(57)【要約】【課題】ピンホールや破れ等の欠陥を精度良く検査可能な検査システム等を提供する。【解決手段】検査システム１０は、透光性を有する包装材Ｐを撮影した撮影画像から包装材Ｐの孔の欠陥３１の検査を行うものである。検査システム１０は、包装材Ｐに第１の照明光を照射する照明装置２と、包装材Ｐから見て照明装置２の反対側に設けられ、包装材Ｐに第２の照明光を照射する照明装置３と、包装材Ｐから見て照明装置２と同じ側に設けられ、包装材Ｐを反射した第１の照明光を受光することによる包装材Ｐの撮影と、包装材Ｐを反射した第１の照明光と包装材Ｐを透過した第２の照明光を受光することによる包装材Ｐの撮影を行う撮影装置４と、撮影装置４で包装材Ｐを撮影した撮影画像から包装材Ｐの欠陥検査を行う検査装置１と、照明装置３と包装材Ｐの間に配置される偏光板５と、撮影装置４と包装材Ｐの間に配置される偏光フィルタ６と、を有する。【選択図】図１
2019174319.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
透光性を有する包装材を撮影した撮影画像から前記包装材の孔の欠陥の検査を行う検査システムであって、
前記包装材に第１の照明光を照射する第１の照明装置と、
前記包装材から見て前記第１の照明装置の反対側に設けられ、前記包装材に第２の照明光を照射する第２の照明装置と、
前記包装材から見て前記第１の照明装置と同じ側に設けられ、前記包装材を反射した前記第１の照明光を受光することによる前記包装材の撮影と、前記包装材を反射した前記第１の照明光と前記包装材を透過した前記第２の照明光を受光することによる前記包装材の撮影を行う撮影装置と、
前記撮影装置で前記包装材を撮影した撮影画像から前記包装材の欠陥検査を行う検査装置と、
前記第２の照明装置と前記包装材の間に配置される第１の偏光フィルタと、
前記撮影装置と前記包装材の間に配置される第２の偏光フィルタと、
を有することを特徴とする検査システム。
【請求項２】
前記第２の照明装置は、前記第２の照明光として青色光を照射することを特徴とする請求項１記載の検査システム。
【請求項３】
前記第１の照明装置は、前記撮影装置による前記包装材の撮影範囲の周囲から前記撮影範囲に前記第１の照明光を照射することを特徴とする請求項１または請求項２記載の検査システム。
【請求項４】
前記検査装置は、前記撮影装置が前記第１、第２の照明光を受光して撮影を行った撮影画像と、前記撮影装置が前記第１の照明光を受光して撮影を行った撮影画像との差分画像を用いて欠陥検査を行うことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の検査システム。
【請求項５】
前記第２の照明装置は、前記第２の照明光として青色光を照射し、
前記差分画像は、前記撮影装置が前記第１、第２の照明光を受光して撮影を行った撮影画像の青成分と、前記撮影装置が前記第１の照明光を受光して撮影を行った撮影画像の青成分の差分をとって得たものであることを特徴とする請求項４記載の検査システム。
【請求項６】
前記検査装置は、前記撮影装置が前記第１、第２の照明光を受光して撮影を行った撮影画像と、前記撮影装置が前記第１の照明光を受光して撮影を行った撮影画像に基づき、前記第１、第２の照明装置の調光を行うことを特徴とする請求項１から請求項５のいずれかに記載の検査システム。
【請求項７】
透光性を有する包装材を撮影した撮影画像から前記包装材の孔の欠陥の検査を行う検査方法であって、
撮影装置が、第１の照明装置から照射され前記包装材を反射した第１の照明光と、第２の照明装置から照射され前記包装材を透過した第２の照明光とを受光することにより前記包装材の撮影を行うステップと、
前記撮影装置が、前記第１の照明装置から照射され前記包装材を反射した第１の照明光を受光することにより前記包装材の撮影を行うステップと、
検査装置が、前記撮影装置で前記包装材を撮影した撮影画像から前記包装材の欠陥検査を行うステップと、
を有し、
前記第２の照明装置と前記包装材の間に第１の偏光フィルタが配置され、
前記撮影装置と前記包装材の間に第２の偏光フィルタが配置されることを特徴とする検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、包装材のピンホール、破れ等の欠陥を検査する検査システム等に関する。
【背景技術】
【０００２】
透明袋や半透明袋などの包装材の製造時にピンホールや破れ等の欠陥が生じると、中身が漏れる恐れがある。そこで、このような欠陥を有する不良品の流出を防ぐため、従来これらの包装材の欠陥検査を実施している。
【０００３】
例えば特許文献１では、照明から照射され包装材で反射した白色光と、別の照明から照射され包装材を透過した青色光とを受光する撮影装置を設け、その撮影画像から包装材の検査を行う検査装置が開示されている。この検査装置では、プラスチック製の包装材の正常部が青色光をあまり透過させない一方、ピンホールや破れ等の欠陥は青色光を通過させることを利用してこれらの欠陥を検出している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開2016-166827号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１の検査装置では、透明度の高い包装材の場合、多くの光が包装材の正常部を透過するため、ピンホールや破れ等の欠陥とその周囲の正常部とで明るさの差が得にくく、これらの欠陥の特定が難しいケースがあった。
【０００６】
本発明は、前述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、ピンホールや破れ等の欠陥を精度良く検査可能な検査システム等を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前述した課題を解決するため第１の発明は、透光性を有する包装材を撮影した撮影画像から前記包装材の孔の欠陥の検査を行う検査システムであって、前記包装材に第１の照明光を照射する第１の照明装置と、前記包装材から見て前記第１の照明装置の反対側に設けられ、前記包装材に第２の照明光を照射する第２の照明装置と、前記包装材から見て前記第１の照明装置と同じ側に設けられ、前記包装材を反射した前記第１の照明光を受光することによる前記包装材の撮影と、前記包装材を反射した前記第１の照明光と前記包装材を透過した前記第２の照明光を受光することによる前記包装材の撮影を行う撮影装置と、前記撮影装置で前記包装材を撮影した撮影画像から前記包装材の欠陥検査を行う検査装置と、前記第２の照明装置と前記包装材の間に配置される第１の偏光フィルタと、前記撮影装置と前記包装材の間に配置される第２の偏光フィルタと、を有することを特徴とする検査システムである。
【０００８】
本発明では、第１の偏光フィルタを透過した第２の照明光について、包装材のピンホールや破れ等の孔の欠陥を通過した時と正常部を透過した時とで偏光状態が異なることを利用し、第１、第２の偏光フィルタの向きを事前に調整することで、包装材の孔の欠陥と正常部とで撮影装置が受光する光量の違いを大きくし、孔の欠陥を精度良く検出することが可能になる。また、第１、第２の照明光を受光して得た撮影画像と、第１の照明光を受光して得た撮影画像を検査に用いることで、外乱光によるテカリや包装材の印刷絵柄等に左右されることなく孔の欠陥を検査できるようになる。
【０００９】
前記第２の照明装置は、前記第２の照明光として青色光を照射することが望ましい。
これにより、第２の照明光が包装材の正常部を透過しにくくなり、包装材の孔の欠陥との間で受光量の差を大きくすることができる。
【００１０】
前記第１の照明装置は、前記撮影装置による前記包装材の撮影範囲の周囲から前記撮影範囲に前記第１の照明光を照射することが望ましい。
これにより、外乱光によるテカリ等の影響を低減することができ、検査精度が高まる。
【００１１】
前記検査装置は、前記撮影装置が前記第１、第２の照明光を受光して撮影を行った撮影画像と、前記撮影装置が前記第１の照明光を受光して撮影を行った撮影画像との差分画像を用いて欠陥検査を行うことが望ましい。
これにより、外乱光によるテカリや包装材の印刷絵柄等を消去した差分画像を用いて包装材の孔の欠陥の検査ができる。
【００１２】
前記第２の照明装置は、前記第２の照明光として青色光を照射し、前記差分画像は、前記撮影装置が前記第１、第２の照明光を受光して撮影を行った撮影画像の青成分と、前記撮影装置が前記第１の照明光を受光して撮影を行った撮影画像の青成分の差分をとって得たものであることが望ましい。
本発明では、前記の差分画像を各撮影画像の青成分から作成することで、包装材の孔の欠陥を透過する青色光に適した欠陥検査ができる。
【００１３】
前記検査装置は、前記撮影装置が前記第１、第２の照明光を受光して撮影を行った撮影画像と、前記撮影装置が前記第１の照明光を受光して撮影を行った撮影画像に基づき、前記第１、第２の照明装置の調光を行うことが望ましい。
このように自動調光処理を行うことで、包装材の種類等によらずに目標とした明るさで画像を撮影することができ、欠陥検査が容易になる。
【００１４】
第２の発明は、透光性を有する包装材を撮影した撮影画像から前記包装材の孔の欠陥の検査を行う検査方法であって、撮影装置が、第１の照明装置から照射され前記包装材を反射した第１の照明光と、第２の照明装置から照射され前記包装材を透過した第２の照明光とを受光することにより前記包装材の撮影を行うステップと、前記撮影装置が、前記第１の照明装置から照射され前記包装材を反射した第１の照明光を受光することにより前記包装材の撮影を行うステップと、検査装置が、前記撮影装置で前記包装材を撮影した撮影画像から前記包装材の欠陥検査を行うステップと、を有し、前記第２の照明装置と前記包装材の間に第１の偏光フィルタが配置され、前記撮影装置と前記包装材の間に第２の偏光フィルタが配置されることを特徴とする検査方法である。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、ピンホールや破れ等の欠陥を精度良く検査可能な検査システム等を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】検査システム１０を示す図。
【図２】検査対象の包装材Ｐを示す図。
【図３】検査装置１のハードウェア構成を示す図。
【図４】照明装置２、３、撮影装置４、偏光板５、偏光フィルタ６の配置を示す図。
【図５】照明光ａ、ｂを示す図。
【図６】照明光ｂの偏光特性を示す図。
【図７】調光処理の流れについて示すフローチャート。
【図８】包装材Ｐの検査方法について示すフローチャート。
【図９】反射・透過画像１００、反射画像２００、および差分画像３００の例。
【図１０】不良品の排出について説明する図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、図面に基づいて、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
【００１８】
（１．検査システム１０）
図１は本発明の実施形態に係る検査システム１０を示す図である。この検査システム１０は、透光性を有する袋状の包装材Ｐの欠陥検査を行うものであり、検査装置１、照明装置２、３、撮影装置４、偏光板５、偏光フィルタ６を有する。特に本実施形態では、検査システム１０によって包装材Ｐのピンホールや破れ等の孔の欠陥が検査される。
【００１９】
図２は検査対象である包装材Ｐを示す図である。包装材Ｐは例えば液体等を入れる袋体であり、透明度の高い基材を貼り合わせて形成される。また包装材Ｐは内容物の注ぎ口Ｂを有し、基材には半透明インキ等による印刷絵柄（不図示）も形成される。基材は一般的にはプラスチック製であり、二軸延伸フィルムなどが用いられる。しかしながら検査対象の包装材Ｐがこれに限定されることはない。
【００２０】
図１の例では、包装材Ｐが基材の貼り合わせを終えた状態で搬送され、金型装置２０によって注ぎ口Ｂを形成するプレス加工が施される。包装材Ｐは複数連続した状態でテンションをかけて搬送され、検査後に切断を行うことで最終的に個々の製品に分離する構成となっている。図１の矢印Ａは包装材Ｐの搬送方向を示す。
【００２１】
検査装置１は、検査システム１０における検査処理全般を制御するものである。検査装置１は照明装置２、３、撮影装置４を制御して包装材Ｐの撮影を行い、撮影装置４で撮影した包装材Ｐの撮影画像から欠陥検査を行う。
【００２２】
図３は検査装置１のハードウェア構成を示す図である。図３に示すように、検査装置１は、例えば制御部１１、記憶部１２、入力部１３、表示部１４、通信制御部１５等をバス１６により接続して構成したコンピュータにより実現できる。但しこれに限ることなく、適宜様々な構成をとることができる。例えば検査装置１としてPLC（programmable logic controller）を用いることも可能である。
【００２３】
制御部１１はCPU、ROM、RAMなどから構成される。CPUは、記憶部１２、ROMなどの記憶媒体に格納された検査装置１の処理に係るプログラムをRAM上のワークエリアに呼び出して実行する。ROMは不揮発性メモリであり、ブートプログラムやBIOSなどのプログラム、データなどを恒久的に保持している。RAMは揮発性メモリであり、記憶部１２、ROMなどからロードしたプログラムやデータを一時的に保持するとともに、制御部１１が各種処理を行うために使用するワークエリアを備える。
【００２４】
記憶部１２はハードディスクドライブやソリッドステートドライブ、フラッシュメモリ等であり、制御部１１が実行するプログラム、プログラム実行に必要なデータ、OSなどが格納される。これらのプログラムやデータは、制御部１１により必要に応じて読み出され実行される。
【００２５】
入力部１３は検査装置１に各種の設定入力を行うものである。
表示部１４は例えば液晶ディスプレイ等である。
通信制御部１５はネットワーク等を介した通信を媒介する通信インタフェースであり、照明装置２、３、撮影装置４等との間で通信を行う。
バス１６は、検査装置１の各部間の制御信号、データ信号等の授受を媒介する経路である。
【００２６】
図４は照明装置２、３、撮影装置４、偏光板５、偏光フィルタ６の配置を示す図であり、包装材Ｐの側方からこれらの配置を見た図である。
【００２７】
照明装置２（第１の照明装置）は、例えばLED(Light Emitting
Diode)等を光源とし、照明光として白色光を包装材Ｐに照射する。本実施形態では照明装置２が中央部に開口２１を有するリング状であり、撮影装置４による包装材Ｐの撮影範囲の周囲の各方向から当該撮影範囲に照明光を照射する。
【００２８】
照明装置３（第２の照明装置）は、包装材Ｐから見て照明装置２の反対側に設けられる。照明装置３は例えばLED等を光源とし、照明光として青色光を包装材Ｐに照射する。本実施形態では照明装置３がLED等を縦横に配列した板状の面照明である。青色光の波長は例えば400〜500nmの間とするが、これに限ることはない。また単波長の光であっても波長に幅のある光であってもよい。
【００２９】
撮影装置４は包装材Ｐの撮影を行うものであり、包装材Ｐから見て照明装置２と同じ側に設けられる。本実施形態では撮影装置４としてエリアカメラが用いられ、CCD（Charge Coupled Device）イメージセンサやCMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサ等の受光素子を有する受光部４１と受光レンズ４２を備える。撮影装置４（受光レンズ４２）の光軸は包装材Ｐの法線方向と対応しているが、これに限ることはない。
【００３０】
撮影装置４は、図５（ａ）に示すように照明装置２から照射され包装材Ｐで反射された照明光ａ（第１の照明光）を受光可能であるとともに、図５（ｂ）に示すように照明装置３から照射され包装材Ｐを透過した照明光ｂ（第２の照明光）を受光可能である。撮影装置４はカラーカメラであり、包装材Ｐを撮影したカラーの撮影画像（RGB画像）を検査装置１に送信する。
【００３１】
本実施形態では、照明光ｂとして青色光を用いることにより、照明光ｂが包装材Ｐのプラスチック製の基材の正常部（孔の欠陥の無い部分）を透過しにくくなる。一方、包装材Ｐの孔の欠陥では照明光ｂがそのまま通過するので、孔の欠陥と正常部とで撮影装置４が受光する光量の差を大きくすることができる。
【００３２】
偏光板５（第１の偏光フィルタ）は、照明装置３と包装材Ｐの間に設けられ、前記の照明光ｂは偏光板５を透過して包装材Ｐに照射される。
【００３３】
偏光フィルタ６（第２の偏光フィルタ）は撮影装置４と包装材Ｐの間に設けられ、撮影装置４は偏光フィルタ６を介して照明光ａ、ｂを受光する。
【００３４】
本実施形態では、包装材Ｐの孔の欠陥を透過した照明光ｂを、包装材Ｐの正常部を透過した照明光ｂよりも多く撮影装置４で受光するために、照明光ｂに青色光を用いるのに加え、偏光板５、偏光フィルタ６が事前に適切な向きに設定される。
【００３５】
例えば偏光板５を直線偏光板とし、図６に示すように、照明装置３から照射され偏光板５を通過した照明光ｂが、ｃに例示する所定の偏光方向の直線偏光となるように偏光板５の平面における向きを定める。
【００３６】
この照明光ｂは、包装材Ｐの孔の欠陥３１を通るときにはｄに示すように偏光状態がそのまま変わらないのに対し、包装材Ｐの正常部を通るときには基材の偏光特性により偏光状態が変わり、例えばｅに示すように楕円偏光もしくは円偏光となる。
【００３７】
従って、例えば偏光フィルタ６を直線偏光フィルタとし、その平面における向きを、ｄに示す偏光状態の照明光ｂを多く透過し、ｅに示す偏光状態の照明光ｂをそれよりも少なく透過するように定めることで、包装材Ｐの孔の欠陥３１を透過した照明光ｂを、包装材Ｐの正常部を透過した照明光ｂよりも多く撮影装置４で受光するようにできる。
【００３８】
なお、図１の例では複数の包装材Ｐが一列に連続した状態で搬送されるが、これに限ることはない。例えば後述する図１０（ａ）に示すように、複数の包装材Ｐが二列に連続した状態で搬送されることもある。この場合、例えば、図１の照明装置２、３、撮影装置４、偏光板５、偏光フィルタ６のセットを各列に対応して２セット配置し、列ごとに包装材Ｐの撮影と欠陥検査を行う。ただしこれに限ることはなく、照明装置２、３、撮影装置４、偏光板５、偏光フィルタ６のセットを２つの列の境界に対応する位置に１セット配置してもよい。
【００３９】
（２．検査システム１０における処理）
次に、本実施形態の検査システム１０における処理について説明する。
【００４０】
（２−１．照明装置２、３の調光）
本実施形態では、包装材Ｐの欠陥検査を行うに際し、撮影画像が包装材Ｐの種類等に応じた所定の明るさとなるように、まず照明装置２、３の調光が自動で行われる。図７はこの調光処理の流れについて示すフローチャートであり、図の各ステップは検査装置１の制御部１１により実行される。
【００４１】
すなわち、検査装置１は、包装材Ｐが撮影装置４の撮影範囲に配置された状態で、まず照明装置２、３を最大値の半分の光量で点灯させ、撮影装置４により包装材Ｐの撮影を行う（Ｓ１１）。例えば照明装置２、３が２５６階調で光量を調節できるものの場合、照明装置２、３を中間の１２８の段階で点灯させる。Ｓ１１で得られる撮影画像は、撮影装置４が照明光ａ、ｂを受光して包装材Ｐの撮影を行ったものであり、以下、反射・透過画像ということがある。
【００４２】
次に、検査装置１は照明装置３を消灯して撮影装置４により包装材Ｐの撮影を再度行う（Ｓ１２）。この撮影画像は、撮影装置４が照明光ａのみを受光して包装材Ｐの撮影を行ったものであり、以下、反射画像ということがある。
【００４３】
検査装置１は、Ｓ１１、Ｓ１２で撮影された各撮影画像の輝度を算出する（Ｓ１３）。この輝度としては、例えば撮影画像の各画素の輝度の平均値や、輝度ヒストグラムの中央値等とできる。
【００４４】
次に、検査装置１は、各撮影画像（反射・透過画像と反射画像）の輝度が所定の目標値にあるか否かを判定する（Ｓ１４）。本実施形態では各撮影画像の輝度に対して目標値がそれぞれ設定されており、例えば両撮影画像の輝度が目標値であればＯＫとし、いずれかの撮影画像の輝度が目標値でなければＮＧとする。
【００４５】
各撮影画像の輝度が所定の目標値にあれば（Ｓ１４；ＹＥＳ）、照明装置２、３の調光作業を終了する。一方、いずれかの撮影画像の輝度が目標値でない場合（Ｓ１４；ＮＯ）、検査装置１は当該輝度と目標値の違いに応じて照明装置２、３の光量の調整を行う（Ｓ１５）。
【００４６】
Ｓ１５では、例えば反射画像の輝度が目標値より低い場合、検査装置１は反射画像の撮影時（Ｓ１２）の照明装置２の光量を１階調分上げる。反射画像の輝度が目標値より高い場合、検査装置１は反射画像の撮影時の照明装置２の光量を１階調分下げる。
【００４７】
また、反射・透過画像の輝度が目標値より低い場合、検査装置１は、反射・透過画像の撮影時（Ｓ１１）の照明装置２、３の少なくとも一方の光量を１階調分上げる。反射・透過画像の輝度が目標値より高い場合、検査装置１は反射・透過画像の撮影時の照明装置２、３の少なくとも一方の光量を１階調分下げる。
【００４８】
検査装置１は、こうして照明装置２、３の光量の調整を行った後、Ｓ１１の処理に戻り、調整後の光量にて再度包装材Ｐを撮影する。以下、Ｓ１１〜Ｓ１５の処理を繰り返すことにより、照明装置２、３の光量が包装材Ｐの検査を行うのに適切な明るさに自動で設定される。
【００４９】
（２−２．包装材Ｐの検査）
上記の調光処理を終えた後、包装材Ｐの注ぎ口Ｂやその他の基材部分の検査が行われる。図８は包装材Ｐの検査方法について示すフローチャートであり、図の各ステップは検査装置１の制御部１１によって実行される。なお、本実施形態では包装材Ｐが間欠搬送されており、その一時停止時に以下のフローが実行される。
【００５０】
検査装置１は、まず照明装置２、３を図７のフローで調整された光量にて点灯させ、撮影装置４により包装材Ｐの反射・透過画像を撮影する（Ｓ２１）。
【００５１】
図９（ａ）はこの反射・透過画像１００の例であり、照明装置３からの照明光ｂ（青色光）は包装材Ｐをあまり透過せず包装材Ｐの正常部は比較的暗く写るが、包装材Ｐにピンホールや破れ等の孔の欠陥３１があると、この欠陥３１を照明光ｂが透過することで欠陥３１が比較的明るく写る。特に本実施形態では、前記したように偏光板５、偏光フィルタ６の向きを調整することにより欠陥３１とその周囲の正常部との間で明るさの差が大きくなっている。
【００５２】
次に、検査装置１は、照明装置３を消灯して照明装置２のみ図７のフローで調整された光量にて点灯した状態とし、撮影装置４により包装材Ｐの反射画像を撮影する（Ｓ２２）。
【００５３】
図９（ｂ）はこの反射画像２００の例である。図９（ｂ）に示すように、反射画像２００には前記のピンホールや破れ等の孔の欠陥３１はほぼ写らない。
【００５４】
ここで、図９（ａ）、（ｂ）の３２は外乱光によるテカリ、テンション搬送によるシワ等の欠陥ではない陰影部分、３３は基材上の印刷絵柄であり両画像で共通して撮影される。ただし、照明装置２は包装材Ｐの撮影範囲の周囲の各方向から当該撮影範囲を照明するので、包装材Ｐの欠陥ではないテカリやシワ等の陰影は目立たないものとなっている。
【００５５】
続いて、検査装置１は、Ｓ２１、２２で撮影した反射・透過画像１００と反射画像２００の差分処理を行って差分画像を作成する（Ｓ２３）。
【００５６】
例えばＳ２３では、反射・透過画像１００と反射画像２００とで対応する位置にある画素について、反射・透過画像１００での画素値のＢ成分（青成分）から反射画像２００での画素値のＢ成分を差し引いて差分画像を作成する。なお引いた後の値がマイナスの場合はその画素の画素値を０とする。
【００５７】
図９（ｃ）はこの差分画像３００の例であり、孔の欠陥３１の部分が周囲に比べて明るく現れる一方、前記した外乱光によるテカリや印刷絵柄等は差分を取ることにより差分画像３００から除去される。本実施形態では前記した図７のフローにおいて反射画像２００の輝度が高く設定されており、上記の差分をとった時に外乱光によるテカリや印刷絵柄等の部分がマイナスとなりやすく、差分画像３００における画素値が０となって外乱光によるテカリや印刷絵柄等の部分を確実に除去できる。
【００５８】
次に、検査装置１は、差分画像３００から包装材Ｐの欠陥検査を行う（Ｓ２４）。
【００５９】
例えばＳ２４では、検査装置１が、差分画像３００において画素値が閾値以上の領域を欠陥として抽出し、抽出した領域の大きさが所定値以上、抽出した領域の数が所定数以上等の条件を満たしたとき、包装材Ｐを不良品と判定する。そうでない場合、包装材Ｐを良品と判定する。特に本実施形態では、上記の欠陥としてピンホールや破れ等の孔の欠陥３１が差分画像３００から抽出される。しかしながら、欠陥検査の手法はこれに限らない。
【００６０】
不良品と判定された包装材Ｐは、その後の工程で不良品として除去される。例えば図１０（ａ）に示すように複数の包装材Ｐが二列に連続した状態で搬送される場合、検査装置１は、搬送方向（矢印Ａ参照）と平面上直交する方向に隣り合う２つの包装材Ｐのいずれも良品と判定されると、切断装置（不図示）等に制御信号を送信して、これらの包装材Ｐの搬送方向の境界Ｃ１および搬送方向と直交する方向の境界Ｃ２を切断して図１０（ｂ）に示すように包装材Ｐを１袋単位で排出させる。一方、検査装置１は、上記２つの包装材Ｐのいずれかが不良品と判定されると、包装材Ｐの切断装置（不図示）等に制御信号を送信し、搬送方向と直交する方向の境界Ｃ２のみを切断し、図１０（ｃ）に示すように２袋が繋がった状態で包装材Ｐを排出させる。これにより２袋が繋がったものが不良品であることが容易にわかり、これを手作業で除去することができる。ただし、包装材Ｐの良不良を判定した後の処理はこれに限らない。
【００６１】
本実施形態では、こうして各包装材Ｐに対する欠陥検査を実施する。抽出された欠陥の数はカウントしておき、その数が多ければ製袋装置のメンテナンス等を実行するようにしておく
【００６２】
以上説明したように、本実施形態では、偏光板５を透過した照明光ｂについて、包装材Ｐのピンホールや破れ等の孔の欠陥３１を通過した時と正常部を透過した時とで偏光状態が異なることを利用し、偏光板５と偏光フィルタ６の向きを事前に調整することで、包装材Ｐの孔の欠陥３１と正常部とで撮影装置４が受光する光量の違いを大きくし、孔の欠陥３１を精度良く検出することが可能になる。また、照明光ａ、ｂを受光して得た反射・透過画像１００と、照明光ａを受光して得た反射画像２００を検査に用いることで、外乱光によるテカリや包装材Ｐの印刷絵柄等に左右されることなく孔の欠陥３１を検査できるようになる。
【００６３】
特に本実施形態では、反射・透過画像１００と反射画像２００の差分画像３００を用いて欠陥検査を行うことで、外乱光によるテカリや包装材Ｐの印刷絵柄等を消去した差分画像３００を用いて包装材Ｐの孔の欠陥３１の検査ができる。
【００６４】
また、本実施形態では照明光ｂとして青色光を照射することで、照明光ｂが包装材Ｐの正常部を透過しにくくなり、包装材Ｐの孔の欠陥３１との間で受光量の差を大きくすることができる。差分画像３００は反射・透過画像１００と反射画像２００の青成分から作成することで、包装材Ｐの孔の欠陥３１を透過する青色光に適した欠陥検査ができる。
【００６５】
また照明装置２は、撮影装置４による包装材Ｐの撮影範囲の周囲から撮影範囲に照明光ａを照射することで、外乱光によるテカリ、シワ等の影響を低減することができ、検査精度が高まる。
【００６６】
また本実施形態では前記のように検査装置１が自動調光処理を行うことで、包装材Ｐの種類や照明装置２、３の劣化によらずに目標とした明るさで画像を撮影することができ、欠陥検査が容易になる。
【００６７】
ただし、本発明がこれに限ることはない。例えば、照明装置２はリング状のものでなくともよく、一部の方向から照明光ａを照射するものであってもよい。また照明光ｂは青色光に限らず、青色光より短波長の照明光を用いてもよい。この場合、撮影装置４には当該短波長の照明光を受光できるカメラが必要になる。
【００６８】
以上、添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例又は修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【符号の説明】
【００６９】
１：検査装置
２、３：照明装置
４：撮影装置
５：偏光板
６：偏光フィルタ
１０：検査システム
２０：金型装置
２１：開口
３１：欠陥
４１：受光部
４２：受光レンズ
１００：反射・透過画像
２００：反射画像
３００：差分画像
Ｐ：包装材
ａ、ｂ：照明光
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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