(57)【要約】【課題】現実に沿った組み付けを前提としたモデルで公差解析を行う。【解決手段】本発明の一態様である公差解析装置は、複数の部品を組み付けてなる完成品の公差解析を行う公差解析装置であって、複数の組み付け箇所で固定される部品に対し、組み付け最優先箇所と組み付け評価箇所を特定する特定部と、当該組み付け評価箇所に対応する、他の部品の組み付け箇所に係る調整可能範囲を設定する設定部と、部品ごとの寸法ばらつきをランダムに付与した完成品の解析モデルを複数作成する作成部と、前記各解析モデルにて前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内であるか否かを判定する判定部と、前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内となる複数の前記解析モデルが所定数量得られるまで前記作成部による前記解析モデルの複数作成と前記判定部による前記判定を繰り返し行わせる制御部とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の部品を組み付けてなる完成品の公差解析を行う公差解析装置であって、
複数の組み付け箇所で固定される一の部品に対し、一の組み付け箇所と、一の前記組み付け箇所以外の組み付け箇所である組み付け評価箇所を特定する特定部と、
一の前記部品の当該組み付け評価箇所に対応する、他の部品の組み付け箇所に係る調整可能範囲を設定する設定部と、
複数の前記部品ごとの寸法ばらつきをランダムに付与した完成品の解析モデルを複数作成する作成部と、
前記各解析モデルにて前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内であるか否かを判定する判定部と、
前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内となる複数の前記解析モデルが所定数量得られるまで複数の前記解析モデルの作成と、前記判定とを繰り返し行わせる制御部と、
を備える公差解析装置。
【請求項２】
前記調整可能範囲は、前記組み付け評価箇所の隙間または干渉を縮小することができる範囲である
請求項１に記載の公差解析装置。
【請求項３】
前記作成部は、一の前記組み付け箇所を組み付けた後で、前記組み付け評価箇所を組み付ける前記解析モデルを作成する
請求項１または２に記載の公差解析装置。
【請求項４】
複数の部品を組み付けてなる完成品の公差解析を行う公差解析方法であって、
複数の組み付け箇所で固定される一の部品に対し、一の組み付け箇所と、一の前記組み付け箇所以外の組み付け箇所である組み付け評価箇所を特定する特定ステップと、
一の前記部品の当該組み付け評価箇所に対応する、他の部品の組み付け箇所に係る調整可能範囲を設定する設定ステップと、
複数の前記部品ごとの寸法ばらつきをランダムに付与した完成品の解析モデルを複数作成する作成ステップと、
前記各解析モデルにて前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内であるか否かを判定する判定ステップと、
前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内となる複数の前記解析モデルが所定数量得られるまで複数の前記解析モデルの作成と、前記判定とを繰り返し行わせる制御ステップと、
を有する公差解析方法。
【請求項５】
複数の部品を組み付けてなる完成品の公差解析をコンピュータに実行させるプログラムであって、
複数の組み付け箇所で固定される一の部品に対し、一の組み付け箇所と、一の前記組み付け箇所以外の組み付け箇所である組み付け評価箇所を特定する特定ステップと、
一の前記部品の当該組み付け評価箇所に対応する、他の部品の組み付け箇所に係る調整可能範囲を設定する設定ステップと、
複数の前記部品ごとの寸法ばらつきをランダムに付与した完成品の解析モデルを複数作成する作成ステップと、
前記各解析モデルにて前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内であるか否かを判定する判定ステップと、
前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内となる複数の前記解析モデルが所定数量得られるまで複数の前記解析モデルの作成と、前記判定とを繰り返し行わせる制御ステップと、
をコンピュータに実行させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、公差解析装置、公差解析方法およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
個々に寸法ばらつきが規定された部品を組み付けた際に、組物（完成品）全体に生じ得る寸法ばらつきを評価、解析するソフトウェアとしてモンテカルロ法を用いた３次元公差解析ツールがある（例えば、特許文献１参照）。この３次元公差解析ツールを用いることで、完成品の寸法ばらつきを所定の範囲内に抑えるためには、どの部品の寸法ばらつきをどの程度まで抑えなければならないか、などを評価、解析することができる。
しかしながら、干渉や隙間を、他の組み付け箇所を調整して修正できることを考慮した解析は不可能であった。また、他の組み付け箇所を調整しながら干渉や隙間の調整を行う場合に、組み付け箇所の優先順位を考慮することも不可能であった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−００６２４１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
以上のように、従来のモンテカルロ法を用いた公差解析装置では、あくまで部品個々のばらつきをランダムに発生させただけであり、組み付け中に、他の部品の組み付けで誤差を調整しながら部品を組み付けるといった作為的な要素（実際の組み付けの際には行われている要素）は含まれていなかった。そのため、他の部品の組み付け箇所で誤差を適宜調整しながら組み付けて完成品を作る、といった、現実に沿った組み付けを前提としたモデルで公差解析を行うことができないという課題があった。
【０００５】
本発明は、上記課題を解決することができる公差解析装置、公差解析方法およびプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解説するため、本発明の一態様は、複数の部品を組み付けてなる完成品の公差解析を行う公差解析装置であって、複数の組み付け箇所で固定される一の部品に対し、一の組み付け箇所と、一の前記組み付け箇所以外の組み付け箇所である組み付け評価箇所を特定する特定部と、一の前記部品の当該組み付け評価箇所に対応する、他の部品の組み付け箇所に係る調整可能範囲を設定する設定部と、複数の前記部品ごとの寸法ばらつきをランダムに付与した完成品の解析モデルを複数作成する作成部と、前記各解析モデルにて前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内であるか否かを判定する判定部と、前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内となる複数の前記解析モデルが所定数量得られるまで複数の前記解析モデルの作成と、判定とを繰り返し行わせる制御部と、を備える公差解析装置である。
【０００７】
また、本発明の一態様は、上記公差解析装置であって、前記調整可能範囲は、前記組み付け評価箇所の隙間または干渉を縮小することができる範囲である。
【０００８】
また、本発明の一態様は、上記公差解析装置であって、前記作成部は、一の前記組み付け箇所を組み付けた後で、前記組み付け評価箇所を組み付ける前記解析モデルを作成する。
【０００９】
また、本発明の一態様は、複数の部品を組み付けてなる完成品の公差解析を行う公差解析方法であって、複数の組み付け箇所で固定される一の部品に対し、一の組み付け箇所と、一の前記組み付け箇所以外の組み付け箇所である組み付け評価箇所を特定する特定ステップと、一の前記部品の当該組み付け評価箇所に対応する、他の部品の組み付け箇所に係る調整可能範囲を設定する設定ステップと、複数の前記部品ごとの寸法ばらつきをランダムに付与した完成品の解析モデルを複数作成する作成ステップと、前記各解析モデルにて前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内であるか否かを判定する判定ステップと、前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内となる複数の前記解析モデルが所定数量得られるまで複数の前記解析モデルの作成と、前記判定とを繰り返し行わせる制御ステップと、を有する公差解析方法である。
【００１０】
また、本発明の一態様は、複数の部品を組み付けてなる完成品の公差解析をコンピュータに実行させるプログラムであって、複数の組み付け箇所で固定される一の部品に対し、一の組み付け箇所と、一の前記組み付け箇所以外の組み付け箇所である組み付け評価箇所を特定する特定ステップと、一の前記部品の当該組み付け評価箇所に対応する、他の部品の組み付け箇所に係る調整可能範囲を設定する設定ステップと、複数の前記部品ごとの寸法ばらつきをランダムに付与した完成品の解析モデルを複数作成する作成ステップと、前記各解析モデルにて前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内であるか否かを判定する判定ステップと、前記組み付け評価箇所が前記調整可能範囲内となる複数の前記解析モデルが所定数量得られるまで複数の前記解析モデルの作成と、前記判定とを繰り返し行わせる制御ステップと、をコンピュータに実行させるプログラムである。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、他の部品の組み付け箇所で誤差を適宜調整しながら組み付けて完成品を作る、といった、現実に沿った組み付けを前提としたモデルで公差解析を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の一実施形態に係る公差解析装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】図１に示す公差解析装置１のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図３】図１に示す公差解析装置１の動作例を説明するための模式図である。
【図４】図１に示す公差解析装置１の動作例を示すフローチャートである。
【図５】図１に示す公差解析装置１の動作例を説明するための模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
＜実施形態＞
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
【００１４】
図１は、本発明の一実施形態に係る公差解析装置１の構成例を示すブロック図である。図２は、図１に示す公差解析装置１のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。図３は、図１に示す公差解析装置１の動作例を説明するための模式図である。図３（ａ）は、部品Ａ、部品Ｂ、部品Ｃ、部品Ｄ、および部品Ｆの組み付け状態を模式的に示し、図３（ｂ）および図３（ｃ）は図３（ａ）に示す部品Ａと部品Ｂの組み付け状態を模式的に示す。図４は、図１に示す公差解析装置１の動作例を示すフローチャートである。図５は、図１に示す公差解析装置１の動作例を説明するための模式図であり、図３（ｂ）および図３（ｃ）に示す組み付け評価箇所の寸法ｄの公差解析結果の例を示す。なお、本実施形態の適用製品に限定はないが、例えば、エンジン、フォークリフト等の部品や完成品に適用することができる。
【００１５】
本実施形態の公差解析装置１は、図２に示すように、内部にＣＰＵ（中央処理装置）１１、主記憶装置１２、補助記憶装置１３、入出力装置１４、各部を接続するバス１５等を備えるコンピュータを用いて構成することができる。公差解析装置１は、ＣＰＵ１１で補助記憶装置１３に記憶した所定のプログラムを実行することで、図１に示す各機能ブロックを構成する。本実施形態において、公差解析装置１は、基本解析モデル作成部２、特定部３、設定部４、作成部５、判定部６、制御部７および記憶部８を備える。記憶部８は、基準解析モデル８１、組み付け最優先箇所８２、組み付け評価箇所８３、調整可能範囲８４、および複数の解析モデル８５を示す各データを記憶する。
【００１６】
本実施形態の公差解析装置１は、複数の部品を組み付けてなる完成品の公差解析を行う装置である。基準解析モデル作成部２は、操作者の指示等に応じて、公差解析を行う各部品の３次元形状データを用いて、各寸法に公差の値を設定した基準解析モデルを作成する。基準解析モデルは、モンテカルロ法によってばらつきをランダムに発生させた解析モデルを作成する際の基準として用いられる。なお、基準解析モデルの設定は、各部品の基準となる（ばらつきの要素を含まない）３次元形状の設定と、部品個々に生じ得る寸法ばらつき幅の設定値である公差設定と、拘束条件の設定と、評価箇所の設定とを含む。拘束条件は、例えば、各部品のどの面を、何処に、どのような順番で組み付けるのかという条件を示す。評価箇所は、例えば、部品どうしのどの組み付け箇所を統計的に評価するのかということを示す。拘束条件と評価箇所とは、特定部３によって設定（あるいは、基準解析モデル作成部２で設定された後、特定部３によって変更）される。基準解析モデル作成部２は、作成した基準解析モデル８１を記憶部８に記憶する。
【００１７】
特定部３は、操作者の指示等に応じて、複数の組み付け箇所で固定される部品に対し、組み付け最優先箇所と組み付け評価箇所とを特定する。組み付け最優先箇所は、複数の組み付け箇所で固定される一の部品についての一の組み付け箇所である。具体的には、組み付け最優先箇所は、例えば、図３（ａ）に示すように各部品Ａ〜部品Ｆを組み付ける場合に、複数種類の組み付け順序が可能であるとき、どの組み付け箇所を最優先に組み付けるのかということを示す。また、組み付け評価箇所は、複数の組み付け箇所で固定される一の部品に対し、組み付け最優先箇所以外の組み付け箇所である。具体的には、組み付け評価箇所は、隙間や干渉が発生する可能性がある組み付け箇所（最後に組み付けられる組み付け箇所）であり、統計的解析（公差解析）の対象とされる組み付け箇所であることを示す。特定部３は、特定された組み付け最優先箇所と組み付け評価箇所に基づき、基準解析モデル８１の拘束条件と評価箇所を設定あるいは変更する。特定部３は、特定した組み付け最優先箇所８２と、組み付け評価箇所８３を記憶部８に記憶する。
【００１８】
図３（ａ）は、部品Ａ〜部品Ｆを、すべて互いに組み付ける例を示す。すなわち、部品Ａと部品Ｂ、部品Ｂと部品Ｃ、部品Ｃと部品Ｄ、部品Ｄと部品Ｅ、部品Ｅと部品Ｆ、および部品Ｆと部品Ａは、それぞれ互いに組み付けられる。この場合に、例えば、部品Ｂから部品Ｃ、部品Ｄ、部品Ｅ、部品Ｆおよび部品Ａの順に各部品を組み付けた場合、部品Ａと部品Ｂには図３（ｂ）に示すｄ（ｍｍ）（符号は正）の隙間または図３（ｃ）に示すｄ（ｍｍ）（符号は負）の干渉が発生する。そのため、この例では、部品Ｃと部品Ｄの取り付け穴等に調整代を持たせることで図の上下方向に±Ｌ（ｍｍ）の調整可能範囲が設定されている。すなわち、実際の製造工程では、部品Ａと部品Ｂとの間に隙間や干渉が発生した場合には、部品Ｃと部品Ｄの組み付けを調整することで、その隙間や干渉が小さくなるように調整される。図３（ａ）に示す例では、例えば、部品Ａと部品Ｆとの組み付け箇所が組み付け最優先箇所（最初に組み付けられる組み付け箇所）に設定され、部品Ａと部品Ｂの組み付け箇所が組み付け評価箇所（最後に組み付けられる組み付け箇所）に設定される。なお、組み付け評価箇所は、一つの部品についての複数の方向ごと、及び、複数の部品ごとに対応して複数存在してもよい。また、以下の説明においては、部品Ｃと部品Ｄとの調整可能範囲の値を、部品Ａと部品Ｂとの間に要求される要求精度とも記載する。
【００１９】
次に、設定部４は、操作者の指示等に応じて、当該組み付け評価箇所に対応する、他の部品の組み付け箇所に係る調整可能範囲を設定する。図３（ａ）に示す例では、設定部４は、組み付け評価箇所（この場合、部品Ａと部品Ｂの組み付け箇所）に対応する、他の部品Ｃと部品Ｄの組み付け箇所に係る調整可能範囲（±Ｌ（ｍｍ））を設定する。ここで、調整可能範囲は、組み付け評価箇所の隙間または干渉を縮小することができる組み付け箇所に対応している。設定部４は、設定した調整可能範囲８４を記憶部８に記憶する。
【００２０】
作成部５は、部品ごとの寸法ばらつきをランダムに付与した完成品の解析モデルを複数作成する。すなわち、作成部５は、基準解析モデル８１と組み付け最優先箇所８２と組み付け評価箇所８３に基づき、基準解析モデル８１の形状（寸法）に公差内のばらつきをランダムに付与した複数の解析モデル８５を作成し、記憶部８に記憶する。その際、作成部５は、特定部４が特定した組み付け最優先箇所を最優先に組み付け、特定部４が特定した組み付け評価箇所を最後に組み付けることで解析モデル８５を複数作成する。なお、作成部５は、例えば、数万個程度の解析モデル８５を作成する。
【００２１】
判定部６は、各解析モデル８５にて組み付け評価箇所が調整可能範囲内であるか否かを判定する。図３（ａ）に示す例では、判定部６は、部品Ａと部品Ｂとの組み付け箇所の隙間または干渉の大きさｄ（ｍｍ）が部品Ｃと部品Ｄの組み付け箇所の調整可能範囲（±Ｌ（ｍｍ））以内であるか否かを判定する。
【００２２】
制御部７は、判定部６による判定の結果、組み付け評価箇所が調整可能範囲内となる複数の解析モデルが所定数量得られるまで作成部５に解析モデル８５の複数作成を繰り返し行わせるとともに判定部６に判定処理を繰り返し行わせる。この制御部７の動作によって、図３（ａ）に示す例では、部品Ａと部品Ｂとの組み付け箇所の隙間または干渉の大きさｄ（ｍｍ）が部品Ｃと部品Ｄの組み付け箇所の調整可能範囲（±Ｌ（ｍｍ））以内である解析モデル８５が、所定数量以上、作成部５によって作成される。この所定数量は、統計的解析を行う際の所望の精度に応じて決定することができる。
【００２３】
次に、図４を参照して、図１に示す公差解析装置１の動作例について説明する。図４に示す動作例では、まず、特定部３が、操作者の指示等に応じて、組み付け最優先箇所と、１または複数の組み付け評価箇所Ｐ＝｛ｐ１、ｐ２、…｝を特定し、組み付け最優先箇所８２および組み付け評価箇所８３として記憶部８に記憶する（ステップＳ１１）。ここで、ｐ１、ｐ２、…は、各組み付け評価箇所を識別する情報である。
【００２４】
次に、基準解析モデル作成部２が、例えば操作者が指定した各部品の３次元形状データおよび、拘束条件と、特定部３が特定した組み付け最優先箇所８２および組み付け評価箇所８３とに基づき、基準解析モデル８１を作成する（ステップＳ１２）。
【００２５】
次に、公差解析装置１が公差解析処理を開始し（ステップＳ１３）、制御部７が変数ｎ＊を「０」に初期化する（ステップＳ１４）。変数ｎ＊は、調整可能範囲内にある解析モデル８５の数量をカウントするための変数である。変数ｎ＊は、例えば“２００００”等と設定される。次に、作成部５が、モンテカルロ法によってランダムに寸法ばらつきを付与した解析モデル８５をｎ個（ｎは自然数。例えば、２００００個）作成する（ステップＳ１５）。次に、判定部６が、各解析モデル８５にて組み付け可否を判定する（ステップＳ１６）。
【００２６】
ステップＳ１６の組み付け可否の判定が開始すると（ステップＳ２０）、制御部７が変数ｉを「１」に初期化する（ステップＳ２１）。判定部６は、ステップＳ１５で作成されたｉ個目の解析モデル８５の内容を参照する（ステップＳ２２）。
【００２７】
そして、判定部６は、ステップＳ２２で参照した解析モデル８５について、組み付け評価箇所Ｐ＝｛ｐ１、ｐ２、…、ｐｊ、…｝（ｊは自然数）のすべてについて組み付け評価箇所ｐｊの要求精度の達成可否を判定し（ステップＳ２４）、いずれか一つでも要求精度を達成していない（すなわち、調整可能範囲内にない）場合（ステップＳ２３〜ステップＳ２６の繰り返しにおいて、ステップＳ２５で一回でも「Ｎｏ」となった場合）、制御部７は、当該解析モデル８５を統計的解析の対象から除外する（ステップＳ３０）。一方、判定部６は、ステップＳ２２で参照した解析モデル８５について、組み付け評価箇所Ｐ＝｛ｐ１、ｐ２、…、ｐｊ、…｝のすべてについて組み付け評価箇所ｐｊの要求精度が達成している（すなわち調整可能範囲内にある）場合（ステップＳ２３〜ステップＳ２６の繰り返し処理すべてについて、ステップＳ２５で「Ｙｅｓ」となった場合）、制御部７は、当該解析モデル８５を統計的解析の対象データとして取得する（ステップＳ２７）。また、この場合、制御部７は、変数ｎ＊を１だけ増加させる。
【００２８】
ステップＳ２７またはステップＳ３０に続いて、制御部７は、変数ｉが定数ｎに一致するか否かを判定する（ステップＳ２８）。ステップＳ２８で変数ｉが定数ｎに一致した場合（ステップＳ２８で「Ｙｅｓ」の場合）、ステップＳ１５で生成されたｎ個の解析モデル８５に対する判定処理が終了したことになるので、判定部６および制御部７は判定処理を終了する（ステップＳ３１）。一方、ステップＳ２８で変数ｉが定数ｎに一致しない場合（ステップＳ２８で「Ｎｏ」の場合）、制御部７は変数ｉを１だけ増加させ、ステップＳ２２以降の処理を再度実行させる。
【００２９】
ステップＳ１６（ステップＳ２０〜ステップＳ３１）の処理が終了すると、制御部７は、変数ｎ＊が定数ｎ以上であるか否かを判定する（ステップＳ１７）。変数ｎ＊が定数ｎ以上である場合、すなわち、ステップＳ２５の判定処理で要求精度を達成した解析モデル８５を定数ｎ個以上取得できた場合（ステップＳ１７で「Ｙｅｓ」の場合）、制御部７は、公差解析を完了し（ステップＳ１８）、処理を終了する（ステップＳ１９）。一方、変数ｎ＊が定数ｎ以上でない場合（ステップＳ１７で「Ｎｏ」の場合）、ステップＳ２５で要求精度を達成した解析モデル８５の個数が定数ｎに達していないため、制御部７は、再度、作成部５にモンテカルロ法による解析モデル８５をｎ個作成させ（ステップＳ１５）、判定部６に判定処理を行わせ（ステップＳ１６）、ステップＳ１７の判定処理を行う。
【００３０】
以上の動作によって、公差解析装置１は、例えば、図５に示すような公差解析結果を取得することができる。図５は、横軸を図３（ｂ）および図３（ｃ）に示す隙間または干渉の大きさｄ（ｍｍ）、縦軸を解析モデル８５の発生頻度（個数）を示すグラフである。網掛けしていない領域は、ステップＳ２５で要求精度を満たすものとして取得された解析モデル８５に対応し、図４に示す処理フローによれば、その数（面積）が常に定数ｎ以上とされることが担保されている。他方、網掛けして示した要求精度外の値は、ステップＳ３０で除外された解析モデル８５に対応する。
【００３１】
以上のように、本実施形態によれば、最優先で組み付ける箇所以外の組み付け箇所の干渉及び隙間の度合いを評価し、当該組み付け箇所に対応する他の組み付け箇所で調整可能か否かを判定することで、部品間が組み付け可能な解析モデルの数を所定量確保する。また、本実施形態によれば、最優先で組み付ける以外の組み付け箇所を解析モデルでは組み付けず、組み付け可否を評価することで、組み付けの優先順位を考慮する。
【００３２】
ここで、従来の公差解析ツールでは、公差設定の範囲内にばらつきを有する各部品を無作為に選んだ結果、組み付け不能となった解析モデル（例えば、図３に示す例において、部品Ａと部品Ｂとの間に、組み付け不能と判断される、ある許容値を上回る干渉または隙間が生じた解析モデル）を全て除外し、組み付け可能となった解析モデル（部品Ａと部品Ｂとの間に干渉または隙間が許容値以下となった解析モデル）のみを収集して完成品の寸法公差分析を行うことが考えられる。
しかしながら、この場合、公差解析ツールによって生成された完成品の解析モデルは、現実の組み付け作業で生成される完成品の寸法ばらつきを正しく反映しないことが想定される。なぜなら、例えば、部品Ａと部品Ｂ（図３参照）との間に、組み付け不能と判断される程度の干渉または隙間が生じ得たとしても、その干渉または隙間は、実際の組み付け作業においては、更に、部品Ｃと部品Ｄとの組み付け箇所での調整によって吸収できるものであり、実際の完成品には、現にそのような調整がなされて組み付けされたものが含まれているからである。
そこで、本実施形態に係る公差解析装置は、生成した解析モデルのある組み付け箇所に組み付け不能と判断され得るほどの干渉または隙間が存在したとしても、当該組み付け箇所に対応する他の組み付け箇所での調整によって組み付け可能となる場合（すなわち、干渉または隙間が上述の要求精度を満たす場合）には、当該解析モデルを取得して、完成品の公差解析を行うための解析モデルとして確保する。このようにすることで、他の部品の組み付け箇所で誤差を適宜調整しながら組み付けて完成品を作る、といった、現実に沿った組み付けを前提として生成された解析モデルを複数収集し、完成品の公差解析を行うことができる。
【００３３】
なお、本実施形態では、組み付け可否の判定は、他の組み付け箇所に基づいて調整可能な範囲を要求精度として、組み付け箇所の干渉または隙間の度合いと比較することで行われる。そして、本実施形態では、比較の結果、要求精度を満たす場合には、完成品の公差分析に使用するデータ（解析モデル）として採用され、そうでない場合には、採用されない。
【００３４】
よって、本実施形態によれば、優先順位を考慮した組み付けの評価、および、組み付け可能な確率の高い組み付け順を容易に評価できる。また、干渉または隙間の度合いを定量的に評価することが可能となる。また、現実にも実施される、調整を考慮した干渉または隙間の調整を考慮した解析が可能となる。そして、組み付けを行う優先順位を変えることで、組み付け可能となる確率が上昇するか否かを分析することもできる。
【００３５】
また、除外される解析モデル８５の個数や内容を分析に使うこともできる。例えば、図５に示すグラフにおいて、ステップＳ３０（図４）で除外される解析モデル８５の個数（すなわち、網掛けして示した領域の面積）が顕著に大きい場合には、ある組み付け箇所で生じた干渉または隙間を、他の組み付け箇所での調整によって吸収することができないと判断することができる。この場合、組み付け担当者は、別の組み付け箇所での調整を検討したり、組み付けを行う優先順位の変更を検討したりすることができる。
【００３６】
以上、この発明の実施形態を、図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。また、公差解析装置１を構成するプログラムの一部または全部は、コンピュータ読取可能な記録媒体または通信回線を介して頒布することができる。
【符号の説明】
【００３７】
１  公差解析装置
２  基本解析モデル作成部
３  特定部
４  設定部
５  作成部
６  判定部
７  制御部
８  記憶部
８１  基準解析モデル
８２  組み付け最優先箇所
８３  組み付け評価箇所
８４  調整可能範囲
８５  解析モデル
【図１】
2019159603.tif 000003
【図２】
2019159603.tif 000004
【図３】
2019159603.tif 000005
【図４】
2019159603.tif 000006
【図５】
2019159603.tif 000007