(57)【要約】【課題】端子台に干渉物が設けられているか否かにかかわらず、端子台に対する導通検査を容易に行うことができる導通検査用治具を得る。【解決手段】導通検査用治具３は、一列に並んでいる複数の短絡用電極に個別に電気的に接続可能な複数のプローブ４を有している。各プローブ４のプローブピン４２は、前進位置と後退位置との間でケース４１の内部を変位可能になっている。プローブピン４２が前進位置にあるときには、プローブピン４２の一部がケース４１の第１の開口部４１１から突出部として突出している。突出部の長さは、プローブピン４２が前進位置から後退位置に向かって変位されることによって短くなる。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の検査電極が一列に並んでいる端子台の各前記検査電極に個別に電気的に接続可能な複数のプローブ
を備え、
各前記プローブは、ケースと、前進位置と後退位置との間で前記ケースの内部を変位可能なプローブピンとを有し、
前記プローブピンは、前記検査電極に電気的に接続可能になっており、
前記ケースには、第１の開口部が設けられており、
前記プローブピンが前記前進位置にあるときには、前記プローブピンの一部が前記第１の開口部から突出部として突出しており、
前記突出部の長さは、前記プローブピンが前記前進位置から前記後退位置に向かって変位されることによって短くなる導通検査用治具。
【請求項２】
各前記プローブは、前記プローブピンを前記前進位置に向けて付勢する付勢体を有している請求項１に記載の導通検査用治具。
【請求項３】
各前記プローブは、前記ケースの内部で前記プローブピンと一体に変位される復帰部材を有し、
前記ケースには、第２の開口部が設けられており、
前記復帰部材の一部は、前記プローブピンの前記後退位置への変位によって、前記第２の開口部から突出する請求項１又は請求項２に記載の導通検査用治具。
【請求項４】
各前記プローブは、前記ケースの内部に変位可能に設けられた可動部と、前記ケースの内部の保持位置に前記可動部を保持する保持機構部と、前記可動部と前記プローブピンとの間に設けられた付勢体とを有し、
前記付勢体は、前記可動部と前記プローブピンとが互いに離れる方向へ前記可動部及び前記プローブピンを付勢しており、
前記保持機構部は、前記付勢体から前記可動部が受ける力の大きさが設定値を超えると、前記保持位置での前記可動部の保持を解除する請求項１に記載の導通検査用治具。
【請求項５】
前記ケースの内面には、ケース側凹部が設けられており、
前記可動部には、可動部側凹部が設けられており、
前記可動部が前記保持位置にあるときには、前記可動部側凹部が前記ケース側凹部に対向しており、
前記保持機構部は、前記可動部側凹部に挿入可能なボールと、前記ケース側凹部に前記ボールを押圧する押圧体とを有し、
前記保持機構部は、前記付勢体から前記可動部が受ける力の大きさが設定値を超えると、前記ボールが前記押圧体の押圧力に逆らって前記ケース側凹部から外れることにより、前記保持位置での前記可動部の保持を解除する請求項４に記載の導通検査用治具。
【請求項６】
各前記プローブは、前記ケースの内部で前記プローブピンと一体に変位される可動部と、前記プローブピンが前記前進位置及び前記後退位置のいずれか一方に変位される方向へ前記可動部を付勢する付勢体と、前記プローブピンが前記前進位置及び前記後退位置のいずれか他方に変位される方向へ前記付勢体の付勢力に逆らって前記可動部を変位させる電磁力を通電によって発生する電磁コイルと、前記電磁コイルへの通電を制御する制御部とを有している請求項１に記載の導通検査用治具。
【請求項７】
各前記プローブは、前記検査電極と前記突出部との間に干渉物が介在しているかどうかを検出するセンサを有し、
前記制御部は、前記センサからの情報に基づいて、前記電磁コイルへの通電を制御する請求項６に記載の導通検査用治具。
【請求項８】
各前記プローブは、前記ケースの内部で前記可動部と一体に変位される復帰部材を有し、
前記ケースには、第２の開口部が設けられており、
前記復帰部材の一部は、前記第２の開口部に近づく方向への前記可動部の変位によって、前記第２の開口部から突出する請求項４〜請求項７のいずれか一項に記載の導通検査用治具。
【請求項９】
前記突出部の端部の形状は、前記突出部の端部に対向する前記検査電極の形状に合わせた形状である請求項１〜請求項８のいずれか一項に記載の導通検査用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、端子台に接続された複数の電線間の導通検査を行うための導通検査用治具に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
制御盤、配電盤等の電気機器では、複数の電極端子を一列に並べて構成した端子台を筐体の内部に設置し、複数の電極端子に複数の電線を選択的に接続することにより電線の分岐、中継等を行っている。このような電気機器では、複数の電線を端子台に接続した後、電線の分岐、中継等が正しく行われているかどうかを導通検査によって確認する必要がある。
【０００３】
従来、電極端子に電線をねじによって接続するねじ式端子台が知られている。また、従来、ねじの紛失を防止するために、電極端子からねじを取り外しても、ねじを持ち上げた状態を保持する保持機構を備えたねじアップ式端子台も知られている。
【０００４】
従来、ねじアップ式端子台の導通検査を行うために、保持機構によって持ち上げられたねじと電極端子との間に導電性接触子を挿入し、導電性接触子の弾性変形によって電極端子に導線性接触子を接触させるようにした端子台の導通検査用治具が提案されている。このような従来の導通検査用治具を用いると、一列に並んだ複数の電極端子のそれぞれに対して、複数の導電性接触子をワンタッチで同時に接触させることができ、ねじアップ式端子台に対する導通検査を容易に行うことができる（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第４８００３９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
端子台に対する導通検査は、例えば、互いに隣り合う２つの電極端子同士をジャンパピンによって短絡した状態で行ったり、電極端子に電線をねじで接続した状態で行ったりすることがある。この場合、特許文献１に示された従来の導通検査用治具を用いると、ジャンパピン、ねじ等が導電性接触子の干渉物となってしまい、電極端子に導電性接触子を確実に接触させることができなくなってしまう。従って、干渉物と導電性接触子との干渉を回避する場合には、干渉物の位置に合わせて導電性接触子を取り除く必要がある。また、導通検査を行うたびごとに干渉物の位置及び数が変わる場合には、導電性接触子の組み替えを頻繁に行う必要があり、導通検査を行うときの手間が増加してしまう。
【０００７】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、端子台に干渉物が設けられているか否かにかかわらず、端子台に対する導通検査を容易に行うことができる導通検査用治具を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明による導通検査用治具は、複数の検査電極が一列に並んでいる端子台の各検査電極に個別に電気的に接続可能な複数のプローブを備え、各プローブは、ケースと、前進位置と後退位置との間でケースの内部を変位可能なプローブピンとを有し、プローブピンは、検査電極に電気的に接続可能になっており、ケースには、第１の開口部が設けられており、プローブピンが前進位置にあるときには、プローブピンの一部が第１の開口部から突出部として突出しており、突出部の長さは、プローブピンが前進位置から後退位置に向かって変位されることによって短くなる。
【発明の効果】
【０００９】
この発明による導通検査用治具によれば、第１の開口部から突出するプローブピンの突出部の長さは、プローブピンが前進位置から後退位置に向かって変位されることによって短くなる。このため、一列に並んだ複数の検査電極の一部に干渉物が存在している場合でも、干渉物が存在する位置でプローブピンを後退させることができる。これにより、干渉物が存在しない位置では、プローブピンを検査電極に電気的に接続させることができる。このようなことから、端子台に干渉物が設けられているか否かにかかわらず、端子台に対する導通検査を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】この発明の実施の形態１による導通検査用治具が端子台に取り付けられている状態を示す斜視図である。
【図２】図１の端子台を示す斜視図である。
【図３】図１の端子台及び導通検査用治具を示す断面図である。
【図４】図１のプローブを示す正面図である。
【図５】図４のプローブを示す側面図である。
【図６】図４のプローブを示す断面図である。
【図７】図３のプローブピンのピン先端部の形状を示す拡大図である。
【図８】図３のプローブピンがジャンパピンによって後退している状態を示す断面図である。
【図９】図３のプローブピンが短絡用電極の表面に接触している状態を示す断面図である。
【図１０】この発明の実施の形態１によるプローブピンのピン先端部の形状の他の例を示す拡大図である。
【図１１】この発明の実施の形態１によるプローブピンのピン先端部の形状の他の例を示す拡大図である。
【図１２】この発明の実施の形態２による導通検査用治具のプローブを示す断面図である。
【図１３】この発明の実施の形態３による導通検査用治具のプローブを示す断面図である。
【図１４】この発明の実施の形態４による導通検査用治具のプローブを示す断面図である。
【図１５】図１４のプローブピンのピン先端部を示す拡大図である。
【図１６】この発明の実施の形態５による導通検査用治具のプローブを示す断面図である。
【図１７】この発明の実施の形態６による導通検査用治具のプローブを示す断面図である。
【図１８】この発明の実施の形態７による導通検査用治具のプローブを示す断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１による導通検査用治具が端子台に取り付けられている状態を示す斜視図である。制御盤、配電盤等の電気機器では、導通検査の対象である端子台１がボックスに取り付けられている。端子台１は、一列に並んだ複数の端子台部品２を有している。
【００１２】
端子台１の導通検査をするときには、導通検査用治具３が端子台１に配置される。導通検査用治具３は、複数のプローブ４を有している。複数のプローブ４は、複数の端子台部品２の位置に合わせて一列に並んでいる。この例では、複数のプローブ４が一列に連続して連結されている。
【００１３】
図２は、図１の端子台１を示す斜視図である。また、図３は、図１の端子台１及び導通検査用治具３を示す断面図である。各端子台部品２は、図３に示すように、絶縁体である支持部材２１と、支持部材２１に設けられた金属製の導電性部材２２と、導電性部材２２に組み合わされている弾性体である複数の接続用ばね２３とを有している。
【００１４】
支持部材２１には、複数の電線挿入穴２１１と、各電線挿入穴２１１に個別に対応する複数の解除具挿入穴２１２と、短絡具挿入溝２１３とが設けられている。各解除具挿入穴２１２は、対応する電線挿入穴２１１に隣接している。この例では、４つの電線挿入穴２１１と、４つの解除具挿入穴２１２と、１つの短絡具挿入溝２１３とが支持部材２１に設けられている。また、この例では、短絡具挿入溝２１３の両側に電線挿入穴２１１及び解除具挿入穴２１２が２つずつ設けられている。互いに隣接する電線挿入穴２１１及び解除具挿入穴２１２は、支持部材２１の内部で互いに連通している。端子台１では、図２に示すように、複数の端子台部品２が並ぶ方向へ複数の短絡具挿入溝２１３が連続している。
【００１５】
導電性部材２２は、図３に示すように、複数の電線挿入穴２１１に個別に配置された複数の結線用電極２２１と、短絡具挿入溝２１３に配置された短絡用電極２２２とを有している。各結線用電極２２１及び短絡用電極２２２は、互いに電気的に接続されている。端子台１では、複数の端子台部品２が並ぶ方向へ複数の結線用電極２２１が一列に並んでいる。また、端子台１では、複数の端子台部品２が並ぶ方向へ複数の短絡用電極２２２が一列に並んでいる。
【００１６】
各接続用ばね２３は、解除具挿入穴２１２に個別に配置されている。また、互いに連通する電線挿入穴２１１及び解除具挿入穴２１２では、接続用ばね２３の弾性復元力によって接続用ばね２３が結線用電極２２１に押し付けられている。電線挿入穴２１１に挿入された電線は、接続用ばね２３と結線用電極２２１との間に挟まることにより結線用電極２２１に電気的に接続される。また、ドライバ等の解除具が解除具挿入穴２１２に挿入されて解除具によって接続用ばね２３が弾性的に変形すると、接続用ばね２３と結線用電極２２１との間から電線が外れる。これにより、結線用電極２２１に対する電線の電気的な接続が解除される。
【００１７】
各端子台部品２の短絡用電極２２２には、短絡部材であるジャンパピン２４が接続可能になっている。ジャンパピン２４は、図２に示すように、一対の接続端部２４ａを持つＵ字状の導体である。また、各端子台部品２では、２つのジャンパピン２４を並べて配置可能な第１列及び第２列のスペースが短絡具挿入溝２１３に確保されている。これにより、短絡用電極２２２には、短絡具挿入溝２１３の第１列に配置されたジャンパピン２４の接続端部２４ａと、短絡具挿入溝２１３の第２列に配置されたジャンパピン２４の接続端部２４ａとが同時に接続可能になっている。
【００１８】
互いに隣り合う２つの端子台部品２のそれぞれの短絡用電極２２２は、ジャンパピン２４を介して互いに短絡可能になっている。２つの短絡用電極２２２が互いに短絡されている状態では、ジャンパピン２４の一方の接続端部２４ａが一方の短絡用電極２２２に接続され、ジャンパピン２４の他方の接続端部２４ａが他方の短絡用電極２２２に接続されている。
【００１９】
この例では、連続する４つの端子台部品２の短絡具挿入溝２１３に３つのジャンパピン２４が挿入されている。また、３つのジャンパピン２４は、複数の端子台部品２が並ぶ方向について位置をずらしながら、短絡具挿入溝２１３の第１列と第２列とに交互に挿入されている。この例では、３つのジャンパピン２４のうち、１つのジャンパピン２４が短絡具挿入溝２１３の第１列に挿入され、２つのジャンパピン２４が短絡具挿入溝２１３の第２列に挿入されている。これにより、この例では、連続する４つの端子台部品２のそれぞれの短絡用電極２２２が３つのジャンパピン２４によって互いに電気的に短絡されている。
【００２０】
図４は、図１のプローブ４を示す正面図である。また、図５は、図４のプローブ４を示す側面図である。さらに、図６は、図４のプローブ４を示す断面図である。各プローブ４は、筒状のケース４１と、プローブピン４２と、可動ブロック４３と、保持機構部４４と、付勢ばね４５と、復帰部材４６とを有している。
【００２１】
ケース４１の一端部には、第１の開口部４１１が設けられている。ケース４１の他端部には、第２の開口部４１２が設けられている。ケース４１の側面には、ケース４１の長手方向に沿った長穴である信号取出用穴４１３が設けられている。ケース４１は、電気絶縁性を持つ材料で構成されている。
【００２２】
プローブピン４２は、本体部４２１と、本体部４２１を貫通する導電ピン４２２とを有している。本体部４２１は、ケース４１の内部に配置されたピンブロック４２１ａと、ピンブロック４２１ａから延びる棒状部４２１ｂとを有している。
【００２３】
ピンブロック４２１ａは、ケース４１の内面に案内されながらケース４１の長手方向へ変位される。棒状部４２１ｂは、第１の開口部４１１に通されている。棒状部４２１ｂの幅は、ピンブロック４２１ａの幅よりも小さくなっている。また、棒状部４２１ｂの幅は、短絡具挿入溝２１３の第１列及び第２列のそれぞれの幅よりも小さくなっている。これにより、短絡具挿入溝２１３の第１列及び第２列の一方にジャンパピン２４が配置されている場合でも、第１列及び第２列の他方にプローブピン４２が挿入可能になっている。
【００２４】
導電ピン４２２の一端部は、ピン先端部４２２ａとして棒状部４２１ｂの端部から露出している。導電ピン４２２の他端部は、ピンブロック４２１ａの側面から信号取出部４２２ｂとして出ている。信号取出部４２２ｂは、ピンブロック４２１ａの側面から信号取出用穴４１３を通ってケース４１の外部に達している。
【００２５】
プローブピン４２は、ケース４１の長手方向について互いに離れた前進位置と後退位置との間でケース４１に対して変位可能になっている。また、プローブピン４２は、棒状部４２１ｂを第１の開口部４１１に通した状態でケース４１に対して変位される。これにより、プローブピン４２が前進位置にあるときには、プローブピン４２の一部が第１の開口部４１１からケース４１の外部へ突出部として突出している。導電ピン４２２のピン先端部４２２ａは、プローブピン４２の突出部の端部になっている。
【００２６】
プローブピン４２は、前進位置から後退位置に向かって変位されることにより第２の開口部４１２に近づく。従って、ケース４１の外部に突出するプローブピン４２の突出部の長さは、プローブピン４２が前進位置から後退位置に向かって変位されることによって短くなる。信号取出部４２２ｂは、前進位置と後退位置との間でのプローブピン４２の変位に応じて信号取出用穴４１３に沿って変位される。図４〜図６では、プローブピン４２が前進位置にあるときのプローブ４が示されている。
【００２７】
図７は、図６のピン先端部４２２ａが短絡用電極２２２の表面２２２ａに接触している状態を示す拡大図である。この例では、ピン先端部４２２ａの形状が半球状になっている。短絡用電極２２２の表面２２２ａは、平面になっている。これにより、この例では、ピン先端部４２２ａが短絡用電極２２２の表面２２２ａに点接触状態で接触する。
【００２８】
可動ブロック４３は、図６に示すように、ケース４１の内部に変位可能に設けられた可動部である。また、可動ブロック４３は、ケース４１の長手方向へケース４１に対して変位可能になっている。さらに、可動ブロック４３は、プローブピン４２と第２の開口部４１２との間に配置されている。
【００２９】
保持機構部４４は、ケース４１の内部の保持位置に可動ブロック４３を保持する。ケース４１の内面には、ケース側凹部４１４が設けられている。この例では、ケース側凹部４１４の断面形状がＶ字状になっている。可動ブロック４３の側面には、可動部側凹部４３１が設けられている。可動ブロック４３が保持位置にあるときには、可動部側凹部４３１がケース側凹部４１４に対向している。
【００３０】
保持機構部４４は、可動部側凹部４３１に挿入可能なボール４４１と、ケース側凹部４１４にボール４４１を押圧する押圧体である押圧ばね４４２とを有している。押圧ばね４４２は、可動部側凹部４３１の底面とボール４４１との間で縮められている。ボール４４１は、押圧ばね４４２の弾性復元力によってケース側凹部４１４に押圧されている。保持機構部４４は、ボール４４１がケース側凹部４１４に嵌った状態を押圧ばね４４２の押圧力によって保つことにより、可動ブロック４３を保持位置に保持する。
【００３１】
付勢ばね４５は、可動ブロック４３とプローブピン４２との間に設けられている。また、付勢ばね４５は、可動ブロック４３とプローブピン４２との間で縮められている。これにより、付勢ばね４５は、可動ブロック４３とプローブピン４２とが互いに離れる方向へ弾性復元力を発生している。
【００３２】
付勢ばね４５の弾性復元力の大きさは、プローブピン４２と可動ブロック４３との間の距離が小さくなるほど大きくなる。これにより、可動ブロック４３が付勢ばね４５から受ける力の大きさは、プローブピン４２が可動ブロック４３に近づくほど大きくなる。保持機構部４４は、プローブピン４２が可動ブロック４３に近づきながら後退位置に向かって変位されるとき、付勢ばね４５から可動ブロック４３が受ける力の大きさが設定値を超えると、保持位置での可動ブロック４３の保持を解除する。即ち、保持位置での可動ブロック４３の保持は、ボール４４１が押圧ばね４４２の押圧力に逆らってケース側凹部４１４から外れることにより解除される。可動ブロック４３は、保持位置での保持が解除されると、付勢ばね４５の付勢力によって第２の開口部４１２に向けて変位される。
【００３３】
復帰部材４６は、可動ブロック４３に設けられている。これにより、復帰部材４６は、ケース４１の内部で可動ブロック４３と一体に変位される。また、復帰部材４６は、可動ブロック４３から第２の開口部４１２に向けて延びる軸部４６１と、軸部４６１の端部に設けられた板状の押さえ部４６２とを有している。
【００３４】
軸部４６１は、第２の開口部４１２に通されている。押さえ部４６２は、ケース４１の外部に位置している。復帰部材４６の一部は、第２の開口部４１２に近づく方向への可動ブロック４３の変位によって、第２の開口部４１２から操作部として突出する。操作部の長さは、可動ブロック４３が第２の開口部４１２に近づくほど長くなる。
【００３５】
導通検査用治具３では、各プローブピン４２の突出部が第１の開口部４１１から突出する方向がすべて同じになっている。プローブピン４２のピン先端部４２２ａは、短絡具挿入溝２１３に挿入されることにより短絡用電極２２２に接触可能になっている。ピン先端部４２２ａは、短絡用電極２２２に接触することにより短絡用電極２２２と電気的に接続される。これにより、複数のプローブ４は、各短絡用電極２２２に個別に電気的に接続可能になっている。この例では、導通検査時にプローブ４を電気的に接続させる検査電極として短絡用電極２２２が用いられている。
【００３６】
各プローブ４のそれぞれの信号取出部４２２ｂには、図示しない共通の導通検査装置が電気的に接続されている。導通検査装置は、例えば結線用電極２２１に接触可能なリード棒を有している。また、導通検査装置は、各信号取出部４２２ｂのそれぞれとリード棒との間での導通の有無を検査する。導通検査は、導通検査装置のリード棒を結線用電極２２１に接触させることにより行われる。
【００３７】
次に、端子台１に対する導通検査を行うときの手順について説明する。この例では、図２に示すように、３つのジャンパピン２４が取り付けられた端子台１に対して導通検査を行う場合について説明する。端子台１に対する導通検査を行うときには、まず導通検査用治具３を端子台１に配置する。
【００３８】
導通検査用治具３を端子台１に配置するときには、図１に示すように、各プローブ４の位置を各端子台部品２の位置に合わせて、各プローブピン４２が各端子台部品２の短絡具挿入溝２１３に挿入される方向へ導通検査用治具３を押す。このとき、ジャンパピン２４が存在する位置では、プローブピン４２がジャンパピン２４に干渉する。即ち、ジャンパピン２４がプローブピン４２の干渉物となり、短絡具挿入溝２１３へのプローブピン４２の挿入がジャンパピン２４によって阻止される。
【００３９】
この後、プローブ４が短絡具挿入溝２１３に挿入される方向へ導通検査用治具３をさらに押すと、ジャンパピン２４によってプローブ４がケース４１の内部に押し込まれながら、ケース４１が端子台１に近づく。これにより、プローブピン４２が可動ブロック４３に近づきながら後退位置に向かって変位される。プローブピン４２が可動ブロック４３に近づくと、付勢ばね４５が縮む。付勢ばね４５が縮むと、付勢ばね４５の弾性復元力の大きさが大きくなる。
【００４０】
この後、付勢ばね４５の弾性復元力の大きさが設定値を超えると、保持機構部４４による可動ブロック４３の保持が解除される。これにより、可動ブロック４３が付勢ばね４５の弾性復元力によって第２の開口部４１２に向かって変位される。このとき、復帰部材４６が可動ブロック４３と一体に変位される。これにより、復帰部材４６の一部が第２の開口部４１２から操作部として大きく突出する。
【００４１】
可動ブロック４３の保持が解除された後も、プローブ４が短絡具挿入溝２１３に挿入される方向へ導通検査用治具３をさらに変位させると、ジャンパピン２４が存在する位置では、図８に示すように、プローブピン４２がジャンパピン２４に押されて後退位置に達する。ジャンパピン２４が存在する位置では、プローブピン４２と短絡用電極２２２との間に干渉物としてのジャンパピン２４が介在することから、短絡用電極２２２にプローブピン４２が接触することはない。
【００４２】
一方、ジャンパピン２４が存在しない位置では、干渉物がないので、プローブピン４２がケース４１から突出したまま短絡具挿入溝２１３に挿入される。このとき、第２の開口部４１２から突出する復帰部材４６の部分の長さは変化しない。プローブピン４２が短絡具挿入溝２１３に挿入されると、図９に示すように、検査電極としての短絡用電極２２２の表面２２２ａにピン先端部４２２ａが接触する。これにより、プローブ４が短絡用電極２２２に電気的に接続される。
【００４３】
即ち、各プローブ４が各短絡具挿入溝２１３に挿入される方向へ導通検査用治具３を押すと、干渉物であるジャンパピン２４が存在する位置でプローブピン４２がケース４１の内部に押し込まれる。これにより、ジャンパピン２４が存在しない位置では、短絡具挿入溝２１３へのプローブピン４２の挿入が可能になる。
【００４４】
この例では、図２の右から２番目及び３番目のそれぞれの端子台部品２の短絡具挿入溝２１３の第１列にジャンパピン２４が配置されている。従って、この例では、図１の右から２番目及び３番目のそれぞれのプローブピン４２がケース４１の内部に押し込まれ、他のプローブピン４２がそのまま短絡具挿入溝２１３に挿入される。
【００４５】
ピン先端部４２２ａを短絡用電極２２２の表面２２２ａに接触させた後、端子台１にケース４１をさらに近づける。これにより、プローブ４が短絡用電極２２２に付勢ばね４５の弾性復元力で押圧される。このようにして、短絡用電極２２２に対するピン先端部４２２ａの接触状態を安定させる。
【００４６】
この後、各プローブ４のそれぞれの信号取出部４２２ｂからの信号を導通検査装置で読み取ることにより、複数の端子台部品２の結線用電極２２１に接続された電線の間の導通の有無を検査する。
【００４７】
ここで、図２に示す端子台１では、図２の右から１番目から４番目までの各端子台部品２の短絡用電極２２２同士が３つのジャンパピン２４によって短絡されている。また、図２の右から２番目及び３番目の各端子台部品２では、プローブピン４２がジャンパピン２４と干渉することにより、導通検査用治具３が短絡用電極２２２に電気的に接続されていない。従って、例えば、図２の右から２番目及び３番目の端子台部品２に接続された電線の導通検査を行うときには、図２の右から１番目又は４番目の端子台部品２の短絡用電極２２２に電気的に接続されたプローブ４から取り出された信号を使用する。
【００４８】
導通検査の後、保持位置での可動ブロック４３の保持が解除されたプローブ４については、ケース４１から大きく突出した復帰部材４６をケース４１の内部に押し込むことにより、プローブ４の状態を復帰させる。即ち、復帰部材４６をケース４１の内部に押し込んで可動ブロック４３をケース４１の内部の保持位置に変位させる。可動ブロック４３がケース４１の内部の保持位置に達すると、押圧ばね４４２の弾性復元力でボール４４１がケース側凹部４１４に嵌る。これにより、可動ブロック４３が保持位置に自動的に保持され、プローブ４の状態が復帰する。
【００４９】
このような導通検査用治具３では、プローブピン４２が前進位置と後退位置との間でケース４１の内部を変位可能になっている。また、プローブピン４２が前進位置にあるときには、プローブピン４２の一部が突出部として第１の開口部４１１から突出している。さらに、プローブピン４２の突出部の長さは、プローブピン４２が前進位置から後退位置に向かって変位されることによって短くなる。このため、干渉物が一部の短絡用電極２２２に接続されていても、干渉物が存在する位置では、干渉物によってプローブピン４２をケース４１の内部へ後退させることができる。これにより、ジャンパピン２４が存在しない位置における他のプローブ４を短絡用電極２２２に電気的に接続させることができる。このようなことから、端子台１に干渉物が設けられているか否かにかかわらず、導通検査用治具３を端子台１にワンタッチで配置することができ、端子台１に対する導通検査を容易に行うことができる。
【００５０】
また、保持機構部４４は、ケース４１の内部の保持位置に可動ブロック４３を保持する。さらに、保持機構部４４は、付勢ばね４５から可動ブロック４３が受ける力の大きさが設定値を超えると可動ブロック４３の保持を解除する。このため、プローブピン４２が干渉物に押し付けられるときの力が過大になることを防止することができる。これにより、プローブピン４２及び干渉物が破損することを抑制することができる。
【００５１】
また、保持機構部４４では、ボール４４１が押圧ばね４４２の押圧力によってケース側凹部４１４に押圧されている。これにより、可動ブロック４３を簡単な構成で保持位置に保持することができる。
【００５２】
また、復帰部材４６の一部は、第２の開口部４１２に近づく方向への可動ブロック４３の変位によって、第２の開口部４１２から操作部として突出する。このため、保持機構部４４による可動ブロック４３の保持が解除されたときに、第２の開口部４１２からケース４１の外部へ復帰部材４６を突出させることができる。これにより、第２の開口部４１２から突出した復帰部材４６の操作部をケース４１の内部に押し込むだけで、可動ブロック４３をケース４１の内部の保持位置に変位させることができ、プローブ４の状態を容易に復帰させることができる。また、干渉物が存在する位置で復帰部材４６が第２の開口部４１２から突出することから、干渉物が存在する位置を容易に確認することができる。このため、端子台１に対する導通検査をさらに容易に行うことができる。
【００５３】
なお、上記の例では、ピン先端部４２２ａの形状が半球状になっている。しかし、ピン先端部４２２ａの形状は、これに限定されない。例えば、図１０に示すように、ピン先端部４２２ａの形状を円錐状にしてもよい。このようにすれば、例えば、短絡用電極２２２に設けられた穴にピン先端部４２２ａを嵌めやすくすることができ、短絡用電極２２２に対するピン先端部４２２ａの接触状態を安定させることができる。また、図１１に示すように、ピン先端部４２２ａの形状を平面状にしてもよい。このようにすれば、短絡用電極２２２の表面２２２ａに対するピン先端部４２２ａの接触面積を大きくすることができ、短絡用電極２２２に対するピン先端部４２２ａの電気的な接続をより確実にすることができる。即ち、プローブピン４２の突出部の端部であるピン先端部４２２ａの形状は、ピン先端部４２２ａに対向する短絡用電極２２２の形状に合わせた形状にされていてもよい。このようにすれば、短絡用電極２２２に対するピン先端部４２２ａの電気的な接続を安定させることができる。
【００５４】
実施の形態２．
実施の形態１では、ケース４１の内部の保持位置に可動ブロック４３が保持機構部４４によって保持されているが、可動ブロック４３及び保持機構部４４はなくてもよい。
【００５５】
即ち、図１２は、この発明の実施の形態２による導通検査用治具のプローブ４を示す断面図である。付勢ばね４５は、ケース４１の内面とプローブピン４２との間に設けられている。また、付勢ばね４５は、プローブピン４２を第２の開口部４１２から遠ざける方向へ弾性復元力を発生している。これにより、付勢ばね４５は、前進位置に向けてプローブピン４２を付勢している。
【００５６】
復帰部材４６は、プローブピン４２のピンブロック４２１ａに固定されている。これにより、復帰部材４６は、ケース４１の内部でプローブピン４２と一体に変位される。また、復帰部材４６は、プローブピン４２に固定された軸部４６１と、軸部４６１の端部に設けられた板状の押さえ部４６２とを有している。軸部４６１は、付勢ばね４５の内側及び第２の開口部４１２を通っている。押さえ部４６２は、ケース４１の外部に位置している。復帰部材４６の一部は、プローブピン４２の後退位置への変位によって、第２の開口部４１２からケース４１の外部へ操作部として突出する。他の構成は実施の形態１と同様である。
【００５７】
次に、端子台１に対する導通検査を行うときの手順について説明する。まず実施の形態１と同様にして、各プローブ４の位置を各端子台部品２の位置に合わせて、各プローブピン４２が各端子台部品２の短絡具挿入溝２１３に挿入される方向へ導通検査用治具３を押す。
【００５８】
プローブ４が短絡具挿入溝２１３に挿入される方向へ導通検査用治具３を押すと、ジャンパピン２４が干渉物として存在する位置では、プローブ４がジャンパピン２４に干渉した後、プローブピン４２がケース４１の内部に押し込まれながらケース４１が端子台１に近づく。これにより、プローブピン４２は、付勢ばね４５の弾性復元力に逆らって、第２の開口部４１２に近づきながら後退位置に向かって変位される。このとき、復帰部材４６の一部が第２の開口部４１２から操作部として突出する。
【００５９】
この後、プローブ４が短絡具挿入溝２１３に挿入される方向へ導通検査用治具３をさらに変位させると、ジャンパピン２４が存在する位置では、プローブピン４２がケース４１の内部に押し込まれて後退位置に達する。一方、ジャンパピン２４が存在しない位置では、短絡用電極２２２の表面２２２ａにピン先端部４２２ａが接触し、プローブ４が短絡用電極２２２に電気的に接続される。このようにして、導通検査用治具３が端子台１に配置される。この後、実施の形態１と同様にして導通検査装置による導通検査を行う。
【００６０】
導通検査の後、導通検査用治具３を端子台１から外すと、プローブピン４２がケース４１の内部に押し込まれていたプローブ４が付勢ばね４５の弾性復元力によって前進位置へ自動的に変位される。これにより、プローブ４の状態が自動的に復帰する。
【００６１】
このような導通検査用治具３では、プローブピン４２を前進位置に向けて付勢する付勢ばね４５がケース４１の内面とプローブピン４２との間に配置されている。このため、可動ブロック４３及び保持機構部４４が不要になり、プローブ４の構成を簡単にすることができる。これにより、導通検査用治具３の小型化及び低コスト化を図ることができる。また、ケース４１の内部にプローブピン４２が干渉物で押し込まれた状態を解除すると、付勢ばね４５の付勢力によってプローブピン４２を自動的に前進位置へ変位させることができる。これにより、プローブ４の状態を容易に復帰させることができる。
【００６２】
また、復帰部材４６は、プローブピン４２と一体に変位される。このため、復帰部材４６に加わった力をプローブピン４２に直接伝達することができる。これにより、例えば、経年劣化によってプローブピン４２がケース４１の内部で変位しづらくなった状態でも、第２の開口部４１２から突出した復帰部材４６の操作部をケース４１の内部に押し込むことにより、前進位置へプローブピン４２をより確実に変位させることができる。即ち、プローブ４の状態をより確実に復帰させることができる。
【００６３】
実施の形態３．
実施の形態２では、復帰部材４６がプローブピン４２に固定されている。しかし、実施の形態２の復帰部材４６はなくてもよい。
【００６４】
即ち、図１３は、この発明の実施の形態３による導通検査用治具のプローブ４を示す断面図である。実施の形態３では、復帰部材４６がプローブピン４２に設けられていない。また、ケース４１には、第２の開口部４１２が設けられていない。これにより、ケース４１における第１の開口部４１１とは反対側の端部は、塞がっている。他の構成及び手順は実施の形態２と同様である。
【００６５】
このようにすれば、復帰部材４６をなくすことができる。このため、プローブ４の構成をさらに簡単にすることができる。これにより、導通検査用治具３の小型化及び低コスト化をさらに図ることができる。
【００６６】
実施の形態４．
実施の形態２では、付勢ばね４５がケース４１の内面とプローブピン４２との間に設けられている。しかし、実施の形態２の付勢ばね４５はなくてもよい。
【００６７】
即ち、図１４は、この発明の実施の形態４による導通検査用治具のプローブ４を示す断面図である。また、図１５は、図１４のプローブピン４２のピン先端部４２２ａを示す拡大図である。実施の形態４では、付勢ばね４５がプローブ４に含まれていない。これにより、プローブピン４２は、自重によって前進位置へ変位される。
【００６８】
導通検査用治具３は、図示しない保持具で保持された状態で端子台１に配置される。また、導通検査用治具３は、図１５に示すように、短絡用電極２２２の表面２２２ａに対して一定の隙間だけ離してプローブピン４２のピン先端部４２２ａを対向させた状態で端子台１に配置される。ピン先端部４２２ａは、短絡用電極２２２の表面２２２ａに接触しない程度に可能な限り近づける。これにより、短絡用電極２２２の表面２２２ａとプローブピン４２のピン先端部４２２ａとがコンデンサカップリングする。即ち、短絡用電極２２２の表面２２２ａとプローブピン４２のピン先端部４２２ａとの間では、交流信号によって電気的な接続が可能になる。プローブピン４２は、短絡用電極２２２の表面２２２ａとピン先端部４２２ａとのコンデンサカップリングによって短絡用電極２２２に電気的に接続される。従って、導通検査装置による端子台１の導通検査は、交流信号を用いて行う。
【００６９】
ジャンパピン２４等の干渉物が存在する位置では、ケース４１が端子台１に向かって変位されることにより、プローブピン４２の自重に逆らってプローブピン４２が干渉物に押されながら前進位置から後退位置に向かって変位される。これにより、プローブピン４２が干渉物によってケース４１の内部に押し込まれる。
【００７０】
プローブピン４２のピン先端部４２２ａの形状は、ピン先端部４２２ａに対向する短絡用電極２２２の形状に合わせた形状である。この例では、短絡用電極２２２の表面２２２ａの形状が平面状である。また、この例では、プローブピン４２のピン先端部４２２ａの形状が平面状である。他の構成は実施の形態２と同様である。
【００７１】
このような導通検査用治具３では、ピン先端部４２２ａが短絡用電極２２２の表面２２２ａに対して一定の隙間だけ離れて対向する。このため、短絡用電極２２２にプローブピン４２のピン先端部４２２ａを交流信号によって電気的に接続することができる。これにより、短絡用電極２２２にピン先端部４２２ａを押し付ける必要がなくなる。従って、各プローブ４から付勢ばね４５をなくすことができ、導通検査用治具３の部品点数の低減化を図ることができる。
【００７２】
また、プローブピン４２のピン先端部４２２ａの形状は、短絡用電極２２２の形状に合わせた平面状になっている。このため、短絡用電極２２２に対向するピン先端部４２２ａの面積を大きくすることができ、短絡用電極２２２に対するピン先端部４２２ａの電気的な接続を安定させることができる。
【００７３】
実施の形態５．
実施の形態４では、復帰部材４６がプローブピン４２に固定されている。しかし、実施の形態５の復帰部材４６はなくてもよい。
【００７４】
即ち、図１６は、この発明の実施の形態５による導通検査用治具のプローブ４を示す断面図である。実施の形態５では、復帰部材４６がプローブピン４２に設けられていない。また、ケース４１には、第２の開口部４１２が設けられていない。これにより、ケース４１における第１の開口部４１１とは反対側の端部は、塞がっている。他の構成及び手順は実施の形態４と同様である。
【００７５】
このようにすれば、付勢ばね４５及び復帰部材４６をなくすことができる。このため、プローブ４の構成をさらに簡単にすることができる。これにより、導通検査用治具３の小型化及び低コスト化をさらに図ることができる。
【００７６】
なお、実施の形態４及び５では、プローブピン４２のピン先端部４２２ａが短絡用電極２２２にコンデンサカップリングによって電気的に接続されるようになっている。しかし、ピン先端部４２２ａが短絡用電極２２２に接触することによってピン先端部４２２ａが短絡用電極２２２に電気的に接続されるようにしてもよい。
【００７７】
実施の形態６．
図１７は、この発明の実施の形態６による導通検査用治具のプローブ４を示す断面図である。プローブ４は、ケース４１と、プローブピン４２と、可動ブロック５１と、復帰部材５２と、付勢ばね５３と、電磁コイル５４と、図示しない制御部とを有している。
【００７８】
ケース４１には、信号取出用穴４１３が設けられていない。ケース４１の他の構成は、実施の形態１と同様である。
【００７９】
プローブピン４２は、棒状の導電ピンである。プローブピン４２の端部は、ピン先端部４２２ａになっている。プローブピン４２は、前進位置と後退位置との間でケース４１の内部を変位可能になっている。また、プローブピン４２は、第１の開口部４１１を通っている。これにより、プローブピン４２が前進位置にあるときには、プローブピン４２の一部が第１の開口部４１１から突出部としてケース４１の外部へ突出している。プローブピン４２の突出部の長さは、プローブピン４２が前進位置から後退位置に向かって変位されることによって短くなる。
【００８０】
可動ブロック５１は、ケース４１の内部でプローブピン４２と一体に変位される可動部である。また、可動ブロック５１は、磁性材料で構成されている。可動ブロック５１の幅は、プローブピン４２の幅よりも大きくなっている。可動ブロック５１は、プローブピン４２が前進位置に向かって変位されることによって第１の開口部４１１に近づく。また、可動ブロック５１は、プローブピン４２が後退位置に向かって変位されることによって第２の開口部４１２に近づく。
【００８１】
復帰部材５２は、可動ブロック５１と一体に変位される。また、復帰部材５２は、可動ブロック５１の第２の開口部４１２側の部分に設けられている。復帰部材５２の一部は、第２の開口部４１２からケース４１の外部へ操作部として突出している。復帰部材５２の操作部の長さは、プローブピン４２が前進位置に向かって変位されることによって短くなる。また、復帰部材５２の操作部の長さは、プローブピン４２が後退位置に向かって変位されることによって長くなる。
【００８２】
プローブピン４２、可動ブロック５１及び復帰部材５２は、導電性部材である。この例では、プローブピン４２、可動ブロック５１及び復帰部材５２が、同一の金属部材から形成された金属製の単一材になっている。また、この例では、復帰部材５２の操作部が信号取出部になっている。これにより、この例では、導通検査装置が復帰部材５２の操作部に電気的に接続されている。複数の端子台部品２の結線用電極２２１に接続された電線の間の導通の有無は、各プローブ４のそれぞれの信号取出部からの信号に基づいて導通検査装置によって検査される。
【００８３】
付勢ばね５３は、プローブピン４２が後退位置に変位される方向へ復帰部材５２の操作部を付勢する付勢体である。復帰部材５２の操作部には、ストッパとしてばね受けリング５５が設けられている。付勢ばね５３は、ケース４１の外面とばね受けリング５５との間に配置されている。また、付勢ばね５３は、ケース４１とばね受けリング５５との間で縮められている。これにより、付勢ばね５３は、ケース４１とばね受けリング５５とが互いに離れる方向へ弾性復元力を発生している。付勢ばね５３の弾性復元力は、プローブピン４２を後退位置へ付勢する付勢力として復帰部材５２の操作部に与えられている。
【００８４】
電磁コイル５４は、ケース４１の内部に設けられている。また、電磁コイル５４は、可動ブロック５１の周囲に設けられている。可動ブロック５１と第１の開口部４１１との間には、磁性材料で構成された受け部材５６が設けられている。プローブピン４２は、受け部材５６を貫通している。
【００８５】
電磁コイル５４への通電が行われると、受け部材５６に向けて可動ブロック５１を吸引させる電磁力が発生する。これにより、プローブピン４２は、前進位置に変位される。即ち、電磁コイル５４は、プローブピン４２が前進位置に変位される方向へ可動ブロック５１を変位させる電磁力を通電によって発生する。可動ブロック５１は、電磁コイル５４の電磁力によって付勢ばね５３の付勢力に逆らって変位される。
【００８６】
制御部は、電磁コイル５４への通電を制御する給電制御装置である。また、制御部は、各プローブ４のそれぞれの電磁コイル５４への通電を個別に制御可能になっている。電磁コイル５４への通電が停止された状態では、付勢ばね５３の付勢力によってプローブピン４２が後退位置に達している。電磁コイル５４への通電が行われると、電磁コイル５４の電磁力によって、プローブピン４２が付勢ばね５３の付勢力に逆らって前進位置に変位される。他の構成は実施の形態１と同様である。
【００８７】
導通検査を行うために端子台１に導通検査用治具３を配置するとき、ジャンパピン２４が干渉物として存在する位置に配置されるプローブ４については、電磁コイル５４への通電を制御部の制御によって予め停止させておく。電磁コイル５４への通電が停止されたプローブ４では、プローブピン４２が付勢ばね５３の付勢力によって後退位置に変位される。これにより、干渉物に対するプローブピン４２の干渉が回避される。
【００８８】
一方、干渉物が存在しない位置に配置されるプローブ４については、電磁コイル５４への通電を制御部の制御によって行う。電磁コイル５４への通電が行われたプローブ４では、付勢ばね５３の付勢力に逆らってプローブピン４２が前進位置に変位される。プローブピン４２が前進位置に達している状態では、検査電極としての短絡用電極２２２の表面２２２ａにプローブピン４２のピン先端部４２２ａが接触可能になる。ピン先端部４２２ａが短絡用電極２２２の表面２２２ａに接触することにより、プローブピン４２が短絡用電極２２２に電気的に接続される。導通検査の他の手順は実施の形態１と同様である。
【００８９】
このような導通検査用治具３では、プローブピン４２が後退位置に変位される方向へ可動ブロック５１が付勢ばね５３の付勢力によって付勢され、プローブピン４２が前進位置に変位される方向へ可動ブロック５１が電磁コイル５４の電磁力によって変位される。このため、実施の形態１のような保持機構部４４をケース４１の内部に設ける必要がなくなる。これにより、プローブ４の構成を簡単にすることができる。また、各プローブ４のそれぞれのプローブピン４２の位置を個別に制御することができる。これにより、各プローブ４のそれぞれにおいてプローブピン４２が前進位置及び後退位置のいずれに変位されているかを制御部によって把握することができる。従って、各プローブ４のそれぞれの状態をより確実に把握することができ、導通検査用治具３を用いた導通検査をさらに正確に行うことができる。
【００９０】
実施の形態７．
図１８は、この発明の実施の形態７による導通検査用治具のプローブ４を示す断面図である。各プローブ４は、検査電極としての短絡用電極２２２とプローブピン４２の突出部との間に干渉物が存在しているかどうかを検出するセンサ６１を有している。センサ６１は、プローブピン４２のピン先端部４２２ａに設けられている。センサ６１としては、例えばレーザ式距離センサ、超音波式距離センサ、タッチセンサ、圧力センサ、カメラ等が挙げられる。
【００９１】
レーザ式距離センサ又は超音波式距離センサがセンサ６１として用いられた場合、センサ６１と干渉物との間の距離が閾値よりも小さくなると、センサ６１が干渉物の存在を検出する。また、タッチセンサ又は圧力センサがセンサ６１として用いられた場合、センサ６１が干渉物に接触すると、センサ６１が干渉物の存在を検出する。さらに、カメラがセンサ６１として用いられた場合、センサ６１からの情報に基づく画像処理によって干渉物が存在しているかどうかが検出される。
【００９２】
プローブピン４２、可動ブロック５１及び復帰部材５２には、センサ６１に電気的に接続された信号線６２が通されている。また、信号線６２は、復帰部材５２から引き出されている。さらに、各プローブ４のそれぞれの信号線６２は、図示しない制御部に電気的に接続されている。制御部は、各プローブ４のそれぞれのセンサ６１からの情報に基づいて、各プローブ４のそれぞれの電磁コイル５４への通電を個別に制御する。即ち、制御部は、センサ６１が干渉物を検出したプローブ４の電磁コイル５４への通電を停止し、センサ６１が干渉物を検出しないプローブ４の電磁コイル５４への通電を行う。他の構成及び導通検査の手順は実施の形態１と同様である。
【００９３】
このような導通検査用治具３では、プローブピン４２の突出部と短絡用電極２２２との間に干渉物が存在するかどうかがセンサ６１によって検出される。また、各プローブ４のそれぞれの電磁コイル５４への通電は、各プローブ４のそれぞれのセンサ６１からの情報に基づいて制御部によって制御される。このため、各プローブ４のそれぞれについて、プローブピン４２と短絡用電極２２２との間に干渉物が存在するかどうかを自動的に検出することができる。これにより、端子台１に導通検査用治具３を配置するときに端子台１に干渉物が存在していても、プローブピン４２が干渉物を自動的に回避することができる。従って、端子台１に干渉物が設けられているか否かにかかわらず、端子台１に対する導通検査をさらに容易に行うことができる。
【００９４】
なお、実施の形態６及び７では、第２の開口部４１２からケース４１の外部へ突出する復帰部材５２が各プローブ４に含まれている。しかし、復帰部材５２はなくてもよい。この場合、ケース４１には、第２の開口部４１２が設けられずにケース４１の端部が塞がれる。また、この場合、可動ブロック５１と受け部材５６との間に付勢ばね５３が縮めて配置される。
【００９５】
また、実施の形態６及び７では、プローブピン４２が後退位置に変位される方向へ付勢ばね５３が可動ブロック５１を付勢し、プローブピン４２が前進位置に変位される方向へ可動ブロック５１を変位させる電磁力を電磁コイル５４への通電によって電磁コイル５４が発生する。しかし、付勢ばね５３の付勢力の方向と、電磁コイル５４の電磁力の方向とを逆にしてもよい。即ち、プローブピン４２が前進位置に変位される方向へ付勢ばね５３が可動ブロック５１を付勢し、プローブピン４２が後退位置に変位される方向へ可動ブロック５１を変位させる電磁力を電磁コイル５４への通電によって電磁コイル５４が発生するようにしてもよい。このようにしても、プローブ４の構成を簡単にすることができる。また、導通検査用治具３を用いた導通検査をさらに正確に行うこともできる。
【符号の説明】
【００９６】
１  端子台、３  導通検査用治具、４  プローブ、４１  ケース、４２  プローブピン、４３  可動ブロック（可動部）、４４  保持機構部、４５  付勢ばね（付勢体）、４６  復帰部材、５１  可動ブロック（可動部）、５３  付勢ばね（付勢体）、５４  電磁コイル、６１  センサ、２２２  短絡用電極（検査電極）、４１１  第１の開口部、４１２  第２の開口部、４２２ａ  ピン先端部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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