(57)【要約】【課題】本発明の実施形態は、ハードディスク装置の品質を向上させる。【解決手段】実施形態の欠陥登録方法は、測定ステップと、第１抽出ステップと、登録ステップとを備える。測定ステップは、複数の単位領域を備える磁気ディスクの記憶領域であって設定容量の冗長領域を有する記憶領域の性能を、単位領域毎に測定するステップである。第１抽出ステップは、性能の測定値が悪い順番に１以上の単位領域を抽出する第２抽出ステップを含む。登録ステップは、抽出された設定容量の単位領域を欠陥位置として登録するステップである。【選択図】図７
2019139828.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
設定容量の冗長領域を有するとともに、複数の単位領域を備える磁気ディスクの記憶領域の性能を単位領域毎に測定する測定ステップと、
前記複数の単位領域から前記設定容量の単位領域を抽出する第１抽出ステップと、
前記抽出された前記設定容量の単位領域を欠陥位置として登録する登録ステップと、
を備え、
前記第１抽出ステップは、前記性能の測定値が悪い順番に少なくとも１つ以上の単位領域を抽出する第２抽出ステップを含む、
欠陥登録方法。
【請求項２】
前記測定ステップは、前記記憶領域にデータの書き込みおよび読み出しを行い、読み出された前記データに含まれるエラービットの数を前記性能として測定するステップを含む、
請求項１に記載の欠陥登録方法。
【請求項３】
前記複数の単位領域のうちの少なくとも１つは、複数のセクタを備えるトラックであり、
前記測定ステップは、前記トラックが備える前記複数のセクタの前記性能をセクタ毎に測定するステップと、前記複数のセクタの前記性能の測定によって得られた複数の測定値に基づいて前記トラックの前記性能を取得するステップとを含む、
請求項１に記載の欠陥登録方法。
【請求項４】
前記測定ステップは、前記複数の測定値の順番に基づいて、前記複数の測定値から、悪い方から２番目以降の測定値を選択するステップを含む、
請求項３に記載の欠陥登録方法。
【請求項５】
前記第１抽出ステップは、
前記性能が設定基準より悪い単位領域を抽出する第３抽出ステップと、
前記設定容量から前記第３抽出ステップによって抽出された単位領域の総量を除いた残量を取得する取得ステップと、
をさらに備え、
前記第２抽出ステップは、前記残量分の単位領域を前記性能の測定値が悪い順番に抽出するステップである、
請求項１に記載の欠陥登録方法。
【請求項６】
前記測定ステップは、Ｖｉｔｅｒｂｉ復号時のＶＭＭ(Viterbi  Metric  Margin)を前記性能として測定するステップを含む、
請求項１に記載の欠陥登録方法。
【請求項７】
前記測定ステップは、前記記憶領域の表面に形成された突起の数を前記性能として測定するステップを含む、
請求項１に記載の欠陥登録方法。
【請求項８】
前記測定ステップは、前記記憶領域に波形データの書き込みおよび読み出しを行い、前記書き込みの前の前記波形データと前記読み出しの後の前記波形データとで相違する位置の数を前記性能として測定するステップを含む、
請求項１に記載の欠陥登録方法。
【請求項９】
前記測定ステップは、前記記憶領域にアクセスするヘッドの位置決め誤差量を前記性能として測定するステップを含む、
請求項１に記載の欠陥登録方法。
【請求項１０】
前記測定ステップは、複数項目の測定を実行し、前記複数項目の測定によって得られた複数の測定値に基づいて前記性能を演算するステップを含む、
請求項１に記載の欠陥登録方法。
【請求項１１】
前記測定ステップは、前記複数の測定値のそれぞれに重み係数を乗算するステップと、それぞれ前記重み係数が乗算された前記複数の測定値を合算するステップと、を含む、
請求項１０に記載の欠陥登録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本実施形態は、欠陥登録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、磁気ディスクに存在する先天的な欠陥のユーザ領域への供用を未然に抑止するために、ハードディスク装置の出荷の前にそのような欠陥を有する位置が特定される。この工程で特定された欠陥は、プライマリ欠陥と称され得る。
【０００３】
プライマリ欠陥を有する位置は、ユーザ領域に供さず不使用とされる。一例では、プライマリ欠陥を有する位置には論理アドレスの割り当てが禁止される。プライマリ欠陥を有する位置が不使用とされることで減少する分の容量は、予め磁気ディスクに設けられた冗長領域で代替される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】米国特許第６６３３４４２号明細書
【特許文献２】米国特許第６７５７１１９号明細書
【特許文献３】米国特許出願公開第２０１０／０１４９６８１号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
一つの実施形態は、ハードディスク装置の品質を向上させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
一つの実施形態によれば、欠陥登録方法は、測定ステップと、第１抽出ステップと、登録ステップとを備える。測定ステップは、複数の単位領域を備える磁気ディスクの記憶領域であって設定容量の冗長領域を有する記憶領域の性能を、単位領域毎に測定するステップである。第１抽出ステップは、性能の測定値が悪い順番に１以上の単位領域を抽出する第２抽出ステップを含む。登録ステップは、抽出された設定容量の単位領域を欠陥位置として登録するステップである。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、第１の実施形態に係るハードディスク装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図２】図２は、第１の実施形態に係る磁気ディスクの構成の一例を示す図である。
【図３】図３は、第１の実施形態に係るハードディスク装置の制御回路の構成の一例を示す図である。
【図４】図４は、第１の実施形態に係るハードディスク装置の機能的構成の一例を示す図である。
【図５】図５は、第１の実施形態に係る測定部の動作の一例を示すフローチャートである。
【図６】図６は、第１の実施形態に係る容量取得部、抽出部、および登録部の動作の一例を示すフローチャートである。
【図７】図７は、第２の実施形態に係る容量取得部、抽出部、および登録部の動作の一例を示すフローチャートである。
【図８】図８は、第３の実施形態に係るハードディスク装置に対してプライマリ欠陥位置の登録を行うための構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下に添付図面を参照して、実施形態に係る欠陥登録方法を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
【０００９】
（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係るハードディスク装置のハードウェア構成の一例を示す図である。図１には、ハードディスク装置１の上部カバーを外した場合の筐体１００内部の構成を示している。図１に示すように、ハードディスク装置１は、磁気ディスク１０１、データの読み出しおよび書き込みを行う磁気ヘッド１０２、などを備えている。
【００１０】
磁気ディスク１０１は、２枚設けられている磁気ディスクの内の１枚（第１の磁気ディスク１０１）であり、もう１枚（第２の磁気ディスク１０１（図３参照））は、第１の磁気ディスク１０１の背面側（図１の紙面の奥行側）に配置されている。なお、本実施形態では、磁気ディスクの枚数を２枚として説明するが、磁気ディスクの枚数は、１枚だけでもよいし、また３枚以上であってもよい。
【００１１】
第１の磁気ディスク１０１および第２の磁気ディスク１０１は、スピンドルモータの回転軸１０３に対し、回転軸１０３の軸方向に所定ピッチで装着されており、当該回転軸１０３の回転駆動により同じ回転数で一体的に回転する。
【００１２】
磁気ヘッド１０２はアーム１０４の先端部に取り付けられている。アーム１０４は、ＶＣＭ（Voice  Coil  Motor）１０５により駆動され、軸１０６を中心に正負の両方向に決められた範囲内で回転する。この動作により、磁気ヘッド１０２は破線Ｔ上を移動し、磁気ディスク１０１の半径方向の何れかのトラック上に位置決めする。磁気ヘッド１０２とアーム１０４とからなるヘッドユニットは、各磁気ディスク１０１の表（おもて）面と裏面のそれぞれに１組ずつの計４組が設けられている。各組のヘッドユニットは、ヘッド番号によって特定され得る。
【００１３】
磁気ヘッド１０２は、具体的に、アーム１０４の先端部に設けられているサスペンション１０７の先端にあるヘッドスライダ１０８に搭載されている。磁気ヘッド１０２は、リード素子およびライト素子を有し、リード素子により磁気ディスク１０１上の走査対象の面のデータを読み出し、ライト素子により磁気ディスク１０１上の上記走査対象の面にデータを書き込む。つまり、磁気ヘッド１０２は、磁気ディスク１０１に設けられた記録面（記憶領域１１０）にアクセスする。図１に示す例では、磁気ヘッド１０２は第１の磁気ディスク１０１上の表面に対しデータの読み出しおよび書き込みを行う。
【００１４】
これらの他、ハードディスク装置１は、磁気ヘッド１０２を磁気ディスク１０１上から退避してパーキングするランプロード機構１０９などを備える。
【００１５】
図１の紙面の奥行側に位置するハードディスク装置１の底部には、ハードディスク装置１の各部を制御する制御回路２０（図３参照）が設けられている。制御回路２０は、ハードディスク装置１の筐体１００に外部接続のために設けられている接続ピン等のインターフェイスを介してホスト（不図示）と通信し、ホストからのコマンドなどに応じてハードディスク装置１の各部を制御する。
【００１６】
図２は、第１の実施形態に係る磁気ディスク１０１の構成の一例を示す図である。磁気ディスク１０１は、プラッタの両面に磁性体を有し、出荷前にサーボライタなどによりサーボ情報が書き込まれたものである。サーボ情報は、例えばバーストパターンである。図２には、サーボ情報が書き込まれたサーボゾーンの配置の一例として放射状に配置されたサーボゾーン１０１ａを示している。磁気ディスク１０１の半径方向には同心円の複数のトラック１０１ｂが所定のピッチで設けられている。各トラック１０１ｂの周回上は多数のセクタが連続的に形成されている。各セクタは磁性領域を有し、データの書き換えが自在である。
【００１７】
図３は、第１の実施形態に係るハードディスク装置１の制御回路２０の構成の一例を示す図である。なお、図３において、制御対象が図１に示すものと同一のものについては同一の符号を付す。図３に示すように、制御回路２０は、プリアンプ（ＰｒｅＡｍｐ）２１と、リードチャネル回路（ＲＤＣ）２２と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）２３と、ＤＳＰ（Digital  Signal  Processor）２４と、ＭＰＵ（Micro  Processing  Unit）２５と、メモリ２６とを有する。
【００１８】
プリアンプ２１は、磁気ヘッド１０２（リード素子）が磁気ディスク１０１から読み取った信号を増幅して出力し、ＲＤＣ２２に供給する。また、プリアンプ２１は、ＲＤＣ２２から供給された信号を増幅して、磁気ヘッド１０２（ライト素子）に供給する。
【００１９】
ＲＤＣ２２は、誤り訂正のための符号化および復号化を実行するＥＣＣ（Error  Correction  Code）回路２７を備える。ＲＤＣ２２は、磁気ディスク１０１に書き込むためのデータをＥＣＣ回路２７によって符号化して、符号化後のデータを信号としてプリアンプ２１に供給する。また、ＲＤＣ２２は、磁気ディスク１０１から読み取られプリアンプ２１から供給された信号をＥＣＣ回路２７によって復号化することによって、信号に含まれるエラーの検出および訂正を実行する。そして、ＲＤＣ２２は、エラーが訂正された信号をディジタルデータとしてＨＤＣ２３へ出力する。
【００２０】
なお、ＥＣＣ回路２７が使用する誤り訂正のための符号化および復号化の方式は、特定の方式に限定されない。一例では、ＬＤＰＣ（Low  Density  Parity  Check）が採用され得る。
【００２１】
ＤＳＰ２４は、スピンドルモータおよびＶＣＭ１０５を制御して、シークおよびフォローイングなどの位置決め制御を行う。具体的に、ＤＳＰ２４は、ＲＤＣ２２からの信号から得たサーボ情報を復調し、サーボ情報から復調した位置と目標位置との誤差に従いＶＣＭ駆動指令値を演算することにより、上記位置決め制御を行う。
【００２２】
ＨＤＣ２３は、ホストと所定のインタフェースで接続され、ホストとの通信を実行する。インタフェースが準拠する規格は特定の規格に限定されない。ＨＤＣ２３は、ＲＤＣ２２からデータを受け、当該データをホストへ転送する。また、ＨＤＣ２３は、ホストからデータを受け、当該データをＲＤＣ２２へ出力する。
【００２３】
ＭＰＵ２５は、ＨＤＣ２３が受け取ったホストからのコマンドを解析し、ハードディスク装置１本体の状態の監視、およびハードディスク装置１の各部の制御、などを行う。
【００２４】
メモリ２６は、データの書き換えが自在な記憶装置である。メモリ２６は、ＭＰＵ２５が実行する各種処理のためのプログラムおよび各種管理情報が格納される領域、バッファとしての領域、キャッシュとしての領域、などとして機能する。メモリ２６は、揮発性メモリ、不揮発性メモリ、またはこれらの組み合わせによって構成される。揮発性メモリは、例えば、ＳＲＡＭ（Static  Random  Access  Memory）、ＤＲＡＭ（Dynamic  Random  Access  Memory）などであってもよい。不揮発性メモリは、フラッシュメモリなどであってもよい。
【００２５】
図４は、第１の実施形態に係るハードディスク装置１の機能的構成の一例を示す図である。磁気ディスク１０１には、多数のセクタによって記憶領域１１０が構成されている。
【００２６】
制御回路２０は、出荷前に、記憶領域１１０に含まれる不良位置（不良なセクタないし不良なトラック）を検出し、検出された不良位置をプライマリ欠陥情報１１２に登録する。プライマリ欠陥情報１１２は、システム情報の１種であり、プライマリ欠陥情報１１２に登録された不良位置は、不使用とされる。以降、プライマリ欠陥情報１１２に登録された位置を、プライマリ欠陥位置と表記することがある。
【００２７】
また、記憶領域１１０は、冗長領域１１１を含む。冗長領域１１１は、プライマリ欠陥位置の代替として使用される領域である。即ち、記憶領域１１０の容量は、ハードディスク装置１の表記容量よりも少なくとも冗長領域１１１の容量だけ多い。冗長領域１１１は予め設定された容量を有する。なお、冗長領域１１１は、所定位置に設けられた領域として特定され得なくてもよいし、特定可能に構成されてもよい。
【００２８】
近年、磁気ディスクの記録密度の伸長ないしはハードディスク装置に搭載される磁気ディスクの枚数の増加により、１つのハードディスク装置あたりのトラックの数は数百万個に、１つのハードディスク装置あたりのセクタの数は数十〜数百億個に達する。各トラックの品質が可能な限り均等になるように記録密度（ＴＰＩ、ＢＰＩなど）が調整される。しかしながら、個々のトラック・セクタの微視的な磁気特性のばらつきなどに起因する読み書き特性のばらつきを完全にゼロにすることは困難である。よって、傷、サーボ不良、等の明白な欠陥（以降、古典的な欠陥と表記する）を有する位置だけでなく、読み書き特性が悪い位置をプライマリ欠陥位置として登録することが、ハードディスク装置の品質の向上の観点から有効である。
【００２９】
本願発明と比較される方法（比較例）として、固定の品質基準を用いた比較によってプライマリ欠陥位置を特定する方法がある。しかしながら、古典的な欠陥と異なり、読み書き特性を予測することは困難である。よって、比較例が適用される場合、比較のための品質基準を事前に決定することが困難である。例えば、高い品質基準が設定された場合は、プライマリ欠陥位置の合計容量が冗長領域１１１の容量を超過してしまい、その結果、ユーザに表記容量の分の記憶領域を提供することができなくなる可能性がある。また、低い品質基準が設定された場合には、読み書き特性が比較的悪い位置がユーザに提供されてしまうことにより、結果的にハードディスク装置の品質が低下する。
【００３０】
第１の実施形態によれば、記憶領域１１０内の各位置の性能が測定される。古典的な欠陥を有する位置および読み書き特性が不良な位置からは、性能が悪いことを示す数値が測定によって得られる。古典的な欠陥を有せず、読み書き特性が良好な位置に対しては、性能が良いことを示す数値が測定によって得られる。測定された性能に基づいて、冗長領域１１１の容量分の位置が抽出され、抽出された各位置がプライマリ欠陥位置としてプライマリ欠陥情報１１２に登録される。即ち、プライマリ欠陥位置の登録によって冗長領域１１１の全てが消費される。抽出の処理では、性能が悪い順番に位置の抽出が実行される。これにより、読み書き性能が悪い位置を可能な限りプライマリ欠陥位置として登録することが可能となるので、品質が向上する。
【００３１】
プライマリ欠陥位置の特定および登録の処理は、一例では、制御回路２０によって実行される。制御回路２０は、ホストからの専用のコマンドを受信した場合に、プライマリ欠陥位置の特定および登録の処理を開始する。制御回路２０は、プライマリ欠陥位置の特定および登録の処理を実行するために、以下に述べる構成を備える。
【００３２】
ＭＰＵ２５は、メモリ２６等に格納された所定のプログラムに基づき、測定部２１１、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４として機能する。
【００３３】
測定部２１１は、記憶領域１１０内の各位置の性能を測定する。なお、位置とは、ここでは、各種処理の単位となる範囲を有する領域、即ち単位領域をいう。単位領域は、任意に設定可能である。単位領域は、例えば、セクタまたはトラックである。
【００３４】
測定される性能の評価指標は、特定の評価指標に限定されない。例えば、測定部２１１は、セクタに対するデータの書き込みおよび読み出しを試行して得られるエラー指標が採用され得る。
【００３５】
エラー指標は例えばセクタエラーレートであってもよい。しかしながら、高精度にセクタエラーレートを取得するためには１００〜１０００００回程度の書き込みおよび読み出しの試行が全セクタに対して必要となる。これをハードディスク装置１内の数十〜数百億のセクタに渡って実施することは、製造プロセスタイムの観点から現実的ではない。
【００３６】
よって、測定にかかる時間を短縮するために、測定部２１１は、例えば、単一のセクタから読み出されたデータに対してＲＤＣ２２内のＥＣＣ回路２７によって検出され訂正されたエラービットの数を、そのセクタにかかる性能として取得してもよい。あるいは、測定部２１１は、例えば、Ｖｉｔｅｒｂｉ復号時のＶＭＭ(Viterbi  Metric  Margin)を、性能として取得してもよい。
【００３７】
測定部２１１は、測定結果、即ち性能の測定値を、性能情報２２１に記録してメモリ２６に格納する。ここで、測定部２１１が、セクタ毎に得られた測定値を性能情報２２１に記録する場合、ハードディスク装置１が有するセクタの数が大きいことから、性能情報２２１の記録に必要なサイズが増大する。よって、測定部２１１は、測定値の記録の粒度をセクタからトラックに変更してもよい。具体的には、例えば、測定部２１１は、１つのトラックに含まれる複数のセクタにかかる複数の測定値に基づいて、そのトラックの性能を演算する。
【００３８】
トラックの性能の演算方法は、特定の方法に限定されない。例えば、測定部２１１は、１つのトラックに含まれる全てのセクタの測定値の平均値を演算し、その平均値をそのトラックの性能を示す値として性能情報２２１に記録する（第１の取得方法）。
【００３９】
なお、以降、測定または演算によって得られる性能を示す値を、性能の評価値、あるいは単に評価値、と表記する。
【００４０】
第１の取得方法によって得られるトラックの評価値は、そのトラック内のセクタ毎の評価値のばらつきに大きく依存する。評価値が特に悪いセクタがトラックに含まれていたとしても、そのトラック内のセクタの評価値のばらつきによっては、そのトラックがプライマリ欠陥位置として抽出される程度までそのトラックの評価値が悪くならない可能性がある。つまり、プライマリ欠陥位置として抽出されるべきトラックがプライマリ欠陥位置として抽出されない虞がある。これを防止するために、例えば、測定部２１１は、１つのトラックに含まれる全てのセクタの評価値のうちの最も悪い値を、そのトラックの評価値として性能情報２２１に記録してもよい（第２の取得方法）。
【００４１】
ここで、評価値が悪いとは、評価値が示す性能が悪いことをいう。例えば性能を示す評価指標としてエラービットの数が採用される場合には、評価値が大きいほどその評価値が示す性能が悪い。評価値の大小関係と性能の良否との関係は、性能の評価指標に応じて変わり得る。
【００４２】
また、セクタの評価値の測定に再現性が小さい場合がある。そのような場合において第２の取得方法が適用された場合、ノイズの影響によって、あるセクタの評価値として実際の性能に比して悪い値が取得され、その値がトラックの評価値として記録される可能性がある。つまり、健全なトラックが、ノイズの影響によって、プライマリ欠陥位置として抽出されてしまう虞がある。
【００４３】
よって、例えば、測定部２１１は、１つのトラックに含まれる全てのセクタの評価値のうちの悪いほうから２番目以降の値を用いてトラックの評価値を演算してもよい（第３の取得方法）。一例では、測定部２１１は、１つのトラックに５００個のセクタが含まれる場合において、５００個のセクタの評価値のうちの悪い方から５番目の値をそのトラックの評価値とする。または、測定部２１１は、１つのトラックに含まれる全てのセクタの評価値のうちの悪い方から所定番目（例えば１番目）から別の所定番目（例えば５番目）までの値の評価値を、そのトラックの性能の評価値とする。１つのトラックに含まれる全てのセクタの評価値のうちの悪いほうから２番目以降の値を考慮してそのトラックの評価値が取得されることにより、ばらつきの影響およびノイズの影響の両方を低減することが可能となる。
【００４４】
測定部２１１は、トラックの性能の評価値を、そのトラックの物理アドレスと対にして性能情報２２１に記録する。
【００４５】
なお、測定部２１１が測定結果の記録の粒度をセクタからトラックに変更する例を述べたが、測定部２１１は測定結果の記録の粒度を必ずしも変更しなくてもよい。つまり、測定部２１１は、各セクタの評価値を性能情報２２１に記録してもよい。その場合には、測定部２１１は、セクタの評価値を、そのセクタの物理アドレスと対にして性能情報２２１に記録すればよい。
【００４６】
容量取得部２１２は、プライマリ欠陥位置の代替として使用可能な領域の容量、即ち冗長領域１１１の容量を取得する。冗長領域１１１の容量は、製造時にパラメータとして与えられてもよく、その場合には容量取得部２１２はそのパラメータを読み出す。また、容量取得部２１２は、例えば、表記容量分の論理アドレスを記憶領域１１０内の物理アドレスに割り当てて、その後、記憶領域１１０内の論理アドレスが割り当てられていない物理アドレスの量を計算することによって、冗長領域１１１の容量を取得してもよい。
【００４７】
抽出部２１３は、全てのトラックから、当該性能情報２２１に記録されている評価値が悪い順番に、冗長領域１１１の容量の分のトラックを抽出する。
【００４８】
例えば抽出部２１３は、全てのトラックの物理アドレスを性能情報２２１に記録されている評価値の順番でソートする。そして、抽出部２１３は、ソートによって得られた物理アドレスの列に基づいて、性能が悪い方から冗長領域１１１の容量分のトラックの物理アドレスを選択する。なお、抽出の方法はこれに限定されない。
【００４９】
登録部２１４は、抽出部２１３によって抽出された全てのトラックをプライマリ欠陥情報１１２に記録する。登録部２１４は、登録が完成したプライマリ欠陥情報１１２を記憶領域１１０にシステム情報として記録する。
【００５０】
続いて、第１の実施形態の磁気ディスクの欠陥を登録する方法を説明する。図５は、第１の実施形態に係る測定部２１１の動作の一例を示すフローチャートである。
【００５１】
まず、測定部２１１は、性能の測定の対象であるトラックを示すパラメータの対(cyl,  hd)を(0,  0)で初期化する（Ｓ１０１）。ここで、cylは、シリンダ番号を示すパラメータであり、hdは、ヘッド番号を示すパラメータである。本図の例では、各トラックの位置を示す物理アドレスは、シリンダ番号とヘッド番号との対で表現されることとしている。以降、パラメータの対(cyl,  hd)によって特定される位置のトラックを、トラック(cyl,  hd)と表記する。
【００５２】
測定部２１１は、トラック(cyl,  hd)に含まれる全てのセクタに対し、データの書き込みおよび読み出しを実行し、セクタ毎に評価値を取得する（Ｓ１０２）。一例では、測定部２１１は、セクタから読み出されたデータに含まれるエラービットの数を、そのセクタの評価値としてＥＣＣ回路２７から取得する。
【００５３】
そして、測定部２１１は、セクタ毎に得られた評価値に基づいて、トラック(cyl,  hd)の性能の評価値を算出する（Ｓ１０３）。例えば、測定部２１１は、前述した第１〜第３の取得方法などを含む任意の方法によって、トラック(cyl,  hd)の性能の評価値を取得する。なお、トラック(cyl,  hd)の性能の評価値を、P(cyl,  hd)と表記する。
【００５４】
そして、測定部２１１は、取得したトラックの性能の評価値P(cyl,  hd)を、性能情報２２１に記録する（Ｓ１０４）。測定部２１１は、例えば、評価値P(cyl,  hd)をトラック(cyl,  hd)の物理アドレス(cyl,  hd)と対応づけて追加形式で記録する。
【００５５】
続いて、測定部２１１は、パラメータcylの値を１だけインクリメントし（Ｓ１０５）、パラメータcylの値がシリンダ番号の最大値を超えたか否かを判定する（Ｓ１０６）。パラメータcylの値がシリンダ番号の最大値を超えていない場合（Ｓ１０６、Ｎｏ）、測定部２１１は、Ｓ１０２の処理を再び実行する。
【００５６】
パラメータcylの値がシリンダ番号の最大値を超えた場合（Ｓ１０６、Ｙｅｓ）、測定部２１１は、パラメータhdの値を１だけインクリメントし、パラメータcylの値をゼロでリセットする（Ｓ１０７）。そして、測定部２１１は、パラメータhdの値がヘッド番号の最大値を超えたか否かを判定する（Ｓ１０８）。パラメータhdの値がヘッド番号の最大値を超えていない場合（Ｓ１０８、Ｎｏ）、測定部２１１は、Ｓ１０２の処理を再び実行する。
【００５７】
パラメータhdの値がヘッド番号の最大値を超えた場合（Ｓ１０８、Ｙｅｓ）、測定部２１１による動作が終了する。
【００５８】
図６は、第１の実施形態に係る容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４の動作の一例を示すフローチャートである。本図に示される一連の処理は、図５に例示された測定部２１１の動作の後に実行される。
【００５９】
まず、容量取得部２１２は、冗長領域１１１の容量を取得する（Ｓ２０１）。
【００６０】
続いて、抽出部２１３は、全てのトラックから、当該性能情報２２１に記録されている評価値が悪い順番に、冗長領域１１１の容量の分のトラックを抽出する（Ｓ２０２）。
【００６１】
続いて、登録部２１４は、抽出された全てのトラックを、プライマリ欠陥情報１１２に登録する（Ｓ２０３）。例えば、登録部２１４は、抽出された全てのトラックの物理アドレス(cyl,  hd)をプライマリ欠陥情報１１２に記録する。
【００６２】
Ｓ２０３によって、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４の動作が終了する。
【００６３】
完成したプライマリ欠陥情報１１２は、例えば、表記容量分の論理アドレスを記憶領域１１０内の物理アドレスに割り当てる際に使用される。プライマリ欠陥情報１１２にプライマリ欠陥位置として記録された位置には、論理アドレスが割り当てられない。これにより、冗長領域１１１として用意された容量に相当する量の位置は、論理アドレスが割り当てられないことによって、使用不可能な状態となる。
【００６４】
制御回路２０は、プライマリ欠陥情報１１２の完成後、上記した論理アドレスの割り当てを行ってもよい。論理アドレスの割り当てが実行された後に、ハードディスク装置１が出荷されてもよい。
【００６５】
なお、プライマリ欠陥情報１１２は記憶領域１１０内に格納されるとして説明した。プライマリ欠陥情報１１２が格納される位置はこれに限定されない。例えばメモリ２６が不揮発性メモリを備える場合、当該不揮発性メモリにプライマリ欠陥情報１１２が格納されてもよい。
【００６６】
また、冗長領域１１１は、プライマリ欠陥位置の代替として使用される、として説明した。冗長領域１１１のほかに、出荷後に発生する欠陥位置に備えた第２の冗長領域が記憶領域１１０に設けられていてもよい。
【００６７】
また、測定部２１１、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４は、ＭＰＵ２５が所定のプログラムを実行することによって実現される、として説明した。測定部２１１、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４の一部または全部は、ハードウェア回路によって実現されてもよい。また、エラー指標はＥＣＣ回路２７を用いて測定される、として説明したが、ＭＰＵ２５が誤り訂正符号を復号化することによってＭＰＵ２５によって測定されてもよい。
【００６８】
以上述べたように、第１の実施形態によれば、測定部２１１は、記憶領域１１０の性能をトラック毎に測定する。抽出部２１３は、全トラックのうちから冗長領域１１１の容量の分のトラックを測定によって得られた性能の評価値が悪い順番に抽出する。登録部２１４は、抽出されたトラックをプライマリ欠陥位置としてプライマリ欠陥情報１１２に登録する。この構成により、固定の品質基準によってプライマリ欠陥位置が特定されて登録される場合に比べて、読み書き特性が悪い位置をより多く不使用とすることができるので、ハードディスク装置の品質を向上させることができる。
【００６９】
また、測定部２１１は、一例では、記憶領域１１０に対してデータの書き込みおよび読み出しを行い、読み出されたデータに含まれるエラービットの数を測定する。この構成により、セクタエラーレートを測定対象の評価指標とする場合に比べて高速に性能の評価値を取得することが可能である。
【００７０】
なお、前述したように、測定対象の評価指標は、エラービットの数だけに限定されない。
【００７１】
例えば、製造の過程において、記憶領域１１０の表面に突起が形成される場合がある。突起は、意図せずに形成されるものであり、性能の悪化を引き起こす。そこで、測定部２１１は、記憶領域１１０の表面に形成された突起の数を性能の評価値として測定してもよい。磁気ヘッド１０２に接触センサが設けられ、測定部２１１は、当該接触センサによって検出された突起の数をカウントする。接触センサは、例えば、ＡＥ（Acoustic  Emission）センサないしは摩擦熱を検知するセンサなどである。測定された突起の数が多いほど、性能が悪いとみなされる。
【００７２】
別の例では、測定部２１１は、記憶領域１１０に波形データの書き込みおよび読み出しを行い、書き込みの前の波形データと読み出された波形データとで相違する部分の数を性能の評価値として測定してもよい。測定部２１１は、例えば、固定波長の波形データを使用し、読み出された波形データに含まれる欠損部分を波形解析によってカウントする。
【００７３】
さらに別の例では、測定部２１１は、磁気ヘッド１０２の位置決め誤差量を性能の評価値として測定してもよい。例えば、測定部２１１は、ＤＳＰ２４に、各セクタの近傍のサーボゾーンに磁気ヘッド１０２を位置決め制御させる。そして、測定部２１１は、ＤＳＰ２４から位置決め誤差量、即ちサーボ情報から復調した位置と目標位置との誤差、を取得する。そして、測定部２１１は、取得した誤差からセクタ毎の位置決め誤差量を導出する。セクタがサーボゾーンに隣接している場合には、測定部２１１は、ＤＳＰ２４から取得した誤差をそのセクタの位置決め誤差量としてもよい。セクタと近傍のサーボゾーンとが離間している場合には、測定部２１１は、離間している距離に基づいてそのセクタの位置決め誤差量を演算してもよい。
【００７４】
また、以上の説明においては、測定部２１１は、単一の評価指標の評価値を測定する例について説明した。測定部２１１は、それぞれ異なる複数の評価指標にかかる評価値を測定し、得られた複数の評価値を合成することによって、１つの評価値を演算してもよい。換言すると、測定部２１１は、それぞれ評価指標が異なる複数項目の測定を実行し、複数項目の測定によって得られた複数の評価値に基づいて１つの性能の評価値を演算してもよい。
【００７５】
一例では、測定部２１１は、１つの単位領域に対し、エラービットの数、記憶領域１１０の表面に形成された突起の数、および波形データの欠損部分の数を測定する。そして、測定部２１１は、測定されたエラービットの数、測定された記憶領域１１０の表面に形成された突起の数の測定値、および測定された波形データの欠損部分の数に基づいて、その単位領域の性能の評価値を演算する。
【００７６】
複数項目の測定によって得られた複数の評価値に基づいて１つの評価値を演算する方法は、特定の方法に限定されない。例えば、測定部２１１は、項目が異なる複数の評価値のそれぞれに重み係数を乗算し、それぞれ重み係数が乗算された複数の評価値を合算することによって、１つの評価値を演算してもよい。具体的には、測定部２１１は、下記の式（１）によって性能の評価値P(cyl,  hd)を演算する。
【数１】
2019139828.tif 000003
【００７７】
ここで、Pi(cyl,  hd)は、項目iにかかる測定によって得られた評価値である。また、Aiは、項目iにかかる性能指標に対して設定された重み係数である。
【００７８】
なお、前述したように、性能が測定される単位領域はトラックに限定されない。性能が測定される単位領域は、セクタであってもよい。また、性能が測定される単位領域は、トラック、セクタ以外の任意の領域であってもよい。また、複数の単位領域には、トラックとセクタとが混在していてもよい。
【００７９】
また、測定部２１１は、トラックが備える複数のセクタの性能をセクタ毎に測定し、複数のセクタに対する測定によって得られた複数の評価値に基づいてトラックの評価値を取得した。この構成により、一時データとしてメモリ２６に格納される性能情報２２１のサイズを低減することが可能であるので、メモリ２６の容量の削減が可能となる。
【００８０】
また、一例として、測定部２１１は、トラックが備える複数のセクタに対する測定によって得られた複数の評価値から、当該複数の評価値の順番に基づいて悪いほうから２番目以降の評価値を選択する。そして、測定部２１１は、選択した２番目以降の評価値に基づいてトラックの評価値を求める。この構成により、プライマリ欠陥位置の抽出の処理において、セクタの評価値のばらつきの影響およびセクタの評価値のノイズの影響に起因する抽出ミスを低減することが可能となる。
【００８１】
（第２の実施形態）
第１の実施形態では、固定の品質基準を用いてプライマリ欠陥位置を特定する処理を廃した例について説明した。欠陥登録方法は、固定の品質基準を用いた処理を含んでいてもよい。
【００８２】
図７は、第２の実施形態に係る容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４の動作の一例を示すフローチャートである。本図に示される一連の処理は、図５に例示された測定部２１１の動作の後に実行される。
【００８３】
まず、抽出部２１３は、全てのトラックから、所定の品質基準よりも性能が悪いトラックを抽出する（Ｓ３０１）。
【００８４】
Ｓ３０１では、抽出部２１３は、例えば、性能情報２２１に記録された評価値が所定の品質基準よりも悪いトラックを抽出する。
【００８５】
または、測定部２１１は、性能情報２２１に記録された測定結果と異なる特定の性能指標にかかる評価値を例えばトラック毎に予め取得しておき、抽出部２１３は、Ｓ３０１において、当該特定の性能指標にかかる評価値が所定の品質基準よりも悪いトラックを抽出してもよい。
【００８６】
Ｓ３０１の処理の後、登録部２１４は、Ｓ３０１の処理によって抽出された全てのトラックをプライマリ欠陥情報１１２に登録する（Ｓ３０２）。
【００８７】
続いて、容量取得部２１２は、冗長領域１１１の容量から既に登録されたプライマリ欠陥位置の総量を減算した残量を取得する（Ｓ３０３）。例えば、容量取得部２１２は、既に登録されたプライマリ欠陥位置を除く記憶領域１１０に表記容量分の論理アドレスを割り当てることによって、残量を演算してもよい。
【００８８】
続いて、抽出部２１３は、プライマリ欠陥位置として登録されたトラックを除く全てのトラックから、性能情報２２１に記録されている評価値が悪い順番に、残量の分のトラックを抽出する（Ｓ３０４）。
【００８９】
続いて、登録部２１４は、Ｓ３０４の処理によって抽出された全てのトラックをプライマリ欠陥情報１１２に登録する（Ｓ３０５）。
【００９０】
Ｓ３０５によって、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４の動作が終了する。
【００９１】
このように、抽出部２１３は、評価値が所定の品質基準よりも悪いトラックをプライマリ欠陥位置として抽出し、容量取得部２１２は、冗長領域１１１の容量から既に抽出されたトラックの総量を除いた残量を演算する。そして、抽出部２１３は、評価値が悪い順番に、残量の分のトラックをプライマリ欠陥位置としてさらに抽出する。この構成により、所定の品質基準に満たない位置を確実にプライマリ欠陥位置として特定して登録することが可能となる。
【００９２】
（第３の実施形態）
第１の実施形態および第２の実施形態では、プライマリ欠陥位置の特定および登録の処理がハードディスク装置１によって実行される例について説明した。第１の実施形態および第２の実施形態のプライマリ欠陥位置の特定および登録の処理の一部または全部は、他の装置によって実行されてもよい。
【００９３】
例えば図８に例示されるように、ハードディスク装置１は、当該ハードディスク装置１が出荷される前に、所定のインタフェース２を介して外部装置３に接続される。
【００９４】
外部装置３は、一例として、プロセッサ３１０とメモリ３２０とを備えたコンピュータである。プロセッサ３１０は、所定のプログラムに基づいて、測定部２１１、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４として機能する。また、メモリ３２０には、測定部２１１によって得られた測定結果を記述した性能情報２２１が格納される。
【００９５】
測定部２１１、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４の機能は、第１の実施形態で述べた同名の要素の機能と同様である。また、性能情報２２１の構成は、第１の実施形態で述べた構成と同様である。
【００９６】
外部装置３は、測定部２１１、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４によって、プライマリ欠陥情報１１２を生成し、生成したプライマリ欠陥情報１１２を記憶領域１１０に格納する。そして、例えば外部装置３またはハードディスク装置１の制御回路２０は、プライマリ欠陥情報１１２に記録されたプライマリ欠陥位置を避けて論理アドレスの割り当てを実行する。論理アドレスの割り当てが実行された後、ハードディスク装置１は、外部装置３から取り外されて出荷される。
【００９７】
なお、外部装置３は、コンピュータであってもよいし、ハードウェア回路によって構成される装置であってもよい。測定部２１１、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４のうちの一部または全部は、ハードウェア回路によって実現されてもよい。
【００９８】
なお、本実施形態では、測定部２１１、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４が外部装置３によって実現される例を述べた。測定部２１１、容量取得部２１２、抽出部２１３、および登録部２１４のうちの一部がハードディスク装置１によって実現されてもよい。
【００９９】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【０１００】
１  ハードディスク装置、２  インタフェース、３  外部装置、２０  制御回路、２１  プリアンプ、２２  ＲＤＣ、２３  ＨＤＣ、２４  ＤＳＰ、２５  ＭＰＵ、２６，３２０  メモリ、２７  ＥＣＣ回路、１００  筐体、１０１  磁気ディスク、１０２  磁気ヘッド、１０３  回転軸、１０４  アーム、１０６  軸、１０７  サスペンション、１０８  ヘッドスライダ、１０９  ランプロード機構、１１０  記憶領域、１１１  冗長領域、１１２  プライマリ欠陥情報、２１１  測定部、２１２  容量取得部、２１３  抽出部、２１４  登録部、２２１  性能情報、３１０  プロセッサ。
【図１】
2019139828.tif 000004
【図２】
2019139828.tif 000005
【図３】
2019139828.tif 000006
【図４】
2019139828.tif 000007
【図５】
2019139828.tif 000008
【図６】
2019139828.tif 000009
【図７】
2019139828.tif 000010
【図８】
2019139828.tif 000011