(57)【要約】【課題】ガラス容器の色調を問わず偏光性異物の有無を検査可能とする。【解決手段】ガラスびん１０を支持して軸回転させる回転支持機構５と、拡散光源２０および偏光板２１を含み偏光を照明光としてガラスびん１０へ照射する照明装置２と、照明光のガラスびん１０での反射光が受光可能な位置に配置されガラスびん１０の全周にわたって撮像デバイス３２を走査することにより画像を生成するラインスキャンカメラ３と、画像を処理してガラスびん１０の欠陥の有無を判別する画像処理装置４とを含む。ラインスキャンカメラ３は、撮像デバイス３２としてそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサ３３〜３６を有しラインセンサ３３〜３６毎に画像を生成する。【選択図】図１
2019174150.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ガラス容器の欠陥の有無を検査する方法であって、
軸回転するガラス容器へ偏光を照明光として照射し、前記ガラス容器での反射光をそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサにより受光して各ラインセンサを走査することによりラインセンサ毎にガラス容器の全周にわたる画像を生成した後、少なくともいずれかひとつの画像によって前記ガラス容器の欠陥の有無を判別することを特徴とするガラス容器の欠陥検査方法。
【請求項２】
前記照明光は、直線偏光である請求項１に記載のガラス容器の欠陥検査方法。
【請求項３】
ガラス容器の欠陥の有無を検査する装置であって、
ガラス容器を支持して軸回転させる回転支持機構と、拡散光源および偏光板を含み偏光を照明光として前記ガラス容器へ照射する照明装置と、前記照明光の前記ガラス容器での反射光が受光可能な位置に配置され前記ガラス容器の全周にわたって撮像デバイスを走査することにより画像を生成するラインスキャンカメラと、前記画像を処理して前記ガラス容器の欠陥の有無を判別する画像処理装置とを備え、前記ラインスキャンカメラは、前記撮像デバイスとしてそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサを有しラインセンサ毎に前記ガラス容器の全周にわたる画像を生成するガラス容器の欠陥検査装置。
【請求項４】
前記照明装置は、直線偏光を照明光としてガラス容器へ照射する請求項３に記載のガラス容器の欠陥検査装置。
【請求項５】
前記回転支持機構は、前記ガラス容器の底部を支持する軸回転自由な水平テーブルと、前記ガラス容器の外周面と接して摩擦力によりガラス容器を前記水平テーブルと一体に軸回転させる駆動ローラと、前記駆動ローラの回転駆動源であるモータとを含む請求項３に記載のガラス容器の欠陥検査装置。
【請求項６】
前記ラインスキャンカメラは、直交する偏光成分の位相が正方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する第１のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する第２のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が正方向へ９０度ずれる偏光特性の光を受光する第３のラインセンサとを前記撮像デバイスとして有し、前記画像処理装置は、第１〜第３の各ラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる３個の画像の少なくともいずれかひとつの画像によって偏光性異物を欠陥として検出する請求項３に記載のガラス容器の欠陥検査装置。
【請求項７】
前記ラインスキャンカメラは、直交する偏光成分の位相が正方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する第１のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する第２のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が正方向へ９０度ずれる偏光特性の光を受光する第３のラインセンサと、偏光の有無に関わらず全ての光を受光する第４のラインセンサとを前記撮像デバイスとして有し、前記画像処理装置は、第１〜第３の各ラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる３個の画像の少なくともいずれかひとつの画像によって偏光性異物を欠陥として検出し、第４のラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる画像によって肉厚内部の扁平な気泡と表面のシワとを欠陥として検出する請求項３に記載のガラス容器の欠陥検査装置。
【請求項８】
請求項３〜７のいずれかに記載のガラス容器の欠陥検査装置であって、複数の検査対象のガラス容器を検査位置へ次々に搬送する搬送機構をさらに含むガラス容器の欠陥検査装置。
【請求項９】
請求項３〜７のいずれかに記載のガラス容器の欠陥検査装置と他の複数の検査装置とがスターホイールの外周に沿って設置され、前記スターホイールは、外周縁の等角度位置に凹部を有し、各凹部に嵌入されたガラス容器をスターホイールの間欠回転により各検査ステーションへ一斉に順送りするガラス容器検査機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ガラスびんなどのガラス容器について、異物、泡、シワなどの欠陥の有無を検査するための方法と装置、さらには、その装置が導入されたガラス容器検査機に関する。
【背景技術】
【０００２】
製びん機で製造されたガラスびんが検査工程へ送られると、複数の項目について、ガラスびんの欠陥の有無が検査される。図８に示す検査機は、外周に複数の凹部１０１を有するスターホイール１００を含み、スターホイール１００を間欠回転させることにより、各凹部１０１に嵌入されたガラスびん１０を、スターホイール１００の外周に沿って配置された複数の検査ステーションＳ１〜Ｓ５へ順送りする。なお、図中、１０２は検査対象のガラスびん１０をスターホイール１００の凹部１０１に搬入する搬入機構、１０３は検査済のガラスびん１０をスターホイール１００の凹部１０１より搬出させる搬出機構であり、スターホイール１００とともにガラスびんの搬送機構を構成する。
【０００３】
各検査ステーションＳ１〜Ｓ５には種々の検査装置が設置される。各検査ステーションＳ１〜Ｓ５では、検査装置により少なくとも１種類の項目について欠陥の有無が検査される。検査ステーションＳ１〜Ｓ５のいずれかにおいて、ガラスびん１０に欠陥ありと判断されると、搬出機構１０３により搬出されたそのガラスびん１０は、不良品としてリジェクトされる。
【０００４】
ガラスびんの外観に現れる欠陥には、異物、泡、シワなどがあり、欠陥の種類に応じた最適な方法で検査される。画像処理を伴う外観検査では、ガラスびんに向けて拡散照明を施し、ガラスびんを透過した光の量の変化やガラスびんで反射した光の量の変化を捉えて欠陥の有無を判別する。異物のうち、光を透過させない遮光性異物については、ガラスびんを透過した光の受光量から検出することが容易であるが、結晶などの透明、半透明の異物については、受光量に変化が現れにくく、異物と周囲のガラスとの間にコントラスト（明暗）が生じにくいため、異物の検出が容易でない。透明、半透明の異物の中で偏光性異物については照明光に偏光を用いた検査を行うことが可能である。ここで、「偏光性異物」とは、光が透過する際、直交する偏光成分間の位相がずれて偏光を生じさせる異物をいう（例えば特許文献１参照）。
【０００５】
特許文献１に記載の欠陥検査装置において、照明装置は拡散光源と円偏光板とを含むものであり、円偏光の照明光がガラスびんに照射される。円偏光板は偏光板と１／４波長板により構成される。円偏光の照明光はガラス容器を円偏光のまま透過し、その透過光がカメラにより受光される。カメラのレンズには、同様の円偏光板が設けられており、この円偏光板を透過光が透過するので、ガラスびんのガラス部分は明るく映る。ガラスびんに偏光性異物が存在していると、偏光性異物の部分を円偏光が透過する際、円偏光の直交する偏光成分（ｐ偏光、ｓ偏光）の位相差が乱れて楕円偏光となるため、その楕円偏光の透過光はカメラ側の円偏光板を透過せず偏光性異物は暗く映る。このため、ガラス部分と偏光性異物の部分とでは受光量に変化が現れ、異物と周囲のガラスとの間に生ずる画像のコントラストによって偏光性異物を検出することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特公平３−１００６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、ガラスびんの色調が黒や深緑のような暗い色調である場合、図９の色調別の光の透過率曲線に示すように、可視光の波長領域（３８０ｎｍ〜７８０ｎｍ）では、光の透過率が低いために、偏光性異物を検出することが困難である。同図中、ｕが黒色のガラスびんの光の透過率曲線、ｖが深緑色のガラスびんの光の透過率曲線であり、近赤外光の波長領域（７００ｎｍ以上）では、光の透過率が高くなるが、近赤外光の波長領域に対応した円偏光板は一般に存在しないため、色調が暗い品種のガラス容器については照明光に偏光を用いた検査は困難である。
【０００８】
また、偏光性異物、泡、シワなどの欠陥の検査は、それぞれに適した検査方法および検査装置が用いられるため、照明などの光学系やカメラは別個のものとなり、さらに、光学系の物理的な干渉や光の干渉を避けるために、複数の検査ステーションを割り当てる必要がある。光学系、カメラ、画像処理装置は、検出すべき欠陥毎に別個のものが必要であるため、設備費用が高価となる。
【０００９】
この発明は、上記の問題に着目してなされたもので、ガラス容器の色調を問わず偏光性異物の有無を検査することが可能なガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機を提供することを目的とする。
【００１０】
また、この発明が他に目的とするところは、偏光性異物、泡、シワなど、複数種の欠陥の検査をひとつの検査ステーションにおいて安価な設備によって実施できるガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
この発明のガラス容器の欠陥検査方法は、軸回転するガラス容器へ偏光を照明光として照射し、ガラス容器での反射光をそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサにより受光して各ラインセンサを走査することによりラインセンサ毎にガラス容器の全周にわたる画像を生成した後、少なくともいずれかひとつの画像によってガラス容器の欠陥の有無を判別する、というものである。
【００１２】
上記の欠陥検査方法において、照明光は望ましくは直線偏光であるが、これに限らず、楕円偏光や円偏光であってもよい。
【００１３】
上記した欠陥検査方法によれば、ガラス容器の肉厚中に偏光性異物が存在すると、偏光性異物の内表面での反射光とガラスの内表面での反射光は、偏光性異物を透過する際に、直交する偏光成分間の位相がずれ、例えば照明光が直線偏光であれば、楕円偏光または円偏光となるので、各ラインセンサによって生成される画像は、偏光性異物と周囲のガラスとの間のコントラストが大小異なったものとなり、コントラストが良好な画像から偏光性異物を欠陥として検出する。
【００１４】
この発明によるガラス容器の欠陥検査装置は、ガラス容器を支持して軸回転させる回転支持機構と、拡散光源および偏光板を含み偏光を照明光としてガラス容器へ照射する照明装置と、照明光のガラス容器での反射光が受光可能な位置に配置されガラス容器の全周にわたって撮像デバイスを走査することにより画像を生成するラインスキャンカメラと、画像を処理してガラス容器の欠陥の有無を判別する画像処理装置とを備える。ラインスキャンカメラは、撮像デバイスとしてそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサを有しラインセンサ毎にガラス容器の全周にわたる画像を生成する。
【００１５】
上記の欠陥検査装置において、照明装置は望ましくは直線偏光を照明光としてガラス容器へ照射するが、これに限らず、楕円偏光や円偏光を照明光としてガラス容器へ照射してもよい。
【００１６】
上記した構成のガラス容器の欠陥検査装置において、検査位置にガラス容器が導入されると、ガラス容器は回転支持機構により支持され、中心軸の回りに軸回転する。ガラス容器に向けて照明装置より偏光が照明光として照射されると、ガラス容器での反射光がラインスキャンカメラにより受光される。ガラス容器が軸回転するので、ラインスキャンカメラの各列のラインセンサが走査されることによって、ラインセンサ毎にガラス容器の全周にわたる画像が生成される。ガラス容器の肉厚中に偏光性異物が存在すると、偏光性異物の内表面での反射光とガラスの内表面での反射光は、偏光性異物を透過する際に、直交する偏光成分間の位相がずれ、例えば照明光が直線偏光であれば、楕円偏光または円偏光となる。各ラインセンサはそれぞれが異なる偏光特性の光を受光するので、各ラインセンサによって生成される画像は、偏光性異物と周囲のガラスとの間のコントラストが大小異なったものとなる。画像処理装置は、コントラストが良好な画像の少なくともひとつの画像を処理して偏光性異物を欠陥として検出する。
【００１７】
回転支持機構は、種々の実施形態が考えられるが、好ましい一実施形態は、ガラス容器の底部を支持する軸回転自由な水平テーブルと、ガラス容器の外周面と接して摩擦力によりガラス容器を水平テーブルと一体に軸回転させる駆動ローラと、駆動ローラの回転駆動源であるモータとを含むものである。
【００１８】
好ましい実施形態においては、前記ラインスキャンカメラは、直交する偏光成分の位相が正方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する第１のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する第２のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が正方向へ９０度ずれる偏光特性の光を受光する第３のラインセンサとを撮像デバイスとして有する。画像処理装置は、第１〜第３の各ラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる３個の画像の少なくともいずれかひとつの画像によって偏光性異物を欠陥として検出する。
【００１９】
この実施形態において、検査対象のガラス容器の肉厚中に偏光性異物が存在すると、偏光性異物の内表面での反射光とガラスの内表面での反射光は、偏光性異物を透過する際に、直交する偏光成分間の位相がずれ、例えば照明光が直線偏光であれば、楕円偏光または円偏光となるので、楕円偏光であるか円偏光であるかによって、或いは位相のずれ量の大小によって、第１〜第３のラインセンサにより生成される画像において、偏光性異物と周囲のガラスとの間の画像のコントラストが大小異なったものとなり、コントラストが良好な画像から偏光性異物を欠陥として検出する。
【００２０】
さらに好ましい実施形態においては、前記ラインスキャンカメラは、直交する偏光成分の位相が正方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する第１のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する第２のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が正方向へ９０度ずれる偏光特性の光を受光する第３のラインセンサと、偏光の有無に関わらず全ての光を受光する第４のラインセンサとを撮像デバイスとして有している。画像処理装置は、第１〜第３の各ラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる３個の画像の少なくともいずれかひとつの画像によって偏光性異物を欠陥として検出し、第４のラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる画像によって肉厚内部の扁平な気泡と表面のシワとを欠陥として検出する。
【００２１】
この実施形態によると、偏光性異物、肉厚内部の扁平な気泡、および表面のシワをひとつの検査ステーションにおいて単一の欠陥検査装置により検出することができる。
【００２２】
なお、ラインスキャンカメラは、上記した実施形態のものに限らず、例えば、直交する偏光成分の位相が負方向へ６０度ずれる偏光特性の光を受光する第１のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ６０度ずれる偏光特性の光を受光する第２のラインセンサと、偏光特性を有する全ての光を受光する第３のラインセンサとを有するものであってもよい。この実施形態では、第１、第２の各ラインセンサにより生成された２個の画像の少なくともいずれかひとつの画像により偏光性異物を欠陥として検出し、第３のラインセンサにより生成された画像により肉厚内部の扁平な気泡と表面のシワとを欠陥として検出する。
【００２３】
好ましい実施形態のガラス容器の欠陥検査装置は、複数の検査対象のガラス容器を検査位置へ次々に搬送する搬送機構をさらに含むが、検査ステーションが円陣に配置される場合は、搬送機構として例えばスターホイールが用いられる。
【００２４】
この発明によるガラス容器検査機は、上記したガラス容器の欠陥検査装置と他の複数の検査装置とがスターホイールの外周に沿って設置され、スターホイールは、外周縁の等角度位置に凹部を有し、各凹部に嵌入されたガラス容器をスターホイールの間欠回転により各検査ステーションへ一斉に順送りする。
【発明の効果】
【００２５】
この発明によれば、偏光を照明光としてガラス容器へ照射し、ガラス容器での反射光を、それぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサにより受光するから、ガラス容器の色調を問わず偏光性異物の有無を検査することが可能である。また、偏光性異物、泡、シワなど、複数種の欠陥の検査をひとつの検査ステーションにおいて安価な設備によって実施できる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】ガラスびんの欠陥検査装置の概略構成を示す正面図である。
【図２】ガラスびんの欠陥検査装置の概略構成を示す平面図である。
【図３】撮像デバイスの構成を示す斜視図である。
【図４】直線偏光の照明光を直交する偏光成分に分解して示す説明図である。
【図５】（１）は第１のラインセンサで受光される光を直交する偏光成分に分解して示す説明図、（２）は第２のラインセンサで受光される光を直交する偏光成分に分解して示す説明図、（３）は第３のラインセンサで受光される光を直交する偏光成分に分解して示す説明図である。
【図６】第１〜第４のラインセンサにより生成された偏光性異物の画像の一例を示す説明図である。
【図７】扁平な泡の検出原理を示す説明図である。
【図８】検査機の概略構成を示す平面図である。
【図９】色調別の光の透過率曲線を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
図１および図２は、ガラスびんの欠陥検査装置１の概略構成を示している。
欠陥検査装置１は、照明装置２とラインスキャンカメラ３と画像処理装置４とを含み、スターホイール１００の外周沿いの複数の検査ステーションのうちのひとつの検査ステーションＳに設置されている。
スターホイール１００は、一定角度づつ間欠回転するもので、これにより等角度位置毎の各凹部１０１に嵌入された検査対象のガラスびん１０を各検査ステーションに順送りする。なお、スターホイール１００はモータを駆動源とする駆動機構により駆動されるが、スターホイール１００の駆動機構は公知であり、ここでは具体的な構成の図示並びに説明を省略する。
【００２８】
欠陥検査装置１が設置された検査ステーションＳには、凹部１０１が停止する位置の下方に、回転支持機構５を構成する円盤状の水平テーブル５０が配置されている。水平テーブル５０は中心軸ｃの回りに軸回転自由であり、水平テーブル５０上の中心位置にガラスびん１０が載せられて底部が支持される。
【００２９】
回転支持機構５は、水平テーブル５０と、ガラスびん１０の外周面の上下２箇所を支持する支持ローラ５１，５２と、ガラスびん１０の外周面と接して摩擦力によりガラスびん１０を中心軸ｃの回りに軸回転させる駆動ローラ５３と、駆動ローラ５３の回転駆動源であるモータ（図示せず）とを含んでいる。
【００３０】
照明装置２は、拡散光源２０と偏光板２１とを含んでおり、直線偏光の照明光ａを軸回転するガラスびん１０に向けて照射する。直線偏光は、図４に示す直交するｐ偏光成分およびｓ偏光成分（以下「偏光成分ｐ」および「偏光成分ｓ」という。）によって波が定義されるもので、偏光成分ｐ，ｓは同じ方向（ｚ軸の方向）に伝達され、互いに同位相にある。直線偏光の照明光ａが偏光性異物を透過すると、偏光成分ｐ，ｓ間に位相差が生じ、円偏光または楕円偏光となる。
【００３１】
ラインスキャンカメラ３は、カメラ本体３０と対物レンズ３１とからなる。カメラ本体３０は、ガラスびん１０の像を対物レンズ３１により結像させる撮像デバイス３２を内蔵する。撮像デバイス３２は、図３に示すように、互いに平行な複数列（図示例では４列）のラインセンサ３３〜３６を有している。第１〜第４の各ラインセンサ３３〜３６は、数千もの同じ数の画素がそれぞれ１列に並べられたものであり、ガラスびん１０を軸回転させて位置をずらせながら各ラインセンサ３３〜３６を走査することにより、ラインセンサ毎の２次元画像がメモリ上に生成される。
【００３２】
第１〜第３の各ラインセンサ３３〜３５は、それぞれが列毎に異なる偏光特性の光を透過させて受光するもので、各ラインセンサ３３〜３５を構成する各画素は、撮像素子と偏光素子とが一体化されたものである。第４のラインセンサ３６は、直線偏光、楕円偏光、円偏光など、偏光の有無に関わらず全ての光を受光するもので、ラインセンサ３６を構成する各画素は撮像素子のみで構成されている。
【００３３】
第１のラインセンサ３３は、図５（１）に示す直交する偏光成分ｐ，ｓの位相が正方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する。第２のラインセンサ３４は、直交する偏光成分ｐ，ｓの位相が負方向へ４５度ずれる偏光特性の光を受光する。第３のラインセンサ３５は、直交する偏光成分ｐ，ｓの位相が正方向へ９０度ずれる偏光特性の光を受光する。
【００３４】
この実施形態の欠陥検査装置１では、軸回転するガラスびん１０へ直線偏光の照明光ａを照射し、ガラスびん１０での反射光ｂをそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する第１〜第３の各ラインセンサ３３〜３５および偏光の有無に関わらず全ての光を受光する第４のラインセンサ３６により受光して各ラインセンサ３３〜３６を走査することによりラインセンサ３３〜３６毎にガラスびん１０の全周にわたる画像を生成する。画像処理装置４は所定の画像処理を実施し、ガラスびん１０の欠陥、具体的には、偏光性異物、扁平の泡、およびシワの有無を判別する。
【００３５】
図１〜図５に示す実施態様のガラスびんの欠陥検査装置１の動作を詳細に説明すると、スターホイール１００が間欠回転する毎に検査ステーションＳの水平テーブル５０上にガラス容器１０が導入される。ガラス容器１０は、回転支持機構５の水平テーブル５０上に底部が支持され、支持ローラ５１，５２および駆動ローラ５３により側面が支持され、駆動ローラ５３との間の摩擦力を受けて、中心軸ｃの回りに決められた速度で軸回転する。
【００３６】
水平テーブル５０上のガラスびん１０に向けて照明装置２より直線偏光の照明光ａが照射されると、ガラスびん１０の表面で照明光ａが反射され、その反射光ｂがラインスキャンカメラ３により受光される。ガラスびん１０が軸回転することで、ラインスキャンカメラ３に向くガラスびん１０の外面が移動するので、ラインスキャンカメラ３の各列のラインセンサ３３〜３６が走査されることによって、ラインセンサ３３〜３６毎にガラスびん１０の全周にわたる画像が生成される。
【００３７】
ガラスびん１０の肉厚中に偏光性異物が存在すると、偏光性異物の内表面での反射光とガラスの内表面での反射光は、偏光性異物を透過する際に、直交する偏光成分ｐ，ｓの位相がずれて直線偏光が楕円偏光または円偏光となる。各ラインセンサ３３〜３５は、それぞれが異なる偏光特性の光を透過させて受光するので、各ラインセンサ３３〜３５によって生成される画像は、偏光性異物と周囲のガラスとの間のコントラストが大小異なった画像となる。画像処理装置４は、コントラストが良好な画像の少なくともひとつの画像を処理して偏光性異物を欠陥として検出する。
【００３８】
図６（１）〜（４）は、第１〜第４の各ラインセンサ３３〜３６によって生成された画像Ｇ３３〜Ｇ３６の具体例であって、同図中、ｇ１は偏光性異物の画像部分、ｇ２は周囲のガラスの画像部分を示している。
第４のラインセンサ３６によって生成された画像Ｇ３６においては、図６（４）に示すように、偏光性異物の画像部分ｇ１と周囲のガラスの画像部分ｇ２はともに輝度が高く、明るく映るので、画像部分ｇ１，ｇ２間に殆どコントラストは生じておらず、この画像Ｇ３６によっては偏光性異物を検出するのは困難である。
【００３９】
第１、第２の各ラインセンサ３３，３４によって生成された画像Ｇ３３，Ｇ３４においては、各ラインセンサ３３，３４は図５（１）（２）に示す偏光特性の光のみを受光するもので、この実施例では、図６（１）（２）に示すように、偏光性異物の画像部分ｇ１と周囲のガラスの画像部分ｇ２とはともに輝度がやや低く、薄暗く映っているが、両画像部分ｇ１，ｇ２間にコントラストが生じている。この画像のコントラストが顕著でない場合は、これらの画像Ｇ３３，Ｇ３４によっては偏光性異物の検出は困難であるが、この画像のコントラストが顕著である場合は、これらの画像Ｇ３３，Ｇ３４によって偏光性異物の検出が可能となる。
【００４０】
第３のラインセンサ３５によって生成された画像Ｇ３５においては、ラインセンサ３５は図５（３）に示す偏光特性の光のみを受光するもので、この実施例では、図６（３）に示すように、偏光性異物の画像部分ｇ１は輝度が高く、明るく映り、一方、周囲のガラスの画像部分ｇ２は輝度が低く、暗く映っている。両画像部分ｇ１，ｇ２間の画像のコントラストは顕著であるので、この画像Ｇ３５によって偏光性異物を検出することができる。
【００４１】
画像処理装置４は、画像Ｇ３３〜３６について、例えば、画像全体を走査し、全ての画素について隣接する画素間の輝度差を計測し、その輝度差の最大値が所定のしきい値を超える画像をコントラスが顕著な画像（この場合、画像Ｇ３５）として抽出し、次に、抽出した画像Ｇ３５によって欠陥としての偏光性異物を検出するための画像処理を実行する。例えば、濃淡画像である画像Ｇ３５を所定の２値化しきい値により２値化した後、その２値画像について、白色の画素の数を計数し、その計数値が所定の値を越えたとき、欠陥としての偏光性異物が存在する、と判断する。なお、上記した画像処理の方法は一例であり、他の画像処理の方法によりコントラスの良好な画像の抽出や偏光性異物の検出を行うことが可能である。
【００４２】
ガラスびん１０に存在する扁平の泡やガラスびん１０の表面に生じたシワについては、ラインスキャンカメラ３の第４のラインセンサ３６によって生成される画像によって検出する。
【００４３】
図７は、ガラスびん１０の肉厚中に存在する扁平な泡１１に照明光ａが照射されている状態を示す。ｂ１はガラスびん１０の内表面からの正反射光、ｂ２はガラスびん１０の外表面からの正反射光、ｂ３は泡１１の前面からの正反射光、ｂ４は泡１１の後面からの正反射光である。泡１１の部分は周囲のガラスの部分より明るく映るので、明るさの設定基準値を超えた部分に泡１１が存在すると判断して欠陥の検出を行う。
【００４４】
ガラスびん１０の表面にシワが存在する場合、シワの部分に照明光ａが照射されると、シワのエッジで光が屈折することで周囲のガラスより暗く映るので、その強いコントラス部分を欠陥として検出する。照明光を透過させて透過光を検出する方式の検査では、「セッツルライン」と呼ばれる、ガラス肉厚の不均一な部分による屈折が生じてシワとの区別が付かないが、照明光を反射させて反射光を検出する方式ではセッツルラインの影響を受けずにシワの検出が可能である。
【符号の説明】
【００４５】
１    欠陥検査装置
２    照明装置
３    ラインスキャンカメラ
４    画像処理装置
５    回転支持機構
２０  拡散光源
２１  偏光板
３２  撮像デバイス
３３，３４，３５，３６  ラインセンサ
５０  水平テーブル
５３  駆動ローラ
１００  スターホイール
【図１】
2019174150.tif 000003
【図２】
2019174150.tif 000004
【図３】
2019174150.tif 000005
【図４】
2019174150.tif 000006
【図５】
2019174150.tif 000007
【図６】
2019174150.tif 000008
【図７】
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【図８】
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【図９】
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