(57)【要約】【課題】セラミックス板の吸着面の温度分布の均一性の低下を十分に抑制する。【解決手段】保持装置は、第１の方向に略直交する第１の表面を有するセラミックス板と、ベース部材と、接着部と、セラミックス板の各セグメント内に配置された発熱抵抗体と、セラミックス板の第２の表面における端子用孔に対応する位置に配置された複数の給電パッドとを備える。また、保持装置は、複数の給電パッドのそれぞれについて設けられた接続部材と、複数の導電領域を有するフレキシブルプリント配線板により構成され、各接続部材と電気的に接続された給電端子とを備える。保持装置は、さらに、給電端子の表面上の所定の第１の領域であって、接続箇所よりセラミックス板の第２の表面から遠い位置にある第１の領域を、直接的または間接的に、ベース部材の第１の貫通孔の内周面に接触させる接触維持部材を備える。【選択図】図８
2019054040.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の方向に略直交する略平面状の第１の表面と、第１の表面とは反対側の第２の表面と、を有するセラミックス板と、
第３の表面を有し、前記第３の表面が前記セラミックス板の前記第２の表面に対向するように配置され、冷媒流路と、前記第３の表面に開口する第１の貫通孔と、が形成された金属製のベース部材と、
前記セラミックス板の前記第２の表面と前記ベース部材の前記第３の表面との間に配置され、前記ベース部材の前記第１の貫通孔と連通し、前記第１の貫通孔と共に端子用孔を構成する第２の貫通孔が形成された接着部と、
前記セラミックス板の少なくとも一部を前記第１の方向に直交する方向に並ぶ複数のセグメントに仮想的に分割したときの各前記セグメント内に配置された発熱抵抗体と、
前記セラミックス板の前記第２の表面における前記端子用孔に対応する位置に配置され、複数の前記発熱抵抗体に電気的に接続された導電性の複数の給電パッドと、
を備え、前記セラミックス板の前記第１の表面上に対象物を保持する保持装置において、さらに、
前記複数の給電パッドのそれぞれについて設けられた接続部材と、
複数の導電領域を有するフレキシブルプリント配線板により構成され、前記端子用孔内に位置する接続箇所において各前記導電領域が各前記接続部材に電気的に接続された給電端子と、
前記給電端子の表面上の所定の第１の領域であって、前記接続箇所より前記セラミックス板の前記第２の表面から遠い位置にある前記第１の領域を、直接的または間接的に、前記ベース部材の前記第１の貫通孔の内周面に接触させる接触維持部材と、
を備えることを特徴とする、保持装置。
【請求項２】
請求項１に記載の保持装置において、
前記接触維持部材は、前記給電端子の表面の前記第１の領域と前記ベース部材の前記第１の貫通孔の内周面との両方に接着されたシート状部材であることを特徴とする、保持装置。
【請求項３】
請求項１に記載の保持装置において、
前記接触維持部材は、前記給電端子の表面における前記第１の領域とは反対側の領域と前記ベース部材の前記第１の貫通孔の内周面との間に介在して、前記給電端子の表面における前記反対側の領域を前記ベース部材側に押圧することにより、前記給電端子の表面における前記第１の領域を直接的に前記ベース部材の前記第１の貫通孔の内周面に接触させる弾性部材であることを特徴とする、保持装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３までのいずれか一項に記載の保持装置において、
前記接触維持部材の熱伝導率は、０．５Ｗ／ｍ・Ｋ以上であることを特徴とする、保持装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４までのいずれか一項に記載の保持装置において、
前記給電端子は、
前記端子用孔内に配置され、前記第１の方向に略平行な方向に延びる第１の端子部分と、
前記第１の端子部分における前記セラミックス板の前記第２の表面に近い側の端部から、前記第１の方向に対して０度より大きく９０度より小さい傾きで、前記セラミックス板の前記第２の表面に近づく方向に延びる部分であり、前記接続箇所を含む第２の端子部分と、
を有し、
前記給電端子の表面上の前記第１の領域は、前記第１の端子部分の表面上の領域であることを特徴とする、保持装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本明細書に開示される技術は、対象物を保持する保持装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば半導体を製造する際にウェハを保持する保持装置として、静電チャックが用いられる。静電チャックは、セラミックス板と、ベース部材と、セラミックス板とベース部材とを接着する接着部と、セラミックス板の内部に設けられたチャック電極とを備えており、チャック電極に電圧が印加されることにより発生する静電引力を利用して、セラミックス板の表面（以下、「吸着面」という）にウェハを吸着して保持する。
【０００３】
静電チャックの吸着面に保持されたウェハの温度分布が不均一になると、ウェハに対する各処理（成膜、エッチング等）の精度が低下するおそれがあるため、静電チャックにはウェハの温度分布をできるだけ均一にする性能が求められる。そのため、例えば、セラミックス板に配置された発熱抵抗体（ヒータ）による加熱や、ベース部材に形成された冷媒流路に冷媒を供給することによる冷却によって、セラミックス板の吸着面の温度制御が行われる。
【０００４】
静電チャックには、発熱抵抗体への給電のための構成が設けられている。具体的には、ベース部材および接着部に端子用孔を構成する貫通孔が形成されている。また、セラミックス板の吸着面とは反対側の表面（以下、「下面」という）における端子用孔に対応する位置（端子用孔の延伸方向において端子用孔と重なる位置）に、発熱抵抗体と電気的に接続された給電パッドが配置されている。端子用孔には給電端子が挿入され、該給電端子は給電パッドと電気的に接続されている。このような構成では、電源から、給電端子および給電パッドを介して、発熱抵抗体への給電が行われる。
【０００５】
従来、発熱抵抗体への給電のための給電端子として、フレキシブルプリント配線板（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔｓ、以下、「ＦＰＣ」という）を用いることにより、複数の発熱抵抗体用の給電端子を集約する技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００６】
近年、ウェハの温度分布の均一性をさらに向上させるために、セラミックス板の全部または一部が複数の仮想的な領域（以下、「セグメント」という）に分割され、各セグメントに発熱抵抗体が配置された構成が採用されることがある。このような構成によれば、セラミックス板の各セグメントに配置された発熱抵抗体への印加電圧を個別に制御することによって各セグメントの温度を個別に制御することができ、その結果、セラミックス板の吸着面の温度分布の均一性（すなわち、ウェハの温度分布の均一性）をさらに向上させることができる。
【０００７】
このようなセラミックス板の各セグメントに発熱抵抗体が配置された構成において、発熱抵抗体への給電のための給電端子としてＦＰＣを用いると、複数の発熱抵抗体用の給電端子を集約することができ、その結果、ベース部材および接着部に形成される端子用孔の個数を減らすことができる。ベース部材および接着部に形成される端子用孔の位置では、ベース部材とセラミックス板との間の伝熱性が低下するため、ベース部材に形成された冷媒流路に供給される冷媒によるセラミックス板の冷却効果が低下し、セラミックス板の吸着面における対応する箇所が温度特異点となり、吸着面の温度分布の均一性が低下するおそれがある。そのため、端子用孔の個数を減らすことができれば、端子用孔の存在に起因するセラミックス板の吸着面の温度分布の均一性の低下を抑制することができるため、好ましい。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】国際公開第２０１７／１１５７５８号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
一般に、ＦＰＣは柔軟性が高く変形しやすい。そのため、ＦＰＣにより給電端子を構成すると、端子用孔内において、給電端子とベース部材（より詳細には、ベース部材の端子用孔の内周面）との伝熱面積が小さくなりやすく、かつ、製品毎や端子用孔毎に給電端子とベース部材との伝熱面積のばらつきが大きくなりやすい。端子用孔内において給電端子とベース部材との伝熱面積が小さいと、端子用孔の位置において給電端子を介したベース部材とセラミックス板との間の伝熱性が低くなり、セラミックス板の吸着面の温度分布の均一性の低下を十分に抑制することができない。また、端子用孔内において給電端子とベース部材との伝熱面積のばらつきが大きいと、端子用孔の位置において給電端子を介したベース部材とセラミックス板との間の伝熱性のばらつきが大きくなり、例えば設計上の対策を施しても、セラミックス板の吸着面の温度分布の均一性の低下を十分に抑制することができない。このように、従来の静電チャックの構成では、給電端子とベース部材との伝熱面積の低下、および、両者の伝熱面積のばらつきの増大に起因して、セラミックス板の吸着面における対応する箇所が温度特異点となり、吸着面の温度分布の均一性の低下を十分に抑制することができない、という課題がある。
【００１０】
なお、このような課題は、静電引力を利用してウェハを保持する静電チャックに限らず、セラミックス板と、ベース部材と、接着部と、セラミックス板の各セグメント内に配置された発熱抵抗体とを備え、セラミックス板の表面上に対象物を保持する保持装置一般に共通の課題である。
【００１１】
本明細書では、上述した課題を解決することが可能な技術を開示する。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本明細書に開示される技術は、例えば、以下の形態として実現することが可能である。
【００１３】
（１）本明細書に開示される保持装置は、第１の方向に略直交する略平面状の第１の表面と、第１の表面とは反対側の第２の表面と、を有するセラミックス板と、第３の表面を有し、前記第３の表面が前記セラミックス板の前記第２の表面に対向するように配置され、冷媒流路と、前記第３の表面に開口する第１の貫通孔と、が形成された金属製のベース部材と、前記セラミックス板の前記第２の表面と前記ベース部材の前記第３の表面との間に配置され、前記ベース部材の前記第１の貫通孔と連通し、前記第１の貫通孔と共に端子用孔を構成する第２の貫通孔が形成された接着部と、前記セラミックス板の少なくとも一部を前記第１の方向に直交する方向に並ぶ複数のセグメントに仮想的に分割したときの各前記セグメント内に配置された発熱抵抗体と、前記セラミックス板の前記第２の表面における前記端子用孔に対応する位置に配置され、複数の前記発熱抵抗体に電気的に接続された導電性の複数の給電パッドと、を備え、前記セラミックス板の前記第１の表面上に対象物を保持する保持装置において、さらに、前記複数の給電パッドのそれぞれについて設けられた接続部材と、複数の導電領域を有するフレキシブルプリント配線板（ＦＰＣ）により構成され、前記端子用孔内に位置する接続箇所において各前記導電領域が各前記接続部材に電気的に接続された給電端子と、前記給電端子の表面上の所定の第１の領域であって、前記接続箇所より前記セラミックス板の前記第２の表面から遠い位置にある前記第１の領域を、直接的または間接的に、前記ベース部材の前記第１の貫通孔の内周面に接触させる接触維持部材と、を備える。本保持装置は、給電端子の表面上の所定の第１の領域を、直接的または間接的に、ベース部材の第１の貫通孔の内周面に接触させる接触維持部材を備える。給電端子の表面上の第１の領域は、給電端子における接続部材との接続箇所よりセラミックス板の第２の表面から遠い位置にある領域である。そのため、本保持装置では、接触維持部材の存在により、端子用孔内において、給電端子とベース部材との所望の伝熱面積を確保することができると共に、製品毎や端子用孔毎の給電端子とベース部材との伝熱面積のばらつき（以下、単に「両者の伝熱面積のばらつき」ともいう）の増大を抑制することができる。なお、接触維持部材を設けることにより、ＦＰＣにより構成された給電端子の変位・変形性能が低下する場合があるが、接触維持部材は、給電端子における接続部材との接続箇所には干渉しない位置に設けられるため、上記接続箇所における給電端子の変位・変形性能は十分に維持され、安定的な接続が確保される。従って、本保持装置によれば、給電端子と接続部材との接続の安定性を確保しつつ、端子用孔内における給電端子とベース部材との伝熱面積の低下、および、両者の伝熱面積のばらつきの増大を抑制することができ、その結果、セラミックス板の第１の表面の温度分布の均一性の低下を十分に抑制することができる。
【００１４】
（２）上記保持装置において、前記接触維持部材は、前記給電端子の表面の前記第１の領域と前記ベース部材の前記第１の貫通孔の内周面との両方に接着されたシート状部材である構成としてもよい。本保持装置によれば、給電端子の表面の第１の領域とベース部材の第１の貫通孔の内周面との両方に接着されたシート状部材である接触維持部材が接着剤として機能することによって、両者を確実に接着することができる。そのため、本保持装置によれば、端子用孔内における給電端子とベース部材との伝熱面積の低下、および、両者の伝熱面積のばらつきの増大を効果的に抑制することができ、その結果、セラミックス板の第１の表面の温度分布の均一性の低下を効果的に抑制することができる。
【００１５】
（３）上記保持装置において、前記接触維持部材は、前記給電端子の表面における前記第１の領域とは反対側の領域と前記ベース部材の前記第１の貫通孔の内周面との間に介在して、前記給電端子の表面における前記反対側の領域を前記ベース部材側に押圧することにより、前記給電端子の表面における前記第１の領域を直接的に前記ベース部材の前記第１の貫通孔の内周面に接触させる弾性部材である構成としてもよい。本保持装置によれば、給電端子の表面における第１の領域とは反対側の領域とベース部材の第１の貫通孔の内周面との間に介在して、給電端子の表面における前記反対側の領域をベース部材側に押圧することにより、給電端子の表面における第１の領域を直接的にベース部材の第１の貫通孔の内周面に接触させる弾性部材である接触維持部材によって、給電端子とベース部材とを直接的に接触させることができると共に、給電端子の表面の第１の領域とは反対側の領域とベース部材の第１の貫通孔の内周面との間の熱のやりとりを接触維持部材を介して行うことができる。従って、本保持装置によれば、端子用孔内における給電端子とベース部材との伝熱面積の低下、および、両者の伝熱面積のばらつきの増大をさらに効果的に抑制することができ、その結果、セラミックス板の第１の表面の温度分布の均一性の低下を一層効果的に抑制することができる。
【００１６】
（４）上記保持装置において、前記接触維持部材の熱伝導率は、０．５Ｗ／ｍ・Ｋ以上である構成としてもよい。本保持装置によれば、接触維持部材を介した給電端子とベース部材との間の伝熱性を向上させることができ、セラミックス板の第１の表面の温度分布の均一性の低下を極めて効果的に抑制することができる。
【００１７】
（５）上記保持装置において、前記給電端子は、前記端子用孔内に配置され、前記第１の方向に略平行な方向に延びる第１の端子部分と、前記第１の端子部分における前記セラミックス板の前記第２の表面に近い側の端部から、前記第１の方向に対して０度より大きく９０度より小さい傾きで、前記セラミックス板の前記第２の表面に近づく方向に延びる部分であり、前記接続箇所を含む第２の端子部分と、を有し、前記給電端子の表面上の前記第１の領域は、前記第１の端子部分の表面上の領域であることを特徴とする構成としてもよい。本保持装置によれば、接触維持部材が、上記接続箇所を含む第２の端子部分ではなく、第１の方向に略平行な方向に延びる第１の端子部分に設けられるため、上記接続箇所における給電端子の変位・変形性能を十分に維持することができ、安定的な接続を確保することができる。また、給電端子の第２の端子部分が第１の方向に略直交する方向に延びる構成では、給電端子が、第１の端子部分と第２の端子部分との接続箇所で比較的大きく（深く）折り曲げられることとなる。また、上記接続箇所では、折り曲げに伴う導電領域の破損を抑制するために、ある程度以上のＲ（曲率半径）を確保して折り曲げられる。そのため、このような構成では、第１の方向に直交する方向における上記接続箇所の大きさが比較的大きくなり、その結果、給電端子を収容する端子用孔の大きさ（径）が比較的大きくなる。これに対し、本保持装置では、給電端子の第２の端子部分が、第１の端子部分におけるセラミックス板の第２の表面に近い側の端部からスペーサーの第１の領域に沿ってセラミックス板の第２の表面に近づく方向に延びているため、給電端子における第１の端子部分と第２の端子部分との接続箇所での折り曲げの程度が比較的小さく（浅く）なる。そのため、本保持装置では、第１の方向に直交する方向における上記接続箇所の大きさが比較的小さくなり、その結果、給電端子を収容する端子用孔の大きさを小さくすることができる。従って、本保持装置によれば、給電端子と接続部材との接続の安定性を確保しつつ、端子用孔の存在に起因してセラミックス板の第１の表面の温度分布の均一性が低下することを効果的に抑制することができる。
【００１８】
なお、本明細書に開示される技術は、種々の形態で実現することが可能であり、例えば、保持装置、静電チャック、ＣＶＤヒータ等のヒータ装置、真空チャック、それらの製造方法等の形態で実現することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】第１実施形態における静電チャック１００の外観構成を概略的に示す斜視図である。
【図２】第１実施形態における静電チャック１００のＸＺ断面構成を概略的に示す説明図である。
【図３】第１実施形態における静電チャック１００のＸＹ平面（上面）構成を概略的に示す説明図である。
【図４】静電チャック１００のセラミックス板１０に配置された第１の発熱抵抗体層５０および第１の発熱抵抗体用ドライバ５１の構成を模式的に示す説明図である。
【図５】１つのセグメントＳＥに配置された１つの第１の発熱抵抗体５００のＸＹ断面構成を模式的に示す説明図である。
【図６】静電チャック１００のセラミックス板１０に配置された第２の発熱抵抗体層６０のＸＹ断面構成を模式的に示す説明図である。
【図７】静電チャック１００における１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＹ平面構成を示す説明図である。
【図８】静電チャック１００における１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＺ断面構成を示す説明図である。
【図９】静電チャック１００における１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＹＺ断面構成を示す説明図である。
【図１０】静電チャック１００における１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＹ断面構成を示す説明図である。
【図１１】第２実施形態の静電チャック１００ａにおける１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＺ断面構成を示す説明図である。
【図１２】第３実施形態の静電チャック１００ｂにおける１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＺ断面構成を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
Ａ．第１実施形態：
Ａ−１．静電チャック１００の構成：
図１は、第１実施形態における静電チャック１００の外観構成を概略的に示す斜視図であり、図２は、第１実施形態における静電チャック１００のＸＺ断面構成を概略的に示す説明図であり、図３は、第１実施形態における静電チャック１００のＸＹ平面（上面）構成を概略的に示す説明図である。各図には、方向を特定するための互いに直交するＸＹＺ軸が示されている。本明細書では、便宜的に、Ｚ軸正方向を上方向といい、Ｚ軸負方向を下方向というものとするが、静電チャック１００は実際にはそのような向きとは異なる向きで設置されてもよい。図４以降についても同様である。
【００２１】
静電チャック１００は、対象物（例えばウェハＷ）を静電引力により吸着して保持する装置であり、例えば半導体製造装置の真空チャンバー内でウェハＷを固定するために使用される。静電チャック１００は、所定の配列方向（本実施形態では上下方向（Ｚ軸方向））に並べて配置されたセラミックス板１０およびベース部材２０を備える。セラミックス板１０とベース部材２０とは、セラミックス板１０の下面Ｓ２（図２参照）とベース部材２０の上面Ｓ３とが上記配列方向に対向するように配置される。
【００２２】
セラミックス板１０は、上述した配列方向（Ｚ軸方向）に略直交する略円形平面状の上面（以下、「吸着面」という）Ｓ１を有する板状部材であり、セラミックス（例えば、アルミナや窒化アルミニウム等）により形成されている。セラミックス板１０の直径は例えば５０ｍｍ〜５００ｍｍ程度（通常は２００ｍｍ〜３５０ｍｍ程度）であり、セラミックス板１０の厚さは例えば１ｍｍ〜１０ｍｍ程度である。セラミックス板１０の吸着面Ｓ１は、特許請求の範囲における第１の表面に相当し、セラミックス板１０の下面Ｓ２は、特許請求の範囲における第２の表面に相当し、Ｚ軸方向は、特許請求の範囲における第１の方向に相当する。また、本明細書では、Ｚ軸方向に直交する方向を「面方向」という。
【００２３】
図２に示すように、セラミックス板１０の内部には、導電性材料（例えば、タングステン、モリブデン、白金等）により形成されたチャック電極４０が配置されている。Ｚ軸方向視でのチャック電極４０の形状は、例えば略円形である。チャック電極４０に電源（図示しない）から電圧が印加されると、静電引力が発生し、この静電引力によってウェハＷがセラミックス板１０の吸着面Ｓ１に吸着固定される。
【００２４】
セラミックス板１０の内部には、また、それぞれ導電性材料（例えば、タングステン、モリブデン、白金等）により形成された、第１の発熱抵抗体層５０と、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１と、第２の発熱抵抗体層６０と、各種ビアとが配置されている。本実施形態では、第１の発熱抵抗体層５０はチャック電極４０より下側に配置され、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１は第１の発熱抵抗体層５０より下側に配置され、第２の発熱抵抗体層６０は、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１より下側に配置されている。これらの構成については、後に詳述する。なお、このような構成のセラミックス板１０は、例えば、セラミックスグリーンシートを複数枚作製し、所定のセラミックスグリーンシートにビア孔の形成やメタライズペーストの印刷等の加工を行い、これらのセラミックスグリーンシートを熱圧着し、切断等の加工を行った上で焼成することにより作製することができる。
【００２５】
ベース部材２０は、例えばセラミックス板１０と同径の、または、セラミックス板１０より径が大きい円形平面の板状部材であり、例えば金属（アルミニウムやアルミニウム合金等）により形成されている。ベース部材２０の直径は例えば２２０ｍｍ〜５５０ｍｍ程度（通常は２２０ｍｍ〜３５０ｍｍ）であり、ベース部材２０の厚さは例えば２０ｍｍ〜４０ｍｍ程度である。
【００２６】
ベース部材２０は、セラミックス板１０の下面Ｓ２とベース部材２０の上面Ｓ３との間に配置された接着部３０によって、セラミックス板１０に接合されている。接着部３０は、例えばシリコーン系樹脂やアクリル系樹脂、エポキシ系樹脂等の接着材により構成されている。接着部３０の厚さは、例えば０．１ｍｍ〜１ｍｍ程度である。ベース部材２０の上面Ｓ３は、特許請求の範囲における第３の表面に相当する。
【００２７】
ベース部材２０の内部には冷媒流路２１が形成されている。冷媒流路２１に冷媒（例えば、フッ素系不活性液体や水等）が流されると、ベース部材２０が冷却され、接着部３０を介したベース部材２０とセラミックス板１０との間の伝熱（熱引き）によりセラミックス板１０が冷却され、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１に保持されたウェハＷが冷却される。これにより、ウェハＷの温度制御が実現される。
【００２８】
Ａ−２．第１の発熱抵抗体層５０の構成および第１の発熱抵抗体層５０に関連する構成：
上述したように、セラミックス板１０には、第１の発熱抵抗体層５０と第１の発熱抵抗体用ドライバ５１とが配置されている（図２参照）。図４は、静電チャック１００のセラミックス板１０に配置された第１の発熱抵抗体層５０および第１の発熱抵抗体用ドライバ５１の構成を模式的に示す説明図である。図４の上段には、第１の発熱抵抗体層５０の一部のＸＺ断面構成が模式的に示されており、図４の下段には、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１の一部のＸＹ平面構成が模式的に示されている。
【００２９】
ここで、図３に示すように、本実施形態の静電チャック１００では、セラミックス板１０が、面方向（Ｚ軸方向に直交する方向）に並ぶ複数の（例えば１００個以上の）セグメントＳＥに仮想的に分割されている。より具体的には、Ｚ軸方向視で、セラミックス板１０が、吸着面Ｓ１の中心点ＣＰを中心とする同心円状の複数の第１の境界線ＢＬ１によって複数の仮想的な環状領域（ただし、中心点ＣＰを含む領域のみは円状領域）に分割され、さらに各環状領域が、吸着面Ｓ１の径方向ＲＤに延びる複数の第２の境界線ＢＬ２によって吸着面Ｓ１の円周方向ＣＤに並ぶ複数の仮想的な領域であるセグメントＳＥに分割されている。なお、本実施形態では、ベース部材２０の上面Ｓ３は、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１と中心点ＣＰを共有する略同心円状であるため、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の円周方向ＣＤは、ベース部材２０の上面Ｓ３の円周方向ＣＤでもあり、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の径方向ＲＤは、ベース部材２０の上面Ｓ３の径方向ＲＤでもある。
【００３０】
図４に示すように、第１の発熱抵抗体層５０は、複数の第１の発熱抵抗体５００を含んでいる。複数の第１の発熱抵抗体５００のそれぞれは、セラミックス板１０に設定された複数のセグメントＳＥの１つに配置されている。すなわち、本実施形態の静電チャック１００では、複数のセグメントＳＥのそれぞれに、１つの第１の発熱抵抗体５００が配置されている。第１の発熱抵抗体５００は、特許請求の範囲における発熱抵抗体に相当する。
【００３１】
図５は、１つのセグメントＳＥに配置された１つの第１の発熱抵抗体５００のＸＹ断面構成を模式的に示す説明図である。図５に示すように、第１の発熱抵抗体５００は、第１の発熱抵抗体５００の両端を構成する一対のパッド部５０４と、一対のパッド部５０４の間を結ぶ線状の抵抗線部５０２とを備える。本実施形態では、抵抗線部５０２は、Ｚ軸方向視で、セグメントＳＥ内の各位置をできるだけ偏り無く通るような形状とされている。他のセグメントＳＥに配置された第１の発熱抵抗体５００の構成も同様である。
【００３２】
また、静電チャック１００は、各第１の発熱抵抗体５００への給電のための構成を備えている。上述した第１の発熱抵抗体用ドライバ５１は、各第１の発熱抵抗体５００への給電のための構成の一部である。図４に示すように、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１は、第１の導電ライン５１１および第２の導電ライン５１２から構成された複数のライン対５１０を含んでいる。なお、図４に示す例では、第２の導電ライン５１２は、複数のライン対５１０に共有されている。ライン対５１０毎に個別の第２の導電ライン５１２が用意されてもよい。
【００３３】
図４および図５に示すように、１つのライン対５１０を構成する第１の導電ライン５１１は、ビア対５３を構成する一方のビア５３１を介して、第１の発熱抵抗体５００の一端（パッド部５０４）に電気的に接続されており、該ライン対５１０を構成する第２の導電ライン５１２は、該ビア対５３を構成する他方のビア５３２を介して、該第１の発熱抵抗体５００の他端（パッド部５０４）に電気的に接続されている。
【００３４】
また、図２に示すように、静電チャック１００には、１つまたは複数の第１の端子用孔Ｈｔ１が形成されており、各第１の端子用孔Ｈｔ１には給電端子８０の一部分が収容されている。また、セラミックス板１０の下面Ｓ２における第１の端子用孔Ｈｔ１に対応する位置（第１の端子用孔Ｈｔ１の延伸方向において第１の端子用孔Ｈｔ１と重なる位置）には、導電性の複数の給電パッド７０が配置されている。各給電パッド７０は、第１の端子用孔Ｈｔ１に挿入された給電端子８０と電気的に接続されていると共に、ビア５４を介して第１の発熱抵抗体用ドライバ５１と電気的に接続されている。なお、本実施形態では、静電チャック１００に設けられる給電パッド７０の総数は、静電チャック１００に設けられる第１の発熱抵抗体５００の総数より多いが、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１によってまとめられるので、第１の発熱抵抗体５００の総数の２倍よりは少ない。
【００３５】
電源（図示しない）から給電端子８０、給電パッド７０、ビア５４、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１、および、ビア５３１，５３２を介して第１の発熱抵抗体５００に電圧が印加されると、第１の発熱抵抗体５００が発熱する。これにより、第１の発熱抵抗体５００が配置されたセグメントＳＥが加熱される。セラミックス板１０の各セグメントＳＥに配置された第１の発熱抵抗体５００への印加電圧を個別に制御することにより、各セグメントＳＥの温度を個別に制御することができる。なお、静電チャック１００における第１の端子用孔Ｈｔ１付近の構成については、後に詳述する。
【００３６】
Ａ−３．第２の発熱抵抗体層６０の構成および第２の発熱抵抗体層６０に関連する構成：
上述したように、セラミックス板１０には、第２の発熱抵抗体層６０が配置されている（図２参照）。図６は、静電チャック１００のセラミックス板１０に配置された第２の発熱抵抗体層６０のＸＹ断面構成を模式的に示す説明図である。
【００３７】
図６に示すように、第２の発熱抵抗体層６０は、２つの第２の発熱抵抗体６００を含んでいる。各第２の発熱抵抗体６００は、第２の発熱抵抗体６００両端を構成する一対のパッド部６０４と、一対のパッド部６０４の間を結ぶ線状の抵抗線部６０２とを備える。一方の第２の発熱抵抗体６００は、例えば、Ｚ軸方向視でセラミックス板１０における外周側の領域に配置され、他方の第２の発熱抵抗体６００は、例えば、セラミックス板１０における中心側の領域に配置される。Ｚ軸方向視での各第２の発熱抵抗体６００の形状は、例えば、略螺旋形である。
【００３８】
また、静電チャック１００は、各第２の発熱抵抗体６００への給電のための構成を備えている。具体的には、図２に示すように、静電チャック１００には、１つまたは複数の第２の端子用孔Ｈｔ２が形成されており、第２の端子用孔Ｈｔ２には給電端子１８０の一部分が収容されている。また、セラミックス板１０の下面Ｓ２における第２の端子用孔Ｈｔ２に対応する位置（第２の端子用孔Ｈｔ２の延伸方向において第２の端子用孔Ｈｔ２と重なる位置）には、導電性の給電パッド１７０が配置されている。給電パッド１７０は、第２の端子用孔Ｈｔ２に挿入された給電端子１８０と電気的に接続されていると共に、ビア対６３を構成するビア６３１，６３２（図６参照）を介して第２の発熱抵抗体６００と電気的に接続されている。
【００３９】
電源（図示しない）から給電端子１８０、給電パッド１７０、および、ビア６３１，６３２を介して第２の発熱抵抗体６００に電圧が印加されると、第２の発熱抵抗体６００が発熱する。これにより、第２の発熱抵抗体６００が配置されたセラミックス板１０が加熱される。本実施形態では、第２の発熱抵抗体６００は、セラミックス板１０の全体または比較的大きな領域単位での吸着面Ｓ１の温度制御に用いられ、上述した第１の発熱抵抗体５００は、セラミックス板１０のセグメントＳＥ単位での吸着面Ｓ１の温度制御に用いられる。
【００４０】
Ａ−４．静電チャック１００における第１の端子用孔Ｈｔ１付近の詳細構成：
次に、静電チャック１００における第１の端子用孔Ｈｔ１付近の詳細構成について説明する。図７は、静電チャック１００における１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＹ平面構成を示す説明図であり、図８は、静電チャック１００における１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＺ断面構成を示す説明図であり、図９は、静電チャック１００における１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＹＺ断面構成を示す説明図であり、図１０は、静電チャック１００における１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＹ断面構成を示す説明図である。図７には、静電チャック１００を下側（ベース部材２０の下面Ｓ４側）から見たときの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＹ平面構成が示されており、図８には、図２のＸ１部のＸＺ断面構成（図１０のＶＩＩＩ−ＶＩＩＩの位置の断面構成）が拡大されて、かつ、一部省略されて示されており、図９には、図２のＸ１部のＹＺ断面構成（図１０のＩＸ−ＩＸの位置の断面構成）が拡大されて、かつ、一部省略されて示されており、図１０には、図８および図９のＸ−Ｘの位置におけるＸＹ断面構成が一部省略されて示されている。
【００４１】
図８および図９に示すように、ベース部材２０には、ベース部材２０の上面Ｓ３に開口し、かつ、ベース部材２０の下面Ｓ４に至るまで延びるベース部材貫通孔２２が形成されている。また、接着部３０には、ベース部材貫通孔２２に連通する接着部貫通孔３２が形成されている。さらに、本実施形態では、セラミックス板１０の下面Ｓ２に、接着部貫通孔３２に連通する凹部１２が形成されている。第１の端子用孔Ｈｔ１は、互いに連通するベース部材貫通孔２２と接着部貫通孔３２と凹部１２とから構成されている。本実施形態では、第１の端子用孔Ｈｔ１は、Ｚ軸方向に略平行に延びる形状である。また、本実施形態では、ベース部材貫通孔２２と接着部貫通孔３２と凹部１２との径（Ｚ軸方向に直交する方向の大きさ）は、略同一である。ただし、ベース部材貫通孔２２と接着部貫通孔３２と凹部１２とが互いに連通している限り、それらの径が互いに異なっていてもよい。ベース部材貫通孔２２は、特許請求の範囲における第１の貫通孔に相当し、接着部貫通孔３２は、特許請求の範囲における第２の貫通孔に相当する。
【００４２】
また、図７に示すように、第１の端子用孔Ｈｔ１のＺ軸方向に直交する断面（ＸＹ断面）の形状は、比較的細長い形状である。具体的には、第１の端子用孔Ｈｔ１のＸＹ断面の形状は、所定の方向（例えばＸ方向）の長さＬ１に対する、該所定の方向に直交する方向（例えばＹ方向）の長さＬ２の比（Ｌ２／Ｌ１）が、３以上である形状である。
【００４３】
さらに、図７に示すように、第１の端子用孔Ｈｔ１のＸＹ断面の形状は、ベース部材２０の上面Ｓ３の円周方向ＣＤに略平行な方向に沿って湾曲した形状である。また、第１の端子用孔Ｈｔ１は、Ｚ軸方向視で、第２の発熱抵抗体６００と重ならない位置（例えば、径方向ＲＤにおいて第２の発熱抵抗体６００の一部分と第２の発熱抵抗体６００の他の一部分との間の位置）に配置されている。
【００４４】
上述したように、セラミックス板１０の下面Ｓ２における第１の端子用孔Ｈｔ１に対応する位置（第１の端子用孔Ｈｔ１の延伸方向において第１の端子用孔Ｈｔ１と重なる位置であり、本実施形態では凹部１２の位置）には、導電性の複数の給電パッド７０が配置されている。給電パッド７０は、上述した第１の発熱抵抗体用ドライバ５１や各ビアを介して第１の発熱抵抗体５００と電気的に接続されている。本実施形態では、給電パッド７０は、セラミックス板１０の製造の際に、所定のセラミックスグリーンシートに印刷されたメタライズペーストが、その後にセラミックスグリーンシートと同時に焼成されることにより形成される。このようにすれば、セラミックス板１０に強固に接合された給電パッド７０を形成することができる。なお、セラミックス板１０の焼成の後に、給電パッド７０を形成してもよい。
【００４５】
各給電パッド７０には、接続部材７２が取り付けられている。本実施形態では、接続部材７２は、ろう材７８により、給電パッド７０に接合されている。接続部材７２は、給電パッド７０上に配置された導電性の基部７４と、基部７４からセラミックス板１０の下面Ｓ２から遠ざかる方向（例えば下方向）に延びる導電性の棒状部７６とを有する。面方向（Ｚ軸に直交する方向）において、接続部材７２の基部７４は、給電パッド７０より小さい。また、面方向において、接続部材７２の棒状部７６は、基部７４より小さい（細い）。
【００４６】
図７に示すように、本実施形態では、１つの第１の端子用孔Ｈｔ１について、１列に並んだ６個の接続部材７２の組が２組配置されている。そのため、接続部材７２が取り付けられた給電パッド７０についても、１つの第１の端子用孔Ｈｔ１について、１列に並んだ６個の給電パッド７０の組が２組配置されている。
【００４７】
また、上述したように、第１の端子用孔Ｈｔ１には給電端子８０の一部分が収容されている。本実施形態では、給電端子８０は、複数の導電領域８４（図９参照）を有するフレキシブルプリント配線板（ＦＰＣ）により構成されている。ＦＰＣは、絶縁材料（例えば、ポリイミド）により形成されたベースフィルム上に導電性材料（例えば銅）により形成された導電領域８４が設けられ、その上に絶縁材料（例えば、ポリイミド）により形成されたカバーフィルムが配置された配線板である。ＦＰＣにより構成された給電端子８０は、非常に薄く、かつ、自在に折り曲げ可能である。
【００４８】
給電端子８０は、第１の端子部分８１と、第２の端子部分８２と、第３の端子部分８３とを有する。第１の端子部分８１は、第１の端子用孔Ｈｔ１内に配置され、Ｚ軸方向に略平行な方向に延びる部分である。
【００４９】
給電端子８０の第２の端子部分８２は、第１の端子部分８１におけるセラミックス板１０の下面Ｓ２に近い側の端部から延びる部分である。本実施形態では、第２の端子部分８２は、第１の端子部分８１の延伸方向（Ｚ軸方向）に略直交する方向に延びている。第２の端子部分８２の導電領域８４の部分には複数の孔８５が形成されており、各孔８５には接続部材７２の棒状部７６が挿通されている。これにより、給電端子８０の導電領域８４が、接続部材７２と電気的に接続され、ひいては、給電パッド７０と電気的に接続される。また、給電端子８０の孔８５付近の部分は、はんだ８８によって接続部材７２に接合されている。
【００５０】
給電端子８０の第３の端子部分８３は、第１の端子用孔Ｈｔ１の外に配置され、ベース部材２０の上面Ｓ３の径方向ＲＤに沿って外周側に延びる部分である。第３の端子部分８３における第１の端子部分８１との接続部分とは反対側の端部には、コネクタ（不図示）が設けられている。
【００５１】
なお、図７に示すように、給電端子８０は、少なくとも径方向ＲＤに沿った外周側の端部において、円周方向ＣＤに略平行な方向に沿って複数に分割されている。具体的には、給電端子８０が完全に複数に分割されているか、または、給電端子８０の上記外周側の端部に１つまたは複数のスリットが形成されている。本実施形態では、給電端子８０が２つに分割されており、給電端子８０の２つの部分のそれぞれに６つの接続部材７２が接続されている。
【００５２】
また、本実施形態の静電チャック１００は、給電端子８０とセラミックス板１０の下面Ｓ２との間において、互いに隣り合う２つの給電パッド７０の間に配置された絶縁性のスペーサー９０を備える。スペーサー９０は、例えば、耐熱性のある樹脂（ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂等）により形成されている。
【００５３】
図１０に示すように、スペーサー９０は、Ｚ軸方向視で、各給電パッド７０を取り囲むように一体的に形成されている。従って、１つの給電パッド７０（以下、「第１の給電パッド７０（１）」という）と、第１の給電パッド７０（１）を挟んで隣り合う２つの給電パッド７０（以下、「第２の給電パッド７０（２）」および「第３の給電パッド７０（３）」という）との合計３つの給電パッド７０に注目すると、スペーサー９０は、第１の給電パッド７０（１）と第１の給電パッド７０（１）の一方側に隣り合う第２の給電パッド７０（２）との間である第１の位置Ｐ１と、第１の給電パッド７０（１）と第１の給電パッド７０（１）の他方側に隣り合う第３の給電パッド７０（３）との間である第２の位置Ｐ２との両方に配置されている。
【００５４】
なお、本実施形態では、スペーサー９０は、セラミックス板１０の下面Ｓ２（凹部１２）上に配置されている。スペーサー９０におけるセラミックス板１０の下面Ｓ２に対向する側とは反対側の表面は、Ｚ軸方向に略直交するような平面となっている。給電端子８０の第２の端子部分８２は、スペーサー９０の上記平面に沿って延びている。すなわち、スペーサー９０は、Ｚ軸方向において、セラミックス板１０の下面Ｓ２から給電端子８０の第２の端子部分８２の表面に至るまで延びている。
【００５５】
また、図８に示すように、本実施形態の静電チャック１００は、さらに接触維持部材９６を備える。接触維持部材９６は、給電端子８０の表面上の第１の領域Ｒ１と、ベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面（すなわち、第１の端子用孔Ｈｔ１の内周面）との両方に接着されたシート状部材である。ここで、給電端子８０の表面上の第１の領域Ｒ１は、給電端子８０における接続部材７２との接続箇所より、セラミックス板１０の下面Ｓ２から遠い位置にある所定の領域である。本実施形態では、第１の領域Ｒ１は、給電端子８０の第１の端子部分８１の表面の内、第２の端子部分８２の延伸方向（Ｘ軸正方向）とは反対側（Ｘ軸負方向側）の表面に位置する。そのため、接触維持部材９６は、給電端子８０の第１の端子部分８１に対して、第２の端子部分８２の延伸方向とは反対側に位置する。接触維持部材９６の存在により、給電端子８０の表面上の第１の領域Ｒ１が、接触維持部材９６を挟んで間接的に、ベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面に確実に接触することとなる。
【００５６】
本実施形態では、接触維持部材９６の熱伝導率は、０．５Ｗ／ｍ・Ｋ以上である。このような接触維持部材９６は、例えば、炭素繊維やシリコーン樹脂により形成される。接触維持部材９６自身が接着性を有する場合には、接触維持部材９６が直接、給電端子８０とベース部材２０とに接着される。また、接触維持部材９６自身が接着性を有さない場合には、接触維持部材９６が接着剤によって給電端子８０とベース部材２０とに接着される。
【００５７】
なお、本実施形態における静電チャック１００の第１の端子用孔Ｈｔ１付近の構成の製造方法は、例えば、以下の通りである。はじめに、セラミックス板１０の下面Ｓ２に形成された各給電パッド７０に、接続部材７２をろう付けする。次に、各給電パッド７０の周りに、例えば耐熱性樹脂材料によってスペーサー９０を形成する。次に、第１の端子用孔Ｈｔ１内に給電端子８０を挿入し、給電端子８０に形成された各孔８５に接続部材７２の棒状部７６を挿通し、その状態で、給電端子８０と接続部材７２とを半田付けすると共に、給電端子８０とベース部材２０との間に接触維持部材９６を挿入して接触維持部材９６を給電端子８０およびベース部材２０に接着する。以上の製造方法により、上述した第１の端子用孔Ｈｔ１付近の構成が実現される。
【００５８】
なお、静電チャック１００における第２の端子用孔Ｈｔ２付近の構成は、第１の端子用孔Ｈｔ１付近の構成と同様であるため、説明を省略する。
【００５９】
Ａ−５．本実施形態の効果：
以上説明したように、本実施形態の静電チャック１００は、Ｚ軸方向に略直交する略平面状の吸着面Ｓ１と吸着面Ｓ１とは反対側の下面Ｓ２とを有するセラミックス板１０と、上面Ｓ３がセラミックス板１０の下面Ｓ２に対向するように配置され、冷媒流路２１と、上面Ｓ３に開口するベース部材貫通孔２２と、が形成されたベース部材２０と、セラミックス板１０の下面Ｓ２とベース部材２０の上面Ｓ３との間に配置され、ベース部材貫通孔２２と連通し、ベース部材貫通孔２２と共に第１の端子用孔Ｈｔ１を構成する接着部貫通孔３２が形成された接着部３０とを備え、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１上にウェハＷ等の対象物を保持する保持装置である。
【００６０】
また、本実施形態の静電チャック１００は、セラミックス板１０の少なくとも一部をＺ軸方向に直交する方向に並ぶ複数のセグメントＳＥに仮想的に分割したときの各セグメントＳＥ内に配置された第１の発熱抵抗体５００と、セラミックス板１０の下面Ｓ２における第１の端子用孔Ｈｔ１に対応する位置に配置され、複数の第１の発熱抵抗体５００に電気的に接続された導電性の複数の給電パッド７０と、複数の給電パッド７０のそれぞれについて設けられた接続部材７２と、複数の導電領域８４を有するＦＰＣにより構成され、第１の端子用孔Ｈｔ１内に位置する接続箇所において各導電領域８４が各接続部材７２に電気的に接続された給電端子８０とを備える。
【００６１】
さらに、本実施形態の静電チャック１００は、給電端子８０の表面上の所定の第１の領域Ｒ１をベース部材貫通孔２２の内周面に接触させる接触維持部材９６を備える。給電端子８０の第１の領域Ｒ１は、給電端子８０における接続部材７２との接続箇所よりセラミックス板１０の下面Ｓ２から遠い位置にある領域である。
【００６２】
ここで、一般に、ＦＰＣは柔軟性が高く変形しやすい。そのため、ＦＰＣにより給電端子８０を構成すると、第１の端子用孔Ｈｔ１内において、給電端子８０とベース部材２０（より詳細には、ベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面）との伝熱面積が小さくなりやすく、かつ、製品毎や端子用孔毎に給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積のばらつきが大きくなりやすい。なお、給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積とは、給電端子８０とベース部材２０とが直接的に接触している場合には、給電端子８０とベース部材２０との接触面積であり、給電端子８０とベース部材２０とが別部材を介して間接的に接触している場合には、該別部材と給電端子８０またはベース部材２０との接触面積である。第１の端子用孔Ｈｔ１内において給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積が小さいと、第１の端子用孔Ｈｔ１の位置において給電端子８０を介したベース部材２０とセラミックス板１０との間の伝熱性が低くなり、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性の低下を十分に抑制することができない。また、第１の端子用孔Ｈｔ１内において給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積のばらつきが大きいと、第１の端子用孔Ｈｔ１の位置において給電端子８０を介したベース部材２０とセラミックス板１０との間の伝熱性のばらつきが大きくなり、例えば設計上の対策を施しても、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性の低下を十分に抑制することができない。
【００６３】
しかしながら、本実施形態の静電チャック１００は、給電端子８０の第１の領域Ｒ１をベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面に接触させる接触維持部材９６を備える。そのため、本実施形態の静電チャック１００では、接触維持部材９６の存在により、第１の端子用孔Ｈｔ１内において、給電端子８０とベース部材２０との所望の伝熱面積を確保することができると共に、製品毎や端子用孔毎の給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積のばらつきを抑制することができる。なお、接触維持部材９６を設けることにより、ＦＰＣにより構成された給電端子８０の変位・変形性能が低下する場合があるが、接触維持部材９６は、給電端子８０における接続部材７２との接続箇所には干渉しない位置に設けられるため、上記接続箇所における給電端子８０の変位・変形性能は十分に維持され、安定的な接続が確保される。従って、本実施形態の静電チャック１００によれば、給電端子８０と接続部材７２との接続の安定性を確保しつつ、給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積の低下、および、両者の伝熱面積のばらつきの増大を抑制することができ、その結果、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性の低下を十分に抑制することができる。
【００６４】
また、本実施形態の静電チャック１００では、接触維持部材９６は、給電端子８０の表面の第１の領域Ｒ１とベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面との両方に接着されたシート状部材である。そのため、接触維持部材９６が接着剤として機能することによって、給電端子８０の表面の第１の領域Ｒ１とベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面とを確実に接着することができる。従って、本実施形態の静電チャック１００によれば、第１の端子用孔Ｈｔ１内における給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積の低下、および、両者の伝熱面積のばらつきの増大を効果的に抑制することができ、その結果、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性の低下を効果的に抑制することができる。
【００６５】
また、本実施形態の静電チャック１００では、接触維持部材９６の熱伝導率は０．５Ｗ／ｍ・Ｋ以上である。そのため、本実施形態の静電チャック１００によれば、接触維持部材９６を介した給電端子８０とベース部材２０との間の伝熱性を向上させることができ、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することを極めて効果的に抑制することができる。
【００６６】
また、本実施形態の静電チャック１００は、給電端子８０とセラミックス板１０の下面Ｓ２との間において、互いに隣り合う２つの給電パッド７０の間に配置された絶縁性のスペーサー９０を備える（図８〜図１０参照）。そのため、本実施形態の静電チャック１００では、２つの給電パッド７０の間の絶縁性が向上する（すなわち、短絡の可能性が低下する）。従って、スペーサー９０が配置されていない構成と比較して、給電パッド７０同士の間隔を短くすることができ、その結果、第１の端子用孔Ｈｔ１の大きさ（径）を小さくすることができる。第１の端子用孔Ｈｔ１の位置では、ベース部材２０とセラミックス板１０との間の伝熱性が低下するため、ベース部材２０に形成された冷媒流路２１に供給される冷媒によるセラミックス板１０の冷却効果が低下し、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下するおそれがある。本実施形態の静電チャック１００によれば、第１の端子用孔Ｈｔ１の大きさ（径）を小さくすることができるため、第１の端子用孔Ｈｔ１の存在に起因してセラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することをさらに効果的に抑制することができる。
【００６７】
また、本実施形態の静電チャック１００では、給電端子８０は、はんだ８８によって接続部材７２に接合されている（図８および図９参照）。そのため、本実施形態の静電チャック１００によれば、給電端子８０と接続部材７２の棒状部７６との間の電気的接続を確保した強固な接合を実現することができる。
【００６８】
また、本実施形態の静電チャック１００では、第１の端子用孔Ｈｔ１のＺ軸方向に直交する断面形状は、所定の方向の長さＬ１に対する、該所定の方向に直交する方向の長さＬ２の比（Ｌ２／Ｌ１）が、３以上である形状である（図７参照）。すなわち、第１の端子用孔Ｈｔ１の断面形状は、比較的長細い形状である。そのため、本実施形態の静電チャック１００では、一般に比較的長細い断面形状を有するＦＰＣにより構成された給電端子８０が配置される第１の端子用孔Ｈｔ１の大きさ（径）を小さくすることができる。従って、本実施形態の静電チャック１００によれば、第１の端子用孔Ｈｔ１の存在に起因してセラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することをさらに効果的に抑制することができる。
【００６９】
また、本実施形態の静電チャック１００では、ベース部材２０の上面Ｓ３は略円形であり、第１の端子用孔Ｈｔ１のＺ軸方向に直交する断面形状は、ベース部材２０の上面Ｓ３の円周方向ＣＤに略平行な方向に沿って湾曲した形状であり、給電端子８０は、少なくともベース部材２０の上面Ｓ３の径方向ＲＤに沿って外周側の端部において、円周方向ＣＤに略平行な方向に沿って複数に分割されている（図７参照）。そのため、本実施形態の静電チャック１００では、Ｚ軸方向視でベース部材２０の冷媒流路２１の形状が湾曲していたとしても、第１の端子用孔Ｈｔ１を冷媒流路２１の形状に沿わせるように湾曲した形状とすれば、冷媒流路２１と第１の端子用孔Ｈｔ１との間の距離を略均一にすることができる。従って、本実施形態の静電チャック１００によれば、第１の端子用孔Ｈｔ１の存在に起因してセラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することをさらに効果的に抑制することができる。また、本実施形態の静電チャック１００では、第１の端子用孔Ｈｔ１を、Ｚ軸方向視でベース部材２０の冷媒流路２１と重ならない位置に配置することが容易になるため、第１の端子用孔Ｈｔ１の存在に起因してセラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することをさらに効果的に抑制することができる。さらに、本実施形態の静電チャック１００では、給電端子８０が複数に分割されているため、第１の端子用孔Ｈｔ１を湾曲した形状に形成した場合であっても、給電端子８０の断面積を維持したまま、給電端子８０を第１の端子用孔Ｈｔ１内に配置することができる。
【００７０】
また、本実施形態の静電チャック１００では、給電端子８０は、第１の端子用孔Ｈｔ１の外に配置され、径方向ＲＤに沿って外周側に延びる第３の端子部分８３を有する（図７〜図９参照）。本実施形態の静電チャック１００によれば、給電端子８０における第３の端子部分８３同士が重なることを抑制することができ、給電端子８０の取り回しを容易にすることができる。
【００７１】
また、本実施形態の静電チャック１００は、さらに、セラミックス板１０に配置され、Ｚ軸方向における位置が第１の発熱抵抗体５００とは異なる第２の発熱抵抗体６００を備え、第１の端子用孔Ｈｔ１は、Ｚ軸方向視で、第２の発熱抵抗体６００と重ならない位置に配置されている（図７参照）。そのため、本実施形態の静電チャック１００によれば、第１の端子用孔Ｈｔ１の存在に起因して第２の発熱抵抗体６００の温度特異点が生ずることを抑制できるため、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することをさらに効果的に抑制することができる。
【００７２】
Ｂ．第２実施形態：
図１１は、第２実施形態の静電チャック１００ａにおける１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＺ断面構成を示す説明図である。以下では、第２実施形態の静電チャック１００ａの構成の内、上述した第１実施形態の静電チャック１００の構成と同一の構成については、同一の符号を付すことによってその説明を適宜省略する。
【００７３】
図１１に示すように、第２実施形態の静電チャック１００ａの構成は、上述した第１実施形態の静電チャック１００の構成と比較して、接触維持部材９６ａの構成が異なっている。具体的には、第２実施形態の静電チャック１００ａでは、接触維持部材９６ａは、給電端子８０の表面における第１の領域Ｒ１とは反対側の領域とベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面との間に介在して、給電端子８０の表面における第１の領域Ｒ１とは反対側の領域をベース部材２０側に押圧することにより、給電端子８０の表面における第１の領域Ｒ１を直接的にベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面に接触させる弾性部材である。本実施形態では、第１の領域Ｒ１は、給電端子８０の第１の端子部分８１の表面の内、第２の端子部分８２の延伸方向（Ｘ軸正方向）とは反対側（Ｘ軸負方向側）の表面に位置する。そのため、接触維持部材９６ａは、給電端子８０の第１の端子部分８１に対して、第２の端子部分８２の延伸方向と同じ側（Ｘ軸正方向側）に位置する。接触維持部材９６ａの存在により、給電端子８０の表面上の第１の領域Ｒ１が、直接的に、ベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面に確実に接触することとなる。
【００７４】
第２実施形態では、接触維持部材９６ａの熱伝導率は、０．５Ｗ／ｍ・Ｋ以上である。このような接触維持部材９６ａは、例えば、シリコーン樹脂により形成される。接触維持部材９６ａは、弾性変形した状態で給電端子８０とベース部材２０とに挟持されることにより、固定されている。なお、接触維持部材９６ａが給電端子８０および／またはベース部材２０に接着されていてもよい。
【００７５】
このように、第２実施形態の静電チャック１００ａは、第１実施形態の静電チャック１００と同様に、給電端子８０の第１の領域Ｒ１をベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面に接触させる接触維持部材９６ａを備える。そのため、第２実施形態の静電チャック１００ａによれば、第１実施形態の静電チャック１００と同様に、給電端子８０と接続部材７２との接続の安定性を確保しつつ、給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積の低下、および、両者の伝熱面積のばらつきの増大を抑制することができ、その結果、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性の低下を十分に抑制することができる。
【００７６】
また、第２実施形態の静電チャック１００ａでは、接触維持部材９６ａは、給電端子８０の表面における第１の領域Ｒ１とは反対側の領域とベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面との間に介在して、給電端子８０の表面における第１の領域Ｒ１とは反対側の領域をベース部材２０側に押圧することにより、給電端子８０の表面における第１の領域Ｒ１を直接的にベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面に接触させる弾性部材である。そのため、第２実施形態の静電チャック１００ａでは、接触維持部材９６ａの存在により、給電端子８０の第１の領域Ｒ１とベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面とを直接的に接触させることができると共に、給電端子の表面の第１の領域Ｒ１とは反対側の領域とベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面との間の熱のやりとりを接触維持部材９６ａを介して行うことができる。従って、第２実施形態の静電チャック１００ａによれば、第１の端子用孔Ｈｔ１内における給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積の低下、および、両者の伝熱面積のばらつきの増大をさらに効果的に抑制することができ、その結果、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性の低下を一層効果的に抑制することができる。
【００７７】
また、第２実施形態の静電チャック１００ａでは、接触維持部材９６ａの熱伝導率は０．５Ｗ／ｍ・Ｋ以上である。そのため、第２実施形態の静電チャック１００ａによれば、接触維持部材９６ａを介した給電端子８０とベース部材２０との間の伝熱性を向上させることができ、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することを極めて効果的に抑制することができる。
【００７８】
Ｃ．第３実施形態：
図１２は、第３実施形態の静電チャック１００ｂにおける１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近のＸＺ断面構成を示す説明図である。以下では、第３実施形態の静電チャック１００ｂの構成の内、上述した第１実施形態の静電チャック１００の構成と同一の構成については、同一の符号を付すことによってその説明を適宜省略する。
【００７９】
図１２に示すように、第３実施形態の静電チャック１００ｂの構成は、上述した第１実施形態の静電チャック１００の構成と比較して、スペーサー９０ｂと給電端子８０ｂの構成が異なっている。具体的には、第３実施形態の静電チャック１００ｂでは、スペーサー９０ｂにおけるセラミックス板１０の下面Ｓ２に対向する側とは反対側の表面（以下、「スペーサー下面ＳＳ」という）は、Ｚ軸方向に対して０度より大きく９０度より小さい傾きθ１（例えば、４５度程度の傾き）を有する斜めの略平面状の領域（本実施形態ではスペーサー下面ＳＳの全領域）を有している。
【００８０】
また、第３実施形態の静電チャック１００ｂでは、給電端子８０ｂの第１の端子部分８１は、第１実施形態の静電チャック１００と同様に、第１の端子用孔Ｈｔ１内に配置され、Ｚ軸方向に略平行な方向に延びている。一方、第３実施形態の静電チャック１００ｂでは、給電端子８０ｂの第２の端子部分８２ｂは、第１の端子部分８１におけるセラミックス板１０の下面Ｓ２に近い側の端部から、スペーサー下面ＳＳに沿って（すなわち、Ｚ軸方向に対して０度より大きく９０度より小さい傾きθ１で）、セラミックス板１０の下面Ｓ２に近づく方向に斜めに延びている。
【００８１】
なお、第３実施形態の静電チャック１００ｂでは、第１実施形態の静電チャック１００と同様に、給電端子８０の第１の端子部分８１に位置する第１の領域Ｒ１と、ベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面と、の両方に接着されたシート状部材である接触維持部材９６を備える。
【００８２】
このように、第３実施形態の静電チャック１００ｂは、接触維持部材９６を備えるため、第１実施形態の静電チャック１００と同様に、給電端子８０と接続部材７２との接続の安定性を確保しつつ、第１の端子用孔Ｈｔ１内における給電端子８０とベース部材２０との伝熱面積の低下、および、両者の伝熱面積のばらつきの増大を抑制することができ、その結果、セラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性の低下を十分に抑制することができる。
【００８３】
また、第３実施形態の静電チャック１００ｂでは、給電端子８０ｂが、第１の端子部分８１と第２の端子部分８２ｂとを有する。第１の端子部分８１は、第１の端子用孔Ｈｔ１内に配置され、Ｚ軸方向に略平行な方向に延びている。第２の端子部分８２ｂは、第１の端子部分８１におけるセラミックス板１０の下面Ｓ２に近い側の端部から、Ｚ軸方向に対して０度より大きく９０度より小さい傾きθ１で、セラミックス板１０の下面Ｓ２に近づく方向に斜めに延びている。そのため、第３実施形態の静電チャック１００ｂでは、接触維持部材９６が、給電端子８０における接続部材７２との接続箇所を含む第２の端子部分８２ｂ分ではなく、Ｚ軸方向に略平行な方向に延びる第１の端子部分８１に設けられるため、上記接続箇所における給電端子８０の変位・変形性能を十分に維持することができ、安定的な接続を確保することができる。
【００８４】
また、上記第１実施形態の静電チャック１００のように、給電端子８０の第２の端子部分８２がＺ軸方向に略直交する方向に延びる構成では（図８参照）、給電端子８０が、第１の端子部分８１と第２の端子部分８２との接続箇所で比較的大きく（深く）折り曲げられることとなる。また、上記接続箇所では、折り曲げに伴う導電領域８４の破損を抑制するために、ある程度以上のＲ（曲率半径）を確保して折り曲げられる。そのため、このような構成では、Ｚ軸方向に直交する方向における上記接続箇所の大きさ（図８のＬ１１）が比較的大きくなり、その結果、給電端子８０を収容する第１の端子用孔Ｈｔ１の大きさ（径）が比較的大きくなる。これに対し、第３実施形態の静電チャック１００ｂでは、給電端子８０ｂの第２の端子部分８２ｂが、第１の端子部分８１におけるセラミックス板１０の下面Ｓ２に近い側の端部からスペーサー下面ＳＳに沿ってセラミックス板１０の下面Ｓ２に近づく方向に延びているため、給電端子８０ｂにおける第１の端子部分８１と第２の端子部分８２ｂとの接続箇所での折り曲げの程度が比較的小さく（浅く）なる。そのため、第３実施形態の静電チャック１００ｂでは、Ｚ軸方向に直交する方向における上記接続箇所の大きさ（図１２のＬ２１）が比較的小さくなり、その結果、給電端子８０ｂを収容する第１の端子用孔Ｈｔ１の大きさ（径）をさらに小さくすることができる。
【００８５】
従って、第３実施形態の静電チャック１００ｂによれば、給電端子８０と接続部材７２との接続の安定性を確保しつつ、第１の端子用孔Ｈｔ１の存在に起因してセラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することをさらに効果的に抑制することができる。
【００８６】
Ｄ．変形例：
本明細書で開示される技術は、上述の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の形態に変形することができ、例えば次のような変形も可能である。
【００８７】
上記実施形態における静電チャック１００の構成は、あくまで一例であり、種々変形可能である。例えば、上記実施形態では、静電チャック１００が、第１の発熱抵抗体５００への給電のための構成として、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１を備えているが、静電チャック１００が第１の発熱抵抗体用ドライバ５１を備えていないとしてもよい。そのような構成では、例えば、電源から給電端子８０、給電パッド７０、および、ビアを介して第１の発熱抵抗体５００に電圧が印加される。また、上記実施形態では、静電チャック１００が、第２の発熱抵抗体６００への給電のための構成として、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１のようなドライバを備えていないが、静電チャック１００が第２の発熱抵抗体６００への給電のための構成として第１の発熱抵抗体用ドライバ５１と同様のドライバを備えていてもよい。そのような構成では、例えば、電源から給電端子１８０、給電パッド１７０、ビア、ドライバ、および、ビアを介して第２の発熱抵抗体６００に電圧が印加される。
【００８８】
また、上記実施形態では、静電チャック１００が第２の発熱抵抗体層６０を備えているが、静電チャック１００が第２の発熱抵抗体層６０を備えていないとしてもよい。
【００８９】
また、上記実施形態では、セラミックス板１０の下面Ｓ２に凹部１２が形成されているが、セラミックス板１０の下面Ｓ２に凹部１２が形成されていなくてもよい。この場合には、第１の端子用孔Ｈｔ１は、互いに連通するベース部材貫通孔２２と接着部貫通孔３２とから構成される。なお、セラミックス板１０の下面Ｓ２に凹部１２が形成されていると、給電パッド７０の損傷を回避しつつ、セラミックス板１０の下面Ｓ２を研磨することができるため、好ましい。
【００９０】
また、上記実施形態では、１つの第１の端子用孔Ｈｔ１について１２個の給電パッド７０が１列に並べて配置されているが、１つの第１の端子用孔Ｈｔ１について設けられる給電パッド７０の個数は任意に変更可能であるし、１つの第１の端子用孔Ｈｔ１について給電パッド７０が２列以上に並べて配置されるとしてもよい。
【００９１】
また、上記実施形態における第１の端子用孔Ｈｔ１の形状は、あくまで一例であり、種々変形可能である。例えば、上記実施形態では、第１の端子用孔Ｈｔ１のＺ軸方向に直交する断面（ＸＹ断面）の形状は、比較的細長い形状（Ｌ２／Ｌ１が３以上である形状）であり、かつ、ベース部材２０の上面Ｓ３の円周方向ＣＤに略平行な方向に沿って湾曲した形状であるとしているが、第１の端子用孔Ｈｔ１のＸＹ断面の形状は必ずしもそのような形状である必要はない。また、上記実施形態では、第１の端子用孔Ｈｔ１は、Ｚ軸方向視で第２の発熱抵抗体６００と重ならない位置に配置されているとしているが、必ずしもそのような配置である必要はない。
【００９２】
また、上記実施形態における接触維持部材９６の構成は、あくまで一例であり、種々変形可能である。例えば、上記実施形態における接触維持部材９６の形状、構成材料、特性（例えば熱伝導率）等は種々変形可能である。また、上記第１実施形態（図８等参照）では、接触維持部材９６は、給電端子８０の表面上の第１の領域Ｒ１と、ベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面（すなわち、第１の端子用孔Ｈｔ１の内周面）との両方に接着されたシート状部材であるが、この第１実施形態において、さらに、上記第２実施形態（図１１参照）のように、給電端子８０の表面における第１の領域Ｒ１とは反対側の領域とベース部材２０のベース部材貫通孔２２の内周面との間に介在して、給電端子８０の表面における第１の領域Ｒ１とは反対側の領域をベース部材２０側に押圧する弾性部材を設けてもよい。
【００９３】
また、上記実施形態において、スペーサー９０（例えば、第１の位置Ｐ１に配置されたスペーサー９０）とスペーサー９０（例えば、第２の位置Ｐ２に配置されたスペーサー９０）との間に、絶縁性樹脂（例えば、耐熱性および弾性を有するシリコーン樹脂）が充填され、この絶縁性樹脂によって、給電パッド７０と、該給電パッド７０上に設けられた接続部材７２における基部７４と棒状部７６における基部７４側の一部分とが覆われているとしてもよい。このような構成とすれば、絶縁性樹脂の存在により、給電パッド７０と他の給電パッド７０との間の絶縁性、および、各給電パッド７０に設けられた接続部材７２の間の絶縁性が向上する（すなわち、短絡の可能性が低下する）。従って、このような絶縁性樹脂が充填されていない構成と比較して、各給電パッド７０の間隔をさらに短くすることができ、その結果、第１の端子用孔Ｈｔ１の大きさ（径）をさらに小さくすることができる。そのため、このような構成によれば、第１の端子用孔Ｈｔ１の存在に起因してセラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することをさらに効果的に抑制することができる。特に、上記実施形態の静電チャック１００では、面方向において、接続部材７２の棒状部７６は基部７４より小さい（細い）ため、絶縁性樹脂が給電パッド７０と、接続部材７２の基部７４と、棒状部７６における基部７４側の一部分とを覆っていると、給電パッド７０と接続部材７２との組合せについて、互いに隣り合う２つの組合せ間の絶縁距離が棒状部７６間の距離で決まることになり、各給電パッド７０の間隔をさらに短くしても絶縁性を確保することができる。従って、第１の端子用孔Ｈｔ１の大きさ（径）をさらに小さくすることができ、第１の端子用孔Ｈｔ１の存在に起因してセラミックス板１０の吸着面Ｓ１の温度分布の均一性が低下することをさらに効果的に抑制することができる。
【００９４】
また、上記実施形態では、第１の端子用孔Ｈｔ１にスペーサー９０が配置されているが、第１の端子用孔Ｈｔ１にスペーサー９０が配置されていなくてもよい。
【００９５】
また、上記実施形態における給電端子８０の構成は、あくまで一例であり、種々変形可能である。例えば、上記実施形態では、給電端子８０が複数に分割されたりスリットが設けられたりしているが、必ずしもそのような構成である必要はない。また、上記実施形態では、接続部材７２が、基部７４と棒状部７６とを有するとしているが、接続部材７２の構成は、給電端子８０と電気的に接続可能な限りにおいて任意に変更可能である。
【００９６】
また、静電チャック１００に形成されたすべての第１の端子用孔Ｈｔ１付近について、上記実施形態において説明した構成が採用される必要はなく、少なくとも１つの第１の端子用孔Ｈｔ１付近について、上記実施形態において説明した構成が採用されればよい。また、上記実施形態では、静電チャック１００における第２の端子用孔Ｈｔ２付近の構成は、第１の端子用孔Ｈｔ１付近の構成と同様であるとしているが、第２の端子用孔Ｈｔ２付近の構成は、他の公知の構成であってもよい。
【００９７】
また、上記実施形態では、静電チャック１００の内部に配置された各導電性部材のＺ軸方向における位置に関し、上側（吸着面Ｓ１に近い側）から順に、チャック電極４０、第１の発熱抵抗体層５０、第１の発熱抵抗体用ドライバ５１、第２の発熱抵抗体層６０の順に配置されているが、これらの内の少なくとも２つの層の位置関係が逆になってもよい。例えば、上記実施形態では、第２の発熱抵抗体層６０が第１の発熱抵抗体層５０より下側に位置する（その結果、各セグメントＳＥにおいて第２の発熱抵抗体６００が第１の発熱抵抗体５００より下側に位置する）が、第２の発熱抵抗体層６０が第１の発熱抵抗体層５０より上側に位置する（その結果、各セグメントＳＥにおいて第２の発熱抵抗体６００が第１の発熱抵抗体５００より上側に位置する）としてもよい。
【００９８】
また、上記実施形態において、第２の発熱抵抗体６００への給電のための構成の一部（例えば、給電端子、ビア、導電ライン等）が、第１の発熱抵抗体５００への給電ためにも利用されるとしてもよく、反対に、第１の発熱抵抗体５００への給電のための構成の一部（例えば、給電端子、ビア、導電ライン等）が、第２の発熱抵抗体６００への給電ためにも利用されるとしてもよい。また、上記実施形態において、各ビアは、単数のビアにより構成されてもよいし、複数のビアのグループにより構成されてもよい。
【００９９】
また、上記実施形態におけるセグメントＳＥの設定態様は、任意に変更可能である。例えば、上記実施形態では、各セグメントＳＥが吸着面Ｓ１の円周方向に並ぶように複数のセグメントＳＥが設定されているが、各セグメントＳＥが格子状に並ぶように複数のセグメントＳＥが設定されてもよい。また、例えば、上記実施形態では、静電チャック１００の全体が複数のセグメントＳＥに仮想的に分割されているが、静電チャック１００の一部分が複数のセグメントＳＥに仮想的に分割されていてもよい。
【０１００】
また、上記実施形態では、セラミックス板１０の内部に１つのチャック電極４０が設けられた単極方式が採用されているが、セラミックス板１０の内部に一対のチャック電極４０が設けられた双極方式が採用されてもよい。また、上記実施形態の静電チャック１００における各部材を形成する材料は、あくまで例示であり、各部材が他の材料により形成されてもよい。
【０１０１】
また、本発明は、静電引力を利用してウェハＷを保持する静電チャック１００に限らず、セラミックス板の表面上に対象物を保持する他の保持装置（例えば、ＣＶＤヒータ等のヒータ装置や真空チャック等）にも適用可能である。
【符号の説明】
【０１０２】
１０：セラミックス板  １２：凹部  ２０：ベース部材  ２１：冷媒流路  ２２：ベース部材貫通孔  ３０：接着部  ３２：接着部貫通孔  ４０：チャック電極  ５０：発熱抵抗体層  ５１：発熱抵抗体用ドライバ  ５３：ビア対  ５４：ビア  ６０：発熱抵抗体層  ６３：ビア対  ７０：給電パッド  ７２：接続部材  ７４：基部  ７６：棒状部  ７８：ろう材  ８０：給電端子  ８１：第１の端子部分  ８２：第２の端子部分  ８３：第３の端子部分  ８４：導電領域  ８５：孔  ８８：はんだ  ９０：スペーサー  ９６：接触維持部材  １００：静電チャック  １７０：給電パッド  １８０：給電端子  ５００：第１の発熱抵抗体  ５０２：抵抗線部  ５０４：パッド部  ５１０：ライン対  ５１１：第１の導電ライン  ５１２：第２の導電ライン  ５３１：ビア  ５３２：ビア  ６００：第２の発熱抵抗体  ６０２：抵抗線部  ６０４：パッド部  ６３１：ビア  ６３２：ビア
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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