【事件の表示】
　特願２００５−２０６１３９「光学的表面特性の検査装置および検査方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１８年　２月　２日出願公開，特開２００６−　３０２０３〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　本願は，平成１７年７月１４日（パリ条約に基づく優先権主張　平成１６年７月１５日　独国）に出願されたものであって，平成２２年１１月１１日付けの拒絶理由通知に対し平成２３年２月１６日付けで意見書および手続補正書が提出されたが，同年９月１４日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，平成２４年１月１７日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに，同日付けで手続補正（以下「本件補正」という）がなされたものである。そして，同年９月１１日付けで前置報告書の内容が審尋がされるとともに，回答書が平成２５年１月１５日付けで請求人より提出されたものである。　 
 　 
第２　本件補正についての補正却下の決定　
 ［補正却下の決定の結論］ 
 　平成２４年１月１７日付けの手続補正を却下する。 
 　 
 ［理由］  
１　補正後の請求項１に係る発明　
　本件補正により，補正前の特許請求の範囲の請求項１は，次のとおりに補正された。（下線は補正箇所を示す）　
「【請求項１】　
　光学的表面特性を検査する装置において、　
　一つ目の
所定の
　前記検査表面に照射され、ここから反射した光を捕捉するため
の一
所定の
　少なくとも一つの副照射装置（１９）を備え、これは、三つ目の
所定の
　前記検査表面に照射され、ここから反射した光を捕捉するため
の一
４
４
の所定の
おり、
前記主検出装置（７）と前記副検出装置（４）とが、同一の所定の立体角で光を検出できるような手段が設けられており、
立体角は、それぞれ第１部分立体角αおよび第２部分立体角βから成る組（α；β）であると理解され、前記立体角においては、前記第１部分立体角αは、カーテシアン座標系の原点から始まる半直線により規定される空間方向の、正のｚ軸に対するｘ／ｚ平面上の投影角を表しており、前記第２部分立体角βは、カーテシアン座標系の原点から始まる半直線により規定される空間方向の、正のｚ軸に対するｙ／ｚ平面上の投影角を表しており、前記座標系は、前記検査表面（３）が少なくとも部分的にｘ／ｙ平面に位置するように向けられて
　　
　上記補正は，　
（１）「一つ目の立体角」を「一つ目の所定の立体角」とし，　
（２）「少なくとも一つの主検出装置（７）」を「一つの主検出装置（７）」とし，　
（３）「二つ目の立体角」を「二つ目の所定の立体角」とし，　
（４）「三つ目の立体角」を「三つ目の所定の立体角」とし，　
（５）「少なくとも一つの副検出装置（１３、１４、１６、１７、１８）」を「一つの副検出装置（４）」とし，
（６）「前記副検出装置（１３、１４、１６、１７、１８）」を「前記副検出装置（４）」とし，　
（７）「四つ目以降の立体角で前記検査表面（３）に対して配置されて」を「四つ目の所定の立体角で前記検査表面（３）に対して配置されており、」とし，　
（８）「前記主検出装置（７）と前記副検出装置（４）とが、同一の所定の立体角で光を検出できるような手段が設けられており、」を追加し，　
（９）「立体角は、それぞれ第１部分立体角αおよび第２部分立体角βから成る組（α；β）であると理解され、前記立体角においては、前記第１部分立体角αは、カーテシアン座標系の原点から始まる半直線により規定される空間方向の、正のｚ軸に対するｘ／ｚ平面上の投影角を表しており、前記第２部分立体角βは、カーテシアン座標系の原点から始まる半直線により規定される空間方向の、正のｚ軸に対するｙ／ｚ平面上の投影角を表しており、前記座標系は、前記検査表面（３）が少なくとも部分的にｘ／ｙ平面に位置するように向けられて」を追加する　
補正であって，平成１８年改正前の特許法第１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮，および同項第４号の明りょうでない記載の釈明を目的とするものに該当する。 
　そこで，補正後の請求項１に係る発明（以下「補正発明」という）が特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされている同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について，以下に検討する。　
　　
２　引用刊行物およびその記載事項　
（１）本願優先日前に頒布され，原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特開２００３−０４２９６５号公報（以下「刊行物１」という）には，図面とともに次の事項が記載されている。　
　　
（１−ア）　
「【請求項１】反射体特に不均一反射体の特性を決定する装置であって、　
光を測定表面へ放射する少なくとも一の照明手段と；前記測定表面から反射された光を記録する少なくとも一の検出手段と；を備え、　
前記の少なくとも一の検出手段の少なくとも一つが複数の光感応性センサ手段を備え、各センサ手段で受光した光に特徴的な測定値が実質的にそれぞれの前記センサ手段から発することができ；前記装置はさらに、少なくとも一の第１の所定のしきい値を備える少なくとも一のメモリ手段と；少なくとも一の処理手段を備えかつ測定シーケンスを制御する少なくとも一の制御手段と；を備え、　
測定シーケンスは、センサ手段の測定値が前記第１のしきい値を超えるときにセンサ手段の測定値を第１の表面タイプに割り当てるように、前記制御手段によって制御可能であり；前記制御手段が、前記第１の表面タイプを特徴付ける少なくとも一の統計的パラメータを決定するを可能とするように構成されている装置。　
・・・・・　
【請求項３８】前記測定表面に対して実質的に直交する面に配置した少なくとも２つの照明手段が備えられた請求項１に記載の装置。」　
　　
（１−イ）　
「【０００１】　
【発明の属する技術分野】本発明は、反射体、特に不均質（不均一）反射体の特性を決定する装置及びその方法に関する。本体、又は、表面（面）の外観特性は、多くの製品において、製品全体の見映えを決定する重要な要素である。製造中、若しくは、物体の修理において、高い再現性を達成するためには、一又は二以上のパラメータが決定される品質コントロールの目的で、試作品若しくは製品において測定を行う。特に、仕上げ面について、それに限定はしないが、外観特性は視角若しくは照射角に依存して変化するかもしれない。このような面の例には、金属若しくはパール光沢仕上げ、干渉色面を有する被覆面、他の合成面、又は、ちりばめられている（はめ込まれている）透明若しくは反射粒子等を有する本体がある。」　
　　
（１−ウ）　
「【０１７２】図１は、本発明による装置の第１の実施形態の断面図である。　
【０１７３】測定される表面９に光を向ける数個（ここでは、７個）の照明手段と光源２，３，４，５，６，７及び８が、ハウジング１に配備されている。もっと少なくても多くてもよい：例えば、１０，１２，１５，２０、又は、４から６だけでもよい。　
【０１７４】光ビームを制限するために、各光源の各ビームを制限するマルチ絞り１３を備える。発光の発散に作用するレンズ１４（一の独立レンズを各照明手段に対して備えたり、また、レンズ１４に加えて、各照明手段に対してさらに他のレンズを加えてもよい。）を備えてもよく、それによって、測定表面９へ実質的に平行な光ビームを向けることが可能となる。　
【０１７５】個々の照明手段２，３及び６は測定表面に対して異なる高さ角３で位置合わせされ、一方、検出手段１７は測定角２７で表面から反射される光を受光する。　
【０１７６】検出器１６は、ＣＣＤチップとして構成され、その各光感応性要素は平面の列４０と行４１とで配置されている。測定される表面と検出器１６との間の放射線の経路に配置されたレンズ１８は、光源又は測定表面又は前記検出器１６若しくは同様な構成要素上の同じ部分をマッピングする作用をする。　
【０１７７】図１で示していないが、例えば、測定表面に対して異なる角度で指向して配置する多数の検出器を備えてもよい。同様に、もっと多くの若しくは少ない光源２−８を備えることもできる。　
【０１７８】光源２，３及び６は、測定面２４において配置された発光ダイオードで成る。測定面２４は、実施形態において、照明手段６，測定表面９及び検出器１６を介して延在する面である。　
【０１７９】発光ダイオード４，５，６，７及び８は、測定表面９に対して平行でかつ測定面２４に対して直交する面に配置している。個々の発光ダイオードは、測定表面２４に対して異なる方位角で配置する。　
【０１８０】発光ダイオード７は、測定表面２４に対して高さ角２８で指向し、一方、測定面２４に対して方位角２９を示す。測定面に対する光源の３次元配置は、より精密な形で測定表面の均一な特性を決定することできるように、測定表面９の３次元マッピングを可能となる。　
【０１８１】制御可能な絞り１７を、光源７−８と検出器１６との間の放射線経路に備えてもよい。制御可能絞り１７は本発明ではＬＣＤ絞りから成り、個々の領域、線、行、画素が特別に制御でき、それによって、前記の特別制御は、検出器１６が測定表面からのある範囲の角度だけ向くようにことができ、他方他のものは影になったままである。　
【０１８２】制御可能絞りは、照明手段と測定表面との間の放射線の経路に配置することができ、それによって、測定表面に対する照明角を特別に小さい傾斜でセットすることができる。　
【０１８３】制御可能絞り１７は、表面９のイメージは微小な角度の変化で記録することでき、それにより微小な変化の検出を可能とする。　
【０１８４】発光ダイオード４−８に加えて、多くの異なるステラジアンから表面を測定するために、光源若しくは放射源を、測定面２４に対する他の角度の高さ角若しくは方位角２９で備えることができる。」　
　　
（１−エ）　
「【０２５４】図１１は、本発明の測定装置の他の実施形態の斜視図である。装置１２０は、測定表面９上に半球上に延びる第１のサブフレーム若しくは第１の測定サークル１２１を示す。ボア１２３の形の複数の保持手段が、照明管若しくはセンサ管が導入することができる測定サークル１２１に備えている。　
【０２５５】照明管若しくはセンサ管を、所望ならば、個々のボア１２３に挿入してよい。組合せ管を備えてもよい。本発明による装置が高い適応性を有するように、異なる測定に対しては置換し若しくは交換してもよい。　
【０２５６】一の孔１２３かえ隣接の孔１２３への角度距離１２４を、示したような実施形態において５°に固定する。しかしながら、２５5°、３°若しくは１０°のような他の角度間隔も可能である点を指摘しておきたい。ボアは測定管若しくは照明管用のボア、レシーバを、半球の全１８０°範囲にわたっては備えないで、一若しくは数個の角度範囲にだけ備えてもよい。
【０２５７】カラー、光沢等の通常の外観特性を決定するために、走査及び照明角は通常で５で等しく可分である。従って、５で可分の測定表面９に対するアラインメント角になるようにボアを角度ごとに配置するのが好ましい。これは、保持手段を５°毎に備えるように実施形態で実現される。　
【０２５８】測定表面９上で直交して延びる第１の測定サークル（若しくは、測定半球）１２１は第１のセクメント及び第２のセグメントを有し、選択された実施形態では、角セグメントは９０°の角度範囲で延びている。　
【０２５９】第１及び第２のセグメント１２８及び１２９では、ボア１２３は、前記ボア１２３の各中心軸が測定表面９の中心に向くように位置合わせされている。　
【０２６０】他のレシーバ、ボア１２５は、第２のセグメント１２９に備え、それの各軸は測定表面に平行及びボア１２３に直交して延びる。　
【０２６１】さらに、本発明の装置１２０は、互いに５°の角度間隔１２４で配置する受け手段若しくはボア１２３を備えた第２の測定サークル１２２を備えている。第１の測定サークルの場合と同様に、第２の測定サークルの孔１２３の中心軸も測定表面９の中心を向いている。　
【０２６２】前記の第１の測定サークルとは対照的に、第２の測定サークルは測定表面に直交する面に配置されていず、測定表面９の直交に対して角度１２６で配置されている。　
【０２６３】角度１２６は実施形態で４５°であり、それは、１０°、１５°、２０°、２５°、３０°、６０°若しくは７５°であってもよい。さらに、第２の測定サークルの角度１２６は、固定の段階的変化で若しくは連続的に調整可能である。　
【０２６４】測定を実施するために、測定装置１２０の第１の測定サークル１２１の第１のセグメント１２８の全レシーバ１２３及び第２の測定サークルの全ボア１２３とは、照明管及び／又はセンサ管を用いてはめ込み可能である。　
【０２６５】第１の測定サークルの第２のセグメントでは、照明管、センサ管、測定管及び／又は組合せ管は、レシーバ１２３及び１２５に交互に使用してもよい。　
【０２６６】図１２で示した測定管、組合せ管１４０は、センサ１４２及びレンズ１４７を有するセンサ管１４６を備える。光源１４１を有する照明管１４５をさらに備える。実施形態における光源１４１はいわゆる白色発光ダイオードである。照明管において他の光源若しくは二、三、若しくは四以上の異なる色の発光ダイオードを利用することが可能であり、その光は空間的に重ねられる。　
【０２６７】照明及びセンサ管１４５、１４６の光軸は、互いに９０°配置の組合せ管のブームスプリッタ１４３で交差する。　
【０２６８】実施形態における発光ダイオード１４１から発光された光は、４５°でビームスプリッタ１４３に当たる。発光ダイオード１４１から放射される光の一部はビームスプリッタ１４３によって伝達され、参照測定セル１４４に入射し、そのため、発光ダイオード１４１の強度を制御可能である。　
【０２６９】参照信号が光ファイバによってスペクトロメータ等に指向され、そのため、発光ダイオード１４１から放射された光の強度だけでなく、スペクトル分布を決定することが可能である。　
【０２７０】スペクトロメータは、一の発光ダイオード１４１の光だけでなく、例えば、光マルチプレクサの利用を介して、光源１４１の光を運ぶ複数のファイバの光を検出する。　
【０２７１】光源１４１から放射される光の一部はビームスプリッタ１４３によって反射される。４５°で配置されたビームスプリッタ１４３はこの一部をボア１３の光軸に沿った測定表面に反射する。　
【０２７２】そこでの入射光は測定表面９上の半空間に反射される。この光の一部は、それ自身に反射バックされ、組合せ管１４０に到達し、次いで、ビームスプリッタ１４３に入射する。　
【０２７３】戻る光の一部はビームスプリッタ１４３を介して伝達し、センサ管１４６の光軸に沿って進み、レンズ１４７を達してセンサ１４２を入射する。　
【０２７４】センサ１４２はＣＣＤセンサで構成され、個々の表面セグメント３０上に入射する光の強度分布を検出する。　
【０２７５】センサ１４２３は、実施形態によっては、光を完全に検出でき、各センサ表面にわたって完全に検出できる。　
【０２７６】カラー測定に対しては、センサ１４２をカラーＣＣＤセンサで構成してもよい。ファイバホイール手段１０を、図９の実施形態で説明したように、センサ管１６における放射線の経路に備えることも可能である。測定管１４６で備えたこのようなフィルタホイール手段１０によって、測定表面で反射された光の色を決定することが可能となる。　
【０２７７】ビームスプリッタとセンサ１４２にカラーフィルタを備えて、センサに入射する光を分離し、それを色成分に分けることも可能である。独立したセンサ要素によって、測定表面の色を決定することができる。　
【０２７８】測定若しくは組合せ管１４２はとても好都合である。というのは、それが表面を照射し、同じ角度で測定結果を同時に検出することを可能にする組合せ管だからである。　
【０２７９】組合せ管１４０のセンサ管１４６に入射する光は、例えば、複数の光ファイバで連続して他のセンサ管からの信号を運ぶことを可能にする光伝導体によって独立したセンサに指向させてもよい。　
【０２８０】第１のセグメントにおけるレシーバ１２３は第２のセグメント１２９におけるレシーバ１２３のように構成があり、レシーバ、ボア１２５も第１の測定サークル１２１の第１のセグメント１２８に備え、それによって、組合せ管１４０を第１及び第２のセグメントに挿入可能であるという可能である。　
【０２８１】組合せ管を測定表面の直交に対する同じ角度で利用するならば、両組合せ管１４０の両照明管１４１は光を同時に表面に放射し、直接反射する光が他の組合せ管１４０の測定管１４２において同時に検出される。　
【０２８２】第２の測定サークル１２２は、測定管若しくは照明管を受容するように構成されたボア１２３を備える。示した実施形態では、組合せ管の測定管１４６の配置に対応する第２の測定サークル１２２のレシーバに測定管１５１を備える。同様に、センサ１４２及びレンズ１５２を備えている。
【０２８３】第２の測定サークル１２２が測定表面９の直交に対して位置合わせされた角度１２６によって、測定されるボディの前記測定表面９を３次元的に測定可能である。」　
　　
　上記記載事項（１−ア）〜（１−エ），特に（１−ア）からみて，刊行物１には次の発明が記載されていると認められる。　
　　
「反射体特に不均一反射体の特性を決定する装置であって，　
光を測定表面へ放射する少なくとも一の照明手段と；前記測定表面から反射された光を記録する少なくとも一の検出手段と；を備え，　
前記の少なくとも一の検出手段の少なくとも一つが複数の光感応性センサ手段を備え，各センサ手段で受光した光に特徴的な測定値が実質的にそれぞれの前記センサ手段から発することができ；前記装置はさらに，少なくとも一の第１の所定のしきい値を備える少なくとも一のメモリ手段と；少なくとも一の処理手段を備えかつ測定シーケンスを制御する少なくとも一の制御手段と；を備え，　
　前記測定表面に対して実質的に直交する面に配置した少なくとも２つの照明手段が備えられた装置。」（以下「引用発明」という）　
　　
（２）同様に，本願優先日前に頒布され，原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特開２００３−０７５２５７号（以下「刊行物２」という）には，図面とともに次の事項が記載されている。（下線は当審にて付与する）
　　
（２−ア）　
「【０００１】　
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物の画像を含む反射特性を測定する反射特性測定装置に関するものである。」　
　　
（２−イ）　
「【０００２】　
【従来の技術】従来、各種産業分野において、色彩の重要性が高まっており、塗装、印刷、繊維、窯業、農林水産その他多くの分野においては、生産現場などで各種試料の分光反射率や色彩計算値などの測色データが利用されている。　
【０００３】このような色彩を測定する測色計として、従来、
分光反射率などを測定するための分光センサと、ＣＣＤなどが２次元的に配列されて構成される撮像素子の双方を備えたもの
【０００４】　
【発明が解決しようとする課題】上記分光センサに汎用されるシリコンダイオードなどの光電変換素子は、受光した光強度に応じたレベルの光電流を発生させるものであり、オペアンプとともに公知の電流電圧変換回路を構成することにより、１６〜２０ビットと広いダイナミックレンジを持つことができる。これに対して、撮像素子に汎用されるＣＣＤは、受光した光強度に応じたレベルの電荷を蓄積するものであることから、各画素に蓄積可能な電荷量に制限があるために、８〜１０ビット程度のごく狭いダイナミックレンジしか持つことができない。　
【０００５】従って、撮像素子の露光量が一定値のままでは、高反射率から低反射率まで広いレンジを包含する被測定物を所定の高分解能で撮像することが困難という問題がある。　
【０００６】近年、塗膜の意匠性を高めるために、微小フレーク状のアルミニウムや雲母などの光輝材を含有する光輝材含有塗膜を用いたメタリック塗装やパール塗装が自動車の塗装などに多く採用されているが、この光輝材含有塗膜を被測定物とする場合には、光輝材の種類、個々の塗膜によって撮像素子への入射光量が大きく異なることとなる。また、同一の塗膜内でも、光輝材の正反射光が入射する画素とそれ以外の画素とで入射光量が大きく異なる。従って、撮像素子の露光量が一定値のままでは、被測定物の２次元画像を好適に得ることが更に一層困難となってしまう。　
【０００７】本発明は、上記問題に鑑みてなされたもので、
反射特性測定のためのセンサと撮像素子の双方を備えた測定装置
　　
（２−ウ）　
「【００３１】図３において、マルチアングル測色計１は、上記操作表示パネル４を備えるとともに、第１照明部１０と、第２照明部２０と、第３照明部３０と、受光部４０と、撮像部５０と、メモリ部６０と、制御部７０とを備えている。　
【００３２】第１照明部１０は、例えばキセノンフラッシュランプからなる光源１１と、この光源１１を発光させる発光回路１２と、光源１１からの光線を規制する規制板１３と、コリメートレンズ１４とから構成されている。
【００３３】発光回路１２は、例えば、数百Ｖの直流高電圧を光源１１の電極に印加するためのメインコンデンサ、このメインコンデンサを充電するための充電回路、光源１１に密着して巻かれた金属ワイヤからなるトリガ電極に数万Ｖの交流高電圧を印加するためのトリガ発生回路、例えばＩＧＢＴからなる半導体スイッチ素子、この半導体スイッチ素子に駆動電圧を印加するための駆動回路からなる。　
【００３４】そして、半導体スイッチ素子をオンにしておき、メインコンデンサにより光源１１の両端電極に直流高電圧を印加した状態で、トリガ発生回路のトリガコンデンサによりトリガトランスを介してトリガ電極に交流高電圧を瞬間的に印加すると、光源１１がトリガされ、メインコンデンサから直流電流が流れて発光することとなる。　
【００３５】規制板１３は、その開口１３ａがコリメートレンズ１４の焦点に一致するように配置されており、規制板１３の開口１３ａを通過した光源１１からの光線は、コリメートレンズ１４によってコリメートされて平行光線i1となって、被測定物５を照明する。　
【００３６】第２、第３照明部２０，３０も、第１照明部１０と同様に、それぞれ、光源２１，３１と、発光回路２２，３２と、規制板２３，３３と、コリメートレンズ２４，３４とから構成されており、規制板２３，３３の開口２３ａ，３３ａを通過した光源２１，３１からの光線は、コリメートレンズ２４，３４によってコリメートされて平行光線i2，i3となって、被測定物５を照明する。　
【００３７】
受光部４０は、被測定物５からの平行光線を集束する受光光学系４１と、この受光光学系４１の結像位置に配設され、入射光線を波長ごとに分離して光強度に応じた分光データを出力する分光部４２とから構成されている
【００３８】ここで、第１〜第３照明部１０〜３０および受光部４０の配置について説明する。　
【００３９】受光部４０は、その光軸４０Ｌが測定器本体２の中心軸２ｎに対して４５°の方向に一致するように配置され、第１〜第３照明部１０〜３０および受光部４０は、中心軸２ｎを含む同一の作用面上に配置されている。　
【００４０】また、測定器本体２の中心軸２ｎに関して受光部４０の光軸４０Ｌと対称な方向である基準方向４０Ｓを基準とし、中心軸２ｎのある側を正として、基準方向４０Ｓからの角度により第１、第２、第３照明部１０，２０，３０の配置を表わすと、第１、第２、第３照明部１０，２０，３０は、それぞれ、その光軸１０Ｌ，２０Ｌ，３０Ｌが、＋１５°，＋４５°，＋１１０°の方向に一致するように配置されている。従って、中心軸２ｎと光軸３０Ｌとは一致している。　
【００４１】第１照明部１０によりいわゆるハイライト方向の反射特性が得られ、第３照明部３０によりいわゆるシェード方向の反射特性が得られる。
【００４２】撮像部５０は、被測定物５を撮像するもので、被測定物５からの平行光線を集束する受光光学系５１と、この受光光学系５１の結像位置に受光面が配設され、例えばＣＣＤからなる撮像素子（以下「画素」ともいう。）が２次元的に配置されてなるエリアセンサ５２と、エリアセンサ５２の前面に配設されたフィルタ５３とから構成されている。フィルタ５３は、本実施形態では例えば三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚの等色関数ｘ(λ)，ｙ(λ)，ｚ(λ)のうちの等色関数ｙ(λ)に近似する分光透過特性を有している。　
【００４３】
この撮像部５０は、
受光部４０が受光する光線とほぼ平行な光線を受光する
　　
３　対比・判断　
　補正発明と引用発明との対比すると，その機能・構造からみて，引用発明の「反射体特に不均一反射体の特性を決定する装置」および「測定表面」は，補正発明の「光学的表面特性を検査する装置」および「検査表面（３）」に相当することは明らかである。　
　また，引用発明の「少なくとも２つの照明手段」は，補正発明の「主照射装置（１５）と副照射装置（１９）」に相当し，引用発明の「少なくとも一の検出手段」は，単数あるいは複数の検出手段を意味するのであるから，２つの検出手段を意味する場合には，補正発明の「主検出装置（７）と副検出装置（４）」に相当するといえる。　
　そして，補正発明では「前記座標系は、前記検査表面（３）が少なくとも部分的にｘ／ｙ平面に位置するように向けられている」のであるから，引用発明の「測定表面に対して実質的に直交する面」は，補正発明の「ｘ／ｚ平面」に相当するといえる。　
　そうすると，引用発明においては，「少なくとも２つの照明手段」が「測定表面に対して実質的に直交する面に配置」されるのであるから，該「２つの照明手段」は，補正発明における表現を用いると，第１部分立体角αが異なり，第２部分立体角βが同じの，一つ目の所定の立体角と三つ目の所定の立体角にて，測定表面に対して光を照射することとなる。　
　一方，引用発明においては，「測定表面」に対する「少なくとも一の検出手段」の配置状態は何ら特定されていないのであるから，該「少なくとも一の検出手段」は，それぞれ，所定の第１部分立体角αおよび第２部分立体角βで配置されることとなるから，両者は，二つ目の所定の立体角と四つ目の所定の立体角で記検査表面（３）に対して配置されていることとなる。　
　　
　そうすると，両者は，　
（一致点）　
「光学的表面特性を検査する装置において，　
　一つ目の所定の立体角で光を検査表面に照射する、少なくとも一つの主照射装置を備え，　
　前記検査表面に照射され、ここから反射した光を捕捉するための一つの主検出装置を備え，その際，二つ目の所定の立体角で前記検査表面に対して配置されており，　
　少なくとも一つの副照射装置を備え，これは，三つ目の所定の立体角で光を前記検査表面に照射し，　
　前記検査表面に照射され，ここから反射した光を捕捉するための一つの副検出装置を備え，その際，前記副検出装置は，四つ目の所定の立体角で前記検査表面に対して配置されており，　
　立体角は，それぞれ第１部分立体角αおよび第２部分立体角βから成る組（α；β）であると理解され，前記立体角においては，前記第１部分立体角αは，カーテシアン座標系の原点から始まる半直線により規定される空間方向の，正のｚ軸に対するｘ／ｚ平面上の投影角を表しており，前記第２部分立体角βは，カーテシアン座標系の原点から始まる半直線により規定される空間方向の，正のｚ軸に対するｙ／ｚ平面上の投影角を表しており，前記座標系は，前記検査表面が少なくとも部分的にｘ／ｙ平面に位置するように向けられている光学的表面特性を検査する装置。」　
である点で一致し，次の点で相違する。　
　　
（相違点）　
　「主検出装置（７）」と「副検出装置（４）」について，補正発明では「主検出装置（７）は位置分解して光を検出でき」，「副検出装置（４）は、光の強度および／またはスペクトル特性を検査することができる」とともに、「前記主検出装置（７）と前記副検出装置（４）とが、同一の所定の立体角で光を検出できるような手段が設けられて」おるのに対し，引用発明はそのような構成を備えていない点。　
　　
　そこで，相違点について検討するに，　
刊行物２の上記記載事項（２−ア）〜（２−ウ），特に，「【０００３】・・・・・従来、分光反射率などを測定するための分光センサと、ＣＣＤなどが２次元的に配列されて構成される撮像素子の双方を備えたものが提案されている（特開平６−２０１４７２号公報）。」および「【０００７】本発明は、・・・・・、反射特性測定のためのセンサと撮像素子の双方を備えた測定装置であって」および「【００３７】受光部４０は、被測定物５からの平行光線を集束する受光光学系４１と、この受光光学系４１の結像位置に配設され、入射光線を波長ごとに分離して光強度に応じた分光データを出力する分光部４２とから構成されている。」からみて，刊行物２には「分光反射率などを測定するための分光センサと，ＣＣＤなどが２次元的に配列されて構成される撮像素子の双方を備えた測定する反射特性測定装置」が記載されているといえ，該「反射特性測定装置」は，引用発明の「反射体特に不均一反射体の特性を決定する装置」および補正発明の「光学的表面特性を検査する装置」に相当することは明らかである。そして，「ＣＣＤなどが２次元的に配列されて構成される」ことは「位置分解して光を検出でき」ることを意味し，「分光反射率などを測定する」ことは「光の強度特性を検査する」ことに外ならないから，刊行物２記載の「ＣＣＤなどが２次元的に配列されて構成される撮像素子」および「分光反射率などを測定するための分光センサ」は，その機能・構成からみて，補正発明の「主検出装置（７）」および「副検出装置（４）」に相当するといえる。　
　また，上記記載事項（２−ウ）の「【００４３】この撮像部５０は、受光部４０に近接する上記作用面上に配置され、受光部４０が受光する光線とほぼ平行な光線を受光するように配置されている。」からみて，刊行物２記載の「ＣＣＤなどが２次元的に配列されて構成される撮像素子」および「分光反射率などを測定するための分光センサ」も，「同一の所定の立体角で光を検出できるような手段が設けられて」いるといえる。　
　そうすると，引用発明の「少なくとも一の検出手段」を，刊行物２の上記記載事項を適用して，「分光反射率などを測定するための分光センサと，ＣＣＤなどが２次元的に配列されて構成される撮像素子」に置換，すなわち，限定することは，当業者ならば何ら困難性はなく，十分動機付けのあることであり，当業者が容易に想到し得る程度の事項であるというべきである。　
　そして，相違点により作用効果も，刊行物１および２の記載から当業者ならば予測し得る範囲のものであって，格別顕著なものともいえない。　
　　
　したがって，補正発明は，引用発明，刊行物２の記載に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないというべきである。　
　　
４　回答書について　
　回答書において，請求人は，補正案として，「副検出装置（４）」を「一つの光センサにより位置統合して光の強度および／またはスペクトル特性を検査することができる」と限定することを主張している。　
　しかしながら，刊行物２の記載「【００３７】受光部４０は、
被測定物５からの平行光線を集束する
入射光線を波長ごとに分離して光強度に応じた分光データを出力する
　　
５　まとめ　
　以上のとおりであるから，本件補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされている同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，特許法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により，却下すべきものである。　
 　 
第３　本願発明について 
 １　本願発明 
 　本件補正は上記のとおり却下されることとなるので，本願の請求項１〜３０に係る発明は，平成２３年２月１６日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１〜３０に記載された事項により特定されるものであって，そのうち，請求項１に係る発明は，以下のとおりである。（以下「本願発明」という） 　 
「【請求項１】　
　光学的表面特性を検査する装置において、
　一つ目の立体角で光を検査表面（３）に照射する、少なくとも一つの主照射装置（１５）を備え、
　前記検査表面に照射され、ここから反射した光を捕捉するための少なくとも一つの主検出装置（７）を備え、その際、前記主検出装置（７）は位置分解して光を検出できるとともに、二つ目の立体角で前記検査表面（３）に対して配置されており、
　少なくとも一つの副照射装置（１９）を備え、これは、三つ目の立体角で光を前記検査表面（３）に照射し、
　前記検査表面に照射され、ここから反射した光を捕捉するための少なくとも一つの副検出装置（１３、１４、１６、１７、１８）を備え、その際、前記副検出装置（１３、１４、１６、１７、１８）は、光の強度および／またはスペクトル特性を検査することができるとともに、四つ目以降の立体角で前記検査表面（３）に対して配置されている　
ことを特徴とする光学的表面特性を検査する装置。」　
　　
２　引用刊行物等の記載事項 
　原査定の拒絶の理由に引用した刊行物の記載事項は，前記「第２　２　引用刊行物およびその記載事項」に記載したとおりである。　
 　
３　対比・判断　
　本願発明は，前記「第２　３　対比・判断」で検討した補正発明において，実質的に，補正後の「前記主検出装置（７）と前記副検出装置（４）とが、同一の所定の立体角で光を検出できるような手段が設けられており、立体角は、それぞれ第１部分立体角αおよび第２部分立体角βから成る組（α；β）であると理解され、前記立体角においては、前記第１部分立体角αは、カーテシアン座標系の原点から始まる半直線により規定される空間方向の、正のｚ軸に対するｘ／ｚ平面上の投影角を表しており、前記第２部分立体角βは、カーテシアン座標系の原点から始まる半直線により規定される空間方向の、正のｚ軸に対するｙ／ｚ平面上の投影角を表しており、前記座標系は、前記検査表面（３）が少なくとも部分的にｘ／ｙ平面に位置するように向けられている」と限定する補正のないものである。　
　そうすると，本願発明の構成要件を全て含む補正発明が前記「第２　３　対比・判断」において検討したとおり，引用発明，刊行物２の記載に基づいて当業者が容易に発明をできたものであるから，本願発明も，同様の理由により，引用発明，刊行物２の記載に基づいて，当業者が容易に発明をできたものであるというべきである。　
　　
４　むすび　
　以上のとおり，本願発明は，特許法第２９条第２項の規定により，特許を受けることができないから，その余の請求項に係る発明について言及するまでもなく，本願は拒絶されるべきものである。　
　よって，結論のとおり審決する。