(57)【要約】【課題】装置の大型化を回避しつつ、撮影範囲が異なる複数の撮影モードを切り替える撮影を行える仕組みを提供する。【解決手段】光源１１１１からの光を測定光と参照光とに分岐するカプラ１１１３と、測定対象である被検眼Ｅの眼底Ｅｒに対してライン状の測定光を照射する光路Ｌ２の光学部材と、被検眼Ｅの眼底Ｅｒからのライン状の測定光の戻り光とライン状の参照光とを干渉させることにより得られる干渉光を検出するラインカメラ１１４２と、被検眼Ｅの眼底Ｅｒの撮影範囲が異なる複数の撮影モードにおける撮影モードごとに、光路Ｌ２の光学部材によって被検眼Ｅの眼底Ｅｒに照射する測定光のライン幅を変更する制御を行う全体制御部１３１０を備える。【選択図】図１
2019213609.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を測定光と参照光とに分岐する光分岐手段と、
測定対象に対してライン状の前記測定光を照射する照射手段と、
前記測定対象からの前記ライン状の測定光の戻り光とライン状の前記参照光とを干渉させることにより得られる干渉光を検出する検出手段と、
前記測定対象の撮影範囲が異なる複数の撮影モードにおける撮影モードごとに、前記照射手段によって前記測定対象に照射する前記測定光のライン幅を変更する制御を行う制御手段と、
を有することを特徴とする撮影装置。
【請求項２】
前記複数の撮影モードは、第１の撮影モードと、当該第１の撮影モードよりも撮影範囲が狭い第２の撮影モードとを含み、
前記制御手段は、前記第２の撮影モードの場合には、前記第１の撮影モードの場合よりも、前記測定光のライン幅を狭くする前記制御を行うことを特徴とする請求項１に記載の撮影装置。
【請求項３】
前記照射手段は、前記ライン状の測定光を形成するライン測定光形成部材として、第１のライン測定光形成部材と、当該第１のライン測定光形成部材よりも焦点距離が長い第２のライン測定光形成部材とを含み構成されており、
前記制御手段は、前記第２の撮影モードの場合には、前記測定光の光路に前記第２のライン測定光形成部材を挿入する前記制御を行うことを特徴とする請求項２に記載の撮影装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記第２の撮影モードの場合には、前記第１の撮影モードの場合よりも、前記参照光のライン幅を狭くする制御を更に行うことを特徴とする請求項２または３に記載の撮影装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記第２の撮影モードの場合には、前記検出手段に入射する前記干渉光のライン幅を広くする制御を更に行うことを特徴とする請求項２乃至４のいずれか１項に記載の撮影装置。
【請求項６】
前記制御手段による前記制御がなされている状態で、前記検出手段において前記干渉光を検出することにより得た干渉信号を用いて、前記測定対象の断層画像を生成する生成手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮影装置。
【請求項７】
光源からの光を測定光と参照光とに分岐する光分岐手段と、測定対象に対してライン状の前記測定光を照射する照射手段と、前記測定対象からの前記ライン状の測定光の戻り光とライン状の前記参照光とを干渉させることにより得られる干渉光を検出する検出手段と、を備える撮影装置の制御方法であって、
前記測定対象の撮影範囲が異なる複数の撮影モードにおける撮影モードごとに、前記照射手段によって前記測定対象に照射する前記測定光のライン幅を変更する制御を行うことを特徴とする撮影装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光源からの光を用いて測定対象の撮影を行う撮影装置及びその制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
測定対象における断層画像を非破壊、非侵襲で取得する方法として、光干渉断層撮影法（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ，以下、「ＯＣＴ」と呼ぶ）が実用化されている。近年、特に眼科分野においては、このＯＣＴの技術を用いて、被検眼の眼底の断層画像を撮影することが、研究から臨床の現場まで広く普及している。このＯＣＴの技術を用いたＯＣＴ装置では、光源からの光を測定光と参照光とに分岐させた後、測定対象からの測定光の戻り光と参照光とを干渉させて、測定対象の深さ方向に関する干渉光の強度を画像化し、測定対象の断層画像を取得する。
【０００３】
現在普及している多くのＯＣＴ装置は、測定対象にスポット状の測定光を照射し、ガルバノスキャナや共振スキャナといった光偏向素子を２つ以上組み合わせて、測定対象の領域を当該測定光で２次元スキャンするものである。この際、操作者の所望する撮影範囲や画質により、広範囲を撮影する３Ｄ撮影モードや、狭範囲で加算枚数を増やして高画質で撮影するクロススキャンモード等がある。
【０００４】
最近では、より高速で高画質な撮影画像を取得するためのＯＣＴ装置として、例えば、非特許文献１に記載されているようなラインＯＣＴ装置が開発されている。具体的に、このラインＯＣＴ装置は、測定対象に対してライン状の測定光を照射し、測定対象からの測定光の戻り光と参照光とを干渉させて干渉光を得る装置である。
【０００５】
例えば、被検眼の眼底検査では、眼疾患を早期に発見して治療を開始するために、黄斑から乳頭付近までを幅広く撮影したい場合と、黄斑付近の狭い範囲を高画質で撮影したい場合とがある。この場合、広画角撮影モードと狭画角撮影モードとを切り替えて撮影できるＯＣＴ装置が求められる。例えば、特許文献１では、撮影モードを切り替えるのにあたり、ＯＣＴ装置で用いる対物レンズとして異なる焦点距離の異なる対物レンズを交換して切り替えることで、撮影範囲と当該撮影範囲の分解能を変更して撮影する技術が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１７−６４３７８号公報
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】D. J. Fechtig, B. Grajciar, T. Schmoll, C. Blatter, R. M. Werkmeister, W. Drexler, and R. a Leitgeb, "Line-field parallel swept source MHz OCT for structural and functional retinal imaging.," Biomed. Opt. Express, vol. 6, no. 3, pp. 716？35, Mar. 2015.
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１に記載の技術のように、被検眼とのワーキングディスタンスを決める対物レンズの焦点距離を変えた際に、例えば通常撮影モード（広画角撮影モード）から狭画角撮影モードへ切り替えた場合、ワーキングディスタンスも同時に変更され、眼底へのフォーカス位置も変更される。そして、ワーキングディスタンスが変更されると、ＯＣＴ装置における測定光の光路長も変更され、その結果、参照光の光路長も変更する必要が生じる。即ち、従来の技術では、撮影範囲が異なる撮影モードの切り替え前後で、測定光の光路長の変更に基づく参照光の光路長の変更に伴って参照ミラー等を大きく移動させる必要があることから、装置の大型化を招くという問題があった。
【０００９】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、装置の大型化を回避しつつ、撮影範囲が異なる複数の撮影モードを切り替える撮影を行える仕組みを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の撮影装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分岐する光分岐手段と、測定対象に対してライン状の前記測定光を照射する照射手段と、前記測定対象からの前記ライン状の測定光の戻り光とライン状の前記参照光とを干渉させることにより得られる干渉光を検出する検出手段と、前記測定対象の撮影範囲が異なる複数の撮影モードにおける撮影モードごとに、前記照射手段によって前記測定対象に照射する前記測定光のライン幅を変更する制御を行う制御手段と、を有する。
また、本発明は、上述した撮影装置の制御方法を含む。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、装置の大型化を回避しつつ、撮影範囲が異なる複数の撮影モードを切り替える撮影を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の実施形態に係る撮影装置の概略構成の一例を示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係る撮影装置の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図３】図２に示すステップＳ１８の画像生成処理で生成される眼底の断層画像の一例を示す図である。
【図４】図２に示すステップＳ１１の撮影モード設定処理の詳細な処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施形態を示し、通常撮影モードの場合と狭画角撮影モードの場合の光路Ｌ２における光学部材の配置例を示す図である。
【図６】本発明の実施形態の第１変形例を示し、通常撮影モードの場合と狭画角撮影モードの場合の光路Ｌ３における光学部材の配置例を示す図である。
【図７】本発明の実施形態の第２変形例を示し、図１のラインカメラに入射する干渉光の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下に、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態（実施形態）について説明する。なお、以下に記載する本発明の実施形態は、特許請求の範囲に記載に関わる本発明を限定するものではなく、また、本発明の実施形態として記載されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。
【００１４】
（撮影装置の概略構成）
図１は、本発明の実施形態に係る撮影装置１０００の概略構成の一例を示す図である。ここで、本発明の実施形態では、撮影装置１０００として、測定対象である被検眼Ｅ（より詳細には、被検眼Ｅの眼底Ｅｒ）の断層画像を撮影する光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ装置）を適用した例について説明を行う。
【００１５】
撮影装置１０００は、図１に示すように、光学ヘッド部１１００、電動ステージ部１２００、制御・処理部１３００、入力部１４００、及び、表示部１５００を有して構成されている。また、図１では、測定対象である被検眼Ｅについては、眼球を側面からみた断面を図示している。
【００１６】
光学ヘッド部１１００には、各光学要素がその光路上に配置される、光路Ｌ１〜Ｌ６が構成されている。また、光学ヘッド部１１００内を通過する各種の光は、光ファイバを通して伝搬するものと、各光学部材を介して空中を伝搬するものとがある。
【００１７】
光路Ｌ１には、光源１１１１、光量調整機構１１１２、及び、カプラ１１１３が配置されている。
【００１８】
光源１１１１としては、例えば、中心波長１０６０ｎｍ、波長帯域９０ｎｍの光を出力しうる波長掃引型のＳＳ光源を用いる。なお、本実施形態においては、光源１１１１は、この波長掃引型のＳＳ光源に限定されるものではなく、例えば、中心波長８５０ｎｍ、波長帯域１００ｎｍの光を出力しうるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）を用いることも可能である。光量調整機構１１１２は、光源１１１１から出力された光の光量を増減、もしくは消灯させることができる。カプラ１１１３は、光源１１１１から出力され、光量調整機構１１１２で光量が調整された光を、測定光と参照光とに分岐する光分岐手段である。
【００１９】
光路Ｌ２には、測定対象である被検眼Ｅ（より詳細には、被検眼Ｅの眼底Ｅｒ）に対してライン状の測定光を照射する照射手段に相当する測定光伝達手段に係る光学部材等が配置されている。
【００２０】
具体的に、カプラ１１１３で分岐された測定光は、ファイバ端１１２０より空中へ伝搬し、コリメータレンズ１１２１及びシリンドリカルレンズ１１２２に導かれる。コリメータレンズ１１２１は、入射した測定光を平行光にする光学部材である。また、シリンドリカルレンズ１１２２は、コリメータレンズ１１２１を介して入射した測定光から、ライン状の測定光を形成する光学部材（ライン測定光形成部材）である。その後、ライン状の測定光は、コリメータレンズ１１２３を介して、ビームスプリッタ１１０１に導かれる。さらに、このライン状の測定光は、ビームスプリッタ１１０１を通過し、フォーカスレンズ１１２４、シャッター１１２５、ガルバノスキャナ１１２６、リレーレンズ１１２７、ダイクロイックミラー１１０２、ダイクロイックミラー１１０３、及び、対物レンズ１１０４を介して、被検眼Ｅに導かれる。
【００２１】
ここで、フォーカスレンズ１１２４は、眼底Ｅｒへの測定光のフォーカスを調整するための光学部材である。ガルバノスキャナ１１２６は、シリンドリカルレンズ１１２２を介して生成されたライン状の測定光の長軸方向（図１に示すＸ方向）に対して垂直な眼底Ｅｒの面内をスキャンする方向（図１に示すＹ方向）にミラー面を走査する。本実施形態では、フォーカスレンズ１１２４及びガルバノスキャナ１１２６は、不図示の駆動機構を備えており、制御・処理部１３００がこれらの駆動機構を制御することによって、駆動制御できるようになっている。
【００２２】
また、ダイクロイックミラー１１０２は、光路Ｌ２と光路Ｌ６とを分岐するダイクロイックミラーであり、測定光が入射した場合には透過する特性を備えている。ダイクロイックミラー１１０３は、光路Ｌ２と光路Ｌ５とを分岐するダイクロイックミラーであり、測定光が入射した場合には反射する特性を備えている。なお、光学系の配置によっては、このダイクロイックミラー１１０２及びダイクロイックミラー１１０３の透過・反射特性は、逆であってもよい。
【００２３】
さらに、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに入射したライン状の測定光が眼底Ｅｒで反射・散乱すると、この光が測定光の戻り光として、対物レンズ１１０４を介して、眼底Ｅｒへ入射した測定光と同一の光路Ｌ２を通って、ビームスプリッタ１１０１まで導かれる。そして、この戻り光は、ビームスプリッタ１１０１で反射され、光路Ｌ４へ導かれる。
【００２４】
光路Ｌ３には、カプラ１１１３で分岐された参照光を伝達する参照光伝達手段に係る光学部材等が配置されている。
【００２５】
具体的に、カプラ１１１３で分岐された参照光は、ファイバ端１１３０より空中へ伝搬し、コリメータレンズ１１３１及びＮＤフィルタ１１３２に導かれる。コリメータレンズ１１３１は、入射した参照光を平行光にする光学部材である。ＮＤフィルタ１１３２は、コリメータレンズ１１３１から入射した参照光の光量を調整するための光学部材である。その後、参照光は、光路Ｌ２における参照光の光路長を変更するための参照ミラー１１３３を経由して、折り返しミラー１１３４、シリンドリカルレンズ１１３５、コリメータレンズ１１３６を介し、ビームスプリッタ１１０１を通過して、光路Ｌ４へ導かれる。本実施形態では、参照ミラー１１３３は、不図示の駆動機構を備えており、制御・処理部１３００がこれらの駆動機構を制御することによって、参照ミラー１１３３が移動して参照光の光路長を変更可能に構成されている。また、シリンドリカルレンズ１１３５は、折り返しミラー１１３４を介して入射した参照光から、ライン状の参照光を形成する光学部材（ライン参照光形成部材）である。
【００２６】
光路Ｌ４には、光路Ｌ２から導かれた測定光の戻り光と光路Ｌ３から導かれた参照光とを干渉させることにより得られる干渉光を伝達する干渉光伝達手段に係る光学部材等が配置されている。
【００２７】
具体的に、ビームスプリッタ１１０１を介して光路Ｌ２から導かれたライン状の測定光の戻り光と、ビームスプリッタ１１０１を介して光路Ｌ３から導かれたライン状の参照光とは、干渉して干渉光（ライン状の干渉光）が合成される。干渉により得られた干渉光は、結像レンズ１１４１を介して、ラインカメラ１１４２へ導かれる。ラインカメラ１１４２は、入射した干渉光を、電気信号である干渉信号として検出する検出手段である。このラインカメラ１１４２で得られた干渉信号は、制御・処理部１３００に出力される。
【００２８】
光路Ｌ５には、被検眼Ｅの前眼部を観察するための前眼部観察光を伝達する前眼部観察光伝達手段に係る光学部材等が配置されている。この光路Ｌ５は、被検眼Ｅの前眼部を撮影し、光学ヘッド部１１００と被検眼Ｅとの間のワーキングディスタンスを合わせるアライメント用の画像を取得するための光路である。
【００２９】
具体的に、不図示の前眼部照明用ＬＥＤ光源から照射された前眼部観察光が被検眼Ｅの前眼部で反射すると、その反射光は、対物レンズ１１０４、ダイクロイックミラー１１０３を介して、レンズユニット１１５１に入射する。その後、前眼部観察光の反射光は、レンズユニット１１５１、及び、被検眼Ｅの瞳孔と共役の位置に配置されたフレネルレンズ１１５２を介して、撮像ユニット１１５３でカメラに結像される。そして、撮像ユニット１１５３のカメラで得られた前眼部観察信号は、制御・処理部１３００に出力される。なお、撮像ユニット１１５３でカメラは、被検眼Ｅの瞳孔とフレネルレンズ１１５２と共役の関係にある。
【００３０】
光路Ｌ６には、被検眼Ｅの眼底を観察するための眼底観察光及び被検眼Ｅの固視を促す固視光を伝達する眼底観察光／固視光伝達手段に係る光学部材等が配置されている。この光路Ｌ６は、被検眼Ｅへ固視標の提示と、被検眼Ｅの眼底正面観察画像を取得するための光路である。
【００３１】
固視灯用光源１１６２から照射された可視光である固視光は、ダイクロイックミラー１１６３で反射し、レンズユニット１１６４及びダイクロイックミラー１１０２を経由して、光路Ｌ２と同一の光路を伝達する。具体的に、固視光は、ダイクロイックミラー１１０２を介して、ダイクロイックミラー１１０３で反射し、対物レンズ１１０４を介して、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに導かれる。これにより、被検眼Ｅに、固視光に基づく固視標が提示される。ここで、固視標の提示位置は、操作者が表示部１５００を見ながら入力部１４００を操作し、撮影したい位置に移動させることができる。
【００３２】
また、眼底観察用光源１１６１から照射された眼底観察光は、ダイクロイックミラー１１６３を通過し、レンズユニット１１６４及びダイクロイックミラー１１０２を経由して、光路Ｌ２と同一の光路を伝達する。具体的に、眼底観察光は、ダイクロイックミラー１１０２を介して、ダイクロイックミラー１１０３で反射し、対物レンズ１１０４を介して、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに導かれる。被検眼Ｅの眼底Ｅｒで反射した眼底観察光の反射光は、対物レンズ１１０４、ダイクロイックミラー１１０３及びダイクロイックミラー１１０２を介して、レンズユニット１１６４に導かれる。そして、レンズユニット１１６４に導かれた眼底観察光の反射光は、レンズユニット１１６４内に配置された穴開きミラーで反射し、眼底観察受光ユニット１１６５に導かれる。また、レンズユニット１１６４内には、不図示のガルバノミラーやポリゴンミラーが配置されており、光線を２次元方向にスキャンしている。眼底観察受光ユニット１１６５は、受光した眼底観察光の反射光を、眼底観察信号として検出し、これを制御・処理部１３００に出力する。
【００３３】
電動ステージ部１２００は、制御・処理部１３００の制御に基づいて、光学ヘッド部１１００をＸ方向、Ｙ方向及びＺ方向に適宜移動させる。
【００３４】
制御・処理部１３００は、例えば入力部１４００から入力された情報に基づいて、光学ヘッド部１１００、電動ステージ部１２００及び表示部１５００を制御して撮影装置１０００の動作を統括的に制御するとともに、各種の処理を行う。この制御・処理部１３００は、全体制御部１３１０、画像生成部１３２０、表示制御部１３３０、及び、記憶部１３４０を有して構成されている。
【００３５】
全体制御部１３１０は、撮影装置１０００の全般的な動作を制御するとともに、各種の動作を行う。画像生成部１３２０は、ラインカメラ１１４２から干渉信号を取得して信号処理を行い、被検眼Ｅ（より詳細には、被検眼Ｅの眼底Ｅｒ）の断層画像を生成する。この際、画像生成部１３２０は、ラインカメラ１１４２から取得した干渉信号に対してフーリエ変換等の周波数解析を含む信号処理を行って、断層画像を生成する。さらに、画像生成部１３２０は、撮像ユニット１１５３から前眼部観察信号を取得して信号処理を行って被検眼Ｅの前眼部観察画像を生成し、また、眼底観察受光ユニット１１６５から眼底観察信号を取得して信号処理を行って被検眼Ｅの眼底正面観察画像を生成する。表示制御部１３３０は、画像生成部１３２０で得られた断層画像、前眼部観察画像及び眼底正面観察画像を表示部１５００に表示する制御を行うとともに、入力部１４００から入力された情報や各種の制御・処理で得られた情報等を表示部１５００に表示する制御を行う。なお、本実施形態においては、全体制御部１３１０とは別構成の表示制御部１３３０を設けているが、例えば、表示制御部１３３０の機能を全体制御部１３１０に含めて全体制御部１３１０で一括した制御を行う形態であってもよい。記憶部１３４０は、制御・処理部１３００で制御・処理を行う際に必要なプログラムや各種の情報や各種のデータを記憶しているとともに、制御・処理部１３００で制御・処理を行うことによって得られた各種の情報や各種のデータを記憶する。
【００３６】
入力部１４００は、撮影装置１０００の操作者が、各種の情報を入力する際に操作する構成部である。
【００３７】
表示部１５００は、表示制御部１３３０の制御に基づいて、画像生成部１３２０で得られた断層画像、前眼部観察画像及び眼底正面観察画像を表示するとともに、入力部１４００から入力された情報や各種の制御・処理で得られた情報等を表示する。
【００３８】
（撮影装置の制御方法）
図２は、本発明の実施形態に係る撮影装置１０００の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。
【００３９】
まず、操作者が入力部１４００を介して撮影モードを選択入力すると、ステップＳ１１において、全体制御部１３１０は、入力部１４００から入力された撮影モードに基づいて、被検眼Ｅの眼底Ｅｒの断層画像に係る撮影モードを設定する処理を行う。ここで、本実施形態では、測定対象である被検眼Ｅの眼底Ｅｒにおける撮影範囲が異なる複数の撮影モードが設定可能であるものとする。具体的に、本実施形態では、複数の撮影モードとして、眼底Ｅｒを広範囲に撮影する通常撮影モード（第１の撮影モード）と、眼底Ｅｒの狭範囲を撮影する狭画角撮影モード（第１の撮影モードよりも撮影範囲が狭い第２の撮影モード）があるものとする。
【００４０】
その後、被検者が所定の位置に頭をセットし、操作者が入力部１４００を介して撮影の開始指示を入力すると、続いて、ステップＳ１２において、全体制御部１３１０は、当該被検者の被検眼Ｅの撮影を開始する処理を行う。
【００４１】
続いて、ステップＳ１３において、画像生成部１３２０は、撮像ユニット１１５３から出力された前眼部観察信号を信号処理して被検眼Ｅの前眼部観察画像を生成し、表示制御部１３３０は、この前眼部観察画像を表示部１５００に表示する制御を行う。
【００４２】
その後、表示部１５００にリアルタイムに表示される前眼部観察画像を見た操作者が入力部１４００を介してアライメント指示を入力すると、続いて、ステップＳ１４において、全体制御部１３１０は、これを検知する。そして、全体制御部１３１０は、当該アライメント指示に基づき電動ステージ部１２００を駆動制御して、光学ヘッド部１１００の位置を調整し、ワーキングディスタンスを合わせる。ここで、光学ヘッド部１１００は、電動ステージ部１２００によって、被検眼Ｅに対してＸ方向、Ｙ方向及びＺ方向に位置調整が可能である。
【００４３】
続いて、ステップＳ１５において、画像生成部１３２０は、眼底観察受光ユニット１１６５から出力された眼底観察信号を信号処理して眼底正面観察画像を生成し、また、ラインカメラ１１４２から出力された干渉信号を信号処理して眼底Ｅｒの断層画像を生成する。そして、表示制御部１３３０は、これらの眼底正面観察画像及び眼底Ｅｒの断層画像を表示部１５００に表示する制御を行う。
【００４４】
その後、表示部１５００に表示されている眼底正面観察画像及び眼底Ｅｒの断層画像を見た操作者が入力部１４００を介して断層画像の撮影位置や輝度調整の指示を入力すると、続いて、ステップＳ１６において、全体制御部１３１０は、これを検知する。そして、全体制御部１３１０は、当該断層画像の撮影位置や輝度調整の指示に基づき参照ミラー１１３３やフォーカスレンズ１１２４を駆動制御する。これにより、断層画像の位置合わせや断層画像の輝度が最も明るくなる輝度調整が行われる。
【００４５】
その後、被検者が実際の撮影指示を入力すると、続いて、ステップＳ１７において、全体制御部１３１０は、設定された撮影条件で、被検眼Ｅの眼底Ｅｒにおける断層画像の撮影処理を行う。
【００４６】
続いて、ステップＳ１８において、画像生成部１３２０は、ステップＳ１７の撮影処理によって得られたラインカメラ１１４２からの干渉信号に基づいて、眼底Ｅｒの断層画像を生成する。その後、表示制御部１３３０は、本ステップで生成された眼底Ｅｒの断層画像を表示部１５００に表示する制御を行う。
【００４７】
図３は、図２に示すステップＳ１８の画像生成処理で生成される眼底Ｅｒの断層画像の一例を示す図である。
具体的に、図３（ａ）には眼底Ｅｒを広範囲に撮影する通常撮影モードで得られる断層画像の一例を示し、図３（ｂ）には眼底Ｅｒの狭範囲を撮影する狭画角撮影モードで得られる断層画像の一例を示している。
【００４８】
そして、ステップＳ１８の処理が終了すると、図２に示すフローチャートの処理が終了する。
【００４９】
次に、図２に示すステップＳ１１の撮影モード設定処理の詳細な処理手順について説明する。
図４は、図２に示すステップＳ１１の撮影モード設定処理の詳細な処理手順の一例を示すフローチャートである。なお、この図４に示すフローチャートでは、本実施形態における上述した通常撮影モード及び狭画角撮影モードのうち、狭画角撮影モードについての処理の詳細を示している。
【００５０】
また、図５は、本発明の実施形態を示し、通常撮影モードの場合と狭画角撮影モードの場合の光路Ｌ２における光学部材の配置例を示す図である。具体的に、図５（ａ）には通常撮影モードの場合の光路Ｌ２における光学部材の配置例を示し、図５（ｂ）には狭画角撮影モードの場合の光路Ｌ２における光学部材の配置例を示している。この図５において、図１に示す構成と同様の構成については同じ符号を付しており、その詳細な説明は省略する。
【００５１】
まず、図４のステップＳ１１１において、操作者が入力部１４００を介して撮影モードを選択入力すると、全体制御部１３１０は、これを検知し、該当する撮影モードの選択処理を行う。ここで、本実施形態では、選択可能な複数の撮影モードとして、上述した通常撮影モード及び狭画角撮影モードの２つの撮影モードがあるものとする。
【００５２】
ステップＳ１１１において、眼底Ｅｒを広範囲に撮影する通常撮影モードが選択された場合には、ステップＳ１１４に進み、全体制御部１３１０は、図５（ａ）に示す光路Ｌ２における光学部材の配置制御を行って、通常撮影モードの設定処理を行う。その後、図４のフローチャートが終了し、図２のステップＳ１２の処理に移行することになる。
【００５３】
具体的に、本実施形態では、図１に示す測定光の光路Ｌ２に挿入可能なシリンドリカルレンズ１１２２として、図５（ａ）に示すシリンドリカルレンズ１１２２ａ及び図５（ｂ）に示すシリンドリカルレンズ１１２２ｂが設けられているものとする。図５（ａ）に示すシリンドリカルレンズ１１２２ａは、図５（ｂ）に示すシリンドリカルレンズ１１２２ｂよりも焦点距離が短い第１のライン測定光形成部材である。また、図５（ｂ）に示すシリンドリカルレンズ１１２２ｂは、図５（ａ）に示すシリンドリカルレンズ１１２２ａよりも焦点距離が長い第２のライン測定光形成部材である。
【００５４】
そして、全体制御部１３１０は、通常撮影モードの場合には、図５（ａ）に示すように、光路Ｌ２にシリンドリカルレンズ１１２２ａを挿入し且つ適正な位置に配置する制御を行う。即ち、全体制御部１３１０は、通常撮影モードの場合には、その測定光のライン幅ＭＷ１を、狭画角撮影モードの場合の測定光のライン幅ＭＷ２よりも広くする制御を行う。
【００５５】
一方、ステップＳ１１１において、眼底Ｅｒの狭範囲を撮影する狭画角撮影モードが選択された場合には、ステップＳ１１２に進む。
ステップＳ１１２に進むと、全体制御部１３１０は、図５（ｂ）に示す光路Ｌ２における光学部材の配置制御を行う。具体的に、全体制御部１３１０は、狭画角撮影モードの場合には、図５（ｂ）に示すように、光路Ｌ２にシリンドリカルレンズ１１２２ｂを挿入し且つ適正な位置に配置する制御を行う。この場合、全体制御部１３１０は、図５（ａ）に示す通常撮影モードの場合に対して、焦点距離を変更し且つ配置を変更したシリンドリカルレンズ１１２２ｂを光路Ｌ２に挿入することになる。即ち、全体制御部１３１０は、狭画角撮影モードの場合には、その測定光のライン幅ＭＷ２を、通常撮影モードの場合の測定光のライン幅ＭＷ１よりも狭くする制御を行う。
【００５６】
ここで、操作者によって、通常撮影モードから狭画角撮影モードに切り替えられた場合について考える。
この場合、全体制御部１３１０は、光路Ｌ２に挿入するシリンドリカルレンズ１１２２として、図５（ａ）に示す焦点距離が短いシリンドリカルレンズ１１２２ａから、図５（ｂ）に示す焦点距離が長いシリンドリカルレンズ１１２２ｂに切り替える制御を行う。図５に示すように、ファイバ端１１２０から出力された測定光を平行光にするためのコリメータレンズ１１２１から、シリンドリカルレンズ１１２２のコリメータレンズ１１２１側の面までの距離をｐ２とする。また、シリンドリカルレンズ１１２２のコリメータレンズ１１２１側の面からその厚さを含めコリメータレンズ１１２３までの距離をｐ１とする。また、距離ｐ１と距離ｐ２の総和である、コリメータレンズ１１２１からコリメータレンズ１１２３までの距離をＰとする。
【００５７】
また、通常撮影モードの場合、コリメータレンズ１１２１から、シリンドリカルレンズ１１２２ａのコリメータレンズ１１２１側の面までの距離をｐ２ａする。また、通常撮影モードの場合、シリンドリカルレンズ１１２２ａのコリメータレンズ１１２１側の面から、レンズの光学的厚み（レンズ厚を屈折率で実距離に換算したもの）を含めコリメータレンズ１１２３までの距離をｐ１ａとする。
【００５８】
また、狭画角撮影モードの場合、コリメータレンズ１１２１から、シリンドリカルレンズ１１２２ｂのコリメータレンズ１１２１側の面までの距離をｐ２ｂとする。また、狭画角撮影モードの場合、シリンドリカルレンズ１１２２ｂのコリメータレンズ１１２１側の面から、レンズの光学的厚みを含めコリメータレンズ１１２３までの距離をｐ１ｂとする。
【００５９】
そして、本実施形態における各撮影モードでは、以下の（１）式〜（３）式を満たす。
Ｐａ＝ｐ１ａ＋ｐ２ａ  ・・・（１）
Ｐｂ＝Ｐ１ｂ＋ｐ２ｂ  ・・・（２）
Ｐ＝Ｐａ＝Ｐｂ  ・・・（３）
【００６０】
（３）式から、撮影範囲の異なる各撮影モードごとに、焦点距離の異なるシリンドリカルレンズ１１２２に切り替えたとしても、測定光の光路Ｌ２における全体の光路長は変わらない。このため、断層画像の撮影時に、参照光の光路Ｌ３における光路長を変更する必要はない。即ち、断層画像の撮影時に、参照ミラー１１３３を大きく移動させる必要が無いため、撮影装置１０００の大型化を回避することができる。
【００６１】
また、操作者によって通常撮影モードから狭画角撮影モードに切り替えられた場合、全体制御部１３１０は、焦点距離が短いシリンドリカルレンズ１１２２ａから、焦点距離が短いシリンドリカルレンズ１１２２ｂに切り替える制御を行う。この場合、狭画角撮影モードでは、図５（ｂ）に示すように、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに照射されるライン状の測定光におけるライン幅ＭＷ２は狭くなり、測定光のパワー密度が上がるため、高感度に断層画像を撮影することができる。
【００６２】
なお、図１及び図５では、シリンドリカルレンズ１１２２として１枚のレンズを適用した例を説明したが、本実施形態においてはこの態様に限定されるものではない。本実施形態においては、例えば、複数枚のレンズを組み合わせた光学系を適用することもでき、その場合、シリンドリカルレンズを別の焦点距離をもつシリンドリカルレンズへ切り替える他、シリンドリカルレンズを追加もしくは削除して、測定光におけるライン幅を変更する態様を採りうる。
【００６３】
そして、本実施形態では、ステップＳ１１２の処理が終了すると、ステップＳ１１４に進み、図５（ｂ）に示す光路Ｌ２における光学部材の配置に基づく狭画角撮影モードの設定処理を行う。その後、図４のフローチャートが終了し、図２のステップＳ１２の処理に移行することになる。
【００６４】
次に、本実施形態の変形例について説明する。
【００６５】
まず、本実施形態の第１変形例について説明する。
図６は、本発明の実施形態の第１変形例を示し、通常撮影モードの場合と狭画角撮影モードの場合の光路Ｌ３における光学部材の配置例を示す図である。具体的に、図６（ａ）には通常撮影モードの場合の光路Ｌ３における光学部材の配置例を示し、図６（ｂ）には狭画角撮影モードの場合の光路Ｌ３における光学部材の配置例を示している。この図６において、図１に示す構成と同様の構成については同じ符号を付しており、その詳細な説明は省略する。
【００６６】
具体的に、本実施形態の第１変形例では、図１に示す参照光の光路Ｌ３に挿入可能なシリンドリカルレンズ１１３５として、図６（ａ）に示すシリンドリカルレンズ１１３５ａ及び図６（ｂ）に示すシリンドリカルレンズ１１３５ｂが設けられているものとする。図６（ａ）に示すシリンドリカルレンズ１１３５ａは、図６（ｂ）に示すシリンドリカルレンズ１１３５ｂよりも焦点距離が短い第１のライン参照光形成部材である。また、図６（ｂ）に示すシリンドリカルレンズ１１３５ｂは、図６（ａ）に示すシリンドリカルレンズ１１３５ａよりも焦点距離が長い第２のライン参照光形成部材である。
【００６７】
そして、全体制御部１３１０は、通常撮影モードの場合には、図６（ａ）に示すように、光路Ｌ３にシリンドリカルレンズ１１３５ａを挿入し且つ適正な位置に配置する制御を行う。即ち、全体制御部１３１０は、通常撮影モードの場合には、その参照光のライン幅ＲＷ１を、狭画角撮影モードの場合の参照光のライン幅ＲＷ２よりも広くする制御を行う。
【００６８】
一方、全体制御部１３１０は、狭画角撮影モードの場合には、図６（ｂ）に示すように、光路Ｌ３にシリンドリカルレンズ１１３５ｂを挿入し且つ適正な位置に配置する制御を行う。この場合、全体制御部１３１０は、図６（ａ）に示す通常撮影モードの場合に対して、焦点距離を変更し且つ配置を変更したシリンドリカルレンズ１１３５ｂを光路Ｌ３に挿入することになる。即ち、全体制御部１３１０は、狭画角撮影モードの場合には、その参照光のライン幅ＲＷ２を、通常撮影モードの場合の参照光のライン幅ＲＷ１よりも狭くする制御を行う。
【００６９】
このように、本実施形態の第１変形例では、測定光のライン幅ＭＷの変更に伴って、参照光についても同様に、参照光のライン幅ＲＷも変更するものである。この第１変形例によれば、例えば十分な光量の参照光が得られない場合に好適な態様である。即ち、狭画角撮影モードの場合に、測定光とあわせて、参照光のライン幅ＲＷ２を狭くすることで参照光のパワー密度が上がるため、高感度な断層画像の撮影に寄与しうる。なお、例えば十分な光量の参照光が確保できる場合には、当該第１変形例の態様を実施せずに、断層画像の撮影を行うことも適用可能である。
【００７０】
次に、本実施形態の第２変形例について説明する。
本実施形態の第２変形例では、図４に示すステップＳ１１３の処理を行う。即ち、本実施形態の第２変形例では、狭画角撮影モードの場合に、図４のステップＳ１１２の処理が終了した後に、ステップＳ１１３の処理も行う。
【００７１】
具体的に、本実施形態の第２変形例では、図４のステップＳ１１３において、全体制御部１３１０は、干渉光の光路Ｌ４について結像レンズ１１４１とラインカメラ１１４２との間に、干渉光のライン幅を広くするための光学部材を挿入する制御を行う。即ち、第２変形例では、全体制御部１３１０は、狭画角撮影モードの場合に、ラインカメラ１１４２に入射する干渉光のライン幅を広くする制御を更に行う。これにより、高解像度で高感度な断層画像を撮影することができる。
【００７２】
図７は、本発明の実施形態の第２変形例を示し、図１のラインカメラ１１４２に入射する干渉光の一例を示す図である。ここで、図７（ａ）は、上述した本発明の実施形態における通常撮影モードの場合にラインカメラ１１４２に入射する干渉光７０１の一例を示している。また、図７（ｂ）は、上述した本発明の実施形態における狭画角撮影モードの場合（但し、図４のＳ１１３の処理は行わない場合）にラインカメラ１１４２に入射する干渉光７０２の一例を示している。そして、図７（ｃ）は、本発明の実施形態の第２変形例における狭画角撮影モードの場合（即ち、図４のＳ１１３の処理を行う場合）にラインカメラ１１４２に入射する干渉光７０３の一例を示している。
【００７３】
図４のステップＳ１１２の処理を行った状態では、図７（ｂ）に示すように、ライン状の干渉光７０２は、ラインカメラ１１４２の各センサの一部を使用して受光されて撮影される。そして、第２変形例における図４のステップＳ１１３の処理を行うと、図７（ｃ）に示すように、図７（ｂ）に示す干渉光７０２のライン幅よりも広いライン幅の干渉光７０３がラインカメラ１１４２で受光されて撮影されるため、さらに高解像度で高感度な断層画像を撮影することができる。
【００７４】
そして、本実施形態の第２変形例では、ステップＳ１１３の処理が終了すると、ステップＳ１１４に進み、狭画角撮影モードの設定処理を行う。その後、図４のフローチャートが終了し、図２のステップＳ１２の処理に移行することになる。
【００７５】
以上説明した本発明の実施形態（変形例も含む）では、全体制御部１３１０は、測定対象である被検眼Ｅの眼底Ｅｒの撮影範囲が異なる複数の撮影モードの通常撮影モード及び狭画角撮影モードにおける撮影モードごとに、眼底Ｅｒに照射する測定光のライン幅を変更する制御を行うようにしている。
かかる構成によれば、装置の大型化を回避しつつ、撮影範囲が異なる複数の撮影モードを切り替える撮影を行うことができる。
【００７６】
また、ＩＳＯ等に規格されている被ばく放出限界により、被検眼Ｅへの入射光量には、制限がある。即ち、ＯＣＴによる測定光の照射範囲に応じて入射光量の制限が異なる。ラインＯＣＴを用いてライン状の測定光を眼底Ｅｒへ照射する場合、スポット状の測定光を眼底Ｅｒに照射する場合と比較して、照射範囲での測定光のパワー密度は小さくなり、撮影感度が低下する懸念がある。この点、上述した本発明の実施形態（変形例も含む）では、狭画角撮影モードの場合に、眼底Ｅｒに照射されるライン状の測定光におけるライン幅を狭くする制御を行っているため、ここで説明した測定光のパワー密度の低下を抑制することもできる。
【００７７】
（その他の実施形態）
上述した本発明の実施形態（変形例も含む）では、測定対象として被検眼Ｅの眼底Ｅｒを適用した例を説明したが、本発明においてはこの形態に限定されるものではない。本発明においては、ＯＣＴの技術を適用して断層画像を撮影できるものであれば、被検眼Ｅの眼底Ｅｒ以外の他のものも、測定対象として適用可能である。
【００７８】
また、上述した本発明の実施形態（変形例も含む）では、測定対象の撮影範囲が異なる複数の撮影モードとして、通常撮影モード及び狭画角撮影モードの２つの撮影モードを適用する例を説明したが、本発明においてはこの形態に限定されるものではない。本発明においては、測定対象の撮影範囲が異なる複数の撮影モードとして、３つ以上の撮影モードを適用する形態も適用可能である。
【００７９】
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
このプログラム及び当該プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、本発明に含まれる。
【００８０】
なお、上述した本発明の実施形態は、いずれも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。即ち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【符号の説明】
【００８１】
１０００：撮影装置、１１００：光学ヘッド部、１１０１：ビームスプリッタ、１１０２，１１０３，１１６３：ダイクロイックミラー、１１０４：対物レンズ、１１１１：光源、１１１２：光量調整機構、１１１３：カプラ（ファイバカプラ）、１１２０，１１３０：ファイバ端、１１２１，１１２３，１１３１，１１３６：コリメータレンズ、１１２２，１１３５：シリンドリカルレンズ、１１２４：フォーカスレンズ、１１２５：シャッター、１１２６：ガルバノスキャナ、１１２７：リレーレンズ、１１３２：ＮＤフィルタ、１１３３：参照ミラー、１１３４：折り返しミラー、１１４１：結像レンズ、１１４２：ラインカメラ、１１５１，１１６４：レンズユニット、１１５２：フレネルレンズ、１１５３：撮像ユニット、１１６１：眼底観察用光源、１１６２：固視灯用光源、１１６５：眼底観察受光ユニット、１２００：電動ステージ部、１３００：制御・処理部、１３１０：全体制御部、１３２０：画像生成部、１３３０：表示制御部、１３４０：記憶部、１４００：入力部、１５００：表示部、Ｅ：被検眼、Ｅｒ：眼底、Ｌ１〜Ｌ６：光路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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