【事件の表示】
　特願２００３−５６０４７１「解像度と深さ領域を改善するための軸方向線焦点を用いたＯＣＴ撮像用装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　７月２４日国際公開、ＷＯ０３／６０４２３，平成１７年１０月　６日国内公表，特表２００５−５３０１２８〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　本願は，平成１５年１月１０日（パリ条約に基づく優先権主張　平成１４年１月１１日　米国）を国際出願日とする出願であって，平成２１年１２月１１日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，平成２２年４月１６日に拒絶査定不服審判が請求されたものである。そして，当審において，平成２３年６月１６日付けで拒絶理由を通知したところ，請求人から同年１２月２１日に意見書および手続補正書が提出されたものである。　
　　
第２　本願発明　
　本願の請求項１〜２０に係る発明は，平成２３年１２月２１日付けの手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１〜２０に記載された事項により特定された，次のとおりのものである。　
　　
【請求項１】　
　少なくとも試料の一部を撮像するための装置であって、　
　電磁的な放射を供給する
光源、及びビームスプリッタを備えた
　前記電磁
的な
し、光学的な試料の像を提供
　
光軸
り、
　
前記第２の装置はさらに、前記試料と前記強度分布の少なくとも一つを移す手段を備えており、且つオフセット・ファイバ・アレイを備えているか、またはファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイを備えており、多次元像を提供する
【請求項２】（旧【請求項３】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記第２の装置は、アキシコン・レンズ
を備えた
【請求項３】（旧【請求項４】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記第２の装置は、回折光学素子
を備えた
【請求項４】（旧【請求項５】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記第２の装置は、
アポダイザーを備えた
【請求項５】（旧【請求項６】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記第２の装置は、回折素子とレンズとの組み合わせを備えていることを特徴とする装置。　
【請求項６】（旧【請求項７】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記第２の装置は、アポダイズド・レンズまたは回折素子の組み合わせを備えていることを特徴とする装置。　
【請求項７】（旧【請求項８】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記強度分布は、ベッセル
関数の形を示している
【請求項８】（旧【請求項１０】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記試料と前記強度分布の少なくとも一つの移動により、２以上の次元を有する像が生成されるように構成されていることを特徴とする装置。　
【請求項９】（旧【請求項１１】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　半値全幅の横解像度をもつ前記強度分布は１０μｍより小さいことを特徴とする装置。　
【請求項１０】（旧【請求項１２】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記予め設定された距離は少なくとも５０μｍとされていることを特徴とする装置。　
【請求項１１】（旧【請求項１３】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記強度分布の少なくとも一部は、非ガウシアン分布を有していることを特徴とする装置。　
【請求項１２】（旧【請求項１４】）　
　請求項１に記載の装置において、　
　前記
第２の装置から返された
【請求項１３】（旧【請求項１５】）　
　少なくとも試料の一部を撮像するための装置であって、
　電磁的な放射を供給する
光源、及びビームスプリッタを備えた
　前記電磁
的な
し、光学的な試料の像を提供
　
光軸
り、
　
前記第２の装置はさらに、前記試料と前記強度分布の少なくとも一つを移す手段を備えており、且つオフセット・ファイバ・アレイを備えているか、またはファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイを備えており、多次元像を提供する
【請求項１４】（旧【請求項１７】）　
　請求項
１３
　前記第２の装置は、複数のレンズを備えていることを特徴とする装置。
【請求項１５】（旧【請求項１８】）　
　請求項
１３
　前記セクションの一つは、少なくとも部分的にもう一方の前記セクションの上方にあることを特徴とする装置。　
【請求項１６】（旧【請求項１９】）　
　請求項
１３
　半値全幅の横解像度をもつ前記強度分布は、１０μｍより少ないことを特徴とする装置。　
【請求項１７】（旧【請求項２０】）　
　請求項
１３
　前記強度分布の少なくとも一部は、非ガウシアン分布を有していることを特徴とする装置。　
【請求項１８】（旧【請求項２２】）　
　請求項
１３
　前記試料と前記強度分布の少なくとも一つの
移動
【請求項１９】（旧【請求項２３】）　
　少なくとも試料の一部を撮像するための方法であって、　
　ａ）
電磁的な放射を供給する光源、及びビームスプリッタを備えた第１の
　ｂ）
光学的な試料の像を提供するための第２の干渉装置を用いて、
光軸
し、
　
前記第２の装置はさらに、前記試料と前記強度分布の少なくとも一つを移す手段を備えており、且つオフセット・ファイバ・アレイを備えているか、またはファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイを備えており、多次元像を提供することを特徴とする
【請求項２０】（旧【請求項２４】）　
　少なくとも試料の一部を撮像するための方法であって、　
　
電磁的な放射を供給する光源、及びビームスプリッタを備えた第１の
　
光学的な試料の像を提供するための第２の干渉装置を用いて、
光軸
し、
　
前記第２の装置はさらに、前記試料と前記強度分布の少なくとも一つを移す手段を備えており、且つオフセット・ファイバ・アレイを備えているか、またはファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイを備えており、多次元像を提供することを特徴とする
　　
第３　当審の拒絶理由通知　
　当審における拒絶理由通知の概略は，以下のとおりである。　
１　本件出願の請求項１，２，３，８および１３，１５，２３〜２４に係る発明は，その出願前日本国内において頒布された刊行物である特開平９−１４９８７８号公報あるいは特開２００１−２６４２４６号公報に記載された発明であるから，特許法第２９条第１項第３号に該当し，特許を受けることができない。　 
２　この出願の請求項４〜７，９，１０〜１２および１４，１６，１７および１８，１９，２０〜び２２に係る発明は，その出願前に日本国内において，頒布された刊行物である特開平９−１４９８７８号公報あるいは特開２００１−２６４２４６号公報に記載された発明に基いて，その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。　 
３　本件出願は，請求項１，２，５，８〜１０，１４〜１６，２１〜２４に係る発明が明確でないため，特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。　 
４　本件出願は，特許法第３７条第１項に規定する要件を満たしていない。
　
第４　当審の判断（特許法第３６条第６項第２号）
１　請求項１について
（１）請求項１に係る発明においては「電磁的な放射を供給する
光源、及びビームスプリッタを備えた
　しかしながら，「電磁的な放射を供給する光源、及びビームスプリッタを備えた」の特定では，光源からの電磁波を分離する構成のみであって，どの様な電磁波を分離し，該電磁波をどの様に「干渉」させるのか特定されておらず，依然として「第１の干渉装置」が不明であり，特許を受けようとする発明が明確であるとはいえない。そして，そのことにより，第３者に不測の不利益をもたらすこと明らかである。　
　　
（２）請求項１に係る発明においては「前記電磁的な放射を受け入れるように構成され」と特定されている。　 
 　しかしながら，「前記電磁的な放射を受け入れるように構成され」の記載では，光源からの「電磁的な放射」を受け入れることとなり，「ビームスプリッタ」にて分離された電磁波との関係が明確に特定されているとはいえず，依然として，「第１の干渉装置」と「第２の装置」との関係が不明であって，特許を受けようとする発明が明確であるとはいえない。そして，そのことにより，第３者に不測の不利益をもたらすこと明らかである。　
　　
（３）請求項１に係る発明においては「光軸方向に沿って、少なくとも予め設定された距離の間の前記強度分布が概ね一定とされ」と特定され，また，「前記第２の装置は・・・・・、且つオフセット・ファイバ・アレイを備えているか、またはファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイを備えており、多次元像を提供する」と特定されている。　 
　ところで，本件補正は，請求項１に係る発明において，「前記第２の装置はさらに、前記試料と前記強度分布の少なくとも一つを移す手段を備えており、且つオフセット・ファイバ・アレイを備えているか、またはファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイを備えており、多次元像を提供する」との特定事項を追加することを含むものであり，該補正により，請求項１に係る発明は，図６あるいは図７に記載されたものを実施例とする発明であるといえる。　
　そして，図６および図７の実施例について，本願明細書の段落【００４０】には「図６が示すのはオフセット・ファイバ・アレイ（段違いファイバ列）であり、反射鏡（ミラー）により対物レンズを通して指向され、試料上の縦と横の次元に集束（結像）スポットを再配置するのに用いられる。これらのスポットは走査され（走査方向は、水平方向の線と矢印によって示されている）、 多次元像を生成する。」と記載され，また，同段落【００４１】には，「 図７は、試料上の縦と横の次元に集束（結像）スポットを再配置するのに用いられるファイバ・アレイ、マイクロレンズアレイ、および回折格子（反射鏡のアレイ）の概略である。光源（図示せず）からの光は、アレイになったファイバを通過し、さらにマイクロレンズアレイを通過して回折格子にいたる。格子（回折格子）によって指向された光は、対物レンズを通過して試料上に焦点合わせされる。スポットは走査され（走査方向は、水平方向の線と矢印によって示されている）、多次元像を生成する。」と記載されている。該記載からみて，図６実施例の「オフセット・ファイバ・アレイ（段違いファイバ列）」は，請求項１に係る発明の「オフセット・ファイバ・アレイ」に対応することは明らかであり，図６実施例の「反射鏡（ミラー）」および「対物レンズ」とともに，請求項１に係る発明の「第２の装置」を構成するといえる。また，図７実施例の「ファイバ・アレイ」および「マイクロレンズアレイ」は，請求項１に係る発明の「ファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイ」に応することは明らかであり，図７実施例の「回折格子（反射鏡のアレイ）」および「対物レンズ」とともに，請求項１に係る発明の「第２の装置」を構成するといえる。そして，図６実施例においては「オフセット・ファイバ・アレイ（段違いファイバ列）」，「反射鏡（ミラー）」および「対物レンズ」により，また，図７実施例においては「ファイバ・アレイ」，「マイクロレンズアレイ」，「回折格子（反射鏡のアレイ）」および「対物レンズ」により，「試料上の縦と横の次元に集束スポット」が配置される，すなわち，図６および７に示されるように，縦（光軸方向）と横（走査方向）に集光された「点焦点」が形成されるのであって，該「点焦点」は，集束スポットが光軸上に一定距離並んでいる「線焦点」でないことは明らかである。　
　そうすると，請求項１に係る発明において「合成電磁的強度分布を生成」する「第２の装置」が「光軸方向に沿って、少なくとも予め設定された距離の間の前記強度分布が概ね一定とされ」，すなわち，「線焦点」を形成し，且つ，「第２の装置」が「オフセット・ファイバ・アレイを備えているか、またはファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイを備え」ることを満足する具体的な構成が，図６および図７を含む本願明細書の記載を参照しても把握することができないというべきである。　
　そうすると，「第２の装置」の上記両特定が，どの様に関連し，具体的にどの様な光学系を構成するのか，依然として，請求項１の記載のみでは不明であって，特許を受けようとする発明が明確であるとは到底いえない。そして，そのことにより，第３者に不測の不利益をもたらすこと明らかである。
　　
　なお，請求人は，請求項１に係る発明について補正は，図５と図６，７に基づくものである旨主張しているが，「第２の装置」に関して，図５実施例は「オフセット・ファイバ・アレイ」あるいは「ファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイ」を備えておらず，図６，７実施例は「光軸方向に沿って、少なくとも予め設定された距離の間の前記強度分布が概ね一定とされ」るものではないことは明らかであるから，該請求人の主張は採用出来ない。当審の拒絶理由においても言及したように，図５実施例の発明と図６，７実施例の発明とは，基本的に相違する発明であり，それらを組み合わせた発明は，本願明細書に記載されていないし，該記載から自明な事項であるともいえない。　
　　
（４）請求項１に係る発明においては「前記電磁放射の波長が、・・・・・概ね同一である」と特定されている。　 
 　しかしながら，「前記電磁放射」がその前出の「光源の電磁的な放射」を意味するとしても，「波長」が同一であることにより，「第２の装置」のどの様な光学的構成を特定しようとしているのか不明であって，依然として，特許を受けようとする発明が明確であるとはいえない。そして，そのことにより，第３者に不測の不利益をもたらすこと明らかである。　
　　
　なお，請求人は，平成２３年１２月２１日付け意見書３頁１９〜２２行において，「電磁放射の波長が少なくとも予め設定された距離の間概ね同一とすることにより、強度分布が少なくとも予め設定された距離の間概ね一定とすることを高めます。すなわち、各焦点の波長が予め設定された距離の範囲で同一ですから、各焦点の光の強度が予め設定された距離の範囲で同一となります。」と主張しているが，「第２の装置」の作用について述べるのみであって，積極的に「電磁放射の波長が少なくとも予め設定された距離の間概ね同一とする」構成，すなわち，「第２の装置」の光学的構成について述べてはおらず，意味不明である。また，本願明細書段落【００２６】の式は，屈折型のアキシコン・レンズの出力光の強度分布が，入力光の波長λの関数である，すなわち，入力光の波長λが変化しなければ，出力光の強度分布が一定であることを意味しているのみであって，「各焦点の波長が予め設定された距離の範囲で同一」とすることにより「各焦点の光の強度が予め設定された距離の範囲で同一」となることを意味していない。単に，入力光の波長λが変化しないこと意味するとすれば，出力光における「各焦点の波長」が同一であることは当然であって，何ら，「第２の装置」の構成を特定するものではないと考えられる。　
　　
２　請求項１３（旧請求項１５）について　 
 （１）請求項１３に係る発明においては「電磁的な放射を供給する
光源、及びビームスプリッタを備えた
 　しかしながら，前記「１　請求項１について　（１）」において述べたと同様に，依然として，「第１の干渉装置」が不明であり，特許を受けようとする発明が明確であるとはいえない。そして，そのことにより，第３者に不測の不利益をもたらすことが明らかである。　　 
　　
 （２）請求項１３に係る発明においては「前記電磁放射を受け入れるように構成され」と特定されている。　 
 　しかしながら，前記「１　請求項１について　（２）」において述べたと同様に，依然として，「第１の干渉装置」と「第２の装置」との関係が不明であって，特許を受けようとする発明が明確であるとはいえない。そして，そのことにより，第３者に不測の不利益をもたらすことが明らかである。
 　　 
（３）請求項１３に係る発明においては「前記電磁放射の波長が、・・・・・概ね同一である」と特定されている。　 
　しかしながら，前記「１　請求項１について　（４）」において述べたと同様に，「前記電磁放射」がその前出の「光源の電磁的な放射」を意味するとしても，「波長」が同一であることにより，「第２の装置」のどの様な光学的構成を特定しようとしているのか不明であって，依然として，特許を受けようとする発明が明確であるとはいえない。そして，そのことにより，第３者に不測の不利益をもたらすことが明らかである。　
　　
第５　新規性の判断　
　上記のとおり，請求項１３に係る発明は，必ずしも明確であるとはいえないものの，本件補正により，「前記第２の装置はさらに、前記試料と前記強度分布の少なくとも一つを移す手段を備えており、且つオフセット・ファイバ・アレイを備えているか、またはファイバ・アレイ及びマイクロレンズアレイを備えており、多次元像を提供する」との特定事項が追加されたことにより，請求項１３に係る発明は，図６あるいは図７に記載されたものを実施例とする発明であることが明らかとなった。　
　そこで，請求項１３に係る発明が図６あるいは図７記載の実施例を含む発明であり，仮に，該実施例に関係する発明の詳細な説明の記載を参酌することにより，明確であるとして，その新規性について以下，検討する。　
　　
１　引用刊行物およびその記載事項　 
（１）当審拒絶理由にて引用され，本願優先日前に頒布された刊行物である特開平９−１４９８７８号公報（以下「刊行物２」という）には，「画像計測装置」に関して，次の事項が記載されている。　
　　
（２−ア）　
「【請求項１】 光源からの光を二分し二分された光のうちの一方の光を被検体に照射して該被検体からの反射光と二分された他方の光との干渉光を受光する光ヘテロダイン法を用いて該被検体の画像を得る画像計測装置において、　 
被検体に向けて前記一方の光を照射する測定ヘッドと、　 
一端側が前記測定ヘッドに保持され前記一方の光を該測定ヘッドに導くと共に被検体からの反射光を該一端側の先端から入射して他端側に導く光ファイバと、　 
前記光ファイバの前記一端側を、該一端側の光軸に交わる方向に振動させることにより、被検体上を前記一方の光で走査する走査機構とを備えたことを特徴とする画像計測装置。　
・・・・・　
【請求項８】 前記光ファイバが、それぞれの一端側が振動方向に交わる面内に配列されるとともに、それぞれの一端側の先端から射出された光により、被検体の、光軸に対し斜めに広がる面上が走査されるように、それぞれの先端が位置決めされた複数本の光ファイバからなることを特徴とする請求項１記載の画像計測装置。　 
【請求項９】 前記測定ヘッドの、被検体に向けて照射される前記一方の光の射出端が、光軸に対し傾斜した面を成していることを特徴とする請求項８記載の画像計測装置。」　
　　
（２−イ）　
「【０００１】　
【発明の属する技術分野】本発明は光ヘテロダイン法を用いて被検体の画像を得る画像計測装置に関し、特に、内視鏡に適した画像計測装置に関する。」　 
　　
（２−ウ）　
「【００１０】測定ヘッド４０内部では、図２２に示すように、光ファイバ３４を経由してきた物体光はスキャニングミラー４１により二次元的に偏向され、あるいは一次元的に変更されるとともにその偏向方向と直角に測定ヘッドが移動され、これにより、眼の網膜からの後方散乱光による、眼の網膜の二次元的な画像が計測される。」　
　　
（２−エ）　
「【００１８】　
【発明の実施の形態】以下、代表的な干渉法であるマハツェンダ干渉計及びマイケルソン干渉計を用いた、ＯＣＭを内視鏡に適用したときの基本構成について説明し、次いで、本発明の特徴部分の実施形態について説明する。図１は、マハツェンダ干渉計を採用したＯＣＭを内視鏡に適用したときの基本構成図である。　
【００１９】ＬＣ（低コヒーレント）光源の代表例であるＳＬＤ５１から発せられた低コヒーレント光（ＬＣ光）５１ａは、ビームスプリッタ５２で物体光５２ａと参照光５２ｂに二分される。物体光５２ａはＡＯＭ５３で周波数シフトされハーフミラー５４を通過し、光ファイバ５５に入射される。この光ファイバ５５の先端は体内に挿入される。　
【００２０】光ファイバ５５から射出した物体光は対物レンズ５６を経由して被検体１に照射される。尚、この図では、被検体１を物体光で走査するための機構は図示省略されている。被検体１での後方散乱物体光は、再び対物レンズ５６を通って光ファイバ５５に入射し、ハーフミラー５４で反射し、ハーフミラー６１で反射して光ディテクタ６２に入射する。　
【００２１】一方、ビームスプリッタ５２で二分されたもう一方の参照光５２ｂは、ＡＯＭ５７で周波数シフトを受けハーフミラー５８を経由して、参照光の光路長を物体光５２ａの光路長に合わせるための光ファイバ５９に入射し参照ミラー６０で反射して再び光ファイバ５９に入射し、ハーフミラー５８で反射し、ハーフミラー６１を透過して光ディテクタ６２に至る。光ディテクタ６２上では、互いに光路長が調整された被検体１からの後方散乱物体光と参照光とが干渉し、その干渉光が受光される。この光ディテクタ６２では、ＡＯＭ５３、５７で周波数シフトされた物体光と参照光のそれぞれの周波数の差の周波数の信号が検出される。ここで参照ミラー６０を矢印方向（光軸方向）に位置調整することにより、被検体１内部の物体光の反射点の深さ（被検体１内部の画像計測点の深さ）が調整される。」　
　　
（２−オ）　
「【００３８】このような構造によっても、光ファイバ５５を振動させることができる。図１８は、光ファイバ先端部の配置状態の他の例を示す、測定ヘッドの模式図である。図１８に示すように、複数本の光ファイバ５５の先端を斜めに、かつ、対物レンズ５６の特性により定まるある曲線に沿って配列すると、被検体１内部を、光軸Ｌに対し傾いた走査線に沿って走査することができる。ここではさらに、測定ヘッド２の先端面２ａが斜め４５°に傾斜しており、したがって被検体１の表面１ａに対し垂直な断面の画像を計測することができる。」　
　　
　上記記載事項（２−ア）〜（２−オ）および図１ならびに１８を総合すると，刊行物２には次の発明が記載されていると認められる。　
「光源からの光を二分し二分された光のうちの一方の光を被検体に照射して該被検体からの反射光と二分された他方の光との干渉光を受光する光ヘテロダイン法を用いて該被検体の画像を得る画像計測装置において，被検体に向けて前記一方の光を照射する測定ヘッドと，一端側が前記測定ヘッドに保持され前記一方の光を該測定ヘッドに導くと共に被検体からの反射光を該一端側の先端から入射して他端側に導く光ファイバと，前記光ファイバの前記一端側を、該一端側の光軸に交わる方向に振動させることにより、被検体上を前記一方の光で走査する走査機構とを備え，前記光ファイバが，それぞれの一端側が振動方向に交わる面内に配列されるとともに、それぞれの一端側の先端から射出された光により，被検体の，光軸に対し斜めに広がる面上が走査されるように，それぞれの先端が位置決めされた複数本の光ファイバからなり，前記測定ヘッドの、被検体に向けて照射される前記一方の光の射出端が、光軸に対し傾斜した面を成している画像計測装置。」（以下「引用発明２」という）　
　　
２　本願発明１３について　 
（１）対比　 
　本願発明１３と引用発明２を対比する。　
ア　引用発明２の「被検体」が本願発明１３の「試料」の相当するから，引用発明２の「被検体の画像を得る画像計測装置」は，本願発明１３の「少なくとも試料の一部を撮像するための装置」の相当するといえる。　
　　
イ　「光」は電磁波の一種であるから，引用発明２の「光源」が本願発明１３の「電磁的な放射を供給する光源」に相当し，引用発明２においては「光源からの光を二分し二分された光のうちの一方の光を被検体に照射して該被検体からの反射光と二分された他方の光との干渉光を受光する光ヘテロダイン法を用いて」いるのであるから，引用発明２も，本願発明１３の「ビームスプリッタ」に相当するものを備えおり，そして，本願発明１３の「第１の干渉装置」を備えているといえる。　
　　
ウ　引用発明２においては「被検体に向けて前記一方の光を照射する測定ヘッドと，一端側が前記測定ヘッドに保持され前記一方の光を該測定ヘッドに導くと共に被検体からの反射光を該一端側の先端から入射して他端側に導く光ファイバと」を備えているのであるから，引用発明２も，本願発明１３と同様に「前記電磁的な放射を受け入れるように構成され、かつ合成電磁的強度分布を生成し、光学的な試料の像を提供するように構成された第２の装置」を備えているといえる。　
　　
エ　引用発明２においては「前記光ファイバの前記一端側を、該一端側の光軸に交わる方向に振動させることにより、被検体上を前記一方の光で走査する走査機構とを備え」ているのであるから，引用発明２も，本願発明１３と同様に「第２の装置はさらに、前記強度分布を移す手段を備え」を備えているといえる。　
　　
オ　引用発明２においては「前記光ファイバが，それぞれの一端側が振動方向に交わる面内に配列されるとともに、それぞれの一端側の先端から射出された光により，被検体の，光軸に対し斜めに広がる面上が走査されるように，それぞれの先端が位置決めされた複数本の光ファイバからなり，前記測定ヘッドの、被検体に向けて照射される前記一方の光の射出端が、光軸に対し傾斜した面を成している」のであるから，引用発明２も，本願発明１３と同様に「オフセット・ファイバ・アレイを備えている」といえる。　
　　
カ　刊行物２には「・・・・・眼の網膜の二次元的な画像が計測される」（上記記載事項（２−ウ）参照）との記載されているとともに，引用発明２においては「被検体上を前記一方の光で走査する走査機構とを備え」とともに「被検体の，光軸に対し斜めに広がる面上が走査される」のであるから，引用発明２も，本願発明１３と同様に「２次元像」，すなわち，「多次元像」を提供する装置であるといえる。　
　　
　そうすると，両者は，　
（一致点）　
「少なくとも試料の一部を撮像するための装置であって，　
　電磁的な放射を供給する光源，及びビームスプリッタを備えた第１の干渉装置；及び　前記電磁的な放射を受け入れるように構成され，かつ合成電磁的強度分布を生成し，光学的な試料の像を提供するように構成された第２の装置を備え，　
　前記第２の装置はさらに，前記強度分布を移す手段を備えており，且つオフセット・ファイバ・アレイを備えている，　
多次元像を提供する装置。」　 
 である点で一致し，次の点で相違する。　 
 　　 
（相違点）　 
 「合成電磁的強度分布」について，本願発明１３では「光軸方向に沿って、前記強度分布の少なくとも２つのセクションの幅が概ね等しくされ、さらに前記電磁放射の波長が、少なくとも、前記強度分布の少なくとも２つのセクションの間概ね同一であ」るのに対し，引用発明２ではそのような構成である否か不明である点。　
 　　 
（２）判断　 
　請求項１３に係る発明においても，「１　請求項１について　（３）」において述べたと同様に，図６実施例においては「オフセット・ファイバ・アレイ（段違いファイバ列）」，「反射鏡（ミラー）」および「対物レンズ」により，また，図７実施例においては「ファイバ・アレイ」，「マイクロレンズアレイ」，「回折格子（反射鏡のアレイ）」および「対物レンズ」により，「試料上の縦と横の次元に集束スポット」が配置される，すなわち，図６および７に示されるように，縦（光軸方向）と横（走査方向）に集光された「点焦点」が形成されるのであって，該「点焦点」は，集束スポットが光軸上に一定距離並んでいる「線焦点」でないことは明らかである。　
　また，請求項１３に係る発明の「強度分布の少なくとも２つのセクション」について，本願明細書の発明の詳細な説明には，具体的な説明がないものの，該２つの「強度分布のセクション」とは，参考図１に示すように，「点焦点」から略同一距離離れた光軸上の上流位置と下流位置における「強度分布のセクション」である解することが可能であり，該２つの「強度分布のセクション」の幅および波長が概ね等しくなることは技術常識である。
　一方，引用発明２おいては「前記光ファイバが，それぞれの一端側が振動方向に交わる面内に配列されるとともに、それぞれの一端側の先端から射出された光により，被検体の，光軸に対し斜めに広がる面上が走査される」のであるから，図１８に示されているように，各光ファイバから射出された光の光軸上に点焦点が形成されることとなる。そして，参考図２に示すように，該「点焦点」から略同一距離離れた光軸上の上流位置と下流位置における２つの「強度分布のセクション」の幅および波長が概ね等しくなることは技術常識である。　
　そうすると，引用発明２においても，本願発明１３と同様に「光軸方向に沿って、前記強度分布の少なくとも２つのセクションの幅が概ね等しくされ、さらに前記電磁放射の波長が、少なくとも、前記強度分布の少なくとも２つのセクションの間概ね同一であ」るといえる。　
　してみると，本願発明１３と引用発明２との間に実質的な相違点はなく，両発明は同一であるといわざるを得ない。　
　　
４　まとめ　
 　以上のことから，本願発明１３は，刊行物２に記載された発明であるというべきである。　
　　
第６　まとめ　
　以上のとおり，請求項１に係る発明は，特許法第３６条第６項第２号の要件を満たしておらず，また，請求項１３に係る発明は，特許法第３６条第６項第２号の要件を満たしておらず，あるいは，特許法第２９条第１項第３号の規定により，特許を受けることができないから，他の請求項について言及するまでもなく，本願は，拒絶されるべきものである。　
　よって，結論のとおり，審決する。