(57)【要約】【課題】  温度精度を維持しながら温度テーブルのデータ量を縮小することが可能な測定対象物の温度算出方法を提供すること。【解決手段】  予め測定対象物温度と検出側及び補償側の抵抗値との温度テーブルを作成し、検出側及び補償側の抵抗値を測定し、補償側抵抗値に最も近い値を温度テーブルから選択して近似補償温度とし、検出側及び補償側の抵抗値に基づいて温度テーブルと近似式とを用いて算出検出温度と算出補償温度を算出し、選択した近似補償温度に対応した検出温度を温度テーブル参照用として下記式（１）で算出し、これを温度テーブルと近似式とを用いて抵抗値に変換した変換検出側抵抗値と近似補償温度とを用いて温度テーブルと線形近似とで対象物温度を決定する。Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ＝Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ＋（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ−Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）  ・・・（１）【選択図】図１
2019168426.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象物からの赤外線を受光した際の検出用サーミスタの検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）と前記赤外線を受光しない補償用サーミスタの補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）とに基づいて前記測定対象物の温度を求める測定対象物の温度算出方法であって、
予め測定した前記測定対象物の温度と前記測定対象物の温度に対応した前記検出側抵抗値及び前記補償側抵抗値との抵抗−温度データを任意の温度ステップ幅で求めた温度テーブルを作成する第１のステップと、
前記検出用サーミスタの前記検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）を測定すると共に前記補償用サーミスタの前記補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）を測定する第２のステップと、
前記第２のステップで測定した前記補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に最も近い値を前記温度テーブルから選択して近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）とする第３のステップと、
前記第２のステップで測定した前記検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）及び前記補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に基づいて、前記温度テーブルと、前記温度テーブルのデータ間における抵抗値の近似値を算出可能な近似式とを用いて前記検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）と前記補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）とを算出する第４のステップと、
前記第３のステップで選択した前記近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）に対応した前記検出用サーミスタの検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を、下記式（１）により算出する第５のステップと、
前記第５のステップで算出した前記検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を前記温度テーブル参照用の検出温度とし、前記参照用の検出温度を前記温度テーブルと前記近似式とを用いて抵抗値に変換して変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とする第６のステップと、
前記近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）と前記変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とを用いて、前記温度テーブルと線形近似とにより前記対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）を決定する第７のステップとを有していることを特徴とする測定対象物の温度算出方法。
Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ＝Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ＋（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ−Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）  ・・・（１）
【請求項２】
請求項１に記載の測定対象物の温度算出方法において、
前記近似式が、サーミスタの抵抗と温度との関係をＢ定数を用いて示す一般式であることを特徴とする測定対象物の温度算出方法。
【請求項３】
請求項１に記載の測定対象物の温度算出方法において、
前記近似式が、線形近似式であることを特徴とする測定対象物の温度算出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば定着ローラ等の測定対象物からの赤外線をサーミスタで検出し、測定対象物の温度を算出可能な測定対象物の温度算出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、複写機やプリンタ等の定着ローラ等の測定対象物から輻射により放射される赤外線を非接触で検出して測定対象物の温度を測定する温度センサとして、サーミスタが使用されている。このようなサーミスタで定着ローラ等の温度を測定する場合、例えば特許文献１に記載されているように、検出用サーミスタと補償用サーミスタとを用いて、検出用サーミスタの温度と補償用サーミスタの温度とを計測し、これらに基づいて測定対象物の温度が算出されている。
このような検出用サーミスタの温度と補償用サーミスタの温度とに基づいて測定対象物の温度を算出する具体的な方法として、例えば特許文献２には、検出用サーミスタと補償用サーミスタとの差分信号に基づいた差動ステップと補償用サーミスタの検知信号に基づいた補償ステップとの組み合わせに対応付けて加熱ローラの表面温度が予め規定された温度テーブルにより、加熱ローラ温度センサ及び周囲温度センサの異常の有無を判断する方法が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−１１１８４９号公報
【特許文献２】特開２００９−８０１５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来の技術には、以下の課題が残されている。
検出用サーミスタの温度と補償用サーミスタの温度とから測定対象物の温度を算出するには、複雑な多項式からなる換算式を用いることで算出可能であるが、リアルタイムで換算式を用いて計算する場合、装置のＭＰＵ等の負荷が増大してしまう不都合があった。そのため、実際にサーミスタを搭載した機器では、予め各サーミスタの抵抗値と対象物温度との関係を測定して得たデータの温度テーブルから対応するデータを検索することで、ＭＰＵ等の負荷を軽減している。しかしながら、精度良く検出するためには温度テーブルのデータの温度ステップ幅を細かく設定する必要があるが、装置のメモリ量に制限があることから、温度テーブルの温度ステップ幅を細かくしてデータ量を増大させることは困難であった。
そのため、従来、次のように測定対象物の温度を決定していた。
まず、検出用及び補償用のサーミスタの抵抗値を測定した際、温度テーブルのデータから補償用サーミスタの抵抗値に近い値を参照し、補償温度を選択し決定する。次に、検知用サーミスタの抵抗値に近い値を、上記選択した補償温度に対応する検出用サーミスタのデータから選択し、その選択したデータに対応した測定対象物の温度を決定する。この場合、例えば温度テーブルにおける測定対象物の温度ステップ幅が１０℃であると、実際の温度に対して１０℃に近い大きな誤差が生じてしまう場合がある。このため、温度テーブルにおいて上記決定した測定対象物の温度とその隣の値とを用いて線形近似により温度を算出する。この方法でも補償温度を決定する際に、温度テーブルのデータから近い値を選択しているため、補償温度の温度ステップ幅に応じて誤差が生じてしまう問題があった。この場合でも温度ステップ幅を細かくして誤差を小さくすることができるが、やはりデータ量が増大してしまう不都合があった。
【０００５】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたもので、温度精度を維持しながら温度テーブルのデータ量を縮小することが可能な測定対象物の温度算出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、前記課題を解決するために以下の構成を採用した。すなわち、第１の発明に係る測定対象物の温度算出方法は、測定対象物からの赤外線を受光した際の検出用サーミスタの検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）と前記赤外線を受光しない補償用サーミスタの補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）とに基づいて前記測定対象物の温度を求める測定対象物の温度算出方法であって、予め測定した前記測定対象物の温度と前記測定対象物の温度に対応した前記検出側抵抗値及び前記補償側抵抗値との抵抗−温度データを任意の温度ステップ幅で求めた温度テーブルを作成する第１のステップと、前記検出用サーミスタの前記検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）を測定すると共に前記補償用サーミスタの前記補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）を測定する第２のステップと、前記第２のステップで測定した前記補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に最も近い値を前記温度テーブルから選択して近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）とする第３のステップと、前記第２のステップで測定した前記検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）及び前記補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に基づいて、前記温度テーブルと、前記温度テーブルのデータ間における抵抗値の近似値を算出可能な近似式とを用いて前記検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）と前記補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）とを算出する第４のステップと、前記第３のステップで選択した前記近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）に対応した前記検出用サーミスタの検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を、下記式（１）により算出する第５のステップと、前記第５のステップで算出した前記検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を前記温度テーブル参照用の検出温度とし、前記参照用の検出温度を前記温度テーブルと前記近似式とを用いて抵抗値に変換して変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とする第６のステップと、前記近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）と前記変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とを用いて、前記温度テーブルと線形近似とにより前記対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）を決定する第７のステップとを有していることを特徴とする。
Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ＝Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ＋（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ−Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）  ・・・（１）
【０００７】
この測定対象物の温度算出方法では、測定した検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）及び補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に基づいて、温度テーブルと、温度テーブルのデータ間における抵抗値の近似値を算出可能な近似式とを用いて検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）と補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）とを算出する第４のステップと、第３のステップで選択した近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）に対応した検出用サーミスタの検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を、式（１）により算出する第５のステップとを有しているので、温度テーブルにおける補償温度のデータ間における抵抗値の近似値も考慮した検出用サーミスタの検出温度及び変換検出側抵抗値が得られ、高精度に測定対象物の温度を算出することができる。
【０００８】
第２の発明に係る測定対象物の温度算出方法は、第１の発明において、前記近似式が、サーミスタの抵抗と温度との関係をＢ定数を用いて示す一般式であることを特徴とする。
すなわち、この測定対象物の温度算出方法では、近似式が、サーミスタの抵抗と温度との関係をＢ定数を用いて示す一般式であるので、非線形のサーミスタ特性に対応した一般式の近似式で算出することで、より高精度に温度を算出することができる。
【０００９】
第３の発明に係る測定対象物の温度算出方法は、第１の発明において、前記近似式が、線形近似式であることを特徴とする。
すなわち、この測定対象物の温度算出方法では、近似式が、線形近似式であるので、サーミスタの一般式を採用した場合に比べて簡易な近似式で算出でき、ＭＰＵ等の演算処理を軽減することができる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、以下の効果を奏する。
すなわち、本発明に係る測定対象物の温度算出方法によれば、第２のステップで測定した検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）及び補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に基づいて、温度テーブルと、温度テーブルのデータ間における抵抗値の近似値を算出可能な近似式とを用いて検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）と補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）とを算出する第４のステップと、第３のステップで選択した近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）に対応した検出用サーミスタの検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を、式（１）により算出する第５のステップとを有しているので、補償温度のデータ間における抵抗値の近似値も考慮した検出用サーミスタの検出温度及び変換検出側抵抗値が得られ、高精度に測定対象物の温度を算出することができる。
したがって、本発明に係る測定対象物の温度算出方法では、温度精度を維持しながら温度テーブルのデータ量を縮小することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】線形近似の場合と実際のサーミスタ特性の場合とにおいて、サーミスタ温度に対するサーミスタ抵抗値を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明に係る測定対象物の温度算出方法の第１実施形態を、図１を参照しながら説明する。
【００１３】
本実施形態の測定対象物の温度算出方法は、測定対象物からの赤外線を受光した際の検出用サーミスタの検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）と赤外線を受光しない補償用サーミスタの補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）とに基づいて測定対象物の温度を求める測定対象物の温度算出方法であって、予め測定した測定対象物の温度と測定対象物の温度に対応した検出側抵抗値及び補償側抵抗値との抵抗−温度データを任意の温度ステップ幅で求めた温度テーブルを作成する第１のステップと、検出用サーミスタの検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）を測定すると共に補償用サーミスタの補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）を測定する第２のステップと、第２のステップで測定した補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に最も近い値を温度テーブルから選択して近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）とする第３のステップと、第２のステップで測定した検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）及び補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に基づいて、温度テーブルと、温度テーブルのデータ間における抵抗値の近似値を算出可能な近似式とを用いて検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）と補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）とを算出する第４のステップと、第３のステップで選択した近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）に対応した検出用サーミスタの検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を、下記式（１）により算出する第５のステップと、第５のステップで算出した検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を温度テーブル参照用の検出温度とし、参照用の検出温度を温度テーブルと上記近似式とを用いて抵抗値に変換して変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とする第６のステップと、近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）と変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とを用いて、温度テーブルと上記近似式とにより対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）を決定する第７のステップとを有している。
Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ＝Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ＋（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ−Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）  ・・・（１）
【００１４】
上記近似式は、サーミスタの抵抗と温度との関係をＢ定数（Ｂｎ）を用いて示す一般式である。
なお、Ｂ定数（Ｂｎ）は、以下の式で表される。
【数１】
2019168426.tif 000003
また、上記一般式は、上記Ｂ定数を用いた以下の式で表される。
【数２】
2019168426.tif 000004
なお、Ｂ定数は、検出温度が温度テーブルに載っている温度データの間の値である場合、温度テーブルにおける検出温度の両隣の温度及び抵抗値のデータ（温度ステップ幅分だけ離れた２つの温度とその抵抗値）を用いて算出する。
【００１５】
以下、具体的な温度テーブルを用いて説明する。なお、以下の各算出は、検出用サーミスタ及び補償用サーミスタが搭載される装置のＭＰＵ等による演算回路の処理にて行われる。
まず、予め測定した測定対象物の温度と測定対象物の温度に対応した検出側抵抗値及び補償側抵抗値との抵抗−温度データを任意の温度ステップ幅（本実施形態では１℃ステップ）で求めた以下の表１及び表２の温度テーブルを作成する（第１のステップ）。なお、サーミスタの温度と抵抗値とのデータを表にした温度テーブルである表１，表２を、Ｒ−Ｔ表とも称す。
【表１】
2019168426.tif 000005
【表２】
2019168426.tif 000006
【００１６】
次に、検出用サーミスタの検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）を測定すると共に補償用サーミスタの補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）を測定する（第２のステップ）。
この第２のステップで測定した補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に最も近い値を温度テーブル、すなわち表１のＲ−Ｔ表から選択して近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）とする（第３のステップ）。
例えば、補償用サーミスタの補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）が１６７７１Ωであり、検出用サーミスタの検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）が１４２５３Ωであったとする。このとき、表１のＲ−Ｔ表から補償温度６８℃が近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）として選択される。
【００１７】
次に、上記第２のステップで測定した検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）及び補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に基づいて、温度テーブルと、温度テーブルのデータ間における抵抗値の近似値を算出可能な近似式（上記一般式）とを用いて検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）と補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）とを算出する（第４のステップ）。
【００１８】
温度テーブルである表１及び表２のＲ−Ｔ表と上記一般式とを用いて、検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）を算出すると、検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）１４２５３Ωが１３９３３Ω（７３℃）と１４４３２Ω（７２℃）との間の値であることから、
Ｒ０＝１４４３２Ω、Ｒｎ＝１３９３３Ω、Ｔ０＝７２℃、Ｔｎ＝７３℃として
Ｂ＝４２０４．０２、算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）＝７２．３５４℃
と算出される。
【００１９】
また、補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）を算出すると、補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）１６７７１Ωが１６６５０Ω（６８℃）と１７２６５Ω（６７℃）との間の値であることから、
Ｒ０＝１７２６５Ω、Ｒｎ＝１６６５０Ω、Ｔ０＝６７℃、Ｔｎ＝６８℃として
Ｂ＝４２０８．９７９、算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）＝６７．８００℃
と算出される。
【００２０】
次に、第３のステップで選択した近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）に対応した検出用サーミスタの検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を、式（１）により算出する（第５のステップ）。
上記の各数値を式（１）に適用して算出すると、
Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ＝Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ＋（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ−Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）
＝６８＋（７２．３５４−６７．８００）
＝７２．５５４℃
となる。
【００２１】
次に、第５のステップで算出した検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を温度テーブル参照用の検出温度とし、参照用の検出温度を温度テーブルと上記近似式（一般式）とを用いて抵抗値に変換して変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とする（第６のステップ）。
温度テーブル参照用の検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）７２．５５４℃は、温度テーブルの７３℃（１３９３３Ω）と７２℃（１４４３２Ω）との間の値であることから、
Ｂ＝４２０４．０２、変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）＝１４１３５．５Ω
と算出される。
【００２２】
次に、近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）と変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とを用いて、温度テーブルと上記近似式（一般式）とにより対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）を決定する（第７のステップ）。
近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）＝６８℃、変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）＝１４１３５．５Ωであるので、表２から測定対象物の温度（対象物温度）２００℃（１４０９２Ω）と１９０℃（１４３２４Ω）との間の値であることから、２００℃と１９０℃との間の線形近似により算出すると、
算出した対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）：１９８．１２５℃
実際の対象物温度（ＴＢ）：１９７．３℃
算出した対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）と実際の対象物温度（ＴＢ）との誤差：０．８２５℃
となる。
【００２３】
比較のため、上述した従来の算出方法にて算出した場合、
算出した対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）：１９０℃
実際の対象物温度（ＴＢ）：１９７．３℃
算出した対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）と実際の対象物温度（ＴＢ）との誤差：７．３℃
となり、本実施形態の算出方法で得た値は、従来に比べて大幅に誤差が小さくなっている。
【００２４】
このように本実施形態の測定対象物の温度算出方法では、測定した検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）及び補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に基づいて、温度テーブルと、温度テーブルのデータ間における抵抗値の近似値を算出可能な近似式とを用いて検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）と補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）とを算出する第４のステップと、第３のステップで選択した近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）に対応した検出用サーミスタの検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を、式（１）により算出する第５のステップとを有しているので、温度テーブルにおける補償温度のデータ間における抵抗値の近似値も考慮した検出用サーミスタの検出温度及び変換検出側抵抗値が得られ、高精度に測定対象物の温度を算出することができる。
【００２５】
特に、近似式が、サーミスタの抵抗と温度との関係をＢ定数を用いて示す一般式であるので、非線形のサーミスタ特性に対応した一般式の近似式で算出することで、より高精度に温度を算出することができる。すなわち、データ間の値について線形近似による近似式を用いて算出した場合と、サーミスタ特性を表すサーミスタの一般式による近似式を用いて算出した場合とを比較すると、図１に示すように、線形近似でも誤差は軽減されるが、一般式を用いる方がサーミスタ特性が非線形であるため、誤差をより軽減することができる。
【００２６】
次に、本発明に係る測定対象物の温度算出方法の第２実施形態について、以下に説明する。
【００２７】
第２実施形態と第１実施形態との異なる点は、第１実施形態では、近似式としてサーミスタの一般式を採用しているのに対し、第２実施形態では、近似式として線形近似式を採用している点である。
すなわち、第２実施形態は、第１実施形態の第１のステップから第３のステップまで同じであるが、第４のステップ以降が異なる。
【００２８】
以下、第２実施形態の第４のステップ以降を説明する。
第２のステップで測定した検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）及び補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）に基づいて、温度テーブルと、温度テーブルのデータ間における抵抗値の近似値を算出可能な近似式（線形近似）とを用いて検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）と補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）とを算出する（第４のステップ）。
【００２９】
温度テーブルである表１及び表２のＲ−Ｔ表と上記線形近似とを用いて、検出用サーミスタの算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）を算出すると、検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ）１４２５３Ωが１３９３３Ω（７３℃）と１４４３２Ω（７２℃）との間の値であることから、
算出検出温度（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ）＝７２．３５９℃
と算出される。
また、補償用サーミスタの算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）を算出すると、補償側抵抗値（Ｒｒｅｆ）１６７７１Ωが１６６５０Ω（６８℃）と１７２６５Ω（６７℃）との間の値であることから、
算出補償温度（Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）＝６７．８０３℃
と算出される。
【００３０】
次に、第３のステップで選択した近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）に対応した検出用サーミスタの検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を、式（１）により算出する（第５のステップ）。
上記の各数値を式（１）に適用して算出すると、
Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ＝Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ＋（Ｔｄｅｔ−ｃａｌｃ−Ｔｒｅｆ−ｃａｌｃ）
＝６８＋（７２．３５９−６７．８０３）
＝７２．５５５℃
となる。
【００３１】
次に、第５のステップで算出した検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）を温度テーブル参照用の検出温度とし、参照用の検出温度を温度テーブルと上記近似式（線形近似）とを用いて抵抗値に変換して変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とする（第６のステップ）。
温度テーブル参照用の検出温度（Ｔｄｅｔ−ｔｅｍｐ）７２．５５５℃は、温度テーブルの７３℃（１３９３３Ω）と７２℃（１４４３２Ω）との間の値であることから、
変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）＝１４２１０．２Ω
と算出される。
【００３２】
次に、近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）と変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）とを用いて、温度テーブルと上記近似式（線形近似）とにより対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）を決定する（第７のステップ）。
近似補償温度（Ｔｒｅｆ−ｓｅｌ）＝６８℃、変換検出側抵抗値（Ｒｄｅｔ−ｔｅｍｐ）＝１４２１０．２Ωであるので、表２から測定対象物の温度（対象物温度）２００℃（１４０９２Ω）と１９０℃（１４３２４Ω）との間の値であることから、線形近似により算出すると、
算出した対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）：１９４．９０５℃
実際の対象物温度（ＴＢ）：１９７．３℃
算出した対象物温度（ＴＢ−ｃａｌｃ）と実際の対象物温度（ＴＢ）との誤差：−２．３９５℃
となる。
【００３３】
このように第２実施形態の算出方法は、第１実施形態よりは誤差が大きくなるが、上記従来の算出方法にて算出した場合の誤差７．３℃に比べて誤差が小さくなっている。
このように第２実施形態の測定対象物の温度算出方法では、近似式が、線形近似式であるので、サーミスタの一般式を採用した場合に比べて簡易な近似式で算出でき、ＭＰＵ等の演算処理を軽減することができる。
【００３４】
なお、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
【図１】
2019168426.tif 000007