(57)【要約】【課題】情報処理システムの制御装置において、記憶装置の保守情報を容易に把握可能にする。【解決手段】１つ以上の記憶装置１２、及び記憶装置１２を監視制御する制御装置２０を備える情報処理システム１において、記憶装置１２は、記憶装置１２の駆動状態を示す第１の信号を生成する第１信号生成部と、第１の信号と記憶装置１２に関する１つ以上の保守情報に対応付けられた制御信号とを合成して第２の信号を生成する第２信号生成部と、を備え、制御装置２０が、第２の信号を解析して、記憶装置１２に関する１つ以上の保守情報を取得する取得部を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
１つ以上の記憶装置、及び前記記憶装置を監視制御する制御装置を備える情報処理システムにおいて、
前記記憶装置は、
前記記憶装置の駆動状態を示す第１の信号を生成する第１信号生成部と、
前記第１の信号と当該記憶装置に関する１つ以上の保守情報に対応付けられた制御信号とを合成して第２の信号を生成する第２信号生成部と、
を備え、
前記制御装置は、前記第２の信号を解析して、前記記憶装置に関する１つ以上の前記保守情報を取得する取得部、を備える、
ことを特徴とする情報処理システム。
【請求項２】
前記第２信号生成部は、複数の前記保守情報を、前記保守情報のそれぞれに設定されたデューティ比を用い制御信号を生成して前記第１の信号と合成し、
前記取得部は、前記第２の信号からデューティ比を算出し、前記算出したデューティ比に基づき１つ以上の前記保守情報を取得する、
ことを特徴とする、請求項１記載の情報処理システム。
【請求項３】
前記保守情報は、前記記憶装置の寿命に関する情報、及び、前記記憶装置の温度に関する情報、のうちの少なくともいずれかの情報を含む、
ことを特徴とする、請求項１記載の情報処理システム。
【請求項４】
記憶装置を監視制御する制御装置において、
前記記憶装置の駆動状態を示す第１の信号と前記記憶装置に関する１つ以上の保守情報に対応付けられた制御信号とが合成された信号である第２の信号から、前記記憶装置に関する１つ以上の保守情報を取得する取得部を備え、
前記取得部は、所定周波数の基準クロック信号を用いて演算を行なうことで前記第２の信号を解析して、前記保守情報を取得する、
ことを特徴とする制御装置。
【請求項５】
記憶装置の駆動状態を示す第１の信号を生成する第１信号生成部と、
前記第１の信号と自装置に関する１つ以上の保守情報に対応付けられた制御信号とを合成して第２の信号を生成する第２信号生成部と、
を備える、
ことを特徴とする記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報処理システム、制御装置、及び記憶装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報処理システムに搭載される記憶装置には、当該記憶装置への書き込み回数（寿命）や、当該記憶装置の温度情報等を含むＳＭＡＲＴ(スマート；Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology)情報が格納される。そこで、情報処理システムの管理者やサービスプロバイダは、このＳＭＡＲＴ情報（保守情報）を用いて、当該記憶装置の故障や障害の予兆を把握することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−１７８０１４号公報
【特許文献２】特開２００８−１３９９２７号公報
【特許文献３】特開２０１３−１４９１１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
図１５は、記憶装置としてＳＳＤ(Solid State Drive)１０２を搭載したサーバ（情報処理システム）１０１において、ＳＭＡＲＴ情報１０２３の取得についての比較例を示したものである。この図１５に示すように、サーバ１０１の管理者は、ＳＳＤ１０２のメモリ１０２２に格納されるＳＭＡＲＴ情報１０２３を取得するために、例えば、システムＬＡＮ（Local Area Network）ポート１０６にコンピュータ（図示省略）を接続する。そして、サーバ１０１の管理者は、このコンピュータを用いてＳＳＤ１０２の状態に関する情報の送信を要求する。この管理者からの要求は、Ｉ／Ｏ（Input/Output）コントローラ１０３を経由し、インターコネクトインタフェース（Interconnect IF）を介して、監視ソフトウェア１０５１へ送られる（図１５のＡを付した矢印参照）。この監視ソフトウェア１０５１は、例えば、記憶部１０５に格納され、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１０４によって実行されるものとする。次に、監視ソフトウェア１０５１が、ＳＳＤ１０２のコントローラ１０２１に対して、ＳＡＳ又はＳＡＴＡインタフェース（IF）を介してＳＭＡＲＴ情報１０２３の送信を要求する（図１５のＢを付した矢印参照）。なお、ＳＡＳはSerial Attached SCSI(Small Computer System Interface)の略称であり、ＳＡＴＡはSerial ATA(Advanced Technology Attachment)の略称である。そして、ＳＳＤ１０２のコントローラ１０２１は、ＳＭＡＲＴ情報１０２３を取得して、要求時とは逆の経路を経て、監視ソフトウェア１０５１に対してＳＭＡＲＴ情報１０２３を送信する（図１５のＣを付した矢印参照）。
【０００５】
クラウドサービスにおいて、サーバ１０１上で、クライアント自身がＯＳ(Operating System)をインストールする等、クライアントによる環境構築も可能としている形態のサービスがある。このようなサービス形態はベアメタルクラウドサービスとよばれる。このようなベアメタルクラウドサービスにおいて、サーバ１０１に搭載されるＳＳＤ１０２は、サーバ１０１の管理者や当該ベアメタルクラウドサービスのサービスプロバイダ（以下、単に管理者という）による管理が必要とされる場合がある。管理者は、ＳＳＤ１０２の管理を行なうために、ＳＭＡＲＴ情報１０２３を用いる場合が多く、このＳＭＡＲＴ情報１０２３の要求や取得を支援するための監視ソフトウェア１０５１が、ＳＳＤ１０２のベンダから提供される場合が多い。しかしながら、このような監視ソフトウェア１０５１は、クライアントが構築したサーバのＯＳに対応していない場合がある。また、ＳＳＤ１０２のコントローラ１０２１のデバイスドライバは、当該コントローラ１０２１のベンダから提供される場合が多く、このデバイスドライバも、クライアントが構築したサーバのＯＳに対応していない場合がある。このような場合、ベアメタルクラウドサービスの管理者は、クライアントが構築したＯＳ（環境）上で監視ソフトウェア１０５１を利用することができず、ＳＭＡＲＴ情報１０２３を取得することができないという課題がある。さらに、上述のベアメタルクラウドサービスでは、システムＬＡＮポート１０６もクライアントに提供され、クライアント以外のユーザがシステムＬＡＮポート１０６を利用できない場合がある。この場合、たとえ監視ソフトウェア１０５１が、クライアントによって構築された環境に対応していたとしても、ベアメタルクラウドサービスの管理者は、監視ソフトウェア１０５１にアクセスできないという課題がある。
【０００６】
１つの側面では、情報処理システムの制御装置において、記憶装置の保守情報を容易に把握可能にすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る情報処理システムは、１つ以上の記憶装置、及び前記記憶装置を監視制御する制御装置を備える情報処理システムにおいて、前記記憶装置は、前記記憶装置の駆動状態を示す第１の信号を生成する第１信号生成部と、前記第１の信号と当該記憶装置に関する１つ以上の保守情報に対応付けられた制御信号とを合成して第２の信号を生成する第２信号生成部と、を備え、前記制御装置は、前記第２の信号を解析して、前記記憶装置に関する１つ以上の前記保守情報を取得する取得部、を備える。
【発明の効果】
【０００８】
一実施形態によれば、情報処理システムの制御装置において、記憶装置の保守情報を容易に把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施形態の一例としてのサーバのハードウェア構成を例示する図である。
【図２】実施形態の一例としてのＢＰＭＣのハードウェア構成を例示する図である。
【図３】（ａ）は実施形態の一例としてのＤＤＭＲのレジスタフォーマットを例示する図であり、（ｂ）は実施形態の一例としてのＤＤＭＲのビット構成を例示する図である。
【図４】（ａ）は実施形態の一例としてのＤＴＤＲのレジスタフォーマットを例示する図であり、（ｂ）は実施形態の一例としてのＤＴＤＲのビット構成を例示する図である。
【図５】（ａ）は実施形態の一例としてのＳＬＤＲのレジスタフォーマットを例示する図であり、（ｂ）は実施形態の一例としてのＳＬＤＲのビット構成を例示する図である。
【図６】実施形態の一例としてのＳＳＤの機能ブロックを例示する図である。
【図７】実施形態の一例としてのＢＰＭＣの機能ブロックを例示する図である。
【図８】実施形態の一例としてのＳＭＡＲＴ情報の要求から提示までの処理を説明するためのフローチャートである。
【図９】実施形態の一例としてのダイナミック点灯のためのアクティビティシグナルの信号を例示する図である。
【図１０】実施形態の一例としての第１アクティビティシグナルとＳＳＤの寿命情報を示す制御信号とを合成する処理を例示する図である。
【図１１】実施形態の一例としての第２アクティビティシグナルをサンプリングする処理を例示する図である。
【図１２】変形例としての第１アクティビティシグナルとＳＳＤの寿命情報を示す制御信号とを合成した信号を例示する図である。
【図１３】変形例としての第１アクティビティシグナルとＳＳＤの温度情報を示す制御信号とを合成した信号を例示する図である。
【図１４】変形例としての第２アクティビティシグナルからのＳＳＤの寿命情報と温度情報とを抽出する処理を説明するためのフローチャートである。
【図１５】一実施形態の比較例に係る記憶装置からのＳＭＡＲＴ情報の取得を例示する図である。
【図１６】一実施形態の比較例に係るスタティック点灯のためのアクティビティシグナルを例示する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。ただし、以下に説明する実施形態は、あくまでも例示あり、以下に明示しない種々の変形や技術の適用を排除する意図等はない。例えば、本実施形態を、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。なお、以下の実施形態で用いる図面において、同一符号を付した部分は、特に断らない限り、同一若しくは同様の部分を表す。
【００１１】
〔１〕一実施形態
〔１−１〕一実施形態に係るサーバ、及びＢＰＭＣの構成例
図１は、実施形態の一例としてのサーバ１のハードウェア構成を例示する図である。この図１は、ベアメタルクラウドサービスにおいて、クライアントに提供されるサーバ１のハードウェア構成を例示したものである。
【００１２】
図１に示すように、サーバ（情報処理システム）１は、記憶装置としてＳＳＤ１２を搭載し、Ｉ／Ｏコントローラ１３、ＣＰＵ１４、記憶部１５、バックプレーン１７、及びＢＭＣ（ベースボード管理コントローラ；Baseboard Management Controller）１８を備える。さらに、サーバ１は、システムＬＡＮポート１６と管理ＬＡＮポート１９とを備える。なお、サーバ１が備える記憶装置としては、ＳＳＤ以外の記憶装置（例えば、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等）であってもよい。
【００１３】
ＳＳＤ１２は、記憶媒体として半導体素子メモリ（メモリ１２２）を用いた記憶装置であり、図１に示すように、コントローラ１２１とメモリ１２２とを備える。コントローラ１２１は、メモリ１２２からＳＭＡＲＴ情報（状態情報）１２３の読み出しを実行する。このＳＭＡＲＴ情報１２３は、ＳＳＤ１２の監視制御にも用いることができる。そして、コントローラ１２１は、後述するアクセスＬＥＤ（Light Emitting Diode）２１へのアクセス状態を通知するアクティビティシグナル（アクティビティ信号；Activity Signal）を生成し出力する。また、コントローラ１２１は、このアクティビティシグナルにＳＭＡＲＴ情報１２３の内容に対応付けて定めた制御信号を重畳（合成）する。メモリ１２２は、例えば、ユーザがサーバ１上で利用する情報と共に、ＳＳＤ１２の寿命や温度（０〜１００℃）に関する情報等を含むＳＭＡＲＴ情報１２３を記憶する。本実施形態において、ＳＳＤ１２の寿命は０〜１００％の値を備えるものであり、ＳＳＤ１２への書き込み回数と関係がある。ＳＳＤ１２への書き込み回数には制限値が設定されており、この制限値を超えてＳＳＤ１２が使用されると、ＳＳＤ１２内のデータが保証されなくなる場合がある。ＳＳＤ１２の寿命が０％に近ければ近いほど書き込まれた回数が少なく残寿命が長く、ＳＳＤ１２の寿命が１００％に近ければ近いほど書き込まれた回数が制限値に近く残寿命が短いということになる。なお、図１には、サーバ１が、１つのＳＳＤ１２を備えることを図示したが、複数のＳＳＤ１２を備えてもよい。
【００１４】
Ｉ／Ｏコントローラ１３は、システムＬＡＮポート１６とＣＰＵ１４との通信における入出力を制御すると共に、ＳＳＤ１２とＣＰＵ１４との通信における入出力を制御する。例えば、Ｉ／Ｏコントローラ１３とＣＰＵ１４との通信にはインターコネクトインタフェースが用いられ、Ｉ／Ｏコントローラ１３とＳＳＤ１２との通信にはＳＡＳ又はＳＡＴＡインタフェースが用いられる。
【００１５】
ＣＰＵ１４は、後述する記憶部１５に格納されるＯＳやプログラムを実行し、図示しない外部装置、例えば、クライアントのコンピュータから入力された要求に応じ、ＳＳＤ１２に格納されている情報を取得する。
【００１６】
記憶部１５は、例えば、不揮発性メモリであり、外部装置との通信やＳＳＤ１２との通信を実行するためのプログラムを格納する。また、記憶部１５は、クライアントのデータも格納する。
【００１７】
システムＬＡＮポート１６は、例えば、クライアントが当該サーバ１及びクラウドサービスを使用するために、図示しない外部装置、例えば、クライアントのコンピュータを接続するために用いる、ネットワークケーブル（ＬＡＮケーブル）の差込口である。
【００１８】
本実施形態において想定しているベアメタルクラウドサービスでは、クライアントは、上述したＩ／Ｏコントローラ１３、ＣＰＵ１４、記憶部１５、及びシステムＬＡＮポート１６を用いて、ＳＳＤ１２に情報を格納する。これに対し、このようなベアメタルクラウドサービスでは、管理者は、クライアントによって利用される上述のハードウェアを利用することができない場合が多い。そこで、管理者は、以下に詳述する、バックプレーン１７、ＢＭＣ１８、及び管理ＬＡＮポート１９を用いてサーバ１を管理する。これらのバックプレーン１７、ＢＭＣ１８、及び管理ＬＡＮポート１９は、管理者により利用されるので、クライアントが利用できないように制限することが望ましい。以下に、管理者によって利用される、バックプレーン１７、ＢＭＣ１８、及び管理ＬＡＮポート１９について説明する。
【００１９】
ＢＭＣ１８は、サーバ１が備える複数のコンポーネントを監視し、本実施形態では、ＢＰＭＣ２０から受信する情報を用いてサーバ１上のＳＳＤ１２の状態を管理するものとする。また、ＢＭＣ１８は、管理ポートＬＡＮ１９に管理者のコンピュータ（図示省略）が接続される場合、例えば、ウェブインタフェースを介して、管理者から要求を得たり、管理者に対して情報を送信したりする。
【００２０】
管理ＬＡＮポート１９は、例えば、管理者がＳＳＤ１２の状態に関する情報を取得するために、図示しない外部装置、例えば、管理者のコンピュータを接続するために用いる、ネットワークケーブル（ＬＡＮケーブル）の差込口である。
【００２１】
バックプレーン１７はサーバ１の回路基板であり、ＢＰＭＣ（バックプレーン管理コントローラ；Backplane Management Controller）２０、アクセスＬＥＤ２１、及びフォルト（ホットプラグ）ＬＥＤ２２を備える。また、バックプレーン１７は、コネクタ２３ａ、コネクタ２３ｂ、及びコネクタ２３ｃを備える。なお、以下、コネクタを示す符号としては、複数のコネクタのうち１つを特定する必要があるときにはコネクタ２３ａ，２３ｂ，２３ｃを用いるが、任意のコネクタを指すときには符号２３を用いる。
【００２２】
アクセスＬＥＤ２１、及びフォルトＬＥＤ２２は、ＳＳＤ１２の状態を示すランプ（表示装置）であり、それぞれにＬＥＤを備える。これらＬＥＤの点灯は、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１によって制御される。アクセスＬＥＤ２１は、ＳＳＤ１２へのデータのアクセス中に点灯し、フォルトＬＥＤ２２はＳＳＤ１２の故障中に点灯する。
【００２３】
コネクタ２３は、ＳＳＤ１２，ＢＭＣ１８，Ｉ／Ｏコントローラ１３のそれぞれと、バックプレーン１７との接続を可能にする。
【００２４】
ＢＰＭＣ２０は、バックプレーン１７における処理を制御する制御装置であって、ＳＭＢｕｓ（ＳＭバス；System Management Bus）によってコネクタ２３ｃを介してＢＭＣ１８と接続される。また、ＢＰＭＣ２０は、コネクタ２３ａを介してＳＳＤ１２と接続され、ＳＳＤ１２を監視制御する。ＢＰＭＣ２０は、ＢＭＣ１８からＳＭＡＲＴ情報１２３の取得要求を受信すると、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１から受信するアクティビティシグナルに対して信号処理を施す。そして、ＢＰＭＣ２０は、受信したアクティビティシグナルからＳＭＡＲＴ情報１２３を抽出（算出）し、ＢＭＣ１８に送信する。また、ＢＰＭＣ２０に送信されたアクティビティシグナルは、ＢＰＭＣ２０を介してアクセスＬＥＤ２１やフォルトＬＥＤ２２にも送信され、これらの点灯を制御する。
【００２５】
ここで図２を用いて、ＢＰＭＣ２０のハードウェア構成の一例について説明する。この図２は、本実施形態に係るＢＰＭＣ２０のハードウェア構成を例示する図である。
【００２６】
図２に示すように、ＢＰＭＣ２０は、サンプリング処理部２０１、ＳＭＢｕｓ処理部２０２、ＢＰＭＣ記憶部２０４、及びＲＡＭ（Random-Access Memory）２０３を備える。
【００２７】
サンプリング処理部２０１は、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１から受信するアクティビティシグナルに対して信号処理（サンプリング）を実行し、ＳＭＡＲＴ情報１２３を抽出（取得）する。サンプリング処理部２０１が施すサンプリングの詳細については後述する。
【００２８】
ＢＰＭＣ記憶部２０４は、例えば、不揮発性メモリであり、ＢＰＭＣ２０での処理に用いる様々なファームウェア（ＢＰＭＣファームウェア）２０４１を格納する。
【００２９】
ＳＭＢｕｓ処理部２０２は、ＢＭＣ１８から要求を受信したり、サンプリング処理部２０１によって抽出されたＳＭＡＲＴ情報１２３をＢＭＣ１８に対して送信する。
【００３０】
ＲＡＭ２０３は、ＤＤＭＲ（ドライブデータモードレジスタ；Drive Data Mode Register）２１１，ＤＴＤＲ（ドライブ温度データレジスタ；Drive Temperature Data Register）２１２を備える。さらに、ＲＡＭ２０３は、ＳＬＤＲ（ＳＳＤＲ寿命データレジスタ；SSD Lifetime Data Register）２１３を備える。
【００３１】
ＤＤＭＲ２１１は、サンプリング処理部２０１によるサンプリングの開始や終了等のサンプリング処理の実行状態に関する情報を格納する。図３の（ａ）は、本実施形態に係るＤＤＭＲ２１１のレジスタフォーマットを例示する図である。この図３の（ａ）に示すように、ＤＤＭＲ２１１は、第０ビット（Ｂｉｔ）に“ＳＴＡＲＴ”、第１ビットに“ＣＭＰＬ”、及び、第２〜第７ビットに“Ｒｅｓｅｒｖｅｄ”のフィールド（Ｆｉｅｌｄ）を備える。“ＳＴＡＲＴ”のフィールドは“ＤＤＭＲ．ＳＴＡＲＴ”とも表され、“ＣＭＰＬ”のフィールドは“ＤＤＭＲ．ＣＭＰＬ”とも表される。
【００３２】
図３の（ｂ）は、本実施形態に係るＤＤＭＲ２１１のビット構成を例示する図である。この図３の（ｂ）に示す例においては、“ＳＴＡＲＴ”のフィールドは、サンプリングが開始可能な状態であるか、又は、実行中であるかを示すもので、“０”又は“１”が設定される（書き込まれる）。“ＳＴＡＲＴ”のフィールドに“０”が設定されていると、サンプリングが開始可能な状態であることを示し、“ＳＴＡＲＴ”のフィールドに“１”が設定されていると、サンプリングの実行中であることを示す。したがって“ＳＴＡＲＴ”のフィールドに“１”が書き込まれると、サンプリングが開始されることになる。“ＣＭＰＬ”のフィールドは、サンプリング完了状態を示すもので、“０”又は“１”が設定される。“ＣＭＰＬ”のフィールドに“０”が設定されていると、サンプリングが完了していない状態であることを示す。したがって、“ＳＴＡＲＴ”のフィールドに“１”が書き込まれると、サンプリングが開始されることになるので、“ＣＭＰＬ”のフィールドには“０”が設定（ゼロクリア）される。また、“ＣＭＰＬ”のフィールドに“１”が設定されていると、サンプリングが完了している状態であることを示す。例えば、サンプリングが完了すると“ＣＭＰＬ” のフィールドに“１”が設定されると共に、例えばＤＤＭＲが読み出されるときに“ＳＴＡＲＴ”のフィールドに“０”が設定される。そして、本実施形態において、“Ｒｅｓｅｒｖｅｄ”のフィールドは予備的な領域（予約ビット）として用いられ、“０”が設定（“０”としてリード）されるものとする。
【００３３】
本実施形態では、ＢＭＣ１８が管理者からＳＭＡＲＴ情報１２３の取得要求を受けると、ＢＭＣ１８が、ＢＰＭＣ２０に備えられるＤＤＭＲ２１１の“ＳＴＡＲＴ”のフィールドの値に“１”を書き込むものとする。また、本実施形態では、ＤＤＭＲ２１１の“ＣＭＰＬ”のフィールドの値は、ＢＰＭＣ２０によって書き込まれるものとする。
【００３４】
ＤＴＤＲ２１２は、ＳＭＡＲＴ情報１２３に含まれるＳＳＤ１２の温度情報を格納する。図４の（ａ）は、本実施形態に係るＤＴＤＲ２１２のレジスタフォーマットを例示する図である。この図４の（ａ）に示すように、ＤＴＤＲ２１２は、第０〜第６ビット（Ｂｉｔ）に“ＤＴＤ”、及び、第７ビットに“Ｒｅｓｅｒｖｅｄ”のフィールド（Ｆｉｅｌｄ）を備える。
【００３５】
図４の（ｂ）は、本実施形態に係るＤＴＤＲ２１２のビット構成を例示する図である。この図４の（ｂ）に示す例においては、“ＤＴＤ”のフィールドには、ＳＳＤ１２の温度情報（０〜１００℃）が７ビットで格納される。この“ＤＴＤ”のフィールドは“ＤＴＤＲ．ＤＴＤ”とも表される。また、本実施形態において、“Ｒｅｓｅｒｖｅｄ”のフィールドは、予備的な領域として用いられ、“０”が設定されるものとする。
【００３６】
ＳＬＤＲ２１３は、ＳＭＡＲＴ情報１２３に含まれるＳＳＤ１２の寿命情報を格納する。図５の（ａ）は、本実施形態に係るＳＬＤＲ２１３のレジスタフォーマットを例示する図である。この図５の（ａ）に示すように、ＳＬＤＲ２１３は、第０〜第６ビット（Ｂｉｔ）に“ＳＬＤ”、及び、第７ビットに“Ｒｅｓｅｒｖｅｄ”のフィールド（Ｆｉｅｌｄ）を備える。
【００３７】
図５の（ｂ）は、本実施形態に係るＳＬＤＲ２１３のビット構成を例示する図である。この図５の（ｂ）に示す例においては、“ＳＬＤ”のフィールドには、ＳＳＤ１２の寿命情報（０〜１００％）が７ビットで格納される。この“ＳＬＤ”のフィールドは“ＳＬＤＲ．ＳＬＤ”とも表される。また、本実施形態において、“Ｒｅｓｅｒｖｅｄ”のフィールドは、予備的な領域として用いられ、“０”が設定されるものとする。
【００３８】
〔１−２〕一実施形態に係る情報処理システムにおけるＳＳＤの機能構成例、及びＢＰＭＣの機能構成例
図６は、図１に示すサーバ１におけるＳＳＤ１２の機能構成を例示するブロック図であり、図７は、図１、及び図２に示すＢＰＭＣ２０の機能構成を例示するブロック図である。
【００３９】
図６に示すように、本実施形態に係るＳＳＤ１２のコントローラ１２１は、例示的に、ＳＭＡＲＴ情報取得部１３１、第１アクティビティシグナル生成部１３２、波形合成部１３３、及び第２アクティビティシグナル出力部１３４を備えてよい。
【００４０】
ＳＭＡＲＴ情報取得部１３１は、ＳＳＤ１２のメモリ１２２に格納されるＳＭＡＲＴ情報１２３を取得する。本実施形態では、ＳＭＡＲＴ情報取得部１３１は、一例として、ＳＭＡＲＴ情報１２３としてＳＳＤ１２の寿命と温度とに関する情報を取得するものとする。
【００４１】
第１アクティビティシグナル生成部１３２は、アクセスＬＥＤ２１をダイナミック（Dynamic）点灯させるためのアクティビティシグナルを生成する。この第１アクティビティシグナル生成部１３２によって生成されたアクティビティシグナルを、第１アクティビティシグナル（第１の信号）ともよぶ。この第１アクティビティシグナルは、ＳＳＤ１２のメモリ１２２へのアクセス状態、すなわち、ＳＳＤ１２の駆動状態を示すものである。ダイナミック点灯方式とは、５０Ｈｚ以上の周波数でアクセスＬＥＤ２１を点灯させることにより、人間の目にはちらつき（点滅）を認識させずに、アクセスＬＥＤ２１を高速に点滅させるための方式である。本実施形態において、第１アクティビティシグナル生成部１３２は、５０Ｈｚ以上の周波数で第１アクティビティシグナルを生成するものであり、例えば、１００Ｈｚ〜数ｋＨｚの周波数を備えるアクティビティシグナルを生成するものとする。なお、第１アクティビティシグナル生成部１３２において、デフォルトでアクセスＬＥＤ２１をスタティック（Static）点灯させる設定となっている場合には、アクセスＬＥＤ２１をダイナミック点灯させるように設定を変更するものとする。
【００４２】
波形合成部１３３は、第１アクティビティシグナル生成部１３２によって生成された第１アクティビティシグナルと、ＳＭＡＲＴ情報取得部１３１によって取得されたＳＭＡＲＴ情報１２３の内容に対応付けて定めた制御信号とを合成する。この波形合成部１３３によって合成された信号を第２アクティビティシグナル（第２の信号）ともよぶ。すなわち、この第２アクティビティシグナルは、ＳＭＡＲＴ情報１２３としての、ＳＳＤ１２に関する診断結果や監視結果を重畳したものである。なお、波形合成部１３３による信号の合成手法については後述する。
【００４３】
第２アクティビティシグナル出力部１３４は、波形合成部１３３によって合成された信号を、第２アクティビティシグナルとして、バックプレーン１７のＢＰＭＣ２０に対して送信する。第２アクティビティシグナル出力部１３４によって送信された第２アクティビティシグナルは、ＢＰＭＣ２０を介してアクセスＬＥＤ２１に送信されて、アクセスＬＥＤ２１の点灯が制御されると共に、ＢＰＭＣ２０においてＳＭＡＲＴ情報１２３が抽出される。
【００４４】
次に、図７を用いて、上述したＳＳＤ１２の第２アクティビティシグナル出力部１３４からＢＰＭＣ２０に送信された第２アクティビティシグナルを処理するために、ＢＰＭＣ２０が備える機能について説明する。
【００４５】
ここで図７に示すように、本実施形態に係るＢＰＭＣ２０は、例示的に、第２アクティビティシグナル受信部２２１、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２、及びＳＭＡＲＴ情報出力部２２３を備えてよい。
【００４６】
第２アクティビティシグナル受信部２２１は、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１が備える第２アクティビティシグナル出力部１３４よって出力される第２アクティビティシグナルを受信する。
【００４７】
ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、受信した第２アクティビティシグナルを解析して、ＳＳＤ１２のＳＭＡＲＴ情報１２３を取得する。具体的には、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、第２アクティビティシグナルに対してサンプリングを行ない、ＳＭＡＲＴ情報１２３を抽出する。本実施形態では、一例として、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、ＳＭＡＲＴ情報１２３としてＳＳＤ１２の寿命と温度とに関する情報を抽出するものとする。なお、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、後述の如く、図示しない、ＢＰＭＣ２０上のクロック発生部において生成される内部クロック（基準クロック信号）を用いてサンプリングを行なうものとする。
【００４８】
ＳＭＡＲＴ情報出力部２２３は、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２によって抽出されたＳＭＡＲＴ情報１２３をＢＭＣ１８に出力（送信）する。
【００４９】
本実施形態における上述のサーバ１において、ＳＳＤ１２の管理のため、管理者がＳＳＤ１２の状態に関する情報、すなわち、ＳＭＡＲＴ情報１２３を取得するまでの処理を、図８に示すフローチャート（ステップＳ１〜Ｓ７）に従って説明する。
【００５０】
管理者は、管理ＬＡＮポート１９にコンピュータを接続し、当該コンピュータ上で例えばウェブブラウザからＢＭＣ１８にアクセスして、ＳＳＤ１２のＳＭＡＲＴ情報１２３の取得を要求する（ステップＳ１）。ＢＭＣ１８は、ウェブインタフェースを介してこの管理者の要求を受信し、受信した管理者の要求をＢＰＭＣ２０に送信する（ステップＳ２）。ＢＰＭＣ２０は、ＢＭＣ１８から管理者の要求を受信する（ステップＳ３）。そして、ＢＰＭＣ２０は、第２アクティビティシグナル受信部２２１において、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１によって送信される第２アクティビティシグナルを受信する（ステップＳ４）。ＢＰＭＣ２０は、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２において、第２アクティビティシグナル受信部２２１が受信した第２アクティビティシグナルからＳＭＡＲＴ情報１２３を抽出する（ステップＳ５）。そして、ＢＰＭＣ２０は、ＳＭＡＲＴ情報出力部２２３において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２が抽出したＳＭＡＲＴ情報１２３を、ＢＭＣ１８に送信する（ステップＳ６）。ＢＭＣ１８は、ＢＰＭＣ２０から受信したＳＭＡＲＴ情報１２３を、ウェブインタフェースを介して管理者に送信（提示）し（ステップＳ７）、処理が完了する。
【００５１】
図８に示す上記ステップＳ１〜Ｓ７の処理を経て、管理者は、ウェブブラウザ上でＳＳＤ１２の状態に関する情報としてＳＭＡＲＴ情報１２３を確認することができる。これにより、本実施形態においては、図１に示すように、ＳＳＤ１２の管理のために、監視ソフトウェア１０５１を利用する必要がなくなる。したがって、管理者は、監視ソフトウェア１０５１と、クライアントが構築したサーバ１のＯＳとの互換性を考慮する必要がなくなる。
【００５２】
〔１−３〕一実施形態に係るサーバにおける第２アクティビティシグナルの生成処理
実施形態の一例として、サーバ１が備えるＳＳＤ１２において、第２アクティビティシグナルを生成する処理について説明する。
【００５３】
図１６は、アクセスＬＥＤ２１をスタティック点灯させるためのアクティビティシグナルを比較例として示したものである。スタティック点灯方式とは、アクセスＬＥＤ２１に常時電流をかけ続けるという点灯方式であり、このスタティック点灯方式においても、ＳＳＤ１２によって生成されたアクティビティシグナルが、アクセスＬＥＤ２１のスタティック点灯を実現（制御）している。この図１６に示す、比較例に係るアクティビティシグナルは、ＳＳＤ１２の電源が投入されており、ディスクアクセスがある場合の信号である。図１６に示すように、比較例に係るアクティビティシグナルは、２．５〜４Ｈｚの周波数のパルス信号を備え、アクセスＬＥＤ２１の点灯を制御する。この点灯制御により、アクセスＬＥＤ２１は、２．５〜４Ｈｚの周波数で点滅することになる。
【００５４】
図９は、本実施形態において、アクセスＬＥＤ２１をダイナミック点灯させるための第１アクティビティシグナルの信号を示したものである。上述したように、ダイナミック点灯方式とは、５０Ｈｚ以上の周波数でアクセスＬＥＤ２１を点灯させる方式であり、本実施形態では、一例として、１００Ｈｚ〜数ｋＨｚの周波数を備える第１アクティビティシグナルを生成するものとする。この図９に示すように、アクセスＬＥＤ２１をダイナミック点灯させるための第１アクティビティシグナルは、波形の一部を拡大してみると、１００Ｈｚ〜数ｋＨｚの周波数を備えていることがわかる。本実施形態では、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１が備える第１アクティビティシグナル生成部１３２が、図９に示すような１００Ｈｚ〜数ｋＨｚの周波数を備える第１アクティビティシグナルを生成するものとする。
【００５５】
図１０は、第１アクティビティシグナルと、ＳＳＤ１２の寿命情報（寿命）を示す制御信号とを合成して、後述する第２アクティビティシグナルを生成する処理を例示したものである。本実施形態では、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１が備える波形合成部１３３が、第１アクティビティシグナル（図９参照）とＳＳＤ１２の寿命情報を示す制御信号とを合成する処理を行なう。具体的にまず、波形合成部１３３は、基準周波数を１００Ｈｚとして、ＳＳＤ１２の寿命情報（０〜１００％）を１０Ｈｚ刻みに割り当てることにより、ＳＳＤ１２の寿命情報をパルス波形で表現した制御信号で表現するものとする。この刻みの値を、刻み単位ともよぶ。図１０に示すように、例えば、ＳＳＤ１２の寿命が７０％である場合、波形合成部１３３は、以下の式（１）を用いて算出した周波数のパルス波形で制御信号（ＳＳＤ１２の寿命情報）を表現する。
【００５６】
制御信号（ＳＳＤ１２の寿命情報）の周波数[Ｈｚ]＝基準周波数[Ｈｚ]＋ＳＳＤ１２の寿命[％]×１０[Ｈｚ]    （１）
【００５７】
図１０に示す例では、基準周波数は１００Ｈｚであるから、上記式（１）を用いると、１００[Ｈｚ]＋７０[％] ×１０[Ｈｚ]＝８００[Ｈｚ]となり、ＳＳＤ１２の寿命情報を８００Ｈｚの周波数のパルス波形で表現することになる。
【００５８】
上記式（１）において、ＳＳＤ１２の寿命情報は、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１が備えるＳＭＡＲＴ情報取得部１３１が、メモリ１２２にアクセスして取得するものとする。なお、本実施形態において、基準周波数を１００Ｈｚとし、ＳＳＤ１２の寿命を１０倍したものを基準周波数に加算するものとしてＳＳＤ１２の寿命情報をパルス波形で表現したが、計算式はこれに限られない。例えば、基準周波数は１００Ｈｚ以外の値であってもよく、また、刻み単位は１０Ｈｚ以外の値であってもよい。
【００５９】
本実施形態では、波形合成部１３３が、上記のような手順によりＳＳＤ１２の寿命情報をパルス波形で表現した制御信号を生成した後、図１０に示すように、この寿命情報を表現する制御信号と第１アクティビティシグナルとを合成する。この合成された信号を第２アクティビティシグナルともいう。第２アクティビティシグナルにおいては、第１アクティビティシグナルのＨｉｇｈの部分にＳＳＤ１２の寿命情報をパルス波形で表現した制御信号が重畳している。
【００６０】
ＳＳＤ１２のコントローラ１２１が備える第２アクティビティシグナル出力部１３４は、波形合成部１３３によって生成された第２アクティビティシグナルを、ＢＰＭＣ２０とアクセスＬＥＤ２１とに出力する。これにより、ＳＳＤ１２から、ＢＰＭＣ２０とアクセスＬＥＤ２１とに出力される信号の中に、第１アクティビティシグナルだけでなく、ＳＭＡＲＴ情報１２３としてのＳＳＤ１２の寿命情報を含めることができる。アクセスＬＥＤ２１は、寿命情報を表現する制御信号を合成した第２アクティビティシグナルに制御されて点灯することになるが、ダイナミック点灯されていることに変わりはない。以上のような機能を備えるＳＳＤ１２は、人間の目には気づかれない範囲でＳＳＤ１２の寿命情報をＢＰＭＣ２０等に送信することができる。第２アクティビティシグナルには、ＳＳＤ１２の寿命情報が人間の目には点滅を認識させない周波数で合成されている。
【００６１】
〔１−４〕一実施形態に係るサーバにおけるサンプリング処理
実施形態の一例として、サーバ１のＢＰＭＣ２０において行われるサンプリング（解析）処理について説明する。
【００６２】
図１１は、本実施形態において、第２アクティビティシグナルをサンプリングする処理を示したものである。上述したように、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１が備える第２アクティビティシグナル出力部１３４は、ＢＰＭＣ２０に対して第２アクティビティシグナルを送信する。ＢＰＭＣ２０の第２アクティビティシグナル受信部２２１は、この第２アクティビティシグナルを受信する。
【００６３】
図１１に示すように、ＢＰＭＣ２０側で、図示しないクロック発生部によって生成される内部クロックの周波数（例えば、１００ｋＨｚとする）を用いてサンプリング処理を行なうことで、第２アクティビティシグナルに合成されたＳＳＤ１２の寿命情報を抽出する。このサンプリングの処理は、図７に示した、ＢＰＭＣ２０が備えるＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２によって行なわれる。
【００６４】
以下に、本実施形態における、サンプリングの具体的手法について説明する。ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、第２アクティビティシグナルがＬｏｗからＨｉｇｈに変化する点から、次に第２アクティビティシグナルがＬｏｗからＨｉｇｈに変化する点までの内部クロックをカウントする。これにより、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、第２アクティビティシグナルの１サイクル分の内部クロックをカウントすることになる。そして、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、このカウントされた値（カウント値）を用いて、以下の式（２）を用いて第２アクティビティシグナルの周波数を求める。
【００６５】
第２アクティビティシグナルの周波数[Ｈｚ]＝内部クロックの周波数[Ｈｚ]÷カウント値    （２）
【００６６】
図１１に示す例では、カウント値は１２５になり、内部クロックの周波数が１００ｋＨｚであることから、上記式（２）を用いると、１００ｋ[Ｈｚ]÷１２５＝８００[Ｈｚ]となり、第２アクティビティシグナルの周波数は８００Ｈｚであることが算出される。そして、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、この算出した第２アクティビティシグナルの周波数を用いて、前述の式（１）を逆算することで、ＳＳＤ１２の寿命を算出する。すなわち、以下の式（３）を用いて、ＳＳＤ１２の寿命を算出する。
【００６７】
ＳＳＤ１２の寿命（％）＝（第２アクティビティシグナルの周波数[Ｈｚ]−基準周波数[Ｈｚ]）÷刻み単位[Ｈｚ]    （３）
【００６８】
式（３）において、第２アクティビティシグナルの周波数には、上記式（２）を用いて算出された値（８００Ｈｚ）を代入することになる。そして、本実施形態では、ＳＳＤ１２の寿命情報（０〜１００％）を１０Ｈｚ刻みに割り当てることにより、ＳＳＤ１２の寿命情報をパルス波形で表現していることから、刻み単位は１０Ｈｚとなる。上記式（３）を用いると、（８００[Ｈｚ]−１００[Ｈｚ]）÷１０＝７０％となり、ＳＳＤ１２の寿命が７０％であることが求められる。
【００６９】
〔１−５〕効果
上述のように、本実施形態のサーバ１においては、管理者は、管理ＬＡＮポート１９にコンピュータを接続し、例えば、ウェブブラウザからＢＭＣ１８にアクセスして、ＳＳＤ１２のＳＭＡＲＴ情報（保守情報）１２３を容易に把握できる。これにより、例えば、ベアメタルクラウドサービスにてクライアントが自身の環境（ＯＳ）を構築し、管理者がシステムＬＡＮポート１６を利用不可能な場合でも、管理者はＳＳＤ１２の保守情報を容易に把握することができる。さらに、本実施形態のサーバ１においては、波形合成部１３３が、第１アクティビティシグナルとＳＭＡＲＴ情報１２３の内容に対応付けて定めた制御信号とを合成することで、既存の第１アクティビティシグナルの信号線を利用できる。したがって、ＳＳＤ１２の寿命や温度等の情報を専用のポートや端子を必要とせず出力することができる。また、ＢＰＭＣ２０側でも同様に、ＳＳＤ１２の寿命や温度等の情報を専用のポートや端子を必要とせずに容易に把握することができる。
【００７０】
〔２〕実施形態の変形例
上記図１０，図１１では、ＳＳＤ１２側で、第１アクティビティシグナルとＳＳＤ１２の寿命情報を示す制御信号とを合成して第２アクティビティシグナルを生成し、ＢＰＭＣ２０側で、第２アクティビティシグナルからＳＳＤ１２の寿命情報を抽出する処理について説明した。なお、ＳＳＤ１２の寿命情報を抽出する手法についてはこれに限られない。実施形態の変形例では、ＳＳＤ１２側で、第１アクティビティシグナルと、ＳＳＤ１２の寿命情報だけでなく温度情報を示す制御信号とを合成し、ＢＰＭＣ２０側で第２アクティビティシグナルからＳＳＤ１２の寿命情報と温度情報とを抽出する処理を説明する。本変形例では、ＳＳＤ１２側で、第１アクティビティシグナルに対して、ＳＳＤ１２の寿命情報又は温度情報を示す制御信号を重畳した信号を第２アクティビティシグナルとよぶものとする。
【００７１】
〔２−１〕変形例に係るサーバにおけるＳＳＤの寿命情報と温度情報とを示す制御信号の合成処理
図１２は、変形例としての第１アクティビティシグナルと、ＳＳＤ１２の寿命情報を示す制御信号とを合成した制御信号を例示する図である。また、図１３は、変形例としての第１アクティビティシグナルと、ＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号とを合成した制御信号を例示する図である。
【００７２】
本変形例では、ＳＳＤ１２の寿命情報又は温度情報示す制御信号を重畳した第２アクティビティシグナルからＳＳＤ１２の寿命情報又は温度情報を抽出するため、寿命情報と温度情報とを区別して抽出可能な形で第１アクティビティシグナルに重畳する必要がある。そこで、本変形例において、波形合成部１３３は、ＳＳＤ１２の寿命情報と温度情報とを、それぞれ、異なるＤｕｔｙ比（デューティ比）の制御信号を用いて第１アクティビティシグナルに重畳する（図１２，図１３参照）。ここで、ＳＳＤ１２の寿命情報を示す制御信号を重畳する場合のＤｕｔｙ比を第１のＤｕｔｙ比とよび、ＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号を重畳する場合のＤｕｔｙ比を第２のＤｕｔｙ比とよぶ。例えば、第１アクティビティシグナルにＳＳＤ１２の寿命情報を示す制御信号を重畳する場合には、第２アクティビティシグナルを第１のＤｕｔｙ比のパルス波形の制御信号とする（図１２参照）。また、第１アクティビティシグナルにＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号を重畳する場合には、第２アクティビティシグナルを第２のＤｕｔｙ比のパルス波形の制御信号とする（図１３参照）。
【００７３】
本変形例において、第１アクティビティシグナルと、ＳＳＤ１２の寿命情報を示す制御信号とを合成する処理について、図１２を用いて説明する。この図１２に示すように、ＳＳＤ１２の寿命情報については、一例として、第１のＤｕｔｙ比を３５％とし、第１アクティビティシグナルに対して、ＳＳＤ１２の寿命情報を示す制御信号を重畳するものとする。
【００７４】
本変形例において、第１アクティビティシグナルと、ＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号とを合成する処理について図１３を用いて説明する。この図１３に示すように、ＳＳＤ１２の温度情報については、一例として、第２のＤｕｔｙ比を６５％とし、第１アクティビティシグナルに対して、ＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号を重畳するものとする。
【００７５】
なお、ＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号を重畳する際、一実施形態における合成処理同様、基準周波数を１００ＨｚとしてＳＳＤ１２の温度（０〜１００℃）に関する情報を１０Ｈｚ刻み単位で割り当て、ＳＳＤ１２の温度情報を制御信号で表現するものとする。一例として、ＳＳＤ１２の温度が７０℃であった場合、図１０（ＳＳＤ１２の寿命が７０％であった場合の合成処理）と同様の合成処理を行なうことになる。したがって、第１アクティビティシグナルとＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号とを合成した信号（第２アクティビティシグナル）は、図１０に示すようなものとなる。
【００７６】
〔２−２〕変形例に係るサーバにおけるサンプリング処理
本変形例では、第１アクティビティシグナルに対し、図１２，図１３のように、２種類の情報（寿命情報と温度情報）のいずれかを示す制御信号を重畳した信号（第２アクティビティシグナル）から、ＳＳＤ１２の寿命情報又は温度情報を抽出する。そのために、ＢＰＭＣ２０のＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、内部クロックを用いて、１サイクルを構成するＨｉｇｈとＬｏｗとのカウント値をそれぞれ求める。ここで、ＳＳＤ１２の温度情報を抽出する場合を例にとり、説明する。
【００７７】
ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、ＳＳＤ１２側で生成した第２アクティビティシグナルからＳＳＤ１２の温度情報を抽出する処理を行なう。上述したとおり、ＳＳＤ１２側では図１０に示したような第２アクティビティシグナルを生成する。ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、この第２アクティビティシグナルの１サイクル中のＨｉｇｈとＬｏｗとのカウント値を計数する。本変形例ではＤｕｔｙ比を６５％とし第１アクティビティシグナルとＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号とを合成しているから、Ｈｉｇｈのカウント値は１２５[回]×０．６５≒８１[回]となり、Ｌｏｗのカウント値は１２５[回]×０．３５≒４４[回]となる。ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、以下の式（４）を用いて、第２アクティビティシグナルの周波数を求める。
【００７８】
第２アクティビティシグナルの周波数[Ｈｚ]＝内部クロックの周波数[Ｈｚ]÷（Ｈｉｇｈのカウント値＋Ｌｏｗのカウント値）    （４）
【００７９】
図１３に示す例では、内部クロックの周波数は１００ｋＨｚであり、Ｈｉｇｈのカウント値は８１[回]であり、Ｌｏｗのカウント値は４４[回]である。そこで、上記式（４）を用いると、１００ｋ[Ｈｚ]÷（８１＋４４）＝８００[Ｈｚ]となり、第２アクティビティシグナルの周波数は８００Ｈｚであることが求められる。そして、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、以下の式（５）を用いて、ＳＳＤ１２の温度を算出する。
【００８０】
ＳＳＤ１２の温度（℃）＝（第２アクティビティシグナルの周波数[Ｈｚ]−基準周波数[Ｈｚ]）÷刻み単位[Ｈｚ]    （５）
【００８１】
上記式（５）において、第２アクティビティシグナルの周波数には、上記式（４）を用いて算出された値（８００Ｈｚ）を代入する。そして、本変形例では、ＳＳＤ１２の温度情報（０〜１００℃）を１０Ｈｚ刻みに割り当てることにより、ＳＳＤ１２の温度情報をパルス波形で表現していることから、刻み単位は１０Ｈｚとなる。上記式（５）を用いると、（８００[Ｈｚ]−１００[Ｈｚ]）÷１０＝７０℃となり、ＳＳＤ１２の温度が７０℃であることが求められる。
【００８２】
〔２−３〕変形例に係るサーバにおける第２アクティビティシグナルからの情報抽出処理
図１４は、変形例としてのサーバ１における第２アクティビティシグナルからのＳＳＤ１２の寿命情報と温度情報とを抽出する処理を説明するためのフローチャートである。
【００８３】
この図１４に示すフローチャート（ステップＴ１〜Ｔ１５）に従い、本変形例のＢＰＭＣ２０において、第２アクティビティシグナルからＳＳＤ１２の寿命情報と温度情報とを抽出する処理を説明する。図１４に示す処理の前に、ＳＳＤ１２のコントローラ１２１の波形合成部１３３において、基準周波数を１００Ｈｚとし、第１アクティビティシグナルに対してＳＳＤ１２の寿命情報又は温度情報を１０Ｈｚ刻みに割り当てる。そして、波形合成部１３３は、寿命情報又は温度情報を示す制御信号を重畳した第２アクティビティシグナルを生成する。本変形例において、ＳＳＤ１２の波形合成部１３３において、ＳＳＤ１２の寿命情報を示す制御信号を重畳した第２アクティビティシグナルについては、１サイクルのＤｕｔｙ比（第１のＤｕｔｙ比）を３５％とするものとする。また、ＳＳＤ１２の波形合成部１３３において、ＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号を重畳した第２アクティビティシグナルについては、１サイクルのＤｕｔｙ比（第２のＤｕｔｙ比）を６５％とするものとする。
【００８４】
ステップＴ１において、ＢＰＭＣ２０のＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、ＤＤＭＲ２１１の“ＳＴＡＲＴ”のフィールド（“ＤＤＭＲ．ＳＴＡＲＴ”）の値が“１”であるか否かを判別する。“ＳＴＡＲＴ”のフィールドの値が“１”である場合には（ステップＴ１のＹＥＳルート参照）、処理がステップＴ２に進む。一方、“ＳＴＡＲＴ”のフィールドの値が“１”でない場合には（ステップＴ１のＮｏルート参照）、処理がステップＴ１に戻る。これは、図１４に示す情報抽出の処理が、管理者からＢＭＣ１８に対してＳＳＤ１２に関するＳＭＡＲＴ情報１２３の取得を要求してはじめて開始される。そして、ＢＭＣ１８は、当該要求を受信すると、ＢＰＭＣ２０に備えられるＤＤＭＲ２１１の“ＳＴＡＲＴ”のフィールドの値に“１”を書き込むためである。
【００８５】
続くステップＴ２では、ＢＰＭＣ２０において、ＤＤＭＲ２１１の“ＣＭＰＬ”のフィールドの値がゼロクリアされる。すなわち、“ＤＤＭＲ．ＣＭＰＬ”の値に“０”が設定される。同時に、第２アクティビティシグナル受信部２２１は、ＳＳＤ１２の第２アクティビティシグナル出力部１３４によって送信されるＳＭＡＲＴ情報１２３を取得する。
【００８６】
続くステップＴ３において、ＢＰＭＣ２０のＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、入力される内部クロックの周波数（１００ｋＨｚ）を用いて、第２アクティビティシグナルのサンプリングを開始する。
【００８７】
続くステップＴ４において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、第２アクティビティシグナルがＬｏｗからＨｉｇｈに変化する点を検出する。第２アクティビティシグナルにおける、ＬｏｗからＨｉｇｈへの変化を検出した回数が０回の場合には（ステップＴ４の０回ルート参照）、ステップＴ３の処理に戻り、ＬｏｗからＨｉｇｈへの変化を検出するまでこの処理を繰り返す。第２アクティビティシグナルにおける、ＬｏｗからＨｉｇｈへの変化を検出した回数が１回の場合には（ステップＴ４の１回ルート参照）、処理がステップＴ５に進む。また、第２アクティビティシグナルにおける、ＬｏｗからＨｉｇｈへの変化を検出した回数が２回の場合には（ステップＴ４の２回ルート参照）、処理がステップＴ８に進む。
【００８８】
ステップＴ４での処理の結果、ＬｏｗからＨｉｇｈへの変化の検出回数が１回の場合、ステップＴ５で、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、入力される内部クロックがＨｉｇｈになるタイミング毎に、第２アクティビティシグナルがＬｏｗかＨｉｇｈかを判別する。第２アクティビティシグナルがＬｏｗであると判別された場合（ステップＴ５のＹｅｓルート参照）、処理がステップＴ６に進む。一方、第２アクティビティシグナルがＨｉｇｈであると判別された場合（ステップＴ５のＮｏルート参照）、処理がステップＴ７に進む。
【００８９】
ステップＴ６において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、Ｌｏｗの回数をカウントアップ、すなわち、Ｌｏｗのカウント値をインクリメントする。そして、処理がステップＴ１４に進む。
【００９０】
ステップＴ７において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、Ｈｉｇｈの回数をカウントアップする。すなわち、Ｈｉｇｈのカウント値をインクリメントする。そして、処理がステップＴ１４に進む。
【００９１】
ステップＴ１４において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、ＳＳＤ１２の寿命情報と温度情報との両方が抽出できたか否かを判別し、両方の情報を抽出できた場合には（ステップＴ１４のＹｅｓルート参照）、処理がステップＴ１５に進む。一方、両方の情報を抽出できていない場合には（ステップＴ１４のＮｏルート参照）、処理がステップＴ４に戻る。つまりＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、ＳＳＤ１２の寿命情報と温度情報との両方が抽出されるまで、第２アクティビティシグナルの１サイクルにおけるＬｏｗのカウント値の算出（ステップＴ６）、又は、Ｈｉｇｈのカウント値の算出（ステップＴ７）を繰り返す。
【００９２】
このようにして、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、ステップＴ４，Ｔ５〜Ｔ７，Ｔ１４の処理を内部クロックが入力される毎に実行し、第２アクティビティシグナルにおけるＬｏｗからＨｉｇｈへの変化を次に検出（２回検出）するまでこれらの処理を繰り返す。
【００９３】
ステップＴ４における処理の結果、ＬｏｗからＨｉｇｈへの変化の検出回数が２回の場合、１サイクル分のＬｏｗとＨｉｇｈとのカウント値を求めたことになる。ステップＴ８において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、Ｌｏｗのカウント値とＨｉｇｈのカウント値とを、以下の式（６）を用いて比較する。以下の式（６）では、Ｈｉｇｈのカウント値を、Ｌｏｗのカウント値とＨｉｇｈのカウント値との和で除算することから、この除算により求められた値は、Ｄｕｔｙ比（又はＤｕｔｙ比に近しい値）となる。
【００９４】
Ｄｕｔｙ比（％）＝Ｈｉｇｈのカウント値（回）÷（Ｌｏｗのカウント値（回）＋Ｈｉｇｈのカウント値（回））×１００    （６）
【００９５】
例えば、１サイクルにおけるＨｉｇｈのカウント値が１１６であり、Ｌｏｗのカウント値が２１６であった場合を例にとると、上記式（６）において、１１６÷（２１６＋１１６）×１００≒３５となり、上記式（６）により得られるＤｕｔｙ比は３５％となる。
【００９６】
上述したように、本変形例では、一例として、ＳＳＤ１２の寿命情報のＤｕｔｙ比を３５％とし、ＳＳＤ１２の温度情報のＤｕｔｙ比を６５％とした。そこで、ステップＴ８で、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、上記式（６）より求められた値が５０％未満の場合には（ステップＴ８の５０％未満ルート参照）、第２アクティビティシグナルに重畳されているのは寿命情報であると判別し、処理がステップＴ９に進む。上述した例では、上記式（６）により得られたＤｕｔｙ比は３５％であるから、処理がステップＴ９に進む。なお、本変形例では、ステップＴ８において、上記式（６）より求められた値が５０％未満であるか、又は、５０％以上であるかによって、重畳された情報が温度情報であるか寿命情報であるかを判別するが、判別方法はこれに限られない。
【００９７】
続くステップＴ９において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、上記式（４），（５）を用いて、ＳＳＤ１２の寿命情報を抽出する。上述の例のように、１サイクルにおけるＨｉｇｈのカウント値が１１６で、Ｌｏｗのカウント値が２１６であった場合、上記式（４）を用いると、内部クロックの周波数は１００ｋＨｚであるから、１００ｋ[Ｈｚ]÷（１１６＋２１６）≒３０１[Ｈｚ]となる。したがって、第２アクティビティシグナルの周波数が３０１Ｈｚであることが求められる。次に式（５）を用いると、第２アクティビティシグナルの周波数には、式（４）による結果（３０１Ｈｚ）を代入し、刻み単位は１０Ｈｚであるから、（３０１[Ｈｚ]−１００[Ｈｚ]）÷１０≒２０[％]となり、ＳＳＤ１２の寿命が２０％であると算出される。
【００９８】
続くステップＴ１０において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、ステップＴ９において抽出されたＳＳＤ１２の寿命情報を、ＳＬＤＲ２１３の“ＳＬＤ”のフィールド（“ＳＬＤＲ．ＳＬＤ”）に７ビットで格納する。上述の例では、抽出されたＳＳＤ１２の寿命が２０％であるという情報を“ＳＬＤＲ．ＳＬＤ”に格納する。そして、処理がステップＴ１３に進む。
【００９９】
一方、ステップＴ８での処理の結果、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、上記式（６）より求められたＤｕｔｙ比が５０％以上の場合（ステップＴ８の５０％以上ルート参照）、第２アクティビティシグナルに重畳されているのは温度情報であると判断する。そして、処理がステップＴ１１に進む。
【０１００】
一例として、Ｈｉｇｈのカウント値が１３０であり、Ｌｏｗのカウント値が７０であった場合、上記式（６）を用いると、１３０÷（７０＋１３０）×１００＝６５となり、上記式（６）により得られるＤｕｔｙ比は６５％となる。この例では、ステップＴ８において、Ｄｕｔｙ比は５０％以上である、すなわち、重畳されているのはＳＳＤ１２の温度情報であると判断され、処理がステップＴ１１に進む。
【０１０１】
続くステップＴ１１において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、上記式（４），（５）を用いて、ＳＳＤ１２の温度情報を抽出する。上述の例のように、１サイクルにおけるＨｉｇｈのカウント値が１３０であり、Ｌｏｗのカウント値が７０であった場合、上記式（４）を用いると内部クロックの周波数は１００ｋＨｚであるから、１００ｋ[Ｈｚ]÷（１３０＋７０）＝５００[Ｈｚ]となる。これにより、第２アクティビティシグナルの周波数は５００Ｈｚであることが求められる。次に式（５）を用いると、第２アクティビティシグナルの周波数には上記式（４）による結果（５００Ｈｚ）を代入し、刻み単位は１０Ｈｚであるから、（５００[Ｈｚ]−１００[Ｈｚ]）÷１０＝４０[℃]となりＳＳＤ１２の温度が４０℃であると算出される。
【０１０２】
続くステップＴ１２において、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、ステップＴ１１において抽出されたＳＳＤ１２の温度情報を、ＤＴＤＲ２１２の“ＤＴＤ”のフィールド（“ＤＴＤＲ．ＤＴＤ”）に７ビットで格納する。上述の例では、抽出されたＳＳＤ１２の温度が４０℃であるという情報を“ＤＴＤＲ．ＤＴＤ”に格納する。そして、処理がステップＴ１３に進む。
【０１０３】
続くステップＴ１３において、第２アクティビティシグナルのＬｏｗからＨｉｇｈへの変化を検出した回数、Ｈｉｇｈのカウント値、及びＬｏｗのカウント値をそれぞれ“０”にリセット（クリア）する。これにより、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２が、ＳＳＤ１２の温度情報と寿命情報とのいずれかしか抽出できていない場合にも、第２アクティビティシグナルにおける次の１サイクルにおいて、いずれか未抽出の情報を得るための処理を容易に開始できる。
【０１０４】
以上のステップＴ１〜Ｔ１４の処理を経てステップＴ１５に進むと、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、ＤＤＭＲ２１１の“ＳＴＡＲＴ”のフィールド（“ＤＤＭＲ．ＳＴＡＲＴ”）に“０”を書き込む。これは、サンプリングが開始可能な状態であることを示すために行われる。さらに、ＳＭＡＲＴ情報抽出部２２２は、“ＳＴＡＲＴ”の“ＣＭＰＬ”のフィールド（“ＤＤＭＲ．ＣＭＰＬ”）に“１”を書き込む。これは、サンプリングが完了したこと示すために行われる。
【０１０５】
〔２−４〕効果
上述のように、本変形例のサーバ１では、ＳＳＤ１２側でＳＭＡＲＴ情報１２３として格納される情報のうち、寿命情報だけでなく温度情報についても、それぞれにＤｕｔｙ比を変えて重畳することにより、複数の情報を１つの信号に重畳して表現することができる。これにより、寿命情報や温度情報に限らず、ＳＭＡＲＴ情報１２３として格納される複数の情報を重畳することが可能となる。したがって、管理者は、ＳＭＡＲＴ情報１２３として格納される情報のうち、必要な複数の情報を容易に把握することができる。
【０１０６】
〔３〕その他
上述した一実施形態及び変形例に係る技術は、以下のように変形、変更して実施することができる。
【０１０７】
上述した変形例では、管理者は、ＳＭＡＲＴ情報１２３として、ＳＳＤ１２の温度情報と、ＳＳＤ１２の寿命情報とを取得するものとしたが、管理者が取得し得るＳＭＡＲＴ情報１２３は温度情報と寿命情報とに限られない。
【０１０８】
上述した変形例では、波形合成部１３３は、ＳＳＤ１２の寿命情報と温度情報とを示す制御信号を、それぞれ異なるＤｕｔｙ比で第１アクティビティシグナルと合成したが、合成の方法はこれに限られない。例えば、第１アクティビティシグナルにＳＳＤ１２の温度情報を示す制御信号のみを重畳し、Ｄｕｔｙ比の値にＳＳＤ１２の寿命情報を含めることにより、１つの重畳させた信号のみを用いて寿命情報と温度情報とを表現するものとしてもよい。
【０１０９】
上述した一実施形態及び変形例では、第２アクティビティシグナルを用いてアクセスＬＥＤ２１を制御するものとしたが、この第２アクティビティシグナルを用いてフォルトＬＥＤ２２を制御するものとしてもよい。
【０１１０】
〔４〕付記
以上の実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【０１１１】
（付記１）
１つ以上の記憶装置、及び前記記憶装置を監視制御する制御装置を備える情報処理システムにおいて、
前記記憶装置は、
前記記憶装置の駆動状態を示す第１の信号を生成する第１信号生成部と、
前記第１の信号と当該記憶装置に関する１つ以上の保守情報に対応付けられた制御信号とを合成して第２の信号を生成する第２信号生成部と、
を備え、
前記制御装置は、前記第２の信号を解析して、前記記憶装置に関する１つ以上の前記保守情報を取得する取得部、を備える、
ことを特徴とする情報処理システム。
【０１１２】
（付記２）
前記第２信号生成部は、複数の前記保守情報を、前記保守情報のそれぞれに設定されたデューティ比を用い制御信号を生成して前記第１の信号と合成し、
前記取得部は、前記第２の信号からデューティ比を算出し、前記算出したデューティ比に基づき１つ以上の前記保守情報を取得する、
ことを特徴とする、付記１記載の情報処理システム。
【０１１３】
（付記３）
前記保守情報は、前記記憶装置の寿命に関する情報、及び、前記記憶装置の温度に関する情報、のうちの少なくともいずれかの情報を含む、
ことを特徴とする、付記１記載の情報処理システム。
【０１１４】
（付記４）
記憶装置を監視制御する制御装置において、
前記記憶装置の駆動状態を示す第１の信号と前記記憶装置に関する１つ以上の保守情報に対応付けられた制御信号とが合成された信号である第２の信号から、前記記憶装置に関する１つ以上の保守情報を取得する取得部を備え、
前記取得部は、所定周波数の基準クロック信号を用いて演算を行なうことで前記第２の信号を解析して、前記保守情報を取得する、
ことを特徴とする制御装置。
【０１１５】
（付記５）
前記取得部は、前記第２の信号からデューティ比を算出し、前記算出したデューティ比に基づき１つ以上の前記保守情報を取得する、
ことを特徴とする、付記４記載の制御装置。
【０１１６】
（付記６）
前記保守情報は、前記記憶装置の寿命に関する情報、及び、前記記憶装置の温度に関する情報、のうちの少なくともいずれかの情報を含む、
ことを特徴とする、付記４記載の制御装置。
【０１１７】
（付記７）
記憶装置の駆動状態を示す第１の信号を生成する第１信号生成部と、
前記第１の信号と自装置に関する１つ以上の保守情報に対応付けられた制御信号とを合成して第２の信号を生成する第２信号生成部と、
を備える、
ことを特徴とする記憶装置。
【０１１８】
（付記８）
前記第２信号生成部は、複数の前記保守情報を、前記保守情報のそれぞれに設定されたデューティ比を用い制御信号を生成して前記第１の信号と合成する、
ことを特徴とする、付記７記載の記憶装置。
【０１１９】
（付記９）
前記保守情報は、前記記憶装置の寿命に関する情報、及び、前記記憶装置の温度に関する情報、のうちの少なくともいずれかの情報を含む、
ことを特徴とする、付記７記載の記憶装置。
【符号の説明】
【０１２０】
１    サーバ（情報処理システム）
１２    ＳＳＤ（記憶装置）
１３    Ｉ／Ｏコントローラ
１４    ＣＰＵ
１５    記憶部
１６    システムＬＡＮポート
１７    バックプレーン
１８    ＢＭＣ
１９    管理ＬＡＮポート
２０    ＢＰＭＣ（制御装置）
２１    アクセスＬＥＤ
２２    フォルトＬＥＤ
２３    コネクタ
１２３    ＳＭＡＲＴ情報
１２１    コントローラ
１２２    メモリ
１３１    ＳＭＡＲＴ情報取得部
１３２    第１アクティビティシグナル生成部（第１信号生成部）
１３３    波形合成部（第２信号生成部）
１３４    第２アクティビティシグナル出力部
２０１    サンプリング処理部
２０２    ＳＭＢｕｓ処理部
２０３    ＲＡＭ
２０４    ＢＰＭＣ記憶部
２１１    ＤＤＭＲ
２１２    ＤＴＤＲ
２１３    ＳＬＤＲ
２２１    第２アクティビティシグナル受信部
２２２    ＳＭＡＲＴ情報抽出部（取得部）
２２３    ＳＭＡＲＴ情報出力部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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