(57)【要約】【課題】断層像撮像を行う検査装置において、断層像の撮像中において最適な合焦状態を維持する。【解決手段】被検査物の断層像を撮像する光学系であって測定光を被検査物に合焦させる合焦手段を含む第１光学系と、被検査物の正面像を撮像する第２光学系と、第１光学系及び第２光学系の少なくとも一方の光学系により撮像された被検査物の動画像が表示手段に表示された状態で、第１光学系による断層像の撮像の指示を受け付ける指示受付手段と、を有する検査装置において、指示を受け付けた後における第２光学系により撮像された正面像から得られる合焦情報に基づいて、指示に基づく第１光学系による断層像の撮像中に合焦手段を制御する制御手段を配する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物の断層像を撮像する光学系であって測定光を前記被検査物に合焦させる合焦手段を含む第１光学系と、
前記被検査物の正面像を撮像する第２光学系と、
前記第１光学系及び前記第２光学系の少なくとも一方の光学系により撮像された前記被検査物の動画像が表示手段に表示された状態で、前記第１光学系による前記断層像の撮像の指示を受け付ける指示受付手段と、
前記指示を受け付けた後における前記第２光学系により撮像された前記正面像から得られる前記第２光学系の合焦情報に基づいて、前記指示に基づく前記第１光学系による前記断層像の撮像中に前記合焦手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記指示受付手段が前記指示を受け付ける前に、前記合焦手段による合焦状態の変更を受け付ける受付手段を更に備え、
前記制御手段は、前記受け付けられた前記合焦状態の変更量と前記合焦情報とに基づいて、前記指示に基づく前記第１光学系による前記断層像の撮像中に前記合焦手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記第１光学系は、前記測定光に基づいて得られる信号を用いて前記断層像を撮像し、
前記制御手段は、前記指示に基づく前記第１光学系による前記断層像の撮像において、前記信号が取得されていないときに前記合焦手段を制御することを特徴とする請求項１又は２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記第１光学系は、前記測定光で前記被検査物上を所定の方向に走査することにより前記被検査物の前記所定の方向に沿って前記断層像を撮像し、
前記制御手段は、前記指示に基づく前記第１光学系による前記断層像の撮像において、前記所定の方向への前記測定光の走査が完了し次の走査が開始されるまでの間に前記合焦手段を制御することを特徴とする請求項３に記載の検査装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記指示を受け付けた後における前記第２光学系の合焦状態の変化量が閾値を超えた場合に、前記指示に基づく前記第１光学系による前記断層像の撮像中に前記合焦手段を制御することを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の検査装置。
【請求項６】
前記第１光学系は、光源から出射された光より分割されて前記被検査物を経た前記測定光と前記光より分割された参照光とを合波させて得られる干渉光より取得された干渉信号に基づいて前記断層像を撮像し、
前記第１光学系は、前記参照光の光路を折り返す参照ミラーを更に備え、
前記制御手段は、前記指示を受け付けた後における前記第２光学系の前記合焦情報に基づいて、前記参照ミラーを制御することを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の検査装置。
【請求項７】
前記指示を受け付けた後における前記第２光学系の合焦状態の変化が警告閾値よりも大きい場合に警告を行う警告手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の検査装置。
【請求項８】
前記指示受付手段が前記指示を受け付ける前に、前記第２光学系に含まれる第２合焦手段による合焦状態の変更を受け付ける第２受付手段を更に備え、
前記制御手段は、前記第２合焦手段による前記合焦状態の変更が受け付けられた際の前記正面像の画質を維持するように前記第２光学系に含まれる前記第２合焦手段を制御することを特徴とする請求項１乃至７の何れか１項に記載の検査装置。
【請求項９】
前記第２光学系の合焦情報は、前記第２光学系により前記被検査物の移動量を求めるための正面像を撮像する際に取得することを特徴とする請求項１乃至８の何れか１項に記載の検査装置。
【請求項１０】
前記被検査物は被検眼であって、
前記制御手段は、前記被検眼の瞬きが発生した場合又は前記被検眼の移動量が移動閾値を超えた場合には、前記第１光学系による撮像中における前記合焦手段の制御を行わないことを特徴とする請求項１乃至９の何れか１項に記載の検査装置。
【請求項１１】
被検査物の断層像を撮像する光学系であって測定光を前記被検査物に合焦させる合焦手段を含む第１光学系と、
前記被検査物の正面像を撮像する第２光学系と、
前記正面像から得られる前記第２光学系の合焦情報に基づいて前記合焦手段を制御する制御手段と、
前記合焦手段の合焦状態の変更を受け付ける受付手段を備え、
前記制御手段は、前記合焦状態の変更量と前記合焦情報とに基づいて、前記第１光学系による撮像中に前記合焦手段を制御することを特徴とする検査装置。
【請求項１２】
前記第１光学系は、前記測定光に基づいて得られる信号を用いて前記断層像を撮像し、
前記制御手段は、前記第１光学系による前記断層像の撮像中において、前記信号が取得されていないときに前記合焦手段を制御することを特徴とする請求項１１に記載の検査装置。
【請求項１３】
前記制御手段は、前記第１光学系による前記断層像の撮像中において、前記正面像から得られる合焦状態の変化量が閾値を超えた場合に、前記第１光学系による前記断層像の撮像中に前記合焦手段を制御することを特徴とする請求項１１又は１２に記載の検査装置。
【請求項１４】
前記第１光学系は、光源から出射された光より分割されて前記被検査物を経た前記測定光と前記光より分割された参照光とを合波させて得られる干渉光より取得された干渉信号に基づいて前記断層像を撮像し、
前記第１光学系は、前記参照光の光路を折り返す参照ミラーを更に備え、
前記制御手段は、前記第１光学系による前記断層像の撮像中において、前記正面像から得られる前記第２光学系の合焦情報に基づいて、前記参照ミラーを制御することを特徴とする請求項１１乃至１３の何れか１項に記載の検査装置。
【請求項１５】
前記正面像から得られる合焦情報は、前記第２光学系により前記被検査物の移動量を求めるための正面像を撮像する際に取得することを特徴とする請求項１１乃至１４の何れか１項に記載の検査装置。
【請求項１６】
被検査物の断層像を撮像する光学系であって測定光を前記被検査物に合焦させる合焦手段を含む第１光学系と、
前記被検査物の移動量を取得するための正面像を撮像する第２光学系と、
前記移動量を取得するための前記正面像を撮像する際に取得できる前記第２光学系の合焦情報を用いて、前記第１光学系による前記断層像の撮像中に前記合焦手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする検査装置。
【請求項１７】
被検査物の断層像を撮像する光学系であって測定光を前記被検査物に合焦させる合焦手段を含む第１光学系と、
前記被検査物の正面像を撮像する第２光学系と、を備えた検査装置の制御方法であって、
前記第１光学系及び前記第２光学系の少なくとも一方の光学系により撮像された前記被検査物の動画像が表示手段に表示された状態で、前記第１光学系による前記断層像の撮像の指示を受け付ける工程と、
前記指示を受け付けた後に前記第２光学系により撮像された前記正面像から得られる前記第２光学系の合焦情報に基づいて、前記指示に基づく前記第１光学系による撮像中に前記合焦手段を制御する工程と、を含むことを特徴とする検査装置の制御方法。
【請求項１８】
被検査物の断層像を撮像する光学系であって測定光を前記被検査物に合焦させる合焦手段を含む第１光学系と、
前記被検査物の正面像を撮像する第２光学系と、を備える検査装置の制御方法であって、
前記正面像から得られる合焦情報に基づいて前記合焦手段を制御する工程と、
前記合焦手段の合焦状態の変更を受け付ける工程と、を含み、
前記制御する工程は、前記合焦状態の変更量と前記合焦情報とに基づいて、前記第１光学系による撮像中に前記合焦手段を制御することを特徴とする検査装置の制御方法。
【請求項１９】
被検査物の断層像を撮像する光学系であって測定光を前記被検査物に合焦させる合焦手段を含む第１光学系と、
前記被検査物の正面像を撮像する第２光学系と、を備える検査装置の制御方法であって、
前記正面像に基づいて前記被検査物の移動量を取得する工程と、
前記移動量の取得に用いる前記正面像を撮像する際に取得できる前記第２光学系の合焦情報を用いて、前記第１光学系による前記断層像の撮像中に前記合焦手段を制御する工程と、を含むことを特徴とする検査装置の制御方法。
【請求項２０】
請求項１７乃至１９の何れか１項に記載の検査装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査装置、該検査装置の制御方法、及びプログラムに関する。より詳細には、例えば眼科診療等に用いられる干渉光学系を有する眼科装置に例示される検査装置、該検査装置の制御方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、光学機器を用いて目を観察する眼科用機器として、例えば、前眼部撮影機、眼底カメラ、共焦点レーザー走査検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：  ＳＬＯ、以下ＳＬＯ装置と記す。）、等様々な機器が使用されている。中でも、干渉光学系を有する光干渉断層撮像装置（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ、以下ＯＣＴ装置と記す。）は、試料の断層像が非侵襲で高解像度に得られる。このため、該ＯＣＴ装置は、眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。
【０００３】
このＯＣＴ装置は、低コヒーレント光を試料に照射し、その試料からの反射光から得られた干渉光を用いることで、該試料の深さ方向の情報を高感度で得ている。また、ＯＣＴ装置では、該低コヒーレント光を該試料上で任意の方向にスキャンすることで、該方向における試料の断層像を高解像度に得ることができる。そのため、被検眼の眼底における網膜を試料とした場合、その断層像を高解像度に撮像することができ、網膜の眼科診断等において広く利用されている。
【０００４】
ＯＣＴ装置では、眼底観察用のＳＬＯ装置を組み合わせた構成も知られている。該ＯＣＴ装置は、観察用画面に観察用の眼底正面像と観察用の断層像とを操作者に提示し、操作者はこれらの観察用の画像を見ながら、例えば診断用の断層像撮像のための合焦操作や、網膜上の撮像位置などの調整を行う（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００９−２９１２５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に開示される構成では、ＳＬＯ装置における眼底への自動合焦操作を行い、その際の合焦レンズの位置情報を用いてこれにオフセット値を加えることでＯＣＴ装置の合焦操作を行っている。具体的には、ＳＬＯ装置における合焦レンズの位置情報に応じてＯＣＴ装置の合焦操作を行った後、断層像を観察してＯＣＴ装置の更なる最適な合焦状態を得ている。そして、ＯＣＴ装置についての合焦操作は、断層像の撮像前に行われた後は、断層像の撮像が終わるまで通常は行われない。しかし、撮像開始から終了まで被検者が姿勢や視線を保持することは一般的に容易ではなく、撮像時の被検眼の状態は変化してしまうことが多い。このため、被検眼の状態変化のタイミングによっては、断層像撮像時において最適な合焦状態が得られなくなる恐れがある。
【０００７】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、断層像の撮像中において最適な合焦状態を維持することができる検査装置、該検査装置を制御する方法、及びプログラムの提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る検査装置は、
被検査物の断層像を撮像する光学系であって測定光を前記被検査物に合焦させる合焦手段を含む第１光学系と、
前記被検査物の正面像を撮像する第２光学系と、
前記第１光学系及び前記第２光学系の少なくとも一方の光学系により撮像された前記被検査物の動画像が表示手段に表示された状態で、前記第１光学系による前記断層像の撮像の指示を受け付ける指示受付手段と、
前記指示を受け付けた後における前記第２光学系により撮像された前記正面像から得られる前記第２光学系の合焦情報に基づいて、前記指示に基づく前記第１光学系による前記断層像の撮像中に前記合焦手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、検査装置において、断層像の撮像中において最適な合焦状態を維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る眼科装置の概略構成を示す図、及び該眼科装置における制御装置の機能構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態に係る撮像光学系の光学構成を示す概略図及び得られる画像を例示する図である。
【図３】本発明の実施形態の一例に係る観察用画面を示す図である。
【図４】第１の実施形態に係る検査装置において、断層像の撮像時に行われる処理を説明するためのフローチャートである。
【図５】第１の実施形態に係る検査装置において、断層像の撮像時に行われる処理の詳細を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明を実施するための例示的な実施形態について、図面を参照して説明する。ただし、以下の実施形態で説明する寸法、材料、形状、及び構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。
【００１２】
〔１〕第１の実施形態
以下、図面を参照しながら、本発明の第１の実施形態について説明する。なお、本実施形態に係る検査装置は、ＯＣＴ撮像部とＳＬＯ撮像部とを備える。ＯＣＴ撮像部は被検眼の断層像の取得に用いられ、ＳＬＯ撮像部は合焦操作及び観察に用いる眼底正面像の取得に用いられる。本検査装置では、ＯＣＴ撮像部による断層像の撮像中に眼底正面像を用いた自動の合焦調整を行い、自動合焦調整により得られた合焦状態に基づいてＯＣＴ撮像部の合焦制御を行う例を示している。
【００１３】
図１（ａ）は本実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。該検査装置は、撮像光学系１１０（撮像装置）、制御装置１２０（画像或いは情報処理装置）、及び表示部（表示手段）１３０を備えている。撮像光学系１１０は被検眼を撮像することで被検眼の情報の取得を行い、後述する光学部材を備える。制御装置１２０は、撮像光学系１１０及び表示部１３０に通信可能に接続され、これらを制御する。制御装置１２０はまた、撮像光学系１１０で取得された被検眼の撮像信号から画像の生成と記憶を行い、記憶された画像を表示部１３０に表示させることができる。表示部１３０は、制御装置１２０に接続され、制御装置１２０から送られる各種画像や被検者の情報等を表示することができる。表示部１３０は更に操作者からの操作入力情報を取得し、制御装置１２０へ送る。
【００１４】
なお、制御装置１２０は、任意の汎用コンピュータを用いて構成されることができるが、検査装置に専用のコンピュータを用いて構成されてもよい。また、表示部１３０は任意のディスプレイを用いて構成されることができる。ここで、本実施形態では、撮像光学系１１０、制御装置１２０、及び表示部１３０は別個に構成されているが、これらは部分的に或いは全体的に一体として構成されてもよい。なお、制御装置１２０の詳細については後述する。
【００１５】
＜＜撮像光学系の説明＞＞
ここでは、まず撮像光学系１１０の構成について説明する。図２（ａ）は撮像光学系１１０に含まれる光学構成を模式的に示したものである。撮像光学系１１０では、被検眼Ｅに対向して対物レンズ２１１が配置され、その光軸上に第１ダイクロイックミラー２１２及び第２ダイクロイックミラー２１３が配置されている。これらの第１ダイクロイックミラー２１２及び第２ダイクロイックミラー２１３によって、対物レンズ２１１からの光路は、ＯＣＴ光学系の光路Ｌ１、ＳＬＯ光学系の光路Ｌ２、及び前眼部観察用の光路Ｌ３に、波長帯域毎に分岐される。光路Ｌ２は更に、被検眼Ｅの固視を促すための固視灯用の光路と眼底正面像を撮像するための光路とに分岐される。ＯＣＴ光学系は上述したＯＣＴ撮像部における光学系を、ＳＬＯ光学系はＳＬＯ撮像部の光学系を各々構成する。
【００１６】
ＳＬＯ光学系と固視灯用の光路Ｌ２には、ＳＬＯ走査手段２１４、レンズ２１５及び２１６、ミラー２１７、第３ダイクロイックミラー２１８、ＳＬＯフォトダイオード２２０、ＳＬＯ光源２２１、並びに固視灯２１９が設けられている。ＳＬＯ走査手段２１４は、ＳＬＯ光源２２１と固視灯２１９から発せられた光を被検眼Ｅ上で走査し、該光をＸ方向に走査するＸスキャナ及びＹ方向に走査するＹスキャナから構成されている。本実施形態では、Ｘスキャナは高速走査を行う必要があるためポリゴンミラーによって構成され、Ｙスキャナはガルバノミラーによって構成されている。なお、ＳＬＯ走査手段を構成するスキャナはこれに限られず、所望の構成に応じて任意の偏向手段を用いることができる。
【００１７】
レンズ２１５は、ＳＬＯ光学系及び固視灯の被検眼Ｅの眼底への焦点合わせのために、制御装置１２０によって制御される不図示のモータ等によって、図中矢印で示される光軸方向に駆動されることができる。ミラー２１７は、穴あきミラーや中空のミラーが蒸着されたプリズムであり、ＳＬＯ光源２２１による照明光と、被検眼Ｅからの照明光の戻り光とを分離する。ＳＬＯ光源２２１は７８０ｎｍ付近の波長の光を発生する。第３ダイクロイックミラー２１８は、光路Ｌ２をＳＬＯ光源２２１への光路と固視灯２１９への光路とに波長帯域毎に分離する。ＳＬＯフォトダイオード２２０は、被検眼Ｅからの照明光の戻り光を検出する。固視灯２１９は可視光を発生し、被検者の固視を促すために用いられる。
【００１８】
ＳＬＯ光源２２１から発せられた光は、第３ダイクロイックミラー２１８で反射され、ミラー２１７の穴等を通過し、レンズ２１６及び２１５を通り、ＳＬＯ走査手段２１４によって、照明光として被検眼Ｅの眼底上で走査される。被検眼Ｅからの照明光の戻り光は、該照明光と同じ経路を戻った後、ミラー２１７によって反射され、ＳＬＯフォトダイオード２２０へと導かれる。ＳＬＯフォトダイオード２２０は、被検眼Ｅからの照明光の戻り光を検出し、検出した戻り光に基づく出力信号を制御装置１２０に送る。制御装置１２０は、受け取った信号に基づいて被検眼Ｅの眼底正面像を生成することができる。
【００１９】
固視灯２１９は第３ダイクロイックミラー２１８及びミラー２１７を透過し、レンズ２１６及び２１５を通り、ＳＬＯ走査手段２１４によって被検眼Ｅの眼底上で走査される。このとき、制御装置１２０によってＳＬＯ走査手段２１４の動きに合わせて固視灯２１９を点滅させることによって、被検眼Ｅの眼底上の任意の位置に任意の形状をつくり、被検者の固視を促すことができる。
【００２０】
前眼部観察用の光路Ｌ３上には、レンズ２２２、スプリットプリズム２２３、レンズ２２４、及び前眼部観察用のＣＣＤ２２５が設けられている。スプリットプリズム２２３は、被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置に配置されている。被検眼Ｅと撮像光学系１１０のＺ方向（前後方向）の距離は、該スプリットプリズム２２３により形成される前眼部のスプリット像を用いることにより検出できる。ＣＣＤ２２５は、不図示の前眼部観察用光源の波長、具体的には９７０ｎｍ付近に感度を持つ。ＣＣＤ２２５は、前眼部観察用光源から発せられ、被検眼Ｅで反射、散乱された戻り光を検出し、検出した光に基づく出力信号を制御装置１２０に送る。制御装置１２０は、ＣＣＤ２２５から受け取ったこの出力信号に基づいて、被検眼Ｅの前眼部画像を生成することができる。
【００２１】
次に、ＯＣＴ光学系の光路Ｌ１について説明する。被検眼Ｅの断層像を撮像するためのＯＣＴ光学系の光路Ｌ１上には、ＸＹスキャナ２２６、合焦用のレンズ２２７、及びレンズ２２８が設けられている。ＯＣＴ走査手段としてのＸＹスキャナ２２６は、ＯＣＴ光源２２９から得た測定光を被検眼Ｅの眼底上で走査する。本実施形態において、ＸＹスキャナ２２６は１枚のミラーとして図示してあるが、ＸＹ２軸方向の走査を行う２枚のガルバノミラーから構成されている。なお、ＸＹスキャナ２２６の構成はこれに限られず、所望の構成に応じて任意の偏向手段を用いることができる。
【００２２】
レンズ２２７は、光ファイバー２３０から出射する測定光を被検眼Ｅの眼底に焦点合わせするためのものであり、制御装置１２０が制御する不図示のモータ等によって、図中矢印で示される光軸方向に駆動されることができる。この焦点合わせ（合焦操作）によって、被検眼Ｅからの測定光の戻り光は同時に光ファイバー２３０の先端に、スポット状に結像されて入射されることとなる。なお、光ファイバー２３０、光路Ｌ１に配置される各光学部材、第１ダイクロイックミラー２１２及び第２ダイクロイックミラー２１３、並びに対物レンズ２１１等は、ＯＣＴ光学系において測定光が伝播するＯＣＴ測定光学系を構成する。
【００２３】
ＯＣＴ光学系では、レンズ２２８より先に、更に光カプラー２３４、ＯＣＴ光源２２９、光ファイバー２３０、２３１、２３２、２３３、レンズ２３５、分散補償用ガラス２３６、参照ミラー２３７、及び分光器２３８が設けられている。ＯＣＴ光源２２９から出射された光は光ファイバー２３１を介して光カプラー２３４に導かれ、該光カプラー２３４により測定光と参照光とに分割される。測定光は光ファイバー２３０からＯＣＴ測定光学系に射出され、ＯＣＴ測定光学系の光路Ｌ１から対物レンズ２１１までの光学部材を通じて被検眼Ｅに向けて出射される。被検眼Ｅに向けて出射された測定光は被検眼Ｅの眼底にて反射、散乱され、同じ光路を通じて再び光カプラー２３４に達する。
【００２４】
一方、参照光は、光ファイバー２３２から、レンズ２３５及び分散補償用ガラス２３６を介して参照ミラー２３７に向かうように出射される。参照ミラー２３７にて反射した参照光は、同じ光路を通じて再び光カプラー２３４に達する。なお、分散補償用ガラス２３６は、参照光の分散を調整し、被検眼Ｅを経た測定光の分散量と参照光の分散量とを合わせるために用いられる。ここで、光ファイバー２３２、レンズ２３５、分散補償用ガラス２３６、及び参照ミラー２３７は、ＯＣＴ参照光学系を構成する。
【００２５】
このようにして光カプラー２３４に達した測定光と参照光は、光カプラー２３４内で合波され干渉光となる。ここで、測定光と参照光とは、測定光の光路長と参照光の光路長とがほぼ同一となったときに干渉を生じる。参照ミラー２３７は、制御装置１２０により制御される不図示のモータ及び駆動機構によって、図中矢印で示される光軸方向に位置の調整可能に保持される。これにより、被検眼Ｅによって変わる測定光の光路長に対し、参照光の光路長を合わせることが可能となっている。得られた干渉光は、光ファイバー２３３を介して分光器２３８に導かれる。
【００２６】
分光器２３８には、レンズ２３９、回折格子２４０、レンズ２４１、及びラインセンサ２４２が設けられている。光ファイバー２３３から出射された干渉光はレンズ２３９を介して平行光となった後、回折格子２４０で分光され、レンズ２４１によってラインセンサ２４２上に結像される。ラインセンサ２４２は、検出した干渉光に基づく受光データを２０マイクロ秒毎に制御装置１２０へ送信する。制御装置１２０は、受信した受光データに基づいて干渉信号を取得し、該干渉信号に対してフーリエ変換等の処理を施すことで被検眼Ｅの断層像等を生成する。
【００２７】
なお、本実施形態では干渉系としてマイケルソン干渉系を用いたが、マッハツェンダー干渉系を用いてもよい。測定光と参照光との光量差に応じて、光量差が大きい場合にはマッハツェンダー干渉系を、光量差が比較的小さい場合にはマイケルソン干渉系を用いることが望ましい。また、本発明は、本実施形態以外の光学配置や装置構成にも適用可能である。例えば、本実施形態では、フーリエドメイン方式（ＦＤ：Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｄｏｍａｉｎ）のＯＣＴ装置のうち、スペクトラルドメイン方式（ＳＤ：Ｓｐｅｃｔｒａｌ Ｄｏｍａｉｎ）のＯＣＴ装置を採用している。しかし、他の方式のＯＣＴ装置を採用してもよい。特に、本発明は波長掃引光源を用いたスウェプトソース方式（ＳＳ：Ｓｗｅｐｔ Ｓｏｕｒｃｅ）のＯＣＴ装置も採用可能である。また、本実施形態では、ＯＣＴ光源２２９からの光を分割する分割手段として光カプラーを使用したファイバー光学系を用いているが、コリメータとビームスプリッタを使用した空間光学系を該分割手段として用いてもよい。また、本実施形態では、眼底正面像を撮像するためにＳＬＯ撮像部を用いた態様について説明している。しかし、眼底正面像を取得する構成はこれに限らず、例えばＣＣＤカメラ等の眼底撮像装置を用いてもよい。更に、本実施形態では固視灯を被検眼に投影する際に固視灯走査型の構成を用いているが、平面状のＬＣＤパネルにおいて任意の点を点灯させるタイプの固視灯を用いてもよい。
【００２８】
＜＜制御装置の説明＞＞
次に図１（ｂ）を参照して、制御装置１２０について説明する。図１（ｂ）は制御装置１２０の機能構成を示したブロック図である。本実施形態において、制御装置１２０には、画像生成部１２１、記憶部１２２、制御部１２３、画像解析部１２４、及び取得部１２５が設けられている。取得部１２５は、撮像光学系１１０のＳＬＯフォトダイオード２２０、ＣＣＤ２２５、及びラインセンサ２４２から各種信号を取得する。また、取得部１２５は、更に撮像光学系１１０においてＸＹスキャナ２２６で測定光の走査を行った際の走査位置及び時間を、撮像光学系１１０又は後述する制御部１２３から取得する。更に、取得部１２５は、後述する画像生成部１２１から、干渉信号に基づいて生成されたフーリエ変換後の信号やこれに何らかの信号処理を施した信号等を取得することもできる。以下、本明細書において、断層像における各画素位置に対応するフーリエ変換後の信号やこれに何らかの信号処理を施した信号を断層データという。断層データには、例えば、フーリエ変換後に得られたデータを輝度や濃度情報に変換した後のデータ等も含まれる。
【００２９】
画像生成部１２１は、取得部１２５が取得した、ＳＬＯ走査手段２１４を用いて被検眼Ｅの眼底をＸ方向及びＹ方向に走査した際のＳＬＯフォトダイオード２２０からの出力信号に基づく複数のデータから、眼底正面像（ＳＬＯ画像）を生成する。また、同様に、画像生成部１２１は、取得部１２５が取得したＣＣＤ２２５からの出力信号に基づいて、被検眼Ｅの前眼部画像を生成する。記憶部１２２は、取得部１２５で取得した各種情報や画像生成部１２１によって生成されたＳＬＯ画像、前眼部画像、及び２次元又は３次元の断層データ（断層像を含む）を記憶する。また、該記憶部１２２は、被検眼Ｅの撮像時に使われた、例えば、撮像条件、患者情報等を含む撮像パラメータ等を記憶する。更に、記憶部１２２は、制御装置１２０の各構成要素を構成するプログラム等も記憶する。
【００３０】
画像解析部１２４は、画像生成部１２１が生成した画像、或いは記憶部１２２に記憶されている画像の解析を行う。ここで画像解析の例として、画像ノイズ或いはコントラスト不足等の画像評価のための解析がある。制御部１２３は、例えばレンズ２１５、レンズ２２７、ＳＬＯ走査手段２１４、ＸＹスキャナ（走査手段）２２６、参照ミラー２３７等の撮像光学系１１０の各種構成要素を制御する。また、制御部１２３は、記憶部１２２に記憶されたＳＬＯ画像、断層データ、及び被検者の情報等を表示部１３０に表示させる表示制御部としても機能する。制御部１２３は更に、固視灯２１９の点滅制御も行う。なお、以上に述べた制御装置１２０の各構成要素は、制御装置１２０のＣＰＵやＭＰＵによって実行されるモジュール等によって構成されることができる。また、制御装置１２０の各構成要素は、ＡＳＩＣなどの特定の機能を実現する回路等によって構成されてもよい。
【００３１】
＜＜ＯＣＴ断層像の生成＞＞
画像生成部１２１は、取得部１２５により取得されたラインセンサ２４２からの干渉信号に基づいて、断層像を生成する。より詳細には、画像生成部１２１は、上述した一連の処理によりラインセンサ２４２から得られた干渉信号をフーリエ変換し、フーリエ変換後の信号を輝度或いは濃度情報に変換する。これにより、画像生成部１２１は被検眼Ｅの眼底のある一点における深さ方向（Ｚ方向）の断層像を取得する。このような眼底の一点より断層情報を得るスキャン方式をＡスキャンと呼び、得られる断層像をＡスキャン画像と呼ぶ。
【００３２】
ＸＹスキャナ２２６によって測定光を眼底の所定の横断方向に走査しながら、このようなＡスキャンを繰り返し行うことにより、複数のＡスキャン画像を取得することができる。この複数のＡスキャン画像を並べて表示することにより、断層像が得られる。例えば、測定光をＸ方向に走査すればＸＺ面における断層像が得られ、Ｙ方向に走査すればＹＺ面における断層像が得られる。このように被検眼Ｅの眼底を所定の横断方向に走査するスキャン方式をＢスキャンと呼び、得られる断層像をＢスキャン画像と呼ぶ。また、ＢスキャンのＸＺ面或いはＹＺ面に対し、それに直交する方向に測定光を走査する方式をＣスキャンと呼び、得られるＸＹＺの３次元の断層像をＣスキャン画像と呼ぶ。
【００３３】
＜＜ＳＬＯ画像生成＞＞
次に眼底正面像を生成する方法について説明する。本実施形態では、眼底正面像としてＳＬＯ画像を用いることとしている。眼底正面像の取得に際し、制御部１２３は、ＳＬＯ光源２２１を点灯し、ＳＬＯ走査手段２１４に制御信号を送り、照明光により被検眼Ｅの眼底をＸ方向及びＹ方向にラスタ走査する。また、制御部１２３は、レンズ２１５の光軸上の位置を制御して照明光を眼底上に合焦させる。制御装置１２０は、画像生成部１２１により、ＳＬＯフォトダイオード２２０から得られる信号情報に基づいて輝度情報を生成する。画像生成部１２１は更に、走査信号を参照して、得られた輝度情報を平面上に並べて、ＸＹ方向の眼底正面像を生成する。ここでは、照明光で眼底を走査するＳＬＯ走査手段２１４を制御しながら、制御装置１２０はインタレース方式を用いて表示部１３０に眼底正面像を動画像として表示させる。
【００３４】
＜＜生成された画像の表示様式についての説明＞＞
図２（ｂ）は、制御装置１２０により生成され、表示部１３０に表示される眼底正面像と断層像を説明する図である。これら画像は、表示部１３０の表示画面上に、例えば被検眼Ｅの眼底正面像２５０と被検眼Ｅの網膜の断層像２５１として表示される。なお、同図においてＸ軸２５２方向の矢印は水平スキャンの方向を示し、Ｙ軸２５３方向の矢印は垂直スキャン方向を示している。また、Ａスキャンの奥行き方向はＺ軸２５４方向の矢印で表し、Ａスキャンにより得られたデータはデータ配列２５５で示している。
【００３５】
断層像２５１を再構成するため、撮像光学系１１０はＸＹスキャナ２２６のガルバノミラーを主走査方向（ここでは水平方向）に移動しながら、制御装置１２０がＡスキャンのデータ配列２５５を一本ずつ再構成して１枚の断層像２５１を構成する。断層像２５１は、網膜に対する奥行き方向とそれに直交する方向から規定される２次元平面内の断層像である。即ち、図２（ｂ）において示すＸ軸２５２及びＺ軸２５４で規定される平面に相当する面内のＢスキャン画像である。また、眼底正面像２５０内の点線２５６は、断層像２５１の眼底での撮像位置（Ｂスキャンの際の走査線）を示している。被検眼Ｅの眼底正面像２５０は、上述したＳＬＯ画像の生成手法により、画像生成部１２１が生成する。ただし、本実施形態で適用できる眼底正面像の撮像及び再構成方法は、ここで説明している方法に限らない。例えば、眼底カメラ、等その他の方法であってもよい。
【００３６】
以上説明した撮像光学系１１０、制御装置１２０、及び表示部１３０から構成される検査装置において、被検眼Ｅの観察から撮像までの流れを説明する。なお、この説明に際し、用いる観察画面については、図３に例示した画像を用いて説明する。図３は観察時に表示部１３０が表示する観察画面３００を示したものである。観察画面３００には、前眼部画像３１０、眼底正面像３０１、断層像３０２、３０３、３０４、３０５、フォーカス調整スライダー３０８、参照ミラー位置調整スライダー３０７、及び撮像開始ボタン３０６が表示される。眼底正面像３０１に重畳表示されている走査線３０９は、眼底正面像３０１上での断層像３０２、３０３、３０４、３０５を得る際のＢスキャンの位置を示す。
【００３７】
操作者は、前眼部画像３１０を観察しながら対物レンズ２１１の正面に被検眼Ｅを位置させた後、ＳＬＯ走査手段２１４によって照明光をＸＹ方向に走査して眼底正面像を生成させる。眼底正面像生成後は、ＯＣＴ光学系の走査手段であるＸＹスキャナ２２６によって眼底上を測定光でＸＹ方向に走査して断層像を生成させる。操作者は、より詳細には、眼底正面像３０１、断層像３０２〜３０５を観察しながら不図示のマウスやマウスカーソルを用いてフォーカス調整スライダー３０８及び参照ミラー位置調整スライダー３０７を操作する。そして、これら操作を通じ、ＯＣＴ光学系におけるレンズ２２７の光軸上の位置や、参照ミラー２３７の位置等を調整する。なお、これら断層像と眼底正面像は観察画面３００上で適宜更新され、本実施形態において動画像として表示される。
【００３８】
上述したように、眼底正面像３０１中の走査線３０９は断層像の取得時に測定光で走査される眼底上の走査位置を示したものであり、眼底正面像３０１に重畳表示されている。操作者はこの走査線３０９をマウスやタッチパネル等の不図示の走査位置変更手段を操作することで、眼底上の所望の断層像取得位置を設定することができる。また、眼底正面像３０１中の固視灯視標３１２は、被検眼Ｅに対する固視灯の提示位置を示したものであり、眼底正面像３０１に重畳されている。操作者は、マウスやタッチパネル等の不図示の固視灯位置変更手段を操作することで、固視灯視標３１２の被検眼Ｅに対する提示位置を変更する。より詳細には、表示部１３０は該固視灯位置変更手段により入力された情報を取得して、これを制御装置１２０に送る。制御装置１２０において、制御部１２３は、固視灯の点灯タイミングを制御することにより、被検眼Ｅに対して所望の位置に固視灯が点灯表示されるように固視灯指標が投影される。表示部１３０はその他のマウス操作、例えば撮像開始ボタン３０６の押下等が入力された場合にはこれも検知し、制御装置１２０にその情報を送る。
【００３９】
なお、本実施形態では、フォーカス調整スライダー３０８を用いて断層像撮像の際のＯＣＴ光学系における合焦操作と眼底正面像取得時のＳＬＯ光学系での合焦操作の両方の制御入力を実行している。しかし該検査装置における各光学系での合焦操作（フォーカス）の実行時の態様はこれに制限されない。例えば、断層像撮像時の合焦操作と眼底正面像撮像時の合焦操作に対し、それぞれ独立したフォーカス調整スライダーを備えてもよい。なお、本実施形態では操作者の操作入力のためマウスを用いた例について説明したが、それに限らず、例えばジョイスティック、タッチパネル、トラックボール、タッチペン等、その他の操作入力装置を用いてもよい。
【００４０】
＜＜フローチャート＞＞
次に、図４に示すフローチャートを用いて、本実施形態の検査装置による被検眼の眼底撮像処理を説明する。本実施形態では、眼底の断層像を撮像しながら正面像撮像のためのＳＬＯ光学系の自動合焦操作を行い、該ＳＬＯ光学系の合焦状態の変動が閾値を超えた場合に断層像撮像用のＯＣＴ光学系の合焦状態の再設定を行う。なお、以下に説明する各ステップとして述べられる処理工程各々は、制御装置１２０における制御部１２３等として機能する中央処理ユニット（ＣＰＵ）により行われる。該中央処理ユニットは、記憶部１２２に記憶するプログラムに従って動作し、制御装置１２０の各部を制御することによってその機能を実現しているものとする。
【００４１】
また、本実施形態において制御装置１２０は、撮像光学系１１０に接続されたコンピュータによっても構成される。この場合、制御装置１２０の各構成要素はコンピュータ上で動作するソフトウェアモジュールから構成される。しかし、制御装置１２０の構成はこの構成に限定されるものではない。制御装置１２０の各機能の全て又は一部を特定の機能を有するＡＳＩＣ等のハードウェアによって構成してもよいし、一部の処理を高速化するためにＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）を利用してもよい。
【００４２】
＜ステップＳ４１０＞
眼底撮像処理が開始されると、制御装置１２０はフローをステップＳ４１０に進める。ステップＳ４１０で、制御装置１２０はプレビュー自動調整の処理を行う。制御部１２３はデータ取得のために、撮像光学系１１０と被検眼Ｅとの位置調整、ＳＬＯ光学系及びＯＣＴ光学系の合焦調整、ＯＣＴ光学系の参照光路長調整、等の撮像光学系１１０の自動調整の制御を行う。そして、制御装置１２０は、撮像光学系１１０を介して画像生成部１２１が生成した前眼部画像、眼底正面像、断層像等を表示部１３０へ送る。その後、制御装置１２０はフローをステップＳ４１１に進める。
【００４３】
＜ステップＳ４１１＞
ステップＳ４１０のプレビュー自動調整処理では、後述するようにＳＬＯ光学系の自動合焦処理の結果に基づいてＯＣＴ光学系の自動合焦処理が行われる。ここで、被検眼Ｅにおいて、ＳＬＯ光学系の自動合焦処理が画角中央の網膜表面に対して行われると仮定すると、ＯＣＴ光学系でも例えばこの網膜表面等、予め定められた網膜における特定の深さの対象物に合焦するように自動合焦処理が進められる。しかし、被検眼Ｅの診断に際しては、網膜表面ではなくより深い位置の画像、或いはより浅い位置の硝子体の画像が必要となる場合も考えられる。このような場合、ＯＣＴ光学系の自動合焦処理後に得られるプレビュー画像を参照し、検査対象となる部位に対して合焦するように、合焦条件等を変更することが必要となる。ステップＳ４１１で、操作者は、このようにプレビュー画像を参照しながら、ＯＣＴ光学系の光学部材を制御し、検査対象部位への合焦操作等を行う。なお、本実施形態において、プレビュー画像とは、断層像を撮像するために操作者が撮像条件を設定するために参照し、少なくとも操作者より断層像撮像の指示が入力されるまで観察画面３００に表示される動画像を指す。また、この動画像は、所定の時間間隔等にて繰り返して取得される眼底正面像及び断層像が連続的に表示されてなる画像を指す。
【００４４】
具体的には、ステップＳ４１１で、制御装置１２０による指令に応じて、表示部１３０は画像生成部１２１より送られた各種画像を操作者に対して図３のようなプレビュー画面を用いて提示する。その際、取得部１２５は、プレビュー画面を見ながら操作者が操作するマウス等からの操作入力情報を、表示部１３０を介して取得する。取得部１２５は取得したマウス等からの操作入力情報を制御装置１２０へ送り、制御部１２３はその操作入力情報に応じてＳＬＯ光学系の合焦調整、ＯＣＴ光学部の合焦調整、ＯＣＴ光学系での参照ミラー位置調整等の制御を行う。取得部１２５により取得されたこれらの制御値である操作入力情報は、記憶部１２２に送られて記憶される。即ち、本実施形態では、プレビュー表示を参照した操作者は、更なる合焦調整や参照ミラーの位置調整等を行い、自動的に調整し且つ設定された各光学部の制御状態からの微調整を行うことができる。このような微調整が行われた場合、上述したように、制御部１２３は操作者の操作によって付加的に行われた微調整の結果であるＯＣＴ光学系での手動合焦情報や参照ミラー位置情報等を、取得部１２５から記憶部１２２へ送らせる。記憶部１２２は、送られた以上の情報に併せ、ステップＳ４１０でのＳＬＯ光学系の合焦調整時に得た眼底正面像を、後述する眼底トラッキング処理のためのトラッキング参照画像として記憶する。その後、制御装置１２０はフローをステップＳ４１２に進める。
【００４５】
＜ステップＳ４１２＞
ステップＳ４１２で、制御部１２３は、表示部１３０を介して操作者が撮像開始ボタン３０６を押下したかどうかの検知を行う。撮像開始ボタン３０６の押下が検知されていない場合、制御装置１２０はフローをステップＳ４１１へ戻し、プレビュー表示を継続し、操作者により更なる微調整を待つ。或いは、更なる微調整が行われた場合にはその結果をプレビュー表示に反映させ、その際の新たな操作入力情報は記憶部１２２に送られて記憶される。撮像開始ボタン３０６の押下が検知された場合、制御装置１２０はフローをステップＳ４１３へ進める。なお、本実施形態では、断層像を撮像する処理を、操作者が撮像開始ボタン３０６を押下することにより開始させることとしている。しかし、ステップＳ４１１で行われる微調整が終了した後に所定時間が経過する等、ステップＳ４１１で取得される操作入力情報の入力がなくなったことを検知することで撮像を開始することとしてもよい。また、検査対象部位を観察画面３００上の眼底正面像や断層像で指示した場合、当該部位に関する後述する焦点評価値等が最高値を示すことで撮像を開始することとしてもよい。
【００４６】
＜ステップＳ４１３＞
ステップＳ４１３で、制御装置１２０は撮像光学系１１０を制御し、被検眼Ｅの測定撮像処理を実行する。ステップＳ４１３の詳細説明については、図５に示すフローチャートを参照して後述する。測定撮像処理終了後、制御装置１２０はフローをステップＳ４１４に進める。
【００４７】
＜ステップＳ４１４＞
ステップＳ４１４で、制御装置１２０は撮像光学系１１０から取得された各種信号に基づいて画像生成部１２１で生成した前眼部画像、眼底正面像、断層像等の各種画像や、その元となるデータ等を記憶部１２２へ送り、記憶部１２２はそのデータを記憶する。画像、データ等の記憶後、制御装置１２０はフローを進め、眼底撮像処理は終了する。なお、本実施形態では、各種画像、データ等を記憶部１２２に記憶したが、その他の記憶媒体、例えば、不図示の外部記憶装置に記憶しても良い。
【００４８】
次に、図４(ｂ)に示すフローチャートを用いて、上述したステップＳ４１０において実行される、プレビュー自動調整処理の詳細について説明をする。
＜ステップＳ４２０＞
ステップＳ４１０でプレビュー自動調整の処理が開始されると、制御装置１２０はフローをステップＳ４２０に進める。ステップＳ４２０で、制御部１２３は、撮像光学系１１０におけるＳＬＯ光学系で最適な撮像条件が得られるようにＳＬＯ光学系の光学部材の制御を行う。具体的には、ＳＬＯ光学系におけるレンズ２１５の合焦操作が制御部１２３によって行われる。以下に、ＳＬＯ光学系において行われる被検眼Ｅに対する最適な合焦状態を得る、ＳＬＯ自動フォーカス調整（１）の処理について、その詳細を説明する。
【００４９】
プレビュー自動調整において、制御部１２３はＳＬＯ光学系の各種光学部材を制御するが、その際に、まずＳＬＯ光学系のレンズ２１５をディオプターの一番低い位置に対応する光軸上の位置に移動させる。次に、制御部１２３による撮像光学系１１０の制御終了に応じて、制御装置１２０は取得部１２５によりＳＬＯ画像（眼底正面像）を取得する。画像解析部１２４は、取得された眼底正面像を解析し、該眼底正面像の焦点評価値を算出する。算出された焦点評価値は、前焦点評価値として記憶部１２２に記憶される。ここで、焦点評価値が高いほど、被検眼Ｅの眼底に対するＳＬＯ光学系の合焦状態がよいと判断できる。なお、本実施形態では、焦点評価値として例えばＳＮＲを用いた場合について説明するが、この評価値に限らず、例えば画像のコントラスト幅や、輝度値（最高値や、平均値）等、を用いてもよい。
【００５０】
続いて、制御部１２３はＳＬＯ光学系の制御を再度行い、ＳＬＯ光学系のレンズ２１５を移動させ、ＳＬＯ光学系における現状のディオプターに対し、更に０．１２５ディオプターを追加する。制御装置１２０は撮像光学系１１０の制御を行い、取得部１２５はディオプター追加後の眼底正面像を取得する。次に、画像解析部１２４は、新たに取得されたディオプター追加後の眼底正面像の焦点評価値を算出する。算出された焦点評価値は、現状での焦点評価値として記憶部１２２に記憶される。現状での焦点評価値が得られると、制御装置１２０は、算出された現状での焦点評価値と記憶部１２２に記憶されている前焦点評価値とを比較する。現状での焦点評価値が前焦点評価値より上がった場合、現状での焦点評価値を新たな前焦点評価値として更新し、これを記憶部１２２に記憶する。また、併せてＳＬＯ光学系のレンズ２１５の位置等も、ＳＬＯ自動合焦情報として記憶部１２２に記憶する。その後、制御部１２３は更に現状のディオプターに所定量（ここでは０．１２５ディオプター）のディオプターを追加し、更なる眼底正面像及びその焦点評価値の取得を行い、更新された前焦点評価値と新たに得た焦点評価値との比較を行う。
【００５１】
現状の焦点評価値と前焦点評価値との比較において、前焦点評価値の方が高く、該焦点評価値が上がらなかったと判断された場合、制御装置１２０は前焦点評価値を得たディオプターが最適な合焦状態に近いと判断する。このようにして、ディオプターの変更、眼底正面像の取得、その焦点評価値の算出、得られた焦点評価値と前焦点評価値との比較、及び比較結果に基づくディオプターの変更を繰り返して最適な合焦状態を探す。このような所謂山登り制御による処理を通じて眼底正面像の焦点評価値が最高になることで、ＳＬＯ光学系の合焦状態、特にレンズ２１５の位置が最適な合焦位置に有ると判断できる。制御装置１２０は、その際のレンズ２１５の光軸上の位置やディオプター値、即ちＳＬＯ自動合焦情報をＳＬＯ自動合焦値として記憶部１２２に記憶させる。以上の処理を通じてＳＬＯ光学系の自動合焦処理が終了すると、制御装置１２０はフローを次のステップＳ４２１に進める。なお、ここで述べた処理の例では、ＳＬＯ光学系のレンズ２１５を移動させる際の所定の移動量を０．１２５ディオプターとしたが、この値に限らず、例えば０．５ディオプターにしてもよいし、その他の移動量としてもよい。更に、移動単位はディオプターに限る必要がなく、例えばレンズの移動距離（ｍｍ単位）や、レンズを移動するモータの回転数等でもよい。
【００５２】
＜ステップＳ４２１＞
ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系とは、合焦状態が得られる際の各々の合焦用のレンズの光軸上の位置に相関がある。従って、ＳＬＯ光学系において最適な合焦状態が得られたレンズ２１５の光軸上の位置が把握されると、これと関連付けてＯＣＴ光学系のレンズ２２７の位置を調整することにより、ＯＣＴ光学系においても最適な合焦状態が簡易に得られる。ステップＳ４２１で、制御部１２３は、ステップＳ４２０の自動合焦処理により得られたＳＬＯ光学系のレンズ２１５の位置やディオプター値を用いて、ＯＣＴ光学系のレンズ２２７を光軸上の対応する位置まで移動させる。その際のＯＣＴの合焦情報は、ＯＣＴ合焦値として記憶部１２２に記憶される。以上のＯＣＴフォーカス設定の処理であるレンズ２２７の移動等の操作終了後、制御装置１２０はフローをステップＳ４２２に進める。
【００５３】
＜ステップＳ４２２＞
ＯＣＴ光学系を介して得た断層像については、参照ミラーの位置（参照光の光路長）が適当に調整されてない場合、生成される断層像の中の適当な位置に検査対象部位である例えば網膜等の断層が表示されないことがある。ステップＳ４２２で、制御部１２３は、最適な合焦状態で得た被検眼の断層像において検査対象部位が適切な位置に表示されるように、撮像光学系１１０の制御を行う。具体的には、ＯＣＴ光学系における参照ミラー２３７の位置の自動調整を行って、断層像中での検査対象部位の表示位置の微調整を行う。次に、当該処理であるＯＣＴ参照ミラー自動調整の処理の詳細について説明する。
【００５４】
ＯＣＴ参照ミラー自動調整の処理において、制御部１２３はまずＯＣＴ光学系の参照光路長が一番長くなるように参照ミラー２３７を移動させる。参照ミラー２３７の移動後、制御装置１２０は撮像光学系１１０を制御し、取得部１２５によりＯＣＴ画像（断層像）を取得する。画像解析部１２４は、取得された断層像を解析し、断層像中に例えば網膜等の被検眼Ｅの検査対象部位が含まれているか否かを判定する。断層像中に検査対象部位が含まれている場合、制御装置１２０は参照ミラー２３７のこれ以上の調整は不要であると判断し、制御装置１２０はフローを進めてプレビュー自動調整の処理を終了し、フローをステップＳ４１１に進める。
【００５５】
断層像中に検査対象部位が含まれていない場合、制御装置１２０はＯＣＴ光学系の制御を行い、参照光路長が現状より０．１２５ｍｍ短くなるように参照ミラー２３７を移動させる。移動終了後、再度取得部１２５による断層像の取得、画像解析部１２４による検査対象部位が断層像に含まれるか否かの判定、及び参照ミラー２３７の移動の処理を必要に応じて繰り返す。検査対象部位が断層像中に含まれた状態が得られ、更には適切な位置に表示されていると判定されると、制御装置１２０はその際の参照ミラー２３７の位置を記憶部１２２に記憶させる。その後制御装置１２０はプレビュー自動調整の処理を終了してフローをステップＳ４１１に進める。なお、本実施形態では参照ミラーの移動量をｍｍ単位で説明したが、その限りではない。例えば、モータの回転数など、その他の単位を用いてもよい。
【００５６】
網膜の各層が断層像中に存在する場合、これら層はある程度以上の輝度値等を有する。これを利用し、本実施形態では、上述した断層像中に検査対象部位が含まれるか否かの判定は、断層像の輝度の平均値や分散値が閾値を超えたか否かに基づいて行うこととしている。また、判定する際に輝度の平均値等を求める深さ方向を狭めていくこと等により、検査対象部位の断層像中の位置もある程度特定できる。この場合、閾値は過去のサンプル画像により統計的に決めることができるが、経験値や、固定値により決めることとしてもよい。更に、当該判定は、例えば断層像に特定のパターンが現れているか否かに基づいて行う等の方法であってもよい。以上に述べたプレビュー自動調整の処理を行うことにより、ＳＬＯ光学系のＳＬＯ自動合焦情報、ＯＣＴ光学系のＯＣＴ合焦情報、及び参照ミラー位置が記憶部１２２に記憶されることとなる。
【００５７】
次に、図５に示すフローチャートと用いて、ステップＳ４１３で行われる測定撮像処理の詳細について説明する。
＜ステップＳ４３０＞
測定撮像処理が開始されると、まずステップＳ４３０で、制御装置１２０は、記憶部１２２に記憶されたＳＬＯ自動合焦値とＯＣＴ合焦値とのオフセット量を記憶する処理を行う。上述したように、ステップＳ４１０ではＳＬＯ光学系及びＯＣＴ光学系の自動合焦操作によりプレビュー自動調整が行われた後、ステップＳ４１１において、更にＯＣＴ光学系の合焦状態や参照ミラー位置の微調整が行われている。ステップＳ４３０で、制御装置１２０は記憶部１２２に記憶されたＳＬＯ光学系及びＯＣＴ光学系の自動合焦等に関する情報（上述した合焦値）、及び操作入力情報を得た後の合焦等に関する情報を用いて、フォーカスオフセット量を算出する。フォーカスオフセット量算出後、制御装置１２０はフローをステップＳ４３１に進める。なお、本実施形態において、フォーカスオフセット量（フォーカス値のオフセット量）は、ＳＬＯ自動合焦操作により得られたＯＣＴ光学系のレンズ２２７の位置と現状のＯＣＴ光学系のレンズ２２７の位置との差分とする。そして、制御装置１２０は、該フォーカスオフセット量を、フォーカスオフセット情報として、記憶部１２２に記憶させる。なお、フォーカスオフセット量を得るために取得した眼底正面像は、後述する眼底トラッキング（ステップＳ４３３）を行う際に用いるトラッキング参照画像として、ステップＳ４１１において予め記憶部１２２に記憶されている。また、フォーカスオフセット量の算出には用いるパラメータはレンズの光軸上の位置に限られず、ＳＬＯ光学系とＯＣＴ光学系との間において、及び微調整の前後でのＯＣＴ光学系において、合焦に関して相関を有するものであればよい。
【００５８】
＜ステップＳ４３１＞
ステップＳ４３１で、制御装置１２０は撮像光学系１１０の制御を行い、ＯＣＴ光学系による断層像の撮像を開始する。本実施形態では、制御部１２３は、測定光が予め定めてある最初のＢスキャンの開始位置に照射されるようにＸＹスキャナ２２６を制御し、当該位置から順次Ａスキャン、及び複数のＡスキャンからなるＢスキャンを行う。本実施形態では、ここで述べたＯＣＴ光学系によるＢスキャンを行いながら、以降の処理が並列に行われる。
【００５９】
＜ステップＳ４３２＞
ステップＳ４３１で断層像の撮像開始する前後において、被検眼が動いてしまい、眼底に対して最適に合焦された状態からはずれてしまうことが考えられる。ステップＳ４３２で、ＳＬＯ自動フォーカス調整（２）の処理として、制御装置１２０は、眼底正面像が最適な合焦状態で得られているように撮像光学系１１０の制御を続ける。そして、制御装置１２０は、その制御時において得られる合焦情報をＳＬＯ対象合焦情報として記憶部１２２に記憶させる。なお、ステップＳ４３２で行われるＳＬＯ光学系での最適な合焦状態を得る処理は上述したステップＳ４２０で行われる処理と同じであるので、ここでの説明は省略する。しかし、当該ステップにて行われる処理は、ステップＳ４２０で行われる処理と同じではなくてもよい。ステップＳ４２０では、レンズ２１５が最も小さなディオプターとなる位置に移動させてから合焦調整を始めている。しかし、本ステップＳ４３２では、例えば制御部１２３が現在のディオプターから２．０ディオプター小さくする位置にレンズ２１５の位置を設定し、ここから合焦調整（山登り制御）を開始することとしてもよい。或いは、制御部１２３が現在ディオプターから０．１２５ディオプター毎にレンズ２１５を移動させて、眼底正面像の焦点評価値が最高になる位置を求めるように制御を行ってもよい。更に、ディオプターの移動方向についても、ＯＣＴ光学系による合焦位置等と関連付けてもよい。ＳＬＯ対象合焦情報が得られた後、制御装置１２０はフローをステップＳ４３３に進める。
【００６０】
＜ステップＳ４３３＞
ステップＳ４３３で、制御装置１２０は、断層像の撮像のための眼底トラッキング処理を行う。以下にその詳細について説明をする。なお、眼底トラッキング処理についてはよりよい断層像を得るために実行することが好ましく、本実施形態では該トラッキング処理を行うために取得した眼底正面像を合焦条件探索のために用いている。しかし、当該処理は省くこともできる。実際の眼底トラッキング処理において、制御装置１２０は撮像光学系１１０の制御を行い、トラッキング対象画像（眼底正面像）を生成する。更に、制御装置１２０は、そのトラッキング対象画像と、記憶部１２２に記憶されている上述したトラッキング参照画像とを画像解析部１２４へ送る。画像解析部１２４は、これらトラッキング対象画像とトラッキング参照画像との位置ずれを算出し、これら画像を取得する間で生じた被検眼Ｅの眼底の移動量を取得する。この眼底の移動は、例えば公知の固視微動等の被検眼の動きや被検者の動きにより生じる。移動量取得後、制御装置１２０は取得された被検眼Ｅの眼底移動量に基づいて、ＯＣＴ走査手段であるＸＹスキャナ２２６による測定光の照射位置の補正制御を行う。測定光の照射位置の補正後、制御装置１２０はフローをステップＳ４３４に進める。
【００６１】
＜ステップＳ４３４＞
ステップＳ４３４で、制御装置１２０は、ＯＣＴフォーカス再設定の要否を判定する処理、即ちＯＣＴ光学系の合焦操作を再度行うか否かの判断を行う。そのため、ステップＳ４２０で記憶部１２２に記憶されたＳＬＯ自動合焦情報とステップＳ４３２で記憶されたＳＬＯ対象合焦情報に基づいて、ＳＬＯ光学系の合焦値の変化を調べる。より詳細には、これら合焦値の変化の量を差分として求め、この差分と閾値とを比較し、その比較結果に応じてその後に実行すべき処理を決定する。例えば、この合焦値の変化の量が閾値の１．０ディオプターを超えた場合には被検眼の動き等が大きくて合焦状態も最適な状態からずれてしまっていると推定される。よって、制御装置１２０はステップＳ４３５を介してフローをステップＳ４３４からステップＳ４３６へ進め、ＯＣＴ光学系の合焦状態を再び確認する。ＳＬＯ光学系の合焦値の変化の量が１．０ディオプターを超えない場合は、被検眼Ｅにおいて合焦操作を再度必要とする程度までの動きは生じていないと判断できることから、制御装置１２０はフローをステップＳ４３７へ進める。なお、本実施形態では、閾値１．０ディオプターを用いた場合について説明を行ったが、その閾値に限ることなく、例えば０．５ディオプター等、その他の閾値としてもよい。なお、該閾値は０ディオプターであってもよい。この場合は、無条件にＯＣＴフォーカス再設定の処理を行うことになる。また、本実施形態では、最適な合焦状態を得るための条件の例としてディオプターを示し、最適な合焦状態が得られた際のディオプターの値を合焦値と称し、合焦状態と合焦値とを関連付けた情報を合焦情報と称している。
【００６２】
＜ステップＳ４３５＞
ステップＳ４３５で、制御装置１２０は、ＯＣＴ光学系によるＢスキャンが終了するのを待つ。Ｂスキャンが終了したら、制御装置１２０は断層像の撮像を一時停止させ、制御装置１２０はフローをステップＳ４３６に進める。なお、本実施形態では、走査手段により測定光の走査を途中で停止させることによる走査手段に対する負荷の低減といった観点から、現状行われているＢスキャンに関してはそのまま終了させることとしている。そして、次のＢスキャンの実行前に、ＯＣＴ光学系での再度の合焦操作が行われることとしている。しかし、ＯＣＴ光学系での再度の合焦走査の実行までの待機の様式はこれに限られない。例えば実行中のＡスキャンの終了（Ｂスキャンの途中終了）を持ってフローを進めてもよく、Ａスキャンの途中であってもこの合焦状態の変化が認識された時点で該Ａスキャンを中止してフローを進めてもよい。
【００６３】
＜ステップＳ４３６＞
ステップＳ４３６で、制御装置１２０は、ステップＳ４３２で記憶されたＳＬＯ対象合焦情報とステップＳ４３０で記憶されたフォーカスオフセット情報を用いて、再設定用のＯＣＴ合焦情報を算出する。ここでは、ディオプター単位でのＳＬＯ対象合焦情報における合焦値と対応付けられたＯＣＴ光学系の合焦値に対してフォーカスオフセット値を足して、新たなＯＣＴ光学系の合焦値を算出する。そして、制御部１２３はその合焦値に基づいて、ＯＣＴ光学系のレンズ２２７を移動する。レンズ２２７の移動終了後、制御装置１２０はフローをステップＳ４３７へ進める。
【００６４】
＜ステップＳ４３７＞
眼底正面像に基づいて得られる合焦状態の変化が被検眼Ｅの動きに起因する場合、この動きによってＯＣＴ光学系の測定光の光路長が変化し、断層像中における検査対象部位の表示位置が変わることも考えられる。この表示位置の変化が大きい場合、操作者が検査対象部位を適切に観察できなくなる可能性が生じ、対策としてＯＣＴ参照ミラーの位置を調整し、参照光の光路長を調整することを要する。ステップＳ４３７で、制御装置１２０は、ＯＣＴ参照ミラー位置の再調整の処理を行うか否かの判断を行う。本実施形態では、ＯＣＴ参照ミラー位置の再調整は、ＳＬＯ光学系の合焦値の変化の大きさに基づいて判断している。なお、ステップＳ４３７とステップＳ４３４での合焦値の変化の大きさの判断に使われるそれぞれの閾値は、異なっていてもよい。例えば、ステップＳ４３４で用いる閾値を第１閾値とし、ステップＳ４３７で用いる閾値を第２閾値とした場合、第１閾値を第２閾値よりも小さくなるように設定してもよい。なお、ステップＳ４３７で用いる閾値を０ディオプターとしてもよい。この場合は、無条件にＯＣＴ参照ミラー位置再調整の処理を行うことになる。参照ミラーの位置調整が必要と判断されると制御装置１２０はフローをステップＳ４３８に進め、必要でないと判断されると制御装置１２０はフローをステップＳ４４０に進める。
【００６５】
＜ステップＳ４３８＞
ステップＳ４３８で、制御装置１２０は、上述したステップＳ４３５と同様にＯＣＴ撮像のためのＢスキャンが終了するのを待つ。ＯＣＴ撮像のＢスキャンが終了したら、制御装置１２０はＯＣＴ撮像を一時停止し、フローを次のステップＳ４３９に進める。なお、ステップＳ４３５が実行された場合、ステップＳ４３６及びステップＳ４３７はＢスキャンの終了待ちの状態で行われていることから、ステップＳ４３８をスキップしてステップＳ４３９にフローを進めてもよい。また、ステップＳ４３４からフローがステップＳ４３７に進められた場合には、ＯＣＴ撮像が継続中であるため、上述した如くステップＳ４３５と同様にＢスキャンの終了を待つ。その後、制御装置１２０はフローをステップＳ４３９に進める。
【００６６】
＜ステップＳ４３９＞
ステップＳ４３９で、制御装置１２０は、再びＯＣＴ光学系における参照ミラー２３７の位置調整を行う。即ち、参照ミラー２３７の位置調整用の断層像撮像を行う。また、その際の断層像は現状停止待ちをしているＢスキャンの取得位置より取得してもよく、その他のＢスキャン位置より得てもよい。ここで行われる参照ミラー２３７の位置調整では、ステップＳ４２２で行われたＯＣＴ参照ミラー自動調整の際と同様の処理が行われる。即ち、ＯＣＴ参照ミラー位置調整のための断層像の取得、断層像中における検査対象部位の表示の適否の確認等、上述したステップＳ４２２で行われた各処理がここでも行われ、参照ミラー２３７の光軸上の位置が設定される。なお、具体的な処理の詳細はステップＳ４２２での処理と同じであるので、ここでの説明は省略する。また、ここで取得される断層像はあくまで参照ミラー２３７の位置調整のための情報を取得するために撮像されるものであって、一連のフローチャートにおいて取得目的とする撮像処理で取得しようとする断層像とは異なる。
【００６７】
なお、ステップＳ４３９では、ステップＳ４３２で得られたＳＬＯ対象合焦情報を用いて、参照ミラー２３７の位置調整を行ってもよい。例えば、ＳＬＯ対象合焦値（ディオプター単位）の変化が負の場合は、参照ミラー２３７を参照光路長が長くなるように移動させる。逆に、ＳＬＯ対象合焦値の変化が正の場合は、参照ミラー２３７を参照光路長が短くなるように移動させる。なお、ＯＣＴ光学系の構成によって、これら参照ミラー２３７の移動方向は逆になることもある。参照ミラー２３７の位置調整が終了した後、制御装置１２０はフローをステップＳ４４０に進める。
【００６８】
＜ステップＳ４４０＞
ステップＳ４４０で、制御装置１２０は、ステップＳ４３２からＳ４３９までのフローを進める際に、Ｂスキャン終了待ちの処理を行ったか否かの判定処理を実行する。ここで、Ｂスキャン終了待ちの処理があったということは、１断層像の撮像処理が途中で中断された状態にあることを示す。従って、制御装置１２０はフローをステップＳ４３２に戻し、中断したＢスキャンの再試行（断層像の再撮像）を行う。或いは、制御装置１２０は、ＯＣＴ光学系等を制御して、ステップＳ４３５或いはステップＳ４３８において待機状態にある撮像を再開する。具体的には、途中で停止したＡスキャン或いはＢスキャンを最初から再試行する。ステップＳ４４０において、Ｂスキャン終了待ちの処理がなかったと判断されたということは、１Ｂスキャンが適切に実行され、所望の位置での断層像が撮像できたこととなる。この場合、制御装置１２０はフローをステップＳ４４１に進める。
【００６９】
＜ステップＳ４４１＞
ステップＳ４４１で、制御装置１２０は、断層像の撮像処理を終了するかどうかの判断を行う。撮像を続ける場合には、フローはステップＳ４４２へ進められる。撮像を終了する場合には、制御装置１２０はステップＳ４４１からフローを進め、ステップＳ４１３の測定撮像処理を終了し、制御装置１２０はフローをステップＳ４１４に進める。上述したようにステップＳ４１４では取得された断層像等が記憶部１２２に記憶され、制御装置１２０は更にフローを進めて眼底撮像処理を終了させる。断層像の撮像を続行する場合には、制御装置１２０はフローをステップＳ４４２に進める。以上のステップＳ４３２からＳ４４２の処理を繰り返すことにより、被検眼Ｅの眼底における３次元の断層像等が得られる。
【００７０】
＜ステップＳ４４２＞
ステップＳ４４２で、制御装置１２０は撮像光学系１１０の制御を行い、被検眼Ｅの断層像の撮像位置を更新して次のＢスキャンを行う。制御部１２３は、次の測定開始位置に測定光が照射されるようにＸＹスキャナ２２６を制御する。ＸＹスキャナ２２６の制御後、制御装置１２０はフローをステップＳ４３２へ戻し、次のＢスキャンが開始される。以上の処理を繰り返すことにより、被検眼Ｅの所望のＢスキャン位置での断層像或いは断層データが取得できる。
【００７１】
なお、上述したように、本実施形態では、ステップＳ４１３において１Ｂスキャンを行って１断層像単位でＯＣＴ撮像が終了するか否かを判定する場合について説明したが、判定時に撮像される断層像は１Ｂスキャンによるものに限られない。ステップＳ４１３で行われる処理は、一の断層像撮像と次の断層像撮像の間にＯＣＴ光学系の合焦条件の再設定が行われるよう実行されればよい。即ち、ステップＳ４１３にて実行される断層像の撮像処理は、例えば、二つ以上のＢスキャン単位で実行されることとしてもよい。
【００７２】
ここで、ＯＣＴを眼底の検査に適用する態様として、ＯＣＴＡが知られている。該ＯＣＴＡは、眼底上の同一Ｂスキャンラインにおいて断層像を繰り返し取得し、これら断層像間での相違から血管造影を行う技術である。この場合、同一断面においてできるだけ鮮明な画像を繰り返して得る必要がある。しかし、ＯＣＴＡでは同一走査線に対して複数回のＢスキャンを行う関係上被検眼の動きの影響が避けられず、干渉信号取得時におけるトラッキングと合焦状態の調整とを適切に行うことが求められる。以上の撮像処理を適当な回数のＢスキャン間で行うことにより、このような要請に答えることができる。例えばＯＣＴＡでは、血管造影のために同一Ｂスキャンラインにおいて５０回等の任意且つ大きな回数の測定光による繰り返し走査を行う。上に述べたＯＣＴ光学系における合焦条件及び参照ミラー位置の再設定の処理は、この同一Ｂスキャンラインに対する測定光の走査が終了した段階で行われることとしてもよい。
【００７３】
また、本実施形態では、ステップＳ４３５とステップＳ４３８でＢスキャンの終了を待ち、その後のスキャン（測定光の走査）を停止することでＯＣＴ撮像を一時停止している。しかしＯＣＴ撮像の一時停止は測定光の走査を停止する態様に限られず、ＯＣＴ光学系の合焦調整中にＯＣＴ光学系及び制御装置１２０による撮像処理が停止状態であればよい。即ち、ＯＣＴ合焦調整中に干渉信号を取得しない態様としてもよい。また、干渉信号を取得しない場合には、例えばＯＣＴ光源を点灯しない、又はラインセンサ２４２からの出力信号を取得しない等の処理を行うこととしてもよい。更にはＯＣＴ光学系より得られる断層像を使わない、又は記憶しない処理にしてもよい。
【００７４】
また、本実施形態では、ステップＳ４３７からステップＳ４３９の処理によりＯＣＴ光学系の参照ミラー２３７の位置調整を行うこととしている。しかし、この参照ミラー２３７の位置調整をしない処理フロー、即ち、ステップＳ４３７からステップＳ４３９の処理をスキップする態様としてもよい。或いは、ＳＬＯの合焦状態の変化量に対する閾値を複数設け、該変化量が第１の閾値のみを超える場合には図５に示したステップＳ４３６のＯＣＴフォーカス設定の処理のみを行い、後のステップをスキップすることとしてもよい。この場合、該第１の閾値よりも大きい第２の閾値を超える場合には、ＯＣＴフォーカス設定に併せてステップＳ４３９のＯＣＴ参照ミラー位置調整の処理を行うこととするとよい。なお、この場合、ＳＬＯ光学系における自動合焦調整とＯＣＴ光学系による断層像撮像とを並列処理として行うことにしてもよい。
【００７５】
本実施形態において、以上に述べたように、ＳＬＯ光学系の合焦状態を確認する眼底正面像を用いて眼底トラッキングを行ってもよい。この場合、換言すれば、眼底トラッキングに用いる眼底正面像を用いて合焦状態の変化を併せて求め、該合焦状態の変化が閾値以上の場合には最適な断層像が得られないと判断してＯＣＴ光学系の合焦状態の調整を行う。また、その際に、測定開始の指示前に得た眼底正面像と先の判断に用いた眼底正面像とから合焦状態の変化量を求めている。そして、プレビュー後の微調整で得たＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の合焦状態の相関にこの変化量を反映させて、ＯＣＴ光学系の合焦調整を行うこととしている。また、その際に、断層像の撮像中に自動合焦操作を再度行うことも可能である。ここで、一般的には、断層像撮像中の合焦状態の変化は、撮像された断層像の画質に悪影響を与える可能性がある。この場合、合焦調整のために断層像の撮像を一時停止して、合焦調整後に再撮像することも可能であるが、この場合は測定用の断層像の撮像時間が長くなり、被検者の負荷も大きくなる。これに対して、本実施形態では、ＯＣＴ光学系を有する検査装置に対して以上の構成を配している。これによって、断層像の撮像中に被検眼の状態が変わっても、断層像の撮像に際して最適なタイミングでＯＣＴ光学系の合焦設定が迅速に行うことができる。なお、本実施形態において、眼底に対する合焦状態の確認には眼底トラッキングに用いる眼底正面像を撮像する際に得ている。これにより合焦状態確認用の撮像処理をあえて行うことを省くことができるが、より細かく合焦状態の調整を行うために眼底トラッキング用の眼底正面像以外に、合焦状態確認用の眼底正面像の撮像を更に行ってもよい。
【００７６】
また、特に、所謂山登り制御により行われる合焦状態維持のための自動合焦の処理と被検眼の状態変化とが同時に進む場合、撮像時の状態維持に関与するパラメータ２つが同時に変わることとなり最適な合焦状態を得ることがより困難となる。被検眼の状態変化としては、例えば固視微動等の被検眼の動き、被検者の動きによる検査装置に対する被検眼の配置の変化がある。これに対し、本実施形態では、ＳＬＯ光学系により取得される眼底正面像を用いて山登り制御を実施し、その結果だけをＯＣＴ光学系の合焦調整に用いている。即ち、ＯＣＴ光学系の合焦調整のための山登り制御を行わないため、被検眼の状態変化に平行して当該制御が進められることがなくなり、安定した合焦調整ができる。従って、常に被検眼の状態に対応する最適な合焦状態を維持してＯＣＴ光学系による断層像の撮像ができる。
【００７７】
以上に述べたように、本実施形態に係る検査装置は、第１光学系としてのＯＣＴ光学系と、第２光学系としてのＳＬＯ光学系を備える。ＯＣＴ光学系は、被検眼の断層像を撮像するための光学系であって、測定光を被検眼に合焦させる合焦手段を含む。本実施形態において、合焦手段は、合焦レンズであるレンズ２２７とこれを光軸方向に移動させる不図示の駆動系を備える。ＳＬＯ光学系は、被検眼の正面像、本実施形態では特に眼底正面像を撮像する。また、該検査装置は、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系の少なくとも一方の光学系により撮像された被検眼の動画像が表示手段に表示された状態で、ＯＣＴ光学系による断層像の撮像開始の指示を受け付ける指示受付手段を備える。本実施形態において、表示手段は表示部１３０を備え、ＳＬＯ光学系及びＯＣＴ光学系の自動合焦操作により得られている画像を連続的に切り替えて得られる動画像を、撮像の開始を判断するためのプレビュー画像として表示する。本実施形態において、指示受付手段は、表示部１３０の表示画面での撮像開始ボタンの押下げにより入力された撮像開始の指示を受け付ける取得部１２５を備える。なお、本実施形態では撮像開始の指示は操作者より入力されるが、上述したようにプレビュー状態において制御装置１２０が撮像開始の指示を出力する態様としてもよい。また、本実施形態に係る検査装置は、制御手段の例として制御部１２３を備える。該制御手段は、撮像開始の指示を受け付けた後においてＳＬＯ光学系により撮像された眼底正面像から得られる合焦情報に基づいて、指示に基づくＯＣＴ光学系による断層像の撮像中にレンズ２２７を制御する。
【００７８】
なお、上述した検査装置は、取得部１２５が撮像開始の指示を受け付ける前に、操作者による合焦手段による合焦状態の変更を受け付ける受付手段を更に備えてもよい。受付手段は、プレビュー表示時に操作者によって操作されたＯＣＴ光学系の操作入力情報として、例えばレンズ２２７の移動制御についての情報を受け付ける。本実施形態において、受付手段は、表示部１３０の表示画面を介してマウス等により入力される操作入力情報を受け付ける取得部１２５として検査装置に備えられる。なお、該受付手段は、操作者による指示を受け付ける態様に限られず、制御装置１２０による撮像開始の指示を受け付けることもできる。制御装置１２０は、取得部１２５により受け付けられた操作入力情報に応じたＯＣＴ光学系の合焦状態の変更量としてのフォーカスオフセット情報を生成する。制御装置１２０は更に、該フォーカスオフセット情報とトラッキング用の眼底正面像の取得時に併せて得られるＳＬＯ光学系の合焦情報とに基づいて、ＯＣＴ光学系による断層像の撮像中にレンズ２２７を制御する。
【００７９】
ＯＣＴ光学系は、測定光に基づいて得られる信号を用いて断層像を撮像する。その際、制御部１２３は、撮像開始の指示に基づく該断層像の撮像において、この信号が取得されていないときにレンズ２２７を制御する。より詳細には、ＯＣＴ光学系は、測定光で被検眼眼底上（被検査物上）を所定の方向に走査（Ｂスキャン）することにより該所定の方向に沿った断層像を撮像する。その際、該制御部１２３は、撮像開始の指示に基づく該断層像の撮像において、所定の方向への測定光の１の走査が完了し次の走査が開始されるまでの間にレンズ２２７を制御する。
【００８０】
なお、以上に述べた撮像開始の指示を受け付けた後の断層像の撮像時において、制御部１２３によるレンズ２２７の制御は常時行わなくともよい。具体的には、制御部１２３は、撮像開始の指示を受け付けた後におけるＳＬＯ光学系の合焦状態の変化量が閾値を超えた場合に、ＯＣＴ光学系による断層像の撮像中のレンズ２２７の制御を実行すればよい。この場合、ＳＬＯ光学系における合焦情報の変化としては、ディオプターの変更、レンズ２１５の光軸上の位置の変更、不図示の駆動手段であるステップモータのステップ数の変更等によるものが例示できる。ここで、ＯＣＴ光学系は、ＯＣＴ光源２２９から出射された光より分割されて被検眼Ｅを経た測定光と、該光より分割された参照光とを合波させて得られる干渉光より取得された干渉信号に基づいて断層像を撮像する。そして、ＯＣＴ光学系は、該干渉光を得るために、参照光の光路を折り返す参照ミラー２３７を更に備える。制御装置１２０は、撮像開始の指示を受け付けた後におけるＳＬＯ光学系の合焦情報に基づいて、必要に応じてこの参照ミラー２３７の光軸上の位置を制御する。なお、本実施形態において、断層像撮像中におけるＳＬＯ光学系の合焦情報は、該ＳＬＯ光学系により被検眼Ｅの移動量を求めてトラッキングの処理を行う際に用いる眼底正面像を撮像する際に取得する。
【００８１】
また、本実施形態に係る検査装置は、上述した第１光学系としてのＯＣＴ光学系と第２光学系としてのＳＬＯ光学系とを備える。そして、更にＳＬＯ光学系により得た眼底正面像から得られる合焦情報に基づいてＯＣＴ光学系のレンズ２２７を制御する制御部１２３と、操作者によるレンズ２２７の合焦状態の変更を受け付ける受付手段（取得部１２５）とを備える。ここで、制御装置１２０は、自動合焦操作による最適な合焦状態からの変更量を加味して得られたフォーカスオフセット量とＳＬＯ光学系の合焦情報とに基づいて、ＯＣＴ光学系による撮像中にレンズ２２７の光軸上の位置を制御する。なお、該受付手段は、操作者による指示を受け付ける態様に限られず、制御装置１２０による撮像開始の指示を受け付けることもできる。また、本実施形態に係る検査装置は、上述した第１光学系としてのＯＣＴ光学系と第２光学系としてのＳＬＯ光学系とを備え、該ＳＬＯ光学系は、トラッキング処理の際の被検眼の移動量を取得するための眼底正面像を撮像する。そして、制御装置１２０は、該移動量を取得するための眼底正面像を撮像する際に得られるＳＬＯ光学系の合焦情報に基づいて、制御部１２３によりＯＣＴ光学系による断層像の撮像中にレンズ２２７の光軸上の位置を制御する。なお、該受付手段は、操作者による指示を受け付ける態様に限られず、制御装置１２０による撮像開始の指示を受け付けることもできる。
【００８２】
〔２〕第２の実施形態 
第１の実施形態では、断層像撮像中にＳＬＯ光学系の自動合焦調整を行い、その結果をＯＣＴ光学系の合焦調整に利用することで、迅速なＯＣＴ光学系の合焦調整を可能としている。そして、これにより、最適な合焦状態を維持して断層像を撮像することを可能としている。ただし、この第１の実施形態では、ＳＬＯ光学系の合焦調整は、予め定められている網膜上の任意の位置に対して、或いは眼底上のある程度の広い範囲を対象として自動的に行われている。従って、実際の検査対象部位として操作者が意図する部位に対して厳密に合焦された眼底正面像が取得されていない可能性がある。本実施形態では、操作者がプレビュー表示において眼底正面像を観察しながらＳＬＯ光学系の合焦調整を行った場合は、以降の処理において眼底正面像の画質をこの合焦調整時の状態に保ちながら、最適な合焦状態で断層像を撮像することを目的とする。
【００８３】
なお、本実施形態に係る検査装置の構成は第１の実施形態にて説明した検査装置の構成と同じなので、ここでの説明を省略する。また、本実施形態で行われる眼底撮像処理の処理フローも、図４（ａ）、図４（ｂ）、及び図５に示すフローチャートで示される各処理と重複する処理が含まれるため、これら処理についてはここでの説明を省略する。以下では、第１の実施形態において実行される各処理と異なる処理が行われるステップについて説明をする。
【００８４】
＜ステップＳ４１１＞
第２の実施形態では、ステップＳ４１１で、制御装置１２０による指令に応じて、表示部１３０は画像生成部１２１より送られた自動調整後に得られた各種画像を、操作者に対して図３のようなプレビュー画面を用いて提示する。その際、表示部１３０は、プレビュー画面を見ながら操作者が操作するマウス等からの操作入力情報を取得する。取得部１２５は、表示部１３０を介して取得したマウス等からの操作入力情報を制御装置１２０へ送る。制御装置１２０は、その操作入力情報に応じて、制御部１２３を介してＳＬＯ光学系の合焦調整、ＯＣＴ光学系の合焦調整、ＯＣＴ光学系での参照ミラー位置調整等の制御を行う。制御装置１２０は、操作者の操作による制御結果であるこれらＯＣＴ手動合焦情報や参照ミラー位置情報等を記憶部１２２へ送る。本実施形態では、更に、ＳＬＯ光学系において操作入力が終わった際に得られた眼底正面像を画像解析部１２４へ送り、画質の解析を行う。併せて、ＳＬＯ光学系への手動合焦操作に関する操作入力情報も記憶部１２２へ送られ、該記憶部１２２に記憶される。なお、本実施形態では眼底正面像についての画質情報としてＳＮＲを使うが、画質評価に用いる指標にこれに限らず、例えばコントラスト幅や、ヒストグラム分析等、その他の指標を用いてもよい。
【００８５】
＜ステップＳ４３０＞
ステップＳ４３０で、制御装置１２０はＳＬＯ合焦情報、ＯＣＴ合焦情報、及び操作入力情報を得た後の合焦に関する情報を用いて、フォーカスのオフセット量を算出する。具体的には、ステップＳ４１０での自動合焦処理により得られているＳＬＯ光学系の合焦状態及びＯＣＴ光学系の合焦状態から、ＳＬＯ光学系及びＯＣＴ光学系共に操作入力情報に基づく合焦調整が行われている。この両光学系に与えられた操作入力情報に基づく例えば合焦用のレンズの移動量を加味し、ＳＬＯ光学系の合焦情報をＯＣＴ光学系の合焦調整に反映させる際の相関値を得る。即ち、本実施形態において、フォーカスオフセット量は、２つの差分より求められる。１つの差分は、操作入力情報に基づいて得られた現状のＳＬＯ光学系のレンズ２１５の位置と元のＳＬＯ光学系のレンズ２１５の位置との差分となる。もう１つの差分は、操作入力情報に基づいて得られる現状のＯＣＴ光学系のレンズ２２７の位置と元のＯＣＴ光学系のレンズ２２７の位置との差分となる。そして、制御装置１２０は、これら２つの差分を足し合わせて得られる該フォーカスオフセット量を、フォーカスオフセット情報として、記憶部１２２に記憶する。
【００８６】
＜ステップＳ４３２＞
本実施形態において、ステップＳ４３２で、制御装置１２０は、眼底正面像がステップＳ４１１で取得した眼底正面像を得た際の手動調整後の合焦状態になるように撮像光学系１１０の制御を行う。そして、その制御時に得られる合焦情報をＳＬＯ対象合焦情報として記憶部１２２に記憶する。即ち、本実施形態でのＳＬＯ自動フォーカス調整処理（２）では、眼底正面像の画質がステップＳ４１１で得られた眼底正面像の画質情報と一致或いは近い値が得られるようにＳＬＯ光学系の合焦調整を自動で行う。
【００８７】
ＯＣＴ光学系を有する検査装置に対して以上の構成を配することによって、断層像の撮像に際して最適なタイミングでＯＣＴ光学系の合焦設定が迅速に行うことができる。また、合焦調整時に用いる眼底正面像の画質を、操作者の合焦操作等の調整により得た眼底正面像の画質と同じにすることで、操作者が望む検査部位に合焦された眼底正面像について最適な画質での取得が可能となる。従って、断層像の取得に際して、所望の検査部位を対象とした合焦調整やトラッキングが可能となり、最適な合焦条件での断層像の撮像ができる。
【００８８】
なお、本実施形態では眼底正面像の画質は操作者が操作したＳＬＯ光学系の合焦状態にて取得したものとしたが、本実施形態の適用対象はこれに限られない。例えば、フォローアップ検査の場合、ＳＬＯ自動合焦調整を、過去に撮像された眼底正面像と同じ画質になるように実行することとしてもよい。即ち、本実施形態によれば、ＳＬＯ自動合焦調整は操作者が指定する眼底正面像の画質や、過去の眼底正面像の画質に基づいて行えることとなる。これにより、最適な合焦条件で断層像の撮像を行い、併せてより操作者が望む眼底正面像を得ることができる。
【００８９】
以上に述べたように、本実施形態では、指示受付手段が断層像の撮像開始の指示を受け付ける前に、ＳＬＯ光学系に含まれる第２合焦手段による自動合焦操作による合焦状態からの合焦状態の変更を受け付ける第２受付手段を更に備える。ここで、第２合焦手段はレンズ２１５に例示され、合焦状態はディオプターの変更や該レンズ２１５の光軸上の位置の変更により例示される。第２受付手段は、表示部１３０を介して取得されるＳＬＯ光学系に関する操作入力情報を受け付ける取得部１２５を備える。制御装置１２０は、第２合焦手段による合焦状態の変更が受け付けられた際に取得している眼底正面像の画質を維持するように、制御部１２３を介して第２光学系に含まれる第２合焦手段を制御する。
【００９０】
〔３〕第３の実施形態 
第１及び第２の実施形態では、断層像撮像中にＳＬＯ光学系の自動合焦調整を行い、その結果をＯＣＴ光学系の合焦調整に利用することで、迅速なＯＣＴ光学系の合焦調整を可能としている。そして、これにより、最適な合焦状態を維持して断層像を撮像することを可能としている。ただし、これら実施形態では、被検眼による瞬きや、被検眼に大きな動きが生じた場合に、ＳＬＯ光学系の自動合焦調整に失敗することが考えられる。本実施形態では、被検眼の瞬きや、大きな動きが生じた場合に、これに対応することを目的とする。
【００９１】
なお、本実施形態に係る検査装置の構成は第１の実施形態にて説明した検査装置の構成と同じなので、ここでの説明を省略する。また、本実施形態で行われる眼底撮像処理の処理フローも、図４（ａ）、図４（ｂ）、及び図５に示すフローチャートで示される各処理と重複する処理が含まれるため、これら処理についてはここでの説明を省略する。以下では、第１の実施形態において実行される各処理と異なる処理が行われるステップについて説明をする。
【００９２】
＜ステップＳ４３３＞
第３の実施形態では、ステップＳ４３３で、制御装置１２０は断層像の撮像のための眼底トラッキング処理を行う。該眼底トラッキング処理の詳細について以下に説明をする。本実施形態において、制御装置１２０は撮像光学系１１０を制御して、画像生成部１２１によりトラッキング対象画像を生成する。更に、制御装置１２０は、そのトラッキング対象画像と、記憶部１２２に記憶されているトラッキング参照画像とを画像解析部１２４へ送る。画像解析部１２４は、これらトラッキング対象画像とトラッキング参照画像との位置ずれを算出し、これら画像を取得する間が生じた被検眼Ｅの眼底の移動量を取得する。
【００９３】
本実施形態では、この眼底移動量の取得に併せ、画像解析部１２４はトラッキング対象画像を解析し、瞬き等の検知を行う。本実施形態では、例えば、眼底正面像の一部の領域が連続的に暗くなったことが検知された場合に、瞬きが生じたと判断する。なおこの方法に限らず、例えばインタレース撮像でＳＬＯ画像を生成している場合は、フィールドの一部が連続的に暗くなったことで瞬き等が生じたと判断する。しかし、瞬き等の検知様式はこの連続的な暗部の検知に限られず、その他の公知の方法を用いてもよい。更に、本実施形態では、画像解析部１２４は大きな固視微動等の目の大きな動きの検知も行う。ステップＳ４３３において算出された被検眼の眼底移動量がある移動閾値以上の場合には、この大きな固視微動が生じたと判断する。本実施形態では、その際の判断に用いる眼底移動量の移動閾値を２.０ｍｍと設定している。しかし、設定する移動閾値はこの値に限らず、例えば３．０ｍｍとするように値自体を任意の値に変更してもよいし、或いは移動量ではなく被検眼の眼球の回転角度として例えば１５度等の回転角度等を移動閾値に用いる等、その他の様式にて設定してもよい。
【００９４】
制御装置１２０は算出された被検眼Ｅの眼底移動量に基づいて、ＯＣＴ光学系の走査手段であるＸＹスキャナ２２６による測定光の照射位置の補正制御を行う。但し、本実施形態では、ステップＳ４３３で画像解析部１２４は瞬き等が生じたと判断した場合、或いは大きな固視微動等の眼の大きな動きが発生したと判断した場合に、制御装置１２０はフローをステップＳ４３４からステップＳ４３９までスキップさせる。即ち、ＯＣＴフォーカス再設定の処理や、ＯＣＴ参照ミラー位置再調整の処理を行わない。
【００９５】
なお、瞬き等の検知は眼底正面像の解析によるものと限ることなく、例えば画像解析部１２４は前眼部画像を解析し、前眼部画像の変化により瞬き等の発生を検知することとしてもよい。或いは、眼底正面像或いは前眼部画像が瞬間的に隠されたことを検知可能な、その他の公知の種々の方法を用いてもよい。例えば、前眼部画像全体の明るさが上がった時に瞬きが発生したと検知する等、画像全体の輝度が閾値以上に変化することにより検知することもできる。或いは、瞼の動きを解析することや、瞳の画像解析を行うこと等、の検知手法を用いることもできる。本実施形態によれば、以上の構成を配することによって、被検眼が瞬きをしたことや、眼が大きく動いたこと等を検知し、その場合にＯＣＴフォーカス再設定やＯＣＴ参照ミラー位置再調整の処理を停止する。これにより、瞬間的且つ合焦情報の取得が困難な画像に基づいた合焦調整を回避できるので、眼底像の撮像時における合焦調整への瞬き等の影響を少なくすることができる。
【００９６】
以上に述べたように、本実施形態に係る検査装置では、断層像撮像時におけるＯＣＴ光学系のレンズ２２７の光軸上の位置制御にＳＬＯ光学系の合焦情報を用いる。そして、該合焦情報は、該ＳＬＯ光学系により被検眼の移動量を求めるトラッキング処理のための眼底正面像を撮像する際に取得する。その際、被検査物である被検眼において、該被検眼の瞬きが発生した場合又は該被検眼の移動量が移動閾値を超えた場合には、ＯＣＴ光学系による撮像中における合焦レンズの制御を行わない。
【００９７】
〔４〕第４の実施形態
第１の実施形態では、断層像撮像中にＳＬＯ光学系の自動合焦調整を行い、その結果をＯＣＴ光学系の合焦調整に利用することで、迅速なＯＣＴ光学系の合焦調整を可能としている。そして、これにより、最適な合焦状態を維持して断層像を撮像することを可能としている。これに対して、本実施形態は、自動的な合焦調整では対応できない程度に被検眼の状態が大きく変化した場合に対処することを目的とする。
【００９８】
なお、本実施形態に係る検査装置の構成は第１の実施形態にて説明した検査装置の構成と同じなので、ここでの説明を省略する。また、本実施形態で行われる眼底撮像処理の処理フローも、図４（ａ）、図４（ｂ）、及び図５に示すフローチャートで示される各処理と重複する処理が含まれるため、これら処理についてはここでの説明を省略する。以下では、第１の実施形態において実行される各処理と異なる処理が行われるステップについて説明をする。
【００９９】
＜ステップＳ４３４＞
第４の実施形態では、ステップＳ４３４で、制御装置１２０は、ＯＣＴフォーカス再設定の処理を行うか否かの判断を行う。そのため、ステップＳ４２０で記憶部１２２に記憶されたＳＬＯ自動合焦情報とステップＳ４３２で記憶されたＳＬＯ対象合焦情報に基づいて、第１の実施形態と同様にＳＬＯ光学系の合焦状態の変化を調べる。本実施形態では、その際に通常の処理用の閾値と異常時用の閾値とを予め設定しておき、これら閾値と合焦状態の変化量とを比較し、閾値に応じて異なる処理を行うこととしている。即ち、合焦状態の変化の量が通常処理用の閾値を超えない場合は、制御装置１２０によってフローはステップＳ４３７へ進められる。また、合焦状態の変化量がこの通常処理用の閾値を超えて、更に該変化量が該通常処理用の閾値の２倍未満である場合は、制御装置１２０によってフローはステップＳ４３５へ進められる。そして、制御装置１２０は、ＯＣＴフォーカス設定処理としてＯＣＴ光学系の合焦状態を再設定する処理を行う。更に、ＳＬＯ光学系の合焦状態の変化量が該通常の処理用の閾値の２倍以上である異常時用の閾値を超える場合は、制御装置１２０は表示部１３０に警告表示命令を出し、表示部１３０は操作者に警告を表示する。
【０１００】
本実施形態では、以上の構成を配することによって、ＳＬＯ光学系の合焦状態が大きく変化する、被検眼の過剰に動く等の被検眼の状態の急変を検知することができる。当該構成により、操作者に警告を表示することで、早めに操作者に被検者状態の異常を知らせることができる。
【０１０１】
以上に述べたように、本実施形態に係る検査装置では、断層像の撮像開始の指示を受け付けた後におけるＳＬＯ光学系の合焦状態の変化が警告閾値よりも大きい場合に警告を行う警告手段を更に備える。該警告手段は、表示部１３０の表示画面上に種々の態様で警告情報として表示されてもよく、不図示のブザー等の音響用の構成により警告音を発する態様としてもよい。
【０１０２】
（その他の実施形態）
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形或いは変更して実施することができる。例えば、上述した実施形態では、被検眼の眼底が被検査物である場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被検査物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される検査装置として把握され、被検眼眼底は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
【０１０３】
また、本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給する態様ともできる。該態様においては、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも、本発明が実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。即ち、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、コンピュータ上で稼動しているオペレーティングシステム（ＯＳ）等が実際の処理の一部又は全部を行い、その処理によって上述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。更に、記録媒体から読み出したプログラムコードが、コンピュータ付属の機能拡張カードや機能拡張ユニット内のメモリに書込まれ、前記拡張カードや拡張ユニット内の演算装置が実際の処理の一部か全部を行い、上述した実施形態の機能が実現される場合も含む。また、本発明を上記記録媒体に適用する場合、その記録媒体には、先に説明した図に対応したプログラムコードが格納されることになる。以上より、本発明は、上述した各手段による工程或いは処理をコンピュータ実行させる検査装置の制御方法を構成する。
【０１０４】
以上、実施形態を参照して本発明について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではない。本発明の趣旨に反しない範囲で変更された発明、及び本発明と均等な発明も本発明に含まれる。また、上述の各実施形態は、本発明の趣旨に反しない範囲で適宜組み合わせることができる。
【符号の説明】
【０１０５】
１１０  撮像光学系
１２０  制御装置
１２１  画像生成部
１２２  記憶部
１２３  制御部
１２４  画像解析部
１２５  取得部
１３０  表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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