(57)【要約】【課題】放射線画像に基づいて被写体の体厚値を推定する方法において、基準とする画素が飽和している場合であっても体厚値を正確に推定できるようにする。【解決手段】体厚推定装置１は、放射線画像の画像データ及び放射線画像を生成した後に生成した暗画像の画像データを取得する画像取得手段と、放射線画像の中から第一基準画素及び第二基準画素を設定する画素設定手段と、暗画像における第一基準画素と対応する画素の信号値に基づいて到達線量を算出する線量算出手段と、到達線量に基づいて第一基準画素が飽和しないと仮定した場合に、上記到達線量の放射線が到達することで出力されることになる仮想信号値を算出する信号値算出手段と、仮想信号値と第二基準画素の信号値とに基づいて特徴量を算出する特徴量算出手段と、特徴量に基づいて体厚値を推定する体厚推定手段と、を備える。【選択図】図２
2019202019.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線画像撮影装置が生成した被写体の放射線画像の画像データ、及び当該放射線画像撮影装置が前記放射線画像を生成した後に生成した暗画像の画像データをそれぞれ取得する画像取得手段と、
取得した前記放射線画像を構成する複数の画素の中から、第一基準画素、及び前記第一基準画素とは座標が異なる第二基準画素をそれぞれ設定する画素設定手段と、
取得した前記暗画像における、前記第一基準画素と対応する画素の信号値に基づいて、前記放射線画像撮影装置における、前記第一基準画素と対応する領域への到達線量を算出する線量算出手段と、
算出した前記到達線量に基づいて、前記第一基準画素が飽和しないと仮定した場合に、前記領域へ前記到達線量の放射線が到達することで出力されることになる仮想信号値を算出する信号値算出手段と、
算出した前記仮想信号値と、前記第二基準画素の信号値と、に基づいて特徴量を算出する特徴量算出手段と、
算出した前記特徴量に基づいて、前記被写体の体厚値を推定する体厚推定手段と、を備えることを特徴とする体厚推定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像取得手段、線量算出手段、信号値算出手段、特徴量算出手段及び
体厚推定手段と、
推定した体厚値に基づいて、前記放射線画像の画像データに所定の画像処理を施す画像処理手段と、を備えることを特徴とする放射線画像処理装置。
【請求項３】
前記第一基準画素は、前記放射線画像における、前記被写体が写っていない直接放射線領域の画素であることを特徴とする請求項２に記載の放射線画像処理装置。
【請求項４】
前記第二基準画素は、前記第一基準画素の信号値よりも低い信号値の画素であることを特徴とする請求項２に記載の放射線画像処理装置。
【請求項５】
前記画像取得手段は、前記放射線画像の画像データ及び前記暗画像の画像データとともに、前記放射線画像撮影装置がこれらの画像データを生成した画像生成時刻を取得し、
前記信号値算出手段は、取得した前記画像生成時刻から算出される前記放射線画像を生成してから暗画像を生成するまでの時間に基づいて前記仮想信号値を算出することを特徴とする請求項２に記載の放射線画像処理装置。
【請求項６】
前記特徴量算出手段は、前記仮想信号値と前記第二基準画素の信号値との差を、前記特徴量として算出することを特徴とする請求項２に記載の放射線画像処理装置。
【請求項７】
前記体厚推定手段は、推定した体厚値に基づいて、前記被写体の画素毎の体厚値を推定することが可能であり、
前記画像処理手段は、
各画素の信号値に含まれる散乱線成分の割合である散乱線含有率を算出する散乱線成分算出手段と、
前記放射線画像の画像データに基づいて低周波画像を生成する低周波画像生成手段と、
前記低周波画像の各画素の信号値に、前記散乱線含有率及び所定の散乱線除去率をそれぞれ乗算して散乱線画像を生成する散乱線画像生成手段と、
前記放射線画像の各画素の信号値から前記散乱線画像の対応する画素の信号値を減算することで前記放射線画像から散乱線成分を除去する散乱線除去手段と、を備えることを特徴とする請求項２に記載の放射線画像処理装置。
【請求項８】
前記体厚推定手段は、推定した体厚値に基づいて、前記被写体の画素毎の体厚値を推定することが可能であり、
前記画像処理手段は、
推定した前記体厚値から、前記被写体の体厚値の推定値を横軸、その頻度を縦軸とするヒストグラムを生成するヒストグラム生成手段と、
生成した前記ヒストグラムの波形に基づいて、少なくとも第一基準体厚値、当該第一基準体厚値よりも小さい第二基準体厚値、及び当該第一基準信号値よりも大きい第三基準体厚値を設定する基準体厚値設定手段と、
前記第三基準体厚値と前記第一基準体厚値との差、及び前記第一基準体厚値と前記第二基準体厚値との差に基づいて、ダイナミックレンジ圧縮の圧縮率を決定する圧縮率決定手段と、
決定した前記圧縮率で前記放射線画像にダイナミックレンジ圧縮処理を施す圧縮手段と、
決定した前記圧縮率に基づいて周波数強調度を設定する強調度設定手段と、
設定した前記周波数強調度で前記放射線画像に周波数強調処理を施す強調手段と、を備えることを特徴とする請求項２に記載の放射線画像処理装置。
【請求項９】
前記強調度設定手段は、体厚値に基づいて、前記周波数強調度とは異なる第二周波数強調度を設定することが可能であることを特徴とする請求項８に記載の放射線画像処理装置。
【請求項１０】
放射線画像撮影装置が生成した被写体の放射線画像の画像データ、及び当該放射線画像撮影装置が前記放射線画像を生成した後に生成した暗画像の画像データをそれぞれ取得する画像取得手段と、
取得した前記放射線画像を構成する複数の画素の中から、第一基準画素、及び前記第一基準画素とは座標が異なる第二基準画素をそれぞれ設定する画素設定手段と、
取得した前記暗画像における、前記第一基準画素と対応する画素の信号値に基づいて、前記第一基準画素が飽和しないと仮定した場合に、前記放射線画像撮影装置における、当該第一基準画素と対応する領域へ前記到達線量の放射線が到達することで出力されることになる仮想信号値を算出する信号値算出手段と、
算出した前記仮想信号値と、前記第二基準画素の信号値と、に基づいて特徴量を算出する特徴量算出手段と、
算出した前記特徴量に基づいて、前記第二基準画素に含まれる基準散乱線の割合である基準散乱線含有率を算出し、算出した基準散乱線含有率及び第二基準画素の信号値に基づいて、前記放射線画像の画素毎の散乱線含有率を算出する散乱線成分算出手段と、
前記放射線画像の画像データに基づいて低周波画像を生成する低周波画像生成手段と、
前記低周波画像の各画素の信号値に散乱線含有率及び所定の散乱線除去率をそれぞれ乗算して散乱線画像を生成する散乱線画像生成手段と、
前記放射線画像の各画素の信号値から前記散乱線画像の対応する画素の信号値を減算することで前記放射線画像から散乱線成分を除去する散乱線除去手段と、を備えることを特徴とする放射線画像処理装置。
【請求項１１】
放射線画像撮影装置が生成した放射線画像の画像データ、及び当該放射線画像撮影装置が前記放射線画像を生成した後に生成した暗画像の画像データをそれぞれ取得する工程と、
取得した前記放射線画像を構成する複数の画素の中から、第一基準画素、及び前記第一基準画素とは座標が異なる第二基準画素をそれぞれ設定する工程と、
取得した前記暗画像における、前記第一基準画素と対応する画素の信号値に基づいて、前記放射線画像撮影装置における、前記第一基準画素と対応する領域への到達線量を算出する工程と、
算出した前記到達線量に基づいて、前記第一基準画素が飽和しないと仮定した場合に、前記領域へ前記到達線量の放射線が到達することで出力されることになる仮想信号値を算出する工程と、
算出した前記仮想信号値と、前記第一基準画素とは座標が異なる第二基準画素の信号値と、に基づいて特徴量を算出する工程と、
算出した前記特徴量に基づいて、前記放射線画像に写る被写体の体厚値を推定する工程と、を含むことを特徴とする体厚の推定方法。
【請求項１２】
コンピューターに、
放射線画像撮影装置が生成した放射線画像の画像データ、及び当該放射線画像撮影装置が前記放射線画像を生成した後に生成した暗画像の画像データをそれぞれ取得する機能と、
取得した前記放射線画像を構成する複数の画素の中から、第一基準画素、及び前記第一基準画素とは座標が異なる第二基準画素をそれぞれ設定する機能と、
取得した前記暗画像における、前記第一基準画素と対応する画素の信号値に基づいて、前記放射線画像撮影装置における、前記第一基準画素と対応する領域への到達線量を算出する機能と、
算出した前記到達線量に基づいて、前記第一基準画素が飽和しないと仮定した場合に、前記領域へ前記到達線量の放射線が到達することで出力されることになる仮想信号値を算出する機能と、
算出した前記仮想信号値と、前記第一基準画素とは座標が異なる第二基準画素の信号値と、に基づいて特徴量を算出する機能と、
算出した前記特徴量に基づいて、前記放射線画像に写る被写体の体厚値を推定する機能と、を実現させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、体厚推定装置、放射線画像処理装置、体厚の推定方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
放射線画像に対し、画像処理（例えば散乱線成分の除去やダイナミックレンジ圧縮等）を施す際に被写体の体厚値が必要となる場合がある。体厚値を求める方法としては、従来、センサー等で被検者を直接測定する、あるいは被検者の形状を円柱等のモデルで近似してそこから推定する、といった手法が採用されていた。
しかし、これらの手法には、手間がかかる、正確でない等の問題点があった。
【０００３】
このため、近年では、こうした手法に代わり、放射線画像から被写体の体厚値を推定する技術が提案されている。
例えば、特許文献１には、放射線画像中の１箇所又は複数箇所に設定した関心領域に属する各画素に対応する信号値をヒストグラムに投票し、得られたヒストグラムを解析して得られる特徴量に基づいて被写体の体厚値を推定する技術について記載されている。
また、特許文献２には、被写体領域の信号値と非被写体領域の信号値とに基づいて、被写体の体厚値を算出する技術について記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１６−２０２２１９号公報
【特許文献２】特開２０１１−１０４１０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
画素の信号値は、放射線画像を生成する放射線画像撮影装置の画素（放射線検出素子）へ到達する放射線量に比例して増加する。しかし、信号値は、装置の制約上、画素へ到達する線量が所定量を超えたところから、それ以上増加しなくなってしまう。これを、「画素が飽和する」ともいう。
このため、特許文献１、２に記載の技術を用いて体厚値を推定する際、推定の基準として設定した画素が飽和してしまっていると、その画素の信号値として出力される値が本来出力されるべき値よりも低くなってしまう。このため、推定される体厚値が実際の体厚値からずれ、体厚値を正確に推定することができない場合があった。
【０００６】
本発明の課題は、上記課題に鑑みてなされたもので、放射線画像に基づいて被写体の体厚値を推定する方法において、基準とする画素が飽和している場合であっても体厚値を正確に推定できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、請求項１に記載の発明は、
放射線画像撮影装置が生成した被写体の放射線画像の画像データ、及び当該放射線画像撮影装置が前記放射線画像を生成した後に生成した暗画像の画像データをそれぞれ取得する画像取得手段と、
取得した前記放射線画像を構成する複数の画素の中から、第一基準画素、及び前記第一基準画素とは座標が異なる第二基準画素をそれぞれ設定する画素設定手段と、
取得した前記暗画像における、前記第一基準画素と対応する画素の信号値に基づいて、前記放射線画像撮影装置における、前記第一基準画素と対応する領域への到達線量を算出する線量算出手段と、
算出した前記到達線量に基づいて、前記第一基準画素が飽和しないと仮定した場合に、前記領域へ前記到達線量の放射線が到達することで出力されることになる仮想信号値を推定する信号値推定手段と、
推定した前記仮想信号値と、前記第二基準画素の信号値と、に基づいて特徴量を算出する特徴量算出手段と、
算出した前記特徴量に基づいて、前記被写体の体厚値を推定する体厚推定手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、放射線画像に基づいて被写体の体厚値を推定する方法において、基準とする画素が飽和している場合であっても体厚値を正確に推定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の第一実施形態に係る体厚推定装置（第二，第三実施形態に係る放射線画像処理装置、第四実施形態に係る係数推定装置）の構成を表すブロック図である。
【図２】図１の体厚推定装置が実行する体厚推定処理（第四実施形態の係数推定装置が実行する係数推定処理）の流れを表すフローチャートである。
【図３】図２の体厚推定処理における基準画素の設定例を説明する図である。
【図４】（ａ）は到達線量と放射線画像の信号値との関係を示すグラフであり、（ｂ）は到達線量と暗画像の信号値との関係を示すグラフである。
【図５】図２の体厚推定処理における信号値推定処理の具体的な流れを表すフローチャートである。
【図６】図２の体厚推定処理で用いる画像生成間隔と暗画像における残像の残存率との関係を示すグラフである。
【図７】図２の体厚推定処理で用いる暗画像の信号値と仮想信号値との関係を示すグラフである。
【図８】図２の体厚推定処理で用いる特徴量と体厚値との関係を示すグラフである。
【図９】図２の体厚推定処理における基準画素の他の設定例を説明する図である。
【図１０】本発明の第二実施形態に係る放射線画像処理装置が実行する画像処理１の流れを表すフローチャートである。
【図１１】図１０の画像処理１で用いる信号値と体厚値との関係を示すグラフである。
【図１２】図１０の画像処理１で用いる体厚値と散乱線含有率との関係を示すグラフである。
【図１３】図１０の画像処理１で用いる信号値と散乱線含有率との関係を示すグラフである。
【図１４】本発明の第三実施形態に係る放射線画像処理装置が実行する画像処理２の流れを表すフローチャートである。
【図１５】図１４の画像処理２における基準体厚値の設定例を説明する図である。
【図１６】図１４の画像処理２で用いる体厚差とダイナミックレンジ圧縮率との関係を示すグラフである。
【図１７】図１４の画像処理２で用いるダイナミックレンジ圧縮率と第一周波数強調度との関係を示すグラフである。
【図１８】図１４の画像処理２で用いる体厚差と周波数強調度変更率との関係を示すグラフである。
【図１９】図１４の画像処理２で用いる体厚値と第二周波数強調度との関係を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。ただし、発明の範囲は、図示例に限定されるものではない。
【００１１】
＜第一実施形態＞
まず、本発明の第一実施形態について図１〜９を参照しながら詳細に説明する。
【００１２】
〔放射線画像処理装置の構成〕
はじめに、本実施形態に係る体厚推定装置１の構成について説明する。図１は、体厚推定装置１の構成を表すブロック図である。
なお、図中の括弧書きの符号は、後述する第二〜第四実施形態のものである。
【００１３】
体厚推定装置１は、他の装置（図示しない放射線画像撮影装置やコンソール等）から取得した放射線画像に基づいて、放射線画像に写る被写体の体厚値を推定するためのものである。
この体厚推定装置１は、ＰＣや携帯端末、あるいは専用の装置として構成されており、例えば図１に示したように、制御部１１や、入力部１２、記憶部１３、出力部１４等を備えている。また、本実施形態における体厚推定装置１は、操作部１５を備えている。各部１１〜１５はバス１６等によって接続されている。
【００１４】
制御部１１は、ＣＰＵ、ＲＡＭ等で体厚推定装置１の各部の動作を統括的に制御するように構成されている。具体的には、記憶部１３に記憶されている各種処理プログラムを読み出してＲＡＭに展開し、当該処理プログラムに従って各種処理を実行する。
【００１５】
入力部１２は、他の装置から放射線画像の画像データを入力するためのものである。
入力部１２は、ネットワークインターフェース等により、ＬＡＮ（Local Area Network）、ＷＡＮ（Wide Area Network）、インターネット等の通信ネットワークを介して接続されたとの間で画像データ等の送受信を行うことが可能に構成してもよいし、有線接続するためのケーブルを差し込むことが可能なコネクター、あるいはＵＳＢメモリーやＳＤカード等を差し込むことが可能なポート等で構成することもできる。
【００１６】
記憶部１３は、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）や半導体メモリー等により構成され、後述
する画像処理をはじめとする各種処理を実行するための処理プログラムや、当該処理プログラムの実行に必要なパラメーター、後述する変換式あるいはテーブル、ファイル等を記憶している。
なお、撮影対象の患者情報、撮影部位、撮影方向、各種撮影条件等の撮影オーダー情報を記憶することが可能に構成してもよい。
【００１７】
出力部１４は、推定した体厚値を出力するためのものである。
本実施形態における出力部１４は、ＬＣＤ等の表示装置で構成されており、制御部１１から入力される表示信号の指示に従って、体厚値を示す数字等を含む各種画像を表示することが可能となっている。
【００１８】
操作部１５は、各種キーを備えたキーボードやマウス等のポインティングデバイス、あるいは表示装置で構成された出力部１４に積層されたタッチパネル等で構成され、キーボードに対するキー操作やマウス操作、あるいはタッチパネルに対するタッチ操作の位置に応じて入力された操作信号を制御部１１に出力する。
【００１９】
このように構成された体厚推定装置１は、図示しない放射線発生装置や、放射線画像撮影装置、コンソール等で構成される放射線画像撮影システムや、放射線科情報システム（Radiology Information System：ＲＩＳ）、画像保存通信システム（Picture Archiving and Communication System：ＰＡＣＳ）等と接続することが可能となっている。
【００２０】
次に、この体厚推定装置１が実行する体厚推定処理について具体的に説明する。図２は体厚推定処理のフローチャートである。
【００２１】
上述したように構成された体厚推定装置１の制御部１１は、装置に電源が投入されたことや、他の装置から信号を受信したこと、操作部１５に所定操作がなされたこと等を契機として、図２のフローチャートで表される体厚推定処理を実行するようになっている。
この体厚推定処理では、まず、入力部１２を介して、放射線画像撮影装置が生成した被写体の放射線画像の画像データ、及び当該放射線画像撮影装置が放射線画像を生成した後に生成した暗画像の画像データをそれぞれ取得する（ステップＳ１）。
「暗画像」とは、放射線撮影装置に放射線を当てない状態で読み出しを行わせることにより生成されたもので、直前の放射線画像を撮影した時の被写体の残像が写り込む。
画像データは、放射線画像撮影装置から直接取得してもよいし、他の装置に一旦記憶されたものを取り込んでもよい。
このステップＳ１の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における画像取得手段をなす。
【００２２】
画像データを取得した後は、取得した放射線画像を構成する複数の画素の中から、第一基準画素Ｐ１、及び第一基準画素Ｐ１とは座標が異なる第二基準画素Ｐ２をそれぞれ設定する（ステップＳ２）。
第一基準画素Ｐ１は、放射線画像における、画素の信号値が高い領域、具体的には、図３に示したように、被写体が写っていない直接放射線領域や、肺野領域の画素とするのが好ましい。
また、第二基準画素Ｐ２は、第一基準画素Ｐ１の信号値よりも低い信号値の画素とするのが好ましく、第一基準画素Ｐ１の信号値との差ができるだけ大きくなるように設定するのが好ましい。例えば、椎体領域や、例えば図３に示したような腹部領域等、放射線が透過しにくい領域の画素を第二基準画素Ｐ２に設定すれば、第二基準画素Ｐ２の信号値（ＳＤ２）を第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＤ１）よりも十分に小さくすることができる。
このステップＳ２の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における画素設定手段をなす。
【００２３】
基準画素Ｐ１，Ｐ２を設定した後は、図２に示したように、取得した暗画像における、第一基準画素Ｐ１と対応する画素の信号値に基づいて、第一基準画素Ｐ１と対応する領域への到達線量を算出する（ステップＳ３）。
本実施形態において「第一基準画素Ｐ１と対応する画素（領域）」とは、暗画像（放射線画像撮影装置）における、第一基準画素Ｐ１の座標と同じ座標にある画素（放射線検出素子のある領域）、もしくは同じ座標の画素の近傍にある画素（放射線検出素子のある領域）を指す。
放射線画像の信号値（ＳＢ）は、例えば図４（ａ）に示したように、放射線画像撮影装置への到達線量に比例して増加することが知られている。また、暗画像の信号値（ＳＤ）も、図４（ｂ）に示したように、放射線画像とは割合こそ異なるが、放射線画像撮影装置への到達線量に比例して増加する。
一方、暗画像が生成される際、放射線撮影装置に放射線照射装置からの放射線が照射されるわけではないため、第一基準画素Ｐ１が飽和するような線量で放射線画像が撮影された後であっても、暗画像の各画素の信号値は飽和することがほぼ無い。このため、暗画像の対応する画素における信号値（ＳＤ）から放射線画像を撮影した際の第一基準画素Ｐ１への到達線量を算出することができる。
このステップＳ３の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における線量算出手段をなす。
【００２４】
到達線量を算出した後は、図２に示したように、仮想信号値算出処理を実行する（ステップＳ４）。
仮想信号値算出処理では、算出した到達線量に基づいて、第一基準画素が飽和しないと仮定した場合に、上記領域へ上記到達線量の放射線が到達することで出力されることになる仮想信号値を算出する。
本実施形態においては、到達線量と、更に取得した画像生成時刻から算出される放射線画像を生成してから暗画像を生成するまでの時間（画像生成間隔）と、に基づいて仮想信号値を算出するようになっている。
【００２５】
仮想信号値算出処理では、例えば図５に示したように、まず、画像生成間隔を算出する（ステップＳ４１）。
具体的には、放射線画像撮影装置が放射線画像の画像データ及び暗画像の画像データを生成した画像生成時刻を取得して、それらの差を算出する。この差が画像生成間隔となる。なお、画像生成時刻は、画像データを取得する際に併せて取得しておいてもよい。
【００２６】
画像生成間隔を求めた後は、求めた画像生成間隔に基づいて残像の残存率（γ）を算出する（ステップＳ４２）。
具体的には、予め用意された、画像生成間隔と暗画像における残像の残存率（γ）との関係を表すテーブル用いて算出する。このテーブルは、例えば図６に示したような曲線で表される。このため、このテーブル（曲線）に、ステップＳ４１で求めた画像生成間隔を当てはめれば、残像の残存率（γ）を算出することができる。
【００２７】
残像の残存率（γ）を算出した後は、図５に示したように、算出した残存率（γ）に基づいて、仮想信号値を算出する（ステップＳ４３）。
仮想信号値（ＳＢ‘）は、上述したように、第一基準画素Ｐ１が飽和しないと仮定した場合に、上記領域へ上記到達線量の放射線が到達することで出力されることになる信号値である。
仮想信号値（ＳＢ‘）と暗画像の信号値（ＳＤ）との関係は、残存率（γ）を用いて下記式（１）で表すことができる。また、例えば図７に示したような直線でも表される。
ＳＢ‘=（１／γ）×ＳＤ・・（１）
このため、この式（１）やグラフに、ステップＳ４２で算出した残存率（γ）を当てはめることにより、仮想信号値（ＳＢ‘）を算出することができる。
このステップＳ４（Ｓ４１〜Ｓ４３）の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における信号値算出手段をなす。
【００２８】
仮想信号値（ＳＢ‘）を算出した後は、図２に示したように、算出した仮想信号値（ＳＢ‘）と、第二基準画素Ｐ２の信号値と、に基づいて特徴量を算出する（ステップＳ５）。
本実施形態においては、仮想信号値（ＳＢ‘）と第二基準画素Ｐ２の信号値との差を、特徴量として算出する。
なお、特徴量として、仮想信号値（ＳＢ‘）と第二基準画素Ｐ２の信号値との比を算出するようにしてもよい。
このステップＳ５の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における特徴量算出手段をなす。
【００２９】
特徴量を算出した後は、算出した特徴量に基づいて、被写体の体厚値を推定する（ステップＳ６）。
体厚値は、体厚値と特徴量との差との関係を表すテーブルを用いて推定する。このテーブルは、例えば図８に示したような曲線で表される。このため、このテーブル（曲線）に、ステップＳ５で算出された特徴量を当てはめることにより、体厚値を推定することができる。
このステップＳ６の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における体厚推定手段をなす。
【００３０】
（変形例１）
なお、上記ステップＳ２（基準画素Ｐ１，Ｐ２の設定）において、取得した放射線画像又は暗画像に直接放射線領域が存在するか否かを判定し、その判定結果に応じて第一基準画素Ｐ１を以下のように設定するようにしてもよい。
なお、この場合であっても、ステップＳ３以降の処理は、上記第一実施形態と同様に実行することができる。
【００３１】
直接放射線領域が存在すると判定した場合には、図３に示したように、直接放射線領域、又は被写体と直接放射線領域の境界（スキンライン）の画素を第一基準画素Ｐ１とする。
そして、被写体領域の画素（例えば被写体領域の最低信号値をとる画素）を第二基準画素Ｐ２とする。
なお、図９（ａ）に示したように、被写体領域（例えば腹部や椎体）にＲＯＩ（関心領域）を設定し、ＲＯＩに属する各画素の信号値をヒストグラムに投票してヒストグラム解析を行い、その結果に基づいて第二基準画素Ｐ２を設定してもよい。
【００３２】
直接放射線領域が存在しないと判定した場合には、放射線画像の中で比較的高い信号値をとる画素を第一基準画素Ｐ１とする。例えば、放射線画像が胸部画像である場合は、例えば図９（ｂ）に示したように、肺野領域に第一基準画素Ｐ１を設定する。第一基準画素Ｐ１を肺野領域に設定した場合は、被写体領域の肺野領域以外の領域の画素（例えば被写体領域の最低信号値をとる画素）を第二基準画素Ｐ２とする。
なお、肺野以外の被写体領域（例えば腹部や椎体）にＲＯＩを設定し、ＲＯＩに属する各画素の信号値をヒストグラムに投票してヒストグラム解析を行い、その結果に基づいて第二基準画素Ｐ２を設定してもよい。
【００３３】
（変形例２）
また、上記ステップＳ６（体厚値の推定）において、以記式（２）、（３）を用いて体厚値を推定するようにしてもよい。
Ｈ１=Ｉ・・（２）
Ｈ２=Ｉ×ｅｘｐ（−μ×Ｔｈ）・・（３）
Ｈ１：直接放射線領域を透過した放射線の強度
Ｈ２：軟部組織を透過した放射線の強度
Ｉ：入射放射線強度
μ：軟部組織の放射線減弱係数
Ｔｈ：被写体の体厚値
【００３４】
また、画素の信号値は、放射線強度を対数変換したものに比例している。このため、仮想信号値（ＳＢ‘）を下記式（４）で、暗画像の信号値（ＳＤ）を下記式（５）でそれぞれ算出することもできる。
ＳＢ‘＝α×ｌｏｇ（Ｉ）・・（４）
ＳＤ=α×｛ｌｏｇ（Ｉ）−μ×Ｔｈ｝・・（５）
α：比例係数
【００３５】
（変形例３）
また、上記実施形態において、放射線画像の第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１）が飽和しているかの判定を行い、放射線画像の第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１）が飽和していない場合は、下記（ａ）〜（ｇ）のいずれかの数値又は数値の組合せを用いて体厚値を推定するようにしてもよい。
【００３６】
（ａ）放射線画像の信号値のみ（暗画像を用いない）
（ｂ）仮想信号値（ＳＢ１‘）、及び第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１）の二つを用いた統計値（平均値、最大値、最小値、重みづけ平均等）に基づいて算出した第一基準画素Ｐ１の信号値
（ｃ）仮想信号値（ＳＢ１‘）に基づいて推定した体厚値、及び第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１）に基づいて推定した体厚値の統計値（平均値最大値、最小値  重みづけ平均等）
（ｄ）仮想信号値（ＳＢ１‘）、第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１）、及び撮影条件に基づいて算出した第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１“）の三つの信号値の統計値（平均値、中央値、最大値、最小値、重みづけ平均値等）
（ｅ）仮想信号値（ＳＢ１‘）に基づいて推定した体厚値、第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１）に基づいて推定した体厚値、撮影条件から算出した第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１“）に基づいて推定した体厚値の三つ体厚値の統計値（平均値、最大値、最小値、重みづけ平均等）
（ｆ）仮想信号値（ＳＢ１‘）、及び撮影条件から算出した第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１“）の二つの信号値の統計値（平均値、最大値、最小値、重みづけ平均値等）に基づいて算出した直接放射線領域の信号値
（ｇ）仮想信号値（ＳＢ１‘）に基づいて推定した体厚値、及び撮影条件から算出した第一基準画素Ｐ１の信号値（ＳＢ１“）に基づいて推定した体厚値の二つの体厚値の統計値（平均値、最大値、最小値、重みづけ平均等）
【００３７】
以上、説明してきたように、本実施形態に係る体厚推定装置１は、放射線画像撮影装置が生成した被写体の放射線画像の画像データ、及び当該放射線画像撮影装置が放射線画像を生成した後に生成した暗画像の画像データをそれぞれ取得する画像取得手段と、取得した放射線画像を構成する複数の画素の中から、第一基準画素Ｐ１、及び第一基準画素Ｐ１とは座標が異なる第二基準画素Ｐ２をそれぞれ設定する画素設定手段と、取得した暗画像における、第一基準画素Ｐ１と対応する画素の信号値に基づいて、放射線画像撮影装置における、第一基準画素Ｐ１と対応する領域への到達線量を算出する線量算出手段と、算出した到達線量に基づいて、第一基準画素が飽和しないと仮定した場合に、領域へ到達線量の放射線が到達することで出力されることになる仮想信号値（ＳＢ‘）を算出する信号値算出手段と、算出した仮想信号値（ＳＢ‘）と、第二基準画素Ｐ２の信号値（ＳＢ２）と、に基づいて特徴量を算出する特徴量算出手段と、算出した特徴量に基づいて、被写体の体厚値を推定する体厚推定手段と、を備えたものとなっている。
【００３８】
これにより、本実施形態に係る体厚推定装置１は、画素が飽和していない暗画像を用いて第一基準画素が飽和しないと仮定した場合に、領域へ到達線量の放射線が到達することで出力されることになる仮想信号値（ＳＢ‘）を算出することができる。このため、基準とする画素が飽和している場合であっても体厚値を正確に推定することができる。
【００３９】
＜第二実施形態＞
次に、本発明の第二実施形態について説明する。なお、第一実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００４０】
上記第一実施形態では、体厚推定装置１について説明したが、本実施形態では、放射線画像処理装置について説明する。
本実施形態に係る放射線画像処理装置１Ａは、上記体厚推定装置１の体厚値を推定する機能に加え、推定した体厚値に基づいて、放射線画像の画像データに所定の画像処理を施す機能を有したものとなっている。
【００４１】
放射線画像処理装置１Ａは、図１に示したように、上記第一実施形態に係る体厚推定装置１と概略構成はほぼ同様である。しかし、本実施形態の記憶部１３Ａは、記憶しているプログラムが第一実施形態と異なっている。
また、記憶部１３Ａは、他の装置から入力された画像データの他、自身が画像処理を施して得られた処理済み画像データを記憶しておくことが可能となっている。
また、本実施形態の出力部１４Ａは、画像処理を施した処理済み画像を表示するだけでなく、処理済み画像の画像データを他の装置へ送信できるよう構成されている。
【００４２】
このように構成された本実施形態の放射線画像処理装置１Ａの制御部１１は、装置に電源が投入されたことや、他の装置から信号を受信したこと、操作部１５に所定操作がなされたこと等を契機として、図１０のフローチャートで表される画像処理１を実行するようになっている。
【００４３】
画像処理１におけるステップＳ１〜Ｓ６は、上述した体厚推定処理におけるステップＳ１〜Ｓ６と同様である。
ステップＳ６（体厚値の推定）の後は、推定した体厚値に基づいて、被写体の画素毎の体厚値（体厚分布）を推定する（ステップＳ７）。
画素毎の体厚値は、事前の実験結果に基づいて管電圧毎に予め用意された、信号値と体厚の関係を示すテーブルを用いて推定する。具体的には、例えば図１１の実線で示したような、予め用意されたテーブルＴ１を、ステップＳ６で推定した体厚値及び対応する信号値（第二基準画素Ｐ２の信号値（ＳＢ２））に基づいて、図１１の破線で示したような第二テーブルＴ２に変換する。そして、この第二テーブルＴ２に、対応する信号値を当てはめることで画素毎の体厚値を推定する。
【００４４】
画素毎の体厚値を推定した後は、図１０に示したように、各画素の信号値に含まれる散乱線成分の割合である散乱線含有率を算出する（ステップＳ８）。
本実施形態では、事前の実験結果に基づいて撮影部位毎に予め用意された、体厚値と散乱線含有率との関係を表すテーブルを用いて算出する。このテーブルは、例えば図１２に示したような曲線で表される。このため、このテーブル（曲線）に、ステップＳ７で算出された画素毎の体厚値を当てはめれば、散乱線含有率を画素毎に算出することができる。
このステップＳ８の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における散乱線成分算出手段をなす。
【００４５】
散乱線成分の含有率を算出した後は、図１０に示したように、放射線画像の画像データに基づいて低周波画像を生成する（ステップＳ９）。
本実施形態においては、放射線画像にローパスフィルター（例えば単純平均化フィルター、ガウシアンフィルター、バイラテラルフィルター等）を施すことで低周波画像を生成する。
このステップＳ９の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における低周波画像生成手段をなす。
【００４６】
低周波画像を生成した後は、低周波画像の各画素の信号値に散乱線含有率及び所定の散乱線除去率をそれぞれ乗算して散乱線画像を生成する（ステップＳ１０）。
本実施形態においては、散乱線除去率として、グリッド比毎に予め設定されたものを用いる。
このステップＳ１０の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における散乱線画像生成手段をなす。
【００４７】
散乱線画像を生成した後は、放射線画像の各画素の信号値から散乱線画像の対応する画素の信号値を減算することで放射線画像から散乱線成分を除去する（ステップＳ１１）。
このステップＳ１１の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における散乱線除去手段をなす。
また、このステップＳ７〜Ｓ１１の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における画像処理手段をなす。
【００４８】
（変形例）
なお、上記画像処理１において、ステップＳ７（画素毎の体厚値の推定）を行わずに、画素毎の散乱線含有率を直接推定するようにしてもよい。
この場合、まず、撮影部位毎に予め用意された推定体厚値を散乱線含有率に変換する変換式を用いて推定体厚値に対応する散乱線含有率を算出する。その後、例えば図１３の実線で示したような、管電圧及び撮影部位毎に予め用意された、信号値と散乱線含有率の関係を示すテーブルＴ３を、算出した散乱線含有率及び対応する画素信号値（第二基準画素Ｐ２の信号値（ＳＢ２））に基づいて、図１３の破線で示したような第二テーブルＴ４に変換する。そして、この第二テーブルＴ４に、対応する信号値を当てはめることで画素毎の散乱線含有率を算出する。
【００４９】
以上、説明してきたように、本実施形態に係る放射線画像処理装置１Ａは、体厚推定手段が、推定した体厚値に基づいて、被写体の画素毎の体厚値を推定することが可能であり、画像処理手段が、各画素の信号値に含まれる散乱線成分の含有率を算出する散乱線成分算出手段と、放射線画像の画像データに基づいて低周波画像を生成する低周波画像生成手段と、低周波画像の各画素の信号値に散乱線含有率及び所定の散乱線除去率をそれぞれ乗算して散乱線画像を生成する散乱線画像生成手段と、放射線画像の各画素の信号値から散乱線画像の対応する画素の信号値を減算することで放射線画像から散乱線成分を除去する散乱線除去手段と、を備えたものとなっている。
【００５０】
これにより、本実施形態に係る放射線画像処理装置１Ａは、基準とする画素が飽和している場合であっても体厚値を正確に推定することができるため、体厚値に基づいて散乱線の除去を正確に行うことができる。
【００５１】
＜第三実施形態＞
次に、本発明の第三実施形態について説明する。なお、第一，第二実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００５２】
本実施形態では、第二実施形態と同様、放射線画像処理装置について説明する。
本実施形態に係る放射線画像処理装置１Ｂも、上記体厚推定装置１の体厚値を推定する機能に加え、推定した体厚値に基づいて、放射線画像の画像データに所定の画像処理を施す機能を有したものとなっている。しかし、本実施形態に係る放射線画像処理装置１Ｂは、画像処理の内容が第二実施形態と異なる。
【００５３】
放射線画像処理装置１Ｂは、図１に示したように、上記第二実施形態に係る放射線画像処理装置１Ａと概略構成はほぼ同様である。しかし、本実施形態の記憶部１３Ｂは、記憶しているプログラムが第一，第二実施形態と異なっている。
そして、このように構成された本実施形態の放射線画像処理装置１Ｂの制御部１１は、装置に電源が投入されたことや、他の装置から信号を受信したこと、操作部１５に所定操作がなされたこと等を契機として、図１４のフローチャートで表される画像処理２を実行するようになっている。
【００５４】
画像処理２におけるステップＳ１〜Ｓ６は、上述した体厚推定処理におけるステップＳ１〜Ｓ６と同様である。
また、画像処理２におけるステップＳ７は、上述した画像処理１におけるステップＳ７と同様である。
ステップＳ７（体厚分布の推定）の後は、推定した体厚値から、被写体の体厚値の推定値を横軸、その頻度を縦軸とするヒストグラムを生成する（ステップＳ１２）。
このステップＳ１２の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明におけるヒストグラム生成手段をなす。
【００５５】
ヒストグラムを生成した後は、生成したヒストグラムの波形に基づいて、例えば図１５に示したように、少なくとも第一基準体厚値、当該第一基準体厚値（Ｔｋ１）よりも小さい第二基準体厚値（Ｔｋ２）、及び当該第一基準信号値よりも大きい第三基準体厚値（Ｔｋ３）を設定する（ステップＳ１３）。
そして、第二基準体厚値以上第一基準体厚値以下の体厚値を示す画素より構成される領域を第一領域、第一基準体厚値以上第三基準体厚値以下の体厚値を示す画素より構成される領域を第二領域とする。
このステップＳ１３の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における基準体厚値設定手段をなす。
【００５６】
三つの基準体厚値を設定した後は、図１４に示したように、第三基準体厚値と第一基準体厚値との差（Ｔｋ３−Ｔｋ１）、及び第一基準体厚値と第二基準体厚値との差（Ｔｋ１−Ｔｋ２）に基づいて、ダイナミックレンジ圧縮の圧縮率（以下、ＤＲ圧縮率）を決定する（ステップＳ１４）。
ＤＲ圧縮率は、第一，第二領域のそれぞれについて決定する。
領域毎のＤＲ圧縮率は、事前の実験結果に基づいて予め用意された、基準体厚値の差（体厚差）とＤＲ圧縮率の関係を示すテーブルを用いて決定する。このテーブルは、例えば図１６に示したような曲線で表される。このため、このテーブル（曲線）に、求めた基準体厚値の差を当てはめれば、ＤＲ圧縮率を決定することができる。具体的には、体厚差（Ｔｋ１−Ｔｋ２）から第一領域のＤＲ圧縮率（Ｅ１）、体厚差（Ｔｋ３−Ｔｋ１）から第二領域のＤＲ圧縮率（Ｅ２）が決定される。
なお、ＤＲ圧縮率の決定には、二つの基準体厚値の差以外に比を用いることもできる。
このステップＳ１４の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における圧縮率決定手段をなす。
【００５７】
ＤＲ圧縮率を決定した後は、図１４に示したように、決定したＤＲ圧縮率で放射線画像にダイナミックレンジ圧縮処理を施す（ステップＳ１５）
このステップＳ１５の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における圧縮手段をなす。
【００５８】
ダイナミックレンジ圧縮処理を施した後、決定したＤＲ圧縮率に基づいて第一周波数強調度を設定する（ステップＳ１６）。
第一周波数強調度は、事前の実験結果に基づいて予め用意された、ＤＲ圧縮率と第一周波数強調度の関係を示すテーブルを用いて算出する。このテーブルは、例えば図１７に示したような、ＤＲ圧縮率が大きいほど第一周波数強調度が大きくなる曲線で表される。このため、このテーブル（曲線）に、Ｓ１３で決定したＤＲ圧縮率を当てはめれば、第一周波数強調度を決定することができる。具体的には、ＤＲ圧縮率（Ｅ１）から第一領域の周波数強調度（Ｆ１１）、ＤＲ圧縮率（Ｅ２）から第二領域の第一周波数強調度（Ｆ１２）が決定される。
このステップＳ１６の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における強調度設定手段をなす。
ＤＲ圧縮率が大きくなるほど、ＤＲ圧縮後の放射線画像の濃度差は小さくなってコントラストが低下するが、このような処理を実行することにより、ＤＲ圧縮率の大小によらずコントラストを一定にすることができる。
【００５９】
第一周波数強調度を設定した後、本実施形態においては、図１４に示したように、体厚値に基づいて、第一周波数強調度とは異なる第二周波数強調度を設定する（ステップＳ１７）ことが可能となっている。
具体的には、予め設定された第二基準体厚値（Ｔｋ２）の目標値（以下、第二目標体厚値（ＴｋＲ２））と第二基準体厚値（Ｔｋ２）との差、及び予め設定された第三基準体厚値（Ｔｋ３）の目標値（以下、第三目標体厚値（ＴｋＲ３））と第三基準体厚値（Ｔｋ３）との差をそれぞれ求める。
目標体厚値及び基準体厚値の設定方法は、特に限定されるものではないが、ヒストグラム解析の結果に基づいて決定することができる。
【００６０】
そして、求めた差に応じた周波数強調度変更率を決定する。このとき、第二基準体厚値（Ｔｋ２）と第二目標体厚値（ＴｋＲ２）との差（体厚差）から第一領域の周波数強調度変更率を、第三基準体厚値（Ｔｋ３）と第三目標体厚値（ＴｋＲ３）との差（体厚差）から第二領域の周波数強調度変更率を設定する。周波数強調度変更率は、実験結果に基づいて予め設定された、体厚差と周波数強調度変更率との関係を示すテーブル用いて算出する。このテーブルは、例えば図１８に示したような、体厚差が大きくなると周波数強調度変更率も増加し、かつ体厚差が０のときに、周波数強調度変更率が１となるような曲線で表される。
なお、周波数強調度変更率の決定には、目標体厚値と基準体厚値との差ではなく比を用いることもできる。
【００６１】
そして、ステップＳ１６で設定した第一周波数強調度に、ここで決定した周波数強調度変更率を乗算して、領域毎の第二周波数強調度をそれぞれ算出する。すると、体厚差と第二周波数強調度との関係は、例えば図１９に示したような曲線で表されることとなり、体厚差がないときには、第二周波数強調度は第一周波数強調度と一致することとなる。
体厚値が大きい部位ほどコントラスト低下の原因となる散乱線の量が増えるため、第一周波数強調度で周波数強調処理を施しただけでは、散乱線の影響によりコントラストが一定にならない場合があるが、このような処理を実行することにより、そのような場合であってもコントラストを一定にすることができる。
【００６２】
周波数強調度を設定した後は、設定した周波数強調度で放射線画像に周波数強調処理を施す（ステップＳ１８）。
上記ステップＳ１７（第二周波数強調度の設定）を実行した場合には、第二周波数強調度で周波数強調処理を施し、ステップＳ１７を実行しなかった場合には、第一周波数強調度で周波数強調処理を施す。
このステップＳ１８の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における周波数強調手段をなす。
また、このステップＳ７，Ｓ１２〜Ｓ１８の処理を実行することにより、制御部１１は、本発明における画像処理手段をなす。
【００６３】
（変形例１）
なお、周波数強調度変更率を求めずに、予め用意された、体厚差と第二周波数強調度の関係を示すテーブルを用いて第二周波数強調度を算出するようにしてもよい。
この場合、ステップＳ１６で算出した第一周波数強調度に、ここで算出した第二周波数強調度を加算して第三周波数強調度を算出し、ステップＳ１８の周波数強調処理を実行することとなる。
【００６４】
（変形例２）
また、体厚値と放射線画像に含まれるノイズの量には相関があると考えられるため、体厚値からノイズ量を推定し、推定した量のノイズを除去するようなノイズ抑制処理を行うようにしてもよい。
具体的には、体厚値が大きい人を撮影した場合は、放射線画像に含まれるノイズ量が多くなるため、ノイズ抑制処理を強くかける、といった対応をとるようにする。
【００６５】
（変形例３）
また、体厚値の推定結果を用いて、最適な撮影画像を得るための撮影条件（管電圧、線量等）を提案するようにしてもよい。
例えば、体厚が大きい人は放射線の透過率が低いので、管電圧を標準的な体形の人よりも高めに設定することを提案したり、体厚値に基づいて肺野の画素が飽和しないような線量を提案したりする。
なお、提案した撮影条件は、ユーザーが主導で設定するようにしてもよいし、装置が自動で設定するようにしてもよい。
また、動画撮影の場合、プレ撮影を行って取得した静止画像や撮影初期の動画に含まれるフレームに基づいて撮影条件を決定し、最適な撮影条件で引き続き動画撮影を行う、といった運用も可能となる。
【００６６】
以上、説明してきたように、本実施形態に係る放射線画像処理装置１Ｂは、体厚推定手段は、推定した体厚値に基づいて、被写体の画素毎の体厚値を推定することが可能であり、画像処理手段は、推定した体厚値から、被写体の体厚値の推定値を横軸、その頻度を縦軸とするヒストグラムを生成するヒストグラム生成手段と、生成したヒストグラムの波形に基づいて、少なくとも第一基準体厚値、当該第一基準体厚値よりも小さい第二基準体厚値、及び当該第一基準信号値よりも大きい第三基準体厚値を設定する基準体厚値設定手段と、第三基準体厚値と第一基準体厚値との差、及び第一基準体厚値と第二基準体厚値との差に基づいて、ダイナミックレンジ圧縮の圧縮率を決定する圧縮率決定手段と、決定した圧縮率で放射線画像にダイナミックレンジ圧縮処理を施す圧縮手段と、決定した圧縮率に基づいて周波数強調度を設定する強調度設定手段と、設定した周波数強調度で放射線画像に周波数強調処理を施す強調手段と、を備えたものとなっている。
【００６７】
これにより、本実施形態に係る放射線画像処理装置１Ｂは、基準とする画素が飽和している場合であっても体厚値を正確に推定することができるため、体厚値に基づいてＤＲ圧縮及び周波数強調を正確に行うことができる。
【００６８】
＜第四実施形態＞
次に、本発明の第四実施形態について説明する。なお、第一実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００６９】
上記第一〜第三実施形態では、体厚推定装置や放射線画像処理装置について説明したが、本実施形態では、係数推定装置について説明する。
本実施形態に係る係数推定装置１Ｃは、上記体厚推定装置１が有する体厚値を推定する機能を有しておらず、代わりに、推定した仮想信号値（ＳＢ‘）や算出した特徴量に基づいて、体厚以外の係数を推定する機能を有したものとなっている。
【００７０】
係数推定装置１Ｃは、図１に示したように、上記第一実施形態に係る体厚推定装置１と概略構成はほぼ同様である。しかし、本実施形態の記憶部１３Ｃは、記憶しているプログラムが第一〜第三実施形態と異なっている。
このように構成された本実施形態の係数推定装置１Ｃの制御部１１は、装置に電源が投入されたことや、他の装置から信号を受信したこと、操作部１５に所定操作がなされたこと等を契機として、図１のフローチャートで表される係数推定処理を実行するようになっている。
【００７１】
係数推定処理におけるステップＳ１〜Ｓ５は、上述した体厚推定処理におけるステップＳ１〜Ｓ５と同様である。
ステップＳ５（特徴量の算出）の後は、算出した特徴量に基づいて、体厚値ではない他の係数を算出する（ステップＳ６Ａ）。
例えば、他の係数を「散乱線含有率」とする場合は、このステップＳ６Ａにおいて、以下のような処理を行う。具体的には、まず、予め用意された、特徴量と散乱線含有率との関係を示すテーブルを用いて、第二基準画素に含まれる基準散乱線の割合である基準散乱線含有率を算出する。
そして、このテーブルとは別に予め用意された、信号値と散乱線含有率との関係を示すテーブルを、算出した基準散乱線含有率及び第二基準画素の信号値に基づいて第二テーブルに変換する。
そして、この第二テーブルに、対応する信号値を当てはめることで画素毎の散乱線含有率を算出する。
この係数推定処理を実行することにより、本実施形態の制御部１１は、本発明における散乱線成分算出手段をなす。
【００７２】
なお、ステップＳ６Ａの後、第二実施形態の画像処理１におけるステップＳ９〜１１（低周波画像生成〜散乱線除去）を実行するようにしてもよい。本実施形態のようにすることによっても、第二実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００７３】
以上、本発明を実施形態に基づいて具体的に説明してきたが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で変更可能である。
例えば、上記実施形態においては、上記体厚推定装置１や放射線画像処理装置１Ａを独立した装置としたが、例えば、放射線画像撮影装置と通信可能なコンソールに組み込むこともできる。
【００７４】
また、上記の説明では、本発明に係るプログラムのコンピューター読み取り可能な媒体としてハードディスクや半導体の不揮発性メモリー等を使用した例を開示したが、この例に限定されない。その他のコンピューター読み取り可能な媒体としては、例えばＣＤ−ＲＯＭ等の可搬型記録媒体を適用することが可能である。また、本発明に係るプログラムのデータを、通信回線を介して提供する媒体として、キャリアウエーブ（搬送波）を適用することもできる。
【符号の説明】
【００７５】
１  体厚推定装置
１Ａ，１Ｂ  放射線画像処理装置
１Ｃ  係数推定装置
１１  制御部
１２  入力部
１３，１３Ａ，１３Ｂ，１３Ｃ  記憶部
１４，１４Ａ  出力部
１５  操作部
１６  バス
Ｐ１  第一基準画素
Ｐ２  第二基準画素
Ｔ１〜Ｔ４  テーブル
【図１】
2019202019.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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