(57)【要約】【課題】微小入力から過大入力に至るまで、同一チャネルで精度よくアナログ信号のディジタル値を取り込むことができ、かつチャネルごとに入力回路の異常を検出すること。【解決手段】アナログ信号の高調波を除去するアナログフィルタ２と、アナログフィルタの出力を増幅する演算増幅器３と、演算増幅器のゲインを変更するゲイン切換回路４と、演算増幅器の出力を取り込み、ディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器５と、ディジタル値を処理する演算処理回路６とを備え、ゲイン切換回路４は、サンプリングタイミングに同期してゲインを変更することにより、大レンジと小レンジの二つの入力レンジを交互に切替え、演算処理回路６は、夫々の入力レンジのディジタル値を入力レンジ識別可能に取り込み、各入力レンジのデータを比較することによりゲイン切換回路の異常の有無を監視する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
アナログ信号を取り込み、ディジタル信号を出力する計測装置であって、
前記アナログ信号の高調波を除去するアナログフィルタと、
前記アナログフィルタの出力を増幅する演算増幅器と、
前記演算増幅器のゲインを変更するゲイン切換回路と
前記演算増幅器の出力を取り込み、ディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器と、
前記ディジタル値を処理する演算処理回路と、
を備え、
前記ゲイン切換回路は、サンプリングタイミングに同期して前記ゲインを変更することにより、大レンジと小レンジの二つの入力レンジを交互に切替え、
前記演算処理回路は、夫々の入力レンジの前記ディジタル値を入力レンジ識別可能に取り込むことを特徴とする計測装置。
【請求項２】
前記演算処理回路は、前記二つの入力レンジのうち、小レンジで取り込んだディジタル値がフルスケールに達したか否かを判定し、当該判定の結果フルスケールに達した場合は、一定時間、大レンジで取り込んだディジタル値を用いて計測処理を実行し、該判定の結果フルスケールに達していない場合は、小レンジで取り込んだディジタル値を用いて計測処理を実行することを特徴とする請求項１に記載の計測装置。
【請求項３】
前記演算処理回路は、大レンジおよび小レンジのディジタル値の比率に基づいて、前記ゲイン切換回路の異常の有無を監視することを特徴とする請求項１又は２に記載の計測装置。
【請求項４】
前記アナログフィルタの前段に、直流成分と高調波成分を含む監視用信号を前記アナログ信号に重畳する加算器を備え、前記演算処理回路は取り込んだ前記ディジタル値をもとに、前記Ａ／Ｄ変換器の精度の異常の有無の監視、及び前記アナログフィルタの異常の有無の監視のうち少なくとも一つを実行することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の計測装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれかに記載の計測装置を備え、電力系統を構成する送配電線の電気量をアナログ信号として前記計測装置に入力し、前記計測値で取得したディジタル値を用いて電力系統の保護・制御を実行することを特徴とする保護・制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計測対象物からのアナログ信号をディジタル信号に変換して処理する計測装置に係り、特に微小な入力信号から仕様値限界の過大な入力信号までの広範囲に亘り高精度で計測することのできる計測装置およびこれを備えた保護・制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のアナログ信号の計測は、入力レンジに応じたチャネルに夫々アナログ信号を取り込み、アナログ信号の大きさに適したレンジで計測していた。また、Ａ／Ｄ変換器の異常を検出するための監視用の入力は別チャネルから取り込まれていた。
【０００３】
図９は、従来のアナログ信号の計測装置の回路構成例である。この図において、アナログ信号は、高周波を除去するためのアナログフィルタ２を介して取り込まれ、演算増幅器（以下、「ＡＭＰ」という。）３によってチャネルごとに異なるゲイン（Ｇ：信号増幅率）で増幅される。各チャネルの信号はマルチプレクサ１０によって、所定のサンプリング周波数（ｆｓ）の計測サンプリング信号Ａに同期して切換えられ、それぞれＡ／Ｄ変換器５によってディジタル値に変換され、マイクロプロセッサ（演算処理回路）６に取り込まれて処理される。
【０００４】
図９において、例えばチャネル１は、平常時の微小信号を入力対象とするものであり、この信号はＡＭＰ３によってゲインｎ（ｎ＞１）に増幅され、マルチプレクサ１０、Ａ／Ｄ変換器５を介してディジタル値に変換される。チャネル２は、事故時の過大信号を入力対象とするものであり、微小信号よりも小さいゲイン（例えばゲイン１）で取り込まれる。またＡ／Ｄ変換器の精度の監視用信号（直流信号）は、別のチャネル３からマルチプレクサ１０、Ａ／Ｄ変換器５を介してマイクロプロセッサ６に取り込まれ、入力したディジタル値が理論値と合っているか否かが判定される。
【０００５】
さらに、アナログフィルタ２の異常監視については、アナログフィルタ２の前段に設けられた加算器９によって監視用入力である高調波が計測対象のアナログ信号に重畳され、マイクロプロセッサ６において取得したディジタル値の時間トレンドから高調波除去が正常に行われているか否かの監視が行われる。
【０００６】
一方、アナログ信号の計測において、同一チャネルでレンジを切換えながら、微小信号から仕様の最大値に近い過大信号までを精度良く計測できる技術が従来から提案されている。例えば、特許文献１では、大中小の複数の入力レンジを入力信号のレベルに応じて自動的に切換えて計測するという思想が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００２−１１６０５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
この特許文献１に記載されている複数の入力レンジを電子回路で構成する場合、Ａ／Ｄ変換器の前段にゲインの異なるＡＭＰを複数個設けると共に、マイクロプロセッサからの指令によって一のＡＭＰを選択するための切換回路を設けて実現することになるものと考えられる。
【０００９】
しかしながら、このような付加的な回路を設けた場合、例えば各レンジのＡＭＰが正常に動作しているか、あるいは、切換回路に異常がないかなど、回路の異常の有無を如何に監視するかが問題となる。
【００１０】
本発明は上述のかかる事情に対処してなされたものであり、微小入力から仕様値の最大値に近い過大入力に至るまで、同一チャネルで精度よくアナログ信号のディジタル値を取り込むことができ、かつチャネルごとに入力回路の異常を検出することのできる簡素な構成の計測装置および保護・制御装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するため、本発明に係わる計測装置は、アナログ信号を取り込み、ディジタル信号を出力する計測装置であって、前記アナログ信号の高調波を除去するアナログフィルタと、前記アナログフィルタの出力を増幅する演算増幅器と、前記演算増幅器のゲインを変更するゲイン切換回路と、前記演算増幅器の出力を取り込み、ディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器と、前記ディジタル値を処理する演算処理回路と、を備え、
前記ゲイン切換回路は、サンプリングタイミングに同期して前記ゲインを変更することにより、大レンジと小レンジの二つの入力レンジを交互に切替え、
前記演算処理回路は、夫々の入力レンジの前記ディジタル値を入力レンジ識別可能に取り込むことを特徴とする。
【００１２】
本発明では、Ａ／Ｄ変換において従来のサンプリング周波数よりも高いオーバーサンプリングでディジタル値を読み込みながら、ゲイン切換回路により大小の入力レンジを交互に切換えるので、チャネル数を削減して回路の簡素化を図ることができる。また、ディジタルデータを入力レンジ識別可能に取得するので、両データを比較して、ゲイン切換回路の異常を検出することが可能になる。
【００１３】
なお、演算増幅器のゲインを小さくすれば、フルスケール（ＦＳ）にならずに計測できる信号レベルの最大値が大きくなり、大レンジとなる。一方、演算増幅器のゲインを大きくすれば、微小信号を精度よく計測できるものの、フルスケール（ＦＳ）にならずに計測できる信号レベルの最大値は小さくなり、小レンジとなる。
【００１４】
特に、前記演算処理回路は、前記二つの入力レンジのうち、小レンジで取り込んだディジタル値がフルスケールに達したか否かを判定し、当該判定の結果フルスケールに達した場合は、一定時間、大レンジで取り込んだディジタル値を用いて計測処理を実行し、該判定の結果フルスケールに達していない場合は、小レンジで取り込んだディジタル値を用いて計測処理を実行することを特徴とする。
【００１５】
これにより、事故時などの一連の過渡現象においては、大レンジのデータのみを用いて計測処理を行うことができるので、データの連続性が担保でき、また入力レンジが変わることによるスケール変換処理の負担を減らすことができる。
【００１６】
本発明に係わる計測装置は、さらにアナログフィルタの前段に、直流成分と高調波成分を含む監視用信号を前記アナログ信号に重畳する加算器を備え、前記演算処理回路は取り込んだディジタル値をもとに、前記Ａ／Ｄ変換器の精度の異常の有無の監視、及び前記アナログフィルタの異常の有無の監視のうち少なくとも一つを実行することを特徴とする。
【００１７】
本発明では、監視用信号として、高調波成分のみならず直流成分も含んでいるため、アナログフィルタの異常監視のほか、この直流成分をもとにＡ／Ｄ変換器の精度監視も行うことができる。
【００１８】
なお、上記の計測装置は、電力系統の保護・制御を実行する保護・制御装置に適用することができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、一つの入力チャンネルで微小信号から仕様値の最大値までの入力信号を高精度に計測することができ、さらにＡ／Ｄ変換器を含めその前段に設けられている入力回路の異常を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の第１の実施の形態による計測装置の回路構成図である。
【図２】図１の除算器、ゲイン切換回路、ＡＭＰを含む回路の一例である。
【図３】本発明の実施の形態による、ｎ倍増幅信号と非増幅信号の取得の仕組みの説明図である。
【図４】本発明の実施の形態による、ｎ倍増幅信号と非増幅信号を用いて微小信号および過大信号のサンプリングをする方法の説明図である。
【図５】図１のマイクロプロセッサの計測処理の手順を示すフローチャートである。
【図６】図５の他の実施例によるマイクロプロセッサの計測処理の手順を示すフローチャートである。
【図７】本発明の第２の実施の形態による計測装置の回路構成図である。
【図８】図７の他の実施例による計測装置の回路構成図である。
【図９】従来技術によるアナログ信号の計測装置の回路構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下に本発明の第１の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
図１は本実施の形態による計測装置の回路構成図である。図１において計測装置１は、入力回路８を介して計測信号（アナログ信号）を取り込み、ディジタル値に変換してマイクロプロセッサ（演算処理回路）６に取り込む。
【００２２】
この計測信号は、例えば電力系統の保護・制御装置では、系統事故時には仕様値上限の過大信号が入力されるが、平常時は、過大信号に比べて極めて小さな微小信号が入力される場合が多い。
【００２３】
また、負荷に電力を供給する電源供給システムでは、負荷の作動状態によって入力される計測信号の値が大きく異なる場合がある。たとえば、負荷が停止している状態では微小電流しか流れないものの、負荷が作動した途端に過大電流が流れるような場合が想定される。
【００２４】
図１において、計測装置１の入力回路８は、図示しない外部の機器から入力されたアナログ信号の高調波を除去するアナログフィルタ２、アナログフィルタ２の出力を増幅するＡＭＰ３、前記ＡＭＰ３のゲインを変更するゲイン切換回路４、前記ＡＭＰ３の出力を取り込み、ディジタル信号を出力するＡ／Ｄ変換器５、および、マイクロプロセッサ６からのサンプリング信号を１／２の周波数に変換する除算器７を備えている。なお、本実施の形態では、除算器７としてＪＫフリップフロップを用いているがこれに限られるものではない。
【００２５】
マイクロプロセッサ６から出力される周波数ｆｓの計測サンプリング信号Ａは、Ａ／Ｄ変換器５と除算器７に夫々入力される。除算器７は、計測サンプリング信号Ａをもとに、その１／２の周波数のＡＭＰゲイン切換え信号Ｂを出力する。このＡＭＰゲイン切換え信号Ｂにより、ゲイン切換回路４の可変抵抗器ＶＲ２の抵抗値が切換えられる。
【００２６】
図２に、除算器７、ゲイン切換回路４、ＡＭＰ３の回路構成の具体例を示す。抵抗器Ｒ１の一端はアナログフィルタ２の出力と接続され、他端はＡＭＰ３の反転端子および抵抗Ｒ２の一端と接続されている。抵抗Ｒ２の他端は、抵抗Ｒ２ａの一端と接続され、抵抗Ｒ２ａの他端は、ＡＭＰ３の出力およびＡ／Ｄ変換器５の入力端に接続されている。また、抵抗Ｒ２ａに並列に半導体スイッチＳＷ１が接続されており、この半導体スイッチＳＷ１は、除算器７からのＡＭＰゲイン切換え信号Ｂによってオン、オフ動作する。半導体スイッチＳＷ１はオン動作すると抵抗値略ゼロで電流を通電させる。ＡＭＰ３の非反転端子は抵抗Ｒ３を介して接地されている。いま、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ２ａの抵抗値を夫々ｒ１，ｒ２，ｒ２ａとすると、半導体スイッチＳＷ１がオンのときは、ＡＭＰ３に入力されるアナログ信号は、−（ｒ２／ｒ１）倍に増幅され、半導体スイッチＳＷ１がオフのときは、アナログ信号は、−｛（ｒ２＋ｒ２ａ）／ｒ１｝倍に増幅されることになる。したがって、もし半導体スイッチＳＷ１がオンのときに１倍、オフのときにｎ倍（ｎ＞１）にする場合は、ｒ２＝ｒ１、ｒ２ａ＝ｒ１・（ｎ−１）となるように抵抗値を決定すれば良い。
【００２７】
次に、上記の構成を有する計測装置１の動作を説明する。
外部から入力された計測信号は、アナログフィルタ２によってＡ／Ｄ変換器５の折り返し誤差の要因となる高調波ノイズや不要なノイズが除去される。アナログフィルタ２から出力された信号は、上述したゲイン切換回路４、およびＡＭＰ３によって、所定のゲインに増幅される。
【００２８】
ゲイン切換回路４の抵抗器ＶＲ２は可変抵抗器で構成され、その抵抗値は周波数ｆｓ／２のＡＭＰゲイン切換え信号Ｂによって切換え変更できるようになっている。計測サンプリング信号Ａに同期してゲインＧが１倍とｎ倍（ｎ＞１）に切り換わりながらＡ／Ｄ変換器５に取り込まれる。
【００２９】
Ａ／Ｄ変換器５によってディジタル値に変換されたサンプリングデータは、ｎ倍に増幅された入力信号（以下、「ｎ倍増幅信号」という。）と、実入力と同じレベルの入力信号（以下、「非増幅信号」という。）とがサンプリングごとに交互にマイクロプロセッサに取り込まれる。
【００３０】
このｎ倍増幅信号と非増幅信号の取得の仕組みを図３に示す。計測サンプリング信号Ａの立ち上がりで計測入力のアナログ信号がサンプリングされてＡ／Ｄ変換されるが、このサンプリングに同期して計測サンプリング信号Ａの立ち下がりをトリガーにＡＭＰゲイン切換え信号Ｂがオン/オフを繰り返す。このＡＭＰゲイン切換え信号Ｂがオン（信号レベル"Ｈｉｇｈ"）のときには半導体スイッチＳＷ１がオンし、ゲインＧは１倍となる。またＡＭＰゲイン切換え信号Ｂがオフ（信号レベル"Ｌｏｗ"）のときには半導体スイッチＳＷ１がオフし、ゲインＧはｎ倍に切り換わる。
【００３１】
これらの入力値は、サンプリングをしたときのゲインの識別情報が付されてマイクロプロセッサ６の記憶部に保存される。あるいは、サンプリング時のゲインに応じて格納するメモリアドレスを変えるよにしてもよい。なお、図２の回路構成では、マイクロプロセッサ６にＡＭＰゲイン切換え信号ＢのＨｉｇｈ／Ｌｏｗの状態を読み込み可能にすることにより、マイクロプロセッサ６はＡ／Ｄ変換器５からディジタル値を読み込んだときの半導体スイッチＳＷ１のオン／オフ状態、すなわちゲインが１かｎかを容易に認識することができる。
【００３２】
本実施の形態の説明においては、便宜上、図３中、ゲインｎでサンプリングされた入力信号には△の識別情報を付し、ゲイン１でサンプリングされた入力信号は○の識別情報を付している。
【００３３】
次にマイクロプロセッサ６の、ゲインｎ、ゲイン１で夫々サンプリングしたデータに対する処理手順を説明する。図５は、マイクロプロセッサ６の計測処理の手順を示すフローチャートである。
【００３４】
マイクロプロセッサ６の計測処理手段は、サンプリング周期に同期して起動されると、まずゲインｎのデータを抽出し（Ｓ１０１）、フルスケール（ＦＳ）か否か、すなわちオーバーフローしているか否かを判定する（Ｓ１０２）。その結果フルスケールに達している場合は、予め定められた一定期間（たとえば、平常時の交流周波数で定まる期間）ゲイン１のデータを選択する（Ｓ１０３）。一方、判定の結果、フルスケールに達していない場合は、ゲインｎのデータ選択する（Ｓ１０４）。
【００３５】
この手順によれば、図４に示すように、通常の微小信号△はゲインｎで増幅されるため、微小信号の最大値はＦＳレベル近くまで増幅され、精度よく計測することが可能になる。一方、ゲインｎで事故時等に発生する過大信号を入力した場合は、そのディジタル値はＦＳレベルを超えてしまい、ＦＳレベルで頭打ちする状態となるが、本データは有効データとして扱われない。この過大信号○に対しては、事故時の過大入力がＦＳレベル近傍になるように予めスケールが設定されており、本事故時は本データを用いる。これにより、精度のよい計測が可能となる。
【００３６】
（他の実施例）
図６に他の実施例によるマイクロプロセッサ６の処理手順を示す。図５との主な違いは、入力回路８の異常を検出する故障監視機能を設けたものである。具体的には、ステップＳ１０４の処理の後、あるサンプリングタイミングのデータについて、ゲインｎのディジタル値はゲイン１のディジタル値の略ｎ倍か否かを判定し（Ｓ１０６）、ＹＥＳの場合は正常判定（Ｓ１０７）、ＮＯの場合は入力回路８（ゲイン切換回路４）に異常があったものと判定し、異常処理を実行する（Ｓ１０８）。
【００３７】
この他、ステップＳ１０３の後にオーバーフロー処理として、系統事故が発生したことを外部へ通知する処理（Ｓ１０５）を実行するようにしてもよい。
【００３８】
一般にアナログ信号をサンプリング計測する計測装置では、入力信号をＡ／Ｄ変換器のフルスケールにできるだけ近いレベルで測定したほうが量子化誤差の影響が小さくなり、高精度に計測することが可能になる。本実施の形態によれば、事故等により発生する過大な入力信号はそのままのゲイン値（ゲイン１）で計測したデータを用い、微小な入力信号はゲイン回路でフルスケールに近いレベルまで信号増幅したデータを用いるので、微小信号と過大信号のどちらの計測信号に対しても高精度に計測することが可能となる。
【００３９】
また、本実施の形態による効果として、微小信号の入力時において、ゲインｎで取得された△データから算出された信号の大きさ（実効値）とゲイン１で取得された○データから算出された信号の大きさ（実効値）とを比較確認（ｎ倍値の算出確認）することで、入力回路８、特にゲイン切換回路４やＡＭＰ３の異常の有無を監視することが可能になる。
【００４０】
次に本発明の第２の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
図７は、本実施の形態による計測装置のブロック図である。図１との主な違いは、アナログフィルタ２の前段に計測信号に監視用の入力信号を重畳させる加算器９を追加したことである。この監視用の入力信号は、例えば図７に示すような、一定の直流電圧Ｖ（ＤＣ）に対して、振幅Ｖの例えばサイン波形であり、アナログフィルタ２で除去可能な周波数の高調波を合わせた信号を用いることができる。
【００４１】
入力回路８の監視については、図７に示すとおりアナログフィルタ２の前段に設けられた加算器９によって計測信号に監視用の高調波を重畳させる。加算器９から出力された信号の高調波成分についてはアナログフィルタ２で除去されるため、アナログフィルタ２からは出力されず、Ｖ（ＤＣ）レベルの直流信号成分が計測信号に重畳されて出力される。
【００４２】
そして、本直流分の信号を計測演算するマイクロプロセッサ６で抽出して、理論値どおりのＶ（ＤＣ）レベルを確認することで、Ａ／Ｄ変換器５の精度の監視が可能となる。
【００４３】
また、ゲインの切換えにより本Ｖ（ＤＣ）レベルは、Ｖ（ＤＣ）とＶ（ＤＣ）×ｎで出力されるのでｎ値を計測確認することで、ゲイン切換回路４の異常も検出することが可能となる。
【００４４】
アナログフィルタ２に異常があった場合は、試験印加した高調波成分がマイクロプロセッサ部で抽出されて異常を検出することが可能となる。
【００４５】
また、監視用の直流信号は計測信号に重畳してオフセット信号としてＡ／Ｄ変換器５から出力されるので、マイクロプロセッサ６においてこの直流分だけを抽出して本直流分を入力信号から除去することにより計測信号のみを抽出することができる。
【００４６】
なお、図８に例示するように、マイクロプロセッサ６からの指令により、外部からの計測信号と監視用の入力信号とを切換える半導体スイッチＳＷ２を設けることにより、現地において外部機器と接続した後でも監視用の入力信号のみを入力することができる。
【００４７】
すなわち、図８の構成では、半導体スイッチＳＷ２による切換えと、ゲイン切換回路４によるゲインの切換えの組み合わせにより、４つのモードの切替えを行いながらサンプリング入力することが可能になる。より具体的に説明すれば、半導体スイッチＳＷ２を計測信号側に切換えた状態で、ゲイン切換回路４により、小レンジ（モードa）と大レンジ（モードｂ）で夫々入力処理を行う一方、定期的あるいは予め決められた一定のタイミングで半導体スイッチＳＷ２を監視用信号側に切換えて、監視用信号を小レンジ（モードｃ）と大レンジ（モードｄ）の夫々で入力して監視処理を実行する。これにより、計測信号が直流成分を含む場合でも、正確にＡ／Ｄ変換器５の精度の監視を行うことができる。
【００４８】
以上、本実施の形態によれば、第１の実施の形態の効果に加えて、さらにアナログフィルタの高調波除去性能やＡ／Ｄ変換器の精度など、より多様な監視が可能となる。
【００４９】
本発明は、上述した実施の形態に限定されることなく種々変形して実現することができる。たとえば、上記実施の形態では、ゲイン１とゲインｎについて説明したが、発明の本質は、ゲインの異なる二つの入力データを用いることであり、過大電流をオーバーフローせずにサンプリングすることのできる任意に調整されたゲインｍ（|ｍ|＞０）と、平常時の電流（すなわち系統事故時、機器稼動時に比べて微小な電流）が、オーバーフローせずにレンジ一杯に十分大きな値としてサンプリングすることのできる任意に調整されたゲインｎ（|ｎ|＞|ｍ|）に対して適用できることは言うまでもない。
【００５０】
また、図１、図７、図８において、ＡＭＰ３とＡ／Ｄ変換器５との間にマルチプレクサを介挿して、複数のチャネルの入力信号を取り込むことも勿論可能である。
【産業上の利用可能性】
【００５１】
本計測装置は、例えば、電力系統を構成する機器からアナログ信号を取得する保護リレーや監視制御装置（保護・制御装置）、オシロ装置、電力計測装置など、系統の通常状態（平常時）と系統事故時のレンジの大きく異なるアナログ信号を扱う分野に好適である。
【符号の説明】
【００５２】
１    計測装置
２    アナログフィルタ
３    演算増幅器（ＡＭＰ）
４    ゲイン切換回路
５    Ａ／Ｄ変換器
６    マイクロプロセッサ（演算処理回路）
７    除算器
８    入力回路
９    加算器
１０    マルチプレクサ（ＭＰＸ）
Ｒ１，Ｒ２，Ｒ２ａ，Ｒ３    抵抗器
ＶＲ２  可変抵抗器
ＳＷ１，ＳＷ２    半導体スイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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