(57)【要約】光ディスク記録装置（１）は、主情報及びこの主情報に重畳して記録される副情報の記録が正常に行われたか否かを判定し、欠陥領域と判定された場合には、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を代替領域に再配記録し、光ディスク内の欠陥管理領域に欠陥領域とこの欠陥領域を再配置した代替領域とを対応付けるための情報を登録するシステム制御部（１４）を備える。
2003041074.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的に読み取り可能な記録マークにより主情報が記録されると共に、前記主情報に重畳して副情報が記録される光ディスクの欠陥管理方法であって、
前記主情報及び前記副情報を所定単位記録する毎に、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われたか否かを判定する検証ステップと、
前記検証ステップにより、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われていないと判定された場合、当該記憶領域を前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域として、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を前記光ディスク内の予め設定されたスペア領域内に再配置記録するとともに、前記欠陥領域と前記欠陥領域を再配置した代替領域とを対応付けるための情報を前記光ディスク内の予め設定された欠陥管理領域に登録する欠陥領域管理ステップと
を含むことを特徴とする光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項２】
前記検証ステップは、
前記主情報が正常に記録されているか否かを判定するとともに、前記主情報の記録が正常に行われていないと判定された場合、当該記憶領域を前記主情報の記録に関する欠陥領域とする主情報検証ステップと、
前記副情報が正常に記録されているか否かを判定するとともに、前記副情報の記録が正常に行われていないと判定された場合、当該記憶領域を前記副情報の記録に関する欠陥領域とする副情報検証ステップとを
含むことを特徴とする請求の範囲１記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項３】
前記主情報検証ステップでは、
記録した前記主情報と、前記主情報を記録した領域を再生することにより得た被検証主情報とに基づいて、前記被検証主情報が正常に記録されているか否かを判定する
ことを特徴とする請求の範囲２記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項４】
前記副情報は、前記副情報と予め設定された擬似乱数系列により生成した副情報相関系列に従って記録され、
前記副情報検証ステップでは、
前記副情報を記録した領域を再生することにより得た被検証信号と前記擬似乱数系列との相関値を予め設定されたしきい値と比較することにより前記副情報が正常に記録されているか否かを判定する
ことを特徴とする請求の範囲２記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項５】
前記副情報は、前記副情報相関系列に従って、前記主情報の記録マークを光ディスク上で変位させることにより記録され、
前記相関値は、前記擬似乱数系列と前記記録マークの変位方向との相関値である
ことを特徴とする請求の範囲４記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項６】
前記副情報は、前記副情報相関系列に従って、前記主情報の記録マークのトラック方向のエッジを微少量進めた位置または遅らせた位置のいずれかに変位することにより記録される
ことを特徴とする請求の範囲５記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項７】
前記副情報は、前記副情報相関系列に従って、前記主情報の記録マークをトラック中心からラジアル方向に微少量だけ内周側に変位させた位置または外周側に変位させた位置のいずれかに変位することにより記録される
ことを特徴とする請求の範囲５記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項８】
前記副情報検証ステップでは、
記録した前記副情報と、前記副情報を記録した領域を再生することにより得た被検証副情報とに基づいて、前記被検証副情報が正常に記録されているか否かを判定する
ことを特徴とする請求の範囲２記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項９】
前記副情報は、誤り訂正符号及び誤訂正検出符号を含み、
前記副情報検証ステップでは、
前記副情報を記録した領域を再生することにより得た被検証副情報が前記誤り訂正符号により訂正不可能な場合、または前記誤訂正検出符号により誤訂正を検出した場合に、前記被検証副情報が正常に記録されていないと判定する
ことを特徴とする請求の範囲２記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項１０】
前記欠陥領域管理ステップでは、
前記主情報検証ステップまたは前記副情報検証ステップにより、前記主情報または前記副情報のいずれか一方の記録に関する欠陥領域とされた場合に、前記主情報及び前記副情報を前記スペア領域内に再配置記録する
ことを特徴とする請求の範囲２記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項１１】
前記欠陥領域管理ステップでは、
前記主情報検証ステップ及び前記副情報検証ステップにより、前記主情報および前記副情報の記録に関する欠陥領域とされた場合に、前記主情報及び前記副情報を前記スペア領域内に再配置記録し、
前記主情報検証ステップにより前記主情報の記録に関する欠陥領域とされ、前記副情報検証ステップでは前記副情報の記録に関する欠陥領域とされない場合に、前記主情報だけを前記スペア領域内に再配置記録し、
前記主情報検証ステップでは前記主情報の記録に関する欠陥領域とされず、前記副情報検証ステップにより前記副情報の記録に関する欠陥領域とされた場合に、前記副情報だけを前記スペア領域内に再配置記録する
ことを特徴とする請求の範囲２記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項１２】
前記欠陥領域管理ステップでは、
前記主情報を再配置記録したこと及び前記副情報を再配置記録したことをそれぞれ示す情報を欠陥管理領域に登録する
ことを特徴とする請求の範囲１１記載の光ディスクの欠陥管理方法。
【請求項１３】
光ディスクに光学的に読み取り可能な記録マークにより主情報を記録すると共に、前記主情報に重畳して副情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記主情報及び前記副情報を所定単位記録する毎に、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われたか否かを判定する検証手段と、
前記検証手段により、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われていないと判定された場合、当該記憶領域を前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域として、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を前記光ディスク内の予め設定されたスペア領域内に再配置記録するとともに、前記欠陥領域と前記欠陥領域を再配置した代替領域とを対応付けるための情報を前記光ディスク内の予め設定された欠陥管理領域に登録する欠陥領域管理手段と
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１４】
前記検証手段は、
前記主情報が正常に記録されているか否かを判定するとともに、前記主情報の記録が正常に行われていないと判定された場合、当該記憶領域を前記主情報の記録に関する欠陥領域とする主情報検証手段と、
前記副情報が正常に記録されているか否かを判定するとともに、前記副情報の記録が正常に行われていないと判定された場合、当該記憶領域を前記副情報の記録に関する欠陥領域とする副情報検証手段とを
を備えることを特徴とする請求の範囲１３記載の光ディスク記録装置。
【請求項１５】
光ディスクから光学的に記録マークを読み取ることによって、主情報を読み出すと共に、前記主情報に重畳して記録された副情報を読み出す光ディスク再生装置であって、
前記主情報及び前記副情報を再生する領城が、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域である場合、前記欠陥領域が再配置記録された代替領域から前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を再生する代替領域再生手段と、
前記主情報及び副情報の記録された領域を再生中、前記主情報及び副情報から再生エラーを判定する再生エラー判定手段と
を備えることを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項１６】
前記代替領域再生手段は、
前記欠陥領域と前記代替領域とを対応付けるための情報が登録された光ディスク内の欠陥管理領域を参照することにより、
前記主情報及び前記副情報を再生する領域が前記欠陥領域であるかを判定し、前記主情報及び前記副情報を再生する領域が前記欠陥領域であった場合、前記欠陥領域に対応する前記代替領域から前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を再生する
ことを特徴とする請求の範囲１５記載の光ディスク再生装置。
【請求項１７】
前記再生エラー判定手段は、
前記主情報の再生エラーを判定する主情報再生エラー判定手段と、
前記副情報の再生エラーを判定する副情報再生エラー判定手段とを備え、
前記主情報再生エラー判定手段または前記副情報エラー判定手段のいずれか一方が再生エラーと判定した場合、前記主情報及び前記副情報の記録された領域の再生エラーとする
ことを特徴とする請求の範囲１５記載の光ディスク再生装置。
【請求項１８】
前記副情報は、誤り訂正符号及び誤訂正検出符号を含み、
前記副情報再生エラー判定手段は、
前記副情報が前記誤り訂正符号により訂正不可能な場合、または前記誤訂正検出符号により誤訂正を検出した場合に、前記副情報の再生エラーとする
ことを特徴とする請求の範囲１７記載の光ディスク再生装置。
【請求項１９】
光ディスクから光学的に記録マークを読み取ることによって、主情報を読み出すと共に、前記主情報に重畳して記録された副情報を読み出す光ディスク再生方法であって、
前記主情報及び前記副情報を再生する領域が、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域である場合、前記欠陥領域が再配置記録された代替領域から前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を再生する代替領域再生ステップと、
前記主情報及び副情報の記録された領域を再生中、前記主情報及び副情報から再生エラーを判定する再生エラー判定ステップと
を備えることを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項２０】
光学的に読み取り可能な記録マークにより主情報が記録されると共に、前記主情報に重畳して副情報が記録される光ディスクの欠陥管理を行うためのプログラムであって、
請求の範囲１記載の光ディスクの欠陥管理方法におけるステップを光ディスク記録装置に実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項２１】
光ディスクから光学的に記録マークを読み取ることによって、主情報を読み出すと共に、前記主情報に重畳して記録された副情報を読み出すためのプログラムであって、
請求の範囲１９記載の光ディスク再生方法におけるステップを光ディスク再生装置に実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項２２】
光学的に読み取り可能な記録マークにより主情報が記録されると共に、前記主情報に重畳して副情報が記録される光ディスクであって、
前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われていない欠陥領域を有し、
当該欠陥領域に記録されるはずであった前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報が光ディスク内に予め設定されたスペア領域内に再配置記録されているとともに、前記欠陥領域と前記欠陥領域を再配置した代替領域とを対応付けるための情報が光ディスク内に予め設定された欠陥管理領域に登録されている
ことを特徴とする光ディスク。
【請求項２３】
前記欠陥領域と前記代替領域とを対応付けるための前記情報は、前記主情報を再配置記録したこと及び前記副情報を再配置記録したことをそれぞれ示す情報を含む
ことを特徴とする請求の範囲２２記載の光ディスク。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、光ディスクの欠陥管理方法、光ディスク記録装置及び光ディスク再生装置に関し、特に、副情報を主情報に重畳して記録する光ディスクの欠陥管理方法、光ディスク記録装置及び光ディスク再生装置に関する。
背景技術
ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ／Ｖｉｄｅｏ  Ｄｉｓｃ）に代表される光ディスクは、ＡＶ（Ａｕｄｉｏ  Ｖｉｄｅｏ）データやコンピュータデータ等の大容量のデジタルデータを記録する媒体として広く普及している。例えば、２時間以上の高品質な動画が再生専用光ディスクに記録され、販売されている。このようなデジタル著作物が不正に他の記録媒体にコピーされることを防止するため、コンテンツ暗号と呼ばれる方式が導入されている（例えば、「日経エレクトロニクス」、１９９６．１１．１８  Ｐ１３−１４参照。）。
この方式は、映画等の圧縮されたデジタルコンテンツを３階層の秘密鍵（タイトル鍵、ディスク鍵、マスター鍵）を用いて暗号化し、ユーザがアクセス可能なユーザ情報領域に記録しておくものである。そして、秘密鍵の中で最も重要なマスター鍵についてはライセンスを受けた正規のメーカーにだけ通知し、ＤＶＤ毎及びタイトル毎に必要とされるディスク鍵及びタイトル鍵については、マスター鍵に基づいて暗号化し、ユーザがアクセスできない制御情報領域に格納しておくものである。これにより、ユーザは復号に必要な秘密鍵へのアクセスが制限されるため、ファイルコピー等による不正コピーはできない。
しかしながら、このような技術では、秘密鍵を記録した制御情報領域も含めた全記録領域の内容がそのまま他の光ディスクに不正にコピーされてしまった場合には、正規の再生装置によって暗号化コンテンツが復号され、再生されてしまう。
そこで、図１に示すようにデジタルコンテンツなどの主情報が記録された光ディスク２０００に対し、主情報を構成する記録マーク２００１の標準的なエッジ位置をトラック方向に微少量変化させる位相変調によって副情報を記録する方法が提案されている（例えば、特開２００１−３５７５３３号公報参照。）。図２はこの方法による記録での主な信号を示すタイミングチャートである。この方法によると、主情報を構成するチャネル信号Ｃ２を、乱数系列Ｃ４と記録する副情報との排他的論理和を施したものをＰＥ変調したＰＥ変調信号Ｃ５が“Ｈ”の時に微少量だけ進ませ、また、ＰＥ変調信号Ｃ５が“Ｌ”の時に微少量だけ遅らせるといった位相変調して被変調チャネル信号Ｃ６を得る。この被変調チャネル信号Ｃ６により光ディスク上に主情報と副情報とを被変調記録マークＣ７として記録する。すなわち、主情報を構成する標準記録マークＣ３のエッジを、ＰＥ変調信号Ｃ５が“Ｈ”の時はトラック方向に微少量だけ進ませ、また、ＰＥ変調信号Ｃ５が“Ｌ”の時は、トラック方向に微少量だけ遅らせるといった位相変調し、光ディスク上に主情報と副情報とを記録している。これによって、例え制御情報領域を含めた全記録領域の内容をそのまま他の光ディスクに不正にビットコピーされたとしても、記録マークのエッジに重畳した副情報はコピーできないため、副情報として秘密鍵などの情報を記録しておくことで正規の再生装置などで復号できなくすることができる。
しかしながら、このような従来技術では、主情報が正常に記録されているかどうかの検証手段は持っているものの副情報が正常に記録されているかどうかの検証手段を持っていないため、主情報が正常に記録されているにもかかわらずその領域に重畳するはずの副情報が正常に記録できていないという問題が生じる可能性がある。例えば、副情報としてコンテンツ復号鍵が記録されている場合、副情報が正常に記録されておらず主情報のみが正常に記録された領域の再生では、副情報が正常に再生されないために暗号化されたコンテンツの復号が不可能になってしまう。
また、従来技術では主情報が正常に記録できない欠陥領域と判定された場合には、例えばＤＶＤ−ＲＡＭの欠陥管理処理の１つとして用いられるリニア代替処理方式（Ｌｉｎｅａｒ  Ｒｅｐｌａｃｅｍｅｎｔ  Ａｌｇｏｒｉｔｈｍ）等により欠陥管理を行っている。このリニア代替処理方式では、記録検証中に欠陥領域が存在すると、光ディスクユーザ領域内に予め設けられたスペア領域に再配置している。そして、上記欠陥領城とそれに対応した代替領域の先頭セクタ番号を１対のエントリとして、光ディスクのリードイン領域とリードアウト領域にある欠陥管理リスト（ＳＤＬ：Ｓｅｃｏｎｄａｒｙ  Ｄｅｆｅｃｔ  Ｌｉｓｔ）に登録し、管理している。また、上記の欠陥領域と代替領域は、ＥＣＣブロック（１６セクタ）単位であり、ＥＣＣブロック単位を基準に再配置処理がなされる。
図３は従来のリニア代替処理を示す概念図である。光ディスク内には、図３（ａ）に示すように光学的に読み取り可能な記録マークにより主情報を記録し、またその記録マークエッジを一定微少量変位させることにより副情報を記録するユーザ領域１７０１、そのユーザ領域１７０１が欠陥領域であった場合に再配置を行うためのスペア領域１７０２、および図３（ｂ）に示すように欠陥領域を代替領域（スペア領城１７０２内）に再配置した時のそれぞれの先頭セクタ番号を一対のエントリとして管理する欠陥管理リスト（ＳＤＬ）１７０３が設けられている。例えば、主情報が正常に記録されているかどうかの検証を行った結果、第１欠陥領域１７０４および第２欠陥領域１７０５が欠陥領域であると判定されたとする。この場合には、第１欠陥領域１７０４および第２欠陥領域１７０５に記録されていた主情報を、それぞれスペア領域１７０２内の第１代替領域１７０６および第２代替領域１７０７に再配置している。
このような従来の欠陥管理処理では、主情報が正常に記録できない欠陥領域と判定された場合に、主情報のみが代替領域に再配置記録され、その主情報に重畳されていた副情報が再配置記録されないという問題がある。
また、主情報及び副情報が記録された領域の再生において、従来技術では主情報の再生エラーのみを検出している為、副情報が訂正不能、或いは誤訂正を起こしている場合にも再生処理が続行されてしまう。
そこで、本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、主情報と、この主情報に重畳される副情報とについてそれぞれ正常に記録できない欠陥領域が生じた場合であっても、主情報および副情報を安定して再生することができる光ディスクの欠陥管理方法、光ディスク記録装置および光ディスク再生装置を提供することを目的とする。
発明の開示
本発明に係る光ディスクの欠陥管理方法は、光学的に読み取り可能な記録マークにより主情報が記録されると共に、前記主情報に重畳して副情報が記録される光ディスクの欠陥管理方法であって、前記主情報及び前記副情報を所定単位記録する毎に、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われたか否かを判定する検証ステップと、前記検証ステップにより、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われていないと判定された場合、当該記憶領域を前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域として、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を前記光ディスク内の予め設定されたスペア領域内に再配置記録するとともに、前記欠陥領域と前記欠陥領域を再配置した代替領域とを対応付けるための情報を前記光ディスク内の予め設定された欠陥管理領域に登録する欠陥領域管理ステップとを含むことを特徴とする。
また、本発明に係る光ディスク記録装置は、光ディスクに光学的に読み取り可能な記録マークにより主情報を記録すると共に、前記主情報に重畳して副情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記主情報及び前記副情報を所定単位記録する毎に、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われたか否かを判定する検証手段と、前記検証手段により、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われていないと判定された場合、当該記憶領域を前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域として、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を前記光ディスク内の予め設定されたスペア領域内に再配置記録するとともに、前記欠陥領域と前記欠陥領域を再配置した代替領域とを対応付けるための情報を前記光ディスク内の予め設定された欠陥管理領域に登録する欠陥領域管理手段とを備えることを特徴とする。
また、本発明に係る光ディスク再生装置は、光ディスクから光学的に記録マークを読み取ることによって、主情報を読み出すと共に、前記主情報に重畳して記録された副情報を読み出す光ディスク再生装置であって、前記主情報及び前記副情報を再生する領域が、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域である場合、前記欠陥領域が再配置記録された代替領域から前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を再生する代替領域再生手段と、前記主情報及び副情報の記録された領域を再生中、前記主情報及び副情報から再生エラーを判定する再生エラー判定手段とを備えることを特徴とする。
さらに、本発明は、光ディスク再生装置における各構成要素をステップとする光ディスク再生方法として実現したり、光ディスクの欠陥管理方法におけるステップを光ディスク記録装置に、また光ディスク再生方法におけるステップを光ディスク再生装置に実行させるプログラムとして実現し、ＣＤ−ＲＯＭや通信ネットワーク等の記録媒体や伝送媒体を介して流通させたりすることもできる。また、前記光ディスクの欠陥管理方法を用いて記録された光ディスクとして実現することもできる。
発明を実施するための最良の形態
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。
（光ディスク記録装置）
図４は本発明に係る光ディスク記録装置の一実施の形態の構成を示すブロック図である。光ディスク記録装置１は、図４に示すようにパーソナルコンピュータ等の機器３に接続または内蔵されて用いられ、インタフェース１１、記録部１２、検証再生部１３、およびシステム制御部１４を備えている。
図５は光ディスク記録装置１により記録される光ディスクのデータ構造図であり、本実施の形態ではＤＶＤ−ＲＡＭのデータ構造を用いて説明する。光ディスク２００は、主情報を記録するために所定数のデータを有するセクタ構造を有しており、さらに、読み出された情報の誤りを訂正するために１６セクタをひとまとめとしたＥＣＣブロック２０１で構成されている。ＥＣＣブロック内の１つのセクタ２０２は、同期部２０３と主情報を記録したデータ部２０４からなる２６個のフレーム２０５で構成されている。
同期部２０３は後続するデータ部２０４を、復調するためのタイミング信号を生成するためのものである。このタイミング信号を基準として、データ部２０４は１６チャネルビット毎に復調され、主情報が得られる。先頭フレームのデータ部２０４の先頭には、セクタ２０２を識別するためのアドレスＩＤ２０６が付与されており、再生時には、読み出したいセクタ２０２を探すためにこのアドレスＩＤ２０６が使用される。
図５において、副情報は、セクタ２０２の先頭フレーム（アドレスＩＤ２０６を含むフレーム）と最終フレーム（アドレスＩＤ２０６を含むフレームの直前フレーム）以外のフレーム（フレーム［１〜２４］）に含まれるデータ部２０４中の記録マークに重畳されており、１ビットの副情報は複数のフレーム２０５（図５中では３つのフレーム）にわたって重畳される。例えば、副情報ｓｄ［ｉ］ｂ４はフレーム［１０］〜［１２］のデータ部２０４を構成する記録マークに重畳される。この結果、１セクタ当りに８ビットの副情報が記録され、また、ＥＣＣブロック当りに１６バイトの副情報が記録される。
図６は光ディスク記録装置１の記録部１２の詳細な構成を示すブロック図であり、図７は主情報および副情報を記録する時の主な信号を示すタイミングチャートである。記録部１２は、光ディスクの光学的に読み取り可能な記録マークを形成することによって主情報を記録すると同時に、その記録マークのエッジを一定微少量変位させることにより副情報を記録するものであり、図６に示すようにタイミング生成器３０１、変調器３０２、乱数発生器３０３、乱数系列変換器３０４、ＰＥ（Ｐｈａｓｅ  Ｅｎｃｏｄｉｎｇ）変調器３０５、位相変調器３０６、記録チャネル３０７および記録ヘッド３０８を備えている。
タイミング生成器３０１は、主情報ならびに副情報の記録を開始する旨の通知をシステム制御部１４から受けた場合に、記録データに同期パターン（同期部）を挿入するタイミングを示すため図７に示すような同期信号Ａ３を変調器３０２ならびに乱数発生器３０３に出力する。さらに、この同期信号Ａ３と図示しないクロック生成器からのクロック信号とに基づいて、記録データの各バイトに同期したバイトクロック（クロック信号の１６分周）を乱数発生器３０３に出力すると共に、図７に示すように各バイト毎でＨ区間とＬ区間が半分ずつになるようなＰＥ信号Ａ６をＰＥ変調器３０５に出力する。さらに、図５で示したような主情報と副情報の記録を行うため、副情報を記録する部分（ＩＤ部を含まないフレームのデータ部）を示す図７に示すような位相変調許可信号Ａ４を位相変調器３０６に出力する。
変調器３０２は、タイミング生成器３０１からの同期信号Ａ３に基づいて、入力された記録データ（主情報）に同期パターン（同期部）を挿入すると共に、記録する主情報を８ビット長の符号（バイト）毎に、対応する１６ビット長の図７に示すようなチャネルコードＡ１に変換した後に、ＮＲＺＩ変換することによりチャネル信号Ａ２を生成し、位相変調器３０６に入力する。
乱数発生器３０３は、タイミング生成器３０１からの同期信号Ａ３のタイミングで乱数の初期値をプリセットし、図７に示すようにバイトクロックのタイミングで擬似乱数系列Ａ５を１ビット生成し、乱数系列変換器３０４に出力する。
乱数系列変換器３０４は、乱数発生器３０３からの擬似乱数系列Ａ５と記録する副情報の各ビットとの相関性を持たせるための演算を行う。本実施の形態での乱数系列変換器３０４は排他的論理和によって構成され、記録する副情報の各ビットに応じて、擬似乱数系列Ａ５の反転／非反転を行う。このようにして変換された乱数系列（副情報相関系列）はＰＥ変調器３０５に出力される。記録する副情報は、各セクタの先頭と最終の２フレームを除いた２４個のフレームに重畳され、３フレーム毎に副情報のビットが更新される。
ＰＥ変調器３０５は、タイミング生成器３０１から出力されるＰＥ信号Ａ６に基づいて、乱数系列変換器３０４から出力される副情報相関系列をＰＥ変調することにより図７に示すようなＰＥ変調乱数系列（ＰＥ変調信号）Ａ７を生成し、このＰＥ変調乱数系列Ａ７を位相変調器３０６に出力する。その結果、ＰＥ変調乱数系列Ａ７は、副情報を重畳した系列（副情報相関系列）が０の場合にはＰＥ信号Ａ６をそのまま出力し（１６チャネルビット単位で中央において立ち下がる）、副情報を重畳した系列（副情報相関系列）が１の場合にはＰＥ信号Ａ６を反転して出力し（１６チャネルビット単位で中央において立ち上がる）、同じ乱数系列が続く場合であっても、０と１の区間がほぼ同一となるような信号を得ることができる。
位相変調器３０６は、ＰＥ変調器３０５からのＰＥ変調乱数系列Ａ７に基づいて、変調器３０２からのチャネル信号Ａ２のうち図５に示した副情報を記録するフレームのデータ部のみ（位相変調許可信号が“Ｈ”の時）のエッジを一定の微少時間だけ遅らせるか進ませるかの位相変調を行い、それ以外（位相変調許可信号が“Ｌ”の時）のエッジは位相変調しないで、チャネル信号Ａ２を記録チャネルに出力する。
図８は位相変調器３０６の詳細な構成を示すブロック図である。位相変調器３０６は、上記微少時間だけ信号を遅延させる遅延器４０２、４０３、４０４、および３入力１出力のセレクタ４０１を備えている。セレクタ４０１は、制御信号として入力される位相変調許可信号Ａ４が０の時には、変調器３０２から入力されるチャネル信号Ａ２を１段の遅延器４０２で遅延した信号Ｓ２を出力し、位相変調許可信号Ａ４が１でかつＰＥ変調乱数系列Ａ７が１の時には、変調器３０２から入力されるチャネル信号Ａ２をそのまま信号Ｓ１として出力し、位相変調許可信号Ａ４が１でかつＰＥ変調乱数系列Ａ７が０の時には、変調器３０２から入力されるチャネル信号Ａ２を２段の遅延器４０３、４０４で遅延した信号Ｓ３を出力する。
この結果、副情報を重畳しないＥＣＣブロック、ＩＤなどが格納された重要なフレーム、およびフレームの同期部に記録される記録マークエッジは、位相が変化されることがなく、副情報を重畳するデータ部に記録される記録マークエッジは、ＰＥ変調乱数系列Ａ７が１の時は、上記微少時間だけ位相が進められ、ＰＥ変調乱数系列Ａ７が０の時は、上記微少時間だけ位相が遅らされる。
記録チャネル３０７は、位相変調器３０６からの被変調チャネル信号Ａ８の１／０に同期して光ディスク３０９に出力するレーザの記録パワーを変化させる制御信号を生成して、記録ヘッド３０８に出力する。
記録ヘッド３０８は、記録チャネル３０７からの制御信号に基づいて、レーザのパワーを上下させながら、図７に示すような光学的に読み取り可能な被変調記録マークＡ９を光ディスク３０９に形成する。
図９は光ディスク記録装置１の検証再生部１３の詳細な構成を示すブロック図であり、図１０は記録した主情報および副情報を検証再生する時の主な信号を示すタイミングチャートである。検証再生部１３は、上記記録部１２により、光学的に読み取り可能な記録マークを形成することにより記録した主情報及びその記録マークのエッジを一定微少量変位させることにより記録した副情報を再生するものであり、再生ヘッド６０２、再生チャネル６０３、クロック抽出器６０４、再生信号処理回路６０５、乱数発生器６０６、ＰＥ変調器６０７および副情報検出器６０８を備えている。
再生ヘッド６０２は、回転する光ディスク２００上の記録マークに光ビームを集光して照射し、その反射光をフォトダイオードで受光した後、増幅することにより、アナログ読み出し信号を生成して再生チャネル６０３に出力する。再生チャネル６０３は、再生ヘッド６０２からのアナログ読み出し信号を波形等化したり整形したりすることによって図１０に示すようなデジタル読み出し信号Ｂ２に変換し、クロック抽出器６０４と再生信号処理回路６０５に出力する。
クロック抽出器６０４は、再生チャネル６０３からのデジタル読み出し信号Ｂ２に基づいて、チャネルビットに同期したチャネルクロックＢ３、デジタル読み出し信号Ｂ２における各記録データ（バイト単位）に同期したバイトクロックを生成し、再生信号処理回路６０５、乱数発生器６０６および副情報検出器６０８に出力する。また同時に、クロック抽出器６０４は、チャネルクロックＢ３を基準として、読み出し信号の位相誤差を検出し、位相の進みが検出された場合には進相誤差信号Ｂ５を生成し、位相の遅れが検出された場合には遅相誤差信号Ｂ６を生成し、副情報検出器６０８に出力する。
図１１はクロック抽出器６０４の詳細な構成を示すブロック図である。クロック抽出器６０４は、位相比較器７０１、チャージポンプ７０２及びＶＣＯ（Ｖｏｌｔａｇｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ  Ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ）７０３からなるＰＬＬ回路と１６分周器７０４とを備えている。
位相比較器７０１は、ＶＣＯ７０３からフィードバックされて入力されるチャネルクロックＢ３と再生チャネル６０３からのデジタル読み出し信号Ｂ２とから、そのデジタル読み出し信号Ｂ２の立ち上がり及び立ち下がりエッジとそのエッジに最も近いチャネルクロックＢ３の立ち上がりエッジとの位相誤差を算出し、進相誤差信号Ｂ５ならびに遅相誤差信号Ｂ６としてチャージポンプ７０２に出力する。
チャージポンプ７０２は、入力された進相誤差信号Ｂ５と遅相誤差信号Ｂ６により出力電圧を制御する。すなわち、進相誤差信号Ｂ５が入力された場合には、チャネルクロックＢ３の周波数を下げるために出力電圧を下げ、遅相誤差信号Ｂ６が入力された場合には、チャネルクロックＢ３の周波数を上げるために出力電圧を上げる。ＶＣＯ７０３は、チャージポンプ７０２からの出力電圧に対応する周波数のチャネルクロックＢ３を生成する電圧制御発振器である。
１６分周器７０４は、ＶＣＯ７０３からのチャネルクロックＢ３の周波数を１／１６に分周するカウンタであり、再生信号処理回路６０５からの同期信号Ｂ４によってリセットされる。これにより、同期部を基準として、デジタル読み出し信号Ｂ２における各記録データ（バイト単位）に同期したＰＥ信号Ｂ９とバイトクロックを出力する。
再生信号処理回路６０５は、再生チャネル６０３から入力されたデジタル読み出し信号Ｂ２から同期部を検出したり、同期部を基準として読み出し信号を復調したりする回路である。
図１２は、再生信号処理回路６０５の詳細な構成を示すブロック図である。再生信号処理回路６０５は、同期信号検出器８０２、復調器８０１、およびゲート信号生成器８０３を備えている。
同期信号検出器８０２は、デジタル読み出し信号Ｂ２に含まれる同期部（同期パターン）を検出し、同期信号Ｂ４を生成し、クロック抽出器６０４および乱数発生器６０６に出力する。
復調器８０１は、記録部１２の変調器３０２に対する復調回路であり、クロック抽出器６０４からのチャネルクロックＢ３に同期して再生チャネル６０３から入力されたデジタル読み出し信号Ｂ２をサンプリングし、クロック抽出器６０４から入力されたバイトクロックに同期して１６ビットのチャネルコードに対応する８ビットの記録データに変換し、主情報として出力する。
また、ゲート信号生成器８０３は、同期信号Ｂ４を基準として、副情報を記録したフレーム（各セクタの先頭と最終のフレームを除くフレーム）のデータ部であることを示す信号（副情報検出許可信号）Ｂ７を副情報検出器６０８に出力する。
乱数発生器６０６は、記録部１２の乱数発生器３０３と同一の機能を有し、再生信号処理回路６０５からの同期信号Ｂ４のタイミングで初期値をプリセットし、クロック抽出回路６０４からのバイトクロックのタイミングで擬似乱数系列Ｂ８を生成する。
ＰＥ変調器６０７は、記録部１２のＰＥ変調器３０５と同一の機能を有し、クロック抽出器６０４からのＰＥ信号Ｂ９に基づいて、乱数発生器から出力される擬似乱数系列Ｂ８をＰＥ変調し、副情報検出器６０８に出力する。副情報検出器６０８は、クロック抽出器６０４から出力された進相誤差信号Ｂ５および遅相誤差信号Ｂ６とＰＥ変調器から出力されたＰＥ変調乱数系列（ＰＥ変調信号）Ｂ１０との相関性を検出する回路である。
図１３は、副情報検出器６０８の詳細な構成を示すブロック図である。副情報検出器６０８は、相関検出部９０１、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２、しきい値判定器９０３、および副情報更新タイミング生成器９０４を備えている。
相関検出部９０１は、ＰＥ変調器６０７から出力されたＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が１でかつ進相誤差信号Ｂ５が“Ｈ”、或いは、ＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が０かつ遅相誤差信号Ｂ６が“Ｈ”である時に＋１をＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２に出力する。また、相関検出部９０１は、ＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が１でかつ遅相誤差信号Ｂ６が“Ｈ”、或いは、ＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が０かつ進相誤差信号Ｂ５が“Ｈ”である時に−１をＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２に出力する。
ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２は、再生信号処理回路６０５から出力された副情報検出許可信号Ｂ７が“Ｈ”の時は相関検出部９０１からの出力値（＋１或いは−１）を加算し、加算結果を内部レジスタに保持すると共に、しきい値判定器９０３に加算結果を出力する。一方、副情報検出許可信号Ｂ７が“Ｌ”の時は、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２は加算を行わず内部レジスタの値を保持する（内部レジスタ値の更新を行わない）。また、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２は、副情報タイミング生成器９０４から副情報更新信号が出力されると内部レジスタにて保持していた積算値をクリアする（内部レジスタ値を０にする）。
従って、ＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が１でかつ進相誤差信号Ｂ５が“Ｈ”、或いはＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が０で遅相誤差信号Ｂ６が“Ｈ”のみが現れる場合にはＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ積算値Ｂ１１は正の方へ増加していく。逆に、ＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が１でかつ遅相誤差信号Ｂ６が“Ｈ”、或いはＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が０でかつ進相誤差信号Ｂ５が“Ｈ”のみ現れる場合にはＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ積算値Ｂ１１は負の方へと減少していく。また、副情報を重畳していない部分、即ちどちらの相関性も現れず、進相誤差信号Ｂ５と遅相誤差信号Ｂ６がランダムに発生する場合には、それらの誤差信号が略等しい確率であらわれるのでＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ積算値Ｂ１１は０付近の値になる。
しきい値判定器９０３は、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２から出力される積算値Ｂ１１を保持するレジスタと、保持しておいた積算値Ｂ１１を予め設定されている正の検出用しきい値、負の検出用しきい値、正の検証用しきい値、および負の検証用しきい値と比較する比較器などを備えている。副情報更新タイミング生成器９０４から副情報更新信号が出力されれば、次のような処理を行う。
図１４はしきい値判定器９０３の動作を示す説明図である。副情報更新タイミング生成器９０４から副情報更新信号が出力された時点で、内部レジスタにより保持している積算値Ｂ１１が正の検出用しきい値より大きくなった場合には副情報系列として“１”を、積算値Ｂ１１が負の検出用しきい値よりも小さい場合には副情報系列として“０”を出力するとともに、副情報が存在したことを示す検出フラグに“Ｈ”を出力する。一方、積算値Ｂ１１が正の検出用しきい値よりも小さく負の検出用しきい値よりも小さい場合には、相関性（副情報）が存在しないとして検出フラグに“Ｌ”を出力する。
さらに、しきい値判定器９０３は、副情報更新タイミング生成器９０４から副情報更新信号が出力された時点で、内部レジスタにより保持している積算値Ｂ１１が、正の検出用しきい値より大きくかつ正の検証用しきい値より小さい場合、および負の検出用しきい値より小さくかつ負の検証用しきい値より大きい場合には、副情報が欠陥であるとして検証フラグに“Ｈ”を出力する。一方、積算値Ｂ１１が正の検証用しきい値より大きく場合、および負の検証用しきい値より小さい場合には、副情報に欠陥はないとして検証フラグに“Ｌ”を出力する。また、積算値Ｂ１１が正の検出用しきい値よりも小さく負の検出用しきい値よりも小さい場合には、相関性が存在しないとしているので副情報に欠陥はないとして検証フラグに“Ｌ”を出力する。
副情報更新タイミング生成器９０４は、入力される同期信号Ｂ４に基づいて副情報の更新タイミングを生成する。本実施の形態での副情報更新信号は、各セクタの先頭と最終のフレームを除くフレームに対して、３フレーム毎にパルス出力される信号であり、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２の値をクリアし、しきい値判定器９０３の判定結果を更新する。
次に、上記のように構成された光ディスク記録装置１の動作について説明する。図１５は光ディスク記録装置１の特徴的な処理の流れを示すフローチャートである。
光ディスク記録装置１は、指定された領域に主情報及び副情報を記録する記録処理（ステップＳ１０１）、上記の指定された領域から被検証主情報と被検証副情報を再生する検証再生処理（ステップＳ１０２）、再生された上記被検証主情報と被検証副情報とに基づいて、記録処理を行った領域が安定して再生することが可能であるか否かの検証を行う検証処理（ステップＳ１０３、Ｓ１０４）、検証処理によって安定して再生することができないと判定された時に、その領域を欠陥領域として欠陥管理を行い、安定して記録可能な領域に主情報および副情報を再配置する欠陥管理処理（ステップＳ１０５）を行う。
記録処理Ｓ１０１では、システム制御部１４は、これから記録を行う１６セクタ単位（ＥＣＣブロック単位）の主情報および副情報を記憶し、記録部１２に対して記録を指示する。
記録部１２において、タイミング生成器３０１から同期信号Ａ３に“Ｈ”が出力されると、変調器３０２はフレーム単位の同期部５０１を構成するチャネル信号（同期パターン）が生成する。同期信号Ａ３が“Ｌ”になると、変調器３０２は記録する主情報を変調（ＤＶＤでは８−１６変調）し、チャネル信号として出力する。タイミング信号生成器３０１は、副情報を記録するフレームのデータ部５０２に対応して、同期信号Ａ３に“Ｌ”を出力すると同時に位相変調許可信号Ａ４を位相変調器３０６に出力する。
乱数発生器３０３は同期信号Ａ３が“Ｈ”の時、乱数系列の初期化を行い、同期信号Ａ３が“Ｌ”の時、バイトクロックに同期して１ビットずつの擬似乱数系列Ａ５を生成する。乱数系列変換器３０４は、この擬似乱数系列Ａ５に基づき記録する副情報に排他的論理和を演算し、副情報相関系列（記録する副情報が“０”の場合は擬似乱数系列Ａ５と同じ、記録する副情報が“１”の場合は擬似乱数系列Ａ５の反転）を生成する。図７に示す例では記録する副情報が０の場合であり、副情報相関系列と擬似乱数系列Ａ５が同じ場合を示している。さらに、タイミング生成器３０１からのＰＥ信号Ａ６に基づき、副情報相関系列（ここでは擬似乱数系列Ａ５と同じ）をＰＥ変調し、ＰＥ変調乱数系列Ａ７を得る。
位相変調器３０６では、位相変調許可信号Ａ４が“Ｌ”の時、被変調チャネル信号Ａ８としてチャネル信号Ａ２をそのまま出力し、位相変調許可信号Ａ４が“Ｈ”の時、ＰＥ変調乱数系列Ａ７の値よって、チャネル信号Ａ２のエッジの位相を進ませたり、遅らせたりする。ここでは、ＰＥ変調乱数系列Ａ７が“１”の時は、チャネル信号のエッジをΔｔだけ進める処理を行い、“０”の時は、チャネル信号のエッジをΔｔだけ遅らせる処理を行う。このようにして生成された被変調チャネル信号Ａ８によりレーザを制御することによって、光ディスク上に被変調記録マークＡ９が形成される。
以上のように、記録部１２では主情報の記録だけではなく、主情報の記録マークエッジを一定微少量位相変調することにより副情報（本実施の形態では、１ＥＣＣブロックに１２８ビット）を重畳して記録している。
次に、検証再生処理Ｓ１０２では、システム制御部１４は、記録処理が終了すると、記録を行った１６セクタ単位（ＥＣＣブロック単位）の主情報および副情報の検証再生を行うように検証再生部１３に対して指示する。
検証再生部１３において、クロック抽出器６０４は、デジタル読み出し信号Ｂ２が入力されると、その両エッジにチャネルクロックＢ３の立ち上がりエッジの位相を同期させたチャネルクロックＢ３を生成する。再生信号処理回路６０５は、チャネルクロックＢ３の立ち下がりエッジデジタル読み出し信号Ｂ２のサンプリングを行い、特定の同期パターンと一致比較を行うことで、データ中の同期部を探す。再生信号処理回路６０５は、同期パターンと一致したパターンを検出すると、同期信号検出器８０２より同期信号Ｂ４を出力し、また、副情報が重畳されているフレーム（各セクタの先頭と最終フレーム以外のフレーム）のデータ部に対応して副情報検出許可信号Ｂ７をゲート信号生成器８０３より出力する。
同期信号Ｂ４が出力されると、クロック抽出器６０４は、内部の１６分周器をクリアし、チャネルクロックＢ３を１６分周したバイトクロックとＰＥ信号Ｂ９を出力する。同じく同期信号Ｂ４が出力されると、乱数発生器６０６は、乱数系列の初期化（初期化タイミング１のタイミングで内部のレジスタに初期値がセット）し、バイトクロックのタイミング（１６チャネルクロック毎）で１ビットずつ擬似乱数系列Ｂ８を出力する。この擬似乱数系列Ｂ８とＰＥ信号Ｂ９とから、ＰＥ変調器６０７は１６チャネルクロック中に８チャネルクロックずつ１の区間と０の区間となるようなＰＥ変調乱数系列Ｂ１０を生成する。
クロック抽出器６０４は、チャネルクロックＢ３の立ち上がりエッジとデジタル読み出し信号Ｂ２の両エッジとの位相誤差の検出を行い、チャネルクロックＢ３の立ち上がりエッジよりデジタル読み出し信号Ｂ２のエッジが進んでいる場合には、進相誤差信号Ｂ５を出力し、チャネルクロックＢ３の立ち上がりエッジよりデジタル読み出し信号Ｂ２のエッジが遅れている場合には、遅相誤差信号Ｂ６を出力する。
副情報検出器６０８は、副情報検出信号が“Ｈ”の時、ＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が１の区間中は進相誤差信号Ｂ５を加算し、遅相誤差信号Ｂ６を減算する。ＰＥ変調乱数系列Ｂ１０が０の区間中は遅相誤差信号Ｂ６を加算し、進相誤差信号Ｂ５を減算する。図１０に示す例では、ＰＥ変調乱数系列Ｂ１０の１の区間中に進相誤差信号Ｂ５が出力され、ＰＥ変調乱数系列Ｂ１０の０の区間中に遅相誤差信号Ｂ６が出力されているため、副情報検出器６０８のＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２による積算値は増加する。
これにより、所定のフレーム数（本実施の形態では３フレーム）の積算が終了した時点（副情報更新信号が出力時）で、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２による積算値が正の検出用しきい値を上回っていると副情報として“１”が検出され（同時に検出フラグが“１”出力）、負の検出用しきい値を下回っていると副情報として“０”が検出され（同時に検出フラグが“１”出力）、負の相関のしきい値と正の相関のしきい値との間にある場合は検出フラグ“０”が出力される。
次に、検証処理Ｓ１０３では、光ディスクに記録された主情報および副情報が安定して読み出し可能か否かの判定を行う。すなわち、検証再生処理Ｓ１０２によって１ＥＣＣブロック単位に読み出した副情報（１２８ビット）と再生信号処理回路６０５から出力された主情報に基づいて、記録処理を行った領域を安定して読み出すことができるかの検証を行う。
図１６は、この検証処理の流れを示すフローチャートである。光ディスク記録装置１のシステム制御部１４は、副情報を重畳した主情報が記録されたセクタ番号が安定して読み出し可能か否かの検証を行うセクタ番号検証処理（ステップＳ１１０１）、記録された主情報が安定して読み出し可能か否かの検証を行う主情報検証処理（ステップＳ１１０２）、およびその主情報に重畳された副情報が安定して読み出し可能か否かの検証を行う副情報検証処理（ステップＳ１１０３）を行う。なお、図１７はこの検証処理についての他の処理方法の流れを示すフローチャートであり、後述する欠陥管理処理Ｓ１０４で方法Ｂにより再配置処理を行う場合の流れである。ここでは、主情報検証処理Ｓ１１０２により主情報が安定して読み出し可能でないと判定された場合にも、副情報検証処理Ｓ１１０３を行っている。
セクタ番号検証処理Ｓ１１０１では、システム制御部１４は光ディスク内に物理的に埋め込まれた単数以上のセクタ番号を確実に読み取れるかの検証を行う。例えばＤＶＤ−ＲＡＭでは、セクタ先頭にＣＡＰＡと呼ばれるセクタ番号埋め込み領域が４つ存在し、どのような条件下でもこれらのうち少なくともどれかが読み取り可能であるようなしきい値を設定し検証する。このしきい値以上のセクタ番号読み出しエラーが発生した場合は、この物理セクタを欠陥領域として欠陥管理処理を行う。検証に成功すれば、次の主情報の読み取り信頼性確認のための主情報検証処理を行う。
主情報検証処理Ｓ１１０２では、システム制御部１４は記録動作時に記憶した真の主情報と、検証再生時に抽出した被検証主情報とを比較し、何バイトの誤検出が発生しているかを求める。次に、システム制御部１４は、求めた誤検出の発生バイト数が、ある程度の悪条件での読み出しでも安定して主情報が読み取れるようにＥＣＣブロックが持っているエラー訂正可能バイト数に基づいてあらかじめ設定されたしきい値を超えているか否かの判定を行う。この判定の結果、しきい値を超える誤検出が存在する場合は、そのセクタを含む領域を主情報の欠陥領域として欠陥管理処理を行う。また、ＥＣＣブロック内の誤訂正検出符号によって誤訂正が確認された時はエラー訂正不能であるので、そのセクタを含む領域もまた主情報の欠陥領域として欠陥管理処理を行う。主情報の検証に成功した場合は、次に副情報検証処理Ｓ１１０３を行う。
副情報検証処理Ｓ１１０３としては、以下に説明する３つの方法によって行うことができる。
（方法１）
システム制御部１４は、副情報検出器６０８のしきい値判定器９０３より出力される検証フラグに基づいて、副情報が安定して読み出し可能か否かの検証を行う。すなわち、システム制御部１４は、副情報の全系列（本実施の形態では１２８ビット）のうち検証フラグが“Ｈ”であったビット数を計数し、このビット数あらかじめ設定したしきい値を超えているか超えていないか判定を行う。この判定の結果、計数したビット数がしきい値を超えた場合、副情報の欠陥領域として欠陥管理処理を行う。一方、計数したビット数がしきい値を超えていない場合、すなわち副情報検証が成功した場合は、セクタ番号、主情報および副情報が安定して再生できるとして検証再生処理を終了する。
（方法２）
システム制御部１４は、上記のように副情報検出器６０８のしきい値判定器９０３により、ＵＰ／ＤＯＷＮカウンタ９０２で積算した相関値（積算値）と予め設定された正の検出用しきい値と負の検出用しきい値とに基づいて抽出された被検証副情報系列と、記録動作時に記憶した真の副情報とをビット比較し、何ビットの誤検出が発生しているかを求める。
図１８は、この副情報検証処理の概念図である。被検証副情報１２０１と副情報１２０２は互いのビット単位で比較検証され、全系列（本実施の形態では１２８ビット）のうち不一致となる、即ち副情報の誤検出ビット数をあらかじめ設定されたしきい値Ａと比較することにより副情報が安定して読み出し可能かの検証を行う。
しきい値Ａは、副情報自体が持っているパリティ符号により決まる訂正可能ビット数以下に設定される。本実施の形態では、１ＥＣＣブロックに記録される副情報の内分けとして６４ビットの秘匿情報、４８ビットの誤り訂正符号と１６ビットの誤訂正検出符号からなる場合を想定している。この場合、１２８ビット副情報のうち６ビットまで誤検出したとしてもその誤検出ビットを訂正し安定して副情報を抽出することができる。このことから、本実施の形態でのしきい値Ａの値は、６以下として定めている。副情報誤検出ビット数がこのしきい値Ａを超える場合、副情報の欠陥領域として欠陥管理処理を行う。また、副情報の誤訂正検出符号により誤訂正が確認された場合にも同様に、その物理セクタを副情報の欠陥領域として欠陥管理処理を行う。副情報検証が成功した場合は、セクタ番号、主情報および副情報が安定して再生できるとして検証再生処理を終了する。
（方法３）
システム制御部１４は、副情報自体が持っているパリティ符号を用いてエラー訂正を行う時に誤検出したビット数と、あらかじめ設定されたしきい値Ａと比較することにより副情報が安定して読み出し可能かの検証を行う。この結果、エラー訂正時の誤検出ビット数がこのしきい値Ａを超える場合、副情報の欠陥領域として欠陥管理処理を行う。一方、誤検出ビット数がしきい値を超えていない場合、すなわち副情報検証が成功した場合は、セクタ番号、主情報および副情報が安定して再生できるとして検証再生処理を終了する。
なお、本実施の形態では、セクタ番号検証処理、主情報検証処理及び副情報検証処理のいずれかで、記録した領域が欠陥領域と判定された場合に、すぐに欠陥管理処理を行うようにしているが、再度同じ領域に、同じ主情報及び副情報を記録するリトライ処理を行っても構わない。
上記のように検証処理Ｓ１０３のセクタ番号検証処理、主情報検証処理及び副情報検証処理において、それらを記録した領域が欠陥領域と判定された場合には、欠陥管理処理Ｓ１０４を行う。本実施の形態では、ＤＶＤ−ＲＡＭの欠陥管理処理の１つとして用いられるリニア代替処理方式（Ｌｉｎｅａｒ  Ｒｅｐｌａｃｅｍｅｎｔ  Ａｌｇｏｒｉｔｈｍ）により欠陥管理を行っている。
このリニア代替処理方式では、記録検証中に欠陥領域が存在すると、光ディスクユーザ領域内に予め設けられたスペア領域に再配置している。そして、上記欠陥領域とそれに対応した代替領域の先頭セクタ番号を１対のエントリとして、光ディスクのリードイン領域とリードアウト領域にある欠陥管理リスト（ＳＤＬ）に登録し、管理している。また、上記の欠陥領域と代替領域は、ＥＣＣブロック（１６セクタ）単位であり、ＥＣＣブロック単位を基準に再配置処理がなされる。
図１９は欠陥領域と判定された理由に応じて行われる再配置処理の場合分けを示す説明図である。以下、図１６に示すように主情報検証処理または副情報検証処理のいずれかによって欠陥領域と判定された場合に、欠陥領域に記録されるべき主情報および副情報を代替領域に再配置処理を行う方法Ａと、図１７に示すように主情報検証処理または副情報検証処理のいずれによって欠陥領域と判定されたかに応じて再配置処理を行う方法Ｂとについてそれぞれ説明する。
（方法Ａ）
図２０は方法Ａでのリニア代替処理方式を示す概念図である。光ディスク内には、図２０（ａ）に示すように光学的に読み取り可能な記録マークにより主情報を記録し、またその記録マークエッジを一定微少量変位させることにより副情報を記録するユーザ領域１３０１、そのユーザ領域１３０１が欠陥領域であった場合に再配置を行うためのスペア領域１３０２、および図２０（ｂ）に示すように欠陥領域を代替領域（スペア領域１３０２内）に再配置した時のそれぞれの先頭セクタ番号を一対のエントリとして管理する欠陥管理リスト（ＳＤＬ）１３０３が設けられている。
ここで、欠陥領域Ａ１３０４は、主情報Ａと副情報Ａとを記録し、主情報Ａの検証処理により欠陥領域と判定された領域であり、欠陥領域Ｂ１３０５は、主情報Ｂと副情報Ｂとを記録し、副情報Ｂの検証処理により欠陥領域と判定された領域であるとする。
図２１は、本実施の形態でのリニア代替処理の処理手順を示すフローチャートである。例えば欠陥領域Ａ１３０４のように主情報検証処理によって欠陥領域と判定された場合、システム制御部１４は、スペア領域１３０２より使用可能な領域を検索し、この使用可能な領域の先頭セクタのセクタ番号を取得する（ステップＳ１４０１）。上記のように再配置処理はＥＣＣブロック（１６セクタ）単位に行うため、システム制御部１４は使用可能な領域の先頭セクタから再配置に必用な１６セクタ全てがスペア領域１３０２であるか否かを判定する（ステップＳ１４０２）。その結果、スペア領域１３０２でないセクタを含んでいる場合は、エラー終了とする。一方、１６セクタ全てがスペア領域１３０２であれば、再配置可能な領域が確保できたことになる。この確保した領域を、欠陥領域Ａ１３０４に対応した代替領域Ａ’１３０６とし、取得した先頭セクタ番号を代替領域Ａ’１３０６の先頭セクタ番号とする。システム制御部１４は、これら欠陥領域Ａ１３０４および代替領域Ａ’１３０６のそれぞれの先頭アドレスを、ＳＤＬ１３０３にエントリとして追加する（ステップＳ１４０３）。最後に、欠陥領域Ａ１３０４に記録されるはずであった主情報Ａおよび副情報Ａを、代替領域Ａ’１３０６の先頭セクタから再配置記録するよう記録部１２に命令（ステップＳ１４０４）し、処理を終了する。
次に、例えば欠陥領域Ｂ１３０５のように副情報検証処理によって欠陥領域と判定された場合、システム制御部１４は、欠陥領域Ａ１３０４の場合と同様にスペア領域１３０２より使用可能な領域を確保し、代替領域Ｂ’１３０７とする。そして、システム制御部１４は、これら欠陥領域Ｂ１３０５および代替領域Ｂ’１３０７のそれぞれの先頭アドレスを、ＳＤＬ１３０３にエントリして追加する。最後に、代替領域Ｂ’１３０７の先頭セクタ番号から始まる１６セクタに、欠陥領城Ｂ１３０５に記録されるはずであったＥＣＣブロック分の主情報Ｂと副情報Ｂを再配置記録するよう記録部１２に命令を出し処理を終了する。
（方法Ｂ）
図２２は方法Ｂでのリニア代替処理方式を示す概念図である。図２０と同様に光ディスク内には、図２２（ａ）に示すようにユーザ領域１９０１、スペア領域１９０２、および欠陥領域を代替領域（スペア領域１９０２内）に再配置した時の情報を管理する図２２（ｂ）に示すような欠陥管理リスト（ＳＤＬ）１９０９が設けられている。このＳＤＬ１９０９は、欠陥領域の先頭セクタ番号を示す欠陥領域リスト１９１０と、その欠陥領域に対応した代替領域（スペア領域１９０２内）の先頭セクタ番号を示す代替領域リスト１９１１と、その欠陥領域が主情報の検証処理により欠陥であると判定されたか否かを示す主情報欠陥フラグ１９１２と、その欠陥領域が副情報の検証処理により欠陥であると判定されたか否かを示す副情報欠陥フラグ１９１３とを対応させて管理している。
ここで、欠陥領域Ｃ１９０３は、主情報Ｃおよび副情報Ｃを記録し、主情報Ｃの検証処理のみにより欠陥領域と判定された領域であり、欠陥領域Ｄ１９０４は、主情報Ｄおよび副情報Ｄを記録し、副情報Ｄの検証処理のみにより欠陥領域と判定された領域であり、欠陥領域Ｅ１９０５は、主情報Ｅおよび副情報Ｅを記録し、主情報Ｅおよび副情報Ｅの検証処理により欠陥領域と判定された領域であるとする。
例えば、欠陥領域Ｃ１９０３のように主情報Ｃの検証処理のみにより欠陥領域と判定された場合には、システム制御部１４は、上記方法Ａと同様にして代替領域を確保し、主情報Ｃのみを代替領域Ｃ’１９０６に再配置記録する。このとき、ＳＤＬ１９０９には、欠陥領域Ｃ１９０３および代替領域Ｃ’１９０６のそれぞれの先頭セクタ番号と、主情報欠陥フラグ１９１２に“１”、副情報欠陥フラグ１９１３に“０”が設定される。
また、欠陥領域Ｄ１９０４のように副情報Ｄの検証処理のみにより欠陥領域と判定された場合には、システム制御部１４は、上記方法Ａと同様にして代替領域を確保し、副情報Ｄのみを代替領域Ｄ’１９０７に再配置記録する。このとき、ＳＤＬ１９０９には、欠陥領域Ｄ１９０４および代替領域Ｄ’１９０７のそれぞれの先頭セクタ番号と、主情報欠陥フラグ１９１２に“０”、副情報欠陥フラグ１９１３に“１”が設定される。なお、副情報Ｄのみを代替領域Ｄ’１９０７に再配置記録する際には、主情報としてダミーの情報を記録すればよい。
また、欠陥領域Ｅ１９０５のように主情報Ｅおよび副情報Ｅの検証処理により欠陥領域と判定された場合には、システム制御部１４は、上記方法Ａと同様にして代替領域を確保し、主情報Ｅおよび副情報Ｅを代替領域Ｅ’１９０８に再配置記録する。このとき、ＳＤＬ１９０９には、欠陥領域Ｅ１９０５および代替領域Ｅ’１９０８のそれぞれの先頭セクタ番号と、主情報欠陥フラグ１９１２に“１”、副情報欠陥フラグ１９１３に“１”が設定される。
以上のように、主情報や副情報が安定して読み出し可能でないと検証処理で判定された場合に、代替領域にもう一度同じ主情報や副情報を再配置記録している。それによって、例えば副情報として暗号コンテンツに対する復号鍵が記録されている場合などに、主情報である暗号コンテンツは記録されているが、それを復号する復号鍵の記録に失敗するという現象を回避することができる。
また、副情報に記録媒体間のコンテンツの移動或いはコピーなどを管理するコピー管理情報を記録する場合であっても、主情報と同領域に安定して副情報を記録することが可能となる。これによって、記録媒体間で移動を許された回数、またはコピーを許された回数などのようなコピー管理情報も安定して更新することが可能となる。
一般には、一度記録した情報はその領域が欠陥領域として判定された場合でも消去することはないが、このように副情報として、コンテンツ暗号に対する復号鍵或いはコピー管理情報のような秘匿情報が記録されている時などは、一旦記録された欠陥領域の情報を消去しても構わない。
また、主情報として動画情報、副情報としてそれに対応した音声情報などが記録されている場合であっても、音声だけの情報や動画だけの情報などに化けることを回避することができる。
また、主情報のみが安定して読み出し可能でないと検証処理で判定された欠陥領域について、副情報はその欠陥領域に残し、主情報のみを再配置記録する場合、従来は情報の記録を行うことのできなかった主情報の欠陥領域にも、主情報の記録方法とは違った記録方法により記録する副情報を記録することができるので、光ディスク上の限られた記録領域を有効に活用することが可能となる。
これにより、光ディスク上のほこり、きず、指紋等によって、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域が存在しても、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報が代替領域に再配置記録されるので、主情報及び副情報を安定して読み出せる光ディスクを生成することが可能となる。
なお、本実施の形態では、主情報を構成する記録マークの標準的なエッジ位置をトラックの進行方向に微少量変化させる位相変調によって副情報を記録した場合を例にして、光ディスクの欠陥管理方法を説明しているが、これに限られるものではない。本発明は、例えば図２３に示すように光ディスク２００上の主情報を構成する記録マーク２１０の標準的な位置を、トラックの進行方向と直交する方向に微少量変化させる位相変調によって、副情報を記録した場合にも適用することができる。さらに、光ディスクの種類によって決まっている規則に反するような形で、ビットエラーを引き起こすようにして副情報を記録するような変調則等を用いた場合にも、適用することができる。
（光ディスク再生装置）
図２４は本発明に係る光ディスク再生装置の一実施の形態の構成を示す説明図である。光ディスク再生装置２は、上記光ディスク記録装置１により記録された光ディスクから主情報及び副情報を再生する装置であり、図２４に示すようにパーソナルコンピュータ等の機器３に接続または内蔵されて用いられ、インタフェース２１、再生部２２、およびシステム制御部２３を備えている。なお、再生部２２は、光ディスク記録装置１の検証再生部１３と同等の機能／構成であるので、説明を省略する。
図２５は光ディスク再生装置２の特徴的な処理の流れを示すフローチャートである。光ディスク再生装置２は、システム制御部２３から指定された論理セクタ番号ＬＳＮ（Ｌｏｇｉｃａｌ  Ｓｅｃｔｏｒ  Ｎｕｍｂｅｒ）を光ディスク自身が持っている物理セクタ番号ＰＳＮ（Ｐｈｙｓｉｃａｌ  Ｓｅｃｔｏｒ  Ｎｕｍｂｅｒ）へ変換するセクタ番号変換処理（ステップＳ１５０１）、セクタ番号変換処理により変換された物理セクタ番号から主情報及び副情報を再生する再生処理（ステップＳ１５０２）、主情報及び副情報のエラー訂正を行うエラー訂正処理（ステップＳ１５０３）を行う。
セクタ番号変換処理Ｓ１５０１では、システム制御部２３の再生命令により指定される論理セクタ番号を光ディスクの物理的なセクタに対応した物理セクタ番号に変換する処理を行う。図２６は、セクタ番号変換処理の流れを示すフローチャートである。ここでは、光ディスクの物理的セクタが欠陥セクタであるような場合、光ディスク記録装置１によってスペア領域へ再配置されているため、システム制御部２３により指定される論理セクタと物理的なセクタは連続的な対応を持っていないのが常であり、システム制御部２３により指定された論理セクタ番号を物理セクタ番号に変換する処理の流れである。論理セクタ番号と物理セクタ番号との変換は、光ディスク内に記録されている欠陥管理リスト（本実施の形態では、リニア欠陥代替処理に対応した欠陥管理リストＳＤＬ）を参照することにより行っている。
まずシステム制御部２３より要求された論理セクタ番号ＬＳＮに、一定数のオフセットを加えることにより、一時的な物理セクタ番号ＴＭＰ＿ＰＳＮを算出する（ステップＳ１６０１）。システム制御部２３は、この一時的な物理セクタ番号ＴＭＰ＿ＰＳＮが欠陥管理リストＳＤＬに登録されているかいないかの判定を行う（ステップＳ１６０２）。この結果、この一時的な物理セクタ番号ＴＭＰ＿ＰＳＮが欠陥管理リストＳＤＬに登録されていなければ（欠陥ブロックでない場合）、この一時的な物理セクタ番号ＴＭＰ＿ＰＳＮを要求された論理セクタ番号ＬＳＮに対応した物理的セクタ番号ＰＳＮとして出力する（ステップＳ１６０３）。
一方、この一時的な物理セクタ番号ＴＭＰ＿ＰＳＮが欠陥管理リストＳＤＬに登録されていれば（欠陥ブロックである場合）、ＳＤＬエントリに登録されている代替領域のセクタ番号を要求された論理セクタ番号ＬＳＮに対応した物理セクタ番号ＰＳＮとして出力する（ステップＳ１６０４）。ここで、光ディスク記録装置１で上述した方法Ｂにより再配置処理が行われ、例えば図２２（ｂ）に示したようなＳＤＬ１９０９を有する場合には、システム制御部２３は、ＳＤＬ１９０９に登録された主情報欠陥フラグ１９１２および副情報欠陥フラグ１９１３に基づいて、主情報のみが代替領域に再配置記録されているのか、副情報のみが再配置記録されているのか、または主情報および副情報がともに再配置記録されているのかを判定する。
そして、主情報のみが代替領域に再配置記録されている場合には、主情報についてはＳＤＬ１９０９に登録されている代替領域のセクタ番号を要求された論理セクタ番号ＬＳＮに対応した物理セクタ番号ＰＳＮとして、副情報については一時的な物理セクタ番号ＴＭＰ＿ＰＳＮを要求された論理セクタ番号ＬＳＮに対応した物理的セクタ番号ＰＳＮとして出力する。また、副情報のみが代替領域に再配置記録されている場合には、副情報についてはＳＤＬ１９０９に登録されている代替領域のセクタ番号を要求された論理セクタ番号ＬＳＮに対応した物理セクタ番号ＰＳＮとして、主情報については一時的な物理セクタ番号ＴＭＰ＿ＰＳＮを要求された論理セクタ番号ＬＳＮに対応した物理的セクタ番号ＰＳＮとして出力する。
次に、再生処理Ｓ１５０２では、システム制御部２３は、再生部２２に対してセクタ番号変換部処理Ｓ１５０１で求めた物理セクタ番号ＰＳＮにより、光ディスクに記録されている主情報及び副情報の再生を指示する。再生部２２は、光ディスクを再生することにより得た主情報及び副情報をシステム制御部２３へ出力する。なお、この再生部２２による再生は、光ディスク記録装置１の検証再生部１３と同様に行われる。
次に、エラー訂正処理Ｓ１５０３では、システム制御部２３は、再生部２２より出力された主情報及び副情報が予め持っている訂正符号（副情報は訂正符号を持っていない場合もある。本実施の形態では、ＥＣＣブロック単位に１２８ビットの副情報を重畳し、内訳として６４ビットの秘匿情報、４８ビットの誤り訂正符号、１６ビットの誤訂正検出符号とする）によりエラー訂正を行う。そして、主情報および副情報についてエラー訂正可能であるか否かの判定を行う（ステップＳ１５０４、Ｓ１５０５）。エラー訂正中に主情報か副情報のどちらかにおいて訂正不可能になる場合、またはそれぞれの誤訂正検出符号により誤訂正を検出した場合には、再生エラーとする。一方、主情報及び副情報が完全にエラー訂正可能で読み出せた時に正常終了となる。
次に、光ディスク記録装置１で上述した方法Ｂにより再配置処理が行われ、例えば図２２（ａ）に示した欠陥領域Ｃ１９０３、欠陥領域Ｄ１９０４、欠陥領域Ｅ１９０５を含むユーザ領域１９０１を、光ディスク再生装置２で再生する場合について説明する。
この場合、欠陥領域Ｃ１９０３は、主情報のみが代替領域Ｃ’１９０６に再配置記録されているので、主情報Ｃは代替領域Ｃ’１９０６から、副情報Ｃは通常どおり欠陥領域Ｃ１９０３から再生される。欠陥領域Ｄ１９０４は、副情報のみが代替領域Ｄ’１９０７に再配置記録されているので、主情報Ｄは通常どおり欠陥領域Ｄ１９０４から、副情報Ｄは代替領域Ｄ’１９０７から再生される。欠陥領域Ｅ１９０５は、主情報Ｅおよび副情報Ｅが代替領域Ｅ’に再配置記録されているので、主情報Ｅおよび副情報Ｅを代替領域Ｅ’１９０８から再生される。このようにして、主情報および副情報が再生されることになる。
以上のように、光ディスク上に前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域があり、その欠陥領域の代替領域に前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報が記録されている場合があっても、光ディスク内の欠陥管理リストを参照することにより、代替領域の物理セクタを確認し、代替領域から安定して主情報および副情報を再生することが可能となる。
また、光ディスク上のほこり、きず、指紋等により主情報の再生エラー、または副情報の再生エラーを検出した場合でも、主情報及び副情報の再生に関する再生エラーとして判定し、主情報のみ再生、または副情報のみ再生が行われることを防止することができる。
なお、本実施の形態では、上記のように主情報または副情報のいずれかの再生エラーにより、主情報及び副情報の再生に関する再生エラーとして判定しているが、これに限られるものではない。例えば、主情報の再生エラーにより、主情報及び副情報の再生に関する再生エラーとして判定しても構わない。前者は、例えば副情報としてコンテンツ復号鍵やコピー管理情報（コンテンツ移動回数、コンテンツコピー回数など）等が記録されているように、副情報の再生が主情報の再生に重大な影響を与える場合に、用いることができる。一方、後者は、例えば主情報に映像データ、副情報に音声データなどが記録されているように、副情報の再生が主情報の再生に影響を与えない場合に、用いることができる。
また、本実施の形態では、ユーザ領域に欠陥領域があった場合にスペア領域に再配置を行うとしているが、スペア領域に欠陥領域があった場合にも同様にスペア領域に再配置することができる。
以上の説明から明らかなように、本発明に係る光ディスクの欠陥管理方法は、光学的に読み取り可能な記録マークにより主情報が記録されると共に、前記主情報に重畳して副情報が記録される光ディスクの欠陥管理方法であって、前記主情報及び前記副情報を所定単位記録する毎に、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われたか否かを判定する検証ステップと、前記検証ステップにより、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録が正常に行われていないと判定された場合、当該記憶領域を前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域として、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を前記光ディスク内の予め設定されたスペア領域内に再配置記録するとともに、前記欠陥領域と前記欠陥領域を再配置した代替領域とを対応付けるための情報を前記光ディスク内の予め設定された欠陥管理領域に登録する欠陥領域管理ステップとを含むことを特徴とする。
これにより、光ディスク上のほこり、きず、指紋等によって、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域が存在しても、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報が代替領域に再配置記録されるので、主情報及び副情報を安定して読み出せる光ディスクを生成することが可能となる。
また、主情報のみの記録に関する欠陥領域について、副情報はその欠陥領域に残し、主情報のみを再配置記録することができるので、従来は情報の記録を行うことのできなかった主情報の欠陥領域にも、主情報の記録方法とは違った記録方法により記録する副情報を記録することができ、光ディスク上の限られた記録領域を有効に活用することが可能となる。
また、本発明に係る光ディスク再生装置は、光ディスクから光学的に記録マークを読み取ることによって、主情報を読み出すと共に、前記主情報に重畳して記録された副情報を読み出す光ディスク再生装置であって、前記主情報及び前記副情報を再生する領域が、前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域である場合、前記欠陥領域が再配置記録された代替領域から前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報を再生する代替領域再生手段と、前記主情報及び副情報の記録された領域を再生中、前記主情報及び副情報から再生エラーを判定する再生エラー判定手段とを備えることを特徴とする。
これにより、光ディスク上に前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報の記録に関する欠陥領域があり、その欠陥領域に対応した代替領域に前記主情報、前記副情報、または、前記主情報及び前記副情報が記録されている場合があっても、この代替領域から安定して主情報および副情報を再生することが可能となる。
また、光ディスク上のほこり、きず、指紋等により主情報の再生エラー、または副情報の再生エラーを検出した場合でも、主情報及び副情報の再生に関する再生エラーとして判定し、主情報のみ再生、または副情報のみ再生が行われることを防止することができる。
例えば、副情報としてコンテンツ復号鍵が記録されている場合であっても、安定して主情報および副情報を再生することできるので、副情報が再生不可能なために主情報のコンテンツを復号化できずに、暗号化されたコンテンツをそのまま再生してしまうという問題を回避することができる。
産業上の利用の可能性
以上のように、本発明に係る光ディスクの欠陥管理方法、光ディスク再生方法は、ＤＶＤに代表される光ディスクに主情報を記録すると共にこの主情報に重畳して副情報を記録する光ディスク記録装置、およびこの光ディスクより主情報および副情報を再生する光ディスク再生装置に用いるのに適している。
【図面の簡単な説明】
図１は、従来の光ディスクの表面を示す外観図である。
図２は、主情報に副情報を重畳し記録する光ディスク記録装置の主な信号を示すタイミングチャートである。
図３は、従来のリニア代替処理を示す概念図である。
図４は、本発明に係る光ディスク記録装置の一実施の形態の構成を示すブロック図である。
図５は、上記光ディスク記録装置により記録される光ディスクのデータ構造図である。
図６は、上記光ディスク記録装置の記録部の詳細な構成を示すブロック図である。
図７は、上記記録部における主な信号のタイミングチャートである。
図８は、上記記録部の位相変調器の詳細な構成を示すブロック図である。
図９は、上記光ディスク記録装置の検証再生部の詳細な構成を示すブロック図である。
図１０は、上記検証再生部における主な信号のタイミングチャートである。
図１１は、上記検証再生部のクロック抽出器の構成を示すブロック図である。
図１２は、上記検証再生部の再生信号処理回路の構成を示すブロック図である。
図１３は、上記検証再生部の副情報検出器の構成を示すブロック図である。
図１４は、上記副情報検出器のしきい値判定器の動作を示す説明図である。
図１５は、上記光ディスク記録装置の特徴的な処理の流れを示すフローチャートである。
図１６は、上記光ディスク記録装置の検証処理の流れを示すフローチャートである。
図１７は、上記光ディスク記録装置の検証処理の他の処理方法の流れを示すフローチャートである。
図１８は、上記検証処理における副情報検証処理の概念図である。
図１９は、欠陥領域と判定された理由に応じて行われる再配置処理の場合分けを示す説明図である。
図２０は、上記光ディスク記録装置の欠陥管理処理における方法Ａでのリニア代替処理方式を示す概念図である。
図２１は、上記光ディスク記録装置の欠陥管理処理におけるリニア代替処理の処理手順を示すフローチャートである。
図２２は、上記光ディスク記録装置の欠陥管理処理における方法Ｂでのリニア代替処理方式を示す概念図である。
図２３は、他の副情報の重畳方法によって記録された光ディスクの表面を示す外観図である。
図２４は、本発明に係る光ディスク再生装置の一実施の形態の構成を示すブロック図である。
図２５は、上記光ディスク再生装置における処理の流れを示したフローチャートである。
図２６は、上記光ディスク再生装置におけるセクタ番号変換処理の流れを示したフローチャートである。
【図１】
2003041074.tif 000003
【図２】
2003041074.tif 000004
【図３】
2003041074.tif 000005
【図４】
2003041074.tif 000006
【図５】
2003041074.tif 000007
【図６】
2003041074.tif 000008
【図７】
2003041074.tif 000009
【図８】
2003041074.tif 000010
【図９】
2003041074.tif 000011
【図１０】
2003041074.tif 000012
【図１１】
2003041074.tif 000013
【図１２】
2003041074.tif 000014
【図１３】
2003041074.tif 000015
【図１４】
2003041074.tif 000016
【図１５】
2003041074.tif 000017
【図１６】
2003041074.tif 000018
【図１７】
2003041074.tif 000019
【図１８】
2003041074.tif 000020
【図１９】
2003041074.tif 000021
【図２０】
2003041074.tif 000022
【図２１】
2003041074.tif 000023
【図２２】
2003041074.tif 000024
【図２３】
2003041074.tif 000025
【図２４】
2003041074.tif 000026
【図２５】
2003041074.tif 000027
【図２６】
2003041074.tif 000028
【国際調査報告】
2003041074.tif 000029
2003041074.tif 000030