(57)【要約】      （修正有）【課題】ライン状の測定光が照射された被検眼の眼底からの戻り光を受光する際に、角膜反射光によるゴーストの影響を低減する眼科装置、及びフォーカスユニットを提供する。【解決手段】ライン状の測定光を被検眼の眼底に照射する照射光学系と、被検眼の角膜からの角膜反射光を結像させる結像光学系と、角膜反射光が結像される位置に配置され、ライン状の測定光が照射された眼底からの戻り光から結像された角膜反射光を低減する低減部材００７と、角膜反射光が低減された戻り光を受光する受光光学系と、を眼科装置に配する。【選択図】図１
2019072027.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ライン状の測定光を被検眼の眼底に照射する照射光学系と、
前記被検眼の角膜からの角膜反射光を結像させる結像光学系と、
前記角膜反射光が結像される位置に配置され、前記ライン状の測定光が照射された前記眼底からの戻り光から前記結像された角膜反射光を低減する低減部材と、
前記角膜反射光が低減された前記戻り光を受光する受光光学系と、
を備えることを特徴とする眼科装置。
【請求項２】
前記照射光学系の光軸に沿って移動して、前記ライン状の測定光を前記眼底に合焦する合焦部材と、
前記照射光学系の光路と前記受光光学系の光路とを分岐する光路分岐手段と、
前記受光光学系に配置された前記結像光学系及び前記低減部材と前記合焦部材とが一体となって、前記照射光学系の光軸に沿って移動可能に構成されたフォーカスユニットと、
を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
前記角膜反射光を無限遠として前記フォーカスユニットに入射させる入射部材を更に備え、
前記結像光学系は、前記入射部材を介して前記フォーカスユニットに入射された前記戻り光を平行光とした後に前記角膜反射光を結像する位置とは異なる位置で前記戻り光を結像させることを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
【請求項４】
前記測定光を走査する走査手段を更に備え、前記走査手段の旋回中心は前記入射部材の前側焦点に位置することを特徴とする請求項３に記載の眼科装置。
【請求項５】
前記合焦部材は前記フォーカスユニット内に入射した前記戻り光を平行光とするように焦点距離が負であり、
前記結像光学系は、前記平行光とされた戻り光を合焦する焦点距離が正の結像部材を含むことを特徴とする請求項３又は４に記載の眼科装置。
【請求項６】
前記フォーカスユニットは、前記光路分岐手段により光路分離された前記戻り光を前記合焦部材の光軸と平行な方向に反射させる反射手段と、前記反射手段により反射された戻り光を無限遠として前記フォーカスユニットから射出させる焦点距離が正の射出部材とを備えることを特徴とする請求項２乃至５の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項７】
前記低減部材は、前記角膜反射光が結像される位置に配置されて前記角膜反射光を透過可能な領域を有する前記反射手段であることを特徴とする請求項６に記載の眼科装置。
【請求項８】
前記透過可能な領域は、前記ライン状の測定光に対応するスリット形状からなることを特徴とする請求項７に記載の眼科装置。
【請求項９】
前記低減部材は、前記角膜反射光が結像される位置に配置されて前記角膜反射光を吸収又は遮光する領域を有する部材からなることを特徴とする請求項２乃至６の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１０】
前記吸収又は遮光する領域は、前記ライン状の測定光に対応するスリット形状からなることを特徴とする請求項９に記載の眼科装置。
【請求項１１】
前記照射光学系の光軸に沿って移動して、前記ライン状の測定光を前記眼底に合焦する合焦部材と、
前記照射光学系の光路と前記受光光学系の光路とを分岐する光路分岐手段と、を更に備え、
前記低減部材は、前記受光光学系に配置され、前記合焦部材の移動に同期して前記受光光学系の光軸に沿って移動することを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項１２】
前記光路分岐手段は、前記合焦部材と前記結像光学系の間に配置されることを特徴とする請求項２乃至１１の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１３】
前記戻り光と前記戻り光に対応する参照光とを合波して干渉光を生成する干渉光学系と、前記干渉光より得られた干渉信号を用いて前記眼底の断層像を生成する断層像生成手段と、を更に備えることを特徴とする請求項１乃至１２の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１４】
前記戻り光を用いて前記眼底の正面像を生成する正面像生成手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至１２の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１５】
ライン状の測定光を被検眼の眼底に照射する照射光学系の光軸に沿って移動して、前記ライン状の測定光を前記眼底に合焦する合焦部材と、
前記被検眼の角膜からの角膜反射光を結像させる結像光学系と、
前記角膜反射光が結像される位置に配置され、前記ライン状の測定光が照射された前記眼底からの戻り光から前記結像された角膜反射光を低減する低減部材と、
前記照射光学系の光路と前記角膜反射光が低減された前記戻り光を受光する受光光学系の光路とを分岐する光路分岐手段と、を備え、
前記受光光学系に配置された前記結像光学系及び前記低減部材と前記合焦部材とが一体となって、前記照射光学系の光軸に沿って移動可能に構成されたフォーカスユニット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼科装置、及び該眼科装置に用いられるフォーカスユニットに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、眼科分野において非侵襲で眼底及び前眼部の断層を観察／検査できる光干渉断層撮像法（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）を行う装置（以下ＯＣＴ装置と記す。）が普及している。ＯＣＴでは、低コヒーレント光（測定光）を被検眼に照射し、被検眼からのその戻り光と参照光とを合波させて得た干渉光を用いて、被検眼の断層に関する情報を得ている。また、この測定光を被検眼の例えば眼底上の所定範囲に走査することで、該所定範囲の３次元断層情報が得られる。当該方法を具現化するＯＣＴ装置は、医療において研究から臨床まで広く使われている。
【０００３】
ＯＣＴは、タイムドメインＯＣＴ、及びフーリエドメインＯＣＴの２種に大別される。更に、フーリエドメインＯＣＴには、スペクトラルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）とスウェプトソースＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）とがある。これらフーリエドメインＯＣＴは、被検眼から得られる干渉光を分光して干渉信号の取得を行い、取得した干渉信号にフーリエ変換等の信号処理を行って被検眼の断層に関する情報を取得する。広波長帯域光を用いるＳＤ−ＯＣＴでは、分光器により干渉光を空間的に分光して周波数毎の情報を得ている。波長掃引型光源からの光を用いるＳＳ−ＯＣＴでは、時間的に異なる波長の光を発する光源からの光より得た干渉光を時間的に分光して周波数毎の情報を得ている。
【０００４】
現在、眼底上で光を走査して眼底の情報を得る眼科装置において、この光をライン状に成形して眼底に照射し、ライン状の光で眼底上を走査することによる検査時間の短縮化が図られている。特許文献１には、ライン状に成形した光を被検眼に照射する走査型レーザ検眼鏡（ＳＬＯ）が開示されている。また、非特許文献１には、マイケルソン型の干渉系を用いたライン走査型のＯＣＴ装置が開示されている。
【０００５】
従来のライン走査型のＯＣＴ装置では、シリンドリカルレンズ等を用い、眼底と共役な位置に波長掃引型の光源から射出した光をライン状に成形する。このライン状に成形された光束は測定光と参照光とに分割され、測定光は被検眼眼底に導かれて該眼底上を走査する。眼底により反射散乱されて該眼底から戻った測定光は、参照光路を経た参照光と合波され、これによりライン状の干渉光が得られる。この干渉光をラインセンサにより受光することで、眼底の断層の情報を得るための干渉信号が得られる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１７−４６９３９号公報
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】D. J. Fechtig, B. Grajciar, T. Schmoll, C. Blatter, R. M. Werkmeister, W. Drexler, and R. a Leitgeb, “Line-field parallel swept source MHz OCT for structural and functional retinal imaging.,” Biomed. Opt. Express, vol. 6, no. 3, pp. 716-35, Mar. 2015.
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ここで、従来のライン走査型ＳＬＯ装置や従来のライン走査型ＯＣＴ装置といった従来のライン走査型の眼科装置では、角膜を反射面とするライン状の測定光の反射光（以下簡略化のため角膜反射光と記す。）が発生する。このとき、ライン走査型の眼科装置では、ライン状の測定光が照射された被検眼の眼底からのライン状の戻り光をラインセンサで受光している。このため、被検眼からの戻り光に含まれる角膜反射光は、ラインセンサにおいて所謂ゴーストとして受光される。このようなゴーストの受光は眼底像（眼底の正面像や眼底の断層像等）の画質の劣化や、ゴーストと重なる部位の眼底情報が得られない等といった問題が生じる可能性がある。
【０００９】
本発明の目的の一つは、以上の状況に鑑みたものであって、ライン状の測定光が照射された被検眼の眼底からの戻り光を受光する眼科装置において、角膜反射光によるゴーストの影響を低減することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る眼科装置は、
ライン状の測定光を被検眼の眼底に照射する照射光学系と、
前記被検眼の角膜からの角膜反射光を結像させる結像光学系と、
前記角膜反射光が結像される位置に配置され、前記ライン状の測定光が照射された前記眼底からの戻り光から前記結像された角膜反射光を低減する低減部材と、
前記角膜反射光が低減された前記戻り光を受光する受光光学系と、
を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の一つによれば、ライン状の測定光が照射された被検眼の眼底からの戻り光を受光する眼科装置において、角膜反射光によるゴーストの影響を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１の実施例であるライン走査型ＯＣＴ装置における光学系レイアウトを模式的に示す図である。
【図２】第１の実施例におけるライン走査型ＯＣＴ装置における機能構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の第２の実施例であるライン走査型ＯＣＴ装置における光学系レイアウトを模式的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明を実施するための例示的な実施例を、図面を参照して説明する。ただし、以下の実施例で説明される寸法、材料、形状、及び構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。
【００１４】
［第１の実施例］
以下、図１及び２を参照して、本発明の第１の実施例におけるライン走査型ＯＣＴ装置（以下Ｌ−ＯＣＴ装置と記す。）について説明する。図１は本実施例におけるＬ−ＯＣＴ装置における光学系レイアウトを模式的に示す図であり、図２は本実施例におけるＬ−ＯＣＴ装置における機能構成を示すブロック図である。
【００１５】
（光学系レイアウト）
本実施例におけるＬ−ＯＣＴ装置は、対物レンズ００１、ガルバノメトリックミラー００２、凸レンズ００３、フォーカスユニット１００、ライン像形成光学系１０１、及びリファレンス光学系１０２を備える。また、ビームスプリッタ０１２、結像レンズ０１３、及びラインセンサ０１４を備える。対物レンズ００１は、被検眼Ｅに対向して光軸Ｌ１上に配置される。ガルバノメトリックミラー００２は、対物レンズ００１に対して被検眼Ｅの前眼部と略共役な位置に配置される。ガルバノメトリックミラー００２の反射方向であり、光軸Ｌ１と直交する光軸Ｌ２上には、凸レンズ００３、フォーカスユニット１００、ライン像形成光学系１０１、コリメータレンズ００９、サンプル光を射出する光ファイバー端０１０が配置されている。
【００１６】
フォーカスユニット１００は、凹レンズ００４、ユニット内ビームスプリッタ００５、凸レンズ００６、穴あきミラー００７、及び凸レンズ００８を備える。凹レンズ００４は、このフォーカスユニット１００において実質的なフォーカスレンズとして機能する。本実施例において、後述するライン像形成光学系１０１、ユニット内ビームスプリッタ００５、凹レンズ００４、凸レンズ００３は、及びガルバノメトリックミラー００２は、光軸Ｌ２上に配置される。また、ユニット内ビームスプリッタ００５の反射方向の光軸Ｌ３上には、凸レンズ００６、及び穴あきミラー００７が配置され、穴あきミラー００７の反射方向の光軸Ｌ４上には凸レンズ００８が配置されている。
【００１７】
フォーカスユニット１００は、上述した該フォーカスユニット１００内の光学部材が一体となり、後述するフォーカスユニット駆動手段１００１により、被検眼Ｅの視度に合わせて光軸Ｌ２方向に移動する。また、光軸Ｌ２と光軸Ｌ４とは平行となるように配置されている。なお、上述した穴あきミラー００７の穴部は例えば後述するライン像に対応する矩形状であることが好ましい。しかし、角膜反射光の除去効率や他の光学部材の構成に応じて、矩形以外の形状とすることもできる。
【００１８】
ライン像形成光学系１０１には、例えば広帯域に対応する波長掃引型の低コヒーレント光源（図２のＳＳ光源０２１参照）から射出された光を分割して得た光（以下測定光と記す。）が導かれる。具体的には、光源から射出された光が不図示のカプラにより分割され、得られた測定光は例えば不図示の光ファイバーによって引き回されて光ファイバー端０１０より光軸Ｌ２上に射出される。光ファイバー端０１０より射出された測定光はコリメータレンズ００９により平行光とされ、空間光としてライン像形成光学系１０１に導かれる。
【００１９】
ライン像形成光学系１０１は、不図示のシリンドリカルレンズや球面レンズ等を備えている。これら構成により、ライン像形成光学系１０１は、フォーカスユニット１００、凸レンズ００３、ガルバノメトリックミラー００２、及び対物レンズ００１を介して被検眼Ｅに入射した測定光にて、眼底Ｅｆ上でライン像を形成する。即ち、ライン像形成光学系１０１によりライン状とされた測定光が、眼底Ｅｆ上に照射される。なお、ライン像形成光学系１０１に、このライン像の形状の長さや幅に作用する矩形状の開口部を有する光束制限手段などを設けてもよい。また、ガルバノメトリックミラー００２の紙面に垂直な方向のミラー部の大きさを、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに照射するライン状の光の長さを決める実質的な開口径を有するものとしてもよい。
【００２０】
フォーカスユニット１００から射出される光の光軸Ｌ４上には、ビームスプリッタ０１２、結像レンズ０１３、及びラインセンサ０１４が配置されている。被検眼Ｅからラインセンサ０１４に至る、対物レンズ００１、ガルバノメトリックミラー００２、凸レンズ００３、フォーカスユニット１００、ビームスプリッタ０１２、及び結像レンズ０１３は、本実施例においてサンプル光学系を構成している。
【００２１】
ビームスプリッタ０１２の光軸Ｌ４と直交する光軸Ｌ５上には、リファレンス光学系１０２が配置される。リファレンス光学系１０２には、上述した低コヒーレント光源から射出された光を分割して得た光（以下参照光と記す。）が導かれる。具体的には、光源射出光から上述した不図示のカプラにより分割され、得られた参照光は例えば不図示の光ファイバーによって引き回されて光ファイバー端０１６より光軸Ｌ５上に射出される。光ファイバー端０１６より射出された参照光はコリメータレンズ０１５により平行光とされ、空間光としてリファレンス光学系１０２に導かれる。
【００２２】
リファレンス光学系１０２は、ライン像形成光学系１０１と同様に不図示のシリンドリカルレンズや球面レンズ等を備えている。これら構成によりリファレンス光学系１０２は、参照光をライン状に成形し、サンプル光学系を経てラインセンサ０１４に導かれる測定光と干渉可能の状態とする。またリファレンス光学系１０２は、ビームスプリッタ０１２に至る参照光の光路長を調整する機能を有する。具体的には、リファレンス光学系１０２に例えば参照ミラー等を配し、参照光がこの参照ミラー等を介して往復する経路を設ける。後述する参照ミラー駆動手段１００３によりこの参照ミラーを光軸上で移動させることで、参照光の光路長を調整する。
【００２３】
ビームスプリッタ０１２に射出された参照光は、光軸Ｌ４に沿って反射される。反射された参照光は、光軸Ｌ４に沿ってビームスプリッタ０１２に入射した測定光と合波され、干渉光として結像レンズ０１３によってラインセンサ０１４上にライン像を形成する。ラインセンサ０１４は眼底上に結像されたライン像の各位置に対応して複数の画素が配置されて構成されており、各画素から干渉光に応じた信号を出力する。また、ガルバノメトリックミラー００２は、後述するガルバノ駆動手段１００２により光軸Ｌ２に対する反射面の角度が変更できるようになっている。ガルバノメトリックミラー００２により、眼底Ｅｆ上に照射されたライン状の測定光をこの測定光の長手方向と直交する方向に走査することで、眼底Ｅｆを２次元に照明することができる。
【００２４】
ここで、フォーカスユニット１００を含むサンプル光学系について、詳細に説明する。なお、以下に述べる角膜反射光は、上述したように、ガルバノメトリックミラー００２より射出されたライン像の角膜を反射面とした反射光のことである。
【００２５】
（角膜反射光の除去）
上述したように、対物レンズ００１に対して被検眼Ｅの前眼部と略共役な位置に、ガルバノメトリックミラー００２が配置されている。このため、ライン像の被検眼角膜Ｅｃによる角膜反射光は、対物レンズ００１によりガルバノメトリックミラー００２近傍に結像する。凸レンズ００３は、ガルバノメトリックミラー００２の位置、より詳細には旋回動作における旋回中心に前側焦点が略一致するように配置されている。従って、ガルバノメトリックミラー００２の近傍に結像した角膜反射光は、凸レンズ００３を経てフォーカスユニット１００へ平行光となって入射する。フォーカスユニット１００に入射した角膜反射光は、凹レンズ００４及び凸レンズ００６により、穴あきミラー００７の穴部に結像する。
【００２６】
本実施例では、この結像に際し、凹レンズ００４と凸レンズ００６との間に配置されたユニット内ビームスプリッタ００５により、角膜反射光は光軸Ｌ１から光軸Ｌ３に沿って反射され、測定光を被検眼Ｅに入射させる入射経路より分岐される。穴あきミラー００７は凸レンズ００６を介した光を光軸Ｌ４方向に反射するが、穴あきミラー００７の穴部に結像した角膜反射光は、その大部分がこの穴部を抜けることで光軸Ｌ４方向へはほぼ導かれなくなる。このため、本実施例において、ラインセンサ０１４によって受光される戻り光に含まれる角膜反射光が低減される。よって、ライン走査型ＯＣＴにとって画質を劣化させる不要な角膜反射光のほぼ除去することができ、明瞭な断層像の取得が可能となる。なお、本実施例では上述する角膜反射光の大部分がラインセンサ０１４により受光されることを防ぐ或いは低減することを目的としており、眼底からの戻り光と角膜反射光とを含む光束から角膜反射光の大部分を除くことによりこれを達成する。この角膜反射光の大部分をラインセンサ０１４に至る戻り光から除くことを、以降の説明では除去或いは低減と称する。
【００２７】
断層像の取得時には、被検眼Ｅの視度に応じて通常はフォーカスレンズを光軸上で移動させて測定光を眼底に合焦させることを要する。本実施例では、フォーカス手段として機能する凹レンズ００４は、フォーカスユニット１００として他の光学部材と一体化して光軸Ｌ２上を移動する。このとき、ＯＣＴ装置と被検眼Ｅとの位置合せが完了している場合、被検眼Ｅの視度に応じてフォーカスユニット１００が光軸Ｌ２上で光軸方向に移動して測定光の合焦操作を行う必要がある。しかし、このようなフォーカスユニット１００の移動が行われても、角膜反射光はフォーカスユニット１００へ平行光となって入射する状態は変化しない。このため、角膜反射光は被検眼Ｅの視度によらず穴あきミラー００７の穴部に結像するので、被検眼によらずに角膜反射光を除去することが可能となる。
【００２８】
なお、本実施例では、角膜反射光の除去のために、光軸Ｌ３上に穴部を設けた穴あきミラー００７を用いることとしている。穴あきミラー００７を用いることにより、角膜反射光の割合が低減された戻り光を効率よくラインセンサ０１４に導くことができる。また、穴の形状は角膜反射光がライン状光の反射光であることから、この形状に対応するように矩形状のスリットとすることが望ましい。これにより、角膜反射光の除去に伴う戻り光の光量ロスを最低限に抑え、効率よく断層像を得ることができる。しかし、穴形状はこれに限られずに角膜反射光をより確実に除去できるようにその他の構成と合わせて種々変更が可能であり、また角膜反射光の除去に用いるミラー形状もこれに限られない。例えば、図１に例示した穴あきミラー００７を、光軸Ｌ３に対して上方又は下方に偏心させた矩形状ミラーに置き換えることとしてもよい。
【００２９】
（フォーカス合せ）
次に、本実施例におけるフォーカスユニット１００を用いた測定光の合焦操作について説明する。被検眼Ｅの視度が０ディオプター（図１中で０Ｄとして付記）のとき、眼底Ｅｆに照射されたライン状の測定光の眼底Ｅｆからの戻り光は、視度が０Ｄのときの眼底Ｅｆの共役面である仮想平面ｆ０上に結像する。ガルバノメトリックミラー００２で光軸Ｌ２方向に反射された戻り光は、凸レンズ００３及び凹レンズ００４によって平行光となりユニット内ビームスプリッタ００５に入射する。その際、フォーカスユニット１００は、ユニット内ビームスプリッタ００５の中心位置が、光軸Ｌ２上において０Ｄに対応する位置に配置されている。光軸Ｌ２上の戻り光は、ユニット内ビームスプリッタ００５により光軸Ｌ３方向に反射され、凸レンズ００６により仮想平面ｆ０’上に結像される。結像後、戻り光は穴あきミラー００７により光軸Ｌ４方向に反射され、凸レンズ００８に入射する。前側焦点面を仮想平面ｆ０’と一致するように配置された凸レンズ００８によって戻り光は平行光となり、フォーカスユニット１００を射出する。フォーカスユニット１００を射出した戻り光は、上述したようにビームスプリッタ０１２で参照光と合波され、結像レンズ０１３によってラインセンサ０１４上に結像される。
【００３０】
次に、被検眼Ｅの視度が０Ｄ以外の場合について述べる。このとき、眼底Ｅｆの共役面は、上述した仮想平面ｆ０とは異なる、例えば図１における仮想平面ｆ０を挟んで−Ｄや＋Ｄとして示される位置に眼底共役面を形成する。この場合、被検眼の視度に応じて、フォーカスユニット１００を光軸Ｌ２（及び光軸Ｌ２に平行な光軸Ｌ４）に沿って図中０Ｄを中心として−Ｄと＋Ｄとの間の矢印として示す光軸方向に移動させ、測定光を眼底Ｅｆ上に合焦させる。その際、本実施例では、凸レンズ００３と凹レンズ００４によって眼底からの反射等された光束は平行光とされる。これにより、ユニット内ビームスプリッタ００５により反射されたこの光束は、被検眼Ｅの視度によらず同一の態様で穴あきミラー００７方向に導かれる。即ち、被検眼Ｅの視度が０Ｄ以外の場合においても、この光束はフォーカスユニット１００内の仮想平面ｆ０’で結像する。従って、この場合であっても、この光束は穴あきミラー００７を反射後に凸レンズ００８により平行光となり、フォーカスユニット１００を射出後にラインセンサ０１４上に結像される。
【００３１】
上述したように、本実施例では、戻り光がフォーカスユニット１００に対する入射光軸（光軸Ｌ２）と射出光軸（光軸Ｌ４）とを平行になるように配置し、合焦時において光軸Ｌ２及びＬ４の光軸方向へフォーカスユニット１００を移動させている。このため、被検眼Ｅの視度に応じた合焦操作を実行しても、測定光の光路長を一定に保つことができる。ＯＣＴ装置では被検眼の断層像を得る際に、測定光の光路長と参照光の光路長とが同じとなるように各々の光路長調整を行うことを要する。本実施例によれば、合焦操作を行った場合であっても測定光の光路長が変わらないことから、被検眼の視度に応じて頻繁に参照光の光路長を変更する必要がなくなる。
【００３２】
（機能構成）
次に、図２を参照して、上述したフォーカスユニット１００を含む本実施例におけるＬ−ＯＣＴ装置の制御系について説明する。図２に示すように、本実施例に用いたＬ−ＯＣＴ装置は、制御部としてサンプリング部０２２、メモリ０２３、信号処理手段０２４、制御手段０２０、モニタ０２５、及び操作入力手段０２６を有する。サンプリング部０２２、メモリ０２３、信号処理手段０２４、モニタ０２５、及び操作入力手段０２６は各々制御手段０２０に接続され、該制御手段０２０により制御される。なお、制御手段０２０及びこれに接続される一部の構成は、汎用のコンピュータを用いて構成してもよいし、Ｌ−ＯＣＴ装置に専用のコンピュータによって構成してもよい。また、モニタ０２５は、任意のモニタを用いて構成してもよい。同様に操作入力手段０２６は、公知のキーボード、マウス等の任意の入力装置を用いて構成してもよい。また、本実施例では、ＯＣＴ光学系、制御手段０２０、モニタ０２５、等がそれぞれ別個に構成されているが、これらの一部又は全部を一体的に構成してもよい。
【００３３】
メモリ０２３は、信号処理手段０２４によって生成された後述する断層像、該断層像の位置合せ等に用いた各種データや入力された被検者の情報、信号処理手段０２４を構成するプログラム等を記憶する。制御手段０２０は、表示制御部として表示部であるモニタ０２５を制御し、メモリ０２３に記憶された各種画像や被検者の情報等をモニタ０２５に表示させる。信号処理手段０２４の各構成要素は、信号処理手段０２４のＣＰＵやＭＰＵで実行されるモジュールにて構成することができる。また、信号処理手段０２４の各構成要素は、ＡＳＩＣなどの特定の機能を実現する回路等により構成されてもよい。メモリ０２３は、メモリや光学ディスク等の任意の記憶装置・記憶媒体を用いて構成することができる。
【００３４】
また、ＯＣＴ光学系は、上述した光学部材を駆動制御するためのフォーカスユニット駆動手段１００１、ガルバノ駆動手段１００２、及び参照ミラー駆動手段１００３を有する。フォーカスユニット駆動手段１００１は、フォーカスユニット１００を光軸Ｌ２（及びＬ４）方向に移動させ、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対する測定光の合焦状態の調整を行う。ガルバノ駆動手段１００２は、ガルバノメトリックミラー００２を駆動制御し、眼底Ｅｆ上でのライン状の測定光の照射位置等を制御する。参照ミラー駆動手段１００３は、リファレンス光学系１０２において上述したように不図示の参照ミラーを光軸方向に移動させ、測定光と参照光との光路長差を調整する。
【００３５】
これらフォーカスユニット駆動手段１００１、ガルバノ駆動手段１００２、及び参照ミラー駆動手段１００３は、制御手段０２０に各々接続されている。また、上述したＬ−ＯＣＴ装置の光学系は一つの筐体に内包されて一体化されており、制御手段０２０と接続されるアライメント駆動手段１００５を介して、被検眼ＥとＯＣＴ光学系とのアライメントが行われる。測定光及び参照光の元となる光を射出するＳＳ光源０２１は制御手段０２０に接続されており、該制御手段０２０によって光源光の発光等の制御が行われる。なお、本実施例では、射出光の波長を広帯域で掃引する波長掃引光源を用いることとするが、広帯域の光を射出する低コヒーレント光源を用いてもよい。制御手段０２０は以上に述べた構成を介してＯＣＴ光学系の各構成を駆動制御する。
【００３６】
ＯＣＴ光学系におけるラインセンサ０１４はサンプリング部０２２を介して制御手段０２０に接続されており、ラインセンサ０１４の出力信号はサンプリング部０２２により干渉信号としてサンプリングされる。サンプリングされた干渉信号は、制御手段０２０を介して信号処理手段０２４に送られ、フーリエ変化等の各種信号処理が施されて断層像等の画像が生成される。生成された画像はモニタ０２５によって表示され、表示様式やＯＣＴ光学系の駆動制御の指示等は操作入力手段０２６を介してユーザーにより行われる。
【００３７】
（撮像方法）
上述したＬ−ＯＣＴ装置においては、断層像生成のための干渉信号の取得時において、眼底を測定光で走査する際には次に述べる測定光のスキャン制御が行われる。即ち、ラインセンサ０１４からの出力信号が、ガルバノ駆動手段１００２によって駆動されたガルバノメトリックミラー００２の駆動角度に応じて取得される。取得された出力信号は、ラインセンサ０１４の画素毎にＳＳ光源０２１の１回の波長掃引に対応して受光されて、画素に対応した眼底上の位置の深さ方向の情報を含む１つの干渉信号となる。従って、ラインセンサ０１４としては、１回の波長掃引によってライン像に対応する１枚の断層像を生成できる干渉信号が得られる。
【００３８】
そして、ガルバノメトリックミラー００２の次の駆動角度においても、同様に画素毎にＳＳ光源０２１の次の波長掃引に対応して、この光を受光したラインセンサ０１４により次の干渉信号のための出力信号が得られる。以降はこの繰り返しで個々の駆動角度に対応する断層像を生成できる干渉信号の群が次々に取得される。サンプリング部０２２で該出力信号から生成された干渉信号は、ガルバノメトリックミラー００２の駆動角度に関する情報と共にメモリ０２３に記憶される。メモリ０２３に記憶された干渉信号は、信号処理手段０２４により周波数解析され、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの断面像或いは３次元の眼底ボリューム像としてモニタ０２５に表示される。
【００３９】
また、制御手段０２０は、撮像中の任意のタイミングでバックグラウンドデータを取得する。バックグラウンドデータとは、被検眼Ｅに測定光が入射しない状態の信号、即ち参照光のみから得られる信号を指す。バックグラウンドデータは、例えばガルバノ駆動手段１００２によりガルバノメトリックミラー００２を駆動し、サンプル光学系から測定光が戻らないように測定光の走査位置を調整した状態で信号取得を行うことで得られる。干渉信号、或いは周波数解析後のデータからこのバックグラウンドデータを減算することにより、より実態に沿った眼底Ｅｆの断層像が得られる。
【００４０】
なお、以上に述べた実施例におけるフォーカスユニット１００では、光軸Ｌ２と光軸Ｌ４とを平行に配置している。また、被検眼Ｅの視度が変わった場合には、該フォーカスユニット１００を光軸Ｌ２に沿って移動させることでこれに対応することとしている。そして、フォーカスユニット１００を本実施例で述べた構成とすることにより、角膜反射像の除去効率が視度により大きく変化しないという効果を得ている。しかし、角膜反射像の除去と言う観点に立った場合、穴あきミラー００７の穴位置を角膜反射位置と略共役な位置に配置すれば、角膜により反射されたライン像を除去することができる。
【００４１】
即ち、Ｌ−ＯＣＴ装置において、被検眼Ｅの視度に応じて凹レンズ００４を光軸方向に移動させ、凸レンズ００６により被検眼Ｅにおけるライン状測定光の角膜反射光を特定の位置において結像させる。この結像位置は光軸Ｌ３に沿って移動するため、結像位置に穴部が配置されるように穴あきミラー００７を移動することにより、ラインセンサ０１４に導かれる角膜反射光によるゴーストを低減できる。このような合焦用レンズ（凹レンズ００４）を単純に光軸（図１におけるＬ２）方向に移動させた場合、結像位置もこれに合わせて移動する。従って、このレンズユニットと穴あきミラー００７とは、対応するように連動即ち同期して制御されることを要するが、このような構成とすれば角膜反射光によるゴーストは除去できる。即ち、角膜反射光によるゴーストの除去との観点に立った場合、測定光の光軸上を移動して測定光を被検眼に合焦する少なくとも凹レンズ００４（光学部材）と、穴あきミラー００７とを同期して移動すればよい。その際、凹レンズ００４は測定光（照射光学系）の光軸（戻り光の光軸と一致した部分）に沿って、穴あきミラー００７はサンプリング光学系の光軸に沿って移動する。これにより、結像された角膜反射光は穴あきミラー００７によりその大部分が除去される。なお、このような構成であっても、光軸Ｌ２から光軸Ｌ３を分岐するビームスプリッタ００５を配することの好ましい。そして孔あきミラー００７等の角膜反射光の低減部材は、この光軸Ｌ３上に配するとよい。
【００４２】
しかし、これら合焦用レンズユニットと穴あきミラー００７とは、測定光の眼底Ｅｆからの戻り光について、眼底Ｅｆ上とラインセンサ０１４上とを共役関係とする役目も有する。このため、コリメータ機能を有する凸レンズ００８と仮想平面ｆ０’との位置関係は基本的には変えられず、結像光学系を構成する凸レンズ００６は基本的に光軸Ｌ２或いはＬ３に沿った移動は基本的には行う必要がない。従って、角膜反射光を結像位置で除去しようとした場合、穴あきミラー００７のみを光軸Ｌ３に沿って移動させることが好ましい。その上で視度に応じた合焦操作を行った場合、穴あきミラー００７に戻り光が至った場合、角膜反射光を含む戻り光の結像倍率が異なってしまう。このことは穴あきミラー００７によって除去される戻り光の光量の変動と、ラインセンサ０１４が受光する戻り光の受光効率の変化とを招く。
【００４３】
このような状況に鑑み、本実施例では、フォーカスユニット１００の前段に配置した凸レンズ００３によって角膜反射光を平行光としている。そして、平行光の状態で光軸Ｌ２上を移動するフォーカスユニット１００（凹レンズ００４）にこれを入射させることとしている。このため、フォーカスユニット１００の光軸Ｌ２上の位置によらず、角膜反射光は常に穴あきミラー００７の穴部においてライン像を結ぶこととなる。
【００４４】
また、戻り光を凹レンズ００４により平行光とし、これを凸レンズ００６により仮想平面ｆ０’にて結像させている。そして、穴あきミラー００７の後段に配置された凸レンズ００８により、フォーカスユニット１００から射出される戻り光を平行光としている。また、光軸Ｌ２と光軸Ｌ４とは互いに平行となるように配置されている。このような構成とすることにより、ラインセンサ０１４上を、仮想平面ｆ０’、仮想平面ｆ０、及び眼底Ｅｆと各々共役の関係とすることとなり、視度に応じた合焦操作がなされた場合であっても、その関係が変化しなくなる。従って、このような構成からなるフォーカスユニット１００を配することにより、上述したレンズユニットと穴あきミラー００７との連動といった複雑な制御を行うことなく、角膜反射光を一定の効率にて除去することが可能となる。
【００４５】
即ち、以上の構成からなるＬ−ＯＣＴ装置を用いることにより、ライン状の測定光を被検眼に照射する際に生じる該ライン像の角膜反射光のラインセンサ０１４への入射を低減することができる。従って、このような角膜反射光によるゴーストの影響を受けることなく、明瞭な断層像を提供することが可能となる。
【００４６】
以上に述べたように、本実施例として述べた眼科装置であるＬ−ＯＣＴ装置は、測定光をライン状に成形し、ライン状の測定光を眼底Ｅｆに照射して眼底Ｅｆ上で走査する、光ファイバー端０１０から対物レンズ００１に至る光学部材からなる照射光学系を備える。また、測定光の眼底Ｅｆからの戻り光を受光手段であるラインセンサ０１４上（受光手段上）に結像させるサンプリング光学系（受光光学系）も備える。このサンプリング光学系は、眼底Ｅｆからの戻り光から、測定光が眼底Ｅｆに照射されて戻り光となってサンプリング光学系に至る過程で該戻り光に含まれることとなった角膜反射光が低減された後の光を、ラインセンサ０１４上に結像させる。本実施例に係るＬ−ＯＣＴ装置は、更に測定光の光軸に重なる戻り光の光軸の一部である光軸Ｌ２に沿った方向に移動するフォーカスユニット１００を備える。フォーカスユニット１００は、これら照射光学系及び受光光学系の一部である対物レンズ００１、ガルバノメトリックミラー００２、凸レンズ００３、凹レンズ００４及びユニット内ビームスプリッタ００５を備える。凹レンズ００４は、測定光を被検眼、本実施例では被検眼眼底に合焦する合焦部材として機能する。そして、このフォーカスユニット１００は、測定光のライン像の被検眼角膜Ｅｃからの反射光である角膜反射光を除去する構成として、結像光学系と、角膜反射除去部材（低減部材）とを備える。この角膜反射除去部材は、凹レンズ００４の測定光の光軸上の移動に同期して、角膜反射像の結像位置に移動される。これにより、結像光学系によって結像された角膜反射光の大部分を光路から分離して、分離部分を光軸外へ導く、或いは遮ることにより、ラインセンサ０１４に入射する被検眼Ｅからの戻り光に含まれる角膜反射光を低減する。結像光学系は凸レンズ００６より構成され、ライン状の測定光の角膜Ｅｃからの角膜反射光を結像させる。フォーカスユニットは、測定光を眼底に合焦する合焦部材である凹レンズ００４、光路分岐手段、結像部材光学系、及び低減部材を一体として照射光学系の光軸に沿って移動可能に構成される。この一体化により、凹レンズ００４と角膜反射除去部材の光軸上の移動が一体化して行われ、凹レンズ００４の測定光の光軸上の移動に従ったこれら構成の測定光の光軸に沿った移動が可能となる。また、本実施例において角膜反射除去部材は穴あきミラー００７の穴部により構成され、結像光学系により結像された角膜反射光を戻り光から除去或いは低減する。Ｌ−ＯＣＴ装置にこのような構成を配することにより、上述したように角膜反射光を容易に低減できる。
【００４７】
また、本実施例において、角膜反射光をフォーカスユニット１００の駆動のみにより除去するために、Ｌ−ＯＣＴ装置は更に、角膜反射光を無限遠としてフォーカスユニット１００に入射させる凸レンズ００３を入射部材として更に備える。そして、戻り光をラインセンサ０１４上で結像させる結像光学系は、凸レンズ００３を介してフォーカスユニット１００に入射された戻り光を平行光とした後に、穴あきミラー００７が角膜反射光を除去する位置とは異なる位置で結像させる。また、Ｌ−ＯＣＴ装置は、測定光を眼底Ｅｆ上で走査する走査手段として、ガルバノメトリックミラー００２を更に備える。ここで、上述した凸レンズ００３は、角膜反射光を無限遠としてフォーカスユニット１００に入射させるために、ガルバノメトリックミラー００２の旋回中心を前側焦点位置とする。
【００４８】
更に、フォーカスユニット１００は、戻り光をラインセンサ０１４上で結像させる光学部材として、凹レンズ００４及び凸レンズ００６を備える。凹レンズ００４は、フォーカスユニット１００内に入射した戻り光を平行光とする焦点距離が負の合焦部材を構成する。また、凸レンズ００６は、平行光とされた戻り光を合焦する焦点距離が正の結像光学系を構成する。更に、フォーカスユニット１００は、照射光学系の光路及び受光光学系の光路を分岐する上述した光路分岐手段として、ユニット内ビームスプリッタ００５を備える。ユニット内ビームスプリッタ００５は、凹レンズ００４と凸レンズ００６との間に配置される。ユニット内ビームスプリッタ００５をこのように配置することにより、サンプル光学系を折り曲げることが容易となり、フォーカスユニット１００をよりコンパクトな構成とし、光学ユニットの構造を小さくまとめられる。
【００４９】
また、フォーカスユニット１００は、ラインセンサ０１４上に眼底Ｅｆ上のライン像を結像させるために、穴あきミラー００７と凸レンズ００８を備える。穴あきミラー００７は、ユニット内ビームスプリッタ００５により光路が光軸Ｌ３に沿うように光路分離された戻り光を光軸Ｌ２と平行な光軸Ｌ４方向に反射させる反射手段を構成する。また、凸レンズ００８は、穴あきミラー００７により反射された戻り光を無限遠としてフォーカスユニット１００から射出させる焦点距離が正の射出部材を構成する。凸レンズ００３に加えてこれら構成を備えることにより、被検眼Ｅの視度に応じてフォーカスユニット１００の光軸Ｌ２上の位置が変更されても、眼底Ｅｆとラインセンサ０１４の共役関係は変わらない。
【００５０】
本実施例においては、角膜反射除去部材（低減部材）として、角膜反射光が結像された位置に配置されて角膜反射光を透過可能な領域を有する穴あきミラー００７を用いる。なお、本実施例では角膜反射光を光軸Ｌ４方向に反射させないために、該角膜反射光が抜ける穴部をミラー上に設けることとしている。しかし、角膜反射光が光軸Ｌ４方向に反射しない態様であれば角膜反射除去部材の形態はこれに限られず、例えば穴部分に対応する位置を光が透過可能な透明な部材により構成してもよい。また、この角膜反射光が透過可能な領域は、ライン状の測定光に対応するスリット形状からなるとよい。このようなスリット形状とすることにより、ラインセンサ０１４に導かれる戻り光の光量減少を最小とすることができる。
【００５１】
［第２の実施例］
次に、図３を参照して、本発明の第２の実施例について説明する。上述した第１の実施例では、穴あきミラー００７の穴部に角膜反射光を結像させ、この穴部を用いることによって角膜反射光の除去を行っている。これに対し、本実施例では、角膜反射光を遮ることにより、角膜反射光のゴーストによる影響を抑制することとしている。以下、本実施例に係るＬ−ＯＣＴ装置の光学レイアウトを図３により示し、第１の実施例との相違点に関連する事項について説明する。
【００５２】
なお、図３に示す光学部材に関して、図１に記載された光学部材と同様の作用効果を呈するものについては同様の参照符号を用いることとし、ここでの説明は省略する。また、撮像方式等に関しても第１の実施例と同様であるため、ここでの説明は省略することとする。
【００５３】
第１の実施例と第２の実施例では、フォーカスユニット内の構成が異なっている。第１の実施例のフォーカスユニット１００では、角膜反射光が結像する光軸Ｌ３上の位置に穴あきミラー００７を配置し、その穴部に角膜反射光を通過させることで角膜反射光が光軸Ｌ４の方向へ導かれるのを防いでいた。これに対し、本実施例のフォーカスユニット３００では、穴あきミラー００７に換えて、黒点板０３０及びミラー０３１を配置することとしている。
【００５４】
黒点板０３０は角膜反射光が結像する光軸Ｌ３上の位置に配置され、角膜反射光を吸収又は反射して透過させない黒点を有する。このような黒点板０３０を配することにより、角膜反射光と戻り光において黒点板０３０の黒点部に遮られる部分以外の光は、ミラー０３１により光軸Ｌ４方向へ反射される。なお、穴あきミラー００７の穴形状と同様に、黒点板０３０の黒点は角膜反射光による像の形状に合わせ、矩形状にすると効率が良い。また、角膜反射光を吸収又は反射して透過させない形態であれば、黒色スリット形状に限られず、色や形状を任意に変更可能である。
【００５５】
本実施例において、フォーカスユニット３００では、凹レンズ００４、ユニット内ビームスプリッタ００５、凸レンズ００６、黒点板０３０、ミラー０３１、及び凸レンズ００８が不図示の保持部材等により一体とされている。そして、フォーカスユニット３００は、被検眼Ｅの視度に応じて、フォーカスユニット駆動手段１００１によって光軸Ｌ２及びＬ４の光軸方向に沿って移動される。即ち、本実施例においても、被検眼ＥとＬ−ＯＣＴ装置とのアライメントが完了している場合、被検眼Ｅの視度に応じた合焦操作を実行しても、フォーカスユニット３００で角膜反射光を低減でき、且つ測定光の光路長を一定に保つことができる。
【００５６】
上述した２つの実施例では、フォーカスユニット内におけるライン状測定光の角膜反射光の結像位置に穴あきミラーや黒点板などの角膜反射除去部材（低減部材）を配置している。このような角膜反射除去部材を配することにより、角膜反射光を低減することができる。また、アライメントが完了した状態において、フォーカスユニットへ入射する角膜反射光を無限遠とし、フォーカスユニットから射出する眼底からの光束を無限遠としている。このような構成とすることで、被検眼Ｅの視度によらず同じ効率で角膜反射光を低減でき、且つ合焦操作を実行しても、測定光の光路長を一定とすることができる。即ち、本実施例における角膜反射除去部材は、角膜反射光が結像された位置に配置されて角膜反光を吸収又は遮光する領域を有する部材から構成できる。そして、第１の実施例における穴あきミラー００７の穴部と同様に、吸収又は遮光する領域は、ライン状の測定光に対応するスリット形状とするとよい。
【００５７】
なお、上述した実施例では、ライン状に成形された測定光を被検眼で走査する装置として、波長掃引光源からの射出光を用いるＬ−ＯＣＴ装置を例として述べている。しかし、光源は波長掃引光源に限られず、広帯域の低コヒーレント光を射出する光源も適用することができる。更に、干渉信号解析をしない又はリファレンス光学系を用いない、２次元の眼底像を得るためのライン走査型レーザ検眼鏡（Ｌ−ＳＬＯ）にも、上述したフォーカスユニットは適用できる。この場合も、被検眼Ｅの視度によらず、角膜反射光をフォーカスユニットで低減できる。なお、この場合の具体的構成としては、例えば実施例１或いは２に示した構成より、ビームスプリッタ０１２、リファレンス光学系１０２、コリメータレンズ０１５、光ファイバー端０１６、及び参照光に関連する構成を除く形態となる。
【００５８】
即ち、以上の実施例において、眼科装置としてＬ−ＯＣＴ装置に本発明を適用する場合、干渉光学系と、断層像生成手段と、が配される。干渉光学系は、戻り光と該戻り光に対応する参照光とを合波して干渉光を生成する。また断層像生成手段は、干渉光より得られた干渉信号を用いて眼底Ｅｆの断層像を生成する。実施例では、干渉手段としてビームスプリッタ０１２を用い、断層像生成手段として、サンプリング部０２２、制御手段０２０、及び信号処理手段０２４を用いる。そして、ライン走査型のＳＬＯ（走査型レーザ検眼鏡）に適用する場合、被検眼眼底Ｅｆからの戻り光をラインセンサ０１４にて受光し、得られた輝度情報を用いて眼底Ｅｆの正面像を生成する。具体的には、この場合のＳＬＯ装置は、上述したサンプリング部０２２、制御手段０２０、及び信号処理手段０２４に例示される構成からなる正面像生成手段を備えることとなる。
【００５９】
また、上述した実施例では、例えば入射部材、合焦部材、結像部材、及び射出部材等はレンズによって構成している。しかし、同様の光学機能を有するものであれば、凹面鏡等、公知の種々の光学部材によってこれらを代替することもできる。
【００６０】
更に、上述した実施例において、本発明は眼科装置に関するものとしている。しかし、本発明は、眼科装置としてではなく、眼科装置に用いられるフォーカスユニット１００、３００としても把握可能である。この場合、本発明に係るフォーカスユニット１００、３００は、上述した結像光学系、合焦部材、及び低減部材を備える。結像光学系は例えば凸レンズ００６を備え、ライン状の測定光が照射された被検眼Ｅの角膜Ｅｃからの角膜反射光を結像させる。合焦部材は例えば凹レンズ００４を備え、ライン状の測定光を被検眼Ｅの眼底Ｅｒに照射する照射光学系の光軸（光軸Ｌ２）に沿って移動して、ライン状の測定光を眼底Ｅｒに合焦する。低減部材は、穴あきミラー００７の穴に例示され、角膜反射光が結像される位置に配置され、ライン状の測定光が照射された被検眼Ｅからの戻り光から結像された角膜反射光を低減する。フォーカスユニットは、これら合焦部材、結像光学系及び低減部材が一体となって、照射光学系の光軸に沿って移動可能に構成されている。
【００６１】
このフォーカスユニット１００、３００において、結像光学系は、フォーカスユニットに入射された、戻り光とは異なったライン状に成形された測定光の被検眼Ｅの角膜Ｅｃからの角膜反射光を結像させる。低減部材は、結像された角膜反射光を受光光学系から低減する。結像光学系は更に、フォーカスユニットに入射された戻り光を平行光とした後に低減部材が角膜反射光を低減する位置とは異なる位置で結像させる。これら結像光学系の機能は、フォーカスユニット内に入射した戻り光を平行光とする焦点距離が負の合焦部材である凹レンズ００４と、平行光とされた戻り光を合焦する焦点距離が正の結像部材である凸レンズ００６とにより行われる。また、照射光学系及び受光光学系を分岐する光路分岐手段であるユニット内ビームスプリッタ００５が凹レンズ００４と凸レンズ００６との間に配置される。
【００６２】
また、フォーカスユニット１００、３００は、ユニット内ビームスプリッタ００５により光路分離された戻り光を、光路分離される前の戻り光の光軸Ｌ２と平行な方向である光軸Ｌ４に反射させる反射手段を備える。具体的な反射手段として、上述した実施例では、穴あきミラー００７若しくはミラー０３１を用いる。また、フォーカスユニット１００、３００は更に、反射手段により反射された戻り光を無限遠としてフォーカスユニットから射出させる焦点距離が正の射出部材として、凸レンズ００８を更に備える。以上の構成を有することにより、ライン状の測定光を照射して被検眼の情報を得る眼科装置において、測定光路の光路長を変えることなく、簡易な機構にて角膜反射光によるゴーストの影響を低減することができる。
【００６３】
以上、実施例を参照して本発明について説明したが、本発明は上述した実施例に限定されるものではない。本発明の趣旨に反しない範囲で変更された発明、及び本発明と均等な発明も本発明に含まれる。また、上述の各実施例は、本発明の趣旨に反しない範囲で適宜組み合わせることができる。
【符号の説明】
【００６４】
被検眼  Ｅ
眼底    Ｅｆ
ライン像形成光学系  １０１
リファレンス光学系  １０２
ガルバノメトリックミラー  ００２
凸レンズ  ００３
凹レンズ  ００４
ユニット内ビームスプリッタ  ００５
穴あきミラー  ００７
凸レンズ  ００８
ビームスプリッタ  ０１２
ラインセンサ  ０１４
【図１】
2019072027.tif 000003
【図２】
2019072027.tif 000004
【図３】
2019072027.tif 000005