(57)【要約】【課題】光センサーにより出力される光ビームの検出信号にノイズが生じやすい環境において、前記ノイズに起因する不適切な画像形成処理が行われる頻度を低減すること。【解決手段】信号補正器８６ａは、補正ゲイン信号Ｓｇ０が入力されているときに光センサー５３の光検出信号Ｓａ０を増幅または減衰させて出力し、そうでないときに前記光検出信号Ｓａ０をそのまま出力する。前記制御装置８００は、異常検出部８７と、ゲイン調節部８０と、を含む。前記異常検出部８７は、前記光検出信号Ｓａ０が予め定められた異常挙動を示す異常状態を検出する。前記ゲイン調節部８０は、前記異常状態が検出された場合に、前記異常状態に応じた増幅ゲインまたは減衰ゲインを示す前記補正ゲイン信号Ｓｇ０を前記信号補正器８６ａへ出力する。【選択図】図１
2019032375.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体の表面に静電潜像書き込み用の光ビームを走査する光走査装置であって、
前記光ビームを出射するビーム光源と、
前記光ビームを反射しつつ予め定められた主走査方向へ走査する走査ミラーと、
予め定められた位置に固定され、前記走査ミラーによって走査される前記光ビームの受光量に応じたレベルの光検出信号を出力する光センサーと、
補正ゲイン信号が入力されているときに前記光検出信号を増幅または減衰させて出力し、そうでないときに前記光検出信号をそのまま出力する信号補正器と、
前記信号補正器を経た前記光検出信号のレベル変化に応じて前記ビーム光源に前記光ビームを出射させるタイミングを制御する制御装置と、を備え、
前記制御装置は、
前記光検出信号が予め定められた異常挙動を示す異常状態を検出する異常検出部と、
前記異常状態が検出された場合に、前記異常状態に応じた増幅ゲインまたは減衰ゲインを示す前記補正ゲイン信号を前記信号補正器へ出力するゲイン調節部と、を含む、光走査装置。
【請求項２】
前記異常挙動は、前記光検出信号がネガティブレベルから一時的にアクティブレベルへ変化するビーム通過状態が検出されてから予め定められた時間が経過する前に前記光検出信号がネガティブレベルから一時的にアクティブレベルへ変化する過敏挙動を含み、
前記過敏挙動を示す前記異常状態が検出された場合に、前記ゲイン調節部は、前記光検出信号のレベルをネガティブレベル側へ補正する前記補正ゲイン信号を出力する、請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
前記異常挙動は、前記光検出信号がネガティブレベルから一時的にアクティブレベルへ変化するビーム通過状態が検出されてから予め定められた時間が経過するまでに前記光検出信号がネガティブレベルからアクティブレベルへ変化しない鈍挙動を含み、
前記鈍挙動を示す前記異常状態が検出された場合に、前記ゲイン調節部は、前記光検出信号のレベルをアクティブレベル側へ補正する前記補正ゲイン信号を出力する、請求項１または請求項２に記載の光走査装置。
【請求項４】
前記ゲイン調節部は、前記異常状態の検出回数が予め設定された回数を超えた場合に、前記補正ゲイン信号を出力する、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の光走査装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の光走査装置と、
前記光走査装置によって走査される光ビームによって静電潜像が書き込まれる感光体と、
前記感光体上の前記静電潜像をトナー像へ現像する現像装置と、
前記感光体上の前記トナー像をシートへ転写する転写装置と、を備える画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光センサーの出力信号のノイズ対策が可能な光走査装置および画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、電子写真方式の画像形成装置は、光走査装置を備える。光走査装置は、感光体の表面に静電潜像書き込み用の光ビームを走査する。
【０００３】
前記光走査装置は、ポリゴンミラーなどの走査ミラーによって走査される前記光ビームを予め定められた位置で受光する光センサーを備える。前記光センサーは、前記光ビームの受光量に応じたレベルの光検出信号を出力する。そして、制御装置が、前記光検出信号のレベル変化に応じてレーザーダイオードなどの光源に前記光ビームを出射させるタイミングを制御する。
【０００４】
また、前記光走査装置において、前記光検出信号のレベル変化の発生回数に基づいて、前記光検出信号にノイズが発生したことを検出することが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−２２４５８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、前記光検出信号のノイズが検出された場合に、前記静電潜像の書き込み処理を含む画像形成処理をやり直すことが考えられる。これにより、不適切な印刷物が出力されることを防止できる。
【０００７】
一方、前記画像形成装置が、前記光検出信号にノイズが生じやすい環境に設置される場合がある。この場合、前記画像形成処理のやり直しが頻発してしまう。
【０００８】
本発明の目的は、光センサーにより出力される光ビームの検出信号にノイズが生じやすい環境において、前記ノイズに起因する不適切な画像形成処理が行われる頻度を低減できる光操作装置および画像形成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一の局面に係る光走査装置は、感光体の表面に静電潜像書き込み用の光ビームを走査する装置である。前記光走査装置は、ビーム光源と、走査ミラーと、光センサーと、信号補正器と、制御装置と、と備える。前記ビーム光源は、前記光ビームを出射する光源である。前記走査ミラーは、前記光ビームを反射しつつ予め定められた主走査方向へ走査する。前記光センサーは、予め定められた位置に固定され、前記走査ミラーによって走査される前記光ビームの受光量に応じたレベルの光検出信号を出力する。前記信号補正器は、補正ゲイン信号が入力されているときに前記光検出信号を増幅または減衰させて出力し、そうでないときに前記光検出信号をそのまま出力する。前記制御装置は、前記信号補正器を経た前記光検出信号のレベル変化に応じて前記ビーム光源に前記光ビームを出射させるタイミングを制御する。前記制御装置は、異常検出部と、ゲイン調節部と、を含む。前記異常検出部は、前記光検出信号が予め定められた異常挙動を示す異常状態を検出する。前記ゲイン調節部は、前記異常状態が検出された場合に、前記異常状態に応じた増幅ゲインまたは減衰ゲインを示す前記補正ゲイン信号を前記信号補正器へ出力する。
【００１０】
本発明の他の局面に係る画像形成装置は、前記光走査装置と、感光体と、現像装置と、転写装置と、を備える。前記感光体は、前記光走査装置によって走査される光ビームによって静電潜像が書き込まれる。前記現像装置は、前記感光体上の前記静電潜像をトナー像へ現像する。前記転写装置は、前記感光体上の前記トナー像をシートへ転写する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、光センサーにより出力される光ビームの検出信号にノイズが生じやすい環境において、前記ノイズに起因する不適切な画像形成処理が行われる頻度を低減できる光操作装置および画像形成装置を提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】図１は、実施形態に係る画像形成装置の構成図である。
【図２】図２は、実施形態に係る画像形成装置が備える光走査装置および制御部の構成図である。
【図３】図３は、光走査装置におけるノイズが発生した光検出信号の一例を示すトレンドグラフである。
【図４】図４は、光走査装置における補正後の光検出信号の一例を示すトレンドグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の実施形態は、本発明を具体化した一例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
【００１４】
［画像形成装置１０の構成］
実施形態に係る画像形成装置１０は、電子写真方式で画像形成処理を実行する装置である。前記画像形成処理は、シートに画像を形成する処理である。前記シートは、紙または樹脂フィルムなどのシート状の画像形成媒体である。
【００１５】
画像形成装置１０は、シート供給機構２、シート搬送機構３、画像形成部４および制御部８などを備える。
【００１６】
シート供給機構２は、前記シートを装置内の搬送路３０へ送り出す。シート搬送機構３は、前記シートを搬送路３０に沿って搬送する。シート搬送機構３は、レジストローラー対３１を含む。レジストローラー対３１は、前記シートを画像形成部４に到達する手前で一時停止させることにより、前記シートの搬送タイミングを調整する。
【００１７】
画像形成部４は、電子写真方式で前記画像形成処理を実行する。画像形成部４は、ドラム状の感光体４１、帯電装置４２、現像装置４３、転写装置４４、クリーニング装置４５、定着装置４６および光走査装置５などを備える。
【００１８】
感光体４１は、現像系モーターＭ１によって回転駆動され、帯電装置４２が感光体４１の表面を一様に帯電させる。
【００１９】
光走査装置５は、感光体４１の表面に静電潜像書き込み用の光ビームＢ０を走査する。これにより、光走査装置５は、帯電した感光体４１の表面に前記静電潜像を書き込む。換言すれば、感光体４１は、光走査装置５によって走査される光ビームＢ０によって前記静電潜像が書き込まれる部材である。
【００２０】
現像装置４３は、感光体４１の表面にトナーを供給することにより、前記静電潜像をトナー像へ現像する。転写装置４４は、感光体４１上の前記トナー像を、搬送路３０を移動中の前記シートに転写する。
【００２１】
なお、転写装置４４が、感光体４１上の前記トナー像を不図示の中間転写ベルトへ一次転写し、さらに、前記中間転写ベルト上の前記トナー像を前記シートへ転写することも考えられる。
【００２２】
クリーニング装置４５は、感光体４１の表面に残存する前記トナーを除去する。定着装置４６は、前記シートに転写された前記トナー像を加熱しつつ前記シートに押し付けることにより、前記トナー像を前記シートに定着させる。
【００２３】
制御部８は、不図示の情報端末などから印刷ジョブデータを受信し、前記印刷ジョブデータに基づく前記画像形成処理を画像形成部４に実行させる。
【００２４】
図２に示されるように、制御部８は、主制御部８０、同期信号生成回路８１、発光制御部８２、画像処理装置８３、モーター駆動回路８４、二次記憶装置８５および信号調節回路８６などを備える。
【００２５】
例えば、主制御部８０および発光制御部８２が、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）またはＤＳＰ（Digital Signal Processor）などのプロセッサー８００によって実現されることが考えられる。
【００２６】
プロセッサー８００は、予め二次記憶装置８５に記憶されたプログラムを実行することにより、主制御部８０および発光制御部８２として動作する。
【００２７】
二次記憶装置８５は、コンピューター読取可能な不揮発性の記憶装置である。例えば、二次記憶装置８５が、フラッシュメモリーまたはハードディスクドライブなどを含むことが考えられる。
【００２８】
また、画像処理装置８３が、ＤＳＰなどのプロセッサーまたはＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）などの集積回路によって実現されることが考えられる。
【００２９】
また、同期信号生成回路８１、モーター駆動回路８４および信号調節回路８６が、ＡＳＩＣなどの集積回路を含むことが考えられる。また、信号調節回路８６が、光センサー５３とともにユニット化されていることも考えられる。
【００３０】
主制御部８０は、各種のデータ処理を実行するとともに、光走査装置５を含む画像形成装置１０の機器を統括的に制御する。例えば、主制御部８０は、不図示の通信インターフェイスデバイスを通じて前記印刷ジョブデータを他装置から受信する。さらに、主制御部８０は、前記印刷ジョブデータに基づく前記画像形成処理を、画像処理装置８３、発光制御部８２およびモーター駆動回路８４などを通じて、画像形成部４に実行させる。
【００３１】
画像処理装置８３は、各種の画像処理を実行する。例えば、画像処理装置８３は、前記印刷ジョブデータを画像形成用の画像データＤｉ０へ変換する。例えば、画像データＤｉ０はラスタデータである。
【００３２】
図２に示されるように、光走査装置５は、少なくとも１つのレーザー光源５０、ポリゴンミラー５１、ｆθレンズなどのレンズ５２および光センサー５３などを備える。
【００３３】
レーザー光源５０は、光ビームＢ０を出射する光源である。光ビームＢ０は、一定の位置に配置されたミラー５４などによってポリゴンミラー５１へ導かれる。なお、レーザー光源５０は、ビーム光源の一例である。
【００３４】
ポリゴンミラー５１は、光ビームＢ０を反射しつつ予め定められた主走査方向Ｄ１へ走査する。主走査方向Ｄ１は、感光体４１の長手方向である。ポリゴンミラー５１は、正多角形状に並ぶ複数の単位反射面５１ａを有する。例えば、ポリゴンミラー５１は、６個または８個など、偶数個の単位反射面５１ａを有する。以下の説明において、主走査方向Ｄ１に直交する方向のことを副走査方向Ｄ２と称する。
【００３５】
ポリゴンミラー５１は、走査モーターＭ２によって回転駆動される。ポリゴンミラー５１の回転軸５１ｂは、複数の単位反射面５１ａが形成する正多角形の中心の位置に設けられている。
【００３６】
ポリゴンミラー５１が回転することにより、複数の単位反射面５１ａそれぞれが順番に光ビームＢ０を主走査方向Ｄ１に走査する。ポリゴンミラー５１で反射した光ビームＢ０は、ｆθレンズなどのレンズ５２を通じて感光体４１の表面に照射される。
【００３７】
なお、ポリゴンミラー５１は走査ミラーの一例である。ＭＥＭＳ（Micro-Electro-Mechanical System）ミラーまたはガルバノミラーなどが、ポリゴンミラー５１の代わりに走査ミラーとして採用されることも考えられる。
【００３８】
本実施形態において、光走査装置５は、複数のレーザー光源５０を備える。ポリゴンミラー５１は、それら複数のレーザー光源５０から出射された複数の光ビームＢ０を一括して走査する。この場合、光走査装置５は、複数の光ビームＢ０により、複数ライン分の前記静電潜像を同時に感光体４１に書き込む。
【００３９】
光センサー５３は、光ビームＢ０を受ける受光面５３０を有する。光センサー５３は、走査ミラーによって走査される光ビームＢ０を受光面５３０で受光しているときに、受光量に応じたレベルの光検出信号Ｓａ０を出力する。
【００４０】
光センサー５３は、ポリゴンミラー５１による光ビームＢ０の全走査範囲における、有効走査範囲の外側の位置に固定されている。前記有効走査範囲は、光ビームＢ０の全走査範囲のうち、前記静電潜像の書き込みの対象となり得る最大の範囲である。
【００４１】
図２に示される例では、光センサー５３は、感光体４１に対して主走査方向Ｄ１の上流側の位置に配置されている。なお、光センサー５３が、感光体４１に対して主走査方向Ｄ１の下流側の位置に配置されることも考えられる。また、２つの光センサー５３が、感光体４１に対して主走査方向Ｄ１の上流側の位置と下流側の位置とに配置されることも考えられる。以上に示される光センサー５３の固定位置は、予め定められた位置の一例である。
【００４２】
信号調節回路８６は、光センサー５３から出力される光検出信号Ｓａ０のレベルが、予め定められたアクティブレベルであるか、そうではないネガティブレベルであるかを判定し、判定結果を検出パルス信号Ｓｐ０として出力する。
【００４３】
光検出信号Ｓａ０のレベルが前記アクティブレベルであることは、光センサー５３が予め定められたしきい光量を超える光ビームＢ０を受光面５３０で受光していることを意味する。
【００４４】
例えば、光センサー５３が、受光量が大きいほど低レベルの光検出信号Ｓａ０を出力するセンサーであることが考えられる。また、信号調節回路８６が、アクティブ・ローの検出パル信号Ｓｄ０を出力することが考えられる。
【００４５】
検出パル信号Ｓｄ０がアクティブ・ローの信号である場合、光センサー５３が前記しきい光量を超える光ビームＢ０を受光しているときに、信号調節回路８６は、ローレベルの検出パルス信号Ｓｐ０を出力し、そうでないときにハイレベルの検出パルス信号Ｓｐ０を出力する。
【００４６】
なお、光センサー５３が、受光量が大きいほど光レベルの光検出信号Ｓａ０を出力するセンサーであることも考えられる。同様に、信号調節回路８６が、アクティブ・ハイの検出パル信号Ｓｄ０を出力することも考えられる。
【００４７】
同期信号生成回路８１は、アクティブな検出パルス信号Ｓｐ０が発生するごとに、主走査同期信号Ｓｙｃ０を出力する回路である。主走査同期信号Ｓｙｃ０は、主走査方向Ｄ１の１回の走査ごとの前記静電潜像の書き込み開始の基準となる信号である。
【００４８】
発光制御部８２は、主走査同期信号Ｓｙｃ０が予め定められた変化を示した時点を基準にして、主走査方向Ｄ１の１回の走査ごとの発光制御のタイミングを制御する。前記発光制御は、画像データＤｉ０における複数の画素値に従って、レーザー光源５０の点灯および消灯を制御することである。
【００４９】
例えば、発光制御部８２は、主走査同期信号Ｓｙｃ０が予め定められた変化を示すごとに、その変化が生じた時点から予め定められた時間が経過した時点で、主走査方向Ｄ１の１回の走査ごとの前記発光制御を開始する。
【００５０】
モーター駆動回路８４は、主制御部８０からの制御指令に従って、現像系モーターＭ１および走査モーターＭ２などの各種のモーターを制御する。モーター駆動回路８４は、モーター制御部の一例である。
【００５１】
なお、制御部８において、発光制御部８２を制御するときの主制御部８０と、信号調節回路８６と、同期信号生成回路８１と、発光制御部８２と、走査モーターＭ２を制御するモーター駆動回路８４は、光走査装置５の一部を構成している。
【００５２】
ところで、光走査装置５において、光検出信号Ｓａ０のレベル変化の発生回数に基づいて、光検出信号Ｓａ０にノイズが発生したことを検出することが知られている。
【００５３】
光検出信号Ｓａ０のノイズが検出された場合に、前記静電潜像の書き込み処理を含む前記画像形成処理をやり直すことが考えられる。これにより、不適切な印刷物が出力されることを防止できる。
【００５４】
一方、画像形成装置１０が、光検出信号Ｓａ０にノイズが生じやすい環境に設置される場合がある。この場合、前記画像形成処理のやり直しが頻発することを回避できることが望ましい。
【００５５】
画像形成装置１０において、光走査装置５は、前記ノイズに起因する不適切な前記画像形成処理が行われる頻度を低減するための構成を備える。
【００５６】
［信号調節回路８６］
本実施形態において、信号調節回路８６は、補正回路８６ａおよび二値化回路８６ｂを備える。
【００５７】
補正回路８６ａは、光検出信号Ｓａ０を一次検出信号として入力し、二次検出信号Ｓａ１を出力する。さらに、補正回路８６ａは、光検出信号Ｓａ０を二次検出信号Ｓａ１へ変換するために用いる補正ゲイン信号Ｓｇ０を主制御部８０から入力する。
【００５８】
補正回路８６ａは、補正ゲイン信号Ｓｇ０が入力されているときに、光検出信号Ｓａ０を増幅または減衰させて二次検出信号Ｓａ１として出力し、そうでないときに光検出信号Ｓａ０をそのまま二次検出信号Ｓａ１として出力する。二次検出信号Ｓａ１は、補正回路８６ａを経た光検出信号Ｓａ０の一例である。
【００５９】
本実施形態において、補正回路８６ａは、少なくとも補正ゲイン信号Ｓｇ０に応じて光検出信号Ｓａ０を増幅する増幅回路を含む。なお、補正回路８６ａは、信号補正器の一例である。
【００６０】
図３に示されるように、二値化回路８６ｂは、二次検出信号Ｓａ１を予め定められたしきいレベルＳＬ０を基準として二値化し、二値化後の信号である検出パルス信号Ｓｐ０を出力する。
【００６１】
従って、主制御部８０は、二次検出信号Ｓａ１のレベル変化に応じてレーザー光源５０に光ビームＢ０を出射させるタイミングを制御する。
【００６２】
［異常検出部８７］
プロセッサー８００は、二次記憶装置８５に予め記憶されたプログラムを実行することにより、異常検出部８７として動作する。なお、主制御部８０、発光制御部８２および異常検出部８７として動作するプロセッサー８００は制御装置の一例である。
【００６３】
異常検出部８７は、二次検出信号Ｓａ１の変化を表す検出パルス信号Ｓｐ０が予め定められた異常挙動を示す異常状態を検出する。
【００６４】
以下の説明において、検出パルス信号Ｓｐ０がネガティブ状態から一時的にアクティブ状態へ変化する状態のことをビーム通過状態と称する。主制御部８０は、検出パルス信号Ｓｐ０の変化を監視することにより前記ビーム通過状態を検出する。
【００６５】
なお、検出パルス信号Ｓｐ０がネガティブ状態から一時的にアクティブ状態へ変化することは、二次検出信号Ｓａ１が前記ネガティブレベルから一時的に前記アクティブレベルへ変化することと同じ意味である。
【００６６】
異常検出部８７により判定される前記異常挙動は、以下に示される過敏挙動を含む。前記過敏挙動は、前記ビーム通過状態が検出されてから予め定められた第１基準時間Ｔ１が経過する前に検出パルス信号Ｓｐ０がネガティブ状態から一時的にアクティブ状態へ変化することである（図３参照）。第１基準時間Ｔ１は、ポリゴンミラー５１による光ビームＢ０の走査周期Ｔ０よりも少し短い時間である。走査周期Ｔ０は、設計上の予め定められた時間である。
【００６７】
図３は、補正ゲイン信号Ｓｇ０が主制御部８０によって出力されていない状況下で、光検出信号Ｓａ０に信号レベルをアクティブレベル側へ変動させるノイズが生じた場合を示す。
【００６８】
図３に示されるように、光検出信号Ｓａ０にノイズが生じると、光検出信号Ｓａ０のレベルが不安定になる。これにより、アクティブな検出パルス信号Ｓｐ０が、本来は発生するはずのないタイミングＴ００で発生する。異常検出部８７は、そのようなタイミングＴ００で検出パルス信号Ｓｐ０が発生する状態を前記過敏挙動として検出する。
【００６９】
そして、主制御部８０は、前記異常状態が検出された場合に、前記異常状態に応じた増幅ゲインまたは減衰ゲインを示す補正ゲイン信号Ｓｇ０を補正回路８６ａへ出力する。補正ゲイン信号Ｓｇ０を出力する処理を実行する主制御部８０はゲイン調節部の一例である。
【００７０】
本実施形態において、主制御部８０は、前記過敏挙動を示す前記異常状態が検出された場合に、光検出信号Ｓａ０のレベルを増幅させる補正ゲイン信号Ｓｇ０を出力する。光検出信号Ｓａ０のレベルを増幅させる補正ゲイン信号Ｓｇ０は、光検出信号Ｓａ０のレベルをネガティブレベル側へ補正する補正ゲイン信号Ｓｇ０の一例である。
【００７１】
図４は、主制御部８０が光検出信号Ｓａ０のレベルを増幅させる補正ゲイン信号Ｓｇ０を出力しているときの二次検出信号Ｓａ１および検出パルス信号Ｓｐ０のタイムチャートを示す。
【００７２】
光検出信号Ｓａ０のレベルがネガティブレベル側へ補正されることにより、発生すべきでないアクティブな検出パルス信号Ｓｐ０が、ノイズに起因して発生することを防止できる。
【００７３】
例えば、前記異常状態が１回でも検出されれば、主制御部８０が光検出信号Ｓａ０のレベルを補正する補正ゲイン信号Ｓｇ０を出力することが考えられる。
【００７４】
一方、主制御部８０が、前記異常状態の検出回数が予め設定された回数を超えた場合に、光検出信号Ｓａ０のレベルを補正する補正ゲイン信号Ｓｇ０を出力することも考えられる。この場合、主制御部８０が、前記異常状態の検出履歴の情報を二次記憶装置８５に記録することが考えられる。そして、主制御部８０は、前記異常状態の検出履歴の情報に基づいて、前記異常状態の検出回数をカウントする。
【００７５】
また、主制御部８０が、前記異常状態が検出される回数に応じて、段階的に補正量が増える複数種類の補正ゲイン信号Ｓｇ０を順次出力することも考えられる。
【００７６】
[応用例]
応用例に係る光走査装置５において、異常検出部８７により判定される検出パルス信号Ｓｐ０の前記異常挙動が、以下に示される鈍挙動を含むことが考えられる。
【００７７】
前記鈍挙動は、前記ビーム通過状態が検出されてから第２基準時間Ｔ２が経過するまでに検出パルス信号Ｓｐ０がネガティブ状態からアクティブ状態へ変化しないことである。第２基準時間Ｔ２は、ポリゴンミラー５１による光ビームＢ０の走査周期Ｔ０よりも少し長い時間である。
【００７８】
前記鈍挙動の原因は、光検出信号Ｓａ０に信号レベルをネガティブレベル側へ変動させるノイズが生じることであると考えられる。
【００７９】
本応用例において、前記鈍挙動を示す前記異常状態が検出された場合に、主制御部８０は、光検出信号Ｓａ０のレベルを減衰させる補正ゲイン信号Ｓｇ０を出力する。光検出信号Ｓａ０のレベルを減衰させる補正ゲイン信号Ｓｇ０は、光検出信号Ｓａ０のレベルをアクティブレベル側へ補正する補正ゲイン信号Ｓｇ０の一例である。
【００８０】
本応用例によれば、光検出信号Ｓａ０に信号レベルをネガティブレベル側へ変動させるノイズが生じた場合に、前記鈍挙動を示す前記異常状態が頻発することを防止できる。
【符号の説明】
【００８１】
２        ：シート供給機構
３        ：シート搬送機構
４        ：画像形成部
５        ：光走査装置
８        ：制御部
１０      ：画像形成装置
３０      ：搬送路
３１      ：レジストローラー対
４１      ：感光体
４２      ：帯電装置
４３      ：現像装置
４４      ：転写装置
４５      ：クリーニング装置
４６      ：定着装置
５０      ：レーザー光源
５１      ：ポリゴンミラー
５１ａ    ：単位反射面
５１ｂ    ：回転軸
５２      ：レンズ
５３      ：光センサー
５４      ：ミラー
８０      ：主制御部
８１      ：同期信号生成回路
８２      ：発光制御部
８３      ：画像処理装置
８４      ：モーター駆動回路
８５      ：二次記憶装置
８６      ：信号調節回路
８６ａ    ：補正回路
８６ｂ    ：二値化回路
８７      ：異常検出部
５３０    ：受光面
８００    ：プロセッサー（制御装置）
Ｂ０      ：光ビーム
Ｄ１      ：主走査方向
Ｄ２      ：副走査方向
Ｄｉ０    ：画像データ
Ｍ１      ：現像系モーター
Ｍ２      ：走査モーター
ＳＬ０    ：しきいレベル
Ｓａ０    ：光検出信号
Ｓａ１    ：二次検出信号（補正後の光検出信号）
Ｓｄ０    ：検出パル信号
Ｓｇ０    ：補正ゲイン信号
Ｓｐ０    ：検出パルス信号
Ｓｙｃ０  ：主走査同期信号
Ｔ０      ：走査周期
Ｔ１      ：第１基準時間
Ｔ２      ：第２基準時間
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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