(57)【要約】【課題】成形品の砕片をＸ線検査装置により容易に検知することができる。【解決手段】成形品の高分子材料に、Ｘ線検査装置により検知可能なタングステン粉末又は酸化タングステン粉末が分散されている。【選択図】  図３
2019048953.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
高分子材料を成形してなる成形品であって、前記高分子材料にタングステン粉末又は酸化タングステン粉末が分散されていることを特徴とする成形品。
【請求項２】
前記高分子材料がゴムであり、
前記タングステン粉末又は前記酸化タングステン粉末の割合が略２５質量％以下であることを特徴とする請求項１に記載の成形品。
【請求項３】
高分子材料を成形してなる成形品であって、前記高分子材料に酸化タングステン粉末が略５質量％〜略２５質量％分散されていることを特徴とする成形品。
【請求項４】
前記酸化タングステン粉末の割合が略１０質量％〜略２５質量％であることを特徴とする請求項３に記載の成形品。
【請求項５】
高分子材料を成形してなる成形品であって、前記高分子材料にタングステン粉末が略３質量％〜略２５質量％分散されていることを特徴とする成形品。
【請求項６】
少なくとも一部分が、請求項１から５のいずれか一項に記載の成形品で構成されたことを特徴とする食品製造装置用部品。
【請求項７】
食品の製造に使用される食品製造用高分子製品において、
少なくとも一部分が、請求項１から５のいずれか一項に記載の成形品で構成されたことを特徴とする食品製造用高分子製品。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、成形品、食品製造装置用部品及び食品製造用高分子製品に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、ゴムまたは合成樹脂に、顔料および強磁性ステンレス粉が分散して混入されたゴムまたは合成樹脂製成形品が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１４−２３７７８６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
食品の製造や加工を行なう製造ラインにおいては、搬送用ベルト、パッキン、調理器具、手袋等のさまざまな高分子（ゴム、合成樹脂等）製の製品が用いられているが、劣化等により製品の砕片が食品内へ混入する可能性がある。
【０００５】
食品内へ混入した砕片の検知は、金属探知機を用いる方法が主流であったが、食品への異物混入を確実に防止するため、近年ではＸ線検査装置が用いられるようになってきている。しかしながら、強磁性ステンレス粉はＸ線検査装置により検知することができないため、特許文献１に記載の発明ではＸ線検査装置を用いた検査に対応することができないという問題がある。
【０００６】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、成形品の砕片をＸ線検査装置により容易に検知することができる成形品、食品製造装置用部品及び食品製造用高分子製品を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明に係る成形品は、例えば、高分子材料を成形してなる成形品であって、前記高分子材料にタングステン粉末又は酸化タングステン粉末が分散されていることを特徴とする。
【０００８】
本発明に係る成形品によれば、高分子材料にタングステン粉末又は酸化タングステン粉末を分散して成形する。これにより、成形品の砕片を、Ｘ線検査装置によって容易に検知することができる。また、酸化タングステン粉末は淡色であるため、高分子材料に酸化タングステン粉末が分散される場合には成形品を様々な色に着色することができる。
【０００９】
ここで、前記高分子材料がゴムであり、前記タングステン粉末又は前記酸化タングステン粉末の割合が略２５質量％以下であってもよい。これにより、高分子材料にゴムを用いたときに高分子材料の破断強度を高く保つことができる。
【００１０】
上記課題を解決するために、本発明に係る成形品は、高分子材料を成形してなる成形品であって、前記高分子材料に酸化タングステン粉末が略５質量％〜略２５質量％分散されていることを特徴とする。これにより、固体の食品等に成形品の破片が混入したときに確実に除去したい破片の大きさである略φ２ｍｍ以上の成形品の破片をＸ線検査装置により検知することができる。
【００１１】
ここで、前記酸化タングステン粉末の割合が略１０質量％〜略２５質量％であってもよい。これにより、成形品の破片が略φ１ｍｍ程度と小さい場合であっても、成形品の破片をＸ線検査装置により検知することができる。
【００１２】
上記課題を解決するために、本発明に係る成形品は、高分子材料を成形してなる成形品であって、前記高分子材料にタングステン粉末が略３質量％〜略２５質量％分散されていることを特徴とする。これにより、成形品の破片が略φ１ｍｍ程度と小さい場合であっても、成形品の破片をＸ線検査装置により検知することができる。
【００１３】
上記課題を解決するために、本発明に係る食品製造装置用部品は、例えば、少なくとも一部分が、請求項１から５のいずれか一項に記載の成形品で構成されたことを特徴とする。上記課題を解決するために、本発明に係る食品製造用高分子製品は、例えば、食品の製造に使用される食品製造用高分子製品において、少なくとも一部分が、請求項１から５のいずれか一項に記載の成形品で構成されたことを特徴とする。これにより、食品の製造、加工過程において食品に混入した砕片を、Ｘ線検査装置により容易に検知することができる。また、酸化タングステン粉末は淡色であるため、高分子材料に酸化タングステン粉末が分散される場合には食品製造装置用部品や食品製造用高分子製品を様々な色に着色することができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、成形品の砕片をＸ線検査装置により容易に検知することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の成形品を適用した板状部材が用いられたコンベア装置１の一例を示す図である。
【図２】ベルト１１の断面を模式的に示す図である。
【図３】本発明の成形品を適用した食品製造装置用部品であるＯリング２の一例を模式的に示す図であり、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＤ−Ｄ断面図である。
【図４】本発明の成形品を適用した食品製造用高分子製品のうちの調理器具であるヘラ３の一例を模式的に示す図であり、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＥ−Ｅ断面図である。
【図５】高分子材料にタングステン粉末又は酸化タングステン粉末を混ぜたときの成形品の破断強度を示すグラフであって、高分子材料に対するタングステン粉末又は酸化タングステン粉末の割合を変化させたときの成形品の破断強度の変化を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明について、図面を参照して詳細に説明する。本実施形態の成形品は、高分子材料を成形してなる成形品であって、高分子材料に磁性体粉末及びＸ線遮蔽粉末（本実施の形態では、タングステン粉末又は酸化タングステン粉末）が分散されたものである。
【００１７】
この成形品は、食品製造装置用部品や食品製造用高分子製品に適用可能である。食品製造装置用部品は、食品の製造に使用される食品製造装置に使用される部品であり、特に限定されるものではないが、例えば板状部材、Ｏリング、パッキンである。食品製造用高分子製品は、食品の製造に使用される製品であり、特に限定されるものではないが、例えば調理器具、エプロン、手袋である。
【００１８】
図１は、本発明の成形品を適用した板状部材が用いられたコンベア装置１の一例を示す図である。コンベア装置１は、食品や医薬品等の小物を搬送する用途として使用される食品製造装置であり、板状部材は、コンベア装置１の部品であるベルト１１に用いられる。
【００１９】
コンベア装置１は、主として、図示しないコンベヤフレームの先端側及び後端側にそれぞれ設けられるヘッドプーリ１２、テールプーリ１３と、ヘッドプーリ１２とテールプーリ１３との間に張設されるベルト１１と、図示しない駆動源により回転駆動されるドライブプーリ１４と、を有する。ドライブプーリ１４が回転駆動されると、ベルト１１が、ヘッドプーリ１２とテールプーリ１３との間を周回駆動する。
【００２０】
図２は、ベルト１１の断面を模式的に示す図である。図２では、ベルト１１を長手方向と略直交する方向に沿って切断している。また、図２では、説明のため拡大表示している。ベルト１１は、本発明の成形品を用いた板状部材１５の間に、金属の線材を織って形成された金網１６が挟まれている。なお、板状部材１５の間に挟まれるのは金網１６に限定されない。
【００２１】
なお、本発明の成形品を適用した板状部材は、ベルト１１以外、例えば食品製造機械近傍に設けられる間仕切り等にも用いることができる。
【００２２】
図３は、本発明の成形品を適用した食品製造装置用部品であるＯリング２の一例を模式的に示す図であり、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＤ−Ｄ断面図である。Ｏリング２は、全体が本発明の成形品で構成される。
【００２３】
図４は、本発明の成形品を適用した食品製造用高分子製品のうちの調理器具であるヘラ３の一例を模式的に示す図であり、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＥ−Ｅ断面図である。ヘラ３の持ち手３ａは、金属製の芯材３１を本発明の成形品を用いた成形部３２が覆うように構成される。ただし、芯材３１は、金属に限らず、高強度樹脂（例えば、高強度ナイロン）を用いてもよい。なお、ヘラ３は調理器具の一例であり、スクレイパー、刷毛等も調理器具に含まれる。
【００２４】
このように、食品製造装置用部品及び食品製造用高分子製品は、全体が本発明の成形品で構成されてもよいし、少なくとも一部分が本発明の成形品で構成されてもよい。
【００２５】
本発明の成形品、食品製造装置用部品及び食品製造用高分子製品は、射出成形、紫外線硬化樹脂成形、熱硬化性樹脂成形等様々な方法で製造することができる。ただし、高分子材料の配向、Ｘ線遮蔽粉末の分散に有利な押出成形で製造することが望ましい。
【００２６】
なお、本発明の成形品は、食品加工プラントで使用される部品、道具、衣類等にも適用することができる。食品加工プラントとは、食品を扱う工場全般を指し、食品を加工・調理するだけでなく、食品を選別したり、包装したりするだけの工場を包含する。ここで、食品加工プラントで扱う食品にはサプリメント、ビタミン剤等を含む。また、本発明の成形品は、医薬品製造装置用部品及び医薬品製造用高分子製品にも適用することができる。
【００２７】
図２、図３（Ｂ）、図４（Ｂ）に模式的に示すように、本発明の成形品は、高分子材料ＡにＸ線遮蔽粉末Ｂが均等に分散される。以下、成形品について詳細に説明する。
【００２８】
高分子材料の例としては、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、エラストマー、弾性を有する材料（ゴム）等があげられる。これらの高分子材料は、１種を単独で使用してもよいし、２種以上を併用してもよい。
【００２９】
熱可塑性樹脂の例としては、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリカーボネート（ＰＣ）、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン共重合体樹脂（ＡＢＳ）、ポリエチレン（ＰＥ）、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）、アラミド樹脂、エラストマーが挙げられる。熱硬化性樹脂の例としては、エポキシ樹脂が挙げられる。ゴムの例としては、ウレタンゴム、シリコンゴム、ＥＰＤＭ（エチレンプロピレンゴム）、ＮＢＲ（ニトリルゴム）、ＨＮＢＲ（水素化ニトリルゴム）、ＳＢＲ（スチレンブタジエンゴム）、ＮＲ（天然ゴム）が挙げられる。
【００３０】
次にＸ線遮蔽粉末について説明する。成形品等の破片が食品に混入した際に、Ｘ線検査装置で破片を検出可能とするために、Ｘ線遮蔽粉末を高分子材料に混ぜる。Ｘ線遮蔽粉末は、タングステン（Ｗ）粉末又は酸化タングステン（ＷＯ３）粉末であり、粒子径は略０．１〜５０μｍである。Ｘ線遮蔽粉末の粒子径が小さくなればなるほど高分子材料の中にＸ線遮蔽粉末が均等に分散されやすくなるが、製造の容易さ等を考慮すると、Ｘ線遮蔽粉末の粒子径を略１〜５μｍとすることが望ましい。
【００３１】
酸化タングステン粉末は、酸化状態では淡色（例えば白色）であるため、様々な色の成形品、食品製造装置用部品及び食品製造用高分子製品を製造することができる。
【００３２】
＜物性の評価＞
ここで、高分子材料にタングステン粉末又は酸化タングステン粉末を分散させて、これを成形して得られた成形品の機械的性質について説明する。図５は、高分子材料にタングステン粉末又は酸化タングステン粉末を混ぜたときの成形品の破断強度を示すグラフであって、高分子材料に対するタングステン粉末又は酸化タングステン粉末の割合を変化させたときの成形品の破断強度の変化を示すグラフである。図５では、高分子材料として水素化ニトリルゴム（ＨＮＢＲ）を用いたときの結果を示している。図５の横軸は、タングステン粉末又は酸化タングステン粉末の配合比（質量％）であり、図５の縦軸は、高分子材料にタングステン粉末又は酸化タングステン粉末を配合した成形品の破断強度であり、高分子材料のみの成形品の破断強度を１００としたときの値である。ここで破断強度とは、試験片を引っ張ったときに試験片が耐えられる最大の力（引張強さ）である。
【００３３】
図５に示すように、タングステン粉末又は酸化タングステン粉末の割合が略２５質量％以下のときは、高分子材料に酸化タングステン粉末を混ぜたとしても、高分子材料のみの成形品の破断強度と大きな変化はない。それに対し、タングステン粉末又は酸化タングステン粉末の割合が略２５質量％を越えると、高分子材料にタングステン粉末又は酸化タングステン粉末を混ぜた成形品の破断強度が急激に低下する。したがって、高分子材料の破断強度を高く保つという観点から、高分子材料に混ぜるタングステン粉末又は酸化タングステン粉末の割合を略２５質量％以下とすることが望ましい。
【００３４】
また、高分子材料にタングステン粉末を混ぜたときと、高分子材料に酸化タングステン粉末を混ぜたときとを比較すると、タングステン粉末又は酸化タングステン粉末の配合割合が略２５質量％以下の領域において、高分子材料にタングステン粉末を混ぜた成形品は、高分子材料に酸化タングステン粉末を混ぜた成形品よりも破断強度が高い。また、高分子材料にタングステン粉末を混ぜた成形品は、高分子材料に酸化タングステン粉末を混ぜた成形品よりも、タングステン粉末又は酸化タングステン粉末の配合割合を増やしたときの破断強度の減衰量が小さい。したがって、成形品の破断強度という観点からは、高分子材料に酸化タングステン粉末を混ぜることが望ましい。
【００３５】
＜Ｘ線の遮蔽効果の評価＞
以下に、Ｘ線遮蔽粉末の効果について具体的に説明する。なお、以下に示す材料、配合比、製造方法等は、これに限定されるものではない。
【００３６】
１．Ｘ線遮蔽粉末が酸化タングステン粉末である場合
高分子材料として水素化ニトリルゴムを用い、水素化ニトリルゴムに酸化タングステン粉末を混ぜて成形材料を生成した。ここでは、酸化タングステン粉末の割合が異なる５通りの成形材料を生成した。パターン１は、水素化ニトリルゴムが略９５質量％、酸化タングステン粉末が略５質量％であり、パターン２は、水素化ニトリルゴムが略９０質量％、酸化タングステン粉末が略１０質量％であり、パターン３は、水素化ニトリルゴムが略８５質量％、酸化タングステン粉末が略１５質量％であり、パターン４は、水素化ニトリルゴムが略８０質量％、酸化タングステン粉末が略２０質量％であり、パターン５は、水素化ニトリルゴムが略７５質量％、酸化タングステン粉末が略２５質量％である。
【００３７】
このパターン１〜５の成形材料を押出機の加熱シリンダーの中で溶融、流動化させ、加熱シリンダー内の成形材料をスクリューで連続的に前進させ、スクリューの回転と内圧で口金を通って連続的に押し出す押出成形により成形品を製造した。
【００３８】
得られた成形品を略球形にしたテストピースを形成し、テストピースをＸ線検査装置内部のベルトに貼付し、テストピースにＸ線を照射した結果を測定した。テストピースの大きさは、直径が１ｍｍ（粒径φ１ｍｍ）、２ｍｍ（粒径φ２ｍｍ）、３ｍｍ（粒径φ３ｍｍ）の３通りである。
【００３９】
パターン１〜５の成形材料は、それぞれ、無着色のもの（白）と、青、黄、赤のそれぞれに着色したものと、の合計４通りの色で作成した。今回は、成形前の成形材料に顔料を用いて着色を行った。顔料は、有機系のものでもよいし、無機系のものでもよい。
【００４０】
表１、２は、パターン１〜５の成形材料のそれぞれについてφ１〜３ｍｍのテストピースを作成し、これらをＸ線検査装置を用いて検査した結果を示す。検査には、アンリツインフィビス株式会社製のＸ線検査装置、型式ＫＤ７４０５ＡＷＨを用いた。なお、Ｘ線検査装置はアンリツインフィビス株式会社製の型式ＫＤ７４０５ＡＷＨに限らず、φ０．３ｍｍの金属球が検出可能な検出感度を有するＸ線検査装置を用いることができる。
【００４１】
表１は、管電圧が３０ｋＶ、管電流が４．１ｍＡ、ベルト速度が２０ｍ／分の条件下における検出結果であり、表２は、管電圧が３０ｋＶ、管電流が３．３ｍＡ、ベルト速度が３０ｍ／分の条件下における検出結果である。
【００４２】
【表１】
2019048953.tif 000003
【００４３】
【表２】
2019048953.tif 000004
【００４４】
テストピースに含まれる酸化タングステン粉末の量が多ければ多いほど、Ｘ線検査装置での検出が容易である。したがって、高分子材料に対する酸化タングステン粉末の割合が多い方がＸ線検査装置での検出が容易である。言い換えれば、パターン１〜５の中では、パターン１が最も検出が困難な条件であり、パターン５が最も検出が容易な条件である。また、テストピースの大きさが大きい方がＸ線検査装置での検出が容易となる。言い換えれば、テストピースの粒径がφ１ｍｍの場合が最も検出が困難な条件であり、粒径がφ３ｍｍの場合が最も検出が容易な条件である。
【００４５】
テストピースの粒径がφ２ｍｍ以上の場合には、表１、２のどちらの条件であっても、パターン１〜５の全てにおいてテストピースが検出された。すなわち、高分子材料に酸化タングステン粉末が略５質量％以上分散された成形品については、成形品の破片がφ２ｍｍ以上の大きさであれば破片をＸ線検査装置で検出可能である。
【００４６】
テストピースの粒径がφ１ｍｍの場合には、表１の条件ではパターン１〜５の全てにおいてテストピースが検出された。しかしながら、ベルト速度が早く、Ｘ線検査装置での検出がより困難な表２の条件では、テストピースの粒径がφ１ｍｍの場合に、パターン１の成形品のテストピースが検出できなかった。つまり、高分子材料に酸化タングステン粉末が略１０質量％以上分散された成形品については、φ１ｍｍ程度のより小さい破片についても検出可能である。
【００４７】
また、表１、２共に、テストピースの色による差異は見られなかった。すなわち、成形品にどのような着色を行ったとしても、酸化タングステン粉末のＸ線の遮蔽効果は変わらなかった。
【００４８】
２．Ｘ線遮蔽粉末がタングステン粉末である場合
高分子材料として水素化ニトリルゴムを用い、水素化ニトリルゴムにタングステン粉末を混ぜて成形材料を生成した。ここでは、タングステン粉末の割合が異なる８通りの成形材料を生成した。パターン６は、水素化ニトリルゴムが略９９質量％、タングステン粉末が略１質量％であり、パターン７は、水素化ニトリルゴムが略９８質量％、タングステン粉末が略２質量％であり、パターン８は、水素化ニトリルゴムが略９７質量％、タングステン粉末が略３質量％であり、パターン９は、水素化ニトリルゴムが略９５質量％、タングステン粉末が略５質量％であり、パターン１０は、水素化ニトリルゴムが略９０質量％、タングステン粉末が略１０質量％であり、パターン１１は、水素化ニトリルゴムが略８５質量％、タングステン粉末が略１５質量％であり、パターン１２は、水素化ニトリルゴムが略８０質量％、タングステン粉末が略２０質量％であり、パターン１３は、水素化ニトリルゴムが略７５質量％、タングステン粉末が略２５質量％である。タングステン粉末は濃灰色〜黒色であるため、パターン６〜１３の成形材料を黒色に着色した。
【００４９】
このパターン６〜１３の成形材料を押出機の加熱シリンダーの中で溶融、流動化させ、加熱シリンダー内の成形材料をスクリューで連続的に前進させ、スクリューの回転と内圧で口金を通って連続的に押し出す押出成形により成形品を製造した。そして、得られた成形品を粒径φ１ｍｍ、φ２ｍｍ、φ３ｍｍの略球形にしたテストピースを形成し、テストピースをＸ線検査装置内部のベルトに貼付し、テストピースにＸ線を照射した結果を測定した。このときの検査結果を表３に示す。検査には、酸化タングステン粉末の場合と同様、アンリツインフィビス株式会社製のＸ線検査装置、型式ＫＤ７４０５ＡＷＨを用いたが、φ０．３ｍｍの金属球が検出可能な検出感度を有するＸ線検査装置を用いることができる。
【００５０】
【表３】
2019048953.tif 000005
【００５１】
テストピースに含まれるタングステン粉末の量が多ければ多いほど、Ｘ線検査装置での検出が容易である。したがって、高分子材料に対するタングステン粉末の割合が多い方がＸ線検査装置での検出が容易である。言い換えれば、パターン６〜１２の中では、パターン６が最も検出が困難な条件であり、パターン１２が最も検出が容易な条件である。また、テストピースの大きさが大きい方がＸ線検査装置での検出が容易となる。言い換えれば、テストピースの粒径がφ１ｍｍの場合が最も検出が困難な条件であり、粒径がφ３ｍｍの場合が最も検出が容易な条件である。
【００５２】
テストピースの粒径がφ３ｍｍ以上の場合には、パターン６〜１２の全てにおいてテストピースが検出された。つまり、高分子材料にタングステン粉末が略１質量％以上分散された成形品については、成形品の破片がφ３ｍｍ以上の大きさであれば破片をＸ線検査装置で検出可能である。
【００５３】
しかしながら、テストピースの粒径がφ１ｍｍの場合には、パターン６、７の成形品のテストピースが検出できなかった。つまり、高分子材料にタングステン粉末が略３質量％以上分散された成形品については、φ１ｍｍ程度のより小さい破片についても検出可能である。
【００５４】
本実施の形態によれば、成形品にタングステン粉末又は酸化タングステン粉末が分散されているため、成形品の破片が食品等に誤って混入しても、Ｘ線検査装置により容易に検知することができる。Ｘ線検査装置は、食品の検査に一般的に用いられるため、特別な検査工程を増やすことなく、成形品の破片を検出することができる。
【００５５】
特に、食品製造装置用部品であるコンベア装置１のベルト１１には、直接食品が載置されるため、食品へ破片が混入しやすい。また、食品製造用高分子製品である調理器具や手袋は、直接食品に触れる製品であるため、破片が食品に付着しやすい。したがって、これらの製品を磁性体粉末及びＸ線遮蔽粉末が高分子材料に分散された成形品を用いて構成することで、食品へ混入した破片を容易に検知することができる。
【００５６】
また、本実施の形態によれば、高分子材料に混ぜる粉末がタングステン粉末のみ又は酸化タングステン粉末のみであるため、Ｘ線遮蔽粉末を複数用意する必要がなく、成形材料の作成が容易である。
【００５７】
また、本実施の形態によれば、酸化タングステン粉末は淡色であるため、様々な色に着色した成形品を生成することができる。例えば、高分子材料にタングステン粉末を混ぜる場合には、タングステン粉末が視認できないように、タングステン粉末の色（濃灰色〜黒色）よりも濃い色、例えば黒色の成形品しか生成することができない。それに対し、高分子材料に酸化タングステン粉末を混ぜる場合には、様々な色の成形品に対応することができる。したがって、例えば、製造ライン毎に異なる色の成形品を用いた食品製造装置用部品や食品製造用高分子製品を用いたり、製造工程毎に異なる色の成形品を用いた食品製造装置用部品や食品製造用高分子製品を用いたりすることも可能となる。
【００５８】
また、本実施の形態によれば、高分子材料に酸化タングステン粉末を略５質量％以上の割合で混ぜることで、固体の食品等に成形品の破片が混入したときに確実に除去したい破片の大きさである略φ２ｍｍ以上の成形品の破片をＸ線検査装置により検知することができる。また、高分子材料に酸化タングステン粉末を略１０質量％以上の割合で混ぜることで、液体やゲル状の食品等に成形品の破片が混入したときに確実に除去したい破片の大きさである略φ１ｍｍ以上の成形品の破片をＸ線検査装置により検知することができる。
【００５９】
また、本実施の形態によれば、高分子材料にタングステン粉末を混ぜることで、略φ３ｍｍ以上の成形品の破片をＸ線検査装置により検知することができる。また、高分子材料にタングステン粉末を略３質量％以上の割合で混ぜることで、略φ１ｍｍ以上の成形品の破片をＸ線検査装置により検知することができる。タングステン粉末の比重は１９．３であり、酸化タングステン粉末の比重である７．１６より大きいため、Ｘ線遮蔽粉末としてタングステン粉末を用いる場合には、Ｘ線遮蔽粉末として酸化タングステン粉末を用いる場合よりも少ない混合割合で同様のＸ線遮蔽効果を得ることができる。
【００６０】
また、本実施の形態によれば、高分子材料にゴムを用い、ゴムにタングステン粉末又は酸化タングステン粉末を略２５質量％以下の割合で混ぜることで、ゴムの破断強度を高く保つことができる。また、ゴムにタングステン粉末を混ぜた成形品は、ゴムに酸化タングステン粉末を混ぜた成形品よりも、タングステン粉末又は酸化タングステン粉末の配合割合を増やしたときの破断強度の減衰量が小さく、ゴムに酸化タングステン粉末を混ぜることで高強度の成形品を提供することができる。
【００６１】
以上、この発明の実施形態を、図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。また、本発明において、「略」とは、厳密に同一である場合のみでなく、同一性を失わない程度の誤差や変形を含む概念である。
【符号の説明】
【００６２】
１                  ：コンベア装置
２                  ：Ｏリング
３                  ：ヘラ
３ａ                ：持ち手
１１                ：ベルト
１２                ：ヘッドプーリ
１３                ：テールプーリ
１４                ：ドライブプーリ
１５                ：板状部材
１６                ：金網
３１                ：芯材
３２                ：成形部
Ａ                  ：高分子材料
Ｂ                  ：Ｘ線遮蔽粉末
【図１】
2019048953.tif 000006
【図２】
2019048953.tif 000007
【図３】
2019048953.tif 000008
【図４】
2019048953.tif 000009
【図５】
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