(57)【要約】【課題】検査対象である電線の過汚損を含む劣化度の診断精度確保を可能にした電線被覆劣化検出装置及び電線被覆劣化検出方法を提供する。【解決手段】劣化診断部１２は、検査対象の電線２の劣化度を検出するにあたり、光源６の光を照射し、その反射光を分光器７で分光して各波長の反射率を取得する。このとき、劣化診断部１２は、劣化の影響を受けない波長帯域の７５０ｎｍの反射率を基に、検査対象の電線２が過汚損品であるか否かを判定する。劣化診断部１２は、過汚損品と判定されなかった電線２に対し、劣化診断を実行する。【選択図】図１
2019215230.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象の電線に光を照射して、その反射光を分光器によって分光し、分光後の各波長の反射率に基づき、前記検査対象の電線の劣化度の検出を行う電線被覆劣化検出装置であって、
前記検査対象の電線の劣化度と相関のある第１波長帯域の反射率と、当該第１波長帯域と補色関係にある第２波長帯域の反射率との反射率比を求め、当該反射率比を基に前記検査対象の電線の劣化度を検出する劣化診断部を備え、
当該劣化診断部は、前記劣化度の判定時、劣化の影響を受けない波長帯域の反射率を基に、前記検査対象の電線の過汚損の検出を行う電線被覆劣化検出装置。
【請求項２】
前記劣化診断部は、前記第２波長帯域の反射率を基に、前記過汚損の検出を実行する
請求項１に記載の電線被覆劣化検出装置。
【請求項３】
前記劣化診断部は、検査対象とした電線の１サンプルに対し、劣化の影響を受けない波長帯域の反射率を基に過汚損を検出する処理を複数回実行し、過汚損を検出した回数が規定値を超えた場合に、そのサンプルを過汚損ありと判定する
請求項１又は２に記載の電線被覆劣化検出装置。
【請求項４】
前記劣化診断部は、検査対象とした電線のサンプルに対して過汚損がないと判定できた場合に、当該サンプルについての前記劣化度の判定を実行する
請求項１〜３のうちいずれか一項に記載の電線被覆劣化検出装置。
【請求項５】
検査対象の電線に光を照射して、その反射光を分光器によって分光し、分光後の各波長の反射率に基づき、前記検査対象の電線の劣化度の検出を行う電線被覆劣化検出方法であって、
前記検査対象の電線の劣化度と相関のある第１波長帯域の反射率と、当該第１波長帯域と補色関係にある第２波長帯域の反射率との反射率比を求め、当該反射率比を基に前記検査対象の電線の劣化度を検出し、前記劣化度の判定時、劣化の影響を受けない波長帯域の反射率を基に、前記検査対象の電線の過汚損の検出を行う電線被覆劣化検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電線の劣化有無を検出する電線被覆劣化検出装置及び電線被覆劣化検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、受変電設備の制御盤等に配策される制御配線（電線）は、その被覆部の経年劣化が進行すると、自身の配線を通じての制御信号の伝達が適切に行われなくなる可能性がある。これは、受変電設備の電力機器の誤作動の原因にも繋がる。そこで、電力機器の誤作動等を未然に防止するために、制御配線の劣化度を検出することが行われている。
【０００３】
制御配線の劣化度の検出方法として、検査対象の制御配線に白色光を照射し、その反射光を受光して分光器によって分光し、新品と劣化品とで差が顕著となる特定の２つの波長での反射率の差から、制御配線の劣化状況を検出する方法が周知である（特許文献１等参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−７６６２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、制御配線は、設置環境の影響により油脂等が付着すると、付着物が制御配線の被覆内部へ浸透する場合がある。こうなると、被覆部の表面をクリーニングしても清浄化されず、過汚損となってしまう。被覆部の過汚損は、新品よりも全体的に光の反射率が低くなる。このため、過汚損品の場合、新品と劣化品との間の反射率の関係性が満足されず、従来の劣化度の検出方法では過汚損品を検出できない問題があった。このように、検出精度を一層よくしたいニーズがあった。
【０００６】
本発明の目的は、検査対象である電線の過汚損を含む劣化度の診断精度確保を可能にした電線被覆劣化検出装置及び電線被覆劣化検出方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記問題点を解決する電線被覆劣化検出装置は、検査対象の電線に光を照射して、その反射光を分光器によって分光し、分光後の各波長の反射率に基づき、前記検査対象の電線の劣化度の検出を行う構成であって、前記検査対象の電線の劣化度と相関のある第１波長帯域の反射率と、当該第１波長帯域と補色関係にある第２波長帯域の反射率との反射率比を求め、当該反射率比を基に前記検査対象の電線の劣化度を検出する劣化診断部を備え、当該劣化診断部は、前記劣化度の判定時、劣化の影響を受けない波長帯域の反射率を基に、前記検査対象の電線の過汚損の検出を行う。
【０００８】
本構成によれば、検査対象である電線の劣化度の検出のみならず、過汚損の検出も可能とした。よって、検査対象である電線の過汚損を含む劣化度の診断精度を確保することが可能となる。
【０００９】
前記電線被覆劣化検出装置において、前記劣化診断部は、前記第２波長帯域の反射率を基に、前記過汚損の検出を実行することが好ましい。この構成によれば、検査対象の電線の劣化度を検出する際に用いる第２波長帯域の反射率を利用して、電線の過汚損の検出も行うことが可能となる。
【００１０】
前記電線被覆劣化検出装置において、前記劣化診断部は、検査対象とした電線の１サンプルに対し、劣化の影響を受けない波長帯域の反射率を基に過汚損を検出する処理を複数回実行し、過汚損を検出した回数が規定値を超えた場合に、そのサンプルを過汚損ありと判定することが好ましい。この構成によれば、劣化の影響を受けない波長帯域の反射率が過汚損と判定可能な値となる結果が複数回発生する場合に限り、そのサンプルを過汚損品と判定する。よって、検査対象である電線が過汚損品であるか否かの判定結果を精度よく得ることが可能となる。
【００１１】
前記電線被覆劣化検出装置において、前記劣化診断部は、検査対象とした電線のサンプルに対して過汚損がないと判定できた場合に、当該サンプルについての前記劣化度の判定を実行することが好ましい。この構成によれば、過汚損が検出されなかったサンプルのみ劣化度の判定を実施するので、劣化度の判定を無駄に実施せずに済む。
【００１２】
前記問題点を解決する電線被覆劣化検出方法は、検査対象の電線に光を照射して、その反射光を分光器によって分光し、分光後の各波長の反射率に基づき、前記検査対象の電線の劣化度の検出を行う方法であって、前記検査対象の電線の劣化度と相関のある第１波長帯域の反射率と、当該第１波長帯域と補色関係にある第２波長帯域の反射率との反射率比を求め、当該反射率比を基に前記検査対象の電線の劣化度を検出し、前記劣化度の判定時、劣化の影響を受けない波長帯域の反射率を基に、前記検査対象の電線の過汚損の検出を行う。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、検査対象である電線の過汚損を含む劣化度の診断精度を確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】一実施形態の電線被覆劣化検出装置の構成図。
【図２】熱劣化電線被覆の反射率測定結果を示す波形図。
【図３】熱劣化電線被覆の反射率比−破断伸度曲線を示す特性図。
【図４】新品と過汚損品との比較スペクトラムを示す波形図。
【図５】過汚損品の反射率比と破断伸度との関係を示す特性図。
【図６】新品電線被覆の反射率測定結果を示す波形図。
【図７】過汚損品電線被覆の反射率測定結果を示す波形図。
【図８】劣化度及び過汚損の判定時に実行されるフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、電線被覆劣化検出装置及び電線被覆劣化検出方法の一実施形態を図１〜図８に従って説明する。
図１に示すように、電線被覆劣化検出装置１は、電線２の被覆劣化を診断する装置である。ところで、電線被覆劣化の指標として、ＪＩＳ規格に記載されている破断時の伸び（破断伸度［％］）がある。破断伸度は、基準長Ｌ０の電線被覆（電線２）を引っ張ったときの切断時の伸び率のことをいう。破断伸度は、切断時の長さをＬ１とすると、「破断伸度＝（（Ｌ１−Ｌ０）／Ｌ０×１００）」の式により表される。判断伸度が例えば１００％未満の場合、その電線２は規格不適合（劣化）となる。
【００１６】
一般に、電線２は、劣化すると破断伸度が低下していく。例えば、初期品の破断伸度が約２５０％であれば、劣化進展により、破断伸度が２５０→２００→１５０→１００％と低下していく。よって、破断伸度は、電線被覆の劣化度が大きくなるに連れて低くなる数値であり、電線被覆の劣化度と相関がある。この破断伸度は、電線被覆の表面の反射率と相関がある。よって、電線被覆劣化検出装置１は、電線被覆表面の反射率と破断伸度との相関（反射率−破断伸度曲線）から、電線２の破断伸度、すなわち劣化度を数値化する。
【００１７】
電線２は、例えば受変電設備の制御盤に配策される制御配線等に用いられる電気機器用ビニル絶縁電線（ＪＩＳ＿Ｃ３３１６）である。電線２は、被覆部３がビニル系絶縁材料からなる。被覆部３の色は、例えば電気機器用に多用されている黄色である。被覆部３の着色剤は、例えばアゾ系顔料が使用されている。ここで、規格ＪＩＳ＿Ｃ３３１６の「電気機器用ビニル絶縁電線」では、電線仕様として、「破断伸度１００％以上」が要求され、一方で、「破断伸度１００％未満」の電線は仕様外として規格不適合品（完全劣化品）となる。
【００１８】
電線被覆劣化検出装置１は、検査対象である電線２に照射光を当てる光源６と、電線２からの反射光の波長範囲を計測する分光器７と、分光器７により測定された各波長帯域の反射率データＤａを基に電線２の劣化診断を行う制御部８と、電線２の劣化診断の際に使用する判定データＤｂを記憶したメモリ９とを備える。
【００１９】
光源６は、例えば３００〜１２００ｎｍの波長域の光（白色光）を発光する白色光源である。光源６は、検査対象である電線２に対して白色光を照射する。電線２に照射された白色光は、電線２の被覆部３の表面で反射するとともに、反射光が分光器７に入射される。
【００２０】
分光器７は、例えば３００〜１２００ｎｍの波長範囲の光を測定する。本例の分光器７は、入射した光（反射光）を３００〜１２００ｎｍの波長域の間で例えば所定波長（例えば１０ｎｍ）ごとに分光し、分光により細分化した各波長の反射光の強度を測定する。
【００２１】
制御部８は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）からなるとともに、分光器７から入力する各波長帯域の反射率データＤａを入力する。制御部８は、分光器７から入力した反射率データＤａを基に電線２（被覆部３）の劣化度を診断する劣化診断部１２を備える。劣化診断部１２は、分光器７から入力する反射光の反射率データＤａを基に、メモリ９内に記憶された判定データＤｂを用いて、電線２の劣化診断を実行する。判定データＤｂは、例えば反射率と破断伸度との相関を示す近似曲線Ｃであることが好ましい。
【００２２】
図２に、熱劣化電線被覆の反射率測定結果を示す。同図に示されるように、劣化電線を用いて反射率測定を行った場合、劣化状態（破断伸度低下）に応じて、所定の波長域の反射率が低下する特徴がある。図２の場合、例えば波長５００〜７００ｎｍ域の反射率が低下する。なお、図２では、劣化度（破断伸度）が異なる熱劣化電線（加速熱劣化電線）の反射スペクトルである。また、同図は、必要な波長範囲の反射率の波長範囲を抽出して図示しているが、実際には、分光器７の性能に応じた波長帯域の反射率データＤａが存在する。
【００２３】
ここで、図２に示すように、特定の波長帯域において、新品電線の反射率に対して、劣化電線の反射率が大きく異なる波長域が存在することが分かる。同図の場合、例えば５４０〜５８０ｎｍの波長帯域（以降、第１波長帯域λ１と記す）で、新品電線と劣化電線とで反射率が大きく変化している。よって、本例の場合、第１波長帯域λ１の反射率変化を電線２の劣化の指標とする。
【００２４】
ところで、反射率データＤａの波長帯域には、反射率が低下する第１波長帯域λ１が存在しても、反射率が低下しない帯域（以降、第２波長帯域λ２と記す）が存在する。本例の場合、第２波長帯域λ２は、第１波長帯域λ１と補色関係にある波長帯域であって、７４０〜７８０ｎｍとなっている。本例では、これら第１波長帯域λ１及び第２波長帯域λ２の変化の特異性を利用して、新品又は劣化品を識別する。また、新品又は劣化品の判定にあたっては、第１波長帯域λ１及び第２波長帯域λ２の比率（反射比率：λ２／λ１）を求めることで、測定試料ごとに異なるスペクトラムの傾き（ベースライン）を補正する。これにより、測定誤差の影響を回避する。
【００２５】
さらに、反射比率の算出時にノイズによる特異ピークの影響を緩和するために、各第１波長帯域λ１及び第２波長帯域λ２の平均値を求めて、劣化診断を実行する。具体的には、第１波長帯域λ１（５４０〜５８０ｎｍ）の反射率平均を「λ１R」とし、第２波長帯域λ２（７４０〜７８０ｎｍ）の反射率平均をλ２Ｒとし、加速熱劣化電線の反射率比Ｒ１（＝λ２Ｒ／λ１Ｒ）を算出する。以上のように、本例の劣化診断部１２は、反射率平均から算出される反射率比Ｒ１（λ２Ｒ／λ１Ｒ）を求めて、電線２の劣化診断を実行する。
【００２６】
図３に、反射率比Ｒ１と破断伸度との相関性を示す。同図に示されるように、反射率比Ｒ１が低い値をとると、破断伸度が高くなる。この場合、電線２が正常であると判断できる。一方、反射率比Ｒ１が高い値をとると、破断伸度が低くなる。この場合、電線２が劣化していると判断できる。このように、反射率比Ｒ１の値から、電線２の劣化診断を行う。
【００２７】
図４に、新品電線及び過汚損電線の各反射率の比較スペクトラムを示す。過汚損電線は、例えば被覆部３の表面に油脂等が付着して内部に汚れが浸透した電線をいう。設置環境等により、電線２には油脂等が付着する可能性があり、この場合、油脂等が被覆部３の内部に浸透してしまうと、測定前に電線２の表面をクリーニングしても清浄化されず、過汚損の状態となることがある。過汚損電線は、新品電線よりも全体的に反射率が低く、スペクトラムの傾き（ベースライン）に違いが生じる。
【００２８】
また、図５に示すように、反射率比Ｒ１は、通常ならば１．３５〜１．５０付近の値をとるのに対し、過汚損品は劣化が進行していない状態（例えば、破断伸度２５５％）でも、規格不適合値（約１．５）を上回る１．８１を示す。このように、過汚損電線の場合、反射率比Ｒ１は、破断伸度との関係性が成立しなくなる。本例は、この問題に対する対策である。
【００２９】
図６に、新品電線で反射率測定を複数回（Ｎ＝１０）実行した場合の反射率スペクトラムを示す。電線劣化の影響を受けない第２波長帯域λ２の７２０ｎｍの反射率は、再現性よく観測される。このとき、最も低く観測された値は、１９１％である。また、新品電線の反射率比Ｒ１の１０回平均値は、１．３２である。
【００３０】
図７は、過汚損電線で反射率測定を複数回（Ｎ＝１０）実行した場合の反射率スペクトラムを示す。過汚損電線の反射率は、新品電線に対して相対的に低い値をとる。また、過汚損電線の７５０ｎｍの反射率は、最も高く計測された値で１７６％である。すなわち、過汚損品の場合、劣化の影響を受けない第２波長帯域λ２において反射率は低いままとなる。このように、本例の劣化診断部１２は、劣化に影響を受けない第２波長帯域λ２においての新品電線と過汚損電線との反射率の差を利用し、電線２が過汚損であるか否かを判定する。
【００３１】
次に、図２、図３、図６〜図８を用いて、本実施形態の電線被覆劣化検出装置１の作用及び効果を説明する。
図８のステップ１０１において、計測者は、検査対象の電線２と同一種類の電線を約１００℃の恒温槽内で加熱し、加熱時間（熱劣化時間）の異なる複数種類の熱劣化電線（サンプル）を作成する。これにより、熱によって電線が加速劣化されるとともに、互いに異なる破断伸度を有する複数種類のサンプルが作成される。ここで、「電線２と同一種類の電線」とは、電線２と完全に同一の電線だけでなく、電線２と略同一の電線を含む。また、本例の加熱処理は、１００℃以外の温度設定としてもよい。
【００３２】
本例のサンプルは、新品電線であるサンプル１と、熱劣化２０日の処理を経たサンプル２と、熱劣化３０日の処理を経たサンプル３と、熱劣化４０日の処理を経たサンプル４と、熱劣化６０日の処理を経たサンプル５と、熱劣化９０日の処理を経たサンプル６と、熱劣化１００日の処理を経たサンプル７とがある。これらサンプル１〜７が熱劣化電線である。
【００３３】
ステップ１０２において、電線被覆劣化検出装置１は、各サンプル１〜７の破断伸度及び反射率を測定する。各サンプル１〜７の破断伸度の測定結果は、加熱時間（熱劣化時間）が長いサンプルほど破断伸度が低下する結果が得られる。
【００３４】
また、電線被覆劣化検出装置１の劣化診断部１２は、反射率測定にあたり、まず光源６から、３００〜１２００ｎｍ程度の波長の白色光を各サンプル１〜７に照射する。サンプル１〜７の反射光は、分光器７に入射され、反射光量に応じた反射率データＤａが制御部８に出力される。劣化診断部１２は、分光器７によって計測された反射率データＤａを取得する。
【００３５】
図２に示すように、熱劣化電線被覆の反射率測定結果からは、電線被覆の劣化、すなわち破断伸度の低下に伴い、５００〜７００ｎｍの波長帯域の反射率が低下することが確認できる。特に、５４０〜５８０ｎｍの波長帯域において、反射率が大きく低下することが分かる。
【００３６】
図８に戻り、ステップ１０３において、劣化診断部１２は、電線被覆劣化の指標となる第１波長帯域λ１及び第２波長帯域λ２を選定する。ここでは、前述した反射率測定とは別に、各サンプル１〜７に対して、化学分析と、色差計による色彩評価とを行った。これら化学分析及び色彩評価の各結果から、以下のことが明らかとなった。まず、破断伸度の低下は、電線２の被覆部３を構成する可塑剤の減少に起因していることが明らかとなった。また、可塑剤の減少と並行して、被覆部３を構成する顔料（ここでは、アゾ系顔料）にも変化が生じることが明らかになった。さらに、反射率分布、化学分析結果及び色彩評価結果から、アゾ系顔料の変化に伴って、緑色波長（５４０〜５８０ｎｍの波長帯域）の反射率の低下と、その緑色と補色関係にある赤色波長（７４０〜７８０ｎｍの波長帯域）の反射率の増加とが生じることが明らかとなった。さらに、緑色波長（５４０〜５８０ｎｍの波長帯域）の反射率低下の度合いと、赤色波長（７４０〜７８０ｎｍの波長帯域）の反射率増加の度合いとの間に相関性があることも明らかとなった。すなわち、電線被覆の劣化によって破断伸度が低くなるほど緑色波長の反射率が低くなる一方で、破断伸度が低くなるほど赤色波長の反射率が高くなる。このことからも、緑色波長の反射率と赤色波長の反射率との比（反射率比）は、破断伸度と相関があることが分かる。
【００３７】
これを踏まえ、劣化診断部１２は、破断伸度（劣化度）と相関のある波長帯域（本例は、５４０〜５８０ｎｍの波長帯域）を第１波長帯域λ１として選定し、この第１波長帯域λ１と補色関係にある波長帯域（本例は、７４０〜７８０ｎｍの波長帯域）を第２波長帯域λ２として選定する。より具体的には、本例の場合、可塑剤減少による破断伸度低下と、アゾ系顔料変化による色味変化（ここでは、緑色の減少）とが相関する波長帯域を第１波長帯域λ１として選定し、第１波長帯域λ１と補色関係にあり、かつ、破断伸度低下に伴って反射率が変化（ここでは、増加）する波長帯域を第２波長帯域λ２として選定する。このように、第１波長帯域λ１及び第２波長帯域λ２は、反射率分布、化学分析結果及び色彩評価結果を基に選定される。劣化診断部１２は、選定された第１波長帯域λ１及び第２波長帯域λ２の範囲を示すデータを、メモリ９に格納する。
【００３８】
ステップ１０４において、劣化診断部１２は、サンプル１〜７ごとに反射率比Ｒ１を算出する。本例の場合、劣化診断部１２は、サンプル１〜７ごとに、５４０〜５８０ｎｍの第１波長帯域λ１で細分化された波長全部の反射率の平均であるλ１Ｒと、７４０〜７８０ｎｍの第２波長帯域λ２で細分化された波長全部の反射率の平均であるλ２Ｒとの比である反射率比Ｒ１（＝λ２Ｒ／λ１Ｒ）を算出する。
【００３９】
ステップ１０５において、劣化診断部１２は、破断伸度と反射率比Ｒ１との相関を示す近似曲線Ｃを算出する。
図３に示すように、本例の場合、劣化診断部１２は、反射率比Ｒ１を横軸にとり、破断伸度を縦軸にとったグラフ上に、各サンプル１〜７のデータをプロットする。そして、劣化診断部１２は、プロットしたデータから、近似曲線Ｃの式、すなわち劣化予測式「ｙ＝ｆ（ｘ）」を算出する。この劣化予測式では、「ｙ」が破断伸度であり、「ｘ」が反射率比Ｒ１である。このように、破断伸度は、反射率比Ｒ１の関数として算出することができる。なお、劣化予測式は、例えば最小二乗法により導き出すことができる。劣化診断部１２は、算出した劣化予測式をメモリ９に格納する。これにより、電線２の被覆部３の劣化診断を行う前準備が完了する。
【００４０】
図８に戻り、ステップ１０６において、劣化診断部１２は、劣化診断の前に、劣化診断の対象としてセットされたサンプル（電線２）について、まずサンプル品が過汚損品か否かを確認する過汚損診断を開始する。本例の過汚損診断は、例えば各サンプルについて、劣化の影響を受けない第２波長帯域λ２の反射率を基に過汚損を検出する処理を複数回（Ｎ回）実行する。本例の場合、１つのサンプルについて過汚損診断を「１０」回行うものとする（図６及び図７参照）。まず、１回目の測定の場合は、過汚損判定回数のカウンタＮ＝「０」に設定し、ＥＲＲ＝「０」に設定する。
【００４１】
ステップ１０７において、劣化診断部１２は、検査対象の電線２の反射率を測定する。すなわち、劣化診断部１２は、光源６から白色光を電線２に照射して光を反射させ、その反射光を入力した分光器７から反射率データＤａを取得する。
【００４２】
ステップ１０８において、劣化診断部１２は、過汚損の判定に使用する波長帯域（本例λ２）の反射率を基に、過汚損品であるか否かの判定を実行する。本例の場合、劣化の影響を受けない第２波長帯域λ２の一値（７５０ｎｍ）の反射率が、規定値（例えば１８０％）以下であるか否かを判定する。第２波長帯域λ２の一値（７５０ｎｍ）の反射率が規定値以下でなければステップ１０９に移行し、第２波長帯域λ２の一値（７５０ｎｍ）の反射率が規定値を超えればステップ１１４に移行する。
【００４３】
ステップ１０９において、劣化診断部１２は、第２波長帯域λ２の一値（７５０ｎｍ）の反射率が規定値以下でなければ、カウンタＮを「Ｎ＋１」にカウントアップする。
ステップ１１０において、劣化診断部１２は、測定した反射率データＤａをメモリに保存する。
【００４４】
ステップ１１１において、劣化診断部１２は、反射率データＤａの保存後、過汚損判定回数のカウンタＮが「１０」に到達したか否かを判定する。すなわち、過汚損判定の回数が１０回実施されたか否かを判定する。過汚損判定回数が１０回未満であれば、ステップ１０７に戻り、過汚損品か否かの判定を再度行う。一方、過汚損判定の回数が１０回に到達すれば、検査対象の電線２が過汚損品ではなく、ステップ１１２に移行する。
【００４５】
ステップ１１２において、劣化診断部１２は、過汚損品ではないと診断された電線２において、反射率比Ｒ１を算出する。
ステップ１１３において、劣化診断部１２は、算出した反射率比Ｒ１を基に、検査対象の電線２の劣化度を検出する。本例の劣化診断部１２は、算出した反射率比Ｒ１が、メモリ９に保存された判定データＤｂ（近似曲線Ｃ）のどの位置にあるかを確認することにより、電線２の破断伸度を算出する。そして、劣化診断部１２は、算出した破断伸度を基に電線２の劣化度を検出（推測）し、その劣化度を、表示装置等を用いて計測者に通知する。
【００４６】
ところで、電線２の破断伸度は、電線２の劣化度と相関がある。このため、電線２の判断伸度から電線２の劣化度を容易に推測することができる。劣化診断部１２は、算出した判断伸度が１００％未満である場合には、検査対象の電線２が規格不適合品であることを通知する。なお、劣化診断部１２は、電線２の劣化度の推測を行わず、劣化予測式に基づいて算出した電線２の破断伸度を劣化度としてそのまま通知してもよい。
【００４７】
ステップ１１４において、劣化診断部１２は、第２波長帯域λ２の一値（７５０ｎｍ）の反射率が規定値を超える場合、エラー回数のカウンタＥＲＲを「ＥＲＲ＋１」にカウントアップする。
【００４８】
ステップ１１５において、劣化診断部１２は、カウンタＥＲＲをカウントアップした後、エラーとなった測定データ（反射率データＤａ）を破棄する。すなわち、劣化診断部１２は、過汚損診断でエラーとなった反射率データＤａを、劣化診断判定のデータとして使用しない。
【００４９】
ステップ１１６において、劣化診断部１２は、エラー計測のカウンタＥＲＲが「５」に到達したか否かを判定する。このとき、エラー計測のカウンタＥＲＲが「５」に到達していなければ、ステップ１１１に移行して、過汚損判定回数の確認を実施する。一方、エラー計測のカウンタＥＲＲが「５」に到達していれば、ステップ１１７に移行する。
【００５０】
ステップ１１７において、劣化診断部１２は、検査対象の電線２を過汚損サンプルと判定する。このとき、劣化診断部１２は、劣化診断時にメモリ９に蓄積した測定データ（反射率データＤａ）を破棄する。劣化診断部１２は、検査対象の電線２が過汚損サンプルと判定した場合、その旨を、表示装置等を用いて計測者に通知する。よって、過汚損品の電線２を排除することが可能となる。
【００５１】
さて、本例の場合、電線被覆劣化検出装置１には、検査対象である電線２に光を当てた際の反射光の反射率（第１波長帯域λ１の反射率と第２波長帯域λ２の反射率との反射率比）を基に劣化度を診断可能な劣化診断部１２が設けられている。そして、この劣化診断部１２は、劣化度の判定時、劣化の影響を受けない第２波長帯域λ２の反射率を基に、検査対象の電線２の過汚損の検出を行う。このように、本例では、検査対象である電線２の劣化度の検出のみならず、過汚損の検出も可能とした。よって、検査対象である電線２の過汚損を含む劣化度の診断精度を確保することができる。
【００５２】
劣化診断部１２は、第２波長帯域λ２の反射率を基に、過汚損の検出を実行する。よって、検査対象の電線２の劣化度を検出する際に用いる第２波長帯域λ２の反射率を利用して、電線２の過汚損の検出も行うことができる。
【００５３】
劣化診断部１２は、検査対象とした電線２の１サンプルに対し、劣化の影響の受けない第２波長帯域λ２の反射率を基に過汚損を検出する処理を複数回（本例はＮ＝１０回）実行し、過汚損を検出した回数が規定値（ＥＲＲ＝５回）を超えた場合に、そのサンプルを過汚損ありと判定する。この場合、劣化の影響を受けない波長帯域（λ２：７５０ｎｍ）の反射率が過汚損と判定可能な値（１８０％以下）となる結果が複数回発生する場合に限り、そのサンプルを過汚損品と判定する。よって、検出対象である電線２が過汚損品であるか否かの判定結果を精度よく得ることができる。
【００５４】
劣化診断部１２は、検査対象とした電線２のサンプルに対して過汚損がないと判定できた場合に、そのサンプルについての劣化度の判定を実行する。よって、過汚損が検出されなかったサンプルのみ劣化度の判定を実施するので、劣化度の判定を無駄に実施せずに済む。
【００５５】
なお、本実施形態は、以下のように変更して実施することができる。本実施形態及び以下の変更例は、技術的に矛盾しない範囲で互いに組み合わせて実施することができる。
・過汚損診断で診断対象とする光の波長は、７５０ｎｍに限定されず、検査対象とする電線２に応じて、他の波長に変更してもよい。
【００５６】
・過汚損診断は、例えば複数の波長の反射率を用いて診断されてもよい。
・過汚損診断の診断対象の波長は、７５０ｎｍに限定されず、例えば新品の値を基に割合で規定されてもよい。
【００５７】
・過汚損診断は、７５０ｎｍの１点の値で実施されることに限定されない。例えば、前後の波長数点の平均値や加重平均としてもよい。
・過汚損診断は、劣化診断の処理のように、例えば反射率スペクトラムの全体の傾き（近似曲線（近似式））を基に判定する処理としてもよい。
【００５８】
・過汚損診断及び劣化診断は、１つの処理工程で連続して実施されることに限定されず、これらを異なる工程で実施するようにしてもよい。
・反射率比Ｒ１は、反射率の平均値から求めた値に限定されない。例えば波長帯域内の反射率の最大値や最小値から求めた値でもよい。また、波長帯域内の所定番目の波長の反射率を用いて求めた値でもよい。さらに、異常な反射率を除いて値から反射率比Ｒ１を算出してもよい。
【００５９】
・光源６は、白色光源に限定されない。例えば、第１波長帯域λ１が５４０〜５８０ｎｍの帯域に設定され、第２波長帯域λ２が７４０〜７８０ｎｍに設定される場合には、光源６は、これら波長帯域の光を照射できるものであればよい。
【００６０】
・光源６の光は、白色光以外でもよい。
・電線２の被覆部３は、ビニル系絶縁材料以外の材料を用いてもよい。このとき、被覆部３の材料に添加される着色剤は、アゾ系顔料以外でもよい。このように、被覆部３の絶縁材質や電線色が変更される場合には、その変更に合わせて第１波長帯域λ１及び第２波長帯域λ２が変更され、劣化予測式も変更される。
【００６１】
・判定データＤｂは、近似曲線Ｃ（劣化予測式）に限定されない。例えば、破断伸度及び反射率比Ｒ１の実測値データをそのままメモリ９に格納し、これらデータ群を用いて、劣化診断を実施してもよい。
【００６２】
・劣化及び過汚損のサンプルは、熱劣化電線に限定されず、その作成手法を変更して生成した電線でもよい。
・劣化を表すパラメータは、破断伸度に限定されず、例えば破断強度（引張強さ）、被覆部３の含水量、被覆部３の絶縁抵抗など、他のパラメータに変更してもよい。
【００６３】
・電線２の用途は、受変電設備の制御盤に配策される制御配線以外でもよい。
【符号の説明】
【００６４】
１…電線被覆劣化検出装置、２…電線、３…被覆部、６…光源、７…分光器、１２…劣化診断部、λ１…第１波長帯域、λ２…第２波長帯域。
【図１】
2019215230.tif 000003
【図２】
2019215230.tif 000004
【図３】
2019215230.tif 000005
【図４】
2019215230.tif 000006
【図５】
2019215230.tif 000007
【図６】
2019215230.tif 000008
【図７】
2019215230.tif 000009
【図８】
2019215230.tif 000010