(57)【要約】【課題】第１転写位置と第２転写位置との位置ずれを簡単で且つ効率的に測定できる成形品の転写位置ずれ測定方法を提供する。【解決手段】第１形状を成形品１に第１転写すると共に、成形品１に本尺の目盛り７を形成する。第２形状を成形品１に第２転写すると共に、成形品１の本尺の目盛り７に沿う位置に副尺の目盛り２０を形成する。本尺の目盛り７は、一定の間隔の複数の本尺単位目盛り部８で構成されている。副尺の目盛り２０は、測定精度をαとすると、（前記本尺の目盛り間隔＋α）又は（前記本尺の目盛り間隔−α）の間隔で形成された複数の副尺単位目盛り部２１で構成されている。本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０は、ノギスの本尺の目盛りと副尺の目盛りとの関係と同様に読み取ることにより、第１転写位置と第２転写位置の位置ずれを測定できる。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の加工によって成形品に第１形状が第１転写され、第２の加工によって前記成形品に第２形状が第２転写された場合の第１転写位置と第２転写位置との間に生じる転写位置の位置ずれを測定する成形品の転写位置ずれ測定方法において、
前記第１形状を前記成形品に第１転写すると共に、前記成形品に本尺の目盛りを形成し、
前記第２形状を前記成形品に第２転写すると共に、前記成形品の前記本尺の目盛りに沿う位置に副尺の目盛りを形成し、
前記本尺の目盛りは、一定の間隔で形成された複数の本尺単位目盛り部で構成され、複数形成された前記本尺単位目盛り部のうちの１つを基準本尺単位目盛り部とし、
前記副尺の目盛りは、測定精度をαとすると、（前記本尺の目盛り間隔＋α）又は（前記本尺の目盛り間隔−α）の間隔で形成された複数の副尺単位目盛り部で構成され、前記基準本尺単位目盛り部と対応する位置の前記副尺単位目盛り部を基準副尺単位目盛り部とし、
前記基準本尺単位目盛り部と前記基準副尺単位目盛り部は、前記第１転写位置と前記第２転写位置とに位置ずれが生じない場合に一致するように、前記成形品に形成され、
前記成形品の前記第１転写位置と前記第２転写位置とに位置ずれが生じ、前記基準副尺単位目盛り部からｎ個目の前記副尺単位目盛り部が前記本尺単位目盛り部と一致した場合、前記第１転写位置に対する前記第２転写位置の位置ずれ量を（ｎα）と読み取る、
ことを特徴とする成形品の転写位置ずれ測定方法。
【請求項２】
前記第１形状、前記本尺の目盛り、前記第２形状、及び前記副尺の目盛りは、前記成形品の表裏両面のいずれか一方の同じ面に形成される、
ことを特徴とする請求項１に記載の成形品の転写位置ずれ測定方法。
【請求項３】
前記第１形状及び前記本尺の目盛りは、前記成形品の表裏両面のいずれか一方に形成され、
前記第２形状及び前記副尺の目盛りは、前記成形品の表裏両面のいずれか他方に形成される、
ことを特徴とする請求項１に記載の成形品の転写位置ずれ測定方法。
【請求項４】
前記第１形状及び前記本尺の目盛りは、第１金型により形成され、
前記第２形状及び前記副尺の目盛りは、第２金型により形成される、
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の成形品の転写位置ずれ測定方法。
【請求項５】
前記本尺単位目盛り部と前記副尺単位目盛り部は、それぞれ直線状に配置され、矩形形状の先端を斜めに切り落とすことによって形作られるような三角状のコーナー部を有する凹所であり、前記三角形状のコーナー部同士が向き合うように対向して位置し、
前記本尺単位目盛り部と前記副尺単位目盛り部とが一致する場合には、前記凹所の直線状の側辺同士が一直線上に揃う、
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の成形品の転写位置ずれ測定方法。
【請求項６】
前記本尺単位目盛り部と前記副尺単位目盛り部は、それぞれ直線状に配置され、矩形形状の凹所であり、
前記本尺単位目盛り部と前記副尺単位目盛り部とが一致する場合には、前記凹所の直線状の側辺同士が一直線上に揃う、
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の成形品の転写位置ずれ測定方法。
【請求項７】
前記本尺単位目盛り部と前記副尺単位目盛り部は、それぞれ直線状に配置され、一方が矩形形状の第１の凹所であり、他方が矩形形状の第２の凹所に挟まれた平坦部であり、
前記本尺単位目盛り部と前記副尺単位目盛り部とが一致する場合には、前記第１の凹所の直線状の側辺と前記平坦部の直線状の側辺同士が一直線上に揃う、
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の成形品の転写位置ずれ測定方法。
【請求項８】
前記本尺の目盛りは、直線状に二列に形成され、
前記副尺の目盛りは、第一列目の前記本尺の目盛りに沿う位置に第一列目の前記副尺の目盛りを形成し、第二列目の前記本尺の目盛りに沿う位置に第二列目の前記副尺の目盛りを形成し、前記第一列目の前記副尺の目盛りの測定精度と前記第二列目の前記副尺の目盛りの測定精度とが異なる、
ことを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載の成形品の転写位置ずれ測定方法。
【請求項９】
前記本尺の目盛りは、前記成形品の前記製品形状部を取り囲むようにそれぞれが直線状に４箇所形成され、
前記副尺の目盛りは、４箇所の前記本尺の目盛りのそれぞれに沿う位置に４箇所形成された、
ことを特徴とする請求項１乃至８のいずれかに記載の成形品の転写位置ずれ測定方法。
【請求項１０】
前記本尺の目盛りは、Ｘ字状部の斜面と、前記Ｘ字状部の４箇所のＶ字状凹所に嵌り合う三角形状部の斜面で且つ前記Ｘ字状部の斜面に対向する斜面と、のいずれか一方に階段状に形成された複数の段部を前記本尺単位目盛り部とし、
前記副尺の目盛りは、Ｘ字状部の斜面と、前記Ｘ字状部の４箇所のＶ字状凹所に嵌り合う三角形状部の斜面で且つ前記Ｘ字状部の斜面に対向する斜面と、のいずれか他方に階段状に形成された複数の段部を前記副尺単位目盛り部とする、
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の成形品の転写位置ずれ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、第１転写位置と第２転写位置との位置ずれの測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、マイクロレンズやマイクロ流路のような微細な構造を含む樹脂材料製成形品は、一次成形金型のキャビティの形状を射出成形品である一次成形品に転写（第１転写）した後、その一次成形品を二次成形金型に収容し、二次成形金型に形成された微細形状を二次成形金型内の一次成形品の特定箇所に高精度に転写（第２転写）するものが開発されている。このような樹脂材料製成形品を高精度に形成するためには、第１転写位置と第２転写位置とを高精度に位置決めする必要がある。図２０は、このような第１転写位置と第２転写位置とを高精度に位置決めするために活用できると思料される技術を示すものである。
【０００３】
図２０は、このような第１転写位置と第２転写位置とを高精度に位置決めするために利用できる位置決め技術を示すものである。この図２０に示す位置決め技術は、下ステージ１００の上面側にセットされた基板１０１と、上ステージ１０２の下面側にセットされた型１０３とを十分に離した状態で、型１０３に形成してある一対の位置測定マーク１０４，１０４と基板１０１に形成してある一対の位置測定マーク１０５，１０５とを４個一組のカメラユニット１０６で観察し、型１０３に形成された一対の位置測定マーク１０４，１０４の座標位置と基板１０１に形成された一対の位置測定マーク１０５，１０５の座標位置を４個一組のカメラユニット１０６で読み取る。そして、この図２０に示す位置決め技術は、位置測定マーク１０４，１０４を結んで得られる線分を、ｘ軸として型１０３側のｘ１ｙ１座標軸を設定し、位置測定マーク１０５，１０５を結んで得られる線分を、ｘ軸として基板１０１側のｘ２ｙ２座標軸を設定し、ｘ１ｙ１座標軸とｘ２ｙ２座標軸とが一致するように、下ステージ１００に保持された基板１０１と上ステージ１０２に保持された型１０３とを相対的にｘ方向、ｙ方向、及びθ方向へ移動させることにより、型１０３と基板１０１を正確に位置決めするようになっている（特許文献１参照、特に、段落００２４乃至００２６、及び図３の記載参照）。
【０００４】
この図２０に示す位置決め技術によれば、下型上の成形品の第１転写位置に対する第２転写用の上型の位置ずれを測定し、その測定結果に基づいて上型の位置調整をすることにより、成形品の第１転写位置に対する第２転写位置を正確に位置決めでき、成形品の第１転写位置と第２転写位置との位置ずれを未然に防止することが可能になる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１０−２２８１７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、図２０に示した位置決め技術は、基板１０１と型１０３との座標位置を４個のカメラで観察しなければならず、測定作業が煩雑であり、基板１０１と型１０３との座標位置の測定に時間がかかるという問題を有している。したがって、図２０に示す位置決め技術を第１転写位置と第２転写位置との位置ずれの測定に利用した場合には、測定作業が煩雑になり、測定を効率的に行えないという問題を生じる。
【０００７】
そこで、本発明は、第１転写位置と第２転写位置との位置ずれを簡単で且つ効率的に測定できる転写位置ずれ測定方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、第１の加工によって成形品１に第１形状が第１転写され、第２の加工によって前記成形品１に第２形状が第２転写された場合の第１転写位置と第２転写位置との間に生じる転写位置の位置ずれを測定する成形品１の転写位置ずれ測定方法に関するものである。本発明において、前記第１形状を前記成形品１に第１転写すると共に、前記成形品１に本尺の目盛り７を形成する。また、前記第２形状を前記成形品１に第２転写すると共に、前記成形品１の前記本尺の目盛り７に沿う位置に副尺の目盛り２０を形成する。前記本尺の目盛り７は、一定の間隔で形成された複数の本尺単位目盛り部８で構成され、複数形成された前記本尺単位目盛り部８のうちの１つを基準本尺単位目盛り部８ａとする。前記副尺の目盛り２０は、測定精度をαとすると、（前記本尺の目盛り間隔＋α）又は（前記本尺の目盛り間隔−α）の間隔で形成された複数の副尺単位目盛り部２１で構成され、前記基準本尺単位目盛り部８ａと対応する位置の前記副尺単位目盛り部２１を基準副尺単位目盛り部２１ａとする。前記基準本尺単位目盛り部８ａと前記基準副尺単位目盛り部２１ａは、前記第１転写位置と前記第２転写位置とに位置ずれが生じない場合に一致するように、前記成形品１に形成される。そして、前記成形品１の前記第１転写位置と前記第２転写位置とに位置ずれが生じ、前記基準副尺単位目盛り部２１ａからｎ個目の前記副尺単位目盛り部２１が前記本尺単位目盛り部８と一致した場合、前記第１転写位置に対する前記第２転写位置の位置ずれ量を（ｎα）と読み取る。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係る成形品の転写位置ずれ測定方法によれば、成形品に形成された本尺の目盛りと副尺の目盛りとをノギスの本尺の目盛りと副尺の目盛りとの関係と同様に読み取ることによって、第１転写位置と第２転写位置との位置ずれを簡単で且つ効率的に測定できる。
【００１０】
また、本発明に係る成形品の転写位置ずれ測定方法によれば、本尺と副尺とをノギスの本尺の目盛りと副尺の目盛りとの関係と同様に読み取ることによって、第１転写位置と第２転写位置との位置ずれを簡単に測定できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１実施形態に係る成形品の転写位置ずれ測定方法を説明するための図であり、成形品の加工工程を示す図である。
【図２】本発明の第１実施形態に係る成形品の転写位置ずれ測定方法を説明するための図であり、一次加工が終了した成形品の平面図である。
【図３】本発明の第１実施形態に係る成形品の転写位置ずれ測定方法を説明するための図であり、二次加工が終了した成形品（転写位置ずれを生じていない成形品）の平面図である。
【図４】本発明の第１実施形態に係る成形品の転写位置ずれ測定方法を説明するための図であり、二次加工が終了した成形品（転写位置ずれを生じた成形品）の平面図である。
【図５】本発明の第１実施形態に係る成形品の転写位置ずれ測定方法を説明するための図であり、第１転写位置の中心と第２転写位置の中心との位置ずれ状態を示す図である。
【図６】本発明の第１実施形態に係る成形品の転写位置ずれ測定方法を説明するための図であり、第１転写位置と第２転写位置との回転方向の位置ずれ状態を示す図である。
【図７】本発明の第２実施形態に係る成形品の転写位置ずれ測定方法を説明するための図であり、成形品の加工工程を示す図である。
【図８】本発明の第１及び第２実施形態の変形例１に係る成形品の平面図であり、図３に対応する図（第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じていない成形品の平面図）である。
【図９】本発明の第１及び第２実施形態の変形例１に係る成形品の平面図であり、図４に対応する図（第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じた成形品の平面図）である。
【図１０】本発明の第１及び第２実施形態の変形例１に係る成形品の転写位置ずれ測定方法を説明するための図であり、第１転写位置の中心と第２転写位置の中心との位置ずれ状態を示す図である。
【図１１】本発明の第１及び第２実施形態の変形例１に係る成形品の転写位置ずれ測定方法を説明するための図であり、第１転写位置と第２転写位置との回転方向の位置ずれ状態を示す図である。
【図１２】本発明の第１及び第２実施形態の変形例２を示す図であり、本尺の目盛りと副尺の目盛りの形状の変形例を示す図である。
【図１３】本発明の第１及び第２実施形態の変形例３を示す図であり、本尺の目盛りと副尺の目盛りの形状の変形例を示す図である。
【図１４】本発明の第１及び第２実施形態の変形例４を示す図であり、本尺の目盛りと副尺の目盛りの形状の変形例を示す図である。
【図１５】本発明の第１及び第２実施形態の変形例５を示す図であり、本尺の目盛りと副尺の目盛りの形状の変形例を示す図である。
【図１６】本発明の第１及び第２実施形態の変形例６を示す図であり、本尺の目盛りと副尺の目盛りの設置位置の変形例を示す図である。
【図１７】本発明の第１及び第２実施形態の変形例７を示す図であり、本尺の目盛りと副尺の目盛りの設置位置の変形例を示す図である。
【図１８】本発明の第１及び第２実施形態の変形例８を示す図であり、本尺の目盛りと副尺の目盛りを二列に配置する変形例を示す図である。
【図１９】本発明の第１及び第２実施形態の変形例９を示す図であり、図３及び図８の本尺の目盛りと副尺の目盛りの変形例を示す図である。
【図２０】従来の位置決め技術を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
［第１実施形態］
図１乃至図２は、本実施形態に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法を説明するための図である。なお、図１は、成形品１の加工工程を示す図である。また、図２は、一次加工が終了した成形品１の平面図である。
【００１３】
図１（ａ）は、成形品１の一次加工（第１の加工）を示す図である。この図１（ａ）に示すように、成形品１の一次加工は、一次成形金型２のキャビティ３内にゲート４から溶融樹脂が射出され、第１形状（キャビティ３の形状）が第１転写された成形品１（一次成形品）が形作られる。次に、図１（ｂ）に示すように、第１形状が第１転写された成形品１は、型開きした一次成形金型２内から取り出される。
【００１４】
図２は、第１形状が第１転写された成形品１の平面図を示すものである。この図２に示すように、第１形状が第１転写された成形品１は、平面視した形状が四角形状であり、四角形状の製品形状部５が中央部に一定の深さ寸法で凹設され、製品形状部５を取り囲むように位置する外縁部６（製品形状部５を取り囲む四角形状の額縁状の部分）に本尺の目盛り７が形成されている。
【００１５】
本尺の目盛り７は、製品形状部５の四角形状の輪郭に沿って（製品形状部５の四辺に沿って）四角形状となるように４箇所形成されており、複数の本尺単位目盛り部８が一定の（本実施形態では１ｍｍ）間隔で一列に形成されている。そして、本尺の目盛り７は、一列に配置された複数の本尺単位目盛り部８のうちの中間に位置する本尺単位目盛り部８を基準本尺単位目盛り部８ａとしている。このような本尺単位目盛り部８は、矩形形状の先端を斜めに切り落とすことによって形作られるような三角状のコーナー部１０を有する凹所であり、基準本尺単位目盛り部８ａの長さが他の本尺単位目盛り部８よりも長く形成され、基準本尺単位目盛り部８ａ以外の本尺単位目盛り部８の長さが同一の長さになるように形成されている。
【００１６】
また、本尺の目盛り７は、製品形状部５の四辺に沿って右回り方向で順に第１乃至第４の本尺の目盛り（７ａ１〜７ａ４）とすると、対向して位置する第１の本尺の目盛り７ａ１と第３の本尺の目盛り７ａ３とが製品形状部５の中心Ｃ１を通り且つＹ軸に沿った方向に延びる中心線１１に対して線対称になるように形成され、対向して位置する第２の本尺の目盛り７ａ２と第４の本尺の目盛り７ａ４とが製品形状部５の中心Ｃ１を通り且つＸ軸に沿った方向に延びる中心線１２に対して線対称になるように形成されている。そして、第１乃至第４の本尺の目盛り７ａ１〜７ａ４を構成する各本尺単位目盛り部８は、その先端（凹所の三角状のコーナー部１０）が製品形状部５の輪郭と相似形の本尺配置用仮想枠１３に外側から接するように配置されている。
【００１７】
次に、図１（ｃ）に示すように、一次成形金型２から取り出された成形品１は、型開きした二次成形金型１４の下型１５側の成形品収容部１６に収容される。次に、図１（ｄ）に示すように、二次成形金型１４の下型１５と上型１７とを型合わせし、上型１７を下型１５側へ向けて加圧することにより、上型１７に形作られた第２形状が成形品１に第２転写され、成形品１への二次加工（第２の加工）が終了する。
【００１８】
図３は、二次成形金型１４内から取り出された成形品１の平面図である。この図３に示すように、成形品１は、二次成形金型１４の第２形状が第２転写されることにより、製品形状部５にナノインプリント等の微細加工部分１８が形成されると共に、外縁部６の四辺のそれぞれに沿って副尺の目盛り２０が形成されている。なお、この図３は、第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じていない成形品１の平面図である。
【００１９】
副尺の目盛り２０は、測定精度をα（例えば、０．０１ｍｍ）とすると、直線状に（本尺の目盛りの間隔＋α（本実施形態では１．０１ｍｍ））の間隔で形成された複数（本尺単位目盛り部８と同数）の副尺単位目盛り部２１で構成され、本尺の目盛り７に沿う位置に本尺の目盛り７と対向するように形成されている。そして、副尺の目盛り２０は、複数の副尺単位目盛り部２１のうちの基準本尺単位目盛り部８ａと向き合う位置の副尺単位目盛り部２１を基準副尺単位目盛り部２１ａとしている。なお、外縁部６に４箇所形成された副尺の目盛り２０は、第１乃至第４の本尺の目盛り７ａ１〜７ａ４に合わせて、第１乃至第４の副尺の目盛り２０ａ１〜２０ａ４と適宜呼称する。
【００２０】
副尺単位目盛り部２１は、本尺単位目盛り部８の幅寸法と同一で且つ本尺単位目盛り部８の長さよりも短い凹所であり、本尺単位目盛り部８と同様に、矩形形状の先端を斜めに切り落とすことによって形作られるような三角状のコーナー部２２を有する凹所である。そして、基準副尺単位目盛り部２１ａの長さが他の副尺単位目盛り部２１よりも長く形成され、基準副尺単位目盛り部２１ａ以外の副尺単位目盛り部２１の長さが同一の長さになるように形成されている。
【００２１】
このような副尺の目盛り２０は、成形品１の第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれを生じていない場合、基準副尺単位目盛り部２１ａが基準本尺単位目盛り部８ａに一致するように形成されている。ここで、基準副尺単位目盛り部２１ａが基準本尺単位目盛り部８ａに一致するとは、図３に示すように、基準副尺単位目盛り部２１ａを示す凹所の三角状のコーナー部２２と基準本尺単位目盛り部８ａを示す凹所の三角状のコーナー部１０とがずれることなく当接し、基準副尺単位目盛り部２１ａを示す凹所の側辺２１ｂと基準本尺単位目盛り部８ａを示す凹所の側辺８ｂとがずれることなく一直線上に位置している状態をいうものとする。なお、副尺の目盛り２０を構成する副尺単位目盛り部２１は、成形品１の第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれを生じていない場合、その先端（凹所の三角状のコーナー部２２）が本尺配置用仮想枠１３に内側から接するように配置されている。
【００２２】
図４は、二次成形金型１４内から取り出された成形品１の平面図であり、第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じている成形品１の平面図である。
【００２３】
この図４に示すように、成形品１は、第２転写位置が第１転写位置に対して位置ずれを生じているため、基準本尺単位目盛り部８ａと基準副尺単位目盛り部２１ａとが一致せずにずれている。そして、第１の副尺の目盛り２０ａ１と第１の本尺の目盛り７ａ１との関係において、基準副尺単位目盛り部２１ａに対して−Ｙ軸方向に沿って２番目の副尺単位目盛り部２１は、基準本尺単位目盛り部７ａに対して−Ｙ軸方向に沿った２番目の本尺単位目盛り部８と一致している。これにより、第１の副尺の目盛り２０ａ１と第１の本尺の目盛り７ａ１との関係において、第２転写位置は、第１転写位置よりも＋Ｙ軸方向に沿って２α（本実施形態では０．０２ｍｍ）だけずれていると測定される。
【００２４】
また、第２の副尺の目盛り２０ａ２と第２の本尺の目盛り７ａ２との関係において、基準副尺単位目盛り部２１ａに対して−Ｘ軸方向に沿って５番目の副尺単位目盛り部２１は、基準本尺単位目盛り部８ａに対して−Ｘ軸方向に沿った５番目の本尺単位目盛り部８と一致している。これにより、第２の副尺の目盛り２０ａ２と第２の本尺の目盛り７ａ２との関係において、第２転写位置は、第１転写位置よりも＋Ｘ軸方向に沿って５α（本実施形態では０．０５ｍｍ）だけずれていると測定される。
【００２５】
また、第３の副尺の目盛り２０ａ３と第３の本尺の目盛り７ａ３との関係において、基準副尺単位目盛り部２１ａに対して＋Ｙ軸方向に沿って５番目の副尺単位目盛り部２１は、基準本尺単位目盛り部８ａに対して＋Ｙ軸方向に沿った５番目の本尺単位目盛り部８と一致している。これにより、第３の副尺の目盛り２０ａ３と第３の本尺の目盛り７ａ３との関係において、第２転写位置は、第１転写位置よりも−Ｙ軸方向に沿って５α（本実施形態では０．０５ｍｍ）だけずれていると測定される。
【００２６】
また、第４の副尺の目盛り２０ａ４と第４の本尺の目盛り７ａ４との関係において、基準副尺単位目盛り部２１ａに対して＋Ｘ軸方向に沿って２番目の副尺単位目盛り部２１は、基準本尺単位目盛り部８ａに対して＋Ｘ軸方向に沿った２番目の本尺単位目盛り部８と一致している。これにより、第４の副尺の目盛り２０と第４の本尺の目盛り７との関係において、第２転写位置は、第１転写位置よりも−Ｘ軸方向に沿って２α（本実施形態では０．０２ｍｍ）だけずれていると測定される。なお、本尺の目盛り２０と副尺の目盛り７との読み取り（本尺単位目盛り部８と副尺単位目盛り部２１の一致・不一致の判別）は、デジタルカメラで４倍の倍率で撮影した画像をデジタルカメラの表示画面で５〜１０倍に拡大表示することによって正確に行うことが可能となり、市販の安価な装置で容易に行うことが可能である。
【００２７】
以上の測定結果によれば、図５に示すように、第２転写位置の中心Ｃ２は、第１転写位置の中心Ｃ１に対して＋Ｘ軸方向に沿って１．５α（本実施形態では０．０１５ｍｍ）ずれて位置し、且つ、第１転写位置の中心Ｃ１に対して−Ｙ軸方向に沿って１．５α（本実施形態では０．０１５ｍｍ）ずれて位置していると読み取ることができる。
【００２８】
また、以上の測定結果によれば、図６に示すように、第２転写位置は、その中心Ｃ２が第１転写位置の中心Ｃ１上に位置していると仮定した場合、第１転写位置に対して反時計回り方向にθだけずれて位置していると読み取ることができる。
【００２９】
そして、このような成形品１の第１転写位置と第２転写位置との位置ずれ測定結果に基づいて、二次成形金型１４の位置調整を行うことにより、成形品１の第１転写位置と第２転写位置とを高精度に位置決めできる。
【００３０】
以上のような本実施形態に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法によれば、一次成形金型２によって第１形状を成形品１に第１転写すると共に、成形品１の製品形状部５以外の外縁部６に本尺の目盛り７を形成し、二次成形金型１４によって第２形状を成形品１に第２転写すると共に、成形品１の製品形状部５以外の外縁部６で且つ本尺の目盛り７に沿う位置に副尺の目盛り２０を形成し、これら本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０とをノギスの本尺の目盛りと副尺の目盛りとの関係と同様に読み取ることによって、成形品１と二次成形金型１４との位置ずれ（第１転写位置と第２転写位置との位置ずれ）を簡単に測定できる。すなわち、本実施形態に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法は、第１転写済みの成形品１と二次成形金型１４との位置ずれを簡単で且つ効率的に測定できる。その結果、本実施形態に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法は、二次成形金型１４による第２転写位置を第１転写位置に対して調整することにより、第１形状と第２形状を高精度に転写した成形品１を効率的に生産することが可能になる。
【００３１】
［第２実施形態］
図７は、本発明の第２実施形態に係る成形品１の加工工程を示す図である。
【００３２】
図７（ａ）は、成形品１の第１の加工工程を示す図であり、第１金型２３と第２金型２４とを型開きした状態を示す図である。また、図７（ｂ）は、成形品１の第２の加工工程を示す図であり、第１金型２３の成形品収容部２５に成形品１（光透過性を有するプラスチックフィルム等）をセットした状態を示す図である。また、図７（ｃ）は、成形品１の第３の加工工程を示す図であり、第１金型２３と第２金型２４との間に成形品１を挟み込んだ状態を示す図である。この成形品１の第３の加工工程は、成形品１の表面（下面）に第１金型２３の第１形状を第１転写する（第１の加工をする）と共に、成形品１の裏面（上面）に第２金型２４の第２形状を第２転写する（第２の加工をする）。また、図７（ｄ）は、成形品１の第４の加工工程を示す図であり、第１金型２３と第２金型２４とを型開きして、第１金型２３内から成形品１を取り出した状態を示す図である。なお、第１金型２３と第２金型２４は、少なくとも一方が他方に対して位置調整できるように構成されている。
【００３３】
この第４の加工工程を経て取り出された成形品１は、第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれを生じていない場合、図３に示した成形品１の平面図と同様の形状になっている。なお、本実施形態に係る成形品１は、成形品１の表裏両面のいずれか一方に本尺の目盛り７が形成され、成形品１の表裏両面のいずれか他方に副尺の目盛り２０が形成されているが、光透過性を有するプラスチックフィルム等を素材とするため、本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０とを成形品１の表裏両面のいずれか一方の面側から視認することが可能である。
【００３４】
また、第４の加工工程を経て取り出された成形品１は、第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれを生じている場合であって、図４に示した成形品１の平面図と同一の位置ずれを生じている場合には、第１実施形態に係る成形品１の位置ずれ測定方法と同様に、本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０とを使用して第１転写位置と第２転写位置との位置ずれを読み取ることが可能である。
【００３５】
すなわち、本実施形態に係る成形品１の位置ずれ測定方法は、第１金型２３によって第１形状を成形品１の表面に第１転写すると共に、成形品１の製品形状部５以外の外縁部６に本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０のいずれか一方を形成し、第２金型２４によって第２形状を成形品１の裏面に第２転写すると共に、成形品１の製品形状部５以外の外縁部６で且つ本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０のいずれか一方に沿う位置に本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０のいずれか他方を形成し、これら本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０とをノギスの本尺の目盛りと副尺の目盛りとの関係と同様に読み取ることによって第１金型２３と第２金型２４との位置ずれ（第１転写位置と第２転写位置との位置ずれ）を簡単に測定できる。すなわち、本実施形態に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法は、第１金型２３と第２金型２４との位置ずれを簡単で且つ効率的に測定できる。その結果、本実施形態に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法は、第１金型２３と第２金型２４のいずれか一方を他方に対して位置調整することにより、第１形状と第２形状を高精度に転写した成形品１を効率的に生産することが可能になる。
【００３６】
［第１及び第２実施形態の変形例１］
図８は、第１及び第２実施形態の変形例１に係る成形品１の平面図であり、図３に対応する図（第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じていない成形品１の平面図）である。この図８に示すように、成形品１は、二次成形金型１４の第２形状が第２転写されることにより、製品形状部５にナノインプリント等の微細加工部分１８が形成されると共に、外縁部６の四辺のそれぞれに沿って副尺の目盛り２０が形成されている。なお、図８に示す本変形例１に係る成形品１の平面図は、副尺の目盛り２０以外の他の構成が図３に示す成形品１の平面図と同様である。
【００３７】
すなわち、本変形例１に係る成形品１において、副尺の目盛り２０は、測定精度をα（例えば、０．０１ｍｍ）とすると、直線状に（本尺の目盛りの間隔−α）の間隔で形成された複数（本尺単位目盛り部８と同数）の副尺単位目盛り部２１で構成され、本尺の目盛り７に沿う位置に本尺の目盛り７と対向するように形成されている。
【００３８】
図９は、第１及び第２実施形態の変形例１に係る成形品１の平面図であり、図４に対応する図（第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じた成形品１の平面図）である。
【００３９】
この図９に示すように、成形品１は、第２転写位置が第１転写位置に対して位置ずれを生じているため、基準本尺単位目盛り部８ａと基準副尺単位目盛り部２１ａとが一致せずにずれている。そして、第１の副尺の目盛り２０ａ１と第１の本尺の目盛り７ａ１との関係において、基準副尺単位目盛り部２１ａに対して−Ｙ軸方向に沿って２番目の副尺単位目盛り部２１は、基準本尺単位目盛り部８ａに対して−Ｙ軸方向に沿った２番目の本尺単位目盛り部８と一致している。これにより、第１の副尺の目盛り２０ａ１と第１の本尺の目盛り７ａ１との関係において、第２転写位置は、第１転写位置よりも−Ｙ軸方向に沿って２α（本変形例では０．０２ｍｍ）だけずれていると測定される。
【００４０】
また、第２の副尺の目盛り２０ａ２と第２の本尺の目盛り７ａ２との関係において、基準副尺単位目盛り部２１ａに対して−Ｘ軸方向に沿って５番目の副尺単位目盛り部２１は、基準本尺単位目盛り部８ａに対して−Ｘ軸方向に沿った５番目の本尺単位目盛り部８と一致している。これにより、第２の副尺の目盛り２０ａ２と第２の本尺の目盛り７ａ２との関係において、第２転写位置は、第１転写位置よりも−Ｘ軸方向に沿って５α（本変形例では０．０５ｍｍ）だけずれていると測定される。
【００４１】
また、第３の副尺の目盛り２０ａ３と第３の本尺の目盛り７ａ３との関係において、基準副尺単位目盛り部２１ａに対して＋Ｙ軸方向に沿って５番目の副尺単位目盛り部２１は、基準本尺単位目盛り部８ａに対して＋Ｙ軸方向に沿った５番目の本尺単位目盛り部８と一致している。これにより、第３の副尺の目盛り２０ａ３と第３の本尺の目盛り７ａ３との関係において、第２転写位置は、第１転写位置よりも＋Ｙ軸方向に沿って５α（本変形例では０．０５ｍｍ）だけずれていると測定される。
【００４２】
また、第４の副尺の目盛り２０ａ４と第４の本尺の目盛り７ａ４との関係において、基準副尺単位目盛り部２１ａに対して＋Ｘ軸方向に沿って２番目の副尺単位目盛り部２１は、基準本尺単位目盛り部８ａに対して＋Ｘ軸方向に沿った２番目の本尺単位目盛り部８と一致している。これにより、第４の副尺の目盛り２０ａ４と第４の本尺の目盛り７ａ４との関係において、第２転写位置は、第１転写位置よりも＋Ｘ軸方向に沿って２α（本変形例では０．０２ｍｍ）だけずれていると測定される。
【００４３】
以上の測定結果によれば、図１０に示すように、第２転写位置の中心Ｃ２は、第１転写位置の中心Ｃ１に対して−Ｘ軸方向に沿って１．５α（本変形例では０．０１５ｍｍ）ずれて位置し、且つ、第１転写位置の中心Ｃ１に対して＋Ｙ軸方向に沿って１．５α（本変形例では０．０１５ｍｍ）ずれて位置していると読み取ることができる。
【００４４】
また、以上の測定結果によれば、図１１に示すように、第２転写位置は、その中心Ｃ２が第１転写位置の中心Ｃ１上に位置していると仮定した場合、第１転写位置に対して時計回り方向にθだけずれて位置していると読み取ることができる。
【００４５】
そして、このような成形品１の第１転写位置と第２転写位置との位置ずれ測定結果に基づいて、二次成形金型１４の位置調整を行うことにより、成形品１の第１転写位置と第２転写位置とを高精度に位置決めできる。
【００４６】
［第１及び第２実施形態の変形例２］
図１２は、第１及び第２実施形態の変形例２を示す図であり、本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０の形状の変形例を示す図である。この図１２に示すように、本尺単位目盛り部８及び副尺単位目盛り部２１は、矩形形状の凹所にしてもよい。このような本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０は、本尺単位目盛り部８（例えば、基準本尺単位目盛り部８ａ）と副尺単位目盛り部２１（例えば、基準副尺単位目盛り部２１ａ）とが一致する場合、一致する矩形形状の本尺単位目盛り部８と副尺単位目盛り部２１の直線状の側辺８ｂ，２１ｂ同士が一直線上に揃うようになっている。
【００４７】
［第１及び第２実施形態の変形例３］
図１３は、第１及び第２実施形態の変形例３を示す図であり、本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０の形状の変形例を示す図である。この図１３に示すように、本尺単位目盛り部８と副尺単位目盛り部２１は、一方が矩形形状の第１の凹所であり、他方が矩形形状の第２の凹所２１ｃに挟まれて位置する平坦部であってもよい。このような本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０は、本尺単位目盛り部８と副尺単位目盛り部２１とが一致する場合、一致する矩形形状の第１の凹所（例えば、本尺単位目盛り部８）と第２の凹所２１ｃに挟まれて位置する平坦部（例えば、副尺単位目盛り部２１）の直線状の側辺８ｂ，２１ｂ同士が一直線上に揃うようになっている。
【００４８】
［第１及び第２実施形態の変形例４］
図１４は、第１及び第２実施形態の変形例４を示す図であり、本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０の形状の変形例を示す図である。この図１４に示す本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０は、フィルム状の成形品１の表裏両面のいずれか一方と他方に分けて形成されることが好ましい。そして、本尺単位目盛り部８は、矩形形状の凹所になっている。また、副尺単位目盛り部２１は、隣り合う矩形形状の凹所２１ｃ，２１ｃ間の平坦部になっている。矩形形状の凹所２１ｃ，２１ｃ間の平坦部の幅寸法が本尺単位目盛り部８の幅寸法と同一であり、本尺単位目盛り部８と一致する場合（例えば、基準副尺単位目盛り部２１ａと基準本尺単位目盛り部８ａとが一致する場合）、一致する矩形形状の本尺単位目盛り部８（８ａ）の凹所の両側辺（８ｂ，８ｂ）と副尺単位目盛り部２１の平坦部の直線状の両側辺２１ｂ，２１ｂが一直線上に重なり合うようになっている。
【００４９】
［第１及び第２実施形態の変形例５］
図１５は、第１及び第２実施形態の変形例５を示す図であり、本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０の形状の変形例を示す図である。この図１５に示す本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０は、フィルム状の成形品１の表裏両面のいずれか一方と他方に分けて形成されることが好ましい。そして、本尺単位目盛り部８及び副尺単位目盛り部２１は、矩形形状の凹所になっており、部分的に重なり合う位置に形成されている。すなわち、本尺単位目盛り部８の下端側部分と副尺単位目盛り部２１の上端側部分とが重なり合う位置に形成されている。そして、本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０は、本尺単位目盛り部８と副尺単位目盛り部２１とが一致する場合（例えば、基準本尺単位目盛り部８ａと基準副尺単位目盛り部２１とが一致する場合）、一致する矩形形状の本尺単位目盛り部８（８ａ）の凹所と副尺単位目盛り部２１（２１ａ）の凹所の直線状の側辺８ｂ，２１ｂ同士が一直線上に揃うようになっている。
【００５０】
［第１及び第２実施形態の変形例６］
図１６は、第１及び第２実施形態の変形例６を示す図であり、本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０の設置位置の変形例を示す図である。この図１６に示すように、本変形例に係る本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０は、図３に示した第２の本尺の目盛り７ａ２と第２の副尺の目盛り２０ａ２に対応している。このような本変形例に係る本尺の目盛り７及び副尺の目盛り２０は、Ｘ軸方向に沿った第１転写位置と第２転写位置との位置ずれを測定することができる。
【００５１】
［第１及び第２実施形態の変形例７］
図１７は、第１及び第２実施形態の変形例７を示す図であり、本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０の設置位置の変形例を示す図である。この図１７に示すように、本変形例に係る本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０は、図３に示した第１の本尺の目盛り７ａ１と第１の副尺の目盛り２０ａ１、及び第２の本尺の目盛り７ａ２と第２の副尺の目盛り２０ａ２に対応している。このような本変形例に係る本尺の目盛り７及び副尺の目盛りは、Ｘ軸方向に沿った第１転写位置と第２転写位置との位置ずれ及びＹ軸方向に沿った第１転写位置と第２転写位置との位置ずれを測定することができる。
【００５２】
［第１及び第２実施形態の変形例８］
図１８は、第１及び第２実施形態の変形例８を示す図であり、本尺の目盛りと副尺の目盛りを二列に配置する変形例を示す図である。すなわち、図１８に示すように、第１列の副尺の目盛り２０Ａは、例えば、第１列の本尺の目盛り７Ａの本尺単位目盛り部８が一定（本変形例では１ｍｍ）の間隔で形成された場合、副尺単位目盛り部２１を（本尺単位目盛りの間隔＋α（本変形例では１．０１ｍｍ））の間隔又は（本尺単位目盛りの間隔−α（本変形例では０．９９ｍｍ））の間隔で形成される。また、第２列の副尺の目盛り２０Ｂは、例えば、第２列の本尺の目盛り７Ｂの本尺単位目盛り部８が一定（本変形例では１ｍｍ）の間隔で形成された場合、副尺単位目盛り部２１を（本尺単位目盛りの間隔＋β）の間隔又は（本尺単位目盛りの間隔−β）の間隔で形成するようになっている。なお、第２列の本尺の目盛り７Ｂと副尺の目盛り２０ｂは、第１列の本尺の目盛り７Ａと副尺の目盛り２０Ａで測定できない精度の範囲を測定できるようにβ（≠α）の数値が決定され、例えば、β＝０．１αのような数値が決定される。
【００５３】
［第１及び第２実施形態の変形例９］
図１９は、第１及び第２実施形態の変形例９を示す図であり、図３及び図８の本尺の目盛り７と副尺の目盛り２０の変形例を示す図である。なお、図１９（ａ）は、本尺と副尺とを組み合わせた形状を示す平面図である。また、図１９（ｂ）は、副尺の平面図である。また、図１９（ｃ）は、本尺の平面図である。
【００５４】
本変形例に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法は、成形品１に第１形状が第１転写されると共に第２形状が第２転写された場合の第１転写位置と第２転写位置との間に生じる転写位置の位置ずれを測定する成形品１の転写位置ずれ測定方法である点において、第１及び第２実施形態に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法と同様である。しかしながら、本変形例は、図１９に示すように、成形品１に形成される本尺２６と副尺２７の構成に特徴を有している。
【００５５】
すなわち、図１９に示すように、本変形例において、副尺２７は、平面視した形状がＸ字状のＸ字状部である。また、本尺２６は、Ｘ字状の副尺２７の４箇所のＶ字状凹所に嵌り合う４個の三角形状部である。そして、これら副尺２７と４個の本尺２６（２６Ａ〜２６Ｄ）は、重ね合わされることにより、平面視した形状が四角形状になっている。
【００５６】
本尺２６は、一定の寸法（Ｌ）で階段状に形成された複数の段部からなる本尺単位目盛り部２８ａが三角形状の斜面側（副尺２７に対向する面側）に沿って形成され、これら複数の本尺単位目盛り部２８ａによって本尺の目盛り２８が構成されている。そして、本尺の目盛り２８は、三角形状の頂部側に形成された矩形形状の凸部が基準本尺単位目盛り部２８ｂであり、第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれを生じていない場合に、基準本尺単位目盛り部２８ｂが副尺の目盛り３０の矩形形状の凹部である基準副尺単位目盛り部３０ｂに嵌り合うように一致し、基準本尺単位目盛り部２８ｂの側辺３１が基準副尺単位目盛り部３０ｂの側辺３２にずれを生じることなく重なり合うようになっている。
【００５７】
このような本尺２６は、副尺２７の中心３３を通り且つＸ軸と平行に延びる中心線３４上に一対配置されると共に、副尺２７の中心３３を通り且つＹ軸と平行に延びる中心線３５上に一対配置されている。このような、合計４個の本尺２６は、説明の便宜上、Ｘ軸と平行に延びる中心線３４上の右側の本尺を第１本尺２６Ａとすると、右回り方向に順に第１乃至第４本尺２６Ａ〜２６Ｄが配置されている。そして、第２乃至第４本尺２６Ｂ〜２６Ｄは、第１本尺２６Ａを副尺２７の中心３３の回りに９０°毎に回転させた形状になっている。また、第１本尺２６Ａ及び第３本尺２６Ｃは、Ｘ軸と平行に延びる中心線３４に対して線対称の形状になっている。また、第２本尺２６Ｂ及び第４本尺２６Ｄは、Ｙ軸と平行に延びる中心線３５に対して線対称の形状になっている。
【００５８】
副尺２７は、中心３３を通りＸ軸と平行に延びる中心線３４上で且つ中心３３よりも右側の中心線３４上に第１本尺２６Ａを収容するＶ字状凹所である第１本尺収容部２７Ａが形成され、この第１本尺収容部２７Ａと同一形状の第２乃至第４本尺収容部２７Ｂ〜２７Ｄが中心３３の回りに９０°毎に形成されている。この副尺２７は、測定精度をαとすると、Ｌ＋αの間隔で階段状に形成された複数の段部からなる副尺単位目盛り部３０ａがＶ字状の第１本尺収容部２７Ａの斜面側（第１本尺２６Ａに対向する面側）に沿って形成され、これら複数の副尺単位目盛り部３０ａによって副尺の目盛り３０が構成されている。そして、第１の副尺の目盛り３０Ａは、第１本尺収容部２７Ａの底部（三角形状の頂部）側に形成された矩形形状の凹部が基準副尺単位目盛り部３０ｂになっている。この第１の副尺の目盛り３０Ａは、中心３３を通りＸ軸と平行に延びる中心線３４に対して線対称となるように形成されている。また、第２乃至第４本尺収容部２７Ｂ〜２７Ｄには、第１の副尺の目盛り３０Ａと同様の第２乃至第４の副尺の目盛り３０Ｂ〜３０Ｄが形成されている。なお、第２の副尺の目盛り３０Ｂは、中心３３を通りＹ軸と平行に延びる中心線３５に対して線対称となるように形成されている。また、第３の副尺の目盛り３０Ｃは、中心３３を通りＸ軸と平行に延びる中心線３４に対して線対称となるように形成されている。また、第４の副尺の目盛り３０Ｄは、中心３３を通りＹ軸と平行に延びる中心線３５に対して線対称となるように形成されている。
【００５９】
このように構成された本尺２６と副尺２７とを使用する本変形例に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法は、例えば、成形品１の第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じ、第２本尺収容部２７Ｂ及び第４本尺収容部２７Ｄの基準副尺単位目盛り部３０ｂから＋Ｘ軸方向にｎ個目の副尺単位目盛り部３０ａの側辺３２が第２本尺２６Ｂ及び第４本尺２６Ｄの基準本尺単位目盛り部２８ｂからｎ個目の本尺単位目盛り部２８ａの側辺３１と一致した場合、第１転写位置に対する第２転写位置の位置ずれ量を−Ｘ軸方向に（ｎα）と読み取る。
【００６０】
また、本変形例に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法は、例えば、成形品１の第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じ、第２本尺収容部２７Ｂ及び第４本尺収容部２７Ｄの基準副尺単位目盛り部３０ｂから−Ｘ軸方向にｎ個目の副尺単位目盛り部３０ａの側辺３２が第２本尺２６Ｂ及び第４本尺２６Ｄの基準本尺単位目盛り部２８ｂからｎ個目の本尺単位目盛り部２８ａの側辺３１と一致した場合、第１転写位置に対する第２転写位置の位置ずれ量を＋Ｘ軸方向に（ｎα）と読み取る。
【００６１】
また、本変形例に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法は、例えば、成形品１の第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じ、第１本尺収容部２７Ａ及び第３本尺収容部２７Ｃの基準副尺単位目盛り部３０ｂから＋Ｙ軸方向にｎ個目の副尺単位目盛り部３０ａの側辺３２が第１本尺２６Ａ及び第３本尺２６Ｃの基準本尺単位目盛り部２８ｂからｎ個目の本尺単位目盛り部２８ａの側辺３１と一致した場合、第１転写位置に対する第２転写位置の位置ずれ量を−Ｙ軸方向に（ｎα）と読み取る。
【００６２】
また、本変形例に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法は、例えば、成形品１の第１転写位置と第２転写位置とに位置ずれが生じ、第１本尺収容部２７Ａ及び第３本尺収容部２７Ｃの基準副尺単位目盛り部３０ｂから−Ｙ軸方向にｎ個目の副尺単位目盛り部３０ａの側辺３２が第１本尺２６Ａ及び第３本尺２６Ｃの基準本尺単位目盛り部２８ｂからｎ個目の本尺単位目盛り部２８ａの側辺３１と一致した場合、第１転写位置に対する第２転写位置の位置ずれ量を＋Ｙ軸方向に（ｎα）と読み取る。
【００６３】
このような本変形例に係る成形品１の転写位置ずれ測定方法によれば、本尺２６と副尺２７とをノギスの本尺の目盛りと副尺の目盛りとの関係と同様に読み取ることによって、第１転写位置と第２転写位置との位置ずれを簡単に測定できる。
【００６４】
なお、本変形例は、本尺２６が４個の三角形状の第１乃至第４本尺２６Ａ〜２６Ｄで構成され、副尺２７がＸ字状に形成される構成を例示したが、これに限らず、本尺２６がＸ字状に構成され、副尺２７が４個の三角形状の第１乃至第４の副尺で構成されるようにしてもよい。
【００６５】
また、本変形例は、副尺２７の副尺単位目盛り部３０ａがＬ＋αの間隔で階段状に形成されているが、これに限られず、副尺単位目盛り部３０ａがＬ−αの間隔で階段状に形成されるようにしてもよい。
【００６６】
また、本変形例は、第１の副尺の目盛り３０Ａと第３の副尺の目盛り３０Ｃの目盛り間隔を、異なる値に設定してもよい。すなわち、変形例８のように、第１の副尺の目盛り３０Ａは、例えば、第１本尺２６Ａの本尺単位目盛り部２８ａが一定（Ｌ）の間隔で形成された場合、第１の副尺の目盛り３０Ａを（Ｌ＋α）の間隔又は（Ｌ−α）の間隔で形成される。また、第３の副尺の目盛り３０Ｃは、例えば、第３本尺２６Ｃの本尺単位目盛り部２８ａが一定（Ｌ）の間隔で形成された場合、副尺の目盛り３０Ｃを（Ｌ＋β）の間隔又は（Ｌ−β）の間隔で形成してもよい。なお、第２の副尺の目盛り３０Ｂと第４の副尺の目盛り３０Ｄの目盛り間隔についても同様であり、両者の目盛り間隔を異なる値に設定してもよい。
【００６７】
本発明は、前述の実施形態及び変形例に限定されるものではない。
また、前述の実施形態では本尺及び副尺の形成方法として射出成形を例示しているが、他の方法、例えば、インプリントにより本尺、副尺を形成してもよい。
【符号の説明】
【００６８】
１……成形品、７，２８……本尺の目盛り、８，２８ａ……本尺単位目盛り部、８ａ……基準本尺単位目盛り部、２０，３０……副尺の目盛り、２１，３０ａ……副尺単位目盛り部、２１ａ……基準副尺単位目盛り部、２６……本尺、２６Ａ……第１本尺（三角形状部）、２６Ｂ……第２本尺（三角形状部）、２６Ｃ……第３本尺（三角形状部）、２６Ｄ……第４本尺（三角形状部）、２７……副尺、２７Ａ……第１本尺収容部（Ｖ字状凹所）、２７Ｂ……第２本尺収容部（Ｖ字状凹所）、２７Ｃ……第３本尺収容部（Ｖ字状凹所）、２７Ｄ……第４本尺収容部（Ｖ字状凹所）、３１，３２……側辺
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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