(57)【要約】【課題】画質および視認性の向上が可能な制御装置、撮像装置およびプログラムを提供すること。【解決手段】魚眼レンズを用いて撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行い、欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録する記録部と、画像にデワープ処理を行うデワープ処理部と、欠陥画素データおよび画像の全領域のうち表示に使用される領域に基づいて補正対象を決定するとともに、補正対象の補間処理を行う補正部と、を有する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
魚眼レンズを用いて撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行い、欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録する記録部と、
前記画像にデワープ処理を行うデワープ処理部と、
前記欠陥画素データおよび前記画像の全領域のうち表示に使用される領域に基づいて補正対象を決定するとともに、前記補正対象の補間処理を行う補正部と、を有することを特徴とする制御装置。
【請求項２】
前記補正対象は、表示部に全画面表示させる場合、前記画像の全領域内の欠陥画素の少なくとも一部の欠陥画素であり、前記表示部にデワープ表示させる場合、前記デワープ表示に使用される領域内の欠陥画素の少なくとも一部の欠陥画素であることを特徴とする請求項１に記載の制御装置。
【請求項３】
前記補正部は、表示部に全画面表示させる場合、前記画像の全領域内の欠陥画素のうち前記欠陥画素データに基づいて決定された第１欠陥画素の補間処理を行い、前記表示部にデワープ表示させる場合、前記デワープ表示に使用される領域内の第１欠陥画素、および前記画像の全領域内の第１欠陥画素の個数と前記デワープ表示に使用される領域内の第１欠陥画素の個数との差に相当する個数の第２欠陥画素の補間処理を行うことを特徴とする請求項１または２に記載の制御装置。
【請求項４】
前記第１欠陥画素は、第１欠陥レベル以上の欠陥レベルを有し、
前記第２欠陥画素は、前記第１欠陥レベルより低く、前記第１欠陥レベルより低い第２欠陥レベル以上の欠陥レベルを有することを特徴とする請求項３に記載の制御装置。
【請求項５】
前記補正部は、前記デワープ処理による前記デワープ表示に使用される領域の画素数の変化に基づいて前記第２欠陥画素を決定することを特徴とする請求項３または４に記載の制御装置。
【請求項６】
前記補正部は、前記第２欠陥画素を補正対象として決定する際に、前記デワープ表示に使用される領域のうち前記画素数が増加する領域内の欠陥画素の補正順位を前記画素数が減少する領域の補正順位に比べて高くすることを特徴とする請求項５に記載の制御装置。
【請求項７】
魚眼レンズを用いて撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行い、欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録する記録部と、
前記欠陥画素データおよびデワープ処理による前記画像の領域ごとの画素数の変化に基づいて補正対象を決定するとともに、前記補正対象の補間処理を行う補正部と、を有することを特徴とする制御装置。
【請求項８】
前記補正対象は、前記画像の全領域内の欠陥画素の少なくとも一部の欠陥画素であることを特徴とする請求項７に記載の制御装置。
【請求項９】
前記補正部は、前記補正対象を決定する際に、前記画素数が増加する領域内の欠陥画素の補正順位を前記画素数が減少する領域の補正順位に比べて高くすることを特徴とする請求項７または８に記載の制御装置。
【請求項１０】
前記補正部により補正された画像データを記録する画像データ記録部と、
前記画像データにデワープ処理を行うデワープ処理部と、を更に有することを特徴とする請求項７から９のいずれか１項に記載の制御装置。
【請求項１１】
画像を撮像する撮像部と、
請求項１から１０のいずれか１項に記載の制御装置を有すること特徴とする撮像装置。
撮像装置。
【請求項１２】
コンピュータに、
魚眼レンズを用いて撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行うステップと、
欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録するステップと、
前記画像にデワープ処理を行うステップと、
前記欠陥画素データおよび前記画像の全領域のうち表示に使用される領域に基づいて補正対象を決定するステップと、
前記補正対象の補間処理を行うステップと、を実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１３】
コンピュータに、
魚眼レンズを用いて撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行うステップと、
欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録するステップと、
前記欠陥画素データおよびデワープ処理による前記画像の領域ごとの画素数の変化に基づいて補正対象を決定するステップと、
前記補正対象の補間処理を行うステップと、を実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、制御装置、撮像装置およびプログラムに関し、特に、ＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサ等の撮像素子に発生する欠陥画素を補正する制御装置、撮像装置およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサ等の撮像素子の画素数が増加し、高解像度動画が普及しているが、１フレームの処理負荷が大きくなっているため、１フレームの処理時間内に撮像素子に発生した全ての欠陥画素を補正することは難しい。特許文献１では、撮影画像を複数の領域に分割し、分割した領域ごとに補正の優先度を設定し、優先度順に、補正可能な個数の範囲内で欠陥画素補正を行う方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−３１４０５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ネットワークカメラでは、高解像度の撮像センサと魚眼レンズが搭載され、広範囲の画角を有する全方位カメラの普及が進んでいる。全方位カメラでは、一般的に、魚眼レンズを用いて撮影された全周囲画像に対してデワープ処理を行い、表示部にデワープ表示を表示させる。
【０００５】
特許文献１に開示された方法では、デワープ処理を行うことを考慮しておらず、画像全体を補正対象としている。全方位カメラに特許文献１に開示された方法を適用した場合、デワープ表示に使用しない領域を補正対象としたり、デワープ処理による画素数の変化に応じて補正対象の優先領域を変更したりすることはないため、画質の劣化や視認性の低下を引き起こしてしまう。
【０００６】
本発明は、画質および視認性の向上が可能な制御装置、撮像装置およびプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一側面としての制御装置は、魚眼レンズを用いて撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行い、欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録する記録部と、前記画像にデワープ処理を行うデワープ処理部と、前記欠陥画素データおよび前記画像の全領域のうち表示に使用される領域に基づいて補正対象を決定するとともに、前記補正対象の補間処理を行う補正部と、を有することを特徴とする。
【０００８】
また、本発明の他の側面としての制御装置は、魚眼レンズを用いて撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行い、欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録する記録部と、前記欠陥画素データおよびデワープ処理による前記画像の領域ごとの画素数の変化に基づいて補正対象を決定するとともに、前記補正対象の補間処理を行う補正部と、を有することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の他の側面としてのプログラムは、コンピュータに、魚眼レンズを用いて撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行うステップと、欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録するステップと、前記画像にデワープ処理を行うステップと、前記欠陥画素データおよび前記画像の全領域のうち表示に使用される領域に基づいて補正対象を決定するステップと、前記補正対象の補間処理を行うステップと、を実行させることを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の他の側面としてのプログラムは、コンピュータに、魚眼レンズを用いて撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行うステップと、欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録するステップと、前記欠陥画素データおよびデワープ処理による前記画像の領域ごとの画素数の変化に基づいて補正対象を決定するステップと、前記補正対象の補間処理を行うステップと、を実行させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、画質および視認性の向上が可能な制御装置、撮像装置およびプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】実施例１の撮像装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】実施例１の欠陥画素補正処理を示すフローチャートである。
【図３】（ａ）全画面表示させる場合の撮影画像を示す図である。
【００１３】
（ｂ）ダブルパノラマ表示させる場合の撮影画像を示す図である。
【図４】画像の全領域内の欠陥画素の欠陥レベルとそれに対応する欠陥画素の個数の一例を示す図である。
【図５】ダブルパノラマ表示に使用される領域内の欠陥画素の欠陥レベルとそれに対応する欠陥画素の個数の一例を示す図である。
【図６】デワープ処理による画素の増減の一例を示す図である。
【図７】ダブルパノラマ表示に使用される領域内の欠陥画素の欠陥レベルとそれに対応する画像数が増加する領域、画素数が減少する領域および画素数が変化しない領域における欠陥画素の個数の一例を示す図である。
【図８】実施例３の撮像装置の概略構成を示すブロック図である。
【図９】実施例３の欠陥画素補正処理を示すフローチャートである。
【図１０】画像の全領域内の欠陥画素の欠陥レベルとそれに対応する、デワープ処理により画素数が増加する領域、画素数が減少する領域および画素数が変化しない領域における欠陥画素の個数の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
【実施例１】
【００１５】
図１は、本実施例の撮像装置１００の概略構成を示すブロック図である。撮像装置１００は、撮像部１０１、制御部１０２および画像表示部１０３を有する。制御部１０２は、欠陥画素データ記録部（記録部）１０２ａ、欠陥画素補正部（補正部）１０２ｂ、画像信号処理部１０２ｃおよびデワープ処理部１０２ｄを有する。
【００１６】
撮像部１０１は、レンズ群、ＩＲＣＦ、撮像素子、ＣＤＳ回路、ＡＧＣアンプ、およびＡ／Ｄ変換器を備える。撮像部１０１では、被写体を撮影すると、レンズ群およびＩＲＣＦ（Ｉｎｆｒａｒｅｄ  Ｒａｙ  Ｃｕｔ  Ｆｉｌｔｅｒ：赤外光除去フィルタ）を通過した光学像が、ＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサなどから構成される撮像素子上に結像される。撮像素子は、結像された光学像を光電変換して、アナログ画像信号として出力する。ＣＤＳ（Ｃｏｒｒｅｌａｔｅｄ  Ｄｏｕｂｌｅ  Ｓａｍｐｌｉｎｇ）回路は、撮像素子より入力された電気信号に対して相関二重サンプリング処理などを行う。ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）アンプは、ＣＤＳ回路より入力された電気信号に対して増幅処理などを行う。Ａ／Ｄ変換器は、ＡＧＣアンプにより増幅処理されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。欠陥画素補正部１０２ｂは、欠陥画素データ記録部１０２ａに記録された欠陥画素データに基づいて、撮像部１０１により撮影された画像に含まれる欠陥画素の補間処理を行う。本実施例では、１フレームの処理時間内に欠陥画素補正部１０２ｂにより補間処理可能な欠陥画素の個数を約３００個とする。画像信号処理部１０２ｃは、欠陥画素補正後のデジタル信号に対してＷＢ処理やＮＲ処理などの画像信号処理を行う。デワープ処理部１０２ｄは、画像のデワープ処理を行う。画像表示部１０３は、制御部１０２により画像処理を施された画像を表示する。
【００１７】
次に、図２を参照して、本実施例の欠陥画素補正処理について説明する。図２は、欠陥画素補正処理の一例を示すフローチャートである。欠陥画素補正処理は、ソフトウェアおよびハードウェア上で動作するコンピュータプログラムにしたがって実行される。コンピュータプログラムは、例えば、撮像装置１００内の不図示のメモリに格納されていてもよいし、コンピュータが読み取り可能な記録媒体に記録されていてもよい。また、本実施例では制御部１０２が欠陥画素補正処理を実行するが、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）や専用の装置が制御装置として欠陥画素補正処理を実行してもよい。また、本実施例のコンピュータプログラムに対応する回路を設け、回路を動作させることで欠陥画素補正処理を実行してもよい。
【００１８】
ステップＳ２０１では、欠陥画素補正部１０２ｂは、まず、撮像部１０１により撮影された画像の全領域に対して欠陥画素検出を行う。具体的には、欠陥画素補正部１０２ｂは、各画素値と欠陥画素閾値とを比較し、欠陥画素を検出する。欠陥画素閾値は、カメラの用途や性能、または撮影環境によって、実験的または経験的に複数段階設定されている。欠陥画素補正部１０２ｂは、次に、検出された欠陥画素に対して、欠陥画素閾値に対応する欠陥レベルを設定する。本実施例では、４段階の欠陥画素閾値が設定され、それぞれの閾値に対して欠陥レベルＡ−Ｄが設定されている。本実施例では、欠陥レベルＡ−Ｄの順にレベルが高くなっている。すなわち、欠陥レベルＡの欠陥画素の欠陥度合いが最も大きく、欠陥レベルＤの欠陥画素の欠陥度合いが最も小さい。
【００１９】
ステップＳ２０２では、欠陥画素データ記録部１０２ａは、ステップＳ２０１で検出された欠陥画素のアドレスおよび欠陥レベルを欠陥画素データとして記録する。
【００２０】
ステップＳ２０３では、制御部１０２は、画像表示部１０３にデワープ表示させるかどうかを選択する。画像表示部１０３にデワープ表示させない場合、すなわち全画面表示させる場合、ステップＳ２０４に進み、画像表示部１０３にデワープ表示させる場合、ステップＳ２０５に進む。
【００２１】
ステップＳ２０４では、欠陥画素補正部１０２ｂは、欠陥画素の欠陥レベルに基づいて、図３（ａ）に示される魚眼レンズで撮影された全周囲画像の全領域内の欠陥画素の少なくとも一部の欠陥画素を補正対象として決定する。本実施例では、欠陥画素補正部１０２ｂは、欠陥レベルＢ以上の欠陥画素を補正対象として決定する。すなわち、本実施例では、欠陥レベルＢが第１欠陥レベルに相当し、欠陥レベルＢ以上の欠陥画素が第１欠陥画素に相当する。具体的には、画像の全領域内の欠陥画素が図４に示される状態である場合、欠陥レベルＡの１００個の欠陥画素と欠陥レベルＢの２００個の欠陥画素を合わせた、計３００個の欠陥画素が補正対象となる。
【００２２】
ステップＳ２０５では、デワープ処理部１０２ｄは、選択されたデワープ表示の種類に基づいて画像のデワープ処理を行う。本実施例では、図３（ｂ）に示されるダブルパノラマ表示、シングルパノラマ表示および４ｉｎ１表示等から画像表示部１０３に表示されるデワープ表示が選択される。デワープ表示によって、使用される画像領域は異なる。以下のステップの説明では、デワープ表示としてダブルパノラマ表示が選択された場合について説明する。
【００２３】
ステップＳ２０６では、欠陥画素補正部１０２ｂは、ステップＳ２０２で欠陥画素データ記録部１０２に記録された欠陥画素のアドレスを用いて、ステップＳ２０５において選択されたデワープ表示に使用される領域内の欠陥画素の個数をカウントする。図５は、ダブルパノラマ表示に使用される領域内の欠陥画素の欠陥レベルとそれに対応する欠陥画素の個数の一例を示す図である。
【００２４】
ステップＳ２０７では、欠陥画素補正部１０２ｂは、デワープ処理前後の画像領域内の欠陥画素の個数の差分を算出する。本実施例では、欠陥レベルＢ以上の欠陥画素を補正する設定としているため、補正される欠陥画素の個数は、デワープ処理前では３００個、デワープ処理後では１５０個となる。本実施例では、１フレームの処理時間内に補正が可能な欠陥画素数を約３００個としているので、デワープ表示に使用される領域内の１５０個の欠陥画素を更に補正可能である。
【００２５】
ステップＳ２０８では、欠陥画素補正部１０２ｂは、欠陥画素の欠陥レベルに基づいて、デワープ表示に使用される領域内の欠陥画素の少なくとも一部の欠陥画素を補正対象として決定する。本実施例では、デワープ表示に使用される領域内では、欠陥レベルＣの欠陥画素の個数が１５０個であり、欠陥レベルＡ−Ｃの欠陥画素の個数の合計が３００個となる。そのため、本実施例では、欠陥画素補正部１０２ｂは、欠陥レベルＣ以上の欠陥画素を補正対象として決定する。すなわち、本実施例では、欠陥レベルＣが第２欠陥レベルに相当し、欠陥レベルＣ（欠陥レベルＢより低く、欠陥レベルＣ以上）の欠陥画素が第２欠陥画素に相当する。
【００２６】
ステップＳ２０９では、欠陥画素補正部１０２ｂは、補間対象である欠陥画素の補間処理を行う。
【００２７】
本実施例によれば、デワープ表示時にデワープ表示に使用される領域内に含まれる欠陥画素の少なくとも一部の欠陥画素を補正対象とし、補間処理可能な欠陥画素の個数を増加させることで、画質および視認性を向上させることが可能である。
【実施例２】
【００２８】
実施例１では、デワープ表示時に補正対象を変更し、画像の全領域内の補正対象である第１欠陥画素の個数からデワープ表示に使用される領域内に含まれる第１欠陥画素の個数を差し引いた個数分の第２欠陥画素を更に補正する方法について説明した。
【００２９】
しかしながら、表示部にデワープ表示させる場合、画像の歪曲が大きく補正されるため、画素補完等で画素数が増加する領域、画素間引き等で画素数が減少する領域および画素数が変化しない領域が発生する。
【００３０】
本実施例では、デワープ処理による画素数の増加や減少を考慮して欠陥画素補正処理が実行される。以下、図２を参照して、本実施例の欠陥画素補正処理について説明する。本実施例の撮像装置の概略構成は、実施例１と同様である。
【００３１】
ステップＳ２０１−ステップＳ２０４、ステップＳ２０７およびステップＳ２０９の処理は、実施例１と同様であるため、説明を省略する。
【００３２】
ステップＳ２０５では、デワープ処理部１０２ｄは、選択されたデワープ表示の種類に基づいて画像のデワープ処理を行う。本実施例では、実施例１と同様に、デワープ表示としてダブルパノラマ表示が選択される。このとき、デワープ処理によって、画素数が増加する領域、画素数が減少する領域および画素数が変化しない領域が発生する。例えば、ダブルパノラマ表示の場合、図４（ｂ）に示されるように、半円状の領域を長方形に変換するため、外周側の領域では画素数が減少し、内周側の領域では画素数が増加する。このとき、画素数が減少する領域では、図６（ａ）に示されるように、欠陥画素が間引き処理で削除される可能性がある。一方、画素数が増加する領域では、図６（ｂ）に示されるように、欠陥画素から補完画素が作成されてしまう可能性がある。そのため、画素数が減少する領域では欠陥画素の補正優先度（補正順位）を低く設定し、画素数が増加する領域では欠陥画素の補正優先度を高く設定することが有効である。
【００３３】
ステップＳ２０６では、欠陥画素補正部１０２ｂは、デワープ表示に使用される領域内の欠陥画素の個数をカウントする。本実施例では、実施例１と同様に、ダブルパノラマ表示に使用される画像領域の各欠陥レベルの欠陥画素の個数は図５に示されている。図７は、図５に示される欠陥画素が、画像数が増加する領域、画素数が減少する領域および画素数が変化しない領域のどの領域に含まれるかを示している。また、画像の全領域内の欠陥画素の欠陥レベルとそれに対応する欠陥画素の個数は、図４に示されている。
【００３４】
ステップＳ２０８では、欠陥画素補正部１０２ｂは、欠陥画素の欠陥レベルに基づいて、デワープ表示に使用される領域内の少なくとも一部の欠陥画素を補正対象として決定する。本実施例では、デワープ処理による画素数の増加や減少を考慮した欠陥画素の補正優先度に基づいて補正対象を決定する。例えば、図７では、画素数が減少する領域内の欠陥レベルＢ以上の４５個の欠陥画素、画素数が変化しない領域内の欠陥レベルＣ以上の１２０個の欠陥画素、および画素数が増加する領域内の欠陥レベルＤ以上の１３５個の欠陥画素を補正対象として決定する。
【００３５】
本実施例によれば、実施例１の構成に加えて、デワープ処理による画素数の増加や減少を考慮した欠陥画素補正を行う。これにより、デワープ表示時に、より適切に、画質および視認性を向上させることが可能である。
【実施例３】
【００３６】
全方位カメラでは、魚眼レンズによる全周囲画像を記録し、再生時にデワープ処理を行う使用方法もあるため、実施例１および実施例２の方法を用いることができない場合がある。
【００３７】
本実施例では、再生時にデワープ処理を行う場合について説明する。本実施例では、実施例１および実施例２と異なる部分のみを説明し、実施例１および実施例２と同様の部分については同一の符号を用いてその説明を省略する。
【００３８】
図８は、本実施例の撮像装置８００の概略構成を示すブロック図である。撮像装置８００は、実施例１で説明した撮像装置１００に対して、画像データ記録部１０２ｅのみが追加されている。画像データ記録部１０２ｅは、画像データを記録する機能を有するものであれば、どのような構成や方法であってもよい。
【００３９】
図９は、本実施例の欠陥画素補正処理の一例を示すフローチャートである。図２に示すフローチャートと同一のステップについては同一のステップ番号を付して、それらの説明を省略する。図２から削除されたフローは、本実施例では実行しない。
【００４０】
ステップＳ９０１では、欠陥画素補正部１０２ｂは、欠陥画素の欠陥レベルに基づいて、画像の全領域内の少なくとも一部の欠陥画素を補正対象として決定する。本実施例では、デワープ処理による画素数の増加や減少を考慮した欠陥画素の補正優先度に基づいて補正対象を決定する。図４は、画像の全領域内の欠陥画素の欠陥レベルとそれに対応する欠陥画素の個数を示している。図１０は、図３に示される欠陥画素が、画素数が増加する領域、画素数が減少する領域および画素数が変化しない領域のどの領域に含まれているかを示している。本実施例では、実施例１と同様に、１フレームの処理時間内に欠陥画素補正部１０２ｂにより補間処理可能な欠陥画素の個数を約３００個とする。また、実施例２と同様に、画素数が減少する領域では欠陥画素の補正優先度を低く設定し、画素数が増加する領域では欠陥画素の補正優先度を高く設定する。例えば、図１０では、画素数が減少する領域内の欠陥レベルＡ以上の２０個の欠陥画素、画素数が変化しない領域内の欠陥レベルＢ以上の１３０個の欠陥画素、および画素数が増加する領域内の欠陥レベルＣ以上の１５０個の欠陥画素を補正対象として決定する。
【００４１】
ステップＳ２０９では、欠陥画素補正部１０２ｂは補間対象である欠陥画素の補間処理を行い、画像データ記録部１０２ｅは補正された画像データを記録する。
【００４２】
本実施例によれば、魚眼レンズによる全周囲画像を記録し、再生時にデワープ処理を行う場合に、画質および視認性を向上させることが可能である。
【００４３】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
［その他の実施例]
本発明は、上述の実施例の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００４４】
１０２    制御部（制御装置）
１０２ａ  欠陥画素データ記録部（記録部）
１０２ｂ  欠陥画素補正部（補正部）
１０２ｄ  デワープ処理部
【図１】
2019097055.tif 000003
【図２】
2019097055.tif 000004
【図３】
2019097055.tif 000005
【図４】
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【図５】
2019097055.tif 000007
【図６】
2019097055.tif 000008
【図７】
2019097055.tif 000009
【図８】
2019097055.tif 000010
【図９】
2019097055.tif 000011
【図１０】
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