(57)【要約】本発明は、固定砥粒を用いて半導体ウェハ等の研磨対象物を研磨するポリッシング方法および研磨液に関する。本発明のポリッシング方法は、固定砥粒に研磨対象物を押圧して摺動させつつ研磨を行うポリッシング方法において、陰イオン系界面活性剤を含み且つ砥粒を含まない研磨液を供給しつつ研磨対象物を研磨することを特徴とする。
2003071593.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
固定砥粒に研磨対象物を押圧して摺動させつつ研磨を行うポリッシング方法において、
陰イオン系界面活性剤を含み且つ砥粒を含まない研磨液を供給しつつ前記研磨対象物を研磨することを特徴とするポリッシング方法。
【請求項２】
前記研磨液中の陰イオン系界面活性剤の濃度は０．００１重量％乃至５重量％であり、かつｐＨ５乃至１０であることを特徴とする請求項１記載のポリッシング方法。
【請求項３】
前記研磨液中の陰イオン系界面活性剤の濃度は０．００１重量％乃至０．１５重量％であり、かつｐＨ４乃至６．５であることを特徴とする請求項１記載のポリッシング方法。
【請求項４】
前記陰イオン系界面活性剤は、ＣＯＯ−基又はＳＯ３−基からなる親水基を有する有機化合物を含むことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載のポリッシング方法。
【請求項５】
前記研磨対象物は、窒化膜の上にシリコン酸化膜が堆積された研磨対象物であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載のポリッシング方法。
【請求項６】
固定砥粒に研磨対象物を押圧して摺動させつつ研磨を行うポリッシング方法に用いられる研磨液であって、砥粒を含まず、陰イオン界面活性剤を０．００１重量％以上０．１５重量％未満含有することを特徴とする研磨液。
【請求項７】
前記研磨液のｐＨが４乃至６．５であることを特徴とする請求項６に記載の研磨液。
【請求項８】
前記陰イオン界面活性剤が重量平均分子量１３０００以上６００００以下のポリアクリル酸及び／又はその塩であることを特徴とする請求項６又は７に記載の研磨液。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、ポリッシング方法および研磨液に係り、特に固定砥粒を用いて半導体ウェハ等の研磨対象物を研磨するポリッシング方法および研磨液に関するものである。
背景技術
近年、半導体デバイスの高集積化が進むにつれて回路の配線が微細化し、配線間距離もより狭くなりつつある。特に線幅が０．５μｍ以下の光リソグラフィの場合、焦点深度が浅くなるためステッパーの結像面の平坦度を必要とする。このような半導体ウェハの表面を平坦化する一手段として、化学機械研磨（ＣＭＰ）を行うポリッシング装置が知られている。
この種の化学機械研磨（ＣＭＰ）装置は、研磨パッドを上面に有する研磨テーブルとトップリングとを備えている。そして、研磨テーブルとトップリングとの間に研磨対象物を介在させて、研磨パッドの表面に砥液（スラリ）を供給しつつ、トップリングによって研磨対象物を研磨テーブルに押圧して、研磨対象物の表面を平坦且つ鏡面状に研磨している。
このようなＣＭＰ装置は、例えば半導体デバイスの最下層にトランジスタ回路を形成するためのＳＴＩ（Ｓｈａｌｌｏｗ  Ｔｒｅｎｃｈ  Ｉｓｏｌａｔｉｏｎ）形成工程に用いられている。図３Ａ乃至図３Ｆは、ＳＴＩ形成工程の一例を示す断面概略図である。シリコン基板１００上に窒化膜１１０（一般には窒化珪素膜Ｓｉ３Ｎ４）を形成し（図３Ａ参照）、この窒化膜１１０をマスクとしてシリコン基板１００をエッチングし、トレンチ（溝）１２０を形成する（図３Ｂ参照）。そして、このトレンチ１２０に絶縁材料であるシリコン酸化膜１３０を埋め込む（図３Ｃ）。
トレンチ１２０にシリコン酸化膜１３０を埋め込んだ場合に、図３Ｃに示すように、表面に余分なシリコン酸化膜１３０が残ってしまうので、この余分なシリコン酸化膜１３０をＣＭＰによって除去し、窒化膜１１０の表面を露出させる（図３Ｄ参照）。次に、窒化膜１１０をエッチングにより除去して、シリコン酸化膜の溝１３０ａを形成する（図３Ｅ参照）。このようなシリコン酸化膜の溝１３０ａを介してトランジスタ１４０が配置される（図３Ｆ参照）。
このようなＳＴＩ形成工程において、ＣＭＰを用いた研磨工程の目的は、上述したように、窒化膜上に形成された余分なシリコン酸化膜を完全に除去することにある。シリコン酸化膜の除去が不完全であると、その後の窒化膜のエッチングが阻害される。
しかしながら、従来、上述したＳＴＩ形成における研磨においては、ポリウレタン系の研磨パッドとシリカ砥粒を分散させたスラリとが用いられており、窒化膜１１０がシリコン酸化膜１３０よりも研磨されにくいので、図４に示すようにシリコン酸化膜１３０が研磨されすぎてディッシングが生じる。また、窒化膜の研磨にムラが生じて窒化膜上の面内均一性を十分に得ることができないという問題がある。ＳＴＩ形成においては、窒化膜及びトレンチのシリコン酸化膜の膜厚を厳しく管理する、即ち、ウェハの面内で膜厚を均一にすることが必要であり、上述したディッシングを抑制し、面内均一性を得ることが重要な課題となっている。
最近では、ポリウレタン系の研磨パッドとセリア砥粒を分散させたスラリとを用い、高濃度の界面活性剤を微量添加しながらウェハの研磨を行うことで、上述した問題を改善する試みがなされている。例えば、シリカスラリを用いた場合のディッシング量が５００Åであったとすると、この方法によればディッシング量を２００〜３００Åに低減することができる。しかしながら、この方法においても、軟質の研磨パッドが使用されるために上述したディッシングを完全になくすことができない。また、高濃度の界面活性剤を使用するためにセリアが凝集し、凝集したセリアによってウェハにスクラッチが発生してしまうという問題もある。
このような砥粒を含有した研磨液（スラリ）と軟質パッドを用いた研磨方法の問題を改善する方法として、特開２０００−１７３９５５号公報に記載されているように固定砥粒を用いた研磨方法が提案されている。特開２０００−１７３９５５号公報は、セリアを含有する固定砥粒と分子量１００００のポリアクリル酸アンモニウムを１重量％含有し、ｐＨがアルカリである研磨液で研磨を行う方法を提案している。この方法は、ｐＨをアルカリ性にすることにより、脱落した砥粒の分散性を十分に高め、研磨速度を向上させることを目的としているが、添加するポリアクリル酸アンモニウムが比較的高濃度のために凝集が起こる恐れがあり、スクラッチを十分に抑えることが難しい。また、ｐＨがアルカリ性であるために、ディッシングを抑止し良好な面内均一性を得ることが困難であった。
発明の開示
本発明は、このような従来技術の問題点に鑑みてなされたもので、窒化膜上に酸化膜が形成された研磨対象物のディッシングを抑制して面内均一性を得ることができるポリッシング方法および研磨液を提供することを目的とする。
このような従来技術における問題点を解決するために、本発明の第１の態様は、固定砥粒に研磨対象物を押圧して摺動させつつ研磨を行うポリッシング方法において、陰イオン系界面活性剤を含み且つ砥粒を含まない研磨液を供給しつつ上記研磨対象物を研磨することを特徴とするポリッシング方法である。
上記研磨液中の陰イオン系界面活性剤の濃度は０．００１重量％乃至５重量％であることが好ましく、より好ましくは０．００１重量％以上０．１５重量％未満である。ｐＨは５乃至１０であることが好ましく、より好ましくは、４乃至６．５である。更に、上記陰イオン系界面活性剤は、ＣＯＯ−基又はＳＯ３−基からなる親水基を有する有機化合物を含むことが好ましい。また、上記研磨対象物は、窒化膜の上にシリコン酸化膜が堆積された研磨対象物であることが好ましい。
さらに、陰イオン界面活性剤が重量平均分子量１３０００以上６００００以下のポリアクリル酸及び／又はその塩であることが望ましい。
研磨液のｐＨが中性領域から酸性領域においては、固定砥粒の砥粒表面及び窒化膜の表面は主として正に帯電している（表面の一部は負電荷を有するが、正電荷が支配的である）。従って、固定砥粒上に供給された陰イオン系界面活性剤は固定砥粒の砥粒表面及び窒化膜の表面に電気的に強く付着する。このように固定砥粒の砥粒と窒化膜とが共に陰イオン系界面活性剤で覆われ反発しあうため、窒化膜の研磨が進みにくくなり、窒化膜の研磨レートが極端に低くなる。このときの研磨選択比は、例えば酸化膜：窒化膜＝１０：１以上となり、窒化膜は研磨ストッパーとして作用する。このように、窒化膜の研磨レートが極端に低下して研磨量が少なくなるため、窒化膜の残膜厚のムラがなくなり窒化膜上の面内均一性を得ることができる。
このとき、上述した研磨選択比により、窒化膜は研磨されずシリコン酸化膜のみが研磨され、上述したディッシングが進行すると考えられるが、実際にはディッシングが進行せず、ディッシング量を例えば１００Å以下に抑えることができる。これは、以下の２つの理由によるものであると考えられる。
▲１▼陰イオン系界面活性剤は窒化膜の表面だけでなく、シリコン酸化膜にも若干付着し、シリコン酸化膜の表面には陰イオン系界面活性剤の被膜が形成される。ある値以上の面圧がかかっている場合は、シリコン酸化膜の表面の被膜が破れるか又は脆弱となるため研磨が進行するが、多少でも研磨が進むとシリコン酸化膜の表面高さが窒化膜よりも低くなるため、シリコン酸化膜の表面における面圧が低下し、陰イオン系界面活性剤の被膜が厚く形成され、研磨が進みにくくなる。
▲２▼使用する陰イオン系界面活性剤は高分子であることから、窒化膜に付着した陰イオン系界面活性剤がトレンチ部の一部又はかなりの領域を覆うため、固定砥粒中の粒子による研磨が阻害される。
また、本発明の研磨方法は、陰イオン界面活性剤の濃度を低くしているため、脱落した砥粒が凝集を起こさず、その結果、スクラッチを少なくすることができる。
また、本発明では研磨面として固定砥粒を用いている。固定砥粒では研磨面が硬質で弾性変形しにくいため、従来の弾性を有する研磨パッドを用いるよりもディッシングを形成しにくく、より平坦な仕上がり面を得ることができる。
このように、本発明によれば、濃度の低い陰イオン系界面活性剤を含み且つ砥粒を含まないｐＨが酸性である研磨液を固定砥粒上に供給しながら研磨することによって、例えば窒化膜を研磨ストッパーとして作用させることができる。従って、窒化膜の研磨レートを低くして窒化膜上の面内均一性を得ると共にディッシングを抑制することができ、スクラッチが少なく平坦性の高い研磨を実現することが可能となる。
発明を実施するための最良の形態
以下、本発明に係るポリッシング装置の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の一実施形態に係るポリッシング装置の全体構成を示す平面図である。
図１に示すように、本実施形態におけるポリッシング装置は、多数の半導体ウェハをストックするウェハカセット１を載置する４つのロード／アンロードステージ２を備えている。ロード／アンロードステージ２は昇降可能な機構を有していてもよい。ロード／アンロードステージ２上の各ウェハカセット１に到達可能となるように、走行機構３の上に搬送ロボット４が配置されている。
搬送ロボット４は、上下に２つのハンドを備えている。搬送ロボット４の２つのハンドのうち下側のハンドは、ウェハを真空吸着する吸着型ハンドであり、ウェハカセット１から半導体ウェハを受け取るときのみに使用される。この吸着型ハンドは、カセット内のウェハのずれに関係なく正確にウェハを搬送することができる。一方、搬送ロボット４の上側のハンドは、ウェハの周縁部を保持する落し込み型ハンドであり、ウェハカセット１に半導体ウェハを戻すときのみに使用される。この落し込み型ハンドは、吸着型ハンドのようにゴミを集めてこないので、ウェハの裏面のクリーン度を保ちながらウェハを搬送することができる。このように洗浄した後のクリーンなウェハを上側に配置することとして、それ以上ウェハを汚さないようにしている。
搬送ロボット４の走行機構３を対称軸としてウェハカセット１とは反対側には、半導体ウェハを洗浄する２台の洗浄機５，６が配置されている。各洗浄機５，６は搬送ロボット４のハンドが到達可能な位置に配置されている。また、これらの洗浄機５，６は、ウェハを高速回転させて乾燥させるスピンドライ機能を有しており、これによりウェハの２段洗浄及び３段洗浄の際にモジュール交換することなく対応することができる。
２台の洗浄機５，６の間には、搬送ロボット４が到達可能な位置に、半導体ウェハの載置台７，８，９，１０を４つ備えたウェハステーション１２が配置されている。洗浄機５と３つの載置台７，９，１０に到達可能な位置には、２つのハンドを有する搬送ロボット１４が配置されている。また、洗浄機６と３つの載置台８，９，１０に到達可能な位置には、２つのハンドを有する搬送ロボット１５が配置されている。
載置台７は、搬送ロボット４と搬送ロボット１４との間で半導体ウェハを互いに受渡すために使用され、載置台８は、搬送ロボット４と搬送ロボット１５との間で半導体ウェハを搬送するために使用される。これらの載置台７，８には半導体ウェハの有無を検知する検知センサ１６，１７がそれぞれ設けられている。
載置台９は、搬送ロボット１５から搬送ロボット１４へ半導体ウェハを搬送するために使用され、載置台１０は、搬送ロボット１４から搬送ロボット１５へ半導体ウェハを搬送するために使用される。これらの載置台９，１０には、半導体ウェハの有無を検知する検知センサ１８，１９と、半導体ウェハの乾燥を防止する又はウェハを洗浄するためのリンスノズル２０，２１とがそれぞれ設けられている。
これらの載置台９，１０は共通の防水カバーの中に配置されており、このカバーに設けられた搬送用の開口部にはシャッター２２が設けられている。また、載置台９は載置台１０の上方に位置しており、洗浄後のウェハは載置台９に、洗浄前のウェハは載置台１０に載置される。このような構成とすることで、リンス水の落下によるウェハの汚染を防止している。なお、図１において、センサ１６，１７，１８，１９、リンスノズル２０，２１、及びシャッター２２は模式的に示されており、これらの位置及び形状は正確に図示されていない。
搬送ロボット１４のハンドが到達可能な位置には、洗浄機５と隣接するように洗浄機２４が配置されている。また、搬送ロボット１５のハンドが到達可能な位置には、洗浄機６と隣接するように洗浄機２５が配置されている。これらの洗浄機２４，２５は、ウェハの両面を洗浄することができる洗浄機である。
搬送ロボット１４及び搬送ロボット１５の上側のハンドは、一度洗浄された半導体ウェハを洗浄機又はウェハステーション１２の載置台へ搬送するのに使用される。一方、下側のハンドは、一度も洗浄されていない半導体ウェハ及び研磨される前の半導体ウェハを搬送するために使用される。下側のハンドを用いて後述する反転機へのウェハの出し入れを行うことにより、反転機上部の壁からのリンス水の滴により上側のハンドが汚染されることがない。
上記洗浄機５，６，２４，２５のウェハ搬入口には、図１に示すように、それぞれシャッター５ａ，６ａ，２４ａ，２５ａが取付けられており、ウェハが搬入されるときのみ開口可能となっている。
ポリッシング装置は、各機器を囲むようにハウジング２６を備えており、ハウジング２６の内部は、隔壁２８、隔壁３０、隔壁３２、隔壁３４、及び隔壁３６により複数の領域（領域Ａ、領域Ｂを含む）に区画されている。
ウェハカセット１と搬送ロボット４が配置されている領域Ａと、洗浄機５，６と載置台７，８，９，１０が配置されている領域Ｂとの間には、領域Ａと領域Ｂとのクリーン度を分けるために隔壁２８が配置されている。この隔壁２８には、領域Ａと領域Ｂとの間で半導体ウェハを搬送するための開口部が設けられており、この開口部にはシャッター３８が設けられている。上記洗浄機５，６，２４，２５、ウェハステーション１２の載置台７，８，９，１０、及び搬送ロボット１４，１５は、すべて領域Ｂの中に配置されており、領域Ｂの圧力は領域Ａ内の気圧よりも低い気圧に調整されている。
図１に示すように、隔壁３４によって領域Ｂとは区切られた領域Ｃの内部において搬送ロボット１４のハンドが到達可能な位置には、半導体ウェハを反転させる反転機４０が配置されており、反転機４０には搬送ロボット１４によって半導体ウェハが搬送される。また、領域Ｃの内部において搬送ロボット１５のハンドが到達可能な位置には、半導体ウェハを反転させる反転機４１が配置されており、反転機４１には搬送ロボット１５によって半導体ウェハが搬送される。反転機４０及び反転機４１は、半導体ウェハをチャックするチャック機構と、半導体ウェハの表面と裏面を反転させる反転機構と、半導体ウェハを上記チャック機構によりチャックしているかどうかを確認する検知センサとを備えている。
隔壁３４によって領域Ｂと区分されたポリッシング室が形成されており、このポリッシング室は更に隔壁３６によって２つの領域Ｃ及び領域Ｄに区分されている。なお、領域Ｂと領域Ｃ及びＤとを区切る隔壁３４には、半導体ウェハ搬送用の開口部が設けられ、この開口部には、反転機４０と反転機４１のためのシャッター４２，４３が設けられている。
図１に示すように、２つの領域Ｃ，Ｄには、それぞれ２つの研磨テーブルと、１枚の半導体ウェハを保持し且つ半導体ウェハを研磨テーブルに対して押し付けながら研磨するための１つのトップリングが配置されている。即ち、領域Ｃには、トップリング４４と、研磨テーブル４６，４８と、研磨テーブル４６に研磨液を供給するための研磨液供給ノズル５０と、窒素ガス供給源及び液体供給源に接続される複数の噴射ノズル（図示せず）を備えたアトマイザ５２と、研磨テーブル４６のドレッシングを行うためのドレッサ５４と、研磨テーブル４８のドレッシングを行うためのドレッサ５６とが配置されている。同様に、領域Ｄには、トップリング４５と、研磨テーブル４７，４９と、研磨テーブル４７に研磨液を供給するための研磨液供給ノズル５１と、窒素ガス供給源及び液体供給源に接続される複数の噴射ノズル（図示せず）を備えたアトマイザ５３と、研磨テーブル４７のドレッシングを行うためのドレッサ５５と、研磨テーブル４９のドレッシングを行うためのドレッサ５７とが配置されている。
研磨液供給ノズル５０，５１からは研磨に使用する研磨液やドレッシングに使用するドレッシング液（例えば、水）がそれぞれ研磨テーブル４６，４７上に供給される。また、アトマイザ５２，５３からは窒素ガスと純水又は薬液とが混合された液体が研磨テーブル４６，４７上に噴射される。窒素ガス供給源からの窒素ガス及び液体供給源からの純水又は薬液は、図示しないレギュレータやエアオペレータバルブによって所定の圧力に調整され、両者が混合された状態でアトマイザ５２，５３の噴射ノズルに供給される。この場合において、アトマイザ５２，５３の噴射ノズルは研磨テーブル４６，４７の外周側に向けて液体を噴射するのが好ましい。なお、窒素ガスに代えて他の不活性ガスを用いることもできる。また、純水又は薬液などの液体のみをアトマイザ５２，５３から噴射することとしてもよい。なお、研磨テーブル４８，４９にもアトマイザを設けてもよい。研磨テーブル４８，４９にアトマイザを設けることで、研磨テーブル４８，４９の表面をより清浄に保つことができる。
混合された窒素ガスと純水又は薬液は、▲１▼液体微粒子化、▲２▼液体が凝固した微粒子固体化、▲３▼液体が蒸発した気体化（これら▲１▼、▲２▼、▲３▼を霧状化又はアトマイズという）された状態で、アトマイザ５２，５３の噴射ノズルから研磨テーブル４６，４７に向けて噴射される。混合された液体が液体微粒子化、微粒子固体化、気体化のいずれの状態で噴射されるかは、窒素ガス及び／又は純水又は薬液の圧力、温度、又はノズル形状などによって決定される。従って、レギュレータなどによって窒素ガス及び／又は純水又は薬液の圧力、温度、又はノズル形状などを適宜変更することによって噴射される液体の状態を変更することができる。
なお、研磨テーブル４８，４９の代わりに、湿式タイプのウェハ膜厚測定機を設置してもよい。その場合は、研磨直後のウェハの膜厚を測定することができ、ウェハの削り増しや、測定値を利用して次のウェハへの研磨プロセスの制御を行うこともできる。
反転機４０及び４１とトップリング４４及び４５の下方に、洗浄室（領域Ｂ）とポリッシング室（領域Ｃ，Ｄ）の間でウェハを搬送するロータリトランスポータ６０が配置されている。ロータリトランスポータ６０には、ウェハを載せるステージが４ヶ所等配に設けてあり、同時に複数のウェハを搭載できるようになっている。
反転機４０及び４１に搬送されたウェハは、ロータリトランスポータ６０のステージの中心が、反転機４０又は４１でチャックされたウェハの中心と位相が合ったときに、ロータリトランスポータ６０の下方に設置されたリフタ６２又は６３が昇降することで、ロータリトランスポータ６０上に搬送される。ロータリトランスポータ６０のステージ上に載せられたウェハは、ロータリトランスポータ６０の位置を９０°変えることで、トップリング４４又は４５の下方へ搬送される。トップリング４４又は４５は、予めロータリトランスポータ６０の位置に揺動している。トップリング４４又は４５の中心が上記ロータリトランスポータ６０に搭載されたウェハの中心と位相が合ったときに、それらの下方に配置されたプッシャー６４又は６５が昇降することで、ウェハはロータリトランスポータ６０からトップリング４４又は４５へ移送される。
次に、ポリッシング室をより詳細に説明する。なお、以下では、領域Ｃについてのみ説明するが、領域Ｄについても領域Ｃと同様に考えることができる。図２は、領域Ｃのトップリング４４と研磨テーブル４６，４８との関係を示す図である。
図２に示すように、トップリング４４は回転可能なトップリング駆動軸７０によってトップリングヘッド７２から吊下されている。トップリングヘッド７２は位置決め可能な揺動軸７４によって支持されており、トップリング４４は研磨テーブル４６，４８の双方にアクセス可能になっている。
また、ドレッサ５４は回転可能なドレッサ駆動軸７６によってドレッサヘッド７８から吊下されている。ドレッサヘッド７８は位置決め可能な揺動軸８０によって支持されており、これによりドレッサ５４は待機位置と研磨テーブル４６上のドレッサ位置との間を移動可能になっている。同様に、ドレッサ５６は回転可能なドレッサ駆動軸８２によってドレッサヘッド８４から吊下されている。ドレッサヘッド８４は位置決め可能な揺動軸８６によって支持されており、これによりドレッサ５６は待機位置と研磨テーブル４８上のドレッサ位置との間を移動可能になっている。
研磨テーブル４６の上面は、砥粒と気孔又は気孔剤とがバインダ（樹脂）により結合された固定砥粒４６ａによって構成されており、この固定砥粒４６ａによってトップリング４４に保持された半導体ウェハを研磨する研磨面が構成される。このような固定砥粒４６ａは、例えば、スラリ状の研磨剤（液体中に砥粒を分散させたもの）とエマルジョン状樹脂を混合分散した混合液を噴霧乾燥させ、この混合粉を成形治具に充填し、加圧・加熱処理して得られる。砥粒としては、好ましくは、平均粒子径が０．５μｍ以下のセリア（ＣｅＯ２）又はシリカ（ＳｉＯ２）を用いる。また、バインダとして熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂を用いることができるが、特に熱可塑性樹脂が好適である。
また、研磨テーブル４８の上面は、軟質の不織布によって構成されており、この不織布により研磨後の半導体ウェハの表面に付着した砥粒を洗浄する洗浄面が構成される。
次に、本発明のポリッシング装置を用いて半導体ウェハを研磨する工程について例を挙げて説明する。なお、以下の研磨工程の説明では、領域Ｃにおいて研磨処理を行う場合について説明するが、領域Ｄについても同様に考えることができる。また、以下では、ＳＴＩ形成における研磨工程に適用した例を説明するが、例えば層間絶縁膜（ＩＬＤ）のパターンが形成された半導体ウェハを研磨する場合にも本発明を適用することができる。
１）ポリッシング
研磨テーブル４６とトップリング４４とそれぞれ自転させつつ、半導体ウェハを研磨テーブル４６に押圧し半導体ウェハのシリコン酸化膜を窒化膜に達するまで研磨する。このとき、研磨液供給ノズル５０から陰イオン系界面活性剤を含み且つ砥粒を含まない研磨液を固定砥粒４６ａ上に供給する。供給する陰イオン系界面活性剤の濃度は０．００１重量％乃至５重量％であることが好ましく、より好ましくは０．００１重量％乃至０．１５重量％である。ディッシングを抑制し、面内均一性を得る観点、および脱落した砥粒を分散させスクラッチを防止する観点から、０．００２重量％以上がより好ましく、さらに好ましくは０．００３重量％以上、特に好ましくは０．００４重量％以上である。また、研磨速度を十分発現する観点、および脱落した砥粒を分散させスクラッチを防止する観点から、０．１５重量％未満が好ましいが、より好ましくは０．１０重量％未満、さらに好ましくは０．０８重量％未満、特に好ましくは０．０５重量％未満である。したがって、好ましくは０．００１重量％以上０．１５重量％未満、より好ましくは０．００２重量％以上０．１０重量％未満、さらに好ましくは０．００３重量％以上０．０８重量％未満、特に好ましくは０．００４重量％以上０．０５重量％未満である。界面活性剤を添加する目的は、窒化膜をストッパーとして機能させることの他に、シリコン酸化膜の研磨速度を抑えて（トレンチ部の）ディッシングを抑制することである。添加濃度を上げればシリコン酸化膜の研磨速度が低下しディッシングを抑制できるが、濃度を上げすぎると研磨速度が著しく低下するため研磨に時間を要することになる。これは生産性の低下につながる。例えばポリアクリル酸アンモニウムを０．０５重量％添加した場合のシリコン酸化膜の研磨速度は、純水の場合に比べて約３０％低下する。濃度と研磨速度低下量はリニア（直線的）な関係がみられることから、濃度０．１０％では約６０％、０．１５％では約９０％低下することになる。生産性を考慮すると、添加する界面活性剤濃度の上限は、０．１５％までとするのが望ましい。
また、ｐＨは４乃至１０であることが好ましく、より好ましくは４乃至６．５である。特に、脱落した砥粒を分散させスクラッチを防止する観点から、４．５を超えることがより好ましく、さらに４．８を超えることが好ましく、特に５．０を超えることが好ましい。また、ディッシングを抑制し面内均一性を得る観点から、５．５未満であることがより好ましく、さらに５．４未満であることが好ましく、特に５．３未満であることが好ましい。したがって、ｐＨ値は４．５より大きく５．５未満が好ましく、４．８より大きく５．４未満がより好ましく、５．０より大きく５．３未満が特に好ましい。
また、陰イオン系界面活性剤は、ＣＯＯ−基又はＳＯ３−基からなる親水基を有する有機化合物を含むことが好ましい。脱落した砥粒を分散させスクラッチを防止する観点、およびディッシングを抑制し面内均一性を得る観点から、特に好ましくは、ＣＯＯ−基を有する有機化合物である。具体的には、アルキル硫酸、アルキルエーテル硫酸及びそれらの塩等の硫酸化合物、アルキルスルフォン酸、アルキルベンゼンスルフォン酸、アルキルナフタレンスルフォン酸、スルフォコハク酸、ナフタレンスルフォン酸ホルマリン縮合物、リグニンスルフォン酸、ポリスチレンスルフォン酸及びそれらの塩等のスルフォン酸化合物、石けん、アルキルエーテルカルボン酸、ポリアクリル酸、ポリメタクリル酸、アクリル酸やメタクリル酸を含む共重合物およびそれらの塩等のカルボン酸化合物、アルキルリン酸、アルキルエーテルリン酸およびそれらの塩等のリン酸化合物などが挙げられる。その中でも、ポリアクリル酸及びその塩がもっとも好ましい。ポリアクリル酸塩においては、アンモニウム塩が好ましい。
ポリアクリル酸及びその塩の重量平均分子量（Ｍｗ）は、脱落した砥粒を分散させスクラッチを防止する観点から、１３０００以上が好ましく、より好ましくは１４０００以上、もっとも好ましくは１５０００以上であり、また、ディッシングを抑制し面内均一性を得る観点から、６００００以下が好ましく、より好ましくは５００００以下、もっとも好ましくは４５０００以下である。したがって、１３０００以上６００００以下が好ましく、より好ましくは１４０００以上５００００以下であり、もっとも好ましくは１５０００以上４５０００以下である。なお、ポリアクリル酸及びその塩の分子量は、下記の条件で行われたゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）で測定された値である。
ポンプ：ＣＣＰＤ（東ソー社製）
ディテクタ：ＲＩ−７１（Ｓｈｏｄｅｘ社製）
データ処理ソフト：Ｇｐｃ−８０２０（東ソー社製）
カラム：一段目にＧ４０００ＰＷＸＬ（東ソー社製）、二段目にＧ２５００ＰＷＸＬ（東ソー社製）を用いた。
溶離液：０．２モルリン酸バッファー溶液とＣＨ３ＣＮを容積比９：１で混合したものを用いた。０．２モルリン酸バッファー溶液は０．２モル／Ｌ・ＫＨ２ＰＯ４水溶液と０．２モル／Ｌ・Ｎａ２ＨＰＯ４水溶液を容積比１：１で混合したものである。
流量：１．０ｍＬ／ｍｉｎ
カラム温度：４０℃
サンプル量：０．５重量％のポリアクリル酸及び塩水溶液  １００μＬ
分子量換算：分子量既知のポリエチレングリコール７種（分子量１２０００，２６０００，９５０００，１４５０００，２５００００，５１００００，９２００００）を用いて検量線を作成し、換算した。
本発明の研磨液は、脱落した砥粒を分散させスクラッチを防止する観点から、２５０００以上６００００以下の重量平均分子量を持つポリアクリル酸及びその塩と、ディッシングを抑制し面内均一性を得る観点から、１３０００以上２５０００未満の重量平均分子量を持つポリアクリル酸及びその塩の少なくとも２種類の陰イオン界面活性剤を含有していることが好ましい。
２５０００以上６００００以下の重量平均分子量を持つ第１のポリアクリル酸及びその塩のさらに好ましい重量平均分子量は２７０００以上４５０００以下であり、もっとも好ましくは２８０００以上３５０００以下である。また、その添加量は、脱落した砥粒を分散させスクラッチを防止する観点、ディッシングを抑制し面内均一性を得る観点から、０．０００５重量％以上０．０３重量％未満が好ましく、より好ましくは０．００１重量％以上０．０２重量％未満、もっとも好ましくは０．００５重量％以上０．０１重量％未満である。
１３０００以上２５０００未満の重量平均分子量を持つ第２のポリアクリル酸及びその塩のさらに好ましい重量平均分子量は１４０００以上２４０００以下であり、もっとも好ましくは１５０００以上２３０００以下である。また、その添加量は、ディッシングを抑制し面内均一性を得る観点、および研磨速度を十分発現する観点から、０．００３重量％以上０．１２重量％未満が好ましく、より好ましくは０．０１重量％以上０．０８重量％未満、もっとも好ましくは０．０２重量％以上０．０４重量％未満である。
平均粒子径が０．２μｍのセリア砥粒とバインダとしての熱可塑性樹脂を用いた固定砥粒パッドを搭載した本発明のポリッシング装置を用いて、ＳＴＩ基板（ＳＫＷ３−１、ＭＩＴ９６４ｍａｓｋ使用）の研磨を行った場合の実験結果を説明する。この場合、分子量３１２００のポリアクリル酸０．００８重量％と分子量１７７００のポリアクリル酸０．０３２重量％を含有し、アンモニアでｐＨを５．１に調製した研磨液１、分子量３１２００のポリアクリル酸１．６重量％を含有し、アンモニアでｐＨを６．０に調製した研磨液２、分子量３１２００のポリアクリル酸１．０重量％を含有し、アンモニアでｐＨを９．０に調製した研磨液３を用いて、ＳＴＩ基板の研磨を行った。研磨液１を用いて研磨を行った結果、ディッシングが１００Å以下であり、スクラッチは見られず、良好であった。研磨液２を用いて研磨を行った結果、ディッシング量は、研磨液１と同等レベルであったが、スクラッチがやや見られた。研磨液３を用いて研磨を行った結果、スクラッチがやや見られ、ディッシングの改善が見られなかった。
このように、０．００１重量％以上０．１５重量％未満の陰イオン系界面活性剤を含み且つ砥粒を含まないｐＨが４〜６．５である研磨液を固定砥粒４６ａ上に供給しながら研磨することによって、上述したように、窒化膜を研磨ストッパーとして作用させることができる。従って、窒化膜の研磨レートを低くして窒化膜上の面内均一性を得ると共に酸化膜のディッシングを抑制することができ、スクラッチが少なく平坦性の高い研磨を実現することが可能となる。
上述したように、本発明によれば、０．００１重量％以上０．１５重量％未満の陰イオン系界面活性剤を含み且つ砥粒を含まないｐＨが４〜６．５である研磨液を固定砥粒上に供給しながら研磨することによって、例えば窒化膜を研磨ストッパーとして作用させることができる。従って、窒化膜の研磨レートを低くして窒化膜上の面内均一性を得ると共にディッシングを抑制することができ、スクラッチが少なく平坦性の高い研磨を実現することが可能となる。
産業上の利用の可能性
本発明は、固定砥粒を用いて半導体ウェハ等の研磨対象物を研磨するポリッシング方法および研磨液に好適に利用可能である。
【図面の簡単な説明】
図１は本発明の一実施形態におけるポリッシング装置の全体構成を示す平面図である。
図２は図１におけるポリッシング室の正面図である。
図３Ａ乃至図３ＦはＳＴＩ形成工程の一例を示す概略図である。
図４は従来のポリッシング装置を用いた場合におけるディッシングを示す概略図である。
【図１】
2003071593.tif 000003
【図２】
2003071593.tif 000004
【図３Ａ】
2003071593.tif 000005
【図３Ｂ】
2003071593.tif 000006
【図３Ｃ】
2003071593.tif 000007
【図３Ｄ】
2003071593.tif 000008
【図３Ｅ】
2003071593.tif 000009
【図３Ｆ】
2003071593.tif 000010
【図４】
2003071593.tif 000011
【手続補正書】
【提出日】平成15年8月5日(2003.8.5)
【手続補正００１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】固定砥粒に研磨対象物を押圧して摺動させつつ研磨を行うポリッシング方法において、
陰イオン系界面活性剤を含み且つ砥粒を含まない研磨液を供給しつつ前記研磨対象物を研磨し、前記研磨液のｐＨが４乃至６．５であることを特徴とするポリッシング方法。
【請求項２】（削除）
【請求項３】前記研磨液中の陰イオン系界面活性剤の濃度は０．００１重量％乃至０．１５重量％であることを特徴とする請求項１記載のポリッシング方法。
【請求項４】前記陰イオン系界面活性剤は、ＣＯＯ−基又はＳＯ３−基からなる親水基を有する有機化合物を含むことを特徴とする請求項１又は３に記載のポリッシング方法。
【請求項５】前記研磨対象物は、窒化膜の上にシリコン酸化膜が堆積された研磨対象物であることを特徴とする請求項１又は３又は４に記載のポリッシング方法。
【請求項６】固定砥粒に研磨対象物を押圧して摺動させつつ研磨を行うポリッシング方法に用いられる研磨液であって、前記研磨液は砥粒を含まず、前記研磨液のｐＨが４乃至６．５であることを特徴とする研磨液。
【請求項７】前記研磨液は陰イオン界面活性剤を０．００１重量％以上０．１５重量％未満含有することを特徴とする請求項６に記載の研磨液。
【請求項８】前記陰イオン界面活性剤が重量平均分子量１３０００以上６００００以下のポリアクリル酸及び／又はその塩であることを特徴とする請求項６又は７に記載の研磨液。




【国際調査報告】
2003071593.tif 000012
2003071593.tif 000013
2003071593.tif 000014
2003071593.tif 000015