(57)【要約】【課題】装置内部における異物の堆積状態を把握する。【解決手段】複合機１０は、入力信号に応じた光量の光を出射し、当該光の反射光の光量に応じた出力信号を出力するセンサ１１０と、水平面１５３Ａ及び傾斜面１５３Ｂを有するプラテン４２と、第１値及び第２値を記憶するメモリ１４０と、コントローラ１３０とを備える。コントローラ１３０は、センサ１１０から光を水平面１５３Ａに出射させて（Ｓ３０）、センサ１１０が出力した出力信号に応じた第３値を取得し（Ｓ４０）、、センサ１１０から光を傾斜面１５３Ｂに出射させて（Ｓ６０）、センサ１１０が出力した出力信号に応じた第４値を取得し（Ｓ７０）、取得した第３値が第１値より小さく（Ｓ８０：Ｙｅｓ）、且つ、第４値が第２値より大きい（Ｓ９０：Ｙｅｓ）場合に、装置内部に異物が堆積されていると判定して、メモリ１４０に記憶されたフラグの値を「１」とする（Ｓ１００）。【選択図】図７
2019188782.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
筐体と、
上記筐体の内部に設けられており、シートに画像を記録する記録部と、
入力信号に応じた光量の光を少なくとも所定光路に出射するとともに、光量に応じた出力信号を出力するセンサと、
上記筐体の内部に設けられており、上記センサから出射される上記所定光路の光を所定方向に反射する第１面、及び上記センサから出射される上記所定光路の光を上記所定方向よりも上記センサから離れる方向に反射する第２面を有する反射部と、
上記センサを搭載しており、上記センサが上記第１面と対向する第１位置、及び上記センサが上記第２面と対向する第２位置に移動可能なキャリッジと、
基準値である第１値及び第２値を記憶するメモリと、
コントローラと、を備え、
上記コントローラは、
上記キャリッジを上記第１位置に移動させて、上記センサから第１光量の光を上記第１面に出射させて、上記センサが出力した上記出力信号に応じた第３値を取得し、
上記キャリッジを上記第２位置に移動させて、上記センサから第２光量の光を上記第２面に出射させて、上記センサが出力した上記出力信号に応じた第４値を取得し、
取得した上記第３値が上記第１値より小さく、且つ、上記第４値が上記第２値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された値を予め設定された第５値から上記第５値とは異なる第６値とする画像記録装置。
【請求項２】
上記コントローラは、
上記第３値と上記第１値との差、または、上記第４値と上記第２値との差を、上記メモリから読み出した閾値と比較して、当該差が当該閾値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された上記値を上記第５値から上記第５値及び上記第６値とは異なる第７値とする請求項１に記載の画像記録装置。
【請求項３】
上記コントローラは、
上記第３値と上記第１値との差及び上記第４値と上記第２値との差の合計値を、上記メモリから読み出した閾値と比較して、当該合計値が当該閾値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された上記値を上記第５値から上記第５値及び上記第６値とは異なる第７値とする請求項１に記載の画像記録装置。
【請求項４】
上記コントローラは、上記第３値が上記第１値より大きい、または、上記第４値が上記第２値より小さいことに応じて、上記メモリに上記第５値を設定する請求項１から３のいずれかに記載の画像記録装置。
【請求項５】
上記コントローラは、
上記キャリッジを上記第１位置に移動させて、上記センサから上記第１光量の光を上記第１面に出射させて、上記センサが出力した上記出力信号に応じた上記第１値を上記メモリに記憶させ、
上記キャリッジを上記第２位置に移動させて、上記センサから上記第２光量の光を上記第２面に出射させて、上記センサが出力した上記出力信号に応じた上記第２値を上記メモリに記憶させる請求項１から４のいずれかに記載の画像記録装置。
【請求項６】
筐体と、
上記筐体の内部に設けられており、シートに画像を記録する記録部と、
入力信号に応じた光を少なくとも所定光路に出射するとともに、光量に応じた出力信号を出力するセンサと、
上記筐体の内部に設けられており、上記センサから出射される上記所定光路の光を所定方向に反射する第１面、及び上記センサから出射される上記所定光路の光を上記所定方向よりも上記センサから離れる方向に反射する第２面を有する反射部と、
上記センサを搭載しており、上記センサが上記第１面と対向する第１位置、及び上記センサが上記第２面と対向する第２位置に移動可能なキャリッジと、
基準値である第１値及び第２値を記憶するメモリと、
コントローラと、を備え、
上記コントローラは、
上記キャリッジを上記第１位置に移動させて、上記センサから光を上記第１面に光量を変化させつつ出射させて、上記センサが所定の上記出力信号を出力したときの上記入力信号に応じた第３値を取得し、
上記キャリッジを上記第２位置に移動させて、上記センサから光を上記第２面へ光量を変化させつつ出射させて、上記センサが所定の上記出力信号を出力したときの上記入力信号に応じた第４値を取得し、
取得した上記第３値が上記第１値より大きく、且つ、上記第４値が上記第２値より小さいことに応じて、上記メモリに記憶された値を予め設定された第５値から上記第５値とは異なる第６値とする画像記録装置。
【請求項７】
上記コントローラは、
上記第３値と上記第１値との差、または、上記第４値と上記第２値との差を、上記メモリから読み出した閾値と比較して、当該差が当該閾値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された上記値を上記第５値から上記第５値及び上記第６値とは異なる第７値とする請求項６に記載の画像記録装置。
【請求項８】
上記コントローラは、
上記第３値と上記第１値との差及び上記第４値と上記第２値との差の合計値を、上記メモリから読み出した閾値と比較して、当該合計値が当該閾値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された上記値を上記第５値から上記第５値及び上記第６値とは異なる第７値とする請求項６に記載の画像記録装置。
【請求項９】
上記コントローラは、上記第３値が上記第１値より小さい、または、上記第４値が上記第２値より大きいことに応じて、上記メモリに上記第５値を設定する請求項６から８のいずれかに記載の画像記録装置。
【請求項１０】
上記コントローラは、
上記キャリッジを上記第１位置に移動させて、上記センサから光を上記第１面に光量を変化させつつ出射させて、上記センサが所定の上記出力信号を出力したときの上記入力信号に応じた上記第１値を上記メモリに記憶させ、
上記キャリッジを上記第２位置に移動させて、上記センサから光を上記第２面へ光量を変化させつつ出射させて、上記センサが所定の上記出力信号を出力したときの上記入力信号に応じた上記第２値を上記メモリに記憶させる請求項６から９のいずれかに記載の画像記録装置。
【請求項１１】
報知機を更に備えており、
上記コントローラは、上記メモリに上記第６値が設定されたことに応じて、上記報知機を作動させる請求項１または６に記載の画像記録装置。
【請求項１２】
報知機を更に備えており、
上記コントローラは、
上記メモリに上記第６値が設定されたことに応じて、上記報知機に第１報知を報知させ、
上記メモリに上記第７値が設定されたことに応じて、上記報知機に上記第１報知と異なる第２報知を報知させる請求項２、３、７または８に記載の画像記録装置。
【請求項１３】
上記キャリッジは上記記録部を搭載しており、
上記コントローラは、
上記メモリに上記第５値が設定されていることに応じて、上記キャリッジに駆動伝達するモータを第１電流値で駆動して、上記キャリッジを移動させつつ上記記録部によりシートに画像記録を行い、
上記メモリに上記第６値が設定されていることに応じて、上記モータを上記第１電流値より大きな第２電流値で駆動して、上記キャリッジを移動させつつ上記記録部によりシートに画像記録を行う請求項１または６に記載の画像記録装置。
【請求項１４】
上記反射部を有しており、シートを支持する支持部を備え、
上記センサは、上記支持部へ向けて光を出射するものである請求項１から１３のいずれかに記載の画像記録装置。
【請求項１５】
上記反射部は、上記支持部のうち、上記支持部に支持可能に設定されている複数種類のサイズのシートのうちの最小サイズのシートが上記支持部に支持されたときに当該最小サイズのシートの下方に位置する領域に設けられている請求項１４に記載の画像記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シートに画像を記録する画像記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、シートに画像を記録する画像記録装置が知られている。例えば、特許文献１には、シートへ向けてインク滴を吐出することによってシートに画像を記録する液体吐出装置が開示されている。
【０００３】
画像記録装置が塵や埃が多い環境（例えば砂塵が舞う屋外、或いは、そのような屋外に面しており窓やドア等の仕切りがないか又はそのような仕切りがほとんど無い露店）に設置された場合、砂塵などの異物が、画像記録装置の筐体に形成された開口や隙間を通じて筐体の内部に進入するおそれがある。異物が筐体の内部に堆積すると、シートの搬送やシートへの画像記録などの動作に支障が出るおそれがある。上記問題の対策としては、筐体の構造を、内部に異物が進入し難い構造とすること、例えば筐体に形成された開口や隙間を塞ぐことが考えられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−２１５９８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、筐体の内部を外部から完全に密閉することは非常に困難である。また、筐体の内部を密閉状態にすると、画像記録装置の動作中に筐体の内部の温度が上がり、筐体の内部に配置された部品が故障する可能性が高まってしまう。
【０００６】
そのため、塵や埃が多い環境では、筐体の内部への異物の進入を完全に排除する代わりに、筐体の内部における異物の堆積状況を把握することによって、筐体の内部に異物が堆積した場合であっても動作に支障が出る可能性を低くすることが求められる。
【０００７】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、装置内部における異物の堆積状態を把握することができる手段を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
(1)  本発明に係る画像記録装置は、筐体と、上記筐体の内部に設けられており、シートに画像を記録する記録部と、入力信号に応じた光量の光を少なくとも所定光路に出射するとともに、光量に応じた出力信号を出力するセンサと、上記筐体の内部に設けられており、上記センサから出射される上記所定光路の光を所定方向に反射する第１面、及び上記センサから出射される上記所定光路の光を上記所定方向よりも上記センサから離れる方向に反射する第２面を有する反射部と、上記センサを搭載しており、上記センサが上記第１面と対向する第１位置、及び上記センサが上記第２面と対向する第２位置に移動可能なキャリッジと、基準値である第１値及び第２値を記憶するメモリと、コントローラと、を備える。上記コントローラは、上記キャリッジを上記第１位置に移動させて、上記センサから第１光量の光を上記第１面に出射させて、上記センサが出力した上記出力信号に応じた第３値を取得し、上記キャリッジを上記第２位置に移動させて、上記センサから第２光量の光を上記第２面に出射させて、上記センサが出力した上記出力信号に応じた第４値を取得し、取得した上記第３値が上記第１値より小さく、且つ、上記第４値が上記第２値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された値を予め設定された第５値から上記第５値とは異なる第６値とする。
【０００９】
第１面に異物が堆積している場合、センサから第１面に出射された光は第１面で乱反射する。そのため、第１面に異物が殆ど堆積していない場合と比べて、センサへ到達する光の量は減る。このとき、第１面に異物が殆ど堆積していない場合の出力信号の値（第１値）と比べて小さい第３値の出力信号が、センサから出力される。
【００１０】
また、第２面は、センサから出射される所定光路の光を所定方向よりもセンサから離れる方向に反射する。そのため、第２面に光を出射した場合、第１面に光を出射した場合と比べて、センサへ到達する光の量は減る。よって、第２面で反射された光の多くはセンサへ到達しない。
【００１１】
第２面に異物が堆積している場合、センサから第２面に出射された光は第２面で乱反射する。そのため、第２面に異物が殆ど堆積していない場合（第２面で反射された光の多くはセンサへ到達しない場合）と比べて、センサへ到達する光の量は増える。このとき、第２面に異物が殆ど堆積していない場合の出力信号の値（第２値）と比べて大きい第４値の出力信号が、センサから出力される。
【００１２】
本構成では、第３値が第１値より小さく、且つ、第４値が第２値より大きいことに応じて、メモリに記憶された値を第５値から第６値とする。ここで、コントローラが、メモリに第５値が記憶されている場合に反射部に異物が殆ど堆積していないと判定し、メモリに第６値が記憶されている場合に反射部に異物がある程度堆積していると判定することにより、反射部において異物が堆積していることを把握できる。
【００１３】
また、本構成によれば、反射部への異物の堆積を検知することによって、筐体の内部に設けられた他の部材、例えば記録部における異物の堆積状態を推定することができる。
【００１４】
(2)  上記コントローラは、上記第３値と上記第１値との差、または、上記第４値と上記第２値との差を、上記メモリから読み出した閾値と比較して、当該差が当該閾値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された上記値を上記第５値から上記第５値及び上記第６値とは異なる第７値とする。
【００１５】
第１面における異物の堆積量が多い程、センサから第１面に出射された光の乱反射は激しくなるため、センサへ到達する光の量は減る。つまり、第１面における異物の堆積量が多い程、センサから出力される出力信号の第３値は小さくなる。
【００１６】
また、第２面における異物の堆積量が多い程、センサから第２面に出射された光の乱反射は激しくなるため、センサへ到達する光の量は増える。つまり、第２面における異物の堆積量が多い程、センサから出力される出力信号の第４値は大きくなる。
【００１７】
本構成では、第３値と第１値との差、または、第４値と第２値との差が閾値より大きいことに応じて、メモリに記憶された値を第５値から第７値とする。ここで、コントローラが、メモリに第６値が記憶されている場合に反射部に堆積している異物が少ないと判定し、メモリに第７値が記憶されている場合に反射部に堆積している異物が多いと判定することにより、反射部への異物の堆積量の多少を把握することができる。
【００１８】
(3)  上記コントローラは、上記第３値と上記第１値との差及び上記第４値と上記第２値との差の合計値を、上記メモリから読み出した閾値と比較して、当該合計値が当該閾値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された上記値を上記第５値から上記第５値及び上記第６値とは異なる第７値とする。
【００１９】
本構成では、第１面の異物の堆積状態と、第２面の異物の堆積状態の両方に基づいて、反射部への異物の堆積量の多少を判定する。そのため、偶然に第１面または第２面の一方のみに多少の異物が堆積されていた場合に、反射部全体における異物の堆積量が多いと判定するような誤判定の可能性を低くできる。つまり、(2)の構成よりも精度よく、反射部への異物の堆積量の多少を把握することができる。
【００２０】
(4)  上記コントローラは、上記第３値が上記第１値より大きい、または、上記第４値が上記第２値より小さいことに応じて、上記メモリに上記第５値を設定する。
【００２１】
本構成では、第３値が第１値より大きい、または、第４値が第２値より小さいことに応じて、メモリに記憶された値を第５値とする。ここで、コントローラが、メモリに第５値が記憶されている場合に反射部に異物が殆ど堆積していないと判定することにより、反射部において異物が堆積していないことを把握できる。
【００２２】
(5)  上記コントローラは、上記キャリッジを上記第１位置に移動させて、上記センサから上記第１光量の光を上記第１面に出射させて、上記センサが出力した上記出力信号に応じた上記第１値を上記メモリに記憶させ、上記キャリッジを上記第２位置に移動させて、上記センサから上記第２光量の光を上記第２面に出射させて、上記センサが出力した上記出力信号に応じた上記第２値を上記メモリに記憶させる。
【００２３】
本構成によれば、画像記録装置が配置された周辺環境に応じた第１値及び第２値を取得することができる。
【００２４】
(6)  本発明に係る画像記録装置は、筐体と、上記筐体の内部に設けられており、シートに画像を記録する記録部と、入力信号に応じた光を少なくとも所定光路に出射するとともに、光量に応じた出力信号を出力するセンサと、上記筐体の内部に設けられており、上記センサから出射される上記所定光路の光を所定方向に反射する第１面、及び上記センサから出射される上記所定光路の光を上記所定方向よりも上記センサから離れる方向に反射する第２面を有する反射部と、上記センサを搭載しており、上記センサが上記第１面と対向する第１位置、及び上記センサが上記第２面と対向する第２位置に移動可能なキャリッジと、基準値である第１値及び第２値を記憶するメモリと、コントローラと、を備える。上記コントローラは、上記キャリッジを上記第１位置に移動させて、上記センサから光を上記第１面に光量を変化させつつ出射させて、上記センサが所定の上記出力信号を出力したときの上記入力信号に応じた第３値を取得し、上記キャリッジを上記第２位置に移動させて、上記センサから光を上記第２面へ光量を変化させつつ出射させて、上記センサが所定の上記出力信号を出力したときの上記入力信号に応じた第４値を取得し、取得した上記第３値が上記第１値より大きく、且つ、上記第４値が上記第２値より小さいことに応じて、上記メモリに記憶された値を予め設定された第５値から上記第５値とは異なる第６値とする。
【００２５】
第１面に異物が堆積している場合、センサから第１面に出射された光は第１面で乱反射する。そのため、第１面に異物が殆ど堆積していない場合と比べて、センサへ到達する光の量は減る。このとき、第１面に異物が殆ど堆積していない場合にセンサから所定の出力信号を得るための入力信号の第１値と比べて、センサから所定の出力信号を得るための入力信号の第３値は大きくなる。
【００２６】
また、第２面は、センサから出射される所定光路の光を所定方向よりもセンサから離れる方向に反射する。そのため、第２面に光を出射した場合、第１面に光を出射した場合と比べて、センサへ到達する光の量は減る。よって、第２面で反射された光の多くはセンサへ到達しない。
【００２７】
第２面に異物が堆積している場合、センサから第２面に出射された光は第２面で乱反射する。そのため、第２面に異物が殆ど堆積していない場合（第２面で反射された光の多くはセンサへ到達しない場合）と比べて、センサへ到達する光の量は増える。このとき、第２面に異物が殆ど堆積していない場合にセンサから所定の出力信号を得るための入力信号の第２値と比べて、センサから所定値の出力信号を得るための入力信号の第４値は小さくなる。
【００２８】
本構成では、第３値が第１値より大きく、且つ、第４値が第２値より小さいことに応じて、メモリに記憶された値を第５値から第６値とする。ここで、コントローラが、メモリに第５値が記憶されている場合に反射部に異物が殆ど堆積していないと判定し、メモリに第６値が記憶されている場合に反射部に異物がある程度堆積していると判定することにより、反射部において異物が堆積していることを把握できる。
【００２９】
また、本構成によれば、反射部への異物の堆積を検知することによって、筐体の内部に設けられた他の部材、例えば記録部における異物の堆積状態を推定することができる。
【００３０】
(7)  上記コントローラは、上記第３値と上記第１値との差、または、上記第４値と上記第２値との差を、上記メモリから読み出した閾値と比較して、当該差が当該閾値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された上記値を上記第５値から上記第５値及び上記第６値とは異なる第７値とする。
【００３１】
第１面における異物の堆積量が多い程、センサから第１面に出射された光の乱反射は激しくなるため、センサへ到達する光の量は減る。つまり、第１面における異物の堆積量が多い程、センサから所定の出力信号を得るための入力信号の第３値は大きくなる。
【００３２】
また、第２面における異物の堆積量が多い程、センサから第２面に出射された光の乱反射は激しくなるため、センサへ到達する光の量は増える。つまり、第２面における異物の堆積量が多い程、センサから所定の出力信号を得るための入力信号の第４値は小さくなる。
【００３３】
本構成では、第３値と第１値との差、または、第４値と第２値との差が閾値より大きいことに応じて、メモリに記憶された値を第５値から第７値とする。ここで、コントローラが、メモリに第６値が記憶されている場合に反射部に堆積している異物が少ないと判定し、メモリに第７値が記憶されている場合に反射部に堆積している異物が多いと判定することにより、反射部への異物の堆積量の多少を把握することができる。
【００３４】
(8)  上記コントローラは、上記第３値と上記第１値との差及び上記第４値と上記第２値との差の合計値を、上記メモリから読み出した閾値と比較して、当該合計値が当該閾値より大きいことに応じて、上記メモリに記憶された上記値を上記第５値から上記第５値及び上記第６値とは異なる第７値とする。
【００３５】
本構成では、第１面の異物の堆積状態と、第２面の異物の堆積状態の両方に基づいて、反射部への異物の堆積量の多少を判定する。そのため、偶然に第１面または第２面の一方のみに多少の異物が堆積されていた場合に、反射部全体における異物の堆積量が多いと判定するような誤判定の可能性を低くできる。つまり、(7)の構成よりも精度よく、反射部への異物の堆積量の多少を把握することができる。
【００３６】
(9)  上記コントローラは、上記第３値が上記第１値より小さい、または、上記第４値が上記第２値より大きいことに応じて、上記メモリに上記第５値を設定する。
【００３７】
本構成では、第３値が第１値より小さい、または、第４値が第２値より大きいことに応じて、メモリに記憶された値を第５値とする。ここで、コントローラが、メモリに第５値が記憶されている場合に反射部に異物が殆ど堆積していないと判定することにより、反射部において異物が堆積していないことを把握できる。
【００３８】
(10)  上記コントローラは、上記キャリッジを上記第１位置に移動させて、上記センサから光を上記第１面に光量を変化させつつ出射させて、上記センサが所定の上記出力信号を出力したときの上記入力信号に応じた上記第１値を上記メモリに記憶させ、上記キャリッジを上記第２位置に移動させて、上記センサから光を上記第２面へ光量を変化させつつ出射させて、上記センサが所定の上記出力信号を出力したときの上記入力信号に応じた上記第２値を上記メモリに記憶させる。
【００３９】
本構成によれば、画像記録装置が配置された周辺環境に応じた第１値及び第２値を取得することができる。
【００４０】
(11)  本発明に係る画像記録装置は、報知機を更に備えている。上記コントローラは、上記メモリに上記第６値が設定されたことに応じて、上記報知機を作動させる。
【００４１】
本構成によれば、筐体に異物が堆積している旨を報知することができる。
【００４２】
(12)  本発明に係る画像記録装置は、報知機を更に備えている。上記コントローラは、上記メモリに上記第６値が設定されたことに応じて、上記報知機に第１報知を報知させ、上記メモリに上記第７値が設定されたことに応じて、上記報知機に上記第１報知と異なる第２報知を報知させる。
【００４３】
本構成によれば、筐体に堆積している異物の量に応じた報知を行うことができる。
【００４４】
(13)  上記キャリッジは上記記録部を搭載している。上記コントローラは、上記メモリに上記第５値が設定されていることに応じて、上記キャリッジに駆動伝達するモータを第１電流値で駆動して、上記キャリッジを移動させつつ上記記録部によりシートに画像記録を行い、上記メモリに上記第６値が設定されていることに応じて、上記モータを上記第１電流値より大きな第２電流値で駆動して、上記キャリッジを移動させつつ上記記録部によりシートに画像記録を行う。
【００４５】
本構成によれば、シートへのインク滴の吐出時に記録部を走査方向へ移動させるためのキャリッジを、センサを第１位置及び第２位置へ移動させるためのキャリッジに流用することができる。
【００４６】
また、本構成によれば、筐体の内部に堆積した異物によってキャリッジの移動に対して負荷がかかる状態であっても、キャリッジに駆動伝達するモータを第２電流値で駆動することによって、キャリッジを適正に移動させることができる。
【００４７】
(14)  本発明に係る画像記録装置は、上記反射部を有しており、シートを支持する支持部を備える。上記センサは、上記支持部へ向けて光を出射するものである。
【００４８】
本構成によれば、シートが支持部に支持されているか否かや、支持部に支持されたシートのサイズを検知するためのセンサを、反射部への異物の堆積を検知するためのセンサに流用することができる。
【００４９】
(15)  上記反射部は、上記支持部のうち、上記支持部に支持可能に設定されている複数種類のサイズのシートのうちの最小サイズのシートが上記支持部に支持されたときに当該最小サイズのシートの下方に位置する領域に設けられている。
【００５０】
支持部のうち、支持部に支持可能に設定されている複数種類のサイズのシートのうちの最小サイズのシートが支持部に支持されたときに当該最小サイズのシートの下方に位置する領域は、支持部にいずれのサイズのシートが支持されている場合であっても、シートの下方に位置する。そのため、シートへインク滴が吐出される場合に、当該領域にインクが付着する可能性は低い。
【００５１】
本構成によれば、上記領域に反射部が設けられている。そのため、シートへインク滴が吐出される場合に、反射部にインクが付着する可能性は低い。よって、反射部に付着したインクを、画像記録装置の外部から内部へ進入した異物が反射部に堆積していると判定してしまう可能性を低くすることができる。
【発明の効果】
【００５２】
本発明によれば、装置内部における異物の堆積状態を把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】図１は、複合機１０の外観斜視図である。
【図２】図２は、プリンタ部１１の内部構造を模式的に示す縦断面図である。
【図３】図３は、給送トレイ２０の斜視図である。
【図４】図４は、プラテン４２の斜視図である。
【図５】図５は、搬送ローラ６０とプラテン４２と排出ローラ対５５の平面図である。
【図６】図６は、コントローラ１３０及びメモリ１４０の構成を示すブロック図である。
【図７】図７は、実施形態１における異物堆積状態の判定制御を説明するためのフローチャートである。
【図８】図８は、センサ１１０とプラテン４２の水平面１５３Ａとを模式的に示す断面図であり、（Ａ）は水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積されていない状態を示し、（Ｂ）は水平面１５３Ａに異物が堆積された状態を示す。
【図９】図９は、センサ１１０とプラテン４２の傾斜面１５３Ｂとを模式的に示す断面図であり、（Ａ）は傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積されていない状態を示し、（Ｂ）は傾斜面１５３Ｂに異物が堆積された状態を示す。
【図１０】図１０は、実施形態２における異物堆積状態の判定制御を説明するためのフローチャートである。
【図１１】図１１は、実施形態３における異物堆積状態の判定制御を説明するためのフローチャートである。
【図１２】図１２は、実施形態３における異物堆積状態の判定制御を説明するためのフローチャートである。
【図１３】図１３は、発光部１１１が出射した光の光量に対して、当該光の反射光に応じてセンサ１１０がコントローラ１３０へ出力した電気信号のレベルの特性を示すグラフである。
【図１４】図１４は、発光部１１１が出射した光の光量に対して、当該光の反射光に応じてセンサ１１０がコントローラ１３０へ出力した電気信号のレベルの特性を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００５４】
以下、本発明の実施形態について説明する。なお、以下に説明される実施形態は本発明の一例にすぎず、本発明の要旨を変更しない範囲で、本発明の実施形態を適宜変更できることは言うまでもない。また、以下の説明においては、複合機１０が使用可能に設置された状態（図１の状態）を基準として上下方向７が定義され、開口１３が形成されている面を前面として前後方向８が定義され、複合機１０を前方から見て左右方向９が定義される。本実施形態では、複合機１０が使用可能に設置された状態において、上下方向７が鉛直方向に相当し、前後方向８及び左右方向９が水平方向に相当する。前後方向８及び左右方向９は、直交している。
【００５５】
［実施形態１の複合機１０の全体構成］
図１に示されるように、複合機１０（画像記録装置の一例）は、概ね直方体に形成されている。複合機１０は、下部にインクジェット記録方式でシート１２（図２参照）に画像を記録する（印刷する）プリンタ部１１を備える。複合機１０は、ファクシミリ機能及びプリント機能などの各種の機能を有している。プリンタ部１１は、筐体１４を備えている。
【００５６】
図２に示されるように、プリンタ部１１は、給送トレイ２０と、排出トレイ２１と、位置決め部９０（図３参照）と、給送部１５と、搬送ローラ対５４と、排出ローラ対５５と、記録ヘッド３９（記録部の一例）と、キャリッジ２３と、プラテン４２（支持部の一例）と、センサ１１０と、コントローラ１３０（図６参照）と、メモリ１４０（図６参照）とを備える。
【００５７】
筐体１４は、概ね直方体形状である。筐体１４は、内部空間３０（図２参照）を備えている。内部空間３０には、後述する搬送路６５が形成されている。また、内部空間３０には、給送部１５、搬送ローラ対５４、排出ローラ対５５、記録ヘッド３９、キャリッジ２３、プラテン４２、センサ１１０、コントローラ１３０（図６参照）、メモリ１４０（図６参照）が配置されている。
【００５８】
図１に示されるように、筐体１４の上部には、各種情報の入力や表示を行うためのタッチパネル１７（報知機の一例）が配置されている。なお、各種情報の入力や表示を行うためのものはタッチパネル１７に限らず、例えば各種情報を入力するためのボタンと、各種情報を表示するための液晶ディスプレイとで構成されていてもよい。
【００５９】
［給送トレイ２０］
図１に示されるように、プリンタ部１１は、正面に開口１３を備える。給送トレイ２０が、開口１３から前後方向８に挿抜可能である。給送トレイ２０は、各種サイズのシート１２を支持可能である。
【００６０】
図３に示されるように、給送トレイ２０は、上方が開放された箱形状である。給送トレイ２０は底板３２を備える。底板３２は、Ａ４サイズやＢ５サイズやリーガルサイズや葉書サイズなどの複数の定型サイズのシート１２を支持可能である。底板３２には、種々の定型サイズのシート１２の左右方向９の一方側端部（図３では左端部）の位置を示す目印が付されている。図３には、目印の一例として、「Ａ４」、「Ｂ５」の２種類が図示されているが、これらに限定されない。
【００６１】
［排出トレイ２１］
図１に示されるように、排出トレイ２１は、給送トレイ２０の上方に位置している。排出トレイ２１は、記録ヘッド３９によって印刷されて排出されたシート１２を支持する。
【００６２】
［位置決め部９０］
図３に示されるように、位置決め部９０が、底板３２に配置されている。位置決め部９０は、底板３２が支持するシート１２の左右方向９の両端を位置決めする。位置決め部９０は、底板３２が支持する種々の定型サイズのシート１２を中央合わせにより位置決めする。中央合わせとは、シート１２の左右方向９における中央を底板３２の左右方向９における中央に一致させる位置合わせを意味する。
【００６３】
位置決め部９０は、一対のガイド部材９１、９２と、ピニオンギヤ９３とを備える。一対のガイド部材９１、９２は、左右方向９に対向して配置されている。一対のガイド部材９１、９２は、左右方向９へスライド可能に、底板３２によって支持されている。ピニオンギヤ９３は、一対のガイド部材９１、９２を連動して移動させる。ピニオンギヤ９３は、底板３２の左右方向９における中央部に、中心軸線を上下方向７に沿わせて配置されている。
【００６４】
ユーザは、底板３２におけるガイド部材９１、９２の間にシート１２を配置する。次に、ユーザは、ガイド部材９１、９２の一方をシート１２の右端または左端に接するように移動させる。ガイド部材９１、９２の他方は、ピニオンギヤ９３を介してガイド部材９１、９２の一方の移動に連動して。シート１２の左端または右端に接するように移動する。これにより、ガイド部材９１がシート１２の右端に当接し、ガイド部材９２がシート１２の左端に当接する。このようにして、底板３２に支持された種々の定型サイズのシート１２は、位置決め部９０により中央合わせによって左右方向９に位置決めされる。
【００６５】
［給送部１５］
図２に示されるように、給送部１５は、プリンタ部１１に挿入された状態の給送トレイ２０の底板３２の上方に配置されている。給送部１５は、給送ローラ２５と、給送アーム２６と、軸２７とを備える。
【００６６】
給送ローラ２５は、給送アーム２６の先端部に回転可能に支持されている。給送ローラ２５は、給送用モータ１０１（図６参照）から駆動力を付与されて回転する。なお、給送ローラ２５は、後述する搬送用モータ１０２から駆動力を付与されて回転してもよい。
【００６７】
給送アーム２６の基端部は、軸２７に回動可能に支持されている。軸２７は、プリンタ部１１のフレーム（不図示）に支持されている。給送アーム２６は、自重またはバネ等による弾性力によって底板３２へ向けて回動付勢されている。給送ローラ２５は、底板３２に支持されたシート１２に当接した状態で回転することによって、底板３２に支持されたシート１２をピックアップして搬送路６５に給送する。
【００６８】
［搬送路６５］
図２に示されるように、搬送路６５は、プリンタ部１１の内部において、所定間隔で対向する外側ガイド部材１８及び内側ガイド部材１９によって区画される空間を指す。搬送路６５は、給送トレイ２０の後端部を基点として後方へ延び、プリンタ部１１の後部において下方から上方に延びつつＵターンし、記録ヘッド３９を経て排出トレイ２１に至る通路である。搬送路６５は、搬送ローラ対５４による挟持位置、記録ヘッド３９及びプラテン４２の間、及び排出ローラ対５５による挟持位置を経て排出トレイ２１へ通じている。なお、搬送路６５内におけるシート１２の搬送向き１６は、図２において一点鎖線の矢印で示されている。
【００６９】
［搬送ローラ対５４及び排出ローラ対５５］
図２に示されるように、搬送ローラ対５４は、搬送路６５に配置されている。搬送ローラ対５４は、搬送ローラ６０とピンチローラ６１とを備える。排出ローラ対５５は、搬送路６５における搬送ローラ対５４より搬送向き１６の下流に配置されている。排出ローラ対５５は、排出ローラ６２と拍車６３とを備える。
【００７０】
搬送ローラ６０及びピンチローラ６１は、相互に当接している。排出ローラ６２及び拍車６３は、相互に当接している。搬送ローラ６０及び排出ローラ６２は、搬送用モータ１０２（図６参照）から駆動力が伝達されて回転する。これにより、搬送ローラ対５４及び排出ローラ対５５は、シート１２を挟持して搬送向き１６に搬送する。
【００７１】
［記録ヘッド３９及びキャリッジ２３］
図２に示されるように、記録ヘッド３９は、搬送路６５における搬送ローラ対５４及び排出ローラ対５５の間に配置されている。記録ヘッド３９は、搬送路６５の上方において、プラテン４２と対向する位置に配置されている。記録ヘッド３９は、キャリッジ２３に搭載されている。キャリッジ２３は、搬送向き１６と直交する走査方向（左右方向９）に往復移動する。
【００７２】
キャリッジ２３は、プラテン４２の前後方向８に間隔を空けて配置されたガイドレール（不図示）によって支持されている。ガイドレールの少なくとも一方には、公知のベルト機構（不図示）が設けられている。キャリッジ２３は、ベルト機構と連結されている。ベルト機構はキャリッジ駆動用モータ１０３（図６参照）により駆動される。これにより、キャリッジ２３は、左右方向９に往復移動する。
【００７３】
記録ヘッド３９の下面（プラテン４２に対向する面）には、複数のノズル４０が形成されている。記録ヘッド３９には、インクカートリッジやインクタンク（不図示）からインクが供給される。記録ヘッド３９は、ノズル４０からインクを微小なインク滴として吐出する。キャリッジ２３が左右方向９へ往復移動しているときに、ノズル４０からプラテン４２へ向けてインク滴が吐出される。これにより、プラテン４２に支持されているシート１２にインク滴が着弾し、シート１２に印刷される。
【００７４】
［プラテン４２］
図２に示されるように、プラテン４２は、搬送路６５における搬送ローラ対５４及び排出ローラ対５５の間に配置されている。プラテン４２は、上下方向７において記録ヘッド３９及びキャリッジ２３に対向して配置されている。
【００７５】
図４及び図５に示されるように、プラテン４２の上面には、上方へ突出した複数のリブ６６が形成されている。各リブ６６は、少なくとも記録ヘッド３９のノズル４０（図２参照）と対向する領域において、前後方向８に延びている。各リブ６６がノズル４０と対向し得る領域は、図５において、前後方向８の符号Ｓ１と左右方向９の符号Ｓ２で示された範囲の領域である。各リブ６６は、左右方向９において、相互に間隔を空けて配置されている。搬送路６５を搬送されるシート１２は、プラテン４２によって、詳細にはプラテン４２に形成された複数のリブ６６によって支持される。
【００７６】
プラテン４２の上面は、第１領域１５１と第２領域１５２と第３領域１５３とを備えている。
【００７７】
図５に示されるように、第１領域１５１は、前後方向８の符号Ｓ３と左右方向９の符号Ｓ４とで示された範囲の領域である。第１領域１５１は、前後方向８及び左右方向９に延びる平面で構成されている。
【００７８】
第２領域１５２は、前後方向８の符号Ｓ５と左右方向９の符号Ｓ２とで示された範囲、及び前後方向８の符号Ｓ３と左右方向９の符号Ｓ６とで示された範囲の領域である。
【００７９】
図４に示されるように、第２領域１５２には、左右方向９に対して傾斜した傾斜面１５４と、スリット１５５とが形成されている。
【００８０】
傾斜面１５４は、右方へ向かうにしたがって下方へ向かうように左右方向９に対して傾斜した第１傾斜面１５４Ａと、左方へ向かうにしたがって下方へ向かうように左右方向９に対して傾斜した第２傾斜面１５４Ｂとを備えている。第１傾斜面１５４Ａと第２傾斜面１５４Ｂとは、前後方向８に沿って交互に形成されている。スリット１５５は、左右方向９に間隔を空けて複数形成されている。各スリット１５５は、前後方向８に延びている。
【００８１】
図５に示されるように、第２領域１５２のうち、前後方向８の符号Ｓ５と左右方向９の符号Ｓ２で示された範囲の領域は、プラテン４２に支持されたシート１２に対して、シート１２に余白を設けずに印刷する縁なし印刷が実行されるときに、シート１２の前端（シート１２の搬送向き１６の下流端）が位置する領域である。
【００８２】
また、第２領域１５２のうち、前後方向８の符号Ｓ１と左右方向９の符号Ｓ６とで示された範囲の領域は、プラテン４２に支持されたシート１２に対して縁なし印刷が実行されるときに、シート１２の側端（シート１２の右端及び左端）が位置する領域である。ここで、第２領域１５２のうち、前後方向８の符号Ｓ１と左右方向９の符号Ｓ６とで示された範囲の領域は、給送トレイ２０及びプラテン４２に支持可能に設定されている種々の定型サイズに応じて複数箇所（図４及び図５では４箇所だがこれに限らない。）に設けられている。
【００８３】
縁なし印刷が実行されると、記録ヘッド３９から吐出されたインクは、プラテン４２の第２領域１５２に着弾する。第２領域１５２に着弾したインクは、傾斜面１５４（図４参照）に沿ってスリット１５５（図４参照）へ向けて流通して、スリット１５５を通過してプラテン４２の下方へ到達する。プラテン４２の下方には、多孔材料からなるインク吸収部材（不図示）が配置されており、プラテン４２の下方へ到達したインクは、インク吸収部材に吸収される。
【００８４】
図５に示されるように、第３領域１５３（反射部の一例）は、前後方向８の符号Ｓ１で示された範囲よりも後方（搬送向き１６の上流）の範囲であって、左右方向９における符号Ｓ６で示された範囲よりもプラテン４２の左右方向９の中央側の範囲の領域である。実施形態１において、第３領域１５３は、図５に示される前後方向８の符号Ｓ７と左右方向９の符号Ｓ８とで示された範囲の領域である。
【００８５】
第３領域１５３は、前後方向８の符号Ｓ１で示された範囲（ノズル４０と上下方向７に対向する範囲）より後方の領域である。また、第３領域１５３は、第２領域１５２のうち、左右方向９の符号Ｓ６で示された範囲よりもプラテン４２の左右方向９の中央側の領域である。つまり、第３領域１５３は、プラテン４２の上面のうち、給送トレイ２０及びプラテン４２に支持可能に設定されている種々の定型サイズのシート１２のうちの最小サイズのシート１２がプラテン４２に支持されたときに当該最小サイズのシート１２の下方に位置する領域である。
【００８６】
第３領域１５３は、第１領域１５１と同構成の水平面１５３Ａ（第１面の一例）と、第２領域１５２の傾斜面１５４と同構成の傾斜面１５３Ｂ（第２面の一例）とを備えている。図４及び図５の構成では、第３領域１５３の左部に水平面１５３Ａが形成されており、第３領域１５３の右部に傾斜面１５３Ｂが形成されているが、水平面１５３Ａ及び傾斜面１５３Ｂの形成位置は、図４及び図５に示された位置に限らない。
【００８７】
［リニアエンコーダ５０］
キャリッジ２３を支持するガイドレールには、エンコーダストリップ（不図示）が配設されている。エンコーダストリップは、透明な樹脂からなる帯状のものである。エンコーダストリップは、左右方向９に架設されている。
【００８８】
エンコーダストリップには、光を透過させる透光部と光を遮断する遮光部とが、長手方向に等ピッチで交互に配置されたパターンが記されている。キャリッジ２３におけるエンコーダストリップに対応する位置には、透過型センサである光学センサ５１（図６参照）が設けられている。エンコーダストリップと光学センサ５１とによって、キャリッジ２３の位置を検知するためのリニアエンコーダ５０が構成される。光学センサ５１によって検知された信号は、コントローラ１３０（図６参照）に出力される。
【００８９】
［センサ１１０］
図２に示されるように、搬送路６５を搬送されるシート１２を検知するために用いられるセンサ１１０が、キャリッジ２３に搭載されている。センサ１１０は、キャリッジ２３の下面において、ノズル４０よりも搬送向き１６の上流に配置されている。センサ１１０は、前後方向８において、プラテン４２の上面の符号Ｓ７で示された範囲と上下方向７に対向する位置に配置されている。つまり、キャリッジ２３が移動することによって、センサ１１０は、プラテン４２の第３領域の水平面１５３Ａ及び傾斜面１５３Ｂと対向可能である。センサ１１０が水平面１５３Ａと対向するときのキャリッジ２３の位置が第１位置である。センサ１１０が傾斜面１５３Ｂと対向するときのキャリッジ２３の位置が第２位置である。すなわち、キャリッジ２３は、第１位置及び第２位置に移動可能である。
【００９０】
センサ１１０は、発光ダイオードなどからなる発光部１１１（図６参照）と、光学式センサなどからなる受光部１１２（図６参照）とを備えている。発光部１１１は、コントローラ１３０（図６参照）から受信した電気信号のレベルに応じた光量で、プラテン４２へ向けて光を出射する。出射された光は、プラテン４２またはプラテン４２に支持されたシート１２において反射する。反射された光は受光部１１２で受光される。センサ１１０は、受光部１１２における反射光の受光量に応じた電気信号を、コントローラ１３０へ出力する。例えば、センサ１１０は、受光量が大きい程、レベルの高い電気信号をコントローラ１３０へ出力する。
【００９１】
本実施形態において、プラテン４２が黒色または黒色に近い暗い色であり、シート１２が白色または白色に近い明るい色である。そのため、発光部１１１から出射された光がプラテン４２において反射した場合、受光部１１２における反射光の受光量は小さくなるため、センサ１１０からコントローラ１３０へ出力される電気信号のレベルは低くなる。一方、発光部１１１から出射された光がプラテン４２に支持されたシート１２おいて反射した場合、受光部１１２における反射光の受光量は大きくなるため、センサ１１０からコントローラ１３０へ出力される電気信号のレベルは高くなる。
【００９２】
［コントローラ１３０及びメモリ１４０］
以下、図６が参照されて、コントローラ１３０及びメモリ１４０の構成が説明される。コントローラ１３０が、後述するフローチャート（図７、図１０〜図１２参照）に従って、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御を行うことによって、本発明が実現される。
【００９３】
図６に示されるように、コントローラ１３０は、ＣＰＵ１３１及びＡＳＩＣ１３５を備えている。メモリ１４０は、ＲＯＭ１３２、ＲＡＭ１３３、及びＥＥＰＲＯＭ１３４を備えている。ＣＰＵ１３１、ＡＳＩＣ１３５、ＲＯＭ１３２、ＲＡＭ１３３、及びＥＥＰＲＯＭ１３４は、内部バス１３７によって接続されている。
【００９４】
ＲＯＭ１３２には、ＣＰＵ１３１が各種動作を制御するためのプログラムなどが格納されている。ＲＡＭ１３３は、ＣＰＵ１３１が上記プログラムを実行する際に用いるデータや信号等を一時的に記録する記憶領域、或いはデータ処理の作業領域として使用される。ＥＥＰＲＯＭ１３４には、電源オフ後も保持すべき設定やフラグ等が格納される。
【００９５】
ＥＥＰＲＯＭ１３４には、コントローラ１３０によって第１値及び第２値が記憶されている。
【００９６】
第１値は、以下のようにして予め設定された基準値である。工場出荷前の複合機１０（つまり、筐体１４の内部に異物が殆ど堆積されていない複合機１０）において、コントローラ１３０が、キャリッジ２３を第１位置へ移動させる。その後、コントローラ１３０は、所定レベルの電気信号をセンサ１１０へ出力することによって、センサ１１０の発光部１１１からプラテン４２の第３領域１５３の水平面１５３Ａへ所定の光量ＬＡ１（第１光量の一例）の光を出射させる。当該出射に対して、センサ１１０からコントローラ１３０へ電気信号が出力される。当該電気信号を受信したコントローラ１３０は、当該電気信号のレベルの値を第１値としてＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する。
【００９７】
第２値は、以下のようにして予め設定された基準値である。工場出荷前の複合機１０において、コントローラ１３０が、キャリッジ２３を第２位置へ移動させる。その後、コントローラ１３０は、所定レベルの電気信号をセンサ１１０へ出力することによって、センサ１１０の発光部１１１からプラテン４２の第３領域１５３の傾斜面１５３Ｂへ所定の光量ＬＡ２（第２光量の一例）の光を出射させる。当該出射に対して、センサ１１０からコントローラ１３０へ電気信号が出力される。当該電気信号を受信したコントローラ１３０は、当該電気信号のレベルの値を第２値としてＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する。なお、光量ＬＡ２は、光量ＬＡ１と同一量であってもよいし異なる量であってもよい。
【００９８】
なお、第１値及び第２値は、工場出荷前の複合機１０において取得されてＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されるものに限らず、工場出荷後の複合機１０において取得されてＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されてもよい。但し、第１値及び第２値が工場出荷後の複合機１０において取得される場合、水平面１５３Ａ及び傾斜面１５３Ｂに異物が堆積されていない時期に上記取得が実行されることは望ましい。しかしながら、水平面１５３Ａ及び傾斜面１５３Ｂに既に異物が堆積した後に第１値及び第２値が取得される場合、当該異物がプラテン４２上から取り除かれた上で上記取得が実行されることが望ましい。
【００９９】
また、第１値及び第２値は、実際に複合機１０においてセンサ１１０に光を出射させて取得するものに限らず、例えば実験などに基づいて予め設定された所定値であってもよい。
【０１００】
また、第１値及び第２値が記憶されるのは、ＥＥＰＲＯＭ１３４に限らず、例えばＲＯＭ１３２であってもよい。
【０１０１】
また、ＥＥＰＲＯＭ１３４には、フラグが記憶されている。フラグは、「０」（第５値の一例）または「１」（第６値の一例）の値に予め設定される。実施形態１において、コントローラ１３０は、筐体１４の内部空間３０（特にプラテン４２上）に異物が堆積されていないか、またはほぼ堆積されていないと判定した場合に、フラグの値を「０」とし、筐体１４の内部空間３０（特にプラテン４２上）に異物がある程度堆積されていると判定した場合に、フラグの値を「１」とする。
【０１０２】
ＡＳＩＣ１３５には、給送用モータ１０１、搬送用モータ１０２、及びキャリッジ駆動用モータ１０３が接続されている。ＡＳＩＣ１３５には、各モータを制御する駆動回路が組み込まれている。ＣＰＵ１３１は、各モータを回転させるための駆動信号を各モータに対応する駆動回路（不図示）に出力する。駆動回路は、ＣＰＵ１３１から取得した駆動信号に応じた駆動電流を対応するモータへ出力する。これにより、対応するモータが回転する。つまり、コントローラ１３０は、給送用モータ１０１を制御して、給送部１５にシート１２を給送させる。また、コントローラ１３０は、搬送用モータ１０２を制御して、搬送ローラ対５４及び排出ローラ対５５にシート１２を搬送させる。また、コントローラ１３０は、キャリッジ駆動用モータ１０３を制御して、キャリッジ２３を移動させる。
【０１０３】
また、ＡＳＩＣ１３５には、センサ１１０が接続されている。コントローラ１３０は、様々なレベルの電気信号である入力信号を、ＡＳＩＣ１３５を通じてセンサ１１０へ出力する。発光部１１１は、コントローラ１３０が出力してセンサ１１０へ入力された入力信号のレベルに応じた光量の光を下方へ向けて出射する。受光部１１２は、発光部１１１から出射された光のプラテン４２またはシート１２における反射光を受光する。センサ１１０は、受光部１１２で受光された反射光の受光量に応じたレベルの電気信号である出力信号をコントローラ１３０へ出力する。コントローラ１３０は、センサ１１０から取得した出力信号のレベルに基づいて、反射光の受光量を認識する。
【０１０４】
コントローラ１３０は、センサ１１０の発光部１１１からプラテン４２におけるシート１２を支持可能な領域へ向けて光を出射させたときに、センサ１１０の出力信号のレベルが所定の閾値（以下、シート閾値と称する。）より大きい場合に当該領域にシート１２が支持されていると判定し、センサの出力信号のレベルがシート閾値より小さい場合に当該領域にシート１２が支持されていないと判定する。
【０１０５】
また、ＡＳＩＣ１３５には、リニアエンコーダ５０の光学センサ５１が接続されている。ＣＰＵ１３１は、光学センサ５１からの検知信号に基づいてキャリッジ２３の位置を判定する。
【０１０６】
［筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御］
上述のように構成された複合機１０では、コントローラ１３０によって、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御が実行される。以下、当該判定制御の処理が、図７を参照しつつ説明される。なお、初期状態において、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されているフラグには、筐体１４の内部空間３０に異物が堆積されていないか、またはほぼ堆積されていないことを意味する「０」が設定されている。以下、筐体１４の内部空間３０に異物が堆積されていないか、またはほぼ堆積されていない状態を「筐体１４の内部空間３０に異物が殆ど堆積されていない」状態であると記載する。
【０１０７】
実施形態１において、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御は、前回の当該判定制御の実行から所定の期間、例えば、１ヶ月を経過すると実行される。例えば、コントローラ１３０は、内蔵のタイマに基づいて、前回の当該判定制御の実行から１ヶ月を経過しているか否かを判定する。前回の当該判定制御の実行から１ヶ月が経過した時点で複合機１０の電源がオンである場合、今回の当該判定制御は、前回の当該判定制御の実行から１ヶ月が経過した時点で実行される。一方、前回の当該判定制御の実行から１ヶ月が経過した時点で複合機１０の電源がオフである場合、複合機１０の電源がオンとなったときに今回の当該判定制御が実行される。つまり、この場合、今回の当該判定制御は、前回の当該判定制御の実行から１ヶ月より多く経過した時点で実行されることになる。
【０１０８】
なお、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御が実行されるタイミングは、前回の当該判定制御の実行から１ヶ月以上経過した時点に限らない。例えば、当該タイミングは、前回の当該判定制御の実行から２ヶ月や半年が経過した時点でもよいし、１ヶ月よりも短い期間が経過した時点でもよい。また、当該タイミングは、外部機器などからシート１２への印刷指示がコントローラ１３０へ送られたタイミングでもよい。つまり、印刷指示がコントローラ１３０へ送られる度に、当該判定制御が実行されてもよい。
【０１０９】
コントローラ１３０は、内蔵のタイマに基づいて、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御が実行されてから所定の期間、例えば１ヶ月が経過していると判定すると（Ｓ１０：Ｙｅｓ）、キャリッジ駆動用モータ１０３を駆動して、キャリッジ２３を第１位置へ移動させる（Ｓ２０）。なお、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の前回の判定制御が実行されてからまだ１ヶ月が経過していない場合（Ｓ１０：Ｎｏ）、当該判定制御は実行されない。
【０１１０】
次に、コントローラ１３０は、所定レベルの電気信号をセンサ１１０へ出力することによって、センサ１１０の発光部１１１からプラテン４２の第３領域１５３の水平面１５３Ａへ、光量ＬＡ１の光を出射させる（Ｓ３０）。当該光は、水平面１５３Ａにおいて反射する。
【０１１１】
ここで、発光部１１１からの光の出射向きは、下向きである。また、水平面１５３Ａは前後方向８及び左右方向９に拡がる面である。よって、図８に示されるように、発光部１１１から出射された光の光路１１３（所定光路の一例）と、水平面１５３Ａとがなす角θ１は、９０度である。換言すると、光路１１３と水平面１５３Ａとは、９０度で交差している。
【０１１２】
図８（Ａ）に示されるように、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合、発光部１１１から出射された光の多くは、水平面１５３Ａで反射されて、光路１１４に沿って受光部１１２へ到達する。光路１１４の方向が所定方向の一例である。また、発光部１１１から出射された光の一部は、破線の矢印で模式的に示すように乱反射するため、受光部１１２へ到達しない。
【０１１３】
一方、図８（Ｂ）に示されるように、水平面１５３Ａに異物が堆積している場合、異物によって発光部１１１から出射された光の乱反射が激しくなる。なお、乱反射が激しくなったことは、図８（Ｂ）における破線矢印の数が、図８（Ａ）における破線矢印の数より多いことで示されている。光路１１３に沿って進む光が水平面１５３Ａ上の異物によって乱反射することで、光路１１４に沿って進む光の光量が少なくなる。これにより、受光部１１２へ到達しない光の光量が多くなる。換言すると、光路１１４に沿って受光部１１２へ到達する光の光量は、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合よりも少なくなる。
【０１１４】
センサ１１０は、受光部１１２における反射光の受光量に応じた電気信号を、コントローラ１３０へ出力する。当該電気信号を受信したコントローラ１３０は、当該電気信号のレベルの値を第３値として、ＲＡＭ１３３またはＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する。つまり、コントローラ１３０は、第３値を取得する（Ｓ４０）。
【０１１５】
図１３に、発光部１１１が出射した光の光量に対して、当該光の反射光に応じてセンサ１１０がコントローラ１３０へ出力した電気信号（出力信号）のレベルの特性が描かれている。図１３において、特性１６１は、異物が殆ど堆積していない水平面１５３Ａに発光部１１１から光が出射された場合の特性である。また、特性１６２は、異物が堆積している水平面１５３Ａに発光部１１１から光が出射された場合の特性である。検知に用いられる光量の範囲（実用範囲Ｒ）において、特性１６２の出力信号のレベルは、特性１６１の出力信号のレベルより低くなっている。つまり、水平面１５３Ａに異物が堆積することによって、受光部１１２へ到達する反射光の光量が少なくなるため、センサ１１０の出力信号のレベルが低くなっている。
【０１１６】
次に、コントローラ１３０は、キャリッジ駆動用モータ１０３を駆動して、キャリッジ２３を第２位置へ移動させる（Ｓ５０）。
【０１１７】
次に、コントローラ１３０は、所定レベルの電気信号をセンサ１１０へ出力することによって、センサ１１０の発光部１１１からプラテン４２の第３領域１５３の傾斜面１５３Ｂへ、光量ＬＡ２の光を出射させる（Ｓ６０）。当該光は、傾斜面１５３Ｂにおいて反射する。
【０１１８】
ここで、上述したように、発光部１１１からの光の出射向きは、下向きである。また、傾斜面１５３Ｂは、左右方向９に対して傾斜した面である。よって、図９に示されるように、発光部１１１から出射された光の光路１１３と、傾斜面１５３Ｂとがなす角θ２は、鋭角である。
【０１１９】
図９（Ａ）に示されるように、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合、発光部１１１から出射された光の多くは、傾斜面１５３Ｂで反射されて、光路１１５に沿って受光部１１２から離れる向きへ進む。つまり、傾斜面１５３Ｂは、発光部１１１から出射される光路１１３の光を光路１１４の方向よりも受光部１１２から離れる方向に反射する。そのため、発光部１１１から出射された光の多くは、受光部１１２へ到達しない。また、発光部１１１から出射された光の一部は、破線の矢印で模式的に示すように乱反射することによって、受光部１１２へ到達する。
【０１２０】
一方、図９（Ｂ）に示されるように、傾斜面１５３Ｂに異物が堆積している場合、異物によって発光部１１１から出射された光の乱反射が激しくなる。なお、乱反射が激しくなったことは、図９（Ｂ）における破線矢印の数が、図９（Ａ）における破線矢印の数より多いことで示されている。光路１１３に沿って進む光が傾斜面１５３Ｂ上の異物によって乱反射することで、光路１１５に沿って進む光の光量が少なくなる。一方で、乱反射する光が増えることで、受光部１１２へ到達する光の光量が多くなる。換言すると、図９（Ｂ）における破線矢印に沿って受光部１１２へ到達する光の光量は、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合よりも多くなる。
【０１２１】
センサ１１０は、受光部１１２における反射光の受光量に応じた電気信号を、コントローラ１３０へ出力する。当該電気信号を受信したコントローラ１３０は、当該電気信号のレベルの値を第４値として、ＲＡＭ１３３またはＥＥＯＲＯＭ１３４に記憶する。つまり、コントローラ１３０は、第４値を取得する（Ｓ７０）。
【０１２２】
図１３において、特性１６３は、異物が殆ど堆積していない傾斜面１５３Ｂに発光部１１１から光が出射された場合の特性である。また、特性１６４は、異物が堆積している傾斜面１５３Ｂに発光部１１１から光が出射された場合の特性である。実用範囲Ｒにおいて、特性１６３、１６４の出力信号のレベルは、特性１６１、１６２の出力信号のレベルより低くなっている。つまり、傾斜面１５３Ｂで反射した反射光の多くは、受光部１１２から離れる向きへ進むために、受光部１１２へ到達しないことが示されている。また、実用範囲Ｒにおいて、特性１６４の出力信号のレベルは、特性１６３の出力信号のレベルより高くなっている。つまり、傾斜面１５３Ｂに異物が堆積することによって、受光部１１２へ到達する反射光の光量が多くなるため、センサ１１０の出力信号のレベルが高くなっている。
【０１２３】
なお、ステップＳ５０〜Ｓ７０がステップＳ２０〜Ｓ４０より先に実行されてもよい。
【０１２４】
次に、コントローラ１３０は、ステップＳ４０において取得した第３値と、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されている第１値とを比較し（Ｓ８０）、ステップＳ６０において取得した第４値と、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されている第２値とを比較する（Ｓ９０）。
【０１２５】
コントローラ１３０は、第３値が第１値より小さく（Ｓ８０：Ｙｅｓ）、且つ、第４値が第２値より大きい（Ｓ９０：Ｙｅｓ）場合に、筐体１４の内部空間３０に異物が堆積されていると判定し、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されたフラグの値を「０」から「１」とする（Ｓ１００）。この場合、コントローラ１３０は、タッチパネル１７に、例えば「筐体の内部に異物が堆積されている」旨を表示することによって、当該旨を報知する（Ｓ１１０）。なお、当該報知は、タッチパネル１７へのメッセージの表示に限らない。例えば、音声によるメッセージやブザーなどによって、当該報知が実行されてもよい。
【０１２６】
一方、コントローラ１３０は、第３値が第１値より大きい（Ｓ８０：Ｎｏ）、または、第４値が第２値より小さい（Ｓ９０：Ｎｏ）場合に、筐体１４の内部空間３０に異物が殆ど堆積されていないと判定し、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されたフラグの値を「０」に維持する（Ｓ１２０）。
【０１２７】
上記において、図８を参照しつつ説明したように、水平面１５３Ａに異物が堆積している場合に受光部１１２へ到達する光の光量は、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合よりも少なくなる。そのため、水平面１５３Ａに異物が堆積している場合の第３値は、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合の第３値（または水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない状態で取得された第１値）より小さくなる。
【０１２８】
また、上記において、図９を参照しつつ説明したように、傾斜面１５３Ｂに異物が堆積している場合に受光部１１２へ到達する光の光量は、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合よりも多くなる。そのため、傾斜面１５３Ｂに異物が堆積している場合の第４値は、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合の第４値（または傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない状態で取得された第２値）より大きくなる。
【０１２９】
よって、コントローラ１３０は、第３値が第１値より小さく（Ｓ８０：Ｙｅｓ）、且つ、第４値が第２値より大きい（Ｓ９０：Ｙｅｓ）場合に、筐体１４の内部空間３０に異物が堆積されていると判定する。
【０１３０】
なお、ステップＳ８０、Ｓ９０は並行して実行されてもよいし、ステップＳ９０がステップＳ８０より先に実行されてもよい。
【０１３１】
また、ステップＳ８０において「Ｙｅｓ」の判定となる場合に、第３値と第１値が等しい場合を含めてもよい。また、ステップＳ９０において「Ｙｅｓ」の判定となる場合に、第４値と第２値が等しい場合を含めてもよい。これは、後述する実施形態２、３や変形例でも同様である。
【０１３２】
また、コントローラ１３０は、第３値が第１値より大きく、且つ、第４値が第２値より大きい場合に、第１値及び第２値の取得時よりも複合機１０の電源電圧が上昇したことなどの理由によって、センサ１１０の発光部１１１から出射される光の光量が想定より大きくなっていると判定してもよい。
【０１３３】
図１４において、特性１６５は、複合機１０の電源電圧が上昇した複合機１０において、異物が殆ど堆積していない水平面１５３Ａに発光部１１１から光が出射された場合の特性である。また、特性１６６は、複合機１０の電源電圧が上昇した複合機１０において、異物が殆ど堆積していない傾斜面１５３Ｂに発光部１１１から光が出射された場合の特性である。複合機１０の電源電圧が上昇しているため、実用範囲Ｒにおいて、特性１６５の出力信号のレベルは、特性１６１の出力信号のレベルより高くなっており、特性１６６の出力信号のレベルは、特性１６３の出力信号のレベルより高くなっている。
【０１３４】
また、コントローラ１３０は、第３値が第１値より小さく、且つ、第４値が第２値より小さい場合に、第１値及び第２値の取得時よりも複合機１０の電源電圧が降下したことなどの理由によって、センサ１１０の発光部１１１から出射される光の光量が想定より小さくなっていると判定してもよい。
【０１３５】
図１４において、特性１６７は、複合機１０の電源電圧が降下した複合機１０において、異物が殆ど堆積していない水平面１５３Ａに発光部１１１から光が出射された場合の特性である。また、特性１６８は、複合機１０の電源電圧が降下した複合機１０において、異物が殆ど堆積していない傾斜面１５３Ｂに発光部１１１から光が出射された場合の特性である。複合機１０の電源電圧が降下しているため、実用範囲Ｒにおいて、特性１６７の出力信号のレベルは、特性１６１の出力信号のレベルより低くなっており、特性１６８の出力信号のレベルは、特性１６３の出力信号のレベルより低くなっている。
【０１３６】
上記のように、異物堆積状態の判定制御において、電源電圧の上昇や降下が判定されることにより、センサ１１０の経時劣化の判定も行うことができる。これにより、コントローラ１３０は、センサ１１０の経時劣化の判定のための専用の処理を実行する必要がなくなる。
【０１３７】
また、コントローラ１３０は、第３値が第１値より大きく、且つ、第４値が第２値より小さい場合に、第１値及び第２値の取得時においてプラテン４２に異常があったと判定してもよい。
【０１３８】
なお、上記のような種々の判定が行われた場合、コントローラ１３０は、フラグに「０」「１」の２種類よりも多い種類の値を選択的に設定する必要がある。この場合、コントローラ１３０は、例えば３ビット以上の値でフラグの各種類を示すようにすればよい。例えば、コントローラ１３０は、筐体１４の内部空間３０（特にプラテン４２上）に異物が堆積されていないか、またはほぼ堆積されていないと判定した場合に、フラグの値を「００１」とし、筐体１４の内部空間３０（特にプラテン４２上）に異物がある程度堆積されていると判定した場合に、フラグの値を「０１０」とし、複合機１０の電源電圧が上昇したと判定した場合、フラグの値を「０１１」とし、複合機１０の電源電圧が降下したと判定した場合、フラグの値を「１００」とし、プラテン４２に異常があったと判定した場合、フラグの値を「１０１」とする。
【０１３９】
［フラグの値に応じたコントローラ１３０によるシート１２への印刷制御］
コントローラ１３０はシート１２への印刷を実行するにあたり、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されたフラグを参照する。そして、フラグの値に応じて、設定や処理を変更する。
【０１４０】
例えば、フラグに「１」が設定されている場合、コントローラ１３０は、プラテン４２にシート１２が支持されているか否かの判定において、プラテン４２の上面に堆積された異物の影響を少なくすることができるように、シート閾値を変更する。
【０１４１】
また、例えば、フラグに「０」が設定されている場合、コントローラ１３０は、駆動電流値Ｉ１（第１電流値の一例）でキャリッジ駆動用モータ１０３を駆動して、キャリッジ２３を移動させつつ記録ヘッド３９によりシート１２に印刷を行う。一方、フラグに「１」が設定されている場合、コントローラ１３０は、駆動電流値Ｉ１よりも大きな駆動電流値Ｉ２（第２電流値の一例）で、キャリッジ駆動用モータ１０３を駆動して、キャリッジ２３を移動させつつ記録ヘッド３９によりシート１２に印刷を行う。これにより、キャリッジ２３やガイドレールへ堆積した異物によってキャリッジ２３の移動が阻害されることを低減できる。
【０１４２】
また、例えば、フラグに「１」が設定されている場合、コントローラ１３０は、各モータ１０１、１０２、１０３の同時駆動を抑制して、各モータ１０１、１０２、１０３を単独で駆動させる。これにより、各モータ１０１、１０２、１０３への駆動電流値を増加させることができる。その結果、異物の堆積によってモータの駆動に通常より大きな駆動電流値を要する場合であっても、各モータ１０１、１０２、１０３を駆動させることができる。
【０１４３】
また、例えば、フラグに「１」が設定されている場合、コントローラ１３０は、フラグに「０」が設定されている場合よりもキャリッジ２３を低速で移動させる。これにより、異物が堆積した状態でキャリッジ２３を高速で移動させることによって記録ヘッド３９が損傷するリスクを低下させることができる。
【０１４４】
上述したような設定や処理の変更は、フラグに「１」が設定されている場合に無条件で実行されてもよい。一方で、上述したような設定や処理の変更は、フラグに「１」が設定されている場合において所定の条件を満たしたときに実行されてもよい。例えば、フラグに「１」が設定されていても、通常の設定及び処理で印刷が実行され、当該印刷において異常（例えばキャリッジ２３が動かない。）が発生した場合に、上述したような設定や処理の変更が実行され、印刷がリトライされてもよい。
【０１４５】
［実施形態１の効果］
実施形態１によれば、水平面１５３Ａに異物が堆積している場合、センサ１１０から水平面１５３Ａに出射された光は水平面１５３Ａで乱反射する。そのため、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合と比べて、センサ１１０へ到達する光の量は減る。このとき、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合の出力信号の値（第１値）と比べて小さい第３値の出力信号が、センサ１１０から出力される。
【０１４６】
また、傾斜面１５３Ｂは、水平面１５３Ａより反射光がセンサ１１０から離れる向きに傾斜している。そのため、傾斜面１５３Ｂに光を出射した場合、水平面１５３Ａに光を出射した場合と比べて、センサ１１０へ到達する光の量は減る。よって、傾斜面１５３Ｂで反射された光の多くはセンサ１１０へ到達しない。
【０１４７】
傾斜面１５３Ｂに異物が堆積している場合、センサ１１０から傾斜面１５３Ｂに出射された光は傾斜面１５３Ｂで乱反射する。そのため、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合（傾斜面１５３Ｂで反射された光の多くはセンサ１１０へ到達しない場合）と比べて、センサ１１０へ到達する光の量は増える。このとき、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合の出力信号の値（第２値）と比べて大きい第４値の出力信号が、センサ１１０から出力される。
【０１４８】
実施形態１では、第３値が第１値より小さく（Ｓ８０：Ｙｅｓ）、且つ、第４値が第２値より大きい（Ｓ９０：Ｙｅｓ）ことに応じて、フラグの値をプラテン４２の第３領域１５３に異物が堆積している旨の値である「１」とする（Ｓ１００）。これにより、プラテン４２の第３領域１５３において異物が堆積していることを把握できる。
【０１４９】
また、実施形態１によれば、プラテン４２の第３領域１５３への異物の堆積を検知することによって、筐体１４の内部に設けられた他の部材、例えば記録ヘッド３９における異物の堆積状態を推定することができる。
【０１５０】
また、実施形態１では、第３値が第１値より大きい（Ｓ８０：Ｎｏ）、または、第４値が第２値より小さい（Ｓ９０：Ｎｏ）ことに応じて、フラグの値をプラテン４２の第３領域１５３に異物が堆積していない旨の値である「０」とする（Ｓ１２０）。これにより、プラテン４２の第３領域１５３において異物が堆積していないことを把握できる。
【０１５１】
また、実施形態１によれば、コントローラ１３０がセンサ１１０から水平面１５３Ａ及び傾斜面１５３Ｂに光を出射させることによって第１値及び第２値を取得するため、複合機１０が配置された周辺環境に応じた第１値及び第２値を取得することができる。
【０１５２】
また、実施形態１によれば、筐体１４に異物が堆積している旨を報知（Ｓ１１０）することができる。
【０１５３】
また、実施形態１によれば、シート１２へのインク滴の吐出時に記録ヘッド３９を走査方向へ移動させるためのキャリッジ２３を、センサ１１０を第１位置及び第２位置へ移動させるためのキャリッジに流用することができる。
【０１５４】
また、実施形態１によれば、筐体１４の内部に堆積した異物によってキャリッジ２３の移動に対して負荷がかかる状態であっても、キャリッジ２３に駆動伝達するキャリッジ駆動用モータ１０３を駆動電流値Ｉ２で駆動することによって、キャリッジ２３を適正に移動させることができる。
【０１５５】
また、実施形態１によれば、シート１２がプラテン４２に支持されているか否かや、プラテン４２に支持されたシート１２のサイズを検知するためのセンサを、プラテン４２の第３領域１５３への異物の堆積を検知するためのセンサ１１０に流用することができる。
【０１５６】
また、プラテン４２のうち、プラテン４２に支持可能に設定されている複数種類のサイズのシート１２のうちの最小サイズのシート１２がプラテン４２に支持されたときに当該最小サイズのシート１２の下方に位置する領域は、プラテン４２にいずれのサイズのシート１２が支持されている場合であっても、シート１２の下方に位置する。そのため、シート１２へインク滴が吐出される場合に、当該領域にインクが付着する可能性は低い。
【０１５７】
実施形態１によれば、上記領域にプラテン４２の第３領域１５３が設けられている。そのため、シート１２へインク滴が吐出される場合に、プラテン４２の第３領域１５３にインクが付着する可能性は低い。よって、プラテン４２の第３領域１５３に付着したインクを、複合機１０の外部から内部へ進入した異物がプラテン４２の第３領域１５３に堆積していると判定してしまう可能性を低くすることができる。
【０１５８】
［実施形態２］
実施形態１では、第１値、第２値、第３値、及び第４値は、センサ１１０がコントローラ１３０へ出力した電気信号（出力信号）のレベルの値であった。しかし、第１値、第２値、第３値、及び第４値は、コントローラ１３０がセンサ１１０へ出力した電気信号（入力信号）のレベルの値であってもよい。以下、実施形態２について、実施形態１と異なる構成及び処理が説明され、実施形態１と同一の構成及び処理についての説明は原則として省略され必要に応じて説明される。つまり、実施形態２について、説明が省略された構成及び処理は、実施形態１と同様である。
【０１５９】
実施形態２の場合、第１値は、例えば以下のようにして求めた値である。工場出荷前の複合機１０において、コントローラ１３０は、キャリッジ２３を第１位置へ移動させる。その後、コントローラ１３０は、電気信号をセンサ１１０へ出力することによって、センサ１１０の発光部１１１からプラテン４２の第３領域１５３の水平面１５３Ａへ光を出射させる。このとき、コントローラ１３０は、当該電気信号のレベルを小さい値（例えばゼロに近い値）から大きい値へ変化させつつセンサ１１０へ出力する。すると、当該出射に対して、センサ１１０からコントローラ１３０へ電気信号が出力される。このとき、当該電気信号のレベルは、小さい値から大きい値へ変化しつつ、コントローラ１３０へ入力される。当該電気信号を受信したコントローラ１３０は、受信した当該電気信号のレベルを予めＥＥＰＲＯＭ１３４またはＲＯＭ１３２に記憶された設定レベルと比較する。そして、コントローラ１３０は、当該電気信号のレベルが高くなっていくことによって設定レベルに達したときに、コントローラ１３０からセンサ１１０へ出力された電気信号のレベルの値を第１値としてＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する。つまり、コントローラ１３０は、設定レベルの出力信号を得るために必要な入力信号のレベルの値を、第１値としてＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する。
【０１６０】
また、実施形態２の場合、第２値は、例えば以下のようにして求めた値である。工場出荷前の複合機１０において、コントローラ１３０は、キャリッジ２３を第２位置へ移動させる。その後、コントローラ１３０は、電気信号をセンサ１１０へ出力することによって、センサ１１０の発光部１１１からプラテン４２の第３領域１５３の傾斜面１５３Ｂへ光を出射させる。このとき、コントローラ１３０は、当該電気信号のレベルを小さい値（例えばゼロに近い値）から大きい値へ変化させつつセンサ１１０へ出力する。すると、当該出射に対して、センサ１１０からコントローラ１３０へ電気信号が出力される。このとき、当該電気信号のレベルは、小さい値から大きい値へ変化しつつ、コントローラ１３０へ入力される。当該電気信号を受信したコントローラ１３０は、受信した当該電気信号のレベルを、予めＥＥＰＲＯＭ１３４またはＲＯＭ１３２に記憶された設定レベルと比較する。そして、コントローラ１３０は、受信した当該電気信号のレベルが高くなっていくことによって設定レベルに達したときに、コントローラ１３０からセンサ１１０へ出力された電気信号のレベルの値を第２値としてＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する。つまり、コントローラ１３０は、設定レベルの出力信号を得るために必要な入力信号のレベルの値を、第２値としてＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する。
【０１６１】
なお、上記の説明では、コントローラ１３０は、電気信号のレベルを小さい値から大きい値へ変化させつつセンサ１１０へ出力したが、これに限らない。例えば、コントローラ１３０は、上記とは逆に、電気信号のレベルを大きい値から小さい値へ変化させつつセンサ１１０へ出力してもよい。
【０１６２】
また、第１値及び第２値が工場出荷前の複合機１０において取得されるものに限らない点、第１値及び第２値が実験などに基づいて予め設定された所定値であってもよい点、第１値及び第２値が記憶されるのがＥＥＰＲＯＭ１３４に限らない点は、実施形態１と同様である。
【０１６３】
以下、実施形態２での、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御の処理が、図１０を参照しつつ説明される。なお、実施形態１での、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御の処理（図７に示された処理）と同一の処理についての説明は省略される。
【０１６４】
ステップＳ２１０、Ｓ２２０の処理は、それぞれステップＳ１０、Ｓ２０と同処理である。
【０１６５】
キャリッジ２３の第１位置への移動（Ｓ２２０）の後、コントローラ１３０は、所定レベルの電気信号をセンサ１１０へ出力する（Ｓ２３０）。所定レベルは、小さい値（例えばゼロに近い値）に設定される。所定レベルの電気信号を受信したセンサ１１０の発光部１１１は、プラテン４２の第３領域１５３の水平面１５３Ａへ光を出射する。当該光は、水平面１５３Ａにおいて反射して、反射光の少なくとも一部が受光部１１２へ到達する。センサ１１０は、受光部１１２へ到達した反射光の光量に応じたレベルの電気信号をコントローラ１３０へ出力する。
【０１６６】
コントローラ１３０は、センサ１１０から受信した電気信号のレベルを、上述した設定レベル（第１値及び第２値の設定時に用いたレベル）と比較する。当該電気信号のレベルが設定レベルと等しい場合（Ｓ２４０：Ｙｅｓ）、センサ１１０からコントローラ１３０への出力信号（当該電気信号）に対応するセンサ１１０への入力信号（コントローラ１３０からセンサ１１０へ出力された電気信号）のレベルを第３値としてＲＡＭ１３３またはＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する（Ｓ２６０）。
【０１６７】
一方、センサ１１０から受信した電気信号のレベルが設定レベルと異なる（本説明では当該電気信号のレベルが設定レベルより低い）場合（Ｓ２４０：Ｎｏ）、コントローラ１３０は、所定レベルを前回より高くした電気信号をセンサ１１０へ出力する（Ｓ２５０）。以下、センサ１１０から受信した電気信号のレベルが設定レベルに到達するまで（Ｓ２４０：Ｙｅｓ）、所定レベルを高くしつつ電気信号をセンサ１１０へ出力する（Ｓ２５０）。そして、センサ１１０から受信した電気信号のレベルが設定レベルに到達した場合（Ｓ２４０：Ｙｅｓ）、そのときのセンサ１１０からコントローラ１３０への出力信号（当該電気信号）に対応するセンサ１１０への入力信号（コントローラ１３０からセンサ１１０へ出力された電気信号）のレベルを第３値としてＲＡＭ１３３またはＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する（Ｓ２６０）。
【０１６８】
以上のようにして、コントローラ１３０は、設定レベルの出力信号を得るために必要な入力信号のレベルの値を、第３値として取得する（Ｓ２６０）。
【０１６９】
次に、コントローラ１３０は、実施形態１の図７のステップＳ５０と同様に、キャリッジ２３を第２位置へ移動させる（Ｓ２７０）。
【０１７０】
次に、コントローラ１３０は、所定レベルの電気信号をセンサ１１０へ出力する（Ｓ２８０）。所定レベルは、ステップＳ２３０のときと同様に小さい値（例えばゼロに近い値）に設定される。所定レベルの電気信号を受信したセンサ１１０の発光部１１１は、プラテン４２の第３領域１５３の傾斜面１５３Ｂへ光を出射する。当該光は、傾斜面１５３Ｂにおいて反射して、反射光の少なくとも一部が受光部１１２へ到達する。センサ１１０は、受光部１１２へ到達した反射光の光量に応じたレベルの電気信号をコントローラ１３０へ出力する。
【０１７１】
コントローラ１３０は、センサ１１０から受信した電気信号のレベルを、上述した設定レベルと比較する。当該電気信号のレベルが設定レベルと等しい場合（Ｓ２９０：Ｙｅｓ）、センサ１１０からコントローラ１３０への出力信号（当該電気信号）に対応するセンサ１１０への入力信号（コントローラ１３０からセンサ１１０へ出力された電気信号）のレベルを第４値としてＲＡＭ１３３またはＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する（Ｓ３１０）。
【０１７２】
一方、センサ１１０から受信した電気信号のレベルが設定レベルと異なる（本説明では当該電気信号のレベルが設定レベルより低い）場合（Ｓ２９０：Ｎｏ）、コントローラ１３０は、所定レベルを前回より高くした電気信号をセンサ１１０へ出力する（Ｓ３００）。以下、センサ１１０から受信した電気信号のレベルが設定レベルに到達するまで（Ｓ２９０：Ｙｅｓ）、所定レベルを高くしつつ電気信号をセンサ１１０へ出力する（Ｓ３００）。そして、センサ１１０から受信した電気信号のレベルが設定レベルに到達した場合（Ｓ２９０：Ｙｅｓ）、そのときのセンサ１１０からコントローラ１３０への出力信号（当該電気信号）に対応するセンサ１１０への入力信号（コントローラ１３０からセンサ１１０へ出力された電気信号）のレベルを第４値としてＲＡＭ１３３またはＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶する（Ｓ３１０）。
【０１７３】
以上のようにして、コントローラ１３０は、設定レベルの出力信号を得るために必要な入力信号のレベルの値を、第４値として取得する（Ｓ３１０）。
【０１７４】
なお、上記の説明では、コントローラ１３０は、電気信号のレベルを小さい値から大きい値へ変化させつつセンサ１１０へ出力したが、これに限らない。例えば、コントローラ１３０は、上記とは逆に、電気信号のレベルを大きい値から小さい値へ変化させつつセンサ１１０へ出力してもよい。
【０１７５】
また、ステップＳ２７０〜Ｓ３１０がステップＳ２２０〜Ｓ２６０より先に実行されてもよい。
【０１７６】
次に、コントローラ１３０は、ステップＳ２６０において取得した第３値と、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されている第１値とを比較し（Ｓ３２０）、ステップＳ３１０において取得した第４値と、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されている第２値とを比較する（Ｓ３３０）。
【０１７７】
コントローラ１３０は、第３値が第１値より大きく（Ｓ３２０：Ｙｅｓ）、且つ、第４値が第２値より小さい（Ｓ３３０：Ｙｅｓ）場合に、筐体１４の内部空間３０に異物が堆積されていると判定し、実施形態１の図７のステップＳ１００と同様に、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されたフラグの値を「０」から「１」とする（Ｓ３４０）。この場合、コントローラ１３０は、実施形態１の図７のステップＳ１１０と同様に、報知を実行する（Ｓ３６０）。
【０１７８】
一方、コントローラ１３０は、第３値が第１値より小さい（Ｓ３２０：Ｎｏ）、または、第４値が第２値より大きい（Ｓ３３０：Ｎｏ）場合に、筐体１４の内部空間３０に異物が殆ど堆積されていないと判定し、実施形態１の図７のステップＳ１２０と同様に、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されたフラグの値を「０」に維持する（Ｓ３５０）。
【０１７９】
実施形態１において図８を参照しつつ説明したように、水平面１５３Ａに異物が堆積している場合に受光部１１２へ到達する光の光量は、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合よりも少なくなる。そのため、水平面１５３Ａに異物が堆積している場合の第３値（設定レベルの出力信号を得るために必要な入力信号のレベルの値）は、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合の第３値（または水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない状態で取得された第１値）より大きくなる。
【０１８０】
また、実施形態１において図９を参照しつつ説明したように、傾斜面１５３Ｂに異物が堆積している場合に受光部１１２へ到達する光の光量は、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合よりも多くなる。そのため、傾斜面１５３Ｂに異物が堆積している場合の第４値（設定レベルの出力信号を得るために必要な入力信号のレベルの値）は、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合の第４値（または傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない状態で取得された第２値）より小さくなる。
【０１８１】
よって、コントローラ１３０は、第３値が第１値より大きく（Ｓ３２０：Ｙｅｓ）、且つ、第４値が第２値より小さい（Ｓ３３０：Ｙｅｓ）場合に、筐体１４の内部空間３０に異物が堆積されていると判定する。
【０１８２】
なお、ステップＳ３２０、Ｓ３３０は並行して実行されてもよいし、ステップＳ３３０がステップＳ３２０より先に実行されてもよい。
【０１８３】
また、コントローラ１３０は、第３値が第１値より小さく、且つ、第４値が第２値より小さい場合に、第１値及び第２値の取得時よりも複合機１０の電源電圧が上昇したことなどの理由によって、センサ１１０の発光部１１１から出射された光の光量が想定より大きいと判定してもよい。
【０１８４】
また、コントローラ１３０は、第３値が第１値より大きく、且つ、第４値が第２値より大きい場合に、第１値及び第２値の取得時よりも複合機１０の電源電圧が降下したことなどの理由によって、センサ１１０の発光部１１１から出射された光の光量が想定より小さいと判定してもよい。
【０１８５】
また、コントローラ１３０は、第３値が第１値より小さく、且つ、第４値が第２値より大きい場合に、第１値及び第２値の取得時においてプラテン４２に異常があったと判定してもよい。
【０１８６】
実施形態２によれば、水平面１５３Ａに異物が堆積している場合、センサ１１０から水平面１５３Ａに出射された光は水平面１５３Ａで乱反射する。そのため、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合と比べて、センサ１１０へ到達する光の量は減る。このとき、水平面１５３Ａに異物が殆ど堆積していない場合にセンサ１１０から所定の出力信号を得るための入力信号の第１値と比べて、センサ１１０から所定の出力信号を得るための入力信号の第３値は大きくなる。
【０１８７】
また、傾斜面１５３Ｂは、水平面１５３Ａより反射光がセンサ１１０から離れる向きに傾斜している。そのため、傾斜面１５３Ｂに光を出射した場合、水平面１５３Ａに光を出射した場合と比べて、センサ１１０へ到達する光の量は減る。よって、傾斜面１５３Ｂで反射された光の多くはセンサ１１０へ到達しない。
【０１８８】
傾斜面１５３Ｂに異物が堆積している場合、センサ１１０から傾斜面１５３Ｂに出射された光は傾斜面１５３Ｂで乱反射する。そのため、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合（傾斜面１５３Ｂで反射された光の多くはセンサ１１０へ到達しない場合）と比べて、センサ１１０へ到達する光の量は増える。このとき、傾斜面１５３Ｂに異物が殆ど堆積していない場合にセンサ１１０から所定の出力信号を得るための入力信号の第２値と比べて、センサ１１０から所定値の出力信号を得るための入力信号の第４値は小さくなる。
【０１８９】
実施形態２では、第３値が第１値より大きく（Ｓ３２０：Ｙｅｓ）、且つ、第４値が第２値より小さい（Ｓ３３０：Ｙｅｓ）ことに応じて、フラグの値をプラテン４２の第３領域１５３に異物が堆積している旨の値である「１」とする（Ｓ３４０）。これにより、プラテン４２の第３領域１５３において異物が堆積していることを把握できる。
【０１９０】
また、実施形態２によれば、プラテン４２の第３領域１５３への異物の堆積を検知することによって、筐体１４の内部に設けられた他の部材、例えば記録ヘッド３９における異物の堆積状態を推定することができる。
【０１９１】
また、実施形態２では、第３値が第１値より小さい（Ｓ３２０：Ｎｏ）、または、第４値が第２値より大きい（Ｓ３３０：Ｎｏ）ことに応じて、フラグの値をプラテン４２の第３領域１５３に異物が堆積していない旨の値である「０」とする（Ｓ３５０）。これにより、プラテン４２の第３領域１５３において異物が堆積していないことを把握できる。
【０１９２】
また、実施形態２によれば、実施形態１と同様に、複合機１０が配置された周辺環境に応じた第１値及び第２値を取得することができる。
【０１９３】
［実施形態３］
実施形態１、２では、フラグに「０」または「１」の２つの値が選択的に設定されていた。しかし、フラグには３つ以上の値が選択的に設定されてもよい。
【０１９４】
以下、実施形態３の一例として、フラグに「００」（第５値の一例）、「０１」（第６値の一例）、「１０」（第７値の一例）の３つの値が選択的に設定される実施形態が説明される。なお、以下では、実施形態１、２と異なる構成及び処理が説明され、実施形態１、２と同一の構成及び処理についての説明は原則として省略され必要に応じて説明される。つまり、実施形態３について、説明が省略された構成及び処理は、実施形態１、２と同様である。
【０１９５】
実施形態３において、コントローラ１３０は、筐体１４の内部空間３０に異物が殆ど堆積されていないと判定した場合に、フラグの値を「００」とし、筐体１４の内部空間３０に少量の異物が堆積されていると判定した場合に、フラグの値を「０１」とし、筐体１４の内部空間３０に多量の異物が堆積されていると判定した場合に、フラグの値を「１０」とする。
【０１９６】
また、実施形態３では、ＥＥＰＲＯＭ１３４またはＲＯＭ１３２に、閾値ＴＨが記憶されている。閾値ＴＨは、筐体１４の内部における異物の堆積状態に応じたセンサ１１０の出力信号の相違を求める実験などに基づいて予め設定された値である。
【０１９７】
以下、実施形態３での、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御の処理が、図１１及び図１２を参照しつつ説明される。なお、実施形態１、２での、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御の処理（図７及び図１０に示された処理）と同一の処理についての説明は省略される。また、初期状態において、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されているフラグには、筐体１４の内部空間３０に異物が殆ど堆積されていないことを意味する「００」が設定されている。
【０１９８】
図１１における筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御の処理では、図７における筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御の処理のステップＳ１００〜Ｓ１２０の代わりに、ステップＳ４１０〜Ｓ４６０が実行される。
【０１９９】
コントローラ１３０は、第３値が第１値より小さく（Ｓ８０：Ｙｅｓ）、且つ、第４値が第２値より大きい（Ｓ９０：Ｙｅｓ）場合に、第３値と第１値の差を算出して、当該差を閾値ＴＨと比較する（Ｓ４１０）。そして、コントローラ１３０は、当該差が閾値ＴＨより大きい場合に（Ｓ４１０：Ｙｅｓ）、筐体１４の内部空間３０に多量の異物が堆積されていると判定し、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されたフラグの値を「００」から「１０」とする（Ｓ４２０）。この場合、コントローラ１３０は、タッチパネル１７に、例えば「筐体の内部に多量の異物が堆積されている」旨を表示することによって、当該旨を報知する（Ｓ１１０）。タッチパネル１７に、「筐体の内部に多量の異物が堆積されている」旨を表示することは、第２報知の一例である。
【０２００】
一方、コントローラ１３０は、当該差が閾値ＴＨより小さい場合に（Ｓ４１０：Ｎｏ）、筐体１４の内部空間３０に少量の異物が堆積されていると判定し、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されたフラグの値を「００」から「０１」とする（Ｓ４３０）。この場合、コントローラ１３０は、タッチパネル１７に、例えば「筐体の内部に少量の異物が堆積されている」旨を表示することによって、当該旨を報知する（Ｓ４６０）。タッチパネル１７に、「筐体の内部に少量の異物が堆積されている」旨を表示することは、第１報知の一例である。
【０２０１】
また、コントローラ１３０は、コントローラ１３０は、第３値が第１値より大きい（Ｓ８０：Ｎｏ）、または、第４値が第２値より小さい（Ｓ９０：Ｎｏ）場合に、筐体１４の内部空間３０に異物が殆ど堆積されていないと判定し、ＥＥＰＲＯＭ１３４に記憶されたフラグの値を「００」に維持する（Ｓ４４０）。
【０２０２】
図１２における筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御の処理では、図１０における筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定制御の処理のステップＳ３４０〜Ｓ３６０の代わりに、ステップＳ５１０〜Ｓ５６０が実行される。
【０２０３】
コントローラ１３０は、第３値が第１値より大きく（Ｓ３２０：Ｙｅｓ）、且つ、第４値が第２値より小さい（Ｓ３３０：Ｙｅｓ）場合に、第３値と第１値の差を算出して、当該差を閾値ＴＨと比較する（Ｓ５１０）。以下のステップＳ５１０〜Ｓ５６０の処理は、図１１において説明したステップＳ４１０〜Ｓ４６０と同処理である。
【０２０４】
なお、図１１におけるステップＳ４１０、及び図１２におけるステップＳ５１０では、第３値と第１値との差を算出して閾値ＴＨと比較していたが、第４値と第２値との差を算出して閾値ＴＨと比較してもよい。また、当該差は、第３値から第１値を減算したり第４値から第２値を減算したりすることによって算出してもよいし、前記とは逆に、第１値から第３値を減算したり第２値から第４値を減算したりすることによって算出してもよい。また、閾値ＴＨと比較される値は、第３値及び第１値の差や第４値及び第２値の差に限らない。例えば、第３値及び第１値の差と、第４値及び第２値の差との合計値が、閾値ＴＨと比較されてもよい。この場合、水平面１５３Ａの異物の堆積状態と、傾斜面１５３Ｂの異物の堆積状態の両方に基づいて、プラテン４２の第３領域１５３への異物の堆積量の多少を判定する。そのため、偶然に水平面１５３Ａまたは傾斜面１５３Ｂの一方のみに多少の異物が堆積されていた場合に、第３領域１５３全体における異物の堆積量が多いと判定するような誤判定の可能性を低くできる。つまり、第３値及び第１値の差を閾値ＴＨと比較する場合や、第４値及び第２値の差を閾値ＴＨと比較する場合よりも、精度よく、異物の堆積量の多少を把握することができる。なお、当該合計値と比較される閾値ＴＨは、第３値及び第１値の差や、第４値及び第２値の差と比較される閾値ＴＨよりも大きい値に設定される。
【０２０５】
実施形態３においても、実施形態１、２と同様に、フラグの値に応じて、シート１２への印刷の実行における設定や処理が変更される。但し、実施形態３では、筐体１４の内部に堆積されている異物の多少に応じて（換言するとフラグが「０１」であるか「１０」であるかに応じて）異なる設定や処理が実行される。
【０２０６】
例えば、フラグに「０１」が設定されている場合、コントローラ１３０は、実施形態１で述べたシート閾値の変更を実行する。一方、フラグに「１０」が設定されている場合、コントローラ１３０は、シート閾値の変更を実行する代わりに、または、シート閾値の変更の実行に加えて、実施形態１で述べた駆動電流値Ｉ２でのキャリッジ駆動用モータ１０３の駆動、各モータ１０１、１０２、１０３の同時駆動の抑制、及びキャリッジ２３の低速での移動を実行する。
【０２０７】
実施形態３（図１１のフローチャートにおける処理）では、水平面１５３Ａにおける異物の堆積量が多い程、センサ１１０から水平面１５３Ａに出射された光の乱反射は激しくなるため、センサ１１０へ到達する光の量は減る。つまり、水平面１５３Ａにおける異物の堆積量が多い程、センサ１１０から出力される出力信号の第３値は小さくなる。
【０２０８】
また、傾斜面１５３Ｂにおける異物の堆積量が多い程、センサ１１０から傾斜面１５３Ｂに出射された光の乱反射は激しくなるため、センサ１１０へ到達する光の量は増える。つまり、傾斜面１５３Ｂにおける異物の堆積量が多い程、センサ１１０から出力される出力信号の第４値は大きくなる。
【０２０９】
図１１のフローチャートにおける処理では、第３値と第１値との差、または、第４値と第２値との差が閾値より大きいことに応じて（Ｓ４１０：Ｙｅｓ）、フラグの値をプラテン４２の第３領域１５３に堆積している異物が多い旨の値である「１０」とする（Ｓ４２０）。これにより、プラテン４２の第３領域１５３への異物の堆積量の多少を把握することができる。
【０２１０】
実施形態３（図１２のフローチャートにおける処理）では、水平面１５３Ａにおける異物の堆積量が多い程、センサ１１０から水平面１５３Ａに出射された光の乱反射は激しくなるため、センサ１１０へ到達する光の量は減る。つまり、水平面１５３Ａにおける異物の堆積量が多い程、センサ１１０から所定の出力信号を得るための入力信号の第３値は大きくなる。
【０２１１】
また、傾斜面１５３Ｂにおける異物の堆積量が多い程、センサ１１０から傾斜面１５３Ｂに出射された光の乱反射は激しくなるため、センサ１１０へ到達する光の量は増える。つまり、傾斜面１５３Ｂにおける異物の堆積量が多い程、センサ１１０から所定の出力信号を得るための入力信号の第４値は小さくなる。
【０２１２】
図１２のフローチャートにおける処理では、第３値と第１値との差、または、第４値と第２値との差が閾値より大きいことに応じて（Ｓ５１０：Ｙｅｓ）、フラグの値をプラテン４２の第３領域１５３に堆積している異物が多い旨の値である「１０」とする。これにより、プラテン４２の第３領域１５３への異物の堆積量の多少を把握することができる。
【０２１３】
また、実施形態３によれば、実施形態１、２と同様に、筐体１４に堆積している異物の量に応じた報知を行うことができる。
【０２１４】
［変形例］
上記実施形態では、筐体１４の内部空間３０における異物堆積状態の判定のために、センサ１１０によって光を出射される面は、センサ１１０から出射された光の光路となす角θ１が９０度である水平面１５３Ａと、当該光路となす角θ２が鋭角である傾斜面１５３Ｂであった。しかし、当該判定のためにセンサ１１０によって光を出射される面は、これらのような面に限らない。例えば、水平面１５３Ａの代わりに、傾斜面１５３Ｂと同様に、角θ１が鋭角であるような面が用いられてもよい。但し、この場合、傾斜面１５３Ｂと当該光路とがなす角θ２は、角θ１より小さい。
【０２１５】
上記実施形態では、センサ１１０は、記録ヘッド３９を搭載したキャリッジ２３に設けられていた。つまり、記録ヘッド３９を移動させるためのキャリッジ２３が、センサ１１０を移動させるためにも用いられていた。しかし、センサ１１０を移動させるためのキャリッジは、記録ヘッド３９を移動させるためのキャリッジ２３とは別物であってもよい。
【０２１６】
上記実施形態では、記録ヘッド３９は、キャリッジ２３に搭載されて左右方向９に移動していた。しかし、記録ヘッド３９は、搬送路６５の左端から右端に亘って設けられることによって左右方向９に移動しないものであってもよい。つまり、記録ヘッド３９は、所謂ライン式であってもよい。この場合、上述したように、センサ１１０を移動させるための専用のキャリッジが設けられる。
【０２１７】
上記実施形態では、センサ１１０は、プラテン４２に向けて光を出射するものであった。しかし、センサ１１０が異物堆積判定のために光を出射する対象はプラテン４２に限らず、筐体１４の内部に配置された任意の部材、例えば給送トレイ２０や、ガイドレールなどの複合機１０のフレームであってもよい。もちろん、筐体１４の内部に、異物堆積判定のために専用に設けられた２種類の面に、センサ１１０から光が出射されてもよい。これらの場合、センサ１１０の配置位置が、当該対象に対向する位置となることは言うまでもない。
【０２１８】
上記実施形態では、プリンタ部１１は、インクジェット記録方式でシート１２に印刷するものであったが、インクジェット記録方式に限らず、例えば電子写真方式でシート１２に印刷するものであってもよい。
【符号の説明】
【０２１９】
１０・・・複合機（画像記録装置）
１２・・・シート
１４・・・筐体
２３・・・キャリッジ
３９・・・記録ヘッド
１１０・・・センサ
１３０・・・コントローラ
１４０・・・メモリ
１５３・・・第３領域（反射部）
１５３Ａ・・・平面（第１面）
１５３Ｂ・・・傾斜面（第２面）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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