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　特願２００７−　５０７１５「印刷回路板を走査検査する装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１９年１０月　４日出願公開、特開２００７−２５６２７７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成１４年１１月１５日にした特願２００２−３３２３６６号（優先権主張　２００１年１１月１６日　米国、以下、「原出願」という。）の一部を特許法第４４条第１項の規定により新たな特許出願としたものであって、平成２１年１２月２８日付け（送達：平成２２年１月５日）で拒絶査定がなされ、これに対し、平成２２年５月６日に拒絶査定不服審判が請求されたものである。
　その後、当審より平成２４年３月９日付け（発送：同年同月１３日）で拒絶理由（以下、「当審拒絶理由」という。）を通知したところ、同年６月１３日付けで特許請求の範囲についての補正（以下、「補正１」という。）がなされた。
　
２．当審拒絶理由
　当審拒絶理由の概要は、本願の特許請求の範囲に記載の各請求項に係る発明は、いずれも、原出願の優先日前に頒布された刊行物である特許第３１１１０６９号公報（発明の名称：走査検査装置、発行日：平成１２年１１月２０日、以下、「引用例１」という。）に記載された発明及び実願平１−１３７１０号（実開平２−１０５１５５号）のマイクロフィルム（考案の名称：電子回路基板穴数検査装置、公開日：平成２年８月２１日、以下、「引用例２」という。）に記載された技術事項に基づいて、その優先日前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない、というものである。
　
３．本願発明
　本願の請求項１ないし１２に係る発明は、補正１によって補正された明細書、特許請求の範囲及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし１２に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１は、次のとおりとなっている。
　
「印刷回路を走査検査装置に関して移動させるための第一駆動ローラ及び第二駆動ローラを各々が有する、上側ハウジング及び下側ハウジングと、
　前記上側ハウジング又は前記下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされる印刷回路板を電気的に短絡させるための短絡マトリックスであって、前縁及び後縁を有する、短絡マトリックスと、
　前記短絡マトリックスの前記前縁及び前記後縁の少なくとも一方に隣接し、前記上側ハウジング又は前記下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされた電気接触子とを備え、
　前記電気接触子は、検査信号を前記印刷回路板から測定用電子装置へ伝送する、印刷回路板を検査するための走査検査装置において、
　前記測定用電子装置にプログラムされたソフトウェアが、記憶されているデータと走査されたデータを比較し、これらデータが適合している場合、前記ソフトウェアが、データが適合した検査を以後の検査から排除する、走査検査装置。」
　
　ここで、「・・・前記ソフトウェアが、データが適合した検査を以後の検査から排除する、・・・」との記載は不明瞭であるところ、本願明細書の発明の詳細な説明には、「・・・これらデータが適合している時、ソフトウェアは、プローバーなどの従来の手段によって行われる以後の導通検査から、これらの検査パッドを排除する。」とあり、排除するのは検査パッドであるから、改めて請求項１に係る発明を以下のとおりに認定する。
　
「印刷回路を走査検査装置に関して移動させるための第一駆動ローラ及び第二駆動ローラを各々が有する、上側ハウジング及び下側ハウジングと、
　前記上側ハウジング又は前記下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされる印刷回路板を電気的に短絡させるための短絡マトリックスであって、前縁及び後縁を有する、短絡マトリックスと、
　前記短絡マトリックスの前記前縁及び前記後縁の少なくとも一方に隣接し、前記上側ハウジング又は前記下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされた電気接触子とを備え、
　前記電気接触子は、検査信号を前記印刷回路板から測定用電子装置へ伝送する、印刷回路板を検査するための走査検査装置において、
　前記測定用電子装置にプログラムされたソフトウェアが、記憶されているデータと走査されたデータを比較し、これらデータが適合している場合、前記ソフトウェアが、データが適合した検査
パッド
　
４．引用例に記載の事項・引用発明等
　引用例１には、次の事項が図面とともに記載されている。
　
（１−１）
「【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところがプリント回路板の検査点が互いに非常に近い場合やプリント回路板が非常に薄い場合、これらのタイプの検査治具には幾つかの問題がある。個々の検査点は一般に検査パッドとして呼ばれ、これら検査パッドのグループは一般的に検査パックとして公知である。傾斜ピンが非常に薄い検査パッドと接触する時、検査パッドは傾斜ピンによって破壊されたり、曲げられたりする可能性がある。検査パッドの損傷具合と検査パッド同士の配置の近接具合とによっては、個々の検査パッドが検査中に永続的に短絡してしまうことになる。
【０００９】これらのタイプの検査治具に起こる第二の問題は検査パッド同士が非常に近くに配置されている時には検査パックの正確な検査結果を得ることが困難なことである。検査パッド同士が非常に近くに配置されている場合には、傾斜ピンを検査パック内の各検査パッドに向けるのは非常に困難である。検査用の傾斜ピンが僅かでも調整不良が検査結果に影響を及ぼし、検査の精度が低下してしまう。
【００１０】第三の問題は検査ボール格子列（BGA ）または四角で平坦なパッド（QFP ）としてとして形成される時のように, 検査プローブの格子密度より高い検査パッドの格子密度を有する検査パックに対して生じる。このような場合、各検査パッドの検査での利用に十分に応えられる伝達ピンはなく、したがって検査パックを完全に検査することはできない。
【００１１】これら問題を扱うために、確実且つ安全に小さい検査パッドを有するプリント回路板を検査できるプリント回路板検査治具が開発された。このプリント回路板検査治具は非常に近接した検査すべき検査点のグループがあるプリント回路板上の位置に対応して治具に配置された気圧作動式短絡プレートを有する。またこの短絡プレートが検査中ユニットに係合できるように短絡プレートの寸法に対応した穴が上方伝達プレートに開けられている。検査点に電気的に接続するために短絡プレートの上面を覆うようにコンプライアント導電媒体層が配置される。また短絡プレートは伝達プレートの層を通って下方へ延びる空気シリンダに取り付けるためのスナップ嵌めタイプの取付け具を有する。空気シリンダは検査治具の下方伝達プレートにしっかりと固定された底面受け口にスナップ式に嵌る底面プラグにより検査治具の底部に取り付けられる。
【００１２】検査中ユニットの検査中においては、空気シリンダを作動し、短絡プレートを上昇して検査パックに接触させ、検査点を曲げたり損傷したりせずにこれらを有効に短絡し検査する。
【００１３】この方法の問題は検査中に全ての検査サイトが短絡されてしまうので、検査パック内の一以上の個々の検査サイトが不適当に短絡されているか否かが判らないことである。
【００１４】密集した検査パッドを検査するための別の方法は浮動可能なプローブに検査パック内の個々のパッドを接触することである。プローブは概して絶縁検査と導通検査の二種類の検査を行う。絶縁検査ではプローブは二つのネットワーク内の一つの点に接触する。導通検査では各検査パッドが接触されなければならない。この導通検査の方法は各検査パッドに接触する工程が時間のかかる工程であるので望ましくない。
【００１５】したがって迅速に検査結果を出すことができる剥き出しのプリント回路板の導通検査用の改良された検査機器の必要性が存在する。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明は剥き出しのプリント回路板の導通検査をするための走査検査器を具備する。プリント回路板の導通検査に先立ちプリント回路板上の検査サイトに物理的に１００％接触せしめられた検査機がプリント回路板の潜在的な問題をチェックする。これに対し、本発明の走査検査器は問題を確定するためにプリント回路板を検査せず、適切な導通状態を発見するためにプリント回路板を迅速に走査し、そしてこれら検査サイトを検査ルーチンから排除する。本発明は全検査サイトの８０〜９０％を迅速に排除することができ、残った検査サイトが従来のプローブによる方法で検査される。本発明の走査検査器は導電物質およびコンプライアント物質からなる上部層と導電物質およびコンプライアント物質からなる下部層とを具備し、これら上部層と下部層とは検査すべきプリント回路板の上面および下面の全てを覆うことができる大きさである。電流が導電層に送られ、この導電層がプリント回路板の回路を短絡させる。ワイパブラシの列が上部導電層および下部導電層のどちらか一方または両方を通って延びる。個々の各ワイパブラシは測定用電子装置に接続されたプリント回路板上の別々のスイッチに配線される。
【００１７】検査中ユニットは上部導電層および下部導電層を通過し、ワイパブラシが検査点上を通過する時、ワイパブラシのスイッチが入る。ワイパブラシのスイッチが入るとワイパブラシは検査信号を測定用電子装置に送る。測定用電子装置は特定の検査中ユニット用の分類された検査データを有するソフトウェアを具備する。分類された検査データはワイパブラシからのデータと比較され、これらが適合した場合には更なる検査をしない。
【００１８】これらおよび他の本発明の特徴は後述の詳細な説明と添付の図面からさらに詳しく理解することができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例の走査検査装置１０を図１に示す。走査検査装置１０は上部短絡層１２および下部短絡層１４を有し、これら短絡層は検査中に検査すべきプリント回路板または検査中ユニット１６を挟み込む。上部短絡層１２は導電布または金属のような内側の導電層１８と発泡体のような外側のコンプライアント層（検査中ユニットを短絡するのに十分なコンプライアンスを有する層）２０とを具備する。下部短絡層１４と同様に上部短絡層１２と同じ物質で作られた内側の導電層２２および外側のコンプライアント層２４を有する。なお、上部短絡層１２および下部短絡層１４を導電ゴムのように導電性があり且つコンプライアンスを有する一つの物質で作製してもよい。
【００２０】上部短絡層１２および下部短絡層１４のどちらか一方または両方を横断するようにワイパブラシ（掃引用ブラシ）２６が列をなして延びており、このワイパブラシを一つだけ図１の上部短絡層１２内に示す。各ワイパブラシ２６はプリント回路板２８の個々のスイッチに配線される。プリント回路板２８はケーブル３２を介して測定用電子装置３０に接続される。
【００２１】上部短絡層１２および下部短絡層１４はワイパブラシ２６の列の部分を除いて検査中ユニット全体に接触しなければならず、このワイパブラシ２６の列の幅は検査中ユニットの幅よりも広い。ワイパブラシ２６の列を上部短絡層１２および下部短絡層１４の両方に配置する場合にはこれらワイパブラシ２６の列は互いにオフセットされるが、これは検査中ユニットの長さに（移動方向に）沿って同じ配置にすることで検査中にユニットが接触しないようにするためである。検査中ユニット１６は上部短絡層１２と下部短絡層１４とに挟まれ、この検査中ユニットは該短絡層の導電層に流される電流により検査中ユニットの両側を短絡する。検査中ユニットに短絡電流を流しつつ、検査中ユニットをプッシュロッド３４によりワイパブラシ２６の下に押し込む。プッシュロッド３４は気圧シリンダ、油圧シリンダまたはリニアモータ３６により作動せしめられる。
【００２２】検査中ユニット１６は例えば図２（Ａ）に示したようにトレース３９により互いに接続された検査パッド３８および４０のような、トレースにより互いに接続された複数の検査パッドを有する。図２（Ａ）から図２（Ｄ）に示したように、検査中ユニット１６がワイパブラシ２６の下を通過した時、すなわちワイパブラシにより掃引された時に、個々の検査パッド３８および４０が互いに適切に接続されており、電流を通す場合にはこれら検査パッド３８および４０は検査パッドに接触している個々のワイパブラシ２６のスイッチを入れる。スイッチが入れられたワイパブラシ２６は測定用電子装置３０に信号を送り、測定用電子装置３０はこの測定用電子装置３０にプログラムされたソフトウェアにより検査パッド３８および４０の第一の検査像４２および４４を生成する。ところで検査中ユニット１６上の個々の検査パッドの大きさは異なるであろうと予想され、したがって互いに近接したワイパブラシ２６により形成される幅とは正確に一致しないかもしれない。したがって、生成された第一の検査像４２および４４は検査パッドによりスイッチが入れられたワイパブラシ２６の幅と一致するであろうが、これは検査パッド自身の正確な物理的寸法ではない可能性がある。また第一の検査像４２および４４は検査中ユニット１６が４６の方向に向かってワイパブラシ２６の下を通過する時に生成される。ところがこの第一の検査像が実際の検査パッドより大きい可能性があるので、検査中ユニット１６を９０°回転し４８の方向に向かって第二回目の走査としてワイパブラシ２６の下を通過させる。ワイパブラシ２６が第二回目の走査として検査パッド３８および４０に接触すると、これらワイパブラシ２６は検査パッドの第二の寸法に対応した第二の検査像５０および５２を生成する。測定用電子装置３０用のソフトウェアは図２（Ｃ）に示したように第一の検査像の上に第二の検査像を重ね合わせ、これより検査パッド３８および４０に対応した第一の検査像と第二の検査像とが重なる領域である最終検査像５４および５６ができる。最終検査像５４および５６はソフトウェアに含まれるネットリストデータまたは検査パッドデータと比較される。ソフトウェアは走査されたデータと蓄えられたデータとを比較し、これらが適合していた時、ソフトウェアはこれら検査パッドをプローブのような従来の手段で次に行われる更なる導通検査から排除する。
【００２３】一方、例えばトレース３９が壊れ、検査パッド３８と検査パッド４０とを適切に正確に接続していない時、ワイパブラシ２６は必要な最終検査像を生成できず、ソフトウェアは検査パッド３８および４０をプローブによる更なる導通検査を必要とする問題領域である可能性があるとみなす。
【００２４】本発明はプリント回路板を電気的に走査し且つプリント回路板において適切に電気的に接続されている検査点を探すことにより、更なる導通検査からこれら検査点を排除する。電気的に適切に接続されている検査点を排除することにより、従来の検査から検査パッドの８０〜９０％が排除される。本発明の走査検査装置によれば剥き出しのプリント回路板の導通検査を実行するのに必要な時間が非常に短縮される。」
　
　前記記載事項及び図１，２の記載内容、そして、
　
「走査検査装置１０には、
　　　プッシュロッド３４を有し、
　　　上部短絡層１２及び下部短絡層１４やワイヤブラシ２６が上側ハウジング及び下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされるための、
　上側ハウジング及び下側ハウジングが、
当然に備えられている。」
　
と認められることを総合すると、引用例１には次の発明が記載されているものと認める。
　
【引用例１に記載された発明】
「プリント回路板または検査中ユニット１６（印刷回路に相当。）を走査検査装置１０（走査検査装置に相当。）に関して押し込む（移動させるに相当。）ためのプッシュロッド３４（第一駆動ローラ及び第二駆動ローラに対応。）を有する、上側ハウジング及び下側ハウジングと、
　前記上側ハウジング又は前記下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされる、プリント回路板または検査中ユニット１６（印刷回路に相当。）を電流により短絡（電気的に短絡に相当。）させるための、上部短絡層１２及び下部短絡層１４（短絡マトリックスに相当。）であって、前縁及び後縁を有する、上部短絡層１２及び下部短絡層１４（短絡マトリックスに相当。）と、
　前記上部短絡層１２及び下部短絡層１４（短絡マトリックスに相当。）の前記後縁に近接（実質的に、前縁及び後縁の少なくとも一方に隣接に相当。）し、前記上側ハウジング又は前記下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされた、ワイヤブラシ２６（電気接触子に相当。）とを備え、
　前記ワイヤブラシ２６（電気接触子に相当。）は、信号（検査信号に相当。）を前記プリント回路板または検査中ユニット１６（印刷回路に相当。）から測定用電子装置３０（測定用電子装置に相当。）へ送る（伝送するに相当。）、プリント回路板または検査中ユニット１６（印刷回路に相当。）を検査するための走査検査装置１０（走査検査装置に相当。）において、
　前記測定用電子装置３０（測定用電子装置に相当。）にプログラムされたソフトウェア（ソフトウェアに相当。）が、蓄えられたデータ（記憶されているデータに相当。）と走査されたデータ（走査されたデータに相当。）を比較（比較に相当。）し、これらデータが適合（適合に相当。）している場合、前記ソフトウェア（ソフトウェアに相当。）が、データが適合した検査パッド３８および４０（検査
パッド
　
５．対比
　本願発明と引用例１に記載された発明とを対比する。 
　
　引用例１に記載された発明における、「プリント回路板または検査中ユニット１６」、「走査検査装置１０」、「押し込む」、「電流により短絡」、「上部短絡層１２及び下部短絡層１４」は、それぞれ、
　本願発明における、「印刷回路」、「走査検査装置」、「移動させる」、「電気的に短絡」、「短絡マトリックス」に相当する。
　
　また、引用例１に記載された発明における、「後縁に近接」は、実質的に、本願発明における、「前縁及び後縁の少なくとも一方に隣接」に相当するといえる。
　
　さらに、引用例１に記載された発明における、「ワイヤブラシ２６」、「信号」、「測定用電子装置３０」、「送る」、「ソフトウェア」、「蓄えられたデータ」、「走査されたデータ」、「比較」、「適合」、「検査パッド３８および４０」、「更なる導通検査」、「排除」は、それぞれ、
　本願発明における、「電気接触子」、「検査信号」、「測定用電子装置」、「伝送する」、「ソフトウェア」、「記憶されているデータ」、「走査されたデータ」、「比較」、「適合」、「検査
パッド
　
　そして、引用例１に記載された発明における「プッシュロッド３４」と、本願発明における「第一駆動ローラ及び第二駆動ローラ」とは、共に、「検査すべき印刷回路を走査検査装置に関して移動させるための手段」で共通する。
　
　してみると、両者の一致点、相違点は、以下のとおりである。
　
【一致点】 
「印刷回路を走査検査装置に関して移動させるための手段を有する、上側ハウジング及び下側ハウジングと、
　前記上側ハウジング又は前記下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされる印刷回路板を電気的に短絡させるための短絡マトリックスであって、前縁及び後縁を有する、短絡マトリックスと、
　前記短絡マトリックスの前記前縁及び前記後縁の少なくとも一方に隣接し、前記上側ハウジング又は前記下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされた電気接触子とを備え、
　前記電気接触子は、検査信号を前記印刷回路板から測定用電子装置へ伝送する、印刷回路板を検査するための走査検査装置において、
　前記測定用電子装置にプログラムされたソフトウェアが、記憶されているデータと走査されたデータを比較し、これらデータが適合している場合、前記ソフトウェアが、データが適合した検査
パッド
　
【相違点】 
　本願発明では、上側ハウジング及び下側ハウジングが、第一駆動ローラ及び第二駆動ローラを各々有するのに対し、
　引用例１に記載された発明では、上側ハウジング及び下側ハウジングが、プッシュロッド３４を有する点。
　
６．当審の判断
　上記相違点について、検討する。 
　
　引用例２には、次の事項が図面とともに記載されている。
　
（２−１）
「（実用新案登録請求の範囲）
　電子回路基板の搬送経路と対向させて穴数検出センサを配置し、その穴数検出センサの上流および下流にそれぞれ搬送経路を挟んで対向する一対のローラを配置してなる電子回路基板穴数検査装置において、上記一対のローラの間隙は電子回路基板の厚さと略同一とし、かつ両ローラを同一周速度で回転させることを特徴とする電子回路基板穴数検査装置。」
　
（２−２）
「（実施例）
第１図（イ）において、・・・搬入側、搬出側にそれぞれ搬送経路を挟んで対向する上部、下部ローラ１１と１２、２１と２２が配置され、その上下ローラ間の間隙は、被検査基板１の厚さと略同一にされ、・・・。そして、両ローラ対の間に穴数検査センサ２が搬送経路と対向状態に配置されている。
　以上のものにおいて、・・・基板１が上部、下部ローラ１１、１２の位置に達すると、両ローラ１１、１２によりくわえこまれてそれによる搬送が行われ[（ロ）参照]、基板先端が穴数検査センサ２の位置に達した際に、その穴と他の面との反射効率の差に応じた出力の取り出しが開始され、それは基板後端が通過するまで（このとき基板１は搬入側のローラ２１、２２により搬送されている）行われ、・・・。」
　
　前記記載事項及び第１図（イ）、（ロ）の記載内容を総合すると、引用例２には次の技術事項が記載されているものと認める。
　
【引用例２に記載された技術事項】
「検査すべき印刷回路を走査検査装置に関して移動させるための手段として、上部ローラ１１と下部ローラ１２及び上部ローラ２１と下部ローラ２２を用いる。」（以下、「引用例２に記載された技術事項」という。）
　
　したがって、引用例１に記載された発明に、引用例２に記載された技術事項を適用して、
　
　本願発明の如く、
「検査すべき印刷回路を走査検査装置に関して移動させるための手段として、プッシュロッド３４に換えて、上部ローラ１１と下部ローラ１２（第一駆動ローラに相当。）及び上部ローラ２１と下部ローラ２２（第二駆動ローラに相当。）を用い、
　上側ハウジング及び下側ハウジングが、上部ローラ１１と下部ローラ１２（第一駆動ローラに相当。）及び上部ローラ２１と下部ローラ２２（第二駆動ローラに相当。）を各々有する。」
　
ように構成することは、当業者ならば容易に想到し得たことである。
　
　そして、本願発明の奏する作用効果は、引用例１に記載された発明及び引用例２に記載された技術事項から当業者が予測可能なものであって、格別なものではない。
　
７．むすび
  以上のとおり、本願発明は、引用例１に記載された発明及び引用例２に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、本願の他の請求項に係る発明について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。