(57)【要約】【課題】  深さ方向により広い断層像であって、折り返しが低減された断層像を取得すること。【解決手段】  眼科撮影装置は、測定光を照射した被検体からの戻り光と測定光に対応する参照光とによる干渉光を干渉信号として検出する検出部と、検出された干渉信号を変換する変換部と、変換された干渉信号を用いて、被検体の断層像を生成する演算処理部と、を有し、演算処理部は、変換された干渉信号から得られる複数の成分であって、変換部のナイキスト周波数より高い周波数の成分と、変換部のナイキスト周波数より低い周波数の成分とを用いて、断層像を生成する。【選択図】  図３
2019080904.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定光を照射した被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とによる干渉光を干渉信号として検出する検出部と、
前記検出された干渉信号をアナログ信号からディジタル信号に変換する変換部と、
前記変換された干渉信号を用いて、前記被検体の断層像を生成する演算処理部と、を有し、
前記演算処理部は、前記変換された干渉信号から得られる複数の成分であって、前記変換部のナイキスト周波数より高い周波数の成分と、前記変換部のナイキスト周波数より低い周波数の成分とを用いて、前記断層像を生成することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項２】
前記演算処理部は、前記低い周波数の成分を用いて第１の部分断層像を生成し、前記高い周波数の成分を用いて第２の部分断層像を生成し、前記第１の部分断層像と前記第２の部分断層像とを合成することによって前記断層像を生成することを特徴とする請求項１に記載の眼科撮影装置。
【請求項３】
前記検出された干渉信号を所定の周波数特性に従って減衰させるフィルタ部をさらに有し、
前記変換部は、前記減衰した干渉信号を変換することを特徴とする請求項１または２に記載の眼科撮影装置。
【請求項４】
測定光を照射した被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とによる干渉光を干渉信号として検出する検出部と、
前記検出された干渉信号を所定の周波数特性に従って減衰させるフィルタ部と、
前記減衰した干渉信号をアナログ信号からディジタル信号に変換する変換部と、
前記変換された干渉信号を用いて、前記被検体の断層像を生成する演算処理部と、を有し、
前記演算処理部は、前記変換された干渉信号から得られる複数の成分を用いて前記断層像を生成することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項５】
前記変換部とは異なり、前記検出された干渉信号を変換する別の変換部をさらに有し、前記演算処理部は、前記減衰した干渉信号と前記別の変換部によって変換された干渉信号とから得られる前記複数の成分を用いて、前記断層像を生成することを特徴とする請求項３または４に記載の眼科撮影装置。
【請求項６】
前記演算処理部は、前記減衰した干渉信号と前記別の変換部によって変換された干渉信号とを減算することにより前記複数の成分のいずれかを取得することを特徴とする請求項５に記載の眼科撮影装置。
【請求項７】
前記フィルタ部に設けられ、前記フィルタ部の周波数特性を変更する特性変更部と、
前記特性変更部を制御する制御部と、をさらに有し、
前記演算処理部は、前記周波数特性が変更される前に変換された干渉信号と、前記周波数特性が変更された後に変換された干渉信号とから得られる前記複数の成分を用いて、前記断層像を生成することを特徴とする請求項３または４に記載の眼科撮影装置。
【請求項８】
前記演算処理部は、前記フィルタ部の周波数特性に関する情報と前記変換された干渉信号とを用いて前記複数の成分を取得し、前記取得された複数の成分を用いて前記断層像を生成することを特徴とする請求項３乃至７のいずれか１項に記載の眼科撮影装置。
【請求項９】
前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との少なくとも１つを変更する光路長変更部をさらに有し、
前記演算処理部は、前記光路長変更部による光路長の変更が行われずに取得された前記変換された干渉信号を用いて前記折り返し成分が分離された前記複数の成分を取得し、前記取得された複数の成分を用いて前記断層像を生成することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の眼科撮影装置。
【請求項１０】
測定光を照射した被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とによる干渉光を干渉信号として検出する検出部と、
前記検出された干渉信号をアナログ信号からディジタル信号に変換する変換部と、
前記変換された干渉信号を用いて、前記被検体の断層像を生成する演算処理部と、
前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との少なくとも１つを変更する光路長変更部と、を有し、
前記演算処理部は、前記光路長変更部による光路長の変更が行われずに取得された折り返し成分が異なる複数の前記変換された干渉信号を用いて前記折り返し成分が分離された複数の成分を取得し、前記取得された複数の成分を用いて前記断層像を生成することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項１１】
波長掃引光源と、
波長掃引光源からの光を前記測定光と前記参照光とに分割する分割手段と、
前記波長掃引光源からの光のうち一部の光が通る光路が第一光路と前記第一光路に対して光路長差を有する第二光路とに分岐された干渉計として構成され、前記変換部によるサンプリングのクロックを生成するクロック生成部と、
をさらに有することを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の眼科撮影装置。
【請求項１２】
測定光を照射した被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とによる干渉光を干渉信号として検出する検出部と、
前記検出された干渉信号をアナログ信号からディジタル信号に変換する変換部と、を有する眼科撮影装置の制御方法であって、
前記変換された干渉信号から得られる複数の成分であって、前記変換部のナイキスト周波数より高い周波数の成分と、前記変換部のナイキスト周波数より低い周波数の成分とを用いて、前記被検体の断層像を生成する工程を有することを特徴とする眼科撮影装置の制御方法。
【請求項１３】
測定光を照射した被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とによる干渉光を干渉信号として検出する検出部と、
前記検出された干渉信号を所定の周波数特性に従って減衰させるフィルタ部と、
前記減衰した干渉信号をアナログ信号からディジタル信号に変換する変換部と、を有する眼科撮影装置の制御方法であって、
前記変換された干渉信号から得られる複数の成分を用いて前記断層像を生成することを特徴とする眼科撮影装置の制御方法。
【請求項１４】
測定光を照射した被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とによる干渉光を干渉信号として検出する検出部と、
前記検出された干渉信号をアナログ信号からディジタル信号に変換する変換部と、
前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との少なくとも１つを変更する光路長変更部と、を有する眼科撮影装置の制御方法であって、
前記光路長変更部による光路長の変更が行われずに取得された折り返し成分が異なる複数の前記変換された干渉信号を用いて前記折り返し成分が分離された複数の成分を取得し、前記取得された複数の成分を用いて前記断層像を生成することを特徴とする眼科撮影装置の制御方法。
【請求項１５】
請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の眼科撮影装置の制御方法をコンピュータに実行させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼科撮影装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、眼を観察や撮影等するための眼科装置としては、例えば、前眼部撮影装置、眼底カメラ、共焦点レーザー走査検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：ＳＬＯ）装置、多波長光波干渉を利用した光干渉断層撮影（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）装置等がある。中でもＯＣＴ装置は被写体の断層画像を高解像度に得ることができるため、特に眼科装置として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。
【０００３】
眼科用ＯＣＴ装置では、被検眼の眼底を広範囲で撮影する場合や、眼底の湾曲が大きい場合、あるいは撮影したい部位が深さ方向に長い場合に、参照光の光路長と照射光の光路長の差が大きくなることがある。ここで、照射光の光路長とは照射光の光路とその反射光の光路を合わせた光路の光路長を意味する。この光路長差が大きいとＯＣＴ装置では断層像の折り返しや欠けが発生し、眼底の形状を正しく表した断層像を得ることができない。
【０００４】
そこで、折り返しが発生した断層像を反転させて元の断層像と合成し、画像解析により網膜を検出する技術が特許文献１に開示されている。この技術により深さ方向に広い範囲で眼底の適切な形状解析を行うことができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１４−１７６５６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、従来の技術では、折り返しが発生した後の断層像を反転して接続し形状解析を行う技術である。このため、断層像から折り返しそのものを除去するものではない。すなわち、折り返しが発生した部位の詳細な構造の観察に適した断層像を得ることができない。
【０００７】
本発明の目的の一つは、深さ方向により広い断層像であって、折り返しが低減された断層像を取得することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る眼科撮影装置の一つは、
測定光を照射した被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とによる干渉光を干渉信号として検出する検出部と、
前記検出された干渉信号を変換する変換部と、
前記変換された干渉信号を用いて、前記被検体の断層像を生成する演算処理部と、を有し、
前記演算処理部は、前記変換された干渉信号から得られる複数の成分であって、前記変換部のナイキスト周波数より高い周波数の成分と、前記変換部のナイキスト周波数より低い周波数の成分とを用いて、前記断層像を生成する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の一つによれば、深さ方向により広い断層像であって、折り返しが低減された断層像を取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施形態に係るＯＣＴの模式図
【図２】本実施形態における、信号の周波数と断層像の関係を示す図
【図３】本実施形態における、深さ方向により広い断層像を取得する方法を示す図
【図４】本実施形態における、深さ方向により広い断層像を取得する流れを示す図
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本実施形態に係る眼科撮影装置の一つは、変換部により変換された干渉信号から得られる複数の成分（例えば、強度と位相とを含む情報）であって、変換部のナイキスト周波数より高い周波数の成分と、変換部のナイキスト周波数より低い周波数の成分とを用いて、被検体の断層像を生成する。これにより、深さ方向により広い断層像であって、折り返しが低減された断層像を取得することができる。以下では本実施形態について説明する。
【００１２】
（光干渉断層計）
図１は、本実施形態に係るＯＣＴ（眼科撮影装置の一例）の構成を示す図である。波長掃引光源１０１は、出射する光の波長が短波長から長波長へ、または長波長から短波長へ時間的に変化する光源である。波長掃引光源１０１から出射された光Ｌが、分割手段の一例である分岐ファイバカップラ１０２で照射光ＬＡ（測定光）と参照光ＬＢに分波される。また、照射光ＬＡはコリメータレンズ１０３で平行光となり、走査ミラー１０８で反射され、集光レンズ１０５を経て、被検体１０７に照射される。また、被検体１０７に照射されて反射した光ＬＡ’（戻り光）は、カップラ１０２を経由して、カップラ１０４に入射する。一方、参照光ＬＢは、コリメータレンズ１０９、ミラー１１０、１１１、集光レンズ１１２を経て光ＬＢ’としてカップラ１０４に入射する。光ＬＡ’と光ＬＢ’とはカップラ１０４で合波すると同時に分波され、検出部の一例である差動検出器１２０に干渉光として入射する。
【００１３】
また、差動検出器１２０は、干渉光の強度をアナログ信号に変換する。差動検出器１２０から出力されたアナログ信号は分岐され、一方はローパスフィルタ１２１によって低周波成分のみとなり、変換部の一例であるＡＤ変換部１３１によりディジタル信号に変換される。他方はハイパスフィルタ１２２によって高周波成分のみとなり、別の変換部の一例であるＡＤ変換部１３２によってディジタル信号に変換される。ローパスフィルタ１２１とハイパスフィルタ１２２の帯域は電気的に調整可能である。なお、ローパスフィルタ１２１とハイパスフィルタ１２２は、検出された干渉信号を所定の周波数特性に従って減衰させるフィルタ部の一例である。これらのディジタル信号は、演算処理部の一例である演算処理装置１１４によって後述する方法で処理される。演算処理装置１１４は、これらのディジタル信号に対してフーリエ変換を始めとする処理を行うことによって被検体１０７の情報を取得する。表示部１１５は演算処理装置１１４によって得られた被検体の断層像を表示する。なお、演算処理装置は、眼科撮影装置に通信可能に接続されていれば良い。また、演算処理装置は、眼科撮影装置の内部に組み込まれていても良い。
【００１４】
以上は、被検体１０７のある１点における断層像の取得プロセスであり、このように被検体１０７の奥行き方向の断層に関する情報を取得することをＡ−ｓｃａｎと呼ぶ。また、Ａ−ｓｃａｎと直交する方向で被検体の断層に関する情報、すなわち２次元画像を取得するための走査をＢ−ｓｃａｎと呼ぶ。本実施形態においては走査ミラー１０８によって、Ｂ−ｓｃａｎを行う。
【００１５】
（断層像の取得）
断層像の取得について図２を用いて説明する。ここでは、図１におけるローパスフィルタ１２１の帯域が充分広く調整されている場合について説明する。この場合、差動検出器１２０から出力されるアナログ信号は全てローパスフィルタ１２１を通過するため、ローパスフィルタ１２１は無視してよいものとする。
【００１６】
ここで、図２（ａ）は、被検体１０７の眼底のある断層の様子を表したものである。照射光が深さ位置２４０で反射した場合に照射光の光路長と参照光の光路長とが一致するように、後述の方法によってミラー１１０、１１１の位置が調整されている。
【００１７】
また、図２（ｂ）は、図２（ａ）の位置２０１をＡ−ｓｃａｎすることによって得られた信号を演算処理装置１１４がフーリエ変換し、周波数成分ごとに信号強度を示したものである。横軸は周波数を、縦軸は信号強度の対数を表している。直流成分２４１は周波数０を表している。照射光の光路長と参照光の光路長とが完全に一致すると、掃引された全ての波長で照射光と参照光が強め合うため、直流成分の信号が得られる。照射光の光路長と参照光の光路長が異なる場合はその差に応じて干渉が発生し、信号の周波数が変化する。
【００１８】
また、位置２０１では、被検体１０７が深さ位置２４０よりも深い位置にあるため光路長差が生じ、実像２０２が得られる。ナイキスト周波数２４２はＡＤ変換部１３１のサンプリング周波数の半分の周波数であり、ＡＤ変換部１３１によって取得できる最大の周波数である。ＡＤ変換部１３１でアナログ／ディジタル変換を行うとナイキスト周波数を軸とした折り返し（エイリアシング）が発生する。鏡像２０３はＡＤ変換部１３１でサンプリングしたときに実像２０２と区別がつかない周波数を表した像である。
【００１９】
また、図２（ｃ）は、演算処理装置１１４によって生成されたある段階の断層像を示している。画像の上端２４３は直流成分２４１を表し、画像の下端２４４はナイキスト周波数２４２を表している。直線２０４は図２（ｂ）の信号を画像化したものである。実像２０２が直流成分からナイキスト周波数までの範囲に全て含まれているため、直線２０４上では画像の上端から下端の間に断層画像が含まれている。
【００２０】
また、図２（ｄ）は、位置２１１の信号を図２（ｂ）と同様に示したものである。位置２１１では位置２０１よりも被検体１０７が深い位置にあるため、実像２１２は実像２０２よりも高い周波数を持つ。実像２１２はナイキスト周波数を一部越えているため、折り返した鏡像２１３と一部重なっている。そのため、直線２１４上では本来の断層画像と折り返した断層画像が一部重なった画像になっている。
【００２１】
また、図２（ｅ）は、位置２２１の信号を図２（ｂ）と同様に示したものである。位置２２１では位置２１１よりも被検体１０７がさらに深い位置にあるため、実像２２２はさらに高い周波数となり、ナイキスト周波数を越えている。そのため直線２２４上では鏡像２２３すなわち折り返した部分のみが画像化されている。このようにナイキスト周波数を越えた周波数の信号をサンプリングすることを一般にアンダーサンプリングという。
【００２２】
以上から分かる通り、被検体１０７の深さ方向の範囲に対してＡＤ変換部１３１のサンプリング周波数が充分ではない場合、断層像に折り返しが発生し、被検体１０７の構造を正しく表した断層像を取得することができない。
【００２３】
なお、前述したミラー１１０、１１１の位置調整は以下のように行う。撮影者は表示部１１５に表示された図２（ｃ）またはそれに類する画像を見ながら、不図示の入力手段によって光路長変更部の一例であるミラー１１０、１１１の位置を調整する。ミラー１１０、１１１の位置を適切に調整すると、図２（ｂ）のように画像の下端のみで折り返しが発生する断層像を得ることができる。なお、ミラー１１０、１１１の位置の調整は、例えば、ミラー１１０、１１１を共通のステージで光軸に沿って移動することで行うことにより、参照光の光路長を変更することができる。なお、光路長変更部は、参照光の光路長の変更だけでなく、測定光の光路長を変更するものであっても良いし、参照光の光路長と測定光の光路長との両方を変更するものであっても良い。すなわち、光長長変更部は、参照光の光路長と測定光の光路長との差を変更できるものであれば、何でも良い。
【００２４】
なお、ミラー１１０、１１１の位置が適切でないと、画像の上端で折り返しが発生することがある。これは、深さ位置２４０と被検体１０７が重なっている場合である。このとき信号の周波数成分は直流成分２４１の両側に分布し、周波数が負の領域が鏡像として正の領域に折り返すことで断層像の折り返しが発生する。従来のＯＣＴ装置では、断層像の折り返しという表現はこの折り返しを指す場合が多い。一方で本発明では、このような画像の上端２４３における折り返しはミラー１１０、１１１の位置調整によって回避することを前提とする。その結果として画像の下端２４４でナイキスト周波数による折り返しが発生するが、以下ではこのナイキスト周波数による折り返しを抑制し、被検体１０７の構造を深さ方向に広い範囲で画像化するために演算処理装置１１４が追加で行う処理について述べる。
【００２５】
これ以降の説明では、説明を簡単にするためフィルタの位相シフトはないものとする。同様に、眼底をＡ−ｓｃａｎすることによって得られた信号は全ての周波数で位相が揃っているものとする。このとき、この信号をフーリエ変換すると実数のみからなる周波数分布が得られるため、以降の説明では実数のみを用いる。
【００２６】
（折り返しの低減）
また、図３は、被検体１０７の構造を深さ方向に広い範囲で画像化するための追加の処理について示した図である。ここで、図３（ａ）は、フィルタの周波数特性を示した図である。特性３０１はローパスフィルタ１２１の周波数特性であり、特性３１１はハイパスフィルタ１２２の周波数特性である。横軸は周波数を、縦軸はフィルタ透過率の対数を表している。いずれもカットオフ周波数はナイキスト周波数２４２付近になるように調整されている。なお、フィルタの周波数特性に関する情報として、図３（ａ）のようなグラフやグラフを示すテーブル等を記憶部に記憶させておくことが好ましい。
【００２７】
また、図３（ｂ）は、ローパスフィルタ１２１の周波数特性と、ＡＤ変換部１３１によって得られたディジタル信号から取得した断層像３１２を示したものである。なお、断層像３１２は、変換部のナイキスト周波数より低い周波数の成分を用いて生成される第１の部分断層像の一例である。ここで、信号ＳＬと信号ＳＨはそれぞれの周波数において差動検出器１２０から出力された信号を示している。信号ＳＬと信号ＳＨの周波数はナイキスト周波数２４２を軸に対称になっている。信号ＳＬと信号ＳＨはローパスフィルタ１２１によって減衰する。透過率ＰＬ，ＰＨはそれぞれ信号ＳＬと信号ＳＨの周波数におけるローパスフィルタ１２１の透過率を示した値である。これらは装置の調整の際に決まる値である。ローパスフィルタ１２１によって信号ＳＬと信号ＳＨが減衰すると、ＡＤ変換部１３１に入力される信号はそれぞれＰＬＳＬとＰＨＳＨである。これらはＡＤ変換部１３１でアナログ／ディジタル変換されると折り返しによって重なり加算された結果１つの信号ＳＰとなる。演算処理装置１１４はフーリエ変換によって得られたこの信号ＳＰを記憶し、同時に信号ＳＰの強度を輝度とした断層像３１２を生成する。一方で、信号ＳＰは上記の説明より、以下の式で求めたものと一致する。
【００２８】
【数１】
2019080904.tif 000003
【００２９】
また、図３（ｃ）は、ハイパスフィルタ１２２の周波数特性と、ＡＤ変換部１３２によって得られたディジタル信号から取得した断層像３２２を図３（ｂ）と同様に示したものである。なお、断層像３２２は、変換部のナイキスト周波数より高い周波数の成分を用いて生成される第２の部分断層像の一例である。図３（ｂ）と同様に、信号ＳＱは以下の式で求めたものと一致する。
【００３０】
【数２】
2019080904.tif 000004
【００３１】
これらの式を連立方程式として解くと、以下のように信号ＳＬと信号ＳＨを得ることができる。
【００３２】
【数３】
2019080904.tif 000005
【００３３】
したがって、演算処理装置１１４は、断層像３１２と断層像３２２の生成に用いた信号およびフィルタの透過率を用いて、信号ＳＬと信号ＳＨを得ることができる。すなわち、折り返しによって重なっていた、ナイキスト周波数未満の信号ＳＬとナイキスト周波数以上の信号ＳＨを上記の方法で分離することができる。この計算をナイキスト周波数２４２以外の全ての周波数について行うことで、それぞれの周波数の信号を得ることができる。ナイキスト周波数２４２ではＰＬとＰＨが一致するため上記の計算は行うことができないが、アナログ／ディジタル変換によって得られた信号をそのまま用いることで、信号ＳＬ（この場合信号ＳＨと同じ信号である）を求めることができる。
【００３４】
また、図３（ｄ）は、以上により得られた信号の強度を画像化して被検体１０７を深い範囲で画像化した断層像を示したものである。図２（ｃ）や図３（ｂ）（ｃ）と比較して深さ方向に広い範囲の断層像が得られていることが分かる。
【００３５】
以上の説明ではフィルタの周波数シフトはないものとし、眼底をＡ−ｓｃａｎすることによって得られた信号は全ての周波数で位相が揃っているものとした。しかし実際の周波数フィルタでは位相シフトが発生する。また、実際に眼底をＡ−ｓｃａｎすることによって得られた信号には様々な位相の信号が含まれている。したがって、これらを考慮した計算を行うことが望ましい。具体的には、以上の説明で用いた信号ＳＬ、ＳＨ、透過率ＰＬ、ＰＨ、ＱＬ、ＱＨ、輝度ＳＰ、ＳＱを全て実数から複素数に置き換えればよい。透過率ＰＬ、ＰＨ、ＱＬ、ＱＨはフィルタのゲイン特性と位相特性から複素数として得ることができる。信号ＳＰ、ＳＱは眼底をＡ−ｓｃａｎすることによって得られた信号をフーリエ変換することで得ることができる。信号ＳＬ、ＳＨは以上の計算から複素数として得られるため、その強度を画像の輝度とすればよい。なお、本実施形態における成分とは、強度だけでなく、位相を含む情報であり、また、実装だけでなく、複素数を含む情報である。
【００３６】
図４は以上の説明に基づいて断層像を生成し表示するまでの流れを示したものである。ステップＳ４０１において、演算処理装置１１４はＡＤ変換部１３１とＡＤ変換部１３２によって得られた干渉信号を取得する。ステップＳ４０２において、演算処理装置１１４はそれらの干渉信号のフーリエ変換を行い、信号ＳＰ、ＳＱを得る。ステップＳ４０３において、演算処理装置１１４は上記で説明した方法で信号をナイキスト周波数で分離する計算を行い、信号ＳＬ、ＳＨを得る。ステップＳ４０４において、演算処理装置１１４は信号ＳＬ、ＳＨの強度を求めて図３（ｄ）に示す断層像を生成する。ステップＳ４０５において、表示部１１５が断層像を表示する。
【００３７】
本実施形態では短時間の撮影が可能である。なぜなら、折り返し強度の異なる画像を複数取得するために、ミラー１１０、１１１を駆動して参照光の光路長を変更する必要がなく、図３（ｄ）の断層像を得るためにミラー１０８が行う走査は１回でよいためである。
【００３８】
また、ローパスフィルタ１２１とハイパスフィルタ１２２の透過率の値は環境依存などを考慮して装置の調整後に更新してもよい。例えば、検査前や検査中に照射光を装置内部の不図示のミラーで反射させて得られた信号からこれらの透過率を計算してもよい。また、得られた図３（ｄ）の断層像の輝度分布に基づいて透過率の値を推定し、図３（ｄ）の断層像を再生成してもよい。
【００３９】
また、信号ＳＬと信号ＳＨを求める式は、上記以外のものでもよい。例えば、フィルタが理想フィルタに近く、カットオフ周波数がナイキスト周波数に近い場合は断層像３１２には折り返し部分がほぼ発生せず、断層像３２２にはほぼ折り返し部分のみが発生する。したがって、断層像３２２を上下反転させて断層像３１２に単純に接続することで、所望の断層像に近い断層像を得ることができる。これは上記の式でＰＨとＱＬを０とし、ＰＬとＱＨを１とした場合の計算と同じである。
【００４０】
また、使用するフィルタはローパスフィルタとハイパスフィルタの組み合わせでなくてもよい。例えば、ローパスフィルタのみでカットオフ周波数が異なる組み合わせを用いてもよい。ローパスフィルタのみであっても上記のＰＬとＱＬの値が異なるかもしくはＰＨとＱＨの値が異なれば同様の計算を行うことができる。また、ナイキスト周波数の２倍よりもさらに高い周波数を考慮してバンドパスフィルタを用いてもよい。
【００４１】
また、フィルタは３つ以上でもよい。周波数帯域の異なる３つ以上のフィルタを組み合わせて同様の計算を行うことで、さらに深い範囲の断層像を取得可能にしてもよい。また同じ帯域のフィルタを複数用いて得られる信号強度を平均化して輝度の算出精度を高くしてもよい。
【００４２】
また、フィルタは１つでもよい。フィルタを通した信号と通さない信号から同様の計算を行ってもよい。その場合、フィルタを通さない信号では減衰がほぼないため、ＰＬとＰＨの値はほぼ１とすればよい。さらに唯一のフィルタが理想ローパスフィルタに近ければ、ＱＬを１、ＱＨを０とすればよい。この場合、上記のＳＨの計算式は、フィルタを通さない信号からフィルタを通した信号の単純な減算に対応する。すなわちこのような構成では、信号の減算処理によって深さ方向に広い範囲の断層像を得ることが出来る。
【００４３】
また、１つのフィルタで時間的に帯域を切り替えてもよい。帯域を切り替えながら複数の断層像を連続で取得することにより、これら複数の断層像からより深い範囲の断層像を生成することができる。この場合、被検眼の動きの影響を小さくするため、短時間で複数の断層像を取得することが好ましい。そのためには、本実施形態のようにフィルタの帯域は電気的に変更できる構成が好ましい。なお、フィルタの帯域を切り替える構成としては、例えば、フィルタに設けられ、フィルタの周波数特性を変更する特性変更部（例えば、可変抵抗）と、特性変更部を制御する制御部とから成る構成が好ましい。
【００４４】
また、本実施形態ではフィルタ以外による信号の減衰もフィルタの透過率の値に含めている。すなわち、デフォーカスによる信号強度の低下やＡＤ変換部内部のフィルタ特性による減衰もローパスフィルタ１２１およびハイパスフィルタ１２２による減衰と見なして計算を行っている。しかし、これらは別のパラメータとして扱ってもよい。
【００４５】
また、ＡＤ変換部１３１とＡＤ変換部１３２のサンプリング周波数はお互いに異なっていてもよい。演算処理装置１１４が上記の処理を行うかどうかを切り替えられるようにしてもよい。
【００４６】
また、断層像３１２と断層像３２２を生成せず、得られた信号から直接上記の式で最終的な断層像図３（ｄ）を生成してもよい。その場合、断層像３１２や３２２の画像化が不要なため、より高速な処理が可能である。
【００４７】
また、本実施形態では、波長掃引光源１０１による波長掃引には安定性があり、波数に対して一定速度である場合を想定しているが、一定速度ではない光源であっても良い。このような場合には、光源または装置内部で等波数間隔のサンプリングを行うためのｋ−ｃｌｏｃｋを生成し、ＡＤ変換部に入力するような構成が好ましい。なお、ｋ−ｃｌｏｃｋは、変換部がアナログ信号をサンプリングするクロックを生成するクロック生成部の一例である。また、ｋ−ｃｌｏｃｋは、波長掃引光源１０１からの光のうち一部の光が通る光路が第一光路と第一光路に対して光路長差を有する第二光路とに分岐された干渉計として構成されることが好ましい。ここで、波長掃引光源１０１による波長掃引が一定速度ではない場合であっても、変換部のナイキスト周波数より高い周波数の成分は、変換部による干渉信号（アナログ信号）のサンプリングが２回行われる時間より短い時間で振動する成分とみなせるものとする。また、波長掃引光源１０１による波長掃引が一定速度ではない場合であっても、変換部のナイキスト周波数より低い周波数の成分は、変換部による干渉信号（アナログ信号）のサンプリングが２回行われる時間より長い時間で振動する成分とみなせるものとする。
【００４８】
また、本実施形態は、ＳＳ−ＯＣＴであるが、その他のＯＣＴに適用してもよい。例えば、ＳＤ−ＯＣＴではラインセンサの前に光学ローパスフィルタを配置して本実施形態のローパスフィルタ１２１と同等の役割をさせてもよい。また、ラインセンサの画素サイズや回折格子、レンズ等の設計に基づく分解能の低下をローパスフィルタと同等の効果と考え、本発明を適用してもよい。
【００４９】
以上の説明のように、本実施形態によれば、ナイキスト周波数より高い周波数の信号と低い周波数の信号をそれぞれ計算することができる。それにより、ナイキスト周波数より高い周波数の領域すなわち眼底のより深い領域を画像化することができ、深さ方向に広い断層像を得ることが出来る。さらに、光路長を変更する方法と比較すると信号取得を短時間で行うことができ、被検眼の固視微動や疲労の影響を抑えることが出来る。
【００５０】
（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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