(57)【要約】【課題】プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な回路配置領域について、故障の発生を予測する。【解決手段】故障予測装置は、プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な複数の回路配置領域と、複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数のセンサと、複数のセンサの各々の出力に基づくスコアを取得し、回路配置領域毎のスコアに基づいて、複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う処理を行う処理部と、を含む。【選択図】図１
2019200610.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数のセンサの出力に基づくスコアを取得し、
前記回路配置領域毎の前記スコアに基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする故障予測プログラム。
【請求項２】
前記センサの出力の大きさに応じて定められる第１のスコアと、前記センサの出力の所定期間内における変化量に応じて定められる第２のスコアを、前記スコアとして取得する処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１に記載の故障予測プログラム。
【請求項３】
前記複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数の信号パターン生成部から出力される信号パターンに生じたエラーに応じて定められる第３のスコアを更に取得し、
前記回路配置領域毎の、前記第１のスコア、前記第２のスコア及び前記第３のスコアの合算値に基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項２に記載の故障予測プログラム。
【請求項４】
前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域に構築された前記論理回路を、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値未満である回路配置領域に再構築する
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の故障予測プログラム。
【請求項５】
前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域が複数存在する場合、前記複数の回路配置領域の各々について定められた優先度に応じた順序で前記論理回路の再構築を行う
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項４に記載の故障予測プログラム。
【請求項６】
プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な複数の回路配置領域と、
前記複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数のセンサと、
前記複数のセンサの各々の出力に基づくスコアを取得し、前記回路配置領域毎の前記スコアに基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う処理を行う処理部と、
を含む故障予測装置。
【請求項７】
前記処理部は、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域に配置された前記論理回路を、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値未満である回路配置領域に再構築する処理を行う
請求項６に記載の故障予測装置。
【請求項８】
前記センサの各々は、温度センサを含む
請求項６または請求項７に記載の故障予測装置。
【請求項９】
前記センサの各々は、互いに異なる複数種のセンサからなるセンサ群を含む
請求項６から請求項８のいずれか１項に記載の故障予測装置。
【請求項１０】
プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数のセンサの出力に基づくスコアを取得し、
前記回路配置領域毎の前記スコアに基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う
処理をコンピュータが実行することを特徴とする故障予測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
開示の技術は、故障予測プログラム、故障予測装置、及び故障予測方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）等のプログラマブルデバイスを含むシステムにおいて、ある領域に構築された論理回路を、他の領域に再構築する技術として、以下のものが知られている。
【０００３】
例えば、ＣＰＵ及びプログラマブル電子素子群が現在の無線通信を行いながら、現在の無線通信システムにおける通信状態値が悪化した場合に、他のＣＰＵ及びプログラマブル電子素子群に対して無線通信システムに係るプログラムを書き込む技術が知られている。
【０００４】
また、機能回路ブロックのエラーの検出に応じて、メモリから読み出した再構成データを用いてエラーを検出した機能回路ブロックに、再構成可能な回路を再構成する技術が知られている。
【０００５】
また、故障の発生した処理系統を検出する故障系統検出回路と、故障が検出された際に、故障の発生した処理系統と同じ機能を有した処理系統をＦＰＧＡに再構成して新規な処理系統を形成する再構成部と、を含む情報処理装置が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−１７３６６５号公報
【特許文献２】特開２００６−３０９７００号公報
【特許文献３】特開２０１１−２１６０２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
近年、ＦＰＧＡは高密度化され、重要部品となっており、ＦＰＧＡの故障による影響は非常に大きなものになっている。ＦＰＧＡの故障によりＦＰＧＡを交換する必要が生じた場合、交換が完了するまで、利用者はサービスを受けることができなくなり、機会損失を被る。また、サービス提供者においても、システム停止期間は利益を得ることができなくなり、休業損失を被る。
【０００８】
ＦＰＧＡがプログラミングにより構築される論理回路を配置可能な複数の回路配置領域を備える場合、回路配置領域毎に故障の発生を予測することができれば、故障が予測される領域に構築された論理回路を、他の領域に退避する等の措置をとることができる。
【０００９】
開示の技術は、一つの側面として、プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な回路配置領域について、故障の発生を予測することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
開示の技術は、プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数のセンサの出力に基づくスコアを取得する。そして、前記回路配置領域毎の前記スコアに基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う。
【発明の効果】
【００１１】
開示の技術は、一つの側面として、プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な回路配置領域について故障の発生を予測することができる、という効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】開示の技術の第１の実施形態に係る故障予測装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図２】開示の技術の実施形態に係るプロセッサが故障処理プログラムを実行することにより実施される故障予測処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図３】開示の技術の実施形態に係る故障予測装置による論理回路の再構築の態様の一例を示す図である。
【図４】開示の技術の実施形態に係る故障予測装置を備えた画像処理装置の構成の一例を示す図である。
【図５】開示の技術の第２の実施形態に係る故障予測装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図６】開示の技術の第３の実施形態に係る故障予測装置の構成の一例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、開示の技術の実施形態の一例を図面を参照しつつ説明する。なお、各図面において同一または等価な構成要素および部分には同一の参照符号を付与している。
【００１４】
[第１の実施形態]
図１は、開示の技術の第１の実施形態に係る故障予測装置１の構成の一例を示すブロック図である。故障予測装置１は、ＦＰＧＡ１０と、温度センサ２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０Ｄと、フラッシュメモリ３０と、を含んで構成されている。
【００１５】
ＦＰＧＡ１０は、例えば、プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な複数の回路配置領域１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ及び１１Ｄを備える。すなわち、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄには、それぞれ、プログラミングにより、任意の論理回路の書込み、書き換え、消去が可能である。
【００１６】
温度センサ２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ及び２０Ｄは、それぞれ、回路配置領域１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ及び１１Ｄに対応している。本実施形態において、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄは、それぞれ、ＦＰＧＡ１０の外部の、自身に対応する回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの近傍に設けられている。温度センサ２０Ａ〜２０Ｄは、例えば、ＦＰＧＡ１０と共通の配線基板（図示せず）に搭載される。温度センサ２０Ａ〜２０Ｄは、それぞれ、サーミスタ、熱電対、バイメタル等の公知の温度検出素子を含んで構成されており、周囲温度に応じた測温信号を出力する。
【００１７】
ＦＰＧＡ１０は、アナログデジタル変換部１３Ａ、１３Ｂ、１３Ｃ、１３Ｄ、及びスコア管理部１４Ａ、１４Ｂ、１４Ｃ、１４Ｄを有する。アナログデジタル変換部１３Ａ〜１３Ｄ及びスコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、それぞれ、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄに対応している。アナログデジタル変換部１３Ａ〜１３Ｄは、それぞれ、対応する温度センサ２０Ａ〜２０Ｄから出力される測温信号をデジタル値（以下、温度測定値と称する）に変換する。アナログデジタル変換部１３Ａ〜１３Ｄから出力される温度測定値は、所定間隔（例えば数秒間隔）で、対応するスコア管理部１４Ａ〜１４Ｄにおいてサンプリングされ、蓄積される。スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、それぞれ、蓄積された温度測定値に基づいてスコアを導出する。
【００１８】
下記の表１は、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄによって導出されるスコアの一例を示したものである。スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄには、それぞれ、所定期間毎に、対応するアナログデジタル変換部１３Ａ〜１３Ｄから出力される温度測定値Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、・・・が蓄積される。
【表１】
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【００１９】
スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、それぞれ、各時点における温度測定値Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、・・・の大きさに応じて定められるスコアａ１、ａ２、ａ３、・・・を導出し、メモリ（図示せず）に記録する。
【００２０】
例えば、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、温度測定値Ｔｎが閾値（例えば７０℃）以上である場合、当該温度測定値Ｔｎに対応するスコアａｎとして相対的に大きい値（例えば３）を導出し、記録する。一方、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、温度測定値Ｔｎが閾値（例えば７０℃）未満である場合、当該温度測定値Ｔｎに対応するスコアａｎとして相対的に小さい値（例えば０）を導出する。なお、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、温度測定値の増加に対してスコアが段階的に高くなるように、各時点におけるスコアを導出してもよい。また、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、温度測定値Ｔｎの大きさが、上側閾値（例えば７０℃）を上回った場合、または下側閾値（例えば０℃）を下回った場合に、当該温度測定値Ｔｎに対応するスコアａｎとして相対的に大きい値（例えば３）を導出してもよい。スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、温度測定値Ｔｎの大きさが、下側閾値（例えば０℃）以上であり且つ上側閾値（例えば７０℃）以下である場合に、当該温度測定値Ｔｎに対応するスコアａｎとして相対的に小さい値（例えば０）を導出してもよい。なお、温度測定値Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、・・・の大きさに応じて定められるスコアａ１、ａ２、ａ３、・・・は、開示の技術における第１のスコアの一例である。
【００２１】
スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、更に、所定期間内における温度測定値Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、・・・の変化量（差分）に応じて定められるスコアｂ２、ｂ３、・・・を導出し、メモリ（図示せず）に記録する。例えば、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、温度測定値Ｔ１と温度測定値Ｔ２との差分に応じて定められるスコアｂ２を導出し、温度測定値Ｔ２と温度測定値Ｔ３との差分に応じて定められるスコアｂ３を導出する。なお、上記の例では、互いに隣接する温度測定値間の差分（例えばＴ１とＴ２の差分、Ｔ２とＴ３の差分）に基づいてスコアを導出することとしているが、任意の温度測定値間の差分（ＴｎとＴｎ＋ｍとの差分）に基づいてスコアを導出することが可能である。スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、温度測定値Ｔｎと温度測定値Ｔn＋ｍとの差分が閾値（例えば１０℃）以上である場合、スコアｂｎ＋ｍとして相対的に大きい値（例えば８）を導出する。一方、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、温度測定値Ｔｎと温度測定値Ｔn＋ｍとの差分が閾値（例えば１０℃）未満である場合、スコアｂｎ＋ｍとして相対的に小さい値（例えば０）を導出する。なお、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、所定期間内における温度測定値の変化量（差分）の増加に対して、スコアが段階的に高くなるように、各時点におけるスコアを導出してもよい。なお、所定期間内における温度測定値Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、・・・の変化量（差分）に応じて定められるスコアｂ２、ｂ３、・・・は、開示の技術における第２のスコアの一例である。
【００２２】
スコア管理部１４Ａ〜１４ｄによるスコア管理によれば、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄのうち、例えば、高温状態が継続する回路配置領域、温度変化が大きい回路配置領域、温度変化が繰り返される回路配置領域について、相対的に高いスコアが付与される。
【００２３】
プロセッサ１２は、フラッシュメモリ３０に格納された故障予測プログラム３１を実行することで、故障予測処理部として機能する。故障予測処理部として機能するプロセッサ１２は、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄに記録されたスコアに基づいて、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの各々について、故障発生の可能性に関する判定を含む故障予測処理を行う。すなわち、プロセッサ１２は、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄに記録されたスコアを回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に集計し、集計によって得られた集計値が閾値を超える場合、当該回路配置領域の故障発生の可能性が高いと判定する。一方、プロセッサ１２は、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄに記録されたスコアの、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎の集計値が、閾値未満である場合、当該回路配置領域の故障発生の可能性が低いと判定する。
【００２４】
回路構築制御部１６は、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄのうち、プロセッサ１２によって故障発生の可能性が高いと判定された回路配置領域（以下、高スコア領域ともいう）に構築されている論理回路を、プロセッサ１２によって故障発生の可能性が低いと判定された回路配置領域（以下、低スコア領域ともいう）に再構築する。なお、消費電力を抑制する観点から、論理回路を低スコア領域に再構築した後に、高スコア領域に配置されている論理回路を消去することが好ましい。回路構築制御部１６は、論理回路を低スコア領域に再構築する際に、フラッシュメモリ３０に格納されている回路データ３２を参照する。回路データ３２は、再構築される論理回路の構成に関する情報を含んでいる。なお、プロセッサ１２及び回路構築制御部１６は、開示の技術における処理部の一例である。
【００２５】
ＳＲＡＭ（static random access memory）１５は、故障予測処理部として機能するプロセッサ１２が上記の故障予測処理を行う際に、故障予測プログラム３１に基づく命令やデータを一時的に蓄えておくための記憶領域である。フラッシュメモリ３０は、ＦＰＧＡ１０の外部に設けられた不揮発性メモリである。フラッシュメモリ３０には、故障予測プログラム３１及び回路データ３２が格納されている。なお、プロセッサ１２、ＳＲＡＭ１５、回路構築制御部１６及びフラッシュメモリ３０は、開示の技術におけるコンピュータの一例である。
【００２６】
図２は、プロセッサ１２が故障予測プログラム３１を実行することにより実施される故障予測処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【００２７】
ステップＳ１において、プロセッサ１２は、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄの各々において所定期間内（例えば数分間）に蓄積されたスコアａ１、ａ２、ａ３、・・・及びスコアｂ２、ｂ３、・・・を取得する。
【００２８】
ステップＳ２において、プロセッサ１２は、取得したスコアａ１、ａ２、ａ３、・・・及びスコアｂ２、ｂ３、・・・を、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に集計する。すなわち、プロセッサ１２は、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄの各々において所定期間内に蓄積されたスコアａ１、ａ２、ａ３、・・・及びスコアｂ２、ｂ３、・・・を合算する処理を、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に行う。
【００２９】
ステップＳ３において、プロセッサ１２は、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に、故障発生の可能性に関する判定を行う。すなわち、プロセッサ１２は、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に集計したスコアの集計値が閾値以上である場合、当該回路配置領域は、故障発生の可能性が高いと判定する。一方、プロセッサ１２は、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に集計したスコアの集計値が閾値未満である場合、当該回路配置領域は、故障発生の可能性が低いと判定する。
【００３０】
ステップＳ４において、プロセッサ１２は、スコアの集計値が閾値以上である回路配置領域（高スコア領域）の有無を判定する。プロセッサ１２は、高スコア領域が存在すると判定した場合、処理をステップＳ５に移行し、高スコア領域が存在しないと判定した場合、処理をステップＳ１に戻す。
【００３１】
ステップＳ５において、プロセッサ１２は、スコアの集計値が閾値未満である回路配置領域（低スコア領域）の有無を判定する。プロセッサ１２は、低スコア領域が存在すると判定した場合、処理をステップＳ６に移行し、低スコア領域が存在しないと判定した場合、処理をステップＳ１に戻す。
【００３２】
ステップＳ６において、プロセッサ１２は、高スコア領域の各々について優先度を特定する。優先度は、例えば、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に、予め定められていてもよい。また、スコアの集計値に基づいて優先度を設定してもよい。この場合、スコアの集計値が相対的に高い高スコア領域に対して、相対的に高い優先度が設定される。なお、高スコア領域が１つである場合、本ステップＳ６を省略してもよい。
【００３３】
ステップＳ７において、プロセッサ１２は、ステップＳ６において特定された優先度の順に、高スコア領域に構築されている論理回路を低スコア領域に再構築すべき指令を、回路構築制御部１６に送信する。上記の指令を受信した回路構築制御部１６は、フラッシュメモリ３０に格納されている回路データ３２をロードして、当該論理回路を低スコア領域に再構築する。その後、回路構築制御部１６は、高スコア領域に構築されている論理回路を消去する。なお、高スコア領域に構築されている論理回路を残したままとしてもよいが、この場合、論理回路の機能を停止させておくことが好ましい。
【００３４】
優先度が相対的に高い高スコア領域に構築された論理回路の再構築先として、スコアの集計値が相対的に低い低スコア領域が選択されることが好ましい。高スコア領域が１つである場合、当該高スコア領域に構築された論理回路の再構築先として、スコアの集計値が最も低い低スコア領域が選択されることが好ましい。また、４つの回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄのうち、例えば、高スコア領域が３つ存在し、低スコア領域が１つのみ存在する場合、優先度が最も高い高スコア領域に構築された論理回路についてのみ、低スコア領域への再構築を行ってもよい。また、高スコア領域が２つ存在し、低スコア領域が２つ存在する場合、優先度が相対的に高い高スコア領域に構築された論理回路を、スコアの集計値が相対的に低い低スコア領域に再構築してもよい。そして、優先度が相対的に低い高スコア領域に構築された論理回路を、スコアの集計値が相対的に高い低スコア領域に再構築してもよい。
【００３５】
プロセッサ１２が故障予測プログラム３１を実行することで、上記したスコアの集計、スコアの集計値に基づく回路配置領域毎の故障予測、故障予測結果に基づく論理回路の再構築が、所定期間毎に行われる。
【００３６】
なお、本実施形態では、ステップＳ５において低スコア領域が存在しないと判定された場合、処理をステップＳ１に戻すこととしているが、この態様に限定されるものではない。例えば、ＦＰＧＡ１０が、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄとは別に、プログラミングにより論理回路を配置可能な冗長領域（図示せず）を備えている場合には、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄに構築されている全ての論理回路を、冗長領域に再構築してもよい。
【００３７】
図３は、故障予測装置１による論理回路の再構築の態様の一例を示す図である。ここでは、回路配置領域１１Ａに論理回路４０が構築され、回路配置領域１１Ｂ、１１Ｃ、１１Ｄには、論理回路は構築されていないものとする。また、回路配置領域１１Ａのスコア集計値が１５０、回路配置領域１１Ｂのスコア集計値が１２０、回路配置領域１１Ｃのスコア集計値が４０、回路配置領域１１Ｄのスコア集計値が６０であるものとする。また、スコア集計値が１００以上である場合、当該回路配置領域は、故障発生の可能性が高い高スコア領域であると判定され、スコア集計値が１００未満である場合、当該回路配置領域は、故障発生の可能性が低い低スコア領域であると判定されるものとする。従って、回路配置領域１１Ａ及び１１Ｂは、それぞれ、故障発生の可能性が高い高スコア領域であると判定され、回路配置領域１１Ｃ及び１１Ｄは、それぞれ、故障発生の可能性が低い低スコア領域であると判定される。故障発生の可能性が高い高スコア領域である回路配置領域１１Ａに構築された論理回路４０は、故障発生の可能性が低い低スコア領域のうち、スコア集計値が相対的に低い回路配置領域１１Ｃに再構築される。消費電力を抑制する観点から、論理回路４０は、回路配置領域１１Ａから消去されることが好ましい。なお、回路配置領域１１Ａは、現実に故障している訳ではないので、回路配置領域１１Ａが低スコア領域となった場合には、論理回路４０が再構築される候補領域として使用することが可能である。
【００３８】
ＦＰＧＡ１０が故障に至る要因として、熱ストレスが挙げられる。例えば、高温状態が継続する場合、温度変化が大きい場合、温度変化が繰り返される場合に、ＦＰＧＡ１０が故障する可能性が高くなると考えられる。また、熱ストレスは、ＦＰＧＡ１０の全域に亘り均一ではなく、例えば、熱源の位置、放熱手段の構成、空冷ファンによる空気の流れなどの影響を受ける。従って、ＦＰＧＡ１０内部の回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄには、それぞれ、互いに異なる大きさの熱ストレスが加わっており、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄにおける故障発生の可能性は、互いに異なっていると考えられる。
【００３９】
開示の技術の実施形態に係る故障予測装置１は、ＦＰＧＡ１０が備える複数の回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの各々に対応して設けられた複数の温度センサ２０Ａ〜２０Ｄを有する。温度センサ２０Ａ〜２０Ｄは、対応する回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの近傍に設けられているので、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄの出力は、それぞれ、対応する回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄに加わる熱ストレスの大きさを示している。故障予測装置１は、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄの出力に基づいてスコアを導出し、回路配置領域毎に集計したスコアの集計値に基づいて、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う。従って、故障予測装置１によれば、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの各々について、故障の発生を予測することが可能となる。また、スコアには、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄによる温度測定値の大きさだけでなく、所定期間内における温度測定値の変化量も反映される。これにより、熱ストレスの大きさを適切に評価することができ、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄにおける故障の発生の予測精度を高めることが可能となる。
【００４０】
また、故障予測装置１によれば、故障発生の可能性が高いと判定された回路配置領域に構築された論理回路は、故障発生の可能性が低いと判定された回路配置領域に再構築される。すなわち、高スコア領域に配置された論理回路は、現実に故障が発生する前に、低スコア領域に移設される。これにより、故障により論理回路が機能停止に陥るリスクを抑制することが可能となり、ＦＰＧＡ１０を含むシステムの可用性を高めることが可能となる。
【００４１】
なお、本実施形態では、ＦＰＧＡ１０が４つの回路配置領域（回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ）を含む場合を例示したが、回路配置領域の数は、適宜増減することが可能である。また、本実施形態では、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄが、それぞれ、ＦＰＧＡ１０の外部に設けられている場合を例示したが、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄの一部または全部が、ＦＰＧＡ１０の内部に設けられていてもよい。また、本実施形態では、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの故障予測に用いるセンサとして、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄを用いる場合を例示したが、温度センサ以外のセンサを用いることも可能である。ＦＰＧＡ１０の故障の原因となるストレスを検出可能なセンサ（例えば、湿度センサ、圧力センサ）を、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄに代えて、または温度センサ２０Ａ〜２０Ｄと共に用いることが可能である。
【００４２】
また、本実施形態では、故障予測プログラム３１及び回路データ３２を、ＦＰＧＡ１０の外部に設けられたフラッシュメモリ３０に格納する場合を例示したが、この態様に限定されない。故障予測プログラム３１及び回路データ３２の少なくとも一方を、ＦＰＧＡ１０の内部に設けられた不揮発性メモリに格納してもよい。
【００４３】
また、本実施形態では、温度測定値の大きさに応じて定められるスコア及び所定期間内における温度測定値の変化量（差分）に応じて定められるスコアを導出し、これらのスコアの合算値に基づいて故障発生の可能性に関する判定を行う場合を例示した。しかしながら、この態様に限定されるものではない。例えば、温度測定値の大きさに応じて定められるスコア及び所定期間内における温度測定値の変化量（差分）に応じて定められるスコアのいずれか一方を導出し、導出したスコアに基づいて故障発生の可能性に関する判定を行ってもよい。
【００４４】
図４は、故障予測装置１を備えた開示の技術の実施形態に係る画像処理装置５０の構成の一例を示す図である。画像処理装置５０は、配線基板５８上に搭載された、一対の入力ポート５１、電源回路５２、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）５３、ＰＬＤ（Programmable Logic Device）５４、ＤＤＲ（Double Data Rate）メモリ５５、一対のＱＳＦＰ（Quad Small Form-factor Pluggable）モジュール５６及びＦＰＧＡ１０を含んで構成されている。また、配線基板５８上には、ＦＰＧＡ１０と共に故障予測装置１を構成する温度センサ２０Ａ〜２０Ｄ及びフラッシュメモリ３０が搭載されている。発熱源であるＦＰＧＡ１０、ＤＳＰ５３、ＰＬＤ５４及びＱＳＦＰモジュール５６には、それぞれ、ヒートシンク５７が取り付けられている。
【００４５】
ＦＰＧＡ１０、ＤＳＰ５３及びＰＬＤ５４は、それぞれ、一対の入力ポート５１に接続されたイメージセンサ６０によって撮像された画像を処理する。ＦＰＧＡ１０、ＤＳＰ５３及びＰＬＤ５４における処理内容は、例えば、イメージセンサ６０によって取得された画像の種別（ＲＡＷ、ＲＧＢなど）に応じて変化するため、ＦＰＧＡ１０、ＤＳＰ５３及びＰＬＤ５４における発熱量は、刻々と変化する。従って、ＦＰＧＡ１０の周囲において局所的な温度上昇が起こり得る。例えば、あるタイミングにおいて、温度センサ２０Ｃによる温度測定値の大きさ及びその変化量が、他の温度センサ２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｄによる温度測定値の変化量よりも高くなる場合がある。この場合において、温度センサ２０Ｃによる温度測定値に基づくスコアの集計値が閾値以上となると、ＦＰＧＡ１０の内部の、温度センサ２０Ｃに対応する回路配置領域について、故障発生の可能性が高いと判定される。この場合、温度センサ２０Ｃに対応する回路配置領域に配置された論理回路が、故障発生の可能性が低いと判定された回路配置領域のいずれか（好ましくは、スコアの集計値が最も低い回路配置領域）に再構築される。
【００４６】
［第２の実施形態］
図５は、開示の技術の第２の実施形態に係る故障予測装置１Ａの構成の一例を示すブロック図である。故障予測装置１Ａは、ＦＰＧＡ１０の内部に、信号パターン生成部１７Ａ、１７Ｂ、１７Ｃ、１７Ｄ、チェック部１８Ａ、１８Ｂ、１８Ｃ、１８Ｄ及びスコア管理部１９Ａ、１９Ｂ、１９Ｃ、１９Ｄを更に有する点が、第１の実施形態に係る故障予測装置１と異なる。信号パターン生成部１７Ａ〜１７Ｄ、チェック部１８Ａ〜１８Ｄ及びスコア管理部１９Ａ〜１９Ｄは、それぞれ、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄに対応している。また、故障予測装置１Ａにおいて、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄは、それぞれ、ＦＰＧＡ１０の内部に設けられている。
【００４７】
信号パターン生成部１７Ａ〜１７Ｄは、それぞれ、ＦＰＧＡ１０の内部において、対応する回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの近傍に設けられている。信号パターン生成部１７Ａ〜１７Ｄは、所定期間毎に、特定の信号パターンを生成し、出力する。
【００４８】
チェック部１８Ａ〜１８Ｄは、対応する信号パターン生成部１７Ａ〜１７Ｄから出力される信号パターンを受信し、受信した信号パターンに生じているエラーを検出する。チェック部１８Ａ〜１８Ｄは、対応する信号パターン生成部１７Ａ〜１７Ｄから出力される正常な信号パターンを把握しており、正常な信号パターンと、受信した信号パターンとを比較することで、受信した信号パターンに生じているエラーを検出する。チェック部１８Ａ〜１８Ｄは、それぞれ、所定期間毎に、エラー検出結果を出力する。
【００４９】
チェック部１８Ａ〜１８Ｄから出力されるエラー検出結果は、対応するスコア管理部１９Ａ〜１９Ｄに蓄積される。スコア管理部１９Ａ〜１９Ｄは、それぞれ、蓄積されたエラー検出結果に基づいてスコアを導出する。
【００５０】
下記の表２は、スコア管理部１９Ａ〜１９Ｄによって導出されるスコアの一例を示したものである。スコア管理部１９Ａ〜１９Ｄには、それぞれ、所定期間毎に、対応するチェック部１８Ａ〜１８Ｄから出力されたエラー検出結果Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、・・・が蓄積される。
【表２】
2019200610.tif 000004
【００５１】
スコア管理部１９Ａ〜１９Ｄは、それぞれ、各時点におけるエラー検出結果Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、・・・に応じて定められるスコアｃ１、ｃ２、ｃ３、・・・を導出し、メモリ（図示せず）に記録する。例えば、スコア管理部１９Ａ〜１９Ｄは、エラー検出結果Ｄｎが、訂正不可能なエラー（例えば２ビットのエラー）を示す場合、当該エラー検出結果Ｄｎに対応するスコアｃｎとして相対的に大きい値（例えば５）を導出し、記録する。また、スコア管理部１９Ａ〜１９Ｄは、エラー検出結果Ｄｎが、訂正可能なエラー（例えば１ビットのエラー）を示す場合、当該エラー検出結果Ｄｎに対応するスコアｃｎとして相対的に小さい値（例えば１）を導出し、記録する。スコア管理部１９Ａ〜１９Ｄは、エラー検出結果Ｄｎが、エラーがないことを示す場合、当該エラー検出結果Ｄｎに対応するスコアｃｎとして例えば０を導出し、記録する。なお、エラー検出結果Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、・・・に応じて定められるスコアｃ１、ｃ２、ｃ３、・・・は、開示の技術における第３のスコアの一例である。
【００５２】
故障予測プログラム３１を実行するプロセッサ１２は、図２に示すフローチャートのステップＳ１において、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄに蓄積されたスコア（ａ１、ａ２、ａ３、・・、ｂ２、ｂ３、・・）及びスコア管理部１９Ａ〜１９Ｄに蓄積されたスコア（ｃ１、ｃ２、ｃ３、・・）を取得する。
【００５３】
ステップＳ２において、プロセッサ１２は、取得したスコア（ａ１、ａ２、ａ３、・・、ｂ２、ｂ３、・・、ｃ１、ｃ２、ｃ３、・・）を、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に集計する。すなわち、プロセッサ１２は、スコア（ａ１、ａ２、ａ３、・・、ｂ２、ｂ３、・・、ｃ１、ｃ２、ｃ３、・・）を合算する処理を、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に行う。以降の処理は、第１の実施形態に係る故障予測装置１と同様である。
【００５４】
ＦＰＧＡ１０においては、宇宙線等の放射線が照射されることによって、メモリに記録されたデータが反転するＳＥＵ（single event upset）が起こり得る。ＳＥＵは、ＦＰＧＡ１０の回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄに記録された回路データの破壊を引き起こすおそれがある。すなわち、ＳＥＵは、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄに構築された論理回路の故障の原因になり得る。
【００５５】
開示の技術の第２の実施形態に係る故障予測装置１Ａによれば、ＳＥＵを引き起こす放射線の影響が、信号パターン生成部１７Ａ〜１７Ｄから出力される信号パターンに及び、その結果、スコア管理部１９Ａ〜１９Ｄによって導出されるスコアに反映される。信号パターン生成部１７Ａ〜１７Ｄは、対応する回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの近傍に設けられているので、スコア管理部１９Ａ〜１９Ｄによって導出されるスコアは、それぞれ、回路配置領域１１Ａ〜１１ＤにおけるＳＥＵの発生の可能性を示している。
【００５６】
このように、故障予測装置１Ａは、温度センサ２０Ａ〜２０Ｄの出力のみならず、信号パターン生成部１７Ａ〜１７Ｄの出力信号に生じたエラーにも基づいてスコアを導出する。故障予測装置１Ａは、回路配置領域毎に集計したスコアの集計値に基づいて、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う。従って、故障予測装置１Ａによれば、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの各々について、熱ストレスのみならず、宇宙線等の放射線の影響をも加味した故障予測を行うことが可能となる。
【００５７】
［第３の実施形態］
図６は、開示の技術の第３の実施形態に係る故障予測装置１Ｂの構成の一例を示すブロック図である。故障予測装置１Ｂは、第２の実施形態に係る故障予測装置１Ａ（図５参照）における温度センサ２０Ａ〜２０Ｄに代えて、高度センサ７４Ａ〜７４Ｄ、加速度センサ７５Ａ〜７５Ｄ、風速センサ７６Ａ〜７６Ｄ、圧力センサ７７Ａ〜７７Ｄ、及び湿度センサ７８Ａ〜７８Ｄを有する。高度センサ７４Ａ〜７４Ｄ、加速度センサ７５Ａ〜７５Ｄ、風速センサ７６Ａ〜７６Ｄ、圧力センサ７７Ａ〜７７Ｄ、及び湿度センサ７８Ａ〜７８Ｄは、それぞれ、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄに対応しており、対応する回路配置領域の近傍に設けられている。なお、故障予測装置１Ｂは、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄに対応した複数の温度センサ（図６において図示せず）を更に備えていてもよい。
【００５８】
また、故障予測装置１Ｂは、宇宙線測定器７１Ａ〜７１Ｄ、放射線測定器７２Ａ〜７２Ｄ、及び紫外線測定器７３Ａ〜７３Ｄを有する。宇宙線測定器７１Ａ〜７１Ｄ、放射線測定器７２Ａ〜７２Ｄ、及び紫外線測定器７３Ａ〜７３Ｄは、それぞれ、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄに対応しており、対応する回路配置領域の近傍に設けられている。上記の各種センサ及び測定器は、それぞれ、アナログデジタル変換部１３Ａ〜１３Ｄを介して対応するスコア管理部１４Ａ〜１４Ｄに接続されている。なお、上記の各種センサ及び測定器のうち、デジタル値を出力するものは、アナログデジタル変換部１３Ａ〜１３Ｄを介さずに、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄに直接接続することが可能である。
【００５９】
スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、それぞれ、上記の各種センサ及び各種測定器の出力に基づくスコアを導出する。スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄには、それぞれ、所定期間毎に、上記の各種センサ及び各種測定器による測定値が蓄積される。スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、それぞれ、各時点における、センサ毎及び測定器毎の測定値の大きさに応じて定められるスコアを導出し、メモリ（図示せず）に記録する。
【００６０】
下記の表３は、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄによって導出されるスコアの一例を示したものである。
【表３】
2019200610.tif 000005
【００６１】
スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、それぞれ、宇宙線測定器７１Ａ〜７１Ｄによる測定値が閾値を超えた場合にスコアとして例えば１０を導出し、放射線測定器７２Ａ〜７２Ｄによる測定値が閾値を超えた場合にスコアとして例えば９を導出する。また、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、それぞれ、紫外線測定器７３Ａ〜７３Ｄによる測定値が閾値を超えた場合にスコアとして例えば８を導出し、高度センサ７４Ａ〜７４Ｄによる測定値が閾値を超えた場合にスコアとして例えば６を導出する。また、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、それぞれ、加速度センサ７５Ａ〜７５Ｄによる測定値が閾値を超えた場合にスコアとして例えば５を導出し、風速センサ７６Ａ〜７６Ｄによる測定値が閾値を超えた場合にスコアとして例えば４を導出する。また、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄは、それぞれ、圧力センサ７７Ａ〜７７Ｄによる測定値が閾値を超えた場合にスコアとして例えば３を導出し、湿度センサ７８Ａ〜７８Ｄによる測定値が閾値を超えた場合にスコアとして例えば２を導出する。
【００６２】
スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄによって導出されるスコアは、上記の各種センサ及び各種測定器による測定値が閾値を超えた場合にＦＰＧＡ１０が故障に至るリスクの大きさに応じて定めることが好ましい。表３に示す例では、宇宙線測定器７１Ａ〜７１Ｄによる測定値が閾値を超えた場合、ＦＰＧＡ１０が故障に至るリスクが比較的高いと考えられることから、比較的高いスコア（１０）が導出される。一方、湿度センサ７８Ａ〜７８Ｄによる測定値が閾値を超えた場合、ＦＰＧＡ１０が故障に至るリスクが比較的低いと考えられることから、比較的低いスコア（２）が導出される。
【００６３】
故障予測プログラム３１を実行するプロセッサ１２は、図２に示すフローチャートのステップＳ１において、スコア管理部１４Ａ〜１４Ｄに蓄積された各センサ及び各測定器にの測定値に基づくスコア及びスコア管理部１９Ａ〜１９Ｄに蓄積されたスコアを取得する。
【００６４】
ステップＳ２において、プロセッサ１２は、取得したスコアを、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に集計する。すなわち、プロセッサ１２は、各種センサ及び各種測定器による測定値に基づくスコアを合算する処理を、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄ毎に行う。以降の処理は、第１の実施形態に係る故障予測装置１と同様である。
【００６５】
上記のように、本実施形態に係る故障予測装置１Ｂは、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの各々に対応して設けられた複数種のセンサ（高度センサ７４Ａ〜７４Ｄ、加速度センサ７５Ａ〜７５Ｄ、風速センサ７６Ａ〜７６Ｄ、圧力センサ７７Ａ〜７７Ｄ、及び湿度センサ７８Ａ〜７８Ｄ）及び複数種の測定器（宇宙線測定器７１Ａ〜７１Ｄ、放射線測定器７２Ａ〜７２Ｄ、及び紫外線測定器７３Ａ〜７３Ｄ）を有する。各種センサ及び各種測定器は、対応する回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの近傍に設けられているので、各種センサ及び各種測定器の出力は、それぞれ、対応する回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄに加わるストレスの大きさを示している。故障予測装置１Ｂは、各種センサ及び各種測定器の出力に基づいてスコアを導出し、回路配置領域毎に集計したスコアの集計値に基づいて、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う。故障予測装置１Ｂによれば、互いに異なる種類のストレスが、スコアに反映されるので、回路配置領域１１Ａ〜１１Ｄの各々についての故障の発生の予測をより高い精度で行うことが可能となる。
【００６６】
以上の第１乃至第３の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
【００６７】
（付記１）
プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数のセンサの出力に基づくスコアを取得し、
前記回路配置領域毎の前記スコアに基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする故障予測プログラム。
【００６８】
（付記２）
前記センサの出力の大きさに応じて定められる第１のスコアと、前記センサの出力の所定期間内における変化量に応じて定められる第２のスコアを、前記スコアとして取得する処理をコンピュータに実行させることを特徴とする付記１に記載の故障予測プログラム。
【００６９】
（付記３）
前記複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数の信号パターン生成部から出力される信号パターンに生じたエラーに応じて定められる第３のスコアを更に取得し、
前記回路配置領域毎の、前記第１のスコア、前記第２のスコア及び前記第３のスコアの合算値に基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする付記２に記載の故障予測プログラム。
【００７０】
（付記４）
前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域に構築された前記論理回路を、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値未満である回路配置領域に再構築する
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする付記１から付記３のいずれか１つに記載の故障予測プログラム。
【００７１】
（付記５）
前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域が複数存在する場合、前記複数の回路配置領域の各々について定められた優先度に応じた順序で前記論理回路の再構築を行う
処理をコンピュータに実行させることを特徴とする付記４に記載の故障予測プログラム。
【００７２】
（付記６）
プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な複数の回路配置領域と、
前記複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数のセンサと、
前記複数のセンサの各々の出力に基づくスコアを取得し、前記回路配置領域毎の前記スコアに基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う処理を行う処理部と、
を含む故障予測装置。
【００７３】
（付記７）
前記処理部は、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域に配置された前記論理回路を、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値未満である回路配置領域に再構築する処理を行う
付記６に記載の故障予測装置。
【００７４】
（付記８）
前記センサの各々は、温度センサを含む
付記６または付記７に記載の故障予測装置。
【００７５】
（付記９）
前記センサの各々は、互いに異なる複数種のセンサからなるセンサ群を含む
付記６から付記８のいずれか１つに記載の故障予測装置。
【００７６】
（付記１０）
前記処理部は、前記センサの出力の大きさに応じて定められる第１のスコアと、前記センサの出力の所定期間内における変化量に応じて定められる第２のスコアを、前記スコアとして取得する付記６から付記９のいずれか１つに記載の故障予測装置。
【００７７】
（付記１１）
前記複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数の信号パターン生成部を更に含み、
前記処理部は、前記信号パターン生成部から出力される信号パターンに生じたエラーに応じて定められる第３のスコアを更に取得し、前記回路配置領域毎の、前記第１のスコア、前記第２のスコア及び前記第３のスコアの合算値に基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う
付記１０に記載の故障予測装置。
【００７８】
（付記１２）
前記回路配置領域の各々に対応して設けられ、前記第１のスコア及び前記第２のスコアを導出する第１のスコア導出部と、
前記回路配置領域の各々に対応して設けられ、前記第３のスコアを導出する第２のスコア導出部と、
を更に含む付記１１に記載の故障予測装置。
【００７９】
（付記１３）
前記処理部は、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域に構築された前記論理回路を、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値未満である回路配置領域に再構築する
付記６から付記１２のいずれか１つに記載の故障予測装置。
【００８０】
（付記１４）
前記処理部は、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域が複数存在する場合、前記複数の回路配置領域の各々について定められた優先度に応じた順序で前記論理回路の再構築を行う
付記１３に記載の故障予測装置。
【００８１】
（付記１５）
プログラミングにより構築される論理回路をそれぞれ配置可能な複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数のセンサの出力に基づくスコアを取得し、
前記回路配置領域毎の前記スコアに基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う
処理をコンピュータが実行することを特徴とする故障予測方法。
【００８２】
（付記１６）
前記センサの出力の大きさに応じて定められる第１のスコアと、前記センサの出力の所定期間内における変化量に応じて定められる第２のスコアを、前記スコアとして取得する処理をコンピュータが実行する特徴とする付記１５に記載の故障予測方法。
【００８３】
（付記１７）
前記複数の回路配置領域の各々に対応付けられた複数の信号パターン生成部から出力される信号パターンに生じたエラーに応じて定められる第３のスコアを更に取得し、
前記回路配置領域毎の、前記第１のスコア、前記第２のスコア及び前記第３のスコアの合算値に基づいて、前記複数の回路配置領域の各々について、故障発生の可能性に関する判定を行う
処理をコンピュータが実行することを特徴とする付記１６に記載の故障予測方法。
【００８４】
（付記１８）
前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域に構築された前記論理回路を、前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値未満である回路配置領域に再構築する
処理をコンピュータが実行することを特徴とする付記１５から付記１７のいずれか１つに記載の故障予測方法。
【００８５】
（付記１９）
前記複数の回路配置領域のうち前記スコアが閾値を超える回路配置領域が複数存在する場合、前記複数の回路配置領域の各々について定められた優先度に応じた順序で前記論理回路の再構築を行う
処理をコンピュータが実行することを特徴とする付記１８に記載の故障予測方法。
【符号の説明】
【００８６】
１、１Ａ、１Ｂ  故障予測装置
１０  ＦＰＧＡ
１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ、１１Ｄ  回路配置領域
１２  プロセッサ
１３Ａ、１３Ｂ、１３Ｃ、１３Ｄ  アナログデジタル変換部
１４Ａ、１４Ｂ、１４Ｃ、１４Ｄ  スコア管理部
１５  ＳＲＡＭ
１６  回路構築制御部
１７Ａ、１７Ｂ、１７Ｃ、１７Ｄ  信号パターン生成部
１８Ａ、１８Ｂ、１８Ｃ、１８Ｄ  チェック部
１９Ａ、１９Ｂ、１９Ｃ、１９Ｄ  スコア管理部
２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０Ｄ  温度センサ
３０  フラッシュメモリ
３１  故障予測プログラム
３２  回路データ
４０  論理回路
５０  画像処理装置
７１Ａ、７１Ｂ、７１Ｃ、７１Ｄ  宇宙線測定器
７２Ａ、７２Ｂ、７２Ｃ、７２Ｄ  放射線測定器
７３Ａ、７３Ｂ、７３Ｃ、７３Ｄ  紫外線測定器
７４Ａ、７４Ｂ、７４Ｃ、７４Ｄ  高度センサ
７５Ａ、７５Ｂ、７５Ｃ、７５Ｄ  加速度センサ
７７Ａ、７７Ｂ、７７Ｃ、７７Ｄ  圧力センサ
７８Ａ、７８Ｂ、７８Ｃ、７８Ｄ  湿度センサ
【図１】
2019200610.tif 000006
【図２】
2019200610.tif 000007
【図３】
2019200610.tif 000008
【図４】
2019200610.tif 000009
【図５】
2019200610.tif 000010
【図６】
2019200610.tif 000011