(57)【要約】【課題】手振れ補正のための防振機能を適用した場合でも、レンズ中心からレンズ周辺までの解像感を良好に保つことができる撮像装置を提供する。【解決手段】チルト機構、及び、チルト機構により駆動するチルトレンズと、チルトレンズの位置を検出する位置検出手段の出力結果から、チルトレンズの姿勢を検知するチルトレンズ姿勢検知手段と、チルトレンズの姿勢を補正するチルトレンズ姿勢補正手段と、チルトレンズ姿勢検知手段の検出結果から、チルトレンズ姿勢補正手段に設定すべきチルトレンズ補正値を導出して、チルトレンズ補正値をチルトレンズ姿勢補正手段に設定してチルトレンズを駆動させるチルトレンズ補正制御機構と、を有し、像高毎にエッジ強調パラメータを設定することができる画像処理装置を備え、チルトレンズ補正値に応じて、像高毎のエッジ強調パラメータを変更して画像処理を行う。【選択図】図１
2019029832.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レンズをチルトさせるチルト機構、及び、該チルト機構により駆動するチルトレンズと、
該チルトレンズの位置を検出する位置検出手段の出力結果から、前記チルトレンズの姿勢を検知するチルトレンズ姿勢検知手段と、
前記チルトレンズの姿勢を補正するチルトレンズ姿勢補正手段と、
前記チルトレンズ姿勢検知手段の検出結果から、前記チルトレンズ姿勢補正手段に設定すべきチルトレンズ補正値を導出して、該チルトレンズ補正値を前記チルトレンズ姿勢補正手段に設定して前記チルトレンズを駆動させるチルトレンズ補正制御機構と、
を有する撮像装置であって、
像高毎にエッジ強調パラメータを設定することができる画像処理装置を備え、前記チルトレンズ補正値に応じて、前記像高毎のエッジ強調パラメータを変更して画像処理を行うことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
撮像面上の撮像中心での解像性能と、前記撮像面上の撮像中心から離れた所定の画素位置での解像性能との差分を算出し、前記算出した差分の関数から前記所定の画素位置でのゲインを算出する第１の算出手段と、
前記第１の算出手段によって算出されたゲインと、前記撮像中心でのエッジ強調パラメータとを用いて、前記所定の画素位置でのエッジ強調パラメータを算出する第２の算出手段と、
を備え、前記像高毎のエッジ強調パラメータを用いて画像処理を行うことを特徴とする、請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記像高毎のエッジ強調パラメータは、サジタル方向及びメリジオナル方向の画像エッジに対するエッジ強調パラメータであり、
予め、前記補正値毎の前記エッジ強調パラメータを記憶する付属の記憶装置を備え、
前記画像処理部は、
前記補正値により、前記記憶装置に格納された複数のエッジ強調パラメータから所定のエッジ強調パラメータを選択し、前記所定のエッジ強調パラメータを用いて任意の方位角での、水平方向及び垂直方向に関する像高毎のエッジ強調パラメータを算出して、算出された水平方向及び垂直方向に関する像高毎のエッジ強調パラメータを用いて前記画像処理を行うことを特徴とする、請求項１または２に記載の撮像装置。
【請求項４】
像高をｒ、方位角をφ、補正値をθ、サジタル方向のエッジ強調パラメータにおけるゲインをＧ＿ｓ（ｒ，θ）、メリジオナル方向のエッジ強調パラメータにおけるゲインをＧ＿ｍ（ｒ，θ）、さらに、水平方向のエッジ強調パラメータにおけるゲインをＧ＿ｈ（ｒ，θ，φ）、垂直方向のエッジ強調パラメータにおけるゲインをＧ＿ｖ（ｒ，θ，φ）としたとき、任意の位置（ｒ，φ）の画素におけるエッジ強調パラメータは下記関係式で表される水平方向及び垂直方向のゲインと、撮像中心での水平方向及び垂直方向のエッジ強調パラメータとのそれぞれの方向における積であることを特徴とする、請求項３に記載の撮像装置。
Ｇ＿ｈ（ｒ，θ，φ）＝ａ×Ｇ＿ｓ（ｒ，θ）  ×ｓｉｎφ＋ｂ×Ｇ＿ｍ（ｒ，θ）  ×ｃｏｓφ
Ｇ＿ｖ（ｒ，θ，φ）＝ｃ×Ｇ＿ｓ（ｒ，θ）  ×ｃｏｓφ＋ｄ×Ｇ＿ｍ（ｒ，θ）  ×ｓｉｎφ
（ａ，ｂ，ｃ，ｄ：任意の比例定数）
このとき、方位角φ＝０°が水平方向、φ＝９０°が垂直方向と定義する。
【請求項５】
撮像素子と、
前記補正値によらず、前記撮像素子上の画角中心のＳＦＲもしくはＭＴＦが最も高く、ＳＦＲもしくはＭＴＦの像高特性は画角中心に対し点対称性を示す光学系と、
を有することを特徴とする、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタルカメラ等の軸対称な光学系を有する撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラ等の撮像装置では、一般に一つの光軸に対し、軸対称な形状を持つレンズ等の撮像光学系が用いられる。このような撮像光学系の結像光学特性は、基本的に、撮像面上では画面の中心（光軸と撮像面との交点）から動径方向への距離（像高）に依存している。この像高に依存した結像光学特性として、球面収差、非点収差、コマ収差、像面湾曲、及び色収差があり、これらの収差が大きくなるに従って画像が劣化する。
【０００３】
従来、これらの収差によって劣化した画像を補正するために、収差が最小値を示すようにレンズ等の撮像光学系の構成を最適化している。また、従来は画像処理によって劣化した画像の補正も行っており、エッジを強調するなどの処理を実施することにより、収差によって生じるコントラストの低下を防止する等の対応がとられている。
【０００４】
エッジを強調する場合には、画面上の水平方向のエッジを強調するエッジ強調手段と垂直方向のエッジを強調するエッジ強調手段とを備えた撮像装置を用いるのが一般的である。このような撮像装置では、上述の像高に応じた収差によって画像が劣化することに対応するために、この二種類のエッジを強調する際の強度を像高に応じて変化するように画像処理を実施する。
【０００５】
より具体的には、画面中心付近で調整されたエッジを強調する際の強度に対し、各像高で所定のゲインを乗算したエッジを強調する際の強度を算出して画像処理を行う。これにより、像高毎の収差に対応した画像の劣化を抑制することができる。
【０００６】
特許文献１には、撮像光学系の動径方向に垂直なエッジを強調するエッジ強調手段と方位角方向に垂直なエッジを強調するエッジ強調手段との二種類のエッジ強調手段を有する画像処理装置が開示されている。
【０００７】
特許文献１に開示されている２つのエッジ強調手段には、二種類のバンドパスフィルターが用意されている。そして、動径、方位角、画角、絞り、もしくは、被写体距離の大きさによってこの二種類のエッジ強調手段の比率を変化させることにより、収差（特に非点収差）によって生じる画像の劣化をより抑制できるとしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００６−２１１２１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところが、従来方法や特許文献１に記載の方法では、像高に応じて適応的にエッジ強調量を調整するエッジ強調処理（以後、Ｒａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータと表記）を適用した場合でも、画素によっては良好な解像感を維持することができない場合が生じるという問題があった。より詳細に調べたところ、手振れ補正のための防振機能を適用した場合に上述の不都合が観測されており、特に、大きく手振れしたときに解像感が劣化してしまうという課題があった。
【００１０】
本発明の目的は、手振れ補正のための防振機能を適用した場合でも、レンズ中心からレンズ周辺までの解像感を良好に保つことができる撮像装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するため、本発明に係る撮像装置は、レンズをチルトさせるチルト機構、及び、該チルト機構により駆動するチルトレンズと、該チルトレンズの位置を検出する位置検出手段の出力結果から、前記チルトレンズの姿勢を検知するチルトレンズ姿勢検知手段と、前記チルトレンズの姿勢を補正するチルトレンズ姿勢補正手段と、前記チルトレンズ姿勢検知手段の検出結果から、前記チルトレンズ姿勢補正手段に設定すべきチルトレンズ補正値を導出して、該チルトレンズ補正値を前記チルトレンズ姿勢補正手段に設定して前記チルトレンズを駆動させるチルトレンズ補正制御機構と、を有する撮像装置であって、像高毎にエッジ強調パラメータを設定することができる画像処理装置を備え、前記チルトレンズ補正値に応じて、前記像高毎のエッジ強調パラメータを変更して画像処理を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、手振れ補正のための防振機能を適用した場合でも、レンズ中心からレンズ周辺までの解像感を良好に保つことができる撮像装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態におけるデジタルカメラの概略構成例を示すブロック図
【図２】本発明の実施形態における光学系１０１の概略構成例を示すブロック図
【図３】解像性能（ＳＦＲ）の像高特性、及び、Ｒａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータ（ゲイン）の像高毎の設定値を示すグラフ
【図４】サジタル方向、及び、メリジオナル方向のエッジ強調に関するＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータ（ゲイン）と、水平方向、及び、垂直方向のエッジ強調に関するＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータ（ゲイン）との関係を示す模式説明図
【発明を実施するための形態】
【００１４】
（第１の実施形態）
以下、本発明の第１の実施形態について、図面を参照しながら説明する。図１は、本実施形態におけるデジタルカメラ１００の概略構成例を示すブロック図である。図１において、光学系１０１は、少なくともズームレンズ、フォーカスレンズ、及び、光学的な防振機能を持たせるための防振レンズ（チルトレンズ）から構成されるレンズ群、絞り装置を備えている。この光学系１０１は、撮像素子１０２に到達する被写体像の倍率や、ピント位置、手振れなどによるブレ画像出力の抑制、あるいは、光量を調整している。
【００１５】
特に、本実施形態においては、防振レンズにおける防振機能が特徴となっており、図２を用いて、さらに詳細に説明する。図２は、本実施形態における光学系１０１の概略構成例を示すブロック図である。
【００１６】
本実施形態の光学系１０１は、図２に示すように、ズームレンズ２０１、防振レンズ２０２、フォーカスレンズ２０３、及び、絞り装置２０４の順番で光学系を構成しおり、被写体像は前述の順番で各レンズ、及び、絞り装置を介して撮像素子１０２に到達する。また、防振レンズ２０２は、撮像素子１０２の撮像面に対してチルト方向にチルトさせる不図示のチルト手段により、可動することができ、本実施形態の特徴の一つとなっている。
【００１７】
また、本実施形態のデジタルカメラ１００には、図２に示すように、デジタルカメラ１００の姿勢を検知するジャイロセンサ２０５が内蔵されている。そして、ジャイロセンサ２０５の出力結果から、防振機能を動作させた場合の防振レンズ２０２をどの程度チルト方向にチルトさせるべきかの補正値（以下、ＩＳ補正値と記載）を導出することができる。
【００１８】
このようにして導出されたＩＳ補正値により前述の不図示のチルト手段を動作させて、防振レンズ２０２を駆動し、ジャイロセンサ２０５の出力、つまり、カメラの姿勢に応じたレンズの姿勢制御を行うことができ、手振れなどによる防振を可能にする。
【００１９】
次に、再び図１を用いて説明すると、撮像素子１０２はＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）やＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）センサー等の光電変換素子であり、被写体像を電気信号に変換して画像信号を生成する。本実施形態では、撮像素子１０２はＣＣＤで構成されているものとする。Ａ／Ｄ変換器１０３は、撮像素子１０２から出力されたアナログの画像信号をデジタルの画像信号に変換する。
【００２０】
画像処理回路１０４は、画像信号に対して、ホワイトバランス処理、ノイズ抑圧処理、階調変換処理、エッジ強調処理などを行い、画像信号を輝度信号Ｙおよび色差信号Ｕ、Ｖとして出力する。また、画像処理回路１０４は、画像信号から被写体の輝度値や被写体のピント状態を示す合焦値も算出する。なお、画像処理回路１０４は、Ａ／Ｄ変換器１０３から出力された画像信号のみでなく、記録媒体１０８から読み出した画像信号に対しても同様の画像処理を行うことができる。
【００２１】
制御回路１０５は、本実施形態のデジタルカメラ１００を構成する各回路を制御して、デジタルカメラ１００の動作を統括し、光学系１０１や撮像素子１０２の駆動制御も行う。また、制御回路１０５は、後述するエッジを強調するためのパラメータを算出する処理も行う。
【００２２】
表示メモリ１０６は、表示装置１０７に表示する画像の元になる画像信号を一時的に記憶するメモリである。表示装置１０７は、液晶ディスプレイや有機ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）ディスプレイで構成され、撮像素子１０２で生成された画像信号や、記録媒体１０８から読み出した画像信号に係る画像を表示する。撮像素子１０２から読み出される連続した画像信号を、随時更新して表示することにより、電子的なビューファインダーとして機能することが可能である。
【００２３】
記録媒体１０８は、このデジタルカメラ１００に着脱可能に構成されたものであっても、デジタルカメラ１００に内蔵されたものであってもよい。操作部材１０９は、ユーザーがデジタルカメラ１００に指示を送るために操作する部材である。バス１１０は、画像処理回路１０４、制御回路１０５、表示メモリ１０６、および記録媒体１０８の間で画像信号をやり取りするために用いられる。
【００２４】
次に、本実施形態におけるデジタルカメラ１００の撮影時の動作の一例について説明する。ユーザーによって操作部材１０９が操作され、撮影準備を開始する指示が入力されると、制御回路１０５がそれぞれの回路の動作の制御を開始する。
【００２５】
まず、撮像素子１０２は、光学系１０１を透過した被写体像を光電変換してアナログの画像信号を生成し、Ａ／Ｄ変換器１０３がアナログの画像信号をデジタル化する。画像処理回路１０４は、Ａ／Ｄ変換器１０３から出力された画像信号に対して、ホワイトバランス処理、ノイズ抑圧処理、階調変換処理、エッジ強調処理などを行う。
【００２６】
画像処理回路１０４で処理された画像信号は、表示メモリ１０６を介して、表示装置１０７に画像として表示される。上述したように、撮像素子１０２で連続的に画像信号を生成し、読み出される連続した画像信号を用いて、被写体の画像をリアルタイムで更新して表示装置１０７に表示することにより表示装置１０７は電子的なビューファインダーとして機能する。
【００２７】
そして、ユーザーが操作部材１０９に含まれるシャッターボタンを操作するまで、これらの処理を繰り返す。ユーザーがシャッターボタンを操作すると、制御回路１０５は画像処理回路１０４で得られた輝度値や合焦値に基づいて光学系１０１の動作を再調整して静止画の撮影を行う。画像処理回路１０４が、この静止画の画像信号に対して種々の画像処理を行う。そして、記録媒体１０８には画像処理回路１０４から出力された画像信号が記録される。
【００２８】
本実施形態では、従来の画像処理パラメータを用いて、画像処理回路１０４、及び、制御回路１０５でエッジを強調するためのパラメータ（以下、エッジ強調パラメータ）を算出する。ここで、従来の画像処理パラメータとは、エッジ強調以外のパラメータであるホワイトバランス等の色に関する画像処理パラメータや、従来の軸上（撮像中心）付近のエッジを強調するために用いられるエッジ強調パラメータ等の画像処理パラメータのことを指す。
【００２９】
また、エッジ強調パラメータに関し、さらに詳細に、以下に記す。エッジ強調パラメータとしては、方位角上どの方向、及び、どの周波数帯域の画像エッジを強調するかのバンドパスフィルター設定値や、エッジ強調度の調整のためのゲイン設定値、ノイズ成分抑圧のためのベースクリップ設定値などが挙げられる。
【００３０】
本実施形態では、撮像素子１０２における撮像面上の画素毎の光学結像性能に応じたエッジ強調パラメータを算出する。より具体的には、制御回路１０５を用いて画素毎にゲインＧを求め画像処理回路１０４に入力し、上述した軸上のエッジ強調パラメータに対してゲインＧを乗算したものを、所定の画素のエッジ強調パラメータとして画像処理時に用いる。画素毎のゲインＧは、以下の手順により導出することができる。
【００３１】
まず、撮像面上の全画素位置における解像性能を求め、続いて撮像光学系の光軸と撮像面との交点である撮像中心の解像性能と、それ以外の各画素位置での解像性能との差分を用いることにより画素毎のゲインＧを算出することができる。ここで解像性能は、例えば画像処理を含めた空間周波数応答を表すＳＦＲ（Ｓｐａｔｉａｌ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）、又はレンズ単体に係る変調伝達関数を表すＭＴＦ（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）を用いる。また、これらの値は、光学設計による設計値として予め求めることができる。
【００３２】
以下、解像性能をＳＦＲとした場合の例について説明する。ここで、撮像面における各画素位置を極座標（ｒ，φ）で表し、撮像光学系の光軸と撮像面との交点である撮像中心の解像性能をＳＦＲ（ｒ＝０）とし、それ以外の各画素位置での解像性能をＳＦＲｎ（ｒ，φ）とする。ｒは撮像中心から各画素位置までの動径方向の長さであり、φは撮像中心を回転中心とする方位角φである。このとき、上述の解像性能の差分値ΔＳＦＲ（ｒ，φ）は、以下の式（１）により算出される。
【００３３】
ΔＳＦＲ（ｒ，φ）＝｛ＳＦＲ（ｒ＝０）−ＳＦＲｎ（ｒ，φ）｝／ＳＦＲ（ｒ＝０）
・・・式（１）
続いて、算出した解像性能の差分値ΔＳＦＲを用いて、以下の式（２）により、各画素位置のゲインＧ（ｒ，φ）を算出する。
【００３４】
Ｇ（ｒ，φ）＝α×ΔＳＦＲ（ｒ，φ）＋１      ・・・式（２）
（α：任意の比例定数）
本実施形態では、α＝１．７としてＧ（ｒ，φ）を導出した。また、本実施形態ではゲインＧ（ｒ，φ）を算出する式として１次関数を用いたが、これに限るものではなく、ΔＳＦＲ（ｒ，φ）＝０の時にＧ＝１であれば、２次関数などの多次元の関数を用いてもよい。
【００３５】
また一方、本実施形態では、求めるＧ（ｒ，φ）として、サジタル方向、及び、メリジオナル方向のエッジに対して強調するパラメータを導出する。これにより、撮像中心から同一距離ｒの画素位置であれば、方位角φによらず同一のゲインＧ（ｒ，φ）を設定すればよい。すなわち、サジタル方向のゲインＧ（ｒ，φ）＝Ｇ＿ｓ（ｒ）、及び、メリジオナル方向のゲインＧ（ｒ，φ）＝Ｇ＿ｍ（ｒ）と表すことができ、２種類のゲインを導出するだけで良いことになる。つまり、手振れ補正なし（ＩＳ補正値＝０）の状態の、サジタル方向、及び、メリジオナル方向のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータとして、像高に対する関数であるゲインＧ＿ｓ（ｒ）とＧ＿ｍ（ｒ）が求まるのである。
【００３６】
一方で、図３の上段の図に示すように、手振れ補正におけるＩＳ補正値（θ）により、解像性能（ＳＦＲ）の像高特性が異なる。従って、本実施形態ではこのＩＳ補正値による解像性能の像高特性の違いに応じて、図３の下段の図に示すような、前述のゲインＧ＿ｓ（ｒ）とＧ＿ｍ（ｒ）を変更して設定する。
【００３７】
すなわち、ＩＳ補正値毎にサジタル方向、及び、メリジオナル方向のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを不図示の記憶装置に格納しており、撮影時にはＩＳ補正値を検出して、これに応じたＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを設定して、これを用いて所定の演算を経て画像処理を実施する。以上のことより、ＩＳ補正値（θ）毎のサジタル方向、及び、メリジオナル方向のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータに関しては、以後、ゲインＧ＿ｓ（ｒ，θ）とＧ＿ｍ（ｒ，θ）と表記する。一方、画像処理回路１０４での画像処理の直前における、制御回路１０５を用いての演算処理に関しては、後述する。
【００３８】
また、図３の上段の図で示すように、本実施形態においては、ＩＳ補正値によらず、撮像中心の解像性能が最も高く、解像性能の像高特性は撮像中心に対し点対称性を示す特徴がある。これは、本実施形態で採用した光学系において、チルト手段による防振レンズ２０２を用いた防振機能を搭載していることが作用している。
【００３９】
防振機能で一般的に良く用いられているシフトレンズを備えた光学系では、前述の解像性能が最も高くなる位置はＩＳ補正値が大きくなるにつれて、撮像中心からずれる傾向にある。このような解像性能の像高特性を示す撮像装置に対し、前述のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを適用しようとした場合、撮像中心からのずれ量を考慮した仕組み（パラメータ数の増加等）を新たに設ける必要があり、ハード的な負荷の増大を招く。
【００４０】
また、レンズや撮像素子の取り付け誤差などの製造誤差などにより、同一動径の位置であっても方位角によって結像性能が異なってしまうことがある。これがいわゆる「片ボケ」という現象であり、この場合、本実施形態のチルト手段による防振レンズ２０２を用いた防振機能を搭載したとしても、前述の解像性能が最も高くなる位置は撮像中心からずれることがある。故に、本実施形態では、なるべく「片ボケ」させないように製造することで、上述の撮像中心からのずれ量を小さくすることができ、好ましい。
【００４１】
以上、本実施形態においては、このハード的な負荷を最小限にするために、解像性能が最も高くなる位置と撮像中心とのずれ量が比較的小さい、チルト手段により可動する防振レンズ２０２を用いた防振機能を採用した。また、「片ボケ」に関しても、「片ボケ」がほとんど生じないように製作した。これにより、１つのＩＳ補正値に対し、１対のサジタル方向、及び、メリジオナル方向のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを導出するだけでよく、必要数のＩＳ補正値毎に２種類のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを記憶装置に格納している。
【００４２】
具体的には、本実施形態ではＩＳ補正値の最小値（＝０）から最大値の間、等間隔で５ポイントのＩＳ補正値に対し、各ＩＳ補正値毎に２種類のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを導出し、合計５×２＝１０種類のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを記憶装置に格納している。そして、撮影の際にＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータ設定のないＩＳ補正値を検出した場合には、設定のある前後のＩＳ補正値におけるＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを抽出し、このＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを用いて、所定の近似（補間処理）によりＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを求めることができる。
【００４３】
以上の補間処理を用いれば、予め、全ＩＳ補正値に関するＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを導出して、記憶装置に記憶する必要もなく、さらなるハード負荷の削減を実現することが出来る。
【００４４】
以上のようにして求めたＩＳ補正値毎のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを用いて、画像処理回路１０４で画像処理を実施するが、次に、この画像処理回路１０４への画質パラメータ（エッジ強調パラメータ）の設定に関して以下に記載する。
【００４５】
画像処理回路１０４では、撮影画像に対し、水平方向のエッジを強調するエッジ強調手段と垂直方向のエッジを強調するエッジ強調手段が具備されている。これらのエッジ強調手段には、撮像中心付近の水平方向、及び、垂直方向のエッジを強調するためのエッジ強調パラメータが設定されている。
【００４６】
以上の撮像中心付近の水平方向、及び、垂直方向のエッジ強調パラメータに対し、水平方向、及び、垂直方向のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータであるゲインを乗算して画像処理回路１０４に設定することにより、周辺像高に関しても、良好な解像性能が得られる。ここでのゲインは、ＩＳ補正値（θ）、像高（ｒ）、及び、方位角（φ）に依存するため、、水平方向のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータをＧ＿ｈ（ｒ，θ，φ）、垂直方向のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータをＧ＿ｖ（ｒ，θ，φ）と表記する。
【００４７】
一方、ＩＳ補正値（θ）、像高（ｒ）に依存する、サジタル方向、及び、メリジオナル方向のＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータは、前述の通りゲインＧ＿ｓ（ｒ，θ）、Ｇ＿ｍ（ｒ，θ）であり、  Ｇ＿ｈ（ｒ，θ，φ）、及び、Ｇ＿ｖ（ｒ，θ，φ）とは以下の関係式を有する（図４参照）。
Ｇ＿ｈ（ｒ，θ，φ）＝ａ×Ｇ＿ｓ（ｒ，θ）×ｓｉｎφ＋ｂ×Ｇ＿ｍ（ｒ，θ）×ｃｏｓφ・・・式（３）
Ｇ＿ｖ（ｒ，θ，φ）＝ｃ×Ｇ＿ｓ（ｒ，θ）×ｃｏｓφ＋ｄ×Ｇ＿ｍ（ｒ，θ）×ｓｉｎφ・・・式（４）
（ａ，ｂ，ｃ，ｄ：任意の比例定数）
ここで、本実施形態ではａ＝ｂ＝ｃ＝０．５、ｄ＝−０．５とし、制御回路１０５を用いての演算処理を実施し、この演算結果を画像処理回路１０４に入力して画像処理を行う。すなわち、制御回路１０５を用いて、式（３）、（４）から各画素位置（ｒ，φ）におけるＧ＿ｈ（ｒ，θ，φ）、Ｇ＿ｖ（ｒ，θ，φ）を導出した後に、この値を画像処理回路１０４で撮像中心付近の水平方向、及び、垂直方向のエッジ強調パラメータに対し乗算して、画像処理に用いる。
【００４８】
以上のように画像処理を実施することにより、手振れ補正のための防振機能を適用した場合でも、手振れ補正量に応じてＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータを更新して画像処理が実施できるため、常に、レンズ中心からレンズ周辺までの解像感を良好に保つことができる。また、画像処理装置の記憶装置に格納して用いる、手振れ補正値量に応じたＲａｄｉｕｓ＿ＡＰＣパラメータ数を最小限にすることができ、ハード的な負荷（メモリ容量等）も最小限にできるため、装置のコストアップも最小限に留めることができる。
【符号の説明】
【００４９】
１００  デジタルカメラ
１０１  光学系
１０２  撮像素子
１０３  Ａ／Ｄ変換機
１０４  画像処理回路
１０５  制御回路
１０６  表示メモリ
１０７  表示装置
１０８  記録媒体
１０９  操作部材
２０１  ズームレンズ
２０２  防振レンズ
２０３  フォーカスレンズ
２０４  絞り装置
２０５  ジャイロセンサ
【図１】
2019029832.tif 000003
【図２】
2019029832.tif 000004
【図３】
2019029832.tif 000005
【図４】
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