(57)【要約】      （修正有）【課題】液体中の粒子を測定するまでの時間を短縮化できる分析装置を提供する。【解決手段】分析装置１は、基板２上に供給される第１の液体中の粒子８を基板２側に引き寄せるための電磁気学的力を発生する発生装置３と、基板２上の画像を測定する測定装置４とを含む。分析装置１は、更に、発生装置３を制御する制御装置と、基板２上に液体を供給するための第１の供給流路１１、及び、基板２上の液体を回収するための第１の回収流路１２を含む液路構造体６とを含む。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に供給される第１の液体中の粒子を前記基板側に引き寄せるための電磁気学的力を発生する発生装置と、
前記基板上の画像を測定する測定装置と、
前記発生装置を制御する制御装置と、
前記基板上に液体を供給するための第１の供給流路、及び、前記基板上の液体を回収するための第１の回収流路を含む液路構造体と
を具備する分析装置。
【請求項２】
前記制御装置は、前記基板上に前記第１の液体が供給されると、前記電磁気学的力が発生するように、発生装置を制御する請求項１に記載の分析装置。
【請求項３】
前記制御装置は、前記測定装置により測定された前記基板上の前記画像に基づいて、前記粒子が前記基板側に引き寄せられていると判断した場合、前記電磁気学的力が発生し続けるように、前記発生装置を制御する請求項２に記載の分析装置。
【請求項４】
前記電磁気学的力が発生している状態で、前記第１の供給流路から前記基板上に第２の液体が供給され、前記第１の回収流路から前記基板上の前記第１の液体及び前記第２の液体が回収される請求項３に記載の分析装置。
【請求項５】
前記電磁気学的力が消滅した後、前記第１の供給流路から前記基板上に第３の液体が供給され、前記第１の回収流路から前記第３の液体及び前記粒子が回収される請求項４に記載の分析装置。
【請求項６】
前記液路構造体は、前記基板上の液体を回収するための第２の回収流路を更に含む請求項５に記載の分析装置。
【請求項７】
前記液路構造体は前記基板に達する開口部を更に含み、前記第１の液体は前記開口部を介して前記基板に供給される請求項１乃至６のいずれかに記載の分析装置。
【請求項８】
前記液路構造体は、前記基板上に前記第１の液体を供給するための第２の供給流路を更に含む請求項６に記載の分析装置。
【請求項９】
前記液路構造体は前記基板と共に空洞領域を形成する請求項８に記載の分析装置。
【請求項１０】
前記電磁気学的力は電気泳動力であり、
前記発生装置は、第１の電極と、当該第１の電極に対向する第２の電極と、前記第１の電極と前記第２の電極との間に直流電圧を印加するための電源とを含む請求項１に記載の分析装置。
【請求項１１】
前記電磁気学的力は誘電泳動力であり、
前記発生装置は、第１の電極と、当該第１の電極から離間して配置された第２の電極と、前記第１の電極と前記第２の電極との間に交流電圧を印加するための電源とを含む請求項１に記載の分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、液体中の粒子を分析するための分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
検体液中の粒子を分析するための分析装置として、イメージセンサを備えたものがある。上記粒子には、例えば、標識物質で標識された細胞と標識されない別の種類の細胞である。検体液はイメージセンサのセンサ面上に供給される。検体液中に所望の粒子が含まれているか、さらにその数の定量を迅速行うことが必要となっているが、粒子がセンサ面に自然に到達するまでの時間（沈降時間）は長く、イメージセンサで粒子を測定できるまでには時間を要する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−２３２７９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の目的は、液体中の粒子を測定できるまでに要する時間を短縮化できる分析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
実施形態の分析装置は、基板上に供給される第１の液体中の粒子を前記基板側に引き寄せるための磁気学的力を発生する発生装置と、前記基板上の画像を測定する測定装置とを含む。実施形態の分析装置は、更に、前記発生装置を制御する制御装置と、前記基板上に液体を供給するための第１の供給流路、及び、前記基板上の液体を回収するための第１の回収流路を含む液路構造体とを含む。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】第１の実施形態に係る微粒子分析装置の概略構成を示す平面図である。
【図２】図２は図１の矢視２−２断面図である。
【図３】図３は磁力発生装置の一例を説明するための図である。
【図４】図４は第１の実施形態に係る微粒子分析装置の動作を説明するための断面図である。
【図５】図５は第１の実施形態に係る微粒子分析装置の動作を説明するための断面図である。
【図６】図６は第１の実施形態に係る微粒子分析装置の動作を説明するための断面図である。
【図７】図７は第１の実施形態に係る微粒子分析装置の動作を説明するための断面図である。
【図８】図８は第２の実施形態に係る微粒子分析装置の概略構成を示す平面図である。
【図９】図９は第３の実施形態に係る微粒子分析装置の概略構成を示す平面図である。
【図１０】図１０は図９の矢視１０−１０断面図である。
【図１１】図１１は第２の実施形態に係る微粒子分析装置の空洞領域内に供給される検体液の量を判断する方法を説明するための断面図である。
【図１２】図１２は第４の実施形態に係る微粒子分析装置の概略構成を示す断面図である。
【図１３】図１３は検体液中の荷電性を有する微粒子が電気泳動力により電極に引き寄せられる様子を示す図である。
【図１４】図１４は第５の実施形態に係る微粒子分析装置の概略構成を示す断面図である。
【図１５】図１５は検体液中の微粒子が誘電泳動力により第１の電極に引き寄せられる様子を示す図である。
【図１６】図１６は第５の実施形態に係る微粒子分析装置の変形例の概略構成を示す断面図である。
【図１７】図１７は検体液中の微粒子が誘電泳動力により第１の電極に引き寄せられる様子を示す図である。
【図１８】図１８は実施形態の流路構造体の変形例を説明するための断面図である。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、図面を参照しながら実施形態を説明する。図面は、模式的又は概念的なものであり、必ずしも現実のものと同一であるとは限らない。また、図面において、同一符号は同一又は相当部分を付してあり、重複した説明は必要に応じて行う。
【０００８】
（第１の実施形態）
図１は第１の実施形態に係る微粒子分析装置１の概略構成を示す平面図である。図２は図１の矢視２−２断面図である。
【０００９】
微粒子分析装置１は基板２を含んでいる。基板２上には磁性ビーズで標識された細胞等の微粒子（以下、ターゲット粒子という）を含む検体液（液体）が供給される。
【００１０】
微粒子分析装置１は、更に、基板２上の検体液中のターゲット粒子を基板２側に引き寄せるための磁力を発生する磁力発生装置３を備えている。磁力発生装置３は、例えば、図３に示すように、基板２を囲むように配置されたコイル３ａと、コイル３ａに電流を流すための電源３ｂとを含む電磁石である。
【００１１】
微粒子分析装置１は、更に、基板２上の検体液が供給された領域の画像を測定する測定装置４を含んでいる。本実施形態では、測定装置４はイメージセンサを含んでいる。イメージセンサ、例えば、ＣＭＯＳ（complementary metal-oxide semiconductor）イメージセンサやＣＣＤ（charge coupled device）イメージセンサなどのアレイセンサである。ＣＭＯＳイメージセンサは、各画素毎に光電変換素子としてのフォトダイオードと、当該フォトダイオードを選択し、駆動する複数のＭＯＳトランジスタとを含んでいる。本実施形態では、測定装置４はそのセンサ面（複数の画素）が検体液に直接的にコンタクトするレンズレスイメージセンサである。より明確に言えば、直接的にコンタクトするとは、当該フォトダイオードと検体液の間に、分析対象物像を拡大するための対物レンズを含まないことである。当該フォトダイオードと検体液の距離は１ｍｍ未満であるか、１０μｍ未満であるか、１μｍ未満である。ターゲット粒子は磁力によってセンサ面上（基板２側）に引き寄せられて保持される。
【００１２】
微粒子分析装置１は、更に、磁力発生装置３を制御する制御装置５を備えている。制御装置５は、磁力が発生するように、又は発生した磁力が消滅するように、磁力発生装置３を制御する。磁力発生装置３が図３に示した電磁石の場合、制御装置５は電源３ｂのオン／オフを制御する。電源３ｂがオンになるとコイル３ａにより磁力が発生し、電源３ｂがオフになるとコイル３ａにより発生した磁力は消滅する。
【００１３】
微粒子分析装置１は、更に、基板２上に設けられた流路構造体６（６ａ，６ｂ）を備えている。流路構造体６は、基板２上に液体を供給するための第１の供給流路１１と、基板２上の液体を回収するための第１の回収流路１２とを含んでいる。流路構造体６は第１の部材６ａ及び第２の部材６ｂから構成されており、第２の部材６ｂは第１の部材６ａの外側に設けられている。第１の部材６ａ及び第２の部材６ｂの材料は、例えば、ポリジメチルシロキサン（ＰＤＭＳ）等の樹脂である。
【００１４】
第１の供給流路１１は基板２の表面に垂直な部分及び当該表面に平行な部分からなる。第１の供給流路１１の基板２の表面に垂直な部分は第２の部材６ｂで形成され、第１の供給流路１１の基板２の表面に平行な部分は主として第１の部材６ａで形成されている。第１の回収流路１２も同様である。第１の部材６ａは開口部７を有し、開口部７を介して基板２上に検体液は供給される。開口部７は検体液の液溜め部として機能する。
【００１５】
次に図４乃至図７を参照しながら、微粒子分析装置１の動作（ターゲット粒子の分析方法）について説明する。
【００１６】
まず、図４に示すように、開口部７を介して基板２上に検体液（第１の液体）２０を供給する。以下の説明では、検体液２０はターゲット粒子８及び夾雑物９を含んでいるものとする。検体液２０の供給は手動で行っても構わないし、又は微粒子分析装置１と同期して作動するスポッタ等の装置を用いて自動で行っても構わない。
【００１７】
次に、制御装置５は、磁力が発生するように磁力発生装置３を制御する。ターゲット粒子８は磁性ビーズにより標識されているので、図５に示すようにターゲット粒子８は磁力によってセンサ面に引き寄せられる。一方、夾雑物９は磁性ビーズにより標識されていないので、センサ面に引き寄せられない。その結果、センサ面上にはターゲット粒子８が選択的に保持される。上述したようにターゲット粒子８は磁力によってセンサ面に引き寄せられるので、検体液２０中のターゲット粒子８がセンサ面上に到達するまでの時間（沈降時間）は短縮化される。その結果、基板２上に供給された検体液２０中のターゲット粒子を測定できるまでに要する時間は短縮化される。
【００１８】
次に、測定装置４は基板上の画像を測定する。本実施形態では、測定装置４は基板上のセンサ面の画像を測定する。その際、より効果的には環境光ではなく図示しない光源から検体液２０中に明視野像を得るための照明光を照射しても良い。本出願においては、光源を含まない装置も微粒子分析装置１であるとする。
【００１９】
次に、制御装置５は、測定装置４により測定された上記画像に基づいて、センサ面上に検体液中２０中のターゲット粒子８が保持されているか否かを判断する。本実施形態では、制御装置５は、ターゲット粒子８が測定されていたら、ターゲット粒子８は保持されている判断する。センサ面上にターゲット粒子８が保持されたと判断された場合、制御装置５は磁力が発生し続けるように磁力発生装置３を制御する。
【００２０】
その後、図６に示すような洗浄が行われる。すなわち、センサ面上にターゲット粒子８が保持された状態で、第１の供給流路１１から基板２上に第１の洗浄液（第２の液体）２１が供給され、第１の回収流路１２から基板２上の夾雑物９、検体液２０及び第１の洗浄液２１が回収される。第１の洗浄液２１はターゲット粒子８ａに応じて適宜選ばれる。例えば、第１の洗浄液２１としては、純水、生理食塩水、リン酸緩衝液、血清、有機溶媒、及びこれらに界面活性剤を添加したものが考えられるが、これらには限らない。このような洗浄は、例えば、第１の供給流路１１及び第１の回収流路１２の少なくとも一方に水圧調整ポンプ等を接続することにより可能である。上記機器は、例えば、制御装置５により制御する。なお、本出願においては、水圧調整ポンプ等の液体の供給及び回収を行うための機器を含まない装置も微粒子分析装置１であるとする。
【００２１】
洗浄の終了後、共雑物９がない状況で、ターゲット粒子の数などを測定し分析する。
【００２２】
なお、ターゲット粒子８が磁性ビーズに加えて蛍光ビーズ又は蛍光染色によって標識されている場合、検体液２０に所定の波長を有する光を照射すると、ターゲット粒子８は所定の波長を有する蛍光を発し、この蛍光による像を照射光を通さないフィルタをさらに具備した測定装置４によって測定する。蛍光を測定することによりターゲット粒子の種類の特定が容易になる。また、ターゲット粒子のサブカテゴリがある場合、それらを蛍光によって判別することもできる。上記所定の波長を有する光は図示しない光源から検体液２０中に照射される。本出願においては、光源を含まない装置も微粒子分析装置１であるとする。
【００２３】
その後、制御装置５は発生している磁力が消滅するように磁力発生装置３を制御する。
【００２４】
次に、図７に示すように、第１の供給流路１１から基板２上にターゲット粒子８を回収するための第２の洗浄液（第３の液体）２２が供給され、そして、第１の回収流路１２からターゲット粒子８及び第２の洗浄液２２（ターゲット粒子８を含む第２の洗浄液２２）が回収される。第２の洗浄液２２は第１の洗浄液２１と同様にターゲット粒子８ａに応じて適宜選ばれる。
【００２５】
また、検体液を供給する最初のステップに戻って、同様の過程を繰り返しても良い。これにより、多量の検体液に含まれる微量なターゲット粒子を分析することができる。
【００２６】
（第２の実施形態）
図８は第２の実施形態に係る微粒子分析装置１の概略構成示す平面図である。
【００２７】
本実施形態の微粒子分析装置１が第１の実施形態の微粒子分析装置１と異なる点は、液路構造体６が第２の回収流路１３を更に含んでいることにある。
【００２８】
本実施形態では、例えば、磁力によりセンサ面上にターゲット粒子が保持された状態で、第１の供給流路１１から基板２上に第１の洗浄液が供給され、そして、第１の回収流路１２から夾雑物、検体液及び第１の洗浄液が回収される。
【００２９】
その後、磁場が消滅した状態で、第１の供給流路１１から基板２上に第２の洗浄液が供給され、第２の回収流路１３からターゲット粒子を含む第２の洗浄液が回収される。これにより、ターゲット粒子を含む第２の洗浄液中に夾雑物が混入することの防止が可能となり、その後、回収した洗浄液２２のターゲット粒子８に対して、例えばゲノム解析やタンパク質解析などの別のさらなる解析を行うことが可能となる。
【００３０】
（第３の実施形態）
図９は第３の実施形態に係る微粒子分析装置１の概略構成を示す平面図である。図１０は図９の矢視１０−１０断面図である。
【００３１】
本実施形態の微粒子分析装置１が第２の実施形態の微粒子分析装置１と異なる第１の点は、流路構造体６が基板２と共に空洞領域１０（図１０）を形成していることにある。空洞領域１０内には検体液が供給される。
【００３２】
本実施形態の微粒子分析装置１が第２の実施形態の微粒子分析装置１と異なる第２の点は、液路構造体６が第２の供給流路１４（図９）を更に含んでいることにある。第２の供給流路１４は第２の実施形態の開口部７に対応し、第２の供給流路１４からセンサ面上に検体液は供給される。第１の供給流路１１、第１の回収流路１２、第２の回収流路１３及び第２の供給流路１４は空洞領域１０に繋がっている。空洞領域１０は液溜め部として機能する。
【００３３】
本実施形態の第１の供給流路１１、第１の回収流路１２及び第２の回収流路１３は、それぞれ、第２の実施形態の第１の供給流路１１、第１の回収流路１２及び第２の回収流路１３に対応する。したがって、第２の実施形態と同様にターゲット粒子を回収でき、第２の実施形態と同様の効果が得られる。
【００３４】
また、本実施形態の場合、例えば、図１１に示すように、第２の供給流路１４内の検体液の高さＨに基づいて空洞領域１０内に供給される検体液２０の量を判断できる。これにより、空洞領域１０内に一定の量の検体液２０を供給でき、その結果として検査項目によっては定量性の精度は高くなる。また、転倒時の液の飛散防止なども図られる。
【００３５】
（第４の実施形態）
図１２は第４の実施形態に係る微粒子分析装置１の概略構成を示す断面図である。
【００３６】
本実施形態の微粒子分析装置１が第１乃至３の実施形態の微粒子分析装置１と異なる点は、磁力発生装置３の代わりに、電気泳動力発生装置を用いていることにある。電気泳動力発生装置は、空洞領域１０内のセンサ面上に設けられた第１の電極３１と、空洞領域１０の上面に設けられ、第１の電極３１と対向する第２の電極３２と、第１の電極３１と第２の電極３２との間に直流電圧を印加するための直流電圧源３３とを含む。第１の電極３１及び第２の電極３２は、例えば、ＩＴＯ（indium tin oxide）や導電性ガラスなどの導電性の透明材料からなる。
【００３７】
図１３は、検体液２０中の正に帯電したターゲット粒子８aが電気泳動力により第１の電極３１上（基板２側）に引き寄せられる様子を示す図である。基板２上に検体液２０が供給された状態で、直流電圧源３３により第１の電極３１と第２の電極３２との間に直流電圧を印加すると、検体液２０内にはセンサ面に垂直な向きを有する静電場４０が発生し、ターゲット粒子８aは電気泳動力によってブロック矢印に示すように第１の電極３１に引き寄せられる。一方、非荷電性の夾雑物９aは第１の電極３１に引き寄せられない。その結果、センサ面上にはターゲット粒子８aが選択的に保持される。また、ターゲット粒子８aは電気泳動力によってセンサ面に引き寄せられるので、基板２上に供給された検体液２０中のターゲット粒子８ａを測定できるまでに要する時間は短縮化される。
【００３８】
なお、図１２は正に帯電しているターゲット粒子８aを回収する例を示しているが、負に帯電しているターゲット粒子８aを回収する場合には、第１の電極３１及び第２の電極３２をそれぞれ直流電圧源３３のプラス極及びマイナス極に接続する
（第５の実施形態）
図１４は第５の実施形態に係る微粒子分析装置１の概略構成を示す断面図である。
【００３９】
本実施形態の微粒子分析装置１が第１乃至３の実施形態の微粒子分析装置１と異なる点は、磁力発生装置３の代わりに、誘電泳動力発生装置を用いていることにある。誘電泳動力発生装置は、空洞領域１０内の上面上に設けられた第１の電極５１と、空洞領域１０の上面に設けられ、第１の電極５１から離間して配置された第２の電極５２と、第１の電極５１と第２の電極５２との間に交流電圧を印加するための交流電圧源５３とを含む。第１の電極５１及び第２の電極５２は、例えば、ＩＴＯや導電性ガラスなどの導電性の透明材料からなる。
【００４０】
図１５は、検体液２０中の微粒子（ターゲット粒子）８ｃが誘電泳動力により第１の電極５１上（基板２側）に引き寄せられる様子を示す図である。基板２上に検体液２０が供給された状態で、交流電圧源５３により第１の電極３１と第２の電極３２との間に交流電圧を印加すると、検体液２０内にはセンサ面に対して垂直な方向に不均一な交流電場４０ａが発生し、ターゲット粒子８ｃはその複素誘電率及び大きさに対応する誘電泳動力によってブロック矢印に示すようにセンサ面に引き寄せられる。一方、ターゲット粒子とは複素誘電率が異なる夾雑物９ｃはセンサ面に引き寄せられない。その結果、センサ面上にはターゲット粒子８ｃが選択的に保持される。また、ターゲット粒子８ｃは誘電泳動力によってセンサ面に引き寄せられるので、基板２上に供給された検体液２０中のターゲット粒子８ｃを測定できるまでに要する時間は短縮化される。
【００４１】
図１６は本実施形態に係る微粒子分析装置１の変形例の概略構成を示す断面図である。この変形例では、第１の電極５１はセンサ面上に配置されている。第１の電極５１はセンサ面を覆う。図１７は図１５に対応する図であり、検体液２０中のターゲット粒子８ｃが誘電泳動力により第１の電極５１に引き寄せされる様子を示す図である。図１７は、電界密度が疎な方向にターゲット粒子８ｃが引き寄せられる負の誘電泳動を示しているが、第１の電極５１と第２の電極５２との上下関係を逆にすれば、負の誘電泳動によりターゲット粒子８ｃを引き寄せることも可能である。
【００４２】
なお、ターゲット粒子は細胞等の生体由来の微粒子には限定されず、例えば、ＰＭ１０やＰＭ２．５等の浮遊微粒子でも構わない。この場合、検体液の代わりに、例えば、浮遊微粒子が溶解している溶媒が用いられる。
【００４３】
また、上述した実施形態では、供給流路及び回収流路は基板２に垂直な部分及び基板２に平行な部分を含む流路構造体を用いたが、図１８に示すように、基板２に垂直な部分を含まない流路構造体６を用いても構わない。
【００４４】
また、上述した実施形態では、ターゲット粒子の種類は一つであったがターゲット粒子の種類は二つ以上でも構わない。この場合、供給流路及び回収流路の数はターゲット粒子の種類の数に応じて適宜変更する。例えば、供給流路の数はターゲット粒子の種類の数と同じであり、回収流路の数はターゲット粒子の種類の数と同じである。
【００４５】
また、磁力、電気泳動力、誘電泳動力以外の電磁気学的力、例えば、電気浸透流に基づく力を用いてターゲット粒子を基板側に引き寄せて保持しても構わない。また、使用する電磁気学的力に応じてターゲット粒子を標識する標識物質は適宜使用可能である。例えば、使用する電磁気学的力に応じて作用する、磁性ビーズ、荷電性ビーズ、所定の複素誘電率及び所定の大きさを有するビーズの少なくとも一つを含む標識物質が使用可能である。また、標識原理としては、抗原抗体やアプタマーなどが使用可能である。
【００４６】
また、上述した実施形態では、基板２と構造体６とはそれぞれ別の部材であるが、基板２と構造体６とが一体化された部材を用いても構わない。
【００４７】
以上述べた実施形態の上位概念、中位概念および下位概念の一部または全ては、例えば以下のような付記１−２０で表現できる。
［付記１］
基板上に供給される第１の液体中の粒子を前記基板側に引き寄せるための電磁気学的力を発生する発生装置と、
前記基板上の画像を測定する測定装置と、
前記発生装置を制御する制御装置と、
前記基板上に液体を供給するための第１の供給流路、及び、前記基板上の液体を回収するための第１の回収流路を含む液路構造体と
を具備する分析装置。
［付記２］
前記制御装置は、前記基板上に前記第１の液体が供給されると、前記電磁気学的力が発生するように、発生装置を制御する付記１に記載の分析装置。
［付記３］
前記制御装置は、前記測定装置により測定された前記基板上の前記画像に基づいて、前記粒子が前記基板側に引き寄せられていると判断した場合、前記電磁気学的力が発生し続けるように、前記発生装置を制御する付記２に記載の分析装置。
［付記４］
前記電磁気学的力が発生している状態で、前記第１の供給流路から前記基板上に第２の液体が供給され、前記第１の回収流路から前記基板上の前記第１の液体及び前記第２の液体が回収される付記３に記載の分析装置。
［付記５］
前記制御装置は、前記第１の液体及び前記第２の液体が回収された後、前記電磁気学的力が消滅するように、前記発生装置を制御する付記４に記載の分析装置。
［付記６］
前記電磁気学的力が消滅した後、前記第１の供給流路から前記基板上に第３の液体が供給され、前記第１の回収流路から前記第３の液体及び前記粒子が回収される付記５に記載の分析装置。
［付記７］
前記液路構造体は、前記基板上の液体を回収するための第２の回収流路を更に含む付記６に記載の分析装置。
［付記８］
前記電磁気学的力が消滅した後、前記第１の供給流路から前記基板上に第３の液体が供給され、前記第２の回収流路から前記第３の液体及び前記粒子が回収される付記７に記載の分析装置。
［付記９］
前記液路構造体は前記基板に達する開口部を更に含み、前記第１の液体は前記開口部を介して前記基板に供給される付記１乃至８のいずれかに記載の分析装置。
［付記１０］
前記液路構造体は、前記基板上に前記第１の液体を供給するための第２の供給流路を更に含む付記７又は８に記載の分析装置。
［付記１１］
前記液路構造体は前記基板と共に空洞領域を形成する付記１０に記載の分析装置。
［付記１２］
前記第１の供給流路、前記第１の回収流路、前記第２の回収流路及び前記第２の供給流路は前記空洞領域に繋がっている付記１１に記載の分析装置。
［付記１３］
前記流路の各々は、前記基板の表面に垂直な第１の部分と、前記表面に平行な第２の部分とを含む付記１乃至１２のいずれかに記載の分析装置。
［付記１４］
前記電磁気学的力は、磁力、電気泳動力又は誘電泳動力を含む付記１乃至１３のいずれかに記載の分析装置。
［付記１５］
前記電磁気学的力は磁力であり、
前記発生装置は、前記基板を囲むコイルと、前記コイルに電流を流すための電源とを含む付記１４に記載の分析装置。
［付記１６］
前記電磁気学的力は電気泳動力であり、
前記発生装置は、第１の電極と、当該第１の電極に対向する第２の電極と、前記第１の電極と前記第２の電極との間に直流電圧を印加するための電源とを含む付記１４に記載の分析装置。
［付記１７］
前記電磁気学的力は誘電泳動力であり、
前記発生装置は、第１の電極と、当該第１の電極から離間して配置された第２の電極と、前記第１の電極と前記第２の電極との間に交流電圧を印加するための電源とを含む付記１４に記載の分析装置。
［付記１８］
前記測定装置のセンサ面は、前記基板上に供給された前記第１の液体に直接的にコンタクトする付記１乃至１７のいずれかに記載の分析装置。
［付記１９］
前記粒子は標識物質で標識されているか、又は、荷電性を有する付記１乃至１８のいずれかに記載の分析装置。
［付記２０］
前記標識物質は、磁性ビーズ、荷電性ビーズ、並びに、所定の複素誘電率及び所定の大きさを有するビーズの少なくとも一つを含む付記１９に記載の分析装置。
【００４８】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００４９】
１…微粒子分析装置、２…基板、３…磁力発生装置、３ａ…コイル、３ｂ…電源、４…測定装置、５…制御装置、６…流路構造体、７…開口部、８，８ａ，８ｂ，８ｃ…ターゲット粒子、９，９ａ，９ｂ，９ｃ…夾雑物、１０…空洞領域、１１…第１の供給流路、１２…第１の回収流路、１３…第２の回収流路、１４…第２の供給流路、２０…検体液（第１の液体）、２１…第１の洗浄液（第２の液体）、２２…第２の洗浄液（第３の液体）、３１…第１の電極、３２…第２の電極、３３…直流電圧源、４０…静電場、４０ａ…交流電場、５１…第１の電極、５２…第２の電極、５３…交流電圧源。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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