(57)【要約】【課題】読取ユニットのシェーディングデータを調べることでゴミ等の影響を受けにくい安定したセンサ異常の検知を実現する。【解決手段】画像読取装置は、複数の読取素子を含むグループを複数備えるイメージセンサを有する読み取り部により画像を読み取り、読取素子からの出力に基づく信号を補正する制御部を有し、前記制御部は、前記読取素子ごとのシェーディング特性を示す特性値を生成し、前記読取素子ごとの前記特性値に基づき、前記グループごとに前記特性値の平均値を求め、前記グループごとの前記特性値の平均値のうち少なくともいずれかの前記特性値の平均値第一の閾値よりも大きい場合には、前記読み取り部が異常であると判定する。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の読取素子を含むグループを複数備えるイメージセンサを有する読み取り部により画像を読み取る画像読取装置であって、
前記読取素子からの出力に基づく信号を補正する制御部を有し、
前記制御部は、
前記読取素子ごとのシェーディング特性を示す特性値を生成し、
前記読取素子ごとの前記特性値に基づき、前記グループごとに前記特性値の平均値を求め、
前記グループごとの前記特性値の平均値のうち少なくともいずれかの前記特性値の平均値が第一の閾値よりも大きい場合には、前記読み取り部が異常であると判定する
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像読取装置であって、
前記制御部は、
前記特性値としてシェーディング補正値を生成することを特徴とする画像読取装置。
【請求項３】
請求項１に記載の画像読取装置であって、
前記制御部は、
前記特性値として白シェーディングデータと黒シェーディングデータとの差分を生成することを特徴とする画像読取装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか一項に記載の画像読取装置であって、
前記制御部はさらに、
前記特性値の平均値に基づいて、前記特性値の平均値の均一性を示す均一性指数を求め、前記均一性指数が所定値を超えて均一でないことを示している場合には、前記読み取り部に異常が生じたと判定する
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか一項に記載の画像読取装置であって、
前記制御部は、
前記読み取り部に異常が生じたと判定した場合にはさらに、
前記異常の要因を判定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項６】
請求項５に記載の画像読取装置であって、
前記制御部は、
複数の前記読取素子のグループごとに前記シェーディングデータの平均値を求め、前記グループごとの前記平均値から最小値を除いた前記平均値の均一性を示す均一性指数を求め、前記均一性指数が均一であることを示している場合には、前記グループの一つに異常が生じたと判定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項７】
請求項６に記載の画像読取装置であって、
前記複数の読取素子の出力は、複数の前記グループをまとめた出力として出力され、
前記制御部は、
前記グループごとの前記平均値から、最小値と同じ出力にまとめられたグループの前記平均値を除いた前記平均値の均一性を示す均一性指数を求め、前記均一性指数が均一であることを示している場合には、前記出力の一つに異常が生じたと判定し、
前記グループごとの前記平均値から、片側の半分のグループの前記平均値の均一性を示す均一性指数を求め、前記均一性指数が均一であることを示している場合には、前記片側の反対側の照明に異常が生じたと判定し、
いずれにも該当しない場合には、複数の前記グループに異常が生じたと判定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれか一項に記載の画像読取装置であって、
前記エラー処理は、エラーが生じたことを示すメッセージの出力を含むことを特徴とする画像読取装置。
【請求項９】
請求項１乃至８のいずれか一項に記載の画像読取装置であって、
前記イメージセンサは、複数の読取素子を持つセンサチップを複数配置して構成され、
前記制御部は、前記センサチップごとの読取素子を前記読取素子のグループとすることを特徴とする画像読取装置。
【請求項１０】
複数の読取素子を含むグループを複数備えるイメージセンサを有する読み取り部により画像を読み取る画像読取装置の制御方法であってであって、
前記画像読取装置は、前記読取素子からの出力に基づく信号を補正する制御部を有し、
前記制御部は、
前記読取素子ごとのシェーディング特性を示す特性値を生成し、
前記読取素子ごとの前記特性値に基づき、前記グループごとに前記特性値の平均値を求め、
前記グループごとの前記特性値の平均値のうち少なくともいずれかの前記特性値の平均値が第一の閾値よりも大きい場合には、前記読み取り部が異常であると判定する
ことを特徴とする画像読取装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は画像読取装置に関し、特に画像読取前にイメージセンサの異常を検知する画像読取装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像読取装置ではイメージセンサの各画素のオフセットと感度のバラつき、光源の分布特性によって画素毎に感度特性にばらつきがある。それを補正するためシェーディング補正が広く行われている。
【０００３】
ここでシェーディング補正値を調べることでイメージセンサの異常を検知することができるがイメージセンサやシェーディング板にゴミが付着しているとイメージセンサの異常でないにも関わらずシェーディングデータの異常と誤検知する可能性がある。またコンタクトイメージセンサでは複数のセンサチップを主走査方向に並べてイメージセンサを構成しているがセンサチップの静電気破壊やワイヤボンディングの外れなどによって単一チップや数個のチップのみの異常が発生することがある。
【０００４】
特許文献１にはブロックごとに基準板データの平均値を求め、特異値を持つ場合に異常を判断するLEDやセンサの異常を検出する技術が、特許文献２にはCCDチップごとにシェーディング板読み取りの平均値、最小値、最大値を求めてセンサ異常の検出を行う技術が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第4894247号明細書
【特許文献２】特許第3449490号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１記載の方法は、光源が複数チップのLED光源の場合であり、光源の故障やセンサチップの異常の場合は他のチップとの違いを判別してLEDチップやセンサチップの異常を検出するものである。しかしながら光源に複数のLEDを使用せず導光体を用いるものでは光源の分布特性が連続的に変化するため異常は検知できない。また、センサチップの感度の差が小さいものはやはり異常と検知することができない。
【０００７】
特許第3449490号の方法では、シェーディング板の別の位置でCCD異常かゴミかを判定しているが、大きなゴミがある場合はどちらの位置にもゴミがかかってしまい誤検知する可能性がある。
【０００８】
本発明は上記課題を解決する為になされたもので、高い精度でイメージセンサや照明の異常を検知する画像読取装置及びその制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の目的を達成する為に本発明の画像読取装置は次のような構成からなる。
すなわち本発明の一側面によれば、複数の読取素子を含むグループを複数備えるイメージセンサを有する読み取り部により画像を読み取る画像読取装置であって、
前記読取素子からの出力に基づく信号を補正する制御部を有し、
前記制御部は、
前記読取素子ごとのシェーディング特性を示す特性値を生成し、
前記読取素子ごとの前記特性値に基づき、前記グループごとに前記特性値の平均値を求め、
前記グループごとの前記特性値の平均値のうち少なくともいずれかの前記特性値の平均値が第一の閾値よりも大きい場合には、前記読み取り部が異常であると判定する
ことを特徴とする画像読取装置が提供される。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、高い精度でイメージセンサや照明の異常を検知することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】画像形成装置が待機状態にあるときの図である。
【図２】スキャナ部３の断面図である。
【図３】スキャナ部３の制御構成図である。
【図４】シェーディング処理のブロック図である
【図５】シェーディング取得処理のフローチャートである。
【図６】黒シェーディングデータ取得処理のフローチャートである。
【図７】白シェーディングデータ取得処理のフローチャートである。
【図８】白シェーディング異常検知処理のフローチャートである。
【図９】白シェーディング補正値のチップ平均化のイメージ図である。
【図１０】異常状態のイメージ図である。
【図１１】エラー表示画面のイメージ図である。
【図１２】実施形態２の異常判定のイメージ図である。
【図１３】実施形態２の白シェーディング異常検知処理のフローチャートである。
【図１４】実施形態３のイメージセンサの構成である。
【図１５】実施形態３の異常判定のイメージ図である。
【図１６】実施形態３の白シェーディング異常検知処理のフローチャートである。
【図１７】実施形態３の白シェーディング異常要因判定のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
【００１３】
［実施形態１］
■画像形成装置の説明
図１は、本実施形態で使用するインクジェット画像形成装置１（以下、画像形成装置１）の内部構成図である。図において、ｘ方向は水平方向、ｙ方向（紙面垂直方向）は後述する記録ヘッド８において吐出口が配列する方向、ｚ方向は鉛直方向をそれぞれ示す。本実施形態では、イメージセンサの読取素子ごとのシェーディング特性を示す特性値としてシェーディング補正値を生成し、それに基づいてイメージセンサや照明（たとえばＬＥＤ）の異常を検知する。
【００１４】
画像形成装置１は、プリント部２とスキャナ部３を備える複合機であり、記録動作と読取動作に関する様々な処理を、プリント部２とスキャナ部３で個別にあるいは連動して実行することができる。スキャナ部３は、ＡＤＦ（オートドキュメントフィーダ）とＦＢＳ（フラットベッドスキャナ）を備えており、ＡＤＦで自動給紙される原稿の読み取りと、ユーザによってＦＢＳの原稿台に置かれた原稿の読み取り（スキャン）を行うことができる。なお、本実施形態はプリント部２とスキャナ部３を併せ持った複合機であるが、プリント部２を備えない形態であってもよい。図１は、画像形成装置１が記録動作も読取動作も行っていない待機状態にあるときを示す。
【００１５】
プリント部２において、筐体４の鉛直方向下方の底部には、記録媒体（カットシート）Ｓを収容するための第１カセット５Ａと第２カセット５Ｂが着脱可能に設置されている。第１カセット５ＡにはＡ４サイズまでの比較的小さな記録媒体が、第２カセット５ＢにはＡ３サイズまでの比較的大きな記録媒体が、平積みに収容されている。第１カセット５Ａ近傍には、収容されている記録媒体を１枚ずつ分離して給送するための第１給送ユニット６Ａが設けられている。同様に、第２カセット５Ｂ近傍には、第２給送ユニット６Ｂが設けられている。記録動作が行われる際にはいずれか一方のカセットから選択的に記録媒体Ｓが給送される。
【００１６】
搬送ローラ７、排出ローラ１２、ピンチローラ７ａ、拍車７ｂ、ガイド１８、インナーガイド１９およびフラッパ１１は、記録媒体Ｓを所定の方向に導くための搬送機構である。搬送ローラ７は、記録ヘッド８の上流側および下流側に配され、不図示の搬送モータによって駆動される駆動ローラである。ピンチローラ７ａは、搬送ローラ７と共に記録媒体Ｓをニップして回転する従動ローラである。排出ローラ１２は、搬送ローラ７の下流側に配され、不図示の搬送モータによって駆動される駆動ローラである。拍車７ｂは、記録ヘッド８の下流側に配される搬送ローラ７および排出ローラ１２と共に記録媒体Ｓを挟持して搬送する。
【００１７】
ガイド１８は、記録媒体Ｓの搬送経路に設けられ、記録媒体Ｓを所定の方向に案内する。インナーガイド１９は、ｙ方向に延在する部材で湾曲した側面を有し、当該側面に沿って記録媒体Ｓを案内する。フラッパ１１は、両面記録動作の際に、記録媒体Ｓが搬送される方向を切り替えるための部材である。排出トレイ１３は、記録動作が完了し排出ローラ１２によって排出された記録媒体Ｓを積載保持するためのトレイである。
【００１８】
本実施形態の記録ヘッド８は、フルラインタイプのカラーインクジェット記録ヘッドであり、記録データに従ってインクを吐出する吐出口が、図１におけるｙ方向に沿って記録媒体Ｓの幅に相当する分だけ複数配列されている。記録ヘッド８が待機位置にあるとき、記録ヘッド８の吐出口面８ａは、図１のようにキャップユニット１０によってキャップされている。記録動作を行う際は、プリントコントローラによって、吐出口面８ａがプラテン９と対向するように記録ヘッド８の向きが変更される。プラテン９は、ｙ方向に延在する平板によって構成され、記録ヘッド８によって記録動作が行われる記録媒体Ｓを背面から支持する。
【００１９】
インクタンクユニット１４は、記録ヘッド８へ供給される４色のインクをそれぞれ貯留する。インク供給ユニット１５は、インクタンクユニット１４と記録ヘッド８を接続する流路の途中に設けられ、記録ヘッド８内のインクの圧力及び流量を適切な範囲に調整する。本実施形態では循環型のインク供給系を採用しており、インク供給ユニット１５は記録ヘッド８へ供給されるインクの圧力と記録ヘッド８から回収されるインクの流量を適切な範囲に調整する。
【００２０】
メンテナンスユニット１６は、キャップユニット１０とワイピングユニット１７を備え、所定のタイミングにこれらを作動させて、記録ヘッド８に対するメンテナンス動作を行う。
【００２１】
図２はスキャナ部３の構成図である。図２に示すように、同時両面読み取りをする際には矢印Ａの方向に読み取りの対象となる原稿を搬送する。原稿は、搬送ローラ２２０、搬送ローラ２２１、搬送ローラ２２２、搬送ローラ２２３、搬送ローラ２２４、搬送ローラ２２５により矢印Ａの方向に搬送される。搬送された原稿は、その表面に記録された画像を読み取るための装置である表面用コンタクトイメージセンサ２０１の読み取り位置に達する。その表面の読み取り位置に達した原稿は表面用コンタクトイメージセンサ２０１の内部に設けられた原稿照明用の光源であるＬＥＤから導光体を通して照射光で照射される。搬送を続けると、原稿は、その裏面に記録された画像を読み取るための装置である裏面用コンタクトイメージセンサ２０２の読み取り位置に達する。その読み取り裏面の位置に達した原稿は裏面用コンタクトイメージセンサ２０２の内部に設けられた原稿照明用の光源であるＬＥＤから導光体の照射光で照射される。なお、これらのコンタクトイメージセンサは原稿の幅に相当する読み取り幅を持っている。その読み取り幅の方向は矢印Ａには直角の方向である。この方向を主走査方向といい、矢印Ａが示す原稿の搬送方向を副走査方向ともいう。したがって、２つのコンタクトイメージセンサを向かい合うように配置して、その原稿を矢印Ａの方向に搬送することで、その原稿の両面の画像を同時に読み取ることが可能である。あるいはコンタクトイメージセンサを含む読み取りユニットを原稿に対して搬送してもよい。これにより、ラインセンサを形成するＣＩＳにより、原稿画像を線順次に読み取っていく。また、コンタクトイメージセンサには各々、カラー画像を読み取るために、青色ＬＥＤ、赤色ＬＥＤ、緑色ＬＥＤが備えられている。
【００２２】
また、コンタクトイメージセンサ２０１、２０２の画素毎の感度を補正するためシェーディング補正シート２１０（表面用）が設けられている（なお、裏面用のシェーディング補正シートは図２において不図示）。原稿読取前にコンタクトイメージセンサをシェーディング補正シート上に移動させる。詳細は後述するが、光源のＬＥＤを消灯した状態で黒シェーディングデータを取得することができ、ＬＥＤを点灯した状態で白シェーディングデータを取得することができる。なお、シェーディング補正シート２１０は、シェーディング補正用の部材であればよいため、シートのような部材に限らず、いわゆるシェーディング板と呼ばれるような板部材から構成されていてもよい。
【００２３】
表面用コンタクトイメージセンサ２０１に設けられた各色ＬＥＤにより照射された各色光の原稿における反射光はレンズを通してコンタクトイメージセンサの基板上に配置されたイメージセンサに結像される。コンタクトイメージセンサ２０１によって結像された反射光が光電変換され、アナログ画像データ（アナログ信号）が出力される。コンタクトイメージセンサ基板上には、図示しないA/Dコンバータが搭載されており、このA/Dコンバータによりアナログ信号はデジタル信号に変換され、デジタル画像データとして出力される。一方、裏面用コンタクトイメージセンサ２０２に設けられた各色ＬＥＤにより照射された光の原稿においての反射光もレンズを通してコンタクトイメージセンサ２０２の基板上に配置されたイメージセンサ上に結像される。コンタクトイメージセンサ２０２では結像された反射光が光電変換され、アナログ画像データ（アナログ信号）となる。そして、コンタクトイメージセンサ基板上に搭載された図示しないA/Dコンバータにより、アナログ信号からデジタル信号に変換され、デジタル画像データとして出力される。本実施形態においては、コンタクトイメージセンサ２０１と２０２は、センサチップが複数配置されており、本例ではそれぞれ１７個のイメージセンサチップが搭載されているものとする。
【００２４】
本例では、各イメージセンサチップは、解像度600dpiで１チップに42umの開口幅の読取素子が、主走査方向に432画素配置されている。すなわち１チップ当たり432個の素子が連続して配置されている。このイメージセンサチップを17チップ主走査方向に配置することでA3幅以上の308mmを600dpi解像度で読取が可能となる。また、本例の読取素子は、CMOS構成だが、CCD構成でも同様に構成できる。
【００２５】
図3の画像処理ブロック３００は表面用と裏面用途を含む。コンタクトイメージセンサ２０１からの表面画像のデジタル信号が表面用画像処理ブロック３０１に入力される。同様にコンタクトセンサ２０２から裏面画像のデジタル信号が、裏面用画像処理ブロック３０２に入力される。なお図３の回路は、たとえば最初にスタート信号を印加することで所定のタイミングで各ブロックに対するイネーブル信号などの各種信号を生成するシーケンサにより駆動制御されてもよいが、本実施形態ではスキャナ部３を制御するプロセッサ（不図示）によりプログラムに従って制御されるものとする。この場合にはたとえば、そのプロセッサが、所定のプログラムを実行することで、各回路ブロックに対する制御信号を出力する。制御の対象には図３の各ブロックのみならず、ＬＥＤなどを含む光学系、イメージセンサ、原稿の搬送系なども含む。
【００２６】
画像処理ブロック３０１および３０２は同等の回路構成であって図４で詳細説明を行う。画像処理ブロック３０１および３０２で画像処理された信号はプリンタコントロールインターフェースブロック３０３に入力され、プリンタコントロールユニットに出力される。表面用画像処理ブロック３０１の内部構成を簡単に説明する。ＡＦＥ ＩＦ３２１でコンタクトイメージセンサから信号を受信する。点順次線順次変換部３２２にてＲ−Ｇ−Ｂの順番の1ライン3色のデータをＲ／Ｇ／Ｂ画素の順番に並び換える。この時点でＣＣＤ機と同じようにＲ／Ｇ／Ｂで１画素を構成するデータ形式となる。ＳＨＤ（シェーディング処理部）３２３で画素のオフセットおよび感度を補正するシェーディング処理を行う。ＬＵＴ３２４でイメージセンサ２０１のリニアリティを補正して輝度に比例した出力にテーブルで補正する。画像切り出し部３２５でデータの有効信号部分を切り出し、範囲外の部分を白でマスクする処理を行う。
【００２７】
図4にＳＨＤブロックのブロック図を示す。この図は図３のＳＨＤ３２３、ＳＨＤ３３３に相当する。ＳＨＤブロックは黒ＳＨＤ補正部（黒シェーディング補正部）４１１、ＢＳＨＤ＿ＲＡＭ４１２、白ＳＨＤ補正部（白シェーディング補正部）４２１、ＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４２２、ライン積算値計算部４３１、ＷＯＲＫ＿ＲＡＭ４３２、白ＳＨＤ補正値計算部４４１、ＳＨＤｃｏｎｓｔレジスタ４４２、黒ＳＨＤ補正値計算部４５１、ＢＫｏｆｆｓｅｔレジスタ４５２、セレクタ４６１、最大・最小積算値計算部４７１、ＭＡＸレジスタ４８１、ＭＩＮレジスタ４８２、積算レジスタ４８３から構成される。
【００２８】
まず黒シェーディングデータの取得について説明する。黒シェーディングデータの取得は、黒ＳＨＤ補正部４１１をスルー、白ＳＨＤ補正部４２１をスルーに設定し、ＬＥＤを消灯した状態で行う。ライン積算値計算部４３１でＲ／Ｇ／Ｂの各画素のデータを取得し、ＷＯＲＫ＿ＲＡＭ４３２にて複数ライン分積算する。例えば複数ラインの対応画素の値をＲＧＢごとに積算する。予め決められたライン数を積算した後にデータ取得を停止し、黒ＳＨＤ補正値計算部４５１にてＷＯＲＫ＿ＲＡＭ４３２のデータ（積算値）を画素毎にリードし、取得ライン数（すなわち積算したライン数）で割り算して平均値を求める。その平均値からＢｋＯｆｆｓｅｔレジスタ４５２に設定された値を引き算する。結果が正数の場合にはその値に、負数になった場合は０にクランプして各画素の黒ＳＨＤ補正値を計算する。その黒ＳＨＤ補正値はＢＳＨＤ＿ＲＡＭ４１２にライトされる。黒シェーディング取得は全画素計算終了した時点で終了となる。すなわち１ライン分の画素（本例では４３２×１７＝７３４４画素）について黒シェーディング補正値を求める。
【００２９】
次に白シェーディングデータの取得について説明する。白シェーディングデータ取得は、黒ＳＨＤ補正部４１１を補正ＯＮとし、白ＳＨＤ補正部４１２をスルーに設定し、ＬＥＤは点灯した状態で行う。ライン積算値計算部４３１でＲ／Ｇ／Ｂの各画素のデータを取得し、ＷＯＲＫ＿ＲＡＭ４３２に複数ライン分積算する。予め決められたライン数を積算した後にデータ取得を停止し白ＳＨＤ補正計算部４４１にてＷＯＲＫ＿ＲＡＭ４３２のデータを画素ごとにリードし取得ライン数で割り算して平均値を求める。求めた各画素の平均値で、ＳＨＤｃｏｎｓｔレジスタ４４２に設定された値を割り算する。求めた値がＷＳＨＤ＿ＲＡＭに格納できる値ならその値で、ＷＳＨＤ＿ＲＡＭに格納できる値より大きくなった場合は格納できる最大値でクランプして各画素（１ライン中の各画素）の白ＳＨＤ補正値を計算する。その白ＳＨＤ補正値はＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４２２にライトされる。白シェーディング取得は全画素計算終了した時点で終了となる。なお白シェーディングデータ取得時には、イメージセンサによる読み取り対象はたとえば白のシェーディング板などであればよい。
【００３０】
次にＳＨＤ補正を実行する時の説明を行う。この場合は黒ＳＨＤ補正部４１１をＯＮ、白ＳＨＤ補正部４１２をＯＮ、ライン積算部４３１をスルーとして黒ＳＨＤ補正、白ＳＨＤ補正した画像データを後段に出力する。黒ＳＨＤ補正部４１１はＢＳＨＤ＿ＲＡＭ４１２から各画素の黒ＳＨＤ補正値をリードし画像データに対して減算する。負数となった場合は０でクランプし画像データを出力する。白ＳＨＤ補正部４２１はＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４２２から各画素の白ＳＨＤ補正値をリードし黒ＳＨＤ補正された画像データに白ＳＨＤデータを乗算する。ある最大値（たとえば各色成分の最大値）をオーバした場合はその最大値でクランプして画像データを出力する。
【００３１】
最大・最小・積算値計算部４７１の動作を説明する。セレクタ４６１で最大値・最小値・積算値を求めたいＲＡＭを選択する。選択できるものとしてはＢＳＨＤ＿ＲＡＭ４１２、ＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４２２、ＷＯＲＫ＿ＲＡＭ４３２のＲ／Ｇ／Ｂ成分で、全部で９個のＲＡＭが選択可能である。最大・最小・積算値計算部４７１はセレクタ４６１で選択されたＲＡＭのデータをリードし、決められた画素数で区切って、その区切りの中で最大値・最小値・積算値を計算する。コンタクトイメージセンサの場合は、例えば決められた画素数としてセンサチップ１個分の画素数を設定することになる。計算された最大値は最大値レジスタ４８１にライトされ、最小値は最小値レジスタ４８２にライトされ、積算値は積算値レジスタ４８３にライトされる。最大値レジスタ４８１、最小値レジスタ４８２、積算値レジスタ４８３は、イメージセンサのチップ数以上存在する。本実施形態ではイメージセンサのチップ数は１７個、レジスタは１８個である。
【００３２】
最後にＳＨＤブロック全体を制御するＳＨＤ制御部４９１を簡単に説明する。これは黒シェーディング取得、白シェーディング取得、ＳＨＤ補正動作、最大・最小・積算値計算処理の全体を制御するものである。それぞれの動作のトリガを受け取り、ブロックを動作開始―終了し全体の処理が終了した時点で割り込みを発生させる動作を行う。上述した説明において、白ＳＨＤ補正部や黒ＳＨＤ補正部などのオン／オフ切り替え、セレクタの選択信号などの各信号は、上述した不図示のプロセッサにより与えられてよい。
【００３３】
図５はスキャナ部３におけるシェーディングデータ取得フローを示したものである。図５の手順は、たとえば、スキャナ部３を制御する上述した不図示のプロセッサにより実行されてよいが、シーケンサなどのハードウエアによる制御の手順を示したものとしてもよい。図５の手順は、たとえば画像読取装置の電源投入後の初期化処理で実行してよいし、あるいはシェーディングデータの更新を例えばユーザインターフェイスなどから明示的な指示に応じて実行してもよい。
【００３４】
シェーディングデータ取得が開始されると（Ｓ１００）、ＬＥＤを消灯し（Ｓ１０１）、黒シェーディングデータを取得する（Ｓ１０２）。黒シェーディングデータ取得フローを図６に示す。まず、黒シェーディング補正部４１１をスルー、白シェーディング補正部４２１をスルーに設定し、黒シェーディング取得開始トリガをＯＮにする（Ｓ２０２）。すると、読取ユニットにより複数ライン分の黒シェーディングデータを読み込む（Ｓ２０３）。読み込んだデータは、画素毎に、ＷＯＲＫ＿ＲＡＭ（４３２）を使用して複数ライン分加算し（Ｓ２０４）、ライン数で割って平均化する（Ｓ２０５）。この平均値からオフセットを減算し（Ｓ２０６）、黒シェーディング補正値としてＢＳＨＤ＿ＲＡＭ４１２に格納する（Ｓ２０７）。データ読み込み（Ｓ２０３）から補正値の格納（Ｓ２０７）までは色成分Ｒ／Ｇ／Ｂを同時に処理し、終了したら割り込みを返す（Ｓ２０８）。黒シェーディング取得が完了すると、取得した黒シェーディング補正値が補正範囲内かどうかを確認することで、黒シェーディング異常判断を行う（Ｓ１０３）。前記補正値が補正範囲外の場合、異常と判断し、異常処理に遷移する。補正範囲の値はあらかじめ決めておいてよい。
【００３５】
黒シェーディング補正値が正常の場合、白シェーディング取得のため、ＬＥＤを点灯させる（Ｓ１０４）。本実施形態では移動シェーディングを実施するため、読取ユニット２０１，２０２の移動を開始し（Ｓ１０５）、白シェーディング取得を開始する（Ｓ１０６）。白シェーディング取得フローを図７に示す。まず、黒シェーディング補正をＯＮ、白シェーディング補正をスルーに設定し白シェーディングデータ取得開始トリガをＯＮにし（Ｓ３０３）、読取ユニット２０１，２０２が移動しながら複数ライン分のデータを読み込む（Ｓ３０４）。読み込んだデータは画素毎に、ＷＯＲＫ＿ＲＡＭ４３２を使用して複数ライン分加算し（Ｓ３０５）、ライン数で割って平均化する（Ｓ３０６）。その後、ＳＨＤｃｏｎｓｔの値を各画素の平均値で割り（Ｓ３０７）、得られた結果を白シェーディング補正値としてＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４３２に格納する（Ｓ３０８）。データ読み込み（Ｓ３０４）から補正値の格納（Ｓ３０８）までは色成分Ｒ／Ｇ／Ｂを同時に処理し、終了したら割り込みを返す（Ｓ３０９）。
【００３６】
白シェーディング取得が完了すると、取得した白シェーディング補正値を用いて白シェーディング異常判断を行う（Ｓ１０７）。白シェーディング異常判断フローを図８に示す。ＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４２２に格納したＲの白シェーディング補正値をＷＯＲＫ＿ＲＡＭ４３２に読み出し、チップ平均値を算出する（Ｓ４０１）。チップ平均値の算出方法について図９に示す。図９の回路は、図４のＳＨＤブロック図中の最大値・最小値・積算値計算部４７１に含まれる。
【００３７】
ＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４３２から読み出したＲ成分の白シェーディング補正値では、補正値は画素単位で得られているのでそれをチップ単位に分割する。すなわち、チップに含まれた素子を一つのグループとして、チップすなわちグループごとに最大値・最小値・積算値を求め、レジスタＭａｘ＿ＲＥＧｓ４８１、Ｍｉｎ＿ＲＥＧｓ４８２、Ａｄｄ＿ＲＥＧｓ４８３にそれぞれ格納する。Ａｄｄ＿ＲＥＧｓ４８３に格納した積算値を１チップあたりの画素数で割ることで、チップ平均値ＷＳＨＤ＿ＡＶＥ＿Ｒ「ｎ」を算出する。これをＧ／Ｂ成分についても繰り返し、各色成分の白シェーディング補正値のチップ平均を得る。なお、チップ平均値の算出方法は、相加平均だけでなく、加重平均、相乗平均、調和平均等の算出方法を用いてもよい。つまり、本発明のチップ平均値とは、１チップ内の平均を示す値であればよく、相加平均値に限定されない。また図９の例では、最大値、最小値、積算値を各レジスタへ格納するまではハードウエアにより行い、レジスタから値を読んで平均値を算出する処理は、例えば前述したプロセッサにより実行する。
【００３８】
Ｓ４０１で算出したチップ平均のうち、色成分毎の最大値ＷＳＨＤ＿Ｍａｘ＿Ｒ／ＷＳＨＤ＿Ｍａｘ＿Ｇ／ＷＳＨＤ＿Ｍａｘ＿Ｂと、最小値ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎ＿Ｒ／ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎ＿Ｇ／ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎ＿Ｂを算出（あるいは決定）する。また、全色成分のチップ平均値の中から、最大値ＷＳＨＤ＿Ｍａｘを算出する（Ｓ４０２）。最大値ＷＳＨＤ＿Ｍａｘが、予め定められた閾値Ｍａｘ＿ＴＨより大きい場合（Ｓ４０３のＹｅｓ）、白シェーディング異常と判定し（Ｓ４０４）、図１１のような白シェーディング異常を示すエラー画面を操作パネル１０４に表示させ、画像形成装置１の動作を停止する。最大値ＷＳＨＤ＿ＭａｘがＭａｘ＿ＴＨ以下の場合（Ｓ４０３のＮｏ）、Ｓ４０５に遷移し、色成分ごとに白シェーディング補正値の均一性指数ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｒ／ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｇ／ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｂを求める。ここで均一性指数Ｕｐは以下の式で表される。ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｒ＝（ＷＳＨＤ＿Ｍａｘ＿Ｒ−ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎ＿Ｒ）／（ＷＳＨＤ＿Ｍａｘ＿Ｒ＋ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎ＿Ｒ）。均一性が高いほどＷＳＨＤ＿Ｍａｘ＿ＲとＷＳＨＤ＿Ｍｉｎ＿Ｒとの差は小さいので、均一性指数Ｕｐの値は小さくなる。つまり、均一性指数Ｕｐの値が大きいほどばらつきが大きいことを示す。各色成分の均一性指数ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｒ／ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｇ／ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｂの少なくともいずれかが、予め定められた閾値Ｕｐ＿ＴＨより大きい場合（Ｓ４０６のＹｅｓ）、白シェーディング異常と判定し（Ｓ４０７）、図１１のような白シェーディング異常を示すエラー画面を操作パネル１０４に表示させ、画像形成装置１の動作を停止する。各色成分の均一性指数ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｒ／ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｇ／ＷＳＨＤ＿Ｕｐ＿Ｂの全てが閾値Ｕｐ＿ＴＨ以下の場合（Ｓ４０６のＮｏ）、Ｓ４０８に遷移し、白シェーディング異常検知を終了する。白シェーディング異常検知Ｓ１０７が完了すると、読取ユニットはホームポジションに戻って停止し（Ｓ１０８）、シェーディング取得処理を終了する（Ｓ１０９）。なお均一性指数としては、たとえば白シェーディングデータ補正値のチップごとの平均値の分散や標準偏差を用いてもよい（※シェーディングデータそのものを特性値として用いているのは実施形態２かと思いますので、「補正値」を追加しましたが、もしこの文の意図と違いましたらご連絡ください。以下の記載においても、一部、「補正値」の文言を追加しておりますので、ご確認お願いいたします。）。それらの値が所定の閾値よりも小さければ均一性が高いと反転でき、逆に大きければばらつきが大きく、異常があると推定できる。エラー画面には、エラーであることを示すメッセージと、エラーの種類を示すコードとが表示される。
【００３９】
ここで白シェーディング補正値のチップ単位の平均値を算出する部分の動作の説明を図９にあらためて示す。この処理は図８のステップＳ４０１に相当し、図４のＳＨＤブロック図中の最大値最小値積算値計算部４７１で行う。まず図４セレクタ４６１にて検出対象のＲＡＭを選択する。白シェーディング補正値の平均値算出を行うためＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４３２を選択する。また平均値の算出は1成分ずつ実行する仕様であるためＲ／Ｇ／Ｂの一つを選択して実行する。対象のＲＡＭを選択した後に図４のＳＨＤ制御４９１に対して最大値・最小値・積算値を算出するためのトリガを発行する。トリガの発行はスキャナ部３を制御するプロセッサが行ってよい。
【００４０】
最大値最小値積算値計算部４７１はＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４２２を１画素ずつリードし最大値・最小値・積算値を計算する。センサ1チップ分の画素数に相当する分をリードした時点で最大値の結果をＭＡＸ＿ＲＥＧｓ４８１にライトし、最小値の結果をＭＩＮ＿ＲＥＧｓ４８２にライトし、積算値の結果をＡＤＤ＿ＲＥＧｓ４８３にライトする。1チップ分の計算が終了した時点で最大値・最小値・積算値のテンポラリレジスタをリセットして次のチップの処理を行う。ＭＡＸ＿ＲＥＧｓ４８１、ＭＩＮ＿ＲＥＧｓ４８２、ＡＤＤ＿ＲＥＧｓ４８３はチップ数分用意してあるので全部のチップの最大値・最小値・積算値を得ることができる。全チップ分の計算が終了した時点でＳＨＤ制御部４９１が割り込みを発行し最大値最小値積算値計算を終了する。
【００４１】
チップ単位の最大値・最小値・積算値の計算が終了するとＦＷ処理でＡＤＤ＿ＲＥＧｓ（４８３）の結果をリードしそれを1チップの画素数で割り算して各チップの平均値を算出する。それをＲ／Ｇ／Ｂと３成分繰り返して３色分の各チップ単位の白シェーディング補正値の平均値を求める。
【００４２】
図１０に、図８のステップＳ４０２までの処理により得られたチップ単位の白シェーディング補正値の平均値の例を示す。上述したようにセンサ２０１，２０２はそれぞれチップ０からチップ１６までの１７個のセンサチップから構成されている。値１００１は各センサチップの白シェーディング補正値の平均値を示す。また、所定の閾値ＭＡＸ＿ＴＨ１００２も示される。図１０において、チップ６の平均値がチップ全体の最大値であり、その値は閾値ＭＡＸ＿ＴＨを超えている。そのため、図１０の場合には図８のステップＳ４０３で異常と判定される。なお、本例では各チップのシェーディング補正値の平均値のうち最大値が所定の閾値を超えているかを判定しているが、本例に限らず、各チップのシェーディング補正値の平均値のうちいずれかが閾値を超えているかを判定すればよい。またチップ５のシェーディング補正値の平均値が、チップ全体における平均値の最小値である。そのため、図１０の例では、チップ５のシェーディング補正値の平均値を最小値ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎとして、チップ６のシェーディング補正値の平均値を最大値ＷＳＨＤ＿Ｍａｘとして、均一性指数ＷＳＨＤ＿Ｕｐが計算される。均一性指数ＷＳＨＤ＿Ｕｐが閾値を超えた場合にも異常と判定される。
【００４３】
以上の構成により、シェーディング、特に白シェーディングの異常を画素毎ではなくチップの平均値で判断する。そのため、特定のイメージセンサの素子に付着したゴミ等に対しては異常と判定せず、センサチップの故障やLEDの点灯不良といった、複数のイメージセンサ素子（特に一連の複数の素子）により異常を検知する。換言すれば、シェーディング補正値の高周波成分をフィルタリングし、チップ単位で判定することで、画素単位の異常に対する過敏さを抑制し、異常検知の精度を向上させることができる。
【００４４】
［実施形態２］
実施形態１記載の、図８の白シェーディング異常検知フローチャートにおいては、白シェーディングデータ取得処理（Ｓ１０６）によって得られる白シェーディング補正値を用いて異常判定を行うのに対し（Ｓ４０１）、実施形態２においては、取得された白シェーディングデータそのものを使用し異常判定を行う。すなわち、本実施形態では、イメージセンサの読取素子ごとのシェーディング特性を示す特性値としてシェーディングデータそのものを使用し、それに基づいてイメージセンサや照明（たとえばＬＥＤ）の異常を検知する。
【００４５】
図１２に実施形態２の異常検出のイメージ図を示す。この実施形態では白シェーディング補正値・黒シェーディング補正値を計算せずに異常判定を行うので白シェーディングデータはイメージセンサのオフセットレベルが加算されて出力される。つまり黒ＳＨＤ補正を行わないデータとなる。そのためチップごとに黒シェーディングデータの平均値を求めそれを白シェーディングデータから引き算する処理が必要となる。本来は、黒ＳＨＤ補正は画素単位で処理するものであるが黒ＳＨＤ補正できないので簡易的にチップ単位で平均化した黒シェーディングデータを黒ＳＨＤ補正値として扱う。
【００４６】
チップごとの白シェーディングデータの平均値から黒シェーディングデータの平均値を引き算したものの最大値（ＷＳＨＤ＿Ｍａx）と最小値（ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎ）を求める。実施形態２では最小値のほうが異常なのでＷＳＨＤ＿Ｍｉｎがあらかじめ決められた閾値（ＭＩＮ＿ＴＨ）を下回ったとき異常と判定しエラー処理を行う。また均一性の計算は実施形態１と同じ式、
Ｕｐ＝（ＷＳＨＤ＿Ｍａx−ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎ）／（ＷＳＨＤ＿Ｍａx＋ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎ）
で算出される。これは白シェーディングデータと白シェーディング補正値は逆数の関係となるが均一性指数Ｕｐを計算すると同じ式で計算されるためである。
実施形態１と同じように均一性指数Ｕｐがあらかじめ決められた閾値を上回ったとき異常と判定しエラー処理を行う。
【００４７】
図１３に実施形態２のフローチャートを示す。ほとんど実施形態１のフロー（図８）と同じであるため詳細な説明は省略するが違いとしては白シェーディング補正値のチップ平均取得（Ｓ４０１）の前に、チップ単位で黒レベル値を積算して１画素あたりの値に平均する黒レベルチップ平均取得（Ｓ１３０１）が追加となる。また、白シェーディング補正値のチップ平均取得（Ｓ４０１）の代わりにチップ単位で白レベル値を積算して１画素あたりの値に平均する白レベルチップ平均取得（Ｓ１３０２）となる。フローでは示していないがチップ平均、ＭＡＸ／ＭＩＮ算出（Ｓ１３０３）では、Ｓ１３０２で取得した白レベルチップ平均値からＳ１３０１で取得した黒レベルチップ平均値を引き算して差分を求めたのち最大値・最小値を算出する。最後の違いとしてはＳ１３０４で算出した最小値を閾値ＭＩＮ＿ＴＨと比較して、閾値以下の場合、異常としてエラー処理を行っている。
【００４８】
なお、図１３の手順では白シェーディング補正値および黒シェーディング補正値を計算していないために、例えば図４の各補正部４１１，４２１，４３１をスルーした画素値を対象として、最大・最小・積算値計算部４７１により、チップごとの最大値、最小値、平均値を算出する。また異常が検出されなかった場合には、あらためて黒シェーディング補正値と白シェーディング補正値を計算して、ＢＳＨＤ＿ＲＡＭ４１２とＷＳＨＤ＿ＲＡＭ４２２にそれぞれ格納し、シェーディング補正のために用いてもよい。あるいはそれぞれのシェーディング補正値が既に求められ、格納されている場合には、異常が検出されなければ、格納済みの値を用いてもよい。
【００４９】
このようにして白レベルのチップ平均値が所定の閾値以下であると、白シェーディング異常と判定する。図１２の例では、チップ６の白レベルのチップ平均値が最小であり、黒レベルに近い値となっている。その最小値が不図示の閾値以下であれば白シェーディング異常と判定されることになる。以上の構成により、シェーディング、特に白シェーディングの異常を画素毎ではなくチップの平均値で判断する。そのため、特定のイメージセンサの素子に付着したゴミ等に対しては異常と判定せず、センサチップの故障やＬＥＤの点灯不良といった、複数のイメージセンサ素子（特に一連の複数の素子）により異常を検知する。換言すれば、白レベル値の高周波成分をフィルタリングし、チップ単位で判定することで、画素単位の異常に対する過敏さを抑制し、異常検知の精度を向上させることができる。さらに本実施形態では、シェーディング補正値を計算しないために、異常判定の処理の簡素化を図ることができる。さらに、すでに計算され、メモリに保存されたシェーディング補正値をそのまま変更することなく、センサチップやＬＥＤなどの異常を検出することができる。
【００５０】
［実施形態３］
実施形態３では読取を高速に行うため構成が複雑なイメージセンサを使用した場合であってそれぞれの異常個所を判別すること行うものである。図１４にイメージセンサの構成を示す。イメージセンサ１４０１は光源１４１１と１４１２の両側にあって導光体１４１３を介して原稿照明となる。センサチップ１４３１−１４４７は全部で６つの出力に分けられ出力される。その出力は１４２１−１４２６である。この出力は、図示しないA/Dコンバータでデジタル信号に変換され、画像ブロック３００のコンタクトイメージセンサ２０１とコンタクトイメージセンサ２０２のデジタル信号として出力される。
【００５１】
図１４に示すイメージセンサの場合は異常状態として単一のセンサチップ異常、単一の出力異常、右側ＬＥＤ光源異常、左側ＬＥＤ光源異常などが考えられる。そのうち右側ＬＥＤ異常の時の各センサチップの白シェーディングデータの平均値を図１５（Ａ）に、いずれか一つの出力異常の時の各センサチップの白シェーディングデータの平均値を図１５（Ｂ）に示す。白シェーディングデータは実施形態２と同じ要領で取得すればよい。図１５（Ａ）では右側のＬＥＤ光源１４１２が不点灯となっているためほぼ右側半分の白シェーディングデータが下がっている。そのためセンサ全部で均一性を算出すると異常となり右側半分の除いて均一性を算出すると正常となる。それによって右側ＬＥＤ光源異常と判別することができる。図１５（Ｂ）では一つの出力（ここではＯｕｔ５）が異常となっておりそれ以外の出力は正常となっている。よって異常となっている出力のチップを除いて均一性を算出した場合は正常となるのでそれによって単一の出力異常と判別することができる
次に実施形態３での異常判定フローについて説明する。図１６は実施形態３の異常判定フローである。これは実施形態２とほとんど同じであるが異常要因判定（Ｓ１６０７）が白シェーディングエラー（Ｓ１６０８）の前に追加されているところに違いがある。異常要因判定（Ｓ１６０７）の詳細は図１７に記載されている
図１７の異常要因を判定するフローが記載されている。異常要因の判定でこの例では
単一チップの異常、単一出力の異常、右側ＬＥＤ光源異常と左側ＬＥＤ光源異常のそれぞれの要因を判別している
まず単一チップ異常の判別（Ｓ１７０１）では白シェーディングデータのチップ平均の最小値ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎを除いて残りの全チップを使用して均一性指数Ｕｐを算出してみる。すなわち、最小値ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎに代えて２番目に小さい値ＷＳＨＤ＿２ｎｄ＿Ｍｉｎを用いて均一性指数Ｕｐを、実施形態１と同じ要領で算出する。その均一性指数Ｕｐが規格内（所定値より小さい、すなわちＵｐ＜ＵＰ＿ＴＨ）であれば単一のチップの異常と判別する。単一チップ異常と判別された場合は単一チップ異常を示すフラグを立てて（Ｓ１７０２）白シェーディング異常エラー処理を行う。フラグは必要に応じて読取ユニット交換に役立てたり故障率などの算出に持ちいたりすることができる。
【００５２】
同様に単一出力の異常判別（Ｓ１７０３）では白シェーディングデータのチップ平均が最小値ＷＳＨＤ＿Ｍｉｎであるチップと同一出力のチップを除いて、残りのチップでの均一性指数Ｕｐを算出する。その値が規格内（すなわち閾値より小さい）であれば単一出力の異常と判別する。単一出力の異常と判別された場合は、単一出力の異常を示すフラグを立てて（Ｓ１７０４）エラー処理を行う。
【００５３】
左側ＬＥＤ光源異常判定（S１７０５）では、先に記述しているように右側半分は正常となるので左半分を除いて均一性指数を算出したときに正常（すなわち右半分の均一性指数Ｕｐが閾値より小さい）であれば左側ＬＥＤ光源異常フラグを立てて（Ｓ１７０６）エラー処理を行う。右側ＬＥＤ光源異常判定（Ｓ１７０７）については左側と同様の処理である。ただし、均一性指数Ｕｐは、左側半分のチップの白シェーディングデータの最小値及び最大値を用いて求めた値となる。その値が所定の閾値よりも小さければ右側ＬＥＤ光源異常フラグを立てる（Ｓ１７０８）。このように、センサの並びについてそれをほぼ中央で２組に分割し（本例ではチップ単位でよい）、片側ずつチップ単位の平均値の均一性指数を判定する。そして判定した片側に異常がなければ、判定の対象としていない、反対側の照明に異常があると判定する。
【００５４】
最後にどれにも当てはまらない場合を複数チップ異常（Ｓ１７０９）と判定して複数チップ異常を示すフラグを立ててエラー処置を行う。なお上記手順で「エラー処理を行う」と記載しているが、それは例えば図１１のユーザインターフェイス画面で、異常の種類を示すフラグに応じたエラーコードを表示することであってよい。
【００５５】
以上説明したように、本実施形態では、上述した各実施形態と同様に、シェーディング、特に白シェーディングの異常を画素毎ではなくチップの平均値で判断する。そのため、特定のイメージセンサの素子に付着したゴミ等に対しては異常と判定せず、センサチップの故障やＬＥＤの点灯不良といった、複数のイメージセンサ素子（特に一連の複数の素子）により異常を検知する。換言すれば、白レベル値の高周波成分をフィルタリングし、チップ単位で判定することで、画素単位の異常に対する過敏さを抑制し、異常検知の精度を向上させることができる。さらに本実施形態では、白シェーディングデータの値を、生じる可能性のある異常状態に応じて加工し、検査することで、生じた異常の種類を特定し、それをユーザに報知することができる。
【００５６】
［その他の実施形態］
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００５７】
４１１  黒シェーディング補正部、４１２  ＢＳＨＤ＿ＲＡＭ、４２１  白シェーディング補正部、４２２  ＷＳＨＤ＿ＲＡＭ、４３１  ライン積算計算部、４４１  
白シェーディング補正値計算部、４５１  黒シェーディング補正値計算部、４７１  最大・最小・積算値計算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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