(57)【要約】【課題】ステッピングモータの励磁コイルへの励磁電流の供給／遮断を行なうドライバに流れる電流に基づいて、故障判断を行なう。【解決手段】駆動制御信号ＥＶ＿１，ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４がドライバ２に対し、ステッピングモータ３の励磁コイル３１，３２，３３，３４の全てにおいて励磁電流Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，Ｉ４の供給を遮断させる制御を行なう場合に、ドライバ電流Ｉｄの電流値が正の閾値よりも大きいとき、ドライバ２に故障があると判断される。【選択図】図１
2019154175.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ステッピングモータ（３）における複数の励磁コイル（３１，３２，３３，３４）毎に励磁電流（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，Ｉ４）の供給／遮断を行なうドライバ（２）と、
前記ドライバに流れる電流であるドライバ電流（Ｉｄ）を検出する検出器（４）と、
前記励磁電流の供給／遮断を制御する信号である駆動制御信号（ＥＶ＿１，ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４）を前記ドライバに対して出力し、前記検出器による検出の結果（ＥＶ＿ＡＮ）を入力し、前記駆動制御信号が前記ドライバに対して前記励磁コイルの全てにおいて前記励磁電流を遮断させる制御を行なう場合に前記ドライバ電流の電流値が正の第１閾値（ＴＨ１）よりも大きいとき、前記ドライバに故障があると判断する制御回路（１）と
を備えるモータ駆動システム（１００）。
【請求項２】
前記駆動制御信号が前記ドライバに対して前記励磁コイルの少なくとも一つにおいて前記励磁電流を供給させる制御を行なう場合に前記電流値が正の第２閾値（ＴＨ２）よりも大きいとき、前記制御回路は前記ステッピングモータに短絡故障があると判断する、請求項１記載のモータ駆動システム。
【請求項３】
前記励磁コイルの一つのみにおいて前記励磁電流を供給させる制御を行なう場合に前記電流値が正の第３閾値（ＴＨ３）よりも小さい期間が所定期間（Δｔ）続くとき、前記制御回路は前記ステッピングモータに開放故障があると判断する、請求項１または請求項２に記載のモータ駆動システム。
【請求項４】
前記励磁コイルの少なくとも一つにおいて前記励磁電流を供給させる前記制御を行なう場合に、前記励磁電流は前記ステッピングモータを回転させない、請求項２記載のモータ駆動システム。
【請求項５】
前記励磁コイルの一つのみにおいて前記励磁電流を供給させる前記制御を行なう場合に、前記励磁電流は前記ステッピングモータを回転させない、請求項３記載のモータ駆動システム。
【請求項６】
前記所定期間は前記励磁コイルの一つに前記励磁電流を供給させるための期間よりも短い、請求項３または請求項５に記載のモータ駆動システム。
【請求項７】
前記駆動制御信号が前記ドライバに対して前記ステッピングモータを回転させるパターンを有する場合に前記電流値が正の第４閾値（ＴＨ４）よりも大きいとき、前記制御回路は前記ステッピングモータに短絡故障があると判断する、請求項１から請求項６のいずれか一つに記載のモータ駆動システム。
【請求項８】
前記ドライバの故障、前記ステッピングモータの開放故障、前記ステッピングモータの短絡故障のいずれかがあると判断された後、前記制御回路は前記ドライバに対して前記励磁コイルの全てにおいて前記励磁電流を遮断させる制御を行なう、請求項１から請求項７のいずれか一つに記載のモータ駆動システム。
【請求項９】
前記ドライバは前記励磁コイルに対応して設けられるドライバ素子の複数（２１，２２，２３，２４）を有し、
互いに対応する前記ドライバ素子と前記励磁コイルとは直流電源（５）に対して直列に接続され、
前記ドライバ電流は、全ての前記励磁コイルについての前記励磁電流の総和である、請求項１から請求項８のいずれか一つに記載のモータ駆動システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示はモータを駆動するシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
下掲の特許文献１には、ステッピングモータおよびそれを駆動する駆動手段の故障を検出する技術が紹介されている。当該技術では、ステッピングモータの巻線と駆動手段との接点毎のレベルを正常時のレベルと比較して、故障が検出される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】実開平３−０１４９９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１では上記レベルについてハイレベル、ローレベルを区別している。他方、駆動手段に流れる電流に基づいた判断は開示されていない。
【０００５】
本開示では、ステッピングモータの励磁コイルへの励磁電流の供給／遮断を行なうドライバに流れる電流に基づいて、故障判断を行なう。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示のモータ駆動システム（１００）は、ドライバ（２）と、検出器（４）と、制御回路（１）とを備える。そしてその第１の態様では、前記ドライバ（２）は、ステッピングモータ（３）における複数の励磁コイル（３１，３２，３３，３４）毎に励磁電流（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，Ｉ４）の供給／遮断を行なう。前記検出器（４）は、前記ドライバに流れる電流であるドライバ電流（Ｉｄ）を検出する。前記制御回路（１）は、前記ドライバに対して前記励磁電流の供給／遮断を制御する信号である駆動制御信号（ＥＶ＿１，ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４）を出力し、前記検出器による検出の結果（ＥＶ＿ＡＮ）を入力し、前記駆動制御信号が前記ドライバに対して前記励磁コイルの全てにおいて前記励磁電流を遮断させる制御を行なう場合に前記ドライバ電流の電流値が正の第１閾値（ＴＨ１）よりも大きいとき、前記ドライバに故障があると判断する。
【０００７】
その第２の態様は上記第１の態様であって、前記駆動制御信号が前記ドライバに対して前記励磁コイルの少なくとも一つにおいて前記励磁電流を供給させる制御を行なう場合に前記電流値が正の第２閾値（ＴＨ２）よりも大きいとき、前記制御回路は前記ステッピングモータに短絡故障があると判断する。
【０００８】
その第３の態様は上記第１の態様または第２の態様であって、前記励磁コイルの一つのみにおいて前記励磁電流を供給させる制御を行なう場合に前記電流値が正の第３閾値（ＴＨ３）よりも小さい期間が所定期間（Δｔ）続くとき、前記制御回路は前記ステッピングモータに開放故障があると判断する。
【０００９】
その第４の態様は上記第２の態様であって、前記励磁コイルの少なくとも一つにおいて前記励磁電流を供給させる前記制御を行なう場合に、前記励磁電流は前記ステッピングモータを回転させない。
【００１０】
その第５の態様は上記第３の態様であって、前記励磁コイルの一つのみにおいて前記励磁電流を供給させる前記制御を行なう場合に、前記励磁電流は前記ステッピングモータを回転させない。第３の態様、第５の態様において例えば、前記所定期間は前記励磁コイルの一つに前記励磁電流を供給させるための期間よりも短い。
【００１１】
その第６の態様は上記第１の態様から第５の態様のいずれかであって、前記駆動制御信号が前記ドライバに対して前記ステッピングモータを回転させるパターンを有する場合に前記電流値が正の第４閾値（ＴＨ４）よりも大きいとき、前記制御回路は前記ステッピングモータに短絡故障があると判断する。
【００１２】
その第７の態様は上記第１の態様から第６の態様のいずれかであって、前記ドライバの故障、前記ステッピングモータの開放故障、前記ステッピングモータの短絡故障のいずれかがあると判断された後、前記制御回路は前記ドライバに対して前記励磁コイルの全てにおいて前記励磁電流を遮断させる制御を行なう。
【００１３】
例えば上記第１の態様から第７の態様のいずれかにおいて、前記ドライバは前記励磁コイルに対応して設けられるドライバ素子の複数（２１，２２，２３，２４）を有する。そして互いに対応する前記ドライバ素子と前記励磁コイルとは直流電源（５）に対して直列に接続される。前記ドライバ電流は、全ての前記励磁コイルについての前記励磁電流の総和である。
【００１４】
本開示のモータ駆動システムは、ステッピングモータの励磁コイルへの励磁電流の供給／遮断を行なうドライバに流れる電流に基づいて、故障判断を行なう。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】モータ駆動システムの構成を励磁するブロック図である。
【図２】ドライバ素子の構成を例示する回路図である。
【図３】第１動作を説明するグラフである。
【図４】第１動作の処理を例示するフローチャートである。
【図５】第２動作を説明するグラフである。
【図６】第２動作の処理を例示するフローチャートである。
【図７】第３動作を説明するグラフである。
【図８】第３動作の処理を例示するフローチャートである。
【図９】第４動作を説明するグラフである。
【図１０】第４動作の処理を例示するフローチャートである。
【図１１】冷凍回路を例示するブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
＜基本的な構成の例示＞
図１はモータ駆動システム１００の構成を励磁するブロック図である。モータ駆動システム１００はステッピングモータ３を駆動する。モータ駆動システム１００は制御回路１、ドライバ２、検出器４を備える。
【００１７】
ステッピングモータ３において複数の励磁コイルが設けられる。ここではステッピングモータ３はＡ相電流、Ｂ相電流によって駆動される二相のステッピングモータが例示される。例えば励磁コイル３１，３２，３３，３４は、それぞれＡ相、Ｂ相、Ａバー相、Ｂバー相の励磁コイルである。ドライバ２は励磁コイル３１，３２，３３，３４毎に励磁電流Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，Ｉ４の供給／遮断を行なう。検出器４はドライバ２に流れる電流であるドライバ電流Ｉｄを検出する。ドライバ電流Ｉｄは全ての励磁コイル３１，３２，３３，３４についての励磁電流Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，Ｉ４の総和である。
【００１８】
例えばドライバ２は、励磁コイル３１，３２，３３，３４に対応して設けられる、ドライバ素子２１，２２，２３，２４を有する。以下、表現の簡単のために数字１，２，３，４を代表する記号「ｋ」を導入する。ドライバ素子２ｋには励磁電流Ｉｋが流れる。ドライバ素子２ｋと励磁コイル３ｋとは互いに対応し、直流電源５に対して直列に接続される。例えば全ての励磁コイル３ｋの一端は共通して第１電源端５１に接続され、ドライバ素子２ｋの一端は励磁コイル３ｋの他端と接続され、全てのドライバ素子２ｋの他端は励磁コイル３ｋとは反対側で検出器４を介して第２電源端５２に接続される。第１電源端５１と第２電源端５２とは直流電源５に接続される。ここでは第１電源端５１の電位が第２電源端５２の電位よりも高い場合が例示される。
【００１９】
制御回路１は、ドライバ２に対して駆動制御信号ＥＶ＿１，ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４を出力する。これら駆動制御信号ＥＶ＿ｋは、それぞれ励磁電流Ｉｋの供給／遮断を制御する信号である。制御回路１は、検出器４による検出の結果（以下「検出結果」と称す）ＥＶ＿ＡＮを入力する。検出結果ＥＶ＿ＡＮはドライバ電流Ｉｄの電流値に対応した値を有する。例えば、図１に例示されるように、検出器４が抵抗素子で実現される場合には、検出結果ＥＶ＿ＡＮは当該抵抗素子における電圧降下として得られるアナログ値である。
【００２０】
図２はドライバ素子２ｋの構成を例示する回路図である。ドライバ素子２ｋはトランジスタＱ、ダイオードＤ１、抵抗Ｒ１０，Ｒ１１を有する。抵抗Ｒ１０，Ｒ１１はトランジスタＱに対して、駆動制御信号ＥＶ＿ｋに基づいたベースバイアスを印加するバイアス回路を形成する。具体的には、抵抗Ｒ１０の一端には駆動制御信号ＥＶ＿ｋが与えられ、その他端にはトランジスタＱのベースが接続される。抵抗Ｒ１１はトランジスタＱのベースとエミッタとの間に接続される。トランジスタＱのエミッタは検出器４を介して第２電源端５２に接続され、ドライバ素子２ｋの上述の他端として機能する。トランジスタＱは例えばｎｐｎ型トランジスタであって、そのコレクタがダイオードＤ１のアノードに接続される。ダイオードＤ１のカソードには第２電源端５２の電位よりも高い電位を供給する電位端２０が接続される。トランジスタＱのコレクタは励磁コイル３ｋの他端にも接続され、ドライバ素子２ｋの上述の一端として機能する。
【００２１】
駆動制御信号ＥＶ＿ｋが二値論理“Ｈ”に相当する電位（以下「“Ｈ”論理電位」と仮称）を採れば、トランジスタＱがオンし、励磁電流ＩｋがトランジスタＱを経由して検出器４へ流入する。つまり、このとき、ドライバ素子２ｋは励磁コイル３ｋに対して励磁電流Ｉｋの供給を行なう。
【００２２】
駆動制御信号ＥＶ＿ｋが二値論理“Ｌ”に相当する電位（以下「“Ｌ”論理電位」と仮称）を採れば、トランジスタＱがオフし、励磁電流ＩｋはトランジスタＱに流れず、よって検出器４へも流れない。つまり、このとき、ドライバ素子２ｋは励磁コイル３ｋに対して励磁電流Ｉｋの遮断を行なう。
【００２３】
＜第１動作＞
駆動制御信号ＥＶ＿ｋが全ての励磁電流Ｉｋを遮断させる制御を行なう場合、ドライバ２が正常であれば、励磁電流Ｉｋの総和であるドライバ電流Ｉｄは流れない。つまり、ドライバ電流Ｉｂの電流値が正の閾値以下であれば、ドライバ２に短絡故障がないと判断することができる。換言すれば、ドライバ２に短絡故障がないと判断するための、ドライバ電流Ｉｂの電流値の上限として、正の閾値を設定することができる。
【００２４】
更に換言すれば、駆動制御信号ＥＶ＿ｋが全ての励磁電流Ｉｋを遮断させる制御を行なう場合、ドライバ電流Ｉｂの電流値が正の閾値よりも大きいとき、ドライバ２に短絡故障があると判断される。かかる判断は制御回路１において行なわれる。かかる判断を第１動作と仮称する。
【００２５】
図３は第１動作を説明するグラフであり、ドライバ２に短絡故障があると判断される場合の駆動制御信号ＥＶ＿ｋおよび検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形を示す。ここでは上述の閾値が、検出結果ＥＶ＿ＡＮにおいて正の閾値ＴＨ１として表される場合が例示される。例えば検出器４が抵抗値Ｒの抵抗素子で実現され、ドライバ電流Ｉｂについての上記閾値が値Ｉｂ１である場合、ＴＨ１＝Ｒ×Ｉｂ１の関係がある。
【００２６】
図３では全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｌ”論理電位を採ることを、破線の基準線上に、駆動制御信号ＥＶ＿ｋの波形（実線）が一致することで示している。また閾値ＴＨ１は鎖線で示され、破線を基準線とした検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形（実線）が、閾値ＴＨ１よりも大きいことが示されている。これは、全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋが全ての励磁電流Ｉｋを遮断させる制御を行なっているにも拘らず、ドライバ電流Ｉｂが不適切に流れていることに相当する。よって制御回路１はドライバ２において短絡故障があると判断する。
【００２７】
図４は第１動作の処理を例示するフローチャートである。当該フローチャートは他の処理の割り込み処理として採用することができる。この場合、当該フローチャートは他の処理を実行している途中で発生する、第１動作を開始させる割り込み処理によって当該フローチャートが開始する。そして当該フローチャートの終了によって、処理は割り込み前の処理に復帰する。
【００２８】
当該フローチャートではまず、ステップＳ１１において、全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｌ”論理電位を採る。その後、ステップＳ１２において検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ１よりも大きいか否かが判断される。当該判断結果が否定的であれば（検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ１以下の場合：図４において“Ｎｏ”で示される分岐）、第１動作の処理は終了し、処理は割り込み前の処理に復帰する。
【００２９】
ステップＳ１２の判断結果が肯定的であれば（検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ１よりも大きい場合：図３で例示される場合：図４において“Ｙｅｓ”で示される分岐）、ステップＳ１３においてドライバ２には短絡故障が存在すると判断され、第１動作の処理は終了し、処理は割り込み前の処理に復帰する。
【００３０】
このようにして、図４で示されたフローチャートを用いて、図３を用いて説明された第１動作が実現される。
【００３１】
＜第２動作＞
駆動制御信号ＥＶ＿ｋがドライバ２に対し、励磁コイル３ｋの少なくとも一つにおいて励磁電流Ｉｋを供給させる制御を行なう場合を検討する。この場合、例えば励磁コイル３４において短絡故障があれば、励磁電流Ｉ４が過電流となる。よってドライバ電流Ｉｂの電流値が正の閾値よりも大きいとき、励磁コイル３ｋの少なくとも一つにおいて短絡故障があると、ひいてはステッピングモータ３に短絡故障があると判断することができる。かかる判断は制御回路１において行なわれる。かかる判断を第２動作と仮称する。
【００３２】
第２動作の閾値として、いずれの励磁コイル３ｋにも短絡故障がないと判断するための、ドライバ電流Ｉｂの電流値の上限を採用することができる。例えば、駆動制御信号ＥＶ＿ｋがドライバ２に対し、励磁コイル３ｋのｎ個（本開示ではｎ＝１，２，３，４）において励磁電流Ｉｋを供給させる制御を行なう場合、当該閾値としては励磁電流Ｉｋの上限値のｎ倍の値を設定することができる。
【００３３】
図５は第２動作を説明するグラフであり、励磁コイル３１，３２，３３には故障がなく励磁コイル３４のみに短絡故障があると判断される場合の駆動制御信号ＥＶ＿ｋおよび検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形を示す。ここでは駆動制御信号ＥＶ＿ｋがドライバ２に対し、励磁コイル３ｋの一つのみにおいて励磁電流Ｉｋを供給させる制御を行なう場合が例示される。また第２動作の閾値が、検出結果ＥＶ＿ＡＮにおいて正の閾値ＴＨ２として表される場合が例示される。例えば検出器４が抵抗値Ｒの抵抗素子で実現され、励磁電流Ｉｋの１つ分についての上記閾値が値Ｉｂ２である場合、ＴＨ２＝Ｒ×Ｉｂ２の関係がある。
【００３４】
図５では駆動制御信号ＥＶ＿１，ＥＶ＿３，ＥＶ＿２，ＥＶ＿４が“Ｈ”論理電位を、この順にかつ排他的に採る場合が例示される。具体的には駆動制御信号ＥＶ＿１，ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４の採る電位は、時刻ｔ１〜ｔ２においてそれぞれ“Ｈ”，“Ｌ”，“Ｌ”，“Ｌ”に相当し、時刻ｔ３〜ｔ２においてそれぞれ“Ｌ”，“Ｌ”，“Ｈ”，“Ｌ”に相当し、時刻ｔ２〜ｔ４においてそれぞれ“Ｌ”，“Ｈ”，“Ｌ”，“Ｌ”に相当し、時刻ｔ４〜ｔ５においてそれぞれ“Ｌ”，“Ｌ”，“Ｌ”，“Ｈ”に相当する。
【００３５】
時刻ｔ１以前では全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋは“Ｌ”論理電位を採る場合が例示されており、検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は時刻ｔ１から励磁電流Ｉ１を反映して、傾斜を伴って上昇する。かかる傾斜は励磁コイル３１が有する誘導性成分に起因する。
【００３６】
励磁コイル３１，３２，３３には故障がないので、検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は上述の傾斜を除けば時刻ｔ１〜ｔ４において平坦となる。これは通常、全ての励磁電流Ｉｋは定常状態において等しいからである。
【００３７】
しかし励磁コイル３４における短絡故障に起因して、検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は時刻ｔ４において上昇し、時刻ｔ５には閾値ＴＨ２を超える。これはドライバ電流Ｉｂが過電流となったことを表すので、更なる電流値の超過を回避すべく、駆動制御信号ＥＶ＿４の採る電位は、時刻ｔ５において“Ｈ”論理電位から“Ｌ”論理電位に遷移する。検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形が時刻ｔ４以前において閾値ＴＨ２を超えた場合にも、その後は全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋは“Ｌ”論理電位を採る。かかる駆動制御信号ＥＶ＿ｋの制御も制御回路１によって行なわれる。
【００３８】
なお、励磁コイル３４において短絡故障が発生していたとしても、駆動制御信号ＥＶ＿４が“Ｈ”論理電位を採る時間が短ければ、検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は時刻ｔ４において上昇するものの、閾値ＴＨ２を超えないまま、駆動制御信号ＥＶ＿４が“Ｌ”論理電位へ遷移することもあり得る。この観点から、本実施の形態において駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｈ”論理電位を採る期間は、短絡故障が発生しているときに検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形が上昇する傾斜を考慮して充分に長い時間を有することが望ましい。
【００３９】
また、短絡故障の検出という観点からは、駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｈ”論理電位を排他的に採る順序は不問である。しかしながら、ここでは励磁コイル３１，３２，３３，３４は、それぞれＡ相、Ｂ相、Ａバー相、Ｂバー相の励磁コイルとして例示されているので、故障の有無が不明なままステッピングモータ３を回転させることを避けることが望ましい。この観点では、ステッピングモータ３で１相励磁も２相励磁も発生しないことが望ましい。上述の駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｈ”論理電位を排他的に採る順序は、１相励磁も２相励磁も発生させない。
【００４０】
図６は第２動作の処理を例示するフローチャートである。当該フローチャートも、第１動作のフローチャートと同様に、他の処理の割り込み処理として採用することができる。
【００４１】
当該フローチャートではまず、ステップＳ２１において、少なくとも一つの駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｈ”論理電位を採る。図５に即して言えば、時刻ｔ１〜ｔ２において駆動制御信号ＥＶ＿１が“Ｈ”論理電位を採り、駆動制御信号ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４が“Ｌ”論理電位を採る。その後、ステップＳ２２において検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ２よりも大きいか否かが判断される。図５に即して言えば、時刻ｔ１〜ｔ３において検出結果ＥＶ＿ＡＮは閾値ＴＨ２よりも小さく、よってステップＳ２２の判断結果は否定的である。よって図６において“Ｎｏ”で示されるステップＳ２２からの分岐に従って、処理はステップＳ２４に進む。ステップＳ２４では、第２動作の開始後、全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋが少なくとも一度は“Ｈ”論理電位を採ったか否かが判断される。これは全ての励磁コイル３１，３２，３３，３４において短絡故障の有無を判断することが望ましいからである。
【００４２】
図５に即して言えば、時刻ｔ３よりも前の時点ではまだ駆動制御信号ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４が“Ｈ”論理電位を採っておらず、ステップＳ２４の判断結果は否定的となる。よって図６において“Ｎｏ”で示されるステップＳ２４からの分岐に従って、処理はステップＳ２１に戻る。ステップＳ２１では、上述のようにステッピングモータ３を回転させないようなパターンで、駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｈ”論理電位を採ることが望ましい。
【００４３】
図５に即して言えば、時刻ｔ１の後、時刻ｔ５に至る前には、ステップＳ２２の判断結果は否定的である。しかし時刻ｔ５に至ってステップＳ２２の判断結果が肯定的となり（検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ２よりも大きい：図６において“Ｙｅｓ”で示されるステップＳ２２からの分岐）、処理はステップＳ２３へ進む。ステップＳ２３においてステッピングモータ３には短絡故障が存在すると判断される。このようにして、図６で示されたフローチャートを用いて、図５を用いて説明された第２動作が実現される。
【００４４】
更なる電流値の超過を回避すべく、ステップＳ２３の後、処理はステップＳ２５に進み、ステップＳ２５において全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｌ”論理電位を採ることが望ましい。
【００４５】
上述の例示では、駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｈ”論理電位を排他的に採る場合を説明した。駆動制御信号ＥＶ＿ｋのｎ個が“Ｈ”論理電位を並行して採る場合、閾値ＴＨ２（あるいは値Ｉｂ２）をそのｎ個に応じて決定することができる。あるいは駆動制御信号ＥＶ＿ｋの全てが“Ｈ”論理電位を並行して採る場合におけるドライバ電流Ｉｂの許容値を値Ｉｂ２に設定してもよい。通常、一つの励磁コイルにおいてのみ短絡故障が発生しても、これによる過電流は、かかる許容値を超えるからである。
【００４６】
＜第３動作＞
駆動制御信号ＥＶ＿ｋがドライバ２に対し、励磁コイル３ｋの一つのみにおいて励磁電流Ｉｋを供給させる制御を行なう場合を検討する。この場合、例えば励磁コイル３４において開放故障があれば、励磁電流Ｉ４が流れない。よってドライバ電流Ｉｂの電流値が正の閾値よりも小さいとき、励磁コイル３ｋの少なくとも一つにおいて開放故障があると、ひいてはステッピングモータ３に開放故障があると判断することができる。かかる判断は制御回路１において行なわれる。かかる判断を第３動作と仮称する。
【００４７】
第３動作の閾値として、いずれの励磁コイル３ｋにも開放故障がないと判断するための、ドライバ電流Ｉｂの電流値の下限よりも小さな正の値を採用することができる。例えば、正常な励磁コイル３ｋの一つのみにおいて流れる励磁電流Ｉｋの下限よりも小さな正の値を採用することができる。他方、ノイズによって開放故障であると判断することを回避する観点からは、第３動作の閾値はノイズによって発生し得るドライバ電流Ｉｂの値よりも大きく設定することが望ましい。
【００４８】
図７は第３動作を説明するグラフであり、励磁コイル３１，３２，３３には故障がなく励磁コイル３４のみに開放故障があると判断される場合の駆動制御信号ＥＶ＿ｋおよび検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形を示す。ここでは第３動作の閾値が、検出結果ＥＶ＿ＡＮにおいて正の閾値ＴＨ３として表される場合が例示される。例えば検出器４が抵抗値Ｒの抵抗素子で実現され、励磁電流Ｉｋの１つ分についての上記閾値が値Ｉｂ３である場合、ＴＨ３＝Ｒ×Ｉｂ３の関係がある。
【００４９】
図７でも図５と同様に、駆動制御信号ＥＶ＿１，ＥＶ＿３，ＥＶ＿２，ＥＶ＿４が“Ｈ”論理電位を、この順にかつ排他的に採る場合が例示される。
【００５０】
時刻ｔ１以前では全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋは“Ｌ”論理電位を採る場合が例示されており、図５と同様に、検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は時刻ｔ１から傾斜を伴って上昇する。よって開放故障があると判断するためには、ドライバ電流Ｉｂの電流値が正の閾値よりも小さい期間が所定期間で続くことを要件とすることが望ましい。
【００５１】
励磁コイル３１，３２，３３には故障がないので、検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は上述の傾斜を除けば時刻ｔ１〜ｔ４において平坦となる。しかし励磁コイル３４における開放故障に起因して、検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は時刻ｔ４において、急激に低下して閾値ＴＨ３を下回る。そして検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ３を下回る状態が所定期間Δｔで続けば、ステッピングモータ３に開放故障があると判断される。よって時刻（ｔ４＋Δｔ）において、駆動制御信号ＥＶ＿４は“Ｈ”論理電位から“Ｌ”論理電位に遷移する。検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形が時刻ｔ４以前において閾値ＴＨ３を所定期間Δｔで下回る場合にも、その後は全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋは“Ｌ”論理電位を採る。かかる駆動制御信号ＥＶ＿ｋの制御も制御回路１によって行なわれる。
【００５２】
なお、励磁コイル３４において開放故障が発生していたとしても、駆動制御信号ＥＶ＿４が“Ｈ”論理電位を採る時間が短ければ、検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は時刻ｔ４において閾値ＴＨ３よりも小さいものの、その状態が所定期間Δｔで維持されないこともあり得る。よって判断の精度を上げる観点で、所定期間Δｔは、駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｈ”論理電位を採るために設定される期間よりも短いことが望ましい。
【００５３】
図８は第３動作の処理を例示するフローチャートである。当該フローチャートも、第１動作のフローチャートと同様に、他の処理の割り込み処理として採用することができる。
【００５４】
当該フローチャートではまず、ステップＳ３１において、一つの駆動制御信号ＥＶ＿ｋのみが順次に“Ｈ”論理電位を採る。図７に即して言えば、時刻ｔ１〜ｔ３において駆動制御信号ＥＶ＿１が“Ｈ”論理電位を採り、駆動制御信号ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４が“Ｌ”論理電位を採る。その後、ステップＳ３２において検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ３よりも小さいか否かが判断される。図７に即して言えば、時刻ｔ１〜ｔ３において検出結果ＥＶ＿ＡＮは閾値ＴＨ３よりも大きく、よってステップＳ３２の判断結果は否定的である。よって図８において“Ｎｏ”で示されるステップＳ３２からの分岐に従って、処理はステップＳ３４に進む。ステップＳ３４では、第３動作の開始後、全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋが少なくとも一度は“Ｈ”論理電位を採ったか否かが判断される。これは全ての励磁コイル３１，３２，３３，３４において開放故障の有無を判断することが望ましいからである。
【００５５】
図７に即して言えば、時刻ｔ３よりも前の時点ではまだ駆動制御信号ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４が“Ｈ”論理電位を採っておらず、ステップＳ３４の判断結果は否定的となる。よって図８において“Ｎｏ”で示されるステップＳ３４からの分岐に従って、処理はステップＳ３１に戻る。ステップＳ３１では、上述のようにステッピングモータ３を回転させないようなパターンで、駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｈ”論理電位を採ることが望ましい。
【００５６】
図７に即して言えば、時刻ｔ１の後、時刻ｔ４に至る前には、ステップＳ３２の判断結果は否定的である。しかし時刻ｔ４に至ってステップＳ３２の判断結果が肯定的となり（検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ３よりも小さい：図８において“Ｙｅｓ”で示されるステップＳ３２からの分岐）、処理はステップＳ３３へ進む。ステップＳ３３においてステッピングモータ３には開放故障が存在すると判断される。このようにして、図８で示されたフローチャートを用いて、図７を用いて説明された第３動作が実現される。
【００５７】
図８では、ステップＳ３３の後、処理はステップＳ３５に進み、ステップＳ３５において全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｌ”論理電位を採るフローが例示されている。開放故障であっても、ステッピングモータ３に故障があると判断されていれば、これを駆動しないことが望ましいからである。同様の観点で、第１動作においてドライバ２に故障があると判断された場合でも、全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｌ”論理電位を採ることが望ましい。
【００５８】
＜第４動作＞
駆動制御信号ＥＶ＿ｋが、ドライバ２に対してステッピングモータ３を回転させるパターンを有する場合を検討する。ここではステッピングモータ３に２相励磁を行なって回転させる場合を説明するが、１−２相励磁を行なって回転させる場合も同様に説明できる。ここではステッピングモータ３が正常に回転した後、励磁コイル３２において短絡故障が発生した場合を説明する。
【００５９】
励磁コイル３２において短絡故障が発生すると励磁電流Ｉ２が過電流となる。よってドライバ電流Ｉｂの電流値が正の閾値よりも大きいとき、励磁コイル３ｋの少なくとも一つにおいて短絡故障があると、ひいてはステッピングモータ３に短絡故障があると判断することができる。かかる判断は制御回路１において行なわれる。かかる判断は第２動作と同様であるが、ステッピングモータ３が正常に回転した後のかかる判断を第４動作と仮称する。
【００６０】
第４動作の閾値として、いずれの励磁コイル３ｋにも短絡故障がないと判断するための、ドライバ電流Ｉｂの電流値の上限を採用することができる。例えば、２相励磁では、駆動制御信号ＥＶ＿ｋがドライバ２に対し、励磁コイル３ｋの２個において励磁電流Ｉｋを供給させる制御を行なうので、当該閾値としては励磁電流Ｉｋの上限値の２つ分の値を設定することができる。
【００６１】
図９は第４動作を説明するグラフであり、駆動制御信号ＥＶ＿ｋおよび検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形を示す。第４動作の閾値は、検出結果ＥＶ＿ＡＮにおいて正の閾値ＴＨ４として表される場合が例示される。例えば検出器４が抵抗値Ｒの抵抗素子で実現され、励磁電流Ｉｋの上限値の２つ分の値が値Ｉｂ４である場合、ＴＨ４＝Ｒ×Ｉｂ４の関係がある。
【００６２】
ここでは駆動制御信号ＥＶ＿ｋがドライバ２に対し、ステッピングモータ３に対して２相励磁を行わせるパターンを有する。具体的には駆動制御信号ＥＶ＿１，ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４が、この順に“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移し、駆動制御信号ＥＶ＿１が“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移する時点で駆動制御信号ＥＶ＿３が“Ｈ”論理電位から“Ｌ”論理電位へ遷移し、駆動制御信号ＥＶ＿２が“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移する時点で駆動制御信号ＥＶ＿４が“Ｈ”論理電位から“Ｌ”論理電位へ遷移し、駆動制御信号ＥＶ＿３が“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移する時点で駆動制御信号ＥＶ＿１が“Ｈ”論理電位から“Ｌ”論理電位へ遷移し、駆動制御信号ＥＶ＿４が“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移する時点で駆動制御信号ＥＶ＿２が“Ｈ”論理電位から“Ｌ”論理電位へ遷移するパターンが例示されている。但し，ステッピングモータ３を回転させる当初（ここでは時刻１０〜ｔ４０）は上記パターンは厳密には発生しない。
【００６３】
時刻ｔ１０以前では全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋは“Ｌ”論理電位を採る場合が例示されており、ドライバ電流Ｉｂは流れない（図９において検出結果ＥＶ＿ＡＮは、基準線となる破線と一致）。時刻ｔ１０において駆動制御信号ＥＶ＿１が“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移すると、励磁電流Ｉ１を反映して、検出結果ＥＶ＿ＡＮは傾斜を伴って上昇する。その後、時刻ｔ２０において駆動制御信号ＥＶ＿２が“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移すると、励磁電流Ｉ１，Ｉ２の和を反映して、検出結果ＥＶ＿ＡＮは傾斜を伴って更に上昇する。
【００６４】
時刻ｔ３０において駆動制御信号ＥＶ＿３が“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移し、駆動制御信号ＥＶ＿１が“Ｈ”論理電位から“Ｌ”論理電位へ遷移すると、ドライバ電流Ｉｂは励磁電流Ｉ２，Ｉ３の和となる。また時刻ｔ４０において駆動制御信号ＥＶ＿４が“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移し、駆動制御信号ＥＶ＿２が“Ｈ”論理電位から“Ｌ”論理電位へ遷移すると、ドライバ電流Ｉｂは励磁電流Ｉ３，Ｉ４の和となる。通常、全ての励磁電流Ｉｋは定常状態において等しいので、故障が発生しなければ検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は時刻ｔ３０以降において平坦となる。
【００６５】
図９では、時刻ｔ４０以降、暫時は２相励磁によってステッピングモータ３が回転するが、回転中に励磁コイル３２に短絡故障が発生した場合が示される。時刻ｔ４９において駆動制御信号ＥＶ＿２が“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へ遷移すると、励磁コイル３２の短絡故障に起因して、検出結果ＥＶ＿ＡＮの波形は時刻ｔ４９において上昇し、時刻ｔ５９には閾値ＴＨ４を超える。これはドライバ電流Ｉｂが過電流となったことを表すので、更なる電流値の超過を回避すべく、全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋは“Ｌ”論理電位を採る。かかる駆動制御信号ＥＶ＿ｋの制御も制御回路１によって行なわれる。
【００６６】
図１０は第４動作の処理を例示するフローチャートである。当該フローチャートも、第１動作のフローチャートと同様に、他の処理の割り込み処理として採用することができる。しかし、第４動作はステッピングモータ３を回転させる処理を行なっており、当該回転のための処理に含まれる短絡故障の判断である、と考えることもできる。
【００６７】
当該フローチャートではまず、ステップＳ４１において、ステッピングモータ３を回転させるパターンで、駆動制御信号ＥＶ＿ｋを遷移させる。図９に即して言えば、当該パターンはステッピングモータ３に２相励磁を与える。いずれか一つの駆動制御信号ＥＶ＿ｋについて遷移があれば、処理がステップＳ４２に進む。ステップＳ４２において検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ４よりも大きいか否かが判断される。図９に即して言えば、時刻ｔ１０においてステップＳ４１によって駆動制御信号ＥＶ＿１の波形は“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へと遷移し、ステップＳ４２が実行される。
【００６８】
時刻ｔ１０〜ｔ２０において検出結果ＥＶ＿ＡＮは閾値ＴＨ４よりも大きく、よってステップＳ４２の判断結果は否定的である。よって図１０において“Ｎｏ”で示されるステップＳ４２からの分岐に従って、処理はステップＳ４１に戻る。そして図９に即して言えば、時刻ｔ２０においてステップＳ４１によって駆動制御信号ＥＶ＿２の波形は“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へと遷移し、再びステップＳ４２が実行される。
【００６９】
このようにしてステップＳ４１，Ｓ４２が繰り返し実行され、ある時点でステップＳ４２の判断結果が肯定的となる場合を説明する。図９に即して言えば、時刻ｔ４９でステップＳ４１によって駆動制御信号ＥＶ＿２の波形は“Ｌ”論理電位から“Ｈ”論理電位へと遷移し、ステップＳ４２が実行されると、時刻５９において検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ４を超える。よってステップＳ４２の判断結果が肯定的となり（検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ４よりも大きい：図１０において“Ｙｅｓ”で示されるステップＳ４２からの分岐）、処理はステップＳ４３へ進む。ステップＳ４３においてステッピングモータ３には短絡故障が存在すると判断される。このようにして、図１０で示されたフローチャートを用いて、図９を用いて説明された第４動作が実現される。
【００７０】
更なる電流値の超過を回避すべく、ステップＳ４３の後、処理はステップＳ４４に進み、ステップＳ４４において全ての駆動制御信号ＥＶ＿ｋが“Ｌ”論理電位を採ることが望ましい。
【００７１】
上記第１〜第４動作は独立して実行することができる。例えばステッピングモータ３を稼働する前に第１動作、第２動作、第３動作の少なくとも一つを実行し、ステッピングモータ３を稼働する際に第４動作を実行することができる。もちろん、第１動作においてドライバ２に短絡故障があると判断された場合、第２動作においてステッピングモータ３に短絡故障があると判断された場合、第３動作においてステッピングモータ３に開放故障があると判断された場合には、第４動作を行なわなくてもよい。
【００７２】
例えば第２動作と第３動作を並行して実行してもよい。この場合、第２動作において採用される駆動制御信号ＥＶ＿ｋは、第３動作と同様に、一つのみ順次に“Ｈ”論理電位となる。図６および図８に即してみれば、第２動作で採用されるステップＳ２１として、第３動作で採用されるステップＳ３１を採用する。またステップＳ２４とステップＳ３４とを兼用し、ステップＳ２５とステップＳ３５とを兼用することもできる。
【００７３】
第３動作で導入した所定期間Δｔを第１動作、第２動作、第４動作において導入してもよい。かかる導入はこれらの動作においてノイズ等に由来する誤判断を低減する観点で望ましい。例えば第１動作について言えば、ステップＳ１２において検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ１よりも大きい期間が所定期間Δｔで維持されればドライバ２に短絡故障があると判断（ステップＳ１３）してもよい。例えば第２動作について言えば、ステップＳ２２において検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ２よりも大きい期間が所定期間Δｔで維持されれば、ステッピングモータ３に短絡故障が存在すると判断（ステップＳ２３）してもよい。例えば第４動作について言えば、ステップＳ４２において検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ４よりも大きい期間が所定期間Δｔで維持されればステッピングモータ３に短絡故障が存在すると判断（ステップＳ４３）してもよい。
【００７４】
上述のように駆動制御信号ＥＶ＿ｋを出力し、検出結果ＥＶ＿ＡＮを入力し、第１〜第４動作を行なう制御回路１は、マイクロコンピュータと記憶装置を含んで構成することができる。マイクロコンピュータは、プログラムに記述された各処理のステップ（換言すれば手順）を実行する。例えば図４、図６、図８、図１０の各ステップは当該マイクロコンピュータで実行される。
【００７５】
上記記憶装置は、例えばＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）、書き換え可能な不揮発性メモリ（ＥＰＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  ＲＯＭ）等）などの各種記憶装置の１つまたは複数で構成可能である。当該記憶装置は、各種の情報やデータ等を格納し、またマイクロコンピュータが実行するプログラムを格納し、また、プログラムを実行するための作業領域を提供する。なお、マイクロコンピュータは、プログラムに記述された各処理ステップに対応する各種手段として機能するとも把握でき、あるいは、各処理ステップに対応する各種機能を実現するとも把握できる。また、制御回路１はこれに限らず、制御回路１によって実行される各種手順、あるいは実現される各種手段または各種機能の一部または全部をハードウェアで実現しても構わない。
【００７６】
図１１はステッピングモータ３を利用した冷凍回路９を例示するブロック図である。冷凍回路９は圧縮機９１、熱交換器９２，９４、膨張弁９３を備える。不図示の冷媒が圧縮機９１によって圧縮され、熱交換器９２によって蒸発し、膨張弁９３によって膨張し、熱交換器９４によって凝縮する。図中の白矢印は冷媒が循環する方向を示す。
【００７７】
膨張弁９３は電磁弁であって、制御回路１で制御されるステッピングモータ３によってその開度が調整される。
【００７８】
モータ駆動システム１００は、ドライバ２と、検出器４と、制御回路１とを備える。そしてドライバ２は、ステッピングモータ３における複数の励磁コイル３１，３２，３３，３４毎に励磁電流Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，Ｉ４の供給／遮断を行なう。検出器４は、ドライバに流れる電流であるドライバ電流Ｉｄを検出する。
【００７９】
制御回路１は、
(i)励磁電流Ｉｋの供給／遮断を制御する信号である駆動制御信号ＥＶ＿ｋをドライバ２に対して出力し、
(ii)検出器４による検出結果ＥＶ＿ＡＮを入力し、
(iii)駆動制御信号ＥＶ＿ｋがドライバ２に対して励磁コイル３ｋの全てにおいて励磁電流Ｉｋを遮断させる制御を行なう場合に検出結果ＥＶ＿ＡＮが正の閾値ＴＨ１よりも大きいとき、ドライバ２に故障があると判断する。
【００８０】
このような構成、機能、作用により、ドライバ２に流れるドライバ電流Ｉｄに基づいて、故障判断が行なわれる。
【００８１】
望ましくは、駆動制御信号ＥＶ＿１ｋがドライバ２に対して励磁コイル３ｋの少なくとも一つにおいて励磁電流Ｉｋを供給させる制御を行なう場合に、検出結果ＥＶ＿ＡＮが正の閾値ＴＨ２よりも大きいとき、制御回路１はステッピングモータ３に短絡故障があると判断する。望ましくは当該制御における励磁電流Ｉｋはステッピングモータ３を回転させない。故障の有無が不明なままステッピングモータ３を回転させることを避けるためである。
【００８２】
あるいは、励磁コイル３ｋの一つのみにおいて励磁電流Ｉｋを供給させる制御を行なう場合に、検出結果ＥＶ＿ＡＮが正の閾値ＴＨ３よりも小さい期間が所定期間Δｔ続くとき、制御回路１はステッピングモータ３に開放故障があると判断する。望ましくは当該制御における励磁電流Ｉｋはステッピングモータ３を回転させない。故障の有無が不明なままステッピングモータ３を回転させることを避けるためである。判断の精度を上げる観点では、所定期間Δｔは励磁コイル３ｋの一つに励磁電流Ｉｋを供給させるための期間よりも短いことが望ましい。
【００８３】
また、駆動制御信号ＥＶ＿ｋがドライバ２に対してステッピングモータ３を回転させるパターンを有する場合に、検出結果ＥＶ＿ＡＮが閾値ＴＨ４よりも大きいとき、制御回路１はステッピングモータ３に短絡故障があると判断してもよい。
【００８４】
ドライバ２の故障、ステッピングモータ３の開放故障、ステッピングモータ３の短絡故障のいずれかがあると判断された後、制御回路１はドライバ２に対して励磁コイル３ｋの全てにおいて励磁電流Ｉｋを遮断させる制御を行なうことが望ましい。例えば短絡故障が発生しているとき、かかる制御で更なる電流値の超過を回避するためである。
【００８５】
例えばドライバ２は励磁コイル３ｋに対応して設けられるドライバ素子２１，２２，２３，２４を有する。そして互いに対応するドライバ素子２ｋと励磁コイル３ｋとは直流電源５に対して直列に接続される。ドライバ電流Ｉｄは、全ての励磁コイル３ｋについての励磁電流Ｉｋの総和である。
【００８６】
以上、実施形態を説明したが、特許請求の範囲の趣旨および範囲から逸脱することなく、形態や詳細の多様な変更が可能なことが理解されるであろう。上述の各種の実施形態および変形例は相互に組み合わせることができる。
【符号の説明】
【００８７】
１  制御回路
２  ドライバ
３  ステッピングモータ
４  検出器
５  直流電源
２１，２２，２３，２４  ドライバ素子
３１，３２，３３，３４  励磁コイル
１００  モータ駆動システム
ＥＶ＿１，ＥＶ＿２，ＥＶ＿３，ＥＶ＿４  駆動制御信号
ＥＶ＿ＡＮ  検出結果
Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，Ｉ４  励磁電流
Ｉｄ  ドライバ電流
ＴＨ１，ＴＨ２，ＴＨ３，ＴＨ４  閾値
Δｔ  所定期間
【図１】
2019154175.tif 000003
【図２】
2019154175.tif 000004
【図３】
2019154175.tif 000005
【図４】
2019154175.tif 000006
【図５】
2019154175.tif 000007
【図６】
2019154175.tif 000008
【図７】
2019154175.tif 000009
【図８】
2019154175.tif 000010
【図９】
2019154175.tif 000011
【図１０】
2019154175.tif 000012
【図１１】
2019154175.tif 000013