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　特願２００１−１８９７９５「光ファイバ歪み計測方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　１月　８日出願公開、特開２００３−　　４４２１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・原査定の拒絶の理由
　本願は、平成１３年６月２２日の出願であって、明細書について平成２２年１２月２０日付けで補正がなされ（以下、「補正１」という。）、平成２３年１月２８日付け（送達：同年２月１日）で拒絶査定がなされ、これに対し、同年８月３１日に拒絶査定不服審判が請求されたものである。
　そして、原査定の拒絶の理由は、特許請求の範囲に記載の各発明は、本願出願前に国内又は外国において頒布された刊行物である特開２０００−１２１３２７号公報（発明の名称：歪計測装置及び方法、出願人：三菱重工業株式会社、公開日：平成１２年４月２８日、以下、「引用例」という。）に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができた、というものである。
　
２．本願発明
そして、本願の請求項１ないし４に係る発明は、補正１によって補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし４に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に係る発明は次のとおりである。 
「光ファイバ内に所定長のパルス信号からなる測定光を入射させ、この入射した測定光のパルス長に対応した前記光ファイバの被測定長部分での反射光の周波数分布を解析することにより、前記被測定長部分の歪みを計測する光ファイバ歪み計測方法において、
　前記光ファイバに、前記被測定長部分と同長でかつ、歪み値が既知となっている自由領域を設け、
　この自由領域を距離分解能として該自由領域から、光ファイバの長さ方向に沿って、前記被測定長部分の長さＬを所定数ｎで除して得たＬ／ｎの長さ分だけ順次ずらして前記自由領域を含む被測定長部分の長さＬの歪みを順次計測し、
　この各計測値の相互に隣接する被測定長部分の差を、前記自由領域側から順次算出して、前記Ｌ／ｎの長さ分の光ファイバの歪みを連続して計測することを特徴とする光ファイバ歪み計測方法。」（便宜のために、改行している。以下、「本願発明」という。） 　
　
３．引用例記載の事項・引用発明
（１）記載事項
　これに対して、引用例である特開２０００−１２１３２７号公報には、次の事項（ａ）ないし（ｅ）が図面とともに記載されている。
（ａ）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバの散乱光を分析することにより光ファイバにかかる歪量を計測する歪計測装置及び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の歪計測装置では、被計測物である光ファイバの片端からパルス光を入射し、該光ファイバ内で生じるブリルアン散乱光の後方散乱光をコヒーレント検波方法により高感度に検出する。このとき、ブリルアン散乱光が、光波と光ファイバ中の音波との相互作用により誘起され、光周波数を下方にシフトさせることを利用し、ブリルアン散乱光の周波数シフト分布から光ファイバの歪み分布を測定する。
【０００３】光ファイバに引っ張りによる伸び歪みを加えると、該光ファイバに入射した光の後方ブリルアン散乱光では、その周波数が増加する。この関係は、次式（１）で表されることが知られている。
【０００４】
ｆｂ（ε）＝ｆｂ（０）（１＋Ｃε）      …（１）
ここでｆｂ（０）は、歪み量ε（％）がゼロのときのブリルアン周波数シフト（入射光の周波数からブリルアン散乱のスペクトルの中心周波数を引いた値）であり、Ｃは比例係数である。したがって、ブリルアン周波数シフトを測定することにより、光ファイバの歪みを求めることができる。」
（ｂ）「【０００５】このブリルアン周波数シフトを計測するためには、微弱なブリルアン散乱光を受光する必要があるが、この方法には、ＢＯＴＤＡやＢＯＴＤＲ（Brillouln Optical Time Domain Reflectometer ）等の方法が報告されている。（信学論誌、B-I Vol.J73-B-I,No.2,pp.144-152,1990;Technical Digest of International Quantum Electrinics Conference(JQEC'92),paper no. MoL.4,pp.42-43,1992）
図９は、従来例に係る歪計測装置の構成を示すブロック図である。図９の分布型歪計測装置Ａでは、送受光器１から出力された測定光が光ファイバ２に入り、光ファイバ２から戻ってきた光をハーフミラー（または光カプラ）２１とフィルタ３を介して送受光器１で受ける。周波数制御装置４は、フィルタ３の透過周波数を変更する。
【０００６】歪解析装置５では、各周波数毎に得られる散乱光強度の時間変化を収集して、周波数（＝ブリルアン周波数シフト）、戻り時間（＝距離）、及び戻り光の強度（＝後方散乱強度）の関係を求める。また歪解析装置５では、光ファイバ２における各距離でのブリルアン周波数シフトと後方散乱強度との関係からノイズレベルよりも高いレベルにあるスペクトルを一つまたは複数検出して、それらのスペクトルの中心周波数から歪量を換算する。
【０００７】さらに、換算した歪の中から、光ファイバ２の距離方向において、一つ手前にサンプルしたブリルアン周波数シフトと後方散乱強度の関係から求められた複数の歪と今回求められた複数の歪とを比較して、新しく増えたものがその距離の位置にある歪とし、ひとつ手前に有って今回の位置には無くなった歪を今回の位置よりも（光パルスの長さ（幅））＋（距離のサンプル分解能）だけ手前にある歪とする。この処理を繰り返すことにより、ブリルアン周波数シフトと距離と後方散乱強度の関係を距離と歪の関係に変換する。
【０００８】例えば、送受光器１から発射される光パルスの長さ（幅）が２ｍであった場合、後方ブリルアン散乱光は、この光パルスの存在する２ｍ区間の光ファイバの歪によるブリルアン周波数シフト成分を含んでいることになる。
【０００９】図１０及び図１１の（ａ）〜（ｃ）は、歪解析装置５における処理を説明するための図である。図１０では、横軸が光ファイバ２の距離、縦軸が光ファイバ２の歪量を示しており、ａ〜ｉは光ファイバ２における位置を示している。図１１の（ａ）〜（ｃ）では、横軸がブリルアン周波数シフト、縦軸が後方散乱強度を示している。
【００１０】光ファイバ２において、図１０のａ−ｂ間、ｂ−ｃ間、ｃ−ｄ間、…、及びｈ−ｉ間は等間隔であり、この間隔をＯＴＤＲの距離分解能としている。光のパルスの長さ（幅）はａ−ｄ間の距離と同じであるものとする。例えば、ｃ−ｆ間に光パルスが掛かってくると、ｃ−ｆ間に歪γ，β，αが掛かっているので、ブリルアン周波数シフトは図１１の（ａ）に示すように歪γ，β，αにそれぞれ対応する位置γ′，β′，α′に発生する。これらの光の強度は、その歪の掛かっている区間の長さ及び光パルスの強度分布に関係するが、歪量には殆ど関係しない。
【００１１】光パルスが移動して、ｄ−ｇの区間に掛かるようになると、ｃ−ｄ間の歪γは掛からなくなるので、図１１の（ｂ）に示すように歪γに対応する位置γ′のスペクトルが消える。さらに光パルスが進んで、ｅ−ｈ間に掛かるようになると、図１１の（ｃ）に示すようにｇ−ｈ間の歪γに対応する位置γ′にスペクトルが現れるようになる。
【００１２】上述した図１１の（ａ）〜（ｃ）では、（ａ）と（ｂ）を対比すると（ｂ）で歪γに対応する位置γ′のスペクトルが消えているため、ｃ−ｄ間の歪はγであることが分かる。また、（ｂ）と（ｃ）を対比すると（ｃ）で歪γに対応する位置γ′のスペクトルが現れているため、ｇ−ｈ間の歪はγであることが分かる。
【００１３】このように、複数のスペクトルからそれらに対応する光ファイバ２の位置に存在する歪を決定することにより、光ファイバ２の距離に対応した歪を高い分解能にて計測することができる。」
（ｃ）「【００１５】このように、上述したような従来例による歪計測手法では、歪を光パルスの長さ（幅）より高い分解能にて計測することができるが、光ファイバ上の計測点の前後の値を用いて歪量を決定しているため、歪量を決定できない計測点が生じてしまうという問題がある。
【００１６】本発明の目的は、光ファイバ上の全ての計測点の歪量を決定できる歪計測装置及び方法を提供することにある。」
（ｄ）「【００２２】
【発明の実施の形態】（第１の実施の形態）本発明の第１の実施の形態に係る歪計測装置の構成を示すブロック図は図９と同一である。本歪計測装置における光ファイバは歪測定対象であるトンネルの内壁等に布設される。そして、前記歪測定対象にて歪が生じた場合光ファイバにも歪が生じるので、その光ファイバの歪量を計測することで、前記歪測定対象にて生じた歪を測定することができる。
【００２３】図１は、本歪計測装置における光ファイバ２に一定の張力を与えるための治具を示す断面図である。布設された光ファイバ２の計測対象となる区間において、複数の治具１１がトンネルの内壁上に、所定距離（計測誤差を少なくするよう考慮した距離）毎に一台づつ設けられる。そして、各治具１１における双方の把持部１２，１２により光ファイバ２が把持されることで、上記光パルスの長さ（幅）以上の長さを有する把持部１２，１２間で一定の張力が発生するよう、光ファイバ２が引っ張られる。これにより、各治具１１の把持部１２，１２間で光ファイバ２に一定の微小な歪が生じる。
【００２４】図２は、光ファイバ２の距離に対する歪量を示す図である。図２では、横軸が光ファイバ２の距離、縦軸が光ファイバ２の歪量を示しており、ａ〜ｈは光ファイバ２における位置を示している。なお光ファイバ２において、図２のａ−ｂ間、ｂ−ｃ間と、ｄ−ｅ間、…、ｇ−ｈ間は等間隔であり、この間隔をＯＴＤＲの距離分解能としている。ｃ−ｄ間は、各治具１１により把持される上記光パルスの長さ（幅）以上の長さを有する区間である。すなわち、図２ではｃ−ｄ間で治具１１により一定な微小量の歪ｓが生じている。光のパルスの長さはｄ−ｇ間の距離と同じであるものとする。
【００２５】以下、歪解析装置５における処理を説明する。光パルスがｃ−ｄ間から移動してｄ−ｅの区間に掛かるようになると、ｃ−ｄ間の微小な歪ｓのスペクトルとｄ−ｅ間の歪αに対応する位置α′のスペクトルが現れる。さらに光パルスが移動して、ｅ−ｆの区間に掛かるようになると、微小な歪ｓとｄ−ｅ間の歪αに対応する位置α′のスペクトルとともに、ｅ−ｆ間の歪βに対応する位置β′のスペクトルが現れる。このように光パルスが１区間移動する毎に、そのスペクトルの情報を順次歪解析装置５内に記憶してゆく。
【００２６】そして、ある区間の歪を決定する場合、歪解析装置５内に記憶された情報を基に、一定の微小な歪ｓを有するｃ−ｄ間等の区間を明確な始点として光ファイバ２の前方あるいは後方の各計測点（区間）の歪を順次決定してゆくとともに、上述したように光ファイバ上の計測点の前後の値を用いることで、所望の区間の歪を決定することができる。
【００２７】図３は、本歪計測装置における光ファイバ２に一定の張力を与えるための変形例を示す断面図である。図３に示すように、布設された光ファイバ２の計測対象となる区間において、トンネルの内壁上にて、上記所定距離毎に平状の板等の固定部材３１上に光ファイバ２を接着剤３２で固着するようにしてもよい。この場合、光ファイバ２における上記光パルスの長さ（幅）以上の部分を固定部材３１上に接着する。このとき、前記部分が引っ張られ、一定の微小な張力が発生するような状態で接着する。これにより、各固定部材３１上で光ファイバ２に一定の微小な歪が生じる。
【００２８】また、光ファイバ２に一定の張力を与えるための変形例としては、布設された光ファイバ２の計測対象となる区間において、上記所定距離毎に張力のかからない十分な弛み部を設けるようにしてもよい。この場合、光ファイバ２における他の箇所で歪が生じたとしても、各弛み部では歪が生じないため、上述した如き始点として作用させることができる。」
（ｅ）「【００４４】したがって上記歪計測装置によれば、光ファイバ２において所定間隔毎に一定の歪を有する区間を設け、該区間を光ファイバ２に生じる歪量の演算のための始点とするので、この始点から光ファイバ２の前方あるいは後方の各計測点の歪を順次決定してゆくことで、光ファイバ２上の全ての計測点の歪量を決定できる。」
　
（２）引用発明
　まず、本願発明や引用例に記載の光ファイバ歪み計測方法は、一般に、ＢＯＴＤＲ（Brillouln Optical Time Domain Reflectometer ）方式と呼ばれる本願出願当時、歪み計測方法として周知な計測方式であるところ、その計測原理上、入射する光パルスの長さ（幅）に対応する光ファイバの被測定長部分が距離分解能とされるものである。　
　また、上記記載（ｄ）によれば、「ａ−ｂ間、ｂ−ｃ間と、ｄ−ｅ間、…、ｇ−ｈ間は等間隔であり、・・・光のパルスの長さはｄ−ｇ間の距離と同じである・・・」というのであるから、光パルスの長さ（幅）は、各区間（ａ−ｂ間、ｂ−ｃ間と、ｄ−ｅ間、…、ｇ−ｈ間）の長さの３倍に当たるといえる。
　以上の技術事項を踏まえ、上記記載（ａ）ないし（ｅ）、並びに第１の実施の形態に関する説明図である図１，２，３、従来例と第１の実施の形態に関する説明図である図９、及び従来例に関する説明図である図１０，１１の記載を総合すると、引用例には、次の発明が記載されているものと認める。
　
「光ファイバ２内に所定の長さ（幅）の光パルスを入射させ、この入射した光パルスの長さ（幅）に対応した前記光ファイバの被測定長部分でのブリルアン散乱光の周波数シフトを測定することにより、前記被測定長部分の歪みを計測する光ファイバの歪み計測方法において、
　前記光ファイバ２に、前記被測定長部分以上でかつ、一定な微小の歪ｓが生じている区間ｃ−ｄを設け、
　前記被測定長部分を距離分解能として前記区間ｃ−ｄを始点として、光ファイバ２の長さ方向に沿って、前記被測定長部分を３で除して得た長さの区間だけ順次ずらして前記区間ｃ−ｄを含む被測定長部分の歪みのスペクトル情報を順次歪解析装置５内に記憶していき、
　この１区間前のスペクトル情報と今回のスペクトル情報との比較を、順次行い、前記各区間の光ファイバ２の歪みを順次計測する光ファイバ歪み計測方法。」（以下、「引用発明」という。）
　
３．対比
（１）まず、本願発明と引用発明とを、主たる構成要素毎に対比する。
　引用発明における「光ファイバ２」は、本願発明における「光ファイバ」に相当し、「所定の長さの光パルス」は、「所定長のパルス信号からなる測定光」に相当し、以下、同様に、「被測定長部分」は「被測定長部分」に、「被測定長部分を３で除して得た長さの区間」は「被測定長部分の長さＬを所定数ｎで除して得たＬ／ｎの長さ分」に、「この１区間前のスペクトル情報と今回のスペクトル情報との比較」は「この各計測値の相互に隣接する被測定長部分の差」に、「各区間の光ファイバ２の歪み」は「Ｌ／ｎの長さ分の光ファイバの歪み」に、「順次計測する」は「連続して計測する」に、それぞれ相当する。
　また、本願発明の「自由領域」は、初期値となる歪み値を与えるものであり、その歪みは零に限られない（本願明細書の記載「【００４０】・・・さらに、初期値となる既知の歪み値についても、０（零）に限るものではない。・・・」に留意のこと。）から、引用発明の「一定な微小の歪ｓが生じている区間ｃ−ｄ」は、本願発明の「歪み値が既知となっている自由領域」に、相当するといえる。
　また、本願発明における「この自由領域を距離分解能として・・・」について検討するに、上記したように、入射する光パルスの長さ（幅）に対応する光ファイバの被測定長部分が距離分解能とされるものであるところ、本願発明においては、自由領域を被測定長部分の長さと同じにしていることから、上記記載表現となっているものと認められる。
　よって、引用発明における「被測定長部分を距離分解能として」は、本願発明における「この自由領域を距離分解能として」に相当するといえる。
　
（２）してみると、両者の一致点及び相違点は、実質的に、以下のとおりである。
（一致点）
「光ファイバ内に所定長のパルス信号からなる測定光を入射させ、この入射した測定光のパルス長に対応した前記光ファイバの被測定長部分での反射光の周波数分布を解析することにより、前記被測定長部分の歪みを計測する光ファイバ歪み計測方法において、
　前記光ファイバに、歪み値が既知となっている自由領域を設け、
　この自由領域を距離分解能として該自由領域から、光ファイバの長さ方向に沿って、前記被測定長部分の長さＬを所定数ｎで除して得たＬ／ｎの長さ分だけ順次ずらして前記自由領域を含む被測定長部分の長さＬの歪みを順次計測し、
　この各計測値の相互に隣接する被測定長部分の差を、前記自由領域側から順次算出して、前記Ｌ／ｎの長さ分の光ファイバの歪みを連続して計測することを特徴とする光ファイバ歪み計測方法。」
（相違点）
　自由領域の長さに関し、
　本願発明では、自由領域は被測定長部分と同長であるとしているのに対し、引用発明では、一定な微小の歪ｓが生じている区間ｃ−ｄ（本願発明における「自由領域」に相当する。）は、被測定長部分以上である点。
　
４．判断
　上記相違点について検討する。
　引用発明における「一定な微小の歪ｓが生じている区間ｃ−ｄ」の長さは、「被測定長部分以上である」というのであり、該区間ｃ−ｄの長さは、被測定長部分の長さと等しいものを含むから、まず、この限りにおいて、引用発明と、本願発明に相違はない。
　ところで、引用発明における「一定な微小の歪ｓが生じている区間ｃ−ｄ」の長さについて見ると、その計測方法から見て、光パルス長さ（幅）よりも小さいと歪み量の演算のための始点として機能しないことから、該区間ｃ−ｄの長さは、光パルス長さ（幅）に少なくとも等しい必要がある。
　よって、引用発明における該区間ｃ−ｄの長さを、その下限である光パルスの長さ（幅）、すなわち、被測定長部分の長さとすることは、当業者ならば容易に想到し得たことである。
　
　そして、本願発明の作用効果も、引用発明から当業者が予測可能なものであって格別のものではない。
　
５．請求人の主張について
　請求人は、審判請求の理由において、引用例で歪み計測器の距離分解能に相当するのは各区間（ａ−ｂ間、ｂ−ｃ間と、ｄ−ｅ間、…、ｇ−ｈ間）であるから、距離分解能より短い領域の歪み計測を行う本願発明とは異なる旨、主張している。
　しかしながら、前記「２．（２）引用発明」で説示したとおり、一般に、入射する光パルスの長さ（幅）に対応する光ファイバの被測定長部分が距離分解能とされ、この点は引用例においても同様であるから、上記各区間の３倍の長さに相当する部分が被測定長部分であり、ひいては距離分解能であって、請求人が主張するような、各区間（ａ−ｂ間、ｂ−ｃ間と、ｄ−ｅ間、…、ｇ−ｈ間）が距離分解能とされているものではない。
　そして、この距離分解能の１／３の長さに相当する各区間（ａ−ｂ間、ｂ−ｃ間と、ｄ−ｅ間、…、ｇ−ｈ間）毎の歪みを順次測定できる（前記「３．（１）（ｅ）」）という作用効果を奏するものであり、この点においても本願発明と異なるところはない。
　よって、請求人の主張は妥当でない。
　
６．むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、他の請求項に係る発明について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。