(57)【要約】【課題】パッド−コネクタ接続部にける特性インピーダンスの低下を効果的に抑制する。【解決手段】誘電体基板１３の第１及び第２の配線１６、１７の一端部に設けられた第１及び第２の配線パッド部９０、９５と、第１及び第２の配線パッド部９０、９５に設けられた電気コネクタ８と、第１及び第２の配線パッド部９０、９５と電気コネクタ８と間の接続部に生じる寄生容量の発生を抑制する寄生容量発生抑制部を有する。【選択図】図８
2019054036.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
誘電体基板の表面に設けられた第１及び第２の配線と、
前記第１及び第２の配線の一端部に設けられた第１及び第２の配線パッド部と、
前記第１及び第２の配線パッド部に設けられた電気コネクタと、
前記第１及び第２の配線パッド部と前記電気コネクタと間の接続部に生じる寄生容量の発生を抑制する寄生容量発生抑制部と、
を有することを特徴とする高周波回路基板。
【請求項２】
前記寄生容量発生抑制部は、
前記第１の配線パッド部と前記第２の配線パッド部との間に形成された凹部状の空隙であることを特徴とする請求項１に記載の高周波回路基板。
【請求項３】
前記寄生容量発生抑制部は、
前記凹部状の空隙に埋め込まれた誘電体であることを特徴とする請求項２に記載の高周波回路基板。
【請求項４】
前記埋め込まれた誘電体の誘電率は、前記誘電体基板の誘電率より小さいことを特徴とする請求項３に記載の高周波回路基板。
【請求項５】
前記埋め込まれた誘電体は、樹脂により形成されていることを特徴とする請求項４に記載の高周波回路基板。
【請求項６】
誘電体基板の表面に設けられた第１及び第２の差動信号配線と、
前記第１及び第２差動信号配線の両外側であって、前記誘電体基板の表面に設けられた第１及び第２のグランド配線と、
前記第１及び第２の差動信号配線の一端部に設けられた第１及び第２の差動信号パッド部と、
前記第１及び第２グランド配線の一端部に設けられた第１及び第２のグランド配線パッド部と、
前記第１のグランド配線パッド部と前記第１の差動信号パッド部との間に設けられた第１の空隙と、
前記第１の差動信号パッド部と前記第２の差動信号パッド部との間に設けられた第２の空隙と、
前記第２の差動信号パッド部と前記第２のグランド配線パッド部との間に設けられた第３の空隙と、
を有することを特徴とする高周波回路基板。
【請求項７】
前記第１、第２及び第３の空隙は、前記誘電体基板に凹部状に形成されていることを特徴とする請求項６に記載の高周波回路基板。
【請求項８】
ナイキスト周波数が２５ＧＨｚ以上の信号が前記第１及び第２の差動信号配線に印加されるように構成されていることを特徴とする請求項６に記載の高周波回路基板。
【請求項９】
前記誘電体基板は、ボード誘電体基板であることを特徴とする請求項６に記載の高周波回路基板。
【請求項１０】
前記ボード誘電体基板の上には、ＬＳＩが設けられ、
前記第１及び第２の差動信号配線の他端部と前記第１及び第２のグランド配線の他端部は前記ＬＳＩに接続され、
前記第１及び第２の差動信号配線の前記一端部と前記第１及び第２のグランド配線の前記一端部は、前記第１及び第２の差動信号パッド部と前記第１及び第２のグランド配線パッド部を介して電気コネクタに接続されていることを特徴とする請求項９に記載の高周波回路基板。
【請求項１１】
前記誘電体基板は、前記ボード誘電体基板の上に設けられたモジュール誘電体基板であることを特徴とする請求項９に記載の高周波回路基板。
【請求項１２】
前記第１及び第２の差動信号配線の他端部と前記第１及び第２のグランド配線の他端部はメタルケーブルに接続され、
前記第１及び第２の差動信号配線の前記一端部と前記第１及び第２のグランド配線の前記一端部は、前記第１及び第２の差動信号パッド部と前記第１及び第２のグランド配線パッド部を介して電気コネクタに接続されていることを特徴とする請求項１１に記載の高周波回路基板。
【請求項１３】
前記第１、第２及び第３の空隙には、誘電体が埋め込まれていることを特徴とする請求項６に記載の高周波回路基板。
【請求項１４】
前記第１、第２及び第３の空隙に埋め込まれた前記誘電体の誘電率は、前記前記誘電体基板の誘電率より小さいことを特徴とする請求項１３に記載の高周波回路基板。
【請求項１５】
前記誘電体基板の内部に埋め込まれた前記誘電体は、樹脂により形成されていることを特徴とする請求項１４に記載の高周波回路基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高周波回路基板に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、高周波回路基板に配置された複数のＬＳＩの間をケーブルモジュールで接続する方式が提案されている。ケーブルモジュールは、一対のモジュール基板をケーブルで接続するものである。また、モジュール基板とＬＳＩは、基板上の設けられた配線により電極パッドを介して電気コネクタに接続される。この際、電極パッドにおいて発生した寄生容量が原因で、電極パッドと電気コネクタと間の接続部（以下、パッド−コネクタ接続部という）において特性インピーダンスが低下することがある。
【０００３】
パッド−コネクタ接続部における特性インピーダンスの低下を抑制する技術として、例えば、特許文献１がある。特許文献１では、電極パッドの下側に設けられたグランド電極の一部を除去することにより寄生容量の発生を抑制している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１４−８２３６０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、特許文献１では、電極パッドの下側に設けられたグランド電極の一部を除去している。このため、５０Ｇｂｉｔ／ｓ以上の高速信号においては、パッド−コネクタ接続部において電極パッド間における電磁界結合が増加する。このため、特許文献１では、パッドーコネクタ接続部にける特性インピーダンスの低下を効果的に抑制することは困難である。
【０００６】
本発明の目的は、パッド−コネクタ接続部にける特性インピーダンスの低下を効果的に抑制することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様の高周波回路基板は、誘電体基板の表面に設けられた第１及び第２の配線と、前記第１及び第２の配線の一端部に設けられた第１及び第２の配線パッド部と、前記第１及び第２の配線パッド部に設けられた電気コネクタと、前記第１及び第２の配線パッド部と前記電気コネクタと間の接続部に生じる寄生容量の発生を抑制する寄生容量発生抑制部とを有することを特徴とする。
【０００８】
本発明の一態様の高周波回路基板は、誘電体基板の表面に設けられた第１及び第２の差動信号配線と、前記第１及び第２差動信号配線の両外側であって、前記誘電体基板の表面に設けられた第１及び第２のグランド配線と、前記第１及び第２の差動信号配線の一端部に設けられた第１及び第２の差動信号パッド部と、前記第１及び第２グランド配線の一端部に設けられた第１及び第２のグランド配線パッド部と、前記第１のグランド配線パッド部と前記第１の差動信号パッド部との間に設けられた第１の空隙と、前記第１の差動信号パッド部と前記第２の差動信号パッド部との間に設けられた第２の空隙と、前記第２の差動信号パッド部と前記第２のグランド配線パッド部との間に設けられた第３の空隙とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の一態様によれば、パッド−コネクタ接続部にける特性インピーダンスの低下を効果的に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】情報装置の構成の概略図である。
【図２】情報装置内の信号伝送環境の概略図である。
【図３】ケーブルモジュールの構成図である。
【図４】ＬＳＩとケーブルモジュールの接続部の構成図である。
【図５】パッド−コネクタ接続部の特性インピーダンスのシミュレーション結果を示す図である。
【図６】従来方法を用いたときの特性インピーダンスのシミュレーション結果を示す図である。
【図７（ａ）】パッド−コネクタ接続部の断面における電気力線の概略図を示す。
【図７（ｂ）】パッド−コネクタ接続部の断面における電気力線の概略図を示す。
【図８】実施例１の高周波回路基板の構成を示す図である。
【図９（ａ）】ボード誘電体基板上に設けられたグランド配線パッド部及びの差動信号パッド部付近の上面図である。
【図９（ｂ）】モジュール誘電体基板上に設けられたグランド配線パッド部及び差動信号パッド部付近の上面図である。
【図１０（ａ）】ボード誘電体基板上に設けられたグランド配線パッド部及びの差動信号パッド部付近の断面図である。
【図１０（ｂ）】モジュール誘電体基板上に設けられたグランド配線パッド部及び差動信号パッド部付近の断面図である。
【図１１】実施例１のパッド−コネクタ接続部の特性インピーダンスのシミュレーション結果を示す図である。
【図１２】実施例２の高周波回路基板の構成を示す図である。
【図１３（ａ）】ボード誘電体基板上に設けられたグランド配線パッド部及びの差動信号パッド部付近の断面図である。
【図１３（ｂ）】モジュール誘電体基板上に設けられたグランド配線パッド部及び差動信号パッド部付近の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１２】
近年、クラウドサービスやビッグデータ処理の進展により、情報装置内のＣＰＵ、ＧＰＵやスイッチＡＳＩＣなどのＬＳＩ間の通信トラフィックは増加し続けており、５０Ｇｂｉｔ／ｓを超える高速伝送が求められている。従来、ＬＳＩ間の通信は基板を用いた信号伝送が行われていたが、基板伝送では損失が大きく長距離伝送が困難である。そこで、近年、ＬＳＩ間をケーブルモジュールで接続する方式が提案されている。
【００１３】
図１に示すように、情報装置１にはブレード２が挿入されている。ブレード２の内部は、図２のような構成である。ブレード２内においてＬＳＩ３は基板４上に配置されており、ＬＳＩ３の間をケーブルモジュール５で接続する。
【００１４】
図３に示すように、ケーブルモジュール５は、ケーブル６とモジュール基板７で構成される。
【００１５】
また、図４に示すように、ケーブルモジュール５とＬＳＩ３は、電気コネクタ８と電極パッド９、１０を介して接続される。この際、電極パッド（配線パッド部）９、１０において寄生容量が発生し、電極パッド９、１０と電気コネクタ８と間の接続部であるパッドーコネクタ接続部において、特性インピーダンスが低下してしまう。
【００１６】
図５を参照して、パッドーコネクタ接続部における特性インピーダンスの一例について説明する。  
図５の点線部１１に示すように、パッド−コネクタ接合部で特性インピーダンスの低下が確認できる。特性インピーダンスの低下は５０Ｇｂｉｔ／ｓ以上の高速信号において特に顕著になる。この結果、反射の影響が増大し信号品質が劣化してしまう。
【００１７】
パッド−コネクタ接続部における特性インピーダンス低下を抑制する従来方法として、電極パッドの下部のグランド電極の一部を除去して寄生容量の発生を抑制する方法がある（特許文献１参照）。しかし、５０Ｇｂｉｔ／ｓ以上の高速信号においては、電極パッド間における電磁界結合が増加する。このため、従来方法では特性インピーダンスを効果的の抑制することは困難である。
【００１８】
この理由について、図６、図７を参照して説明する。
【００１９】
図６に、従来方法を用いたパッドーコネクタ接続部における特性インピーダンスのシミュレーション結果を示す。実線は寄生容量未対策時、点線は従来方法による寄生容量対策時のシミュレーション結果である。  
図６に示すように、寄生容量未対策時（実線）に比べて、従来方法による寄生容量対策時（点線）では、パッド−コネクタ接合部で特性インピーダンスの低下がそれほど改善されていないことが確認できる。
【００２０】
図７にパッド−コネクタ接続部の断面における電気力線の概略図を示す。（ａ）は寄生容量未対策時の電気力線を示し、（ｂ）は従来方法による寄生容量対策時の電気力線を示す。
【００２１】
パッド−コネクタ接続部の断面は、誘電体基板１０１、一対の差動信号用の電極パッド１０２、一対のグランド用の電極パッド１０３、グランド電極１０４で構成されている。また、電界力線を点線１０５で表している。
【００２２】
図７（ｂ）に示すように、差動信号用の電極パッド１０２の下側のグランド電極１０４は、その一部が除去されて開口部１０６が形成されている。この構成では、図６に示すように、特性インピーダンスの抑制効果が小さいことがわかる。これは、寄生容量が、グランド電極１０４と電極パッド１０２との間だけでなく、図７（ｂ）の一点破線部１０７に示すように、電極パッド１０２、１０３との間でも発生するためである。
【００２３】
以下の実施例では、特に、パッド−コネクタ接続部における電極パッド間でも発生する寄生容量をも抑制することにより特性インピーダンスの低下を効果的に抑制する。
【実施例１】
【００２４】
図８〜１１を参照して、実施例１の高周波回路基板の構成について説明する。
【００２５】
図８に示すように、実施例１の高周波回路基板は、ボード誘電体基板１３、モジュール誘電体基板７、ＬＳＩ３、一対の差動信号配線１６、一対のグランド配線１７、一対のグランド配線パッド部９５、一対のグランド配線パッド部２０５、一対の差動信号パッド部９０、一対の差動信号パッド部２００、電気コネクタ８、メタルケーブル６、グランド電極１８、１９を有する。ここで、ナイキスト周波数が２５ＧＨｚ以上の信号が差動信号配線１６に印加される。
【００２６】
ボード誘電体基板１３の上には、ＬＳＩ３が設けられている。ボード誘電体基板１３の上に設けられた一対の差動信号配線１６の一端部は、一対の差動信号パット部９０を介して電気コネクタ８に接続されている。ボード誘電体基板１３の上に設けられた一対のグランド配線１７の一端部は、一対のグランド配線パッド部９５を介して電気コネクタ８に接続されている。一方、ボード誘電体基板１３の上に設けられた一対の差動信号配線１６の他端部と一対のグランド配線１７の他端部はＬＳＩ３に接続されている。
【００２７】
また、ボード誘電体基板１３の上には、モジュール誘電体基板７が設けられている。モジュール誘電体基板７の上に設けられた一対の差動信号配線１６の一端部は、一対の差動信号パッド部２００を介して電気コネクタ８に接続されている。モジュール誘電体基板７の上に設けられた一対のグランド配線１７の一端部は、一対のグランド配線パッド部２０５を介して電気コネクタ８に接続されている。一方、モジュール誘電体基板７の上に設けられた一対の差動信号配線１６の他端部と一対のグランド配線１６の他端部はメタルケーブル６に接続されている。
【００２８】
ボード誘電体基板１３には、グランド配線パッド部９５及び差動信号パッド部９０と電気コネクタ８と間の接続部に生じる寄生容量の発生を抑制する寄生容量発生抑制部がそれぞれ形成されている。実施例１では、寄生容量発生抑制部は、グランド配線パッド部９５と差動信号パッド部９０の間に形成された凹部状の空隙２２である。
【００２９】
また、モジュール誘電体基板７には、グランド配線パッド部２０５及び差動信号パッド部２００と電気コネクタ８と間の接続部に生じる寄生容量の発生を抑制する寄生容量発生抑制部がそれぞれ形成されている。実施例１では、寄生容量発生抑制部は、グランド配線パッド部２０５と差動信号パッド部２００の間に形成された凹部状の空隙２２である。
【００３０】
図９、図１０を参照して、ボード誘電体基板１３及びモジュール誘電体基板７に形成された凹部状の空隙２２について説明する。
【００３１】
ここで、図８の点線部２０、２１の上面図と断面図を図９、図１０にそれぞれ示す。図９（ａ）と図１０（ａ）は、一対のグランド配線パッド部９５及び一対の差動信号パッド部９０付近の上面図と点線部２０の断面図であり、図９（ｂ）と図１０（ｂ）は、一対のグランド配線パッド部２０５及び一対の差動信号パッド部２００付近の上面図と点線部２１の断面図である。
【００３２】
ボード誘電体基板１３、モジュール誘電体基板１９は、例えば、比誘電率３．５〜４．２の多層基板で形成されている。凹型の空隙２２は、パッドーコネクタ接続部における一対のグランド配線パッド部９５及び一対の差動信号パッド部９０と一対のグランド配線パッド部２０５及び一対の差動信号パッド部２００の間に形成される。
【００３３】
まず、図９（ａ）、図１０（ａ）を参照して、誘電体基板がボード誘電体基板１３の場合について説明する。
【００３４】
ボード誘電体基板１３の表面には、一対の差動信号配線１６が設けられている。一対の差動信号配線１６の両外側には、一対のグランド配線１７が設けられている。一対の差動信号配線１６の一端部には、一対の差動信号パッド部９０が設けられている。一対のグランド配線１７の一端部には、一対のグランド配線パッド部９５が設けられている。
【００３５】
第１のグランド配線パッド部９５ａと第１の差動信号パッド部９０ａとの間には、空隙（第１の空隙）２２ａが設けられている。第１の差動信号パッド部９０ａと第２の差動信号パッド部９０ｂとの間には、空隙２２ｂ（第２の空隙）が設けられている。第２の差動信号パッド部９０ｂと第２のグランド配線パッド部９５ｂとの間には、空隙２２ｃ（第３の空隙）が設けられている。
【００３６】
このように、ボード誘電体基板１３の表面に形成された一対のグランド配線パッド部９５及び一対の差動信号パッド部９０と間に凹型の空隙２２を形成する。ボード誘電体基板１３の表面に形成された一対のグランド配線パッド部９５及び一対の差動信号パッド部９０の間の電気力線が集中している部分に空隙２２を形成する。これにより、ボード誘電体基板１３の表面に形成された一対のグランド配線パッド部９５及び一対の差動信号パッド部９０の間の誘電率が低下する。寄生容量は誘電率に比例するため、パッド−コネクタ接続部における寄生容量の低減が可能で、特性インピーダンスを抑制することができる。
【００３７】
次に、図９（ｂ）、図１０（ｂ）を参照して、誘電体基板がモジュール誘電体基板７の場合について説明する。
【００３８】
モジュール誘電体基板７の表面には、一対の差動信号配線１６が設けられている。一対の差動信号配線１６の両外側には、一対のグランド配線１７が設けられている。一対の差動信号配線１６の一端部には、一対の差動信号パッド部２００が設けられている。一対のグランド配線１７の一端部には、一対のグランド配線パッド部２０５が設けられている。
【００３９】
第１のグランド配線パッド部２０５ａと第１の差動信号パッド部２００ａとの間には、空隙（第１の空隙）２２ａが設けられている。第１の差動信号パッド部２００ａと第２の差動信号パッド部２００ｂとの間には、空隙２２ｂ（第２の空隙）が設けられている。第２の差動信号パッド部２００ｂと第２のグランド配線パッド部２０５ｂとの間には、空隙２２ｃ（第３の空隙）が設けられている。
【００４０】
このように、モジュール誘電体基板７の表面に形成された一対のグランド配線パッド部２０５及び一対の差動信号パッド部２００と間に凹型の空隙２２を形成する。モジュール誘電体基板７の表面に形成された一対のグランド配線パッド部２０５及び一対の差動信号パッド部２００の間の電気力線が集中している部分に空隙２２を形成する。これにより、モジュール誘電体基板７の表面に形成された一対のグランド配線パッド部２０５及び一対の差動信号パッド部２００の間の誘電率が低下する。寄生容量は誘電率に比例するため、パッド−コネクタ接続部における寄生容量の低減が可能で、特性インピーダンスを抑制することができる。
【００４１】
図１１に、実施例１を用いた場合の特性インピーダンスのシミュレーション結果を示す。
実線が実施例１、点線が従来方法を使用した場合の結果である。
図１１に示すように、実施例１によって一破線部２３で示すパッド−コネクタ接続部の特性インピーダンスが増加していることを確認できる。
【００４２】
このように、実施例１によれば、誘電体基板上に作製された電極パッド間の誘電体を凹型の空隙にすることで、電極パッド（グランド配線パッド部９５、２０５及差動信号パッド部９０、２００）における特性インピーダンス低下を抑制することができる。
【実施例２】
【００４３】
図１２、図１３を参照して、実施例２の高周波回路基板の構成について説明する。
【００４４】
図１２に示す実施例２の高周波回路基板は、図８に示す実施例１の高周波回路基板と同じほぼ同様である。
具体的には、図１２に示す実施例２の高周波回路基板は、ボード誘電体基板１３、モジュール誘電体基板７、ＬＳＩ３、メタルケーブル６、グランド電極１８、１９、差動信号配線１６、グランド配線１７、電気コネクタ８、一対のグランド配線パッド部９５、２０５及び一対の差動信号パッド部９０、２００を有する。ボード誘電体基板１３、モジュール誘電体基板７は、例えば、比誘電率３．５〜４．２の多層基板を使用する。
【００４５】
図１２に示す実施例２の高周波回路基板が、図８に示す実施例１の高周波回路基板と異なる点は、実施例１では、コネクタ接合部の一対のグランド配線パッド部９５、２０５及び一対の差動信号パッド部９０、２００の間に凹型の空隙２２が形成されているのに対して、実施例２では、コネクタ接合部の一対のグランド配線パッド部９５、２０５及び一対の差動信号パッド部９０、２００の間に形成された凹型の空隙２２に誘電体１３０が埋め込まれている点である。
【００４６】
まず、図１３（ａ）を参照して、誘電体基板がボード誘電体基板１３の場合について説明する。
図１３（ａ）は、ボード誘電体基板１３の上に設けられたグランド配線パッド部９５及びの差動信号パッド部９０付近の断面図である。
【００４７】
ボード誘電体基板１３の表面には、一対の差動信号配線１６が設けられている。一対の差動信号配線１６の両外側には、一対のグランド配線１７が設けられている。一対の差動信号配線１６の一端部には、一対の差動信号パッド部９０が設けられている。一対のグランド配線１７の一端部には、一対のグランド配線パッド部９５が設けられている。
【００４８】
第１のグランド配線パッド部９５ａと第１の差動信号パッド部９０ａとの間には、誘電体１３０ａ（第１の誘電体）が埋め込まれている。第１の差動信号パッド部９０ａと第２の差動信号パッド部９０ｂとの間には、誘電体１３０ｂ（第２の誘電体）が埋め込まれている。第２の差動信号パッド部９０ｂと第２のグランド配線パッド部９５ｂとの間には、誘電体１３０ｃ（第３の誘電体）が埋め込まれている。
【００４９】
このように、ボード誘電体基板１３の表面に形成された一対のグランド配線パッド部９５及び一対の差動信号パッド部９０と間に、第１、第２及び第３の誘電体１３０が埋め込まれている。
【００５０】
ボード誘電体基板１３の表面に形成された一対のグランド配線パッド部９５及び一対の差動信号パッド部９０の間の電気力線が集中している部分に誘電体１３０が埋め込まれている。これにより、ボード誘電体基板１３の表面に形成された一対のグランド配線パッド部９５及び一対の差動信号パッド部９０の間の誘電率が低下する。寄生容量は誘電率に比例するため、パッド−コネクタ接続部における寄生容量の低減が可能で、特性インピーダンスを抑制することができる。
【００５１】
次に、図１３（ｂ）を参照して、誘電体基板がモジュール誘電体基板７の場合について説明する。図１３（ｂ）は、モジュール誘電体基板上に設けられたグランド配線パッド部２０５及び差動信号パッド部２００付近の断面図である。
【００５２】
モジュール誘電体基板７の表面には、一対の差動信号配線１６が設けられている。一対の差動信号配線１６の両外側には、一対のグランド配線１７が設けられている。一対の差動信号配線１６の一端部には、一対の差動信号パッド部２００が設けられている。一対のグランド配線１７の一端部には、一対のグランド配線パッド部２０５が設けられている。
【００５３】
第１のグランド配線パッド部２０５ａと第１の差動信号パッド部２００ａとの間には、誘電体１３０ａ（第１の誘電体）が埋め込まれている。第１の差動信号パッド部２００ａと第２の差動信号パッド部２００ｂとの間には、誘電体１３０ｂ（第２の誘電体）が埋め込まれている。第２の差動信号パッド部２００ｂと第２のグランド配線パッド部２０５ｂとの間には、誘電体１３０ｃ（第３の誘電体）が埋め込まれている。
【００５４】
このように、モジュール誘電体基板７の表面に形成された一対のグランド配線パッド部２０５及び一対の差動信号パッド部２００の間の電気力線が集中している部分に誘電体１３０が埋め込まれている。これにより、モジュール誘電体基板７の表面に形成された一対のグランド配線パッド部２０５及び一対の差動信号パッド部２００の間の誘電率が低下する。寄生容量は誘電率に比例するため、パッド−コネクタ接続部における寄生容量の低減が可能で、特性インピーダンスを抑制することができる。
【００５５】
埋め込まれた誘電体１３０の誘電率は、ボード誘電体基板１３及びモジュール誘電体基板１９の誘電率より小さい。誘電体１３０は、例えば、樹脂により形成されている。
【００５６】
このように、ボード誘電体基板１３及びモジュール誘電体基板１９には、一対のグランド配線パッド部９５、２０５及び一対の差動信号パッド部９０、２００と電気コネクタ８と間の接続部に生じる寄生容量の発生を抑制する寄生容量発生抑制部がそれぞれ形成されている。実施例２では、寄生容量発生抑制部は、一対のグランド配線パッド部９５、２０５及び一対の差動信号パッド部９０、２００の間に埋め込まれた誘電体１３０である。
【００５７】
実施例２では、誘電体１３０を充填することで、実施例１に比べて基板強度の向上と空隙表面の保護による基板劣化の防止が可能である。
【符号の説明】
【００５８】
３  ＬＳＩ
６  メタルケーブル
７  モジュール誘電体基板
８  電気コネクタ
１３  ボード誘電体基板
１６  差動信号配線
１７  グランド配線
１８  グランド電極
１９  グランド電極
２２  空隙
９０  差動信号パッド部
９５  グランド配線パッド部
１３０  誘電体
２００  差動信号パッド部
２０５  グランド配線パッド部
【図１】
2019054036.tif 000003
【図２】
2019054036.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７（ａ）】
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【図７（ｂ）】
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【図８】
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【図９（ａ）】
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【図９（ｂ）】
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【図１０（ａ）】
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【図１０（ｂ）】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３（ａ）】
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【図１３（ｂ）】
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