(57)【要約】【課題】テストチャートを用いて解像感を測定する装置において、測定精度を向上させる。【解決手段】テストチャート生成装置は、乱数生成部、および、配置部を具備する。この乱数生成部および配置部を具備するテストチャート生成装置において、乱数生成部は、細長い複数の図形のそれぞれに対応付けて乱数を生成する。また、テストチャート生成装置において、配置部は、複数の図形のそれぞれの長さ方向および幅方向のいずれかの所定方向に対する角度を当該図形に対応する乱数に基づいて決定して配置する。【選択図】図１
2019041197.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれの配置される角度が不規則な細長い複数の図形が所定の領域に配置され、前記所定の領域の画素値のばらつきの度合いを示す統計量を測定するためのテストチャート。
【請求項２】
前記複数の図形は、所定長の複数の第１図形と長さが前記所定長と異なる複数の第２図形とを含み、
前記所定の領域は、所定値に対する前記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第１の空間周波数に対応する前記統計量を測定するための第１の測定領域と、所定値に対する前記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第２の空間周波数に対応する前記統計量を測定するための第２の測定領域とを含み、
前記複数の第１図形は、前記第１の測定領域に配置され、
前記複数の第２図形は、前記第２の測定領域に配置される
請求項１記載のテストチャート。
【請求項３】
前記複数の第１図形の総面積と略一致する面積の特定の図形が配置された基準領域をさらに含む
請求項２記載のテストチャート。
【請求項４】
模様の無いフラット領域をさらに含み、
前記第１の測定領域には、前記フラット領域と同一の背景に前記複数の第１図形が配置され、
前記第２の測定領域には、前記フラット領域と同一の背景に前記複数の第２図形が配置される
請求項２記載のテストチャート。
【請求項５】
前記第１の測定領域は、前記背景の輝度が所定輝度より高い第１の明測定領域と前記背景の輝度が前記所定輝度より低い第１の暗測定領域とを含み、
前記第２の測定領域は、前記背景の輝度が前記所定輝度より高い第２の明測定領域と前記背景の輝度が前記所定輝度より低い第２の暗測定領域とを含む
請求項４記載のテストチャート。
【請求項６】
前記複数の図形は、前記背景より輝度が高い明図形と前記背景より輝度が低い暗図形とを含み、
前記明図形と前記暗図形とのそれぞれの個数および形状が概ね同一である
請求項４記載のテストチャート。
【請求項７】
前記複数の同一輝度の図形のそれぞれは、互いに重ならず、かつ、互いの辺の間の距離が所定距離より離れた位置に配置される
請求項１記載のテストチャート。
【請求項８】
前記複数の図形のそれぞれの形状は、細長い矩形形状である
請求項１記載のテストチャート。
【請求項９】
前記複数の図形のそれぞれの形状は、オーバル形状である
請求項１記載のテストチャート。
【請求項１０】
細長い複数の図形のそれぞれについて位置と角度を分散して配置する図形生成部
を具備するテストチャート生成装置。
【請求項１１】
それぞれの配置される角度が不規則な細長い複数の図形が所定の領域に配置され、前記所定の領域の画素値のばらつきの度合いを示す統計量を測定するためのテストチャートを撮像した画像データについて前記統計量を測定して測定値として出力する測定部と、
所定値に対する前記複数の図形のそれぞれの幅の比である空間周波数と前記測定値とを対応付けて出力する出力部と
を具備する測定装置。
【請求項１２】
前記複数の図形は、所定長の複数の第１図形と長さが前記所定長と異なる複数の第２図形とを含み、
前記所定の領域は、所定値に対する前記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第１の空間周波数に対応する前記統計量を測定するための第１の測定領域と、所定値に対する前記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第２の空間周波数に対応する前記統計量を測定するための第２の測定領域とを含み、
前記複数の第１図形は、前記第１の測定領域に配置され、
前記複数の第２図形は、前記第２の測定領域に配置され、
前記測定部は、前記第１および第２の測定領域のそれぞれについて前記統計量を測定し、
前記出力部は、前記第１および第２の空間周波数と前記第１および第２の測定領域のそれぞれの測定値とを対応付けて出力する
請求項１１記載の測定装置。
【請求項１３】
前記第１および第２の測定領域のそれぞれの測定値を所定の基準値を基準として正規化する正規化部をさらに具備し、
前記テストチャートは、前記複数の第１図形の総面積と略一致する面積の特定の図形が配置された基準領域をさらに含み、
前記測定部は、前記基準領域の前記統計量をさらに測定し、
前記正規化部は、前記基準領域の前記測定値を前記所定の基準値として正規化する
請求項１２記載の測定装置。
【請求項１４】
前記画像データに生じたノイズに起因して前記測定値に生じる誤差を補正する補正部をさらに具備し、
前記テストチャートは、模様の無いフラット領域をさらに含み、
前記第１の測定領域には、前記フラット領域と同一の背景に前記複数の第１図形が配置され、
前記第１の測定領域には、前記フラット領域と同一の背景に前記複数の第２図形が配置され、
前記測定部は、前記フラット領域の前記統計量をさらに測定し、
前記補正部は、前記フラット領域の前記測定値に基づいて前記誤差を補正する
請求項１２記載の測定装置。
【請求項１５】
細長い複数の図形のそれぞれについて位置と角度を分散して配置する図形生成手順
を具備するテストチャート生成方法。
【請求項１６】
細長い複数の図形のそれぞれについて位置と角度を分散して配置する図形生成手順と、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、テストチャート、テストチャート生成装置、測定装置、および、これらにおける処理方法ならびに当該方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関する。詳しくは、画像の解像感を測定するためのテストチャート、テストチャート生成装置、測定装置、および、これらにおける処理方法ならびに当該方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、撮像装置や表示装置の性能を評価するために、様々な種類のテストチャートが用いられている。例えば、テストチャートにより、撮像装置が撮像する画像データの解像感を測定することができる。ここで、「解像感」は、人間が感じる画像の精細さを意味し、例えば、空間周波数が高い部分のコントラストの高さにより表すことができる。ただし、測定した解像感は、画像データの解像度と乖離することがある。木や芝などのコントラストの低い部分は、ノイズ低減処理等の信号処理によりディテールが潰されやすいのに対し、テストチャート内の絵柄はコントラストが非常に高く、信号処理による絵柄とノイズとの分離が容易であるためである。また、木や芝はランダムに近い絵柄であるが、テストチャートの絵柄は直線的であり、信号処理において方向検出による整形処理が容易であることも乖離が生じる理由となる。解像感を測定するためのテストチャートとして、例えば、輝度や大きさの異なる複数の円を配置したチャートが提案されている（例えば、非特許文献１参照。）。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００３】
【非特許文献１】Robert C Sumner et al.， "The Effects of misregistration on the dead leaves crosscorrelation texture blur analysis", IQSP-257, 2017 IS&T International Symposium on Electronic Imaging (2017)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述の従来技術では、撮像装置により撮像されたテストチャートの画像データを測定装置がフーリエ解析することにより、その画像データの解像感を測定することができる。しかしながら、このテストチャートによりスムーズな測定結果を得るには、大きな測定エリアを要し、テストチャート中央付近のコントラストが低いために、オートフォーカス機能において合焦しないことがある。また、ディテールを喪失しがちな撮像装置であっても、コントラストが高めで直径が大きめな円のエッジ部分に含まれる高周波数成分により、一定の周波数特性が表れる。これにより、解像感の悪い画像データを撮像する撮像装置であっても測定結果の一部が、良好となる。このように、上述の従来技術では、解像感の測定精度が低いという問題がある。
【０００５】
本技術はこのような状況に鑑みて生み出されたものであり、テストチャートを用いて解像感を測定する装置において、測定精度を向上させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本技術は、上述の問題点を解消するためになされたものであり、その第１の側面は、それぞれの配置される角度が不規則な細長い複数の図形が所定の領域に配置され、上記所定の領域の画素値のばらつきの度合いを示す統計量を測定するためのテストチャートである。これにより、高い測定精度で解像感を測定させることができるという作用をもたらす。
【０００７】
また、この第１の側面において、上記複数の図形は、所定長の複数の第１図形と長さが上記所定長と異なる複数の第２図形とを含み、上記所定の領域は、所定値に対する上記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第１の空間周波数に対応する上記統計量を測定するための第１の測定領域と、所定値に対する上記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第２の空間周波数に対応する上記統計量を測定するための第２の測定領域とを含み、上記複数の第１図形は、上記第１の測定領域に配置され、上記複数の第２図形は、上記第２の測定領域に配置されてもよい。これにより、空間周波数ごとに、画素値のばらつきの度合いが測定されるという作用をもたらす。
【０００８】
また、この第１の側面において、上記複数の第１図形の総面積と略一致する面積の特定の図形が配置された基準領域をさらに含むものであってもよい。これにより、測定領域の測定値を正規化することができるという作用をもたらす。
【０００９】
また、この第１の側面において、模様の無いフラット領域をさらに含み、上記第１の測定領域には、上記フラット領域と同一の背景に上記複数の第１図形が配置され、上記第２の測定領域には、上記フラット領域と同一の背景に上記複数の第２図形が配置されてもよい。これにより、ノイズに起因する誤差を補正することができるという作用をもたらす。
【００１０】
また、この第１の側面において、上記第１の測定領域は、上記背景の輝度が所定輝度より高い第１の明測定領域と上記背景の輝度が上記所定輝度より低い第１の暗測定領域とを含み、上記第２の測定領域は、上記背景の輝度が上記所定輝度より高い第２の明測定領域と上記背景の輝度が上記所定輝度より低い第２の暗測定領域とを含んでもよい。これにより、輝度に応じた解像感が測定されるという作用をもたらす。
【００１１】
また、この第１の側面において、上記複数の図形は、上記背景より輝度が高い明図形と上記背景より輝度が低い暗図形とを含み、上記明図形と上記暗図形とのそれぞれの個数および形状が概ね同一であってもよい。これにより、測定領域の輝度の平均が背景に略一致するという作用をもたらす。
【００１２】
また、この第１の側面において、上記複数の同一輝度の図形のそれぞれは、互いに重ならず、かつ、互いの辺の間の距離が所定距離より離れた位置に配置されてもよい。これにより、測定領域の空間周波数のばらつきが抑制されるという作用をもたらす。
【００１３】
また、この第１の側面において、上記複数の図形のそれぞれの形状は、細長い矩形形状であってもよい。これにより、矩形を配置したテストチャートの解像感が測定されるという作用をもたらす。
【００１４】
また、この第１の側面において、上記複数の図形のそれぞれの形状は、オーバル形状であってもよい。これにより、オーバルを配置したテストチャートの解像感が測定されるという作用をもたらす。
【００１５】
また、本技術の第２の側面は、細長い複数の図形のそれぞれについて位置と角度を分散して配置する図形生成部を具備するテストチャート生成装置、および、テストチャート生成方法、ならびに、当該方法をコンピュータに実行させるためのプログラムである。これにより、それぞれの配置される角度が不規則な細長い複数の図形が配置されたテストチャートが生成されるという作用をもたらす。
【００１６】
また、本技術の第３の側面は、それぞれの配置される角度が不規則な細長い複数の図形が所定の領域に配置され、上記所定の領域の画素値のばらつきの度合いを示す統計量を測定するためのテストチャートを撮像した画像データについて上記統計量を測定して測定値として出力する測定部と、所定値に対する上記複数の図形のそれぞれの幅の比である空間周波数と上記測定値とを対応付けて出力する出力部とを具備する測定装置である。これにより、空間周波数と、対応する測定値とが出力されるという作用をもたらす。
【００１７】
また、この第３の側面において、上記複数の図形は、所定長の複数の第１図形と長さが上記所定長と異なる複数の第２図形とを含み、上記所定の領域は、所定値に対する上記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第１の空間周波数に対応する上記統計量を測定するための第１の測定領域と、所定値に対する上記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第２の空間周波数に対応する上記統計量を測定するための第２の測定領域とを含み、上記複数の第１図形は、上記第１の測定領域に配置され、上記複数の第２図形は、上記第２の測定領域に配置され、上記測定部は、上記第１および第２の測定領域のそれぞれについて上記統計量を測定し、上記出力部は、上記第１および第２の空間周波数と上記第１および第２の測定領域のそれぞれの測定値とを対応付けて出力してもよい。これにより、第１および第２の測定領域のそれぞれについて空間周波数と、対応する測定値とが出力されるという作用をもたらす。
【００１８】
また、この第３の側面において、上記第１および第２の測定領域のそれぞれの測定値を所定の基準値を基準として正規化する正規化部をさらに具備し、上記テストチャートは、上記複数の第１図形の総面積と略一致する面積の特定の図形が配置された基準領域をさらに含み、上記測定部は、上記基準領域の上記統計量をさらに測定し、上記正規化部は、上記基準領域の上記測定値を上記所定の基準値として正規化してもよい。これにより、測定値が正規化されるという作用をもたらす。
【００１９】
また、この第３の側面において、上記画像データに生じたノイズに起因して上記測定値に生じる誤差を補正する補正部をさらに具備し、上記テストチャートは、模様の無いフラット領域をさらに含み、上記第１の測定領域には、上記フラット領域と同一の背景に上記複数の第１図形が配置され、上記第１の測定領域には、上記フラット領域と同一の背景に上記複数の第２図形が配置され、上記測定部は、上記フラット領域の上記統計量をさらに測定し、上記補正部は、上記フラット領域の上記測定値に基づいて上記誤差を補正してもよい。これにより、測定値の誤差が補正されるという作用をもたらす。
【発明の効果】
【００２０】
本技術によれば、テストチャートを用いて解像感を測定する装置において、測定精度を向上させることができるという優れた効果を奏し得る。なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれかの効果であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本技術の第１の実施の形態におけるテストチャート生成装置の一構成例を示すブロック図である。
【図２】本技術の第１の実施の形態におけるテストチャートの一例を示す図である。
【図３】本技術の第１の実施の形態における測定パッチの拡大図の一例である。
【図４】本技術の第１の実施の形態における矩形の配置方法を説明するための図である。
【図５】本技術の第１の実施の形態における設定パラメータの一例を示す図である。
【図６】本技術の第１の実施の形態におけるテストチャート生成処理の一例を示すフローチャートである。
【図７】本技術の第１の実施の形態における測定装置の一構成例を示すブロック図である。
【図８】本技術の第１の実施の形態における輝度毎の画素数の一例を示すグラフである。
【図９】本技術の第１の実施の形態における解像感の特性の一例を示すグラフである。
【図１０】本技術の第１の実施の形態における撮像装置ごとの解像感の特性の一例を示すグラフである。
【図１１】本技術の第１の実施の形態における解像感特性解析処理の一例を示すフローチャートである。
【図１２】本技術の第１の実施の形態の変形例における図形の一例を示す図である。
【図１３】本技術の第２の実施の形態におけるテストチャートの一例を示す図である。
【図１４】本技術の第２の実施の形態における解像感特性解析処理の一例を示すフローチャートである。
【図１５】本技術の第２の実施の形態における解像感測定処理の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本技術を実施するための形態（以下、実施の形態と称する）について説明する。説明は以下の順序により行う。
１．第１の実施の形態（細長い複数の矩形を配置する例）
２．第２の実施の形態（輝度領域ごとに細長い複数の矩形を配置する例）
【００２３】
＜１．第１の実施の形態＞
［テストチャート生成装置の構成例］
図１は、本技術の第１の実施の形態におけるテストチャート生成装置１００の一構成例を示すブロック図である。このテストチャート生成装置１００は、テストチャートを生成するための装置であり、乱数生成部１１０、配置部１２０、メモリ１４０およびテストチャート出力部１３０を備える。テストチャート生成装置１００としては、例えば、パーソナルコンピュータやタブレット端末などの情報処理装置が想定される。
【００２４】
ここで、「テストチャート」は、解像感を測定するために用いられる図柄そのものを意味する。また、テストチャートを表示または印刷するための画像データを以下、「テストチャート画像」と称し、テストチャートを印刷した用紙を「テストチャート用紙」と称する。なお、チャート類は必ずしも反射型である必要ななく、透過型の例えばフィルムであってもよい。
【００２５】
配置部１２０は、テストチャート内の所定形状（長方形など）の複数の領域のそれぞれに細長い複数の図形を配置するものである。以下、領域のそれぞれを「パッチ」と称する。そして、パッチに配置される図形のそれぞれの形状は同一であり、アスペクト比は１対１以外の値である。配置する図形の形状として、例えば、長方形が用いられる。この図形を以下、「矩形」と称する。
【００２６】
また、配置部１２０は、配置する矩形の個数や矩形の長さなどを設定した設定パラメータをメモリ１４０から信号線１２９を介して読み出し、複数の矩形のそれぞれについて、乱数生成部１１０から信号線１１９を介して乱数を受け取る。この乱数は、所定方向（水平方向など）に対する矩形の長さ方向の角度を決定するための乱数ｄと、配置する座標を決定するための乱数（ｘ、ｙ）とを含む。例えば、乱数ｄには、「１」乃至「３６０」の範囲の整数値が設定される。ｘには、水平座標を表す乱数が設定され、ｙには垂直座標を表す乱数が設定される。配置する矩形の個数がＮ（Ｎは、整数）個である場合、Ｎ個の乱数ｄと、Ｎ組の乱数（ｘ、ｙ）とが生成される。ここで、「長さ方向」は、矩形の長辺に平行な軸の方向を意味する。また、矩形の「位置」は、テストチャート内における矩形の代表点（例えば、中心）の位置を示す。本実施形態で矩形を生成する際に特定の方角や配置位置に集中を避ける為の生成する手段として仮に乱数発生部１１０として用いているが、特定の方角や配置位置に集中を避ける目的が達成できる手段であれば、他の手段で生成したりさらには人為的に生成と配置をしたりしても良く乱数発生部１１０に限定されない。
【００２７】
配置部１２０は、矩形に対応する乱数に基づいて、その位置と長さ方向の角度とを決定してパッチ内に配置する。これにより、矩形が配置される角度は不規則（言い換えれば、ランダム）となる。配置部１２０は、矩形の配置により、テストチャート画像を生成してメモリ１４０に保持させる。なお、乱数生成部１１０および配置部１２０は、特許請求の範囲に記載の図形生成部の一例である。
【００２８】
乱数生成部１１０は、複数の矩形のそれぞれについて乱数を生成して配置部１２０に供給するものである。乱数生成部１１０は、例えば、線形合同法や線形帰還シフトレジスタを用いて乱数を生成する。
【００２９】
メモリ１４０は、設定パラメータやテストチャート画像を保持するものである。テストチャート出力部１３０は、信号線１４９を介してメモリ１４０からテストチャート画像を読み出し、印刷装置や表示装置に出力するものである。
【００３０】
なお、テストチャート出力部１３０は、印刷機能を有し、テストチャート画像を紙に印刷して出力してもよい。また、テストチャート出力部１３０は、表示機能を有し、テストチャート画像を表示してもよい。
【００３１】
［テストチャートの例］
図２は、本技術の第１の実施の形態におけるテストチャート５００の一例を示す図である。このテストチャート５００には、ＤＣ（Direct Current）パッチ５０１、測定パッチ５１１乃至５２０と、フラットパッチ５０２とが配置される。それぞれのパッチの形状および面積は同一である。
【００３２】
測定パッチ５１１乃至５２０のそれぞれは、測定対象のパッチである。これらの測定パッチには、短冊形の細長い複数の矩形が配置される。これらの矩形は、背景より輝度の高い矩形（以下、「明矩形」と称する。）と背景より輝度の低い矩形（以下、「暗矩形」と称する。）とに大別される。なお、明矩形は、特許請求の範囲に記載の明図形の一例であり、暗図形は、特許請求の範囲に記載の暗図形の一例である。
【００３３】
また、矩形（明矩形および暗矩形）のそれぞれの合計数と長辺の長さは、測定パッチごとに異なり、それぞれのパッチ内で明矩形の個数と暗矩形の個数とは概ね同じである。また、測定パッチのそれぞれの矩形の総面積は、略一致するように調整される。したがって、長辺を長くするほど、矩形の個々の面積が大きくなるため、少ない個数の矩形が配置される。例えば、測定パッチ５１１の矩形の長辺は最も長く、個数は最も少ない。また、測定パッチ５２０の矩形の長辺は最も短く、個数は最も多い。ここで、「略一致する」とは、比較対象の２つの値が同一であること、または、それらの間に差があっても一定の許容値以内であることを意味する。なお、測定パッチ５１１は、特許請求の範囲に記載の第１の測定領域の一例であり、測定パッチ５１２は、特許請求の範囲に記載の第２の測定領域の一例である。
【００３４】
ＤＣパッチ５０１は、測定パッチの測定値を正規化する際に用いられるパッチである。ＤＣパッチ５０１には、特定の図形５０３および５０４が配置される。図形５０３は、暗矩形と輝度が同じで、その面積が、測定パッチ５１１内の暗矩形の総面積に略一致する。図形５０４は、明矩形と輝度が同じで、その面積が、測定パッチ５１１内の明矩形の総面積に略一致する。また、これらの図形５０３および５０４の形状は、例えば、正方形である。なお、ＤＣパッチ５０１は、特許請求の範囲に記載の基準領域の一例である。
【００３５】
フラットパッチ５０２は、ノイズに起因して生じる測定値の誤差を補正するために用いられるパッチである。このフラットパッチ５０２は、模様がなく、背景のみである。なお、フラットパッチ５０２は、特許請求の範囲に記載のフラット領域の一例である。
【００３６】
なお、測定パッチの個数を１０個としているが、測定パッチの個数は、１０個に限定されない。測定パッチの個数とテストチャート内のパッチの位置とは、測定対象の撮像装置のナイキスト周波数と撮像範囲とに応じて決定される。また、ＤＣパッチ５０１を配置しているが、撮像装置内の画像処理を停止させて測定する場合など、正規化の必要性に乏しい場合にはＤＣパッチ５０１を配置しない構成とすることもできる。また、フラットパッチ５０２を配置しているが、ノイズの影響が少ない場合など、誤差補正の必要性に乏しい場合には、フラットパッチ５０２を配置しない構成とすることもできる。
【００３７】
図３は、本技術の第１の実施の形態における測定パッチ５１１の拡大図の一例である。測定パッチ５１１には、複数の明矩形５３１と、明矩形５３１と同数の暗矩形５３２とが配置される。また、測定パッチ５１１内において、それぞれの矩形の形状、アスペクト比および長辺の長さは同一に設定される。また、複数の明矩形５３１のそれぞれの輝度は同じであり、複数の暗矩形５３２のそれぞれの輝度も同じである。測定パッチ５１２乃至５２０は、測定パッチ５１１と矩形のサイズおよび個数が異なる。
【００３８】
それぞれの測定パッチで明矩形と暗矩形との個数を同じにすることにより、それらの測定パッチの輝度の平均を背景と略同一にすることができる。輝度（明るさ）に応じて解像感が変動することがあるため、パッチのそれぞれの全体の輝度を背景と同程度に揃えることにより、測定精度を向上させることができる。なお、全体の輝度を背景に揃える必要が無い場合には、背景に明矩形および暗矩形の一方のみを配置することもできる。
【００３９】
ここで、該当パッチ毎の空間周波数は以下で定義される。つまり、矩形の短辺長（すなわち、幅）をＷとし、測定パッチ５１１の高さをＨとすると、測定パッチ５１１の空間周波数ｆは、次の式により求められる。
ｆ＝Ｈ／Ｗ
上式において、空間周波数ｆの単位は、例えば、Ｃｙｃｌｅ／ｍｍやＬＰ／ＰＨであり、幅Ｗおよび高さＨの単位は、例えば、ミリメートル（ｍｍ）である。ただし、通常の解像度を定義する場合、業界の解像度の単位の定義として、慣例により空間周波数として取り込み画像の短辺を基準に定義することから、評価取り込み画像の画面短辺をここで仮にＥＩＨ（Evaluation Image height）とすると、取り込み画像の画面全体で評価した際の換算の空間周波数はＥＩＨ／Ｈ倍となる。そのため、テストチャートには各測定パッチの寸法Ｈを正確に測定できる必要があり、そのために明示的に観測測定ができるマーカをさらに配置しいてもよい。
【００４０】
測定パッチ５１１乃至５２０のそれぞれの矩形の幅Ｗは異なり、測定手順や単位換算を容易にするために高さＨを個別の測定パッチ毎で統一してもよく、上式より、それぞれの空間周波数ｆは異なる値になる。各空間周波数ｆのパッチを撮像した画像の解析により、その画像の解像感を測定することができる。このように、空間周波数ごとに測定パッチを分けているため、比較的高い周波数成分の測定結果が、比較的低い周波数成分の測定結果に影響せず、測定精度を向上させることができる。これに対して、大きさの異なる複数の円を配置したテストチャートでは、大きな円のエッジ部分に高周波成分が含まれるため、その高周波成分が、小さな円の測定値に影響を与えて測定精度が低下してしまう。なお、測定パッチ５１１の空間周波数は、特許請求の範囲に記載の第１の空間周波数の一例であり、測定パッチ５１２の空間周波数は、特許請求の範囲に記載の第２の空間周波数の一例である。
【００４１】
また、測定パッチのそれぞれは、撮像装置の光学特性に合わせて自由に配置することができる。例えば、一般にオートフォーカス機能を用いる場合、テストチャートの中央付近の合焦精度が、その周辺よりも高い。このため、例えば、中央付近に比較的、空間周波数の低いパッチを配置することにより、確実に合焦させることができる。
【００４２】
図４は、本技術の第１の実施の形態における矩形の配置方法を説明するための図である。同図におけるａは、明矩形５３１を配置した測定パッチ５１１を示す図であり、同図におけるｂは、さらに暗矩形５３２を配置した測定パッチ５１１を示す図である。同図におけるｃは、さらに明矩形５３３を配置した測定パッチ５１１を示す図であり、同図におけるｄは、明矩形５３３の位置を変更した測定パッチ５１１を示す図である。
【００４３】
図４におけるａに例示するように、テストチャート生成装置１００は、まず、明矩形５３１の位置と、所定方向（水平方向など）に対する長さ方向の角度をランダムに決定して測定パッチ５１１に配置する。次に、テストチャート生成装置１００は、同図におけるｂに例示するように、暗矩形５３２の位置と長さ方向の角度とをランダムに決定して測定パッチ５１１に配置する。続いて、テストチャート生成装置１００は、同図におけるｃに例示するように、明矩形５３３の位置と長さ方向の角度とをランダムに決定して測定パッチ５１１に配置する。なお、テストチャート生成装置１００は、所定方向に対する長さ方向の角度をランダムに決定しているが、その代わりに、所定方向に対する幅方向の角度をランダムに決定してもよい。
【００４４】
ここで、隣接する明矩形は、重ならず、かつ、互いの辺の間の距離が所定距離より離れていなければならないものとする。暗矩形についても、重ならず、かつ、互いの辺の間の距離が所定距離より離れていなければならないものとする。なお、暗矩形と明矩形とは重なってもよいし、互いの辺の間の距離は所定距離内であってもよい。
【００４５】
図４におけるｃの点線は、明矩形の長辺および短辺から所定距離内の近接領域の境界を示す。この近接領域に明矩形５３３の一部が重なるため、明矩形５３１と明矩形５３３との互いの辺の間の距離が所定距離内である。そこで、テストチャート生成装置１００は、同図におけるｄに例示するように明矩形５３３の位置を明矩形５３１の近接領域と重ならないように変更する。
【００４６】
ここで、仮に配置の変更を行わずに、矩形のそれぞれをランダムに配置すると、明矩形や暗矩形が一か所に集中することがある。その個所は、周囲と比較して空間周波数が低くなり、測定パッチ内で空間周波数がばらついて測定精度を低下させるおそれがある。そこで、テストチャート生成装置１００では、図４に例示したように、一か所に明矩形や暗矩形が集中しないように位置を調整している。これにより、測定パッチ内で空間周波数がばらつくことを抑制し、測定精度を向上させることができる。
【００４７】
また、仮に矩形の長さ方向の角度をランダムにせずに同一方向に揃えると、その長さ方向に垂直な方向の空間周波数についてしか、解像感を測定することができなくなる。そこで、テストチャート生成装置１００では、長さ方向の角度をランダムにして配置している。
【００４８】
図５は、本技術の第１の実施の形態における設定パラメータの一例を示す図である。この設定パラメータは、「パッチ識別子」ごとに、「長さ」および「矩形数」を含む。「パッチ識別子」は、測定パッチ５１１乃至５２０のそれぞれを識別するための情報である。「長さ」は、測定パッチにおける矩形の長辺の長さを示す。「矩形数」は、測定パッチ内に配置される明矩形および暗矩形のそれぞれの個数の合計を示す。
【００４９】
例えば、測定パッチ５１１に「Ｐ１」のパッチ識別子が割り当てられる。その「Ｐ１」に対応付けて、長さ「Ｌ１」と矩形数「Ｎ１」とが設定される。「Ｐ２」乃至「Ｐ１０」のそれぞれに対応付けて、長さ「Ｌ２」乃至「Ｌ１０」と矩形数「Ｎ２」乃至「Ｎ１０」とが設定される。長さ「Ｌ１」には、「Ｌ１」乃至「Ｌ１０」のうち最大値が設定され、矩形数「Ｎ１」には、「Ｎ１」乃至「Ｎ１０」のうち最小値が設定される。パッチ識別子「Ｐ２」以降は、長さが短いほど、多くの矩形数が設定される。例えば、長さ「Ｌ１０」には、最小値が設定され、矩形数「Ｎ１０」には、最大値が設定される。
【００５０】
［テストチャート生成装置の動作］
図６は、本技術の第１の実施の形態におけるテストチャート生成処理の一例を示すフローチャートである。このテストチャート生成処理は、例えば、テストチャートを生成するための所定のアプリケーションが実行されたときに開始される。
【００５１】
テストチャート生成装置１００は、背景のみのテストチャートのＤＣパッチ内に図形５０３および５０４を配置する。そして、テストチャート生成装置１００は、最初の測定パッチを選択して、設定パラメータを参照し、対応する長さと矩形数Ｎとを取得する（ステップＳ９０１）。次に、テストチャート生成装置１００は、選択された測定パッチに明矩形の位置と長さ方向の角度とをランダムに決定する（ステップＳ９０２）。
【００５２】
そして、テストチャート生成装置１００は、配置した明矩形の少なくとも一部が、他の明矩形の近接領域内であるか否かを判断する（ステップＳ９０３）。近接領域内である場合に（ステップＳ９０３：Ｙｅｓ）、テストチャート生成装置１００は、その近接領域と重ならない位置に明矩形の位置を変更する（ステップ９０４）。
【００５３】
近接領域外である場合（ステップＳ９０３：Ｎｏ）、または、ステップＳ９０４の後にテストチャート生成装置１００は、暗矩形の位置と長さ方向の角度とをランダムに決定する（ステップＳ９０５）。
【００５４】
そして、テストチャート生成装置１００は、配置した暗矩形の少なくとも一部が、他の暗矩形の近接領域内であるか否かを判断する（ステップＳ９０６）。近接領域内である場合に（ステップＳ９０６：Ｙｅｓ）、テストチャート生成装置１００は、その近接領域と重ならない位置に暗矩形の位置を変更する（ステップ９０７）。
【００５５】
近接領域外である場合（ステップＳ９０６：Ｎｏ）、または、ステップＳ９０７の後にテストチャート生成装置１００は、パッチ内の矩形数が、配置中の測定パッチに対応する個数（Ｎ）に達したか否かを判断する（ステップＳ９０８）。
【００５６】
矩形数がＮに達した場合に（ステップＳ９０８：Ｙｅｓ）、テストチャート生成装置１００は、測定パッチの全てについて矩形の配置が完了したか否かを判断する（ステップＳ９０９）。配置が完了していない場合に（ステップＳ９０９：Ｎｏ）、テストチャート生成装置１００は、次の配置対象の測定パッチを選択し、設定パラメータを参照して、対応する長さと矩形数Ｎとを取得する（ステップＳ９１０）。
【００５７】
矩形数がＮに達していない場合（ステップＳ９０８：Ｎｏ）、または、ステップＳ９１０の後にテストチャート生成装置１００は、ステップＳ９０２以降を繰り返し実行する。配置が完了した場合に（ステップＳ９０９：Ｙｅｓ）、テストチャート生成装置１００は、テストチャート生成処理を終了する。
【００５８】
［測定装置の構成例］
図７は、本技術の第１の実施の形態における測定装置３００の一構成例を示すブロック図である。測定装置３００は、撮像装置２００が撮像する画像データの解像感を測定するための装置であり、その撮像装置２００に有線または無線により接続される。測定装置３００としては、例えば、パーソナルコンピュータやタブレット端末などの情報処理装置が想定される。測定装置３００は、測定部３１０、補正部３２０、記憶部３３０、正規化部３４０および測定結果出力部３５０を備える。
【００５９】
撮像装置２００は、テストチャート用紙を撮像するものである。テストチャート用紙は、テストチャート全体が写る程度の、撮像装置２００から離れた位置に設けられる。撮像装置２００は、ＡＦ（Auto Focus）機能などを用いてテストチャート用紙に合焦して画像データを撮像する。そして、撮像装置２００は、撮像した画像データを測定部３１０に信号線２０９を介して供給する。この画像データは、二次元格子状に配置された複数の画素を含む。なお、撮像装置２００は、テストチャート用紙を撮像しているが、その代わりに、表示装置に表示されたテストチャート画像を撮像することもできる。
【００６０】
測定部３１０は、パッチごとに、そのパッチ内の画素の画素値のばらつきの度合いを表す統計量を測定するものである。統計量として、例えば、次の式により、標準偏差ｓが演算される。なお、測定する統計量は、ばらつきの度合いを表すものであれば、標準偏差ｓに限定されない。例えば、測定部３１０は、標準偏差ｓの代わりに分散を演算してもよい。
【数１】
2019041197.tif 000003
上式において、ｎは、パッチ内の画素数を示す。ｘｉは、パッチ内のｉ番目の画素の画素値（例えば、輝度値）を示す。ｘＡＶＧは、パッチ内の画素値の平均値を示す。
【００６１】
測定パッチを１０個とすると、ＤＣパッチおよびフラットパッチを含めてパッチ数は計１２個である。この場合には、１２個の標準偏差ｓが演算される。測定部３１０は、それらの標準偏差ｓを補正部３２０に信号線３１９を介して供給する。
【００６２】
補正部３２０は、画像データ内のノイズに起因して測定パッチの測定値（標準偏差）に生じる誤差を、フラットパッチの測定値を用いて補正するものである。この補正部３２０は、例えば、次の式により補正を行う。
ｓｘ'＝（ｓｘ２−ｓｎ２）１／２
上式においてｓｘ'は、補正後の測定パッチの標準偏差であり、ｓｘは、補正前の測定パッチの標準偏差である。ｓｎは、フラットパッチの標準偏差である。
【００６３】
補正部３２０は、補正後の標準偏差ｓｘ'のそれぞれと、ＤＣパッチの標準偏差ｓＤＣとを正規化部３４０に信号線３２９を介して供給する。
【００６４】
正規化部３４０は、ＤＣパッチの標準偏差ｓＤＣを基準として、測定パッチの標準偏差ｓｘ'のそれぞれを正規化するものである。例えば、標準偏差ｓｘ'は、次の式により正規化される。正規化部３４０は、正規化後の標準偏差のそれぞれを測定結果出力部３５０に信号線３４９を介して出力する。
ｓnorm＝ｓｘ'／ｓＤＣ
上式において、ｓnormは、正規化後の標準偏差である。
【００６５】
撮像装置２００の光学系の光学特性が同一であっても、内部の画像処理が異なると、標準偏差の絶対値が変動する。しかし、正規化を行うことにより、その変動の影響を軽減して解像感を評価することができる。
【００６６】
記憶部３３０は、測定パッチのそれぞれの空間周波数を示す周波数情報などのデータを記憶するものである。
【００６７】
測定結果出力部３５０は、測定パッチのそれぞれについて空間周波数と標準偏差の測定値とを対応付けて出力するものである。この測定結果出力部３５０は、周波数情報を記憶部３３０から信号線３３９を介して読み出し、正規化後の標準偏差を正規化部３４０から受け取る。そして、測定結果出力部３５０は、空間周波数および標準偏差を対応付けて、それらの関係を示すグラフなどの形式で表示装置などに出力する。なお、測定結果出力部３５０は、特許請求の範囲に記載の出力部の一例である。
【００６８】
図８は、本技術の第１の実施の形態における輝度毎の画素数の一例を示すグラフである。同図における縦軸は、画素数を示し、横軸は輝度を示す。暗矩形の輝度をｘ１とし、背景の輝度をｘ２とし、明矩形の輝度をｘ３とする。ある測定パッチにおいて輝度ｘ２の画素数は、ｎ１である。また、暗矩形および明矩形の個数は同じであるため、輝度ｘ１の画素数と輝度ｘ３の画素数とは、いずれもｎ２となる。この統計データから標準偏差が演算される。
【００６９】
図９は、本技術の第１の実施の形態における解像感の特性の一例を示すグラフである。同図における縦軸は、正規化後の標準偏差を示し、横軸は、測定パッチの空間周波数を示す。また、実線は、誤差補正および正規化を行った場合の軌跡を示し、一点鎖線は、誤差補正せずに正規化した場合の軌跡を示す。
【００７０】
測定パッチ５１１乃至５２０の空間周波数をｆ１乃至ｆ１０とし、ｓ１乃至ｓ１０の標準偏差が測定されたものとする。一般にコントラストの低い部分は、空間周波数が高くなるほど、信号処理によりディテールを喪失して標準偏差が小さくなる傾向にある。これにより、画像データの解像感と、解像度との間に乖離が生じることがある。ここで、「解像度」は、画像データ内の画素の密度を示す。しかし、高周波数帯域における標準偏差の低下の度合いが小さい撮像装置は、乖離が少なく、解像感の特性が良好であると評価することができる。なお、軌跡の中央付近の標準偏差が両端より大きく、山なりになっているが、中央付近の標準偏差が大きいのは、撮像装置２００内のシャープネス処理等の画像処理による影響である。
【００７１】
また、暗電流などの様々な要因により画像データにノイズが生じると、標準偏差の測定値に誤差が生じる。このノイズは、円に近い粒状のものが多く、細長い矩形とは形状が異なる。したがって、ノイズが測定値に与える影響は、空間周波数に関わらず同程度となり、ノイズが生じても軌跡の形状に変化が生じにくい。
【００７２】
これに対して、輝度や大きさの異なる複数の円を配置したテストチャートを撮像してフーリエ解析した場合は、比較的小さな円とノイズとが類似するため、低周波数帯域の誤差よりも高周波数帯域の誤差の方が大きくなる。この結果、フーリエ解析結果を示す軌跡の形状が大きく変化してしまう。
【００７３】
このように、細長い矩形を配置したテストチャートを用いることにより、円を配置するテストチャートを用いる場合と比較してノイズによる影響を軽減し、解像感の測定精度を向上させることができる。
【００７４】
図１０は、本技術の第１の実施の形態における撮像装置ごとの解像感の特性の一例を示すグラフである。同図における縦軸は、正規化後の標準偏差を示し、横軸は空間周波数を示す。実線は、解像感の特性が最もよい撮像装置の軌跡を示し、点線は、解像感の特性が２番目に良好な撮像装置の軌跡を示す。一点鎖線は、解像感の特性が最も悪い撮像装置の軌跡を示す。同図に例示するように、解像感の特性が良好な撮像装置では、高周波数帯域において、標準偏差が低下しにくい。
【００７５】
図１１は、本技術の第１の実施の形態における解像感特性解析処理の一例を示すフローチャートである。この解像感特性解析処理は、例えば、解像感を測定するための所定のアプリケーションが実行されたときに開始される。
【００７６】
測定装置３００は、パッチごとに標準偏差を測定する（ステップＳ９５１）。そして、測定装置３００は、フラットパッチの測定値により、ノイズによる、測定パッチの測定値の誤差を補正する（ステップＳ９５２）。そして、測定装置３００は、ＤＣパッチの測定値により、標準偏差を正規化し（ステップＳ９５３）、空間周波数ごとに標準偏差をプロットしたグラフを生成して出力する（ステップＳ９５４）。ステップＳ９５４の後に測定装置３００は、解像感特性解析処理を終了する。複数の撮像装置について解像感を測定する際には、ステップＳ９５１乃至Ｓ９５４が、撮像装置ごとに実行される。
【００７７】
このように、本技術の第１の実施の形態では、テストチャート生成装置１００が、細長い複数の矩形を配置したテストチャートを生成するため、測定装置３００は、そのテストチャートを撮像した画像データの解析により解像感を正確に測定することができる。
【００７８】
［変形例］
上述の第１の実施の形態では、テストチャート生成装置１００は、矩形を配置していたが、細長い図形であれば、図形の形状は矩形に限定されない。この第１の実施の形態の変形例におけるテストチャート生成装置１００は、矩形以外の図形を配置する点において第１の実施の形態と異なる。
【００７９】
図１２は、本技術の第１の実施の形態の変形例における図形の一例を示す図である。テストチャート生成装置１００は、同図におけるａやｂに例示するように、角の丸い長方形である角丸長方形を配置することができる。また、テストチャート生成装置１００は、同図におけるｃに例示するように、楕円を配置することもできる。角丸長方形や楕円のような、細長い閉じた曲線は、「オーバル」と呼ばれる。オーバルの「長さ方向」は、オーバルの長軸の方向を意味する。なお、図形の形状は、アスペクト比が１対１に該当しない細長い形状であれば、矩形形状やオーバル形状に限定されない。例えば、細長い８角形や細長い６角形などの多角形であってもよい。
【００８０】
このように、本技術の第１の実施の形態の変形例では、テストチャート生成装置１００は、オーバルを配置したテストチャートを生成するため、測定装置３００は、そのテストチャートを撮像した画像データの解析により解像感を正確に測定することができる。
【００８１】
＜２．第２の実施の形態＞
上述の第１の実施の形態では、パッチの背景の輝度を一定としていたが、背景の輝度が変動する場合を想定すると、それぞれの輝度に対して解像感が異なる特性を示す可能性がある。例えば、撮像装置２００内の固体撮像素子の感度が比較的低い場合には、低輝度のテストチャート用紙を撮像した際に、光量不足により画像データが不鮮明になることがある。このため、背景の輝度が一定の第１の実施の形態では、その輝度を変えたときの解像感の特性を評価することができない。輝度に応じた解像感の特性を求めるには、例えば、輝度の異なる複数の背景をテストチャート内で使用すればよい。この第２の実施の形態のテストチャートは、輝度の異なる複数の背景を設けた点において第１の実施の形態と異なる。
【００８２】
図１３は、本技術の第２の実施の形態におけるテストチャート５５０の一例を示す図である。このテストチャート５５０には、背景の輝度の異なる４つの領域が設けられる。背景の輝度が同一の領域を以下、「輝度領域」と称する。４つの輝度領域のそれぞれは、３つのブロックに分割される。すなわち、ブロックの個数は１２個である。これらのブロックをブロック５５１乃至５６２とする。
【００８３】
ブロック５５１、５５２および５５３からなる領域が、輝度領域Ａに該当し、ブロック５５４、５５５および５５６からなる領域が、輝度領域Ｂに該当する。ブロック５５７、５５８および５５９からなる領域が、輝度領域Ｃに該当し、ブロック５６０、５６１および５６２からなる領域が、輝度領域Ｄに該当する。
【００８４】
また、ブロック５５１には、第１の実施の形態におけるＤＣパッチ５０１、測定パッチ５１１、測定パッチ５１２および測定パッチ５１３のそれぞれと同様のパッチが配置される。ブロック５５２には、第１の実施の形態における測定パッチ５１４、５１５、５１６および５１７のそれぞれと同様のパッチが配置される。ブロック５５３には、第１の実施の形態における測定パッチ５１８、測定パッチ５１９、測定パッチ５２０およびフラットパッチ５０２のそれぞれと同様のパッチが配置される。輝度領域Ｂ、ＣおよびＤの構成は、背景の輝度が異なる点以外は、輝度領域Ａと同様である。なお、ブロック５５１内の測定領域は、特許請求の範囲に記載の暗測定領域の一例であり、ブロック５５４内の測定領域は、特許請求の範囲に記載の明測定領域の一例である。
【００８５】
なお、輝度領域を４つ配置しているが、輝度領域の個数は２つ以上であれば、４つに限定されない。
【００８６】
図１４は、本技術の第２の実施の形態における解像感特性解析処理の一例を示すフローチャートである。測定装置３００は、輝度領域のいずれかを選択し（ステップＳ９６１）、解像感を測定するための解像感測定処理を実行する（ステップＳ９７０）。そして、測定装置３００は、全ての輝度領域を測定したか否かを判断する（ステップＳ９６２）。全ての輝度領域を測定していない場合に（ステップＳ９６２：Ｎｏ）、測定装置３００は、ステップＳ９６１以降を繰り返し実行する。一方、全ての輝度領域を測定した場合に（ステップＳ９６２：Ｙｅｓ）、測定装置３００は、解像感特性解析処理を終了する。
【００８７】
図１５は、本技術の第２の実施の形態における解像感測定処理の一例を示すフローチャートである。測定装置３００は、パッチごとに標準偏差を測定する（ステップＳ９７１）。そして、測定装置３００は、フラットパッチの測定値により、ノイズによる誤差を補正する（ステップＳ９７２）。測定装置３００は、ＤＣパッチの測定値により、標準偏差を正規化し（ステップＳ９７３）、空間周波数ごとに標準偏差をプロットしたグラフを生成して出力する（ステップＳ９７４）。ステップＳ９７４の後に測定装置３００は、解像度特性解析処理を終了する。この結果、輝度領域Ａ、Ｂ、ＣおよびＤのそれぞれについてグラフが生成される。
【００８８】
このように、本技術の第２の実施の形態では、背景の輝度が互いに異なる複数の輝度領域を含むテストチャートをテストチャート生成装置１００が生成するため、測定装置３００に輝度に応じた解像感の特性を測定させることができる。
【００８９】
なお、上述の実施の形態は本技術を具現化するための一例を示したものであり、実施の形態における事項と、特許請求の範囲における発明特定事項とはそれぞれ対応関係を有する。同様に、特許請求の範囲における発明特定事項と、これと同一名称を付した本技術の実施の形態における事項とはそれぞれ対応関係を有する。ただし、本技術は実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において実施の形態に種々の変形を施すことにより具現化することができる。
【００９０】
また、上述の実施の形態において説明した処理手順は、これら一連の手順を有する方法として捉えてもよく、また、これら一連の手順をコンピュータに実行させるためのプログラム乃至そのプログラムを記憶する記録媒体として捉えてもよい。この記録媒体として、例えば、ＣＤ（Compact Disc）、ＭＤ（MiniDisc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、メモリカード、ブルーレイディスク（Blu-ray（登録商標）Disc）等を用いることができる。
【００９１】
なお、本明細書に記載された効果はあくまで例示であって、限定されるものではなく、また、他の効果があってもよい。
【００９２】
なお、本技術は以下のような構成もとることができる。
（１）それぞれの配置される角度が不規則な細長い複数の図形が所定の領域に配置され、前記所定の領域の画素値のばらつきの度合いを示す統計量を測定するためのテストチャート。
（２）前記複数の図形は、所定長の複数の第１図形と長さが前記所定長と異なる複数の第２図形とを含み、
前記所定の領域は、所定値に対する前記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第１の空間周波数に対応する前記統計量を測定するための第１の測定領域と、所定値に対する前記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第２の空間周波数に対応する前記統計量を測定するための第２の測定領域とを含み、
前記複数の第１図形は、前記第１の測定領域に配置され、
前記複数の第２図形は、前記第２の測定領域に配置される
前記（１）記載のテストチャート。
（３）前記複数の第１図形の総面積と略一致する面積の特定の図形が配置された基準領域をさらに含む
前記（２）記載のテストチャート。
（４）模様の無いフラット領域をさらに含み、
前記第１の測定領域には、前記フラット領域と同一の背景に前記複数の第１図形が配置され、
前記第２の測定領域には、前記フラット領域と同一の背景に前記複数の第２図形が配置される
前記（２）または（３）に記載のテストチャート。
（５）前記第１の測定領域は、前記背景の輝度が所定輝度より高い第１の明測定領域と前記背景の輝度が前記所定輝度より低い第１の暗測定領域とを含み、
前記第２の測定領域は、前記背景の輝度が前記所定輝度より高い第２の明測定領域と前記背景の輝度が前記所定輝度より低い第２の暗測定領域とを含む
前記（２）から（４）のいずれかに記載のテストチャート。
（６）前記複数の図形は、前記背景より輝度が高い明図形と前記背景より輝度が低い暗図形とを含み、
前記明図形と前記暗図形とのそれぞれの個数および形状が概ね同一である
前記（１）から（５）のいずれかに記載のテストチャート。
（７）前記複数の同一輝度の図形のそれぞれは、互いに重ならず、かつ、互いの辺の間の距離が所定距離より離れた位置に配置される
前記（１）から（６）のいずれかに記載のテストチャート。
（８）前記複数の図形のそれぞれの形状は、細長い矩形形状である
前記（１）から（７）のいずれかに記載のテストチャート。
（９）前記複数の図形のそれぞれの形状は、オーバル形状である
前記（１）から（７）のいずれかに記載のテストチャート。
（１０）細長い複数の図形のそれぞれついて位置と角度を分散して配置する図形生成部
を具備するテストチャート生成装置。
（１１）それぞれの配置される角度が不規則な細長い複数の図形が所定の領域に配置され、前記所定の領域の画素値のばらつきの度合いを示す統計量を測定するためのテストチャートを撮像した画像データについて前記統計量を測定して測定値として出力する測定部と、
所定値に対する前記複数の図形のそれぞれの幅の比である空間周波数と前記測定値とを対応付けて出力する出力部と
を具備する測定装置。
（１２）前記複数の図形は、所定長の複数の第１図形と長さが前記所定長と異なる複数の第２図形とを含み、
前記所定の領域は、所定値に対する前記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第１の空間周波数に対応する前記統計量を測定するための第１の測定領域と、所定値に対する前記複数の第１図形のそれぞれの幅の比である第２の空間周波数に対応する前記統計量を測定するための第２の測定領域とを含み、
前記複数の第１図形は、前記第１の測定領域に配置され、
前記複数の第２図形は、前記第２の測定領域に配置され、
前記測定部は、前記第１および第２の測定領域のそれぞれについて前記統計量を測定し、
前記出力部は、前記第１および第２の空間周波数と前記第１および第２の測定領域のそれぞれの測定値とを対応付けて出力する
前記（１１）記載の測定装置。
（１３）前記第１および第２の測定領域のそれぞれの測定値を所定の基準値を基準として正規化する正規化部をさらに具備し、
前記テストチャートは、前記複数の第１図形の総面積と略一致する面積の特定の図形が配置された基準領域をさらに含み、
前記測定部は、前記基準領域の前記統計量をさらに測定し、
前記正規化部は、前記基準領域の前記測定値を前記所定の基準値として正規化する
前記（１２）記載の測定装置。
（１４）前記画像データに生じたノイズに起因して前記測定値に生じる誤差を補正する補正部をさらに具備し、
前記テストチャートは、模様の無いフラット領域をさらに含み、
前記第１の測定領域には、前記フラット領域と同一の背景に前記複数の第１図形が配置され、
前記第１の測定領域には、前記フラット領域と同一の背景に前記複数の第２図形が配置され、
前記測定部は、前記フラット領域の前記統計量をさらに測定し、
前記補正部は、前記フラット領域の前記測定値に基づいて前記誤差を補正する
前記（１２）または（１３）に記載の測定装置。
（１５）細長い複数の図形のそれぞれについて位置と角度を分散して配置する図形生成手順
を具備するテストチャート生成方法。
（１６）細長い複数の図形のそれぞれについて位置と角度を分散して配置する図形生成手順と、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【符号の説明】
【００９３】
１００  テストチャート生成装置
１１０  乱数生成部
１２０  配置部
１３０  テストチャート出力部
１４０  メモリ
２００  撮像装置
３００  測定装置
３１０  測定部
３２０  補正部
３３０  記憶部
３４０  正規化部
３５０  測定結果出力部
【図１】
2019041197.tif 000004
【図２】
2019041197.tif 000005
【図３】
2019041197.tif 000006
【図４】
2019041197.tif 000007
【図５】
2019041197.tif 000008
【図６】
2019041197.tif 000009
【図７】
2019041197.tif 000010
【図８】
2019041197.tif 000011
【図９】
2019041197.tif 000012
【図１０】
2019041197.tif 000013
【図１１】
2019041197.tif 000014
【図１２】
2019041197.tif 000015
【図１３】
2019041197.tif 000016
【図１４】
2019041197.tif 000017
【図１５】
2019041197.tif 000018