(57)【要約】【課題】設備の清掃時期を適切に把握することができる診断システム、診断装置、および診断方法を提供する。【解決手段】絶縁物が設けられている設備を診断する診断システムであって、直流電源の電圧を分圧するように、第１の表面抵抗と、第１の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第２の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力する、設備内に設けられる表面抵抗センサと、表面抵抗センサにより出力された電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、設備の清掃時期を推定する診断部と、を設けるようにした。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁物が設けられている設備を診断する診断システムであって、
直流電源の電圧を分圧するように、第１の表面抵抗と、前記第１の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第２の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力する、前記設備内に設けられる表面抵抗センサと、
前記表面抵抗センサにより出力された電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する診断部と、
を備えることを特徴とする診断システム。
【請求項２】
前記診断部は、前記設備の清掃時期に計測された前記設備内に設けられている絶縁物の表面抵抗に基づいて前記閾値を調整する、
ことを特徴とする請求項１に記載の診断システム。
【請求項３】
前記表面抵抗センサは、前記設備内の通気口付近に設けられる、
ことを特徴とする請求項１に記載の診断システム。
【請求項４】
前記診断部により推定された前記設備の清掃時期に係る情報を表示する表示部を備える、
ことを特徴とする請求項１に記載の診断システム。
【請求項５】
絶縁物が設けられている設備を診断する診断装置あって、
前記設備内には、直流電源の電圧を分圧するように、第１の表面抵抗と、前記第１の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第２の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力する表面抵抗センサが設けられ、
前記表面抵抗センサにより出力された電圧値の情報を記録する記録部と、
前記記録部に記録されている電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する診断部と、
を備えることを特徴とする診断装置。
【請求項６】
絶縁物が設けられている設備を診断するための診断方法であって、
直流電源の電圧を分圧するように、第１の表面抵抗と、前記第１の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第２の表面抵抗とが直列に接続され、前記設備内に設けられる表面抵抗センサが、分圧された電圧値を出力する第１のステップと、
診断部が、前記表面抵抗センサにより出力された電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する第２のステップと、
を備えることを特徴とする診断方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は診断システム、診断装置、および診断方法に関し、例えば設備の清掃時期を推定する診断システム、診断装置、および診断方法に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
高圧受配電盤は、多数の導体、開閉器、電流センサ、変圧器等の機器が連結されて構成されている。所定の機器は、絶縁が保たれるように製造されているが、換気口から流入する塵埃に含まれる成分が降り積もって蓄積することで、高圧受配電盤内の絶縁物の表面抵抗は低下し、絶縁破壊の危険が高まる。このような絶縁破壊およびその要因となる異物の除去をするために、現状では定期的に高圧受配電盤内が清掃されている。しなしながら、清掃には多大な労力を要するため、設置されている場所の環境条件に応じて清掃の時期を適切に評価することができる方法が求められている。
【０００３】
ここで、受配電機器の絶縁体と同じ材質のセンサ絶縁体の表面に櫛形電極を形成して換気口付近に設置し、湿度計を用いてセンサ絶縁体表面付近の湿度を測定し、表面抵抗率と湿度との相関関係から表面抵抗率を推定し、機器の余寿命を求める手法が開示されている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−８４２７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に記載の技術では、機器の余寿命を求めることで機器の交換時期は把握できるが、高圧受配電盤などの設備を清掃する時期（清掃時期）については適切に把握することできないという問題がある。
【０００６】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、設備の清掃時期を適切に把握することができる診断システム、診断装置、および診断方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
かかる課題を解決するため本発明においては、絶縁物が設けられている設備を診断する診断システムであって、直流電源の電圧を分圧するように、第１の表面抵抗と、前記第１の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第２の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力する、前記設備内に設けられる表面抵抗センサと、前記表面抵抗センサにより出力された電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する診断部と、を設けるようにした。
【０００８】
また本発明においては、絶縁物が設けられている設備を診断する診断装置あって、前記設備内には、直流電源の電圧を分圧するように、第１の表面抵抗と、前記第１の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第２の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力する表面抵抗センサが設けられ、前記表面抵抗センサにより出力された電圧値の情報を記録する記録部と、前記記録部に記録されている電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する診断部と、を設けるようにした。
【０００９】
また本発明においては、絶縁物が設けられている設備を診断するための診断方法であって、直流電源の電圧を分圧するように、第１の表面抵抗と、前記第１の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第２の表面抵抗とが直列に接続され、前記設備内に設けられる表面抵抗センサが、分圧された電圧値を出力する第１のステップと、診断部が、前記表面抵抗センサにより出力された電圧値と予め定めた閾値との関係に基づいて、前記設備の清掃時期を推定する第２のステップと、を設けるようにした。
【００１０】
上記構成によれば、設備の清掃時期が推定されるので、設備の清掃時期を適切に把握することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、設備の清掃時期を適切に把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】第１の実施の形態による診断システムに係る構成の一例を示す図である。
【図２】第１の実施の形態による表面抵抗センサに係る構成の一例を示す図である。
【図３】第１の実施の形態による塵埃量と表面抵抗との関係を示す図である。
【図４】第１の実施の形態による湿度と表面抵抗との関係を示す図である。
【図５】第１の実施の形態による診断処理に係る処理手順の一例を示す図である。
【図６】第１の実施の形態による経年数と表面抵抗センサの出力との関係を示す図である。
【図７】第１の実施の形態による画面の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００１４】
（１）第１の実施の形態
図１において、１は全体として第１の実施の形態による診断システムを示す。診断システム１は、高圧受配電盤１００の適切な清掃時期を診断して通知することができる。
【００１５】
高圧受配電盤１００は、絶縁物が設けられている設備の一例であり、高圧母線室１１０、遮断器室１２０（本例では、遮断器室１２０ａおよび遮断器室１２０ｂ）、点検室１３０などの区画に分かれている。高圧母線室１１０には、母線１１１が内蔵されている。母線１１１は、高電圧機器であり、碍子（絶縁物の一例）により絶縁支持されている。遮断器室１２０には、遮断器１２１（本例では、遮断器１２１ａおよび遮断器１２１ｂ）が内蔵されている。遮断器１２１は、高電圧機器であり、スイッチなどを覆う絶縁物を含んで構成される。なお、上述した絶縁物は、一例であり、高圧受配電盤１００にはその他にも絶縁物が設けられていてもよい。
【００１６】
高圧母線室１１０の下部には、呼排気口１１２が設けられ、高圧母線室１１０の上部には排気口１１３が設けられ、高圧母線室１１０は、外部と通じている。遮断器室１２０には、高圧母線室１１０と通じる呼吸排気口１２２（本例では、呼吸排気口１２２ａおよび呼吸排気口１２２ｂ）が設けられている。点検室１３０の下部には、高圧母線室１１０からの空気が流れ込む呼気口１３１が設けられ、点検室１３０の上部には外部へと通じる呼気口１３２が設けられている。
【００１７】
高圧受配電盤１００内は、通気口（上述した呼排気口１１２，１２２、排気口１１３、呼気口１３１，１３２）を介して外部と通じている。このような通気口を通じて細かい異物（以下では塵埃を例に挙げて説明する。）が高圧受配電盤１００の中に持ち込まれ、絶縁物に付着し、絶縁物の表面抵抗が低下していく。塵埃による汚損を長期間そのままにしておくと、絶縁破壊が発生し、高圧受配電盤１００が停止する可能性がある。
【００１８】
そのため、診断システム１は、高圧受配電盤１００を適切に診断する構成として、表面抵抗センサ１０、デジタルアナログ変換器（Ａ／Ｄ変換器）２０、記録部３０、診断部４０、表示部５０を含んで構成される。
【００１９】
ここで、高圧受配電盤１００に持ち込まれる塵埃は、高圧受配電盤１００内の機器の配置、大きさなどにより、溜まりやすい場所が異なる。本実施の形態では、事故未然防止の観点から安全側に立ち、劣化（表面抵抗の低下）が最も進む場所に表面抵抗センサ１０を設置（配置）することが好ましい。ただし、設置場所としては、適宜の場所を採用することができる。例えば、空気の流れが大きい部分ほど、塵埃が持ち込まれやすくなるとの知見がある場合、外気が流入する空気に当たりやすい呼排気口１１２の近傍に表面抵抗センサ１０を設置してもよい。また、例えば、高圧受配電盤１００の上部より下部の方が劣化が進むとの知見がある場合、高圧受配電盤１００の底部に表面抵抗センサ１０を設置してもよい。また、高圧受配電盤１００における複数の区画のうち、最も劣化が進みやすい区画が知見としてある場合、当該区画に表面抵抗センサ１０を設置してもよい。
【００２０】
ここで、表面抵抗センサ１０は、直流電源の電圧を分圧するように、絶縁体と電極とから構成される第１の表面抵抗と、第１の表面抵抗とは別の表面抵抗に保護部材を取り付けた第２の表面抵抗とが直列に接続され、分圧された電圧値を出力するセンサである。なお、表面抵抗センサ１０の構成の一例については、図２を用いて後述する。デジタルアナログ変換器２０は、表面抵抗センサ１０による出力（アナログデータ）をデジタルデータに変換する装置である。記録部３０は、デジタルアナログ変換器２０により変換されたデジタルデータ（情報）を記憶する記憶装置である。診断部４０は、記録部３０に記録された情報と予め設定された閾値との関係から高圧受配電盤１００の清掃時期を推定する情報処理資源（ソフトウェア資源、ハードウェア資源、またはこれらの組合せ）である。なお、診断部４０の処理内容の一例については、図５を用いて後述する。表示部５０は、診断部４０により診断された結果（例えば、高圧受配電盤１００の清掃時期に係る情報）を表示するディスプレイである。付言するならば、表面抵抗センサ１０、デジタルアナログ変換器２０、記録部３０、診断部４０、および表示部５０は、１つの装置で実現されてもよいし、複数の装置で実現されてもよい。
【００２１】
図２は、表面抵抗センサ１０に係る構成の一例を示す図である。図２の（Ａ）は、表面抵抗センサ１０の平面図を示す。図２の（Ｂ）は、表面抵抗センサ１０の正面図を示す。図２の（Ｃ）は、表面抵抗センサ１０の等価回路を示す。
【００２２】
表面抵抗センサ１０は、直流電源１１の電圧を分圧するように、２つの絶縁物の表面抵抗Ｒ，Ｒｓを直列に接続すること構成される。表面抵抗Ｒ，Ｒｓは、絶縁板１２ａ，１２ｂと、絶縁板１２ａ，１２ｂの表面に対向する長さが長くなるように一定の間隔をあけて設置した電極１３ａ，１３ｂとから構成される。一方の表面抵抗Ｒ（第１の表面抵抗の一例）には、絶縁板１２ａおよび電極１３ａの上に塵埃が降り積もるように配置し、他方の表面抵抗Ｒｓ（第２の表面抵抗の一例である。以下では、基準抵抗Ｒｓと適宜称する。）には、絶縁板１２ｂおよび電極１３ｂの上に塵埃が降り積もらないようにカバー１４を被せる。
【００２３】
カバー１４には、通気部１５（湿気を通すミクロフィルタであってもよいし、配線など通す穴などであってもよい。）があり、基準抵抗Ｒｓは完全には密閉されてはいないので、カバー１４内外の湿度に変化はない。通気部１５は、塵埃により塞がれないようにカバー１４の上面以外の側面、底面などに設けられることが好適である。なお、絶縁板１２ｂおよび電極１３ｂの上に塵埃が降り積もらないようにする構成（保護部材）としてカバー１４を例に挙げて説明したが、これに限られるものではなく、保護部材は、例えば、基準抵抗Ｒｓを収納可能な蓋が付いた容器などであってもよい。
【００２４】
基準抵抗Ｒｓの大きさは、塵埃に依存（影響）しない。表面抵抗センサ１０の信号は、２つの表面抵抗Ｒ，Ｒｓを結ぶ端子ＮＢから取られてデジタルアナログ変換器２０に通知される。図３に示すように、時間の経過とともに表面抵抗Ｒは、塵埃の影響を受けて、抵抗値が徐々に低下する。一方、基準抵抗Ｒｓは、塵埃の影響を受けないため下がらない。よって、端子ＮＢの電圧Ｖを例えばＶ＝Ｅ×Ｒ／（Ｒ＋Ｒｓ）とした場合、電圧Ｖは、表面抵抗Ｒの影響で徐々に低下する。
【００２５】
図３は、塵埃量と表面抵抗Ｒとの関係を示す図である。図３では、表面抵抗Ｒは、時間の経過とともに塵埃の影響を受けて、抵抗値が徐々に低下することが示されている。ここで、表面抵抗Ｒの低下については、塵埃量に加え、湿度も影響を及ぼすので、図４を用いて、湿度と表面抵抗Ｒ，Ｒｓとの関係について説明する。
【００２６】
図４は、湿度と表面抵抗Ｒ，Ｒｓとの関係を示す図である。図４では、湿度が変化しても、表面抵抗Ｒｓと、時間の経過とともに塵埃の影響を受けた表面抵抗Ｒとがほぼ同じ割合で変化することが示されている。つまり、湿度を測定して表面抵抗Ｒ，Ｒｓを補正することなく、表面抵抗Ｒへの塵埃の影響を評価できることがわかる。
【００２７】
ここで、表面抵抗センサ１０は、表面抵抗Ｒと基準抵抗Ｒｓとによって直流電源の電圧Ｅを分圧し、（式１）により与えられる電圧Ｖを信号値として端子ＮＢに生じさせる。
Ｖ＝Ｅ×Ｒ／（Ｒ＋Ｒｓ）  ・・・  （式１）
【００２８】
基準抵抗Ｒｓには、カバー１４が取り付けられているので、塵埃の影響を受けないが、表面抵抗Ｒには、カバー１４が取り付けられていないので、塵埃の影響を受けて時間の経過とともに抵抗値が低くなる。よって、（式１）を用いることで、表面抵抗値を直接測定することなく電圧値として塵埃による表面抵抗Ｒの低下の度合いを測定可能となる。
【００２９】
なお、図２の例では、表面抵抗Ｒと基準抵抗Ｒｓとは、同じまたは略同じ材質と形状とから成る表面抵抗であるので、初期においては、Ｒ≒Ｒｓとなり、Ｖ＝０．５Ｅというセンサ出力が端子ＮＢに現れる。
【００３０】
上述したように、塵埃による汚損で高圧受配電盤１００内の絶縁物の表面抵抗が低下し、絶縁破壊に到る前に、清掃を実施する必要がある。以下に、高圧受配電盤１００の清掃時期を診断する処理（診断処理）について、図５〜図７を用いて説明する。
【００３１】
図５は、診断処理に係る処理手順の一例を示す図である。
【００３２】
ステップＳ１では、表面抵抗センサ１０は、基準抵抗Ｒｓと表面抵抗Ｒとで分圧した電圧Ｖ（アナログデータ）を計測し、デジタルアナログ変換器２０に通知する。
【００３３】
ステップＳ２では、デジタルアナログ変換器２０は、測定された電圧Ｖ（アナログデータ）をデジタルデータに変換し、記録部３０に保存する。
【００３４】
ここで、適切な清掃時期（清掃タイミング）を決定する方法について図６を用いて説明する。
【００３５】
図６は、経年数と表面抵抗センサ１０の出力Ｖ（電圧Ｖ）との関係を示す図である。清掃された初期時からの時間ｔを横軸とし、表面抵抗センサ１０の出力Ｖを縦軸としたときに、初期時から現時点まで実測した出力Ｖから、出力Ｖについては、近似曲線（所定の近似式）で表せると仮定する。
【００３６】
この場合、近似曲線は、表面抵抗センサ１０の今後（将来）の出力を推測（推定）したものとなるので、近似曲線と、清掃が必要となる電圧を示す予め定めた閾値Ｖｃとの交点の時間が推奨する清掃時期（推奨清掃時期ｔｃ）となる。
【００３７】
ステップＳ３では、診断部４０は、実測データに基づいて近似式を求める。例えば、診断部４０は、初期時ｔ＝０から現時点ｔ＝ｔ’までの実測データから最小二乗法を用いて、（式２）に示す１次回帰直線を求め、１次回帰直線の係数ａとＶｏとを決定する。
Ｖ＝a・ｔ＋Ｖｏ  ・・・  （式２）
【００３８】
ステップＳ４では、診断部４０は、求めた近似式と予め設定した閾値Ｖｃとの交点の時間を推奨清掃時期ｔｃとして計算（推定）する。例えば、診断部４０は、（式３）を用いて推奨清掃時期ｔｃを算出する。
ｔｃ＝（Ｖｃ−Ｖｏ）／ａ  ・・・  （式３）
【００３９】
ここで、複数の高圧受配電盤１００を監視する場合には、それぞれの高圧受配電盤１００の中に表面抵抗センサ１０を設けることで、複数の高圧受配電盤１００の各々の清掃時期を適切に評価できる。
【００４０】
ステップＳ５では、診断部４０は、複数の高圧受配電盤１００を監視している場合（例えば、複数の高圧受配電盤１００の各々に表面抵抗センサ１０およびデジタルアナログ変換器２０が設けられている場合）、それぞれの高圧受配電盤１００の推奨清掃時期ｔｃを比較し、推奨清掃時期ｔｃが最も小さいものを代表値とする。
【００４１】
ステップＳ６では、診断部４０は、推奨清掃時期ｔｃに係る情報を表示部５０に表示する。推奨清掃時期ｔｃに係る情報としては、現時点から清掃までの時間であってもよいし、推奨清掃時期ｔｃであってもよいし、代表値であってもよいし、推奨清掃時期ｔｃから算出可能なその他の情報であってもよい。
【００４２】
図７は、表示部５０で表示される画面５１の一例を示す図である。図７では、Ｎｏ．１〜Ｎｏ．４の４つの高圧受配電盤１００の清掃時期を診断しているケースの例を示している。高圧受配電盤１００の中に１個ずつ入っている表面抵抗センサ１０の測定結果から、（式３）を用いてそれぞれの高圧受配電盤１００に対する現時点から清掃までの時間（ｔｃ−ｔ’）が表示場所５２ａ〜５２ｄに表示される。また、各高圧受配電盤１００の清掃までの時間（ｔｃ−ｔ’）が比較され、最も直近の時間が清掃までの時間の代表値として表示場所５３に表示される。
【００４３】
ステップＳ７では、診断部４０は、作業者からの入力に応じて、実績に基づくにように閾値Ｖｃを調整する。例えば、作業者は、推定された清掃時期に高圧受配電盤１００内の絶縁物の実際の表面抵抗を測り、実際の表面抵抗値の方が推定に用いた閾値Ｖｃよりも低い場合、閾値Ｖｃを高く設定し、実際の表面抵抗値の方が推定に用いた閾値Ｖｃよりも高い場合、閾値Ｖｃを低く設定するように、診断部４０に入力を行う。なお、この構成に限られるものではなく、作業者により計測された高圧受配電盤１００内の絶縁物の実際の表面抵抗値に基づいて、診断部４０が、例えば、実際の表面抵抗値の方が推定に用いた閾値Ｖｃよりも低い場合、閾値Ｖｃを高く設定し、実際の表面抵抗値の方が推定に用いた閾値Ｖｃよりも高い場合、閾値Ｖｃを低く設定するようにしてもよい。かかる調整によれば、高圧受配電盤１００の清掃時期をより正確に把握できるようになる。
【００４４】
ステップＳ８では、作業者は、清掃時に表面抵抗センサ１０の表面抵抗Ｒの絶縁物表面に付着している塵埃をウエス、エアーダスター等で除去し、表面抵抗Ｒの値を基準抵抗Ｒｓの値と同程度に回復させる。
【００４５】
以上の構成によれば、絶縁体の表面抵抗の変化をみることで設備の塵埃量が定量化され、最適な清掃時期が通知できるので、周囲環境によって異なる設備の汚損状態に応じて、適切な清掃頻度で設備の保守を行うことが可能となる。
【００４６】
（２）他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、本発明を診断システム１に適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、この他種々の診断システム、診断装置、診断方法に広く適用することができる。
【００４７】
また上述の実施の形態においては、記録部３０、診断部４０、および表示部５０は、例えば、ノートパソコン、タブレット端末等のコンピュータ（診断装置の一例）で実現されてもよい。この場合、コンピュータは、図示は省略するＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ディスプレイなどを含んで構成される。コンピュータの機能（例えば、診断部４０）は、例えば、ＣＰＵがＲＯＭに格納されたプログラムをＲＡＭに読み出して実行すること（ソフトウェア）により実現されてもよいし、専用の回路などのハードウェアにより実現されてもよいし、ソフトウェアとハードウェアとが組み合わされて実現されてもよい。また、コンピュータの機能の一部は、コンピュータと通信可能な他のコンピュータにより実現されてもよい。
【００４８】
また、上記の説明において各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の記憶装置、または、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤ等の記録媒体に置くことができる。
【００４９】
また上述の実施の形態においては、高圧受配電盤１００に表面抵抗センサ１０が１つ設けられる場合について述べたが、本発明はこれに限らず、高圧受配電盤１００に複数の表面抵抗センサ１０が設けられるようにしてもよい。例えば、高圧受配電盤１００に表面抵抗センサ１０の区画ごとに表面抵抗センサ１０が設けられてもよいし、通気口ごとに表面抵抗センサ１０が設けられてもよいし、絶縁物ごと（例えば、絶縁物付近）に表面抵抗センサ１０が設けられてもよい。この場合、それぞれの表面抵抗センサ１０の推奨清掃時期ｔｃを比較し、推奨清掃時期ｔｃが最も小さいものを代表値としてもよい。かかる構成によれば、設備の清掃タイミングをより精確に把握することができる。なお、絶縁物ごとに表面抵抗センサ１０が設けられる場合、絶縁物と表面抵抗センサ１０内の絶縁板１２ａ，１２ｂとが同一物質であることが好適である。
【００５０】
また上述の実施の形態においては、絶縁板１２ａ，１２ｂの表面に電極１３ａ，１３ｂを設ける場合について述べたが、本発明は電極１３ａ，１３ｂが設けられる絶縁物の形状は、板状のものに限らず、任意の形状のもの（絶縁体）を用いることができる。
【００５１】
また上述した構成については、本発明の要旨を超えない範囲において、適宜に、変更したり、組み替えたり、組み合わせたり、省略したりしてもよい。
【符号の説明】
【００５２】
１……診断システム、１０……表面抵抗センサ、２０……デジタルアナログ変換器、３０……記録部、４０……診断部、５０……表示部、１００……高圧受配電盤。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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