(57)【要約】【課題】複数ライン同時露光による画像形成の際に、光ビームの位置ずれに起因して生じる画質の変化を解消する。【解決手段】複数の光ビームが第１方向に走査される像担持体を第２方向に駆動して光ビームの走査により該像担持体上に画像形成する際に、光ビームの第１方向走査時間と光ビームの第２方向ビーム位置とを検出可能な検出部の検出結果から第１方向走査時間と第２方向ビーム位置と求め、画像データの画素分布により第２方向のエッジを求め、第１方向走査時間と第２方向ビーム位置とにより、エッジの第２方向のずれを第２方向エッジずれとして算出し、エッジに対応する光量を補正して第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部の発光駆動を制御している。【選択図】図１
2019082538.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数ｎの発光部から複数ｎの光ビームを発生可能な光源と、
画像データに応じて複数ｎの発光部それぞれを発光駆動する発光駆動部と、
複数ｍの反射面を有して回転するポリゴンミラーの各反射面によって、複数ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数ｎの前記光ビームを走査する光走査部と、
複数ｎの前記光ビームが第１方向に走査される像担持体を第１方向と直交する第２方向に駆動して前記光ビームの走査により該像担持体上に生じる潜像を可視像に変換して用紙に転写する画像形成部と、
前記光ビームの第１方向走査時間と前記光ビームの第２方向ビーム位置とを検出可能な検出部と、
前記検出部の検出結果から前記第１方向走査時間と前記第２方向ビーム位置と求め、画像データの画素分布により第２方向のエッジを求め、前記第１方向走査時間と前記第２方向ビーム位置とにより、前記エッジの第２方向のずれを第２方向エッジずれとして算出し、前記エッジに対応する光量を補正して前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する制御部と、
を有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記検出部は、第２方向を長手方向とする第１検出領域と、前記第１検出領域に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域と、前記第１検出領域と前記第２検出領域とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域と、を有して構成され、
前記制御部は、前記第１検出領域と前記第２検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差を前記第１方向走査時間として求め、前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差から前記第２方向ビーム位置を求める、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記制御部は、
前記第１方向走査時間に起因する前記第２方向エッジずれの成分について、
前記第１方向走査時間が既定時間より小さい場合には第２方向上流側に向かって生じているとして算出し、
前記第１方向走査時間が既定時間より大きい場合には第２方向下流側に向かって生じるとして算出する、
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記制御部は、
前記第２方向ビーム位置に起因する前記第２方向エッジずれの成分について、
前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差である第１方向走査時間が既定時間より大きい場合には、前記第１検出領域と前記第３検出領域との間隔が開く方向に向かって生じているとして算出し、
前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差である第１方向走査時間が既定時間より小さい場合には、前記第１検出領域と前記第３検出領域との間隔が閉じる方向に向かって生じているとして算出する、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記制御部は、
第２方向エッジずれが第２方向上流側に向かって生じている場合に、第２方向上流側エッジの光量を低減するとともに、第２方向下流側エッジの光量を増加し、
第２方向エッジずれが第２方向下流側に向かって生じている場合に、第２方向上流側エッジの光量を増加するとともに、第２方向下流側エッジの光量を低減し、
前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記検出部は、第２方向を長手方向とする第１検出領域と、前記第１検出領域に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域と、前記第１検出領域と前記第２検出領域とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域と、を有して構成されており、
前記制御部は、
前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差の既定値をa、
前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差の測定値をa'、
前記第１検出領域と前記第２検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差の既定値をb、
前記第１検出領域と前記第２検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差の測定値をb'、
前記第１方向走査時間に起因する第２方向下流側に向かう前記第２方向エッジずれであって第２検出領域で検出されるものをc、
前記第１方向走査時間に起因する第２方向下流側に向かう前記第２方向エッジずれであって第３検出領域で検出されるものをc'、
前記第１方向走査時間に起因する第２方向上流側に向かう前記第２方向エッジずれであって第２検出領域で検出されるものをd、
前記第１方向走査時間に起因する第２方向上流側に向かう前記第２方向エッジずれであって第３検出領域で検出されるものをd'、
前記第２方向ビーム位置に起因する前記第１検出領域と前記第３検出領域との間隔が開く方向に向かう前記第２方向エッジずれをC、
前記第２方向ビーム位置に起因する前記第１検出領域と前記第３検出領域との間隔が閉じる方向に向かう前記第２方向エッジずれをD、
とした場合に、
測定値a'とb'について、
a'=a+c'=a+(a/b)c，
b'=b+c，
であるときは前記第２方向エッジずれcを解消するように、
a'=a-d'=a-(a/b)d，
b'=b-d，
であるときは前記第２方向エッジずれdを解消するように、
a'=a+C,
b'=b,
であるときは前記第２方向エッジずれCを解消するように、
a'=a-D,
b'=b,
であるときは前記第２方向エッジずれDを解消するように、
a'=(a+c')+C=(a+(a/b)c)+C
b'=b+c,
であるときは前記第２方向エッジずれCとcを解消するように、
a'=(a+c')-D=(a+(a/b)c)-D,
b'=b+c,
であるときは前記第２方向エッジずれDとcを解消するように、
a'=(a-d')+C=(a-(a/b)d)+C,
b'=b-d,
であるときは前記第２方向エッジずれCとdを解消するように、
a'=(a-d')-D=(a-(a/b)d)-D,
b'=b-d,
であるときは前記第２方向エッジずれDとdを解消するように、
いずれか該当するパターンに当て嵌めて、前記エッジに対応する光量を補正して前記第２方向エッジずれを解消するよう制御する、
ことを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記検出部は、前記光ビームが前記像担持体で第１方向に走査される際において、前記像担持体に近接する第１方向の領域外に配置され、
前記光走査部は、前記像担持体と前記検出部とに対して、第１方向に複数ｎの前記光ビームを走査する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記検出部は、前記像担持体より先に前記光ビームで走査される位置に配置され、
前記制御部は、前記検出部の検出結果を用いて、前記検出結果を得た前記ポリゴンミラーの反射面に対応して前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項７のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記光走査部は、前記ポリゴンミラーの各反射面を識別する反射面識別情報を生成する面識別部を備えて構成され、
前記制御部は、
前記エッジに対応する光量を補正する補正情報を、当該補正情報取得時の前記反射面識別情報を参照して、前記ポリゴンミラーの各反射面に対応して記憶し、
画像形成時の前記反射面識別情報を参照して、記憶された前記補正情報を前記ポリゴンミラーの各反射面に対応して割り当てて、前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項８のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記検出部は、第２方向を長手方向とする第１検出領域と、前記第１検出領域に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域と、前記第１検出領域と前記第２検出領域とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域と、を有して構成され、
前記第１検出領域と前記第３検出領域は、前記像担持体より先に前記光ビームで走査される位置に配置され、前記第２検出領域は、前記像担持体より後に前記光ビームで走査される位置に配置される、
ことを特徴とする請求項９に記載の画像形成装置。
【請求項１１】
各種情報を外部に報知する報知部を備え、
前記制御部は、算出された前記第２方向エッジずれが予め定められた閾値を超える場合には、
前記光ビームの走査に関するエラーを報知するよう前記報知部を制御する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項１０のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項１２】
複数ｎの発光部から複数ｎの光ビームを発生可能な光源、
画像データに応じて複数ｎの発光部それぞれを発光駆動する発光駆動部、
複数ｍの反射面を有して回転するポリゴンミラーの各反射面によって、複数ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数ｎの前記光ビームを走査する光走査部、
複数ｎの前記光ビームが第１方向に走査される像担持体を第１方向と直交する第２方向に駆動して前記光ビームの走査により該像担持体上に生じる潜像を可視像に変換して用紙に転写する画像形成部、
前記光ビームの第１方向走査時間と前記光ビームの第２方向ビーム位置とを検出可能な検出部、
前記検出部の検出結果から前記第１方向走査時間と前記第２方向ビーム位置と求め、画像データの画素分布により第２方向のエッジを求め、前記第１方向走査時間と前記第２方向ビーム位置とにより、前記エッジの第２方向のずれを第２方向エッジずれとして算出し、前記エッジに対応する光量を補正して前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する制御部、
として画像形成装置のコンピュータを機能させる画像形成制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複写機やプリンタなどの画像形成装置と画像形成制御プログラムとに関し、特に、複数の光ビームを用いて複数ライン分の画像を１回の走査で感光体などの像担持体（記録媒体）に書き込む機能を有するマルチビーム型の画像形成装置とその制御プログラムとに関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置として、画像データに応じた主走査方向の１ラインの画像形成を行うと共に、主走査方向の１ライン毎の画像形成を副走査方向に繰り返して１頁分の画像形成を行うものが知られている。
その一例として、電子写真方式の画像形成装置では、画像データに応じて変調した光ビームを像担持体の主走査方向に走査し、これと並行して、副走査方向に回転する像担持体（像担持体）上に、前記光ビームによって画像を形成している。この場合に、ドットクロックと呼ばれるクロック信号（画素クロック）を基準にして、光ビームを画像データで変調するようにしている。
【０００３】
また、画像形成を高速に、または、高解像度で行うために、ポリゴンミラーの回転数上昇や光ビームの変調周波数上昇では、装置の大型化やコスト上昇が発生する。そこで、高速あるいは高解像度の画像形成のため、２または３以上の複数の発光部を有するレーザダイオード（ＬＤ）などの光源を備え、この複数の発光部からの複数の光ビームを用いて、画像データに応じた主走査方向の複数ライン毎の画像形成を副走査方向に繰り返して１頁分の画像形成を行うものが知られている。
【０００４】
ところで、この種の画像形成装置において、何らかの理由により光ビームの副走査方向間隔が既定値よりも狭まったり広くがったりする現象が発生し、これにより画質が低下することがある。以下、この現象について説明する。
ここで、図２０〜図２２において、複数の発光部としてＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光による４ビームを同時に用いて、１走査で４ラインずつ画像形成を実行する画像形成装置について、走査ｎと走査ｎ＋１の隣接する２つの走査による露光の具体例を示す。
【０００５】
この場合、複数の発光部としてＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光による４ビームを回転するポリゴンミラーの反射面で反射させて像担持体上を主走査方向に走査し、再びＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光による４ビームを回転するポリゴンミラーの次の反射面で反射させて像担持体上を主走査方向に走査する。なお、像担持体は副走査方向に回転しているため、主走査方向４ビームの露光を、副走査方向に繰り返し実行し、２次元の画像が形成される。
【０００６】
なお、これら図２０〜図２２では、走査ｎでは４発光部のうちの下２発光部を発光させて下２ドットを像担持体上に形成し、次の走査ｎ＋１では４発光部のうちの上２発光部を発光させて上２ドットを像担持体上に形成し、合計２回の走査により副走査方向に隣接する４ドットを像担持体上に形成した具体例を示している。
【０００７】
図２０（ａ）は、あるタイミングで像担持体上の走査ｎと走査ｎ＋１とにより形成される露光状態を示す。ハッチングは露光がなされたことを示す。なお、実際には露光の周囲が広がるため、像担持体上のトナーは図２０（ｂ）のように塗りつぶされたようになる。
ここでは、何らかの理由により、走査ｎと走査ｎ＋１との間隔が狭まっているため、図２０（ｄ）のハッチングの面積が、適正状態である図２０（ｂ）のハッチングの面積より小さくなっている。これは、像担持体上のトナー面積としては、図２０（ｄ）のハッチングの面積が、図２０（ｂ）のハッチングの面積より小さくなっていることを意味する。すなわち、図２０（ｃ）の露光による図２０（ｄ）のハッチングのトナー濃度は、図２０（ａ）の露光による図２０（ｂ）のハッチングの適正なトナー濃度より低濃度であるように視認される。従って、走査間隔の減少によって濃度低下が生じたことになる。
【０００８】
同様に、図２１（ｃ）では何らかの理由により走査ｎと走査ｎ＋１との間隔が広がっているため、図２１（ｄ）のハッチングの面積が、適正状態である図２１（ｂ）のハッチングの面積より大きくなっている。なお、露光の周囲がトナー広がるため、間隔が広がった部分も図２１（ｄ）のように塗りつぶされたようになる。これは、像担持体上のトナー面積としては、図２１（ｄ）のハッチングの面積が、図２１（ｂ）のハッチングの面積より大きくなっていることを意味する。すなわち、図２１（ｃ）の露光による図２１（ｄ）のハッチングのトナー濃度は、図２１（ａ）の露光による図２１（ｂ）のハッチングの適正なトナー濃度より高濃度であるように視認される。従って、１ビーム毎の走査間隔の変化によって濃度変化が生じたことになる。走査間隔の増大によって濃度上昇が生じたことになる。
【０００９】
図２２（ａ）はあるタイミングで像担持体上の走査ｎと走査ｎ＋１とにより形成される適正な露光状態、図２２（ｂ）は像担持体上の走査ｎと走査ｎ＋１とにより形成される適正なトナーの様子を示す。図２２（ｃ）はあるタイミングで像担持体上の走査ｎと走査ｎ＋１とにより形成される露光状態、図２２（ｄ）は像担持体上の走査ｎと走査ｎ＋１とにより形成されるトナーの様子を示す。なお、図２２（ｃ）と図２２（ｄ）とでは走査ｎと走査ｎ＋１とで適正な位置より下がった位置に露光がなされている。この図２２（ｃ）と図２２（ｄ）の場合、トナー面積は適正状態と同じであるため濃度に変化は生じていない。しかし、露光の位置が違っているため、図示されない他の露光との関係でモアレ等の不具合が生じる可能性がある。
【００１０】
なお、以上の図２０〜図２２において、ポリゴンミラーの反射面の傾きにの違いより走査の間隔が変化することがある。また、同様に、以上の図２０〜図２２において、光ビームの走査速度の違いにより走査の間隔が変化することがある。例えば、光ビームの走査速度が速ければ光ビームの位置が既定値より上にずれ、光ビームの走査速度が遅ければ光ビームの位置が既定値より下にずれることになる。以下、その状況を説明する。
【００１１】
図２３（ａ）は、光源１５１からの光ビームを回転するポリゴンミラー１５４で走査して像担持体１６１に照射する際の適正な状態を示している。なお、光ビームの主走査は図２３の紙面垂直方向、副走査は像担持体１６１の回転により図２３の紙面上下方向に実現される。図２３（ｂ）は、光源１５１からの光ビームを回転するポリゴンミラー１５４で走査して像担持体１６１に照射する際に、ポリゴンミラーの反射面の傾き（面倒）により、光ビームが適正状態よりも副走査方向で下方に向かっている状態を示している。図２３（ｃ）は、光源１５１からの光ビームを回転するポリゴンミラー１５４で走査して像担持体１６１に照射する際に、ポリゴンミラーの反射面の傾き（面倒）により、光ビームが適正状態よりも副走査方向で上方に向かっている状態を示している。すなわち、ポリゴンミラーの各反射面の傾き（面倒）の違いにより、図２３（ａ）〜（ｃ）のように変化することがあり、上述した図２０〜図２２のような走査間隔の違いが生じ、濃度差やドット位置差が生じることがある。
【００１２】
図２４はポリゴンミラー１５４の反射面１５４Ｒ１〜１５４Ｒ６の平面性の違いによる問題を示す説明図である。図２４（ａ）は略平面の反射面１５４Ｒ１で光ビームが反射される様子を示し、図２４（ｂ）は微弱な凸面を有する反射面１５４Ｒ２で光ビームが反射される様子を示し、図２４（ｃ）は微弱な凹面を有する反射面１５４Ｒ５で光ビームが反射される様子を示している。
【００１３】
ここで、図２４（ａ）に示される反射面１５４Ｒ１で光ビームが反射される状態が適正状態であるとする。ここで、図２４（ｂ）のように微弱な凸面を有する反射面１５４Ｒ２で光ビームが反射されると、主走査速度が上昇し、主走査時間が短くなる。このため、既定のタイミングよりも早く主走査が実行されるため、像担持体面上では光ビームにより形成されるドットが１つ前の走査のドットに近づいた状態（走査間隔が狭まった状態）になる。
【００１４】
一方、図２４（ｃ）のように微弱な凹面を有する反射面１５４Ｒ５で光ビームが反射されると、主走査速度が低下し、主走査時間が長くなる。このため、既定のタイミングよりも遅く主走査が実行されるため、像担持体面上では光ビームにより形成されるドットが１つ前の走査のドットから離れた状態（走査間隔が広がった状態）になる。すなわち、ポリゴンミラーの各反射面の平面性の違いにより、上述した図２０〜図２１のような走査間隔の違いが生じ、濃度差が生じることがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１５】
【特許文献１】特開２００９−２９１１５号公報
【特許文献２】特開２０００−２３８３２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
以上の特許文献１では、組立て時等に測定しておいた副走査ズレ量をＥＥＰＲＯＭに保存する。なお、ポリゴンジッタはＳＯＳセンサの周期差から算出する。また、視覚特性曲線から判断した、数ライン周期の濃度ムラに対して光量補正する。ここで、副走査ズレ量がＥＥＰＲＯＭに保存された値のため、経時変化により、副走査ズレ量が変化した場合、再測定とＥＥＰＲＯＭの書き換えが必要となる。また、視覚特性曲線から判断した、数ライン周期のみに対応している。更に、画像エッジで判断していないため、条件によっては濃度ムラが顕著になることがある。
【００１７】
以上の特許文献２では、ボーやスキュー等による副走査方向の走査位置のずれを、センサを用いて計測し光量補正する。なお、測定モードを設け、測定は、ＳＯＩ、ＣＯＩ、ＥＯＩの３点で行う。測定モード時以外では、測定していない。また、センサは、三角形のアパーチャの背面に設けられている。また、補正画素はエッジ画素のみである。また、光量補正は、走査位置のズレ量から算出する。ここで、走査位置のズレ量の検出は、計測モード時のみであるため、常時最適値で補正することが出来ない可能性がある。また、光量補正は、画像の上エッジと下エッジで異なる補正量が入れる必要があるが、副走査方向の行間が広くなる区域間では行間が開かないように、副走査方向の行間が狭くなる区域間では行間が重ならないような光量補正を行っているため、条件によっては濃度ムラが発生することがある。
【００１８】
すなわち、図２０〜図２４に示した走査間隔の違いによって生じる画質の劣化を経時変化にも対応しつつ補正する技術は存在していなかった。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して副走査方向ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能な画像形成装置および画像形成制御プログラムを実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
すなわち、課題を解決する手段としての本発明は以下に説明するものである。
（１）本発明の一側面が反映された画像形成装置の一態様は、複数ｎの発光部から複数ｎの光ビームを発生可能な光源と、画像データに応じて複数ｎの発光部それぞれを発光駆動する発光駆動部と、複数ｍの反射面を有して回転するポリゴンミラーの各反射面によって、複数ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数ｎの前記光ビームを走査する光走査部と、複数ｎの前記光ビームが第１方向に走査される像担持体を第１方向と直交する第２方向に駆動して前記光ビームの走査により該像担持体上に生じる潜像を可視像に変換して用紙に転写する画像形成部と、前記光ビームの第１方向走査時間と前記光ビームの第２方向ビーム位置とを検出可能な検出部と、前記検出部の検出結果から前記第１方向走査時間と前記第２方向ビーム位置と求め、画像データの画素分布により第２方向のエッジを求め、前記第１方向走査時間と前記第２方向ビーム位置とにより、前記エッジの第２方向のずれを第２方向エッジずれとして算出し、前記エッジに対応する光量を補正して前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する制御部と、を有することを特徴とする。
【００２０】
また、本発明の一側面が反映された画像形成制御プログラムの一態様は、複数ｎの発光部から複数ｎの光ビームを発生可能な光源、画像データに応じて複数ｎの発光部それぞれを発光駆動する発光駆動部、複数ｍの反射面を有して回転するポリゴンミラーの各反射面によって、複数ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数ｎの前記光ビームを走査する光走査部、複数ｎの前記光ビームが第１方向に走査される像担持体を第１方向と直交する第２方向に駆動して前記光ビームの走査により該像担持体上に生じる潜像を可視像に変換して用紙に転写する画像形成部、前記光ビームの第１方向走査時間と前記光ビームの第２方向ビーム位置とを検出可能な検出部、前記検出部の検出結果から前記第１方向走査時間と前記第２方向ビーム位置と求め、画像データの画素分布により第２方向のエッジを求め、前記第１方向走査時間と前記第２方向ビーム位置とにより、前記エッジの第２方向のずれを第２方向エッジずれとして算出し、前記エッジに対応する光量を補正して前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する制御部、として画像形成装置のコンピュータを機能させることを特徴とする。
【００２１】
（２）以上の（１）において、前記検出部は、第２方向を長手方向とする第１検出領域と、前記第１検出領域に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域と、前記第１検出領域と前記第２検出領域とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域と、を有して構成され、前記制御部は、前記第１検出領域と前記第２検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差を前記第１方向走査時間として求め、前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差から前記第２方向ビーム位置を求める、ことを特徴とする。
【００２２】
（３）以上の（１）〜（２）において、前記制御部は、前記第１方向走査時間に起因する前記第２方向エッジずれの成分について、前記第１方向走査時間が既定時間より小さい場合には第２方向上流側に向かって生じているとして算出し、前記第１方向走査時間が既定時間より大きい場合には第２方向下流側に向かって生じるとして算出する、ことを特徴とする。
【００２３】
（４）以上の（２）において、前記制御部は、前記第２方向ビーム位置に起因する前記第２方向エッジずれの成分について、前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差である第１方向走査時間が既定時間より大きい場合には、前記第１検出領域と前記第３検出領域との間隔が開く方向に向かって生じているとして算出し、前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差である第１方向走査時間が既定時間より小さい場合には、前記第１検出領域と前記第３検出領域との間隔が閉じる方向に向かって生じているとして算出する、ことを特徴とする。
【００２４】
（５）以上の（１）〜（４）において、前記制御部は、第２方向エッジずれが第２方向上流側に向かって生じている場合に、第２方向上流側エッジの光量を低減するとともに、第２方向下流側エッジの光量を増加し、第２方向エッジずれが第２方向下流側に向かって生じている場合に、第２方向上流側エッジの光量を増加するとともに、第２方向下流側エッジの光量を低減し、前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する、ことを特徴とする。
【００２５】
（６）以上の（５）において、前記検出部は、第２方向を長手方向とする第１検出領域と、前記第１検出領域に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域と、前記第１検出領域と前記第２検出領域とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域と、を有して構成されており、前記制御部は、前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差の既定値をa、前記第１検出領域と前記第３検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差の測定値をa'、前記第１検出領域と前記第２検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差の既定値をb、前記第１検出領域と前記第２検出領域とにおける前記光ビームの検出時間差の測定値をb'、前記第１方向走査時間に起因する第２方向下流側に向かう前記第２方向エッジずれであって第２検出領域で検出されるものをc、前記第１方向走査時間に起因する第２方向下流側に向かう前記第２方向エッジずれであって第３検出領域で検出されるものをc'、前記第１方向走査時間に起因する第２方向上流側に向かう前記第２方向エッジずれであって第２検出領域で検出されるものをd、前記第１方向走査時間に起因する第２方向上流側に向かう前記第２方向エッジずれであって第３検出領域で検出されるものをd'、前記第２方向ビーム位置に起因する第２方向下流側に向かう前記第２方向エッジずれをC、前記第２方向ビーム位置に起因する第２方向上流側に向かう前記第２方向エッジずれをD、前記第２方向ビーム位置に起因する前記第１検出領域と前記第３検出領域との間隔が開く方向に向かう前記第２方向エッジずれをC、前記第２方向ビーム位置に起因する前記第１検出領域と前記第３検出領域との間隔が閉じる方向に向かう前記第２方向エッジずれをD、とした場合に、測定値a'とb'について、a'=a+c'=a+(a/b)c，b'=b+c，であるときは前記第２方向エッジずれcを解消するように、a'=a-d'=a-(a/b)d，b'=b-d，であるときは前記第２方向エッジずれdを解消するように、a'=a+C,b'=b,であるときは前記第２方向エッジずれCを解消するように、a'=a-D,b'=b,であるときは前記第２方向エッジずれDを解消するように、a'=(a+c')+C=(a+(a/b)c)+Cb'=b+c,であるときは前記第２方向エッジずれCとcを解消するように、a'=(a+c')-D=(a+(a/b)c)-D,b'=b+c,であるときは前記第２方向エッジずれDとcを解消するように、a'=(a-d')+C=(a-(a/b)d)+C,b'=b-d,であるときは前記第２方向エッジずれCとdを解消するように、a'=(a-d')-D=(a-(a/b)d)-D,b'=b-d,であるときは前記第２方向エッジずれDとdを解消するように、いずれか該当するパターンに当て嵌めて、前記エッジに対応する光量を補正して前記第２方向エッジずれを解消するよう制御する、ことを特徴とする。
【００２６】
（７）以上の（１）〜（６）において、前記検出部は、前記光ビームが前記像担持体で第１方向に走査される際において、前記像担持体に近接する第１方向の領域外に配置され、前記光走査部は、前記像担持体と前記検出部とに対して、第１方向に複数ｎの前記光ビームを走査する、ことを特徴とする。
【００２７】
（８）以上の（１）〜（７）において、前記検出部は、前記像担持体より先に前記光ビームで走査される位置に配置され、前記制御部は、前記検出部の検出結果を用いて、前記検出結果を得た前記ポリゴンミラーの反射面に対応して前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する、ことを特徴とする。
【００２８】
（９）以上の（１）〜（８）において、前記光走査部は、前記ポリゴンミラーの各反射面を識別する反射面識別情報を生成する面識別部を備えて構成され、前記制御部は、前記エッジに対応する光量を補正する補正情報を、当該補正情報取得時の前記反射面識別情報を参照して、前記ポリゴンミラーの各反射面に対応して記憶し、画像形成時の前記反射面識別情報を参照して、記憶された前記補正情報を前記ポリゴンミラーの各反射面に対応して割り当てて、前記第２方向エッジずれを解消するように前記発光駆動部の発光駆動を制御する、ことを特徴とする。
【００２９】
（１０）以上の（９）において、前記検出部は、第２方向を長手方向とする第１検出領域と、前記第１検出領域に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域と、前記第１検出領域と前記第２検出領域とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域と、を有して構成され、前記第１検出領域と前記第３検出領域は、前記像担持体より先に前記光ビームで走査される位置に配置され、前記第２検出領域は、前記像担持体より後に前記光ビームで走査される位置に配置される、ことを特徴とする。
【００３０】
（１１）以上の（１）〜（１０）において、各種情報を外部に報知する報知部を備え、前記制御部は、算出された前記第２方向エッジずれが予め定められた閾値を超える場合には、前記光ビームの走査に関するエラーを報知するよう前記報知部を制御する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００３１】
本発明の一側面が反映された画像形成装置と画像形成制御プログラムの一態様によると、以下のような効果が得られる。
（１）本発明の一側面が反映された画像形成装置と画像形成制御プログラムの一態様では、複数の光ビームが第１方向に走査される像担持体を第２方向に駆動して光ビームの走査により該像担持体上に画像形成する際に、光ビームの第１方向走査時間と光ビームの第２方向ビーム位置とを検出可能な検出部の検出結果から第１方向走査時間と第２方向ビーム位置と求め、画像データの画素分布により第２方向のエッジを求め、第１方向走査時間と第２方向ビーム位置とにより、エッジの第２方向のずれを第２方向エッジずれとして算出し、エッジに対応する光量を補正して第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部の発光駆動を制御している。
【００３２】
この結果、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００３３】
（２）以上の（１）において、検出部は、第２方向を長手方向とする第１検出領域と、第１検出領域に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域と、第１検出領域と第２検出領域とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域と、を有し、第１検出領域と第２検出領域とにおける光ビームの検出時間差を第１方向走査時間として求め、第１検出領域と第３検出領域とにおける光ビームの検出時間差から第２方向ビーム位置を求める。
【００３４】
この結果、第１方向走査時間と第２方向ビーム位置とを実際の走査毎に適切に求めることができるようになり、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００３５】
（３）以上の（１）〜（２）において、第１方向走査時間に起因する第２方向エッジずれの成分について、第１方向走査時間が既定時間より小さい場合には第２方向上流側に向かって生じているとして算出し、第１方向走査時間が既定時間より大きい場合には第２方向下流側に向かって生じるとして算出する。
【００３６】
この結果、第１方向走査時間を実際の走査毎に適切に求めることができるようになり、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００３７】
（４）以上の（２）において、第２方向ビーム位置に起因する第２方向エッジずれの成分について、第１検出領域と第３検出領域とにおける光ビームの検出時間差である第１方向走査時間が既定時間より大きい場合には、第１検出領域と第３検出領域との間隔が開く方向に向かって生じているとして算出し、第１検出領域と第３検出領域とにおける光ビームの検出時間差である第１方向走査時間が既定時間より小さい場合には、第１検出領域と第３検出領域との間隔が閉じる方向に向かって生じているとして算出する。
【００３８】
この結果、第２方向エッジずれを実際の走査毎に適切に求めることができるようになり、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００３９】
（５）以上の（１）〜（４）において、第２方向エッジずれが第２方向上流側に向かって生じている場合に、第２方向上流側エッジの光量を低減するとともに、第２方向下流側エッジの光量を増加し、第２方向エッジずれが第２方向下流側に向かって生じている場合に、第２方向上流側エッジの光量を増加するとともに、第２方向下流側エッジの光量を低減し、これにより第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部の発光駆動を制御する。
【００４０】
この結果、第２方向エッジずれに基づいてエッジの光量を適切に調整することができるようになり、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００４１】
（６）以上の（５）において、測定値を既定値と比較して、予めずれのパターンを予測しておき、
測定値について該当するパターンに当て嵌めて、エッジに対応する光量を補正して第２方向エッジずれを解消するよう制御する。
【００４２】
この結果、第２方向エッジずれに基づいてエッジの光量を適切に調整することができるようになり、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００４３】
（７）以上の（１）〜（６）において、検出部は、光ビームが像担持体で第１方向に走査される際において、像担持体に近接する第１方向の領域外に配置され、光走査部は、像担持体と検出部とに対して、第１方向に複数ｎの光ビームを走査する。
この結果、第２方向エッジずれを実際の走査毎に適切に求めることができるようになり、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００４４】
（８）以上の（１）〜（７）において、検出部は像担持体より先に光ビームで走査される位置に配置され、この検出結果を得たポリゴンミラーの反射面に対応して第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部の発光駆動を制御する。
この結果、第２方向エッジずれに基づいてエッジの光量をリアルタイムで適切に調整することができるようになり、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００４５】
（９）以上の（１）〜（８）において、エッジに対応する光量を補正する補正情報をポリゴンミラーの各反射面に対応して記憶し、画像形成時には記憶された補正情報をポリゴンミラーの各反射面に対応して割り当てて、第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部の発光駆動を制御する。
【００４６】
これにより、ポリゴンミラー各面の補正情報を記憶し、記憶された記憶情報を用いて第２方向エッジずれに基づいてエッジの光量を適切に調整することができるようになり、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００４７】
（１０）以上の（９）において、検出部は、第２方向を長手方向とする第１検出領域と、第１検出領域に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域と、第１検出領域と第２検出領域とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域と、を有して構成され、第１検出領域と第３検出領域は、像担持体より先に光ビームで走査される位置に配置され、第２検出領域は、像担持体より後に光ビームで走査される位置に配置される。
【００４８】
これにより、第１検出領域と第２検出領域との距離が大きくなるため精度の高い補正情報を記憶しておき、記憶された記憶情報を用いて第２方向エッジずれに基づいてエッジの光量を適切に調整することができるようになり、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
【００４９】
（１１）以上の（１）〜（１０）において、算出された第２方向エッジずれが予め定められた閾値を超える場合には、光ビームの走査に関するエラーを報知する。これにより、異常状態のまま動作することを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明の実施形態の画像形成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態の画像形成装置の構成を示す説明図である。
【図３】本発明の一実施形態の画像形成の動作を示すフローチャートである。
【図４】本発明の一実施形態の画像形成の動作を示すフローチャートである。
【図５】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図６】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図７】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図８】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図９】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図１０】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図１１】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図１２】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図１３】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図１４】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図１５】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図１６】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図１７】本発明の一実施形態の動作状態を示す説明図である。
【図１８】本発明の実施形態の他の構成を示す説明図である。
【図１９】本発明の実施形態の他の構成を示す説明図である。
【図２０】従来の様子を示す説明図である。
【図２１】従来の様子を示す説明図である。
【図２２】従来の様子を示す説明図である。
【図２３】従来の様子を示す説明図である。
【図２４】従来の様子を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００５１】
以下、図面を参照して本発明を実施するための最良の形態（実施形態）を詳細に説明する。なお、以下の実施形態の説明において、画像形成の主走査方向を第１方向と呼び、画像形成の副走査方向を第２方向と呼ぶことにする。
〔構成〕
本実施形態が適用される画像形成装置は、複数の発光部を有する光源からの複数ｎ本の光ビームを像担持体の主走査方向に走査して、複数ｎライン分の露光を並行して行うマルチビーム型の画像形成装置である。以下、本実施形態のマルチビーム型の画像形成装置１００の第１の実施形態の構成を、図１に基づいて詳細に説明する。なお、この実施形態では、画質を劣化させることなく、複数の光ビームを露光に用いる画像形成装置１００の基本的な構成要件を中心に説明する。したがって、画像形成装置として一般的であり、周知となっている構成要件については省略している。
【００５２】
この図１において、制御部１０１は画像形成装置１００の各部を制御するためにＣＰＵやプロセッサなどで構成され、画像データや所定の命令データに応じてレーザの発光の制御を行い、必要に応じてずれ補正の制御を行う。操作表示部１０３は操作入力を受け付けて制御部１０１に通知するとともに、制御部１０１に指示された情報を表示あるいは報知する。記憶部１０５は予め測定された濃度むらのデータ、各種補正に必要なデータなどを記憶する。画像入力部１１０は図示されない外部機器やスキャナなどからの画像データを受け付ける。画像処理部１２０は画像データに応じて所定の画像処理を実行する。発光駆動部１３０は制御部１０１の制御に基づいて、複数ｎの発光部を有する光源を駆動する。
【００５３】
露光ユニット１５０は複数ｎ本の光ビームで走査を行う。この露光ユニット１５０は、後述する各種の光学部品で構成されている。像担持体１６１はプロセスユニットに含まれる感光体ドラムなどである。
この図１において、露光ユニット１５０は、複数光ビームを発生させる複数の発光部を有する半導体レーザ等の光源１５１、光ビームを光学的に各種補正をするコリメータレンズ１５２とシリンドリカルレンズ１５３、光ビームを第１方向（主走査方向）に走査するポリゴンミラー１５４、光学的に走査角度の補正を行うｆθレンズ１５５、光学的な補正を行うシリンドリカルレンズ１５６、像担持体１６１と共に光ビームで走査される検出部１５８、を備えて構成されている。
【００５４】
なお、この図１で光源１５１として示した部分は、１素子で構成されて複数ｎの光ビームを発生するものでも良いし、複数素子で構成されて合計で複数ｎの光ビームを発生するものでも良い。なお、この図１では紙面の都合で４ラインの光ビームが生成される状態を示しているが、後述する光量補正の具体例では８ラインの光ビームの具体例で示している。なお、複数ｎについては、４あるいは８に限定されるものではない。
【００５５】
そして、以上のようにして走査される複数の光ビームが像担持体１６１上に走査され、像担持体１６１の回転を第２方向（副走査方向）の走査として、像担持体１６１表面には光ビームに応じた潜像が形成される。なお、カラー画像形成装置の場合には、ここに示した露光ユニット１５０を色数分配置する。
【００５６】
なお、以上の構成において、画像処理部１２０は画像形成に必要な各種の画像処理を施す画像処理部であり、この実施形態では複数の発光部を有する光源１５１で同時露光を行うために、複数の発光部を有する光源１５１に対応して、各ライン分の画像データを並行して出力する機能を有している。または、画像処理部１２０からは１ライン分ずつの画像データが出力されていて、発光駆動部１３０において複数ライン分の画像データを蓄積して、複数ライン分並行して光源１５１を駆動するようにしてもよい。
【００５７】
また、以上の構成において、制御部１０１が複数ｎラインの光ビームについての光量の補正値を定め、それぞれの補正値に基づいて、発光駆動部１３０による複数ｎの発光部を有する光源１５１の光量を補正するようになっている。なお、制御部１０１から発光駆動部１３０に対して各光ビームの補正値を指示する際に、必要に応じて、制御部１０１の制御出力と発光駆動部１３０の制御入力との間にＤ−Ａ変換器を配置しても良い。
【００５８】
また、検出部１５８は、光ビームの第１方向走査時間と光ビームの第２方向ビーム位置とを検出可能である。以下、図２を参照して、検出部１５８を説明する。ここで、検出部１５８は、第２方向を長手方向とする第１検出領域１５８ｓ１と、第１検出領域に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域１５８ｓ２と、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域１５８ｓ３と、を有して構成される。そして、制御部１０１は、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２とにおける光ビームの検出時間差を第１方向走査時間として求める。また、制御部１０１は、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３とにおける光ビームの検出時間差から第２方向ビーム位置を求める。
【００５９】
また、検出部１５８は、光ビームが像担持体で第１方向に走査される際において、像担持体１６１に近接する第１方向の領域外に配置され、露光ユニット１５０は、像担持体と検出部１５８とに対して、第１方向に複数ｎの光ビームを走査する。
また、検出部１５８は、像担持体より先に光ビームで走査される位置に配置され、制御部１０１は、検出部１５８の検出結果を用いて、検出結果を得たポリゴンミラーの反射面に対応して第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部の発光駆動を制御する。
【００６０】
また、検出部１５８は、第２方向を長手方向とする第１検出領域１５８ｓ１と、第１検出領域１５８ｓ１に対して平行であって第１方向に異なる位置に配置された第２検出領域１５８ｓ２と、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２とに挟まれて第１方向と第２方向の両方の成分を含む第３検出領域１５８ｓ３と、を有して構成される。ここで、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２と第３検出領域１５８ｓ３とは、像担持体より先に光ビームで走査される位置に配置される。また、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３は像担持体より先に光ビームで走査される位置に配置され、第２検出領域１５８ｓ２は像担持体より後に光ビームで走査される位置に配置されても良い。
【００６１】
そして、この実施形態では、複数ｎの発光部から複数ｎの光ビームを発生可能な光源１５１と、画像データに応じて複数ｎの発光部それぞれを発光駆動する発光駆動部１３０と、複数ｍの反射面を有して回転するポリゴンミラー１５４の各反射面によって、複数ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数ｎの光ビームを走査する露光ユニット１５０と、複数ｎの光ビームが第１方向に走査される像担持体を第１方向と直交する第２方向に駆動して光ビームの走査により該像担持体１６１上に生じる潜像を可視像に変換して用紙に転写する画像形成部と、光ビームの第１方向走査時間と光ビームの第２方向ビーム位置とを検出可能な検出部１５８と、検出部１５８の検出結果から第１方向走査時間と第２方向ビーム位置と求め、画像データの画素分布により第２方向のエッジを求め、第１方向走査時間と第２方向ビーム位置とにより、エッジの第２方向のずれを第２方向エッジずれとして算出し、エッジに対応する光量を補正して第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部１３０の発光駆動を制御する制御部１０１と、を有する。
【００６２】
また、制御部１０１は、第１方向走査時間に起因する第２方向エッジずれの成分について、第１方向走査時間が既定時間より小さい場合には第２方向上流側に向かって生じているとして算出し、第１方向走査時間が既定時間より大きい場合には第２方向下流側に向かって生じるとして算出する。
【００６３】
また、制御部１０１は、第２方向ビーム位置に起因する第２方向エッジずれの成分について、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３とにおける光ビームの検出時間差である第１方向走査時間が既定時間より大きい場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が開く方向に向かって生じているとして算出し、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３とにおける光ビームの検出時間差である第１方向走査時間が既定時間より小さい場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が閉じる方向に向かって生じているとして算出する。
【００６４】
また、制御部１０１は、第２方向エッジずれが第２方向上流側に向かって生じている場合に、第２方向上流側エッジの光量を低減するとともに、第２方向下流側エッジの光量を増加し、第２方向エッジずれが第２方向下流側に向かって生じている場合に、第２方向上流側エッジの光量を増加するとともに、第２方向下流側エッジの光量を低減し、第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部の発光駆動を制御する。
【００６５】
また、制御部１０１は、露光ユニット１５０がポリゴンミラー１５４の各反射面を識別する反射面識別情報を生成する面識別部を備える場合に、エッジに対応する光量を補正する補正情報を、当該補正情報取得時の反射面識別情報を参照して、ポリゴンミラー１５４の各反射面に対応して記憶し、画像形成時の反射面識別情報を参照して、記憶された補正情報をポリゴンミラー１５４の各反射面に対応して割り当てて、第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部の発光駆動を制御する。
【００６６】
また、制御部１０１は、算出された第２方向エッジずれが予め定められた閾値を超える場合には、光ビームの走査に関するエラーを報知するよう操作表示部１０３を制御する。
〔動作概要（１）〕
ここで、図３のフローチャートを参照して本実施形態の画像形成装置１００の動作概要を説明する。なお、本実施形態の動作は、制御部１０１の制御、すなわち、制御部１０１における画像形成制御プログラムの実行によりなされる。
【００６７】
まず、制御部１０１は、画像入力部１１０から入力されて画像形成すべき画像データについて、画像処理部１２０で画像処理を施す（図３中のステップＳ１０１）。なお、この画像データに対して、制御部１０１が後述するように、画像データの画素分布により第２方向のエッジを求めるエッジ判別を行う（図３中のステップＳ１０２）。
【００６８】
ここで、画像処理部１２０は、画像処理した画像データについて、光源１５１で同時露光を行うために複数ｎライン分の画像データを並行して発光駆動部１３０に出力する。発光駆動部１３０は、複数ｎライン分の画像データに応じて複数ｎの発光部それぞれを発光駆動する。これにより、光源１５１は、複数ｎの発光部から複数ｎの光ビームを発生する。そして、複数ｍの反射面を有して回転するポリゴンミラー１５４の各反射面によって、複数ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数ｎの光ビームが走査される（図３中のステップＳ１０３）。なお、この複数ｎの光ビームは、検出部１５８と像担持体１６１表面とを第１方向（主走査方向）に走査する。これと並行して、像担持体１６１は第２方向（副走査方向）に回転駆動されている。
【００６９】
そして、この複数ｎの光ビームは、像担持体１６１を走査する直前に検出部１５８で検出される（図３中のステップＳ１０４）。検出部１５８は検出結果を制御部１０１に通知する。
検出部１５８の検出結果を受けた制御部１０１は、検出部１５８の検出結果から第１方向走査時間と第２方向ビーム位置と求める。そして、制御部１０１は、第１方向走査時間と第２方向ビーム位置とにより、エッジの第２方向のずれを第２方向エッジずれとして算出し（図３中のステップＳ１０５）、ずれを補正する際の補正量を算出する（図３中のステップＳ１０６）。なお、このずれの算出手法については、後に詳しく説明する。
【００７０】
そして、制御部１０１は、画像形成する際にエッジが存在していれば（図３中のステップＳ１０７でＹＥＳ）、そのエッジ部分に光量補正を適用するように発光駆動部１３０を制御する（図３中のステップＳ１０８）。なお、制御部１０１は、画像形成する際にエッジが存在していなければ（図３中のステップＳ１０７でＮＯ）、光量補正についての制御は行わない。
【００７１】
そして、制御部１０１は、以上のように必要に応じて光量補正を実施するようにして、複数ｎの光ビームが像担持体１６１上を走査し、像担持体１６１表面に光ビームに応じた静電潜像を形成するように各部を制御する（図３中のステップＳ１０９）。
なお、制御部１０１は、以上のような検出部１５８での検知、ずれ算出、補正量算出、光ビームの光量補正と露光、を用紙全面にわたって繰り返すように各部を制御する（図３中のステップＳ１１０）。
【００７２】
〔動作概要（２）〕
ここで、図４のフローチャートを参照して本実施形態の画像形成装置１００の第２の動作概要を説明する。
なお、この第２の動作概要において、検出部１５８の第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３は、像担持体１６１より先に光ビームで走査される位置に配置され、第２検出領域１５８ｓ２は、像担持体１６１より後に光ビームで走査される位置に配置されるものとする。
【００７３】
また、この第２の動作概要において、図１には示されていないが、露光ユニット１５０にはポリゴンミラー１５４の各反射面を識別する反射面識別情報を生成する面識別部を備え、反射面識別情報は制御部１０１に通知されるものとする。
まず、制御部１０１は、画像入力部１１０から入力されて画像形成すべき画像データについて、画像処理部１２０で画像処理を施す（図４中のステップＳ２０１）。なお、この画像データに対して、制御部１０１が後述するように、画像データの画素分布により第２方向のエッジを求めるエッジ判別を行う（図４中のステップＳ２０２）。
【００７４】
ここで、画像処理部１２０は、画像処理した画像データについて、光源１５１で同時露光を行うために複数ｎライン分の画像データを並行して発光駆動部１３０に出力する。発光駆動部１３０は、複数ｎライン分の画像データに応じて複数ｎの発光部それぞれを発光駆動する。これにより、光源１５１は、複数ｎの発光部から複数ｎの光ビームを発生する。そして、複数ｍの反射面を有して回転するポリゴンミラーの各反射面によって、複数ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数ｎの光ビームが走査される（図４中のステップＳ２０３）。なお、この複数ｎの光ビームは、検出部１５８と像担持体１６１表面とを第１方向（主走査方向）に走査する。これと並行して、像担持体１６１は第２方向（副走査方向）に回転駆動されている。
【００７５】
そして、この複数ｎの光ビームは、像担持体１６１を走査する直前に、検出部１５８の第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３とで検出される（図４中のステップＳ２０４）。検出部１５８は検出結果を制御部１０１に通知する。
そして、制御部１０１は、画像形成する際にエッジが存在していれば（図４中のステップＳ２０５でＹＥＳ）、画像形成時の反射面識別情報を参照して、記憶された補正情報を記憶部から読み出し（図４中のステップＳ２０６）、補正情報をポリゴンミラー１５４の各反射面に対応して割り当てて、そのエッジ部分に光量補正を適用するように発光駆動部１３０を制御する（図４中のステップＳ２０７）。なお、制御部１０１は、画像形成する際にエッジが存在していなければ（図４中のステップＳ２０５でＮＯ）、光量補正についての制御は行わない。
【００７６】
そして、制御部１０１は、以上のように必要に応じて光量補正を実施するようにして、複数ｎの光ビームが像担持体１６１上を走査し、像担持体１６１表面に光ビームに応じた静電潜像を形成するように各部を制御する（図４中のステップＳ２０８）。
そして、この像担持体１６１を走査した複数ｎの光ビームは、像担持体１６１を走査した直後に、検出部１５８の第２検出領域１５８ｓ２で検出される（図４中のステップＳ２０９）。検出部１５８は検出結果を制御部１０１に通知する。
【００７７】
そして、検出部１５８の検出結果を像担持体１６１の走査の前後の２回に分けて受けた制御部１０１は、検出部１５８の検出結果から第１方向走査時間と第２方向ビーム位置と求める。そして、制御部１０１は、第１方向走査時間と第２方向ビーム位置とにより、エッジの第２方向のずれを第２方向エッジずれとして算出し（図４中のステップＳ２１０）、ずれを補正する際の補正量を算出する（図４中のステップＳ２１１）。なお、このずれの算出手法については、後に詳しく説明する。そして、制御部１０１は、算出したずれを反射面識別情報と共に記憶部に記憶させる（図４中のステップＳ２１２）。
【００７８】
なお、制御部１０１は、以上のような検出部１５８での検知、補正適用、光ビームの光量補正と露光、ずれ算出、補正量算出、補正量記憶、を用紙全面にわたって繰り返すように各部を制御する（図４中のステップＳ２１３）。
また、この第２の動作概要の場合、後述する図１８と図１９のように、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３を像担持体１６１の走査直前に設け、第２検出領域１５８ｓ２を像担持体１６１の走査直後に設けることで、第１検出領域１５８ｓ１〜第２検出領域１５８ｓ２の検出長を長くとれるため、精度が高まる利点がある。また、ずれと補正量の算出をリアルタイムではない状態で算出できるため、演算時間に余裕ができ、精度の高い演算が可能になる。
【００７９】
〔補正の原理〕
・エッジ判別：
本実施形態は光ビームの位置ずれに起因する第２方向（副走査方向）ビーム間隔差による画質劣化を防止するものであり、第２方向（副走査方向）ビーム間隔差を生じさせるエッジずれを解消する必要がある。このために、画像に分布しているエッジの存在を判別する必要がある。
【００８０】
以下、エッジ判別について図５を参照して説明する。
図５において、ｐx１〜ｐx５まで副走査方向の５画素の場合を例示している（図５（ａ））。
まず、ドット有（黒）の画素ｐx２を着目画素としてエッジ判別を行う場合、副走査方向上流側に隣接する画素ｐx１と、副走査方向下流側に隣接する画素ｐx３とを抽出し（図５（ｂ））、ドット有（黒）／ドット無（白）を調べる。
【００８１】
画素ｐx２がドット有（黒）である場合に、画素ｐx１がドット無（白）であれば、画素ｐx２が［上流側エッジ］であると判別する（図５（ｂ））。なお、画素ｐx２がドット有（黒）であって、画素ｐx３がドット有（黒）である場合に、画素ｐx３側には［エッジなし］と判別する（図５（ｂ））。
【００８２】
また、ドット有（黒）の画素ｐx３を着目画素としてエッジ判別を行う場合、副走査方向上流側に隣接する画素ｐx２と、副走査方向下流側に隣接する画素ｐx４とを抽出し（図５（ｃ））、ドット有（黒）／ドット無（白）を調べる。画素ｐx２がドット有（黒）であって、画素ｐx４がドット有（黒）である場合に、両側に［エッジなし］と判別する（図５（ｃ））。
【００８３】
また、ドット有（黒）の画素ｐx４を着目画素としてエッジ判別を行う場合、副走査方向上流側に隣接する画素ｐx３と、副走査方向下流側に隣接する画素ｐx５とを抽出し（図５（ｄ））、ドット有（黒）／ドット無（白）を調べる。画素ｐx４がドット有（黒）である場合に、画素ｐx５がドット無（白）であれば、画素ｐx４が［下流側エッジ］であると判別する（図５（ｄ））。なお、画素ｐx４がドット有（黒）であって、画素ｐx３がドット有（黒）である場合に、画素ｐx３側には［エッジなし］と判別する（図５（ｄ））。
【００８４】
すなわち、エッジ判別は、以下のアルゴリズムに基づいて制御部１０１が行う。
・上流側エッジ＝下流側のみにドットが存在する。
・エッジなし  ＝上流側／下流側共にドットが存在する。
・下流側エッジ＝上流側のみにドットが存在する。
【００８５】
そして、本実施形態では、以上の第２方向のエッジ判別結果と、後述する検出部１５８により検出される第２方向ビーム位置とに基づいて、制御部１０１がエッジ部分に該当する発光部の光量を補正する。
・エッジの位置補正：
本実施形態は光ビームの位置ずれに起因する第２方向（副走査方向）ビーム間隔差による画質劣化を防止するものであり、第２方向（副走査方向）ビーム間隔差を生じさせるエッジずれを解消する必要がある。このために、判別された第２方向のエッジについて、光ビームの位置ずれに応じた補正を実行する。以下、その補正の概略を示す。
【００８６】
以下、図６と図７とを用いて、エッジ判別結果と、複数発光部における発光位置とに基づいて、制御部１０１が各発光部の光量を補正する様子を、原理的に説明する。
図６（ａ）は１走査による４光ビームが適正な第２方向位置に存在する場合の４画素を例示している。そして、図６（ｂ）は１走査による４光ビームが適正な第２方向位置よりも、第２方向上流側に存在する場合の４画素を例示している。ここで、ここに示す４画素が上流側エッジに該当する場合には、制御部１０１は発光駆動部１３０を制御して各画素の光量を低減させる（図６（ｃ））。これにより、図６（ｃ）に示される各画素の上流側の端部が、光ビームが適正な第２方向位置にある場合（図６（ａ））の画素の上流側の端部と一致する。一方、ここに示す４画素が下流側エッジに該当する場合には、制御部１０１は発光駆動部１３０を制御して各画素の光量を増加させる（図６（ｄ））。これにより、図６（ｄ）に示される各画素の下流側の端部が、光ビームが適正な第２方向位置にある場合（図６（ａ））の画素の上流側の端部と一致する。なお、このような補正は上述したように上流側エッジと下流側エッジに該当する画素で実行し、エッジではない画素ではこのような補正は必要としない。
【００８７】
図７（ａ）は１走査による４光ビームが適正な第２方向位置に存在する場合の４画素を例示している。そして、図７（ｂ）は１走査による４光ビームが適正な第２方向位置よりも、第２方向下流側に存在する場合の４画素を例示している。ここで、ここに示す４画素が上流側エッジに該当する場合には、制御部１０１は発光駆動部１３０を制御して各画素の光量を増加させる（図７（ｃ））。これにより、図７（ｃ）に示される各画素の上流側の端部が、光ビームが適正な第２方向位置にある場合（図７（ａ））の画素の上流側の端部と一致する。一方、ここに示す４画素が下流側エッジに該当する場合には、制御部１０１は発光駆動部１３０を制御して各画素の光量を低減させる（図７（ｄ））。これにより、図７（ｄ）に示される各画素の下流側の端部が、光ビームが適正な第２方向位置にある場合（図７（ａ））の画素の下流側の端部と一致する。なお、このような補正は上述したように上流側エッジと下流側エッジに該当する画素で実行し、エッジではない画素ではこのような補正は必要としない。
【００８８】
・光ビームの位置ずれ検出：
本実施形態は像担持体１６１上での光ビームの位置ずれに起因する第２方向（副走査方向）ビーム間隔差による画質劣化を防止するものであり、まず光ビームの位置ずれを正確に検出する必要がある。
【００８９】
以下、図８〜図１２を用いて、光ビームの位置検出の概略を示す。なお、図８〜図１２において、それぞれ、（ａ）は検出部１５８を示し、（ｂ）〜（ｄ）は適正時の検出結果、（ｅ）〜（ｊ）は適正ではない時の検出結果を示している。また、検出部１５８の第３検出領域１５８ｓ３は、第２（副走査）方向の下流側に向かって開くように構成された場合を具体例とする。
【００９０】
なお、第１方向走査時間は、図２４で説明したように光ビームの第１方向走査速度の違いによって生じるものである。すなわち、光ビームの第１方向走査速度が既定値より高速であれば、第１方向走査時間は既定値より小さくなる。一方、光ビームの第１方向走査速度が既定値より低速であれば、第１方向走査時間は既定値より大きくなる。
【００９１】
図８において、光ビームの第１方向走査速度や面倒による光ビームの第２方向位置が適正な理想状態である場合に、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値をa（図８（ｂ），（ｃ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値をb（図８（ｂ），（ｄ））、であるとする。制御部１０１は、このaとbとを既定時間として予め記憶している。
【００９２】
また、図８において、ポリゴンミラー１５４の反射面の面倒等による光ビームの第２方向位置が適正な理想状態であるが光ビームの第１方向走査速度が既定速度より低速である場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa1（図８（ｅ），（ｆ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb1（図８（ｅ），（ｇ））として、制御部１０１に通知される。ここで、第１方向走査速度が既定速度より低速であるため、a1>a，b1>b，である。
【００９３】
また、図８において、ポリゴンミラー１５４の反射面の面倒等による光ビームの第２方向位置が適正な理想状態であるが光ビームの第１方向走査速度が既定速度より高速である場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa2（図８（ｈ），（ｉ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb2（図８（ｈ），（ｊ））として、制御部１０１に通知される。ここで、第１方向走査速度が既定速度より高速であるため、a2<a，b2<b，である。
【００９４】
図９において、光ビームの第１方向走査速度や面倒による光ビームの第２方向位置が適正な理想状態である場合に、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値をa（図９（ｂ），（ｃ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値をb（図９（ｂ），（ｄ））、であるとする。制御部１０１は、このaとbとを既定時間として予め記憶している。
【００９５】
また、図９において、光ビームの第１方向走査速度が既定速度と同一であるが光ビームの第２方向位置が第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が開く方向に向かって生じている場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa3（図９（ｅ），（ｆ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb3（図９（ｅ），（ｇ））として、制御部１０１に通知される。ここで、光ビームの第２方向位置が下流側にずれているため、a3>a，b3=b，である。
【００９６】
また、図９において、光ビームの第１方向走査速度が既定速度と同一であるが光ビームの第２方向位置が第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が閉じる方向に向かって生じている場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa4（図９（ｈ），（ｉ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb4（図９（ｈ），（ｊ））として、制御部１０１に通知される。ここで、光ビームの第２方向位置が上流側にずれているため、a4<a，b4=b，である。
【００９７】
図１０において、光ビームの第１方向走査速度が既定速度と同一であるが光ビームの第２方向位置が第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が開く方向に向かって生じている場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa5（図１０（ｂ），（ｃ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb5（図１０（ｂ），（ｄ））として、制御部１０１に通知される。ここで、光ビームの第２方向位置が下流側にずれているため、a5=a3>a，b5=b，である。
【００９８】
また、図１０において、光ビームの第１方向走査速度が既定速度より低速であり光ビームの第２方向位置が第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が開く方向に向かって生じている場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa6（図１０（ｅ），（ｆ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb6（図１０（ｅ），（ｇ））として、制御部１０１に通知される。ここで、第１方向走査速度が低速であって光ビームの第２方向位置が下流側にずれているため、a6>a，b6>b，である。
【００９９】
また、図１０において、光ビームの第１方向走査速度が既定速度より高速であり光ビームの第２方向位置が第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が開く方向に向かって生じている場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa7（図１０（ｈ），（ｉ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb7（図１０（ｈ），（ｊ））として、制御部１０１に通知される。ここで、第１方向走査速度が高速であって光ビームの第２方向位置が下流側にずれているため、a7≠a，b7<bである。
【０１００】
図１１において、光ビームの第１方向走査速度が既定速度と同一であるが光ビームの第２方向位置が第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が閉じる方向に向かって生じている場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa8（図１１（ｂ），（ｃ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb8（図１１（ｂ），（ｄ））として、制御部１０１に通知される。ここで、光ビームの第２方向位置が上流側にずれているため、a8=a4<a，b8=b，である。
【０１０１】
また、図１１において、光ビームの第１方向走査速度が既定速度より低速であり光ビームの第２方向位置が第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が閉じる方向に向かって生じている場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa9（図１１（ｅ），（ｆ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb9（図１１（ｅ），（ｇ））として、制御部１０１に通知される。ここで、第１方向走査速度が低速であって光ビームの第２方向位置が上流側にずれているため、a9≠a，b9>bである。
【０１０２】
また、図１１において、光ビームの第１方向走査速度が既定速度より高速であり光ビームの第２方向位置が第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３との間隔が閉じる方向に向かって生じている場合には、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３の間で得られる測定値a'はa10（図１１（ｈ），（ｉ））、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２の間で得られる測定値b'はb10（図１１（ｈ），（ｊ））として、制御部１０１に通知される。ここで、第１方向走査速度が高速であって光ビームの第２方向位置が上流側にずれているため、a10<a，b10<b，である。
【０１０３】
ここで、
第１方向走査時間に起因する第２方向下流側に向かう第２方向エッジずれであって第２検出領域で検出されるものをc、
第１方向走査時間に起因する第２方向下流側に向かう第２方向エッジずれであって第３検出領域で検出されるものをc'、
第１方向走査時間に起因する第２方向上流側に向かう第２方向エッジずれであって第２検出領域で検出されるものをd、
第１方向走査時間に起因する第２方向上流側に向かう第２方向エッジずれであって第３検出領域で検出されるものをd'、
第２方向ビーム位置に起因する第１検出領域と第３検出領域との間隔が開く方向に向かう第２方向エッジずれをC、
第２方向ビーム位置に起因する第１検出領域と第３検出領域との間隔が閉じる方向に向かう第２方向エッジずれをD、
と表記する。
【０１０４】
すると、上述した図８，図９，図１０，図１１における測定値a'と測定値b'について、以下のような数式で表すことができる。
この場合に、図８（ｅ）（ｆ）（ｇ）では、測定値a'とb'について、
a'=a+c'=a+(a/b)c，
b'=b+c，
と表すことができる。このため、制御部１０１は、判別されたエッジ部分の画素で、第１方向走査時間に起因する第２方向下流側に向かう第２方向エッジずれを解消するように、発光駆動部１３０を制御する。
【０１０５】
また、図８（ｈ）（ｉ）（ｊ）では、測定値a'とb'について、
a'=a-d'=a-(a/b)d，
b'=b-d，
と表すことができる。このため、制御部１０１は、判別されたエッジ部分の画素で、第１方向走査時間に起因する第２方向上流側に向かう第２方向エッジずれを解消するように、発光駆動部１３０を制御する。
【０１０６】
また、図９（ｅ）（ｆ）（ｇ）、図１０（ｂ）（ｄ）（ｄ）では、測定値a'とb'について、
a'=a+C,
b'=b,
と表すことができる。このため、制御部１０１は、判別されたエッジ部分の画素で、第２方向ビーム位置に起因する第１検出領域と第３検出領域との間隔が開く方向に向かう第２方向エッジずれ
を解消するように、発光駆動部１３０を制御する。
【０１０７】
また、図９（ｈ）（ｉ）（ｊ）、図１１（ｂ）（ｄ）（ｄ）では、測定値a'とb'について、
a'=a-D,
b'=b,
と表すことができる。このため、制御部１０１は、判別されたエッジ部分の画素で、第２方向ビーム位置に起因する第１検出領域と第３検出領域との間隔が閉じる方向に向かう第２方向エッジずれ
を解消するように、発光駆動部１３０を制御する。
【０１０８】
また、図１０（ｅ）（ｆ）（ｇ）では、測定値a'とb'について、
a'=(a+c')+C=(a+(a/b)c)+C
b'=b+c,
と表すことができる。このため、制御部１０１は、判別されたエッジ部分の画素で、第２方向ビーム位置に起因する第１検出領域と第３検出領域との間隔が開く方向に向かう第２方向エッジずれと、
第１方向走査時間に起因する第２方向下流側に向かう第２方向エッジずれを解消するように、発光駆動部１３０を制御する。
【０１０９】
また、図１１（ｅ）（ｆ）（ｇ）では、測定値a'とb'について、
a'=(a+c')-D=(a+(a/b)c)-D,
b'=b+c,
と表すことができる。このため、制御部１０１は、判別されたエッジ部分の画素で、第２方向ビーム位置に起因する第１検出領域と第３検出領域との間隔が閉じる方向に向かう第２方向エッジずれと、第１方向走査時間に起因する第２方向下流側に向かう第２方向エッジずれを解消するように、発光駆動部１３０を制御する。
【０１１０】
また、図１０（ｈ）（ｉ）（ｊ）では、測定値a'とb'について、
a'=(a-d')+C=(a-(a/b)d)+C,
b'=b-d,
と表すことができる。このため、制御部１０１は、判別されたエッジ部分の画素で、第２方向ビーム位置に起因する第１検出領域と第３検出領域との間隔が開く方向に向かう第２方向エッジずれと、
第１方向走査時間に起因する第２方向上流側に向かう第２方向エッジずれを解消するように、発光駆動部１３０を制御する。
【０１１１】
また、図１１（ｈ）（ｉ）（ｊ）では、測定値a'とb'について、
a'=(a-d')-D=(a-(a/b)d)-D,
b'=b-d,
と表すことができる。このため、制御部１０１は、判別されたエッジ部分の画素で、第２方向ビーム位置に起因する第１検出領域と第３検出領域との間隔が閉じる方向に向かう第２方向エッジずれと、第１方向走査時間に起因する第２方向上流側に向かう第２方向エッジずれを解消するように、発光駆動部１３０を制御する。
【０１１２】
以上の各状態は、図１２と図１３にまとめることができる。なお、ポリゴンミラー面倒による光ビームの第２方向位置は第１検出領域と第３検出領域との間隔が開く方向を＋、閉じる方向を−、としている。また、第１方向走査速度が既定速度より低速で検出時間が大きくなる場合を＋、高速で検出時間が小さくなる場合を−、としている。
【０１１３】
そして、制御部１０１は、以上のいずれか該当するパターンに当て嵌めて、判別されたエッジに対応する光量を補正して第２方向エッジずれを解消するよう制御する、なお、以上のポリゴンミラー面倒による光ビームのずれであれば、像担持体１６１上の第１方向の走査の末端に至るまで同じ位置ずれを保つ。一方、第１方向走査時間に起因する光ビームのずれであれば、像担持体１６１上の第１方向の走査位置が末端になるほど誤差が累積する。よって、制御部１０１は、以上のような条件を考慮して、第２方向エッジずれについての補正を行う。
【０１１４】
この結果、複数ライン同時露光による画像形成の際に、ポリゴンミラーの面倒による光ビームの位置ずれや、ポリゴンミラー反射面の平面性に起因する主走査時間の変化による光ビームの位置ずれに起因して第２方向（副走査方向）ビーム間隔差によって生じる画質の変化を良好に解消することが可能になる。
【０１１５】
そして、本実施形態では、光ビームの走査に合わせて検出部１５８によって光ビームを検出しているため、特定の条件下だけでなく、経時変化にも対応しつつ、良好に解消することが可能になる。
〔補正の具体例〕
ここで、図１４〜図１７において、複数の発光部としてＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光による４ビームを同時に用いて、１走査で４ラインずつ画像形成を実行する画像形成装置について、走査ｎと走査ｎ＋１の隣接する２つの走査による露光における本実施形態の補正の具体例を示す。
【０１１６】
この場合、複数の発光部としてＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光による４ビームを回転するポリゴンミラーの反射面で反射させて像担持体上を主走査方向に走査し、再びＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光による４ビームを回転するポリゴンミラーの次の反射面で反射させて像担持体上を主走査方向に走査する。なお、像担持体は副走査方向に回転しているため、主走査方向４ビームの露光を、副走査方向に繰り返し実行し、２次元の画像が形成される。なお、これら図１４〜図１７では、走査ｎでは４発光部のうちの下２発光部を発光させて下２ドットを像担持体上に形成し、次の走査ｎ＋１では４発光部のうちの上２発光部を発光させて上２ドットを像担持体上に形成し、合計２回の走査により副走査方向に隣接する４ドットを像担持体上に形成した具体例を示している。
【０１１７】
図１４（ａ）は、あるタイミングで像担持体上の走査ｎと走査ｎ＋１とにより形成される理想状態での露光状態を示す。ハッチングは露光がなされたことを示す。なお、実際には露光の周囲が広がるため、像担持体上のトナーは図１４（ｂ）のように塗りつぶされたようになる。ここで、上述したように第１方向走査時間に起因する第２方向エッジずれ、または、第２方向ビーム位置に起因する第２方向エッジずれの少なくとも一方が走査ｎ＋１で発生し、図１４（ｃ）において走査ｎと走査ｎ＋１との間隔が既定の状態より狭まっている。このため、図１４（ｄ）のハッチングの面積が、適正状態である図１４（ｂ）のハッチングの面積より小さくなっており、濃度低下として視認されることになる。
【０１１８】
なお、この状態は第２方向エッジずれとして、検出部１５８の検出結果を参照して制御部１０１により算出される。また、これと並行して、図１４（ｃ）の走査ｎ＋１における上から２番目の画素ｐｘ2が下流側エッジであると制御部１０１により判別される。これにより、制御部１０１は、下流側エッジに対応する画素の光量を補正して第２方向エッジずれを解消すべく、図１４（ｅ）において下流側エッジに対応する画素（ｐｘ2'）の下流側端部が既定の位置と一致するように、光量を増加させるように発光駆動部１３０の発光駆動を制御する。この結果、像担持体上のトナーは図１４（ｆ）に示すように、トナー面積の縮小が解消され、理想状態での露光状態（図１４（ｂ））と同じ状態になる。
【０１１９】
図１５（ａ）は、あるタイミングで像担持体上の走査ｎと走査ｎ＋１とにより形成される理想状態での露光状態を示す。ハッチングは露光がなされたことを示す。なお、実際には露光の周囲が広がるため、像担持体上のトナーは図１５（ｂ）のように塗りつぶされたようになる。ここで、上述したように第１方向走査時間に起因する第２方向エッジずれ、または、第２方向ビーム位置に起因する第２方向エッジずれの少なくとも一方が走査ｎ＋１で発生し、図１５（ｃ）において走査ｎと走査ｎ＋１との間隔が既定の状態より広がっている。このため、図１５（ｄ）のハッチングの面積が、適正状態である図１５（ｂ）のハッチングの面積より大きくなっており、濃度増大として視認されることになる。
【０１２０】
なお、この状態は第２方向エッジずれとして、検出部１５８の検出結果を参照して制御部１０１により算出される。また、これと並行して、図１５（ｃ）の走査ｎ＋１における上から２番目の画素ｐｘ2が下流側エッジであると制御部１０１により判別される。これにより、制御部１０１は、下流側エッジに対応する画素の光量を補正して第２方向エッジずれを解消すべく、図１５（ｅ）において下流側エッジに対応する画素（ｐｘ2'）の下流側端部が既定の位置と一致するように、光量を低下させるように発光駆動部１３０の発光駆動を制御する。この結果、像担持体上のトナーは図１５（ｆ）のように、トナー面積の拡大が解消され、理想状態での露光状態（図１５（ｂ））と同じ状態になる。
【０１２１】
図１６（ａ）は、あるタイミングで像担持体上の走査ｎと走査ｎ＋１とにより形成される理想状態での露光状態を示す。ハッチングは露光がなされたことを示す。なお、実際には露光の周囲が広がるため、像担持体上のトナーは図１６（ｂ）のように塗りつぶされたようになる。ここで、上述したように第１方向走査時間に起因する第２方向エッジずれ、または、第２方向ビーム位置に起因して、第２方向の上流に向かう第２方向エッジずれが、走査ｎと走査ｎ＋１で等しく発生している。なお、第２方向ずれが等しく発生したため、走査ｎと走査ｎ＋１との間隔が既定の状態と同じである。このため、図１６（ｄ）のハッチングの面積は適正状態であるため濃度は適正であるが、第２方向の露光位置が適正ではない。
【０１２２】
なお、この状態は、走査ｎと走査ｎ＋１における第２方向エッジずれとして、検出部１５８の検出結果を参照して制御部１０１により算出される。また、これと並行して、図１６（ｃ）の走査ｎにおける上から３番目の画素ｐｘ3_0が上流側エッジであり、走査ｎ＋１における上から２番目の画素ｐｘ2_1が下流側エッジであると、制御部１０１により判別される。これにより、制御部１０１は、上流側エッジに対応する画素の光量と下流側エッジに対応する画素の光量とを補正して第２方向エッジずれを解消すべく、図１６（ｅ）において上流側エッジに対応する画素（ｐｘ3'_0）の上流側端部が既定の位置と一致するように光量を低下させ、下流側エッジに対応する画素（ｐｘ2'_0）の下流側端部が既定の位置と一致するように光量を増加させるように、発光駆動部１３０の発光駆動を制御する。この結果、像担持体上のトナーは図１６（ｆ）に示すように、トナーの位置ずれ解消され、理想状態での露光状態（図１６（ｂ））と同じ状態になる。
【０１２３】
図１７（ａ）は、あるタイミングで像担持体上の走査ｎと走査ｎ＋１とにより形成される理想状態での露光状態を示す。ハッチングは露光がなされたことを示す。なお、実際には露光の周囲が広がるため、像担持体上のトナーは図１７（ｂ）のように塗りつぶされたようになる。ここで、上述したように第１方向走査時間に起因する第２方向エッジずれ、または、第２方向ビーム位置に起因して、第２方向の下流に向かう第２方向エッジずれが、走査ｎと走査ｎ＋１で等しく発生している。なお、第２方向ずれが等しく発生したため、走査ｎと走査ｎ＋１との間隔が既定の状態と同じである。このため、図１７（ｄ）のハッチングの面積は適正状態であるため濃度は適正であるが、第２方向の露光位置が適正ではない。
【０１２４】
なお、この状態は、走査ｎと走査ｎ＋１における第２方向エッジずれとして、検出部１５８の検出結果を参照して制御部１０１により算出される。また、これと並行して、図１７（ｃ）の走査ｎにおける上から３番目の画素ｐｘ3_0が上流側エッジであり、走査ｎ＋１における上から２番目の画素ｐｘ2_1が下流側エッジであると、制御部１０１により判別される。これにより、制御部１０１は、上流側エッジに対応する画素の光量と下流側エッジに対応する画素の光量とを補正して第２方向エッジずれを解消すべく、図１７（ｅ）において上流側エッジに対応する画素（ｐｘ3'_0）の上流側端部が既定の位置と一致するように光量を増加させ、下流側エッジに対応する画素（ｐｘ2'_0）の下流側端部が既定の位置と一致するように光量を低下させるように、発光駆動部１３０の発光駆動を制御する。この結果、像担持体上のトナーは図１７（ｆ）に示すように、トナーの位置ずれ解消され、理想状態での露光状態（図１７（ｂ））と同じ状態になる。
【０１２５】
〔その他の構成例〕
図１８と図１９は本実施形態の動作概要（２）として説明した構成例を示す説明図である。ここで、検出部１５８として、第１検出領域１５８ｓ１と第３検出領域１５８ｓ３を備えて像担持体１６１より先に光ビームで走査される位置に配置される検出部１５８−１と、第２検出領域１５８ｓ２を備えて像担持体１６１より後に光ビームで走査される位置に配置される検出部１５８−２と、の２つに分離することが可能である。
【０１２６】
これにより、検出部１５８−１に設けられた第１検出領域１５８ｓ１と検出部１５８−２に設けられた第２検出領域１５８ｓ２との距離が大きくなるため、第１検出領域１５８ｓ１と第２検出領域１５８ｓ２との間で精度の高い補正情報を生成することが可能になる。但し、光ビームが像担持体１６１を走査した後に補正情報が得られるため、制御部１０１は、ポリゴンミラー１５４の各反射面を識別する面識別部１５９が生成する反射面識別情報を参照し、補正情報をポリゴンミラー１５４の各反射面に対応して記憶しておく。そして、制御部１０１は、反射面識別情報を参照して、記憶された補正情報をポリゴンミラー１５４の各反射面に対応して割り当てて、第２方向エッジずれを解消するように発光駆動部１３０の発光駆動を制御する。
【０１２７】
〔その他の実施形態〕
以上の実施形態の説明において、各発光部の発光及び当該発光により形成されるドットを円で近似して示しているが、実際の形状は図示された円形状に限定されるものではなく、いずれの形状であっても上述した実施形態を適用して良好な結果が得られる。
【０１２８】
以上の実施形態では、光ビームを用いた電子写真方式の画像形成装置について説明してきたが、これに限定されるものではない。たとえば、光ビームを用いて印画紙に露光を行うレーザイメージャなど、各種の画像形成装置に本発明の各実施形態を適用することが可能であり、良好な結果を得ることが可能である。
【０１２９】
また、光源としては、半導体レーザ（ＬＤ）以外の他の光源を用いた場合であっても適用することが可能である。
【符号の説明】
【０１３０】
１００  画像形成装置
１０１  全体制御部
１２０  画像処理部
１３０  発光駆動部
１４０  プリントエンジン
１５０  露光ユニット
１６０  プロセスユニット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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