(57)【要約】      （修正有）【課題】従来よりも高い精度で成形品取出機で発生する可能性のある異常を診断することができる成形品取出機の異常診断方法及びシステムを提供する。【解決手段】振動検出部１が出力する振動信号は、ジャーク信号発生部３で２回微分されてジャーク信号となる。ジャーク信号発生部３が発生したジャーク信号は、成形品取出機の１サイクルタイム分が、時系列でジャーク信号記憶部５に記憶される。異常診断部７は、ジャーク信号に含まれる複数のパルス波形のうち所定の閾値以上になるパルス波形の位相の変化に基づいて異常が発生する予兆または異常が発生していることを診断する、異常診断方法。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
成形機から成形品を取り出す成形品取出機の異常を診断する成形品取出機の異常診断方法であって、
成形品取出機から発生する振動に比例した振動信号を取得し、
前記振動信号を２回微分して得たジャーク信号を取得し、
前記ジャーク信号に含まれる複数のパルス波形のうち所定の閾値を超える１以上のパルス波形の位相の変化に基づいて前記成形品取出機に機械的な異常または設定の異常が発生する可能性があることを診断する成形品取出機の異常診断方法。
【請求項２】
前記成形品取出機が正常な状態にあるときの前記振動信号から得た前記ジャーク信号に含まれる前記所定の閾値以上になる１以上のパルス波形の位相からの位相ずれに基づいて診断をする請求項１に記載の成形品取出機の異常診断方法。
【請求項３】
成形機から成形品を取り出す成形品取出機の異常を診断する成形品取出機の異常診断システムであって、
前記成形品取出機から発生する振動に比例した振動信号を発生する振動検出部と、
前記振動検出が出力する前記振動信号を２回微分したジャーク信号を発生するジャーク信号発生部と、
前記ジャーク信号に含まれる複数のパルス波形のうち所定の閾値を超えるパルス波形の位相の変化に基づいて異常が発生する予兆または異常が発生していることを診断する異常診断部とからなる成形品取出機の異常診断システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、成形品取出機の異常診断方法及びシステムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許第４８２４８７９号公報（特許文献１）に示された成形品取出機の異常診断方法では、チャック移動機構の負荷トルクを検出し、検出値を予め設定した上限値及び下限値と比較して、成形品取出機の機械的な異常の発生の有無を検出している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第４８２４８７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
負荷トルクの波形には、成形品取出機で発生する振動成分が含まれている。しかしながら負荷トルクの波形をそのまま予め設定した上限値及び下限値と比較しても、異常が原因で発生する振動成分が上限値及び下限値を超える否かを正確に判断することができない。そこで振動波形を微分して得た微分信号に含まれるパルス信号に基づいて診断することも考えられる。しかしながら微分信号に現れるパルス信号のピークの位相は、負荷トルクに現れるピークの位相よりもずれる。そのため高い精度で、異常の診断をするには、微分信号をそのまま用いることには問題がある。
【０００５】
本発明の目的は、従来よりも高い精度で成形品取出機で発生する可能性のある異常を診断することができる成形品取出機の異常診断方法及びシステムに関するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の成形品取出機の異常診断方法では、成形品取出機から発生する振動に比例した振動信号を取得すると、この振動信号を２回微分して得たジャーク信号を取得する。そしてこのジャーク信号に含まれる複数のパルス波形のうち所定の閾値を超える１以上のパルス波形の位相の変化に基づいて成形品取出機に機械的な異常または設定の異常が発生する可能性があることを診断する。ジャーク信号に含まれる複数のパルス波形のうち所定の閾値以上になるジャーク信号のパルス波形の位相は、振動信号のピーク値の位相と実質的に差がない。そのためジャーク信号の閾値を超える１以上のパルス信号の位相に基づいて、異常の発生を診断すると異常の発生の予兆となる大きな振動の位相の変化を正しく検知することができる。したがって従来よりも、高い精度で異常の発生の予兆及び異常の発生を診断することができる。
【０００７】
位相に基づく異常の診断手法は任意であり、例えば、成形品取出機が正常な状態にあるときの振動信号から得たジャーク信号に含まれる所定の閾値以上になる１以上のパルス波形の位相からの位相ずれに基づいて診断をすればよい。
【０００８】
本発明の成形品取出機の異常診断システムは、成形品取出機から発生する振動に比例した振動信号を発生する振動検出部と、振動検出が出力する前記振動信号を２回微分したジャーク信号を発生するジャーク信号発生部と、ジャーク信号に含まれる複数のパルス波形のうち所定の閾値以上になるパルス波形の位相の変化に基づいて異常が発生する予兆または異常が発生していることを診断する異常診断部とからなる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本実施の形態の成形品取出機の主要な構成を示すブロック図である。
【図２】（Ａ）乃至（Ｃ）は、振動信号と、振動信号の微分信号と、微分信号を微分したジャーク信号を示す波形図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を参照して、本発明の成形品取出機の異常診断方法及びシステムの実施の形態について詳細に説明する。図１は、本実施の形態の成形品取出機の異常診断システムの主要な構成を示すブロック図である。図１において、符合１は、成形品取出機の固定フレームまたは可動フレームに設けられて成形品取出機から発生する振動に比例した振動信号を発生する振動検出センサからなる振動検出部を示している。振動検出部１が出力する振動信号は、ジャーク信号発生部３で２回微分されてジャーク信号となる。ジャーク信号発生部３が発生したジャーク信号は、成形品取出機の１サイクルタイム分が、時系列でジャーク信号記憶部５に記憶される。異常診断部７は、ジャーク信号に含まれる複数のパルス波形のうち所定の閾値以上になるパルス波形の位相の変化に基づいて異常が発生する予兆または異常が発生していることを診断する。具体的には、異常診断部７は、成形品取出機が正常な状態にあるときの振動信号から得たジャーク信号を基準ジャーク信号としてジャーク信号記憶部５に保存しておき、基準ジャーク信号に含まれる所定の閾値以上になる１以上のパルス波形の位相からジャーク信号発生部３から出力されたジャーク信号の位相ずれを求め、この位相ずれが予め定めた閾値を超えると何らかの異常が発生したものと診断する。
【００１１】
図２（Ａ）は、成形機の引き抜きフレームが移動するときに発生する正常な振動信号Ａとサーボモータの制御パラメータの設定間違いによる異常が発生した時の振動信号Ｂを示している。図２（Ｂ）は、成形機の引き抜きフレームが移動するときに発生する正常な振動信号Ａの微分信号Ａ´とサーボモータの制御パラメータの設定間違いによる異常が発生した時の振動信号Ｂの微分信号Ｂ´を示している。更に図２（Ｃ）は、成形機の引き抜きフレームが移動するときに発生する正常な振動信号Ａを二回微分したジャーク信号Ａ”とサーボモータの制御パラメータの設定間違いによる異常が発生した時の振動信号Ｂを二回微分したジャーク信号Ｂ”を示している。これらを対比すると判るように、1回微分の微分信号Ａ´とジャーク信号Ａ”を比べると、１回微分の微分信号Ａ´及びＢ´のパルス信号の位相は、振動信号Ａの変化点よりも遅れている。これに対してジャーク信号Ａ”及びＢ”のパルス信号のピークの位相は、振動信号Ａの変化点と大きな位相の差がない。
【００１２】
このことから異常診断部７で、ジャーク信号の閾値ＴＷ１及びＴＷ２を超える１以上のパルス信号の位相に基づいて、異常の発生を診断すると、異常の発生の予兆となる大きな振動の位相の変化を正しく検知することができる。したがって従来よりも、高い精度で異常の発生の予兆及び異常の発生を診断することができる。
【００１３】
異常診断部７で、診断できる成形品取出機の異常は、振動信号をどこから得るかによって、異なってくる。引き抜きフレームや横行フレームに加速度センサなどの振動センサを配置した場合には、ガイドレールの摩擦抵抗が大きくなっている異常や、ガイドレールに凸凹が発生している異常の発生を診断することができる。また成形品取出機の負荷トルクを振動信号とした場合には、成形取出機内のいずれかの機械の伝達系のガタツキを診断することができる。またサーボモータの帰還速度のジャーク信号からは、サーボモータの制御パラメータの設定間違いによる異常の発生を診断することができる。図２を用いて説明したように、制御パラメータの誤りがあると、位相の大きな遅れが無い状態で、ジャーク信号中に正常時よりも余分なパルスが発生することから、余分なパルスの発生数を見ることにより、制御パラメータの設定誤りを診断すればよい。
【産業上の利用可能性】
【００１４】
本発明によれば、従来よりも、高い精度で異常の発生の予兆及び異常の発生を診断することができる。
【符号の説明】
【００１５】
１  振動検出部
３  ジャーク信号発生部
５  ジャーク信号記憶部
７  異常診断部
【図１】
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【図２】
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