(57)【要約】      （修正有）【課題】スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを低コストで収集する眼科装置およびデータ収集方法を提供する。【解決手段】眼科装置は、掃引範囲が変更可能な波長掃引光源１１により波長掃引された光を測定光と参照光とに分割し、測定光を光スキャナ４０を介して被検眼に投射し、被検眼からの測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する。互いに異なる掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を被検眼における第１投射位置に対して複数回投射させることにより複数回の部分Ａスキャンを実行させ、かつ、複数回の部分Ａスキャンの間に前記光スキャナを制御して測定光を第２投射位置に対して少なくとも１回投射させる制御部と、ＯＣＴ光学系による干渉光の検出結果に基づいて取得された複数回の部分Ａスキャンに対応する複数の部分スキャンデータを用いて前記第１投射位置に対応するＡスキャンデータを生成するスキャンデータ生成部と、を含む。【選択図】図１
2019025185.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを収集する眼科装置であって、
光スキャナと、
掃引範囲が変更可能な波長掃引光源により波長掃引された光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を前記光スキャナを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出するＯＣＴ光学系と、
互いに異なる前記掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を前記被検眼における第１投射位置に対して複数回投射させることにより複数回の部分Ａスキャンを実行させ、かつ、前記複数回の部分Ａスキャンの間に前記光スキャナを制御して測定光を第２投射位置に対して少なくとも１回投射させる制御部と、
前記ＯＣＴ光学系による前記干渉光の検出結果に基づいて取得された前記複数回の部分Ａスキャンに対応する複数の部分スキャンデータを用いて前記第１投射位置に対応するＡスキャンデータを生成するスキャンデータ生成部と、
を含む眼科装置。
【請求項２】
前記制御部は、第１掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を前記第１投射位置及び前記第２投射位置を含む複数の投射位置に対して投射させることにより複数回の部分Ａスキャンを実行させた後、前記第１掃引範囲と異なる第２掃引範囲で掃引された光に基づく測定光を前記第１投射位置に対して投射させることにより新たな部分Ａスキャンを実行させる
ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
互いに異なる測定光の投射位置に対応する複数の前記Ａスキャンデータに基づいてＢスキャン画像を形成する画像形成部を含む
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科装置。
【請求項４】
ＳＬＯ光源からの光を前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出するＳＬＯ光学系と、
前記測定光の光路と前記ＳＬＯ光源からの光の光路とを合成する光路合成部材と、
を含み、
前記光スキャナは、前記光路合成部材による合成光路に配置されている
ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項５】
前記光スキャナは、レゾナントスキャナを含む
ことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項６】
前記波長掃引光源を含む
ことを特徴とする請求項１〜請求項５のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項７】
スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを収集するデータ収集方法であって、
第１掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を前記被検眼における第１投射位置に投射し、その戻り光を検出することにより前記被検眼の第１スキャンデータを取得する第１スキャンステップと、
前記第１スキャンステップの後に、前記被検眼において前記測定光の入射方向と交差する方向の第２投射位置に測定光を投射し、その戻り光を検出することにより前記被検眼の第２スキャンデータを取得する第２スキャンステップと、
前記第２スキャンステップの後に、前記第１掃引範囲と異なる第２掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を前記第１投射位置に投射し、その戻り光を検出することにより前記被検眼の第３スキャンデータを取得する第３スキャンステップと、
を含むデータ収集方法。
【請求項８】
前記第１スキャンデータと前記第３スキャンデータとを用いて前記第１投射位置に対応するＡスキャンデータを生成するスキャンデータ生成ステップを含む
ことを特徴とする請求項７に記載のデータ収集方法。
【請求項９】
互いに異なる測定光の投射位置に対応する複数の前記Ａスキャンデータに基づいてＢスキャン画像を形成する画像形成ステップを含む
ことを特徴とする請求項７又は請求項８に記載のデータ収集方法。
【請求項１０】
前記第２スキャンステップでは、前記第１掃引範囲で掃引された光に基づく測定光を前記第２投射位置を含む複数の投射位置に対して投射させる
ことを特徴とする請求項７〜請求項９のいずれか一項に記載のデータ収集方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、眼科装置、及びデータ収集方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、レーザ光源等からの光ビームを用いて被測定物体の形態を測定したり画像化したりするＯＣＴが注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。例えば、眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化されている。このようなＯＣＴを用いた装置（ＯＣＴ装置）は被検眼の様々な部位（眼底や前眼部）の観察に適用可能である。また、高精細な画像を取得できることから、様々な眼科疾患の診断に応用されている。
【０００３】
ＯＣＴを実現する手法については様々なものが提案されている。その中でもスウェプトソース（Ｓｗｅｐｔ  Ｓｏｕｒｃｅ）ＯＣＴは、画像を高速に取得したり、観察部位の深部を高感度に測定したりすることが可能である。スウェプトソースＯＣＴは、測定光の波長を変化させることで観察部位の深さ方向の情報を取得する。
【０００４】
一方、眼疾患のスクリーニングや治療などを行うために、簡便に広い視野で被検眼の眼底などの観察や撮影が可能な眼科装置が求められている。このような眼科装置として、走査型レーザ検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：以下、ＳＬＯ）が知られている。ＳＬＯは、光で眼底をスキャンし、その戻り光を受光デバイスで検出することにより眼底の平面画像を形成する装置である。
【０００５】
例えば、特許文献１には、被検眼の網膜の平面画像を取得する機能と、この網膜の深度スライス画像を取得するための機能とを備えた眼科装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特表２０１０−５０８１０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
スウェプトソースＯＣＴを用いて２次元又は３次元の断層像を取得する場合、波長掃引された測定光を被検眼に投射して深さ方向のスキャン（Ａスキャン）を行い、その後、測定光の投射位置を水平方向や上下方向に移動させつつＡスキャンを繰り返す。
【０００８】
一般的な波長掃引光源による掃引周波数は約１００ｋＨｚ（キロヘルツ）であるため、１つのＡスキャンには約１０μｓ（マイクロ秒）を要する。例えば１ラインが５００点のＢスキャンには５０００（＝１０×５００）μｓを要し、往復時間を考慮すると１００００μｓ（０．１ｋＨｚ）を要することになる。すなわち、Ｂスキャンを行うために測定光を偏向する光スキャナには、０．１ｋＨｚ以下の周波数で偏向するものが必要になる。
【０００９】
安価で安定性や耐久性に優れた共振タイプの光スキャナであるレゾナントスキャナは１０ｋＨｚ程度の周波数で測定光を偏向するため、上記のようなＢスキャン用の光スキャナとして採用することができない。或いは、Ｂスキャン用の光スキャナとしてこの種の高速光スキャナを採用する場合、掃引周波数が高いより高価な波長掃引光源を用いる必要がある。
【００１０】
一方、ＳＬＯでは、被検眼の固視微動等の影響を最小限に抑えるため、レゾナントスキャナのような高速光スキャナを採用する必要がある。従って、ＳＬＯとスウェプトソースＯＣＴとを備えた眼科装置においては、特許文献１に開示されているようにＳＬＯ用の光スキャナとスウェプトソースＯＣＴ用の光スキャナとを別個に用意する必要があり、低コスト化や小型化が困難である。
【００１１】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを低コストで収集するための新たな技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
実施形態に係る第１態様は、スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを収集する眼科装置であって、光スキャナと、掃引範囲が変更可能な波長掃引光源により波長掃引された光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を前記光スキャナを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出するＯＣＴ光学系と、互いに異なる前記掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を前記被検眼における第１投射位置に対して複数回投射させることにより複数回の部分Ａスキャンを実行させ、かつ、前記複数回の部分Ａスキャンの間に前記光スキャナを制御して測定光を第２投射位置に対して少なくとも１回投射させる制御部と、前記ＯＣＴ光学系による前記干渉光の検出結果に基づいて取得された前記複数回の部分Ａスキャンに対応する複数の部分スキャンデータを用いて前記第１投射位置に対応するＡスキャンデータを生成するスキャンデータ生成部と、を含む。
【００１３】
また、実施形態に係る第２態様では、第１態様において、前記制御部は、第１掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を前記第１投射位置及び前記第２投射位置を含む複数の投射位置に対して投射させることにより複数回の部分Ａスキャンを実行させた後、前記第１掃引範囲と異なる第２掃引範囲で掃引された光に基づく測定光を前記第１投射位置に対して投射させることにより新たな部分Ａスキャンを実行させてもよい。
【００１４】
また、実施形態に係る第３態様は、第１態様又は第２態様において、互いに異なる測定光の投射位置に対応する複数の前記Ａスキャンデータに基づいてＢスキャン画像を形成する画像形成部を含んでもよい。
【００１５】
また、実施形態に係る第４態様は、第１態様〜第３態様のいずれかにおいて、ＳＬＯ光源からの光を前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出するＳＬＯ光学系と、前記測定光の光路と前記ＳＬＯ光源からの光の光路とを合成する光路合成部材と、を含み、前記光スキャナは、前記光路合成部材による合成光路に配置されていてもよい。
【００１６】
また、実施形態に係る第５態様は、第１態様〜第４態様のいずれかにおいて、前記光スキャナは、レゾナントスキャナを含んでもよい。
【００１７】
また、実施形態に係る第６態様は、第１態様〜第５態様のいずれかにおいて、前記波長掃引光源を含んでもよい。
【００１８】
また、実施形態に係る第７態様は、スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを収集するデータ収集方法であって、第１掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を前記被検眼における第１投射位置に投射し、その戻り光を検出することにより前記被検眼の第１スキャンデータを取得する第１スキャンステップと、前記第１スキャンステップの後に、前記被検眼において前記測定光の入射方向と交差する方向の第２投射位置に測定光を投射し、その戻り光を検出することにより前記被検眼の第２スキャンデータを取得する第２スキャンステップと、前記第２スキャンステップの後に、前記第１掃引範囲と異なる第２掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を前記第１投射位置に投射し、その戻り光を検出することにより前記被検眼の第３スキャンデータを取得する第３スキャンステップと、を含む。
【００１９】
また、実施形態に係る第８態様は、第７態様において、前記第１スキャンデータと前記第３スキャンデータとを用いて前記第１投射位置に対応するＡスキャンデータを生成するスキャンデータ生成ステップを含んでもよい。
【００２０】
また、実施形態に係る第９態様は、第７態様又は第８態様において、互いに異なる測定光の投射位置に対応する複数の前記Ａスキャンデータに基づいてＢスキャン画像を形成する画像形成ステップを含んでもよい。
【００２１】
また、実施形態に係る第１０態様は、第７態様〜第９態様のいずれかにおいて、前記第２スキャンステップでは、前記第１掃引範囲で掃引された光に基づく測定光を前記第２投射位置を含む複数の投射位置に対して投射させてもよい。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを低コストで収集することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】実施形態に係る眼科装置の構成の一例を示す概略図である。
【図２】実施形態に係る眼科装置の構成の一例を示す概略図である。
【図３Ａ】実施形態の比較例に係る眼科装置の動作を説明するための概略図である。
【図３Ｂ】実施形態の比較例に係る眼科装置の動作を説明するための概略図である。
【図４Ａ】実施形態に係る眼科装置の動作を説明するための概略図である。
【図４Ｂ】実施形態に係る眼科装置の動作を説明するための概略図である。
【図５】実施形態に係る眼科装置の動作を説明するための概略図である。
【図６】実施形態に係る眼科装置の動作を説明するための概略図である。
【図７】実施形態に係る眼科装置の動作の一例を表すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
この発明に係る眼科装置、及びデータ収集方法の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２５】
この発明に係る眼科装置は、スウェプトソースＯＣＴの手法を用いて被測定物体としての被検眼のデータを収集することが可能である。以下、実施形態に係る眼科装置は、被検眼の光学特性を測定したり、被検眼の画像（断層像、２次元画像、３次元画像など）を形成したりすることが可能である。
【００２６】
この明細書では、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。なお、この明細書に記載された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として適宜援用することが可能である。
【００２７】
以下の実施形態では、被測定物体を生体眼（被検眼）とし、スウェプトソースタイプのＯＣＴの手法を用いて眼底のＯＣＴ計測を行う眼科装置について説明するが、以下の実施形態を虹彩や角膜近傍の前眼部や、さらに生体眼以外の被測定物体を計測する装置に適用することが可能である。特に、実施形態に係る眼科装置は、眼底のＯＣＴ画像を取得することが可能であり、更に、眼底を撮影することにより眼底像を取得することが可能である。この実施形態では、眼科装置がＯＣＴ計測の機能とＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）の機能とを備えている場合について説明する。しかしながら、実施形態に係る眼科装置は、ＯＣＴ計測の機能に加えて、ＳＬＯ以外の機能を備えていてもよい。ＳＬＯ以外の機能には、例えば眼底カメラ、スリットランプ、眼科手術用顕微鏡、光凝固装置などの機能がある。また、実施形態に係る眼科装置は、ＯＣＴ計測を行う機能だけを備えていてもよい。
【００２８】
以下、特に明記しない限り、被検者から見て左右方向（水平方向）をｘ方向とし、上下方向をｙ方向とし、前後方向（奥行き方向、深さ方法）をｚ方向とする。ｘ方向、ｙ方向及びｚ方向は、３次元直交座標系を定義する。
【００２９】
［構成］
図１に、実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。眼科装置１は、ＯＣＴ光学系１０と、ＳＬＯ光学系２０と、反射ミラー３０と、ビームスプリッタ３１と、光スキャナ４０と、対物レンズ５０とを含む。眼科装置１は、被検眼Ｅの眼底に固視標を投影する機能を備えていてよい。固視標には、内部固視標や外部固視標を用いることができる。
【００３０】
（ＯＣＴ光学系）
ＯＣＴ光学系１０は、波長掃引光源１１と、干渉光学系１２とを含む。干渉光学系１２は、検出器１２Ａを含む。
【００３１】
波長掃引光源１１は、掃引範囲内で波長（波数）掃引された出射光を出力する。掃引範囲は、後述の制御部１００からの制御を受けて変更可能である。掃引範囲は、少なくとも１つの掃引波長（波数）を含んでいればよい。波長掃引光源１１から出力される光は、例えば、１０４０〜１０６０ｎｍ程度（例えば、１０５０ｎｍ）の中心波長を有し、５０ｎｍ程度の波長幅を有する近赤外光であってよい。波長掃引光源１１は、この人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。
【００３２】
このような波長掃引光源１１は、例えば、波長可変半導体レーザを含む。波長可変半導体レーザとして、例えば、超周期回折格子分布反射型レーザ（Ｓｕｐｅｒ−Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ  Ｇｒａｔｉｎｇ  Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｅｄ  Ｂｒａｇｇ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｒ  Ｌａｓｅｒ：ＳＳＧ−ＤＢＲレーザ）などを採用することができる。ＳＳＧ−ＤＢＲレーザは、半導体光増幅器（Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ：ＳＯＡ）と、フロントＳＳＧ−ＤＢＲと、活性層と、位相調整領域と、リアＳＳＧ−ＤＢＲとを含む。ＳＯＡと活性層とが出力調整領域として機能し、位相調整領域とフロントＳＳＧ−ＤＢＲ及びリアＳＳＧ−ＤＢＲとが波長調整領域として機能する。出力調整領域と波長調整領域とに注入する電流の組み合わせにより、出力強度と出力波長とを変更することができる。
【００３３】
干渉光学系１２は、波長掃引光源１１により波長掃引された光を測定光と参照光とに分割し、測定光を光スキャナ４０を介して被検眼Ｅに投射し、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出器１２Ａに導く。検出器１２Ａは、干渉光学系１２により生成された干渉光を検出する。すなわち、干渉光学系１２は、ウェプトソースタイプのＯＣＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）が適用される。干渉光学系１２は、波長掃引光源１１を含んでもよい。
【００３４】
このような干渉光学系１２は、例えば、第１ファイバカプラと、第２ファイバカプラと、第３ファイバカプラとを含む。干渉光学系１２において、波長掃引光源１１により波長掃引された光は、光ファイバにより第１ファイバカプラに導かれる。第１ファイバカプラは、波長掃引光源１１により波長掃引された光を測定光と参照光とに分割する。測定光は、光ファイバにより導光され、当該光ファイバの端部から出射され、コリメートレンズにより平行光束となる。この光ファイバの端部は、被検眼Ｅの眼底と光学的に略共役な位置である眼底共役位置又はその近傍に配置されている。測定光は、反射ミラー３０により反射され、ビームスプリッタ３１を透過し、光スキャナ４０により偏向される。光スキャナ４０により偏向された測定光は、対物レンズ５０により屈折されて眼底Ｅｆに投射される。眼底Ｅｆに投射された測定光は、例えば、眼底Ｅｆなどの測定部位において散乱、反射される。この散乱光及び反射光をまとめて測定光の戻り光と称することがある。測定光の戻り光は、同じ経路を逆向きに進行して上記の第１ファイバカプラに導かれ、光ファイバにより第２のファイバカプラに導かれる。
【００３５】
一方、第１ファイバカプラにより生成された参照光は、光ファイバにより導光され、参照光の光路に沿って移動可能な参照ミラーにより反射され、その反射光は第２ファイバカプラに導かれる。なお、参照光の光路には、偏波調整器（偏波コントローラ）や、分散補償用の光学素子（ペアプリズム等）や、偏光補正用の光学素子（波長板等）や、後述の制御部１００の制御の下で光ファイバを通過している参照光の光量を調整する光減衰器（アッテネータ）が設けられていてもよい。偏波調整器は、例えば、ループ状にされた光ファイバに対して外部から応力を与えることで、当該光ファイバ内を通過している参照光の偏光状態を調整する。
【００３６】
測定光の戻り光と参照ミラーにより反射された参照光が入射する第２ファイバカプラは、測定光の戻り光と参照光とを合波する。これにより生成された干渉光は、光ファイバにより検出器１２Ａに導光される。このとき、第３ファイバカプラにより所定の分岐比（例えば１：１）で干渉光を分岐して一対の干渉光が生成される。一対の干渉光は、検出器１２Ａ（バランスドフォトダイオード）により検出される。
【００３７】
検出器１２Ａは、一対の干渉光を検出した結果（検出信号）を図示しないＤＡＱ（Ｄａｔａ  Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ  Ｓｙｓｔｅｍ）に送る。ＤＡＱには、波長掃引光源１１からクロックが供給される。このクロックは、波長掃引光源１１により所定の掃引範囲内にて掃引される各波長の出力タイミングに同期して生成される。ＤＡＱは、このクロックに基づいて検出信号をサンプリングする。サンプリング結果は、ＯＣＴ画像を形成するための画像形成部１１０に送られる。
【００３８】
（ＳＬＯ光学系）
ＳＬＯ光学系２０は、ＳＬＯ光源２１と、ＳＬＯ受光系２２と、ビームスプリッタ２３とを含む。ＳＬＯ受光系２２は、検出器２２Ａを含む。
【００３９】
ＳＬＯ光源２１は、レーザーダイオード、スーパールミネッセントダイオード、レーザードリブンライトソース等を含み、例えば中心波長が８４０ｎｍの光を出力する。或いは、ＳＬＯ光源２１として可視域の複数の波長（例えば、Ｒ、Ｇ、Ｂ）の光源を用いることでカラーの眼底画像を取得するようにしてもよい。検出器２２Ａは、例えば、アバランシェフォトダイオード又は光電子増倍管を含む。
【００４０】
ＳＬＯ光学系２０は、ＳＬＯ光源２１からの光（ＳＬＯ光）を被検眼Ｅに投射し、被検眼Ｅからの戻り光を検出器２２Ａにより検出する。ビームスプリッタ３１は、干渉光学系１２からの測定光の光路とＳＬＯ光源２１からの光の光路とを合成する。光スキャナ４０は、ビームスプリッタ３１による合成光路に配置されている。
【００４１】
ＳＬＯ光源２１から出力された光（ＳＬＯ光）は、図示しないレンズを介して、ビームスプリッタ３１により反射され、光スキャナ４０により偏向され、対物レンズ５０を介して眼底Ｅｆに投射される。眼底Ｅｆに投射されたＳＬＯ光の戻り光は、同じ光路を逆向きに進行して、ビームスプリッタ２３により反射され、ＳＬＯ受光系２２に入射する。ＳＬＯ受光系２２に入射した戻り光は、レンズにより集光され、共焦点絞りの開口を通過し、検出器２２Ａによって検出される。検出器２２Ａの検出結果は、ＳＬＯ光の投射位置に対応する画素位置信号とともに画像形成部１１０に送られる。
【００４２】
（光スキャナ）
光スキャナ４０は、制御部１００からの制御を受け、干渉光学系１２から出力された測定光やＳＬＯ光源２０から出力されたＳＬＯ光を偏向する。例えば、光スキャナ４０は、２次元的な偏向角度範囲内において光を偏向することが可能である。なお、偏向方向の次元は２次元には限定されず、例えば１次元であってもよい。
【００４３】
光スキャナ４０としては、１軸の偏向部材又は互いに直交する２軸の偏向部材が用いられる。偏向部材の例として、レゾナントスキャナ、ガルバノミラー、ポリゴンミラー、回転ミラー、ダボプリズム、ダブルダボプリズム、ローテーションプリズム、ＭＥＭＳミラースキャナーなどがある。２軸の偏向部材が用いられる場合、ｘ方向の高速スキャン用の偏向部材（例えばレゾナントスキャナ）とｙ方向の低速スキャン用の偏向部材（例えばガルバノミラー）とを組み合わせることができる。光スキャナ４０は、偏向された光を眼底Ｅｆに投射するための光学素子を更に含んでもよい。
【００４４】
眼科装置１には、図１に示す光学系（ＯＣＴ光学系１０、ＳＬＯ光学系２０、反射ミラー３０、ビームスプリッタ３１、光スキャナ４０、対物レンズ５０）を収容する収容部を移動する移動機構（図示せず）と、制御部１００からの制御を受けてこの移動機構を駆動する駆動部とが設けられていてもよい。
【００４５】
この場合、移動機構は、図１に示す光学系（収容部）を移動する。移動機構は、光学系をｘ方向、ｙ方向、及びｚ方向に移動する。移動機構は、例えば、被検眼Ｅに対する光学系の位置合わせ（アライメント）やトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの運動に合わせて光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとピント合わせが実行される。トラッキングは、被検眼Ｅを撮影（動画撮影）して得られる画像に基づき被検眼Ｅの位置や向きに合わせて光学系をリアルタイムで移動させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。なお、眼科装置１には、駆動部が設けられていなくてもよい。この場合、光学系が手動で移動される。移動機構は、収容部を移動することにより光学系を移動させてもよいし、光学系の一部だけを移動させてもよい。
【００４６】
図２に、実施形態に係る眼科装置１の制御系の構成例を示す。図２において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【００４７】
眼科装置１の制御系には、制御部１００と、画像形成部１１０と、データ処理部１２０と、ユーザインターフェイス（Ｕｓｅｒ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ：以下、ＵＩ）部１３０とが設けられている。
【００４８】
（制御部）
眼科装置１の制御系は、制御部１００を中心に構成される。制御部１００は、例えば、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。このようなコンピュータプログラムに従ってプロセッサが動作することにより、制御部１００は制御処理を実行する。
【００４９】
なお、「プロセッサ」とは、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ））等の回路を意味する。
【００５０】
制御部１００は、眼科装置１の全体の制御を司る。特に、制御部１００は、ＯＣＴ光学系１０の波長掃引光源１１や検出器１２Ａ、光スキャナ４０、ＳＬＯ光学系２０のＳＬＯ光源２１や検出器２２Ａを制御する。ＯＣＴ光学系１０に合焦レンズが設けられている場合、制御部１００は、当該合焦レンズを光軸方向に移動させる合焦レンズ移動機構を制御することが可能である。それにより、測定光の合焦位置が変更される。同様に、ＳＬＯ光学系２０に合焦レンズが設けられている場合、制御部１００は、当該合焦レンズを光軸方向に移動させる合焦レンズ移動機構を制御することが可能である。それにより、ＳＬＯ光の合焦位置が変更される。
【００５１】
また、制御部１００は、上記の光学系を移動する移動機構を駆動する駆動部を制御して、上記の光学系を３次元的に移動させることができる。この制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。
【００５２】
実施形態に係る制御部１００は、波長掃引光源１１に対する掃引範囲の制御と光スキャナ４０による測定光の偏向制御とを組み合わせることにより、スウェプトソースＯＣＴを用いた被検眼Ｅのデータ収集を低コストで実現させることが可能である。
【００５３】
図３Ａ及び図３Ｂに、実施形態の比較例に係る眼科装置の動作説明図を示す。図３Ａは、比較例に係る波長掃引光源の動作説明図を表す。図３Ａにおいて、縦軸は波数ｋを表し、横軸は投射位置（ｘ位置）を表す。図３Ｂは、比較例における測定光のラスタースキャンの動作説明図を表す。
【００５４】
比較例に係る波長掃引光源は、図３Ａに示すように、被検眼Ｅにおける投射位置Ｐ１に対して掃引範囲Ｗｋで波長掃引された光を生成し、投射位置Ｐ２に対して同様に掃引範囲Ｗｋで波長掃引された光を生成する。比較例に係る光スキャナは、図３Ｂに示すように、例えば、投射位置Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・の順にｘ方向に測定光の投射位置を変更し、次に、ｙ方向に投射位置を変更する。
【００５５】
このように比較例における光スキャナは、各投射位置において掃引範囲Ｗｋで波長掃引された測定光によるＡスキャンが完了するまで投射位置を実質的に変更することができない。従って、測定光の偏向用の光スキャナとして、安価で安定性や耐久性に優れた共振タイプの高速光スキャナ（例えば、レゾナントスキャナ）を採用することができない。
【００５６】
これに対して、実施形態に係る制御部１００は、波長掃引光源１１を制御することにより、Ａスキャンの波長（波数）掃引範囲の一部の掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を用いて部分Ａスキャンを実行させることが可能である。また、制御部１００は、部分Ａスキャンと光スキャナ４０による偏向制御とを組み合わせることにより、同一の投射位置に対する複数回の部分Ａスキャンを実行させつつ、複数回の部分Ａスキャンの間に投射位置を変更して別の部分Ａスキャンを実行させることが可能である。
【００５７】
図４Ａ及び図４Ｂに、実施形態に係る眼科装置１の動作説明図を示す。図４Ａ及び図４Ｂのそれぞれは、縦軸に波数を表し、横軸に投射位置（ｘ位置）を表す。
【００５８】
例えば、制御部１００は、波長掃引光源１１に対して、投射位置Ｐ１に対する掃引範囲として掃引範囲Ｗｋの一部であり少なくとも１つの掃引波長を含む掃引範囲ｗ１を設定し、投射位置Ｐ２に対する掃引範囲として掃引範囲Ｗｋの一部であり少なくとも１つの掃引波長を含む掃引範囲ｗ２を設定する。掃引範囲ｗ１は、掃引範囲ｗ２と異なる掃引範囲であるが、掃引範囲ｗ１の一部と掃引範囲ｗ２の一部とが重複してもよい。制御部１００は、掃引範囲ｗ１で波長掃引された測定光を投射位置Ｐ１に投射した後に、掃引範囲ｗ２で波長掃引された測定光を投射位置Ｐ２に投射するように光スキャナ４０を制御する。
【００５９】
次に、制御部１００は、波長掃引光源１１に対して、投射位置Ｐ１に対する掃引範囲として掃引範囲ｗ２を設定し、投射位置Ｐ３に対する掃引範囲として掃引範囲Ｗｋの一部であり少なくとも１つの掃引波長を含む掃引範囲ｗ３を設定する。掃引範囲ｗ２は、掃引範囲ｗ３と異なる掃引範囲であるが、掃引範囲ｗ２の一部と掃引範囲ｗ３の一部とが重複してもよい。制御部１００は、掃引範囲ｗ２で波長掃引された測定光を投射位置Ｐ１に投射した後に、掃引範囲ｗ３で波長掃引された測定光を投射位置Ｐ２に投射するように光スキャナ４０を制御する。
【００６０】
以上の制御を繰り返すことで、測定光の同一投射位置に対する複数回の部分Ａスキャンを実行することが可能になり、各投射位置に対するＡスキャンを時分割で完了させることができる。従って、通常のＡスキャンを複数回の部分Ａスキャンで実現することが可能になり、１回のＡスキャン中の掃引範囲が狭くなる（ｗ１＜Ｗｋ、ｗ２＜Ｗｋ、ｗ３＜Ｗｋ）ため、波長掃引光源１１として掃引速度が低速な波長掃引光源を用いることができるようになる。
【００６１】
また、光スキャナ４０は、Ａスキャンよりも短時間で完了する部分Ａスキャンの完了を待って測定光の投射位置を変更することができるので、光スキャナ４０としてレゾナントスキャナのような高速光スキャナを採用することができるようになる。従って、ＯＣＴ光学系１０と被検眼の固視微動等の影響を最小限に抑える必要があるＳＬＯ光学系２０とで光スキャナ４０を共用化することが可能になる。
【００６２】
図４Ａ及び図４Ｂは、１回の部分Ａスキャンの実行後に光スキャナ４０により測定光の投射位置を変更する場合を表すが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、図５に示すように１回の部分Ａスキャンの実行後にＢスキャン方向に１ライン分の投射位置数分だけ光スキャナ４０により投射位置の変更を繰り返してもよい。すなわち、制御部１００は、掃引範囲ｗ１で波長掃引された光に基づく測定光を投射位置Ｐ１、Ｐ２を含む複数の投射位置に対して投射させることにより複数回の部分Ａスキャンを実行させた後、掃引範囲ｗ１と異なる掃引範囲ｗ２で掃引された光に基づく測定光を投射位置Ｐ１に対して投射させることにより新たな部分Ａスキャンを実行させる。各掃引範囲が１つの掃引波長だけを含む場合、Ｂスキャン方向のスキャンが繰り返された後に掃引範囲が変更される。掃引範囲Ｗｋを網羅したときにＡスキャンが完了することになる。
【００６３】
以上のように、制御部１００は、波長掃引光源１１により互いに異なる掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を被検眼Ｅにおける投射位置Ｐ１に対して複数回投射させることにより複数回の部分Ａスキャンを実行させ、かつ、複数回の部分Ａスキャンの間に光スキャナ４０を制御して測定光を投射位置Ｐ２に対して少なくとも１回投射させる。
【００６４】
制御部１００は、検出器１２Ａにより得られた干渉光の検出結果に基づいて取得された複数回の部分Ａスキャンに対応する複数の部分スキャンデータを用いて投射位置Ｐ１に対応するＡスキャンデータを画像形成部１１０等に生成させることが可能である。例えば、図６に示すように、投射位置Ｐ１に対する複数回の部分Ａスキャンにより取得された複数の部分スキャンデータＰＤ１１、ＰＤ１２、ＰＤ１３、・・・、ＰＤ１Ｎから投射位置Ｐ１に対応するＡスキャンデータＰＡ１が生成される。同様に、投射位置Ｐ２に対する複数回の部分Ａスキャンにより取得された複数の部分スキャンデータＰＤ２１、ＰＤ２２、ＰＤ２３、・・・、ＰＤ２Ｎから投射位置Ｐ２に対応するＡスキャンデータＰＡ２が生成される。
【００６５】
例えば、制御部１００は、部分Ａスキャンが完了する毎に、掃引範囲及び投射位置の組み合わせにあらかじめ関連付けられた記憶装置の記憶領域に、当該干渉光の検出結果を部分Ａスキャンデータとして順次に記憶させる。従って、掃引範囲及び投射位置の組み合わせにあらかじめ関連付けられた全記憶領域に部分Ａスキャンデータが保存されたとき、スキャンデータの収集が完了する。
【００６６】
以上説明したように、眼科装置１は、掃引範囲ｗ１で波長掃引された光に基づく測定光を被検眼Ｅにおける投射位置Ｐ１に投射し、その戻り光を検出することにより被検眼Ｅの第１部分スキャンデータを取得する（第１スキャンステップ）。その後、眼科装置１は、被検眼ＥにおいてＢスキャン方向（測定光の入射方向と交差する方向）の投射位置Ｐ２に測定光を投射し、その戻り光を検出することにより被検眼Ｅの第２部分スキャンデータを取得する（第２スキャンステップ）。更に、その後、眼科装置１は、掃引範囲ｗ２で波長掃引された光に基づく測定光を投射位置Ｐ１に投射し、その戻り光を検出することにより被検眼Ｅの第３部分スキャンデータを取得する（第３スキャンステップ）。ここで、眼科装置１は、第１部分スキャンデータと第３部分スキャンデータとを用いて投射位置Ｐ１に対応するＡスキャンデータを生成する（スキャンデータ生成ステップ）ことが可能である。また、眼科装置１は、互いに異なる測定光の投射位置に対応する複数のＡスキャンデータに基づいてＢスキャン画像を形成することが可能である（画像形成ステップ）。第２部分スキャンデータを取得する際には、掃引範囲ｗ１で掃引された光に基づく測定光を投射位置Ｐ２を含む複数の投射位置に対して投射させることができる。それにより、Ｂスキャンを繰り返した後にＡスキャンを完了させることができる。
【００６７】
制御部１００は、上記のような制御により生成されたデータを記憶装置に書き込む処理や、当該記憶装置からデータを読み出す処理を行うことが可能である。また、この記憶装置は、各種のデータを記憶する。記憶装置に記憶されるデータとしては、例えば、ＯＣＴ画像の画像データ、ＳＬＯ像の画像データ、被検眼情報、上記の波長掃引光源１１に対する制御データなどがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。
【００６８】
（画像形成部）
画像形成部１１０は、画像形成用プログラムを記憶した記憶装置と、この画像形成用プログラムに従って動作するプロセッサとを含む。画像形成部１１０は、例えば、上記のＤＡＱによりサンプリングされた検出器１２Ａの検出結果と、制御部１００から入力される画素位置信号とに基づいて、眼底Ｅｆの断層像を形成する。例えば、画像形成部１１０は、Ａスキャンライン毎に、図６に示すように、各投射位置に対応する複数の部分スキャンデータから当該投射位置に対応するＡスキャンデータを形成し、フーリエ変換等を施すことにより反射強度プロファイルを形成し、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データを形成することが可能である。
【００６９】
画像形成部１１０は、各投射位置について、当該投射位置の位置情報と当該投射位置に対応する部分スキャンデータとに基づいてＡスキャンデータを形成することが可能である。画像形成部１１０は、位置情報に基づいて、複数の部分スキャンデータの位置合わせを行うことができる。例えば、各部分Ａスキャンの掃引範囲の一部を深さ方向に隣接する他の部分Ａスキャンの掃引範囲の一部と重複させることにより、当該重複部分の部分スキャンデータから深さ方向に隣接する２つの部分スキャンデータの位置合わせを行うことができる。このような複数の部分スキャンデータからＡスキャンデータを生成する処理は、データ処理部１２０により行われてもよい。
【００７０】
画像形成部１１０による処理には、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などが含まれてよい。なお、画像形成部１１０は、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が行われた後に、当該投射位置に対応するＡスキャン画像を形成するようにしてもよい。
【００７１】
また、画像形成部１１０は、公知の手法によりＡスキャン画像からＢスキャン画像を形成することが可能である。画像形成部１１０は、上記のＡスキャンデータからＢスキャン画像を形成してもよい。
【００７２】
また、画像形成部１１０は、例えば従来のＳＬＯと同様に、検出器２２Ａから入力される受光信号と、制御部１００から入力される画素位置信号とに基づいて、眼底Ｅｆの正面画像（ＳＬＯ画像）を形成する。画素位置信号は、例えば、制御部１００による光スキャナ４０に対する制御内容に対応する信号であってよい。
【００７３】
画像形成部１１０は、例えば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。
【００７４】
（データ処理部）
データ処理部１２０は、各種のデータ処理を実行する。データ処理の例として、画像形成部１１０により形成された画像データの処理がある。この処理の例として、画像処理、画像解析、画像評価、診断支援などがある。データ処理部１２０は、例えば、画像の輝度補正や分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部１２０は、眼底像や断層像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。データ処理部１２０は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行することにより、被検眼Ｅのボリュームデータ（ボクセルデータ）を形成することができる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部１２０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像を形成する。
【００７５】
また、データ処理部１２０は、ボリュームデータからＣスキャン画像、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Ｃスキャン画像は、例えば指定された断面上の画素（ピクセル、ボクセル）を３次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、３次元データセットを所定方向（ｚ方向、深さ方向、軸方向）に投影することによって形成される。シャドウグラムは、３次元データセットの一部（例えば特定層に相当する部分データ）を所定方向に投影することによって形成される。
【００７６】
以上のように機能するデータ処理部１２０は、例えば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をマイクロプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。
【００７７】
（ＵＩ部）
ＵＩ部１３０には、表示部と操作部とが含まれる。表示部は、表示デバイスを含む。操作部は、操作デバイスを含む。操作部には、眼科装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。例えば眼科装置１が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部は、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部は、眼科装置１の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。
【００７８】
なお、表示部と操作部は、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部は、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部に対する操作内容は、電気信号として制御部１００に入力される。また、表示部に表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部とを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。
【００７９】
投射位置Ｐ１は、実施形態に係る「第１投射位置」の一例である。投射位置Ｐ２は、実施形態に係る「第２投射位置」の一例である。画像形成部１１０又はデータ処理部１２０は、実施形態に係る「スキャンデータ生成部」の一例である。掃引範囲ｗ１は、実施形態に係る「第１掃引範囲」の一例である。掃引範囲ｗ２は、実施形態に係る「第２掃引範囲」の一例である。ビームスプリッタ３１は、実施形態に係る「光路合成部材」の一例である。
【００８０】
［動作］
実施形態に係る眼科装置１の動作の例を説明する。
【００８１】
図７に、実施形態に係る眼科装置１の動作例のフロー図を示す。図７は、あらかじめ決められたスキャン順序で、波長掃引光源１１による掃引範囲や光スキャナ４０による測定光の偏向角度が制御される場合の動作例を表す。なお、ステップＳ１に先立って、被検眼Ｅに対する光学系の位置合わせ（アライメント）が完了し、トラッキング制御が開始されているものとする。
【００８２】
（ステップＳ１）
まず、制御部１００は、波長掃引光源１１や光スキャナ４０に対する制御内容を初期化する。それにより、波長掃引光源１１による掃引範囲があらかじめ決められた掃引範囲に初期化され、光スキャナ４０による測定光の投射位置があらかじめ決められた投射位置に初期化される。
【００８３】
（ステップＳ２）
続いて、制御部１００は、あらかじめ決められたスキャン順序に従って波長掃引光源１１に対して掃引範囲を設定し、波長掃引を開始させる。同様に、制御部１００は、あらかじめ決められたスキャン順序に従って光スキャナ４０を制御して、干渉光学系１２において生成された測定光の偏向制御を開始させる。それにより、部分Ａスキャンが開始される。
【００８４】
すなわち、波長掃引光源１１により所定の掃引範囲内で波長掃引された光は、干渉光学系１２において測定光と参照光とに分割される。従って、測定光もまた、所定の掃引範囲で波長掃引された光である。干渉光学系１２において分割された測定光は、光スキャナ４０により偏向され、被検眼Ｅにおける所定の投射位置に投射される。被検眼Ｅからの測定光の戻り光は、干渉光学系１２において参照光と合波され、干渉光として検出器１２Ａにおいて検出される。検出器１２Ａによる干渉光の検出結果は、部分Ａスキャンデータとして制御部１００の記憶装置に保存される。
【００８５】
（ステップＳ３）
制御部１００は、スキャンが終了したか否かを判別する。例えば、制御部１００は、掃引範囲及び投射位置のすべての組み合わせについて部分Ａスキャンを実行したか否かを判別することにより、スキャンが終了したか否かを判別する。また、例えば、制御部１００は、上記のように、掃引範囲及び投射位置の組み合わせにあらかじめ関連付けられた記憶装置の全記憶領域に部分Ａスキャンデータが保存されたか否かを判別することにより、スキャンが終了したか否かを判別することができる。
【００８６】
スキャンが終了したと判別されたとき（Ｓ３：Ｙ）、眼科装置１の動作はステップＳ８に移行する。スキャンが終了したと判別されなかったとき（Ｓ３：Ｎ）、眼科装置１の動作はステップＳ４に移行する。
【００８７】
（ステップＳ４）
ステップＳ３においてスキャンが終了したと判別されなかったとき（Ｓ３：Ｎ）、制御部１００は、掃引範囲を変更するか否かを判別する。制御部１００は、あらかじめ決められたスキャン順序に従って掃引範囲を変更すべきか否かを判別する。
【００８８】
掃引範囲を変更すると判別されたとき（Ｓ４：Ｙ）、眼科装置１の動作はステップＳ５に移行する。掃引範囲を変更すると判別されなかったとき（Ｓ４：Ｎ）、眼科装置１の動作はステップＳ６に移行する。
【００８９】
（ステップＳ５）
ステップＳ４において掃引範囲を変更すると判別されたとき（Ｓ４：Ｙ）、制御部１００は、あらかじめ決められたスキャン順序に従って、波長掃引光源１１に対して次の掃引範囲を設定する。続いて、眼科装置１の動作はステップＳ６に移行する。
【００９０】
（ステップＳ６）
ステップＳ４において掃引範囲を変更すると判別されなかったとき（Ｓ４：Ｎ）、又はステップＳ５に続いて、制御部１００は、被検眼Ｅにおける測定光の投射位置を変更するか否かを判別する。制御部１００は、あらかじめ決められたスキャン順序に従って投射位置を変更すべきか否かを判別する。
【００９１】
測定光の投射位置を変更すると判別されたとき（Ｓ６：Ｙ）、眼科装置１の動作はステップＳ７に移行する。測定光の投射位置を変更すると判別されなかったとき（Ｓ６：Ｎ）、眼科装置１の動作はステップＳ２に移行する。
【００９２】
（ステップＳ７）
ステップＳ６において投射位置を変更すると判別されたとき（Ｓ６：Ｙ）、制御部１００は、あらかじめ決められたスキャン順序に従って、次の投射位置に測定光が投射されるように光スキャナ４０を制御する。続いて、眼科装置１の動作はステップＳ２に移行する。
【００９３】
ステップＳ６又はステップＳ７に続くステップＳ２では、波長掃引光源１１による掃引範囲及び測定光の投射位置の少なくとも一方が変更された状態で部分Ａスキャンが実行される。
【００９４】
（ステップＳ８）
ステップＳ３においてスキャンが終了したと判別されたとき（Ｓ３：Ｙ）、制御部１００は、上記のように同一の投射位置に対して複数回の部分Ａスキャンを実行することにより取得された複数の部分ＡスキャンデータからＡスキャンデータを画像形成部１１０（又はデータ処理部１２０）に形成させる。
【００９５】
（ステップＳ９）
続いて、制御部１００は、複数の投射位置のそれぞれについてステップＳ８において形成されたＡスキャンデータからＢスキャンデータを画像形成部１１０（又はデータ処理部１２０）に形成させる。以上で、眼科装置１の動作は終了である（エンド）。
【００９６】
以上説明したように、実施形態によれば、通常のＡスキャンを複数の部分Ａスキャンに分割するようにしたので、複数回の部分Ａスキャンの間に従来より高速なＢスキャンを実行することが可能になる。
【００９７】
＜効果＞
実施形態に係る眼科装置の効果について説明する。
【００９８】
実施形態に係る眼科装置（１）は、スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼（Ｅ）のデータを収集する。眼科装置は、光スキャナ（４０）と、ＯＣＴ光学系（１０）と、制御部（１００）と、スキャンデータ生成部（画像形成部１１０）とを含む。ＯＣＴ光学系は、掃引範囲が変更可能な波長掃引光源（１１）により波長掃引された光を測定光と参照光とに分割し、測定光を光スキャナを介して被検眼に投射し、被検眼からの測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する。制御部は、互いに異なる掃引範囲で波長掃引された光に基づく測定光を被検眼における第１投射位置（投射位置Ｐ１）に対して複数回投射させることにより複数回の部分Ａスキャンを実行させ、かつ、複数回の部分Ａスキャンの間に光スキャナを制御して測定光を第２投射位置（投射位置Ｐ２）に対して少なくとも１回投射させる。スキャンデータ生成部は、ＯＣＴ光学系による干渉光の検出結果に基づいて取得された複数回の部分Ａスキャンに対応する複数の部分スキャンデータを用いて第１投射位置に対応するＡスキャンデータを生成する。
【００９９】
このような構成によれば、Ａスキャンの掃引範囲の一部の範囲で波長掃引された測定光を用いて第１投射位置に対して複数回の部分Ａスキャンを実行させるようにしたので、各投射位置に対するＡスキャンを時分割で完了させることができるようになる。それにより、通常のＡスキャンを複数回の部分Ａスキャンで実現することが可能になり、１回のＡスキャン中の掃引範囲が狭くなるため、波長掃引光源として掃引速度が低速な安価な波長掃引光源を用いることができるようになる。また、通常のＡスキャンよりも短時間で完了する部分Ａスキャンの完了を待って測定光の投射位置を変更することができるので、光スキャナとして安価で安定性や耐久性に優れた高速光スキャナを採用することができるようになる。従って、スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを低コストで収集することが可能になる。
【０１００】
また、実施形態に係る眼科装置では、制御部は、第１掃引範囲（掃引範囲ｗ１）で波長掃引された光に基づく測定光を第１投射位置及び第２投射位置を含む複数の投射位置に対して投射させることにより複数回の部分Ａスキャンを実行させた後、第１掃引範囲と異なる第２掃引範囲（掃引範囲ｗ２）で掃引された光に基づく測定光を第１投射位置に対して投射させることにより新たな部分Ａスキャンを実行させてもよい。
【０１０１】
このような構成によれば、光スキャナにより測定光の投射位置の変更を繰り返した後、波長掃引光源による掃引範囲を変更するようにしたので、波長掃引光源には、掃引速度がより低速なものを採用でき、かつ、光スキャナには、投射位置の変更がより高速なものを採用できるようになる。従って、従来では採用できなかった低コストな波長掃引光源や光スキャナを用いて、スウェプトソースＯＣＴにより被検眼のデータを収集することが可能な眼科装置を提供することができる。
【０１０２】
また、実施形態に係る眼科装置は、互いに異なる測定光の投射位置に対応する複数のＡスキャンデータに基づいてＢスキャン画像を形成する画像形成部（１１０）を含んでもよい。
【０１０３】
このような構成によれば、スウェプトソースＯＣＴを用いてＢスキャン画像を低コストで形成することが可能な眼科装置を提供することができるようになる。
【０１０４】
また、実施形態に係る眼科装置は、ＳＬＯ光源（２１）からの光（ＳＬＯ光）を被検眼に投射し、被検眼からの戻り光を検出するＳＬＯ光学系（２０）と、測定光の光路とＳＬＯ光源からの光の光路とを合成する光路合成部材（ビームスプリッタ３１）と、を含み、光スキャナは、光路合成部材による合成光路に配置されていてもよい。
【０１０５】
このような構成によれば、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系とを備える場合に、光スキャナは、通常のＡスキャンよりも短時間で完了する部分Ａスキャンの完了を待って測定光の投射位置を変更することができる。それにより、ＯＣＴ光学系と被検眼の固視微動等の影響を最小限に抑える必要があるＳＬＯ光学系とで光スキャナを共用化することが可能になり、低コストでＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系とを備えた眼科装置を提供することができるようになる。例えば、眼科装置の小型化や軽量化に寄与できるため、ハンディタイプの眼科装置の実現を図ることができるようになる。
【０１０６】
また、実施形態に係る眼科装置では、光スキャナは、レゾナントスキャナを含んでもよい。
【０１０７】
このような構成によれば、光スキャナとして安価で安定性や耐久性に優れた共振タイプのレゾナントスキャナを用いることができるようになる。
【０１０８】
また、実施形態に係る眼科装置は、波長掃引光源を含んでもよい。
【０１０９】
このような構成によれば、掃引範囲の変更が可能な波長掃引光源を制御することにより、スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを低コストで収集することが可能な眼科装置を提供することができるようになる。
【０１１０】
また、実施形態に係るデータ収集方法は、スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼（Ｅ）のデータを収集する。データ収集方法は、第１スキャンステップと、第２スキャンステップと、第３スキャンステップとを含む。第１スキャンステップは、第１掃引範囲（掃引範囲ｗ１）で波長掃引された光に基づく測定光を被検眼における第１投射位置（投射位置Ｐ１）に投射し、その戻り光を検出することにより被検眼の第１スキャンデータを取得する。第２スキャンステップは、第１スキャンステップの後に、被検眼において測定光の入射方向と交差する方向（Ｂスキャン方向）の第２投射位置（投射位置Ｐ２）に測定光を投射し、その戻り光を検出することにより被検眼の第２スキャンデータを取得する。第３スキャンステップは、第２スキャンステップの後に、第１掃引範囲と異なる第２掃引範囲（掃引範囲ｗ２）で波長掃引された光に基づく測定光を第１投射位置に投射し、その戻り光を検出することにより被検眼の第３スキャンデータを取得する。
【０１１１】
このような構成によれば、第１スキャンステップと第３スキャンステップとにおいて測定光の第１投射位置に対して掃引範囲が異なる測定光を投射し、その間に、第２投射位置に対して新たな部分Ａスキャンを実行するようにしたので、１回のＡスキャン中の掃引範囲が狭くなるため、波長掃引光源として掃引速度が低速な安価な波長掃引光源を用いることができるようになる。また、通常のＡスキャンよりも短時間で完了する部分Ａスキャンの完了を待って測定光の投射位置を変更することができるので、光スキャナとして安価で安定性や耐久性に優れた高速光スキャナを採用することができるようになる。従って、スウェプトソースＯＣＴを用いて被検眼のデータを低コストで収集することが可能になる。
【０１１２】
また、実施形態に係るデータ収集方法は、第１スキャンデータと第３スキャンデータとを用いて第１投射位置に対応するＡスキャンデータを生成するスキャンデータ生成ステップを含んでもよい。
【０１１３】
このような構成によれば、第１投射位置に対するスキャンを時分割で実現することができるようになる。それにより、通常のＡスキャンを複数回の部分Ａスキャンで実現することが可能になる。
【０１１４】
また、実施形態に係るデータ収集方法は、互いに異なる測定光の投射位置に対応する複数のＡスキャンデータに基づいてＢスキャン画像を形成する画像形成ステップを含んでもよい。
【０１１５】
このような構成によれば、スウェプトソースＯＣＴを用いてＢスキャン画像を低コストで形成することができるようになる。
【０１１６】
また、実施形態に係るデータ収集方法は、第２スキャンステップでは、第１掃引範囲で掃引された光に基づく測定光を第２投射位置を含む複数の投射位置に対して投射させてもよい。
【０１１７】
このような構成によれば、測定光の投射位置の変更を繰り返した後、波長掃引光源による掃引範囲を変更するようにしたので、波長掃引光源には、掃引速度がより低速なものを採用でき、かつ、測定光の偏向部材として投射位置の変更がより高速なものを採用できるようになる。従って、従来では採用できなかった低コストな波長掃引光源や偏向部材を用いて、スウェプトソースＯＣＴにより被検眼のデータを収集することが可能な眼科装置を提供することができる。
【０１１８】
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。
【０１１９】
なお、実施形態において、波長掃引光源１１による掃引範囲の変更順序に限定されるものではない。掃引範囲の変更順序は任意である。
【０１２０】
また、実施形態では、Ａスキャンを複数回の部分Ａスキャンで時分割し、部分Ａスキャンの間にＢスキャンを行う場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。例えば、Ａスキャンを単純に複数回の部分Ａスキャンで時分割させるものであってもよい。
【０１２１】
また、実施形態では、波長掃引された測定光を用いたスウェプトソースＯＣＴに適用される場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。例えば、測定光の波長成分の選択範囲を変更したり、分光器に適用される波長成分の分光範囲を変更したりすることで、スペクトラルドメインＯＣＴに適用してもよい。
【符号の説明】
【０１２２】
１  眼科装置
１０  ＯＣＴ光学系
１１  波長掃引光源
１２  干渉光学系
１２Ａ、２２Ａ  検出器
２０  ＳＬＯ光学系
２１  ＳＬＯ光源
２２  ＳＬＯ受光系
２３、３１  ビームスプリッタ
３０  反射ミラー
４０  光スキャナ
５０  対物レンズ
１００  制御部
１１０  画像形成部
１２０  データ処理部
１３０  ＵＩ部
Ｅ  被検眼
Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３  投射位置
Ｗｋ、ｗ１、ｗ２、ｗ３  掃引範囲
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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