(57)【要約】【課題】容易に基板の良否判定を行うこと。【解決手段】良否判定の対象となる基板を収容するための収容部と、収容部に収容された基板の機能を確認するための信号を複数生成する信号生成部と、生成された信号それぞれに基づいて得られる結果から基板の良否を判定する判定部と、を備える判定装置。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
良否判定の対象となる基板を収容するための収容部と、
前記収容部に収容された前記基板の機能を確認するための信号を複数生成する信号生成部と、
生成された前記信号それぞれに基づいて得られる結果から前記基板の良否を判定する判定部と、
を備える判定装置。
【請求項２】
前記結果を複数記憶する結果記憶部と、
表示制御部と、をさらに備え、
前記表示制御部は、前記結果記憶部に記憶されている複数の結果をそれぞれ、結果に応じた態様で表示部に表示させる、請求項１に記載の判定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板の機能の良否判定技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電話、ファクシミリ、データ伝送等に利用可能な３．４ＫＨｚ専用線が知られている（例えば、非特許文献１参照）。また、近年では、ネットワークのシンプル化に伴い回線切り替えが行われているが局側の伝送装置に利用される基板の経年劣化や単体故障による切替えリトライが多数発生してしまう場合があった。そこで、このような問題を未然に防ぐために予防保全として基板の良否を確認することが行われていた。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００３】
【非特許文献１】“一般専用サービスの技術参考資料  第１４版”、２０１７年１月、東日本電信電話株式会社、p.1-36
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、１つの基板の良否を確認するためには、検証環境の構築や、確認作業などによる多大な時間や労力を要してしまうという問題があった。
【０００５】
上記事情に鑑み、本発明は、容易に基板の良否判定を行うことができる技術の提供を目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様は、良否判定の対象となる基板を収容するための収容部と、前記収容部に収容された前記基板の機能を確認するための信号を複数生成する信号生成部と、生成された前記信号それぞれに基づいて得られる結果から前記基板の良否を判定する判定部と、を備える判定装置である。
【０００７】
本発明の一態様は、上記の判定装置であって、前記結果を複数記憶する結果記憶部と、表示制御部と、をさらに備え、前記表示制御部は、前記結果記憶部に記憶されている複数の結果をそれぞれ、結果に応じた態様で表示部に表示させる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明により、容易に基板の良否判定を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明における判定装置１の外観の一例を示す図である。
【図２】対象基板の構成例を示す図である。
【図３】判定装置１の機能構成を表す概略ブロック図である。
【図４】判定装置１に表示される画面例を示す図である。
【図５】機能テスト実行後の表示部に表示される画面例を示す図である。
【図６】各機能テストの詳細な画面データの一例を示す図である。
【図７】各機能テストの詳細な画面データの一例を示す図である。
【図８】保存データの一覧画面の一例を示す図である。
【図９】判定装置１の処理の流れを示すフローチャートである。
【図１０】判定装置１の処理の流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の一実施形態を、図面を参照しながら説明する。
図１は、本発明における判定装置１の外観の一例を示す図である。判定装置１は、自装置に収容された基板の良否を判定する。ここで、基板は、例えば局側の伝送装置に利用される基板である。一例として、基板は、３．４ＫＨｚ専用線で使用される基板が挙げられる。判定装置１は、タッチパネル１０及び収容部２０を備える。
【００１１】
タッチパネル１０は、種々の情報を表示し、ユーザからの指示の入力を受け付ける。
収容部２０は、良否判定の対象となる基板（以下「対象基板」という。）を収容するための収容口である。ここで、良否判定とは、対象基板自体、又は機能に問題があるか否かを判定する処理であり、例えば、良否判定には対象基板が収容部２０に収容された時点における電源系の良否判定と、対象基板が収容部２０に収容された後で実行される機能テストにおける良否判定とがある。
【００１２】
電源系の良否判定では、判定装置１から供給された電力が対象基板に給電されているか否かによって対象基板の良否が判定される。また、機能テストにおける良否判定では、対象基板の機能が予め定められる性能以上であるか否かによって対象基板の良否が判定される。本実施形態では、機能テストとして、レベルダイヤ測定、伝送損失周波数測定、実行リターンロス測定及び無通話時雑音測定を実行する場合を例に説明する。また、収容部２０内には、対象基板と接続するためのインタフェースが備えられる。
【００１３】
図２は、対象基板の構成例を示す図である。
図２（Ａ）は対象基板２１のハードウェア構成を表す図であり、図２（Ｂ）は対象基板２１に備えられるＬＥＤランプの一例を示す図である。
対象基板２１は、回線設定として、２Ｗ式設定と４Ｗ式設定とに対応する。図２（Ａ）に示されるように、対象基板２１は、入出力コネクタ２２、制御回路２３及び発光部２４を備える。入出力コネクタ２２は、判定装置１と対象基板２１とを接続するためのインタフェースである。入出力コネクタ２２は、判定装置１から出力された信号を制御回路２３に出力し、制御回路２３から出力された信号を判定装置１に出力する。
【００１４】
制御回路２３は、対象基板２１を制御する回路である。例えば、制御回路２３は、判定装置１から給電がなされると、発光部２４を点灯させる。具体的には、制御回路２３は、判定装置１から給電がなされると、発光部２４を点灯させるための信号を発光部２４に出力することによって発光部２４を点灯させる。制御回路２３は、判定装置１から給電がなされた場合には、給電を受けている旨の通知を、入出力コネクタ２２を介して判定装置１に出力する。また、制御回路２３は、判定装置１からの指示に応じて、２Ｗ式設定と４Ｗ式設定とを切替える。
【００１５】
また、図２（Ｂ）に示されるように、発光部２４は、第１ランプ２４１と第２ランプ２４２とを備える。第１ランプ２４１と第２ランプ２４２とは、例えば、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）ランプであり、制御回路２３からの指示に応じて点灯する。発光部２４は、制御回路２３から出力された信号に応じて、第１ランプ２４１又は第２ランプ２４２のいずれかを点灯する。第１ランプ２４１は、給電がなされている場合に発光される。第２ランプ２４２は、ＬＥＤランプの点灯テストの指示がなされた場合に発光される。
【００１６】
図３は、判定装置１の機能構成を表す概略ブロック図である。
判定装置１は、タッチパネル１０、制御部１１、給電部１２、入出力コネクタ１３、テスト結果記憶部１４及び入出力部１５を備える。なお、タッチパネル１０は、図１において説明したため説明を省略する。
制御部１１は、判定装置１の各機能部の動作を制御する。制御部１１は、表示制御部１１１、入出力制御部１１２、信号生成部１１３、測定部１１４及び判定部１１５を備える。表示制御部１１１は、タッチパネル１０の表示を制御する。入出力制御部１１２は、入出力コネクタ１３及び入出力部１５の信号の入出力を制御する。信号生成部１１３は、各種信号を生成する。例えば、信号生成部１１３は、テスト用に第２ランプ２４２を点灯させるための信号（以下「テスト用信号」という。）と、機能テスト用信号とを生成する。
【００１７】
測定部１１４は、機能テスト実行時において、レベルダイヤ、伝送損失周波数、実行リターンロス及び無通話時雑音を測定する。判定部１１５は、対象基板２１の良否を判定する。例えば、判定部１１５は、給電部１２による給電に基づいて、対象基板２１の良否を判定する。また、例えば、判定部１１５は、測定部１１４の測定結果に基づいて、対象基板２１の良否を判定する。
【００１８】
給電部１２は、対象基板２１が入出力コネクタ１３に接続されると、対象基板２１に対して給電を行う。
入出力コネクタ１３は、自装置と、対象基板２１とを接続するためのインタフェースである。入出力コネクタ１３は、自装置から対象基板２１に対する信号と、対象基板２１から自装置に対する信号との入出力を行う。
【００１９】
テスト結果記憶部１４は、機能テストによる結果を保存データとして記憶する。例えば、テスト結果記憶部１４は、保存先を識別するための識別情報（例えば、Ｎｏ．）と、機能テストによる結果とを対応付けて記憶する。
入出力部１５は、自装置と、他の装置（例えば、パーソナルコンピュータ等の情報処理装置）とを接続するためのインタフェースである。入出力部１５は、接続されている他の装置に対して、保存データを所定の形式で出力する。ここで、所定の形式とは、例えばＣＳＶファイルの形式である。
【００２０】
図４は、判定装置１に表示される画面例を示す図である。
図４（Ａ）は選択画面３０の一例を示す図であり、図４（Ｂ）はエラー画面３６の一例を示す図である。選択画面３０とは、ユーザに対して判定装置１に実行させる指示を選択させるための画面である。選択画面３０は、対象基板自体に問題がないと判定された場合にタッチパネル１０に表示される。また、エラー画面３６とは、ユーザに対してエラーであることを通知するための画面である。エラー画面３６は、対象基板自体に問題があると判定された場合にタッチパネル１０に表示される。
【００２１】
選択画面３０には、複数の選択ボタンが表示される。各選択ボタンは、ＬＥＤテストボタン３１、機能テストボタン３２、結果表示ボタン３３及び輝度調整ボタン３４である。ＬＥＤテストボタン３１は、発光部２４における第２ランプ２４２に異常があるか否かを確認する際に使用されるボタンである。機能テストボタン３２は、機能テストを実行する際に使用されるボタンである。結果表示ボタン３３は、テスト結果記憶部１４に記憶されている保存データを表示する際に使用されるボタンである。輝度調整ボタン３４は、タッチパネル１０の輝度を調整する際に使用されるボタンである。
また、エラー画面３６には、エラーであることをユーザに通知するための情報３５が表示される。
【００２２】
図５は、機能テスト実行後の表示部に表示される画面例を示す図である。
図５に示す画面は、選択画面３０において機能テストボタン３２が選択され、機能テストが実行された後にタッチパネル１０に表示される。以下の説明では、図５に示す画面を機能テスト結果表示画面と記載する。機能テスト結果表示画面には、機能テストが行われる検査項目３７と、検査項目３７に対する機能テストの判定結果３８とが対応付けて表示される。図５において、レベルダイヤ及び伝送損失周波数特性の項目に対する判定結果と、実行リターンロスの項目に対する判定結果と、無通話時雑音の項目に対する判定結果とが異なる態様で表示されている。このような表示は、表示制御部１１１が、以下の３つの表示基準に基づいて実行する。なお、機能テストの検査項目毎に、図６及び図７に示されるように、複数の測定対象となる項目（以下「測定項目」という。）がある。
【００２３】
（表示基準）
１．機能テストによる検査項目における測定項目の測定結果全てが、対象基板２１の仕様で規定されている値（以下「規定値」という。）以上であり、かつ、規定値よりも良いとされる値（以下「推奨閾値」という。）以上である場合
２．機能テストによる検査項目における測定項目の測定結果の全てが規定値以上であり、かつ、一部又は全てが推奨閾値未満である場合
３．機能テストによる検査項目における測定項目の測定結果の一部又は全てが、規定値未満である場合
【００２４】
例えば、図５において、レベルダイヤ、及び伝送損失周波数特性の検査項目が、１．の表示基準を満たし、実行リターンロスの検査項目が、２．の表示基準を満たし、無通話時雑音の検査項目が、３．の表示基準を満たしたとする。この場合、表示制御部１１１は、図５に示すように、満たした表示基準の条件に応じた表示態様で判定結果を表示する。
【００２５】
図６及び図７は、各機能テストの詳細な画面データの一例を示す図である。
図６（Ａ）はレベルダイヤの測定項目に対する測定結果を表す図であり、図６（Ｂ）は伝送損失周波数の測定項目に対する測定結果を表す図であり、図７（Ａ）は実行リターンロスの測定項目に対する測定結果を表す図であり、図７（Ｂ）は無通話時雑音の測定項目に対する測定結果を表す図である。図６及び図７に示すように、測定項目に対する測定結果においても、測定結果が規定値以上であるか否か、推奨閾値以上であるか否かに応じて表示制御部１１１が異なる態様で表示する。
【００２６】
例えば、図６では、レベルダイヤの測定項目に対する測定結果及び伝送損失周波数特性の測定項目に対する測定結果は、全て推奨閾値以上であることが示されている。また、例えば、図７（Ａ）では、実行リターンロスの測定項目に対する測定結果のうち、一部の測定結果（０．６０ＫＨｚの測定結果）が規定値以上、かつ、推奨閾値未満であることが示されている。また、例えば、図７（Ｂ）では、無通話時雑音の測定項目に対する測定結果のうち、一部の測定結果（４Ｗの無通話時雑音の測定結果）が規定値未満であることが示されている。
【００２７】
図８は、保存データの一覧画面の一例を示す図である。
保存データの一覧画面は、選択画面３０において結果表示ボタン３３が選択された場合にタッチパネル１０に表示される画面である。図８に示すように、保存データの一覧画面には、Ｎｏ．１〜Ｎｏ．２０の２０個の保存データの保存領域３９が表示される。表示制御部１１１は、図８に示すように、保存されている保存データにおける測定結果に基づいて、保存データを識別するための識別番号を異なる態様で表示する。例えば、Ｎｏ．８〜Ｎｏ．１０、Ｎｏ．１４及びＮｏ．１５は、測定項目の全てが推奨閾値以上のデータがある、すなわち、機能テストの全ての検査項目において、測定項目の全てが推奨閾値以上のデータがある。この場合、表示制御部１１１は、その旨を示すように表示態様を変えて表示する。
【００２８】
図９は、判定装置１の処理の流れを示すフローチャートである。なお、図９では、判定装置１の収容部２０内に基板が収容された時点における対象基板の良否判定の処理について説明する。
入出力制御部１１２は、収容部２０内に基板が収容されると、給電部１２に対して給電を指示する。給電部１２は、入出力制御部１１２の指示に従って、入出力コネクタ１３を介して対象基板に給電する（ステップＳ１０１）。判定部１１５は、入出力コネクタ１３を介して、対象基板から応答があったか否かを判定する（ステップＳ１０２）。具体的には、判定部１１５は、入出力コネクタ１３を介して給電を受けている旨の通知を取得したか否かによって対象基板から応答があったか否かを判定する。入出力コネクタ１３を介して給電を受けている旨の通知を取得した場合、判定部１１５は対象基板から応答があったと判定する。入出力コネクタ１３を介して給電を受けている旨の通知を取得していない場合、判定部１１５は対象基板から応答があったと判定する。
【００２９】
対象基板から応答があった場合（ステップＳ１０２−ＹＥＳ）、次に判定部１１５は収容部２０に収容されている対象基板が正しい対象基板であるか否か判定する（ステップＳ１０３）。ここで、正しい対象基板とは、判定装置１において本来良否判定を行うべき対象である対象基板を表す。本実施形態では、例えば、正しい対象基板とは局側の伝送装置に利用される基板である。対象基板が正しい対象基板であるか否かの判定は、以下のように実行される。入出力コネクタ１３のある端子に信号を与えて、予め定められている端子から信号が得られた場合、判定部１１５は収容部２０に収容されている対象基板が正しい対象基板であると判定する。一方、入出力コネクタ１３のある端子に信号を与えて、予め定められている端子から信号が得られなかった場合、判定部１１５は収容部２０に収容されている対象基板が正しい対象基板ではないと判定する。
【００３０】
収容部２０に収容されている対象基板が正しい対象基板である場合（ステップＳ１０３−ＹＥＳ）、判定部１１５は対象基板が正しい対象基板である旨の通知を表示制御部１１１に出力する。表示制御部１１１は、対象基板が正しい対象基板である旨の通知を受けると、選択画面をタッチパネル１０に表示する（ステップＳ１０４）。
【００３１】
また、ステップ１０２の処理において対象基板から応答がなかった場合（ステップＳ１０２−ＮＯ）、又は、ステップ１０３の処理において収容部２０に収容されている対象基板が正しい対象基板ではなかった場合（ステップＳ１０３−ＮＯ）、判定部１１５はその旨の通知を表示制御部１１１に出力する。表示制御部１１１は、対象基板から応答がなかった旨の通知、又は、収容部２０に収容されている対象基板が正しい対象基板ではなかった旨の通知を受けると、エラー画面をタッチパネル１０に表示する（ステップＳ１０５）。
【００３２】
図１０は、判定装置１の処理の流れを示すフローチャートである。なお、図１０では、判定装置１に選択画面が表示され、指示が入力された後の対象基板の良否判定の処理について説明する。
判定部１１５は、タッチパネル１０を介して入力された指示を判定する（ステップＳ２０１）。具体的には、判定部１１５は、タッチパネル１０を介して入力された指示が、ＬＥＤテスト、機能テスト、結果表示の何れであるのかを判定する。なお、選択画面には、輝度調整も表示されるが、輝度調整の説明については図４で説明したため省略する。
【００３３】
ＬＥＤテストの指示が入力された場合（ステップＳ２０１−ＬＥＤテスト）、判定部１１５はＬＥＤテストの指示が入力された旨の通知を入出力制御部１１２に出力する。入出力制御部１１２は、ＬＥＤテストの指示が入力された旨の通知を受けると、テスト用信号の生成を信号生成部１１３に対して指示する。信号生成部１１３は、入出力制御部１１２の指示に従ってテスト用信号を生成する（ステップＳ２０２）。
【００３４】
信号生成部１１３によるテスト用信号の生成がなされると、入出力制御部１１２はＬＥＤテストを実行する（ステップＳ２０３）。具体的には、入出力制御部１１２は、信号生成部１１３を制御して、テスト用信号を入出力コネクタ１３の特定の端子を介して対象基板２１に出力させる。これにより、テスト用信号が、対象基板２１に出力される。制御回路２３は、入出力コネクタ２２の特定の端子を介して入力されたテスト用信号に基づいて第２ランプ２４２を点灯させる。
【００３５】
また、ステップＳ２０１の処理において機能テストの指示が入力された場合（ステップＳ２０１−機能テスト）、判定部１１５は機能テストの指示が入力された旨の通知を表示制御部１１１に出力する。表示制御部１１１は、機能テストの指示が入力された旨の通知を受けると、保存先の候補をタッチパネル１０に表示する。具体的には、表示制御部１１１は、図８に示す画面と同様の画面をタッチパネル１０に表示し、ユーザから保存先の選択を受け付ける。なお、表示制御部１１１は、保存先の候補をタッチパネル１０に表示する際、テスト結果記憶部１４に記憶されていない識別番号の保存先を、テスト結果記憶部１４に記憶されている識別番号の保存先と異なる態様で表示してもよい。例えば、表示制御部１１１は、テスト結果記憶部１４に記憶されている識別番号の保存先をグレースケールで表示し、選択できないようにしてもよい。
【００３６】
入出力制御部１１２は、タッチパネル１０を介して保存先の候補が選択されると、機能テスト用信号の生成を信号生成部１１３に対して指示する。なお、入出力制御部１１２は、１つの機能テストが終了する度に次の機能テスト用信号の生成を信号生成部１１３に対して指示する。例えば、入出力制御部１１２は、以下のように機能テスト用信号の生成を信号生成部１１３に対して指示する。まず入出力制御部１１２は、レベルダイヤに関する機能テスト用信号の生成を信号生成部１１３に対して指示する。入出力制御部１１２は、レベルダイヤに関する機能テストが終了すると、次に伝送損失周波数特性に関する機能テスト用信号の生成を信号生成部１１３に対して指示する。入出力制御部１１２は、伝送損失周波数特性に関する機能テストが終了すると、次に実行リターンロスに関する機能テスト用信号の生成を信号生成部１１３に対して指示する。入出力制御部１１２は、実行リターンロスに関する機能テストが終了すると、次に無通話時雑音に関する機能テスト用信号の生成を信号生成部１１３に対して指示する。
【００３７】
信号生成部１１３は、入出力制御部１１２の指示に従って機能テスト用信号を生成する（ステップＳ２０５）。例えば、信号生成部１１３は、伝送損失周波数特性に関する機能テスト用信号として、図６（Ｂ）に示す各周波数の機能テスト用信号を生成する。また、例えば、信号生成部１１３は、実行リターンロスに関する機能テスト用信号として、図７（Ａ）に示す各周波数の機能テスト用信号を生成する。また、例えば、信号生成部１１３は、無通話時雑音に関する機能テスト用信号として、全て０の値で構成された機能テスト用信号を生成する。
【００３８】
信号生成部１１３による機能テスト用信号の生成がなされると、入出力制御部１１２は機能テストを実行する（ステップＳ２０６）。具体的には、入出力制御部１１２は、信号生成部１１３を制御して、レベルダイヤに関する機能テスト用信号を入出力コネクタ１３の特定の端子を介して対象基板２１に出力させる。これにより、レベルダイヤに関する機能テスト用信号が、対象基板２１に出力される。そして、測定部１１４は、入出力コネクタ１３を介して得られた信号からレベルダイヤを測定する。レベルダイヤの各項目についての測定結果が得られると、判定部１１５はレベルダイヤの各項目について測定結果の良否を判定する。
【００３９】
具体的には、判定部１１５は、レベルダイヤの各項目についての測定結果が、規定値以上であり、かつ、推奨閾値以上であるか、規定値以上であり、かつ、推奨閾値未満であるか、規定値未満のいずれであるかを判定する。そして、判定部１１５は、レベルダイヤの各項目のうち、規定値未満の項目が１つでもある場合には、レベルダイヤに関する機能テストの結果としてＮＧと判定する。
【００４０】
また、判定部１１５は、レベルダイヤの各項目のうち、全ての項目で規定値以上であり、かつ、推奨閾値未満である項目が１つでもある場合、又は、レベルダイヤの各項目のうち、全ての項目で推奨閾値以上である場合には、レベルダイヤに関する機能テストの結果としてＯＫと判定する。判定部１１５は、判定結果を制御部１１に出力する。
【００４１】
表示制御部１１１は、判定部１１５から出力された判定結果に基づいて、レベルダイヤに関する機能テストの結果を表示する（ステップＳ２０７）。具体的には、表示制御部１１１は、出力された判定結果がＮＧを示す場合には、レベルダイヤに関する機能テストがＮＧであると表示する。例えば、表示制御部１１１は、出力された判定結果がＮＧであることを示すように、判定結果を赤色で表示する。また、表示制御部１１１は、出力された判定結果がＯＫを示す場合には、レベルダイヤに関する機能テストがＯＫであると表示する。
【００４２】
ただし、表示制御部１１１は、全ての項目で規定値以上であり、かつ、推奨閾値未満である項目が１つでもある場合と、全ての項目で推奨閾値以上である場合とで異なる表示態様で表示する。例えば、表示制御部１１１は、全ての項目で規定値以上であり、かつ、推奨閾値未満である項目が１つでもある場合には、判定結果を黄色で表示する。
また、例えば、表示制御部１１１は、全ての項目で推奨閾値以上である場合には、判定結果を青で表示する。
【００４３】
入出力制御部１１２は、全ての機能テストが終了したか否か判定する（ステップＳ２０８）。全ての機能テストが終了していない場合（ステップＳ２０８−ＮＯ）、制御部１１は、上記のステップＳ２０５からステップＳ２０７までの処理を全ての機能テスト（伝送損失周波数特性、実行リターンロス及び無通話時雑音）に関して行う。
一方、全ての機能テストが終了した場合（ステップＳ２０８−ＹＥＳ）、入出力制御部１１２は機能テストの結果を、機能テスト実行前に選択された保存先に保存する（ステップＳ２０９）。
【００４４】
また、ステップＳ２０１の処理において結果表示の指示が入力された場合（ステップＳ２０１−結果表示）、表示制御部１１１はテスト結果記憶部１４に記憶されているテスト結果の保存データの一覧をタッチパネル１０に表示する（ステップＳ２１０）。例えば、表示制御部１１１は、図８に示すように、保存データとして記憶されているテスト結果に基づいて、保存先の識別情報を異なる態様で表示する。
タッチパネル１０を介して保存データの選択がなされると、表示制御部１１１は選択された保存データの詳細情報をタッチパネル１０に表示する（ステップＳ２１１）。例えば、表示制御部１１１は、図５〜７に示すような画面を表示する。
【００４５】
その後、入出力制御部１１２は、保存データの出力指示がなされたか否か判定する（ステップＳ２１２）。保存データの出力指示がなされていない場合（ステップＳ２１２−ＮＯ）、判定装置１は図１０の処理を終了する。
一方、保存データの出力指示がなされた場合（ステップＳ２１２−ＹＥＳ）、入出力制御部１１２は入出力部１５を介して接続されている他の装置に対して、選択された保存データを所定の形式で出力する（ステップＳ２１３）。
【００４６】
以上のように構成された判定装置は、対象基板２１を収容するための収容部２０と、対象基板２１の機能を確認するための信号を生成する信号生成部１１３と、生成された信号に基づいて得られる結果から対象基板２１の良否を判定する判定部１１５と、を備える。これにより、容易に良否判定を行うことができる。
【００４７】
また、上述したように、従来では、基板の良否判定において離れた場所において機能テストを行っていた。この場合、基板が収容されている伝送装置の場所と、測定装置の場所との距離が長い場合には損失が多くなってしまい、判定結果に誤差が生じる場合があった。それに対し、本発明では、判定装置１に基板を収容する収容部２０を設けており、基板を収容する装置と、測定を行う装置とが同じ筺体となっている。そのため、測定を行う距離が短くなり、損失を小さくすることができる。その結果、より精度よく対象基板２１の機能の良否判定を行うことができる。
【００４８】
また、判定装置１は、測定結果に応じて、３段階の異なる態様で測定結果を表示する。これにより、ユーザは、対象基板２１においてどの機能が劣化しているのかを容易に把握することができる。
保存結果の表示において、「検査結果の全てがＯＫで、かつ、全ての検査結果の値がより良いとされる水準を満たす」データと、「検査結果の全てがＯＫで、かつ、一部の検査結果の値（一つの値でも）がより良いとされる水準を満たない」データと、「検査結果の一部又は全てがＮＧ」のデータのそれぞれで表示態様を変える。例えば、「検査結果の全てがＯＫで、かつ、全ての検査結果の値がより良いとされる水準を満たす」データを「緑色」で表示したり、または、「検査結果の全てがＯＫで、かつ、一部の検査結果の値（一つの値でも）がより良いとされる水準を満たない」データを「橙色」で表示したり、「検査結果の一部又は全てがＮＧ」のデータを「赤色」で表示したり、等である。
【００４９】
また、従来の方法では、１つの機能テスト（例えば、実行リターンロス）における測定を行うために、基板の収容位置の決定、測定装置等の配線の接続などを行う必要があるため、多くの時間（例えば、１０分）を要していた。また、異なる機能テスト（例えば、レベルダイヤ）における測定を行うためには、新たに配線の接続を変えなければならず更に時間を要してしまう。それに対し、本発明における判定装置１では、内部にパッケージを収容するための収容位置を内蔵している装置において、ボタン一つで複数の検査用の信号の切り替えを行い、複数の検査（レベルダイヤ、伝送損失周波数、リターンロス、無通話時雑音）を実施し、検査結果を表示する。このように、本発明における判定装置１では、１台で複数の機能テストを実行することができるため、機能テストにおける測定に要する時間を削減することができる。例えば、本発明における判定装置１では、実施形態における全ての機能テストに要する時間が２５秒である。これにより、多くの対象基板２１の良否判定が可能になる。
【００５０】
＜変形例＞
本実施形態では、機能テストとして、レベルダイヤ測定、伝送損失周波数測定、実行リターンロス測定及び無通話時雑音測定を例に説明したが、機能テストはこれに限定される必要はない。例えば、機能テストは、レベルダイヤ測定、伝送損失周波数測定、実行リターンロス測定及び無通話時雑音測定のいずれかであってもよいし、上述した機能以外を含んでもよい。機能テストが、レベルダイヤ測定、伝送損失周波数測定、実行リターンロス測定及び無通話時雑音測定のいずれかである場合、例えば表示制御部１１１はユーザによってレベルダイヤ測定、伝送損失周波数測定、実行リターンロス測定及び無通話時雑音測定のいずれの機能テストを実行するのかを選択する表示を行ってもよい。
【００５１】
以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。
【符号の説明】
【００５２】
１…判定装置，１０…タッチパネル，  １１…制御部，  １１１…表示制御部，  １１２…入出力制御部，  １１３…信号生成部，  １１４…測定部，  １１５…判定部，  １２…給電部，  １３…入出力コネクタ，  １４…テスト結果記憶部，  １５…入出力部，  ２０…収容部，  ２１…対象基板，  ２２…入出力コネクタ，  ２３…制御回路，  ２４…発光部，  ２４１…第１ランプ，  ２４２…第２ランプ，  ３０…選択画面，  ３１…ＬＥＤテストボタン，  ３２…機能テストボタン，  ３３…結果表示ボタン，  ３４…輝度調整ボタン，  ３５…ユーザに通知するための情報，  ３６…エラー画面，  ３７…検査項目，  ３８…判定結果，  ３９…保存領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【手続補正書】
【提出日】平成30年9月18日(2018.9.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
良否判定の対象となる基盤を収容するための収容部と、
前記収容部に収容された基盤の複数の種類の機能を確認するための信号を、前記機能毎に生成する信号生成部と、
前記機能毎の信号それぞれに基づいて得られる測定結果から、前記基盤の良否を、前記機能毎に複数の段階に分類して判定する判定部と、
前記機能毎の判定結果を、前記段階毎に異なる態様で表示部に表示させる表示制御部と
を備える判定装置。
【請求項２】
前記判定部は、前記機能毎に、当該機能に設定された複数の測定項目の測定結果が全て推奨値以上の場合は当該機能を第１段階とし、前記複数の測定項目の測定結果が全て規定値以上であって推奨値未満の測定結果が少なくとも１つある場合は当該機能を第２段階とし、前記複数の測定項目の測定結果のうち前記規定値未満の測定結果が少なくとも１つある場合は当該機能を第３段階に分類する、請求項１に記載の判定装置。