(57)【要約】【課題】点滅欠陥の発生頻度を考慮し、また短時間で欠陥画素を検出できる撮像装置および撮像方法を提供する。【解決手段】複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子を有する撮像装置における撮像方法において、撮像素子から画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算し（ＳＴ１〜ＳＴ９）、加算された画像信号を画素毎に比較明合成し（ＳＴ１１〜ＳＴ１７）、この比較明合成された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出し、検出された画素信号の位置を記憶する（ＳＴ１９）。【選択図】  図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子と、
上記撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算する加算部と、
上記加算された画像信号を画素毎に比較明合成する比較明合成部と、
上記比較明合成された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出する検出部と、
上記検出された画素信号の位置を記憶する記憶部と、
を具備することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
上記複数の画像信号の特性、または、上記撮像素子の特性に基づいて、加算する画像信号の加算数を決定する加算数決定部を有することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
上記記憶部は、上記加算数を記憶することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
上記撮像部により生成される画像信号のうちで、上記記憶部に記憶された位置の画素信号を補正する補正部を有し、
上記補正部は、上記記憶された加算数に基づいて画素信号を補正することを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】
上記加算数に基づいて、比較明合成する画像信号の合成数を決定する比較明合成数決定部を有することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項６】
上記記憶部は、上記合成数を記憶することを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【請求項７】
上記撮像部により生成される画像信号のうちで、上記記憶部に記憶された位置の画素信号を補正する補正部を有し、
上記補正部は、上記記憶された合成数に基づいて画素信号を補正することを特徴とする請求項６に記載の撮像装置。
【請求項８】
複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子と、
上記撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に比較明合成する比較明合成部と、
上記比較明合成された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出する検出部と、
上記検出された画素信号の位置を記憶する記憶部と、
を具備することを特徴とする撮像装置。
【請求項９】
複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子と、
上記撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算する加算部と、
上記加算された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出する検出部と、
上記検出された画素信号の位置を記憶する記憶部と、
を具備することを特徴とする撮像装置。
【請求項１０】
複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子と、
上記複数の画素の中で、点滅欠陥であると検出された画素信号の位置を記憶する記憶部と、
上記画像信号のうちで、上記記憶部に記憶された位置の画素信号を補正する補正部と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１１】
上記記憶部は、上記点滅欠陥の頻度を上記画素信号の位置と共に記憶し、
上記補正部は、上記頻度に応じて、補正する画素を選択する、
ことを特徴とする請求項１０に記載の撮像装置。
【請求項１２】
上記補正部は、上記頻度に加えて、ＩＳＯ感度または撮影モードに応じて、補正する画素を選択することを特徴とする請求項１１に記載の撮像装置。
【請求項１３】
上記記憶部は、上記頻度として、上記点滅欠陥の検出の際に行った比較明合成回数、または加算回数を記憶することを特徴とする請求項１０に記載の撮像装置。
【請求項１４】
複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子を有する撮像装置における撮像方法において、
上記撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算し、
上記加算された画像信号を画素毎に比較明合成し、
上記比較明合成された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出し、
上記検出された画素信号の位置を記憶する、
ことを特徴とする撮像方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子中の欠陥画素を検出し、この欠陥画素を記録することのできる撮像装置および撮像方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
撮像素子には二次元的に多数の画素が配置されている。多数の画素の中には、点滅欠陥画素が存在する。この点滅欠陥画素が存在すると、画素出力が正常値の場合と異常値となる場合がある。点滅欠陥画素が異常値を出力すると、画像中に点滅欠陥画素位置に輝点が写ってしまう。この点滅欠陥はＲＴＳ（Random Telegraph Signal）ノイズとも言われ、画像処理後でも目立つ輝点となってしまう。そこで、画像信号を生成する際の蓄積時間を短くし、また検出に用いる撮影回数を多くして、欠陥画素を検出することが提案されている（例えば、特許文献１参照）。また、複数枚の画像から、各画素のσ値を算出し、σ値から狙いとする点滅欠陥を抽出する技術がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−７４２４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に提案されている技術では、点滅欠陥の発生頻度について考慮されていない。このため、発生頻度に応じた欠陥画素を検出することが困難である。また、σ値から欠陥画素を検出する方法では、σ値の算出に時間がかかるため、処理時間が長くなってしまう。
【０００５】
本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、点滅欠陥の発生頻度を考慮し、また短時間で欠陥画素を検出できる撮像装置および撮像方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため第１の発明に係る撮像装置は、複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子と、上記撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算する加算部と、上記加算された画像信号を画素毎に比較明合成する比較明合成部と、上記比較明合成された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出する検出部と、上記検出された画素信号の位置を記憶する記憶部と、を具備する。
【０００７】
第２の発明に係る撮像装置は、上記第１の発明において、上記複数の画像信号の特性、または、上記撮像素子の特性に基づいて、加算する画像信号の加算数を決定する加算数決定部を有する。
第３の発明に係る撮像装置は、上記第２の発明において、上記記憶部は、上記加算数を記憶する。
【０００８】
第４の発明に係る撮像装置は、上記第３の発明において、上記撮像部により生成される画像信号のうちで、上記記憶部に記憶された位置の画素信号を補正する補正部を有し、上記補正部は、上記記憶された加算数に基づいて画素信号を補正する。
第５の発明に係る撮像装置は、上記第２の発明において、上記加算数に基づいて、比較明合成する画像信号の合成数を決定する比較明合成数決定部を有する。
【０００９】
第６の発明に係る撮像装置は、上記第５の発明において、上記記憶部は、上記合成数を記憶する。
第７の発明に係る撮像装置は、上記第６の発明において、上記撮像部により生成される画像信号のうちで、上記記憶部に記憶された位置の画素信号を補正する補正部を有し、上記補正部は、上記記憶された合成数に基づいて画素信号を補正する。
【００１０】
第８の発明に係る撮像装置は、複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子と、上記撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に比較明合成する比較明合成部と、上記比較明合成された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出する検出部と、上記検出された画素信号の位置を記憶する記憶部と、を具備する。
【００１１】
第９の発明に係る撮像装置は、複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子と、上記撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算する加算部と、上記加算された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出する検出部と、上記検出された画素信号の位置を記憶する記憶部と、を具備する。
【００１２】
第１０の発明に係る撮像装置は、複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子と、上記複数の画素の中で、点滅欠陥であると検出された画素信号の位置を記憶する記憶部と、上記画像信号のうちで、上記記憶部に記憶された位置の画素信号を補正する補正部と、を有する。
【００１３】
第１１の発明に係る撮像装置は、上記第１０の発明において、上記記憶部は、上記点滅欠陥の頻度を上記画素信号の位置と共に記憶し、上記補正部は、上記頻度に応じて、補正する画素を選択する。
第１２の発明に係る撮像装置は、上記第１１の発明において、上記補正部は、上記頻度に加えて、ＩＳＯ感度または撮影モードに応じて、補正する画素を選択する。
第１３の発明に係る撮像装置は、上記第１０の発明において、上記記憶部は、上記頻度として、上記点滅欠陥の検出の際に行った比較明合成回数、または加算回数を記憶する。
【００１４】
第１４の発明に係る撮像方法は、複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子を有する撮像装置における撮像方法において、上記撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算し、上記加算された画像信号を画素毎に比較明合成し、上記比較明合成された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出し、上記検出された画素信号の位置を記憶する。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、点滅欠陥の発生頻度を考慮し、また短時間で欠陥画素を検出できる撮像装置および撮像方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係るデジタルカメラの主として電気的構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態に係るデジタルカメラにおいて、点滅欠陥ノイズの発生頻度と、画素レベルを示すグラフである。
【図３】本発明の一実施形態に係るデジタルカメラにおいて、２枚加算によって点滅欠陥画素を検出する場合の処理シーケンスを示す図である。
【図４】本発明の一実施形態に係るデジタルカメラにおいて、５枚加算によって点滅欠陥画素を検出する場合の処理シーケンスを示す図である。
【図５】本発明の一実施形態におけるデジタルカメラの点滅欠陥画素検出の動作を示すフローチャートである。
【図６】本発明の一実施形態におけるデジタルカメラの閾値判定の動作を示すフローチャートである。
【図７】本発明の一実施形態におけるデジタルカメラにおいて、点滅頻度とＩＳＯ感度の条件による欠陥補正の有無を示す図表である。
【図８】本発明の一実施形態におけるデジタルカメラのＩＳＯ感度画素欠陥補正処理を示すフローチャートである。
【図９】本発明の一実施形態におけるデジタルカメラにおいて、頻度と撮影モードの条件による欠陥補正の有無を示す図表である。
【図１０】本発明の一実施形態におけるデジタルカメラの撮影モード・画素欠陥補正処理を示すフローチャートである。
【図１１】本発明の一実施形態におけるデジタルカメラにおいて、撮影モードと比較明合成回数の条件による欠陥補正の有無を示す図表である。
【図１２】本発明の一実施形態におけるデジタルカメラの撮影モード・画素欠陥補正処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の一実施形態としてデジタルカメラ（以下、「カメラ」と称す）に本発明を適用した例について説明する。このカメラは、撮像部を有し、この撮像部によって被写体像を画像データに変換し、この変換された画像データに基づいて、被写体像を本体の背面に配置した表示部にライブビュー表示する。撮影者はライブビュー表示を観察することにより、構図やシャッタタイミングを決定する。レリーズ操作時には、画像データが記録媒体に記録される。記録媒体に記録された画像データは、再生モードを選択すると、表示部に再生表示することができる。
【００１８】
このカメラは、工場出荷時に点滅欠陥を画素毎に測定し、点滅欠陥のある画素の位置（アドレス情報）と、点滅欠陥の発生する頻度情報が、内部メモリに登録される。ユーザがカメラを使用する際に、撮像部から画像データが出力されると、登録されたアドレス情報と頻度情報を用いて、欠陥画素補正がなされる。なお、工場出荷後であっても、点滅欠陥画素位置および頻度情報を再測定し、内部メモリに再登録するようにしてもよい。
【００１９】
図１は、本発明の一実施形態に係るカメラの主として電気的構成を示すブロック図である。本実施形態におけるカメラは、撮像部１、画像処理部１０、システム制御部２０、バス３１とこれに接続された各部を有する。
【００２０】
撮像部１は、レンズ２と、メカニカルシャッタ３と、イメージセンサ４と、温度センサ５を有している。なお、本実施形態においては、レンズがカメラ本体と一体に構成されていることを想定して説明する。しかし、レンズが交換レンズとしてカメラ本体に対して着脱自在に構成されていても勿論構わない。
【００２１】
レンズ２は、イメージセンサ４上に被写体光像（被写体の光学像）を結像する光学系である。レンズ２は、システム制御部２０からの制御信号に基づいて、レンズ２の光軸方向に移動し、焦点調節が行われる。レンズ２は、内部に光学絞りを備えている。光学絞りは、絞り値に応じて開口の大きさが変化し、イメージセンサ４上への光量を調節する。絞り値は、露出量を調節するための制御パラメータである。
【００２２】
メカニカルシャッタ３は、レンズ２の光軸上であって、イメージセンサ４の前側に配置される。メカニカルシャッタ３は、レンズ２からの撮影光束をイメージセンサ４上に導く時間（シャッタ速度）を制御する。メカニカルシャッタ３として、例えばフォーカルプレーンシャッタを採用すると、シャッタ先幕及び後幕を開閉することにより、レンズ２からの撮影光束をイメージセンサ４へ到達させることができ、あるいは撮影光束がイメージセンサ４に到達しないように遮光することができる。このとき、シャッタ先幕が走行開始してからシャッタ後幕が走行開始するまでの時間がシャッタ速度である。メカニカルシャッタ３は、システム制御部２０によって算出されたシャッタ速度に基づいて、シャッタの開口時間が制御される。
【００２３】
イメージセンサ４は、ＣＭＯＳイメージセンサやＣＣＤイメージセンサ等の撮像素子を有する。撮像素子は、２次元上に複数の画素が配列されており、画素毎に電気信号に変換する。レンズ２により結像された被写体光像は、撮像素子の各画素によって電気信号に変換され、画像データが生成される。生成された画像データは画像処理部１０およびバス３１に出力される。イメージセンサ４は、複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子として機能する。
【００２４】
温度センサ５は、温度に応じた電気信号をシステム制御部２０に出力する。イメージセンサ４の暗電流等は、温度に応じて変化するので、システム制御部２０は温度センサ５の出力に応じて、イメージセンサ４からの画像データを補正する。
【００２５】
バス３１は、カメラ内の各部の間で信号の送受信を行うための信号線である。図１に示す例においては、バス３１には、撮像部１、画像処理部１０、システム制御部２０、内部メモリ３３、外部メモリ３６、表示部３７、入力ＩＦ３８、条件設定部３９が接続されている。なお、図１には外部メモリ３６も記載されているが、この外部メモリ３１は、例えばカメラに着脱自在のメモリカード等により構成するようにしてもよく、カメラに固有の構成でなくても構わない。
【００２６】
画像処理部１０は、画像処理回路を有し、イメージセンサ４から出力された画像データに種々の画像処理を施す。画像処理部１０は、画像合成部１１、欠陥判定部１４、加算枚数判定部１５、比較明合成枚数判定部１６、欠陥補正部１７、および現像処理部１８を有する。
【００２７】
画像合成部１１は、画像合成回路を有し、複数枚の画像データを合成して少なくとも１枚の合成画像データを生成する。この画像合成部１１は、比較明合成部１２と画像加算部１３を有する。
【００２８】
比較明合成部１２は、比較明合成回路を有し、比較明合成処理を行う。比較明合成処理は、概略、２つの画像の対応する画素の画素データを比較し、明るい方の画素データに置き換えて比較明合成画像を生成する処理である。具体的には、以下のような処理を行う。比較明合成部１２は、イメージセンサ４から読み出した画像データや、内部メモリ３３に記憶されている複数枚の画像データについて、イメージセンサ４の同位置に配置される画素の画素データ同士を比較する。そして、比較明合成部１２は、画素データを比較した結果の何れか大きい方、すなわち明るい方の画素データを用いて比較明合成画像を生成する。このような処理を、全ての画素位置について行うことによって、比較明合成画像の各画素データが、最も明るい画素データのみで構成される。
【００２９】
比較明合成部１２は、加算された画像信号を画素毎に比較明合成する比較明合成部として機能する（例えば、図５のＳＴ１３参照）。また、比較明合成部１２は、撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に比較明合成する比較明合成部として機能する（例えば、図５のＳＴ１３参照）。
【００３０】
画像加算部１３は、画像加算回路を有し、加算合成処理を行い、加算合成画像を生成する。具体的には、画像加算部１３は、内部メモリ３３に記憶されている複数枚の画像データについて、イメージセンサ４の同位置に配置される画素データ同士を加算し、加算合成画像を生成する。画像加算部１３は、撮像素子から画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算する加算部として機能する（例えば、図５のＳＴ５参照）。また、画像加算部１３は、撮像素子から上記画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算する加算部として機能する（例えば、図５のＳＴ５参照）。
【００３１】
加算枚数判定部１５は、欠陥検出用画像生成時に、画像加算部１３において合成処理を行う画像データの枚数を判定する（図５のＳＴ９参照）。この合成処理の判定対象の枚数は、イメージセンサ４から読み出した画像データや、内部メモリ３３に記憶されている画像データの枚数である。例えば、点滅発生頻度の高い画素を検出する場合は加算枚数を少なく、点滅発生頻度の低い画素を検出する場合には加算枚数を多く設定する。設定枚数に達すると、画像の加算を完了させる。加算枚数の設定の際の考慮事項については、図５のステップＳＴ９において、後述する。加算枚数判定部１５は、複数の画像信号の特性、または、撮像素子の特性に基づいて、加算する画像信号の加算数を決定する加算数決定部として機能する。
【００３２】
比較明合成枚数判定部１６は、欠陥検出用画像生成時に、比較明合成部１２において比較明合成する枚数を判定する（図５のＳＴ１７参照）。予め設定した比較明合成枚数に達した場合に比較明合成を完了させる。ここで生成した比較明合成画像データを内部メモリ３３に欠陥検出用画像データとして記憶する（図３、４の欠陥検出用画像ＤＩ、図５のＳＴ１９参照）。
【００３３】
比較明合成枚数判定部１６は、比較明合成する画像信号の合成数を決定する比較明合成数決定部として機能する（例えば、図５のＳＴ１７参照）。この合成数は、加算数に基づいて決定してもよい。
【００３４】
欠陥判定部１４は、内部メモリ３３に記憶された欠陥検出用画像データについて、欠陥画素を判定する。例えば、画素データが大きい方から上位数万個を欠陥として、内部メモリ３３にその画素位置を記録する。また、他の判定方法としては、所定のスレッシュ以上の画素データを欠陥画素として、内部メモリ３３にその画素位置を記録する。欠陥判定部１４における動作については、図６を用いて後述する。欠陥判定部１４は、比較明合成された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出する検出部として機能する（例えば、図５のＳＴ１９、図６参照）。欠陥判定部１４は、加算された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出する検出部として機能する（例えば、図５のＳＴ１９、図６参照）。
【００３５】
欠陥補正部１７は、内部メモリ３３に記録された欠陥画素位置の画素データを補正する。すなわち、工場出荷時等における調整の結果、欠陥判定部１４によって欠陥画素と判定されると、その画素の位置が内部メモリ３３に記憶される。ユーザの撮影時には、欠陥補正部１７は、内部メモリ３３に記憶された欠陥画素の位置を読み出し、この位置に対応する画素データを補正する。
【００３６】
欠陥補正部１７による欠陥画素の画素値の補正する方法としては、例えば同色周囲４画素の平均値に置き換える方法がある。しかし、補正方法についてはこの限りではない。欠陥補正部１７で画素補正した画像を最終合成画像として内部メモリ３３に記憶する。欠陥画素の登録時には、加算枚数や比較明合成枚数の情報も合わせて記録することによって、撮影条件に応じた補正方法や補正個数を最適な値を選択する事が可能となる。欠陥補正部１７における動作については、図７ないし図１２を用いて後述する。
【００３７】
欠陥補正部１７は、撮像部により生成される画像信号のうちで、記憶部に記憶された位置の画素信号を補正する補正部として機能する（例えば、図７〜図１２参照）。この補正部は、記憶された加算数に基づいて画素信号を補正する（例えば、図９参照）。また、補正部は、記憶された合成数に基づいて画素信号を補正する。補正部は、頻度に応じて、補正する画素を選択する。補正部は、頻度に加えて、ＩＳＯ感度または撮影モードに応じて、補正する画素を選択する（例えば、図７〜図１２参照）。
【００３８】
現像処理部１８は、現像処理回路を有し、生成されたＲＡＷ画像データに対して種々の現像処理を施す。現像処理としては、デモザイキング処理、ホワイトバランス調整処理、ノイズリダクション処理、ＹＣ信号生成処理、ガンマ補正処理、リサイズ処理、画像圧縮処理などがある。リサイズ処理は、イメージセンサ４から読み出された画像データの画素数を他の画素数に変換する処理であり、この処理によって、例えば、表示部３７の表示画素数に合わせることができる。
【００３９】
表示部３７は、ＴＦＴ（Thin Film Transistor）液晶や有機ＥＬ（Electro Luminescence）などの表示パネルを有する。表示部３７は、カメラ本体の背面に設けられた背面表示部、あるいは接眼部を通して表示を観察するＥＶＦ（電子ビューファインダ：Electronic View Finder）等として配置される。表示部３７は、現像処理部１８によって現像された画像を表示する。
【００４０】
入力ＩＦは、撮影者の操作を受けてカメラに対する各種の設定や指示を行うための操作部である。入力ＩＦ３８は、例えば、カメラの電源をオン／オフするための電源釦、あるいは撮影開始および終了を操作するためのレリーズ釦等の操作部材を備え、さらに、背面表示部等の前面に設けられたタッチパネル等を備えている。タッチパネルが備えられると、タッチ操作によって設定や指示を入力することができる。
【００４１】
条件設定部３９は、表示部３７に表示されるメニュー画面において、カメラの撮影条件や撮影した画像の処理に関する条件を設定する。
【００４２】
内部メモリ３３は、イメージセンサ４から読み出された画像データ、あるいは画像処理部１０が画像処理を行っている途中の画像データを記憶する。また、内部メモリ３３は、カメラの動作に必要な各種の処理プログラムや設定値なども記憶する記憶部である。システム制御部２０内のＣＰＵは、内部メモリ３３に記憶された処理プログラムに従って、カメラ内の各部の制御を行う。内部メモリ３は、例えば、フラッシュメモリ、ＳＤＲＡＭ等の不揮発性メモリあるいは揮発性メモリによって、あるいはこれらを組合せることによって構成されている。
【００４３】
内部メモリ３３は、画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号として、検出された画素信号の位置を記憶する記憶部として機能する。この記憶部は、加算数を記憶する。なお、加算処理の加算枚数は、内部メモリ３３に記憶する以外にも加算枚数判定部１５内にメモリを設け、このメモリに記憶するようにしてもよい。また、記憶部は、比較明合成用の合成数を記憶する。なお、比較明合成用の合成数は、内部メモリ３３に記憶する以外にも比較明合成枚数判定部１６内にメモリを設け、このメモリに記憶するようにしてもよい。内部メモリ３３は、複数の画素の中で、点滅欠陥であると検出された画素信号の位置を記憶する記憶部として機能する。記憶部は、点滅欠陥の頻度を画素信号の位置と共に記憶する（図６のＳＴ２３、ＳＴ２７、ＳＴ３１、ＳＴ３５、ＳＴ３９等参照）。記憶部は、頻度として、点滅欠陥の検出の際に行った比較明合成回数、または加算回数を記憶する（例えば、図９〜図１２参照）。
【００４４】
外部メモリ３６は、カメラ本体に装填自在のメモリカード等、あるいはカメラ本体の内部に固定された不揮発性の記憶媒体である。外部メモリ３６は、現像処理部１８において現像処理された画像データを記録し、また再生時には、記録された画像データが読み出される。外部メモリ３６から読み出された画像データは、カメラの外部に出力可能である。
【００４５】
システム制御部２０は、コントローラであり、ＣＰＵ（Central Processing Unit）と、周辺回路等を有する。システム制御部２０は、内部メモリ３３に記憶されている処理プログラムに従って、カメラ内の各部を制御する。
【００４６】
次に、図２を用いて、点滅欠陥の発生頻度と画素レベルについて説明する。図２において、各点滅欠陥画素の画素レベルが均一とし、１０枚の画像を加算したときの画素レベルを、発生頻度毎に示したグラフである。１０枚の画像を取得した場合、発生頻度１０％の画素では１枚の画像に点滅欠陥が生じ（その画素が輝点となってしまう）、発生頻度５０％の欠陥画素では５枚の画像に点滅欠陥が発生する。画像を加算していくと発生頻度が高い画素の方が、画素レベルが高くなる。図２に示す例では、発生頻度が１０％の場合には、画素レベルはＯ１となり、発生頻度が５０％の場合には画素レベルはＯ５となる。
【００４７】
上述の性質を利用して、点滅欠陥発生頻度に応じて、画素を柔軟に分けることが出来る。発生頻度の高い画素のみ検出したい場合には少ない加算枚数で検出し、発生頻度の低い画素を検出したい場合は加算枚数を増やして検出すればよい。また、同じ加算枚数であれば、画素レベルが高ければ発生頻度が高く、また画素レベルが低ければ発生頻度が低いことになる。後述する図６に示すフローチャートにおいては、点滅欠陥画素の発生頻度を、５段階に分類している。
【００４８】
次に、図３を用いて、比較明合成部１２および画像加算部１３における処理シーケンスを説明する。図３に示す例は、画像加算部１３における加算枚数を２枚に設定した場合である。後述する図５に示すフローチャートにおいて、ステップＳＴ９における判定用の加算枚数として「２枚」が設定されると、図３に示す処理シーケンスがなされる。図面の横軸方向は、時間の経過を示す。
【００４９】
最初にイメージセンサ４から画像データが読み出されると、暗画像_１として内部メモリ３３に記憶される。以後、１フレーム相当の時間が経過するたびに、イメージセンサ４から暗画像_２、暗画像_３、暗画像_４、・・・暗画像_Ｎが読み出され、内部メモリ３３に一時的に記憶される。なお、暗画像はメカシャッタ３が閉じている際にイメージセンサ４によって取得された画像、もしくは、メカシャッタ３が開いているが、周囲の環境に光が無い遮光状態において取得された画像をいう。
【００５０】
時刻Ｔ１において、暗画像_２が読み出されると、画像加算部１３は暗画像_１と暗画像_２を画素レベル毎にレベル加算し、１枚の加算合成画像Ｓ１を生成する。次に、暗画像_３が読み出され、時刻Ｔ２において暗画像_４が読み出されると、画像加算部１３は暗画像_３と暗画像_４を画素レベル毎にレベル加算し、１枚の加算合成画像Ｓ２を生成する。以後、２枚の暗画像が読み出される毎に、画像加算部１３は２枚の暗画像を画素レベル毎にレベル加算し１枚の加算合成画像を生成する。
【００５１】
また、画像加算部１３によって加算合成画像が生成されると、比較明合成部１２は比較明合成処理を行う。時刻Ｔ２において、比較明合成部１２は、加算合成画像Ｓ１と加算合成画像Ｓ２の比較明合成を行い、比較明合成画像Ｓ１０を生成する。この生成された比較明合成画像Ｓ１０は内部メモリ３３に一時的に記憶される。続いて、時刻Ｔ３において、比較明合成部１２は、画像加算部１３によって生成された加算合成画像Ｓ３と、内部メモリ３３に一時記憶された比較明合成画像Ｓ１０の比較明合成を行い、比較明合成画像Ｓ１１を生成する。以後、加算合成画像が生成される毎に、比較明合成部１２は、加算合成画像と、直前に生成された比較明合成画像との比較明合成処理を行う。
【００５２】
最後の暗画像_Ｎが読み出され、比較明合成画像が生成されると、この生成された比較明合成画像が欠陥検出用画像ＤＩとなる。この欠陥検出用画像ＤＩは、内部メモリ３３に一時記憶される。この欠陥検出用画像ＤＩを用いて、欠陥画素の画素位置（アドレス情報）と、頻度情報が検出され、内部メモリ３３に登録される（図５のＳＴ１９、図６参照）。
【００５３】
なお、図２に示す例では、加算合成部１３は２枚の暗画像を加算している。しかし、加算枚数はその限りではなく、１枚〜無制限枚数でもよい。加算枚数が１枚の場合には、画像加算部１３による加算処理を行わず、イメージセンサ４から画像が読み出される毎に、比較明合成部１２によって比較明合成処理が行われる。
【００５４】
次に、図４を用いて、比較明合成部１２および画像加算部１３における処理シーケンスの他の例を説明する。この例では、画像加算部１３において、５枚の画像を加算する点が、図３に示した例と異なる。図５に示すフローチャートのステップＳＴ９において、判定用加算枚数として「５枚」が設定されると、図４に示す処理シーケンスがなされる。
【００５５】
図４に示す例においても、図面の横軸方向は、時間の経過を示す。最初にイメージセンサ４から画像データが読み出されると、暗画像_１として内部メモリ３３に一時的に記憶される。以後、１フレーム相当の時間が経過するたびに、イメージセンサ４から暗画像_２、暗画像_３、暗画像_４、・・・暗画像_Ｎが読み出され、内部メモリ３３に一時的に記憶される。
【００５６】
時刻Ｔ１１において、暗画像_２が読み出されると、画像加算部１３は暗画像_１と暗画像_２を画素レベル毎にレベル加算し、１枚の加算合成画像Ｓ１ａを生成する。続いて、時刻Ｔ１２において、暗画像_３が読み出されると、暗画像_３と加算合成画像Ｓ１ａを画素レベル毎にレベル加算し、１枚の加算合成画像Ｓ２ａを生成する。以後、イメージセンサ４から暗画像が読み出される毎に、この暗画像と、直前に合成された加算合成画像を画素レベル毎にレベル加算し、１枚の加算合成画像を順次生成する。
【００５７】
時刻Ｔ１３において、画像加算部１３は加算合成画像Ｓ４ａを生成する。この加算合成画像Ｓ４ａは、暗画像_１〜暗画像_５の５枚の画像の加算合成画像である。また、時刻Ｔ１４において、画像加算部１３は加算合成画像Ｓ４ｂを生成する。この加算合成画像Ｓ４ｂは、暗画像_６〜暗画像_１０の５枚の画像の加算合成画像である。以後、暗画像を５枚読み出す毎に、比較明合成用の加算合成が生成される。
【００５８】
また、画像加算部１３によって、実質的に５枚の暗画像を用いた加算合成画像が生成されると、比較明合成部１２は比較明合成処理を行う。時刻Ｔ１４において、比較明合成部１２は、加算合成画像Ｓ４ａと加算合成画像４ｂの比較明合成を行い、比較明合成画像Ｓ１０ａを生成する。この生成された比較明合成画像Ｓ１０ａは内部メモリ３３に一時的に記憶される。続いて、時刻Ｔ１６において、比較明合成部１２は、画像加算部１３によって生成された加算合成画像Ｓ４ｃと、内部メモリ３３に一時記憶された比較明合成画像Ｓ１０ａの比較明合成を行い、比較明合成画像Ｓ１０ｂを生成する。以後、予め設定された枚数に対応する加算合成画像が生成される毎に、比較明合成部１２は、加算合成画像と、直前に生成された比較明合成画像との比較明合成処理を行う。
【００５９】
最後の暗画像_Ｎが読み出され、比較明合成画像が生成されると、図４に示す例においても、生成された比較明合成画像が欠陥検出用画像ＤＩとなる。この欠陥検出用画像ＤＩは、内部メモリ３３に一時記憶される。この欠陥検出用画像ＤＩを用いて、欠陥画素の画素位置（アドレス情報）と、頻度情報が検出され、内部メモリ３３に登録される（図５のＳＴ１９、図６参照）。
【００６０】
次に、図５に示すフローチャートを用いて、本実施形態に係る欠陥検出用画像の生成動作について説明する。このフローは、システム制御部２０内のＣＰＵが内部メモリ３３に記憶されたプログラムに従って、カメラ内の各部を制御することにより実現する。なお、このフローは、工場出荷前に実行し、点滅欠陥画素を検出する際に実行される。但し、工場出荷後であっても、ユーザはメニュー画面等により、このフローを実行し、点滅欠陥画素を検出し、内部メモリ３３に登録された欠陥画素のアドレス情報および頻度情報を更新することができる。
【００６１】
図５に示すフローを開始すると、まず、撮影を行う（ＳＴ１）。このステップでは、メカシャッタ３を閉じたままの遮光状態で、所定の露光時間の間、イメージセンサ４が撮像する。所定の露光時間が経過すると、イメージセンサ４から画像データを読み出し、この画像データを内部メモリ３３に記憶する。
【００６２】
ステップＳＴ１において撮影を行うと、次に、撮影枚数が１枚目か否かを判定する（ＳＴ３）。加算処理は、図３、図４において説明したように、撮影枚数が２枚目以降に行う。この判定の結果、１枚目の撮影の場合には、加算処理を行わないので、ステップＳＴ５をスキップする。
【００６３】
ステップＳＴ３における判定の結果、撮影枚数が１枚目でない場合には、加算用画像に加算処理を行う（ＳＴ５）。このステップでは、画像加算部１３が、図３、図４において説明したように、イメージセンサ４から画像データが読み出される毎に、加算処理を行う。
【００６４】
ステップＳＴ５において加算処理を行うと、またはステップＳＴ３における判定の結果、１枚の撮影であった場合には、次に、ＳＴ１の撮影画像またはＳＴ５の加算画像を、加算用画像として保持する（ＳＴ７）。ここでは、ステップＳＴ５において加算処理がなされた場合には、生成された加算合成画像を内部メモリ３３に一時的に記憶する。また、ステップＳＴ３において、１枚目と判定された場合には、ステップＳＴ１において取得された画像データを内部メモリ３３に一時的に記憶する。
【００６５】
ステップＳＴ７において、画像を保持すると、次に、加算枚数が所定数に達したか否かについて判定する（ＳＴ９）。このステップでは、加算枚数判定部１５が、加算処理を行った画像の数が、所定数に達したか否かについて判定する。例えば、図３に示す例では、時刻Ｔ１において加算合成画像Ｓ１を取得したタイミング、時刻Ｔ２において加算合成画像Ｓ２を生成したタイミングが、所定数に達したと判定される。また図４に示す例では、時刻Ｔ１３において加算合成画像Ｓ４ａを取得したタイミング、時刻Ｔ１４において加算合成画像Ｓ４ｂを生成したタイミングが、所定数に達したと判定される。
【００６６】
ステップＳＴ９における所定数は、点滅欠陥画素の検出にあたって、狙いとする点滅発生頻度に応じて、適宜設定すればよい。ここでの所定数は、加算枚数判定部１５に設定しておいてもよく、条件に応じて、適宜変更するようにしてもよい。
【００６７】
加算枚数の判定用の所定数としては、下記のような要素を考慮して決めるとよい。
（ａ１）点滅頻度：補正したい点滅頻度に応じて加算枚数を変更する。２回連続して発生する点滅欠陥に対して、補正するようにしたい場合には、加算枚数は少なくする方がよい。
（ａ２）画素サイズ：画素サイズに応じて発生レベルや頻度が変わる。イメージセンサ４の撮像特性に応じて、加算枚数を可変にする。
（ａ３）画素加算条件：画素加算数が多い駆動の場合は、加算平均することにより点滅レベルが低くなる。このような場合には、加算枚数を増加することによって、抽出しやすくするとよい。
【００６８】
（ａ４）画素加算方法：イメージセンサ４からの画素信号を混合する際に、デジタル混合かアナログ混合かによって、点滅レベルが変わる。そこで、レベルに応じた加算枚数を設定する。
（ａ５）使用時間（経年劣化）：イメージセンサ４は、紫外線、放射線を浴びる等の後発的理由により、点滅欠陥を発生する画素が変わっていく。後発の点滅欠陥を生ずる理由に応じて、適宜、加算枚数を変更してもよい。
（ａ６）使用方法：静止画、動画、スルー画等の用途（撮影モード）に応じて、補正が必要となる点滅頻度が異なる。カメラの仕様に応じて、加算枚数を変更するようにしてもよい。
【００６９】
上述の条件（ａ５）（ａ６）は、工場出荷後に、ユーザが点滅欠陥補正用情報（欠陥画素の画素位置（アドレス情報）と頻度情報）を更新したい場合に、考慮するとよい。ステップＳＴ９における判定の結果、加算枚数が所定数に達していない場合には、ステップＳＴ１に戻り、加算用の画像を取得し、加算処理を繰り返す。
【００７０】
ステップＳＴ９における判定の結果、加算枚数が所定値に達すると、加算後の枚数が１枚目か否かを判定する（ＳＴ１１）。ステップＳＴ３〜Ｓ９において所定数の加算処理を行うと、次に比較明合成処理を行う。比較明合成処理は、図３、図４において説明したように、加算合成画像が２枚目以降に行う。この判定の結果、加算後の枚数が、１枚目の場合には、比較明合成処理を行わないので、ステップＳＴ１３をスキップする。
【００７１】
ステップＳＴ１１における判定の結果、加算後の枚数が１枚目でない場合には、次に、比較明合成画像処理を行う（ＳＴ１３）。このステップでは、比較明合成部１２が、図３、図４において説明したように、画像加算部１３によって所定枚数の加算処理が行われる毎に、比較明合成処理を行う。
【００７２】
ステップＳＴ１３において比較明合成処理を行うと、またはステップＳＴ１１における判定の結果、加算後の枚数が１枚目であった場合には、次に、比較明合成用画像として保持する（ＳＴ１５）。ここでは、ステップＳＴ１１において、１枚目と判定された場合には、ステップＳＴ７において生成された加算画像を内部メモリ３３に一時的に記憶する。例えば、図３に示す例では、時刻Ｔ１において加算合成画像Ｓ１が生成された場合には、この加算画像Ｓ１を内部メモリ３３に一時記憶する。また、ステップＳＴ１３において比較明合成処理がなされた場合には、生成された比較明合成画像を内部メモリ３３に一時的に記憶する。例えば、図３に示す例では、時刻Ｔ２において、比較明合成画像Ｓ１０が生成された場合には、この生成された比較明合成画像Ｓ１０を内部メモリ３３に一時的に記憶する。
【００７３】
ステップＳＴ１５において、比較明合成用画像として保持すると、次に、比較明合成枚数が所定数に達したか否かについて判定する（ＳＴ１７）。このステップでは、比較明合成枚数判定部１６が、比較明合成処理を行った画像の数が、所定数に達したか否かについて判定する。ここでの所定数は、比較明合成枚数判定部１６に設定しておいてもよく、条件に応じて、適宜変更するようにしてもよい。
【００７４】
比較明合成枚数の判定用の所定数としては、下記のような要素を考慮して決めるとよい。
（ｂ１）点滅頻度：点滅頻度が低い場合には、比較明合成枚数を増加させる。
（ｂ２）処理時間：製造工程で実施する調整工程であるか、ユーザが実施するカメラ内調整であるかによって変更する。
（ｂ３）加算枚数：比較明合成前の加算枚数処理に応じて、比較明合成する枚数が変化する。
【００７５】
ステップＳＴ１７における判定の結果、比較明合成枚数が所定数に達していない場合には、ステップＳＴ１に戻り、画像を取得し、加算処理および比較明合成処理を繰り返す。
【００７６】
ステップＳＴ１７における判定の結果、比較明合成処理を行った画像の枚数が所定数に達すると、次に閾値判定を行う（ＳＴ１９）。ステップＳＴ１７において、所定数の比較明合成が終わると、欠陥検出用画像ＤＩ（図３、図４参照）が、生成される。図２を用いて説明したように、発生頻度に応じて、画素レベルが異なる。すなわち、画素レベルから発生頻度を推測できる。撮影時に発生頻度に応じた補正を行うために、欠陥検出用画像ＤＩを用いて画素位置毎に頻度を判定し、この判定結果を内部メモリ３３に記憶する。この閾値判定の詳しい動作については、図６を用いて説明する。
【００７７】
次に、図６に示すフローチャートを用いて、ステップＳＴ１９の閾値判定の動作について説明する。ステップＳＴ１７において、比較明合成画像が所定枚数に達したと判定されると、欠陥検出用画像ＤＩが生成される。この閾値判定のフローでは、欠陥検出用画像ＤＩを用いて、画素毎に画素レベルの判定を行う。このフローを実行するにあたって、頻度判定用に設定値を決めておく。この設定値は、点滅欠陥とみなせる程度のレベルであればよい。
【００７８】
このフローでは、欠陥検出用画像ＤＩの画像データの中から、順次、画素データを読出み出すと、ステップＳＴ２１から、処理を実行する。そして、ステップＳＴ２３、ＳＴ２７、ＳＴ３１、ＳＴ３５、ＳＴ３９において、画素のアドレスに頻度を関連付けて登録を行う。この一連の処理が終わると、次の画素データを読出し、ＳＴ２１から繰り返す。全ての欠陥検出用画像ＤＩの全ての画素データについて、閾値判定のフローを実行すると、元のフローに戻る。
【００７９】
図６に示す閾値判定のフローが開始すると、まず、画素レベルが設定値の５倍よりも大きいか否かについて判定する（ＳＴ２１）。このステップでは、欠陥検出用画像ＤＩから読出した画素データの画素レベルと、設定値の５倍の値を比較する。この判定の結果、画素レベルが設定値の５倍よりも大きければ、頻度５として、画素のアドレスと共にメモリに登録する（ＳＴ２３）。ここでは、ステップＳＴ２１において判定の対象とした画素のアドレスに、頻度５をセットにして内部メモリ３３に登録する。
【００８０】
ステップＳＴ２１における判定の結果、画素レベルが設定値の５倍よりも大きくなかった場合には、次に、画素レベルが設定値の４倍よりも大きいか否かについて判定する（ＳＴ２５）。このステップでは、欠陥検出用画像ＤＩから読出した画素データの画素レベルと、設定値の４倍の値を比較する。この判定の結果、画素レベルが設定値の４倍よりも大きければ、頻度４として、画素のアドレスと共にメモリに登録する（ＳＴ２７）。ここでは、ステップＳＴ２５において判定の対象とした画素のアドレスに、頻度４をセットにして内部メモリ３３に登録する。
【００８１】
ステップＳＴ２５における判定の結果、画素レベルが設定値の４倍よりも大きくなかった場合には、次に、画素レベルが設定値の３倍よりも大きいか否かについて判定する（ＳＴ２９）。このステップでは、欠陥検出用画像ＤＩから読出した画素データの画素レベルと、設定値の３倍の値を比較する。この判定の結果、画素レベルが設定値の３倍よりも大きければ、頻度３として、画素のアドレスと共にメモリに登録する（ＳＴ３１）。ここでは、ステップＳＴ２９において判定の対象とした画素のアドレスに、頻度３をセットにして内部メモリ３３に登録する。
【００８２】
ステップＳＴ２９における判定の結果、画素レベルが設定値の３倍よりも大きくなかった場合には、次に、画素レベルが設定値２倍よりも大きいか否かについて判定する（ＳＴ３３）。このステップでは、欠陥検出用画像ＤＩから読出した画素データの画素レベルと、設定値の２倍の値を比較する。この判定の結果、画素レベルが設定値の２倍よりも大きければ、頻度２として、画素のアドレスと共にメモリに登録する（ＳＴ３５）。ここでは、ステップＳＴ３３において判定の対象とした画素のアドレスに、頻度２をセットにして内部メモリ３３に登録する。
【００８３】
ステップＳＴ３３における判定の結果、画素レベルが設定値の２倍よりも大きくなかった場合には、次に、画素レベルが設定値よりも大きいか否かについて判定する（ＳＴ３７）。このステップでは、欠陥検出用画像ＤＩから読出した画素データの画素レベルと、設定値を比較する。この判定の結果、画素レベルが設定値よりも大きければ、頻度１として、画素のアドレスと共にメモリに登録する（ＳＴ３９）。ここでは、ステップＳＴ３７において判定の対象とした画素のアドレスに、頻度１をセットにして内部メモリ３３に登録する。
【００８４】
ステップＳＴ３７における判定の結果、画素レベルが設定値よりも大きくなかった場合には、画素欠陥を登録しない（ＳＴ４１）。画素レベルが設定値よりも小さい場合には、点滅欠陥といえるレベルでないことから、画素欠陥の登録を行わない。
【００８５】
ステップＳＴ２１〜ＳＴ４１の処理を実行すると、内部メモリ３３から次の画素の画素データを読出し、再び、ステップＳＴ２１〜ＳＴ４１の処理を実行する。全ての画素の画素データについて、処理を実行すると、閾値判定のフローを終了し、元のフローに戻る。
【００８６】
このように、工場出荷前の調整時、またはユーザによる調整時において、図５および図６に示したフローを実行することにより、内部メモリ３３には、点滅欠陥のある画素の位置（欠陥アドレス情報）と、その画素が点滅欠陥を発生する頻度（頻度情報）が記録される。頻度は、点滅欠陥が発生する確率を示し、頻度５の方が頻度１よりも、点滅欠陥が発生する可能性が高い。
【００８７】
なお、図６に示したフローチャートでは、内部メモリ３３に登録する際、画素毎に、欠陥アドレス情報と共に頻度情報を合わせて登録する方法としている。しかし、この方法に限らず、例えば、予め頻度毎のメモリ領域を振り分けて、欠陥アドレスを登録するようにしてもよい。また、図６に示したフローチャートの例では、５枚の画像を加算した場合を想定して、５つの頻度に分けている。しかし、頻度は加算枚数と同じである必要はなく、また加算枚数も５枚でなくてもよい。
【００８８】
次に、図７および図８を用いて、撮影時に行う点滅欠陥補正について説明する。前述したように、内部メモリ３３には、欠陥画素の欠陥アドレス情報と頻度情報が登録されている。図７は、この登録された情報を用いて、画素データの欠陥補正を実施する条件を示す。登録されている全ての点滅欠陥について補正するようにしてもよい。しかし、補正する画素数が多いと、補正する処理時間や解像度への影響が発生してしまう。このため、補正数は少ない方が、メリットがある。
【００８９】
図７に示す例は、単純加算を繰り返す処理を実施する場合における欠陥画素の補正例である。複数の画像を加算処理する場合、同じサイズの画像の同じ画素アドレスの値を加算する。この加算処理によって、長秒時撮影と同じ効果を得ることができる。しかし、画素に点滅欠陥があると、加算処理を行うことによって、点滅頻度の高い画素ほど欠陥レベルが高くなる。また、画素欠陥は設定されたＩＳＯ感度が高いほど、欠陥レベルが高くなる。そこで、ＩＳＯ感度や処理の内容によって、補正の有無を決める方法が良い。
【００９０】
例えば、図７に示すような、点滅頻度とＩＳＯ感度の条件（補正条件）によって、欠陥補正の有無を決めるようにしてもよい。図７に示す表中で、○は補正する条件を示し、×は補正しない条件を示す。なお、頻度１〜頻度５は、図６の閾値判定で設定された頻度を示す。図７の例では、設定ＩＳＯ感度が１００の場合には、頻度１〜頻度５のいずれの頻度の画素に対しても補正を行わない。設定ＩＳＯ感度が２００になると、頻度５の画素に対してのみ補正を行う。設定ＩＳＯ感度が大きくなるにつれ、頻度が少ない画素に対しても補正を行う。設定ＩＳＯ感度が３２００以上になると頻度１〜頻度５の全ての画素に対して補正を行う。なお、前述したように、頻度５の画素が、最も点滅欠陥が発生する可能性が高い。
【００９１】
また、処理の内容のみで振り分けるようにしても良い。例えば、単純な１枚撮影時は、頻度の高い頻度５のみを常に補正対象とし、比較明合成処理や加算処理時は頻度１から頻度５までを補正対象とするようにしてもよい。
【００９２】
図８に示すフローチャートは、図７に示した補正条件に従って、補正を行う場合の処理手順を示す。このフローチャートは、撮影時に実行される。撮影時には、イメージセンサ４から画像データを読出し、内部メモリ３３に一時的に記憶される。欠陥補正部１７は、内部メモリ３３に一時記憶された画像データに対して、設定ＩＳＯ感度に応じて、内部メモリ３３内に登録されている欠陥画素の欠陥アドレス情報と頻度情報を用いて、補正を行う。
【００９３】
このフローでは、内部メモリ３３に一時記憶された画像データを読出み出すと、ステップＳＴ５１から、処理を実行する。そして、ステップＳＴ５１、ＳＴ５５、ＳＴ５９、ＳＴ６３、ＳＴ６７において、設定ＩＳＯ感度の判定を行い、判定されたＩＳＯ感度と頻度に応じた補正を行う（但し、ＳＴ６７の条件を満たさない場合は補正を行わない）。この一連の処理が終わると、元のフローに戻る。
【００９４】
ＩＳＯ感度画素欠陥補正処理のフローが開始すると、まず、ＩＳＯ感度が３２００以上か否かを判定する（ＳＴ５１）。ここでは、現在、カメラが手動または自動によって設定されているＩＳＯ感度に基づいて判定する（後述するＳＴ５５、ＳＴ５９、ＳＴ６３、ＳＴ６７も同様）。この判定の結果、ＩＳＯ感度が３２００以上の場合には、頻度１〜５の欠陥について補正する（ＳＴ５３）。前述したように、内部メモリ３３には、欠陥画素の欠陥アドレス情報と頻度情報が登録されている。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報が頻度１〜５として欠陥アドレス情報が登録されている画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。図７の図表を用いて説明したように、ＩＳＯ感度が３２００以上の場合には、画素レベルが比較的に小さい点滅欠陥画素でも画素レベルが増幅されて顕在化しやすくなることから、頻度１〜５の全ての画素に対して補正を行う。
【００９５】
欠陥画素補正としては、種々の方法があるが、例えば、登録されている欠陥画素の画素データを、欠陥画素の同色周辺４画素の平均値との置換える方法がある。これ以外にも、最近傍補間等、他の画素補間法を用いてもよい。
【００９６】
ステップＳＴ５１における判定の結果、ＩＳＯ感度が３２００以上でなかった場合には、次にＩＳＯ感度が１６００以上か否かについて判定する（ＳＴ５５）。この判定の結果、ＩＳＯ感度が１６００以上の場合には、頻度２〜５の欠陥について補正する（ＳＴ５７）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報が頻度２〜５として欠陥アドレス情報が登録されている画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【００９７】
ステップＳＴ５５における判定の結果、ＩＳＯ感度が１６００以上でなかった場合には、次にＩＳＯ感度が８００以上か否かについて判定する（ＳＴ５９）。この判定の結果、ＩＳＯ感度が８００以上の場合には、頻度３〜５の欠陥について補正する（ＳＴ６１）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報が頻度３〜５として欠陥アドレス情報が登録されている画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【００９８】
ステップＳＴ５９における判定の結果、ＩＳＯ感度が８００以上でなかった場合には、次にＩＳＯ感度が４００以上か否かについて判定する（ＳＴ６３）。この判定の結果、ＩＳＯ感度が４００以上の場合には、頻度４〜５の欠陥について補正する（ＳＴ６５）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報が頻度４〜５として欠陥アドレス情報が登録されている画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【００９９】
ステップＳＴ６３における判定の結果、ＩＳＯ感度が４００以上でなかった場合には、次にＩＳＯ感度が２００以上か否かについて判定する（ＳＴ６７）。この判定の結果、ＩＳＯ感度が２００以上の場合には、頻度５の欠陥について補正する（ＳＴ６９）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報が頻度５として欠陥アドレス情報が登録されている画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【０１００】
ステップＳＴ６７における判定の結果、ＩＳＯ感度が２００以上でなかった場合には、欠陥画素補正を行わない（ＳＴ７１）。図７の図表を用いて説明したように、ＩＳＯ感度が２００未満の場合には、点滅欠陥の画素レベルが小さい場合には欠陥画素として顕在化し難いことから、頻度５の画素であっても補正を行わない。
【０１０１】
ステップＳＴ７１において補正を行わないと、またはステップＳＴ５３、ＳＴ５７、ＳＴ６１、ＳＴ６５、ＳＴ６９において補正を行うと、ＩＳＯ感度画素欠陥の補正処理を終了する。
【０１０２】
このように、ＩＳＯ感度画素欠陥補正処理のフローにおいては、ＩＳＯ感度と頻度に応じて、欠陥画素補正の対象を変えている。すなわち、ＩＳＯ感度が高いと、点滅欠陥の影響が顕在化しやすいことから、頻度が低い画素に対しても補正を行い、一方ＩＳＯ感度が低いと、点滅欠陥の影響が顕在化し難いことから、頻度が高い画素に対してのみ補正を行うようにしている。補正対象の画素が多いと処理時間が長くなり、補正対象の画素を絞ると補正されない点滅欠陥が目立ってしまう。その点、本フローにおいては、補正対象の画素の数を最適にすることが可能となる。
【０１０３】
次に、図９および図１０を用いて、撮影時に行う、点滅欠陥の補正の他の例について説明する。図７および図８に示した例では、ＩＳＯ感度情報および頻度に応じて、欠陥画素補正を行っていた。図９および図１０に示す例では、撮影モード及び頻度に応じて、欠陥画素補正を行う。
【０１０４】
図９は、撮影モードと頻度の条件による欠陥補正の有無を示す図表である。図９において、縦欄に撮影モードを示し、横欄に頻度を示す。撮影モードとしては、静止画モード、動画／スルー画モード、複数枚加算処理、比較明合成処理を示す。  
【０１０５】
図９において、静止画モードの場合には、使用する画像が１枚であり、この１枚を撮影する際に、点滅欠陥が発生する可能性は全体的に極めて低い。そこで、発生頻度の高い画素のみを欠陥画素補正の対象とする。複数枚加算処理は、画像の対応する画素同士を加算していく処理である。この処理の際に、数枚〜数十枚の画像加算を行うため、静止画よりも発生頻度の低い画素も補正対象とする。
【０１０６】
また、動画は複数の画像を順次撮影して記録する。またルー画では、複数の画像を順次撮影して表示する。動画／スルー画は１秒間に数十〜数百フレームの撮影を行うため、点滅欠陥があると、チラつきの原因となる。このため、動画／スルー画では、１枚撮影の動作となっているが、静止画よりも発生頻度の低い画素も補正対象とする。
【０１０７】
比較明合成処理は、画像の対応する画素同士を比較し、明るい画素の画素データに置き換える処理である。この処理の際に、数百〜数万の画像合成を行うことから、画像合成処理の間に点滅欠陥が生じる可能性が高い。そこで、発生頻度の相当低い画素も欠陥画素補正の対象とする。
【０１０８】
欠陥画素補正は、図７および図８における欠陥画素補正の場合と同様、種々の補正方法の中から選択すればよい。対象画素が正常画素だった場合に、欠陥画素補正を行うと、過補正となってしまうため、図９に示されるような条件に応じて補正することが好ましい。
【０１０９】
図１０に示すフローチャートは、図９に示した補正条件に従って、補正を行う場合の処理手順を示す。この処理においても、図７および図８の場合と同様、撮影時には、イメージセンサ４から画像データを読出し、内部メモリ３３に一時的に記憶される。欠陥補正部１７は、内部メモリ３３に一時記憶された画像データに対して、撮影モードに応じて、内部メモリ３３内に登録されている欠陥画素の欠陥アドレス情報と頻度情報を用いて、補正を行う。
【０１１０】
このフローでは、内部メモリ３３に一時記憶された画像データを読出み出すと、ステップＳＴ８１から、処理を実行する。そして、ステップＳＴ８１、ＳＴ８５、ＳＴ８９、ＳＴ９３において、撮影モードの判定を行い、判定された撮影モードと頻度に応じた補正を行う（但し、ＳＴ９３の条件を満たさない場合は補正を行わない）。この一連の処理が終わると、元のフローに戻る。
【０１１１】
撮影モード画素欠陥補正処理のフローが開始すると、まず、比較明合成処理か否かを判定する（ＳＴ８１）。ユーザが比較明合成処理によって画像を生成したい場合には、入力ＩＦ３８によって、この合成モードを選択する。このステップでは、比較明合成処理モードが設定されているか否かについて判定する。この判定の結果、比較明合成処理モードが設定されていた場合には、頻度１〜５の欠陥について補正する（ＳＴ８３）。前述したように、内部メモリ３３には、欠陥画素の欠陥アドレス情報と頻度情報が登録されている。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報が頻度１〜５として欠陥アドレス情報が登録されている画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。図９の図表を用いて説明したように、比較明合成処理を行う場合には、画像合成の枚数が多いことから、この間、点滅欠陥が発生することが多い。そこで、頻度の低い画素も含め、頻度１〜５の全ての画素に対して補正を行う。
【０１１２】
ステップＳＴ８１における判定の結果、撮影モードが比較明合成処理でなかった場合には、次に撮影モードが複数枚加算処理か否かについて判定する（ＳＴ８５）。この判定の結果、撮影モードが複数枚加算処理の場合には、頻度３〜５の欠陥について補正する（ＳＴ８７）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報が頻度３〜５として欠陥アドレス情報が登録されている画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【０１１３】
ステップＳＴ８５における判定の結果、撮影モードが複数枚加算処理でなかった場合には、次に撮影モードが動画か否かについて判定する（ＳＴ８９）。この判定の結果、動画モードの場合には、頻度４〜５の欠陥について補正する（ＳＴ９１）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報が頻度４〜５として欠陥アドレス情報が登録されている画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【０１１４】
ステップＳＴ８９における判定の結果、撮影モードが動画モードでなかった場合には、次に撮影モードが静止画モードか否かについて判定する（ＳＴ９３）。この判定の結果、撮影モードが静止画モードの場合には、頻度５の欠陥について補正する（ＳＴ９５）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報が頻度５として欠陥アドレス情報が登録されている画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【０１１５】
ステップＳＴ９３における判定の結果、撮影モードが静止画でなかった場合には、欠陥画素補正を行わない。ステップＳＴ９３における判定の結果が、静止画モードでない場合、またはステップＳＴ８３、ＳＴ８７、ＳＴ９１、ＳＴ９５において補正を行うと、撮影モード画素欠陥の補正処理を終了する。
【０１１６】
このように、撮影モード画素欠陥処理のフローにおいては、撮影モードと頻度に応じて、欠陥画素補正の対象を変えている。すなわち、比較明合成処理のように、処理対象となる画像の数が多く、処理の特性上、点滅欠陥が発生した場合の欠陥が消えないことから、頻度が低い画素に対しても補正を行う。一方静止画モードのように、処理対象となる画像の数が少ない（静止画モードでは１枚）場合には、点滅欠陥が発生し難いことから、頻度が高い画素に対してのみ補正を行うようにしている。
【０１１７】
なお、図９および図１０に示す例では、撮影モードとして、比較明合成処理、複数枚加算処理、動画、静止画の４つのみについて説明した。しかし、これに限らず、例えば、深度合成処理、パノラマ合成、ＨＤＲ処理、加算平均、多重露光等の、他の合成処理についても同様に、頻度に応じて、画素欠陥補正処理を行うようにしてもよい。また、頻度の分類数についても、５分類に限られない。
【０１１８】
次に、図１１および図１２を用いて、撮影時に行う、点滅欠陥の補正の他の例について説明する。図７ないし図１１に示した例では、頻度の検出を行うための比較明合成の枚数の判定用の所定数は固定値であった（図５のＳＴ１７参照）。図１１および図１２に示す例においては、頻度測定時（調整時）の判定用の所定数を複数用意し、画素毎の頻度を登録しておく。撮影時には、撮影モードに応じて、調整時に使用した比較明合成の数に応じた頻度としている。
【０１１９】
頻度測定時（調整時）に比較明合成の数を変えて頻度を登録しておくことについて説明する。欠陥画素の補正は、補間処理等で置き換えることが多いため、補正対象は最小限にするのが好ましい。調整時（図５のフローの実行時）に画像加算枚数が同じである場合（図５のＳＴ９参照）、比較明合成枚数が多いほど（図５のＳＴ１７参照）、検出精度が高くなり、撮影時に補正したい画素を精度良く補正することができる。特に発生頻度の低い点滅欠陥においては、調整時の比較明合成回数を多くすることによって、撮影時に点滅欠陥を検出することが可能になる場合がある。
【０１２０】
例えば、調整時の加算枚数を１０枚に設定すると、点滅欠陥が１０％の頻度のものしか抽出できない。しかし、１０枚の画像を加算して１枚の加算画像を生成し、１０枚の加算画像を用いて、１０回比較明合成を行うことにより、発生頻度が１％の点滅欠陥を抽出することができる。単純に１００枚の画像を加算する場合は、ノイズ成分も加算されてしまい、発生頻度が１％の点滅欠陥を抽出することができない。したがって、点滅欠陥の頻度の測定にあたっては、単に加算処理だけではなく、比較明合成処理を行うことが好ましい。
【０１２１】
頻度測定時の比較明合成回数と発生頻度を関連付けておき、図９と同じように、撮影モードの違いにより、補正対象とする画素を選択することが可能となり、精度の良い補正を実施することができる。一例を図１１に示す。
【０１２２】
図１１は、撮影モードと頻度の条件による欠陥補正の有無を示す図表である。図１１の縦欄に撮影モードを示し、横欄に点滅欠陥抽出時（頻度測定時）の比較明合成回数を示す。静止画は、発生頻度の高い画素のみを補正対象とするために、少ない比較明合成回数でも発生する画素を対象とする。動画やスルー画では、欠陥はチラつきの原因となるため、静止画よりも発生頻度の低い（比較明合成回数を増やして抽出した）画素を補正対象とする。複数枚加算処理は、数枚〜数十枚の画像加算を行うため、静止画や動画よりも発生頻度の低い（比較明合成回数を増やして抽出した）画素を補正対象とする。比較明合成処理では、数百〜数万の画像を合成処理するため、比較明合成した枚数の多い画像から抽出した画素を補正対象とする。
【０１２３】
図１２に示すフローチャートは、図１１に示した補正条件に従って、補正を行う場合の処理手順を示す。この例では、頻度測定時に図５のＳＴ１７における判定用の比較明合成回数を、複数用意しておき、比較明合成回数毎に閾値を超えた画素のアドレス情報を、内部メモリ３３に登録しておく。また、撮影時には、イメージセンサ４から画像データを読出し、内部メモリ３３に一時的に記憶される。欠陥補正部１７は、内部メモリ３３に一時記憶された画像データに対して、撮影モードに応じて、内部メモリ３３内に登録されている欠陥画素の欠陥アドレス情報と頻度情報（比較明合成回数）を用いて、補正を行う。
【０１２４】
このフローでは、内部メモリ３３に一時記憶された画像データを読出み出すと、ステップＳＴ１０１から、処理を実行する。そして、ステップＳＴ１０１、ＳＴ１０５、ＳＴ１０９、ＳＴ１１３において、撮影モードの判定を行い、判定された撮影モードと比較明合成回数（頻度）に応じた補正を行う（但し、ＳＴ１１３の条件を満たさない場合は補正を行わない）。この一連の処理が終わると、元のフローに戻る。
【０１２５】
撮影モード画素欠陥補正処理のフローが開始すると、まず、比較明合成処理か否かを判定する（ＳＴ１０１）。ユーザが比較明合成処理によって画像を生成したい場合には、入力ＩＦ３８によって、この合成モードを選択する。このステップでは、比較明合成処理モードが設定されているか否かについて判定する。この判定の結果、比較明合成処理モードが設定されていた場合には、比較明合成１０００回以下で抽出した画素欠陥を補正する（ＳＴ１０３）。前述したように、内部メモリ３３には、欠陥画素の欠陥アドレス情報と頻度情報（比較明合成回数情報）が登録されている。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報として比較明合成回数が１０００回以下で画素欠陥があると抽出した画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【０１２６】
ステップＳＴ１０１における判定の結果、撮影モードが比較明合成処理でなかった場合には、次に撮影モードが複数枚加算処理か否かについて判定する（ＳＴ１０５）。この判定の結果、撮影モードが複数枚加算処理の場合には、比較明合成１００回以下で抽出した画素欠陥を補正する（ＳＴ１０７）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報として比較明合成回数が１００回以下で画素欠陥があると抽出した画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【０１２７】
ステップＳＴ１０５における判定の結果、撮影モードが複数枚加算処理でなかった場合には、次に撮影モードが動画か否かについて判定する（ＳＴ１０９）。この判定の結果、撮影モードが動画の場合には、比較明合成１０回以下で抽出した画素欠陥を補正する（ＳＴ１１１）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報として比較明合成回数が１０回以下で画素欠陥があると抽出した画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【０１２８】
ステップＳＴ１０９における判定の結果、撮影モードが動画でなかった場合には、次に撮影モードが静止画か否かについて判定する（ＳＴ１１３）。この判定の結果、撮影モードが静止画の場合には、比較明合成５回以下で抽出した画素欠陥を補正する（ＳＴ１１５）。欠陥補正部１７は、一時記憶された画像データを読出し、頻度情報として比較明合成回数が５回以下で画素欠陥があると抽出した画素毎に、その画素データに対して欠陥画素補正を行う。
【０１２９】
ステップＳＴ１１３における判定の結果、撮影モードが静止画でなかった場合には、欠陥画素補正を行わない。ステップＳＴ１１３における判定の結果が、静止画モードでない場合、またはステップＳＴ１０３、ＳＴ１０７、ＳＴ１１１、ＳＴ１１５において補正を行うと、撮影モード画素欠陥の補正処理を終了する。
【０１３０】
このように、図１２に示す撮影モード画素欠陥処理のフローにおいては、撮影モードと頻度（比較明合成回数）に応じて、欠陥画素補正の対象を変えている。すなわち、撮影モードの特性に応じて、点滅欠陥の発生頻度を検出するにあたって、比較明合成回数を利用している。出力画像に対する点滅欠陥の影響が大きくない撮影モードの場合には、少ない比較明合成回数で抽出した画素に対して、一方出力画像に対する点滅欠陥の影響が大きい撮影モードの場合には、多数の比較明合成回数で抽出した画素に対して、画素欠陥補正を行っている。
【０１３１】
なお、図１１および図１２に示す例では、撮影モードとして、比較明合成処理、複数枚加算処理、動画、静止画の４つのみについて説明した。しかし、これに限らず、例えば、深度合成処理、パノラマ合成、ＨＤＲ処理、加算平均、多重露光等、他の合成処理についても同様に、頻度に応じて、画素欠陥補正処理を行うようにしてもよい。また、頻度の分類数についても、５分類に限られない。
【０１３２】
以上説明したように、本発明の一実施形態における撮像装置は、複数の画素を有し、入射光を光電変換し、画像信号を生成する撮像素子（イメージセンサ４参照）を有している。そして、撮像素子から画像信号を異なる時刻にそれぞれ取得し、この取得した複数の画像信号を画素毎に加算し（例えば、図５のＳＴ１〜ＳＴ９参照）、加算された画像信号を画素毎に比較明合成している（例えば、図５のＳＴ１１〜ＳＴ１７参照）。この比較明合成された画像信号に含まれる画素信号のうちで、所定の閾値を越える画素信号を検出し、検出された画素信号の位置を記憶している（例えば、図５のＳＴ１９、図６参照）。このため、点滅欠陥の発生頻度を考慮し、また短時間で欠陥画素を検出できる。
【０１３３】
また、本発明の一実施形態においては、欠陥検出時に比較明合成を実施し（図５のＳＴ１３参照）、合成結果の画像に対して任意のレベル以上を点滅欠陥と判定する（図５のＳＴ１９、図６参照）。このとき、比較明合成前の複数画像に対して加算処理を施す（図５のＳＴ５参照）ことによって、点滅頻度の画素のレベルを高くして、欠陥画素を抽出しやすくしている。特に、加算処理を行うことにより、点滅頻度の高いものの画素値（レベル）が上がる為、簡易的な処理のみで点滅欠陥を抽出しやすくなる。
【０１３４】
また、本発明の一実施形態においては、用途（撮影モード）と点滅頻度に応じて補正対象画素を変えることが可能となる。例えば、比較明合成時は点滅頻度が低くても補正対象とし（例えば、図１２のＳＴ１０３参照）、一方、動画に使用する場合は、１／１０回以上の頻度の点滅を補正対象としている（例えば、図１２のＳＴ１１１参照）。用途（撮影モード）以外にも、撮像素子や駆動方法の条件によっても点滅頻度が異なるため、点滅頻度に応じた、補正処理が可能となる。
【０１３５】
また、本発明の一実施形態においては、頻度測定時に、加算合成処理や比較明合成処理を行う際に、それぞれの条件で抽出した画素を、その条件に応じて内部メモリにアドレス情報を登録している（例えば、図６参照）。そして、撮影の際に、撮影条件に応じて、補正するかどうかを判断している（例えば、図８、図１０、図１２参照）。このため、撮影条件および点滅頻度に応じた補正を行うことができる。
【０１３６】
なお、本発明の一実施形態においては、複数の画像データについて、加算処理および比較明合成処理を施して、検出用の画像データを生成していた。しかし、比較明合成処理を省略し、加算画像を検出用の画像データとしてもよく、また加算処理を省略して比較明合成画像を検出用の画像データとしてもよい。
【０１３７】
また、本発明の一実施形態においては、製造工程等の調整作業で実施する場合は、時間をとって比較明合成等の回数（図５のＳＴ９、ＳＴ１７参照）を多くし、ユーザ操作としてカメラで実施する場合は比較明合成等の回数を減らして、処理時間を短くするようにしてもよい。調整時に比較明合成等を行う回数は多い方が、抽出精度を高くすることができる。しかし、調整時間も考慮して、適宜、比較明合成等の処理回数を設定すればよい。
【０１３８】
また、本発明の一実施形態においては、欠陥判定部１４、加算枚数判定部１５、比較明合成枚数判定部１６等を、システム制御部２０とは別体の構成とした。しかし、各部の全部または一部をソフトウエアで構成し、制御部２０内のＣＰＵによって実行するようにしても勿論かまわない。また、画像処理部１０内の各部は、ハードウエア回路で構成する以外にも、ヴェリログ（Verilog）によって記述されたプログラム言語に基づいて生成されたゲート回路等のハードウエア構成でもよく、またＤＳＰ（Digital Signal Processor）等のソフトを利用したハードウエア構成を利用してもよい。これらは適宜組み合わせてもよいことは勿論である。
【０１３９】
また、本実施形態においては、撮影のための撮像装置として、デジタルカメラを用いて説明したが、カメラとしては、デジタル一眼レフカメラでもミラーレスカメラでもコンパクトデジタルカメラでもよく、ビデオカメラ、ムービーカメラのような動画用のカメラでもよく、さらに、携帯電話、スマートフォン、携帯情報端末、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）、タブレット型コンピュータ、ゲーム機器等に内蔵されるカメラ、医療用カメラ、顕微鏡等の科学機器用のカメラ、自動車搭載用カメラ、監視用カメラでも構わない。いずれにしても、点滅欠陥が生ずるような撮像素子を搭載した機器であれば、本発明を適用することができる。
【０１４０】
また、本明細書において説明した技術のうち、主にフローチャートで説明した制御に関しては、プログラムで設定可能であることが多く、記録媒体や記録部に収められる場合もある。この記録媒体、記録部への記録の仕方は、製品出荷時に記録してもよく、配布された記録媒体を利用してもよく、インターネットを介してダウンロードしたものでもよい。
【０１４１】
また、本発明の一実施形態においては、フローチャートを用いて、本実施形態における動作を説明したが、処理手順は、順番を変えてもよく、また、いずれかのステップを省略してもよく、ステップを追加してもよく、さらに各ステップ内における具体的な処理内容を変更してもよい。
【０１４２】
また、特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず」、「次に」等の順番を表現する言葉を用いて説明したとしても、特に説明していない箇所では、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【０１４３】
本発明は、上記実施形態にそのまま限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素の幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【０１４４】
１・・・撮像部、２・・・レンズ（絞り）、３・・・メカシャッタ、４・・・イメージセンサ、５・・・温度センサ、１０・・・画像処理部、１１・・・画像合成部、１２・・・比較明合成部、１３・・・画像加算部、１４・・・欠陥判定部、１５・・・加算枚数判定部、１６・・・比較明合成判定部、１７・・・欠陥補正部、１８・・・現像処理部、２０・・・システム制御部、３１・・・バス、３３・・・内部メモリ、３６・・・外部メモリ、３７・・・表示部、３８・・・入力ＩＦ、３９・・・条件設定部
【図１】
2019153866.tif 000003
【図２】
2019153866.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
2019153866.tif 000011
【図１０】
2019153866.tif 000012
【図１１】
2019153866.tif 000013
【図１２】
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