(57)【要約】【課題】  試験時間等を短縮可能な磁気ディスク装置及びヘッド位置の補正方法を提供することである。【解決手段】  本実施形態に係る磁気ディスク装置は、複数のサーボセクタを有するトラックを有するディスクと、前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする複数のリードヘッドとを有するヘッドと、前記ディスクの繰り返しランナウトに対する複数の補正データを前記複数のリードヘッドで同時に取得し、前記複数の補正データに基づいて第１補正データと第２補正データとを取得し、前記第１補正データと前記第２補正データとを前記ディスクにライトし、前記第１補正データ及び前記第２補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、コントローラと、を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のサーボセクタを有するトラックを有するディスクと、
前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする複数のリードヘッドとを有するヘッドと、
前記ディスクの繰り返しランナウトに対する複数の補正データを前記複数のリードヘッドで同時に取得し、前記複数の補正データに基づいて第１補正データと第２補正データとを取得し、前記第１補正データと前記第２補正データとを前記ディスクにライトし、前記第１補正データ及び前記第２補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記コントローラは、前記ディスクの半径方向の第１位置から第２位置までの第１領域において前記第１位置及び前記第２位置以外で前記複数の補正データを取得し、前記複数の補正データに基づいて前記第１位置に対応する前記第１補正データと前記第２位置に対応する前記第２補正データとを算出する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記コントローラは、前記複数のリードヘッドの内の第１リードヘッドにより第３位置で第３補正データを取得し、前記複数のリードヘッドの内の第２リードヘッドにより第４位置で第４補正データを取得し、前記第３位置、前記第４位置、前記第３補正データ、前記第４補正データ、及び前記第１位置に基づいて前記第１補正データを算出し、前記第３位置、前記第４位置、前記第３補正データ、前記第４補正データ、及び前記第２位置に基づいて前記第２補正データを算出する、請求項２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記コントローラは、前記複数のリードヘッドの内の前記ヘッドの位置決めに使用した第１リードヘッドにより第３位置で第３補正データを取得し、前記複数のリードヘッドの内の前記ヘッドの位置決めに使用していない第２リードヘッドにより第４位置で第４補正データを取得し、前記第４補正データを第５補正データに補正し、前記第３位置、前記第４位置、前記第３補正データ、前記第５補正データ、及び前記第１位置に基づいて前記第１補正データを算出し、前記第３位置、前記第４位置、前記第３補正データ、前記第４補正データ、及び前記第２位置に基づいて前記第２補正データを算出する、請求項２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
前記コントローラは、前記第１リードヘッドの第１軌跡と前記第２リードヘッドの第２軌跡との差分値を算出し、前記第４補正データと前記差分値とに基づいて前記第５補正データを算出する、請求項４に記載の磁気ディスク装置。
【請求項６】
前記コントローラは、前記ディスクの半径方向の第１位置から第２位置までの第１領域において、前記複数のリードヘッドの内の第１リードヘッドにより前記第１位置で前記第１補正データを取得し、前記複数のリードヘッドの内の第２リードヘッドにより前記第２位置で前記第２補正データを取得する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項７】
前記コントローラは、前記ヘッドの位置決めに使用していない第２リードヘッドで取得した前記第２補正データを第３補正データに補正し、前記第１補正データ及び前記第３補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、請求項６に記載の磁気ディスク装置。
【請求項８】
前記コントローラは、前記第１リードヘッドの第１軌跡と前記第２リードヘッドの第２軌跡との差分値を算出し、前記第２補正データと前記差分値とに基づいて前記第３補正データを算出する、請求項７に記載の磁気ディスク装置。
【請求項９】
前記コントローラは、前記複数のサーボセクタの内の第１サーボセクタで前記第１位置に前記第１補正データをライトし、前記複数のサーボセクタの内の第２サーボセクタで前記第２位置に前記第２補正データをライトする、請求項２乃至８のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項１０】
記コントローラは、前記複数のサーボセクタの内の第１サーボセクタで前記トラックのトラックセンタに前記第１補正データ及び前記第２補正データをライトする、請求項２乃至８のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項１１】
複数のサーボセクタを有するトラックを有するディスクと、前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする複数のリードヘッドとを有するヘッドと、を備える磁気ディスク装置に適用されるヘッド位置の補正方法であって、
前記ディスクの繰り返しランナウトに対する複数の補正データを前記複数のリードヘッドで同時に取得し、
前記複数の補正データに基づいて第１補正データと第２補正データとを取得し、
前記第１補正データと前記第２補正データとを前記ディスクにライトし、
前記第１補正データ及び前記第２補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、ヘッド位置の補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及びヘッド位置の補正方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置では、繰り返しランナウト（RRO:Repeatable Runout）に起因する誤差（以下、単にＲＲＯと称する）を抑制してヘッドの位置を補正する技術が開発されている。例えば、ディスクの半径方向の異なる複数の位置でＲＲＯを測定し、測定した複数のデータの間のＲＲＯを補間したデータに基づいてヘッドの位置を補正する方法がある。このヘッドの位置を補正する方法では、ディスクの半径方向の異なる複数の位置でＲＲＯを測定するため、ディスクが高ＴＰＩ化するに従って、ＲＲＯを測定する時間が増大する可能性がある。一方で、近年、複数のリードヘッドを有する２次元記録（Two-Dimensional Magnetic Recording : TDMR）方式の磁気ディスク装置が開発されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平２−２４６０６４号公報
【特許文献２】米国特許第９５０２０６２号明細書
【特許文献３】米国特許第９２８６９２６号明細書
【特許文献４】米国特許第９７９９３６０号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の実施形態が解決しようとする課題は、試験時間等を短縮可能な磁気ディスク装置及びヘッド位置の補正方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本実施形態に係る磁気ディスク装置は、複数のサーボセクタを有するトラックを有するディスクと、前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする複数のリードヘッドとを有するヘッドと、前記ディスクの繰り返しランナウトに対する複数の補正データを前記複数のリードヘッドで同時に取得し、前記複数の補正データに基づいて第１補正データと第２補正データとを取得し、前記第１補正データと前記第２補正データとを前記ディスクにライトし、前記第１補正データ及び前記第２補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、コントローラと、を備える。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、実施形態に係るディスクに対するヘッドの配置の一例を示す模式図である。
【図３Ａ】図３Ａは、リードヘッドが図２に示した基準位置に位置する場合のライトヘッドと２つのリードヘッドとの幾何学的配置の一例を示す図である。
【図３Ｂ】図３Ｂは、リードヘッドが図２に示した半径位置に位置する場合のライトヘッドと２つのリードヘッドとの幾何学的配置の一例を示す図である。
【図４】図４は、実施形態に係るＲ／Ｗチャネル及びＭＰＵの構成例を示すブロック図である。
【図５】図５は、ディスクの半径方向のＲＲＯの変化の一例を示す図である。
【図６】図６は、複数のリードヘッドで同時にＲＲＯ学習を実行した場合の一例を示す図である。
【図７】図７は、実施形態に係る推定学習処理の一例を示す図である。
【図８】図８は、実施形態に係るＲＲＯ学習処理の一例を示す図である。
【図９】図９は、実施形態に係るRRObitの配置の一例を示す図である。
【図１０】図１０は、実施形態に係るRRObitの配置の一例を示す図である。
【図１１】図１１は、実施形態に係るヘッド位置の補正方法の一例を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、変形例に係るＲＲＯ学習処理の一例を示す図である。
【図１３】図１３は、変形例に係るヘッド位置の補正方法の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。  
（実施形態）  
図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。  
磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ）と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）３０と、揮発性メモリ７０と、バッファメモリ（バッファ）８０と、不揮発性メモリ９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（ホスト）１００と接続される。磁気ディスク装置１は、例えば、２次元記録（Two-Dimensional Magnetic Recording : TDMR）方式の磁気ディスク装置である。
【０００８】
ＨＤＡは、磁気ディスク（以下、ディスク）１０と、スピンドルモータ（ＳＰＭ）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１４とを有する。ディスク１０は、スピンドルモータ１２に取り付けられ、スピンドルモータ１２の駆動により回転する。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。アクチュエータは、ＶＣＭ１４の駆動により、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０上の所定の半径方向の位置（以下、単に半径位置と称する）まで移動制御する。ディスク１０およびヘッド１５は、２つ以上の数が設けられてもよい。
【０００９】
ディスク１０は、その記録領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域１０ａと、システム管理に必要な情報をライトするシステムエリア１０ｂとが割り当てられている。以下、ディスク１０の円周に沿う方向を円周方向と称し、円周方向に直交する方向を半径方向と称する。  
ヘッド１５は、スライダを本体として、当該スライダに実装されているライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２とを備える。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０上にデータをライトする。リードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２は、ディスク１０上のデータトラックに記録されているデータをリードする。リードヘッド１５Ｒ１は、例えば、ライトヘッド１５Ｗから最も離れた位置に設けられている。リードヘッド１５Ｒ２は、例えば、ライトヘッド１５Ｗからリードヘッド１５Ｒ１の次に離れた位置に設けられている。なお、リードヘッドは、３つ以上設けられていてもよい。以下、説明の便宜上、ディスク１０のトラックにライトされたデータを単にトラックと称する場合もある。以下、磁気ディスク装置１はリードヘッド１５Ｒ１を基準としてヘッド１５をディスク１０の所定の半径位置又は所定のトラックに位置決めするものとして説明する。なお、磁気ディスク装置１は、リードヘッド１５Ｒ１以外のリードヘッド、例えば、リードヘッド１５Ｒ２を基準としてヘッド１５を位置決めしてもよい。
【００１０】
図２は、実施形態に係るディスク１０に対するヘッド１５の配置の一例を示す模式図である。図２において、半径方向において、ディスク１０の外周に向かう方向を外方向（外側）と称し、外方向と反対方向を内方向（内側）と称する。また、図２には、ディスク１０の回転方向を示している。なお、回転方向は逆向きであってもよい。図２において、ユーザデータ領域１０ａは、内方向に位置する内周領域ＩＲと、外方向に位置する外周領域ＯＲと、内周領域ＩＲと外周領域ＯＲとの間に位置する中周領域ＭＲとに区分されている。図２には、半径位置ＩＲＰ、半径位置ＲＰ０、及び半径位置ＯＲＰを示している。半径位置ＩＲＰは、半径位置ＲＰ０よりも内方向の位置であり、半径位置ＯＲＰは、半径位置ＲＰ０よりも外方向の位置である。図２では、半径位置ＲＰ０は、中周領域ＭＲにあり、半径位置ＯＲＰは、外周領域ＯＲにあり、半径位置ＩＲＰは、内周領域ＩＲにある。なお、半径位置ＲＰ０は、外周領域ＯＲにあってもよいし、内周領域ＩＲにあってもよい。半径位置ＩＲＰ、半径位置ＲＰ０、及び半径位置ＯＲＰは、それぞれ、内周領域ＩＲの所定のトラックの半径方向の幅（以下、単に、幅と称する）の中心位置（以下、トラックセンタと称する）ＩＩＬ、中周領域ＭＲの所定のトラックのトラックセンタＩＬ０、及び外周領域ＯＲの所定のトラックのトラックセンタＯＩＬに対応している。トラックセンタＩＩＬ、ＩＬ０、及びＯＩＬは、それぞれ、半径位置ＩＲＰ、ＲＰ０、及びＯＲＰにヘッド１５を位置決めした場合の目標とするヘッド１５の軌跡（以下、目標軌跡と称する場合もある）に対応している。例えば、トラックセンタＩＩＬ、ＩＬ０、及びＯＩＬは、それぞれ、ディスク１０と同心の真円である。また、図２には、繰り返しランナウト（Repeatable Run Out : RRO）に起因してトラックセンタＩＩＬ、ＩＬ０、及びＯＩＬに対してそれぞれずれたヘッド１５の軌跡ＩＳＬ、ＳＬ０、及びＯＳＬを示している。
【００１１】
ディスク１０は、複数のサーボ領域ＳＶを有している。以下、サーボ領域ＳＶをサーボセクタと称する場合もある。複数のサーボ領域ＳＶは、ディスク１０の半径方向に放射状に延出して円周方向に所定の間隔を空けて離散的に配置されている。サーボ領域ＳＶは、ヘッド１５をディスク１０の所定の半径位置に位置決めするためのサーボデータとＲＲＯ補正データとを含んでいる。  
サーボデータは、例えば、サーボマーク（Servo Mark）、アドレスデータ、及びバーストデータ等を含んでいる。アドレスデータは、所定のトラックのアドレス（シリンダアドレス）と、所定のトラックのサーボセクタのアドレスとから構成される。バーストデータは、所定のトラックのトラックセンタに対するヘッド１５の半径方向の位置ずれ（位置誤差）を検出するために使用されるデータ（相対位置データ）であり、所定の周期の繰り返しパターンから構成される。バーストデータは、対外に隣接するトラックに跨って千鳥状にライトされている。バーストデータは、サーボデータをディスクにライトをしたときのディスク１０の回転に同期したブレ（繰り返しランナウト）によって生じる真円のトラック（トラックセンタ）に対するトラックの歪みに起因する誤差を含む。以下、説明の便宜上、ＲＲＯによって生じるトラックセンタに対するトラックの歪みに起因する誤差を単にＲＲＯと称する。
【００１２】
複数のサーボ領域ＳＶは、それぞれ、ＲＲＯを補正するためのＲＲＯ補正データを構成するパターン（以下、単に、ＲＲＯ補正データと称する）がライトされている。ＲＲＯ補正データは、サーボデータの一種の付加データである。ＲＲＯ補正データは、サーボデータ（より詳細には、サーボデータ中のサーボバーストデータ）のＲＲＯを補正、すなわち、トラックセンタに対するヘッド１５の軌跡の歪みを補正するために使用される。このＲＲＯの補正を真円補正と称する場合もある。  
ＲＲＯ補正データは、ＲＲＯプリアンブルパターン、同期パターン、及び補正量を符号化したデジタルデータ（以下、ＲＲＯ補正符号（RRO Code）と称する）を含む。ＲＲＯプリアンブルパターン、及び同期パターンは、後続の領域にライトされる補正量を符号化したデジタルデータのリード開始タイミングを検出するために使用される。このとき、ＲＲＯ補正符号（RRO Code）は、ＲＲＯ補正データの主要部を構成する。このようなＲＲＯ補正データを、RRObit、またはPostCodeと称する場合もある。
【００１３】
ヘッド１５が半径位置ＲＰ０に位置する場合、スキュー角は、例えば、０°となる。以下、半径位置ＲＰ０を基準位置ＲＰ０と称する場合もある。ヘッド１５が半径位置ＯＲＰに位置する場合、スキュー角は、例えば、正の値となる。ヘッド１５が半径位置ＩＲＰに位置する場合、スキュー角は、例えば、負の値となる。なお、ヘッド１５が半径位置ＯＲＰに位置する場合、スキュー角が負の値であってもよい。また、ヘッド１５が半径位置ＩＲＰに位置する場合、スキュー角が正の値であってもよい。  
図２に示して例では、半径位置ＲＰ０にヘッド１５を位置決めした場合、ヘッド１５は、ディスク１０上のサーボ領域ＳＶのサーボデータに基づいて、軌跡ＳＬ０からトラックセンタＩＬ０上を通るように動作を補正される。半径位置ＯＲＰにヘッド１５を位置決めした場合、ヘッド１５は、ディスク１０上のサーボ領域ＳＶのサーボデータに基づいて、軌跡ＯＳＬからトラックセンタＯＩＬ上を通るように動作を補正される。半径位置ＩＲＰにヘッド１５を位置決めした場合、ヘッド１５は、ディスク１０上のサーボ領域ＳＶのサーボデータに基づいて、軌跡ＩＳＬからトラックセンタＩＩＬ上を通るように動作を補正される。
【００１４】
図３Ａは、リードヘッド１５Ｒ１が図２に示した基準位置ＲＰ０に位置する場合のライトヘッド１５Ｗと２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２との幾何学的配置の一例を示す図である。以下、リードヘッド１５Ｒ１の位置を基準としてヘッド１５におけるライトヘッド１５Ｗと２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２との幾何学的配置を説明する。図３Ａには、ライトヘッド１５Ｗの中心部ＷＣと、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１と、リードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２とを示している。図３Ａには、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１及びリードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２の中間部ＨＲを示している。リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１とリードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２との間の第２方向Ｙの距離は、Down Track Separation(DTS)と称されるが、以下では説明の便宜上、縦ずれと称する。
【００１５】
図３Ａに示す例では、リードヘッド１５Ｒ１が基準位置ＲＰ０に位置する場合、ライトヘッド１５Ｗは、リードヘッド１５Ｒ１に対して外方向にリード／ライト（Ｒ／Ｗ）オフセットＯＦ０で離間した位置に位置している。以下、Ｒ／ＷオフセットＯＦ０を基準オフセットＯＦ０と称する。また、ライトヘッド１５Ｗの中心部ＷＣは、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１に対して円周方向にリード／ライト（Ｒ／Ｗ）ギャップＧＰ０で離間した位置に位置している。基準オフセットＯＦ０は、製造工程時のばらつき等に起因して発生し得る。なお、基準オフセットＯＦ０は、０（ゼロ）であってもよいし、内方向にオフセットする値でもよい。基準オフセットＯＦ０は、例えば、数百［ｎｍ（ナノメートル）］のオーダーである。また、Ｒ／ＷギャップＧＰ０を基準ギャップＧＰ０と称する。基準ギャップＧＰ０は、例えば、数千［ｎｍ（ナノメートル）］のオーダーである。
【００１６】
図３Ａに示す例では、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１が基準位置ＲＰ０に位置する場合、リードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２も、基準位置ＲＰ０に位置している。言い換えると、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１が基準位置ＲＰ０に位置する場合、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１及びリードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２は、円周方向に沿って並んでいる。リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１は、半径方向において、ライトヘッド１５Ｗの中心部ＷＣから基準オフセットＯＦ０で離間している。リードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２も、半径方向において、ライトヘッド１５Ｗの中心部ＷＣから基準オフセットＯＦ０で離間している。リードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２は、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１に対して円周方向に縦ずれＤＴＳ０で離間している。以下、縦ずれＤＴＳ０を基準縦ずれＤＴＳ０と称する。基準縦ずれＤＴＳ０は、例えば、数十［ｎｍ］のオーダーである。リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１が基準位置ＲＰ０に位置する場合、中間部ＨＲも、基準位置ＲＰ０に位置している。そのため、中間部ＨＲは、半径方向において、ライトヘッド１５Ｗの中心部ＷＣか基準オフセットＯＦ０で離間している。なお、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１が半径位置ＲＰ０に位置する場合、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１及びリードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２が半径方向で互い僅かにずれていてもよい。以下、説明の便宜上、「リードヘッド（ライトヘッド）の中心部」を単に「リードヘッド（ライトヘッド）」と表現する場合もある。  
ヘッド１５は、図３Ａに示したライトヘッド１５Ｗと２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２との幾何学的配置を維持した状態で、アクチュエータの駆動により所定のスキュー角で傾きながら所定の半径位置に移動する。
【００１７】
図３Ｂは、リードヘッド１５Ｒ１が図２に示した半径位置ＯＲＰに位置する場合のライトヘッド１５Ｗと２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２との幾何学的配置の一例を示す図である。リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１とリードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２との間の半径方向の距離は、Cross Track Separation（CTS）と称されるが、以下では説明の便宜上、横ずれと称する。
【００１８】
図３Ｂに示す例では、半径位置ＯＲＰにリードヘッド１５Ｒ１が位置する場合、リードヘッド１５Ｒ２は、リードヘッド１５Ｒ１に対してスキュー角θで外方向に傾いている。そのため、リードヘッド１５Ｒ２は、リードヘッド１５Ｒ１から半径方向に横ずれＣＴＳで離間し、リードヘッド１５Ｒ１から円周方向に縦ずれＤＴＳで離間している。横ずれＣＴＳは、スキュー角θに従って変化する。リードヘッド１５Ｒ１は、ライトヘッド１５Ｗから半径方向にＲ／ＷオフセットＯＦ１で離間し、ライトヘッド１５Ｗから円周方向にＲ／ＷギャップＧＰ１で離間している。また、リードヘッド１５Ｒ１が半径位置ＯＲＰに位置する場合、中間部ＨＲは、リードヘッド１５Ｒ１から半径方向に横ずれＣＴＳ／２で離間し、リードヘッド１５Ｒ１から円周方向に縦ずれＤＴＳ／２で離間している。  
なお、リードヘッド１５Ｒ１が半径位置ＩＲＰに位置する場合にもリードヘッド１５Ｒ１が半径位置ＯＲＰに位置する場合と同様に、ライトヘッド１５Ｗと２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２との幾何学的配置について、スキュー角θ、横ずれＣＴＳ、基準縦ずれＤＴＳ０、基準ギャップＧＰ０、及び基準オフセットＯＦ０を用いて説明できる。
【００１９】
ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ１２およびＶＣＭ１４の駆動を制御する。  
ヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０は、リードアンプ及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードされたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル５０）に出力する。ライトドライバは、Ｒ／Ｗチャネル５０から出力されるライトデータに応じたライト電流をヘッド１５に出力する。
【００２０】
揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。
【００２１】
バッファメモリ８０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ８０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ８０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。  
不揮発性メモリ９０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ９０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。
【００２２】
システムコントローラ（コントローラ）１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１３０は、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）４０と、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０と、を含む。ＨＤＣ４０、Ｒ／Ｗチャネル５０、及びＭＰＵ６０は、それぞれ、互いに電気的に接続されている。システムコントローラ１３０は、例えば、ドライバＩＣ２０、ヘッドアンプＩＣ６０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０、及びホストシステム１００等に電気的に接続されている。
【００２３】
ＨＤＣ４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル５０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ４０は、例えば、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に電気的に接続されている。  
Ｒ／Ｗチャネル５０は、ＭＰＵ６０からの指示に応じて、リードデータ及びライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル５０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル５０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ３０等に電気的に接続されている。
【００２４】
ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを行なうサーボ制御を実行する。ＭＰＵ６０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ホスト１００から転送されるライトデータの保存先を選択する。また、ＭＰＵ６０は、ディスク１０からのデータのリード動作を制御すると共に、ディスク１０からホスト１００に転送されるリードデータの処理を制御する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、例えば、ドライバＩＣ２０、ＨＤＣ４０、及びＲ／Ｗチャネル５０等に電気的に接続されている。
【００２５】
図４は、本実施形態に係るＲ／Ｗチャネル５０及びＭＰＵ６０の構成例を示すブロック図である。図４おいて、ディスク１０、ヘッド１５、ドライバＩＣ２０、及びヘッドアンプＩＣ３０等は省略している。  
Ｒ／Ｗチャネル５０は、第１復調部５１０と、第２復調部５２０とを備えている。例えば、第１復調部５１０は、リードヘッド１５Ｒ１でリードしたデータ、例えば、サーボ信号を復調し、復調したサーボデータをＭＰＵ６０等に出力する。第１復調部５１０と同様に、第２復調部は５２０、リードヘッド１５Ｒ２でリードしたサーボ信号を復調し、復調したサーボデータをＭＰＵ６０等に出力する。なお、３つ以上のリードヘッドが設けられている場合、Ｒ／Ｗチャネル５０は、これらのリードヘッドにそれぞれ対応する３つ以上の復調部を備えていてもよい。
【００２６】
ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６１０と、ＲＲＯ学習部６２０と、ＲＲＯ記録部６３０と、位置補正部６４０とを備えている。ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト制御部６１０、ＲＲＯ学習部６２０、ＲＲＯ記録部６３０、及び位置補正部６４０等の処理をファームウェア上で実行する。なお、ＭＰＵ６０は、これら各部を回路として備えていてもよい。  
リード／ライト制御部６１０は、ホスト１００からのコマンドに従って、データのリード処理及びライト処理を制御する。リード／ライト制御部６１０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５をディスク１０上の所定の半径位置に位置決めし、リード処理又はライト処理を実行する。リード／ライト制御部６１０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の内の少なくとも一方を使用してリード及びライト処理を実行する。リード／ライト制御部６１０は、ディスク１０の所定の半径位置にヘッド１５を位置決めして、リードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２でリード／ライト処理を同時に実行できる。ヘッド１５を位置決めした半径位置で横ずれＣＴＳが異なるため、リード／ライト制御部６１０は、横ずれＣＴＳに応じてリードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２のいずれか一方でリード／ライト処理を実行するか、リードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２の両方でリード／ライト処理を実行するかを制御できる。なお、リード／ライト制御部６１０は、ディスク１０の各半径位置における横ずれＣＴＳ、基準縦ずれＤＴＳ０、基準オフセットＯＦ０、及び基準ギャップＧＰ０等をヘッド１５に紐づけて不揮発性メモリ９０やシステムエリア１０ｂに記録していてもよい。
【００２７】
ＲＲＯ学習部６２０は、ヘッド１５を位置決めした半径位置に対応する目標軌跡とリードしたサーボデータから復調したヘッド１５（リードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２）の半径位置との差（以下、ＲＲＯ補正量と称する）を測定し、測定したＲＲＯ補正量に基づいてＲＲＯ補正データを算出する処理（以下、ＲＲＯ学習処理と称する場合もある）を実行する。ＲＲＯ学習処理は、例えば、磁気ディスク装置１の試験段階、又は製造段階で実行される。以下、「ＲＲＯ補正量を測定すること」や「ＲＲＯ補正量に基づいてＲＲＯ補正データを算出すること」をＲＲＯ学習と称する。「ＲＲＯ学習する」ことを「測定する」、「リードする」又は「取得する」等と称する場合もある。ＲＲＯ補正量とＲＲＯ補正データとを同じ意味で用いる場合もある。ＲＲＯ学習を実行する所定の半径位置及びＲＲＯ学習を実行した所定の半径位置を学習位置と称する場合もある。また、ＲＲＯ学習部６２０は、ＲＲＯ学習した円周方向の位置情報等を取得することもできる。なお、ＲＲＯ学習部６２０は、所定の半径位置において、円周方向の幾つかの位置でＲＲＯ学習を実行してもよいし、円周方向の全ての位置でＲＲＯ学習を実行してもよい。また、ＲＲＯ学習部６２０は、幾つかの半径位置でＲＲＯ学習を実行してもよいし、ディスク１０の全ての半径位置でＲＲＯ学習を実行してもよい。
【００２８】
例えば、ＲＲＯ学習部６２０は、実際のＲＲＯの半径方向の変化（以下、単にＲＲＯの変化と称する）に応じてＲＲＯ学習を実行する。一例では、ＲＲＯの変化の傾きは、トラック毎に変化し得る。ＲＲＯ学習部６２０は、ＲＲＯの変化の傾きが一定、例えば、一定の増加率若しくは一定の減少率である、又はＲＲＯの変化の傾きが一定と見做せる半径方向の領域毎にＲＲＯ学習と実行する。言い換えると、ＲＲＯ学習部６２０は、所定の半径方向の領域で２つの学習位置でそれぞれ取得した２つのＲＲＯ補正量に基づいてこの領域のＲＲＯ補正量の変化を予測してヘッド１５の半径位置（以下、単に、ヘッド位置と称する）を補正する処理（以下、リニアＲＲＯ補正処理と称する）が実行可能な半径方向の領域（以下、リニア可能領域と称する）毎にＲＲＯ学習を実行する。例えば、リニア可能領域は、数ｎｍから数十ｎｍのオーダーの領域である。一例では、リニア可能領域は、半径方向において１つのトラックの半分の幅以下の領域毎に設定されていてもよい。ＲＲＯ学習部６２０は、所定のリニア可能領域の半径方向の開始位置から所定の範囲内の半径位置とこのリニア可能領域の半径方向の終了位置から所定の範囲内の半径位置とでＲＲＯ学習を実行する。以下、所定のリニア可能領域の開始位置及び終了位置を単に境界位置と称する。また、境界位置から所定の範囲内の半径位置を補正位置と称する。ここで、補正位置は、実際のＲＲＯの変化に近似したＲＲＯ補正量の変化を再現可能なＲＲＯ補正量（以下、リニア補正量と称する）をＲＲＯ学習できる半径位置である。補正位置は、境界位置を含む。２つの補正位置の間の半径方向の領域をリニア補正領域と称する。リニア可能領域は、リニア補正領域を含む。なお、ＲＲＯ学習部６２０は、リニア補正領域を任意に設定してもよいし、メモリ、例えば、不揮発性メモリ９０やシステムエリア１０ｂ等に記録していてもよい。ＲＲＯ学習部６２０は、ＲＲＯの変化に関する情報をメモリ、例えば、不揮発性メモリ９０やシステムエリア１０ｂ等に記録していてもよい。
【００２９】
図５は、ディスク１０の半径方向のＲＲＯの変化の一例を示す図である。図５において、縦軸は、ＲＲＯ及びＲＲＯ補正量を示し、横軸は、半径方向を示している。図５において、破線Ｌ６１は、ＲＲＯの変化Ｌ６１の一例を示し、線Ｌ６２は、リニアＲＲＯ補正処理で予測されたＲＲＯ補正量の変化Ｌ６２の一例を示している。図５には、境界位置（補正位置）ｘ１、ｘ２、ｘ３、及びｘ４を示している。境界位置ｘ１は、基準位置ＲＰ０に相当する半径位置であり、境界位置ｘ２は、境界位置ｘ１よりも内方向の半径位置であり、境界位置ｘ３は、境界位置ｘ２よりも内方向の半径位置であり、境界位置ｘ４は、境界位置ｘ１よりも外方向の半径位置である。また、図５には、境界位置ｘ１から境界位置ｘ２までのリニア可能領域（リニア補正領域）ＲＧ１と、境界位置ｘ２から半径位置ｘ３までのリニア可能領域（リニア補正領域）ＲＧ２と、境界位置ｘ１から境界位置ｘ４までのリニア可能領域（リニア補正領域）ＲＧ３と、を示している。図５では、破線Ｌ６１で示すように、ＲＲＯの変化は、半径方向に周期的に変動している。図５において、各点は、ＲＲＯの変化Ｌ６１における各リニア可能領域の境界位置ｘ１乃至Ｘ４にそれぞれ対応する各ＲＲＯ（ＲＲＯ補正量）を示している。点ＰＯ１は、境界位置ｘ１に対応するＲＲＯ（ＲＲＯ補正量）Ｅｈ１を示し、点ＰＯ２は、境界位置ｘ２に対応するＲＲＯ（ＲＲＯ補正量）Ｅｈ２を示し、点ＰＯ３は、境界位置ｘ３に対応するＲＲＯ（ＲＲＯ補正量）Ｅｈ３を示し、点ＰＯ４は、境界位置ｘ４に対応するＲＲＯ（ＲＲＯ補正量）Ｅｈ４を示している。図５において、点ＰＯ１から点ＰＯ２までのリニア可能領域ＲＧ１では、ＲＲＯの変化Ｌ６１は、ほぼ線形に変化している。点ＰＯ２から点ＰＯ３までのリニア可能領域ＲＧ２では、ＲＲＯの変化Ｌ６１は、ほぼ線形に変化している。点ＰＯ１から点ＰＯ４までのリニア可能領域ＲＧ３では、ＲＲＯの変化Ｌ６１は、ほぼ線形に変化している。  
図５に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１又は１５Ｒ２により、境界位置（補正位置）ｘ１でＲＲＯ補正量（リニア補正量）Ｅｈ１をＲＲＯ学習し、境界位置（補正位置）ｘ２でＲＲＯ補正量（リニア補正量）Ｅｈ２をＲＲＯ学習し、境界位置（補正位置）ｘ３でＲＲＯ補正量（リニア補正量）Ｅｈ３をＲＲＯ学習し、境界位置（補正位置）ｘ４でＲＲＯ補正量（リニア補正量）Ｅｈ４をＲＲＯ学習する。
【００３０】
また、ＲＲＯ学習部６２０は、複数のヘッド１５（リードヘッド）により同時にＲＲＯ学習を実行できる。ＲＲＯ学習部６２０は、例えば、リニア補正領域でリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２により同時にＲＲＯ学習を実行する。この場合、ＲＲＯ学習部６２０は、横ずれＣＴＳに基づいて所定のリニア補正領域でリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行するか実行しないかを判定する。言い換えると、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２がリニア補正領域内に配置できるか配置できないかに従って、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行するか実行しないかを判定する。ヘッド１５を位置決めした半径位置で横ずれＣＴＳがリニア補正領域以下である場合、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行する。ヘッド１５を位置決めした半径位置で横ずれＣＴＳがリニア補正領域よりも大きい場合、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行しない。リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行しない場合、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２のいずれか一方を補正位置に位置決めしてＲＲＯ学習を実行する。また、ヘッド１５を位置決めした半径位置で横ずれＣＴＳが０である場合も、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２のいずれか一方を補正位置に位置決めしてＲＲＯ学習を実行する。なお、ヘッド１５を位置決めした半径位置で横ずれＣＴＳがリニア補正領域よりも大きい場合であっても、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行してもよい。また、ヘッド１５を位置決めした半径位置で横ずれＣＴＳが０である場合であっても、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行し、取得したデータを平均化してもよい。ＲＲＯ学習部６２０は、リニア補正領域で３つ以上のリードヘッドによりＲＲＯ学習を実行してもよい。また、３つ以上のリードヘッドがある場合、横ずれＣＴＳがリニア補正領域以下であるリードヘッドを２つ選択し、同時にＲＲＯ学習を実行してもよい。ＲＲＯ学習部６２０は、ＲＲＯ学習精度向上のため、同じ半径位置で繰り返しＲＲＯ学習を実施する場合、すでに取得しているＲＲＯデータよりリニアＲＲＯ補正によるヘッド位置補正を実施し、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実施してもよい。また、直前の同時学習データが利用できる学習位置に変更しながらＲＲＯ学習を実行してもよい。
【００３１】
図６は、複数のリードヘッドで同時にＲＲＯ学習を実行した場合の一例を示す図である。図６において、縦軸は、各リードヘッドにより取得した測定値を示し、横軸は、円周方向を示している。  
図６に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１を図２に示した半径位置ＩＲＰに配置し、リードヘッド１５Ｒ２を半径位置ＩＲＰよりも内方向の位置する半径位置ＩＲＰ１に配置している。ＲＲＯ学習部６２０は、例えば、横ずれＣＴＳがリニア補正領域以下である場合にリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行する。
【００３２】
所定のリニア補正領域で補正位置と異なる学習位置でＲＲＯ学習を実行した場合、ＲＲＯ学習部６２０は、補正位置とこの学習位置で取得したＲＲＯ補正量とに基づいて、リニア補正量を算出する処理（以下、推定学習処理と称する）を実行する。例えば、所定のリニア補正領域で２つの補正位置と異なる２つの学習位置でリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２により同時にＲＲＯ学習を実行した場合、ＲＲＯ学習部６２０は、これらの２つの学習位置とこれら学習位置でそれぞれ取得した２つのＲＲＯ補正量とに基づいて、これら補正位置にそれぞれ対応する２つのリニア補正量ＬＣＡ１、ＬＣＡ２を算出する。リニア補正量ＬＣＡ１は、例えば、リードヘッド１５Ｒ１の学習位置側の補正位置に対応するＲＲＯ補正量である。リニア補正量ＬＣＡ２は、例えば、リードヘッド１５Ｒ２の学習位置側の補正位置に対応するＲＲＯ補正量である。リニア補正量ＬＣＡ１、ＬＣＡ２は、以下の式で表される。  
ＬＣＡ１＝（Ｅ１−Ｅ２）／（ｐｘ１−ｐｘ２）×（ｃｘ１−ｐｘ１）＋Ｅ１  式（１）  
ＬＣＡ２＝（Ｅ１―Ｅ２）／（ｐｘ１−ｐｘ２）×（ｃｘ２−ｐｘ２）＋Ｅ２  式（２）  
ここで、ｐｘ１は、リードヘッド１５Ｒ１の学習位置であり、ｐｘ２は、リードヘッド１５Ｒ２の学習位置であり、Ｅ１は、学習位置ｐｘ１で取得されたＲＲＯ補正量であり、Ｅ２は、学習位置ｐｘ２で取得されたＲＲＯ補正量である。また、ｃｘ１は、学習位置ｐｘ１側の補正位置であり、ｃｘ２は、学習位置ｐｘ２側の補正位置である。例えば、学習位置ｐｘ１及びｐｘ２と、補正位置ｃｘ１及びｃｘ２とは、リニア補正領域の幅の中心からのオフセット量で示される。ＲＲＯ学習部６２０は、リニア補正量ＬＣＡ１及びＬＣＡ２に基づいてＲＲＯ補正データ（以下、リニア補正データと称する場合もある）ＬＣＡ１及びＬＣＡ２を算出する。また、例えば、所定のリニア補正領域の一方の補正位置をリードヘッド１５Ｒ１により、他方の補正位置と異なる半径位置をリードヘッド１５Ｒ２により同時にＲＲＯ学習を実行した場合、ＲＲＯ学習部６２０は、一方の補正位置でリードヘッド１５Ｒ１によりリニア補正量ＬＣＡ１を取得し、リニア補正量ＬＣＡ１と他方の補正位置と異なる半径位置で取得したＲＲＯ補正量とに基づいて、リニア補正量ＬＣＡ２を算出する。なお、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１又は１５Ｒ２により別々のタイミングで補正位置以外の複数の学習位置でＲＲＯ学習を実行して、これらの複数の学習位置とこれら学習位置でそれぞれ取得した複数のＲＲＯ補正量とに基づいて、推定学習処理を実行してもよい。また、リニア補正領域で３つ以上のリードヘッドにより補正位置以外の半径位置でＲＲＯ学習を実行した場合、ＲＲＯ学習部６２０は、３つ以上の学習位置とこれら学習位置に対応するＲＲＯ補正量とリニア補正領域におけるＲＲＯの変化を表す関数式とに基づいて、推定学習処理を実行してもよい。さらに、ＲＲＯ学習部６２０は、リニア補正データＬＣＡ１及びＬＣＡ２の和（以下、加算値と称する）と差（以下、減算値と称する）とをそれぞれ算出してもよい。  
所定のリニア補正領域の２つの補正位置でＲＲＯ学習を同時に実行した場合、ＲＲＯ学習部６２０は、２つのリニア補正量を取得する。例えば、所定のリニア補正領域の一方の補正位置をリードヘッド１５Ｒ１により、他方の補正位置をリードヘッド１５Ｒ２により同時にＲＲＯ学習を実行した場合、ＲＲＯ学習部６２０は、一方の補正位置でリードヘッド１５Ｒ１によりリニア補正量ＬＣＡ１を取得し、他方の補正位置でリードヘッド１５Ｒ２におりリニア補正量ＬＣＡ２を取得する。
【００３３】
図７は、本実施形態に係る推定学習処理の一例を示す図である。図７において、横軸は、半径位置を示し、縦軸は、各半径位置でＲＲＯ学習したＲＲＯ補正データに基づいてヘッド位置を補正した場合のサーボ位置決め誤差（Repeatable Position Error : RPE）を示している。図７において、ＲＰＥの分布Ｄ１は、各半径位置でのＲＰＥの変化を示している。ＲＰＥの分布Ｄ１において、各丸い点は、ＲＲＯ学習したＲＲＯ補正データに基づいてヘッド位置を補正した場合のＲＰＥの測定値を示している。ＲＰＥの分布Ｄ１は、リニア可能領域ＲＧ１で小さく一定であり、リニア可能領域ＲＧ１以外の領域ではリニア可能領域ＲＧ１よりも大きくなっている。図７において、リードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２は、所定のトラックの図６に示したリニア可能領域ＲＧ１に位置し、横ずれＣＴＳ１で離間している。図７には、リードヘッド１５Ｒ１が位置する学習位置ｐｘ１１と、リードヘッド１５Ｒ２が位置する学習位置ｐｘ２１と、学習位置ｐｘ１１側の補正位置ｃｘ１１と、学習位置ｐｘ２１側の補正位置ｃｘ２１とを示している。補正位置ｃｘ１１は、リニア可能領域ＲＧ１の中心ＲＣＧ１１から外方向に距離ＣＯＦ１１で離間している。中心ＲＣＧ１１は、リニア補正領域ＬＲＧ１の中心に対応している。なお、中心ＲＣＧ１１は、リニア補正領域ＬＲＧ１の中心に対応していなくともよい。補正位置ｃｘ２１は、リニア可能領域ＲＧ１の中心ＲＣＧ１１から内方向に距離ＣＯＦ２１で離間している。距離ＣＯＦ１１と距離ＣＯＦ２１とは同じである。なお、距離ＣＯＦ１１と距離ＣＯＦ２１とは、異なっていてもよい。学習位置ｐｘ１１は、リニア可能領域ＲＧ１の中心ＲＣＧ１１から内方向に距離ＰＯＦ１で離間している。学習位置ｐｘ２１は、リニア可能領域ＲＧ１の中心ＲＣＧ１１から内方向に距離ＰＯＦ２で離間している。距離ＰＯＦ１と距離ＰＯＦ２とは、同じであってもよいし、異なっていてもよい。また、距離ＰＯＦ１は、距離ＣＯＦ１１よりも小さく、距離ＰＯＦ２は、距離ＣＯＦ２１よりも小さい。距離ＣＯＦ１１は、リニア可能領域ＲＧ１の中心ＲＣＧ１１から境界位置ｘ１までの距離Ｒ１１以下である。距離ＣＯＦ２１は、リニア可能領域ＲＧ１の中心ＲＣＧ１１から境界位置ｘ２までの距離Ｒ２１以下である。距離Ｒ１１と距離Ｒ２１とは同じである。なお、距離Ｒ１１と距離Ｒ２１とは、僅かに異なっていてもよい。また、リニア可能領域ＲＧ１は、所定のトラックの幅に対応していてもよい。この場合、中心ＲＣＧ１１は、所定のトラックのトラックセンタに相当する。  
図７に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１が学習位置ｐｘ１１に配置された場合の横ずれＣＴＳ１がリニア補正領域ＬＲＧ１以下であると判定して、リニア補正領域ＬＲＧ１でリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２により同時にＲＲＯ学習を実行する。ＲＲＯ学習部６２０は、学習位置ｐｘ１１と補正位置ｃｘ１１とが一致していない、且つ学習位置ｐｘ２１と補正位置ｃｘ２１とが一致していないため、推定学習処理を実行する。ＲＲＯ学習部６２０は、学習位置ｐｘ１１（＝ｐｘ１）及びｐｘ２１（＝ｐｘ２）と、補正位置ｃｘ１１（＝ｃｘ１）及びｃｘ２１（＝ｃｘ２）と、リードヘッド１５Ｒ１により学習位置ｐｘ１１でＲＲＯ学習したＲＲＯ補正量（＝Ｅ１）及びリードヘッド１５Ｒ２により学習位置ｐｘ２１でＲＲＯ学習したＲＲＯ補正量（＝Ｅ２）と式（１）と式（２）とに基づいて、補正位置ｃｘ１１に対応するリニア補正量ＬＣＡ１と、補正位置ｃｘ２１に対応するリニア補正量ＬＣＡ２とを算出する。
【００３４】
図８は、本実施形態に係るＲＲＯ学習処理の一例を示す図である。図８において、横軸は、半径位置を示し、縦軸は、各半径位置でＲＲＯ学習したＲＲＯ補正データに基づいてヘッド位置を補正した場合のＲＰＥを示している。図８において、ＲＰＥの分布Ｄ２は、各半径位置でのＲＰＥの変化を示している。ＲＰＥの分布Ｄ２において、各丸い点は、ＲＲＯ学習したＲＲＯ補正データに基づいてヘッド位置を補正した場合のＲＰＥの測定値を示している。ＲＰＥの分布Ｄ２は、リニア可能領域ＲＧ２で小さく一定であり、リニア可能領域ＲＧ２以外の領域ではリニア可能領域ＲＧ２よりも大きくなっている。図８において、リードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２は、例えば、図６に示したリニア可能領域ＲＧ２に位置し、横ずれＣＴＳ２で離間している。図８には、リードヘッド１５Ｒ１が位置する学習位置ｐｘ１２と、リードヘッド１５Ｒ２が位置する学習位置ｐｘ２２と、学習位置ｐｘ１２側の補正位置ｃｘ１２と、学習位置ｐｘ２２側の補正位置ｃｘ２２とを示している。補正位置ｃｘ１２及び学習位置ｐｘ１２は、リニア可能領域ＲＧ２の中心ＲＣＧ１２から外方向に距離ＥＯＦ１で離間している。中心ＲＣＧ１２は、リニア補正領域ＬＲＧ２の中心に対応している。なお、中心ＲＣＧ１２は、リニア補正領域ＬＲＧ２の中心に対応していなくともよい。補正位置ｃｘ２２及び学習位置ｐｘ２２は、リニア可能領域ＲＧ２の中心ＲＣＧ１２から内方向に距離ＥＯＦ２で離間している。距離ＥＯＦ１と距離ＥＯＦ２とは同じである。なお、距離ＥＯＦ１と距離ＥＯＦ２とは、異なっていてもよい。距離ＥＯＦ１は、リニア可能領域ＲＧ２の中心ＲＣＧ１２から境界位置ｘ２までの距離Ｒ１２以下である。距離ＥＯＦ２は、リニア可能領域ＲＧ２の中心ＲＣＧ１２から境界位置ｘ３までの距離Ｒ２２以下である。距離Ｒ１２と距離Ｒ２２とは同じである。なお、距離Ｒ１２と距離Ｒ２２とは、僅かに異なっていてもよい。また、リニア可能領域ＲＧ１は、所定のトラックの幅に対応していてもよい。この場合、中心ＲＣＧ１１は、所定のトラックのトラックセンタに相当する。
【００３５】
図８に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１が学習位置ｐｘ１２に配置された場合の横ずれＣＴＳ２がリニア補正領域ＬＲＧ２以下であると判定して、リニア補正領域ＬＲＧ２でリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２により同時にＲＲＯ学習を実行する。ＲＲＯ学習部６２０は、学習位置ｐｘ１２と補正位置ｃｘ１２とが一致し、且つ学習位置ｐｘ２２と補正位置ｃｘ２２とが一致しているため、リードヘッド１５Ｒ１により学習位置ｐｘ１２でリニア補正量ＬＣＡ１を取得し、リードヘッド１５Ｒ２により学習位置ｐｘ２２でリニア補正量ＬＣＡ２を取得する。
【００３６】
ＲＲＯ記録部６３０は、ヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）を所定の半径位置に位置決めして、ＲＲＯ学習により取得したＲＲＯ補正データ（以下、RRObitと称する場合もある）、例えば、リニア補正データＬＣＡ１及びＬＣＡ２を所定のサーボ領域ＳＶにライトする。ＲＲＯ記録部６３０は、少なくとも１つのＲＲＯ補正データを各サーボ領域ＳＶにライトする。ＲＲＯ記録部６３０は、ＲＲＯ補正データのリード可能な半径方向の幅（以下、再生幅と称する）を調整することができる。ＲＲＯ記録部６３０は、例えば、ＲＲＯ補正データの配置間隔、及びライト条件（例えば、ライト電流やライト浮上）等により再生幅を増減できる。また、再生幅は、ライトヘッドの幅、及びリードヘッドの幅等の設計的な条件でも増減する。なお、ＲＲＯ記録部６３０は、リニア補正データＬＣＡ１及びＬＣＡ２ではなく、リニア補正データＬＣＡ１及びＬＣＡ２の加算値と減算値とを所定のサーボ領域ＳＶにライトしてもよい。また、ＲＲＯ記録部６３０は、リニア補正データＬＣＡ１及びＬＣＡ２と、リニア補正データＬＣＡ１及びＬＣＡ２の加算値と減算値とを所定のサーボ領域ＳＶにライトしてもよい。  
ＲＲＯ記録部６３０は、ＲＲＯ補正データの再生幅の中心位置（以下、単に、ＲＲＯ補正データと称する）が各トラックでデータをライトすることが許可されているトラックセンタから半径方向に設定された所定の範囲（以下、許可範囲と称する）内に配置されるように、ＲＲＯ補正データをライトする。
【００３７】
図９は、本実施形態に係るRRObitの配置の一例を示す図である。図９において、所定のリニア補正領域ＬＲＧ３は、所定のトラックの許可範囲内に位置している。図９には、所定のトラックのトラックセンタＴＲＣ１と、トラックセンタＴＲＣ１から外方向に距離ＣＯＦ１２で離間した補正位置ｃｘ１３と、トラックセンタＴＲＣ１から内方向に距離ＣＯＦ２２で離間した補正位置ｃｘ２３とを示している。距離ＣＯＦ１２と距離ＣＯＦ２２とは同じであってもよいし、異なっていてもよい。図９には、複数のサーボ領域ＳＶと、各サーボ領域ＳＶにライトされたRRObitを示している。また、複数のサーボ領域ＳＶには、サーボ番号（２ｋ、２ｋ＋１、２ｋ＋２、２ｋ＋３…）を付している。図９には、図示の便宜上、サーボ領域ＳＶにライトされたRRObitのみを簡易的に示しているが、実際には、前述したサーボマーク、アドレスデータ、バーストデータ等もライトされている。また、実際には、複数のサーボ領域ＳＶのそれぞれの間にはユーザデータがライトされている。
【００３８】
図９において、サーボ番号が奇数のサーボ領域（以下、単に、奇数サーボ領域と称する）は、補正位置ｃｘ１３にRRObitが配置され、サーボ番号が偶数のサーボ領域（以下、単に偶数サーボ領域と称する）は、補正位置ｃｘ２３にRRObitが配置されている。図９には、奇数サーボ領域の一例として、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋１）と、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋３）とを示し、偶数サーボ領域の一例として、サーボ領域ＳＶ（２ｋ）と、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋２）とを示している。サーボ領域ＳＶ（２ｋ）、ＳＶ（２ｋ＋１）、ＳＶ（２ｋ＋２）、及びＳＶ（２ｋ＋３）は、円周方向にこの順番で並んでいる。実際には、サーボ領域ＳＶ（２ｋ）、ＳＶ（２ｋ＋１）、ＳＶ（２ｋ＋２）、及びＳＶ（２ｋ＋３）のそれぞれの間にはユーザデータがライトされている。
【００３９】
サーボ領域ＳＶ（２ｋ）は、RRObit(2k)を含み、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋２）は、RRObit(2K+2)を含む。RRObit(2k)は、現在のサーボ番号に対応するサーボ領域（以下、単に、現在のサーボ領域）ＳＶ（２ｋ）の次のサーボ番号に対応するサーボ領域（以下、単に、次のサーボ領域）ＳＶ（２ｋ＋１）のＲＲＯ補正データＬＣＡ２（２ｋ＋１）と、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋１）の次のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋２）のＲＲＯ補正データＬＣＡ２（２ｋ＋２）とを含む。ＲＲＯ補正データＬＣＡ２（２ｋ＋１）は、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋１）の補正位置ｃｘ２３に対応している。ＲＲＯ補正データＬＣＡ２（２ｋ＋２）は、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋２）の補正位置ｃｘ２３に対応している。RRObit(2k)の再生幅の中心（以下、単に、RRObitと称する）は、補正位置ｃｘ２３に位置している。RRObit(2k+2)は、現在のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋２）の次のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋３）のＲＲＯ補正データＬＣＡ２（２ｋ＋３）と、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋３）の次のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋４）のＲＲＯ補正データＬＣＡ１（２ｋ＋４）とを含む。ＲＲＯ補正データＬＣＡ２（２ｋ＋３）は、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋３）の補正位置ｃｘ２３に対応している。ＲＲＯ補正データＬＣＡ２（２ｋ＋４）は、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋４）の補正位置ｃｘ２３に対応している。RRObit(2k+2)は、補正位置ｃｘ２３に位置している。RRObit(2k)、RRObit(2k+1)、RRObit(2k+2)、及びRRObit(2k+3)の再生幅は、同じであってもよいし、異なっていてもよい。
【００４０】
サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋１）は、RRObit(2k+1)を含み、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋３）は、RRObit(2k+3)を含む。RRObit(2k+1)は、現在のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋１）の次のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋２）のＲＲＯ補正データＬＣＡ１（２ｋ＋２）と、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋２）の次のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋３）のＲＲＯ補正データＬＣＡ１（２ｋ＋３）とを含む。RRObit(2k+1)は、補正位置ｃｘ１３に位置している。ＲＲＯ補正データＬＣＡ１（２ｋ＋２）は、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋２）の補正位置ｃｘ１３に対応している。ＲＲＯ補正データＬＣＡ１（２ｋ＋３）は、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋３）の補正位置ｃｘ１３に対応している。RRObit(2k+3)は、現在のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋３）の次のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋４）のＲＲＯ補正データＬＣＡ１（２ｋ＋４）と、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋４）の次のサーボ領域ＳＶ（２ｋ＋５）のＲＲＯ補正データＬＣＡ１（２ｋ＋５）とを含む。ＲＲＯ補正データＬＣＡ１（２ｋ＋４）は、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋４）の補正位置ｃｘ１３に対応している。ＲＲＯ補正データＬＣＡ１（２ｋ＋５）は、サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋５）の補正位置ｃｘ１３に対応している。RRObit(2k+3)は、補正位置ｃｘ１３に位置している。
【００４１】
ＲＲＯ記録部６３０は、現在のサーボ領域ＳＶにライトするRRObitと次のサーボ領域ＳＶにライトするRRObitとを半径方向において互いに反対方向にオフセットさせてライトする。例えば、ＲＲＯ記録部６３０は、所定のトラックのトラックセンタを基軸として複数のサーボ領域ＳＶに亘って円周方向に千鳥状にRRObitをライトする。ＲＲＯ記録部６３０は、RRObitをライトする半径位置側で学習した次のサーボ領域ＳＶに対応するＲＲＯ補正データと次の次のサーボ領域ＳＶに対応するＲＲＯ補正データとを現在のサーボ領域ＳＶにライトする。図９に示した例では、ＲＲＯ記録部６３０は、偶数サーボ領域ＳＶ（２ｋ）においてRRObit(2k)を補正位置ｃｘ２３にライトし、偶数サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋２）においてRRObit(2k+2)を補正位置ｃｘ２３にライトする。さらに、ＲＲＯ記録部６３０は、奇数サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋１）においてRRObit(2k+1)を補正位置ｃｘ１３にライトし、奇数サーボ領域ＳＶ（２ｋ＋３）においてRRObit(2k+3)を補正位置ｃｘ１３にライトする。
【００４２】
図１０は、本実施形態に係るRRObitの配置の一例を示す図である。図１０には、複数のサーボ領域ＳＶと、各サーボ領域ＳＶにライトされたRRObitを示している。また、複数のサーボ領域ＳＶには、サーボ番号（ｋ、ｋ＋１、ｋ＋２、ｋ＋３…）を付している。図１０には、図示の便宜上、サーボ領域ＳＶにライトされたRRObitのみを簡易的に示しているが、実際には、前述したサーボマーク、アドレスデータ、バーストデータ等もライトされている。また、実際には、複数のサーボ領域ＳＶのそれぞれの間にはユーザデータがライトされている。  
図１０において、サーボ領域ＳＶは、トラックセンタＴＲＣ１にRRObitが配置されている。図１０には、サーボ領域ＳＶの一例として、サーボ領域ＳＶ（ｋ）と、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋１）と、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋２）と、サーボ領域（Ｋ＋３）とを示している。サーボ領域ＳＶ（ｋ）、ＳＶ（ｋ＋１）、ＳＶ（ｋ＋２）、及びＳＶ（ｋ＋３）は、円周方向にこの順番で並んでいる。実際には、サーボ領域ＳＶ（ｋ）、ＳＶ（ｋ＋１）、ＳＶ（ｋ＋２）、及びＳＶ（ｋ＋３）のそれぞれの間にはユーザデータがライトされている。
【００４３】
サーボ領域ＳＶ（ｋ）は、RRObit(k)を含み、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋１）は、RRObit(k+1)を含み、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋２）は、RRObit(k+2)を含み、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋３）は、RRObit(k+3)を含む。RRObit(k)は、現在のサーボ領域ＳＶ（ｋ）の次のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋１）のＲＲＯ補正データＬＣＡ１（ｋ＋１）と、現在のサーボ領域ＳＶ（ｋ）の次のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋１）のＲＲＯ補正データＬＣＡ２（ｋ＋１）とを含む。ＲＲＯ補正データＬＣＡ１（ｋ＋１）は、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋１）の補正位置ｃｘ１３に対応しており、ＲＲＯ補正データＬＣＡ２（ｋ＋１）は、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋１）の補正位置ｃｘ２３に対応している。RRObit(k）は、トラックセンタＴＲＣ１に位置している。
【００４４】
RRObit(k+1)は、現在のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋１）の次のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋２）のＲＲＯ補正データＬＣＡ１（ｋ＋２）と、現在のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋１）の次のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋２）のＲＲＯ補正データＬＣＡ２（ｋ＋２）とを含む。RRObit(k+1)は、トラックセンタＴＲＣ１に位置している。RRObit(k+2)は、現在のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋２）の次のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋３）のＲＲＯ補正データＬＣＡ１（ｋ＋３）と、現在のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋２）の次のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋３）のＲＲＯ補正データＬＣＡ２（ｋ＋３）とを含む。RRObit(k+2)は、トラックセンタＴＲＣ１に位置している。RRObit(k+3)は、現在のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋３）の次のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋４）のＲＲＯ補正データＬＣＡ１（ｋ＋４）と、現在のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋３）の次のサーボ領域ＳＶ（ｋ＋４）のＲＲＯ補正データＬＣＡ２（ｋ＋４）とを含む。RRObit(k+3)は、トラックセンタＴＲＣ１に位置している。なお、RRObit(k)に含まれるデータは、補正データLCA1,LCA2の加算値(=LCA2+LCA1)、減算値(=LCA2-LCA1)であってもよい。
【００４５】
ＲＲＯ記録部６３０は、各サーボ領域ＳＶにおいてRRObitをトラックセンタにライトする。ＲＲＯ記録部６３０は、このトラックセンタから外方向の半径位置で学習した次のサーボ領域ＳＶに対応するＲＲＯ補正データとこのトラックセンタから内方向の半径方向で学習した次のサーボ領域ＳＶに対応するＲＲＯ補正データとを現在のサーボ領域ＳＶにライトする。図１０に示した例では、ＲＲＯ記録部６３０は、サーボ領域ＳＶ（ｋ）においてRRObit(k)をトラックセンタＴＲＣ１にライトし、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋１）においてRRObit(k+1)をトラックセンタＴＲＣ１にライトし、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋２）においてRRObit(k+2)をトラックセンタＴＲＣ１にライトし、サーボ領域ＳＶ（ｋ＋３）においてRRObit(k+3)をトラックセンタＴＲＣ１にライトする。  
なお、ＲＲＯ記録部６３０は、前述した配置に限らず他の配置でRRObitをライトしてもよい。
【００４６】
位置補正部６４０は、RRObit（ＲＲＯ補正データ）をリードし、リードしたRRObitに基づいてＲＲＯ補正量を算出し、算出したＲＲＯ補正量やRRObitが学習された半径位置又はこのRRObitに対応するトラックのトラックセンタからのオフセット量に基づいてヘッド位置を、例えば、トラックセンタに近づくように補正する。位置補正部６４０は、少なくとも２つのリニア補正量に基づいて、リニア補正領域のＲＲＯ補正量の変化を算出し、算出したＲＲＯ補正量の変化に基づいてヘッド位置を補正するリニアＲＲＯ補正処理を実行する。例えば、位置補正部６４０は、リニア補正データ（RRObit）ＬＣＡ１及びＬＣＡ２をリードし、リードしたリニア補正データ（RRObit）ＬＣＡ１及びＬＣＡ２、ＬＣＡ１及びＬＣＡ２の補正位置ｃｘ１、ｃｘ２（又は、学習位置ｐｘ１、Ｐｘ２）、現在のヘッド位置の目標トラック（トラックセンタ）からのオフセット量に基づいてリニア補正量を算出する。例えば、半径方向においてトラックセンタを０とし、外側を負の値とし、内側を正の値とした際に、リニア補正量は、現在のヘッド位置の目標トラックからのオフセット量cur_ofsに応じて、下記のように場合分けされる。  
cur_ofs < cx13(cx13補正位置（又は、学習位置）より外側):リニア補正量=LCA1  
cur_ofs > cx23(cx23補正位置（又は、学習位置）より内側):リニア補正量=LCA2  
cx13<=cur_ofs<=cx23:リニア補正量=(LCA2-LCA1)/(cx23-cx13)*cur_ofs+(LCA2+LCA1)/2
位置補正部６４０は、算出したリニア補正量とリニア補正データＬＣＡ１及びＬＣＡ２がそれぞれ学習された２つの半径位置とに基づいてヘッド位置を補正する。
【００４７】
図１１は、本実施形態に係るヘッド位置の補正方法の一例を示すフローチャートである。  
ＭＰＵ６０は、所定のリニア補正領域で複数のＲＲＯ補正量を同時に取得する（Ｂ１１０１）。例えば、ＭＰＵ６０は、所定のリニア補正領域でリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２によりＲＲＯ補正量を同時に取得する。ＭＰＵ６０は、学習位置が補正位置と同じであるか同じでないかを判定する（Ｂ１１０２）。例えば、ＭＰＵ６０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の２つの学習位置が所定のリニア補正領域の２つの補正位置と一致しているか、一致していないかを判定する。学習位置が補正位置と同じであると判定した場合（Ｂ１１０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、Ｂ１１０４の処理に進む。学習位置が補正位置と同じでないと判定した場合（Ｂ１１０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、推定学習処理を実行する（Ｂ１１０３）。例えば、ＭＰＵ６０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２により補正位置以外の学習位置でＲＲＯ学習を実行した場合、ＭＰＵ６０は、学習位置とこの学習位置で取得した複数のＲＲＯ補正量に基づいて、リニア補正量を算出する。ＭＰＵ６０は、取得又は算出したリニア補正量に基づいてリニア補正データを算出する（Ｂ１１０４）。ＭＰＵ６０は、算出したリニア補正データを所定のトラックに所定の配置でライトし（Ｂ１１０５）、処理を終了する。
【００４８】
本実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、ライトヘッド１５Ｗ、リードヘッド１５Ｒ１、及びリードヘッド１５Ｒ２を含むヘッド１５を備えている。磁気ディスク装置１は、所定のリニア補正領域でリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２により２つのＲＲＯ補正量を同時に取得する。磁気ディスク装置１は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の２つの学習位置が所定のリニア補正領域の２つの補正位置に一致していない場合、推定学習処理により取得した２つのＲＲＯ補正量に基づいて、２つの補正位置にそれぞれ対応する２つのリニア補正量を算出する。磁気ディスク装置１は、２つのリニア補正量に基づいて２つのリニア補正データをそれぞれ算出し、算出した２つのリニア補正データをディスク１０にライトする。前述したようにリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２により同時にＲＲＯ補正量を取得できるため、磁気ディスク装置１は、効率的にＲＲＯ学習を実行することができる。そのため、磁気ディスク装置１は、製造時の試験時間等を短縮することが可能となる。
【００４９】
次に、変形例及び他の実施形態に係る磁気ディスク装置について説明する。変形例及び他の実施形態において、前述の実施形態と同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。  
（変形例１）  
変形例１の磁気ディスク装置１は、ＲＲＯ学習処理が前述の実施形態と異なる。  
複数のリードヘッドで同時にＲＲＯ学習を実行する場合、ＲＲＯ学習部６２０は、位置決めに使用したリードヘッド（以下、位置決めヘッドと称する）以外のヘッド（以下、非位置決めヘッドと称する）でＲＲＯ学習したＲＲＯ補正量を補正する。例えば、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行する場合、ＲＲＯ学習部６２０は、非位置決めヘッドであるリードヘッド１５Ｒ２でＲＲＯ学習したＲＲＯ補正量Ｅ２（例えば、リニア補正量ＬＣＡ２）をＲＲＯ補正量ＣＬＣＡ２（以下、修正補正量と称する）に補正する。修正補正量ＣＬＣＡ２は、以下の式で表される。  
ＣＬＣＡ２＝Ｅ２−ｄＲＨＰ  式（３）  
ここで、ｄＲＨＰ（Delta Repeatable Head Position）は、所定の半径位置における位置決めヘッドの軌跡と非位置決めヘッドの軌跡と差分値を示している。差分値ｄＲＨＰは、例えば、複数のヘッドで同時にＲＲＯ学習している際に取得される位置決めヘッドの半径位置の軌跡と非位置決めヘッドの半径位置の軌跡とから算出される。ＲＲＯ学習部６２０は、修正補正量ＣＬＣＡ２に基づいてリニア補正データ（以下、修正補正データと称する）ＣＬＣＡ２を算出する。
【００５０】
なお、リードヘッド１５Ｒ１が非位置決めヘッドであり、且つリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２で同時にＲＲＯ学習を実行する場合、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１でＲＲＯ学習したＲＲＯ補正量Ｅ１（例えば、リニア補正量ＬＣＡ１）を修正補正量ＣＬＣＡ１に補正する。修正補正量ＣＬＣＡ１は、以下の式で表される。  
ＣＬＣＡ１＝Ｅ１−ｄＲＨＰ  式（４）  
ＲＲＯ学習部６２０は、修正補正量ＣＬＣＡ１に基づいてリニア補正データＣＬＣＡ１を算出する。
【００５１】
図１２は、変形例に係るＲＲＯ学習処理の一例を示す図である。図１２において、横軸は、半径位置を示し、縦軸は、各半径位置でＲＲＯ学習したＲＲＯ補正データに基づいてヘッド位置を補正した場合のＲＰＥを示している。図８において、ＲＰＥの分布Ｄ３は、非位置決めヘッドでＲＲＯ学習して補正していないＲＲＯ補正データと位置決めヘッドでＲＲＯ学習したＲＲＯ補正データとに基づいてヘッド位置を補正した場合の各半径位置でのＲＰＥの変化を示している。ＲＰＥの分布Ｄ３において、各四角い点は、非位置決めヘッドでＲＲＯ学習して補正していないＲＲＯ補正データと位置決めヘッドでＲＲＯ学習したＲＲＯ補正データとに基づいてヘッド位置を補正した場合のＲＰＥの測定値を示している。ＲＰＥの分布Ｄ４は、非位置決めヘッドでＲＲＯ学習して補正したＲＲＯ補正データと位置決めヘッドでＲＲＯ学習したＲＲＯ補正データとに基づいてヘッド位置を補正した場合の各半径位置でのＲＰＥの変化を示している。ＲＰＥの分布Ｄ４において、各三角点は、非位置決めヘッドでＲＲＯ学習して補正したＲＲＯ補正データと位置決めヘッドでＲＲＯ学習したＲＲＯ補正データとに基づいてヘッド位置を補正した場合のＲＰＥの測定値を示している。ＲＰＥの分布Ｄ５は、１つのリードヘッド、例えば、位置決めヘッドで別々のタイミングでＲＲＯ学習した２つのＲＲＯ補正データに基づいてヘッド位置を補正した場合の各半径位置でのＲＰＥの変化を示している。ＲＰＥの分布Ｄ５において、各丸い点は、リードヘッドで別々のタイミングでＲＲＯ学習した２つのＲＲＯ補正データに基づいてヘッド位置を補正した場合のＲＰＥの測定値を示している。
【００５２】
図１２に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒ１が学習位置ｐｘ１２に配置された場合の横ずれＣＴＳ２がリニア補正領域ＬＲＧ２以下であると判定して、リニア補正領域ＬＲＧ２でリードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２により同時にＲＲＯ学習を実行する。ＲＲＯ学習部６２０は、学習位置ｐｘ１２と補正位置ｃｘ１２とが一致し、且つ学習位置ｐｘ２２と補正位置ｃｘ２２とが一致しているため、リードヘッド１５Ｒ１により学習位置ｐｘ１２でリニア補正量ＬＣＡ１を取得し、リードヘッド１５Ｒ２により学習位置ｐｘ２２でリニア補正量ＬＣＡ２を取得する。ＲＲＯ学習部６２０は、非位置決めヘッドであるリードヘッド１５Ｒ２でＲＲＯ学習したリニア補正量ＬＣＡ２と式（３）とに基づいて、修正補正量ＣＬＣＡ２を算出する。このように非位置決めヘッドでＲＲＯ学習したＲＲＯ補正量を補正することで、ＲＰＥの分布Ｄ３乃至Ｄ５で示すようにヘッド位置を補正した場合のＲＰＥが改善される。
【００５３】
ＲＲＯ記録部６３０は、例えば、修正補正データＣＬＣＡ２とリニア補正データＬＣＡ１とを所定の半径位置にそれぞれライトする。  
位置補正部６４０は、例えば、リニア補正データＬＣＡ１及び修正補正データＣＬＣＡ２をリードし、リードしたリニア補正データＬＣＡ１及び修正補正量ＣＬＣＡ２、LCA1及びCLCA2の学習位置cx1、cx2、現在のヘッド位置の目標トラックからのオフセット量に基づいてリニア補正量を算出する。位置補正部６４０は、算出したリニア補正量とリニア補正データＬＣＡ１及び修正補正データＣＬＣＡ２がそれぞれ学習された２つの半径位置とに基づいてヘッド位置を補正する。
【００５４】
図１３は、変形例に係るヘッド位置の補正方法の一例を示すフローチャートである。  
ＭＰＵ６０は、所定のリニア補正領域で複数のＲＲＯ補正量を同時に取得し（Ｂ１１０１）、非位置決めヘッドでＲＲＯ学習したＲＲＯ補正量を補正し（Ｂ１３０１）、Ｂ１１０２乃至Ｂ１１０５の処理を実行する。例えば、ＭＰＵ６０は、非位置決めヘッドであるリードヘッド１５Ｒ２で取得したＲＲＯ補正量Ｅ２（例えば、リニア補正量ＬＣＡ２）を修正補正量ＣＬＣＡ２に補正する。
【００５５】
変形例によれば、磁気ディスク装置１は、所定のリニア補正領域で複数のＲＲＯ補正量を同時に取得し、非位置決めヘッドでＲＲＯ学習したＲＲＯ補正量を修正補正量に補正する。磁気ディスク装置は、位置決めヘッドでＲＲＯ学習したＲＲＯ補正量と修正補正量とに基づいて２つのリニア補正データをそれぞれ算出し、算出した２つのリニア補正データをディスク１０にライトする。そのため、磁気ディスク装置１は、ヘッド位置の補正精度が向上する。
【００５６】
いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００５７】
１…磁気ディスク装置、１０…磁気ディスク、１０ａ…ユーザデータ領域、１０ｂ…システムエリア、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ１、１５Ｒ２…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、５０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、６０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、７０…揮発性メモリ、８０…バッファメモリ、９０…不揮発性メモリ、１００…ホストシステム（ホスト）、１３０…システムコントローラ。
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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