(57)【要約】【課題】本発明は、直感的な操作でイベントの変更を可能とするとともに、イベントの数が多くなった場合でも効率的な障害点の確認が可能な光パルス試験器を提供する。【解決手段】本発明は、イベントを示すアイコンをイベント表示領域ＡＩＶに表示し、イベント表示領域内の特定領域ＡＡＴＴに位置するイベントの情報を情報表示領域ＡＩＮＦに表示する表示部と、イベント表示領域におけるスワイプ操作とタップ操作を検出する操作検出部と、スワイプ操作に従ってイベント表示領域に表示するイベントを移動させるとともに他操作不要で特定領域に位置するイベントごとに情報表示領域に表示する情報を変化させ、且つ特定領域外に位置するアイコンへのタップ操作が検出された場合に当該アイコンを移動させて特定領域に移動させるとともに他操作不要で当該アイコンが示すイベントの情報を情報表示領域に表示する注目イベント変更部と、を備える。【選択図】図３
2019113561.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定光ファイバに光パルスを入射し、光パルスが前記被測定光ファイバで反射又は散乱された戻り光を受光する測定部と、
前記戻り光の強度が変化するイベントを検出するイベント検出部と、
前記イベントを示す複数個のアイコンをイベント表示領域に表示し、前記イベント表示領域内の特定領域に位置するアイコンが示すイベントの情報を情報表示領域に表示する表示部と、
前記イベント表示領域におけるスワイプ操作および前記アイコン上でのタップ操作を検出する操作検出部と、
前記操作検出部が検出したスワイプ操作で定められる方向に前記イベント表示領域に表示するアイコンを移動させるとともに、当該スワイプ操作に加えての操作なく前記特定領域に位置するアイコンが示すイベントごとに前記情報表示領域に表示する情報を変化させる注目イベント変更部と、
を備え、
前記注目イベント変更部はさらに、前記特定領域に位置していない所定のアイコンへのタップ操作が検出されたことを条件に、前記所定のアイコンを移動させて前記特定領域に移動させるとともに、前記所定のアイコンへの前記タップ操作に加えての操作なく前記所定のアイコンが示すイベントの情報を前記情報表示領域に表示する、
光パルス試験器。
【請求項２】
前記表示部は、前記被測定光ファイバ全体における各イベントの発生地点を発生地点表示領域に表示し、
前記操作検出部は、前記発生地点表示領域における前記発生地点上でのタップ操作を検出し、
前記注目イベント変更部は、前記イベント表示領域に表示するアイコンをスクロールさせ、前記タップ操作が検出された前記発生地点のイベントの前記アイコンを前記特定領域に移動させる、
請求項１に記載の光パルス試験器。
【請求項３】
前記操作検出部は、異なる２つの前記イベントのアイコン上でのタップ操作を検出し、
前記タップ操作が検出された前記アイコンのイベント間の距離及び損失を算出する算出部をさらに備え、
前記表示部は、前記タップ操作が検出された前記アイコンを強調表示し、前記算出部の算出した距離及び損失を前記情報表示領域に表示する、
請求項１又は２に記載の光パルス試験器。
【請求項４】
前記表示部は、前記被測定光ファイバ全体における各イベントの発生地点を発生地点表示領域に表示し、
前記操作検出部は、前記発生地点表示領域における異なる２つの前記発生地点上でのタップ操作を検出し、
前記タップ操作が検出された前記発生地点間の距離及び損失を算出する算出部をさらに備え、
前記表示部は、前記タップ操作が検出された前記発生地点を強調表示し、前記算出部の算出した距離及び損失を前記情報表示領域に表示する、
請求項１から３のいずれかに記載の光パルス試験器。
【請求項５】
前記表示部は、前記イベントを示す複数個のアイコンを前記被測定光ファイバにおける前記イベントの発生順に表示する、
請求項１から４のいずれかに記載の光パルス試験器。
【請求項６】
前記表示部は、前記特定領域に位置するイベントのアイコンを、前記特定領域外に位置するイベントのアイコンよりも拡大して表示する、
請求項１から５のいずれかに記載の光パルス試験器。
【請求項７】
被測定光ファイバに光パルスを入射し、光パルスが前記被測定光ファイバで反射又は散乱された戻り光を受光する測定手順と、
前記測定手順の測定結果を用いて、前記戻り光の強度が変化するイベントを検出するイベント検出手順と、
前記イベントを示す複数個のアイコンを表示部のイベント表示領域に表示し、前記イベント表示領域内の特定領域に位置するイベントの情報を前記表示部の情報表示領域に表示する表示手順と、
前記イベント表示領域におけるスワイプ操作を検出すると、前記スワイプ操作で定められる方向に前記イベント表示領域に表示するイベントを移動させるとともに、当該スワイプ操作に加えての操作なく前記特定領域に位置するイベントごとに前記情報表示領域に表示する情報を変化させる、
且つ、前記特定領域に位置していない所定のアイコンへのタップ操作を検出すると、前記所定のアイコンを移動させて前記特定領域に移動させるとともに、前記所定のアイコンへの前記タップ操作に加えての操作なく前記所定のアイコンが示すイベントの情報を前記情報表示領域に表示する注目イベント変更手順と、
を有する光パルス試験器の表示方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光パルス試験器及び光パルス試験器の表示方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバ線路の障害点を検出する光パルス試験器として、ＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）が用いられている。モバイルトラフィックの大容量化に伴い、光ファイバの敷設量は急速に拡大しているが、その一方で光ファイバケーブルの取り扱いが不慣れな作業者がＯＴＤＲを使用するケースが増えてきている。このため、光パルス試験器には、解析結果が分かりやすく、かつ直感的な操作ができることが求められている（例えば、非特許文献１参照。）。
【０００３】
図１１に、非特許文献１の画面構成例を示す。画面には解析により検出した線路の障害点となるイベントＩｖ１８〜Ｉｖ２４を示すアイコン、注目イベント（作業者が確認したい個所）であるイベントＩｖ２１の詳細、表示部１１３の外に設けられた注目イベントを変更するためのハードキー（不図示）で構成される。またアイコンには障害の分類が図柄で示され、注目イベントは拡大または枠で囲むなどで表示され、情報表示領域ＡＩＮＦにはその障害点情報（距離、損失、障害分類）などが表示される。障害があった場合、作業者は障害の距離、損失を特定するために、ハードキーを操作して注目イベントを変更する。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】村上太一、牧達幸、福嶋大輝、山崎智英、「ＭＴ９０８３  アクセスマスタ  Ｆｉｂｅｒ  Ｖｉｓｕａｌｉｚｅｒおよび光コネクタ端面検査機能の開発」、アンリツテクニカル、Ｎｏ．８９、Ｍａｒ．２０１４
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし上記の構成では、イベントの数が多くなった場合、注目イベントの変更を行なう際にイベントの数だけハードキーを押下せねばならない。このため、イベントの数が多くなった場合、非特許文献１の光パルス試験器は、操作が多くなり、効率的な障害の確認ができなくなっていた。
【０００６】
そこで、本発明は、直感的な操作で注目イベントの変更が可能であるとともに、イベントの数が多くなった場合であっても効率的な障害点の確認が可能な光パルス試験器の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る光パルス試験器は、被測定光ファイバに光パルスを入射し、光パルスが前記被測定光ファイバで反射又は散乱された戻り光を受光する測定部と、前記戻り光の強度が変化するイベントを検出するイベント検出部と、前記イベントを示す複数個のアイコンをイベント表示領域に表示し、前記イベント表示領域内の特定領域に位置するアイコンが示すイベントの情報を情報表示領域に表示する表示部と、前記イベント表示領域におけるスワイプ操作および前記アイコン上でのタップ操作を検出する操作検出部と、前記操作検出部が検出したスワイプ操作で定められる方向に前記イベント表示領域に表示するアイコンを移動させるとともに、当該スワイプ操作に加えての操作なく前記特定領域に位置するアイコンが示すイベントごとに前記情報表示領域に表示する情報を変化させる注目イベント変更部と、を備え、前記注目イベント変更部はさらに、前記特定領域に位置していない所定のアイコンへのタップ操作が検出されたことを条件に、前記所定のアイコンを移動させて前記特定領域に移動させるとともに、前記所定のアイコンへの前記タップ操作に加えての操作なく前記所定のアイコンが示すイベントの情報を前記情報表示領域に表示する。
【０００８】
本発明に係る光パルス試験器では、前記表示部は、前記被測定光ファイバ全体における各イベントの発生地点を発生地点表示領域に表示し、前記操作検出部は、前記発生地点表示領域における前記発生地点上でのタップ操作を検出し、前記注目イベント変更部は、前記イベント表示領域に表示するアイコンをスクロールさせ、前記タップ操作が検出された前記発生地点のイベントの前記アイコンを前記特定領域に移動させてもよい。
【０００９】
本発明に係る光パルス試験器では、前記操作検出部は、異なる２つの前記イベントのアイコン上でのタップ操作を検出し、前記タップ操作が検出された前記アイコンのイベント間の距離及び損失を算出する算出部をさらに備え、前記表示部は、前記タップ操作が検出された前記アイコンを強調表示し、前記算出部の算出した距離及び損失を前記情報表示領域に表示してもよい。
【００１０】
本発明に係る光パルス試験器では、前記表示部は、前記被測定光ファイバ全体における各イベントの発生地点を発生地点表示領域に表示し、前記操作検出部は、前記発生地点表示領域における異なる２つの前記発生地点上でのタップ操作を検出し、前記タップ操作が検出された前記発生地点間の距離及び損失を算出する算出部をさらに備え、前記表示部は、前記タップ操作が検出された前記発生地点を強調表示し、前記算出部の算出した距離及び損失を前記情報表示領域に表示してもよい。
【００１１】
本発明に係る光パルス試験器では、前記表示部は、前記イベントを示す複数個のアイコンを前記被測定光ファイバにおける前記イベントの発生順に表示してもよい。
【００１２】
本発明に係る光パルス試験器では、前記表示部は、前記特定領域に位置するイベントのアイコンを、前記特定領域外に位置するイベントのアイコンよりも拡大して表示してもよい。
【００１３】
本発明に係る光パルス試験器の表示方法は、被測定光ファイバに光パルスを入射し、光パルスが前記被測定光ファイバで反射又は散乱された戻り光を受光する測定手順と、前記測定手順の測定結果を用いて、前記戻り光の強度が変化するイベントを検出するイベント検出手順と、前記イベントを示す複数個のアイコンを表示部のイベント表示領域に表示し、前記イベント表示領域内の特定領域に位置するイベントの情報を前記表示部の情報表示領域に表示する表示手順と、前記イベント表示領域におけるスワイプ操作を検出すると、前記スワイプ操作で定められる方向に前記イベント表示領域に表示するイベントを移動させるとともに、当該スワイプ操作に加えての操作なく前記特定領域に位置するイベントごとに前記情報表示領域に表示する情報を変化させる、且つ、前記特定領域に位置していない所定のアイコンへのタップ操作を検出すると、前記所定のアイコンを移動させて前記特定領域に移動させるとともに、前記所定のアイコンへの前記タップ操作に加えての操作なく前記所定のアイコンが示すイベントの情報を前記情報表示領域に表示する注目イベント変更手順と、を有する。
【００１４】
なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、直感的な操作で注目イベントの変更が可能であるとともに、イベントの数が多くなった場合であっても効率的な障害点の確認が可能な光パルス試験器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】実施形態に係る光パルス試験器の構成例を示す。
【図２】実施形態１における画面構成例を示す。
【図３】実施形態１における注目イベント変更後の画面構成例を示す。
【図４】実施形態１におけるタッチキーＫＲをタップ後の画面構成例を示す。
【図５】実施形態１におけるタッチキーＫＬをタップ後の画面構成例を示す。
【図６】イベント表示領域の第２の表示例を示す。
【図７】イベント表示領域の第３の表示例を示す。
【図８】イベント表示領域の第４の表示例を示す。
【図９】実施形態２における画面構成例を示す。
【図１０】実施形態３における画面構成例を示す。
【図１１】非特許文献１の画面構成例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本発明は、以下に示す実施形態に限定されるものではない。これらの実施の例は例示に過ぎず、本発明は当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した形態で実施することができる。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００１８】
（実施形態１）
図１に、本実施形態に係る光パルス試験器の構成例を示す。本実施形態に係る光パルス試験器９１は、ＯＴＤＲ波形測定部１１、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）１２、表示部１３、操作検出部１４を備える。操作検出部１４は、作業者による操作を検出する。本実施形態に係る表示部１３は、タッチパネルを用いた操作検出部１４を有する。
【００１９】
ＯＴＤＲ波形測定部１１は、測定部として機能し、被測定光ファイバ９２に光パルスを入射し、光パルスが被測定光ファイバ９２で反射又は散乱された戻り光を受光することで、被測定光ファイバ９２のＯＴＤＲ波形を測定する。ＣＰＵ１２は、イベント検出部として機能し、ＯＴＤＲ波形を解析してイベントを検出する。ここで、イベントは、戻り光の強度が変化する任意の障害点である。任意の障害は、例えば、コネクタ、分岐、曲げ、融着である。ＣＰＵ１２は、ＯＴＤＲ波形の解析結果の表示データを表示部１３に出力する。これにより、表示部１３は、被測定光ファイバ９２のイベントのアイコンを含む各種情報を表示する。
【００２０】
図２に、本実施形態に係る画面構成例を示す。イベント表示領域ＡＩＶに、被測定光ファイバ９２上で連続する３以上のイベントＩｖ１８〜Ｉｖ２４のアイコンが表示されている。各アイコンは、光線路を示す直線で接続されている。アイコンには、障害の種類に応じた図柄が付される。これにより、被測定光ファイバ９２におけるイベントの発生順及び障害の分類を同時に表示する。イベント表示領域ＡＩＶのうちの特定領域ＡＡＴＴ内に配置されているイベントＩｖ２１のアイコンは、注目イベントとして、拡大表示されている。
【００２１】
各アイコンは、敷設状態の合否によって定められる色又は模様が付されていてもよい。例えば、イベントが合格のときはアイコンの背景又は外縁を青又は緑で表示し、イベントが不合格のときはアイコンの背景又は外縁を赤で表示する。このように、イベントの合否によって色分けすることで、イベント表示領域ＡＩＶに表示するアイコンを小さくした場合であっても、不合格のイベントが存在することを明示することができる。
【００２２】
表示部１３は、情報表示領域ＡＩＮＦに、注目イベントの情報を表示する。例えば、注目イベントがイベントＩｖ２１の場合、ＣＰＵ１２は、被測定光ファイバ９２の入射端又は遠端からイベントＩｖ２１までの距離、イベントＩｖ２１での反射減衰量、イベントＩｖ２１での損失値、ＯＴＤＲ波形におけるイベントＩｖ２１での拡大波形、イベントＩｖ２１の合否、の少なくともいずれかを情報表示領域ＡＩＮＦに表示する。
【００２３】
表示部１３は、情報表示領域ＡＩＮＦに、被測定光ファイバ９２全体での合否を表示することが好ましい。また、表示部１３は、情報表示領域ＡＩＮＦに、被測定光ファイバ９２全体での損失値を表示することが好ましい。被測定光ファイバ９２全体での損失値及びイベントＩｖ２１での損失値の両方を表示することで、イベントＩｖ２１での損失値の寄与の度合いを把握することができる。
【００２４】
操作検出部１４は、イベント表示領域ＡＩＶにおけるスワイプ操作Ｄ１の操作量を検出する。すると、ＣＰＵ１２は、注目イベント変更部として機能し、スワイプ操作Ｄ１の操作量に従ってイベント表示領域ＡＩＶに表示するイベントのアイコンをスクロールさせる。このため、左から右にスワイプ操作Ｄ１を行うと、各イベントＩｖ１８〜Ｉｖ２４が右に水平移動する。このとき、移動中に最も特定領域ＡＡＴＴに近いアイコンのイベントが常に注目イベントとなる。これにより、図３に示すように、移動後のイベントＩｖ１５〜Ｉｖ２１のアイコンがイベント表示領域ＡＩＶに表示される。スワイプの加速度を感知し移動に慣性を持たせることも可能である。
【００２５】
ここで、イベントＩｖ１８のアイコンが特定領域ＡＡＴＴに移動するまでの間に、イベントＩｖ２０及びＩｖ１９のアイコンが順に特定領域ＡＡＴＴを通過する。このとき、イベントＩｖ２０及びＩｖ１９のアイコンについても、特定領域ＡＡＴＴを通過する際は、拡大表示される。このように、スワイプ操作Ｄ１によってイベントが特定領域ＡＡＴＴを通過する際、特定領域ＡＡＴＴ内に表示されるイベントのアイコンを拡大表示することが好ましい。
【００２６】
また、イベントＩｖ２０及びＩｖ１９のアイコンが順に特定領域ＡＡＴＴを通過するとき、ＣＰＵ１２は、注目イベント変更部として機能し、情報表示領域ＡＩＮＦに表示する情報を、特定領域ＡＡＴＴに位置するアイコンのイベントＩｖ２０及びＩｖ１９ごとに変化させる。このように、画面を指などで左右になぞるスワイプ操作により、アイコン列をスクロール可能にし、常に特定領域ＡＡＴＴのイベントを注目イベントとする。
【００２７】
操作検出部１４は、表示部１３に表示されているタッチキーＫＲ及びＫＬへのタップ操作を検出することが好ましい。タッチキーＫＲが１度タップされると、ＣＰＵ１２は、イベント表示領域ＡＩＶに表示するアイコンのイベントを左に移動する。図２の表示状態からタッチキーＫＲを１度タップすると、図４に示すように、イベントＩｖ２５〜Ｉｖ３１のアイコンがイベント表示領域ＡＩＶに表示され、イベントＩｖ２８のアイコンが特定領域ＡＡＴＴ内に配置される。タッチキーＫＬが１度タップされると、ＣＰＵ１２は、イベント表示領域ＡＩＶに表示するイベントのアイコンを右に移動する。図２の表示状態からタッチキーＫＬを１度タップすると、図５に示すように、イベントＩｖ１１〜Ｉｖ１７のアイコンがイベント表示領域ＡＩＶに表示され、イベントＩｖ１４のアイコンが特定領域ＡＡＴＴ内に配置される。なお、タッチキーＫＲ及びＫＬは、１度のタップ操作でアイコン１個分の移動動作となるようにしてもよいことは言うまでもない。
【００２８】
操作検出部１４は、イベント表示領域ＡＩＶにおけるピンチ操作及びストレッチ操作を検出することが好ましい。この場合、ピンチ操作に従って非注目イベントのアイコンを小さくし、ストレッチ操作に従って非注目イベントのアイコンを大きくする。
【００２９】
以上説明したように、本実施形態は、スワイプ操作やタッチキーＫＲ及びＫＬのタップ操作によって注目イベントを変更できるため、複数回の操作が必要だった注目イベントの変更を、１回の操作で可能にすることができる。これにより、本実施形態は、イベントの数が多くなった場合であっても、直感的な操作で注目イベントの変更が容易になるとともに、効率的な障害点の確認が可能な光パルス試験器９１を提供することができる。
【００３０】
なお、特定領域ＡＡＴＴは、イベント表示領域ＡＩＶの任意の領域とすることが可能である。例えば、図２及び図３に示すようなイベント表示領域ＡＩＶの中央であってもよいし、イベント表示領域ＡＩＶの端であってもよい。
【００３１】
また、イベント表示領域ＡＩＶに表示されるイベントのアイコンの数は３以上の任意の数とすることができる。例えば、イベント表示領域ＡＩＶに表示されるイベントのアイコンの数は、図２及び図３に示す７に限らず、８以上としてもよい。
【００３２】
また、図２及び図３のスワイプ操作例では、右方向へのスワイプ操作を示したが、左方向へのスワイプ操作の場合も、右方向へのスワイプ操作と同様に、各イベントＩｖ１８〜Ｉｖ２４が左に水平移動し、移動中に最も特定領域ＡＡＴＴに近いアイコンのイベントが常に注目イベントとなる。
【００３３】
また、図２から図５ではイベント表示領域ＡＩＶに表示される各アイコンが画面の左右に配置されている例を示したが、本実施形態に係る発明はこれに限定されない。例えば、図６に示すように、各アイコンが画面の上下に配置されていてもよい。この場合、光線路が上下に接続されることになるため、アイコンの図柄は、光線路を示す直線に合わせた向きに回転させることが好ましい。
【００３４】
また、図２から図５ではイベント表示領域ＡＩＶに表示される各アイコンが一定間隔で配置されている例を示したが、本実施形態に係る発明はこれに限定されない。例えば、図７に示すように、特定領域ＡＡＴＴ外においては非注目イベントを重ねて表示してもよい。
【００３５】
この場合、アイコン同士が重なる領域は、均一であってもよいが、均一でないことが好ましい。例えば、アイコン同士の重なりは、注目イベントから近いイベントのアイコンよりも注目イベントから遠いイベントの方が大きいことが好ましい。これにより、より多くのイベントのアイコンをイベント表示領域ＡＩＶに表示することができ、被測定光ファイバ９２のイベント数の多少を一目で把握することができる。
【００３６】
また、図２から図５ではイベント表示領域ＡＩＶに表示される各アイコンが直線的に配置されている例を示したが、本実施形態に係る発明はこれに限定されない。特定領域ＡＡＴＴ外においては非注目イベントを曲線的に配置してもよい。曲線は任意であるが、例えば、図８に示すように、円弧状とすることができる。これにより、より多くのイベントのアイコンをイベント表示領域ＡＩＶに表示することができる。
【００３７】
この場合、図８に示すように、特定領域ＡＡＴＴ外においては非注目イベントを重ねて表示することが好ましい。アイコン同士が重なる領域は、均一であってもよいが、均一でないことが好ましい。例えば、アイコン同士の重なりは、注目イベントから近いイベントのアイコンよりも注目イベントから遠いイベントの方が大きいことが好ましい。
【００３８】
図８に示す画面構成では、イベント表示領域ＡＩＶに多くのイベントを表示することができる。このため、イベント表示領域ＡＩＶには被測定光ファイバ９２の全イベントのアイコンがすべて表示されていてもよい。この場合、ＣＰＵ１２は、注目イベント変更部として機能する際に、スワイプ操作Ｄ１に従って、円形に配列されたアイコンが注目イベントを切り替えながら回転させる。
【００３９】
（実施形態２）
図９に、本実施形態に係る画面構成例を示す。本実施形態では、操作検出部１４が、実施形態１の機能に加え、さらに、イベント表示領域ＡＩＶに表示されているアイコン上でのタップ操作を検出する。すると、ＣＰＵ１２は、注目イベント変更部として機能し、タップ操作の検出されたアイコンを特定領域ＡＡＴＴに移動させる。
【００４０】
例えば、非注目イベントであるイベントＩｖ１８のアイコンが押下（タップ）されると、ＣＰＵ１２は、イベント表示領域ＡＩＶに表示するアイコンをスクロールさせ、イベントＩｖ１８のアイコンを特定領域ＡＡＴＴに移動させて注目イベントとする。このように、注目したいイベントをタップすることで、イベント表示領域ＡＩＶ内の各イベントが瞬時に水平移動し、タップされたイベントが注目イベントとなる。これにより、図３に示すように、移動後のイベントＩｖ１５〜Ｉｖ２１のアイコンがイベント表示領域ＡＩＶに表示される。
【００４１】
このとき、スワイプ操作Ｄ１と同様に、イベントＩｖ２０及びＩｖ１９のアイコンが特定領域ＡＡＴＴを通過する際、イベントＩｖ２０及びＩｖ１９を注目イベントとすることが好ましい。
【００４２】
（実施形態３）
ＣＰＵ１２は、ＯＴＤＲ波形を用いてイベントを検出する際、イベントの発生地点を検出する。表示部１３が、被測定光ファイバ９２全体における各イベントの発生地点を発生地点表示領域ＡＰに表示する。
【００４３】
図１０に、本実施形態に係る画面構成例を示す。本実施形態では、一例として、イベントＩｖ１８〜Ｉｖ２４の発生地点Ｐ１８〜Ｐ２４が発生地点表示領域ＡＰに表示される場合を示す。例えば、発生地点表示領域ＡＰは、被測定光ファイバ９２全体を示す直線を有し、当該直線上のうちの被測定光ファイバ９２全体に対するイベントの発生地点Ｐ１８〜Ｐ２４を表示する。
【００４４】
ここで、発生地点Ｐ１８〜Ｐ２４は、敷設状態の合否によって定められる色又は模様が付されていることが好ましい。これにより、敷設状態が不合格となっているイベントの発生地点を速やかに特定することができる。
【００４５】
本実施形態では、操作検出部１４は、実施形態１の機能に加え、さらに、表示部１３に表示されている発生地点Ｐ１８〜Ｐ２４上でのタップ操作を検出する。例えば、発生地点Ｐ１８がタップされたとする。この場合、ＣＰＵ１２は、注目イベント変更部として機能し、イベント表示領域ＡＩＶに表示するアイコンをスクロールさせ、タップ操作が検出された発生地点Ｐ１８のイベントＩｖ１８のアイコンを特定領域ＡＡＴＴに移動させる。これにより、図３に示すように、移動後のイベントＩｖ１５〜Ｉｖ２１のアイコンがイベント表示領域ＡＩＶに表示される。
【００４６】
このように、本実施形態は、注目したいイベントの発生地点をタップすることで、イベント表示領域ＡＩＶ内の各イベントが瞬時に水平移動し、タップされたイベントが注目イベントとなる。このとき、スワイプ操作Ｄ１と同様に、イベントＩｖ２０及びＩｖ１９のアイコンが特定領域ＡＡＴＴを通過する際、イベントＩｖ２０及びＩｖ１９を注目イベントとすることが好ましい。
【００４７】
（実施形態４）
実施形態１から実施形態３では、注目イベントが１地点のみであったが、本実施形態では注目イベントが２地点である。本実施形態に係る光パルス試験器９１は、イベント表示領域ＡＩＶでのタップ操作に応じて表示部１３の表示を変更する。
【００４８】
本実施形態に係る光パルス試験器９１は、図１に示す構成を用いることができる。実施形態１及び２に係る光パルス試験器９１に本実施形態を適用する場合、図２〜図９に示す画面構成を用いることができる。実施形態３に係る光パルス試験器９１に本実施形態を適用する場合、図１０に示す画面構成を用いることができる。
【００４９】
操作検出部１４は、異なる２つのイベントのアイコン上でのタップ操作を検出する。例えば、イベントＩｖ１８及びＩｖ２０のアイコン上でタップ操作が行われる。すると、表示部１３は、タップ操作が検出されたイベントＩｖ１８及びＩｎ２０のアイコンを強調表示する。強調表示は、例えば、アイコンを拡大してもよいし、他のアイコンとは異なる色にしてもよい。
【００５０】
ＣＰＵ１２は、算出部として機能し、タップ操作が検出されたアイコンのイベントＩｖ１８及びＩｎ２０の距離及び損失を算出する。表示部１３は、ＣＰＵ１２の算出した距離及び損失を情報表示領域ＡＩＮＦに表示する。
【００５１】
以上説明したように、本実施形態は、注目イベントが１地点である実施形態１から実施形態３に加え、さらに注目イベントを２地点とした場合の表示を行うことができる。
【００５２】
ただし、実施形態２に本実施形態を適用する際は、注目イベントが１地点であるか２地点であるかを操作検出部１４が識別できるようにする。例えば、１つのアイコンのみがタップされた場合、操作検出部１４は注目イベントが１地点であると判定し、２つのアイコンが同時にタップされた場合、操作検出部１４は注目イベントが２地点であると判定する。
【００５３】
（実施形態５）
本実施形態に係る光パルス試験器９１は、実施形態４と同様に、注目イベントが２地点である。本実施形態に係る光パルス試験器９１は、発生地点表示領域ＡＰでのタップ操作に応じて表示部１３の表示を変更する。
【００５４】
本実施形態に係る光パルス試験器９１は、図１に示す構成を用いることができる。実施形態１から実施形態４に係る光パルス試験器９１に本実施形態を適用する場合、図１０に示す画面構成を用いることができる。
【００５５】
本実施形態では、操作検出部１４は、発生地点表示領域ＡＰにおける異なる２つの発生地点上でのタップ操作を検出する。例えば、発生地点Ｐ１８及びＰ２０上でタップ操作が行われる。すると、表示部１３は、タップ操作が検出された発生地点１８及びＰ２０を強調表示する。強調表示は、例えば、図１０に示すＰ１８のように発生地点を示す印を拡大してもよいし、発生地点を示す印の色を変えてもよい。
【００５６】
ＣＰＵ１２は、算出部として機能し、タップ操作が検出された発生地点１８及びＰ２０間の距離及び損失を算出する。表示部１３は、ＣＰＵ１２の算出した距離及び損失を情報表示領域ＡＩＮＦに表示する。
【００５７】
以上説明したように、本実施形態は、注目イベントが１地点である実施形態１から実施形態３に加え、さらに注目イベントを２地点とした場合の表示を行うことができる。ただし、実施形態３に本実施形態を適用する際は、注目イベントが１地点であるか２地点であるかを操作検出部１４が識別できるようにする。
【００５８】
例えば、１つの発生地点のみがタップされた場合、操作検出部１４は注目イベントが１地点であると判定し、２つの発生地点が同時にタップされた場合、操作検出部１４は注目イベントが２地点であると判定する。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
本発明は情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【００６０】
１１：ＯＴＤＲ波形測定部
１２：ＣＰＵ
１３、１１３：表示部
１４：操作検出部
９１：光パルス試験器
９２：被測定光ファイバ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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