(57)【要約】      （修正有）【課題】薄板状の試験片に損傷を与えることなく、試験片を確実に固定することが可能なつかみ具を提供する。【解決手段】つかみ具５０に試験片ＴＰを装着するときには、試験片ＴＰの端部付近の領域をピン５４に巻装する。そして、その端部付近の領域がピン５４に巻装された試験片ＴＰにおける端部側の領域と中央部側の領域とを重ね合わせた状態とする。そして、重ね合わせた状態とされた試験片ＴＰにおける端部側の領域と中央部側の領域とを、支持部材５１と挟持部材５２とにより挟持した後、支持部材５１と挟持部材５２とを一対のネジ５３により固定する。これにより、試験片ＴＰにおける重ね合わされた領域が支持部材５１と挟持部材５２とにより挟持される。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
引張試験機において、薄板状の試験片の端部を固定するためのつかみ具であって、
前記試験片を、当該試験片の端部付近の位置において巻装するピンと、
前記ピンに巻装された前記試験片における端部側の領域と中央部側の領域とを重ね合わせた状態で挟持する挟持部材と、
を備えたことを特徴とするつかみ具。
【請求項２】
請求項１に記載のつかみ具において、
前記ピンにおける前記試験片との当接領域は、曲面状であるつかみ具。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載のつかみ具において、
前記引張試験機は前記試験片を加熱する加熱室を備え、高温下において前記試験片に引張試験を実行するものであり、
前記つかみ具は、前記加熱室内において前記試験片を固定するつかみ具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、引張試験機において、薄板状の試験片の端部を固定するためのつかみ具に関する。
【背景技術】
【０００２】
金属箔や樹脂製フィルム等の薄板状の試験片に対して引張試験を実行するときには、試験片の端部を板状部材で挟持する構成を有するつかみ具が使用されている。
【０００３】
図６は、高温下において引張試験を行うときに、高温炉４０内に設置される従来のつかみ具５９の正面概要図である。また、図７は、従来のつかみ具５９における支持部材５１と挟持部材５２により試験片ＴＰを挟持する様子を示す平面図である。
【０００４】
このつかみ具５９は、薄板状の試験片ＴＰを高温炉４０内において高温とした状態で引張試験を行うときに使用されるものであり、接続ロッド４１に対してネジ４２により連結された支持部材５１と挟持部材５２との間に試験片ＴＰを配置するとともに、支持部材５１と挟持部材５２とを一対のネジ５３により近接させることで、試験片ＴＰを支持部材５１と挟持部材５２とにより挟持する構成を有する。これらの支持部材５１および挟持部材５２は、試験片ＴＰを把持するためのつかみ歯として機能する。
【０００５】
なお、特許文献１には、銅箔などの薄型試料の端部の両面に台紙を当接させて厚みを確保し、その厚み部分をクリップで挟む構成を採用した引張試験機が開示されている。このクリップとしては、書類等を挟むための文具として使用されているものが用いられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１４−１６３７５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
図６および図７に示すつかみ具５９においては、支持部材５１および挟持部材５２の摩擦力により試験力を試験片ＴＰに伝達する構造であることから、試験時における試験片ＴＰの滑りを防止するため、試験片ＴＰを強い把持力で把持する必要がある。しかしながら、試験片ＴＰを強い力で把持すると、薄板状の試験片ＴＰが圧縮変形し、引張力を付与したときに把持領域の端部で切断されることがある。また、高温下で引張試験を実行するときには、熱膨張による一対のネジ５３の伸びによる弛みが発生することから、締め付け力を適正に管理することが困難となる。
【０００８】
このような事情は、特許文献１に記載された構成を採用したときにも同様に生ずる現象である。また、特許文献１に記載の構成を高温下で使用することは不可能である。
【０００９】
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、薄板状の試験片に損傷を与えることなく、試験片を確実に固定することが可能なつかみ具を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
請求項１に記載の発明は、引張試験機において、薄板状の試験片の端部を固定するためのつかみ具であって、前記試験片を、当該試験片の端部付近の位置において巻装するピンと、前記ピンに巻装された前記試験片における端部側の領域と中央部側の領域とを重ね合わせた状態で挟持する挟持部材と、を備えたことを特徴とする。
【００１１】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載のつかみ具において、前記ピンにおける前記試験片との当接領域は、曲面状である。
【００１２】
請求項３に記載の発明は、請求項１または請求項２に記載のつかみ具において、前記引張試験機は前記試験片を加熱する加熱室を備え、高温下において前記試験片に引張試験を実行するものであり、前記つかみ具は、前記加熱室内において前記試験片を固定する。
【発明の効果】
【００１３】
請求項１に記載の発明によれば、ピンに巻装された試験片における端部側の領域と中央部側の領域とを重ね合わせた状態で挟持することから、薄板状の試験片に損傷を与えることなく、試験片を確実に固定することが可能となる。
【００１４】
請求項２に記載の発明によれば、ピンにより試験片が損傷することを防止することが可能となる。
【００１５】
請求項３に記載の発明によれば、高温下においても試験片を確実に固定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】この発明に係るつかみ具５０を備えた高温引張試験機の概要図である。
【図２】つかみ具５０の正面概要図である。
【図３】つかみ具５０の側面概要図である。
【図４】試験片ＴＰがピン５４に巻装された状態を示す拡大図である。
【図５】試験片ＴＰがピン５４に巻装された状態を示す拡大図である。
【図６】高温炉４０内に設置される従来のつかみ具５９の正面概要図である。
【図７】従来のつかみ具５９における支持部材５１と挟持部材５２により試験片ＴＰを挟持する様子を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、この発明に係るつかみ具５０を備えた高温引張試験機の概要図である。
【００１８】
この高温引張試験機は、テーブル１８と、床面に立設された一対のカバー１９内に配設された一対のねじ棹に両端を螺合するクロスヘッド２３と、ねじ棹の下端に接続され一対のねじ棹を同期して回転させる駆動機構３０と、試験片ＴＰおよびつかみ具５０を内部に配置する高温炉４０と、を備える。
【００１９】
クロスヘッド２３は、一対のねじ棹の回転に応じて、ねじ棹に沿って昇降する。このクロスヘッド２３には、ロードセル２４、上治具２１および接続ロッド４１を介して後述するつかみ具５０が連結される。また、テーブル１８には、下治具２２および接続ロッド４１を介してつかみ具５０が連結される。高温炉４０は、テーブル１８に立設された支持部材（図示せず）に支持された管状形状を有し、半割れ式に開閉可能となっている。高温炉４０を開くことにより、試験片ＴＰの出し入れが可能となっている。
【００２０】
図２は、高温炉４０内に設置されるつかみ具５０の正面概要図である。また、図３は、つかみ具５０の側面概要図である。なお、このつかみ具５０は、試験片ＴＰの上端部を固定する上つかみ具として機能するものであるが、試験片ＴＰの下端部を固定する下つかみ具も、これと同様の構成を有する。
【００２１】
このつかみ具５０は、薄板状の試験片ＴＰを高温炉４０内において高温とした状態で引張試験を行うときに使用されるものであり、接続ロッド４１に対してネジ４２により連結された支持部材５１と、この支持部材５１に対してネジ５５により固定されたピン５４と、支持部材５１に対して一対のネジ５３により固定される挟持部材５２とを備える。支持部材５１の下部および挟持部材５２は、試験片ＴＰを把持するためのつかみ歯として機能する。
【００２２】
なお、薄板状の試験片ＴＰは、例えば、アルミ箔等の金属箔である。また、薄板状の試験片ＴＰとして、樹脂製のフィルムが使用される場合もある。この明細書における薄板状の試験片ＴＰとは、ピン５４に対して巻装可能な柔軟性を有する厚さの薄い形状からなる試験片を意味する。
【００２３】
このつかみ具５０に試験片ＴＰを装着するときには、試験片ＴＰの端部付近の領域をピン５４に巻装する。ここで、巻装するとは、試験片ＴＰの端部付近の領域をピン５４に巻き付けるように引っ掛けることをいう。そして、その端部付近の領域がピン５４に巻装された試験片ＴＰにおける端部側の領域と中央部側の領域とを重ね合わせた状態とする。しかる後、重ね合わせた状態とされた試験片ＴＰにおける端部側の領域と中央部側の領域とを、支持部材５１と挟持部材５２とにより挟持した後、支持部材５１と挟持部材５２とを一対のネジ５３により固定する。これにより、試験片ＴＰにおける重ね合わされた領域が支持部材５１と挟持部材５２とにより挟持される。
【００２４】
図４および図５は、試験片ＴＰがピン５４に巻装された状態を示す拡大図である。
【００２５】
図４に示すように、ピン５４は、その断面が円形の形状を有する。このため、試験片ＴＰとピン５４との接触領域は、曲面状となっている。これにより、ピン５４により試験片ＴＰが損傷することを防止することが可能となる。
【００２６】
なお、ピン５４の断面形状は、図４に示すような円形でなくてもよい。例えば、図５に示すように、試験片ＴＰとの接触領域以外の領域において面取りを行ったような平面の形状でもよい。また、ピン５４の断面形状を楕円形等としてもよい。
【００２７】
このような構成を有するつかみ具５０においては、試験片ＴＰがピン５４に巻装されていることから、試験片ＴＰとピン５４との間の摩擦力により、支持部材５１と挟持部材５２とによる挟持力を小さいものとしても、試験片ＴＰを確実に固定することが可能となる。また、支持部材５１と挟持部材５２とによる挟持領域には、２枚の試験片ＴＰが存在することから、試験片ＴＰを両側から挟持する場合と比較して、試験片ＴＰに与える影響は小さなものとなる。このため、薄板状の試験片ＴＰに損傷を与えることなく、試験片ＴＰを確実に固定することが可能となる。また、高温下においても、試験片ＴＰの固定力が小さくなることはなく、試験片ＴＰを確実に固定することが可能となる。
【符号の説明】
【００２８】
１８    テーブル
１９    カバー
２１    上治具
２２    下治具
２３    クロスヘッド
２４    ロードセル
３０    駆動機構
４０    高温炉
４１    接続ロッド
４２    ネジ
５０    つかみ具
５１    支持部材
５２    挟持部材
５３    ネジ
５４    ピン
５５    ネジ
ＴＰ    試験片
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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