(57)【要約】【課題】ＣＴ１次試験を効率的かつ安全に実施する。【解決手段】試験器１１から回路切替器１８に試験電流を入力するための試験器側入力端子Ｔ１と、回路切替器１８から試験対象である線路Ａに試験電流を出力するための線路側出力端子Ｔ２と、この線路Ａからの試験電流を回路切替器１８に入力するための線路側入力端子Ｔ３と、線路Ａからの試験電流を試験器１１に出力するための試験器側出力端子Ｔ４と、端子Ｔ１と端子Ｔ２とをつなぐ配線２ａ、及び、端子Ｔ３と端子Ｔ４とをつなぐ配線２ｂ、はともにアース９に接続されている分岐線３ａ，３ｂを備え、これらの分岐線３ａ，３ｂはそれぞれ可変抵抗器と第１のスイッチとを備え、分岐線３ａ，３ｂのそれぞれに並設されかつ第２のスイッチを備えている迂回路４ａ，４ｂを備え、端子Ｔ１と分岐線３ａの分岐点１０ａとの間に設けられている第３のスイッチ７とを備えているＣＴ１次試験用回路切替器１による。【選択図】図１
2019126225.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験器（１１）から試験電流を流して行うＣＴ（変流器）１次試験に用いられる回路切替器であって、
前記試験器（１１）からの前記試験電流を前記回路切替器（１８）に入力するための試験器側入力端子（Ｔ１）と、
前記回路切替器（１８）から試験対象である線路に前記試験電流を出力するための線路側出力端子（Ｔ２）と、
前記線路からの前記試験電流を前記回路切替器（１８）に入力するための線路側入力端子（Ｔ３）と、
前記線路からの前記試験電流を前記試験器（１１）に出力するための試験器側出力端子（Ｔ４）と、
前記試験器側入力端子（Ｔ１）と前記線路側出力端子（Ｔ２）とをつなぐ第１の配線（２ａ）と、
前記線路側入力端子（Ｔ３）と前記試験器側出力端子（Ｔ４）とをつなぐ第２の配線（２ｂ）と、
前記第１の配線（２ａ）から分岐している第１の分岐線（３ａ）と、
前記第２の配線（２ｂ）から分岐している第２の分岐線（３ｂ）と、
前記第１及び第２の分岐線（３ａ,３ｂ）の下流側に接続されているアース（９）と、
前記第１及び第２の分岐線（３ａ,３ｂ）上に設けられ、互いに連動して動作するそれぞれの第１のスイッチ(５ａ, ５ｂ)と、  
前記第１及び第２の分岐線（３ａ,３ｂ）上に設けられ、互いに連動して動作するそれぞれの可変抵抗器（８ａ,８ｂ）と、
前記第１の配線（２ａ）上の前記第１の分岐線（３ａ）との第１の分岐点（１０ａ）と前記アース（９）の間に、前記第１のスイッチ(５ａ)と前記可変抵抗器（８ａ）と並列に設けられている第１の迂回路（４ａ）と、
前記第２の配線（２ｂ）上の前記第２の分岐線（３ｂ）との第２の分岐点（１０ｂ）と前記アース（９）の間に、前記第１のスイッチ(５ｂ)と前記可変抵抗器（８ｂ）と並列に設けられている第２の迂回路（４ｂ）と、
前記第１及び第２の迂回路（４ａ,４ｂ） 上に設けられ、互いに連動して動作するそれぞれの第２のスイッチ(６ａ, ６ｂ)と、
前記第１の配線（２ａ）上の前記第１の分岐線（３ａ）との前記第１の分岐点（１０ａ）と前記試験器側入力端子（Ｔ１）との間に設けられている第３のスイッチ（７）と、を備えていることを特徴とするＣＴ１次試験用回路切替器（１）。
【請求項２】
２つの前記第１のスイッチ(５ａ, ５ｂ)を連動させて操作するための第１の操作部と、
２つの前記第２のスイッチ(６ａ, ６ｂ)を連動させて操作するための第２の操作部と、
前記第３のスイッチ（７）を操作するための第３の操作部と、
２つの前記可変抵抗器（８ａ,８ｂ）を連動させて操作するための第４の操作部と、を備えていることを特徴とする請求項１に記載のＣＴ１次試験用回路切替器。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載のＣＴ１次試験用回路切替器（１）を備えてなる試験システムであって、
前記ＣＴ１次試験用回路切替器（１）における前記試験器側入力端子（Ｔ１）と、前記試験器（１１）における出力端子（Ｔ５）とが接続され、
前記ＣＴ１次試験用回路切替器（１）における前記線路側出力端子（Ｔ２）と、被試験対象である任意の線路における変流器（１２）の上流側とが接続され、
前記ＣＴ１次試験用回路切替器（１）における前記線路側入力端子（Ｔ３）と、被試験対象である任意の前記線路における前記変流器（１２）の下流側とが接続され、
前記ＣＴ１次試験用回路切替器（１）における前記試験器側出力端子（Ｔ４）と、前記試験器（１１）における入力端子（Ｔ６）とが接続されていることを特徴とするＣＴ１次試験回路システム（１６）。
【請求項４】
請求項１又は請求項２に記載のＣＴ１次試験用回路切替器（１）を３つ備えて、第１乃至第３の線路を備える３相交流送電線のＣＴを３相直列で試験するための試験システムであって、
前記第１のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ａ）における線路側出力端子（Ｔ２）と、被試験対象である前記第１の線路（Ａ）における変流器（１２）の上流側（Ａ１）とが接続され、
前記第１のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ａ）における線路側入力端子（Ｔ３）と、被試験対象である前記第１の線路（Ａ）における前記変流器（１２）の下流側（Ａ２）とが接続され、
前記第１のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ａ）における試験器側入力端子（Ｔ１）と、前記試験器（１１）における出力端子（Ｔ５）とが接続され、
前記第１のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ａ）における試験器側出力端子（Ｔ４）と、前記第２のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ｂ）における試験器側入力端子（Ｔ１）とが接続され、
前記第２のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ｂ）における線路側出力端子（Ｔ２）と、被試験対象である前記第２の線路（Ｂ）における前記変流器（１２）の上流側（Ｂ１）とが接続され、
前記第２のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ｂ）における線路側入力端子（Ｔ３）と、被試験対象である前記第２の線路（Ｂ）における前記変流器（１２）の下流側（Ｂ２）とが接続され、
前記第２のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ｂ）における試験器側出力端子（Ｔ４）と、前記第３のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ｃ）における試験器側入力端子（Ｔ１）とが接続され、
前記第３のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ｃ）における線路側出力端子（Ｔ２）と、被試験対象である前記第３の線路（Ｃ）における前記変流器（１２）の上流側（Ｃ１）とが接続され、
前記第３のＣＴ１次試験用回路切替器（１Ｃ）における線路側入力端子（Ｔ３）と、被試験対象である前記第３の線路（Ｃ）における前記変流器（１２）の下流側（Ｃ２）とが接続され、
前記第３のＣＴ１次試験用回路切替器（Ｃ）における試験器側出力端子（Ｔ４）と、前記試験器（１１）における入力端子（Ｔ６）とが接続されていることを特徴とするＣＴ１次試験回路システム（１７）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、変流器（以下「ＣＴ」という）を含む保護継電器の諸特性を確認するためにそのＣＴの１次側（高圧側）から試験電流を流して行う試験（以下、「ＣＴ１次試験」という）に用いるのに好適なＣＴ１次試験用回路切替器およびそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電力会社においては、例えば、ＣＴに付属する遮断器や保護継電器を取り替えた場合、あるいはＣＴ回路（ＣＴに関係する回路）の接続を変更した場合には、ＣＴの１次側から試験電流（試験電気量）を流すことによりＣＴ１次試験を行っている。
ＣＴ１次試験には、送電線の３相（赤相、白相、青相と称される）の各相毎に通電する「１相宛て試験」と、３相直列で通電する「タスキがけ試験」とがある。そして、この「１相宛て試験」は、ＣＴの１次側から１相ずつ試験電流を流していくことにより、正相回路のチェック（ＣＴ比及び極性のチェック）を行う試験である。また、「タスキがけ試験」は、ＣＴの１次側からタスキがけで送電線の３相に試験電流を流すことにより、零相回路のチェック及び地絡方向継電器の整定チェックを行う試験である。
従来、このようなＣＴ１次試験においては、母線側の送電線の各相（赤相、白相及び青相）にそれぞれ取り付けられている断路器（ＬＳ）が、所定の作業手順により、線路（ライン）側の送電線の各相（赤相、白相及び青相）にそれぞれ取り付けられている断路器に、遮断器（ＣＢ）を介して接続される。
なお、上記「１相宛て試験」と「タスキがけ試験」の詳細な作業手順については、特許文献１中に記載されている通りである。
【０００３】
さらに、上述のような「１相宛て試験」及び「タスキがけ試験」の現場では、試験器（後段に示す図１，５中の試験器１１を参照）と、線路（本願明細書では線路Ａ；上述の「赤相」に相当、線路Ｂ；上述の「白相」に相当、及び、線路Ｃ；上述「青相」に相当）との接続はアースフックにより行われている。
しかしながら、ＣＴ１次試験時のアースフックの着脱作業は、線路に残存する誘導電流によりアークが発生する、あるいは作業者の生死にかかわるような感電が起こるリスクがあり、極めて危険な作業であった。
このような事情に鑑み、従来のアースフックに拠らないでＣＴ１次試験用の試験器と線路とを接続可能にするための回路端子や回路切替装置に関する先行技術がいくつか知られている。
【０００４】
特許文献１には「ＣＴ１次試験用回路切替装置及び切替方法」という名称で、ＣＴ１次試験の作業時間の短縮及び作業者の感電防止を図ることができるＣＴ１次試験用回路切替装置及び切替方法に関する発明が開示されている。
特許文献１に開示されるＣＴ１次試験用回路切替装置は、本願発明と同一の出願人によるものであり、文献中に記載されている符号をそのまま用いて説明すると、試験回路から試験電流入力端子（１１）に入力された試験電流を第１乃至第３の出力端子（５１，５２，５３）のうちの所定の出力端子から出力し、変流器（ＣＴ）から戻ってくる試験電流を第１乃至第３の入力端子（６１，６２，６３）のうちの所定の入力端子に入力し、この試験電流を試験電流出力端子（１２）から試験回路へ出力するようにそれぞれ開閉される複数個のスイッチ（２１，２２，３２，３３，３４）を具備してなるものである。
上述のような特許文献１に開示される発明によれば、ＣＴ１次試験時に、試験回路からの試験電流の出入力の切り替えを、スイッチを介して行うことができる。
この場合、試験器（試験回路）と線路の接続作業にアースフックを用いる必要がないので、ＣＴ１次試験の作業時に、作業者が感電するリスクを大幅に低減することができる。
【０００５】
特許文献２には「試験用リード接続端子」という名称で、ＣＴ１次試験の作業性の向上が図れる試験用リード接続端子に関する発明が開示されている。
特許文献１に開示される試験用リード接続端子も本願発明と同一の出願人によるものであり、文献中に記載されている符号をそのまま用いて説明すると、絶縁材料からなるパネル板１１と、パネル板１１の表面に形成された導電材料からなる配線部１２とを具備する。配線部１２には、手締めネジ１５が螺合するネジ穴１３１〜１３１２が形成されており、アース部１２Ｅと接続部１２Ｃと第１および第２の赤相リード接続部１２Ｒ１，１２Ｒ２と第１および第２の白相試験用リード接続部１２１Ｗ，１２２Ｗと第１および第２の青相試験用リード接続部１２１Ｂ，１２２Ｂとはそれぞれ、通常はネジ穴１３１〜１３１２によって電気的に分離されているが、手締めネジ１５をネジ穴１３１〜１３１２に螺合することにより電気的に導通するようにされていることを特徴とするものである。
上述のような特許文献２に開示される発明によれば、手締めネジの取付箇所を変更するだけで配線変更ができるので、配線変更作業を容易に行うことができる。また、複数の回線について単相入力のＣＴ１次試験およびタスキがけ入力のＣＴ１次試験を続けて実施する場合でも配線変更作業を容易に行うことができるという効果を有する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００７−３７３０９号公報
【特許文献２】特開２００８−３１１３０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述の特許文献１に開示される発明によれば、ＣＴ１次試験の作業時間の短縮、及び、作業時の作業者の感電を好適に防止することができると考えられる。しかしながら、通常試験対象となる線路には誘導電流が生じているため、作業用アースの取り外し手順を間違えた場合は、作業者の感電事故が起こる、あるいはアークが発生して作業者が火傷をするおそれがあり極めて危険であった。
また、特許文献１に開示される発明の場合は、ＣＴ１次試験用回路切替装置を構成するスイッチ等に不具合があるか否かを事前に確認することができないという課題も有していた。
【０００８】
上述の特許文献２に開示される発明の場合も、効率的に試験を行えるというメリットを有するものの、上述の特許文献１に開示される場合と同様に、手締めボルトによる回路の切り替え時にやはり作業者の感電事故が起こる、あるいはアークが発生して作業者が火傷をするおそれがあり危険であった。
【０００９】
本発明はかかる従来の事情に対処してなされたものでありその目的は、ＣＴ１次試験を行う際に通常状態から試験回路への切替え時に、又は、ＣＴ１次試験後に試験回路から通常状態への切替時に、端子間の接続部においてアークが発生する、あるいは作業者が感電するのを確実に防止でき、かつＣＴ１次試験を行う前に本発明品におけるスイッチの不具合の有無を容易に判定することができ、しかもそれ自体を廉価に製造できるＣＴ１次試験用回路切替器およびそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するための第１の発明であるＣＴ（変流器）１次試験用回路切替器は、試験器から試験電流を流して行うＣＴ１次試験に用いられる回路切替器であって、試験器からの試験電流を回路切替器に入力するための試験器側入力端子と、回路切替器から試験対象である線路に試験電流を出力するための線路側出力端子と、線路からの試験電流を回路切替器に入力するための線路側入力端子と、線路からの試験電流を試験器に出力するための試験器側出力端子と、試験器側入力端子と線路側出力端子とをつなぐ第１の配線と、線路側入力端子と試験器側出力端子とをつなぐ第２の配線と、第１の配線から分岐している第１の分岐線と、第２の配線から分岐している第２の分岐線と、第１及び第２の分岐線の下流側に接続されているアースと、第１及び第２の分岐線上に設けられ、かつ互いに連動して動作するそれぞれの第１のスイッチと、第１及び第２の分岐線上に設けられ、互いに連動して動作するそれぞれの可変抵抗器と、第１の配線上の第１の分岐線との第１の分岐点とアースの間に、第１のスイッチと可変抵抗器と並列に設けられている第１の迂回路と、第２の配線上の第２の分岐線との第２の分岐点とアースの間に、第１のスイッチと可変抵抗器と並列に設けられている第２の迂回路と、第１及び第２の迂回路上に設けられ、かつ互いに連動して動作するそれぞれの第２のスイッチと、第１の配線上の第１の分岐線との分岐点と試験器側入力端子との間に設けられている第３のスイッチと、を備えていることを特徴とするものである。
上記構成の第１の発明において、試験器側入力端子は試験器からの試験電流を第１の発明に係る回路切替器に入力するという作用を有する。また、線路側出力端子は、第１の発明に係る回路切替器から試験対象である線路に試験電流を出力するという作用を有する。さらに、線路側入力端子は、線路からの試験電流を回路切替器に入力するという作用を有する。加えて、試験器側出力端子は、線路からの試験電流を試験器に出力するという作用を有する。
また、第１の発明において第１の配線は、試験器側入力端子と線路側出力端子とをつなぐという作用を有する。さらに、第２の配線は、第１の発明において線路側入力端子と試験器側出力端子とをつなぐという作用を有する。そして、第１，第２の分岐線はそれぞれ、第１，第２の配線とアースとを接続するという作用を有する。加えて、第１，第２の配線のそれぞれに設けられている第１のスイッチは、第１，第２の配線から、第１，第２の分岐線への電流の流入と停止を切替え可能にするという作用を有する。さらに、第１，第２の分岐線のそれぞれに設けられている可変抵抗器は、それぞれの第１のスイッチへの電流の流れを段階的に変更可能にするという作用を有する。加えて、第１，第２の迂回路はそれぞれ、第１，第２の配線のそれぞれに流れる電流を、第１，第２の分岐線を介することなくアースに流すという作用を有する。また、第１，第２の迂回路のそれぞれに設けられている第２のスイッチは、第１，第２の迂回路のそれぞれへの電流の流入と停止を切替え可能にするという作用を有する。
さらに、第３のスイッチは、線路側出力端子から試験器側入力端子への、またその逆方向への電流の流入と停止を切替え可能にするという作用を有する。
このような第１発明は、被試験対象である線路と試験器との間に介設されることで、試験器からの試験電流が流れていない状態では、被試験対象である線路において生じる誘導電流をアースに導いて、試験器側入力端子及び試験器側出力端子を充電していない状態にするという作用を有する。
また、第１の発明が可変抵抗器を備えていることで、試験対象である線路から第１の発明に係る回路切替器のアースに導かれる誘導電流の大きさを自在に調節することが可能になる。このことは、第１の発明に係る回路切替器と試験対象である線路を接続する際に、線路から第１の発明に係る回路切替器への誘導電流の流入の可否を自在に切り替えることができることを意味する。
【００１１】
第２の発明であるＣＴ１次試験用回路切替器は、上述の第１の発明において、２つの第１のスイッチを連動させて操作するための第１の操作部と、２つの第２のスイッチを連動させて操作するための第２の操作部と、第３のスイッチを操作するための第３の操作部と、２つの可変抵抗器を連動させて操作するための第４の操作部と、を備えていることを特徴とするものである。
上記構成の第２の発明は、上述の第１の発明による作用と同じ作用に加えて、第１乃至第３の操作部を備えていることで、第１の発明にそれぞれ２つずつ設けられている第１のスイッチ、第２のスイッチ及び可変抵抗器を、これらに対応して設けられている操作部（第１乃至第３の操作部）を操作することで、それぞれを連動させながら操作することを可能にするという操作を有する。
【００１２】
第３の発明であるＣＴ１次試験回路システムは、上述の第１又は第２の発明であるＣＴ１次試験用回路切替器を備えてなる試験システムであって、ＣＴ１次試験用回路切替器における試験器側入力端子と、試験器における出力端子とが接続され、ＣＴ１次試験用回路切替器における線路側出力端子と、被試験対象である任意の線路における変流器の上流側とが接続され、ＣＴ１次試験用回路切替器における線路側入力端子と、被試験対象である任意の線路における変流器の下流側とが接続され、ＣＴ１次試験用回路切替器における試験器側出力端子と、試験器における入力端子とが接続されていることを特徴とするものである。
上記構成の第３の発明は、ＣＴ１次試験のうちの特に「１相宛て試験」のための回路システムである。このような第３の発明では、ＣＴ１次試験を行うために、試験器と被試験対象である線路の間に本発明に係るＣＴ１次試験用回路切替器を設置する際に、接続される端子間に電位差が生じていない状態を実現するという作用を有する。
さらに、第３の発明によれば、ＣＴ１次試験時に通常状態から試験回路に切り替える場合、及び、ＣＴ１次試験完了後に試験回路から通常状態に切り替える場合に、電流切替え位置に電位差が生じていない状態を実現するという作用を有する。
【００１３】
第４の発明である碍子洗浄廃物回収装置は、上述の第１又は第２の発明であるＣＴ１次試験用回路切替器を３つ備えて、第１乃至第３の線路を備える３相交流送電線のＣＴを３相直列で試験するための試験システムであって、第１のＣＴ１次試験用回路切替器における線路側出力端子と、被試験対象である第１の線路における変流器の上流側とが接続され、第１のＣＴ１次試験用回路切替器における線路側入力端子と、被試験対象である第１の線路における変流器の下流側とが接続され、第１のＣＴ１次試験用回路切替器における試験器側入力端子と、試験器における出力端子とが接続され、第１のＣＴ１次試験用回路切替器における試験器側出力端子と、第２のＣＴ１次試験用回路切替器における試験器側入力端子とが接続され、第２のＣＴ１次試験用回路切替器における線路側出力端子と、被試験対象である第２の線路における変流器の上流側とが接続され、第２のＣＴ１次試験用回路切替器における線路側入力端子と、被試験対象である第２の線路における変流器の下流側とが接続され、第２のＣＴ１次試験用回路切替器における試験器側出力端子と、第３のＣＴ１次試験用回路切替器における試験器側入力端子とが接続され、第３のＣＴ１次試験用回路切替器における線路側出力端子と、被試験対象である第３の線路における変流器の上流側とが接続され、第３のＣＴ１次試験用回路切替器における線路側入力端子と、被試験対象である第３の線路における変流器の下流側とが接続され、第３のＣＴ１次試験用回路切替器における試験器側出力端子と、試験器における入力端子とが接続されていることを特徴とするものである。
上記構成の第４の発明は、ＣＴ１次試験のうちの特に「タスキがけ試験」のための回路システムである。このような第４の発明では、３台の本発明に係るＣＴ１次試験用回路切替器と被試験対象である３相の線路とをタスキがけ状に接続する際に、接続される端子間に電位差が生じていない状態を実現するという作用を有する。
さらに、第４の発明によれば、ＣＴ１次試験のタスキがけ試験時に通常状態から試験回路に切り替える場合、及び、ＣＴ１次試験のタスキがけ試験完了後に試験回路から通常状態に切り替える場合に、電流切替え位置に電位差が生じていない状態を実現するという作用を有する。
【発明の効果】
【００１４】
このような第１乃至第４の発明においては、試験器と被試験対象である線路との間にＣＴ１次試験用回路切替器を介設する際に、接続される端子間に電位差が生じていない状態を実現できるので、これらの端子同士を実際に接続した際にアークが発生する、あるいは作業中の作業者が感電するのを確実に防止することができる。このため、本発明に係るＣＴ１次試験用回路切替器を試験器や被試験対象である線路に接続する作業を安全に行うことができる。
さらに、第１乃至第４の発明では、ＣＴ１次試験用回路切替器自体がアースとしても機能するので、試験器と被試験対象である線路との間に本発明に係るＣＴ１次試験用回路切替器を介設する作業を行うときに、作業用アースの付け外しを行う必要がない。このため、本発明に係るＣＴ１次試験用回路切替器の設置作業を効率的に行うことができる。
さらに、第１乃至第４の発明では、通常状態からＣＴ１次試験のための試験回路に切り替える場合、又は、ＣＴ１次試終了後に試験回路から通常状態に切り替える場合において、電流の切替え位置であるスイッチの上流側（一次側）と下流側（二次側）の間に電位差がない状態を実現できる。これにより、回路切替え時に、電流の切替え位置であるスイッチにおいてアークが発生する、あるいは、スイッチを操作する作業者が感電するのを確実に防止することができる。
加えて、本発明に係るＣＴ１次試験用回路切替器は、その回路が極めてシンプルであるので、テスターを用いて各スイッチや各可変抵抗器が正常に動作するか否かを容易に調べることができる。よって、ＣＴ１次試験時に、本発明に係るＣＴ１次試験用回路切替器の不具合により適切に試験を行うことができないという事態を容易に回避できるだけでなく、ＣＴ１次試験時に各スイッチや各可変抵抗器が故障して回路切替時にアークが発生する、あるいは操作中の作業者が感電するのを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器およびそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システムの回路図である。
【図２】（ａ）本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器において平常状態からＣＴ１次試験回路に切り替える際の各スイッチ並びに可変抵抗器の作動状態を時系列で示すグラフである。（ｂ）本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器においてＣＴ１次試験回路から平常状態に切り替える際の各スイッチ並びに可変抵抗器の作動状態を時系列で示すグラフである。
【図３】（ａ）〜（ｅ）はいずれも本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験回路システムにおいて平常状態からＣＴ１次試験回路に切り替える際の各ステップにおける回路状態を示す回路図である。
【図４】（ａ）〜（ｅ）はいずれも本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験回路システムにおいてＣＴ１次試験回路から平常状態に切り替える際の各ステップにおける回路状態を示す回路図である。
【図５】本発明の実施例２に係るＣＴ１次試験回路システムの回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
本発明の実施の形態に係るＣＴ１次試験用回路切替器およびそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システムについて図１乃至図５を参照しながら詳細に説明する。
【実施例１】
【００１７】
はじめに、図１を参照しながらＣＴ１次試験用回路切替器及びそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システムについて説明する。
図１は本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器およびそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システムの回路図である。
本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１は、試験器１１から試験電流を流して行うＣＴ１次試験に用いられる回路切替器であって、試験器１１からの試験電流を切替器本体１８に入力するための試験器側入力端子Ｔ１と、この切替器本体１８から試験対象である例えば、線路Ａに試験電流を出力するための線路側出力端子Ｔ２と、試験対象である線路Ａからの試験電流を切替器本体１８に入力するための線路側入力端子Ｔ３と、線路Ａからの試験電流を試験器１１に出力するための試験器側出力端子Ｔ４とを備えている。
さらに、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１は、上述の試験器側入力端子Ｔ１と線路側出力端子Ｔ２とをつなぐ第１の配線２ａと、線路側入力端子Ｔ３と試験器側出力端子Ｔ４とをつなぐ第２の配線２ｂとを備え、さらに、第１の配線２ａから分岐している第１の分岐線３ａと、第２の配線２ｂから分岐している第２の分岐線３ｂとを備えており、第１の分岐線３ａ及び第２の分岐線３ｂのそれぞれはともにアース９に接続されている。
また、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１は、上述の第１の分岐線３ａ及び第２の分岐線３ｂ上に設けられ、かつ互いに連動して動作するそれぞれの第１のスイッチ５ａ，５ｂと、上述の第１の分岐線３ａ及び第２の分岐線３ｂ上のそれぞれの第１のスイッチ５ａ，５ｂの上流側に設けられ、かつ互いに連動して動作するそれぞれの可変抵抗器８ａ，８ｂとを備えている。
加えて、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１は、第１の配線２ａ上の第１の分岐線３ａとの分岐点１０ａとアース９との間に、先の第１のスイッチ５ａと可変抵抗器８ａと並列に設けられている第１の迂回路４ａを、また、第２の配線２ｂ上の第２の分岐線３ｂとの分岐点１０ｂとアース９との間に、先の第１のスイッチ５ｂと可変抵抗器８ｂと並列に設けられている第２の迂回路４ｂを、それぞれ備えている。さらに、上述の第１，第２の迂回路４ａ，４ｂはそれぞれ、互いに連動して動作する第２のスイッチ６ａ，６ｂを備えている。
そして、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１は、上記構成に加えて、第１の配線２ａ上の分岐点１０ａと試験器側入力端子Ｔ１との間に第３のスイッチ７を備えている。
なお、本実施の形態では、第１，第２の分岐線３ａ，３ｂのそれぞれにおいて、第１のスイッチ５ａ，５ｂの上流側に可変抵抗器８ａ，８ｂを備えている場合を例に挙げて説明しているが、可変抵抗器８ａ，８ｂは第１のスイッチ５ａ，５ｂの下流側に設けられていてもよい。ただし、第１，第２の分岐線３ａ，３ｂのそれぞれにおいて、第１のスイッチ５ａ，５ｂの上流側に可変抵抗器８ａ，８ｂを備える場合は、第１のスイッチ５ａ，５ｂにかかる電圧が低くなるので望ましい。
【００１８】
さらに、上述のような本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１における試験器側入力端子Ｔ１が試験器１１の出力端子Ｔ５に接続され、切替器本体１８における線路側出力端子Ｔ２が被検査対象である例えば線路Ａの上流側Ａ１に接続され、切替器本体１８における線路側入力端子Ｔ３が同じく線路Ａの下流側Ａ２に接続され、切替器本体１８の試験器側出力端子Ｔ４が試験器１１の入力端子Ｔ６に接続されてなるものが本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験回路システム１６である。なお、上記端子同士の接続は、例えばアースフックにより行うことができる。
なお、図１では本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１の線路側出力端子Ｔ２を線路Ａの上流側Ａ１（一次側）に、その線路側入力端子Ｔ３を線路Ａの下流側Ａ１（二次側）に接続する場合を例に挙げて説明しているが、線路Ｂ，Ｃも同様にして試験をすることができる。
なお、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１を線路Ｂや線路Ｃに接続する場合も、ＣＴ１次試験用回路切替器１における各スイッチ（第１のスイッチ５ａ，５ｂ，第２のスイッチ６ａ，６ｂ及び第３のスイッチ７）や可変抵抗器８ａ，８ｂの動作は同じである。
【００１９】
次に、図２乃至図４を参照しながら本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１およびそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システム１６の使用方法について詳細に説明する。
図２（ａ）は本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器において平常状態からＣＴ１次試験回路に切り替える際の各スイッチ並びに可変抵抗器の動作状態を時系列で示すグラフであり、図２（ｂ）は本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器においてＣＴ１次試験回路から平常状態に切り替える際の各スイッチ並びに可変抵抗器の動作状態を時系列で示すグラフである。また、図３（ａ）〜（ｅ）はいずれも本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験回路システムにおいて平常状態からＣＴ１次試験回路に切り替える際の各ステップにおける回路状態を示す回路図であり、図４（ａ）〜（ｅ）はいずれも本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験回路システムにおいてＣＴ１次試験回路から平常状態に切り替える際の各ステップにおける回路状態を示す回路図である。なお、図１に記載されたものと同一部分については同一符号を付し、その構成についての説明は省略する。
【００２０】
はじめに、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１と試験対象である線路と、試験器１１とを接続する手順について説明する。なお、ここでは被試験対象が線路Ａである場合を例に挙げて説明する。
図１に示すように、試験対象である線路Ａ〜Ｃは通常、母線Ａ´〜Ｃ´のそれぞれから第１の断路器１４を介して分岐しており、これらの線路Ａ〜Ｃには保護継電器１３に接続されている変流器（ＣＴ）１２が設けられている。また、線路Ａ〜Ｃにおいて変流器１２の下流側（二次側）は第２の断路器１５を備えている。
そして、ＣＴ１次試験は、変流器１２が設けられている部位の線路Ａ〜Ｃの状態を調べるための試験である。
また、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１の実機である切替器本体１８を試験対象である例えば線路Ａに接続する場合は、まず、その準備作業として切替器本体１８における第１のスイッチ５ａ，５ｂを「入」（閉）の状態にするとともに、第２のスイッチ６ａ，６ｂを「切」（開）の状態にし、さらに、第１のスイッチ５ａ，５ｂの上流側に設けられている可変抵抗器８ａ，８ｂの抵抗値を最大にしておく。
各スイッチ及び可変抵抗器を上記の通り設定することで本実施の形態に係る切替器本体１８の線路側出力端子Ｔ２及び線路側入力端子Ｔ３から切替器本体１８内の配線に電流が流れないようにすることができる。
【００２１】
そして、この状態で本実施例１に係る切替器本体１８における線路側出力端子Ｔ２を線路Ａにおける変流器１２の上流側Ａ１に接続するとともに、また線路側入力端子Ｔ３を線路Ａにおける変流器１２の下流側Ａ２にそれぞれ接続する。
この時、本実施例１に係る切替器本体１８において可変抵抗器８ａ，８ｂの抵抗値が最大であるために、線路Ａにおいて生じる誘導電流が本実施例１に係る切替器本体１８に流入することはない。
そしてこの後、本実施例１に係る切替器本体１８における可変抵抗器８ａ，８ｂの抵抗値を徐々に低下させることで、線路Ａにおいて生じる誘導電流は第１，第２の分岐線３ａ，３ｂにおける第１のスイッチ５ａ，５ｂを介してアース９に導かれる。この時、第１のスイッチ５ａ，５ｂの上流側に可変抵抗器８ａ，８ｂを備えていることで、第１のスイッチ５ａ，５ｂに生じる電位差を小さくすることができる。
このように本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１によれば、切替器本体１８を被試験対象である線路（例えば、線路Ａ）に接続する際に、切替器本体１８への電流の入力を可変抵抗器８ａ，８ｂを介して段階的に行うことができるので、切替器本体１８と線路Ａとを接続する際に、アークが発生したり、作業者が感電するのを確実に防止することができる。
【００２２】
また、本実施例１に係る切替器本体１８と線路Ａとが接続された後は、線路Ａに生じる誘導電流は常時アース９に導かれるため、試験器側入力端子Ｔ１及び試験器側出力端子Ｔ４はともに充電していない。
したがって、切替器本体１８の試験器側入力端子Ｔ１，試験器側出力端子Ｔ４に試験器１１の出力端子Ｔ５，入力端子Ｔ６をそれぞれ接続する場合も、接続される端子同士間に電位差が生じないため、これらを接続する際もアークの発生、あるいは作業者の感電は起こらない。
したがって、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１によれば、被試験対象である線路（線路Ａ〜Ｃ）と試験器１１との間に安全にＣＴ１次試験用回路切替器１（切替器本体１８）を設置することができる。
なお、本実施例１に係る第１のＣＴ１次試験用回路切替器１において、線路Ａからの誘導電流が第１，第２の分岐線３ａ，３ｂを介してアース９に導かれている状態であれば、第２のスイッチ６ａ，６ｂを「入」（閉）状態にしてもアークが発生する、あるいは作業者が感電する恐れはない。
【００２３】
次に、被試験対象である線路（例えば線路Ａ）と試験器１１の間に本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１を介設した状態（本実施例１に係るＣＴ１次試験回路システム１６）で、ＣＴ１次試のための試験験回路に切り替える場合は、その作業を図２（ａ）に示すようなステップＳ０１〜Ｓ０５により段階的に行えばよい。
まず、ステップＳ０１は、被試験対象である例えば線路Ａと試験器１１との間に本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１（切替器本体１８）を介設した直後の状態である。このステップＳ０１では、図２（ａ）及び図３（ａ）に示すように、第３のスイッチ７は「切」（開）の状態であり、かつこれ以外のスイッチ（第１のスイッチ５ａ，５ｂ，第２のスイッチ６ａ，６ｂ）は全て「入」（閉）の状態であり、さらに可変抵抗器８ａ，８ｂの抵抗値は最小（ゼロ）になっている。この場合、線路Ａに生じる誘導電流は、路線側出力端子Ｔ２又は路線側入力端子Ｔ３を介して切替器本体１８に流入し、第１，第２の分岐線３ａ，３ｂ又は第１，第２の迂回路４ａ，４ｂを介してアース９に導かれる。
【００２４】
次のステップＳ０２では、図２（ａ）及び図３（ａ）に示すように、第３のスイッチ７を「入」（閉）状態にする。この場合、回路上は、線路Ａで生じた誘導電流が本実施例に係る切替器本体１８から試験器１１に入力可能な状態になるものの、試験器１１内に設けられている可変抵抗器の抵抗値が大きく設定されることで試験器１１への誘導電流の流入は起こらない。
【００２５】
次のステップＳ０３では、上述のステップＳ０２の状態から第２のスイッチ６ａ，６ｂを「切」（開）の状態にする。
このとき、可変抵抗器８ａ，８ｂにおける抵抗値は依然として最小（ゼロ）のままであり、かつ試験器１１内の可変抵抗器の抵抗値も大きい状態に維持されているため、線路Ａから流入する誘導電流は、第１，第２の分岐線３ａ，３ｂを介してアース９へと導かれる。
【００２６】
続くステップＳ０４では、先のステップＳ０３の状態から、可変抵抗器８ａ，８ｂの抵抗値を徐々に上昇させて、線路Ａにおいて生じる誘導電流のアース９への流入を徐々に小さくし、最終的にはゼロにする。
これにより、本実施例１に係る切替器本体１８における試験器側入力端子Ｔ１及び試験器側出力端子Ｔ４がともに充電状態となる。
【００２７】
そして、最後のステップＳ０５では、先のステップＳ０３の状態において第１のスイッチ５ａ，５ｂを「切」（開）状態にする。また、これに合わせて試験器１１内の可変抵抗器の抵抗値を小さくしつつ、試験器１１から試験電流を本実施例に係る切替器本体１８に流すことで、ＣＴ１次試験用の試験回路への切替えが完了する。
このとき、本実施例１に係る切替器本体１８における試験器側入力端子Ｔ１と試験器１１における出力端子Ｔ５との間の電位差、および、切替器本体１８における試験器側出力端子Ｔ４と試験器１１における入力端子Ｔ６との間の電位差がない状態、又は、小さい状態になるので、このステップＳ０５においてＣＴ１次試験用の試験回路に切替わった際に、本実施例１に係る切替器本体１８の試験器側入力端子Ｔ１および試験器側出力端子Ｔ４においてアークが発生する、あるいは、作業者の感電が起きるのを好適に防止することができる。
【００２８】
次に、ＣＴ１次試験用の試験回路を通常状態に戻す際の作業手順について図２（ｂ）及び図４を参照しながら説明する。
本実施例１に係るＣＴ１次試験回路システム１６においてＣＴ１次試験のための試験回路を通常状態に切り替えるには、図２（ｂ）及び図４に示すステップＳ０６〜Ｓ１０により段階的に行うとよい。
始めのステップＳ０６は、先のＣＴ１次試験のための試験回路への切替が完了した状態（図３（ｅ））と同じ状態であり、本実施例１に係る切替器本体１８における第３のスイッチ７が「入」（閉）の状態で、かつそれ以外のスイッチ（第１のスイッチ５ａ，５ｂ、第２のスイッチ６ａ，６ｂ）は全て「切」（開）の状態になっている。
【００２９】
次のステップＳ０７では、上述のステップＳ６の状態において第１のスイッチ５ａ，５ｂを「入」（閉）の状態にする。この時、可変抵抗器８ａ，８ｂの抵抗値は最大であり、かつ第２のスイッチ６ａ，６ｂはともに「切」（開）の状態であるため、ＣＴ１次試験のための試験回路はそのまま維持される。
【００３０】
続くステップＳ０８では、先のステップＳ７の状態において可変抵抗器８ａ，８ｂの抵抗値を徐々に低下させていき最小（ゼロ）にするとともに、試験器１１内の可変抵抗器を操作してその抵抗値を最大にして試験器１１への誘導電流の流入を妨げつつ、線路Ａ側への試験電流の出力を停止する。
これにより、線路Ａからの誘導電流は、第１，第２の分岐線３ａ，３ｂを介してアース９に導かれるようになる。
【００３１】
さらに、ステップＳ０９では、先のステップＳ０８の状態において第２のスイッチ６ａ，６ｂを「入」（閉）の状態にする。
これにより、被試験対象である線路Ａにおいて生じる誘導電流は、第１，第２の分岐線３ａ，３ｂに加えて、第１，第２の迂回路４ａ，４ｂを介してアース９に導かれる。さらにこれにより、本実施例１に係る切替器本体１８の試験器側入力端子Ｔ１及び試験器側出力端子Ｔ４は充電状態ではなくなる。
【００３２】
そして、最後のステップＳ１０では、先のステップＳ０９の状態において第３のスイッチ７を「切」（開）にする。
これにより、本実施例１に係る切替器本体１８の試験器側入力端子Ｔ１及び試験器側出力端子Ｔ４は、全く充電されていない状態になる。この結果、本実施例１に係る切替器本体１８と試験器１１との接続状態を解除する際に、これらの端子の接続部位においてアークが発生する、あるいは、作業中の作業者が感電するのを防止することができる。
【００３３】
さらに、試験器１１と本実施例１に係る切替器本体１８との接続状態が解除された後に、本実施例１に係る切替器本体１８と線路Ａとの接続状態を解除するには、まず、図４（ｅ）に示す回路状態［図２（ｂ）中のステップＳ１０の状態］において第２のスイッチ６ａ，６ｂを「切」（開）の状態にする。
これにより、線路Ａから本実施例１に係る切替器本体１８に流入する誘導電流は、可変抵抗器８ａ，８ｂを備えている第１，第２の分岐線３ａ，３ｂのみを介してアース９に導かれることになる。
さらに、この状態から可変抵抗器８ａ，８ｂの抵抗値を徐々に上昇させて最大にすることで、本実施例１に係る切替器本体１８への線路Ａからの誘導電流の流入を停止することができる。
さらにこの後、第１のスイッチ５ａ，５ｂを「切」（開）の状態にすることで、本実施例１に係る切替器本体１８には線路Ａからの誘導電流が流入しなくなる。この結果、本実施例１に係る切替器本体１８と線路Ａとの接続状態を解除する際に、双方の端子間においてアークが発生する、あるいは作業中の作業者が感電するのを防止することができる。
【００３４】
このように本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１およびそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システム１６によれば、ＣＴ１次試験の際に通常状態から試験回路に切り替える場合や、試験回路から通常状態に切り替える場合のいずれの場合においても、各スイッチや各端子の接続部分においてアークが発生する、あるいは、作業中の作業者が感電するのを好適に防止することができる。
また、本発明の実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１およびそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システム１６によれば、試験対象である線路（線路Ａ〜Ｃ）と試験器１１との間に本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１（切替器本体１８）を介設すべく各端子同士を接続する場合も、アークが発生する、あるいは、作業中の作業者が感電するのを好適に防止することができる。
この結果、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１によれば、ＣＴ１次試験のための準備、及び、ＣＴ１次試験のための試験回路への切替とその復旧作業を極めて安全に実施することができる。
また、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１は、その構造が極めてシンプルであるためその製造にかかるコストも廉価にできる。
加えて、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１は、従来公知のテスターを用いることで容易に、個々のスイッチ（第１のスイッチ５ａ，５ｂ及び第２のスイッチ６ａ，６ｂ）や可変抵抗器８ａ，８ｂが正常に動作するか否かを確認することができる。この結果、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１の不具合により適正に試験を実施できないといった事態を回避することが容易になるため、効率良く適正な試験を実施することができる。
【００３５】
また、特に図示しないが、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１は、２つの第１のスイッチ５ａ，５ｂを連動させて操作するための第１の操作部と、２つの第２のスイッチ６ａ，６ｂを連動させて操作するための第２の操作部と、第３のスイッチ７操作するための第３の操作部と、２つの可変抵抗器８ａ，８ｂを連動させて操作するための第４の操作部と、を備えていてもよい。
この場合、第１乃至第３の操作部を操作するだけで互いに連動させて動作させるスイッチ（第１のスイッチ５ａ，５ｂ又は第２のスイッチ６ａ，６ｂ）、あるいは、可変抵抗器８ａ，８ｂを同時に動作させることができるので、回路の切替作業等を一層効率的に行うことができる。
【実施例２】
【００３６】
最後に、上述のような本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１を３台備えてなる実施例２に係るＣＴ１次試験回路システムについて図５を参照しながら説明する。
図５は本発明の実施例２に係るＣＴ１次試験回路システムの回路図である。なお、図１乃至図４に記載されたものと同一部分については同一符号を付し、その構成についての説明は省略する。
本発明の実施例２に係るＣＴ１次試験回路システム１７は、先の図１に示すものと同様のＣＴ１次試験用回路切替器を３台備えてなるものであり、３台のＣＴ１次試験用回路切替器１Ａ〜１Ｃと、試験器１１と、線路Ａ〜Ｃとは以下に示すように接続されている。
まず、第１のＣＴ１次試験用回路切替器１Ａは、その線路側出力端子Ｔ２と被試験対象である線路Ａにおける変流器１２の上流側Ａ１とが接続され、その線路側入力端子Ｔ３と被試験対象である線路Ａにおける変流器１２の下流側Ａ２とが接続され、その試験器側入力端子Ｔ１と試験器１１における出力端子Ｔ５とが接続され、さらに、その試験器側出力端子Ｔ４と第２のＣＴ１次試験用回路切替器１Ｂにおける試験器側入力端子Ｔ１とが接続されている。
また、第２のＣＴ１次試験用回路切替器１Ｂは、その線路側出力端子Ｔ２と被試験対象である線路Ｂにおける変流器１２の上流側Ｂ１とが接続され、その線線路側入力端子Ｔ３と、被試験対象である線路Ｂにおける変流器１２の下流側Ｂ２とが接続され、その試験器側出力端子Ｔ４と第３のＣＴ１次試験用回路切替器１Ｃにおける試験器側入力端子Ｔ１とが接続されている。
さらに、第３のＣＴ１次試験用回路切替器１Ｃは、その線路側出力端子Ｔ２と、被試験対象である線路Ｃにおける変流器１２の上流側Ｃ１とが接続され、その線路側入力端子Ｔ３と、被試験対象である線路Ｃにおける変流器１２の下流側Ｃ２とが接続され、その試験器側出力端子Ｔ４と、試験器１１における入力端子Ｔ６とが接続されている。
そして、このような本実施例２に係るＣＴ１次試験回路システム１７によれば、ＣＴ１次試験における３相直列で通電する「タスキがけ試験」を行うことができる。
【００３７】
なお、図５に示すような本実施例２に係るＣＴ１次試験回路システム１７において「タスキがけ試験」を行う際の第１乃至第３のＣＴ１次試験用回路切替器１Ａ〜１Ｃのそれぞれにおける各スイッチ（第１のスイッチ５ａ，５ｂ、第２のスイッチ６ａ，６ｂ及び第３のスイッチ７）並びに可変抵抗器８ａ，８ｂの動作手順は、先の図２（ａ），（ｂ）に示すものと同じである。
つまり、本実施例２に係るＣＴ１次試験回路システム１７において「タスキがけ試験」を行う際の通常状態から試験回路への切替えは、図２（ａ）に示すようなステップＳ０１〜Ｓ０５により行うことができる。また、「タスキがけ試験」を行う際の試験回路から通常状態への切替えは、図２（ｂ）に示すようなステップＳ０６〜Ｓ１０により行うことができる。
なお、上記各ステップにおいて第１のスイッチ５ａ，５ｂの切替え、第２のスイッチ６ａ，６ｂの切替え、さらに、可変抵抗器８ａ，８ｂの抵抗値の変更は、第１乃至第３のＣＴ１次試験用回路切替器１Ａ〜１Ｃのそれぞれにおいて同時に行う必要がある。
【００３８】
このような本実施例２に係るＣＴ１次試験回路システム１７によれば、ＣＴ１次試験におけるタスキがけ試験を行う際に、３台の本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１（１Ａ〜１Ｃ）と線路Ａ〜Ｃとをタスキがけ状に接続する際と、これらと試験器１１とを接続する際において、アークが発生する、あるいは作業中の作業者が感電するのを確実に防止することができる。
また、本実施例２に係るＣＴ１次試験回路システム１７によれば、通常状態からタスキがけ試験用の試験回路に切替える場合、及び、タスキがけ試験後にその試験回路から通常状態に切替える場合も同様に、アークが発生する、あるいは作業中の作業者が感電するのを確実に防止することができる。
【００３９】
したがって、本実施の形態に係るＣＴ１次試験用回路切替器１及びそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システム１６，１７によれば、ＣＴ１次試験を効率的かつ安全に実施することができる。
また、本実施例１に係るＣＴ１次試験用回路切替器１は、その構成が極めてシンプルであるため廉価に製造できる上、そのメンテナンスも容易である。
【産業上の利用可能性】
【００４０】
以上説明したように本発明は、ＣＴ１次試験を効率的かつ安全に実施することができるＣＴ１次試験用回路切替器及びそれを用いてなるＣＴ１次試験回路システムであり、電力供給設備やその保守点検に関する技術分野において利用可能である。
【符号の説明】
【００４１】
１，１Ａ〜１Ｃ…ＣＴ１次試験用回路切替器  ２ａ…第１の配線  ２ｂ…第２の配線  ３ａ…第１の分岐線  ３ｂ…第２の分岐線  ４ａ…第１の迂回路  ４ｂ…第２の迂回路  ５ａ，５ｂ…第１のスイッチ  ６ａ、６ｂ…第２のスイッチ  ７…第３のスイッチ  ８ａ，８ｂ…可変抵抗器  ９…アース  １０ａ，１０ｂ…分岐点  １１…試験器  １２…変流器  １３…保護継電器  １４…第１の断路器  １５…第２の断路器  １６，１７…ＣＴ１次試験回路システム  １８…切替器本体  Ｔ１…試験器側入力端子  Ｔ２…線路側出力端子  Ｔ３…線路側入力端子  Ｔ４…試験器側出力端子  Ｔ５…出力端子  Ｔ６…入力端子  Ａ´，Ｂ´，Ｃ´…母線  Ａ，Ｂ，Ｃ…線路  Ａ１，Ｂ１，Ｃ１…上流側  Ａ２，Ｂ２，Ｃ２…下流側
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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