(57)【要約】【課題】任意のデータブロック間ギャップ長を有する評価用磁気テープを効率的に製造できるようにする。【解決手段】データブロック間に介在されるデータブロック間ギャップ部のそれぞれについてギャップ長を設定するギャップ長設定部１２１と、データブロック間ギャップ部の各々について、設定されたギャップ長で定まる位置に、所定のデータパターンをライトするライト処理部１２２とを備える。【選択図】図２
2019071155.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テープドライブ装置を評価するための評価用データパターンを記録した評価用テープ媒体を作成するテープ作成装置であって、
データブロック間に介在されるデータブロック間ギャップ部のそれぞれについてギャップ長を設定するギャップ長設定部と、
データブロック間ギャップ部の各々について、設定された前記ギャップ長で定まる位置に所定のデータパターンをライトするライト処理部と
を備えることを特徴とする、テープ作成装置。
【請求項２】
前記ギャップ長設定部が、前記データブロックの並び方向において、所定数毎に異なるギャップ長に設定する
ことを特徴とする、請求項１記載のテープ作成装置。
【請求項３】
前記ギャップ長設定部が、前記データブロックの並び方向において、前記ギャップ長を、漸次伸長もしくは短縮するように変化させて、異なるギャップ長に設定する
ことを特徴とする、請求項１または２記載のテープ作成装置。
【請求項４】
前記ギャップ長設定部が、評価用テープ媒体上にライトされている最後尾の第１データブロックに後続する第１データブロック間ギャップ部に対して、新たにライトする第２データブロックに先行させる第２データブロック間ギャップ部の開始位置を変化させることで、前記第１データブロック間ギャップ部と前記第２データブロック間ギャップ部とで形成される第３データブロック間ギャップ部のギャップ長を変化させる
ことを特徴とする、請求項１または２記載のテープ作成装置。
【請求項５】
前記ギャップ長設定部が、評価用テープ媒体上にライトされている最後尾のデータブロックに後続するデータブロック間ギャップ部の後端と、新たにライトするデータブロックに先行させるデータブロック間ギャップ部の先端との間に、前記データブロック間ギャップ部およびデータブロックが不在の領域を形成する
ことを特徴とする、請求項１または２記載のテープ作成装置。
【請求項６】
テープドライブ装置を評価するための評価用データパターンを記録した評価用テープ媒体を作成するテープ作成装置と、前記テープ作成装置と通信可能に接続される制御装置とを備えるテープ作成システムであって、
前記制御装置が、
前記テープ作成装置に対して、前記評価用データパターンのライト指示を発行する発行部を備え、
前記テープ作成装置が、
データブロック間に介在されるデータブロック間ギャップ部のそれぞれについてギャップ長を設定するギャップ長設定部と、
データブロック間ギャップ部の各々について、設定された前記ギャップ長で始まる位置に所定のデータパターンをライトするライト処理部と
を備えることを特徴とする、テープ作成システム。
【請求項７】
テープドライブ装置を評価するための評価用データパターンを記録した評価用テープ媒体を作成するテープ作成装置のプロセッサに評価用テープ作成機能を実行させるテープ作成プログラムであって、
前記テープ作成プログラムが、
データブロック間に介在されるデータブロック間ギャップ部のそれぞれについてギャップ長を設定し、
データブロック間ギャップ部の各々について、設定された前記ギャップ長で定まる位置に、所定のデータパターンをライトする
処理を前記プロセッサに実行させることを特徴とする、テープ作成プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テープ作成装置，テープ作成システムおよびテープ作成プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
記録媒体として用いられる磁気テープにおいて、磁気テープに書き込まれるデータや読み出されるデータの単位をデータブロックという。磁気テープ上において、隣接するデータブロック間には、ＤＳＳ（Data Set Separator）が形成される。なお、ＤＳＳをＩＢＧ（Inter Block Gap）と言う場合もある。
ＤＳＳの長さ（以後、ＤＳＳ長という）は、磁気テープの互換性に影響を与える要素の１つである。なお、異なる磁気テープドライブ装置のそれぞれで同じ磁気テープをリード可能である場合に、磁気テープの互換性があるということができる。このような磁気テープの互換性は、例えば、同一メーカの異なる磁気テープドライブ装置間や、異なるメーカの磁気テープドライブ装置間で重要視される。
【０００３】
ＤＳＳとしては、例えば、Ｌｏｎｇ ＤＳＳ，Ｓｈｏｒｔ ＤＳＳおよびＥｘｔｅｎｄｅｄ ＤＳＳの３種類のＤＳＳが知られている。
Ｌｏｎｇ ＤＳＳは、サーボトラックエラーが起こった後のリトライで書き込まれる最初のデータセットの前に記録されるＤＳＳであり、その長さ（ＤＳＳ長）は197〜984mmである。なお、サーボトラックエラーは、例えば磁気テープのエッジ折れにより発生する。
【０００４】
Ｓｈｏｒｔ ＤＳＳは、ストリーミング動作中に記録されるＤＳＳであり、そのＤＳＳ長は0.1mm〜1mmである。
Ｅｘｔｅｎｄｅｄ ＤＳＳは、ＦＩＤ（Format Identification Dataset）の前後、ラップの初め、ラップの終わり、ＥＯＤ（End Of Data）の前後および追加書きが行なわれた最初のデータセットの前に記録されるＤＳＳであり、そのＤＳＳ長は9.8〜197mmである。以下、Ｅｘｔｅｎｄｅｄ ＤＳＳをＥｘｔ−ＤＳＳと表す場合がある。
【０００５】
磁気テープにおいては、磁気テープの巻き緩みに起因してＤＳＳ長の変動が生じる場合がある。
磁気テープの巻き緩みは、保管環境の温度変化により磁気テープが膨張収縮することにより発生する。ＤＳＳ長の変動は、磁気テープの巻き緩みによる動作時の位置ずれや、ハードウェアやファームウェアの制御不具合によって発生することがある。
【０００６】
図９は磁気テープ上においてＤＳＳ長が変化する要因の一例を説明するための図である。
図９中において、符号（Ａ）は、データのライト終了後の磁気テープ上におけるデータブロックおよびＤＳＳの状態を示す。さらに、符号（Ｂ）は、符号（Ａ）に示した状態の磁気テープに、さらにデータのライトを行なった直後における磁気テープ上のデータブロックおよびＤＳＳの状態を示す。
【０００７】
符号（Ａ）に示す状態においては、磁気テープ１０００上に３つのデータブロック１００１−１〜１００１−３が形成されている。なお、以下、データブロックを示す符号としては、複数のデータブロックのうち１つを特定する必要があるときには符号１００１−１〜１００１−３を用いるが、任意のデータブロックを指すときには符号１００１を用いる。
【０００８】
隣り合うデータブロック１００１間にはＳｈｏｒｔ ＤＳＳ１００２ａが形成されている。また最後尾（ＥＯＤ）のデータブロック１００１−３に後続して、Ｅｘｔ−ＤＳＳ１００２ｂ−１が形成されている。
そして、符号（Ｂ）に示すように、符号（Ａ）に示す状態の磁気テープ１０００において、データブロック１００１−３に後続する位置に、データブロック１００１−４を記録する。
【０００９】
この際、新たに記録するデータブロック１００１−４に先行して配置されるＥｘｔ-ＤＳＳ１００２Ｂ−２が、Ｅｘｔ-ＤＳＳ１００２Ｂ−１に重なるようにライトする。すなわち、Ｅｘｔ−ＤＳＳ１００２ｂ−１にＥｘｔ−ＤＳＳ１００２ｂ−２を重ね書きする。
ここで、磁気テープ１０００の伸び縮みや巻き弛み、サーボ制御の誤差等の理由で、データブロック１００１−４の先頭位置がＥｘｔ−ＤＳＳ１００２ｂ−１の後端位置よりも後ろ側にずれた位置にＥｘｔ−ＤＳＳ１００２ｂ−２およびデータブロック１００１−４が書き込まれる場合がある。
【００１０】
このような場合に、データブロック１００１−３の後端とデータブロック１００１−４の先端との間に形成されるＤＳＳ（Ｅｘｔ−ＤＳＳ）のＤＳＳ長がＥｘｔ−ＤＳＳ１００２ｂ−１よりも長くなる。すなわち、ＤＳＳ長が長くなる。
磁気テープのリードやライトを行なう磁気テープドライブ装置においては、磁気テープにおけるＤＳＳ長の変動の影響を確認するために、例えば、規定よりも長いＤＳＳが記録された評価用磁気テープに対してリードやライトさせることが行なわれている。すなわち、磁気テープドライブ装置に評価用磁気テープに対してリードやライトを行なわせることで、磁気テープドライブ装置の評価を行なうことが行なわれている。
【００１１】
評価用磁気テープの従来の製造方法は、例えば、以下の処理１〜処理３を行なうことにより実現される。
（処理１）専用ファームウェアを適用した磁気テープドライブ装置を用いて、磁気テープを磁気テープドライブ装置のマシンリールに全て巻き取った後、通常より低いテンションでリワインドしてから、アンロードする。なお、所望のＤＳＳが発生する頻度が低いため、本処理１においては、一度に50〜100巻の磁気テープカートリッジを作成する。
【００１２】
（処理２）処理１で作成した磁気テープカートリッジを恒温槽に入れ、45℃環境に8〜24時間保管し、-5℃環境に8〜24時間保管した後、常温に戻す。これらにより、磁気テープを巻緩んだ状態にする。
（処理３）処理２を行なった磁気テープカートリッジを磁気テープドライブ装置に取り付け、磁気テープをロードし、スタート・ストップ頻度が高い動作モードでＩ／Ｏ走行を行なう。ここで、スタート・ストップ頻度が高い動作モードでのＩ／Ｏ走行とは、小ファイルかつコマンド間隔が長いライト動作、若しくは小ファイルかつバッファフラッシュを伴うＩ／Ｏ走行をいう。磁気テープの加速・減速時はテンション変動が大きいので、ライト動作における加速の際に、巻緩みにより磁気テープが本来の繰り出し量より余計に繰り出されてしまう事象を生じさせる。これにより、ＤＳＳの書き足し位置がずれて規定より長いＤＳＳが記録された磁気テープ（評価用磁気テープ）が作成される。
【００１３】
また、上述の如く製造した評価用磁気テープを用いた磁気テープドライブ装置の評価は、以下のようにして行なわれる。
すなわち、評価用磁気テープを磁気テープドライブ装置に取り付け、スタートおよびストップをさせずに一定速度で走行させるストリーミングでリードする。そして、ＤＳＳ長をタイムインターバイルアナライザのヒストグラムモードで観測することにより、ＤＳＳ長分布を測定する。
【００１４】
最大ＤＳＳ長と最小ＤＳＳ長とを観測し、磁気テープドライブ装置のリード可能なＤＳＳ範囲およびリード可能範囲が妥当であるか、エラーとするべき長さのＤＳＳ長に対して妥当なエラーが報告されたかなどを確認する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１５】
【特許文献１】特開２００３−２４９０３８号公報
【特許文献２】特開２００９−１６３８３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
しかしながら、このような評価用磁気テープの従来の製造方法においては、評価用磁気テープに生じる巻緩みを利用しているため、ＤＳＳ量を狙った値に設定することが容易ではない。
また、評価用磁気テープにおいて、ＤＳＳの書き足し位置のずれ量が多い場合にはライト中にエラーが発生する。そのため、エラー位置のＤＳＳの状態をオシロスコープやロジックアナライザで観測し、妥当なエラーが報告されたかどうかを確認することになる。
【００１７】
このように、巻緩みを利用した評価用磁気テープを使用して磁気テープ装置の評価を行なった場合、再現性が低く、精度の高い評価を行なうことが困難である。
１つの側面では、本発明は、任意のデータブロック間ギャップ長を有する評価用磁気テープを効率的に製造できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
このため、このテープ作成装置は、テープドライブ装置を評価するための評価用データパターンを記録した評価用テープ媒体を作成するテープ作成装置であって、前記評価用データパターンにおいて、データブロック間に介在されるデータブロック間ギャップ部のギャップ長を変化させるよう設定するギャップ長設定部と、設定された前記ギャップ長のデータブロック間ギャップ部を、データブロックとともに前記評価用テープ媒体にライトするライト処理部とを備える。
【発明の効果】
【００１９】
一実施形態によれば、任意のデータブロック間ギャップ長を有する評価用磁気テープを効率的に製造できる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】実施形態の一例としての磁気テープ製造システムのハードウェア構成図である。
【図２】実施形態の一例としての磁気テープ製造システムの機能構成図である。
【図３】実施形態の一例としての磁気テープ製造システムによって作成される評価用磁気テープの一部を例示する図である。
【図４】磁気テープ上におけるＥｘｔ−ＤＳＳライト開始位置とＥｘｔ−ＤＳＳ長との関係を説明するための図である。
【図５】実施形態の一例としての磁気テープ製造システムにおける評価用磁気テープの作成方法の概要を説明するためのフローチャートである。
【図６】図５のフローチャートにおけるステップＡ７のサブルーチンＳ１の処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】図５のフローチャートにおけるステップＡ９のサブルーチンＳ２の処理を説明するためのフローチャートである。
【図８】図５のフローチャートにおけるステップＡ１１のサブルーチンＳ３の処理を説明するためのフローチャートである。
【図９】磁気テープ上においてＤＳＳ長が変化する要因を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、図面を参照して本テープ作成装置，テープ作成システムおよびテープ作成プログラムに係る実施の形態を説明する。ただし、以下に示す実施形態はあくまでも例示に過ぎず、実施形態で明示しない種々の変形例や技術の適用を排除する意図はない。すなわち、本実施形態を、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。また、各図は、図中に示す構成要素のみを備えるという趣旨ではなく、他の機能等を含むことができる。
【００２２】
（Ａ）構成
図１は実施形態の一例としての磁気テープ製造システム１のハードウェア構成を模式的に示す図、図２はその機能構成図である。
図１に例示する磁気テープ製造システム１は、ホストサーバ２および磁気テープドライブ装置１０を備える。
【００２３】
磁気テープ製造システム１は評価用磁気テープ１００を作成する。評価用磁気テープ１００は、例えば、異なる磁気テープドライブ装置間での磁気テープの互換性を確認するために用いられる。
例えば、同一メーカの異なる磁気テープドライブ装置間や、異なるメーカの磁気テープドライブ装置間で、同じ磁気テープをそれぞれリード可能である場合には、磁気テープの互換性があると判断される。
【００２４】
評価用磁気テープ１００は、例えば、テープカートリッジ１８に収容されて用いられる。磁気テープドライブ装置１０や評価対象の磁気テープドライブ装置には、このテープカートリッジ１８ごと取り付け（挿入し）てもよい。
以下、テープカートリッジ１８を磁気テープドライブ装置１０に取り付けることを、磁気テープ１００（評価用磁気テープ１００）を磁気テープドライブ装置１０に取り付けるという場合がある。
【００２５】
（Ａ１）ホストサーバ
ホストサーバ２は、例えば、サーバ機能を有する情報処理装置（コンピュータ）である。ホストサーバ２は、図示しない、プロセッサ，メモリおよび記憶装置等を備える。
ホストサーバ２は、通信路２１ａおよび通信路２１ｂを介して磁気テープドライブ装置１０と通信可能に接続されている。
【００２６】
通信路２１ａは、主に磁気テープドライブ装置１０との間でコマンド（例えばライトコマンド）等の送受信を行なうために用いられ、例えば、ＦＣ（Fibre Channel），ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface），ＳＡＳ（Serial Attached SCSI）等の規格に沿った通信が行なわれる。
通信路２１ｂは、主に磁気テープドライブ装置１０との間で制御用情報の送受信を行なうために用いられ、例えば、ＬＡＮ（Local Area Network），ＲＳ２３２Ｃ等の規格に沿った通信が行なわれる。ホストサーバ２は、この通信路２１ｂを介して磁気テープドライブ装置１０にｔｅｌｎｅｔ接続される。
【００２７】
記憶装置は、ハードディスクドライブ（Hard disk drive：ＨＤＤ），ＳＳＤ（Solid State Drive），ストレージクラスメモリ（Storage Class Memory：ＳＣＭ）等の記憶装置であって、種々のデータを格納するものである。
メモリはＲＯＭおよびＲＡＭを含む記憶メモリである。メモリのＲＯＭには、評価用磁気テープ作成機能を実現するためのソフトウェアプログラム（ホストサーバ用プログラム）やこのプログラム用のデータ類が書き込まれている。メモリ上のソフトウェアプログラムは、プロセッサに適宜読み込まれて実行される。また、メモリのＲＡＭは、一次記憶メモリあるいはワーキングメモリとして利用される。
【００２８】
また、ホストサーバ２は、図示しないキーボードやマウス等の入力装置を備え、オペレータは、これらの入力装置を介して、評価用磁気テープ１００を作成するための各種情報や指示を入力する。例えば、オペレータは、入力装置を用いてテストモード，同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数および書き込み回数の入力を行なう。
本磁気テープ製造システム１においては、テストモードとして、“Short DSS伸長モード”，“Short DSS短縮モード”および“Extended DSS分割モード”の３種類があり、オペレータはこれらの中から１つのテストモードを選択する。
【００２９】
なお、各テストモードの詳細については後述する。また、同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数および書き込み回数についても詳細は後述する。
プロセッサは、ホストサーバ２全体を制御する。なお、プロセッサは、マルチプロセッサであってもよい。プロセッサは、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit），ＭＰＵ（Micro Processing Unit），ＭＰＵ（Micro Processing Unit），ＤＳＰ（Digital Signal Processor），ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit），ＰＬＤ（Programmable Logic Device），ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）のいずれか一つであってもよい。また、プロセッサは、ＣＰＵ，ＭＰＵ，ＤＳＰ，ＡＳＩＣ，ＰＬＤ，ＦＰＧＡのうちの２種類以上の要素の組み合わせであってもよい。
【００３０】
そして、ホストサーバ２のプロセッサが、評価用磁気テープ作成指示プログラムを実行することにより、後述する情報設定部２０２およびライトコマンド発行部２０１として機能する。
なお、これらの情報設定部２０２およびライトコマンド発行部２０１としての機能を実現するためのプログラムは、例えばフレキシブルディスク，ＣＤ（ＣＤ−ＲＯＭ，ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ等），ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋ＲＷ，ＨＤ  ＤＶＤ等），ブルーレイディスク，磁気ディスク，光ディスク，光磁気ディスク等の、コンピュータ読取可能な記録媒体に記録された形態で提供される。そして、ホストサーバ２はその記録媒体からプログラムを読み取って内部記憶装置または外部記憶装置に転送し格納して用いる。また、そのプログラムを、例えば磁気ディスク，光ディスク，光磁気ディスク等の記憶装置（記録媒体）に記録しておき、その記憶装置から通信経路を介してコンピュータに提供するようにしてもよい。
【００３１】
情報設定部２０２およびライトコマンド発行部２０１としての機能を実現する際には、内部記憶装置（本実施形態ではホストサーバ２のメモリ）に格納されたプログラムがコンピュータのマイクロプロセッサ（本実施形態ではプロセッサ）によって実行される。このとき、記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータが読み取って実行するようにしてもよい。
【００３２】
情報設定部２０２は、磁気テープドライブ装置１０に対して評価用磁気テープ１００を作成させるための設定を行なう。
例えば、情報設定部２０２は、磁気テープドライブ装置１０に対して、通信路２１ｂを介してｔｅｌｎｅｔ接続し、磁気テープドライブ装置１０のコントローラ１１のメモリ１３（詳細は後述）の所定の領域に設定値を設定する。
【００３３】
具体的には、情報設定部２０２は、オペレータによって入力（選択）されたテストモードを表す値を、コントローラ１１のメモリ１３にテストモード設定値１３１（図２参照）として設定する。
例えば、オペレータにより“Short DSS伸長モード”が選択された場合にはテストモード設定値１３１として“１”が設定される。オペレータにより、“Short DSS短縮モード” が選択された場合にはテストモード設定値１３１として“２”が、また、“Ext-DSS分割モード” が選択された場合にはテストモード設定値１３１として“３”が、それぞれ設定される。
【００３４】
また、情報設定部２０２は、オペレータによって入力された同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数を表す値を、コントローラ１１のメモリ１３に同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２（図２参照）の初期値として設定する。
ライトコマンド発行部２０１は、磁気テープドライブ装置１０に対して評価用磁気テープ１００を作成させるためのライトコマンドを発行する。ライトコマンド発行部２０１は、ライトコマンドとともに、磁気テープにおける１つ分のデータブロック１０１（図３参照）に相当するサイズ（例えば、２５６バイト）のライトデータも磁気テープドライブ装置１０に対して発行する。
【００３５】
ライトコマンド発行部２０１は、オペレータによって指定された入力情報（テストモード，同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数および書き込み回数）に応じて、ライトコマンドおよびライトデータを磁気テープドライブ装置１０に対して発行する。
（Ａ２）磁気テープドライブ装置
磁気テープドライブ装置１０は、当該磁気テープドライブ装置１０に取り付けられたテープカートリッジ１８の磁気テープ１００に対して評価用データパターンを記録することで、評価用磁気テープ１００を作成する。
【００３６】
磁気テープドライブ装置１０は、図１に示すように、コントローラ１１，アナログ／デジタル変換部１４，ヘッドアッセンブリ１５，アクチュエータ１６および磁気テープ搬送機構１７を備える。
磁気テープ搬送機構１７は、当該磁気テープドライブ装置１０に取り付けられたテープカートリッジ１８から磁気テープ（評価用磁気テープ）１００を引き出して搬送する。磁気テープ搬送機構１７は、図示しないモータを備え、テープカートリッジ１８から引き出した磁気テープ１００をリール１７１に巻き取らせる。
【００３７】
磁気テープ１００の搬送経路上には、ヘッドアッセンブリ１５が備えられている。ヘッドアッセンブリ１５は、ライトヘッド１５１，リードヘッド１５２およびサーボヘッド１５３を備える。
ライトヘッド１５１は、磁気テープ１００に対してデータ（ライトデータおよびＤＳＳ）のライトを行なう。
【００３８】
リードヘッド１５２は、磁気テープ１００からデータ（ライトデータ）のリードを行なう。これらのライトヘッド１５１およびリードヘッド１５２を磁気ヘッドという場合がある。
サーボヘッド１５３は、磁気ヘッドの位置を判断するためのサーボバンドを磁気テープ１００から読み出す。
【００３９】
アクチュエータ１６は、ライトヘッド１５１，リードヘッド１５２およびサーボヘッド１５３の各位置制御を行なう。
アナログ／デジタル変換部１４は、リードヘッド１５２およびサーボヘッド１５３によって磁気テープ１００から読み出された信号（アナログ信号）をデジタル信号に変換する。また、アナログ／デジタル変換部１４は、コントローラ１１から送信されたデジタル信号を、ライトヘッド１５１に磁気テープ１００に書き込ませるための磁気信号（アナログ信号）に変換する。
【００４０】
コントローラ１１は、磁気テープドライブ装置１０の全体を制御する制御装置であり、プロセッサ１２およびメモリ１３を備える。
メモリ１３は、ＲＯＭ（Read Only Memory）およびＲＡＭ（Random Access Memory）を含む記憶メモリである。メモリ１３のＲＯＭには、評価用磁気テープ１００の作成制御に係るソフトウェアプログラム（テープ作成プログラム）やこのプログラム用のデータ類が書き込まれている。メモリ１３上のソフトウェアプログラムは、プロセッサ１２に適宜読み込まれて実行される。また、メモリ１３のＲＡＭは、一次記憶メモリあるいはワーキングメモリとして利用される。
【００４１】
メモリ１３の記憶領域には、図２に示すように、テストモード設定値１３１，同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２，ＤＳＳ長１３３，エラーフラグ１３４およびＤＳＳ長チェックフラグ１３５が格納される。
テストモード設定値１３１は、オペレータによって指定されたテストモードを表す値であり、ｔｅｌｎｅｔ接続されたホストサーバ２によって設定される。
【００４２】
同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２は、Short DSS伸長モードおよびShort DSS短縮モードにおいて、同じＤＳＳ長のＤＳＳ１０２をライトする回数を表す値である。この同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２も、ｔｅｌｎｅｔ接続されたホストサーバ２によって設定される。
また、Ext-DSS分割モードにおいては、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２は、ストリーミングでライトするデータセット数を表す。この同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２も、ｔｅｌｎｅｔ接続されたホストサーバ２によって設定される。
【００４３】
ＤＳＳ長１３３は、後述するライト制御部１２２が評価用磁気テープ１００にＤＳＳ１０２をライトする際に用いる変数である。Short DSS伸長モードおよびShort DSS短縮モードにおいては、ＤＳＳ長１３３の初期値として、例えば1.0mmが用いられ、Ext-DSS分割モードにおいては、ＤＳＳ長１３３の初期値として、例えば9.8mmが用いられる。
エラーフラグ１３４は、プロセッサ１２が実行したコマンドの実行結果がエラーであったかを示すフラグである。例えば、後述するライト制御部１２２が、データブロック１０１もしくはＤＳＳ１０２（図３参照）を評価用磁気テープ１００にライトする際にエラーが生じた場合に、このエラーフラグ１３４にエラーが生じた旨の値（例えば“１”）が、フラグとして設定される。
【００４４】
ＤＳＳ長チェックフラグ１３５は、磁気テープドライブ装置１０において、ファームウェアの機能として備えられるＤＳＳ長チェック機能をオフ（無効化）／オン（有効化）するために用いられるフラグである。例えば、ＤＳＳ長チェック機能をオフ（無効化）する際には、ＤＳＳ長チェックフラグ１３５に、当該機能をオフにする旨の値（例えば“０”）が、フラグとして設定される。
【００４５】
プロセッサ（処理部）１２は、磁気テープドライブ装置１０全体を制御する。プロセッサ１１２は、マルチプロセッサであってもよい。プロセッサ１１は、例えばＣＰＵ，ＭＰＵ，ＤＳＰ，ＡＳＩＣ，ＰＬＤ，ＦＰＧＡのいずれか一つであってもよい。また、プロセッサ１２は、ＣＰＵ，ＭＰＵ，ＤＳＰ，ＡＳＩＣ，ＰＬＤ，ＦＰＧＡのうちの２種類以上の要素の組み合わせであってもよい。
【００４６】
そして、プロセッサ１２が上述した評価用磁気テープ１００の作成制御に係るソフトウェアプログラム（テープ作成プログラム）を実行することにより、図２に示すように、評価用磁気テープ作成制御部１２０（ＤＳＳ長設定部１２１，ライト制御部１２２）として機能し、評価用磁気テープ作成機能が実現される。
図３は実施形態の一例としての磁気テープ製造システム１によって作成される評価用磁気テープ１００の一部を例示する図である。
【００４７】
この図３においては、Short DSS伸長モードで作成される評価用磁気テープ１００を例示している。評価用磁気テープ１００は、複数のデータブロック１０１が記録され、隣り合うデータブロック１０１間には、ＤＳＳ１０２−１，１０２−２，１０２−３が記録されている。
なお、以下、ＤＳＳを示す符号としては、複数のＤＳＳのうち１つを特定する必要があるときには符号１０２−１，１０２−２，１０２−３を用いるが、任意のＤＳＳを指すときには符号１０２を用いる。
【００４８】
本実施形態においては、同一の符号が付加されたＤＳＳは同じＤＳＳ長を有する。
図３に示す例においては磁気テープ１００は、その長手方向（テープ搬送方向）に沿って、複数の領域（領域１〜３）が形成されている。また、各領域には、それぞれ同数（ｎ個）のＤＳＳ１０２とデータブロック１０１との組み合わせがテープ搬送方向に沿って繰り返し記録され、さらに、同一領域内のＤＳＳ１０２のＤＳＳ長は等しい。なお、隣り合うＤＳＳ１０２とデータブロック１０１との組み合わせをデータセットという場合がある。
【００４９】
そして、各領域に配置されるＤＳＳ１０２の数（ｎ）、すなわち、データセットの数を同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数という。
図３に示す例において、領域１においては、ｎ個のデータブロック１０１（ＤＳＳ１０２）がＤＳＳ１０２−１を挟んでテープ搬送方向に沿って並んでいる。また、領域１におけるＤＳＳ１０２のＤＳＳ長=ａ１であるものとする。同様に、領域２においては、ｎ個のデータブロック１０１が、ＤＳＳ長=ａ２のＤＳＳ１０２−２を挟んでテープ搬送方向に沿って並んでいる。領域３においては、ｎ個のデータブロック１０１が、ＤＳＳ長=ａ３のＤＳＳ１０２−３を挟んでテープ搬送方向に沿って並んでいる。
【００５０】
以下、評価用磁気テープ１００に記録された複数のデータセット（ＤＳＳ１０２およびデータブロック１０１）の組み合わせを評価用データパターンという場合がある。また、磁気テープ１００（評価用磁気テープ１００）におけるテープ搬送方向を前方といい、テープ搬送方向とは逆方向を後方という場合がある。磁気テープ１００においては、先に記録されたデータセットの後方に、新たなデータセットがライトされる。
【００５１】
Short DSS伸長モードの評価用データパターンにおいて、ＤＳＳ長は、ａ１＜ａ２＜ａ３であるものとする。
これにより、Short DSS伸長モードで作成された当該評価用磁気テープ１００を評価対象の磁気テープドライブ装置１０に取り付けてテープ搬送を行ない、評価用データパターンのリードを行なう際に、ヘッドアッセンブリ１５によるアクセス対象が領域１、領域２、領域３の順に変わるに従って、ＤＳＳ長が長くなる（伸長する）。
【００５２】
これに対して、Short DSS短縮モードの評価用データパターンにおいては、ＤＳＳ長をａ１＞ａ２＞ａ３となるようにする。これにより、Short DSS短縮モードで作成された当該評価用磁気テープ１００を評価対象の磁気テープドライブ装置１０に取り付けてテープ搬送を行ない、評価用データパターンのリードを行なう際に、ヘッドアッセンブリ１５によるアクセス対象が領域１、領域２、領域３の順に変わるに従って、ＤＳＳ長が短くなる（短縮する）。
【００５３】
Ext-DSS分割モードにおいては、評価用磁気テープ１００上の評価用データパターンにおいてＥｘｔ−ＤＳＳが分離した状態を再現する。
図４は磁気テープ１００上におけるＥｘｔ−ＤＳＳライト開始位置とＥｘｔ−ＤＳＳ長との関係を説明するための図である。
図４においては、磁気テープ１００上に記録されている最後尾のデータセット（符号Ｐ１参照）に後続させて、新たなデータセット（符号Ｐ２参照）を記録する場合について示す。
【００５４】
また、図４において、符号（Ａ）〜（Ｃ）を付して示す各例間においてはＥｘｔ−ＤＳＳライト開始位置が異なる。
なお、磁気テープ１００上において、最後尾（ＥＯＤ）のデータセットＰ１にはデータブロック１０１に後続するようにＥｘｔ−ＤＳＳ１０２ａが備えられている。そして、例えば、符号（Ａ）に示すように、新たに記録されるデータセットＰ２に先行させるＥｘｔ−ＤＳＳライト開始位置を、最後尾のデータセットのＥｘｔ−ＤＳＳ１０２ａ上に配置する。これにより、最後尾のデータセットＰ１のデータブロック１０１の後端と、新たに記録されるデータセットＰ２のデータブロック１０１の先端との間隔がＥｘｔ−ＤＳＳの長さ（Ｅｘｔ−ＤＳＳ長）となる。符号（Ａ）に示す例においては、Ｅｘｔ−ＤＳＳ長＝Ａ１である。
【００５５】
なお、最後尾のデータセットＰ１のデータブロック１０１の後端と、新たに記録されるデータセットＰ２のデータブロック１０１の先端との間をＤＳＳ（Ｅｘｔ−ＤＳＳ）１０２ｃという場合がある。このＤＳＳ１０２ｃは、Ｅｘｔ−ＤＳＳ１０２ａとＥｘｔ−ＤＳＳ１０２ｂとによって形成される。
そして、Ｅｘｔ−ＤＳＳライト開始位置を変化させることで、Ｅｘｔ−ＤＳＳ長を変化させることができる。符号（Ｂ）に示す例においては、この符号（Ａ）に示した状態からＥｘｔ−ＤＳＳライト開始位置を後方にずらすことで、Ｅｘｔ−ＤＳＳ長を伸長させている。符号（Ｂ）に示す例においては、Ｅｘｔ−ＤＳＳ長＝Ａ２である（Ａ１＜Ａ２）。
【００５６】
Ｅｘｔ−ＤＳＳライト開始位置は、磁気テープドライブ装置において既知のギャップ位置補正機能を用いることで実現することができる。ギャップ位置補正機能としては、例えば、磁気テープドライブ装置における既知のＧａｐ−Ｉｎ位置制御手法を用いてもよい。
すなわち、磁気テープドライブ装置１０においては、Ｇａｐ−Ｉｎ位置をずらすことによりＥｘｔ−ＤＳＳ長を変化させることができる。例えば、図４の符号（Ｂ）に示す例において、Ｇａｐ−Ｉｎ位置を5mm後方に移動させることで、Ｅｘｔ−ＤＳＳ長が5mm長くなる。
【００５７】
このように、ＤＳＳ長設定部１２１は、評価用テープ１００上にライトされている最後尾のデータセットＰ１のデータブロック（第１データブロック）１０１に後続するＥｘｔ-ＤＳＳ（第１データブロック間ギャップ部）１０２ａに対して、新たにライトするデータセットＰ２のデータブロック（第２データブロック）１０１に先行させるＥｘｔ−ＤＳＳ（第２データブロック間ギャップ部）１０２ｂの開始位置（Ｅｘｔ−ＤＳＳライト開始位置）を変化させる。
【００５８】
これにより、ＤＳＳ長設定部１２１は、Ｅｘｔ-ＤＳＳ（第１データブロック間ギャップ部）１０２ａとＥｘｔ−ＤＳＳ（前記第２データブロック間ギャップ部）１０２ｂとで形成されるＤＳＳ（第３データブロック間ギャップ部）１０２ｃのギャップ長を変化させる（図４の符号（Ａ），（Ｂ）の長さＡ１，Ａ２参照）。
また、新たに記録されるデータセットＰ２のＥｘｔ−ＤＳＳライト開始位置を、最後尾のデータセットのＥｘｔ−ＤＳＳ１０２ａの後端よりも後方にする。これにより、図４中に符号（Ｃ）で示すように、最後尾のデータセットＰ１のデータブロック１０１に後続するＥｘｔ-ＤＳＳ１０２ａの後端と、新たに記録されるデータセットＰ２に先行させるＥｘｔ−ＤＳＳ１０２ｂの先端との間にギャップ（データブロック間ギャップ部）が生じる。すなわち、Ｅｘｔ-ＤＳＳ１０２ａの後端とＥｘｔ−ＤＳＳ１０２ｂの先端との間に、ＤＳＳ１０２およびデータブロック１０１が不在の領域（データブロック間ギャップ部）が形成される。
【００５９】
このように、最後尾のデータセットＰ１のデータブロック１０１の後端と、新たに記録されるデータセットＰ２のＥｘｔ−ＤＳＳ１０２ｂの先端との間にギャップが生じた状態を、Ｅｘｔ−ＤＳＳ分離状態という場合がある。
繰り返し使用された磁気テープ１００においてＥｘｔ−ＤＳＳ分離状態が生じた場合には、このギャップに先に当該磁気テープ１００に記録されたデータ（ベースデータパターン：詳細は後述）が残ることがある。
【００６０】
評価用磁気テープ作成制御部１２０は、評価用磁気テープ１００を作成するための制御を行なうものであり、ＤＳＳ長設定部１２１およびライト制御部１２２としての機能を備える。
そして、磁気テープドライブ装置１０のプロセッサ１２が、テープ作成プログラムを実行することにより、後述するＤＳＳ長設定部１２１およびライト制御部１２２として機能するようになっている。従って、磁気テープドライブ装置１０はコンピュータ（情報処理装置）として機能する。
【００６１】
なお、ＤＳＳ長設定部１２１およびライト制御部１２２としての機能を実現するためのプログラム（テープ作成プログラム）は、例えばフレキシブルディスク，ＣＤ（ＣＤ−ＲＯＭ，ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ等），ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋ＲＷ，ＨＤ  ＤＶＤ等），ブルーレイディスク，磁気ディスク，光ディスク，光磁気ディスク等の、コンピュータ読取可能な記録媒体に記録された形態で提供される。そして、磁気テープドライブ装置１０はその記録媒体からプログラムを読み取って内部記憶装置または外部記憶装置に転送し格納して用いる。また、そのプログラムを、例えば磁気ディスク，光ディスク，光磁気ディスク等の記憶装置（記録媒体）に記録しておき、その記憶装置から通信経路を介してコンピュータに提供するようにしてもよい。
【００６２】
ＤＳＳ長設定部１２１およびライト制御部１２２としての機能を実現する際には、内部記憶装置（本実施形態ではメモリ１３）に格納されたプログラムがコンピュータのマイクロプロセッサ（本実施形態では磁気テープドライブ装置１０のプロセッサ）によって実行される。このとき、記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータが読み取って実行するようにしてもよい。
【００６３】
ＤＳＳ長設定部１２１は、テストモードに応じたＤＳＳ長を設定する。ＤＳＳ長設定部１２１は、メモリ１３に設定されたテストモード設定値１３１を参照して、オペレータによって設定されたテストモードを確認する。
ＤＳＳ長設定部１２１は、テストモード設定値１３１に設定されているテストモードに応じたＤＳＳ長をメモリ１３の所定の領域にＤＳＳ長１３３として設定する。
【００６４】
例えば、テストモード設定値１３１に“１”が設定されている場合、すなわち、テストモードとしてShort DSS伸長モードが設定されている場合には、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３に1.0（単位：mm）を設定する。
また、テストモード設定値１３１に“２”が設定されている場合、すなわち、テストモードとしてShort DSS短縮モードが設定されている場合には、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３に1.0（単位：mm）を設定する。
【００６５】
さらに、テストモード設定値１３１に“３”が設定されている場合、すなわち、テストモードとしてExt-DSS分割モードが設定されている場合には、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３に9.8（単位：mm）を設定する。
テストモードに応じたＤＳＳ長の各値は、例えば、メモリ１３等の所定の記憶領域に予め設定されていてもよい。
【００６６】
また、ＤＳＳ長設定部１２１は、メモリ１３におけるエラーフラグ１３４およびＤＳＳ長チェックフラグ１３５のリセットも行なう。
ライト制御部１２２は、ＤＳＳ長設定部１２１によって設定された設定値を用いて、評価用磁気テープ１００にデータセットの書き込みを行なう。
一般に、磁気テープドライブ装置１０は、ライトヘッド１５１の後方にリードヘッド１５２が配置されている。すなわち、ライトヘッド１５１によりライトされたデータをリードヘッド１５２によりリード可能に構成され、ライトしたデータをチェックする機能を備える。このような機能として、リードアフターライト時のＤＳＳ長チェック機能が知られている。
【００６７】
本磁気テープ製造システム１において、ＤＳＳ長を変化させた評価用磁気テープ１００を作成する際は、上述したＤＳＳ長チェック機能をオフすることが望ましい。
ライト制御部１２２は、評価用磁気テープ１００にＤＳＳ１０２を記録するに際して、メモリ１３のＤＳＳ長１３３の値に相当するＤＳＳ長のＤＳＳ１０２をライトする。ライト制御部１２２は、ＤＳＳ１０２の各々について、設定されたＤＳＳ長で定まる位置に所定のデータパターンであるデータブロック１０１をライトすることで、評価用磁気テープ１００に評価用データパターンを形成する。
【００６８】
また、ライト制御部１２２は、評価用磁気テープ１００に複数のデータセットをライトするに際して、オペレータによって入力された同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数と同数の連続するＤＳＳ１０２は、同じＤＳＳ長となるようにライトする。
なお、ライト制御部１２２は同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数のＤＳＳ１０２に同じＤＳＳ長を設定するために、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２の値を用いる。
【００６９】
例えば、評価用磁気テープ１００にShort DSS伸長モードの評価用データパターンをライトする際には、ライト制御部１２２は、ホストサーバ２から送信される複数のライトデータを、「同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数」毎にＤＳＳ長を1.0mmずつ長くしながら（変化させながら）、ＤＳＳ１０２とともに評価用磁気テープ１００にライトする。これにより、評価用データパターンにおいてＤＳＳ長を徐々に長くする。
【００７０】
ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長を、最終的に磁気テープドライブ装置１０の仕様上の上限値（例えば、100mm）よりも大きい値になるまで変化させることが望ましい。
また、評価用磁気テープ１００にShort DSS短縮モードの評価用データパターンをライトする際には、ライト制御部１２２は、ホストサーバ２から送信される複数のライトデータを、「同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数」毎にＤＳＳ長を1.0mmずつ短くしながら（変化させながら）、ＤＳＳ１０２とともに評価用磁気テープ１００にライトする。これにより、評価用データパターンにおいてＤＳＳ長を徐々に短くする。このように、ＤＳＳ長設定部１２１は、評価用磁気テープ１００上のデータブロックの並び方向において、ギャップ長を、漸次伸長もしくは短縮するように変化させる。
【００７１】
ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長を、最終的に磁気テープドライブ装置１０の仕様上の下限値（例えば、0.01mm）より小さい値になるまで変化させることが望ましい。
さらに、評価用磁気テープ１００にExt-DSS分割モードの評価用データパターンをライトする際には、ライト制御部１２２は、ホストサーバ２から送信される複数のライトデータを、「同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数」毎にＥｘｔ−ＤＳＳ１０２のライト開始位置を10mmずつ後方にずらしながら、ＤＳＳ１０２とともに評価用磁気テープ１００にライトする。これにより、評価用データパターンにおいてＥｘｔ−ＤＳＳのＤＳＳ長を徐々に長くする。最終的に、Ｅｘｔ−ＤＳＳ間（ＤＳＳ１０２ｃ）にギャップ（データセット不在の領域）が形成され、このギャップにベースデータパターンが残存した状態が生じる。
【００７２】
ＤＳＳ長設定部１２１は、Ｅｘｔ−ＤＳＳ間のギャップを、最終的には磁気テープドライブ装置１０の仕様上の上限値よりも大きい値になるまで変化させることが望ましい。
また、ライト制御部１２２は、ＤＳＳ１０２のライトを行なう際に、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２の更新等も行なう。
さらに、ライト制御部１２２は、Ext-DSS分割モードで評価用磁気テープ１００を作成する際には、評価用磁気テープ１００に対して、評価用データパターンをライトする前に、所定のデータパターンを有するデータをライトしておく。このデータパターンは、ＤＳＳ１０２のデータパターンともデータブロック１０１のデータパターンとも異なるものであり、以下、ベースデータパターンという場合がある。ベースデータパターンは、評価用磁気テープ１００の全面にライトしてもよく、また、評価用データパターンの形成に用いられる所定範囲に対してのみライトしてもよい。
【００７３】
これにより、Ext-DSS分割モードの評価用データパターンにおいて、Ｅｘｔ−ＤＳＳ分離状態を構成するギャップ部分において、ベースデータパターンが検出される。
（Ｂ）動作
上述の如く構成された実施形態の一例としての磁気テープ製造システム１における評価用磁気テープ１００の作成方法の概要を、図５に示すフローチャート（ステップＡ１〜Ａ１３）に従って説明する。
【００７４】
ステップＡ１において、本磁気テープ製造システム１に電源投入が行なわれる。これに伴い、磁気テープドライブ装置１０においてハードウェアの初期化（イニシャライズ）が行なわれ、例えば、アクチュエータ１６等の機構部品の位置決め等が行なわれる。
ユーザは、ホストサーバ２において、入力装置を用いてテストモード，同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数および書き込み回数の入力を行なう。なお、これらの値のうち、少なくとも一部をホストサーバ２に初期値として予め設定しておいてもよい。
【００７５】
ステップＡ２において、ホストサーバ２から磁気テープドライブ装置１０にｔｅｌｎｅｔ接続を行ない、テストモードを表す値を、コントローラ１１のメモリ１３にテストモード設定値１３１として設定する。
ステップＡ３において、ｔｅｌｎｅｔ接続されたホストサーバ２は、磁気テープドライブ装置１０のコントローラ１１のメモリ１３に、同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数を表す値を同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２の初期値ＮＷとして設定する。
【００７６】
なお、ステップＡ２，Ａ３の順序はこれに限定されるものではない。例えば、ステップＡ３の処理を行なった後にステップＡ２の処理を行なってもよく、また、これらのステップＡ２，Ａ３の処理を並行して行なってもよい。
ステップＡ４において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、ＤＳＳ長チェックフラグ１３５をオフに設定することで、ＤＳＳ長チェック機能をオフ（無効化）にする。
【００７７】
ステップＡ５において、磁気テープ搬送機構１７が、磁気テープドライブ装置１０に取り付けられたテープカートジッリ１８から磁気テープ１００を引き出してロードする。磁気テープ１００の端部はリール１７１に巻きつけられる。これにより、ヘッドアッセンブリ１５のライトヘッド１５１，リードヘッド１５２およびサーボヘッド１５３が、磁気テープ１００にライトやリードのアクセスを行なうことが可能となる。
【００７８】
ステップＡ６において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、メモリ１３のテストモード設定値１３１が“１”であるかを確認する。すなわち、メモリ１３のテストモード設定値１３１がShort DSS伸長モードを表すものであるかを確認する。
確認の結果、テストモード設定値１３１が“１”である場合には（ステップＡ６のＹｅｓルート参照）、ステップＡ７に移行する。
【００７９】
ステップＡ７においては、サブルーチンＳ１が実行され、Short DSS伸長モードの評価用磁気テープ１００が生成される。すなわち、Short DSS伸長モードの評価用データパターンが評価用磁気テープ１００にライトされる。この際、ＤＳＳ長１３３には1.0mmが、エラーフラグ１３４には“０”が、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２にはＮＷが、それぞれ初期値として設定される。なお、サブルーチンＳ１における処理の詳細は、図６に示すフローチャートを用いて後述する。
【００８０】
その後、処理はステップＡ１２に移行する。
ステップＡ６における確認の結果、テストモード設定値１３１が“１”でない場合には（ステップＡ６のＮｏルート参照）、ステップＡ８に移行する。
ステップＡ８において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、メモリ１３のテストモード設定値１３１が“２”であるかを確認する。すなわち、メモリ１３のテストモード設定値１３１がShort DSS短縮モードを表すものであるかを確認する。
【００８１】
確認の結果、テストモード設定値１３１が“２”である場合には（ステップＡ８のＹｅｓルート参照）、ステップＡ９に移行する。
ステップＡ９においては、サブルーチンＳ２が実行され、Short DSS短縮モードの評価用磁気テープ１００が生成される。すなわち、Short DSS短縮モードの評価用データパターンが評価用磁気テープ１００にライトされる。この際、ＤＳＳ長１３３には1.0mmが、エラーフラグ１３４には“０”が、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２にはＮＷが、それぞれ初期値として設定される。なお、サブルーチンＳ２における処理の詳細は、図７に示すフローチャートを用いて後述する。
【００８２】
その後、処理はステップＡ１２に移行する。
ステップＡ８における確認の結果、テストモード設定値１３１が“２”でない場合には（ステップＡ８のＮｏルート参照）、ステップＡ１０に移行する。
ステップＡ１０において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、メモリ１３のテストモード設定値１３１が“３”であるかを確認する。すなわち、メモリ１３のテストモード設定値１３１がExt-DSS分割モードを表すものであるかを確認する。
【００８３】
ステップＡ１０における確認の結果、テストモード設定値１３１が“３”である場合には（ステップＡ１０のＹｅｓルート参照）、ステップＡ１１に移行する。
ステップＡ１１においては、サブルーチンＳ３が実行され、Ext-DSS分割モードの評価用磁気テープ１００が生成される。すなわち、Ext-DSS分割モードの評価用データパターンが評価用磁気テープ１００にライトされる。この際、ＤＳＳ長１３３には9.8mmが、エラーフラグ１３４には“０”が、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２にはＮＷが、それぞれ初期値として設定される。なお、サブルーチンＳ３における処理の詳細は、図８に示すフローチャートを用いて後述する。
【００８４】
その後、処理はステップＡ１２に移行する。
また、ステップＡ１０における確認の結果、テストモード設定値１３１が“３”でない場合にも（ステップＡ１０のＮｏルート参照）、ステップＡ１２に移行する。
ステップＡ１２においては、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、エラーフラグ１３４に“１”が設定されているかを確認する。すなわち、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、磁気テープドライブ装置１０において何らかのエラーが検出されたかを確認する。
【００８５】
確認の結果、エラーフラグ１３４に“１”が設定されていない場合には（ステップＡ１２のＮｏルート参照）、処理を終了する。
一方、ステップＡ１２における確認の結果、エラーフラグ１３４に“１”が設定されている場合には（ステップＡ１２のＹｅｓルート参照）、ステップＡ１３に移行し、エラー処理を行なう。エラー処理としては、例えば、評価用磁気テープ１００の作成を中止してもよく、ホストサーバ２に対してエラーが発生した旨の通知を行なってもよく、適宜変更して実施することができる。その後、処理を終了する。
【００８６】
次に、図５のフローチャートにおけるステップＡ７のサブルーチンＳ１の処理を、図６に示すフローチャート（ステップＢ１〜Ｂ１２）に従って説明する。
以下の処理は、磁気テープドライブ装置１０がアイドルの状態において開始される。
ステップＢ１において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、ホストサーバ２からコマンドを受信する。
【００８７】
ステップＢ２において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、受信したコマンドがライトコマンドであるかを確認する。確認の結果、受信したコマンドがライトコマンドでない場合には（ステップＢ２のＮｏルート参照）、ステップＢ３に移行する。
ステップＢ３において、プロセッサ１２は、受信したコマンドに対応する処理、すなわち、ライト以外の処理を行なう。
【００８８】
その後、ステップＢ４において、プロセッサ１２は、ステップＢ３において実行した処理に関して何らかのエラーが生じたかを確認する。確認の結果、エラーが生じていない場合には（ステップＢ４のＮｏルート参照）、ステップＢ１に戻る。
ステップＢ４における確認の結果、エラーが生じた場合には（ステップＢ４のＹｅｓルート参照）、ステップＢ１２において、エラーフラグ１３４に“１”を設定することで、エラーが生じた旨の設定を行なう。その後、サブルーチンＳ１を抜け、図５のフローチャートのステップＡ１２の処理に移行する。
【００８９】
また、ステップＢ２における確認の結果、ホストサーバ２から受信したコマンドがライトコマンドである場合には（ステップＢ２のＹｅｓルート参照）、ステップＢ５に移行する。
ステップＢ５において、ライト制御部１２２が、この受信したライトコマンドを実行する。すなわち、ホストサーバ２から受信したライトデータをデータブロック１０１としてＤＳＳ１０２とともに評価用磁気テープ１００にライトする。この際、ライト制御部１２２は、メモリ１３から読み出したＤＳＳ長１３３で指定された長さでＤＳＳ１０２をライトする。
【００９０】
ステップＢ６において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、ステップＢ５において実行したライト処理に関して何らかのエラーが生じたかを確認する。確認の結果、エラーが生じた場合には（ステップＢ６のＹｅｓルート参照）、ステップＢ１２に移行する。
また、ステップＢ６における確認の結果、エラーが生じていない場合には（ステップＢ６のＮｏルート参照）、ステップＢ７に移行する。
【００９１】
ステップＢ７において、ＤＳＳ長設定部１２１は、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２をデクリメント（−１）する。
ステップＢ８において、ＤＳＳ長設定部１２１は、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２の値が０であるかを確認する。確認の結果、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２の値が０でない場合には（ステップＢ８のＮｏルート参照）、ステップＢ１に戻る。
【００９２】
ステップＢ８における確認の結果、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２の値が０である場合には（ステップＢ８のＹｅｓルート参照）、ステップＢ９に移行する。
ステップＢ９において、ＤＳＳ長設定部１２１は、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２にＮＷの値を設定する。
ステップＢ１０において、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３の値に1.0mmを加算する。
【００９３】
ステップＢ１１において、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３の値を所定の閾値と比較する。本実施形態においては、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３の値が100mmより大きいかを確認する。確認の結果、ＤＳＳ長１３３の値が100mmより大きい場合には（ステップＢ１１のＹｅｓルート参照）、サブルーチンＳ１を抜け、図５のフローチャートのステップＡ１２の処理に移行する。
【００９４】
また、ステップＢ１１における確認の結果、ＤＳＳ長１３３の値が100mm以下の場合には（ステップＢ１１のＮｏルート参照）、ステップＢ１に戻る。
上述の如きサブルーチンＳ１の処理を行なうことで、評価用磁気テープ１００には、「同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数」毎にＤＳＳ長が1.0mmずつ長くなるＤＳＳ１０２を備える評価用データパターンがライトされる。
【００９５】
次に、図５のフローチャートにおけるステップＡ９のサブルーチンＳ２の処理を、図７に示すフローチャート（ステップＢ１〜Ｂ９，Ｃ１０，Ｃ１１，Ｂ１２）に従って説明する。
なお、図中、既述の符号と同一の符号を有するステップは同様の処理を示しているので、その説明は省略する。
【００９６】
ステップＣ１０において、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３の値から0.01mmを減算する。
ステップＣ１１において、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３の値を所定の閾値と比較する。本実施形態においては、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３の値が0.01mm未満であるかを確認する。確認の結果、ＤＳＳ長１３３の値が0.01mm未満である場合には（ステップＣ１１のＹｅｓルート参照）、サブルーチンＳ２を抜け、図５のフローチャートのステップＡ１２の処理に移行する。
【００９７】
また、ステップＣ１１における確認の結果、ＤＳＳ長１３３の値が0.01mm以上の場合には（ステップＣ１１のＮｏルート参照）、ステップＢ１に戻る。
上述の如きサブルーチンＳ２の処理を行なうことで、評価用磁気テープ１００には、「同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数」毎にＤＳＳ長が0.01mmずつ短くなるＤＳＳ１０２を備える評価用データパターンがライトされる。
【００９８】
次に、図５のフローチャートにおけるステップＡ１１のサブルーチンＳ３の処理を、図８に示すフローチャート（ステップＤ１〜Ｄ１５）に従って説明する。
以下の処理も、磁気テープドライブ装置１０がアイドルの状態において開始される。
なお、このサブルーチンＳ３を行なうに際して、評価用磁気テープ１００には、予めベースデータパターンがライトされていることが望ましい。すなわち、予めベースデータパターンが全面にライトされた磁気テープ１００を評価用磁気テープ１００として用いてもよい。また、サブルーチンＳ３の開始前に、評価用磁気テープ１００の全面にベースデータパターンをライトする処理を備えてもよい。
【００９９】
ステップＤ１において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、ホストサーバ２からコマンドを受信する。
ステップＤ２において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、受信したコマンドがライトコマンドであるかを確認する。確認の結果、受信したコマンドがライトコマンドでない場合には（ステップＤ２のＮｏルート参照）、ステップＤ３に移行する。
【０１００】
ステップＤ３において、プロセッサ１２は、受信したコマンドに対応する処理、すなわち、ライト以外の処理を行なう。
その後、ステップＤ４において、プロセッサ１２は、ステップＢ３において実行した処理に関して何らかのエラーが生じたかを確認する。確認の結果、エラーが生じていない場合には（ステップＤ４のＮｏルート参照）、ステップＤ１に戻る。
【０１０１】
ステップＤＢ４における確認の結果、エラーが生じた場合には（ステップＤ４のＹｅｓルート参照）、ステップＤ１５において、エラーフラグ１３４に“１”を設定することで、エラーが生じた旨の設定を行なう。その後、サブルーチンＳ３を抜け、図５のフローチャートのステップＡ１２の処理に移行する。
また、ステップＤ２における確認の結果、ホストサーバ２から受信したコマンドがライトコマンドである場合には（ステップＤ２のＹｅｓルート参照）、ステップＤ５に移行する。
【０１０２】
ステップＤ５において、ＤＳＳ長設定部１２１は、評価用磁気テープ１００の搬送が停止された状態（テープ停止状態）であるかを確認する。確認の結果、テープ停止状態でない場合には（ステップＤ５のＮｏルート参照）、ステップＤ８に移行する。一方、テープ停止状態である場合には（ステップＤ５のＹｅｓルート参照）、ステップＤ６に移行する。
【０１０３】
ステップＤ６においては、ライト制御部１２２が、評価用磁気テープ１００におけるＥｘｔ−ＤＳＳライト開始位置をＤＳＳ長１３３の値分だけ後方にずらす。
ステップＤ７において、ＤＳＳ長設定部１２１は、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２をデクリメント（−１）する。
ステップＤ８において、ライト制御部１２２が、ステップＤ１において受信したライトコマンドを実行する。すなわち、ホストサーバ２から受信したライトデータをデータブロック１０１としてＤＳＳ１０２とともに評価用磁気テープ１００にライトする。この際、ライト制御部１２２は、メモリ１３から読み出したＤＳＳ長１３３で指定された長さでＥｘｔ−ＤＳＳ１０２をライトする。
【０１０４】
ステップＤ９において、評価用磁気テープ作成制御部１２０は、ステップＤ８において実行したライト処理に関して何らかのエラーが生じたかを確認する。確認の結果、エラーが生じた場合には（ステップＤ９のＹｅｓルート参照）、ステップＤ１５に移行する。
また、ステップＤ９における確認の結果、エラーが生じていない場合には（ステップＤ９のＮｏルート参照）、ステップＤ１０に移行する。
【０１０５】
ステップＤ１０において、ＤＳＳ長設定部１２１は、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２の値が０であるかを確認する。確認の結果、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２の値が０でない場合には（ステップＤ１０のＮｏルート参照）、ステップＤ１４に移行する。
ステップＤ１０における確認の結果、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２の値が０である場合には（ステップＤ１０のＹｅｓルート参照）、ステップＤ１１に移行する。
【０１０６】
ステップＤ１１において、ＤＳＳ長設定部１２１は、同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値１３２にＮＷの値を設定する。
ステップＤ１２において、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３の値に10mmを加算する。
ステップＤ１３において、ライト制御部１２２は、評価用磁気テープ１００のストリーミングを停止させる。すなわち、評価用磁気テープ１００の走行を停止させる。
【０１０７】
ステップＤ１４において、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３の値を所定の閾値と比較する。本実施形態においては、ＤＳＳ長設定部１２１は、ＤＳＳ長１３３の値が197mm未満であるかを確認する。確認の結果、ＤＳＳ長１３３の値が197mm未満の場合には（ステップＤ１４のＹｅｓルート参照）、サブルーチンＳ３を抜け、図５のフローチャートのステップＡ１２の処理に移行する。
【０１０８】
また、ステップＤ１４における確認の結果、ＤＳＳ長１３３の値が197mm以上の場合には（ステップＤ１４のＮｏルート参照）、ステップＤ１に戻る。
上述の如きサブルーチンＳ３の処理を行なうことで、評価用磁気テープ１００には、Ｅｘｔ−ＤＳＳ１０２が分離した状態を備える評価用データパターンがライトされる。
（Ｃ）効果
このように、実施形態の一例としての磁気テープ製造システム１においては、Short DSS伸長モード， Short DSS短縮モードおよびExtended DSS分割モードの各モードの評価用データパターンをライトした評価用磁気テープ１００を容易に作成することができる。
【０１０９】
Short DSS伸長モードの評価用データパターンにおいては、同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数毎にＤＳＳ長が所定の長さ（例えば1.0mm）ずつ長くする。ＤＳＳ長は最終的に磁気テープドライブ装置１０の仕様上の上限値（例えば、100mm）より大きい値にする。
Short DSS短縮モードの評価用データパターンにおいては、同一ＤＳＳ長データセット繰り返し数毎にＤＳＳ長が所定の長さ（例えば1.0mm）ずつ短くする。ＤＳＳ長は最終的に磁気テープドライブ装置１０の仕様上の下限値（例えば、0.01mm）より小さい値にする。
【０１１０】
Extended DSS分割モードの評価用データパターンにおいては、Ｅｘｔ−ＤＳＳ間にギャップが形成され、このギャップにベースデータパターンが残存した状態が生じる。これにより、ライト動作終了時にデータセット後方にライトするＤＳＳ長が短い場合に、ずれ量が極端に大きくなることで、ＤＳＳの書き足しが、次のデータセットの先端部より後方で開始されてしまいＤＳＳが分割されてしまうケースを再現することができる。
【０１１１】
これらの評価用データパターンがライトされた評価用磁気テープ１００のリードやライトを行なわせることで、評価対象の磁気テープドライブ装置１０を効率的に、再現性の高い高精度の評価を行なうことができる。
（Ｄ）その他
開示の技術は上述した実施形態に限定されるものではなく、本実施形態の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。本実施形態の各構成および各処理は、必要に応じて取捨選択することができ、あるいは適宜組み合わせてもよい。
【０１１２】
上述した実施形態においては、ホストサーバ２は、一つのライトコマンドで、磁気テープ１００における１つ分のデータブロック１０１に相当するサイズ（例えば、２５６バイト）のライトデータを磁気テープドライブ装置１０に対して発行しているが、これに限定されるものではない。ホストサーバ２は、一つのライトコマンドで複数のデータブロック１０１に相当するサイズのライトデータを発行してもよい。
【０１１３】
磁気テープドライブ装置１０においては、評価用データパターンとして、一つのライトコマンドで受信したライトデータに基づいて生成される複数のデータブロック１０１を、それぞれ同じＤＳＳ長でライトしてもよい。
また、上述した実施形態においては、ホストサーバ２は、評価用磁気テープ１００を作成するために磁気テープドライブ装置１０に対して同じライトデータを送信しているが、これに限定されるものではない。例えば、ホストサーバ２はライトコマンドの発行毎に異なるライトデータを発行してもよく、磁気テープドライブ装置１０は、評価用磁気テープ１００の評価用データパターンに、互いに異なるライトデータに基づくデータブロック１０１をライトしてもよい。これにより、評価対象の磁気テープドライブ装置１０において、評価用磁気テープ１００のリード時にエラーが生じた場合に、どのデータブロック１０１のリードにおいてエラーが生じたかを容易に判断することができる。
【０１１４】
また、上述した開示により本実施形態を当業者によって実施・製造することが可能である。
（Ｅ）付記
以上の実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
（付記１）
テープドライブ装置を評価するための評価用データパターンを記録した評価用テープ媒体を作成するテープ作成装置であって、
データブロック間に介在されるデータブロック間ギャップ部のそれぞれについてギャップ長を設定するギャップ長設定部と、
データブロック間ギャップ部の各々について、設定された前記ギャップ長で始まる位置に所定のデータパターンをライトするライト処理部と
を備えることを特徴とする、テープ作成装置。
【０１１５】
（付記２）
前記ギャップ長設定部が、前記データブロックの並び方向において、所定数毎に異なるギャップ長に設定する
ことを特徴とする、付記１記載のテープ作成装置。
（付記３）
前記ギャップ長設定部が、前記データブロックの並び方向において、前記ギャップ長を、漸次伸長もしくは短縮するように変化させて、異なるギャップ長に設定する
ことを特徴とする、付記１または２記載のテープ作成装置。
【０１１６】
（付記４）
前記ギャップ長設定部が、評価用テープ媒体上にライトされている最後尾の第１データブロックに後続する第１データブロック間ギャップ部に対して、新たにライトする第２データブロックに先行させる第２データブロック間ギャップ部の開始位置を変化させることで、前記第１データブロック間ギャップ部と前記第２データブロック間ギャップ部とで形成される第３データブロック間ギャップ部のギャップ長を変化させる
ことを特徴とする、付記１または２記載のテープ作成装置。
【０１１７】
（付記５）
前記ギャップ長設定部が、評価用テープ媒体上にライトされている最後尾のデータブロックに後続するデータブロック間ギャップ部の後端と、新たにライトするデータブロックに先行させるデータブロック間ギャップ部の先端との間に、前記データブロック間ギャップ部およびデータブロックが不在の領域を形成する
ことを特徴とする、付記１または２記載のテープ作成装置。
【０１１８】
（付記６）
テープドライブ装置を評価するための評価用データパターンを記録した評価用テープ媒体を作成するテープ作成装置と、前記テープ作成装置と通信可能に接続される制御装置とを備えるテープ作成システムであって、
前記制御装置が、
前記テープ作成装置に対して、前記評価用データパターンのライト指示を発行する発行部を備え、
前記テープ作成装置が、
データブロック間に介在されるデータブロック間ギャップ部のそれぞれについてギャップ長を設定するギャップ長設定部と、
データブロック間ギャップ部の各々について、設定された前記ギャップ長で始まる位置に所定のデータパターンをライトするライト処理部と
を備えることを特徴とする、テープ作成システム。
【０１１９】
（付記７）
前記ギャップ長設定部が、前記データブロックの並び方向において、所定数毎に異なるギャップ長に設定する
ことを特徴とする、付記６記載のテープ作成システム。
（付記８）
前記ギャップ長設定部が、前記データブロックの並び方向において、前記ギャップ長を、漸次伸長もしくは短縮するように変化させて、異なるギャップ長に設定する
ことを特徴とする、付記６または７記載のテープ作成システム。
【０１２０】
（付記９）
前記ギャップ長設定部が、評価用テープ媒体上にライトされている最後尾の第１データブロックに後続する第１データブロック間ギャップ部に対して、新たにライトする第２データブロックに先行させる第２データブロック間ギャップ部の開始位置を変化させることで、前記第１データブロック間ギャップ部と前記第２データブロック間ギャップ部とで形成される第３データブロック間ギャップ部のギャップ長を変化させる
ことを特徴とする、付記６または７記載のテープ作成システム。
【０１２１】
（付記１０）
前記ギャップ長設定部が、評価用テープ媒体上にライトされている最後尾のデータブロックに後続するデータブロック間ギャップ部の後端と、新たにライトするデータブロックに先行させるデータブロック間ギャップ部の先端との間に、前記データブロック間ギャップ部およびデータブロックが不在の領域を形成する
ことを特徴とする、付記６または７記載のテープ作成システム。
【０１２２】
（付記１１）
テープドライブ装置を評価するための評価用データパターンを記録した評価用テープ媒体を作成するテープ作成装置のプロセッサに評価用テープ作成機能を実行させるテープ作成プログラムであって、
前記テープ作成プログラムが、
データブロック間に介在されるデータブロック間ギャップ部のそれぞれについてギャップ長を設定し、
データブロック間ギャップ部の各々について、設定された前記ギャップ長で定まる位置に、所定のデータパターンをライトする
処理を前記プロセッサに実行させることを特徴とする、テープ作成プログラム。
【０１２３】
（付記１２）  前記データブロックの並び方向において、所定数毎に異なるギャップ長を設定する
処理を前記プロセッサに実行させる、付記１１記載のテープ作成プログラム。
（付記１３）
前記データブロックの並び方向において、前記ギャップ長を、漸次伸長もしくは短縮するように変化させて、異なるギャップ長に設定する
処理を前記プロセッサに実行させる、付記１１または１２記載のテープ作成プログラム。
【０１２４】
（付記１４）  評価用テープ媒体上にライトされている最後尾の第１データブロックに後続する第１データブロック間ギャップ部に対して、新たにライトする第２データブロックに先行させる第２データブロック間ギャップ部の開始位置を変化させることで、前記第１データブロック間ギャップ部と前記第２データブロック間ギャップ部とで形成される第３データブロック間ギャップ部のギャップ長を変化させる
処理を前記プロセッサに実行させる、付記１１または１２記載のテープ作成プログラム。
【０１２５】
（付記１５）
評価用テープ媒体上にライトされている最後尾のデータブロックに後続するデータブロック間ギャップ部の後端と、新たにライトするデータブロックに先行させるデータブロック間ギャップ部の先端との間に、前記データブロック間ギャップ部およびデータブロックが不在の領域を形成する
処理を前記プロセッサに実行させる、付記１１または１２記載のテープ作成プログラム。
【符号の説明】
【０１２６】
１    磁気テープ製造システム
２    ホストサーバ
１０    磁気テープドライブ装置
１１    コントローラ
１２    プロセッサ
１３    メモリ
１３１    テストモード設定値
１３２    同一ＤＳＳ長ライトカウンタ値
１３３    ＤＳＳ長
１３４    エラーフラグ
１３５    ＤＳＳ長チェックフラグ
１４    アナログ／デジタル変換部
１５    ヘッドアッセンブリ
１５１    ライトヘッド
１５２    リードへッド
１５３    サーボへッド
１６    アクチュエータ
１７    磁気テープ搬送機構
１７１    リール
１８    テープカートリッジ
２１ａ，２１ｂ    通信路
１００    評価用磁気テープ
１０１    データブロック
１０２，１０２−１，１０２−２，１０２−３，１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃ    ＤＳＳ
１２０    評価用磁気テープ作成制御部
１２１    ＤＳＳ長設定部
１２２    ライト制御部
２０１    ライトコマンド発行部
２０２    情報設定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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