(57)【要約】【課題】光ファイバの損失の不均一性をより精度よく測定する。【解決手段】ＯＴＤＲ測定装置の固有の非線形性を示し、パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）である補正情報Ｉｃを算出する補正値算出ステップと、測定対象となる光ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定する実測ステップと、実測ステップによって得られたデータのうち、光パワーについての情報を、前記補正情報Ｉｃを用いて補正する補正ステップと、を有する、光ファイバの損失測定方法。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＴＤＲ測定装置の固有の非線形性を示し、パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）である補正情報Ｉｃを算出する補正値算出ステップと、
測定対象となる光ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定する実測ステップと、
前記実測ステップによって得られたデータのうち、光パワーについての情報を、前記補正情報Ｉｃを用いて補正する補正ステップと、を有する、光ファイバの損失測定方法。
【請求項２】
前記補正値算出ステップにおいて、前記光ファイバと異なる基準ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定した結果を用いることで、前記補正情報Ｉｃを算出する、請求項１に記載の光ファイバの損失測定方法。
【請求項３】
前記補正値算出ステップにおいて、前記光ファイバと異なる複数の光ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定した結果を平均させることで、前記補正情報Ｉｃを算出する、請求項１に記載の光ファイバの損失測定方法。
【請求項４】
ＯＴＤＲ測定に用いるパルス光を出射するパルス発生器と、
前記パルス発生器に接続され、測定対象となる光ファイバに入射された前記パルス光の後方散乱光を、前記パルス光から分岐させる方向性結合器と、
前記後方散乱光から前記光ファイバの損失を測定する信号処理部と、を備え、
前記信号処理部は、パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）である補正情報Ｉｃを記憶し、前記補正情報Ｉｃを用いて、前記光ファイバの測定結果を補正する、ＯＴＤＲ測定装置。
【請求項５】
ＯＴＤＲ測定装置の固有の非線形性を示し、パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）である補正情報Ｉｃを算出する補正値算出ステップと、
測定対象となる光ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定する実測ステップと、
前記実測ステップによって得られたデータのうち、光パワーについての情報を、前記補正情報Ｉｃを用いて補正する補正ステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバの損失測定方法、ＯＴＤＲ測定装置、およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバの損失測定方法として、特許文献１が開示するようなＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）法が知られている。ＯＴＤＲ法は、光ファイバの長手方向における損失の分布を測定する際に一般的に用いられている。これは、ＯＴＤＲ法によれば、光ファイバの接続点や断線などの局所的な損失の変動を測定可能なためである。
ＯＴＤＲ法では、長手方向における任意の２点について、当該２点間の後方散乱光パワーの差を当該２点間の距離で割ることにより、当該２点間における光ファイバの損失を計算することができる。この計算方法を一定区間内における全データに適用し、最小二乗近似（LSA：Least Squares Approximation）直線を求め、このＬＳＡ直線の傾きを損失値とすることが一般的である。
【０００３】
また、光ファイバでは、損失が長手方向で均一であることも求められる。損失の不均一性を評価する方法としては、非特許文献１および非特許文献２に示す方法が知られている。
非特許文献１では、光ファイバの長手方向における損失の変動を評価するために、一定区間の損失のＬＳＡを求め、これを長手方向にスライドさせて、全長にわたる区間損失を求める「スライド・ウィンドウ法」が提案されている。
非特許文献２では、全長のＬＳＡ直線の上下に、同じ傾きで切片を変えた直線を引き、その範囲に測定データが収まっているかを判定する「トラム・トラック法」が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第３９７９１３９号公報
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】IEC  62033  Attenuation  Uniformity  in  Optical  Fibers
【非特許文献２】PHOTON  KINETICS社製  8000  and  8000i  OTDR  USER’S  GUIDE
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
近年では、より精度よく光ファイバの損失の不均一性を測定することが求められている。
【０００７】
本発明はこのような事情を考慮してなされ、光ファイバの損失の不均一性をより精度よく測定することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の第１の態様に係る光ファイバの損失測定方法は、ＯＴＤＲ測定装置の固有の非線形性を示し、パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）である補正情報Ｉｃを算出する補正値算出ステップと、測定対象となる光ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定する実測ステップと、前記実測ステップによって得られたデータのうち、光パワーについての情報を、前記補正情報Ｉｃを用いて補正する補正ステップと、を有する。
【０００９】
ここで、前記補正値算出ステップにおいて、前記光ファイバと異なる基準ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定した結果を用いることで、前記補正情報Ｉｃを算出してもよい。
【００１０】
また、前記補正値算出ステップにおいて、前記光ファイバと異なる複数の光ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定した結果を平均させることで、前記補正情報Ｉｃを算出してもよい。
【００１１】
本発明の第２の態様に係るＯＴＤＲ測定装置は、ＯＴＤＲ測定に用いるパルス光を出射するパルス発生器と、前記パルス発生器に接続され、測定対象となる光ファイバに入射された前記パルス光の後方散乱光を、前記パルス光から分岐させる方向性結合器と、前記後方散乱光から前記光ファイバの損失を測定する信号処理部と、を備え、前記信号処理部は、パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）である補正情報Ｉｃを記憶し、前記補正情報Ｉｃを用いて、前記光ファイバの測定結果を補正する。
【００１２】
本発明の第３の態様に係るプログラムは、ＯＴＤＲ測定装置の固有の非線形性を示し、パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）である補正情報Ｉｃを算出する補正値算出ステップと、測定対象となる光ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定する実測ステップと、前記実測ステップによって得られたデータのうち、光パワーについての情報を、前記補正情報Ｉｃを用いて補正する補正ステップと、をコンピュータに実行させる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の上記態様によれば、光ファイバの損失の不均一性をより精度よく測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】ＯＴＤＲ測定装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】位置ｚと受光パワーα＝ＬＳＡ（ｚ）との関係を示すグラフの一例である。
【図３】受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）を示すグラフの一例である。
【図４】ＢＳｉ（ｚ）、ＬＳＡｉ（ｚ）、およびΔＢＳｉ（ｚ）のグラフの一例である。
【図５】受光パワーαに対するΔＢＳｉ（α）を示すグラフの一例である。
【図６】複数のファイバについての、受光パワーαに対するΔＢＳｉ（α）のグラフを重ねた例である。
【図７】図６の複数のグラフの平均をとったグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
（第１実施形態）
以下、第１実施形態に係る光ファイバの損失測定方法について説明する。本実施形態では、図１に示すようなＯＴＤＲ測定装置１０を用いて、光ファイバ１２の損失を測定する。
図１に示すように、ＯＴＤＲ測定装置１０は、パルス発生器１と、方向性結合器２と、増幅器３と、信号処理部４と、表示部５と、を備えている。ＯＴＤＲ測定装置１０は、バッファファイバ１１を介して測定対象である光ファイバ１２に接続される。ＯＴＤＲ測定装置１０は、ＯＴＤＲ法を用いて、光ファイバ１２の光の伝送損失を測定するように構成されている。なお、バッファファイバ１１は必須ではなく、測定対象である光ファイバ１２を直接ＯＴＤＲ測定装置１０に接続してもよい。
【００１６】
パルス発生器１は、光ファイバ１２の損失を測定するためのパルス光Ｌ１を出射する。パルス発生器１が出射したパルス光Ｌ１は、方向性結合器２を介してバッファファイバ１１および光ファイバ１２に入射する。光ファイバ１２に入射したパルス光Ｌ１の後方散乱光（ＢＳ：BackScattering）Ｌ２は、方向性結合器２によってパルス光Ｌ１から分岐させられて、増幅器３に向けて伝搬される。増幅器３によって増幅された後方散乱光Ｌ２は、信号処理部４によって測定および処理される。信号処理部４による処理結果は、表示部５に表示される。
【００１７】
ここで本願発明者らは、このようなＯＴＤＲ法を用いたＯＴＤＲ測定装置１０において、光ファイバ１２の長手方向における損失の不均一性を測定した際に、装置ごとに測定結果の差（機差）があることに着目した。例えば、ある装置（PHOTON  KINETICS社製  8000）では、装置の非線形性として、1dBに対し、±0.01dB（±１％）のずれが許容されている。一般的な光ファイバの損失値は、波長1.31μｍで約0.34dB/kmである。そのため、±１％のずれを許容すると、実際の損失値に対して±0.0034dB/kmの誤差が生じ得ることとなり、その偏差は最大で0.007dB/kmにもなってしまう。このため、低損失な光ファイバを製造するうえで、全長に渡って損失を保証しようとすると、損失値の規格を0.003dB/km以上厳しくする必要があり、歩留りの悪化につながる。
【００１８】
本願発明者らは、ＯＴＤＲ測定装置が持つ光学系または電気系に起因する、装置固有の非線形性が、損失値の不均一性の測定結果が装置ごとにばらつく主要な要因であることを見出した。そこで、損失値が既知のファイバをＯＴＤＲ測定装置で測定し、既知の損失値とＯＴＤＲ測定装置による測定値とを比較することで、装置固有の非線形性を求める方法を見出した。これにより、光ファイバの損失値の不均一性を高精度に測定することができる。以下、装置固有の非線形性を求める方法について、より詳細に説明する。
【００１９】
（補正値算出ステップ）
補正値算出ステップでは、ＯＴＤＲ測定装置１０の固有の非線形性を、受光パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）の形式で算出する。本明細書では、受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）を補正情報Ｉｃという。第１実施形態の補正値算出ステップは、基準ファイバ準備ステップと、基準ファイバ測定ステップと、処理ステップと、変換ステップと、を有する。
以下、各ステップについて説明する。
【００２０】
（基準ファイバ準備ステップ）
まず、基準ファイバ準備ステップを行う。基準ファイバ準備ステップでは、長さが比較的短く、損失およびＭＦＤ（モードフィールド径：Ｍｏｄｅ  Ｆｉｅｌｄ  Ｄｉａｍｅｔｅｒ）が長手方向で安定している基準ファイバを用意する。そして、基準ファイバの損失値を、カットバック法などを用いて求める。本明細書では、基準ファイバ準備ステップで得られた基準ファイバの損失値を、基準測定値ａという。基準測定値ａの単位は、［ｄＢ／ｋｍ］である。
【００２１】
（基準ファイバ測定ステップ）
次に、基準ファイバ測定ステップを行う。基準ファイバ測定ステップでは、ＯＴＤＲ測定装置１０で、基準ファイバの損失を測定する。このとき、ＯＴＤＲ測定装置１０と基準ファイバとの間にバッファファイバ１１を接続する。ＯＴＤＲ測定装置１０によって測定された基準ファイバの損失値を、固有測定値ＢＳ（ｚ）という。固有測定値ＢＳ（ｚ）は、基準ファイバの長手方向における位置ｚの関数である。固有測定値ＢＳ（ｚ）の単位は［ｄＢ］である。
【００２２】
（処理ステップ）
次に、処理ステップを行う。処理ステップでは、先述の基準測定値ａおよび固有測定値ＢＳ（ｚ）を用いて、位置ｚに対応したＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性を求める。
まず、ＯＴＤＲ測定値の最小二乗近似直線（ＬＳＡ直線）を以下の数式（１）のように表す。
ＬＳＡ（ｚ）＝−ａ×ｚ＋ｂ  …（１）
【００２３】
そして、ＢＳ（ｚ）とＬＳＡ（ｚ）との偏差を、ΔＢＳ（ｚ）とする。つまり、ΔＢＳ（ｚ）は以下の数式（２）により表される。
ΔＢＳ（ｚ）＝ＢＳ（ｚ）−ＬＳＡ（ｚ）  …（２）
そして、基準ファイバの全長をＬとするとき、ｚ＝０からｚ＝Ｌまでの間におけるΔＢＳ（ｚ）の二乗和が最小となるように、ｂの値を求める。これにより、ｂの値が一意に決定される。
【００２４】
次に、数式（１）および数式（２）から得られる以下の数式（３）に、上記のようにして算出されたｂの値を代入する。
ΔＢＳ（ｚ）＝ＢＳ（ｚ）＋ａ×ｚ−ｂ  …（３）
このようにして得られるΔＢＳ（ｚ）は、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性の情報を有している。
【００２５】
（変換ステップ）
次に、変換ステップを行う。変換ステップでは、処理ステップで求めたΔＢＳ（ｚ）を、ＯＴＤＲ測定装置１０で受光される後方散乱光Ｌ２の受光パワーαに応じた補正値の形式に変換する。
まず、ＬＳＡ（ｚ）＝αを満たす、（ｚ、α）の組み合わせを、基準ファイバの全長に渡って算出する。ＬＳＡ（ｚ）は、数式（１）に示す通り、ｚに関する１次式であるため、あるｚの値に対して、αの値は一意に決めることができる。つまり、図２に示すようなα＝ＬＳＡ（ｚ）で表される直線が、一意に定まる。
【００２６】
次に、上記のように求めた（ｚ、α）の組み合わせを用いて、ΔＢＳ（ｚ）をαの関数（ΔＢＳ（α））に変換する。これにより、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性の情報が、位置ｚ［ｋｍ］の関数から受光パワーα［ｄＢ］の関数に変換される。つまり、図３に示すような、受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）を求めることができる。このΔＢＳ（α）が、受光パワーαに対応する、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性を示す補正情報Ｉｃとなる。
【００２７】
なお、基準ファイバの長さが、測定対象となる光ファイバ１２の長さに比べて短いと、測定対象となる光ファイバ１２の測定値を補正するために必要なαの数値範囲が不十分となる場合がある。この場合には、バッファファイバ１１の長さを調整し、上記した基準ファイバ測定ステップ、処理ステップ、および変換ステップを繰り返すとよい。これにより、任意のαの数値範囲におけるΔＢＳ（α）を得ることができる。
【００２８】
表１には、上記の方法により得られた補正情報Ｉｃの一例が示されている。表１の例では、補正の対象となる受光パワーαの範囲を１０ｄＢ以上２０ｄＢ以下とし、αの刻み幅を０．０２ｄＢとしている。この場合、補正情報Ｉｃは、５０１行×２列のマトリックスとなる。なお、αの刻み幅は適宜変更してもよい。
【００２９】
【表１】
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【００３０】
（記憶ステップ）
次に、記憶ステップを行う。記憶ステップでは、マトリックス形式の補正情報Ｉｃを、記憶部に記憶させる。記憶部は、図１に示す信号処理部４に設けられていてもよいし、ＯＴＤＲ測定装置１０の他の部位に設けられていてもよい。あるいは、ＯＴＤＲ測定装置１０がシステムの一部である場合には、当該システムの一部に記憶部が設けられていてもよい。
【００３１】
（実測ステップ）
次に、実測ステップを行う。実測ステップでは、測定対象となる光ファイバ１２を、ＯＴＤＲ測定装置１０を用いてＯＴＤＲ法により測定する。測定結果としては、往復時間および受光パワーが対となった情報が得られる。往復時間は光ファイバ１２の長手方向における位置に換算することができる。従って、この換算を行うことで、位置と受光パワーとが対となった情報（データ）を得ることができる。
【００３２】
（補正ステップ）
次に、補正ステップを行う。補正ステップでは、実測ステップで得られた、位置および受光パワーが対となったデータのうち、受光パワーについての情報を、補正情報Ｉｃを用いて補正する。
このような補正を行った上で光ファイバの損失値を求めることで、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性が除去され、光ファイバの損失の不均一性を高精度に測定することができる。
【００３３】
このような補正を行うことにより、理論的には、ＯＴＤＲ測定装置１０ごとの測定ばらつきを０にすることが可能であり、例えば光ファイバを製造する際の歩留り向上に大きく貢献することができる。実際には、補正しきれない測定ノイズが発生するため、測定ばらつきを０にすることはできないが、例えば複数回、繰返し測定を行うことにより、測定ノイズをキャンセルすることも可能である。それでも消えない長手方向における損失変動は、光ファイバの実質的な損失値の不均一性であると考えられる。
【００３４】
以上説明したように、本実施形態では、測定対象となる光ファイバ１２とは異なる基準ファイバをＯＴＤＲ測定装置１０で測定することで、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性を予め求める。そして、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性は、測定される受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）のマトリックス（補正情報Ｉｃ）の形態で記憶する。測定対象となる光ファイバ１２を測定した後、測定された受光パワーαに対して、対応する補正値ΔＢＳ（α）を加減することにより、測定器固有の非線形性が除去される。従って、光ファイバ１２が持つ本来の損失を高精度に測定することが可能となる。
【００３５】
（第２実施形態）
次に、本発明に係る第２実施形態について説明する。本実施形態では、補正値算出ステップが平均ステップを有する点が、第１実施形態と異なる。平均ステップでは、複数のファイバの測定結果を平均させることで、補正情報Ｉｃを求める。以下、より詳しく説明する。
【００３６】
（平均ステップ）
まず、ＯＴＤＲ測定装置１０を用いて、あるファイバｉの位置ｚにおける損失値ＢＳｉ（ｚ）を測定する。
次に、ＢＳｉ（ｚ）の最小二乗近似直線ＬＳＡｉ（ｚ）を求める（図４参照）。
次に、あるファイバｉの損失値の非線形特性ΔＢＳｉ（ｚ）を、下記数式（４）によって求める（図４参照）。
ΔＢＳｉ（ｚ）＝ＢＳｉ（ｚ）−ＬＳＡｉ（ｚ）  …（４）
なお、図４において、ΔＢＳｉ（ｚ）の縦軸の縮尺は、ＢＳｉ（ｚ）およびＬＳＡｉ（ｚ）に対して拡大されている。
このようにして得られたΔＢＳｉ（ｚ）は、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性特性に、長手方向におけるファイバｉの損失変動が加わった状態である。
【００３７】
次に、ＬＳＡｉ（ｚ）=αを満たす（ｚ、α）の組み合わせを、ファイバiの全長にわたって算出する。ＬＳＡｉ（ｚ）は、ＢＳｉ（ｚ）の最小二乗近似直線であるため、あるｚに対して、αを一意に決めることができる。
【００３８】
次に、上記のように求めた（ｚ，α）の組み合わせを用いて、ｚの関数であるΔＢＳｉ（ｚ）を、受光パワーαの関数であるΔＢＳｉ（α）に変換する。この変換により、受光パワーα［ｄＢ］に対応した非線形特性の情報が得られる。つまり、図５に示すような、あるファイバｉについての受光パワーαに対する補正値ΔＢＳｉ（α）を求めることができる。
このようにして得られたΔＢＳｉ（α）も、ΔＢＳｉ（ｚ）と同様に、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性特性に、長手方向におけるファイバｉの損失変動が加わった状態である。
【００３９】
次に、複数のファイバについて上記手順を実施し、それぞれについてΔＢＳｉ（α）を求める。図６には、４つのファイバについて、それぞれの受光パワーαおよびΔＢＳｉ（α）の関係を算出したグラフを示している。
そして、同一のαの値について、複数の光ファイバについてのΔＢＳｉ（α）の平均をとり、受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）を求める。図７の例では、図６に示す４つのデータを平均させたグラフを示している。この受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）が、補正情報Ｉｃとなる。
【００４０】
このように、本実施形態では、測定対象の光ファイバ１２と異なる複数の光ファイバをＯＴＤＲ測定装置１０によって測定した結果を平均させることで、複数の光ファイバの長手方向における損失変動をキャンセルし、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性特性を抽出することができる。このようにして得られた補正情報Ｉｃを用いることで、光ファイバ１２が持つ本来の損失を高精度に測定することが可能となる。
【実施例】
【００４１】
次に、具体的な実施例を用いて、上記実施形態を説明する。なお、本発明は以下の実施例に限定されない。
【００４２】
（実施例１）
本実施例では、前記第１実施形態による補正方法の効果を確認した。ここでは、長手方向における損失値の変動を表す指標として、ＩＳＬＤ（Interval  Slide  Loss  Deviation）を用いた。また、ＩＳＬＤを算出するために、以下のようにスライド区間および区間スライドロスを定義した。スライド区間とは、光ファイバを長手方向で区切る任意の長さである。区間スライドロスとは、スライド区間ごとの損失を長手方向において一定間隔でスライドさせて計算したものである。
ＩＳＬＤとは、区間スライドロスの最大値と最小値との差である。ＩＳＬＤの値が小さいほど、光ファイバの損失の不均一性がより高精度に評価されている傾向がある。
【００４３】
本実施例では、測定対象となる光ファイバの長さを５０ｋｍとし、スライド区間を２ｋｍとした。また、補正情報Ｉｃに含まれる受光パワーαの範囲を１０〜２０ｄＢとし、αの刻み幅を０．０２ｄＢとした。
上記条件のもと、PHOTON KINETICS社製8000を用いて従来通りの測定を行ったところ、ＩＳＬＤの値が０．００６ｄＢ／ｋｍとなった。これに対して、第１実施形態の方法を適用したところ、ＩＳＬＤの値が０．００２ｄＢ／ｋｍとなった。
また、Hewlett-Packard社製OTDR HP8147を用いて従来通りの測定を行ったところ、ＩＳＬＤの値が０．０１０ｄＢ／ｋｍとなった。これに対して、第１実施形態の方法を適用したところ、ＩＳＬＤの値が０．００３ｄＢ／ｋｍとなった。
このように、第１実施形態の方法を適用することで従来の方法よりもＩＳＬＤの値が小さくなり、より高精度な測定を行うことができた。
【００４４】
なお、実施例１では、補正位置αの範囲を１０〜２０ｄＢとしたが、測定するファイバ長や測定波長に応じたダイナミックレンジに対応して、αの範囲を適宜変更してもよい。
また、実施例１ではαの刻み幅を０．０２ｄＢとしたが、より細かく（例えば０．００１ｄＢ〜０．０１ｄＢ）したり、より粗く（例えば０．１〜０．５ｄＢ）したりしても、補正効果を得ることは可能である。
【００４５】
（実施例２）
実施例２では、αの刻み幅が補正効果（ＩＳＬＤ）に与える影響について検証した。より詳しくは、αの刻み幅を０．００１ｄＢから２．０ｄＢまで変化させたときの、ＩＳＬＤの値を比較した。その結果を下記表２に示す。
【００４６】
【表２】
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【００４７】
表２に示すように、αの刻み幅が小さいほど、ＩＳＬＤの値が小さくなり、高い補正効果が得られることがわかった。このため、αの刻み幅は、例えば１．０ｄＢ以下とすることが好ましい。αの刻み幅を１．０ｄＢ以下とすることで、ＩＳＬＤの値を例えば０．００２５ｄＢ／ｋｍ以下とすることができる（表２参照）。
【００４８】
なお、本発明の技術的範囲は前記実施の形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
【００４９】
例えば、前記実施形態における基準ファイバ測定ステップにおいて、バッファファイバ１１に代えて減衰器を用いてもよい。あるいは、バッファファイバ１１に曲げを加えて、パワーレベルを変化させてもよい。
【００５０】
また、前記第１、第２実施形態で説明した光ファイバの損失測定方法を、コンピュータに実行させてもよい。この場合、プログラムは、ＯＴＤＲ測定装置の固有の非線形性を示し、パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）である補正情報Ｉｃを算出する補正値算出ステップと、測定対象となる光ファイバを前記ＯＴＤＲ測定装置によって測定する実測ステップと、実測ステップによって得られたデータのうち、光パワーについての情報を、前記補正情報Ｉｃを用いて補正する補正ステップと、をコンピュータに実行させてもよい。
【００５１】
また、ＯＴＤＲ測定装置１０が、前記第１、第２実施形態で説明した光ファイバの損失測定方法を行うように構成されていてもよい。この場合、ＯＴＤＲ測定装置１０が、ＯＴＤＲ測定に用いるパルス光を出射するパルス発生器１と、パルス発生器１に接続され、測定対象となる光ファイバ１２に入射されたパルス光Ｌ１の後方散乱光Ｌ２を、パルス光Ｌ１から分岐させる方向性結合器２と、後方散乱光Ｌ２から光ファイバ１２の損失を測定する信号処理部４と、を備え、信号処理部４は、パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）である補正情報Ｉｃを記憶し、補正情報Ｉｃを用いて、光ファイバの測定結果を補正してもよい。
【００５２】
その他、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上記した実施の形態における構成要素を周知の構成要素に置き換えることは適宜可能であり、また、上記した実施形態や変形例を適宜組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【００５３】
１…パルス発生器  ２…方向性結合器  ４…信号処理部  １０…ＯＴＤＲ測定装置  １１…バッファファイバ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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