(57)【要約】【課題】容易に持ち運びできるテストプラグチェッカーを提供する。【解決手段】テストプラグチェッカー１０は、上板部、側板部および下板部を備えた正面視コの字状の本体１１と、表面が本体１１の上板部の上面から露出するように上板部に取り付けられたＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相上側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎと、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相上側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎと互いに対向するように本体１１の下板部に取り付けられたＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触部１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎと、本体１１内に設けられたかつＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相上側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２ＮとＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触部とをそれぞれ電気的に接続するＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相接続線１４Ｒ，１４Ｗ，１４Ｂ，１４Ｎとを具備する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストプラグ（１１０）の絶縁性能検査を行うためのテストプラグチェッカー（１０）であって、
上板部、側板部および下板部を備えた正面視コの字状の本体（１１）と、
表面が前記本体の前記上板部の上面から露出するように該上板部に取り付けられた複数の上側接触端子（１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎ）と、
前記複数の上側接触端子と互いに対向するように前記本体の前記下板部に取り付けられた複数の下側接触部（１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎ）と、
前記本体内に設けられた、かつ、前記複数の上側接触端子と前記複数の下側接触部のうち該複数の上側接触端子と互いに対向する下側接触部とをそれぞれ電気的に接続する複数の接続線（１４Ｒ，１４Ｗ，１４Ｂ，１４Ｎ）と、
を具備することを特徴とする、テストプラグチェッカー。
【請求項２】
前記本体の前記下板部の上面部に、前記複数の下側接触部をそれぞれ取り付けるための複数の取付穴が形成されており、
前記複数の下側接触部がそれぞれ、
下側接触端子（１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３Ｎａ）と、
上端が前記下側接触端子の裏面の中央部に固定されるとともに、下端が前記取付穴の底面の中央部に固定されたバネ（１３Ｒｂ，１３Ｗｂ，１３Ｂｂ，１３Ｎｂ）とを備える、
ことを特徴とする、請求項１記載のテストプラグチェッカー。
【請求項３】
前記テストプラグが、
他の本体（１１１）と、
前記他の本体に取り付けられた絶縁板支持体（１１２）と、
末端部が前記絶縁板支持体によって支持された絶縁板（１１３）と、
前記絶縁板の下面に所定の間隔をもって該絶縁板の末端から先端に向けて並設された複数の下側導体（１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎ）と、
前記絶縁板の上面に前記複数の下側導体とそれぞれ互いに対向するように形成された複数の上側導体（１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎ）とを備え、
前記テストプラグチェッカーの前記本体の前記上板部の下面と前記下板部の上面との間隔が、前記テストプラグの前記絶縁板を挿入できる大きさとされており、
前記テストプラグチェッカーの前記複数の上側接触端子が、前記テストプラグの前記複数の上側導体と同じ間隔で取り付けられており、
前記テストプラグチェッカーの前記複数の下側接触端子が、前記テストプラグの前記複数の下側導体と同じ間隔で取り付けられている、
ことを特徴とする、請求項２記載のテストプラグチェッカー。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電力系統の保護システムに使用されるテストプラグの絶縁性能検査を行うのに好適なテストプラグチェッカーに関する。
【背景技術】
【０００２】
テストターミナルに挿入して電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行うテストプラグは、図３に示すテストプラグ１１０のように、直方体形状の本体１１１と、本体１１１の後面に取り付けられた直方体形状の絶縁板支持体１１２と、末端部が絶縁板支持体１１２によって支持された絶縁板１１３と、絶縁板１１３の下面に所定の間隔をもって平行に絶縁板１１３の末端から先端に向けて形成されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎ（Ｎ相１次側導体１１４Ｎのみ図示）と、絶縁板１１３の上面にＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎとそれぞれ互いに対向するように形成されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎと、本体１１１の前面に上下互い違いに配設されたＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子１１６Ｒ，１１６Ｗ，１１６Ｂ，１１６Ｎとを備える。
【０００３】
テストプラグ１１０は、テストターミナルに挿入する前提としてその健全性が保証されていなければならず、相間絶縁（Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎの異なる相間の絶縁とＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎの異なる相間の絶縁）および極間絶縁（Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４ＮとＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎとの同一相間の絶縁）が十分でないと、テストプラグ１１０をテストターミナルに挿入した際に短絡事故を発生させる等の不都合を招く。
【０００４】
そのため、担当者は、以下の手順で、測定器（テスタやメガー等）を用いて手作業でテストプラグ１１０の絶縁性能検査を行っている。
【０００５】
（ア）相間絶縁試験
（１）測定器の２本のプローブをＲ相１次側導体１１４ＲおよびＷ相１次側導体１１４Ｗにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（２）測定器の２本のプローブをＲ相１次側導体１１４ＲおよびＢ相１次側導体１１４Ｂにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（３）測定器の２本のプローブをＲ相１次側導体１１４ＲおよびＮ相１次側導体１１４Ｎにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（４）測定器の２本のプローブをＷ相１次側導体１１４ＷおよびＢ相１次側導体１１４Ｂにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（５）測定器の２本のプローブをＷ相１次側導体１１４ＷおよびＮ相１次側導体１１４Ｎにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（６）測定器の２本のプローブをＢ相１次側導体１１４ＢおよびＮ相１次側導体１１４Ｎにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（７）上記（１）〜（６）と同様にして、Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎについて相間絶縁試験を行う。
その結果、担当者は、相間絶縁試験を行うために、合計１２（＝２×６）回の絶縁抵抗を測定する必要がある。
また、相間絶縁試験を重複して行う場合には、担当者は、相間絶縁試験を行うために、合計２４回の絶縁抵抗を測定する必要がある。
【０００６】
（イ）極間絶縁試験
（１）測定器の２本のプローブをＲ相１次側導体１１４ＲおよびＲ相２次側導体１１５Ｒにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（２）測定器の２本のプローブをＷ相１次側導体１１４ＷおよびＷ相２次側導体１１５Ｗにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（３）測定器の２本のプローブをＢ相１次側導体１１４ＢおよびＢ相２次側導体１１５Ｂにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（４）測定器の２本のプローブをＮ相１次側導体１１４ＮおよびＮ相２次側導体１１５Ｎにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
その結果、担当者は、極間絶縁試験を行うために、合計４回の絶縁抵抗を測定する必要がある。
【０００７】
そこで、テストプラグの絶縁性能検査における担当者の負荷を低減するために、本出願人は、以下に示すものを提案している。
（１）下記の特許文献１で提案したテストプラグの性能判定装置
装置本体でテストプラグを挟持させた状態で荷電用端子に順次電圧を印加して各場合における検電用端子の荷電状態を検出するだけで自動的にテストプラグにおける結線構造を明らかできるようにした。
（２）下記の特許文献２で提案したテストプラグの性能判定器
テストプラグの相間絶縁試験および極間絶縁試験を行う際の絶縁抵抗を一度に測定できるようにした。
（３）下記の特許文献３で提案したテストプラグの性能判定器
テストプラグを挿入口に挿入した状態で１次側接点および２次側接点の導通検出手段に対する接続状態を切り替えるだけで導通確認や絶縁確認を行えるようにした。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２０１０−１３３８７８号公報
【特許文献２】特開２００７−２８５９３７号公報
【特許文献３】特開２００７−２１２３０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、上記特許文献１〜３で提案したものは、テストプラグの絶縁性能検査における担当者の負荷低減を図るには効果的であるが、専用の電子回路を内蔵する分だけ装置本体が大きくなり持ち運びが不便であるという問題がある。
【００１０】
本発明の目的は、容易に持ち運びできるテストプラグチェッカーを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明のテストプラグチェッカーは、テストプラグ（１１０）の絶縁性能検査を行うためのテストプラグチェッカー（１０）であって、上板部、側板部および下板部を備えた正面視コの字状の本体（１１）と、表面が前記本体の前記上板部の上面から露出するように該上板部に取り付けられた複数の上側接触端子（１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎ）と、前記複数の上側接触端子と互いに対向するように前記本体の前記下板部に取り付けられた複数の下側接触部（１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎ）と、前記本体内に設けられた、かつ、前記複数の上側接触端子と前記複数の下側接触部のうち該複数の上側接触端子と互いに対向する下側接触部とをそれぞれ電気的に接続する複数の接続線（１４Ｒ，１４Ｗ，１４Ｂ，１４Ｎ）とを具備することを特徴とする。
ここで、前記本体の前記下板部の上面部に、前記複数の下側接触部をそれぞれ取り付けるための複数の取付穴が形成されており、前記複数の下側接触部がそれぞれ、下側接触端子（１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３Ｎａ）と、上端が前記下側接触端子の裏面の中央部に固定されるとともに、下端が前記取付穴の底面の中央部に固定されたバネ（１３Ｒｂ，１３Ｗｂ，１３Ｂｂ，１３Ｎｂ）とを備えてもよい。
前記テストプラグが、他の本体（１１１）と、前記他の本体に取り付けられた絶縁板支持体（１１２）と、末端部が前記絶縁板支持体によって支持された絶縁板（１１３）と、前記絶縁板の下面に所定の間隔をもって該絶縁板の末端から先端に向けて並設された複数の下側導体（１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎ）と、前記絶縁板の上面に前記複数の下側導体とそれぞれ互いに対向するように形成された複数の上側導体（１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎ）とを備え、前記テストプラグチェッカーの前記本体の前記上板部の下面と前記下板部の上面との間隔が、前記テストプラグの前記絶縁板を挿入できる大きさとされており、前記テストプラグチェッカーの前記複数の上側接触端子が、前記テストプラグの前記複数の上側導体と同じ間隔で取り付けられており、前記テストプラグチェッカーの前記複数の下側接触端子が、前記テストプラグの前記複数の下側導体と同じ間隔で取り付けられていてもよい。
【発明の効果】
【００１２】
本発明のテストプラグチェッカーは、以下に示す効果を奏する。
（１）専用の電子回路を内蔵する必要がなく小型および軽量に構成できるため、容易に持ち運びできる。
（２）テストプラグの上方から２本のプローブを当てて絶縁性能検査を行えるため、検査の確実性および時間短縮を図ることができる。
（３）構成が簡易であるため、汎用性を持たせることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の一実施例によるテストプラグチェッカー１０について説明するための図であり、（ａ）はテストプラグチェッカー１０の上面図であり、（ｂ）はテストプラグチェッカー１０の内部の構成を示す断面図であり、（ｃ）はＲ相下側接触部１３Ｒの構成を示す図である。
【図２】図１に示したテストプラグチェッカー１０を用いてテストプラグ１１０の絶縁性能検査を行う手順について説明するための図であり、（ａ）はテストプラグチェッカー１０のテストプラグ１１０への装着方法について説明するための上面図であり、（ｂ）は第１および第２のプローブ１ａ，１ｂの当て方について説明するための上面図である。
【図３】テストプラグ１１０の構成について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
上記の目的を、テストプラグに装着して上方から２本のプローブを当てれば絶縁性能検査を行えるように構成することにより実現した。
【実施例１】
【００１５】
以下、本発明のテストプラグチェッカーの実施例について図面を参照して説明する。
本発明の一実施例によるテストプラグチェッカー１０は、図１（ａ），（ｂ）に示すように、本体１１と、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相上側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎと、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触部１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎと、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相上側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２ＮとＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触部１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎとをそれぞれ電気的に接続するＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相接続線１４Ｒ，１４Ｗ，１４Ｂ，１４Ｎとを具備する。
【００１６】
ここで、本体１１は、上板部、右側板部および下板部を備えた正面視コの字状のものである。
本体１１の上板部の下面と下板部の上面との間隔は、テストプラグ１１０の絶縁板１１３を挿入できる大きさとされている。
本体１１の下板部の上面部には、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触部１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎをそれぞれ取り付けるためのＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相取付穴がＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎと同じ間隔で形成されている。
【００１７】
Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相上側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎは、円板状のものであり、表面が本体１１の上板部の上面から露出するとともに、Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎと同じ間隔で本体１１の上板部に取り付けられている。
【００１８】
Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触部１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎは、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相上側接触端子１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎとそれぞれ互いに対向するように本体１１の下板部に取り付けられている。
また、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触部１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎは、図１（ｃ）にＲ相接触部１３Ｒについて示すように、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触端子１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３ＮａおよびＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相バネ１３Ｒｂ，１３Ｗｂ，１３Ｂｂ，１３Ｎｂとをそれぞれ備える。
【００１９】
Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触端子１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３Ｎａは、Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎとの接触面積が大きくなるとともにテストプラグチェッカー１０をテストプラグ１１０にスムースに装着できるように、表面の中央部が平面とされるとともに表面側の外周面が凸形曲面状とされている。
【００２０】
Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相バネ１３Ｒｂ，１３Ｗｂ，１３Ｂｂ，１３Ｎｂは、上端がＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触端子１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３Ｎａの裏面の中央部に固定されているとともに、下端がＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相取付穴の底面の中央部に固定されている。
これにより、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触端子１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３Ｎａは、テストプラグチェッカー１０をテストプラグ１１０に装着したときにＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎと確実に接触するように、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相バネ１３Ｒｂ，１３Ｗｂ，１３Ｂｂ，１３Ｎｂの付勢力によって持ち上げられて表面部が本体１１の下板部の上面から突出するようにされている。
【００２１】
次に、テストプラグチェッカー１０を用いてテストプラグ１１０の絶縁性能検査を行う手順について、図２（ａ），（ｂ）を参照して説明する。
担当者は、図２（ａ）に示すようにＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎ側が上向きとなるようにテストプラグ１１０を立てたのち、同図に白抜き矢印で示すようにテストプラグ１１０の絶縁板１１３にＲ相２次側導体１１５Ｒ側からテストプラグチェッカー１０を挿入していくことにより、テストプラグチェッカー１０をテストプラグ１１０に装着する。
【００２２】
このとき、テストプラグ１１０の絶縁板支持体１１２とテストプラグチェッカー１０との間にＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎの末端部側が露出するように、テストプラグチェッカー１０をテストプラグ１１０に装着する。
【００２３】
また、テストプラグチェッカー１０はＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触端子１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３Ｎａの表面がテストプラグ１１０のＲ相１次側導体１１４Ｒ側の面（図２（ａ）の紙面裏面）に当接しながら挿入されていくが、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触端子１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３ＮａはＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相バネ１３Ｒｂ，１３Ｗｂ，１３Ｂｂ，１３Ｎｂの付勢力に対抗してＲ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相取付穴に引っ込むため、Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触端子１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３Ｎａが引っ掛かることなくテストプラグチェッカー１０をテストプラグ１１０に装着できる。
【００２４】
その後、担当者は、テストプラグ１１０のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎ間の相間絶縁試験を以下の手順で行う。
（１）図２（ｂ）に示すように測定器（不図示）に接続線を介して接続された第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＲ相２次側導体１１５ＲおよびＷ相２次側導体１１５Ｗにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（２）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＲ相２次側導体１１５ＲおよびＢ相２次側導体１１５Ｂにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（３）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＲ相２次側導体１１５ＲおよびＮ相２次側導体１１５Ｎにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（４）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＷ相２次側導体１１５ＷおよびＢ相２次側導体１１５Ｂにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（５）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＷ相２次側導体１１５ＷおよびＮ相２次側導体１１５Ｎにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
（６）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＢ相２次側導体１１５ＢおよびＮ相２次側導体１１５Ｎにそれぞれ接触させて、この２つの導体間の絶縁抵抗を測定する。
【００２５】
その後、担当者は、テストプラグ１１０のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎ間の相間絶縁試験を以下の手順で行う。
（１）図２（ｃ）に示すように第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からテストプラグチェッカー１０のＲ相上側接触端子１２ＲおよびＷ相上側接触端子１２Ｗにそれぞれ接触させて、Ｒ相１次側導体１１４ＲとＷ相１次側導体１１４Ｗとの間の絶縁抵抗を測定する。
（２）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からテストプラグチェッカー１０のＲ相上側接触端子１２ＲおよびＢ相上側接触端子１２Ｂにそれぞれ接触させて、Ｒ相１次側導体１１４ＲとＢ相１次側導体１１４Ｂとの間の絶縁抵抗を測定する。
（３）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からテストプラグチェッカー１０のＲ相上側接触端子１２ＲおよびＮ相上側接触端子１２Ｎにそれぞれ接触させて、Ｒ相１次側導体１１４ＲとＮ相１次側導体１１４Ｎとの間の絶縁抵抗を測定する。
（４）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からテストプラグチェッカー１０のＷ相上側接触端子１２ＷおよびＢ相上側接触端子１２Ｂにそれぞれ接触させて、Ｗ相１次側導体１１４ＷとＢ相１次側導体１１４Ｂとの間の絶縁抵抗を測定する。
（５）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からテストプラグチェッカー１０のＷ相上側接触端子１２ＷおよびＮ相上側接触端子１２Ｎにそれぞれ接触させて、Ｗ相１次側導体１１４ＷとＮ相１次側導体１１４Ｎとの間の絶縁抵抗を測定する。
（６）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からテストプラグチェッカー１０のＢ相上側接触端子１２ＢおよびＮ相上側接触端子１２Ｎにそれぞれ接触させて、Ｂ相１次側導体１１４ＢとＮ相１次側導体１１４Ｎとの間の絶縁抵抗を測定する。
【００２６】
その後、担当者は、テストプラグ１１０のＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４ＮとＲ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎとの間の極間絶縁試験を以下の手順で行う。
（１）図２（ｄ）に示すように第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＲ相２次側導体１１５ＲおよびＲ相上側接触端子１２Ｒにそれぞれ接触させて、Ｒ相１次側導体１１４ＲとＲ相２次側導体１１５Ｒとの間の絶縁抵抗を測定する。
（２）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＷ相２次側導体１１５ＷおよびＷ相上側接触端子１２Ｗにそれぞれ接触させて、Ｗ相１次側導体１１４ＷとＷ相２次側導体１１５Ｗとの間の絶縁抵抗を測定する。
（３）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＢ相２次側導体１１５ＢおよびＢ相上側接触端子１２Ｂにそれぞれ接触させて、Ｂ相１次側導体１１４ＢとＢ相２次側導体１１５Ｂとの間の絶縁抵抗を測定する。
（４）第１および第２のプローブ１ａ，１ｂをテストプラグ１１０の上方からＮ相２次側導体１１５ＮおよびＮ相上側接触端子１２Ｎにそれぞれ接触させて、Ｎ相１次側導体１１４ＢとＮ相２次側導体１１５Ｎとの間の絶縁抵抗を測定する。
【００２７】
これにより、担当者は、テストプラグ１１０の上方から第１および第２のプローブ１ａ，１ｂを当てることによりテストプラグ１１０の絶縁性能検査を行うことができる。
【００２８】
以上では、１次側および２次側導体が４つずつの４極のテストプラグ１１０の絶縁性能検査を行うためのテストプラグチェッカー１０について説明したが、１次側および２次側導体が２つずつの２極のテストプラグの絶縁性能検査を行うためのテストプラグチェッカーも同様にして構成することができる。
【符号の説明】
【００２９】
１ａ，１ｂ  第１および第２のプローブ
１０  テストプラグチェッカー
１１  本体
１２Ｒ，１２Ｗ，１２Ｂ，１２Ｎ  Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相上側接触端子
１３Ｒ，１３Ｗ，１３Ｂ，１３Ｎ  Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触部
１３Ｒａ，１３Ｗａ，１３Ｂａ，１３Ｎａ  Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相下側接触端子
１３Ｒｂ，１３Ｗｂ，１３Ｂｂ，１３Ｎｂ  Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相バネ
１４Ｒ，１４Ｗ，１４Ｂ，１４Ｎ  Ｒ相，Ｗ相，Ｂ相およびＮ相接続線
１１０  テストプラグ
１１１  本体
１１２  絶縁板支持体
１１３  絶縁板
１１４Ｒ，１１４Ｗ，１１４Ｂ，１１４Ｎ  Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相１次側導体
１１５Ｒ，１１５Ｗ，１１５Ｂ，１１５Ｎ  Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相２次側導体
１１６Ｒ，１１６Ｗ，１１６Ｂ，１１６Ｎ  Ｒ相、Ｗ相、Ｂ相およびＮ相端子
【図１】
2019148469.tif 000003
【図２】
2019148469.tif 000004
【図３】
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