(57)【要約】【課題】従来と比べて容易且つ正確に磁気ヘッドの調整を行うことができるようにする。【解決手段】小切手処理機１が、アジマス測定用媒体Ｐ１に印字された、傾きが異なる磁気バーＭｂ０、Ｍｂ＋１、Ｍｂ−１、Ｍｂ＋２、Ｍｂ−２を、ＭＩＣＲヘッド２１で読み取り、この読取結果をもとに、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量を検出するようにした。これにより、従来と比べて容易且つ正確にアジマスのずれ量を検出することができるので、従来と比べて容易且つ正確に磁気ヘッドの調整を行うことができる。【選択図】図３
2019145184.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
媒体処理装置で読み取り可能な紙葉状の測定用媒体であり、
少なくとも一面に、前記媒体処理装置の磁気ヘッドで読み取り可能な棒状の磁気バーが、当該測定用媒体の搬送方向に間隔を空けて複数設けられ、
前記複数の磁気バーは、
それぞれ前記磁気バーの長手方向と前記測定用媒体の搬送方向との角度が所定角度に選定され、且つそれぞれ前記測定用媒体の搬送方向と平行な一辺からの距離が所定距離に選定されている
ことを特徴とする測定用媒体。
【請求項２】
前記複数の磁気バーは、
前記磁気バーの短手方向が磁界方向となるように磁化される
ことを特徴とする請求項１に記載の測定用媒体。
【請求項３】
前記複数の磁気バーとして、
前記磁気バーの長手方向と前記測定用媒体の搬送方向との角度が９０°に選定された第１の磁気バーと、当該第１の磁気バーに対して前記測定用媒体の搬送方向上流側に所定角度傾けられた第２の磁気バーと、前記第１の磁気バーに対して前記測定用媒体の搬送方向下流側に所定角度傾けられた第３の磁気バーとが設けられ、
前記第１の磁気バー、前記第２の磁気バー、及び前記第３の磁気バーは、
前記測定用媒体の前記一辺からの距離が等しく、
前記第１の磁気バー、前記第２の磁気バー、及び前記第３の磁気バーを、前記磁気ヘッドで読み取ったときの読取結果が、前記磁気ヘッドの取付角度における規定値からのずれ量の検出に用いられる
ことを特徴とする請求項２に記載の測定用媒体。
【請求項４】
前記第１の磁気バー、前記第２の磁気バー、前記第３の磁気バーが、それぞれ複数本ずつ設けられている
ことを特徴とする請求項３に記載の測定用媒体。
【請求項５】
前記複数の磁気バーとして、
前記測定用媒体の前記一辺からの距離が所定距離に選定されている第４の磁気バーと、当該第４の磁気バーに対して前記測定用媒体の前記一辺側に所定距離ずらされた第５の磁気バーと、前記第４の磁気バーに対して前記測定用媒体の前記一辺側とは反対側に所定距離ずらされた第６の磁気バーとが設けられ、
前記第４の磁気バー、前記第５の磁気バー、及び前記第６の磁気バーは、
前記磁気バーの長手方向と前記測定用媒体の搬送方向との角度が等しく、
前記第４の磁気バー、前記第５の磁気バー、及び前記第６の磁気バーを、前記磁気ヘッドで読み取ったときの読取結果が、前記磁気ヘッドの取付位置における規定値からのずれ量の検出に用いられる
ことを特徴とする請求項２から４のいずれかに記載の測定用媒体。
【請求項６】
前記第４の磁気バー、前記第５の磁気バー、前記第６の磁気バーが、それぞれ複数本ずつ設けられている
ことを特徴とする請求項５に記載の測定用媒体。
【請求項７】
媒体を搬送する搬送部と、
前記媒体に記録されている磁気情報を読み取る磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドの取り付けに関する規定値からのずれ量を検出するずれ量検出部と
を備え、
前記媒体の１つとして、少なくとも一面に、前記磁気ヘッドで読み取り可能な棒状の磁気バーが、当該媒体の搬送方向に間隔を空けて複数設けられ、且つ前記複数の磁気バーが、それぞれ当該磁気バーの長手方向と前記搬送方向との角度が所定角度に選定され、且つ前記測定用媒体の前記搬送方向と平行な一辺からの距離が所定距離に選定されている測定用媒体があり、
前記ずれ量検出部は、
前記磁気ヘッドが前記測定用媒体から前記磁気バーを読み取ったときの読取結果に基づいて、前記磁気ヘッドの前記規定値からのずれ量を検出する
ことを特徴とする媒体処理装置。
【請求項８】
前記複数の磁気バーは、
前記磁気バーの短手方向が磁界方向となるように磁化され、
前記磁気ヘッドは、
前記搬送部により搬送されている前記測定用媒体に設けられた前記複数の磁気バーのそれぞれから磁界の変化量を読み取り、
前記ずれ量検出部は、
前記磁気ヘッドの読取結果として得られる前記磁気バーごとの磁気情報リード値をもとに、前記磁気ヘッドの前記規定値からのずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項７に記載の媒体処理装置。
【請求項９】
前記測定用媒体は、
前記複数の磁気バーとして、前記磁気バーの長手方向と前記測定用媒体の搬送方向との角度が９０°に選定された第１の磁気バーと、当該第１の磁気バーに対して前記測定用媒体の搬送方向上流側に所定角度傾けられた第２の磁気バーと、前記第１の磁気バーに対して前記測定用媒体の搬送方向下流側に所定角度傾けられた第３の磁気バーとが設けられ、且つ前記第１の磁気バー、前記第２の磁気バー、及び前記第３の磁気バーは、前記測定用媒体の前記一辺からの距離が等しくなっていて、
前記ずれ量検出部は、
前記第１の磁気バー、前記第２の磁気バー、及び前記第３の磁気バーのそれぞれから得られた前記磁気情報リード値のレベルをもとに、前記磁気ヘッドの取付角度の規定値からのずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項８に記載の媒体処理装置。
【請求項１０】
さらに、前記ずれ量検出部により検出された前記磁気ヘッドの取付角度の規定値からのずれ量をもとに、前記磁気ヘッドの取付角度を規定値に調整するための角度調整量を算出する角度調整量算出部を備える
ことを特徴とする請求項９に記載の媒体処理装置。
【請求項１１】
さらに、前記ずれ量検出部により検出された前記磁気ヘッドの取付角度の規定値からのずれ量をもとに、前記磁気ヘッドの取付角度を規定値に調整するヘッド角度調整部を備える
ことを特徴とする請求項９に記載の媒体処理装置。
【請求項１２】
前記測定用媒体には、前記第１の磁気バー、前記第２の磁気バー、及び前記第３の磁気バーが、それぞれ複数本ずつ設けられ、
前記ずれ量検出部は、
前記第１の磁気バー、前記第２の磁気バー、及び前記第３の磁気バーのそれぞれから得られた磁気情報リード値のレベルを、前記第１の磁気バー、前記第２の磁気バー、及び前記第３の磁気バーごとに平均化した平均レベルをもとに、前記磁気ヘッドの取付角度の規定値からのずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項９〜１１のいずれかに記載の媒体処理装置。
【請求項１３】
前記測定用媒体は、
前記複数の磁気バーとして、前記測定用媒体の前記一辺からの距離が所定距離に選定されている第４の磁気バーと、当該第４の磁気バーに対して前記測定用媒体の前記一辺側に所定距離ずらされた第５の磁気バーと、前記第４の磁気バーに対して前記測定用媒体の前記一辺側とは反対側に所定距離ずらされた第６の磁気バーとが設けられ、且つ前記第４の磁気バー、前記第５の磁気バー、及び前記第６の磁気バーは、前記磁気バーの長手方向と前記測定用媒体の搬送方向との角度が等しくなっていて、
前記ずれ量検出部は、
前記第４の磁気バー、前記第５の磁気バー、及び前記第６の磁気バーのそれぞれから得られた前記磁気情報リード値のレベルをもとに、前記磁気ヘッドの取付位置の規定値からのずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項８〜１２のいずれかに記載の媒体処理装置。
【請求項１４】
さらに、前記ずれ量検出部により検出された前記磁気ヘッドの取付位置の規定値からのずれ量をもとに、前記磁気ヘッドの取付位置を規定値に調整するための位置調整量を算出する位置調整量算出部を備える
ことを特徴とする請求項１３に記載の媒体処理装置。
【請求項１５】
さらに、前記ずれ量検出部により検出された前記磁気ヘッドの取付位置の規定値からのずれ量をもとに、前記磁気ヘッドの取付位置を前記規定値に調整するヘッド位置調整部を備える
ことを特徴とする請求項１３に記載の媒体処理装置。
【請求項１６】
前記測定用媒体には、前記第４の磁気バー、前記第５の磁気バー、及び前記第６の磁気バーが、それぞれ複数本ずつ設けられ、
前記ずれ量検出部は、
前記第４の磁気バー、前記第５の磁気バー、及び前記第６の磁気バーのそれぞれから得られた磁気情報リード値のレベルを、前記第４の磁気バー、前記第５の磁気バー、及び前記第６の磁気バーごとに平均化した平均レベルをもとに、前記磁気ヘッドの取付位置の規定値からのずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項１３〜１５のいずれかに記載の媒体処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気情報が記録されている媒体から磁気情報を読み取る磁気ヘッドの調整に用いる測定用媒体、及び磁気ヘッドを有する媒体処理装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
磁気情報が印字されている小切手の入金機として、金融機関等で使用される小切手受付装置がある。この小切手受付装置は、例えば、小切手を束で投入できるようになっていて、顧客により受渡口に投入された小切手の束を装置内部に引き込んで１枚ずつ分離し、小切手の幅寄せ機能を有するアライナ部により小切手を幅寄せ基準面側に幅寄せした後、小切手を搬送しながら、小切手の一面の所定位置に小切手の搬送方向に沿って印字されている磁気情報を磁気ヘッドで読み取るようになっている。
【０００３】
従来、このような小切手受付装置では、小切手に印字されている磁気情報を磁気ヘッドで正確に読み取ることができるように、磁気ヘッドの調整作業（これを磁気ヘッド調整作業と呼ぶ）を行うようになっている（例えば特許文献１参照）。この磁気ヘッド調整作業では、例えば、磁気ヘッドのアジマス（取付角度）が規定値となるように調整したり、幅寄せ基準面に対する磁気ヘッドの取付位置が規定値となるように調整したりする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平８−１２９７２４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、従来の小切手受付装置では、磁気ヘッドの近くに測定器を挿入し、この測定器により磁気ヘッドのアジマスや取付位置の規定値からのずれ量を測定したうえで、このずれ量が０となるように磁気ヘッド調整作業を行うようになっている。しかしながら、小切手受付装置では、磁気ヘッドが狭い場所に設けられているため、測定器による測定が困難で測定ミスが発生し易く、正確に磁気ヘッドの調整を行うことが難しかった。
【０００６】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、従来と比べて容易且つ正確に磁気ヘッドの調整を行うことができる測定用媒体及び媒体処理装置を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
かかる課題を解決するため本発明の測定用媒体は、媒体処理装置で読み取り可能な紙葉状の測定用媒体であり、少なくとも一面に、前記媒体処理装置の磁気ヘッドで読み取り可能な棒状の磁気バーが、当該測定用媒体の搬送方向に間隔を空けて複数設けられ、前記複数の磁気バーは、それぞれ前記磁気バーの長手方向と前記測定用媒体の搬送方向との角度が所定角度に選定され、且つそれぞれ前記測定用媒体の搬送方向と平行な一辺からの距離が所定距離に選定されている。
【０００８】
また本発明の媒体処理装置は、媒体を搬送する搬送部と、前記媒体に記録されている磁気情報を読み取る磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドの取り付けに関する規定値からのずれ量を検出するずれ量検出部とを備え、前記媒体の１つとして、少なくとも一面に、前記磁気ヘッドで読み取り可能な棒状の磁気バーが、当該媒体の搬送方向に間隔を空けて複数設けられ、且つ前記複数の磁気バーが、それぞれ当該磁気バーの長手方向と前記搬送方向との角度が所定角度に選定され、且つ前記測定用媒体の前記搬送方向と平行な一辺からの距離が所定距離に選定されている測定用媒体があり、前記ずれ量検出部は、前記磁気ヘッドが前記測定用媒体から前記磁気バーを読み取ったときの読取結果に基づいて、前記磁気ヘッドの前記規定値からのずれ量を検出する。
【０００９】
本発明は、媒体処理装置が、測定用媒体から磁気バーを読みとったときの読取結果をもとに自動的に磁気ヘッドのずれ量を検出できるので、測定器を用いることなく、正確に磁気ヘッドの調整を行うことができる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、従来と比べて容易且つ正確に磁気ヘッドの調整を行うことができる測定用媒体及び媒体処理装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１の実施の形態による小切手処理機の構成を示す図である。
【図２】第１の実施の形態による小切手及びＭＩＣＲヘッドの構成を示す図である。
【図３】第１の実施の形態によるアジマス測定用媒体の構成を示す図である。
【図４】第１の実施の形態による小切手処理機の機能構成を示すブロック図である。
【図５】第１の実施の形態による磁気バーとＭＩＣＲヘッドのリード軸とが平行な場合と傾いている場合とを示す図である。
【図６】第１の実施の形態による磁気情報リード値のレベルの時間的な変化を示すグラフである。
【図７】第１の実施の形態によるＭＩＣＲヘッドのアジマスのずれ量と、磁気情報リード値のピークレベルとの関係を示すグラフである。
【図８】第１の実施の形態によるアジマス検出処理手順を示すフローチャートである。
【図９】第２の実施の形態によるヘッド角度調整機構の構成を示す図である。
【図１０】第２の実施の形態による小切手処理機の機能構成を示すブロック図である。
【図１１】第２の実施の形態によるアジマス自動調整処理手順を示すフローチャートである。
【図１２】第３の実施の形態によるヘッド位置測定用媒体の構成を示す図である。
【図１３】第３の実施の形態による小切手処理機の機能構成を示すブロック図である。
【図１４】第３の実施の形態によるＭＩＣＲヘッドの読取幅と、磁気バーの読取部分長と、磁気情報リード値のレベルとの関係を示す図及びグラフである。
【図１５】第３の実施の形態によるＭＩＣＲヘッドのヘッド位置が規定値にある場合と、規定値から＋１ｍｍずれた場合とを示す図である。
【図１６】第３の実施の形態による磁気バーから得られる磁気情報リード値のレベルと、磁気バーの基準位置からのずれ量との関係を示すグラフである。
【図１７】第３の実施の形態によるヘッド位置検出処理手順を示すフローチャートである。
【図１８】第４の実施の形態によるヘッド位置調整機構の構成を示す図である。
【図１９】第４の実施の形態による小切手処理機の機能構成を示すブロック図である。
【図２０】第４の実施の形態によるヘッド位置自動調整処理手順を示すフローチャートである。
【図２１】他の実施の形態によるアジマス／ヘッド位置両測定用媒体の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について、図面を用いて説明する。
【００１３】
［１．第１の実施の形態］
［１−１、小切手処理機の構成］
まず、第１の実施の形態について説明する。図１に、第１の実施の形態による小切手処理機１の模式的な側面図を示す。小切手処理機１は、利用者との間で入金処理等の小切手に関する取引を行う小切手受付装置の受付機筐体（図示せず）内に設けられ、小切手に関する種々の処理を行う。この小切手処理機１は、直方体状に形成された筐体２の内部に、小切手に関する種々の処理を行う複数の処理ユニットが組み込まれた構成となっている。
【００１４】
尚、ここでは、小切手処理機１の筐体２における、利用者が対峙する側（図中右側）を前側とし、その反対側（図中左側）を後側とし、前側に対峙した利用者から見て上下左右をそれぞれ上側、下側、左側及び右側と定義する。
【００１５】
筐体２内部の所定位置には、全体を統括的に制御する制御部３が設けられている。この制御部３は、ＣＰＵを中心に構成され、ＲＯＭやフラッシュメモリ等から所定のプログラムを読み出して実行することにより、入金取引に関する種々の処理を行う。また制御部３は、内部にＲＡＭや、ハードディスク、フラッシュメモリ等でなる記憶部を有しており、この記憶部に各種プログラムや入金取引に関する種々の情報を記憶している。また、制御部３は、筐体２内部に設けられた各センサの監視や、各アクチュエータの駆動、各種判断等を行うと共に、小切手受付装置全体を制御する上位の主制御部との通信を行う。
【００１６】
この筐体２の前側上部には、小切手Ｃを束で受け付けるバンドル部１０が配置されている。このバンドル部１０の後端には、小切手Ｃの束を１枚ずつ分離して繰り出す分離部１１が配置されている。さらに、分離部１１の後方で筐体２の後側上部には、分離部１１から１枚ずつ繰り出されてくる小切手Ｃを搬送しながら幅寄せするアライナ部１２が配置されている。
【００１７】
さらに、アライナ部１２の後方且つ下方には、小切手Ｃの画像読み取り、磁気情報読み取り、スタンプ押印、裏書印字などの機能を有するスキャナ部１３が配置されている。さらにバンドル部１０の下方には、小切手Ｃを一時保留するエスクロ部１４が配置され、スキャナ部１３の下方には、利用者が取り忘れた小切手Ｃなどを収納するリトラクト部１５が配置されている。さらに、エスクロ部１４及びリトラクト部１５の下方で筐体２内の下部には、小切手Ｃを収納する２個のスタッカ１６、１７が前後方向に並べて配置されている。
【００１８】
これら、バンドル部１０、分離部１１、アライナ部１２、スキャナ部１３、エスクロ部１４、リトラクト部１５、スタッカ１６、１７は、搬送路Ｒ（Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３）によって接続されている。すなわち、搬送路Ｒは、バンドル部１０から分離部１１を介してアライナ部１２へと延び、さらにアライナ部１２の内部を通ってスキャナ部１３へと延びている。さらに、搬送路Ｒは、スキャナ部１３の内部に入ると、アライナ部１２の後方で下方にカーブして下方へと延び、その後、前方に折り返されてスキャナ部１３の前端まで延び、そこから前方のエスクロ部１４まで延びている。
【００１９】
スキャナ部１３は、内部を通る搬送路Ｒの下側の直線部分Ｒ２に、後方から順に、小切手Ｃの表面と裏面の画像を読み取るＣＩＳ（Contact Image Sensor）部２０、小切手Ｃから磁化された磁気情報を読み取るＭＩＣＲヘッド２１、小切手Ｃの表面にスタンプを押印するスタンプ２２、小切手Ｃの裏面に印字するプリンタ２３が配置されている。尚、小切手Ｃは、例えば、長方形で紙葉状の媒体であり、表面にはＭＩＣＲと呼ばれる磁気インクを用いた特殊なフォントで磁気情報が印字されていて、長手方向に搬送されるようになっている。ここで、アライナ部１２とスキャナ部１３を通る搬送路Ｒのうち、この直線部分Ｒ２以外の部分を第１の搬送路Ｒ１と呼び、この直線部分Ｒ２を第２の搬送路Ｒ２と呼ぶ。さらにスキャナ部１３は、内部を通る第１の搬送路Ｒ１に、小切手Ｃに印字されている磁気情報を磁化するための着磁用磁石Ｍｇが配置されている。つまり、スキャナ部１３は、小切手Ｃが第１の搬送路Ｒ１を通る際に、着磁用磁石Ｍｇによって小切手Ｃの磁気情報を磁化させ、その後、小切手Ｃが第２の搬送路Ｒ２を通る際に、ＭＩＣＲヘッド２１によって、小切手Ｃから磁化された磁気情報を読み取るようになっている。また、スキャナ部１３は、小切手Ｃが第２の搬送路Ｒ２を通る際に、ＣＩＳ部２０による画像読み取り、スタンプ２２によるスタンプ押印、プリンタ２３による裏書印字などを行うようになっている。
【００２０】
第１の搬送路Ｒ１と第２の搬送路Ｒ２は、全体として横向きのＵ字形状（つまり折り返し形状）となっている。よって、例えば、表面を上側とする向きで第１の搬送路Ｒ１へと送られた小切手Ｃは、第２の搬送路Ｒ２を通過するときには表面が下側となる向きで搬送されることになる。
【００２１】
さらに、搬送路Ｒは、第１の搬送路Ｒ１と第２の搬送路Ｒ２との接続箇所（すなわちスキャナ部１３の内部を通る搬送路Ｒのエスクロ部１４側に折り返されている箇所）に第３の搬送路Ｒ３が接続されている。第３の搬送路Ｒ３は、第１の搬送路Ｒ１と第２の搬送路Ｒ２との接続箇所から下方に分岐して、リトラクト部１５の後側を下方へと延び、スタッカ１６上部の後方で前方にカーブして前方へと延び、スタッカ１６内の上部及びスタッカ１７内の上部を通って筐体２の前面まで延びている。また、この第３の搬送路Ｒ３は、リトラクト部１５の後側を下方へと延びている部分の途中で前方に分岐して、リトラクト部１５へと延びている。
【００２２】
さらに、第１の搬送路Ｒ１と第２の搬送路Ｒ２と第３の搬送路Ｒ３の接続箇所には、小切手Ｃの搬送経路を切り替えるためのブレード３０が設けられている。第１の搬送路Ｒ１と第２の搬送路Ｒ２と第３の搬送路Ｒ３の接続箇所には、第１の搬送路Ｒ１と第２の搬送路Ｒ２とを繋ぐ搬送経路、第１の搬送路Ｒ１と第３の搬送路Ｒ３とを繋ぐ搬送経路、第２の搬送路Ｒ２と第３の搬送路Ｒ３とを繋ぐ搬送経路の３つの搬送経路が形成されていて、これら３つの搬送経路をブレード３０によって切り替えることができるようになっている。さらに、第３の搬送路Ｒ３上の分岐箇所には、小切手Ｃの搬送経路を、リトラクト部１５へと搬送する搬送経路又はスタッカ１６、１７へと搬送する搬送経路に切り替えるためのブレード３１が設けられている。これらブレード３０、３１による搬送経路の切り替えは、制御部３によって行われる。
【００２３】
また、搬送路Ｒには、小切手Ｃを厚さ方向に挟んで搬送する搬送ローラなどの搬送機構が設けられていて、制御部３は、この搬送機構を制御するとともに、ブレード３０、３１による搬送経路の切り替えを制御することにより、小切手Ｃを各部に搬送するようになっている。
【００２４】
小切手処理機１の構成は、以上のようになっている。ここで、このような構成でなる小切手処理機１の入金取引時の動作について説明する。
【００２５】
［１−２．小切手処理機の動作］
小切手処理機１は、制御部３と、小切手受付装置に設けられた表示部及び操作部（図示せず）とにより、利用者から入金指示を受けたことを認識すると、バンドル部１０の前端に設けられたシャッタ１０Ａを開くことにより、バンドル部１０の前端に設けられた受渡口１０Ｂを開放して小切手Ｃを受け入れる。
【００２６】
バンドル部１０は、受渡口１０Ｂから小切手Ｃの束が挿入されると、内部に設けられた束搬送機構により小切手Ｃの束をそのまま後方の分離部１１へと搬送する。分離部１１は、小切手Ｃの束の一番上に位置する小切手Ｃから順に１枚ずつ分離して、後方のアライナ部１２へ送り出す。アライナ部１２は、分離部１１から受け取った小切手Ｃを第１の搬送路Ｒ１に沿って搬送しながら、小切手Ｃを第１の搬送路Ｒ１の幅方向の一端側に設けられた幅寄せ基準面ガイド（図示せず）に突き当てるように幅寄せして、スキャナ部１３に引き渡す。
【００２７】
スキャナ部１３へと引き渡された小切手Ｃは、幅寄せ基準面ガイドに突き当てられた状態のまま、第１の搬送路Ｒ１から第２の搬送路Ｒ２へと搬送される。そして、スキャナ部１３は、小切手Ｃを第２の搬送路Ｒ２に沿って前方に搬送しながら、ＣＩＳ部２０により小切手Ｃの両面の画像を撮像し、ＭＩＣＲヘッド２１により小切手Ｃから磁気情報を読み取る。その後、スキャナ部１３からエスクロ部１４へと小切手Ｃが引き渡され、エスクロ部１４が、スキャナ部１３から受け取った小切手Ｃを内部に一時的に保留する。ここまでの処理を読取処理と呼ぶ。
【００２８】
制御部３は、バンドル部１０に投入された全ての小切手Ｃをエスクロ部１４に一時保留すると、小切手Ｃから読み取った画像や磁気情報を、小切手受付装置の表示部（図示せず）に表示させ、利用者に取引内容の確認を促す。
【００２９】
ここで、制御部３は、例えば表示部に表示されている確認キー（図示せず）を利用者が押下することにより、利用者が取引内容を承認したと認識すると、小切手Ｃをエスクロ部１４から繰り出してスタッカ１６、１７に収納する収納処理を開始する。一方で、制御部３は、例えば表示部に表示されているキャンセルキー（図示せず）を利用者が押下することにより、利用者が取引内容をキャンセルしたと認識すると、小切手Ｃをエスクロ部１４から繰り出して受渡口１０Ｂまで戻して利用者に返却する返却処理を開始する。
【００３０】
ここで、小切手Ｃをエスクロ部１４から繰り出してスタッカ１６、１７に収納する収納処理を開始すると、制御部３は、エスクロ部１４に一時保留されている小切手Ｃを、エスクロ部１４から順に繰り出してスキャナ部１３へと搬送する。スキャナ部１３は、小切手Ｃを第２の搬送路Ｒ２に沿って読取処理時とは逆方向（後方）に搬送しながら、プリンタ２３により小切手Ｃの裏面に取引情報を印字する。このとき、スキャナ部１３は、仕様によっては、スタンプ２２により小切手Ｃの表面にスタンプ押印を行う。
【００３１】
取引情報が印字された小切手Ｃは、第２の搬送路Ｒ２ら第３の搬送路Ｒ３へと搬送され、第３の搬送路Ｒ３を通ってスタッカ１６又はスタッカ１７へと搬送される。
【００３２】
スタッカ１６内の上部には、第３の搬送路Ｒ３に沿って複数の搬送ローラ３２が設けられ、さらにスタッカ１６内の下部には、小切手Ｃを集積する集積庫１６Ａが設けられている。さらにスタッカ１６内の上部には、スタッカ１６内の第３の搬送路Ｒ３上に停止させた小切手Ｃを集積庫１６Ａ内に押し込んで集積する集積機構１６Ｂが設けられている。同様に、スタッカ１７内にも、複数の搬送ローラ３２、集積庫１７Ａ及び集積機構１７Ｂが設けられている。
【００３３】
スタッカ１６、１７の集積機構１６Ｂ、１７Ｂは、制御部３により制御されるようになっている。例えば、小切手Ｃをスタッカ１６に収納する場合、制御部３は、小切手Ｃをスタッカ１６内の上部中央まで搬送して停止させる。そして、スタッカ１６の集積機構１６Ｂが、搬送ローラ３２による小切手Ｃの挟持状態を解除して、図示しない押込プレートで小切手Ｃを集積庫１６Ａ内に押し込んで集積する。
【００３４】
また、小切手Ｃをスタッカ１７に収納する場合、制御部３は、小切手Ｃをスタッカ１７内の上部中央まで搬送して停止させる。そして、スタッカ１７の集積機構１７Ｂが、搬送ローラ３２による小切手Ｃの挟持状態を解除して、図示しない押込プレートで小切手Ｃを集積庫１７Ａ内に押し込んで集積する。制御部３は、エスクロ部１４に一時保留していた全ての小切手Ｃを、スタッカ１６、１７に収納し終えると、収納処理を終了する。
【００３５】
一方で、小切手Ｃをエスクロ部１４から繰り出して受渡口１０Ｂまで戻して利用者に返却する返却処理を開始すると、制御部３は、エスクロ部１４に一時保留されている小切手Ｃを、エスクロ部１４から順に繰り出してスキャナ部１３へと搬送する。スキャナ部１３は、小切手Ｃを第２の搬送路Ｒ２に沿って読取処理時とは逆方向（後方）に搬送する。このとき、スキャナ部１３は、プリンタ２３による印字及びスタンプ２２によるスタンプ押印は行わずに、そのまま小切手Ｃを搬送する。
【００３６】
そして、この小切手Ｃは、第２の搬送路Ｒ２から第１の搬送路Ｒ１へと搬送され、第１の搬送路Ｒ１を通ってアライナ部１２へと搬送される。
【００３７】
アライナ部１２は、小切手Ｃを幅寄せせずに、そのまま前方へと搬送して前方の分離部１１へと搬送する。分離部１１は、アライナ部１２から搬送されてくる小切手Ｃを上下方向に集積する。制御部３は、エスクロ部１４に一時保留している全ての小切手Ｃを、分離部１１に集積し終えると、分離部１１に集積された小切手Ｃの束を、バンドル部１０により受渡口１０Ｂまで搬送して利用者に返却する。
【００３８】
すなわち、バンドル部１０は、シャッタ１０Ａを開いて受渡口１０Ｂを開放することにより、小切手Ｃの束を排出可能な状態に遷移した後、内部に設けられた束搬送機構により、分離部１１に集積された小切手Ｃの束を前方（つまり受渡口１０Ｂ側）へと搬送する。そして、バンドル部１０は、束搬送機構により、小切手Ｃの束の前端部が受渡口１０Ｂから外部に露出するまで搬送した後、搬送を停止させる。
【００３９】
制御部３は、小切手Ｃの束の前端部を受渡口１０Ｂから外部に露出させた後、小切手受付装置の表示部（図示せず）に、小切手Ｃの束を受け取るよう促すガイダンスを表示させ、利用者に小切手Ｃの束の受け取りを促す。
【００４０】
ここで、制御部３は、バンドル部１０及び分離部１１内に設けられた複数のセンサで、バンドル部１０及び分離部１１内に存在する小切手Ｃを検出し、複数のセンサの検知結果をもとに、バンドル部１０及び分離部１１内に小切手Ｃが存在しないことを確認すると、利用者が小切手Ｃの束を受け取ったと認識して、返却処理を終了する。
【００４１】
また一方で、制御部３は、予め設定された時間内に利用者が小切手Ｃの束を受け取ったと認識できなかった場合（すなわち受渡口１０Ｂに戻した小切手Ｃの束を利用者が取り忘れた場合）、返却処理を終了して、利用者が取り忘れた小切手（これを以下、取り忘れ小切手と呼ぶ）Ｃを、小切手処理機１の内部に取り込んでリトラクト部１５に収納する取込処理を実行する。
【００４２】
すなわち、制御部３は、受渡口１０Ｂから露出させている小切手（すなわち取り忘れ小切手）Ｃを、バンドル部１０の束搬送機構により、バンドル部１０の内部に引き込み、そのまま後方の分離部１１へと搬送する。分離部１１は、取り忘れ小切手Ｃの束を１枚ずつ分離して、後方のアライナ部１２へ送り出す。アライナ部１２は、分離部１１から受け取った取り忘れ小切手Ｃを第１の搬送路Ｒ１に沿って搬送しながら幅寄せして、スキャナ部１３に引き渡す。
【００４３】
スキャナ部１３へと引き渡された小切手Ｃは、第１の搬送路Ｒ１から第３の搬送路Ｒ３へと搬送され、さらに第３の搬送路Ｒ３を通ってリトラクト部１５へと搬送され、リトラクト部１５に収納される。制御部３は、全ての取り忘れ小切手Ｃを、リトラクト部１５に収納し終えると、取込処理を終了する。
【００４４】
尚、取込処理として、取り忘れ小切手Ｃの画像をスキャナ部１３のＣＩＳ部２０により取得してからリトラクト部１５に収納するようにしてもよい。この場合、制御部３は、受渡口１０Ｂから露出させている小切手（すなわち取り忘れ小切手）Ｃを、バンドル部１０の束搬送機構によりバンドル部１０の内部に引き込み、分離部１１、アライナ部１２を介して、スキャナ部１３に引き渡す。
【００４５】
スキャナ部１３へと引き渡された取り忘れ小切手Ｃは、第１の搬送路Ｒ１から第２の搬送路Ｒ２へと搬送される。そして、スキャナ部１３は、取り忘れ小切手Ｃを第２の搬送路Ｒ２に沿って前方に搬送しながら、ＣＩＳ部２０により小切手Ｃの両面の画像を撮像するとともに、ＭＩＣＲヘッド２１により小切手Ｃから磁気情報を読み取る。その後、取り忘れ小切手Ｃは、スキャナ部１３からエスクロ部１４へと引き渡され、エスクロ部１４に一時保留される。
【００４６】
制御部３は、全ての取り忘れ小切手Ｃをエスクロ部１４に一時保留すると、エスクロ部１４に一時保留されている取り忘れ小切手Ｃを、エスクロ部１４から順に繰り出してスキャナ部１３へと搬送する。スキャナ部１３は、取り忘れ小切手Ｃを第２の搬送路Ｒ２に沿って逆方向（後方）に搬送する。このとき、スキャナ部１３は、プリンタ２３による印字及びスタンプ２２によるスタンプ押印は行わずに、そのまま取り忘れ小切手Ｃを搬送する。
【００４７】
そして、この取り忘れ小切手Ｃは、第２の搬送路Ｒ２から第３の搬送路Ｒ３へと搬送され、さらに第３の搬送路Ｒ３を通ってリトラクト部１５へと搬送され、リトラクト部１５に収納される。制御部３は、全ての取り忘れ小切手Ｃを、リトラクト部１５に収納し終えると、取込処理を終了する。小切手処理機１による、小切手Ｃを入金するときの基本的な動作は、以上のようになっている。
【００４８】
ところで、この小切手処理機１では、小切手Ｃに印字されている磁気情報をＭＩＣＲヘッド２１で正確に読み取ることができるように、例えば小切手受付装置を稼働する前に、作業員がＭＩＣＲヘッド２１のアジマスを調整する作業（これをアジマス調整作業と呼ぶ）を行うようになっている。
【００４９】
ここで、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマス調整作業について簡単に説明する。図２に、スキャナ部１３内の第２の搬送路Ｒ２に沿って搬送される小切手Ｃを上側から見た上面図を示す。この図２に示すように、小切手Ｃの表面には、一方の長辺Ｃａの近傍に、長辺Ｃａに沿って（つまり長手方向に沿って）磁気情報Ｍｉが印字されている。小切手Ｃは、アライナ部１２により幅寄せされた状態でスキャナ部１３へと搬送される。スキャナ部１３では、磁気情報Ｍｉが幅寄せ基準面ガイド４０側となるように幅寄せされた状態の小切手Ｃを、表面が下側となる向きで第２の搬送路Ｒ２に沿って搬送しながら、小切手Ｃの表面に印字された磁気情報ＭｉをＭＩＣＲヘッド２１で読み取る。
【００５０】
ここで、小切手Ｃの一方の長辺Ｃａから小切手Ｃの短手方向における磁気情報Ｍｉの中心までの距離をＬ１とすると、ＭＩＣＲヘッド２１は、幅寄せ基準面ガイド４０から、第２の搬送路Ｒ２の幅方向と平行なＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの中心までの距離Ｌ２が距離Ｌ１と等しくなるように、スキャナ部１３に取り付けられている。こうすることで、スキャナ部１３では、ＭＩＣＲヘッド２１の真上を小切手Ｃの磁気情報Ｍｉが通過する。
【００５１】
このときのＭＩＣＲヘッド２１のギャップ方向（図中矢印Ａで示す方向）と、磁気情報Ｍｉの走行方向（小切手Ｃの搬送方向、且つ幅寄せ基準面ガイド４０と平行な方向であり、図中矢印Ｂで示す方向）とのなす角度αがアジマスであり、ＭＩＣＲヘッド２１で小切手Ｃの磁気情報Ｍｉを正確に読み取るためには、このアジマスが９０°となっていることが望ましい。ゆえに、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマス調整作業では、アジマスが規定値である９０°となるように、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスを調整するようになっている。
【００５２】
尚、詳しくは後述するが、小切手処理機１には、図３（Ａ）、（Ｂ）に示すアジマス測定用の媒体（これをアジマス測定用媒体と呼ぶ）Ｐ１が用意されている。そして、小切手処理機１では、例えば作業員が小切手受付装置の操作部を介してアジマス調整作業を開始する旨を入力し、アジマス測定用媒体Ｐ１が受渡口１０Ｂから挿入されると、これをスキャナ部１３へと搬送してＭＩＣＲヘッド２１で読み取り、その読取結果をもとに、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスの規定値（９０°）からのずれ量（ずれの大きさと方向）を例えば−２°〜＋２°程度の範囲で検出できるようになっている。そして、作業者は、このようにして検出されたアジマスの規定値からのずれ量が０となるように、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマス（すなわち取付角度）を調整する。
【００５３】
［１−３．アジマス測定用媒体の構成］
ここで、図３（Ａ）、（Ｂ）を用いて、アジマス測定用媒体Ｐ１の構成について説明する。尚、図３（Ａ）は、スキャナ部１３内の第２の搬送路Ｒ２に沿って搬送されているアジマス測定用媒体Ｐ１を上側（裏面側）から見た場合の上面図であり、図３（Ｂ）は、アジマス測定用媒体Ｐ１を表面側から見た場合の部分拡大図である。アジマス測定用媒体Ｐ１は、例えば、小切手Ｃと同型、同サイズの紙葉状となっている。このアジマス測定用媒体Ｐ１の表面には、一方の長辺Ｐ１ａの近傍に、磁気情報として、アジマス測定用媒体Ｐ１の短手方向に延びる棒状の磁気バーＭｂが、アジマス測定用媒体Ｐ１の長手方向（つまり搬送方向）に間隔を空けて複数本印字されている。
【００５４】
図３（Ｂ）に示すように、アジマス測定用媒体Ｐ１に印字された磁気バーＭｂには、その長手方向とアジマス測定用媒体Ｐ１の長手方向（搬送方向）とのなす角度が９０°であり、アジマス測定の基準となる磁気バーＭｂ０と、基準の磁気バーＭｂ０に対してアジマス測定用媒体Ｐ１の搬送方向に＋１°傾けられた磁気バーＭｂ＋１と、＋２°傾けられた磁気バーＭｂ＋２と、−１°傾けられた磁気バーＭｂ−１と、−２°傾けられた磁気バーＭｂ−２との計５パターンがあり、各パターンごとに所定数ずつ並べて印字されている。尚、この場合の搬送方向に＋１°傾くというのは、アジマス測定用媒体Ｐ１の搬送方向上流側に１°傾くことであり、搬送方向に−１°傾くというのは、アジマス測定用媒体Ｐ１の搬送方向下流側に１°傾くことを意味する。
【００５５】
図３（Ｂ）に示す例では、アジマス測定用媒体Ｐ１の表面に、読取処理時の搬送方向上流側（図中右側）から、所定数の磁気バーＭｂ−１、所定数の磁気バーＭｂ＋１、所定数の磁気バーＭｂ０、所定数の磁気バーＭｂ−２、所定数の磁気バーＭｂ＋２の順に印字されている。尚、図３（Ｂ）に示すアジマス測定用媒体Ｐ１は、図３（Ａに示すアジマス測定用媒体Ｐ１を表裏反転したものであるため、搬送方向上流側は図中右側となる。
【００５６】
尚、詳しくは後述するが、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマス調整が９０°±２°の範囲で行われることから、アジマス測定用媒体Ｐ１には、傾き０°の磁気バーＭｂ０を基準として、傾き−１°の磁気バーＭｂ−１、傾き＋１°の磁気バーＭｂ＋１、傾き−２°の磁気バーＭｂ−２、傾き＋２°の磁気バーＭｂ＋２が印字されるようになっている。
【００５７】
各磁気バーＭｂは、それぞれＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒに収まる大きさであり、且つアジマス測定用媒体Ｐ１の一方の長辺Ｐ１ａから各磁気バーＭｂの長手方向の中心までの距離がＬ１となっている。つまり、アジマス測定用媒体Ｐ１の短手方向における磁気バーＭｂの印字位置は、小切手Ｃの短手方向における磁気情報Ｍｉの印字位置と等しくなっている。さらに、各磁気バーＭｂは、アジマス測定用媒体Ｐ１がスキャナ部１３内部の第１の搬送路Ｒ１を通る際に、着磁用磁石Ｍｇによって、磁気バーＭｂの短手方向が磁界方向となるように磁化されるようになっている。つまり、各磁気バーＭｂは、着磁用磁石Ｍｇによって、短手方向の一端側がＮ極、他端側がＳ極となるように磁化されるようになっている。尚、本実施の形態では、例えば、ＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒが８ｍｍ、各磁気バーＭｂの長手方向の長さが３ｍｍとなっている。
【００５８】
［１−４．小切手処理機の機能構成］
次に、小切手処理機１の機能構成について図４を用いて説明する。ここでは、小切手処理機１の機能構成のうち、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマス調整に関わる部分の機能構成についてのみ説明する。図４は、アジマス調整に係る部分の機能構成を示すブロック図である。この図４に示すように、小切手処理機１のアジマス調整に関わる機能構成は、ＭＩＣＲヘッド２１と、磁気情報変換部５０と、制御部３と、搬送部５１とで構成されている。
【００５９】
ＭＩＣＲヘッド２１は、小切手Ｃに印字されている磁気情報Ｍｉ、及びアジマス測定用媒体Ｐ１に印字されている磁気情報としての磁気バーＭｂを読み取る磁気ヘッドであり、磁気情報Ｍｉ及び磁気バーＭｂによる磁界の時間的変化量を電流に変換するデバイスである。磁気情報変換部５０は、オペアンプやアナログ・デジタルコンバータなどで構成され、ＭＩＣＲヘッド２１から出力される電流をデジタル値である磁気情報リード値に変換するデバイスである。
【００６０】
制御部３は、小切手処理機１全体を制御するとともに、磁気情報変換部５０から得られた磁気情報リード値のレベル（つまり大きさ）を解析する磁気情報レベル解析部５２、及び磁気情報レベル解析部５２により解析された磁気情報リード値のレベルをもとに、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスの規定値からのずれ量を検出するアジマスずれ量検出部５３としても機能する。尚、アジマスのずれ量の検出方法については、後述する。搬送部５１は、搬送路Ｒに沿って設けられた搬送ローラ、搬送ベルト（ともに図示せず）、ブレード３０、３１などで構成され、制御部３による制御のもと、搬送路Ｒに沿って小切手Ｃやアジマス測定用媒体Ｐ１を搬送する。
【００６１】
［１−５．ＭＩＣＲヘッドのアジマスのずれ量検出］
次に、アジマス測定用媒体Ｐ１を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量を検出する方法と具体的な処理手順について順に説明する。まず、アジマス測定用媒体Ｐ１に印字された磁気バーＭｂをＭＩＣＲヘッド２１で読み取ったときの磁気情報リード値のレベルと、アジマスのずれ量との関係について説明する。
【００６２】
図５（Ａ）は、磁気バーＭｂ（例えば磁気バーＭｂ０）の長手方向と、ＭＩＣＲヘッド２１のギャップを表すリード軸２１ａとが平行な場合、つまり磁気バーＭｂの長手方向に対する、ＭＩＣＲヘッド２１のリード軸２１ａの傾きが０°であり、磁気バーＭｂの磁界方向と、ＭＩＣＲヘッド２１のギャップ方向とが直交する場合を示している。また、図５（Ｂ）は、ＭＩＣＲヘッド２１のリード軸２１ａが、磁気バーＭｂの長手方向に対して−２°傾いている場合、つまり磁気バーＭｂの長手方向に対する、ＭＩＣＲヘッド２１のリード軸２１ａの傾きが−２°である場合を示している。尚、本実施の形態では、磁気バーＭｂは、その短手方向の一端側（図中左側）がＳ極、他端側（図中右側）がＮ極となるように、着磁用磁石Ｍｇ（図１）によって磁化されているが、磁気バーＭｂの磁界方向は着磁用磁石Ｍｇの向きによって変わるため、着磁用磁石Ｍｇの向きを変えることで、磁気バーＭｂの磁界方向を、図５（Ａ）、図５（Ｂ）とは逆方向にしてもよい。この場合、磁気バーＭｂは、短手方向の一端側（図中左側）がＮ極、他端側（図中右側）がＳ極となるように磁化されることになる。
【００６３】
さらに、図６は、１本の磁気バーＭｂ（例えば磁気バーＭｂ０）をＭＩＣＲヘッド２１で読み取ったときの磁気情報リード値のレベルの時間的な変化を示すグラフである。このグラフには、磁気バーＭｂの長手方向に対する、ＭＩＣＲヘッド２１のリード軸２１ａの傾きが０°の場合（図５（Ａ）の場合）に得られた磁気情報リード値のレベルと、±１°の場合に得られた磁気情報リード値のレベルと、±２°の場合（図５（Ｂ）の場合）に得られた磁気情報リード値のレベルとが示されている。
【００６４】
このグラフに示すように、磁気情報リード値のピークレベルは、磁気バーＭｂの長手方向に対する、ＭＩＣＲヘッド２１の傾きが０°の場合（図５（Ａ）の場合）に最も大きくなり、この傾きが±１°、±２°と大きくなるにつれて小さくなる。この理由は、磁気バーＭｂの長手方向に対する、ＭＩＣＲヘッド２１の傾きが０°の場合、磁気バーＭｂの磁界方向とＭＩＣＲヘッド２１のギャップ方向とが直交してＭＩＣＲヘッド２１が読み取る磁界の時間的な変化量が最も大きくなり、この傾きが±１°、±２°と大きくなるにつれて、ＭＩＣＲヘッド２１が読み取る磁界の時間的な変化量が小さくなるからである。このように、磁気情報リード値のピークレベルは、磁気バーＭｂの長手方向と、ＭＩＣＲヘッド２１のリード軸２１ａとが平行な場合に、最も大きくなる。
【００６５】
尚、図６のグラフに示すように、磁気情報リード値のピークレベルは、磁気バーＭｂのＳ極側とＮ極側との２箇所に正負反転した状態で現れる。ゆえに、これら２箇所のピークレベルのうちの一方の絶対値、もしくは２箇所のピークレベルの絶対値の平均値を、磁気バーＭｂから得られた磁気情報リード値のピークレベルとする。また、本実施の形態では、図６のグラフに示すように、磁気情報リード値が、先に正の値となり、その後、負の値となるように変化するが、磁気バーＭｂの磁界方向や、磁気情報変換部５０の変換処理を変更することで、図６のグラフとは反対に、磁気情報リード値が、先に負の値となり、その後、正の値となるように変化するようになっていてもよい。
【００６６】
また一方で、図３（Ｂ）に示すように、アジマス測定用媒体Ｐ１には、基準となる傾き０°の磁気バーＭｂ０、傾き＋１°の磁気バーＭｂ＋１、傾き−１°の磁気バーＭｂ−１、傾き＋２°の磁気バーＭｂ＋２、傾き−２°の磁気バーＭｂ−２の計５パターンの磁気バーＭｂが印字されている。各磁気バーＭｂ（Ｍｂ０、Ｍｂ＋１、Ｍｂ−１、Ｍｂ＋２、Ｍｂ−２）の傾きは、それぞれＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量に対応している。
【００６７】
つまり、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量が０°の場合（ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスが規定値の場合）、基準となる傾き０°の磁気バーＭｂ０の長手方向と、ＭＩＣＲヘッド２１のリード軸２１ａとが平行になる。この場合、５パターンの磁気バーＭｂのそれぞれから得られた磁気情報リード値のピークレベルのうち、磁気バーＭｂ０から得られたピークレベルが最も大きくなる。
【００６８】
また、例えば、アジマスのずれ量が−２°の場合、傾き−２°の磁気バーＭｂ−２の長手方向と、ＭＩＣＲヘッド２１のリード軸２１ａとが平行になる。この場合、５パターンの磁気バーＭｂのそれぞれから得られた磁気情報リード値のピークレベルのうち、磁気バーＭｂ−２から得られたピークレベルが最も大きくなる。
【００６９】
このような、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量と、磁気情報リード値のピークレベルとの関係を、図７のグラフに示す。このグラフに示すように、磁気バーＭｂから得られる磁気情報リード値のピークレベルは、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量（−２°〜＋２°）と、磁気バーＭｂの傾き（−２°〜＋２°）とが近いほど、大きくなる。
【００７０】
つまり、傾きが異なる５パターンの磁気バーＭｂのうち、磁気情報リード値のピークレベルが最大となる磁気バーＭｂを特定できれば、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量を検出できる。よって、制御部３では、各磁気バーＭｂから得られる磁気情報リード値のピークレベルをもとに、ピークレベルが最大となる磁気バーＭｂを特定することで、アジマスのずれ量を検出するようになっている。
【００７１】
ここで、図８に示すフローチャートを用いて、アジマスのずれ量を検出する処理手順（これをアジマス検出処理手順と呼ぶ）について説明する。尚、このアジマス検出処理手順は、制御部３が主体となって実行する処理であり、ＭＩＣＲヘッド２１によるアジマス測定用媒体Ｐ１に印字された磁気バーＭｂの読み取りが完了した後に実行される処理である。
【００７２】
ステップＳＰ１において、制御部３の磁気情報レベル解析部５２は、ＭＩＣＲヘッド２１により各磁気バーＭｂから得られた磁気情報リード値をもとに、磁気バーＭｂごとのピークレベルを抽出する。さらに、磁気情報レベル解析部５２は、磁気バーＭｂごとに抽出したピークレベルを、磁気バーＭｂの傾きごとに平均化することで、磁気バーＭｂ０、Ｍｂ＋１、Ｍｂ−１、Ｍｂ＋２、Ｍｂ−２のそれぞれについてのピークレベルを得る。
【００７３】
尚、磁気情報レベル解析部５２では、アジマス測定用媒体Ｐ１の長手方向における各磁気バーＭｂの位置と、アジマス測定用媒体Ｐ１の搬送速度と、磁気情報リード値の取得タイミングとをもとに、磁気情報リード値が、どの磁気バーＭｂから得られたものか特定できるようになっている。
【００７４】
つづくステップＳＰ２において、磁気情報レベル解析部５２は、磁気バーＭｂ０、Ｍｂ＋１、Ｍｂ−１、Ｍｂ＋２、Ｍｂ−２のそれぞれのピークレベルを比較することで、傾きが異なる５パターンの磁気バーＭｂのうち、ピークレベルが最大となる磁気バーＭｂを特定する。このとき、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量によっては、ピークレベルが最大となる磁気バーＭｂが２つ特定される場合がある。具体的には、アジマスのずれ量が±０．５°、±１．５°の場合であり、例えば、アジマスのずれ量が＋０．５°の場合、傾き０°の磁気バーＭｂ０から得られたピークレベルと、傾き＋１°の磁気バーＭｂ＋１から得られたピークレベルとが、同等且つ最大となる。尚、ここでは、例えば、２つのピークレベルの差が、所定値以下である場合に、２つのピークレベルを同等とみなすようになっている。
【００７５】
つづくステップＳＰ３において、アジマスずれ量検出部５３は、ピークレベルが最大となる磁気バーＭｂの傾きを、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量とする。ここで、ピークレベルが最大となる磁気バーＭｂが２つ特定されている場合、アジマスずれ量検出部５３は、特定された２つの磁気バーＭｂの傾きの中間値を、アジマスのずれ量とする。例えば、特定された２つの磁気バーＭｂの傾きが＋１°と＋２°であった場合、これらの中間値である＋１．５°を、アジマスのずれ量とする。
【００７６】
つづくステップＳＰ４において、アジマスずれ量検出部５３は、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量をもとに、ＭＩＣＲヘッド２１の角度調整量を算出する。具体的には、アジマスのずれ量の符号を反転した量を、角度調整量とする。この理由は、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量＝ＭＩＣＲヘッド２１の取付角度のずれ量であり、アジマスのずれ量が＋１°である場合、ＭＩＣＲヘッド２１の取付角度をアジマスのずれ量とは逆方向に１°調整すれば、アジマスのずれ量が０°となるからである。
【００７７】
つづくステップＳＰ５において、制御部３は、アジマスのずれ量と、角度調整量とを、例えば、小切手受付装置の表示部に表示させる。作業員は、表示部に表示された角度調整量に合わせてＭＩＣＲヘッド２１の取付角度を調整することで、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスを規定値（９０°）に調整する。具体的には、作業員は、例えば、角度調整量を入力することでＭＩＣＲヘッド２１の取付角度を調整することができる専用の器具を有していて、この器具に角度調整量を入力することによりＭＩＣＲヘッド２１のアジマス調整を行う。アジマス検出処理手順は、以上のようになっている。
【００７８】
尚、アジマス測定用媒体Ｐ１については、ＭＩＣＲヘッド２１での読取完了後、エスクロ部１４に一時的に保留した後、エスクロ部１４から繰り出して受渡口１０Ｂまで戻して作業員に返還してもよいし、エスクロ部１４から繰り出してリトラクト部１５に収納させてもよい。
【００７９】
［１−６．まとめと効果］
ここまで説明したように、第１の実施の形態では、アジマス測定用媒体Ｐ１の表面に、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量が０°のときのギャップ方向と平行になる磁気バーＭｂ０と、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量が＋１°のときのギャップ方向と平行になるよう、磁気バーＭｂ０に対して＋１°傾けられた磁気バーＭｂ＋１と、アジマスのずれ量が−１°のときのギャップ方向と平行になるよう、磁気バーＭｂ０に対して−１°傾けられた磁気バーＭｂ−１と、アジマスのずれ量が＋２°のときのギャップ方向と平行になるよう、磁気バーＭｂ０に対して＋２°傾けられた磁気バーＭｂ＋２と、アジマスのずれ量が−２°のときのギャップ方向と平行になるよう、磁気バーＭｂ０に対して−２°傾けられた磁気バーＭｂ−２とを印字するようにした。
【００８０】
一方、小切手処理機１は、このアジマス測定用媒体Ｐ１に印字された各磁気バーＭｂ（Ｍｂ０、Ｍｂ＋１、Ｍｂ−１、Ｍｂ＋２、Ｍｂ−２）を、ＭＩＣＲヘッド２１で読み取ることで磁気情報リード値を得る。そして、小切手処理機１は、各磁気バーＭｂから得られた磁気情報リード値のピークレベルをもとに、ピークレベルが最大となる磁気バーＭｂを特定して、特定した磁気バーＭｂの傾きを、アジマスのずれ量として検出するようにした。
【００８１】
これにより、小切手処理機１は、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量を測定する測定器を、スキャナ部１３の内部に挿入するようなことなく、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量を容易且つ正確に検出できるので、測定器によりアジマスのずれ量を測定するときのような測定ミスをなくして、容易且つ正確にＭＩＣＲヘッド２１のアジマス調整を行うことができる。
【００８２】
また、小切手処理機１では、検出したアジマスのずれ量をもとに、アジマスを規定値に調整するためのＭＩＣＲヘッド２１の角度調整量を得、これを表示部に表示するようにしたことにより、作業員に対して、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマス調整を容易に行わせることができる。
【００８３】
さらに、小切手処理機１では、例えば、ＭＩＣＲヘッド２１が小切手処理機１に対して着脱可能なユニットに取り付けられるようになっていて、このユニットを小切手処理機１に取り付ける際に、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスが規定値からずれてしまうような場合でも、ユニットを取り付けた後に、アジマス測定用媒体Ｐ１を利用してＭＩＣＲヘッド２１のアジマス調整を容易且つ正確に行うことができる。
【００８４】
さらに、この第１の実施の形態では、アジマス測定用媒体Ｐ１に、傾きが異なる磁気バーＭｂ０、Ｍｂ＋１、Ｍｂ−１、Ｍｂ＋２、Ｍｂ−２をそれぞれ複数本設けるようにした。そして、小切手処理機１が、各磁気バーＭｂから得られた磁気情報リード値のピークレベルを、磁気バーＭｂ０、Ｍｂ＋１、Ｍｂ−１、Ｍｂ＋２、Ｍｂ−２ごとに平均化した平均ピークレベルを用いるようにした。こうすることで、小切手処理機１では、磁気バーＭｂ０、Ｍｂ＋１、Ｍｂ−１、Ｍｂ＋２、Ｍｂ−２のそれぞれについて、得られるピークレベルのばらつきを抑制することができる。
【００８５】
［２．第２の実施の形態］
次に、第２の実施の形態について説明する。この第２の実施の形態は、第１の実施の形態の小切手処理機１に、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスを自動調整する機能（これをアジマス自動調整機能と呼ぶ）を追加した実施の形態である。ゆえに、ここでは、小切手処理機１の構成及び動作のうち、アジマス自動調整機能に関わる構成及び動作についてのみ説明する。
【００８６】
［２−１．ＭＩＣＲヘッドのアジマス調整機構］
まず、図９を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド角度調整機構１００について説明する。ヘッド角度調整機構１００は、ＭＩＣＲヘッド２１を回転可能に支持するステージ１０１と、ステージ１０１を回転させるステージ回転用モータ１０２とで構成される。このヘッド角度調整機構１００は、ステージ回転用モータ１０２によりステージ１０１を回転させることで、ＭＩＣＲヘッド２１の取付角度（つまりアジマス）を自動で調整できるようになっている。尚、このヘッド角度調整機構１００は、一例であり、ヘッド角度調整機構１００とは異なる機構を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１の取付角度を調整するようにしてもよい。
【００８７】
［２−２．小切手処理機の機能構成］
次に、第２の実施の形態の小切手処理機１の機能構成について、図３に対応する図１０を用いて説明する。図１０に示すように、第２の実施の形態の小切手処理機１の機能構成は、第１の実施の形態の小切手処理機１の機能構成に、ヘッド角度調整部１０３を追加したものとなっている。ゆえに、ここでは、追加されたヘッド角度調整部１０３についてのみ説明する。
【００８８】
ヘッド角度調整部１０３は、制御部３による制御のもと、ステージ回転用モータ１０２を駆動させることで、ＭＩＣＲヘッド２１の取付角度（つまりアジマス）を調整する。
【００８９】
［２−３．アジマス自動調整処理手順］
次に、アジマス測定用媒体Ｐ１を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量を検出し、このずれ量をもとに、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスを自動調整するアジマス自動調整処理の手順（これをアジマス自動調整処理手順と呼ぶ）について、図１１に示すフローチャートを用いて説明する。尚、このアジマス自動調整処理手順は、図８に示した第１の実施の形態のアジマス検出処理手順のステップＳＰ５の処理内容を、後述するステップＳＰ１０の処理内容に代えたものである。ゆえに、ここでは、ステップＳＰ１０についてのみ説明する。
【００９０】
ステップＳＰ１０において、制御部３は、ステップＳＰ１からステップＳＰ４までの処理により得られたＭＩＣＲヘッド２１の角度調整量を、ヘッド角度調整部１０３に送る。ヘッド角度調整部１０３は、この角度調整量に応じてステージ回転用モータ１０２を駆動させることで、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスが規定値（９０°）となるようにＭＩＣＲヘッド２１の取付角度を自動調整する。アジマス自動調整処理手順は、以上のようになっている。
【００９１】
［２−４．まとめと効果］
ここまで説明したように、第２の実施の形態では、小切手処理機１に、ＭＩＣＲヘッド２１の取付角度を自動で調整可能なヘッド角度調整機構１００を設けた。そして、第２の実施の形態の小切手処理機１では、アジマス測定用媒体Ｐ１を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量を検出して、このずれ量をもとに、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスを規定値に調整するための角度調整量を得、この角度調整量をもとに、ヘッド角度調整機構１００によりＭＩＣＲヘッド２１の角度調整を自動で行うようにした。
【００９２】
このように、第２の実施の形態の小切手処理機１では、アジマス測定用媒体Ｐ１を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量の検出から、アジマス調整までを全て自動で行うことができるので、第１の実施の形態と比べて一段と容易且つ正確にＭＩＣＲヘッド２１のアジマス調整を行うことができる。
【００９３】
［３．第３の実施の形態］
次に、第３の実施の形態について説明する。この第３の実施の形態は、ＭＩＣＲヘッド２１のアジマスのずれ量ではなく、ＭＩＣＲヘッド２１の取付位置（以下、これをヘッド位置と呼ぶ）のずれ量を検出するようにした実施の形態である。ゆえに、ここでは、小切手処理機１の構成及び動作のうち、ヘッド位置のずれ量検出に関わる部分についてのみ説明する。
【００９４】
すなわち、この第３の実施の形態の小切手処理機１では、小切手Ｃに印字されている磁気情報ＭｉをＭＩＣＲヘッド２１で正確に読み取ることができるように、例えば小切手受付装置を稼働する前に、作業員がＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を調整する作業（これをヘッド位置調整作業と呼ぶ）を行うようになっている。
【００９５】
ここで、ヘッド位置調整作業について簡単に説明する。図２に示したように、ＭＩＣＲヘッド２１で小切手Ｃの磁気情報Ｍｉを正確に読み取るためには、幅寄せ基準面ガイド４０からＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの中心までの距離Ｌ２が、小切手Ｃの一方の長辺Ｃａから磁気情報Ｍｉの中心までの距離Ｌ１と等しくなっていることが望ましい。ゆえに、ヘッド位置調整作業では、距離Ｌ２＝距離Ｌ１となるように、第２の搬送路Ｒ２の幅方向におけるＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を調整するようになっている。
【００９６】
尚、詳しくは後述するが、第３の実施の形態の小切手処理機１には、図１２（Ａ）、（Ｂ）に示すヘッド位置測定用媒体Ｐ２が用意されている。そして、小切手処理機１では、例えば作業員が小切手受付装置の操作部を介してヘッド位置調整作業を開始する旨を入力し、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２が受渡口１０Ｂから挿入されると、これをスキャナ部１３へと搬送してＭＩＣＲヘッド２１で読み取り、その読取結果をもとに、ヘッド位置の規定置（距離Ｌ２＝距離Ｌ１となる位置）からのずれ量（ずれの大きさと方向）を例えば−２．５ｍｍ〜＋２．５ｍｍ程度の範囲で検出できるようになっている。そして、作業者は、このようにして検出されたヘッド位置の規定値からのずれ量が０となるように、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を調整する。
【００９７】
［３−１．ヘッド位置測定用媒体の構成］
ここで、図１２（Ａ）、（Ｂ）を用いて、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の構成について説明する。尚、図１２（Ａ）は、スキャナ部１３内の第２の搬送路Ｒ２に沿って搬送されているヘッド位置測定用媒体Ｐ２を上側（裏面側）から見た場合の上面図であり、図１２（Ｂ）は、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２を表面側から見た場合の部分拡大図である。ヘッド位置測定用媒体Ｐ２は、例えば、小切手Ｃと同型、同サイズの紙葉状となっている。このヘッド位置測定用媒体Ｐ２の表面には、一方の長辺Ｐ２ａの近傍に、磁気情報として、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の短手方向（つまり搬送方向と直交する方向）に延びる棒状の磁気バーＭｘが、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の長手方向（つまり搬送方向）に間隔を空けて複数本印字されている。各磁気バーＭｘは、その長手方向とヘッド位置測定用媒体Ｐ２の長手方向とのなす角度が９０°となるように印字されている。
【００９８】
図１２（Ｂ）に示すように、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２に印字される磁気バーＭｘは、その長手方向の中心が、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の長辺Ｐ２ａから距離Ｌ１（すなわち小切手Ｃの長辺Ｃａから磁気情報Ｍｉの中心までの距離）の位置にあり、ヘッド位置測定の基準となる磁気バーＭｘ０と、その長手方向の中心が、基準の磁気バーＭｘ０の長手方向の中心に対して−方向（長辺Ｐ２ａ側）に１ｍｍずれているＭｘ−１と、２ｍｍずれているＭｘ−２と、３ｍｍずれているＭｘ−３と、４ｍｍずれているＭｘ−４と、５ｍｍずれているＭｘ−５と、その長手方向の中心が、基準の磁気バーＭｘ０の長手方向の中心に対して＋方向（長辺Ｐ２ａ側とは反対側）に１ｍｍずれているＭｘ＋１と、２ｍｍずれているＭｘ＋２と、３ｍｍずれているＭｘ＋３と、４ｍｍずれているＭｘ＋４と、５ｍｍずれているＭｘ＋５との計１１パターンがあり、各パターンごとに所定数ずつ並べて印字されている。
【００９９】
図１２（Ｂ）に示す例では、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の表面に、読取時の搬送方向上流側（図中右側）から、所定数の磁気バーＭｘ＋５、所定数の磁気バーＭｘ＋４、所定数の磁気バーＭｘ＋３、所定数の磁気バーＭｘ＋２、所定数の磁気バーＭｘ＋１、所定数の磁気バーＭｘ０、所定数の磁気バーＭｘ−１、所定数の磁気バーＭｘ−２、所定数の磁気バーＭｘ−３、所定数の磁気バーＭｘ−４、所定数の磁気バーＭｘ−５の順に印字されている。
【０１００】
各磁気バーＭｘは、それぞれ長手方向の長さがＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒより短くなっている。具体的には、各磁気バーＭｘの長手方向の長さＬｆが例えば３ｍｍ、ＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒが例えば８ｍｍとなっている。さらに、各磁気バーＭｘは、着磁用磁石Ｍｇ（図１）によって、磁気バーＭｘの短手方向が磁界方向となるように磁化されるようになっている。つまり、各磁気バーＭｘは、着磁用磁石Ｍｇによって、短手方向の一端側がＮ極、他端側がＳ極となるように磁化されるようになっている。
【０１０１】
尚、基準の磁気バーＭｘ０は、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値の場合に、その長手方向の中心と、ＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの中心とが一致する位置に印字されている。
【０１０２】
［３−２．小切手処理機の機能構成］
次に、第３の実施の形態の小切手処理機１の機能構成について図１３を用いて説明する。ここでは、小切手処理機１の機能構成のうち、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置調整に関わる部分の機能構成についてのみ説明する。図１３に示すように、小切手処理機１のヘッド位置調整に関わる機能構成は、ＭＩＣＲヘッド２１と、磁気情報変換部５０と、制御部３と、搬送部５１とで構成されている。ここで、ＭＩＣＲヘッド２１、磁気情報変換部５０、搬送部５１は、第１の実施の形態と同様であり、詳しい説明は省略する。
【０１０３】
制御部３は、小切手処理機１全体を制御するとともに、磁気情報変換部５０から得られた磁気情報リード値のレベル（つまり大きさ）を解析する磁気情報レベル解析部５２、及び磁気情報レベル解析部５２により解析された磁気情報リード値のレベルをもとに、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置の規定値からのずれ量を検出するヘッド位置ずれ量検出部２００としても機能する。尚、ヘッド位置のずれ量の検出方法については、後述する。
【０１０４】
［３−３．ヘッド位置のずれ量検出］
次に、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置のずれ量を検出する方法と具体的な処理手順について順に説明する。まず、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２に印字された磁気バーＭｘをＭＩＣＲヘッド２１で読み取ったときの磁気情報リード値のレベルと、ヘッド位置のずれ量との関係について説明する。
【０１０５】
図１４（Ａ）に示すように、ＭＩＣＲヘッド２１により磁気バーＭｘを読み取る際に、磁気バーＭｘの全長Ｌｆのうち、ＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの内側に入っている部分の長さ（つまり、磁気バーＭｘ全体のうち、ＭＩＣＲヘッド２１により読み取ることができる部分の長さであり、以下、読取部分長と呼ぶ）をＬｉとする。ここで、ＭＩＣＲヘッド２１で１本の磁気バーＭｘを読み取った際の磁気情報リード値のレベルと、磁気バーＭｘの読取部分長Ｌｉとの関係を、図１４（Ｂ）のグラフに示す。尚、図１４（Ｂ）に示す磁気情報リード値のレベルは、例えば、磁気情報リード値のピークレベルとする。
【０１０６】
このグラフに示すように、磁気情報リード値のレベル（つまりピークレベル）は、磁気バーＭｘの読取部分長Ｌｉと比例関係にあり、読取部分長Ｌｉが大きくなるほど磁気情報リード値のレベルも大きくなっていき、読取部分長Ｌｉ＝磁気バーＭｘの全長Ｌｆとなったとき（つまり磁気バーＭｘの全体がＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの内側に入っているとき）に最大となる。この理由は、読取部分長Ｌｉが大きくなるほど、ＭＩＣＲヘッド２１が読み取る磁界の時間的な変化量が大きくなるからである。このように、磁気情報リード値のレベルは、磁気バーＭｘの全体がＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの内側に入っている場合に最大となり、磁気バーＭｘの全体のうち読取幅Ｌｒの外側に出ている部分が大きくなるほど、小さくなるようになっている。
【０１０７】
また一方で、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２には、基準となる磁気バーＭｘ０、磁気バーＭｘ０に対して＋方向に１ｍｍ、２ｍｍ、３ｍｍ、４ｍｍ、５ｍｍずれている磁気バーＭｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５と、磁気バーＭｘ０に対して−方向に１ｍｍ、２ｍｍ、３ｍｍ、４ｍｍ、５ｍｍずれている磁気バーＭｘ−１、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５とが印字されている。
【０１０８】
ここで、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値にある場合、図１５（Ａ）に示すように、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２をＭＩＣＲヘッド２１で読み取る際に、基準となる磁気バーＭｘ０の長手方向の中心と、ＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの中心とが一致するとともに、読取幅Ｌｒの両端が、それぞれ磁気バーＭｘ＋３、Ｍｘ−３上を通過するようになっている。つまり、この場合、磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ−１、Ｍｘ−２については、全体がＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの内側に入る一方で、磁気バーＭｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５については、一部がＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの外側にはみ出るようになっている。尚、図１５（Ａ）では、説明を簡単にするため、磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−１、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５を、それぞれ１本にまとめている。
【０１０９】
ゆえに、この場合、磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ−１、Ｍｘ−２のそれぞれから得られる磁気情報リード値のレベルは最大値となる一方で、磁気バーＭｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５のそれぞれから得られる磁気情報リード値のレベルは、最大値より小さい値となる。また、磁気バーＭｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５のそれぞれから得られる磁気情報リード値のレベルは、読取幅Ｌｒの外側にはみ出ている部分が大きいほど、小さくなる。
【０１１０】
このときの各磁気バーＭｘから得られる磁気情報リード値のレベルと、各磁気バーＭｘの基準位置（磁気バーＭｘ０の位置）からのずれ量との関係を、図１６のグラフ上に折線Ｌｓで示す。このグラフは、磁気情報リード値のレベルをＹ軸（図１６に示すグラフの縦軸）、磁気バーＭｘのずれ量をＸ軸（図１６に示すグラフの横軸）とするものであり、折線Ｌｓは、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値にある場合の各磁気バーＭｘから得られる磁気情報リード値のレベルの変化を示している。
【０１１１】
これに対して、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が例えば＋方向に１ｍｍずれている場合、図１５（Ｂ）に示すように、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２をＭＩＣＲヘッド２１で読み取る際に、基準となる磁気バーＭｘ０の長手方向の中心に対して、ＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの中心が＋方向に１ｍｍずれるとともに、読取幅Ｌｒの両端が、それぞれ磁気バーＭｘ＋４、Ｍｘ−２上を通過するようになっている。つまり、この場合、磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ−１については、全体がＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの内側に入る一方で、磁気バーＭｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５については、一部がＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの外側にはみ出るようになっている。
【０１１２】
ゆえに、この場合、磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ−１のそれぞれから得られる磁気情報リード値のレベルは最大値となる一方で、磁気バーＭｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５のそれぞれから得られる磁気情報リード値のレベルは、最大値より小さい値となる。また、磁気バーＭｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５のそれぞれから得られる磁気情報リード値のレベルは、読取幅Ｌｒの外側にはみ出ている部分が大きいほど、小さくなる。
【０１１３】
このときの各磁気バーＭｘから得られる磁気情報リード値のレベルと、各磁気バーＭｘの基準位置からのずれ量との関係を、図１６のグラフに折線Ｌｄで示す。つまり折線Ｌｄは、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値からずれている場合の各磁気バーＭｘから得られる磁気情報リード値のレベルの変化を示している。
【０１１４】
このグラフからわかるように、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値にある場合の磁気情報リード値のレベルの変化を示す折線（以下、これを基準折線と呼ぶ）Ｌｓと、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値からずれている場合の磁気情報リード値のレベルの変化を示す折線Ｌｄとは、同一形状であり、基準折線Ｌｓと折線ＬｄのＸ軸方向のずれ量が、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置の規定値からのずれ量と等しくなっている。
【０１１５】
よって、基準折線Ｌｓに対する折線ＬｄのＸ軸方向のずれ量を特定できれば、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置の規定値からのずれ量を検出できる。よって、制御部３では、各磁気バーＭｘから得られる磁気情報リード値のレベルを、図１６に示すグラフ上にプロットすることで折線（以下、これを読取折線と呼ぶ）Ｌｄを得、基準折線Ｌｓに対する読取折線ＬｄのＸ軸方向のずれ量を特定することで、ヘッド位置のずれ量を検出するようになっている。
【０１１６】
ここで、図１７に示すフローチャートを用いて、ヘッド位置のずれ量を検出する処理手順（これをヘッド位置検出処理手順と呼ぶ）について説明する。尚、このヘッド位置検出処理手順は、制御部３が主体となって実行する処理であり、ＭＩＣＲヘッド２１によるヘッド位置測定用媒体Ｐ２に印字された磁気バーＭｘの読み取りが完了した後に実行される処理である。
【０１１７】
ステップＳＰ２０において、制御部３の磁気情報レベル解析部５２は、ＭＩＣＲヘッド２１により各磁気バーＭｘから得られた磁気情報リード値をもとに、磁気バーＭｘごとのピークレベルを抽出する。さらに、磁気情報レベル解析部５２は、磁気バーＭｘごとに抽出したピークレベルを、磁気バーＭｘのずれ量ごとに平均化することで、１１パターンの磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−１、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５のそれぞれについてのピークレベルを得る。
【０１１８】
尚、磁気情報レベル解析部５２では、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の長手方向における各磁気バーＭｘの位置と、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の搬送速度と、磁気情報リード値の取得タイミングとをもとに、磁気情報リード値が、どの磁気バーＭｘから得られたものか特定できるようになっている。
【０１１９】
つづくステップＳＰ２１において、ヘッド位置ずれ量検出部２００は、磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−１、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５のそれぞれから得られた磁気情報リード値のピークレベルを、図１６に示すグラフ上にプロットすることで、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２から読み取った磁気情報リード値のピークレベルの変化を示す読取折線Ｌｄを得る。
【０１２０】
つづくステップＳＰ２２において、ヘッド位置ずれ量検出部２００は、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値にある場合の磁気情報リード値のレベルの変化を示す基準折線Ｌｓと、ステップＳＰ２１で得られた読取折線Ｌｄとをもとに、ヘッド位置のずれ量を検出する。すなわち、ヘッド位置ずれ量検出部２００は、基準折線Ｌｓに対する読取折線ＬｄのＸ軸方向のずれ量を算出して、これをヘッド位置のずれ量として検出する。
【０１２１】
具体的に説明すると、ヘッド位置ずれ量検出部２００は、読取折線Ｌｄから、磁気情報リード値のレベルが減衰している直線部分（これを減衰直線部分と呼ぶ）の方程式を求める。尚、読取折線Ｌｄには、Ｘ軸の＋側と−側とに、それぞれ１本ずつ計２本の減衰直線部分が存在する。ゆえに、ヘッド位置ずれ量検出部２００は、＋側の減衰直線部分の方程式と、−側の減衰直線部分の方程式とを求め、さらにこれらの交点を算出する。この交点のＸ座標が、現在のＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの中心位置を表す。
【０１２２】
一方、基準折線Ｌｓにおける減衰直線部分の交点のＸ座標は、ＭＩＣＲヘッド２１が規定値にある場合の読取幅Ｌｒの中心位置を表していて、Ｘ＝０である。よって、読取折線Ｌｄにおける減衰直線部分の交点のＸ座標は、そのまま現在のＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置の規定値からのずれ量となる。つまり、読取折線Ｌｄにおける減衰直線部分の交点のＸ座標が＋１ｍｍであるならば、このとき、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置は、規定値から＋１ｍｍずれていることを意味する。ヘッド位置ずれ量検出部２００は、このようにしてヘッド位置のずれ量を検出する。
【０１２３】
つづくステップＳＰ２３において、ヘッド位置ずれ量検出部２００は、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置のずれ量をもとに、ＭＩＣＲヘッド２１の位置調整量を算出する。具体的には、ヘッド位置のずれ量の符号を反転した量を、位置調整量とする。この理由は、ヘッド位置のずれ量が＋１ｍｍである場合、ＭＩＣＲヘッド２１の取付位置をヘッド位置のずれ量とは逆方向に１ｍｍ調整すれば、ヘッド位置のずれ量が０°となるからである。
【０１２４】
つづくステップＳＰ２４において、制御部３は、ヘッド位置のずれ量と、位置調整量とを、例えば、小切手受付装置の表示部に表示させる。作業員は、表示部に表示された位置調整量に合わせてＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を調整することで、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を規定値に調整する。具体的には、作業員は、例えば、位置調整量を入力することでＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を調整することができる専用の器具を有していて、この器具に位置調整量を入力することによりＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置調整を行う。ヘッド位置検出処理手順は、以上のようになっている。
【０１２５】
尚、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２についても、ＭＩＣＲヘッド２１での読取完了後、エスクロ部１４に一時的に保留した後、エスクロ部１４から繰り出して受渡口１０Ｂまで戻して作業員に返還してもよいし、エスクロ部１４から繰り出してリトラクト部１５に収納させてもよい。
【０１２６】
［３−４．まとめと効果］
ここまで説明したように、第３の実施の形態では、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の表面に、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値にある場合の読取幅Ｌｒの中心と、長手方向の中心とが一致する磁気バーＭｘ０と、この磁気バーＭｘ０に対して、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の長辺Ｐ２ａ側に、１ｍｍ、２ｍｍ、３ｍｍ、４ｍｍ、５ｍｍだけずらして配置された磁気バーＭｘ−１、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５と、磁気バーＭｘ０に対して、長辺Ｐ２ａ側とは反対側に、１ｍｍ、２ｍｍ、３ｍｍ、４ｍｍ、５ｍｍだけずらして配置された磁気バーＭｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５とを印字するようにした。
【０１２７】
一方、小切手処理機１は、このヘッド位置測定用媒体Ｐ２に印字された各磁気バーＭｂ（Ｍｘ０、Ｍｘ＋１〜Ｍｘ＋５、Ｍｘ−１〜Ｍｘ−５）を、ＭＩＣＲヘッド２１で読み取ることで磁気情報リード値を得る。そして、小切手処理機１は、各磁気バーＭｘから得られた磁気情報リード値のレベルをもとに、磁気情報リード値のレベルの変化を示す読取折線Ｌｄを得、ＭＩＣＲヘッド２１が規定値にある場合の磁気情報リード値のレベルの変化を示す基準折線Ｌｓに対する、読取折線Ｌｄのずれ量を特定して、特定したずれ量を、ヘッド位置のずれ量として検出するようにした。
【０１２８】
これにより、小切手処理機１は、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置のずれ量を測定する測定器を、スキャナ部１３の内部に挿入するようなことなく、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置のずれ量を容易且つ正確に検出できるので、測定器によりヘッド位置のずれ量を測定するときのような測定ミスをなくして、容易且つ正確にＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置調整を行うことができる。
【０１２９】
また、小切手処理機１では、検出したヘッド位置のずれ量をもとに、ヘッド位置を規定値に調整するための位置調整量を得、これを表示部に表示するようにしたことにより、作業員に対して、ＭＩＣＲヘッド２１の位置調整を容易に行わせることができる。
【０１３０】
さらに、小切手処理機１では、例えば、ＭＩＣＲヘッド２１が小切手処理機１に対して着脱可能なユニットに取り付けられるようになっていて、このユニットを小切手処理機１に取り付ける際に、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値からずれてしまうような場合でも、ユニットを取り付けた後に、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２を利用してＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置調整を容易且つ正確に行うことができる。
【０１３１】
さらに、この第３の実施の形態では、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２に、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２の短手方向における位置が異なる磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−１、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５をそれぞれ複数本設けるようにした。そして、小切手処理機１が、各磁気バーＭｘから得られた磁気情報リード値のピークレベルを、磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−１、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５ごとに平均化した平均ピークレベルを用いるようにした。こうすることで、小切手処理機１では、磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−１、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５のそれぞれについて、得られるピークレベルのばらつきを抑制することができる。
【０１３２】
［４．第４の実施の形態］
次に、第４の実施の形態について説明する。この第４の実施の形態は、第３の実施の形態の小切手処理機１に、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を自動調整する機能（これをヘッド位置自動調整機能と呼ぶ）を追加した実施の形態である。ゆえに、ここでは、小切手処理機１の構成及び動作のうち、ヘッド位置自動調整機能に関わる構成及び動作についてのみ説明する。
【０１３３】
［４−１．ＭＩＣＲヘッドのヘッド位置調整機構］
まず、図１８を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置調整機構３００について説明する。ヘッド位置調整機構３００は、ＭＩＣＲヘッド２１を第２の搬送路Ｒ２の幅方向に移動可能に支持するステージ３０１と、ステージ３０１を移動させるステージ移動用モータ３０２とで構成される。このヘッド位置調整機構３００は、ステージ移動用モータ３０２によりステージ３０１を移動させることで、ＭＩＣＲヘッド２１の取付位置を自動で調整できるようになっている。尚、このヘッド位置調整機構３００は、一例であり、ヘッド位置調整機構３００とは異なる機構を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１の取付位置を調整するようにしてもよい。
【０１３４】
［４−２．小切手処理機の機能構成］
次に、第４の実施の形態の小切手処理機１の機能構成について、図１３に対応する図１９を用いて説明する。図１９に示すように、第４の実施の形態の小切手処理機１の機能構成は、第３の実施の形態の小切手処理機１の機能構成に、ヘッド位置調整部３０３を追加したものとなっている。ゆえに、ここでは、追加されたヘッド位置調整部３０３についてのみ説明する。
【０１３５】
ヘッド位置調整部３０３は、制御部３による制御のもと、ステージ移動用モータ３０２を駆動させることで、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を調整する。
【０１３６】
［４−３．ヘッド位置自動調整処理手順］
次に、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置のずれ量を検出して、このずれ量をもとに、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を自動調整するヘッド位置自動調整処理の手順（これをヘッド位置自動調整処理手順と呼ぶ）について、図２０に示すフローチャートを用いて説明する。尚、このヘッド位置自動調整処理手順は、図１７に示した第３の実施の形態のヘッド位置検出処理手順のステップＳＰ２４の処理内容を、後述するステップＳＰ３０の処理内容に代えたものである。ゆえに、ここでは、ステップＳＰ３０についてのみ説明する。
【０１３７】
ステップＳＰ３０において、制御部３は、ステップＳＰ２０からステップＳＰ２３までの処理により得られたＭＩＣＲヘッド２１の位置調整量を、ヘッド位置調整部３０３に送る。ヘッド位置調整部３０３は、この位置調整量に応じてステージ移動用モータ３０２を駆動させることで、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置が規定値となるように、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を自動調整する。ヘッド位置自動調整処理手順は、以上のようになっている。
【０１３８】
［４−４．まとめと効果］
ここまで説明したように、第４の実施の形態では、小切手処理機１に、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を自動で調整可能なヘッド位置調整機構３００を設けた。そして、第４の実施の形態の小切手処理機１では、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置のずれ量を検出して、このずれ量をもとに、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置を規定値に調整するための位置調整量を得、この位置調整量をもとに、ヘッド位置調整機構３００によりＭＩＣＲヘッド２１の位置調整を自動で行うようにした。
【０１３９】
このように、第４の実施の形態の小切手処理機１では、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２を用いて、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置のずれ量の検出から、ヘッド位置の調整までを全て自動で行うことができるので、第３の実施の形態と比べて一段と容易且つ正確にＭＩＣＲヘッド２１の位置調整を行うことができる。
【０１４０】
［５．他の実施の形態］
［５−１．他の実施の形態１］
尚、上述した第１及び第２の実施の形態では、各磁気バーＭｂから得られる磁気情報リード値のピークレベルをもとに、アジマスのずれ量を検出するようにしたが、第１及び第２の実施の形態で採用した方法とは異なる方法で、磁気情報リード値のピークレベルをもとにアジマスのずれ量を検出するようにしてもよい。
【０１４１】
例えば、図７のグラフに示すように、各磁気バーＭｂから得られる磁気情報リード値のピークレベルは、最大値を頂点として左右対称な山状に変化するようになっている。よって、例えば、傾き０°の磁気バーＭｂ０から得られるピークレベルが最大となる場合、傾き−１°の磁気バーＭｂ−１から得られるピークレベルと、傾き＋１°の磁気バーＭｂ＋１から得られるピークレベルが同等になる。
【０１４２】
この現象を利用して、アジマスずれ量検出部５３が、各磁気バーＭｂから得られる磁気情報リード値のピークレベルをもとに、磁気情報リード値のピークレベルが同等となる磁気バーＭｂの傾きを２つ特定し、その傾きの中間値（この中間値がピークレベルが最大の傾きとなる）をアジマスのずれ量として検出するようにしてもよい。尚、この場合、図７のグラフからわかるように、例えば、ピークレベルが最大となる磁気バーＭｂの傾きが＋２°である場合、ピークレベルが同等となる磁気バーＭｂの傾きを２つ特定するには、磁気バーＭｂの傾きが＋３°の場合のピークレベルが必要になってくる。ゆえに、２つの傾きのアジマスの調整範囲よりも、磁気バーＭｂの傾きの範囲を広くすることが望ましい。例えば、アジマスの調整範囲が９０°±２°の場合、磁気バーＭｂの傾きの範囲を０°±３°とすればよい。この場合、図は省略するが、アジマス測定用媒体Ｐ１に、傾き＋３°の磁気バーＭｂと、傾き−３°の磁気バーＭｂを追加すればよい。
【０１４３】
［５−２．他の実施の形態２］
また、上述した第３及び第４の実施の形態では、各磁気バーＭｘから得られる磁気情報リード値のレベルをもとに、ヘッド位置のずれ量を検出するようにしたが、第３及び第４の実施の形態で採用した方法とは異なる方法で、磁気情報リード値のレベルをもとにヘッド位置のずれ量を検出するようにしてもよい。
【０１４４】
例えば、図１５（Ｂ）に示すように、ＭＩＣＲヘッド２１が規定値から＋１ｍｍずれている場合、ＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの−側の端（図中上端）が磁気バーＭｘ−２上を通過する。このとき、磁気バーＭｘ−２の全長Ｌｆのうち、読取幅Ｌｒの内側に入っている読取部分長Ｌｉは、磁気バーＭｘ−２から得られた磁気情報リード値のレベルをもとに算出することができる。具体的には、磁気バーＭｘ−２から得られた磁気情報リード値のレベルと、読取幅Ｌｒ内に全体が入っている磁気バーＭｘ０から得られた磁気情報リード値のレベルとを比較する。ここで、例えば、磁気バーＭｘ−２から得られたレベルが、磁気バーＭｘ０から得られたレベルの８３．３３％であったとすると、磁気バーＭｘ−２の全長Ｌｆは３ｍｍであるから、読取部分長Ｌｉは、３ｍｍ×８３．３３≒２．５ｍｍとなる。このことから、読取幅Ｌｒの−側の端は、磁気バーＭｘ−２の＋側の端（図中下端）から−方向（図中上方向）に２．５ｍｍ離れた位置を通過していることがわかる。
【０１４５】
一方で、ＭＩＣＲヘッド２１が規定値にある場合、ＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの−側の端は、磁気バーＭｘ−２の＋側の端から−方向に３．５ｍｍ離れた位置を通過する。よって、ＭＩＣＲヘッド２１が規定値にある場合の読取幅Ｌｒの端の位置と、磁気情報リード値のレベルから得られた読取幅Ｌｒの端の位置との差分が、ヘッド位置のずれ量となる。すなわち、ＭＩＣＲヘッド２１のヘッド位置は、３．５ｍｍ−２．５ｍｍ＝＋１ｍｍだけずれていることになる。このように、ＭＩＣＲヘッド２１が規定値にある場合の読取幅Ｌｒの端の位置と、磁気情報リード値のレベルから得られた読取幅Ｌｒの端の位置との差分を、ヘッド位置ずれ量検出部２００に算出させることで、ヘッド位置のずれ量を検出するようにしてもよい。
【０１４６】
また、図１６のグラフに示すように、磁気情報リード値のレベルの変化を示す読取折線Ｌｄは、＋側の減衰直線部分と−側の減衰直線部分が、ＭＩＣＲヘッド２１の読取幅Ｌｒの中心を境に左右対称となっていることから、ヘッド位置ずれ量検出部２００が、読取折線Ｌｄの＋側の減衰直線部分と−側の減衰直線部分から磁気情報リード値のレベルが同等となる磁気バーＭｂの位置を２つ特定し、その位置の中間値をヘッド位置のずれ量として検出するようにしてもよい。例えば、ヘッド位置が＋１ｍｍずれている場合、磁気バーＭｘ０から−方向に３ｍｍずれている磁気バーＭｘ−３のレベルと、＋方向に５ｍｍずれている磁気バーＭｘ＋５のレベルとが同等になる。このとき、−３ｍｍと＋５ｍｍの中間値は＋１ｍｍであり、このことからヘッド位置が＋１ｍｍずれているとわかる。
【０１４７】
［５−３．他の実施の形態３］
さらに、上述した第１及び第２の実施の形態では、小切手処理機１が測定用媒体としてのアジマス測定用媒体Ｐ１を用いてアジマスのずれ量を検出し、上述した第３及び第４の実施の形態では、小切手処理機１が測定用媒体としてのヘッド位置測定用媒体Ｐ２を用いてヘッド位置のずれ量を検出するようにした。これに限らず、図２１に示すように、アジマス測定用媒体Ｐ１に印字されている磁気バーＭｂと、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２に印字されている磁気バーＭｘの両方が印字された測定用媒体としてのアジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３を用いて、小切手処理機１がアジマスのずれ量検出とヘッド位置のずれ量検出の両方を一度にもしくは順番に行うようにしてもよい。
【０１４８】
図２１に示すアジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３には、一例として、長手方向の中央部と、一端部と、他端部の３箇所に、それぞれ磁気バーＭｘ０、Ｍｘ＋１、Ｍｘ＋２、Ｍｘ＋３、Ｍｘ＋４、Ｍｘ＋５、Ｍｘ−１、Ｍｘ−２、Ｍｘ−３、Ｍｘ−４、Ｍｘ−５が所定数ずつ並べて印字されている。さらに、このアジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３には、長手方向の中央部に印字された磁気バーＭｘと一端部に印字された磁気バーＭｘとの間に、磁気バーＭｂ＋１、Ｍｂ−１が所定数ずつ並べて印字され、中央部に印字された磁気バーＭｘと他端部に印字された磁気バーＭｘとの間に、磁気バーＭｂ＋２、Ｍｂ−２が所定数ずつ並べて印字されている。また、このアジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３では、中央部に印字された磁気バーＭｘ０が、磁気バーＭｂ０としての役割を兼ねるようになっている。
【０１４９】
この場合、小切手処理機１の制御部３には、アジマスずれ量検出部５３とヘッド位置ずれ量検出部２００の両方の機能を持たせるようにする。そして、制御部３は、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３に印字された磁気バーＭｂをＭＩＣＲヘッド２１で読み取り、その読取結果をもとにアジマスのずれ量を検出する。また、制御部３は、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３に印字された磁気バーＭｘをＭＩＣＲヘッド２１で読み取り、その読取結果をもとにヘッド位置のずれ量を検出する。尚、アジマスのずれ量の検出方法、及びヘッド位置のずれ量の検出方法については、上述した第１乃至第４の実施の形態、もしくは上述した他の実施の形態１、２で説明した方法を用いればよい。
【０１５０】
また、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３を用いて、アジマスのずれ量検出とヘッド位置のずれ量検出を順番に行う場合、制御部３は、例えば、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３に印字された磁気バーＭｂをＭＩＣＲヘッド２１で読み取り、その読取結果をもとにアジマスのずれ量を検出する。このとき、制御部３は、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３のエスクロ部１４からバンドル部１０へと戻してバンドル部１０に退避させる。そして、作業員は、小切手処理機１に対してアジマス調整作業を行う。制御部３は、アジマス調整作業が完了したことを作業員による操作部の操作などにより認識すると、バンドル部１０に退避させているアジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３をスキャナ部１３へと搬送して、今度はアジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３に印字された磁気バーＭｘをＭＩＣＲヘッド２１で読み取り、その読取結果をもとにヘッド位置のずれ量を検出する。そして、作業員は、小切手処理機１に対してヘッド位置調整作業を行う。
【０１５１】
またこれに限らず、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３を用いて、小切手処理機１が、アジマスのずれ量検出とヘッド位置のずれ量検出のどちらか一方のみを行うようにしてもよい。さらに、例えば、アジマスのずれ量検出機能しか持たない小切手処理機１が、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３を用いて、アジマスのずれ量検出のみを行うようにしてもよいし、ヘッド位置のずれ量検出機能しか持たない小切手処理機１が、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３を用いて、ヘッド位置のずれ量検出のみを行うようにしてもよい。この場合、小切手処理機１側では、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３上のどの位置に、磁気バーＭｂもしくは磁気バーＭｘが印字されているか特定するようになっている。
【０１５２】
またこれに限らず、小切手処理機１に、ＭＩＣＲヘッド２１の取付角度と取付位置の両方を自動で調整可能なヘッド角度／ヘッド位置調整機構（図示せず）を設け、制御部３が、アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３の読取結果から得られたアジマスのずれ量と、ヘッド位置のずれ量とをもとに、ヘッド角度／ヘッド位置調整機構を動作させることで、ＭＩＣＲヘッド２１の角度調整と位置調整を自動で行うようにしてもよい。
【０１５３】
［５−４．他の実施の形態４］
さらに上述した第１及び第２の実施の形態では、アジマス測定用媒体Ｐ１に、基準となる第１の磁気バーとしての磁気バーＭｂ０と、基準の磁気バーＭｂ０に対して＋方向（搬送方向上流側）に傾けられた第２の磁気バーとしての磁気バーＭｂ＋１、Ｍｂ＋２と、基準の磁気バーＭｂ０に対して−方向（搬送方向下流側）に傾けられた第３の磁気バーとしての磁気バーＭｂ−１、Ｍｂ−２との５パターンの磁気バーＭｂを設けた。これに限らず、アジマス測定用媒体Ｐ１には、アジマス調整の範囲にもよるが、少なくとも、基準の磁気バーＭｂと、基準の磁気バーＭｂに対して＋方向に傾けられた磁気バーＭｂと、基準の磁気バーＭｂに対して−方向に傾けられた磁気バーＭｂとの３パターンが設けられていればよい。例えば、基準の磁気バーＭｂを１パターンと、基準の磁気バーＭｂに対して＋方向に傾けられた磁気バーＭｂを３パターンと、基準の磁気バーＭｂに対して−方向に傾けられた磁気バーＭｂを３パターンとする計７パターンの磁気バーＭｂを設けるなどしてもよい。
【０１５４】
さらに、上述した第１及び第２の実施の形態では、磁気バーＭｂの傾きを１°ずつずらすようにしたが、これに限らず、例えば、磁気バーＭｂの傾きをより細かくずらすようにしたり、より大雑把にずらすようにしたりしてもよい。
【０１５５】
また、上述した第３及び第４の実施の形態では、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２に、基準となる第４の磁気バーとしての磁気バーＭｘ０と、基準の磁気バーＭｘ０に対して−方向（長辺Ｐ２ａ側）にずらされた第５の磁気バーとしての磁気バーＭｘ−１〜Ｍｘ−５と、＋方向（長辺Ｐ２ａとは反対側）にずらされた第６の磁気バーとしての磁気バーＭｘ＋１〜Ｍｘ＋５との１１パターンの磁気バーＭｘを設けた。これに限らず、ヘッド位置測定用媒体Ｐ２には、ヘッド位置調整の範囲にもよるが、少なくとも、基準の磁気バーＭｘと、基準の磁気バーＭｘに対して−方向にずらされた磁気バーＭｘと、基準の磁気バーＭｘに対して＋方向にずらされた磁気バーＭｘとの３パターンが設けられていればよい。例えば、基準の磁気バーＭｘを１パターンと、基準の磁気バーＭｘに対して−方向に傾けられた磁気バーＭｘを３パターンと、基準の磁気バーＭｘに対して＋方向に傾けられた磁気バーＭｘを３パターンとする計７パターンの磁気バーＭｘを設けるなどしてもよい。
【０１５６】
さらに、上述した第１及び第２の実施の形態では、磁気バーＭｘの位置を１ｍｍずつずらすようにしたが、これに限らず、例えば、磁気バーＭｘの位置をより細かくずらすようにしたり、より大雑把にずらすようにしたりしてもよい。
【０１５７】
［５−５．他の実施の形態５］
さらに、上述した第１及び第２の実施の形態では、アジマス測定用媒体Ｐ１に印字された磁気バーＭｂ、及びヘッド位置測定用媒体Ｐ２に印字された磁気バーＭｘを、小切手処理機１の内部に設けられた着磁用磁石Ｍｇにより磁化するようにしたが、これに限らず、予めアジマス測定用媒体Ｐ１に印字された磁気バーＭｂ、及びヘッド位置測定用媒体Ｐ２に印字された磁気バーＭｘが磁化されていてもよい。アジマス／ヘッド位置両測定用媒体Ｐ３についても同様である。
【０１５８】
［５−６．他の実施の形態６］
さらに、上述した各実施の形態では、本発明を、小切手Ｃから磁気情報Ｍｉを読み取るＭＩＣＲヘッド２１を有する媒体処理装置としての小切手処理機１に適用したが、これに限らず、媒体から磁気情報を読み取る磁気ヘッドを有する媒体処理装置であれば、小切手処理機１とは異なる構成の媒体処理装置にも適用できる。例えば、紙幣から磁気情報を読み取る磁気ヘッドを有する現金自動預け払い機など、小切手Ｃ以外の紙葉状の媒体から磁気情報を読み取る磁気ヘッドを備えた媒体処理装置にも適用できる。
【０１５９】
［５−７．他の実施の形態７］
さらに、上述した各実施の形態では、媒体に記録されている磁気情報を読み取る磁気ヘッドの具体例として、ＭＩＣＲヘッド２１を用いたが、このＭＩＣＲヘッド２１は、小切手Ｃから磁気情報Ｍｉを読み取る場合に用いられるものであり、例えば、小切手以外の媒体から磁気情報を読み取る場合には、ＭＩＣＲヘッド２１とは異なる磁気ヘッドを用いてもよい。さらに、上述した各実施の形態では、磁気ヘッドの取り付けに関する規定値からのずれ量を検出するずれ量検出部の具体例として、制御部３に含まれるアジマスずれ量検出部５３、及びヘッド位置ずれ量検出部２００を用いた。これに限らず、例えば、アジマスずれ量検出部５３やヘッド位置ずれ量検出部２００を、制御部３とは別に設けるなどしてもよい。
【０１６０】
さらに、上述した各実施の形態では、磁気ヘッドの取付角度を規定値に調整するための角度調整量を算出する角度調整量算出部の具体例として、アジマスずれ量検出部５３を用いた。これに限らず、例えば、アジマスずれ量検出部５３とは別に、角度調整量算出部を設けるなどしてもよい。さらに、上述した各実施の形態では、磁気ヘッドの取付位置を規定値に調整するための位置調整量を算出する位置調整量算出部の具体例として、ヘッド位置ずれ量検出部２００を用いた。これに限らず、例えば、ヘッド位置ずれ量検出部２００とは別に、位置調整量算出部を設けるなどしてもよい。
【０１６１】
［５−８．他の実施の形態８］
さらに、本発明は、上述した各実施の形態に限定されるものではない。すなわち本発明は、上述した第１乃至第４の実施の形態と他の実施の形態の一部または全部を任意に組み合わせた実施の形態や、一部を抽出した実施の形態にもその適用範囲が及ぶものである。
【産業上の利用可能性】
【０１６２】
本発明は、例えば媒体から磁気情報を読み取る磁気ヘッドを備えた様々な媒体処理装置で利用できる。
【符号の説明】
【０１６３】
１……小切手処理機、３……制御部、１３……スキャナ部、２１……ＭＩＣＲヘッド、５０……磁気情報変換部、５１……搬送部、５２……磁気情報レベル解析部、５３……アジマスずれ量検出部、１００……ヘッド角度調整機構、１０１、３０１……ステージ、１０２……ステージ回転用モータ、１０３……ヘッド角度調整部、２００……ヘッド位置ずれ量検出部、３００……ヘッド位置調整機構、３０２……ステージ移動用モータ、Ｍｂ、Ｍｘ……磁気バー、Ｐ１……アジマス測定用媒体、Ｐ２……ヘッド位置測定用媒体、Ｐ３……アジマス／ヘッド位置両測定用媒体、Ｃ……小切手。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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