(57)【要約】その安定状態に応じた電圧もしくは電位を出力できる多安定回路で、用途は多値メモリー・セル、多値メモリー、多値記憶手段、多値論理回路、多値コンピュータ、多値制御手段などである。例えば、１０安定回路の場合、電源線（Ｖ１）から電源線（Ｖ１０）の方へ行くのに従って順々にその電位は高くなり、電源線（Ｖ１）と入出力端子（Ｔｉｏ）の間に「負性抵抗特性を持つプル・ダウン手段」を接続し、電源線（Ｖ２）から電源線（Ｖ９）までの各電源線と入出力端子（Ｔｉｏ）の間に「その負性抵抗特性を双方向に持つ双方向性プル手段」を１つずつ接続し、電源線（Ｖ１０）と入出力端子（Ｔｉｏ）の間に「その負性抵抗特性を持つプル・アップ手段」を接続している。その負性抵抗特性は「その両端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」である。前記双方向性プル手段を８つ用いたので、読み出し不能も、読み出し時の安定状態の変化も、誤った読み出しも無くなり、読み出し時間が早くなる。
2003028214.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
３又は３以上の所定数をＮとしたときに、
第１電位から第Ｎ電位まで番号順に電位が高くなって行くＮ個の電位を供給する第１電位供給線手段〜第Ｎ電位供給線手段と、
信号の入出力を行う入出力端子と、
前記第１電位供給線手段と前記入出力端子の間に接続され、「その両端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」を持つプル・ダウン手段と、
前記第２電位供給線手段から前記第（Ｎ−１）電位供給線手段までの各電位供給線手段と前記入出力端子の間に１つずつ接続され、「その両端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」を双方向に対して持つ（Ｎ−２）個の双方向性プル手段と、
前記第Ｎ電位供給線手段と前記入出力端子の間に接続され、「その両端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」を持つプル・アップ手段、を有することを特徴とする多安定回路。
【請求項２】
前記プル・ダウン手段が「その負性抵抗特性を双方向に持つ双方向性のプル手段」として機能し、前記プル・アップ手段が「その負性抵抗特性を双方向に持つ双方向性のプル手段」として機能することを特徴とする請求の範囲第１項に記載の多安定回路。
【発明の詳細な説明】
技術分野
この発明は、その安定状態の数が３又は３以上で、その安定状態に応じた電圧もしくは電位を出力できる多安定回路に関する。この多安定回路は多値のメモリー・セル、多値メモリー又は多値記憶手段として利用できるので、多値論理回路、多値コンピュータ又は多値の制御手段などにも利用できる。
背景技術
従来の多安定回路として本発明者の先行技術である特許第２８５３０４１号の第１４図〜第１５図や特開２０００−８３３６９号の図２７〜図３６に開示された多安定回路のうち、１０安定回路の１例を第４図に示す。
第４図でＶ１〜Ｖ１０は１０本の電源線で、電源線Ｖ１から電源線Ｖ１０の方へ行くに従い順々にその電位は高くなって行く。各電源線と入出力端子Ｔｉｏとの間に１つずつ接続される「Ｐ、Ｎチャネルの接合型ＦＥＴ２つの接続体」は第５図の通り構成され、その両ＦＥＴがノーマリィ・オンであるためその接続体は「その両端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」を持つ負性抵抗手段である。但し、第５図の負性抵抗手段は逆方向（図の下から上の方向）の電圧、電流に対して阻止能力が無い逆導通型の負性抵抗手段である。                （参考：特開昭５１−２９２１号の第１図）
そして、「電源線Ｖ１０に接続される負性抵抗手段」だけがプル・アップ手段として機能し、「電源線Ｖ９〜Ｖ１それぞれに１つずつ接続される負性抵抗手段」はプル・ダウン手段として機能するので、第４図の多安定回路は１０の安定状態を持つことができる。これら負性抵抗手段は逆導通型である為「電源線Ｖ９〜Ｖ２に接続される各負性抵抗手段」に逆阻止用ダイオードが１つずつ直列接続され、１方向性の負性抵抗手段が８つ構成されている。
その接続理由は、例えば入出力端子Ｔｉｏが電源線Ｖ１の電位または電圧を出力するとき「電源線Ｖ９〜Ｖ２に接続される各負性抵抗手段から逆方向電流が電源線Ｖ１へ流れ込んで、その逆方向電流が電源線Ｖ１に接続される負性抵抗手段のプル・ダウン動作を妨げる」のを防ぐ為である。
尚、第４図の多安定回路において「各電源線間の電位差の大きさ」と「各ＦＥＴの完全オフ駆動電圧の大きさ」の関係に関して、その１０の負性抵抗手段のうち１つはオンで、残り９つはオフであるが、各オフが完全なオフであれば、どの安定状態の時でも「少なくとも２つ以上の負性抵抗手段を同時に流れる漏洩電流」が無く、消費電流ゼロで、都合が良い。そのためには「各電源線間の電位差の大きさ」は「オフである９つの負性抵抗手段それぞれの各ＦＥＴの完全オフ駆動電圧の大きさ」以上の大きさのゲート逆バイアス電圧をそのＦＥＴに供給できる大きさでなければならない。
また、第６図〜第８図に他の負性抵抗手段の例を３つ示す。但し、一般的なＩＧＢＴはノーマリィ・オフのＭＯＳＦＥＴ構造を内蔵しているが、そのＭＯＳＦＥＴをノーマリィ・オンにすれば、当然そのＩＧＢＴはノーマリィ・オンになる。もちろん、第４図の回路において各負性抵抗手段の代わりに第６図〜第８図の負性抵抗手段のうちどれかを１つずつ使うことができる。
（参考：特開２０００−８３３６９号の図８１〜図１００の各負性抵抗手段と、ノーマリィ・オンのＳＩサイリスタを用いた図３５〜図３６。）
さらに、第４図の回路において第８図の負性抵抗手段を１０個用いる回路の場合、「電源線Ｖ９〜Ｖ２に接続されるＩＧＢＴ」が全て逆阻止型ならば、「第４図に示される８つの逆阻止用ダイオード」は必要無く、その全ての負性抵抗手段を入出力端子Ｔｉｏに直結することができる。この事は逆阻止型のノーマリィ・オンのＳＩサイリスタを使う場合も同じである。
しかしながら、「電源線Ｖ９〜Ｖ２に接続される負性抵抗手段」それぞれはその安定状態に応じてプル・ダウン機能を持つ一方、プル・アップ機能を持たないために、『読み出し不能になったり、又は、読み出しが遅かったり、あるいは、読み出しの際にその安定状態が変わり（すなわち、記憶内容が書き換えられ）、誤った安定状態の電位または電圧（すなわち、誤った記憶内容）が読み出されてしまう』という第１の問題点が有る。
（第１の問題点）
例えば、選択スイッチでデータ線を入出力端子Ｔｉｏに接続して、入出力端子Ｔｉｏからその安定状態の電位（又は電圧）を読み出す時そのデータ線の電位が「その読み出す時の安定状態の電位」よりも低い場合、「電源線Ｖ１０に接続される負性抵抗手段」ならプル・アップできるが、「電源線Ｖ９〜Ｖ２に接続される各負性抵抗手段」ではプル・アップすることができない。この事が読み出し不能または遅い読み出しとなる。又は、逆にそのデータ線が入出力端子Ｔｉｏの電位をプル・ダウンしてその安定状態を変化させ、誤った安定状態の電位が読み出されてしまう。つまり、記憶内容が書き換えられ、誤った記憶内容が読み出されてしまう。
その問題を解決するために「電源線Ｖ１０に接続される負性抵抗手段」の代わりに例えばプル・アップ抵抗などのプル・アップ手段を接続する方法が考えられるが、今度は『安定状態のときの消費電流が増えてしまう』という第２の問題点が新たに生じる。                                        （第２の問題点）
尚、「第４図の回路に対して電圧極性もしくは電圧方向に関して対称的な関係に有る回路」すなわち「第４図の回路において各トランジスタを『それと相補関係に有るトランジスタ（例：ＮチャネルＦＥＴに対するＰチャネルＦＥＴ。）』で１つずつ置き換え、電圧極性もしくは電圧方向の有る各構成要素（例：  直流電源、ダイオード。）の向きを逆にした多安定回路」では、電源線Ｖ１０〜Ｖ１の電位の高低が正反対にひっくり返り、８つの逆阻止用ダイオードの向きが逆になるので、前述したプル・アップ機能の補足、強化ではなくプル・ダウン機能の補足、強化が必要になる。
この場合も、プル・ダウン抵抗などのプル・ダウン手段が接続されるため、大きなシンク電流（吸い込み電流）を供給する必要が有り、やはり『安定状態の時の消費電流が増えてしまう』という第２の問題点が新たに生じる。
そこで、本発明は、『安定状態のときの消費電流を増やさずに、読み出し不能も、読み出し時の安定状態の変化も、誤った安定状態の電位または電圧（もしくは誤った記憶内容）の読み出しも無く、かつ、読み出し時間が早い』多安定回路を提供することを目的としている。
発明の開示
即ち、本発明は請求の範囲第１項に記載された通りの多安定回路である。本発明は、少なくとも「最高電位の電位供給線手段（例えば電源線など。）と最低電位の電位供給線手段の間に有る電位供給線手段」のそれぞれに接続される各負性抵抗手段に「その両端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」を双方向に対して持つ双方向性プル手段を１つずつ用いている。ただし、その電位供給線手段の数は３又は３以上の所定数であるから、本発明の多安定回路は３安定回路もしくはそれ以上の安定回路である。
このことによって、その双方向性プル手段それぞれはプル・アップとプル・ダウンの両機能を持っている。このため、外部データ線がこの多安定回路の入出力端子に接続されて、その入出力端子からその安定状態の電位を読み出す時、たとえその外部データ線の電位が「その読み出す時の安定状態」の電位より高かろうが低かろうが、その外部データ線はその安定状態に応じてプル・アップされたり、あるいは、プル・ダウンされたりするので、『読み出し不能も、読み出し時の安定状態の変化も、誤った安定状態の電位または電圧（もしくは誤った記憶内容）の読み出しも無く、読み出し時間が早い』という第１の効果が本発明の多安定回路に有る。                                              （第１の効果）
それから、前述した様なプル・アップ抵抗などのプル・アップ手段またはプル・ダウン抵抗などのプル・ダウン手段が必要無いので、『安定状態の時の消費電流が増えない』という第２の効果が本発明の多安定回路に有る。
（第２の効果）
尚、「その最高電位の電位供給線手段に接続される、負性抵抗特性を持つプル・アップ手段」が前述した様な双方向性プル手段でももちろん構わないし、「最低電位の電位供給線手段に接続される、負性抵抗特性を持つプル・ダウン手段」が前述した様な双方向性プル手段でももちろん構わない。両方とも双方向性プル手段である多安定回路は、請求の範囲第２項記載の多安定回路に対応する。
発明を実施するための最良の形態
本発明をより詳細に説明するために、添付図面に従ってこれを説明する。第１図に示す１実施例は「請求の範囲第１項に記載中の所定数Ｎ」が１０である１０安定回路で、電源線Ｖ１から電源線Ｖ１０の方へ行くに従い順々にその電位は高くなって行く。第１図の実施例の各構成手段は次の通り請求の範囲第１項に記載中の各構成手段に相当する。
ａ）電源線Ｖ１〜Ｖ１０それぞれが同項記載中の第１電位供給線手段から第１０電位供給線手段までのそれぞれにこの順序で。
ｂ）出力端子Ｔｏｕｔが請求項１記載中の出力端子に。
ｃ）「電源線Ｖ１と出力端子Ｔｏｕｔの間に接続されるＰ、Ｎチャネルの接合型ＦＥＴ計２つの接合体」が請求項１記載中のプル・ダウン手段に。
ｄ）「電源線Ｖ２〜Ｖ９それぞれと出力端子Ｔｏｕｔの間に１つずつ接続されるＰ、Ｎチャネルの接合型ＦＥＴ計４つの接合体」が請求項１記載中の双方向性プル手段に。
ｅ）「電源線Ｖ１０と出力端子Ｔｏｕｔの間に接続されるＰ、Ｎチャネルの接合型ＦＥＴ計２つの接合体」が請求項１記載中のプル・アップ手段に。
当然の事ながら、それぞれの電源線間には直流電源手段（図示せず。）が１つずつ存在する。電源線Ｖ１０、Ｖ１それぞれと入出力端子Ｔｉｏの間に従来と同じ様に「Ｐ、Ｎチャネルの接合型ＦＥＴ２つの接続体」が１つずつ接続され、各接続体はプル・アップ手段とプル・ダウン手段として機能する。
一方、電源線Ｖ９〜Ｖ２それぞれと入出力端子Ｔｉｏの間には双方向性の負性抵抗手段が１つずつ接続され、それらの負性抵抗手段は「プル・アップ機能とプル・ダウン機能を持つ双方向性プル手段」として機能する。それら双方向性の負性抵抗手段は「第５図に示される負性抵抗手段２つが直列接続されたもの」であるが、両方の逆導通方向は互いに正反対であるため、その双方向性の負性抵抗手段は「その両端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」を双方向に持つことができる。
このため、「電源線Ｖ１０〜Ｖ２に接続される負性抵抗手段」それぞれはプル・アップ手段として機能できるので、例えばデータ読み出しの際に選択スイッチが外部データ線を入出力端子Ｔｉｏに接続した時その外部データ線の電位が「その読み出す時の安定状態の電位」より低くても、容易に「電源線Ｖ１０〜Ｖ２に接続される負性抵抗手段」それぞれはその外部データ線の電位をプル・アップすることができる。そして、「電源線Ｖ９〜Ｖ１に接続される負性抵抗手段」それぞれはプル・ダウン手段として機能できるので、例えばデータ読み出し時に選択スイッチが外部データ線を入出力端子Ｔｉｏに接続した時その外部データ線の電位が「その読み出す時の安定状態の電位」より高くても、「電源線Ｖ９〜Ｖ１に接続される負性抵抗手段」それぞれは容易にその外部データ線の電位をプル・ダウンすることができる。
その結果、前述通り『読み出し不能も、読み出し時の安定状態の変化も、誤った安定状態の電位または電圧（もしくは誤った記憶内容）の読み出しも無く、読み出し時間が早くなる』という第１効果が、第１図の実施例を含め、本発明の多安定回路に有る。                                            （第１効果）
読み出し時間が早くなるのはその外部データ線の電荷の充放電がすべての安定状態において速やかに行われる様になるからである。
それから、前述した様な「プル・アップ抵抗などのプル・アップ手段」や「プル・ダウン抵抗などのプル・ダウン手段」が必要無いので、『安定状態のときの消費電流が増えない』という第２効果が、第１図の実施例を含め、本発明の多安定回路に有る。                                              （第２効果）
尚、「電源線Ｖ１０、Ｖ１それぞれに接続される負性抵抗手段」が「電源線Ｖ９〜Ｖ２それぞれに接続される双方向性の負性抵抗手段」と同じ双方向性の負性抵抗手段であっても、回路動作上で全く問題無い。その部品点数の増加が問題にならないのなら、むしろその方が『全ての負性抵抗手段が同じ構成になるため、ＩＣ化の際に都合が良い』という利点が有るし、『電源の接続を間違えて電源線Ｖ１０から電源線Ｖ１の方へ行くに従って順々にその電位が高くなって行っても全く問題が無いし、又は、積極的に電源線の電位の高低を入れ換える使い方もできる』という利点も有る。これらの事は後述する第２図〜第３図の各実施例についても言うことができる。
第２図〜第３図に示す各実施例も、「請求の範囲第１項に記載中の所定数Ｎ」が１０である１０安定回路である。「電源線Ｖ９〜Ｖ２それぞれに接続される双方向性の負性抵抗手段」として第２図に示す実施例では「第５図の負性抵抗手段とダイオード・ブリッジ接続型整流回路を組み合わせた双方向性の負性抵抗手段」を１つずつ使用し、第３図に示す実施例では「第５図の負性抵抗手段と逆阻止用ダイオードを直列接続した１方向性の負性抵抗手段を２つ逆並列接続した双方向性の負性抵抗手段」を１つずつ使用している。
最後に補足する事として第１図〜第３図の各実施例は「請求の範囲第１項に記載中の所定数Ｎ」が１０である１０安定回路であるが、所定数Ｎは当然１０に限定されず、３又はそれ以上ならいくつでも構わない。例えば４、５、８、１２、１５、１６、２０、２５、３０、３２、４５、６０、６４等。
また、第１図〜第３図の各実施例において「電源線Ｖ１０、Ｖ１それぞれに接続される負性抵抗手段」の代わりに「第５図の負性抵抗手段と逆阻止用のダイオードを直列接続した１方向性の負性抵抗手段」を１つずつ用いても良い。この事は接合型ＦＥＴを使わない負性抵抗手段の場合でも言える。
さらに、「第１図〜第３図の各実施例」又は「それから派生する各実施例」においてＰチャネルの接合型ＦＥＴの代わりに「駆動用の逆バイアス電圧極性がプラスで、ノーマリィ・オンのスイッチング手段」なら何でも使うことができ、Ｎチャネルの接合型ＦＥＴの代わりに「駆動用の逆バイアス電圧極性がマイナスで、ノーマリィ・オンのスイッチング手段」なら何でも使うことができる。
それから、第３図の実施例で各接合型ＦＥＴの代わりに逆阻止型ＩＧＢＴの様にノーマリィ・オンの逆阻止型スイッチング手段を１つずつ使う場合、逆阻止用ダイオードは１つも要らない。
そして、「第１図〜第３図の各実施例」又は「それから派生する各実施例」において「それぞれの電源線間の電位差の大きさ」と「各負性抵抗手段を構成するノーマリィ・オンの各スイッチング手段の完全オフ駆動電圧の大きさ」の関係に関して、そのすべての負性抵抗手段のうち１つはオンで、その残りはオフであるが、各オフが完全なオフであれば、どの安定状態の時でも「少なくとも２つ以上の負性抵抗手段を同時に流れる漏洩電流」が全く無く、ＣＭＯＳメモリーの様に安定状態での消費電流はゼロで、都合良い。そのためには「それぞれの電源線間の電位差の大きさ」は「オフであるその残りの負性抵抗手段それぞれの各スイッチング手段の完全オフ駆動電圧の大きさ」以上の大きさの駆動逆バイアス電圧をそのスイッチング手段に供給できる大きさでなければならない。
産業上の利用可能性
半導体の高集積化による高機能化もそろそろ限界に達していると言われており、別の手段、方法が模索されている。その１つの答えが多値化であるが、本発明にかかる多安定回路は多値メモリー・セル、多値メモリーもしくは多値記憶手段として有用であり、多値論理回路、多値コンピュータもしくは多値制御手段などに用いるのに適している。
【図面の簡単な説明】
第１図〜第３図それぞれは本発明の実施例の回路を１つずつ示す回路図であり、第４図は従来の多安定回路の１例を示す回路図であり、第５図〜第８図それぞれは負性抵抗手段の例を１つずつ示す回路図である。
【図１】
2003028214.tif 000003
【図２】
2003028214.tif 000004
【図３】
2003028214.tif 000005
【図４】
2003028214.tif 000006
【図５】
2003028214.tif 000007
【図６】
2003028214.tif 000008
【図７】
2003028214.tif 000009
【図８】
2003028214.tif 000010
【国際調査報告】
2003028214.tif 000011
2003028214.tif 000012