(57)【要約】【課題】装置構成を簡略化しつつ、精度よく光ファイバ素線の異常を検出する。【解決手段】光ファイバ素線の異常検出方法は、ＯＴＤＲ測定装置１０の非線形性を補正するための補正情報Ｉｃを求める補正情報算出工程と、裸線部および被覆部を有する光ファイバ素線１２をリールに巻き付ける巻き付け工程と、ＯＴＤＲ測定装置１０を用いて、リールに巻き付けられた光ファイバ素線１２の損失を測定して実測データＩを得る実測工程と、補正情報Ｉｃを用いて、実測データＩを補正する補正工程と、を有する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＴＤＲ測定装置の非線形性を補正するための補正情報Ｉｃを求める補正情報算出工程と、
裸線部および被覆部を有する光ファイバ素線をリールに巻き付ける巻き付け工程と、
前記ＯＴＤＲ測定装置を用いて、前記リールに巻き付けられた前記光ファイバ素線の損失を測定して実測データＩを得る実測工程と、
前記補正情報Ｉｃを用いて、前記実測データＩを補正する補正工程と、を有する、光ファイバ素線の異常検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバ素線の異常検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバ素線は、裸線部の周囲に被覆部が設けられた構成を有している。被覆部は、裸線部を保護したり、着色によって光ファイバ素線同士を区別したりするために用いられる。あるいは、複数の光ファイバ素線を接着剤で連結して光ファイバテープ心線を構成した場合、被覆部は、接着剤と裸線部との間に位置して両者を固定する役割を有する。
【０００３】
被覆部の厚みは、全周にわたって均一であることが好ましい。しかしながら、製造ばらつきなどによって、被覆部の厚みは均一にならない場合がある。
例えば図１０（ａ）では、被覆部に凹部が形成されており、裸線部が外部に露出している。このような場合、被覆部の着色による識別性が低下したり、接着剤と被覆部との密着性が低下したりする。
また、例えば異物が被覆部に付着すると、光ファイバ素線を巻き取る際に、裸線部にマイクロベンドなどが生じて伝送損失の増大につながる場合がある。
【０００４】
上記のような現象に対処するため、光ファイバ素線の長手方向における外径変化を光学式センサによって測定し、凹部や異物の有無を検出することが行われている。
しかしながら、例えば図１０（ｂ）のように被覆部の厚みが偏る（いわゆる偏肉となる）と、光ファイバ素線の外径変化のみでは異常を検出できない。そこで下記特許文献１では、検査光を光ファイバ素線に対して複数の方向から照射し、受光量の差によって偏肉を検出する方法を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平８−５５０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記特許文献１の構成では、少なくとも２つの検査光照射装置および２つの受光装置が必要となり、装置が複雑になってしまう。また、例えば図１０（ｃ）のように凹部の範囲が小さい場合にも対応できるように、異常検出精度を高めようとすると、さらに装置が複雑になる。
【０００７】
本発明はこのような事情を考慮してなされ、装置構成を簡略化しつつ、精度よく光ファイバ素線の異常を検出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る光ファイバ素線の異常検出方法は、ＯＴＤＲ測定装置の非線形性を補正するための補正情報Ｉｃを求める補正情報算出工程と、裸線部および被覆部を有する光ファイバ素線をリールに巻き付ける巻き付け工程と、前記ＯＴＤＲ測定装置を用いて、前記リールに巻き付けられた前記光ファイバ素線の損失を測定して実測データＩを得る実測工程と、前記補正情報Ｉｃを用いて、前記実測データＩを補正する補正工程と、を有する。
【０００９】
上記態様によれば、実測データＩを、補正情報Ｉｃを用いて補正する。ここで、補正前の実測データＩには、光ファイバ素線の異常発生個所で生じる微小な損失（微小損失）と、ＯＴＤＲ測定装置が有する測定器固有の非線形性と、が含まれている。このため、測定器固有の非線形性によって生じる損失値の変動幅が、微小損失の大きさと同等以上であるときには、微小損失が当該変動幅に埋もれてしまう。そこで、補正情報Ｉｃを用いて実測データＩを補正し、実測データＩに含まれている測定器固有の非線形性を除去することで、埋もれていた微小損失を検出しやすくすることができる。そして、当該微小損失が生じている箇所で異常が発生していることを、より高精度に検出することができる。
また、この異常検出方法は、一般的なＯＴＤＲ測定装置を用いて実現することができる。したがって、装置構成を簡略化することができる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の上記態様によれば、装置構成を簡略化しつつ、精度よく光ファイバ素線の異常を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】光ファイバ素線の断面図の一例である。
【図２】ＯＴＤＲ測定装置の構成例を示すブロック図である。
【図３】位置ｚと受光パワーα＝ＬＳＡ（ｚ）との関係を示すグラフの一例である。
【図４】受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）を示すグラフの一例である。
【図５】ＢＳｉ（ｚ）、ＬＳＡｉ（ｚ）、およびΔＢＳｉ（ｚ）のグラフの一例である。
【図６】受光パワーαに対するΔＢＳｉ（α）を示すグラフの一例である。
【図７】複数のファイバについての、受光パワーαに対するΔＢＳｉ（α）のグラフを重ねた例である。
【図８】図７の複数のグラフの平均をとったグラフである。
【図９】（ａ）は実測データＩを示すグラフである。（ｂ）は補正情報Ｉｃを用いて補正された実測データＩを示すグラフである。
【図１０】（ａ）〜（ｃ）は、光ファイバ素線の異常の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
（第１実施形態）
以下、第１実施形態に係る光ファイバ素線の異常検出方法（以下、単に異常検出方法という）について説明する。本実施形態では、例えば図１に示すような構成の光ファイバ素線１２の異常を検出する。光ファイバ素線１２は、裸線部１２ａと、裸線部１２ａの周囲に設けられた被覆部１２ｂと、を備えている。光ファイバ素線１２は、リールに巻かれた状態で流通または保管され、必要に応じてリールから巻き返される。
裸線部１２ａは、石英ガラスなどにより形成されており、不図示のガラスコアおよびガラスクラッドを有している。
【００１３】
被覆部１２ｂは、着色されていてもよく、着色されていなくてもよい。被覆部１２ｂが着色されていた場合には、複数の光ファイバ素線１２の中から、特定の光ファイバ素線１２を識別することができる。また、被覆部１２ｂは、１層で構成されてもよく、複数の層で構成されてもよい。複数の層には、いわゆるプライマリ層、セカンダリ層、および着色層が含まれていてもよい。
【００１４】
図２は、本実施形態の異常検出方法を実行するためのＯＴＤＲ装置１０の一例である。
図２に示すように、ＯＴＤＲ測定装置１０は、パルス発生器１と、方向性結合器２と、増幅器３と、信号処理部４と、表示部５と、を備えている。ＯＴＤＲ測定装置１０は、バッファファイバ１１を介して、測定対象である光ファイバ素線１２に接続される。ＯＴＤＲ測定装置１０は、ＯＴＤＲ法を用いて、光ファイバ素線１２の光の伝送損失を測定するように構成されている。なお、バッファファイバ１１は必須ではなく、測定対象である光ファイバ素線１２を直接ＯＴＤＲ測定装置１０に接続してもよい。
【００１５】
パルス発生器１は、光ファイバ素線１２の損失を測定するためのパルス光Ｌ１を出射する。パルス発生器１が出射したパルス光Ｌ１は、方向性結合器２を介してバッファファイバ１１および光ファイバ素線１２に入射する。光ファイバ素線１２に入射したパルス光Ｌ１の後方散乱光（ＢＳ：BackScattering）Ｌ２は、方向性結合器２によってパルス光Ｌ１から分岐させられて、増幅器３に向けて伝搬される。増幅器３によって増幅された後方散乱光Ｌ２は、信号処理部４によって測定および処理される。信号処理部４による処理結果は、表示部５に表示される。
【００１６】
（異常検出方法）
次に、本実施形態の異常検出方法について説明する。本実施形態の異常検出方法は、図１０（ａ）〜（ｃ）に示すような被覆部１２ｂの異常や、光ファイバ素線１２に異物が付着することについての異常を検出する。
まず、光ファイバ素線１２を、リールに巻き付ける（巻き付け工程）。このとき、リールの外周面上に積み重ねられた光ファイバ素線１２には、張力に起因する側圧が作用する。このため、被覆部１２ｂに１０（ａ）〜（ｃ）のような異常があったり、リールに巻き付けられた光ファイバ素線１２に異物が付着していたりすると、当該箇所における裸線部１２ａが局所的な曲げ（マイクロベンド）を受けて、光の伝送損失が増加する。このように、光ファイバ素線１２に異常が発生していることで生じる光の伝送損失を、本実施形態では「微小損失」という。
【００１７】
次に、ＯＴＤＲ測定装置１０を用いて、リールに巻き付けられた光ファイバ素線１２の損失を測定して実測データＩを得る（実測工程）。このとき、光ファイバ素線１２のうち異常が発生している箇所では、上記の通り微小損失が生じている。したがって、当該微小損失が生じている箇所を検出することで、異常が発生している箇所を特定することができる。
【００１８】
ここで本願発明者らは、ＯＴＤＲ測定装置１０が有する測定器固有の非線形性に微小損失が埋もれてしまうことで、微小損失の発生個所が特定できない場合があることを見出した。
そして、ＯＴＤＲ測定装置１０が有する測定器固有の非線形性を補正するための補正情報Ｉｃを求め（補正情報算出工程）、実測データＩを補正する（補正工程）ことで、より高精度に微小損失の発生個所が特定できることを見出した。
以下、補正情報算出工程および補正工程について、より詳細に説明する。
【００１９】
（補正情報算出工程）
補正情報算出工程では、ＯＴＤＲ測定装置１０の非線形性を補正するための補正情報Ｉｃを求める。より詳しくは、ＯＴＤＲ測定装置１０の固有の非線形性を、受光パワーαに応じた補正値ΔＢＳ（α）の形式で算出する。すなわち補正情報Ｉｃとは、受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）についての情報である。第１実施形態の補正情報算出工程は、基準ファイバ準備工程と、基準ファイバ測定工程と、処理工程と、変換工程と、を有する。
以下、各工程について説明する。
【００２０】
（基準ファイバ準備工程）
まず、基準ファイバ準備工程を行う。基準ファイバ準備工程では、長さが比較的短く、損失およびＭＦＤ（モードフィールド径：Ｍｏｄｅ  Ｆｉｅｌｄ  Ｄｉａｍｅｔｅｒ）が長手方向で安定している基準ファイバを用意する。そして、基準ファイバの損失値を、カットバック法などを用いて求める。本明細書では、基準ファイバ準備工程で得られた基準ファイバの損失値を、基準測定値ａという。基準測定値ａの単位は、［ｄＢ／ｋｍ］である。
【００２１】
（基準ファイバ測定工程）
次に、基準ファイバ測定工程を行う。基準ファイバ測定工程では、ＯＴＤＲ測定装置１０で、基準ファイバの損失を測定する。このとき、ＯＴＤＲ測定装置１０と基準ファイバとの間にバッファファイバ１１を接続する。ＯＴＤＲ測定装置１０によって測定された基準ファイバの損失値を、固有測定値ＢＳ（ｚ）という。固有測定値ＢＳ（ｚ）は、基準ファイバの長手方向における位置ｚの関数である。固有測定値ＢＳ（ｚ）の単位は［ｄＢ］である。
【００２２】
（処理工程）
次に、処理工程を行う。処理工程では、先述の基準測定値ａおよび固有測定値ＢＳ（ｚ）を用いて、位置ｚに対応したＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性を求める。
まず、ＯＴＤＲ測定値の最小二乗近似直線（ＬＳＡ直線）を以下の数式（１）のように表す。
ＬＳＡ（ｚ）＝−ａ×ｚ＋ｂ  …（１）
【００２３】
そして、ＢＳ（ｚ）とＬＳＡ（ｚ）との偏差を、ΔＢＳ（ｚ）とする。つまり、ΔＢＳ（ｚ）は以下の数式（２）により表される。
ΔＢＳ（ｚ）＝ＢＳ（ｚ）−ＬＳＡ（ｚ）  …（２）
そして、基準ファイバの全長をＬとするとき、ｚ＝０からｚ＝Ｌまでの間におけるΔＢＳ（ｚ）の二乗和が最小となるように、ｂの値を求める。これにより、ｂの値が一意に決定される。
【００２４】
次に、数式（１）および数式（２）から得られる以下の数式（３）に、上記のようにして算出されたｂの値を代入する。
ΔＢＳ（ｚ）＝ＢＳ（ｚ）＋ａ×ｚ−ｂ  …（３）
このようにして得られるΔＢＳ（ｚ）は、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性の情報を有している。
【００２５】
（変換工程）
次に、変換工程を行う。変換工程では、処理工程で求めたΔＢＳ（ｚ）を、ＯＴＤＲ測定装置１０で受光される後方散乱光Ｌ２の受光パワーαに応じた補正値の形式に変換する。
まず、ＬＳＡ（ｚ）＝αを満たす、（ｚ、α）の組み合わせを、基準ファイバの全長に渡って算出する。ＬＳＡ（ｚ）は、数式（１）に示す通り、ｚに関する１次式であるため、あるｚの値に対して、αの値は一意に決めることができる。つまり、図３に示すようなα＝ＬＳＡ（ｚ）で表される直線が、一意に定まる。
【００２６】
次に、上記のように求めた（ｚ、α）の組み合わせを用いて、ΔＢＳ（ｚ）をαの関数（ΔＢＳ（α））に変換する。これにより、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性の情報が、位置ｚ［ｋｍ］の関数から受光パワーα［ｄＢ］の関数に変換される。つまり、図４に示すような、受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）を求めることができる。このΔＢＳ（α）が、受光パワーαに対応する、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性を示す補正情報Ｉｃとなる。
【００２７】
なお、基準ファイバの長さが、測定対象となる光ファイバ素線１２の長さに比べて短いと、測定対象となる光ファイバ素線１２の測定値を補正するために必要なαの数値範囲が不十分となる場合がある。この場合には、バッファファイバ１１の長さを調整し、上記した基準ファイバ測定工程、処理工程、および変換工程を繰り返すとよい。これにより、任意のαの数値範囲におけるΔＢＳ（α）を得ることができる。
【００２８】
表１には、上記の方法により得られた補正情報Ｉｃの一例が示されている。表１の例では、補正の対象となる受光パワーαの範囲を１０ｄＢ以上２０ｄＢ以下とし、αの刻み幅を０．０２ｄＢとしている。この場合、補正情報Ｉｃは、５０１行×２列のマトリックスとなる。なお、αの刻み幅は適宜変更してもよい。
【００２９】
【表１】
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【００３０】
（記憶工程）
次に、記憶工程を行う。記憶工程では、マトリックス形式の補正情報Ｉｃを、記憶部に記憶させる。記憶部は、図２に示す信号処理部４に設けられていてもよいし、ＯＴＤＲ測定装置１０の他の部位に設けられていてもよい。あるいは、ＯＴＤＲ測定装置１０がシステムの一部である場合には、当該システムの一部に記憶部が設けられていてもよい。
【００３１】
（実測工程）
次に、実測工程を行う。実測工程では、測定対象となる光ファイバ素線１２の損失を、リールに巻き付けた状態で、ＯＴＤＲ測定装置１０を用いてＯＴＤＲ法により測定する。測定結果としては、往復時間および受光パワーが対となった情報が得られる。往復時間は光ファイバ素線１２の長手方向における位置に換算することができる。従って、この換算を行うことで、位置と受光パワーとが対となった実測データＩを得ることができる。実測データＩには、ＯＴＤＲ測定装置１０の測定器固有の非線形性が含まれている。
【００３２】
（補正工程）
次に、補正工程を行う。補正工程では、実測工程で得られた、位置および受光パワーが対となった実測データＩのうち、受光パワーについての情報を、補正情報Ｉｃを用いて補正する。これにより、実測データＩに含まれているＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性が除去される。したがって、図１０（ａ）〜（ｃ）に示す被覆部１２ｂの異常や、光ファイバ素線１２に異物が付着したことについての異常が発生している箇所を、より高精度に特定することができる。
【００３３】
以上説明したように、本実施形態の異常検出方法は、ＯＴＤＲ測定装置１０の非線形性を補正する補正情報Ｉｃを求める補正情報算出工程と、裸線部１２ａおよび被覆部１２ｂを有する光ファイバ素線１２をリールに巻き付ける巻き付け工程と、ＯＴＤＲ測定装置１０を用いて、リールに巻き付けられた光ファイバ素線１２の損失を測定して実測データＩを得る実測工程と、補正情報Ｉｃを用いて、前記実測データＩを補正する補正工程と、を有する。
【００３４】
この構成により、光ファイバ素線１２の異常発生個所で生じる微小損失が、ＯＴＤＲ測定装置１０の測定器固有の非線形性に埋もれてしまうことを抑止し、より高精度に光ファイバ素線１２の異常を検出することが可能となる。
また、この異常検出方法は、一般的なＯＴＤＲ測定装置１０を用いて実現することができる。したがって、装置構成を簡略化することができる。
【００３５】
（第２実施形態）
次に、本発明に係る第２実施形態について説明する。本実施形態では、補正情報算出工程が平均工程を有する点が、第１実施形態と異なる。平均工程では、複数のファイバの測定結果を平均させることで、補正情報Ｉｃを求める。以下、より詳しく説明する。
【００３６】
（平均工程）
まず、ＯＴＤＲ測定装置１０を用いて、あるファイバｉの位置ｚにおける損失値ＢＳｉ（ｚ）を測定する。
次に、ＢＳｉ（ｚ）の最小二乗近似直線ＬＳＡｉ（ｚ）を求める（図５参照）。
次に、あるファイバｉの損失値の非線形特性ΔＢＳｉ（ｚ）を、下記数式（４）によって求める（図５参照）。
ΔＢＳｉ（ｚ）＝ＢＳｉ（ｚ）−ＬＳＡｉ（ｚ）  …（４）
なお、図５において、ΔＢＳｉ（ｚ）の縦軸の縮尺は、ＢＳｉ（ｚ）およびＬＳＡｉ（ｚ）に対して拡大されている。
このようにして得られたΔＢＳｉ（ｚ）は、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性特性に、長手方向におけるファイバｉの損失変動が加わった状態である。
【００３７】
次に、ＬＳＡｉ（ｚ）=αを満たす（ｚ、α）の組み合わせを、ファイバiの全長にわたって算出する。ＬＳＡｉ（ｚ）は、ＢＳｉ（ｚ）の最小二乗近似直線であるため、あるｚに対して、αを一意に決めることができる。
【００３８】
次に、上記のように求めた（ｚ，α）の組み合わせを用いて、ｚの関数であるΔＢＳｉ（ｚ）を、受光パワーαの関数であるΔＢＳｉ（α）に変換する。この変換により、受光パワーα［ｄＢ］に対応した非線形特性の情報が得られる。つまり、図６に示すような、あるファイバｉについての受光パワーαに対する補正値ΔＢＳｉ（α）を求めることができる。
このようにして得られたΔＢＳｉ（α）も、ΔＢＳｉ（ｚ）と同様に、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性特性に、長手方向におけるファイバｉの損失変動が加わった状態である。
【００３９】
次に、複数のファイバについて上記手順を実施し、それぞれについてΔＢＳｉ（α）を求める。図７には、４つのファイバについて、それぞれの受光パワーαおよびΔＢＳｉ（α）の関係を算出したグラフを示している。
そして、同一のαの値について、複数の光ファイバ素線についてのΔＢＳｉ（α）の平均をとり、受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）を求める。図８の例では、図７に示す４つのデータを平均させたグラフを示している。この受光パワーαに対する補正値ΔＢＳ（α）が、補正情報Ｉｃとなる。
【００４０】
このように、本実施形態の異常検出方法では、測定対象の光ファイバ素線１２と異なる複数の光ファイバ素線をＯＴＤＲ測定装置１０によって測定した結果を平均させることで、複数の光ファイバ素線の長手方向における損失変動をキャンセルし、ＯＴＤＲ測定装置１０固有の非線形性特性を抽出することができる。このようにして得られた補正情報Ｉｃを用いて、実測データＩを補正することで、光ファイバ素線１２の異常を高精度に検出することができる。
【００４１】
また、本実施形態の異常検出方法も、一般的なＯＴＤＲ測定装置１０を用いて実現することができる。したがって、装置構成を簡略化することができる。
【実施例】
【００４２】
次に、具体的な実施例を用いて、上記実施形態を説明する。なお、本発明は以下の実施例に限定されない。
【００４３】
（実施例１）
空気を混入させた着色インクで、裸線部１２ａの周囲に被覆部１２ｂを形成し、着色された光ファイバ素線１２を作成した。被覆部１２ｂには、凹凸部が不規則に形成された。この光ファイバ素線１２をリールに巻き付けて、ＯＴＤＲ測定装置１０により損失を測定して実測データＩを得た。
【００４４】
得られた実測データＩの一部を、図９（ａ）に示す。なお、図９（ａ）の縦軸は、ある区間ごとの損失［ｄＢ］をその区間の長さで割った（規格化した）値［ｄＢ／ｋｍ］である。横軸は、光ファイバ素線１２の長手方向における位置［ｋｍ］である。
図９（ａ）のグラフでは、平均値に対して±０．００３ｄＢ／ｋｍ程度の損失値の変動がある。
【００４５】
次に、第１実施形態で示した方法を用いて補正情報Ｉｃを得た。そして、補正情報Ｉｃを用いて、図９（ａ）に示す実測データＩを補正した結果を、図９（ｂ）に示す。
図９（ｂ）に示すように、実測データＩを補正情報Ｉｃで補正した結果、平均値に対して±０．００１ｄＢ／ｋｍ程度で損失値が変動している部分と、平均値に対して＋０．００３ｄＢ／ｋｍ程度損失が増加している部分（位置Ａ）とが現れた。そして、光ファイバ素線１２のうち、位置Ａに該当する部分を観察すると、図１０（ｃ）に示すような凹部１２ｂ１が確認された。したがって、位置Ａにおける損失の増加は、凹部１２ｂ１によって生じたことがわかった。
【００４６】
図示は省略するが、光ファイバ素線１２に異物が付着している場合や、図１０（ｂ）に示すような被覆部１２ｂの偏肉が生じている場合についても、上記と同様に異常個所を検出することができた。
以上のように、実測データＩを補正情報Ｉｃで補正し、ＯＴＤＲ測定装置１０の測定器固有の非線形性を除去することで、光ファイバ素線１２の異常を精度よく検出できることが確認された。
【００４７】
（実施例２）
本実施例では、表１に示すαの刻み幅が、補正効果に与える影響について検証した。ここでは、補正効果の指標として、ＩＳＬＤ（Interval  Slide  Loss  Deviation）を用いた。また、ＩＳＬＤを算出するために、以下のようにスライド区間および区間スライドロスを定義した。スライド区間とは、光ファイバ素線を長手方向で区切る任意の長さである。区間スライドロスとは、スライド区間ごとの損失を長手方向において一定間隔でスライドさせて計算したものである。そしてＩＳＬＤとは、区間スライドロスの最大値と最小値との差である。
【００４８】
本実施例では、測定対象となる光ファイバ素線１２の長さを５０ｋｍとし、スライド区間を２ｋｍとした。また、補正情報Ｉｃに含まれる受光パワーαの範囲を１０〜２０ｄＢとした。そして、αの刻み幅を０．００１ｄＢから２．０ｄＢまで変化させたときの、ＩＳＬＤの値を比較した。その結果を下記表２に示す。
【００４９】
【表２】
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【００５０】
表２に示すように、αの刻み幅が小さいほど、ＩＳＬＤの値が小さくなり、高い補正効果が得られることがわかった。このため、αの刻み幅は、例えば１．０ｄＢ以下とすることが好ましい。αの刻み幅を１．０ｄＢ以下とすることで、ＩＳＬＤの値を例えば０．００２５ｄＢ／ｋｍ以下とすることができる（表２参照）。
【００５１】
なお、本発明の技術的範囲は前記実施の形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
【００５２】
例えば、前記実施形態における基準ファイバ測定工程において、バッファファイバ１１に代えて減衰器を用いてもよい。あるいは、バッファファイバ１１に曲げを加えて、パワーレベルを変化させてもよい。
【００５３】
その他、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上記した実施の形態における構成要素を周知の構成要素に置き換えることは適宜可能であり、また、上記した実施形態や変形例を適宜組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【００５４】
１…パルス発生器  ２…方向性結合器  ４…信号処理部  １０…ＯＴＤＲ測定装置  １１…バッファファイバ  １２…光ファイバ素線  １２ａ…裸線部  １２ｂ…被覆部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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