(57)【要約】      （修正有）【課題】メモリ素子のデータを測定装置とは接続しないオフラインで読み書きして該メモリ素子およびその接続配線の事前検査を容易、確実に行うことを可能にし、構成を簡易化することができるメモリ素子の検査装置を提供する。【解決手段】測定時には外部の測定装置と接続されるメモリ素子への前記接続配線を、検査を開始する電源投入時には、メモリ素子と検査用コンピュータとの間でデータを読み書きできるように自動で切り替える切替スイッチと、メモリ素子から読み込んだデータを検査する検査用コンピュータと、データを記憶する記憶装置と、を備える。メモリ素子と検査用コンピュータとの間で所定のデータを読み書きすることにより、検査用コンピュータにおいて、メモリ素子の良否判定、接続配線の断線や誤配線の有無を検査し得る。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
測定装置に接続されるセンサ付属メモリ素子または単独のメモリ素子からなるメモリ素子の障害、前記メモリ素子と前記測定装置とを接続する接続配線の断線や誤配線を、オフラインモードで検査する検査装置であって、
測定時には外部の前記測定装置と接続される前記メモリ素子への前記接続配線を、検査を開始する電源投入時には、前記メモリ素子と検査用コンピュータとの間でデータを読み書きできるように自動で切り替える切替スイッチと、
前記メモリ素子から読み込んだデータを検査する検査用コンピュータと、
前記データを記憶する記憶装置と、を備え、
前記メモリ素子と前記検査用コンピュータとの間で所定のデータを読み書きすることにより、前記検査用コンピュータにおいて、前記メモリ素子の良否判定、前記接続配線の断線や誤配線の有無を検査し得るように構成したことを特徴とするメモリ素子の検査装置。
【請求項２】
前記検査用コンピュータから前記メモリ素子にリセットパルス信号を送出した後、前記リセットパルス信号の応答としてのプレゼンスパルス信号が送信されてくるか否かを前記検査用コンピュータによって検証することを特徴とする請求項１記載のメモリ素子の検査装置。
【請求項３】
前記プレゼンスパルス信号を受信した後、前記メモリ素子が記憶している固有情報を前記記憶装置に転送すると共に、前記転送の完了後に、前記検査用コンピュータから、所定のデータを前記メモリ素子に書き込んだ後、前記メモリ素子に書き込まれているデータを読み込んで、前記読み込みデータが前記書き込みデータと一致するか否かを検証することを特徴とする請求項２記載のメモリ素子の検査装置。
【請求項４】
前記固有情報は、ＴＥＤＳ(Transducer Electronic Data Sheet)に記憶された情報であることを特徴とする請求項３記載のメモリ素子の検査装置。
【請求項５】
前記所定のデータによる前記読み込みデータと前記書き込みデータとの前記一致検証は、少なくとも２回に渡って行うと共に、２回目の検証の際には１回目の検証に使用したデータの２値信号を反転させて成るデータを使用することを特徴とする請求項４記載のメモリ素子の検査装置。
【請求項６】
前記各検証結果をそれぞれ表示できる表示装置をさらに具備したことを特徴とする請求項１記載のメモリ素子の検査装置。
【請求項７】
複数の前記メモリ素子との接続を可能にする複数のコネクタをさらに具備したことを特徴とする請求項１記載のメモリ素子の検査装置。
【請求項８】
前記メモリ素子を外部の測定装置に接続するための、測定装置用コネクタと、インタフェース回路とを、さらに具備したことを特徴とする請求項１記載のメモリ素子の検査装置。
【請求項９】
前記測定装置用コネクタは、ＵＳＢ規格コネクタであることを特徴とする請求項１記載のメモリ素子の検査装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、測定装置に接続されるセンサ付属メモリ素子または単独のメモリ素子からなるメモリ素子の検査装置に関し、特に、測定装置がメモリ素子内蔵センサを介して被測定対象の状態を測定するに先立って、該メモリ素子の状態および該メモリ素子との接続等をチェックするメモリ素子の検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、メモリ素子がコネクタ部分に内蔵（搭載）され、このメモリ素子（即ちセンサ付属メモリ素子）にセンサ情報を記憶させて、測定対象の各種試験を効率的に行う測定システムが開発されている。
また、このようなセンサ情報を扱うためのデータシートのフォーマットが規定されている（２００４年８月承認のＩＥＥＥ１４５１．４）。このデータシートは、いわゆるＴＥＤＳ(Transducer Electronic Data Sheet)と呼ばれている。
なお、従来から、このＴＥＤＳに準拠した情報を扱うメモリ素子（即ちＴＥＤＳ情報用メモリ素子）が開発されており、各種センサに組み込まれている。
また、ＴＥＤＳ規格に準拠したメモリ素子に記憶されている情報の読み出しや、該メモリ素子への書き込みを行う読み書き用機器も開発され、既に実用化されている。さらに、ＴＥＤＳ情報用メモリ素子から読み出された情報に基づいて、ひずみ測定等の測定を行う測定装置も従来から開発されている。
例えば、本件出願人は、ひずみゲージで形成されたホイートストンブリッジ回路よりなるひずみセンサと、前記ひずみセンサに関する情報が読み書き可能な情報記憶媒体としてのＴＥＤＳとがコネクタ部分に一体的にまたは近傍に配設されたセンサ本体を、先に、特開２００７−１７９１０７号（特許文献１）として提案した。
【０００３】
この特許文献１に係るセンサ本体は、前記ひずみセンサから出力される被測定対象物理量に応じたアナログ信号と、前記ＴＥＤＳが記憶している情報に応じて出力されるデジタル信号とを、共通の２つの出力端子に選択的に出力させるモード切換回路と、
前記ホイートストンブリッジ回路にブリッジ電源を供給するための２つの入力端子と、
前記ホイートストンブリッジ回路の出力端と前記ＴＥＤＳの出力端とが共通に接続される前記２つの出力端子を備え、
前記モード切換回路は、前記ホイートストンブリッジ回路の一対の出力端と前記一対の出力端子との間に介挿された二つのスイッチング素子と、
一端が前記負側の出力端子に接続された前記ＴＥＤＳの他端と前記正側の前記出力端子との間に介挿されたダイオードとからなり、
前記２つの入力端子にブリッジ電源を供給した状態では、前記出力端子から被測定対象の物理量に応じたアナログ信号が前記出力端子から出力され、前記ブリッジ電源の供給を断った状態で、前記正側の出力端子に負電位を供給した状態では、前記ＴＥＤＳに記憶している情報を前記出力端子から読み取りを行い得るように構成されている。
【０００４】
このように、メモリ素子をコネクタ部分に内蔵したひずみセンサは、あらゆる現場で使用されているが、それだけに、様々な障害や使用環境に対処して、該センサ自体、ひいては該センサを使用した測定の信頼性を高める必要がある。例えば、自動車分野の試験で用いられる加速度センサは、温湿度の影響や衝撃が加わり易いので、試験中や試験後にメモリ素子のはんだ付けが外れることや、メモリ素子の端子が折れること、さらにはメモリ領域の不良を引き起こすこと等のトラブルが発生する可能性も考慮しなければならない。
そこで、未使用のセンサや、一度試験を行ったセンサについては、これらのセンサを介した測定を実施するまでに、該センサに内蔵されているメモリ素子（例えばＴＥＤＳ情報用メモリ素子）が正常に動作することや、該メモリ素子が所定のコネクタと正しく接続されていること、さらには該メモリ素子との接続を担う配線やコネクタ接続に不良箇所が存在しないか等のチェック事項を予め確認しておく必要があり、従来は、このような事前チェックは、検査用のパソコンを測定現場に持ち込み、該パソコンを使用して行っていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−１７９１０７号公報
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上記背景技術で述べた従来のセンサ付属メモリ素子の検査方法にあっては、まず、測定現場に持ち込んだパソコンを起動させ、ＴＥＤＳ情報を読み出すためのコントロール用ソフトウェアを開いてＴＥＤＳ情報を読み込み、確認している。しかしながら、センサは、一般には、どのような測定対象の、どのような場所に取り付けられるかが分からないため、センサ付属メモリ素子の事前検査に際しては、場合によっては、スペース面での制約や、セキュリティ上の問題点等により、検査に使用するパソコンが持ち込めない測定現場も存在するという場合もある。
また、メモリ素子を確認するためだけにパソコンを起動するのでは、所要時間が掛かり過ぎるだけでなく、装備としても大袈裟過ぎるという問題があった。
さらに、従来は、主にパソコンを用いての読み書き機能しか無かったために、パソコンの起動時間が長いことや、パソコンの持ち運びが容易でないこと等の理由で、メモリ素子内蔵センサを用いた測定の前後では、そもそも該メモリ素子のチェックが行われることは少なかった。よって、測定前から該メモリ素子が何らかの不良を起こしたままの状態や、該メモリ素子が装着されていないセンサ（該メモリ素子はコネクタ内に内蔵されるため、目視で判断できない）を使用した状態での測定がなされる恐れがあった。
【０００７】
本考案は、上記従来の問題点に鑑みてなされたものであって、メモリ素子（センサに内蔵されるものを含む）のデータを測定装置とは接続しないオフラインで読み書きして該メモリ素子およびその接続配線の事前検査を容易に行うことを可能にすると共に、その構成を簡易化することができるメモリ素子の検査装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本考案の請求項１に係るメモリ素子の検査装置は、測定装置に接続されるセンサ付属メモリ素子または単独のメモリ素子からなるメモリ素子の障害、前記メモリ素子と前記測定装置とを接続する接続配線の断線や誤配線を、オフラインモードで検査する検査装置であって、
測定時には外部の前記測定装置と接続される前記メモリ素子への前記接続配線を、検査を開始する電源投入時には、前記メモリ素子と検査用コンピュータとの間でデータを読み書きできるように自動で切り替える切替スイッチと、
前記メモリ素子から読み込んだデータを検査する検査用コンピュータと、
前記データを記憶する記憶装置と、を備え、
前記メモリ素子と前記検査用コンピュータとの間で所定のデータを読み書きすることにより、前記検査用コンピュータにおいて、前記メモリ素子の良否判定、前記接続配線の断線や誤配線の有無を検査し得るように構成したことを特徴としている。
【０００９】
また、請求項２記載のメモリ素子の検査装置は、前記検査用コンピュータから前記メモリ素子にリセットパルス信号を送出した後、前記リセットパルス信号の応答としてのプレゼンスパルス信号が送信されてくるか否かを前記検査用コンピュータによって検証することを特徴としている。
また、請求項３記載のメモリ素子の検査装置は、前記プレゼンスパルス信号を受信した後、前記メモリ素子が記憶している固有情報を前記記憶装置に転送すると共に、前記転送の完了後に、前記検査用コンピュータから、所定のデータを前記メモリ素子に書き込んだ後、前記メモリ素子に書き込まれているデータを読み込んで、前記読み込みデータが前記書き込みデータと一致するか否かを検証することを特徴としている。
また、請求項４記載のメモリ素子の検査装置は、前記固有情報がＴＥＤＳ(Transducer Electronic Data Sheet)情報であることを特徴としている。
また、請求項５記載のメモリ素子の検査装置は、前記所定のデータによる前記読み込みデータと前記書き込みデータとの前記一致検証は、少なくとも２回に渡って行うと共に、２回目の検証の際には１回目の検証に使用したデータの２値信号を反転させて成るデータを使用することを特徴としている。
【００１０】
また、請求項６記載のメモリ素子の検査装置は、前記各検証結果をそれぞれ表示できる表示装置をさらに具備したことを特徴としている。
また、請求項７記載のメモリ素子の検査装置は、複数の前記メモリ素子との接続を可能にする複数のコネクタをさらに具備したことを特徴としている。
また、請求項８記載のメモリ素子の検査装置は、前記メモリ素子を外部の測定装置に接続するための、測定装置用コネクタと、インタフェース回路とを、さらに具備したことを特徴としている。
さらに、請求項９記載のメモリ素子の検査装置は、前記測定装置用コネクタが、ＵＳＢ規格コネクタであることを特徴としている。
【考案の効果】
【００１１】
本考案のメモリ素子の検査装置によれば、測定装置に接続されるセンサ付属メモリ素子または単独のメモリ素子からなるメモリ素子の障害、前記メモリ素子と前記測定装置とを接続する接続配線の断線や誤配線を、オフラインモードで検査する検査装置であって、
測定時には外部の前記測定装置と接続される前記メモリ素子への前記接続配線を、検査を開始する電源投入時には、前記メモリ素子と検査用コンピュータとの間でデータを読み書きできるように自動で切り替える切替スイッチと、
前記メモリ素子から読み込んだデータを検査する検査用コンピュータと、
前記データを記憶する記憶装置と、を備え、
前記メモリ素子と前記検査用コンピュータとの間で所定のデータを読み書きすることにより、前記検査用コンピュータにおいて、前記メモリ素子の良否判定、前記接続配線の断線や誤配線の有無を検査し得るように構成したので、メモリ素子（例えば、ＴＥＤＳ規格のもの）の読み書きが、測定装置とは接続しないオフラインで可能となり、さらにはオフラインで該メモリ素子の良否判定、断線や誤配線の有無の判定を行うことが可能となり、メモリ素子の事前検査を簡単に実施することが可能となり、その後の測定装置による測定の信頼性を向上させるメモリ素子の検査装置を提供することができる。
【００１２】
また、本検査装置が簡易化されており、従来の検査に使用していたパソコンよりも格段に小さく軽量にすることができるので、持ち運びも便利になり、現場での検査を容易に実施することができる。
また、切替スイッチとコネクタ（例えばＵＳＢ規格）とにより、外部の測定装置（例えばパソコン）との接続も可能となるので、検査工程への移行も容易となる。
さらに、メモリ素子が複数の場合にも対応が可能となり、それらを順次に検査できるような回路構成にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本考案の実施形態に係るセンサ付属メモリ素子の検査装置の、全体構成を示すブロック図である。
【図２】本実施形態に係るセンサ付属メモリ素子の検査装置の、外観構成を示す外観図であり、このうち、図２（ａ）は平面図、図２（ｂ）は正面図、図２（ｃ）は右側面図を示すものである。
【図３】本実施形態に係るセンサ付属メモリ素子の検査装置を用いた事前検査の手順（工程）を示すフローチャートである。
【図４】メモリ素子に対応したリセットパルスとプレゼンスパルスの送出経路を示す説明図である。
【考案を実施するための形態】
【００１４】
以下、本考案のセンサ付属メモリ素子の検査装置の最良の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図１は、本考案の実施形態に係るセンサ付属メモリ素子（単独のメモリ素子を含む。以下同じ）の検査装置の、全体構成を示すブロック図である。
同図において、本実施形態のセンサ付属メモリ素子の検査装置Ｔは、メモリ素子内蔵センサや外部のメモリ素子との接続を担う３つのコネクタ１，２，３と、コネクタ１，２，３からの信号を後述するマイクロコンピュータ（以下、「マイコン」と略称する）７と測定用のパソコン（パーソナルコンピュータ）とに切り分ける切替スイッチ４と、ＵＳＢコネクタ１３（図２参照）を介して測定用のパソコン（図示は省略）とのインタフェースを担うインタフェース回路５と、コネクタ１，２，３からの信号を前記の事前検査回路に読み込む入出力回路６と、コネクタ１，２，３からの信号を解析して事前検査を実施するマイコン７と、マイコン７に付属するメモリＩＣ８、表示器９、操作用のチェックボタン１０、切替スイッチ４およびマイコン７に電力を供給する電源１１と、を備える。
【００１５】
図２（ａ），（ｂ），（ｃ）は、本実施形態に係るセンサ付属メモリ素子の検査装置の外観構成を示す外観図であり、このうち、図２（ａ）は平面図、図２（ｂ）は正面図、図２（ｃ）は右側面図を示すものである。
図２（ａ）に示すように、本検査装置Ｔの上面には、コネクタ１，２，３およびゴム足１４が配置され、背面にはチェックボタン１０と電源入力部１２が配置されている。また、図２（ｂ）に示すように、本検査装置Ｔの正面には、外部のパソコン（測定装置等）と接続するためのＵＳＢコネクタ１３が配置されている。さらに、図２（ｃ）に示すように、本検査装置Ｔの底面には、検査装置Ｔの全体を支える４本のゴム足１４が配置されている。
同２（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に示すように、本検査装置Ｔは、少なくとも２種類以上（本実施の形態にあっては、３種類）の入力コネクタを備える構成とする。例えば、図１に示すコネクタ２は、ＮＤＩＳ規格に適合したコネクタである。従来は、外部のメモリ素子を直接嵌合（接続）できるコネクタのみを備えて読み書きを行っていたが、本検査装置Ｔでは、センサに内蔵されたメモリ素子用のコネクタ１，２に加えて外部の単独メモリ素子も読み書きできるようなコネクタ３を備えた構造としている。
【００１６】
以下、本実施形態のセンサ付属メモリ素子の検査装置（本装置）の、機能を説明する。
本実施形態のセンサ付属メモリ素子は、大別して、ＴＥＤＳ規格の情報（以下、「ＴＥＤＳ情報」と称する）の事前検査機能と読み書き機能とを備える。
以下、ＴＥＤＳ情報等の読み書き機能を使用する場合の操作手順（工程）の方を最初に示すが、この工程は、後述する事前検査工程が完了してから行うものとする。
（１）  ＵＳＢコネクタ１３（図２参照）を介してインタフェース回路５と外部のパソコン（測定装置等）とをＵＳＢ接続する。この場合、インタフェース回路の電源は、パソコンからＵＳＢコネクタ１３を介して、供給されるので、本装置内の電源１１からの電力供給は不要である。切り替えスイッチ４は、本装置内の電源１１を投入しない限り、コネクタ１，２，３とインタフェース回路５とを常時導通させている状態である。
（２）  外部のパソコン（測定装置等）を起動し、ＴＥＤＳ情報読み書き用のソフトウェアを起動する。
【００１７】
（３）  メモリ素子内蔵センサをコネクタ１，２に嵌合（接続）し、さらに、必要な場合、単独のメモリ素子をコネクタ３に嵌合（接続）する。
（４）  外部の機器、例えば（パソコンや測定装置等）から、メモリ素子内蔵センサおよび単体のメモリ素子に対して従来通りＴＥＤＳ情報等の読み書きを行わせる（即ち、外部のパソコンに、メモリ素子内蔵センサから出力される被測定対象の物理量の測定等を実施させる）。
図３は、本実施形態に係るセンサ付属メモリ素子の検査装置を用いた事前検査の手順（工程）を示すフローチャートである。
ステップＳ１において、操作者が、本検査装置Ｔの電源１１の電力を投入する。電源１１は、電池を備えていても良いし、ＡＣ／ＤＣアダプタであっても良い。電源１１の電力が投入されたことを目視できるように表示器９にその旨を表示することができる。この場合、例えば本検査装置Ｔの表示器９をＬＥＤで構成して、電源が投入された場合には、本装置が橙色を表示するようにすることも可能である。なお、本検査装置Ｔの電源１１の電力が投入されると、本装置内の切替スイッチ４の状態が図１の実線から破線で示すように、切り替わり、コネクタ１，２，３と入出力回路６とが切替スイッチ４を介して導通し、本検査装置Ｔのマイコン７がメモリ素子内蔵センサまたは単独のメモリ素子の情報を検証することができる状態となる。
【００１８】
なお、この時、外部のパソコンと本検査装置Ｔとの接続は、全て遮断されるので、切替スイッチ４は、外部のパソコン（測定装置等）からの信号と本装置のマイコン７からの信号との混信を防ぐ機能も有する。
ステップＳ２では、操作者が、メモリ素子内蔵センサまたはメモリ素子をコネクタ１，２，３に嵌合（接続）する。
これにより、本検査装置Ｔのマイコン７が制御する処理動作に移行する。以下、この処理動作を説明する。
ステップＳ３では、本検査装置Ｔのマイコン７が、チェックボタン１０が押されているか否かを検証し、チェックボタン１０が押されていない場合は、警告のために、ステップＳ１３にて、表示器９に、例えば橙色のＬＥＤを点灯させながら、チェックボタン１０が押されるまで待機し、チェックボタン１０が押下されるとステップＳ４に進む。なお、メモリ素子内蔵センサまたはメモリ素子の事前検査を実施する際、通常、操作者はチェックボタン１０を押下したままにする。
【００１９】
ステップＳ４では、本検査装置Ｔのマイコン７が、図４に示すようにメモリ素子に対してリセット信号（リセットパルスと呼ばれている）を送信する。メモリ素子によっては、例えば、ダラス社製の１wireデバイスの場合、上記リセットパルスの応答として、正常であれば特定の信号（プレゼンスパルスと呼ばれている）を返信することになっている。
ステップＳ５では、本装置のマイコン７が、上記リセットパルスの応答としての上記特定の信号（プレゼンスパルス）が送出されたか否かを検証し、上記特定の信号が送出されない場合は、事前検査結果は不合格として、ステップＳ１４にて、表示器９に、例えば赤色のＬＥＤを点灯させた後、ステップＳ３に戻る。さもなくて、上記特定の信号（例えば、プレゼンスパルス）が送出されている場合は、ステップＳ６に進む。もしも、半田付け不良、接続ミス、メモリ素子の破壊およびセンサにメモリ素子が入っていなかった場合においては上記特定の信号（プレゼンスパルス）がマイコン７に対して送信されてこない。
ステップＳ６では、本検査装置Ｔのマイコン７が、メモリチェックモードに移行し、メモリ素子に記録されているＴＥＤＳ情報を消去しないように、ＴＥＤＳ情報の全ての読み込みを行い、マイコン７内のメモリ若しくはマイコン７に付属のメモリＩＣ８に書き込んでＴＥＤＳ情報の保存（即ち転送）を行う。
【００２０】
次に、ステップＳ７では、本転送装置Ｔのマイコン７が、メモリ素子の全データ領域に対して２値データ「０１０１・・・・」の書込を行った後、メモリ素子に書き込まれた前記データの読み出しを行う。
ステップＳ８では、本検査装置Ｔのマイコン７が、メモリ素子への上記書き込みデータ（即ち、２値データ「０１０１・・・・」）と、メモリ素子の上記読み出し結果とが一致するか否かを検証し、上記書き込みデータ（即ち、２値データ「０１０１・・・・」）と上記読み出し結果が一致すれば、ステップＳ９に進み、さもなくて、上記書き込みデータと上記読み出し結果が不一致の場合は、ステップＳ１５にて、表示器９に、例えば赤色のＬＥＤを点灯させた後、ステップＳ３に戻る。
ステップＳ９では、本検査装置Ｔのマイコン７が、メモリ素子の全データ領域に対して２値データ「１０１０・・・・」の書込を行った後、メモリ素子に書き込まれた前記データの読み出しを行う。
ステップＳ１０では、本検査装置Ｔのマイコン７が、メモリ素子への上記書き込みデータ（即ち、２値データ「１０１０・・・・」）と、メモリ素子の上記読み出し結果とが一致するか否かを検証し、上記書き込みデータ（即ち、２値データ「１０１０・・・・」）と上記読み出し結果が一致すれば、ステップＳ１１に進み、そうでなくて、上記書き込みデータと上記読み出し結果が不一致の場合は、事前検査不合格として、ステップＳ１５に移る。
【００２１】
ステップＳ１１では、本検査装置Ｔのマイコン７が、マイコン７内の前記メモリ若しくはマイコン７に付属のメモリＩＣ８に書き込んでいたＴＥＤＳ情報を前記メモリ素子に書き戻した後、ステップＳ３に戻る。
図４は、メモリ素子に対応したリセットパルスとプレゼンスパルスの送出経路を示す説明図である。
同図に示すように、メモリ素子に対して本検査装置Ｔのマイコン７からは入出力回路６を介してリセットパルスが送出され、該メモリ素子からは、この応答としてのプレゼンスパルスが入出力回路６を介してマイコン７に送出される。
この実施形態に係る検査装置Ｔによれば、測定を開始する前の段階でメモリ素子が何らかの不良を起こしたままの状態や、メモリ素子が入ってないセンサでの測定がなされることを事前に防止することができるので、測定の信頼性を向上させることができる効果がある。
また、本検査装置Ｔは、従来の事前検査に使用されていたパソコンよりも格段に小さく軽量であるため、持ち運びも便利となり、現場での検査を迅速且つ簡易に実施し易くなるという効果がある。なお、従来通りパソコンに接続しての読み書き（事前検査）も可能である。
【００２２】
「他の実施形態」
上記実施形態では、接続された複数のセンサ素子を１個づつチェックする場合を述べたが、他の実施形態として、複数個をチェックするための回路変更を行って、該複数個のセンサ素子の全てを同時にチェックすることも可能である。
【符号の説明】
【００２３】
１，２，３  コネクタ
４  切替スイッチ
５  インタフェース回路
６  入出力回路
７  マイコン
８  メモリＩＣ
９  表示器
１０  チェックボタン
１１  電源
１２  電源入力部
１３  ＵＳＢコネクタ
１４  ゴム足
Ｔ  検査装置
【図１】
0003153246.tif 000003
【図２】
0003153246.tif 000004
【図３】
0003153246.tif 000005
【図４】
0003153246.tif 000006