(57)【要約】【課題】基準値を取得する処理を別途行うことなく測定対象の良否を正確に判定可能なデータを提供可能とする。【解決手段】予め規定されたサンプリング周期で測定された複数の測定値Ｄｓが記録されている波形データＤ０に基づき、波形データＤ０の信号波形に放電波形成分が含まれているか否かを特定するための検査用データＤｃを生成する処理部２３を備えたデータ処理装置３であって、処理部２３は、放電波形成分が含まれているか否かを特定するための領域データＤａ（測定値範囲データ）と、領域データＤａとの対比によって放電波形成分が含まれているか否かを特定可能な波形データＤ７，Ｄ８（比較値データ）とを波形データＤ０に基づいて生成し、生成した領域データＤａおよび波形データＤ７，Ｄ８を含めて検査用データＤｃを生成する。【選択図】図１
2019095404.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め規定されたサンプリング周期で測定された複数の測定値が記録されている波形データに基づき、当該波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かを特定するための放電有無特定用データを生成する処理部を備えたデータ処理装置であって、
前記処理部は、前記放電波形成分が含まれているか否かの特定の基準となる測定値範囲の測定値範囲データと、当該測定値範囲との対比によって前記放電波形成分が含まれているか否かを特定可能な比較値データとを前記波形データに基づいて生成し、生成した当該測定値範囲データおよび当該比較値データを含めて前記放電有無特定用データを生成するデータ処理装置。
【請求項２】
前記処理部は、
前記波形データの前記各測定値のなかから連続するＮサンプリング内（Ｎは、予め規定された２以上の自然数）の変化量が予め規定された量以上の第１の値を抽出して第１のデータを生成する第１の処理と、
前記波形データの前記各測定値を、対象の当該測定値を含んで連続するＭサンプリング分（Ｍは、予め規定された２以上の自然数）の当該測定値を平均化した第２の値にそれぞれ置き換えて第２のデータを生成する第２の処理と、
前記第２のデータの前記各第２の値のなかから前記連続するＮサンプリング内の変化量が前記予め規定された量以上の第３の値を抽出して第３のデータを生成する第３の処理と、
前記第３のデータの前記各第３の値を絶対値化した第４の値を演算して第４のデータを生成する第４の処理と、
前記波形データの前記各測定値を、対象の当該測定値を含んで連続するＬサンプリング分（Ｌは、予め規定された２以上の自然数）の当該測定値を平均化した値に置き換えると共に置換え後の当該測定値を微分した第５の値を演算して第５のデータを生成する第５の処理と、
前記第５のデータの前記各第５の値を微分した第６の値を演算して第６のデータを生成する第６の処理と、
前記第６のデータの前記各第６の値の絶対値を正規化した第７の値を演算して第７のデータを生成する第７の処理と、
前記第１のデータの前記各第１の値を絶対値化した第８の値を演算して第８のデータを生成する第８の処理と、
２次元グラフの縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第４のデータの前記各第４の値を対応させると共に当該２次元グラフの縦軸および横軸の他方に当該各第４の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第４の値および当該第７の値の第１の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットする第９の処理と、
前記２次元グラフの前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第８のデータの前記各第８の値を対応させると共に当該２次元グラフの前記縦軸および横軸の他方に当該各第８の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第８の値および当該第７の値の第２の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットしたときに前記放電波形成分の前記測定値に対応する当該第２の対応点がプロットされない第１の判定領域、および当該放電波形成分の当該測定値に対応する当該第２の対応点がプロットされる第２の判定領域の少なくとも一方の領域を、当該２次元グラフ上の前記各第１の対応点の配置に基づいて予め規定された領域規定手順に従って当該２次元グラフ上に前記測定値範囲として規定する第１０の処理とを実行し、
前記第１０の処理によって規定した前記少なくとも一方の領域を特定可能な領域データを前記測定値範囲データとし、かつ、前記第７のデータおよび前記第８のデータを前記比較値データとして前記放電有無特定用データを生成する請求項１記載のデータ処理装置。
【請求項３】
前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第５のデータの前記各第５の値の絶対値を最大値が１となるように正規化した第９の値を演算して第９のデータを生成すると共に、当該第９のデータの当該各第９の値に係数Ｋａ（Ｋａは、予め規定された１以下の正数）を乗じた値と、当該各第９の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値とのいずれか大きい一方を新たな第７の値として新たな前記第７のデータを生成する第１１の処理を実行する請求項２記載のデータ処理装置。
【請求項４】
前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第７のデータの前記各第７の値を、対象の当該第７の値に対してＪａサンプリング前（Ｊａは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値から当該対象の第７の値までの（Ｊａ＋１）個の当該第７の値、および当該対象の第７の値から当該対象の第７の値に対してＪｂサンプリング後（Ｊｂは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値までの（Ｊｂ＋１）個の当該第７の値の少なくとも一方を含む予め規定されたＪｃ個（Ｊｃは、予め規定された２以上の自然数）の当該第７の値のうちの最大値にそれぞれ置き換えて新たな前記第７のデータを生成する第１２の処理を実行する請求項２記載のデータ処理装置。
【請求項５】
前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第７のデータの前記各第７の値のうち、Ｉサンプリング前（Ｉは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値よりも小さい当該第７の値を、当該Ｉサンプリング前の第７の値よりも小さい当該第７の値と、当該Ｉサンプリング前の第７の値に係数Ｋｂ（Ｋｂは、予め規定された１以下の正数）を乗じた第１０の値とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな前記第７のデータを生成する第１３の処理を実行する請求項２記載のデータ処理装置。
【請求項６】
前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第７のデータの前記各第７の値のうちの最大値に対応する前記測定値よりも後にサンプリングされた前記測定値に対応する当該第７の値を、対象の当該第７の値に対してＨａサンプリング前（Ｈａは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値が、当該対象の当該第７の値を含んで連続するＨｂサンプリング分（Ｈｂは、予め規定された２以上の自然数）の当該第７の値を平均化した値に係数Ｋｃ（Ｋｃは、予め規定された任意の正数）を乗じた第１１の値以下のときに、当該対象の第７の値と、前記Ｈａサンプリング前の第７の値に予め規定された係数Ｋｄ（Ｋｄは、Ｋｃよりも大きい予め規定された任意の正数）を乗じた第１２の値とのいずれか小さい一方に置き換えて新たな前記第７のデータを生成する第１４の処理を実行する請求項２から５のいずれかに記載のデータ処理装置。
【請求項７】
前記処理部は、前記第１４の処理において、前記Ｈａサンプリング前の第７の値が、前記Ｈｂサンプリング分の第７の値を平均化した値に係数Ｋｅ（Ｋｅは、予め規定された任意の正数）を乗じた第１３の値よりも小さいときに、当該対象の第７の値を当該第１３の値に置き換える請求項６記載のデータ処理装置。
【請求項８】
前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第７のデータの前記各第７の値のうちの最大値に対応する前記測定値よりも前にサンプリングされた前記測定値に対応する当該第７の値を、対象の当該第７の値と、当該対象の第７の値に対してＨｃサンプリング前（Ｈｃは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値に係数Ｋｆ（Ｋｅは、予め規定された任意の正数）を乗じた第１４の値とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな前記第７のデータを生成する第１５の処理を実行する請求項２から７のいずれかに記載のデータ処理装置。
【請求項９】
前記処理部は、前記第１５の処理において、前記対象の第７の値および前記第１４の値の双方が、当該対象の第７の値を含んで連続するＨｄサンプリング分（Ｈｄは、予め規定された２以上の自然数）の当該第７の値を平均化した値に係数Ｋｇ（Ｋｇは、予め規定された任意の正数）を乗じた第１５の値よりも小さいときに、当該対象の第７の値を当該第１５の値に置き換える請求項８記載のデータ処理装置。
【請求項１０】
前記処理部は、前記第１０の処理において、前記２次元グラフの原点を通過する前記各第１の対応点の回帰直線を特定し、特定した当該回帰直線における当該２次元グラフの前記縦軸および横軸の他方の値が１のときの当該２次元グラフの前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方の値を第１６の値として特定し、かつ、当該２次元グラフの原点、当該予め規定された一方の値が当該第１６の値で当該他方の値が１の第１の点、および当該予め規定された一方の値が０で当該他方の値が１の第２の点の３点を頂点とする三角形領域を特定すると共に、特定した当該三角形領域に基づいて前記少なくとも一方の領域を規定する請求項２から９のいずれかに記載のデータ処理装置。
【請求項１１】
前記処理部は、前記２次元グラフの前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第１のデータの前記各第１の値を対応させると共に当該２次元グラフの前記縦軸および横軸の他方に当該各第１の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第１の値および当該第７の値の第３の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットすると共に、前記縦軸および横軸の他方の値が「０．５」以下の予め規定された第１７の値以下である前記第３の対応点を抽出し、抽出した前記各第３の対応点における前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方の値の標準偏差ｎσ（ｎは、予め規定された任意の自然数）を演算すると共に、前記原点、前記第１の点、前記予め規定された一方の値が前記標準偏差ｎσと前記第１６の値との和で前記他方の値が１の第３の点、および当該予め規定された一方の値が当該標準偏差ｎσで当該他方の値が０の第４の点の４点を頂点とする第１の矩形領域を特定し、特定した当該第１の矩形領域および前記三角形領域に基づいて前記少なくとも一方の領域を規定する請求項１０記載のデータ処理装置。
【請求項１２】
前記処理部は、前記第１０の処理において、すべての前記第１の対応点が含まれる最小の方形領域を特定すると共に、特定した当該方形領域に基づいて前記少なくとも一方の領域を規定する請求項２から９のいずれかに記載のデータ処理装置。
【請求項１３】
前記処理部は、前記放電有無特定用データに基づき、前記第２の対応点と前記少なくとも一方の領域との位置関係を特定して前記波形データの信号波形に前記放電波形成分が含まれているか否かを判定する判定処理を実行し、当該判定処理の判定結果を特定可能な判定結果データを生成する請求項２から１２のいずれかに記載のデータ処理装置。
【請求項１４】
前記処理部は、前記第１の判定領域を前記少なくとも一方の領域とするときには前記第２の対応点の総数に占める当該第１の判定領域に含まれない当該第２の対応点の割合を特定すると共に、前記第２の判定領域を当該少なくとも一方の領域とするときには当該第２の対応点の総数に占める当該第２の判定領域に含まれる当該第２の対応点の割合を特定し、特定した割合が予め規定された割合以上のときに、予め規定された報知処理を実行する請求項１３記載のデータ処理装置。
【請求項１５】
前記処理部は、前記２次元グラフを前記縦軸および横軸の他方の方向でＧａ個（Ｇａは、予め規定された２以上の自然数）に分割したＧａ個の第２の矩形領域を特定し、前記第１の判定領域を当該少なくとも一方の領域とするときには当該第１の判定領域以外の領域に当該第２の対応点が含まれている当該第２の矩形領域の数を特定すると共に、前記第２の判定領域を前記少なくとも一方の領域とするときには当該第２の判定領域に当該第２の対応点が含まれている前記第２の矩形領域の数を特定し、特定した数が予め規定された数以上のときに、予め規定された報知処理を実行する請求項１３記載のデータ処理装置。
【請求項１６】
前記処理部は、前記第２の対応点をプロットした前記２次元グラフと前記少なくとも一方の領域を示す領域表示とを前記判定処理の判定結果と共に表示部に表示させる請求項１３から１５のいずれかに記載のデータ処理装置。
【請求項１７】
請求項１から１６のいずれかに記載のデータ処理装置と、
測定対象についての前記予め規定されたサンプリング周期での測定を実行して前記波形データを出力する測定装置とを備えて構成されている測定システム。
【請求項１８】
予め規定されたサンプリング周期で測定された複数の測定値が記録されている波形データに基づき、当該波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かを特定するための放電有無特定用データを生成する処理をデータ処理装置の処理部に実行させるデータ処理用プログラムであって、
前記放電波形成分が含まれているか否かの特定の基準となる測定値範囲の測定値範囲データと、当該測定値範囲との対比によって前記放電波形成分が含まれているか否かを特定可能な比較値データとを前記波形データに基づいて生成し、生成した当該測定値範囲データおよび当該比較値データを含めて前記放電有無特定用データを生成する処理を前記処理部に実行させるデータ処理用プログラム。
【請求項１９】
前記波形データの前記各測定値のなかから連続するＮサンプリング内（Ｎは、予め規定された２以上の自然数）の変化量が予め規定された量以上の第１の値を抽出して第１のデータを生成する第１の処理と、
前記波形データの前記各測定値を、対象の当該測定値を含んで連続するＭサンプリング分（Ｍは、予め規定された２以上の自然数）の当該測定値を平均化した第２の値にそれぞれ置き換えて第２のデータを生成する第２の処理と、
前記第２のデータの前記各第２の値のなかから前記連続するＮサンプリング内の変化量が前記予め規定された量以上の第３の値を抽出して第３のデータを生成する第３の処理と、
前記第３のデータの前記各第３の値を絶対値化した第４の値を演算して第４のデータを生成する第４の処理と、
前記波形データの前記各測定値を、対象の当該測定値を含んで連続するＬサンプリング分（Ｌは、予め規定された２以上の自然数）の当該測定値を平均化した値に置き換えると共に置換え後の当該測定値を微分した第５の値を演算して第５のデータを生成する第５の処理と、
前記第５のデータの前記各第５の値を微分した第６の値を演算して第６のデータを生成する第６の処理と、
前記第６のデータの前記各第６の値の絶対値を正規化した第７の値を演算して第７のデータを生成する第７の処理と、
前記第１のデータの前記各第１の値を絶対値化した第８の値を演算して第８のデータを生成する第８の処理と、
２次元グラフの縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第４のデータの前記各第４の値を対応させると共に当該２次元グラフの縦軸および横軸の他方に当該各第４の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第４の値および当該第７の値の第１の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットする第９の処理と、
前記２次元グラフの前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第８のデータの前記各第８の値を対応させると共に当該２次元グラフの前記縦軸および横軸の他方に当該各第８の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第８の値および当該第７の値の第２の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットしたときに前記放電波形成分の前記測定値に対応する当該第２の対応点がプロットされない第１の判定領域、および当該放電波形成分の当該測定値に対応する当該第２の対応点がプロットされる第２の判定領域の少なくとも一方の領域を、当該２次元グラフ上の前記各第１の対応点の配置に基づいて予め規定された領域規定手順に従って当該２次元グラフ上に前記測定値範囲として規定する第１０の処理とを前記処理部に実行させると共に、
前記第１０の処理によって規定した前記少なくとも一方の領域を特定可能な領域データを前記測定値範囲データとし、かつ、前記第７のデータおよび前記第８のデータを前記比較値データとして前記放電有無特定用データを生成させる処理を前記処理部に実行させる請求項１８記載のデータ処理用プログラム。
【請求項２０】
前記放電有無特定用データに基づき、前記第２の対応点が前記少なくとも一方の領域に含まれているか否かを判別して前記波形データの信号波形に前記放電波形成分が含まれているか否かを判定する判定処理、および当該判定処理の判定結果を特定可能な判定結果データを生成する処理を前記処理部に実行させる請求項１９記載のデータ処理用プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かを特定するための放電有無特定用データを生成するデータ処理装置およびデータ処理用プログラム、並びにそのようなデータ処理装置と波形データを生成する測定装置とを備えて構成された測定システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、下記の特許文献には、被測定コイルの良否を検査するコイル試験装置およびコイル試験方法（以下、単に「試験装置」および「試験方法」ともいう）が開示されている。この試験装置および試験方法では、被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加して減衰振動電圧波形を発生させて諸特性（減衰振動時間、実効値、および測定値の絶対値の積分値等）を測定し、測定結果に基づいて被測定コイルの良否を判定する構成・方法が採用されている。具体的には、この試験装置および試験方法では、複数回の測定において測定結果がどの程度変動するかに基づいて「レアーショート不良」が生じているか否かを判定したり、測定結果と基準値とを比較して「コイル巻数不良」が生じているか否かを判定したりする構成・方法が採用されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平６−８８８４９号公報（第５−８頁、第１−５図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、上記の特許文献に開示の試験装置および試験方法には、以下のような問題点が存在する。具体的には、上記特許文献に開示の試験装置および試験方法では、測定結果の変動幅の大きさに基づいて被測定コイルに「レアーショート不良」が生じているか否かを判定する構成が採用されている。
【０００５】
この場合、この種の装置・方法による前述のような試験（測定）に際しては、測定対象や測定装置の温度、および測定装置に対して供給される電力の状態などの測定環境の変化に起因して測定結果にばらつきが生じることがある。このため、１つの測定対象に対する測定処理を複数回に亘って行ったときに、各測定処理毎の測定環境が相違する状態となって各測定処理毎の測定結果にばらつきが生じることがある。この結果、上記の特許文献に開示の試験装置および試験方法では、実際には「レアーショート不良」が生じていないにもかかわらず、測定環境の変化に起因して測定結果の変動幅が規定値を超えて、「レアーショート不良」が生じていると誤判定されるおそれがある。
【０００６】
この場合、複数回の測定処理における測定結果の変動幅に基づく判定に代えて、「コイル巻数不良」の試験方法のように測定結果と基準値との差に基づいて「レアーショート不良」が生じているか否かを判定した場合においても、基準値を取得するための測定処理時と、良否判定対象の測定対象についての測定処理時とで測定環境が相違した場合には、測定結果が相違し、「レアーショート不良」の有無を誤判定するおそれがある。
【０００７】
また、この種の装置・方法による前述のような試験（測定）においては、たとえ同種の測定対象（同じ型式の被測定コイル等）であっても、各個体毎に測定結果が僅かに相違するため、これらのばらつきを考慮した基準値を得るためには、複数個の良品の測定対象について複数回の測定処理を実行して最適値を特定する必要がある。この場合、複数個の良品の測定対象の個体差に起因する測定結果のばらつきの大きさが、１つの個体（いずれかの測定対象）に不良が生じているか否かによって生じる測定結果の相違量と同程度、或いはそれ以上となることもある。このため、正確な良否判定が可能な基準値の取得自体が困難となる。
【０００８】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、基準値を取得する処理を別途行うことなく測定対象の良否を正確に判定可能なデータを提供し得るデータ処理装置およびデータ処理用プログラム、並びにそのようなデータ処理装置を備えて構成された測定システムを提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成すべく、請求項１記載のデータ処理装置は、予め規定されたサンプリング周期で測定された複数の測定値が記録されている波形データに基づき、当該波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かを特定するための放電有無特定用データを生成する処理部を備えたデータ処理装置であって、前記処理部は、前記放電波形成分が含まれているか否かの特定の基準となる測定値範囲の測定値範囲データと、当該測定値範囲との対比によって前記放電波形成分が含まれているか否かを特定可能な比較値データとを前記波形データに基づいて生成し、生成した当該測定値範囲データおよび当該比較値データを含めて前記放電有無特定用データを生成する。
【００１０】
請求項２記載のデータ処理装置は、請求項１記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記波形データの前記各測定値のなかから連続するＮサンプリング内（Ｎは、予め規定された２以上の自然数）の変化量が予め規定された量以上の第１の値を抽出して第１のデータを生成する第１の処理と、前記波形データの前記各測定値を、対象の当該測定値を含んで連続するＭサンプリング分（Ｍは、予め規定された２以上の自然数）の当該測定値を平均化した第２の値にそれぞれ置き換えて第２のデータを生成する第２の処理と、前記第２のデータの前記各第２の値のなかから前記連続するＮサンプリング内の変化量が前記予め規定された量以上の第３の値を抽出して第３のデータを生成する第３の処理と、前記第３のデータの前記各第３の値を絶対値化した第４の値を演算して第４のデータを生成する第４の処理と、前記波形データの前記各測定値を、対象の当該測定値を含んで連続するＬサンプリング分（Ｌは、予め規定された２以上の自然数）の当該測定値を平均化した値に置き換えると共に置換え後の当該測定値を微分した第５の値を演算して第５のデータを生成する第５の処理と、前記第５のデータの前記各第５の値を微分した第６の値を演算して第６のデータを生成する第６の処理と、前記第６のデータの前記各第６の値の絶対値を正規化した第７の値を演算して第７のデータを生成する第７の処理と、前記第１のデータの前記各第１の値を絶対値化した第８の値を演算して第８のデータを生成する第８の処理と、２次元グラフの縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第４のデータの前記各第４の値を対応させると共に当該２次元グラフの縦軸および横軸の他方に当該各第４の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第４の値および当該第７の値の第１の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットする第９の処理と、前記２次元グラフの前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第８のデータの前記各第８の値を対応させると共に当該２次元グラフの前記縦軸および横軸の他方に当該各第８の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第８の値および当該第７の値の第２の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットしたときに前記放電波形成分の前記測定値に対応する当該第２の対応点がプロットされない第１の判定領域、および当該放電波形成分の当該測定値に対応する当該第２の対応点がプロットされる第２の判定領域の少なくとも一方の領域を、当該２次元グラフ上の前記各第１の対応点の配置に基づいて予め規定された領域規定手順に従って当該２次元グラフ上に前記測定値範囲として規定する第１０の処理とを実行し、前記第１０の処理によって規定した前記少なくとも一方の領域を特定可能な領域データを前記測定値範囲データとし、かつ、前記第７のデータおよび前記第８のデータを前記比較値データとして前記放電有無特定用データを生成する。
【００１１】
また、請求項３記載のデータ処理装置は、請求項２記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第５のデータの前記各第５の値の絶対値を最大値が１となるように正規化した第９の値を演算して第９のデータを生成すると共に、当該第９のデータの当該各第９の値に係数Ｋａ（Ｋａは、予め規定された１以下の正数）を乗じた値と、当該各第９の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値とのいずれか大きい一方を新たな第７の値として新たな前記第７のデータを生成する第１１の処理を実行する。
【００１２】
また、請求項４記載のデータ処理装置は、請求項２記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第７のデータの前記各第７の値を、対象の当該第７の値に対してＪａサンプリング前（Ｊａは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値から当該対象の第７の値までの（Ｊａ＋１）個の当該第７の値、および当該対象の第７の値から当該対象の第７の値に対してＪｂサンプリング後（Ｊｂは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値までの（Ｊｂ＋１）個の当該第７の値の少なくとも一方を含む予め規定されたＪｃ個（Ｊｃは、予め規定された２以上の自然数）の当該第７の値のうちの最大値にそれぞれ置き換えて新たな前記第７のデータを生成する第１２の処理を実行する。
【００１３】
また、請求項５記載のデータ処理装置は、請求項２記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第７のデータの前記各第７の値のうち、Ｉサンプリング前（Ｉは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値よりも小さい当該第７の値を、当該Ｉサンプリング前の第７の値よりも小さい当該第７の値と、当該Ｉサンプリング前の第７の値に係数Ｋｂ（Ｋｂは、予め規定された１以下の正数）を乗じた第１０の値とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな前記第７のデータを生成する第１３の処理を実行する。
【００１４】
さらに、請求項６記載のデータ処理装置は、請求項２から５のいずれかに記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第７のデータの前記各第７の値のうちの最大値に対応する前記測定値よりも後にサンプリングされた前記測定値に対応する当該第７の値を、対象の当該第７の値に対してＨａサンプリング前（Ｈａは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値が、当該対象の当該第７の値を含んで連続するＨｂサンプリング分（Ｈｂは、予め規定された２以上の自然数）の当該第７の値を平均化した値に係数Ｋｃ（Ｋｃは、予め規定された任意の正数）を乗じた第１１の値以下のときに、当該対象の第７の値と、前記Ｈａサンプリング前の第７の値に予め規定された係数Ｋｄ（Ｋｄは、Ｋｃよりも大きい予め規定された任意の正数）を乗じた第１２の値とのいずれか小さい一方に置き換えて新たな前記第７のデータを生成する第１４の処理を実行する。
【００１５】
また、請求項７記載のデータ処理装置は、請求項６記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第１４の処理において、前記Ｈａサンプリング前の第７の値が、前記Ｈｂサンプリング分の第７の値を平均化した値に係数Ｋｅ（Ｋｅは、予め規定された任意の正数）を乗じた第１３の値よりも小さいときに、当該対象の第７の値を当該第１３の値に置き換える。
【００１６】
さらに、請求項８記載のデータ処理装置は、請求項２から７のいずれかに記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第９の処理に先立ち、前記第７のデータの前記各第７の値のうちの最大値に対応する前記測定値よりも前にサンプリングされた前記測定値に対応する当該第７の値を、対象の当該第７の値と、当該対象の第７の値に対してＨｃサンプリング前（Ｈｃは、予め規定された任意の自然数）の当該第７の値に係数Ｋｆ（Ｋｅは、予め規定された任意の正数）を乗じた第１４の値とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな前記第７のデータを生成する第１５の処理を実行する。
【００１７】
また、請求項９記載のデータ処理装置は、請求項８記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第１５の処理において、前記対象の第７の値および前記第１４の値の双方が、当該対象の第７の値を含んで連続するＨｄサンプリング分（Ｈｄは、予め規定された２以上の自然数）の当該第７の値を平均化した値に係数Ｋｇ（Ｋｇは、予め規定された任意の正数）を乗じた第１５の値よりも小さいときに、当該対象の第７の値を当該第１５の値に置き換える。
【００１８】
さらに、請求項１０記載のデータ処理装置は、請求項２から９のいずれかに記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第１０の処理において、前記２次元グラフの原点を通過する前記各第１の対応点の回帰直線を特定し、特定した当該回帰直線における当該２次元グラフの前記縦軸および横軸の他方の値が１のときの当該２次元グラフの前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方の値を第１６の値として特定し、かつ、当該２次元グラフの原点、当該予め規定された一方の値が当該第１６の値で当該他方の値が１の第１の点、および当該予め規定された一方の値が０で当該他方の値が１の第２の点の３点を頂点とする三角形領域を特定すると共に、特定した当該三角形領域に基づいて前記少なくとも一方の領域を規定する。
【００１９】
また、請求項１１記載のデータ処理装置は、請求項１０記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記２次元グラフの前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第１のデータの前記各第１の値を対応させると共に当該２次元グラフの前記縦軸および横軸の他方に当該各第１の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第１の値および当該第７の値の第３の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットすると共に、前記縦軸および横軸の他方の値が「０．５」以下の予め規定された第１７の値以下である前記第３の対応点を抽出し、抽出した前記各第３の対応点における前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方の値の標準偏差ｎσ（ｎは、予め規定された任意の自然数）を演算すると共に、前記原点、前記第１の点、前記予め規定された一方の値が前記標準偏差ｎσと前記第１６の値との和で前記他方の値が１の第３の点、および当該予め規定された一方の値が当該標準偏差ｎσで当該他方の値が０の第４の点の４点を頂点とする第１の矩形領域を特定し、特定した当該第１の矩形領域および前記三角形領域に基づいて前記少なくとも一方の領域を規定する。
【００２０】
さらに、請求項１２記載のデータ処理装置は、請求項２から９のいずれかに記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第１０の処理において、すべての前記第１の対応点が含まれる最小の方形領域を特定すると共に、特定した当該方形領域に基づいて前記少なくとも一方の領域を規定する。
【００２１】
さらに、請求項１３記載のデータ処理装置は、請求項２から１２のいずれかに記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記放電有無特定用データに基づき、前記第２の対応点と前記少なくとも一方の領域との位置関係を特定して前記波形データの信号波形に前記放電波形成分が含まれているか否かを判定する判定処理を実行し、当該判定処理の判定結果を特定可能な判定結果データを生成する。
【００２２】
また、請求項１４記載のデータ処理装置は、請求項１３記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第１の判定領域を前記少なくとも一方の領域とするときには前記第２の対応点の総数に占める当該第１の判定領域に含まれない当該第２の対応点の割合を特定すると共に、前記第２の判定領域を当該少なくとも一方の領域とするときには当該第２の対応点の総数に占める当該第２の判定領域に含まれる当該第２の対応点の割合を特定し、特定した割合が予め規定された割合以上のときに、予め規定された報知処理を実行する。
【００２３】
また、請求項１５記載のデータ処理装置は、請求項１３記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記２次元グラフを前記縦軸および横軸の他方の方向でＧａ個（Ｇａは、予め規定された２以上の自然数）に分割したＧａ個の第２の矩形領域を特定し、前記第１の判定領域を当該少なくとも一方の領域とするときには当該第１の判定領域以外の領域に当該第２の対応点が含まれている当該第２の矩形領域の数を特定すると共に、前記第２の判定領域を前記少なくとも一方の領域とするときには当該第２の判定領域に当該第２の対応点が含まれている前記第２の矩形領域の数を特定し、特定した数が予め規定された数以上のときに、予め規定された報知処理を実行する。
【００２４】
さらに、請求項１６記載のデータ処理装置は、請求項１３から１５のいずれかに記載のデータ処理装置において、前記処理部は、前記第２の対応点をプロットした前記２次元グラフと前記少なくとも一方の領域を示す領域表示とを前記判定処理の判定結果と共に表示部に表示させる。
【００２５】
また、請求項１７記載の測定システムは、請求項１から１６のいずれかに記載のデータ処理装置と、測定対象についての前記予め規定されたサンプリング周期での測定を実行して前記波形データを出力する測定装置とを備えて構成されている。
【００２６】
また、請求項１８記載のデータ処理用プログラムは、予め規定されたサンプリング周期で測定された複数の測定値が記録されている波形データに基づき、当該波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かを特定するための放電有無特定用データを生成する処理をデータ処理装置の処理部に実行させるデータ処理用プログラムであって、前記放電波形成分が含まれているか否かの特定の基準となる測定値範囲の測定値範囲データと、当該測定値範囲との対比によって前記放電波形成分が含まれているか否かを特定可能な比較値データとを前記波形データに基づいて生成し、生成した当該測定値範囲データおよび当該比較値データを含めて前記放電有無特定用データを生成する処理を前記処理部に実行させる。
【００２７】
また、請求項１９記載のデータ処理用プログラムは、請求項１８記載のデータ処理用プログラムにおいて、前記波形データの前記各測定値のなかから連続するＮサンプリング内（Ｎは、予め規定された２以上の自然数）の変化量が予め規定された量以上の第１の値を抽出して第１のデータを生成する第１の処理と、前記波形データの前記各測定値を、対象の当該測定値を含んで連続するＭサンプリング分（Ｍは、予め規定された２以上の自然数）の当該測定値を平均化した第２の値にそれぞれ置き換えて第２のデータを生成する第２の処理と、前記第２のデータの前記各第２の値のなかから前記連続するＮサンプリング内の変化量が前記予め規定された量以上の第３の値を抽出して第３のデータを生成する第３の処理と、前記第３のデータの前記各第３の値を絶対値化した第４の値を演算して第４のデータを生成する第４の処理と、前記波形データの前記各測定値を、対象の当該測定値を含んで連続するＬサンプリング分（Ｌは、予め規定された２以上の自然数）の当該測定値を平均化した値に置き換えると共に置換え後の当該測定値を微分した第５の値を演算して第５のデータを生成する第５の処理と、前記第５のデータの前記各第５の値を微分した第６の値を演算して第６のデータを生成する第６の処理と、前記第６のデータの前記各第６の値の絶対値を正規化した第７の値を演算して第７のデータを生成する第７の処理と、前記第１のデータの前記各第１の値を絶対値化した第８の値を演算して第８のデータを生成する第８の処理と、２次元グラフの縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第４のデータの前記各第４の値を対応させると共に当該２次元グラフの縦軸および横軸の他方に当該各第４の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第４の値および当該第７の値の第１の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットする第９の処理と、前記２次元グラフの前記縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に前記第８のデータの前記各第８の値を対応させると共に当該２次元グラフの前記縦軸および横軸の他方に当該各第８の値のサンプリングタイミングに対応する前記第７のデータの前記各第７の値を対応させて当該第８の値および当該第７の値の第２の対応点を当該２次元グラフ上にそれぞれプロットしたときに前記放電波形成分の前記測定値に対応する当該第２の対応点がプロットされない第１の判定領域、および当該放電波形成分の当該測定値に対応する当該第２の対応点がプロットされる第２の判定領域の少なくとも一方の領域を、当該２次元グラフ上の前記各第１の対応点の配置に基づいて予め規定された領域規定手順に従って当該２次元グラフ上に前記測定値範囲として規定する第１０の処理とを前記処理部に実行させると共に、前記第１０の処理によって規定した前記少なくとも一方の領域を特定可能な領域データを前記測定値範囲データとし、かつ、前記第７のデータおよび前記第８のデータを前記比較値データとして前記放電有無特定用データを生成させる処理を前記処理部に実行させる。
【００２８】
さらに、請求項２０記載のデータ処理用プログラムは、請求項１９記載のデータ処理用プログラムにおいて、前記放電有無特定用データに基づき、前記第２の対応点が前記少なくとも一方の領域に含まれているか否かを判別して前記波形データの信号波形に前記放電波形成分が含まれているか否かを判定する判定処理、および当該判定処理の判定結果を特定可能な判定結果データを生成する処理を前記処理部に実行させる。
【発明の効果】
【００２９】
請求項１記載のデータ処理装置では、処理部が、放電波形成分が含まれているか否かを特定する基準となる測定値範囲の測定値範囲データと、測定値範囲データとの対比によって放電波形成分が含まれているか否かを特定可能な比較値データとを波形データに基づいて生成し、生成した測定値範囲データおよび比較値データを含めて放電有無特定用データを生成する。具体的には、例えば請求項２記載のデータ処理装置では、処理部が、波形データを使用して第１の処理から第１０の処理までの各処理を順次実行し、第１０の処理によって規定した測定値範囲としての第１の判定領域および第２の判定領域の少なくとも一方の領域を特定可能な領域データを測定値範囲データとし、かつ第７の処理によって生成した第７のデータ、および第８の処理によって生成した第８のデータを比較値データとして放電有無特定用データを生成する。また、請求項１８，１９記載のデータ処理用プログラムは、上記の各処理をデータ処理装置の処理部に実行させる。
【００３０】
したがって、請求項１，２記載のデータ処理装置、および請求項１８，１９記載のデータ処理用プログラムによれば、測定対象について取得した１つの波形データに基づいて、放電波形成分が存在するか否かを判定するための領域データ（測定値範囲データ）と、領域データの判定領域（第１の判定領域および／または第２の判定領域：測定値範囲）との対比によって放電波形成分が存在するか否かを判定可能な第７のデータおよび第８のデータ（比較値データ）とを生成することができる。このため、複数回の測定処理が不要となり、複数の測定対象についての個体差の影響や、測定処理毎の測定環境の相違に起因する測定値のばらつきの影響を受けることがなくなるため、放電現象が発生しているか否かの判定精度を十分に向上させることができるだけでなく、判定用の基準値（閾値）を生成する処理を別個に行う必要もなくなることから、利用者の負担を十分に軽減することができる。
【００３１】
請求項３記載のデータ処理装置では、処理部が、第９の処理に先立ち、第５のデータの各第５の値の絶対値を最大値が１となるように正規化した第９の値を演算して第９のデータを生成すると共に、第９のデータの各第９の値に係数Ｋａを乗じた値と、各第９の値のサンプリングタイミングに対応する第７のデータの各第７の値とのいずれか大きい一方を新たな第７の値として新たな第７のデータを生成する第１１の処理を実行する。
【００３２】
また、請求項４記載のデータ処理装置では、処理部が、第９の処理に先立ち、第７のデータの各第７の値を、対象の第７の値に対してＪａサンプリング前の第７の値から対象の第７の値までの（Ｊａ＋１）個の第７の値、および対象の第７の値から対象の第７の値に対してＪｂサンプリング後の第７の値までの（Ｊｂ＋１）個の第７の値の少なくとも一方を含む予め規定されたＪｃ個の第７の値のうちの最大値にそれぞれ置き換えて新たな第７のデータを生成する第１２の処理を実行する。
【００３３】
また、請求項５記載のデータ処理装置では、処理部が、第９の処理に先立ち、第７のデータの各第７の値のうち、Ｉサンプリング前の第７の値よりも小さい第７の値を、Ｉサンプリング前の第７の値よりも小さい第７の値と、Ｉサンプリング前の第７の値に係数Ｋｂを乗じた第１０の値とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな第７のデータを生成する第１３の処理を実行する。
【００３４】
したがって、請求項３〜５記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、第７の値が「０」に近い値となる特異点の数を十分に減少させることができ、これにより、放電波形成分の有無を一層高精度に判定し得る第１の判定領域および／または第２の判定領域を規定することができると共に、放電有無特定用データに基づいて放電波形成分の有無を判定する際に、新たな第７のデータに基づいて２次元グラフ上に第２の対応点をプロットすることで放電波形成分の有無を一層高精度に判定することが可能となる。
【００３５】
請求項６記載のデータ処理装置では、処理部が、第９の処理に先立ち、第７のデータの各第７の値のうちの最大値に対応する測定値よりも後にサンプリングされた測定値に対応する第７の値を、対象の第７の値に対してＨａサンプリング前の第７の値が、対象の第７の値を含んで連続するＨｂサンプリング分の第７の値を平均化した値に係数Ｋｃを乗じた第１１の値以下のときに、対象の第７の値と、Ｈａサンプリング前の第７の値に予め規定された係数Ｋｄを乗じた第１２の値とのいずれか小さい一方に置き換えて新たな第７のデータを生成する第１４の処理を実行する。
【００３６】
したがって、請求項６記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、測定値の変化率が徐々に小さくなる波形データを対象とするときに、変化率の減少の度合いとは不釣り合いに第７の値が急激に大きな値に変化するような変化状態を、変化率の減少の度合いに応じた適当な変化状態とすることができ、これにより、放電波形成分の有無を一層高精度に判定し得る第１の判定領域および／または第２の判定領域を規定することができると共に、放電有無特定用データに基づいて放電波形成分の有無を判定する際に、新たな第７のデータに基づいて２次元グラフ上に第２の対応点をプロットすることで放電波形成分の有無を一層高精度に判定することが可能となる。
【００３７】
請求項７記載のデータ処理装置では、処理部が、第１４の処理において、Ｈａサンプリング前の第７の値が、Ｈｂサンプリング分の第７の値を平均化した値に係数Ｋｅを乗じた第１３の値よりも小さいときに、対象の第７の値を第１３の値に置き換える。したがって、請求項７記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、第７の値の変化状態を一層好適な状態とすることができる。
【００３８】
請求項８記載のデータ処理装置では、処理部が、第９の処理に先立ち、第７のデータの各第７の値のうちの最大値に対応する測定値よりも前にサンプリングされた測定値に対応する第７の値を、対象の第７の値と、対象の第７の値に対してＨｃサンプリング前の第７の値に係数Ｋｆを乗じた第１４の値とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな第７のデータを生成する第１５の処理を実行する。
【００３９】
したがって、請求項８記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、測定値の変化率が徐々に大きくなる波形データを対象とするときに、第７の値が「０」に近い値となる特異点の数を十分に減少させることができ、これにより、放電波形成分の有無を一層高精度に判定し得る第１の判定領域および／または第２の判定領域を規定することができると共に、放電有無特定用データに基づいて放電波形成分の有無を判定する際に、新たな第７のデータに基づいて２次元グラフ上に第２の対応点をプロットすることで放電波形成分の有無を一層高精度に判定することが可能となる。
【００４０】
請求項９記載のデータ処理装置では、処理部が、第１５の処理において、対象の第７の値および第１４の値の双方が、対象の第７の値を含んで連続するＨｄサンプリング分の第７の値を平均化した値に係数Ｋｇを乗じた第１５の値よりも小さいときに、対象の第７の値を第１５の値に置き換える。したがって、請求項９記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、第７の値が「０」に近い値となる特異点の数をさらに減少させることができる。
【００４１】
請求項１０記載のデータ処理装置では、処理部が、第１０の処理において、２次元グラフの原点を通過する各第１の対応点の回帰直線を特定し、特定した回帰直線における２次元グラフの縦軸および横軸の他方の値が１のときの２次元グラフの縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方の値を第１６の値として特定し、かつ、２次元グラフの原点、予め規定された一方の値が第１６の値で他方の値が１の第１の点、および予め規定された一方の値が０で他方の値が１の第２の点の３点を頂点とする三角形領域を特定すると共に、特定した三角形領域に基づいて少なくとも一方の領域を規定する。
【００４２】
したがって、請求項１０記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、放電波形成分の値に対応する第２の対応点がプロットされる可能性が極めて低い三角形領域を確実かつ容易に特定することができ、この三角形領域に基づいて、第１の判定領域および／または第２の判定領域を容易に特定して領域データを生成することができる。
【００４３】
請求項１１記載のデータ処理装置では、処理部が、２次元グラフの縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方に第１のデータの各第１の値を対応させると共に２次元グラフの縦軸および横軸の他方に各第１の値のサンプリングタイミングに対応する第７のデータの各第７の値を対応させて第１の値および第７の値の第３の対応点を２次元グラフ上にそれぞれプロットすると共に、縦軸および横軸の他方の値が「０．５」以下の予め規定された第１７の値以下である第３の対応点を抽出し、抽出した各第３の対応点における縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方の値の標準偏差ｎσを演算すると共に、原点、第１の点、予め規定された一方の値が標準偏差ｎσと第１６の値との和で他方の値が１の第３の点、および予め規定された一方の値が標準偏差ｎσで他方の値が０の第４の点の４点を頂点とする第１の矩形領域を特定し、特定した第１の矩形領域および三角形領域に基づいて少なくとも一方の領域を規定する。
【００４４】
したがって、請求項１１記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、特定した第１の矩形領域および三角形領域に基づいて第１の判定領域および／または第２の判定領域を容易に特定することができ、波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かを高精度に判定可能な第１の判定領域および／または第２の判定領域の領域データを容易に生成することができる。
【００４５】
請求項１２記載のデータ処理装置では、処理部が、第１０の処理において、すべての第１の対応点が含まれる最小の方形領域を特定すると共に、特定した方形領域に基づいて少なくとも一方の領域を規定する。したがって、請求項１２記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、非常に単純な処理によって第１の判定領域および/または第２の判定領域の領域データを生成することができる。
【００４６】
請求項１３記載のデータ処理装置では、処理部が、放電有無特定用データに基づき、第２の対応点と少なくとも一方の領域との位置関係を特定して波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かを判定する判定処理を実行し、判定処理の判定結果を特定可能な判定結果データを生成する。また、請求項２０記載のデータ処理用プログラムは、上記の処理をデータ処理装置の処理部に実行させる。
【００４７】
したがって、請求項１３記載のデータ処理装置、および請求項２０記載のデータ処理用プログラムによれば、複数回の測定処理が不要となり、複数の測定対象についての個体差の影響や、測定処理毎の測定環境の相違に起因する測定値のばらつきの影響を受けることがなくなるため、放電現象が発生しているか否かの判定精度を十分に向上させることができる。また、基準値（閾値）との比較による判定とは異なり、測定環境の変化の影響による誤判定を回避して判定精度を十分に高めることができる。
【００４８】
請求項１４記載のデータ処理装置では、処理部が、第１の判定領域を少なくとも一方の領域とするときには第２の対応点の総数に占める第１の判定領域に含まれない第２の対応点の割合を特定すると共に、第２の判定領域を少なくとも一方の領域とするときには第２の対応点の総数に占める第２の判定領域に含まれる第２の対応点の割合を特定し、特定した割合が予め規定された割合以上のときに、予め規定された報知処理を実行する。
【００４９】
また、請求項１５記載のデータ処理装置では、処理部が、２次元グラフを縦軸および横軸の他方の方向でＧａ個に分割したＧａ個の第２の矩形領域を特定し、第１の判定領域を少なくとも一方の領域とするときには第１の判定領域以外の領域に第２の対応点が含まれている第２の矩形領域の数を特定すると共に、第２の判定領域を少なくとも一方の領域とするときには第２の判定領域に第２の対応点が含まれている第２の矩形領域の数を特定し、特定した数が予め規定された数以上のときに、予め規定された報知処理を実行する。
【００５０】
したがって、請求項１４，１５記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かの判定結果を確実かつ容易に認識させることができる。
【００５１】
請求項１６記載のデータ処理装置では、処理部が、第２の対応点をプロットした２次元グラフと少なくとも一方の領域を示す領域表示とを判定処理の判定結果と共に表示部に表示させる。したがって、請求項１６記載のデータ処理装置、およびそのような処理を実行させるデータ処理用プログラムによれば、波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かの判定結果を一層確実かつ一層容易に認識させることができる。
【００５２】
請求項１７記載の測定システムでは、請求項２から１６のいずれかに記載のデータ処理装置と、測定対象についての予め規定されたサンプリング周期での測定を実行して波形データを出力する測定装置とを備えて構成されている。したがって、請求項１７記載の測定システムによれば、波形データの取得（生成）から放電有無特定用データの生成（または、放電有無特定用データおよび判定結果データの生成）までの一連の処理を１つのシステムで実行することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】測定システム１の構成を示す構成図である。
【図２】測定装置２から出力される波形データＤ０の波形Ｗ０の一例を示す信号波形図である。
【図３】波形データＤ１の波形Ｗ１の一例を示す信号波形図である。
【図４】波形データＤ０の波形Ｗ０および波形データＤ２の波形Ｗ２の一例を示す信号波形図である。
【図５】波形データＤ３の波形Ｗ３の一例を示す信号波形図である。
【図６】波形データＤ４の波形Ｗ４の一例を示す信号波形図である。
【図７】波形データＤ０の波形Ｗ０および波形データＤ０ｆの波形Ｗ０ｆの一例を示す信号波形図である。
【図８】波形データＤ５の波形Ｗ５の一例を示す信号波形図である。
【図９】波形データＤ６の波形Ｗ６の一例を示す信号波形図である。
【図１０】波形データＤ７の波形Ｗ７の一例を示す信号波形図である。
【図１１】波形データＤ８の波形Ｗ８の一例を示す信号波形図である。
【図１２】波形データＤ９の波形Ｗ９の一例を示す信号波形図である。
【図１３】波形データＤ９の値に基づいて生成された値の波形Ｗ９ａ、波形データＤ７の波形Ｗ７，および波形データＤ９ａ，Ｄ７の各値から抽出された値の波形Ｗ７ａの一例を示す信号波形図である。
【図１４】波形データＤ９の波形Ｗ９、波形データＤ７の波形Ｗ７，および波形データＤ９，Ｄ７の各値から抽出された値の波形Ｗ７ｂの一例を示す信号波形図である。
【図１５】新たな波形データＤ７の波形Ｗ７ｃの一例を示す信号波形図である。
【図１６】新たな波形データＤ７の波形Ｗ７ｄの一例を示す信号波形図である。
【図１７】処理前の波形データＤ７の波形Ｗ７ｅ、および新たな波形データＤ７の波形Ｗ７ｆの一例を示す信号波形図である。
【図１８】波形データＤ４の値および波形データＤ７の値の「第１の対応点」をプロットした２次元グラフの一例を示す図である。
【図１９】波形データＤ８の値および波形データＤ７の値の「第２の対応点」をプロットした２次元グラフの一例を示す図である。
【図２０】波形データＤ８の値および波形データＤ７の値の「第２の対応点」をプロットした２次元グラフの他の一例を示す図である。
【図２１】波形データＤ０の波形Ｗ０、波形データＤ１のＷ１、波形データＤ１の各値が放電波形成分であるか否かの閾値を示す波形Ｗａの関係の一例を示す図である。
【図２２】判定領域Ａａ，Ａｂの規定方法、並びに規定された判定領域Ａａ，Ａｂと「第１の対応点」および「第２の対応点」との関係について説明するための説明図である。
【図２３】判定領域Ａａ，Ａｂの規定方法、並びに規定された判定領域Ａａ，Ａｂと「第１の対応点」および「第２の対応点」との関係について説明するための他の説明図である。
【図２４】波形データＤ１の値および波形データＤ７の値の対応点をプロットした２次元グラフの他の一例を示す図である。
【図２５】判定領域Ａｃ，Ａｄの規定方法、並びに規定された判定領域Ａｃ，Ａｄと「第１の対応点」および「第２の対応点」との関係について説明するための説明図である。
【図２６】２次元グラフにプロットされた波形データＤ８の値および波形データＤ７の値の「第２の対応点」と判定領域Ａａ，Ａｂおよび矩形領域Ａ１０〜Ａ１９との関係について説明するための説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００５４】
以下、データ処理装置、測定システムおよびデータ処理用プログラムの実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００５５】
最初に、測定システム１の構成について説明する。図１に示す測定システム１は、「測定装置」および「データ処理装置」を有する「測定システム」と、後述する「放電有無特定用データ」に基づいて検査対象（測定対象）Ｘの良否を検査する「検査装置」とを備えて構成された「インパルス試験システム」であって、測定装置２およびデータ処理装置３を備えて構成されている。この場合、検査対象Ｘは、「測定対象」の一例であって、本例では、一例として巻線部品（コイル）を検査対象Ｘとして各種の処理を実行する例について説明する。
【００５６】
測定装置２は、「測定装置」に相当し、一例として、データ処理装置３の制御に従い、検査対象Ｘを対象とする各種の測定処理を実行可能に構成されている。具体的には、測定装置２は、測定信号発生部１１、Ａ／Ｄ変換部１２、処理部１３および記憶部１４などを備えている。測定信号発生部１１は、処理部１３の制御に従って検査対象Ｘの両端間に測定信号としてのインパルス電圧を印加する。Ａ／Ｄ変換部１２は、一例として、処理部１３の制御に従い、指定された周期（「予め規定されたサンプリング周期：測定周期）で測定対象を流れる電流の電流値をＡ／Ｄ変換（サンプリング：測定）して測定値Ｄｓ（サンプリング値：「測定値」の一例）を処理部１３に順次出力する。なお、電流値のサンプリングに代えて、指定された周期で測定対象の両端間の電圧値をＡ／Ｄ変換（サンプリング：測定）して測定値Ｄｓを出力する構成を採用することもできる。
【００５７】
処理部１３は、測定装置２を総括的に制御する。具体的には、処理部１３は、測定信号発生部１１を制御して測定対象にインパルス電圧を印加させると共に、Ａ／Ｄ変換部１２を制御して任意の周期で電流値のＡ／Ｄ変換処理（サンプリング処理）を実行させる。また、処理部１３は、Ａ／Ｄ変換部１２から出力される測定値Ｄｓを記憶部１４に記憶させ、かつ測定値Ｄｓに基づいて波形データＤ０（「波形データ」の一例）を生成して記憶部１４に記憶させると共に、生成した波形データＤ０をデータ処理装置３に出力する。記憶部１４は、処理部１３の動作プログラムや、上記の測定値Ｄｓ（波形データＤ０）などを記憶する。なお、実際の測定装置２には、測定装置２の動作条件を指示するための各種の操作スイッチや、測定条件の設定画面および測定値の表示画面などを表示する表示部を備えて構成されているが、これらについての図示および説明を省略する。
【００５８】
一方、データ処理装置３は、「データ処理装置」に相当し、後述するように測定装置２から取得した波形データＤ０に基づき、検査対象Ｘについての検査を行うための検査用データＤｃ（「波形データの信号波形に放電波形成分が含まれているか否かを特定するための放電有無特定用データ」の一例）を生成する。また、データ処理装置３は、「検査装置」に相当し、生成した検査用データＤｃに基づき、検査対象Ｘの良否を検査する。この場合、本例の測定システム１では、一例として、「データ処理用プログラム」に相当するデータ処理用プログラムＤｐが既存のパーソナルコンピュータにインストールされてデータ処理装置３が構成されている。
【００５９】
具体的には、このデータ処理装置３は、操作部２１、表示部２２、処理部２３および記憶部２４を備えている。操作部２１は、キーボード、およびマウスやタッチパネルなどのポインティングデバイスを備え（図示せず）、これらに対する操作に応じた操作信号を処理部２３に出力する。表示部２２は、「表示部」の一例であって、処理部２３の制御に従い、測定結果や検査結果（良否判定の結果）などを示す各種の表示画面を表示する。
【００６０】
処理部２３は、「処理部」の一例であって、データ処理装置３を総括的に制御する。具体的には、処理部２３は、後述するようにデータ処理用プログラムＤｐに従い、測定装置２を制御して検査対象Ｘを対象とする測定処理を実行させると共に、測定装置２から出力される波形データＤ０に基づいて検査用データＤｃを生成するデータ生成処理を実行する。また、処理部２３は、データ処理用プログラムＤｐに従い、検査用データＤｃに基づいて検査対象Ｘの良否を検査する検査処理（良否の判定処理）を実行して検査結果データＤｒを生成する。
【００６１】
記憶部２４は、データ処理用プログラムＤｐ（処理部２３の動作プログラムのデータ）、測定システム１から出力される波形データＤ０、および処理部２３によって生成される各種のデータを記憶する。
【００６２】
次に、測定システム１による検査対象Ｘの検査方法について、添付図面を参照して説明する。なお、データ処理装置３にデータ処理用プログラムＤｐをインストールする作業や、測定装置２とデータ処理装置３とを接続する作業については既に完了しているものとする。
【００６３】
検査対象Ｘの検査に際しては、まず、検査対象Ｘについての測定装置２による測定処理を実行する。具体的には、検査対象Ｘを測定装置２に接続すると共に、データ処理装置３の操作部２１を操作して測定処理の開始を指示する。これに応じて、処理部２３は、データ処理用プログラムＤｐに従って測定装置２を制御して検査対象Ｘについての測定処理を開始させる。
【００６４】
この際に、測定装置２では、処理部１３が、まず、Ａ／Ｄ変換部１２を制御してデータ処理装置３（処理部２３）から指示されたサンプリング周期での電流値のサンプリング（測定）を開始させる。これにより、Ａ／Ｄ変換部１２から検査対象Ｘについての測定値Ｄｓ（検査対象Ｘを流れる電流の電流値）が順次出力されて記憶部１４に記憶される。また、処理部１３は、測定信号発生部１１を制御して検査対象Ｘにインパルス電圧を印加させる。この際には、検査対象Ｘを流れる電流についての測定値Ｄｓ（電流値）が、図２に示す波形Ｗ０（「波形データの信号波形」の一例）のように変化する。
【００６５】
次いで、処理部１３は、一例として、検査対象Ｘに対するインパルス電圧の印加を開始させる直前の時点から、処理部２３によって指示された時間が経過した時点において、この時間内にＡ／Ｄ変換部１２から出力された複数の測定値Ｄｓ，Ｄｓ・・を記録して波形データＤ０を生成し、生成した波形データＤ０を記憶部１４に記憶させる。また、処理部１３は、生成した波形データＤ０をデータ処理装置３に出力する。また、データ処理装置３では、処理部２３が、測定装置２から出力された波形データＤ０を検査対象Ｘに関連付けて記憶部２４に記憶させる。これにより、検査対象Ｘについての測定処理が完了する。
【００６６】
一方、データ処理装置３では、波形データＤ０の取得が完了したときに、処理部２３が、データ処理用プログラムＤｐに従い、検査対象Ｘが良品か不良品かを検査するための検査用データＤｃを生成する「データ生成処理」を開始する。
【００６７】
この「データ生成処理」において、処理部２３は、まず、波形データＤ０の各測定値Ｄｓのなかから連続するＮサンプリング内の変化量が予め規定された量以上の測定値（「第１の値」の一例）を抽出して波形データＤ１（「第１のデータ」の一例）を生成する「第１の処理」を実行する。具体的には、処理部２３は、一例として、ハイパスフィルタや１次元のラプラシアンフィルタ等を用いたフィルタリング処理により、波形データＤ０の各測定値Ｄｓのなかから連続するＮ＝２サンプリング内の変化量が規定量を超える測定値Ｄｓを抽出して波形データＤ１を生成する。これにより、図３に示す波形Ｗ１のように、波形データＤ０の生成時（測定処理時）に検査対象Ｘに生じた放電現象の成分や、大きなノイズ等の成分に対応する急峻な変化の波形成分の測定値が波形データＤ１として取得され、「第１の処理」が完了する。
【００６８】
また、処理部２３は、波形データＤ０の各測定値Ｄｓを、対象の測定値Ｄｓを含んで連続するＭサンプリング分の測定値Ｄｓを平均化した値（「第２の値」の一例）にそれぞれ置き換えて波形データＤ２（「第２のデータ」の一例）を生成する「第２の処理」を実行する。具体的には、処理部２３は、一例として、波形データＤ０の各測定値Ｄｓのうちのｎサンプリング目の測定値Ｄｓを測定値Ｄｓｎとし、かつ上記の「Ｍ」の値を「３」に規定したときに、測定値Ｄｓｎの１サンプリング前の測定値Ｄｓ（ｎ−１）と、測定値Ｄｓｎの１サンプリング後の測定値Ｄｓ（ｎ＋１）と、測定値Ｄｓｎとの合計値を「Ｍ＝３」で除した値（連続する３サンプリング分の測定値Ｄｓの値の平均値）を「第２の値」として演算して波形データＤ２を生成する。
【００６９】
これにより、図４に破線で示す波形Ｗ２のように、波形データＤ０において、上記の「第１の処理」において抽出した「放電現象の成分や、大きなノイズ等の成分に対応する急峻な変化の波形成分」の影響が十分に軽減された測定値の波形データＤ２が生成され、「第２の処理」が完了する。なお、同図では、「第２の処理」についての理解を容易とするために、図２に示す波形Ｗ０における時間軸方向の一部を拡大し、その波形Ｗ０の測定値Ｄｓに基づいて演算される値の波形Ｗ２を波形Ｗ０に重ねて図示している。また、「第２の処理」については、上記の例にようにＭ＝３値の３点平均値を求める処理に限定されず、Ｍ＝３以外の複数値の平均値を求める処理や、ハミング窓等を用いた平均化処理を「第２の処理」として実行してもよい。
【００７０】
続いて、処理部２３は、波形データＤ２の各測定値のなかから連続するＮサンプリング内の変化量が予め規定された量以上の測定値（「第３の値」の一例）を抽出して波形データＤ３（「第３のデータ」の一例）を生成する「第３の処理」を実行する。具体的には、処理部２３は、前述した「第１の処理」において使用したフィルタと同じフィルタを用いたフィルタリング処理により、波形データＤ２の各測定値のなかから連続するＮ＝２サンプリング内の変化量が規定量を超える測定値を抽出して波形データＤ３を生成する。これにより、図５に示す波形Ｗ３のように、上記の「第２の処理」において「急峻な変化の波形成分」の影響が十分に軽減された波形データＤ２について、「第１の処理」において使用したフィルタと同じフィルタを用いてフィルタリングされた波形データＤ３が生成され、「第３の処理」が完了する。
【００７１】
次いで、処理部２３は、波形データＤ３の各測定値を絶対値化した値（「第４の値」の一例）を演算して波形データＤ４（「第４のデータ」の一例）を生成する「第４の処理」を実行する。これにより、図６に示す波形Ｗ４のような波形の波形データＤ４が生成され、「第４の処理」が完了する。
【００７２】
続いて、処理部２３は、波形データＤ０の各測定値Ｄｓを、対象の測定値Ｄｓを含んで連続するＬサンプリング分の測定値Ｄｓを平均化した値に置き換えると共に、置換え後の測定値を微分した値（「第５の値」の一例）を演算して波形データＤ５（「第５のデータ」の一例）を生成する「第５の処理」を実行する。具体的には、処理部２３は、一例として、まず、対象の測定値Ｄｓを対象の測定値Ｄｓの５サンプリング前の測定値Ｄｓから、対象の測定値Ｄｓの５サンプリング後の測定値ＤｓまでのＬ＝５＋５＋１＝１１サンプリング分の測定値Ｄｓの平均値に置き換えて波形データＤ０ｆを生成する。これにより、図７に示す波形Ｗ０ｆのように、各サンプリング毎のばらつきの度合いが小さい測定値の波形データＤ０ｆが生成される。
【００７３】
なお、同図では、「第５の処理」についての理解を容易とするために、図２に示す波形Ｗ０における時間軸方向の一部を拡大し、その波形Ｗ０の測定値Ｄｓに基づいて演算される平均値の波形Ｗ０ｆを波形Ｗ０に重ねて図示している。また、波形データＤ０ｆの生成に際しては、上記の１１サンプリング分の平均値に置き換える処理に代えて、１１サンプリング以外の複数サンプリング分の平均値に置き換える処理や、ハミング窓等を用いた平均化処理を実行してもよい。
【００７４】
次いで処理部２３は、波形データＤ０ｆの各測定値を微分した値（一階微分値：第５の値）を演算して波形データＤ５を生成する。これにより、図８に示す波形Ｗ５のような波形データＤ５が生成され、「第５の処理」が完了する。なお、この「第５の処理」については、波形データＤ０ｆの値を微分する上記の処理に代えて、波形データＤ０ｆの値を最小二乗法などで「変化率を示す値」に置き換える処理を実行することもできる。
【００７５】
続いて、処理部２３は、波形データＤ５の各値（第５の値）を微分した値（二階微分値：第６の値）を演算して波形データＤ６（「第６のデータ」の一例）を生成する。これにより、図９に示す波形Ｗ６のような波形データＤ６が生成され、「第６の処理」が完了する。なお、この「第６の処理」についても、波形データＤ５の値を微分する上記の処理に代えて、波形データＤ５の値を最小二乗法などで「変化率を示す値」に置き換える処理を実行することもできる。
【００７６】
次いで、処理部２３は、波形データＤ６の各値の絶対値を正規化した値（「第７の値」の一例）を演算して波形データＤ７（「第７のデータ」の一例）を生成する「第７の処理」を実行する。これにより、図１０に示す波形Ｗ７のような波形データＤ７が生成され、「第７の処理」が完了する。
【００７７】
続いて、処理部２３は、波形データＤ１の各測定値を絶対値化した値（「第８の値」の一例）を演算して波形データＤ８（「第８のデータ」の一例）を生成する「第８の処理」を実行する。これにより、図１１に示す波形Ｗ８のような波形データＤ８が生成され、「第８の処理」が完了する。
【００７８】
次いで、処理部２３は、後述する「第９の処理」の開始に先立ち、以下に説明する「第１１の処理」から「第１３の処理」までの各処理のうちのいずれか、または任意の複数を実行して、処理前の波形データＤ７の各値に存在する下記のような特異点の数を減少させる。具体的には、前述した「第７の処理」によって生成された波形データＤ７では、図１０に示すように、対応する波形データＤ６の各値の変化率が２値連続して同程度のとき（波形Ｗ６の傾きが２サンプリング分連続して同じとき）に、その値（第７の値）が「０」に近い値（非常に小さな値）となる特異点が発生する。この特異点（「０」に近い値）は、後の良否判定において正確な判定を阻害するため、予め規定された条件に従って各値を処理することで、特異点を減少させた新たな波形データＤ７を生成するのが好ましい。
【００７９】
この場合、特異点を減少させる処理の１つとしては、以下に説明する「第１１の処理」を実行する。まず、波形データＤ５の各値（第５の値）の絶対値を、最大値が「１」となるように正規化した値（「第９の値」の一例）を演算して波形データＤ９（「第９のデータ」の一例）を生成する。これにより、図１２に示す波形Ｗ９のような波形データＤ９が生成される。次いで、処理部２３は、波形データＤ９の各の値（第９の値）に係数Ｋａ（一例として、Ｋａ＝０．１）を乗じた値（図１３に示す波形Ｗ９ａの値）と、波形データＤ９の値（第９の値）のサンプリングタイミングに対応する波形データＤ７の値（第７の値：図１３に示す波形Ｗ７の値）とのいずれか大きい一方を、新たな値（新たな第７の値）として新たな波形データＤ７を生成する。この際には、図１３に太線で示す波形Ｗ７ａのような波形データＤ７（新たな波形データＤ７）が生成され、「第１１の処理」が完了する。
【００８０】
なお、「第１１の処理」において使用する「係数Ｋａ」については、「１」以下で「０．１」以外の任意の正数とすることができる。また、上記の「第１１の処理」に代えて、波形データＤ９の各の値（第９の値）に係数Ｋａを乗じない値（すなわち、第９の値：図１４に示す波形Ｗ９の値）と、波形データＤ９の値（第９の値）のサンプリングタイミングに対応する波形データＤ７の値（第７の値：図１４に示す波形Ｗ７の値）とのいずれか大きい一方を、新たな値（新たな第７の値）として新たな波形データＤ７を生成する処理を実行することもできる。この際には、同図に太線で示す波形Ｗ７ｂのような新たな波形データＤ７が生成される。
【００８１】
また、特異点を減少させる処理の他の１つとしては、以下に説明する「第１２の処理」を実行する。この「第１２の処理」では、波形データＤ７の各値（第７の値）を、対象の値に対してＪａサンプリング前の値から対象の値までの（Ｊａ＋１）個の値と、対象の値から対象の値に対してＪｂサンプリング後の値までの（Ｊｂ＋１）個の値の少なくとも一方を含む予め規定されたＪｃ個の第７の値のうちの最大値にそれぞれ置き換えて新たな波形データＤ７を生成する。
【００８２】
具体的には、一例として、波形データＤ７の各値（第７の値）を、対象の値に対してＪａ＝２サンプリング前の値から対象の値までの（Ｊａ＋１）個の値と、対象の値から対象の値に対してＪｂ＝２サンプリング後の値までの（Ｊｂ＋１）個の値の双方を含む予め規定されたＪａ＋Ｊｂ＋１＝Ｊｃ＝５個の値のうちの最大値にそれぞれ置き換えて新たな波形データＤ７を生成する。この際には、図１５に示す波形Ｗ７ｃのような新たな波形データＤ７が生成される。なお、「Ｊａ」および「Ｊｂ」については「２」以外の任意の自然数に規定することができ、「Ｊｃ」についても「５」以外の任意の自然数とすることができる。
【００８３】
さらに、特異点を減少させる処理のさらに他の１つとしては、以下に説明する「第１３の処理」を実行する。この「第１３の処理」では、波形データＤ７の各値（第７の値）のうち、Ｉサンプリング前の値よりも小さい値を、その値（第７の値）と、Ｉサンプリング前の値に係数Ｋｂ（一例として、Ｋｂ＝０．９）を乗じた値（「第１０の値」の一例）とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな前波形データＤ７を生成する。この際には、図１６に示す波形Ｗ７ｄのような新たな波形データＤ７が生成される。なお、「第１３の処理」において使用する「係数Ｋｂ」については、「１」以下で「０．９」以外の任意の正数とすることができる。
【００８４】
また、本例のような減衰振動波形の波形データＤ０に基づいて検査用データＤｃを生成する場合、後述する「第９の処理」の開始に先立ち、以下に説明する「第１４の処理」を実行するのが好ましい。この場合、波形データＤ０のような減衰振動波形に基づいて生成した波形データＤ７では、その値（第７の値）が最大値となった時点以降において波形の変化量が時間の経過とともに小さくなる。このため、最大値以降の各値（第７の値）に関し、その変化量が極めて大きくなった場合は、正常な過渡現象ではなく、測定処理時に放電波形成分を含む測定値Ｄｓが測定されたと判定できるように波形データＤ７の値を処理することで、判定精度を高めることが可能となる。したがって、波形データＤ７の値のうちの最大値以降の値に関し、以下のように処理する。
【００８５】
具体的には、「第１４の処理」においては、波形データＤ７の各値（第７の値）のうちの最大値に対応する測定値Ｄｓよりも後にサンプリングされた測定値Ｄｓに対応する値（第７の値）を対象として、対象の値（第７の値）に対してＨａサンプリング前（一例として、１サンプリング前）の値（第７の値）が、対象の値を含んで連続するＨｂサンプリング分（一例として、Ｈａ＝１サンプリング前の値を含むＨｂ＝１０１サンプリング分）の値（第７の値）を平均化した値に係数Ｋｃ（一例として、Ｋｃ＝１．０）を乗じた値（第１１の値）以下のとき（すなわち、Ｈｂサンプリング分の値の平均値に係数Ｋｃを乗じた値が、対象の値のＨａサンプリング前の値よりも大きいとき：対象の値を含むＨｂサンプリング分の値が急激に大きくなったとき）に、対象の値と、Ｈａサンプリング前の値に予め規定された係数Ｋｄ（一例として、１．４）を乗じた値（第１２の値）とのいずれか小さい一方に置き換えて新たな波形データＤ７を生成する。
【００８６】
この際に、上記のＨａサンプリング前の値（第７の値）が、上記のＨｂサンプリング分の値（第７の値）を平均化した値に係数Ｋｅ（一例として、Ｋｅ＝０．１）を乗じた値（「第１３の値」の一例）よりも小さいときに、対象の値（第７の値）を、平均化した値に係数Ｋｅを乗じた値（第１３の値）に置き換えることにより、特異点の数を減少させることができる。このような「第１４の処理」を実行することにより、波形データＤ７の値のうちの最大値以降の値（すなわち、変化量が徐々に小さくなるべき各値）について、図１７に実線で示す波形Ｗ７ｅの値のように急激に値が大きくなっていた場合には、その増加量が制限されて同図に破線で示す波形Ｗ７ｆに置き換えられて、新たな波形データＤ７が生成される。
【００８７】
なお、「第１４の処理」において使用する「係数Ｋｃ」については、「１」以外の任意の正数とすることができ、「係数Ｋｄ」については、「係数Ｋｃ」よりも大きい「１．４」以外の任意の正数とすることができ、「係数Ｋｅ」については、「０．１」以外の任意の正数とすることができる。また、「Ｈａサンプリング前の値」についても「２サンプリング以上の複数サンプリング前の値」とすることができ、「Ｈｂサンプリング分を平均化した値」についても「１００サンプリング分以下の複数サンプリング分を平均化した値」や「１０２サンプリング分以上の複数サンプリング分を平均化した値」とすることができる。
【００８８】
さらに、本例のような減衰振動波形の波形データＤ０に基づいて検査用データＤｃを生成する場合、後述する「第９の処理」の開始に先立ち、以下に説明する「第１５の処理」も実行するのが好ましい。この場合、波形データＤ０のような振動波形であって検査対象Ｘに対する電圧の印加前からの測定値Ｄｓを含む複数の測定値Ｄｓに基づいて生成した波形データＤ７では、その値（第７の値）が最大値となる時点以前において波形の変化量が時間の経過とともに徐々に大きくなる傾向がある。このため、最大値以前の各値（第７の値）に関し、その変化量が変化率の増加の度合いとは不釣り合いに局所的に極めて小さいときには、ノイズ等の影響によってそのような極く小さな変化率の変化が生じたものとみなし、そのような変化の影響を十分に小さくするように波形データＤ７の値を処理することで、判定精度を高めることが可能となる。したがって、波形データＤ７の値のうちの最大値以前の値に関し、以下のように処理する。
【００８９】
具体的には、「第１５の処理」においては、波形データＤ７の各値（第７の値）のうちの最大値に対応する測定値Ｄｓよりも前にサンプリングされた測定値Ｄｓに対応する値（第７の値）を対象として、対象の値と、対象の第７の値に対してＨｃサンプリング前（一例として、Ｈｃ＝１サンプリング前）の値（第７の値）に係数Ｋｆ（一例として、Ｋｅ＝０．９）を乗じた値（「第１４の値」の一例）とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな波形データＤ７を生成する。
【００９０】
この際に、対象の値（第７の値）、およびＨｃサンプリング前の値（第７の値）に係数Ｋｆを乗じた値（第１４の値）の双方が、対象の値を含んで連続するＨｄサンプリング分（一例として、Ｈｄ＝１０１サンプリング分）の値（第７の値）を平均化した値に係数Ｋｇ（一例として、Ｋｇ＝１）を乗じた値（「第１５の値」の一例）よりも小さいときに、対象の値を、Ｈｄサンプリング分の値を平均化した値に係数Ｋｇを乗じた値（第１５の値）に置き換えることもできる。このような「第１５の処理」を実行することにより、波形データＤ７の値のうちの最大値以前の値について、値の増加量が過剰に小さいときに、その増加量が本来的な増加量に対応して補強された値に置き換えられ、新たな波形データＤ７が生成される。
【００９１】
なお、「第１５の処理」において使用する「係数Ｋｇ」については、「１」以外の任意の正数とすることができる。また、「Ｈｃサンプリング前の値」についても「２サンプリング前以上の複数サンプリング前の値」とすることができ、「Ｈｄサンプリング分を平均化した値」についても「１００サンプリング分以下の複数サンプリング分を平均化した値」や「１０２サンプリング分以上の複数サンプリング分を平均化した値」とすることができる。
【００９２】
一方、処理部２３は、上記の「第１１の処理」から「第１３の処理」や、「第１４の処理」および「第１５の処理」のうちの予め規定された処理を完了したときに、「第９の処理」を開始する。なお、「第１１の処理」から「第１５の処理」までの各処理を実行しないよう規定されているときには、前述した「第８の処理」を完了した時点において「第９の処理」を開始する。
【００９３】
具体的には、この「第９の処理」では、処理部２３は、図１８に示すように、一例として、２次元グラフの縦軸に波形データＤ４の値（第４の値）を対応させると共に（「縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方」を「縦軸」とした例）、２次元グラフの横軸に波形データＤ４の各値のサンプリングタイミングに対応する波形データＤ７の各値（第７の値）を対応させて（「縦軸および横軸の他方」を「横軸」とした例）、波形データＤ４の値、および波形データＤ７の値の対応点（「第１の対応点」の一例）を２次元グラフ上にそれぞれプロットする。なお、同図では、両値の対応点（第１の対応点）を「◆」で表している。
【００９４】
この際には、前述した「第４の処理」において生成された波形データＤ４の値、すなわち、波形データＤ０の測定値Ｄｓのうちの「放電成分と判定されるべき変化量と同程度に短時間で大きく変化した値」が平均化されて絶対値化された値（第４の値）と、「第７の処理」において生成された波形データＤ７の値、または、波形データＤ７の値に対して各種の処理を施した新たな波形データＤ７の値、すなわち、波形データＤ０の測定値Ｄｓのうちの「放電成分と判定されるべき変化量と同程度に短時間で大きく変化した値」が平均化されて絶対値化された値の二階微分値が絶対値化された値（第７の値）との対応点が「第１の対応点」として２次元グラフ上にそれぞれプロットされる。
【００９５】
つまり、２次元グラフ上の各「第１の対応点」は、仮に波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれていたとしても、その放電波形成分の影響を排除された値（第４の値および第７の値）に基づく「対応点」がプロットされるべき領域内にプロットされることとなる。したがって、処理部２３は、上記の「第９の処理」においてプロットした各「第１の対応点」の２次元グラフ上の配置に基づき、予め規定された「領域規定手順」に従って２次元グラフ上に「判定領域」を規定する（「第１０の処理」の実行）。
【００９６】
なお、この「第１０の処理」の具体的な手順については、後に詳細に説明するが、本例の測定システム１（データ処理装置３）では、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているときに、その放電波形成分に対応する値の後述する「第２の対応点」がプロットされない判定領域Ａａ（「測定値範囲」としての「第１の判定領域」の一例）と、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているときに、その放電波形成分に対応する値の後述する「第２の対応点」がプロットされる判定領域Ａｂ（「測定値範囲」としての「第２の判定領域」の一例）との少なくとも一方を規定する処理を「第１０の処理」として実行する。
【００９７】
続いて、処理部２３は、「第１０の処理」によって規定した判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂを特定可能な領域データＤａ（「測定値範囲データ」としての「領域データ」の一例）を生成すると共に、生成した領域データＤａおよび波形データＤ７，Ｄ８（「比較値データ」の一例）を検査対象Ｘに関連付けて記録して検査用データＤｃ（「放電有無特定用データ」の一例）を生成して記憶部１４に記憶させる。以上により、「データ生成処理」が完了する。
【００９８】
次いで、処理部２３は、生成した検査用データＤｃに基づき、検査対象Ｘについて測定した波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているか否かの「判定処理（すなわち、検査対象Ｘが良品であるか不良品であるかの検査処理）」を実行する。
【００９９】
具体的には、処理部２３は、まず、検査用データＤｃに記録されている領域データＤａに基づき、２次元グラフ上に判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂを規定する。また、処理部２３は、検査用データＤｃに記録されている波形データＤ７，Ｄ８に基づき、２次元グラフ上に「第２の対応点」をそれぞれプロットする。この際に、本例の測定システム１（データ処理装置３）では、一例として、２次元グラフの縦軸に波形データＤ８の各値（第８の値）を対応させると共に（「縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方」を「縦軸」とした例）、２次元グラフの横軸に波形データＤ８の値のサンプリングタイミングに対応する波形データＤ７の各値（第７の値）を対応させて（「縦軸および横軸の他方」を「横軸」とした例）、波形データＤ８の値および波形データＤ７の値の対応点（第２の対応点）を２次元グラフ上にそれぞれプロットする。
【０１００】
また、本例の測定システム１（データ処理装置３）では、図１９，２０に示すように、上記の２次元グラフと、２次元グラフ上に規定した判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂとを表示部２２に表示させると共に、新たな「第２の対応点」をプロットする都度、その「第２の対応点」を示す記号または図柄を２次元グラフ上に表示させる。なお、両図の例では、「第２の対応点」を示す記号の一例である「■」を２次元グラフ上に表示させた（プロットした）例を図示している。
【０１０１】
この場合、波形データＤ８は、前述した「第１の処理」において波形データＤ０の各測定値Ｄｓのなかから連続するＮサンプリング内の変化量が予め規定された量以上の測定値（第１の値：放電波形成分を構成する値と同様にＮサンプリング内に急峻に変化した値）を「第８の処理」において絶対値化した値で構成されている。
【０１０２】
このため、この波形データＤ８の元となった波形データＤ０の各測定値ＤｓがＮサンプリング内に急峻に変化しなかったとき、すなわち、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれていないときには、図１９に示すように、すべての「第２の対応点」が判定領域Ａａ内（判定領域Ａｂ外）にプロットされることとなる。これに対して、波形データＤ８の元となった波形データＤ０の各測定値ＤｓがＮサンプリング内に急峻に変化したとき、すなわち、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれていたときには、図２０に示すように、幾つかの「第２の対応点」（放電波形成分の測定値Ｄｓに対応する波形データＤ７，８の対応点）が判定領域Ａａ外（判定領域Ａｂ内）にプロットされることとなる。
【０１０３】
したがって、処理部２３は、すべての「第２の対応点」のプロットを完了したときに、まず、上記の「第２の対応点」と判定領域Ａａ、および／または判定領域Ａｂとの位置関係を特定する。この際に、すべての「第２の対応点」が判定領域Ａａ内にプロットされているとき（すべての「第２の対応点」が判定領域Ａｂ外にプロットされているとき）に、処理部２３は、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれていないと判定する。また、幾つかの「第２の対応点」が判定領域Ａａ外にプロットされているとき（幾つかの「第２の対応点」が判定領域Ａｂ内にプロットされているとき）に、処理部２３は、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれていると判定する。
【０１０４】
また、処理部２３は、操作部２１の操作による使用者からの指示に従い、上記の図１９，２０に示す２次元グラフに代えて（または、両図に示す２次元グラフと共に）図２１に示す２次元グラフを表示部２２に表示させる。この２次元グラフは、波形データＤ０の波形Ｗ０、波形データＤ１の波形Ｗ１、および前述した判定領域Ａａと判定領域Ａｂと境界に対応する波形Ｗａとが重ねて表示されている。したがって、同図に示すように、波形データＤ１の波形Ｗ１の一部が波形Ｗａよりも上方に描画されているときには、その部位に対応する波形Ｗ０の一部が放電波形成分であり、波形データＤ１の波形Ｗ１において波形Ｗａよりも下方に描画されている部位については、その部位に対応する波形Ｗ０の部位が放電波形成分ではないと直感的に認識させることが可能となる。
【０１０５】
この後、処理部２３は、上記の放電波形成分の有無の判定処理とは別個に行う他の検査項目に関する判定処理の結果と共に、放電波形成分の有無の判定処理の判定結果を検査対象Ｘに関連付けて記録して検査結果データＤｒを生成する。また、すべての検査項目において不良なしと判定したときには、検査対象Ｘが良品であるとの事項を検査結果データＤｒに記録すると共に、いずれかの検査項目において不良ありと判定したときには、検査対象Ｘが不良品であるとの事項を検査結果データＤｒに記録する。以上により、検査対象Ｘについての一連の検査処理が完了する。
【０１０６】
次に、検査対象Ｘについての上記の一連の処理のうちの「第１０の処理（２次元グラフ上に判定領域Ａａ，Ａｂを規定する処理）」について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【０１０７】
上記の「第１０の処理」において判定領域Ａａ（または、判定領域Ａｂ）を規定するときに、処理部２３は、まず、図２２，２３に示すように「第９の処理」においてプロットした「第１の対応点」の位置（両図における各「◇」の位置）を特定すると共に、２次元グラフの原点Ｐ０を通過する「各第１の対応点の回帰直線」を特定する。この際には、一例として、両図に示す二点鎖線Ｌが「回帰直線」として特定される。次いで、処理部２３は、特定した回帰直線（二点鎖線Ｌ）における２次元グラフの横軸（「縦軸および横軸の他方」の一例）の値が「１」のときの２次元グラフの縦軸（縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方」の一例）の値（本例では、約０．０８：「第１６の値」の一例）を特定する。
【０１０８】
続いて、２次元グラフの原点Ｐ０、縦軸の値が「第１６の値」で横軸の値が「１」の点Ｐ１（「第１の点」の一例）、および縦軸の値が「０」で横軸の値が「１」の点２（「第２の点」の一例）の３点を頂点とする三角形領域Ａ１を特定すると共に、特定した三角形領域Ａ１に基づいて判定領域Ａａおよび／または、判定領域Ａｂを規定する。
【０１０９】
具体的には、処理部２３は、図２４に示すように、２次元グラフの縦軸（「縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方」の一例）に波形データＤ１の値（第１の値）を対応させると共に、２次元グラフの横軸（「縦軸および横軸の他方」の一例）に波形データＤ１の各値のサンプリングタイミングに対応する波形データＤ７の値（第７の値）を対応させて波形データＤ１の値、および波形データＤ７の値の対応点（「第３の対応点」の一例）を２次元グラフ上にそれぞれプロットする。なお、同図では、両値の対応点（第３の対応点）を「■」で表している。
【０１１０】
この場合、波形データＤ０のような減衰振動波形（過渡現象の波形）の値に基づく「第３の対応点」は、変化率が小さい値が多くなるため、同図の２次元グラフの例では、横軸方向の原点側の部位に数多くの「第３の対応点」がプロットされることとなる。また、横軸方向の原点側の部位にプロットされた各「第３の対応点」は、対応する「第１の値」の自体が小さいことから、その分布が２次元グラフ上において縦軸方向に大きく分離せずに密集した状態となる。
【０１１１】
したがって、処理部２３は、一例として、横軸の値が「０．１（「縦軸および横軸の他方の値が「０．５」以下の予め規定された第１７の値」の一例）」以下である「第３の対応点」、すなわち、各「第３の対応点」のうちの大半を占める通常の測定値Ｄｓに対応する「第３の対応点」（放電波形成分や大きなノイズ成分が存在する場合に、そのような特異な測定値Ｄｓを除く測定値Ｄｓに対応する「第３の対応点」）を抽出する。なお、上記の「第１７の値」については、「０．５」以下の「０．１」以外の任意の正数とすることができる。
【０１１２】
次いで、処理部２３は、抽出した各「第３の対応点」における縦軸の値の標準偏差ｎσを演算する。この場合、「ｎ」については、測定値Ｄｓの数（サンプリング数）に応じて任意の自然数を予め規定しておく。具体的には、一例として、波形データＤ０における測定値Ｄｓの数が「１０，０００」であって、この波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が存在しないときに、標準偏差ｎσ＝３σの範囲内に含まれる測定値Ｄｓは、「１０，０００×約９９．７３％≒９，９７３値」で「１０，０００−９，９７３＝２７値」が標準偏差ｎσの範囲外となる可能性があり、標準偏差ｎσ＝４σの範囲内に含まれる測定値Ｄｓは、「１０，０００×約９９．９９４％≒９，９９９．４値」で「１０，０００−９，９９９．４＝０．６値」が標準偏差ｎσの範囲外となる可能性がある。
【０１１３】
また、標準偏差ｎσ＝５σの範囲内に含まれる測定値Ｄｓは、「１０，０００×約９９．９９９９％≒９，９９９．９９値」で「１０，０００−９，９９９．９９＝０．０１値」が標準偏差ｎσの範囲外となる可能性があり、標準偏差ｎσ＝６σの範囲内に含まれる測定値Ｄｓは、「１０，０００×約９９．９９９９９９％≒９，９９９．９９９９値」で「１０，０００−９，９９９．９９９９９９＝０．０００００１値」が標準偏差ｎσの範囲外となる可能性がある。したがって、この「第１０の処理」においては、標準偏差ｎσ（ｎ≧３）、好ましくは、標準偏差５σ、または標準偏差６σを演算することで、放電波形成分が存在するとの誤判定が生じさせる可能性が十分に低い判定領域Ａａ（または、判定領域Ａｂ）を規定することが可能となる。
【０１１４】
続いて、処理部２３は、図２２，２３に示すように、前述した原点Ｐ０、および点Ｐ１と、縦軸の値が標準偏差ｎσと「第１６の値（本例では、約０．０８）」との和で横軸の値が「１」の点Ｐ３（「第３の点」の一例）と、縦軸の値が標準偏差ｎσで横軸の値が「０」の点Ｐ４（「第４の点」の一例）との４点を頂点とする矩形領域Ａ２（「第１の矩形領域」の一例）を特定する。また、処理部２３は、処理部２３は、判定領域Ａａを規定するときには、上記の三角形領域Ａ１と矩形領域Ａ２とを足し合わせた領域を判定領域Ａａとし、判定領域Ａｂを規定するときには、２次元グラフにおいて上記の三角形領域Ａ１および矩形領域Ａ２を除く領域を判定領域Ａｂとし、これらの判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂを特定可能なデータを領域データＤａとして検査用データＤｃに記録する。以上により、判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂを規定する「第１０の処理」が完了する。
【０１１５】
この場合、図２２に示すように、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれていないときには、検査用データＤｃに記録されている波形データＤ８の値および波形データＤ７の値の「第２の対応点（同図に示す「■」の点）」を２次元グラフ上にそれぞれプロットしたときに、すべての「第２の対応点」が判定領域Ａａ内（判定領域Ａｂ外）にプロットされる。これに対して、図２３に示すように、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれていたときには、検査用データＤｃに記録されている波形データＤ８の値および波形データＤ７の値の「第２の対応点（同図に示す「■」の点）」を２次元グラフ上にそれぞれプロットしたときに、幾つかの「第２の対応点」（放電波形成分の測定値Ｄｓに対応する「第２の対応点」）が判定領域Ａａ外（判定領域Ａｂ内）にプロットされる。したがって、上記のような手順で判定領域Ａａ、および／または判定領域Ａｂを規定することにより、そのような領域データＤａと、波形データＤ７，Ｄ８とに基づき、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているか否かを好適に判定できる。
【０１１６】
一方、「第１の判定領域および第２の判定領域の少なくとも一方の領域」を規定する「第１０の処理」は、上記の手順に限定されず、以下のように「少なくとも一方の領域」を簡易に規定することもできる。具体的には、処理部２３は、「第１０の処理」として、まず、図２５に示すように「第９の処理」においてプロットした「第１の対応点」の位置（同図における各「◇」の位置）を特定すると共に、特定したすべての「第１の対応点」が含まれる最小の方形領域Ａ３（「最小の方形領域」の一例）を特定する。次いで、一例として、上記の判定領域Ａａ，Ａｂの規定に際して特定した手順と同様の手順に従って標準偏差ｎσを演算する。
【０１１７】
続いて、方形領域Ａ３を２次元グラフの縦軸方向に標準偏差ｎσだけ拡大し、拡大後の方形領域を「測定値範囲」としての「第１の判定領域」の他の一例である判定領域Ａｃとし、かつ２次元グラフにおける判定領域Ａｃを除く領域を「測定値範囲」としての「第２の判定領域」の他の一例である判定領域Ａｄとして規定すると共に、これらの判定領域Ａｃおよび／または判定領域Ａｄを特定可能なデータを領域データＤａとして検査用データＤｃに記録する。以上により、判定領域Ａｃおよび／または判定領域Ａｄを規定する「第１０の処理」が完了する。
【０１１８】
次に、前述の検査対象Ｘについての前述した一連の処理のうちの「判定処理」（波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているか否かの判定）について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【０１１９】
検査用データＤｃにおける領域データＤａおよび波形データＤ７，Ｄ８に基づいて波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているか否かを判定する場合、「第１０の処理」において判定領域Ａａや判定領域Ａｃを過剰に狭く規定したとき（判定領域Ａｂや判定領域Ａｄを過剰に広く規定したとき）に、放電波形成分ではないノイズ成分等が放電波形成分であると誤判定されるおそれがある。したがって、本例の測定システム１（データ処理装置３）では、「判定処理」において放電波形成分の有無を判定したときに、以下のような「報知処理」を行うことで、判定領域Ａａ〜Ａｄが好適に規定されているか否かを利用者に把握させる構成が採用されている。
【０１２０】
具体的には、一例として、処理部２３は、まず、判定領域Ａａや判定領域Ａｃ（第１の判定領域）を「少なくとも一方の領域」とするときには、「第２の対応点」の総数に占める判定領域Ａａや判定領域Ａｃに含まれない「第２の対応点」の割合を特定すると共に、判定領域Ａｂや判定領域Ａｄ（第２の判定領域）を「少なくとも一方の領域」とするときには、「第２の対応点」の総数に占める判定領域Ａｂや判定領域Ａｄに含まれる「第２の対応点」の割合を特定する。つまり、各「第２の対応点」に占める「放電波形成分に対応すると判定される第２の対応点」の割合を特定する。
【０１２１】
次いで、特定した割合が「予め規定された割合（一例として、１０％）」以上のときに、「放電波形成分と判定されるポイント数が１０％を超えました」とのメッセージを表示部２２に表示させる（「予め規定された報知処理」の一例）。したがって、このメッセージを見た利用者は、波形データＤ０の測定時にそれほど多くの放電現象が発生している筈がないと判断したときには、判定領域Ａａ，Ａｃを狭く規定し過ぎた（判定領域Ａｂ，Ａｄを広く規定し過ぎた）と判断し、判定領域Ａａ，Ａｃ、および／または判定領域Ａｂ，Ａｄの広さを手動で調整したり、上記の一連の手順における各係数を変更して新たな判定領域Ａａ，Ａｃ、および／または判定領域Ａｂ，Ａｄを規定させたりする。なお、上記の「予め規定された割合」は、「０％」よりも大きく「１００％」よりも小さい範囲内で「１０％」以外の任意の割合に規定することができる。
【０１２２】
また、「報知処理」としては、上記の処理に代えて、以下のような処理を行うこともできる。具体的には、一例として、処理部２３は、「判定処理」において、図２６に示すように、まず、２次元グラフを横軸（「縦軸および横軸の他方」の一例）の方向で１０個（「Ｇａ＝１０個」の例）に分割したＧａ＝１０個の矩形領域Ａ１０〜Ａ１９（「第２の矩形領域」の一例）を特定する。次いで、処理部２３は、判定領域Ａａを「少なくとも一方の領域」とするときには判定領域Ａａ以外の領域に「第２の対応点」が含まれている矩形領域Ａ１０〜Ａ１９の数を特定すると共に、判定領域Ａｂを「少なくとも一方の領域」とするときには判定領域Ａｂに「第２の対応点」が含まれている矩形領域Ａ１０〜Ａ１９の数を特定する。つまり、矩形領域Ａ１０〜Ａ１９のうちの「放電波形成分に対応すると判定される第２の対応点」が存在する領域の数を特定する。この際に、同図に示す例では、該当する領域が矩形領域Ａ１０の１つであると特定される。
【０１２３】
続いて、処理部２３は、特定した領域の数が「予め規定された数（一例として、Ｇａ＝１０／２＝５）」以上のときに、「放電波形成分と判定されるポイントが位置する領域が５０％を超えました」とのメッセージを表示部２２に表示させる（「予め規定された報知処理」の他の一例）。なお、同図に示す例では、特定された領域の数が１つだけのため、上記のようなメッセージが表示されることなく、前述したような判定結果が表示部２２に表示されるが、上記のようなメッセージが表示された場合、そのメッセージを見た利用者は、波形データＤ０の測定時にそれほど多くの放電現象が発生している筈がないと判断したときには、判定領域Ａａを狭く規定し過ぎた（判定領域Ａｂを広く規定し過ぎた）と判断し、判定領域Ａａ、および／または判定領域Ａｂの広さを手動で調整したり、上記の一連の手順における各係数を変更して新たな判定領域Ａａ、および／または判定領域Ａｂを規定させたりする。なお、上記の「Ｇａ個」は、１０個以外で２以上の任意の自然数に規定することができる。また、「予め規定された数」についても、５個以外でＧａ個以下の任意の自然数に規定することができる。
【０１２４】
このように、このデータ処理装置３では、放電波形成分が含まれているか否かを特定する基準となる「測定値範囲」の「測定値範囲データ」と、「測定値範囲データ」との対比によって放電波形成分が含まれているか否かを特定可能な「比較値データ」とを波形データＤ０に基づいて生成し、生成した「測定値範囲データ」および「比較値データ」を含めて検査用データＤｃを生成する。具体的には、処理部２３が、波形データＤ０を使用して「第１の処理」から「第１０の処理」までの各処理を順次実行し、「第１０の処理」によって規定した「測定値範囲としての少なくとも一方の領域（本例では、「第１の判定領域」としての判定領域Ａａ（または、判定領域Ａｃ）、および「第２の判定領域」としての判定領域Ａｂ（または、判定領域Ａｄ）の双方）」を特定可能な領域データＤａ（測定値範囲データ）と、「第７の処理」によって生成した波形データＤ７、および「第８の処理」によって生成した波形データＤ８（比較値データ）とを含めて検査用データＤｃを生成する。また、このデータ処理用プログラムＤｐは、上記の各処理をデータ処理装置３の処理部２３に実行させる。
【０１２５】
したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、検査対象Ｘについて取得した１つの波形データＤ０に基づいて、放電波形成分が存在するか否かを判定するための領域データＤａと、領域データＤａの判定領域（判定領域Ａａ〜Ａｄ）との対比によって放電波形成分が存在するか否かを判定可能な波形データＤ７，Ｄ８とを生成することができる。このため、複数回の測定処理が不要となり、複数の「測定対象」についての個体差の影響や、測定処理毎の測定環境の相違に起因する測定値Ｄｓのばらつきの影響を受けることがなくなるため、放電現象が発生しているか否かの判定精度を十分に向上させることができるだけでなく、判定用の基準値（閾値）を生成する処理を別個に行う必要もなくなることから、利用者の負担を十分に軽減することができる。
【０１２６】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第９の処理」に先立ち、波形データＤ５の各「第５の値」の絶対値を最大値が「１」となるように正規化した「第９の値」を演算して波形データＤ９を生成すると共に、各「第９の値」に係数Ｋａを乗じた値と、各「第９の値」のサンプリングタイミングに対応する波形データＤ７の各「第７の値」とのいずれか大きい一方を新たな「第７の値」として新たな波形データＤ７を生成する「第１１の処理」を実行する。
【０１２７】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第９の処理」に先立ち、波形データＤ７の各「第７の値」を、対象の「第７の値」に対してＪａサンプリング前の「第７の値」から対象の「第７の値」までの（Ｊａ＋１）個の「第７の値」、および対象の「第７の値」から対象の「第７の値」に対してＪｂサンプリング後の「第７の値」までの（Ｊｂ＋１）個の「第７の値」の少なくとも一方を含む予め規定されたＪｃ個の「第７の値」のうちの最大値にそれぞれ置き換えて新たな波形データＤ７を生成する「第１２の処理」を実行する。
【０１２８】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第９の処理」に先立ち、波形データＤ７の各「第７の値」のうち、Ｉサンプリング前の「第７の値」よりも小さい「第７の値」を、Ｉサンプリング前の「第７の値」よりも小さい「第７の値」と、Ｉサンプリング前の「第７の値」に係数Ｋｂを乗じた「第１０の値」とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな波形データＤ７を生成する「第１３の処理」を実行する。
【０１２９】
したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、「第７の値」が「０」に近い値となる特異点の数を十分に減少させることができ、これにより、放電波形成分の有無を一層高精度に判定し得る判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂを規定することができると共に、検査用データＤｃに基づいて放電波形成分の有無を判定する際に、新たな波形データＤ７に基づいて２次元グラフ上に「第２の対応点」をプロットすることで放電波形成分の有無を一層高精度に判定することが可能となる。
【０１３０】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第９の処理」に先立ち、波形データＤ７の各「第７の値」のうちの最大値に対応する測定値Ｄｓよりも後にサンプリングされた測定値Ｄｓに対応する「第７の値」を、対象の「第７の値」に対してＨａサンプリング前の「第７の値」が、対象の「第７の値」を含んで連続するＨｂサンプリング分の「第７の値」を平均化した値に係数Ｋｃを乗じた「第１１の値」以下のときに、対象の「第７の値」と、Ｈａサンプリング前の「第７の値」に予め規定された係数Ｋｄを乗じた「第１２の値」とのいずれか小さい一方に置き換えて新たな波形データＤ７を生成する「第１４の処理」を実行する。
【０１３１】
したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、測定値の変化率が徐々に小さくなる波形データＤ０を対象とするときに、変化率の減少の度合いとは不釣り合いに「第７の値」が急激に大きな値に変化するような変化状態を、変化率の減少の度合いに応じた適当な変化状態とすることができ、これにより、放電波形成分の有無を一層高精度に判定し得る判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂを規定することができると共に、検査用データＤｃに基づいて放電波形成分の有無を判定する際に、新たな波形データＤ７に基づいて２次元グラフ上に「第２の対応点」をプロットすることで放電波形成分の有無を一層高精度に判定することが可能となる。
【０１３２】
さらに、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第１４の処理」において、Ｈａサンプリング前の「第７の値」が、Ｈｂサンプリング分の「第７の値」を平均化した値に係数Ｋｅを乗じた「第１３の値」よりも小さいときに、対象の「第７の値」を「第１３の値」に置き換える。したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、「第７の値」の変化状態を一層好適な状態とすることができる。
【０１３３】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第９の処理」に先立ち、波形データＤ７の各「第７の値」のうちの最大値に対応する測定値Ｄｓよりも前にサンプリングされた測定値Ｄｓに対応する「第７の値」を、対象の「第７の値」と、対象の「第７の値」に対してＨｃサンプリング前の「第７の値」に係数Ｋｆを乗じた「第１４の値」とのいずれか大きい一方に置き換えて新たな波形データＤ７を生成する「第１５の処理」を実行する。
【０１３４】
したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、測定値の変化率が徐々に大きくなる波形データＤ０を対象とするときに、「第７の値」が「０」に近い値となる特異点の数を十分に減少させることができ、これにより、放電波形成分の有無を一層高精度に判定し得る判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂを規定することができると共に、検査用データＤｃに基づいて放電波形成分の有無を判定する際に、新たな波形データＤ７に基づいて２次元グラフ上に「第２の対応点」をプロットすることで放電波形成分の有無を一層高精度に判定することが可能となる。
【０１３５】
さらに、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第１５の処理」において、対象の「第７の値」および「第１４の値」の双方が、対象の「第７の値」を含んで連続するＨｄサンプリング分の「第７の値」を平均化した値に係数Ｋｇを乗じた「第１５の値」よりも小さいときに、対象の「第７の値」を「第１５の値」に置き換える。したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、「第７の値」が「０」に近い値となる特異点の数をさらに減少させることができる。
【０１３６】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第１０の処理」において、２次元グラフの原点Ｐ０を通過する各「第１の対応点」の回帰直線（図２２，２３における二点鎖線Ｌ）を特定し、特定した回帰直線における２次元グラフの横軸の値が「１」のときの縦軸の値を「第１６の値」として特定し、かつ、２次元グラフの原点Ｐ０、縦軸の値が「第１６の値」で横軸の値が「１」の点Ｐ１、および縦軸の値が「０」で横軸の値が「１」の点Ｐ２の３点を頂点とする三角形領域Ａ１を特定すると共に、特定した三角形領域Ａ１に基づいて「少なくとも一方の領域」を規定する。
【０１３７】
したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、放電波形成分の値に対応する「第２の対応点」がプロットされる可能性が極めて低い三角形領域Ａ１を確実かつ容易に特定することができ、この三角形領域Ａ１に基づいて、判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂを容易に特定して領域データＤａを生成することができる。
【０１３８】
さらに、このデータ処理装置３では、処理部２３が、２次元グラフの縦軸に波形データＤ１の各「第１の値」を対応させると共に２次元グラフの横軸に各「第１の値」のサンプリングタイミングに対応する波形データＤ７の各「第７の値」を対応させて「第１の値」および「第７の値」の「第３の対応点」を２次元グラフ上にそれぞれプロットすると共に、横軸の値が「０．５」以下の予め規定された「第１７の値」以下である「第３の対応点」を抽出し、抽出した各「第３の対応点」における縦軸の値の標準偏差ｎσを演算すると共に、原点Ｐ０、点Ｐ１、縦軸の値が標準偏差ｎσと「第１６の値」との和で横軸の値が「１」の点Ｐ３、および縦軸の値が標準偏差ｎσで横軸の値が「０」の点Ｐ４の４点を頂点とする矩形領域Ａ２を特定し、特定した矩形領域Ａ２および三角形領域Ａ１に基づいて「少なくとも一方の領域」を規定する。
【０１３９】
したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、特定した矩形領域Ａ２および三角形領域Ａ１に基づいて判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂを容易に特定することができ、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているか否かを高精度に判定可能な判定領域Ａａおよび／または判定領域Ａｂの領域データＤａを容易に生成することができる。
【０１４０】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第１０の処理」において、すべての「第１の対応点」が含まれる最小の方形領域Ａ３を特定すると共に、特定した方形領域Ａ３に基づいて「少なくとも一方の領域」を規定する。したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、非常に単純な処理によって判定領域Ａｃおよび／または判定領域Ａｄの領域データＤａを生成することができる。
【０１４１】
さらに、このデータ処理装置３では、処理部２３が、検査用データＤｃに基づき、「第２の対応点」と「少なくとも一方の領域」との位置関係を特定して波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているか否かを判定する「判定処理」を実行し、「判定処理」の判定結果を特定可能な検査結果データＤｒを生成する。また、このデータ処理用プログラムＤｐは、上記の処理をデータ処理装置３の処理部２３に実行させる。
【０１４２】
したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、複数回の測定処理が不要となり、、複数の「測定対象」についての個体差の影響や、測定処理毎の測定環境の相違に起因する測定値Ｄｓのばらつきの影響を受けることがなくなるため、放電現象が発生しているか否かの判定精度を十分に向上させることができる。また、基準値（閾値）との比較による判定とは異なり、測定環境の変化の影響による誤判定を回避して判定精度を十分に高めることができる。
【０１４３】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、判定領域Ａａ（または、判定領域Ａｃ）を「少なくとも一方の領域」とするときには「第２の対応点」の総数に占める判定領域Ａａ（または、判定領域Ａｃ）に含まれない「第２の対応点」の割合を特定すると共に、判定領域Ａｂ（または、判定領域Ａｄ）を「少なくとも一方の領域」とするときには「第２の対応点」の総数に占める判定領域Ａｂ（または、判定領域Ａｄ）に含まれる「第２の対応点」の割合を特定し、特定した割合が予め規定された割合以上のときに、予め規定された「報知処理」を実行する。
【０１４４】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、２次元グラフを横軸の方向でＧａ個に分割したＧａ個の矩形領域Ａ１０〜Ａ１９を特定し、判定領域Ａａ（または、判定領域Ａｃ）を「少なくとも一方の領域」とするときには判定領域Ａａ（または、判定領域Ａｃ）以外の領域に「第２の対応点」が含まれている矩形領域Ａ１０〜Ａ１９の数を特定すると共に、判定領域Ａｂ（または、判定領域Ａｄ）を「少なくとも一方の領域」とするときには判定領域Ａｂ（または、判定領域Ａｄ）に「第２の対応点」が含まれている矩形領域Ａ１０〜Ａ１９の数を特定し、特定した数が予め規定された数以上のときに、予め規定された「報知処理」を実行する。
【０１４５】
したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているか否かの判定結果を確実かつ容易に認識させることができる。
【０１４６】
また、このデータ処理装置３では、処理部２３が、「第２の対応点」をプロットした２次元グラフと「少なくとも一方の領域」を示す「領域表示」とを「判定処理」の判定結果と共に表示部２２に表示させる。したがって、このデータ処理装置３およびデータ処理用プログラムＤｐによれば、波形データＤ０の波形Ｗ０に放電波形成分が含まれているか否かの判定結果を一層確実かつ一層容易に認識させることができる。
【０１４７】
また、この測定システム１では、上記のデータ処理装置３と、測定対象（検査対象Ｘ）についての予め規定されたサンプリング周期での測定を実行して波形データＤ０を出力する測定装置２とを備えて構成されている。したがって、この測定システム１によれば、波形データＤ０の取得（生成）から検査用データＤｃの生成（または、検査用データＤｃおよび検査結果データＤｒの生成）までの一連の処理を１つのシステムで実行することができる。
【０１４８】
なお、「データ処理装置」および「測定システム」の構成や、「データ処理用プログラム」による処理の手順は、上記のデータ処理装置３の構成、およびデータ処理装置３を備えて構成された測定システム１の構成の例や、データ処理用プログラムＤｐの記述の内容の例に限定されない。例えば、「第１の対応点」から「第３の対応点」のプロット時に、「縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方」を「縦軸」とし、かつ「縦軸および横軸の他方」を「横軸」とした例について説明したが、「縦軸および横軸のいずれか予め規定された一方」を「横軸」とし、「縦軸および横軸の他方」を「縦軸」としてプロットしてもよい。
【０１４９】
また、検査用データＤｃの生成処理、および検査用データＤｃに基づく「放電波形成分が存在するか否かの判定処理」の双方をデータ処理装置３において実行する構成を例に挙げて説明したが、検査用データＤｃを生成するデータ処理装置３とは別個の「データ処理装置」において検査用データＤｃに基づく「判定処理」を実行する構成を採用することもできる。さらに、「判定処理」の判定結果をデータ処理装置３の構成要素である表示部２２に表示させる構成を例に挙げて説明したが、外部装置としての表示装置（表示部）に判定結果を表示させる構成を採用することもできる。
【０１５０】
また、測定装置２と、測定装置２とは別体のデータ処理装置３とを備えて測定システム１を構成した例について説明したが、「測定装置」および「データ処理装置」を一体化した装置を「測定システム」として構成することもできる。加えて、「測定対象」としての巻線部品についてのデータを処理して検査する例について説明したが、「データ処理装置」によるデータ処理の対象や、「測定システム」による検査の対象はこれに限定されず、コンデンサや抵抗体などの各種の電子部品や、回路基板上の任意の検査ポイント間についての「波形データ」に基づいてデータ処理や検査処理を実行することができる。
【符号の説明】
【０１５１】
１  測定システム
２  測定装置
３  データ処理装置
２１  操作部
２２  表示部
２３  処理部
２４  記憶部
Ａａ〜Ａｄ  判定領域
Ａ１  三角形領域
Ａ２，Ａ１０〜Ａ１９  矩形領域
Ａ３  方形領域
Ｄｓ  測定値
Ｄ０，Ｄ０ｆ，Ｄ１〜Ｄ９  波形データ
Ｄａ  領域データ
Ｄｃ  検査用データ
Ｄｐ  データ処理用プログラム
Ｄｒ  検査結果データ
Ｐ０  原点
Ｐ１〜Ｐ４  点
Ｗ０，Ｗ０ｆ，Ｗ１〜Ｗ７，Ｗ７ａ〜Ｗ７ｆ，Ｗ８，Ｗ９，Ｗａ  波形
Ｘ  検査対象
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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