【事件の表示】
　特許第６４６５５５１号発明「光干渉眼寸法測定装置」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第６４６５５５１号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１〜５〕について訂正することを認める。
　特許第６４６５５５１号の請求項１、２、４及び５に係る特許を維持する。
　特許第６４６５５５１号の請求項３に係る特許についての特許異議の申立てを却下する。
【理　由】
第１　手続の経緯
　特許第６４６５５５１号の請求項１〜５に係る特許についての出願は、平成２６年２月２０日に出願され、平成３１年１月１８日にその特許権の設定登録がされ、同年２月６日に特許掲載公報が発行された。その後、請求項１〜５に係る特許に対し、令和元年８月６日に特許異議申立人　小林勝（以下、単に「申立人」という。）により特許異議の申立てがされ、同年１１月５日付けで取消理由が通知され、その指定期間内である令和２年１月９日に意見書の提出及び訂正請求がされ、同年３月５日に申立人から意見書が提出され、さらに、同月３１日付けで取消理由（決定の予告）が通知され、その指定期間内である同年６月４日に意見書の提出及び訂正請求がされ、同年７月３１日に申立人から意見書が提出されたものである。
  
第２　訂正の適否
  
１　訂正の内容 
  
（１）特許権者が令和２年６月４日にした訂正請求による訂正（以下「本件訂正」という。）は、請求項１〜５を一群の請求項として訂正することを求めるものであり、その具体的内容は、以下の訂正事項１〜７のとおりである。なお、下線は訂正箇所を示す。
  
（訂正事項１） 
　特許請求の範囲の請求項１に「取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の眼寸法の測定値を算出する光干渉眼寸法測定装置において、」と記載されているのを、「取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の
測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離
前記測定対象面は、角膜前面、角膜後面、水晶体前面、水晶体後面及び網膜表面の少なくとも２つであり、
  
（訂正事項２） 
　特許請求の範囲の請求項１に「前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して１つ以上の位置を任意に指定する指定手段をさらに備え、」と記載されているのを、「前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に
含まれる前記測定対象面のうち前記測定対象面間の距離の測定値を算出するための２つの面の位置のそれぞれに対して新たな
指定可能な
  
（訂正事項３） 
　特許請求の範囲の請求項１に「該指定手段により指定された位置に基づいて測定値を補正する」と記載されているのを、「該指定手段により指定された
前記新たな
前記測定対象面間の距離の
し、
（訂正事項４）
　特許請求の範囲の請求項１に「ことを特徴とする光干渉眼寸法測定装置。」と記載されているのを、「
前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに有し、指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示する、
（訂正事項５）
　特許請求の範囲の請求項３を削除する。
（訂正事項６）
　特許請求の範囲の請求項４に「取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の眼寸法の測定値を算出する光干渉眼寸法測定装置において、」と記載されているのを、「取得した前記２次元断層画像に基づいて
被検眼の測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離
（訂正事項７）
　特許請求の範囲の請求項５に「請求項２〜４のいずれかに記載の光干渉眼寸法測定装置。」と記載されているのを、「請求項
１、２又は４
（２）訂正の単位について
　訂正前の請求項１〜５について、請求項２及び３は、請求項１を引用するものであって、訂正事項１〜４によって記載が訂正される請求項１に連動して訂正されるものであり、請求項５は、請求項１又は４を引用するものであって、訂正事項１〜４によって記載が訂正される請求項１又は訂正事項６によって記載が訂正される請求項４に連動して訂正されるものであるから、訂正前の請求項１〜５に対応する訂正後の請求項１〜５は、一群の請求項である。
　よって、本件訂正は、一群の請求項〔１〜５〕に対して請求されたものであり、特許法第１２０条の５第４項の規定に適合する。
  
２　訂正の目的の適否、新規事項の有無及び特許請求の範囲の拡張・変更の存否
  
（１）訂正事項１について
  
ア　訂正の目的の適否
　訂正事項１は、「光干渉眼寸法測定装置」が、「取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を算出する」ことを発明特定事項とすることにより、眼寸法の「測定値」をより具体的に特定し、さらに限定するものである。その上で、訂正事項１は、「前記測定対象面は、角膜前面、角膜後面、水晶体前面、水晶体後面及び網膜表面の少なくとも２つであり、」との発明特定事項を追加することにより、「前記測定対象面」を具体的に特定し、さらに限定するものである。
 　よって、訂正事項１は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
  
イ　新規事項の有無
　訂正事項１により訂正される内容は、本件特許に係る出願の願書に添付した明細書の【００３０】「演算装置６４は、受光素子２６からの干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼１００の各部位（角膜１０２の前後面、水晶体１０４の前後面、網膜１０６の表面）の位置を特定し、被検眼１００の眼軸長を算出する。」、【００１６】「上記のように、本発明にかかる眼寸法測定装置は、得られた複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得し、取得した２次元断層画像から被検眼内部の測定対象部位の位置を特定すると共に、取得した２次元断層画像を表示し、視覚的に測定結果をより精密に評価できるため、より正確な眼軸長などの眼寸法測定が可能になるのである。」、【００４３】「また、上記説明では、補正する位置が角膜前面位置（２７０）と網膜位置（２８０）になっているが、角膜後面位置、水晶体前面位置や水晶体後面位置も選択可能である。」、【０００４】「特許文献１及び２に開示されているような従来の眼科装置では、被検眼を検査する際は、被検眼に照射される光の光軸が被検眼の視軸と一致するように調整し、その１つの光軸から得られる干渉信号から被検眼内部の測定対象部位の位置を特定し、特定した位置から前房深度（ＡＣＤ）や眼軸長などの値を算出し、それらの値をモニタなどに表示する」などの記載、及び本件特許に係る出願の願書に添付した図面、例えば、表示画面の１例である図９には、眼軸長、前房深度、レンズ及び角膜厚の測定値が示されていることが見て取れることなどから理解できる。
　よって、訂正事項１は、本件特許に係る出願の願書に添付した明細書、特許請求の範囲及び図面（以下「本件特許明細書等」という。）のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものである。
  
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否
　訂正事項１は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
  
（２）訂正事項２について
  
ア　訂正の目的の適否
　訂正事項２は、「指定手段」が、「前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に含まれる前記測定対象面のうち前記測定対象面間の距離の測定値を算出するための２つの面の位置のそれぞれに対して新たな位置を指定可能」であることを発明特定事項とすることにより、任意に指定する「位置」をより具体的に特定し、さらに限定するものである。
　よって、訂正事項２は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
  
イ　新規事項の有無
　訂正事項２により訂正される内容は、本件特許明細書等の【００３７】「もし、検者が画像表示部２１０の２次元断層画像に表示された被検眼１００の角膜前面位置（２２０）と網膜位置（２３０）が適切ではないと判断した場合は、検者は、再測定をするか、又はキャリパーボタン２４０を押して手動で、被検眼１００の角膜前面位置や網膜位置などを指定して補正することもできる。」、【００１６】「上記のように、本発明にかかる眼寸法測定装置は、得られた複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得し、取得した２次元断層画像から被検眼内部の測定対象部位の位置を特定すると共に、取得した２次元断層画像を表示し、視覚的に測定結果をより精密に評価できるため、より正確な眼軸長などの眼寸法測定が可能になるのである。」、【００４３】「また、上記説明では、補正する位置が角膜前面位置（２７０）と網膜位置（２８０）になっているが、角膜後面位置、水晶体前面位置や水晶体後面位置も選択可能である。」などの記載から理解できる。
　よって、訂正事項２は、本件特許明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものである。
  
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否
　訂正事項２は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
  
（３）訂正事項３について
  
ア　訂正の目的の適否
　訂正事項３は、訂正事項１及び２の訂正に伴って「指定された位置」を「指定された前記新たな位置」に訂正し、「測定値」を「前記測定対象面間の距離の測定値」に訂正することで、特許請求の範囲の記載の整合性を図るものである。
　よって、訂正事項３は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。
  
イ　新規事項の有無
　訂正事項３により訂正される内容は、訂正事項１及び２により訂正される内容と実質的に同じである。
　よって、訂正事項３は、訂正事項１及び２と同じ理由により、本件特許明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものである。
  
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否
　訂正事項３は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
（４）訂正事項４について
ア　訂正の目的の適否
　訂正事項４は、請求項１に訂正前の請求項３に記載の内容を追加するものである。 
　よって、訂正事項４は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
 
イ　新規事項の有無 
　訂正事項４により訂正される内容は、訂正前の請求項３の記載に対応するものであるから、本件特許明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものである。
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否 
　訂正事項４は、発明特定事項の直列的付加に該当するものであり、カテゴリーや対象、目的を変更するものではないから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
（５）訂正事項５について
ア　訂正の目的の適否
　訂正事項５は、請求項３を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
イ　新規事項の有無 
　訂正事項５は、請求項３を削除するものであるから、本件特許明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものである。
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否 
　訂正事項５は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
（６）訂正事項６について 
  
ア　訂正の目的の適否
　訂正事項６は、「光干渉眼寸法測定装置」が、「取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を算出する」ことを発明特定事項とすることにより、眼寸法の「測定値」をより具体的に特定し、さらに限定するものである。
　よって、訂正事項６は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
  
イ　新規事項の有無
　訂正事項６により訂正される内容は、本件特許明細書等の【００３０】「演算装置６４は、受光素子２６からの干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼１００の各部位（角膜１０２の前後面、水晶体１０４の前後面、網膜１０６の表面）の位置を特定し、被検眼１００の眼軸長を算出する。」、【００１６】「上記のように、本発明にかかる眼寸法測定装置は、得られた複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得し、取得した２次元断層画像から被検眼内部の測定対象部位の位置を特定すると共に、取得した２次元断層画像を表示し、視覚的に測定結果をより精密に評価できるため、より正確な眼軸長などの眼寸法測定が可能になるのである。」、【００４３】「また、上記説明では、補正する位置が角膜前面位置（２７０）と網膜位置（２８０）になっているが、角膜後面位置、水晶体前面位置や水晶体後面位置も選択可能である。」、【０００４】「特許文献１及び２に開示されているような従来の眼科装置では、被検眼を検査する際は、被検眼に照射される光の光軸が被検眼の視軸と一致するように調整し、その１つの光軸から得られる干渉信号から被検眼内部の測定対象部位の位置を特定し、特定した位置から前房深度（ＡＣＤ）や眼軸長などの値を算出し、それらの値をモニタなどに表示する」などの記載、及び本件特許明細書等の図面、例えば、表示画面の１例である図９には、眼軸長、前房深度、レンズ及び角膜厚の測定値が示されていることが見て取れることなどから理解できる。
　よって、訂正事項６は、本件特許明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものである。
  
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否
　訂正事項６は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
（７）訂正事項７について 
  
ア　訂正の目的の適否
　訂正事項７は、請求項３の削除に伴い、引用する請求項の記載を訂正するものであるから、 特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。
  
イ　新規事項の有無
　訂正事項７は、請求項３の削除に伴い、引用する請求項の記載を訂正するものであるから、本件特許明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものである。
  
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否
　訂正事項７は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
３　小括 
　上記のとおり、訂正事項１〜７に係る訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号及び第３号に掲げる事項を目的とするものであり、かつ、同条第９項で準用する同法第１２６条第５項及び第６項の規定に適合する。
　したがって、特許請求の範囲を、訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１〜５〕について訂正することを認める。
  
第３　訂正後の本件発明
　上記のとおり本件訂正が認められるから、本件特許の請求項１、２、４及び５に係る発明（以下、それぞれ請求項の番号に応じて「本件発明１」などという。）は、訂正特許請求の範囲の請求項１、２、４及び５に記載された事項により特定される、次のとおりのものである。なお、本件特許の請求項３は、本件訂正により削除されている。
  
（本件発明１） 
「【請求項１】 
　光源からの光が、被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、
　該入射手段を用いて取得される複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得する２次元断層画像取得手段と、
　取得した該２次元断層画像を表示する表示手段を有し、
　取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を算出する光干渉眼寸法測定装置において、
　前記測定対象面は、角膜前面、角膜後面、水晶体前面、水晶体後面及び網膜表面の少なくとも２つであり、
　前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に含まれる前記測定対象面のうち前記測定対象面間の距離の測定値を算出するための２つの面の位置のそれぞれに対して新たな位置を指定可能な指定手段をさらに備え、該指定手段により指定された前記新たな位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を補正し、
　前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに有し、指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示する、光干渉眼寸法測定装置。」
  
（本件発明２） 
「【請求項２】 
　前記入射手段により取得される複数の干渉信号を平均化処置して被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を表示することを特徴とする請求項１に記載の光干渉眼寸法測定装置。」
  
（本件発明４） 
「【請求項４】 
　光源からの光が、被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、
　該入射手段を用いて取得される複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得する２次元断層画像取得手段と、
　取得した該２次元断層画像を表示する表示手段を有し、
　取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を算出する光干渉眼寸法測定装置において、
　前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに備え、該指定手段により指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示することを特徴とする光干渉眼寸法測定装置。」
  
（本件発明５） 
「【請求項５】 
　前記表示手段に被検眼内部の前記１次元画像と前記２次元断層画像を並列して表示することを特徴とする請求項１、２又は４のいずれかに記載の光干渉眼寸法測定装置。」
  
第４　取消理由（決定の予告）の概要
　本件訂正前の請求項１〜５に係る特許に対して、当審が令和２年３月３１日付けで特許権者に通知した取消理由（決定の予告）の概要は、次のとおりである。
 
理由（進歩性）　
１　請求項１に係る発明は、甲第５号証に記載された発明及び甲第１号証に記載された技術事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、請求項１に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。
２　請求項２及び５に係る発明は、甲第５号証に記載された発明、甲第１号証に記載された技術事項及び甲第２号証に記載された技術事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、請求項２及び５に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。
  
第５　甲号証の記載
　申立人が提出した甲第１号証〜甲第７号証（以下「甲１」〜「甲７」という。）は、以下のとおりである。
  
甲１：特開２００８−７３０９９号公報
甲２：特開２０１２−１６１４２５号公報
甲３：特開２００８−１５４９５０号公報
甲４：米国特許出願公開第２００８／０１００６１２号明細書
甲５：特開２０１０−１９１号公報
甲６：特開２０１２−７５６４１号公報
甲７：特開２０１１−２１４９６７号公報
 　 
１　甲１について
（１）本件特許出願前に頒布された甲１には、以下の事項が記載されている（下線は当審で付加した。以下同様。）。
  
（甲１ア） 
「【００７５】 
［全体構成］ 
　この実施形態に係る
眼底観察装置１
眼底カメラユニット１Ａと、
ＯＣＴユニット１５０と、
演算制御装置２００とを含んで構成されている
・・・ 
 【００７７】 
〔眼底カメラユニットの構成〕
　眼底カメラユニット１Ａは、光学的に取得されるデータ（撮像装置１０、１２により検出されるデータ）に基づいて被検眼の眼底の表面の２次元画像を形成する装置であり、図２３に示した従来の眼底カメラ１０００とほぼ同様の外観構成を有している。また、
眼底カメラユニット１Ａは、
被検眼Ｅの眼底Ｅｆを照明する照明光学系１００と、この照明光の眼底反射光を撮像装置１０に導く撮影光学系１２０とを備えている
・・・ 
【００９２】 
　この実施形態の
撮影光学系１２０には、走査ユニット１４１
が設けられている。走査ユニット１４１は、ＯＣＴユニット１５０から出力される光（信号光ＬＳ
）の眼底Ｅｆに対する照射位置を走査するための構成を具備し、
・・・ 
【０１００】 
〔ＯＣＴユニットの構成〕
　次に、図３を参照しつつＯＣＴユニット１５０の構成について説明する。同図に示すＯＣＴユニット１５０は、光学的に取得されるデータ（後述のＣＣＤ１８４により検出されるデータ）に基づいて眼底の断層画像を形成するための装置である。
【０１０１】 
　このＯＣＴユニット１５０は、従来の光画像計測装置とほぼ同様の光学系を備えている。すなわち、
ＯＣＴユニット１５０は、光源から出力された光を参照光と信号光とに分割するとともに、参照物体を経由した参照光と被測定物体（眼底Ｅｆ）を経由した信号光とを重畳して干渉光を生成する干渉計と、この干渉光を検出し、その検出結果としての信号（検出信号）を演算制御装置２００に向けて出力する手段とを具備している
・・・ 
【０１４４】 
（画像形成部） 
　
画像形成部２２０は、眼底カメラユニット１Ａの撮像装置１０、１２からの映像信号に基づいて眼底画像の画像データを形成する処理と、ＯＣＴユニット１５０のＣＣＤ１８４からの検出信号に基づいて眼底Ｅｆの断層画像の画像データを形成する処理とを行う
  
（甲１イ） 
「【０２２２】 
［使用形態］ 
　
以上のような構成を有する眼底観察装置１の使用形態について
【０２２３】 
　
まず、検者は、操作部２４０Ｂを操作して、図１１に示す眼底観察画面４００を表示部２４０Ａに表示させるとともに、眼底画像Ｅｆ′を眼底観察画面４００に表示させる（Ｓ１）
【０２２４】 
　
検者が、操作部２４０Ｂを操作して、表示された眼底画像Ｅｆ′上の画像領域を指定すると（Ｓ２）、断層画像形成部２３１は、画像記憶部２１２に記憶された断層画像Ｇｉ（ｉ＝１〜ｍ）に基づいて、指定された画像領域を断面とする断層画像Ｇを形成する（Ｓ３）。制御部２１０は、この断層画像Ｇを眼底観察画面４００に表示させる（Ｓ４）
・・・ 
【０２３９】 
　
層位置解析部２３２は、断層画像Ｇを解析し、この断層画像Ｇにおける眼底Ｅｆの所定の層の位置（層の境界位置）を求める（Ｓ５）。制御部２１０は、求められた層の位置（境界位置）を示す画像を断層画像Ｇ上に重畳表示させる（Ｓ６）
【０２４０】 
　図１４は、図１１に示した眼底観察画面４００について、ステップＳ６で層の境界位置を示す画像を表示したときの表示態様の一例を表している。図１４に示す眼底観察画面４００の眼底画像Ｇ上には、第１〜第４の層位置画像Ｌ１〜Ｌ４が表示されている。
【０２４１】 
　ここで、第１の層位置画像Ｌ１は、内境界膜（眼底Ｅｆの表皮）に相当する位置を示している。また、第２の層位置画像Ｌ２は、神経繊維層の最深部（神経繊維層と神経節細胞層との境界）に相当する位置を示している。また、第３の層位置画像Ｌ３は、視細胞の内接・外接（内顆粒層と外網状層との境界）に相当する位置を示している。また、第４の層位置画像Ｌ４は、網膜色素上皮層に相当する位置を示している。各層位置画像Ｌ１〜Ｌ４は、断面位置画像Ｔ上の各位置（各画素）毎に表示されている。また、層位置画像Ｌ１〜Ｌ４は、それぞれの表示色を相異させるなどして、各層位置画像Ｌ１〜Ｌ４を識別可能とすることが望ましい。
【０２４２】 
　
続いて、眼底厚演算部２３３は、ステップＳ５で求められた断層画像Ｇにおける眼底Ｅｆの所定の層の位置に基づいて、眼底Ｅｆの所定部位の厚さを演算する（Ｓ７）
【０２４３】 
　このステップＳ７の処理の一例として、図１４に示す第１〜第４の層位置画像Ｌ１〜Ｌ４が得られる場合、眼底厚演算部２３３は、たとえば、第１の層位置画像Ｌ１と第２の層位置画像Ｌ２との間の距離（神経繊維層厚）と、第１の層位置画像Ｌ１と第３の層位置画像Ｌ３との間の距離（網膜厚）と、第１の層位置画像Ｌ１と第４の層位置画像Ｌ４との間の距離（網膜厚）とのうちの少なくともいずれか１つを演算する。
【０２４４】 
　
次に、眼底厚グラフ形成部２３４は、眼底厚演算部２３３による演算結果に基づいて、眼底Ｅｆの所定部位の厚さの分布を示す眼底厚グラフ情報を形成する（Ｓ８）
制御部２１０は、形成された眼底厚グラフ情報を、眼底観察画面４００の眼底厚グラフ表示部４０３に表示させる（Ｓ９）
【０２４５】 
　たとえばステップＳ７において第１の層位置画像Ｌ１と第３の層位置画像Ｌ３との間の距離（網膜厚）が演算された場合、図１１や図１４に示す眼底厚グラフＲＴが形成されて、眼底厚グラフ表示部４０３に表示されることになる。この眼底厚グラフ情報ＲＴは、断層画像Ｇの基準位置（画像の左端位置）からの画素数を定義域として形成されたものである。
【０２４６】 
　なお、図１２に示す眼底厚グラフ情報ＲＴ′は、断面位置画像Ｔ′に対応する断層画像Ｇ′を基にして同様の処理により形成された眼底厚グラフ情報である。また、図１３に示す眼底厚グラフ情報ＲＴ″は、断面位置画像Ｔ″に対応する断層画像Ｇ″を基にして同様の処理により形成された眼底厚グラフ情報である。
【０２４７】 
　以上で、指定された断面位置に対応する断層画像の表示処理、層位置画像の表示処理、眼底厚グラフ情報の表示処理は終了となる。
【０２４８】 
　続いて、図１５に示すフローチャートを参照しつつ、
層位置画像の位置を手作業で変更する
【０２４９】 
　ここで、層位置画像の位置の変更を行う
必要がある場合
【０２５０】 
　そのために
まず、検者は、眼底観察画面４００の編集ボタン４１０を操作部２４０Ｂによって操作する（Ｓ１１）
【０２５１】 
　
制御部２１０は、編集ボタン４１０が操作されたことに対応し、
編集ツールを断層画像表示部４０１に表示させる（Ｓ１２）
【０２５２】 
　層位置画像指定部４２０は、編集対象とする層位置画像を検者が指定するために用いられる。層位置画像指定４２０には、各層位置画像毎に指定欄が設けられている。なお、図１６等において、内境界膜に相当する層位置画像Ｌ１は緑色（Ｇｒｅｅｎ）で表示され、神経繊維層に相当する層位置画像Ｌ２は赤色（Ｒｅｄ）で表示され、視細胞の内接・外接に相当する層位置画像Ｌ３は黄色（Ｙｅｌｌｏｗ）で表示され、網膜色素上皮層に相当する層位置画像Ｌ４は青色（Ｂｌｕｅ）で表示されている。
【０２５３】 
　層位置画像指定部４２０には、層位置画像Ｌ１を指定するための「Ｇｒｅｅｎ」の指定欄と、層位置画像Ｌ２を指定するための「Ｒｅｄ」の指定欄と、層位置画像Ｌ３を指定するための「Ｙｅｌｌｏｗ」の指定欄と、層位置画像Ｌ４を指定するための「Ｂｌｕｅ」の指定欄とが設けられている。検者は、各指定欄をマウス２０６でクリックすることにより、当該層位置画像の指定／指定解除を切り替えることができる。
【０２５４】 
　断層画像切替部４３０は、層位置画像の編集対象とする断層画像Ｇを切り替えるために操作される。断層画像Ｇは所定の順序が付されて保管されている。断層画像切替部４３０を操作することにより、この所定の順序に応じて異なる断層画像Ｇを順次に表示させることができる。たとえば、断層画像Ｇとして断層画像Ｇｉが表示されているときに、表示画像の順序を戻す操作を断層画像切替部４３０で行うと（図１６において左方向を指す三角形のボタンをクリックすると）、一つ前の順序の断層画像Ｇ（ｉ−１）が断層画像表示部４０１に表示される。また、表示画像の順序を進める操作を行うと（右方向を指す三角形のボタンをクリックすると）、一つ後の順序の断層画像Ｇ（ｉ＋１）が表示される。このようにして表示画像が切り替えられると、その断層画像Ｇの識別情報（画像順序等）が断層画像識別情報表示部４４０に表示される。なお、ここで説明した処理は制御部２１０等によって実行される。
【０２５５】 
　
編集ツールが表示されると、検者は、
編集対象とする層位置画像を指定する（Ｓ１３）。また、検者は、
層位置画像に対して編集を施す領域（編集領域）Ｍを指定する（Ｓ１４）
【０２５６】 
　
編集対象の層位置画像と編集領域Ｍとが指定されると、制御部２１０は、指定された層位置画像について、編集領域Ｍ内における部分画像を断層画像表示部４０１から消去する（Ｓ１５）
【０２５７】 
　図１７は、層位置画像指定部４２０の「Ｙｅｌｌｏｗ」の指定欄と「Ｂｌｕｅ」の指定欄とが指定された場合を示しており、「Ｇｒｅｅｎ」、「Ｒｅｄ」に対応する層位置画像Ｌ１、Ｌ２はそのまま表示され、「Ｙｅｌｌｏｗ」、「Ｂｌｕｅ」に対応する層位置画像Ｌ３、Ｌ４は、編集領域Ｍ内の部分が消去されている。
【０２５８】 
　図１８は、この図１７に示す状態における層位置画像Ｌ３、Ｌ４の周辺を表す概略拡大図である。図１８には、マウス２０６によって操作されるマウスポインタＰが記載されている。
【０２５９】 
　
検者は、断層画像Ｇを観察して、
操作部２４０Ｂを操作して、把握した画像位置を断層画像Ｇ上に指定する（Ｓ１６）
【０２６０】 
　より具体的に説明すると、検者がマウス２０６を操作して目的の画像位置にマウスポインタＰを配置させてクリックを行うと、制御部２１０は、その画像位置に点画像Ｑが表示させるとともに、断層画像Ｇ上における当該画像位置の座標値（前述のｘｙｚ座標系）を取得する。検者は、この要領で、視細胞の内接・外接に相当する画像位置を複数指定する（図１９参照）。
【０２６１】 
　
制御部２１０は、指定された画像位置を結ぶ画像を編集領域Ｍ内に形成して表示させる（Ｓ１７）
【０２６２】 
　図１９の紙面左方向から右方向に向かって画像位置を順次に指定していく場合に（ステップＳ１６）、編集領域Ｍの右端から所定距離（所定ピクセル数）以内の領域に画像位置が指定されたことに対応して、制御部２１０は、それまでに指定された複数の画像位置を結ぶように画像（編集画像）Ｌ３′を形成して表示させる（図２０参照）。
【０２６３】 
　このとき、制御部２１０は、編集領域Ｍの左端、右端における層位置画像Ｌ３の位置に編集画像Ｌ３′の端部を合わせるようにして編集画像Ｌ３′を形成する。すなわち、制御部２１０は、編集領域Ｍの左端、右端において層位置画像Ｌ３と編集画像Ｌ３′とが滑らかに接続するように編集画像Ｌ３′を形成する。
【０２６４】 
　このようにして層位置画像Ｌ３を変更することができる。層位置画像Ｌ４についても同様にして変更することができる。以上で、層位置画像の位置を手作業で変更するときの眼底観察装置１の使用形態の説明を終了する。」
  
（甲１ウ） 
「【０２６５】 
［作用・効果］ 
　以上のような眼底観察装置１の作用及び効果について説明する。
【０２６６】 
　この眼底観察装置１は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面の２次元画像（眼底画像Ｅｆ′）を形成する機能と、眼底Ｅｆの断層画像Ｇｉを形成する機能とを備えている。更に、眼底観察装置１は、表示部２４０Ａに表示された眼底画像Ｅｆ′の画像領域が操作部２４０Ｂにより指定されたときに、断層画像Ｇｉに基づいて、指定された画像領域に対応する断面を有する断層画像Ｇを形成するとともに、この断層画像Ｇにおける眼底Ｅｆの所定の層の位置を求めるように作用する。そして、眼底観察装置１は、眼底画像Ｅｆ′及び指定された画像領域を示す断面位置画像Ｔと、断層画像Ｇ及び上記所定の層の位置を示す層位置画像Ｌ１〜Ｌ４とを並べて表示部２４０Ａに表示させるように作用する。
【０２６７】 
　ここで、断面位置画像Ｔは、この発明の「指定位置情報」の一例に相当する。また、層位置画像Ｌ１〜Ｌ４は、この発明の「層位置情報」及び「線状画像」の一例に相当するものである。
【０２６８】 
　このような眼底観察装置１によれば、検者は、眼底画像Ｅｆ′と、断層画像Ｇと、眼底画像Ｅｆ′上における断層画像Ｇの位置と、眼底画像Ｇにおける所定の層の位置とを把握することができるので、眼底Ｅｆの表面の状態と深層組織の状態の双方を詳細に観察して把握することが可能である。
【０２６９】 
　また、この眼底観察装置１は、断層画像Ｇにおける眼底の所定の層の位置に基づいて、操作部２４０Ｂにより指定された眼底画像Ｅｆ′上の画像領域の各位置における眼底Ｅｆの所定部位の厚さを演算するように作用する。ここで、眼底Ｅｆの所定部位とは、前述のように、眼底Ｅｆの複数の層のうちの１つ以上の層の部位を意味している。
【０２７０】 
　このような作用を奏する眼底観察装置１によれば、指定された画像領域の各位置における眼底Ｅｆの所定部位の厚さを求めることができるので、眼底Ｅｆの層の厚さを４分円にて呈示する従来の装置と比較して、眼底Ｅｆの層の厚さを高い精度で計測することが可能である。
【０２７１】 
　更に、眼底観察装置１によれば、指定された眼底画像Ｅｆ′上の画像領域の各位置における眼底Ｅｆの所定部位の厚さを示す眼底厚グラフ情報ＲＴを表示部２４０Ａに表示させるように作用することから、上記のように高い精度で計測された眼底Ｅｆの層の厚さを分かり易く表示できるとともに、従来の４分円による表示態様よりも高い精度で眼底Ｅｆの層の厚さの計測結果を呈示することができる。
【０２７２】 
　また、眼底観察装置１は、表示部２４０Ａに表示された層位置情報（層位置画像Ｌ１〜Ｌ４）の表示位置が操作部２４０Ｂにより変更されたときに、
変更後の層位置情報が示す眼底Ｅｆの所定の層の位置に基づいて、眼底Ｅｆの所定部位の厚さを演算する
更に、層位置情報変更後の眼底Ｅｆの所定部位の厚さの演算結果を同様の眼底厚グラフ情報として呈示する
【０２７３】 
　このような作用を奏する眼底観察装置１によれば、眼底血管の影響等により断層画像Ｇの一部が不明瞭である場合などにおいて、眼底観察装置１が層位置情報を高精度で検出できない場合であっても、検者が眼底画像Ｇを参照しつつ層位置情報の位置を変更できるので、眼底Ｅｆの層の位置ないしは所定部位の厚さを高い精度で求めることができ、検者に呈示することができる。」
  
（甲１エ）図１ 
（甲１オ）図３ 
（甲１カ）図５ 
（甲１キ）図７ 
（図１ク）図１１
（甲１ケ）図１４
（甲１コ）図１６
（甲１サ）図１７
（甲１シ）図１８
（甲１ス）図１９
（甲１セ）図２０
  
（２）甲１に記載された技術事項
　上記（甲１カ）図５及び上記（甲１キ）図７から、演算制御装置２００は、制御部２１０（主制御部２１１、画像記憶部２１２）、画像形成部２２０、画像処理部２３０（断層画像形成部２３１、層位置解析部２３２、眼底厚演算部２３３、眼底厚グラフ形成部２３４）、ＵＩ２４０（操作部２４０Ｂ、表示部２４０Ａ）を含むことが見て取れることから、上記（１）の記載及び図面を総合すると、甲１には、次の技術事項が記載されているものと認められる。
  
「眼底カメラユニット１Ａと、ＯＣＴユニット１５０と、演算制御装置２００とを含んで構成され、
　眼底カメラユニット１Ａは、照明光学系１００と撮影光学系１２０とを備え、
　撮影光学系１２０には、走査ユニット１４１が設けられ、走査ユニット１４１は、ＯＣＴユニット１５０から出力される光（信号光ＬＳ）の眼底Ｅｆに対する照射位置を走査するための構成を具備し、
　ＯＣＴユニット１５０は、光源から出力された光を参照光と信号光とに分割するとともに、参照物体を経由した参照光と被測定物体（眼底Ｅｆ）を経由した信号光とを重畳して干渉光を生成する干渉計と、この干渉光を検出し、その検出結果としての信号（検出信号）を演算制御装置２００に向けて出力する手段とを具備し、
　演算制御装置２００は、制御部２１０（主制御部２１１、画像記憶部２１２）、画像形成部２２０、画像処理部２３０（断層画像形成部２３１、層位置解析部２３２、眼底厚演算部２３３、眼底厚グラフ形成部２３４）、ＵＩ２４０（操作部２４０Ｂ、表示部２４０Ａ）を含んで構成され、画像形成部２２０は、眼底カメラユニット１Ａの撮像装置１０、１２からの映像信号に基づいて眼底画像の画像データを形成する処理と、ＯＣＴユニット１５０のＣＣＤ１８４からの検出信号に基づいて眼底Ｅｆの断層画像の画像データを形成する処理とを行う、眼底観察装置１であって、
　まず、検者は、操作部２４０Ｂを操作して、眼底観察画面４００を表示部２４０Ａに表示させるとともに、眼底画像Ｅｆ′を眼底観察画面４００に表示させ（Ｓ１）、検者が、操作部２４０Ｂを操作して、表示された眼底画像Ｅｆ′上の画像領域を指定すると（Ｓ２）、断層画像形成部２３１は、画像記憶部２１２に記憶された断層画像Ｇｉ（ｉ＝１〜ｍ）に基づいて、指定された画像領域を断面とする断層画像Ｇを形成し（Ｓ３）、制御部２１０は、この断層画像Ｇを眼底観察画面４００に表示させ（Ｓ４）、層位置解析部２３２は、断層画像Ｇを解析し、この断層画像Ｇにおける眼底Ｅｆの所定の層の位置（層の境界位置）を求め（Ｓ５）、制御部２１０は、求められた層の位置（境界位置）を示す画像を断層画像Ｇ上に重畳表示させ（Ｓ６）、続いて、眼底厚演算部２３３は、ステップＳ５で求められた断層画像Ｇにおける眼底Ｅｆの所定の層の位置に基づいて、眼底Ｅｆの所定部位の厚さを演算し（Ｓ７）、次に、眼底厚グラフ形成部２３４は、眼底厚演算部２３３による演算結果に基づいて、眼底Ｅｆの所定部位の厚さの分布を示す眼底厚グラフ情報を形成し（Ｓ８）、制御部２１０は、形成された眼底厚グラフ情報を、眼底観察画面４００の眼底厚グラフ表示部４０３に表示させ（Ｓ９）、
　層位置画像の位置を手作業で変更する必要がある場合、
　まず、検者は、眼底観察画面４００の編集ボタン４１０を操作部２４０Ｂによって操作し（Ｓ１１）、制御部２１０は、編集ボタン４１０が操作されたことに対応し、編集ツールを断層画像表示部４０１に表示させ（Ｓ１２）、編集ツールが表示されると、検者は、編集対象とする層位置画像を指定し（Ｓ１３）、また、検者は、層位置画像に対して編集を施す領域（編集領域）Ｍを指定し（Ｓ１４）、編集対象の層位置画像と編集領域Ｍとが指定されると、制御部２１０は、指定された層位置画像について、編集領域Ｍ内における部分画像を断層画像表示部４０１から消去し（Ｓ１５）、検者は、断層画像Ｇを観察して、操作部２４０Ｂを操作して、把握した画像位置を断層画像Ｇ上に指定し（Ｓ１６）、制御部２１０は、指定された画像位置を結ぶ画像を編集領域Ｍ内に形成して表示させ（Ｓ１７）、変更後の層位置情報が示す眼底Ｅｆの所定の層の位置に基づいて、眼底Ｅｆの所定部位の厚さを演算し、更に、層位置情報変更後の眼底Ｅｆの所定部位の厚さの演算結果を同様の眼底厚グラフ情報として呈示する、
　眼底観察装置１。」
  
２　甲２について
（１）本件特許出願前に頒布された甲２には、以下の事項が記載されている。
  
（甲２ア） 
「【０００６】 
　本明細書に開示する
眼科装置は、
演算装置と、を有している
  
（甲２イ） 
「【実施例１】 
【００１４】 
　図１に示すように、本実施例の
眼科装置
被検眼１００から反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系１４
を有している
【００１５】 
　
干渉光学系１４は、光源１２と、光源１２からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源１２からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した干渉光を受光する受光素子２６によって構成されている
【００１６】 
　光源１２は、波長掃引型の光源であり、出射される光の波長が所定の周期で変化するようになっている。光源１２から出射される光の波長が変化すると、出射される光の波長に対応して、被検眼１００の深さ方向の各部位から反射される光のうち参照光と干渉を生じる反射光の反射位置が被検眼の深さ方向に変化する。このため、出射される光の波長を変化させながら干渉光を測定することで、被検眼１００の内部の各部位（すなわち、水晶体１０４や網膜１０６）の位置を特定することが可能となる。
【００１７】 
　
測定光学系は、ビームスプリッタ２４と、ミラー２８と、０点調整機構３０と、ミラー３４と、焦点調整機構４０と、入射角調整機構４６と、ホットミラー４８によって構成されている
【００１８】 
　参照光学系は、ビームスプリッタ２４と参照ミラー２２によって構成されている。光源１２から出射された光の一部は、ビームスプリッタ２４で反射され、参照ミラー２２に照射され、参照ミラー２２によって反射される。参照ミラー２２で反射された光は、ビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。参照ミラー２２とビームスプリッタ２４と受光素子２６は、干渉計２０内に配置され、その位置が固定されている。このため、本実施例の眼科装置では、参照光学系の参照光路長は一定で変化しない。
【００１９】 
　受光素子２６は、参照光学系により導かれた光と測定光学系により導かれた光とを合成した干渉光を検出する。受光素子２６としては、例えば、フォトダイオードを用いることができる。
・・・ 
【００２３】 
　
入射角調整機構４６は、ガルバノミラー４６ａ
を備えている
ガルバノミラー４６ａの振り角θに応じて、角膜１０２への光の入射位置と入射角が変化し、それによって、水晶体１０４への光の入射位置と入射角が変化し、さらに、網膜への光の入射位置も変化する
  
（甲２ウ） 
「【００２６】 
　次に、本実施例の眼科装置の制御系の構成を説明する。図２に示すように、眼科装置は演算装置６４によって制御される。演算装置６４は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成されている。演算装置６４には、光源１２と、第１〜第４駆動装置５４〜６０と、モニタ６２と、観察光学系５０が接続されている。演算装置６４は、光源１２のオン／オフを制御し、第１〜第４駆動装置５４〜６０を制御することで各機構１６，３０，４０，４６を駆動し、また、観察光学系５０を制御して観察光学系５０で撮像される前眼部像をモニタ６２に表示する。また、
演算装置６４には、受光素子２６が接続され、受光素子２６で検出される干渉光の強度に応じた干渉信号が入力する
  
（甲２エ） 
「【００２７】 
　次に、本実施例の眼科装置を用いて眼軸長を測定する際の手順を説明する。図８に示すように、まず、検査者は図示しないジョイスティック等の操作部材を操作して、被検眼１００に対して測定部１０の位置合わせを行う（Ｓ１０）。すなわち、演算装置６４は、検査者の操作部材の操作に応じて、第１駆動装置５４により位置調整機構１６を駆動する。これによって、被検眼１００に対する測定部１０のｘｙ方向（縦横方向）の位置とｚ方向（進退動する方向）の位置が調整される。また、演算装置６４は、第２，第３駆動装置５６，５８を駆動して、０点調整機構３０及び焦点調整機構４０を調整する。これによって、光源１２から被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の所定の位置（例えば、角膜１０２の前面）となり、また、物体光路長と参照光路長が一致する０点の位置が被検眼１００の所定の位置（例えば、角膜１０２の前面）となる。
【００２８】 
　次に、演算装置６４は、第４駆動装置６０を駆動して、ガルバノミラー４６ａを走査角範囲内の１の走査角に調整する（Ｓ１２）。これによって、光源１２からの光は、調整された走査角に対応した入射位置及び入射角度で被検眼１００に入射することとなる。
【００２９】 
　ガルバノミラー４６ａの調整が終わると、演算装置６４は、光源１２から照射される光の周波数を変化させながら、受光素子２６で検出される信号を取り込む（Ｓ１４）。既に説明したように、光源１２から照射される光の周波数を変化させると、測定光と参照光とが干渉して干渉波を生じる位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。このため、受光素子２６から出力される干渉信号は、図６に示すように、信号強度が時間によって変化する信号となり、この信号には被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）から反射された各反射光と参照光とを合成した干渉波による信号となる。そこで、演算装置６４は、受光素子２６から入力する信号をフーリエ変換することで、その信号から被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）から反射された反射光による干渉信号成分を分離する。これにより、演算装置６４は、被検眼１００の各部の位置を特定することができる。なお、光源１２から照射される光の周波数を変化させることで、干渉波が生じる位置を被検眼１００の深さ方向に変化させることを、本明細書ではＡスキャンという。
【００３０】 
　次に、演算装置６４は、上述したステップＳ１４の測定を、全ての走査角（すなわち、全ての入射位置及び入射角）について実施したか否かを判断する（Ｓ１６）。全ての走査角についてステップＳ１４の測定を実施していない場合（ステップＳ１６でＮＯ）は、ステップＳ１２に戻って、ステップＳ１２からの処理が繰り返される。これによって、ガルバノミラー４６ａを走査する各走査角について、Ａスキャンにより得られる干渉信号が取得される。なお、ガルバノミラー４６ａの走査角（振り角θ）を変化させることで、光源１２からの光が入射する位置および入射角度を変化させることを、本明細書ではＢスキャンという。
【００３１】 
　全ての走査角についてステップＳ１４の測定を実施している場合（ステップＳ１６でＹＥＳ）は、
演算装置６４は、各走査角について得られた干渉信号から、
各走査角についてステップＳ１４の処理を実行すると、各走査角について干渉信号の情報（Ａスキャン情報）が取得される
各走査角の数（ｎ個）だけ干渉信号情報（Ａスキャン情報）が並んだ２次元情報が得られる。このため、演算装置６４は、各干渉信号情報に含まれる被検眼１００の各部位（すなわち、角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）の位置情報の平均値を算出することで、被検眼１００の各部位の位置を特定する。被検眼１００の各部位の位置が特定できると、演算装置６４は、被検眼１００の眼軸長を算出する。このように算出された被検眼１００の各部位の位置及び眼軸長は、モニタ６２に表示される
【００３２】 
　上述の説明から明らかように、本実施例に係る眼科装置では、ガルバノミラー４６ａの振り角θを走査することで、被検眼１００への光の入射位置及び入射角度を所定の範囲で走査する。そして、
ガルバノミラー４６ａの各走査角（振り角θ）
  
（甲２オ） 
「【００３８】 
　また、上述した実施例では、Ａスキャン及びＢスキャンをすることにより得られた二次元情報を単純に平均することで、被検眼１００の各部位の位置を特定したが、このような方法に限られない。例えば、網膜１０６とその他の部位（角膜１０２、水晶体１０４）を特定する場合とで、その方法を変更してもよい。すなわち、網膜１０６からの反射光による干渉信号は、Ｂスキャンによる依存性が小さい。網膜１０６では入射した光が拡散反射するため、入射角による依存性は小さいためである。そこで、網膜１０６の位置を特定する際は、全ての走査角について得られた位置情報を加算して平均を取ることで、網膜１０６の位置を特定する。全ての走査角について得られた位置情報を加算することで、ノイズが除去され、Ｓ／Ｎ比を向上することができる。一方、角膜１０２や水晶体１０４からの反射光による干渉信号は、Ｂスキャンによる依存性が大きい。角膜１０２や水晶体１０４では、入射した光が鏡面反射するためである。そこで、角膜１０２や水晶体１０４の位置を特定する際は、干渉信号の強度が強くなる角度範囲について得られた位置情報のみを加算して平均値を取ることで、角膜１０２や水晶体１０４の位置を特定する。これによって、Ｂスキャンの影響を低減し、角膜１０２と水晶体１０４の位置を精度良く特定することができる。
【００３９】 
　また、上述した実施例では、検査者が操作部材を操作することで測定部１０の位置を調整したが、眼科装置が被検眼１００に対して測定部１０の位置を自動調整する機構を有していてもよい。さらに、上述した実施例は、フーリエドメイン方式の干渉計を利用した例であったが、タイムドーメイン方式の干渉計を利用してもよい。」
  
（甲２カ）図１ 
（甲２キ）図７ 
  
（２）甲２に記載された技術事項
　上記（１）の記載及び図面を総合すると、甲２には、次の技術事項が記載されているものと認められる。
  
「被検眼１００から反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系１４と、演算装置６４とを有している眼科装置であって、
　干渉光学系１４は、光源１２と、光源１２からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源１２からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した干渉光を受光する受光素子２６によって構成されており、
　測定光学系は、ビームスプリッタ２４と、ミラー２８と、０点調整機構３０と、ミラー３４と、焦点調整機構４０と、入射角調整機構４６と、ホットミラー４８によって構成されており、
　入射角調整機構４６は、ガルバノミラー４６ａを備えており、ガルバノミラー４６ａの振り角θに応じて、角膜１０２への光の入射位置と入射角が変化し、それによって、水晶体１０４への光の入射位置と入射角が変化し、さらに、網膜への光の入射位置も変化し、
　演算装置６４には、受光素子２６が接続され、受光素子２６で検出される干渉光の強度に応じた干渉信号が入力し、
　演算装置６４は、ガルバノミラー４６ａの各走査角（振り角θ）について得られた干渉信号から、各走査角について干渉信号の情報（Ａスキャン情報）が取得され、各走査角の数（ｎ個）だけ干渉信号情報（Ａスキャン情報）が並んだ２次元情報が得られ、このため、演算装置６４は、各干渉信号情報に含まれる被検眼１００の各部位（すなわち、角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）の位置情報の平均値を算出することで、被検眼１００の各部位の位置を特定し、被検眼１００の各部位の位置が特定できると、演算装置６４は、被検眼１００の眼軸長を算出し、このように算出された被検眼１００の各部位の位置及び眼軸長は、モニタ６２に表示される、
　眼科装置。」 
  
３　甲３について
　本件特許出願前に頒布された甲３には、以下の事項が記載されている。
  
（甲３ア） 
「【００３７】 
　また、眼底画像処理装置１は、通常のコンピュータと同様に、ディスプレイ２０３、キーボード２０４、マウス２０５を備えている。
 ・・・ 
【００８１】 
　眼底画像位置合わせ画面３３００には、立体眼底カメラの左側の撮影光学系により撮影された眼底画像ＧＬと、右側の撮影光学系により撮影された眼底画像ＧＲとが並んで表示される。オペレータは、左右の眼底画像ＧＬ、ＧＲのそれぞれに、位置合わせ用の枠ＦＬ、ＦＲをそれぞれ入力する。各枠ＦＬ、ＦＲの位置やサイズは、たとえば、マウス２０５のドラッグ操作によって調整するようになっている。
・・・ 
【００８８】 
　このように左右の眼底画像ＧＬ、ＧＲを立体視した状態において、オペレータは、操作部１５２を操作して視神経乳頭領域を指定する。図１２に示す眼底画像表示画面３４００中の符号Ｄは、左右の眼底画像ＧＬ、ＧＲを交互に表示して得られる立体眼底画像ＧＬＲ上に指定された視神経乳頭領域（の外縁）を表している。立体眼底画像ＧＬＲは、実際には、左右の眼底画像ＧＬ、ＧＲを交互に視認するオペレータの脳内においてのみ認識される画像である。
・・・ 
【００９３】 
（ステップ６：陥凹領域の指定）
　視神経乳頭領域Ｄの指定が終了したら、オペレータは、視神経乳頭領域Ｄ内に陥凹領域を指定する。陥凹領域の指定は、視神経乳頭領域Ｄと同様の操作によって行うことができる。
・・・ 
【００９７】 
（ステップ７：Ｃ／Ｄ比の算出）
　立体眼底画像ＧＬＲに視神経乳頭領域Ｄと陥凹領域Ｃが指定されると、画像解析部１３のＣ／Ｄ比演算部１３３は、位置特定部１２により特定された視神経乳頭領域（の外縁）Ｄに対応する部位及び陥凹領域（の外縁）Ｃに対応する部位とに基づき、前述のようにして、垂直Ｃ／Ｄ比Ｃ／Ｄ（ｖ１）、Ｃ／Ｄ（ｖ２）と、水平Ｃ／Ｄ比Ｃ／Ｄ（ｈ１）、Ｃ／Ｄ（ｈ２）とをそれぞれ算出する。
【００９８】 
（ステップ８：Ｒ／Ｄ比の算出）
　更に、画像解析部１３のＲ／Ｄ比演算部１３１は、位置特定部１２により特定された視神経乳頭領域（の外縁）Ｄに対応する部位及び陥凹領域（の外縁）Ｃに対応する部位とに基づき、前述のようにして複数個（たとえば５度間隔の７２個）のＲ／Ｄ比Ｒ／Ｄ（ｉ）を算出する。
・・・ 
【０１１０】 
　なお、乳頭外縁画像や陥凹外縁画像は、オペレータにより指定された視神経乳頭領域の外縁Ｄや陥凹領域の外縁Ｃに基づいて位置特定部１２が特定した眼底画像ＧＲ上の部位の位置を表す画像であり、この発明の「画像情報」の一例に相当するものである。
・・・ 
【０１４６】 
　また、既に設定された視神経乳頭領域の外縁や陥凹領域の外縁を適宜に修正できるように構成することが可能である。たとえば、既に設定されて表示されている外縁の一部をマウス２０５によりドラッグすることにより、外縁の位置を修正するように構成することができる。外縁の位置が修正されたときに、この新たな外縁位置に基づいてＣ／Ｄ比やＲ／Ｄ比や面積や面積比などを再度演算して、その演算結果を表示することが可能である。また、グラフ情報や画像情報についても再度求めて表示することが可能である。なお、このような修正は、図１３、図１４に示した操作ボタン３５３０、３６３０のうちの修正ボタンをクリックして開始するようになっている。」
  
（甲３イ）図１３
（甲３ウ）図１４
４　甲４について
　本件特許出願前に頒布された甲４には、以下の事項が記載されている。原文に続き当審訳を記す。
  
（甲４ア） 
「[0128]　Nominally, a volume is composed of a collection of B-scans. One segmentation methodology segments each B-scan separately associating a segmentation confidence with each segmented point of the B-scan. Just as the individual segmentations can be joined to provide a segmentation map, the resulting confidences can be arranged in a confidence map. A suspect point of a confidence map is a point where the confidence map has a low confidence value in a region of interest. A suspect region of a confidence map is a region where the confidence map has low confidence values through out. When a confidence region is suspect, the segmented image and the suspect segmentation of that image are displayed. It is useful to display both the image and the segmentation in a single viewport, with the segmentation overlaid on the image. For improved visualization of the image, the segmentation overlay can be transparent. The flow diagram of FIG. 15 illustrates this process. If the segmentation appears visually incorrect, the user enables a segmentation editor and modifies 880 the segmentation for that image.」
当審訳 
「［０１２８］　名目上、ボリュームはＢ−スキャンの集まりで構成されている。１つのセグメントの方法は各Ｂスキャンを別々にセグメント化し、セグメンテーション信頼度Ｂスキャンの各セグメント化ポイントと関連付ける。個々のセグメンテーションを結合してセグメンテーションマップを提供できるように、結果として得られる信頼度を信頼度マップに配置することができる。信頼度マップの疑わしい点は、信頼度マップが関心領域において低い信頼値を有する点である。信頼マップの疑わしい領域は、信頼性マップが、全体を通して低い信頼値を有する領域である。信頼領域が疑わしい場合、セグメント化された画像とその画像の疑わしいセグメントが表示される。画像とセグメンテーションの両方を単一のビューポイントに表示し、セグメンテーションを画像の上に重ねて表示することは有用である。画像の視覚化を改善するために、セグメンテーションオーバーレイを透明にすることができる。図１５のフローチャートはこのプロセスを示している。セグメンテーションが視覚的に正しくないように見える場合、ユーザはセグメンテーションエディタを有効にし、その画像のセグメンテーションを修正する（８８０）。」 
  
（甲４イ） 
「[0134]　For example, the user is presented a summary image display such as an OCT en-face image, a thickness map, or a 3-D rendering of the layer segmentation. The user selects a B-scan from the image volume and the B-scan is displayed, including the segmentation results overlaying the B-scan image within the selected image display. The user selects one or more segmentation locations within the display, identifying modifications to the segmentation. (If there is only one segmentation layer within the display being reviewed, there is no ambiguity regarding which segmentation is being modified.)」 
当審訳 
「［０１３４］　例えば、ＯＣＴ正面画像、厚さマップ、または層分割の３−Ｄレンダリングなどのサマリー画像表示がユーザに提示される。ユーザは画像ボリュームからのＢスキャンを選択し、選択された画像表示内でＢスキャン画像をオーバーレイするセグメンテーション結果を含むＢスキャンが表示される。ユーザは、表示内の１つ以上のセグメンテーション位置を選択し、セグメンテーションに対する修正を識別する。（レビューされているディスプレイ内にセグメンテーションレイヤが１つしかない場合、どのセグメンテーションが変更されているかに関する曖昧さはない。）」
  
５　甲５について
（１）本件特許出願前に頒布された甲５には、以下の事項が記載されている。
  
（甲５ア） 
「【００３６】 
［構成］ 
　
光画像計測装置１
眼底カメラユニット１Ａ、ＯＣＴユニット１５０及び演算制御装置２００を含んで構成される
  
（甲５イ） 
「【００５１】 
　
眼底カメラユニット１Ａには、走査ユニット１４１
が設けられている。走査ユニット１４１は、ＯＣＴユニット１５０から出力される信号光ＬＳの被検眼Ｅ（たとえば眼底Ｅｆ）に対する照射位置を走査する
  
（甲５ウ） 
「【００６４】 
〔ＯＣＴユニット〕
　ＯＣＴユニット１５０の構成について図４を参照しつつ説明する。ＯＣＴユニット１５０は、従来のフーリエドメインタイプの光画像計測装置と同様の光学系を備えている。すなわち、
ＯＣＴユニット１５０は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成する光学系と、この干渉光を検出する検出手段とを備えている
【００６５】 
　
低コヒーレンス光源１６０は、広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する
・・・ 
【００７８】 
　信号光ＬＳは、光ファイバ１５２ａにより導光されて眼底カメラユニット１Ａに案内される。更に、信号光ＬＳは、レンズ１４２、走査ユニット１４１、ダイクロイックミラー１３４、撮影レンズ１２６、リレーレンズ１２５、ハーフミラー１９０、変倍レンズ１２４、撮影絞り１２１、孔開きミラー１１２の孔部１１２ａ、対物レンズ１１３を経由して被検眼Ｅに照射される。なお、信号光ＬＳを被検眼Ｅに照射させる際には、バリアフィルタ１２２、１２３は事前に光路から退避される。このとき、ハーフミラー１９０も光路から退避させてもよい。
【００７９】 
　
被検眼Ｅに入射した信号光ＬＳは、
角膜Ｅｃの前面だけでなく、角膜Ｅｃの後面や角膜細胞の層の境界などにおいても反射される
被検眼Ｅを経由した信号光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な部位の前面や後面の形態を反映する情報と、その深層組織の屈折率境界における後方散乱の状態を反映する情報とを含んでいる
・・・ 
【００８２】 
　スペクトロメータ（分光計）１８０は、干渉光ＬＣのスペクトル成分を検出する。スペクトロメータ１８０は、コリメータレンズ１８１、回折格子１８２、結像レンズ１８３、ＣＣＤ１８４を含んで構成される。回折格子１８２は、透過型でも反射型でもよい。また、ＣＣＤ１８４に代えて、ＣＭＯＳ等の他の光検出素子（ラインセンサやエリアセンサ）を用いることも可能である。
【００８３】 
　スペクトロメータ１８０に入射した干渉光ＬＣは、コリメータレンズ１８１により平行光束とされ、回折格子１８２によって分光（スペクトル分解）される。分光された干渉光ＬＣは、結像レンズ１８３によってＣＣＤ１８４の撮像面上に結像される。ＣＣＤ１８４は、分光された干渉光ＬＣの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。ＣＣＤ１８４は、この電荷を蓄積して検出信号を生成する。更に、ＣＣＤ１８４は、この検出信号を演算制御装置２００に送る。
スペクトロメータ１８０（特にＣＣＤ１８４）は、この発明の「検出手段」
  
（甲５エ） 
「【００８５】 
〔演算制御装置〕
　演算制御装置２００の構成について説明する。演算制御装置２００は、ＣＣＤ１８４から入力される検出信号を解析して被検眼ＥのＯＣＴ画像を形成する。ＯＣＴ画像の形成対象部位としては、眼底Ｅｆ、角膜Ｅｃ、水晶体などがある。ＯＣＴ画像を形成するための演算処理は、従来のフーリエドメインタイプの光画像計測装置と同様である。」
  
（甲５オ） 
「【０１００】 
（画像形成部） 
　画像形成部２２０は、撮像装置１０、１２からの映像信号を受けて眼底画像Ｅｆ′の画像データを形成する。
【０１０１】 
　また、
画像形成部２２０は、
・・・ 
【０１０７】 
　
干渉成分抽出部２２１は、ＣＣＤ１８４から出力された検出信号
【０１０８】 
　干渉成分抽出部２２１は、（必要に応じてノイズを除去した後、）
検出信号に含まれる
抽出された
眼底成分と角膜成分
【０１０９】 
　
眼底成分と角膜成分が抽出されると、画像形成部２２０は、眼底成分に基づいて眼底Ｅｆの断層画像を形成するとともに、角膜成分に基づいて角膜Ｅｃの断層画像を形成する
  
（甲５カ） 
「【０１１８】 
（眼内距離演算部）
　眼内距離演算部２３２は、被検眼Ｅの複数の断層画像のうちの一の断層画像中の位置と他の断層画像中の位置との間の距離を求める。特に、この実施形態では、眼内距離演算部２３２は、眼底Ｅｆの断層画像（眼底断層画像）と角膜Ｅｃの断層画像（角膜断層画像）を解析して、被検眼Ｅの角膜網膜間距離を求める。以下、眼内距離演算部２３２が実行する処理の例を説明する。
【０１１９】 
　なお、眼内距離演算部２３２は、角膜網膜間距離以外にも、被検眼Ｅの任意の眼内距離を求めることが可能である。ここで、眼内距離には、被検眼Ｅの内部の二点間の距離、被検眼Ｅの表面の一点と内部の一点との間の距離、及び、被検眼Ｅの表面の二点間の距離が含まれるものとする。
【０１２０】 
　さて、眼内距離演算部２３２は、まず、眼底断層画像と角膜断層画像とを取得するための同時計測が実行されたときの、参照光ＬＲａと参照光ＬＲｂとの光路長差を取得する。この光路長差は、たとえば、二つの参照ミラー１７４ａ、１７４ｂの位置から取得することができる。
【０１２１】 
　なお、前述したように、同時計測時には、参照ミラー１７４ａ、１７４ｂの光路長差は、角膜網膜間距離（眼軸長等）の標準値にほぼ等しくなるように設定することができる。この場合、眼内距離演算部２３２により取得される光路長差は角膜網膜間距離の標準値となる。
【０１２２】 
　光路長差の他の取得方法として、同時計測時における各参照ミラー１７４ａ、１７４ｂの位置に基づいて光路長差を求めることもできる。各参照ミラー１７４ａ、１７６ｂの位置は、たとえば、主制御部２１１から各参照ミラー駆動機構１７６ａ、１７６ｂに送られたパルス信号のパルス数を基に取得することができる。また、各参照ミラー１７４ａ、１７４ｂの位置を位置センサで検出するようにしてもよい。
【０１２３】 
　参照光ＬＲａ、ＬＲｂの光路長差を取得した眼内距離演算部２３２は、この光路長差の値を、眼球光学系の屈折率で除算する。この屈折率としては、たとえば眼球光学情報２１２ａに記録された値（標準値、測定値）を用いることが可能である。この演算により、光路長差で表現された光学的距離が、空間的な距離に変換される。
【０１２４】 
　続いて、眼内距離演算部２３２は、求められた空間的な距離と、眼底断層画像及び角膜断層画像とに基づいて、被検眼Ｅの角膜網膜間距離を求める。この演算処理について以下に説明する。
【０１２５】 
　上記の空間的な距離は、眼底断層画像と角膜断層画像との間の距離にほぼ等しい。すなわち、上記の空間的な距離は、眼底断層画像が描写されるフレーム中の所定位置（たとえばフレームの上端）と、角膜断層画像が描写されるフレーム中の所定位置（前者と同じ位置）との深度方向における間隔にほぼ等しい。この関係を考慮することにより、双方の断層画像を同じ座標系（特にｚ座標）で表現することが可能となる。
【０１２６】 
　
眼内距離演算部２３２は、眼底断層画像を解析して内境界膜（網膜表面）に相当する画像領域（内境界膜領域）を特定するとともに、角膜断層画像を解析して角膜表面に相当する画像領域（角膜表面領域）を特定する
眼底断層画像や角膜断層画像を表示させ、この表示画像上にオペレータが手作業で内境界膜領域や角膜表面領域を指定するようにしてもよい（以下の処理についても同様である）
【０１２７】 
　
次に、眼内距離演算部２３２は、
内境界膜領域中の一点（たとえば視神経乳頭中心や黄斑中心等の特徴点）を特定する
【０１２８】 
　
続いて、眼内距離演算部２３２は、内境界膜領域中の上記の一点と同じｘ座標値（及び／又はｙ座標値）を有する、角膜表面領域中の一点を特定する
【０１２９】 
　
そして、眼内距離演算部２３２は、
内境界膜領域中の上記一点の座標値と、角膜表面領域中の上記一点の座標値とに基づいて、これら二点間の距離を演算する
角膜網膜間距離
【０１３０】 
　なお、上記処理例では、内境界膜領域中の一点を特定した後に、角膜表面領域中の一点を特定するようになっているが、これとは逆のプロセスを実行することも可能である。っとえば、まず、角膜頂点に相当する一点を角膜表面領域中から特定し、それから、この一点に対応する内境界膜領域中の一点を特定するようにしてもよい。」
  
（甲５キ） 
「【０１５３】 
〔信号光の走査及びＯＣＴ画像について〕
　ここで、信号光ＬＳの走査及びＯＣＴ画像について説明しておく。
・・・ 
【０１５９】 
　上記のような態様で
信号光ＬＳを走査することにより、走査線
に沿った深度方向の断層画像を形成することができる
  
（甲５ク） 
「【０１６０】 
［動作］ 
　光画像計測装置１の動作について説明する。図６に示すフローチャートは、光画像計測装置１の動作の一例を表す。なお、眼球光学情報２１２ａは既に記憶部２１２に記憶されているものとする。また、前述の事前計測における模型眼の角膜曲率半径の値と、角膜表面の画像の基準位置とは、既に記憶部２１２に記憶されているものとする。
【０１６１】 
　まず、被検眼Ｅに対する光学系のアライメントを行う（Ｓ１）。アライメントは、図３に示すように、アライメント輝点Ｐ１、Ｐ２を被検眼Ｅに投影してその状態を観察しつつ眼底カメラユニット１Ａの位置を調整することにより行う。
【０１６２】 
　次に、参照ミラー１７４ａを眼底Ｅｆに対応する位置に配置させるとともに、参照ミラー１７４ｂを角膜Ｅｃに対応する位置に配置させる（Ｓ２）。前述のように、参照ミラー１７４ａ、１７４ｂは、角膜網膜間距離の標準値に等しい光路長差を参照光ＬＲａ、ＬＲｂに与えるような位置に配置される。特に、参照ミラー１７４ａは、眼底Ｅｆの所定部位（たとえば網膜表面）の画像が明瞭になる位置に配置され、参照ミラー１７４ｂは、角膜Ｅｃの所定部位（たとえば角膜表面）の画像が明瞭になる位置に配置される。参照ミラー１７４ａ、１７４ｂの移動動作は、操作部２５０を用いて手作業で行うようにしてもよいし、検出信号やそれを加工した信号に基づいて主制御部２１１が制御するようにしてもよい。
【０１６３】 
　参照ミラー１７４ａ、１７４ｂが目的の位置に配置されたら、主制御部２１１は、低コヒーレンス光源１６０、走査ユニット１４１、ＣＣＤ１８４等を制御し、眼底Ｅｆと角膜Ｅｃの同時計測を実行させる（Ｓ３）。この同時計測は、たとえば操作部２５０を用いた開始要求に対応して開始される。また、参照ミラー１７４ａ、１７４ｂの移動動作の完了に対応して自動的に同時計測を開始するようにしてもよい。なお、同時計測の際には、必要に応じて、内部固視標により被検眼Ｅを固視させる。
【０１６４】 
　干渉成分抽出部２２１は、検出信号から眼底成分と角膜成分を抽出する（Ｓ４）。画像形成部２２０は、この眼底成分に基づいて眼底Ｅｆの断層画像を形成するとともに、この角膜成分に基づいて角膜Ｅｃの断層画像を形成する（Ｓ５）。これら断層画像を形成する順序は任意である。また、双方の画像の形成処理を並行して行ってもよい。
【０１６５】 
　画像形成部２２０は、眼底断層画像と角膜断層画像を制御部２１０に送る。主制御部２１１は、眼底断層画像と角膜断層画像を画像処理部２３０に送る。また、主制御部２１１は、記憶部２１２から読み出して眼球光学情報２１２ａを画像処理部２３０に送る。また、記憶部２１２は、画像処理部２３０により参照される各種情報（前述）を記憶部２１２から読み出して画像処理部２３０に送る。
【０１６６】 
　また、主制御部２１１は、眼底断層画像と角膜断層画像を表示部２４０に表示させてもよい。このときの表示態様の例を図７に示す。
主制御部２１１は、眼底断層画像Ｇｆと角膜断層画像Ｇｃを表示部２４０の表示画面
２４０Ａに表示させる
【０１６７】 
　この標示態様では、眼底断層画像Ｇｆと角膜断層画像Ｇｃは深度方向に並べて配置される。このとき、断層画像Ｇｆ、Ｇｃを同じ倍率で表示させてもよいし、異なる倍率で表示させてもよい。また、断層画像Ｇｆ、Ｇｃの表示間隔は、実際の間隔（たとえば角膜網膜間距離の標準値）に合わせてもよいし、そうでなくてもよい。
【０１６８】 
　断層画像Ｇｆ、Ｇｃを取得するための同時計測は、視神経乳頭の画像を取得するための固視方向に被検眼Ｅを固視させて実施される。眼底断層画像Ｇｆは、眼底Ｅｆの視神経乳頭Ｄの近傍を描写している。符号Ｍｓは、網膜表面（内境界膜）に相当する画像領域を表している（内境界膜領域）。符号Ｃｆは、角膜表面（角膜前面）に相当する画像領域を表している（角膜表面領域）。符号Ｃｂは、角膜後面に相当する画像領域を表している。
【０１６９】 
　眼内距離演算部２３２は、眼底断層画像と角膜断層画像を解析し、被検眼Ｅの角膜網膜間距離を求める（Ｓ６）。図７に示す断層画像Ｇｆ、Ｇｃにおいては、眼内距離演算部２３２は、角膜表面領域Ｃｆ上の点Ｐｃ（角膜頂点の位置など）と、内境界膜領域Ｍｓ上の点Ｐｍとの間の距離Ｄｉｓｔを算出する。」
  
（甲５ケ）図１ 
（甲５コ）図４ 
（甲５サ）図５ 
（甲５シ）図７ 
  
（２）甲５に記載された事項の整理
  
　角膜網膜間距離の求め方について
　上記（甲５カ）には、
「【０１２６】 
　眼内距離演算部２３２は、眼底断層画像を解析して内境界膜（網膜表面）に相当する画像領域（内境界膜領域）を特定するとともに、角膜断層画像を解析して角膜表面に相当する画像領域（角膜表面領域）を特定する。この処理は、従来と同様に、断層画像を構成する画素の画素値（輝度値）に基づく閾値処理やフィルタ処理を行うことにより実行できる。なお、
眼底断層画像や角膜断層画像を表示させ、この表示画像上にオペレータが手作業で内境界膜領域や角膜表面領域を指定するようにしてもよい（以下の処理についても同様である）
【０１２７】 
　
次に、眼内距離演算部２３２は、
内境界膜領域中の一点
を特定する
【０１２８】 
　
続いて、眼内距離演算部２３２は、
角膜表面領域中の一点を特定する
【０１２９】 
　
そして、眼内距離演算部２３２は、
内境界膜領域中の上記一点の座標値と、角膜表面領域中の上記一点の座標値とに基づいて、これら二点間の距離を演算する
角膜網膜間距離
　また、上記（甲５ク）には、
「【０１６６】 
　また、
主制御部２１１は、眼底断層画像と角膜断層画像を表示部２４０に表示させてもよい。このときの表示態様の例を図７に示す
【０１６７】 
　この標示態様では、眼底断層画像Ｇｆと角膜断層画像Ｇｃは深度方向に並べて配置される。このとき、断層画像Ｇｆ、Ｇｃを同じ倍率で表示させてもよいし、異なる倍率で表示させてもよい。また、断層画像Ｇｆ、Ｇｃの表示間隔は、実際の間隔（たとえば角膜網膜間距離の標準値）に合わせてもよいし、そうでなくてもよい。
【０１６８】 
　断層画像Ｇｆ、Ｇｃを取得するための同時計測は、視神経乳頭の画像を取得するための固視方向に被検眼Ｅを固視させて実施される。眼底断層画像Ｇｆは、眼底Ｅｆの視神経乳頭Ｄの近傍を描写している。
符号Ｍｓは、網膜表面（内境界膜）に相当する画像領域を表している（内境界膜領域）。符号Ｃｆは、角膜表面（角膜前面）に相当する画像領域を表している（角膜表面領域）。符号Ｃｂは、角膜後面に相当する画像領域を表している
【０１６９】 
　眼内距離演算部２３２は、眼底断層画像と角膜断層画像を解析し、被検眼Ｅの角膜網膜間距離を求める（Ｓ６）。図７に示す断層画像Ｇｆ、Ｇｃにおいては、眼内距離演算部２３２は、角膜表面領域Ｃｆ上の点Ｐｃ（角膜頂点の位置など）と、内境界膜領域Ｍｓ上の点Ｐｍとの間の距離Ｄｉｓｔを算出する。」と記載されている。
　これらの記載によれば、「角膜網膜間距離を演算するために、主制御部２１１は、内境界膜領域を眼底断層画像Ｇｆに重畳表示させ、角膜表面領域を角膜断層画像Ｇｃに重畳表示させ、表示させた内境界膜領域上の一点と角膜表面領域上の一点とを、それぞれ、オペレータが手作業で指定するようにしてもよい」ことが理解できる。
  
（３）甲５に記載された発明
　上記（甲５サ）図５から、演算制御装置２００は、制御部２１０（主制御部２１１）、画像形成部２２０（干渉成分抽出部２２１）、画像処理部２３０（眼内距離演算部２３２）を含むことが見て取れることから、上記（１）の記載及び図面並びに上記（２）の整理を総合すると、甲５には、次の発明（以下「甲５発明」という。）が記載されているものと認められる。
  
「眼底カメラユニット１Ａ、ＯＣＴユニット１５０及び演算制御装置２００を含んで構成される光画像計測装置１であって、
　眼底カメラユニット１Ａには、走査ユニット１４１が設けられ、走査ユニット１４１は、ＯＣＴユニット１５０から出力される信号光ＬＳの被検眼Ｅ（たとえば眼底Ｅｆ）に対する照射位置を走査し、被検眼Ｅに入射した信号光ＬＳは、角膜Ｅｃや眼底Ｅｆの前面で反射されるだけでなく、その深部の屈折率境界において散乱され、被検眼Ｅを経由した信号光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な部位の前面や後面の形態を反映する情報と、その深層組織の屈折率境界における後方散乱の状態を反映する情報とを含んでおり、信号光ＬＳを走査することにより、走査線に沿った深度方向の断層画像を形成することができ、
　ＯＣＴユニット１５０は、低コヒーレンス光源１６０からの低コヒーレンス光Ｌ０を参照光ＬＲと信号光ＬＳに分割し、被検眼Ｅを経由した信号光ＬＳと参照物体を経由した参照光ＬＲとを干渉させて干渉光ＬＣを生成する光学系と、この干渉光ＬＣを検出するスペクトロメータ１８０（特にＣＣＤ１８４）とを備え、
　演算制御装置２００は、制御部２１０（主制御部２１１）、画像形成部２２０（干渉成分抽出部２２１）、画像処理部２３０（眼内距離演算部２３２）を含み、
　画像形成部２２０は、ＣＣＤ１８４から出力された検出信号に含まれる眼底成分と角膜成分を抽出し、抽出された眼底成分に基づいて眼底Ｅｆの断層画像Ｇｆを形成するとともに、角膜成分に基づいて角膜Ｅｃの断層画像Ｇｃを形成し、
　眼内距離演算部２３２は、眼底断層画像Ｇｆを解析して内境界膜（網膜表面）に相当する画像領域（内境界膜領域）を特定するとともに、角膜断層画像Ｇｃを解析して角膜表面に相当する画像領域（角膜表面領域）を特定し、次に、内境界膜領域中の一点を特定し、続いて、角膜表面領域中の一点を特定し、そして、内境界膜領域中の上記一点の座標値と、角膜表面領域中の上記一点の座標値とに基づいて、これら二点間の距離（角膜網膜間距離）を演算し、
　主制御部２１１は、眼底断層画像Ｇｆと角膜断層画像Ｇｃを表示部２４０の表示画面２４０Ａに表示させ、
　角膜網膜間距離を演算するために、主制御部２１１は、内境界膜領域を眼底断層画像Ｇｆに重畳表示させ、角膜表面領域を角膜断層画像Ｇｃに重畳表示させ、表示させた内境界膜領域上の一点と角膜表面領域上の一点とを、それぞれ、オペレータが手作業で指定するようにしてもよい、
　光画像計測装置１。」
  
６　甲６について
　本件特許出願前に頒布された甲６には、以下の事項が記載されている。
  
（甲６ア） 
「【００２５】 
　前述のように生成される第１参照光と眼底からの反射光は干渉光として合成された後、検出器１２０によって検出される。そして、検出器１２０によって検出された干渉光のスペクトルデータが制御部７０へと入力され、フーリエ変換を用いて周波数が解析されることで、眼Ｅの深さ方向における情報（Ａスキャン信号：深さプロファイル）が計測可能となる。
・・・ 
【００３９】
　以上のような構成を備える眼科撮影装置の動作について説明する。はじめに、
眼軸長を測定する場合
アライメント指標像Ｍａ〜Ｍｈが撮像素子２０４に検出されると、制御部７０は、指標像Ｍａ〜Ｍｈによって形成されるリング中心のＸＹ座標を略角膜頂点位置として検出し、頂点位置に対応するアライメント指標Ａ１をモニタ７５上に電子的に表示する（図３（ａ）参照）。そして、検者は、アライメントとなるレチクルＬＴ内に指標Ａ１が収まるようにアライメントを調整する（図３（ｂ）参照）
【００４０】
　
また、制御部７０は、無限遠の指標像Ｍａ，Ｍｅの間隔と有限遠の指標像Ｍｈ，Ｍｆの間隔とを比較することによりＺ方向のアライメント偏位量を求める（詳しくは、特開平６−４６９９９号参照）。そして、制御部７０は、インジケータＧをモニタ７５上に表示し、アライメントずれに基づいてインジケータＧの本数を増減させる。そして、検者は、インジケータＧがアライメント完了を示すように装置本体３を前後に移動させる。これにより、アライメントが完了される
・・・
【００４３】 
　一方、眼底反射光と第１参照光による干渉信号の検出位置は、眼Ｅの眼軸長によって異なる。前述の所定距離Ｚａから眼底Ｅｆが外れていれば干渉信号は検出されない。制御部７０は、駆動機構５５の駆動を制御し、レンズ２２及び端部２４を連続的又は所定のステップにて段階的に移動させ、スペクトルデータを逐次検出し、各位置にてＡスキャン信号を得る。そして、制御部７０は、眼底反射光と第１参照光による干渉信号がＡスキャン信号として検出されるように駆動機構５５の駆動を制御する。
・・・ 
【００４５】 
　制御部７０は、各位置にて取得されたＡスキャン信号をモニタリングし、眼底に対応する干渉信号が取得されたＡスキャン信号を特定する。この場合、制御部７０は、干渉信号の輝度値などを利用して眼底干渉信号の有無を判定する。このとき、角膜の信号と眼底の信号が所定量分離された状態のＡスキャン信号を特定することにより、角膜位置と眼底位置を精度良く検出できる。なお、制御部７０は、眼底の信号を含むＡスキャン信号が取得された位置にて駆動機構５５の駆動を停止するようにしてもよい。
・・・ 
【００５３】 
＜眼底断層像の取得＞
　眼軸長の測定完了後、眼底断層像を撮影する場合、制御部７０は、駆動機構５０の駆動を制御して眼底Ｅｆ上で測定光を走査させ、検出器１２０から出力される受光信号に基づいて画像処理により断層像を形成させる（図６参照）。取得された断層像は、モニタ７５に静止画又は動画として出力される他、メモリ７２に記憶される。
・・・ 
【００５９】 
　なお、以上の説明においては、角膜への投影指標を用いて眼Ｅに対するアライメントが行われるものとしたが、これに限るものではない。例えば、制御部７０は、眼Ｅに対する装置本体のアライメント段階において、光源１０２から光を出射させ、
検出器１０２からの出力信号に基づいてＡスキャン信号を得る。そして、制御部７０は、得られるＡスキャン信号をモニタ７５上に表示する（図４参照）
【００６０】 
　ここで、
検者は、モニタ７５上に表示されるＡスキャン信号を見ながら、角膜に対応する干渉信号が所定の位置に現れるように装置本体３をＺ方向に移動させる。このとき、干渉信号を用いたアライメントの基準となるマーカＫが電子的に表示されることによりアライメントがスムーズに行われる
【００６１】 
　また、
制御部７０は、眼軸長測定に用いるＡスキャン信号として特定された信号をモニタ７５上に表示するようにしてもよい
・・・ 
【００６７】 
　また、上記説明においては、眼軸長測定時には、測定光の走査を停止させるものとしたが、これに限るものではなく、測定光の走査を行うようにしてもよい。」
（甲６イ）図３
（甲６ウ）図４
  
 ７　甲７について
　本件特許出願前に頒布された甲７には、以下の事項が記載されている。
  
（甲７ア） 
「【００３６】 
　また、６０３−１〜３は断層信号表示領域であり、３つのスペクトル１４４−１〜３を再構成処理して得られた信号が表示される。なお本実施形態においてはＡスキャン画像またはＡスキャンラインのプロファイルと呼ぶこととする。一方断層像表示領域６０５はＸスキャン用ミラーを駆動することにより得られた複数のＡスキャンを周知の補間処理により二次元画像として表示する領域である。以降の説明ではこの複数のＡスキャンから構成される断層像をＢスキャン画像と呼ぶ。図５に示す表示例では参照光が表示された状態であるため、断層信号表示領域６０３−１乃至６０３−３と、断層像表示領域６０５にはＡスキャン画像またはＢスキャン画像は表示されない。
・・・ 
【００４２】 
　また、Ａスキャンプロファイルと共にＢスキャン画像も参照することにより、例えばＢスキャン画像においてノイズが多くなっている領域等において、干渉光のスペクトルに異常がないかどうかを確認し、原因を特定するための情報を提示することができる。なお、Ａスキャン画像及びＢスキャン画像が表示された状態で、シャッタボタン６０８−２を押下して光路を遮蔽することにより、参照光を表示させることも可能である。
【００４３】 
　断層像表示領域６０５の表示はその上部に設けられた領域選択ボタン６０６−１〜３によって切り替えることができる。図６は中央の領域Ａが選択されている状態を示しており、領域Ａの測定光によるＢスキャン像が断層像表示領域６０５に表示されている。選択される領域を切り替えると、選択された位置のＢスキャン画像が断層像表示領域６０５に表示される。これと共に、選択された領域に対応する干渉光のスペクトルがスペクトル表示領域６００に表示され、Ａスキャンプロファイルが断層信号表示領域６０３−１乃至６０３−３に表示されることとなる。このようにして、領域選択ボタン６０６−１乃至６０６−３の選択に応じて表示が切り替わることとなる。なお、領域の選択に応じて、撮影対象のどの位置に照射された測定光に基づく干渉光を表示させるかは予め決まっているものとする。例えば、各測定光について中央の位置の干渉光を用いても、端部の干渉光を用いてもよい。また、複数のＡスキャン位置に対応する干渉光のスペクトルの平均を取って表示してもよい。」
  
（甲７イ）図６ 
 
第６　当審の判断
  
１　本件発明１について
  
（１）対比 
　本件発明１と甲５発明とを対比する。
  
ア　甲５発明の「低コヒーレンス光源１６０からの」「信号光ＬＳの被検眼Ｅ（たとえば眼底Ｅｆ）に対する照射位置を走査」する「走査ユニット１４１」は、本件発明１の「光源からの光が、被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段」に相当する。
  
イ　甲５発明の「低コヒーレンス光源１６０からの」「信号光ＬＳの被検眼Ｅ（たとえば眼底Ｅｆ）に対する照射位置を走査」し、「被検眼Ｅを経由した信号光ＬＳと参照物体を経由した参照光ＬＲとを干渉させて干渉光ＬＣを生成」し、「この干渉光ＬＣを検出」した「検出信号に含まれる眼底成分と角膜成分を抽出し、抽出された眼底成分に基づいて眼底Ｅｆの断層画像Ｇｆを形成するとともに、角膜成分に基づいて角膜Ｅｃの断層画像Ｇｃを形成」する「画像形成部２２０」は、本件発明１の「該入射手段を用いて取得される複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得する２次元断層画像取得手段」に相当する。
  
ウ　甲５発明の「眼底断層画像Ｇｆと角膜断層画像Ｇｃを」「表示」する「表示部２４０」は、本件発明１の「取得した該２次元断層画像を表示する表示手段」に相当する。
  
エ　甲５発明の「眼内距離演算部２３２」が、「眼底断層画像Ｇｆを解析して」「特定」された「内境界膜（網膜表面）に相当する画像領域（内境界膜領域）」「中の一点を特定し、」「角膜断層画像Ｇｃを解析して」「特定」された「角膜表面に相当する画像領域（角膜表面領域）」「中の一点を特定し、そして、内境界膜領域中の上記一点の座標値と、角膜表面領域中の上記一点の座標値とに基づいて、これら二点間の距離（角膜網膜間距離）を演算」することは、本件発明１の「取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を算出」し、「前記測定対象面は、角膜前面、角膜後面、水晶体前面、水晶体後面及び網膜表面の少なくとも２つであ」ることに相当する。
オ　甲５発明の「内境界膜領域を眼底断層画像Ｇｆに重畳表示させ、角膜表面領域を角膜断層画像Ｇｃに重畳表示させ、表示させた内境界膜領域上の一点と角膜表面領域上の一点とを、それぞれ、オペレータが手作業で指定」する「操作部２４０Ｂ」と、「操作部２４０Ｂ」によって指定した「内境界膜領域中の上記一点の座標値と、角膜表面領域中の上記一点の座標値とに基づいて、これら二点間の距離（角膜網膜間距離）を演算」することと、本件発明１の「前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に含まれる前記測定対象面のうち前記測定対象面間の距離の測定値を算出するための２つの面の位置のそれぞれに対して新たな位置を指定可能な指定手段をさらに備え、該指定手段により指定された前記新たな位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を補正」することとは、「前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に含まれる前記測定対象面のうち前記測定対象面間の距離の測定値を算出するための２つの面の位置のそれぞれに対して新たな位置を指定可能な指定手段をさらに備え、該指定手段により指定された前記新たな位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を算出する」点で共通する。
  
カ　上記イ及びエを踏まえると、甲５発明の「光画像計測装置１」は、本件発明１の「光干渉眼寸法測定装置」に相当する。
  
（２）一致点・相違点
　そうすると、本件発明１と甲５発明とは、次の点で一致し、次の点で相違する。
  
（一致点） 
「光源からの光が、被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、
　該入射手段を用いて取得される複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得する２次元断層画像取得手段と、
　取得した該２次元断層画像を表示する表示手段を有し、
　取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を算出する光干渉眼寸法測定装置において、
　前記測定対象面は、角膜前面、角膜後面、水晶体前面、水晶体後面及び網膜表面の少なくとも２つであり、
　前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に含まれる前記測定対象面のうち前記測定対象面間の距離の測定値を算出するための２つの面の位置のそれぞれに対して新たな位置を指定可能な指定手段をさらに備え、該指定手段により指定された前記新たな位置に基づいて前記測定対象面間の距離の測定値を算出する、
　光干渉眼寸法測定装置。」
  
（相違点１） 
　指定手段により指定された新たな位置に基づいて測定対象面間の距離の測定値を、本件発明１では「補正する」のに対し、甲５発明では、「操作部２４０Ｂ」によって指定した「内境界膜領域中の上記一点の座標値と、角膜表面領域中の上記一点の座標値とに基づいて、これら二点間の距離（角膜網膜間距離）を演算」する点。
（相違点２）
　本件発明１では、「前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに有し、指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示する」のに対し、甲５発明では、このような特定がない点。
  
（３）判断 
　事案に鑑み、上記相違点２を検討する。
　甲１〜４、６及び７には、上記第５の１〜４、６及び７のとおり、上記相違点２に係る本件発明１の発明特定事項について記載も示唆もなく、周知技術であるという証拠もない。
　そして、上記相違点２を備える本件発明１は、本件特許明細書の【００４９】に「図１４の２次元断層画像５１０には水晶体と網膜の真ん中辺りに小さな点が表示されている例が示されている。ライン６２０をこの小さな点がある位置に移動させることにより、Ａスキャン画像のデータからこの小さな点の部分の波形状態を確認することができるため、例えばノイズかどうかの判断も可能になる。また、水晶体に濁りがある場合も、ライン６２０を移動させて、水晶体の濁り状態を詳細に確認できる。このような機能を持つことにより、上述のように、被検眼内部の状態が詳細に把握できるのである。」と記載されているように、被検眼内部の状態が詳細に把握できるという作用効果を奏するものである。
　よって、上記相違点２に係る本件発明１の発明特定事項は、甲１〜７に接した当業者といえども容易に想到することができたとはいえない。
　なお、請求人は、特許異議申立書（第６３頁）において、「甲第６号証において、『眼軸長測定に用いるＡスキャン信号』を特定する際には、検者もしくは制御部７０のいずれかにより行われることが明白であり、検者によって特定される場合にその特定方法として、表示手段に表示された被検眼内部の２次元断層画像に対して、指定手段により位置を指定することにより行われる方法を選択することは、当業者が適宜取り得る設計事項に過ぎない。」と主張しているが、上記甲６（【００５９】）には、前眼部の正面像から観察される角膜頂点位置を、眼軸長を測定する場合の位置（光軸）に調整することが記載されており、ここでの角膜頂点位置を、仮に、断層画像を用いて決定する場合、２次元断層画像でなく３次元断層画像を用いる必要があるから、上記主張は採用できない。
（４）小括
　したがって、本件発明１は、上記相違点１について検討するまでもなく、甲５発明及び甲１〜４、６及び７に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものでない。
２　本件発明２について 
　本件発明２は、本件発明１を引用してさらに限定した発明であるから、上記１と同じ理由により、甲１〜７に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものでない。
３　本願発明４について
　本件発明４は、光干渉眼寸法測定装置において、上記相違点２に係る本件発明１の発明特定事項と同じ「前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに有し、指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示する」ことを発明特定事項としていることから、上記１と同じ理由により、甲１〜７に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものでない。
  
４　本件発明５について 
　本件発明５は、本件発明１を引用してさらに限定した発明、本件発明２を引用してさらに限定した発明、又は本件発明４を引用してさらに限定した発明であるから、上記１、２、又は３と同じ理由により、甲１〜７に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものでない。
第７　取消理由通知において採用しなかった特許異議申立理由について
１　理由１（明確性違反）
　申立人は、請求項１及び４の「被検眼の眼寸法の測定値」という記載が不明瞭であり、請求項１〜５に係る発明に対して明確性違反を指摘しているが、本件訂正により「被検眼の測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づ」く「前記測定対象面間の距離の測定値」となったことから、当該理由１は解消した。
２　理由２（実施可能要件違反）
　申立人は、請求項１〜３に係る発明において、指定手段が補正対象とする「測定値」はどのように取得し、何を測定した測定値であるのか不明である（測定値に網膜の膜厚が含まれる場合、発明の詳細な説明には、網膜の位置が１本のピークでしか示されていないので、網膜における２点間の距離をどのように特定するのか不明である。）ことから、請求項１〜３に係る発明に対して実施可能要件違反を指摘しているが、発明の詳細な説明（特に、【００３６】〜【００５０】及び図９〜１４を参照。）には、本件発明１及び２の「角膜前面、角膜後面、水晶体前面、水晶体後面及び網膜表面の少なくとも２つであ」る「測定対象面間の距離の測定値を補正」することに対応する事項が記載されており、また、本件訂正により請求項３は削除されていることから、当該理由２は解消した。
３　理由３（新規性違反）
　申立人は、請求項１に係る発明は、甲１に記載された発明であるとの新規性違反を指摘しているが、本件発明１と甲１との間に少なくとも上記相違点２が存在することから、当該理由３は採用できない。
４　理由４（進歩性違反）
　申立人は、請求項１に係る発明は、甲１に記載された発明に基づいて、甲２に記載された発明及び甲１、３、４に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、請求項２に係る発明は、甲２に記載された発明及び甲１、３、４、６に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、請求項３に係る発明は、甲２に記載された発明及び甲１、３、４、６に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、請求項４に係る発明は、甲２に記載された発明及び甲６に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、請求項５に係る発明は、甲２に記載された発明及び６に記載された事項に基づいて、又は、甲２に記載された発明及び甲６、７に記載された事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとの進歩性違反を指摘しているが、甲１又は２のいずれを主引例としても、上記相違点２に係る本件発明１、２、４及び５の発明特定事項を得ることができず、また、本件訂正により請求項３は削除されていることから、当該理由４は採用できない。
第８　令和２年７月３１日付け意見書について
１　意見１（実施可能要件違反）
　申立人は、「前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置」の指定には、図１４に記載の２次元断層像５１０におけるライン６１０の指定が含まれると解釈され、「指定手段」によりライン６１０を指定しても、表示対象となる「１次元画像（Ａスキャン画像）」を選択し、表示することはできないことから、本件発明１、２、４及び５に対して実施可能要件違反を指摘しているが、発明の詳細な説明（特に、【００４８】〜【００５０】及び図１４を参照。）には、「前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置」を、ライン６１０でなくライン６２０を用いて「１つ以上指定する」ことにより、「指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示する」ことが記載されているから、当該意見１は採用できない。
２　意見２（サポート要件違反）
　申立人は、本件特許明細書に具体的に記載されているのは、段落００４８の、２次元断層画像５１０の深さ方向のライン６２０の位置を上下に移動して指定し、ライン６２０の１つの光軸における干渉信号のＡスキャン画像を表示する方法であって、「前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置」を指定することにより「光軸」を一義的に指定する方法は、本件特許明細書には記載されていないから、本件発明１、２、４及び５に対してサポート要件違反を指摘しているが、発明の詳細な説明（特に、【００４８】〜【００５０】及び図１４を参照。）の記載によれば、表示された被検眼内部の２次元断層画像における各位置での光軸が、ライン６２０に平行であることを前提にしていることは明らかであり、ライン６２０を上下移動させることは、深さ方向に対して垂直方向の位置を指定することにほかならず、それにより光軸が定まることは明らかであるから、当該意見２は採用できない。
第９　むすび 
　以上のとおりであるから、取消理由通知（決定の予告）に記載した取消理由及び特許異議申立書に記載した特許異議申立理由によっては、本件請求項１、２、４及び５に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件請求項１、２、４及び５に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　そして、本件請求項３に係る特許は、訂正により削除された。これにより本件特許の請求項３に対してなされた特許異議の申立ては、申立ての対象が存在しないものとなったため、特許法第１２０条の８第１項で準用する同法第１３５条の規定により却下する。
　よって、結論のとおり決定する。
  
【異議決定日】
令和２年９月９日（２０２０．９．９）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】
　光源からの光が、被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、
　該入射手段を用いて取得される複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得する２次元断層画像取得手段と、
　取得した該２次元断層画像を表示する表示手段を有し、
　取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の
測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離
　前記測定対象面は、角膜前面、角膜後面、水晶体前面、水晶体後面及び網膜表面の少なくとも２つであり、
　前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に
含まれる前記測定対象面のうち前記測定対象面間の距離の測定値を算出するための２つの面の位置のそれぞれに対して新たな
指定可能な
前記新たな
前記測定対象面間の距離の
　前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに有し、指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示する、
　【請求項２】
　前記入射手段により取得される複数の干渉信号を平均化処置して被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を表示することを特徴とする請求項１に記載の光干渉眼寸法測定装置。
　【請求項３】
（削除）
　【請求項４】
　光源からの光が、被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、
　該入射手段を用いて取得される複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得する２次元断層画像取得手段と、
　取得した該２次元断層画像を表示する表示手段を有し、
　取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の
測定対象面の位置を特定し、特定した前記測定対象面の位置に基づいて前記測定対象面間の距離
　前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに備え、該指定手段により指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示することを特徴とする光干渉眼寸法測定装置。
　【請求項５】
　前記表示手段に被検眼内部の前記１次元画像と前記２次元断層画像を並列して表示することを特徴とする請求項
１、２又は４