(57)【要約】      （修正有）【課題】センサ画素を有するセンサ電極からの電気信号に対して適切な処理を行うため、センサ画素の位相遅延からセンサ電極と関連付けられたベースライン評価を決定する入力装置を提供する。【解決手段】入力装置は、複数のセンサ画素を規定する複数のセンサ電極と、複数のセンサ電極に結合された処理システムを含む。処理システムは、複数のセンサ電極から第１の結果信号及び第２の結果信号を取得する（ステップ４１０）。第１の結果信号を使用して、複数のセンサ画素の中の１つのセンサ画素における位相遅延の第１の同相評価を決定する（ステップ４２０）。第２の結果信号を使用して、センサ画素における位相遅延の第１の直交評価を決定する（ステップ４３０）。処理システムは、第１の同相評価及び第１の直交評価に基づいて、複数のセンサ画素の位相ベースライン評価を決定する（ステップ４４０）。【選択図】図４
2019114248.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のセンサ画素を規定する複数のセンサ電極と、
前記複数のセンサ電極に結合された処理システムと、を含み、
前記処理システムが、
前記複数のセンサ電極から第１の結果信号及び第２の結果信号を取得し、
前記第１の結果信号を使用して、前記複数のセンサ画素の中の１つのセンサ画素における位相遅延の第１の同相評価を決定し、
前記第２の結果信号を使用して、前記センサ画素における前記位相遅延の第１の直交評価を決定し、
前記第１の同相評価及び前記第１の直交評価に少なくとも部分的に基づいて、前記複数のセンサ画素の位相ベースライン評価を決定するように構成された、入力装置。
【請求項２】
前記複数のセンサ電極が、複数のトランスミッタ電極と複数のレシーバ電極とを含み、
前記第１の結果信号と前記第２の結果信号が、前記複数のトランスミッタ電極の中の少なくとも１つのトランスミッタ電極に沿って送られた少なくとも１つの検出信号に応じて取得される、請求項１に記載の入力装置。
【請求項３】
前記少なくとも１つの検出信号が、検出信号の隣接した送信間に整定周期を含まない連続検出信号である、請求項２に記載の入力装置。
【請求項４】
前記少なくとも１つの検出信号が、ディザ検出信号であり、前記処理システムが、更に、前記ディザ検出信号と関連付けられたディザ機能に少なくとも部分的に基づいて、前記第１の同相評価及び前記第１の直交評価を決定するように構成された、請求項２に記載の入力装置。
【請求項５】
前記複数のセンサ電極の中の第１のレシーバ電極と第２のレシーバ電極に結合された検出回路であって、前記第１のレシーバ電極から前記第１の結果信号を取得し、前記第２のレシーバ電極から前記第２の結果信号を取得するように構成された検出回路と、
前記検出回路に結合された第１の混合器であって、前記第１の結果信号と同相信号を組み合わせて、前記位相遅延の前記第１の同相評価を生成するように構成された第１の混合器と、
前記検出回路に結合された第２の混合器であって、前記第２の結果信号及び直交信号を組み合わせて、前記位相遅延の前記第１の直交評価を生成するように構成された第２の混合器とを更に含む、請求項１に記載の入力装置。
【請求項６】
前記第１の結果信号及び前記第２の結果信号が、前記センサ画素におけるトランスミッタ電極とレシーバ電極の間の容量結合に対応し、
前記センサ画素が、検出領域の容量画像の容量測定値に対応する、請求項１に記載の入力装置。
【請求項７】
前記処理システムが、更に、
前記複数のセンサ電極の中のレシーバ電極から第３の結果信号を取得し、
前記第３の結果信号の振幅を決定し、
前記位相ベースライン評価を使用して前記第３の結果信号の振幅を調整して調整振幅を生成し、
前記調整振幅に少なくとも部分的に基づいて、検出領域内の入力オブジェクトの位置に関する位置情報を決定する、請求項１に記載の入力装置。
【請求項８】
前記処理システムが、更に、
前記複数のセンサ電極の中の１つのレシーバ電極から第３の結果信号と第４の結果信号を取得し、
前記処理システムが、前記第３の結果信号を使用する前記複数のセンサ画素の中の第２のセンサ画素における第２の同相評価と、前記第４の結果信号と、を使用して前記第２のセンサ画素における第２の直交評価を決定し、
前記第２の同相評価及び前記第２の直交評価を使用して前記位相ベースライン評価を更新するように構成された、請求項１に記載の入力装置。
【請求項９】
前記第１の結果信号及び前記第２の結果信号が、前記入力装置内のアナログフロントエンドによって取得された時間シーケンス信号である、請求項１に記載の入力装置。
【請求項１０】
前記位相ベースライン評価が、前記複数のセンサ画素の中の各センサ画素の位相遅延評価のマトリクスを含む、請求項１に記載の入力装置。
【請求項１１】
前記処理システムが、更に、
第３の結果信号と前記位相ベースライン評価を使用して、検出領域内にある１つ以上の入力オブジェクトに関するオブジェクト情報を決定し、
前記オブジェクト情報をホスト装置に報告するように構成された、請求項１に記載の入力装置。
【請求項１２】
複数のセンサ電極から第１の結果信号及び第２の結果信号を取得するステップであって、前記複数のセンサ電極が複数のセンサ画素を規定するステップと、
前記第１の結果信号を使用して、前記複数のセンサ画素の中の１つのセンサ画素における位相遅延の同相評価を決定するステップと、
前記第２の結果信号を使用して、前記センサ画素における前記位相遅延の直交評価を決定するステップと、
前記同相評価と前記直交評価に少なくとも部分的に基づいて、前記複数のセンサ画素の位相ベースライン評価を決定するステップとを含む、方法。
【請求項１３】
前記複数のセンサ電極が、複数のトランスミッタ電極と複数のレシーバ電極を含み、
前記第１の結果信号と前記第２の結果信号が、前記複数のトランスミッタ電極の中の少なくとも１つのトランスミッタ電極に沿って送られた少なくとも１つの検出信号に応じて取得される、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記少なくとも１つの検出信号が、検出信号の隣接送信間に整定周期を含まない連続検出信号である、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記複数のセンサ電極の中の１つのトランスミッタ電極に沿ってディザ検出信号を送るステップを含み、
前記ディザ検出信号が、ディザ機能によって生成された所定量の位相ノイズを含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１６】
複数のトランスミッタ電極と、
複数のレシーバ電極であって、前記複数のトランスミッタ電極と前記複数のレシーバ電極が、前記入力装置内の複数のセンサ画素を規定する複数のレシーバ電極と、
前記複数のトランスミッタ電極及び前記複数のレシーバ電極に結合された処理システムと、を含み、
前記処理システムが、
前記複数のトランスミッタ電極の中の１つのトランスミッタ電極に沿ってディザ検出信号を送り、前記ディザ検出信号が、ディザ機能によって生成された所定量の位相ノイズを含み、
前記ディザ検出信号の送信に応じて前記複数のレシーバ電極の中の１つのレシーバ電極から結果信号を取得し、
前記結果信号及び前記ディザ機能を使用して、前記センサ画素における位相遅延の同相評価及び前記センサ画素における前記位相遅延の直交評価を決定し、
前記同相評価及び前記直交評価に少なくとも部分的に基づいて、前記複数のセンサ画素の位相ベースライン評価を決定するように構成された、入力装置。
【請求項１７】
前記同相評価及び前記直交評価が、前記処理システムによって実質的に同時に取得される、請求項１６に記載の入力装置。
【請求項１８】
前記ディザ機能が、駆動回路によって前記ディザ検出信号に導入される所定量のノイズに対応する、請求項１６に記載の入力装置。
【請求項１９】
前記位相ベースライン評価が、前記複数のセンサ画素の中の各センサ画素の位相遅延評価のマトリクスを含む、請求項１６に記載の入力装置。
【請求項２０】
前記処理システムが、更に、
第３の結果信号と前記位相ベースライン評価を使用して、検出領域内にある１つ以上の入力オブジェクトに関するオブジェクト情報を決定し、
前記処理システムに結合されたホスト装置に前記オブジェクト情報を報告するように構成された、請求項１６に記載の入力装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この開示技術は、一般に電子装置に関し、特に容量検出デバイスに関する。
【背景技術】
【０００２】
近接センサデバイス（一般にタッチパッド又はタッチセンサデバイスとも呼ばれる）を含む入力装置は、様々な電子システムに広く使用されている。近接センサデバイスは、典型的には、多くの場合、表面によって区分された検出領域を有し、その検出領域内で、近接センサデバイスは、１つ以上の入力オブジェクトの存在、位置及び／又は動きを決定する。近接センサデバイスは、電子システムのインタフェースを提供するために使用されうる。例えば、近接センサデバイスは、より大きい計算処理システムの入力装置（ノートブック又はデスクトップコンピュータに組み込まれるかその周辺装置の不透明タッチパッドなど）としてしばしば使用される。近接センサデバイスは、しばしばより小さい計算処理システム（携帯電話に組み込まれたタッチスクリーンなど）にも使用される。
【０００３】
更に、幾つかの近接センサデバイスは、検出領域を走査するための様々なセンサ電極による容量検出を使用する。しかしながら、センサ電極は、電気信号がセンサ電極に通る際の遅延を引き起こしうる様々な電気的性質を有する。従って、多くの近接検出技術は、センサ電極内で引き起こされたこの遅延を考慮及び／又は修正しない近似的情報を獲得しうる。
【発明の概要】
【０００４】
一般に、一態様では、開示技術は、入力装置に関する。入力装置は、様々なセンサ画素を規定する様々なセンサ電極を有する。入力装置は、更に、センサ電極に結合された処理システムを含む。処理システムは、センサ電極から第１の結果信号と第２の結果信号を取得する。処理システムは、第１の結果信号を使用して、センサ画素の中の１つのセンサ画素の位相遅延の同相評価を決定する。処理システムは、第２の結果信号を使用して、センサ画素における位相遅延の直交評価を決定する。処理システムは、同相評価と直交評価に少なくとも部分的に基づいて、センサ画素の位相ベースライン評価を決定する。
【０００５】
一般に、一態様では、開示技術は方法に関する。入力装置は、様々なセンサ画素を定義する様々なセンサ電極を有する。方法は、様々なセンサ画素を規定する様々なセンサ電極から第１の結果信号と第２の結果信号を取得することを含む。方法は、更に、第１の結果信号を使用して、センサ画素の中の１つのセンサ画素の位相遅延の同相評価を決定することを含む。方法は、更に、第２の結果信号を使用して、センサ画素における位相遅延の直交評価を決定することを含む。方法は、更に、同相評価と直交評価に少なくとも部分的に基づいて、センサ画素の位相ベースライン評価を決定することを含む。
【０００６】
一般に、一態様では、開示技術は、入力装置に関する。入力装置は、様々なトランスミッタ電極を含む。入力装置は、更に、様々なレシーバ電極を含み、トランスミッタ電極とレシーバ電極は、入力装置内で様々なセンサ画素を規定する。入力装置は、更に、トランスミッタ電極とレシーバ電極に結合された処理システムを含む。処理システムは、トランスミッタ電極の中の１つのトランスミッタ電極に沿ってディザ検出信号を送る。ディザ検出信号は、ディザ機能によって生成された所定量の位相ノイズを含む。処理システムは、ディザ検出信号の送信に応じてレシーバ電極の中の１つのレシーバ電極から結果信号を取得する。処理システムは、結果信号とディザ機能を使用して、センサ画素における位相遅延の同相評価と、センサ画素における位相遅延の直交評価とを決定する。処理システムは、同相評価と直交評価に少なくとも部分的に基づいて、センサ画素の位相ベースライン評価を決定する。
【０００７】
開示技術の他の態様は、以下の記述と添付の特許請求の範囲から明らかになる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】１つ以上の実施形態による入力装置を含む例示的システムのブロック図である。
【図２Ａ】１つ以上の実施形態による入力装置の概略図である。
【図２Ｂ】１つ以上の実施形態によるセンサ電極パターンの概略図である。
【図２Ｃ】１つ以上の実施形態による入力装置の概略図である。
【図３Ａ】１つ以上の実施形態による入力装置のセンサ電極パターンのインピーダンス回路網を示す図である。
【図３Ｂ】１つ以上の実施形態による検出信号と結果信号の間の位相オフセットを示す図である。
【図４】１つ以上の実施形態によるフローチャートである。
【図５】１つ以上の実施形態による例を示す図である。
【図６】１つ以上の実施形態によるフローチャートである。
【図７】１つ以上の実施形態による計算処理システムを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
次に、添付図面を参照して、開示技術の特定の実施形態について述べる。様々な図における同様の要素が、一貫性のために同様の参照数字及び／又は同様の名前によって示されうる。
【００１０】
以下の詳細な説明は、本質的に単なる例示であり、開示技術又は開示技術の用途及び使用法を限定するものではない。更に、上述の技術分野、背景、概要又は以下の詳細な説明に示された明示又は暗示されたいかなる理論によっても拘束されない。
【００１１】
開示技術の実施形態の以下の詳細な説明では、開示技術のより完全な理解を提供するために、多数の特定の詳細が示される。しかしながら、開示技術がそのような特定の詳細なしに実施されうることは当業者に明らかであろう。他の例では、説明を無駄に複雑にするのを回避するために、周知の特徴は詳細に記述されない。
【００１２】
本出願全体にわたって、順序数（例えば、第１、第２、第３など）は、要素（即ち、本出願内の任意の名詞）の形容詞として使用されうる。順序数の使用は、「前（before）」、「後（after）」、「単一（single）」及び他のそのような用語の使用によって明示されない限り、要素のいかなる特定の順序も暗示又は作成せず、いかなる要素も単一要素のみであるように限定しない。より正確に言うと、順序数の使用は、要素を区別することである。例えば、第１の要素は、第２の要素と異なり、第１の要素は、複数の要素を含み、要素の順序で第２の要素に後続（又は先行）できる。
【００１３】
本開示技術の種々の実施形態は、改善された使い勝手を容易にする入力装置及び方法を提供する。詳細には、開示技術の１つ以上の実施形態は、入力装置の位相ベースライン評価を決定及び／又は更新するための方法を提供する。詳細には、入力装置は、様々なセンサ画素を有するセンサ電極パターンを含みうる。したがって、位相ベースラインは、センサ画素を通る電気信号が受ける位相遅延の量に対応しうる。同様に、位相ベースラインは、抵抗（Ｒ）、インダクタンス（Ｌ）、キャパシタンス（Ｃ）などの各センサ画素の電気的性質の関数でよい。入力装置の電気的性質が時間と共に変化するので、それにより位相ベースラインも変化しうる。したがって、検出領域の容量走査の際、各センサ画素における位相遅延が、容量走査の検出振幅に影響を及ぼしうる。
【００１４】
幾つかの実施形態では、様々な結果信号が分析されて位相遅延の同相及び直交成分（「Ｉ／Ｑ成分」）が決定される。このＩ／Ｑ成分に基づいて、入力装置の位相ベースラインが評価され監視されうる。１つ以上の実施形態では、例えば、Ｉ／Ｑ成分は、位相遅延のそれぞれの成分を分離する混合器を含む回路によって決定される。他の実施形態では、検出信号を構成しデジタル領域内のＩ／Ｑ成分を検出することによって、ディザリング法が実施される。最新の位相ベースライン評価に基づいて、オブジェクト情報が決定されうる。
【００１５】
次に図に移ると、図１は、この実施形態が実現されうる典型的な入力装置（１００）のブロック図である。入力装置（１００）は、処理システム（１１０）と検出領域（１２０）を含む。入力装置（１００）は、電子システム（単純にするために示されていない）に入力を提供するように構成されうる。例示的な電子システム（又は「電子装置」）は、情報を電子的に処理できるシステムでよい。電子システムの非限定的な例には、個人用計算処理装置（例えば、デスクトップコンピュータ、ラップトップコンピュータ、ネットブックコンピュータ、タブレット、ウェブブラウザ、ｅブックリーダ及び携帯情報端末（ＰＤＡ））、複合入力装置（例えば、物理キーボード、ジョイスティック、及びキースイッチ）、データ入力装置（例えば、リモートコントロール及びマウス）、データ出力装置（例えば、表示画面及びプリンタ）、リモート端末、キオスク、テレビゲーム機（例えば、ビデオゲームコンソール、携帯ゲーム機など）、通信装置（例えば、スマートフォンなどの携帯電話）、及び媒体装置（例えば、レコーダ、エディタ、及びテレビ、セットトップボックス、音楽プレーヤ、デジタル写真フレーム及びデジタルカメラなどのプレーヤ）が含まれる。更に、電子システムは、入力装置に対してホストでもスレーブでもよい。
【００１６】
更に、入力装置（１００）は、対応する電子システムの物理部分として実現されてもよく、電子システムから物理的に分離されてもよい。入力装置（１００）は、バスやネットワークなどの様々な有線又は無線相互接続及び通信技術を使用して、電子システムの構成要素に結合され（通信され）うる。例示的な通信技術には、インターインテグレテッドサーキット（Ｉ２Ｃ）、シリアルペリフェラルインターフェース（ＳＰＩ）、ＰＳ／２、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、赤外線データ通信規格（ＩｒＤＡ）、及びＩＥＥＥ  ８０２．１１や他の規格によって規定された様々な電波周波数（高周波）通信プロトコルが挙げられる。
【００１７】
図１では、入力装置（１００）は、検出領域（１２０）内の１つ以上の入力オブジェクト（１４０）によって提供された入力を検出するように構成された近接センサデバイス（例えば、「タッチパッド」又は「タッチセンサデバイス」とも呼ばれる）に対応できる。例示的な入力オブジェクトには、指、スタイラス、アクティブペン、指先などが含まれる。明細書全体にわたって、単数形の入力オブジェクトが使用されるが、検出領域（１２０）内には複数の入力オブジェクトが存在できる。更に、検出領域内の特定の入力オブジェクトは、１つ以上のジェスチャの最中に変化しうる。
【００１８】
検出領域（１２０）は、入力装置（１００）の上、そのまわり、その中、及び／又はその近くに、入力装置（１００）がユーザ入力（例えば、１つ以上の入力オブジェクト（１４０）によって提供されたユーザ入力）を検出できる任意の空間を含む。特定の検出領域のサイズ、形状及び場所は、実際の実施態様により異なりうる。
【００１９】
幾つかの実施形態では、検出領域（１２０）は、入力装置（１００）の表面から空間内の１つ以上の方向に、センサの信号対雑音比（ＳＮＲ）がオブジェクト検出に適したしきい値より低くなるまで延在する。例えば、この検出領域（１２０）が特定の方向に拡張する距離は、約１ミリメートル未満、数ミリメートル、数センチメートル又はそれ以上でよく、使用される検出技術のタイプ及び必要精度により異なりうる。幾つかの実施形態では、検出領域（１２０）は、入力装置（１００）の任意の面との非物理接触、入力装置（１００）の入力面（例えば、タッチ面及び／又はスクリーン）との接触、何らかの大きさの加えられた力又は圧力と結合された入力装置（１００）の入力面との接触、及び／又はこれらの組み合わせを含む入力を検出できる。幾つかの実施形態では、入力面は、入力装置（１００）のハウジングの１つ以上の面によって提供され、かつ／又はそのハウジングの１つ以上の面上に投影されうる（例えば、像として）。例えば、検出領域（１２０）は、入力装置（１００）の入力面に投影されたときに長方形を有する。幾つかの実施形態では、入力は、検出領域（１２０）内で一次元、二次元、三次元又はそれより高次元の空間に及ぶ像によって提供されうる。幾つかの態様では、入力は、検出領域（１２０）内の特定の軸又は平面に沿った投影によって提供されうる。更に、幾つかの実施態様では、入力は、検出領域（１２０）内の１つ以上の像と１つ以上の投影の組み合わせによって提供されうる。
【００２０】
入力装置（１００）は、センサ構成要素と検出技術の任意の組み合わせを利用して検出領域（１２０）内のユーザ入力を検出できる。検出技術の例には、静電容量、弾性、抵抗、誘導、磁気、音響、超音波、及び／又は光学検出技術が含まれうる。
【００２１】
幾つかの実施形態では、入力装置（１００）は、抵抗検出技術を利用してユーザ入力を検出できる。例えば、検出領域（１２０）は、１つ以上のスペーサ要素によって導電性の第２層から分離された柔軟で導電性の第１層によって構成されうる。検出領域（１２０）は、層内に作成された１つ以上の電圧勾配を作成し、第１層が第２層と接触したことを検出することによってユーザ入力を検出できる。より具体的には、柔軟な第１層を押すと、層間で電気接触するほど十分に第１層が撓み、その結果、層間の接触点を表す電圧出力が生じる。これらの電圧出力は、検出された入力に関する位置情報を決定するために使用されうる。
【００２２】
幾つかの他の実施形態では、入力装置（１００）は、誘導検出技術を利用してユーザ入力を検出できる。例えば、検出領域（１２０）は、共振コイル又は１対のコイルによって誘導されたループ電流を検出するように構成された１つ以上の検出要素を含みうる。次に、入力装置（１００）は、電流の大きさ、位相及び／又は周波数の組み合わせに基づいてユーザ入力を検出できる。更に、ループ電流の特徴は、検出入力に関する位置情報を決定するために使用されうる
【００２３】
更に、幾つかの実施形態では、入力装置（１００）は、容量検出技術を利用してユーザ入力を検出できる。例えば、検出領域（１２０）は、電界を作成するために１つ以上の容量検出要素（例えば、センサ電極）を含みうる。入力装置（１００）は、検出要素のキャパシタンスの変化に基づいて入力を検出できる。例えば、オブジェクトが電界と接する（又は、近づく）と、センサ電極内の電圧及び／又は電流が変化しうる。電圧及び／又は電流のそのような変化は、ユーザ入力を示す「信号」として検出されうる。
【００２４】
センサ電極は、検出領域（１２０）内の複数の点で入力を検出するために配列又は他の構成で配列されうる。幾つかの実施態様では、別個の検出要素がオーム的に短絡されて、より大きいセンサ電極が構成されうる。幾つかの容量実施形態は、均一な抵抗層を提供する抵抗性シートを利用しうる。
【００２５】
幾つかの容量実施態様は、センサ電極と入力オブジェクトの間の容量結合の変化に基づく「自己キャパシタンス」（又は「絶対キャパシタンス」）検出方法を利用する。例えば、センサ電極近くの入力オブジェクトは、センサ電極近くの電界を変化させ、したがって測定容量結合が変化する。幾つかの実施形態では、入力装置（１００）は、センサ電極を基準電圧（例えば、系統接地）に対して変調し、センサ電極と入力オブジェクトの間の容量結合を検出することによって、絶対キャパシタンス検出を実施できる。基準電圧は、実質的一定電圧でも変動電圧でもよく、様々な実施形態では、基準電圧は、系統接地でよい。絶対キャパシタンス検出方法を使用して得られる測定値は、絶対キャパシタンス測定値と呼ばれうる。
【００２６】
幾つかの容量実施態様は、センサ電極間の容量結合の変化に基づく「相互キャパシタンス」（又は「トランスキャパシタンス」）検出方法を利用する。例えば、センサ電極近くの入力オブジェクトは、センサ電極間の電界を変化させ、したがって測定容量結合が変化する。幾つかの実施態様では、入力装置（１００）は、１つ以上のトランスミッタセンサ電極（「トランスミッタ電極」又は「トランスミッタ」とも）と１つ以上のレシーバセンサ電極（「レシーバ電極」又は「レシーバ」とも）の間の容量結合を検出することによってトランスキャパシタンス検出を実施できる。トランスミッタセンサ電極は、レシーバセンサ電極に対して変調されうる。例えば、トランスミッタセンサ電極は、信号を送信するために基準電圧に対して変調され、レシーバセンサ電極は、結果信号の受信を容易にするために実質的に一定電圧に保持されうる。レシーバセンサ電極によって受信された結果信号は、環境的干渉（例えば、センサ電極と接触するかセンサ電極に近い他の電磁気信号及び／又はオブジェクトから）による影響を受けうる。幾つかの態様では、各センサ電極は、専用トランスミッタでも専用レシーバでもよく、送信と受信両方を行うように構成されてもよい。相互キャパシタンス検出法を使用して取得された測定値は、相互キャパシタンス測定値と呼ばれうる。
【００２７】
処理システム（１１０）は、入力装置（１００）のハードウェアを動作させて検出領域（１２０）の入力を検出するように構成される。処理システム（１１０）は、１つ以上の集積回路（ＩＣ）及び／又は他の回路構成要素の一部又は全てを含みうる。例えば、相互キャパシタンスセンサデバイスのための処理システムは、トランスミッタセンサ電極によって信号を送信するように構成されたトランスミッタ回路、及び／又はレシーバセンサ電極によって信号を受信するように構成されたレシーバ回路を含みうる。更に、絶対キャパシタンスセンサデバイスのための処理システムは、絶対キャパシタンス信号をセンサ電極に駆動するように構成されたドライバ回路、及び／又はこれらのセンサ電極によって信号を受信するように構成されたレシーバ回路を含みうる。１つ以上の実施形態では、組み合わされた相互及び絶対キャパシタンスセンサデバイスのための処理システムは、上述の相互及び絶対キャパシタンス回路の任意の組み合わせも含みうる。幾つかの実施形態では、処理システム（１１０）は、ファームウェアコード、ソフトウェアコードなどの電子的読取可能命令も含む。幾つかの実施形態では、処理システム（１１０）を構成する構成要素は、例えば入力装置（１００）の検出素子の近くに一緒に配置される。他の実施態様では、処理システム（１１０）の１つ以上の構成要素は、入力装置（１００）の検出要素から物理的に分離される。例えば、入力装置（１００）は、計算処理装置に結合された周辺装置でよく、処理システム（１１０）は、計算処理装置の中央処理装置（ＣＰＵ）上、及び中央処理装置とは別の１つ以上のＩＣ（恐らく関連ファームウェアを有する）上で動作するように構成されたソフトウェアとして実施されうる。別の例として、入力装置（１００）は、モバイル機器に物理的に組み込まれてもよく、処理システム（１１０）は、モバイル機器の主プロセッサの一部である回路とファームウェアを含みうる。幾つかの実施形態では、処理システム（１１０）は、入力装置（１００）の実現に専用化される。他の実施形態では、処理システム（１１０）は、また、表示画面の動作、触覚アクチュエータ（図示せず）の駆動などの他の機能を実行する。
【００２８】
処理システム（１１０）は、処理システム（１１０）の様々な機能を処理する１組のモジュールとして実現されうる。各モジュールは、処理システム（１１０）の一部である回路、ファームウェア、ソフトウェア又はこれらの組み合わせを含みうる。様々な実施形態では、モジュールの様々な組み合わせが使用されうる。例えば、図１に示されたように、処理システム（１１０）は、決定モジュール（１５０）とセンサユニット（１６０）を含みうる。決定モジュール（１５０）は、少なくとも１つの入力オブジェクトが検出領域内にあることを決定し、信号対雑音比を決定し、入力オブジェクトの位置情報を決定し、ジェスチャを識別し、ジェスチャに基づいてジェスチャ又は他の情報の組み合わせを実行するアクションを決定し、及び／又は他の操作を実行するように構成されうる。
【００２９】
センサモジュール（１６０）は、検出要素を駆動してトランミッタ信号を送信し、結果信号を受信するように構成されうる。例えば、センサモジュール（１６０）は、検出要素に結合された知覚回路を含みうる。センサモジュール（１６０）は、例えば、トランスミッタモジュールとレシーバモジュールを含みうる。トランスミッタモジュールは、検出要素の送信部分に結合されたトランスミッタ回路を含みうる。レシーバモジュールは、検出要素の受信部に結合されたレシーバ回路を含むことができ、結果信号を受信する機能を有しうる。
【００３０】
処理システム（１１０）は、上述されたモジュールの１つ以上の別個のモジュール又はサブモジュールに対応する代替又は追加のモジュールを含みうる。例えば、代替又は追加モジュールには、センサ電極や表示画面などのハードウェアを操作するように構成されたハードウェア操作モジュール、センサ信号や位置情報などのデータを処理するように構成されたデータ処理モジュール、情報を報告するように構成された報告モジュール、モード変更ジェスチャなどのジェスチャを識別するように構成された識別モジュール、及び動作モードを変更するように構成されたモード変更モジュールが含まれる。更に、様々なモジュールが、別個の集積回路内に組み合わされうる。例えば、第１のモジュールが、第１の集積回路内に少なくとも部分的に含まれ、別個のモジュールが、第２の集積回路内に少なくとも部分的に含まれうる。更に、シングルモジュールの部分は、複数の集積回路にわたってもよい。幾つかの実施形態では、処理システムは、全体として、様々なモジュールの動作を実行できる。
【００３１】
処理システム（１１０）は、入力装置（１００）の検出要素を作動させて検出領域（１２０）内の入力（又は、入力がないこと）を示す電気信号を生成できる。処理システム（１１０）は、電子システムに提供される情報を生成する際に、電気信号に対して適切な量の処理を実行できる。例えば、処理システム（１１０）は、センサ電極から得られたアナログ電気信号をデジタル化しかつ／又は受信信号にフィルタリング又は調整を実行できる。幾つかの態様では、処理システム（１１０）は、センサ電極と関連付けられたベースラインを控除するか別の方法で考慮できる。例えば、ベースラインは、ユーザ入力が検出されないときにセンサ電極の状態を表わしうる。従って、処理システム（１１０）によって電子システムに提供された情報は、センサ電極から受け取った電気信号と各センサ電極に関連付けられたベースラインとの差を反映できる。幾つかの実施形態では、処理システム（１１０）は、例えば、検出された入力の位置情報を決定し、その入力をコマンドとして認識し、手書きを認識できる。
【００３２】
用語「位置情報」は、本明細書で使用されるとき、（例えば、検出領域（１２０）内の）検出入力の位置又は場所を記述するか他の方法で指示する任意の情報を指す。例示的な位置情報には、絶対位置、相対位置、速度、加速度、及び／又は他のタイプの空間情報が含まれる。用語「ゼロ次元」位置情報は、オブジェクトが検出領域（１２０）に対してどれだけ近く／遠くにあるか、又はオブジェクトが検出領域（１２０）に接しているかどうかを含みうる。用語「一次元」位置情報は、特定の軸に沿った検出入力の位置を示す情報を指す。用語「二次元」位置情報は、平面内の検出入力の位置又は動きを示す情報を指す。用語「三次元」位置情報は、空間内の検出入力の位置、又は瞬間若しくは平均速度を示す情報を指す。位置情報の更に他の例には、空間情報の他の表現、例えば、ある期間にわたる検出入力の位置、動き、又は瞬間速度を追跡する履歴データが含まれうる。
【００３３】
幾つかの実施形態では、入力装置（１００）は、検出領域（１２０）に少なくとも部分的に重なるタッチスクリーンインタフェース（例えば、表示画面）を含む。例えば、入力装置（１００）のセンサ電極は、表示画面上に実質的に透明なオーバレイを構成し、それにより、関連電子システムのためのタッチスクリーンインタフェースが提供されうる。表示画面は、ユーザに視覚インタフェースを表示できる任意のタイプの動的表示装置でよく、また任意のタイプの発光ダイオード（ＬＥＤ）、有機ＬＥＤ（ＯＬＥＤ）、陰極線管（ＣＲＴ）、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）、プラズマ、エレクトロルミネセンス（ＥＬ）、又は他の表示技術を含みうる。入力装置（１００）と表示画面は、物理要素を共用できる。例えば、センサ電極の１つ以上は、表示更新と入力検出の両方を行うように構成されうる。
【００３４】
図１は、構成要素の構成を示すが、本開示の範囲から逸脱せずに他の構成が使用されうる。例えば、様々な構成要素を組み合わせて単一構成要素を作成できる。別の例として、単一構成要素によって実行される機能が、２つ以上構成要素によって実行されうる。従って、少なくとも上述された理由により、開示の実施形態は、図１に示された構成要素及び／又は要素の特定の構成に限定されると見なされるべきでない。
【００３５】
図２Ａに移ると、図２Ａは、１つ以上の実施形態による入力装置（２００）の概略図を示す。図２Ａに示されたように、入力装置（２００）は、レシーバモジュール（２５０）、トランスミッタモジュール（２４０）及び処理システム（２１０）を含みうる。処理システム（２１０）は、図１及び付随説明に示された処理システム（１１０）、及び／又は図７及び付随説明に示された計算処理システム（７００）に類似しうる。トランスミッタモジュール（２４０）は、図１及び付随説明に示されたトランスミッタ回路に類似しうる駆動回路（２４５）を含みうる。例えば、駆動回路（２４５）は、１つ以上のトランスミッタ電極（例えば、トランスミッタ電極Ａ（２３１）、トランスミッタ電極Ｂ（２３２）、トランスミッタ電極Ｃ（２３３）、トランスミッタ電極Ｄ（２３４））を介して送信される１つ以上の検出信号を生成するように構成されたハードウェア及び／又はソフトウェアを含みうる。トランスミッタ電極（２３１、２３２、２３３、２３４）は、図１及び付随説明に示されたトランスミッタ電極に類似しうる。
【００３６】
更に、レシーバモジュール（２５０）は、検出回路（２５５）を含みうる。例えば、検出回路（２５５）は、トランスミッタ電極（２３１、２３２、２３３、２３４）を介して送信された１つ以上の検出信号に応じて、１つ以上のレシーバ電極（例えば、レシーバ電極Ａ（２２１）、レシーバ電極Ｂ（２２２）、レシーバ電極Ｃ（２２３）、レシーバ電極Ｄ（２２４））から１つ以上の結果信号を得るように構成されたハードウェア及び／又はソフトウェアを含みうる。検出回路（２５５）は、図１及び付随説明に示されたレシーバ回路に類似しうる。詳細には、検出回路（２５５）は、レシーバ電極（２２１、２２２、２２３、２２４）から得られた結果信号を検出し分析するために、演算増幅器、デジタル信号処理構成要素、フィルタ及び様々な特定用途向け集積回路などの様々なアナログ調整回路を更に含みうるアナログフロントエンドを含みうる。同様に、レシーバ電極（２２１、２２２、２２３、２２４）は、図１及び付随説明に示されたレシーバ電極に類似しうる。
【００３７】
図２Ｂに移ると、図２Ｂは、１つ以上の実施形態によるセンサ電極パターン（２０２）の概略図を示す。図２Ｂに示されたように、様々なセンサ画素（即ち、センサ画素Ａ（２６１）、センサ画素Ｂ（２６２）、センサ画素Ｃ（２６３）、センサ画素Ｄ（２６４）、センサ画素Ｅ（２６５）、センサ画素Ｆ（２６６））が、センサ電極パターン（２０２）で配置される。詳細には、センサ画素は、例えば検出回路によって容量測定値が得られるセンサ電極パターンの一部でよい。例えば、センサ画素は、レシーバ電極（例えば、レシーバ電極Ａ（２２１）、レシーバ電極Ｂ（２２２）、レシーバ電極Ｃ（２２３）、レシーバ電極Ｄ（２２４））、及びトランスミッタ電極（例えば、トランスミッタ電極Ａ（２３１）、トランスミッタ電極Ｂ（２３２）、トランスミッタ電極Ｃ（２３３）、トランスミッタ電極Ｄ（２３４））の様々な交点に配置されうる。詳細には、トランスミッタ電極（２３１、２３２、２３３、２３４）は、それぞれのトランスミッタ電極間の特定の間隔を規定するトランスミッタ電極ピッチ（２３０）だけ離される。同様に、レシーバ電極（２２１、２２２、２２３、２２４）は、それぞれのトランスミッタ電極間の特定の間隔を規定するレシーバ電極ピッチ（２２０）だけ離されうる。しかしながら、センサ画素がトランスミッタ電極とレシーバ電極の交点に対応しない他の実施形態が考えられる。
【００３８】
図２Ｃに移ると、図２Ｃは、１つ以上の実施形態による入力装置（２０１）の概略図を示す。図２Ｃに示されたように、入力装置（２０１）は、レシーバモジュール（２５１）、トランスミッタモジュール（２４１）及び処理システム（２１１）を含みうる。処理システム（２１１）は、図１及び付随説明に示された処理システム（１１０）、及び／又は図７及び付随説明に示された計算処理システム（７００）に類似しうる。トランスミッタモジュール（２４１）は、図２Ａに示されたトランスミッタモジュール（２４０）に類似し、図１及び付随説明に示されたトランスミッタ回路に類似しうる駆動回路（２４６）を含みうる。同様に、駆動回路（２４６）は、１つ以上のトランスミッタ電極（例えば、トランスミッタ電極Ａ（２９１）、トランスミッタ電極Ｂ（２９２）、トランスミッタ電極Ｃ（２９３）、トランスミッタ電極Ｄ（２９４）、トランスミッタ電極Ｅ（２９５）、トランスミッタ電極Ｆ（２９６））を介して送信される１つ以上の検出信号を生成する機能を有するハードウェア及び／又はソフトウェアを含みうる。トランスミッタ電極（２９１、２９２、２９３、２９４、２９５、２９６）は、図１、図２Ａ及び図２Ｂ及び付随説明に示されたトランスミッタ電極に類似しうる。同様に、ゲート線やソース線などの様々なルーティングトレース（図示せず）が、駆動回路（２４６）をトランスミッタ電極（２９１、２９２、２９３、２９４、２９５、２９６）と結合できる。
【００３９】
更に、レシーバモジュール（２５１）は、検出回路（２５６）を含みうる。例えば、検出回路（２５６）は、トランスミッタ電極（２９１、２９２、２９３、２９４、２９５、２９６）を介して送信された１つ以上の検出信号に応じて、１つ以上のレシーバ電極（例えば、レシーバ電極Ａ（２８１）、レシーバ電極Ｂ（２８２）、レシーバ電極Ｃ（２８３）、レシーバ電極Ｄ（２８４）、レシーバ電極Ｅ（２８５）、レシーバ電極Ｆ（２８６）、レシーバ電極Ｇ（２８７）、レシーバ電極Ｈ（２８８）、レシーバ電極Ｉ（２８９））から１つ以上の結果信号を得る機能を有するハードウェア及び／又はソフトウェアを含みうる。検出回路（２５６）は、また、様々なアナログフロントエンド（例えば、アナログフロントエンドＡ（２７１）、アナログフロントエンドＢ（２７２）、アナログフロントエンドＣ（２７３）、アナログフロントエンドＤ（２７４））を含みうる。検出回路（２５６）は、図１に示されたレシーバ回路及び／又は図２Ａ及び付随説明に示された検出回路（２５５）に類似しうる。
【００４０】
１つ以上の実施形態で、入力装置（２０１）は、マトリクス電極アレイ（例えば、マトリクス電極アレイ（２９０））を含む。例えば、マトリクス電極アレイ（２９０）は、正方形、長方形、円、規則及び不規則形状、及び／又は他の幾何学形状など、所定の形状に従って配置されたトランスミッタ電極（２９１、２９２、２９３、２９４、２９５、２９６）とレシーバ電極（２８１、２８２、２８３、２８４、２８５、２８６、２８７、２８８、２８９）を含みうる。マトリクス電極アレイ（２９０）内で、レシーバ電極とトランスミッタ電極は、所定パターン、例えば、レシーバ電極の次にトランスミッタ電極、２つのレシーバ電極の次に１つのトランスミッタ電極など、を形成するように行及び／又は列が交互になりうる。幾つかの実施形態では、マトリクス電極アレイ（２９０）内の個別のレシーバ電極は、入力装置（２０１）のそれぞれのセンサ画素に対応する。
【００４１】
引き続き図２Ｃで、検出回路（２５６）は、１つ以上の電荷積分器（例えば、電荷積分器Ａ（２９９））を含みうる。詳細には、電荷積分器は、１つ以上の結果信号をそれぞれの結果信号に比例する電圧出力に変換するための機能を含むハードウェア及び／又はソフトウェアを含みうる。例えば、電荷積分器は、アナログフロントエンドの入力端子と基準端子に関して上述したものと同じように構成された入力端子と基準端子を備えた増幅器を含みうる。したがって、電荷積分器Ａ（２９９）は、１つ以上の増幅器、様々な帰還コンデンサ、及び他の回路部品を含みうる。
【００４２】
検出回路（２５６）は、更に、１つ以上の電流コンベアを含みうる。例えば、電流コンベアは、結果信号及び／又は結果信号の近似値を複製するためのハードウェア及び／又はソフトウェアを含みうる。電流コンベアは、様々なタイプのアナログフロントエンドに関して上述された１つ以上のモードに従って構成されてもよい。
【００４３】
図３Ａに移ると、図３Ａは、１つ以上の実施形態による入力装置のセンサ電極パターン（３２０）のインピーダンス回路網を示す。図示されたように、センサ電極パターン（３２０）は、ノード網として表わされた様々なセンサ画素（例えば、センサ画素Ａ（３０５Ａ））を含み、ここで、ノード網内の個々のノードのノードパラメータは、抵抗（Ｒ）、誘導（Ｌ）及び容量（Ｃ）値である。センサ電極パターン（３２０）は、図２Ｂの上に示されたグリッドパターンや、図２Ｃの上に示されたマトリクス電極アレイパターンなど、任意の形状、例えば、長方形、菱形、円形などをとりうる。更に、センサ電極パターン（３２０）は、センサ電極パターン（３２０）のそれぞれのセンサ電極の形状と位置によって規定されうる様々なセンサ画素（３０５）を含む。各センサ画素（３０５）は、センサ電極パターン（３２０）の他のセンサ画素（３０５）のそれぞれとは異なる抵抗、誘導及び容量（Ｒ、Ｌ、Ｃ）値を有しうる。
【００４４】
引き続き図３Ａで、検出信号Ｘ（３１０）は、結果信号Ｘ（３１５Ａ）と結果信号Ｙ（３１５Ｂ）を生じるセンサ電極パターン（３２０）内のノードに影響を及ぼしうる。別の言い方をすると、結果信号Ｘ（３１５Ａ）は、変調された検出信号Ｘ（３１０）を、センサ電極パターン（３２０）内のセンサ電極の１つ以上に送り出す効果を有する。トランスキャパシタンス検出を実行する場合、検出信号Ｘ（３１０）は、第１つのセンサ電極に送られ、それに応じて、第１つのセンサ電極に容量的に結合された第２のセンサ電極に結果信号Ｘ（３１５Ａ）を生成する。例えば、検出信号Ｘ（３１０）は、入力装置内の第１層上のトランスミッタ電極に送られるトランスミッタ信号でよい。
【００４５】
しかしながら、絶対容量検出を行う場合、検出信号Ｘ（３１０）は、検出回路（例えば、電荷積分器への端子などにおける検出回路Ａ（３０６Ａ）、検出回路Ｂ（３０６Ｂ）及び検出回路Ｃ（３０６Ｃ））によって印加され、センサ電極を変調し、検出回路がそのセンサ電極に対応する結果信号Ｘ（３１５Ａ）を測定することを可能にしうる。図３Ａは、トランス容量又は絶対容量検出を行うときのＲ、Ｌ、Ｃ回路網の影響を示すために概略的に描かれる。
【００４６】
各センサ画素（３０５）は、センサ電極の輪郭によって規定された形状を有し、検出回路は、空間内の特定の位置におけるキャパシタンスの個々の測定値を測定して、１つ以上の入力オブジェクトの位置を計算できる。例えば、センサ画素（３０５）は、トランスミッタ電極とレシーバ電極の交差又は絶対容量検出に使用されるセンサ電極の物理的外形によって規定されうる。各センサ画素（３０５）のＲ、Ｌ及びＣ値が異なりうるので、これは、検出信号Ｘ（３１０）と結果信号Ｘ（３１５Ａ）の間の相対位相オフセットが異なりうることを意味する。即ち、各センサ画素（３０５）におけるＲ、Ｌ、Ｃの値は、それぞれの検出信号に対して各結果信号の位相と振幅を変化させうる。
【００４７】
図３Ｂに移ると、図３Ｂは、本明細書に記載された実施形態による検出信号Ｘ（３１０）と結果信号Ｘ（３１５Ａ）と結果信号Ｙ（３１５Ｂ）と間の位相オフセットを示す。図表（４００）は、図３Ａに示された２の異なるセンサ画素（３０５）で生成された２つの結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）間の位相オフセットφを示す。この例では、２つの結果信号（３１５Ａ）及び（３１５Ｂ）を生成するために同じ検出信号Ｘ（３１０）が使用される。２つのセンサ画素（３０５）のＲ、Ｌ及びＣ値が異なるので、結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）と検出信号Ｘ（３１０）の間のそれぞれの位相オフセットが異なる。
【００４８】
点描の縦線（４０５）は、検出信号Ｘ（３１０）の正ピークを示し、線（４１０）と線（４１５）はそれぞれ、結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）の正ピークを示す。図示されたように、結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）は、検出信号Ｘ（３１０）と類似の形状を有するが、異なる振幅と位相遅延を有する。図３Ａに示された検出回路（３０６）は、結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）の異なる点をサンプリングして容量検出測定値を生成する。しかしながら、検出回路（３０６）が結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）をサンプリングする場所は、測定される信号の量に影響を与えうる。例えば、検出回路（３０６）が、線（４０５）によって示された時間に結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）をサンプリングする場合、結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）はそのピークになく、したがって、測定された信号の大きさは、結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）がそのピークにあるときの線（４１０，４１５）に対応する時間に測定される信号より小さい。
【００４９】
図表（４００）は、様々なセンサ画素３０５が検出信号Ｘ（３１０）に対して異なる位相オフセットを有しうることを示す。例えば、検出信号Ｘ（３１０）は、１つのトランスミッタ電極上で駆動され、その結果、２つのレシーバ電極に結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）が生じる。レシーバ電極が、異なるＲ、Ｌ、Ｃ値を有しうるので、検出信号Ｘ（３１０）に対する結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）の位相オフセットが異なる。更に、センサ画素（３０５）のＲ、Ｌ、Ｃ値は、例えば温度変動に基づいて変化又はドリフトしうる。理想的には、検出回路は、結果信号（３１５Ａ、３１５Ｂ）がその局所最大及び最小のとき、位相オフセットとサンプルを識別しうる。
【００５０】
図４に移ると、図４は、１つ以上の実施形態によるフローチャートを示す。具体的には、図４は、入力装置内の位相ベースラインを評価する方法を示す。図４に示されたプロセスは、例えば、図１、図２Ａ、図２Ｂ、図２Ｃ及び図３Ａに関して上述された１つ以上の構成要素（例えば、処理システム（１１０））を含みうる。図４の様々なステップは、連続的に提示され言及されるが、当業者は、ステップの幾つか又は全てが、異なる順序で実行されてもよく、組み合わされても省略されてもよく、ステップの幾つか又は全てが並列に実行されてもよいことを理解するであろう。更に、ステップは、能動的に実行されてもよく受動的に実行されてもよい。
【００５１】
ステップ４００で、１つ以上の実施形態により、検出信号が、トランスミッタ電極に沿って送られる。詳細には、検出信号は、入力装置内の駆動回路によって駆動された変調信号でよい。幾つかの実施形態では、検出信号は、連続検出信号である。例えば、連続検出信号は、送信する検出信号間にリセット間隔を含まなくてもよい。詳細には、リセット間隔は、容量検出シーケンス内で整定周期（settling period）でよく、センサ電極は、次の検出信号が送信される前に基準電圧に戻りうる。１つ以上の実施形態では、例えば、トランスミッタ電極は、図１、図２Ａ、図２Ｂ、図２Ｃ及び図３Ａ及び付随説明に示されたトランスミッタ電極に類似する。
【００５２】
ステップ４１０で、１つ以上の実施形態では、検出信号の送信に応じてレシーバ電極から結果信号が得られる。例えば、結果信号は、トランスミッタ電極とレシーバ電極の間の可変静電容量の影響に対応しうる。他方、結果信号は、レシーバ電極と入力装置の検出領域内の１つ以上の入力オブジェクトとの間の絶対容量の変化を測定するように構成されうる。したがって、結果信号は、トランス容量走査又は絶対容量走査の一部でありうる。同様に、幾つかの実施形態では、結果信号は、ステップ４００によって送られた検出信号に応じて得られた変調信号である。レシーバ電極は、図１、図２Ａ、図２Ｂ、図２Ｃ及び図３Ａと付随説明に示されたレシーバ電極に類似しうる。
【００５３】
幾つかの実施形態では、送信検出信号が連続的に送られる場合、結果信号は、処理システムによって連続的にサンプリングされる。換言すると、容量検出シーケンス内のフレーム間にリセット間隔が存在しないことがあるので、処理システムは、容量検出シーケンス中に容量測定値を連続的に取得しうる。
【００５４】
ステップ４２０で、１つ以上の実施形態により、１つ以上のセンサ画素において位相遅延の同相評価が決定される。詳細には、入力装置は、検出信号及び／又は結果信号が対応するセンサ画素を横切るときにセンサ画素で生じる位相遅延の量を決定できる。例えば、センサ電極パターンの様々なセンサ画素が、ノード網に対応しうる。ノード網内の各ノードｉに関して、信号波形の振幅Ａ（ｉ）と位相Φ（ｉ）が、処理システムによって連続的にサンプリングされうる。こうして、ノード網は、センサ画素の間の様々な送信線を規定できる。ノード網は、センサ電極パターン内のセンサ画素に対応する様々なノードパラメータを定義できるテンソルに対応できる。例えば、テンソルのノードパラメータは、センサ電極パターン（３２０）に関して上で図３Ａと図３Ｂで述べられたＲ、Ｌ及びＣに対応しうる。したがって、テンソルは、例えば、アナログフロントエンドによって検出された結果信号波形の振幅と位相を調整することによって、Ｂ＾に対するセンサ電極パターンの位相ベースラインＢを、特定の信号に対するセンサ電極パターンの１つ以上の影響を定義するより低次元の異なる座標系に変換できる。様々なテンソルは、様々なセンサ電極パターン（例えば、バーストライプセンサ、マトリクス電極アレイ、円形センサなど）に対応できる。
【００５５】
更に、ノード網は、入力装置内の様々な検出信号波形と結果信号波形の間の変化を示しうる。幾つかの実施形態では、例えば、センサ画素は、トランスミッタ電極とレシーバ電極間の交点に対応する。同様に、センサ画素は、図２Ｂと図２Ｃ及び付随説明で上述されたセンサ画素に類似しうる。
【００５６】
更に、センサ画素における位相遅延は、同相成分と直交成分（「Ｉ／Ｑ成分」とも呼ばれる）に分割されうる。ステップ４２０で、位相遅延の同相評価が決定されてもよく、下のステップ４３０で、位相遅延の直交評価が決定されてもよい。幾つかの実施形態では、同相成分と直交成分は、例えばディザリング法を使用して、実質的に同時に決定される。幾つかの実施形態で、入力装置は、容量走査と関連してディザリング法を実行して位相遅延のＩ／Ｑ成分を決定する。
【００５７】
図５に移り、図５は、１つ以上の実施形態による回路図を示す。詳細には、図５は、位相遅延のＩ／Ｑ成分を決定するための回路（５００）を示す。例えば、回路（５００）は、様々なレシーバ電極（例えば、レシーバ電極Ａ（５１１）、レシーバ電極Ｂ（５１２）、検出回路（例えば、検出回路Ａ（５４１）、検出回路Ｂ（５４２））、様々な混合器（例えば、混合器Ａ（５２１）、混合器Ｂ（５２２））、様々なマルチプレクサ（例えば、マルチプレクサＡ（５６１）、マルチプレクサＢ（５６２））、及び様々なアナログデジタル（ＡＤ）コンバータ（例えば、ＡＤ変換器Ａ（５５１）、ＡＤ変換器Ｂ（５５２））を含みうる。レシーバ電極（５１１、５１２）は、図１、図２Ａ、図２Ｂ及び図２Ｃで上述されたレシーバ電極に類似しうる。図５に示されたように、結果信号Ａ（５７１）は、検出回路Ａ（５４１）によって得られ、結果信号Ｂ（５７２）は、検出回路Ｂ（５４２）によって得られる。具体的には、回路（５００）は、更に、位相遅延の同相評価及び／又は直交評価を決定するための回路（５００）を構成する様々なスイッチ（例えば、スイッチＡ（５９１）、スイッチＢ（５９２）、スイッチＣ（５９３）、スイッチＤ（５９４））を含みうる。同様に、処理システム（図示せず）は、１つ以上の制御信号（例えば、制御信号Ａ（５７５）、制御信号Ｂ（５８５））を使用してマルチプレクサ（５６１、５６２）及び／又はスイッチ（５９１、５９２、５９３、５９４）を制御できる。制御信号は、例えば「０」状態又は「１」状態を使用してデバイス出力を選択するように構成されたデジタル電気信号でよい。
【００５８】
続いて図５で、スイッチＡ（５９１）＝１、スイッチＢ（５９２）＝０、スイッチＣ（５９３）＝０、スイッチＤ（５９４）＝１、制御信号Ａ（５７５）＝１及び制御信号Ｂ（５８５）＝１（即ち、「１」が「オン」又は「閉」状態を示し、「０」が「オフ」又は「開」状態を示す）である容量検出状態では、回路（５００）は、検出領域内の１つ以上の入力オブジェクトに関するオブジェクト情報のために結果信号（５７１，５７２）だけを分析しうる。レシーバ電極Ａ（５１１）の位相検出状態の間、スイッチＡ（５９１）＝１、スイッチＢ（５９２）＝０、スイッチＣ（５９３）＝１、スイッチＤ（５９４）＝０、制御信号Ａ（５７５）＝１及び制御信号Ｂ（５８５）＝０である。この状態で、結果信号Ａ（５７１）は、直交信号Ａ（５７４）と同相信号Ｂ（５８３）によってそれぞれ駆動される混合器Ａ（５２１）と混合器Ｂ（５２２）に送られる。混合器（５２１，５２２）から、それぞれ結果信号Ａ（５７１）の直交成分がＡＤ変換器Ａ（５５１）に送られ、結果信号Ａ（５７１）の同相成分がＡＤ変換器Ｂ（５５２）に送られる。これにより、結果信号Ａ（５７１）の同相成分と直交成分が決定される。例えば、混合器（５２１，５２２）から得られた信号は、デジタル領域内で組み合わされて、混合器（５２１，５２２）から送られた信号の和によって表わされる複素数の大きさと位相が決定されうる。
【００５９】
レシーバ電極Ｂ（５１２）の位相検出状態の間、スイッチＡ（５９１）＝０、スイッチＢ（５９２）＝１、スイッチＣ（５９３）＝０、スイッチＤ（５９４）＝１、制御信号Ａ（５７５）＝０及び制御信号Ｂ（５８５）＝１である。この状態で、結果信号Ｂ（５７２）は、混合信号によって駆動される両方の混合器（５２１，５２２）に送られる。混合器（５２１，５２２）の結果は、それぞれＡＤ変換器Ａ（５５１）とＡＤ変換器Ｂ（５５２）に送られ、その結果、レシーバ電極Ｂ（５１２）の位相ベースラインが、処理システム（図示せず）によって計算されうる。図５に示された回路（５００）は、複数のレシーバ電極の位相ベースライン検出を実現するための共有ハードウェアを提供できる。例えば、位相ベースライン評価を決定するとき、結果信号Ａ（５７１）が、混合器Ｂ（５２２）とＡＤ変換器Ｂ（５５２）に送られてもよく、混合器Ａ（５２１）とＡＤ変換器Ａ（５５１）に送られてもよい。２組のレシーバ電極と関連回路を図５に示すが、他の実施形態では、センサ電極パターンの位相ベースライン検出のために３組以上の関連回路及び／又はレシーバ電極が含まれる。
【００６０】
図４に戻り、ステップ４３０で、１つ以上の実施形態による１つ以上のセンサ画素における位相遅延の直交評価が決定される。ステップ４２０と同様に、処理システムは、１つ以上の結果信号を分析して、センサ電極パターンによって生成された位相遅延の直交成分を決定できる。例えば、図５で上述された回路（５００）を使用して、位相遅延の直交評価を決定できる。同様に、幾つかの実施形態では、ディザリング法を使用して直交評価を決定できる。ディザリング法の使用に関するより詳しい情報は、下の図６及び付随説明を参照されたい。
【００６１】
ステップ４４０で、１つ以上の実施形態による同相評価と直交評価を使用して１つ以上のセンサ画素における位相ベースライン評価が決定される。詳細には、処理システムは、評価されたＩ／Ｑ成分を使用して、入力装置内の様々なセンサ画素の位相ベースライン評価を決定できる。例えば、位相ベースライン評価は、センサ電極パターンのそれぞれの画素の様々な位相値のマトリクス又は配列でよい。同様に、位相ベースライン評価は、それぞれのセンサ電極に対応してもよく、例えば、特定の位相遅延が、特定のレシーバ電極からの結果信号と関連付けられうる。決定された後、処理システムは、入力装置内の位相ベースライン評価を記憶しかつ／又は更新できる。したがって、処理システムは、入力装置の現在の位相ベースラインを分析するために、以前の位相ベースライン評価の履歴に容易にアクセスできる。
【００６２】
更に、処理システムは、位相ベースライン評価を使用して１つ以上の結果信号を調整して、調整結果信号を生成できる。例えば、様々な要素（入力装置に対する温度変化、入力装置内の導体間の膨張及び／又は短縮により生成される誘電率変化など）が、入力装置の位相ベースラインの変化に寄与しうる。したがって、位相ベースラインは、容量走査から要素を除去して１つ以上の入力オブジェクトの存在を対象とする信号を得るために追跡されうる。位相ベースライン要素が結果信号内で付加的であると仮定することによって、入力装置は、次に位相ベースライン評価を控除して容量応答内の入力オブジェクト信号を分離できる。幾つかの実施形態で、例えば、処理システムは、位相ベースラインを監視して容量走査内の結果信号に振幅補償を提供する。したがって、同相評価と直交評価を使用して、位相ベースラインは、ＡＦＥサンプリング構成などの検出回路への適用が評価されうる。
【００６３】
幾つかの実施形態で、処理システムは、位相ベースライン評価に基づいて１つ以上の検出信号の送信を調整する。例えば、検出信号が連続信号の場合（例えば、リセット間隔がない）、処理システムは、ステップ４００で検出信号送信を遅延及び／又は前進させ、ステップ４１０で結果信号を取得して、位相ベースライン評価によって示されたセンサ電極パターン内の遅延を考慮できる。更に、位相ベースライン評価が、ある期間にわたって変化するので、処理システムは、送信周波数などの様々な検出信号パラメータを調整して、変化する位相ベースライン評価を考慮できる。
【００６４】
更に、容量検出シーケンスでリセット間隔が使用されない場合、送信された検出信号と測定及び／又は分析する結果信号との間に、ある期間にわたって時間的不一致が起こりうる。こうして、結果信号から決定されたオブジェクト情報が、検出領域内の１つ以上の入力オブジェクトに関して不正確であることを実証できる。したがって、幾つかの実施形態では、処理システムが、センサ電極内の位相遅延の一部をモデル化するために位相評価を決定する。幾つかの実施形態では、例えば、処理システムは、現在の検出位相評価に基づいて位相ベースラインの以前の位相評価を更新する。
【００６５】
図５に戻り、回路（５００）は、マトリクス電極アレイの実施態様で位相ベースライン評価を決定できる。詳細には、マトリクス電極アレイを有する入力装置内の処理システムは、大量のアナログフロントエンド（ＡＦＥ）を含むことがあり、容量検出シーケンスにおける比較的大量のフレーム時間が容量検出に使用されうる。したがって、位相ベースライン評価を決定しかつ／又は更新するために大量のフレーム時間が使用されうる。例えば、入力装置が、５７６個のセンサ電極と５７６個のＡＦＥを有する処理システムを含む場合、入力オブジェクトを検出するために２ミリ秒（ｍｓ）のタッチフレーム時間が使用されうる。雑音バーストを無視すると、タッチフレーム時間は、２つの１ミリ秒バーストに分割されうる。回路（５００）を使用して、第１の２８８個のセンサ電極の位相ベースライン評価を決定するために、第１の１ミリ秒バーストが使用されうる。第２の２８８個の電極の位相ベースライン評価を決定するために、第２の１ミリ秒バーストが使用されうる。同様に、図５に示された技術は、画素ごとの混合クロックを必要としないことがある。幾つかの実施形態で、回路（５００）は、様々な結果信号から得られた同相成分と直交成分の上側波帯と下側波帯を決定するように修正される。
【００６６】
図４に戻ると、ステップ４５０で、１つ以上の実施形態により、１つ以上の結果信号と位相ベースライン評価を使用してオブジェクト情報が決定される。処理システムは、位相ベースライン評価に基づいて調整された結果信号振幅を使用して、オブジェクト情報を決定しうる。例えば、オブジェクト情報は、図１及び付随説明に示された位置情報と類似の位置情報を含みうる。オブジェクト情報は、また、入力オブジェクトサイズ及び／又は入力オブジェクトのタイプ、例えば、入力オブジェクトが、人差し指、掌、ユーザの顔、スタイラスかどうかなど、入力オブジェクトの様々な特徴を含みうる。したがって、処理システムは、結果信号から得られた値をテンプレート及び／又はしきい値と比較して、オブジェクト情報を決定できる。オブジェクト情報は、更に、容量検出シーケンスの報告間隔に従って、処理システムに結合されたホスト装置に報告されうる。
【００６７】
図６に移り、図６は、１つ以上の実施形態によるフローチャートを示す。具体的には、図６は、入力装置を作動させる方法について述べる。図６に示されたプロセスは、例えば、図１、図２Ａ、図２Ｂ、及び図２Ｃに関して上述された１つ以上の構成要素（例えば、処理システム（１１０））を含みうる。図６の様々なステップは、連続的に提示され言及されるが、当業者は、ステップの幾つか又は全てが、異なる順序で実行されてもよく、組み合わされても省略されてもよく、ステップの幾つか又は全てが並列に実行されてもよいことを理解するであろう。更に、ステップは、能動的に実行されても受動的に実行されてもよい。
【００６８】
ステップ６００で、１つ以上の実施形態により、１つ以上のディザ検出信号が、１つ以上のトランスミッタ電極を介して送られる。幾つかの実施形態で、位相遅延は、ディザリング法を使用して繰返し追跡される。ディザリング法は、処理システム及び／又はハードウェアを使用して検出信号内でディザ機能を実現することによって、即ち、ディザ検出信号を送ることによって、位相遅延を追跡するように実現されうる。例えば、ディザリング法は、容量走査中に、ディザ機能εｉ（ｔ）に基づくディザリング条件を１つ以上の検出信号に導入できる。
【００６９】
幾つかの実施形態では、ディザリング法は、同相測定及び／又は直交測定が入力装置ハードウェアによって支援されない場合に使用される。同様に、ディザリング法は、時間シーケンス信号から同相測定値及び／又は直交測定値を得るのを妨げる様々なレイテンシ問題を克服できる。
【００７０】
ステップ６１０で、１つ以上の実施形態により、１つ以上のディザ検出信号に応じて、１つ以上のレシーバ電極から１つ以上の結果信号が得られる。１つ以上の実施形態では、例えば、レシーバ電極は、図１、図２Ａ、図２Ｂ、図２Ｃ及び付随説明に示されたレシーバ電極に類似する。
【００７１】
ステップ６２０で、１つ以上の実施形態により、１つ以上の結果信号とディザ関数を使用して位相遅延の同相評価が決定される。詳細には、処理システムは、ディザ機能に基づいて結果信号から同相評価を計算できる。例えば、ディザリング法を使用して、同相評価は、次の式によって表されうる。
【００７２】
【数１】
2019114248.tif 000003
【００７３】
ここで、φ〜ｌ（Ｔ）は、センサ電極パターンに対応するテンソルＴの関数である同相評価であり、Ａｉは、センサ画素ｉの信号波形の振幅であり、εｉ（ｔ）は、時間ｔの関数として結果信号又は検出信号に導入されるノイズの量を示すディザ関数であり、ａｒｇｍａｘは、（Ａｉ（εｉ（ｔ））の極大値、即ち、位相遅延の同相評価を決定する最大関数の引数に対応する。テンソルＴに関するより詳しい情報は、上の図４のステップ４２０及び付随説明を参照されたい。
【００７４】
ステップ６３０で、１つ以上の実施形態により、１つ以上の結果信号とディザ関数を使用して位相遅延の直交評価が決定される。詳細には、位相遅延の直交評価は、以下の式を使用して表されうる。
【００７５】
【数２】
2019114248.tif 000004
【００７６】
ここで、φ∨ｉ（Ｔ）は、センサ電極パターンに対応するテンソルＴの関数である直交位相評価であり、Ａｉは、センサ画素ｉにおける検出波形の振幅であり、εｉ（ｔ）は、時間ｔの関数としてのセンサ画素ｉにおけるディザリング関数であり、ａｒｇｍｉｎは、Ａｉ（εｉ（ｔ））の最小値の位相評価、即ち直交位相評価を決定する最小関数の引数である。
【００７７】
詳細には、ディザリング法における漸進的ステップとその漸進的ステップの方向は、
【数３】
2019114248.tif 000005
の対応する数値符号と絶対値から決定されてもよく、ここで、Δは、テンソルＴのノードパラメータの変化である。幾つかの実施形態では、位相ベースラインは、（Ａｉ（εｉ（ｔ）），ｔ∈［Ｔ−ｈｉｓｔｏｒｙ，Ｔ］のノードごとの履歴を含む。
【００７８】
ステップ６４０で、位相ベースライン評価は、１つ以上の実施形態により、位相遅延の同相評価と位相遅延の直交評価を使って決定される。
【００７９】
ステップ６５０で、オブジェクト情報が、１つ以上の実施形態により、１つ以上の結果信号と位相ベースライン評価を使って決定される。例えば、オブジェクト情報は、図４及び付随説明のステップ４５０で上述されたようなものと同じように決定されうる。
【００８０】
実施形態は、計算処理システムで実現されうる。モバイル、デスクトップ、サーバ、ルータ、スイッチ、埋込み装置又は他のタイプのハードウェアの任意の組み合わせが使用されうる。例えば、図７に示されたように、計算処理システム（７００）は、１つ以上のコンピュータプロセッサ（７０２）、非永続記憶装置（７０４）（例えば、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）やキャッシュメモリ）などの揮発性メモリ）、永続記憶装置（７０６）（例えば、ハードディスク、コンパクトディスク（ＣＤ）又はデジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）などの光学ドライブ、フラッシュメモリなど）、通信インタフェース（７１２）（例えば、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈインタフェース、赤外線インタフェース、ネットワークインタフェース、光学インタフェースなど）、及び多数の他の要素及び機能を含みうる。
【００８１】
コンピュータプロセッサ（７０２）は、命令を処理するための集積回路でよい。例えば、コンピュータプロセッサは、プロセッサの１つ以上のコア又はマイクロコアでよい。計算処理システム（７００）は、また、タッチスクリーン、キーボード、マウス、マイクロフォン、タッチパッド、電子ペン、又は任意の他のタイプの入力装置など、１つ以上の入力装置（７１０）を含みうる。
【００８２】
通信インタフェース（７１２）は、計算処理システム（７００）を、ネットワーク（図示せず）（例えば、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、インターネットなどの広域ネットワーク（ＷＡＮ）、モバイルネットワーク、又は他のタイプのネットワーク）、及び／又は別の計算処理装置などの別の装置に接続するための集積回路を含みうる。
【００８３】
更に、計算処理システム（７００）は、スクリーン（例えば、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）、プラズマディスプレイ、タッチスクリーン、陰極線管（ＣＲＴ）モニタ、プロジェクタ又は他の表示装置）、プリンタ、外部記憶装置又は他の出力装置などの１つ以上の出力装置（７０８）を含みうる。出力装置の１つ以上は、入力装置と同じでも異なってもよい。入力及び出力装置は、コンピュータプロセッサ（７０２）、非永続記憶装置（７０４）及び永続記憶装置（７０６）にローカル又はリモートで接続されうる。様々なタイプの計算処理システムが存在し、上述の入力及び出力装置は、他の形態をとってもよい。
【００８４】
開示された技術の実施形態を実行するコンピュータ可読プログラムコードの形のソフトウェア命令は、ＣＤ、ＤＶＤ、記憶装置、ディスケット、テープ、フラッシュメモリ、物理メモリ又は他のコンピュータ可読記憶媒体などの非一時的コンピュータ可読媒体に、全体又は部分的に、一時的又は永久的に記憶されうる。具体的には、ソフトウェア命令は、プロセッサによって実行されたときに開示技術の１つ以上の実施形態を実行するように構成されたコンピュータ可読プログラムコードに対応しうる。
【００８５】
共有メモリは、データが複数プロセスによって通信及び／又はアクセスされうる機構を具体化するために仮想記憶空間の割り当てを指す。共有メモリを実現する際、初期化プロセスは、最初に、永続又は非永続記憶装置内に共有可能セグメントを作成する。作成後、初期化プロセスは、共有可能セグメントをマウントし、その後で、共有可能セグメントを初期化プロセスと関連付けられたアドレス空間にマッピングする。マウントに続いて、初期化プロセスは、共有可能セグメントとの間でデータを読み書きもできる１つ以上の許可プロセスに対するアクセス許可を識別し許可し始める。１つのプロセスによって共有可能セグメント内のデータに行われた変更は、やはり共有可能セグメントにリンクされた他のプロセスにもすぐに影響を与えうる。更に、許可プロセスのうちの１つが、共有可能セグメントにアクセスするとき、共有可能セグメントは、その許可プロセスのアドレス空間にマッピングする。多くの場合、初期化プロセスではなく、１つの許可プロセスだけが、共有可能セグメントをいつでもマウントしうる。
【００８６】
開示技術の範囲から逸脱することなく、本出願に記載された様々なデータなどのデータをプロセス間で共有する他の技術が使用されうる。プロセスは、同じ用途又は異なる用途の一部でよく、同じ計算処理システム上又は異なる計算処理システム上で実行できる。
【００８７】
プロセス間のデータの共有の他に又はそれに加えて、開示技術の１つ以上の実施形態を実行する計算処理システムは、ユーザからデータを受け取る機能を有しうる。例えば、１つ以上の実施形態で、ユーザは、ユーザ装置上のグラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ）によってデータを提示できる。データは、グラフィカルユーザインタフェースを介して、タッチパッド、キーボード、マウス又は他の入力装置を使用して、１つ以上のグラフィカルユーザインタフェースウィジェットを選択するか、テキスト及び他のデータをグラフィカルユーザインタフェースウィジェットに挿入するユーザによって提出されうる。特定の項目の選択に応じて、特定の項目に関する情報が、コンピュータプロセッサによって永続又は非永続記憶装置から得られうる。ユーザによって項目が選択されると、特定の項目に関して得られたデータの内容が、ユーザの選択に応じて、ユーザ装置上に表示されうる。
【００８８】
別の例により、特定の項目に関するデータを得る要求が、ネットワークを介してユーザ装置に動作的に接続されたサーバに送信されうる。例えば、ユーザは、ユーザ装置のウェブクライアント内のユニフォームリソースロケータ（ＵＲＬ）リンクを選択し、それにより、ハイパーテキスト転送プロトコル（ＨＴＴＰ）又は他のプロトコル要求が、ＵＲＬと関連付けられたネットワークホストに送られる。その要求に応じて、サーバは、特定の選択された項目に関するデータを抽出し、要求を出した装置にデータを送信できる。ユーザ装置が、特定の項目に関するデータを受信した後、特定の項目に関する受信データの内容が、ユーザの選択に応じて、ユーザ装置上に表示されうる。上記の例に加えて、ＵＲＬリンクを選択した後でサーバから受信したデータが、ウェブクライアントによって描写されユーザ装置上に表示されうるハイパーテキストマークアップ言語（ＨＴＭＬ）のウェブページを提供できる。
【００８９】
データが得られた後、上述の技術を使用するか又は記憶装置からなど、計算処理システムは、開示技術の１つ以上の実施形態を実行する際に、得られたデータから１つ以上のデータ項目を抽出できる。例えば、抽出は、図７の計算処理システム（７００）によって以下のように実行されうる。最初に、位置（例えば、ビット又は列位置、データストリーム内の第Ｎトークンなど）、属性（属性は１つ以上の値と関連付けられる）、又は階層／木構造（入れ子パケットヘッダや入れ子ドキュメントセクションなどの様々な詳細レベルのノード層からなる）の１つ以上に基づきうる、データの編成パターン（例えば、文法、スキーマ、配置）が決定される。次に、データシンボルの生の未処理ストリームが、編成パターンのコンテキストで、トークン（各トークンが関連トークン「タイプ」を有することがある）のストリーム（又は、層構造）にパーズされる。
【００９０】
次に、トークンストリーム又は構造から１つ以上のデータ項目を抽出するために抽出基準が使用され、この抽出基準は、１つ以上のトークン（又は、階構造からノード）を抽出するために編成パターンに従って処理される。位置ベースデータの場合、抽出基準によって識別される位置にあるトークンが抽出される。属性／値ベースデータの場合、抽出基準を満たす属性と関連付けられたトークン及び／又はノードが抽出される。階層的／層状データには、抽出基準と一致するノードと関連付けられたトークンが抽出される。抽出基準は、識別子文字列と同じくらい単純でもよく、構造化データリポジトリに提示されるクエリでもよい（データリポジトリは、データベーススキーマ又はＸＭＬなどのデータ形式に従って編成されうる）。
【００９１】
抽出されたデータは、計算処理システムによって更なる処理のために使用されうる。例えば、図７の計算処理システムは、開示技術の１つ以上の実施形態を実行している間に、データ比較を実行できる。データ比較を使用して２つ以上のデータ値（例えば、Ａ、Ｂ）を比較する。例えば、１つ以上の実施形態は、Ａ＞Ｂか、Ａ＝Ｂか、Ａ！＝Ｂか、Ａ＜Ｂかなどを決定できる。この比較は、Ａ、Ｂ、及び比較に関連した演算を指定する演算コードを、演算論理ユニット（ＡＬＵ）（即ち、２つのデータ値に演算及び／又はビット単位論理演算を実行する回路）に送ることによって実行されうる。ＡＬＵは、演算の数値結果及び／又は数値結果に関連した１つ以上の状態フラグを出力する。例えば、状態フラグは、数値結果が、正の数、負の数、ゼロであるかどうかなどを示しうる。演算コードを適切に選択し、次に数値結果及び／又は状態フラグを読み取ることによって、比較が行われうる。例えば、Ａ＞Ｂかどうかを決定するために、ＢをＡから減算して（即ち、Ａ−Ｂ）、状態フラグを読み取って、結果が正であるかどうかを決定できる（即ち、Ａ＞Ｂの場合はＡ−Ｂ＞０）。１つ以上の実施形態では、Ｂがしきい値と見なされてもよく、ＡＬＵを使用して決定されるように、Ａは、Ａ＝Ｂの場合又はＡ＞Ｂの場合にしきい値を満たすと考えられうる。開示技術の１つ以上の実施形態では、ＡとＢはベクトルでよく、ＡをＢと比較するには、ベクトルＡの第１の要素とベクトルＢの第１の要素とを比較し、ベクトルＡの第２の要素とベクトルＢの第２の要素とを比較するなどが必要である。１つ以上の実施形態で、ＡとＢが文字列の場合、文字列の２進値が比較されうる。
【００９２】
図７の計算処理システムは、データリポジトリを実装してもよくかつ／又はデータレポジトリに接続されてもよい。例えば、データリポジトリのひとつのタイプは、データベースである。データベースは、データの検索、修正、再構成及び削除を容易するように構成された情報の集合である。データベース管理システム（ＤＢＭＳ）は、ユーザがデータベースを定義、作成、照会、更新、又は管理するためのインタフェースを提供するソフトウェアアプリケーションである。
【００９３】
図７の計算処理システムは、比較や他の処理の結果など、生及び／又は処理済みデータを提示する機能を有しうる。例えば、データの提示は、様々な提示方法によって達成されうる。具体的には、データは、計算処理装置によって提供されるユーザインタフェースによって提示されうる。ユーザインタフェースは、ハンドヘルドコンピュータ装置上のコンピュータモニタやタッチスクリーンなどの表示装置上に情報を表示するＧＵＩを含みうる。ＧＵＩは、何のデータが示されまたデータがユーザにどのように提示されるかを編成する様々なＧＵＩウィジェットを含みうる。更に、ＧＵＩにより、データは直接ユーザに提示されてもよく、例えば、テキストによって実際のデータ値として提示されてもよく、計算処理装置によってデータモデルの視覚化などによってデータの視覚表現に描写されてもよい。
【００９４】
例えば、ＧＵＩは、最初に、特定のデータオブジェクトがＧＵＩ内に提示されることを要求するソフトウェアアプリケーションから通知を得る。次に、ＧＵＩは、特定のデータオブジェクトと関連付けられたデータオブジェクトタイプを、例えば、データオブジェクト内の、データオブジェクトタイプを識別するデータ属性からデータを得ることによって決定できる。次に、ＧＵＩは、そのデータオブジェクトタイプを表示するために指定され任意の規則、例えば、データオブジェクトクラスのソフトウェアフレームワークによって指定された規則、又はそのデータオブジェクトタイプを提示するためにＧＵＩによって定義された任意のローカルパラメータによる規則を決定できる。最後に、ＧＵＩは、特定のデータオブジェクトからデータ値を取得し、データ値の視覚的表現を、そのデータオブジェクトタイプに指定された規則に従って表示装置内に描写できる。
【００９５】
データは、様々な音声再生方法によって提示されうる。詳細には、データは、音声形式にされ、計算処理装置に動作的に接続された１つ以上のスピーカによって音として提示されうる。
【００９６】
データは、触覚方法によってユーザに提示されてもよい。例えば、触覚方法は、計算処理システムによって生成された振動や他の物理的信号を含みうる。例えば、データは、ハンドヘルドコンピュータ装置によって生成された、データを通信するために振動の所定の持続時間と強度を有する振動を使用して、ユーザに提示されうる。
【００９７】
機能の以上の説明は、図７の計算処理システムによって実行される機能のわずかな例を提示するに過ぎない。他の機能は、開示技術の１つ以上の実施形態を使用して実行されうる。
【００９８】
幾つかの実施形態では、開示技術は、入力装置に関する。入力装置は、様々なトランスミッタ電極を含み、トランスミッタ電極は、トランスミッタ電極の中の１つ以上のトランスミッタ電極に沿って様々な検出信号を送る。入力装置は、更に、様々なレシーバ電極を含み、トランスミッタ電極とレシーバ電極は、入力装置内の様々なセンサ画素を規定する。入力装置は、更に、レシーバ電極の中の１つのレシーバ電極に結合された検出回路を含む。検出回路は、第１の結果信号と第２の結果信号をレシーバ電極から取得する。入力装置は、更に、検出回路に結合された第１の混合器を含む。第１の混合器は、第１の結果信号と同相信号を組み合わせて、センサ画素の中の１つのセンサ画素の位相遅延の同相評価を生成する。入力装置は、更に、検出回路に結合された第２の混合器を含む。第２の混合器は、第２の結果信号と直交信号を組み合わせて、センサ画素の位相遅延の直交評価を生成する。同相評価と直交評価は、センサ画素の位相ベースライン評価を決定する。
【００９９】
開示技術を限られた数の実施形態に関して述べたが、この開示技術の利益を有する当業者は、本明細書に開示されたような開示技術の範囲から逸脱しない他の実施形態が考案されうることを理解するであろう。従って、開示技術の範囲は、添付の特許請求の範囲によってのみ限定されるべきである。
【符号の説明】
【０１００】
１００  入力装置
１１０  処理システム
１２０  検出領域
１３０  ボタン
１４０  入力オブジェクト
１５０  決定モジュール
１６０  センサモジュール
２００  入力装置
２１０  処理システム
２０２  センサ電極パターン
２２１，２２２，２２３，２２４  レシーバ電極
２３１、２３２、２３３、２３４  トランスミッタ電極
２６１、２６２、２６３、２６４、２６５、２６６  センサ画素
【図１】
2019114248.tif 000006
【図２Ａ】
2019114248.tif 000007
【図２Ｂ】
2019114248.tif 000008
【図２Ｃ】
2019114248.tif 000009
【図３Ａ】
2019114248.tif 000010
【図３Ｂ】
2019114248.tif 000011
【図４】
2019114248.tif 000012
【図５】
2019114248.tif 000013
【図６】
2019114248.tif 000014
【図７】
2019114248.tif 000015
【外国語明細書】
2019114248000001.pdf