(57)【要約】      （修正有）【課題】量子解像度撮像の方法および装置を提供する。【解決手段】副回析超解像度撮像デバイス、は入射する放射を受け入れるように提供される光学部品を伴う開口部２０１と、受け入れられた入射する放射を複数のモードへと分離するためのモード分離構造と、画像が再構築されるモーダル分布を構築するために、各々のモードのエネルギーレベルを測定するための複数の素子を有する検出器アレイ２０５を備える。【選択図】図２
2019213178.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入射する放射を受け入れるように提供される光学部品を伴う開口部と、
前記受け入れられた入射する放射を複数のモードへと分離するためのモード分離構造と、
画像が再構築され得るモーダル分布を構築するために、各々のモードのエネルギーレベルを測定するための複数の素子を有する検出器アレイと
を備える副回析超解像度撮像デバイス。
【請求項２】
請求項１に記載のデバイスにおいて、前記光学部品は、入射する光が通過する開口部を備えるデバイス。
【請求項３】
請求項１に記載のデバイスにおいて、前記入射する放射を、閉じ込められたモードを伴う構造へ視準する、デバイス。
【請求項４】
請求項１に記載のデバイスにおいて、閉じ込められたモードを伴う前記構造が導波路または光ファイバの一方であるデバイス。
【請求項５】
請求項３に記載のデバイスにおいて、前記ファイバはフォトニックランタンの溶融された端である、または、導波路が、回折格子を含む、もしくは、回折格子において方向付けられるデバイス。
【請求項６】
請求項５に記載のデバイスにおいて、前記フォトニックランタンは異なるインデックスのファイバから成るデバイス。
【請求項７】
請求項６に記載のデバイスにおいて、前記ファイバは光子計数モジュールのアレイへと供給され、または、前記回折格子は、検出器のアレイにおいて、そのモードが分離された放射を散乱させるデバイス。
【請求項８】
請求項１に記載のデバイスにおいて、前記モード分離構造は多段とされるデバイス。
【請求項９】
請求項８に記載のデバイスにおいて、前記モード分離構造は少なくとも１つの楕円ファイバを備えるデバイス。
【請求項１０】
請求項８に記載のデバイスにおいて、前記モード分離構造は、各々が固有のモードを持つＮ個の単一モードファイバをもたらすために異なるインデックスのファイバを備えるデバイス。
【請求項１１】
請求項１に記載のデバイスにおいて、前記検出器アレイの前記複数の素子は、前記複数の素子のうちの１つの表面と接触するときに前記受け入れられた入射する放射のモードに基づく画像を構築するために、各々のモードのエネルギーレベルを測定するデバイス。
【請求項１２】
入射する放射を開口部および光学部品で集めるステップと、
前記放射をモード閉じ込め構造へと方向付け、前記受け入れられた入射する放射を複数のモードへと分離するステップと、
前記受け入れられた入射する放射の画像を構築するために各々のモードのエネルギーレベルを測定するステップと
を含む量子解像度撮像方法。
【請求項１３】
請求項１２に記載の方法において、仮想画像平面において位置付けられるとき、所与の点光源について放出された光の強度値を計算するステップをさらに含む方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の方法において、前記点光源の前記強度は、各々のモードの前記エネルギーレベルの前記測定に基づく方法。
【請求項１５】
請求項１２に記載の方法において、前記光源の画像が、基準と光源点との間の相対距離に関連する複数の測定に基づいて構築される方法。
【請求項１６】
請求項１５に記載の方法において、基準と光源点との間の相対距離についての誤差測定が開口部直径に基づいて決定される方法。
【請求項１７】
請求項１２に記載の方法において、前記受け入れられた入射する放射を、複数のモードへと分離する前に視準するステップを含む方法。
【請求項１８】
請求項１７に記載の方法において、前記入射する放射の視準の後、前記放射が多モードファイバへと送り込まれる方法。
【請求項１９】
請求項１５に記載の方法において、基準と光源点との間の相対距離についての測定誤差が光子束に基づいて決定される方法。
【請求項２０】
請求項１５に記載の方法において、基準と光源点との間の相対距離についての測定誤差が期間時間に基づいて決定される方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
[0001]本開示は超解像度副回析撮像に関する。
【背景技術】
【０００２】
[0002]直接的な撮像が、画像の焦点を平面に合わせるための一連のレンズまたは開口部を用い、次にその平面への放射の局所的な強度または出力を測定または記録することで実行され得る。しかしながら、直接的な撮像のこの方法は、レイリーの基準のため、制限された解像度とされてしまう。
【０００３】
[0003]例えば、レイリーの基準は、解像度の益々大きくなる天文学の探求において、大量の大きい直径の観測所をもたらしている。遠視野の線形光学が副レイリー解像度を達成でき、長く保持されてきたレイリーの基準は、直接的な撮像の技術の限界でしかない可能性がある。
【０００４】
[0004]例えば、直接的な撮像では、二次元平面における光子の計数が、電荷結合素子（ＣＣＤ）においてなど、検出器の局所的な位置のアレイで実行され得る。しかしながら、この技術は、画像光子の波動性を無視しており、画像光子を純粋に粒子の能力で扱っている。したがって、画像の位相情報が取得されない可能性がある。
【０００５】
[0005]直接的な撮像では、光学的開口部の有限寸法Ｄが、２つの別々の離れた物理的対象物からのシステムの角度解像力を、θ＝１．２２λ／Ｄまでに制限する回折パターンを誘導する。光子の計数が、位置に基づく代わりにモード毎に基づいて実行できる場合、システムの解像度は量子限界となり得る。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】Ｔａｂｌｅ  ｏｆ  Ｉｎｔｅｇｒａｌｓ，Ｓｅｒｉｅｓ，ａｎｄ  Ｐｒｏｄｕｃｔｓ，Ｇｒａｄｓｈｔｅｙｎ  ａｎｄ  Ｒｙｚｈｉｋ  （８．９５０）
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】[0006]本開示の１つまたは複数の実施形態による画像光源への参照の構成を示す図である。
【図２】[0007]本開示の１つまたは複数の実施形態による量子解像度撮像システムを示す図である。
【図３】[0008]本開示の１つまたは複数の実施形態による量子解像度撮像システムを示す図である。
【図４】[0009]画像品質の比較のためのいくつかの画像を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
[0010]前述したように、直接的な撮像は、レイリーの基準のため、制限された解像度とされてしまう。本開示で詳述されているように、撮像の代替の方法を利用することで、所与の開口部の寸法および画像強度について、画像の解像度を大幅に向上させる技術を提供できる。本明細書で開示されているように、光子の計数が、位置に基づく代わりにモード毎に基づいて実行できる場合、システムは量子限界となる可能性を有する。
【０００９】
[0011]本開示は、撮像の分野に幅広く適用することができ、それによって、入射する放射は開口部を通じて集められ得る。このようにして、幅広い様々な撮像装置（例えば、顕微鏡、望遠鏡、および、撮像される光を受け入れるための開口部を伴う他の撮像デバイス）を改善でき、それによって直接的な撮像の手法が取られ得る（例えば、放射の焦点を画像平面に合わせ、それによって放射の強度／出力が記録される）。
【００１０】
[0012]本開示は、複雑な光源が撮像され得る方法を提供できる。以前の手法では、数個の点光源の間の距離だけが決定され得る。しかしながら、本開示の実施形態は、Ｎ個の点光源の画像が生成され得る方法および装置を提供できる。本明細書で記載されるとき、「入射する放射」とは、装置に入り、「光源画像」を形成するために使用され得る放射である。
【００１１】
[0013]本開示の実施形態は、個々の点光源の独立したものの集まったものとして光源画像を扱うことができる。このような実施形態は、画像モードの数学的分布を定義するために、画像光源の非干渉性を用いることができる。これらのモーダル分布のパラメータは、モーダル分布が由来する点光源の場所を定義する。この文脈におけるモードとは、システムのエネルギー状態のうちの１つの空間的な閉じ込めの記述と見なされ得る。
【００１２】
[0014]このような技術では、入射する放射の任意の点光源の空間的な座標が、仮想的な画像平面に基づく座標系において記載されており、モードの測定は、仮想的な画像平面における点光源の場所を決定するために使用される。
【００１３】
[0015]このような実施形態では、画像の正確性は量子解像度の限界によって理論的に境界付けられ得るが、実際には、実験的限界が正確性を定めることになる。
【００１４】
[0016]本開示は、完全な撮像が、案内された光源画像をそのモードへと分離するためにフォトニックランタンまたは光学格子のいずれかを使用することに基づいて実現され得る撮像デバイスおよび撮像方法を提供できる。以下の詳細な記載では、その一部を形成する添付の図面が参照される。図面は、本開示の１つまたは複数の実施形態がどのように実施され得るかを図示によって示している。
【００１５】
[0017]これらの実施形態は、当業者に本開示の１つまたは複数の実施形態を実施させることができるように十分に詳細に記載されている。他の実施形態が利用され得ることと、機械的変更、電気的変更、および／またはプロセスの変更が本開示の範囲から逸脱することなく行われ得ることとは、理解されるものである。
【００１６】
[0018]理解されるように、本明細書での様々な実施形態で示した要素は、本開示のいくつかの追加の実施形態を提供するように、付け加えられ得る、交換され得る、組み合わせられ得る、および／または排除され得る。図において提供されている要素の割合および相対的な尺度は、本開示の実施形態を図示するように意図されており、限定の意味に取られるべきではない。
【００１７】
[0019]本明細書での図は、最初の１つまたは複数の数字が図面の図番に対応しており、残りの数字が図面において要素または構成部品を特定する番号付けの方法に従っている。別々の図の間での同様の要素または構成部品は、同様の数字の使用によって特定され得る。
【００１８】
[0020]本明細書で用いられるとき、「１つ」または「いくつか」の何かは、１つまたは複数のそのようなものに言及でき、一方、「複数」の何かは、２つ以上のそのようなものに言及できる。例えば、「いくつかの構成部品」は１つまたは複数の構成部品に言及でき、一方、「複数の構成部品」は２つ以上の構成部品に言及できる。
【００１９】
[0021]図１に示しているように、最初に開口部が４つの四分円へと分割される。撮像される目標（この時点では、直接的な撮像によって得られるため、単にはっきりしないぼやけたものである）が、開口部によって定められた４つの四分円について１つに配置される。中心では、基準点（ｘ＝０，ｙ＝０）が保持されている。すべての光源点の場所が、この基準点に対して測定される。
【００２０】
[0022]図２は、本開示の１つまたは複数の実施形態によるモーダル解像度撮像システムを示している。図２に示すように、光源画像が、直径Ｄの開口部２０１を通じて、焦点および視準の光学および／または鏡のシステム２０２へと集められ得る。次に、放射は、閉じ込められたモードのセットを確立するために、ファイバまたは導波路２０３へとつながれている。
【００２１】
[0023]図２では、次に、これらのモードは、検出器２０５のアレイへと出力するフォトニックランタン２０４によって分離される。薄暗い光源については、単一の光子検出器を利用することが必要であり得るが、明るい光源については、従来の低ノイズの検出器が適切である。検出器の出力はモーダル分布を形成し、次にモーダル分布はそれが由来する画像を識別するためにソフトウェアで分析される。
【００２２】
[0024]図３では、モードは代わりに回折格子３０４によって分離される。図２に示した実施形態と同様に、図３では、光源画像が、直径Ｄの開口部３０１を通じて、焦点および視準の光学および／または鏡のシステム３０２へと集められ得る。次に、放射は、ファイバまたは導波路３０３へとつながれ、格子３０４の使用を通じて、各々のモードは、若干異なる角度で、検出器３０５の適切に離間されたアレイへと散乱する。
【００２３】
[0025]モーダル基底の例として、エルミート−ガウス（ＨＧ）関数が、近軸波動方程式に設定される直交解を形成でき、ファイバシステムを通じた伝播のための優れた表現となり得る。このシステムは、モード関数の適切な選択を伴う他の案内部においても影響され得る。
【数１】
2019213178.tif 000003
【００２４】
[0026]ここでは、σｘおよびσｙは、焦点距離ｆと、波長λと、直径の寸法ｘおよびｙとによって与えられ、ここでσ＝λｆ／Ｄπである。光学システムについて、関数Ｈｑ（ｘ）は、Ｔａｂｌｅ  ｏｆ  Ｉｎｔｅｇｒａｌｓ，Ｓｅｒｉｅｓ，ａｎｄ  Ｐｒｏｄｕｃｔｓ，Ｇｒａｄｓｈｔｅｙｎ  ａｎｄ  Ｒｙｚｈｉｋ  （８．９５０）において定義されているような物理学者のエルミートの多項式に言及している。
【００２５】
[0027]この例では、正規形点広がり関数（ＰＳＦ）が、システムの光学の効果をモデル化するために使用されることになる。しかしながら、本開示の実施形態はこの表現に限定されていない。
【数２】
2019213178.tif 000004
【００２６】
[0028]ＰＳＦの導波路／ファイバのモードとの重なりは、（ｘｌ，ｙｍ）に位置付けられるすべての点光源にわたって合計され、次のように記述され得る。
【数３】
2019213178.tif 000005
【００２７】
[0029]重なり積分が実行されると、ポアソン分布の積の形態が得られる。
【数４】
2019213178.tif 000006
ここで、平均ＱｌおよびＲｍは、点光源の（ｘｌ，ｙｍ）の場所に関連する。次に、画像再構成の技術が、複合モーダルグラフにおける個々のポアソンパラメータ（ｎｌ，ｍ，Ｑｌ，Ｒｍ）の各々を区別しなければならない。これを確定的に行うために、変換を最終的に採用するが、最初に、グラムシュミット法が、ｐＱｉ（ｑ）およびｐＲｍ（ｒ）が拡がる空間から正規直交基底ξｉ（ｑ）、χｍ（ｒ）を確立するために使用される。多くのグラムシュミットアルゴリズムは十分であり、目的は、特定の仮定の画像平面にわたって、定められたベクトルＰＱ（ｑ）およびＰＲ（ｒ）についての正規直交基底を単に定義することである。
【数５】
2019213178.tif 000007
【００２８】
[0030]次に、αｌｍ係数が、測定されたＳ（ｑ，ｒ）面から、変換を介して計算され得る。
【数６】
2019213178.tif 000008
【００２９】
[0031]ｎｌｍ係数は、ｐＱｌおよびｐＲｍのξｌおよびχｍの項を拡張し、対応するＱｌおよびＲｍによって指示された値において位置付けられる点光源からの光子計数である対応するｎｌｍの項を抽出するために係数を一致させることで一義的に決定される。
【数７】
2019213178.tif 000009
【００３０】
[0032]この測定に影響を与える例の方法は、図１に示されている。１つの可能な方法は、十分な照準の正確性を伴う従来の望遠鏡を取得することを伴う。適用例が大気を通じた伝達を必要とする場合、望遠鏡は、大気の歪みを補償するための適切な補償光学も有していなければならない。入射する放射の一部分は、ダイクロイックミラーを通じて分けられ、ナスミスファイバポートにおいて、望遠鏡自体の外部にあり得るモーダル撮像装置へと方向付けられ得る。残りの部分の放射は、正確な追尾を維持する目的のために、および、必要な場合には閉ループの補償光学によって行われるような大気の歪みの補正のために、従来の意味で使用され得る。
【００３１】
[0033]ｘ／ｙ対称性を排除し、モード分散を低減するために、楕円グレーデッドインデックスファイバ１０６または他のこのような非対称の小さい分散導波路を使用することも、有益である可能性がある。これが必要とされず、処理において較正または補償されない可能性のある過剰なモードの混合を導入するべきではない。
【００３２】
[0034]入射する放射は、複数のモードへと分離される前に視準が合わせられ得る。このファイバは、モード選択フォトニックランタン２０４の溶融された端であり得る。一部の実施形態では、多モードグレーデッドインデックスファイバが断面において楕円であり得る。
【００３３】
[0035]フォトニックランタン２０４は、多段とされ得、各々が固有のモードを持つＮ個の単一モードファイバをもたらすために楕円のファイバまたは異なるインデックスから成ってもよい。ファイバは、例えば単一の光子計数モジュール２０５のアレイといった複数のアレイ素子の撮像アレイへと送り込まれ（供給され）、そして、副回析高解像度画像を再現するために後処理され得る。この測定の自由空間は、光学格子３０４がフォトニックランタンの代わりにモード分離器として使用される場合、使用されてもよい。
【００３４】
[0036]量子情報理論が、モードに基づく画像分析の解像度の限界を境界付けるために適用され得る。この分析について、クラマーラオ境界が使用され得る。したがって、誤差共分散行列Σ（推定量のベクトルに関する）が、逆量子フィッシャー情報行列Ｋにおいて上界を形成できる。δは次のように定義される。
δ＝（ｘｌ，ｙｍ）
次に、この分離パラメータの分散における誤差境界は、次のように与えられ得る。
【数８】
2019213178.tif 000010
【００３５】
[0037]前述した方法について、Ｎｐｈｏｔｏｎｓが、特定の点光源に割り当てられる位置（ｘｌ，ｙｍ）につながる対の合計、または、検出器の解像度のユニットとして定義され得る。
【００３６】
[0038]直接的な画像について、２つの点光源の分離における誤差δは、典型的には次の式によって与えられる。
【数９】
2019213178.tif 000011
これは、光源の分離がゼロへと進むにつれて無限大に近付く。しかしながら、量子限界測定の場合、下界は次のようになり得る。
【数１０】
2019213178.tif 000012
【００３７】
[0039]したがって、誤差測定は、σと、光子の束と、延いては集める時間の期間とを介して、開口部の直径に依存する。それにもかかわらず、誤差測定は、点光源の分離から独立し、厳密に量子結果である。
【００３８】
[0040]図４は、画像品質の比較のためのいくつかの画像を示している。左側において、画素化された元の画像が示されている。左から２番目の画像は、基準点に対して大きさ変更および位置決めされた第１の画像を示している。左から３番目の画像は、画像の回折限界結果を示しており、最後の画像は、本開示の実施形態に基づいて作り出されたモーダル画像を示している。
【００３９】
[0041]以下に提供されているのは、本開示の概念の本質を明確にする助けとなり得る例の実施形態および詳細である。第１の例の実施形態では、量子解像度撮像デバイスが、入射する放射を受け入れるように提供される光学部品（例えば、光が通過する開口部ｓ）を備える。
【００４０】
[0042]デバイスは、受け入れられた入射する放射を複数のモードへと分離するためのモード分離構造（例えば、フォトニックランタン、光学格子など）と、アレイ素子のうちの１つの表面と接触するとき、受け入れられた入射する放射のモードに基づく画像を構築するために、各々のモードのエネルギーレベルを測定するための複数のアレイ素子を有する撮像アレイ（例えば、検出器アレイ）とを同じく備える。
【００４１】
[0043]第１の方法の例では、量子解像度撮像方法が、例えば、入射する放射を光学部品で受け入れるステップと、受け入れられた入射する放射を複数のモードへと分離するステップ（例えば、モード分離構造を利用する）と、受け入れられた入射する放射の画像を構築するために各々のモードのエネルギーレベルを測定するステップ（例えば、撮像アレイを利用する）とを含み得る。
【００４２】
[0044]特定の実施形態が本明細書で図示および記載されてきたが、当業者は、同じ技術を達成するように計算された任意の構成が、示した特定の実施形態について代用され得ることを理解するものである。本開示は、本開示の様々な実施形態の任意およびすべての改作または変形を網羅するように意図されている。
【００４３】
[0045]上記のことが例示の様態で行われており、制約するものでないことは、理解されるものである。上記の実施形態の組み合わせ、および、本明細書に具体的に記載されていない他の実施形態が、先の記載を再検討すると当業者には明らかとなる。
【図１】
2019213178.tif 000013
【図２】
2019213178.tif 000014
【図３】
2019213178.tif 000015
【図４】
2019213178.tif 000016
【手続補正書】
【提出日】平成30年9月21日(2018.9.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入射する放射を受け入れるように提供される光学部品を伴う開口部と、
前記受け入れられた入射する放射を複数のモードへと分離するためのモード分離構造と、
画像が再構築され得るモーダル分布を構築するために、各々のモードのエネルギーレベルを測定するための複数の素子を有する検出器アレイと
を備える副回析超解像度撮像デバイス。
【請求項２】
請求項１に記載のデバイスにおいて、前記光学部品は、入射する光が通過する開口部を備えるデバイス。
【請求項３】
請求項１に記載のデバイスにおいて、前記入射する放射を、閉じ込められたモードを伴う構造へ視準する、デバイス。
【請求項４】
請求項１に記載のデバイスにおいて、閉じ込められたモードを伴う前記構造が導波路または光ファイバの一方であるデバイス。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４３】
[0045]上記のことが例示の様態で行われており、制約するものでないことは、理解されるものである。上記の実施形態の組み合わせ、および、本明細書に具体的に記載されていない他の実施形態が、先の記載を再検討すると当業者には明らかとなる。
［形態１］
入射する放射を受け入れるように提供される光学部品を伴う開口部と、
前記受け入れられた入射する放射を複数のモードへと分離するためのモード分離構造と、
画像が再構築され得るモーダル分布を構築するために、各々のモードのエネルギーレベルを測定するための複数の素子を有する検出器アレイと
を備える副回析超解像度撮像デバイス。
［形態２］
形態１に記載のデバイスにおいて、前記光学部品は、入射する光が通過する開口部を備えるデバイス。
［形態３］
形態１に記載のデバイスにおいて、前記入射する放射を、閉じ込められたモードを伴う構造へ視準する、デバイス。
［形態４］
形態１に記載のデバイスにおいて、閉じ込められたモードを伴う前記構造が導波路または光ファイバの一方であるデバイス。
［形態５］
形態３に記載のデバイスにおいて、前記ファイバはフォトニックランタンの溶融された端である、または、導波路が、回折格子を含む、もしくは、回折格子において方向付けられるデバイス。
［形態６］
形態５に記載のデバイスにおいて、前記フォトニックランタンは異なるインデックスのファイバから成るデバイス。
［形態７］
形態６に記載のデバイスにおいて、前記ファイバは光子計数モジュールのアレイへと供給され、または、前記回折格子は、検出器のアレイにおいて、そのモードが分離された放射を散乱させるデバイス。
［形態８］
形態１に記載のデバイスにおいて、前記モード分離構造は多段とされるデバイス。
［形態９］
形態８に記載のデバイスにおいて、前記モード分離構造は少なくとも１つの楕円ファイバを備えるデバイス。
［形態１０］
形態８に記載のデバイスにおいて、前記モード分離構造は、各々が固有のモードを持つＮ個の単一モードファイバをもたらすために異なるインデックスのファイバを備えるデバイス。
［形態１１］
形態１に記載のデバイスにおいて、前記検出器アレイの前記複数の素子は、前記複数の素子のうちの１つの表面と接触するときに前記受け入れられた入射する放射のモードに基づく画像を構築するために、各々のモードのエネルギーレベルを測定するデバイス。
［形態１２］
入射する放射を開口部および光学部品で集めるステップと、
前記放射をモード閉じ込め構造へと方向付け、前記受け入れられた入射する放射を複数のモードへと分離するステップと、
前記受け入れられた入射する放射の画像を構築するために各々のモードのエネルギーレベルを測定するステップと
を含む量子解像度撮像方法。
［形態１３］
形態１２に記載の方法において、仮想画像平面において位置付けられるとき、所与の点光源について放出された光の強度値を計算するステップをさらに含む方法。
［形態１４］
形態１３に記載の方法において、前記点光源の前記強度は、各々のモードの前記エネルギーレベルの前記測定に基づく方法。
［形態１５］
形態１２に記載の方法において、前記光源の画像が、基準と光源点との間の相対距離に関連する複数の測定に基づいて構築される方法。
［形態１６］
形態１５に記載の方法において、基準と光源点との間の相対距離についての誤差測定が開口部直径に基づいて決定される方法。
［形態１７］
形態１２に記載の方法において、前記受け入れられた入射する放射を、複数のモードへと分離する前に視準するステップを含む方法。
［形態１８］
形態１７に記載の方法において、前記入射する放射の視準の後、前記放射が多モードファイバへと送り込まれる方法。
［形態１９］
形態１５に記載の方法において、基準と光源点との間の相対距離についての測定誤差が光子束に基づいて決定される方法。
［形態２０］
形態１５に記載の方法において、基準と光源点との間の相対距離についての測定誤差が期間時間に基づいて決定される方法。
【外国語明細書】
2019213178000001.pdf