(57)【要約】【課題】手動で磁気カードを摺動する磁気カード読取装置において、磁気カードを摺動する速度が一定でない場合に読取エラーが発生することがある。【解決手段】磁気カード読取装置は、磁気カードの移動方向をガイドするガイド溝と、ガイド溝に沿って磁気カードが移動する際の磁気カードの移動方向における位置を検出する位置センサと、ガイド溝に沿って磁気カードが移動する際の磁気カードの磁気情報を読み取る磁気情報読取部と、位置センサの読み取った位置情報を用いて、磁気情報読取部が読み取った磁気情報を補正する磁気情報補正部と、を備え、摺動する速度によらない磁気情報の読取を行う。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気カードの移動方向をガイドするガイド溝と、
前記ガイド溝に沿って移動する前記磁気カードの移動方向における位置を検出する位置センサと、
前記ガイド溝に沿って移動する前記磁気カードに記録された磁気情報を読み取る磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドが読み取った磁気情報と前記位置センサが読み取った位置情報とを対応させてデジタルデータを出力する変換部と、を備えた、
磁気カード読取装置。
【請求項２】
前記位置センサは、密着型イメージセンサである、
請求項１に記載の磁気カード読取装置。
【請求項３】
前記ガイド溝は、前記磁気カードがこれ以上移動できないような終端部を有し、
前記ガイド溝のガイド方向において、前記終端部から見て前記磁気ヘッドの位置する方向を正の方向とした場合に、前記密着型イメージセンサの正の方向の端部は、前記磁気ヘッドよりも正の方向に位置する、
請求項２に記載の磁気カード読取装置。
【請求項４】
前記位置センサは、反射型光学センサである、
請求項１に記載の磁気カード読取装置。
【請求項５】
前記ガイド溝のガイド方向において、前記反射型光学センサは、前記磁気ヘッドと略同じ位置に位置する、
請求項４に記載の磁気カード読取装置。
【請求項６】
前記ガイド溝のガイド方向において、前記反射型光学センサは、前記磁気ヘッドの前と後に１つずつ位置する、
請求項４に記載の磁気カード読取装置。
【請求項７】
ガイド溝に沿って移動する磁気カードの移動方向における位置を検出するステップと、
前記ガイド溝に沿って移動する前記磁気カードに記録された磁気情報を読み取るステップと、
前記読み取った磁気情報と前記読み取った位置情報とを対応させてデジタルデータを出力するステップと、を有する、
磁気カード読取方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、磁気カード読取装置及び磁気カード読取方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
手動によって磁気カードを摺動するタイプの磁気カード読取装置では、磁気カードの磁気ストライプ上の磁気情報に磁気ヘッドを接触させ、磁気カードを摺動することによって、磁気ヘッドの出力の変化を計測することにより磁気カードの磁気情報を読み取り、それをデジタルデータに変換して出力する方式が用いられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第５５１１０３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１などに記載されている手動によって磁気カードを摺動する磁気カード読取装置においては、磁気カードを手動によって摺動させる際に、磁気カード読取装置の取り扱いに不慣れな操作者の場合には、摺動速度を安定に保つことが困難で、摺動速度が変化する場合に磁気カードの読取りが行えない場合があった。熟練した担当者に磁気カードの読取りを行うことが運用的に困難な場合、たとえば無人機の磁気カード読取装置などのように一般の利用者が自ら磁気カードを摺動する場合には、上記の課題を解決する手段として、磁気カードの手動による摺動距離を長くし、磁気ヘッドにカードが到達するまでの助走距離を長くして、磁気ヘッド上を通過するカードの速度をなるべく一定にさせるといった方式が用いられていた。しかし、この方式は助走部を含めた磁気カード読取装置の形状が大型化するという課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本開示は、磁気カードの移動方向をガイドするガイド溝と、前記ガイド溝に沿って移動する前記磁気カードの移動方向における位置を検出する位置センサと、前記ガイド溝に沿って移動する前記磁気カードに記録された磁気情報を読み取る磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドが読み取った磁気情報と前記位置センサが読み取った位置情報とを対応させてデジタルデータを出力する変換部と、を備えた、磁気カード読取装置を提供する。
【０００６】
また、本開示は、ガイド溝に沿って移動する磁気カードの移動方向における位置を検出するステップと、前記ガイド溝に沿って移動する前記磁気カードに記録された磁気情報を読み取るステップと、前記読み取った磁気情報と前記読み取った位置情報とを対応させてデジタルデータを出力するステップと、を有する、磁気カード読取方法を提供する。
【発明の効果】
【０００７】
本開示によれば、磁気ヘッドが磁気カードのどの部分と接触しているかを、逐次的に具体的な磁気カードの座標を計測しながら磁気カードの磁気情報を読み取ることができるため、摺動速度の変化による読取性能の劣化を抑止することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】実施の形態１に係る磁気カード読取装置の外観を示す斜視図
【図２】実施の形態１に係る磁気カード読取装置の回路構成を示すブロック図
【図３】実施の形態１に係る磁気カード読取装置の構成要素の位置関係を示す図
【図４Ａ】従来の磁気カード読取装置の動作例を示す図
【図４Ｂ】従来の磁気カード読取装置の動作例を示す図
【図４Ｃ】従来の磁気カード読取装置の動作例を示す図
【図４Ｄ】従来の磁気カード読取装置の動作例を示す図
【図５】実施の形態１に係る磁気カード読取装置の動作フローを表す図
【図６】実施の形態２に係る磁気カード読取装置の構成要素の位置関係を示す図
【図７】実施の形態２に係る磁気カード読取装置の構成要素の位置関係を示す図
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、添付図面を適宜参照しながら、本開示に係る磁気カード読取装置及び磁気カード読取方法を具体的に開示した各実施の形態を詳細に説明する。但し、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。例えば、既によく知られた事項の詳細説明や実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。これは、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け、当業者の理解を容易にするためである。なお、添付図面及び以下の説明は、当業者が本開示を十分に理解するために提供されるのであって、これらにより特許請求の範囲に記載の主題を限定することは意図されていない。
【００１０】
（実施の形態１）
以下、本開示の実施の形態１について、図１乃至図５を参照して説明する。
【００１１】
図１は、実施の形態１に係る磁気カード読取装置１００を示す斜視図である。図１に示すように、磁気カード読取装置１００は、磁気カードの摺動方向をガイドするガイド溝１０１と、磁気カードが摺動するための空間、磁気カード読取装置１００における各種の制御を行うためのマイクロプロセッサ、メモリ、外部装置とのインターフェース（Ｉ／Ｆ）、ＩＣ（Integrated Circuit）チップが搭載された磁気カードのＩＣチップを読み取るためのＩＣ読取部など（いずれも図示せず）をそれぞれ収納可能なボディ部１０２と、磁気カードの磁気情報を読み取るための磁気ヘッドを収納している第１突起部１０３と、位置センサの全部又は一部を収納している第２突起部１０４と、を含む構成である。
【００１２】
なお、図１の磁気カード読取装置１００はディップ式であるが、手動で磁気カードを摺動する形式であればスライド式などの他の形式でも構わない。利用者が磁気カードをガイド溝１０１に合わせて挿入して磁気カードを図１に示す摺動方向に摺動して磁気カードがガイド溝１０１の終端部（図示略）に位置すると、磁気ヘッドは磁気カードの磁気情報を読み取る。終端部は、利用者によって摺動方向に摺動された磁気カードがこれ以上移動できない端部（図１では図示略）である。
【００１３】
図２は、実施の形態１に係る磁気カード読取装置１００の回路構成を示すブロック図である。図２に示すように、磁気カード読取装置１００は、磁気カードの位置を検知するための密着型イメージセンサ２０２と、磁気カードの磁気ストライプの磁気情報を読み取るための磁気ヘッド２０３と、磁気ヘッドの出力を二値化した二値データを生成するための二値化回路２０４と、外部装置とデータの入出力を行うための入出力インターフェース２０５と、マイクロプロセッサ上で動作し、密着型イメージセンサ２０２の出力する位置情報と二値化回路２０４が出力する二値データとからデジタルデータを生成し、入出力インターフェース２０５に出力する制御部２０１と、磁気カード読取装置１００内の各構成要素を接続するためのバスライン２０６と、各種データを記録するためのメモリ２０７と、を含む。なお図２では、インターフェースを「Ｉ／Ｆ」と略記している。
【００１４】
変換部の一例としての制御部２０１は、密着型イメージセンサ２０２の出力した位置情報と二値化回路２０４の出力した二値データ（言い換えると、磁気ヘッドが読み取った磁気情報）とからデジタルデータを生成して、入出力インターフェース２０５を通じて外部に出力する。
【００１５】
密着型イメージセンサ２０２は、定期的に磁気カードの位置を計測し、計測結果を制御部２０１に送信する。ここで、カードの位置を計測する方法としては、密着型イメージセンサ２０２は、例えば、カードの端部を画像認識して各時刻における認識したカードの端部の位置を計測結果として出力する。なお、ここでは密着型イメージセンサ２０２を用いるとしているが、磁気カードの位置を測定できるセンサであれば他の種類のセンサを用いてもよい。
【００１６】
磁気ヘッド２０３は、磁気カードの摺動に伴う磁気ストライプ上の磁界の変化を計測し、その計測結果を二値化回路２０４に出力する。
【００１７】
二値化回路２０４は、磁気ヘッド２０３の出力から二値データを生成して制御部２０１に送信する。なお、二値化回路２０４は、制御部２０１（例えばマイクロプロセッサ）上で動作してもよい。
【００１８】
入出力インターフェース２０５は、制御部２０１から受け取ったデジタルデータを、外部装置（例えば、ＡＴＭ（Automated Teller Machine）本体の制御部など）に出力する。
【００１９】
メモリ２０７は、制御部２０１、密着型イメージセンサ２０２、磁気ヘッド２０３や二値化回路２０４の入出力データや演算に用いる値などを保持する。
【００２０】
図３は、実施の形態１に係る磁気カード読取装置１００の構成要素の位置関係を示す図である。図３は、図１の磁気カード読取装置１００のうち、ボディ部１０２や第１突起部１０３，第２突起部１０４などを省略し、密着型イメージセンサ２０２と磁気ヘッド２０３、さらに、摺動される磁気カード３０１と磁気カード３０１に含まれる磁気ストライプ３０２の位置関係を表したもので、磁気カード３０１を図３の紙面左側から紙面右側に向けて右方向（つまり、Ｘ方向）に図３中の第１磁気カード位置から第２磁気カード位置に磁気カード３０１を摺動する時に磁気カード３０１の磁気情報を読み取ることを前提として記述されている。
【００２１】
Ｘ方向は、図１においてガイド溝１０１から挿入した磁気カードをボディ部１０２の方向に向かって摺動する場合の方向に相当する。なお、磁気ヘッド２０３は、Ｘ方向の反対方向に第２磁気カード位置から第１磁気カード位置に磁気カード３０１を摺動する場合（つまり、磁気カード３０１を手前側に引き抜く場合）に磁気情報を読み取ってもよい。以下磁気情報と位置情報とを対応付ける動作概要について説明する。
【００２２】
磁気カード３０１を磁気ヘッド２０３で読み取る場合に、図３の磁気カードの右端が第１読取位置に位置したところ（言い換えると、磁気カード３０１が第１磁気カード位置に位置するところ）から磁気ストライプ３０２上の磁気情報を読み取ることが開始される。この位置は、密着型イメージセンサ２０２の第１読取位置の座標として認識される。以降、磁気カード３０１がＸ方向に摺動されるに従って、密着型イメージセンサ２０２から磁気カード３０１のＸ方向の位置情報が出力され、最終的には磁気カードの左端が第１読取位置を通過するところまで（言い換えると、磁気カード３０１が第２磁気カード位置に位置するところまで）が把握される。磁気カード３０１が第２磁気カード位置に到達した時、磁気カード３０１はガイド溝１０１の終端部（上述参照）に位置したことになる。
【００２３】
一般的にクレジットカードに用いられている磁気カードはＩＳＯ／ＩＥＣ  ７８１１に準拠しているが、この場合、磁気記録密度は２１０ビット／インチ（トラック１及び３）あるいは７５ビット／インチである。そのため、磁気カード３０１の磁気記録密度に対して十分な解像度を有する密着型イメージセンサ２０２を用いて磁気カード３０１の位置を検出することが望ましい。例えば、ドキュメントスキャナや複写機等に多用されている密着型イメージセンサでは、６００ピクセル／インチの解像度を有するものが普及しており、磁気カードの位置検出精度は磁気記録密度に比べて十分な精度を確保することができる。
【００２４】
このことから、実施の形態１において磁気カード３０１が摺動される場合に、磁気カード読取装置１００は、密着型イメージセンサ２０２から得られる磁気カード３０１の位置を逐次的に把握しながら、磁気ヘッド２０３の出力信号を計測すれば、磁気カード３０１に実際に記録されている磁気情報のパターンを、磁気ストライプ３０２上の位置に応じた絶対的な値として把握することができる。また、その場合には磁気カード３０１の位置を磁気カード３０１の摺動速度に対して十分な精度で逐次計測するため、原理的に磁気カード３０１の摺動速度というファクターに依拠せず、摺動速度によらない磁気情報の読取が可能となる。
【００２５】
図４Ａ，図４Ｂ，図４Ｃ，図４Ｄは、従来の磁気カード読取装置の動作例を示す図である。以下、図４Ａ〜図４Ｄを参照して、実施の形態１の制御部２０１ではない従来の制御部を有し、他の構成要素は実施の形態１と同様である磁気カード読取装置における二値データの生成方法、磁気情報を０と１のビット列で表現したデジタルデータの生成方法と磁気カード読取装置が磁気情報の読取に失敗する場合の例について説明する。
【００２６】
図４Ａは、磁気カード３０１の磁気ストライプ３０２に記録された磁気情報の一部分を表したものである。ｐ０，ｐ１，ｐ２，ｐ３，ｐ４，ｐ５，ｐ６，ｐ７，ｐ８はそれぞれ磁気ストライプ３０２の方向に延びる座標軸上の各座標（各位置）を表しており、図４Ａ中のＮやＳの記号はそれぞれ磁極を表している。図４Ａの例では座標ｐ０でＮ極、座標ｐ１ではＳ極の極性の反転が発生しており、座標ｐ３では極性の反転は発生していない。
【００２７】
図４Ａの磁気情報が記録された磁気カード３０１が一定速度で摺動された場合に、二値化回路２０４は、磁気ヘッド２０３から読み取ったアナログ信号から極性の反転が発生している位置に対応する位置でビットが「０」から「１」、又は「１」から「０」へ変わる矩形波（いわゆる、パルス波）である二値データを生成する。従来の制御部は、二値データをもとに矩形波のビットが変わる周期を測定し、変化間隔が短い場合は「１」、長い場合は「０」として、それらを順番に結合することでデジタルデータを生成する。
【００２８】
図４Ｂの上段は、図４Ａに示す磁気カードが一定速度で摺動された場合に、磁気ヘッド２０３の出力から、二値化回路２０４が生成した二値データである。図４Ｂの下段は、図４Ｂの上段に示される二値データに対応するように従来の制御部が生成したデジタルデータである。従来の制御部は、座標ｐ１と座標ｐ２の間の区間は周期が短いため「１」に、座標ｐ２と座標ｐ４の間の区間は周期が長いため「０」というようにデジタルデータを割り当てていくことで、図４Ａの磁気カードに対応するデジタルデータ「１１００１１」を得る。ここで得られたデジタルデータは、摺動速度が一定だったため正しいデータとなっている。
【００２９】
しかしながら、磁気カード３０１の摺動速度が一定ではない場合には、単に二値データから周期判定を行ってデジタルデータを生成しただけでは正しくないデジタルデータが生成される場合がある。図４Ｃは、磁気カード３０１が摺動された際の各時刻における磁気カード３０１の位置を表したグラフである。図４Ｃの例の場合、時刻ｔ６において摺動速度が変化している。時刻ｔ６以降の摺動速度は時刻ｔ６以前の速度の半分となっている。図４Ｄの上段は、二値化回路２０４が、図４Ａに示す磁気データが図４Ｃのような動きで摺動された場合の各時刻における磁気情報をもとに作成した二値データを表すグラフである。図４Ｄの下段は、従来の制御部が図４Ｄの上段の読取結果に対して位置情報との対応付けを行わずに周期判定を行い作成したデジタルデータである。ｔ６以降は摺動速度が変化していることが考慮されていないため、図４Ｂの下段とは異なる正しくないデジタルデータになっていることが分かる。
【００３０】
図５は、実施の形態１に係る制御部２０１の動作フローを表す図である。図５では、制御部２０１の全体動作フローのうち位置情報と二値データとを対応させる動作を中心に示している。以下、制御部２０１が、位置情報と二値データとを対応付けて磁気カードの摺動速度の変化がある場合でも正しいデジタルデータを生成するための方法について説明する。制御部２０１は図５に示される動作を行って位置情報に対応した二値データを生成した後は、従来の制御部と同じ手順で周期判定を行ってデジタルデータを生成する。
【００３１】
図５において、制御部２０１は、はじめに磁気カード３０１の位置を表す位置パラメータｉの値を０に設定する（Ｓ５０１）。位置パラメータｉに対応する実際の位置ｐ（ｉ）は、図４Ａにおける位置を表すｐ（ｎ）（ｎ：０，１，２，３，４，５，６，７，８）に相当し、各ｐ（ｉ）は磁気ストライプ３０２上に磁気情報の記録密度と同じ間隔で設定されている。
【００３２】
続いて、制御部２０１は、二値化回路２０４が出力した二値データを受け取り、メモリ空間上のｔｍｐエリア（言い換えると、一時的にデータを保持するためのメモリ２０７上のメモリ領域）に二値データの蓄積を行う（Ｓ５０２）。
【００３３】
続いて、制御部２０１は、密着型イメージセンサ２０２が出力する磁気カード３０１の現在位置ｐ＿ｃｕｒの情報を取得し（Ｓ５０３）、現在の位置が次の基準位置ｐ（ｉ＋１）に達しているかどうかを判定する（Ｓ５０４）。達していなければ（Ｓ５０４、ＮＯ）、制御部２０１の処理はステップＳ５０２に戻り、磁気カード３０１の位置がｐ（ｉ＋１）に達するまで二値データを引き続き蓄積する。なお、Ｓ５０３において、密着型イメージセンサ２０２は撮影画像を出力するだけで、制御部２０１で画像処理を行って位置情報を求めてもよい。
【００３４】
一方、磁気カード３０１の現在位置が次の基準位置ｐ（ｉ＋１）に達している場合（Ｓ５０４、ＹＥＳ）は、それまでにｔｍｐエリアに蓄積された二値データを磁気カード位置ｐ（ｉ）における二値データｄ（ｉ）としてメモリ２０７に記録する。その後は、制御部２０１は、位置を表す位置パラメータｉに１を加え、次の位置に移動し（Ｓ５０６）、さらに蓄積していたｔｍｐエリアをクリアして二値データを一度リセットする（Ｓ５０７）。この後、制御部２０１の処理は再びステップＳ５０２に戻り、次の位置における二値データの蓄積を開始する。
【００３５】
例えば図４Ｃに示すように磁気カードが摺動された場合、図４Ｄにおける時刻ｔ１から時刻ｔ２における二値データは座標ｐ１（から座標ｐ２）の二値データとして対応付けられ、時刻ｔ６から時刻ｔ８の二値データの出力は座標ｐ６（から座標ｐ７）における二値データとして対応付けられる。そのため、時刻ｔ６から時刻ｔ８の二値データも時刻ｔ１から時刻ｔ２の二値データと同じ短い周期であると判断されてデジタルデータが作成される。これにより、従来のように時刻ｔ６から時刻ｔ８の区間の二値データは長い周期と誤って判断されることがなくなり（時刻ｔ８から時刻ｔ１０も同様である）、正しいデジタルデータを生成することができるようになる。
【００３６】
以上により、実施の形態１に係る磁気カード読取装置１００では、制御部２０１が上述した動作で得られた各位置パラメータｉに対応する位置における二値データｄ（ｉ）をつなぎ合わせると、磁気カード３０１の摺動速度が一定だった場合に相当する二値データが得られ、それをもとにデジタルデータを生成することで正しいデジタルデータを生成することができる。これにより、例えば利用者の力加減等が原因で、図４Ｃにおける時刻ｔ６以降の摺動速度の変化が途中で発生した場合でも、図４Ａの上段に示される二値データを生成することができ、正しいデジタルデータを出力することができる。
【００３７】
（実施の形態２）
次に、本開示の実施の形態２について、図６乃至図７を参照して説明する。
【００３８】
実施の形態２では、実施の形態１のように密着型イメージセンサ２０２によって磁気カード３０１の位置を直接に密着型イメージセンサ２０２の出力によって検知する代わりに、反射型光学センサ６０１によって反射型光学センサ６０１に対する磁気カード３０１の単位時間当たりの移動量を把握することで磁気カード３０１の位置を把握する。そのため、実施の形態２に係る外観や構成は、実施の形態１で説明した外観や構成における密着型イメージセンサ２０２を反射型光学センサ６０１に置き換えたものになるため再度の図示は省略する。
【００３９】
実施の形態２で用いられる反射型光学センサ６０１は、光学式マウスなどに多用されているものと同種のもので、例えば３０００回／秒程度の撮像を行い、その画像の比較を行うことによって、対象物の移動距離（例えば、光学式マウスの場合には光学式マウスの移動距離）を測定するものである。反射型光学センサは、例えば１／２０００インチ程度の移動距離を検知できるものもあるので、磁気記録密度に対して十分な分解能がある。
【００４０】
磁気カードの磁気記録密度に比べて十分に高速な周期で磁気カード３０１のＸ方向の移動量を計測しながら磁気ヘッド２０３の出力信号を計測すれば、実施の形態１と同様な手順で、磁気カード３０１に実際に記録されている磁気情報のパターンを、絶対的に把握することができる。図６は、実施の形態２に係る磁気カード読取装置１００の構成要素の位置関係を示す図である。例えば、磁気情報と位置情報とが対応づけられる動作概要が示されている。つまり、図３の密着型イメージセンサ２０２が反射型光学センサ６０１に置き換わったものである。読取手順などは実施の形態１と同様であるため、同様な内容の説明は省略する。
【００４１】
図７は、実施の形態２に係る磁気カード読取装置１００の構成要素の位置関係を示す図である。例えば、反射型光学センサ６０１の別の配置方法が示されている。実施の形態２では、反射型光学センサ６０１が磁気ヘッド２０３の接触面と同一のＸ方向に垂直な軸上に配置されているが、磁気カード読取装置１００の製品の形状や小型化の必要上、反射型光学センサ６０１を磁気ヘッド２０３の接触面と同一のＸ座標の位置に配置できない場合が考えられる。このため、例えば２個の反射型光学センサ６０１，６０１が配置されている。この配置は、例えばスライド型の磁気カードリーダの場合に好適な配置である。
【００４２】
この場合、磁気カード３０１の移動距離は、磁気カード３０１が第１磁気カード位置に近い場合は左側の反射型光学センサ６０１で計測されるが、利用者が磁気カードを右方向に摺動させていき第２磁気カード位置に近くなった場合は右側の反射型光学センサ６０１で移動距離を検出できるため、２個の反射型光学センサ６０１，６０１を用いれば磁気ヘッド２０３に磁気カード３０１が当たっている全範囲について磁気カード３０１の摺動による移動速度を検知することが可能となる。
【００４３】
なお、本開示を従来の磁気カード読取装置が具備している、摺動速度の変化にある程度追従して読取り処理を実現するソフトウェアを用いたアルゴリズムと併用することも容易に考えられる。
【００４４】
また、本開示は、前述した実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、前述した実施形態で実行される機能は可能な限り適宜組み合わせて実施しても良い。前述した実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜の組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、効果が得られるので有れば、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【産業上の利用可能性】
【００４５】
本開示は、磁気ヘッドが磁気カードのどの部分と接触しているかを、逐次的に具体的な磁気カードの座標を計測しながら磁気カードの磁気情報を読み取ることができるため、摺動速度の変化による読取り性能の劣化を抑止することができる磁気カード読取装置及び磁気カード読取方法として有用である。
【符号の説明】
【００４６】
１００  磁気カード読取装置
１０１  ガイド溝
１０２  ボディ部
１０３  第１突起部
１０４  第２突起部
２０１  制御部
２０２  密着型イメージセンサ
２０３  磁気ヘッド
２０４  二値化回路
２０７  メモリ
３０１  磁気カード
３０２  磁気ストライプ
【図１】
2019139507.tif 000003
【図２】
2019139507.tif 000004
【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
2019139507.tif 000007
【図４Ｃ】
2019139507.tif 000008
【図４Ｄ】
2019139507.tif 000009
【図５】
2019139507.tif 000010
【図６】
2019139507.tif 000011
【図７】
2019139507.tif 000012