【事件の表示】
　特願２００７−２２７９５２「ガラス、インジウムの回収方法および回収装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２１年　３月１９日出願公開、特開２００９−　５６４３８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１．手続の経緯
　
　本願は、平成１９年９月３日の出願であって、平成２３年２月２４日付けで拒絶理由が通知され、同年４月２５日に意見書及び手続補正書が提出され、同年５月１３日付けで拒絶査定がなされ、同年８月８日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに手続補正書が提出されたものであり、その後、平成２４年３月１９日付けで特許法第１６４条第３項に基づく報告を引用した審尋が通知し、期間を指定して請求人の意見を求めたところ、請求人からの回答書の提出が無かったものである。
　
第２．平成２３年８月８日付けの手続補正についての補正却下の決定
　
［補正却下の決定の結論］
　平成２３年８月８日付けの手続補正を却下する。
　
［理由］
１．補正後の本願発明
　平成２３年８月８日付けの手続補正（以下、必要に応じて「本件補正」という。）により、特許請求の範囲は、
「【請求項１】
　廃薄型パネルからガラスおよびインジウムを回収するための方法であって、
　亜ヒ酸を含有するガラス基板を選別する亜ヒ酸含有ガラス基板選別工程と、
　貼り合わされた２枚のガラス基板を分離するガラス基板分離工程と、
　分離されたガラス基板表面に研磨剤粒子を吹きつけることによりガラス基板表面に付着した電極材料を研磨屑として除去した後、サイクロン式分離装置を用いて、研磨屑から研磨剤粒子と電極材料とを分離することで、前記ガラス基板分離工程で分離されたガラス基板表面に付着した電極材料を除去する電極材料除去工程と、
　塩酸を用いて、研磨剤粒子を分離した後の電極材料を含む研磨屑中のインジウムを塩酸に溶解させてインジウムを分離する工程と、
　インジウムを含有する塩酸中の塩化物イオン濃度を１〜６ｍｏｌ／Ｌとして、イオン交換樹脂を用いて、インジウムを含有する塩酸からインジウムを回収する金属回収工程とを含む、ガラスおよびインジウムの回収方法。
　　【請求項２】
　前記電極材料除去工程で用いられた研磨剤粒子がアルミナで形成されたものである、請求項１に記載のガラスおよびインジウムの回収方法。
　　【請求項３】
　請求項１に記載されたガラスの回収方法を行うための装置であって、
　廃薄型パネルを搬送するための搬送装置と、
　亜ヒ酸を含有するガラス基板を選別するための蛍光Ｘ線分析装置と、
　貼り合わされた２枚のガラス基板を分離するためのガラス基板分離装置と、
　圧縮空気供給装置とサイクロン式分離装置とを備える、分離されたガラス基板表面の電極材料を除去するための電極材料除去装置と、
　サイクロン式分離装置から排出された研磨剤粒子を分離した後の電極材料を含む研磨屑から、塩酸を用いてインジウムを回収するためのスクラバーと、
　インジウムを含有する塩酸中の塩化物イオン濃度を１〜６ｍｏｌ／Ｌとして、インジウムを含有する塩酸からインジウムを回収するためのイオン交換樹脂とを備える、ガラスおよびインジウムの回収装置。」
に補正された。
　
　この補正により、請求項１及び請求項３において、「インジウムを含有する塩酸中の塩化物イオン濃度を１〜６ｍｏｌ／Ｌ」とすることが追加された。
　しかしながら、補正前の請求項１及び請求項３には、塩酸中の塩化物イオンやその濃度については、何ら記載されておらず、塩酸中の塩化物イオン濃度を特定する上記補正は、補正前の請求項１及び請求項３に記載された発明の発明特定事項、すなわち、課題解決手段のいずれの事項の限定ともいうことはできない。
　したがって、上記補正は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものではなく、また、請求項の削除、誤記の訂正、明瞭でない記載の釈明のいずれをも目的とするものでもない。
　以上のとおりであるから、この補正は、特許法第１７条の２第５項の各号に掲げるいずれの事項を目的とするものにも該当せず、同法第１７条の２第５項の規定に違反するものであるから、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　
　また、この補正ついては、本件補正前の平成２３年４月２５日付けの手続補正書により補正された本願明細書の特許請求の範囲の請求項１及び請求項３に記載された発明特定事項のインジウムを溶解させる「塩酸」について、仮に「塩酸中の塩化物イオン濃度を１〜６ｍｏｌ／Ｌ」であると限定したものであるとすると、特許法第１７条の２第４項に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するとも考えられるから、予備的に、本件補正後の請求項１に記載された発明（以下、「補正後発明１」という。）について、特許出願の際独立して特許を受けることができるものか、以下に検討する。
　
２．刊行物に記載された事項
（１）原査定の拒絶の理由に引用例１として引用された、本願出願前に頒布された刊行物である特開２００１−３０５５０２号公報（以下、「刊行物１」という。）には、図面と共に次の事項が記載され、視認される。
（刊１−ア）「【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、液晶パネルの製造工場において廃棄される廃液晶パネル、液晶表示装置の組立工場にて廃棄された液晶表示装置を分解処理して排出される廃液晶パネル、液晶を応用した製品の製造工場にて廃棄された製品を分解処理して排出される廃液晶パネル、および、市場にて廃棄された情報表示装置や映像表示装置等を解体処理して排出される廃液晶パネルを、再利用可能となるように処理する廃液晶パネルの処理方法に関するものである。」（段落【０００１】）
（刊１−イ）「本実施の形態にかかる液晶パネルの処理方法は、・・・・。次に、上記偏光板４を有する液晶パネルを廃液晶パネルとした場合の、リサイクルのための廃液晶パネルの処理方法（工程）を、以下に説明する。
　図１に示すように、本実施の形態にかかる液晶パネル（偏光板付き液晶パネル）の処理方法においては、先ず、偏光板４を有する状態で液晶パネルを切断する（Ｓ１、パネル切断工程）。これにより、液晶パネルに封入されていた液晶が露出するので、次に、該液晶を回収する（Ｓ２、液晶回収工程）。・・・・。
　次いで、上記Ｓ１において液晶パネルを切断して得られるガラス基板１を濃硫酸に浸漬することにより、該ガラス基板１に含まれる偏光板４やカラーフィルタ５、配向膜８等の有機物を除去する（Ｓ３、残留有機物除去工程）。その後、ガラス基板１上に残っている金属膜や金属酸化物膜、即ち、反射防止膜６や透明電極７、画素電極９、バス電極１０等の薄膜を該ガラス基板１から機械的な（物理的な）方法で以て剥離（除去）する。次いで、薄膜を分離除去することにより、該薄膜とガラス（ガラス基板１）とを各々別個に回収する（Ｓ４、薄膜除去工程）。尚、Ｓ３の残留有機物除去工程およびＳ４の薄膜除去工程の順序は、特に限定されるものではなく、薄膜除去工程を行った後、残留有機物除去工程を行うこともできる。・・・・。
　続いて、ガラス基板１に向かって軟Ｘ線を照射し、そのガラスから発せられる蛍光Ｘ線を、例えば蛍光Ｘ線分析機を使用して分析する。つまり、蛍光Ｘ線分析法を用いてガラス基板１のガラスを品種（種類）別に選別する（Ｓ５、ガラス選別工程）。その後、ガラス基板１を破砕する（Ｓ６、ガラス破砕工程）。尚、Ｓ５のガラス選別工程を行う前にＳ６のガラス破砕工程を行うと、蛍光Ｘ線分析機を使用したガラスの選別作業が非常に困難となるので好ましくない。・・・・。」（段落【００２５】〜【００２８】）
（刊１−ウ）「上記Ｓ１のパネル切断工程においては、例えば、ガラス基板１・１の周縁部に沿って設けられることにより液晶を封入しているシール樹脂体２を切断することなく、液晶パネルのガラス基板１・１を切断する。より具体的には、図３に示すように、一方のガラス基板１におけるシール樹脂体２よりも内側の四辺を、該シール樹脂体２に沿って（例えば図中矢印Ｃの箇所）、例えば、ダイヤモンドソーやガラスカッター等の切断工具１５を用いて矩形状に切る（いわゆる、ダイシングやスクライブ）。他方のガラス基板１におけるシール樹脂体２よりも内側の四辺も、同様にして、該シール樹脂体２に沿って矩形状に切る。その後、必要に応じて外力を加えることにより、元の大きさよりも一回り小さい大きさのガラス基板１・１（以下、説明の便宜上、元のガラス基板と同一の符号を付す）を、液晶パネルから切断して取り外す。ガラス基板１・１が取り外されると、封入されていた液晶層３が開封され、液晶は、ガラス基板１に付着した状態で露出する。・・・・。」（段落【００２９】）
（刊１−エ）「液晶を掻き取って回収する具体的な方法としては、例えば、図４に示すように、ヘラ等の板状物１６を用いて、ガラス基板１表面を図中矢印Ｄ方向にこそぎ、付着している液晶層３を掻き取って集める方法が挙げられる。・・・・。」（段落【００３４】）
（刊１−オ）「Ｓ４の薄膜除去工程においては、ガラス基板１上に残っている反射防止膜６や透明電極７、画素電極９、バス電極１０等の薄膜を該ガラス基板１から機械的な（物理的な）方法で以て剥離（除去）する。
　・・・・。従って、化学的な方法よりも機械的な方法の方が、処理設備を小型化することができると共に、より安価に薄膜を除去することができる。さらに、薄膜を回収して得られる金属粉の金属含有率を高くすることができるので、金属粉からクロムやインジウム等の金属を経済的にかつ高純度で回収、再生することができる等の利点も有している。
　ガラス基板１から金属膜や金属酸化物膜の薄膜を剥離するのに好適な市販の装置としては、具体的には、例えば、バリ取り装置、回転式研磨装置、ガラス掘込み装置、サンドブラスト装置等が挙げられる。・・・・。」（段落【００３９】〜【００４１】）
（刊１−カ）「図９に示すように、サンドブラスト装置５１は、微粒子状の砂５３を図中矢印Ｌ方向に勢い良く発射するブラストガン５２を備えている。ガラス基板１上の薄膜１ａを除去する際には、ガラス基板１を薄膜１ａに砂５３が勢い良く衝突する位置に配した後、該ガラス基板１を砂５３の発射方向に対して垂直方向に平行移動させる（図中矢印Ｍ方向）。これにより、薄膜１ａは研磨され、ガラス基板１から剥離される。
　上記の各装置を用いて薄膜１ａを研磨することにより、ガラス基板１上に形成されている薄膜１ａを確実に除去することができ、研磨屑である金属粉が回収物として回収される。該金属粉には、稀少金属であるインジウムやクロム等の有用な金属が比較的高い含有率で含まれている。従って、図１に示すように、金属粉から、これら金属を経済的にかつ高純度で回収、再生することができるので、マテリアルリサイクルが可能となり、省資源化に貢献することができ、かつ、環境に悪影響を及ぼすおそれも無くなる。一方、ガラス基板１は、薄膜１ａが除去されたので、ガラスだけになっている。」（段落【００５０】〜【００５１】）
（刊１−キ）「上記Ｓ５のガラス選別工程においては、蛍光Ｘ線分析法を用いてガラス基板１のガラスを品種別に選別する。ガラスは、ガラスメーカーによって、或いはガラス品種や品番等によって組成が異なる。従って、回収したガラスを例えばガラス基板１用の材料として再使用するためには、多種多様なガラスを品種別に選別することが必要となる。また、回収したガラスを例えば一般ガラス用の材料として再使用する場合にも、或る程度、該ガラスを品種別に選別することが要求される場合がある。」（段落【００５２】）
（刊１−ク）「【表１】　
」（段落【００５４】）
（刊１−ケ）「上記Ｓ６のガラス破砕工程は、単一の品種のガラス基板１毎に行う。Ｓ６のガラス破砕工程においては、市販の各種方式の破砕機を使用することにより、ガラス基板１を破砕して破砕物としてのガラスカレット（ガラス片）を得る。・・・・。
　回収したガラスカレットは、ガラス選別工程において既にガラスの品種別に選別されており、しかもガラスだけになっている。つまり、ガラスカレットは、単一の品種のガラスであり、かつ、ガラス基板用の原料ガラスと変わらない化学組成を有している。それゆえ、図１に示すように、ガラスカレットは、原料ガラスに添加混合することにより、または、原料ガラスに置き換えて、再使用（マテリアルリサイクル）することができる。再使用する際には、例えば、ガラスカレットを原料ガラスと共に溶融炉で溶融させればよい。さらに、回収したガラスカレットは、例えば一般ガラス用の材料として再使用することもできる。・・・・。」（段落【００６４】〜【００６５】）
（刊１−コ）「本発明の実施の一形態における廃液晶パネルの処理方法の概略の工程を示すフローチャートである」とされる図１からは上記（刊１−イ）の記載事項が、「上記処理方法における液晶回収工程を行っている状態を示す概略の正面図である」とされる図４からは上記（刊１−エ）の記載事項が、「上記処理方法における薄膜除去工程を、サンドブラスト装置を用いて行っている状態を示す概略の正面図である」とされる図９からは上記（刊１−カ）の記載事項が、それぞれ窺うことができる。（図１、図４、図９）
　
（２）原査定の拒絶の理由に引用例２として引用された、本願出願前に頒布された刊行物である特開平０８−２１６０２８号公報（以下、「刊行物２」という。）には、次の事項が記載されている。
（刊２−ア）「【請求項１】  加工室内において噴射落下した研磨材および被加工物剥離片が加工室からサイクロン集塵装置内に吸引導入され、ここにおいて再使用可能研磨材と廃棄物とに分離されるサンドブラスト装置において、前記サイクロン集塵装置の渦流発生塔を、吸入口と一体の筒体部分と、その下方に接続されかつホッパを備えた筒体部分との少なくとも２部分から組立分解可能に構成したことを特徴とするサンドブラスト装置。」（特許請求の範囲　請求項１）
　
（３）原査定の拒絶の理由に引用例３として引用された、本願出願前に頒布された刊行物である特開２００１−２２５２７０号公報（以下、「刊行物３」という。）には、次の事項が記載されている。
（刊３−ア）「【請求項１】研掃材を噴射するノズルを備える加工室から、一定量の研掃材を収容したタンクを下方に設置して成るサイクロンを介して、集塵装置へ至る研掃材の分級機構を有するサンドブラスト装置において、前記加工室を、該加工室と前記サイクロンを連通する風管の前記加工室との連結部以外の部分を気密状態としたことを特徴とするサンドブラスト装置。」（特許請求の範囲　請求項１）
　
（４）原査定の拒絶の理由に引用例４として引用された、本願出願前に頒布された刊行物である国際公開２００６−００６４９７号公報（以下、「刊行物４」という。）には、図面と共に次の事項が記載されている。
（刊４−ア）「スチレンもしくはアクリルアミドとジビニルベンゼンとの共重合による架橋構造と、４級アンモニウム基及び３級アンモニウム基のうち少なくともいずれか一方と、を有すると共に酸吸着性能を備えたアニオン交換樹脂に、インジウムを含有する塩酸を主成分とする酸溶液を接触させて、インジウムを前記アニオン交換樹脂に吸着させるインジウムの分別方法。」（請求の範囲［２］）
（刊４−イ）「前記酸溶液は、フラットパネルディスプレイの導電膜、スパッタリングにより生じるＩＴＯ付着物またはＩＺＯ付着物、インジウムを含む無鉛ハンダのうち少なくともいずれかを塩酸を主成分とする酸に溶出させたもの、前記導電膜のエッチング廃液、チャンバーの洗浄廃液のうち、少なくとも１つである請求項２に記載のインジウムの分別方法。」（請求の範囲［９］）
（刊４−ウ）「技術分野
本発明は、インジウムを吸着するインジウム吸着剤、及びインジウムを含有する塩酸を主成分とする酸溶液からインジウムを分別するインジウム分別方法に関する。
背景技術
  近年、日本において、インジウムの多くはインジウム・スズ酸化物（Indium Tin Oxide、以下、ＩＴＯと称する）もしくはインジウム・亜鉛酸化物（indium Zinc Oxide、以下、ＩＺＯと称する）として透明導電膜に用いられ、インジウムの市場全体の約７０％を占めている（リサイクルされたものを含めると、８０％近くになる）。
  一方、透明導電膜が使用されるフラットパネルディスプレイ（以下、ＦＰＤと称する）産業においては、パソコンの液晶ディスプレイに加えて、薄型・大型テレビの大幅な需要の伸びは近年目覚しいものがある。さらに今後は、ＥＵにおける鉛規制強化によってインジウムを含む低融点合金からなる無鉛ハンダのニーズが高まり、需要が増えることが見込まれる。
  このような市場の動向により、インジウムの価格は高騰の様相を示しているとともに、原料の確保のため「争奪戦」とも言うべき状況になることさえ予想される。
  このような背景の中で、インジウムをリサイクルする機運が高まっており、インジウムのリサイクルは単なる環境技術というよりも重要な経済性を有する「素材回収」技術と言うべきものである。」（段落［０００１］〜［０００３］）
（刊４−エ）「また、上記目的を達成するための本発明に係るインジウムの分別方法の第１特徴手段は、スチレンもしくはアクリルアミドとジビニルベンゼンとの共重合による架橋構造と、４級アンモニウム基及び３級アンモニウム基のうち少なくともいずれか一方と、を有すると共に酸吸着性能を備えたアニオン交換樹脂に、インジウムを含有する塩酸を主成分とする酸溶液を接触させて、インジウムを前記アニオン交換樹脂に吸着させる点にある。
  つまり、この手段によれば、インジウムは前記アニオン交換樹脂に吸着させることができるため、インジウムを含有する塩酸を主成分とする酸溶液を前記アニオン交換樹脂に接触させることにより前記アニオン交換樹脂に吸着しないものと分別することができる。  これにより、インジウムを含有する酸溶液から、簡便かつ安価にインジウムを分別することが可能となる。」（段落［００１０］〜［００１１］）
（刊４−オ）「本発明に係るインジウムの分別方法の第６特徴手段は、前記酸溶液は、フラットパネルディスプレイの導電膜、スパッタリングにより生じるＩＴＯ付着物またはＩＺＯ付着物、インジウムを含む無鉛ハンダのうち少なくともいずれかを塩酸を主成分とする酸に溶出させたもの、前記導電膜のエッチング廃液、チャンバーの洗浄廃液のうち、少なくとも１つである。」（段落［００２０］）
（刊４−カ）「本発明者らは、インジウムを含有する塩酸を主成分とする酸溶液を、スチレンもしくはアクリルアミドとジビニルベンゼンとの共重合による架橋構造と、４級アンモニウム基及び３級アンモニウム基のうち少なくともいずれか一方と、を有すると共に酸吸着性能を備えたアニオン交換樹脂に接触させることにより、インジウムを前記アニオン交換樹脂に吸着できることを見出した。そして、鋭意検討を重ねた結果、図１（ａ）に示すようにインジウムは、塩酸を主成分とする酸溶液中において、アニオンの特性を持ったインジウムと塩素からなるインジウム塩素錯体（Indium chloro complex）となり、前記アニオン交換樹脂に特異的に吸着することを導き出した。」（段落［００２７］）
（刊４−キ）「本発明に係るインジウム吸着剤を用いて、インジウムを分別する方法の一実施形態として、ＦＰＤパネルのＩＴＯ導電膜からのインジウムを分離、回収する方法を例にとって、図面を参照して説明する。
  ＦＰＤパネルからのインジウムの回収は、図３に示すようにインジウム吸着工程とインジウム回収工程とを有している。以下、各工程について説明する。
（インジウム吸着工程）
  インジウム吸着工程は、ＦＰＤパネル中のインジウムをインジウム吸着剤に吸着させる工程である。
  まず、ＦＰＤパネルを１０ｍｍ以下、好ましくは１ｍｍ以下の大きさに裁断もしくは粉砕し（Ｓ１）、ＦＰＤパネル中のＩＴＯ導電膜を、塩酸を主成分とする酸に溶出させる（Ｓ２）。そして、溶液中のガラス、フィルム等の不溶物はろ過等により除去する（Ｓ３）。
  このときに行うＦＰＤパネルの裁断または粉砕は、ＩＴＯ導電膜を酸に溶出させ易くするためのものであり、導電膜が酸に溶出できれば、裁断または粉砕するＦＰＤパネルの大きさは特に限定されるものではない。尚、前記裁断および粉砕は、従来公知の方法によって行うことができる。
  ＦＰＤパネルを溶出させる塩酸を主成分とする酸は、ＩＴＯを溶出できるものであれば、特に制限はなく、塩酸のみ、もしくは硝酸、硫酸、過塩素酸、リン酸、フッ酸、有機酸等との混酸であってもよい。なお、上述の通りインジウムを効率よく脱離させるという観点からは、硝酸を含む混酸が好ましい。  また、酸濃度についても任意に選択可能であり、例えば、ＦＰＤパネルを溶出させる場合には、安全性の観点から酸濃度が１０〜２５％程度の溶液として用いることが好ましい。酸の温度は高い方が溶出させ易いが、安全性、取り扱い易さの観点からは、３０〜９０℃程度で溶出させることが好ましく、４０〜８０℃程度がより好ましい。なお、硝酸を含む混酸を用いる場合には高温域では不動態を形成する虞があるため、特に４０〜６０℃程度が好ましい。
  このようにして得られたＦＰＤパネルを構成していたＩＴＯ及び夾雑金属を含有する酸溶液を、本発明のインジウム吸着剤を充填したカラムに通す。インジウムは酸及びスズとともに本発明のインジウム吸着剤に吸着し、アルミニウム等の夾雑金属は金属塩としてカラムを通過する。これによりインジウム及びスズと夾雑金属とを分離することができる。
  そして、カラムを通過させた夾雑金属を含有する溶液は、水酸化ナトリウム等のアルカリを添加し、ｐＨを８程度に調整することにより（Ｓ４）、夾雑金属を水酸化物等のスラッジとして沈殿させることができる。また、固液分離（Ｓ５）によりスラッジを除去した溶液は、そのまま放流したり、後のインジウム回収工程において用いることができる（Ｓ６）。」（段落［００３１］〜［００３５］）
　
３．対比、判断
（１）刊行物１に記載された発明
ア　刊行物１の記載事項（刊１−ア）には、「・・・・廃液晶パネルを、再利用可能となるように処理する廃液晶パネルの処理方法に関するものである」と記載されているから、刊行物１に記載の処理方法は、廃液晶パネルを再利用可能となるように処理する処理方法である。
イ　刊行物１の記載事項（刊１−キ）には、「ガラス基板１のガラスを品種別に選別する」ことが記載されており、同（刊１−ク）には、ガラスの品種として、亜ヒ酸（Ａｓ２Ｏ３）を含有するガラスと含有しないガラスが記載されており、亜ヒ酸の含有の有無によりガラス基板を選別していることは明らかである。
ウ　刊行物１の記載事項（刊１−イ）には、廃液晶パネルの処理方法として、「液晶パネルを切断する（Ｓ１、パネル切断工程）」とこれに続く「該液晶を回収する（Ｓ２、液晶回収工程）」とを有することが記載されていることから、液晶パネルを切断して、液晶パネルを回収するものといえる。
　同（刊１−ウ）には「ガラス基板１・１が取り外されると、封入されていた液晶層３が開封され、液晶は、ガラス基板１に付着した状態で露出する」と記載されていることから、液晶パネルにおいて、液晶層は一対のガラス基板の間に存在するものであり、これが「開封」されて、一対のガラス基板の一方を取り出すものであるから、一対のガラス基板が分離されているものと認められる。
　これは、同（刊１−エ）の「液晶を掻き取って回収する具体的な方法としては、例えば、図４に示すように、ヘラ等の板状物１６を用いて、ガラス基板１表面を図中矢印Ｄ方向にこそぎ、付着している液晶層３を掻き取って集める方法が挙げられる」との記載からみても、ガラス基板が１枚であってその上に液晶層が存在する状態で掻き取っていることが見てとれることから、液晶層を封入した上記一対のガラス基板は１枚ずつに分離されるものといえる。
エ　この分離されたガラス基板についてみてみると、刊行物１の記載事項（刊１−オ）には、「ガラス基板１上に残っている反射防止膜６や透明電極７、画素電極９、バス電極１０等の薄膜を該ガラス基板１から機械的な（物理的な）方法で以て剥離（除去）する」との記載及び「ガラス基板１から金属膜や金属酸化物膜の薄膜を剥離するのに好適な市販の装置としては、・・・・サンドブラスト装置等が挙げられる」との記載があることから、ガラス基板上の電極材料をサンドブラスト装置で除去するものといえ、同（刊１−カ）の「サンドブラスト装置５１は、微粒子状の砂５３を図中矢印Ｌ方向に勢い良く発射するブラストガン５２を備えている。ガラス基板１上の薄膜１ａを除去する際には、ガラス基板１を薄膜１ａに砂５３が勢い良く衝突する位置に配した後、該ガラス基板１を砂５３の発射方向に対して垂直方向に平行移動させる（図中矢印Ｍ方向）。これにより、薄膜１ａは研磨され、ガラス基板１から剥離される」との記載からみて、サンドブラスト装置は、砂をブラストガンから発射して薄膜を除去するものといえる。
　そして、同（刊１−カ）の「上記の各装置を用いて薄膜１ａを研磨することにより、ガラス基板１上に形成されている薄膜１ａを確実に除去することができ、研磨屑である金属粉が回収物として回収される」との記載からみて、ガラス上の薄膜、すなわち電極材料を研磨屑として回収するものといえる。
オ　また、刊行物１の記載事項（刊１−カ）の「ガラス基板１上に形成されている薄膜１ａを確実に除去することができ、研磨屑である金属粉が回収物として回収される。該金属粉には、稀少金属であるインジウムやクロム等の有用な金属が比較的高い含有率で含まれている」の記載からみて、ガラス上の薄膜、すなわち電極材料の研磨屑はインジウムを含有するものであり、該インジウムは金属粉として回収されるものである。さらに、同（刊１−カ）には、「金属粉から、これら金属を経済的にかつ高純度で回収、再生することができるので、マテリアルリサイクルが可能となり」との記載からみて、上記インジウムは回収、再生されるものといえる。
カ　また、刊行物１の記載事項（刊１−ケ）には、「ガラス基板１を破砕して破砕物としてのガラスカレット（ガラス片）を得」て、「回収したガラスカレットは、ガラス選別工程において既にガラスの品種別に選別されており、しかもガラスだけになっている。つまり、ガラスカレットは、単一の品種のガラスであり、かつ、ガラス基板用の原料ガラスと変わらない化学組成を有して」おり、それゆえ、「ガラスカレットは、原料ガラスに添加混合することにより、または、原料ガラスに置き換えて、再使用（マテリアルリサイクル）することができる」と記載されていることから、廃液晶パネル由来のガラス基板は、ガラスを回収するものといえる。
キ　よって、上記「廃液晶パネルを再利用可能となるように処理する処理方法」は、ガラスおよびインジウムを回収するための方法であると認められる。
ク　以上を踏まえると、刊行物１には、
「廃液晶パネルからガラスおよびインジウムを回収するための方法であって、亜ヒ酸を含有するガラス基板と含有しないガラス基板とを選別する工程と、２枚のガラス基板を分離する工程と、分離されたガラス基板上に砂を発射しガラス基板上の電極材料を研磨屑として除去する工程と、金属粉としてインジウムを回収する工程とを含むガラスおよびインジウムの回収方法」の発明（以下、「刊行物１発明」という。）が記載されていると認める。
　
（２）一致点と相違点
　補正後発明１と刊行物１発明とを対比する。
ア　液晶パネルが薄型パネルであることは明らかであるので、刊行物１発明の「廃液晶パネル」は、補正後発明１の「廃薄型パネル」に相当する。
イ　そして、刊行物１発明の「亜ヒ酸を含有するガラス基板と含有しないガラス基板とを選別する工程」は、補正後発明１の「亜ヒ酸を含有するガラス基板を選別する亜ヒ酸含有ガラス基板選別工程」に相当する。
ウ　液晶パネルに用いられる２枚のガラス基板は通常貼り合わせられているものであるから、刊行物１発明の「２枚のガラス基板を分離する工程」は、補正後発明１の「貼り合わされた２枚のガラス基板を分離するガラス基板分離工程」に相当する。
エ　また、刊行物１発明の「砂」はガラス基板上に発射されることによりガラス基板上の薄膜を研磨するものであるから、補正後発明１の「研磨剤粒子」に相当し、砂をガラス基板上に「発射」することは、ガラス基板上に砂を吹き付けるものに他ならない。そして、「ガラス基板上の電極材料」は「ガラス表面に付着」していることも明らかであるから、刊行物１発明の「分離されたガラス基板上に砂を発射しガラス基板上の電極材料を研磨屑として除去する工程」は、補正後発明１の「分離されたガラス基板表面に研磨剤粒子を吹きつけることによりガラス基板表面に付着した電極材料を研磨屑として除去」して「前記ガラス基板分離工程で分離されたガラス基板表面に付着した電極材料を除去する電極材料除去工程」に相当する。
オ　そして、刊行物１発明の「インジウムを回収する工程」が補正後発明１の「インジウムを回収する金属回収工程」に相当することも明らかである。
カ　そうすると、補正後発明１と刊行物１発明は、
「廃薄型パネルからガラスおよびインジウムを回収するための方法であって、
亜ヒ酸を含有するガラス基板を選別する亜ヒ酸含有ガラス基板選別工程と、
貼り合わされた２枚のガラス基板を分離するガラス基板分離工程と、
分離されたガラス基板表面に研磨剤粒子を吹きつけることによりガラス基板表面に付着した電極材料を研磨屑として除去して前記ガラス基板分離工程で分離されたガラス基板表面に付着した電極材料を除去する電極材料除去工程と、
インジウムを回収する金属回収工程とを含む、ガラスおよびインジウムの回収方法」の点で一致し、下記（Ａ）、（Ｂ）の点で相違する。
　相違点（Ａ）；電極材料除去工程について、補正後発明１が「分離されたガラス基板表面に研磨剤粒子を吹きつけることによりガラス基板表面に付着した電極材料を研磨屑として除去した後、サイクロン式分離装置を用いて、研磨屑から研磨剤粒子と電極材料とを分離することで、前記ガラス基板分離工程で分離されたガラス基板表面に付着した電極材料を除去する」ものであるのに対して、刊行物１発明は「サイクロン式分離装置を用いて、研磨屑から研磨剤粒子と電極材料とを分離すること」が記載されていない点。
　相違点（Ｂ）；インジウムを回収する金属回収工程について、補正後発明１が「塩酸を用いて、研磨剤粒子を分離した後の電極材料を含む研磨屑中のインジウムを塩酸に溶解させてインジウムを分離する工程と、インジウムを含有する塩酸中の塩化物イオン濃度を１〜６ｍｏｌ／Ｌとして、イオン交換樹脂を用いて、インジウムを含有する塩酸からインジウムを回収する」ものであるのに対して、刊行物１発明は「金属粉としてインジウムを回収する」ものである点。
　
（３）相違点についての検討
ア　相違点（Ａ）について
ア−１　刊行物２の記載事項（刊２−ア）に「加工室内において噴射落下した研磨材および被加工物剥離片が加工室からサイクロン集塵装置内に吸引導入され、ここにおいて再使用可能研磨材と廃棄物とに分離されるサンドブラスト装置・・・・」と記載され、また、刊行物３の記載事項（刊３−ア）に「研掃材を噴射するノズルを備える加工室から、一定量の研掃材を収容したタンクを下方に設置して成るサイクロンを介して、集塵装置へ至る研掃材の分級機構を有するサンドブラスト装置・・・・」と記載されているように、サンドブラスト装置を用いて研磨を行った際に、研磨によって生じた研磨屑とサンドブラストに用いた研磨材をサイクロン式分離装置を用いて分離することは、本願の出願前より、サンドブラスト装置を用いた研磨の分野においてごく一般に行われていることである。
ア−２　してみると、刊行物１発明の「電極材料を研磨屑として除去する工程」において、サンドブラスト装置を用いた研磨の分野において一般に用いられている「サイクロン式分離装置を用いて、研磨屑から研磨剤粒子と電極材料とを分離する」工程を設けることは、当業者であれば容易に想到し得る事項である。
　
イ　相違点（Ｂ）について
イ−１　刊行物４の記載事項（刊４−ア）には、「アニオン交換樹脂に、インジウムを含有する塩酸を主成分とする酸溶液を接触させて、インジウムを前記アニオン交換樹脂に吸着させるインジウムの分別方法」が記載されており、同（刊４−イ）には、「前記酸溶液は、フラットパネルディスプレイの導電膜、スパッタリングにより生じるＩＴＯ付着物またはＩＺＯ付着物・・・・を塩酸を主成分とする酸に溶出させたもの」であることが記載されている。ここで、同（刊４−ウ）の記載からみても、「フラットパネルディスプレイ」が「薄型パネル」であることは明らかであり、また、「ＩＴＯ（インジウム・スズ酸化物（Indium Tin Oxide））」が薄型パネルの電極材料として用いられていることも、当該技術分野において一般的なことである。
イ−２　そして、刊行物４の記載事項（刊４−キ）には、インジウムを溶出させるにあたり、「ＦＰＤパネルを溶出させる塩酸を主成分とする酸は、ＩＴＯを溶出できるものであれば、特に制限はなく、塩酸のみ・・・であってもよい」の記載があり、「酸濃度についても任意に選択可能であり、例えば、ＦＰＤパネルを溶出させる場合には、安全性の観点から酸濃度が１０〜２５％程度の溶液として用いることが好ましい」ことが記載されている。
　ここで、用いられる酸が塩酸のみであったとして、その濃度「１０〜２５％」をモル濃度に換算すると、「２．８７〜７．６９ｍｏｌ／Ｌ」となる。
イ−３　よって、刊行物４には、薄型パネルの電極材料に用いられるインジウムの回収にあたり、「２．８７〜７．６９ｍｏｌ／Ｌ」の塩酸を用いてインジウムを溶出させ、インジウムを含有する塩酸からアニオン交換樹脂を用いてインジウムを回収する方法が記載されているといえる。
イ−４　してみると、インジウムを回収する刊行物１発明において、刊行物４に記載された「薄型パネルの電極材料に用いられるインジウムの回収にあたり、２．８７〜７．６９ｍｏｌ／Ｌの塩酸を用いてインジウムを溶出させ、インジウムを含有する塩酸からアニオン交換樹脂を用いてインジウムを回収する方法」を採用することは、当業者であれば容易に想到し得るものである。
　
　そして、本件補正後の明細書及び図面の記載を検討しても、上記各相違点を補正後発明１のものとしたことにより、当業者が予測し得ない格別顕著な効果が奏されたものとは認められない。
　
　したがって、本件補正は、平成２３年法律第６３号改正附則第２条第１８項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
４．本件補正についてのむすび
　以上のとおり、本件補正は、特許法第１７条の２第５項の各号に掲げるいずれの事項を目的とするものにも該当せず、同法第１７条の２第５項の規定に違反するものであるから、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものであり、また、そうでないとしても、平成２３年法律第６３号改正附則第２条第１８項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３．本願発明について
　
１．本願発明 
　平成２３年８月８日付けの手続補正は前記第２．のとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明１」という。）は、平成２３年４月２５日付け手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される以下のとおりのものである。
「【請求項１】
　廃薄型パネルからガラスおよびインジウムを回収するための方法であって、
　亜ヒ酸を含有するガラス基板を選別する亜ヒ酸含有ガラス基板選別工程と、
　貼り合わされた２枚のガラス基板を分離するガラス基板分離工程と、
　分離されたガラス基板表面に研磨剤粒子を吹きつけることによりガラス基板表面に付着した電極材料を研磨屑として除去した後、サイクロン式分離装置を用いて、研磨屑から研磨剤粒子と電極材料とを分離することで、前記ガラス基板分離工程で分離されたガラス基板表面に付着した電極材料を除去する電極材料除去工程と、
　塩酸を用いて、研磨剤粒子を分離した後の電極材料を含む研磨屑中のインジウムを塩酸に溶解させてインジウムを分離する工程と、
　イオン交換樹脂を用いて、インジウムを含有する塩酸からインジウムを回収する金属回収工程とを含む、ガラスおよびインジウムの回収方法。」
　
２．引用刊行物 
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である刊行物１〜４及びその記載事項は、前記「第２．２」に記載したとおりである。
　
３．対比・判断
　本願発明１は、補正後発明１の「塩酸中の塩化物イオン濃度を１〜６ｍｏｌ／Ｌ」を「塩酸」と拡張したものといえる。
　してみると、本願発明１は、補正後発明１の発明特定事項をすべて含むものであるから、上記「第２．３」に記載した理由により、本願発明１も特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
　
第４．むすび 
　
　以上のとおり、本願発明１は、刊行物１〜４に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 
　したがって、その余の請求項に係る発明について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。