(57)【要約】【課題】３次元設計される製品に電気的な不具合が発生するかどうかの判断を作業者が容易に行うことができる製品設計支援システムを提供する。【解決手段】計算機１は、現在の製品において、低電位電極として導電性の第１部品の選択と、低電位より高電位な高電位電極として導電性の第２部品の選択と、をユーザ入力部３で受け付け、第（２Ｎ−１）部品に接する導電性の第（２Ｎ＋１）部品と、第（２Ｎ）部品に接する導電性の第（２Ｎ＋２）部品と、をそれぞれ探索し、第（２Ｎ−１）部品から構成される低電位の導体と、第（２Ｎ）部品から構成される高電位の導体と、の間の最短距離を計算し、最短距離に関連付けられた不具合の事例を過去事例データベース１０７から読み出し、不具合が発生した箇所を現在の製品と合わせて計算機ディスプレイ２に表示し、かつ、不具合の事例のリストも表示する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の部品から構成される製品の３次元設計を三次元コンピュータエイディドデザインで行う計算機と、
３次元設計された過去の前記製品の事例の情報を格納する第１データベースと、を備え、
前記計算機は、
３次元設計している現在の前記製品において、第１電極として導電性の第１部品の選択と、前記第１電極より高電位な第２電極として導電性の第２部品の選択と、を入力装置で受け付け、
第（２Ｎ−１）部品に接する導電性の第（２Ｎ＋１）部品と、第（２Ｎ）部品に接する導電性の第（２Ｎ＋２）部品と、をそれぞれ探索し（Ｎ：自然数）、
前記第（２Ｎ−１）部品から構成される第１電極アセンブリと、前記第２部品から前記第（２Ｎ）部品から構成される第２電極アセンブリと、の間の最短距離を計算し（Ｎ：自然数）、
前記最短距離に関連付けられた不具合の事例を前記第１データベースから読み出し、
前記不具合が発生した箇所を３次元設計している現在の前記製品もしくはその部品と合わせてディスプレイに表示し、かつ、前記不具合の事例のリストを前記ディスプレイに表示する
ことを特徴とする製品設計支援システム。
【請求項２】
請求項１に記載の製品設計支援システムであって、
前記計算機は、
前記第１電極と前記第２電極の電気的仕様を前記入力装置で受け付け、
前記最短距離と前記電気的仕様の組み合わせに関連付けられた不具合の事例を前記第１データベースから読み出す
ことを特徴とする製品設計支援システム。
【請求項３】
請求項１に記載の製品設計支援システムであって、
前記最短距離は、
前記第１電極アセンブリの第１面と前記第１面に対向する前記第２電極アセンブリの第２面との間の最短距離であり、
前記計算機は、
前記第１面を第２面に投影した部分の面積を示す投影面積を計算し、
前記最短距離と前記投影面積との比に関連付けられた不具合の事例を前記第１データベースから読み出す
ことを特徴とする製品設計支援システム。
【請求項４】
請求項１に記載の製品設計支援システムであって、
３次元設計された過去の前記製品もしくはその部品に対して実行されたシミュレーションの情報を格納する第２データベースをさらに備え、
前記計算機は、
前記不具合の事例のリストから事例の選択を前記入力装置で受け付け、
選択された事例の前記製品もしくはその部品に関連付けられたシミュレーションの情報を前記第２データベースから読み出し、
前記第２データベースから読み出された前記シミュレーションの情報を前記ディスプレイに表示する
ことを特徴とする製品設計支援システム。
【請求項５】
請求項４に記載の製品設計支援システムであって、
前記第２データベースに格納される前記シミュレーションの情報は、絶縁解析、熱解析、又はノイズ解析の情報である
ことを特徴とする製品設計支援システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品設計支援システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
製品の不具合事例の大半は過去事例の類似原因によるという分析結果があり、過去事例に基づいた再発防止が重要である。これまで、FMEA（Failure Mode and Effect Analysis）、 FTA（Fault Tree Analysis）等の過去の不具合事例を蓄積し抽象化することはできるようになってきた。これにより、製品や部品を設計する上での、不具合発生を未然に防ぐための注意事項をチェックするシステムは検討されている。例えば、特開２００２−２３６７０６では、製品毎の機能分類とチェック項目ＤＢから、自動的にチェックリストを作成する機能がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−２３６７０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
これまで、FMEA、 FTA等の過去の不具合事例では汎用性を高めるため、過去の不具合事例の抽象的な原因や現象が格納されていることが多い。しかし、実際には、その製品の使用範囲やサイズ、構造、材料など、その製品に応じて、過去と同様の不具合が発生するかどうかは異なり、これまでのFMEA、 FTA等の過去の抽象的な不具合情報だけからでは判断するのが難しかった。また設計者の個人の知識により判断がばらつくという問題があり、蓄積した過去の不具合情報を、設計中の製品設計に有効に活用することが困難であった。
【０００５】
ところで、近年で、３次元ＣＡＤ(Computer-Aided Design)を用いて、エレクトロニクス機器の構造設計が広く行われている。エレクトロニクス機器では、電圧による絶縁劣化、電流が流れることによって発生する損失による温度上昇、電圧変化によって生じるノイズ等の電圧・電流による不具合が発生する可能性がある。
【０００６】
しかしながら、３次元ＣＡＤは寸法等の構造データしか持っておらず、従来の３次元ＣＡＤデータから、エレクトロニクス機器の不具合が発生するかどうかの判断を作業者が行うことは困難であった。
【０００７】
本発明の目的は、３次元設計される製品に電気的な不具合が発生するかどうかの判断を作業者が容易に行うことができる製品設計支援システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、複数の部品から構成される製品の３次元設計を三次元コンピュータエイディドデザインで行う計算機と、３次元設計された過去の前記製品の事例の情報を格納する第１データベースと、を備え、前記計算機は、３次元設計している現在の前記製品において、第１電極として導電性の第１部品の選択と、前記第１電極より高電位な第２電極として導電性の第２部品の選択と、を入力装置で受け付け、第（２Ｎ−１）部品に接する導電性の第（２Ｎ＋１）部品と、第（２Ｎ）部品に接する導電性の第（２Ｎ＋２）部品と、をそれぞれ探索し（Ｎ：自然数）、前記第（２Ｎ−１）部品から構成される第１電極アセンブリと、前記第２部品から前記第（２Ｎ）部品から構成される第２電極アセンブリと、の間の最短距離を計算し（Ｎ：自然数）、前記最短距離に関連付けられた不具合の事例を前記第１データベースから読み出し、前記不具合が発生した箇所を３次元設計している現在の前記製品もしくはその部品と合わせてディスプレイに表示し、かつ、前記不具合の事例のリストを前記ディスプレイに表示する
ことを特徴とする製品設計支援システム。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、３次元設計される製品に電気的な不具合が発生するかどうかの判断を作業者が容易に行うことができる。上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の第１実施例による製品設計支援システムのハードウェア構成を示す図である。
【図２】本発明の第１実施例による製品設計支援システムを構成する計算機が実行する処理を示すフローチャートである。
【図３】本発明の第１実施例による製品設計支援システムを構成する計算機ディスプレイに表示される３次元ＣＡＤデータの一例を示す図である。
【図４】本発明の第２実施例のフローチャートである。
【図５】本発明の第１実施例による製品設計支援システムのハードウェア構成の変形例を示す図である。
【図６】本発明の第３実施例による製品設計支援システムのハードウェア構成を示す図である。
【図７】本発明の第３実施例による製品設計支援システムが３次元ＣＡＤデータ表示する処理を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照し、本発明の実施例について説明する。本発明の実施例は、計算機上で設計中の製品や部品に対して、過去の設計データや過去に実施したシミュレーションデータを活用して、効率的に設計を支援する、製品設計支援システムに関するものであり、特にエレクトロニクス機器の製品設計支援システムに関する。
【００１２】
（第１実施例）
図１を用いて、本発明の第１実施例による製品設計支援システムのハードウェア構成を説明する。
【００１３】
＜構成＞
製品設計支援システム１００は、複数の部品から構成される製品の設計を３次元ＣＡＤで行う計算機１、計算機ディスプレイ２（ディスプレイ）、ユーザ入力部３（入力装置）、過去事例データベース１０７（第１データベース）、シミュレーションデータベース１１２（第２データベース）等を備える。過去事例データベース１０７（第１データベース）は、３次元設計された過去の前記製品の事例の情報を格納する。シミュレーションデータベース１１２（第２データベース）は、３次元設計された過去の製品もしくはその部品に対して実行されたシミュレーションの情報を格納する。
【００１４】
なお、計算機１は、ＲＡＭ（Random-Access Memory）、ＲＯＭ（Read-Only Memory）等のメモリと、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等の記憶装置と、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等のプロセッサ等から構成される。ユーザ入力部３は、例えば、キーボード、マウス等から構成される。タッチパネルのように、計算機ディスプレイ２とユーザ入力部３が一体となっていてもよい。
【００１５】
設計者は、計算機１および計算機ディスプレイ２を用いて、製品や部品に対して、３次元ＣＡＤにより３次元ＣＡＤデータ１０１（設計データ）を作成する。このとき、３D設計画面インタフェース４（３次元ＣＡＤツール画面インタフェース）には、設計中のデータが表示される３Ｄ設計データ表示ウィンドウ５の他、過去事例データを検索実行し、その結果を表示する過去データ検索結果表示ウィンドウ６、それに関連するシミュレーション事例を検索実行し、その結果を表示するシミュレーション関連表示ウィンドウ７さらに電気的仕様入力１２０及び低電位、高電位電極を設定する入力ウィンドウ３Ａ（入力画面）が含まれる。
【００１６】
３次元ＣＡＤがインストールされている計算機１には、過去事例データベース１０７（過去の設計事例データベース）やシミュレーションデータベース１１２がある。低電位、高電位電極間隔及び電気的仕様を元に現在設計中である３次元ＣＡＤデータ１０１に関連する過去事例を、過去事例データベース１０７（過去設計事例データベース）に対して検索１０６される。検索結果として過去の設計事例が、過去データ検索結果表示ウィンドウ６にリスト表示される。
【００１７】
また、３次元ＣＡＤデータ１０１には、過去の設計事例に対応する低電位、高電位電極間の距離１０（低電位、高電位電極間隔）を表示する。さらに、表示された過去事例のリストの中から、設計者（ユーザ）はシミュレーションを実施する事象を選択し、シミュレーションデータベース１１２の格納データから該当する検索結果であるシミュレーション情報（内容、事例、手順など）をシミュレーション関連表示ウィンドウ７に表示する。
【００１８】
これに基づいて、設計者は、シミュレーションを設計中のデータに対して実施し、その結果が表示される。その結果に基づいて、設計者は必要に応じて、設計中のデータを変更するなど、３次元ＣＡＤデータ１０１に反映する。これにより、過去の設計データと過去のシミュレーションデータを活用することで効率的に最適な設計が可能となる。
【００１９】
＜動作＞
図２は本発明の第１実施例のフローチャートを示す。計算機１のＣＰＵ（プロセッサ）は、例えば、所定ボタンのクリック等のイベントが発生したことをトリガーとして、所定のプログラム（アドオン）を実行することにより、図２に示す処理を実行する。
【００２０】
計算機１（プロセッサ）は、３次元ＣＡＤデータ１０１の存在を確認後（Ｓ１０１）、３次元ＣＡＤデータ１０１（図１参照）上で、例えばマウス等のユーザ入力部３（入力装置）を介して、低電位、高電位電極の設定を受け付ける（Ｓ１０２）。すなわち、計算機１は、３次元設計している現在の製品（３次元ＣＡＤデータ１０１）において、低電位電極（第１電極）として導電性の第１部品の選択と、低電位（第１電極）より高電位な高電位電極（第２電極）として導電性の第２部品の選択と、をユーザ入力部３（入力装置）で受け付ける。
【００２１】
なお、３次元ＣＡＤは、形状データの他に部品の属性として材料の情報を記憶している。計算機１は、例えば、材料が金属等の導体である部品上にマウスポインタが位置したときには、その部品を選択可能にし、材料が導体でない部品上にマウスポインタが位置したときには、その部品を選択できないようにしてもよい。
【００２２】
計算機１は、設定された電極に対して接触している導体を探索する（Ｓ１０３）し、接触している導体があるかを判定する（Ｓ１０４）。接触している導体がある場合は、計算機１は、Ｓ１０３の処理へ戻り、導体を探索する。すなわち、計算機１は、第（２Ｎ−１）部品に接する導電性の第（２Ｎ＋１）部品と、第（２Ｎ）部品に接する導電性の第（２Ｎ＋２）部品と、をそれぞれ探索する（Ｎ：自然数）。
【００２３】
低電位、高電位電極とそれぞれ接触している導体の探索が終了した後、計算機１は、低電位電極に接触している導体は全て低電位として、高電位電極に接触している導体は全て高電位として、低電位、高電位電極の間隔を評価する（Ｓ１０５）。換言すれば、計算機１は、第（２Ｎ−１）部品から構成される低電位の導体（第１電極アセンブリ）と、第（２Ｎ）部品から構成される高電位の導体（第２電極アセンブリ）と、の間の最短距離を計算する（Ｎ：自然数）。
【００２４】
計算機１は、評価した間隔を元に過去事例データベース１０７を検索し、過去事例を検索する（Ｓ１０６）。すなわち、計算機１は、最短距離に関連付けられた不具合の事例を過去事例データベース１０７（第１データベース）から読み出す。なお、本実施例の過去事例データベース１０７は、この最短距離と過去の不具合の事例とを関連付けて予め記憶している。本実施例の過去事例データベース１０７は、例えば、計算機１に内蔵されるＨＤＤに記憶されるが、外付けのＨＤＤに記憶されてもよい。過去事例としては、例えば、低電位、高電位電極の間隔が短いと絶縁規格を満足しないことが挙げられる。
【００２５】
計算機１は、３次元ＣＡＤ上に、過去不具合箇所を表示するとともに（Ｓ１０８）、関連する過去事例を表示する（Ｓ１０９）。すなわち、計算機１は、不具合が発生した箇所を３次元設計している現在の製品（３次元ＣＡＤデータ１０１）もしくはその部品と合わせて計算機ディスプレイ２（ディスプレイ）の３Ｄ設計データ表示ウィンドウ５に表示し、かつ、不具合の事例のリストを計算機ディスプレイ２の過去データ検索結果表示ウィンドウ６に表示する。これにより、作業者は、現在設計している製品もしくはその部品に対応する過去の製品もしくはその部品に対してどのような不具合（現象）がどこで発生したかを容易に把握することができる。
【００２６】
ここで、ユーザは、検証シミュレーションを実施する事象を選択する。計算機１は、検証シミュレーションを実施する事象の選択を受け付ける（Ｓ１１０）。すなわち、計算機１は、不具合の事例のリストから事例の選択をマウス等のユーザ入力部３（入力装置）で受け付ける。
【００２７】
選択された検証シミュレーションに対して、計算機１は、シミュレーションデータベース（１１２）を参照し、シミュレーション手順設定条件を表示し（Ｓ１１１）、処理を終了する。換言すれば、計算機１は、選択された事例の製品（３次元ＣＡＤデータ１０１）もしくはその部品に関連付けられたシミュレーションの情報をシミュレーションデータベース１１２（第２データベース）から読み出す。計算機１は、シミュレーションデータベース１１２（第２データベース）から読み出されたシミュレーションの情報を計算機ディスプレイ２（ディスプレイ）のシミュレーション関連表示ウィンドウ７に表示する。これにより、作業者は、現在設計している製品もしくはその部品に対応する過去の製品もしくはその部品に対してどのようなシミュレーションが行われたかを容易に知ることができる。
【００２８】
シミュレーションの情報は、例えば、シミュレーションの手順、その初期条件、メッシュの切り方、使用したソルバー（ソフト名）等の情報である。これにより、作業者は、現在設計している製品もしくはその部品に対して過去の手順等に従ってシミュレーションを行うことで、シミュレーションを効率よく行うことができる。
【００２９】
ここで、シミュレーションデータベース１１２（第２データベース）に格納されるシミュレーションの情報は、絶縁解析、熱解析、又はノイズ解析の情報である。これにより、作業者は過去の絶縁解析、熱解析、又はノイズ解析の情報を参考にして、現在設計している製品もしくはその部品に対してどのような解析を行うべきかを把握することができる。
【００３０】
（低電位電極と高電位電極の認定）
次に、図３に示す３次元ＣＡＤデータの例を用いて、設定された電極に対して接触している導体を探索し（Ｓ１０３、図２）、接触している導体があるかを判定する（Ｓ１０４、図２）方法について、説明する。
【００３１】
本例では、低電位電極はソリッドモデル２００、２０１、２０２で構成されている。高電位電極はソリッドモデル２０３、２０４で構成されている。なお、ソリッドモデル２００、２０１、２０２、２０３、２０４は導体という情報を保有している。
【００３２】
電極設定画面としての入力ウィンドウ３Ａ（図１）において、ソリッドモデル２００あるいはそのサーフェイス３００の選択を、ユーザ入力部３を介して受け付けることにより、計算機１は低電位電極設定を行う。
【００３３】
計算機１は、設定された電極に対して接触している導体のソリッドモデル２００を探索し（Ｓ１０３）、隣接するソリッドモデル２０１が導体のため低電位電極と認識する（Ｓ１０４）。計算機１は、さらにソリッドモデル２０１に隣接するソリッドモデル２０２が導体のため低電位電極と認識する（Ｓ１０４）。計算機１は、ソリッドモデル２０２に隣接するソリッドモデルはないため処理を終了する（Ｓ１０４：Ｎｏ）。
【００３４】
続いて、低電位電極と同様に、電極設定画面としての入力ウィンドウ３Ａ（図１）において、ソリッドモデル２０３あるいはそのサーフェイス３０１の選択を、ユーザ入力部３を介して受け付けることにより、計算機１は高電位電極設定を行う。
【００３５】
計算機１は、設定された電極に対して接触している導体のソリッドモデル２０３を探索し（Ｓ１０３）、隣接するソリッドモデル２０４が導体のため高電位電極と認識する（Ｓ１０４）。さらに、計算機１は、ソリッドモデル２０１に隣接するソリッドモデル２０４が導体のため高電位電極と認識する（Ｓ１０４）。
【００３６】
以上説明したように、本実施例によれば、３次元設計される製品に電気的な不具合が発生するかどうかの判断を作業者が容易に行うことができる。
【００３７】
（第２実施例）
図４は本発明の第２実施例のフローチャートを示す。計算機１のＣＰＵは、例えば、所定ボタンのクリック等のイベントが発生したことをトリガーとして、所定のプログラム（アドオン）を実行することにより、図４に示す処理を実行する。なお、本実施例のハードウェア構成は第１実施例と同じである。
【００３８】
ユーザは電気的仕様を入力する。ここで、計算機１は、例えばキーボード等のユーザ入力部（入力装置）を介して、電気的仕様の入力を受け付ける（Ｓ１２０）。換言すれば、計算機１は、低電位電極（第１電極）と高電位電極（第２電極）の電気的仕様（例えば、大電流が流れることを示す定格電流等）を入力装置で受け付ける。以降のフローは本発明の第１実施例とほぼ同じである。
【００３９】
計算機１は、過去事例検索（Ｓ１０６）において、評価した間隔に加えて電気的仕様を元に過去事例データベース１０７を検索する。換言すれば、計算機１は、最短距離と電気的仕様の組み合わせに関連付けられた不具合の事例を過去事例データベース１０７（第１データベース）から読み出す。これにより、例えば、低電位、高電位電極の間隔が短く、電極に大電流が流れており、且つ、電極とは別に導体（例えば筐体）が設けられている場合に渦電流が発生し筐体が発熱するという事例を、計算機１は提示することができる。
【００４０】
なお、本実施例の過去事例データベース１０７は、最短距離と電気的仕様の組み合わせと過去の不具合の事例とを関連付けて予め記憶している。
【００４１】
（変形例）
次に、図５を用いて、本発明の第１実施例による製品設計支援システム１００のハードウェア構成の変形例を説明する。ここでは、過去事例データベース１０７や、シミュレーションデータベース１１２は、設計している計算機１に格納されているのではなく、ネットワークを介して複数の計算機等からアクセス可能なサーバに格納されていることを特徴とする。
【００４２】
本実施例によれば、特定の設計者に限らず、複数の設計者に利用されるため、信頼性の高い製品設計が広範囲で実施可能となる。また、過去事例データベース１０７や、シミュレーションデータベース１１２には、設計完了時には、その製品設計に用いた情報やシミュレーション情報を格納できる仕組みにすることで、自動的にデータベースが拡充していくため、より高信頼な製品設計に貢献できる。
【００４３】
（第３実施例）
次に、図６を用いて、本発明の第３実施例による製品設計支援システム１００のハードウェア構成を説明する。
【００４４】
本発明の第１及び第２実施例では、計算機１は、低電位、高電位電極間隔ｄを元に過去事例データベース１０７を検索する。これに対して、本実施例では、計算機１は、低電位、高電位電極間隔ｄに加えて、低電位、高電位電極間隔ｄと低電位、高電位電極投影面積Sの比Ｓ／ｄを元に過去事例データベース１０７を検索する。
【００４５】
ここで、低電位、高電位電極間隔ｄ（最短距離）は、低電位の導体（第１電極アセンブリ）の面（第１面）と、この面（第１面）に対向する高電位の導体（第２電極アセンブリ）の面（第２面）との間の最短距離である。計算機１は、低電位、高電位電極投影面積Ｓ（第１面を第２面に投影した部分の面積を示す投影面積）を計算する。計算機１は、低電位、高電位電極間隔ｄ（最短距離）と高電位電極投影面積Ｓ（投影面積）との比Ｓ／ｄに関連付けられた不具合の事例を過去事例データベース（第１データベース）から読み出す。
【００４６】
Ｓ／ｄが大きいほど電極間の寄生容量が大きく、伝導ノイズに寄与する電流が多く流れる。このため、Ｓ／ｄが大きい面（サーフェイス）はノイズに寄与する可能性が高く、過去事例データベース１０７の検索において合致するデータを抽出する可能性が高くなる。
【００４７】
＜ハイライト処理＞
図７を用いて、本発明の第３実施例による製品設計支援システム１００が３次元ＣＡＤデータ表示する処理を説明する。
【００４８】
計算機１は、Ｓ／ｄが大きい面（サーフェイス３１０）の色を変える処理を示すハイライト処理をすることで、作業者に過去不具合箇所を表示する。これにより、作業者は、現在設計している製品もしくはその部品に対応する過去の製品もしくはその部品に対してノイズの不具合に寄与する箇所がどこにあったかを容易に把握することができる。
【００４９】
以上説明したように、本実施例によれば、３次元設計される製品に電気的な不具合が発生するかどうかの判断を作業者が容易に行うことができる。
【００５０】
また、設計中の製品に対して、過去の不具合事例に基づき、３次元ＣＡＤ画面に、同様の不具合が発生するかどうかの判断を支援する機能及び不具合が発生する可能性がある箇所を表示する機能を実装することで、過去と同様の不具合が発生するかどうかの判断が容易になる。
【００５１】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上述した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【００５２】
また、上記の各構成、機能等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサ（マイコン）がそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、SSD（Solid State Drive）等の記録装置、または、ICカード、SDカード、DVD等の記録媒体に置くことができる。
【００５３】
なお、本発明の実施例は、以下の態様であってもよい。
【００５４】
（１）．製品や部品の設計を、計算機を用いて実施する３次元コンピュータエイディドデザイン（３次元CAD）ツールにおいて、３D-CADデータから設定電極（高電位、低電位電極）に接する導体を探索後、電極間の距離を評価し、評価結果を過去に設計した事例のデータベースと照合し、過去不具合事象箇所を３次元CAD上に表示するとともに過去事例をリストアップすることを特徴とする製品設計支援システム。
【００５５】
（２）．（１）の製品設計支援システムにおいて、電極間の距離とともに入力された電気的仕様に基づいて過去に設計した事例のデータベースと照合し、過去不具合事象箇所を３次元CAD上に表示するとともに過去事例をリストアップすることを特徴とする製品設計支援システム。
【００５６】
（３）．（１）又は（２）の製品設計支援システムにおいて、低電位、高電位電極間隔ｄと低電位、高電位電極投影面積Sの比Ｓ／ｄを元に過去に設計した事例のデータベース照合し、過去不具合事象箇所を３次元CAD上に表示するとともに過去事例をリストアップすることを特徴とする製品設計支援システム。
【００５７】
（４）．（１）又は（２）の製品設計支援システムにおいて、設計中の製品や部品に関連する、不具合発生か否かを検証するシミュレーション情報・データを、前記シミュレーションDB に対して検索する機能を有し、設計者に対して、設計中の製品や部品が、同様な不具合を発生するかどうかを検証するために推奨するシミュレーション情報・データを表示することを特徴とする製品設計支援システム。
【００５８】
（５）．（４）の製品設計支援システムにおいて、提供するシミュレーション情報は絶縁、熱解析、ノイズ解析に関することであることを特徴とする製品設計支援システム。
【００５９】
（１）−（５）の製品設計支援システムによれば、３次元CADデータから設定電極（高電位、低電位電極）に接する導体を探索後、電極間の距離が評価される。評価結果を元に、製品設計支援システムは、過去事例を蓄積したデータベースと照合し、関連する過去不具合事象箇所を3次元CAD上に表示するとともに過去事例をリストアップする。さらに、製品設計支援システムは、その各事象の発生を検証するために必要な数値解析内容、手順または解析事例等を提示する。これにより、過去と同様の不具合が発生するかどうかをユーザは容易に判断することができる。
【符号の説明】
【００６０】
１：計算機
２：計算機ディスプレイ
３：ユーザ入力部
３Ａ：入力ウィンドウ
４：３Ｄ設計画面インタフェース
５：３Ｄ設計データ表示ウィンドウ
６：過去データ検索結果表示ウィンドウ
７：シミュレーション関連表示ウィンドウ
１０：過去の設計事例に対応する低電位、高電位電極間の距離
１００：製品設計支援システム
１０１：３次元ＣＡＤデータ
１０７：過去事例データベース（ＤＢ）
１１２：シミュレーションデータベース（ＤＢ）
２００、２０１、２０２、２０３、２０４：ソリッドモデル
３００、３０１：サーフェイス
３１０：ハイライト処理されたサーフェイス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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