(57)【要約】【課題】軸受の単体組立時に、この軸受の軸受クリアランスを設計値に正確に調整できること。【解決手段】軸受１１に挿入される回転軸と前記軸受との軸受クリアランスの調整を支援する軸受クリアランス調整支援装置１０であって、模擬回転軸２２と、軸受に挿入された模擬回転軸をその半径方向に移動させる移動手段と、移動手段により移動する模擬回転軸の半径方向の変位を計測する変位計測手段２４と、変位計測手段の計測値を記録する記録手段２５と、記録手段により記録された計測値を、軸受の中心軸Ｐに垂直な平面上の座標を用いて、模擬回転軸の移動軌跡として表示する表示手段２６と、表示手段により表示された模擬回転軸の移動軌跡から、軸受の周方向複数位置における模擬回転軸と軸受とのクリアランスをそれぞれ軸受クリアランスとして算出する判定手段２７と、を有して構成されたものである。【選択図】  図１
2019157919.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
軸受に挿入される回転軸と前記軸受との軸受クリアランスの調整を支援する軸受調整支援装置であって、
模擬回転軸と、
前記軸受に挿入された前記模擬回転軸をその半径方向に移動させる移動手段と、
前記軸受の周方向に異なる位置に設置され、前記移動手段により移動する前記模擬回転軸の半径方向の変位を計測する変位計測手段と、
前記変位計測手段の計測値を記録する記録手段と、
前記記録手段により記録された計測値を、前記軸受の中心軸に垂直な平面上の座標を用いて、前記模擬回転軸の移動軌跡として表示する表示手段と、
前記表示手段により表示された前記模擬回転軸の移動軌跡から、前記軸受の周方向複数位置における前記模擬回転軸と前記軸受とのクリアランスをそれぞれ前記軸受クリアランスとして算出する判定手段と、を有して構成されたことを特徴とする軸受調整支援装置。
【請求項２】
前記軸受には、その内周の周方向に沿う複数位置に軸受パッドが、前記軸受の半径方向に調節可能に設けられ、
前記判定手段は、前記軸受の周方向複数位置で算出した各軸受クリアランスと予め設定された設計値とを比較して、前記各軸受クリアランスが前記設計値に適合しているか否かを判定し、不適合な前記軸受クリアランスを前記設計値に調整させるために、不適合な前記軸受クリアランスに対応する前記軸受パッドを特定して表示手段に表示させ、且つその特定した軸受パッドの調節量を算出して前記表示手段に表示させるよう構成されたことを特徴とする請求項１に記載の軸受調整支援装置。
【請求項３】
前記回転軸の外径に軸受クリアランスの設計値を加えた寸法を外径とするクリアランス設定用治具を有し、
このクリアランス設定用治具が、模擬回転軸の軸受への挿入前にこの軸受に挿入されて、前記軸受の軸受クリアランスを設計値に設定するために用いられるよう構成されたことを特徴とする請求項１または２に記載の軸受調整支援装置。
【請求項４】
前記軸受には、その内周の周方向に沿う複数位置に軸受パッドが、前記軸受の半径方向に調節可能に設けられ、
前記クリアランス設定用治具はアーム部を備え、このアーム部は、前記軸受パッドに当接すると共に、その長さが前記軸受パッドの調節方向に伸縮可能に設けられたことを特徴とする請求項３に記載の軸受調整支援装置。
【請求項５】
軸受に挿入される回転軸と前記軸受との軸受クリアランスの調整を支援する軸受調整支援方法であって、
前記回転軸の外径に前記軸受クリアランスの設計値を加えた寸法を外径とするクリアランス設定用治具を前記軸受に挿入し、このクリアランス設定用治具を用いて前記軸受の前記軸受クリアランスを設計値に設定する軸受クリアランス設定工程と、
模擬回転軸を前記クリアランス設定用治具に代えて前記軸受に挿入した後に、前記模擬回転軸を半径方向に移動させる模擬回転軸移動工程と、
前記軸受の周方向に異なる位置で前記模擬回転軸の半径方向の変位を計測し、その計測値を記録する模擬回転軸の変位計測・記録工程と、
前記模擬回転軸の変位計測・記録工程で記録された前記計測値を、前記軸受の中心軸に垂直な平面上の座標を用いて前記模擬回転軸の移動軌跡として表示する模擬回転軸の移動軌跡表示工程と、
前記模擬回転軸の移動軌跡から、前記軸受の周方向複数位置における前記模擬回転軸と前記軸受とのクリアランスをそれぞれ前記軸受クリアランスとして算出する軸受クリアランス算出工程と、をすることを特徴とする軸受調整支援方法。
【請求項６】
前記軸受には、その内周の周方向に沿う複数位置に軸受パッドが、前記軸受の半径方向に調節可能に設けられ、
前記軸受クリアランス算出工程で算出された各軸受クリアランスと予め設定された設計値とを比較して、前記各軸受クリアランスが前記設計値に適合しているか否を判定し、不適合な前記軸受クリアランスを前記設計値に適合させるために、不適合な前記軸受クリアランスに対応する前記軸受パッドを特定して表示させ、且つその特定した軸受パッドの調節量を算出して表示させる軸受クリアランス調整支援工程を、更に有することを特徴とする請求項５に記載の軸受調整支援方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、軸受クリアランスの設計値への調整を支援する軸受調整支援装置及び軸受調整支援方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
実機に組み込まれた従来の軸受、特にティルティングパッドを有する軸受は、その調整状態によっては、回転軸と軸受とのクリアランス（即ち軸受クリアランス）が設計値と大きく異なってしまう場合がある。また、円筒やこれに類する形状の軸受についても、製作誤差や運転後に発生した摩耗などによって、軸受クリアランスが設計値と大きく異なってしまう場合がある。
【０００３】
一方、軸受に外力を加え、回転負荷トルクを測定し、回転圧縮機ポンプの内部のロータ及びシリンダのクリアランスを調整して回転軸の強制芯出しを行う発明がある（特許文献１）。この発明では、回転軸の芯出しを行う際に、回転軸と軸受とのクリアランス（即ち軸受クリアランス）が算出されるものではない。
【０００４】
また、軸受近傍に変位計を設置して回転軸の距離を計測し、停止中の回転軸を軸受に押し付けるように移動させて、この回転軸を軸受の内面全周に接触させたときの移動軌跡から、軸受の全周において回転軸と軸受とのクリアランス（即ち軸受クリアランス）を把握できるようにした発明がある（特許文献２）。この発明によれば、軸受が実機に組み込まれた状態で軸受クリアランスを把握できると共に、回転軸を移動軌跡の中心位置に固定して設定することで回転軸の芯出し精度を向上させることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平９−２５０４７６号公報
【特許文献２】特開２００５−３２６１５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、回転軸と軸受とのクリアランス（即ち軸受クリアランス）の調整は、軸受が実機に組み込まれる前に、軸受単体で実施される必要がある。仮に、実機に組み込まれる前の軸受における軸受クリアランスが設計値と異なる場合には、そのまま実機に組み込まれてしまうと、回転軸の振動が規定値を超える恐れがある。特許文献２に記載の発明は、回転軸を軸受の中心位置に設定することを目的とするものであり、軸受における軸受クリアランスの調整を目的としていない。
【０００７】
本発明の実施形態は、上述の事情を考慮してなされたものであり、軸受の単体組立時に、この軸受の軸受クリアランスを設計値に正確に調整できる軸受調整支援装置及び軸受調整支援方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の実施形態における軸受調整支援装置は、軸受に挿入される回転軸と前記軸受との軸受クリアランスの調整を支援する軸受調整支援装置であって、模擬回転軸と、前記軸受に挿入された前記模擬回転軸をその半径方向に移動させる移動手段と、前記軸受の周方向に異なる位置に設置され、前記移動手段により移動する前記模擬回転軸の半径方向の変位を計測する変位計測手段と、前記変位計測手段の計測値を記録する記録手段と、前記記録手段により記録された計測値を、前記軸受の中心軸に垂直な平面上の座標を用いて、前記模擬回転軸の移動軌跡として表示する表示手段と、前記表示手段により表示された前記模擬回転軸の移動軌跡から、前記軸受の周方向複数位置における前記模擬回転軸と前記軸受とのクリアランスをそれぞれ前記軸受クリアランスとして算出する判定手段と、を有して構成されたことを特徴とするものである。
【０００９】
本発明の実施形態における軸受調整支援方法は、軸受に挿入される回転軸と前記軸受との軸受クリアランスの調整を支援する軸受調整支援方法であって、前記回転軸の外径に前記軸受クリアランスの設計値を加えた寸法を外径とするクリアランス設定用治具を前記軸受に挿入し、このクリアランス設定用治具を用いて前記軸受の前記軸受クリアランスを設計値に設定する軸受クリアランス設定工程と、模擬回転軸を前記クリアランス設定用治具に代えて前記軸受に挿入した後に、前記模擬回転軸を半径方向に移動させる模擬回転軸移動工程と、前記軸受の周方向に異なる位置で前記模擬回転軸の半径方向の変位を計測し、その計測値を記録する模擬回転軸の変位計測・記録工程と、前記模擬回転軸の変位計測・記録工程で記録された前記計測値を、前記軸受の中心軸に垂直な平面上の座標を用いて前記模擬回転軸の移動軌跡として表示する模擬回転軸の移動軌跡表示工程と、前記模擬回転軸の移動軌跡から、前記軸受の周方向複数位置における前記模擬回転軸と前記軸受とのクリアランスをそれぞれ前記軸受クリアランスとして算出する軸受クリアランス算出工程と、をすることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の実施形態によれば、軸受の単体組立時に、この軸受の軸受クリアランスを設計値に正確に調整できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】一実施形態に係る軸受調整支援装置を示す平面図。
【図２】図１の軸受調整支援装置を示す側面図。
【図３】図１及び図２の模擬回転軸に代えてクリアランス設定用治具を用いた場合を示し、（Ａ）が平面図、（Ｂ）が側面図。
【図４】図３のクリアランス設定用治具の詳細構造を示す平面図。
【図５】軸受クリアランスが設計値に適合している場合に、図１の表示手段に表示される模擬回転軸の移動軌跡を示し、（Ａ）が上記移動軌跡を主に示す表示画面図、（Ｂ）が図５（Ａ）から軸受内面の輪郭を示す説明図。
【図６】軸受クリアランスが設計値に不適合な場合に、図１の表示手段に表示される模擬回転軸の移動軌跡を示し、（Ａ）が上記移動軌跡を主に示す表示画面図、（Ｂ）が図６（Ａ）から軸受内面の輪郭を示す説明図。
【図７】本実施形態に係る軸受調整支援方法を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明を実施するための形態を、図面に基づき説明する。
図１は、本実施形態の軸受調整支援装置を示す平面図である。また、図２は、図１の軸受調整支援装置を示す側面図である。これらの図１及び図２における軸受調整支援装置１０は、軸受１１に挿入されて回転支持される回転軸（不図示）と軸受１１のクリアランスである軸受クリアランスの設定、調整を支援するものであり、ベースプレート２０、クリアランス設定用治具２１（図３）、模擬回転軸２２（図１、図２）、移動手段２３（図３）、変形計測手段２４（図１、図２）、記録手段２５、表示手段２６、及び判定手段２７を有して構成される。
【００１３】
ここで、軸受１１は、回転軸を回転支持するものであり、この回転軸と共に回転機を構成する。この軸受１１は、ティルティングパッド軸受や、円筒またはこれに類する形状の軸受であるが、本実施形態ではティルティングパッド軸受を一例として示す。
【００１４】
この軸受（ティルティングパッド軸受）１１は、軸受リング１２の内周の周方向複数の等間隔位置、例えば６等分配位置に軸受パッド１３がそれぞれ配置されてなり、複数個（例えば６個）のそれぞれの軸受パッド１３が、パッド押しボルト１４を用いて軸受リング１２に螺装されている。パッド押しボルト１４のねじ込みまたはねじ戻し操作によって軸受パッド１３が軸受リング１２に対し、この軸受リング１２の半径方向に調節可能に設けられる。
【００１５】
ベースプレート２０は、軸受クリアランスの設定及び調整時に、軸受１１の軸受リング１２を例えば嵌合して所定位置に固定状態で保持する。また、ベースプレート２０は、軸受クリアランスの設定時にクリアランス設定用治具２１（図３）を、その中心軸Ｏが軸受リング１２の中心軸Ｐと一致するように固定状態で保持する。更に、ベースプレート２０は、軸受クリアランスの調整時に模擬回転軸２２（図１、図２）を、その中心軸Ｑに垂直な模擬回転軸２２の半径方向Ｒにスライド可能に載置する。
【００１６】
図３に示すクリアランス設定用治具２１は、軸受リング１２がベースプレート２０に固定状態で保持された軸受１１内に、模擬回転軸２２（図１、図２）が挿入されることでなされる軸受クリアランスの調整の前に実施される軸受クリアランスの設定時に用いられるものである。即ち、クリアランス設定用治具２１は、軸受クリアランスの設定時に、軸受リング１２がベースプレート２０に固定状態で保持された軸受１１内に挿入されて、同様にベースプレート２０に固定状態で保持され、軸受１１の軸受クリアランスを、予め設定された設計値に設定するために用いられる。従って、このクリアランス設定用治具２１は、軸受１１に挿入される回転軸の外径に軸受クリアランスの設計値を加えた寸法を外径として構成される。軸受リング１２がベースプレート２０に固定状態で保持された軸受１１の軸受パッド１３を、クリアランス設定用治具２１の外周面（外径）に当接することで、軸受１１の軸受クリアランスが設計値に設定される。
【００１７】
更に、クリアランス設定用治具２１は、図４に示すように、円柱形状の治具本体２８の外周部に、軸受１１の軸受パッド１３の本数に対応する複数本（例えば６本）のアーム部２９が、治具本体２８の周方向に等間隔で配置されて構成される。各アーム部２９は、軸受１１の軸受パッド１３に当接可能に設けられると共に、その長さが治具本体２８の半径方向（即ち軸受パッド１３の軸受リング１２に対する調節方向）に伸縮可能に設けられる。この複数本のアーム部２９の先端部を連続する円が、クリアランス設定用治具２１の前記外径を構成する。軸受１１の軸受クリアランスの設定時には、軸受１１の軸受パッド１３がクリアランス設定用治具２１のアーム部２９の先端部に当接することで、軸受１１の軸受クリアランスが設計値に設定される。
【００１８】
図１及び図２に示す模擬回転軸２２は、軸受１１により回転支持される回転軸（不図示）と同一の外径を備えた円柱または円筒形状に構成される。この模擬回転軸２２は、軸受１１の軸受クリアランスの設定後になされる軸受クリアランスの調整時に、軸受リング１２がベースプレート２０に固定状態で保持された軸受１１内に挿入される。このとき、模擬回転軸２２は、その中心軸Ｑに垂直な模擬回転軸２２の半径方向Ｒにスライド可能にベースプレート２０に載置される。
【００１９】
移動手段２３は、図２に示すように、上述の如く軸受１１内に挿入されてベースプレート２０にスライド可能に保持された模擬回転軸２２を、この模擬回転軸２２の半径方向Ｒに移動させるものである。この移動手段２３によって、模擬回転軸２２は、軸受１１の６個の全ての軸受パッド１３に接触して移動する。
【００２０】
変位計測手段２４は、図１及び図２に示すように、ベースプレート２０または軸受１１の軸受リング１２（本実施形態では軸受リング１２）における軸受１１の周方向異なる位置、例えば軸受１１の周方向における直交する２方向の位置に設置される。そして、この変位計測手段２４は、移動手段２３によりスライドする模擬回転軸２２の半径方向Ｒの変位を計測する。この変位計測手段２４は、例えば渦電流式やレーザー式などの非接触センサまたは接触センサが好ましい。
【００２１】
記録手段２５は、変位計測手段２４にて計測された計測値を取り込み、Ａ／Ｄ変換してデジタル信号とし、この計測値を波形データとして記録する。
【００２２】
表示手段２６は、記録手段２５により記録された計測値を、軸受１１の軸受リング１２の中心軸Ｐに垂直な平面上の座標を用いて、模擬回転軸２２の中心軸Ｑの移動軌跡３０として表示する。この移動軌跡３０と、この移動軌跡３０から推定される軸受１１の内面の輪郭３１との例を、図５及び図６に示す。模擬回転軸２２が軸受１１内で軸受パッド１３に接触してスライドするため、軸受パッド１３が６個の場合に輪郭３１は六角形になる。軸受１１の内面の輪郭３１は、軸受１１の軸受クリアランスが設計値（後述）に適合している場合には図５に示すように正六角形に近似した形状となり、軸受１１の軸受クリアランスが設計値に適合していない場合には図６に示すように正六角形から外れた、例えば縦長の六角形になる。
【００２３】
判定手段２７は、まず、表示手段２６に表示された模擬回転軸２２の移動軌跡３０から、前述の軸受１１の内面の輪郭３１を求める。次に、判定手段２７は、軸受１１の内面の輪郭３１から軸受１１の周方向複数位置における模擬回転軸２２と軸受１１とのクリアランスを、それぞれ、回転軸（不図示）と軸受１１とのクリアランス（即ち軸受クリアランス）として算出する。具体的には、軸受１１の内面の輪郭３１から、対向する軸受パッド１３間の距離（パッド間距離３２）を複数箇所、例えば３箇所において求め（パッド間距離３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃ）、これらのパッド間距離３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃと模擬回転軸２２の外径寸法との差に基づいて、模擬回転軸２２と軸受１１の軸受パッド１３とのクリアランスをそれぞれ算出し、これらのクリアランスを軸受１１の軸受クリアランスとして求める。
【００２４】
更に、判定手段２７は、上述のようにして軸受１１の周方向複数位置（３箇所）で算出した軸受１１の各軸受クリアランスと予め設定された設計値とを比較して、軸受クリアランスが設計値に適合しているか否かを判定する。例えば、軸受１１の各軸受クリアランスは、図５の輪郭３１におけるパッド間距離３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃから算出された場合には、設計値に適合していると判定手段２７により判定される。一方、軸受１１の各軸受クリアランスが図６の輪郭３１におけるパッド間距離３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃから算出された場合には、図５のパッド間距離３２Ａ、３２Ｂに比べて長い図６のパッド間距離３２Ａ、３２Ｂから算出された軸受クリアランスが、設計値に適合していないと判定手段２７により判定される。
【００２５】
そして、判定手段２７は、設計値に不適合な軸受クリアランスを設計値に適合させるために、不適合な軸受クリアランスに対応する軸受パッド１３を特定して表示手段２６に表示させ、且つその特定した軸受パッド１３の調節量を算出して表示手段２６に表示させる。例えば、判定手段２７は、図６（Ｂ）のパッド間距離３２Ａ、３２Ｂから算出された不適合な軸受クリアランスに対応する軸受パッド１３を特定して表示手段２６に表示させると共に、その特定した軸受パッド１３の調節量を、図６（Ｂ）のパッド間距離３２Ａ、３２Ｂと設計値との差に基づいて算出して表示手段２６に表示させる。
【００２６】
以上のように構成された軸受調整支援装置１０を用いて、軸受調整支援方法を、共に図７に基づいて説明する。
軸受１１を単体で組み立てた後であって、この軸受１１を実機（実際の機械または装置）に組み付ける前に、この軸受１１の軸受リング１２を、図３に示すように軸受調整支援装置１０のベースプレート２０に固定状態で保持させる。次に、この軸受１１内にクリアランス設定用治具２１を挿入し、このクリアランス設定用治具２１の中心軸Ｏを軸受１１の軸受リング１２の中心軸Ｐに一致させた状態で、クリアランス設定用治具２１をベースプレート２０に固定状態で保持させる。この状態で、クリアランス設定用治具２１により、軸受１１の軸受クリアランスを設計値に設定する軸受クリアランス設定工程を、次のように実施する（Ｓ１）。
【００２７】
つまり、図３及び図４に示すように、軸受リング１２がベースプレート２０に固定状態で保持された軸受１１のパッド押しボルト１４をねじ込み操作することで、軸受パッド１３をクリアランス設定用治具２１のアーム部２９の先端部に当接させて、軸受１１の軸受クリアランスを設計値に設定する。この設定後、クリアランス設定用治具２１のアーム部２９を収縮させて軸受パッド１３から離反させ、この状態でクリアランス設定用治具２１をベースプレート２０及び軸受１１から取り外して、軸受１１の軸受クリアランスの設定が完了する。
【００２８】
次に、軸受リング１２がベースプレート２０に固定状態で保持された軸受１１内に、図１及び図２に示すように、クリアランス設定用治具２１に代えて模擬回転軸２２を挿入し、この模擬回転軸２２を移動手段２３により、模擬回転軸２２の半径方向Ｒにスライド（移動）させる模擬回転軸移動工程を実施する（Ｓ２）。
【００２９】
次に、ステップＳ１の軸受クリアランス設定工程終了後に軸受リング１２における周方向直交位置に設置された変位計測手段２４を用いて、模擬回転軸２２の半径方向Ｒの変位を計測し、この変位計測値をＡ／Ｄ変換して波形データとして記録手段２５に記録する模擬回転軸の変位計測・記録工程を実施する（Ｓ３）。
【００３０】
このステップＳ３の模擬回転軸の変位計測・記録工程の後に、記録手段２５に記録された模擬回転軸２２の変位計測値を、表示手段２６によって、軸受１１の軸受リング１２の中心軸Ｐに垂直な平面上の座標を用いて、模擬回転軸２２の移動軌跡３０（例えば図５（Ａ）、図６（Ａ））として表示する模擬回転軸の移動軌跡表示工程を実施する（Ｓ４）。
【００３１】
次に、表示手段２６に表示された模擬回転軸２２の移動軌跡３０から、軸受１１における軸受クリアランス算出工程を、次のように実施する（Ｓ５）。つまり、判定手段２７が、表示手段２６に表示された模擬回転軸２２の移動軌跡３０から軸受１１の内面の輪郭３１（図５（Ｂ）、図６（Ｂ））を求め、この輪郭３１の複数箇所において、対向する軸受パッド１３間のパッド間距離３２を求める。そして、判定手段２７は、これらのパッド間距離３２と模擬回転軸２２の外径との差に基づいて求めた模擬回転軸２２と軸受１１とのクリアランスを、軸受１１の軸受クリアランスとして算出する。
【００３２】
その後、ステップＳ５で算出された軸受クリアランスに基づいて、設計値に適合していない不適合な軸受クリアランスを設計値に適合させるために軸受クリアランスの調整を支援する軸受クリアランス調整支援工程を、次のように実施する（Ｓ６）。
【００３３】
つまり、判定手段２７が、ステップＳ５で算出された各軸受クリアランスと設計値とを比較して、各軸受クリアランスが設計値に適合しているか否かを判定する。そして、判定手段２７は、不適合な軸受クリアランスを設計値に適合させるために、不適合な軸受クリアランスに対応する軸受パッド１３、例えば図６（Ｂ）のパッド間距離３２Ａ、３２Ｂに対応する軸受パッド１３を特定して表示手段２６に表示させ、且つその特定した軸受パッド１３の調節量（例えば図６（Ｂ）のパッド間距離３２Ａ、３２Ｂと模擬回転軸２２の外径との差に相当する値）を算出して表示手段２６に表示させる。
【００３４】
上述の軸受クリアランスの調整支援工程（Ｓ６）の終了後に、表示手段２６に表示された不適合な軸受パッド１３とその調節量に基づいて軸受１１の軸受パッド１３が調節されることで、軸受１１の軸受クリアランスは設計値に正確に調整されることになる。
【００３５】
以上のように構成されたことから、本実施形態によれば次の効果（１）及び（２）を奏する。
（１）図１及び図２に示すように、軸受１１内に挿入される回転軸（不図示）と同一の外径を備えた模擬回転軸２２を軸受１１に挿入し、この模擬回転２２を移動手段２３により模擬回転２２の半径方向Ｒ（つまり、軸受１１の軸受リング１２の半径方向）にスライドさせ、表示手段２６に表示された模擬回転軸２２の移動軌跡３０から判定部２７が、軸受１１の周方向複数位置における模擬回転軸２２と軸受１１とのクリアランスを、それぞれ軸受クリアランスとして算出するよう構成されている。
【００３６】
更に、判定部２７は、軸受１１の内周の周方向における複数の軸受パッド１３が、軸受リング１２の半径方向に調節可能に設けられる軸受１１の場合に、この軸受１１の周方向複数位置で算出した各軸受クリアランスが設計値に適合しているか否かを判定し、不適合な軸受クリアランスを設計値に適合させるように、この不適合な軸受クリアランスに対応する軸受パッド１３を特定して表示手段２６に表示させ、且つその特定した軸受パッド１３の調節量を算出して表示手段２６に表示させることで、軸受クリアランスの設計値への調整を支援する。このため、軸受１１の単体組立時に、この軸受１１の軸受クリアランスを設計値に正確に調整することができる。
【００３７】
（２）軸受１１の軸受クリアランスを設計値に設定する際に用いられるクリアランス設定用治具２１は、円柱または円筒形状の治具本体２８の外周部にアーム部２９が、治具本体２８の半径方向（即ち軸受パッド１３の軸受リング１２に対する調節方向）に伸縮可能に構成されている。
【００３８】
軸受リング１２がベースフレーム２０に固定状態で保持された軸受１１内に、単に円柱または円筒形状のクリアランス設定用治具が挿入された場合には、軸受１１の軸受パッド１３を上記クリアランス設定用治具の外周面に当接して軸受１１の軸受クリアランスを設定した後、このクリアランス設定用治具を軸受１１及びベースプレート２０から取り外す際に、軸受１１のパッド押しボルト１４を緩めて軸受パッド１３をクリアランス設定用治具から離反させなければならない。または、軸受クリアランスの設定時に、軸受１１の軸受パッド１３をクリアランス設定用治具に当接させないようにする必要がある。このため、軸受１１の軸受クリアランスを設計値に正確に設定できず、軸受クリアランスにばらつきが生じてしまう。
【００３９】
これに対し、本実施形態のクリアランス設定用治具２１では、アーム部２９が軸受パッド１３の軸受リング１２に対する調節方向に伸縮可能に設けられたので、軸受１１の軸受クリアランスの設定時に、軸受１１の軸受パッド１３をクリアランス設定用治具２１のアーム部２９の先端部に当接して軸受クリアランスを設計値に設定した後、クリアランス設定用治具２１のアーム部２９を収縮させることで、クリアランス設定用治具２１を取り外すことが可能になる。この結果、軸受クリアランスの設定を正確に実施できる。
【００４０】
以上、本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができ、また、それらの置き換えや変更は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００４１】
１０…軸受調整支援装置、１１…軸受、１３…軸受パッド、２１…クリアランス設定用治具、２２…模擬回転軸、２３…移動手段、２４…変位計測手段、２５…記録手段、２６…表示手段、２７…判定手段、２９…アーム部、３０…移動軌跡。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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