(57)【要約】      （修正有）【課題】同じ検査機器に検査要求が重複することを抑制することによって、待機時間を抑制し、検査時間を短縮させる。【解決手段】検査システムは、複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムであって、光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置１０と、複数の光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置２０と、を備える。個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有する。個別検査装置の制御部は、検査に用いられる検査器を判定する。共用検査器を用いる検査を行う場合には、他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて光モジュールを検査し、他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで光モジュールの検査を待機する。専用検査器を用いる検査を行う場合には、専用検査器を用いて光モジュールを検査する。【選択図】図１
2019219183.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムであって、
前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、
複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、
を備え、
前記個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有しており、
前記個別検査装置の前記制御部は、
検査に用いられる検査器を判定し、
前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、
前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査する
ことを特徴とする検査システム。
【請求項２】
請求項１に記載の検査システムであって、
前記検査システムは、前記共用検査装置の利用状況を示す利用状況テーブルを有するサーバを有し、
前記個別検査装置の前記制御部は、前記共用検査器を用いる検査を行う場合、
前記サーバの前記利用状況テーブルを参照し、
前記利用状況テーブルにおいて、その共用検査装置の利用フラグが下りていれば、その共用検査装置の前記利用フラグを立てた後、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記利用状況テーブルにおいて、その共用検査装置の利用フラグが立っていれば、その共用検査装置の利用フラグが下りるまで前記光モジュールの検査を待機する
ことを特徴とする検査システム。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の検査システムであって、
前記共用検査装置は、前記共用検査器を制御する共用制御部を有し、
前記個別検査装置の前記制御部と前記共用制御部との間は、通信ケーブルを介して接続されており、
前記共用制御部と前記共用検査器との間は、測定用ケーブルを介して接続されており、
前記共用制御部は、前記個別検査装置の前記制御部から前記通信ケーブルを介して受信した指示に基づいて、前記測定用ケーブルを介して前記共用検査器を制御する
ことを特徴とする検査システム。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の検査システムであって、
前記検査システムは、複数の前記共用検査装置を備えており、
複数の前記共用検査装置は、前記共用検査器を制御する共用制御部をそれぞれ有している
ことを特徴とする検査システム。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載の検査システムであって、
前記専用検査器は、光パワーメータであることを特徴とする検査システム。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の検査システムであって、
前記専用検査器は、基準となる光信号を出力する基準光トランシーバであることを特徴とする検査システム。
【請求項７】
複数の光モジュールの検査を並行して行う検査方法であって、
それぞれ専用検査器を有し、前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、を用意し、
検査に用いられる検査器を判定し、
前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、
前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査する
ことを特徴とする光モジュールの検査方法。
【請求項８】
光モジュールを準備する準備工程と、
前記光モジュールの複数の制御パラメータを最適化し、前記光モジュールのメモリに前記制御パラメータを示す調整データを記憶する調整工程と、
前記調整データに基づいて前記光モジュールを動作させて、前記光モジュールを検査する検査工程と
を行う光モジュールの製造方法であって、
前記検査工程は、複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムによって行われ、
前記検査システムは、前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、を備え、
前記個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有しており、
前記個別検査装置の前記制御部は、
検査に用いられる検査器を判定し、
前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、
前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査する
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光モジュールの検査システム、検査方法及び製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
検査対象となる光モジュール（例えば、光トランシーバ、光トランスミッタ、光レシーバなどのＤＵＴ）を検査機器に接続して、光モジュールを検査することが行われている。光モジュールの検査は通常、温度条件を変えて複数の検査項目を測定する必要がある。温度条件は、例えば、低温、室温、高温である。光モジュールの検査を１個ずつ順次に行ったのでは、温度の調節時間がかかるため検査時間が長くなってしまうため、特許文献１では、複数の光トランシーバの検査を並行して行うことが記載されている。
また、特許文献１では、複数の光トランシーバのそれぞれを、光スイッチ回路を介して各検査機器に接続し、これにより、各検査機器をそれぞれの光トランシーバの検査に用いることを可能にしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１５−２１９０９１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１では、一方の光トランシーバが安定化待ち時間となっているときに他方の光トランシーバの検査を可能にすることによって、更に検査時間を短縮することが記載されている。但し、特許文献１では、いずれの検査機器も複数の光トランシーバの検査に用いられるように構成されているため、同じ検査機器に検査要求が重複することが頻繁に発生するおそれがあり、この結果、待機時間が増えてしまい、検査時間が長くなってしまう。
【０００５】
本発明は、同じ検査機器に検査要求が重複することを抑制することによって、待機時間を抑制し、検査時間を短縮させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するための主たる発明は、複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムであって、
前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、
複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、
を備え、
前記個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有しており、
前記個別検査装置の前記制御部は、
検査に用いられる検査器を判定し、
前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、
前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査する
ことを特徴とする検査システムである。
【０００７】
本発明の他の特徴については、後述する明細書及び図面の記載により明らかにする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、同じ検査機器に検査要求が重複することを抑制することによって、待機時間を抑制し、検査時間を短縮させることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、第１実施形態の検査システム１の説明図である。
【図２】図２Ａ及び図２Ｂは、利用状況テーブル３１の説明図である。
【図３】図３は、光トランシーバ１２の検査の説明図である。
【図４】図４は、個別検査装置１０の検査処理のフロー図である。
【図５】図５は、第２実施形態の検査システム１の説明図である。
【図６】図６は、第３実施形態の検査システム１の説明図である。
【図７】図７は、第４実施形態の検査システム１の説明図である。
【図８】図８は、第５実施形態の検査システム１の説明図である。
【図９】図９は、第６実施形態の検査システム１の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
後述する明細書及び図面の記載から、少なくとも以下の事項が明らかとなる。
【００１１】
複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムであって、前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、を備え、前記個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有しており、前記個別検査装置の前記制御部は、検査に用いられる検査器を判定し、前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査することを特徴とする検査システムが明らかとなる。このような検査システムによれば、専用検査器を用いる検査を行う場合には検査を待機させずに済むため、待機時間を抑制し、検査時間を短縮させることができる。
【００１２】
前記検査システムは、前記共用検査装置の利用状況を示す利用状況テーブルを有するサーバを有し、
前記個別検査装置の前記制御部は、前記共用検査器を用いる検査を行う場合、前記サーバの前記利用状況テーブルを参照し、前記利用状況テーブルにおいて、その共用検査装置の利用フラグが下りていれば、その共用検査装置の前記利用フラグを立てた後、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、前記利用状況テーブルにおいて、その共用検査装置の利用フラグが立っていれば、その共用検査装置の利用フラグが下りるまで前記光モジュールの検査を待機することが望ましい。これにより、個別検査装置が共用検査装置に問い合わせずに済むため、共用検査装置の処理速度が速くなり、待機時間を抑制し、検査時間を短縮させることができる。
【００１３】
前記共用検査装置は、前記共用検査器を制御する共用制御部を有し、前記個別検査装置の前記制御部と前記共用制御部との間は、通信ケーブルを介して接続されており、前記共用制御部と前記共用検査器との間は、測定用ケーブルを介して接続されており、前記共用制御部は、前記個別検査装置の前記制御部から前記通信ケーブルを介して受信した指示に基づいて、前記測定用ケーブルを介して前記共用検査器を制御することが望ましい。これにより、検査システムの配線が容易になる。
【００１４】
前記検査システムは、複数の前記共用検査装置を備えており、複数の前記共用検査装置は、前記共用検査器を制御する共用制御部をそれぞれ有していることが望ましい。これにより、或る共用制御部が停止しても、他の共用制御部を動作させることによって、一部の検査を続行できる。
【００１５】
前記専用検査器は、例えば光パワーメータであることが望ましい。また、前記専用検査器は、例えば基準光トランシーバであることが望ましい。光パワーメータや基準光トランシーバは比較的安価な検査器であるため、個別検査装置にそれぞれ光パワーメータや基準光トランシーバを設けることが許容される。
【００１６】
複数の光モジュールの検査を並行して行う検査方法であって、それぞれ専用検査器を有し、前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、を用意し、検査に用いられる検査器を判定し、前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査することを特徴とする光モジュールの検査方法が明らかとなる。このような光トランシーバの検査方法によれば、専用検査器を用いる検査を行う場合には検査を待機させずに済むため、待機時間を抑制し、検査時間を短縮させることができる。
【００１７】
光モジュールを準備する準備工程と、前記光モジュールの複数の制御パラメータを最適化し、前記光モジュールのメモリに前記制御パラメータを示す調整データを記憶する調整工程と、前記調整データに基づいて前記光モジュールを動作させて、前記光モジュールを検査する検査工程とを行う光モジュールの製造方法であって、前記検査工程は、複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムによって行われ、前記検査システムは、前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、を備え、前記個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有しており、前記個別検査装置の前記制御部は、検査に用いられる検査器を判定し、前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査することを特徴とする光モジュールの製造方法が明らかとなる。このような光トランシーバの製造方法によれば、専用検査器を用いる検査を行う場合には検査を待機させずに済むため、待機時間を抑制し、検査時間を短縮させることができる。
【００１８】
＝＝＝第１実施形態＝＝＝
＜構成＞
図１は、第１実施形態の検査システム１の説明図である。
【００１９】
本実施形態の検査システム１は、複数の光モジュールの検査を並行して行うことが可能である。本実施形態では、検査対象となる光モジュール（ＤＵＴ）は、光トランシーバ１２である。但し、光モジュールは、光トランシーバ１２に限られるものではなく、例えば光トランスミッタや光レシーバでも良い。
【００２０】
複数の光トランシーバ１２の検査を並行して行う際に、それぞれの光トランシーバ１２ごとに専用の検査器を用意すると経済的ではないため、本実施形態では、デジタルコミュニケーションアナライザ（ＤＣＡ：Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ  Ａｎａｌｙｚｅｒ）や光スペクトラムアナライザなどの比較的高価な検査器は、共用検査器２１とし、複数の光トランシーバ１２の検査で利用可能である。一方、或る光トランシーバ１２を共用検査器２１で検査しているときに、その共用検査器２１に別の光トランシーバ１２の検査要求が重複すると、その光トランシーバ１２は検査を待機する必要があり、このような待機時間が増えると検査時間が長くなってしまう。そこで、本実施形態では、光パワーメータのような汎用的で比較的安価な検査器は、それぞれの光トランシーバ１２ごとに専用検査器１５として用意し、それぞれの光トランシーバ１２の検査に専用的に利用可能である。これにより、或る光トランシーバ１２を共用検査器２１で検査しているときに、他の光トランシーバ１２を専用検査器１５で検査できるので、他のトランシーバの待機時間を抑制でき、検査時間を短縮させることができる。また、これにより、専用検査器１５を用いる検査では、他の光トランシーバ１２の検査要求と重複することが無いため、待機時間を抑制でき、検査時間を短縮させることができる。以下、この点について説明する。
【００２１】
検査システム１は、複数の個別検査装置１０と、複数の共用検査装置２０と、データベースサーバ３０とを備えている。個別検査装置１０、共用検査装置２０及びデータベースサーバ３０は、それぞれＬＡＮケーブル３（通信ケーブル）で接続されている（つまり、個別検査装置１０、共用検査装置２０及びデータベースサーバ３０は、有線ＬＡＮの通信方式で通信可能に接続されている）。但し、有線ＬＡＮではなく、無線ＬＡＮで接続されても良い。また、個別検査装置１０と共用検査装置２０との間には光ファイバコード７が配線されており、個別検査装置１０と共用検査装置２０との間で光信号を送受信可能である。
【００２２】
個別検査装置１０は、光トランシーバ１２を個別に検査するための装置である。個別検査装置１０は、制御部１１と、光トランシーバ１２と、温度制御槽１３と、スイッチ１４と、専用検査器１５とを有する。
【００２３】
制御部１１は、個別検査装置１０の制御を司る制御部である。制御部１１は、測定用ケーブル５を介して、光トランシーバ１２、温度制御槽１３、スイッチ１４及び専用検査器１５の制御を行う。測定用ケーブル５は、具体的には、ＧＰＩＢ（Ｇｅｎｅｒａｌ  Ｐｕｒｐｏｓｅ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ  Ｂｕｓ）をインターフェースとするケーブルである。個別検査装置１０の制御部１１は、例えばパーソナルコンピュータであり、演算処理装置や記憶装置などを有する。制御部１１の記憶装置には検査用プログラムが予めインストールされており、演算処理装置が記憶装置の検査用プログラムを実行することにより、後述する検査処理が行われることになる。個別検査装置１０の制御部１１は、データベースサーバ３０や、各共用検査装置２０の共用制御部２３とＬＡＮケーブル３で接続されている。
【００２４】
本実施形態では、制御部１１は、複数の個別検査装置１０のそれぞれに設けられており、それぞれの制御部１１は、それぞれの個別検査装置１０を個別に制御することになる。これにより、本実施形態では、１台の制御部（パーソナルコンピュータ）で複数の個別検査装置１０をマルチタスクにて擬似的に並列処理する場合と比べて、複数の光トランシーバ１２の検査を並行させて行い易くなる。また、仮に１台の制御部（パーソナルコンピュータ）で複数の個別検査装置１０をマルチタスクにて擬似的に並列処理する場合には、制御部がエラーで停止してしまうと検査システムの全体が停止してしまうのに対し、本実施形態では、或る制御部１１がエラーで停止しても他の制御部１１が正常に動作していれば、一部の検査を続行できるという利点がある。また、本実施形態では、１台の制御部で複数の個別検査装置１０をマルチタスクにて制御する場合と比べて、それぞれの制御部１１が行うタスク（検査）の切り替えが簡易になるため、制御部１１に実行させる検査用プログラムが簡易になるという利点もある。
【００２５】
光トランシーバ１２は、検査対象となる光トランシーバ（ＤＵＴ：Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔ）である。光トランシーバ１２は、光電変換素子を実装した制御基板を有する。光電変換素子は、電気信号と光信号とを相互に変換する光素子である。光電変換素子は、具体的には、発光素子及び受光素子である。発光素子は、電気信号を光信号に変換する光素子である。受光素子は、光信号を電気信号に変換する光素子である。光トランシーバ１２の制御基板には、光電変換素子とともに、調整データを記憶したメモリが実装されている。調整データは、光トランシーバ１２の複数の制御パラメータを示すデータである。光トランシーバ１２は、メモリに記憶された調整データに基づいて、電気信号と光信号との変換処理を調整し、これにより、光トランシーバ１２の入出力動作が調整されることになる。例えば、光トランシーバ１２は、メモリに記憶された調整データに基づいて、発光素子から発光する光出力パワーを調整したり、消光比を調整したり、中心波長を調整したりする。また、光トランシーバ１２は、メモリに記憶された調整データに基づいて、受光素子がＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）の場合にはＡＰＤに印加する逆バイアス電圧を調整したり、伝送劣化したデジタル波形を識別再生するためのスレッショルド・レベル（閾値）を調整したりする。
【００２６】
温度制御槽１３は、光トランシーバ１２の温度を制御する装置（チャンバ）である。温度制御槽１３は、例えばペルチェ素子などの温度調節部を有し、制御部１１が温度調節部を制御することによって、光トランシーバ１２の温度（若しくは、温度制御槽１３の内部環境の温度）を所定の温度に制御する。光トランシーバ１２の検査の際には、温度制御槽１３の温度は、室温、低温、高温に順次変更されることになる。
【００２７】
本実施形態では、温度制御槽１３は、それぞれの個別検査装置１０に設けられており、それぞれの温度制御槽１３には１つの光トランシーバ１２が収容されている。これにより、それぞれの光トランシーバ１２の温度を個別に制御できるため、検査時間を短縮させることができる。但し、温度制御槽１３は、この構成に限られるものではない。例えば、温度制御槽が複数の光トランシーバ１２を収容可能に構成されており、複数の個別検査装置１０の光トランシーバ１２の温度制御を１つの温度制御槽１３で行っても良い。
【００２８】
スイッチ１４は、光信号の光路（測定経路）を切り替える装置（光スイッチ）である。本実施形態では、個別検査装置１０のスイッチ１４は、光トランシーバ１２と検査器（専用検査器１５及び共用検査器２１）との間の光路を切り替える。ここでは、スイッチ１４の入力ポートは光トランシーバ１２に接続されており、複数の出力ポートは、それぞれ専用検査器１５又は共用検査器２１に接続されている。スイッチ１４は、制御部１１によって制御され、光トランシーバ１２からの光信号の出力先を切り替えて、選択された所定の検査器（専用検査器１５又は共用検査器２１）に光信号を出力する。つまり、スイッチ１４は、光トランシーバ１２の光信号の出力先を選択する。なお、スイッチ１４が、出力ポートと複数の入力ポートとを備え、出力ポートが光トランシーバ１２に接続され、複数の入力ポートがそれぞれ専用検査器１５又は共用検査器２１に接続され、多数の検査器から選択された所定の検査器からの光信号を光トランシーバ１２に出力しても良い。
【００２９】
専用検査器１５は、個別検査装置１０に設けられた検査器である。専用検査器１５は、特定の光トランシーバ１２の検査に専用的に用いられる。このため、専用検査器１５を用いた光トランシーバ１２の検査では、共用検査器２１を用いた検査とは異なり、他の光トランシーバ１２の検査と重なることが無いため、他の光トランシーバ１２の検査の完了を待たずに済む。ここでは、専用検査器１５は、汎用的で比較的安価な光パワーメータであるが、他の種類の検査器でもよい。専用検査器１５が比較的安価であれば、個別検査装置１０を増設する際に、増設コストを抑制することができる。
【００３０】
共用検査装置２０は、共用検査器２１による検査を行う装置である。共用検査装置２０は、共用検査器２１と、スイッチ２２と、共用制御部２３とを有する。
【００３１】
共用検査器２１は、複数の光トランシーバ１２の検査に用いられる検査器である。つまり、共用検査器２１は、複数の光トランシーバ１２の検査に共用的に用いられる。ここでは、共用検査器２１は、ＤＣＡや光スペクトラムアナライザなどの比較的高価な検査器を想定しているが、他の種類の検査器でも良いし、汎用的で比較的安価な検査器でも良い。
【００３２】
スイッチ２２は、光信号の光路（測定経路）を切り替える装置（光スイッチ）である。本実施形態では、共用検査装置２０のスイッチ２２は、共用検査器２１と複数の個別検査装置１０との間の光路を切り替える。ここでは、スイッチ２２の複数の入力ポートはそれぞれ個別検査装置１０に接続されており、出力ポートは共用検査器２１に接続されている。スイッチ２２は、多数の個別検査装置１０から選択された所定の個別検査装置１０からの光信号を共用検査器２１に出力する。つまり、スイッチ２２は、複数の個別検査装置１０の中から、共用検査器２１で検査する個別検査装置１０を選択する。なお、スイッチ２２が、入力ポートと複数の出力ポートとを備え、入力ポートが共用検査器２１に接続され、複数の出力ポートがそれぞれ個別検査装置１０に接続され、共用検査器２１からの光信号を、多数の個別検査装置１０から選択された所定の個別検査装置１０に出力しても良い。
【００３３】
共用制御部２３は、共用検査装置２０の制御を司る制御部である。共用制御部２３は、共用検査装置２０の共用検査器２１やスイッチ２２を制御する装置である。共用制御部２３は、例えばパーソナルコンピュータである。第１実施形態では、共用検査器２１やスイッチ２２が共用制御部２３を介して制御されるが、後述するように、共用制御部２３を設けずに、個別検査装置１０が共用検査器２１やスイッチ２２を直接的に制御しても良い。
【００３４】
本実施形態では、検査システム１は複数の共用検査装置２０を備えており、それぞれの共用検査装置２０は、共用検査器２１を制御する共用制御部２３を有している。これにより、本実施形態では、１台の制御部（パーソナルコンピュータ）で複数の共用検査装置２０をマルチタスクにて疑似的に並列処理する場合と比べて、複数の光トランシーバ１２の検査を平行させて行いやすくなる。なお、仮に１台の共用制御部で複数の共用検査装置２０（複数の共用検査器２１）をマルチタスクにて疑似的に並列処理する場合には、共用制御部２３がエラーで停止してしまうと検査システムの全体が停止してしまうのに対し、本実施形態では、或る共用制御部２３がエラーで停止しても他の共用制御部２３が正常に動作していれば、一部の検査を続行できるという利点がある。また、本実施形態では、１台の共用制御部２３で複数の共用検査装置２０をマルチタスクにて制御する場合と比べて、それぞれの共用制御部２３が行うタスク（検査）の切り替えが簡易になるため、共用制御部２３に実行させる検査用プログラムが簡易になるという利点もある。
【００３５】
本実施形態では、共用制御部２３は、ＬＡＮケーブル３を介して、個別検査装置１０（及びデータベースサーバ３０）と接続されている。そして、後述するように、共用制御部２３は、個別検査装置１０の制御部１１からの指示（制御コマンド）に従って、共用検査器２１やスイッチ２２を制御することになる。また、本実施形態では、共用制御部２３は、測定用ケーブル５を介して、共用検査器２１やスイッチ２２を制御する。このため、共用制御部２３は、個別検査装置１０からＬＡＮケーブル３を介して受信した指示に基づいて、測定用ケーブル５を介して共用検査器２１やスイッチ２２を制御することになる。
【００３６】
ところで、測定用ケーブル５は、最大ケーブル長に制約があるため、個別検査装置１０と共用検査装置２０の共用検査器２１やスイッチ２２との間を測定用ケーブル５で接続するのは困難である。また、測定用ケーブル５はシステム内の機器接続台数は制御部を含め、例えば、１５台と規格で定められており、共用検査器２１の台数が制限されてしまう。これに対し、本実施形態では、共用制御部２３と個別検査装置１０との間をＬＡＮケーブル３で接続するため、共用制御部２３と個別検査装置１０との距離は、測定用ケーブル５のような最大ケーブル長の制約を受けずに済む。更に、ＬＡＮケーブル３を用いることによって、接続可能な機器台数の制限が無くなる。また、本実施形態では、共用制御部２３と個別検査装置１０との間をＬＡＮケーブル３で接続することによって、共用制御部２３と共用検査器２１やスイッチ２２との距離を短くすることが可能になるため、最大ケーブル長さの制約のある測定用ケーブル５で共用制御部２３と共用検査器２１及びスイッチ２２との間を接続することは比較的容易になる。
【００３７】
データベースサーバ３０は、共用検査装置２０の利用状況を管理する制御部である。データベースサーバ３０は、例えばパーソナルコンピュータであり、演算処理装置や記憶装置などを有する。データベースサーバ３０の記憶装置には、共用検査装置２０の利用状況を示すデータテーブル（利用状況テーブル３１）が記憶されている。
【００３８】
図２Ａ及び図２Ｂは、利用状況テーブル３１の説明図である。
【００３９】
利用状況テーブル３１は、共用検査装置２０の利用状況を示すデータテーブルである。利用状況テーブル３１は、それぞれの共用検査装置２０の識別番号と、各共用検査装置２０の利用状況とを対応付けたデータテーブルである。例えば、利用状況テーブル３１が図２Ａに示す状態のとき、全ての共用検査装置２０が空いていることが示されている。また、利用状況テーブル３１が図２Ｂに示す状態のとき、＃１の共用検査装置２０が利用中であることが示されている。
【００４０】
以下の説明では、利用状況テーブル３１の利用状況を示すデータのことを「利用フラグ」と呼ぶことがある。例えば、利用フラグがゼロの場合、共用検査装置２０の利用状況が「空き」であることが示され、利用フラグが１の場合、共用検査装置２０の利用状況が「利用中」であることが示されることになる。また、利用状況テーブル３１の利用状況を「空き」から「利用中」に変更すること（利用フラグをゼロから１に変更すること）を、「利用フラグを立てる」と呼ぶことがある。また、利用状況テーブル３１の利用状況を「利用中」から「空き」に変更すること（利用フラグを１からゼロに変更すること）を「利用フラグを下ろす」と呼ぶことがある。
【００４１】
データベースサーバ３０は、個別検査装置１０の制御部１１の要求に応じて、指定された共用検査装置２０の利用状況を回答する（「空き」又は「利用中」を示すデータを個別検査装置１０の制御部１１に送信する）。また、データベースサーバ３０は、個別検査装置１０の制御部１１の要求に応じて、利用状況テーブル３１の利用フラグを立てたり、利用フラグを下ろしたりする。
【００４２】
＜検査方法＞
図３は、光トランシーバ１２の検査処理の説明図である。
【００４３】
ここでは、光トランシーバ１２の環境温度を３段階に変化させることによって、室温検査（常温検査）、低温検査及び高温検査が行われる。室温検査では、個別検査装置１０の制御部１１は、温度制御槽１３を例えば２５℃に設定し、各種検査（ここでは、第１検査〜第５検査）を行う。また、低温検査では、個別検査装置１０の制御部１１は、温度制御槽１３を例えば−１０℃に設定し、各種検査を行う。また、高温検査では、個別検査装置１０の制御部１１は、温度制御槽１３を例えば６５℃に設定し、各種検査を行う。それぞれの環境温度下において行われる各種検査（第１検査〜第５検査）には、例えば、ＤＣＡを用いた消光比等の測定や、光スペクトラムアナライザを用いた中心波長の測定や、光パワーメータを用いた光出力の測定などが含まれる。
【００４４】
光トランシーバ１２の環境温度を変化させるときには、温度制御槽１３の温度（若しくは、光トランシーバ１２の温度や動作）が安定するのに必要な温度遷移時間が必要になる。例えば、光トランシーバ１２の環境温度を室温から低温に変化させるときには、温度制御槽１３の温度が−１０℃で安定するまでの時間が必要になる。温度遷移時間の間は、光トランシーバ１２の検査は行われず、検査機器は利用されないことになる。また、光トランシーバ１２の各種検査を行う際には、検査機器（共用検査器２１や専用検査器１５）を用いて光トランシーバ１２を検査する時間だけでなく、検査機器（共用検査器２１や専用検査器１５）やスイッチ（スイッチ１４及びスイッチ２２）の動作が安定するまでの時間も必要になる。
【００４５】
本実施形態では、図３に示す光トランシーバ１２の検査を、それぞれの個別検査装置１０ごとに並行して行うことになる。このため、複数の光トランシーバ１２の検査を並行して行うことができ、検査時間を短縮させることができる。但し、それぞれの個別検査装置１０が図３に示す光トランシーバ１２の検査を並行して行う際に、同じ共用検査器２１（例えばＤＣＡ）を用いる検査の要求が重複することが起こり得ることになる。この点を考慮して、本実施形態の個別検査装置１０は、次に説明する検査処理を実行する。
【００４６】
図４は、個別検査装置１０の検査処理のフロー図である。個別検査装置１０の制御部１１は、図３に示す各種検査（第１検査〜第５検査のいずれかの検査）を行う際に、予めインストールされている検査用プログラムを実行することにより、図４に示す処理を行うことになる。
【００４７】
まず、制御部１１は、これから行うべき検査が共用検査器２１を利用する検査か否かを判定する（Ｓ１０１）。例えば、ＤＣＡや光スペクトラムアナライザを用いる検査が行われる場合には、制御部１１は、共用検査器２１を利用する検査であると判定することになる（Ｓ１０１でＹＥＳ）。
【００４８】
Ｓ１０１でＹＥＳの場合、制御部１１は、利用状況テーブル３１の利用フラグ（利用状況）を参照する（Ｓ１０２）。具体的には、制御部１１は、検査に用いる共用検査装置２０の利用状況をデータベースサーバ３０に要求し、その共用検査装置２０の利用状況を示すデータ（利用フラグ）をデータベースサーバ３０から取得する。
【００４９】
次に、制御部１１は、データベースサーバ３０から取得した利用フラグに基づいて、検査に用いる共用検査装置２０が利用中か否かを判定する（Ｓ１０３）。共用検査装置２０が利用中の場合（Ｓ１０３でＹＥＳ）、制御部１１は、検査処理を待機し、検査に用いる共用検査装置２０が空くまで、Ｓ１０２の処理を繰り返す。例えば、＃１の共用検査装置２０を利用する際に、利用状況テーブル３１が図２Ｂに示す状態であれば、制御部１１は、＃１の共用検査装置２０の利用フラグが下りるまで（例えば利用状況テーブル３１が図２Ａに示す状態になるまで）、検査処理を待機することになる。
【００５０】
共用検査装置２０が空いている場合（Ｓ１０３でＮＯ）、制御部１１は、検査に用いる共用検査装置２０の利用フラグを立てるように、データベースサーバ３０に指示する（Ｓ１０４）。データベースサーバ３０は、個別検査装置１０の制御部１１の要求に応じて利用状況テーブル３１の利用フラグを立てた後、完了通知を制御部１１に送信する。制御部１１は、データベースサーバ３０から完了通知を受信した後に、次のＳ１０５の処理に進む。
【００５１】
利用フラグを立てた後（Ｓ１０４の後）、制御部１１は、検査に用いる共用検査装置２０の設定を行う（Ｓ１０５）。具体的には、制御部１１は、検査に用いる共用検査装置２０にＬＡＮケーブル３を介して、共用検査器２１やスイッチ２２の制御コマンドを送信する。共用制御部２３は、ＬＡＮケーブル３を介して個別検査装置１０の制御部１１からの制御コマンドを受信し、受信した制御コマンドに基づいて、測定用ケーブル５を介して共用検査器２１やスイッチ２２を設定する。例えば、共用制御部２３は、個別検査装置１０の制御部１１から受信した切替コマンド（制御コマンドの一例）に従って、共用検査装置２０のスイッチ２２を設定し、これにより、その個別検査装置１０からの光信号を共用検査器２１が検査可能になる。
【００５２】
共用検査装置２０の設定後（Ｓ１０５の後）、制御部１１は、共用検査装置２０を用いて光トランシーバ１２を検査する（Ｓ１０６）。なお、光トランシーバ１２の検査結果は、個別検査装置１０の制御部１１に記憶させても良いし、データベースサーバ３０に記憶させても良い。
【００５３】
共用検査装置２０を用いた検査が終わった後（Ｓ１０６の後）、制御部１１は、検査に用いる共用検査装置２０の利用フラグを下ろすように、データベースサーバ３０に指示する（Ｓ１０７）。これにより、他の個別検査装置１０が、その共用検査装置２０を利用可能することが可能になる。
【００５４】
本実施形態では、Ｓ１０１でＮＯの場合、制御部１１は、専用検査器１５を用いて、光トランシーバ１２の検査を行う（Ｓ１０８）。例えば、これから行うべき検査が光パワーメータを用いる場合（Ｓ１０１でＮＯ）、制御部１１は、専用検査器１５である光パワーメータを用いて光トランシーバ１２を検査することになる。本実施形態では、それぞれの個別検査装置１０ごとに専用検査器１５が設けられているため、専用検査器１５を用いて検査を行う場合には（Ｓ１０１でＮＯ）、前述の共用検査器２１を用いる場合（Ｓ１０２〜Ｓ１０７）とは異なり、データベースサーバ３０に利用状況を問い合わせることなく、また、検査を待機することなく、光トランシーバ１２の検査を行うことができる。このため、それぞれの個別検査装置１０は、仮に他の個別検査装置１０が同様に光パワーメータ（専用検査器１５）を用いて検査を行っているときであっても、専用検査器１５である光パワーメータを用いて光トランシーバ１２を検査することができる。このように、本実施形態では、専用検査器１５を用いて検査を行う場合には（Ｓ１０１でＮＯ）、検査を待機させずに済む。この結果、光トランシーバ１２の全体の検査時間（図３の検査開始から検査終了までの時間）に占める待機時間を抑制することができ、全体の検査時間を短縮させることができる。
【００５５】
既に説明したように、光トランシーバ１２のメモリには調整データが記憶されており、メモリに記憶された調整データに基づいて、光トランシーバ１２の入出力動作が調整されることになる。光トランシーバ１２の製造工程では、光トランシーバ１２を準備する準備工程と、調整データをメモリに記憶する調整工程と、光トランシーバ１２の検査工程とが行われることになる。準備工程の前の組立工程では、ハードウェアである光トランシーバ１２が組み立てられることになる。調整工程では、光トランシーバ１２のメモリに、最適化された調整データ（最適化された複数の制御パラメータ）が記憶されることになる。検査工程（検査処理）では、上記の検査システム１によって、メモリに記憶された調整データに基づいて光トランシーバ１２を動作させて、光トランシーバ１２の検査が行われることになる。検査に合格した光トランシーバ１２は、製造完了となり、出荷されることになる。検査に不合格の光トランシーバ１２に対しては、検査結果に基づいて調整データが変更され、再び検査工程が行われることになる。
【００５６】
＝＝＝第２実施形態（共用検査装置２０の別の例）＝＝＝
図５は、第２実施形態の検査システム１の説明図である。第２実施形態の検査システム１は、前述の第１実施形態の検査システム１の構成に、更に図中の共用検査装置２０を追加した構成である。
【００５７】
個別検査装置１０は、第１実施形態と同様に、制御部１１と、光トランシーバ１２と、温度制御槽１３と、スイッチ１４と、専用検査器１５とを有するとともに、更に光アッテネータ１６を有する。ここでは、検査対象となる光トランシーバ１２は、光信号を出力するのではなく、光信号を受信することになる。
個別検査装置１０のスイッチ１４は、複数の出力ポートと入力ポートとを備えている。複数の出力ポートは光トランシーバ１２と専用検査器１５に接続されており、入力ポートは、光アッテネータ１６に接続されている。スイッチ１４は、選択された共用検査装置２０の光信号（光アッテネータ１６で光強度を調整した光信号）を、光トランシーバ１２に出力することになる。
【００５８】
共用検査装置２０は、上記のものとほぼ同様に、共用検査器２１と、スイッチ２２と、共用制御部２３とを有する。図中の共用検査器２１は、検査対象となる光トランシーバ１２の光信号を測定するのではなく、検査対象となる光トランシーバ１２に光信号を出力することになる。共用検査器２１は、ここでは基準光トランシーバであるが、これに限られるものではない。なお、基準光トランシーバは、基準となる光信号（基準信号；消光比などの特性が既知の光信号）を出力する光トランシーバである。
共用検査装置２０のスイッチ２２は、入力ポートと複数の出力ポートとを備えている。入力ポートは共用検査器２１に接続されており、複数の出力ポートは、それぞれ個別検査装置１０に接続されている。スイッチ２２は、専用検査器１５（基準光トランシーバ）の光信号を、多数の個別検査装置１０から選択された所定の個別検査装置１０に出力することになる。第２実施形態では、検査対象の光トランシーバ１２が、基準光トランシーバから出力され光アッテネータ１６で光強度を調整された光信号を受信することによって、検査対象の光トランシーバ１２の受信性能を検査することができる。
【００５９】
第２実施形態においても、それぞれの個別検査装置１０は、図４に示す検査処理を行うことになる。第２実施形態では、検査対象の光トランシーバ１２の受信性能検査が行われる場合には、制御部１１は、Ｓ１０１の判定処理において、共用検査器２１を利用する検査であると判定することになる（Ｓ１０１でＹＥＳ）。
【００６０】
第２実施形態においても、Ｓ１０１でＮＯの場合、制御部１１は、専用検査器１５を用いて、光トランシーバ１２の検査を行うことになる（Ｓ１０８）。これにより、第２実施形態においても、専用検査器１５を用いて検査を行う場合には（Ｓ１０１でＮＯ）、検査を待機させずに済む。
【００６１】
なお、前述の第１実施形態では、検査対象となる光トランシーバ１２が光信号を出力し、共用検査器２１が光トランシーバ１２の光信号を測定していた。言い換えると、第１実施形態では、個別検査装置１０から共用検査装置２０に光信号が送信されていた。これに対し、第２実施形態では、共用検査装置２０から個別検査装置１０に光信号が送信されている。このように、個別検査装置１０と共用検査装置２０との間で双方向に光信号が送受信されても良い。
【００６２】
＝＝＝第３実施形態（専用検査器１５の別の例）＝＝＝
図６は、第３実施形態の検査システム１の説明図である。
【００６３】
第３実施形態の個別検査装置１０は、第１実施形態と同様に、制御部１１と、光トランシーバ１２と、温度制御槽１３と、スイッチ１４と、専用検査器１５（光パワーメータ）とを有するとともに、更に別の専用検査器１５（基準光トランシーバ）と、光アッテネータ１６とを有する。
【００６４】
第３実施形態では、検査対象の光トランシーバ１２の受信性能検査が行われる場合には、制御部１１は、Ｓ１０１の判定処理において、専用検査器１５を利用する検査であると判定することになる（Ｓ１０１でＮＯ）。このため、それぞれの個別検査装置１０は、仮に他の個別検査装置１０が同様に基準光トランシーバ（専用検査器１５）を用いて受信性能検査を行っているときであっても、専用検査器１５である基準光トランシーバを用いて受信性能検査をすることができる。これにより、第３実施形態では、第２実施形態よりも、光トランシーバ１２の全体の検査時間（図３の検査開始から検査終了までの時間）に占める待機時間を抑制することができ、全体の検査時間を短縮させることができる。
【００６５】
なお、前述の第１実施形態では、個別検査装置１０は１台の専用検査器１５を有しているのに対し、第３実施形態では、個別検査装置１０は、２台の専用検査器１５を有している。このように、個別検査装置１０が有する専用検査器１５は、複数台あっても良い。また、個別検査装置１０の専用検査器１５は、検査対象の光トランシーバ１２からの光信号を受信する検査器（光パワーメータ）に限られるものではなく、第３実施形態の基準光トランシーバ（専用検査器１５）のように検査対象の光トランシーバ１２に光信号を出力する検査器であっても良い。
【００６６】
＝＝＝第４実施形態（複数の検査器を用いる例）＝＝＝
図７は、第４実施形態の検査システム１の説明図である。
【００６７】
第４実施形態の個別検査装置１０は、第３実施形態と同様に、制御部１１と、光トランシーバ１２と、温度制御槽１３と、スイッチ１４とを有するとともに、専用検査器１５となる基準光トランシーバ、光アッテネータ１６とを有する。
【００６８】
共用検査装置２０は、上記のものとほぼ同様に、共用検査器２１と、スイッチ２２と、共用制御部２３とを有する。図中の共用検査器２１は、分散エミュレータである。分散エミュレータは、入力された光信号に波長分散を付加する。例えば、分散エミュレータは、入力された光信号に２０００ｋｍのシングルモードファイバに相当する程度の波長分散を付加し、波長分散が付加された光信号を出力する。一般的に分散エミュレータは比較的高価な検査機器であるため、本実施形態では、分散エミュレータを共用検査器２１としている。
【００６９】
第４実施形態では、個別検査装置１０のスイッチ１４は、専用検査器１５（基準光トランシーバ）の光信号を、多数の共用検査装置２０から選択された所定の共用検査装置２０（分散エミュレータを有する共用検査装置２０）に出力する。また、共用検査装置２０のスイッチ２２は、多数の個別検査装置１０から選択された所定の個別検査装置１０からの光信号を共用検査器２１（分散エミュレータ）に出力する。また、共用検査装置２０の別のスイッチ２２は、共用検査器２１（分散エミュレータ）から出力した光信号を、多数の個別検査装置１０から選択された所定の個別検査装置１０に出力する。第４実施形態では、検査対象の光トランシーバ１２が、基準光トランシーバから出力されて波長分散が付加された光信号を受信することによって、検査対象の光トランシーバ１２の受信性能を検査することができる。
【００７０】
なお、前述の実施形態では、個別検査装置１０又は共用検査装置２０のいずれか一方の検査器を用いて光トランシーバ１２の検査が行われていた。これに対し、第４実施形態では、専用検査器１５（基準光トランシーバ）及び共用検査器２１（分散エミュレータ）の両方を用いて、光トランシーバ１２の検査が行われている。
【００７１】
ところで、基準光トランシーバを第２実施形態のように共用検査器２１として共用検査装置２０に配置させ、基準光トランシーバを有する共用検査装置２０から出力された光信号を、分散エミュレータを有する共用検査装置２０に入力させて、波長分散が付加された光信号を個別検査装置１０に出力させるように、検査システム１を構成することも可能である。但し、この場合、２つの共用検査装置２０を用いる必要があるため、その２つの共用検査器２１のうちの少なくとも一方の共用検査器２１の利用が重複すると検査を待機する必要があり、待機時間が長くなり易い。これに対し、本実施形態では、基準光トランシーバを専用検査器１５とし、専用検査器１５と共用検査器２１を用いて光トランシーバ１２の検査を行うため、２つの共用検査装置２０を用いる場合と比べて、待機時間を抑制できる。
【００７２】
＝＝＝第５実施形態（測定用ケーブル５の無い例）＝＝＝
図８は、第５実施形態の検査システム１の説明図である。
【００７３】
第５実施形態の共用検査装置２０は、前述の実施形態とは異なり、共用制御部２３を備えていない。共用検査装置２０の共用検査器２１とスイッチ２２には、ＬＡＮケーブル３が接続されている。共用検査装置２０の共用検査器２１及びスイッチ２２がＬＡＮポートを備えていれば、本実施形態のように、個別検査装置１０の制御部１１は、ＬＡＮケーブル３を介して、共用検査器２１及びスイッチ２２を直接制御することが可能である。
【００７４】
第５実施形態のように、共用検査装置２０が共用制御部２３を備えていなくても、Ｓ１０１でＮＯの場合、制御部１１は、専用検査器１５を用いて、光トランシーバ１２の検査を行うことになる（Ｓ１０８）。このため、それぞれの個別検査装置１０は、仮に他の個別検査装置１０が同様に光パワーメータ（専用検査器１５）を用いて検査を行っているときであっても、専用検査器１５である光パワーメータを用いて光トランシーバ１２を検査することができる。これにより、第５実施形態においても、専用検査器１５を用いて検査を行う場合には（Ｓ１０１でＮＯ）、検査を待機させずに済む。
【００７５】
なお、旧型の検査器はＬＡＮポートを備えていないことがある。このような旧型の検査器を共用検査器２１として用いる場合には、前述の実施形態のように共用検査装置２０に共用制御部２３を設け、共用制御部２３が、個別検査装置１０からＬＡＮケーブル３を介して受信した指示に基づいて、測定用ケーブル５を介して共用検査器２１やスイッチ２２を制御することが望ましい。
【００７６】
ところで、第５実施形態では、個別検査装置１０の制御部１１は、ＬＡＮケーブル３を介して、スイッチ１４や専用検査器１５等の制御を行っている。このように、個別検査装置１０内の機器（スイッチ１４や専用検査器１５等）がＬＡＮポートを備えていれば、測定用ケーブル５の代わりに、ＬＡＮケーブル３を介して、個別検査装置１０内の機器を直接制御しても良い。また、個別検査装置１０の制御部１１は、ＬＡＮケーブル３を介して共用検査装置２０の共用検査器２１やスイッチ２２を制御しつつ、測定用ケーブル５を介して個別検査装置１０のスイッチ１４や専用検査器１５を制御しても良い。
【００７７】
＝＝＝第６実施形態（データベースサーバ３０の無い例）＝＝＝
図９は、第６実施形態の検査システム１の説明図である。
【００７８】
第６実施形態の検査システム１は、前述の実施形態とは異なり、データベースサーバ３０を備えていない。このような構成では、個別検査装置１０の制御部１１は、共用検査器２１を利用する場合（Ｓ１０１でＹＥＳ）、データベースサーバ３０に利用状況を問い合わせる代わりに、共用検査装置２０に利用状況を直接問い合わせることになる。また、Ｓ１０１でＮＯの場合、制御部１１は、専用検査器１５を用いて、光トランシーバ１２の検査を行うことになる（Ｓ１０８）。これにより、第６実施形態においても、専用検査器１５を用いて検査を行う場合には（Ｓ１０１でＮＯ）、検査を待機させずに済む。
【００７９】
ところで、第６実施形態の検査システム１が多数の個別検査装置１０を有する場合、それぞれの個別検査装置１０が共用検査装置２０に利用状況を問い合わせると、共用検査装置２０の共用制御部２３は、多数の問い合わせを受信するため、頻繁に応答する必要が生じる。通常、共用制御部２３は、比較的安価なパーソナルコンピュータであり、データベースサーバ３０と比べて処理速度が遅い装置であるため、利用状況の問合せを頻繁に受信すると、共用制御部２３の処理が遅れるおそれがあり、この結果、待機時間が増加するおそれがある。加えて、共用検査装置２０の処理が遅れると、その共用検査装置２０の利用が重複する頻度が高くなるため、この結果、更にその共用検査装置２０への利用状況の問合せが集中してしまい、共用制御部２３の動作が不安定になるおそれもある。このため、前述の実施形態のように、検査システム１にデータベースサーバ３０を設け、個別検査装置１０の制御部１１がデータベースサーバ３０に利用状況を問い合わせる構成にすれば、共用制御部２３の処理速度が早まり、この結果、待機時間を抑制し、検査時間を短縮させることができる。
【００８０】
＝＝＝その他＝＝＝
上述の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更・改良され得ると共に、本発明には、その等価物が含まれることは言うまでもない。
【符号の説明】
【００８１】
１  検査システム、３  ＬＡＮケーブル、
５  測定用ケーブル、７  光ファイバコード、
１０  個別検査装置、１１  制御部、
１２  光トランシーバ、１３  温度制御槽、
１４  スイッチ、１５  専用検査器、１６  光アッテネータ、
２０  共用検査装置、２１  共用検査器、
２２  スイッチ、２３  共用制御部、
３０  データベースサーバ、３１利用状況テーブル、
【図１】
2019219183.tif 000003
【図２】
2019219183.tif 000004
【図３】
2019219183.tif 000005
【図４】
2019219183.tif 000006
【図５】
2019219183.tif 000007
【図６】
2019219183.tif 000008
【図７】
2019219183.tif 000009
【図８】
2019219183.tif 000010
【図９】
2019219183.tif 000011
【手続補正書】
【提出日】令和1年6月4日(2019.6.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムであって、
前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、
複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、
を備え、
前記個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有しており、
前記個別検査装置の前記制御部は、
検査に用いられる検査器を判定し、
前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査しているか否かを判定し、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、
前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査する
ことを特徴とする検査システム。
【請求項２】
請求項１に記載の検査システムであって、
前記検査システムは、前記共用検査装置の利用状況を示す利用状況テーブルを有するサーバを有し、
前記個別検査装置の前記制御部は、前記共用検査器を用いる検査を行う場合、
前記サーバの前記利用状況テーブルを参照し、
前記利用状況テーブルにおいて、その共用検査装置の利用フラグが下りていれば、その共用検査装置の前記利用フラグを立てた後、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記利用状況テーブルにおいて、その共用検査装置の利用フラグが立っていれば、その共用検査装置の利用フラグが下りるまで前記光モジュールの検査を待機する
ことを特徴とする検査システム。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の検査システムであって、
前記共用検査装置は、前記共用検査器を制御する共用制御部を有し、
前記個別検査装置の前記制御部と前記共用制御部との間は、通信ケーブルを介して接続されており、
前記共用制御部と前記共用検査器との間は、測定用ケーブルを介して接続されており、
前記共用制御部は、前記個別検査装置の前記制御部から前記通信ケーブルを介して受信した指示に基づいて、前記測定用ケーブルを介して前記共用検査器を制御する
ことを特徴とする検査システム。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の検査システムであって、
前記検査システムは、複数の前記共用検査装置を備えており、
複数の前記共用検査装置は、前記共用検査器を制御する共用制御部をそれぞれ有している
ことを特徴とする検査システム。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載の検査システムであって、
前記専用検査器は、光パワーメータであることを特徴とする検査システム。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の検査システムであって、
前記専用検査器は、基準となる光信号を出力する基準光トランシーバであることを特徴とする検査システム。
【請求項７】
複数の光モジュールの検査を並行して行う検査方法であって、
それぞれ制御部及び専用検査器を有し前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、を用意し、
前記個別検査装置の前記制御部が、
検査に用いられる検査器を判定し、
前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査しているか否かを判定し、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、
前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査する
ことを特徴とする光モジュールの検査方法。
【請求項８】
光モジュールを準備する準備工程と、
前記光モジュールの複数の制御パラメータを最適化し、前記光モジュールのメモリに前記制御パラメータを示す調整データを記憶する調整工程と、
前記調整データに基づいて前記光モジュールを動作させて、前記光モジュールを検査する検査工程と
を行う光モジュールの製造方法であって、
前記検査工程は、複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムによって行われ、
前記検査システムは、前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、を備え、
前記個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有しており、
前記個別検査装置の前記制御部は、
検査に用いられる検査器を判定し、
前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査しているか否かを判定し、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、
前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査する
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
上記目的を達成するための主たる発明は、複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムであって、
前記光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置と、
複数の前記光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置と、
を備え、
前記個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有しており、
前記個別検査装置の前記制御部は、
検査に用いられる検査器を判定し、
前記共用検査器を用いる検査を行う場合には、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査しているか否かを判定し、
他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて前記光モジュールを検査し、
前記他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで前記光モジュールの検査を待機し、
前記専用検査器を用いる検査を行う場合には、前記専用検査器を用いて前記光モジュールを検査する
ことを特徴とする検査システムである。