(57)【要約】【課題】複数の異なる元素の様々な安定同位体比の分布をわかりやすく表示する。【解決手段】分析方法は、測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体比を測定することと、測定された複数の安定同位体比を、測定位置と、それぞれの安定同位体比の値とに基づいて区別して表示することと、を備える。【選択図】図２
2019190841.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体比を測定することと、
前記測定された複数の安定同位体比を、前記測定位置と、それぞれの前記安定同位体比の値とに基づいて区別して表示することと、
を備える分析方法。
【請求項２】
請求項１に記載の分析方法において、
前記測定された複数の安定同位体比は、前記測定された安定同位体比の平均値および／またはばらつきに基づいて設定された閾値により区別して表示される分析方法。
【請求項３】
請求項１または２に記載の分析方法において、
前記測定された複数の安定同位体比は、明度、彩度、色相および／またはパターンの違いにより区別されて表示される分析方法。
【請求項４】
請求項１から３までのいずれか一項に記載の分析方法において、
前記安定同位体比は、誘導結合プラズマ質量分析、二次イオン質量分析またはマトリクス支援レーザー脱離イオン化質量分析により測定される分析方法。
【請求項５】
測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体の量を測定する測定部と、
測定された前記安定同位体の量に基づいて、それぞれの前記元素についての複数の安定同位体比を算出する安定同位体比算出部と、
前記算出された複数の安定同位体比を、前記測定位置と、それぞれの前記安定同位体比の値とに基づいて区別して表示する表示部と、
を備える分析装置。
【請求項６】
請求項５に記載の分析装置において、
前記表示部は、前記測定された複数の安定同位体比を、前記測定された安定同位体比の平均値および／またはばらつきに基づいて設定された閾値により区別して表示する分析装置。
【請求項７】
請求項５または６に記載の分析装置において、
前記表示部は、前記測定された複数の安定同位体比を、明度、彩度、色相および／またはパターンの違いにより区別して表示する分析装置。
【請求項８】
請求項５から７までのいずれか一項に記載の分析装置において、
誘導結合プラズマ質量分析装置、二次イオン質量分析装置またはマトリクス支援レーザー脱離イオン化質量分析装置を含む分析装置。
【請求項９】
測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて測定された、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体比を、前記測定位置と、それぞれの前記安定同位体比の値とに基づいて区別して表示装置に表示させる表示処理を処理装置に行わせるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分析方法、分析装置およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
誘導結合プラズマ質量分析（Inductively coupled plasma mass spectrometry；ＩＣＰ−ＭＳ）等の質量分析法による、安定同位体比の測定が行われている（特許文献１参照）。
【０００３】
さらに、試料の複数の測定位置にレーザーを照射し、各測定位置から得られた試料の成分に対し、誘導結合プラズマ質量分析を行うことにより、安定同位体比をマッピングする技術が提案されている（非特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１６−６１７６８号公報
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】Prohaska T, Irrgeher J, Zitek A. " Simultaneous multi-element and isotope ratio imaging of fish otoliths by laser ablation split stream ICP-MS/MC ICP-MS," Journal of Analytical Atomic Spectrometry,（英国）, Royal Society of Chemistry, 2016年8月1日, vol.31, Issue 8, pp.1612-1621
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
非特許文献１ではストロンチウムについての安定同位体比（86Sr/87Sr）がマッピングされて示されているが、より多くの安定同位体比が示されることが、試料の詳細な解析のために望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の好ましい実施形態による分析方法は、測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体比を測定することと、前記測定された複数の安定同位体比を、前記測定位置と、それぞれの前記安定同位体比の値とに基づいて区別して表示することと、を備える。
さらに好ましい実施形態では、前記測定された複数の安定同位体比は、前記測定された安定同位体比の平均値および／またはばらつきに基づいて設定された閾値により区別して表示される。
さらに好ましい実施形態では、前記測定された複数の安定同位体比は、明度、彩度、色相および／またはパターンの違いにより区別されて表示される。
さらに好ましい実施形態では、前記安定同位体比は、誘導結合プラズマ質量分析、二次イオン質量分析またはマトリクス支援レーザー脱離イオン化質量分析により測定される。
本発明の好ましい実施形態による分析装置は、測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体の量を測定する測定部と、測定された前記安定同位体の量に基づいて、それぞれの前記元素についての複数の安定同位体比を算出する安定同位体比算出部と、前記算出された複数の安定同位体比を、前記測定位置と、それぞれの前記安定同位体比の値とに基づいて区別して表示する表示部と、を備える。
さらに好ましい実施形態では、前記表示部は、前記測定された複数の安定同位体比を、前記測定された安定同位体比の平均値および／またはばらつきに基づいて設定された閾値により区別して表示する。
さらに好ましい実施形態では、前記表示部は、前記測定された複数の安定同位体比を、明度、彩度、色相および／またはパターンの違いにより区別して表示する。
さらに好ましい実施形態では、誘導結合プラズマ質量分析装置、二次イオン質量分析装置またはマトリクス支援レーザー脱離イオン化質量分析装置を含む。
本発明の好ましい実施形態によるプログラムは、測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて測定された、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体比を、前記測定位置と、それぞれの前記安定同位体比の値とに基づいて区別して表示装置に表示させる表示処理を処理装置に行わせるためのものである。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、試料における、複数の異なる元素の様々な安定同位体比の分布をわかりやすく表示することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、一実施形態に係る分析装置の構成を示す概念図である。
【図２】図２は、一実施形態の分析方法を説明するための概念図である。
【図３】図３は、一実施形態の分析方法の流れを示すフローチャートである。
【図４】図４は、プログラムを説明するための概念図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図を参照して本発明を実施するための形態について説明する。
【００１１】
図１は、本実施形態に係る分析装置１の概略構成を示す図である。分析装置１は、レーザーアブレーション（以下、ＬＡと呼ぶ）誘導結合プラズマ質量分析（ＬＡ−ＩＣＰ−ＭＳ）を行う装置であり、測定部１００と、情報処理部４０とを備える。
【００１２】
測定部１００は、ＬＡにより試料Ｓの成分を微粒子化して分離する試料成分分離部１０と、試料成分分離部１０にキャリアガスを導入するキャリアガス導入管９と、微粒子化された試料Ｓを誘導結合プラズマによりイオン化するプラズマイオン化部２０と、試料成分分離部１０で微粒子化された試料Ｓをプラズマイオン化部２０に導入する試料導入管１２０と、プラズマイオン化部２０においてイオン化された試料Ｓのｍ／ｚに基づいて試料Ｓを分離する質量分離部３０とを備える。
【００１３】
試料成分分離部１０は、照射光学系１１と、ダイクロイックミラー１２と、撮像部１３と、試料室１４と備える。試料室１４は、試料台１５を備える。プラズマイオン化部２０は、プラズマトーチ２１と、プラズマガス導入管２２と、冷却ガス導入管２３とを備える。質量分離部３０は、第１真空室３１と、第２真空室３２とを備える。第２真空室３２はイオンレンズ３２１と、四重極３２２と、検出部３２３とを備える。照射光学系１１から出射されたレーザー光の光路を一点鎖線の矢印Ａ１を用いて模式的に示した。撮像部１３により試料Ｓを撮像することを一点鎖線の矢印Ａ２を用いて模式的に示した。
【００１４】
情報処理部４０は、入力部４１と、通信部４２と、記憶部４３と、表示部４４と、制御部５０とを備える。制御部５０は、装置制御部５１と、安定同位体比算出部５２と、閾値設定部５３と、表示制御部５４とを備える。測定部１００の検出部３２３からのイオン化された試料Ｓの検出信号の流れを矢印Ａ３で模式的に示した。装置制御部５１による測定部１００の制御を矢印Ａ４で模式的に示した。
【００１５】
試料Ｓの種類は、ＬＡにより、測定する安定同位体を検出可能に分離することができれば特に限定されない。試料Ｓとしては、例えば、土壌の表面を平板状に切り取って採取したものや、植物の根等の部分が好適である。
【００１６】
照射光学系１１は、レーザー光源および波長変換素子を備え、レーザー光源において生成されたレーザー光の波長を波長変換素子により短くした後、当該レーザー光をダイクロイックミラー１２へ向けて出射する（矢印Ａ１）。レーザー光源において生成されるレーザー光の波長は、測定する元素を微粒子化して固体試料から効率よく分離することができれば特に限定されず、波長変換を行わなくてもよい。照射光学系１１は、例えばレーザー光源として波長１０６４ｎｍのＮｄ−ＹＡＧレーザーを備え、紫外域の第５高調波（波長２１３ｎｍ）を出射する構成にすることができる。
【００１７】
ダイクロイックミラー１２は、照射光学系１１から出射されたレーザー光を反射して試料Ｓへと出射する一方、試料Ｓからの可視光を撮像部１３へと透過させる。
【００１８】
撮像部１３は、ＣＣＤカメラ等の撮像素子を備え、試料台１５に載置されている試料Ｓを撮像する。撮像された画像は適宜リアルタイムで表示部４４に表示され、分析装置１のユーザー（以下、単に「ユーザー」と呼ぶ）は当該画像に基づいてレーザー光の照射位置を設定することができる。撮像された画像の一部または全部は記憶部４３に適宜記憶される。
【００１９】
試料室１４は、キャリアガス導入管９が接続されており、キャリアガス導入管９から導入されたキャリアガスの流れにより、ＬＡにより微粒子化されて分離された試料Ｓが試料導入管１２０へと流れる構成となっている。以下の実施形態において、ＬＡによる微粒子化とは、レーザー光の照射により、試料Ｓの一部が気化またはエアロゾル化等されて周囲雰囲気中に放出されることを指す。
【００２０】
ダイクロイックミラー１２から出射されたレーザー光は、試料室１４の不図示の窓を透過して試料室１４の内部に入射し、試料Ｓに入射する。試料台１５上の試料Ｓのレーザー光の照射位置における成分がＬＡにより分離されて質量分析されるため、試料Ｓのレーザー光の照射位置が測定位置となる。試料台１５は、不図示のアクチュエーター等により、Ｘ軸、Ｙ軸およびＺ軸方向に移動可能となっており、レーザー光の照射位置を制御できるようになっている。図１では、試料台１５の試料Ｓを搭載する面に平行にＸＹ平面を設定し、Ｘ軸を紙面に垂直方向に設定し、Ｙ軸を紙面に平行な方向に設定し、Ｚ軸をＸＹ平面に垂直な方向に設定する（座標軸８参照）。
なお、試料Ｓに照射するレーザー光をガルバノミラー等を用いて走査させることにより、レーザー光の照射位置を制御してもよい。
【００２１】
ＬＡにより微粒子化された試料Ｓは、試料導入管１２０を通ってプラズマトーチ２１に導入される。プラズマトーチ２１は、石英等を材料とした三重管構造となっており、試料Ｓが通過する試料ガス管の外周にプラズマガスが導入されるプラズマガス管が形成されており、プラズマガス管の外周に冷却ガスが導入される冷却ガス管が形成されている。プラズマガスおよび冷却ガスの種類は特に限定されないが、例えばアルゴンを含むガスを用いることができる。プラズマガスおよび冷却ガスは、それぞれプラズマガス導入管２２および冷却ガス導入管２３を介してプラズマトーチに導入される。プラズマトーチ２１には、上記三重管構造の周囲に不図示の高周波誘導コイルが配置されている。
【００２２】
プラズマトーチ２１の高周波誘導コイルに高周波電流（例えば数十ＭＨｚ等）を流し放電させると、数千℃等の高温のプラズマが生成する。微粒子化された試料Ｓは、プラズマ中を通過する際にイオン化される。イオン化された試料Ｓは、質量分離部３０の第１真空室３１に導入される。
【００２３】
第１真空室３１は、ロータリーポンプ等の真空ポンプにより大気圧より低い圧力にまで排気され、イオン化された試料Ｓを引き込む。第１真空室３１を通過したイオンされた試料Ｓは、第２真空室３２に導入される。
【００２４】
第２真空室３２は、ターボ分子ポンプ等の真空ポンプにより第１真空室よりも低い圧力にまで排気されている。第２真空室３２に導入されたイオン化された試料Ｓは、不図示の引出電極およびイオンレンズ３２１により四重極３２２に導かれる。四重極３２２は、ｍ／ｚの値に応じてイオンを通過させるマスフィルタとして機能し、通過させるイオンのｍ／ｚの値を変化させることにより、異なる時間に異なるｍ／ｚを有するイオン化された試料Ｓを通過させる。
【００２５】
検出部３２３は、二次電子増倍管等のイオン検出器を備え、四重極３２２を通過した、イオン化された試料Ｓを検出する。検出されたイオン強度を含む検出信号は、不図示のＡ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換されて制御部５０に測定データとして出力される（矢印Ａ３）。
なお、イオン化された試料Ｓを分離して検出することができれば、質量分析の方法は特に限定されず、例えばイオントラップ型の質量分析装置でもよい。
【００２６】
情報処理部４０は、電子計算機等の情報処理装置を備え、適宜ユーザーとのインターフェースとなる他、様々なデータに関する通信、記憶、演算等の処理を行う。
なお、情報処理部４０は、測定部１００と物理的に離れた位置に配置されてもよい。また、情報処理部４０が用いるデータの一部は遠隔のサーバ等に保存してもよく、情報処理部４０が行う演算処理の一部は遠隔のサーバ等で行ってもよい。
【００２７】
情報処理部４０の入力部４１は、マウス、キーボード、各種ボタンおよび／またはタッチパネル等の入力装置を含んで構成される。入力部４１は、分析条件に関する情報、および制御部５０の行う処理に必要な情報等を、ユーザーから受け付ける。
【００２８】
情報処理部４０の通信部４２は、インターネット等のネットワークを介して無線や有線の接続により通信可能な通信装置を含んで構成される。通信部４２は、制御部５０が行う測定データの分析に必要なデータを受信したり、制御部５０の分析結果等の制御部５０が処理したデータを送信したり、適宜必要なデータを送受信する。
【００２９】
情報処理部４０の記憶部４３は、不揮発性の記憶媒体を備える。測定部１００から出力された測定データ、制御部５０における分析結果に関するデータ、表示制御部５４が作成した画像、処理部５０が処理を実行するためのプログラム等を記憶する。
【００３０】
情報処理部４０の表示部４４は、液晶モニタ等の表示装置を含んで構成され、表示制御部５４が作成した画像を、表示装置に表示する。
【００３１】
情報処理部４０の制御部５０は、ＣＰＵ等のプロセッサを含んで構成される。制御部５０は、測定部１００から出力された測定データを解析する等、記憶部４３等に記憶されたプログラムを実行することにより各種処理を行う。
【００３２】
制御部５０の装置制御部５１は、入力部４１からの入力等に基づいて設定された測定条件に基づいて、測定部１００の動作を制御する。
【００３３】
制御部５０の安定同位体比算出部５２は、検出部３２３から出力されたイオン化された試料Ｓの検出信号から、安定同位体比を算出する。安定同位体比算出部５２は、複数の元素についての安定同位体比を作成する。かつ、安定同位体比算出部５２は、各元素について複数の異なる安定同位体比を算出する。例えば、安定同位体比算出部５２は、ストロンチウムについて３つの異なる安定同位体比（例えば８４Ｓｒ／８８Ｓｒ、８６Ｓｒ／８８Ｓｒおよび８７Ｓｒ／８８Ｓｒ）を算出し、鉛について２つの異なる安定同位体比（例えば２０６Ｐｂ／２０８Ｐｂおよび２０７Ｐｂ／２０８Ｐｂ）を算出する。安定同位体比算出部５２は、この他にも炭素の安定同位体１２Ｃおよび１３Ｃについての安定同位体比を算出する等、任意の安定同位体比を算出することができる。
【００３４】
安定同位体比算出部５２は、検出部３２３からの検出信号における検出強度と、当該検出強度が得られた際に質量分離部３０が選択的に分離したｍ／ｚの設定値とから、ｍ／ｚと検出強度とを対応させたマススペクトルのデータを生成する。
【００３５】
安定同位体比算出部５２は、安定同位体比を算出するために必要な安定同位体の検出量を、当該マススペクトルにおける当該安定同位体のｍ／ｚに対応するピークの強度から算出する。安定同位体比算出部５２は、例えば、マススペクトルのデータに対しスムージング等の定量性を上げるための処理を行った後、安定同位体に対応するピークの最大強度またはピークの面積を取得し、当該安定同位体の検出量とする。安定同位体比算出部５２は、取得した複数の安定同位体の検出量の比を算出する。
なお、安定同位体比算出部５２の安定同位体比の算出方法は特に限定されない。安定同位体の検出量を他の安定同位体の検出量で割って比（安定同位体存在比）を算出する他、例えば炭素安定同位体比δ１３Ｃのように測定された安定同位体存在比が標準物質の安定同位体存在比からどの程度ずれているかを示す指標を算出してもよい。
【００３６】
制御部５０の閾値設定部５３は、安定同位体比を値の大きさに基づいて区別して表示するための閾値Ｔを設定する。閾値設定部５３は、測定した安定同位体比について、全ての測定位置からの当該安定同位体比の値の算術平均、およびばらつきを示す標準偏差を算出し、算出した平均および標準偏差に基づいて閾値Ｔを設定する。閾値設定部５３は、例えば、全ての測定位置における安定同位体比の検出量の平均をＡ、標準偏差をσとすると、Ａ−２σ、Ａ−σ、Ａ、Ａ＋σ、Ａ＋２σの５つの閾値Ｔを設定する。他の例では、閾値設定部５３は、Ａ−１．５σ、Ａ−０．５σ、Ａ＋０．５σ、Ａ＋１．５σの４つの閾値Ｔを設定することができる。
なお、閾値設定部５３の閾値Ｔの設定方法は特に限定されず、算術平均や標準偏差以外の、任意の統計的手法で利用可能な値を用いて設定することもできる。また、閾値Ｔはユーザーが入力して設定してもよい。
【００３７】
制御部５０の表示制御部５４は、安定同位体比算出部５２が算出した安定同位体比と、閾値設定部５３が設定した閾値Ｔと、安定同位体比の測定位置とに基づいて、安定同位体比の分布を値により区別して表示する画像（以下、分布画像と呼ぶ）を作成する。表示制御部５４は、複数の元素のそれぞれについて、複数の安定同位体比をマッピングした分布画像を作成する。
【００３８】
表示制御部５４は、安定同位体比の種類、安定同位体比算出部５２が算出した各測定位置での安定同位体比と、閾値設定部５３が設定した閾値Ｔとにより、各測定位置に対応する明度、彩度、色相および／またはパターンを設定する。ここで、パターンとは、ハッチング等の模様を指す。表示制御部５４は、例えば、安定同位体比の種類により色相（青、赤、緑等）を変化させ、安定同位体比の値により明度および／または彩度を変化させて表示する。表示制御部５４は、安定同位体比の値により色相、明度、彩度またはパターンを変化させる場合には、閾値設定部５３が設定した閾値Ｔに基づいて段階的に変化させる。例えば、閾値ＴがＴ１、Ｔ２、Ｔ３およびＴ４の４つの場合には、表示制御部５４は、安定同位体比がＴ１未満、Ｔ１以上Ｔ２未満、Ｔ２以上Ｔ３未満、Ｔ３以上Ｔ４未満、Ｔ４以上のいずれの範囲にあるかに対応させて色相、明度、彩度またはパターンを設定する。
【００３９】
図２は、本実施形態に係る分析方法を説明するための概念図である。棒グラフ６０は、測定部１００が測定した試料Ｓにおけるストロンチウムの各同位体の存在量を示している。横軸はストロンチウムの各同位体のｍ／ｚを示し、ｍ／ｚ  ８４は８４Ｓｒ、ｍ／ｚ  ８６は８６Ｓｒ、ｍ／ｚ  ８７は８７Ｓｒ、ｍ／ｚ  ８８は８８Ｓｒに対応している。
【００４０】
安定同位体比算出部５２は、ストロンチウムの各同位体の存在量から複数の安定同位体比を算出する（矢印Ａ５）。表示制御部５４は、閾値設定部５３が設定した閾値Ｔに基づいて分布画像７０ａ，７０ｂ，７０ｃを作成する。図２の例では、安定同位体比の種類に応じて色相を変化させ、８４Ｓｒ／８８Ｓｒを青色の分布画像７０ａ、８６Ｓｒ／８８Ｓｒを赤色の分布画像７０ｂ、８７Ｓｒ／８８Ｓｒを緑色の分布画像７０ｃで示している。各分布画像７０ａ，７０ｂ，７０ｃでは、明度または彩度を閾値設定部５３が設定した閾値Ｔに基づいて段階的に変化させており、図２ではハッチングでこの点を模式的に示した。図２の分布画像７０ａ、７０ｂ、７０ｃを構成する四角は、それぞれ測定位置に対応する。
【００４１】
安定同位体比算出部５２は、ストロンチウム以外の元素についても、複数の安定同位体比をストロンチウムと同様に算出し、閾値設定部５３が閾値Ｔを設定し、表示制御部５４が分布画像を作成する。
【００４２】
表示制御部５４は、作成した複数の異なる元素のそれぞれ複数の異なる安定同位体比についての分布画像を表示部４４に表示させる。表示制御部５４は、複数の分布画像７０ａ，７０ｂ，７０ｃの色相、明度および／彩度を合成して、異なる色相、明度および／または彩度の分布画像（以下、合成分布画像と呼ぶ）を作成し表示部４４に表示させてもよい。例えば、図２における８６Ｓｒ／８８Ｓｒについての分布画像７０ｂ（赤）と８７Ｓｒ／８８Ｓｒについての分布画像７０ｃ（緑）において、各測定位置において赤と緑との両方を表示するように合成分布画像を作成したとする。この場合、光の混ぜ合わせにおいて赤と緑が混ざると黄色となることから、各測定位置での８６Ｓｒの８７Ｓｒに対する相対量が大きくなるにつれて色相は緑、黄色、赤、と変化していくことになる。これにより、異なる複数の安定同位体比の相対量をわかりやすく表示することができる。
なお、合成分布画像の合成の仕方は特に限定されず、異なる元素についての安定同位体比についての分布画像７０ａ，７０ｂ，７０ｃを合成してもよい。また、立体的に複数の安定同位体比を表示する構成にしてもよい。
【００４３】
図３は、本実施形態の分析方法の流れを示すフローチャートである。ステップＳ１００１において、ユーザー等により測定対象となる試料Ｓが用意される。ステップＳ１００１が終了したら、ステップＳ１００３に進む。ステップＳ１００３において、試料成分分離部１０は、試料Ｓの測定位置のそれぞれに対して、レーザー光を照射し、試料Ｓを微粒子化する。ステップＳ１００３が終了したら、ステップＳ１００５に進む。
【００４４】
ステップＳ１００５において、プラズマイオン化部２０は、微粒子化された試料Ｓをイオン化する。ステップＳ１００５が終了したら、ステップＳ１００７に進む。ステップＳ１００７において、質量分離部３０は、イオン化された試料Ｓにおける、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の安定同位体を質量分離して検出する。ステップＳ１００７が終了したら、ステップＳ１００９に進む。
【００４５】
ステップＳ１００９において、安定同位体比算出部５２は、検出された安定同位体のデータから、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体の量を算出する。ステップＳ１００９が終了したら、ステップＳ１０１１に進む。ステップＳ１０１１において、安定同位体比算出部５２は、測定された安定同位体の量に基づいて、複数の異なる安定同位体についての複数の安定同位体比を算出する。ステップＳ１０１１が終了したら、ステップＳ１０１３に進む。
【００４６】
ステップＳ１０１３において、閾値算出部５３は、安定同位体比を値に応じて区別して表示するための閾値Ｔを設定する。ステップＳ１０１３が終了したら、ステップＳ１０１５に進む。ステップＳ１０１５において、表示部４４は、算出された複数の安定同位体比を、測定位置と、それぞれの安定同位体比の値とに基づいて区別して表示する。ステップＳ１０１５が終了したら、処理を終了する。
【００４７】
上述の実施の形態によれば、次の作用効果が得られる。
（１）本実施形態の分析方法は、測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体比を測定する（ステップＳ１００３〜Ｓ１０１１）ことと、測定された複数の安定同位体比を、測定位置と、それぞれの安定同位体比の値とに基づいて区別して表示する（ステップＳ１０１５）こととを備える。これにより、複数の元素の様々な安定同位体比をわかりやすく表すことができる。このように複数の異なる元素の複数の異なる安定同位体比を測定することで、例えば、植物における各測定位置がどのような環境で形成されたか等、より詳細に分析することができる。
【００４８】
（２）本実施形態の分析方法において、測定された複数の安定同位体比は、測定された安定同位体比の平均値および／またはばらつきに基づいて設定された閾値Ｔにより区別して表示される。これにより、極端な閾値による情報落ち等を防ぐことができ、測定対象における安定同位体比の平均および／またはばらつきに基づいて、精密に安定同位体比を表すことができる。
【００４９】
（３）本実施形態の分析方法において、測定された複数の安定同位体比は、明度、彩度、色相および／またはパターンの違いにより区別されて表示される。これにより、色や模様に対する感覚を利用して安定同位体比をわかりやすく表示することができる。
【００５０】
（４）本実施形態の分析装置は、測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体の量を測定する測定部１００と、測定された安定同位体の量に基づいて、それぞれの元素についての複数の安定同位体比を算出する安定同位体比算出部５２と、算出された複数の安定同位体比を、測定位置と、それぞれの安定同位体比の値とに基づいて区別して表示する表示部４４と、を備える。これにより、分析装置１は、複数の元素の様々な安定同位体比をわかりやすく表すことができる。
【００５１】
（５）本実施形態の分析装置において、表示部４４は、測定された複数の安定同位体比を、測定された安定同位体比の平均値および／またはばらつきに基づいて設定された閾値Ｔにより区別して表示する。これにより、分析装置１は、極端な閾値による情報落ち等を防ぐことができ、測定対象における安定同位体比の平均および／またはばらつきに基づいて、精密に安定同位体比を表すことができる。
【００５２】
（６）本実施形態の分析装置において、表示部４４は、測定された複数の安定同位体比を、明度、彩度、色相および／またはパターンの違いにより区別して表示する。これにより、色や模様に対する感覚を利用して安定同位体比をわかりやすく表示することができる。
【００５３】
次のような変形も本発明の範囲内であり、上述の実施形態と組み合わせることが可能である。以下の変形例において、上述の実施形態と同様の構造、機能を示す部位に関しては、同一の符号で参照し、適宜説明を省略する。
（変形例１）
上述の実施形態では、誘導結合プラズマ質量分析装置を用いて安定同位体比を測定したが、分析装置１を二次イオン質量分析装置を含む構成とし、二次イオン質量分析により安定同位体比を測定してもよい。誘導結合プラズマ質量分析および二次イオン質量分析は、安定同位体比の測定において定量性に特に優れ、好適である。さらにその他の方法としては、マトリクス支援レーザー脱離イオン化質量分析装置を用いてマトリクス支援レーザー脱離イオン化質量分析により安定同位体比を測定してもよい。
なお、測定対象の各測定位置における安定同位体比を測定することができれば、安定同位体比の測定方法は特に限定されない。例えば、上述の実施形態ではＬＡにより測定対象の各測定位置の試料を単離して測定したが、有機溶媒や加熱ガス等を用いて測定対象の複数の測定位置における試料成分をそれぞれ抽出し、適宜クロマトグラフィー等と組み合わせて質量分析を行い安定同位体比を算出してもよい。
【００５４】
（変形例２）
分析装置１の情報処理機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録された、上述した測定、算出および表示の処理およびそれに関連する処理の制御に関するプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行させてもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）や周辺機器のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、光ディスク、メモリカード等の可搬型記録媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持するものを含んでもよい。また上記のプログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせにより実現するものであってもよい。
【００５５】
また、パーソナルコンピュータ（以下、ＰＣと記載）等に適用する場合、上述した制御に関するプログラムは、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ等の記録媒体やインターネット等のデータ信号を通じて提供することができる。図４はその様子を示す図である。ＰＣ９５０は、ＣＤ−ＲＯＭ９５３を介してプログラムの提供を受ける。また、ＰＣ９５０は通信回線９５１との接続機能を有する。コンピュータ９５２は上記プログラムを提供するサーバーコンピュータであり、ハードディスク等の記録媒体にプログラムを格納する。通信回線９５１は、インターネット、パソコン通信などの通信回線、あるいは専用通信回線などである。コンピュータ９５２はハードディスクを使用してプログラムを読み出し、通信回線９５１を介してプログラムをＰＣ９５０に送信する。すなわち、プログラムをデータ信号として搬送波により搬送して、通信回線９５１を介して送信する。このように、プログラムは、記録媒体や搬送波などの種々の形態のコンピュータ読み込み可能なコンピュータプログラム製品として供給できる。
【００５６】
上述した情報処理機能を実現するためのプログラムとして、測定対象の複数の測定位置のそれぞれにおいて測定された、複数の異なる元素のそれぞれについての複数の異なる安定同位体比を、当該測定位置と、それぞれの安定同位体比の値とに基づいて区別して表示部装置に表示させる表示処理を処理装置に行わせるためのプログラムが含まれる。これにより、複数の元素の様々な安定同位体比をわかりやすく表すことができる。
【００５７】
本発明は上記実施形態の内容に限定されるものではない。本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の態様も本発明の範囲内に含まれる。
【符号の説明】
【００５８】
１…分析装置、１０…試料成分分離部、１４…試料室、２０…プラズマイオン化部、２１…プラズマトーチ、３０…質量分離部、３２２…四重極、３２３…検出部、４０…情報処理部、５０…制御部、５１…装置制御部、５２…安定同位体比算出部、５３…閾値設定部、５４…表示制御部、７０ａ，７０ｂ，７０ｃ…分布画像、１００…測定部、Ｓ…試料。
【図１】
2019190841.tif 000003
【図２】
2019190841.tif 000004
【図３】
2019190841.tif 000005
【図４】
2019190841.tif 000006