【事件の表示】
　特許第２８１００２８号「ディスクを評価するパターンを有する光ディスク」の請求項１ないし３２に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結論】
　訂正を認める。
　特許第２８１００２８号の請求項１ないし２、５ないし９、１２ないし１６、１９ないし２２、２５ないし２８、３１ないし３２に係る特許を維持する。
【理由】
（１）手続の経緯
　特許第２８１００２８号の請求項に係る発明についての出願は、平成８年４月１１日に特許出願され（優先日平成７年４月１４日の特願平７−８９８０６号、同７−８９８０７号に基づく特願平８−８９５５５号の分割）、平成１０年７月３１日にその発明について特許の設定登録がされ、その後、その特許について、異議申立人長岡千恵子により特許異議の申立てがなされ、取り消し理由通知がなされ、その指定期間内である平成１１年１１月２日に訂正請求がなされたものである。
（２）訂正の適否についての判断
ア．訂正事項
　特許権者が求めている訂正の内容は，以下のとおりである。
訂正事項ａ
　特許請求の範囲第１項、第７項、第１４項、第２１項、第２７項に係る記載
「３＜ｍ＜ｎ＜ｋであって、ｍ、ｎ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、」を
　「ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、」に訂正する。
　即ち、特許請求の範囲第１項の記載から「３＜ｍ＜ｎ＜ｋであって、ｍ、ｎ、ｋを整数とすると、」を削除する。
訂正事項ｂ
　また、特許請求の範囲第１項、第７項、第１４項、第２１項、第２７項に係る記載
「３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定されたあるピット長を有する第１ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定されたあるランド長を有する第１ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される前記第１ピットのピット長以外の他のピット長を有する第２ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される前記第１ランドのランド長以外の他のランド長を有する第２ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される残る１つのピット長を有する第３ピットと、及び
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される残る１つのランド長を有する第３ランド、」を
「
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
訂正事項ｃ
　また、特許請求の範囲第１項、第７項、第１４項に係る記載
　「このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが記録されているデータ領域と、」を
「このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　に訂正する。
　また、「前記テストパターンは、連続するピット及びランドの所定の繰り返しであり、」を
　「前記テストパターンは、
８／１６変換された
　に訂正する。
訂正事項ｄ
　特許請求の範囲第２１項に係る記載
　「記録すべきデータを変換するデータ変換工程と、及びデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有するテストパターンを記録し、」を
　「記録すべきデータを
８／１６
８／１６変換された
　また、特許請求の範囲第２７項に係る記載
　「記録すべきデータを変換するデータ変換手段と、及びデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有するテストパターンを記録し、」を
　「記録すべきデータを
８／１６
８／１６変換された
　に訂正する。
訂正事項ｅ
　特許請求の範囲第３項、第４項、第１０項、第１１項、第１７項、第１８項、第２３項、第２４項、第２９項及び第３０項を削除する。
訂正事項ｆ
　特許請求の範囲第５項、第１２項、第１９項、第２５項、第３１項に係る記載
「ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔ（ｍ＝６）を有するランド及びピット長７Ｔ（ｎ＝７）のピットの配列は、」を「ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔを有するランド及びピット長７Ｔのピットの配列は、」に訂正する。即ち、（ｍ＝６）並びに（ｎ＝７）を削除する。
訂正事項ｇ
　特許請求の範囲第６項、第１３項、第２０項、第２６項、第３２項に係る記載
「前記ピット及びランドの繰り返しは、ｍ＝６及びｎ＝７であって
」を「前記ピット及びランドの繰り返しは、」に訂正する。
　即ち、「ｍ＝６及びｎ＝７であって」を削除する。
訂正事項ｈ
　特許請求の範囲第５項に係る記載「請求項４に記載の」を「請求項１に記載の」に訂正する。
訂正事項ｉ
　特許請求の範囲第１２項に係る記載「請求項１１に記載の」を「請求項７に記載の」に訂正する。
訂正事項ｊ
　特許請求の範囲第１９項に係る記載「請求項１８に記載の」を「請求項１４に記載の」に訂正する。
訂正事項ｋ
　特許請求の範囲第２５項に係る記載「請求項２４に記載の」を「請求項２１に記載の」に訂正する。
訂正事項ｌ
　特許請求の範囲第３１項に係る記載「請求項３０に記載の」を「請求項２７に記載の」に訂正する。
訂正事項ｍ
　明細書の【課題を解決するための手段】の欄の全文を訂正する。（記載省略）
イ．訂正の目的の適否、新規事項の有無及び拡張・変更の存否
　訂正事項ａ〜ｄ、ｆ，ｇは、特許請求の範囲の記載を発明の詳細な説明中のより具体化した記載に限定するものであり、また、訂正事項ｅは、特許請求の範囲を削除するものであり、何れも特許請求の範囲の減縮に該当する。
　訂正事項ｈ〜ｌは、前記訂正事項ｅで請求項を削除したことに応じて引用する請求項を整合させたものであり、明瞭でない記載の釈明に該当する。
　訂正事項ｍは、特許請求の範囲の訂正に応じて発明の詳細な説明における【課題を解決するための手段】の欄を整合させるものであり、明瞭でない記載の釈明に該当する。
　そして、これらの訂正は、新規事項の追加に該当せず、また、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
ウ．訂正明細書の請求項に係る発明
　上記訂正による訂正明細書の請求項１に係る発明は、その特許請求の範囲の請求項１に記載された次の事項により特定されるとおりのものである。
　「【請求項１】　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　を具備することを特徴とする光ディスク。」
　なお、請求項２，５，６は請求項１の従属項、請求項７は「光ディスク再生装置」の発明、請求項８，９，１２，１３はその従属請求項、請求項１４は「光ディスクの再生方法」の発明、請求項１５，１６，１９，２０はその従属請求項、請求項２１は、「光ディスクへデータを記録する記録方法」の発明、請求項２２，２５，２６はその従属請求項、請求項２７は「光ディスクへデータを記録する記録装置」の発明、請求項２８，３１，３２は、その従属請求項であるが、何れも請求項１におけるテストパターンを備えているので、その記載は省略する。
エ．独立特許要件
（引用刊行物）
　訂正明細書の請求項１に係る発明（以下、「本件請求項１に係る発明」という。）に対して、当審が平成１１年８月１９日付けで通知した取消理由で引用した刊行物１〜４には、以下の発明が記載されている。
（ｉ）刊行物１：特開平８−６３７５１号公報（平成８年３月８日公開）
　刊行物１の図９および明細書段落【００２５】にはデータ領域が最内周のリードイン領域と最外周のリードアウト領域間に規定されている光ディスクが記載されている。
　このデータ領域の記録フォーマットについて具体的な記載はないが、本件特許の明細書の段落【００３４】に自認している通り、光ディスク固有の規格として定められたものである。
　次に、テストパターンについては、刊行物１の段落【００２５】に周波数特性測定用の学習トラックをリードイン領域に設けることが記載されている。
　また、図１のテストパターンおよび段落【００２６】〜【００２９】の記載から最短ピット（ランド）３Ｔ（＊３Ｔ）を含んで３種以上のピット（ランド）の繰返しのテストパターンを用いること、このテストパターンを用いて周波数特性補正を行うこと（段落【００３３】〜【００３５】）が記載されている。
（ｉｉ）刊行物２：特開平３−２５０４６６号公報（平成３年１１月８日公開）
　刊行物２には、符号間干渉による記録再生信号のタイミングずれの生じやすい、比較的長い正のパルスの間に挟まれた短い負のパルスと比較的長い負のパルスの間に挟まれた短い負のパルスが形成されるようなパターンとするテストパターンが記載されている。（特許請求の範囲２項、公報第３頁右上欄第１６行〜同頁左下欄第１行目、第１図参照）
（ｉｉｉ）刊行物３：特開平６−１９５７１６号公報（平成６年７月１５日公開）
　刊行物３には、刊行物２と同様に、本件請求項１に係る発明の構成要件が記載されている。
　即ち、請求項１、段落【００２１】および図３（ａ）、段落【００２６】には、例えば、８Ｔ１−２Ｔｈ−８Ｔ１−８Ｔｈ−２Ｔ１−８Ｔｈの繰り返し信号を光ディスクに記録することが記載され、再生時の波形データを用いて最適な記録パワーを求めることが記載されている。
　また、段落【００３８】には、ｌｎＴの長さは最小のランレングスと等しい長さとすべきこと、段落【００３９】には、ｌｎＴを囲んだ消去レベルまたは記録レベルの長さはｌｎＴのレベル信号の前と後で異ならせてもよいことが記載されている。
（ｉｖ）刊行物４：特開平５−１８９８７６号公報（平成５年７月３０日公開）
　刊行物４には、エラーレートを算出して、エラーレートが最小となるように再生信号を補正することが記載されている。
（対比・判断）
　本件の請求項１に係る発明と刊行物１〜４に記載された発明とを対比すると、刊行物１〜４に記載の発明はいずれも、本件請求項１に係る発明を特定するための事項である
　「テストパターンは、８／１６変調された連続するピット及びランドの所定配列の繰り返しであり、この所定配列は、
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ中から選定されたあるピット長を有する第１ピット、＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ中から選定されたあるランド長を有する第１ランド、３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ中から選定される前記第１ピットのピット長以外の他のピット長を有する第２ピット、＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ中から選定される前記第１ランドのランド長以外の他のランド長を有する第２ランド、３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ中から選定される残る１つのピット長を有する第３ピットと、及び＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ中から選定される残る１つのランド長を有する第３ランド、がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされること」を備えていない。
　そして、当該事項により、本件請求項１に係る発明の特許は、３種類のピット及びランド長の合計が８／１６変換の１バイトに相当する３Ｔ、６Ｔ、７Ｔピット及びランド長の組み合わせからなるテストパターンを用いることにより、データ領域のデータの良否を該領域の最小ピット長から最長ピット長までの全ピット長を検証しなくても確実に検証できるとの顕著な効果が得られることは明らかであるから、本件請求項１に係る発明は、上記刊行物１−４記載の発明から当業者が容易に発明をすることができたものではない。
　また、請求項２、５乃至９、１２乃至１６、１９乃至２２、２５乃至２８，３１，３２に係る発明も、上記構成を各発明を特定するための事項としているので、上記理由と同じく刊行物１〜４に記載の発明から容易に発明をすることができたものとすることができない。
　したがって、上記本件各請求項に係る発明が、特許出願の際独立して特許を受けることができないものとはいえない。
　エ．むすび
　以上のとおりであるから、上記訂正は特許法第１２０条の４第２項及び同条第３項において準用する第１２６条第２−４項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
（３）特許異議の申立てについて
ア．申立ての理由の概要
　特許異議申立人長岡千恵子は、本件請求項１乃至３２に係る発明は、その出願前公知の刊行物である下記の甲第１〜４号証に記載の発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない発明であり、本件請求項１乃至３２に係る発明の特許は特許法第１１３条第２号に該当するので取り消されるべきものである旨主張している。
イ．本件発明
　本件請求項１，２、５乃至９、１２乃至１６、１９乃至２２、２５乃至２８，３１，３２に係る発明（請求項３、４、１０、１１、１７、１８、２３、２４、２９及び３０を訂正により削除）は、その特許請求の範囲の各請求項に記載された事項により特定されるとおりのものである。（上記（２）ウ参照のこと）
ウ．証拠に記載の発明
甲第１号証：特開平５−２７４７９７号公報（平成５年１０月２２日公開）
　記録媒体からの再生信号を検出するために複数種の信号検出手段を用意し、前記記録媒体の特定のトラック位置の記録信号を読みとって、前記記録信号の符号間干渉レベルを判定し、その判定結果に応じて、前記記録媒体の各再生トラック位置における最適な信号検出手段を、前記複数種の信号検出手段の中から選択設定して、信号再生を行うようにした信号再生方法が記載されている。
　また、ディスクにデジタル信号を記録する方法として、ＤＣ成分を抑圧するＥＦＭ変調等を行った後、ＮＲＺ，ＮＲＺＩ等の変調方式で記録する点（段落【０００２】参照）、特定のパターンの同期信号をリファレンスエリアに記録しておき、符号間干渉レベルの測定に利用する点、孤立パターンは、パルスが幅が１Ｔのパルスを十分離して、例えば、４Ｔ以上離して繰り返し記録しておく点（段落【００６３】，【００６６】，図１０ｂ参照）、記録媒体の定められたエリアの前記特定のパターンを抽出する点（請求項４参照）、記録データの記録に先立って、予め、ディスク１の最内周（あるいは最外周）の位置には、コントロールトラックが形成されている点（段落【００３４】参照）また、符号間干渉レベルの測定は、コントロールトラックデータ中のブロック同期信号ＢＳの部分で行う点（段落【００４４】参照）が記載されている。甲第２号証：特開平６−１９５７１６号公報（平成６年７月１５日公開）
　甲第２号証は取消理由通知で引用した刊行物３と同じであり、前記（２）エ（引用刊行物ｉｉｉ）参照のこと。
甲第３号証：特開平５−３２５２６７号公報（平成５年１２月１０日公開）
　特定パターンをを用いて光ディスクを検査・評価する点。
　特に、ノーマーク、マークが始めと終わりの１０Ｔのマークとその間の１カ所の１４Ｔのノーマーク及びこれらの間を満たす６Ｔのマークとノーマークの繰り返えしからなるパターン（Ｌｏｎｇ　ｍａｒｋ　ｐａｔｔｅｒｎ）について記載されている。（段落【００２６】，図５参照）
甲第４号証：特開平７−２９２３８号公報（平成７年１月３１日公開）
　所定のトラックにテスト信号を記録しておき、再生時にテスト信号を再生してレーザパワーを補正する点が記載されている。
エ．対比・判断
　本件各請求項に記載の発明と上記甲１〜４号証に記載の発明との対比すると、甲第１〜４号証に記載の発明は、本願発明を特定する事項である前記（２）エ．（対比・判断）で記載した「テストパターン」の構成を備えていない。
　また、甲第１〜４号証に記載の発明によっては得られない上記（ＩＩ）エ．（対比・判断）で記したような効果が得られるものと認める。
　従って、本件の請求項に記載の各発明は、異議申立人の提示した甲第１〜４号証に記載された発明に基づいて、容易に発明をすることができたものではない。
オ．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立ての理由及び証拠によっては、本件請求項１、２、５乃至９、１２乃至１６、１９乃至２２、２５乃至２８，３１，３２に係る発明の特許を取り消すことはできない。
　また、他に上記各請求項に係る発明の特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１１年１２月２２日（１９９９．１２．２２）
【訂正の要旨】
訂正の要旨
▲１▼訂正事項ａ
　特許請求の範囲第１項、第７項、第１４項、第２１項、第２７項に係る記載
「３＜ｍ＜ｎ＜ｋであって、ｍ、ｎ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、」を
　「ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、」に訂正する。
　即ち、特許請求の範囲第１項の記載から「３＜ｍ＜ｎ＜ｋであって、ｍ、ｎ、ｋを整数とすると、」を削除する。
▲２▼訂正事項ｂ
　また、特許請求の範囲第１項、第７項、第１４項、第２１項、第２７項に係る記載
「３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定されたあるピット長を有する第１ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定されたあるランド長を有する第１ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される前記第１ピットのピット長以外の他のピット長を有する第２ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される前記第１ランドのランド長以外の他のランド長を有する第２ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される残る１つのピット長を有する第３ピットと、及び
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される残る１つのランド長を有する第３ランド、」を
「
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
▲３▼訂正事項ｃ
　また、特許請求の範囲第１項、第７項、第１４項に係る記載
　「このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが記録されているデータ領域と、」を
「このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　に訂正する。
　また、「前記テストパターンは、連続するピット及びランドの所定の繰り返しであり、」を
　「前記テストパターンは、
８／１６変換された
　に訂正する。
▲４▼訂正事項ｄ
　特許請求の範囲第２１項に係る記載
　「記録すべきデータを変換するデータ変換工程と、及びこのデータ領域外設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有するテストパターンを記録し、」を
　「記録すべきデータを
８／１６
８／１６変換された
　また、特許請求の範囲第２７項に係る記載
　「記録すべきデータを変換するデータ変換手段と、及びこのデータ領域外に設けられたテストパターン領域ピット及びランドのパターンを有するテストパターンを記録し、」を
　「記録すべきデータを
８／１６
８／１６変換された
　に訂正する。
▲５▼訂正事項ｅ
　特許請求の範囲第３項、第４項、第１０項、第１１項、第１７項、第１８項、第２３項、第２４項、第２９項及び第３０項を削除する。
▲６▼訂正事項ｆ
　特許請求の範囲第５項、第１２項、第１９項、第２５項、第３１項に係る記載
「ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔ（ｍ＝６）を有するランド及びピット長７Ｔ（ｎ＝７）のピットの配列は、」を「ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔを有するランド及びピット長７Ｔのピットの配列は、」に訂正する。即ち、（ｍ＝６）並びに（ｎ＝７）を削除する。
▲７▼訂正事項ｇ
　特許請求の範囲第６項、第１３項、第２０項、第２６項、第３２項に係る記載
「前記ピット及びランドの繰り返しは、ｍ＝６及びｎ＝７であって」を「前記ピット及びランドの繰り返しは、」に訂正する。
　即ち、「ｍ＝６及びｎ＝７であって」を削除する。
▲８▼訂正事項ｈ
　特許請求の範囲第５項に係る記載「請求項４に記載の」を「請求項１に記載の」に訂正する。
▲９▼訂正事項ｉ
　特許請求の範囲第１２項に係る記載「請求項１１に記載の」を「請求項７に記載の」に訂正する。
▲１０▼訂正事項ｊ
　特許請求の範囲第１９項に係る記載「請求項１８に記載の」を「請求項１４に記載の」に訂正する。
▲１１▼訂正事項ｋ
　特許請求の範囲第２５項に係る記載「請求項２４に記載の」を「請求項２１に記載の」に訂正する。
▲１２▼訂正事項ｌ
　特許請求の範囲第３１項に係る記載「請求項３０に記載の」を「請求項２７に記載の」に訂正する。
▲１３▼訂正事項ｍ
　明細書の【課題を解決するための手段】の欄の全文
「この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、３＜ｍ＜ｎ＜ｋであって、ｍ、ｎ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが記録されているデータ領域と、及び
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、連続するピット及びランドの所定配列の繰り返しであり、この所定配列は、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定されたあるピット長を有する第１ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定されたあるランド長を有する第１ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される前記第１ピットのピット長以外の他のピット長を有する第２ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される前記第１ランドのランド長以外の他のランド長を有する第２ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される残る１つのピット長を有する第３ピットと、及び
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される残る１つのランド長を有する第３ランド、
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　を具備することを特徴とする光ディスクが提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、３＜ｍ＜ｎ＜ｋであって、ｍ、ｎ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが記録されているデータ領域と、及び
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、連続するピット及びランドの所定配列の繰り返しであり、
この所定配列は、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定されたあるピット長を有する第１ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定されたあるランド長を有する第１ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される前記第１ピットのピット長以外の他のピット長を有する第２ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される前記第１ランドのランド長以外の他のランド長を有する第２ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される残る１つのピット長を有する第３ピットと、及び
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される残る１つのランド長を有する第３ランド、
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　有する光ディスクからデータを再生する光ディスク再生装置において、
　この光ディスクの前記テストパターンからテストパターンを光学的に読み出し、また、前記データ領域からデータを再生信号として光学的に読み出す読出手段と、
　を具備することを特徴とする光ディスク再生装置が提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、３＜ｍ＜ｎ＜ｋであって、ｍ、ｎ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが記録されているデータ領域と、及び
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、連続するピット及びランドの所定配列の繰り返しであり、この所定配列は、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定されたあるピット長を有する第１ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定されたあるランド長を有する第１ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される前記第１ピットのピット長以外の他のピット長を有する第２ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される前記第１ランドのランド長以外の他のランド長を有する第２ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される残る１つのピット長を有する第３ピットと、及び
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される残る１つのランド長を有する第３ランド、
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　有する光ディスクからデータを再生する再生方法において、
　この光ディスクの前記テストパターンからテストパターンを光学的に読み出し、また、前記データ領域からデータを再生信号として光学的に読み出す読出工程と、
　を具備することを特徴とする光ディスクの再生方法が提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、３＜ｍ＜ｎ＜ｋであって、ｍ、ｎ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせに相当する物理データに記録すべきデータを変換するデータ変換工程と、及び
　このデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有するテストパターンを記録し、前記データ領域に前記物理データを記録する記録工程であって、前記テストパターンは、連続するピット及びランドの所定配列の繰り返しであり、この所定配列は、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定されたあるピット長を有する第１ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定されたあるランド長を有する第１ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される前記第１ピットのピット長以外の他のピット長を有する第２ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される前記第１ランドのランド長以外の他のランド長を有する第２ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される残る１つのピット長を有する第３ピットと、及び
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される残る１つのランド長を有する第３ランド、
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされるようにテストパターン領域にテストパターンを記録する工程と、
　を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録する記録方法が提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、３＜ｍ＜ｎ＜ｋであって、ｍ、ｎ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせに相当する物理データに記録すべきデータを変換するデータ変換手段と、及び
　このデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有するテストパターンを記録し、前記データ領域に前記物理データを記録する記録手段であって、前記テストパターンは、連続するピット及びランドの所定配列の繰り返しであり、この所定配列は、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定されたあるピット長を有する第１ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定されたあるランド長を有する第１ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される前記第１ピットのピット長以外の他のピット長を有する第２ピット、
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される前記第１ランドのランド長以外の他のランド長を有する第２ランド、
　３Ｔ、ｍＴ及びｎＴ中から選定される残る１つのピット長を有する第３ピットと、及び
　＊３Ｔ、＊ｍＴ及び＊ｎＴ中から選定される残る１つのランド長を有する第３ランド、
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされるようにテストパターン領域にテストパターンを記録する記録手段と、
　を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録する記録装置が提供される。」を
「この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　を具備することを特徴とする光ディスクが提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　有する光ディスクからデータを再生する光ディスク再生装置において、
　この光ディスクの前記テストパターンからテストパターンを光学的に読み出し、また、前記データ領域からデータを再生信号として光学的に読み出す読出手段と、
　を具備することを特徴とする光ディスク再生装置が提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　有する光ディスクからデータを再生する再生方法において、
　この光ディスクの前記テストパターンからテストパターンを光学的に読み出し、また、前記データ領域からデータを再生信号として光学的に読み出す読出工程と、
　を具備することを特徴とする光ディスクの再生方法が提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ問のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせに相当する物理データに記録すべきデータを
８／１６
　このデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有する
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされるようにテストパターン領域にテストパターンを記録する工程と、
　を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録する記録方法が提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせに相当する物理データに記録すべきデータを
８／１６
　このデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有する
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされるようにテストパターン領域にテストパターンを記録する記録手段と、
　を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録する記録装置が提供される。」
　に訂正する。
（５４）【発明の名称】
ディスクを評価するパターンを有する光ディスク
（５７）【特許請求の範囲】
　　【請求項１】
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　を具備することを特徴とする光ディスク。
　　【請求項２】
　　前記データ領域が内周領域のリードイン領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設けられていることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク。
　　【請求項５】
　　ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔを有するランド及びピット長７Ｔのピットの配列は、コード語“００１０００００１００００００１“が相当することを特徴とする
請求項１
　　【請求項６】
　　前記ピット及びランドの繰り返しは、
　３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ、
　３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、
　７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、及び
　７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ、
のグルーブから選定された１つを有していることを特徴とする請求項１に記載のの光ディスク。
　　【請求項７】
　　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　有する光ディスクからデータを再生する光ディスク再生装置において、
　この光ディスクの前記テストパターンからテストパターンを光学的に読み出し、また、前記データ領域からデータを再生信号として光学的に読み出す読出手段と、
　を具備することを特徴とする光ディスク再生装置。
　　【請求項８】
　　前記テストパターンから読み出されたテストパターン再生信号のエラーレートを検出する検出手段と、及び
　　この前記エラーレートを最小とするように前記再生信号を補正する補正手段と、
　を更に具備することを特徴とする請求項７の光ディスク再生装置。
　　【請求項９】
　　前記データ領域が内周領域のリードイン領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設けられていることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク再生装置。
　　【請求項１２】
　　ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔを有するランド及びピット長７Ｔのピットの配列は、コード語“００１０００００１００００００１“が相当することを特徴とする
請求項８
　　【請求項１３】
　　前記ピット及びランドの繰り返しは、
　３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ、
　３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、
　７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、及び
　７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ、
のグルーブから選定された１つを有していることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク再生装置。
　　【請求項１４】
　　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　有する光ディスクからデータを再生する再生方法において、
　この光ディスクの前記テストパターンからテストパターンを光学的に読み出し、また、前記データ領域からデータを再生信号として光学的に読み出す読出工程と、
　を具備することを特徴とする光ディスクの再生方法。
　　【請求項１５】
　　前記テストパターンから読み出されたテストパターン再生信号のエラーレートを検出する検出工程と、及び
　この前記エラーレートを最小とするように前記再生信号を補正する補正工程と、
　を更に具備することを特徴とする請求項１４の光ディスクの再生方法。
　　【請求項１６】
　前記データ領域が内周領域のリードイン領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設けられていることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生方法。
　　【請求項１９】
　　ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔを有するランド及びピット長７Ｔのピットの配列は、コード語“００１０００００１００００００１“が相当することを特徴とする
請求項１４
　　【請求項２０】
　　前記ピット及びランドの繰り返しは、
　３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ、
　３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、
　７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、及び
　７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ、
のグループから選定された１つを有していることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生方法。
　　【請求項２１】
　　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせに相当する物理データに記録すべきデータを
８／１６
　このデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有する
８／１６変換された
　
３Ｔ６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされるようにテストパターン領域にテストパターンを記録する工程と、
　を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録する記録方法。
　　【請求項２２】
　　前記データ領域が内周領域のリードイン領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設けられていることを特徴とする請求項２１に記載の光ディスクの記録方法。
　　【請求項２５】
　　ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔを有するランド及びピット長７Ｔのピットの配列は、コード語“００１０００００１００００００１“が相当することを特徴とする
請求項２１
　　【請求項２６】
　　前記ピット及びランドの繰り返しは、
　３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ、
　３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、
　７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、及び
　７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ、
のグループから選定された１つを有していることを特徴とする請求項２１に記載の光ディスクの記録方法。
　　【請求項２７】
　　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせに相当する物理データに記録すべきデータを
８／１６
　このデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有する
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされるようにテストパターン領域にテストパターンを記録する記録手段と、
　を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録する記録装置。
　　【請求項２８】
　　前記データ領域が内周領域のリードイン領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設けられていることを特徴とする請求項２７に記載の光ディスクの記録装置。
　　【請求項３１】
　　ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔを有するランド及びピット長７Ｔのピットの配列は、コード語“００１０００００１００００００１“が相当することを特徴とする
請求項２７
　　【請求項３２】
　　前記ピット及びランドの繰り返しは、
　３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ、
　３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、
　７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、
　６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、及び
　７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ、
のグループから選定された１つを有していることを特徴とする請求項２７に記載の光ディスクの記録装置。
【発明の詳細な説明】
　　【発明の属する技術分野】
　　この発明は、光ディスク、この光ディスクへのデータを記録する記録方法及びデータ記録装置並びに光ディスクからデータを再生するデータ再生方法及びデータ再生装置に係り、特に、チルト量を検出可能な検出信号が記録された光ディスク、この光ディスクにチルト量検出信号をデータとともに記録する記録方法及びデータ記録装置並びに光ディスクからチルト量検出信号を検出してデータを再生するデータ再生方法及びデータ再生装置に関する。
　また、この発明は、評価テストパターンを有する光ディスク、この光ディスクへ評価テストデータと供に再生データを記録する記録方法及びデータ記録装置並びに光ディスクから評価データを読み出して光ディスクを評価する方法及び装置に係り、特に、製造された光ディスクの良否を判定可能な評価テストパターンが記録された光ディスク、この光ディスクに評価テストパターンを再生データとともに記録する記録方法及びその装置並びに光ディスクから評価テストパターン信号を検出して製造された光ディスクの良否を判定する方法及びその装置に関する。
　　【従来の技術】
　　情報記録再生装置の一種である光学的に情報を再生する光ディスク装置では、ディスク再生面と対物レンズ面との相対的なチルト量が大きい程、再生信号の周波数特性が悪化し最終的にはデーターリード時のエラーレートが悪化することが知られている。この相対的なチルト量は、ディスクの物理的ソリによるチルトと光ヘッドの対物レンズの物理的傾きによるチルトで定まるとされている。
　従来、このような問題点を解決するために、機械的に光ヘッドを傾け、ディスク再生面と対物レンズ面との相対的チルトなくす方法が例えば、特開平３−１４２７２３等に知られている。この従来の装置は、光ピックアップが傾動可能に支持され、ギヤを介して傾動源としてのモータに機械的に連結される構造を有している。このような装置では、ディスクのチルト量が検出され、これに応じてモーターが回転されてギヤを介して光ピックアップが傾けられて対物レンズと光ディスクとの間の相対的なチルト量が制御されている。このような制御系で、ディスク再生面と対物レンズ面との相対的なチルトが除去されるとしている。
　　【発明が解決しようとする課題】
　　このような従来の制御方式を採用した装置においては、制御系内にモータ、ギヤなどの機械部品が介在するため、高帯域でのチルト補正制御が困難で直流成分近傍の制御帯域でしかチルト補正ができない問題があり、また、機械部品を使用するため装置の小型化が困難である問題がある。特に、高密度で大容量の情報を記録できる光ディスクが開発されつつある今日では、情報再生の為には、直流成分域のチルト補正では、不十分とされ、直流成分域のみならず、高帯域においても正確にチルト補正が可能な方式の開発が望まれている。
　また、情報記録再生装置の一種である光学的にデータを再生する光ディスク装置では、光ディスクにデータが高い精度で記録されていることが、高い精度でデータを再生する前提となっている。例えば、光ディスクに形成されているピットの成形性が悪いと、当然のことながら、高い精度、換言すれば、低いエラーレートでそのピットから再生信号が再生されず、データの再生が不能となる事態が予想される。同様に、再生信号の再生信号の周波数特性が悪化すると、最終的にはデーターリード時のエラーレートが悪化し、また、隣接するピット列からのクロストーク成分が大きいと、検索対象にピット列から検索データが得られなくなることが知られている。
　従来から製造された光ディスクの良否を高精度で判定する方式の出現が望まれていたが、比較的記憶容量が大きくない光ディスクでは、実際の再生系で記録データを確認すれば、そのデータの記録の良否を判定するに十分であるとされている。然ながら、高密度で大容量の情報を記録できる光ディスクが開発されつつある今日では、より高精度にデータの記録り良否を判定することが要求され、そのような方式の開発が望まれている。
　この発明は、上述したような事情に鑑みなされたものでの第１の目的は、この発明の第１の目的は、その再生面と対物レンズ面との相対的な傾きが発生しても再生信号の特性を最適化することができる光ディスクを提供するにある。
　この発明の第２の目的は、その再生面と対物レンズ面との相対的な傾きが発生しても再生信号の特性を最適化することができるテストパターンを光ディスクに記録する方法を提供するにある。
　この発明の第３の目的は、光ディスク再生面と対物レンズ面との相対的な傾きが発生しても再生信号の特性を最適化することができるテストパターンを光ディスクに記録する装置を提供するにある。
　この発明の第４の目的は、光ディスクから再生信号の特性を最適化することができるテストパターンを読み出して再生信号を最適化する再生方法を提供するにある。この発明の第５の目的は、光ディスクから再生信号の特性を最適化することができるテストパターンを読み出して再生信号を最適化する再生装置を提供するにある。
　　【課題を解決するための手段】
　　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　を具備することを特徴とする光ディスクが提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ６Ｔ及び７Ｔ中
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　有する光ディスクからデータを再生する光ディスク再生装置において、
　この光ディスクの前記テストパターンからテストパターンを光学的に読み出し、また、前記データ領域からデータを再生信号として光学的に読み出す読出手段と、
　を具備することを特徴とする光ディスク再生装置が提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせでデータが
８／１６変換されて
　このデータ領域外に設けられ、ピット及びランドのパターンを有するテストパターンが記録されたテストパターン領域であって、前記テストパターンは、
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされているテストパターン領域と、
　有する光ディスクからデータを再生する再生方法において、
　この光ディスクの前記テストパターンからテストパターンを光学的に読み出し、また、前記データ領域からデータを再生信号として光学的に読み出す読出工程と、
　を具備することを特徴とする光ディスクの再生方法が提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせに相当する物理データに記録すべきデータを
８／１６
　このデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有する
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされるようにテストパターン領域にテストパターンを記録する工程と、
　を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録する記録方法が提供される。
　この発明によれば、
　チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット長ｋＴ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長ｋＴ間のピット長のいずれかを有し、ランドが最短ランド長＊３Ｔ、最長ランド長＊ｋＴ並びに最短ランド長＊３Ｔ及び最長ランド長＊ｋＴ間のランド長のいずれかを有し、このピット及びランドの配列の組み合わせに相当する物理データに記録すべきデータを
８／１６
　このデータ領域外に設けられたテストパターン領域にピット及びランドのパターンを有する
８／１６変換された
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ、＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　
３Ｔ、６Ｔ及び７Ｔ
　
＊３Ｔ＊６Ｔ及び＊７Ｔ
　がその順序で配列され、この所定配列が繰り返えされるようにテストパターン領域にテストパターンを記録する記録手段と、
　を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録する記録装置が提供される。
　　【発明の実施の形態】
　以下、図面を参照してこの発明の実施例に係る光ディスク及び光ディスク再生装置を説明する。
　図１は、この発明の一実施例に係る光ディスクからデータを再生する光ディス再生装置のブロックを示し、図２は、図１に示された光ディスクをドライブするディスクドライブ部のブロックを示し、図３及び図４は、図１及び図２に示した光デスクの構造を示している。
　図１に示すように光ディスク再生装置は、キー操作／表示部４、モニター部６及びスピーカー部８を具備している。ここで、ユーザがキー操作／表示部４を操作することによって光ディスク１０から記録データが再生される。記録データは、映像データ、副映像データ及び音声データを含み、これらは、ビデオ信号及びオーディオ信号に変換される。モニター部６は、ビデオ信号によって映像を表示し、スピーカー部８は、オーディオ信号によって音声を発生している。
　既に知られるように光ディスク１０は、種々の構造がある。この光ディスク１０には、例えば、図３に示すように、高密度でデータが記録される読み出し専用ディスクがある。図３に示されるように光ディスク１０は、一対の複合層１８とこの複合ディスク層１８間に介挿された接着層２０とから構成されている。この各複合ディスク層１８は、透明基板１４及び記録層、即ち、光反射層１６から構成されている。このディスク層１８は、光反射層１６が接着層２０に接触するように配置される。この光ディスクｌ０には、中心孔２２が設けられ、その両面の中心孔２２の周囲には、この光ディスク１０をその回転時に押さえる為のクランピング領域２４が設けられている。中心孔２２には、光ディスク装置にディスク１０が装填された際に図２に示されたスピンドルモータ１２のスピンドルが挿入され、ディスクが回転される間、光ディスク１０は、そのクランピング領域２４でクランプされる。
　図３に示すように、光ディスク１０は、その両面のクランピング領域２４の周囲に光ディスク１０に情報を記録することができる情報領域２５を有している。各情報領域２５は、その外周領域が通常は情報が記録されないリードアウト領域２６に、また、クランピング領域２４に接するその内周領域が同様に、通常は情報が記録されないリードイン領域２７に定められ、更に、このリードアウト領域２６とリードイン領域２７との間がデータ記録領域２８に定められている。データ記録領域２８は、この光ディスク固有の規格として定められた所定の論理フォーマットを有している。その詳細に関しては、欧州特許出願番号　９６１０１２８２．０，ｆｉｌｅｄ　Ｊａｎｕｒａｒｙ　３０，１９９、Ｋｉｋｕｃｈｉ　ｅｔ．ａｌに記述されている。論理フォーマットの詳細に関しては、その明細書を参照されたい。
　図４に示すようにリードアウト領域２６外であってその領域２６に接する外側の領域部分２９Ｂ及びリードイン領域２７外であってその領域２７に接する内側の領域部分２９Ａの両方又は少なくとも一方には、光ディスク１０に形成されたピット列を評価するためのテストパターンの１例として次のような４グループのピット列が形成されている。この４グループのテストパターンは、後に説明するようにビデオデータ等の再生対象データとは別に外部の信号発生器から評価データとして光ディスクに記録される場合には、リードイン領域２７外であってその領域２７に接する内側の領域部分２９Ａに記録される。然ながら、ビデオデータ等の再生対象データの先頭に評価データを設け、評価データ及びこれに続いて再生対象データが記録される場合には、リードイン領域２７に記録されても良い。後に他の実施例として図１４（ａ）、図１４（ｂ）及び図１５を参照して説明されるように３Ｔ−６Ｔ−７Ｔパターンの評価データは、リードイン領域２７に記録される。
　４グループのテストパターンに相当するピット列の説明において、Ｔは、チャネルビット長を示し、ｎ及びｍは、整数であって（□Ｔ）は、ピット長及び（＊□Ｔ）は、隣接するピット間の間隔に相当する非ピット長を表している。ここで、図１及び２に示した再生装置では、光ディスク１０は、その半径方向の位置によってその回転速度が変更され、トラックが光ビームで一定の線速で走査される線速一定のＣＬＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ　Ｌｉｎｅａｒ　Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）タイプであることから、ピット長ｎＴ、ｍＴの夫々は、光ディスク１０の内周から外周に亘って一定長で形成される。
　（ａ）　図５（Ａ）　に示すような最長ピット長（ｎＴ）を有するピット及び非ピットが操り返されるピット列（ｎＴ＋＊ｎＴ）としての最長ピット長列の第１グループ
　（ｂ）　図６（Ａ）　に示すような最短ピット長（ｍＴ）を有するピット及び非ピットが操り返されるピット列（ｍＴ＋＊ｍＴ）としての最短ピット長列の第２グループ
　（ｃ）　最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から所定ピット長列〔（ｍ＋８）Ｔ＋＊（ｍ＋８）Ｔ］までの間に相当し、その間では、いずれも倍数の関係にない下記に示すようなピット長列を有するピット及び非ピットの繰り返しが配列された繰り返しピット長列の第３グループ：
　［（ｍＴ＋＊ｍＴ）］の［ｐ回の繰り返し］
　［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］の［ｑ回の繰り返し］
　［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］の［ｒ回の繰り返し］
　［（ｍ＋４）Ｔ＋＊（ｍ＋４）Ｔ］の［ｓ回の繰り返し］
　［（ｍ＋８）Ｔ＋＊（ｍ＋８）Ｔ］の［ｔ回の繰り返し］
　尚、ここで、（ｐ＞ｑ＞ｒ＞ｓ＞ｔ）の関係が成立し、ｐ、ｑ、ｒ、ｓ、ｔ回の操り返しピット列を再生するに要する時間が略一定になるように選定される。また、［（ｍ＋８）Ｔ＋（ｍ＋８）Ｔ］は、具体的には、最長ピット列（ｎＴ＋＊ｎＴ）に相当する。
　（ｄ）　図８に示すように最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディスク１０の１周に亘って操り返され、中心トラックに相当するこの最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）に隣接するトラックとしてピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］が光ディスク１０の手前の１周に亘って繰り返され、更に最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）に隣接してピット長列［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が光ディスク１０の次の１周に亘って繰り返されるピット長列の第４グループ
　第４グループにおいては、図８に示されるようにピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］が内周のトラック、ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）が中心トラック及びピット長列［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が外周トラックとして光ディスク１０の半径方向に沿って配置されている。然ながら、この図８に示される配置に代えて、ピット長列［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が内周のトラック、ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）が中心トラック及びピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］が外周トラックとして光ディスク１０の半径方向に沿って配置されても良い。
　上述した第１グループから第４グループのピット長列は、具体的には、（ｍ＝３）及び（ｎ＝１１）が相当し、次のような関係となる。
　（ａ）　第１グループ：最長ピット長（１１Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット列（１１Ｔ＋＊１１Ｔ）
　（ｂ）　第２グループ：最短ピット長（３Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット列（３Ｔ＋＊３Ｔ）
　（ｃ）　第３グルーブ：下記に示すようなピット長列の繰り返し配列
　（３Ｔ＋＊３Ｔ）の［ｐ回の繰り返し］
　（４Ｔ＋＊４Ｔ）の［ｑ回の繰り返し］
　（６Ｔ＋＊６Ｔ）の［ｒ回の繰り返し］
　（７Ｔ＋＊７Ｔ）の［ｓ回の繰り返し］
　（１１Ｔ＋＊１ｌＴ）の［ｔ回の繰り返し］
　既に説明したように（４Ｔ＋＊４Ｔ）、（６Ｔ＋＊６Ｔ）及び（７Ｔ＋＊７Ｔ）のピット列は、最短ピット長列（３Ｔ＋＊３Ｔ）から所定ピット長列（ｌｌＴ＋＊１１Ｔ）までの間に相当し、これらは、いずれも倍数の関係になっていない。
　（ｄ）　最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）が光ディスク１０の１周に亘って繰り返され、中心トラックに相当するこの最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）に隣接するトラックとしてピット長列（５Ｔ＋＊５Ｔ）が光ディスク１０の手前の１周に亘って繰り返され、更に最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）に隣接してピット長列（６Ｔ＋＊６Ｔ）が光ディスク１０の次の１周に亘って繰り返されるピット長列の第４グループ
　また、テストパターンの他の例としてとして次のようなピット列が形成されても良い。
　（ａ）　図５（ａ）に示すような最長ピット長（ｎＴ）を有するピット及び非ピットが操り返されるピット列（ｎＴ＋＊ｎＴ）としての最長ピット長列の第１グループ
　（ｂ）　図６（ａ）　に示すような最短ピット長（ｍＴ）を有するピット及び非ピットが操り返されるピット列（ｍＴ＋＊ｍＴ）としての最短ピット長列の第２グループ
　他の例として次のよりな関係であっても良い。
　（ｃ）　最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から所定ピット長列［（ｍ＋１４）Ｔ＋＊（ｍ＋１４）Ｔ］までの間に相当し、この間のピット列がいずれも倍数の関係にない下記に示すようなピット長列の繰り返しが配列された繰り返しピット長列の第３グループ
　［（ｍＴ＋＊ｍＴ）の［ｐ回の繰り返し］
　［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］の［ｑ回の繰り返し］
　［（ｍ＋３）Ｔ＋＊（ｍ＋３）Ｔ］の［ｒ回の繰り返し］
　［（ｍ＋７）Ｔ＋＊（ｍ＋７）Ｔ］の［ｓ回の繰り返し］
　［（ｍ十１４）Ｔ＋＊（ｍ＋１４）Ｔ］の［ｔ回の繰り返し］
　尚、ここで、（Ｐ＞ｑ＞ｒ＞ｓ＞ｔ）の関係が成立し、ｐ、ｑ、ｒ、ｓ、ｔ回の繰り返しピット列を再生するに要する時間が略一定になるように選定される。また、［（ｍ＋１４）Ｔ＋＊（ｍ＋１４）Ｔ］は、具体的には、最長ピット列（ｎＴ＋＊ｎＴ）に相当する。
　（ｄ）　図８に示すように最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディスク１０の１周に亘って繰り返され、中心トラックに相当するこの最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）に隣接トラックとしてピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］が光ディスク１０の手前の１周に亘って繰り返され、更に最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）に隣接してピット長列［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が光ディスク１０の次の１周に亘って繰り返されるピット長列の第４グループ
　上述した他の例に係る第１グループから第４グループのピット長列は、具体的には、（ｎ＝１８）及び（ｍ＝４）が相当し、次のような関係となる。
　（ａ）　第１グループ：最長ピット長（４Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット列（１８Ｔ＋＊１８Ｔ）
　（ｂ）　第２グループ：最短ピット長（４Ｔ）を有するピット及び非ピットが操り返されるピット列（４Ｔ＋＊４Ｔ）
　（ｃ）　第３グループ：下記に示すようなピット長列の繰り返し配列
　（４Ｔ＋＊４Ｔ）の［ｐ回の繰り返し］
　（５Ｔ＋＊５Ｔ）の［ｑ回の繰り返し］
　（７Ｔ＋＊７Ｔ）の［ｒ回の繰り返し］
　（１１Ｔ＋＊１１Ｔ）の［ｓ回の繰り返し］
　（１８Ｔ＋＊１８Ｔ）の［ｔ回の繰り返し］
　同様に（５Ｔ＋＊５Ｔ）、（７Ｔ＋＊７Ｔ）及び（１１Ｔ＋＊１１Ｔ）のピット列は、最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）から所定ピット長列（１８Ｔ＋＊１８Ｔ）までの間に相当し、これらは、いずれも倍数の関係になっていない。
　（ｄ）　最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）が光ディスク１０の１周に亘って繰り返され、中心トラックに相当するこの最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）に隣接するトラックとしてピット長列（５Ｔ＋＊５Ｔ）が光ディスク１０の手前の１周に亘って繰り返され、更に最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）に隣接してピット長列（６Ｔ＋＊６Ｔ）が光ディスク１０の次の１周に亘って繰り返されるピット長列の第４グループ
　図５（ａ）に示すような第１グルーブの最長ピット長（ｎＴ）を有するピット列からの反射光ビームが検出されて再生信号に変換されると、図５（ｂ）に示すような再生信号が得られる。また、図６（ａ）に示すような第２グループの最短ピット長（ｍＴ）を有するピットからの反射光ビームが検出されて再生信号に変換されると、図６（ｂ）に示すような再生信号が得られる。
　後に説明するように図５（ｂ）及び図６（ｂ）に示される第１及び第２グループの再生波形からスタンパ、即ち、原盤から形成される光ディスク１０のピットの成形性が評価される。また、第３グループのピット列を光ビームで再生信号に変換すると、図７に示されるようなＭＴＦ（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ　Ｔｒａｎｓｆｅｒ　Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）信号が得られる。このＭＴＦ信号では、ピット長が小さければ小さい程、再生信号の振幅が小さく、ピット長が大きければ大きいほど、再生信号の振幅が大きくなっている。この図７に示されるＭＴＦ信号特性からピットから再生された再生信号の周波数特性を評価することができる。
　更に、第４グループのピット列は、図８に示されるように中心トラックに相当するピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）及び隣接トラックに相当するピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及び［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が形成されていることから、再生信号中に含まれる隣接トラックからのクロストークを評価することができる。ここで、クロストーク量Ｃｔは、再生トラックの振幅Ａｔ（中心トラックに相当する。）から隣接するトラックの振幅Ｂｒを引いた値に相当する（Ｃｔ＝Ｂｒ−Ａｔ（ｄＢ））。
　更にまた、リードアウト領域２６及びリードイン領域２７の両方、又は少なくとも一方には、光ディスク１０に形成されたピット列を評価するための第１グループから第４グループまでのピット列に加えて更に光ディスク１０の再生面と対物レンズ３４との間の相対的なチルト量を補正するための第２のテストパターンが第５グループのピット列として形成されている。第５グループのピット列は、最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から最長ピット長列（ｎＴ＋＊ｎＴ）まで各ピット列の繰り返し配列がそのピット長順に配列されている。
　第５グループの第１の例では、（ｍ＝３、ｎ＝１１）であって、３Ｔから１１Ｔまでのピット長を有するピット列が配列される。また、第５グループの他の例としては（ｍ＝４、ｎ＝１８）であって、４Ｔから１８Ｔまでのピット長を有するピット列が配列される。第５グルーブの第１の例では、その第２のテストパターンが再生されると、図９（ａ）、図９（ｂ）、図９（ｃ）に示すようなＭＴＦ信号が再生される。後に詳述するようにこのＭＴＦ信号によって光ディスク１０の再生面と対物レンズ３４との間の相対的なチルト量が補正される。図９（ａ）から理解されるように各ピット列の繰り返し数は、第３グループの繰り返し数（ｐからｔ）と同様にその繰り返しのピット列を再生する時間が略一定となるように選定されている。また、図９（ａ）に示すＭＴＦ信号は、その信号波形を拡大した信号波形を示す図９（ｂ）及び図９（ｃ）の信号波形から明かなように各ピットに対する信号波形の集合となっている。
　次に、このような光ディスク１０からデータを再生する光ディスク再生装置について図１及び図２を参照して説明する。光ディスク再生装置においては、光ディスクをドライブするディスクドライブ部３０で光ディスク１０が光ビームで検索される。即ち、図２に示すように、光ディスクｌ０は、モータ駆動回路１１によって駆動されるスピンドルモータ１２上に載置され、このスピンドルモータ１２によって線速一定で回転されている。光ディスク１０の下方には、この光ディスク１０に光ビーム、即ら、レーザビームを集光する光ヘッド、即ち、光ピックアップ３２が設けられている。この光ヘッド３２は、情報記録領域２５、特に、データ記録領域２８を検索する為にその光ディスク１０の半径方向に移動可能にガイド機構（図示せず。）に載置され、駆動回路３７からの駆動信号によって駆動されるフィードモータ３３で光ディスク１０の半径方向に移動される。光ディスク１０には、対物レンズ３４がその光軸に沿って移動可能に保持され、フォーカス駆動回路３６からの駆動信号に応答してその光軸方向に移動され、常にフォーカス状態に対物レンズ３４が維持され、微小ビームスポットが記録層１６上に形成される。また、この対物ンンズ３４は、光ディスク１０の半径方向に沿って微動可能に保持され、トラック駆動回路３８からの駆動信号に応答して微動され、常にトラッキング状態に維持されて光ディスク１０の記録層１６上のトラックが光ビームで追跡される。
　光ヘッド３２では、光ディスク１０から反射された光ビームが検出され、検出されたこの検出信号は、光ヘッド３２からヘッドアンプ４０を介してサーボ処理回路４４に供給されている。サーボ処理回路４４では、検出信号からフォーカス信号、トラッキング信号及びモータ制御信号を生成し、これらの信号を夫々駆動回路３６、３８、１１に供給している。従って、対物レンズ３４がフォ−カス状態及びトラッキング状態に維持され、また、スピンドルモータ１２が所定の回転数で回転され、光ビームによって記録層１６上のトラックが光ビームで、例えば、線速一定で追跡される。システムＣＰＵ部５０からアクセス信号としての制御信号がサーボ処理回路４４に供給されると、サーボ処理回路４４から移動信号が駆動回路３７に供給され、光ヘッド３２が光ディスクｌ０の半径方向に冶って移動され、記録層１６の所定のセクタがアクセスされ、再生データがヘッドアンプ４０で増幅されてディスクドライブ部３０から出力される。出力された再生データは、システム用ＲＯＭ及びＲＡＭ部５２に、記録されたプログラムで制御されるシステムＣＰＵ部５０及びシステムプロセッサ部５４を介してデータＲＡＭ部５６に格納される。この格納された再生データは、システムプロセッサ部５４によって処理されてビデオデータ、オーディオデータ及び副映像データに分類され、ビデオデータ、オーディオデータ及び副映像データは、夫々ビデオデコーダ部５８、オーディオデコーダ部６０及び副映像デコーダ部６２に出力されてデコードされる。デコードされたビデオデータ、オーディオデータ及び副映像データは、Ｄ／Ａ及び再生処理回路６４でアナログ信号としてのビデオ信号、オーディオ信号及び副映像信号に変換されるとともにミキシング処理されてビデオ信号及び副映像信号がモニタ６に、また、オーディオ信号がスピーカ８に夫々供給される。その結果、モニタ部６に映像が表示されるとともにスピーカ部８から音声が再現される。
　上述したように図１及び図２に示される光ディスク再生装置においては、再生動作の開始に伴い、光ディスク１０のリードイン領域２７外であってその領域２７に接する内側の領域部分２９Ａ及びリードアウト領域２６外であってその領域２６に接する外側の領域部分２９Ｂの両方又は少なくとも一方が検索され、チルト量検出の為に第２のテストパターンに相当する第５グループのピット列が検索されてその再生信号が図２のデータ処理回路４２に読み込まれる。この検出されたチルト量を基に次のようにしてデータ領域２５を検索する際にその再生信号に含まれるチルト成分が実質的に除去される。
　データ処理回路４２に含まれるこのチルト補正の為のチルト補正回路が図１０に示されている。既に記載したように光ディスク１０に記録されている情報が光ヘッド３２で読み取られ、アナログ再生信号がヘッドアンプ４０に出力される。このアナログ再生信号は、ヘッドアンプ４０で増幅されて遅延回路１２１、１２２、１２３、１２４から成る５タップ構成のトランスバーサルフィルタ１０４に供給されてその信号波形が後に述べるように補正されて２値化回路１０５に供給される。２値化回路１０５において再生信号は、２値化され、このディジタル化されたディジタル再生信号は、ＰＬＬ回路１０６においてクロック再生され、このクロック再生された信号が復調回路１０７において復調されてデータプロセッサ１０８へと順次送られて処理される。
　既に説明したように、光ディスク１０１には、図４に示すように第５グループに属する第２のテストパターンとしてのピット列が形成されているが、再生時には、始めにこの第５グループに属するピット列が検出される。ここでは、４Ｔから１８Ｔのピット列を例に説明する。テストパターンとしての４Ｔから１８Ｔのピット列が次々と再生されると、ＭＴＦ信号が再生され、このＭＴＦ再生信号がＡ／Ｄ変換器１０９でＡ／Ｄ変換されるこのディジタル化されたＭＴＦ再生信号からシステムＣＰＵ部５０において、第２のテストパターンに係る各４Ｔから１８Ｔのピット列に関して、図１１に示すような理想的な振幅特性を有するように補正する補正係数が求められ、この補正係数がシステム用ＲＯＭ＆ＲＡＭ部５２に格納される。
　一般に、図１０に示すように光ディスク１０の回転の間に光ディスク１０と光学ヘッド３２との間に相対的な傾き、例えば、チルト角θ　ｒａｄが生じると、図１２に実線で示すように再生信号のレベルが周期的に減衰される。このレベルの減衰を補正するような補正係数が補正対象のピット列からの再生信号に掛け合わされることによって、図１２に波線で示すような理想的な信号波形とすることができる。即ち、システムＣＰＵ部５０においては、チルトによってその一部が減衰された第２のテストパターンのディジタル化されたＭＴＦ再生信号は、各ピット列に対しての理想的な基準信号レベル、即ち、振幅と比較され、その差分が求めれる。各ピット列に対する実際の信号レベルと基準信号レベルが一致する場合には、その補正係数は、１とされ、両者に差がある場合には、基準レベルとする為に実際の信号レベルに掛け合わされる補正係数が決定される。この補正係数は、４Ｔから１８Ｔの各ピット列について求められ、その再生装置に装填されたその光ディスク１０について固有のチルト補正係数、即ら、再生系の周波数特性としてシステム用ＲＯＭ＆ＲＡＭ部５２に格納される
　このチルト補正係数は、リードインエリア２７及びリードアウトエリア２６のいずれか一方に形成された第５グループのピット列に係る第２のテストパターンによって決定されても良く、或いは、両者からチルト補正係数が決定されても良い。また、図４に示すようにデータ領域２５の中心７０を基準として内周側の領域７２のトラックが検索される際には、内周側チルト補正係数が用いられ、また、データ領域２５の中心７０を基準として外周側の領域７４のトラックが検索される際には、外周側チルト補正係数が用いられても良い。明らかなように、この場合には、内周側チルト補正係数は、リードインエリア２７に形成された第５グループの列に係る第２のテストパターンによって決定され、また、外周側チルト補正係数は、リードアウトエリア２６に形成された第５グループのピット列に係る第２のテストパターンによって決定される。更に、このチルト係数は、通常、内周から外周に検索領域が変化するに従って大きくなることから、検索している領域、或いは、トラックの番号に応じて補正係数を更に位置補正する係数補正係数が決定され、これがシステム用ＲＯＭ＆ＲＡＭ部５２に格納され、検索位置に応じた補正係数がシステムＣＰＵ部５０から出力されても良い。
　図１０に示す回路においては、再生系の周波数特性を把握した後において、データ領域２５からのデー夕の検索が開始される。即ち、光学ヘッド３２で検出されたデータ領域２５からの再生信号の周波数特性を最適な周波数特性にするためにトランスバーサルフィルタ１０４には、システムＣＰＵ５０から補正係数が補正データとして送られる。トランスバーサルフィルタ１０４では、システムＣＰＵ５０から送られてきたデータがＤ／Ａ変換器１１１、１１２、１１３、１１４、１１５でアナログ量に変換され、掛け算器１１６、１１７、１１８、１１９、１２０でトランスバーサルフィルター１０４の各タップ出力と掛け算される。例えば、傾き量が５ｍｒａｄ生じた際には、第２のテストパターンの再生信号は、例えば、図１３（ａ）に示すような周波数特性となるが、これを図１３（ｃ）に示すような最適特性とするためには、図１３（ｂ）に示されるような補正係数特性が出力されれば良く、トランスバーサルフィルター１０４の各タップ係数値を決めるシステムＣＰＵ５０からは、各々Ｄ／Ａ変換器１１１、１１２、１１３、１１４、１１５に対して、例えば、係数値１０Ｈ，２０Ｈ，ＦＦＨ，２０Ｈ、１０Ｈが出力される。このように光ディスク１０がチルトされて再生信号の周波数特性が悪化しても、トランスバーサルフィルター１０４の周波数特性で再生信号を補正することによって正常な再生動作を行うことが可能となる。
　尚、図１３（ａ）、１３（ｂ）及び１３（ｃ）において、λは、光ビーム、即ち、レーザビームの波長及びＮＡは、対物レンズ３２の開口数を示している、
　次に、図１４（ａ）、図１４（ｂ）及び図１５を参照してこの発明の他の実施例に係る評価パターンについて説明する。光ディスク１０の再生時に最初に検索される図４に示すリードイン領域２には、光ディスク１０に形成されたピット列を評価するためのテストパターンの他の例として図１４（ａ）に示すように３Ｔ、ｍＴ、ｎＴの繰り返し周期でピット及びランドが、評価データとして記録されている。即ち、リードイン領域２には、図１５に示すように物理セクターアドレスを記述したヘッダ６６に続いてピット長３Ｔのピット、ランド長＊ｍＴを有するランド、ピット長ｎＴのピット、ランド長＊３Ｔのランド、ピット長ｍＴのピット及びランド長＊ｎＴのランドが繰り返し評価データ６８としてｉ物理セクタに記録されている。この評価データを含む１物理セクタは、あるトラックに少なくとも１つ或いは複数設けられて良い。また、異なるトラックに評価データを含む物理セクタが複数設けられても良い。ここで、ｍ，ｎ≧６及びｍ≦ｎであってｍ，ｎ≦１４（＝ｋ）である。また、ピット或いはランド長３Ｔ，＊３Ｔは、最小ピット長或いはランド長に相当し、ピット或いはランド長１４Ｔ，＊１４Ｔ（ｋＴ，＊ｋＴ）は、最大ピット長或いはランド長に相当している。図１４（ａ）に示す評価データが光ビームで検索されると、図１４（ｂ）に示すような反射光レベルが検出される。
　評価データの具体的な例では、ｍ＝６，ｎ＝７であって、評価データとしてピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔを有するランド、ピット長７Ｔのピット、ランド長＊３Ｔのランド、ピット長６Ｔのピット及びランド長＊７Ｔのランドが繰り返し記録されている。この３−６−７のピット長及びランド長の一組は、１６ビットで表したコード語（Ｃｏｄｅ　Ｗｏｒｄ）では、“００１０００００１００００００１“が相当し、この１６ビットコード語は、８ビットの１７２Ｈのデータシンボルに相当する。即ち、この１６ビットコード語は、８ビットのデータシンボル１７２Ｈに８／１６変換によって変換される。
　図１４（ａ）に示した評価データが図１０と略同様な回路構成を有する図１６に示すエラーレート補正回路で検出され、エラーレート補正係数が決定され、バイトエラーレートが最小に留められる。即ち、図１７に示すステップＳ５０で示すように光ディスク再生装置が再生動作を開始すると、ステップ５１に示すように光ディスク１０のリードイン領域２７が検索され、図１５に示す評価データ、即ち、テスト信号が含まれるセクタがステップ５２に示すように検索される。テストパターンを含むセクタが判明すると、システムＣＰＵ５０は、ステップＳ５４に示すようにイコライザとしてのトランスバーサルフィルタ１０４の掛け算器１１６、１１７、１１８、１１９、１２０にデフォルトのタップ係数をセットするとともにその判明したセクタから図１４（ａ）に示す３・６・７パターンを有するテストパターンが読み出され、ヘッドアンプ４０に出力される。このテストパターン信号は、ヘッドアンプ４０で増幅されて遅延回路１２１、１２２、１２３、１２４から成る５タップ構成のトランスバーサルフィルタ１０４を介して２値化回路１０５に供給される。２値化回路１０５において再生信号は、２値化され、このディジタル化されたディジタル再生信号は、ＰＬＬ回路１０６においてクロック再生される。ここで、エラーがなければ復調回路１０７において１６ビットで表したコード語（Ｃｏｄｅ　Ｗｏｒｄ）として“００１　０００００１　００００００１“が出力される。もし、読取りの際にエラーが発生している場合には、復調回路１０７からは、エラーを含む他のコード語が出力される。このコード語は、システムプロセッサ５４に供給されてデータシンボルに変換され、その変換結果がシステムＣＰＵ５０に出力される。システムＣＰＵ５０においては、コード語がデータシンボル１７２Ｈに一致するか否かが確認される。同様に、ステップＳ５４に示すようにバイトエラーレートを測定するために次々と３・６・７パターンがコード語に変換され、エラーが生じているか否かが、システムＣＰＵ５０において確認され、ある所定数の３・６・７パターンに対するバイトエラーレートＳ５４が計算される。ステップＳ５５に示すようにこのバイトエラーレートが１０−５より大きい場合には、ステップＳ５４に戻され、システムＣＰＵ５０は、イコライザとしてのトランスバーサルフィルタ１０４の掛け算器１１６、１１７、１１８、１１９、１２０に他ののタップ係数をセットして再びステップＳ５４及びステップＳ５５が実行される。ステップＳ５５において、バイトエラーレートが１０−５以内に収まる場合には、そのタップ係数が固定され、ステップＳ５６に示すように通常の再生動作が開始される。
　上述した他の実施例に係る具体例では、評価データは、ｍ＝６及びｎ＝７を有し、３−６−７ピット及びランド繰り返しが採用されている。然ながら、評価データは、３−７−６、６−３−７、７−３−６、６−７−３及び７−６−３のピット及びランド繰り返しのいずれか１つが採用されても良い。ここで、３−７−６のピット及びランド繰り返しでは、３−６−７ピット及びランド繰り返しと同様にピット長３Ｔのピット、ランド長＊７Ｔを有するランド、ピット長６Ｔのピット、ランド長＊３Ｔのランド、ピット長７Ｔのピット及びランド長＊６Ｔのランドの配列となり、６−３−７のピット及びランド繰り返しでは、ピット長６Ｔのピット、ランド長＊３Ｔを有するランド、ピット長７Ｔのピット、ランド長＊６Ｔのランド、ピット長３Ｔのピット及びランド長＊７Ｔのランドの配列となる。他の繰り返しパターンも同様にその数字の配列の順序となる。
　次に、図１８から図２４を参照して映像データ及びこの映像データを再生するための管理データとともに評価データを光ディスク１０に記録する方法及びその記録方法が適用される記録システムについて説明する。
　図１８は、映像データをエンコーダしてあるタイトルセット８４の映像ファイル８８を生成するエンコーダシステムが示している。図２０に示されるシステムにおいては、主映像データ、オーディオデータ及び副映像データのソースとして、例えば、ビデオテープレコーダ（ＶＴＲ）２０１、オーディオテープレコーダ（ＡＴＲ）２０２及び副映像再生器２０３が採用される。これらは、システムコントローラ（Ｓｙｓ　ｃｏｎ）２０５の制御下で主映像デー夕、オーディオデータ及び副映像データを発生し、これらが夫々ビデオエンコーダ（ＶＥＮＣ）２０６、オーディオエンコーダ（ＡＥＮＣ）２０７及び副映像エンコーダ（ＳＰＥＮＣ）２０８に供給され、同様にシステムコントローラ（Ｓｙｓ　ｃｏｎ）２０５の制御下でこれらエンコーダ２０６、２０７、２０８でＡ／Ｄ変換されると共に夫々の圧縮方式でエンコードされ、エンコードされた主映像データ、オーディオデー夕及び副映像データ（Ｃｏｍｐ　Ｖｉｄｅｏ，Ｃｏｍｐ　Ａｕｄｉｏ，ＣｏｍｐＳｕｂ−ｐｉｃｔ）としてメモリ２１０、２１１、２１２に格納される。ここで、エンコードに際しては、例えば、ＭＰＥＧ２（Ｍｏｖｉｎｇ　Ｐｉｃｔｕｒｅ　Ｅｘｐｅｒｔ　Ｇｒｏｕｐ）の規格に定められた圧縮方式で圧縮され、エンコードデータは、パック化されたビデオ・オーディオ及び副映像パックデータが相当する。
　この主映像データ、オーディオデータ及び副映像データ（Ｃｏｍｐ　Ｖｉｄｅｏ，Ｃｏｍｐ　Ａｕｄｉｏ，Ｃｏｍｐ　Ｓｕｂ−ｐｉｃｔ）は、システムコントローラ（Ｓｙｓ　ｃｏｎ）２０５によってファイルフォーマッタ（ＦＦＭＴ）２１４に出力され、システムの映像データのファイル構造に変換されるとともに各データの設定条件及び属性等の管理情報がファイルとしてシステムコントローラ（Ｓｙｓ　ｃｏｎ）２０５によってメモリ２１６に格納される。
　以下に、映像データからファイルを作成するためのシステムコントローラ２０５におけるエンコード処理の標準的なフローを説明する。
　図１９こ示されるフローに従って主映像データ及びオーディオデータがエンコードされてエンコード主映像及びオーディオデータ（Ｃｏｍｐ　Ｖｉｄｅｏ，ｃｏｍｐ　Ａｕｄｉｏ）のデータが作成される。即ち、エンコード処理が開始されると、図１９のステップ７０に示すように主映像データ及びオーディオデータのエンコードにあたって必要なパラメータが設定される。この設定されたパラメータの一部は、システムコントローラ（Ｓｙｓ　ｃｏｎ）２０５に保存されるとともにファイルフォーマッタ（ＦＦＭＴ）２１４で利用される。ステップＳ７１で示すようにパラメータを利用して主映像データがプリエンコードされ、最適な符号量の分配が計算される。ステップＳ７２に示されるようにプリエンコードで得られた符号量分配に基づき、主映像のエンコードが実行される。このとき、オーディオデータのエンコードも同時に実行される。ステップＳ７３に示すように必要であれば、主映像データの部分的な再エンコードが実行され、再エンコードした部分の主映像データが置き換えられる。この一連のステップによって主映像データ及びオーディオデータがエンコードされる。また、ステップＳ７４及びＳ７５に示すように副映像データがエンコードされエンコード副映像データ（Ｃｏｍｐ　Ｓｕｂ−ｐｉｃｔ）が作成される。即ち、副映像データをエンコードするにあたって必要なパラメータが同様に設定される。ステップＳ７４に示すように設定されたパラメータの一部がシステムコントローラ（Ｓｙｓ　ｃｏｎ）２０５に保存され、ファイルフォーマッタ（ＦＦＭＴ）２１４で利用される。このパラメータに基づいて副映像データがエンコードされる。この処理により副映像データがエンコードされる。
　図２０に示すフローに従って、エンコードされた主映像データ、オーディオデータ及び副映像データ（Ｃｏｍ　Ｖｉｄｅｏ，Ｃｏｍｐ　Ａｕｄｉｏ，Ｃｏｍｐ　Ｓｕｂ−ｐｉｃｔ）が組み合わされて特定のデータ構造に変換される。即ち、ステップＳ７６に示すように複数のビデオ、オーディオ及び副映像パックが配列された映像データの最小単位としてのデータセルが設定され、各データセルを再生する為の再生情報が作成される。次に、ステップＳ７７に示すようにセルの再生順に配置された各プログラムを複数連結したプログラムチェーンを構成するセルの構成、主映像、副映像及びオーディオ属性等が設定され（これらの属性情報の一部は、各データエンコード時に得られた情報が利用される。）、このセル情報からセルの再生を管理するセル再生管理情報が作成される。エンコードされた主映像データ、オーディオデータ及び副映像データ（Ｃｏｍ　Ｖｉｄｅｏ，Ｃｏｍｐ　Ａｕｄｉｏ，Ｃｏｍｐ　Ｓｕｂ−ｐｉｃｔ）が一定のパックに細分化され、各データのタイムコード順に再生可能なように、所定単位毎にその先頭にパックの再生を制御するナビゲーションパックを配置しながら各データユニットが配置され、このデータユニットからセルが構成される。その後、複数のセルで構成されるビデオオブジェクトが構成され、このビデオオブジェクトのセットに相当するあるタイトルのビデオを再生するタイトルセットの構造にフォーマットされる。
　図２１及び図２２は、上述のようにフォーマットされたタイトルセットを光ディスクへ記録するためのディスクフォーマッタのシステムを示している。図２１及び図２２に示すようにディスクフォーマッタシステムでは、作成されたタイトルセットが格納されたメモリ２２０、２２２からこれらファイルデータがボリュームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２６に供給される。ボリュームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２６では、タイトルセット８４、８６から管理清報が引き出されてタイトルセットを管理するビデオマネージャーが作成され、所定の配列順序でディスク１０に記録されるべき状態の論理データが作成される。ボリュームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２６で作成された論理データにエラー訂正用のデータがディスクフォーマッタ（ＤＦＭＴ）２２８において付加され、ディスクへ記録する物理データに再変換される。変調器２３０において、ディスクフォーマッタ（ＤＦＭＴ）２２８で作成された物理データが実際にディスクへ記録する記録データに変換され、この変調処理された記録データが記録器２３２によってディスク１０に記録される。
　図５（ａ）から図９（ｃ）を参照して説明したテストパターンに関しては、図２１に示すフォーマッタシステムでは、ディスク１０への記録データの記録に先立って記録器２３２がスイッチ２３６を介してテストパターン信号発生器２３４に接続される。このテストパターン信発生器２３４からは、既に説明した第１から第５グループのピット列に係る第１及び第２のテストパターンに係るテストパターン信号が発生される。この発生されたテストパターン信号に従って、リードイン領域２７及びその近傍に第１から第５のグループのテストパターンが記録される。テストパターンの記録の後にスイッチ２３６が切り替えられて記録器２３２が変調器２３０に接続され、物理データがデータ領域２８に記録される。この物理データの記録が終了すると、再びスイッチ２３６が切り替えられて記録器２３２がスイッチ２３６を介してテストパターン信号発生器に２３４に接続され、再び第１から第５のグループのピット列が光ディスク１０に記録される。
　図１４（ａ）から図１５を参照して説明した３・６・７パターンに関しては、予め図２２に示すように図１５に示されるようにセクタアドレスとともに３・６・７パターンが連続する評価データが格納されたメモリ２２１が用意され、この評価データが始めにボリュームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２６に供給され、その後、ファイルデータメモリ２２０、２２２からファイルデータがボリュームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２６に供給される。従って、リードイン領域２７の所定のセクタアドレスには、セクタアドレスとともに３・６・７パターンが連続する評価データが記録され、ビデオデータ等の記録データが物理データとしてデータ領域２８に記録される。
　上述したディスクを作成するための標準的なフローを図２３及び図２４を参照して説明する。図２３には、ディスク１０に記録するための論理データが作成されるフローが示されている。即ち、ステップＳ８０で示すように映像データファイルの数、並べ順、各映像データファイル大きさ等のパラメータデータが始めに設定される。次に、ステップＳ８１で示すように設定されたパラメータと各ビデオタイトルセット７２のビデオタイトルセット情報からビデオマネージャーが作成される。その後、ステップＳ８２に示すようにビデオマネージャー７１、ビデオタイトルセット７２の順にデータが該当する論理ブロック番号に沿って配置され、ディスク１０に記録するための論理データが作成される。既に説明したように３・６・７パターンは、論理データの１７２Ｈに相当し、論理データの１７２Ｈが連続して物理データに変換されることとなる。
　その後、図２４に示すようなディスクへ記録するための物理データを作成するフローが実行される。即ち、ステップＳ８３で示すように論理データが一定バイト数に分割され、エラー訂正用のデータが生成される。次にステップＳ８４で示すように一定バイト数に分割した論理データと、生成されたエラー訂正用のデータが合わされて物理セクタが作成される。その後、ステップＳ８５で示すように物理セクタを合わせて物理データが作成される。このように図２５に示されたフローで生成された物理データに対し、一定規則に基づいた変調処理が実行されて記録データが作成される。その後、この記録データがディスク１０に記録される。このディスク１０が原盤とされ、この原盤から多数の光ディスクが複製される。
　尚、上述した実施例において、第１グループから第５グループのピット列は、その順序でリードインエリア２７及びリードアウトエリア２８に記録されなくとも良く、物理的に区別されることができるならば、いずれの順序で記録されても良い。また、下記に述べる製造された光ディスク１０の評価を実施しない場合には、第１から第４グルーブのピット列は、光ディスク１０に記録されなくとも良く、また、光ディスク１０の評価のみを対象とし、チルト補正の必要がない場合には、第５グループのピット列は形成されなくとも良い。
　次に、上述した方法で作られた光ディスクを評価する方法について説明する。始めに既に述べたようにして製造された光ディスク１０が再生装置に装填されてその第１のテストパターンの第１グループから第４グループの再生信号が得られる。これらの信号波形から、次のようにして製造された光ディスク１０の良否が評価される。各ピットの成形性は、最長ピット（ｎＴ＋＊ｎＴ）に相当する信号波形から評価される。即ち、最長ピット（ｎＴ＋＊ｎＴ）に相当する信号波形は、各ピットが正確に成形されている限りにおいては、図５（ｂ）に示されるように比較的パルス幅が大きく、その立ち上がり及び立ち下がり間のレベル変化が少なく、しかも、その立ち上がり及び立ち下がりが明瞭となる。従って、この信号波形が途切れたり、不明瞭である場合には、ピットの成形性に問題があるとして製造された光ディスク１０は不良品であると判断される。また、ピットがピット間の非ピット領域に対して明確に区別できるように形成されているかは、最短ピット（ｍＴ＋＊ｍＴ）に相当する信号波形から評価される。即ち、図６（ｂ）に示される再生信号からノイズレベル（Ｎ）及び再生信号のピークレベルに相当するキャリアレベル（Ｃ）が図２５に示すように求められ、そのＣ／Ｎ比からピット列の成形性が判断されるこのＣ／Ｎ比が小さい場合には、ピットに相当するキャリアと光ディスク１０上の欠陥等に相当するノイズとが区別できなくなるため、このＣ／Ｎ比が所定値より小さい場合には、ピット列の成形性に問題があるとして製造された光ディスク１０は不良品であると判断される。更に、第３グループのピット列を光ビームで再生信号に変換すると、図７に示されるようなＭＴＦ信号が得られ、このＭＴＦ信号から既に説明したように図２６に示されるような第３グループのピット列に対する再生系の周波数特性が得られる。この周波数特性は、光ディスク１０が歪んだり、或いは、偏心している等の不良がある際には、周波数特性が悪化される。従って、この周波数特性を判定することによって、光ディスク１０の物理的特性の良否を判定することができる。
　更にまた、第４グループのピット列は、図８に示されるように中心トラックに相当するピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）及び隣接トラックに相当するピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及び［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が形成されていることから、再生信号中に含まれる隣接トラックからのクロストークを評価することができる。ここで、クロストーク量Ｃｔは、再生トラックの振幅Ａｔ（中心トラックに相当する）から隣接するトラックの振幅Ｂｒを引いた値に相当する（Ｃｔ＝Ｂｒ−Ａｔ（ｄＢ））。即ち、センタークトラックに相当するピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）を再生する際に、図２７に示すように隣接する隣接トラックに相当するピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及び［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］の周波数ｆ　ｒ１、ｆ　ｒ２が現れ、周波数ｆｃを有するピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）の主信号レベルとこれら周波数ｆ　ｒ１、ｆ　ｒ２を有する隣接トラックに相当するピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及び［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］の隣接信号レベルとの差をクロストーク量として検出することができる。このクロス量が大きい場合には、十分に検索トラックと隣接トラックとを判別することができるが、このクロス量が小さいと、検索トラックと隣接トラックとを判別することができなくなる。クロストーク量が所定値以下の場合には、光ディスク１０は、不良品と判別される。
　他の実施例に係る３・６・７、評価パターンを利用して光ディスク１０を評価する場合には、図１７に示すフローチャートのステップＳ５５において、タップ係数を変えてもバイトエラーレートがトランスバーサルフィルター１０４のタップ係数を変えても１０−５以内に収まらない場合には、この光ディスクは、不良品と判別される。
　　【発明の効果】
　　上述した光ディスクにおいては、その再生面と対物レンズ面との相対的な傾きが発生しても再生信号の特性を最適化することができる。
　また、評価パターンを利用することによって記録されたデータの良否を高精度で判別することができる。
　以上のよりに、ディスク再生面と対物レンズとの間の相対的な傾きが発生しても、その量に応じて再生等価回路（トランスバーサルフィルタ）の各タップ係数を最適化することにより、再生等価回路の周波数特性を最適化し、再生信号特性を向上させることができる。よって、最終的にはデータリード時のエラーレートを向上させることができる。さらに、制御系内にモータ、ギヤなどの機械部品が介在しないため高帯域化が容易で広い制御帯域が得られ、かつ装置の小型化に適している。
【図面の簡単な説明】
　【図１】
　　この発明の１実施例に係る光ディスク装置の概略を示すブロック図である。
　【図２】
　　図１に示したディスクドライブ装置の詳細を示すブロック図である。
　【図３】
　　図１に示した光ディスクの構造を概略的に示す斜視図である。
　【図４】
　　図１及び図３に示した光ディスクを示す平面図である。
　【図５】
　　図４に示される光ディスクに形成されるテストパターンとしての最長ピット列を示す平面図及びその最長ピット列から再生される再生信号波形を示す波形図である。
　【図６】
　　図４に示される光ディスクに形成されるテストパターンとしての最短ピット列を示す平面図及びこの最短ピット列から再生される再生信号波形を示す波形図である。
　【図７】
　　テストパターンとしての最短ピット列及び最長ピット列並びにこの間の異なるピット長を有するピット列から再現されるＭＴＦ信号を示すグラフである。
　【図８】
　　テストパターンとしてのセンターピット列及び隣接ピット列を示す平面図である。
　【図９】
　　テストパターンとしての最短ピット列３Ｔ及び最長ピット列１１Ｔ並びにこの間の異なるピット長５Ｔ、７Ｔ、９Ｔを有するピット列から専現されるＭＴＦ信号を示すグラフ及びテストパターンとしての最短ピット列３Ｔ及び最長ピット列１１Ｔの再生信号を示す波形図である。
　【図１０】
　　図１に示された光ディスク装置に組み込まれる再生信号をテスト信号を利用して補正するチルト補正回路を示すブロック図である。
　【図１１】
　　テストパターンに対する理想的な再生信号の周波数特性を示すグラフである。
　【図１２】
　　テストパターンに対するチルト成分を含む実際の再生信号の周波数特性を示すグラフである。
　【図１３】
　　チルト成分を含む再生信号の周波数特性を示すグラフ、トランスバーサルフイルターの周波数特性を示すグラフ及びチルト成分を含む再生信号の周波数特性とトランスバーサルフィルターの周波数特性とを合成した合成周波数特性を示すグラフである。
　【図１４】
　　この発明の他の実施例に係る評価パターンを示すピット列を示す平面図及びそのピット列からの再生信号を示す波形図である。
　【図１５】
　　図１４に示された評価パターンのデータ構造を示す概略図である。
　【図１６】
　　図１に示された光ディスク装置に組み込まれる再生信号を評価パターンを利用して補正するチルト補正回路を示すブロック図である。
　【図１７】
　　図１４Ａに示した評価パターンを利用して図１６に示す補正回路で再生信号を補正する手順を示すフローチャートである。
　【図１８】
　　映像データをエンコーダして映像ファイルを生成するエンコーダシステムを示すブロック図である。
　【図１９】
　　図１８に示されるエンコーダシステムにおけるエンコード処理を示すフローチャートである。
　【図２０】
　　図１５に示すフローでエンコードされた主映像データ、オーディオデータ及び副映像データを組み合わせて映像データのファイルを作成するフローチャートである。
　【図２１】
　　フォーマットされた映像ファイルを光ディスクへ記録するためのディスクフォーマッタのシステムを示すブロック図である。
　【図２２】
　　フォーマットされた映像ファイルを光ディスクへ記録するためのディスクフォーマッタのシステムを示すブロック図である。
　【図２３】
　　図２１及び２２に示されるディスクフォーマッタにおけるディスクに記録するための論理データを作成するフローチャートである。
　【図２４】
　　論理データからディスクへ記録するための物理データを作成するフローチャートである。
　【図２５】
　　ノイズレベルに対するキャリアレベルの比であるＣ／Ｎ比を説明する為のグラフである。
　【図２６】
　　第３グループのテストパターンに係るピット列に対する再生系の周波数特性を示すグラフである。
　【図２７】
　　クロストーク特性を説明するためのグラフである。
　【符号の説明】
　４　…　キー操作／表示部
　６　…　モニター部
　８　…　スピーカー部
　１０　…　光ディスク
　１１　…　モータドライブ回路
　１２　…　スピンドルモニター
　１６　…　光反射層
　２４　…　クランピング領域
　２６　…　リードアウト領域
　２７　…　リードイン領域
　２８　…　データ記録領域
　３０　…　ディスクドライブ部
　３６　…　フォ−カス回路
　３７　…　フィードモータ駆動回路
　３８　…　トラッキング回路
　４０　…　ヘッドアンプ
　４４　…　サーボ処理回路
　５０　…　システムＣＰＵ部
　５２　…　システムＲＯＭ／ＲＡＭ部
　５４　…　システムプロッセッサ部
　５６　…　データＲＡＭ部
　５８　…　ビデオデコータ部
　６０　…　オーディオデコーダ部
　６２　…　副映像デコーダ部
　６４　…　Ｄ／Ａ及びデータ再生部
　１０４　…　トランスバーサルフィルタ
　１０５　…　２値化回路
　１０６　…　ＰＬＬ回路
　１０７　…　復調回路
　１０８　…　データプロセッサ
　１１６、１１７、１１８、１１９、１２０　…　掛け算器
　１１１、１１２、１１３、１１４、１１５　…　Ｄ／Ａ変換器
　１２１、１２２、１２３、１２４　…　遅延回路
　２０１　…　ビデオテープレコーダ（ＶＴＲ）
　２０２　…　オーディオテープレコーダ（ＡＴＲ）
　２０３　…　副映像再生器（Ｓｕ　ｂ　ｐｉｃｔｕｒｅ、ｓｏｕｒｃｅ）
　２０５　…　システムコントローラ（Ｓｙｓ、ｃｏｎ）
　２０６　…　ビデオエンコーダ（ＶＥＮＣ）
　２０７　…　オーディオエンコーダ（ＡＥＮＣ）
　２０８　…　副映像エンコーダ（ＳＰＥＮＣ）
　２１５　…　メモリ
　２２６　…　ボリュームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）
　２２８　…　ディスクフォーマッタ（ＤＦＭＴ）
　２３０　…　変調器（Ｍｏｄｕｌａｔｅｒ）
　２３２　…　記録器（Ｒｅｃｏｄｅｒ）
　３２０　…　エンコードシステム
　３１０　…　モジュレータ／トランスミッター