端子板側では、それらに設けたＵスリット端子と接続される。
【０００３】
Ｕスリット端子は一般に保安器サブモジュールや端子板の前面側に設けられる（例えば下記特許文献１参照）。図６〜図９は一例として８回線用の保安器サブモジュールを示すものであり、図６は同保安器サブモジュールの斜視図、図７は図６の保安器サブモジュールを正面から見た図面、図８はＵスリットハウジングの拡大尺部分図、図９は図７中のＩＸ−ＩＸ線に沿う拡大尺図である。
【０００４】
図６に示すように、保安器サブモジュール１は、一般に、Ａ線用及びＢ線用の二枚のプリント配線板（一方のプリント配線盤２Ａのみが示されている）と、これらプリント配線板の間に挟み込んで取り付けられているジャンパー線整線用通線ユニット（図示せず）とを備えており、二枚のプリント配線板には、加入者側の入回線接続用端子として用いられる並列されたＡ線用Ｕスリット端子３Ａ１〜３Ａ８及びＢ線用Ｕスリット端子３Ｂ１〜３Ｂ８（図７参照）と、各Ｕスリット端子に対して一端が電気的に接続された半導体サージ防護素子などより成る保安素子４Ａ１〜４Ａ８と、各Ｕスリット端子に電気的に接続され、試験片の挿入により通信回線を切断して切り分け試験等を行うための試験弾器ユニット５と、この試験弾器ユニットと電気的に接続され、交換機側の出回線接続用端子として用いられる交換機側コネクタ６とを搭載している。なお、Ａ線及びＢ線というのは１つの通信回線を形成するための２本の通信線をそれぞれ指すものである。
【０００５】
上記Ｕスリット端子３Ａ１〜３Ａ８及び３Ｂ１〜３Ｂ８は、Ｕスリットハウジング７と一体的に成形され、同Ｕスリットハウジング内に整列した状態で保持される。Ｕスリット端子を保持する前記Ｕスリットハウジング７は、図６に示すように、保安器サブモジュール１の前部に組み込まれている。
【０００６】
図６〜図９に示すＵスリットハウジング７は、１つのＵスリット端子が２つのスリットを有する、いわゆるダブルスリット型のＵスリット端子を保持しているタイプのものであり（図９参照）、これらＵスリット端子は、図８に示すように、スリット周辺部を僅かに均等に露出させた状態でＵスリットハウジング７内に埋設保持されている。
【０００７】
スリット周辺部の前記の露出はスリットに通信線を差込んで、通信線をＵスリット端子に結線できる程度の範囲で行なわれ、その際ハウジング７には、露出されたスリット部に対し前面から通信線を差込むことができるようＵ溝が設けられている。このＵ溝は１つのＵスリット端子のＵスリットに対し各１つ設けられるものであり、従って、図７に示すように、例えばＡ線用Ｕスリット端子３Ａ１に関して、２つのＵ溝７Ａ１１、７Ａ１２が設けられ、同様にＢ線用Ｕスリット端子３Ｂ１に関して２つのＵ溝７Ｂ１１、７Ｂ１２が設けられている。
【０００８】
図８にはＵ溝とＵスリット端子との関係が拡大尺斜視図にて示されており、例えばＡ線用Ｕスリット端子３Ａ２に関して、２つのＵ溝７Ａ２１、７Ａ２２が設けられ、同様にＢ線用Ｕスリット端子３Ｂ２に関して２つのＵ溝７Ｂ２１、７Ｂ２２が設けられている。
【０００９】
Ａ線用Ｕスリット端子３Ａ１〜３Ａ８の横列を保持するハウジング７の部分、即ちＡ線用Ｕスリット端子保持片７Ａと、Ｂ線用Ｕスリット端子３Ｂ１〜３Ｂ８の横列を保持するハウジング７の部分、即ちＢ線用Ｕスリット端子保持片７Ｂとの間にはジャンパー線をＵスリットに差し込んでＵスリット端子と接続するために使用される所望幅のジャンパー線出口間隙７Ｃが設けてあり、各Ｕ溝７Ａ１１〜７Ａ８２、７Ｂ１１〜７Ｂ８２はこのジャンパー線出口間隙７Ｃに対して開放している。更に各Ｕ溝は、Ａ線用Ｕスリット端子保持片７Ａ及びＢ線用Ｕスリット端子保持片７Ｂにおいて、ジャンパー線出口間隙７Ｃに対して反対側、即ち外面側においても開放している。更に、Ａ線用Ｕスリット端子保持片７Ａ及びＢ線用Ｕスリット端子保持片７Ｂの内方側及び外方側の側面は、Ｕ溝周辺において平坦になされており、平坦な内方側及び外方側側面は互いに平行に構成されている。
【００１０】
なお、図６〜図９を参照してダブルスリット型のＵスリット端子を保持するＵスリットハウジングに関して説明したが、シングルスリット型Ｕスリット端子用のハウジングの場合も、各Ｕスリット端子についてＵ溝が１つであることを除けば、実質的に同じ構成を有している。近年急速に普及しているＡＤＳＬ対応の保安器サブモジュールの場合、シングルスリット型Ｕスリット端子を保持するハウジングを使用する傾向がある。
【００１１】
上記のような構成の保安器サブモジュールに接続して通信回線における話中等の回線状態や電圧等の電気的特性を試験するための従来の通信用保安器用テストプローブが下記特許文献２に記載されている。
【００１２】
この従来のテストプローブは、上記のＡ線用Ｕスリット端子保持片７Ａ又はＢ線用Ｕスリット端子保持片７Ｂを前記Ｕ溝形成部において挟持するための凹部を有するケースと、この凹部の内部に突出してＵスリット端子の上記の露出部側面に接触する接触子とを備えており、Ｕスリット端子と接触する接触子はリード線を介して前記回線試験装置と接続される。
【００１３】
【特許文献１】登録意匠第９２０３８７号公報
【特許文献２】特開平８−１４８２５２号公報
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【００１４】
上記従来のテストプローブによれば、Ｕスリット端子と接触子との接触状態は、上記凹部を形成する離間配置された２つの爪片が前記Ａ線用Ｕスリット端子保持片７Ａ又はＢ線用Ｕスリット端子保持片７Ｂを挟み付ける挟持力と、前記接触子がＵスリット端子と接触する際に弾性的接触をもたらす形状に構成されていることによる接触摩擦とによってもたらされるが、これら挟持力および接触摩擦はテストプローブの接続状態を必ずしも常に充分にもたらし得るものではなく、例えば試験中に作業者がテストプローブに誤って接触した際、或いは誤ってリード線に触れてテストプローブが引っ張られた際、或いは保安器サブモジュールに何らかの外力による振動が生じた際に、テストプローブがＵスリット端子から離脱する可能性が高いという不具合がある。
【００１５】
また、上記従来のテストプローブは、１つの通信回線に含まれるＡ線用及びＢ線用Ｕスリット端子に対し、それぞれ別々の接続作業が必要であり、試験のための作業に手間が掛かるという問題がある。
【００１６】
そこで、本考案の目的は、試験中におけるＵスリット端子に対する接続が確実に維持され、また一度の差込作業によりＡ線用及びＢ線用Ｕスリット端子への接続が可能な通信用保安器用テストプローブを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上記目的を達成する請求項１に記載の考案は、Ｕスリット端子のＵスリット周辺部を溝内に露出した状態のＵ溝を、Ａ線用の複数のＵスリット端子及びＢ線用の複数のＵスリット端子について、Ｕスリットへのジャンパー線の差込口を前面に揃えた状態で、それぞれ直列的に整列して設けたＡ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片が互いに平行に設けてあり、これらＡ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片の間にジャンパー線出口間隙が設けてあり、前記Ｕ溝はその側方において前記ジャンパー線出口間隙に開放している構成のＵスリットハウジングに適用される通信用保安器用テストプローブであって、
Ｕスリットハウジングの厚さ方向にＡ線及びＢ線用として対向配置された１回線用の２つのＵスリット端子間の距離に対応した間隔を以って並置され、前記Ｕスリットハウジングの前面から前記Ｕ溝へ進入してＵスリット端子に接触可能の寸法を有する２つのピン状プローブ素子と、
前記２つのプローブ素子間に配置され、前記プローブ素子に対する方向の幅寸法が前記ジャンパー線出口間隙の幅よりも若干大きくなされた弾性片とを有していることを特徴とする。
【００１８】
回線試験のためにテストプローブをＵスリットハウジングに装着した状態では、前記弾性片は前記ジャンパー線出口間隙内にやや圧縮された状態で押し込まれており、圧縮状態の弾性片はその弾性的復元作用によりＡ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片の内方側側面に圧接された状態になり、従ってＵスリットハウジングに対してテストプローブが外れ難くなるという作用をもたらす。
【００１９】
請求項２に記載の考案は、請求項１に記載のテストプローブにおいて、前記弾性片が、前記Ａ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片のジャンパー線出口間隙側側面と接触する側面に、前記Ｕ溝の溝幅寸法と同等か或いは該溝幅寸法より僅かに狭幅の案内リブを有していることを特徴とする。
【００２０】
上記の案内リブは、テストプローブをＵスリットハウジングに差込装着する際、前記Ｕ溝に係合し、前記弾性片の差込方向をＵ溝に沿った方向に規制するので、プローブ素子を確実にＵ溝内のＵスリット端子に向けて案内し、両者の確実な接触をもたらす。
【００２１】
請求項３に記載の考案は、請求項１又は２に記載のテストプローブにおいて、前記プローブ素子及び弾性片がケーシングに保持されており、該ケーシングは、前記各プローブ素子に関して前記弾性片の反対側に該プローブ素子に対して並置された２つの爪片を有しており、これら爪片は前記プローブ素子に面する側に同プローブ素子対して平行に伸延する案内面を有し、これら両案内面間の間隔寸法は、前記Ａ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片の外方側側面間の間隔に対応していることを特徴とする。
【００２２】
上記爪片は、テストプローブをＵスリットハウジングに差込装着する際、その案内面が前記Ａ線用及びＢ線用Ｕスリット端子保持片の外方側側面と接触し、テストプローブの差込方向を正確に規制するので、前記プローブ素子はＵスリット端子に対して確実に指向され、装着完了時には前記弾性片と共にプローブ素子とＵスリット端子との接触状態を確実且つ安定的に保持する。
【００２３】
請求項４に記載の考案は、請求項１〜３の１つに記載のテストプローブにおいて、前記ピン状プローブ素子が前記ケーシングに固定されたプローブ管片に嵌合保持されており、更に該プローブ管片から押し出される方向へバネ賦勢されていることを特徴とする。
【００２４】
前記テストプローブとＵスリットハウジングとの関係において、Ｕスリットハウジングに対するテストプローブ装着時に、プローブ素子がＵスリット端子と衝合した後も、前記ケーシングの爪片根元部がＵスリットハウジングの前端面に衝合するまで、前記ケーシングを更に前進させることができるように構成しておけば、上記のようにプローブ素子がプローブ管片から突出する方向へバネ賦勢されていることにより、テストプローブの押し込み最終位置付近においてプローブ素子がプローブ管片内へ押し戻され、その結果押し縮められた圧縮バネはプローブ素子をＵスリット端子に押付ける作用をもたらし、両者の接触状態を良好なものに維持する。
【００２５】
請求項５に記載の考案は、請求項１〜４の１つに記載のテストプローブにおいて、前記弾性片がウレタンゴム製であることを特徴とする。
【００２６】
ウレタンゴムは耐摩耗性であると共に、耐高温性であり、テストプローブを耐久性のあるものにすることができる。
【考案の効果】
【００２７】
本考案によると、Ｕスリットハウジングに対するテストプローブの安定的な結合状態が得られ、また、Ａ線及びＢ線用のＵスリット端子に対するテストプローブの接続が一度の差込作業によって達成されるので、通信回線状態の試験が有効且つ効果的に失敗なく効率的に行なわれるものである。
【考案を実施するための最良の形態】
【００２８】
以下、本考案による通信用保安器用テストプローブの一実施形態について、図１乃至図５を参照して説明する。
【００２９】
図１はテストプローブの斜視図、図２は図１のテストプローブの分解状態を示す斜視図、図３はプローブ素子及び同素子を保持するプローブ管片を示す拡大尺図、図４はテストプローブを通信用保安器サブモジュールに装着した状態を示す斜視図、図５は装着時のテストプローブとＵスリットハウジングとの結合状態を示す概略図である。
【００３０】
図示のように、テストプローブ１０は、２本の金属製ピン状プローブ素子１１Ａ１及び１１Ｂ１と、これらプローブ素子間に配置された弾性片１２とを有している。
【００３１】
プローブ素子１１Ａ１及び１１Ｂ１は、図２（ｂ）及び図３に示す金属製筒状プローブ管片１１Ａ２及び１１Ｂ２に軸線方向へ移動可能にそれぞれ嵌め込まれており、更にプローブ管片１１Ａ２及び１１Ｂ２内に配置された圧縮コイルバネ１１Ａ２５（図３（ｂ）参照）によってプローブ管片から押し出される方向へバネ賦勢されている。前記プローブ管片１１Ａ２及び１１Ｂ２は、それぞれリード線１１Ａ３及び１１Ｂ３と導電的に結合されており、リード線の各他端は各種の回線試験装置（図示せず）と接続される。
【００３２】
プローブ管片１１Ａ２、１１Ｂ２はケーシング１３内に互いに平行に定置保持されるものであって、このような定置保持を効果的に行うためにケーシング１３は、図２に示すように、厚み方向の中間で半分に分割した形の２つのケーシング部片１３１、１３２にて構成され、更に図２（ｂ）に示すように、各ケーシング部片の内面には、プローブ管片１１Ａ２、１１Ｂ２の直径方向の半部が程よく納まる大きさで横断面半円状の２つの平行な保持溝１３１１が同じ態様で形成され（ケーシング部片１３２に設けた保持溝は符号１３２１にて示されている）、保持溝１３１１の中途にはプローブ管片１１Ａ２、１１Ｂ２の外表面に設けた環状突条１１Ａ２２、１１Ｂ２２が係合するように側方溝（手前側の側方溝１３１２のみが示されている）が設けてある。これら環状突条と側方溝の相互作用により、両ケーシング部片１３１、１３２を、内面を接合させて合体したときに、保持溝１３１１、１３２１で形成される孔内に収められたプローブ管片１１Ａ２、１１Ｂ２はその軸線方向の動きを規制され、ケーシング１３内に定置保持される。
【００３３】
図３は、プローブ素子１１Ａ１、１１Ｂ１を保持するプローブ管片１１Ａ２、１１Ｂ２を更に具体的に示しており、両プローブ管片は同一形状を有するものであるので、図３ではプローブ管片１１Ａ２に関して説明する。
【００３４】
プローブ管片１１Ａ２は、外周面に環状突条１１Ａ２２が設けてある筒状本体部（好ましくは円筒状本体部）１１Ａ２１と、この本体部の一端から伸延しているリード線保持部１１Ａ２３とを有しており、図３（ｂ）に示す中央縦断面図から明らかなように、筒状本体部１１Ａ２１内には導電性内筒１１Ａ２４が嵌装されている。内筒１１Ａ２４はそれに嵌め込まれているプローブ素子１１Ａ１を軸線方向へ移動可能に案内保持しており、更にプローブ素子１１Ａ１を押し出す方向へバネ賦勢している圧縮バネ１１Ａ２５を収容している。プローブ素子１１Ａ１は内筒１１Ａ２４内部方向へ延びる小径の部分１１Ａ１２を有し、その内端部には鍔部１１Ａ１３が設けてあり、この鍔部は内筒１１Ａ２４の内周面に設けた狭窄部に内部側から当接するようになされ、従って圧縮バネ１１Ａ２５によるプローブ素子１１Ａ１の押し出しは、鍔部１１Ａ１３が狭窄部に当接することによって規制される。
【００３５】
内筒１１Ａ２４の端部にはリード線１１Ａ３が導電結合されており、このリード線の端部範囲はリード線保持部１１Ａ２３に嵌着されている可撓性スリーブ管１１Ａ４によって保持され且つ保護されている。
【００３６】
両プローブ素子１１Ａ１、１１Ｂ１の間に配置される上記弾性片１２は、弾性的性質を有するものであればどのような材料にても製作可能であるが、好ましくはウレタンゴム製であって、図２（ｂ）に示すように直方体形の基部１２ａを有しており、この基部は上記ケーシング１３内に定置保持されるようになされている。この定置保持は、図示の例では、両ケーシング部片１３１、１３２の内面の相互に対向する位置に、直方体形基部１２ａの厚さ方向の半部が嵌合する凹部１３１３をそれぞれ設けることによって達成される。凹部１３１３に直方体形基部１２ａを嵌め込み、両ケーシング部片１３１、１３２を、内面を合わせて合体したときに、弾性片１２はケーシング１３から突出した状態でケーシング１３に定置保持される。
【００３７】
また、ケーシングの材料として、例えば射出成形材料が想定されるが、この材料の弾性的性質を利用し、弾性片の機能を持つ部片を弾性片設置位置に形成するようにケーシングと一体成形して、弾性片の代わりとすることもできる。
【００３８】
なお、図２中、１４１、１４２は上記両ケーシング部片１３１、１３２を合体させ固定しておくためのネジであり、これらネジは両ケーシング部片を合わせた際、ケーシング部片１３１に設けたネジ穴１４１１、１４２１と螺合し、両ケーシング部片を一体化する。一体化は、上記のようなネジによる結合の他に、両ケーシング部片の対向する部分に、互いに係合し合う係合爪を設け、両ケーシング部片の結合を前記係合爪相互の係合によってもたらすように構成してもよい。
【００３９】
ケーシング１３から突出した状態の弾性片１２は、プローブ素子１１Ａ１、１１Ｂ１に面する側にプローブ素子と同方向へ延びる案内リブ１２ｂを有し、この案内リブは、テストプローブ１０がＵスリットハウジング７に差込装着される際に、図８に示すＵ溝７Ａ２１，７Ｂ２１又は７Ａ２２，７Ｂ２２と係合し、Ｕスリットハウジング７に対するテストプローブ１０の差込方向を規制する。
【００４０】
上記弾性片１２の前方縁部には、前記案内リブ１２ｂにかけて面取り部１２ｃが形成されており、この面取り部を設けたことにより、弾性片１２の先端が先細り形状になり、弾性片を上記ジャンパー線出口間隙７Ｃ（図８参照）に差し込む際の弾性片の位置決めと差込作業が容易になる。また、図２に示すように、上記弾性片１２には厚み方向へ貫通する孔１２ｄが形成されており、この孔によって弾性片１２の弾力性が調整される。
【００４１】
図１に示すように、上記ケーシング１３には２つのプローブ素子１１Ａ１、１１Ｂ１を両側から挟む形で爪片１３Ａ、１３Ｂが形成されており、これら爪片においてプローブ素子１１Ａ１、１１Ｂ１に面する側には案内面１３Ａ１、１３Ｂ１が形成されている。これら案内面は、テストプローブ１０がＵスリットハウジング７に差込装着される際に、図８に示すＡ線用Ｕスリット端子保持片７Ａ及びＢ線用Ｕスリット端子保持片７Ｂの外方側側面と接触し、Ｕスリットハウジングに対するテストプローブの差込方向を規制する。
【００４２】
上記爪片１３Ａ、１３Ｂは、図２に示すように、ケーシング部片１３１、１３２にそれぞれ厚み方向の半体づつが形成され、ケーシング部片を合体したときに爪片半体部が組み合わされて、それぞれの爪片１３Ａ、１３Ｂが構成されるようになされている。これら爪片の案内面１３Ａ１、１３Ｂ２の先端部には面取り部１３Ａ１１、１３Ｂ１１が形成され、これら面取り部は、テストプローブをＵスリットハウジングに差込装着する際に、案内面１３Ａ１、１３Ｂ２と、Ａ線用Ｕスリット端子保持片７Ａ及びＢ線用Ｕスリット端子保持片７Ｂの外方側側面との係合を円滑に開始する作用をもたらす。
【００４３】
上記プローブ素子１１Ａ１、１１Ｂ１間の間隔は，Ｕスリット端子３Ａ１、３Ｂ１の先端部間（図７）、或いは３Ａ２、３Ｂ２の先端部間（図８）の間隔に対応しており、弾性片１２の幅寸法Ｈはジャンパー線出口間隙７Ｃ（図８参照）の幅寸法よりも若干大きくなされており、爪片１３Ａ、１３Ｂの案内面１３Ａ１、１３Ｂ１間の間隔は（図８）、Ａ線用Ｕスリット端子保持片７Ａ及びＢ線用Ｕスリット端子保持片７Ｂの外方側側面間の間隔寸法に対応している。
【００４４】
図４は、通信用保安器サブモジュール１における１つの回線の回線試験を行うために、上記テストプローブ１０を通信用保安器サブモジュールのＵスリットハウジング７に差込装着した状態を示している。図５はこのように装着されたテストプローブとＵスリットハウジングとの係合状態をケーシング部片１３１の接合面及びその延長上の範囲で示すものであって、弾性片１２はジャンパー線出口間隙７Ｃ内に圧縮状態で差し込まれており、従ってテストプローブとＵスリットハウジングとの安定した結合をもたらし、プローブ素子１１Ａ１とＵスリット端子３Ａ（並びに１１Ｂ１と３Ｂ）との接続状態が安定的に維持され、回線試験を確実に達成することが可能である。更に、爪片１３Ａ、１３Ｂは、Ａ線用Ｕスリット端子保持片７Ａ及びＢ線用Ｕスリット端子保持片７Ｂの外方側側面と摩擦接触し、上記プローブ素子とＵスリット端子との接続状態の維持確保を助成する。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本考案によるテストプローブの１実施形態を示す斜視図である。
【図２】図１のテストプローブの分解状態を示す斜視図である。
【図３】プローブ素子を保持するプローブ管片を具体的に示す図であって、（ａ）は外観を示し、（ｂ）は中央縦断面図である。
【図４】図１のテストプローブを通信用保安器サブモジュールに装着した状態を示す斜視図である。
【図５】装着時のテストプローブとＵスリットハウジングとの結合状態を示す概略図である。
【図６】本考案のテストプローブが適用される一般的な通信用保安器サブモジュールの斜視図である。
【図７】図６の保安器サブモジュールを正面から見た図面である。
【図８】図６の保安器サブモジュールに設けたＵスリットハウジングの拡大尺部分図である。
【図９】図７中のＩＸ−ＩＸ線に沿う拡大尺図であって、Ｕスリットハウジング中のＵスリットの配列状態を示す図である。
【符号の説明】
【００４６】
１  保安器サブモジュール
３Ａ１〜３Ａ８  Ａ線用Ｕスリット端子
３Ｂ１〜３Ｂ８  Ｂ線用Ｕスリット端子
７  Ｕスリットハウジング
７Ａ  Ａ線用Ｕスリット端子保持片
７Ｂ  Ｂ線用Ｕスリット端子保持片
７Ｃ  ジャンパー線出口間隙
７Ａ１１〜７Ａ８２，７Ｂ１１〜７Ｂ８２  Ｕ溝
１０  テストプローブ
１１Ａ、１１Ｂ  ピン状プローブ素子
１２  弾性片
１２ｂ  案内リブ
１３  ケーシング
１３Ａ，１３Ｂ  爪片
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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