(57)【要約】      （修正有）【課題】検査対象物の回転異常を検出可能な検査装置の大型化を抑制することが可能な検査装置を提供する。【解決手段】中心軸Ａｘの軸方向と交差する第一方向から見た場合の形状が中心軸を中心とした回転に応じて変化する形状変化部１００ａ、を有する検査対象物１００を、第一方向から規定の複数回撮像して複数の撮像データを出力する撮像装置３と、撮像装置の複数回の撮像が行なわれている間、検査対象物を中心軸を中心として回転させる回転装置５と、複数の撮像データに基づいて、検査対象物の外観不良を検出する不良検出部と、複数の撮像データにおける形状変化部の形状の変化の態様に基づいて、検査対象物の回転異常を検出する回転異常検出部と、を備える。【選択図】図１
2019117163.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
中心軸の軸方向と交差する第一方向から見た場合の形状が前記中心軸を中心とした回転に応じて変化する形状変化部、を有する検査対象物を、前記第一方向から規定の複数回撮像して複数の撮像データを出力する撮像装置と、
前記撮像装置の前記複数回の撮像が行なわれている間、前記検査対象物を前記中心軸を中心として回転させる回転装置と、
複数の前記撮像データに基づいて、前記検査対象物の外観不良を検出する不良検出部と、
複数の前記撮像データにおける前記形状変化部の形状の変化の態様に基づいて、前記検査対象物の回転異常を検出する回転異常検出部と、
を備えた検査装置。
【請求項２】
前記回転異常検出部は、前記形状変化部の形状の変化の態様が規定の態様の場合には、前記検査対象物の回転は正常であると判定し、前記形状変化部の形状の変化の態様が前記規定の態様以外の場合には、前記検査対象物の回転は異常であると判定する、請求項１に記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、検査対象物を回転させながら検査対象物の外周を撮像して検査対象物の形状不良等の外観不良を検出する検査装置であって、検査対象物の回転異常の有無を検出する、検査装置が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−０６０４５０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来技術では、検査対象物の回転異常の有無の検出において、回転の検出のためにロータリーエンコーダ等の回転検出機構が必要なため、検査装置が大型化してしまうという問題がある。
【０００５】
そこで、本発明の実施形態は、一例としては、検査対象物の回転異常を検出可能な検査装置の大型化を抑制することを目的の一つとする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の実施形態の検査装置は、中心軸の軸方向と交差する第一方向から見た場合の形状が前記中心軸を中心とした回転に応じて変化する形状変化部、を有する検査対象物を、前記第一方向から規定の複数回撮像して複数の撮像データを出力する撮像装置と、前記撮像装置の前記複数回の撮像が行なわれている間、前記検査対象物を前記中心軸を中心として回転させる回転装置と、複数の前記撮像データに基づいて、前記検査対象物の外観不良を検出する不良検出部と、複数の前記撮像データにおける前記形状変化部の形状の変化の態様に基づいて、前記検査対象物の回転異常を検出する回転異常検出部と、を備える。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の実施形態によれば、一例としては、検査対象物の回転異常を検出可能な検査装置の大型化を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、実施形態の検査装置の模式的かつ例示的な側面図である。
【図２】図２は、実施形態の検査対象物の模式的かつ例示的な平面図である。
【図３】図３は、実施形態の検査装置の撮像装置が撮像した検査対象物の撮像データの模式的かつ例示的な図である。
【図４】図４は、実施形態の検査装置の模式的かつ例示的なブロック図である。
【図５】図５は、実施形態の検査装置の制御部の模式的かつ例示的なブロック図である。
【図６】図６は、実施形態の複数の撮像データにおける検査対象物の頭部の幅の計測値を示す図である。
【図７】図７は、実施形態の検査装置の制御部が実行する回転検査処理が示されたフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を参照して、実施形態について説明する。
【００１０】
図１は、検査装置１の模式的かつ例示的な側面図である。本実施形態では、一例として、図１に示されるように、検査装置１の検査対象物がボルト１００である場合を説明する。検査装置１は、ボルト１００を回転させながら当該ボルト１００を撮像した画像に基づいて、当該ボルト１００の形状検査を行なう。また、検査装置１は、ボルト１００の形状検査中に、当該ボルト１００の回転異常の有無の検出も行う。検査装置１は、光源２、撮像装置３、および回転装置５等を備える。
【００１１】
検査対象物であるボルト１００について説明する。図２は、ボルト１００の模式的かつ例示的な平面図である。図１，２に示されるように、ボルト１００は、頭部１００ａと、頭部１００ａから延出した軸部１００ｂ（図１）と、軸部１００ｂの外周面に設けられた雄ネジ部１００ｃ（図１）と、を有する。ボルト１００は、六角ボルトである。すなわち、図２に示されるように、頭部１００ａは、ボルト１００の中心軸の軸方向から見た場合、略正六角形に形成されている。また、図１に示されるように、軸部１００ｂの先端部には、回転装置５への取付けのために凹部１００ｄが設けられている。
【００１２】
図１に示されるように、回転装置５は、回転軸部材５ａと、電動モータ（不図示）と、を有する。回転軸部材５ａは、中心軸Ａｘを中心として回転可能に設けられている。回転軸部材５ａの上端部には、凸部５ｂが設けられている。凸部５ｂは、例えば、中心軸Ａｘを中心とした円柱状に形成されている。凸部５ｂには、ボルト１００の凹部１００ｄが嵌められる。ボルト１００は、凹部１００ｄが凸部５ｂに嵌められることにより、当該ボルト１００の軸心が中心軸Ａｘと略一致する姿勢で、回転軸部材５ａに取り付けられる。電動モータは、回転軸部材５ａ、ひいては回転軸部材５ａに取り付けられたボルト１００を、中心軸Ａｘを中心として回転させる。図２では、一点鎖線で示されるボルト１００は、実線で示されるボルト１００に対して３０度回転した状態である。ここで、本実施形態では、図１，２に示されるように、Ｘ方向、Ｙ方向、およびＺ方向が定義されている。Ｘ方向、Ｙ方向、およびＺ方向は、互いに直交する。Ｘ方向およびＹ方向は、中心軸Ａｘと交差する方向、一例として直交する方向である。すなわち、Ｘ方向およびＹ方向は、中心軸Ａｘの径方向に沿う。Ｚ方向は、検査装置１の上方を示し、中心軸Ａｘの軸方向に沿う。
【００１３】
図２から明らかのように、中心軸Ａｘを中心として回転されるボルト１００を、中心軸Ａｘの軸方向と交差するＸ方向から見た場合、頭部１００ａの幅Ｗが、中心軸Ａｘを中心とした回転に応じて変化する。すなわち、ボルト１００の頭部１００ａは、中心軸Ａｘの軸方向と交差するＸ方向から見た場合の形状が中心軸Ａｘを中心とした回転に応じて変化する。頭部１００ａは、形状変化部の一例であり、Ｘ方向は、第一方向の一例である。なお、以下では、特に言及しない限り、ボルト１００は回転軸部材５ａに取り付けられた状態として説明する。
【００１４】
光源２は、中心軸Ａｘの径方向（図１のＸ方向の反対方向）から、ボルト１００に照明光を照射する位置に配置されている。光源２は、例えば、ＬＥＤや蛍光灯等である。
【００１５】
撮像装置３は、中心軸Ａｘおよびボルト１００に対して光源２の反対側に配置されている。すなわち、撮像装置３と光源２との間に、中心軸Ａｘおよびボルト１００が配置されている。撮像装置３は、ボルト１００をＸ方向から撮像する。形状検査において、撮像装置３は、ボルト１００を、Ｘ方向から規定の複数回撮像して複数の撮像データを出力する。規定の複数回は、例えば、２５回である。なお、規定の複数回は、２５回以外であってもよい。撮像装置３は、例えば、二次元に配列された光電変換素子（光電変換部）を有したエリアセンサである。エリアセンサは、固体撮像素子、例えば、ＣＣＤ（Charge  Coupled  Device）イメージセンサや、ＣＭＯＳ（Complementary  Metal  Oxide  Semiconductor）イメージセンサ等である。
【００１６】
図３は、撮像装置３が撮像したボルト１００の撮像データ５０の模式的かつ例示的な図である。図３に示されるように、撮像データ５０では、ボルト１００の形状はボルト１００の影の形状として示される。
【００１７】
図４は、検査装置１の模式的かつ例示的なブロック図である。図４に示されるように、検査装置１は、制御部４０（例えばＣＰＵ（Central  Processing  Unit）等）や、ＲＯＭ４１（Read  Only  Memory）、ＲＡＭ４２（Random  Access  Memory）、ＳＳＤ４３（Solid  State  Drive）、光照射コントローラ４４、撮像コントローラ４５、回転コントローラ４６、表示コントローラ４７、表示装置６等を備える。
【００１８】
光照射コントローラ４４は、制御部４０からの制御信号に基づいて、光源２の発光（オン、オフ）等を制御する。撮像コントローラ４５は、制御部４０からの制御信号に基づいて、撮像装置３による撮像を制御する。回転コントローラ４６は、制御部４０から受けた制御信号に基づいて、回転装置５を制御し、ボルト１００の回転（開始、停止、速度等）を制御する。表示コントローラ４７は、制御部４０からの制御信号に基づいて、表示装置６を制御する。また、制御部４０は、不揮発性の記憶部としてのＲＯＭ４１やＳＳＤ４３等にインストールされたプログラム（アプリケーション）を読み出して実行する。ＲＡＭ４２は、制御部４０がプログラムを実行して種々の演算処理を実行する際に用いられる各種データを一時的に記憶する。なお、図４に示されるハードウエアの構成はあくまで一例であって、例えばチップやパッケージにする等、種々に変形して実施することが可能である。また、各種演算処理は、並列処理することが可能であり、制御部４０等は、並列処理が可能なハードウエア構成とすることが可能である。
【００１９】
図５は、制御部４０の模式的かつ例示的なブロック図である。制御部４０は、ハードウエアとソフトウエア（プログラム）との協働によって、検査装置１の少なくとも一部として機能（動作）する。すなわち、図５に示されるように、制御部４０は、撮像データ取得部４０ａ、不良検出部４０ｂ、回転異常検出部４０ｃ、および表示制御部４０ｄ等として機能し、検査処理等を実行する。
【００２０】
撮像データ取得部４０ａは、撮像装置３から出力された撮像データ５０を順次取得する。例えば、撮像データ取得部４０ａは、光照射コントローラ４４、撮像コントローラ４５、および回転コントローラ４６を介して、光源２、撮像装置３、および回転装置５を駆動し、ボルト１００を撮像する。詳細には、撮像データ取得部４０ａは、光源２によって照明光をボルト１００に照射した状態で、撮像装置３によってボルト１００を中心軸Ａｘを中心として１回転させる間に、撮像装置３によってボルト１００を規定の複数回撮像して、撮像データ５０を順次取得する。換言すると、撮像データ取得部４０ａは、撮像装置３の複数回の撮像によってボルト１００の中心軸Ａｘ周りの全周が撮像されるように、撮像装置３による複数回の撮像が行なわれている間に、ボルト１００を中心軸Ａｘを中心として１回転させる。このようにして、撮像データ取得部４０ａは、撮像装置３から出力された複数の撮像データ５０を取得する。撮像データ取得部４０ａは、取得した撮像データ５０を所定の記憶部（例えば、ＲＡＭ４２等）に記憶させる。かかる撮像データ取得部４０ａは、一例として、光照射コントローラ４４を制御する光照射制御部４０ａ１と、撮像コントローラ４５を制御する撮像制御部４０ａ２と、回転コントローラ４６を制御する回転制御部４０ａ３と、を有する。
【００２１】
不良検出部４０ｂは、撮像装置３から出力された複数の撮像データ５０に基づいて形状検査処理を実行する。例えば、不良検出部４０ｂは、撮像データ５０と、所定の記憶部（例えば、ＳＳＤ４３や、ＲＯＭ４１等）に記憶された基準画像データと、を比較して、ボルト１００の外観不良の有無を検出する。一例として、不良検出部４０ｂは、撮像データ５０と基準撮像データとを比較して、各点の輝度値の差異を取得する。そして、不良検出部４０ｂは、輝度値の差異が所定の閾値と同じかあるいは超えている点（画素）の群（集合、かたまり、領域）の大きさが、所定数（画素数あるいは面積の閾値）と同じかあるいはより多かった場合には、当該領域を不良領域（異常領域）として検出する。ボルト１００の外観不良は、例えば、ボルト１００の外形不良である。ボルト１００の外形不良は、例えば、ボルト１００のねじ山の形状や、ねじ山の数、切粉残り等である。
【００２２】
回転異常検出部４０ｃは、撮像装置３から出力された複数の撮像データ５０に基づいて回転判定処理を実行する。例えば、回転異常検出部４０ｃは、ボルト１００の頭部１００ａの形状の変化の態様が規定の態様の場合には、ボルト１００の回転は正常であると判定し、頭部１００ａの形状の変化の態様が規定の態様以外の場合には、ボルト１００の回転は異常であると判定する。以下に、回転判定処理の詳細を説明する。なお、ボルト１００の回転の異常は、例えば、回転装置５の故障や、回転軸部材５ａに対するボルト１００の取り付け不良等による回転軸部材５ａに対するボルト１００の滑り等によって発生しうる。
【００２３】
回転異常検出部４０ｃは、一例として、回転判定処理において、第一処理と第二処理とを行なう。回転異常検出部４０ｃは、第一処理および第二処理における共通の処理として、撮像データ５０からエッジ抽出を行なって、撮像データ５０（図３）中のボルト１００の頭部１００ａを検出する。また、回転異常検出部４０ｃは、検出された頭部１００ａの幅Ｗを、頭部１００ａの幅方向の画素数に基づいて計測する。頭部１００ａの幅Ｗの計測値は、頭部１００ａの形状に関する計測値の一例である。図６には、撮像装置３の撮像回数が２５回の場合の頭部１００ａの幅Ｗの計測値が示されている。図６の横軸は、撮像データ５０の撮像の順番を示し、図６の縦軸は、撮像データ５０におけるボルト１００の頭部１００ａの幅Ｗの計測値を示している。また、図６では、計測値同士を繋げた線Ｌ１が示されている。
【００２４】
第一処理では、回転異常検出部４０ｃは、撮像装置３の撮像の順番が互いに続く二つの撮像データ５０のそれぞれの幅Ｗの差分の絶対値を、撮像装置３の撮像の順番が互いに続く二つの撮像データ５０の組毎に算出する。例えば、撮像の順番が互いに続く二つの撮像データ５０の組は、撮像の順番が１番目および２番目の撮像データ５０の組、撮像の順番が２番目および３番目の撮像データ５０の組、・・・、撮像の順番が（Ｎ−１）番目およびＮ番目の撮像データ５０の組である。ここで、Ｎは、撮像の総数（すなわち規定の複数回）であり、本実施形態では、一例として、２５である。次に、回転異常検出部４０ｃは、算出された絶対値の総和を算出し、算出された総和が閾値以下か否かを判定する。回転異常検出部４０ｃは、算出された総和が閾値を超える場合には、ボルト１００の回転が正常であると判定し、算出された総和が閾値以下の場合には、ボルト１００の回転が異常であると判定する。すなわち、第一処理では、回転が正常であるとの判定の基準（第一判定基準）は、算出された総和が閾値を超えることである。また、当該第一処理におけるボルト１００の回転が正常または異常であるとの判定は、ボルト１００の回転速度（平均回転速度）が正常または異常であるとの判定であると言うこともできる。
【００２５】
第二処理では、回転異常検出部４０ｃは、撮像装置３の撮像の順番が互いに続く二つの撮像データ５０のそれぞれの幅Ｗの差分の符号（正、負）を、撮像装置３の撮像の順番が互いに続く二つの撮像データ５０の組毎に算出する。例えば、上記二つの撮像データ５０の組において、撮像順番が前の撮像データ５０の幅Ｗから、撮像順番が後の撮像データ５０の幅Ｗを引いた場合において、撮像順番が前の撮像データ５０の幅Ｗの方が、撮像順番が後の撮像データ５０の幅Ｗの方よりも大きいときには、それらの幅Ｗの差分の符号は、「正」である。一方、上記の場合において、撮像順番が前の撮像データ５０の幅Ｗの方が、撮像順番が後の撮像データ５０の幅Ｗの方以下の場合には、それらの幅Ｗの差分の符号は、「負」である。
【００２６】
次に、回転異常検出部４０ｃは、算出された各組の符号を時系列に並べた場合の符号の列において、符号が正から負に切り替わる回数または負から正に切り替わる回数を算出する。例えば、図６の例で説明すると、撮像の順番が１番目および２番目の撮像データ５０の組（第１組）の符号が「正」、撮像の順番が２番目および３番目の撮像データ５０の組（第２組）の符号が「正」、撮像の順番が３番目および４番目の撮像データ５０の組（第３組）の符号が「負」、・・・、撮像の順番が（Ｎ−１）番目およびＮ番目の撮像データ５０の組（第（Ｎ−１）組）の符号が「負」である場合には、符号の列は、第１組の「正」、第２組の「正」、第３組の「負」、・・・、第（Ｎ−１）組の「負」となる。この符号の列において、「正」の次が「負」となっている回数が、符号が正から負に切り替わる回数であり、「負」の次が「正」となっている回数が、符号が負から正に切り替わる回数である。
【００２７】
回転異常検出部４０ｃは、算出された各組の符号を時系列に並べた場合の符号の列において、符号が正から負に切り替わる回数または負から正に切り替わる回数が規定回数の場合には、ボルト１００の回転は正常であると判定する。一方、回転異常検出部４０ｃは、算出された各組の符号を時系列に並べた場合の符号の列において符号が切り替わる回数が規定回数以外の場合には、ボルト１００の回転は異常であると判定する。ここで、規定回数は、例えば、６回または５回である。この回数は、図６の線Ｌ１における谷の数（６個）および山の数（５個）に基づく。すなわち、第二処理では、回転が正常であるとの判定の基準（第二判定基準）は、算出された各組の符号を時系列に並べた場合の符号の列において、符号が正から負に切り替わる回数または負から正に切り替わる回数が規定回数である。また、当該第二処理におけるボルト１００の回転が正常または異常であるとの判定は、ボルト１００の回転速度（平均回転速度）が正常または異常であるとの判定であると言うこともできる。
【００２８】
ここで、符号が正から負に切り替わる回数または負から正に切り替わる回数は、ｍを偶数とした場合、軸方向から見た場合の頭部１００ａの形状が、ｍ角形のときには、ｍ回および（ｍ−１）回である。なお、軸方向から見た場合の頭部１００ａの形状が、奇数角形の場合には、第二処理は実行されなくてよい。
【００２９】
また、撮像装置３の撮像回数は、軸方向から見た場合の頭部１００ａの形状が、ｍ角形のときには、符号の列の負から正（または正から負）への切り替えがｍ回となるため、標本定理から、（ｍ×２）回以上撮像すれば、符号の列において符号の切り替えを捉えることが可能である。
【００３０】
上記から分かるように、回転異常検出部４０ｃは、第一処理の第一判定基準と、第二処理の第二判定基準との両方が満たされている場合には、ボルト１００の回転は正常であると判定する。すなわち、回転異常検出部４０ｃは、ボルト１００の回転が正常であることを検出する。一方、回転異常検出部４０ｃは、第一処理の第一判定基準と第二処理の第二判定基準との少なくとも一方が満たされていない場合には、ボルト１００の回転は異常であると判定する。すなわち、回転異常検出部４０ｃは、ボルト１００の回転が異常であることを検出する。
【００３１】
表示制御部４０ｄは、表示装置６（例えば、ＬＣＤ（Liquid  Crystal  Display）、ＯＥＬＤ（Organic  Electro-Luminescent  Display）等）を制御する。
【００３２】
次に、制御部４０が実行する回転検査処理（回転検査方法）について図７を参照しながら説明する。図７は、制御部４０が実行する回転検査処理が示されたフローチャートである。
【００３３】
図７に示されるように、まず、回転制御部４０ａ３が、回転装置５に開始信号を送信することにより、回転装置５にボルト１００の回転を開始させる（Ｓ１）。次に、撮像制御部４０ａ２が、撮像装置３に開始信号を送信することにより、撮像装置３に、ボルト１００の撮像を開始させ、撮像装置３から撮像データ５０を取得する（Ｓ２）。
【００３４】
次に、回転異常検出部４０ｃが、撮像装置３から出力された撮像データ５０におけるボルト１００の頭部１００ａの幅Ｗを計測する（Ｓ３）。回転異常検出部４０ｃは、幅Ｗの計測値を所定の記憶部（例えば、ＲＡＭ４２等）に記憶させる。
【００３５】
制御部４０は、上記の撮像装置３による撮像回数が規定の回数（例えば２５回）に達していない場合には（Ｓ４：Ｎｏ）、Ｓ２〜Ｓ３の処理を繰り返し、撮像装置３による撮像回数が規定の回数に達した場合には（Ｓ４：Ｙｅｓ）、Ｓ５に進む。
【００３６】
Ｓ５では、回転異常検出部４０ｃが、上述の回転判定処理を実行する。回転異常検出部４０ｃが、ボルト１００の回転は正常であると判定した場合には（Ｓ６：Ｙｅｓ）、制御部４０は、回転検査処理を終了する。一方、回転異常検出部４０ｃが、ボルト１００の回転は異常であると判定した場合には（Ｓ６：Ｎｏ）、回転異常検出部４０ｃが、異常を報知する（Ｓ７）。回転異常検出部４０ｃは、例えば、ボルト１００の回転が異常である旨を表示装置６に表示させる。制御部４０は、Ｓ７の後、回転判定処理を終了する。この場合、制御部４０は、検査装置１の稼働を停止させてもよい。
【００３７】
以上のように、本実施形態では、検査装置１は、撮像装置３と、回転装置５と、不良検出部４０ｂと、回転異常検出部４０ｃと、を備える。撮像装置３は、中心軸Ａｘの軸方向と交差するＸ方向（第一方向）から見た場合の形状が中心軸Ａｘを中心とした回転に応じて変化する頭部１００ａ（形状変化部）、を有するボルト１００（検査対象物）を、Ｘ方向から規定の複数回撮像して、複数の撮像データ５０を出力する。回転装置５は、撮像装置３の複数回の撮像が行なわれている間、ボルト１００を中心軸Ａｘを中心として回転させる。不良検出部４０ｂは、複数の撮像データ５０に基づいて、ボルト１００の外観不良を検出する。回転異常検出部４０ｃは、複数の撮像データ５０における頭部１００ａの形状の変化の態様に基づいて、ボルト１００の回転異常を検出する。よって、本実施形態によれば、不良検出部４０ｂによるボルト１００の外観不良の検出のための撮像データ５０を用いてボルト１００の回転異常を検出することができる。よって、ボルト１００の回転異常を検出するための機構を特に設ける必要がないので、検査装置１の大型化を抑制することができる。したがって、検査装置１の設置スペースの増大を抑制することができるとともに、検査装置１のコストを抑えることができる。
【００３８】
また、本実施形態では、回転異常検出部４０ｃは、複数の撮像データ５０におけるボルト１００の頭部１００ａの形状の変化の態様に基づいて、ボルト１００の回転異常を検出する。すなわち、回転異常検出部４０ｃは、ボルト１００そのものを用いてボルト１００の回転異常を検出する。よって、例えば、回転装置５の回転軸部材５ａに対してボルト１００に滑りが発生して、回転軸部材５ａの回転が正常でボルト１００の回転が異常の場合でも、ボルト１００の回転異常を検出することができる。これに対して、例えば、回転軸部材５ａや電動モータの回転を検出するエンコーダでは、回転軸部材５ａに対してボルト１００に滑りが発生して、回転軸部材５ａの回転が正常でボルト１００の回転が異常の場合には、ボルト１００の回転異常を検出することができない。
【００３９】
なお、本実施形態では、ボルト１００の頭部１００ａが形状変化部である例が示されたが、これに限られない。例えば、形状変化部は、ボルト１００の雄ネジ部１００ｃであってもよい。この場合、例えば、中心軸Ａｘの軸方向と交差するＸ方向（第一方向）からボルト１００を見た場合、回転軸部材５ａ（図１，３）の上面に対する雄ネジ部１００ｃの下端の位置が、ボルト１００の回転に応じて変化する。よって、回転軸部材５ａの上面に対する雄ネジ部１００ｃの下端の位置を、雄ネジ部１００ｃ（形状変化部）の形状に関する値として採用することができる。また、頭部１００ａの形状は、多角形以外であってもよく、例えば、楕円形状であってもよい。
【００４０】
また、本実施形態では、検査対象物がボルト１００の例が示されたが、これに限られない。検査対象物は、中心軸Ａｘの軸方向と交差するＸ方向（第一方向）から見た場合の形状が中心軸ＡＸを中心とした回転に応じて変化する形状変化部を有している構成であればよい。
【００４１】
また、本実施形態では、検査対象物の外観不良として、ボルト１００の外形不良の例が示されたが、これに限られない。例えば、検査対象物の外観不良は、検査対象物の表面のキズ等の表面形状不良であってもよい。また、検査対象物の外観不良は、検査対象物の表面の色彩不良であってもよい。
【００４２】
また、本実施形態では、撮像装置３が、中心軸Ａｘおよびボルト１００に対して光源２の反対側に配置された例が示されたが、これに限定されない。例えば、撮像装置３は、中心軸Ａｘおよびボルト１００の光源２側（図１の左側）であって、光源２とボルト１００との間からずれた位置に配置されていてもよい。また、このような構成により、例えば、ボルト１００（検査対象物）の不良として上記の表面形状不良や色彩不良を検出してもよい。
【００４３】
また、本実施形態では、回転異常検出部４０ｃによるボルト１００の回転異常の検出処理の例として第一処理および第二処理が示されたが、これに限定されない。例えば、回転異常検出部４０ｃによるボルト１００の回転異常の検出処理は、ボルト１００の回転速度むら（回転位相むら）の有無を検出する処理であってもよい。例えば、回転異常検出部４０ｃは、図６の線Ｌ１において、隣り合うピーク値（上側ピーク値や下側ピーク値）同士間の間隔であるピーク間隔を、隣り合うピーク値の組毎に計測する。そして、回転異常検出部４０ｃは、複数のピーク間隔に規定以上の変化が無いと判定した場合には、ボルト１００の回転速度にむらは発生しておらず、ボルト１００の回転は正常であると判定する。一方、回転異常検出部４０ｃは、複数のピーク間隔に規定以上の変化が有ると判定した場合には、ボルト１００の回転速度にむらが発生しており、ボルト１００の回転は異常であると判定する。
【００４４】
以上、本発明の実施形態を例示したが、上記実施形態はあくまで一例である。実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、組み合わせ、変更を行うことができる。また、実施形態の構成や形状は、部分的に他の構成や形状と入れ替えて実施することも可能である。また、各構成や形状等のスペック（構造や、種類、方向、角度、形状、大きさ、長さ、幅、厚さ、高さ、数、配置、位置、材質等）は、適宜に変更して実施することができる。
【符号の説明】
【００４５】
１…検査装置、３…撮像装置、５…回転装置、５０…撮像データ、４０ｂ…不良検出部、４０ｃ…回転異常検出部、１００…ボルト（検査対象物）、１００ａ…頭部（形状変化部）、Ａｘ…中心軸。
【図１】
2019117163.tif 000003
【図２】
2019117163.tif 000004
【図３】
2019117163.tif 000005
【図４】
2019117163.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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