(57)【要約】【課題】本発明は、ＣＺ法（チョクラルスキー法）により単結晶を引き上げるシリコン単結晶の製造方法において、製品に用いることができない非製品部分を削減し、シリコン単結晶の歩留まりを向上させることができるシリコン単結晶の製造方法を提供することを目的とする。【解決手段】ＣＺ法によるシリコン単結晶の製造方法であって、直胴部の形成は、直胴非製品部を形成する工程とそれに続く直胴製品部を形成する工程とを含み、直胴非製品部の形成開始時の直胴非製品部の直径をＤ’とし、直胴製品部の目標直径をＤとしたときに、直胴非製品部の形成開始時の直胴非製品部の直径Ｄ’が０．９Ｄ≦Ｄ’≦０．９５Ｄとなるようにし、直胴非製品部の直径をＤ’から直胴製品部の目標直径Ｄへと拡径し、直胴非製品部の直径が直胴製品部の目標直径Ｄに達した後に、直胴製品部の直径を目標直径Ｄに一定として引き上げることを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。【選択図】  図１
2019142745.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ルツボ内の原料を溶融した原料融液から種結晶を引き上げ、ネック部、拡径部、直胴部を順に形成し、単結晶を引き上げるチョクラルスキー法によるシリコン単結晶の製造方法であって、
前記直胴部の形成は、直胴非製品部を形成する工程とそれに続く直胴製品部を形成する工程とを含み、
前記直胴非製品部の形成開始時の前記直胴非製品部の直径をＤ’とし、
前記直胴製品部の目標直径をＤとしたときに、
前記直胴非製品部の形成開始時の前記直胴非製品部の直径Ｄ’が０．９Ｄ≦Ｄ’≦０．９５Ｄとなるようにし、
前記直胴非製品部を形成する工程において、前記直胴非製品部の直径をＤ’から前記直胴製品部の目標直径Ｄへと拡径し、
前記直胴非製品部の直径が前記直胴製品部の目標直径Ｄに達した後に、前記直胴製品部の形成を開始し、
前記直胴製品部を形成する工程において、前記直胴製品部の直径を目標直径Ｄに一定として引き上げることを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。
【請求項２】
前記拡径部の形成において、
前記種結晶の引き上げ速度及び前記原料融液の温度をシリコン単結晶の製造開始前に予め設定し、
前記拡径部の直径を制御しながら育成することを特徴とする請求項１に記載のシリコン単結晶の製造方法。
【請求項３】
前記拡径部の形成において、
前記種結晶をシードチャックにより保持し、
前記シードチャックを支持しているワイヤーの上方にロードセルを備え、
前記ロードセルにより拡径部の重量変化率を検出し、
前記拡径部の重量変化率が狙い値となるように前記種結晶の引上げ速度および原料融液の温度を調整し、
前記拡径部の直径を制御しながら育成することを特徴とする請求項１または請求項２に記載のシリコン単結晶の製造方法。
【請求項４】
前記直胴非製品部の形成において、
前記直胴非製品部の直径を検出し、
該検出の結果に基づいて前記種結晶の引き上げ速度の調整または前記原料融液の温度調整を行い、
前記直胴非製品部の直径を制御することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のシリコン単結晶の製造方法。
【請求項５】
前記直胴製品部の形成において、
前記直胴製品部の直径を検出し、
該検出の結果に基づいて前記種結晶の引き上げ速度の調整または前記原料融液の温度調整を行い、
前記直胴製品部の直径を制御することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載のシリコン単結晶の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シリコン単結晶をＣＺ法（チョクラルスキー法）により育成するシリコン単結晶の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、例えばシリコン単結晶を製造する場合、図３に示すようなシリコン多結晶原料を溶融した原料融液６に種結晶３を浸漬した後、これを引き上げてシリコン単結晶５を成長させるＣＺ法（チョクラルスキー法）と呼ばれる引上法が知られている。
【０００３】
この方法では、溶融原料を黒鉛ルツボ８に保持された石英ルツボ内７に収容し、黒鉛ヒーター９によって加熱して原料を溶融した後、ワイヤーに吊るされたシードチャック４によって保持された種結晶３を原料融液６に浸漬し、種結晶３および石英ルツボ７を回転させながら種結晶３を上方へ引き上げることでシリコン単結晶５を成長させるようにしている。
【０００４】
シリコン単結晶の育成では、図２に示すように種結晶の引上げに伴い、種結晶から直径を細く絞ったネック部５２ａ、ネック部５２ａから径を増加させる拡径部５２ｂ、そして引上げ速度の急激な上昇などによりシリコン成長方向を垂直に向ける肩部５２ｃ、目標直径で引上げを行いかつ製品部を含む直胴部５２ｅ、直径を逐次減少させるテール部５２ｆから構成される。また、ＣＺ法では肩部５２ｃの形成時にて目標直径になるようにシリコン単結晶の直径の制御を行い、狙いとする結晶品質を得るために直胴部５２ｅの形成終了まで目標直径を保つ、もしくは直胴部５２ｅの形成後半に向けて直径を拡径もしくは縮径してテーパーとする、という手法が用いられている。しかし、該手法では、直胴部５２ｅの形成開始直後は結晶と原料融液との界面の形状や引上げ速度が急激に変化することに起因する欠陥分布や酸素濃度の変化により、製品の狙いとする結晶品質を得ることが出来ず、製品が取得できるのは直胴部５２ｅの形成開始から一定領域の製品に用いることができない非製品部分５２ｄの下の部分となることが多い。
【０００５】
上記の問題点から、直胴部５２ｅの形成開始（肩部５２ｃの形成終了）から製品に用いることができる製品部分５２ｈまでの該当領域は狙いとする結晶品質とならず、製品に用いることができない非製品部分５２ｄとなるため、廃棄されるかリサイクルされることになり歩留り低下の原因の一つとなっている。
【０００６】
また、特許文献１では、比抵抗が０．０２Ωｃｍ以下のシリコン単結晶を対象として、拡径部の直径が目標直径の８０％に達した位置から直胴長さの１０％の長さまでの区間において、該区間の引上げ速度を直胴部の目標引上げ速度（０．４〜０．８ｍｍ／ｍｉｎ）を超え、かつ最大引上げ速度１．４ｍｍ／ｍｉｎ以下に設定することを提案している。この提案は肩部の張り出しを防ぎつつ、引上げ速度を適正化することで肩部での転位を抑制することを目的としている。この提案において、結晶固液界面の不安定化、および、引上げ速度の目標値までの未達により前記最大引上げ速度時点からある程度の領域は製品に用いることができない非製品部分となることが推測されるが、最大引上げ速度に達した時点から製品に用いることができる製品部分形成開始までの直径は指定されておらず、課題である直胴部の歩留り向上には寄与していない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１０−１３２４９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上記問題を解決すべく本発明は、ＣＺ法（チョクラルスキー法）により単結晶を引き上げるシリコン単結晶の製造方法において、直胴部形成開始から直胴製品部形成開始までの直胴非製品部の直径を小さくすることで、シリコン単結晶の歩留まりを向上させることができるシリコン単結晶の製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明は、ルツボ内の原料を溶融した原料融液から種結晶を引き上げ、ネック部、拡径部、直胴部を順に形成し、単結晶を引き上げるチョクラルスキー法によるシリコン単結晶の製造方法であって、前記直胴部の形成は、直胴非製品部を形成する工程とそれに続く直胴製品部を形成する工程とを含み、前記直胴非製品部の形成開始時の前記直胴非製品部の直径をＤ’とし、前記直胴製品部の目標直径をＤとしたときに、前記直胴非製品部の形成開始時の前記直胴非製品部の直径Ｄ’が０．９Ｄ≦Ｄ’≦０．９５Ｄとなるようにし、前記直胴非製品部を形成する工程において、前記直胴非製品部の直径をＤ’から前記直胴製品部の目標直径Ｄへと拡径し、前記直胴非製品部の直径が前記直胴製品部の目標直径Ｄに達した後に、前記直胴製品部の形成を開始し、前記直胴製品部を形成する工程において、前記直胴製品部の直径を目標直径Ｄに一定として引き上げることを特徴とするシリコン単結晶の製造方法を提供する。
【００１０】
このように、直胴非製品部の形成開始時の前記直胴非製品部の直径Ｄ’が直胴製品部の目標直径Ｄに対して０．９Ｄ≦Ｄ’≦０．９５Ｄとなるようにし、直胴非製品部の直径を小さくすることで、シリコン単結晶の歩留りの向上を計ることができる。
【００１１】
このとき、前記拡径部の形成において、前記種結晶の引き上げ速度及び前記原料融液の温度をシリコン単結晶の製造開始前に予め設定し、前記拡径部の直径を制御しながら育成することが好ましい。
【００１２】
このようなシリコン単結晶の製造方法であれば、拡径部の直径を制御することで、直胴非製品部の形成開始時の直胴非製品部の直径を容易に制御することができる。
【００１３】
またこのとき、前記拡径部の形成において、前記種結晶をシードチャックにより保持し、前記シードチャックを支持しているワイヤーの上方にロードセルを備え、前記ロードセルにより拡径部の重量変化率を検出し、前記拡径部の重量変化率が狙い値となるように前記種結晶の引上げ速度および原料融液の温度を調整し、前記拡径部の直径を制御しながら育成することが好ましい。
【００１４】
このようなシリコン単結晶の製造方法であれば、拡径部の重量変化率を検出することで、より正確に直胴非製品部の形成開始時の直胴非製品部の直径を制御することができる。
【００１５】
またこのとき、前記直胴非製品部の形成において、前記直胴非製品部の直径を検出し、
該検出の結果に基づいて前記種結晶の引き上げ速度の調整または前記原料融液の温度調整を行い、前記直胴非製品部の直径を制御することが好ましい。
【００１６】
このようなシリコン単結晶の製造方法であれば、直胴非製品部の直径を検出することで、直胴非製品部の形成時の直胴非製品部の直径を制御することができる。
【００１７】
またこのとき、前記直胴製品部の形成において、前記直胴製品部の直径を検出し、該検出の結果に基づいて前記種結晶の引き上げ速度の調整または前記原料融液の温度調整を行い、前記直胴製品部の直径を制御することが好ましい。
【００１８】
このようなシリコン単結晶の製造方法であれば、直胴製品部の直径を検出することで、直胴製品部の形成時の直胴製品部の直径を制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明のシリコン単結晶の育成方法により育成されるシリコン単結晶の模式図である。
【図２】従来のシリコン単結晶の育成方法により育成されるシリコン単結晶の模式図である。
【図３】本発明のシリコン単結晶の育成方法にて用いることができる単結晶引上装置の一例を示した概略図である。
【図４】本発明のシリコン単結晶の育成方法における直胴非製品部の形成開始直後の結晶固液界面形状の概念図である。
【図５】本発明のシリコン単結晶の育成方法における直胴製品部での結晶固液界面形状の概念図である。
【図６】従来のシリコン単結晶の育成方法における拡径部形成直後の結晶固液界面形状の概念図である。
【図７】従来のシリコン単結晶の育成方法における直胴部での結晶固液界面形状の概念図である。
【図８】本発明の実施例１における、直胴部の形成開始から直胴製品部の形成開始までの直径の推移を示すグラフである。
【図９】比較例２における、直胴部の形成開始から直胴製品部の形成開始までの直径の推移を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明について実施の形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
前述の図３に示されるシリコン単結晶引上げ装置は、メインチャンバー１内に収納される黒鉛ルツボ８に保持された石英ルツボ７内に原料（シリコン多結晶）を収容し、黒鉛ヒーター９によって加熱して石英ルツボ７内のシリコン多結晶を溶融した後、ワイヤーに吊るされたシードチャック４によって保持された種結晶３を原料融液６に浸漬し、種結晶３および石英ルツボ７を回転させながら種結晶３を上方へ引き上げることでシリコン単結晶５を成長させるようにしている。そして、図３の装置では、育成シリコン単結晶５への輻射熱を遮断するため、トップチャンバー１３から垂下するガスパージ筒１４の下端に熱遮蔽部材１５を有するとともに、上部に冷却筒１６を具備し、育成シリコン単結晶５を冷却できるようになっている。
【００２１】
そして、従来、図２に示すようにシリコン単結晶５２は、種結晶３２の引上げに伴い、種結晶３２から直径を細く絞り無転位化を目的とするネック部５２ａ、ネック部５２aから径を増加させる拡径部５２ｂ、そして引上げ速度の急激な上昇などによりシリコン成長方向を斜め下方向から垂直方向に変化させる肩部５２ｃ、目標直径で引上げを行いかつ製品部を含む直胴部５２ｅ、直径を逐次減少させるテール部５２ｆから構成される。しかし、前記手法では、直胴開始直後は結晶と原料融液との界面の形状や引上げ速度が急激に変化することによる欠陥分布や酸素濃度の変化により、製品の狙い品質を得ることが出来ず、製品が取得できるのは直胴開始から任意の長さを持った製品に用いることができない非製品部分５２ｄの下の部分となっていた。
【００２２】
これに対して、本発明では、図１に示すように種結晶３１を引上げ、種結晶３１から直径を細く絞り無転位化するネック部５１ａ、ネック部５１ａから径を増加させる拡径部５１ｂを形成した後に、直胴非製品部５１ｄ’と直胴製品部５１ｈとからなる直胴部５１ｅを形成し、テール部５１ｆで直径を逐次減少させシリコン単結晶５１を形成させる。
【００２３】
そして、本発明では図１に示すように、直胴非製品部５１ｄ’の形成開始時の直胴非製品部５１ｄ’の直径Ｄ’を直胴製品部５１ｈの目標直径Ｄよりも細く引き上げ、直胴非製品部５１ｄ’の直径を直胴製品部の目標直径Ｄより細くし、直胴製品部５１ｈに至る前までに直径をＤまで拡径することで、直胴非製品部５１ｄ’の重量を減らし、ＣＺ法（チョクラルスキー法）におけるシリコン単結晶の歩留りを向上することを目的とする。
【００２４】
ここで、従来のシリコン単結晶の製造方法におけるシリコン単結晶と原料融液との固液界面の変化について説明を行う。図６に示すように、拡径部５２ｂでは、成長方向が斜め下方向であるため、成長面が斜め上を向いている。そのため、冷却筒１６への輻射熱による結晶冷却の効果は結晶中心部分も強くなり、拡径部５２ｂから製品に用いることができない非製品部分５２ｄまでの結晶固液界面５２ｇは図６に示すように強い下凸形状となる。それに対し、図２、図３に示すように肩部５２ｃで結晶成長方向が斜め下から垂直方向に変化した後の直胴部５２ｅでは、直胴部５２ｅを目標直径に一定とするため、冷却筒１６への輻射熱による結晶冷却効果は結晶側面部分が強くなり、直胴部５２ｅでの結晶固液界面５２ｇは図７に示すような上凸形状もしくは弱い下凸形状に大きく変化する。このように、直胴部の形成開始直後は結晶固液界面５２ｇの形状が大きく変化してしまい、直胴部の形成開始からある程度の範囲で欠陥分布や酸素濃度が狙いとする結晶品質に満たないために製品に用いることができない非製品部分５２ｄが発生してしまう。
【００２５】
次に、肩部５２ｃから直胴部５２eの形成前半までの引上げ速度について説明する。肩部５２ｃでは、シリコン単結晶の成長方向を斜め下方向から垂直方向に変化させるため、引上げ速度を急激に上昇させている。そして、直胴部に移行した際には、狙いとする結晶品質を得るための狙い直胴引上げ速度まで引上げ速度を落とす必要があるが、急激に狙い直胴引上げ速度まで低下させると直径が大きくなり過ぎてしまい適正な形状を保つことが難しくなってしまう。そのため、徐々に引上げ速度を下げていく必要があるが、狙い引上げ速度に達するまでの範囲は、高密度の欠陥が発生し製品として使用できない場合もある。上記の問題により直胴開始からある程度の範囲で欠陥分布が狙いとする結晶品質にならないために製品に用いることができない非製品部分５２ｄが発生してしまう。
【００２６】
本発明のシリコン単結晶の製造方法におけるシリコン単結晶と原料融液との固液界面は、図４に示すように、拡径部５１ｂから直胴非製品部５１ｄ’の形成開始までの結晶固液界面５１ｇでは、従来のシリコン単結晶の製造方法と同様、強い下凸形状となる。そして、シリコン単結晶の直径がＤ’に達し、直胴非製品部５１ｄ’の形成を開始してからは、シリコン単結晶の直径をＤ’から直胴製品部の目標直径Ｄへゆっくりと拡径するため、直胴部での結晶固液界面５１ｇは強い下凸形状から上凸形状もしくは弱い下凸形状に大きく変化する。そして、直胴非製品部５１ｄ’の形成後の直胴製品部５１ｈの形成工程においては、結晶固液界面５１ｇが、図５に示すような上凸形状もしくは弱い下凸形状に安定し、狙いとする結晶品質を得ることができるようになる。本発明のシリコン単結晶の製造方法により、図４、５に示すように、直胴非製品部５１ｄ’の直径が小さい分、直胴非製品部５１ｄ’の質量を減らすことが可能となる。さらに、肩部５２ｃに達する前に引き上げ速度や原料融液温度の調整により結晶固液界面形状を変化させることができるので結晶固液界面が下凸形状から上凸形状もしくは弱い下凸形状に変化して安定するまで比較的短時間で行うことができる。その結果、直胴非製品部５１ｄ’の長さを従来の方法より若干短くすることも期待できる。
【００２７】
この時、直胴非製品部５１ｄ’の形成開始時の直胴非製品部の直径Ｄ’の範囲は０．９Ｄ≦Ｄ’≦０．９５Ｄとする。ここで、Ｄ’の範囲を０．９Ｄ未満とした場合、直径増大率（直径増加量［ｍｍ］／直胴部の長さの増加量［ｍｍ］）が大き過ぎて、目標直径Ｄに達した後も直径の増加が止まらず張り出しが発生してしまう可能性がある。それを防ぐために目標直径Ｄに達した直後に引上げ速度を増大させると、その上昇させた引上げ速度が狙い直胴引上げ速度に落ち着くまで、高密度の欠陥が発生し、狙いとする製品品質が得られなくなってしまう。またＤ’の範囲を０．９５Ｄより大きいとした場合は、直胴非製品部５１ｄ’の質量を減らす効果が小さくなってしまう。そのため、直胴非製品部５１ｄ’の形成開始時の直胴非製品部５１ｄ’の直径Ｄ’を０．９Ｄ≦Ｄ’≦０．９５Ｄとすることが望ましい。
【００２８】
ここで、本発明のシリコン単結晶の製造方法における拡径部５１ｂの育成においては、種結晶の引上げ速度および黒鉛ヒーター９により制御された原料融液６の温度を予め設定することで狙い直径に保つ方法、もしくは図３のように種結晶３を保持するシードチャックを支持しているワイヤーの上方に備えられたロードセル１８によって拡径部５１ｂの重量変化率を検出し、重量変化率が狙い値となるように引上げ速度および原料融液の温度を調整して、重量変化率から算出される直径変化率が狙い値となるよう拡径部直径を制御する方法のいずれかが好ましい。
【００２９】
次に、直胴非製品部５１ｄ’の育成および直胴製品部５１ｈの育成においては、例えば、単結晶引上装置に備えられた直径検出カメラ１７により出力される直径データにより直径を検出し、この検出結果に基づく引上げ速度調整もしくは原料融液６の温度調整を行い、直胴部５１ｅの直径を制御する方法が好ましい。この際、直胴部５１ｅの直径の検出方法は直径検出カメラ１７に限られず、直径を検出できる方法であれば良い。
【実施例】
【００３０】
以下、実施例及び比較例を示して、本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
【００３１】
（実施例１）
直胴製品部の目標直径Ｄは３０６ｍｍ、直胴非製品部の形成開始時の直胴非製品部の直径（直胴開始時直径）Ｄ’は２９０ｍｍとし、２０本の単結晶を引き上げた。
拡径部５１ｂの直径制御は、予め設定された引上げ速度および原料融液の温度に従うことで狙い直径に保つ方法を用いており、直胴非製品部５１ｄ’および直胴製品部５１ｈの直径制御は、単結晶引上装置に備えられた直径検出カメラにより出力される直径データにより、種結晶の引上げ速度調整及び黒鉛ヒーターによる原料融液の温度調整をすることで、直胴非製品部の直径をＤ’からＤに拡大し、直胴製品部ではＤが一定となるように、直胴直径を制御した。
【００３２】
（実施例２）
直胴非製品部の形成開始時の直胴非製品部の直径Ｄ’を２８０ｍｍとした以外は、全て実施例１と同じ条件で実施した。
【００３３】
（比較例１）
直胴非製品部の形成開始時の直胴非製品部の直径Ｄ’を、目標直径Ｄと同様３０６ｍｍとした以外は、全て実施例１と同じ条件で実施した。
【００３４】
（比較例２）
直胴非製品部の形成開始時の直胴非製品部の直径Ｄ’を２４５ｍｍとした以外は、全て実施例１と同じ条件で実施した。
【００３５】
実施例および比較例に係る単結晶引上の引き上げ条件を表１に、直胴非製品部の形成開始時の直胴非製品部の直径Ｄ’とその条件で引き上げたときの直胴非製品部５１ｄ’の質量、および無転位化率を表２に示す。
また、実施例１の直胴非製品部５１ｄ’から直胴製品部５１ｈに至るまでの実直径および、設定直径の推移を図８に示し、比較例２の直胴非製品部５１ｄ’から直胴製品部５１ｈに至るまでの実直径および、設定直径の推移を図９に示す。
【００３６】
【表１】
2019142745.tif 000003
【００３７】
【表２】
2019142745.tif 000004
【００３８】
表２から、実施例１の直胴開始時直径Ｄ’＝２９０ｍｍ（Ｄ’≒０．９５Ｄ）の際には、直胴非製品部の平均重量は４０．２ｋｇとなり、比較例１よりも直胴非製品部の平均重量が２．６ｋｇ軽くなった。
【００３９】
次に、実施例２の直胴開始時直径Ｄ’＝２８０ｍｍ（Ｄ’≒０．９２Ｄ）の際には、直胴非製品部の平均重量は３８．２ｋｇとなり、比較例１よりも直胴非製品部の平均重量が４．６ｋｇ軽くなった。
【００４０】
さらに、比較例２の直胴開始時直径Ｄ’＝２４５ｍｍ（Ｄ’≒０．８Ｄ）の際には、直胴非製品部の平均重量は４１．１ｋｇとなり、比較例１よりも直胴非製品部の平均重量が１．７ｋｇ軽くなった。
【００４１】
また、無転位化率は実施例１、２および比較例２と比較例１に差異はほぼ無かった。これらの結果から、直胴開始時直径Ｄ’が０．９Ｄ≦Ｄ’≦０．９５Ｄの範囲内では直胴非製品部５１ｄ’の重量が減り歩留り向上に寄与しており、また無転位化率に差異がないことが分かる。特に、実施例１、２では直胴製品部開始長さが比較例１と比較して短くなるため、直胴非製品部の平均重量が小さくなり、シリコン単結晶の歩留りをより一層向上させることができた。
【００４２】
また、直径制御に関しては、図８に示すように実施例１では設定直径に対して、実直径が大きく乖離することなく推移していることが分かる。また、図９に示すように比較例２では直胴開始から直胴目標直径Ｄに達するまでの直径増大率が大き過ぎて目標直径Ｄに達した後も実直径が増大し続けてしまい、直胴製品部までに直胴目標直径Ｄに戻すことが難しいことが分かる。
【００４３】
これらの結果から、直胴開始時直径Ｄ’を０．９Ｄ≦Ｄ’≦０．９５Ｄの範囲内とすると、直径制御性を損なわず合理化に寄与することが示される。
【００４４】
このことから本発明における拡径部５１ｂ、直胴非製品部５１ｄ’および直胴製品部５１ｈの直径制御手法が妥当であることが示される。
【００４５】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
【符号の説明】
【００４６】
１…メインチャンバー、  ３、３１、３２…種結晶、  ４…シードチャック、
５、５１、５２…シリコン単結晶、
５１ａ、５２ａ…ネック部、  ５１ｂ、５２ｂ…拡径部、  ５２ｃ…肩部、
５１ｄ’…直胴非製品部、  ５２ｄ…製品に用いることができない非製品部分、
５１ｅ、５２ｅ…直胴部、  ５１ｆ、５２ｆ…テール部、
５１ｈ…直胴製品部、  ５２ｈ…製品に用いることができる製品部分、
６…原料融液、  ７…石英ルツボ、  ８…黒鉛ルツボ、  ９…黒鉛ヒーター、
１３…トップチャンバー、  １４…ガスパージ筒、  １５…熱遮蔽部材、
１６…冷却筒、  １７…直径検出カメラ、  １８…ロードセル。
【図１】
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【図２】
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【図３】
2019142745.tif 000007
【図４】
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【図５】
2019142745.tif 000009
【図６】
2019142745.tif 000010
【図７】
2019142745.tif 000011
【図８】
2019142745.tif 000012
【図９】
2019142745.tif 000013