【事件の表示】
　特願２００１−２０１１７６「導電性接触子」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　１月１５日出願公開、特開２００３−　１４７７９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成１３年７月２日の出願であって、平成２３年７月１２日付けで明細書及び特許請求の範囲についての補正がなされ（以下、「補正１」という。）、平成２４年３月８日付け（送達：同年３月１３日）で拒絶査定がなされ、これに対して、同年６月１３日に拒絶査定不服審判が請求されると同時に明細書及び特許請求の範囲についての補正（以下、「本件補正」という。）がなされたものである。
　
２．補正却下の決定
［結論］
　本件補正を却下する。
［理由］
（１）補正の内容
　本件補正は、特許請求の範囲の請求項１を、次のように補正するものである。
（補正前）
「被接触体に当接させる接触面を先端に有する導電性針状体と、前記接触面を前記被接触体に接触させる向きに前記針状体を弾発付勢するためのコイルばねとを有する導電性接触子であって、
　前記針状体が硬度及び耐摩耗性が高い貴金属合金からなり、
かつ前記針状体の少なくとも前記コイルばねとの結合部を含む全体が電気伝導率の高い物質によりメッキされていると共に、
　前記針状体の前記接触面は、前記針状体の先端を研削して前記貴金属合金を露出させた面であることを特徴とする導電性接触子。」
　
（補正後）
「被接触体に当接させる接触面を先端に有する導電性針状体と、前記接触面を前記被接触体に接触させる向きに前記針状体を弾発付勢するためのコイルばねとを有する導電性接触子であって、
　前記針状体が硬度及び耐摩耗性が高い貴金属合金からなり、
かつ
前記針状体と前記コイルばねとの結合部の電気伝導率を高い状態に保持するべく
　前記針状体の前記接触面は、前記針状体の先端を研削して
汚れをクリーニングしかつ初期状態の電気的特性が得られるように
平坦
（下線は補正箇所。）
　
　この補正は、請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「針状体」に関して、「前記針状体の少なくとも前記コイルばねとの結合部を含む全体が電気伝導率の高い物質によりメッキされている」を、「
前記針状体と前記コイルばねとの結合部の電気伝導率を高い状態に保持するべく
汚れをクリーニングしかつ初期状態の電気的特性が得られるように
平坦
　そこで、本件補正後の上記請求項１に記載された発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるかについて、以下に検討する。
　
（２）引用例記載の事項・引用発明
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願出願前に頒布された刊行物である米国特許第５５２１５１９号明細書（以下「引用例１」という。）には、スプリングプローブ装置に関し、次の事項（ａ）、（ｂ）が図面と共に記載されている。
（ａ）
「Spring probe apparatus 10 in accordance with this invention is illustrated in FIG. 1. ・・・ Probe 12 slides freely up and down in a hollow cylindrical space 24 drilled in probe guide 11, and space 24' drilled in guide plate 22. 」（第２欄第１１行ないし第２５行参照）
（ｂ）
「Contact probes 12 are composed of a suitable conductive material including copper alloys such
1. berrylium copper (BeCu),
2. a ductile alloy which can be altered significantly by heat treatment comprising a high palladium content alloy of Ag, Au, Pt, Cu and a little zinc such as Paliney (Registered Trademark of Ney)
3. brass;
or other materials such as:
4. tungsten (W)
5. nickel (Ni).
The probes 12 have formed or etched contact tips 18.
Cone shaped pilots 16 formed on the top of cylindrical contact heads 14 on the distal ends of contact probes 12 fit into the proximal ends of coiled, gold-plated, metallic compression springs 17. The pilots 16 and the springs 17 can be bonded together by means of soldering or laser welding and the like. The springs 17 provide the required probing forces when the cylindrical-contact probe tips 18 at the proximal end of probe 12 are lowered against product pads (not shown for convenience of illustration, which are well known to those skilled in the art.) Connections to test equipment (also not shown for the same reason) are made by means of wires 20 (of a space transformer) whose coned tips 21 fit into the distal end of coil springs 17.  」（第２欄第３７行ないし第６２行参照）
（以下、参考までに当審による日本語訳を付す。）
（ａ’）
「本発明に関するスプリングプローブ装置１０が、図１に図示されている。・・・プローブガイド１１にドリルによりあけられた円筒状の空間２４と、ガイドプレート２２にあけられた円筒状の空間２４’の中を、プローブ１２は、上下に自由にスライドする。」
（ｂ’）
「コンタクトプローブ１２は、下記のような銅合金を含む適切な導体材料からできている。
１．ベリリウム銅(BeCu)、
２．Paliney(Neyの登録商標)のような、Ag、Au、Pt、Cu及び少しの亜鉛を含むパラジウム合金からなる、熱処理によって著しく変更することができる、展性のある合金。
３．黄銅;
　あるいは次のもののような他の材料:
４．タングステン(W)
５．ニッケル(Ni)。
　コンタクトプローブ１２は、成型またはエッチングにより形成された接触先端部１８を有する。
コンタクトプローブ１２の円柱状の接触部頭部上に形成された円錐形のパイロット１６は、金メッキされた金属の圧縮コイルスプリング１７の近接端部内に配置されている。
　パイロット１６およびスプリング１７は、はんだ付けあるいはレーザー溶接およびその他同種のものによってともに接合することができる。
　コンタクトプローブ１２の近接端に形成された円柱状の先端部１８が、製品の端子(当業者によく知られているので、便宜上図示されない)に向かって下降された際に、スプリング１７は、必要な探測する力を提供する。
　試験装置(さらに同じ理由で図示されない)への接続は、コイルスプリング１７の遠方端部内に配置された円錐形先端部２１を有する電線２０（スペース変換器の）によってなされる。」
　
　また、図１には、コンタクトプローブの接触先端部１８は、その製品の端子と当接する接触面は平坦面であることが図示されている。
 してみると、上記記載（ａ）、（ｂ）及び図１の記載によれば、引用例１には次の発明が記載されているものと認められる。
　
「製品の端子に当接させる接触先端部を有するコンタクトプローブと、前記接触先端部を前記製品の端子に向かって下降させた際に、必要な探測する力を提供するコイルスプリングとを有するスプリングプローブ装置であって、
　前記コンタクトプローブがPaliney(Neyの登録商標)のようなAg、Au、Pt、Cu及び少しの亜鉛を含むパラジウム合金からなり、
　かつ、前記コンタクトプローブと前記コイルスプリングとの結合部の電気伝導率を高い状態に保持するべく前記コイルスプリングの結合部が電気伝導率の高い物質によりメッキされていると共に、
　前記コンタクトプローブの接触先端部は、前記合金からなる平坦面であるスプリングプローブ装置。」（以下、「引用発明１」という。）
  
（３）対比
　本願補正発明と引用発明１とを対比する。
（ア）
　引用発明１における「コンタクトプローブ」は、円柱状の導電材料からなり、その端部に製品の端子に当接させる接触先端部を有しているので、本願補正発明における「被接触体に当接させる接触面を先端に有する導電性針状体」に相当する。
（イ）
　引用発明１における「接触先端部を前記製品の端子に向かって下降させた際に、必要な探測する力を提供するコイルスプリング」は、コンタクトプローブ１２が上下に自由にスライドすること、また、圧縮コイルスプリングであることから、本願補正発明の「接触面を前記被接触体に接触させる向きに前記針状体を弾発付勢するためのコイルばね」に相当する。
（ウ）
　引用発明１における、コンタクトプローブとコイルスプリングを有する「スプリングプローブ装置」は、本願補正発明における、針状体を弾発付勢するためのコイルばねを有する「導電性接触子」に相当する。
（エ）
　引用発明１における「Paliney(Neyの登録商標)のようなAg、Au、Pt、Cu及び少しの亜鉛を含むパラジウム合金」は、本願明細書中に例示する貴金属合金（【００２０】なお、導電性針状体２の素材には、Paliney7に限定されるものではなく、成分として、パラジウム（Ｐｄ）を３５％、銀（Ａｇ）を３０％、白金（Ｐｔ）を１０％、金（Ａｕ）を１０％、銅（Ｃｕ）を１４％、亜鉛（Ｚｎ）を１％含む貴金属合金であると良い。または、他の成分を有するものであっても良く、硬度及び耐摩耗性が高い貴金属合金であれば良い。」参照）に含まれるので、本願補正発明における「硬度及び耐摩耗性が高い貴金属合金」に相当するといえる。
　
（オ）
　してみると、両者の一致点、相違点は、以下のとおりである。
（一致点）
「被接触体に当接させる接触面を先端に有する導電性針状体と、前記接触面を前記被接触体に接触させる向きに前記針状体を弾発付勢するためのコイルばねとを有する導電性接触子であって、
　かつ、前記針状体と前記コイルばねとの結合部の電気伝導率を高い状態に保持するべく結合部が電気伝導率の高い物質によりメッキされていると共に、
　前記針状体が硬度及び耐摩耗性が高い貴金属合金からなり、
　前記針状体の前記接触面は、前記貴金属合金を露出させた平坦面である導電性接触子。」
（相違点１）
　メッキに関し、本願補正発明では、針状体の接触面以外の部分が「針状体とコイルばねとの結合部の電気伝導率を高い状態に保持するべく前記針状体の少なくとも前記コイルばねとの結合部を含む全体が電気伝導率の高い物質によりメッキされている」のに対し、引用発明１は、コイルスプリングは金メッキされているが、針状体に相当するコンタクトプローブの接触面以外の部分に電気伝導率の高い物質によりメッキをすることを特定していない点。
（相違点２）
  本願補正発明では、「針状体の先端を研削して汚れをクリーニングしかつ初期状態の電気的特性が得られるように」しているのに対し、引用発明１は、クリーニングに関して特定をしていない点。
  
（４）判断
　上記相違点１、２について検討する。
ア　引用例２　
　原審で引用された本願出願前に頒布された刊行物である特開平１１−１６０３５５号公報（以下「引用例２」という。）（発明の名称：コンタクトプローブ）には、以下の記載がある。
（ｃ）
「【００１２】そして、コンタクトピン１０の針先において、内部層１１の先端部は外部に露出している（端子２との）通電用接触部であり、これをコンタクトピン１０の先端部１０ａとする。そして、先端部１０ａを除いた内部層１１の表面は、導電性の高いＡｕで被覆されて第一被覆層１２とされる。ここで、内部層１１の先端部１０ａ以外の部分をＡｕで被覆したのは、Ｎｉ−Ｍｎ合金は電気抵抗が大きいために信号の伝送線路としては損失が大きく、信号が劣化してノイズが発生するためである。他方、高周波信号は一般にコンタクトピン１０の表面を流れる特性を有する（表皮効果という）ために、コンタクトピン１０の表面を導電性の良いＡｕで被覆することで、信号の劣化を防止できるためである。
【００１３】次に上述した実施の形態によるコンタクトピン１０の製造方法について説明する。コンタクトピン１０を製造する工程は、例えば特公平７−８２０２７号公報に開示されたものと同様である。即ち、ステンレス製の支持基板の上にＣｕめっきによりベースメタル層を形成する。このベースメタル層の上にフォトレジスト層を形成した後、フォトレジスト層に所定のパターンのマスクを施して露光し、フォトレジスト層を現像してコンタクトピンとなる部分を除去して、残存するフォトレジスト層に開口部を形成する。そして、この開口部にコンタクトピン１０となるＮｉ基合金層として、Ｎｉ−Ｍｎ合金をめっき処理により形成する。ここで、コンタクトピン１０の先端部１０ａのみＮｉ−Ｍｎ合金の内部層１１を露出してＡｕの第一被覆層１２で被覆する方法として、製作されたコンタクトピン１０の内部層１１の先端部１０ａを予めマスキングしてＡｕめっきする手法を用いる。或いは、コンタクトピン１０の内部層１１全体をＡｕめっきで被覆しておいて、先端部１０ａのみＡｕを剥離させる手法を用いてもよく、いずれを用いても良い。」
（ｄ）
「【００１５】尚、上述の第一の実施の形態によれば上述の作用効果を奏するが、コンタクトピン１０の先端部１０ａにＮｉ−Ｍｎ合金の内部層１１が露出していることで、Ｎｉ−Ｍｎ合金が酸化し、そのために結果的に接触時の電気抵抗が増大し、接触不良が発生することがある。次に説明する本発明の第二の実施は、このような問題を改善したものであり、これを図２により説明する。図２に示すコンタクトピン１４は、Ｎｉ−Ｍｎ合金からなる内部層１１を、先端部１４ａを含めて全体に白金族元素の金属、例えば白金Ｐｔで被覆して第二被覆層１５が形成されている。ここで、白金Ｐｔは、導電性はＡｕより劣るが、硬度が高く酸化しにくいので、端子２のＡｕが付着する粘着現象を確実に防ぐことができる。尚、第二被覆層１５に用いる白金族元素の金属として、白金Ｐｔ以外に、Ｒｕ、Ｐｈ、Ｐｄ、Ｏｓ、Ｉｒ等を採用することができる。
【００１６】次に第二の実施の形態の変形例を図３により説明する。図３において、コンタクトピン１６は、Ｎｉ−Ｍｎ合金からなる内部層１１を、先端部１６ａを含めて全体に白金族の金属、例えば白金Ｐｔで被覆して第二被覆層１５が形成されている点で、第二の実施の形態によるコンタクトピン１４と等しい。本変形例では、更に第二被覆層１５の表面に、端子２との通電用接触部である先端部１６ａを除いた部分に導電性金属としてＡｕが被覆されて第三被覆層１８が形成されている。この構成によれば、第二の実施の形態の効果に加えて、第二被覆層１５の導電性がＡｕより劣っていても、端子２から先端部１６ａに伝送された信号は表皮効果によって導電性のよいＡｕからなる第三被覆層１８を伝送されるから、信号の劣化によるノイズの発生を確実に防止できるという作用効果を奏する。」
　
　また、図３には、端子２との通電用接触部である先端部１６ａは、白金Ｐｔの第二被覆層１５が露出しており、先端部１６ａを除いた部分は、導電性金属としてＡｕが被覆されて第三被覆層１８が形成されている様子が図示されている。
　
イ　引用発明２　
 上記記載（ｃ）、（ｄ）及び図３の記載によれば、引用例２には次の発明が記載されているものと認められる。
「コンタクトピンの表面が硬度が高く酸化しにくい貴金属である白金等の被覆層からなり、端子との通電用接触部であるコンタクトピンの先端部は、前記白金等の被覆層が露出しており、コンタクトピンの前記先端部を除いた部分は、Ａｕがめっきにより被覆されてなるコンタクトプローブ。」（以下、「引用発明２」という。）
　
ウ　検討
（相違点１について）
　まず、引用発明２における、「Ａｕ」は、電気伝導率の高い物質であり、コンタクトピン全体にめっきされた後、端子との通電用接触部である先端部のみ剥離されることから、引用発明２は、通電用接触部以外の部分に電気伝導率の高い物質によりメッキをしたものである。
　引用発明１も、引用発明２も、共にコンタクトプローブに関する発明である点で共通しているところ、このコンタクトプローブとは、端子との接触をして導通状態を試験する際に用いられるものであることから、端子との接触において電気抵抗を低減させようとすることは、コンタクトプローブにおける周知の技術的課題である。
　そして、引用発明２を引用発明１に適用した際に、引用発明１における接触先端部の平坦面が端子と接触する部分であり、引用発明２における通電用接触部に相当し、平坦面である通電用接触部以外の全体に電気伝導率の高いＡｕをメッキすることになるから、コイルスプリングとの結合部も含めてメッキされることになる。
　してみると、コンタクトプローブに関する引用発明１に、前記周知の技術的課題を解決することを目的として、引用発明２の通電用接触部以外の部分に電気伝導率の高い物質によりメッキをすることを適用し、本願補正発明における「針状体の接触面以外の部分が、針状体とコイルばねとの結合部の電気伝導率を高い状態に保持するべく前記針状体の少なくとも前記コイルばねとの結合部を含む全体が電気伝導率の高い物質によりメッキされている」ようにすることは、当業者ならば容易に想到し得るものである。
（相違点２について）
  本願補正発明では、「針状体の先端を研削して汚れをクリーニングしかつ初期状態の電気的特性が得られるように」しているのに対し、引用発明１は、クリーニングに関して特定をしていない。
　しかしながら、プローブ先端を研磨することでクリーニングすることは、本願出願前に周知技術であり（例えば、特開昭６３−１７０９３３号公報、実願平５−５１３６９号（実開平７−２６７７２号公報）のＣＤ−ＲＯＭ等参照）、研磨すれば、プローブ先端が削られることは明らかである（特開平４−３６６７６８号公報等参照）。（以下、周知技術１という。）
  また、上記のようにクリーニングするのは、プローブを使用しているとプローブ先端に汚れが付着し電気的接続状態が悪化するので、その汚れを除去することで電気的接続状態を回復するためであるから、本願補正発明における「初期状態の電気的特性が得られるようにする」ことに外ならない。
　したがって、引用発明１に、プローブ先端を研磨することでクリーニングするという前記周知技術を適用し、本願補正発明の「針状体の先端を研削して汚れをクリーニングしかつ初期状態の電気的特性が得られるように」することは、当業者ならば容易に想到し得るものである。
　
　したがって、本願補正発明は、引用発明１、引用発明２、及び周知技術１に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、同法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
（５）むすび
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであるから、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
３．本願発明について
　本件補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１ないし４に係る発明は、補正１によって補正された明細書、特許請求の範囲及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし４に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に係る発明は次のとおりである。
　
「被接触体に当接させる接触面を先端に有する導電性針状体と、前記接触面を前記被接触体に接触させる向きに前記針状体を弾発付勢するためのコイルばねとを有する導電性接触子であって、
　前記針状体が硬度及び耐摩耗性が高い貴金属合金からなり、
かつ前記針状体の少なくとも前記コイルばねとの結合部を含む全体が電気伝導率の高い物質によりメッキされていると共に、
　前記針状体の前記接触面は、前記針状体の先端を研削して前記貴金属合金を露出させた面であることを特徴とする導電性接触子。」
（以下、「本願発明」という。）
　
（１）引用例記載の事項・引用発明
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物に記載された発明・事項は、上記「２．（２）引用例記載の事項・引用発明」に記載したとおりである。
　　
（２）対比
　本願発明と引用発明１とを対比すると、両者の一致点、相違点は、以下のとおりである。
（一致点２）
「被接触体に当接させる接触面を先端に有する導電性針状体と、前記接触面を前記被接触体に接触させる向きに前記針状体を弾発付勢するためのコイルばねとを有する導電性接触子であって、
　前記針状体が硬度及び耐摩耗性が高い貴金属合金からなり、
　前記針状体の前記接触面は、前記貴金属合金を露出させた面である導電性接触子。」
（相違点３）
　本願発明では、「前記針状体の少なくとも前記コイルばねとの結合部を含む全体が電気伝導率の高い物質によりメッキされていると共に、前記針状体の前記接触面は、前記針状体の先端を研削して前記貴金属合金を露出させた面」であるのに対し、引用発明１は、そのような特定がされていない点。
　
（３）判断
　引用発明２は、上記２．（４）アの記載からするに、
「コンタクトピン全体にＡｕのめっきがされた後、端子との通電用接触部である先端部のみ、前記めっきを剥離されることで、コンタクトピンの白金等の被覆層を露出したコンタクトプローブ。」である。
　引用発明２における、「Ａｕ」は、本願発明における「電気伝導率の高い物質」のことである。
　引用発明１も、引用発明２も、共にコンタクトプローブに関する発明である点で共通しているところ、コンタクトプローブとは、端子との接触をして導通状態を試験する際に用いられるものであることから、端子との接触において電気抵抗を低減させようとすることは、コンタクトプローブにおける周知の技術的課題である。
　そして、引用発明２を引用発明１に適用した際に、引用発明１のコンタクトプローブの端子と接触する部分以外の全体に電気伝導率の高いＡｕをめっきすることになるから、コイルスプリングとの結合部も含めてめっきされることになり、また、端子との通電用接触部である先端部のみ、めっきが剥離されるから、接触面は、貴金属合金が露出されることになる。
　ところで、剥離をどのようにして行うか、引用発明２には、特定されていないが、例えば、特開平１１−３４４５０９号公報(特に段落【００３０】の記載等参照。）に見られるように、プローブピンに形成された膜を研磨により剥離することは周知技術（以下、周知技術２という。）であり、また、ここでの研磨は、部材を部分的に除去しているので、研削と同じであることから、剥離を研削により行うことは、当業者が適宜採用し得ることである。
　してみると、コンタクトプローブに関する引用発明１に、前記周知の技術的課題を解決することを目的として、引用発明２を適用し、本願発明における「前記針状体の少なくとも前記コイルばねとの結合部を含む全体が電気伝導率の高い物質によりメッキされていると共に、前記針状体の前記接触面は、前記針状体の先端を研削して前記貴金属合金を露出させた面」であるようにすることは、当業者ならば容易に想到し得るものである。
　
（４）むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用発明１、引用発明２、及び周知技術２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、同法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、他の請求項に係る発明について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。