(57)【要約】【課題】従来は、測定中の化合物からリアルタイムで同定対象の化合物を分析することができなかった。【解決手段】質量分析データ処理装置４が備えるクロマトグラム作成部１３は、予め設定された同定条件の時間幅にて、質量分析によって得られたデータに基づいて、整数質量の各質量電荷比に対応するクロマトグラムを作成する。同定部１４は、この同定条件に基づいて、クロマトグラムから求められる実測された試料成分が同定対象の化合物であることを同定するための同定処理を行う。画像データ作成部１５は、同定処理による同定結果を表示するための画像データを作成する。表示部１７は、画像データに基づいて同定結果を表示する。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
クロマトグラフによって保持時間に応じて分離した試料成分を順次質量分析して得られたデータに基づいて、前記試料成分の同定を行うための質量分析データ処理装置であって、
予め設定された同定条件の時間幅にて、前記質量分析によって得られたデータから整数質量の各質量電荷比に対応するクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部と、
前記同定条件に基づいて、前記クロマトグラムから求められる実測された試料成分が同定対象の化合物であることを同定するための同定処理を行う同定部と、
前記同定処理による同定結果を表示するための画像データを作成する画像データ作成部と、
前記画像データに基づいて前記同定結果を表示する表示部と、を備える
質量分析データ処理装置。
【請求項２】
前記画像データ作成部により作成される画像データは、前記同定対象の化合物に対応する前記保持時間を中心とした所定時間幅の領域に前記クロマトグラムのピークから抽出したスペクトルのピークを表示する化合物ピーク出現予測領域を前記同定対象の化合物毎に含む検出結果表示画面を前記表示部に表示するものである
請求項１に記載の質量分析データ処理装置。
【請求項３】
前記画像データ作成部により作成される画像データは、前記同定部により前記同定対象の化合物が同定された場合に、前記同定対象の化合物が同定されたことを示す情報を表示する検出結果表示領域を含む前記検出結果表示画面を前記表示部に表示するものである
請求項２に記載の質量分析データ処理装置。
【請求項４】
前記同定処理は、定量条件として前記同定対象の化合物毎に設定された前記保持時間の最も近くで検出した前記クロマトグラムのピークの前記保持時間と、前記定量条件として設定された前記保持時間との差分が、前記定量条件として設定された保持時間許容誤差を満たす場合に、前記試料成分を前記同定対象の化合物と同定する処理である
請求項３に記載の質量分析データ処理装置。
【請求項５】
前記同定処理は、前記クロマトグラムのピークから抽出したスペクトルに基づいて、定量条件として前記同定対象の化合物毎に設定された定量イオンの強度、及び参照イオンの強度を取得し、前記定量イオンの強度に対する前記参照イオンの強度の比が、予め求めた誤差率の範囲に収まっている場合に、前記試料成分を前記同定対象の化合物と同定する処理である
請求項３又は４に記載の質量分析データ処理装置。
【請求項６】
前記同定処理は、前記クロマトグラムのピークから抽出したスペクトルに基づいてライブラリをサーチしたサーチ結果と、前記クロマトグラムのピークから抽出したスペクトルとの類似度に基づいて、前記試料成分に前記同定対象の化合物が含まれていると同定する処理である
請求項３〜５のいずれか一項に記載の質量分析データ処理装置。
【請求項７】
前記同定部は、前記クロマトグラフにより前記試料成分が質量分析されるタイミングに合わせて、リアルタイムで前記同定処理を行う、又は、前記クロマトグラフにより前記試料成分が質量分析された後、前記同定処理を行う
請求項４〜６のいずれか一項に記載の質量分析データ処理装置。
【請求項８】
クロマトグラフによって保持時間に応じて分離した試料成分を順次質量分析して得られたデータに基づいて、前記試料成分の同定を行うための質量分析データ処理方法であって、
予め設定された同定条件の時間幅にて、前記質量分析によって得られたデータから整数質量の各質量電荷比に対応するクロマトグラムを作成するステップと、
前記同定条件に基づいて、前記クロマトグラムから求められる実測された試料成分が同定対象の化合物であることを同定するための同定処理を行うステップと、
前記同定処理による同定結果を表示するための画像データを作成するステップと、
前記画像データに基づいて前記同定結果を表示部に表示するステップと、を含む
質量分析データ処理方法。 
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、クロマトグラフで分離した試料成分を順次に質量分析して得た質量分析データを処理する質量分析データ処理装置、及び質量分析データ処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
クロマトグラフ質量分析は、クロマトグラフィー法を用いて時間的に分離した成分を順次にイオン化し、さらに質量分析器によってイオンを質量電荷比［ｍ／ｚ］に応じて分離して検出器で検出する分析方法であり、既知の成分の定量分析、及び未知の成分の定性分析が可能である。このような分析を行う質量分析装置は、経過時間（保持時間）に伴ってクロマトグラフが検出した各成分のマススペクトル（質量スペクトル）をデータ処理するためのデータ処理装置を備えている。
【０００３】
このデータ処理装置は、例えば定性分析であれば、未知の成分のイオンの総量にあたる信号強度を保持時間に伴ってプロットした全イオン電流クロマトグラム（Total Ion Current Chromatogram:以下、ＴＩＣＣと記す）を作成する。そして、ＴＩＣＣ上のピークサーチによって得たクロマトグラムのピーク位置におけるマススペクトルを抽出し、このマススペクトルをライブラリと比較することによって、クロマトグラムのピークの試料成分を同定する。
【０００４】
一方、定量分析であれば、データ処理装置は、既知の成分のイオンの信号強度を保持時間に伴ってプロットしたクロマトグラムを作成し、このクロマトグラムから求めた化合物ピーク面積と検量線から濃度を算出し、既知の成分を定量する。
【０００５】
特許文献１には、同定対象であるターゲットイオンが出現していないときにはその同定イオンの検出自体を実行しないことにより、ターゲットイオンや必要な同定イオンのモニタ時間を従来よりも長く確保する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−１８９２７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、従来の質量分析装置が持つ、同定対象の化合物のピーク位置を表示部上に表示する機能だけでは、同定対象の化合物が検出されたか否かを直ちに判定することができなかった。このため、従来の質量分析装置が持つ機能を用いた場合、質量分析装置とは別の定性分析ソフトを起動し、検出された試料成分を確認する作業を行う必要があり、オペレーターに負担がかかっていた。
【０００８】
また、従来の質量分析装置が持つ、クロマトグラムのピークが検出されるたびにリアルタイムにＮＩＳＴ（National Institute of Standards and Technology）ライブラリとの照合を行う機能では、分析後の結果は表示部上に残らなかったので、簡易に分析結果を得ることができなかった。
【０００９】
また、特許文献１に開示された技術では、ターゲットイオン（定量イオン）が検出されなければ、同定イオン（参照イオン）の検出が行われない。このため、ターゲットイオン（定量イオン）と同定イオン（参照イオン）を同時に検出することができず、同定対象の化合物を同定するまで時間がかかっていた。
【００１０】
本発明はこのような状況に鑑みて成されたものであり、試料成分の分析結果を速やかに得られるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る質量分析データ処理装置は、クロマトグラフによって保持時間に応じて分離した試料成分を順次質量分析して得られたデータに基づいて、試料成分の同定を行うための質量分析データ処理装置であって、予め設定された同定条件の時間幅にて、質量分析によって得られたデータから整数質量の各質量電荷比に対応するクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部と、同定条件に基づいて、クロマトグラムから求められるクロマトグラフにより実測された試料成分が同定対象の化合物であることを同定するための同定処理を行う同定部と、同定処理による同定結果を表示するための画像データを作成する画像データ作成部と、画像データに基づいて同定結果を表示する表示部と、を備える。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、クロマトグラムに基づいて試料成分が同定対象の化合物と同定されると、同定結果が表示部に表示されるため、例えば、オペレーターは、目的とする同定対象の化合物が同定されたか否かを速やかに把握することができる。
上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施の形態の説明により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る質量分析装置の概略を示す構成図である。
【図２】質量分析データ処理装置が処理するデータの構成例を示す説明図である。
【図３】マススペクトルの一例を示す説明図である。
【図４】クロマトグラムのピークからスペクトルを抽出する方法の例を示す説明図である。図４Ａは、ＴＩＣＣ上で検出されたピークの例を示し、図４Ｂは、図４Ａの中央位置Ｂ（ピークトップ位置）のスペクトルの例を示す説明図である。
【図５】クロマトグラムのピークからスペクトルを抽出する方法の例を示す説明図である。図５Ｃは、図４Ａの裾位置Ａ（ピークの裾の左側の位置）のスペクトルの例を示し、図５Ｄは、図４Ａの裾位置Ｃ（ピークの裾の右側の位置）のスペクトルの例を示し、図５Ｅは、図４ＡのＴＩＣＣのピークから抽出したマススペクトルの例を示す説明図である。
【図６】本発明の第１の実施形態に係る質量分析装置で用いられる定量条件設定ファイルの内容を示す説明図である。図６Ａは、化合物情報の例を示し、図６Ｂは、ピーク検出条件の例を示し、図６Ｃは、化合物同定条件の例を示す説明図である。
【図７】本発明の第１の実施形態に係る検出結果表示画面の表示例を示す説明図である。
【図８】本発明の第１の実施形態に係る質量分析装置のメイン処理の例を示すフローチャート（その１）である。
【図９】本発明の第１の実施形態に係る質量分析装置のメイン処理の例を示すフローチャート（その２）である。
【図１０】本発明の第１の実施形態に係る定量条件の保持時間［ＲＴ］に基づいて目的化合物を同定する第１同定処理の例を示すフローチャートである。
【図１１】本発明の第２の実施形態に係る質量分析装置のメイン処理の例を示すフローチャートである。
【図１２】本発明の第２の実施形態に係るＩ／Ｑ比誤差率に基づいて目的化合物を同定する第２同定処理の例を示すフローチャートである。
【図１３】本発明の第３の実施形態に係る質量分析装置のメイン処理の例を示すフローチャートである。
【図１４】本発明の第３の実施形態に係るライブラリサーチ結果として示されるスペクトル類似度に基づいて目的化合物を同定する第３同定処理の例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明を実施するための形態例について、添付図面を参照して説明する。本明細書及び図面において、実質的に同一の機能又は構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複する説明を省略する。
【００１５】
［第１の実施の形態］
＜質量分析装置＞
図１は、第１の実施の形態の質量分析装置の概略を示す構成図である。図１に示す第１の実施の形態に係る質量分析装置１は、クロマトグラフで分離した試料成分を順次に質量分析するものであって、試料分離部１０１及び質量分析部１０２と共に、第１の実施の形態の質量分析データ処理装置１ａを備えている。以下、これらの構成要素の詳細を説明する。
【００１６】
＜試料分離部＞
試料分離部１０１は、分析対象となる混合物試料を成分毎に分離するクロマトグラフの一例である。この試料分離部１０１は、分析対象となる混合物試料を導入するための試料導入部１０１ａと、試料導入部１０１ａから導入された試料を成分毎に分離するためのカラム１０１ｂとを備えている。カラム１０１ｂは、試料導入部１０１ａから導入された試料を通過させる固定相が充填されたものである。固定相を通過する速度に応じて時間的に分離された成分は、各成分に固有の保持時間［ＲＴ：Retention Time］で質量分析部１０２に供給される。
【００１７】
試料分離部１０１として、例えば、ガスクロマトグラフが用いられるが、これに限定されることはなく液体クロマトグラフや他のクロマトグラフであってもよい。
【００１８】
＜質量分析部＞
質量分析部１０２は、試料分離部１０１で分離され、時間差を持って供給される各成分を順次にイオン化し、イオン化した各成分のイオンをさらに質量電荷比［ｍ／ｚ］に応じて分離して検出する。このような質量分析部１０２は、イオン化部１０２ａと質量分離部１０２ｂと検出器１０２ｃとを備えている。
【００１９】
イオン化部１０２ａは、試料分離部１０１から供給された成分を、順次にイオン化する。このイオン化部１０２ａでは、試料分離部１０１から供給された成分の分子イオンと、分子イオンが開裂した複数のフラグメントイオンとが生成される。
【００２０】
質量分離部１０２ｂは、イオン化部１０２ａから供給された各イオンを質量電荷比［ｍ／ｚ］毎に分離し、特定の質量電荷比［ｍ／ｚ］のイオンのみを通過させ検出器１０２ｃに到達させる。この質量分離部１０２ｂにおいては、検出器１０２ｃに到達させるイオンの質量電荷比［ｍ／ｚ］をスキャンさせることにより、各イオンを質量電荷比［ｍ／ｚ］毎に順次に検出器１０２ｃに到達させる処理が一定時間ごとに繰り返し行われる。このような質量分離部１０２ｂは、イオン化部１０２ａとの組み合わせによって適宜の方式のものが用いられる。
【００２１】
検出器１０２ｃは、質量分離部１０２ｂにおいて質量電荷比［ｍ／ｚ］に応じて分離されたイオンの信号強度［Ｉ］を検出する。そして、検出器１０２ｃは、得られた信号強度［Ｉ］を質量電荷比［ｍ／ｚ］のスキャンに対応させて取り出すことにより、マススペクトル信号を各スキャン毎に得る。検出器１０２ｃが得たマススペクトル信号は、質量分析データ処理装置１ａに供給される。
【００２２】
＜質量分析データ処理装置＞
質量分析データ処理装置１ａは、試料分離部１０１によって保持時間に応じて分離した試料成分を順次質量分析して得られたデータに基づいて、試料成分の同定を行う。このため、質量分析データ処理装置１ａは、検出器１０２ｃで検出されたマススペクトル信号を保持時間［ＲＴ］に関連付けたデータを記憶部１１に記憶し、このデータに基づいて、分析対象となる試料の定性分析を実施する。
【００２３】
このような質量分析データ処理装置１ａは、入出力制御部１０、記憶部１１、マススペクトル抽出部１２、クロマトグラム作成部１３、同定部１４、画像データ作成部１５、操作部１６、及び表示部１７を備えている。
【００２４】
入出力制御部１０は、予め設定されたプログラム、及びオペレーターによる操作部１６からの操作にしたがって、他の各部における動作のタイミングを制御し、これによって質量分析データ処理を実行する。この入出力制御部１０は、質量分析データ処理装置１ａを構成する他の各部と、質量分析部１０２の検出器１０２ｃとに接続されている。
【００２５】
上述したように記憶部１１には、検出器１０２ｃで検出されたマススペクトル信号を保持時間［ＲＴ］に関連付けたデータが記憶される。
【００２６】
図２は、質量分析データ処理装置に記憶されるデータの構成例を示す説明図である。図２に示すように、入出力制御部１０には、前述した繰り返しスキャン毎に検出器１０２ｃで検出されたマススペクトル信号が、保持時間［ＲＴ］にしたがって順に入力される。そして、記憶部１１には、以降に説明するクロマトグラム作成部１３で作成された質量電荷比［ｍ／ｚ］毎のクロマトグラムが記憶される。ここで、図２に破線で示すように、保持時間［ＲＴ］に対する特定質量電荷比のイオンの信号強度［Ｉ］のグラフをマスクロマトグラムと呼ぶ。
【００２７】
クロマトグラムは、保持時間［ＲＴ］に対して設定された保持時間範囲［Ｔｗ］中の所定の抽出時間位置［ｔｐ］にピークを有する。そして、抽出時間位置［ｔｐ］の周辺にノイズ抽出時間位置［ｔｎ］が設定される。ノイズ抽出時間位置［ｔｎ］は、抽出時間位置［ｔｐ］のピーク高さからノイズ高さを差し引くために設定される。例えば、ノイズ抽出時間位置［ｔｎ］は、抽出時間位置［ｔｐ］にピークトップを有するピークの裾付近、すなわちベースラインの端部に設定される。ただし、ノイズ抽出時間位置［ｔｎ］は、ベースラインの端部に限定されることはなく、質量分析装置１のオペレーターによって様々な位置が選択可能である。
【００２８】
さらに、記憶部１１には、既知の物質のマススペクトルを化合物名及び構造式と紐づけたデータが、ライブラリとして格納されている。図３は、マススペクトルの一例を示す図である。このデータは、ＮＩＳＴライブラリに格納されているデータと同じものとしてよい。
【００２９】
マススペクトル抽出部１２は、記憶部１１に記憶されているデータに基づいて、検出器１０２ｃで検出された信号強度［Ｉ］を保持時間［ＲＴ］毎に積算した全イオン電流クロマトグラムを作成する（図２参照）。
【００３０】
そして、マススペクトル抽出部１２は、ＴＩＣＣを作成すると、このＴＩＣＣに基づいて、通常の自動ピーク検出（いわゆるピークサーチ）プログラムに従って、ＴＩＣＣに基づく一連のスペクトル抽出を実施する。このような自動ピーク検出においては、信号強度［Ｉ］のノイズ成分除去も自動的に実施される。ノイズ成分除去は、典型的には、ＴＩＣＣ上の各ピーク位置に出現している各質量電荷比［ｍ／ｚ］のピークトップの信号強度［Ｉ］から、ピークトップの左右の裾位置の信号強度［Ｉ］を平均化した値をバックグラウンドとして差し引くことによって実施される。ノイズ成分除去の具体的な例は、後述する図４と図５にて説明する。マススペクトル抽出部１２は、このような自動ピーク検出によって、ＴＩＣＣ上の各ピークに該当する保持時間［ＲＴ］毎のマススペクトルを抽出する。
【００３１】
また、クロマトグラム作成部１３は、例えば操作部１６からの入力によって設定された所定の保持時間範囲［Ｔｗ］にて、記憶部１１に記憶されたデータに基づいて、整数質量の各質量電荷比［ｍ／ｚ］に対応するクロマトグラムを作成する（図２参照）。なお、図２においては、説明のために４箇所の質量電荷比［ｍ／ｚ］に対応する４つのクロマトグラムのみを破線で示した。
【００３２】
同定部１４は、予め設定された同定条件に基づいて、クロマトグラムから求められる実測された試料成分が同定対象の化合物であることを同定するための同定処理を行う。本実施の形態に係る同定部１４は、後述する複数の同定処理（第１〜第３同定処理）を併用して試料成分を同定することが可能である。そして、同定部１４は、試料分離部１０１により試料成分が質量分析されるタイミングに合わせて、リアルタイムに同定処理を行う。また、同定部１４は、試料分離部１０１により試料成分が質量分析された後、質量分析とは異なるタイミングで同定処理を行うことも可能である。
【００３３】
画像データ作成部１５は、マススペクトル抽出部１２、クロマトグラム作成部１３で作成された各データ、同定部１４での同定結果を表示部１７に表示するための画像データを作成する。画像データの詳細は、以降の質量分析データ処理方法において説明する。
【００３４】
操作部１６は、質量分析データ処理装置１ａにおいて実行するデータ処理に関する各種設定を入力する。データ処理に関する各種設定とは、例えばクロマトグラム作成部１３においてクロマトグラムを作成する保持時間範囲［Ｔｗ］の設定等である。この操作部１６は、例えばキーボード、マウス、又は表示部１７と一体形成されたタッチパネル式の操作部であってもよい。
【００３５】
表示部１７は、画像データ作成部１５で作成された画像データに基づいて画像を表示する。表示部１７に表示される画像として、例えば、後述する図７に示す検出結果表示画面２０がある。
【００３６】
＜マススペクトル抽出方法＞
本実施の形態においてクロマトグラムのピークからマススペクトルを抽出する方法は問わないが、以下に抽出方法の一例を説明する。
図４と図５は、クロマトグラムのピークからマススペクトルを抽出する方法の例を示す説明図である。
【００３７】
図４Ａは、ＴＩＣＣ上で検出されたピークの例を示す説明図である。図４Ａの横軸は保持時間［ＲＴ］であり、縦軸は信号強度［Ｉ］である。ＴＩＣＣで検出されたピークは、例えば、図４Ａに示すように表示される。ここで、保持時間［ＲＴ］が「１１．２」であるピークの中央を中央位置Ｂと呼び、中央位置Ｂの左側の裾位置を裾位置Ａと呼び、中央位置Ｂの右側の裾位置を裾位置Ｃと呼ぶ。
【００３８】
試料分離部１０１及び質量分析部１０２の内部においては、試料以外の成分（質量分析装置１が置かれている部屋の空気成分、ゴムパッキンの成分、水分の成分）等がイオン化部１０２ａに到達する場合がある。これらの成分がイオン化部１０２ａにてイオン化されるとバックグラウンドイオンとしてピークが検出されてしまう。このため、クロマトグラムのピークからマススペクトルから抽出する際には、バックグラウンドイオンの影響を除く必要がある。
【００３９】
図４Ｂは、図４Ａの中央位置Ｂ（ピークトップ位置）のマススペクトルの例を示す説明図である。
図５Ｃは、図４Ａの裾位置Ａ（ピークの裾の左側の位置）のマススペクトルの例を示す説明図である。
図５Ｄは、図４Ａの裾位置Ｃ（ピークの裾の右側の位置）のマススペクトルの例を示す説明図である。
図５Ｅは、図４ＡのＴＩＣＣのピークから抽出したマススペクトルの例を示す説明図である。図４Ｂ〜図５Ｅの横軸は質量電荷比［ｍ／ｚ］であり、縦軸は信号強度［Ｉ］である。
【００４０】
図４Ｂには、質量電荷比［ｍ／ｚ］が最も大きい「１２９」のピークをベースピークとし、このベースピークの信号強度［Ｉ］を１００％とした場合の、他の質量電荷比［ｍ／ｚ］における相対的な信号強度［Ｉ］が示されている。同様に、図５Ｃと図５Ｄにおいても、それぞれ質量電荷比［ｍ／ｚ］が最も大きい「５７」の信号強度［Ｉ］を１００％とした場合の、他の質量電荷比［ｍ／ｚ］における相対的な信号強度［Ｉ］が示されている。
【００４１】
ここで、マススペクトル抽出部１２は、クロマトグラム上で検出されたピークのトップ位置のマススペクトルから、左右のピークの裾位置のマススペクトルを平均化（ｍ／ｚ毎の強度を平均化）したものをバックグラウンドとして減算する。このとき、次式（１）が用いられる。
【００４２】
Ｂ−（Ａ＋Ｃ）／２    …式（１）
【００４３】
具体的には、マススペクトル抽出部１２により、図４Ｂのマススペクトルから、図５Ｃと図５Ｄのマススペクトルの平均を減じる処理が行われる。これにより、図５Ｅに示すように、例えば、質量電荷比［ｍ／ｚ］が「５７」のマススペクトルのバックグラウンドがなくなる。このようにしてクロマトグラムのピークからマススペクトルを抽出することができる。
【００４４】
図６は、質量分析装置１で用いられる定量条件設定ファイルの内容を示す説明図である。定量条件設定ファイルは、記憶部１１に記憶されており、ユーザが操作する操作部１６により項目が追加されたり、情報が編集されたりする。そして、同定部１４は、記憶部１１から読み出した定量条件設定ファイルに基づいて、定量条件設定ファイルに設定された定量条件に該当する化合物（「目的化合物」とも呼ぶ）を、同定対象の化合物として同定する。
【００４５】
図６Ａは、化合物情報の例を示す説明図である。化合物情報は、化合物名、ＲＴ、定量イオン、参照イオン、Ｉ／Ｑ比、ライブラリ名、スペクトルＩＤの各フィールドにより構成される。化合物毎にこれらのパラメータが設定可能である。
【００４６】
化合物名フィールドには、目的化合物の名称が格納される。図６Ａでは、例えば、クロロフォルムとベンゼンの化合物に関する情報が格納されている。
ＲＴフィールドには、目的化合物の保持時間［ＲＴ］が分単位で格納される。
定量イオンフィールドには、目的化合物の定量イオンの質量電荷比［ｍ／ｚ］が格納される。
参照イオンフィールドには、目的化合物の参照イオンの質量電荷比［ｍ／ｚ］が格納される。なお、一つの定量イオンの質量電荷比［ｍ／ｚ］に対して、複数の参照イオンの質量電荷比［ｍ／ｚ］が格納されてもよい。
【００４７】
Ｉ／Ｑ比フィールドには、定量イオンと参照イオンとの強度比が設定される。Ｉ／Ｑ比とは、次式（２）に示すように定量イオンの強度に対する参照イオンの強度の比を表す。
【００４８】
Ｉ／Ｑ比＝（参照イオンの強度）／（定量イオンの強度）    …式（２）
【００４９】
式（２）において、一つのマススペクトルのうち、最も高い強度のイオンが定量イオンとされる。複数の参照イオンが存在する場合、複数のＩ／Ｑ比が設定される。Ｉ／Ｑ比はいずれも１より小さい値となる。
【００５０】
ライブラリ名フィールドには、目的化合物のマススペクトルが登録されているライブラリのライブラリ名が設定される。ＮＩＳＴライブラリを用いる場合、ＮＩＳＴのライブラリ名が設定される。同定部１４は、ライブラリ名フィールドに設定されたライブラリを検索する。
【００５１】
スペクトルＩＤフィールドには、ライブラリ内における目的化合物のマススペクトルのユニークＩＤが設定される。ＮＩＳＴライブラリを用いる場合、ＮＩＳＴＩＤが設定される。ただし、マススペクトルを一意に決めることができれば、ライブラリ名フィールドを設定せず、スペクトルＩＤフィールドにＣＡＳ登録番号を設定してもよい。
【００５２】
図６Ｂは、ピーク検出条件の例を示す説明図である。ピーク検出条件は、化合物名、ピーク検出時間幅の各フィールドにより構成される。化合物毎にこれらのパラメータが設定可能である。
【００５３】
化合物名フィールドには、ピークの検出対象となる目的化合物の名称が格納される。
ピーク検出時間幅フィールドには、ピーク検出範囲の時間幅（上述した保持時間範囲［Ｔｗ］）が分単位で設定される。ピーク検出時間はＲＴ±（ピーク検出範囲時間幅÷２）で表される。例えば、ＲＴ＝３分，ピーク検出範囲時間幅＝０．５分（３０秒）であれば、ピーク検出時間範囲は２分４５秒〜３分１５秒の間となる。
【００５４】
図６Ｃは、化合物同定条件の例を示す説明図である。化合物同定条件は、化合物名、ＲＴ許容誤差、Ｉ／Ｑ比許容誤差、スペクトル類似度閾値の各フィールドにより構成される。
【００５５】
化合物名フィールドには、同定対象となる目的化合物の名称が格納される。
ＲＴ許容誤差フィールドには、マススペクトル抽出部１２がクロマトグラムから検出したピークのトップ位置（ピークの左端から右端の間で最も強度が大きい位置）の保持時間［ＲＴ］と、定量条件に設定されている保持時間［ＲＴ］の差の許容範囲がＲＴ許容誤差として分単位の時間で設定される。例えば、ＲＴ許容誤差が０．０８３分（５秒）で表される。同定部１４は、ピークのトップ位置の保持時間［ＲＴ］がＲＴ許容誤差に入っている場合、目的化合物を検出と判定する。一方、同定部１４は、ピークのトップ位置の保持時間［ＲＴ］がＲＴ許容誤差に入っていない場合、目的化合物を不検出と判定する。
【００５６】
Ｉ／Ｑ比許容誤差フィールドには、マススペクトル抽出部１２がクロマトグラムのピークから抽出したマススペクトルにおけるＩ／Ｑ比許容誤差が百分率で設定される。Ｉ／Ｑ比許容誤差とは、実測されたＩ／Ｑ比（実測Ｉ／Ｑ比）と、定量条件設定ファイルの化合物情報に設定されているＩ／Ｑ比（設定Ｉ／Ｑ比）との誤差を次式（２）にて求めた値である。ここで、設定Ｉ／Ｑ比に対する実測Ｉ／Ｑ比から設定Ｉ／Ｑ比を減じた値は、次式（３）でＩ／Ｑ比誤差率（％）として計算される。そして、同定部１４は、Ｉ／Ｑ比誤差率が許容誤差の範囲に収まっているかどうかで目的化合物を検出したか否かを判定する。
【００５７】
Ｉ／Ｑ比誤差率（％）＝｜実測Ｉ／Ｑ比−設定Ｉ／Ｑ比｜÷（設定Ｉ／Ｑ比）×１００    …式（３）
【００５８】
例えば、実測Ｉ／Ｑ比が「０．６」、設定Ｉ／Ｑ比が「０．５」であれば、Ｉ／Ｑ比誤差率は、｜０．６−０．５｜÷０．５×１００＝２０％と表される。そして、同定部１４は、式（３）にて求めたＩ／Ｑ比誤差率が、化合物同定条件のＩ／Ｑ比許容誤差の範囲に収まっている場合、目的化合物を検出と判定する。一方、同定部１４は、式（３）にて求めたＩ／Ｑ比誤差率が、Ｉ／Ｑ比許容誤差に範囲収まっていない場合、目的化合物を不検出と判定する。
【００５９】
スペクトル類似度閾値フィールドには、実測したマススペクトルと、ライブラリサーチでヒットする化合物のマススペクトルとを比較して求めたスペクトル類似度の閾値（スペクトル類似度閾値と呼ぶ）が設定される。スペクトル類似度のスコアは、例えば、０．０００〜１．０００とするが、０〜９９９としても良い。スペクトル類似度は、例えば、質量電荷比［ｍ／ｚ］と、マススペクトルの強度とが完全一致した場合に、最も高い値（１．０００）となる。同定部１４は、マススペクトル抽出部１２が抽出したマススペクトルにより、例えば、ＮＩＳＴのスペクトルライブラリに登録されているマススペクトルをパターンサーチし、スペクトル類似度がスペクトル類似度閾値以上であるマススペクトルの化合物を検索する。パターンサーチは、試料成分に目的化合物が含まれているかを検出するため、又は試料成分に含まれている化合物が何であるかを検出するために用いられる。
【００６０】
そして、同定部１４は、ライブラリサーチでヒットした化合物の中で最もスペクトル類類似度が高い化合物が、定量条件設定ファイルに設定されている化合物と一致する場合、目的化合物を検出と判定する。ただし、スペクトル類似度閾値以上である複数のマススペクトルの中に、定量条件設定ファイルに設定されている化合物が含まれていれば、最もスペクトル類類似度が高い化合物でなくても、試料成分に目的化合物が含まれていると判定してもよい。そして、同定部１４は、スペクトル類類似度がスペクトル類似度閾値未満であれば、試料成分に目的化合物が含まれないと判定する。
【００６１】
また、本来、試料成分に含まれるはずがない化合物のマススペクトルが、最もスペクトル類類似度が高いマススペクトルとして検出された場合には、このような化合物について不検出と判定してもよい。また、同定部１４は、スペクトル類似度閾値を用いたライブラリサーチで化合物がヒットしても、ヒットした化合物の中に定量条件設定ファイルに設定された化合物が含まれていなければ、目的化合物を不検出と判定してもよい。
【００６２】
また、同定部１４は、ライブラリサーチにおいて実測したマススペクトルのパターンサーチを使用しなくてもよい。例えば、同定部１４は、スペクトルライブラリのライブラリ名と、スペクトルＩＤで特定されるライブラリのスペクトルに対する、マススペクトル抽出部１２により抽出されたマススペクトルとのスペクトル類類似度がスペクトル類似度閾値未満の場合は目的化合物を不検出と判定してもよい。
【００６３】
このように同定部１４は、化合物同定条件として示されるＲＴ許容誤差、Ｉ／Ｑ比許容誤差、スペクトル類似度閾値の３つの条件を満たせば、目的化合物を検出と判定する。しかし、３つの条件から選択した１つ又は２つの条件のみで判定を行ってもよい。以下に説明するように、第１の実施の形態に係る同定部１４は、ＲＴ許容誤差を判定する。第２の実施の形態に係る同定部１４は、ＲＴ許容誤差及びＩ／Ｑ比許容誤差を判定する。第３の実施の形態に係る同定部１４は、ＲＴ許容誤差、Ｉ／Ｑ比許容誤差、及びスペクトル類似度閾値を判定する。
【００６４】
なお、実際に同定部１４がマススペクトルのピークを検出するために用いるピーク検出用のパラメータ、同定部１４がライブラリサーチを行うために用いるライブラリサーチ用のパラメータには、詳細な情報が必要となる。しかし、本発明は、ピーク検出の手法、及びライブラリサーチの手法に関するものではないので、本実施の形態では、本発明を実現するために必要な最低限のパラメータのみを列挙するに留めた。
【００６５】
図７は、検出結果表示画面２０の表示例を示す説明図である。検出結果表示画面２０は、同定部１４による同定処理の同定結果を表示部１７に表示する。
【００６６】
検出結果表示画面２０は、検出結果として表示部１７上に表示可能なＴＩＣＣ表示領域２１、化合物ピーク出現予測領域２２、リスト表示領域２３を備える。ＴＩＣＣ表示領域２１、化合物ピーク出現予測領域２２、リスト表示領域２３は、いずれも画像データ作成部１５により作成される画像データに基づいて、表示部１７に表示される。
【００６７】
検出結果表示画面２０は、質量分析データ処理装置１ａがデータを分析すると同時に、リアルタイムに表示部１７に表示される。マススペクトル抽出部１２は、記憶部１１に格納されている定量条件設定ファイルから読み出した保持時間［ＲＴ］に基づいて、クロマトグラムから検出した目的化合物のピーク付近のマススペクトルを抽出する。
【００６８】
ＴＩＣＣ表示領域２１には、マススペクトル抽出部１２により、信号強度［Ｉ］を保持時間［ＲＴ］毎に積算したＴＩＣＣが表示される。
【００６９】
化合物ピーク出現予測領域２２には、目的化合物に対応する保持時間［ＲＴ］を中心とした所定時間幅の領域にクロマトグラムのピークから抽出したマススペクトルのピークを表示する。マススペクトルのピークは、目的化合物毎に異なる。このため、検出結果表示画面２０には同定対象とする目的化合物毎に複数の化合物ピーク出現予測領域２２が表示される。
【００７０】
上述したように定量条件設定ファイルには、目的化合物に対してそれぞれ保持時間［ＲＴ］が設定されている。例えば、図７では、ＤＩＢＰ（フタル酸ジイソブチル）、ＤＢＰ（フタル酸ジブチル）、ＢＢＰ（フタル酸ブチルベンジル）、ＤＥＨＰ（フタル酸ビス（２−エチルヘキシル））に対応する４つの化合物ピーク出現予測領域２２が、各化合物の保持時間［ＲＴ］と共にまとめて表示される。化合物ピーク出現予測領域２２の時間幅は、例えば、保持時間［ＲＴ］を中心とする前後１５秒間、すなわち３０秒間である。ここでは、ＤＩＢＰの化合物ピーク出現予測領域２２にピークを持つマススペクトルが表示された例が示される。なお、各化合物の化合物ピーク出現予測領域２２は、測定開始からの経過時間が、各目的化合物の保持時間［ＲＴ］に達した順に表示されてもよい。
【００７１】
同定部１４は、化合物ピーク出現予測領域２２にてピークを含むマススペクトルが表示された場合に、定量条件設定ファイルから読み出した定量条件に従い、このマススペクトルについてさらにライブラリサーチを行う。このとき、同定部１４は、ＲＴ許容誤差、Ｉ／Ｑ比許容誤差、スペクトル類似度閾値のいずれかの条件により、目的化合物を定性する。
【００７２】
そして、同定部１４での同定結果は、検出結果表示領域の一例であるリスト表示領域２３に○又は×の記号で表示される。リスト表示領域２３には、同定部１４により同定対象の化合物が同定された場合に、同定対象の化合物が同定されたことを示す情報を表示する。例えば、ＤＩＢＰが同定された場合、リスト表示領域２３のＤＩＢＰの欄には、ＤＩＢＰが同定されたことを示す○の記号が表示される。
【００７３】
次に、第１の実施の形態に係る測定方法について、図８〜図１０を参照して説明する。
図８と図９は、質量分析装置１のメイン処理の例を示すフローチャートである。
【００７４】
ユーザにより定量条件設定ファイル入力されると、質量分析装置１が測定を開始する（Ｓ１）。そして、同定部１４は、定量条件設定ファイルから定量条件を読込む（Ｓ２）。このとき、同定部１４は、定量条件として、定量条件設定ファイルに設定された、図６Ａの化合物情報から保持時間［ＲＴ］を取込み、図６Ｂのピーク検出条件からピーク検出時間幅を取込む。
【００７５】
次に、同定部１４は、定量条件に含まれる全ての化合物に対してピーク検出時間範囲を計算する（Ｓ３）。そして、表示部１７は、検出結果表示画面２０を表示する（Ｓ４）。その後、結合子Ａで示す図９に処理が移る。ステップＳ３にて計算したピーク検出時間範囲は、図９のステップＳ１０に供給される。
【００７６】
図９では３つの処理（第１サブ処理〜第３サブ処理）が並行して動作する。このため、図８から続く結合子Ａには、３つの処理が同時に実行開始されることを表すフォークノード３１が接続される。
【００７７】
図９の左側に示す第１サブ処理では、質量分析部１０２による試料成分の測定が行われ、この測定結果が記憶部１１に記憶される。そして、マススペクトル抽出部１２は、記憶部１１から読み出したデータに基づくＴＩＣＣからマススペクトルを抽出し、この抽出したマススペクトルのマススペクトルデータを取得する（Ｓ５）。マススペクトル抽出部１２が取得したマススペクトルデータは、ステップＳ７にてクロマトグラム作成部１３に供給される。
【００７８】
その後、マススペクトル抽出部１２は、質量分析部１０２による測定が終了したか否かを判定する（Ｓ６）。測定が終了していなければ再びステップＳ５の処理が行われ、測定が終了していれば、他の全ての処理が終了するまで待機することを示す図９の下側にあるジョインノード３２に移る。ジョインノード３２は、複数の処理を１つに結合することを表す。
【００７９】
図９の中央に示す第２サブ処理では、ステップＳ５にてマススペクトル抽出部１２から供給されたマススペクトルデータに基づいて、クロマトグラム作成部１３が表示部１７に表示するためのクロマトグラムを作成する処理が行われる（Ｓ７）。
【００８０】
そして、クロマトグラム作成部１３により作成されたクロマトグラムの画像データが画像データ作成部１５により作成され、表示部１７にクロマトグラムが表示される（Ｓ８）。このとき、表示部１７には、検出結果表示画面２０が表示されている。その後、クロマトグラム作成部１３は、質量分析部１０２による測定が終了したか否かを判定する（Ｓ９）。測定が終了していなければ再びステップＳ７に戻って処理が行われ、測定が終了していれば、ジョインノード３２に移る。
【００８１】
図９の右側に示す第３サブ処理では、図８のステップＳ３から供給されたピーク検出時間範囲に基づいて、同定部１４により、（ピーク検出時間範囲の終了時間）≦（測定開始からの経過時間）を満たす目的化合物があるか検索される（Ｓ１０）。この条件を満たす目的化合物がなければ（Ｓ１０のＮＯ）、測定終了を判定する処理に移り（Ｓ１６）、目的化合物があれば（Ｓ１０のＹＥＳ）、第１同定処理に移る（Ｓ１２）。
【００８２】
ここで、ステップＳ１２の第１同定処理について説明する。
図１０は、定量条件の保持時間［ＲＴ］に基づいて目的化合物を同定する第１同定処理の例を示すフローチャートである。第１同定処理は、同定部１４が、定量条件として同定対象の化合物毎に設定された保持時間［ＲＴ］の最も近くで検出したクロマトグラムのピークの保持時間［ＲＴ］と、定量条件として設定された保持時間［ＲＴ］との差分を求める。そして、この差分が、定量条件として設定された保持時間［ＲＴ］許容誤差を満たす場合に、同定部１４が、試料成分を同定対象の化合物と同定する処理である。
【００８３】
始めに、同定部１４は、ステップＳ７から供給されたクロマトグラムに基づいて、図８のステップＳ３から供給されたピーク検出時間範囲でクロマトグラムのピーク検出を行う（Ｓ２１）。次に、同定部１４は、クロマトグラムのピークを検出したか判定する（Ｓ２２）。クロマトグラムのピークを検出していなければ（Ｓ２２のＮＯ）、第１同定処理を終了して、図９のステップＳ１３に移る。
【００８４】
クロマトグラムのピークを検出していれば（Ｓ２２のＹＥＳ）、同定部１４は、図６Ａに示す化合物情報の保持時間［ＲＴ］に基づいて、ステップＳ２１から供給されるクロマトグラムから検出されたピークの中で定量条件の保持時間［ＲＴ］に最も近いピークを検索する（Ｓ２３）。
【００８５】
次に、同定部１４は、ステップＳ２３で検索した定量条件の保持時間［ＲＴ］に最も近いピークと、図６Ｃの化合物同定条件のＲＴ許容誤差に基づいて、次式（４）を満たすか判定し（Ｓ２４）、図９のステップＳ１３に移る。
【００８６】
｜定量条件の保持時間［ＲＴ］−クロマトグラムのピークのトップ位置のＲＴ｜≦定量条件のＲＴ許容誤差    …式（４）
【００８７】
再び図９の説明に戻る。
ステップＳ１２の後、同定部１４は、式（４）の判定結果が妥当なものであったか否かを判定する（Ｓ１３）。判定結果が妥当（ＯＫ）であった場合、目的化合物が検出されたので、表示部１７に検出結果として「検出」を表示する（Ｓ１４）。例えば、「検出」であれば検出結果表示画面２０のリスト表示領域２３において、検出された化合物の欄に○の記号が表示される。
【００８８】
一方、判定結果が不当（ＮＧ）であった場合、目的化合物が検出されなかったので、表示部１７に検出結果として「不検出」を表示する（Ｓ１５）。例えば、「不検出」であれば検出結果表示画面２０のリスト表示領域２３に×の記号が表示される。
【００８９】
その後、再びステップＳ１０に戻って処理を繰り返す。ステップＳ１１にて目的化合物がないと判定された場合に、同定部１４は、測定終了か否かを判定する（Ｓ１６）。まだ測定が必要であれば（Ｓ１６のＮＯ）、再びステップＳ１０に戻って処理を繰り返し、これ以上の測定が不要であれば（Ｓ１６のＹＥＳ）、ジョインノード３２に移る。第１〜第３サブ処理のいずれもが終了してジョインノード３２に移ると、質量分析装置１のメイン処理が終了する。
【００９０】
以上説明した第１の実施の形態では、定量条件設定ファイルの保持時間［ＲＴ］とＲＴ許容誤差に基づいて、目的化合物が検出されると、検出結果表示画面２０の化合物ピーク出現予測領域２２に目的化合物のピーク検出位置が示され、リスト表示領域２３に検出結果が示される。このように質量分析部１０２による質量分析が行われると同時に、リアルタイムに定性分析が実施されるため、従来のように別の定性分析ソフトを起動しなくても、分析結果を得ることができる。
【００９１】
また、検出結果が直ちに表示部１７の検出結果表示画面２０に○又は×の記号で表示される。このため、オペレーターは、検出結果表示画面２０の表示内容に基づいて、目的化合物が検出されたか否かをリアルタイムで把握することができる。
【００９２】
［第２の実施の形態］
次に、本発明の第２の実施の形態に係る質量分析装置１の動作例について、図１１と図１２を参照して説明する。本実施の形態の質量分析装置１は、図１０に示したＲＴ許容誤差に基づく第１同定処理に加えて、さらにＩ／Ｑ比許容誤差に基づく第２同定処理を行う。
【００９３】
図１１は、第２の実施の形態に係る質量分析装置１のメイン処理の例を示すフローチャートである。
本実施の形態の質量分析装置１において、図８に示したメイン処理を行った後、図１１に示す第１〜第３サブ処理が行われる。第１〜第３サブ処理のステップのうち、図９に示したステップと同じ箇所には同じステップ番号を付する。そして、ステップＳ１３の第１同定処理の判定結果がＯＫであった場合に（Ｓ１３のＹＥＳ）、第２同定処理が行われる（Ｓ１７）。
【００９４】
図１２は、Ｉ／Ｑ比誤差率に基づいて目的化合物を同定する第２同定処理の例を示すフローチャートである。第２同定処理は、同定部１４が、クロマトグラムのピークから抽出したスペクトルに基づいて、定量条件として同定対象の化合物毎に設定された定量イオンの強度、及び参照イオンの強度を取得する。そして、定量イオンの強度に対する参照イオンの強度の比が、予め求めた誤差率の範囲に収まっている場合に、同定部１４が、試料成分を同定対象の化合物と同定する処理である。
【００９５】
始めに、マススペクトル抽出部１２は、図１１のステップＳ７から供給されたクロマトグラムのピークからマススペクトルを抽出する（Ｓ３１）。次に、同定部１４は、マススペクトルから求めた化合物の定量イオンと参照イオン質量電荷比［ｍ／ｚ］の強度を取得し、上述した式（２）によりＩ／Ｑ比を計算する（Ｓ３２）。これにより、実測した化合物の定量イオンの強度に対する参照イオンの強度の比がＩ／Ｑ比で表される。
【００９６】
次に、同定部１４は、実測したＩ／Ｑ比と、定量条件設定ファイルに予め設定されたＩ／Ｑ比とに基づいて、上述した式（３）により実測したＩ／Ｑ比誤差率を計算する（Ｓ３３）。次に、同定部１４は、実測したＩ／Ｑ比誤差率が、予め定量条件設定ファイルの化合物同定条件に設定されたＩ／Ｑ比許容誤差の範囲に全て収まっているか判定し（Ｓ３４）、図１１のステップＳ１８に移る。
【００９７】
再び図１１の説明に戻る。
ステップＳ１７の後、同定部１４は、第２同定処理のステップＳ３４における判定結果が妥当なものであったか否かを判定する（Ｓ１８）。判定結果が妥当（ＯＫ）であった場合、表示部１７に検出結果として「検出」を表示する（Ｓ１４）。一方、判定結果が不当（ＮＧ）であった場合、表示部１７に検出結果として「不検出」を表示する（Ｓ１５）。
以降、図９に示した処理と同様に処理を行う。
【００９８】
以上説明した第２の実施の形態に係る同定部１４は、Ｉ／Ｑ比誤差率が、Ｉ／Ｑ比許容誤差の範囲に収まっている場合に、目的化合物を検出したと判定する。そして、検出結果表示画面２０のリスト表示領域２３に検出結果が示される。このように、第１及び第２同定処理を続けて行うことで、従来の分析方法よりも信頼性の高い結果を得ることができる。
【００９９】
なお、第２の実施の形態に係る質量分析装置１では、第１及び第２同定処理を続けて行ったが、第２同定処理だけを行ってもよい。また、第１同定処理と第２同定処理の順番は任意としてもよい。
【０１００】
［第３の実施の形態］
次に、本発明の第３の実施の形態に係る質量分析装置１の動作例について、図１３と図１４を参照して説明する。本実施の形態の質量分析装置１は、図１１に示した第１同定処理及び第２同定処理に加えて、さらに第３同定処理を行う。
【０１０１】
図１３は、第３の実施の形態に係る質量分析装置１のメイン処理の例を示すフローチャートである。
本実施の形態の質量分析装置１において、図８に示したメイン処理を行った後、図１３に示す第１〜第３サブ処理が行われる。第１〜第３サブ処理のステップのうち、図９に示したステップと同じ箇所には同じステップ番号を付する。そして、ステップＳ１３の第１同定処理の判定結果がＯＫであり（Ｓ１３のＹＥＳ）、ステップＳ１８の第２同定処理の判定結果がＯＫであった場合に（Ｓ１８のＹＥＳ）、第３同定処理が行われる。
【０１０２】
図１４は、ライブラリサーチ結果として示されるスペクトル類似度に基づいて目的化合物を同定する第３同定処理の例を示すフローチャートである。この第３同定処理は、同定部１４が、クロマトグラムのピークから抽出したスペクトルに基づいてライブラリをサーチしたサーチ結果と、クロマトグラムのピークから抽出したスペクトルとのスペクトル類類似度に基づいて、試料成分に同定対象の化合物が含まれていると同定する処理である。
【０１０３】
始めに、同定部１４は、ＮＩＳＴライブラリにアクセスする。そして、同定部１４は、マススペクトル抽出部１２により抽出されたマススペクトルを取得し、定量条件設定ファイルの化合物情報に含まれるＮＩＳＴのスペクトルライブラリのライブラリ名と、化合物同定条件のスペクトル類似度閾値とに基づいて、マススペクトルのライブラリサーチを実行する（Ｓ４１）。そして、同定部１４は、定量条件設定ファイルの化合物情報に含まれるスペクトルライブラリのライブラリ名と、スペクトルＩＤとに基づいてスペクトルライブラリからサーチしたマススペクトルをライブラリサーチ結果として得る。なお、同定部１４は、記憶部１１に格納されたライブラリにアクセスして、ライブラリサーチ結果を得てもよい。
【０１０４】
次に、同定部１４は、ライブラリサーチ結果と、マススペクトル抽出部１２により抽出されたマススペクトルとを比較する。そして、同定部１４は、スペクトル類似度がスペクトル類似度閾値以上であるマススペクトルのうち、最もスペクトル類似度が高いマススペクトルが、定量条件設定ファイルで設定されたスペクトルに一致しているか否かを判定する（Ｓ４２）。
【０１０５】
なお、ステップＳ４２では、Ｓ４１のライブラリサーチ結果として表されるマススペクトルが、定量条件設定ファイルに設定されている化合物のスペクトルに一致していれば、試料成分に目的化合物が含まれていると判定してもよい。また、ステップＳ４２では、ステップＳ４１のライブラリサーチを行わず、上述したようにスペクトル類似度がスペクトル類似度閾値以上であれば、試料成分に目的化合物が含まれていると判定してもよい。
【０１０６】
再び図１３の説明に戻る。
ステップＳ１９の後、同定部１４は、第３同定処理のステップＳ４２における判定結果が妥当なものであったか否かを判定する（Ｓ２０）。判定結果が妥当（ＯＫ）であった場合、表示部１７に検出結果として「検出」を表示する（Ｓ１４）。一方、判定結果が不当（ＮＧ）であった場合、表示部１７に検出結果として「不検出」を表示する（Ｓ１５）。
以降、図９に示した処理と同様に処理を行う。
【０１０７】
以上説明した第３の実施の形態に係る同定部１４は、ライブラリサーチ結果のマススペクトルと、マススペクトル抽出部１２により抽出されたマススペクトルとを比較する。そして、スペクトル類似度がスペクトル類似度閾値以上であるマススペクトルが定量条件設定ファイルで設定されたスペクトルに一致している場合に、目的化合物を検出したと判定する。そして、検出結果表示画面２０のリスト表示領域２３に検出結果が示される。このように、第１〜第３同定処理を続けて行うことで、従来の分析方法よりも信頼性の高い結果を得ることができる。
【０１０８】
なお、第３の実施の形態に係る質量分析装置１では、第１〜第３同定処理を続けて行ったが、第３同定処理だけを行ってもよい。また、第１及び第３同定処理を続けて行ってもよいし、第２及び第３同定処理を続けて行ってもよい。また、第１〜第３同定処理の順番は任意としてもよい。
【０１０９】
なお、本発明は上述した各実施の形態に限られるものではなく、特許請求の範囲に記載した本発明の要旨を逸脱しない限りその他種々の応用例、変形例を取り得ることは勿論である。
例えば、上述した各実施の形態は本発明を分かりやすく説明するために装置の構成を詳細かつ具体的に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されない。また、ここで説明した実施の形態の構成の一部を他の実施の形態の構成に置き換えることは可能であり、さらにはある実施の形態の構成に他の実施の形態の構成を加えることも可能である。また、各実施の形態の構成の一部について、他の構成の追加、削除、置換をすることも可能である。
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【符号の説明】
【０１１０】
１…質量分析装置、１ａ…質量分析データ処理装置、１０…入出力制御部、１１…記憶部、１２…マススペクトル抽出部、１３…クロマトグラム作成部、１４…同定部、１５…画像データ作成部、１６…操作部、１７…表示部、２０…検出結果表示画面、１０１…試料分離部、１０２…質量分析部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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