(57)【要約】      （修正有）【課題】ＡＣテストの必要がなく、より低コストの手法で通信用ケーブルモジュールの信号品質を調節する技術を提供する。【解決手段】銅線ケーブル１０４ａ、１０４ｂと、ＣＴＬＥ  ＩＣ１１４とを備える通信用ケーブルモジュール１１５である。ＣＴＬＥ  ＩＣは、銅線ケーブルに接続される周波数特性が可変であるＣＴＬＥアンプ１０５ａ〜１０５ｄと、ダミー素子１１３とを内蔵している。また、通信用ケーブルモジュールは、ダミー素子の特性を外部から測定するためのテスト端子１１２と、測定されたダミー素子の特性に対応する情報を記憶するメモリ１１０と、メモリに対して情報を外部から書き込むための入力端子１０９と、を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
銅線ケーブルと、ＣＴＬＥ ＩＣを備える通信用ケーブルモジュールであって、
前記ＣＴＬＥ ＩＣは、
前記銅線ケーブルに接続される周波数特性が可変であるＣＴＬＥアンプと、
ダミー素子と、を内蔵しており、
前記ダミー素子の特性を外部から測定するためのテスト端子と、
測定された前記ダミー素子の特性に対応する情報を記憶するメモリと、
前記メモリに対して前記情報を外部から書き込むための入力端子と、
を備える通信用ケーブルモジュール。
【請求項２】
前記ＣＴＬＥアンプの周波数特性を制御するコントローラを備え、
前記コントローラは、
前記メモリから前記情報を読み出し、前記情報に基づいて、前記ＣＴＬＥアンプの周波数特性を制御する、
請求項１記載の通信用ケーブルモジュール。
【請求項３】
前記情報は前記ダミー素子の特性そのものであり、
通信用ケーブルモジュールは、前記ダミー素子の特性に対応する設定情報を格納したテーブルを格納しており、
前記コントローラは、
前記メモリから前記ダミー素子の特性を読み出し、前記テーブルを参照し、前記設定情報に基づいて、前記ＣＴＬＥアンプの周波数特性を制御する、
請求項２記載の通信用ケーブルモジュール。
【請求項４】
前記情報は前記ダミー素子の特性に対応する設定情報であり、
前記コントローラは、
前記メモリから前記設定情報を読み出し、前記設定情報に基づいて、前記ＣＴＬＥアンプの周波数特性を制御する、
請求項２記載の通信用ケーブルモジュール。
【請求項５】
前記ダミー素子は、前記ＣＴＬＥアンプで使用している素子と同じ形状かつ同じ材料の構造を含む、
請求項１記載の通信用ケーブルモジュール。
【請求項６】
前記ダミー素子は、抵抗素子および容量素子の少なくとも一つである、
請求項５記載の通信用ケーブルモジュール。
【請求項７】
前記ダミー素子は、前記ＣＴＬＥアンプで並列に接続して使用されている単位抵抗素子と同じ形状かつ同じ材料のダミー単位抵抗素子を、直列に接続して構成されている、
請求項６記載の通信用ケーブルモジュール。
【請求項８】
前記ダミー素子として、抵抗素子および容量素子の両者を備え、
前記テスト端子に、前記抵抗素子または容量素子を択一的に接続するスイッチを備える、
請求項６記載の通信用ケーブルモジュール。
【請求項９】
銅線ケーブルと、ＣＴＬＥ ＩＣを備える通信用ケーブルモジュールの校正方法であって、
前記ＣＴＬＥ ＩＣは、
前記銅線ケーブルに接続される周波数特性が可変であるＣＴＬＥアンプと、
ダミー素子と、を内蔵しており、
前記ダミー素子の特性を外部から測定するためのテスト端子と、
測定された前記ダミー素子の特性に対応する情報を記憶するメモリと、
前記メモリに対して前記情報を外部から書き込むための入力端子と、
を備え、
前記テスト端子から前記ダミー素子の特性を測定する第１のステップと、
前記入力端子から前記ダミー素子の特性に応じた情報を前記メモリに書き込む第２のステップを有する、
通信用ケーブルモジュールの校正方法。
【請求項１０】
前記ダミー素子は抵抗素子であって、
前記第１のステップでは、
前記テスト端子に直流電流を印可して得られる電圧を測定し、
前記電圧から前記ダミー素子の抵抗値を算出し、
前記第２のステップでは、
前記ダミー素子の抵抗値を前記メモリに書き込む、
請求項９記載の通信用ケーブルモジュールの校正方法。
【請求項１１】
前記通信用ケーブルモジュールは、コントローラを備え、また、前記ダミー素子の抵抗値に対応する設定情報を格納したテーブルを記憶しており、
前記コントローラは、前記メモリから前記ダミー素子の抵抗値を読み出し、前記テーブルを参照し、前記設定情報に基づいて、前記ＣＴＬＥアンプの周波数特性を制御する、
請求項１０記載の通信用ケーブルモジュールの校正方法。
【請求項１２】
前記ダミー素子は抵抗素子であって、
前記第１のステップでは、
前記テスト端子に直流電流を印可して得られる電圧を測定し、
前記電圧から前記ダミー素子の抵抗値を算出し、
前記ダミー素子の抵抗値に対応する設定情報を格納したテーブルを参照して、対応する設定情報を読み出し、
前記第２のステップでは、
前記設定情報を前記メモリに書き込む、
請求項９記載の通信用ケーブルモジュールの校正方法。
【請求項１３】
前記通信用ケーブルモジュールは、コントローラを備え、
前記コントローラは、前記メモリから前記設定情報を読み出し、前記設定情報に基づいて、前記ＣＴＬＥアンプの周波数特性を制御する、
請求項１２記載の通信用ケーブルモジュールの校正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、通信用ケーブル、特に導電性のケーブルに関する。
【背景技術】
【０００２】
データセンタ内で使用されるＣｕ（銅）ケーブルモジュールは伝送損失を有する為、５ｍ程度のラック内接続に使用される。５ｍ以上のラック間接続はＡＯＣケーブル（Active Optical Cables）が使用されるが、コストが高い。伝送損失を補償するＣＴＬＥ ＩＣ（Continuous Time Linear Equalization Integrated Circuit）を内蔵したＡＣＣ（Active Copper Cable）モジュールは、１０ｍ以上の伝送が可能で、データセンタ内のインターコネクトのコスト低減を実現出来る。
【０００３】
しかし、半導体プロセスで製造されるＣＴＬＥ ＩＣは、素子ばらつきにより、周波数特性がばらつく。この結果、通信品質にばらつきが生じるが、ばらつきが信号を受信するホスト側の等化量の限界を超えると、最悪の場合、通信ができない場合もある。
【０００４】
特許文献１には、増幅回路であって、入力電圧を出力電流に変換する電圧電流変換増幅器と、出力電流を出力電圧に変換する電流電圧変換増幅器と、電圧電流変換増幅器における出力電流を出力する第１のノードおよび電流電圧変換増幅器における出力電圧を出力する第２のノードの少なくともいずれかと接地線との間に接続され、外部からの制御に基づいて抵抗値が変化する可変抵抗回路とを有するものが開示されている。この増幅回路によれば、ＤＣ利得およびピーク角周波数を変化させることなく、所定の周波数範囲における信号の利得を一定にすることができると述べられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１６−９６５００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１の手法を用いると、外部からの制御に基づいて抵抗値が変化する可変抵抗回路を用いて増幅回路の内部抵抗を調整することができ、所定の周波数範囲における信号の利得を一定にすることができる。
【０００７】
このため、特許文献１では、可変抵抗回路ＶＲ１,ＶＲ２を変化させると、出力信号の周波数特性が変化することを利用する。そして、最適な設定を行う為に、出力端子Ｖｏからの出力信号をモニタしながら、外部から可変抵抗回路ＶＲ１,ＶＲ２の値を設定する（特許文献１の図１参照）。
【０００８】
しかしながら、上記特許文献１の手法では、出力信号の周波数特性を評価する必要があるため、いわゆるＡＣテストを行なう必要がある。ＡＣテストには、例えばネットワークアナライザー等の高価な測定器が必要になり、また複数の周波数を測定するためにテスト時間も掛かるため、テストのためのコストが高くなる。
【０００９】
コスト削減のためには、ＡＣテストの必要の無い、より低コストの手法で通信用ケーブルモジュールの信号品質を調節する技術が求められる。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の好ましい一側面は、銅線ケーブルと、ＣＴＬＥ ＩＣとを備える通信用ケーブルモジュールである。ＣＴＬＥ ＩＣは、銅線ケーブルに接続される周波数特性が可変であるＣＴＬＥアンプと、ダミー素子とを内蔵している。また、通信用ケーブルモジュールは、ダミー素子の特性を外部から測定するためのテスト端子と、測定されたダミー素子の特性に対応する情報を記憶するメモリと、メモリに対して情報を外部から書き込むための入力端子と、を備える。
【００１１】
本発明の他の好ましい一側面は、銅線ケーブルと、ＣＴＬＥ ＩＣを備える通信用ケーブルモジュールの校正方法である。ＣＴＬＥ ＩＣは、銅線ケーブルに接続される周波数特性が可変であるＣＴＬＥアンプと、ダミー素子とを内蔵している。また、通信用ケーブルモジュールは、ダミー素子の特性を外部から測定するためのテスト端子と、測定されたダミー素子の特性に対応する情報を記憶するメモリと、メモリに対して情報を外部から書き込むための入力端子と、を備える。校正においては、テスト端子からダミー素子の特性を測定する第１のステップと、入力端子からダミー素子の特性に応じた情報をメモリに書き込む第２のステップを実行する。
【発明の効果】
【００１２】
ＡＣテストを用いる必要がなく、より低コストの手法で通信用ケーブルモジュールの信号品質を調節することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施例１の通信用ケーブルモジュールを示す回路ブロック図。
【図２】周波数特性校正用の外部回路を含んだ回路ブロック図。
【図３】通信用ケーブルモジュールの周波数特性校正時の処理シーケンスの流れ図。
【図４】テーブルに格納されるデータの一例を示す表図。
【図５】通信用ケーブルモジュールの動作時の処理シーケンスの流れ図。
【図６Ａ】ＣＴＬＥアンプの抵抗の回路図。
【図６Ｂ】ダミー抵抗の回路図。
【図７】実施例２の通信用ケーブルモジュールを示す回路ブロック図。
【図８】実施例３の通信用ケーブルモジュールを示す回路ブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。ただし、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。本発明の思想ないし趣旨から逸脱しない範囲で、その具体的構成を変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。
【００１５】
以下に説明する発明の構成において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、重複する説明は省略することがある。
【００１６】
同一あるいは同様な機能を有する要素が複数ある場合には、同一の符号に異なる添字を付して説明する場合がある。ただし、複数の要素を区別する必要がない場合には、添字を省略して説明する場合がある。
【００１７】
本明細書等における「第１」、「第２」、「第３」などの表記は、構成要素を識別するために付するものであり、必ずしも、数、順序、もしくはその内容を限定するものではない。また、構成要素の識別のための番号は文脈毎に用いられ、一つの文脈で用いた番号が、他の文脈で必ずしも同一の構成を示すとは限らない。また、ある番号で識別された構成要素が、他の番号で識別された構成要素の機能を兼ねることを妨げるものではない。
【００１８】
図面等において示す各構成の位置、大きさ、形状、範囲などは、発明の理解を容易にするため、実際の位置、大きさ、形状、範囲などを表していない場合がある。このため、本発明は、必ずしも、図面等に開示された位置、大きさ、形状、範囲などに限定されない。
【００１９】
本明細書で引用した刊行物、特許および特許出願は、そのまま本明細書の説明の一部を構成する。
【００２０】
本明細書において単数形で表される構成要素は、特段文脈で明らかに示されない限り、複数形を含むものとする。
【実施例１】
【００２１】
＜１．通信用ケーブルモジュールの構成＞
図１は、本発明の実施例１の通信用ケーブルモジュールを示す回路ブロック図である。本実施例では、送信側装置である送信ホストＩＣ１０１から、受信側装置である受信ホストＩＣ１０８へ、銅線ケーブル１０４ａ，１０４ｂで電気信号を伝送する例を示している。伝送される信号の周波数は、例えば５０Ｇｂｐｓである。
【００２２】
信号は、送信ホストＩＣ１０１から、通信用ケーブルモジュール１１５の入力端子１０２ａ，１０２ｂに入力される。本実施例では、差動信号の伝送を例にしているが、差動信号に限る必要はない。通信用ケーブルモジュール１１５は、周波数特性が可変であるＣＴＬＥ ＩＣ１１４を内蔵している。
【００２３】
送信ホストＩＣ１０１から送信された差動信号は、入力端子１０２ａ，１０２ｂから通信用ケーブルモジュール１１５に入力される。通信用ケーブルモジュール１１５では、差動信号は、送信ホストＩＣ１０１とＣＴＬＥ ＩＣ１１４の動作電圧を切り分ける為のＡＣカップル容量１０３ａ，１０３ｂを介して銅線ケーブル１０４ａ，１０４ｂに入力される。
【００２４】
銅線ケーブル１０４ａ，１０４ｂは送信ホストＩＣ１０１とインピーダンス整合が取られており、反射による損失は十分小さい。銅線ケーブル１０４ａ，１０４ｂから出力された差動信号は、ケーブル損失により、高周波成分の振幅が小さくなっている。銅線ケーブル１０４ａ，１０４ｂから出力された差動信号は、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４に入力される。
【００２５】
ＣＴＬＥ ＩＣ１１４はケーブル損失の逆特性を有する増幅器であり、高周波成分の振幅を増幅することで、差動信号は送信ホストＩＣ２１０の出力と近い波形となるように波形等化される。本実施例では、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４は、例えば４つの周波数帯域に対してそれぞれ利得を調整できる４つのＣＴＬＥアンプ１０５ａ，１０５ｂ，１０５ｃ，１０５ｄ内蔵している。もちろん、ＣＴＬＥアンプ１０５の数は任意であって、４以上でも以下でもよい。
【００２６】
ＣＴＬＥ ＩＣ１１４から出力された差動信号は、出力端子１０６ａ，１０６ｂから出力される。受信側では、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４と受信ホストＩＣ１０８の動作電圧を切り分ける為のＡＣカップル容量１０７ａ，１０７ｂを介して受信ホストＩＣ１０８に入力される。
【００２７】
なお、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４のＣＴＬＥアンプ１０５の後段には、必要に応じて、他の可変利得アンプやバッファアンプ等を備えても良い。
【００２８】
また、コントローラ（ＣＴＲ）１１６は、マイコンなどの処理装置で構成され、通信用ケーブルモジュール１１５全体の動作を制御する。
【００２９】
以上のように通信用ケーブルモジュール１１５は、銅線ケーブル１０４ａ，１０４ｂのケーブル損失をＣＴＬＥ ＩＣ１１４で等化する事で、送信ホストＩＣ１０１と受信ホストＩＣ１０６の間での長距離伝送を可能とする。
【００３０】
ところで、先に述べたように、半導体プロセスで製造されるＣＴＬＥ ＩＣ１１４は、素子ばらつきにより、周波数特性がばらつく場合がある。具体例としては、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４の個体ごとに、周波数帯ごとの利得が異なる場合がある。本実施例では、素子ばらつきに対応して周波数特性を調整する際に、高コストなＡＣテストを用いず、ＤＣテストで対応が可能な構成を提案する。
【００３１】
ＣＴＬＥ ＩＣ１１４は、ダミー素子として、ＣＴＬＥアンプ１０５と同一の半導体プロセスにより作成されたダミー抵抗１１３を内蔵している。ダミー抵抗１１３の値は、テスト端子１１２を介して外部から測定可能になっている。
【００３２】
また、通信用ケーブルモジュール１１５は、外部からインタフェース用パッド１０９を介して書き込み可能なメモリ（ＭＥＭ）１１０と、メモリ１１０の内容に応じてデータが読み出されるテーブル（ＴＢＬ）１１１を備えている。これらの全部または一部は、コントローラ１１６等に内蔵してもよい。コントローラ１１６は例えばマイコン等で構成することができる。メモリ１１０とテーブル１１１の機能については、後に説明する。
【００３３】
＜２．通信用ケーブルモジュールの校正時の処理＞
図２に、素子ばらつきによる周波数特性校正用の外部回路を含んだ回路ブロック図を示す。
図３に、素子ばらつきによる周波数特性校正時の処理シーケンスの流れ図を示す。
【００３４】
図２と図３を用いて、通信用ケーブルモジュール１１５の、素子ばらつきによる周波数特性変動を校正する処理の詳細を説明する。この処理は、例えば通信用ケーブルモジュール１１５の出荷時に行なわれる。
【００３５】
図３には、通信用ケーブルモジュール１１５の校正のために用いられる、外部回路が示されている。外部回路は、電流源２０１、電圧計（Ｖ）２０２、コンピュータ（ＰＣ）２０３、インタフェース（ＩＦ）２０４を備えている。図３のその他の部分は図１と同様である。実施例１において、電流源２０１は定電流源でよい。
【００３６】
校正時には、電流源２０１でテスト端子１１２からダミー抵抗１１３に直流電流を流す（Ｓ３０１）。得られた電圧を電圧計２０２で測定する（Ｓ３０２）。測定した電圧値はコンピュータ２０３に入力される。コンピュータ２０３では、例えば電圧値を直流電流値で除して、電圧値から抵抗値を計算する（Ｓ３０３）。得られた抵抗値はインタフェース２０４を介して、インタフェース用パッド１０９からメモリ１１０に書き込まれる（Ｓ３０４）。
【００３７】
コンピュータ２０３は、通常のパーソナルコンピュータで十分である。メモリ１１０は例えば、フラッシュメモリのような不揮発性のメモリが好ましい。インタフェース２０４、インタフェース用パッド１０９は、例えばフラッシュメモリをアクセス可能な構成とする。
【００３８】
＜３．通信用ケーブルモジュールのテーブル＞
通信用ケーブルモジュール１１５のテーブル１１１には、校正用のデータとして、抵抗値と設定値の対応表が格納されている。抵抗値は、ダミー素子の特性に対応する情報の一例である。設定値は、例えばＣＴＬＥアンプ１０５の利得を制御するための、容量値であるが、これに限る必要はない。
【００３９】
図４に、テーブル１１１に格納されるデータの一例を示す。図２の例では、ＣＴＬＥアンプ１０５は、１０５ａ，１０５ｂ，１０５ｃ，１０５ｄの４つあるので、それぞれの利得を制御するための４つの値ＣＴＬ１，ＣＴＬ２，ＣＴＬ３，ＣＴＬ４が、一つの抵抗値に対応している。
【００４０】
このようなデータは、予めシミュレーションあるいは実験的に求めておき、ＲＯＭ（Read Only Memory）等にテーブル１１１として格納し、通信用ケーブルモジュール１１５に実装しておく。なお、通信用ケーブルモジュール１１５に空きメモリを実装後に、外部からテーブルを書き込んでも良い。その場合には、テーブル１１１を格納するためのメモリに対する書き込みインタフェースが必要になる。
【００４１】
実験的にデータを求める場合には、テーブルに格納するデータ取得用に通信用ケーブルモジュール１１５を複数サンプル準備しておき（ただし、この段階ではテーブル１１１は未実装である）、特許文献１に記載の方法等で出力の周波数特性を測定する。そして、テスト端子１１２で測定したダミー抵抗１１３の抵抗値と周波数特性を対応付け、校正用のデータを計算する。
【００４２】
このように作成されたテーブル１１１は、同一のテーブルが製品となる多数の通信用ケーブルモジュール１１５に実装され、出荷される。
【００４３】
＜４．通信用ケーブルモジュールの動作時の処理＞
図５に、通信用ケーブルモジュールの動作時の処理シーケンスの流れ図を示す。出荷後の動作時においては、既にテーブル１１１の内容は書き込まれている。図１と図５を参照して、通信用ケーブルモジュールの動作時の処理を説明する。
【００４４】
例えば、通信用ケーブルモジュール１１５を送信ホストＩＣ１０１に接続することで、電源が供給され、通信用ケーブルモジュール１１５は電源オンとなる（Ｓ５０１）。電源がオンとなった直後には、通信用ケーブルモジュール１１５は初期設定モードに入る。この制御は、コントローラ１１６により行なうものとする。コントローラ１１６の制御により、メモリ１１０から抵抗値が読み出される（Ｓ５０２）。コントローラ１１６は、読み出した抵抗値に対応する設定値をテーブル１１１から選択して読み出す（Ｓ５０３）。読み出された設定値は、例えばコントローラ１１６、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４、あるいはこれらに付随したメモリ（図示せず）に設定される（Ｓ５０４）。通信が開始されると、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４のＣＴＬＥアンプ１０５は、設定値に従って動作し、例えば周波数帯域ごとに利得が制御されることになる（Ｓ５０５）。
【００４５】
以上のように、本実施例ではダミー抵抗１１３の抵抗値を測定し、その結果をメモリ１１０に書き込む。起動時にメモリ１１０から抵抗値を読み出し、最適な設定をテーブル１１１から選ぶ。動作時は、ばらつきを補正された状態で通信が出来る為、信号品質が一定に保たれる。
【００４６】
この構成では、通信用ケーブルモジュール１１５の校正の処理では、ダミー抵抗１１３の値を測定するだけでよく、そのための構成は直流電流原、電流計と電圧計など安価なＤＣテスト用の設備のみで対応可能である。
【００４７】
＜５．ダミー抵抗の構成例＞
図６Ａおよび図６Ｂに、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４の内部抵抗の具体的な構成例を示す。２８Ｇｂｐｓ〜５６Ｇｂｐｓの信号を伝送する為に、ＣＴＬＥアンプ１０５は広帯域である必要がある。寄生容量により帯域が低減する為、ＣＴＬＥアンプ１０５の負荷抵抗は５０〜２００オーム程度とすることが望ましい。
【００４８】
図６Ａに示すように、ＣＴＬＥアンプ１０５の抵抗は、１ｋオーム程度のポリ抵抗６０１ａをアルミ配線６０２ａで並列接続して作られる。一方、抵抗ばらつきを測定する為のダミー抵抗１１３は精度よく測定される必要がある。このため、ダミー抵抗１１３は、ダミー抵抗からテスト端子１１２までの配線抵抗を無視できるように、１０ｋオーム程度の大きい抵抗とするのがよい。
【００４９】
図６Ｂにダミー抵抗１１３の構成例を示す。１ｋオーム程度のポリ抵抗６０１ｂをアルミ配線６０２ｂで直列接続して作られる。ここで、ＣＴＬＥアンプ１０５とダミー抵抗１１３のポリ抵抗６０１は、同じ形状かつ同じ材料で作成され、プロセスが許容する範囲内で同じ特性を有する。
【００５０】
このようにＣＴＬＥアンプ１０５の抵抗とダミー抵抗１１３を構成することにより、単位抵抗素子のレイアウトを共通として、配線によって適切な抵抗値とすることができので、プロセス上のメリットがある。また、単位抵抗素子が同じ構成なので、ＣＴＬＥアンプ１０５の抵抗とダミー抵抗１１３の値には相関関係が維持される。
【実施例２】
【００５１】
実施例１では、通信用ケーブルモジュール１１５が設定用のテーブル１１１を内蔵しており、校正時にメモリ１１０に抵抗値が書き込まれ、動作時にメモリに書かれた抵抗値によりテーブルから最適な設定を選んでいた。しかし、校正時に抵抗値をメモリに書き込まず、外部で最適な設定を決定してから通信用ケーブルモジュール１１５のメモリ１１０に書き込んでも良い。この場合は、メモリ１１０には最適な設定のみが書かれている。
【００５２】
図７は、実施例２の構成を説明する図である。通信用ケーブルモジュール１１５では、全体を制御するマイコン（ＭＣＵ：Micro Computing Unit）７０１を備え、マイコン７０１がメモリ１１０を読み書きする構成とした。
【００５３】
外部装置側の校正時の動作においては、電圧計２０２が電圧値を測定するまでは実施例１と同様である。ただし実施例２では、電圧値を入力とするコンピュータ２０３がテーブル１１１を格納している。テーブル１１１の内容は実施例１と同様である。コンピュータ２０３は、電圧値を受け取ると抵抗値を計算し、テーブル１１１を参照して抵抗値に対応した設定値を選択し、選択した設定値をインタフェース２０４を介してマイコン７０１に送信する。すなわち、この実施例では通信用ケーブルモジュールは、ダミー素子の特性に対応する情報として、設定情報だけを持つことになる。
【００５４】
通信用ケーブルモジュール１１５では、マイコン７０１が受信した設定値をメモリ１１０に格納しておく。動作時においては、電源投入後、マイコン７０１はメモリ１１０から設定値を読み出し、設定値に従ってＣＴＬＥアンプ１０５の動作を制御する。
【実施例３】
【００５５】
実施例１および実施例２では、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４の抵抗値のばらつきに対応して、周波数特性を校正する例を説明した。しかし、抵抗値のばらつきだけでなく、容量値等他のパラメータのばらつきに対しても同様に対応することができる。
【００５６】
図８は実施例３の構成を説明する図である。実施例３では、抵抗だけでなく、容量値も測定することができる。すなわちダミー抵抗１１３の他に、ダミー容量８０１を備えている。すなわち、ダミー素子として、抵抗素子および容量素子を備えている。あるいは容量値のみの測定のために、容量素子のみを備えていてもよい。ダミー抵抗１１３とダミー容量８０１は、コントロール信号Ｖｃｔｒｌによってスイッチ８０２を切り替えて、テスト端子１１２に選択的に接続できるようになっている。コントロール信号Ｖｃｔｒｌは外部から入力あるいは、通信用ケーブルモジュール１１５内のコントローラ（図示せず）から入力するものとする。
【００５７】
ダミー容量８０１の測定時は、スイッチ８０２をダミー容量８０１側に切替えて、電流源２０１からテスト端子１１２に例えばステップ信号（例えば方形波）を入力する。電圧計２０２は電圧の変化を測定し、立ち上がりの時間（時定数）を観測することでダミー容量を評価する。
【００５８】
測定した抵抗値と容量値の組み合わせに対して、ＣＴＬＥアンプ１０５の設定値を対応付けるテーブル１１１を作成する。実施例３では、抵抗値と容量値の２次元テーブルを持つことになるが、より高精度に校正が可能となる。
【００５９】
以上説明したように、本実施例によれば、ＣＴＬＥ ＩＣアンプで使用している抵抗や容量と同種類、同形状の素子をモジュールの外部端子に接続しておく。そして、電流源と電圧計で抵抗値や容量値を測定し、結果をメモリに書き込む。メモリに記憶された測定結果から、ＣＴＬＥアンプ１０５の最適設定を選択することができる。
【００６０】
このように出荷前にばらつきの原因となる素子値をＤＣテストし、その結果からＣＴＬＥ ＩＣを最適な周波数特性に設定することができる。その結果、低コストの校正処理で、ばらつきの小さいケーブルモジュールを提供することができる。
【符号の説明】
【００６１】
銅線ケーブル１０４ａ，１０４ｂ、ＣＴＬＥアンプ１０５、インタフェース用パッド１０９、メモリ１１０、テーブル１１１、テスト端子１１２、ダミー抵抗１１３、ＣＴＬＥ ＩＣ１１４、通信用ケーブルモジュール１１５
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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【図８】
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