(57)【要約】【課題】誤検査に起因して不良判定するのを回避する。【解決手段】アレイ基板１０Ｂは、規則的に並んで配される複数の第１配線１７と、複数の第１配線１７が配される第１配線配置領域１９と、第１配線配置領域１９に含まれ互いに間隔を空けた位置に配されていて検査画像の撮像対象となる複数の第１単位検査領域２１と、第２配線１８と、第１配線配置領域１９に隣り合っていて第２配線１８が配される第２配線配置領域２０と、第２配線配置領域２０に含まれ互いに間隔を空けた位置に配されていて検査画像の撮像対象となり得る複数の第２単位検査領域２２と、を備え、第２配線配置領域２０は、複数の第２単位検査領域２２が同一パターンとなるよう構成される。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
規則的に並んで配される複数の第１配線と、
複数の前記第１配線が配される第１配線配置領域と、
前記第１配線配置領域に含まれ互いに間隔を空けた位置に配されていて検査画像の撮像対象となる複数の第１単位検査領域と、
第２配線と、
前記第１配線配置領域に隣り合っていて前記第２配線が配される第２配線配置領域と、
前記第２配線配置領域に含まれ互いに間隔を空けた位置に配されていて前記検査画像の撮像対象となり得る複数の第２単位検査領域と、を備え、
前記第２配線配置領域は、複数の前記第２単位検査領域が同一パターンとなるよう構成される配線基板。
【請求項２】
前記第２配線配置領域は、複数の前記第２単位検査領域に前記第２配線が非形成となるよう構成される請求項１記載の配線基板。
【請求項３】
前記第２配線配置領域は、複数の前記第２単位検査領域に前記第２配線が規則的なパターンとして形成されるよう構成される請求項１記載の配線基板。
【請求項４】
前記第２配線配置領域は、複数の前記第２単位検査領域に前記第２配線がベタパターンとして形成されるよう構成される請求項１記載の配線基板。
【請求項５】
画像を表示する表示領域と、
前記表示領域に配される複数の画素と、を備えており、
複数の前記第１配線は、複数の前記画素にそれぞれ接続されて画像を表示するための信号を複数の前記画素に供給するのに対し、前記第２配線は、複数の前記画素に接続されて検査画像を表示するための検査信号を複数の前記画素に供給する請求項１記載の配線基板。
【請求項６】
請求項５記載の配線基板と、
前記配線基板との間に内部空間を有するよう貼り合わせられる対向基板と、
前記配線基板と前記対向基板との間に介在して前記内部空間を取り囲んで前記内部空間を封止する光硬化性材料からなるシール部と、を備えており、
前記第２配線は、前記シール部と重畳するシール重畳部を少なくとも一部に有していて、前記シール重畳部には、規則的に並ぶよう開口形成されるスリットが少なくとも設けられており、
前記第２配線配置領域は、複数の前記第２単位検査領域に前記第２配線が非形成となるよう構成される表示パネル。
【請求項７】
請求項５記載の配線基板と、
前記配線基板との間に内部空間を有するよう貼り合わせられる対向基板と、
前記配線基板と前記対向基板との間に介在して前記内部空間を取り囲んで前記内部空間を封止する光硬化性材料からなるシール部と、を備えており、
前記第２配線は、前記シール部と重畳するシール重畳部を少なくとも一部に有していて、前記シール重畳部には、規則的に並ぶよう開口形成される複数のスリットと、前記スリットを横切るよう延在する架橋部と、が少なくとも設けられており、
前記第２配線配置領域は、複数の前記第２単位検査領域に前記架橋部が非形成となるよう構成される表示パネル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、配線基板及び表示パネルに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光学式欠陥検査に適した配線パターンを自動生成できるようにする配線パターン生成装置の一例として下記特許文献１に記載されたものが知られている。この特許文献１に記載された配線パターン生成装置は、配線パターンを自動生成に必要な情報を取得する情報取得手段と、前記情報取得手段が取得した各情報を基に、各パッド間を全て同角の配線で接続するために必要となる補正量を算出する補正量算出手段と、一方のパッド群における各パッドからは基準方向に対して同角で傾斜する配線が延び、他方のパッド群における各パッドからは前記補正量算出手段が算出した補正量の分だけ前記基準方向との直交方向に配線が延びるように、各パッド間を導通させる配線のレイアウトパターンを決定する配線処理手段と、を備える。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−３３４０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記した特許文献１には、配線パターン生成装置によって配線のレイアウトパターンが決定された配線基板が開示されている。配線基板に形成される配線のレイアウトパターンが全て規則的なものであれば、光学式欠陥検査によって適切に検査を行うことができる。しかしながら、配線基板には、光学式欠陥検査による検査対象となる配線以外にも、例えば検査画像を表示するためのみに使用される配線が存在しており、そのような配線は通常の画像を表示する際には使用されないことから光学式欠陥検査による検査が不要となっている。光学式欠陥検査装置の精度などの条件によっては、本来は検査が不要な配線を誤って検査する場合があり、そうなると誤って不良と判定してしまう可能性がある。
【０００５】
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、誤検査に起因して不良判定するのを回避することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の配線基板は、規則的に並んで配される複数の第１配線と、複数の前記第１配線が配される第１配線配置領域と、前記第１配線配置領域に含まれ互いに間隔を空けた位置に配されていて検査画像の撮像対象となる複数の第１単位検査領域と、第２配線と、前記第１配線配置領域に隣り合っていて前記第２配線が配される第２配線配置領域と、前記第２配線配置領域に含まれ互いに間隔を空けた位置に配されていて前記検査画像の撮像対象となり得る複数の第２単位検査領域と、を備え、前記第２配線配置領域は、複数の前記第２単位検査領域が同一パターンとなるよう構成される。
【０００７】
まず、複数の第１配線を検査するには、第１配線配置領域に含まれて互いに間隔を空けた位置に配される複数の第１単位検査領域の検査画像を撮像する。撮像された検査画像同士を比較し、検査画像が一致すれば規則的に並んで配される複数の第１配線が適切に形成されたとして良判定をし、検査画像が不一致であれば複数の第１配線が適切に形成されなかったとして不良判定をする。一方、第２配線は、本来的に検査の対象外であっても、第１配線配置領域に隣り合う第２配線配置領域に配されているため、検査装置の精度などの条件によっては、誤って検査が行われる可能性がある。その場合、第２配線配置領域に含まれて互いに間隔を空けた位置に配される複数の第２単位検査領域の検査画像が撮像されることになる。ここで、第２配線配置領域は、複数の第２単位検査領域が同一パターンとなるよう構成されているので、撮像された検査画像同士を比較したとき、検査画像が必然的に一致することになる。従って、誤って第２単位検査領域を検査することに起因して不良判定をすることが避けられるので、当該配線基板を多数検査した場合に多くの配線基板が不良判定される、といった事態を回避することができる。このような誤検査は、第１配線配置領域における第２配線配置領域に近い部分を検査する場合に生じ易い傾向にあるが、誤検査を行うことに起因する不良判定の発生を避けられるのであれば、第１配線配置領域における第２配線配置領域に近い部分を検査することができ、それにより当該部分に存在する第１配線に生じた不良を適切に検出することができる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、誤検査に起因して不良判定するのを回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施形態１に係る液晶パネルの断面図
【図２】液晶パネルの平面図
【図３】液晶パネルの表示領域における画素を示す回路図
【図４】液晶パネルを構成するアレイ基板におけるドライバ付近の配線構成を示す平面図
【図５】アレイ基板における第１配線及び第２配線が配された第１配線配置領域及び第２配線配置領域における第１単位検査領域及び第２単位検査領域を示す平面図
【図６】比較例に係るアレイ基板における第１配線及び第２配線が配された第１配線配置領域及び第２配線配置領域における第１単位検査領域及び第２単位検査領域を示す平面図
【図７】本発明の実施形態２に係るアレイ基板における第１配線及び第２配線が配された第１配線配置領域及び第２配線配置領域における第１単位検査領域及び第２単位検査領域を示す平面図
【図８】本発明の実施形態３に係るアレイ基板における第１配線及び第２配線が配された第１配線配置領域及び第２配線配置領域における第１単位検査領域及び第２単位検査領域を示す平面図
【発明を実施するための形態】
【００１０】
＜実施形態１＞
本発明の実施形態１を図１から図６によって説明する。本実施形態では、液晶パネル１０及びそれに備わるアレイ基板１０Ｂについて例示する。なお、各図面の一部にはＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸を示しており、各軸方向が各図面で示した方向となるように描かれている。また、上下方向については、図１を基準とし、且つ同図上側を表側とするとともに同図下側を裏側とする。
【００１１】
液晶パネル１０は、図示しないバックライト装置（照明装置）から照射される照明光を利用して画像を表示するものである。液晶パネル１０は、図１に示すように、ほぼ透明で優れた透光性を有するガラス製の一対の基板１０Ａ，１０Ｂと、両基板１０Ａ，１０Ｂにおいて互いに対向する板面の間に有される内部空間ＩＳに配されて電界印加に伴って光学特性が変化する物質である液晶分子を含む液晶層１０Ｃと、内部空間ＩＳを取り囲む形で一対の基板１０Ａ，１０Ｂ間に介在して内部空間ＩＳ及び液晶層１０Ｃをシールするシール部１０Ｄと、を少なくとも備える。液晶パネル１０を構成する一対の基板１０Ａ，１０Ｂのうち表側（正面側）がＣＦ基板（対向基板）１０Ａとされ、裏側（背面側）がアレイ基板（配線基板、アクティブマトリクス基板）１０Ｂとされる。ＣＦ基板１０Ａ及びアレイ基板１０Ｂは、いずれもガラス基板の内面側に各種の膜が積層形成されてなるものとされる。シール部１０Ｄは、例えば紫外線硬化性樹脂材料などの光硬化性樹脂材料（光硬化性材料）からなる。なお、両基板１０Ａ，１０Ｂの外面側には、それぞれ図示しない偏光板が貼り付けられている。また、図２には、シール部１０Ｄの形成範囲を破線により図示している。また、液晶パネル１０を構成する一対の基板１０Ａ，１０Ｂは、それぞれ「液晶パネル用基板（表示パネル用基板）」である、と言える。
【００１２】
液晶パネル１０は、図２に示すように、縦長の方形状をなしており、その長辺方向がＹ軸方向と、短辺方向がＸ軸方向と、板厚方向がＺ軸方向と、それぞれ一致している。液晶パネル１０は、画面の中央側部分が、画像が表示される表示領域ＡＡとされるのに対し、画面における表示領域ＡＡを取り囲む額縁状の外周側部分が、画像が表示されない非表示領域ＮＡＡとされる。なお、図２において一点鎖線により囲った範囲が表示領域ＡＡである。液晶パネル１０を構成するアレイ基板１０Ｂは、長辺寸法がＣＦ基板１０Ａの同寸法よりも大きくされるとともに、ＣＦ基板１０Ａに対して長辺方向について一方の端部を揃えた状態で貼り合わせられている。従って、アレイ基板１０Ｂのうち長辺方向についての他方の端部は、ＣＦ基板１０Ａが重なり合うことがないＣＦ基板非重畳部１０Ｂ１とされる。ＣＦ基板非重畳部１０Ｂ１は、表側の板面がＣＦ基板１０Ａにより覆われることなく外部に露出するとともに、次述するドライバ（パネル駆動部品）１１やフレキシブル基板（信号伝送部品）１２などの部品が実装されている。ＣＦ基板非重畳部１０Ｂ１におけるドライバ１１やフレキシブル基板１２などの実装領域には、各種の端子類が形成されている。
【００１３】
ドライバ１１は、内部に駆動回路を有するＬＳＩチップからなり、図２に示すように、非表示領域ＮＡＡであるＣＦ基板非重畳部１０Ｂ１に対してＣＯＧ（Chip On Glass）実装されている。ドライバ１１は、次述するフレキシブル基板１２に対してＹ軸方向について表示領域ＡＡ寄りの位置に配されており、フレキシブル基板１２によって伝送される各種信号を処理することができる。フレキシブル基板１２は、絶縁性及び可撓性を有する合成樹脂材料（例えばポリイミド系樹脂等）からなる基材上に多数本の配線パターン（図示せず）を形成した構成とされ、その一端側がアレイ基板１０ＢのＣＦ基板非重畳部１０Ｂ１に、他端側が図示しないコントロール基板（信号供給源）に、それぞれ接続されている。コントロール基板から供給される各種信号は、フレキシブル基板１２を介して液晶パネル１０に伝送され、非表示領域ＮＡＡにおいてドライバ１１による処理を経て表示領域ＡＡへ向けて出力される。ドライバ１１及びフレキシブル基板１２は、ＣＦ基板非重畳部１０Ｂ１に対して図示しない異方性導電膜（ＡＣＦ：Anisotropic Conductive Film）を介して電気的に且つ機械的に接続されている。
【００１４】
アレイ基板１０Ｂの表示領域ＡＡにおける内面側には、図３に示すように、格子状をなす多数本ずつのゲート配線（走査配線）１３及びソース配線（信号配線、データ配線）１４が配設されており、それぞれの交差部位付近にスイッチング素子であるＴＦＴ１５及び画素電極１６が設けられている。ゲート配線１３は、表示領域ＡＡを横断する形でＸ軸方向に沿って延在して各ＴＦＴ１５のゲート電極に接続されるのに対し、ソース配線１４は、表示領域ＡＡを縦断する形でＹ軸方向に沿って延在して各ＴＦＴ１５のソース電極に接続される。ゲート配線１３は、Ｙ軸方向に沿って多数本が間隔を空けて並んで配されるのに対し、ソース配線１４は、Ｘ軸方向に沿って多数本が間隔を空けて配される。ＴＦＴ１５及び画素電極１６は、多数個ずつＸ軸方向及びＹ軸方向に沿って並んでマトリクス状（行列状）に平面配置されており、ＴＦＴ１５のドレイン電極に画素電極１６が接続されている。ＴＦＴ１５は、ゲート配線１３に供給される走査信号に基づいて駆動され、それに伴ってソース配線１４に供給される画像信号（信号、データ信号）に基づいた電位が画素電極１６に充電される。これに対し、ＣＦ基板１０Ａの表示領域ＡＡにおける内面側には、図示は省略するが、各画素電極１６と重畳する形で配されて赤色（Ｒ），緑色（Ｇ），青色（Ｂ）を呈する３色のカラーフィルタや隣り合うカラーフィルタ間を仕切る遮光部（ブラックマトリクス）などが設けられている。この液晶パネル１０では、Ｘ軸方向に沿って並ぶＲ，Ｇ，Ｂのカラーフィルタと、各カラーフィルタと対向する３つの画素電極１６と、が３色の画素ＰＸを構成している。また、ＣＦ基板１０Ａ及びアレイ基板１０Ｂのいずれかには、画素電極１６と同様の透明電極材料からなり、画素電極１６と間隔を空けて重畳配置される共通電極（図示せず）が設けられている。液晶パネル１０は、この共通電極と各画素電極１６との間に生じる電位差に基づいて液晶層１０Ｃに所定の電界が印加され、それにより各画素ＰＸに所定の階調表示を行わせることが可能となっている。
【００１５】
上記のような構成の液晶パネル１０に備わるドライバ１１の出力信号には、少なくともソース配線１４に供給される画像信号が含まれている。ドライバ１１から出力される画像信号をソース配線１４に伝送するため、アレイ基板１０Ｂには、図４に示すように、ドライバ１１の実装領域から表示領域ＡＡに至るまで第１配線１７が引き回されている。第１配線１７は、一端側がドライバ１１の実装領域に配された端子部（図示せず）に接続されるのに対し、他端側が表示領域ＡＡに配されたソース配線１４の端部に直接的にまたは間接的に接続されている。なお、第１配線１７の他端側がソース配線１４の端部に対して間接的に接続される場合は、例えばＲＧＢスイッチ回路部やＥＳＤ保護回路部などが介在することになる。一方、ドライバ１１の出力信号には、ソース配線１４に供給される表示検査用画像信号が含まれている。この表示検査用画像信号は、液晶パネル１０の製造に際して行われる表示検査において、表示検査用画像を液晶パネル１０の表示領域ＡＡに表示するためのものである。ドライバ１１から出力される検査用画像信号をソース配線１４に伝送するため、アレイ基板１０Ｂには、ドライバ１１の実装領域から表示領域ＡＡに至るまで第２配線１８が引き回されている。第２配線１８は、一端側がドライバ１１の実装領域に配された端子部（図示せず）に接続されるのに対し、他端側が表示領域ＡＡに配されたソース配線１４の端部に直接的にまたは間接的に接続されている。
【００１６】
第１配線１７及び第２配線１８は、図４に示すように、アレイ基板１０ＢにおいてＹ軸方向についてドライバ１１の実装領域から表示領域ＡＡに近づくのに従ってＸ軸方向について外向きに広がっていて全体として扇形をなすよう配索されている。第１配線１７及び第２配線１８は、複数本ずつが互いに並行する形でそれぞれ延在している。第１配線１７は、その一端側がドライバ１１におけるＸ軸方向についての中央側部分に接続されるのに対し、第２配線１８は、その一端側がドライバ１１におけるＸ軸方向についての端側部分に接続されている。従って、アレイ基板１０Ｂにおいて第１配線１７が配置される第１配線配置領域１９は、Ｘ軸方向について中央側に、第２配線１８が配置される第２配線配置領域２０は、Ｘ軸方向について端側に、それぞれ位置する関係となる。第１配線配置領域１９及び第２配線配置領域２０は、互いに隣接する位置関係となっている。第１配線１７及び第２配線１８は、ドライバ１１の実装領域から表示領域ＡＡに至るまでの間の部分がシール部１０Ｄと重畳しており、その重畳武運がシール重畳部１７Ａ，１８Ａとなっている。なお、図４では、シール部１０Ｄの形成範囲を一点鎖線により図示している。
【００１７】
より詳しくは、第１配線配置領域１９に配される複数の第１配線は、図５に示すように、線幅及び配列間隔がほぼ等しくなっており、規則的な配列となっている。なお、図５では、第１配線１７及び第２配線１８の形成範囲を網掛け状にして図示している。一方、第２配線配置領域２０に配される複数の第２配線１８は、線幅が第１配線１７よりも広くなっており、少なくともシール重畳部１８Ａの一部または全域に複数のスリット１８Ｂが開口形成されている。複数のスリット１８Ｂは、第２配線１８の延在方向に並行するよう延在していて規則的に並ぶ配列とされる。また、スリット１８Ｂは、幅寸法が第１配線１７の配列間隔よりも狭くされている。このスリット１８Ｂにより、シール部１０Ｄを硬化させる際に照射される紫外線が透過されるようになっており、それによりシール部１０Ｄの硬化を促進することができる。また、第２配線１８のシール重畳部１８Ａは、複数のスリット１８Ｂを横切るよう延在する架橋部１８Ｃを有している。架橋部１８Ｃは、シール重畳部１８Ａのうちの複数のスリット１８Ｂにより分割された部分（分割第２配線）同士を繋いでおり、それにより第２配線１８の冗長性が確保されている。
【００１８】
ところで、液晶パネル１０の製造過程で行われる検査には、第２配線１８を用いた表示検査の他にも、アレイ基板１０Ｂに形成された配線類に断線などの欠陥があるか否か、を光学式自動欠陥検査装置（図示せず）によって自動的に検査している。この光学式自動欠陥検査装置を用いた配線検査では、少なくとも第１配線１７が検査対象となっており、第２配線１８は、検査対象外となっている。第１配線１７は、液晶パネル１０の使用に際してドライバ１１から出力された画像信号をソース配線１４に伝送する機能を有しており、画像を表示する機能を発揮する上で必須の構成であることから、断線などの欠陥の有無を検査する必要がある。これに対し、第２配線１８は、液晶パネル１０の製造過程で表示検査を行う際には必要であるものの、液晶パネル１０が製品として出荷された後の通常使用時には使用されることがない。このため、上記した配線検査では第２配線１８の検査を行う必要がない。
【００１９】
配線検査について詳しく説明する。配線検査は、少なくともアレイ基板１０Ｂに各種配線を形成する工程の後で行われる。従って、配線検査は、アレイ基板１０ＢをＣＦ基板１０Ａと貼り合わせる前後いずれの段階でも行われ得るし、ドライバ１１やフレキシブル基板１２を実装する前後いずれの段階でも行われ得る。なお、この配線検査は、液晶パネル１０の製造過程で複数回行われる場合もある。配線検査で用いられる光学式自動欠陥検査装置は、アレイ基板１０Ｂが搭載されるステージと、アレイ基板１０Ｂの表面に光を照射する光照射部と、アレイ基板１０Ｂの表面にて反射された光を受光する複数の受光センサ（撮像素子）と、複数の受光センサが収容される鏡筒と、複数の受光センサにより撮像された検査画像に基づいて良否を判定する判定部と、を少なくとも備える。ステージは、アレイ基板１０Ｂに設けられたアライメントマーク（図示せず）に基づいて少なくとも鏡筒（受光センサ）に対してアレイ基板１０Ｂを移動させることで、鏡筒に対するアレイ基板１０Ｂの位置決めを図ることができる。光照射部から配線検査のための光が照射されるアレイ基板１０Ｂの表面においては、金属膜からなる配線類が形成された範囲（配線形成領域）では反射光量が多くなるのに対し、配線類が配されない範囲（配線非形成領域）では反射光量が少なくなる傾向にある。
【００２０】
鏡筒は、ステージに対してアレイ基板１０Ｂを挟んで対向状に配されており、アレイ基板１０Ｂの表面にて反射された光が入射されるようになっている。この鏡筒内に収容される受光センサは、複数が一定の間隔を空けて並んで配されており、ステージによって位置決めされたアレイ基板１０Ｂからの反射光を受光し、受光した光に基づいて検査画像を撮像する。撮像される検査画像は、光量に応じたグレーレベルとなり、配線形成領域と配線非形成領域とが反映されたものとなる。受光センサは、その受光範囲が、１辺の長さが例えば２μｍ〜４μｍ程度の正方形となっている。ステージによってアレイ基板１０Ｂが鏡筒に対して適切に位置決めされた状態では、アレイ基板１０Ｂのうち第１配線配置領域１９と鏡筒とが重畳する位置関係となり、第１配線配置領域１９での反射光が鏡筒内の受光センサにより受光されるようになっている。このとき、第１配線配置領域１９には、図５に示すように、複数の受光センサによる検査画像の撮像対象となる複数の第１単位検査領域２１が含まれるようになっている。なお、図５では、受光センサによる検査画像の撮像可能範囲を破線により囲って図示するとともに、適切に位置決めがなされたときの第１配線配置領域１９に含まれる第１単位検査領域２１を太線により囲って図示している。複数の第１単位検査領域２１は、複数の受光センサの配列が反映された配列とされており、具体的には図５においてＸ軸方向及びＹ軸方向の双方に対する斜め方向について間隔を空けた配列とされる。複数の第１単位検査領域２１は、第１配線１７が適切に形成されていれば、第１配線１７が形成される配線形成領域と、第１配線１７が非形成とされる配線非形成領域と、の配置や面積比率のパターンが同一になるよう設定されている。仮に、第１配線１７に断線などの不良が生じていた場合には、複数の第１単位検査領域２１における第１配線１７が形成される配線形成領域と、第１配線１７が非形成とされる配線非形成領域と、の配置や面積比率のパターンが異なる。従って、複数の受光センサにより撮像される複数の検査画像が一致した場合は、判定部は第１配線１７が適切に形成されたとして良判定をし、複数の検査画像が不一致であれば第１配線１７が適切に形成されなかったとして不良判定をすることになる。
【００２１】
一方、光学式自動欠陥検査装置を用いた配線検査において、アライメントマークの読み込みずれが生じた場合やステージの移動精度に起因する位置ずれが生じた場合には、アレイ基板１０Ｂの板面に沿う方向についてアレイ基板１０Ｂと鏡筒との間に数十μｍ〜１００μｍ程度の位置ずれが生じるおそれがある。このような位置ずれが、第１配線配置領域１９のうちの第２配線配置領域２０に隣接する部分の配線検査を行う際に生じると、鏡筒が第１配線配置領域１９ではなく第２配線配置領域２０と重畳する位置関係となったまま配線検査が行われる場合がある。この場合は、本来は配線検査が不要な第２配線配置領域２０にて配線検査が誤って行われることになる。このような誤検査が行われたとき、第２配線配置領域２０には、図５に示すように、複数の受光センサによる検査画像の撮像対象となる複数の第２単位検査領域２２が含まれることになる。なお、図５では、誤検査が行われたときの第２配線配置領域２０に含まれる第２単位検査領域２２を太線により囲って図示している。複数の第２単位検査領域２２は、複数の受光センサの配列が反映された配列とされており、具体的には図５においてＸ軸方向及びＹ軸方向の双方に対する斜め方向について間隔を空けた配列とされる。
【００２２】
ここで、比較例について説明する。比較例は、図６に示すように、第２配線配置領域１における複数の第２単位検査領域２が異なるパターンとされる。具体的には、複数の第２単位検査領域２には、第２配線３のシール重畳部３Ａにおいてスリット３Ｂが形成された部分と、架橋部３Ｃが形成された部分と、が含まれており、第２配線３が形成される配線形成領域と、第２配線３が非形成とされる配線非形成領域と、の配置や面積比率のパターンが互いに異なっている。この場合、複数の第２単位検査領域２を撮像して得られる検査画像は不一致となる。このため、第１配線配置領域１９における第２配線配置領域１に隣接する部分の配線検査をしようとした場合に誤って第２配線配置領域１の配線検査が行われると、不良判定となり、第１配線配置領域１９の配線検査を正常に行うことができなくなってしまう。それを避けるには、第１配線配置領域１９における第２配線配置領域１に隣接する部分の配線検査を取り止めることが考えられるが、そうすると、今度は第１配線配置領域１９における第２配線配置領域１に隣接する部分に断線などの不良が生じていた場合にその不良を検出することができず、不良品の流出という問題が生じてしまう。
【００２３】
そこで、本実施形態では、複数の第２単位検査領域２２は、図５に示すように、第２配線１８が形成される配線形成領域と、第２配線１８が非形成とされる配線非形成領域と、の配置や面積比率のパターンが同一になるよう設定されている。このようにすれば、誤って第２配線配置領域２０の配線検査を行った場合には、受光センサによって撮像された検査画像同士を比較したとき、検査画像が必然的に一致し、不一致となるのを避けることができる。従って、誤って第２単位検査領域２２の配線検査を行うことに起因して判定部が不良判定をするのを避けることができる。これにより、アレイ基板１０Ｂを多数検査した場合に多くのアレイ基板１０Ｂが不良判定される、といった事態を回避することができる。このような誤検査は、既述した通り、第１配線配置領域１９における第２配線配置領域２０に隣接する部分を検査する場合に生じ易い傾向にあるが、誤検査を行うことに起因する不良判定の発生を避けられるのであれば、第１配線配置領域１９における第２配線配置領域２０に隣接する部分を検査することができる。これにより、第１配線配置領域１９における第２配線配置領域２０に隣接する部分に存在する第１配線１７に生じた不良を適切に検出することができる。
【００２４】
具体的には、第２配線配置領域２０は、図５に示すように、複数の第２単位検査領域２２に第２配線１８が非形成となるよう構成されている。つまり、第２配線１８は、第１配線配置領域１９に隣接する一定の範囲にわたって非形成とされており、その範囲は、光学式自動欠陥検査装置に生じ得る位置ずれ量（例えば数十μｍ〜１００μｍ程度）と同等またはそれ以上の大きさとされる。このようにすれば、誤って第２配線配置領域２０の検査が行われた場合、複数の第２単位検査領域２２の検査画像が撮像されると、撮像された検査画像はいずれも第２配線１８が存在しないことから、第２配線１８が形成される配線形成領域の面積比率が０％となり、第２配線１８が非形成とされる配線非形成領域の面積比率が１００％となって、互いに一致する。これにより、誤検査を行うことに起因する不良判定の発生を避けることができる。
【００２５】
以上説明したように本実施形態のアレイ基板（配線基板）１０Ｂは、規則的に並んで配される複数の第１配線１７と、複数の第１配線１７が配される第１配線配置領域１９と、第１配線配置領域１９に含まれ互いに間隔を空けた位置に配されていて検査画像の撮像対象となる複数の第１単位検査領域２１と、第２配線１８と、第１配線配置領域１９に隣り合っていて第２配線１８が配される第２配線配置領域２０と、第２配線配置領域２０に含まれ互いに間隔を空けた位置に配されていて検査画像の撮像対象となり得る複数の第２単位検査領域２２と、を備え、第２配線配置領域２０は、複数の第２単位検査領域２２が同一パターンとなるよう構成される。
【００２６】
まず、複数の第１配線１７を検査するには、第１配線配置領域１９に含まれて互いに間隔を空けた位置に配される複数の第１単位検査領域２１の検査画像を撮像する。撮像された検査画像同士を比較し、検査画像が一致すれば規則的に並んで配される複数の第１配線１７が適切に形成されたとして良判定をし、検査画像が不一致であれば複数の第１配線１７が適切に形成されなかったとして不良判定をする。一方、第２配線１８は、本来的に検査の対象外であっても、第１配線配置領域１９に隣り合う第２配線配置領域２０に配されているため、検査装置の精度などの条件によっては、誤って検査が行われる可能性がある。その場合、第２配線配置領域２０に含まれて互いに間隔を空けた位置に配される複数の第２単位検査領域２２の検査画像が撮像されることになる。ここで、第２配線配置領域２０は、複数の第２単位検査領域２２が同一パターンとなるよう構成されているので、撮像された検査画像同士を比較したとき、検査画像が必然的に一致することになる。従って、誤って第２単位検査領域２２を検査することに起因して不良判定をすることが避けられるので、当該アレイ基板１０Ｂを多数検査した場合に多くのアレイ基板１０Ｂが不良判定される、といった事態を回避することができる。このような誤検査は、第１配線配置領域１９における第２配線配置領域２０に近い部分を検査する場合に生じ易い傾向にあるが、誤検査を行うことに起因する不良判定の発生を避けられるのであれば、第１配線配置領域１９における第２配線配置領域２０に近い部分を検査することができ、それにより当該部分に存在する第１配線１７に生じた不良を適切に検出することができる。
【００２７】
また、第２配線配置領域２０は、複数の第２単位検査領域２２に第２配線１８が非形成となるよう構成される。このようにすれば、誤って第２配線配置領域２０の検査が行われた場合、複数の第２単位検査領域２２の検査画像が撮像されると、撮像された検査画像はいずれも第２配線１８が存在しないものとなって一致する。
【００２８】
また、画像を表示する表示領域ＡＡと、表示領域ＡＡに配される複数の画素ＰＸと、を備えており、複数の第１配線１７は、複数の画素ＰＸにそれぞれ接続されて画像を表示するための信号を複数の画素ＰＸに供給するのに対し、第２配線１８は、複数の画素ＰＸに接続されて検査画像を表示するための検査信号を複数の画素ＰＸに供給する。このようにすれば、複数の画素ＰＸに複数の第１配線１７から信号が供給されると、表示領域ＡＡには所定の画像が表示される。一方、複数の画素ＰＸに第２配線１８から検査信号が供給されると、表示領域ＡＡには所定の検査画像が表示される。第２配線１８は、表示のための検査でのみ用いられるものであるから、検査非対象となっている。
【００２９】
また、上記記載のアレイ基板１０Ｂと、アレイ基板１０Ｂとの間に内部空間ＩＳを有するよう貼り合わせられるＣＦ基板（対向基板）１０Ａと、アレイ基板１０ＢとＣＦ基板１０Ａとの間に介在して内部空間ＩＳを取り囲んで内部空間ＩＳを封止する光硬化性材料からなるシール部１０Ｄと、を備えており、第２配線１８は、シール部１０Ｄと重畳するシール重畳部１８Ａを少なくとも一部に有していて、シール重畳部１８Ａには、規則的に並ぶよう開口形成されるスリット１８Ｂが少なくとも設けられており、第２配線配置領域２０は、複数の第２単位検査領域２２に第２配線１８が非形成となるよう構成される。このようにすれば、アレイ基板１０ＢとＣＦ基板１０Ａとの間に挟まれる内部空間ＩＳは、両基板間に介在するシール部１０Ｄによって取り囲まれることで封止される。誤って第２配線配置領域２０の検査が行われた場合、複数の第２単位検査領域２２の検査画像が撮像されると、撮像された検査画像はいずれも第２配線１８が存在しないものとなる。これにより、複数の検査画像が一致し、誤って第２単位検査領域２２を検査することに起因して不良判定をすることが避けられる。そして、光硬化性材料からなるシール部１０Ｄは、第２配線１８のうちのシール部１０Ｄと重畳するシール重畳部１８Ａに開口形成されたスリット１８Ｂに加えて、第２配線１８が非形成とされる複数の第２単位検査領域２２を通して照射される硬化のための光によって硬化が効率的に促進される。
【００３０】
＜実施形態２＞
本発明の実施形態２を図７によって説明する。この実施形態２では、第２配線配置領域１２０の構成を変更したものを示す。なお、上記した実施形態１と同様の構造、作用及び効果について重複する説明は省略する。
【００３１】
本実施形態に係る第２配線配置領域１２０は、図７に示すように、複数の第２単位検査領域１２２に第２配線１１８が規則的なパターンとして形成されるよう構成されている。具体的には、第２配線配置領域１２０は、第１配線配置領域１１９からの距離が光学式自動欠陥検査装置に生じ得る位置ずれ量（例えば数十μｍ〜１００μｍ程度）となる位置や同位置ずれ量よりも小さい位置にも第２配線１１８が形成されているものの、複数の第２単位検査領域１２２に架橋部１１８Ｃが非形成となるよう構成されている。より詳しくは、第２配線配置領域１２０は、第１配線配置領域１１９からの距離が光学式自動欠陥検査装置に生じ得る位置ずれ量よりも大きくなる位置には、シール重畳部１１８Ａのうちの複数のスリット１１８Ｂにより分割された部分（分割第２配線）同士を繋ぐ架橋部１１８Ｃが形成されているものの、第１配線配置領域１１９からの距離が光学式自動欠陥検査装置に生じ得る位置ずれ量となる位置や同位置ずれ量よりも小さい位置には、シール重畳部１１８Ａ及びスリット１１８Ｂのみが形成されていて架橋部１１８Ｃについては非形成とされる。このようにすれば、誤って第２配線配置領域１２０の検査が行われた場合、複数の第２単位検査領域１２２の検査画像が撮像されると、撮像された検査画像はいずれも規則的なパターンとして形成された第２配線１１８が存在することになり、互いに一致する。これにより、誤検査を行うことに起因する不良判定の発生を避けることができる。
【００３２】
以上説明したように本実施形態によれば、第２配線配置領域１２０は、複数の第２単位検査領域１２２に第２配線１１８が規則的なパターンとして形成されるよう構成される。このようにすれば、誤って第２配線配置領域１２０の検査が行われた場合、複数の第２単位検査領域１２２の検査画像が撮像されると、撮像された検査画像はいずれも規則的なパターンとして形成された第２配線１１８が存在することになって一致する。
【００３３】
上記記載のアレイ基板と、アレイ基板との間に内部空間を有するよう貼り合わせられるＣＦ基板と、アレイ基板とＣＦ基板との間に介在して内部空間を取り囲んで内部空間を封止する光硬化性材料からなるシール部と、を備えており、第２配線１１８は、シール部と重畳するシール重畳部１１８Ａを少なくとも一部に有していて、シール重畳部１１８Ａには、規則的に並ぶよう開口形成される複数のスリット１１８Ｂと、スリット１１８Ｂを横切るよう延在する架橋部１１８Ｃと、が少なくとも設けられており、第２配線配置領域１２０は、複数の第２単位検査領域１２２に架橋部１１８Ｃが非形成となるよう構成される。このようにすれば、アレイ基板とＣＦ基板との間に挟まれる内部空間は、両基板間に介在するシール部によって取り囲まれることで封止される。光硬化性材料からなるシール部は、第２配線１１８のうちのシール部と重畳するシール重畳部１１８Ａに開口形成された複数のスリット１１８Ｂを通して照射される硬化のための光によって硬化が促進される。架橋部１１８Ｃは、第２配線１１８において複数のスリット１１８Ｂを横切るよう延在することで、シール重畳部１１８Ａのうちの複数のスリット１１８Ｂにより分割された部分同士を繋ぐことができ、それにより第２配線１１８の冗長性が確保される。そして、誤って第２配線配置領域１２０の検査が行われた場合、複数の第２単位検査領域１２２の検査画像が撮像されると、撮像された検査画像はいずれも規則的に並ぶ複数のスリット１１８Ｂが開口形成された第２配線１１８が存在するものの、スリット１１８Ｂを横切るよう延在する架橋部１１８Ｃが存在しないものとなる。これにより、複数の検査画像が一致し、誤って第２単位検査領域１２２を検査することに起因して不良判定をすることが避けられる。
【００３４】
＜実施形態３＞
本発明の実施形態３を図８によって説明する。この実施形態３では、上記した実施形態１から第２配線配置領域２２０の構成を変更したものを示す。なお、上記した実施形態１と同様の構造、作用及び効果について重複する説明は省略する。
【００３５】
本実施形態に係る第２配線配置領域２２０は、図８に示すように、複数の第２単位検査領域２２２に第２配線２１８がベタパターンとして形成されるよう構成されている。つまり、第２配線２１８は、第１配線配置領域２１９に隣接する一定の範囲にわたって全面的に（ベタ状に）形成されており、その範囲は、光学式自動欠陥検査装置に生じ得る位置ずれ量（例えば数十μｍ〜１００μｍ程度）と同等またはそれ以上の大きさとされる。このようにすれば、誤って第２配線配置領域２２０の検査が行われた場合、複数の第２単位検査領域２２２の検査画像が撮像されると、撮像された検査画像はいずれもベタパターンとして形成された第２配線２１８が存在することから、第２配線２１８が形成される配線形成領域の面積比率が１００％となり、第２配線２１８が非形成とされる配線非形成領域の面積比率が０％となって、互いに一致する。これにより、誤検査を行うことに起因する不良判定の発生を避けることができる。
【００３６】
以上説明したように本実施形態によれば、第２配線配置領域２２０は、複数の第２単位検査領域２２２に第２配線２１８がベタパターンとして形成されるよう構成される。このようにすれば、誤って第２配線配置領域２２０の検査が行われた場合、複数の第２単位検査領域２２２の検査画像が撮像されると、撮像された検査画像はいずれもベタパターンとして形成された第２配線２１８が存在することになって一致する。
【００３７】
＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
（１）上記した各実施形態での図示以外にも、複数の第２単位検査領域において第２配線が形成される配線形成領域と、第２配線が非形成とされる配線非形成領域と、の配置や面積比率に関する具体的なパターンは、適宜に変更可能である。
（２）上記した各実施形態では、第２配線に設けられたスリットが、第２配線の延在方向に並行するよう延在する場合を示したが、スリットの延在方向が第２配線の延在方向と交差する関係であっても構わない。また、スリットが直線状に延在する構成に限らず、スリットがジグザグ状に蛇行しつつ延在する構成であっても構わない。
（３）上記した各実施形態では、第２配線が第１配線に並行する形で延在するよう引き回される構成を示したが、第２配線における少なくとも一部の延在方向が第１配線の延在方向と交差する関係であっても構わない。具体的には、例えば第２配線の一部が第１配線に並行するものの、途中で第１配線の延在方向と交差する方向に向かうよう屈曲されていても構わない。
（４）上記した各実施形態では、第２配線は、線幅が第１配線の線幅よりも太くされるとともに複数のスリットや架橋部が形成された構成の場合を示したが、第２配線の線幅が第１配線の線幅と同等またはそれ以下であってもよく、またスリットや架橋部が非形成であっても構わない。
（５）上記した各実施形態では、第２配線がドライバから出力された表示検査用画像信号をソース配線に伝送するためのものとされる場合を例示したが、第２配線が他の用途で用いられるものであっても構わない。例えば、第２配線がグランド電位を伝送するためのものや電源電位を伝送するためのものであってもよい。
（６）上記した各実施形態以外にも、第１配線及び第２配線の具体的な配索経路や配置などは適宜に変更可能である。
（７）上記した各実施形態では、ドライバがアレイ基板にＣＯＧ実装される構成を例示したが、ドライバがフレキシブル基板にＣＯＦ（Chip On Film）実装される構成であっても構わない。その場合、第１配線及び第２配線が接続される端子部は、アレイ基板の非表示領域におけるフレキシブル基板の実装領域に配される。
（８）上記した各実施形態では、透過型の液晶パネルを例示したが、反射型の液晶パネルや半透過型の液晶パネルであっても本発明は適用可能である。
（９）上記した各実施形態では、液晶パネルの平面形状が縦長の長方形とされる場合を示したが、液晶パネルの平面形状が横長の長方形、正方形、円形、半円形、長円形、楕円形、台形などであっても構わない。
（１０）上記した各実施形態では、液晶パネルについて例示したが、他の種類の表示パネル（ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、有機ＥＬパネル、ＥＰＤ（マイクロカプセル型電気泳動方式のディスプレイパネル）、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）表示パネル）であっても構わない。
【符号の説明】
【００３８】
１０…液晶パネル（表示パネル）、１０Ａ…ＣＦ基板（対向基板）、１０Ｂ…アレイ基板（配線基板）、１０Ｄ…シール部、１７…第１配線、１８，１１８，２１８…第２配線、１８Ａ，１１８Ａ…シール重畳部、１８Ｂ，１１８Ｂ…スリット、１８Ｃ，１１８Ｃ…架橋部、１９，１１９，２１９…第１配線配置領域、２０，１２０，２２０…第２配線配置領域、２１…第１単位検査領域、２２，１２２，２２２…第２単位検査領域、ＡＡ…表示領域、ＩＳ…内部空間、ＰＸ…画素
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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