(57)【要約】【課題】成形品の欠損を客観的に正確に検査できると共に容易に検査できる検査装置を提供すること。【解決手段】検査装置１は、載置台３０と、発光部４１、及び受光部４２を有する光学センサ４０を備える。載置台３０は、上面が平面で構成される平板部３２、及び平板部３２から離れるにしたがって該上面に対してＺ方向の上側に傾斜し、平板部３２と一体に構成される傾斜部３３,３４を有する。傾斜部３３,３４は、平板部３２から離れた側、及びＺ方向の両側が開口する凹部を有する。Ｚ方向から見たときの平面視において、凹部の縁は、Ｕ字状の形状を有する。エルボ８６が載置台３０に載置されていない状態で、発光部４１から発せられた光のうちでその光の光軸上を進行する光が、凹部の少なくとも一部、及び上記上面の上側を通過し、受光部４２で受光される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
成形品の欠損を検査する検査装置であって、
前記成形品を載置する載置台と、
光を発する発光部、及び光を受ける受光部を有する光学センサと、を備え、
前記載置台は、上面が平面で構成される平板部、及び平板部の縁部から前記平板部に対して離れる方向に延在して、前記平板部から離れるにしたがって前記上面に対して高さ方向の上側に傾斜すると共に、前記平板部と一体に構成される傾斜部を有し、
前記傾斜部は、前記平板部から離れた側、及び前記高さ方向の両側が開口する凹部を有し、
前記高さ方向から見たときの平面視において、前記凹部の縁は、Ｕ字状の形状を有し、
前記成形品が前記載置台に載置されていない状態で、前記発光部から発せられた光のうちでその光の光軸上を進行する光が、前記凹部の少なくとも一部、及び前記上面の上側を通過し、前記受光部で受光される、成形品の検査装置。
【請求項２】
前記平板部は、前記平面視において略平行に配置される一対の縁を有する平板で構成され、
前記傾斜部は、前記一対の縁に含まれる一方の前記縁から、前記平板部から離れる方向に延在して、前記平板部から離れるにしたがって前記上面に対して上側に傾斜する第１傾斜部と、前記一対の縁に含まれる他方の前記縁から、前記平板部から離れる方向に延在し、前記平板部から離れるにしたがって前記上面に対して上側に傾斜する第２傾斜部と、を有する、請求項１に記載の成形品の検査装置。
【請求項３】
台座と、
前記台座の上側に配置されて前記台座によって支えられ、スペーサを介して前記載置台を支えるセンサ取付板と、を備え、
前記発光部と、前記受光部は、前記載置台を挟むように前記センサ取付板に設置される、請求項１又は２に記載の成形品の検査装置。
【請求項４】
前記センサ取付板を前記台座に対して前記高さ方向に移動可能に固定し、前記高さ方向に伸縮可能な弾性を有するばね部材を含む固定構造を備える、請求項３に記載の成形品の検査装置。
【請求項５】
前記スペーサが弾性を有する、請求項３又は４に記載の成形品の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、成形品の検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、特許文献１に記載されているように、成形品としては、射出成形で形成されるエルボがある。エルボは、曲がり部を有する樹脂製の継手部材であり、雨樋の曲がり部等に配置される。エルボを射出成形で形成する際、材料が金型に隙間なく充填されずに、エルボの接続部に切欠状の欠損が生じることがある。欠損がエルボに生じたか否かは、例えば、検査員の目視で検査される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−１２７３７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
検査員の目視による検査は、検査員に体力的な負担を強いる。また、検査員の目視による検査は、その正確性が検査員の体調等に左右される。よって、成形品の欠損を、目視によらず正確かつ容易に検査できると好ましい。
【０００５】
そこで、本開示の目的は、成形品の欠損を客観的に正確に検査できると共に容易に検査できる成形品の検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、本開示に係る成形品の検査装置は、成形品の欠損を検査する検査装置であって、成形品を載置する載置台と、光を発する発光部、及び光を受ける受光部を有する光学センサと、を備え、載置台は、上面が平面で構成される平板部、及び平板部の縁部から平板部に対して離れる方向に延在して、平板部から離れるにしたがって上面に対して高さ方向の上側に傾斜すると共に、平板部と一体に構成される傾斜部を有し、傾斜部は、平板部から離れた側、及び高さ方向の両側が開口する凹部を有し、凹部は、高さ方向から見たときの平面視において縁がＵ字状の形状を有し、成形品が載置台に載置されていない状態で、発光部から発せられた光のうちでその光の光軸上を進行する光が、凹部の少なくとも一部、及び上面の上側を通過し、受光部で受光される。
【発明の効果】
【０００７】
本開示に係る成形品の検査装置によれば、成形品の欠損を客観的に正確に検査できると共に容易に検査できる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】成形品の一例としてのエルボを検査している最中の本開示の一実施形態に係る検査装置を側方から見たときの側面図である。
【図２】上記検査装置を、上側から見たときの平面図である。
【図３】上記検査装置の載置台の構造について説明するための図であり、（ａ）は、載置台を上側から見たときの平面図であり、（ｂ）は、載置台を側方から見たときの側面図である。
【図４】成形品が載置台に載置されていない状態における固定構造の周辺領域の模式断面図である。
【図５】欠損が生じたエルボの斜視図である。
【図６】（ａ）は、平板部を有さない参考例の載置台と、その載置台に載置されたエルボを側方から見たときの模式図であり、（ｂ）は、本開示に係る検査装置の載置台と、その載置台に載置されたエルボを側方から見たときの模式図である。
【図７】エルボに欠損が存在している場合における、欠損発生領域の外周部のＹ方向位置と、入光率の関係を表す図である。
【図８】エルボに欠損が存在している場合における、欠損発生領域の外周部のＸ方向位置と、入光率の関係を表す図である。
【図９】エルボに欠損が存在している場合における、載置台の平板部に対するエルボの傾斜角θと、入光率の関係を表す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下に、本開示に係る実施の形態について添付図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下において複数の実施形態や変形例などが含まれる場合、それらの特徴部分を適宜に組み合わせて新たな実施形態を構築することは当初から想定されている。また、以下の説明及び図面において、Ｘ方向は、以下で説明する光学センサ４０の発光部４１から出射される光の光軸Ｌの延在方向である。また、Ｙ方向は、Ｘ方向と、本開示の成形品の検査装置（以下、単に、検査装置という）１の高さ方向の両方に直交する方向であり、Ｚ方向は、検査装置１の高さ方向である。Ｘ方向、Ｙ方向、及びＺ方向は、互いに直交する。また、本明細書において、高さに関係する文言、例えば、上側、上方、下側、下方、水平方向、水平面等が、用いられたとき、その文言は、検査装置１が水平面に載置されている状態で表現されている。また、検査装置１で検査される成形品は、射出成形に限らず、例えば、圧縮成形、カレンダー成形、押出成形、ブロー成形、又は真空成形等で形成されてもよい。
【００１０】
図１は、成形品の一例としてのエルボ８６を検査している最中の本開示の一実施形態に係る検査装置１を側方から見たときの側面図であり、図２は、その検査装置を、上側から見たときの平面図である。
【００１１】
図１に示すように、検査装置１は、台座１０、センサ取付板２０、載置台３０、光学センサ４０、４つの同一の固定構造５０、６つのスペーサ６０、及びストッパ７０を備える。台座１０は、木、金属、又は樹脂等の硬い材料で構成され、平板部１１と、４以上の同一の脚部１２を有する。平板部１１と、全ての脚部１２は、一体に構成される。平板部１１と、全ての脚部１２は、一体に成形されてもよく、脚部１２が、平板部１１に接着や溶接等により接合されてもよい。各脚部１２は、平板部１１の裏面（下面）からＺ方向下側に延在する。各脚部１２の下端部が、水平面と平行な同じ面に接触すると、Ｚ方向が鉛直方向に一致し、平板部１１が、水平面と平行な状態になる。
【００１２】
センサ取付板２０は、木、金属、又は樹脂等の硬い材料で構成され、平板形状を有する。センサ取付板２０は、４つの固定構造５０を介して台座１０に支持される。詳しくは、各固定構造５０は、Ｚ方向に延在し、固定構造５０の上端部が、センサ取付板２０に固定される一方、固定構造５０の下端部は、台座１０の平板部１１に固定される。固定構造５０は、センサ取付板２０のＺ方向の上下動を許容する構造を有する。固定構造５０の詳しい構成については、後で図４を用いて説明する。
【００１３】
図２に示すように、センサ取付板２０は、平面視における縁２１の形状が、陸上のトラックの外周形状を有する。また、平面視において、縁２１は、一対の平行な平行縁部２１ａ,２１ｂを含み、平行縁部２１ａ,２１ｂは、Ｘ方向に略平行になっている。４つの固定構造５０は、平面視においてセンサ取付板２０の４つの角部に固定され、その結果、センサ取付板２０が、台座１０の平板部１１に安定に支持され、センサ取付板２０が、平板部１１に対して傾斜することが防止される。
【００１４】
再度、図１を参照して、載置台３０は、木、金属、又は樹脂等の硬い材料で構成され、屈曲部を有する板部材で構成される。載置台３０は、６つのスペーサ６０を介してセンサ取付板２０に取り付けられる。スペーサ６０は、弾性を有する硬いゴム等で構成される。図２に点線の丸で示すように、スペーサ６０は、Ｚ方向から見たときの平面視において円形の形状を有する。図１に示すように、スペーサ６０の厚さは、Ｚ方向に一致する。スペーサ６０の下面６１を、センサ取付板２０の上面２２に取付手段、例えば、接着剤や溶着等で取り付け、スペーサ６０の上面６２を、載置台３０の下面３１に取付手段、例えば、接着剤や溶着等で取り付ける。これにより、載置台３０が、６つのスペーサ６０を介してセンサ取付板２０に固定される。
【００１５】
図２に示すように、平面視において、載置台３０は、Ｘ方向一方側が、そのＹ方向の一方側の端部と他方側の端部に配置される２つのスペーサ６０を介してセンサ取付板２０に支持され、Ｘ方向他方側も、そのＹ方向の一方側の端部と他方側の端部に配置される２つのスペーサ６０を介してセンサ取付板２０に支持される。また、平面視において、載置台３０は、Ｘ方向中央部が、そのＹ方向の一方側の端部と他方側の端部に配置される２つのスペーサ６０を介してセンサ取付板２０に支持される。その結果、載置台３０が、６つのスペーサ６０を介してセンサ取付板２０に安定に支持される。
【００１６】
図３は、載置台３０の構造について説明するための図であり、（ａ）は、載置台３０を上側から見たときの平面図であり、（ｂ）は、載置台３０を側方から見たときの側面図である。図３（ｂ）に示すように、載置台３０は、平板部３２、第１傾斜部３３、及び第２傾斜部３４を有する。平板部３２、及び２つの傾斜部３３,３４は、一体に形成され、屈曲部を有する板部材を構成する。詳しくは、平板部３２は、平板状の形状を有する。平板部３２の上面３５は、平面で構成され、センサ取付板２０の上面２２（図１参照）に平行に配置される。また、上面３５は、その法線方向（Ｚ方向に一致）から見たときの平面視において、平行に配置されてＹ方向に延在する一対の縁３５ａ,３５ｂを有する。
【００１７】
第１傾斜部３３は、平板部３２における一方の縁３５ａから平板部３２から離れる方向に延在して、平板部３２から離れるにしたがって上面３５に対して上側に傾斜する。また、第２傾斜部３４は、平板部３２における他方の縁３５ｂから平板部３２から離れる方向に延在し、平板部３２から離れるにしたがって上面３５に対して上側に傾斜する。図１を参照して、６つのスペーサ６０は、平板部３２を支持する２つの第１スペーサ６０ａと、傾斜部３３,３４を支持する４つの第２スペーサ６０ｂで構成される。第２スペーサ６０ｂは、傾斜部３３,３４の下面における平板部３２からＸ方向に離れた側を支持する。第２スペーサ６０ｂの上面は、Ｘ方向に関して平板部３２から離れるにしたがってセンサ取付板２０に対して上側に傾斜し、傾斜部３３,３４の下面に当接する。その結果、載置台３０の平板部３２がセンサ取付板２０に平行になっている状態で、載置台３０をセンサ取付板２０に安定に固定できる。
【００１８】
図３（ａ）に示すように、第１傾斜部３３は、平板部３２から離れた側、及びＺ方向の両側が開口する凹部３６を有し、平板部３２から離れた側は、Ｘ方向の一方側に一致する。Ｚ方向上側から見たときの平面視において、凹部３６の縁３６ａはＵ字状の形状を有する。平面視において、Ｕ字状の縁３６ａを有する凹部３６の深さ方向は、Ｘ方向に一致する。図３（ａ）において、平行な２本の点線は、一対の縁３５ａ,３５ｂの存在位置を示す。凹部３６の底３６ｂのＸ方向位置は、一方の縁３５ａのＸ方向位置に略一致する。
【００１９】
また、同様に、第２傾斜部３４は、平板部３２から離れた側、及びＺ方向の両側が開口する凹部３７を有し、平板部３２から離れた側は、Ｘ方向の他方側に一致する。Ｚ方向上側から見たときの平面視において、凹部３７の縁３７ａはＵ字状の形状を有する。平面視において、Ｕ字状の縁３７ａを有する凹部３６の深さ方向は、Ｘ方向に一致する。凹部３７の底３７ｂのＸ方向位置は、他方の縁３５ｂのＸ方向位置に略一致する。Ｙ方向及びＺ方向を含む平面であって平板部３２が面対称となる平面Ｐが存在する。凹部３６と凹部３７は、平面Ｐに対して面対称になっている。
【００２０】
再度、図１、及び図２を参照して、光学センサ４０は、光を発する発光部４１と、光を受ける受光部４２を含む。発光部４１、及び受光部４２は、センサ取付板２０の上面２２に、取付手段、例えば、締結部材、溶着、接着剤等で固定される。図２に示す平面視において、Ｘ方向に関して、発光部４１と、受光部４２は、載置台３０を挟むように配置される。また、図２に示す平面視において、発光部４１から出射される光（例えば、レーザ光）の光軸Ｌの延在方向は、水平面に含まれ、光軸Ｌは、各凹部３６,３７の底３６ｂ,３７ｂを通過する。図１に示すように、検査装置１の側面図において、発光部４１から出射された光の光軸Ｌは、Ｘ方向から見たとき各傾斜部３３,３４の一部に重なる。このことから、発光部４１から発せられた光のうちで光軸Ｌ上を進行する光は、凹部３６,３７の少なくとも一部を通過する。成形品が載置台３０に載置されていない状態で、光軸Ｌ上を進行する光は、凹部３６,３７の少なくとも一部、及び平板部３２の上面３５の上側を通過し、受光部４２で受光される。
【００２１】
次に、固定構造５０について説明する。図４は、固定構造５０の中心軸を含む固定構造５０の周辺領域の模式断面図である。後で、検査装置１におけるエルボ８６（図１参照）の検査対象及び検査方法を説明するが、エルボ８６の検査の際、エルボ８６は、載置台３０に載置される。図４は、エルボ８６が載置台３０に載置されていない状態における固定構造５０の周辺領域の模式断面図である。
【００２２】
図４に示すように、固定構造５０は、軸部材５１、環状の上側ストッパ５２、環状の上側フランジブッシュ５３、環状の下側フランジブッシュ５４、及びコイルばねで構成されるばね部材５５を有する。また、台座１０の平板部１１は、平板部１１を貫通してＺ方向に延在する円筒孔１８を有し、センサ取付板２０は、センサ取付板２０を貫通してＺ方向に延在する円筒孔２８を有する。円筒孔１８の中心軸は、円筒孔２８の中心軸に一致する。
【００２３】
軸部材５１は、一体構造を有し、軸部５１ａ、円板状の上側フランジ部５１ｂ、及び円板状の下側フランジ部５１ｃを含む。上側フランジ部５１ｂは、軸部材５１の上側端部に設けられ、軸部５１ａの外径よりも大きな外径を有する。軸部５１ａは、上側フランジ部５１ｂの下面中央部からＺ方向下側に延在する。下側フランジ部５１ｃは、軸部材５１の下側端部に設けられ、軸部５１ａの外径よりも大きな外径を有する。軸部５１ａは、下側フランジ部５１ｃの上面中央部からＺ方向上側に延在する。
【００２４】
また、上側ストッパ５２は、１つの円筒孔５２ａを有し、大径筒部５２ｂと、それよりも小径の小径筒部５２ｃを含む。小径筒部５２ｃは、大径筒部５２ｂよりも下側に位置し、大径筒部５２ｂの下面からＺ方向下側に延在する。載置台３０に成形品が載置されていない状態で、大径筒部５２ｂの下面は、センサ取付板２０の上面に当接する。小径筒部５２ｃは、その外径よりも僅かに大きな内径を有するセンサ取付板２０の円筒孔２８に内嵌される。
【００２５】
軸部５１ａの上端部は、その外径よりも僅かに大きな内径を有する上側ストッパ５２の円筒孔５２ａに収容される。また、載置台３０に成形品が載置されていない状態で、上側フランジ部５１ｂの下面は、大径筒部５２ｂの上面に当接する。また、固定構造５０の下側端部では、下側フランジ部５１ｃの上面が、台座１０の平板部１１の下面に当接する。
【００２６】
上側フランジブッシュ５３は、センサ取付板２０よりも下側に位置し、平板部１１よりも上側に位置する。上側フランジブッシュ５３は、軸部５１ａの外径よりも僅かに小さな内径を有する円筒孔を有し、その円筒孔には、軸部５１ａの一部が収容される。上側フランジブッシュ５３は、小径筒部５３ａと、それよりも大径で上側に位置する大径筒部５３ｂを含む。大径筒部５３ｂの外径は、上側ストッパ５２の小径筒部５２ｃの外径よりも大きい。成形品が載置台３０に載置されていない状態で、大径筒部５３ｂの上面は、小径筒部５２ｃの下面と、センサ取付板２０の下面の一部に当接する。
【００２７】
下側フランジブッシュ５４は、上側フランジブッシュ５３よりも下側に位置し、平板部１１よりも上側に位置する。下側フランジブッシュ５４は、軸部５１ａの外径よりも僅かに小さな内径を有する円筒孔を有し、その円筒孔には、軸部５１ａの一部が収容される。下側フランジブッシュ５４は、小径筒部５４ａと、それよりも大径で下側に位置する大径筒部５４ｂを含む。小径筒部５４ａの外径は、小径筒部５３ａの外径と略一致する。
【００２８】
ばね部材５５は、成形品が載置台３０に載置されていない状態で、自然長よりも圧縮された状態で、上側フランジブッシュ５３の大径筒部５３ｂと下側フランジブッシュ５４の大径筒部５４ｂの間に配置される。成形品が載置台３０に載置されていない状態で、ばね部材５５は、その付勢力で大径筒部５３ｂを介してセンサ取付板２０の下面の一部を上側に押し上げる。この押し上げにより、大径筒部５３ｂの上面が、小径筒部５２ｃの下面と、センサ取付板２０の下面の一部に当接する。
【００２９】
成形品が載置台３０に載置されると、センサ取付板２０が下側の力を受け、センサ取付板２０が、大径筒部５３ｂを下側に押圧する。すると、大径筒部５３ｂがばね部材５５を圧縮することで下側に移動し、その結果、センサ取付板２０も下側に移動する。この構造により、センサ取付板２０のＺ方向位置が、成形品が載置台３０に載置されている状態とそうでない状態とで異なり、センサ取付板２０のＺ方向の移動が許容される。図１に示すように、ストッパ７０は、台座１０の平板部１１に取り付けられ、平板部１１からＺ方向上側に延在する部分を有する。ストッパ７０の上端部は、センサ取付板２０が過度に下側に移動したときに、センサ取付板２０を受け止める。この受け止めにより、センサ取付板２０の許容距離以上の下側移動を防止する。なお、検査装置は、このストッパを有さなくてもよい。
【００３０】
次に、この検査装置１のエルボ８６の検査対象及び検査方法について説明する。図５は、欠損８８が生じたエルボ８５の斜視図である。なお、以下では、欠損が存在するエルボを８５で示し、欠損が存在するか否かわからないエルボを８６で示す。エルボ８６を射出成形で形成する場合、例えば、材料は、金型においてエルボ８６の形状に対応する凹部に、エルボ８６の中央箇所（図１にαで示す箇所）に対応する凹部箇所から注入される。この場合、凹部の材料注入箇所から遠い箇所、すなわち、凹部において図１にβ１,β２で示すエルボ８６の局所箇所に対応する箇所には、材料が到達しにくくなる。よって、図５に示すように、エルボ８５における図１にβ１,β２で示す接続端部の周辺に欠損８８が生じることがある。
【００３１】
検査装置１は、エルボ８６の欠損の有無を次のように検査する。詳しくは、図１に示すように、検査の際には、エルボ８６におけるβ１の周辺箇所が、載置台３０の平板部３２のＸ方向中央部に一致すると共にβ１の周辺箇所のＹ方向位置が凹部３６の底３６ｂ（図２参照）のＹ方向位置に一致するように、エルボ８６を載置台３０に載置する。第１傾斜部３３が平板部３２に対して傾斜しているので、エルボ８６は鉛直方向に対して傾斜した状態で載置台３０に載置される。その結果、エルボ８６が載置されている状態で、β１の周辺箇所は、エルボ８６における最下方に位置し、発光部４１から出射される光の光軸上に位置する。
【００３２】
この状態で、発光部４１から受光部４２に光を出射する。β１の周辺箇所に欠損が生じている場合には、発光部４１から出射された光の一部が、欠損を通過して、受光部４２に到達する。よって、受光部４２が光を検出する。他方、β１の周辺箇所に欠損が生じていない場合には、発光部４１からの光は、エルボ８６で遮られ、受光部４２に到達しない。よって、検査装置１によれば、エルボ８６を載置台３０に載置して、発光部４１からの光を受光部４２が受光するか否かを判定するだけで、エルボ８６のβ１周辺箇所に欠損が存在するか否かを客観的に正確に検査できると共に容易に検査できる。
【００３３】
なお、エルボ８６のβ２周辺箇所における欠損の発生の有無を検査する場合には、エルボ８６のβ２周辺箇所が平板部３２に接触するように、エルボ８６を、平板部３２、及び第２傾斜部（図１における紙面の右側の傾斜部）３４に載置する。これにより、エルボ８６のβ２周辺箇所に欠損が存在するか否かを客観的に正確に検査できると共に容易に検査できる。
【００３４】
次に、載置台３０が平板部３２を有することの意義について、エルボ８６の欠損発生領域β２の検査を例に説明を行う。図６（ａ）は、平板部を有さない参考例の載置台１３０と、その載置台１３０に載置されたエルボ８６を側方から見たときの模式図である。また、（ｂ）は、検査装置１の載置台３０と、その載置台３０に載置されたエルボ８６を側方から見たときの模式図である。
【００３５】
図６（ａ）に示すように、載置台１３０が平板部を有さない場合、エルボ８６の欠損発生領域β２は、側面視においてＶ字状をなす２つの傾斜部１３３,１３４の角部に位置する。したがって、エルボ８６の欠損発生領域β２が、傾斜部１３３,１３４においてＵ字状の凹部の下方領域Ｒ１,Ｒ２により下側に位置し易い。よって、発光部が発した光の光軸Ｌが、欠損発生領域β２よりも上側を通過し易く、エルボ８６に欠損が生じている場合でも、その欠損を検知しにくくなる。
【００３６】
他方、図６（ｂ）に示すように、載置台３０が平板部３２を有する場合、傾斜部３３,３４におけるＵ字状の凹部の下方領域Ｒ３,Ｒ４の高さ位置を平板部３２の上面の高さ位置に合わせることができる。よって、Ｘ方向から見たとき、発光部が発した光の光軸Ｌを、平板部３２の上面よりも高い位置に存在する欠損発生領域β２に一致させることができ、エルボ８６の欠損の有無を正確に判定できる。
【００３７】
次に、検査装置１において、エルボ８６が載置台３０の所定位置に配置されなかった場合における検査の影響について説明する。図２を参照して、点線γは、エルボ８６が載置台３０の所定位置に正確に載置された場合のエルボ８６の環状接続部の外周縁の位置を示し、点線δは、別のエルボ８６が載置台３０の所定位置に正確に載置された場合のエルボ８６の環状接続部の外周縁の位置を示す。図２に示すように、エルボ８６は、所定位置において、一方の環状接続部の欠損発生領域の外周部が、平板部３２の中心Ｋに位置するように、光軸Ｌ及びＺ方向を含む平面に対して面対称に配置される。
【００３８】
図７は、欠損が存在している場合における、上記欠損発生領域の外周部のＹ方向位置と、入光率の関係を表す図である。また、図８は、欠損が存在している場合における、上記欠損発生領域の外周部のＸ方向位置と、入光率の関係を表す図である。また、図９は、欠損が存在している場合における、載置台の平板部に対するエルボの傾斜角θと、入光率の関係を表す図である。なお、図７は、上記欠損発生領域の外周部が、Ｘ方向に関して所定位置に正確に配置されている場合のデータであり、図８は、上記欠損発生領域の外周部が、Ｙ方向に関して所定位置に正確に配置されている場合のデータである。また、図７、及び図８において、横軸は、所定位置からのズレ（長さ）を表し、０ｍｍは、上記欠損発生領域の外周部が所定位置に正確に配置されていることを表す。また、図７、図８、及び図９において、縦軸の入光率は、次に示すように定義されている。すなわち、試験は、受光部を、３０ｍｍの検出幅を有するリニアー型レーザセンサーで構成して実行した（なお、本開示の検査装置は、受光部がそのリニアー型レーザセンサーに限定されないことは言うまでもない。）。ここで、その検出幅の範囲内に欠損（未充填部位）があればレーザ光が欠損を通過し、受光装置のアンプ上に数値が表示される。入効率は、入光率（％）＝（受光した光の幅／レーザの検出幅）×１００で定義されている。
【００３９】
図７、及び図８に示すように、Ｘ方向、及びＹ方向の両方向に関し、横軸が正確な位置から±５ｍｍの範囲内にあれば、入光率が正確な位置にある場合と殆ど変わらない値となっている。また、θの値が４.５°以下であれば、θが如何なる値であっても、入光率が殆ど変わらない値となっている。したがって、Ｘ方向、及びＹ方向に関し、上記欠損発生領域の外周部を、正確な位置を基準として±５ｍｍの範囲内に配置すれば、検査を正確に行うことができる。よって、検査装置１によれば、エルボ８６の配置位置に関して、高い位置精度が要求されることがなく、検査を正確かつ容易に実行できる。
【００４０】
以上、検査装置１は、エルボ（成形品）８６の欠損８８を検査する。検査装置１は、エルボ８６を載置する載置台３０と、光を発する発光部４１、及び光を受ける受光部４２を有する光学センサ４０を備える。また、載置台３０は、上面３５が平面で構成される平板部３２、及び平板部３２の縁部から平板部３２に対して離れる方向に延在して、平板部３２から離れるにしたがって上面３５に対してＺ方向の上側に傾斜すると共に、平板部３２と一体に構成される傾斜部３３,３４を有する。また、傾斜部３３,３４は、平板部３２から離れた側、及びＺ方向の両側が開口する凹部３６,３７を有する。Ｚ方向から見たときの平面視において、凹部３６,３７の縁は、Ｕ字状の形状を有する。エルボ８６が載置台３０に載置されていない状態で、発光部４１から発せられた光のうちでその光の光軸Ｌ上を進行する光が、凹部３６,３７の少なくとも一部、及び上面３５の上側を通過し、受光部４２で受光される。
【００４１】
上記構成によれば、エルボ８６の環状の接続端部における欠損発生領域を平板部３２の上面３５に載置し、接続端部における欠損発生領域以外の一部を、傾斜部３３,３４の上面に載置できる。よって、欠損発生領域をエルボ８６の最下位置に位置された状態でエルボを平面状の上面３５に対して容易に傾斜させることができる。また、エルボ８５が欠損８８を有する場合、そのようにエルボ８５を傾斜させた状態で、発光部４１から上面３５の上側を通過する光を出射することで、その光を、欠損８８を通過させることができる。よって、発光部４１からの光が、受光部４２で受光されると、欠損８８の存在を正確に判定できる。その結果、エルボ８６を欠損発生領域が最下位置になるように載置台３０に傾けて配置するだけで、欠損の存在の有無を客観的に正確に検査できると共に容易に検査できる。
【００４２】
また、平板部３２は、Ｚ方向から見たときの平面視において略平行に配置される一対の縁３５ａ,３５ｂを有する平板で構成されてもよい。また、傾斜部は、一対の縁３５ａ,３５ｂに含まれる一方の縁３５ａから、平板部３２から離れる方向に延在して、平板部３２から離れるにしたがって上面３５に対して上側に傾斜する第１傾斜部３３を有してもよい。また、傾斜部は、一対の縁３５ａ,３５ｂに含まれる他方の縁３５ｂから、平板部３２から離れる方向に延在し、平板部３２から離れるにしたがって上面３５に対して上側に傾斜する第２傾斜部３４を有してもよい。
【００４３】
上記構成によれば、２つの傾斜部３３,３４が平板部３２を挟持する構造を有する。したがって、エルボ８６を成形する金型において材料注入部から遠い２つの箇所に対応すると共にエルボ８６において欠損発生が起こり易いβ１周辺部とβ２周辺部の両箇所の欠損の有無を１つの検査装置１で検査できる。
【００４４】
また、検査装置１は、台座１０と、台座１０の上側に配置されて台座１０によって支えられ、スペーサ６０を介して載置台３０を支えるセンサ取付板２０を備えてもよい。そして、発光部４１と、受光部４２が、載置台３０を挟むようにセンサ取付板２０に設置されてもよい。
【００４５】
上記構成によれば、台座１０によって、載置台３０の平板部３２の良好な水平性を確保できる。また、スペーサ６０によって、発光部４１から出射される光の光軸Ｌの高さ位置の精密な調整を実行できる。
【００４６】
また、センサ取付板２０を台座１０に対してＺ方向に移動可能に固定し、Ｚ方向に伸縮可能な弾性を有するばね部材５５を含む固定構造５０を備えてもよい。
【００４７】
上記構成によれば、エルボ８６を下に強く押し付けても、その押し付け力の一部を固定構造５０で吸収でき、エルボ８６が載置台３０から大きな反力を受けることがなく、エルボ８６が破損することがない。したがって、エルボ８６を載置台３０に押し付けることができ、エルボ８６と載置台３０との間に隙間が生じることを抑制又は防止できる。よって、検査装置１で、欠損の存在の有無をより正確に判定できる。
【００４８】
また、スペーサ６０が弾性を有してもよい。
【００４９】
上記構成によれば、スペーサ６０でも上記押し付け力の一部を吸収できる。よって、検査装置１で、欠損の存在の有無を更に正確に判定できる。
【００５０】
なお、本開示は、上記実施形態およびその変形例に限定されるものではなく、本願の特許請求の範囲に記載された事項およびその均等な範囲において種々の改良や変更が可能である。
【００５１】
例えば、上記実施形態では、２つの傾斜部３３,３４が平板部３２を挟むように配置される場合について説明した。しかし、載置台は、１つの傾斜部しか有さなくてもよく、その１つのみの傾斜部が、平板部に対して傾斜する構成でもよい。そして、検査装置で、エルボ８６における、β１周辺部の欠損の有無の検査、及びβ２周辺部欠損の有無の検査のうちの一方のみを検査するようにしてもよい。また、この構成を採用することで、検査装置をコンパクトに構成してもよい。
【００５２】
また、検査装置１が、台座１０に対するセンサ取付板２０のＺ方向の上下動を可能にする固定構造５０を有する場合について説明した。しかし、検査装置は、台座に対するセンサ取付板のＺ方向の相対移動を許容しない固定構造を有してもよい。
【００５３】
また、載置台３０をセンサ取付板２０に対して支持するスペーサ６０をゴムで構成し、スペーサ６０が弾性を有する場合について説明した。しかし、載置台をセンサ取付板に対して支持するスペーサは、弾性を有さなくてもよく、例えば、金属や弾性を有さない樹脂等で構成されてもよい。
【００５４】
また、検査装置１が、センサ取付板２０を有する場合について説明した。しかし、検査装置は、センサ取付板を有さなくてもよく、光学センサは、台座の上面に固定されてもよい。
【００５５】
また、固定構造の数、及びスペーサの数は、実施例で説明した数でなくてもよいが、固定構造の数、及びスペーサの数は、４以上あると好ましい。また、台座の平面視における形状や、センサ取付板の平面視における形状も、実施例や図面で説明した形状でなくて如何なる形状でもよく、例えば、平面視において、楕円形状、円形状、又は矩形状等でもよい。また、検査装置１で欠損の有無を検査される成形品が、エルボ８６である場合について説明した。しかし、検査装置１は、エルボ８６以外の成形品における欠損の有無の検査に用いられてもよい。検査装置１は、載置台３０に載置が可能な端部を有し、その端部に欠損ができる虞がある成形品であれば、如何なる成形品においても、欠損の有無を検査できる。
【符号の説明】
【００５６】
１  検査装置、  １０  台座、  ２０  センサ取付板、  ３０  載置台、  ３２  載置台の平板部、  ３３  第１傾斜部、  ３４  第２傾斜部、  ３５  載置台の上面、  ３５ａ,３５ｂ  載置台の平板部における一対の縁、  ３６,３７  凹部、  ４０  光学センサ、  ４１  発光部、  ４２  受光部、  ５０  固定構造、  ５５  ばね部材、  ６０  スペーサ、  ８６  エルボ、  ８８  欠損、  Ｌ  光軸、  Ｘ方向  光軸の延在方向、  Ｚ方向  検査装置の高さ方向。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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