(57)【要約】【課題】搬送されている全ての搬送物を検査可能であり、その検査結果を搬送物の生産工程に即座に反映させることができる搬送物の応力測定装置を提供する。【解決手段】Ｘ線照射手段１１が、一定の速度で搬送される１または複数の搬送物１に対して、Ｘ線を所定の時間照射可能に設けられている。受光手段１２が、搬送物１で回折されたＸ線の回折光を検出可能に設けられている。応力取得手段１３が、受光手段１２で検出されたＸ線の回折光に基づいて、搬送物１の応力を求めるよう構成されている。測定制御手段１４が、Ｘ線照射手段１１のＸ線の照射タイミングを制御可能な照射制御手段１５を有している。また、測定制御手段１４は、受光手段１２のＸ線の回折光の受光タイミング、および、応力取得手段１３の応力を求めるタイミングも制御可能に構成されている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一定の速度で搬送される１または複数の搬送物の応力を測定するための搬送物の応力測定装置であって、
前記搬送物に対してＸ線を所定の時間照射可能に設けられたＸ線照射手段と、
前記搬送物で回折された前記Ｘ線の回折光を検出可能に設けられた受光手段と、
前記受光手段で検出された前記Ｘ線の回折光に基づいて、前記搬送物の応力を求める応力取得手段とを、
有することを特徴とする搬送物の応力測定装置。
【請求項２】
前記Ｘ線照射手段および前記受光手段は、１対１に対応して複数対設けられ、
各Ｘ線照射手段は、それぞれ同じ搬送物の異なる位置または異なる搬送物に対して、Ｘ線を照射可能であり、
各受光手段は、それぞれ対応するＸ線照射手段から照射されたＸ線の回折光を受光可能であり、
前記応力取得手段は、各受光手段で検出された各Ｘ線の回折光に基づいて、各Ｘ線が照射された位置での応力を求めるよう構成されていることを
特徴とする請求項１記載の搬送物の応力測定装置。
【請求項３】
対応する前記Ｘ線照射手段と前記受光手段とが一体的に設けられていることを特徴とする請求項２記載の搬送物の応力測定装置。
【請求項４】
前記Ｘ線照射手段は、複数のＸ線を、それぞれ同じ搬送物の異なる位置または異なる搬送物に対して照射可能に設けられ、
前記受光手段は、各Ｘ線に対応して複数設けられ、それぞれ対応するＸ線の回折光を受光可能であり、
前記応力取得手段は、各受光手段で検出された各Ｘ線の回折光に基づいて、各Ｘ線が照射された位置での応力を求めるよう構成されていることを
特徴とする請求項１記載の搬送物の応力測定装置。
【請求項５】
前記受光手段は、前記Ｘ線の回折光の像である回折環を検出可能であり、
前記応力取得手段は、前記受光手段で検出された前記回折環に基づいて、ｃｏｓα法により、前記搬送物の応力を求めるよう構成されていることを
特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の搬送物の応力測定装置。
【請求項６】
前記Ｘ線照射手段は、複数のＸ線を、前記搬送物の同じ位置に異なる角度で照射可能に設けられ、
前記受光手段は、各Ｘ線に対応して複数設けられ、それぞれ対応するＸ線の回折光の像である回折環を受光可能であり、
前記応力取得手段は、各受光手段で検出された各回折環に基づいて、前記搬送物の３軸応力を求めるよう構成されていることを
特徴とする請求項１記載の搬送物の応力測定装置。
【請求項７】
照射制御手段を有し、
前記Ｘ線照射手段は、各Ｘ線を照射可能に設けられた複数から成り、それぞれ前記搬送物の搬送方向に沿って配置され、
前記照射制御手段は、各Ｘ線が前記搬送物の同じ位置に照射されるよう、各Ｘ線照射手段のＸ線の照射タイミングを制御可能に設けられていることを
特徴とする請求項６記載の搬送物の応力測定装置。
【請求項８】
測定制御手段を有し、
前記搬送物は複数から成り、順番に前記一定の速度で搬送されており、
前記測定制御手段は、各搬送物の応力を測定するよう、各Ｘ線照射手段のＸ線の照射タイミングと、前記受光手段の前記Ｘ線の回折光の受光タイミングと、前記応力取得手段の応力を求めるタイミングとを制御可能に設けられていることを
特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の搬送物の応力測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、搬送物の応力測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、鉄鋼材料連続鋳造工程や熱間圧延工程、冷間圧延工程、鍛造工程、線引き工程など、連続的に材料が生産されている現場では、生産された材料の品質を管理するために、搬送されている材料の中から所定の割合で測定用の材料を取り出し、既存の応力測定装置（例えば、特許文献１参照）により、材料の各部の表面近傍の残留応力を測定することが行われている。引張残留応力が材料の降伏強度を超過すると塑性変形やき裂が発生し、残留応力値が低くてもクリープ変形などで加工後の寸法変化や形状変化が起こるからである。また、搬送されている材料に対し、携帯型の応力測定装置（例えば、特許文献２参照）を用いて表面近傍の残留応力を測定することも行われている。
【０００３】
また、測定対象物を移動させながら応力測定を行うものとして、測定対象の鋼管の内部に挿入可能に設けられたＸ線応力測定装置を用い、鋼管とＸ線応力測定装置とを互いに回転したりスライドさせたりしながら、鋼管の各部の測定を行う測定システムが、本発明者により開発されている（例えば、特許文献３参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−３６８６１号公報
【特許文献２】特許第５５０５３６１号公報
【特許文献３】特許第５９２０５９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、搬送されている材料の中から測定用の材料を取り出して表面残留応力を測定する方法では、全ての材料を検査することはできないという課題があった。また、測定結果を得るまでに時間がかかるため、引張応力や過大な圧縮応力が残留するなどの品質低下が確認されても、材料の生産工程に即座に反映させることができないという課題もあった。携帯型の応力測定装置を用いて搬送されている材料の応力測定を行う方法では、測定中に測定位置が動かないよう、搬送されている材料に対して測定装置を固定する必要があるため、搬送する全ての材料を検査するのは現実的ではなく、非常に困難であるという課題があった。特許文献３では搬送物質からの回折線半価幅の変化をモニターして異常箇所を検出することが記載されているが、搬送物質の応力値を計測することはできなかった。
【０００６】
本発明は、このような課題に着目してなされたもので、搬送されている全ての搬送物を検査可能であり、その検査結果を搬送物の生産工程に即座に反映させることができる搬送物の応力測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明に係る搬送物の応力測定装置は、一定の速度で搬送される１または複数の搬送物の応力を測定するための搬送物の応力測定装置であって、前記搬送物に対してＸ線を所定の時間照射可能に設けられたＸ線照射手段と、前記搬送物で回折された前記Ｘ線の回折光を検出可能に設けられた受光手段と、前記受光手段で検出された前記Ｘ線の回折光に基づいて、前記搬送物の応力を求める応力取得手段とを、有することを特徴とする。
【０００８】
本発明に係る搬送物の応力測定装置は、鉄鋼材料連続鋳造工程や熱間圧延工程、冷間圧延工程、鍛造工程、線引き工程など、連続的に材料が生産されて搬送される現場等で好適に使用することができる。本発明に係る搬送物の応力測定装置は、Ｘ線照射手段により、搬送されている搬送物にＸ線を所定の時間照射することにより、その所定の時間に照射された範囲での平均的な応力を求めることができる。複数の搬送物が順次搬送されている場合でも、各搬送物に対して所定の時間ずつＸ線を間欠的に照射することにより、各搬送物の応力を求めることができる。
【０００９】
本発明に係る搬送物の応力測定装置は、複数の搬送物が順次搬送されている場合、例えば、搬送物が通過する所定の位置で、搬送されてくる各搬送物に順次Ｘ線が当たるよう、Ｘ線照射手段が、所定のタイミングで断続的にＸ線を照射可能に構成されていてもよい。この場合、Ｘ線照射手段は、例えば、チョッパ制御等により断続的にパルスＸ線を照射可能になっている。また、Ｘ線照射手段が連続的にＸ線を照射し、搬送されてくる各搬送物からのＸ線の回折光を順次検出するよう、受光手段が所定のタイミングで断続的に受光可能に構成されていてもよい。
【００１０】
このように、本発明に係る搬送物の応力測定装置は、搬送されている全ての搬送物について応力を求めて検査することができる。このため、検査のために、所定の割合で搬送物をサンプリングしたり、応力測定のための試料を搬送物から切り出したりする必要がなく、経済的であり、かつ加工に伴う応力変化の心配もない。また、例えば、断続的な回折光検出の隙間時間を利用して、応力取得手段で応力を求めたり、並行処理により応力取得手段で応力を求めたりすることにより、搬送物の応力をＸ線の照射後の比較的早い段階で求めることができる。これにより、各搬送物の検査結果を、搬送物の生産工程に即座に反映させることができ、搬送物に引張応力や過大な圧縮応力が残留するなどの品質低下を迅速に是正することができる。また、引張応力や過大圧縮応力残留箇所や搬送物自体を、次の工程に行く前の段階で取り除くことができ、変形や破壊、無駄な工程が発生するのを防ぐこともできる。
【００１１】
本発明に係る搬送物の応力測定装置で、Ｘ線照射手段および受光手段は、応力取得手段で搬送物の応力を求めることができる程度の回折光が得られるよう、Ｘ線の照射時間および回折光の受光時間が設定されていることが好ましい。また、Ｘ線照射手段は、搬送物の搬送速度や、搬送物の応力を求める範囲、応力を求める手法などに応じて、Ｘ線の照射時間を調整可能であることが好ましい。応力取得手段は、いかなる手法により搬送物の応力を求めてもよく、例えば、ｓｉｎ２ψ法やｃｏｓα法により表面近傍の平面応力を求めてもよく、Ｘ線２Ｄ法により３軸応力を求めてもよい。
【００１２】
また、本発明に係る搬送物の応力測定装置は、例えば、既存の携帯型の応力測定装置を利用して構成されていてもよい。また、Ｘ線照射手段は、例えば、可搬型の空冷式のＸ線照射装置であってもよい。また、受光手段は、例えば、シンチレーションカウンターやＰＳＰＣ（位置敏感型比例検出器）であってもよく、ＩＰ（イメージングプレート）、ＣＣＤやＣＭＯＳなどの半導体、マイクログリッドなどの２次元検出器であってもよい。
【００１３】
本発明に係る搬送物の応力測定装置で、前記Ｘ線照射手段および前記受光手段は、１対１に対応して複数対設けられ、各Ｘ線照射手段は、それぞれ同じ搬送物の異なる位置または異なる搬送物に対して、Ｘ線を照射可能であり、各受光手段は、それぞれ対応するＸ線照射手段から照射されたＸ線の回折光を受光可能であり、前記応力取得手段は、各受光手段で検出された各Ｘ線の回折光に基づいて、各Ｘ線が照射された位置での応力を求めるよう構成されていてもよい。この場合、１つの搬送物に対して複数箇所の応力を求めたり、複数の搬送物の応力を一度に求めたりすることができる。なお、対応する前記Ｘ線照射手段と前記受光手段とが一体的に設けられていてもよい。
【００１４】
本発明に係る搬送物の応力測定装置で、前記Ｘ線照射手段は、複数のＸ線を、それぞれ同じ搬送物の異なる位置または異なる搬送物に対して照射可能に設けられ、前記受光手段は、各Ｘ線に対応して複数設けられ、それぞれ対応するＸ線の回折光を受光可能であり、前記応力取得手段は、各受光手段で検出された各Ｘ線の回折光に基づいて、各Ｘ線が照射された位置での応力を求めるよう構成されていてもよい。この場合、Ｘ線照射手段の１つのＸ線源で複数のＸ線を照射することができ、経済的である。また、１つの搬送物に対して複数箇所の応力を求めたり、複数の搬送物の応力を一度に求めたりすることができる。
【００１５】
本発明に係る搬送物の応力測定装置で、前記受光手段は、前記Ｘ線の回折光の像である回折環を検出可能であり、前記応力取得手段は、前記受光手段で検出された前記回折環に基づいて、ｃｏｓα法により、前記搬送物の応力を求めるよう構成されていてもよい。この場合、搬送物の平面応力を求めることができる。
【００１６】
本発明に係る搬送物の応力測定装置で、前記Ｘ線照射手段は、複数のＸ線を、前記搬送物の同じ位置に異なる角度で照射可能に設けられ、前記受光手段は、各Ｘ線に対応して複数設けられ、それぞれ対応するＸ線の回折光の像である回折環を受光可能であり、前記応力取得手段は、各受光手段で検出された各回折環に基づいて、前記搬送物の３軸応力を求めるよう構成されていてもよい。この場合、例えば、Ｘ線２Ｄ法などを用いて３軸応力を求めることができる。
【００１７】
また、この３軸応力を求める場合、照射制御手段を有し、前記Ｘ線照射手段は、各Ｘ線を照射可能に設けられた複数から成り、それぞれ前記搬送物の搬送方向に沿って配置され、前記照射制御手段は、各Ｘ線が前記搬送物の同じ位置に照射されるよう、各Ｘ線照射手段のＸ線の照射タイミングを制御可能に設けられていてもよい。あるいは、各Ｘ線が同時に搬送物の同じ位置に照射されるよう構成されていてもよい。
【００１８】
本発明に係る搬送物の応力測定装置は、測定制御手段を有し、前記搬送物は複数から成り、順番に前記一定の速度で搬送されており、前記測定制御手段は、各搬送物の応力を測定するよう、各Ｘ線照射手段のＸ線の照射タイミングと、前記受光手段の前記Ｘ線の回折光の受光タイミングと、前記応力取得手段の応力を求めるタイミングとを制御可能に設けられていてもよい。この場合、測定制御手段により、各搬送物の応力を効率良く求めるよう制御することができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、搬送されている全ての搬送物を検査可能であり、その検査結果を搬送物の生産工程に即座に反映させることができる搬送物の応力測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の実施の形態の搬送物の応力測定装置の、複数のＸ線照射手段および受光手段が対向して配置された使用状態を示す平面図である。
【図２】本発明の実施の形態の搬送物の応力測定装置の、Ｘ線が交わるよう配置された、複数のＸ線照射手段および受光手段の使用状態を示す平面図である。
【図３】本発明の実施の形態の搬送物の応力測定装置の、１台のＸ線照射手段から照射される複数のＸ線の回折光を受光するよう配置された、Ｘ線照射手段および複数の受光手段の使用状態を示す平面図である。
【図４】本発明の実施の形態の搬送物の応力測定装置の、３軸応力を計算可能に配置された、複数のＸ線照射手段および受光手段の使用状態を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、図面に基づいて、本発明の実施の形態について説明する。
図１乃至図４は、本発明の実施の形態の搬送物の応力測定装置を示している。
図１乃至図４に示すように、搬送物の応力測定装置１０は、一定の速度で搬送される１または複数の搬送物１の応力を測定するための搬送物の応力測定装置１０であって、Ｘ線照射手段１１と受光手段１２と応力取得手段１３と測定制御手段１４とを有している。
【００２２】
Ｘ線照射手段１１は、搬送物１に対してＸ線を所定の時間照射可能に設けられている。具体的な一例では、Ｘ線照射手段１１は、可搬型の空冷式のＸ線照射装置から成っている。なお、Ｘ線照射手段１１は、チョッパ制御等により断続的にパルスＸ線を照射可能であってもよく、連続的にＸ線を照射可能であってもよい。
【００２３】
受光手段１２は、Ｘ線照射手段１１から搬送物１に対して照射されたＸ線の、搬送物１で回折された回折光を検出可能に設けられている。具体的な一例では、受光手段１２は、ＩＰ（イメージングプレート）から成っているが、その他にも、例えば、シンチレーションカウンターやＰＳＰＣ（位置敏感型比例検出器）であってもよく、ＣＣＤやＣＭＯＳなどの半導体、マイクログリッドなどの２次元検出器であってもよい。
【００２４】
応力取得手段１３および測定制御手段１４は、コンピュータ２１から成っており、Ｘ線照射手段１１および受光手段１２に接続されている。応力取得手段１３は、受光手段１２で検出されたＸ線の回折光に基づいて、搬送物１の応力を求めるよう構成されている。応力取得手段１３は、いかなる手法により搬送物１の応力を求めてもよく、例えば、ｓｉｎ２ψ法やｃｏｓα法により表面の平面応力を求めてもよく、２Ｄ法により３軸応力を求めてもよい。
【００２５】
測定制御手段１４は、照射制御手段１５を内蔵しており、照射制御手段１５により、１台または複数台のＸ線照射手段１１からの、１本または複数本のＸ線の照射タイミングを制御可能に設けられている。照射制御手段１５は、例えば、複数のＸ線が搬送物１の同じ位置に照射されるよう、Ｘ線の照射タイミングを制御したり、複数のＸ線が同時に搬送物１の同じ位置に照射されるよう、Ｘ線の照射タイミングを制御したりするよう構成されている。
【００２６】
また、測定制御手段１４は、各受光手段１２のＸ線の回折光の受光タイミング、および、応力取得手段１３の応力を求めるタイミングも制御可能に設けられている。測定制御手段１４は、例えば、複数の搬送物１が順次搬送されている場合、搬送物１が通過する所定の位置で、搬送されてくる各搬送物１に順次Ｘ線が当たるよう、Ｘ線照射手段１１の照射タイミングを制御可能に構成されていてもよい。また、Ｘ線照射手段１１から連続的にＸ線を照射させ、搬送されてくる各搬送物１からのＸ線の回折光を順次断続的に検出するよう、各受光手段１２の受光タイミングを制御可能に構成されていてもよい。
【００２７】
また、測定制御手段１４は、応力取得手段１３で搬送物１の応力を求めることができる程度の回折光が得られるよう、Ｘ線照射手段１１によるＸ線の照射時間および各受光手段１２による回折光の受光時間を制御可能になっている。また、測定制御手段１４は、搬送物１の搬送速度や、搬送物１の応力を求める範囲、応力を求める手法などに応じて、Ｘ線照射手段１１のＸ線の照射時間を制御可能になっている。
【００２８】
搬送物の応力測定装置１０は、鉄鋼材料連続鋳造工程や熱間圧延工程、冷間圧延工程、鍛造工程、線引き工程など、連続的に材料が生産されて搬送される現場等で好適に使用することができる。具体的な一例では、搬送物１の搬送速度は、０．５ｃｍ／秒〜１０ｍ／秒である。搬送物の応力測定装置１０は、例えば、以下のような様々な配置で、搬送物１の応力を測定することができる。
【００２９】
Ｘ線照射手段１１および受光手段１２は、それぞれ１台であってもよいが、図１および図２に示すように、１対１に対応して複数対設けられていてもよい。より具体的には、図１に示すように、対応するＸ線照射手段１１および受光手段１２が、搬送物１の搬送路２に対して対向する位置に設けられていてもよく、搬送路２に対して同じ側に設けられていてもよい。この場合、各Ｘ線照射手段１１は、それぞれ同じ搬送物１の異なる位置にＸ線を照射可能であってもよく、異なる搬送物１に対してＸ線を照射可能であってもよい。各受光手段１２は、それぞれ対応するＸ線照射手段１１から照射されたＸ線の回折光を受光可能であり、応力取得手段１３は、各受光手段１２で検出された各Ｘ線の回折光に基づいて、各Ｘ線が照射された位置での応力を求めるよう構成されている。これにより、１つの搬送物１に対して複数箇所の応力を求めたり、複数の搬送物１の応力を一度に求めたりすることができる。
【００３０】
また、図２に示すように、対応するＸ線照射手段１１および受光手段１２が、照射するＸ線が交わると共に、Ｘ線を照射する搬送物１に対してほぼ対称の位置に設けられていてもよい。この場合、各Ｘ線照射手段１１は、それぞれ同じ搬送物１の異なる位置にＸ線を照射可能であり、１つの搬送物１に対して複数箇所の応力を求めることができる。
【００３１】
なお、図１および図２の場合、対応するＸ線照射手段１１と受光手段１２とが一体的に設けられていてもよい。この場合、市販のポータブル型Ｘ線残留応力測定装置（例えば、パルステック工業株式会社製「μ−Ｘ３６０ｓ」）を利用して構成することができる。
【００３２】
また、図３に示すように、Ｘ線照射手段１１は、１つのＸ線源から複数のＸ線を照射可能であり、各Ｘ線を同じ搬送物１の異なる位置に照射可能であってもよく、各Ｘ線を異なる搬送物１に対して照射可能であってもよい。受光手段１２は、各Ｘ線に対応して複数設けられ、それぞれ対応するＸ線の回折光を受光可能であり、応力取得手段１３は、各受光手段１２で検出された各Ｘ線の回折光に基づいて、各Ｘ線が照射された位置での応力を求めるよう構成されている。この場合、１つのＸ線源で複数のＸ線を照射することができ、経済的である。また、１つの搬送物１に対して複数箇所の応力を求めたり、複数の搬送物１の応力を一度に求めたりすることができる。
【００３３】
また、図１〜図３に示す場合、例えば、各受光手段１２が、Ｘ線の回折光の像である回折環を検出可能であり、応力取得手段１３が、各受光手段１２で検出された回折環に基づいて、ｃｏｓα法により、搬送物１の平面応力を求めるよう構成されていてもよい。
【００３４】
また、図４に示すように、Ｘ線照射手段１１は、１または複数台から成り、複数のＸ線を、搬送物１の同じ位置に異なる角度で照射可能に設けられ、各受光手段１２は、各Ｘ線に対応して複数設けられ、それぞれ対応するＸ線の回折光の像である回折環を受光可能であり、応力取得手段１３は、各受光手段１２で検出された各回折環に基づいて、２Ｄ法により、搬送物１の３軸応力を求めるよう構成されていてもよい。この場合、Ｘ線照射手段１１および各受光手段１２を、２Ｄ法で３軸応力を計算可能な配置にしておく。
【００３５】
搬送物の応力測定装置１０は、Ｘ線照射手段１１により、搬送されている搬送物１にＸ線を所定の時間照射することにより、その所定の時間に照射された範囲での平均的な応力を求めることができる。また、搬送物の応力測定装置１０は、搬送されている全ての搬送物１について応力を求めて検査することができる。このため、検査のために、所定の割合で搬送物１をサンプリングしたり、応力測定のための試料を搬送物１から切り出したりする必要がなく、経済的である。
【００３６】
また、搬送物の応力測定装置１０は、測定制御手段１４により、断続的な回折光検出の隙間時間を利用して、応力取得手段１３で応力を求めたり、並行処理により応力取得手段１３で応力を求めたりすることにより、搬送物１の応力を効率良く求めることができる。また、搬送物１の応力を、Ｘ線の照射後の比較的早い段階で求めることができる。これにより、各搬送物１の検査結果を、搬送物１の生産工程に即座に反映させることができ、搬送物１の応力不足などの品質低下を迅速に是正することができる。また、応力不足の箇所や応力不足の搬送物１自体を、次の工程に行く前の段階で取り除くことができ、無駄な工程が発生するのを防ぐこともできる。
【実施例１】
【００３７】
搬送物の応力測定装置１０により、図１に示す配置に対応させて、搬送物１の応力測定を行った。Ｘ線照射手段１１および受光手段１２は、それぞれ１つとし、Ｘ線照射手段１１と受光手段１２とが一体的に設けられたポータブル型Ｘ線残留応力測定装置のパルステック工業株式会社製「μ−Ｘ３６０ｓ」を用いた。測定対象の搬送物１として、冷間圧延により搬送されている直径２０ｍｍの炭素鋼Ｓ４５Ｃを用いた。測定では、搬送物１の圧延速度（搬送速度）を１ｃｍ／秒とした。また、Ｘ線照射手段１１のＸ線源を空冷のＣｒ−Ｋα線源とし、管電圧を３０ｋＶ、管電流を３ｍＡとして、チョッパ制御により断続的にパルスＸ線を照射した。また、使用回折角をα−Ｆｅ（２１１）の２θ０＝１５６°とし、受光手段１２により、その回折環をＩＰに記録した。また、測定では、応力取得手段１３により、受光手段１２のＩＰに記録された回折環に基づいて、ｃｏｓα法で搬送物１の表面応力を求めた。
【００３８】
１回での測定時間を２０秒とし、その間にＸ線が照射される距離２０ｃｍの範囲での、搬送物１の表面の平均応力を求めた。なお、搬送物１の表面でのＸ線の照射範囲は、直径１ｍｍの円であった。また、求められる表面応力は、深さ約１０μｍまでの平均値である。搬送物１の表面での移動方向をｘ、それに垂直な方向をｙとしたとき、求められた表面残留応力σｘｘ、σｙｙは、それぞれσｘｘ＝−２５０ＭＰａ、σｙｙ＝−３５０ＭＰａであった。
【実施例２】
【００３９】
搬送物の応力測定装置１０により、図４に示す配置に対応させて、搬送物１の応力測定を行った。測定には、本発明者等により開発された、特願２０１７−０１８８４５号に記載された携帯型３軸応力測定装置を用いた。測定対象の搬送物１として、冷間スウェージ加工により搬送されている直径３０ｍｍのクロムモリブデン鋼ＳＣＭ４３５Ｈを用いた。測定では、搬送物１の加工速度（搬送速度）を０．５ｃｍ／秒とした。また、Ｘ線照射手段１１のＸ線源を空冷のＣｒ−Ｋα線源とし、管電圧を３０ｋＶ、管電流を３ｍＡとして、連続的にＸ線を照射した。また、使用回折角をα−Ｆｅ（２１１）の２θ０＝１５６°とし、受光手段１２により、その回折環を、回転スリットを用いて間欠的にＩＰに記録した。測定では、Ｘ線照射手段１１で連続的にＸ線を照射しつつ、搬送物１に対してＸ線照射手段１１および受光手段１２を動かしながら、様々な配置での回折環をＩＰに記録した。得られた様々な配置での回折環に基づいて、応力取得手段１３により、重回帰分析で搬送物１の３軸応力を求めた。
【００４０】
１回での測定時間を２０秒とし、その間にＸ線が照射される距離１０ｃｍの範囲での、搬送物１の平均３軸応力を求めた。なお、搬送物１の表面でのＸ線の照射範囲は、直径１ｍｍの円であった。また、求められる３軸応力は、深さ約１０μｍまでの平均値である。搬送物１の表面の移動方向をｘ、それに垂直な方向をｙ、深さ方向をｚとしたとき、求められた表面応力σｘｘ、σｙｙ、σｚｚは、それぞれσｘｘ＝−２００ＭＰａ、σｙｙ＝−３００ＭＰａ、σｚｚ＝−１００ＭＰａであった。
【符号の説明】
【００４１】
１  搬送物
２  搬送路
１０  搬送物の応力測定装置
１１  Ｘ線照射手段
１２  受光手段
１３  応力取得手段
１４  測定制御手段
１５  照射制御手段
２１  コンピュータ
【図１】
2019128307.tif 000003
【図２】
2019128307.tif 000004
【図３】
2019128307.tif 000005
【図４】
2019128307.tif 000006