(57)【要約】【課題】経路検証時の計算量を削減する検証プログラム、検証方法及び検証装置を提供する。【解決手段】検証プログラムは、装置に配置される紐状部品又は帯状部品の中心経路に近似する線の構成点に、当該構成点を包含し得る探索範囲を生成する処理をコンピュータに実行させる。検証プログラムは、探索範囲と、装置の部品周辺の範囲との干渉の有無をチェックする処理をコンピュータに実行させる。また、検証プログラムは、チェックの結果を可視化する処理をコンピュータに実行させる。【選択図】図５
2019152909.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検証対象である装置に配置される紐状部品又は帯状部品の中心経路に近似する線の構成点に、当該構成点を包含し得る探索範囲を生成し、
前記探索範囲と、前記装置の部品周辺の範囲との干渉の有無をチェックし、
前記チェックの結果を可視化する
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする検証プログラム。
【請求項２】
前記生成する処理は、前記構成点を中心とする探索球を、前記探索範囲として生成することを特徴とする請求項１に記載の検証プログラム。
【請求項３】
前記紐状部品又は前記帯状部品の中心経路を設定し、
前記中心経路に近似する直線を生成する処理をさらに前記コンピュータに実行させ、
前記生成する処理は、前記近似する直線と前記中心経路との交点に前記構成点を設定し、当該構成点を含む前記探索範囲を生成することを特徴とする請求項１又は２に記載の検証プログラム。
【請求項４】
前記チェックする処理は、前記探索範囲が、前記装置の部品周辺の禁止範囲と干渉するか否かをチェックし、
前記可視化する処理は、前記探索範囲が前記禁止範囲と干渉する部分を不適合部分として強調表示する
ことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載の検証プログラム。
【請求項５】
前記チェックする処理は、前記探索範囲が連続して前記禁止範囲と干渉する区間を特定し、
前記可視化する処理は、特定された前記区間の区間長を示す情報を出力する
ことを特徴とする請求項４に記載の検証プログラム。
【請求項６】
前記チェックする処理は、前記探索範囲が、前記装置の部品周辺の推奨範囲内に含まれるか否かをチェックし、
前記可視化する処理は、前記探索範囲が前記推奨範囲から逸脱した部分を不適合部分として強調表示する
ことを特徴とする請求項１〜５のいずれか１つに記載の検証プログラム。
【請求項７】
前記装置の外部から、前記探索範囲を視認できる部分を特定する処理をさらに前記コンピュータに実行させ、
前記可視化する処理は、特定された前記視認できる部分に含まれる探索範囲を不適合部分として強調表示する
ことを特徴とする請求項１〜６のいずれか１つに記載の検証プログラム。
【請求項８】
前記不適合部分の選択を受け付け、
選択を受け付けた前記不適合部分を移動することにより、前記不適合部分に含まれる探索範囲を、前記不適合部分の範囲外へ移動する
処理をさらに前記コンピュータに実行させることを特徴とする請求項４又は７に記載の検証プログラム。
【請求項９】
コンピュータが、
検証対象である装置に配置される紐状部品又は帯状部品の中心経路に近似する線の構成点に、当該構成点を包含し得る探索範囲を生成し、
前記探索範囲と、前記装置の部品周辺の範囲との干渉の有無をチェックし、
前記チェックの結果を可視化する
処理を行うことを特徴とする検証方法。
【請求項１０】
検証対象である装置に配置される紐状部品又は帯状部品の中心経路に近似する線の構成点に、当該構成点を包含し得る探索範囲を生成する生成部と、
前記探索範囲と、前記装置の部品周辺の範囲との干渉の有無をチェックするチェック部と、
前記チェックの結果を可視化する出力部と
を有することを特徴とする検証装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検証プログラム、検証方法及び検証装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ワイヤハーネスを設計する際、電子機器から放射される電磁ノイズの影響を最小限に抑えるために、プリント基板などのノイズ発生源からワイヤハーネスを遠ざけて配置し、又は導電性筐体面に沿って配置することが望ましい。そのために、例えば、ワイヤハーネスなどの紐状又は帯状の部品の設計段階において、紐状又は帯状の部品を精度よくモデル化する装置が知られている。当該装置は、ワイヤハーネスを構成する電線と、治具板に配置される、該治具板上へのワイヤハーネスの配索を可能とする固定具と、をモデル化するための数値の入力を受け付ける。当該装置は、入力された数値を含む数値を初期値として、電線が他の電線を含むその他の物体に埋没するかのように位置付けされることを回避するアルゴリズムに基づく演算の結果から得られる電線に関する情報に基づいて、固定具に配索された電線を表示する。
【０００３】
また、ケーブルの立体的な配線を容易にするケーブル配線経路設計支援装置も知られている。当該装置は、ケーブルを通過させるべき箇所を示す複数の制御点を取得し、複数の制御点をケーブルが通過するように、ケーブルの自重により生じるケーブルのたわみを考慮したケーブルの第１経路を算出する。当該装置は、記憶部に記憶された、配線経路が満たすべき条件を満たすか否かを判定し、第１経路が条件を満たさないと判定した場合、第１経路とは異なる第２経路を算出する。さらに、電磁ノイズの影響を最小限に抑えるために、二つの配線を撚ることが望ましい箇所を特定する技術も知られている。当該装置は、二つの配線が、条件を満たすか否かを判定し、条件を満たさないと判定した場合、二つの配線を撚るように各配線の経路を補正する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−１４９０９９号公報
【特許文献２】特開２００９−１９３１５６号公報
【特許文献３】特開２００９−１９９３８６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、ワイヤハーネスなどの紐状又は帯状の部品は、柔軟に形状が変わるため、可動域が大きい。上記技術においては、装置の部品にワイヤハーネスなどが干渉するか否かを検証する際の計算量が大きくなる。
【０００６】
一つの側面では、経路検証時の計算量を削減できる検証プログラム、検証方法及び検証装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
一つの態様において、検証プログラムは、装置に配置される紐状部品又は帯状部品の中心経路に近似する線の構成点に、当該構成点を包含し得る探索範囲を生成する処理をコンピュータに実行させる。検証プログラムは、探索範囲と、装置の部品周辺の範囲との干渉の有無をチェックする処理をコンピュータに実行させる。また、検証プログラムは、チェックの結果を可視化する処理をコンピュータに実行させる。
【発明の効果】
【０００８】
一つの態様によれば、経路検証時の計算量を削減できる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、実施例１におけるハーネスと禁止範囲との干渉状態の一例を示す図である。
【図２】図２の（ａ）及び（ｂ）は、実施例１におけるハーネスと推奨範囲との関係の一例を示す図である。
【図３】図３は、検証処理の一例を示す図である。
【図４】図４は、検証処理の別の一例を示す図である。
【図５】図５は、実施例１における検証装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図６】図６は、実施例１における範囲ＤＢの一例を示す図である。
【図７】図７は、実施例１における探索球ＤＢの一例を示す図である。
【図８】図８は、実施例１における不適合ＤＢの一例を示す図である。
【図９】図９は、実施例１における中心経路及び近似直線の一例を示す図である。
【図１０】図１０の（ａ）及び（ｂ）は、実施例１における探索範囲生成処理の一例を示す図である。
【図１１】図１１は、実施例１における不適合結果表示の一例を示す図である。
【図１２】図１２は、実施例１における不適合結果表示の別の一例を示す図である。
【図１３】図１３は、実施例１における不適合結果表示の別の一例を示す図である。
【図１４】図１４は、実施例１における検証処理の一例を示すフローチャートである。
【図１５】図１５は、実施例１における干渉チェック処理の一例を示すフローチャートである。
【図１６】図１６は、実施例１における判定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１７】図１７は、実施例１における可視化処理の一例を示すフローチャートである。
【図１８】図１８は、実施例２におけるハーネスと開口部との関係の一例を示す図である。
【図１９】図１９は、実施例２における検証装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図２０】図２０は、実施例２における不適合ＤＢの一例を示す図である。
【図２１】図２１は、実施例２における開口部ＤＢの一例を示す図である。
【図２２】図２２は、実施例２における露出部チェック処理の一例を示す図である。
【図２３】図２３は、実施例２における不適合結果表示の一例を示す図である。
【図２４】図２４は、実施例２における検証処理の一例を示すフローチャートである。
【図２５】図２５は、実施例２における露出部特定処理の一例を示すフローチャートである。
【図２６】図２６は、実施例２における判定処理の一例を示すフローチャートである。
【図２７】図２７は、実施例３における検証装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図２８】図２８は、実施例３における是正表示の一例を示す図である。
【図２９】図２９は、実施例３における検証処理の一例を示すフローチャートである。
【図３０】図３０は、実施例３における推奨経路生成処理の一例を示すフローチャートである。
【図３１】図３１は、実施例３における経路調整処理の一例を示すフローチャートである。
【図３２】図３２は、実施例４における不適合結果表示の一例を示す図である。
【図３３】図３３の（ａ）及び（ｂ）は、実施例４における不適合結果表示の別の一例を示す図である。
【図３４】図３４は、ハードウェア構成の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に、本願の開示する検証プログラム、検証方法及び検証装置の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。また、以下に示す各実施例は、矛盾を起こさない範囲で適宜組み合わせてもよい。
【実施例１】
【００１１】
まず、設計対象の電子機器における、ワイヤハーネスなどの紐状又は帯状の部品の配置と電磁ノイズとの関係について、図１と図２の（ａ）及び（ｂ）とを用いて説明する。なお、以下において、設計対象の電子機器を、単に「機器」と表記する場合があり、ワイヤハーネスなどの紐状又は帯状の部品を、単に「ハーネス」と表記する場合がある。
【００１２】
電磁ノイズは、機器の部品であるプリント基板などの高速信号（クロック）の動作などにより発生し、ハーネスに伝播する。そこで、ハーネスを設計する際は、電磁ノイズを発生させるプリント基板などからハーネスを遠ざけることが望ましい。なお、以下において、プリント基板などの周辺など、電磁ノイズ低減のために避けることが望ましい範囲を、「禁止範囲」と表記する場合がある。また、以下において、電磁ノイズを、単に「ノイズ」と表記する場合がある。
【００１３】
図１は、実施例１におけるハーネスと禁止範囲との干渉状態の一例を示す図である。図１において、ハーネスＨ０１は、プリント基板Ｐ１上のコネクタＣ０１を起点とし、コネクタＣ０２を通じて筐体ＣＣ０の外部に露出する。
【００１４】
図１において、プリント基板Ｐ１は、クロックの動作に伴いノイズを発生する。図１に示すように、ハーネスＨ０１がプリント基板Ｐ１周辺の禁止範囲ＦＡ１を通過する場合、ハーネスＨ０１にプリント基板Ｐ１からノイズＮｚが伝播する。この場合、コネクタＣ０２において、ハーネスＨ０１から筐体外へノイズＲＮｚが放射される。そこで、ハーネスＨ０１は、禁止範囲ＦＡ１を避けることが好ましい。
【００１５】
一方、導電性筐体の近接面にハーネスを配置すると、ハーネスに伝播したノイズが導電性筐体に伝播することにより、ハーネスから筐体外へ放射されるノイズを低減できる場合がある。なお、以下において、導電性筐体の近接面など、ノイズ低減のために通過することが望ましい範囲を「推奨範囲」と表記する場合がある。
【００１６】
図２の（ａ）及び（ｂ）は、実施例１におけるハーネスと推奨範囲との関係の一例を示す図である。図１に示す例とは異なり、図２の（ａ）及び（ｂ）においては、ハーネスＨ０２ａはプリント基板Ｐ１の上を通過しない。しかし、この場合においても、ハーネスＨ０２ａには、図２の（ａ）に示すように、プリント基板Ｐ１から放射され、導電性筐体ＣＣ１で反射したノイズＮｚが伝播する。この際、ハーネスＨ０２ａが推奨範囲ＲＡ１を通過しないと、ノイズＲＮｚは低減することなく筐体外へ放射される。
【００１７】
一方、図２の（ｂ）に示すように、ハーネスＨ０２ｂが推奨範囲ＲＡ１を通過する場合、ハーネスＨ０２ｂに伝播したノイズＮｚは導電性筐体ＣＣ１に伝播するので、ハーネスＨ０２ｂから筐体外へ放射されるノイズＲＮｚを低減できる。
【００１８】
ところで、機器内においてハーネスのような紐状の柔軟物の配置を検証する際、例えばハーネスの経路上の全ての空き空間を、機器の全ての設計部品から計算し、自由曲面対平行などを測定する場合がある。検証処理の一例について、図３及び図４を用いて説明する。
【００１９】
図３は、検証処理の一例を示す図である。図３に示す検証処理においては、例えばプリント基板Ｐ１やコネクタＣ０１など、ノイズの発生源や導電性筐体などの部品の位置が特定される。そして、例えばプリント基板Ｐ１の表面を一定距離オフセットした範囲ＯＡ１などが特定され、ハーネスとの干渉チェックに用いられる。
【００２０】
この場合において、部品側の面と面が変化する場所、例えばコネクタＣ０１の表面を一定距離オフセットした範囲ＢＡ２とＢＡ３との延長線上にある範囲ＢＡ１などにおいては、ハーネスが山折りになったり谷折りになったりする場合がある。この場合、例えば、一定距離の面を作成するために、範囲ＢＡ２及びＢＡ３に対してブーリアン演算などを行うことにより、計算量が増大する場合がある。
【００２１】
また、ハーネスの同一経路に、ハーネスの断面径を一定距離オフセットすることにより、ハーネスと部品との干渉チェックが行われる場合がある。図４は、検証処理の別の一例を示す図である。図４においては、例えばコネクタＣ０１からコネクタＣ０２に至るまでのハーネスの断面径をオフセットした範囲ＭＡ１を、ハーネスの最大外形として特定する。
【００２２】
この場合において、ハーネスは柔軟性があるので、ハーネスの断面径に応じて特定されるハーネスの最大外形は大きくなる。ハーネスの最大外形は大きくなると、例えばＡＡＢＢ（Axis-Aligned  Bounding  Box）などにより最大外形を利用した計算対象を減らす効果が期待できない。
【００２３】
そこで、本実施例においては、後に説明する検証装置１００は、ハーネスを紐状の部品として、紐の中心経路を抽出し、経路を中心とする球モデルを生成し、球モデルと各部品との間で干渉チェックを行う。検証装置１００は、ハーネスの経路に対応する構成点を生成し、構成点を中心とする探索球を生成する。そして、検証装置１００は、探索球と各部品との干渉関係を検証し、検証結果を可視化する。これにより、経路検証時の計算量を削減できる。
【００２４】
［機能ブロック］
次に、本実施例における検証装置１００の一例について、図５を用いて説明する。図５は、実施例１における検証装置の構成の一例を示すブロック図である。図５に示すように、本実施例における検証装置１００は、外部Ｉ／Ｆ（Interface）１１０と、記憶部１２０と、制御部１３０とを有する。
【００２５】
外部Ｉ／Ｆ１１０は、例えば検証装置１００の利用者（不図示）の端末（不図示）など、その他のコンピュータなどとの通信や入出力を制御する。また、外部Ｉ／Ｆ１１０は、例えば検証装置１００の利用者などのユーザなどとの入出力を制御するデバイスであってもよい。外部Ｉ／Ｆ１１０は、例えばＮＩＣ（Network  Interface  Card）などの通信インタフェースなどであるが、これに限られず、キーボードなどの入力デバイスや、ディスプレイなどの出力デバイスから構成されていてもよい。
【００２６】
記憶部１２０は、例えば制御部１３０が実行するプログラムなどの各種データなどを記憶する記憶装置の一例であり、例えばメモリなどである。記憶部１２０は、範囲データベース（ＤＢ）１２１、探索球ＤＢ１２２及び不適合ＤＢ１２３を有する。なお、以下の説明では、データベース（Database）を「ＤＢ」と表記する場合がある。
【００２７】
範囲ＤＢ１２１は、機器を構成する部品に関する情報を記憶する。図６は、実施例１における範囲ＤＢの一例を示す図である。図６に示すように、範囲ＤＢ１２１は、例えば、「部品ＩＤ」に対応付けて、「種別」と、「中心座標」及び「サイズ」とを対応付けて記憶する。なお、範囲ＤＢ１２１に記憶される情報は、例えば検証装置１００の管理者（不図示）により予め入力される。範囲ＤＢ１２１は、例えば、部品１個ごとに１レコードとして記憶する。
【００２８】
図６において、「部品ＩＤ（IDentifier）」は、機器を構成する部品を一意に識別する識別子である。「種別」は、部品ＩＤに対応する部品が、例えばプリント基板Ｐ１のように禁止範囲を生じさせる部品であるか、又は導電性筐体ＣＣ１のように推奨範囲を生じさせる部品であるかを示す情報である。「中心座標」及び「サイズ」は、部品ＩＤに対応する部品の機器における位置及び当該部品の大きさを示す情報である。
【００２９】
探索球ＤＢ１２２は、ハーネスの近似直線に沿って生成される探索球に関する情報を記憶する。図７は、実施例１における探索球ＤＢの一例を示す図である。図７に示すように、探索球ＤＢ１２２は、「構成点ＩＤ」と、「中心座標」と、「半径（禁止）」と、「半径（推奨）」とを対応付けて記憶する。なお、探索球ＤＢ１２２に記憶される情報は、例えば後に説明する検証装置１００の探索球生成部１４４により入力される。探索球ＤＢ１２２は、例えば、探索球１個ごとに１レコードとして記憶する。
【００３０】
図７において、「構成点ＩＤ」は、生成される探索範囲に対応する構成点を一意に識別する識別子である。「中心座標」は、構成点ＩＤに対応する探索範囲のハーネスにおける位置を示す情報である。「半径（禁止）」は、禁止範囲との干渉チェックの際に用いる探索範囲の大きさを示す情報である。「半径（推奨）」は、推奨範囲との干渉チェックの際に用いる探索範囲の大きさを示す情報である。
【００３１】
不適合ＤＢ１２３は、干渉チェック処理において、不適合であると判定された探索範囲に関する情報を記憶する。図８は、実施例１における不適合ＤＢの一例を示す図である。図８に示すように、不適合ＤＢ１２３は、例えば、「構成点ＩＤ」に対応付けて、「種別」と「距離」とを記憶する。なお、不適合ＤＢ１２３に記憶される情報は、例えば後に説明する検証装置１００の干渉チェック部１３５により入力される。不適合ＤＢ１２３は、例えば、不適合であると判定された探索範囲１個ごとに１レコードとして記憶する。
【００３２】
図８において、「構成点ＩＤ」は、不適合であると判定された探索範囲に対応する構成点を示す情報である。「種別」は、不適合の種別が、禁止範囲への干渉であるか、又は推奨範囲からの逸脱であるかを示す情報である。「距離」は、部品ＩＤに対応する部品の機器における位置及び当該部品の大きさを示す情報である。
【００３３】
図５に戻って、制御部１３０は、検証装置１００全体を司る処理部であり、例えばプロセッサなどである。制御部１３０は、生成部１４０、干渉チェック部１３５、判定部１３６及び出力部１３７を有する。なお、生成部１４０、干渉チェック部１３５、判定部１３６及び出力部１３７は、プロセッサが有する電子回路の一例やプロセッサが実行するプロセスの一例である。
【００３４】
生成部１４０は、機器内におけるハーネスの経路を生成するとともに、ハーネスの周辺に探索範囲を生成する。生成部１４０は、経路生成部１４１と、近似直線生成部１４２と、構成点生成部１４３と、探索球生成部１４４とを有する。
【００３５】
経路生成部１４１は、機器内を通過するハーネスの仮の経路を生成する。経路生成部１４１は、例えば図６に示す範囲ＤＢ１２１を参照し、部品と干渉しない位置に、ハーネスの経路を仮設定する。
【００３６】
近似直線生成部１４２は、生成されたハーネスの仮の経路に近似する直線を生成する。図９は、実施例１における中心経路及び近似直線の一例を示す図である。図９に示すように、近似直線生成部１４２は、例えば、ハーネスの仮の経路ＣＲ１に対し、乖離ＤＶ１が最小となるような近似直線ＡＰ１を生成する。近似直線生成部１４２が生成する近似直線ＡＰ１は、例えば、ハーネスの仮の経路ＣＲ１の屈折点ＦＰ１からＦＰ６までを結ぶ複数の直線を含む。
【００３７】
構成点生成部１４３は、生成された近似直線上に、探索球の中心となる構成点を生成する。構成点生成部１４３は、例えば図９に示す近似直線ＡＰ１上の屈折点ＦＰ１からＦＰ６までの６つの屈折点を構成点とする。
【００３８】
探索球生成部１４４は、生成された構成点を中心とする探索球を生成する。図１０の（ａ）及び（ｂ）は、実施例１における探索範囲生成処理の一例を示す図である。例えば、図１０の（ａ）に示すように、ハーネスＨ０３上の構成点ＣＰ０１からＣＰ１３までの周辺に対して、それぞれ探索球ＬＵ０１からＬＵ１３を生成する。
【００３９】
なお、構成点生成部１４３は、計算量を削減するために、構成点を、ハーネスＨ０３が屈曲する部分にのみ生成し、直線部分における構成点の生成を抑止する場合がある。構成点生成部１４３は、例えば、図１０の（ｂ）に示すように、構成点ＣＰ０７とＣＰ１３との間のハーネスＨ０３が直線を構成する場合、構成点ＣＰ０７とＣＰ１３との間における構成点の生成を抑止してもよい。
【００４０】
この場合において、探索球生成部１４４は、構成点の生成が抑止された部分においても探索球を生成するために、構成点ＣＰ０７とＣＰ１３との間に、ＣＣＰ０８からＣＣＰ１２までの各構成点を新たに補間してもよい。
【００４１】
干渉チェック部１３５は、探索球と禁止範囲又は推奨範囲との干渉チェック処理を行う。干渉チェック部１３５は、範囲ＤＢ１２１及び探索球ＤＢ１２２を参照し、探索球が禁止範囲に干渉するか否かを判定する。なお、干渉チェック部１３５は、チェック部の一例である。
【００４２】
干渉チェック部１３５は、探索球が禁止範囲に干渉すると判定した場合、当該探索球に対応する構成点、及び当該禁止範囲の中で、当該構成点までの距離が最も短い部分に関する情報を、不適合ＤＢ１２３に記憶する。なお、以下において、当該構成点までの距離が最も短い部分を「最短点」と表記する場合がある。
【００４３】
また、範囲ＤＢ１２１及び探索球ＤＢ１２２を参照し、探索球が推奨範囲に含まれるか否かを判定する。干渉チェック部１３５は、探索球が推奨範囲を逸脱すると判定した場合、当該探索球に対応する構成点、及び当該推奨範囲の中での最短点に関する情報を、不適合ＤＢ１２３に記憶する。
【００４４】
判定部１３６は、連続する構成点が不適合範囲を構成するか否かを判定する。判定部１３６は、不適合ＤＢ１２３に登録された構成点を抽出する。そして、判定部１３６は、抽出した構成点に隣接する構成点が不適合ＤＢ１２３に登録されている場合、当該複数の構成点を含む区間を、不適合区間であると判定し、当該区間の全長を算出する。そして、判定部１３６は、当該区間が、ハーネス全体に占める割合を算出する。
【００４５】
出力部１３７は、検証処理の結果を出力する。本実施例における検証処理の結果の一例について、図１１から図１３までを用いて説明する。図１１は、実施例１における不適合結果表示の一例を示す図である。図１１は、ハーネスの部分ＩＡ１に対応する探索球ＬＵ２１が、不適合部分ＭＭ１と干渉することを示す。また、図１１は、ハーネスの部分ＩＡ２に対応する探索球ＬＵ２２が、不適合部分ＭＭ２と干渉することを示す。また、図１１に示す不適合結果表示は、不適合区間に含まれる構成点に関する情報を示す表ＴＢ１１をさらに含む。
【００４６】
なお、探索範囲の表示は、他の態様であってもよい。図１２は、実施例１における不適合結果表示の別の一例を示す図である。図１２は、探索範囲ＬＵ２２を、複数の探索球が連結された円柱状の形状で示す。また、図１２は、不適合部分ＭＭ１及びＭＭ２の強調表示３１をさらに含む。
【００４７】
図１３は、実施例１における不適合結果表示の別の一例を示す図である。図１３は、不適合部分３１とハーネスとの距離が不適合である部分を直線３２で示す。また、図１３は、不適合部分３１とハーネスとの距離が最も近くなる最短点を矢印３３で示す。
【００４８】
［処理の流れ］
次に、本実施例における処理について、図１４から図１７までを用いて説明する。図１４は、実施例１における検証処理の一例を示すフローチャートである。図１４に示すように、検証装置１００の経路生成部１４１は、例えば外部Ｉ／Ｆ１１０を通じて開始指示を受け付けたか否かを判定する（Ｓ１０）。経路生成部１４１は、開始指示を受け付けていないと判定した場合（Ｓ１０：Ｎｏ）、開始指示を受け付けるまで待機する。
【００４９】
経路生成部１４１は、開始指示を受け付けたと判定した場合（Ｓ１０：Ｙｅｓ）、ハーネスの中心経路を生成する（Ｓ１１）。次に、近似直線生成部１４２は、生成された中心経路に近似する直線を形成する（Ｓ１２）。次に、構成点生成部１４３は、生成された近似直線に対応する構成点を形成する（Ｓ１３）。次に、探索球生成部１４４は、生成された構成点に対応する探索球を生成し、探索球ＤＢ１２２に記憶する（Ｓ１４）。
【００５０】
次に、干渉チェック部１３５は、干渉チェック処理を行う（Ｓ２０）。図１５は、実施例１における干渉チェック処理の一例を示すフローチャートである。まず、干渉チェック部１３５は、探索球ＤＢ１２２を参照し、未処理の探索球を特定する（Ｓ２０１）。次に、干渉チェック部１３５は、特定した探索球の周辺にある部品を検出する（Ｓ２０２）。
【００５１】
次に、干渉チェック部１３５は、探索球の周辺の部品が、禁止範囲を生じさせるか否かを判定する（Ｓ２０３）。干渉チェック部１３５は、禁止範囲を生じさせると判定した場合（Ｓ２０３：Ｙｅｓ）、探索球と当該部品が干渉するか否かを判定する（Ｓ２０４）。
【００５２】
干渉チェック部１３５は、探索球と当該部品が干渉すると判定した場合（Ｓ２０４：Ｙｅｓ）、不適合ＤＢ１２３に、当該探索球の構成点に関する情報、及び当該探索球と当該部品との距離を記憶し（Ｓ２０５）、Ｓ２０９に移行する。一方、干渉チェック部１３５は、探索球と当該部品が干渉しないと判定した場合（Ｓ２０４：Ｎｏ）、当該距離を記憶することなく、Ｓ２０９に移行する。
【００５３】
Ｓ２０３に戻って、干渉チェック部１３５は、禁止範囲を生じさせないと判定した場合（Ｓ２０３：Ｎｏ）、探索球の周辺の部品が推奨範囲を生じさせるか否かを判定する（Ｓ２０６）。干渉チェック部１３５は、推奨範囲を生じさせないと判定した場合（Ｓ２０６：Ｎｏ）、処理を行わずにＳ２０９に移行する。
【００５４】
一方、干渉チェック部１３５は、推奨範囲を生じさせると判定した場合（Ｓ２０６：Ｙｅｓ）、探索球と当該部品との距離が閾値以上であるか否か、すなわち探索球が推奨範囲から逸脱するか否かを判定する（Ｓ２０７）。
【００５５】
干渉チェック部１３５は、探索球が推奨範囲から逸脱すると判定した場合（Ｓ２０７：Ｙｅｓ）、不適合ＤＢ１２３に、当該探索球の構成点に関する情報、及び当該探索球と当該部品との距離を記憶し（Ｓ２０８）、Ｓ２０９に移行する。一方、干渉チェック部１３５は、探索球が推奨範囲から逸脱しないと判定した場合（Ｓ２０７：Ｎｏ）、当該距離を記憶することなく、Ｓ２０９に移行する。
【００５６】
干渉チェック部１３５は、探索球の周辺にある全ての部品について処理が完了したか否かを判定する（Ｓ２０９）。干渉チェック部１３５は、探索球の周辺にある全ての部品について処理が完了していないと判定した場合（Ｓ２０９：Ｎｏ）、Ｓ２０２に戻って処理を繰り返す。干渉チェック部１３５は、全ての部品について処理が完了したと判定した場合（Ｓ２０９：Ｙｅｓ）、全ての探索球について処理が完了したか否かを判定する（Ｓ２１０）。干渉チェック部１３５は、全ての探索球について処理が完了していないと判定した場合（Ｓ２１０：Ｎｏ）、Ｓ２０１に戻って処理を繰り返す。干渉チェック部１３５は、全ての探索球について処理が完了したと判定した場合（Ｓ２１０：Ｙｅｓ）、元の処理に戻る。
【００５７】
次に、判定部１３６は、判定処理を行う（Ｓ４０）。図１６は、実施例１における判定処理の一例を示すフローチャートである。まず、判定部１３６は、不適合ＤＢ１２３を参照し、不適合であると判定された構成点の中から最短点を抽出する（Ｓ４０１）。次に、判定部１３６は、最短点に隣接する構成点に対して、最短点の記録があるか否かを判定する（Ｓ４０２）。判定部１３６は、最短点の記録がないと判定した場合（Ｓ４０２：Ｎｏ）、Ｓ４０６に移行する。
【００５８】
一方、判定部１３６は、最短点の記録があると判定した場合（Ｓ４０２：Ｙｅｓ）、抽出した最短点と、隣接する構成点とをグループ化する（Ｓ４０３）。次に、判定部１３６は、グループ化された最短点の経路長を算出する（Ｓ４０４）。そして、判定部１３６は、ハーネスの全長に対する、グループ化された最短点の経路長の総和、すなわち不適合であると判定された部分の総延長の比率を算出する（Ｓ４０５）。その後、Ｓ４０６に移行する。
【００５９】
そして、判定部１３６は、全ての最短点について処理が完了したか否かを判定する（Ｓ４０６）。判定部１３６は、全ての最短点について処理が完了していないと判定した場合（Ｓ４０６：Ｎｏ）、Ｓ４０１に戻って処理を繰り返す。判定部１３６は、全ての最短点について処理が完了したと判定した場合（Ｓ４０６：Ｙｅｓ）、元の処理に戻る。
【００６０】
そして、出力部１３７は、可視化処理を行い（Ｓ５０）、処理を終了する。図１７は、実施例１における可視化処理の一例を示すフローチャートである。図１７に示すように、出力部１３７は、不適合ＤＢ１２３を参照し、不適合である構成点のうち、最も禁止範囲と探索球との距離が小さい最短点を抽出する（Ｓ５０１）。次に、出力部１３７は、最短点のチェック結果を表に追加する（Ｓ５０２）。
【００６１】
そして、出力部１３７は、最短点に該当する構成点をハイライト表示させる（Ｓ５０３）。出力部１３７は、全ての最短点について処理が完了したか否かを判定する（Ｓ５０４）。出力部１３７は、全ての最短点について処理が完了していないと判定した場合（Ｓ５０４：Ｎｏ）、Ｓ５０１に戻って処理を繰り返す。出力部１３７は、全ての最短点について処理が完了したと判定した場合（Ｓ５０４：Ｙｅｓ）、元の処理に戻る。
【００６２】
［効果］
以上説明したように、本実施例における検証装置１００は、装置に配置される紐状部品又は帯状部品の中心経路に近似する線の構成点に、当該構成点を包含し得る探索範囲を生成する。検証装置１００は、探索範囲と、装置の部品周辺の範囲との干渉の有無をチェックする。また、検証装置１００は、チェックの結果を可視化する。これにより、検証装置１００は、経路検証時の計算量を削減できる。
【００６３】
また、検証装置１００は、紐状部品又は帯状部品の中心経路を設定し、中心経路に近似する直線を生成する。検証装置１００は、近似する直線と中心経路との交点に構成点を設定し、当該構成点を含む探索範囲を生成する。これにより、計算量をさらに削減できる。
【００６４】
また、検証装置１００は、探索範囲が、装置の部品周辺の禁止範囲と干渉するか否かをチェックし、探索範囲が禁止範囲と干渉する部分を不適合部分として強調表示してもよい。検証装置１００は、探索範囲が、装置の部品周辺の推奨範囲内に含まれるか否かをチェックし、探索範囲が推奨範囲から逸脱した部分を不適合部分として強調表示してもよい。また、検証装置１００は、探索範囲が連続して禁止範囲と干渉する区間を特定し、特定された区間の区間長を示す情報を出力し、又は不適合部分に関する箇所に線又は矢印を表示させてもよい。これにより、不適合部分を効果的に視認できる。
【実施例２】
【００６５】
ところで、ノイズは、機器の外部へハーネスが露出する部分に加えて、機器に開口部が設けられており、機器内部のハーネスなどが開口部を通じて外部から視認できるような部分においても放射される。図１８は、実施例２におけるハーネスと開口部との関係の一例を示す図である。図１８において、ハーネスＨ２１は機器の外部には露出していないが、開口部Ｏ２１を通じて外部から視認できる。この場合、ハーネスＨ２１に伝播したノイズＮｚは開口部Ｏ２１を通じて外部に放射される。
【００６６】
また、開口部からハーネスそのものが視認できない場合であっても、ハーネスの探索球に相当する部分が視認できるような場合、同様に開口部からノイズが放射される場合がある。そこで、本実施例においては、開口部からハーネスなどの部品や探索球が視認できるか否かをさらに判定するような構成について説明する。なお、以下において、開口部を通じてハーネスなどや探索球が視認できる部分を、「露出部」と表記する場合がある。
【００６７】
［機能ブロック］
本実施例における検証装置２００について、図１９を用いて説明する。図１９は、実施例２における検証装置の構成の一例を示すブロック図である。なお、以下の実施例において、先に説明した図面に示す部位と同一の部位には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
【００６８】
図１９に示すように、本実施例における検証装置２００は、外部Ｉ／Ｆ１１０と、記憶部２２０と、制御部２３０とを有する。記憶部２２０は、例えば制御部２３０が実行するプログラムなどの各種データなどを記憶する。また、記憶部２２０は、範囲ＤＢ１２１、探索球ＤＢ１２２、不適合ＤＢ２２３及び開口部ＤＢ２２４を有する。
【００６９】
不適合ＤＢ２２３は、不適合であると判定された探索範囲に関する情報として、探索球の禁止範囲への干渉を示す情報、及び探索球の推奨範囲からの逸脱を示す情報に加えて、探索球の開口部からの露出に関する情報をさらに記憶する。図２０は、実施例２における不適合ＤＢの一例を示す図である。図２０に示すように、不適合ＤＢ２２３は、不適合ＤＢ１２３と同様に、例えば、「構成点ＩＤ」に対応付けて、「種別」と「距離」とを記憶する。図８において、「種別」は、不適合の種別が、禁止範囲への干渉であるか、推奨範囲からの逸脱であるかに加えて、さらに開口部からの露出であるかを示す情報である。
【００７０】
開口部ＤＢ２２４は、例えば機器に含まれる開口部に関する情報を記憶する。図２１は、実施例２における開口部ＤＢの一例を示す図である。図２１に示すように、開口部ＤＢ２２４は、「開口部ＩＤ」に対応付けて、「中心座標」及び「サイズ」を対応付けて記憶する。なお、開口部ＤＢ２２４に記憶される情報は、例えば検証装置２００の管理者（不図示）により予め入力される。開口部ＤＢ２２４は、例えば、開口部１個ごとに１レコードとして記憶する。
【００７１】
図２１において、「開口部ＩＤ」は、機器に含まれる開口部を一意に識別する識別子である。「中心座標」及び「サイズ」は、開口部ＩＤに対応する開口部の機器における位置及び当該開口部の大きさを示す情報である。なお、開口部ＤＢ２２４は、開口部の形状などに関する情報をさらに記憶してもよい。
【００７２】
図１９に戻って、制御部２３０は、検証装置２００全体を司る処理部であり、例えばプロセッサなどである。制御部２３０は、生成部１４０、干渉チェック部１３５、判定部２３６、出力部２３７及び露出部チェック部２３８を有する。なお、判定部２３６及び露出部チェック部２３８は、プロセッサが有する電子回路の一例やプロセッサが実行するプロセスの一例である。
【００７３】
露出部チェック部２３８は、機器中のハーネスが、機器に含まれる開口部から視認可能か否かを判定する。図２２は、実施例２における露出部チェック処理の一例を示す図である。図２２に示すように、機器内に生成されたＬＵ３１からＬＵ３３までの各探索球は、機器の筐体ＣＣ１１に設けられた開口部Ｏ２１を通じて、視認方向ＶＩ１から視認できる。この場合、露出部チェック部２３８は、ＬＵ３１からＬＵ３３までの各探索球は開口部Ｏ２１から視認可能であると判定する。露出部チェック部２３８は、機器を、上下左右前後の各方向からチェックを繰り返し、開口部Ｏ２１から視認可能であると判定されたＬＵ３１からＬＵ３３までの各探索球に関する情報を、不適合ＤＢ２２３に記憶する。
【００７４】
判定部２３６は、不適合ＤＢ２２３を参照し、最短点が連続する構成点に加えて、露出部が連続する構成点があるか否かをさらに判定する。
【００７５】
出力部２３７は、露出部チェック処理を含む、実施例２における検証処理の結果を出力する。図２３は、実施例２における不適合結果表示の一例を示す図である。図２３は、開口部Ｏ２２において構成点ＣＰ２１が外部から視認可能であることを示す表示を含む、不適合結果を示す。図２３において、表ＴＢ２１は、外部から視認可能であると判定されたハーネスＡ１の部分に関する情報を示す。
【００７６】
［処理の流れ］
次に、本実施例における処理について、図２４から図２６までを用いて説明する。図２４は、実施例２における検証処理の一例を示すフローチャートである。なお、以下の説明において、図１４から図１６までに示すステップと同じ符号については同様のステップであるため、詳細な説明を省略する。
【００７７】
図２４に示すように、検証装置２００の露出部チェック部２３８は、Ｓ２０の干渉チェック処理に続いて、露出部特定処理を行う（Ｓ３０）。図２５は、実施例２における露出部特定処理の一例を示すフローチャートである。図２５に示すように、露出部チェック部２３８は、まず、機器の上下左右前後のいずれかの方向からの視点を設定する（Ｓ３０１）。
【００７８】
次に、露出部チェック部２３８は、当該視点方向から、開口部を通じて視認可能な探索球があるか否かを判定する（Ｓ３０２）。露出部チェック部２３８は、視認可能な探索球があると判定した場合（Ｓ３０２：Ｙｅｓ）、当該視点方向と対応付けて、視認可能な探索球に関する情報を不適合ＤＢ２２３に記憶する（Ｓ３０３）。一方、露出部チェック部２３８は、視認可能な探索球がないと判定した場合（Ｓ３０２：Ｎｏ）、探索球に関する情報を記憶することなく、Ｓ３０４に移行する。
【００７９】
次に、露出部チェック部２３８は、全ての視点方向から処理を完了したか否かを判定する（Ｓ３０４）。露出部チェック部２３８は、全ての視点方向から処理を完了していないと判定した場合（Ｓ３０４：Ｎｏ）、Ｓ３０１に戻って処理を繰り返す。露出部チェック部２３８は、全ての視点方向から処理を完了したと判定した場合（Ｓ３０４：Ｙｅｓ）、元の処理に戻る。
【００８０】
次に、判定部２３６は、判定処理を行う（Ｓ４１）。図２６は、実施例２における判定処理の一例を示すフローチャートである。まず、判定部２３６は、不適合ＤＢ２２３を参照して、図１６に示すＳ４０１からＳ４０６までの各ステップを実行する。判定部２３６は、全ての最短点について処理が完了したと判定した場合（Ｓ４０６：Ｙｅｓ）、不適合ＤＢ２２３を参照し、露出部を抽出する（Ｓ４０７）。
【００８１】
次に、判定部２３６は、抽出した露出部に隣接する構成点に対して、露出部の記録があるか否かを判定する（Ｓ４０８）。判定部２３６は、露出部の記録がないと判定した場合（Ｓ４０８：Ｎｏ）、Ｓ４１２に移行する。
【００８２】
一方、判定部２３６は、露出部の記録があると判定した場合（Ｓ４０８：Ｙｅｓ）、抽出した露出部と、隣接する構成点とをグループ化する（Ｓ４０９）。次に、判定部２３６は、グループ化された露出部の経路長を算出する（Ｓ４１０）。そして、判定部２３６は、ハーネスの全長に対する、グループ化された露出部の経路長の総和、すなわち不適合であると判定された部分の総延長の比率を算出する（Ｓ４１１）。その後、Ｓ４１２に移行する。
【００８３】
そして、判定部２３６は、全ての露出部について処理が完了したか否かを判定する（Ｓ４１２）。判定部２３６は、全ての露出部について処理が完了していないと判定した場合（Ｓ４１２：Ｎｏ）、Ｓ４０７に戻って処理を繰り返す。判定部２３６は、全ての露出部について処理が完了したと判定した場合（Ｓ４１２：Ｙｅｓ）、元の処理に戻る。
【００８４】
［効果］
以上説明したように、本実施例における検証装置２００は、装置の外部から、探索範囲を視認できる部分を特定し、特定された視認できる部分に含まれる探索範囲を不適合部分として強調表示する。これにより、ハーネスそのものが開口部から視認できないような場合であっても、ノイズが放射される可能性を検出できる。
【実施例３】
【００８５】
ところで、検証装置が干渉チェック処理又は露出部チェック処理において不適合部分を検出した場合、例えばハーネスの位置を調整することで、不適合部分を解消するような構成であってもよい。そこで、本実施例においては、不適合部分のハーネスの位置を調整する構成について説明する。
【００８６】
［機能ブロック］
本実施例における検証装置３００の一例について、図２７を用いて説明する。図２７は、実施例３における検証装置の構成の一例を示すブロック図である。図２７に示すように、検証装置３００は、外部Ｉ／Ｆ１１０と、記憶部１２０と、制御部３３０とを有する。
【００８７】
制御部３３０は、検証装置３００全体を司る処理部であり、例えばプロセッサなどである。制御部３３０は、生成部１４０、干渉チェック部１３５、判定部１３６、出力部３３７及び経路調整部３３９を有する。なお、経路調整部３３９は、プロセッサが有する電子回路の一例やプロセッサが実行するプロセスの一例である。
【００８８】
経路調整部３３９は、不適合部分を含むハーネスの経路を調整する。経路調整部３３９は、例えば探索球が禁止範囲に干渉していると判定されたハーネスの位置を調整することにより、不適合部分を解消する。経路調整部３３９は、例えば公知の技術により、経路を自動的に調整してもよく、また外部Ｉ／Ｆ１１０を通じて、経路の調整に関する指示を受け付け、指示に応じて経路を調整してもよい。
【００８９】
経路調整部３３９は、例えば範囲ＤＢ１２１、探索球ＤＢ１２２及び不適合ＤＢ１２３を参照し、禁止範囲における最短点の位置及び探索球に対応する構成点から最短点までの距離を特定する。そして、経路調整部３３９は、例えば構成点から最短点までの方向を特定し、構成点を最短点とは反対の方向に、禁止範囲のサイズよりも距離が大きくなるように移動することにより、経路を調整する。
【００９０】
なお、経路調整部３３９は、探索球ＤＢ１２２に記憶された探索範囲のサイズに関する情報のうち、例えば「半径（禁止）」を用いるが、実施の形態はこれに限られない。例えば、探索球ＤＢ１２２が、露出部チェックに用いる半径をさらに記憶するような構成であってもよい。
【００９１】
出力部３３７は、推奨経路生成処理及び経路調整処理を含む、実施例３における検証処理の結果を出力する。図２８は、実施例３における是正表示の一例を示す図である。図２８に例示する図は、図１１における不適合結果表示におけるハーネスの干渉部分ＩＡ１及びＩＡ２の位置を、ＩＡ１１及びＩＡ２１のように修正したものである。これにより、図１１における不適合部分ＭＭ１及びＭＭ２は、図２８において解消されている。また、図１１における各ハーネスの位置を示す表ＴＢ１１も、ハーネスの移動に応じて、図２８における表ＴＢ３１のように更新される。
【００９２】
また、経路調整部３３９は、例えば探索球が推奨範囲から逸脱していると判定されたハーネスの位置を調整することにより、不適合部分を解消する。経路調整部３３９は、例えば、不適合ＤＢ１２３を参照し、推奨範囲から逸脱した探索球の構成点から推奨範囲までの距離及び方向を特定する。経路調整部３３９は、例えば、構成点を推奨範囲の方向に近づけることにより、ハーネスの推奨経路を生成する。そして、経路調整部３３９は、例えば推奨範囲を通るハーネスの経路をハイライト表示させる。
【００９３】
［処理の流れ］
次に、本実施例における処理について、図２９から図３１までを用いて説明する。なお、以下の説明において、実施例１の図１４に示すステップと同じ符号については同様のステップであるため、詳細な説明を省略する。
【００９４】
図２９は、実施例３における検証処理の一例を示すフローチャートである。図２９に示すように、検証装置３００の経路調整部３３９は、Ｓ５０の可視化処理に続いて、推奨経路生成処理を行う（Ｓ６０）。図３０は、実施例３における推奨経路生成処理の一例を示すフローチャートである。図３０に示すように、経路調整部３３９は、まず、範囲ＤＢ１２１に記憶されている推奨範囲を抽出し、図２８におけるＴＢ３１に示すような表に追加する（Ｓ６０１）。
【００９５】
次に、経路調整部３３９は、表に追加された推奨範囲に含まれるハーネスの推奨経路をハイライト表示する（Ｓ６０２）。そして、経路調整部３３９は、全ての推奨範囲について処理が完了したか否かを判定する（Ｓ６０３）。経路調整部３３９は、全ての推奨範囲について処理が完了していないと判定した場合（Ｓ６０３：Ｎｏ）、Ｓ６０１に戻って処理を繰り返す。経路調整部３３９は、全ての推奨範囲について処理が完了したと判定した場合（Ｓ６０３：Ｙｅｓ）、元の処理に戻る。
【００９６】
次に、経路調整部３３９は、経路調整処理を行う（Ｓ７０）。図３１は、実施例３における経路調整処理の一例を示すフローチャートである。まず、経路調整部３３９は、不適合ＤＢ１２３を参照し、最短点を抽出する（Ｓ７０１）。次に、経路調整部３３９は、最短点に対応する構成点から、最短点までの距離及び方向を算出する（Ｓ７０２）。そして、経路調整部３３９は、構成点から最短点までの距離が禁止範囲に干渉しなくなるように、構成点を逆方向に移動する（Ｓ７０３）。
【００９７】
そして、経路調整部３３９は、全ての最短点について処理が完了したか否かを判定する（Ｓ７０４）。経路調整部３３９は、全ての最短点について処理が完了していないと判定した場合（Ｓ７０４：Ｎｏ）、Ｓ７０１に戻って処理を繰り返す。経路調整部３３９は、全ての最短点について処理が完了したと判定した場合（Ｓ７０４：Ｙｅｓ）、移動後の新たな構成点を用いて、ハーネスの中心経路を再生成し（Ｓ７０５）、元の処理に戻る。
【００９８】
［効果］
以上説明したように、本実施例における検証装置３００は、不適合部分の選択を受け付け、選択を受け付けた不適合部分を移動することにより、不適合部分に含まれる探索範囲を、不適合部分の範囲外へ移動する。その際、検証装置３００は、不適合部分を移動する方向の選択を受け付けてもよい。これにより、ノイズの放射が少なくなるように、ハーネスの配置を再構成できる。
【実施例４】
【００９９】
さて、これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述した各実施例以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。例えば、実施例３において、検証装置３００が、ハーネスの経路を調整する構成について説明したが、ハーネスの経路の是正に関するアドバイスを表示させるような構成であってもよい。このように、受け付けた不適合部分の不適合の解消に関する情報を出力することにより、不適合部分の是正を促すことができる。
【０１００】
図３２は、実施例４における不適合結果表示の一例を示す図である。図３２に示す不適合結果表示は、不適合箇所について、推奨範囲から逸脱していること、及び下に移動することを促すことを含むアドバイスＡＤ１を含む。また、図３２は、例えば構成点ＣＰ３１が、推奨範囲から逸脱している距離を示す情報ＤＶ２、及び構成点ＣＰ３１に関する情報を含む表ＴＢ３２をさらに含む。
【０１０１】
図３３の（ａ）及び（ｂ）は、実施例４における不適合結果表示の別の一例を示す図である。図３３の（ａ）に示す不適合結果表示は、図１２に示す実施例１における不適合結果表示から、探索範囲ＬＵ２２を除外したものである。同様に、図３３の（ｂ）に示す不適合結果表示は、図１３に示す実施例１における不適合結果表示から、探索範囲ＬＵ２２を除外したものである。
【０１０２】
なお、検証装置１００が範囲ＤＢ１２１を有さず、外部のＣＡＤ（Computer  Aided  Design）データを流用するような構成であってもよい。同様に、検証装置２００が開口部ＤＢ２２４を有さず、外部のＣＡＤデータを流用するような構成であってもよい。
【０１０３】
また、探索範囲については球形に限らず、ハーネスを中心とした楕円体や直方体などであってもよい。また、各実施例においては、ハーネスに対応する探索球は全て同じ大きさであるが、個別に異なる大きさであってもよい。なお、推奨範囲との干渉チェック及び禁止範囲との干渉チェックにおいて、それぞれ個別に半径を規定せずに、同じサイズの探索球を用いてもよい。
【０１０４】
また、実施例２において、開口部を通じて視認可能なハーネスや探索球などを検出する構成について説明したが、例えば開口部から探索球までの距離などをさらに特定できるような構成であってもよい。また、開口部を視認する位置の角度を調整して、視認可能なハーネスや探索球などを検出できるような構成であってもよい。さらに、機器の内部を視認可能な開口部に加えて、機器の内部は視認できないが、ノイズを放射する部分に関する情報をさらに特定するような構成であってもよい。
【０１０５】
［システム］
また、本実施例において説明した各処理のうち、自動的に行われるものとして説明した処理の一部を手動的に行うこともできる。あるいは、手動的に行われるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的に行うこともできる。この他、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
【０１０６】
また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散や統合の具体的形態は図示のものに限られない。つまり、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、ＣＰＵおよび当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。また、検証装置１００は、例えばスタンドアロンのコンピュータにより実装されるが、これに限られず、コンピュータと無線又は有線にて相互に通信可能なサーバコンピュータであってもよく、またクラウド上において実装されてもよい。
【０１０７】
上記の各実施例で説明した各種の処理は、予め用意されたプログラムをコンピュータで実行することで実現できる。そこで、以下では、上記の実施例と同様の機能を有するプログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図３４は、ハードウェア構成の一例を示す図である。図３４に示すように、検証装置１００は、例えば図３４に示すコンピュータ７０００と同様のハードウェア構成により実現できる。なお、以下においては、実施例１における検証装置１００を例として説明するが、その他の実施例における対応する各装置についても同様のコンピュータにより実現できる。
【０１０８】
図３４に示すように、コンピュータ７０００は、各種演算処理を実行するプロセッサ７００１と、入出力装置７００２と、通信装置７００３と、各種情報を一時記憶するメモリ７００４と、ハードディスク装置７００５とを有する。また、各装置７００１〜７００５は、バス７００６に接続される。
【０１０９】
メモリ７００４の一例としては、ＳＤＲＡＭ（Synchronous  Dynamic  Random  Access  Memory）などのＲＡＭ（Random  Access  Memory）、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、フラッシュメモリなどが挙げられる。プロセッサ７００１の一例としては、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、ＤＳＰ（Digital  Signal  Processor）、ＰＬＤ（Programmable  Logic  Device）などが挙げられる。また、プロセッサ７００１は、ＡＳＩＣ（Application  Specific  Integrated  Circuit）、ＦＰＧＡ（Field  Programmable  Gate  Array）などの集積回路により実現されてもよい。
【０１１０】
ハードディスク装置７００５には、実施例１で示した図５の生成部１４０、干渉チェック部１３５、判定部１３６及び出力部１３７と同様の機能を有する検証プログラムが記憶される。また、ハードディスク装置７００５には、範囲ＤＢ１２１、探索球ＤＢ１２２及び不適合ＤＢ１２３など、検証プログラムを実現するための各種データが記憶される。
【０１１１】
プロセッサ７００１は、ハードディスク装置７００５に記憶された各プログラムを読み出して、メモリ７００４に展開して実行することで、各種の処理を行う。また、これらのプログラムは、コンピュータ７０００を実施例１で示した図５の生成部１４０、干渉チェック部１３５、判定部１３６及び出力部１３７として機能させることができる。なお、上記の各プログラムは、必ずしもハードディスク装置７００５に記憶されている必要はない。例えば、コンピュータ７０００が読み取り可能な記憶媒体に記憶されたプログラムを、コンピュータ７０００が読み出して実行するようにしてもよい。 
【０１１２】
以上の各実施例を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【０１１３】
（付記１）検証対象である装置に配置される紐状部品又は帯状部品の中心経路に近似する線の構成点に、当該構成点を包含し得る探索範囲を生成し、
前記探索範囲と、前記装置の部品周辺の範囲との干渉の有無をチェックし、
前記チェックの結果を可視化する
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする検証プログラム。
【０１１４】
（付記２）前記生成する処理は、前記構成点を中心とする探索球を、前記探索範囲として生成することを特徴とする付記１に記載の検証プログラム。
【０１１５】
（付記３）前記紐状部品又は前記帯状部品の中心経路を設定し、
前記中心経路に近似する直線を生成する処理をさらに前記コンピュータに実行させ、
前記生成する処理は、前記近似する直線と前記中心経路との交点に前記構成点を設定し、当該構成点を含む前記探索範囲を生成することを特徴とする付記１又は２に記載の検証プログラム。
【０１１６】
（付記４）前記チェックする処理は、前記探索範囲が、前記装置の部品周辺の禁止範囲と干渉するか否かをチェックし、
前記可視化する処理は、前記探索範囲が前記禁止範囲と干渉する部分を不適合部分として強調表示する
ことを特徴とする付記１〜３のいずれか１つに記載の検証プログラム。
【０１１７】
（付記５）前記チェックする処理は、前記探索範囲が連続して前記禁止範囲と干渉する区間を特定し、
前記可視化する処理は、特定された前記区間の区間長を示す情報を出力する
ことを特徴とする付記４に記載の検証プログラム。
【０１１８】
（付記６）前記チェックする処理は、前記探索範囲が、前記装置の部品周辺の推奨範囲内に含まれるか否かをチェックし、
前記可視化する処理は、前記探索範囲が前記推奨範囲から逸脱した部分を不適合部分として強調表示する
ことを特徴とする付記１〜５のいずれか１つに記載の検証プログラム。
【０１１９】
（付記７）前記装置の外部から、前記探索範囲を視認できる部分を特定する処理をさらに前記コンピュータに実行させ、
前記可視化する処理は、特定された前記視認できる部分に含まれる探索範囲を不適合部分として強調表示する
ことを特徴とする付記１〜６のいずれか１つに記載の検証プログラム。
【０１２０】
（付記８）前記不適合部分の選択を受け付け、
選択を受け付けた前記不適合部分を移動することにより、前記不適合部分に含まれる探索範囲を、前記不適合部分の範囲外へ移動する
処理をさらに前記コンピュータに実行させることを特徴とする付記４又は７に記載の検証プログラム。
【０１２１】
（付記９）前記受け付ける処理は、前記移動する処理において前記不適合部分を移動する方向の選択を受け付けることを特徴とする付記８に記載の検証プログラム。
【０１２２】
（付記１０）受け付けた前記不適合部分の不適合の解消に関する情報を出力する処理をさらに前記コンピュータに実行させることを特徴とする付記８に記載の検証プログラム。
【０１２３】
（付記１１）前記可視化する処理は、前記不適合部分に関する箇所に線又は矢印を表示させることを特徴とする付記４〜１０のいずれか１つに記載の検証プログラム。
【０１２４】
（付記１２）コンピュータが、
検証対象である装置に配置される紐状部品又は帯状部品の中心経路に近似する線の構成点に、当該構成点を包含し得る探索範囲を生成し、
前記探索範囲と、前記装置の部品周辺の範囲との干渉の有無をチェックし、
前記チェックの結果を可視化する
処理を行うことを特徴とする検証方法。
【０１２５】
（付記１３）検証対象である装置に配置される紐状部品又は帯状部品の中心経路に近似する線の構成点に、当該構成点を包含し得る探索範囲を生成する生成部と、
前記探索範囲と、前記装置の部品周辺の範囲との干渉の有無をチェックするチェック部と、
前記チェックの結果を可視化する出力部と
を有することを特徴とする検証装置。
【符号の説明】
【０１２６】
１００、２００、３００  検証装置
１１０  外部Ｉ／Ｆ
１２０、２２０  記憶部
１２１  範囲ＤＢ
１２２  探索球ＤＢ
１２３、２２３  不適合ＤＢ
２２４  開口部ＤＢ
１３０、２３０、３３０  制御部
１３５  干渉チェック部
１３６、２３６  判定部
１３７、２３７、３３７  出力部
１４０  生成部
１４１  経路生成部
１４２  近似直線生成部
１４３  構成点生成部
１４４  探索球生成部
２３８  露出部チェック部
３３９  経路調整部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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