【事件の表示】
　特願２００５−２３５６６２「チップサイズ波長検出器」拒絶査定不服審判事件〔平成１８年　３月　２日出願公開，特開２００６−　５８３０１〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　本願は，平成１７年８月１６日（パリ条約に基づく優先権主張　平成１６年８月２３日　米国）に出願されたものであって，平成２３年１月１９日付けの拒絶理由通知に対し同年４月２１日付けで意見書および手続補正書が提出されたが，同年６月２３日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，同年１０月２７日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに，同日付けで手続補正（以下「本件補正」という）がなされたものである。そして，平成２４年２月１４日付けで前置報告書の内容が審尋がされるとともに，回答書が同年５月１日付けで請求人より提出されたものである。　 
　　
第２　本件補正についての補正却下の決定　
［補正却下の決定の結論］　
 　平成２３年１０月２７日付けの手続補正を却下する。　
　　
［理由］　
１　補正後の請求項１に係る発明　
　本件補正により，補正前の特許請求の範囲の請求項１は，次のとおりに補正された。（下線は補正箇所を示す）　
「【請求項１】　
　検出面上において光が入射した位置を感知する位置感知型光検出器と、　
　前記位置感知型光検出器の前記検出面上に設けられ、膜の面内方向の位置によって異なる透過特性にて前記位置感知型光検出器へと光を透過させる少なくとも１つの横変透過特性膜と、　
　前記位置感知型光検出器の前記検出面上の位置と光の波長との対応付けを示す校正情報を記憶する記憶部と、前記位置感知型光検出器の前記検出面上において光が入射した位置と前記校正情報とに基づいて、前記位置感知型光検出器に入射した光の波長を求める演算部と、を備え、　
　
前記少なくとも１つの横変透過特性膜は、ＡｌＧａＡｓ、ＧａＡｓ、ＡｌＡｓ、Ａｌ
２
Ｏ
３
、ＧａＮ及びＡｌＮのうちの少なくとも１つを含む、
　
ことを特徴とす
　　
　上記補正は，　
横変透過特性膜について，「ＡｌＧａＡｓ、ＧａＡｓ、ＡｌＡｓ、Ａｌ２Ｏ３、ＧａＮ及びＡｌＮのうちの少なくとも１つを含む」と限定するものであるから，平成１８年改正前の特許法第１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。　
　そこで，補正後の請求項１に係る発明（以下「補正発明」という）が特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされている同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について，以下に検討する。　
　　
２　引用刊行物およびその記載事項　
（１）本願優先日前に頒布され，原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特表平２００３−５２０４３９号公報（以下「刊行物１」という）には，図面とともに次の事項が記載されている。　
　　
（１−ア）　
「【請求項６】　光波長モニタを形成する装置において、　
　若干数の位置検出ダイオード電極から抽出された電流を使用して入射光の位置および強度の情報を得るために利用される位置検出器（１０）と、　
　前記位置検出器（１０）の頂部に直接配置され干渉フィルタ（１２）とが備えられ、それにより統合波長検出装置（１３）が形成され、それによって波長検出装置（１３）が光源から或る距離のところに或る角度で取付られ、該波長検出装置が光波長モニタ装置として動作することを特徴とする、光の波長モニタを形成する装置。　
【請求項７】  光学フィルタを形成する若干数の異なる光透過性材料層を位置検出器（１０）の頂部に直接に被着させることにより、前記干渉フィルタ（１２）が作製され、これにより統合波長モニタ装置が製作されることを特徴とする、請求項６に記載された装置。　
【請求項８】  前記干渉フィルタ（１２）が、フィルタを形成する若干数の異なる光透過性材料層により別個に製作され、該フィルタが、引き続き位置検出器（１０）に接着され、それにより統合波長モニタ装置が製作されることを特徴とする、請求項６に記載された装置。　
【請求項９】  温度依存性を最小化するために、低熱膨張率材料が干渉フィルタ（１２）のスペーサ層として使用されることを特徴とする、請求項６に記載された装置。　
【請求項１０】  波長制御装置が、位置検出器から導出される出力信号を、レーザー発光器（１４）の波長制御に利用することを特徴とする、請求項６に記載された装置。」　
　　
（１−イ）　
「【０００１】　
（技術分野）　
　本発明は、レーザー光波長のモニタリングに係わり、より具体的には、レーザ装置のサブモジュール用の統合波長モニタリング方法および装置に関するものである。」　
　　
（１−ウ）　
「【０００６】　
  以下で、本発明を添付図面を参照して説明することで、本発明が、その別の目的および利点と共に、より良く理解されるだろう。　
    （詳細な説明）　
  図１には、位置検出ダイオードの全体的な実施例が示されている。位置検出ダイオードは、通常の光ダイオードの変更態様である。２個の前面電極１，２を用いることにより、入射光３により発生する光電流が、前面電極間で分割され、２個の前面電極内に電流Ｉ１，ＩＩ２が発生する。光の横方向位置ｘは、得られた２電流の比から得ることができる。このことが、本出願に利用される通常ＰＳＤと呼ばれる位置検出器の基本原則を成している。　
【０００７】　
　本発明の改良による波長モニタは、位置検出器と干渉フィルタとの組み合わせによって構成されている。ＰＳＤ１０は光検出器を構成し、該光検出器から、入射光の位置と強度の双方が抽出できる。該ＰＳＤは、数個の電極を光ダイオード検出器上に取付けることにより得られる。位置と強度とは、各電極内で観察される電流から導出される。　
　図２に示した基本実施例では、干渉フィルタ１２が、ＰＳＤの頂部に若干数の異なる透明材料層を被着させることにより製作される。更に別の実施例の場合、干渉フィルタは、別個に製作され、その後で位置検出器１０のチップに接着される。モニタの解像と波長との範囲は、干渉フィルタ１２のスペーサ層の厚さで制御される。干渉フィルタは、例えば典型的な実施例ではファブル−ペロ・エタロンとして構成されている。スペーサ層として低熱膨張性材料を使用することにより、温度依存性が最小化できる。　
【０００８】　
　本発明を利用する典型的な実施例では、前述のように製作された波長モニタ１３は、図３に示すように、レーザ装置１４の後面から或る距離のところに或る角度で配置されている。あるいはまた、前面からの光のいくらかをモニタに向けることができる。　
　特定角度で入射する光のみが干渉フィルタ１２を通過するので、図１４に示された線１５が、位置検出器１０上に形成されよう。これにより、該線の位置は波長に依存する。光検出器の電極により検出される電流から、光の波長を抽出することができる。」　
　　
　上記記載事項（１−ア）〜（１−ウ）からみて，刊行物１には次の発明が記載されていると認められる。　
　　
「光波長モニタを形成する装置において，　
　若干数の位置検出ダイオード電極から抽出された電流を使用して入射光の位置および強度の情報を得るために利用される位置検出器（１０）と，　
　前記位置検出器（１０）の頂部に直接配置され干渉フィルタ（１２）とが備えられ，それにより統合波長検出装置（１３）が形成され，それによって波長検出装置（１３）が光源から或る距離のところに或る角度で取付られ，該波長検出装置が光波長モニタ装置として動作する光の波長モニタを形成する装置。」（以下「引用発明１」という）　
　　
（２）同様に，本願優先日前に頒布され，原査定の拒絶の理由に周知例として引用された刊行物である国際公開第０２／０７５３８４号（以下「刊行物２」という）には，図面とともに次の事項が記載されている。なお，以下の摘記は刊行物２に対応する特表２００４−５３２４０２号の記載である。　
　　
（２−ア）　
「【請求項１】　
光ファイバ入力部と、　
該光ファイバ入力部と線形可変フィルタとの間に設けられた光コリメータ部とを備え、　
前記線形可変フィルタはエタロン構造を有し、該エタロンにおいて形成される離間領域はその領域の方向にそって先細り形状となっており、　
前記線形可変フィルタは、前記先細り形状の方向にそって配置された線形光検出器アレイに取り付けられていることを特徴とする光学的スペクトロメータ構成部分。」　
　　
（２−イ）　
「【０００８】　
（発明の簡単な要約）　
本発明によって提供される可変フィルタを基にした光学的スペクトロメータは、温度に対して高安定度を有するファブリ・ぺロ（エタロン）構造を、検出器アレイに組み合わせて（光学的に結合して）使用する。例えば、ロング・パス、ショート・パスあるいは狭帯域通過のフィルタが使用されえる。薄膜の反射器および反射器の間に形成される離間領域の安定性により、特徴あるフィルタ−検出器の構成および再形成技法と伴なって、波長分解能が高められる。」　
　　
（２−ウ）　
「【００１０】　
・・・・・　
（発明の詳細な説明）　
Ｉ．導入部　
勾配つきあるいはくさび形（先細り形状）のファブリ・ぺロ形のフィルタ構造を適用した光学的スペクトロメータは、高い波長分解能、小型化、およびコスト低減を実現する。フィルタ−検出器の構成は、少ない素子数および必要な光学的芯合わせが限定されるので、相対的に製作が容易である。この技法により、相対的に小さな、集積された検出器アレイが実現される。フォトリソグラフィ技術により、ハイブリッド回路形成技術よりも、良好な線形特性の検出器アレイが実現され、その検出器アレイは、形成ウエーファに占める面積は相対的に小さく、また、小型、強固なスペクトロメータ構成部分となる。　
【００１１】　
ＩＩ．可変光フィルタおよび検出器　
第１Ａ図は、本発明の実施例による光学的スペクトロメータ構成部分１０を示す簡単化された断面図である。可変フィルタ１２は、コリメータ光学素子１４，１６および光検出器アレイ１８と共に組み立てられ、光学的に結合されている。コリメータ光学素子は、色補正を備えることもできる。コリメータ光学素子は拡大レンズ１４を含む。光ファイバ１５の終端１３は基本的には点光源となっている。この点光源からの光を、拡大レンズ１４は拡大する。図において、矢印３，５は光を示す。光はコリメータ・レンズ１６に入射される。コリメータ・レンズ１６は、光ビーム７，９をフィルタ１２に与える。典型的なシステムにおいては、拡大レンズおよびコリメータ・レンズの両方は円形レンズである。光ファイバ１５はコアを有し、その直径は約４０ミクロンである。それから出る光は拡大され、約１０ｍｍにわたる収束されたビームとなる。したがって、フィルタは、勾配（先細り形状）の方向にそって約１０ｍｍである。また、検出器アレイの長さも約１０ｍｍである。　
【００１２】　
第１Ｂ図は、可変フィルタ１２の１具体例を示す簡単化された断面図である。第１反射器２０、第２反射器２２および両反射器間に形成される離間領域（空胴）２４を有するエタロン構造が形成されている。なお、他の実施形態においては、複数の空胴のフィルタが使用されえる。離間領域２４は勾配つき（先細り）形状、つまり、くさび形状である。各反射器の全体的な構成は複数の絶縁薄膜を重ね合わせたものであり、公知である。その薄膜層は、相対的に高い屈折率および低い屈折率を有する材料が交互する材料の層である。このような構造はしばしば光学ガラスの基板２５の上に構成配置されているが、例えば、焦点光学素子に直接に配置されえる。離間領域２４は２つの反射器２０、２２と共に動作し、波長−選択構造を形成するようになっている。したがって、光を効果的に透過あるいは反射するフィルタが形成されている。」　
　　
　上記記載事項（２−ア）〜（２−ウ）からみて，刊行物２には次の発明が記載されていると認められる。　
　　
「光ファイバ入力部と，　
該光ファイバ入力部と線形可変フィルタとの間に設けられた光コリメータ部とを備え，　
前記線形可変フィルタはエタロン構造を有し，該エタロンにおいて形成される離間領域はその領域の方向にそって先細り形状となっており，　
前記線形可変フィルタは，前記先細り形状の方向にそって配置された線形光検出器アレイに取り付けられている光学的スペクトロメータ。」（以下「引用発明２」という）　
　　
３　判断１　
（１）対比　
　補正発明と引用発明１とを対比すると，その機能・構造からみて，引用発明１の「光波長モニタを形成する装置」は，補正発明の「装置」に相当することは明らかである。　
　そして，引用発明１の「位置検出器（１０）」は「入射光の位置および強度の情報を得るために利用される」のであるから，該「位置検出器（１０）」と補正発明の「位置感知型光検出器」とは，「検出面上において光が入射した位置を検出する位置検出器」の点にて共通するといえる。　
　また，上記記載事項（１−ウ）の「・・・・・モニタの解像と波長との範囲は、干渉フィルタ１２のスペーサ層の厚さで制御される。干渉フィルタは、例えば典型的な実施例ではファブル−ペロ・エタロンとして構成されている。・・・・・特定角度で入射する光のみが干渉フィルタ１２を通過するので、図１４に示された線１５が、位置検出器１０上に形成されよう。これにより、該線の位置は波長に依存する。光検出器の電極により検出される電流から、光の波長を抽出することができる。」からみて，引用発明１の「干渉フィルタ（１２）」は「光源から或る距離のところに或る角度で取付られた波長検出装置（１３）」の一部である「ファブル−ペロ・エタロン」であり，該「干渉フィルタ（１２）」と補正発明の「前記位置感知型光検出器の前記検出面上に設けられ、膜の面内方向の位置によって異なる透過特性にて前記位置感知型光検出器へと光を透過させる少なくとも１つの横変透過特性膜」とは，「前記位置感知型光検出器の前記検出面上に設けられ、前記位置検出器へと光を透過させる少なくとも１つの透過特性体」の点にて共通するといえる。　
　　
　そうすると，両者は，　
（一致点）　
「検出面上において光が入射した位置を感知する位置感知型光検出器と，　
　前記位置感知型光検出器の前記検出面上に設けられ，前記位置感知型光検出器へと光を透過させる少なくとも１つの透過特性体と，　
　を備えた装置。」　
である点で一致し，次の点で相違する。　
　　
（相違点１）　
「透過特性体」について，補正発明では「膜の面内方向の位置によって異なる透過特性」である「横変透過特性膜」であって，「ＡｌＧａＡｓ、ＧａＡｓ、ＡｌＡｓ、Ａｌ２Ｏ３、ＧａＮ及びＡｌＮのうちの少なくとも１つを含む」のに対し，引用発明１では「光源から或る距離のところに或る角度で取付られた波長検出装置（１３）」の一部であり，そのような材料を含む「膜」であるか否か不明な点。
　　
（相違点２）
　補正発明では「前記位置感知型光検出器の前記検出面上の位置と光の波長との対応付けを示す校正情報を記憶する記憶部と、前記位置感知型光検出器の前記検出面上において光が入射した位置と前記校正情報とに基づいて、前記位置感知型光検出器に入射した光の波長を求める演算部とを備え」るのに対し、引用発明１では不明である点。　
　　
（２）相違点１について　
　本願明細書の段落【００２１】には「次に、位置感知型光検出器３００へと光を選択的に透過させる横変透過特性膜は、ここでは、くさび状透過性共振子１０２並びに２個の反射膜１０１及び１０３を有する横変厚みエタロン１００として形成されている。即ち、これら３個の膜１０１、１０２及び１０３によって形成されるエタロン１００はくさび状のファブリペローエタロンであり、更にこのくさび状の外形は、共振子１０２をくさび状とすることによって実現されている。・・・・・」と記載されていることからみて，補正発明の「横変透過特性膜」は，「くさび状のファブリペローエタロン」を含むものであるといえる。　
　一方，上記記載事項（２−ウ）からみて，刊行物２には「光検出器アレイと共に組み立てられ、光学的に結合されているくさび状のファブリ・ぺロ（エタロン）構造」が記載され，ＦＩＧ．１Ａからみて，該「くさび状のファブリ・ぺロ（エタロン）構造」は，「光検出器アレイ」の検出面上に設けられているといえる。　
　そして，引用発明１の「干渉フィルタ（１２）」を上記刊行物２記載の「くさび状のファブリ・ぺロ（エタロン）構造」に置き換えることにより，測定の精度が向上することは明らかであり，該精度の向上は，引用発明１においても当然考慮される一般的な課題であるから，該置き換えには十分動機付けがあるというべきである。　
　さらに，本願優先日前に頒布された刊行物である特開平１１−２４８９３４号公報には「【００７０】例えば、上記実施例では多層膜の高屈折率物質にＳi、低屈折率物質にＳiＯ２を使用したが、これに限定されない。その他、例えば、ＣdＳe、ＣdＴe、ＣaＦ2、Ａｌ２Ｏ３など多くの物質が適用可能である。」と記載されていることからみて，「ファブリーペロー型の干渉フィルタにＡｌ２Ｏ３を使用する」は本願優先日前周知の事項であるといえる。　
　してみると，引用発明１の「干渉フィルタ（１２）」に刊行物２記載の事項および上記周知の事項を適用して，相違点１における補正発明の構成とするようなことは，当業者ならば何ら困難がなく，容易に想到し得る事項であるといえる。　
　　
（３）相違点２について　
　本願優先日前に頒布された刊行物である特開昭５４−２６７５５号公報には「まず狭帯域干渉フィルタ２の波長変化が直線状でない場合は波長較正によつて位置と波長の関係を求め、この関係を関数化しておいて映像信号のパターンを波長分布に変換して直線化する。光学部全体の波長感度分布も較正により関数化しておき，映像信号分布に乗じて感度較正する。」（２頁左欄４〜１０行）と記載されていることからみて，光波長計において「位置感知型光検出器の検出面上の位置と光の波長との対応付けを示す校正情報を記憶する記憶部と、前記位置感知型光検出器の前記検出面上において光が入射した位置と前記校正情報とに基づいて、前記位置感知型光検出器に入射した光の波長を求める演算部とを備え」ることは，本願優先日前周知の事項であるといえる。　
　してみると，引用発明１に上記周知の事項を適用して，相違点２における補正発明の構成とするようなことは，当業者ならば何ら困難がなく，容易に想到し得る事項であるといえる。　
　　
（４）効果について　
　そして，相違点１〜２による本願明細書記載の作用効果も，刊行物１，２記載の事項および上記周知の事項から，当業者ならば予測し得る範囲のものであって，格別顕著なものとはいえない。　
　　
（５）小括　
　したがって，補正発明は，引用発明１，刊行物２の記載および上記周知の事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないというべきである。
　　
３　判断２　
（１）対比　
　補正発明と引用発明２とを対比すると，その機能・構造からみて，引用発明２の「光学的スペクトロメータ」は，補正発明の「装置」に相当することは明らかである。　
　また，引用発明２の「線形光検出器アレイ」は，検出面上において光が入射した位置を感知することが可能であるから，引用発明２の「線形光検出器アレイ」と補正発明の「位置感知型光検出器」とは，「検出面上において光が入射した位置を感知する検出器」である点にて共通する。　
　そして，引用発明２の「線形可変フィルタ」は「エタロン構造を有し，該エタロンにおいて形成される離間領域はその領域の方向にそって先細り形状となっており」「前記先細り形状の方向にそって配置された線形光検出器アレイに取り付けられている」のであり，上記「３　判断１　（２）相違点１について」にて述べたように，補正発明の「横変透過特性膜」は，「くさび状（先細り形状）のファブリペローエタロン」を含むものであるといえるから，該「線形可変フィルタ」と補正発明の「横変透過特性膜」とは，「検出器の前記検出面上に設けられ、面内方向の位置によって異なる透過特性にて前記検出器へと光を透過させる少なくとも１つの横変透過特性体」の点にて共通するといえる。
　　
　そうすると，両者は，　
（一致点）　
「検出面上において光が入射した位置を感知する検出器と，　
　前記検出器の前記検出面上に設けられ，面内方向の位置によって異なる透過特性にて前記検出器へと光を透過させる少なくとも１つの横変透過特性体と，
　を備えた装置。」　
　　
（相違点３）　
「検出器」について，補正発明では「位置感知型光検出器」であるのに対し，引用発明２では「線形光検出器アレイ」である点。　
　　
（相違点４）　
「横変透過特性体」について，補正発明では「膜」であって，「ＡｌＧａＡｓ、ＧａＡｓ、ＡｌＡｓ、Ａｌ２Ｏ３、ＧａＮ及びＡｌＮのうちの少なくとも１つを含む」のに対し，引用発明２ではそのような材料を含む「膜」であるか否か不明な点。　
　　
（相違点５）　
　補正発明では「前記位置感知型光検出器の前記検出面上の位置と光の波長との対応付けを示す校正情報を記憶する記憶部と、前記位置感知型光検出器の前記検出面上において光が入射した位置と前記校正情報とに基づいて、前記位置感知型光検出器に入射した光の波長を求める演算部とを備え」るのに対し、引用発明１では不明である点。　
　　
（２）相違点３について　
　本願明細書の段落【００１４】には「本発明の構成要素のうち位置感知型光検出器は、ディスクリート光感知素子群のアレイを基体とするアレイ化位置感知型検出器としても実現できるが、一体性及び均質性のある非ディスクリート光感知媒体を基体とする一体均質位置感知型検出器として実現するのが望ましい。・・・・・」と記載されていることからみて，補正発明の「位置感知型光検出器」は，「一体均質位置感知型検出器」だけでなく「アレイ化位置感知型検出器」をも意味しているといえるから，引用発明２の「線形光検出器アレイ」に相当するといえる。そうすると，相違点３は実質的な相違点とはいえない。　
　また，補正発明の「位置感知型光検出器」が「一体均質位置感知型検出器」のみを意味しているとしても，上記記載事項（１−ア）〜（１−ウ）からみて，このような「一体均質位置感知型検出器」が刊行物１に記載されており，引用発明２において，その「線形光検出器アレイ」を刊行物１記載の「一体均質位置感知型検出器」に置き換えることは，当業者において十分に動機付けが存在し，何ら困難性がなく，容易に想到し得る事項であるといえる。　
　　
（３）相違点４について　
「３　判断１　（２）相違点１について」にて述べたように，「ファブリーペロー型の干渉フィルタにＡｌ２Ｏ３を使用する」は本願優先日前周知の事項であるといえる。　
　してみると，引用発明２の「線形可変フィルタ」に上記周知の事項を適用して，相違点４における補正発明の構成とするようなことは，当業者ならば何ら困難がなく，容易に想到し得る事項であるといえる。　
　　
（４）相違点５について　
「３　判断１　（３）相違点２について」にて述べたように，光波長計において「位置感知型光検出器の検出面上の位置と光の波長との対応付けを示す校正情報を記憶する記憶部と、前記位置感知型光検出器の前記検出面上において光が入射した位置と前記校正情報とに基づいて、前記位置感知型光検出器に入射した光の波長を求める演算部とを備え」ることは，本願優先日前周知の事項であるといえる。　
　してみると，引用発明２に上記周知の事項を適用して，相違点５における補正発明の構成とするようなことは，当業者ならば何ら困難がなく，容易に想到し得る事項であるといえる。　
　　
（５）効果について　
　そして，相違点３〜５による本願明細書記載の作用効果も，刊行物１，２記載の事項および上記周知の事項から，当業者ならば予測し得る範囲のものであって，格別顕著なものとはいえない。　
　　
（６）小括　
　したがって，補正発明は，引用発明２，刊行物１の記載および上記周知の事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないというべきである。
　　
４　まとめ　
　以上のとおりであるから，本件補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされている同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，特許法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により，却下すべきものである。　
 　 
第３　本願発明について　
１　本願発明 
　本件補正は上記のとおり却下されることとなるので，本願の請求項１〜２に係る発明は，平成２３年４月２１日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１〜２に記載された事項により特定されるものであって，そのうち，請求項１に係る発明は，以下のとおりである。（以下「本願発明」という）　
「【請求項１】　
検出面上において光が入射した位置を感知する位置感知型光検出器と、　
　前記位置感知型光検出器の前記検出面上に設けられ、膜の面内方向の位置によって異なる透過特性にて前記位置感知型光検出器へと光を透過させる少なくとも１つの横変透過特性膜と、　
　前記位置感知型光検出器の前記検出面上の位置と光の波長との対応付けを示す校正情報を記憶する記憶部と、　
　前記位置感知型光検出器の前記検出面上において光が入射した位置と前記校正情報とに基づいて、前記位置感知型光検出器に入射した光の波長を求める演算部と、　
　を備える装置。」　
　　
２　引用刊行物等の記載事項　
　原査定の拒絶の理由に引用した刊行物の記載事項は，前記「第２　２　引用刊行物およびその記載事項」に記載したとおりである。　
　　
３　対比・判断　
　本願発明は，前記「第２　３　判断１」あるいは「第２　３　判断２」で検討した補正発明において，補正前の「横変透過特性膜」について，「ＡｌＧａＡｓ、ＧａＡｓ、ＡｌＡｓ、Ａｌ２Ｏ３、ＧａＮ及びＡｌＮのうちの少なくとも１つを含む」と限定する補正のないものである。　
　そうすると，本願発明の構成要件を全て含む補正発明が前記「第２　３　判断１」あるいは「第２　３　判断２」において検討したとおり，刊行物１，２の記載および周知の事項に基づいて当業者が容易に発明をできたものであるから，本願発明も，同様の理由により，刊行物１，２の記載および周知の事項に基づいて，当業者が容易に発明をできたものであるというべきである。　
　　
４　回答書について　
　請求人は，回答書において「横変透過特性膜は、・・・・・交互に積層された層を含む」とする補正案を提示している。
　しかしながら，刊行物２の段落【００１５】の「反射器２０，２２は数種の公知材料で作製されている。その高率材料としては、ＴｉＯ２，Ｔａ２Ｏ５あるいはＮｂ２Ｏ５であり、低率材料としては、二酸化シリコン、ＭｇＦ２  あるいはＣｅＦ３である。特定の実施例にあっては、両検出器は、Ｔａ２Ｏ５とＳｉＯ２が交互する絶縁体の重ね合わせ構造である。・・・・・」との記載からみて，上記補正事項も刊行物２に記載されているといえるから，該補正案は採用することができない。　
　　
５　むすび　
　以上のとおり，本願発明は，特許法第２９条第２項の規定により，特許を受けることができないから，その余の請求項に係る発明について言及するまでもなく，本願は拒絶されるべきものである。　
　よって，結論のとおり審決する。