(57)【要約】【課題】  簡易な構成の検査回路を用いて発光素子の点灯検査ができ、また駆動素子を画素回路に接続しない状態で発光素子の点灯検査ができるものとすること。【解決手段】  発光素子基板の検査方法は、第１電源端子５１と第１電極４１を接続する第１接続線６１と、第２電源端子５２と第２電極４２を接続する第２接続線６２と、第１接続線６１から分岐し第１電源端子５１に接続された迂回線６３上に配置され、迂回線６３に直列接続された第１スイッチ７１と、迂回線６３の分岐部６３ａと第１電源端子５１間の第１接続線６１上に配置され、第１接続線６１に直列接続された第２スイッチ１３と、を有する発光素子基板を準備するステップと、基板上に発光素子１４を実装し、第１電源端子５１から第１接続線６１に電源電流８１を出力し、第１スイッチ７１をオンとし、第２スイッチ１３をオフとした状態で、発光素子１４の点灯検査を行う検査ステップと、を備える。【選択図】  図１
2019045606.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板と、
前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、
前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、
前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、
前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、
前記第１接続線から分岐し前記第１電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、
前記迂回線の分岐部と前記第１電源端子間の前記第１接続線上に配置され、前記第１接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している発光素子基板を準備するステップと、
前記基板上に前記発光素子を実装し、前記第１電源端子から前記第１接続線に電源電流を出力し、前記第１スイッチをオンとし、前記第２スイッチをオフとした状態で、前記発光素子の点灯検査を行う検査ステップと、を備えている発光素子基板の検査方法。
【請求項２】
基板と、
前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、
前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、
前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、
前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、
前記第２接続線から分岐し前記第２電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、
前記迂回線の分岐部と前記第２電源端子間の前記第２接続線上に配置され、前記第２接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している発光素子基板を準備するステップと、
前記基板上に前記発光素子を実装し、前記第１電源端子から前記第１接続線に電源電流を出力し、前記第１スイッチをオンとし、前記第２スイッチをオフとした状態で、前記発光素子の点灯検査を行う検査ステップと、を備えている発光素子基板の検査方法。
【請求項３】
基板と、
前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、
前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、
前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、
前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、
前記第１接続線から分岐し前記第１電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、
前記迂回線の分岐部と前記第１電源端子間の前記第１接続線上に配置され、前記第１接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している発光素子基板。
【請求項４】
基板と、
前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、
前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、
前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、
前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、
前記第２接続線から分岐し前記第２電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、
前記迂回線の分岐部と前記第２電源端子間の前記第２接続線上に配置され、前記第２接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している発光素子基板。
【請求項５】
前記第２スイッチは、ｐチャネル薄膜トランジスタであり、
前記ｐチャネル薄膜トランジスタのゲート電圧を制御する駆動素子に接続される駆動素子接続部を有しており、
前記駆動素子が前記駆動素子接続部に接続されていない状態で、前記発光素子の点灯検査が行われる請求項３に記載の発光素子基板。
【請求項６】
前記第２スイッチは、ｎチャネル薄膜トランジスタであり、
前記ｎチャネル薄膜トランジスタのゲート電圧を制御する駆動素子に接続される駆動素子接続部を有しており、
前記駆動素子が前記駆動素子接続部に接続されていない状態で、前記発光素子の点灯検査が行われる請求項４に記載の発光素子基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光ダイオード（Light  Emitting  Diode：ＬＥＤ）等の発光素子を実装するための発光素子基板の検査方法および発光素子基板に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、発光装置の一種として、ＬＥＤ等の発光素子を複数有する、バックライト装置が不要な自発光型の表示装置が知られている。そのような表示装置の基本構成のブロック回路図を図５に示す。また、図５の構成の表示装置の下面図を図６に示し、図５のＡ１−Ａ２線における断面図を図７に示す。表示装置は、ガラス基板等から成る基板１と、基板１上の所定の方向（例えば、行方向）に配置された走査信号線２と、走査信号線２と交差させて所定の方向と交差する方向（例えば、列方向）に配置された発光制御信号線３と、走査信号線２と発光制御信号線３によって区分けされた画素部（Ｐｍｎ）の複数から構成された表示部１１と、表示部１１を覆う絶縁層上に配置された複数の発光領域（Ｌｍｎ）と、を有する構成である。走査信号線２および発光制御信号線３は、基板１の側面に配置された側面配線１ｓを介して基板１の裏面にある裏面配線９に接続される。裏面配線９は、基板１の裏面に設置されたＩＣ，ＬＳＩ等の駆動素子６に接続される。即ち、表示装置は基板１の裏面にある駆動素子６によって表示が駆動制御される。駆動素子６は、例えば、基板１の裏面側にＣＯＧ（Chip  On  Glass）方式等の手段によって搭載される。また、基板１の裏面側には、駆動素子６との間で引き出し線を介して駆動信号、制御信号等を入出力するためのＦＰＣが設置される場合がある。また側面配線１ｓに替えてスルーホール等の貫通導体を用いる場合がある。
【０００３】
それぞれの画素部１５（Ｐｍｎ）には、発光領域（Ｌｍｎ）にある発光素子１４（ＬＤｍｎ）の発光、非発光、発光強度等を制御するための発光制御部２２が配置されている。この発光制御部２２は、発光素子１４のそれぞれに発光信号を入力するためのスイッチ素子としての薄膜トランジスタ（Thin  Film  Transistor：ＴＦＴ）１２（図８に示す）と、発光制御信号（発光制御信号線３を伝達する信号）のレベル（電圧）に応じた、正電圧（アノード電圧：３Ｖ〜５Ｖ程度）と負電圧（カソード電圧：−３Ｖ〜０Ｖ程度）の電位差（発光信号）から発光素子１４を電流駆動するための駆動素子としてのＴＦＴ１３（図８に示す）と、を含む。ＴＦＴ１３のゲート電極とソース電極とを接続する接続線上には容量素子４３が配置されており、容量素子４３はＴＦＴ１３のゲート電極に入力された発光制御信号の電圧を次の書き換えまでの期間（１フレームの期間）保持する保持容量として機能する。
【０００４】
発光素子１４は、表示部１１を覆う絶縁層３１（図７に示す）を貫通するスルーホール等の貫通導体２３ａ，２３ｂを介して、発光制御部２２、正電圧入力線１６、負電圧入力線１７に電気的に接続されている。即ち、発光素子１４の正電極は、貫通導体２３ａ及び発光制御部２２を介して正電圧入力線１６に接続されており、発光素子１４の負電極は、貫通導体２３ｂを介して負電圧入力線１７に接続されている。また表示装置は、平面視において、表示部１１と基板１の端１ｔとの間に額縁部１ｇがある。
【０００５】
なお、画素部１５は、それぞれが赤色発光用の副画素部、緑色発光用の副画素部、青色発光用の副画素部から成る場合がある。赤色発光用の副画素部は赤色ＬＥＤ等から成る赤色発光素子を有し、緑色発光用の副画素部は緑色ＬＥＤ等から成る緑色発光素子を有し、青色発光用の副画素部は青色ＬＥＤ等から成る青色発光素子を有している。例えば、これらの副画素部は、行方向あるいは列方向に並んでいる。
【０００６】
図９は、図８における発光素子１４及び発光制御部２２を有して構成される画素部１５に含まれる画素回路の等価回路を示す回路図である。この等価回路において発光素子１４は第１電源端子５１（ＶＤＤ）の側にあり、ＴＦＴ１２，１３及び容量素子４３は第２電源端子（ＶＳＳ）の側にある。図９に示すように、正電圧（アノード電圧：３〜５Ｖ程度）を出力する第１電源端子５１（ＶＤＤ）と、負電圧（カソード電圧：−３Ｖ〜０Ｖ程度）を出力する第２電源端子５２（ＶＳＳ）と、発光素子１４のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極４１、第２電極４２と、第１電源端子５１と第１電極４１とを接続する第１接続線６１と、第２電源端子５２と第２電極４２とを接続する第２接続線６２と、を有する構成である。走査信号線２は、走査信号の入力端が走査信号出力端子５３（ＧＡＴＥ）に接続されており、発光制御信号線３は、発光制御信号の入力端が発光制御信号出力端子５４（ＳＩＧ）に接続されている。このような画素回路において、発光素子１４を実装した後に、発光素子１４が実際に点灯するか否かを検査することは重要である。
【０００７】
また、他の従来例として、第１の電源に第１の端子が接続され、第１の電源よりも低い電圧を有する第２の電源に第２の端子が接続された発光素子が複数設けられた表示装置であって、発光素子毎に設けられ、発光素子の第１の端子に接続された第１の電極と、第１の電源および第２の電源と異なる第３の電源に接続された第２の電極と、第１の電極と第２の電極との間の導通を制御する第３の電極と、を有するスイッチング素子と、スイッチング素子の第２の電極と第３の電極との間に接続され、第２の電源よりも高い電圧が第３の電源に印加されたとき、第３の電極の電圧を第３の電源に印加された電圧に対して予め定められた閾値以内の電位差にして、スイッチング素子の第１の電極と第２の電極との間を導通状態とする回路素子と、を備えた表示装置が提案されている（例えば、特許文献１を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００９−１２６０７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、図９に示す上記従来の表示装置の画素回路においては、以下の問題点があった。発光素子１４を基板１上に実装した状態で発光素子１４の点灯検査を行う場合、走査信号出力端子５３（ＧＡＴＥ）からＴＦＴ１２のゲート電極にオン信号（Ｈ（High）信号）を出力し、発光制御信号出力端子５４（ＳＩＧ）からＴＦＴ１３のゲート電極にオン信号（Ｈ信号）を出力した状態で、第１電源端子５１から第１接続線６１に正電圧を印加し、第２電源端子５２から第２接続線６２に負電圧を印加する。このとき、発光素子１４が点灯しなければ、発光素子１４に欠陥があることとなり、欠陥のある発光素子１４を取り除き、新たな発光素子１４を実装する必要が生じる。また、点灯検査を行うに当って、走査信号出力端子５３及び発光制御信号出力端子５４を、基板１上に配置されたＩＣ，ＬＳＩ等の駆動素子に接続しておき、駆動素子から走査信号出力端子５３及び発光制御信号出力端子５４のそれぞれに駆動信号、制御信号等を出力して、点灯検査を行っていた。そして、もし欠陥のある発光素子１４が見つかった場合、その発光素子１４を取り除き、新たな発光素子１４を再実装するために、再実装のためのハンダ等の加熱工程において駆動素子に熱が加わり、駆動素子に不良が発生するおそれがある、という問題点があった。また、基板１上のＴＦＴ、発光素子１４に欠陥がある場合、基板１は不良品となるために、基板１上に駆動素子が実装されていると、基板１とともに駆動素子も廃棄等される。その結果、駆動素子が無駄になり製造コストが増加する要因となる。
【００１０】
また、特許文献１に開示された発明は、発光素子の発光の有無を、接続基板の取り付け前、すなわち表示装置単体の状態において検査できるようにするものであり、複数の薄膜トランジスタ等から成るスイッチング素子を導通（オン）させて発光素子の第１の端子から第２の端子に電流を流すことができ、従って、第３の電源に所定の電圧をピンプローブ等によって印加することで、各発光素子に電流を流して発光の有無を検査するものである。即ち、発光駆動に用いる複数のスイッチング素子を導通（オン）させて点灯検査を行っているために、検査方法が複雑化している。また、複数のスイッチング素子が動作することが前提となっていることから、複数のスイッチング素子の少なくとも一つに動作不良があった場合に正確な点灯検査が実施できないおそれがある。
【００１１】
本発明は、上記の問題点に鑑みて完成されたものであり、その目的は、画素回路において簡易な構成の検査回路を用いて発光素子の点灯検査ができ、また駆動素子を画素回路に接続しない状態で発光素子の点灯検査ができるものとすることである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の発光素子基板の検査方法は、基板と、前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、前記第１接続線から分岐し前記第１電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、前記迂回線の分岐部と前記第１電源端子間の前記第１接続線上に配置され、前記第１接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している発光素子基板を準備するステップと、前記基板上に前記発光素子を実装し、前記第１電源端子から前記第１接続線に電源電流を出力し、前記第１スイッチをオンとし、前記第２スイッチをオフとした状態で、前記発光素子の点灯検査を行う検査ステップと、を備えている構成である。
【００１３】
また本発明の発光素子基板の検査方法は、基板と、前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、前記第２接続線から分岐し前記第２電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、前記迂回線の分岐部と前記第２電源端子間の前記第２接続線上に配置され、前記第２接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している発光素子基板を準備するステップと、前記基板上に前記発光素子を実装し、前記第１電源端子から前記第１接続線に電源電流を出力し、前記第１スイッチをオンとし、前記第２スイッチをオフとした状態で、前記発光素子の点灯検査を行う検査ステップと、を備えている発光素子実装用基板の検査方法。
【００１４】
本発明の発光素子基板は、基板と、前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、前記第１接続線から分岐し前記第１電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、前記迂回線の分岐部と前記第１電源端子間の前記第１接続線上に配置され、前記第１接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している構成である。
【００１５】
また本発明の発光素子基板は、基板と、前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、前記第２接続線から分岐し前記第２電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、前記迂回線の分岐部と前記第２電源端子間の前記第２接続線上に配置され、前記第２接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している構成である。
【００１６】
本発明の発光素子基板は、好ましくは、前記第２スイッチは、ｐチャネル薄膜トランジスタであり、前記ｐチャネル薄膜トランジスタのゲート電圧を制御する駆動素子に接続される駆動素子接続部を有しており、前記駆動素子が前記駆動素子接続部に接続されていない状態で、前記発光素子の点灯検査が行われる。
【００１７】
本発明の発光素子基板は、好ましくは、前記第２スイッチは、ｎチャネル薄膜トランジスタであり、前記ｎチャネル薄膜トランジスタのゲート電圧を制御する駆動素子に接続される駆動素子接続部を有しており、前記駆動素子が前記駆動素子接続部に接続されていない状態で、前記発光素子の点灯検査が行われる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明の発光素子基板の検査方法は、基板と、前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、前記第１接続線から分岐し前記第１電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、前記迂回線の分岐部と前記第１電源端子間の前記第１接続線上に配置され、前記第１接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している発光素子基板を準備するステップと、前記基板上に前記発光素子を実装し、前記第１電源端子から前記第１接続線に電源電流を出力し、前記第１スイッチをオンとし、前記第２スイッチをオフとした状態で、前記発光素子の点灯検査を行う検査ステップと、を備えている構成であることから、以下の効果を奏する。元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチに第１スイッチを付加した簡易な構成の検査回路を用いて発光素子の点灯検査ができる。また、元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチをオフとした状態で点灯検査ができるので、駆動素子を画素回路に接続しない状態で発光素子の点灯検査ができる。
【００１９】
また本発明の発光素子基板の検査方法は、基板と、前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、前記第２接続線から分岐し前記第２電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、前記迂回線の分岐部と前記第２電源端子間の前記第２接続線上に配置され、前記第２接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している発光素子基板を準備するステップと、前記基板上に前記発光素子を実装し、前記第１電源端子から前記第１接続線に電源電流を出力し、前記第１スイッチをオンとし、前記第２スイッチをオフとした状態で、前記発光素子の点灯検査を行う検査ステップと、を備えている構成であることから、以下の効果を奏する。元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチに第１スイッチを付加した簡易な構成の検査回路を用いて発光素子の点灯検査ができる。また、元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチをオフとした状態で点灯検査ができるので、駆動素子を画素回路に接続しない状態で発光素子の点灯検査ができる。
【００２０】
本発明の発光素子基板は、基板と、前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、前記第１接続線から分岐し前記第１電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、前記迂回線の分岐部と前記第１電源端子間の前記第１接続線上に配置され、前記第１接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している構成であることから、以下の効果を奏する。元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチに第１スイッチを付加した簡易な構成の検査回路を構成することができる。
【００２１】
また本発明の発光素子基板は、基板と、前記基板上に配置された、第１電源端子及びそれよりも低電位の第２電源端子と、前記基板上に配置され、発光素子のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極、第２電極と、前記第１電源端子と前記第１電極とを接続する第１接続線と、前記第２電源端子と前記第２電極とを接続する第２接続線と、前記第２接続線から分岐し前記第２電源端子に接続された迂回線上に配置され、前記迂回線に直列接続された第１スイッチと、前記迂回線の分岐部と前記第２電源端子間の前記第２接続線上に配置され、前記第２接続線に直列接続された第２スイッチと、を有している構成であることから、以下の効果を奏する。元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチに第１スイッチを付加した簡易な構成の検査回路を構成することができる。
【００２２】
本発明の発光素子基板は、前記第２スイッチは、ｐチャネル薄膜トランジスタであり、前記ｐチャネル薄膜トランジスタのゲート電圧を制御する駆動素子に接続される駆動素子接続部を有しており、前記駆動素子が前記駆動素子接続部に接続されていない状態で、前記発光素子の点灯検査が行われる場合、駆動素子を画素回路に接続しない状態で発光素子の点灯検査ができる。
【００２３】
本発明の発光素子基板は、前記第２スイッチは、ｎチャネル薄膜トランジスタであり、前記ｎチャネル薄膜トランジスタのゲート電圧を制御する駆動素子に接続される駆動素子接続部を有しており、前記駆動素子が前記駆動素子接続部に接続されていない状態で、前記発光素子の点灯検査が行われる場合、駆動素子を画素回路に接続しない状態で発光素子の点灯検査ができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】図１は、本発明の発光素子基板について実施の形態の１例を示す図であり、発光素子基板の画素回路の回路図である。
【図２】図２は、図１の発光素子基板の検査方法について実施の形態の１例を示す図であり、検査方法を説明するための画素回路の回路図である。
【図３】図３は、本発明の発光素子基板について実施の形態の他例を示す図であり、発光素子基板の画素回路の回路図である。
【図４】図４は、図３の発光素子基板の検査方法について実施の形態の他例を示す図であり、検査方法を説明するための画素回路の回路図である。
【図５】図５は、従来の表示装置の一例を示す図であり、表示装置の基本構成のブロック回路図である。
【図６】図６は、図５の表示装置の下面図である。
【図７】図７は、図５の表示装置のＡ１−Ａ２線における断面図である。
【図８】図８は、図５の表示装置において一つの発光素子とそれに接続された発光制御部の回路図である。
【図９】図９は、図８の画素部に含まれる画素回路の等価回路図であって、発光素子が第１電源端子（ＶＤＤ）の側にあり、ＴＦＴ及び容量素子が第２電源端子（ＶＳＳ）の側にある等価回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明の発光素子基板の検査方法及び発光素子基板の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。但し、以下で参照する各図は、本発明の発光素子基板の実施の形態における構成部材のうち、本発明の発光素子基板を説明するための主要部を示している。従って、本発明に係る発光素子基板は、図に示されていない配線導体、制御ＩＣ，ＬＳＩ等の周知の構成部材を備えていてもよい。なお、本発明の発光素子基板の検査方法及び発光素子基板の実施の形態を示す図１〜図４において、図５〜図９と同じ部位には同じ符号を付しており、それらの詳細な説明は省く。
【００２６】
図１〜図４は、本発明の発光素子基板の検査方法及び発光素子基板について実施の形態の各種例を示す図である。図２に示すように、本発明の発光素子基板の検査方法は、ガラス基板等の基板と、基板上に配置された、第１電源端子５１（ＶＤＤ）及びそれよりも低電位の第２電源端子５２（ＶＳＳ）と、基板上に配置され、発光素子１４のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極４１、第２電極４２と、第１電源端子５１と第１電極４１とを接続する第１接続線６１と、第２電源端子５２と第２電極４２とを接続する第２接続線６２と、第１接続線６１から分岐し第１電源端子５１に接続された迂回線６３上に配置され、迂回線６３に直列接続された第１スイッチ７１と、迂回線６３の分岐部６３ａと第１電源端子５１間の第１接続線６１上に配置され、第１接続線６１に直列接続された第２スイッチ１３と、を有している発光素子基板を準備するステップと、基板上に発光素子１４を実装し、第１電源端子５１から第１接続線６１に電源電流８１（数μＡ〜数１０μＡ程度）を出力し、第１スイッチ７１をオンとし、第２スイッチ１３をオフとした状態で、発光素子１４の点灯検査を行う検査ステップと、を備えている構成である。
【００２７】
上記の構成により、以下の効果を奏する。第１電源端子５１、第２電源端子５２、第１電極４１、第２電極４２、第１接続線６１、第２接続線６２、ｎチャネルＴＦＴ１２、第２スイッチとしてのｎチャネルＴＦＴ１３及び容量素子４３を含んで成る元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチ１３に、第１スイッチ７１を付加した簡易な構成の検査回路を用いて発光素子１４の点灯検査ができる。また、元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチ１３をオフとした状態で点灯検査ができるので、ＩＣ，ＬＳＩ等から成る駆動素子９１を画素回路に接続しない状態で発光素子１４の点灯検査ができる。従って、もし基板上に駆動素子９１を配置した状態で欠陥のある発光素子１４が見つかった場合、その発光素子１４を取り除き、新たな発光素子１４を再実装するために、再実装のためのハンダ等の加熱工程において駆動素子９１に熱が加わり、駆動素子９１に不良が発生するおそれが、従来あったが、本発明においてはそのおそれはなくなる。また、点灯検査の際には、第２スイッチ１３としてのＴＦＴ１３とＴＦＴ１２をオンする必要がないので、これらのＴＦＴ１２，１３の少なくとも一方に動作不良があった場合、正確な点灯検査が実施できないおそれがあるが、そのようなおそれも低減される。
【００２８】
本発明の発光素子基板の検査方法において、第１電源端子５１（ＶＤＤ）は、例えば３Ｖ〜５Ｖ程度の正電圧（アノード電圧）を印加し、第２電源端子５２（ＶＳＳ）は−３Ｖ〜０Ｖ程度の負電圧（カソード電圧）を印加する。
【００２９】
第１スイッチ７１は、ｎチャネルＴＦＴであり、そのゲート電極はゲート電圧制御線６５を介して検査制御端子５５（ＬＴＥＳＴ）に接続されている。ｎチャネルＴＦＴ１２のゲート電極は走査信号線２を介して走査信号出力端子５３（ＧＡＴＥ）に接続されている。また、ｎチャネルＴＦＴ１２のソース電極は、発光制御信号線３を介して発光制御信号出力端子５４（ＳＩＧ）に接続され、ｎチャネルＴＦＴ１２のドレイン電極は、容量素子４３の一方の電極及び第２スイッチ１３としてのｎチャネルＴＦＴ１３のゲート電極に接続されている。
【００３０】
図２に示す検査方法の検査ステップにおいて、第２スイッチ１３をオフ状態とするには、ｎチャネルＴＦＴ１２及び第２スイッチ１３を動作させないことによって、それらをオフ状態とすればよい。第２スイッチ１３のオフ状態が保持されている状態で、第１電源端子５１から迂回線６３に電源電流８１が出力される。このとき、第２電源端子５２には負電圧（カソード電圧：−３Ｖ〜０Ｖ程度）が印加されている。図２は、第２スイッチ１３のオフ状態が保持されている状態を示している。
【００３１】
また本発明の発光素子基板の検査方法は、図４に示すように、ガラス基板等の基板と、基板上に配置された、第１電源端子５１（ＶＤＤ）及びそれよりも低電位の第２電源端子５２（ＶＳＳ）と、基板上に配置され、発光素子１４のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極４１、第２電極４２と、第１電源端子５１と第１電極４１とを接続する第１接続線６１と、第２電源端子５２と第２電極４２とを接続する第２接続線６２と、第２接続線６２から分岐し第２電源端子５２に接続された迂回線６３上に配置され、迂回線６３に直列接続された第１スイッチ７１と、迂回線６３の分岐部６３ａと第２電源端子５２間の第２接続線６２上に配置され、第２接続線６２に直列接続された第２スイッチ１３と、を有している発光素子基板を準備するステップと、基板上に発光素子１４を実装し、第１電源端子５１から第１接続線６１に電源電流８１を出力し、第１スイッチ７１をオンとし、第２スイッチ１３をオフとした状態で、発光素子１４の点灯検査を行う検査ステップと、を備えている構成である。
【００３２】
上記の構成により、以下の効果を奏する。元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチ１３に第１スイッチ７１を付加した簡易な構成の検査回路を用いて発光素子１４の点灯検査ができる。また、元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチ１３をオフとした状態で点灯検査ができるので、駆動素子９２を画素回路に接続しない状態で発光素子１４の点灯検査ができる。従って、もし基板上に駆動素子９２を配置した状態で欠陥のある発光素子１４が見つかった場合、その発光素子１４を取り除き、新たな発光素子１４を再実装するために、再実装のためのハンダ等の加熱工程において駆動素子９２に熱が加わり、駆動素子９２に不良が発生するおそれが、従来あったが、本発明においてはそのおそれはなくなる。また、点灯検査の際には、第２スイッチ１３としてのＴＦＴ１３とＴＦＴ１２をオンする必要がないので、これらのＴＦＴ１２，１３の少なくとも一方に動作不良があった場合、正確な点灯検査が実施できないおそれがあるが、そのようなおそれも低減される。
【００３３】
図４に示す検査方法の検査ステップにおいて、第２スイッチ１３をオフ状態とするには、ｎチャネルＴＦＴ１２及び第２スイッチ１３を動作させないことによって、それらをオフ状態とすればよい。第２スイッチ１３のオフ状態が保持されている状態で、第１電源端子５１から第１接続線６１に電源電流８１が出力される。このとき、第２電源端子５２には負電圧（カソード電圧：−３Ｖ〜０Ｖ程度）が印加されている。図４は、第２スイッチ１３のオフ状態が保持されている状態を示している。
【００３４】
本発明の発光素子基板は、図１に示すように、ガラス基板等から成る基板と、基板上に配置された、第１電源端子５１及びそれよりも低電位の第２電源端子５２と、基板上に配置され、発光素子１４のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極４１、第２電極４２と、第１電源端子５１と第１電極４１とを接続する第１接続線６１と、第２電源端子５２と第２電極４２とを接続する第２接続線６２と、第１接続線６２から分岐し第１電源端子５１に接続された迂回線６３上に配置され、迂回線６３に直列接続された第１スイッチ７１と、迂回線６３の分岐部６３ａと第１電源端子５１間の第１接続線６１上に配置され、第１接続線６１に直列接続された第２スイッチ１３と、を有している構成である。この構成により、元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチに第１スイッチを付加した簡易な構成の検査回路を構成することができる。
【００３５】
また本発明の発光素子基板は、図３に示すように、基板と、基板上に配置された、第１電源端子５１及びそれよりも低電位の第２電源端子５２と、基板上に配置され、発光素子１４のアノード電極、カソード電極にそれぞれ接続される第１電極４１、第２電極４２と、第１電源端子５１と第１電極４１とを接続する第１接続線６１と、第２電源端子５２と第２電極４２とを接続する第２接続線６２と、第２接続線６２から分岐し第２電源端子５２に接続された迂回線６３上に配置され、迂回線６３に直列接続された第１スイッチ７１と、迂回線６３の分岐部６３ａと第２電源端子５２間の第２接続線６２上に配置され、第２接続線６２に直列接続された第２スイッチ１３と、を有している構成である。この構成により、元々の画素回路のスイッチとしての第２スイッチ１３に第１スイッチ７１を付加した簡易な構成の検査回路を構成することができる。
【００３６】
図１に示す本発明の発光素子基板において、第２スイッチ１３は、ｐチャネルＴＦＴであり、そのゲート電圧を制御する駆動素子９１に接続される駆動素子接続部としての発光制御信号出力端子５４を有しており、駆動素子９１が発光制御信号出力端子５４に接続されていない状態で、発光素子１４の点灯検査が行われることが好適である。この場合、駆動素子９１を画素回路に接続しない状態で発光素子１４の点灯検査ができる。従って、もし基板上に駆動素子９１を配置した状態で欠陥のある発光素子１４が見つかった場合、その発光素子１４を取り除き、新たな発光素子１４を再実装するために、再実装のためのハンダ等の加熱工程において駆動素子９１に熱が加わり、駆動素子９１に不良が発生するおそれが、従来あったが、本発明においてはそのおそれはなくなる。
【００３７】
図３に示す本発明の発光素子基板は、第２スイッチ１３は、ｎチャネルＴＦＴであり、そのゲート電圧を制御する駆動素子９２に接続される駆動素子接続部としての発光制御信号出力端子５４を有しており、駆動素子９２が発光制御信号出力端子５４に接続されていない状態で、発光素子１４の点灯検査が行われることが好適である。この場合、駆動素子９２を画素回路に接続しない状態で発光素子１４の点灯検査ができる。従って、もし基板上に駆動素子９２を配置した状態で欠陥のある発光素子１４が見つかった場合、その発光素子１４を取り除き、新たな発光素子１４を再実装するために、再実装のためのハンダ等の加熱工程において駆動素子９２に熱が加わり、駆動素子９２に不良が発生するおそれが、従来あったが、本発明においてはそのおそれはなくなる。
【００３８】
本発明の表示装置において、発光素子１４としては、マイクロチップ型の発光ダイオード（ＬＥＤ）、モノリシック型の発光ダイオード、有機ＥＬ、半導体レーザ素子等の自発光型のものであれば採用し得る。
【００３９】
また、第１スイッチ７１、第２スイッチ１３は、ｎチャネルＴＦＴ、ｐチャネルＴＦＴ、それらを組み合わせて成るＣＭＯＳ(Complementary  Metal  Oxide  Semiconductor:相補型金属酸化膜半導体)スイッチ、その他のスイッチ機能を有する素子から成るものであればよい。
【００４０】
本発明の発光素子基板は表示装置等に適用できる。本発明の発光素子基板が適用された表示装置は、一つの画素部１５に、異なる発光波長（発光色）の発光素子１４が複数配置されており、それぞれに接続される発光制御部がある構成であってもよい。例えば、一つの画素部１５に、赤色ＬＥＤ（ＲＬＥＤ）等から成る赤色発光素子と緑色ＬＥＤ（ＧＬＥＤ）等から成る緑色発光素子と青色ＬＥＤ（ＢＬＥＤ）等から成る青色発光素子と、が配置されており、それぞれに接続される発光制御部（Ｒドライバ、Ｇドライバ、Ｂドライバ）がある構成であってもよい。この場合、例えば、画素部１５の中心部にＲＬＥＤ、ＧＬＥＤ、ＢＬＥＤが集約的に正三角形の各頂点に位置するように配置されており、ＲドライバとＧドライバとＢドライバが、ＲＬＥＤとＧＬＥＤとＢＬＥＤよりも基板１の内側に配置される構成とし得る。また、画素部１５の中心部にＲＬＥＤ、ＧＬＥＤ、ＢＬＥＤが、走査信号線２または発光制御信号線３に平行な一直線上、すなわち行方向または列方向に平行な一直線上、に配列された構成とすることもできる。
【００４１】
また、隣接する３つの画素部１５のそれぞれに、互いに異なる発光波長（発光色）の発光素子１４が配置されており、それぞれに接続される発光制御部がある構成であってもよい。例えば、第１の画素部１５に赤色ＬＥＤ（ＲＬＥＤ）等から成る赤色発光素子が配置され、第２の画素部１５に緑色ＬＥＤ（ＧＬＥＤ）等から成る緑色発光素子が配置され、第３の画素部１５に青色ＬＥＤ（ＢＬＥＤ）等から成る青色発光素子が配置されており、それぞれに接続される発光制御部（Ｒドライバ、Ｇドライバ、Ｂドライバ）が各画素部１５にある構成であってもよい。第１の画素部１５と第２の画素部１５と第３の画素部１５は、行方向に並んでいてもよく、列方向に並んでいてもよい。
【００４２】
なお、本発明の表示装置は、上記実施の形態に限定されるものではなく、適宜の変更、改良を含んでいてもよい。例えば、基板は透明なガラス基板であってもよいが、不透明なものであってもよい。基板が不透明なものである場合、基板は着色されたガラス基板、摺りガラスから成るガラス基板、プラスチック基板、セラミック基板、金属基板、あるいはそれらの基板を積層した複合基板であってもよい。基板が金属基板から成る場合、あるいは基板が金属基板を含む複合基板である場合には、基板の熱伝導性が向上し放熱性に有利なものとなる。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
本発明の発光素子基板は、ＬＥＤ表示装置、有機ＥＬ表示装置等の表示装置に適用し得るものであり、またその表示装置は、各種の電子機器に適用できる。その電子機器としては、複合型かつ大型の表示装置（マルチディスプレイ）、自動車経路誘導システム（カーナビゲーションシステム）、船舶経路誘導システム、航空機経路誘導システム、スマートフォン端末、携帯電話、タブレット端末、パーソナルデジタルアシスタント（ＰＤＡ）、ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ、電子手帳、電子書籍、電子辞書、パーソナルコンピュータ、複写機、ゲーム機器の端末装置、テレビジョン、商品表示タグ、価格表示タグ、産業用のプログラマブル表示装置、カーオーディオ、デジタルオーディオプレイヤー、ファクシミリ、プリンター、現金自動預け入れ払い機（ＡＴＭ）、自動販売機、ヘッドマウントディスプレイ（ＨＭＤ）、デジタル表示式腕時計、スマートウォッチなどがある。
【符号の説明】
【００４４】
１  基板
２  走査信号線
３  発光制御信号線
１２  ｎチャネルＴＦＴ
１３  第２スイッチとしてのｎチャネルＴＦＴ
１４  発光素子
１６  正電圧入力線
１７  負電圧入力線
４１  第１電極
４２  第２電極
４３  容量素子
５１  第１電源端子
５２  第２電源端子
６１  第１接続線
６２  第２接続線
６３  迂回線
７１  第１スイッチ
９１，９２  駆動素子
【図１】
2019045606.tif 000003
【図２】
2019045606.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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