(57)【要約】【課題】放射線検出器２０の完全性を検証するためのシステム９６を提供する。【解決手段】システム９６は、１つまたは複数のデータモジュール８８、９０、１つまたは複数のデータ線８０、８２、８４、８６、およびコントローラ２２を含む。１つまたは複数のデータ線８０、８２、８４、８６は、放射線検出器２０の１つまたは複数の検出器要素５２を１つまたは複数のデータモジュール８８、９０に電子的に接続する。各検出器要素５２は、電磁放射を検出するように動作する。コントローラ２２は、１つまたは複数の検出器要素５２に電圧を誘起し、１つまたは複数のデータモジュール８８、９０を介して１つまたは複数の検出器要素５２から読取値を取得し、読取値をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、放射線検出器２０の完全性が損なわれているかどうかを判定するよう動作する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線検出器（２０）の完全性を検証するためのシステム（９６）であって、
１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）と、
前記放射線検出器（２０）の１つまたは複数の検出器要素（５２）を前記１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）に電子的に接続する１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）であって、前記検出器要素（５２）の各々が電磁放射を検出するよう動作する、１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）と、
コントローラ（２２）であって、
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）に電圧を誘起し、
前記１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）を介して前記１つまたは複数の検出器要素（５２）からの読取値（９２）を取得し、
前記読取値（９２）をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれているかどうかを判定する、
よう動作する、コントローラ（２２）と、
を備える、システム（９６）。
【請求項２】
前記コントローラ（２２）が、
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）の電圧レベルを変更するようさらに動作する、
請求項１に記載のシステム（９６）。
【請求項３】
前記ベンチマークが、前記１つまたは複数の検出器要素（５２）のベース電圧レベルを超える閾値に対応する、請求項１に記載のシステム（９６）。
【請求項４】
前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれたことの前記コントローラ（２２）による判定が、前記１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）に断線が存在することを示す、請求項１に記載のシステム（９６）。
【請求項５】
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）を互いに電子的に接続する共通線（９４）
をさらに備え、
前記コントローラ（２２）が、前記共通線（９４）を介して前記１つまたは複数の検出器要素（５２）に電圧を誘起する、
請求項１に記載のシステム（９６）。
【請求項６】
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が、包囲する検出器アレイ（５０）の周辺領域（１０４）に配置される、請求項１に記載のシステム（９６）。
【請求項７】
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が、包囲する検出器アレイ（５０）のシミュレートされた検出器要素（５２）である、請求項１に記載のシステム（９６）。
【請求項８】
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が検出器要素（５２）の第１のセット（１１０）および検出器要素（５２）の第２のセット（１１２）に配置され、前記第１のセット（１１０）の各検出器要素（５２）が、前記１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）の第１のデータ線セット（１１４）を介して前記１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）の第１のデータモジュール（８８）に電子的に接続され、前記第２のセット（１１２）の各検出器要素（５２）が、前記１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）の第２のデータ線セット（１１６）を介して前記１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）の第２のデータモジュール（９０）に電子的に接続され、
前記読取値（９２）が、前記第１のデータモジュール（８８）および前記第２のデータモジュール（９０）の少なくとも一方から取得される、
請求項１に記載のシステム（９６）。
【請求項９】
前記コントローラ（２２）が、
前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれたことを通知するインジケータ（１２６）を生成する
ようにさらに動作する、請求項１に記載のシステム（９６）。
【請求項１０】
電磁波が、Ｘ線およびガンマ線のうちの少なくとも一方である、請求項１に記載のシステム（９６）。
【請求項１１】
放射線検出器（２０）の完全性を検証する方法であって、
前記放射線検出器（２０）の１つまたは複数の検出器要素（５２）に電圧を誘起するステップであって、前記検出器要素（５２）の各々が電磁放射を検出するように動作する、ステップと、
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）から読取値（９２）を取得するステップと、
前記読取値（９２）をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれているかどうかを判定するステップと、
を備える、方法。
【請求項１２】
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）の電圧レベルを変更するステップ
をさらに備える、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記ベンチマークが、前記１つまたは複数の検出器要素（５２）のベース電圧レベルを超える閾値に対応する、請求項１１に記載の方法。
【請求項１４】
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が、通常の動作条件下で１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）を介して１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）に接続され、
前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれているかどうかを判定するステップが、
前記１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）に断線が存在するかどうかを判定するステップ
を備える、
請求項１１に記載の方法。
【請求項１５】
前記放射線検出器（２０）の１つまたは複数の検出器要素（５２）に電圧を誘起するステップが、前記１つまたは複数の検出器要素（５２）を互いに電子的に接続する共通線（９４）に少なくとも部分的に基づく、請求項１１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、一般に、医用撮像システムに関し、より詳細には、放射線検出器の完全性を検証するためのシステムおよび方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
多くの放射線ベース撮像システム、例えば、Ｘ線撮像システムの放射線検出器は、典型的には、シンチレーション媒体に結合されたフォトセンサアレイを有する薄膜半導体撮像アレイを含む。シンチレータによって吸収された放射線は、光学光子を生成し、光学光子は次にフォトダイオードなどのフォトセンサに入る。光学光子が光センサに吸収され、入射光子束に対応する電荷が生成される。実質的に水素化されたアモルファスケイ素（α−Ｓｉ）は、（α−Ｓｉ）の有利な光電特性とそのようなデバイス、特に、大面積フォーマットデバイスの製造が比較的容易であることとのために、フォトセンサの製造に一般的に使用される。特に、フォトダイオードなどの感光部材は、ボトムゲート型薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）などの必要な制御素子またはスイッチング素子に関連して比較的大きなアレイに形成することができる。
【０００３】
このような放射線検出器は、典型的には、ＴＦＴ、アドレス線、例えば、データ線および走査線、キャパシタ、およびフォトセンサを含む構成要素が、導電性、半導体性、および絶縁性の材料の層の逐次堆積およびパターニングにより形成される大型基板上に製造される。しかしながら、そのような基板は、落下、衝突、および／または高加速力にさらされた場合に亀裂を生じる可能性があり、その場合、アドレス線、フォトセンサ、ＴＦＴ、および／または他の検出器構成要素を損傷するなど、包囲する放射線検出器の完全性を損なう可能性がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】米国特許出願公開第２００５／０２３１６５６号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
したがって、多くの放射線検出器は、過度の加速力を受けると、放射線検出器の１つまたは複数の構成要素が損傷を受ける可能性があることをオペレータに示す信号をトリガする加速度計を含むことが多い。しかしながら、このような加速度計では、しばしば、偽陽性および／または偽陰性が発生してしまう。例えば、放射線検出器の構成要素は、過度の加速力にさらされた場合に必ずしも破損しない、および／または加速度計によって検出できない可能性があるために破損する可能性がある。
【０００６】
したがって、必要とされるのは、放射線検出器の完全性を検証するための改良されたシステムおよび方法である。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
一実施形態では、放射線検出器の完全性を検証するためのシステムが提供される。システムは、１つまたは複数のデータモジュール、１つまたは複数のデータ線、およびコントローラを含む。１つまたは複数のデータ線は、放射線検出器の１つまたは複数の検出器要素を１つまたは複数のデータモジュールに電子的に接続する。各検出器要素は、電磁放射を検出するように動作する。コントローラは、１つまたは複数の検出器要素に電圧を誘起し、１つまたは複数のデータモジュールを介して１つまたは複数の検出器要素から読取値を取得し、読取値をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、放射線検出器の完全性が損なわれているかどうかを判定するよう動作する。
【０００８】
別の実施形態では、放射線検出器の完全性を検証するための方法が提供される。本方法は、放射線検出器の１つまたは複数の検出器要素に電圧を誘起するステップを含み、各検出器要素は電磁放射を検出するように動作する。本方法は、１つまたは複数の検出器要素からの読取値を取得するステップと、読取値をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、放射線検出器の完全性が損なわれているかどうかを判定するステップとをさらに含む。
【０００９】
さらに別の実施形態では、命令を記憶する非一時的コンピュータ可読媒体が提供される。記憶された命令は、放射線検出器の１つまたは複数の検出器要素に電圧を誘起し、１つまたは複数のデータ線を介して１つまたは複数の検出器要素に電子的に結合される１つまたは複数のデータモジュールを介して１つまたは複数の検出器要素から読取値を取得し、読取値をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて放射線検出器の完全性が損なわれているかどうかを判定するようにコントローラを適合するよう構成される。
【００１０】
本発明は、非限定的な実施形態の以下の説明を、添付の図面を参照して読むことにより、よりよく理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の一実施形態による放射線検出器の完全性を検証するシステムを含む放射線検出器を有する撮像システムのブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態による、図１の放射線検出器の完全性を検証するためのシステムの図である。
【図３】本発明の一実施形態による、図２のシステムの検出器要素の時間に対する電圧を示すグラフである。
【図４】本発明の一実施形態による、シミュレートされた検出器要素を有する図２のシステムの別の実施形態を示す図である。
【図５】本発明の一実施形態による図４のシステムの別の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の例示的な実施形態について詳しく説明するが、その例が添付の図面に示されている。可能な限り、図面全体を通して使用されている同一の参照符号は、同一または同様の部分を示し、重複する説明は省略する。
【００１３】
本明細書で使用する場合、「実質的に」「一般に」、および「約」という用語は、構成要素またはアセンブリの機能的目的を達成するのに適した理想的な所望の条件に対して、合理的に達成可能な製造およびアセンブリ公差内の条件を示す。本明細書で使用する場合、「電子的に結合された」、「電子的に接続された」、および「電子的通信」とは、電流が一方から他方に流れるように、参照される要素が直接的または間接的に接続されることを意味する。接続は、直接的な導電性接続（すなわち、介在する容量性、誘導性または能動素子がない）、誘導性接続、容量性接続、および／または任意の他の適切な電子的接続を含むことができる。介在する構成要素が、存在してもよい。「リアルタイム」という用語は、本明細書で使用する場合、ユーザが十分に即座に感知する、またはプロセッサが外部プロセスに追いつくことを可能にする処理応答性のレベルを意味する。さらに、本明細書で使用する場合、「撮像手順」および／または「医用撮像手順」という用語は、１つまたは複数のタスクを達成するのを支援する撮像システムを含む医療手順を指す。したがって、同様に本明細書で使用する場合、「タスク」という用語は、例えば、生検を得ること、ステントを血管に展開／設置すること、潰瘍を見つけること、詰まった動脈を撮像すること、患者を縫合すること、および／または他の医療プロセスなどの医療手順の目的を意味する。放射線検出器に関して本明細書で使用される「完全性」という用語は、放射線検出器が意図されたように機能していること、および／または機能することを保証するレベルを示す。例えば、妥協のない完全性を有する放射線検出器は、意図されたように機能する可能性が非常に高いと考えられるが、妥協された完全性を有する放射線検出器は、意図されたように機能する可能性が低いおよび／または未知である。
【００１４】
さらに、本明細書で開示される実施形態は、Ｘ線ベースの撮像システムに関して説明されているが、本発明の実施形態は、ポジトロン断層法（「ＰＥＴ」）、および／または電磁放射線検出器を利用する任意の他のタイプの撮像システムのような他のデバイスにも等しく適用可能であることが理解されるべきである。理解されるように、本発明が関連する撮像システムの実施形態は、一般に、内部で撮像することができる任意の材料内の対象物を分析するために使用することができる。このように、本発明の実施形態は、ヒト組織内の対象物を分析することに限定されない。
【００１５】
ここで図１を参照すると、本発明の一実施形態による医用撮像システム１０が示されている。理解されるように、システム１０は、対象／患者１４内の構造１２、例えば、内部臓器、血管などを撮像するように動作する。例えば、患者１４は、ステント移植医療処置を受けている可能性があり、撮像構造１２は、冠動脈とすることができる。図１に示すように、撮像システム１０は、撮像デバイスを集合的に形成する放射線源１８および放射線検出器２０と、コントローラ２２と、表示画面２４とを含む。放射線源１８は、構造１２が配置される患者１４の関心領域（ＲＯＩ）２８を通して放射線ビーム２６を投射する。放射線ビーム２６は放射線検出器２０によって受信され、検出器２０は複数の画像３０を生成して次にコントローラ２２に通信し、コントローラ２２は表示画面２４に送信され表示されるビデオフィード３２を生成する。理解されるように、実施形態では、放射線検出器２０および／または放射線源１８は、例えば、患者１４の動きを最小にしながら患者１４を撮像するための可動式Ｘ線システムの一部などの、移動式ユニットとすることができる。放射線ビーム２６は、Ｘ線および／またはガンマ線などの電離電磁放射線を含む様々なタイプの電磁放射を含むことができる。
【００１６】
図１にさらに示すように、コントローラ２２は、少なくとも１つのプロセッサ／ＣＰＵ３４と、少なくとも１つのメモリデバイス３６とを含み、放射線源１８、検出器２０、および／または表示画面２４と電子通信する。撮像プログラム／アプリケーションは、少なくとも１つのプロセッサ３４にロードされると、検出器２０から受信した画像３０を処理することによってビデオフィード３２を生成するようにコントローラ２２を適合させる、少なくとも１つのメモリデバイス３６に記憶することができる。実施形態では、撮像プログラムはさらに、検出器２０および／または放射線源１８を制御するようにコントローラ２２を適合させることができる。
【００１７】
ビデオフィード３２は、複数のフレーム３８、４０、および４２を含む。本明細書で使用する場合、フレームという用語は、撮像システム１０によって取得された複数の画像３０の１つまたは複数に少なくとも部分的に基づくことができる合成画像を示す。例えば、実施形態では、取得画像３０の１つまたは複数を複数の画像３０から選択された基準画像に位置合わせすることによって、単一の合成画像／フレーム４２を生成することができる。１つまたは複数の画像３０を基準画像に位置合わせすることにより、発生／生成したフレーム４２内の構造１４のコントラストを増加させることができる。したがって、実施形態では、各フレーム３８、４０、および４２は、検出器２０からコントローラ２２によって受信された画像３０の１つまたは複数に少なくとも部分的に基づいてもよい。フレーム４２が生成されると、ビデオフィード３２の一部として、コントローラ２２によって表示画面２４に送信される。言い換えると、実施形態では、表示されたビデオフィード３２は、撮像システム１０によって取得された原画像３０の処理された形態である。実施形態では、ビデオフィード３２は、ライブ／リアルタイムおよび／または準リアルタイムフィードであってもよい。他の実施形態では、フレーム３８、４０、および４２の１つまたは複数は、静止画像、例えば、写真であってもよい。
【００１８】
図２に移って、放射線検出器２０は、１つまたは複数の行５４、５６、５８、６０および／または列６２、６４、６６、６８に配置された、複数の検出器要素５２、例えば、フォトセンサ／フォトダイオードなどを有する検出器アレイ５０、例えば、フォトセンサアレイを含むことができる。検出器アレイ５０は、シンチレータに光学的に結合されているが、シンチレータは、明確さを向上させるために図面から省略されており、検出器アレイ５０上に配置されるものとして理解されるべきである。放射線ビーム２６（図１）がシンチレータに入射し、シンチレータによって吸収され、検出器要素５２によって検出される光子を生成するように、撮像システム１０の動作中、一実施形態により、検出器２０が配置される。したがって、シンチレータによって生成された光子が検出器要素５２によって検出されることにより、シンチレータに入射する放射線ビーム２６のパターンに対応する電気信号を生成する。
【００１９】
図２にさらに示されるように、検出器要素５２の各々は、対応するスイッチング素子７０、例えば、ＴＦＴまたは電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）によって対応する走査線７２、７４、７６、７８および対応するデータ線８０、８２、８４、８６に電子的に結合され、特定の走査線、例えば、７２に印加された電気信号が、対応する行、例えば、５４に沿って検出器要素５２に結合されたスイッチ７０を導通させる。したがって、１つまたは複数のデータモジュール８８（および、図５の９０）は、データ線８０、８２、８４、８６を介して、対応する行５４の検出器要素５２からの信号の１つまたは複数の読取値９２（図３）を取得することができる。言い換えると、特定の走査線７２を作動させることにより、データモジュール８８、９０は、走査線７２に電子的に接続された検出器要素５２の全ての値を、データ線８０、８２、８４、８６を介して読み取ることができる。したがって、実施形態では、データモジュール８８は、残りの走査線を維持しながら特定の走査線を順次作動させることによって行毎にアレイ５０における検出器要素５２の全てを、データ線８０、８２、８４、８６を介して読み取ることができる。
【００２０】
例えば、図２に示すように、走査線７２を作動させ、一方で、走査線７４、７６、および７８を停止させると、データモジュール８８は、行５４に沿って検出器要素５２の全てから信号を読み取ることができる。同様に、走査線７４を作動させ、一方で、走査線７２、７６、および７８を停止させると、データモジュール８８は、行５６に沿って検出器要素５２の全てを読み取ることができる。残りの走査線７６および７８は、データモジュール８８によって同様に読み取ることができる。特定の態様では、共通線９４は、検出器要素５２の各々を互いに電子的に接続し、例えば、共通線９４は、検出器要素５２および／または配線に隣接して配置された導電層であってもよく、検出器要素５２にわたって共通のバイアス電圧を設定するために使用することができる。理解されるように、データモジュール８８は、上記のように画像３０を生成するためにコントローラ２２（図１）によってアクセスされ得るアナログ値および／またはデジタル値としてシステムメモリ３６（図１）内の検出器要素５２の読取値９２（図３）を記憶することができる。
【００２１】
しかしながら、上述したように、過度の加速力および／または他の事象は、検出器要素５２、スイッチ８０、走査線７２、７４、７６、７８、データ線８０、８２、８４、８６、共通線９４、および／または放射線検出器２０の他の構成要素を形成／印刷するために使用される材料内に亀裂を生じさせる可能性がある。
【００２２】
したがって、図２にさらに示されるのは、実施形態において１つまたは複数のデータモジュール８８および／または９０（図５）、１つまたは複数のデータ線８０、８２、８４、８６、１つまたは複数の検出器要素５２、ならびにコントローラ２２（図１）を含むことができる放射線検出器２０の完全性を検証するためのシステム９６である。実施形態では、システム９６は、１つまたは複数の走査線７２、７４、７６、７８、スイッチ７０、および／または共通線９４をさらに含むことができる。以下により詳細に説明するように、コントローラ２２は、１つまたは複数の検出器要素５２に電圧を誘起／生成し、データモジュール８８、９０を介して検出器要素５２から読取値を取得し、読取値９２をベンチマークＢ＋および／またはＢ−（図３）と照合することに少なくとも部分的に基づいて放射線検出器２０の完全性が損なわれているかどうかを判定するよう動作する。理解されるように、実施形態では、検出器要素５２に電圧を誘起することによって、検出された光子をシミュレートし、データモジュール８８および／または９０を介して検出器要素５２を読み取ることによって、データ線８０、８２、８４、８６に断線がないこと、および／または検出器要素５２が正しく機能していることを検証するよう機能する。コントローラ２２は、共通線９４を介して、ならびに／もしくは走査線７２、７４、７６、７８、データ線８０、８２、８４、８６、および／または検出器要素５２で電荷を誘起することができる他の電子的接続を介して、電荷を誘起することができる。
【００２３】
例えば、図３を参照すると、時間ｔにわたって検出器要素５２（図２）に電圧Ｖ（線１０２で表される）を表示するグラフ１００が示されている。理解されるように、電気ノイズおよび／または他の要因のために、検出器要素５２は、ｔ０およびｔ１の間で線１０２の部分によって示されるように、上方ベース電圧閾値Ｖｂ＋および下方ベース電圧閾値Ｖｂ−の間の初期ベース電荷／電圧レベルを有することができる。次に、コントローラ２２（図１）は、ｔ１からｔ２までの電圧を誘起し、続いてｔ３で検出器要素５２から電圧１０２を放電／降下し、ｔ４で読取値を得ることによって、検出器要素５２の試験を実行することができる。検出器要素５２の放電／電圧降下は、適切な走査線７２、７４、７６、７８（図２）を作動することによって実現することができ、その結果、電圧１０２は、データモジュール８８（図２）および／または９０（図５）に放電され／流れ、次いで、走査線７２、７４、７６、７８を停止する。
【００２４】
ｔ３とｔ４との間の線１０２によって示されるように、残留電圧は、適切に機能する検出器要素５２内の電圧を下げた後に残存／再安定化され、その後、同じ走査線７２、７４、７６、７８を再作動することによってデータモジュール８８、９０によって読み取ることができ、したがって、残留電圧１０２は、ｔ４で線１０２によって示されるようにデータ線８０、８２、８４、８６を介してデータモジュール８８、９０に流れる。言い換えれば、コントローラ２２は、検出器要素５２を充電し放電／電圧降下した後、データモジュール８８、９０を介して検出器要素５２内の電圧１０２の読取値９２を得る。データモジュール８８、９０を介して検出器要素５２を読み取ると、コントローラ２２は、実施形態において、読取値９２をベンチマークＢ＋と比較して、検出器要素５２および／またはデータ線８０、８２、８４、８６が適切に機能しているかどうかを判定することができる。
【００２５】
例えば、実施形態では、ベンチマークＢ＋は、上方ベース電圧閾値Ｖｂ＋を超える、すなわち、期待されるベース電圧レベルを超える電圧レベル／閾値に対応することができる。このような実施形態では、コントローラ２２は、読取値９２がベンチマークＢ＋を超えるかまたは超えない場合、それぞれ、検出器要素５２および／または対応するデータ線８０、８２、８４、８６が正しく機能するか、または正しく機能していないと判定することができる。前の例は、正のベース電圧閾値Ｖｂ＋および正のベンチマークＢ＋を有する正の電圧を誘起することによって、検出器要素５２および対応するデータ線８０、８２、８４、８６の試験について説明したが、同様の試験が負のベース電圧閾値Ｖｂ−および負のベンチマークＢ−を有する負の誘起電圧を使用して実行することができ、その場合、コントローラ２２は、読取値９２がベンチマークＢ−を超えるかまたは超えない場合、検出器要素５２および／または対応するデータ線８０、８２、８４、８６が正確に機能しているか、または正確に機能していないかを判定することができることを理解されたい。さらに理解されるように、実施形態では、誘導電圧の方向にかかわらず、ゼロ（０）および／またはほぼゼロ（０）ボルトの読取値９２は、検出器要素５２および／または対応するデータ線８０、８２、８４、８６が正しく機能していないことを示す。
【００２６】
十分な検出器要素５２および／またはデータ線８０、８２、８４、８６が正しく機能していない場合、コントローラ２２は、放射線検出器２０の完全性が損なわれたと判定することができる。コントローラ２２が放射線検出器２０の完全性を損なわれているとみなすのに十分な正しく機能しない検出器要素５２および／またはデータ線８０、８２、８４、８６の数は、特定の医用撮像手順の動作許容誤差に依存する可能性があり、ならびに単一の検出器要素５２および／またはデータ線８０、８２、８４、８６からアレイ５０を形成する検出器要素５２および／またはデータ線８０、８２、８４、８６の全てにおよぶ可能性がある。
【００２７】
理解されるように、本発明の実施形態は、検出器要素５２に電荷を誘起し、続いて検出器要素５２を読み取る上述の方法の変形を利用することができる。例えば、実施形態では、コントローラによって測定された２つのタイプの信号、すなわち、「Ｘ線信号」、すなわち、Ｘ線ストライクから検出器要素５２に伝えられるエネルギーのためにデータモジュール８８および／または９０によって測定された電圧の成分と、「オフセット信号」、すなわち、Ｘ線ストライクが存在しない場合でも検出器要素５２内に現れる電圧レベルとが存在する可能性がある。したがって、特定の態様では、コントローラ２２は、オフセット信号を補償する（例えば、除去する）ように検出器要素５２をサンプリングするように動作することができる。
【００２８】
例えば、コントローラ２２は、オフセット信号のみを含む「オフセット画像」および／または「オフセット読取値」と本明細書で称される検出器要素５２の第１の読取値と、オフセット信号およびＸ線信号を含む「合成画像」、「合成信号」、および／または「合成読取値」と本明細書で称される検出器要素５２の第２の読取値とを取得することができる。したがって、「補正画像」、「補正信号」および／または「補正読取値」と本明細書で称される第３の読取値は、合成画像からオフセット画像を減算することによって取得することができる。言い換えると、コントローラ２２は、Ｘ線信号を得るために、合成信号からオフセット信号を減算するように構成することができる。
【００２９】
したがって、実施形態では、データモジュール８８および／または９０は、二重サンプリング増幅器を含むことができ、コントローラ２２は、データ線８０、８２、８４、８６の各々で第１の電圧を測ること、「第１の整定時間」と本明細書で称される期間待機すること、約−１０Ｖから約＋１０Ｖまで走査線７２に電圧を印加すること、「ＦＥＴ−ＯＮ’時間」と本明細書で称される別の期間待機すること、約＋１０Ｖから約−１０Ｖまで走査線７２の電圧を下げること、「第２の整定時間」と本明細書で称される別の期間待機すること、およびデータ線８０、８２、８４、８６の各々で第２の電圧を測定することによって、走査線、例えば、７２で、検出器要素５２を読み取るように動作することができる。さらに理解されるように、第１および第２の電圧測定値を得るための総時間量は、本明細書では、「線時間」と称され、実施形態では、第１の整定時間、ＦＥＴ−ＯＮ時間、および第２の整定時間の合計と等しいとすることができる。実施形態では、検出器要素５２のトランジスタ７０は、トランジスタ７０内の任意の電荷がデータ線８０、８２、８４、８６ならびにデータモジュール８８および／または９０内の二重増幅器に流れるようにＦＥＴ−ＯＮ時間中に導通することができる。実施形態では、特定の検出器要素５２の補正された信号は、同じ検出器要素５２の測定された第２の電圧から検出器要素５２の測定された第１の電圧を減算することによって計算することができる。
【００３０】
しかしながら、さらに理解されるように、このような実施形態では、オフセット画像／信号は、３つの別個の成分から形成することができ、そのうちの２つは正とすることができ、１つは負とすることができ、わずかに正、わずかに負、またはゼロ（０）値を有することができるネット信号となる。例えば、ＦＥＴ−ＯＮ時間の開始時に走査線７２に電圧を印加すると、電荷が捕捉されるように走査線７２に接続された検出器要素５２のトランジスタ７０に大きな電荷が流れ込む可能性がある。走査線７２の電圧を下げると、ＦＥＴ−ＯＮ時間の後、捕捉された電荷の大部分は、その後、データ線８０、８２、８４、または８６を介してトランジスタ７０から流出する。
【００３１】
しかしながら、理解されるように、検出器要素５２に対応するトランジスタ７０の電荷保持のために、本明細書では「保持電荷」と称する少量の電荷が、トランジスタ７０内に残り、これはオフセット画像／信号の負の成分となる可能性がある。
【００３２】
例えば、このような保持電荷は最終的にトランジスタ７０から漏れてデータ線８０、８２、８４、および／または８６に戻って「補償電流」を形成するが、保持電荷がトランジスタ７０から完全に離れる／完全に漏れるのに線を数回通る可能性がある。このように、特定のデータ線８０上のオフセット信号の負の成分は、特定のＦＥＴ−ＯＮ時間に起因するデータ線８０上の特定のトランジスタ７０からの電荷保持、すなわち、特定の走査線７２の読取値によるものである可能性があり、オフセット信号の正の成分の１つは、以前のＦＥＴ−ＯＮ時間のために同じデータ線８０上の他のトランジスタ７０の１つまたは複数のトラップから空になった保持電荷、すなわち、他の走査線７４、７６、および／または７８の１つまたは複数の以前の読取値に起因する可能性がある。オフセット信号の他の正の成分は、対応するスイッチ７０が非導通、すなわち、「オフ」である間に、同じデータ線８０上の検出器要素５２／フォトダイオードのキャパシタンスに蓄積される電圧／電荷による可能性がある。理解されるように、その場合蓄積された電荷は、スイッチ７０が導通している場合、すなわち、例えば、対応するＦＥＴ−ＯＮ時間中に、「オン」になった場合、検出器要素５２／フォトダイオードから、およびデータ線８０上に、流れることができる。
【００３３】
したがって、実施形態では、データ線８０、８２、８４、８６を介してデータモジュール８８および／または９０によって読み取られるような検出器要素５２のオフセット信号は、データ線８０上の特定のトランジスタ７０からの電荷保持による負の成分と、以前の走査線読取値と同じデータ線８０、８２、８４、８６上の他のトランジスタ７０上のトラップから漏れ出る電荷保持による正の成分と、特定のトランジスタ７０に対応する検出器要素５２から漏出する電圧／電荷に起因する正の成分との合計とすることができる。特定のデータ線８０、８２、８４、８６上のオフセット信号の負の成分と２つの正の成分との値に依存して、データ線８０、８２、８４、８６がゼロ（０）の値を有するかどうか、すなわち、データ線８０、８２、８４、８６が断線しているかどうかを判定することは困難である可能性がある。
【００３４】
したがって、実施形態では、上述の読み取りプロセスからの第２の電圧サンプル／サンプリングは、第２の整定時間後からＦＥＴ−ＯＮ時間の終了直前に移動させることができる。理解されるように、このような方法で第２のサンプルを移動させると、トランジスタ７０および／または対応する検出器モジュール５２の電圧を下げる前に第２のサンプルが発生するために大きな負のオフセットが生成される可能性があり、大きな電荷が依然として同じトランジスタ７０および／または検出器要素５２に捕捉されている可能性がある。したがって、そのような実施形態では、オフセット信号／画像は、裂けた／断線したデータ線、例えば８０が、データ線８０上でゼロ（０）電荷として、および／またはほぼゼロ（０）電荷として登録されるようにゼロ（０）から負の値にシフトされる。
【００３５】
ここで図４を参照すると、実施形態において、コントローラ２２によって試験された検出器要素５２および／またはデータ線８０、８２、８４、８６は、上述したように、アレイ５０の周辺領域（点線ボックス１０４で表される）に配置することができる。アレイ５０に関して本明細書で使用される場合、「周辺領域」という用語は、アレイ５０のエッジ１０６に沿って配置された行および／または列を指す。周辺領域１０４の幅、すなわち、アレイ５０のエッジ１０６からの隣接する検出器要素５２の数は、変化してもよい。例えば、実施形態において、周辺領域１０４は、１つの検出器要素５２の幅を有することができ、他の実施形態では、周辺領域１０４は、２つ以上の検出器要素５２の幅を有することができる。列６２、６４、６６、６８の全ての検出器要素５２が同じデータ線８０、８２、８４、８６に接続されている実施形態では、データ線８０、８２、８４、８６がデータモジュール８８に接続する側と反対側のアレイ５０の側とすることができる、周辺領域１０４内の検出器要素５２の試験が、試験された検出器要素５２からデータモジュール８８へのデータ線８０、８２、８４、８６の機能の検証をもたらす。言い換えれば、同じ対応するデータ線８０、８２、８４、８６上の接続されたデータモジュール８８から最も遠くに配置された特定の列の検出器モジュール５２の試験は、対応する列６２、６４、６６、６８の全体に沿ってデータ線８０、８２、８４、８６に断線がないことを検証する。
【００３６】
例えば、１つまたは複数の行５４、５６、５８、６０における検出器要素５２、例えば、エッジ１０６から周辺領域１０４まで延在する４つは、エッジ１０６に最も近い走査線７２に電子的に接続することができ、一方、他の走査線の残りの検出器要素５２は、それらの対応する走査線に接続されない。したがって、第１の走査線７２の読取値は、接続された行５４、５６、５８、および６０にわたるオフセット信号の合計を構成し、一方、行５６、５８、および６０の個々の読取値は、いずれの検出器要素５２にも起因しないデータ線８０、８２、８４、８６の電圧／電荷のサンプリングを構成する。したがって、行５６、５８、および／または６０の個々の読取値からの信号は、行５４、５６、５８、および６０に対応するスイッチ７０からの電荷補償電流のために正であり、一方、フォトダイオード／検出器要素５２は、サンプリングされた信号には寄与せず、またどのＦＥＴ／スイッチ７０もオンになることはない。
【００３７】
実施形態では、コントローラ２２は、周辺領域１０４内にある走査線、例えば、７２内の検出器要素５２の読み取りの直前に共通線９４をパルスすることができる。このような実施形態では、フォトダイオード漏れに対応するオフセット信号／画像の成分は、共通線９４、すなわち、フォトダイオード／検出器５２の共通電極に対して測定することができる。したがって、データ線８０、８２、８４、８６の連続する読取値／サンプルの間で共通線９４を介して誘起された電圧値を正または負の量、例えば、＋１Ｖまたは−１Ｖだけ変化させることによって、オフセット信号は、正または負の方向にそれぞれシフトすることができ、断線した／裂けたデータ線８０、８２、８４、８６が、ゼロ（０）、および／またはほぼゼロ（０）電圧としてデータモジュール８８および／または９０によって登録、すなわちサンプリングされる。実施形態では、共通線９４は、検出器２０の他の構成要素を変調することなく、検出器要素５２に電圧を誘起することができるように構成することができる。
【００３８】
特定の態様では、試験された検出器要素は、「ゼロ列」および／または「ゼロ行」、すなわち、アレイのエッジ１０６を超えて配置される列および／または行を形成する破線のボックス１０８によって表されるようなシミュレートされた検出器要素とすることができる。理解されるように、シミュレートされた検出器要素１０８は、光子を検出するために必ずしも動作しないが、データモジュール８８および／または９０を介して読み取り可能なデータ線８０、８２、８４、８６に電荷を誘起することができる単純な切り替え可能な電子的接続とすることができる。
【００３９】
ここで図５を参照すると、検出器要素５２は、２つ以上のセット１１０および１１２に配置することができる。例えば、一実施形態では、検出器要素５２は、第１のセット１１０および第２のセット１１２に配置することができ、第１のセット１１０および第２のセット１１２の検出器要素５２の各々が、それぞれ、データ線の第１のセット１１４および第２のセット１１６を介して第１のデータモジュール８８および第２のデータモジュール９０に電子的に接続される。理解されるように、２つ以上のデータモジュール８８、９０の間の検出器要素５２の読取値を分割することにより、アレイ５０全体を読み取るのに必要な時間が短縮される。このような実施形態では、コントローラ２２は、アレイ５０の中央行１１８、１２０の検出器要素５２を同時に試験することができ、例えば、データモジュール８８は、行１１８の検出器要素５２を読み取り、一方、データモジュール９０は、行１２０の検出器要素５２を読み取る。実施形態では、試験された検出器要素５２は、行１１８と１２０との間を走り、電圧がデータ線１１４と１１６とに生成されるシミュレートされた検出器要素１０８、例えば、ワイヤとすることができる。
【００４０】
図１に戻って、実施形態では、検出器要素５２（図２）の読取値９２（図３）がゼロ（０）であるか、またはデータ線８０、８２、８４、８６（図２）の断線を示す可能性がある他の任意の値であるか、または放射線検出器２０の構成要素に関する他の問題であるかを判定する場合、システム９６（図２）は、放射線検出器２０のユーザ／オペレータに放射線検出器２０の完全性が損なわれていることを通知するインジケータ１２６を生成することができる。インジケータ１２６は、音声および／または視覚信号、例えば、サウンドアラーム、ライト、オンスクリーンメッセージなどとすることができる。実施形態では、インジケータ１２６は、インターネットおよび／または他の同様の通信ネットワークを介して製造業者および／または修理施設に送信される電子メッセージ、例えば、電子メール、テキストメッセージなどとすることができる。このような実施形態では、インジケータ１２６は、コントローラ２２が、放射線検出器２０の完全性が、例えば、断線した疑いのあるデータ線８０、８２、８４、８６の数および／または識別を損なうとみなす疑わしい問題の詳細な分析を含むことができる。
【００４１】
さらに、実施形態では、コントローラ２２は、放射線検出器２０および／または対応する撮像システム１０が、放射線検出器２０の完全性が損なわれているとコントローラ２２が判定した場合に動作するのを防止することができる。
【００４２】
さらに、通常の動作条件下で、ベース電圧レベルが非ゼロ値であるように放射線検出器の検出器要素のベース電圧レベルを変更することによって、本発明のいくつかの実施形態は、断線したデータ線の検出をもたらす、ならびに／もしくはゼロ（０）および／またはほぼゼロ（０）ボルトのデータ線値を感知することによって、放射線検出器の他の故障した構成要素の検出をもたらす。
【００４３】
最後に、システム１０および／または９６は、必要な電子機器、ソフトウェア、メモリ、ストレージ、データベース、ファームウェア、論理／状態マシン、マイクロプロセッサ、通信リンク、ディスプレイまたは他の視覚または音声ユーザインターフェース、印刷デバイス、および本明細書に記載の機能を実行する、ならびに／または本明細書に記載の結果を達成する任意の他の入力／出力インターフェースを含むことができることも理解されたい。例えば、前述したように、システム１０および／または９６は、少なくとも１つのプロセッサと、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）およびリードオンリメモリ（ＲＯＭ）を含むことができるシステムメモリ／データストレージ構造とを含むことができる。システム１０および／または９６の少なくとも１つのプロセッサは、１つまたは複数の従来のマイクロプロセッサと、数学コプロセッサなどの１つまたは複数の補助コプロセッサとを含むことができる。本明細書で論じられるデータストレージ構造は、磁気、光学および／または半導体メモリの適切な組み合わせを含み、例えばＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュドライブ、コンパクトディスクなどの光学ディスク、および／またはハードディスクまたはドライブを含むことができる。
【００４４】
さらに、本明細書に開示される方法を実行するようにコントローラを適合させるソフトウェアアプリケーションは、コンピュータ可読媒体から少なくとも１つのプロセッサのメインメモリに読み込まれてもよい。「コンピュータ可読媒体」という用語は、本明細書で使用する場合、実行のためにシステム１０および／または９６の少なくとも１つのプロセッサ（または本明細書に記載のデバイスの任意の他のプロセッサ）に命令を提供するまたは提供することに関与する任意の媒体を指す。このような媒体は、不揮発性媒体および揮発性媒体を含むが、これに限定されない多くの形態をとることができる。不揮発性媒体は、例えば、メモリなどの光学ディスク、磁気ディスク、または光磁気ディスクを含む。揮発性媒体は、典型的にはメインメモリを構成するダイナミックランダムアクセスメモリ（ＤＲＡＭ）を含む。コンピュータ可読媒体の一般的な形態は、例えば、フロッピーディスク、フレキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、任意の他の磁気媒体、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、任意の他の光学媒体、ＲＡＭ、ＰＲＯＭ、ＥＰＲＯＭまたはＥＥＰＲＯＭ（電子的に消去可能なプログラム可能なリードオンリメモリ）、ＦＬＡＳＨ−ＥＥＰＲＯＭ、任意の他のメモリチップまたはカートリッジ、またはコンピュータが読み取ることができる任意の他の媒体を含む。
【００４５】
実施形態では、ソフトウェアアプリケーションにおける一連の命令の実行により、少なくとも１つのプロセッサによって本明細書に記載の方法／プロセスを実行させているが、ハードワイヤード回路は、本発明の方法／プロセスの具体化のため、ソフトウェア命令の代わりにまたはそれと組み合わせて使用され得る。したがって、本発明の実施形態は、ハードウェアおよび／またはソフトウェアの特定の組み合わせに限定されない。
【００４６】
上記の説明は例示的なものであり、限定的なものではないことが意図されていることはさらに理解されるべきである。例えば、上記の実施形態（および／またはその態様）は、互いに組み合わせて使用されてもよい。さらに、本発明の範囲から逸脱することなく、特定の状況または材料を本発明の教示に適合させるために、多くの修正を行うことができる。
【００４７】
例えば、一実施形態では、放射線検出器の完全性を検証するためのシステムが提供される。システムは、１つまたは複数のデータモジュール、１つまたは複数のデータ線、およびコントローラを含む。１つまたは複数のデータ線は、放射線検出器の１つまたは複数の検出器要素を１つまたは複数のデータモジュールに電子的に接続する。各検出器要素は、電磁放射を検出するように動作する。コントローラは、１つまたは複数の検出器要素に電圧を誘起し、１つまたは複数のデータモジュールを介して１つまたは複数の検出器要素から読取値を取得し、読取値をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、放射線検出器の完全性が損なわれているかどうかを判定するよう動作する。特定の実施形態では、コントローラは、１つまたは複数の検出器要素の電圧レベルを変更するようさらに動作する。特定の実施形態では、ベンチマークは、１つまたは複数の検出器要素のベース電圧レベルを超える閾値に対応する。特定の実施形態では、放射線検出器の完全性が損なわれたことのコントローラによる判定は、１つまたは複数のデータ線に断線が存在することを示す。特定の実施形態では、システムは、１つまたは複数の検出器要素を互いに電子的に接続する共通線をさらに含む。そのような実施形態では、コントローラは、共通線を介して１つまたは複数の検出器要素に電圧を誘起する。特定の実施形態では、１つまたは複数の検出器要素は、包囲する検出器アレイの周辺領域に配置される。特定の実施形態では、１つまたは複数の検出器要素は、包囲する検出器アレイのシミュレートされた検出器要素である。特定の実施形態では、１つまたは複数の検出器要素は、検出器要素の第１のセットおよび検出器要素の第２のセットに配置される。そのような実施形態では、第１のセットの各検出器要素は、１つまたは複数のデータ線の第１のデータ線セットを介して１つまたは複数のデータモジュールの第１のデータモジュールに電子的に接続され、第２のセットの各検出器要素は、１つまたは複数のデータ線の第２のデータ線のセットを介して１つまたは複数のデータモジュールの第２のデータモジュールに電子的に接続される。そのような実施形態では、第１のデータモジュールおよび第２のデータモジュールのうちの少なくとも１つから読取値が得られる。特定の実施形態では、コントローラは、放射線検出器の完全性が損なわれたことを通知するインジケータを生成するようにさらに動作する。特定の実施形態では、電磁波は、Ｘ線およびガンマ線のうちの少なくとも一方である。
【００４８】
他の実施形態は、放射線検出器の完全性を検証する方法を提供する。本方法は、放射線検出器の１つまたは複数の検出器要素に電圧を誘起するステップを含み、各検出器要素は電磁放射を検出するように動作する。本方法は、１つまたは複数の検出器要素からの読取値を取得するステップと、読取値をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、放射線検出器の完全性が損なわれているかどうかを判定するステップとをさらに含む。特定の実施形態では、本方法は、１つまたは複数の検出器要素の電圧レベルを変更することをさらに含む。特定の実施形態では、ベンチマークは、１つまたは複数の検出器要素のベース電圧レベルを超える閾値に対応する。特定の実施形態では、１つまたは複数の検出器要素は、通常の動作条件下で１つまたは複数のデータ線を介して１つまたは複数のデータモジュールに接続される。そのような実施形態では、放射線検出器の完全性が損なわれているかどうかを判定するステップは、１つまたは複数のデータ線に断線が存在するかどうかを判定するステップを含む。特定の実施形態では、放射線検出器の１つまたは複数の検出器要素に電圧を誘起するステップは、１つまたは複数の検出器要素を互いに電子的に接続する共通線に少なくとも部分的に基づいている。特定の実施形態では、１つまたは複数の検出器要素は、包囲する検出器アレイの周辺領域内に配置される。特定の実施形態では、１つまたは複数の検出器要素は、包囲する検出器アレイのシミュレートされた検出器要素である。特定の実施形態では、１つまたは複数の検出器要素は、検出器要素の第１のセットおよび検出器要素の第２のセットに配置される。そのような実施形態では、第１のセットの各検出器要素は、データ線の第１のセットを介して第１のデータモジュールに電子的に接続され、第２のセットの各検出器要素は、データ線の第２のセットを介して第２のデータモジュールに電子的に接続される。そのような実施形態では、第１のデータモジュールおよび第２のデータモジュールのうちの少なくとも１つから読取値が得られる。特定の実施形態では、本方法は、放射線検出器および放射線検出器を含む撮像システムの少なくとも一方の動作を防止するステップをさらに含む。特定の実施形態では、本方法は、放射線検出器の完全性が損なわれたことを通知するインジケータを生成するステップをさらに含む。
【００４９】
さらに他の実施形態は、命令を記憶する非一時的コンピュータ可読媒体を提供する。記憶された命令は、放射線検出器の１つまたは複数の検出器要素に電圧を誘起し、１つまたは複数のデータ線を介して１つまたは複数の検出器要素に電子的に結合される１つまたは複数のデータモジュールを介して１つまたは複数の検出器要素から読取値を取得し、読取値をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて放射線検出器の完全性が損なわれているかどうかを判定するようにコントローラを適合するよう構成される。
【００５０】
したがって、理解されるように、放射線検出器の検出器要素に電圧を誘起することによって、または放射線検出器のデータ線に直接電圧を誘起することによって、放射線検出器の完全性を試験することにより、本発明のいくつかの実施形態は、加速度計を放射線検出器に組み込むことなく、放射線検出器の完全性が損なわれているかどうかを判定する能力を提供する。したがって、本発明のいくつかの実施形態は、放射線検出器の製造および／または放射線検出器のサイズに関連するコストを低減する。
【００５１】
さらに、加速度計に依存する従来のシステムとは対照的に、データ線を直接試験することによって、本発明のいくつかの実施形態は、そのような従来のシステムと比較して偽陽性および／または偽陰性の数を低減および／または削除する。したがって、本発明のいくつかの実施形態は、偽陽性のための放射線検出器のダウンタイムの量を減少させ、および／または放射線検出器が損傷したために医用画像を再取得しなければならないことに起因する患者への過度の放射線被曝量を低減する。
【００５２】
さらに、本明細書に記載の材料の寸法およびタイプは、本発明のパラメータを定義することを意図しているが、決して限定的ではなく例示的な実施形態である。多くの他の実施形態は、上記の説明を検討すると当業者には明らかであろう。したがって、本発明の範囲は、添付した特許請求の範囲に与えられる均等物の完全な範囲と共に、添付した特許請求の範囲によって決定されなければならない。添付の特許請求の範囲において、「含む（ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ）」および「において（ｉｎ  ｗｈｉｃｈ）」という用語は、それぞれ「備える（ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ）」および「ここにおいて（ｗｈｅｒｅｉｎ）」という用語のプレーンイングリッシュ的同等語として使用される。さらに、添付の特許請求の範囲において、「第１」「第２」「第３」「上側」「下側」「底部」「上部」などの用語は、単なる符号として使用され、それらの物体について、数的要件または位置的要件を課すことを意図しない。さらに、以下の特許請求の範囲の限定は、そのような特許請求の範囲の限定が「手段（ｍｅａｎｓ  ｆｏｒ）」の後にさらなる構造のない機能についての記載が続くフレーズを明白に用いない限り、そしてそうするまでは、ミーンズプラスファンクション形式で書かれたものではなく、そのように解釈されることを意図するものではない。
【００５３】
本明細書は例を用いて最良の形態を含む本発明のいくつかの実施形態を開示し、当業者によって任意のデバイスまたはシステムの作製および使用ならびに任意の組み込まれた方法の実行を含む本発明の実施形態を具体化させる。本発明の特許可能な範囲は、特許請求の範囲によって定義され、当業者に思い付く他の例を含むことができる。そのような他の例は、それらが特許請求の範囲の文言から相違しない構造要素を有する場合、または特許請求の範囲の文言から実質的には相違しない同等の構造要素を含む場合、特許請求の範囲の技術的範囲に包含される。
【００５４】
本明細書で使用する場合、単数形で列挙され、「１つの（ａ）」または「１つの（ａｎ）」という単語に続けられる要素またはステップは、このような除外が明示的に述べられない限り、複数の前記要素またはステップを除外しないと理解されるべきである。さらに、本発明の「一実施形態」への言及は、列挙された特徴をも組み込む追加の実施形態の存在を除外するものとして解釈されることを意図しない。さらに、明示的に反対の記載がない限り、特定の特性を有する要素または複数の要素を「備える（ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ）」、「含む（ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ）」、または「有する（ｈａｖｉｎｇ）」実施形態は、その特性を有さない追加のそのような要素を含むことができる。
【００５５】
本明細書に含まれる本発明の精神および範囲から逸脱することなく、上述した発明にある種の変更を加えることができるので、添付の図面に示された上記説明の主題の全てが、単に本発明の概念を説明するための例として解釈され、本発明を限定するものではないことが意図される。
［実施態様１］
放射線検出器（２０）の完全性を検証するためのシステム（９６）であって、
１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）と、
前記放射線検出器（２０）の１つまたは複数の検出器要素（５２）を前記１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）に電子的に接続する１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）であって、前記検出器要素（５２）の各々が電磁放射を検出するよう動作する、１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）と、
コントローラ（２２）であって、
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）に電圧を誘起し、
前記１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）を介して前記１つまたは複数の検出器要素（５２）からの読取値（９２）を取得し、
前記読取値（９２）をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれているかどうかを判定する、
よう動作する、コントローラ（２２）と、
を備える、システム（９６）。
［実施態様２］
前記コントローラ（２２）が、
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）の電圧レベルを変更するようさらに動作する、
実施態様１に記載のシステム（９６）。
［実施態様３］
前記ベンチマークが、前記１つまたは複数の検出器要素（５２）のベース電圧レベルを超える閾値に対応する、実施態様１に記載のシステム（９６）。
［実施態様４］
前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれたことの前記コントローラ（２２）による判定が、前記１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）に断線が存在することを示す、実施態様１に記載のシステム（９６）。
［実施態様５］
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）を互いに電子的に接続する共通線（９４）
をさらに備え、
前記コントローラ（２２）が、前記共通線（９４）を介して前記１つまたは複数の検出器要素（５２）に電圧を誘起する、
実施態様１に記載のシステム（９６）。
［実施態様６］
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が、包囲する検出器アレイ（５０）の周辺領域（１０４）に配置される、実施態様１に記載のシステム（９６）。
［実施態様７］
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が、包囲する検出器アレイ（５０）のシミュレートされた検出器要素（５２）である、実施態様１に記載のシステム（９６）。
［実施態様８］
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が検出器要素（５２）の第１のセット（１１０）および検出器要素（５２）の第２のセット（１１２）に配置され、前記第１のセット（１１０）の各検出器要素（５２）が、前記１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）の第１のデータ線セット（１１４）を介して前記１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）の第１のデータモジュール（８８）に電子的に接続され、前記第２のセット（１１２）の各検出器要素（５２）が、前記１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）の第２のデータ線セット（１１６）を介して前記１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）の第２のデータモジュール（９０）に電子的に接続され、
前記読取値（９２）が、前記第１のデータモジュール（８８）および前記第２のデータモジュール（９０）の少なくとも一方から取得される、
実施態様１に記載のシステム（９６）。
［実施態様９］
前記コントローラ（２２）が、
前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれたことを通知するインジケータ（１２６）を生成する
ようにさらに動作する、実施態様１に記載のシステム（９６）。
［実施態様１０］
電磁波が、Ｘ線およびガンマ線のうちの少なくとも一方である、実施態様１に記載のシステム（９６）。
［実施態様１１］
放射線検出器（２０）の完全性を検証する方法であって、
前記放射線検出器（２０）の１つまたは複数の検出器要素（５２）に電圧を誘起するステップであって、前記検出器要素（５２）の各々が電磁放射を検出するように動作する、ステップと、
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）から読取値（９２）を取得するステップと、
前記読取値（９２）をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれているかどうかを判定するステップと、
を備える、方法。
［実施態様１２］
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）の電圧レベルを変更するステップ
をさらに備える、実施態様１１に記載の方法。
［実施態様１３］
前記ベンチマークが、前記１つまたは複数の検出器要素（５２）のベース電圧レベルを超える閾値に対応する、実施態様１１に記載の方法。
［実施態様１４］
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が、通常の動作条件下で１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）を介して１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）に接続され、
前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれているかどうかを判定するステップが、
前記１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）に断線が存在するかどうかを判定するステップ
を備える、
実施態様１１に記載の方法。
［実施態様１５］
前記放射線検出器（２０）の１つまたは複数の検出器要素（５２）に電圧を誘起するステップが、前記１つまたは複数の検出器要素（５２）を互いに電子的に接続する共通線（９４）に少なくとも部分的に基づく、実施態様１１に記載の方法。
［実施態様１６］
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が、包囲する検出器アレイ（５０）の周辺領域（１０４）内に配置される、実施態様１１に記載の方法。
［実施態様１７］
前記１つまたは複数の検出器要素（５２）が、包囲する検出器アレイ（５０）のシミュレートされた検出器要素（５２）である、実施態様１１に記載の方法。
［実施態様１８］
前記放射線検出器（２０）の前記完全性が損なわれたことを通知するインジケータ（１２６）を生成するステップ
をさらに備える、実施態様１１に記載の方法。
［実施態様１９］
前記放射線検出器（２０）および前記放射線検出器（２０）を含む撮像システム（１０）の少なくとも一方の動作を防止するステップ
をさらに備える、実施態様１１に記載の方法。
［実施態様２０］
命令を記憶する非一時的コンピュータ可読媒体であって、前記命令がコントローラ（２２）を、
放射線検出器（２０）の１つまたは複数の検出器要素（５２）に電圧を誘起し、
１つまたは複数のデータ線（８０、８２、８４、８６）を介して前記１つまたは複数の検出器要素（５２）に電子的に接続される１つまたは複数のデータモジュール（８８、９０）を介して前記１つまたは複数の検出器要素（５２）から読取値（９２）を取得し、
前記読取値（９２）をベンチマークと比較することに少なくとも部分的に基づいて、前記放射線検出器（２０）の完全性が損なわれているかどうかを判定する、
よう適合させるように構成される、非一時的コンピュータ可読媒体。
【符号の説明】
【００５６】
１０  医用撮像システム
１２  撮像構造
１４  患者、構造
１８  放射線源
２０  放射線検出器
２２  コントローラ
２４  表示画面
２６  放射線ビーム
２８  関心領域（ＲＯＩ）
３０  原画像
３２  ビデオフィード
３４  プロセッサ／ＣＰＵ
３６  メモリデバイス、システムメモリ
３８  フレーム
４０  フレーム
４２  フレーム
５０  検出器アレイ
５２  検出器モジュール、検出器要素、フォトダイオード／検出器
５４  行
５６  行
５８  行
６０  行
６２  列
６４  列
６６  列
６８  列
７０  トランジスタ、スイッチ、スイッチング素子
７２  第１の走査線
７４  走査線
７６  走査線
７８  走査線
８０  スイッチ、データ線
８２  データ線
８４  データ線
８６  データ線
８８  第１のデータモジュール
９０  第２のデータモジュール
９２  読取値
９４  共通線
９６  システム
１００  グラフ
１０２  残留電圧
１０４  周辺領域
１０６  エッジ
１０８  シミュレートされた検出器要素
１１０  第１のセット
１１２  第２のセット
１１４  データ線の第１のセット
１１６  データ線の第２のセット
１１８  中央行
１２０  中央行
１２６  インジケータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【外国語明細書】
2019066466000001.pdf