(57)【要約】【課題】  Ｘ線透視時における治療ビームの影響を減少させ、フラットパネルディテクタにより取得したＸ線画像を利用する特定部位またはマーカの追跡性能の低下を抑制することが可能なＸ線透視装置を提供する。【解決手段】  Ｘ線透視装置は、装置全体を制御する制御部３０と、オペレータにより各種の情報が入力される入力部３１とを備える。制御部３０は、フラットパネルディテクタ２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄにおける複数の画素電極のうちＸ線検出に使用する画素電極を選択する領域選択部３２と、領域選択部３２で選択された画素電極に対応する静電容量からの電荷信号の読み出し時間を変更する読み出し時間変更部３３と、画素電極に対応する静電容量への電荷信号の蓄積を開始する直前に静電容量に蓄積された電荷信号をリセットするリセット部３５とを備える。【選択図】        図４
2019122526.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
治療ビーム照射装置により被検者に治療ビームを照射するときに、Ｘ線管から照射され前記被検者を通過したＸ線をＸ線検出器により検出して、前記被検者の体内に留置されたマーカを含むＸ線画像または前記被検者の特定部位を含むＸ線画像を収集することにより、前記被検者の体動に伴って移動する前記マーカまたは前記特定部位の位置を検出するＸ線透視装置であって、
前記Ｘ線検出器は、画素に対応して行列状に配置され入射Ｘ線量に対応した電荷信号を取得する複数の画素電極と、前記各画素電極に各々接続され電荷信号を蓄積する複数の静電容量と、前記複数の静電容量に蓄積された電荷信号を読み出すデータバスラインと、を備え、
前記Ｘ線検出器における前記複数の画素電極のうちの一部の画素電極をＸ線検出に使用する画素電極として選択する領域選択手段と、
前記領域選択手段で選択された画素電極に対応する静電容量からの電荷信号の読み出し時間を、全ての画素電極をＸ線検出に使用する場合と比べて短い時間に変更する読み出し時間変更手段と、
を備えたことを特徴とするＸ線透視装置。
【請求項２】
請求項１に記載のＸ線透視装置において、
前記静電容量への電荷信号の蓄積時間を変更する蓄積時間変更手段をさらに備えるＸ線透視装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載のＸ線透視装置において、
前記画素電極に対応する静電容量への電荷信号の蓄積を開始する直前に、前記静電容量に蓄積された電荷信号をリセットするリセット手段をさらに備えるＸ線透視装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載のＸ線透視装置において、
前記領域選択手段は、前記被検者の体動に伴って移動する前記マーカまたは前記特定部位の位置の移動範囲に基づいて、Ｘ線検出に使用する画素電極を選択する、Ｘ線透視装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載のＸ線透視装置において、
前記治療ビーム照射装置により被検者に治療ビームを照射する期間中においても、前記静電容量への電荷信号の蓄積、および、前記静電容量からの電荷信号の読み出しを行う、Ｘ線透視装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、Ｘ線管から照射され被検者を通過したＸ線をＸ線検出器により検出して被検者の特定部位または被検者の特定部位付近に留置されたマーカを含む画像を取得し、この被検者の特定部位または被検者の特定部位付近に留置されたマーカを含む画像から特定部位またはマーカの位置を検出するＸ線透視装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
腫瘍などの患部に対してＸ線や陽子線等の治療ビームとしての放射線を照射する放射線治療においては、放射線を患部に正確に照射する必要がある。しかしながら、被検者が体を動かしてしまう場合があるばかりではなく、患部自体に動きが生ずる場合がある。例えば、被検者の肺の近くの腫瘍は呼吸に基づき大きく移動する。このため、腫瘍付近に球形状を有する金製のマーカを留置し、このマーカの位置をＸ線透視装置により検出して、治療放射線の照射を制御する構成を有する放射線治療装置が提案されている（特許文献１参照）。
【０００３】
このような放射線治療装置においては、第１Ｘ線管と第１Ｘ線検出器から成る第１Ｘ線撮影系と、第２Ｘ線管と第２Ｘ線検出器から成る第２Ｘ線撮影系とを使用して体内に留置されたマーカを撮影し、第１Ｘ線撮影系による二次元の透視画像と第２Ｘ線撮影系による二次元の透視画像を利用して三次元の位置情報を得る。このようにして連続してＸ線透視を行い、リアルタイムでマーカの三次元の位置情報を演算することで、移動を伴う部位のマーカを高精度で検出して追跡（トラッキング）する。そして、検出されたマーカの位置情報に基づいて治療放射線の照射を制御することで、腫瘍の動きに応じた高精度の放射線照射を実行することが可能となる。このマーカの位置情報を得るときには、テンプレート画像を利用するテンプレートマッチングや識別器を利用する機械学習等の画像認識が実行される。
【０００４】
また、第１Ｘ線管と第１Ｘ線検出器から成る第１Ｘ線撮影系と、第２Ｘ線管と第２Ｘ線検出器から成る第２Ｘ線撮影系とを移動可能に構成し、複数の角度位置からマーカを撮影してリアルタイムでマーカの三次元の位置情報を演算することにより、移動を伴う部位のマーカを高精度で検出するＸ線透視装置も提案されている（特許文献２参照）。
【０００５】
なお、上述したようにマーカを利用して腫瘍の動きを検出するためには、被検者の体内に、予めマーカを留置する必要がある。一方、近年、被検者の腫瘍の領域などの特定部位をマーカのかわりに使用することで、マーカの留置を省略するマーカレストラッキングと呼称される方法も提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特許第３０５３３８９号公報
【特許文献２】特開２０１４−１２８４１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このようなＸ線透視装置においては、フラットパネルディテクタ等のＸ線検出器によって収集したＸ線画像を用いて特定部位またはマーカの位置を検出する構成であることから、その検出性能はＸ線検出器により検出したＸ線画像の画質に依存する。一方、放射線治療装置より治療ビームが患者に照射された場合、散乱線が発生する。この散乱線がＸ線画像を取得中のＸ線検出器に入射すると、Ｘ線検出器により取得したＸ線画像のコントラストが低下し、あるいは、輝度差が発生する等の現象が生じ、このＸ線画像を利用した特定部位またはマーカの追跡性能が低下する。このような現象は、高線量率の治療ビームを使用する場合に特に顕著となる。
【０００８】
図８は、従来の治療ビームの照射と、Ｘ線の照射と、Ｘ線検出器としてのフラットパネルディテクタ（ＦＰＤ）の動作との関係を示すタイミングチャートである。
【０００９】
図８に示す実施形態においては、説明の便宜上、３０ｍｓｅｃ毎に１枚のＸ線画像を取得する場合を示している。なお、Ｘ線画像は、一般的なフレームレートである３０ＦＰＳ（Ｆｒａｍｅｓ  Ｐｅｒ  Ｓｅｃｏｎｄ）の場合においては、３３ｍｓｅｃ毎に１枚のＸ線画像が取得されることになる。この図８に示す実施形態においては、治療ビームが５ｍｓｅｃ毎に照射され、Ｘ線管からＸ線が３ｍｓｅｃの時間だけ照射され、フラットパネルディテクタは１５ｍｓｅｃ毎に、その静電容量への電荷信号の蓄積と静電容量に蓄積された電荷信号の読み出しを繰り返している。このフラットパネルディテクタの蓄積と読み出しのタイミングは、従来固定されており、Ｘ線透視毎に変更されることはなかった。
【００１０】
このような場合においては、フラットパネルディテクタが１枚のＸ線画像を取得する間に６回の治療ビームの照射がなされることになる。この治療ビームの照射の影響により、フラットパネルディテクタにより取得したＸ線画像のコントラストが低下し、あるいは、輝度差が発生する等の現象が生じ、このＸ線画像を利用した特定部位またはマーカの追跡性能が低下することになる。
【００１１】
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、Ｘ線透視時における治療ビームの影響を減少させ、フラットパネルディテクタにより取得したＸ線画像を利用する特定部位またはマーカの追跡性能の低下を抑制することが可能なＸ線透視装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
第１の発明は、治療ビーム照射装置により被検者に治療ビームを照射するときに、Ｘ線管から照射され前記被検者を通過したＸ線をＸ線検出器により検出して、前記被検者の体内に留置されたマーカを含むＸ線画像または前記被検者の特定部位を含むＸ線画像を収集することにより、前記被検者の体動に伴って移動する前記マーカまたは前記特定部位の位置を検出するＸ線透視装置であって、前記Ｘ線検出器は、画素に対応して行列状に配置され入射Ｘ線量に対応した電荷信号を取得する複数の画素電極と、前記各画素電極に各々接続され電荷信号を蓄積する複数の静電容量と、前記複数の静電容量に蓄積された電荷信号を読み出すデータバスラインと、を備え、前記Ｘ線検出器における前記複数の画素電極のうちの一部の画素電極をＸ線検出に使用する画素電極として選択する領域選択手段と、前記領域選択手段で選択された画素電極に対応する静電容量からの電荷信号の読み出し時間を、全ての画素電極をＸ線検出に使用する場合と比べて短い時間に変更する読み出し時間変更手段と、を備えたことを特徴とする。
【００１３】
第２の発明では、前記静電容量への電荷信号の蓄積時間を変更する蓄積時間変更手段をさらに備える。
【００１４】
第３の発明では、前記画素電極に対応する静電容量への電荷信号の蓄積を開始する直前に、前記静電容量に蓄積された電荷信号をリセットするリセット手段をさらに備える。
【００１５】
第４の発明では、前記領域選択手段は、前記被検者の体動に伴って移動する前記マーカまたは前記特定部位の位置の移動範囲に基づいて、Ｘ線検出に使用する画素電極を選択する。
【００１６】
第５の発明では、前記治療ビーム照射装置により被検者に治療ビームを照射する期間中においても、前記静電容量への電荷信号の蓄積、および、前記静電容量からの電荷信号の読み出しを行う。
【発明の効果】
【００１７】
第１から第５の発明によれば、領域選択手段によりＸ線検出に使用する画素電極を限定することで、選択された画素電極に対応する静電容量からの電荷信号の読み出し時間を短縮化させ、読み出し時間変更手段により短縮化後の読み出し時間の範囲内で電荷信号の読み出し時間を変更することにより、Ｘ線透視時における治療ビームの影響を減少させ、フラットパネルディテクタにより取得したＸ線画像を利用する特定部位またはマーカの追跡性能の低下を抑制することが可能となる。
【００１８】
第２の発明によれば、蓄積時間変更手段により、静電容量への電荷信号の蓄積時間をＸ線画像が取得可能な範囲で変更することにより、Ｘ線透視時における治療ビームの影響をさらに減少させることが可能となる。
【００１９】
第３の発明によれば、リセット手段により静電容量への電荷信号の蓄積を開始する直前に静電容量に蓄積された電荷信号をリセットすることにより、Ｘ線透視時における治療ビームの影響をさらに減少させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】この発明に係るＸ線透視装置を、治療ビーム照射装置９０とともに示す斜視図である。
【図２】フラットパネルディテクタ２１を側面視した等価回路である。
【図３】フラットパネルディテクタ２１を平面視した等価回路である。
【図４】この発明の第１実施形態に係るＸ線透視装置の主要な制御系を示すブロック図である。
【図５】この発明の第１実施形態における治療ビームの照射と、Ｘ線の照射と、Ｘ線検出器としてのフラットパネルディテクタ２１の動作との関係を示すタイミングチャートである。
【図６】この発明の第２実施形態に係るＸ線透視装置の主要な制御系を示すブロック図である。
【図７】この発明の第２実施形態における治療ビームの照射と、Ｘ線の照射と、Ｘ線検出器としてのフラットパネルディテクタ２１の動作との関係を示すタイミングチャートである。
【図８】従来の治療ビームの照射と、Ｘ線の照射と、Ｘ線検出器としてのフラットパネルディテクタの動作との関係を示すタイミングチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、この発明に係るＸ線透視装置を、治療ビーム照射装置９０とともに示す斜視図である。これらのＸ線透視装置と治療ビーム照射装置９０とにより、放射線治療装置が構成される。
【００２２】
治療ビーム照射装置９０は、検診台２７上の被検者に対して放射線照射を行うものであり、治療室の床面に設置された基台９１に対して揺動可能に設置されたガントリー９２と、治療ビームを出射するためにガントリー９２に配設された治療ビーム照射部９３とを備える。このガントリー９２は、治療ビーム照射部９３とともに、基台９１に対して３６０度の範囲で回転可能な構造となっている。従って、この治療ビーム照射装置９０によれば、ガントリー９２が基台９１に対して任意の角度まで回転することにより、治療ビーム照射部９３から照射される治療ビームの照射方向を変更することができる。このため、被検者における腫瘍等の患部に対して、様々な方向から治療ビームを照射することが可能となる。
【００２３】
この治療ビーム照射装置９０とともに使用されるＸ線透視装置は、被検者の患部の位置を特定する動体追跡を行うためのＸ線透視を実行するものである。すなわち、上述した治療ビーム照射装置９０を使用した放射線治療時においては、被検者の体動に伴って移動する患部に対して、放射線を正確に照射する必要がある。このため、このＸ線透視装置においては、被検者を互いに異なる２方向から透視し、その透視画像に対して画像認識を実行することにより、被検者の特定部位または被検者の特定部位付近に留置されたマーカ（以下、これらを総称して「マーカ等」という）の位置を検出し、マーカ等の三次元の位置情報を演算することで、マーカ等を高精度で検出する、所謂、動体追跡を行う構成となっている。
【００２４】
この画像認識の一つの実施態様としては、被検者の特定部位付近に留置したマーカの画像を予めテンプレートとして登録し、このテンプレートを利用してマーカの位置を検出して追跡（トラッキング）するテンプレートマッチングが利用される。なお、被検者における患部付近にマーカを留置する代わりに、被検者における腫瘍等の特定部位の画像をマーカとして使用する動体追跡も採用してもよい。
【００２５】
また、この画像認識の他の実施態様として、マーカ等に対して、予め登録した多数の正解画像と不正解画像とから、学習により識別器を作成し、この識別器を利用してマーカ等の位置を検出して追跡する機械学習が利用される。このような機械学習としては、例えば、ＳＶＭ（Ｓｕｐｐｏｒｔ  Ｖｅｃｔｏｒ  Ｍａｃｈｉｎｅ／サポートベクターマシン）を利用することができる。このＳＶＭは、パターン認識を実行するときに、多くの手法の中でも最も迅速性に優れ、かつ、認識性能の高い学習モデルの一つである。また、認識性能に優れた機械学習として、ＳＶＭにかえて、Ｈａａｒ‐ｌｉｋｅ特徴量などによるＢｏｏｓｔｉｎｇ（ブースティング）や、Ｄｅｅｐ  Ｌｅａｒｎｉｎｇ（深層学習）などのニューラルネットワークを利用してもよい。
【００２６】
このＸ線透視装置は、第１Ｘ線管１１ａ、第２Ｘ線管１１ｂ、第３Ｘ線管１１ｃ、第４Ｘ線管１１ｄ（これらを総称する場合には「Ｘ線管１１」という）と、第１フラットパネルディテクタ２１ａ、第２フラットパネルディテクタ２１ｂ、第３フラットパネルディテクタ２１ｃ、第４フラットパネルディテクタ２１ｄ（これらを総称するときには「フラットパネルディテクタ２１」という）とを備える。第１Ｘ線管１１ａから照射されたＸ線は、検診台２７上の被検者を透過した後、第１フラットパネルディテクタ２１ａにより検出される。第１Ｘ線管１１ａと第１フラットパネルディテクタ２１ａとは、第１Ｘ線撮影系を構成する。第２Ｘ線管１１ｂから照射されたＸ線は、検診台２７上の被検者を透過した後、第２フラットパネルディテクタ２１ｂにより検出される。第２Ｘ線管１１ｂと第２フラットパネルディテクタ２１ｂとは、第２Ｘ線撮影系を構成する。第３Ｘ線管１１ｃから照射されたＸ線は、検診台２７上の被検者を透過した後、第３フラットパネルディテクタ２１ｃにより検出される。第３Ｘ線管１１ｃと第３フラットパネルディテクタ２１ｃとは、第３Ｘ線撮影系を構成する。第４Ｘ線管１１ｄから照射されたＸ線は、検診台２７上の被検者を透過した後、第４フラットパネルディテクタ２１ｄにより検出される。第４Ｘ線管１１ｄと第４フラットパネルディテクタ２１ｄとは、第４Ｘ線撮影系を構成する。
【００２７】
なお、動体追跡を行うためのＸ線透視を実行するときには、第１Ｘ線撮影系、第２Ｘ線撮影系、第３Ｘ線撮影系、第４Ｘ線撮影系のうちの２個のＸ線撮影系が選択されて使用される。
【００２８】
検診台２７は、基部２８と、カウチとも呼称される被検者載置部２９とを備える。被検者載置部２９は、基部２８に対して６軸方向に移動および回転可能となっている。
【００２９】
次に、上述したフラットパネルディテクタ２１の構成について説明する。図２は、フラットパネルディテクタ２１を側面視した等価回路である。また、図３は、フラットパネルディテクタ２１を平面視した等価回路である。
【００３０】
これらの図に示すように、このフラットパネルディテクタ２１は、ガラス基板４１と、このガラス基板４１上に形成されたＴＦＴ（薄膜トランジスタ）４２と、このＴＦＴ上に蒸着されたａ−Ｓｅ等の変換膜４３と、この変換膜４３上に配置された共通電極４４とを備える。
【００３１】
ＴＦＴには、縦横のマトリックス状、すなわち、二次元アレイ状の配置で、電荷収集電極である画素電極４５が配設されている。この画素電極４５は、例えば、行列方向に１０２４個×１０２４個配置されている。図２および図３においては、行列方向に３個×３個配置した場合を模式的に示している。各画素電極４５には、スイッチング素子４６と、静電容量（キャパシタ）４７とが接続されている。
【００３２】
各画素電極４５は、各スイッチング素子４６のソースＳに接続されている。図３に示すゲートドライバ５１には、複数本のゲートバスライン５２が接続されており、これらのゲートバスライン５２はスイッチング素子４６のゲートＧに接続されている。一方、図３に示すように、電荷信号を収集し１つの信号として出力するマルチプレクサ５３には、増幅器５４を介して複数本のデータバスライン５５が接続されており、これらのデータバスライン５５は、各スイッチング素子４６のドレインＤに接続されている。
【００３３】
このフラットパネルディテクタ２１においては、被検者載置部２９上の被検者を通過したＸ線像が変換膜４３上に投影されると、像の濃淡に比例した電荷信号（キャリア）が変換膜４３内に発生する。この電荷信号は、二次元アレイ状に配置された画素電極４５により収集され、静電容量４７に蓄積される。そして、共通電極４４にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートドライバ５１によりゲートバスライン５２に電圧を印加することにより、各スイッチング素子４６のゲートＧがオン状態となる。これにより、静電容量４７に蓄積された電荷信号は、スイッチング素子４６におけるソースＳとドレインＤとを介して、データバスライン５５に読み出される。各データバスライン５５に読み出された電荷信号は、増幅器５４で増幅され、マルチプレクサ５３で１つの電荷信号にまとめられて出力される。この電荷信号は、Ａ／Ｄ変換器５でディジタル化され、Ｘ線検出信号として出力される。
【００３４】
図４は、この発明の第１実施形態に係るＸ線透視装置の主要な制御系を示すブロック図である。なお、この図においては、Ｘ線透視装置の制御系のうち、この発明の主要な部分の制御系のみを示している。
【００３５】
この発明に係るＸ線透視装置は、装置全体を制御する制御部３０と、オペレータにより各種の情報が入力される入力部３１とを備える。制御部３０は、フラットパネルディテクタ２１における各々のコントローラ３９と接続されている。この制御部３０は、機能的構成として、フラットパネルディテクタ２１における複数の画素電極４５のうちＸ線検出に使用する画素電極４５を選択する領域選択部３２と、領域選択部３２で選択された画素電極４５に対応する静電容量４７からの電荷信号の読み出し時間を変更する読み出し時間変更部３３と、画素電極４５に対応する静電容量４７への電荷信号の蓄積を開始する直前に静電容量４７に蓄積された電荷信号をリセットするリセット部３５とを備える。
【００３６】
フラットパネルディテクタ２１におけるコントローラ３９は、制御部３０からの指令に基づいて、フラットパネルディテクタ２１におけるゲートドライバ５１やスイッチング素子４６に対して指令を送信することにより、フラットパネルディテクタ２１における静電容量４７からの電荷信号の読み出しや、静電容量４７への電荷信号の蓄積、さらには、静電容量４７に蓄積され得た電荷信号のリセットを実行する。
【００３７】
次に、この発明に係るＸ線透視装置によりＸ線透視を実行するときの動作について説明する。図５は、この発明の第１実施形態における治療ビームの照射と、Ｘ線の照射と、Ｘ線検出器としてのフラットパネルディテクタ２１の動作との関係を示すタイミングチャートである。
【００３８】
この発明の第１実施形態に係るＸ線透視装置によりＸ線透視を実行するときには、フラットパネルディテクタ２１における複数の画素電極４５のうち、Ｘ線検出に使用する画素電極４５を選択する。そして、Ｘ線検出に使用する画素電極４５の数を必要最小限に制限することにより、選択された画素電極４５に対応する静電容量４７からの電荷信号の読み出し時間の短縮化を可能とする。その上で、画素電極４５の読み出し時間を短時間に変更する。これにより、Ｘ線透視における１画像分（１フレーム分）の収集に必要とする時間を短縮化することで、その間に照射される治療ビームの数を減少させ、これにより、治療ビームの照射により生ずる散乱線のＸ線画像への影響を減少させる。
【００３９】
すなわち、従来のＸ線透視装置においては、フラットパネルディテクタ２１の全領域を使用することから、静電容量４７からの電荷信号の読み出し時間は常に一定であったが、この発明に係るＸ線透視装置においては、一部の画素電極４５のみを使用することで電荷信号の読み出し時間を短縮化し、これにより、電荷信号の読み出し時間をより短時間に変更可能としたものである。
【００４０】
この第１実施形態に係るＸ線透視装置においては、最初に、フラットパネルディテクタ２１における複数の画素電極４５のうち、Ｘ線透視に使用する画素電極４５を選択する。このときには、オペレータが図４に示す入力部３１を使用して使用する画素電極４５を選択する。これにより、制御部３０における領域選択部３２がフラットパネルディテクタ２１に対して使用する画素電極４５の選択信号を送信する。この画素電極４５の選択時には、被検者におけるマーカ等の移動範囲を考慮する。この画素電極４５の選択時には、Ｘ線透視を予備的に実行しながら使用する画素電極４５を選択するようにしてもよい。
【００４１】
次に、選択された画素電極４５に対応する静電容量４７からの電荷信号の読み出し時間を設定する。このときには、従来と比較して使用される画素電極４５が減少していることから、電荷信号の読み出し時間をより短く設定することが可能となる。このときには、オペレータが図４に示す入力部３１を使用して電荷信号の読み出し時間を設定する。これにより、制御部３０における読み出し時間変更部３３がフラットパネルディテクタ２１に対して電荷信号の読み出し時間の変更信号を送信する。
【００４２】
図５に示す実施形態においては、電荷信号の読み出し時間を８ｍｓｅｃに設定している。なお、図８に示す従来のタイミングチャートにおいては、電荷信号の読み出し時間は１５ｍｓｅｃとなっている。このように電荷信号の読み出し時間を短縮化してＸ線透視における１画像分の収集に必要とする時間を短縮化することで、その間に照射される治療ビームの数を減少させ、これにより、治療ビームの照射により生ずる散乱線のＸ線画像への影響を減少させている。
【００４３】
なお、このＸ線透視装置においては、選択された画素電極４５に対応する静電容量４７への電荷信号の蓄積を開始する直前に、図２に示すリセット部３５により、静電容量４７に蓄積された電荷信号をリセットしている。すなわち、Ｘ線透視における１画像分のデータの収集のために静電容量４７に電荷の蓄積を開始する前に、リセット部３５の制御により、静電容量４７に蓄積された電荷信号を、データバスライン５５を介して排出している。これにより、電荷信号の読み出し後に治療ビームが照射されることにより静電容量４７に蓄積されている散乱線の影響を排除することができる。
【００４４】
次に、この発明の他の実施形態について説明する。図６は、この発明の第２実施形態に係るＸ線透視装置の主要な制御系を示すブロック図である。この図においては、Ｘ線透視装置の制御系のうち、この発明の主要な部分の制御系のみを示している。また、図７は、この発明の第２実施形態における治療ビームの照射と、Ｘ線の照射と、Ｘ線検出器としてのフラットパネルディテクタ２１の動作との関係を示すタイミングチャートである。なお、上述した第１実施形態と同様のものについては、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
【００４５】
図６に示すように、この発明の第２実施形態に係るＸ線透視装置は、第１実施形態に係るＸ線透視装置に対して、静電容量４７への電荷信号の蓄積時間を変更する蓄積時間変更部３４をさらに備えている。
【００４６】
この発明の第２実施形態に係るＸ線透視装置によりＸ線透視を実行するときには、被検者の体厚等に応じ、蓄積時間変更部３４により、静電容量４７への電荷信号の蓄積時間を変更する。従来のＸ線透視装置においては、被検者の体厚等にかかわらず、静電容量４７への電荷信号の蓄積時間は常に一定であったが、この発明の第２実施形態に係るＸ線透視装置においては、被検者の体厚等に応じて静電容量４７への電荷信号の蓄積時間をより短時間に変更するようにしたものである。
【００４７】
この第２実施形態に係るＸ線透視装置においては、最初に、被検者の体厚等を考慮して電荷信号の蓄積時間を設定する。このときには、オペレータが図４に示す入力部３１を使用してこの時間を設定する。これにより、制御部３０における蓄積時間変更部３４がフラットパネルディテクタ２１に対して蓄積時間を変更する変更信号を送信する。
【００４８】
図７に示す実施形態においては、電荷信号の蓄積時間を８ｍｓｅｃに設定している。なお、図８示す従来のタイミングチャートにおいては、電荷信号の蓄積時間は１５ｍｓｅｃとなっている。このように電荷信号の蓄積時間を短縮化してＸ線透視における１画像分の収集に必要とする時間を短縮化することで、その間に照射される治療ビームの数をさらに減少させ、これにより、治療ビームの照射による生ずる散乱線のＸ線画像への影響をさらに減少させている。
【００４９】
なお、図７に示す第２実施形態の場合と図８に示す従来の場合とを比較した場合、この第２実施形態において１画像分の収集に要する時間は、従来の約２分の１となっている。このため、従来の倍のフレームレートで画像が収集されることになる。このとき、これだけのフレームレートが不要である場合には、例えば、１フレームおきにＸ線画像を取得するようにすればよい。
【００５０】
また、図７に示す第２実施形態において、治療ビームの周期と、電荷信号の蓄積時間と、電荷信号の読み出し時間を同期させるようにすれば、連続して収集する各Ｘ線画像における散乱線の影響を一定にすることができ、画像処理による散乱線補正が容易となる。例えば、治療ビームの周期が５ｍｓｅｃである場合に、電荷信号の蓄積時間と、電荷信号の読み出し時間とをともに１０ｍｓｅｃとすることで、上記の効果が得られる。
【符号の説明】
【００５１】
１１ａ  第１Ｘ線管
１１ｂ  第２Ｘ線管
１１ｃ  第３Ｘ線管
１１ｄ  第４Ｘ線管
２１ａ  第１フラットパネルディテクタ
２１ｂ  第２フラットパネルディテクタ
２１ｃ  第３フラットパネルディテクタ
２１ｄ  第４フラットパネルディテクタ
２７    検診台
２９    被検者載置部
３０    制御部
３１    入力部
３２    領域選択部
３３    読み出し時間変更部
３４    蓄積時間変更部
３５    リセット部
３９    コントローラ
４１    ガラス基板
４２    ＴＦＴ
４３    変換膜
４４    共通電極
４５    画素電極
４６    スイッチング素子
４７    静電容量
５１    ゲートドライバ
５２    ゲートバスライン
５３    マルチプレクサ
５４    増幅器
５５    データバスライン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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