【事件の表示】
　特願２００９−５２５４２５「分光器」拒絶査定不服審判事件〔平成２１年　２月　５日国際公開，ＷＯ２００９／０１７１４２〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　
　本願は，平成２０年７月３０日（優先権主張平成１９年７月３１日，日本，平成２０年６月２５日，日本）を国際出願日とする国際出願であって，平成２３年１１月７日付けで拒絶理由が通知され，平成２４年１月１０日付けで意見書と共に手続補正書が提出されたが，同年５月１１日付けで拒絶査定がなされたのに対し，同年８月１４日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに，同時に手続補正がなされたものである。そして，平成２５年４月１７日付けで審尋がなされ，回答書が同年６月１３日付けで請求人より提出された。　
　
第２　平成２４年８月１４日付けの手続補正についての補正却下の決定　
　
［補正却下の決定の結論］　
　
　平成２４年８月１４日付けの手続補正（以下，「本件補正」という。）を却下する。　
　
［理由］　
　
１　本件補正の内容　
　
　本件補正は，補正前の特許請求の範囲の請求項１について，　
　
「【請求項１】　
　電気光学効果を有する電気光学結晶，および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と，　
　前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と，　
　該分光手段で分光された出射光の中から，任意の波長の光を選択する波長選択手段と　
　を備え，　
　前記ビーム偏向器の幅は，該ビーム偏向器の厚さよりも大きく，　
　前記ビーム偏向器は，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第１の印加状態であるときと，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第２の印加状態であるときとで異なる偏向角の出射光を出射し，
　前記ビーム偏向器から前記分光手段への入射光の位置が，前記第１の印加状態のときと前記第２の印加状態のときとで，異なるように，前記ビーム偏向器と前記分光手段とは所定の光路長以上離されており，
　前記第１の印加状態のときに，前記分光手段から出射された最も短波長の光の光軸と，第２の印加状態のときに，前記分光手段から出射された最も長波長の光の光軸とが交わる位置に前記波長選択手段が配置されていることを特徴とする分光器。」を　
　
「【請求項１】
　電気光学効果を有する電気光学結晶，および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と，
　前記ビーム偏向器からの出射光を分光する
プリズム
　該
プリズム
　を備え，
　前記ビーム偏向器の幅は，該ビーム偏向器の厚さよりも大きく，
　前記ビーム偏向器は，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第１の印加状態であるときと，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第２の印加状態であるときとで異なる偏向角の出射光を出射し，
　前記ビーム偏向器から前記
プリズム
プリズム
　
前記第１の印加状態のときに前記プリズムから光が出射される出射位置に対して，前記第２の印加状態のときに前記プリズムから光が出射される出射位置がシフトしており，
　前記第１の印加状態のときに，前記
プリズム
プリズム
　
２　本件補正の目的
　
（１）特許請求の範囲の請求項１についての本件補正は，補正前の請求項１に係る発明を特定する事項である「分光手段」をその下位概念である「プリズム」に限定し，また，「前記第１の印加状態のときに前記プリズムから光が出射される出射位置に対して，前記第２の印加状態のときに前記プリズムから光が出射される出射位置がシフトしており」と限定する補正を含むものである。
　
（２）そうしてみると，特許請求の範囲についての本件補正は，特許法第１７条の２第５項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的するものに該当するといえる。
　
３　独立特許要件
　
　そこで，本件補正後の請求項１に係る発明（以下，「補正発明」という。）が，特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に適合するか，すなわち，本件の特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて以下に検討する。
　
（１）引用刊行物の記載事項
　
　原査定の拒絶の理由に引用され，本願優先日前に頒布された刊行物である，特開２００６−１３８７３４号公報（以下，「引用刊行物」という。）には，図面の図示と共に，次の事項が記載されている（下線は当審で付与した）。
　
「【０００１】
　
本発明は，コリメータ手段が被測定光を平行光にし，回折格子がコリメータ手段から入射した平行光を入射角に応じて分光し，回折格子によって分光された光をスリットを介して光検出器で検出して被測定光のスペクトラムを測定する光スペクトラムアナライザに関し，詳しくは，高速に波長掃引することができる光スペクトラムアナライザに関するものである。
　
「【００１６】
　以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
［第１の実施例］
　図１は，本発明の第１の実施例を示す構成図である。ここで，図７と同一のものは同一符号を付し，説明を省略する。図１において，光ファイバ７は，入射スリット１の代わりに設けられ，被測定光を伝播し出射する。コリメータレンズ８は，コリメータ手段であり，凹面鏡２の代わりに設けられ，光ファイバ７からの被測定光を平行光にして出射する。
【００１７】
　
音響光学偏向器（以下，ＡＯＤ（acoustooptic deflector）と略す）９は，コリメータレンズ８と回折格子３との間に新たに設けられ，コリメータレンズ８からの平行光の被測定光を偏向し，ＡＯＤ９から回折格子３に入射する被測定光の入射角を変える。
【００１８】
　集光レンズ１０は，凹面鏡４の代わりに設けられ，回折格子３で分光された被測定光を出射スリット５上に集光する。
【００１９】
　波形発生装置１１は，ランプ波を発生する。ディバイダ１２は，波形発生装置１１からの電気信号を分割し，必要に応じて分周する。電圧制御発振器（以下，ＶＣＯ（Voltage Controlled Oscillator）と略す）１３は，ディバイダ１２からのランプ波の電圧に追従した高周波信号をＡＯＤ９に出力する。オシロスコープ１４は，ディバイダ１２からのランプ波をトリガ信号とし，光検出器６からのデータから被測定光の光スペクトラムを求め，表示する。
【００２０】
　このような装置の動作を説明する
　被測定光が，光ファイバ７によって伝播され，光ファイバ７のファイバ端面からコリメータレンズ８に所定の出射角で出射される。そして，コリメータレンズ８が，被測定光を平行光にしてＡＯＤ９に出射する。
【００２１】
　一方，ＡＯＤ９は，ＶＣＯ１３からの高周波信号に応じた粗密波がＡＯ結晶内に発生する。従って，
ＡＯＤ９が，コリメータレンズ８から入射した平行光を，高周波信号に応じて出射方向を変え，すなわち平行光の被測定光を偏向して回折格子３に出射する。
【００２２】
　
そして，回折格子３がＡＯＤ９から入射した被測定光を分光する。従って，回折格子３からの出射光が，波長毎に異なる方向に伝播されるため空間的に広がりを持ち集光レンズ１０に入射される。さらに，集光レンズ１０が，被測定光を波長毎に出射スリット５面上の異なる位置に集光する。そして，集光された光のうち出射スリット５の横幅（波長分散方向の幅）の範囲内となる波長成分の被測定光だけが出射スリット５を通過して，光検出器６で受光される。
【００２３】
　続いて，波長掃引の動作について説明する。
　波形発生装置１１からのランプ波をディバイダ１２が分岐し，一方をＶＣＯ１３に出力し，他方をオシロスコープ１４に出力する。そしてＶＣＯ１３が，ランプ波の電圧に追従した高周波信号をＡＯＤ９に出力する。
【００２４】
　さらに，高周波信号に応じた粗密波が，ＡＯＤ９のＡＯ結晶内に発生され，ＡＯＤ９が生成する１次光の伝播方向が変わる。従って，
回折格子３に入射する１次光の入射角が高速に変わる。
その結果として出射スリット５で切り出される波長も，高速に掃引される。
【００２５】
　そして，オシロスコープ１４に設けられる図示しない信号処理部が，ディバイダ１２からの電気信号をトリガ信号として，光検出器６から出力される電気信号から波長と光強度との特性，すなわち光スペクトラムを求め，光スペクトラムを表示する。
【００２６】
　このように，ＡＯＤ９が，回折格子３に入射する被測定光の入射角を変えるので，図７に示したように回折格子３を機械的に回転させるよりも，高速に波長掃引することができる。例えば，ＡＯＤ９であれば，１掃引を１００［μｓｅｃ］程度で掃引でき，図７に示す装置よりも約１／１０，０００の時間で掃引できている。
【００２７】
　また，ＡＯＤ９が，被測定光を偏向させるので，電気光学効果を用いて被測定光を偏向させるものと比較して，偏向角を大きくとることができる。これにより，波長掃引する波長範囲を広くすることができる。」　
　
「【００３６】
（１）図３を用いて説明する。ここで，図１，図２と同一のものは同一符号を付し，説明を省略する。また，回折格子３，出射スリット５，ＡＯＤ９，レンズ１０，１５，１６以外の図示も省略している。図３（ａ）は，図１に示す装置において，ＡＯＤ９による被測定光の偏向量を変えた場合であり，図３（ｂ）は，図２に示す装置において，ＡＯＤ９による被測定光の偏向量を変えた場合である。なお，スリット５を通過する光軸のみを図示し，被測定光１００〜１０２は，偏向量がそれぞれ異なっている。
【００３７】
 
 図３（ａ）に示すように，レンズ１５，１６がない場合，ＡＯＤ９の偏向量によって，被測定光１００〜１０２が回折格子３に照射される位置が異なる
　
　上記の記載事項から，引用刊行物には，以下の発明が記載されていると認められる。
　
「平行光の被測定光を偏向し，回折格子３に入射する被測定光の入射角を変える音響光学偏向器（ＡＯＤ）９と，
　ＡＯＤ９から入射した被測定光を分光する回折格子３と，
　回折格子３からの出射光が，波長毎に異なる方向に伝播されるため空間的に広がりを持ち入射される集光レンズ１０と，
　集光レンズ１０が，被測定光を波長毎に，面上の異なる位置に集光する出射スリット５と，
　集光された光のうち出射スリット５の横幅（波長分散方向の幅）の範囲内となる波長成分の被測定光だけが出射スリット５を通過して，受光される光検出器６と
　を備え，
　回折格子３に入射する１次光の入射角が高速に変わり，その結果として出射スリット５で切り出される波長も，高速に掃引されるものであり，
  ＡＯＤ９の偏向量によって，被測定光１００〜１０２が回折格子３に照射される位置が異なる光スペクトラムアナライザ。」（以下，「引用発明」という。）
　
（２）補正発明と引用発明との対比
　補正発明と引用発明とを対比すると，引用発明の「光スペクトラムアナライザ」は，補正発明の「分光器」に相当する。
　
　また，引用発明の「音響光学偏向器（ＡＯＤ）９」は「平行光の被測定光を偏向して出射するもの」であるから，補正発明の「電気光学効果を有する電気光学結晶，および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器」とは，「ビーム偏向器」である点で共通する。
　
　引用発明の「ＡＯＤ９から入射した被測定光を分光する回折格子３」と，補正発明の「前記ビーム偏向器からの出射光を分光するプリズム」とは，「前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段」である点で共通する。
　
　引用発明の「集光レンズ１０が，被測定光を波長毎に，面上の異なる位置に集光する出射スリット５」及び「集光された光のうち出射スリット５の横幅（波長分散方向の幅）の範囲内となる波長成分の被測定光だけが出射スリット５を通過して，受光される光検出器６」は，補正発明の「分光された出射光の中から，任意の波長の光を選択する波長選択手段」に相当する。
　
　引用発明において，ＡＯＤ９が検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するときと，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するときとで異なる偏向角の出射光を出射することは明らかであるから，引用発明の「回折格子３に入射する被測定光の入射角を変える音響光学偏向器（ＡＯＤ）９を備え，回折格子３に入射する１次光の入射角が高速に変わり，その結果として出射スリット５で切り出される波長も，高速に掃引されるもの」と，補正発明の「前記ビーム偏向器は，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第１の印加状態であるときと，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第２の印加状態であるときとで異なる偏向角の出射光を出射し」とは，「前記ビーム偏向器は，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するときと，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するときとで異なる偏向角の出射光を出射」する点で共通する。　
　
　引用発明において，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するときと検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するときとで，被測定光が回折格子３に照射される位置が異なることは明らかであり，また，その際，「ＡＯＤ９の偏向量によって，被測定光が回折格子３に照射される位置が異なる」ものとなるためには，ＡＯＤ９と回折格子３とはある程度離れていなければならないことは明らかであるから，引用発明の「ＡＯＤ９が，回折格子３に入射する被測定光の入射角を変えることにより，波長掃引するに際し，ＡＯＤ９の偏向量によって，被測定光１００〜１０２が回折格子３に照射される位置が異なる」ものであることと，補正発明の「前記ビーム偏向器から前記プリズムへの入射光の位置が，前記第１の印加状態のときと前記第２の印加状態のときとで，異なるように，前記ビーム偏向器と前記プリズムとは所定の光路長以上離されて」いることとは，「前記ビーム偏向器から前記分光手段への入射光の位置が，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するときと検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するときとで，異なるように，前記ビーム偏向器と前記分光手段とは所定の光路長以上離されて」いる点で共通する。
　
　引用発明は，「被測定光を波長毎に出射スリット５面上の異なる位置に集光し，集光された光のうち出射スリット５の横幅（波長分散方向の幅）の範囲内となる波長成分の被測定光だけが出射スリット５を通過して，光検出器６で受光されるものであって，出射スリット５で切り出される波長が，掃引される」ものであるところ，検出したい波長帯域の光を検出するときの光の光軸が出射スリット５を通過して，光検出器６で受光されるのは明らかであり，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するときの最も短波長の光の光軸と，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するときの最も長波長の光の光軸とが交わる位置に波長選択手段たる出射スリット５が配置されるように設計することは当然であるから，引用発明の上記構成と，補正発明の「前記第１の印加状態のときに，前記プリズムから出射された最も短波長の光の光軸と，第２の印加状態のときに，前記プリズムから出射された最も長波長の光の光軸とが交わる位置に前記波長選択手段が配置されている構成」とは，「検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するときに，前記分光手段から出射された最も短波長の光の光軸と，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するときに，前記分光手段から出射された最も長波長の光の光軸とが交わる位置に前記波長選択手段が配置されている」点で共通する。
　
　そうすると，両者は，次の点で一致し，以下の点で相違するといえる。
　
［一致点］
「ビーム偏向器と，
　前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と，
　該分光手段で分光された出射光の中から，任意の波長の光を選択する波長選択手段と
　を備え，
　前記ビーム偏向器は，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するときと，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するときとで異なる偏向角の出射光を出射し，
　前記ビーム偏向器から前記分光手段への入射光の位置が，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するときと検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するときとで，異なるように，前記ビーム偏向器と前記分光手段とは所定の光路長以上離されており，
　検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するときに，前記分光手段から出射された最も短波長の光の光軸と，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するときに，前記分光手段から出射された最も長波長の光の光軸とが交わる位置に前記波長選択手段が配置されている分光器。」　
　
［相違点］
（相違点１）
　「ビーム偏向器」について，補正発明では，「電気光学効果を有する電気光学結晶，および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むもので，前記ビーム偏向器の幅は，該ビーム偏向器の厚さよりも大きいもの」であるに対して，引用発明では「音響光学偏向器（ＡＯＤ）」である点。
　
（相違点２）
　分光手段について，補正発明では，「プリズム」であるのに対して，引用発明では「回折格子」である点。
　
（相違点３）
　補正発明では，「検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した」状態を「第１の印加状態」とし，「検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した」状態を「第２の印加状態」とするものであるのに対して，引用発明では，そのような構成を有しない点。，
　
（相違点４）
　補正発明では，「前記第１の印加状態のときに前記プリズムから光が出射される出射位置に対して，前記第２の印加状態のときに前記プリズムから光が出射される出射位置がシフトして」いるのに対して，引用発明では，そのような構成を備えていない点。
　
（３）相違点についての検討・判断
　上記相違点について検討する。
　
（相違点１について）
　引用刊行物の段落【００２７】には，「ＡＯＤ９が，被測定光を偏向させるので，電気光学効果を用いて被測定光を偏向させるものと比較して，偏向角を大きくとることができる。」と記載されているところ，電気光学偏向器がＡＯＤに比べてより高速に動作すること，及び，ＡＯＤが消費電力が大きいことは，例えば，国際公開２００６／１３７４０８号（【０００５】…音響光学効果を利用した光回折型の光偏向器…を用いた方法は，消費電力が大きく…高速動作を行うことが難しいという欠点がある…【０００７】電気光学結晶を用いた方法は，電気光学効果の速度限界まで応答可能であり，ＧＨｚを超える応答が可能となる。），特開平１０−２８８７９８号公報（【０００７】…音響光学偏向器は，走査速度の高速化（〜１０−６秒）が可能…【０００８】…電気光学偏向器は，ピコ秒オーダーの応答時間を持ち，走査速度は高速である…），特開昭６１−２６４３２５号公報の第１頁左下欄第１４行〜同頁右下欄第１５行（光偏向素子には今までに種々の型のものが提案されている。…（２）超音波を伝搬させることにより，媒質中に周期的な疎密を作り出し，等価的に回折格子を作るもの…（２）の型は，原理として回折格子を用いているため光が分散し，主ビームへの光の量が減少し，偏向効率が悪くなる欠点がある。）に開示されているように周知技術であるので，そのような電気光学偏向器の長所を優先して，ＡＯＤに代えて電気光学偏向器を適用することは，当業者が容易になし得たというべきである。
　
　また，ビーム偏向器の幅と厚さの意味について，本願明細書の「【０１７７】…本明細書において，「（電気光学結晶の）厚さ」とは，電極が形成される，対向する２つの面の一方から他方に向った電気光学結晶の長さを指す。また，本明細書において，「（電気光学結晶の）幅」とは，電気光学結晶の厚さ方向および電気光学結晶中を進行する光の方向と垂直な方向に沿った電気光学結晶の長さである。」との記載を参酌して解釈すると，ビーム偏向器の厚さとは，電極が形成される，対向する２つの面の一方から他方に向ったビーム偏向器の長さを指し，また，ビーム偏向器の幅とは，ビーム偏向器の厚さ方向およびビーム偏向器中を進行する光の方向と垂直な方向に沿ったビーム偏向器の長さと解釈すべきである。　
　
　そうすると，ビーム偏向器において「電気光学効果を有する電気光学結晶，および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むもので，ビーム偏向器の幅は，該ビーム偏向器の厚さよりも大きいもの」は，原査定の拒絶の理由に引用された特開平８−１５９８６７号公報（「【００５４】図４の二重プリズム型の電気光学偏向器は，プリズム形状の二つの電気光学結晶を互いに光学軸を反転させて張り合わせたものである。この電気光学偏向器も，図示のように電圧を印加することで，その電圧に比例した角度に入射光を偏向させる。」ここで，図４からビーム偏向器の幅が，ビーム偏向器の厚さより大きいことが窺える。）のみならず，例えば，特公平７−１１１３７２号公報（「【００１１】…図２は，いわゆる２重プリズム型と呼ばれ，プリズム形状の２つの結晶を，互いに光学軸を反転させて張り合わせたものである。この２重プリズム型光偏向器の図の上下方向に電圧をかけると，その電圧に比例した角度で入射光の方向が曲げられる。…【００２３】…光偏向器１０４に入射するパルス光ＰＬが…楕円形である場合は，等価的に入射ビーム径が大きくなり，分解点数Ｎは大きくなる。また，光偏向器１０４が２重プリズム型のとき，図７に示すように薄くできるため，電圧の勾配を大きくすることができて，より分解点数Ｎを大きくすることができる。」ここで，入射光が楕円形であること，光偏向器を薄くできること，図２，図７から，ビーム偏向器の幅が，ビーム偏向器の厚さより大きいことは明らかである。），上記特開昭６１−２６４３２５号公報第２頁左下欄第２行（電気光学材料として…ＰＬＺＴセラミクスを，第３図に示すように，７ｍｍ×５ｍｍ×３ｍｍの直方体に加工し，上下面に設ける三角形状の電極としては…），上記国際公開２００６／１３７４０８号（【００６９】図２０に，本発明の実施例３にかかる光ビーム偏向器を示す。光ビーム偏向器は，方形の電気光学結晶３１の対向する面に，正極３２と負極３３とが形成されている。ＫＬＴＮ結晶からなる電気光学結晶３１を，縦６ｍｍ（ｚ軸）×横５ｍｍ（ｙ軸）×厚さ０．５ｍｍ（ｘ軸）に切り出し，縦５ｍｍ×横４ｍｍの電極を対向する面に取り付ける。）に開示されているように周知技術であり，また，ビーム偏向器の幅と厚さのどちらを大きくするかは，入射光の形状，偏向の向きや大きさ，必要な電圧勾配，消費電力等を考慮して，当業者が適宜選択し得る設計的事項にすぎず，ビーム偏向器の幅を，ビーム偏向器の厚さよりも大きくすることは，当業者が容易になし得たというべきである。
　
（相違点２について）
　分光手段として，回折格子と同様にプリズムを用いることができることは，例えば，特開平５−９９７４５号公報（【０００２】【従来の技術】図２，図３は従来の分光器の原理を示すを図であり，図において，１０，１９はスリット，１１はプリズム，１２はフォトマルまたはフォトダイオードからなる受光器，１３は回折格子である。【０００３】以下，これら分光器の動作を説明する。スリット１０を通った入射光は，プリズム１１または回折格子１３で分光し，，単一波長の光がスリット１９で選別され，受光器１２により光の強度が測定される。そして，ここではプリズム１１または回折格子１３を回転させることによって任意の波長が選別できるようになっている。），特開昭６２−１８５１２８号公報第２頁右上欄第１７行〜左下欄第７行（分光測光法と称される方法であって，例えば第６図（ａ）に示すように入射スリット４を介して入力された光を分散プリズム５にて分光し，射出スリット６を介して選択的に取出される所定波長の光だけを受光器７により受光して測光するものである。また第６図（ｂ）に示すように，入射スリット４を介して入力された光を回折格子８により分光し，これを複数の受光素子を配列してなる受光器９により，互いに異なる波長の光をそれぞれ受光検出して測光するものである。），特開平２−２９１９３１号公報第２頁右下欄第１４行〜同右下欄第１９行（第２図は，第１図の透過型スリットＳ１の代わりに反射型スリットＳ２を用いた構成を示しており，第３図は回折格子の代わりにプリズムを用いた実施例を示す。いづれの場合も，受光素子で光を検出する前段階で分光を行っておくという点で同じである。）に開示されているように周知技術であり，また，分光手段として，回折格子を用いるか，プリズムを用いるかは，必要な分解能，設計のし易さ，装置の小型化，コスト等を考慮して，当業者が適宜選択し得るものであり，回折格子に代えてプリズムを用いることは，当業者が容易になし得たというべきである。
　
（相違点３について）
　引用発明は，ＡＯＤ９の偏向により，分光手段たる回折格子３への入射角を変え，その結果として出射スリット５で切り出される波長が掃引されるものであり，上記（相違点１について）で検討したように，ＡＯＤに代えて電気光学偏向器を適用することは，当業者が容易になし得たというべきであって，電気光学偏向器を適用した際，電気光学偏向器のビーム偏向は電極対に印加する電圧を変化させることにより行うものであるから，「検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した」状態を「第１の印加状態」と定義し，「検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した」状態を「第２の印加状態」と定義することに格別の困難性はない。
　
（相違点４について）
　引用発明は，ＡＯＤ９の偏向により，分光手段たる回折格子３への入射角を変え，その結果として出射スリット５で切り出される波長が掃引されるものであり，上記（相違点１について）及び上記（相違点２について）で検討したように，ＡＯＤに代えて電気光学偏向器を適用し，回折格子に代えてプリズムを用いることは，当業者が容易になし得たというべきであって，電気光学偏向器を適用し，プリズムを用いた際，偏向器の偏向により分光手段への入射角を変え，その結果として出射スリット５で切り出される波長が掃引されるようにするためには，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第１の印加状態のときに前記プリズムから光が出射される出射位置に対して，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第２の印加状態のときに前記プリズムから光が出射される出射位置がシフトすることは必然であり，そのように設計することは，当業者が容易になし得たというべきである。
　
　そうしてみると，補正発明は，引用発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に想到し得たものであるといえる。
　
　そして，本願明細書に記載された補正発明の効果も，当業者であれば予測し得る範囲内のものであり，格別顕著なものとはいえない。
　
（４）小括
　したがって，補正発明は，引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるというべきであるから，特許法第２９条第２項の規定により，特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
４　まとめ
　以上を総合すると，補正発明は，特許法第２９条第２項の規定によって特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
　よって，本件補正は，特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
　
第３　本願発明に対する判断
１　本願発明の認定
　平成２４年８月１４日付けの手続補正は上記のとおり却下されることとなったので，本願の請求項１〜１４に係る発明は，平成２４年１月１０日付けの手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１〜１４に記載された事項により特定されるものであると認められ，その請求項１に係る発明（以下，「本願発明」という。）は，次のとおりのものである。
　
「【請求項１】
　電気光学効果を有する電気光学結晶，および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と，
　前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と，
　該分光手段で分光された出射光の中から，任意の波長の光を選択する波長選択手段と
　を備え，
　前記ビーム偏向器の幅は，該ビーム偏向器の厚さよりも大きく，
　前記ビーム偏向器は，検出したい波長帯域の最も短波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第１の印加状態であるときと，検出したい波長帯域の最も長波長の光を検出するための電圧を前記電極対に印加した第２の印加状態であるときとで異なる偏向角の出射光を出射し，
　前記ビーム偏向器から前記分光手段への入射光の位置が，前記第１の印加状態のときと前記第２の印加状態のときとで，異なるように，前記ビーム偏向器と前記分光手段とは所定の光路長以上離されており，
　前記第１の印加状態のときに，前記分光手段から出射された最も短波長の光の光軸と，第２の印加状態のときに，前記分光手段から出射された最も長波長の光の光軸とが交わる位置に前記波長選択手段が配置されていることを特徴とする分光器。」
　
２　引用刊行物の記載事項
　本願優先日前に頒布された刊行物である引用刊行物の記載事項は，前記「第２」の「３」の「（１）引用刊行物の記載事項」に記載したとおりである。
　
３　判断
　本願発明は，上記「第２」の「１　本件補正の内容」及び「第２」の「２　本件補正の目的」において検討したとおり，補正発明の一部特定事項を上位概念化するとともに，一部限定を削除したもの，言い換えれば，補正発明は本願発明の構成要件をすべて含むものであるということができる。
　しかるに，本願発明の構成要件をすべて含む補正発明が，上記「第２の３　独立特許要件」に記載した理由によって，特許法第２９条第２項の規定によって特許を受けることができないものであるから，本願発明についても同様の理由により，特許法第２９条第２項の規定によって特許を受けることができないものである。
　
　
第４　結び
　以上のとおり，本願発明は，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから，他の請求項に係る発明について言及するまでもなく，本願は，拒絶されるべきものである。
　
　よって，結論のとおり審決する。