(57)【要約】【課題】たとえ光偏向器を交換したとしても、光ビームの光軸の適正な位置を容易に調整することができ、これにより、光軸の位置調整作業の簡素化を実現させることができる光走査装置及びそれを備えた画像形成装置並びに光軸の位置調整方法を提供する。【解決手段】光源から入射光学系を介して入射される光ビームを走査方向に偏向走査する光偏向器を備えた光走査装置は、光偏向器から出射される光ビームを検知する検知部の出力値に基づいて、入射光学系における何れか１つの光学部材から出射される光ビームの光軸の位置を変更する構成とされている。【選択図】図１７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から入射光学系を介して入射される光ビームを走査方向に偏向走査する光偏向器を備えた光走査装置であって、
前記光偏向器から出射される前記光ビームを検知する検知部の出力値に基づいて、前記入射光学系における何れか１つの光学部材から出射される前記光ビームの光軸の位置を変更する構成とされていることを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光走査装置であって、
前記検知部の出力値に基づいて変更される前記光ビームの光軸の位置は、主走査方向に直交する方向における位置であることを特徴とする光走査装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載の光走査装置であって、
前記検知部の出力値が光学部材調整用基準出力値になるように前記光ビームの光軸の位置を変更する構成とされていることを特徴とする光走査装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３までの何れか１つに記載の光走査装置であって、
前記光学部材から出射される前記光ビームの光軸の位置が変わるように前記光学部材を調整可能な構成とされていることを特徴とする光走査装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光走査装置であって、
前記光学部材を主走査方向に沿った回動軸線回りに回動させる光学部材調整機構を備えていることを特徴とする光走査装置。
【請求項６】
請求項４又は請求項５に記載の光走査装置であって、
当該光走査装置の外部から治具を用いて前記光学部材を調整可能な構成とされていることを特徴とする光走査装置。
【請求項７】
請求項４から請求項６までの何れか１つに記載の光走査装置であって、
前記検知部の出力値が光学部材調整用基準出力値になるように前記光ビームの光軸の位置を変更する構成とされており、
前記光学部材を主走査方向に沿った回動軸線回りに回動させる光学部材調整機構と、前記光学部材が回動するように前記光学部材調整機構を駆動する光学部材駆動部と、前記光学部材駆動部を前記検知部の出力値が前記光学部材調整用基準出力値になるように作動制御する制御部とを備えていることを特徴とする光走査装置。
【請求項８】
請求項４から請求項７までの何れか１つに記載の光走査装置であって、
前記検知部の出力値に基づいて変更される前記光ビームの光軸の位置は、主走査方向に直交する方向における位置であり、
前記検知部は、検知素子の前記走査方向に直交する直交方向におけるサイズが前記光ビームの入射ビーム径の前記直交方向におけるサイズよりも大きくなっていることを特徴とする光走査装置。
【請求項９】
請求項８に記載の光走査装置であって、
前記光ビームの前記直交方向における幅を制限する前記走査方向に沿って延びるスリットを有するスリット部材が前記直交方向に往復移動可能に前記検知部の入射側に設けられており、
前記検知部の出力値がスリット部材調整用基準出力値になるように前記スリット部材を往復移動させることを特徴とする光走査装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の光走査装置であって、
前記スリット部材を前記直交方向に往復移動させるスリット部材調整機構を備えていることを特徴とする光走査装置。
【請求項１１】
請求項９又は請求項１０に記載の光走査装置であって、
当該光走査装置の外部から治具を用いて前記スリット部材の前記直交方向における位置を調整可能な構成とされていることを特徴とする光走査装置。
【請求項１２】
請求項９から請求項１１までの何れか１つに記載の光走査装置であって、
前記スリット部材を前記直交方向に往復移動させるスリット部材調整機構と、前記スリット部材が往復移動するように前記スリット部材調整機構を駆動するスリット部材駆動部と、前記検知部の出力値が前記スリット部材調整用基準出力値になるように前記スリット部材駆動部を作動制御する制御部とを備えていることを特徴とする光走査装置。
【請求項１３】
請求項９から請求項１２までの何れか１つに記載の光走査装置であって、
前記スリット部材調整用基準出力値は、前記スリット部材を往復移動させたときの前記検知部の出力値のうちの最大の値であることを特徴とする光走査装置。
【請求項１４】
請求項１から請求項７までの何れか１つに記載の光走査装置であって、
前記検知部は、前記光ビームの入射ビーム径と等しい又は前記入射ビーム径よりも小さいサイズの検知素子を有するものであることを特徴とする光走査装置。
【請求項１５】
請求項１４に記載の光走査装置であって、
前記検知部の出力値が光学部材調整用基準出力値になるように前記光ビームの光軸の位置を変更する構成とされており、
前記光学部材調整用基準出力値は、前記光ビームの光軸の位置を変更したときの前記検知部の出力値のうちの最大の値であることを特徴とする光走査装置。
【請求項１６】
請求項１から請求項１５までの何れか１つに記載の光走査装置であって、
前記検知部は、前記光ビームの走査タイミングを制御するためのビーム検出センサであることを特徴とする光走査装置。
【請求項１７】
請求項１から請求項１６までの何れか１つに記載の光走査装置であって、
前記光学部材は、前記光ビームを反射する反射ミラーであることを特徴とする光走査装置。
【請求項１８】
請求項１から請求項１７までの何れか１つに記載の光走査装置を備えたことを特徴とする画像形成装置。
【請求項１９】
光源から入射光学系を介して入射される光ビームを走査方向に偏向走査する光偏向器を備えた光走査装置の光軸の位置調整方法であって、
前記光偏向器から出射される前記光ビームを検知する検知部の出力値に基づいて、前記入射光学系における何れか１つの光学部材から出射される前記光ビームの光軸の位置を変更することを特徴とする光走査装置の光軸の位置調整方法。
【請求項２０】
請求項１９に記載の光走査装置の光軸の位置調整方法であって、
前記検知部の出力値に基づいて変更される前記光ビームの光軸の位置は、主走査方向に直交する方向における位置であり、
前記検知部は、検知素子の前記走査方向に直交する直交方向におけるサイズが前記光ビームの入射ビーム径の前記直交方向におけるサイズよりも大きくなっており、
前記光走査装置には、前記光ビームの前記直交方向における幅を制限する前記走査方向に沿って延びるスリットを有するスリット部材が前記直交方向に往復移動可能に前記検知部の入射側に設けられており、
交換前の前記光偏向器に対する前記検知部の出力値がスリット部材調整用基準出力値になるように前記スリット部材の前記直交方向における位置を変更し、交換後の前記光偏向器に対する前記検知部の出力値が前記スリット部材調整用基準出力値になるように前記光ビームの光軸の前記主走査方向に直交する方向における位置を変更することを特徴とする光走査装置の光軸の位置調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光源から入射光学系を介して入射される光ビームを走査方向に偏向走査する光偏向器を備えた光走査装置及びそれを備えた画像形成装置並びに光軸の位置調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光走査装置は、一般的に、光源から入射光学系を介して入射される光ビームを走査方向に偏向走査する光偏向器を備えている。かかる光走査装置では、光ビームの光軸の位置（例えば主走査方向に直交する方向における位置）は、工場出荷時において煩雑な作業工程を経て調整されている。従って、市場で光偏向器を交換するとなると、光軸の位置調整作業が煩雑となるため、現状では、光偏向器として、搭載される画像形成装置の寿命まで交換する必要はないものを採用することが多い。ところが、このような光偏向器は、コストが高くつくため、光偏向器として、交換することを前提にコストを抑えたものを採用し、光軸の位置調整作業の簡素化を実現させることが要求されている。
【０００３】
この点に関し、特許文献１には、光偏向器から出射される光ビームが入射される出射光学系の反射鏡を主走査方向に沿った軸線回りに回動させる構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２８７７００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の構成では、出射光学系の反射鏡を主走査方向に沿った軸線回りに回動させて光ビームの光軸の主走査方向に直交する方向における位置を変更することができるものの、光軸の適正な位置を容易に調整することについて何も考慮されておらず、従って、光軸の位置調整作業の煩雑さは解消されていない。
【０００６】
そこで、本発明は、光源から入射光学系を介して入射される光ビームを走査方向に偏向走査する光偏向器を備えた光走査装置であって、たとえ光偏向器を交換したとしても、光ビームの光軸の適正な位置を容易に調整することができ、これにより、光軸の位置調整作業の簡素化を実現させることができる光走査装置及びそれを備えた画像形成装置並びに光軸の位置調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記課題を解決するために、本発明に係る光走査装置は、光源から入射光学系を介して入射される光ビームを偏向走査する光偏向器を備えた光走査装置であって、前記光偏向器から出射される前記光ビームを検知する検知部の出力値に基づいて、前記入射光学系における何れか１つの光学部材から出射される前記光ビームの光軸の位置を変更する構成とされていることを特徴とする。本発明に係る画像形成装置は、前記本発明に係る光走査装置を備えたことを特徴とする。また、本発明に係る光走査装置の光軸の位置調整方法は、光源から入射光学系を介して入射される光ビームを走査方向に偏向走査する光偏向器を備えた光走査装置の光軸の位置調整方法であって、前記光偏向器から出射される前記光ビームを検知する検知部の出力値に基づいて、前記入射光学系における何れか１つの光学部材から出射される前記光ビームの光軸の位置を変更することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によると、たとえ光偏向器を交換したとしても、光ビームの光軸の適正な位置を容易に調整することができ、これにより、光軸の位置調整作業の簡素化を実現させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本実施の形態に係る光走査装置を備えた画像形成装置を示す概略断面図である。
【図２】図１に示す光走査装置の光学系の一部を模式的に示す概略平面図である。
【図３】図１に示す光走査装置の光学系の一部を感光体ドラムとの位置関係と共に示す概略側面図である。
【図４】図１に示す光走査装置の内部構造を示す概略斜視図である。
【図５】図１に示す光走査装置における入射光学系部分を拡大して示す概略斜視図である。
【図６】図１に示す光走査装置における検知部部分を拡大して示す概略斜視図である。
【図７】第１実施形態に係る光走査装置における光学部材調整機構を示す概略斜視図である。
【図８】第１実施形態に係る光走査装置における光学部材調整機構により第２反射ミラーを手動で調整している様子を示す概略斜視図である。
【図９】第１実施形態に係る光走査装置における制御部の制御構成を示す概略ブロック図である。
【図１０】第２実施形態に係る光走査装置における光学部材駆動部を示す概略側面図である。
【図１１】第２実施形態に係る光走査装置における制御部の制御構成を示す概略ブロック図である。
【図１２】光ビームの直交方向における光量分布と検知素子との位置関係を示す模式図である。
【図１３】スリット部材が検知部の入射側に設けられている様子を示す模式図である。
【図１４】第４実施形態に係る光走査装置におけるスリット部材調整機構を示す概略側面図である。
【図１５】第５実施形態に係る光走査装置におけるスリット部材駆動部を示す概略側面図である。
【図１６】第５実施形態に係る光走査装置における制御部の制御構成を示す概略ブロック図である。
【図１７】スリット部材調整機構により光ビームの光軸の面倒れ方向における位置を調整する調整動作の流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明に係る実施の形態について図面を参照しながら説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。従って、それらについての詳細な説明は繰り返さない。
【００１１】
［画像形成装置の全体構成］
図１は、本実施の形態に係る光走査装置２００を備えた画像形成装置１００を示す概略断面図である。本実施の形態に係る画像形成装置１００は、原稿読取装置１０８により読み取られた画像データ、又は、外部から伝達された画像データに応じて、記録用紙等のシートＰ（具体的には記録用紙）に対して多色及び単色の画像を形成するカラー画像形成装置である。なお、画像形成装置１００は、モノクロ画像形成装置であってもよい。また、画像形成装置１００は、他の形態のカラー画像形成装置であってもよい。
【００１２】
画像形成装置１００は、原稿読取装置１０８と、画像形成装置本体１１０とを備えており、画像形成装置本体１１０には、画像形成部１０２とシート搬送系１０３とが設けられている。
【００１３】
画像形成部１０２は、光走査装置２００、複数の現像装置２〜２、静電潜像担持体として作用する複数の感光体ドラム３〜３、複数のクリーニング装置４〜４、複数の帯電装置５〜５、中間転写ベルト装置６、複数のトナーカートリッジ装置２１〜２１及び定着装置７を備えている。また、シート搬送系１０３は、給紙トレイ８１、手差し給紙トレイ８２及び排出トレイ１５を備えている。
【００１４】
画像形成装置本体１１０の上部には、原稿（図示省略）が載置される透明ガラスからなる原稿載置台９２が設けられ、原稿載置台９２の下部には原稿の画像を読み取るための画像読取装置９０が設けられている。また、原稿載置台９２の上側には原稿読取装置１０８が設けられている。原稿読取装置１０８で読み取られた原稿の画像は、画像データとして画像形成装置本体１１０に送られ、画像形成装置本体１１０において画像データに基づき形成された画像がシートＰに記録される。
【００１５】
画像形成装置１００において扱われる画像データは、複数色（この例ではブラック（Ｋ）、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）の各色）を用いたカラー画像に応じたものである。従って、現像装置２〜２、感光体ドラム３〜３、クリーニング装置４〜４、帯電装置５〜５及びトナーカートリッジ装置２１〜２１は、各色に応じた複数種類（この例では４種類）の画像を形成するようにそれぞれ複数個（この例では４個ずつ設けられ、それぞれブラック、シアン、マゼンタ、イエロー）に設定され、これらによって複数（この例では４つ）の画像ステーションが構成されている。
【００１６】
画像形成装置１００では、画像形成を行うにあたり、給紙トレイ８１又は手差し給紙トレイ８２からシートＰを供給し、シート搬送路Ｓに沿って設けられた第１搬送ローラ１２ａによってレジストローラ１３までシートＰを搬送する。次に、シートＰと中間転写ベルト装置６において周回方向Ｖに周回移動される中間転写ベルト６１上のトナー像を整合するタイミングで転写ローラ１０によってシートＰを搬送し、シートＰ上にトナー像を転写する。その後、シートＰを定着装置７におけるヒートローラ７１及び加圧ローラ７２に通過させることによってシートＰ上の未定着トナーを熱で溶融、固着し、第２搬送ローラ１２ｂ及び排出ローラ３１を経て排出トレイ１５上に排出する。
【００１７】
［光走査装置］
図２は、図１に示す光走査装置２００の光学系の一部を模式的に示す概略平面図である。図３は、図１に示す光走査装置２００の光学系の一部を感光体ドラム３〜３との位置関係と共に示す概略側面図である。図４は、図１に示す光走査装置２００の内部構造を示す概略斜視図である。図５は、図１に示す光走査装置２００における入射光学系２２０部分を拡大して示す概略斜視図である。また、図６は、図１に示す光走査装置２００における検知部２５０部分を拡大して示す概略斜視図である。
【００１８】
光走査装置２００は、光源部２１０と、入射光学系２２０と、光偏向器２３０と、出射光学系２４０と、検知部２５０とを備えている。光源部２１０は、光ビームＬ〜Ｌ（具体的にはレーザビーム）をそれぞれ出射する複数（この例では４つ）の光源２１１〜２１１を有している。入射光学系２２０は、光ビームＬ〜Ｌの光路上において光源部２１０と光偏向器２３０との間に配設されており、光源部２１０から出射された光ビームＬ〜Ｌを光偏向器２３０に入射させる。光偏向器２３０は、光源部２１０から入射光学系２２０を介して入射された光ビームＬ〜Ｌを走査方向Ｘ（主走査方向）に偏向走査する。出射光学系２４０は、光ビームＬ〜Ｌの光路上において光偏向器２３０と被走査面Ｆ〜Ｆ（この例では感光体ドラム３〜３の表面）との間に配設されており、光偏向器２３０から出射された光ビームＬ〜Ｌを被走査面Ｆ〜Ｆ上に照射する。検知部２５０は、光偏向器２３０から出射された光ビームＬ〜Ｌを検知する。光源部２１０、入射光学系２２０、光偏向器２３０、出射光学系２４０及び検知部２５０は、筐体２００ａに配設されている。
【００１９】
光走査装置２００では、光源部２１０から出射された光ビームＬ〜Ｌを、入射光学系２２０を介して光偏向器２３０に入射させ、光偏向器２３０によって走査方向Ｘに偏向走査させ、検知部２５０によって検出しつつ出射光学系２４０を介して感光体ドラム３〜３の表面の被走査面Ｆ〜Ｆ上に画像情報を書き込む。なお、光ビームＬ〜Ｌは、被走査面Ｆ〜Ｆを走査方向Ｘに定期的に走査するが、感光体ドラム３〜３は回転方向Ｂ（図３参照）に回転しているため、感光体ドラム３〜３上の副走査方向Ｙにも走査することができる。
【００２０】
（光源部）
光源部２１０は、各色に対応した複数（ここでは４つ）の光源２１１〜２１１を備えている。光源２１１〜２１１は、レーザダイオード等の半導体レーザ素子（図示せず）を備えている。光源２１１〜２１１は、画像データに応じて変調された光ビームＬ〜Ｌを射出する。光源２１１〜２１１は、光軸に垂直な断面（ビーム断面）が円形状の光ビームＬ〜Ｌを出射する。
【００２１】
（入射光学系）
入射光学系２２０（図２、図４、図５参照）は、光源部２１０から出射された光ビームＬ〜Ｌを光偏向器２３０の反射面２３１ａにおける反射点Ｑ（反射位置）に照射する。入射光学系２２０は、複数（ここでは４つ）のコリメータレンズ２２１〜２２１と、複数（ここでは４つ）のアパーチャ２２２〜２２２と、複数（ここでは４つ）の第１反射ミラー２２３〜２２３と、シリンドリカルレンズ２２４と、第２反射ミラー２２５とを備えている。
【００２２】
コリメータレンズ２２１〜２２１は、光源２１１〜２１１から出射された光ビームＬ〜Ｌを平行に整形する光学部品である。アパーチャ２２２〜２２２は、走査方向Ｘに長いスリット状の開口（図示せず）が形成された板状部材であり、光ビームＬ〜Ｌが通過するときにビーム断面を矩形状に整形する光学部品である。この例では、入射光学系２２０は、複数のアパーチャ２２２〜２２２のうち１つのアパーチャ２２２からの光ビームＬを第１反射ミラー２２３〜２２３を介さずに直接シリンドリカルレンズ２２４に入射させる構成とされている。第１反射ミラー２２３〜２２３は、残りのアパーチャ２２２〜２２２から出射される光ビームＬ〜Ｌを反射してシリンドリカルレンズ２２４に導くための光学部品である。シリンドリカルレンズ２２４は、１つのアパーチャ２２２から出射される光ビームＬ及び第１反射ミラー２２３〜２２３から出射される光ビームＬ〜Ｌを、第２反射ミラー２２５を介して光偏向器２３０の反射面２３１ａに向けて収束させるための光学部品である。第２反射ミラー２２５は、シリンドリカルレンズ２２４から出射される光ビームＬ〜Ｌを反射して光偏向器２３０の反射面２３１ａにおける反射点Ｑに導くための光学部品である。
【００２３】
（光偏向器）
光偏向器２３０（図２参照）は、この例では、回転多面鏡２３１（ポリゴンミラー）と、回転多面鏡２３１を回転駆動する駆動モータ２３２とを備えている。回転多面鏡２３１は、駆動モータ２３２の回転軸２３２ａに固定されている。回転多面鏡２３１は、周囲に回転軸２３２ａに沿った複数の反射面２３１ａを有している。駆動モータ２３２は、一定の回転方向Ｅへ一定の回転速度で回転する。これにより、回転多面鏡２３１は、反射面２３１ａにおける反射点Ｑに入射した光ビームＬ〜Ｌを走査方向Ｘに偏向走査することができる。
【００２４】
（反射光学系）
出射光学系２４０（図３、図４参照）は、走査方向Ｘに繰り返し走査される光ビームＬ〜Ｌを反射及び屈折させて被走査面Ｆ〜Ｆ上に照射するものである。出射光学系２４０は、第１ｆθレンズ２４１と、複数の折り返しミラー２４２〜２４２と、第２ｆθレンズ２４３〜３４３とを備えている。これらの光学部材は、走査方向Ｘに長くされた棒状に形成されており、それらの両端が図示しない支持部材で支持されている。
【００２５】
第１ｆθレンズ２４１は、光偏向器２３０の反射面２３１ａから出射されて等角速度で移動する光ビームＬ〜Ｌが被走査面Ｆ上を等速度で移動するように補正する光学部材である。折り返しミラー２４２〜２４２は、第１ｆθレンズ２４１を通過した光ビームＬ〜Ｌを反射して第２ｆθレンズ２４３〜２４３に導く光学部材である。第２ｆθレンズ２４３〜２４３は、光ビームＬ〜Ｌを被走査面Ｆ上に収束させる光学部材である。
【００２６】
（検知部）
検知部２５０（図２、図４、図６参照）は、検知用反射ミラー２５１と、集光レンズ２５２と、半導体光センサ２５３とを備えている。検知用反射ミラー２５１は、光偏向器２３０の反射面２３１ａから出射された光ビームＬ〜Ｌを反射して集光レンズ２５２に導く光学部材である。集光レンズ２５２は、検知用反射ミラー２５１から出射された光ビームＬ〜Ｌを半導体光センサ２５３に集光する光学部材である。半導体光センサ２５３（具体的にはフォトダイオード）は、集光レンズ２５２で集光された光ビームＬ〜Ｌを光電変換する検知素子２５３ａを有している。この例では、検知部２５０は、光ビームＬ〜Ｌの走査タイミング（具体的には被走査面Ｆ〜Ｆへの画像の書き込みタイミング）を制御するためのビーム検出（ＢＤ：Ｂｅａｍ  Ｄｅｔｅｃｔ）センサとされている。
【００２７】
詳しくは、検知用反射ミラー２５１は、光源部２１０から入射光学系２２０、光偏向器２３０を経て反射される光ビームＬ〜Ｌの光路上において、光ビームＬ〜Ｌの走査領域のうちの被走査面Ｆへの走査領域の外側に配設されている。集光レンズ２５２は、検知用反射ミラー２５１から出射される光ビームＬ〜Ｌの光路上において、検知用反射ミラー２５１と半導体光センサ２５３との間の配設されている。半導体光センサ２５３は、集光レンズ２５２から出射された光ビームＬ〜Ｌを入射する。
【００２８】
（光軸の位置調整について）
ところで、光走査装置に使用される光偏向器は、比較的高価なもの（例えばエアーモータ型の光偏向器）から比較的安価なもの（例えばオイルモータ型の光偏向器）まで様々なものがある。比較的高価な光偏向器は、コストが高くつくものの、基本的には（設計上は）搭載される画像形成装置の寿命まで交換する必要はない。例えば、エアーモータ型の光偏向器の寿命は、オイルモータ型の光偏向器の寿命の１０倍程度とされる。一方、比較的安価な光偏向器は、低コストであるものの、搭載される画像形成装置の寿命までに数回交換する必要がある。
【００２９】
本実施の形態に係る光走査装置２００では、光偏向器２３０は、比較的安価なオイルモータ型の光偏向器とされており、従って、画像形成装置１００の寿命までに数回交換する必要があるが、光偏向器２３０を交換したときに、光ビームＬ〜Ｌの光軸の適正な位置を容易に調整することができるようになっている。なお、光偏向器２３０は、光偏向器２３０の予め想定される寿命時期よりも少し前の時期に交換する。
【００３０】
すなわち、光走査装置２００は、光偏向器２３０から出射される光ビームＬ〜Ｌを検知する検知部２５０の出力値に基づいて、入射光学系２２０における何れか１つの光学部材（この例では第２反射ミラー２２５）から出射される光ビームＬ〜Ｌの光軸の位置を変更する構成とされている。こうすることで、第２反射ミラー２２５から出射される光ビームＬ〜Ｌの光軸の位置を変更しがながら、光軸の適正な位置を容易に調整することができ、これにより、光軸の位置調整作業の簡素化を実現させることができる。
【００３１】
ここで、入射光学系２２０とは、光偏向器２３０を基準にして光ビームＬ〜Ｌの入射側の光学部材（例えばコリメータレンズ、アパーチャ、反射ミラー、シリンドリカルレンズ）を構成する光学系をいう。
【００３２】
光偏向器２３０としては、代表的には回転多面鏡（ポリゴンミラー）を回転させるものを挙げることができる。しかし、光偏向器２３０は、この他、一面ミラー（ガルバノミラー）を揺動させるものや、ＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ  Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍｓ：微小電気機械システム）を含むものであってもよい。
【００３３】
本実施の形態に係る光走査装置２００では、検知部２５０の出力値に基づいて変更される光ビームＬ〜Ｌの光軸の位置は、主走査方向Ｘに直交する方向における位置である。すなわち、検知部２５０の出力値に基づいて変更される光ビームＬ〜Ｌの光軸の位置は、光偏向器２３０の偏向面の面倒れ方向Ｔ（主走査方向Ｘに沿った回動軸線α回りに回動する方向）における位置である。こうすることで、第２反射ミラー２２５から出射される光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を変更しがながら、光軸の面倒れ方向Ｔにおける適正な位置を容易に調整することができ、これにより、光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置調整作業の簡素化を実現させることができる。
【００３４】
本実施の形態に係る光走査装置２００では、検知部２５０の出力値が光学部材調整用基準出力値（具体的には交換前の光偏向器２３０の光軸の位置に相当する検知部２５０の出力値）になるように光ビームＬ〜Ｌの光軸の位置を変更する構成とされている。こうすることで、光ビームＬ〜Ｌの光軸の適正な位置をさらに容易に調整することができ、これにより、光軸の位置調整作業のさらなる簡素化を実現させることができる。
【００３５】
本実施の形態に係る光走査装置２００は、第２反射ミラー２２５から出射される光ビームＬ〜Ｌの光軸の位置が変わるように第２反射ミラー２２５（具体的には第２反射ミラー２２５の回動角度）を調整可能な構成とされている。こうすることで、光軸の適正な位置調整作業の容易化を簡単な構成で実現させることができる。
【００３６】
（第１実施形態）
図７は、第１実施形態に係る光走査装置２００における光学部材調整機構２８０を示す概略斜視図である。第１実施形態に係る光走査装置２００は、第２反射ミラー２２５を回動軸線α回りに回動させる光学部材調整機構２８０を備えている。こうすることで、第２反射ミラー２２５を回動軸線α回りに安定的に回動させることができ、これにより、サービスマン等の作業者が光学部材調整機構２８０にて手動で第２反射ミラー２２５を容易に回動させることができる。しかも、第２反射ミラー２２５の面倒れ方向Ｔにおける回動角度を容易に調整することができる。
【００３７】
光学部材調整機構２８０は、支持部２８１と、付勢部２８２と、押圧部２８３とを備えている。支持部２８１は、第２反射ミラー２２５を回動軸線α回りに回動自在に支持する。この例では、支持部２８１は、筐体２００ａに設けられている。支持部２８１は、走査方向Ｘに直交する直交方向Ｚにおける一方側Ｚ１端部（具体的には下端部）を回動支点として第２反射ミラー２２５を面倒れ方向Ｔに回動させる構成とされている。支持部２８１は、当接部２８１ａと、傾斜部２８１ｂと、挟持部２８１ｃと、基台２８１ｄとを有している。当接部２８１ａは、第２反射ミラー２２５の背面２２５ｂ（反射面２２５ａとは反対側の面）に当接する。傾斜部２８１ｂは、当接部２８１ａから直交方向Ｚにおける他方側Ｚ２端部（具体的には上端部）に向かうほど第２反射ミラー２２５から遠ざかるように傾斜する。挟持部２８１ｃは、第２反射ミラー２２５の回動軸線αにおける両端部を第２反射ミラー２２５の回動を許容する程度に挟持する。基台２８１ｄは、挟持部２８１ｃを支持する。当接部２８１ａ及び傾斜部２８１ｂは連設（具体的には一体形成）されている。付勢部２８２は、第２反射ミラー２２５を回動軸線α回りの一方側Ｔ１に向けて付勢する。この例では、付勢部２８２は、第２反射ミラー２２５の反射面２２５ａが上向きになるように第２反射ミラー２２５を付勢する。付勢部２８２は、弾性を有しており、支持部２８１の基台２８１ｄに設けられている。基台２８１ｄ及び付勢部２８２は一体形成されている。押圧部２８３は、第２反射ミラー２２５を付勢部２８２の付勢力に抗して回動軸線α回りの他方側Ｔ２に押圧する。この例では、押圧部２８３は、雄螺子部材２８３ａと、雌螺子部２８３ｂとを備えている。雄螺子部材２８３ａは、先端部が第２反射ミラー２２５の背面２２５ｂの上端部に当接される。雌螺子部２８３ｂは、筐体２００ａに立設された立設板２８３ｃの上部に設けられている。立設板２８３ｃは、第２反射ミラー２２５の背面２２５ｂ側（反射面２２５ａとは反対側）に並設されている。当接部２８１ａ、傾斜部２８１ｂ及び立設板２８３ｃは連設（具体的には一体形成）されている。当接部２８１ａ、付勢部２８２、傾斜部２８１ｂ、挟持部２８１ｃ、基台２８１ｄ及び立設板２８３ｃは樹脂材料で構成することができる。雄螺子部材２８３ａは金属材料で構成することができる。
【００３８】
かかる構成を備えた光学部材調整機構２８０では、雄螺子部材２８３ａを雌螺子部２８３ｂに対して第２反射ミラー２２５への押圧側とは反対側に回転させることで、付勢部２８２の付勢力により反射面２２５ａが上向きになるように第２反射ミラー２２５を回動させる。また、雄螺子部材２８３ａを雌螺子部２８３ｂに対して第２反射ミラー２２５への押圧側に回転させることで、付勢部２８２の付勢力に抗して反射面２２５ａが下向きになるように第２反射ミラー２２５を回動させる。これにより、第２反射ミラー２２５の面倒れ方向Ｔにおける回動角度を調整することができる。
【００３９】
図８は、第１実施形態に係る光走査装置２００における光学部材調整機構２８０により第２反射ミラー２２５を手動で調整している様子を示す概略斜視図である。図８に示すように、光走査装置２００は、光走査装置２００の外部から治具３００（具体的には雄螺子部材２８３ａを回転させるための螺子回し）を用いて第２反射ミラー２２５を調整可能な構成とされている。雄螺子部材２８３ａの後端部には、治具３００の先端部３０１（具体的には六角レンチ）と係合する係合凹部Ｇ（具体的には六角穴）が設けられている。筐体２００ａには、治具３００を挿通する挿通孔２０１が設けられている。こうすることで、光走査装置２００の上カバー等の外装部材を取り外すことなく、作業者が手動で第２反射ミラー２２５を容易に調整することができる。
【００４０】
図９は、第１実施形態に係る光走査装置２００における制御部２６０の制御構成を示す概略ブロック図である。図９に示すように、第１実施形態に係る光走査装置２００は、制御部２６０及び表示部２７０を備えており、シミュレーションモード等の作業者用モードにおいて検知部２５０の出力値を表示部２７０に表示する構成とされる。
【００４１】
検知部２５０は、制御部２６０の入力系に電気的に接続されており、検知した検知信号を制御部２６０に送信する。制御部２６０は、ＣＰＵ等のマイクロコンピュータからなる処理部２６１と、ＲＯＭ等の不揮発性メモリ、ＲＡＭ等の揮発性メモリを含む記憶部２６２とを有している。制御部２６０は、処理部２６１が記憶部２６２のＲＯＭに予め格納された制御プログラムを記憶部２６２のＲＡＭ上にロードして実行することにより、各種構成要素の作動制御を行う。制御部２６０は、検知部２５０にて検知した検知信号を光ビームＬ〜Ｌの光量に相当する表示データに変換する。表示部２７０は、制御部２６０の出力系に電気的に接続されており、作業者用モードにおいて制御部２６０にて変換された表示データを表示する。こうすることで、作業者は、表示部２７０に表示された検知部２５０の出力値を確認しながら第２反射ミラー２２５を調整することができる。なお、制御部２６０による制御動作は、画像形成装置１００に設けられた制御部（図示せず）で行ってもよい。また、表示部２７０による表示は、画像形成装置１００に設けられた表示部（図示せず）で行ってもよい。これらことは、後述する第２実施形態以降の構成についても同様である。
【００４２】
（第２実施形態）
図１０は、第２実施形態に係る光走査装置２００における光学部材駆動部２８４を示す概略側面図である。第２実施形態に係る光走査装置２００は、第１実施形態に係る光走査装置２００において、図１０に示すように、第２反射ミラー２２５が回動するように光学部材調整機構２８０を駆動する光学部材駆動部２８４を備えている。
【００４３】
光学部材駆動部２８４は、駆動モータ２８５と、駆動モータ２８５からの回転駆動力を雄螺子部材２８３ａに伝達する駆動伝達機構２８６と、光学部材初期位置検知部２８７とを備えている。駆動モータ２８５は筐体２００ａに支持されている。駆動伝達機構２８６は、駆動側ギヤ２８６ａと従動側ギヤ２８６ｂとを備えている。駆動側ギヤ２８６ａは、駆動モータ２８５の回転軸２８５ａに固定されている。雄螺子部材２８３ａは、第１実施形態のものよりも後端側（第２反射ミラー２２５側とは反対側）に延設した延設部２８３ｄを有している。従動側ギヤ２８６ｂは、駆動側ギヤ２８６ａと噛み合うように雄螺子部材２８３ａの延設部２８３ｄに固定されている。光学部材初期位置検知部２８７は、透過型フォトセンサとされており、雄螺子部材２８３ａの初期位置を検知する位置に位置するように筐体２００ａに固定されている。
【００４４】
かかる構成を備えた光学部材駆動部２８４では、駆動モータ２８５の回転軸２８５ａが一方側及び他方側に回転することにより、雄螺子部材２８３ａを第２反射ミラー２２５への押圧側及び押圧側とは反対側に回転させることができる。これにより、第２反射ミラー２２５の面倒れ方向Ｔにおける回動角度を調整することができる。この例では、駆動モータ２８５は、回転軸２８５ａが雄螺子部材２８３ａと直交又は略直交する方向に向くように筐体２００ａに固定されている。駆動側ギヤ２８６ａは、ウォームギヤとされ、従動側ギヤ２８６ｂは、はす歯ギヤとされている。こうすることで、駆動モータ２８５が回転していないときに、雄螺子部材２８３ａの回転の停止状態を維持させ易くすることができる。ひいては第２反射ミラー２２５の面倒れ方向Ｔにおける回動角度を維持させ易くすることができる。
【００４５】
図１１は、第２実施形態に係る光走査装置２００における制御部２６０の制御構成を示す概略ブロック図である。光学部材駆動部２８４における駆動モータ２８５は、制御部２６０の出力系に電気的に接続されており、制御部２６０からの指示信号が入力される。この例では、駆動モータ２８５は、ステッピングモータとされている。光学部材初期位置検知部２８７は、制御部２６０の入力系に電気的に接続されており、検知した雄螺子部材２８３ａの初期位置を検知したことを示す検知信号を制御部２６０に送信する。
【００４６】
制御部２６０は、光学部材駆動部２８４における駆動モータ２８５を検知部２５０の出力値が光学部材調整用基準出力値になるように作動制御する（具体的には雄螺子部材２８３ａの回転方向及び回転量を制御する）。こうすることで、制御部２６０は光学部材駆動部２８４にて自動で第２反射ミラー２２５を回動軸線α回りに回動させることができる。これにより、作業者が手動で第２反射ミラー２２５の調整作業を行うことなく、第２反射ミラー２２５の面倒れ方向Ｔにおける回動角度を容易に調整することができる。
【００４７】
なお、第２実施形態において、延設部２８３ｄの後端部に、治具３００の先端部３０１と係合する係合凹部Ｇを設け、作業者が手動で第２反射ミラー２２５を調整するようにしてもよい。
【００４８】
（第３実施形態）
図１２は、光ビームＬ〜Ｌの直交方向Ｚにおける光量分布と検知素子２５３ａとの位置関係を示す模式図である。第３実施形態に係る光走査装置２００における検知部２５０は、図１２に示すように、検知素子２５３ａ（具体的には半導体光センサ２５３の検知素子）の直交方向ＺにおけるサイズＨ１が光ビームＬ〜Ｌの入射ビーム径の直交方向ＺにおけるサイズＨ２よりも大きくなっている。この場合、光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を調整する際に、検知部２５０における検知素子２５３ａの検知範囲が大きい。このことから、検知素子２５３ａによる光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置が不明確となる。これにより光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置精度が悪化する。
【００４９】
そこで、第１位置と第２位置との中間位置に光ビームＬ〜Ｌの光軸を位置させることができる。第１位置は、検知部２５０に入射される光ビームＬ〜Ｌの面倒れ方向Ｔにおける一方側Ｔ１に光軸の位置を変更したときの検知部２５０の出力値が変化（具体的には減少）し始めた時点〔或いは変化しきった（具体的には出力値がなくなった）時点〕の光軸の位置である。第２位置は、検知部２５０に入射される光ビームＬ〜Ｌの面倒れ方向Ｔにおける他方側Ｔ２に光軸の位置を変更したときの検知部２５０の出力値が変化（具体的には減少）し始めた時点〔或いは変化しきった（具体的には出力値がなくなった）時点〕の光軸の位置である。
【００５０】
例えば、第１実施形態において、作業者が第２反射ミラー２２５を手動で調整する場合、第２反射ミラー２２５から出射される光ビームの面倒れ方向Ｔにおける光軸が第１位置と第２位置との中間位置に位置するように、第２反射ミラー２２５の調整作業を行う。また、第２実施形態において、制御部２６０が第２反射ミラー２２５を自動で調整する場合、第２反射ミラー２２５から出射される光ビームＬ〜Ｌの面倒れ方向Ｔにおける光軸が第１位置と第２位置との中間位置に位置するように、第２反射ミラー２２５の調整制御を行う。
【００５１】
こうすることで、検知部２５０は、光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を明確にすることができ、これにより光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置精度の悪化を抑制することができる。しかも、後述するように、スリット部材を用いることなく簡単な構成で光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を調整することができる。
【００５２】
（第４実施形態）
図１３は、スリット部材ＳＬが検知部２５０の入射側に設けられている様子を示す模式図である。第４実施形態に係る光走査装置２００は、第３実施形態に係る光走査装置２００において、図１３に示すように、スリット部材ＳＬが直交方向Ｚに往復移動可能に検知部２５０の入射側に設けられている。スリット部材ＳＬは、光ビームＬ〜Ｌの直交方向Ｚにおける幅を制限する走査方向Ｘに沿って延びるスリットＳＬａを有している。この場合、検知部２５０の出力値がスリット部材調整用基準出力値になるようにスリット部材ＳＬを往復移動させる。こうすることで、スリット部材ＳＬにおけるスリットＳＬａの位置の変更により検知部２５０に対する光ビームＬ〜Ｌの直交方向Ｚにおける光量分布の検知状態を変化させることができる。これにより、検知部２５０は、光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を精度よく検知することができる。例えば、光偏向器２３０の交換前に検知部２５０の出力値がスリット部材調整用基準出力値になるようにスリット部材ＳＬを往復移動させる。これにより、光偏向器２３０の交換後に検知部２５０の出力値が光学部材調整用基準出力値としてスリット部材調整用基準出力値になるように第２反射ミラー２２５の回動角度を調整することができる。
【００５３】
図１４は、第４実施形態に係る光走査装置２００におけるスリット部材調整機構２９０を示す概略側面図である。第４実施形態に係る光走査装置２００は、第１実施形態及び第２実施形態に係る光走査装置２００において、図１４に示すように、スリット部材ＳＬを直交方向Ｚに往復移動させるスリット部材調整機構２９０を備えている。こうすることで、スリット部材ＳＬを直交方向Ｚに安定的に往復移動させることができる。これにより、作業者がスリット部材調整機構２９０にて手動でスリット部材ＳＬを容易に回動させることができる。スリット部材調整機構２９０は、案内部２９１と、往復移動部２９２とを備えている。案内部２９１は、直交方向Ｚに移動自在にスリット部材ＳＬを案内する。往復移動部２９２は、案内部２９１にて案内されるスリット部材ＳＬを直交方向Ｚに往復移動させる。
【００５４】
案内部２９１は、一対の案内長孔２９１ａ，２９１ａと、一対の係合部２９１ｂ，２９１ｂとを備えている。案内長孔２９１ａ，２９１ａは、スリット部材ＳＬの走査方向Ｘにおける両側に設けられており、直交方向Ｚに沿って延びている。係合部２９１ｂ，２９１ｂは、筐体２００ａに固定されて案内長孔２９１ａ，２９１ａと摺接する。また、スリット部材ＳＬには、検知部２５０に入射される光ビームＬ〜Ｌを遮らない開放部ＳＬｂが設けられている。
【００５５】
往復移動部２９２は、一対のラックギヤ２９２ａ，２９２ａと、一対のピニオンギヤ２９２ｂ，２９２ｂと、回転規制部２９２ｃとを備えている。ラックギヤ２９２ａ，２９２ａは、スリット部材ＳＬの走査方向Ｘにおける両端部に設けられており、直交方向Ｚに沿って形成されている。スリット部材ＳＬ及びラックギヤ２９２ａ，２９２ａは一体形成されている。ピニオンギヤ２９２ｂ，２９２ｂは、ラックギヤ２９２ａ，２９２ａと噛み合うように筐体２００ａに支持されている。回転規制部２９２ｃは、ピニオンギヤ２９２ｂ，２９２ｂの少なくとも一方（この例では片方）に設けられている。回転規制部２９２ｃは、ピニオンギヤ２９２ｂ，２９２ｂに加わる力が所定のトルク以下ではピニオンギヤ２９２ｂ，２９２ｂの回転を制限し、所定のトルクを超えると、ピニオンギヤ２９２ｂの回転を許容する。これにより、スリット部材ＳＬを安定的にかつ精度よく調整することができる。ピニオンギヤ２９２ｂ，２９２ｂの少なくとも一方（この例では双方）の中心部には、治具３００の先端部３０１（具体的には六角レンチ）と係合する係合凹部Ｇ（具体的には六角穴）が設けられている。
【００５６】
光走査装置２００は、光走査装置２００の外部から治具３００を用いてスリット部材ＳＬの直交方向Ｚにおける位置を調整可能な構成とされている。こうすることで、光走査装置２００の上カバー等の外装部材を取り外すことなく、作業者が手動でスリット部材ＳＬを容易に調整することができる。光走査装置２００は、作業者用モードにおいて検知部２５０の出力値を表示部２７０に表示する構成とされる。こうすることで、作業者は、表示部２７０に表示された検知部２５０の出力値を確認しながらスリット部材ＳＬを調整することができる。
【００５７】
（第５実施形態）
図１５は、第５実施形態に係る光走査装置２００におけるスリット部材駆動部２９３を示す概略側面図である。図１５において一方のピニオンギヤ２９２ｂは図示を省略している。第５実施形態に係る光走査装置２００は、第４実施形態に係る光走査装置２００において、図１５に示すように、スリット部材ＳＬが往復移動するようにスリット部材調整機構２９０を駆動するスリット部材駆動部２９３を備えている。
【００５８】
スリット部材駆動部２９３は、駆動モータ２９４と、駆動モータ２９４からの回転駆動力を一方のピニオンギヤ２９２ｂに伝達する駆動伝達機構２９５と、スリット部材初期位置検知部２９６とを備えている。駆動モータ２９４は筐体２００ａに支持されている。駆動伝達機構２９５は、駆動側ギヤ２９５ａと従動側ギヤ２９５ｂとを備えている。駆動側ギヤ２９５ａは、駆動モータ２９４の回転軸２９４ａに固定されている。従動側ギヤ２９５ｂは、駆動側ギヤ２９５ａと噛み合うようにピニオンギヤ２９２ｂの回転軸２９２ｄに固定されている。スリット部材初期位置検知部２９６は、透過型フォトセンサとされており、スリット部材ＳＬの初期位置を検知する位置に位置するように筐体２００ａに固定されている。
【００５９】
かかる構成を備えたスリット部材駆動部２９３では、駆動モータ２９４の回転軸２９４ａが一方側及び他方側に回転する。これにより、ピニオンギヤ２９２ｂをスリット部材ＳＬが直交方向Ｚにおける一方側Ｚ１（下側）及び他方側Ｚ２（上側）に移動するように回転させることができる。従って、スリット部材ＳＬにおけるスリットＳＬａの直交方向Ｚにおける一方側Ｚ１及び他方側Ｚ２への位置を調整することができる。この例では、駆動モータ２９４は、回転軸２９４ａがピニオンギヤ２９２ｂの回転軸２９２ｄと直交又は略直交する方向に向くように筐体２００ａに固定されている。駆動側ギヤ２９５ａは、ウォームギヤとされ、従動側ギヤ２９５ｂは、はす歯ギヤとされている。こうすることで、駆動モータ２９４が回転していないときに、ピニオンギヤ２９２ｂの回転の停止状態を維持させ易くすることができる。ひいてはスリット部材ＳＬにおけるスリットＳＬａの直交方向Ｚにおける位置を維持させ易くすることができる。
【００６０】
図１６は、第５実施形態に係る光走査装置２００における制御部２６０の制御構成を示す概略ブロック図である。スリット部材駆動部２９３における駆動モータ２９４は、制御部２６０の出力系に電気的に接続されており、制御部２６０からの指示信号が入力される。この例では、駆動モータ２９４は、ステッピングモータとされている。スリット部材初期位置検知部２９６は、制御部２６０の入力系に電気的に接続されており、検知したスリット部材ＳＬの初期位置を検知したことを示す検知信号を制御部２６０に送信する。
【００６１】
制御部２６０は、検知部２５０の出力値がスリット部材調整用基準出力値になるようにスリット部材駆動部２９３（具体的には駆動モータ２９４）を作動制御する（具体的にはスリット部材ＳＬの移動量を制御する）。こうすることで、制御部２６０は光偏向器２３０の交換前に検知部２５０の出力値がスリット部材調整用基準出力値になるようにスリット部材駆動部２９３を作動制御することができる。また、制御部２６０は光偏向器２３０の交換後に検知部２５０の出力値が光学部材調整用基準出力値としてスリット部材調整用基準出力値になるように光学部材駆動部２８４を作動制御することができる。従って、制御部２６０はスリット部材駆動部２９３にて自動でスリット部材ＳＬを直交方向Ｚに往復移動させることができる。これにより、作業者が手動でスリット部材ＳＬの調整作業を行うことなく、スリット部材ＳＬの直交方向Ｚにおける位置を容易に調整することができる。
【００６２】
なお、第５実施形態において、作業者が手動でスリット部材ＳＬを調整するようにしてもよい。
【００６３】
図１７は、スリット部材調整機構２９０により光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を調整する調整動作の流れを示すフローチャートである。
【００６４】
スリット部材調整機構２９０では、作業者が第２反射ミラー２２５を手動で調整する場合或いは制御部２６０が第２反射ミラー２２５を自動で調整する場合、先ず、作業者或いは制御部２６０は交換前の光偏向器２３０により光ビームＬ〜Ｌを走査方向Ｘに走査させた状態でスリット部材ＳＬを直交方向Ｚに往復移動させる（ステップＳ１）。作業者はスリット部材ＳＬの移動中に作業者用モードにおいて表示部２７０に表示された検知部２５０の出力値を確認しながら検知部２５０の出力値がスリット部材調整用基準出力値（例えば所定の値又は最大の値）になるようにスリット部材ＳＬの移動を停止させる（ステップＳ２）。このとき、スリット部材調整用基準出力値が所定の値の場合、作業者は所定の値を記憶もしくは紙等に記録しておく。或いは、制御部２６０はスリット部材ＳＬの移動中に検知部２５０の出力値を検出しながら検知部２５０の出力値がスリット部材調整用基準出力値（例えば所定の値又は最大の値）になるようにスリット部材ＳＬの移動を停止させる（ステップＳ２）。このとき、スリット部材調整用基準出力値が所定の値の場合、所定の値は記憶部２６２に予め記憶されている。
【００６５】
次に、作業者は光偏向器２３０を交換する（ステップＳ３）。次に、作業者或いは制御部２６０は交換後の光偏向器２３０により光ビームＬ〜Ｌを走査方向Ｘに走査させた状態で光偏向器２３０に対する検知部２５０の出力値が光学部材調整用基準出力値としてスリット部材調整用基準出力値（例えば所定の値又は最大の値）であるか否かを判断する（ステップＳ４）。作業者或いは制御部２６０は検知部２５０の出力値がスリット部材調整用基準出力値（例えば所定の値又は最大の値）でない場合には（ステップＳ４：Ｎｏ）、光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を調整し（ステップＳ５）、ステップＳ４に移行する一方、検知部２５０の出力値がスリット部材調整用基準出力値（例えば所定の値又は最大の値）である場合には（ステップＳ４：Ｙｅｓ）、ステップＳ６に移行する。
【００６６】
こうすることで、検知部２５０は、直交方向Ｚに往復移動するスリット部材ＳＬにおけるスリットＳＬａによって光ビームＬ〜Ｌの直交方向Ｚにおける光量分布の遮り状態（図１３参照）を変化させることができる。すなわち、交換前の光偏向器２３０の光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置に、交換後の光偏向器２３０の光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を合わせることができる。これにより、作業者或いは制御部２６０は、光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を精度よく調整することができる。
【００６７】
詳しくは、作業者は第２反射ミラー２２５を手動で次のように調整する。すなわち、作業者は第２反射ミラー２２５を回動軸線α回りに回動させて作業者用モードにおいて表示部２７０に表示された検知部２５０の出力値を確認しながら検知部２５０の出力値が記憶もしくは記録しておいた光偏向器２３０の交換前の所定の値又は最大の値になるように第２反射ミラー２２５の光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を調整する。或いは、制御部２６０は第２反射ミラー２２５を自動で次のように調整する。すなわち、制御部２６０は第２反射ミラー２２５を回動軸線α回りに回動させて検知部２５０の出力値を検出しながら検知部２５０の出力値が記憶部２６２に予め記憶されている光偏向器２３０の交換前の所定の値又は最大の値になるように第２反射ミラー２２５の光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を調整する。
【００６８】
その後、作業者或いは制御部２６０はスリット部材ＳＬが検知部２５０に入射される光ビームＬ〜Ｌを遮らない位置（開放部ＳＬｂの位置）にスリット部材ＳＬを退避させる（ステップＳ６）。
【００６９】
本実施の形態では、スリット部材調整用基準出力値は、スリット部材ＳＬを往復移動させたときの検知部２５０の出力値のうちの最大の値である。こうすることで、経年劣化等による光偏向器２３０から出射される光ビームＬ〜Ｌの光量特性の光偏向器２３０の交換前後の違いに対する影響を受けることがない。しかも、作業者がスリット部材ＳＬを手動で移動させる場合、スリット部材ＳＬを停止させたときの検知部２５０の所定の値を記憶もしくは紙等に記録しておく必要がなく、それだけ容易にスリット部材ＳＬの調整作業を行うことができる。また、制御部２６０がスリット部材ＳＬを自動で移動させる場合、スリット部材ＳＬを停止させたときの検知部２５０の所定の値を記憶部２６２に記憶しておく必要がなく、それだけスリット部材ＤＬを移動させるための制御構成を簡素化させることができる。
【００７０】
（第６実施形態）
第６実施形態に係る光走査装置２００の検知部２５０は、光ビームＬ〜Ｌの入射ビーム径の直交方向ＺにおけるサイズＨ２と等しい又は入射ビーム径の直交方向ＺにおけるサイズＨ２よりも小さいサイズＨ１の検知素子２５３ａを有するものである。
【００７１】
かかる構成の光走査装置２００では、作業者が第２反射ミラー２２５を手動で調整する場合或いは制御部２６０が第２反射ミラー２２５を自動で調整する場合、先ず、作業者は交換前の光偏向器２３０に対して作業者用モードにおいて表示部２７０に表示された検知部２５０の出力値を確認する。このとき、作業者は検知部２５０の出力値を光学部材調整用基準出力値として記憶もしくは紙等に記録しておく。或いは、制御部２６０は交換前の光偏向器２３０に対して検知部２５０の出力値を検出する。このとき、制御部２６０は検知部２５０の出力値を光学部材調整用基準出力値として記憶部２６２に記憶しておく。
【００７２】
次に、作業者は光偏向器２３０を交換する。次に、作業者或いは制御部２６０は交換後の光偏向器２３０に対する検知部２５０の出力値が光学部材調整用基準出力値として交換前の光偏向器２３０に対する検知部２５０の出力値であるか否かを判断する。検知部２５０の出力値が光学部材調整用基準出力値でない場合には、光学部材調整用基準出力値になるまで、光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を調整する。
【００７３】
こうすることで、スリット部材ＳＬを用いた場合と同様の作用効果を得ることができる。従って、前述したスリット部材ＳＬを用いることなく、検知部２５０は、光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を検知することができる。すなわち、交換前の光偏向器２３０の光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置に、交換後の光偏向器２３０の光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を合わせることができる。これにより、作業者或いは制御部２６０は、光ビームＬ〜Ｌの光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を精度よく調整することができる。
【００７４】
詳しくは、作業者が第２反射ミラー２２５を手動で調整する場合、作業者は第２反射ミラー２２５を回動軸線α回りに回動させて作業者用モードにおいて表示部２７０に表示された検知部２５０の出力値を確認しながら検知部２５０の出力値が記憶又は記録しておいた交換前の出力値になるように第２反射ミラー２２５の光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を調整する。或いは、制御部２６０が第２反射ミラー２２５を自動で調整する場合、制御部２６０は第２反射ミラー２２５を回動軸線α回りに回動させて検知部２５０の出力値を検出しながら検知部２５０の出力値が記憶部２６２に記憶しておいた交換前の出力値になるように第２反射ミラー２２５の光軸の面倒れ方向Ｔにおける位置を調整する。
【００７５】
光学部材調整用基準出力値は、光ビームＬ〜Ｌの光軸の位置を変更したときの検知部２５０の出力値のうちの最大の値である場合、工場出荷時に光ビームＬ〜Ｌの光軸を適正な位置に調整したときの検知部２５０の出力値を最大の値としておく。こうすることで、光偏向器２３０の交換前の作業者による検知部２５０の出力値の確認作業、或いは、光偏向器２３０の交換前の制御部２６０による検知部２５０の出力値の検出動作を省略することができる。しかも、経年劣化等による光偏向器２３０から出射される光ビームＬ〜Ｌの光量特性の光偏向器２３０の交換前後の違いに対する影響を受けることがない。
【００７６】
（共通の構成）
第１実施形態から第６実施形態に係る光走査装置２００において、検知部２５０は、光ビームの走査タイミングを制御するためのビーム検出（ＢＤ：Ｂｅａｍ  Ｄｅｔｅｃｔ）センサである。こうすることで、既存のＢＤセンサを用いて安価に光軸の位置調整作業を行うことができる。
【００７７】
第１実施形態から第６実施形態に係る光走査装置２００において、光ビームＬ〜Ｌの光軸の位置を変更するための光学部材は、光ビームＬ〜Ｌを反射する反射ミラー（この例では第２反射ミラー２２５）である。こうすることで、第２反射ミラー２２５を用いて光軸の位置調整作業を容易に行うことができる。
【００７８】
（その他の実施の形態）
本実施の形態では、光ビームＬ〜Ｌの光軸の位置を変更するための光学部材として、第２反射ミラー２２５を用いたが、入射光学系２２０を構成する他の光学部材を用いてもよい。また、本実施の形態では、光ビームＬ〜Ｌの面倒れ方向Ｔにおける光軸の位置を変更するようにしたが、光ビームＬ〜Ｌの走査方向Ｘにおける光軸の位置を変更するようにしてもよい。
【００７９】
本発明は、以上説明した実施の形態に限定されるものではなく、他のいろいろな形で実施することができる。そのため、かかる実施の形態はあらゆる点で単なる例示にすぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、なんら拘束されない。さらに、請求の範囲の均等範囲に属する変形や変更は、全て本発明の範囲内のものである。
【符号の説明】
【００８０】
１００  画像形成装置
２００  光走査装置
２１０  光源部
２２０  入射光学系
２３０  光偏向器
２４０  出射光学系
２５０  検知部
２６０  制御部
２７０  表示部
２８０  光学部材調整機構
２９０  スリット部材調整機構
３００  治具
Ｆ      被走査面
Ｌ      光ビーム
Ｍ      光走査面
Ｑ      反射点
ＳＬ    スリット部材
ＳＬａ  スリット
Ｔ      面倒れ方向
Ｘ      走査方向
Ｙ      副走査方向
Ｚ      直交方向
α      回動軸線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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