(57)【要約】【課題】複数の給電回路それぞれの信頼性の低下を抑制するライトコントローラを提供する。【解決手段】制御回路４０は、Ｎ個の給電回路のそれぞれを検査対象とするＮ回の第１の検査と、Ｎ個の給電回路全体を検査対象とする１回の第２の検査とを行い、Ｎ回の第１の検査のそれぞれにおいて、Ｎ個の給電回路２１〜２５のうちの該当する１つの給電回路を給電状態にし、かつ、他の給電回路を非給電状態にし、前記電流検出回路８０に電流の大きさを検出させ、当該電流の大きさが第１のしきい値よりも大きければエラーと判定し、第２の検査において、Ｎ個の給電回路２１〜２５を同時に給電状態にし、電流検出回路８０に電流の大きさを検出させ、検出した電流の大きさが第２のしきい値よりも大きければエラーと判定する。【選択図】図１
2019220297.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電源線からの電力をスイッチングし、スイッチングした電力を複数の照明器具に給電するＮ個（Ｎは２以上の整数）の給電回路と、
前記Ｎ個の給電回路それぞれの給電を制御する制御回路と、
前記Ｎ個の給電回路に流れる電流の大きさを検出する電流検出回路とを備え、
前記制御回路は、前記Ｎ個の給電回路のそれぞれを検査対象とするＮ回の第１の検査と、前記Ｎ個の給電回路全体を検査対象とする１回の第２の検査とを行い、
前記Ｎ回の第１の検査のそれぞれにおいて、前記Ｎ個の給電回路のうちの該当する１つの給電回路を給電状態にし、かつ、他の給電回路を非給電状態にし、前記電流検出回路に電流の大きさを検出させ、当該電流の大きさが第１のしきい値よりも大きければエラーと判定し、
前記第２の検査において、前記Ｎ個の給電回路を同時に給電状態にし、前記電流検出回路に電流の大きさを検出させ、検出した電流の大きさが第２のしきい値よりも大きければエラーと判定し、
前記Ｎ回の第１の検査および１回の第２の検査のいずれかでエラーと判定したときエラーを報知する
ライトコントローラ。
【請求項２】
前記第１のしきい値は、前記Ｎ個の給電回路個別に定められ、
前記第２のしきい値は、前記Ｎ個の給電回路の前記第１のしきい値の合計よりも小さい
請求項１に記載のライトコントローラ。
【請求項３】
前記第２のしきい値は、前記第１のしきい値の２倍以上である
請求項２に記載のライトコントローラ。
【請求項４】
前記Ｎ個の給電回路のそれぞれは、前記複数の照明器具のうち０以上の照明器具の接続を許容し、２つ以上の照明器具の並列接続を許容する仕様を有する
請求項１〜３のいずれか１項に記載のライトコントローラ。
【請求項５】
前記制御回路は、前記Ｎ個の給電回路毎に、スイッチングすることによって前記電源線の交流電圧に対する位相制御による調光を行う
請求項１〜４のいずれか１項に記載のライトコントローラ。
【請求項６】
前記Ｎ個の給電回路のそれぞれは、パワーＭＯＳＦＥＴを有し、
前記位相制御は、前記電源線からの交流電圧のゼロクロス点から始まる任意の期間において前記パワーＭＯＳＦＥＴをオン状態にする逆位相制御である
請求項５に記載のライトコントローラ。
【請求項７】
前記Ｎ個の給電回路のそれぞれは、前記パワーＭＯＳＦＥＴに供給されるゲート信号の立ち上がり波形および立ち下がり波形をなまらせる時定数回路を有する
請求項６に記載のライトコントローラ。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか１項に記載のライトコントローラと、
前記複数の照明器具とを備える
照明システム。
【請求項９】
電源線からの電力をスイッチングし、スイッチングした電力を複数の照明器具に給電するＮ個（Ｎは２以上の整数）の給電回路と、
前記Ｎ個の給電回路それぞれの給電を制御する制御回路と、
前記Ｎ個の給電回路に流れる電流の大きさを検出する電流検出回路とを備える照明システムの検査方法であって、
前記Ｎ個の給電回路のそれぞれに対して、当該給電回路を給電状態にし、かつ、他の給電回路を非給電状態にし、前記電流検出回路に電流の大きさを検出させ、当該電流の大きさが第１のしきい値よりも大きければエラーと判定し、
前記Ｎ個の給電回路を同時に給電状態にし、前記電流検出回路に電流の大きさを検出させ、検出した電流の大きさが第２のしきい値よりも大きければエラーと判定する
照明システムの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の照明器具を接続する複数の給電回路を有するライトコントローラ、照明システムおよび検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１および特許文献２は、複数の照明器具を接続する複数の給電回路を有し、給電回路毎に照明器具の点灯を制御するライトコントローラを開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−１６４３７２号公報
【特許文献２】特開２０１４−３５８５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
一般に、複数の照明器具を配置して制御装置に接続する設置工事では、接続後に、複数の給電回路の全体に流れる電流が許容値の範囲内かどうかの検査が行われる。
【０００５】
ところで、個々の給電回路に接続される照明器具の台数は均等になるとは限らず、不均等になる場合がある。照明器具の接続台数が特定の給電回路に集中する場合には、特定の給電回路に流れる電流が給電回路当たりの許容値を超える可能性がある。給電回路の電流が許容値を超えると、給電回路に異常な発熱が生じ、給電回路を構成する回路素子が劣化し、ひいては破壊に至る恐れがあり、給電回路の信頼性が低下するという問題が生じる。
【０００６】
本発明は、給電回路それぞれの信頼性の低下を抑制するライトコントローラ、照明システムおよび検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明の一形態に係るライトコントローラは、電源線からの電力をスイッチングし、スイッチングした電力を複数の照明器具に給電するＮ個（Ｎは２以上の整数）の給電回路と、前記Ｎ個の給電回路それぞれの給電を制御する制御回路と、前記Ｎ個の給電回路に流れる電流の大きさを検出する電流検出回路とを備え、前記制御回路は、前記Ｎ個の給電回路のそれぞれを検査対象とするＮ回の第１の検査と、前記Ｎ個の給電回路全体を検査対象とする１回の第２の検査とを行い、前記Ｎ回の第１の検査のそれぞれにおいて、前記Ｎ個の給電回路のうちの該当する１つの給電回路を給電状態にし、かつ、他の給電回路を非給電状態にし、前記電流検出回路に電流の大きさを検出させ、当該電流の大きさが第１のしきい値よりも大きければエラーと判定し、前記第２の検査において、前記Ｎ個の給電回路を同時に給電状態にし、前記電流検出回路に電流の大きさを検出させ、検出した電流の大きさが第２のしきい値よりも大きければエラーと判定し、前記Ｎ回の第１の検査および１回の第２の検査のいずれかでエラーと判定したときエラーを報知する。
【０００８】
また、本発明の一態様に係る照明システムは、上記のライトコントローラと上記の複数の照明器具とを備える。
【０００９】
また、本発明の一態様に係る照明システムの検査方法は、電源線からの電力をスイッチングし、スイッチングした電力を複数の照明器具に給電するＮ個（Ｎは２以上の整数）の給電回路と、前記Ｎ個の給電回路それぞれの給電を制御する制御回路と、前記Ｎ個の給電回路に流れる電流の大きさを検出する電流検出回路とを備える照明システムの検査方法であって、前記Ｎ個の給電回路のそれぞれに対して、当該給電回路を給電状態にし、かつ、他の給電回路を非給電状態にし、前記電流検出回路に電流の大きさを検出させ、当該電流の大きさが第１のしきい値よりも大きければエラーと判定し、前記Ｎ個の給電回路を同時に給電状態にし、前記電流検出回路に電流の大きさを検出させ、検出した電流の大きさが第２のしきい値よりも大きければエラーと判定する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明に係るライトコントローラ、照明システムおよび検査方法によれば、複数の照明器具を接続する複数の給電回路それぞれの信頼性の低下を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、実施の形態１に係る照明システムの構成例を示すブロック図である。
【図２】図２は、実施の形態１に係る給電回路の構成例を示す回路図である。
【図３】図３は、実施の形態１に係る給電回路を用いた位相制御の動作例を示す波形図である。
【図４】図４は、実施の形態１に係る他の位相制御の動作例を示す波形図である。
【図５】図５は、実施の形態１に係るライトコントローラが給電する電流の最大許容値の一例を示す図である。
【図６】図６は、実施の形態１に係るライトコントローラと照明器具との接続形態の第１例を示す図である。
【図７】図７は、実施の形態１に係るライトコントローラと照明器具との接続形態の第２例を示す図である。
【図８】図８は、実施の形態１に係るライトコントローラと照明器具との接続形態の第３例を示す図である。
【図９】図９は、実施の形態１に係るライトコントローラによる検査の動作例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも本発明の好ましい一具体例を示す。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置および接続形態、ステップおよびステップの順序等は、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下の実施の形態における構成要素のうち、本発明の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、より好ましい形態を構成する任意の構成要素として説明する。また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密な寸法を表すものではない。
【００１３】
（実施の形態１）
［１．１  照明システムの構成例］
まず、実施の形態１に係る照明システムの構成例について説明する。
【００１４】
図１は、実施の形態１に係る照明システムの構成例を示すブロック図である。同図の照明システムは、ライトコントローラ１００と照明器具１１〜１５とを備える。ライトコントローラ１００は、給電モジュール２０、ゲート駆動回路３０、制御回路４０、ゼロクロス検出回路５０、電源回路６０、操作部７０、電流検出回路８０および表示部９０を備える。同図の太線は交流１００Ｖの電源線を示し、通常の線はそれ以外の配線を示す。電源線は、接地線であるＮ（Neutral）線と、非接地線であるＬ（Live）線を有し、１００Ｖ単相交流の電力を、ライトコントローラ１００を介して複数の照明器具に供給する。
【００１５】
給電モジュール２０は、Ｎ個の給電回路とＮ個の給電端子とを有する。Ｎは２以上の整数であり、図１ではＮ＝５の例を示している。給電回路２１〜２５は、給電端子Ｔ１〜Ｔ５に対応する。給電回路２１〜２５のそれぞれは、スイッチング素子を有し、制御回路４０の制御に従って、電源線からの電力をスイッチングし、対応する給電端子からスイッチングした電力を供給する。スイッチング素子は、例えば、パワーＭＯＳＦＥＴ（Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor）、トライアックなどの電力用半導体素子を含む。給電回路２１〜２５においてスイッチングは、照明器具の点灯および消灯を制御し、さらに、照明器具の明るさを調節する調光を制御するためである。
【００１６】
ゲート駆動回路３０は、給電回路２１〜２５に対応するバッファ３１〜３２を有する。バッファ３１は、制御回路４０から入力されるゲート信号をレベルシフトして給電回路２１に出力する。バッファ３１は、このゲート信号の出力により、給電回路２１内のスイッチング素子のスイッチング動作を駆動する。バッファ３２〜３５もバッファ３１とほぼ同様である。
【００１７】
制御回路４０は、ＡＤコンバータ４１を備え、主に照明システムの検査と照明システムの運用とを制御する。
【００１８】
まず、照明システムの検査について説明する。照明システムの検査は、自己診断機能の一部であり、運用の前段階として、照明システムの設置工事完了時、および、照明システムの変更時に行われる。照明システムの設置工事では、建物の居室等にライトコントローラ１００および１１〜１５等の新たな配置および新たな配線がなされる。照明システムの変更では、照明器具の取り換え、追加、削除、配線変更等がなされる。
【００１９】
制御回路４０は、照明システムの検査および運用を制御する。
【００２０】
まず、照明システムの検査について説明する。照明システムの検査では、制御回路４０は、Ｎ個の給電回路のそれぞれを検査対象とするＮ回の第１の検査と、Ｎ個の給電回路全体を検査対象とする１回の第２の検査とを行う。Ｎ回の第１の検査のそれぞれにおいて、制御回路４０は、Ｎ個の給電回路のうちの該当する１つの給電回路を給電状態にし、かつ、他の給電回路を非給電状態にし、電流検出回路８０に電流の大きさを検出させ、当該電流の大きさが第１のしきい値よりも大きければエラーと判定する。第１のしきい値は、Ｎ個の給電回路それぞれ１つ当たりの最大許容値である。第１のしきい値は、Ｎ個の給電回路で同じ値であってもよいし、異なる値を含んでいてもよい。ここでいう給電状態は、給電回路から１００％給電された状態をいい、照明器具を最も明るく点灯させる給電状態をいう。
【００２１】
さらに、第２の検査において、制御回路４０は、Ｎ個の給電回路を同時に給電状態にし、電流検出回路８０に電流の大きさを検出させ、検出した電流の大きさが第２のしきい値よりも大きければエラーと判定する。第２のしきい値は、Ｎ個の給電回路全体での最大許容値である。
【００２２】
制御回路４０は、Ｎ回の第１の検査および１回の第２の検査のいずれかでエラーと判定したとき表示部９０を通してエラーを報知する。
【００２３】
なお、制御回路４０は、マイクロコンピュータまたはマイクロコントローラと呼ばれるマイコンにより構成してもよい。この場合、制御回路４０としてのマイコンは、メモリとＣＰＵ、ＡＤコンバータ４１とを備える。メモリは、ＲＯＭ、ＲＡＭ、不揮発メモリを含み、プログラムおよびデータを記憶する。ＣＰＵは、メモリに記憶されたプログラムを実行することによって、照明システムの検査と照明システムの運用とを制御する。
【００２４】
ＡＤコンバータ４１は、電流検出回路８０からの、電流値を示すアナログ信号をデジタル値に変換する。制御回路４０は、デジタル値に基づいて電源線に流れる電流の実効値を算出する。
【００２５】
次に、照明システムの運用について説明する。照明システムの運用では、制御回路４０は、給電回路２１〜２５のスイッチング素子を用いて給電する電力を位相制御することによって、照明器具の明るさを調節する調光を制御する。
【００２６】
ゼロクロス検出回路５０は、電源線の交流電圧のゼロクロスを検出する。ゼロクロスの検出結果は、制御回路４０による位相制御に用いられる。
【００２７】
電源回路６０は、電源線の交流電圧から、ライトコントローラ１００の各部が必要とする直流電源電圧を生成するＡＣ−ＤＣコンバータである。
【００２８】
操作部７０は、ユーザ操作を受け付ける操作パネルを有し、例えば、照明器具をオンおよびオフする操作スイッチ、調光を指示する調光つまりまたは調光スライダーを有する。
【００２９】
電流検出回路８０は、電源線からライトコントローラ１００を介して複数の照明器具に流れる電流値を検出する。図１では、電流検出回路８０は、トランス８１と抵抗Ｒ０とを備える。トランス８１の一次巻線は、電源線（図１ではＬ線）に直列に挿入される。トランス８１の二次巻線は抵抗Ｒ０とループ回路を形成する。抵抗Ｒ０は、電流検出抵抗であり、二次巻線に流れる電流の大きさに比例する電圧降下を発生する。抵抗Ｒ０に生じる電圧降下は、一次巻線および二次巻線の交流電流に比例し、制御回路４０のＡＤコンバータ４１に入力される。抵抗Ｒ０の電圧降下は交流電圧の瞬時値を示すアナログ信号として制御回路４０に出力される。制御回路４０は、少なくとも１周期のアナログ信号をデジタル化および平均化処理をして平均値（ここでは実効値）を求める。
【００３０】
表示部９０は、例えば、数個の発光ダイオード、小型の液晶パネルなどであり、上記の検査におけるエラーの有無、運用時の状態を表示する。
【００３１】
［１．２  給電回路の構成例］
次に給電回路２１〜２５の回路例について説明する。ここでは、給電回路がパワーＭＯＳＦＥＴを有する回路例を説明する。
【００３２】
図２は、実施の形態１に係る給電回路２１の構成例を示す回路図である。また、図３は、図２の給電回路を用いた位相制御方式による動作例を示す波形図である。図２中のａ、ｂ、ｃおよびｄは、図３のゲート信号ａ、ｂ、ｃおよび給電波形ｄに対応する。ゲート信号ａは、電源線の交流電力のゼロクロスのタイミングで立ち上がり、所定時間後に立ち下がるパルスを信号である。所定時間は、０以上半周期以下の範囲内の時間であり、制御回路４０によって調光率に応じて定められる。
【００３３】
図２の給電回路２１は、時定数回路２１ａ、パワーＭＯＳトランジスタ２１ｂ、２１ｃを備える。
【００３４】
時定数回路２１ａは、バッファ３１から入力されるゲート信号ａの立ち上がりエッジおよび立下りエッジをなまらせることによりゲート信号ｂおよびゲート信号ｃを生成する。ゲート信号ｂおよびゲート信号ｃは、パワーＭＯＳトランジスタ２１ｂおよび２１ｃのゲートにそれぞれ出力される。ゲート信号ｂおよびｃを生成するために、時定数回路２１ａは、抵抗Ｒ１〜Ｒ４、ダイオードＤ１、Ｄ２、キャパシタＣ１、Ｃ２を備える。抵抗Ｒ１、Ｒ２、ダイオードＤ１およびキャパシタＣ１からなる回路部分は、ゲート信号ｂを生成する。ゲート信号ｂにおける波形のなまり具合は、抵抗Ｒ１、Ｒ２の抵抗値およびキャパシタＣ１の容量値によって定まる時定数により定義可能である。また、抵抗Ｒ３、Ｒ４、ダイオードＤ２およびキャパシタＣ２からなる回路部分は、ゲート信号ｃを生成する。ゲート信号ｃにおける波形のなまり具合は、抵抗Ｒ３、Ｒ３の抵抗値およびキャパシタＣ２の容量値によって定まる時定数により定義可能である。ゲート信号ａの立ち上がりエッジおよび立下りエッジを積極的になまらせるのは、給電波形ｄに生じ得るオーバーシュートおよびアンダーシュートを抑制して、ノイズ成分を低減するためである。
【００３５】
パワーＭＯＳトランジスタ２１ｂは、時定数回路２１ａからのゲート信号ｂに従ってオンおよびオフするパワースイッチング素子である。パワーＭＯＳトランジスタ２１ｃは、時定数回路２１ａからのゲート信号ｂに従ってオンおよびオフするパワースイッチング素子である。
【００３６】
なお、給電回路２２〜２５も給電回路２１と同じ回路構成でよい。
【００３７】
図３では、逆位相制御方式と呼ばれる調光制御の例を示している。同図では、調光率が５０％であるときの波形を示し、オン時間Ｔｏｎとオフ時間Ｔｏｆｆが同じになっている。この例では、制御回路４０は、交流電源のゼロクロスのタイミングでゲート信号ａをハイレベルに立ち上げ、さらに１／４周期が経過した時点でゲート信号ａをローレベルに立ち下げる。その結果、電源線の交流電力のうち、給電波形ｄのハッチング部分に示す部分が照明器具に供給される。
【００３８】
なお、図２および図３では、パワーＭＯＳトランジスタを含む給電回路を用いた逆位相制御による調光制御の例を示したが、給電回路２１は、パワーＭＯＳトランジスタの代わりにトライアックを有し、位相制御（順位相制御）による調光制御を行う構成でもよい。順位相制御による調光制御における給電波形の例を図４に示す。図４では、調光率５０％である場合の給電波形を示している。
【００３９】
なお、制御回路４０は、位相制御をしないで、単純に、給電回路２１〜２５のオンおよびオフ（給電および非給電）を制御してもよい。
【００４０】
次に、照明システムから複数の照明器具に給電可能な電流の最大許容値の例について説明する。
【００４１】
図５は、実施の形態１に係るライトコントローラ１００が給電する電流の最大許容値の一例を示す図である。同図では給電回路２１〜２５の個別の最大許容値と、全体の最大許容値とを示している。個別の最大許容値は第１のしきい値として用いられる。全体の最大許容値は第２のしきい値として用いられる。
【００４２】
この例では、給電回路２１〜２５それぞれの最大許容値は、２．５Ａであるものとする。つまり、給電回路２１〜２５のそれぞれは、最大２．５Ａまで給電可能であるものとする。また、給電回路２１〜２５の全体の最大許容値は５．０Ａであるものとする。この例では、個別の最大許容値の合計と、全体の最大許容値とは等しくなっていない。図５では、個別の最大許容値の合計（１２．５Ａ）は、全体の最大許容値（５Ａ）を大きく超えている。
【００４３】
これは次の理由による。すなわち、Ｎ個の給電回路への照明器具の接続設計の自由度を大きくするためである。もし、個別の最大許容値が全体の最大許容値をＮ等分した値であれば、Ｎ個の給電回路への照明器具を接続設計の自由度が小さくなる。この場合、図６のような接続形態には適しているが、図７や図８のように一部の給電回路に偏った接続形態を許容できなくなる。図６〜図８は、実施の形態１に係るライトコントローラと照明器具との接続形態の第１例〜第３例を示す図である。図６では、給電端子Ｔ１〜Ｔ５のそれぞれに照明器具が１台ずつ均等に接続されている。図７では、電源線のＮ線と給電端子Ｔ１との間に３台の照明器具１１〜１３が並列接続され、Ｎ線と給電端子Ｔ５との間に３台の照明器具１４〜１６が並列接続されている。図７の３つの給電端子Ｔ２、Ｔ３、Ｔ４は非接続になっている。また、図８では、電源線のＮ線と給電端子Ｔ１との間に５台の照明器具１１〜１５が並列接続されている。図８の５つの給電端子Ｔ２、Ｔ３、Ｔ４、Ｔ５は非接続になっている。また、照明器具１１〜１６は、同じ種類であるとは限らず、異なる種類も混在し得る。
【００４４】
図５の例のように、個別の最大許容値が、最大許容値をＮ等分した値よりももっと大きい値であれば、Ｎ個の給電回路への照明器具を接続設計の自由度を大きくすることができる。これにより、図６のような接続形態だけでなく、図７や図８のように一部の給電回路に偏った接続形態も可能になる。
【００４５】
図７では、３台の照明器具１１〜１３の消費電力が個別の最大許容値２．５Ａを超えず、かつ、３台の照明器具１４〜１６の消費電力が個別の最大許容値２．５Ａを超えなければ、このような偏った接続形態も許容される。また、図８では、５台の照明器具１１〜１５の消費電力が個別の最大許容値２．５Ａを超えなければ、このような偏った接続形態も許容される。逆に、５台の照明器具１１〜１５の消費電力が個別の最大許容値２．５Ａを超えていれば、このような偏った接続形態はエラーとなる。
【００４６】
ここで、最大許容値について説明する。給電回路を流れる電流が個別の最大許容値を大きく超える場合は、給電回路内のスイッチング素子の発熱により壊れる可能性がある。給電回路を流れる電流が個別の最大許容値を少し超える場合は、給電回路内のスイッチング素子の発熱により性能が劣化し、寿命が縮み、信頼性を損ねる可能性がある。
【００４７】
ライトコントローラ１００の個別の最大許容値および全体の最大許容値は、給電回路内のスイッチング素子の定格、想定される発熱量、および、ライトコントローラ１００の放熱特性に応じて定められる。例えば、図２の給電回路のパワーＭＯＳトランジスタ２１ｂおよび２１ｃでは、発熱量は、調光率１００％のときに最大になるのではなく、図３の示した調光率５０％のときに最大になる。なぜなら、立ち上がりエッジおよび立ち下げりエッジになまりがあるゲート信号ｂおよびゲート信号ｃにより、オフ状態からオン状態に切り替わる間にオン抵抗を積極的に出現させる中間状態を作り出すからである。そして、給電波形ｄのように、中間状態において最も大きい電流（ここでは瞬時値）が流れるのは、調光率１００％のときにはなく調光率５０％のときの立下りエッジのタイミングであり、最も発熱量が大きくなる。
【００４８】
この観点から、図３のようなパワーＭＯＳトランジスタを有する給電回路２１では、調光率１００％のときは給電電流（ここでは平均値）が最大になるけれども発熱量は最大にならない（損失が最大にならない）。これに対して、図４に対応するトライアックを有する給電回路では、オン抵抗はほぼ一定で常に存在するので、給電率１００％のときの発熱量が最大になる（つまり損失が最大になる）。
【００４９】
したがって、図２の給電回路における個別の最大許容値は、図４に対応するトライアックを有する給電回路と比べて、設計値としてより大きい値に定めることができる。その結果、照明器具の接続設計の自由度をより大きくすることができる。
【００５０】
なお、図５の個別の最大許容値は、給電回路２１〜２５で同じ値であるが、異なる値が含まれていてもよい。
【００５１】
［１．３  照明システムの検査の動作例］
以上のように構成された照明システムについて、自己診断の一部として実施される検査の動作例について説明する。
【００５２】
図９は、実施の形態１に係るライトコントローラによる検査の動作例を示すフローチャートである。この検査は、照明システムの設置工事完了時、および、照明システムの変更時に行われ、例えば、操作部７０において検査を指示するユーザ操作より開始する。
【００５３】
図９において、制御回路４０は、Ｎ個の給電回路のそれぞれを検査対象とするＮ回の第１の検査を行い（ループ１：Ｓ１１〜Ｓ１８）、さらに、前記Ｎ個の給電回路全体を検査対象とする１回の第２の検査を行う（Ｓ１９〜Ｓ２３）。
【００５４】
より具体的に説明すると、制御回路４０は、第１の検査のそれぞれにおいて、まず、Ｎ個の全給電回路を０％給電つまり非給電の状態にし（Ｓ１２）、Ｎ個の給電回路のうちの検査対象に該当する第ｋの給電回路を１００％給電する給電状態にする（Ｓ１３）。これにより、検査対象の給電回路が給電状態になり、かつ、他の給電回路を非給電状態になる。この状態で、制御回路４０は、電流検出回路８０に電流値ｉ（ｋ）を測定させ（Ｓ１４）、当該電流値ｉ（ｋ）が第１のしきい値ｔｈ１よりも小さければ正常と判定し、そうでなければエラーと判定する（Ｓ１５）。
【００５５】
第２の検査において、制御回路４０は、Ｎ個の給電回路を同時に１００％給電する給電状態にし（Ｓ１９）、電流検出回路８０に電流値ｉ（ａｌｌ）を測定させ（Ｓ２０）、当該電流値ｉ（ａｌｌ）が第２のしきい値ｔｈ２よりも小さければ正常と判定し、そうでなければエラーと判定する（Ｓ２１）。制御回路４０は、正常と判定した場合には、Ｎ個の全給電回路を０％給電つまり非給電の状態にし（Ｓ２２）、表示部９０に正常終了を表示させる（Ｓ２３）。
【００５６】
一方、制御回路４０は、Ｎ回の第１の検査および１回の第２の検査のいずれかでエラーと判定したとき、Ｎ個の全給電回路を０％給電つまり非給電の状態にし（Ｓ１６）、表示部９０にエラーを表示させる（Ｓ１７）。例えば、図８において、５台の照明器具１１〜１５の消費電力が個別の最大許容値２．５Ａを超えていれば、１回目の第１の検査でエラーと判定され、電流検出回路８０にエラー表示がなされる。
【００５７】
以上の検査によれば、複数の照明器具を接続する複数の給電回路それぞれの信頼性の低下を抑制することができる。また、エラー表示により、設置業者またはユーザに接続形態の変更を促すことができる。
【００５８】
なお、ライトコントローラ１００は、給電回路２１〜２５を用いて調光する構成例について説明したが、調光機能を備えなくてもよい。この場合、照明器具の点灯状態、消灯状態を切り替えるために、給電回路２１〜２５は給電状態と非給電状態とを切り替える。
【００５９】
以上のように実施の形態１に係るライトコントローラは、電源線からの電力をスイッチングし、スイッチングした電力を複数の照明器具１１〜１５に給電するＮ個（Ｎは２以上の整数）の給電回路２１、２２、・・・と、Ｎ個の給電回路それぞれの給電を制御する制御回路４０と、Ｎ個の給電回路に流れる電流の大きさを検出する電流検出回路８０とを備え、制御回路４０は、Ｎ個の給電回路のそれぞれを検査対象とするＮ回の第１の検査と、Ｎ個の給電回路全体を検査対象とする１回の第２の検査とを行い、Ｎ回の第１の検査のそれぞれにおいて、Ｎ個の給電回路のうちの該当する１つの給電回路を給電状態にし、かつ、他の給電回路を非給電状態にし、電流検出回路８０に電流の大きさを検出させ、当該電流の大きさが第１のしきい値よりも大きければエラーと判定し、第２の検査において、Ｎ個の給電回路２１〜２５を同時に給電状態にし、電流検出回路８０に電流の大きさを検出させ、検出した電流の大きさが第２のしきい値よりも大きければエラーと判定し、Ｎ回の第１の検査および１回の第２の検査のいずれかでエラーと判定したときエラーを報知する。
【００６０】
これによれば、Ｎ回の第１の検査および第２の検査によって、給電回路それぞれの信頼性の低下を抑制することができる。
【００６１】
ここで、第１のしきい値は、Ｎ個の給電回路個別に定められ、第２のしきい値は、Ｎ個の給電回路の第１のしきい値の合計よりも小さくてもよい。
【００６２】
ここで、第２のしきい値は、第１のしきい値の２倍以上であってもよい。
【００６３】
これによれば、Ｎ個の給電回路個別の第１のしきい値がより大きく設定可能なので、Ｎ個の給電回路に複数の照明器具を接続する設計の自由度を大きくすることができる。
【００６４】
ここで、Ｎ個の給電回路のそれぞれは、複数の照明器具のうち０以上の照明器具の接続を許容し、２つ以上の照明器具の並列接続を許容する仕様を有していてもよい。
【００６５】
これによれば、Ｎ個の給電回路に複数の照明器具を接続する設計の自由度を大きくすることができる。
【００６６】
ここで、制御回路４０は、Ｎ個の給電回路毎に、スイッチングすることによって電源線の交流電圧に対する位相制御による調光を行ってもよい。
【００６７】
これによれば、給電回路毎に照明器具の調光を制御することができる。
【００６８】
ここで、Ｎ個の給電回路のそれぞれは、パワーＭＯＳＦＥＴを有し、上記の位相制御は、電源線からの交流電圧のゼロクロス点から始まる任意の期間においてパワーＭＯＳＦＥＴをオン状態にする逆位相制御であってもよい。
【００６９】
これによれば、トライアックを用いた位相制御よりも、低損失にし発熱量を抑制することができる。
【００７０】
ここで、Ｎ個の給電回路のそれぞれは、パワーＭＯＳＦＥＴに供給されるゲート信号の立ち上がり波形および立ち下がり波形をなまらせる時定数回路を有してもよい。
【００７１】
これによれば、電源電圧のスイッチングによるノイズの発生を大きく抑制することができる。
【００７２】
以上のように実施の形態１に係る照明システムは、上記のライトコントローラ１００と複数の照明器具１１、１２・・・とを備える。
【００７３】
これによれば、給電回路それぞれの信頼性の低下を抑制することができる。
【００７４】
以上のように実施の形態１に係る照明システムの検査方法は、電源線からの電力をスイッチングし、スイッチングした電力を複数の照明器具１１、１２・・・に給電するＮ個Ｎは２以上の整数の給電回路２１、２２・・・と、Ｎ個の給電回路それぞれの給電を制御する制御回路４０と、Ｎ個の給電回路に流れる電流の大きさを検出する電流検出回路８０とを備える照明システムの検査方法であって、Ｎ個の給電回路のそれぞれに対して、当該給電回路を給電状態にし、かつ、他の給電回路を非給電状態にし、電流検出回路８０に電流の大きさを検出させ、当該電流の大きさが第１のしきい値よりも大きければエラーと判定し、Ｎ個の給電回路２１〜２５を同時に給電状態にし、電流検出回路８０に電流の大きさを検出させ、検出した電流の大きさが第２のしきい値よりも大きければエラーと判定する。
【００７５】
これによれば、給電回路それぞれの信頼性の低下を抑制することができる。
【００７６】
以上、本発明に係るライトコントローラ、照明システムおよびその検査方法について、実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、実施の形態に限定されるものではない。本発明の主旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態に施したものや、実施の形態および変形例における一部の構成要素を任意に組み合わせて構築される別の形態も、本発明の範囲内に含まれる。
【符号の説明】
【００７７】
１１〜１５    照明器具
２１〜２５    給電回路
２１ａ    時定数回路
２１ｂ、２１ｃ    パワーＭＯＳＦＥＴ（パワーＭＯＳトランジスタ）
４０    制御回路
８０    電流検出回路
１００    ライトコントローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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