(57)【要約】【課題】差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することが可能な磁性体検査システムを提供する。【解決手段】この磁性体検査システム３００は、ワイヤロープＷに対して差動コイル１２を相対的に移動させながら差動コイル１２によりワイヤロープＷの磁束を検知して、計測波形Ｗｍを取得するワイヤロープ検査装置１００と、計測波形Ｗｍに対して積分する処理を行い、積分波形Ｗｉに変換する処理装置２００と、を備える。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁性体に対して差動コイルを相対的に移動させながら前記差動コイルにより前記磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する磁性体検査装置と、
前記計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換する処理装置と、を備える、磁性体検査システム。
【請求項２】
前記処理装置は、前記積分波形を表示する表示部を備える、請求項１に記載の磁性体検査システム。
【請求項３】
前記処理装置は、前記積分波形に基づいて、波形を解析する処理および前記磁性体の異常を判定する処理のうちの少なくとも一方を行うように構成されている、請求項１または２に記載の磁性体検査システム。
【請求項４】
前記処理装置は、前記積分波形がしきい値に達した場合、前記積分波形に対して、しきい値に達した位置から前記積分波形の位置をずらすオフセット処理を行うように構成されている、請求項１〜３のいずれか１項に記載の磁性体検査システム。
【請求項５】
前記処理装置は、前記積分波形に対してハイパスフィルタによる処理を行うように構成されている、請求項１〜４のいずれか１項に記載の磁性体検査システム。
【請求項６】
磁性体に対して相対的に移動されながら前記磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する差動コイルと、
前記計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換する処理部と、を備える、磁性体検査装置。
【請求項７】
磁性体に対して差動コイルを相対的に移動させながら前記差動コイルにより前記磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得するステップと、
前記計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換するステップと、を備える、磁性体検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法に関し、特に、差動コイルにより磁性体の磁束を検知する磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、差動コイルにより磁性体の磁束を検知する磁性体検査装置が知られている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００３】
上記特許文献１には、素線断線や局部摩耗などのワイヤロープ（磁性体）の傷みを検知するワイヤロープの損傷検出器（磁性体検査装置）が開示されている。このワイヤロープの損傷検出器は、ワイヤロープを磁化した状態で、差動接続された一対の検出コイル（差動コイル）に対して、検査対象物であるワイヤロープを移動させながら、一対の検出コイルによりワイヤロープの磁束を検知（計測）する。ワイヤロープの傷み箇所では、通常とは異なる計測波形が得られるため、ユーザは、得られた計測波形に基づいて、ワイヤロープの傷み箇所を判定可能である。上記特許文献１には記載されていないものの、この一対の検出コイルのような差動コイルにより磁束を計測する場合、傷み箇所が１箇所であれば、１周期分の正弦波のような互いに極性が逆の２つの波形部分を有する両側波形が、計測波形として得られる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実用新案登録第２５５６９５７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ここで、上記特許文献１には記載されていないものの、検査対象物であるワイヤロープには、傷み箇所（素線断線箇所など）が複数箇所連続して分布する部分が存在する場合がある。特に素線断線では連続して分布する傾向がよく見られる。この部分の磁束を差動コイルにより計測する場合、複数箇所の傷み箇所が連続して分布しているため、個々の傷み箇所に対応する両側波形が加算された計測波形が取得される。また、加算された計測波形では、隣り合う傷み箇所に対応する両側波形の互いに極性が逆の波形部分同士が加算されて打ち消されている場合がある。この場合、ワイヤロープの傷みの状態を十分に視認性良く表していない計測波形が得られるため、計測波形を確認するだけでは、ワイヤロープ（磁性体）の傷みの状態を直感的に理解しにくいという問題点がある。
【０００６】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することが可能な磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、この発明の第１の局面による磁性体検査システムは、磁性体に対して差動コイルを相対的に移動させながら差動コイルにより磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する磁性体検査装置と、計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換する処理装置と、を備える。
【０００８】
この発明の第１の局面による磁性体検査システムでは、上記のように構成することにより、差動コイルにより磁性体の傷み箇所（素線断線箇所など）が複数箇所連続して分布する部分を計測した場合に、隣り合う傷み箇所に対応する両側波形の互いに極性が逆の波形部分同士が加算されて打ち消された計測波形が得られたとしても、得られた計測波形を、傷み箇所の分布範囲において１つの山なり形状を有する積分波形に変換することができる。その結果、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形を確認することにより、磁性体の傷みの状態（規模）を直感的に理解することが可能な磁性体検査システムを提供することができる。また、元の計測波形をより単純な積分波形に変換することができるので、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合以外の場合にも、磁性体の傷みの状態を直感的に理解しやすくすることができる。さらに、この発明の第１の局面による磁性体検査システムでは、計測波形に対して積分する処理を行うことにより、計測波形の細かい雑音（ノイズ）を低減した状態で積分波形を得ることができる。その結果、雑音を低減した分だけ、元の計測波形に比べてより見やすく直感的に理解しやすい波形（積分波形）をユーザに提示することができる。
【０００９】
上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、処理装置は、積分波形を表示する表示部を備える。このように構成すれば、処理装置の表示部に表示された積分波形を確認することができるので、ユーザは、処理装置の表示部に表示された積分波形に基づいて、磁性体の傷みの状態を容易に理解することができる。
【００１０】
上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、処理装置は、積分波形に基づいて、波形を解析する処理および磁性体の異常を判定する処理のうちの少なくとも一方を行うように構成されている。このように構成すれば、雑音（ノイズ）が低減された積分波形に基づいて、波形の解析または磁性体の異常判定を行うことができるので、元の計測波形に基づいて波形の解析または磁性体の異常判定を行う場合に比べて、波形の解析または磁性体の異常判定を精度良く行うことができる。
【００１１】
上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、処理装置は、積分波形がしきい値に達した場合、積分波形に対して、しきい値に達した位置から積分波形の位置をずらすオフセット処理を行うように構成されている。このように構成すれば、計測波形の雑音（ノイズ）に起因して積分波形が右肩上がりの波形になる場合にも、しきい値に達した位置から積分波形の位置をずらすことができる。その結果、積分波形が右肩上がりになり続ける場合に比べて、より見やすく直感的に理解しやすい波形（積分波形）をユーザに提示することができる。
【００１２】
上記第１の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、処理装置は、積分波形に対してハイパスフィルタによる処理を行うように構成されている。このように構成すれば、積分波形がたとえば右肩上がりなどオフセットが大きい波形になることを抑制することができる。その結果、より見やすく直感的に理解しやすい波形（積分波形）をユーザに提示することができる。
【００１３】
この発明の第２の局面による磁性体検査装置は、磁性体に対して相対的に移動されながら磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する差動コイルと、計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換する処理部と、を備える。
【００１４】
この発明の第２の局面による磁性体検査装置では、上記のように構成することにより、第１の局面による磁性体検査システムと同様に、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形を確認することにより、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することが可能な磁性体検査装置を提供することができる。
【００１５】
この発明の第３の局面による磁性体検査方法は、磁性体に対して差動コイルを相対的に移動させながら差動コイルにより磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得するステップと、計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換するステップと、を備える。
【００１６】
この発明の第３の局面による磁性体検査方法では、上記のように構成することにより、第１の局面による磁性体検査システムと同様に、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形を確認することにより、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することが可能な磁性体検査方法を提供することができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、上記のように、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】第１および第２実施形態による磁性体検査システムの構成を示す概略図である。
【図２】第１および第２実施形態による磁性体検査装置の構成を示す図である。
【図３】第１および第２実施形態による磁性体検査装置の制御的な構成を示すブロック図である。
【図４】差動コイルにより１箇所の断線が生じた磁性体（ワイヤロープ）を計測した場合の計測波形を示す図である。
【図５】差動コイルにより１箇所の断線が生じた磁性体（ワイヤロープ）を計測した場合の計測波形および積分波形を示す図である。
【図６】差動コイルにより２箇所の断線が生じた磁性体（ワイヤロープ）を計測した場合の計測波形を示す図である。
【図７】差動コイルにより２箇所の断線が生じた磁性体（ワイヤロープ）を計測した場合の計測波形および積分波形を示す図である。
【図８】差動コイルにより１２箇所の断線が生じた磁性体（ワイヤロープ）を計測した場合の計測波形を示す図である。
【図９】差動コイルにより１２箇所の断線が生じた磁性体（ワイヤロープ）を計測した場合の計測波形および積分波形を示す図である。
【図１０】第１実施形態による処理装置による積分波形のオフセット処理を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
【００２０】
［第１実施形態］
図１〜図１０を参照して、第１実施形態による磁性体検査システム３００の構成について説明する。
【００２１】
（磁性体検査システムの構成）
図１に示すように、磁性体検査システム３００は、検査対象物であり磁性体であるワイヤロープＷの傷み（素線断線など）を検査するためのシステムである。磁性体検査システム３００は、ワイヤロープＷの磁束を計測する磁性体検査装置１００と、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの磁束の計測結果の表示、および、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの磁束の計測結果に基づく解析を行う処理装置２００と、を備える。磁性体検査システム３００によりワイヤロープＷの傷みを検査することにより、目視により確認しにくいワイヤロープＷの傷みを確認可能である。なお、ワイヤロープＷは、特許請求の範囲の「磁性体」の一例である。
【００２２】
ワイヤロープＷは、たとえば、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボットなどに使用されている。ワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成されており、Ｘ方向に延びる長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープＷは、劣化による切断が生じることを未然に防ぐために、磁性体検査装置１００により状態（傷等の有無）を監視されている。磁束の計測の結果、劣化の程度が決められた基準を超えたと判断されるワイヤロープＷは、作業者により交換される。
【００２３】
ワイヤロープＷは、磁性体検査装置１００の位置において、Ｘ方向に延びるように配置されている。磁性体検査装置１００は、ワイヤロープＷの表面に沿ってワイヤロープＷに対して相対的にＸ方向（ワイヤロープＷの長手方向）に移動しながら、ワイヤロープＷの磁束を計測する。たとえば、クレーンやエレベータに使用されるワイヤロープＷのように、ワイヤロープＷ自体が移動する場合には、磁性体検査装置１００をワイヤロープＷに対して固定した状態で、ワイヤロープＷをＸ方向に移動させながら、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの磁束の計測が行われる。また、吊り橋に使用されるワイヤロープＷのように、ワイヤロープＷ自体が移動しない場合には、ワイヤロープＷを磁性体検査装置１００に対して固定した状態で、磁性体検査装置１００をＸ方向に移動させながら、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの磁束の計測が行われる。これにより、ワイヤロープＷの各位置における磁束が計測される。
【００２４】
図２および図３に示すように、磁性体検査装置１００は、検知部１と、磁界印加部２（図２参照）と、電子回路部３とを備える。なお、磁性体検査装置１００では、検知部１の近傍に直流磁化器が配置されていない。
【００２５】
検知部１は、ワイヤロープＷの磁束を検知（計測）する。具体的には、検知部１は、励振コイル１１と、一対の受信コイル１２ａおよび１２ｂを有する差動コイル１２とを含む。励振コイル１１は、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振する。励振コイル１１は、導線を複数回巻き回したものであり、ワイヤロープＷを囲むように、ワイヤロープＷの軸心周りに配置されている。励振コイル１１は、励振交流電流が流れることにより、内部（輪の内側）にＸ方向（ワイヤロープＷの長手方向、軸方向）に沿った磁界を発生させ、発生させた磁界を内部に配置されたワイヤロープＷに印加する。
【００２６】
差動コイル１２（受信コイル１２ａおよび１２ｂ）は、励振コイル１１により磁界を印加されたワイヤロープＷのＸ方向の磁束を検知（計測）する。差動コイル１２の受信コイル１２ａおよび１２ｂは、それぞれ導線を複数回巻き回したものであり、互いに差動接続されている。差動コイル１２の受信コイル１２ａおよび１２ｂは、ワイヤロープＷを囲むように、ワイヤロープＷの軸心周りに配置されている。差動コイル１２の受信コイル１２ａおよび１２ｂは、ワイヤロープＷに対して相対的にＸ方向に移動されながら、内部（輪の内側）に配置されたワイヤロープＷの内部のＸ方向の磁束（全磁束）を検知する。差動コイル１２は、検知したワイヤロープＷのＸ方向の磁束に応じて、差動信号（検知信号）を電圧として送信する。差動信号は、受信コイル１２ａからの信号と受信コイル１２ｂからの信号との差を示す信号である。
【００２７】
たとえば、差動コイル１２は、受信コイル１２ａおよび１２ｂの両方がワイヤロープＷの正常箇所（傷みがない箇所）に位置する場合、略ゼロの値を有する差動信号を送信する。ワイヤロープＷの正常箇所では、ワイヤロープＷの全磁束（磁界の大きさに透磁率と面積とを乗算した値）が略同じであるためである。また、たとえば、差動コイル１２は、受信コイル１２ａおよび１２ｂのうちの一方がワイヤロープＷの傷み箇所に位置し、他方がワイヤロープＷの正常箇所に位置する場合、比較的大きい値（変動する値）を有する差動信号（図４参照）を送信する。ワイヤロープＷの傷み箇所では、ワイヤロープＷの正常箇所とは全磁束が異なるためである。このように、差動コイル１２により、ワイヤロープＷの傷み箇所を示す信号を得ることが可能である。また、差動コイル１２では、受信コイル１２ａおよび１２ｂの信号同士の差分を取ることにより、雑音（ノイズ）を打ち消すことができるので、Ｓ／Ｎ比の良い信号を得ることが可能である。磁性体検査装置１００は、ワイヤロープＷに対して差動コイル１２を相対的にＸ方向に移動させながら、差動コイル１２によりワイヤロープＷの磁束を検知（計測）して、計測波形Ｗｍ（図４、図６および図８参照）を取得する。
【００２８】
また、差動コイル１２は、励振コイル１１の内部（輪の内側）に設けられている。なお、差動コイル１２は、励振コイル１１の外部（輪の外側）に設けられていてもよい。差動コイル１２の受信コイル１２ａおよび１２ｂは、Ｘ１方向側からＸ２方向側に向かって、この順にＸ方向に沿って配置されている。なお、Ｘ方向における（ワイヤロープＷと差動コイル１２との相対移動方向）における一対の受信コイル１２ａおよび１２ｂの間の間隔Ｌ１は、極力小さい方が良い。また、Ｘ方向における一対の受信コイル１２ａおよび１２ｂの各々の長さＬ２およびＬ３は、極力小さい方が良い。
【００２９】
磁界印加部２は、検知部１によりワイヤロープＷの磁束を検知する前に、予めワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向を整えるように構成されている。これにより、検知部１によるワイヤロープＷの磁束の検知時に、磁化の乱れに起因して雑音（ノイズ）が生じることを抑制可能である。磁界印加部２は、磁石２１および２２を有する第１磁界印加部２ａと、磁石２３および２４を有する第２磁界印加部２ｂとを含む。第１磁界印加部２ａ（磁石２１および２２）は、検知部１に対して、Ｘ１方向側（ワイヤロープＷの長手方向の一方側）に配置されている。また、第２磁界印加部２ｂ（磁石２３および２４）は、検知部１に対して、Ｘ２方向側（ワイヤロープＷの長手方向の他方側）に配置されている。
【００３０】
図３に示すように、電子回路部３は、処理部３１と、受信Ｉ／Ｆ（インターフェース）３２と、励振Ｉ／Ｆ３３と、電源回路３４と、記憶部３５と、通信部３６とを含む。処理部３１は、磁性体検査装置１００の各部を制御するように構成されている。処理部３１は、ＣＰＵ（中央処理装置）などのプロセッサ、メモリ、ＡＤ変換器などを含む。
【００３１】
受信Ｉ／Ｆ３２は、差動コイル１２からの差動信号を受信して、処理部３１に送信する。受信Ｉ／Ｆ３２は、増幅器を含む。受信Ｉ／Ｆ３２は、増幅器により差動コイル１２からの差動信号を増幅して、処理部３１に送信する。励振Ｉ／Ｆ３３は、処理部３１からの制御信号を受信して、受信した制御信号に基づいて、励振コイル１１に対する電力の供給を制御する。電源回路３４は、外部から電力を受け取って、励振コイル１３などの磁性体検査装置１００の各部に電力を供給する。記憶部３５は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープＷの計測結果（計測データ）などの情報を記憶（保存）する。通信部３６は、通信用のインターフェースであり、磁性体検査装置１００と処理装置２００とを通信可能に接続する。
【００３２】
図１に示すように、処理装置２００は、通信部２０１と、処理部２０２と、記憶部２０３と、表示部２０４とを備える。通信部２０１は、通信用のインターフェースであり、磁性体検査装置１００と処理装置２００とを通信可能に接続する。処理装置２００は、通信部２０１を介して、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの計測結果（計測データ）を受信する。処理部２０２は、処理装置２００の各部を制御する。処理部２０２は、ＣＰＵなどのプロセッサ、メモリなどを含む。処理部２０２は、通信部２０１を介して受信したワイヤロープＷの計測結果に基づいて、素線断線などのワイヤロープＷの傷みを解析する。記憶部２０３は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープＷの計測結果、処理部２０２によるワイヤロープＷの計測結果の解析結果などの情報を記憶（保存）する。表示部２０４は、たとえば液晶モニタであり、ワイヤロープＷの計測結果、処理部２０２によるワイヤロープＷの計測結果の解析結果などの情報を表示する。
【００３３】
ここで、第１実施形態では、図４〜図９に示すように、処理装置２００の処理部２０２は、磁性体検査装置１００の差動コイル１２により取得された差分信号からなる計測波形Ｗｍ（計測データ）に対して積分する処理を行い、計測波形Ｗｍを積分波形Ｗｉ（積分データ）に変換するように構成されている。なお、図４〜図９は、計測波形Ｗｍまたは積分波形Ｗｉを示すグラフである。縦軸は、信号強度（電圧など）を示す軸である。横軸は、計測時のワイヤロープＷと差動コイル１２との相対移動量を示す時間軸である。処理装置２００の処理部２０２は、計測波形Ｗｍの信号値を、時間軸方向に積分することにより、計測波形Ｗｍを積分波形Ｗｉに変換する。
【００３４】
たとえば、図４に示すように、差動コイル１２により１箇所の素線断線箇所を有するワイヤロープＷを計測した場合、互いに極性が逆の２つの波形部分を有する１つの両側波形（上に凸の波形部分および下に凸の波形部分を１つずつ含む波形）としての計測波形Ｗｍが得られる。この場合、図５に示すように、１つの両側波形としての計測波形Ｗｍは、処理装置２００の処理部２０２により、１つの尖鋭なピークを有する山なり形状の積分波形Ｗｉに変換される。なお、図４〜図９では、理解の容易のため、各波形に対応するように、ワイヤロープＷの素線断線箇所を黒丸印により模式的に示している。
【００３５】
また、たとえば、図６に示すように、差動コイル１２により２箇所の素線断線箇所を有するワイヤロープＷを計測した場合、２つの両側波形が加算された計測波形Ｗｍが得られる。この場合、図７に示すように、２つの両側波形が加算された波形としての計測波形Ｗｍは、処理装置２００の処理部２０２により、２つの尖鋭なピークを有する山なり形状の積分波形Ｗｉに変換される。
【００３６】
また、たとえば、図８に示すように、差動コイル１２により１２箇所の素線断線箇所が連続して近接して分布するワイヤロープＷを計測した場合、１２個の両側波形が加算された計測波形Ｗｍが得られる。この計測波形Ｗｍでは、隣り合う素線断線箇所に対応する両側波形の互いに極性が逆の波形部分同士が加算されて打ち消されているため、特に複数の素線断線箇所の中間位置において、ワイヤロープＷの素線断線が生じているか否かを直感的に理解しにくい。この場合、図９に示すように、１２個の両側波形が加算された波形としての計測波形Ｗｍは、処理装置２００の処理部２０２により、１つのなだらかなピークを有する山なり形状の積分波形Ｗｉに変換される。なお、この積分波形Ｗｉでは、山なり形状の部分が素線断線箇所の分布範囲とほぼ対応しているため、ワイヤロープＷの素線断線の状態（規模）を直感的に理解しやすい。また、第１実施形態では、Ｓ/Ｎ比を向上させるために磁界印加部２を設けているが、ノイズ環境や測定対象の磁性体の性状によっては、磁界印加部２を設けなくても積分波形により磁性体の磁気状態を表現することができる。
【００３７】
処理装置２００の処理部２０２は、たとえば、計測波形Ｗｍに対して積分する処理をリアルタイムに行う。これにより、計測波形Ｗｍをリアルタイムに積分波形Ｗｉに変換して、積分波形Ｗｉをリアルタイムに確認可能である。また、処理装置２００の処理部２０２は、たとえば、キーボードやマウスなどの入力操作部を用いたユーザによる積分指示に基づいて、記憶部２０３に記憶された計測波形Ｗｍを読み出して、読み出した計測波形Ｗｍに対して積分する処理を行う。これにより、計測波形Ｗｍを事後的に積分波形Ｗｉに変換して、積分波形Ｗｉを確認可能である。計測波形Ｗｍを事後的に積分波形Ｗｉに変換する場合、計測波形Ｗｍのうちから積分する範囲を指定して、指定範囲の計測波形Ｗｍを積分波形Ｗｉに変換してもよい。
【００３８】
また、処理装置２００の処理部２０２は、計測波形Ｗｍから変換された積分波形Ｗｉを表示部２０４に表示する処理を行う。積分波形Ｗｉを表示部２０４に表示する場合、積分波形Ｗｉのみを表示してもよいし、積分波形Ｗｉおよび計測波形Ｗｍの両方を表示してもよい。また、後述するように、積分波形Ｗｉに基づいて波形を解析した場合には、解析結果（素線断線箇所など）を積分波形Ｗｉとともに表示部２０４に表示してもよい。
【００３９】
また、第１実施形態では、処理装置２００の処理部２０２は、積分波形Ｗｉに基づいて、波形を解析する処理を行う。たとえば、処理装置２００の処理部２０２は、積分波形Ｗｉに基づいて、波形における素線断線箇所（素線断線分布）を解析する処理を行う。具体的には、処理装置２００の処理部２０２は、予め決められたモデル波形と、計測結果としての積分波形Ｗｉとを比較することにより、波形における素線断線箇所を解析する処理を行う。また、処理装置２００の処理部２０２は、積分波形Ｗｉに基づいて、ワイヤロープＷの異常（傷み）を判定する処理を行う。たとえば、処理装置２００の処理部２０２は、積分波形が異常判定用のしきい値を越えるピークを有する場合、ワイヤロープＷに異常がある（傷みがある）と判定し、ワイヤロープＷの異常をユーザに通知する処理を行う。
【００４０】
ここで、図３〜図９では図示を省略しているが、計測波形Ｗｍは、実際には、外部磁性体などに起因して生じる雑音（ノイズ）を有する。このため、図１０に示すように、計測波形Ｗｍを積分すると、計測波形Ｗｍの雑音に起因して積分波形Ｗｉが右肩上がりの波形になる場合がある。そこで、第１実施形態では、処理装置２００の処理部２０２は、積分波形Ｗｉがオフセット判定用のしきい値に達した場合、しきい値に達した位置において積分波形Ｗｉをオフセットするオフセット処理を行う。オフセット処理では、処理装置２００の処理部２０２は、積分波形Ｗｉを示すグラフ上において、しきい値に達した位置以後の積分波形Ｗｉの位置が下がるように、予め決められた所定量だけ積分波形Ｗｉをオフセットする処理を行う。
【００４１】
（第１実施形態の効果）
第１実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【００４２】
第１実施形態では、上記のように、処理装置２００を、計測波形Ｗｍに対して積分する処理を行い、積分波形Ｗｉに変換するように構成する。これにより、差動コイル１２によりワイヤロープＷの傷み箇所（素線断線箇所など）が複数箇所連続して分布する部分を計測した場合に、隣り合う傷み箇所に対応する両側波形の互いに極性が逆の波形部分同士が加算されて打ち消された計測波形Ｗｍが得られたとしても、得られた計測波形Ｗｍを、傷み箇所の分布範囲において１つの山なり形状を有する積分波形Ｗｉに変換することができる。その結果、差動コイル１２によりワイヤロープＷの傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形Ｗｉを確認することにより、ワイヤロープＷの傷みの状態（規模）を直感的に理解することが可能な磁性体検査システム３００を提供することができる。また、元の計測波形Ｗｍをより単純な積分波形Ｗｉに変換することができるので、差動コイル１２によりワイヤロープＷの傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合以外の場合にも、ワイヤロープＷの傷みの状態を直感的に理解しやすくすることができる。さらに、計測波形Ｗｍに対して積分する処理を行うことにより、計測波形Ｗｍの細かい雑音（ノイズ）を低減した状態で積分波形Ｗｉを得ることができる。その結果、雑音を低減した分だけ、元の計測波形Ｗｍに比べてより見やすく直感的に理解しやすい波形（積分波形Ｗｉ）をユーザに提示することができる。
【００４３】
また、第１実施形態では、上記のように、処理装置２００を、積分波形Ｗｉを表示する表示部２０４を備えるように構成する。これにより、処理装置２００の表示部２０４に表示された積分波形Ｗｉを確認することができるので、ユーザは、処理装置２００の表示部２０４に表示された積分波形Ｗｉに基づいて、ワイヤロープＷの傷みの状態を容易に理解することができる。
【００４４】
また、第１実施形態では、上記のように、差動コイル１２を、一対の受信コイル１２ａおよび１２ｂを有するように構成する。そして、ワイヤロープＷと差動コイル１２との相対移動方向における一対の受信コイル１２ａおよび１２ｂの間の間隔Ｌ１、および、ワイヤロープＷと差動コイル１２との相対移動方向における一対の受信コイル１２ａおよび１２ｂの各々の長さＬ２およびＬ３を、極力小さくする。これにより、計測波形Ｗｍを、ワイヤロープＷの磁性の微分値がより正確に得られる波形として得ることができる。その結果、これを積分して得られる波形（積分波形Ｗｉ）は、ワイヤロープＷの磁性を正確に反映したものとなる。
【００４５】
また、第１実施形態では、上記のように、処理装置２００を、積分波形Ｗｉに基づいて、波形を解析する処理およびワイヤロープＷの異常を判定する処理を行うように構成する。これにより、雑音（ノイズ）が低減された積分波形Ｗｉに基づいて、波形の解析およびワイヤロープＷの異常判定を行うことができるので、元の計測波形Ｗｍに基づいて波形の解析およびワイヤロープＷの異常判定を行う場合に比べて、波形の解析またはワイヤロープＷの異常判定を精度良く行うことができる。
【００４６】
また、第１実施形態では、上記のように、処理装置２００を、積分波形Ｗｉがしきい値に達した場合、積分波形Ｗｉに対して、しきい値に達した位置から積分波形Ｗｉの位置をずらすオフセット処理を行うように構成する。これにより、計測波形Ｗｍの雑音に起因して積分波形Ｗｉが右肩上がりの波形になる場合にも、しきい値に達した位置から積分波形Ｗｉの位置をずらすことができる。その結果、積分波形Ｗｉが右肩上がりになり続ける場合に比べて、より見やすく直感的に理解しやすい波形（積分波形Ｗｉ）をユーザに提示することができる。
【００４７】
［第２実施形態］
次に、図１および図３〜図９を参照して、第２実施形態について説明する。この第２実施形態では、処理装置が計測波形を積分波形に変換した上記第１実施形態と異なり、磁性体検査装置が計測波形を積分波形に変換する例について説明する。なお、上記第１実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。
【００４８】
（磁性体検査システムの構成）
磁性体検査システム６００は、図１に示すように、磁性体検査装置４００と処理装置５００とを備える点で、上記第１実施形態の磁性体検査システム３００と相違する。また、磁性体検査装置４００および処理装置５００は、図１および図３に示すように、それぞれ、処理部３３１および処理部５０２を備える点で、上記第１実施形態の磁性体検査装置１００および処理装置２００と相違する。
【００４９】
第２実施形態では、磁性体検査装置４００の処理部３３１は、計測波形Ｗｍに対して積分する処理を行い、計測波形Ｗｍを積分波形Ｗｉに変換するように構成されている（図４〜図９参照）。また、磁性体検査装置４００の処理部３３１は、通信部３６を介して、積分波形Ｗｉを処理装置５００に送信する処理を行う。処理装置５００の処理部５０２は、磁性体検査装置４００から受信した積分波形Ｗｉを、表示部２０４に表示する処理を行う。
【００５０】
第２実施形態においても、積分する処理は、上記第１実施形態と同様である。つまり、磁性体検査装置４００の処理部３３１は、計測波形Ｗｍの信号値を、ワイヤロープＷと差動コイル１２との相対移動量が増加する方向に順次積分することにより、計測波形Ｗｍを積分波形Ｗｉに変換する。また、磁性体検査装置４００の処理部３３１が、計測波形Ｗｍに対して積分する処理をリアルタイムに行ってもよいし、処理装置５００を介したユーザによる指示に基づいて、記憶部３５に記憶された計測波形Ｗｍを読み出して、読み出した計測波形Ｗｍに対して積分する処理を行ってもよい。また、積分する処理を行う場合に、上記第１実施形態のオフセット処理を行ってもよい。
【００５１】
第２実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。
【００５２】
（第２実施形態の効果）
第２実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【００５３】
第２実施形態では、上記のように、磁性体検査装置４００を、計測波形Ｗｍに対して積分する処理を行い、積分波形Ｗｉに変換する処理部３３１を備えるように構成する。これにより、第１実施形態と同様に、差動コイル１２によりワイヤロープＷの傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形Ｗｉを確認することにより、ワイヤロープＷの傷みの状態を直感的に理解することができる磁性体検査装置４００を提供することができる。
【００５４】
なお、第２実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。
【００５５】
［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。
【００５６】
たとえば、上記第１および第２実施形態では、磁性体検査システムにおいて検査される磁性体がワイヤロープである例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁性体検査システムにおいて検査される磁性体は、ワイヤロープ以外の磁性体であってもよい。
【００５７】
また、上記第１および第２実施形態では、検査対象物であるワイヤロープが、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボットなどに使用される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検査対象物であるワイヤロープ（磁性体）は、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボット以外に使用されてもよい。
【００５８】
また、上記第１および第２実施形態では、処理装置が表示部を備える例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、処理装置が表示部を必ずしも備えている必要はない。処理装置が表示部を備えていない場合、積分波形などの情報を外部の表示装置に表示させればよい。
【００５９】
また、上記第１および第２実施形態では、一対の受信コイルの間の間隔Ｌ１および一対の受信コイルの各々の長さＬ２およびＬ３を、極力小さくした例を示したが、本発明はこれに限られない。
【００６０】
また、上記第１および第２実施形態では、処理装置を、積分波形に基づいて、波形を解析する処理およびワイヤロープ（磁性体）の異常を判定する処理の両方を行うように構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、処理装置を、積分波形に基づいて、波形を解析する処理または磁性体の異常を判定する処理のいずれかのみを行うように構成してもよい。また、処理装置を、積分波形に基づいて、波形を解析する処理およびワイヤロープ（磁性体）の異常を判定する処理の両方を行わないように構成してもよい。
【００６１】
また、上記第１および第２実施形態では、積分波形に対してオフセット処理を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、積分波形に対してオフセット処理を必ずしも行う必要はない。また、本発明では、処理装置の処理部が、積分波形が右肩上がりの波形になるのを抑制するように、積分波形に対してハイパスフィルタによる処理を行ってもよい。ハイパスフィルタによる処理では、処理装置の処理部は、積分波形に対して、低周波数帯域の波形成分をカットする処理を行う。これにより、積分波形がたとえば右肩上がりなどオフセットが大きい波形になることを抑制することができる。その結果、より見やすく直感的に理解しやすい波形（積分波形）をユーザに提示することができる。
【符号の説明】
【００６２】
１２  差動コイル
１２ａ、１２ｂ  受信コイル
１００、４００  磁性体検査装置
２００、５００  処理装置
３００、６００  磁性体検査システム
３３１  処理部
Ｗ  ワイヤロープ（磁性体）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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