(57)【要約】【課題】送りねじのナットの傾きによる送りムラを抑制することができる送り機構を得る。【解決手段】送り機構（副走査機構Ｓ１）は、螺子軸８１およびナット８２を含む送りねじ８０と、移動体７０と、を備え、螺子軸８１が回転してナット８２が螺子軸８１上を移動することで移動体７０が螺子軸８１方向に移動する送り機構である。そして、ナット８２の移動によって移動体７０が移動している際、ナット８２に対する移動体７０の傾きが許容される。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
螺子軸およびナットを含む送りねじと、移動体と、を備え、
前記螺子軸が回転して前記ナットが前記螺子軸上を移動することで前記移動体が前記螺子軸方向に移動する送り機構であって、
前記移動体または前記ナットは、凸部を有し、
前記ナットの移動によって前記移動体が移動している際、前記移動体が前記凸部のみを介して前記ナットに押されることで、前記ナットに対する前記移動体の傾きが許容される、
送り機構。
【請求項２】
前記螺子軸の表面から前記凸部の頂点までの距離は、５ｍｍ以下である、
請求項１に記載の送り機構。
【請求項３】
前記凸部が２つ存在し、
前記２つの凸部を結ぶ仮想直線は、前記螺子軸の中心を通る、
請求項１または請求項２に記載の送り機構。
【請求項４】
前記２つの凸部は、軸方向視において前記螺子軸の中心に対して点対称に位置している、
請求項３に記載の送り機構。
【請求項５】
前記移動体は、スキャンユニットであり、
前記スキャンユニットは、前記送りねじによる移動により副走査方向に移動し、
前記スキャンユニットは、前記スキャンユニット内を主走査方向に移動する光学ヘッドを備え、
前記２つの凸部は、主走査方向に並んで位置している、
請求項３または請求項４に記載の送り機構。
【請求項６】
前記ナットと前記移動体とを前記凸部において接触させる方向に弾性力を作用させる弾性体を更に備える、
請求項１〜請求項５の何れか一項に記載の送り機構。
【請求項７】
前記移動体は、前記ナットと前記移動体との相対的な回転を防止する回転防止軸を有し、
前記回転防止軸の周りに前記弾性体が配置されている、
請求項６に記載の送り機構。
【請求項８】
前記回転防止軸が２つ存在し、
前記２つの回転防止軸は、前記ナットの中心に対して点対称に設けられている、
請求項７に記載の送り機構。
【請求項９】
前記ナットと前記移動体とを前記凸部において接触させる方向に弾性力を作用させる弾性体を更に備え、
前記凸部が２つ存在し、
前記２つの凸部は、軸方向視において前記螺子軸の中心に対して点対称に位置し、
前記移動体は、前記ナットと前記移動体との相対的な回転を防止する回転防止軸を有し、
前記回転防止軸の周りに前記弾性体が配置され、
前記回転防止軸が２つ存在し、
前記２つの回転防止軸は、前記ナットの中心に対して点対称に設けられており、
前記２つの凸部が並ぶ方向と前記２つの回転防止軸が並ぶ方向とが交差している、
請求項１〜請求項８の何れか一項に記載の送り機構。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、送り機構に関する。
【背景技術】
【０００２】
螺子軸およびナットを備える送りねじによって移動体を直線移動させる送り機構は、従来から知られている（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００９−９２１２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、ナットが螺子軸上を移動している際、螺子軸に対してナットが傾くことがある。そのため、特許文献１記載の技術のようにナットに対して移動体が固定されていると、ナットの傾きが移動体にそのまま伝わる。すると、移動体の送り位置の精確度が低下し、送りムラが生じることとなる。
【０００５】
本発明は、送りねじのナットの傾きによる送りムラを抑制することができる送り機構を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
第１の態様の送り機構は、螺子軸およびナットを含む送りねじと、移動体と、を備え、螺子軸が回転してナットが螺子軸上を移動することで移動体が螺子軸方向に移動する送り機構であって、移動体またはナットは、凸部を有し、ナットの移動によって移動体が移動している際、移動体が凸部のみを介してナットに押されることで、ナットに対する移動体の傾きが許容される。
【０００７】
この態様では、送り機構が送りねじと移動体とを備える。そして、螺子軸が回転してナットが螺子軸上を移動することで、移動体が螺子軸方向に移動する。ここで、移動体またはナットは凸部を有し、ナットの移動により移動体が移動している際、移動体が凸部のみを介してナットに押されることで、ナットに対する移動体の傾きが許容される。このため、ナットが螺旋軸上を移動している際に傾いた場合でも、この傾きから移動体が影響を受けることが抑制される。よって、送りねじのナットの傾きによる送りムラを抑制することができる。
【０００８】
第２の態様の送り機構は、第１の態様において、螺子軸の表面から凸部の頂点までの距離は、５ｍｍ以下である。
【０００９】
この態様では、螺子軸の表面から凸部の頂点までの距離が５ｍｍ以下であるため、ナットの傾きが移動体に影響しにくい。
【００１０】
第３の態様の送り機構は、第１または第２の態様において、凸部が２つ存在し、２つの凸部を結ぶ仮想直線は、螺子軸の中心を通る。
【００１１】
この態様では、凸部が２つ存在する。そして、２つの凸部を結ぶ仮想直線は、螺子軸の中心を通る。このため、特に、２つの凸部を結ぶ仮想直線を軸とするナットの傾きが移動体に影響し難くなる。
【００１２】
第４の態様の送り機構は、第３の態様において、２つの凸部は、軸方向視において螺子軸の中心に対して点対称に位置している。
【００１３】
この態様では、軸方向視において螺子軸の中心に対して点対称な位置でナットと移動体とが作用反作用を及ぼしあうので、移動体からの反作用によりナットが傾くことが抑制できる。
【００１４】
第５の態様の送り機構は、第３または第４の態様において、移動体は、スキャンユニットであり、スキャンユニットは、送りねじによる移動により副走査方向に移動し、スキャンユニットは、スキャンユニット内を主走査方向に移動する光学ヘッドを備え、２つの凸部は、主走査方向に並んで位置している。
【００１５】
この態様では、スキャンユニットによる画像読取において、横筋ムラを抑制することができる。
【００１６】
第６の態様の送り機構は、第１〜第５の何れかの態様において、ナットと移動体とを凸部において接触させる方向に弾性力を作用させる弾性体を更に備える。
【００１７】
この態様では、送り機構が弾性体を更に備え、弾性体は、ナットと移動体とを凸部において接触させる方向に弾性力を作用させる。このため、ナットと移動体とが凸部において接触した状態が保たれやすくなり、ナットが移動体に接触していない状態から接触することによる移動体に対する衝撃を抑制することができる。
【００１８】
第７の態様の送り機構は、第６の態様において、移動体は、ナットと移動体との相対的な回転を防止する回転防止軸を有し、回転防止軸の周りに弾性体が配置されている。
【００１９】
この態様では、移動体は、ナットと移動体との相対的な回転を防止する回転防止軸を有し、回転防止軸の周りに弾性体が配置されている。このため、回転防止軸とは別の位置に弾性体を配置するための部品を設ける態様と比べて、部品点数を減らすことができる。
【００２０】
第８の態様の送り機構は、第７の態様において、回転防止軸が２つ存在し、２つの回転防止軸は、ナットの中心に対して点対称に設けられている。
【００２１】
この態様では、弾性体が設けられた回転防止軸が２つ存在し、２つの回転防止軸はナットの中心に対して点対称に設けられている。このため、ナットと移動体に対してバランスよく弾性体の弾性力が作用させることができ、ナットと移動体との相対的な姿勢が安定する。
【００２２】
第９の態様の送り機構は、第１〜第８の何れかの態様において、ナットと移動体とを凸部において接触させる方向に弾性力を作用させる弾性体を更に備え、凸部が２つ存在し、２つの凸部は、軸方向視において螺子軸の中心に対して点対称に位置し、移動体は、ナットと移動体との相対的な回転を防止する回転防止軸を有し、回転防止軸の周りに弾性体が配置され、回転防止軸が２つ存在し、２つの回転防止軸は、ナットの中心に対して点対称に設けられており、２つの凸部が並ぶ方向と２つの回転防止軸が並ぶ方向とが交差している。
【００２３】
この態様では、ナットが２つの凸部に接触したまま傾く方向（２つの凸部が並ぶ方向を軸とする傾き方向）の２方向のうち、両方の方向に対して２つの弾性体がそれぞれ弾性力を作用させるようになっている。したがって、移動体に対するナットの角度が安定する。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、送りねじのナットの傾きによる送りムラを抑制することができる
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】実施形態の副走査機構を示す斜視図である。
【図２】実施形態の副走査機構の分解斜視図である。
【図３】実施形態の副走査機構の側面図である。
【図４】実施形態の副走査機構の平面図である。
【図５】実施形態の副走査機構をスキャンユニット本体と共に示す斜視図である。
【図６】主走査および副走査による画像読取において、ナットの傾きによる送りムラにより横筋ムラが発生することを説明する説明図である。
【図７】押し板を示す斜視図である。
【図８】スキャンユニットがＹ方向一方側へ移動している状態を示す側面図である。
【図９】図８においてナットが傾いた状態を示す側面図である。
【図１０】変形例の副走査機構を示す側面図である。
【図１１】変形例の副走査機構を示す平面図である。
【図１２】実施形態の画像読取装置の概略構成を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、本発明の一実施形態について説明する。
【００２７】
本実施形態の画像読取装置１１０は、オートラジオグラフィ画像検出システム、化学発光画像検出システム、電子顕微鏡による画像検出システム、放射線回折画像検出システム、蛍光画像検出システム等に共通して使用可能なものである。
【００２８】
図１２に、本実施形態の画像読取装置１１０の概略構成を示す。図１２に示されるように、画像読取装置１１０は、画像担体２１を載置するステージ２０と、画像担体２１上に励起光Ｅを照射しかつ画像担体２１から発せられた発光光Ｌを集光するための光学ヘッド１５と、選択的に励起光Ｅを発生させる光源光学系５０と、発光光Ｌを検出する光検出手段であるフォトマルチプライア３０と、光源光学系５０の光を光学ヘッド１５に導光しかつ発光光Ｌをフォトマルチプライア３０に導光するための光学手段６０と、を備える。
【００２９】
光源光学系５０は、６４０ｎｍの波長のレーザ光Ｅを発する第１のレーザ励起光源１と、５３２ｎｍの波長のレーザ光Ｅを発する第２のレーザ励起光源２と、４７３ｎｍの波長のレーザ光Ｅを発する第３のレーザ励起光源３とを備える。第１のレーザ励起光源１は、半導体レーザによって構成される。また、第２のレーザ励起光源２および第３のレーザ励起光源３は、いずれも、半導体レーザおよび第二高調波生成（Second Harmonic Generation) 素子によって構成される。また、光源光学系５０は、複数の励起光源１、２、３からのレーザ光Ｅを平行な光とするためのコリメータレンズ５、１０、１１、レーザ光Ｅを光学手段６０へ導くためのミラー６、９およびダイクロイックミラー７、８を備える。
【００３０】
第１のレーザ励起光源１により発生されたレーザ光Ｅは、コリメータレンズ５によって、平行な光とされた後、ミラー６によって反射される。第１のレーザ励起光源１によって発生されたレーザ光Ｅの光路には、６４０ｎｍのレーザ光Ｅを透過し、５３２ｎｍの波長の光を反射する第１のダイクロイックミラー７および５３２ｎｍ以上の波長の光を透過し、４７３ｎｍの波長の光を反射する第２のダイクロイックミラー８が設けられている。第１のレーザ励起光源１により発生され、ミラー６によって反射されたレーザ光Ｅは、第１のダイクロイックミラー７および第２のダイクロイックミラー８を透過し、ミラー９に入射する。
【００３１】
他方、第２のレーザ励起光源２より発生されたレーザ光Ｅは、コリメータレンズ１０によって、平行な光とされた後、第１のダイクロイックミラー７によって反射されて、その向きが９０度変えられ、第２のダイクロイックミラー８を透過して、ミラー９に入射する。
【００３２】
さらに、第３のレーザ励起光源３から発生されたレーザ光Ｅは、コリメータレンズ１１によって、平行な光とされた後、第２のダイクロイックミラー８によって反射されて、その向きが９０度変えられ、ミラー９に入射する。
【００３３】
ミラー９に入射したレーザ光Ｅは、ミラー９によって反射され、後述の光学手段６０のミラー１２に入射する。
【００３４】
光学ヘッド１５は、図示しない凹面ミラーと非球面レンズとを備える。光学ヘッド１５に入射したレーザ光Ｅは、凹面ミラーによって画像担体２１に向けて反射され、非球面レンズによってステージ２０上にセットされた画像担体２１に集光される。このレーザ光Ｅの照射により画像担体２１から発光された発光光Ｌは、非球面レンズによって集光され、凹面ミラーに入射されて、凹面ミラーによってさらに集光される。さらに、発光光Ｌは、レーザ光Ｅの光路と同じ側に反射され、略平行な光とされて、後述の光学手段６０の凹面ミラー１８に入射される。
【００３５】
光学ヘッド１５は、基板４０上を主走査方向（Ｘ方向）に移動可能である。そして、基板４０は、後述する副走査機構Ｓ１により副走査方向（Ｙ方向）に移動可能である。したがって、光学ヘッド１５が基板４０上を主走査方向Ｘに移動すると共に基板４０が副走査方向Ｙに移動することによって、光学ヘッド１５は、ＸＹ方向の２次元に走査し、画像担体２１の全面を読み取ることができる。なお、画像担体２１は、例えば、イメージングプレートや蛍光染色された生物由来資料などである。
【００３６】
光学手段６０は、ミラー１２、励起光Ｅと発光光Ｌを分岐させるための、中央部に穴１３を有する凹面ミラーからなる穴開きミラー１４、凹面ミラー１８、およびフォトマルチプライア３０に選択的に光を入射させるためのフィルタユニット２８とを備えてなる。
【００３７】
光源光学系５０のミラー９で反射されて、ミラー１２に入射されたレーザ光Ｅは、該ミラー１２によって反射され、穴開きミラー１４の穴１３を通過して、凹面ミラー１８に入射し、該凹面ミラー１８によって反射されて、光学ヘッド１５に入射する。
【００３８】
また、画像担体２１から発せられ、光学ヘッド１５の凹面ミラーによって反射され凹面ミラー１８に入射した発光光Ｌは、凹面ミラー１８によって反射されて、穴開きミラー１４に入射する。
【００３９】
穴開きミラー１４に入射した発光光Ｌは、該穴開きミラー１４によって、下方に反射されて、フィルタユニット２８に入射し、所定の波長の光がカットされて、フォトマルチプライア３０に入射し、光電的に検出される。
【００４０】
（送り機構としての副走査機構Ｓ１）
次に、基板４０（具体的には、基板４０を含んで構成されるスキャンユニット７０、図５参照）を副走査方向に移動させる「送り機構」としての副走査機構Ｓ１について説明する。
【００４１】
なお、以下の説明では、各図に示す矢印ＸをＸ方向一方側、矢印ＹをＹ方向一方側、矢印ＺをＺ方向一方側という。また、矢印Ｘと反対方向をＸ方向他方側、矢印Ｙと反対方向をＹ方向他方側、矢印Ｚと反対方向をＺ方向他方側という。
【００４２】
図５に示されるように、副走査機構Ｓ１は、送りねじ８０を備える。送りねじ８０は、螺子軸８１とナット８２とを備える。螺子軸８１の長手方向一方側にはモータ８３が設けられており、モータ８３によって螺子軸８１が回転する。本実施形態では、送りねじ８０は、ボールねじであり、螺子軸８１とナット８２との間に図示しない複数のボールを更に備える。
【００４３】
図２に示されるように、ナット８２は、円筒部８４と板部８５とを有する。円筒部８４は、螺子軸８１と同軸的な円筒形状とされている。板部８５は、円筒部８４に対して軸方向一方側（Ｙ方向一方側）に形成されており、円筒部８４を径方向に拡大した形状とされている。板部８５は、螺子軸方向（Ｙ方向）を板厚方向とする板状に形成されており、具体的には、Ｘ方向を長手方向とする略長方形の板状とされている。
【００４４】
板部８５には、後述する回転防止軸７４が通る貫通孔８５Ａが形成されている。貫通孔８５Ａは、板部８５を貫通しており、２つ形成されている（なお、図１および図２では、２つのうち１つの貫通孔８５Ａがナット８２の円筒部８４により隠れている。）。２つの貫通孔８５Ａを結ぶ仮想直線は、螺子軸８１の中心を通り、また、Ｘ方向に対して斜めに傾斜している。
【００４５】
また、副走査機構Ｓ１は、送りねじ８０によって移動する「移動体」としてのスキャンユニット７０を備える。図５に示すように、スキャンユニット７０は、スキャンユニット本体７１と、ナット側部材７３と、スキャンユニット本体７１とナット側部材７３とを連結する連結部材７２と、を含んで構成されている。
【００４６】
スキャンユニット本体７１は、基板４０、光学ヘッド１５および凹面ミラー１８（図１２参照）を含んで構成され、スキャンユニット７０の主要部を構成する。図５に示すように、スキャンユニット本体７１は、送りねじ８０の上方（Ｚ方向一方側）に位置する。スキャンユニット本体７１は、そのＸ方向両側の部分において図示しない一対のレールにより副走査方向（Ｙ方向）に直線移動可能に支持されている。
【００４７】
図４に示されるように、ナット側部材７３は、平面視で略Ｃ字状に形成されている。すなわち、ナット側部材７３は、板厚方向をＹ方向に向けた本体板部７３Ｈと、本体板部７３ＨのＸ方向両端からＹ方向一方側へ延びる一対の側板部７３Ｓと、を備えている。
【００４８】
ナット側部材７３には、送りねじ８０の螺子軸８１が通される貫通孔７３Ａが形成されている（図４参照）。貫通孔８５Ａは、ナット側部材７３の本体板部７３Ｈの幅方向（Ｘ方向）中央部を貫通している。
【００４９】
また、ナット側部材７３には、回転防止軸７４を固定するための固定孔７３Ｂが形成されている（図４参照）。固定孔７３Ｂに回転防止軸７４の被固定部７４Ａが螺合することでナット側部材７３に回転防止軸７４が固定される。
【００５０】
回転防止軸７４は、軸方向を螺子軸８１方向と平行な方向に向け、ナット側部材７３からＹ方向他方側へ向けて突出する。回転防止軸７４は、Ｙ方向一方側から他方側へ向けて（先端側へ向けて）、被固定部７４Ａ、台座部７４Ｂおよび軸部７４Ｃをこの順に有する。このうち、台座部７４Ｂおよび軸部７４Ｃがナット側部材７３からＹ方向他方側へ突出する。
【００５１】
台座部７４Ｂは、被固定部７４Ａよりも径が拡大された円柱形状に形成されている。台座部７４ＢのＹ方向一方側の面は、ナット側部材７３の本体板部７３ＨのＹ方向他方側の面に接触する。
【００５２】
軸部７４Ｃは、台座部７４Ｂよりも径が縮小された円柱形状であり、台座部７４Ｂよりも軸方向の寸法が長い。軸部７４Ｃの先端部（Ｙ方向他方側の端部）には、オネジが切られた螺子部７４ＣＡが形成されている。
【００５３】
さらに、スキャンユニット７０は、押し板７５を備えている。図７に示すように、押し板７５は、一例として金属製の平板状とされている。
【００５４】
押し板７５には、送りねじ８０の螺子軸８１が配置される螺子軸配置部７５Ａが形成されている。螺子軸配置部７５Ａは、押し板７５の下辺における幅方向（Ｘ方向）中央部を上方へ向けて抉った形状とされ、下方へ向けて開放されている。
【００５５】
また、押し板７５には、回転防止軸７４の軸部７４Ｃが通される軸挿通孔７５Ｂが形成されている。軸挿通孔７５Ｂは、押し板７５を貫通しており、回転防止軸７４の数に対応して２つ形成されている。２つの軸挿通孔７５Ｂを結ぶ仮想直線は、螺子軸８１の中心を通り、また、Ｘ方向に対して斜めに傾斜している。また、２つの軸挿通孔７５Ｂは、軸方向視において螺子軸８１の中心に対して点対称の位置に形成されている。
【００５６】
また、押し板７５には、凸部７５Ｃが形成されている。凸部７５Ｃは、ナット８２に対して点接触する点状の凸部であり、板厚方向一方側（Ｙ方向他方側）に突出している。凸部７５Ｃは、２つ形成されている。凸部７５Ｃの形状は、略球面形状とされている。２つの凸部７５Ｃを結ぶ仮想直線は、螺子軸８１の中心を通り、また、Ｘ方向に対して平行である。さらに、２つの凸部７５Ｃは、軸方向視において螺子軸８１の中心に対して点対称の位置に形成されている。
【００５７】
図２に示されるように、押し板７５の軸挿通孔７５Ｂに回転防止軸７４の軸部７４Ｃが通され、台座部７４ＢのＹ方向他方側の面に押し板７５のＹ方向一方側の面が接触する。この状態で、押し板７５が回転防止軸７４に固定される。これにより、押し板７５は、ナット側部材７３および回転防止軸７４と一体化され、スキャンユニット７０の一部を構成する。ナット側部材７３の本体板部７３Ｈと押し板７５との間には、回転防止軸７４の台座部７４Ｂの軸方向の寸法だけ隙間が形成される。また、押し板７５の凸部７５Ｃは、送りねじ８０の螺子軸８１の近傍に配置される。螺子軸８１の表面から凸部７５Ｃの頂点までの距離Ｄ（Ｙ方向に垂直な距離、図４参照）は、５ｍｍ以下が望ましい。
【００５８】
軸部７４Ｃのうち押し板７５よりも先端側は、ナット８２の板部８５の貫通孔８５Ａに通される。軸部７４Ｃの径は、ナット８２の貫通孔８５Ａよりも小さい。このため、ナット８２の貫通孔８５Ａに回転防止軸７４の軸部７４Ｃが通された状態で、ナット８２が回転防止軸７４に対して傾くことが可能である。
【００５９】
軸部７４Ｃのうちナット８２の板部８５よりも先端側には、「弾性体」としてのバネ７６が取付けられる。さらに、軸部７４Ｃの先端部の螺子部７４ＣＡには、第二ナット７７が螺合される。これにより、バネ７６は軸方向に弾性圧縮された状態で、ナット８２の板部８５と第二ナット７７との間に配置される。このため、バネ７６の弾性力は、スキャンユニット７０（押し板７５の凸部７５Ｃ）をナット８２の板部８５に押し付けるように作用する。換言すると、バネ７６の弾性力は、凸部７５Ｃとナット８２とを接触させる方向に作用する。
【００６０】
以上のように構成された副走査機構Ｓ１では、図８に示すように、螺子軸８１が回転させることで、回転防止軸７４によってスキャンユニット７０に対する回転が防止されたナット８２が螺子軸８１上を直線移動し、ナット８２の板部８５が押し板７５の凸部７５Ｃを押して、スキャンユニット７０がＹ方向一方側へ移動する。
【００６１】
ここで、ナット８２が螺子軸８１上を直線移動している際に、図９に示すように、ナット８２が螺子軸８１に対して傾くことがある（なお、図９に示す傾きはＸ方向の軸周りの傾きである。）。この場合でも、ナット８２がスキャンユニット７０の一部である押し板７５の凸部７５Ｃとのみ接触しているので、ナット８２の傾きがスキャンユニット７０に影響を与えない。換言すると、ナット８２が多少傾いたとしてもスキャンユニット７０は傾かない。
【００６２】
つまり、２つの凸部７５Ｃが、ナット中心を通りＸ方向に平行な仮想直線上に配置されているので、図９に示すＸ方向の軸周りの傾きがナット８２に発生したとしても、ナット８２における凸部７５Ｃに接触している部分のＹ方向の位置にムラを抑制できる。
【００６３】
このように、スキャンユニット７０は、凸部７５Ｃのみを介してナット８２に押されることで移動するように構成されている。具体的には、凸部７５Ｃ以外の部分では、スキャンユニット７０の押し板７５とナット８２の板部８５との間には、Ｙ方向の隙間が形成されている。このため、ナット８２が多少傾いたとしても、凸部７５Ｃ以外の部分を介して、スキャンユニット７０がナット８２に押されることがない。よって、ナット８２の傾きがスキャンユニット７０に影響を与えないようになっている。
【００６４】
一方、スキャンユニット７０をＹ方向他方側へ移動させる場合、螺子軸８１を反対回転させることで、ナット８２がＹ方向他方側へ移動し、バネ７６を介して回転防止軸７４に螺合された第二ナット７７にＹ方向他方側への力が作用する。これにより、スキャンユニット７０がＹ方向他方側へ移動する。
【００６５】
＜作用効果＞
次に、本実施形態の作用効果について説明する。
【００６６】
本実施形態では、副走査機構Ｓ１が、螺子軸８１およびナット８２を含む送りねじ８０と、スキャンユニット７０と、を備える。そして、螺子軸８１が回転してナット８２が螺子軸８１上を移動することで、スキャンユニット７０が螺子軸方向に移動する。
ところで、螺子軸８１が回転してナット８２が螺子軸８１上を移動する際、ナット８２が螺子軸８１に対して傾くことがある。このため、スキャンユニット７０がナット８２に対して固定される態様の場合、ナットの傾きがそのまま移動体に伝わり、スキャンユニット７０の送り位置の精度が落ちる虞がある。
そこで、本実施形態では、ナット８２の移動によりスキャンユニット７０が移動している際、ナット８２に対するスキャンユニット７０の傾きが許容される。このため、図９に示すように、ナット８２が螺子軸８１上を移動している際に傾いた場合でも、この傾きからスキャンユニット７０が影響を受け難い。その結果、ナット８２の傾きによる送りムラを抑制することができる。
【００６７】
また、本実施形態では、スキャンユニット７０が凸部７５Ｃを有する。そして、スキャンユニット７０は、凸部７５Ｃのみを介してナット８２に押されることで螺子軸８１方向に移動する。これにより、ナット８２の移動によりスキャンユニット７０が移動している際、ナット８２に対するスキャンユニット７０の傾きが許容される構造（傾き吸収構造）を実現している。このため、簡単な構造により、ナット８２の傾きによる送りムラを抑制することができる。
【００６８】
また、本実施形態では、凸部７５Ｃが２つ存在し、２つの凸部７５Ｃを結ぶ仮想直線は螺子軸８１の中心を通る。このため、特に、２つの凸部７５Ｃを結ぶ仮想直線を軸とするナット８２の傾きがスキャンユニット７０に影響し難くなる。さらに、２つの凸部７５Ｃは、軸方向視において螺子軸８１の中心に対して点対称に位置しているため、軸方向視において螺子軸８１の中心に対して点対称な位置でナット８２とスキャンユニット７０とが作用反作用を及ぼしあう。よって、スキャンユニット７０からの反作用によりナット８２が傾くことが抑制できる。
【００６９】
また、本実施形態では、「移動体」はスキャンユニット７０であり、スキャンユニット７０は、送りねじ８０による移動により副走査方向に移動し、スキャンユニット７０は、スキャンユニット７０内を主走査方向に移動する光学ヘッド１５を備え、２つの凸部７５Ｃは、主走査方向に並んで位置している。このため、横筋ムラを抑制することができる。
【００７０】
ここで、横筋ムラについて図６を用いて具体的に説明する。
例えば画像担体２１がイメージングプレートの場合、イメージングプレートに蓄積されたエネルギーは、特定のレーザ光により二次励起されて輝尽発光として取り出され、それを読み取り信号として画像化する。そしてその信号が得られた個所の蓄積エネルギーは大幅に減少している。つまり読み取りと消去が同時に行われるのである。ここで、副走査機構Ｓ１の副走査送り螺子のナットに不特定な傾きがあって、スキャンユニット７０の副走査方向のスキャン位置に図６（Ａ）に示すようなぶれが発生すると、図６（Ｂ）に示すように、消去および読み取りラインが近い密部と消去および読取ラインが遠い疎部が生まれる。密部においては消去ラインを部分的に再読み取りするため、読み取り信号が低下する一方、疎部においては読み取りレーザ光のスポットはひとつ前の走査ライン(消去済みのライン）との重なりが少ないから読み取り信号が増加する。その結果、副走査方向の位置によってムラが発生する。これが横筋ムラの発生メカニズムである。
【００７１】
また、本実施形態では、ナット８２に対してスキャンユニット７０の光学ヘッド１５が上方側に位置しているため、ナット８２のＸ方向の軸周りの傾きがスキャンユニット７０に伝わることで、Ｙ方向（副走査方向）の送りムラが大きくなってしまう。そこで、本実施形態では、２つの凸部７５ＣがＸ方向（主走査方向）に並んでいる。このため、Ｘ方向の軸周りのナット８２の傾きがスキャンユニット７０に影響を与え難くなっており、その結果、Ｙ方向（副走査方向）の送りムラを効果的に抑制することができる。
【００７２】
また、本実施形態では、副走査機構Ｓ１が、ナット８２とスキャンユニット７０とを凸部７５Ｃにおいて接触させる方向に弾性力を作用させるバネ７６を更に備える。このため、ナット８２とスキャンユニット７０とが凸部７５Ｃにおいて接触した状態が保たれやすくなり、ナット８２がスキャンユニット７０に接触していない状態から接触することによるスキャンユニット７０に対する衝撃を抑制することができる。
【００７３】
また、本実施形態では、スキャンユニット７０は、ナット８２とスキャンユニット７０との相対的な回転を防止する回転防止軸７４を有し、回転防止軸７４の周りにバネ７６が配置されている。このため、回転防止軸７４とは別の位置にバネ７６を配置するための部品を設ける態様と比べて、部品点数を減らすことができる。
【００７４】
また、本実施形態では、バネ７６が設けられた回転防止軸７４は２つ存在し、２つの回転防止軸７４はナット８２の中心に対して点対称に設けられている。このため、ナット８２とスキャンユニット７０に対してバランスよくバネ７６の弾性力が作用させることができ、ナット８２とスキャンユニット７０との相対的な姿勢が安定する。
【００７５】
また、本実施形態では、２つの凸部７５Ｃが並ぶ方向（Ｘ方向と平行な方向）と、２つのバネ７６が並ぶ方向（Ｘ方向に対して傾いた方向）とが交差している。
このため、ナット８２が２つの凸部７５Ｃに接触したまま傾く方向の２方向（Ｘ軸周りのプラス方向の傾きとマイナス方向の傾き）のうち、両方の方向に対して２つのバネ７６がそれぞれ弾性力を作用させるようになっている。したがって、スキャンユニット７０に対するナット８２の角度が安定する。
【００７６】
〔変形例〕
次に、図１０および図１１を用いて、変形例に係る副走査機構Ｓ２について説明する。なお、上記実施形態と同等の部位には同じ符号を付して詳細な説明（共通する作用も含む）は適宜省略する。
【００７７】
上記実施形態では、スキャンユニット７０をＹ方向一方側に移動させる際に、スキャンユニット７０が凸部７５Ｃを介してナット８２に押される態様を説明した。これに対し、変形例では、Ｙ方向一方側への移動だけでなく、Ｙ方向他方側へのスキャンユニット７０の移動に際しても、スキャンユニット７０が凸部（反対側凸部１７５Ｃ）のみを介してナット（反対側ナット１８２）に押されるように構成されている。
【００７８】
図１０および図１１に示すように、スキャンユニット７０をＹ方向一方側へ移動させる際には、ナット８２が凸部７５Ｃを介してスキャンユニット７０を押す。このとき、反対側ナット１８２は反対側凸部１７５Ｃに接触しないように、ナット８２と反対側ナット１８２との螺子軸８１上のＹ方向の距離が設定されている。なお、図１０および図１１に示すように、変形例の副走査機構Ｓ２は、上記実施形態のバネ７６と第二ナット７７とを備えない。
【００７９】
一方、図示は省略するが、スキャンユニット７０をＹ方向他方側へ移動させる際には、反対側ナット１８２が反対側凸部１７５Ｃを介してスキャンユニット７０をＹ方向他方側へ押す。このとき、ナット８２は凸部７５Ｃと隙間を開け、接触しない。
【００８０】
変形例の副走査機構Ｓ２では、スキャンユニット７０をＹ方向一方側へ移動させるときだけでなく、Ｙ方向他方側へ移動させるときの送りムラをも抑制することができる。したがって、スキャンユニット７０をＹ方向一方側へ移動させるときに画像読取を行うだけでなく、Ｙ方向他方側へ移動させるときにも画像読取を行う画像読取装置に好適に用いることができる。
【００８１】
〔補足説明〕
以上、実施形態に係る送り機構Ｓ１について、図面を基に説明したが、本実施形態に係る送り機構は、図示のものに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において、適宜設計変更可能なものである。
【００８２】
また、上記実施形態では、スキャンユニット７０（移動体）の一部を構成する押し板７５に凸部７５Ｃが形成されていることで、移動体が凸部７５Ｃを有する例を説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、押し板７５が設けられず、凸部７５Ｃがナット側部材７３の本体板部７３Ｈに形成されていてもよい。
【００８３】
また、上記実施形態では、凸部７５Ｃが２つ存在する例を説明したが、本発明はこれに限定されない。凸部７５Ｃが１つのみ存在する態様であってもよい。なぜならば、例えば上記実施形態における２つの凸部７５Ｃの片方を無くしたとしても、ナット８２の移動によりスキャンユニット７０が移動している際のナット８２に対するスキャンユニット７０の傾きが一定程度許容されるからである。
【００８４】
また、上記実施形態では、凸部７５Ｃが点状である例を説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、凸部は、ナットに対して線接触する線状の凸部であってもよい。この場合、螺子軸中心（ナット中心）を通る仮想直線上に延びる線状の凸部であることが好ましい。
【００８５】
また、上記実施形態では、凸部７５Ｃが球面形状である例を説明したが、本発明はこれに限定されない。凸部は、例えば、円錐形状であってもよいし、角錐形状であってもよい。
【００８６】
また、上記実施形態では、移動体が凸部を有する例を説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、ナット８２の板部８５に凸部７５Ｃが形成されていることで、ナット８２が凸部を有する態様に変更してもよい。この場合、押し板７５の凸部７５Ｃを省略し、ナット８２の凸部が押し板７５の平面に接触するように構成すればよい。また、押し板７５自体を省略し、ナット８２の凸部がナット側部材７３の本体板部に接触するように構成してもよい。
【００８７】
また、上記実施形態では、送りねじ８０がボールねじである例を説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、送りねじは、すべりねじでもよいし、遊星ローラねじでもよい。
【００８８】
また、上記実施形態では、送り機構が、画像読取装置１１０において光学ヘッド１５を副走査させる副走査機構Ｓ１に適用されている例を説明したが、本発明はこれに限定されない。
【００８９】
また、上記実施形態では、連結部材７２がスキャンユニット本体７１のＸ方向の他方側の端部に連結され、送りねじ８０からの荷重がスキャンユニット７０のＸ方向他方側の端部に伝達する例を説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、連結部材７２をスキャンユニット本体７１の幅方向（Ｘ方向）の中央部分に連結することで、送りねじ８０からの荷重をスキャンユニット７０の幅方向（Ｘ方向）の中央部分に伝達するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００９０】
７０   スキャンユニット（移動体）
７４   回転防止軸
７５Ｃ 凸部
７６   バネ（弾性体）
８０   送りねじ
８１   螺子軸
８２   ナット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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