(57)【要約】【課題】所望の時間帯における半製品の仕掛情報を分かり易く表示する。【解決手段】複数の半製品毎に各設備での処理開始時刻、処理終了時刻を記憶する半製品情報記憶部と、表示対象となる対象設備と表示対象の時間帯である対象時間帯とを記憶する仕掛抽出対象記憶部と、半製品情報記憶部から、現工程の設備が対象設備と一致し、現工程の１つ前の前工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が対象時間帯の終了時刻より早く、かつ、現工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が対象時間帯の開始時刻以降の半製品を、表示対象の半製品である仕掛半製品として抽出する抽出対象判断部と、仕掛半製品の前工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を起点とし仕掛半製品の現工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を終点とする仕掛チャートと、対象時間帯の開始時刻及び終了時刻とを仕掛情報としてディスプレイに表示する表示制御部と、を備える装置である。【選択図】図１
2019219837.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の半製品がそれぞれ予め定められた複数の工程を通過し、前記各工程に対応する各設備において前記各半製品に対する処理が行われて、予め定められた製品が生産される生産工場の、前記各工程における時間軸上でのシミュレーション結果又は生産実績に基づき、前記半製品の仕掛情報を表示する仕掛情報表示装置であって、
前記複数の半製品毎に前記各設備での処理開始時刻及び処理終了時刻を記憶する半製品情報記憶部と、
前記各設備のうち前記仕掛情報の表示対象となる対象設備と、前記仕掛情報の表示対象の時間帯である対象時間帯と、を記憶する仕掛抽出対象記憶部と、
前記半製品情報記憶部から、現工程の設備が前記対象設備と一致し、前記現工程の１つ前の前工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が前記対象時間帯の終了時刻より早く、かつ、前記現工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が前記対象時間帯の開始時刻以降の半製品を、前記仕掛情報の表示対象の半製品である仕掛半製品として抽出する抽出対象判断部と、
ディスプレイと、
前記仕掛半製品の前記前工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を起点とし、前記仕掛半製品の前記現工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を終点とする仕掛チャートと、前記対象時間帯の開始時刻及び終了時刻と、を前記仕掛情報として前記ディスプレイに表示する表示制御部と、
を備える仕掛情報表示装置。
【請求項２】
前記表示制御部は、更に、前記仕掛半製品の前記前工程のガントチャートと、前記仕掛半製品の前記前工程のガントチャートの処理終了時刻又は処理開始時刻と前記仕掛半製品の前記仕掛チャートの起点との間を結ぶ関係線と、を前記仕掛情報として前記ディスプレイに表示する、
請求項１に記載の仕掛情報表示装置。
【請求項３】
前記表示制御部は、更に、前記仕掛半製品の前記現工程のガントチャートと、前記仕掛半製品の前記仕掛チャートの終点と前記仕掛半製品の前記現工程のガントチャートの処理終了時刻又は処理開始時刻との間を結ぶ関係線と、を前記仕掛情報として前記ディスプレイに表示する、
請求項１又は２に記載の仕掛情報表示装置。
【請求項４】
ユーザにより操作される入力部と、
前記入力部を用いて、前記対象設備と前記対象時間帯とが入力されると、前記対象設備と前記対象時間帯とを前記仕掛抽出対象記憶部に記憶させる抽出対象受付部と、
を更に備える請求項１〜３のいずれか１項に記載の仕掛情報表示装置。
【請求項５】
複数の半製品がそれぞれ予め定められた複数の工程を通過し、前記各工程に対応する各設備において前記各半製品に対する処理が行われて、予め定められた製品が生産される生産工場の、前記各工程における時間軸上でのシミュレーション結果又は生産実績に基づき、前記半製品の仕掛情報を表示する仕掛情報表示方法であって、
前記各設備のうち前記仕掛情報の表示対象となる設備が対象設備と定義され、
前記仕掛情報の表示対象の時間帯が対象時間帯と定義され、
前記仕掛情報表示方法は、
前記複数の半製品毎に前記各設備での処理開始時刻及び処理終了時刻を記憶する前記半製品情報記憶部から、現工程の設備が前記対象設備と一致し、前記現工程の１つ前の前工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が前記対象時間帯の終了時刻より早く、かつ、前記現工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が前記対象時間帯の開始時刻以降の半製品を、前記仕掛情報の表示対象の半製品である仕掛半製品として抽出する抽出対象判断ステップと、
前記仕掛半製品の前記前工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を起点とし、前記仕掛半製品の前記現工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を終点とする仕掛チャートと、前記対象時間帯の開始時刻及び終了時刻と、を前記仕掛情報としてディスプレイに表示する表示制御ステップと、
を備える仕掛情報表示方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品を生産する生産工場の工程における時間軸上でのシミュレーション結果又は生産実績から、各工程の設備に仕掛中の半製品の仕掛情報を表示する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
生産工場の各工程における仕掛情報として、各工程の設備において仕掛中の半製品（以下、「仕掛半製品」とも称される）の滞留時間を可視化する技術が知られている（例えば特許文献１参照）。この特許文献１に記載の技術が図１３を用いて説明される。図１３に示されるように、半製品Ｊｂ４の現工程のタスク１４は、設備Ｍで実行される。現工程の１つ前の工程である前工程のタスク２１は、設備Ｌで実行される。図１３において、タスク２１の処理終了時刻ｔＬｅからタスク１４の処理開始時刻ｔＭｓまでの時間が、工程間時間Ｔｐ４となる。この工程間時間Ｔｐ４は、図１３に示されるように、最短工程間時間Ｔｂ４と、滞留時間Ｔｗ４とからなる。
【０００３】
最短工程間時間Ｔｂ４は、タスク２１の処理終了時刻ｔＬｅからタスク１４の処理開始時刻ｔＭｓまでの間に必要不可欠な時間である。最短工程間時間Ｔｂ４は、例えば、設備Ｌにおいて半製品Ｊｂ４に対して加熱処理のタスク２１が行われた場合、加熱された半製品Ｊｂ４が、次のタスク１４が可能な温度まで冷却するのに要する冷却時間を含む。最短工程間時間Ｔｂ４は、例えば、半製品Ｊｂ４が設備Ｌから設備Ｍに搬送されるのに要する搬送時間を含む。滞留時間Ｔｗ４は、タスク１４の処理が開始されるまで半製品Ｊｂ４が待機している時間である。
【０００４】
半製品Ｊｂ４に対するタスク１４の処理開始時刻ｔＭｓを表すタスク１４のガントチャートの前端と関係線Ｌｒ４で結ばれた点Ｐｔ４は、タスク２１の処理終了時刻ｔＬｅから最短工程間時間Ｔｂ４経過した最短工程間時間完了時刻ｔＢｅを表す。すなわち、関係線Ｌｒ４は、前工程（タスク２１）の処理終了時刻ｔＬｅから最短工程間時間Ｔｂ４経過後の最短工程間時間完了時刻ｔＢｅを起点とし、現工程（タスク１４）のガントチャートの処理開始時刻ｔＭｓを終点とする、直線である。関係線Ｌｒ４によって、前工程（タスク２１）の処理終了時刻ｔＬｅから現工程（タスク１４）の処理開始時刻ｔＭｓまでの工程間時間Ｔｐ４のうち、最短工程間時間Ｔｂ４を除いた滞留時間Ｔｗ４が、ディスプレイ１１に表示されることとなる。
【０００５】
図１３に示されるように、関係線Ｌｒ４をディスプレイ１１に表示することによって、前工程の設備が複数ある場合でも、ガントチャート上で半製品Ｊｂ４の滞留時間Ｔｗ４が直感的に理解しやすくなっている。すなわち、関係線Ｌｒ４の傾きが水平に近く、関係線Ｌｒ４が長いほど、滞留時間Ｔｗ４は長くなる。また、最短工程間時間Ｔｂ４をゼロにすることで、純粋な仕掛状態の時間を表示できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１８−０４１４３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記特許文献１に記載の技術では、図１３に示されるように、仕掛半製品の数が少ない場合には、滞留時間の差を把握しやすい。しかし、仕掛半製品の数が多くなると、関係線が複雑になるため、滞留時間の差を理解することが困難となる。また、関係線で滞留時間の違いを表現しているため、仕掛半製品に副資材が必要な場合でも、関係線を副資材の利用計画に適用することは困難となっている。また、所望の時間帯を指定し、その時間帯における仕掛半製品を抽出しようとすると、ユーザが仕掛半製品を目で判断する必要があることから、極めて多くの手間が掛かってしまう。
【０００８】
本発明は、上記問題を解決するもので、所望の時間帯における半製品の仕掛情報を分かり易く表示する仕掛情報表示装置および方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の第１態様は、
複数の半製品がそれぞれ予め定められた複数の工程を通過し、前記各工程に対応する各設備において前記各半製品に対する処理が行われて、予め定められた製品が生産される生産工場の、前記各工程における時間軸上でのシミュレーション結果又は生産実績に基づき、前記半製品の仕掛情報を表示する仕掛情報表示装置であって、
前記複数の半製品毎に前記各設備での処理開始時刻及び処理終了時刻を記憶する半製品情報記憶部と、
前記各設備のうち前記仕掛情報の表示対象となる対象設備と、前記仕掛情報の表示対象の時間帯である対象時間帯と、を記憶する仕掛抽出対象記憶部と、
前記半製品情報記憶部から、現工程の設備が前記対象設備と一致し、前記現工程の１つ前の前工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が前記対象時間帯の終了時刻より早く、かつ、前記現工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が前記対象時間帯の開始時刻以降の半製品を、前記仕掛情報の表示対象の半製品である仕掛半製品として抽出する抽出対象判断部と、
ディスプレイと、
前記仕掛半製品の前記前工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を起点とし、前記仕掛半製品の前記現工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を終点とする仕掛チャートと、前記対象時間帯の開始時刻及び終了時刻と、を前記仕掛情報として前記ディスプレイに表示する表示制御部と、
を備えるものである。
【００１０】
本発明の第２態様は、
複数の半製品がそれぞれ予め定められた複数の工程を通過し、前記各工程に対応する各設備において前記各半製品に対する処理が行われて、予め定められた製品が生産される生産工場の、前記各工程における時間軸上でのシミュレーション結果又は生産実績に基づき、前記半製品の仕掛情報を表示する仕掛情報表示方法であって、
前記各設備のうち前記仕掛情報の表示対象となる設備が対象設備と定義され、
前記仕掛情報の表示対象の時間帯が対象時間帯と定義され、
前記仕掛情報表示方法は、
前記複数の半製品毎に前記各設備での処理開始時刻及び処理終了時刻を記憶する前記半製品情報記憶部から、現工程の設備が前記対象設備と一致し、前記現工程の１つ前の前工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が前記対象時間帯の終了時刻より早く、かつ、前記現工程での処理終了時刻又は処理開始時刻が前記対象時間帯の開始時刻以降の半製品を、前記仕掛情報の表示対象の半製品である仕掛半製品として抽出する抽出対象判断ステップと、
前記仕掛半製品の前記前工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を起点とし、前記仕掛半製品の前記現工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を終点とする仕掛チャートと、前記対象時間帯の開始時刻及び終了時刻と、を前記仕掛情報としてディスプレイに表示する表示制御ステップと、
を備えるものである。
【００１１】
第１態様又は第２態様では、仕掛半製品の前工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を起点とし、仕掛半製品の現工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を終点とする仕掛チャートと、対象時間帯の開始時刻及び終了時刻と、が仕掛情報としてディスプレイに表示される。したがって、第１態様又は第２態様によれば、対象設備における対象時間帯での半製品の仕掛情報を分かり易く表示することができる。また、例えば仕掛半製品の滞留時間を容易に把握することができる。また、例えば対象設備において副資材が使用される場合に、副資材の使用時間を容易に把握することができる。
【００１２】
上記第１態様において、例えば、
前記表示制御部は、更に、前記仕掛半製品の前記前工程のガントチャートと、前記仕掛半製品の前記前工程のガントチャートの処理終了時刻又は処理開始時刻と前記仕掛半製品の前記仕掛チャートの起点との間を結ぶ関係線と、を前記仕掛情報として前記ディスプレイに表示してもよい。
【００１３】
本態様では、仕掛半製品の前工程のガントチャートと、仕掛半製品の前工程のガントチャートの処理終了時刻又は処理開始時刻と仕掛半製品の仕掛チャートの起点との間を結ぶ関係線とが、ディスプレイに表示される。したがって、本態様によれば、仕掛半製品の、前工程での処理から現工程での処理に至る関係を容易に把握することができる。
【００１４】
上記第１態様において、例えば、
前記表示制御部は、更に、前記仕掛半製品の前記現工程のガントチャートと、前記仕掛半製品の前記仕掛チャートの終点と前記仕掛半製品の前記現工程のガントチャートの処理終了時刻又は処理開始時刻との間を結ぶ関係線と、を前記仕掛情報として前記ディスプレイに表示してもよい。
【００１５】
本態様では、仕掛半製品の現工程のガントチャートと、仕掛半製品の仕掛チャートの終点と仕掛半製品の現工程のガントチャートの処理終了時刻又は処理開始時刻との間を結ぶ関係線とが、ディスプレイに表示される。したがって、本態様によれば、仕掛半製品の、現工程における待機時間と処理時間との関係を容易に把握することができる。
【００１６】
上記第１態様において、例えば、
ユーザにより操作される入力部と、
前記入力部を用いて、前記対象設備と前記対象時間帯とが入力されると、前記対象設備と前記対象時間帯とを前記仕掛抽出対象記憶部に記憶させる抽出対象受付部と、
を更に備えてもよい。
【００１７】
本態様によれば、ユーザは、対象設備及び対象時間帯として、所望の設備及び時間帯を設定することができる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、仕掛半製品の前工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を起点とし、仕掛半製品の現工程の処理終了時刻又は処理開始時刻を終点とする仕掛チャートと、対象時間帯の開始時刻及び終了時刻と、が仕掛情報としてディスプレイに表示されるため、対象設備における対象時間帯での半製品の仕掛情報を分かり易く表示することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本実施形態における仕掛情報表示装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】半製品情報記憶部に保存されている半製品情報を概略的に示す図である。
【図３】抽出対象判断部による半製品ＩＤの抽出過程を概略的に示す図である。
【図４】表示制御部による仕掛情報の表示例を概略的に示す図である。
【図５】仕掛情報の比較例を概略的に示す図である。
【図６】本実施形態の仕掛情報表示装置の動作手順の一例を概略的に示すフローチャートである。
【図７】図６のサブルーチンを概略的に示すフローチャートである。
【図８】図６のサブルーチンを概略的に示すフローチャートである。
【図９】副資材の使用時間を表す仕掛チャートを概略的に示す図である。
【図１０】副資材の使用時間を表す仕掛チャートを概略的に示す図である。
【図１１】副資材の使用時間を表す仕掛チャートを概略的に示す図である。
【図１２】副資材の使用時間を表す仕掛チャートを概略的に示す図である。
【図１３】従来技術における表示例を概略的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
（実施の形態）
以下、本発明の実施の形態が、図面を参照しながら説明される。なお、各図面において、同じ構成要素については同じ符号が用いられ、適宜、詳細な説明は省略される。
【００２１】
図１は、本実施形態における仕掛情報表示装置１００の構成の一例を概略的に示すブロック図である。図１に示されるように、仕掛情報表示装置１００は、ディスプレイ１１０、入力部１２０、記憶装置１３０、及び制御回路１４０を備える。制御回路１４０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）１５０、メモリ１６０、及び周辺回路（図示省略）を含む。
【００２２】
製品を生産する生産工場では、複数の半製品がそれぞれ予め定められた複数の工程を通過し、各工程に対応する各設備において各半製品に対する処理が行われて、所望の製品が生産される。図１に示される本実施形態の仕掛情報表示装置１００は、各工程に対応する各設備のうち表示対象となる対象設備と、表示対象となる時間帯である対象時間帯とが設定されると、各工程における時間軸上でのシミュレーション結果から、対象設備及び対象時間帯に対応する情報を抽出し、対象設備及び対象時間帯における半製品の仕掛情報をディスプレイ１１０に表示する。
【００２３】
シミュレーション結果とは、生産計画を作成するために、シミュレーションを行った結果を言う。シミュレーション結果は、生産の仮計画と言うこともできる。通常は、種々の条件を変更して複数のシミュレーションが行われ、最も好ましいシミュレーション結果が生産計画として採用される。
【００２４】
ディスプレイ１１０は、例えば液晶ディスプレイパネルを含む。ディスプレイ１１０は、ＣＰＵ１５０により制御されて、上記仕掛情報を表示する。なお、ディスプレイ１１０は、液晶ディスプレイパネルに限られない。ディスプレイ１１０は、有機ＥＬ（ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）パネルなどの他のパネルを含んでもよい。
【００２５】
入力部１２０は、例えばマウス又はキーボードを含む。入力部１２０は、ユーザにより操作されると、その操作内容を示す操作信号を制御回路１４０に出力する。なお、ディスプレイ１１０がタッチパネル式ディスプレイの場合には、マウス又はキーボードに代えて、タッチパネル式ディスプレイが入力部１２０を兼用してもよい。
【００２６】
記憶装置１３０は、例えばハードディスク又は半導体不揮発性メモリ等により構成される。記憶装置１３０は、半製品情報記憶部１３１、仕掛抽出対象記憶部１３２、抽出結果記憶部１３３を含む。メモリ１６０は、例えば半導体メモリ等により構成される。メモリ１６０は、例えばリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、電気的に消去書き換え可能なＲＯＭ（ＥＥＰＲＯＭ）などを含む。ＣＰＵ１５０は、メモリ１６０の例えばＲＯＭに記憶された本実施形態の制御プログラムにしたがって動作することによって、抽出対象受付部１５１、抽出対象判断部１５２、表示制御部１５３として機能する。
【００２７】
図２は、半製品情報記憶部１３１に保存されている半製品情報１０００を概略的に示す図である。シミュレーション結果から、図２に示されるような半製品情報１０００が事前に作成されて、半製品情報記憶部１３１に予め保存されている。半製品情報１０００は、図２に示されるように、半製品識別情報（半製品ＩＤ）欄１００１、生産工程欄１００２を含む。
【００２８】
半製品ＩＤ欄１００１には、シミュレーション結果に含まれる半製品を特定する固有の半製品ＩＤが登録されている。図２の例では、半製品情報１０００は、半製品ＩＤが「ＨＦ１」から「ＨＦｎ」までのｎ個の半製品を含んでいる。
【００２９】
生産工程欄１００２には、半製品が処理される順に左から、対応する半製品が処理される設備を特定する固有の設備識別情報（設備ＩＤ）が登録されている。また、生産工程欄１００２には、設備ＩＤに対応して、設備ＩＤにより特定される設備で半製品が処理される際の、処理開始時刻及び処理終了時刻が、登録されている。図２の例では、半製品ＩＤが「ＨＦ２」の半製品は、最初に、設備ＩＤが「Ｍ１ｈｆ２」の設備で、処理開始時刻「Ｓ１ｈｆ２」から処理終了時刻「Ｅ１ｈｆ２」まで処理され、次に、設備ＩＤが「Ｍ２ｈｆ２」の設備で、処理開始時刻「Ｓ２ｈｆ２」から処理終了時刻「Ｅ２ｈｆ２」まで処理され、最後に、設備ＩＤが「Ｍｋｈｆ２」の設備で、処理開始時刻「Ｓｋｈｆ２」から処理終了時刻「Ｅｋｈｆ２」まで処理される。これらの生産工程を通過して、半製品ＩＤが「ＨＦ２」の半製品から、所望の製品が生産される。
【００３０】
図２の例では、各半製品が通過する生産工程の設備ＩＤには、それぞれ、互いに異なる符号が付されている。しかし、異なる符号が、同じ設備を表していてもよい。例えば、各半製品は、それぞれ、同じ設備で、連続的に又は離散的に複数回処理されてもよい。また、異なる半製品が同じ設備で処理されてもよい。また、図２の例では、各半製品は、それぞれｋ個の生産工程を通過しているが、各半製品で、通過する生産工程の数が異なっていてもよい。
【００３１】
図１に戻って、抽出対象受付部１５１は、仕掛情報をディスプレイ１１０に表示する対象となる対象設備及び対象時間帯が、入力部１２０を用いて入力されると、入力された対象設備及び対象時間帯を、半製品情報記憶部１３１から抽出する抽出対象として受け付けて、仕掛抽出対象記憶部１３２に保存する。対象設備及び対象時間帯は、入力部１２０の例えばキーボードを用いて直接的に入力されてもよい。代替的に、対象設備及び対象時間帯は、ディスプレイ１１０に表示されたメニューから、入力部１２０の例えばマウス又はタッチパネルを用いて選択的に入力されてもよい。
【００３２】
抽出対象判断部１５２は、仕掛抽出対象記憶部１３２から対象設備及び対象時間帯を読み出し、対象設備及び対象時間帯を用いて、半製品情報記憶部１３１から抽出対象となる半製品ＩＤを抽出する。抽出対象判断部１５２は、抽出した半製品ＩＤと、その半製品ＩＤの現工程の処理開始時刻及び処理終了時刻と、その現工程の１つ前の前工程の処理開始時刻及び処理終了時刻と、を抽出結果記憶部１３３に保存する。表示制御部１５３は、抽出結果記憶部１３３に保存されたデータを用いて、対象設備及び対象時間帯の仕掛情報をディスプレイ１１０に表示する。
【００３３】
図３は、抽出対象判断部１５２による半製品ＩＤの抽出過程を概略的に示す図である。図４は、表示制御部１５３による仕掛情報の表示例を概略的に示す図である。図５は、仕掛情報の比較例を概略的に示す図である。
【００３４】
抽出対象判断部１５２は、半製品情報記憶部１３１から、以下に説明される３つの条件（ＣＮ１）、（ＣＮ２）、（ＣＮ３）を全て満たす半製品ＩＤを抽出する。
条件（ＣＮ１）：入力された対象設備に現工程の設備が一致する。
条件（ＣＮ２）：前工程における処理終了時刻が対象時間帯の終了時刻より早い。
条件（ＣＮ３）：現工程における処理終了時刻が対象時間帯の開始時刻以降である。
【００３５】
図３の例では、条件（ＣＮ１）を満たす半製品（つまり入力された対象設備で処理される半製品）の半製品ＩＤは、「Ｐ０１」〜「Ｐ０８」になっている。以下、例えば半製品ＩＤが「Ｐ０１」の半製品は、「半製品Ｐ０１」とも称される。図３には、分かり易くするために、上方及び下方に２本の時間軸ＴＡがそれぞれ示されている。
【００３６】
図３における下方の時間軸ＴＡに沿って、半製品Ｐ０１〜Ｐ０８の現工程における処理状況ＳＴｐが示されている。図３における上方の時間軸ＴＡに沿って、半製品Ｐ０１〜Ｐ０８の前工程における処理状況ＳＴｂが示されている。前工程は、対象設備で半製品が処理される現工程の１つ前の工程であり、各半製品で互いに同じ設備が使用される場合もあり、互いに異なる設備が使用される場合もある。図３の例では、半製品Ｐ０１〜Ｐ０８の処理状況ＳＴｐ，ＳＴｂは、それぞれ矩形で示されている。この矩形の、時間軸ＴＡにおける上流側端部である前端は、処理開始時刻を表し、時間軸ＴＡにおける下流側端部である後端は、処理終了時刻を表す。
【００３７】
図３において、前工程における処理状況ＳＴｂと現工程における処理状況ＳＴｐとの間の位置に、半製品Ｐ０１〜Ｐ０８の現工程における仕掛状況ＰＷＩＰが示されている。仕掛状況ＰＷＩＰは、半製品Ｐ０１〜Ｐ０８毎に示される、前工程の処理終了時刻を起点とし、現工程の処理終了時刻を終点とする矢印を含む。図３の例では、半製品Ｐ０１，Ｐ０２，Ｐ０８に対応する矢印は破線で示され、半製品Ｐ０３〜Ｐ０７に対応する矢印は実線で示されている。更に、仕掛状況ＰＷＩＰは、開始時刻Ｔｓと終了時刻Ｔｅとの間に両方向矢印で示される対象時間帯ＴＴＰを含む。
【００３８】
条件（ＣＮ１）を満たす半製品Ｐ０１〜Ｐ０８のうち、半製品Ｐ０８は、前工程での処理終了時刻が、対象時間帯ＴＴＰの終了時刻Ｔｅより遅い。したがって、半製品Ｐ０８は、条件（ＣＮ２）を満たさない。また、半製品Ｐ０１〜Ｐ０８のうち、半製品Ｐ０１，Ｐ０２は、現工程での処理終了時刻が、対象時間帯ＴＴＰの開始時刻Ｔｓより早い。したがって、半製品Ｐ０１，Ｐ０２は、条件（ＣＮ３）を満たさない。以上より、図３の例では、３つの条件（ＣＮ１）、（ＣＮ２）、（ＣＮ３）を全て満たす半製品は、半製品Ｐ０１，Ｐ０２，Ｐ０８以外の半製品Ｐ０３〜Ｐ０７である。
【００３９】
このように、本実施形態では、抽出対象判断部１５２は、半製品情報記憶部１３１から、半製品Ｐ０３〜Ｐ０７を抽出して、抽出結果記憶部１３３に保存する。また、抽出対象判断部１５２は、半製品情報記憶部１３１から、半製品Ｐ０３〜Ｐ０７の現工程の処理開始時刻及び処理終了時刻と、半製品Ｐ０３〜Ｐ０７の前工程の処理開始時刻及び処理終了時刻と、を読み出して、抽出結果記憶部１３３に保存する。
【００４０】
表示制御部１５３は、抽出結果記憶部１３３に保存されているデータを用いて、現工程の仕掛情報ＩＷＩＰをディスプレイ１１０に表示する。表示制御部１５３は、抽出結果記憶部１３３に保存されている半製品Ｐ０３〜Ｐ０７の前工程の処理開始時刻及び処理終了時刻をそれぞれ読み出して、図４に示されるように、前工程の処理状況を表すガントチャートＧＣｂをディスプレイ１１０の例えば上部に表示する。表示制御部１５３は、抽出結果記憶部１３３に保存されている半製品Ｐ０３〜Ｐ０７の現工程の処理開始時刻及び処理終了時刻をそれぞれ読み出して、現工程の処理状況を表すガントチャートＧＣｐをディスプレイ１１０の例えば下部に表示する。
【００４１】
表示制御部１５３は、更に、ディスプレイ１１０の、現工程のガントチャートＧＣｐと前工程のガントチャートＧＣｂとの間の領域に、半製品Ｐ０３〜Ｐ０７の現工程における仕掛状況ＷＩＰＣを表示する。この仕掛状況ＷＩＰＣは、半製品毎の仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７を含む。仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７は、それぞれ、半製品Ｐ０３〜Ｐ０７の現工程における滞留時間（つまり、半製品Ｐ０３〜Ｐ０７が現工程において仕掛状態である時間）を表す。仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７は、それぞれ、半製品Ｐ０３〜Ｐ０７の前工程の処理終了時刻を起点とし、現工程の処理終了時刻を終点とする矢印又は細い矩形で形成される。図４の例では、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７は、矢印で形成されている。
【００４２】
表示制御部１５３は、更に、開始時刻Ｔｓと終了時刻Ｔｅとが明示された対象時間帯ＴＴＰをディスプレイ１１０に表示する。図４の例では、表示制御部１５３は、開始時刻Ｔｓと終了時刻Ｔｅとを、時間軸ＴＡ上に破線で示し、対象時間帯ＴＴＰを、開始時刻Ｔｓの破線と終了時刻Ｔｅの破線とを結ぶ両方向矢印で示している。
【００４３】
表示制御部１５３は、更に、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７の起点と前工程のガントチャートの処理終了時刻との間をそれぞれ結ぶ関係線Ｌｂ０３〜Ｌｂ０７をディスプレイ１１０に表示する。表示制御部１５３は、更に、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７の終点と現工程のガントチャートの処理終了時刻との間をそれぞれ結ぶ関係線Ｌｐ０３〜Ｌｐ０７をディスプレイ１１０に表示する。
【００４４】
このように、図４の例では、ディスプレイ１１０に表示される現工程の仕掛情報ＩＷＩＰは、前工程のガントチャートＧＣｂ、現工程のガントチャートＧＣｐ、仕掛状況ＷＩＰＣを含む。仕掛状況ＷＩＰＣは、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７、対象時間帯ＴＴＰ、対象時間帯ＴＴＰの開始時刻Ｔｓ及び終了時刻Ｔｅ、関係線Ｌｂ０３〜Ｌｂ０７，Ｌｐ０３〜Ｌｐ０７を含む。
【００４５】
一方、図５に示される仕掛情報の比較例では、一定の間隔（図５の例では１日）で、時刻に対応付けて、半製品ＩＤと仕掛量とが、記憶装置に保存されている。また、現工程の設備ＩＤである設備Ｍが、記憶装置に保存されている。したがって、仕掛情報の保存タイミングに一致すれば、任意の時刻（例えば日）に対して、どの半製品ＩＤが現工程（図５の例では設備Ｍ）において仕掛中であるかを確認することができる。しかしながら、仕掛情報の保存タイミング以外の時刻（例えば９／４の１５：００）に現工程（図５の例では設備Ｍ）において仕掛中である半製品ＩＤを正しく知ることは困難である。
【００４６】
また、図５の仕掛情報では、時間帯を指定して、その時間帯に仕掛中である半製品ＩＤを正しく知ることは困難である。例えば、図５において、９／３〜９／８の間に仕掛中となる半製品ＩＤを知りたい場合、９／３〜９／８の各日の半製品ＩＤを全て抜き出したとしても、１日の途中における仕掛状況の情報が無いので、正しい結果が得られるとは限らない。この場合、仕掛情報の保存タイミングを十分に細かくすることにより、得られる情報の精度は向上する。しかしながら、大規模な生産工場のように半製品の種類が多い場合には、仕掛情報の保存タイミングを細かくすると、保存される半製品のデータ量が膨大となるため、現実的でない。
【００４７】
これに対して、本実施形態では、図４に示される仕掛情報ＩＷＩＰが、ディスプレイ１１０に表示される。この仕掛情報ＩＷＩＰによれば、対象時間帯ＴＴＰ（例えば１日）において、同じ時刻における仕掛中の半製品の個数は、１個又は２個であるが、対象時間帯ＴＴＰにおける仕掛中の半製品を、半製品ＩＤの単位で見ると、半製品Ｐ０３〜Ｐ０７の５個となることが分かる。このため、現工程において半製品に必要な副資材が、再利用可能になるまで例えば１日を要する場合、この対象時間帯ＴＴＰでは、少なくとも５個の副資材が必要になることが分かる。よって、仕掛情報ＩＷＩＰに含まれる仕掛チャートＩＣ０３等は、副資材の使用計画を表すこととなる。副資材は、例えば、圧延コイルのスプール、仕掛中の半製品を載せるためのパレット等である。例えばパレットに板状の半製品が複数積載される場合には、パレットは、最後の半製品の処理が開始されるまで占有されることとなる。
【００４８】
また、図４のように、仕掛情報ＩＷＩＰがディスプレイ１１０に表示されることによって、仕掛チャートの寸法が長い半製品の滞留時間が長いということが容易に分かる。このため、現工程において、何らかの理由で置場を確保したい場合には、滞留時間が最大の半製品Ｐ０５を一旦別の場所に移すことが望ましい、ということが分かる。
【００４９】
図６は、本実施形態の仕掛情報表示装置１００の動作手順の一例を概略的に示すフローチャートである。図６の動作は、一定時間（例えば１００ｍｓｅｃ）毎に繰り返して実行される。なお、上述のように、事前に、シミュレーション結果から半製品情報１０００が作成されて、半製品情報記憶部１３１に予め保存されている。
【００５０】
図６のステップＳ１０００において、抽出対象受付部１５１は、入力部１２０を用いた対象設備及び対象時間帯の入力を受け付けて、仕掛抽出対象記憶部１３２に保存する。ステップＳ１００５（抽出対象判断ステップの一例に相当）において、抽出対象判断部１５２は、半製品情報記憶部１３１から、上記抽出条件（ＣＮ１）、（ＣＮ２）、（ＣＮ３）を満たす半製品ＩＤを抽出して、抽出結果記憶部１３３に保存する。
【００５１】
図７は、図６のステップＳ１００５のサブルーチンを概略的に示すフローチャートである。図７のステップＳ２０００において、抽出対象判断部１５２は、半製品情報記憶部１３１に保存されている半製品情報１０００において、半製品ＩＤを選択する。図２の例では、抽出対象判断部１５２は、最初に半製品ＩＤ「ＨＦ１」を選択してもよい。ステップＳ２００５において、抽出対象判断部１５２は、選択された半製品ＩＤが処理される工程のなかから設備ＩＤを現工程の設備として選択する。図２の例では、抽出対象判断部１５２は、最初に設備ＩＤ「Ｍ１ｈｆ１」を選択してもよい。
【００５２】
ステップＳ２０１０において、抽出対象判断部１５２は、選択された設備ＩＤが対象設備に一致するか否かを判定する。すなわち、ステップＳ２０１０では、条件（ＣＮ１）を満たすか否かが判定される。設備ＩＤが対象設備に一致すれば（ステップＳ２０１０でＹＥＳ）、処理はステップＳ２０１５に進む。一方、設備ＩＤが対象設備に一致しなければ（ステップＳ２０１０でＮＯ）、処理はステップＳ２０３５に進む。
【００５３】
ステップＳ２０１５において、抽出対象判断部１５２は、対象設備に一致した設備ＩＤの前工程及び現工程での処理終了時刻を半製品情報記憶部１３１から読み出し、対象時間帯の開始時刻及び終了時刻を仕掛抽出対象記憶部１３２から読み出す。ステップＳ２０２０において、抽出対象判断部１５２は、前工程での処理終了時刻が、対象時間帯の終了時刻より早いか否かを判定する。すなわち、ステップＳ２０２０では、条件（ＣＮ２）を満たすか否かが判定される。前工程での処理終了時刻が、対象時間帯の終了時刻より早ければ（ステップＳ２０２０でＹＥＳ）、処理はステップＳ２０２５に進む。一方、前工程での処理終了時刻が、対象時間帯の終了時刻より早くなければ（ステップＳ２０２０でＮＯ）、処理はステップＳ２０３５に進む。
【００５４】
ステップＳ２０２５において、抽出対象判断部１５２は、現工程での処理終了時刻が対象時間帯の開始時刻以降であるか否かを判定する。すなわち、ステップＳ２０２５では、条件（ＣＮ３）を満たすか否かが判定される。現工程での処理終了時刻が対象時間帯の開始時刻以降であれば、つまり現工程での処理終了時刻が対象時間帯の開始時刻より遅い又は同じであれば（ステップＳ２０２５でＹＥＳ）、処理はステップＳ２０３０に進む。一方、現工程での処理終了時刻が対象時間帯の開始時刻より早ければ（ステップＳ２０２５でＮＯ）、処理はステップＳ２０３５に進む。
【００５５】
ステップＳ２０３０において、抽出対象判断部１５２は、ステップＳ２０００で選択された半製品ＩＤが条件（ＣＮ１）、（ＣＮ２）、（ＣＮ３）を満たしているので、半製品ＩＤをメモリ１６０の例えばＲＡＭに一時的に保存する。
【００５６】
ステップＳ２０３５において、抽出対象判断部１５２は、全ての工程（設備ＩＤ）について終了したか否かを判定する。全ての工程（設備ＩＤ）について終了していれば（ステップＳ２０３５でＹＥＳ）、処理はステップＳ２０４０に進む。一方、全ての工程（設備ＩＤ）について終了していなければ（ステップＳ２０３５でＮＯ）、処理はステップＳ２００５に戻り、抽出対象判断部１５２は、未だ選択されていない工程（設備ＩＤ）を選択して、以上のステップが繰り返される。
【００５７】
ステップＳ２０４０において、抽出対象判断部１５２は、全ての半製品ＩＤについて終了したか否かを判定する。全ての半製品ＩＤについて終了していれば（ステップＳ２０４０でＹＥＳ）、処理はステップＳ２０４５に進む。一方、全ての半製品ＩＤについて終了していなければ（ステップＳ２０４０でＮＯ）、処理はステップＳ２０００に戻り、抽出対象判断部１５２は、未だ選択されていない半製品ＩＤを選択して、以上のステップが繰り返される。
【００５８】
ステップＳ２０４５において、抽出対象判断部１５２は、メモリ１６０の例えばＲＡＭに保存されている半製品ＩＤを仕掛抽出対象記憶部１３２に保存して、図７のサブルーチンは終了する。
【００５９】
図６に戻って、ステップＳ１０１０において、抽出対象判断部１５２は、ステップＳ１００５で仕掛抽出対象記憶部１３２に保存された各半製品ＩＤの、前工程及び現工程の処理開始時刻及び処理終了時刻を半製品情報記憶部１３１から読み出して、各半製品ＩＤに対応付けて、仕掛抽出対象記憶部１３２に保存する。ステップＳ１０１５（表示制御ステップの一例に相当）において、表示制御部１５３は、現工程の仕掛情報ＩＷＩＰをディスプレイ１１０に表示する。
【００６０】
図８は、図６のステップＳ１０１５のサブルーチンを概略的に示すフローチャートである。図８のステップＳ３０００において、表示制御部１５３は、半製品ＩＤを選択する。ステップＳ３００５において、表示制御部１５３は、選択された半製品ＩＤの、前工程の処理開始時刻及び処理終了時刻を仕掛抽出対象記憶部１３２から読み出して、前工程のガントチャートをディスプレイ１１０に表示する。ステップＳ３０１０において、表示制御部１５３は、選択された半製品ＩＤの、現工程の処理開始時刻及び処理終了時刻を仕掛抽出対象記憶部１３２から読み出して、現工程のガントチャートをディスプレイ１１０に表示する。
【００６１】
ステップＳ３０１５において、表示制御部１５３は、選択された半製品ＩＤの、前工程の処理終了時刻を起点とし、現工程の処理終了時刻を終点とする仕掛チャートを、ディスプレイ１１０に表示する。ステップＳ３０２０において、表示制御部１５３は、仕掛チャートの起点と、前工程のガントチャートの処理終了時刻と、の間を結ぶ関係線を、ディスプレイ１１０に表示する。ステップＳ３０２５において、表示制御部１５３は、仕掛チャートの終点と、現工程のガントチャートの処理終了時刻と、の間を結ぶ関係線を、ディスプレイ１１０に表示する。
【００６２】
ステップＳ３０３０において、表示制御部１５３は、全ての半製品ＩＤについて終了したか否かを判定する。全ての半製品ＩＤについて終了していれば（ステップＳ３０３０でＹＥＳ）、処理はステップＳ３０３５に進む。一方、全ての半製品ＩＤについて終了していなければ（ステップＳ３０３０でＮＯ）、処理はステップＳ３０１０に戻り、表示制御部１５３は、未だ選択されていない半製品ＩＤを選択して、以上のステップが繰り返される。
【００６３】
ステップＳ３０３５において、表示制御部１５３は、対象時間帯ＴＴＰと、その開始時刻Ｔｓ及び終了時刻Ｔｅと、をディスプレイ１１０に表示して、図８のサブルーチンは終了し、図６の動作は終了する。
【００６４】
以上のように、本実施形態では、例えば図５の比較例を用いて説明されたように、所定のタイミングで仕掛中の半製品の情報が保存されるのではない。本実施形態では、例えば図４を用いて説明されたように、所望の対象時間帯が入力されると、対象時間帯において対象設備に滞留している仕掛中の半製品を個別に抽出することができる。これによって、本実施形態によれば、例えば図１３を用いて説明された従来技術と異なり、工程数又は仕掛中の半製品の数量が膨大で大規模な生産工場においても、半製品ＩＤ毎に、対象時間帯において対象設備に滞留している仕掛中の半製品の数量を把握することが可能となる。
【００６５】
また、本実施形態では、所望の対象時間帯が入力され、対象時間帯における仕掛半製品が個別に抽出されている。このため、仕掛半製品の数量が増加する時間帯に、対象設備の置場がオーバーフローしないように、特定の半製品を別の中間置場に移送する計画を作成することができる。また、仕掛半製品の数量が増加する時間帯に、別の設備に振り替え可能な半製品を対象として工程変更計画を作成することができる。また、仕掛中の半製品１つずつに副資材（例えば、圧延コイルのスプール）が必要な場合に、対象時間帯における副資材の必要量を把握することができる。
【００６６】
（変形された実施形態）
（１）上記実施形態では、表示制御部１５３は、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７、前工程のガントチャートＧＣｂ、現工程のガントチャートＧＣｐ、関係線Ｌｂ０３〜Ｌｂ０７，Ｌｐ０３〜Ｌｐ０７、対象時間帯ＴＴＰを現工程の仕掛情報ＩＷＩＰとしてディスプレイ１１０に表示しているが、これに限られない。
【００６７】
例えば、表示制御部１５３は、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７、前工程のガントチャートＧＣｂ、対象時間帯ＴＴＰのみをディスプレイ１１０に表示してもよい。例えば、表示制御部１５３は、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７、現工程のガントチャートＧＣｐ、対象時間帯ＴＴＰのみをディスプレイ１１０に表示してもよい。例えば、表示制御部１５３は、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７、前工程のガントチャートＧＣｂ、現工程のガントチャートＧＣｐ、対象時間帯ＴＴＰのみをディスプレイ１１０に表示してもよい。
【００６８】
例えば、表示制御部１５３は、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７、前工程のガントチャートＧＣｂ、関係線Ｌｂ０３〜Ｌｂ０７、対象時間帯ＴＴＰのみをディスプレイ１１０に表示してもよい。例えば、表示制御部１５３は、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７、現工程のガントチャートＧＣｐ、関係線Ｌｐ０３〜Ｌｐ０７、対象時間帯ＴＴＰのみをディスプレイ１１０に表示してもよい。表示制御部１５３は、少なくとも、仕掛チャートＩＣ０３〜ＩＣ０７、対象時間帯ＴＴＰをディスプレイ１１０に表示していればよい。
【００６９】
（２）上記実施形態では、シミュレーション結果から、半製品情報１０００（図２）が事前に作成されて、半製品情報記憶部１３１に予め保存されている。代替的に、生産実績から、半製品情報１０００（図２）が事前に作成されて、半製品情報記憶部１３１に予め保存されてもよい。生産実績を用いることにより、例えば生産途中で副資材が不足した場合に、過去のデータを基に振り返って、不足した時点で想定以上の数量の半製品が存在していたなど、その原因を容易に調べることができる。また、生産実績を用いることにより、例えば、特定の設備に特定の時間帯（例えば先週の１週間）において滞留していた半製品ＩＤを容易に確かめることができる。このように、生産実績を用いると、所望の対象設備と対象時間帯とを入力部１２０を用いて入力することにより、過去の特定の設備に特定の時間帯において滞留していた半製品ＩＤを容易に知ることができる。
【００７０】
（３）上記実施形態では、条件（ＣＮ２）として、「前工程における処理終了時刻が対象時間帯の終了時刻より早い。」という条件が用いられているが、条件（ＣＮ２）に代えて、条件（ＣＮ４）として、「前工程における処理開始時刻が対象時間帯の終了時刻より早い。」という条件が用いられてもよい。
【００７１】
また、上記実施形態では、条件（ＣＮ３）として、「現工程における処理終了時刻が対象時間帯の開始時刻以降である。」という条件が用いられているが、条件（ＣＮ３）に代えて、条件（ＣＮ５）として、「現工程における処理開始時刻が対象時間帯の開始時刻以降である。」という条件が用いられてもよい。
【００７２】
ユーザは、上記実施形態の仕掛情報表示装置１００の結果を利用する目的に応じて、仕掛情報表示装置１００を使用する前に、条件（ＣＮ１）に加えて、条件（ＣＮ２）、（ＣＮ３）を用いるか、条件（ＣＮ４）、（ＣＮ３）を用いるか、条件（ＣＮ２）、（ＣＮ５）を用いるか、条件（ＣＮ４）、（ＣＮ５）を用いるかを決めればよい。例えば、どの組合せを用いるかをユーザが入力部１２０を用いて決められるようにしてもよい。
【００７３】
図９〜図１２は、それぞれ、工程において使用される副資材の使用時間を表す仕掛チャートを概略的に示す図である。副資材の使用時間は、副資材の種類及び設備の種類によって異なる。図９〜図１２を用いて、仕掛情報表示装置１００の結果を副資材の使用計画に利用する場合における条件の組合せ例が説明される。
【００７４】
図９は、上記実施形態と同様に、条件（ＣＮ２）、（ＣＮ３）が用いられる場合を示す。図９では、副資材として、半製品Ｐ１１のロットが積載されるパレットが使用される。そして、前工程のガントチャートＧＣｂにより表される半製品Ｐ１１の処理では、複数個が一括して処理されるバッチ処理が行われ、現工程のガントチャートＧＣｐにより表される半製品Ｐ１１の処理では、１個ずつ別々に処理される単品処理が行われる。前工程ではバッチ処理が行われるので、パレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１１の起点は、前工程の処理終了時刻Ｔｅｂ１１である。よって、関係線Ｌｂ１１は、前工程のガントチャートの後端とパレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１１の起点との間を結ぶ。また、現工程では単品処理が行われるので、パレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１１の終点（つまりパレットが解放される時刻）は、現工程の処理終了時刻Ｔｅｐ１１である。よって、関係線Ｌｐ１１は、現工程のガントチャートの後端とパレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１１の終点との間を結ぶ。
【００７５】
図１０は、条件（ＣＮ４）、（ＣＮ３）が用いられる場合を示す。図１０では、副資材として、半製品Ｐ１２のロットが積載されるパレット又は圧延コイルのスプールが使用される。そして、前工程のガントチャートＧＣｂにより表される半製品Ｐ１２の処理、及び、現工程のガントチャートＧＣｐにより表される半製品Ｐ１２の処理では、それぞれ、１個ずつ別々に処理される単品処理が行われる。前工程では単品処理が行われるので、パレット又はスプールの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１２の起点は、前工程の処理開始時刻Ｔｓｂ１２である。よって、関係線Ｌｂ１２は、前工程のガントチャートの前端とパレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１２の起点との間を結ぶ。また、現工程でも単品処理が行われるので、パレット又はスプールの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１２の終点は、現工程の処理終了時刻Ｔｅｐ１２である。よって、関係線Ｌｐ１２は、現工程のガントチャートの後端とパレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１２の終点との間を結ぶ。
【００７６】
図１１は、条件（ＣＮ２）、（ＣＮ５）が用いられる場合を示す。図１１では、副資材として、半製品Ｐ１３が１個だけ積載されるパレットが用いられる。このため、パレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１３の起点は、前工程の処理終了時刻Ｔｅｂ１３である。よって、関係線Ｌｂ１３は、前工程のガントチャートの後端とパレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１３の起点との間を結ぶ。また、パレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１３の終点（つまりパレットが解放される時刻）は、現工程の処理開始時刻Ｔｓｐ１３である。よって、関係線Ｌｐ１３は、現工程のガントチャートの前端とパレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１３の終点との間を結ぶ。
【００７７】
図１２は、条件（ＣＮ４）、（ＣＮ５）が用いられる場合を示す。図１２では、副資材として、半製品Ｐ１４のロットが積載されるパレットが使用される。そして、前工程のガントチャートＧＣｂにより表される半製品Ｐ１４の処理では、１個ずつ別々に処理される単品処理が行われ、現工程のガントチャートＧＣｐにより表される半製品Ｐ１４の処理では、複数個が一括して処理されるバッチ処理が行われる。前工程では単品処理が行われるので、パレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１４の起点は、前工程の処理開始時刻Ｔｓｂ１４である。よって、関係線Ｌｂ１４は、前工程のガントチャートの前端とパレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１４の起点との間を結ぶ。また、現工程ではバッチ処理が行われるので、パレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１４の終点（つまりパレットが解放される時刻）は、現工程の処理開始時刻Ｔｓｐ１４である。よって、関係線Ｌｐ１４は、現工程のガントチャートの前端とパレットの使用時間を表す仕掛チャートＴｍ１４の終点との間を結ぶ。
【００７８】
図９〜図１２を用いて説明されたように、条件（ＣＮ２）、（ＣＮ３）を用いるか、条件（ＣＮ４）、（ＣＮ３）を用いるか、条件（ＣＮ２）、（ＣＮ５）を用いるか、条件（ＣＮ４）、（ＣＮ５）を用いるかは、副資材の種類及び設備の種類に基づいて決定すればよい。その結果、副資材の使用時間を容易に把握することが可能となる。よって、仕掛情報表示装置１００の結果を、副資材の使用計画に好適に利用することができる。
【００７９】
（４）上記実施形態では、対象時間帯ＴＴＰの開始時刻Ｔｓと終了時刻Ｔｅとが異なっているが、これに限られない。例えば、開始時刻Ｔｓと終了時刻Ｔｅとを同じ値にしてもよい。すなわち、対象時間帯ＴＴＰをゼロにしてもよい。例えば、その瞬間の状況を知りたい場合には、ユーザは、入力部１２０を用いて、開始時刻Ｔｓと終了時刻Ｔｅとを同じ値に設定すればよい。
【符号の説明】
【００８０】
１００  仕掛情報表示装置
１１０  ディスプレイ
１２０  入力部
１３１  半製品情報記憶部
１３２  仕掛抽出対象記憶部
１５１  抽出対象受付部
１５２  抽出対象判断部
１５３  表示制御部
【図１】
2019219837.tif 000003
【図２】
2019219837.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
2019219837.tif 000012
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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