(57)【要約】      （修正有）【課題】断層像に対するフォーカス調整を適正に行いつつ、撮影前に必要な光学調整等にかかる時間を短縮する光断層撮影装置及びその制御方法を提供する。【解決手段】本光断層撮影装置は、第１の合焦用光学部材の合焦情報を用いて第１の合焦用光学部材及び第２の合焦用光学部材を移動させる第１の合焦処理が実行された後に、干渉光に関する情報を用いて第２の合焦用光学部材を移動させる第２の合焦処理を実行するように、第２のフォーカス手段を制御する制御手段を有し、干渉光学系は、第２の合焦処理を実行した後に前記被検眼の断層像を取得し、制御手段は、被検眼の断層像を再度取得する指示を受けた場合には、第１の合焦処理が再度実行されずに、第２の合焦処理を再度実行するように、第２のフォーカス手段を制御する。【選択図】図４
2019042378.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて前記被検眼の断層像を取得する干渉光学系と、
前記被検眼に照明する照明光学系と、前記照明光学系によって照明された前記被検眼からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、前記受光素子から出力される受光信号を用いて該被検眼の観察画像を取得する観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１の合焦用光学部材を移動させる第１のフォーカス手段と、
前記干渉光学系に配置される第２の合焦用光学部材を移動させる第２のフォーカス手段と、
前記第１の合焦用光学部材の合焦情報を用いて前記第１の合焦用光学部材及び前記第２の合焦用光学部材を移動させる第１の合焦処理が実行された後に、前記干渉光に関する情報を用いて前記第２の合焦用光学部材を移動させる第２の合焦処理を実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御する制御手段と、を有し、
前記干渉光学系は、前記第２の合焦処理を実行した後に前記被検眼の断層像を取得し、
前記制御手段は、前記被検眼の断層像を再度取得する指示を受けた場合には、前記第１の合焦処理が再度実行されずに、前記第２の合焦処理を再度実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御することを特徴とする光断層撮影装置。
【請求項２】
前記第１の合焦用光学部材の合焦情報を取得する合焦情報取得手段を更に有し、
前記制御手段は、前記被検眼の断層像を再度取得する指示を受けた場合には、前記第１の合焦用光学部材の合焦情報が再度取得されずに、前記第２の合焦処理を再度実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の光断層撮影装置。
【請求項３】
前記第１の合焦処理は、前記取得された合焦情報を用いて前記第１の合焦用光学部材を合焦位置に移動させ、且つ前記取得された合焦情報を用いて前記第２の合焦用光学部材を前記第２の合焦処理の開始位置に移動させる処理であり、
前記制御手段は、前記被検眼の断層像を再度取得する指示を受けた場合には、前記取得された合焦情報を再度用いて前記第２の合焦用光学部材を前記第２の合焦処理の開始位置に移動させた後に、前記第２の合焦処理を再度実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御することを特徴とする請求項２に記載の光断層撮影装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記被検眼の同一撮影部位の断層像を再度取得する指示を受けた場合には、前記第１の合焦処理が再度実行されずに、前記第２の合焦処理を再度実行し、前記被検眼の異なる撮影部位の断層像を取得する指示を受けた場合には、前記第１の合焦処理が再度実行された後に、前記第２の合焦処理を再度実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光断層撮影装置。
【請求項５】
前記制御手段は、先の前記被検眼の断層像の取得時における合焦情報がデータベースに存在する場合には、後の前記被検眼の断層像の取得時において、前記データベースに存在する合焦情報を前記第１の合焦用光学部材の合焦情報として用いて前記第１の合焦用光学部材及び前記第２の合焦用光学部材が移動された後に、前記第２の合焦処理を実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光断層撮影装置。
【請求項６】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて前記被検眼の断層像を取得する干渉光学系と、
前記被検眼に照明する照明光学系と、前記照明光学系によって照明された前記被検眼からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、前記受光素子から出力される受光信号を用いて該被検眼の観察画像を取得する観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１の合焦用光学部材を移動させる第１のフォーカス手段と、
前記干渉光学系に配置される第２の合焦用光学部材を移動させる第２のフォーカス手段と、
先の前記被検眼の断層像の取得時における合焦情報がデータベースに存在する場合には、後の前記被検眼の断層像の取得時において、前記データベースに存在する合焦情報を用いて前記第２の合焦用光学部材を移動させる合焦処理を実行した後に、前記干渉光に関する情報を用いて前記第２の合焦用光学部材を移動させる合焦処理を実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮影装置。
【請求項７】
前記第１の合焦用光学部材の合焦情報は、前記受光素子から出力される受光信号又は前記観察画像の強度であり、
前記干渉光に関する情報は、前記干渉光の強度又は前記断層像の強度であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光断層撮影装置。
【請求項８】
前記干渉光学系及び前記観察光学系を含む光学ヘッドを駆動する駆動手段を更に有し、
前記制御手段は、前記被検眼の前眼部画像を用いて前記被検眼に対する前記光学ヘッドの位置合わせを自動的に実行するように前記駆動手段を制御した後に、前記位置合わせが不適当である場合であっても、前記第１の合焦処理を実行するように前記第１のフォーカス手段及び前記第２のフォーカス手段を制御することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光断層撮影装置。
【請求項９】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて前記被検眼の断層像を取得する干渉光学系と、
前記被検眼に照明する照明光学系と、前記照明光学系によって照明された前記被検眼からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、前記受光素子から出力される受光信号を用いて該被検眼の観察画像を取得する観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１の合焦用光学部材を移動させる第１のフォーカス手段と、
前記干渉光学系に配置される第２の合焦用光学部材を移動させる第２のフォーカス手段と、
前記干渉光学系及び前記観察光学系を含む光学ヘッドを駆動する駆動手段と、
前記被検眼の前眼部画像を用いて前記被検眼に対する前記光学ヘッドの位置合わせを自動的に実行するように前記駆動手段を制御した後に、前記位置合わせが不適当である場合であっても、前記第１の合焦用光学部材の合焦情報を用いて前記第１の合焦用光学部材及び前記第２の合焦用光学部材を移動させる合焦処理を実行するように前記第１のフォーカス手段及び前記第２のフォーカス手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮影装置。
【請求項１０】
前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を調整する光路長差調整手段を更に有し、
前記制御手段は、前記位置合わせが不適当である場合であっても、前記光路長差調整手段を制御することを特徴とする請求項８又は９に記載の光断層撮影装置。
【請求項１１】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて前記被検眼の断層像を取得する干渉光学系と、
前記被検眼に照明する照明光学系と、前記照明光学系によって照明された前記被検眼からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、前記受光素子から出力される受光信号を用いて該被検眼の観察画像を取得する観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１の合焦用光学部材を移動させる第１のフォーカス手段と、
前記干渉光学系に配置される第２の合焦用光学部材を移動させる第２のフォーカス手段と、を有する光断層撮影装置の制御方法であって、
前記第１の合焦用光学部材の合焦情報を用いて前記第１の合焦用光学部材及び前記第２の合焦用光学部材を移動させる第１の合焦処理が実行された後に、前記干渉光に関する情報を用いて前記第２の合焦用光学部材を移動させる第２の合焦処理を実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御する工程と、
前記干渉光学系が前記第２の合焦処理を実行した後に前記被検眼の断層像を取得する工程と、
前記被検眼の断層像を再度取得する指示を受けた場合には、前記第１の合焦処理が再度実行されずに、前記第２の合焦処理を再度実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする光断層撮影装置の制御方法。
【請求項１２】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて前記被検眼の断層像を取得する干渉光学系と、
前記被検眼に照明する照明光学系と、前記照明光学系によって照明された前記被検眼からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、前記受光素子から出力される受光信号を用いて該被検眼の観察画像を取得する観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１の合焦用光学部材を移動させる第１のフォーカス手段と、
前記干渉光学系に配置される第２の合焦用光学部材を移動させる第２のフォーカス手段と、を有する光断層撮影装置の制御方法であって、
先の前記被検眼の断層像の取得時における合焦情報がデータベースに存在する場合には、後の前記被検眼の断層像の取得時において、前記データベースに存在する合焦情報を用いて前記第２の合焦用光学部材を移動させる合焦処理を実行した後に、前記干渉光に関する情報を用いて前記第２の合焦用光学部材を移動させる合焦処理を実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御する工程を有することを特徴とする光断層撮影装置の制御方法。
【請求項１３】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて前記被検眼の断層像を取得する干渉光学系と、
前記被検眼に照明する照明光学系と、前記照明光学系によって照明された前記被検眼からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、前記受光素子から出力される受光信号を用いて該被検眼の観察画像を取得する観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１の合焦用光学部材を移動させる第１のフォーカス手段と、
前記干渉光学系に配置される第２の合焦用光学部材を移動させる第２のフォーカス手段と、
前記干渉光学系及び前記観察光学系を含む光学ヘッドを駆動する駆動手段と、を有する光断層撮影装置の制御方法であって、
前記被検眼の前眼部画像を用いて前記被検眼に対する前記光学ヘッドの位置合わせを自動的に実行するように前記駆動手段を制御した後に、前記位置合わせが不適当である場合であっても、前記第１の合焦用光学部材の合焦情報を用いて前記第１の合焦用光学部材及び前記第２の合焦用光学部材を移動させる合焦処理を実行するように前記第１のフォーカス手段及び前記第２のフォーカス手段を制御する工程を有することを特徴とする光断層撮影装置の制御方法。
【請求項１４】
請求項１１乃至１３のいずれか１項に記載の光断層撮影装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光断層撮影装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、光学機器を用いた眼科用機器として、様々なものが使用されている。例えば、眼を観察する光学機器として、前眼部撮影機、眼底カメラ、共焦点レーザ走査検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：ＳＬＯ）、等様々な機器が使用されている。中でも、多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）による光断層撮影装置は、試料の断層像を高解像度に得ることができる装置である。この装置は眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。以下、これをＯＣＴ装置と記す。
【０００３】
ＯＣＴ装置によると、低コヒーレント光である測定光をサンプルに照射し、そのサンプルからの後方散乱光を、干渉系又は干渉光学系を用いることで高感度に測定することができる。この低コヒーレント光は、その波長幅を広くすることで、高解像度の断層像を得ることができるという特徴を持つ。また、ＯＣＴ装置は該測定光を該サンプル上にスキャンすることで、高解像度の断層像を得ることができる。そのため、被検眼の眼底における網膜の断層像が取得され、網膜の眼科診断等において広く利用されている。
【０００４】
一方、眼科機器としてのＯＣＴ装置は、装置と被検眼のアライメント調整のために、眼底観察や前眼観察などの光学系が搭載されるのが一般的である。このとき、眼底観察用のＳＬＯ光学系のフォーカスレンズによる合焦処理を行った後、ＳＬＯ光学系のフォーカスレンズの合焦位置に基づいてＯＣＴ光学系のフォーカスレンズによる合焦処理を行う。
【０００５】
ここで、断層像に対するフォーカス調整を適正に行うために、ＳＬＯ光学系のフォーカスレンズの合焦位置に基づいてＯＣＴ光学系のフォーカスレンズの合焦処理（合焦の粗調整）を行った後、ＯＣＴ光学系により取得された断層像に基づいてＯＣＴ光学系のフォーカスレンズによる合焦処理（合焦の微調整）を行う眼科装置が、特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００９−２９１２５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ここで、被検眼への負担や、被検眼の動きによる画像歪みを低減するために、撮影前に必要な光学調整等にかかる時間を短縮することが望まれている。このとき、例えば、被検眼の同一撮影部位を複数回連続的に撮影するような場合には、ＳＬＯ光学系のフォーカスレンズの合焦位置は大きく変化しない。このため、この場合には、ＳＬＯ光学系のフォーカスレンズの合焦位置に基づいてＯＣＴ光学系のフォーカスレンズの合焦処理（合焦の粗調整）を行う必要がない可能性がある。
【０００８】
本発明の目的の一つは、断層像に対するフォーカス調整を適正に行いつつ、撮影前に必要な光学調整等にかかる時間を短縮することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の実施形態の一態様に係る光断層撮影装置は、
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて前記被検眼の断層像を取得する干渉光学系と、
前記被検眼に照明する照明光学系と、前記照明光学系によって照明された前記被検眼からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、前記受光素子から出力される受光信号を用いて該被検眼の観察画像を取得する観察光学系と、
前記受光光学系に配置される第１の合焦用光学部材を移動させる第１のフォーカス手段と、
前記干渉光学系に配置される第２の合焦用光学部材を移動させる第２のフォーカス手段と、
前記第１の合焦用光学部材の合焦情報を用いて前記第１の合焦用光学部材及び前記第２の合焦用光学部材を移動させる第１の合焦処理が実行された後に、前記干渉光に関する情報を用いて前記第２の合焦用光学部材を移動させる第２の合焦処理を実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御する制御手段と、を有し、
前記干渉光学系は、前記第２の合焦処理を実行した後に前記被検眼の断層像を取得し、
前記制御手段は、前記被検眼の断層像を再度取得する指示を受けた場合には、前記第１の合焦処理が再度実行されずに、前記第２の合焦処理を再度実行するように、前記第２のフォーカス手段を制御する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の一つによれば、断層像に対するフォーカス調整を適正に行いつつ、撮影前に必要な光学調整等にかかる時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１の実施形態に係る光断層撮影装置の構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態に係るＯＣＴユニットの構成を示すブロック図である。
【図３】第１の実施形態に係る制御装置の構成を示すブロック図である。
【図４】第１の実施形態に係る制御装置が実行する制御処理の流れを示すフローチャートである。
【図５】第２の実施形態に係る制御装置が実行する制御処理の流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明を実施するための例示的な実施形態を、図面を参照して詳細に説明する。ただし、以下の実施形態で説明される寸法、材料、形状、及び構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。
【００１３】
（第１の実施形態）
第１の実施形態に係る制御装置及び光断層撮影装置（ＯＣＴ装置）を備えた光断層撮影システム（ＯＣＴシステム）について説明する。図１に本実施形態に係るＯＣＴシステム全体のブロック図を、図２にＯＣＴユニットの光学構成を示す模式図を、図３に制御装置のブロック図を、図４に制御装置が実行する制御処理のフローチャートを示す。
【００１４】
本実施形態に係る光断層撮影システム１は、被検体を被検者の眼部（以下被検眼）とする光断層撮影装置１０と、該光断層撮影装置１０を制御し、且つこれより得た各情報に対して撮影制御処理を実行する制御装置２０とを有する。本実施形態における光断層撮影装置１０は、被検眼の眼底の断層像を撮影する（断層情報を取得する）光断層撮影部（ＯＣＴ撮影部）と、被検眼の前眼部を撮影する前眼部撮影部と、被検眼の眼底を撮影して眼底平面像を得るＳＬＯ撮影部と、被検眼の視線を誘導、固定するための固視灯を有する。該光断層撮影装置１０は、ＸＹＺの３方向に移動可能な不図示のステージにより支持されている。なお、図１において、被検眼１０８の眼軸方向をＺ軸方向と、図の紙面に垂直で被検眼１０８の眼底像に水平な方向をＸ軸方向と、該Ｚ軸及びＸ軸に垂直な方向をＹ軸方向と定義する。
【００１５】
被検眼１０８の前であって測定光の光軸（眼軸）に関して対称となる位置に一対の前眼部照明用ＬＥＤ１２０が配置される。該前眼部照明用ＬＥＤ１２０より後方における測定光の光軸上には、第１のビームスプリッタ１１６、接眼レンズ（対物レンズ）１０７、ハーフミラー１２２、及び第２のビームスプリッタ１０６が配置される。上述した固視灯、前眼部撮影部、ＳＬＯ撮影部、及びＯＣＴ撮影部は、対象とする光の波長に応じてこれらビームスプリッタ、或いはハーフミラーにより光路分岐される。以下、各部の構成等について説明する。
【００１６】
＜固視灯＞
初めに、図１を参照して、固視灯１２３について説明する。該固視灯１２３は、被検眼１０８の視線を誘導、また、ＳＬＯ、ＯＣＴ撮影時に固定するために用いられ、ハーフミラー１２２により分岐された光軸上に配置される。該固視灯１２３は、複数の光源を２次元平面上に配置しており、複数の光源の内の１つを点灯させることにより、点灯された光がハーフミラー１２２を介して被検眼１０８に到達し、被検眼の視線位置を誘導、固定させることができる。
【００１７】
＜前眼部撮影部＞
次に、図１を参照して、前眼部撮影部について説明する。該前眼部撮影部は、被検眼１０８と光断層撮影装置１０とのアライメントに用いるための被検眼１０８の前眼部の画像を撮影する。前眼部は前眼部照明用ＬＥＤ１２０により照明され、該前眼部からの反射光は、第１のビームスプリッタ１１６の反射方向に反射される。該第１のビームスプリッタ１１６の反射方向には、イメージスプリットプリズム１１８、前眼部フォーカスレンズ１１７、及び前眼部カメラ１１９がこの順で配置される。
【００１８】
第１のビームスプリッタ１１６で反射された前眼部反射光は、イメージスプリットプリズム１１８によりスプリット像とされ、前眼部フォーカスレンズ１１７により前眼部カメラ１１９に結像される。前眼部カメラ１１９に結像された前眼部の像はＣＰＵ３０１（図３参照）に入力、保存される。そして、前眼部のスプリット像を参照してＺ軸方向のアライメントが、前眼部像の瞳孔中心と光軸とのズレ量を参照してＸ及びＹ軸方向のアライメントが行われる。
【００１９】
＜ＳＬＯ撮影部＞
次に、眼底観察のための装置であるＳＬＯ撮影部（走査型レーザ検眼部）の説明を行う。ＳＬＯ撮影部は、第２のビームスプリッタ１０６の透過方向に配置される。ＳＬＯ撮影部は、該第２のビームスプリッタ１０６より順に配置される、ＳＬＯスキャナ、ＳＬＯフォーカスレンズ１０９、穴あきミラー１０３、コリメータレンズ１０２及びレーザ光源１０１を有する。ＳＬＯフォーカスレンズ１０９は、第１の合焦用光学部材の一例であり、後述するＳＬＯフォーカスドライバ３１８（図３参照）により、不図示の駆動系（第１のフォーカス手段の一例）を介して図中矢印にて示す光軸方向に移動される。また、穴あきミラー１０３の反射方向には、受光素子の一例であるアバランシェ・フォトダイオード（以下ＡＰＤ）１１０が配置される。
【００２０】
レーザ光源１０１は、半導体レーザやＳＬＤ光源（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）を好適に用いることができる。また、眼底観察として被検者の眩しさの軽減と分解能維持のために、７００ｎｍ〜１０００ｎｍの近赤外の波長域のレーザ光が好適に用いられる。本実施形態においては、波長７８０ｎｍのレーザ光を射出する半導体レーザを用いるが、制御電圧によりレーザ光の光量を変化させることもできる。
【００２１】
レーザ光源１０１から出射されたレーザ光はコリメータレンズ１０２により平行ビームになり、穴あきミラー１０３の中央に設けられた穴を通り、ＳＬＯフォーカスレンズ１０９を経てＳＬＯスキャナに導かれる。該ＳＬＯスキャナは、平行ビームをＸ方向に走査するＳＬＯ−Ｘスキャナ１０４とＹ方向に走査するＳＬＯ−Ｙスキャナ１０５とを有する。ＳＬＯスキャナを経た平行ビームは、更に第２のビームスプリッタ１０６を透過し、ハーフミラー１２２を透過し、接眼レンズ（対物レンズ）１０７を通り、第１のビームスプリッタ１１６を透過して被検眼１０８に入射する。
【００２２】
被検眼１０８に入射した平行ビームは、被検眼１０８の眼底に点状のビームとして照射される。その際、ＳＬＯフォーカスレンズ１０９を光軸方向の適切な位置に移動させることにより、該ビームの眼底への合焦が行われる。この合焦されたビームが、被検眼１０８の眼底で反射あるいは散乱され、同一光路をたどり、穴あきミラー１０３まで戻る。この反射あるいは散乱された光は、穴あきミラー１０３によって反射され、ＡＰＤ１１０に受光される。ＡＰＤ１１０からは、眼底のビームの照射点の反射散乱強度に比例した信号が得られる。更に、該ビームをＳＬＯ−Ｘスキャナ１０４とＳＬＯ−Ｙスキャナ１０５とを動作させて眼底上でラスタースキャンを行うことにより、眼底の２次元像（観察画像）を得ることができる。なお、ＳＬＯ撮影部は、本実施形態に係る観察光学系の一例であり、例えば、２次元センサを有する眼底カメラのような構成であっても良い。すなわち、観察光学系としては、被検眼に照明する照明光学系と、照明光学系によって照明された被検眼からの戻り光を受光素子により受光する受光光学系とを有し、受光素子から出力される受光信号を用いて被検眼の観察画像を得ることができるものであれば何でも良い。
【００２３】
＜ＯＣＴユニット＞
光断層撮影装置１０は、ＯＣＴフォーカスレンズ１２１、走査部、接眼部、及びＯＣＴユニットからなるＯＣＴ撮影部を有する。走査部は、ＯＣＴにおける測定光を走査し、接眼部は測定光を被検眼１０８に導く。ＯＣＴユニットは、測定光を生成すると共に被検眼からの戻り光から干渉光を得て、該干渉光から干渉信号を得る。ここでは、ＯＣＴユニット１１１について図２を用いて説明する。
【００２４】
ＯＣＴユニット１１１は、低コヒーレンス光を参照光と測定光に分割し、被検眼１０８を経由した測定光（戻り光）と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成し、これを分光して干渉信号を出力する。該干渉信号はＣＰＵ３０１に入力され、該ＣＰＵ３０１はこの干渉信号を解析して眼底の断層像や３次元画像を形成する。
【００２５】
より詳細には、ＯＣＴユニット１１１は、低コヒーレンス光源２０１、光カプラ２０３、参照光学系、分光ユニット、及びこれらの間で光を伝え合う光ファイバを有する。低コヒーレンス光源２０１は低コヒーレンス光を出力する広帯域光源により構成され、広帯域光源として本実施の形態においては、ＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）を用いている。低コヒーレンス光は、近赤外領域の波長の光を含み、かつ、数十マイクロメートル程度のコヒーレンス長を有する光であり、例えば約８００ｎｍ〜９００ｎｍの範囲に含まれる波長を有する。なお、低コヒーレンス光源２０１には、他にＡＥＳ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）光源、チタンサファイアレーザ等の超短パルスレーザ光源、等の低コヒーレンス光を射出可能な光源が使用可能である。
【００２６】
低コヒーレンス光源２０１から出力された低コヒーレンス光は、光ファイバ２０２を通じて光カプラ２０３に導かれる。光ファイバ２０２は、通常シングルモードファイバで構成される。光カプラ２０３は、低コヒーレンス光を参照光と測定光とに分割する。光カプラ２０３により生成された参照光は、光ファイバ２０４により参照光学系に導光される。
【００２７】
光ファイバ２０４により参照光学系に射出された参照光は、コリメータレンズ２０５により平行光束とされた後に、参照光と戻り光との分散の特性を合わせるための分散補償手段としてのガラスブロック２０６を経由する。その後参照ミラー２０７により反射される。反射された参照光は同じ光路を通り、光ファイバ２０４に入射される。参照ミラー２０７は参照光の進行方向に移動可能となっており、移動することで参照光の光路長を調節できる。被検眼１０８の眼軸長や接眼レンズ（対物レンズ）１０７と被検眼１０８の距離などにより測定光が経る光路長（測定光路長）は変わるが、該参照ミラー２０７の位置調整により、参照光と測定光の光路長を合わせることが可能となっている。参照光と測定光の光路長が一致することにより、これら光を合成すると眼底の深さ方向の組織に応じた干渉が得られる。
【００２８】
一方、光カプラ２０３により生成された測定光は光ファイバ２０８により、上述したＯＣＴフォーカスレンズ１２１、走査部及び接眼部に導かれる。ＯＣＴフォーカスレンズ１２１は、第２の合焦用光学部材の一例であり、後述するＯＣＴフォーカスドライバ３１９により、不図示の駆動系（第２のフォーカス手段の一例）を介して図中矢印にて示される光軸方向に移動される。走査部は図１に示すＯＣＴスキャナからなり、接眼部は接眼レンズ１０７等からなる。これら走査部及び接眼部を介して被検眼１０８に導かれた測定光は、被検眼の網膜で反射、散乱された後、戻り光となって光ファイバ２０８に再入力される。該光ファイバ２０８を経て光カプラ２０３に導入された戻り光は、参照光と合波されて干渉光とされ、光ファイバ２０９を通り、分光ユニットに導かれる。光ファイバ２０９により分光ユニットに射出された干渉光はコリメータレンズ２１０により平行光となった後、回折格子２１１で波長毎に分光される。分光後の各波長の光は、分光用フォーカスレンズ２１２により１次元センサ２１３上に結像される。１次元センサ２１３には、ＣＣＤセンサ、ＣＭＯＳセンサ等を用いることができる。これにより、１次元センサ２１３からは、干渉光を分光した干渉信号を得ることができる。
【００２９】
＜ＯＣＴフォーカスレンズ、走査部及び接眼部＞
次に、ＯＣＴフォーカスレンズ１２１、ＯＣＴ走査部、及び接眼部について図１を用いて説明する。ＯＣＴユニット１１１から生成された測定光はコリメータレンズ１１２により平行光とされ、ＯＣＴフォーカスレンズ１２１を経てＯＣＴ−Ｘスキャナ１１３及びＯＣＴ−Ｙスキャナ１１４を通る。これらスキャナを経た測定光は次にミラー１１５及び第２のビームスプリッタ１０６で反射され、ハーフミラー１２２、接眼レンズ（対物レンズ）１０７を通り、被検眼１０８に入射する。ここで、ＯＣＴフォーカスレンズ１２１を光軸方向の適切な位置に移動させることにより、該測定光の眼底への合焦が行われる。被検眼１０８に入射した測定光は、ＳＬＯ撮影部におけるレーザ光と同様に、眼底で反射散乱され、同一光路をたどり、ＯＣＴユニット１１１まで戻る。これらスキャナを用いて測定光で眼底上を２次元走査することにより、眼底より３次元の断層情報（３次元画像）を取得することができる。
【００３０】
＜制御部＞
次に、光断層撮影装置１０を制御する制御装置２０について、図３を用いて説明する。当該制御装置２０が備える中央演算装置（ＣＰＵ３０１）は、モニタ２１、入力装置２２、主記憶装置（ＲＡＭ３０３）、記憶装置（ＲＯＭ３０４）、及びハードディスク３０５に接続される。モニタ２１は、ＣＰＵ３０１の表示制御の指示に応じて、眼底の２次元画像、ＯＣＴ撮影部により得た断層像、患者情報等の各種データ、アライメント用の各種画像、及びＧＵＩ等を表示する。入力装置２２には、マウス、キーボード、ＧＵＩ等が用いられる。記憶装置（ＲＯＭ３０４）は、図４、図５に示すフローチャートに記載された処理を実行させるためのプログラムを記憶している。また、入力装置２２は、例えば図５のフローで説明する、被検眼１０８を識別する情報、被検眼の左右情報、乳頭、黄斑等撮影部位を示す情報をユーザが入力するために使用する。ハードディスク３０５内の一部には、データベース３２２が存在し、図５のフローで説明する、被検眼１０８を識別する情報等と、フォーカス位置を組み合わせた情報を保持する。
【００３１】
ＣＰＵ３０１は、また、１次元センサインターフェイス３０６、ＡＰＤインターフェイス３０７、及びＤ／Ａコンバータ３１４に接続されている。１次元センサインターフェイス３０６は、ＯＣＴ撮影部の出力である１次元センサ２１３のデータを受ける。ＡＰＤインターフェイス３０７は、ＳＬＯ撮影部の出力であるＡＰＤ１１０のデータを受ける。Ｄ／Ａコンバータ３１４は、レーザ光源１０１が射出するレーザ光の強度をコントロールする電圧を作る。
【００３２】
ＣＰＵ３０１は、更に光断層撮影装置１０の各種構成を制御するために、ＳＬＯ制御回路３０８、ＯＣＴ制御回路３１１、及びステージ駆動制御回路３２１にも接続される。これにより、制御装置２０は光断層撮影装置１０の各種部材の位置又は設定を調整する。具体的には、制御装置２０は調整を指示するコマンドを制御パラメータとともに光断層撮影装置１０に対して送信することで、該光断層撮影装置１０における各種光学部材の位置又は設定が調整される。
【００３３】
より詳細には、ＳＬＯ制御回路３０８は、ＳＬＯスキャナドライバ（Ｘ）３０９及びＳＬＯスキャナドライバ（Ｙ）３１０により、対応するＳＬＯ−Ｘスキャナ１０４及びＳＬＯ−Ｙスキャナ１０５を制御する。具体的には、ＣＰＵ３０１からの指令により、各々のスキャナのスキャン中心位置、スキャン幅、及びスキャンレートを制御する。同時に、ＣＰＵ３０１は、ＳＬＯ制御回路３０８から、走査するビームのスキャン位置を知ることができる。また、ＳＬＯ制御回路３０８は、制御手段の一例であり、ＳＬＯフォーカスドライバ３１８によりＳＬＯフォーカスレンズ１０９の光軸上の位置を移動させ、走査するビームの眼底への合焦を行う。
【００３４】
ＯＣＴ制御回路３１１は、ＯＣＴスキャナドライバ（Ｘ）３１２及びＯＣＴスキャナドライバ（Ｙ）３１３により、対応するＯＣＴ−Ｘスキャナ１１３及びＯＣＴ−Ｙスキャナ１１４を制御する。具体的には、ＣＰＵ３０１からの指令により、各々のスキャナのスキャン中心位置、スキャン幅、及びスキャンレートを制御する。同時に、ＣＰＵ３０１は、ＯＣＴ制御回路３１１から、測定光のスキャン位置を知ることができる。また、ＯＣＴ制御回路３１１は、制御手段の一例であり、ＯＣＴフォーカスドライバ３１９によりＯＣＴフォーカスレンズ１２１の光軸上の位置を移動させ、測定光の眼底への合焦を行う。更に、ＯＣＴ制御回路３１１は、参照ミラードライバ３２０により、不図示の駆動系を介して参照ミラー２０７を光軸方向に移動させ、参照光の光路長の調整を行う。
【００３５】
ステージ駆動制御回路３２１は、ステージ駆動ドライバ（Ｘ）３１５、ステージ駆動ドライバ（Ｙ）３１６、及びステージ駆動ドライバ（Ｚ）３１７を制御する。これらドライバは、光断層撮影装置１０をＸ、Ｙ、及びＺ軸方向に移動可能に支持するこれら各方向に対応した不図示の駆動系を動作させることができる。なお、光断層撮影装置１０を移動可能に支持するステージは更に不図示の基台上に設置されており、該ステージは基台に対してステージ上の光断層撮影装置１０を相対的に移動させる。このステージの動作により、光断層撮影装置１０と被検眼１０８とのアライメントが行われる。
【００３６】
ＣＰＵ３０１は、プログラム格納ＲＯＭ（ＲＯＭ３０４）に格納したプログラムを用いて後述する図４に記載のフローチャートが示す制御処理を実行することにより、光断層撮影装置１０を制御し、被検眼１０８の好適な断層像を取得する。その際、ＣＰＵ３０１は先述のプログラムを実行することにより、ユーザによる入力装置２２の操作に応じて、ＯＣＴによる撮影範囲を設定する。ＣＰＵ３０１、又は上述した回路、ドライバ等は、被検査物の一例である被検眼１０８の眼底と光断層撮影装置１０との相対位置の調整であるアライメントの制御、並びにＳＬＯ撮影部及びＯＣＴ撮影部の合焦処理を実施する。
【００３７】
＜アライメント調整＞
以上に述べた光断層撮影装置１０において実施されるアライメント調整について述べる。該アライメント調整では、前眼部カメラ１１９により取得した前眼部の画像から瞳を検出し、瞳の中心が画像の中心に来るようにステージ駆動制御回路３２１によってステージをＸ及びＹ軸方向に駆動する。また、イメージスプリットプリズム１１８によって例えば上下が分離された前眼部の画像を参照し、上下の画像のズレを修正するようにステージ駆動制御回路３２１によりステージをＺ軸方向に駆動する。以上のステージの駆動により、光断層撮影装置１０の被検眼１０８に対するアライメントを調整することができる。
【００３８】
＜ＳＬＯによる眼底観察、ＯＣＴ撮影位置の確認、及び焦点調整＞
次に、ＳＬＯ撮影部による眼底像撮影のための処理、及び該眼底像を用いたＯＣＴ撮影位置の確認とＯＣＴ撮影のための焦点調整について述べる。
【００３９】
ＳＬＯ撮影部を用いた眼底観察に際し、ＣＰＵ３０１は、Ｄ／Ａコンバータ３１４に既定の値を入力しレーザ光源１０１によりレーザ光の射出を行わせる。またＣＰＵ３０１は、ＳＬＯ制御回路３０８に対してＳＬＯスキャナドライバ（Ｘ）３０９の既定Ｘスキャン中心位置、スキャンスピード、Ｘ軸方向のスキャン幅を設定する。同時に、ＳＬＯ制御回路３０８に対してＳＬＯスキャナドライバ（Ｙ）３１０の既定Ｙスキャン中心位置、スキャンスピード、Ｙ軸方向のスキャン幅も設定する。このことによりＳＬＯ撮影部による網膜上のビームによるスキャン領域が設定される。該ビームの走査により、ＡＰＤ１１０からは網膜の該ビームの反射及び散乱の強度に比例した信号が出力される。
【００４０】
ＣＰＵ３０１は、ＳＬＯ制御回路３０８から得られるスキャナ位置情報に基づいて眼底上での該ビームの走査位置が得られる。得られた走査位置にＡＰＤ１１０より得た信号強度を重ねることで、網膜像を得ることができる。得られた網膜像は、表示制御手段であるＣＰＵ３０１によりモニタ２１に２次元平面像として表示される。ユーザはこの２次元平面像により、ＯＣＴにより３次元断層情報を取得する位置或いは範囲（以下ＯＣＴ撮影範囲）を確認することができる。また、該２次元平面像をもとに、ＳＬＯ光学系の合焦処理が行われる。例えばＳＬＯフォーカスレンズ１０９を光軸上で位置を移動させながら、２次元平面像を取得する。続いて、取得した各２次元平面像のコントラスト値を計算して、コントラスト値が最大となる２次元平面像が得られた位置にＳＬＯフォーカスレンズ１０９を移動させることで、ＳＬＯ撮影部の眼底に対するフォーカス合わせをすることができる。
【００４１】
また、ＯＣＴ撮影部のＯＣＴフォーカスレンズ１２１とＳＬＯ撮影部のＳＬＯフォーカスレンズ１０９とは別の光学系に配置されている。本実施形態では、これらフォーカスレンズの駆動を連動するようにし、各々のフォーカスの位置と駆動量との関係をテーブル情報としてハードディスク３０５に格納してある。このテーブル情報を用いてＳＬＯフォーカスドライバ３１８と連動させてＯＣＴフォーカスドライバ３１９を駆動させることで、ＳＬＯ撮影部のフォーカスを合わせることでＯＣＴ撮影部のフォーカスを概略合わせることができる。
【００４２】
更に、ＯＣＴ撮影部はＳＬＯ撮影部と独立して合焦処理が可能である。ＯＣＴ撮影部のフォーカスは、例えば、ＯＣＴフォーカスレンズ１２１を光軸上での位置を移動させながら、被検眼１０８に測定光を照射し、フォーカスレンズ１２１の位置に対応する干渉光を得る。各々の干渉光の強度を比較し、強度が最大となる干渉光が得られた位置にＯＣＴフォーカスレンズ１２１を移動させる（ＯＣＴ合焦処理を行う）ことで、ＯＣＴ撮影部の眼底に対するフォーカス合わせをすることができる。
【００４３】
＜ユーザ操作＞
以上に述べた、ＯＣＴシステムにおける、３次元断層情報の取得処理について図４のフローチャートを参照してより詳細に説明する。ＯＣＴ断層像撮影が開始されると、ＣＰＵ３０１により、ステップＳ４０１においてＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦処理（ＳＬＯ合焦処理）が実行される。なお、本実施形態では、ステップＳ４０１の処理の実行前に、予め前眼部像を用いて被検眼１０８と光断層撮影装置１０とのアライメントは終了している。ＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦処理では、網膜上で既定のスキャン中心位置、及びＸ、Ｙ軸方向のスキャン幅の範囲に対してビームによるスキャンが行われ、ＳＬＯ網膜表面像が取得される。該ＳＬＯ網膜表面像については、コントラスト等により合焦状態が確認され、フォーカスレンズ位置調整→ＳＬＯ網膜表面像の取得→コントラスト評価が繰り返される。合焦状態にてＳＬＯ網膜表面像が得られたと確認されるとＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦処理が完了する。ここで、ＣＰＵ３０１は、第１の合焦用光学部材の一例であるＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦情報（例えば、受光素子から出力される受光信号又は観察画像の強度）を取得する合焦情報取得手段の一例である。
【００４４】
ＳＬＯ合焦処理が完了すると、フローはステップＳ４０２に進み、ＣＰＵ３０１は、ＳＬＯフォーカスレンズ１０９の光軸上の位置を元にＯＣＴフォーカスレンズ１２１を光軸上で移動させる（ＯＣＴフォーカスレンズによる合焦の粗調整を行う）。ＳＬＯフォーカスレンズ１０９の駆動量及び光軸上の位置とＯＣＴフォーカスレンズ１２１の駆動量及び光軸上の位置とは、上述したように互いに関連付けられたテーブル情報として予めハードディスク３０５に格納してある。ＣＰＵ３０１はこのテーブル情報を用いて、ＯＣＴフォーカスドライバ３１９を介してＯＣＴフォーカスレンズ１２１を駆動する。ＯＣＴフォーカスレンズ１２１の駆動終了後、フローはステップＳ４０３に進む。ここで、ステップＳ４０１及びステップＳ４０２は、第１の合焦用光学部材の一例であるＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦情報を用いてＳＬＯフォーカスレンズ１０９及び第２の合焦用光学部材の一例であるＯＣＴフォーカスレンズ１２１を移動させる第１の合焦処理の一例である。
【００４５】
ステップＳ４０３では、第２の合焦処理の一例であるＯＣＴ合焦処理を実行する（ＯＣＴフォーカスレンズによる合焦の微調整を行う）。ＯＣＴ合焦処理では、ＣＰＵ３０１は、ステップＳ４０２で移動させたＯＣＴフォーカスレンズ１２１を既定量、例えば１Ｄ程度、視度マイナス方向に移動させた後、前述したようにフォーカスレンズ１２１を移動させながらフォーカス合わせを実行する。なお、本実施形態では、ステップＳ４０３の処理においてＯＣＴフォーカスレンズ１２１を既定量移動させているが、ステップＳ４０２で参照するテーブル情報にあらかじめ既定量移動させたフォーカス位置を保存することも可能である。ＯＣＴ合焦処理が完了すると、フローはステップＳ４０４に進む。ここで、ステップＳ４０３は、第１の合焦処理が実行された後に、干渉光に関する情報（例えば、干渉光の強度または断層像の強度）を用いてＯＣＴフォーカスレンズ１２１を移動させる第２の合焦処理の一例である。このとき、第１の合焦処理は、ＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦情報を用いてＳＬＯフォーカスレンズ１０９を合焦位置に移動させ、且つＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦情報を用いてＯＣＴフォーカスレンズ１２１を第２の合焦処理の開始位置に移動させる処理であることが好ましい。これにより、適切なＳＬＯ合焦処理を行いつつ、ＯＣＴ合焦処理をスムーズに開始することができる。
【００４６】
ステップＳ４０４では、ＣＰＵ３０１は、ＯＣＴ撮影部による指定されたＯＣＴ撮影領域の網膜断層像（３次元断層情報）の撮影処理を行う。当該撮影処理では、ＯＣＴ撮影領域での測定光の走査、該ＯＣＴ撮影領域からの戻り光と参照光との干渉光の生成、該干渉光からの干渉信号のサンプリング、該干渉信号からの３次元輝度情報の生成、該輝度情報からの３次元断層像の生成の処理が行われる。なお、ここでは省略しているが、当該処理において参照光の光路長を調整する処理も併せて行ってもよい。
【００４７】
続いて、ステップＳ４０５では、ＯＣＴ断層像の撮影継続を判断し、継続しない場合には処理を終了する。ステップＳ４０５の判断で撮影を継続する場合には、ステップＳ４０６に進む。ステップＳ４０６では、ＳＬＯの合焦処理の再実行判定処理を行う。
【００４８】
ステップＳ４０６のＳＬＯの合焦処理の再実行判定処理では、ステップＳ４０６１で被検者が変更されたかを判定し、変更されていた場合は、ＳＬＯ合焦処理の再実行が必要と判定する。ステップＳ４０６１で被検者の変更がない場合、次にステップＳ４０６２で撮影眼左右が変更されたかを判定し、変更されていた場合は、ＳＬＯ合焦処理の再実行が必要と判定する。ステップＳ４０６２で撮影眼左右の変更がない場合、次にステップＳ４０６３で撮影部位が変更されたかを判定する。撮影部位の変更は、例えば内部固視灯１２３の点灯位置を変更し、被検眼の視線位置を変更することによって実行される。ステップＳ４０６３の判定で撮影部位が変更されていた場合は、ＳＬＯ合焦処理の再実行が必要と判定する。ステップＳ４０６３で撮影部位の変更がない場合、ＳＬＯ合焦処理の再実行が不要と判定する。以上の処理（或いは工程）により、ステップＳ４０６のＳＬＯの合焦処理の再実行判定処理が完了する。
【００４９】
続いて、ステップＳ４０７で、ステップＳ４０６のＳＬＯの合焦処理の再実行判定処理の結果からＳＬＯ合焦処理の再実行が必要か否かを判断する。ステップＳ４０７の判断で、ＳＬＯ合焦処理の再実行が必要と判断した場合、ステップＳ４０１以降の処理を繰り返す。ステップＳ４０７の判断で、ＳＬＯ合焦処理の再実行が不要と判断した場合、ステップＳ４０８でＯＣＴフォーカスレンズ１２１をステップＳ４０３でＯＣＴ合焦処理を開始した位置に移動させた後、ステップＳ４０３以降の処理を繰り返す。なお、ステップＳ４０８において、ＯＣＴ合焦処理の開始位置として、前回のＯＣＴ合焦処理の開始位置に移動する代わりに、ＯＣＴフォーカスレンズ１２１を所定の距離だけ移動させても良い。
【００５０】
ここで、ステップＳ４０６は、被検眼の同一撮影部位の断層像を再度取得する指示を受けたか否かにより、ＳＬＯ合焦処理を再度実行するか否かを判断する処理の一例である。このとき、ステップＳ４０６以降の処理は、被検眼の同一撮影部位の断層像を再度取得する指示を受けた場合に、第１の合焦処理の一例であるステップＳ４０１及びステップＳ４０２の合焦処理が再度実行されずに、第２の合焦処理の一例であるステップＳ４０３のＯＣＴ合焦処理を再度実行する処理の一例である。また、ステップＳ４０６以降の処理は、被検眼の同一撮影部位の断層像を再度取得する指示を受けた場合に、第１の合焦用光学部材の一例であるＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦情報が再度取得されずに、第２の合焦処理を再度実行する処理の一例である。また、ステップＳ４０６以降の処理は、被検眼の同一撮影部位の断層像を再度取得する指示を受けた場合に、ＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦情報を再度用いて第２の合焦用光学部材の一例であるＯＣＴフォーカスレンズ１２１を第２の合焦処理の開始位置に移動させた後に、第２の合焦処理を再度実行する処理の一例である。また、ステップＳ４０６以降の処理は、被検眼の異なる撮影部位の断層像を取得する指示を受けた場合に、第１の合焦処理が再度実行された後に、第２の合焦処理を再度実行する処理の一例である。
【００５１】
なお、以上に述べた前眼撮影部、ＳＬＯ撮影部及びＯＣＴ撮影部と、これらに対して光路を分岐させるビームスプリッタとの配置の関係は、例示であって本発明の適用対象となる構成に限定されない。例えば、第１のビームスプリッタ１１６の反射方向にＳＬＯ撮影部及びＯＣＴ撮影部を配置し、透過方向に前眼部撮影部を配置してもよく、第２のビームスプリッタ１０６の反射方向にＳＬＯ撮影部を配置し、透過方向にＯＣＴ撮影部を配置してもよい。即ち、装置構成時に筐体内に許容されるスペース等に応じて、光学部材や各撮影部の配置は適宜変更可能である。またスキャナもＸ軸方向及びＹ軸方向各々に対応するスキャナに限定されず、２方向に対応可能なスキャナ等を用いてもよい。
【００５２】
以上の処理（或いは工程）を実行することにより、判断に応じてＳＬＯ合焦処理を省略すると共に、ＯＣＴ撮影時にＯＣＴ合焦処理を実行することにより、フォーカス処理時間を短縮すると共に、撮影時毎の被検眼の微小なフォーカスずれを補正することができる。
【００５３】
（第２の実施形態）
上述した第１の実施形態では、ＯＣＴ断層像撮影前に必ずＳＬＯ合焦処理を実施するように構成している。一方、第２の実施形態では、フォローアップ検査などを想定している。この場合、同一被検者の同一被検眼の同一撮影部位に対する再撮影時において、ＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦位置が大きく変わることが無い。このため、上述した第１の実施形態の構成に加えて、ＳＬＯ合焦処理を省略し、処理時間の短縮を図るよう構成することも可能である。
【００５４】
以下では、図５を参照して、同一被検眼の再撮影時にＳＬＯ合焦処理を省略する処理について説明する。なお、本実施形態において、上述した第１の実施形態に記載された処理と同一の処理については、同一の符号（ステップ番号）を付与して、ここでの詳細な説明を省略する。
【００５５】
本実施形態において、ＯＣＴ断層像撮影が開始されると、ステップＳ５０１において、ユーザは、入力装置２２を用いて、ＯＣＴ断層像撮影を実施する被検者を識別するＩＤを入力する。続いてステップＳ５０２で、データベース３２２からステップＳ５０１で入力された被検者識別ＩＤと、被検眼左右、撮影部位、固視灯位置が同一であるフォーカス位置情報を検索する。次に、ステップＳ５０３では、ステップＳ５０２の検索結果を判定し、被検者識別ＩＤと、被検眼左右、撮影部位、固視灯位置が同一であるフォーカス位置情報が存在していた場合、ステップＳ５０４に進む。すなわち、ステップＳ５０３では、先の被検眼の断層像の取得時における合焦情報（例えば、第１の合焦用光学部材の一例であるＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦位置）がデータベースに存在する場合には、ステップＳ５０４に進む。ステップＳ５０４では、ＳＬＯフォーカスドライバ３１８を駆動し、ＳＬＯフォーカスレンズ１０９をステップＳ５０２においてデータベース３２２から検索したフォーカス位置に移動させる。すなわち、ステップＳ５０４では、後の被検眼の（同一撮影部位の）断層像の取得時において、データベースに存在する合焦情報を用いてＳＬＯフォーカスレンズ１０９を移動させる。フォーカス位置の移動が完了すると、フローはステップＳ４０２に進む。
【００５６】
ステップＳ５０３の判定で、被検者識別ＩＤと、被検眼左右、撮影部位、固視灯位置が同一であるフォーカス位置情報が存在しない場合、ＣＰＵ３０１により、ステップＳ４０１においてＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦処理が実行される。なお、本実施形態では、ステップＳ４０１の処理の実行前に、予め前眼部像を用いて被検眼１０８と光断層撮影装置１０とのアライメントは終了している。ステップＳ４０１でＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦処理が完了すると、フローはステップＳ５０５に進む。ステップＳ５０５では、ステップＳ４０１のＳＬＯフォーカスレンズ１０９の合焦位置と、被検者識別ＩＤ、被検眼左右、撮影部位、固視灯位置の各情報をデータベース３２２に登録する。情報のデータベース３２２への登録処理が完了すると、フローはステップＳ４０２に進む。
【００５７】
ステップＳ４０２では、ＳＬＯフォーカスレンズ１０９の光軸上の位置を元に、ＯＣＴフォーカスレンズ１２１を光軸上で移動させる。すなわち、第２の実施形態におけるステップ４０２では、後の前記被検眼の断層像の取得時において、データベースに存在する合焦情報を用いて第２の合焦用光学部材の一例であるＯＣＴフォーカスレンズ１２１を移動させる（ＯＣＴフォーカスレンズによる合焦の粗調整を行う）。続いて、ステップＳ４０３で、ＯＣＴ合焦処理を実行する（ＯＣＴフォーカスレンズによる合焦の微調整を行う）。ＯＣＴ合焦処理が完了すると、フローはステップＳ４０４に進む。ステップＳ４０４では、ＣＰＵ３０１は、ＯＣＴ撮影部による指定されたＯＣＴ撮影領域の網膜断層像（３次元断層情報）の撮影処理を行う。
【００５８】
続いて、ステップＳ４０５でＯＣＴ断層像の撮影継続を判断し、継続しない場合には処理を終了する。ステップＳ４０５の判断で撮影を継続する場合には、ステップＳ４０６に進む。ステップＳ４０６では、ＳＬＯの合焦処理の再実行判定処理を行う。
【００５９】
ステップＳ４０６のＳＬＯの合焦処理の再実行判定処理では、ステップＳ４０６１で被検者が変更されたかを判定し、変更されていた場合は、ＳＬＯ合焦処理の再実行が必要と判定する。ステップＳ４０６１で被検者の変更がない場合、次にステップＳ４０６２で撮影眼左右が変更されたかを判定し、変更されていた場合は、ＳＬＯ合焦処理の再実行が必要と判定する。ステップＳ４０６２で撮影眼左右の変更がない場合、次にステップＳ４０６３で撮影部位が変更されたかを判定し、変更されていた場合は、ＳＬＯ合焦処理の再実行が必要と判定する。ステップＳ４０６３で撮影部位の変更がない場合、ＳＬＯ合焦処理の再実行が不要と判定する。以上の処理（或いは工程）により、ステップＳ４０６のＳＬＯの合焦処理の再実行判定処理が完了する。
【００６０】
続いて、ステップＳ４０７で、ステップＳ４０６のＳＬＯの合焦処理の再実行判定処理の結果からＳＬＯ合焦処理の再実行が必要か否かを判断する。ステップＳ４０７の判断で、ＳＬＯ合焦処理の再実行が必要と判断した場合、ステップＳ４０１以降の処理を繰り返す。ステップＳ４０７の判断で、ＳＬＯ合焦処理の再実行が不要と判断した場合、ステップＳ４０８でＯＣＴフォーカスレンズ１２１をステップＳ４０３でＯＣＴ合焦処理を開始した位置に移動させた後、ステップＳ４０３以降の処理を繰り返す。
【００６１】
以上の処理を実施することにより、被検者識別ＩＤと、被検眼左右、撮影部位、固視灯位置とＳＬＯフォーカス位置がデータベース３２２に既に登録されていた場合にはＳＬＯ合焦処理を省略することができる。このため、撮影時に常にＳＬＯ撮影部の合焦処理を実施する場合に比較し、合焦処理時間の短縮が図れる。従って、上述した第１の実施形態に対して、例えばユーザの利便性の向上も見込むことができる。
【００６２】
なお、上述した第１の実施形態及び第２の実施形態においては、オートフォーカス手段としてＳＬＯ光学系と、ＯＣＴ光学系の２種類を用いているが、低精度、及び高精度のフォーカス手段をいずれもＳＬＯ光学系を用いて実行することも可能である。ＳＬＯ光学系により低精度、及び高精度の合焦処理を行う場合、合焦処理時に、眼底平面像を複数撮影する際のＳＬＯフォーカスレンズ１０９の光軸上の位置を移動させる移動量を変化させることで、実現可能である。移動量が大きい場合は、高速ではあるが精度が低く、移動量が小さい場合は低速ではあるが、精度が高い合焦処理が実現できる。
【００６３】
また、上述した第１の実施形態及び第２の実施形態においては、以下の構成も適用可能である。この構成としては、前眼部アライメントの適否を判定する場合を考える。なお、前眼部アライメントとは、被検眼に対して装置本体を位置合わせする動作を、前眼部画像を用いて自動的に実行することである。また、装置本体とは、例えば、干渉光学系及び観察光学系を含む光学ヘッドのことである。このとき、土台に対して光学ヘッドを移動可能なステージと、モータ等の駆動手段とを用いて、被検眼に対して装置本体を自動的に移動することができる。また、前眼部アライメントの適否の判定は、例えば、前眼部画像の瞳孔の検出が十分にできるか否かによって行うことができる。このとき、瞳孔の検出が十分にできないと、前眼部アライメントを継続することができないため、前眼部アライメントが不適当であると判定される。従来、前眼部アライメントが不適当である場合には、前眼部アライメントが停止されるだけでなく、前眼部アライメント完了後に自動的に実行されるはずの他の光学調整が開始されなかった。なお、他の光学調整とは、上述した各種のフォーカス調整や光路長差調整のことである。また、光路長差調整とは、測定光の光路長と参照光の光路長との光路長差を調整することである。例えば、参照ミラー２０７が光路に沿って移動されることにより、参照光の光路長を調整することができる。このとき、参照ミラー２０７を駆動するモータ等の駆動手段が、光路長差調整手段の一例である。ここで、被検眼には固視が不安定な人がいて、このような被検眼の場合には、前眼部アライメントが適当になるように光学調整することが難しい。このため、前眼部アライメントが不適当であるからといって他の光学調整も停止していると、何時までたっても撮影を実行できず、結果として、撮影前に必要な光学調整等にかかる時間が長くなってしまっていた。そこで、前眼部アライメントが不適当である場合でも、前眼部アライメントとは異なる光学調整（上述した他の光学調整）を自動的に実行することが好ましい。これにより、撮影前に必要な光学調整等にかかる時間を短縮することができる。
【００６４】
（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の１以上の機能を実現するソフトウェア（プログラム）、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ等）における１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出して実行する処理でも実現可能である。また、１つ以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。このプログラム及び当該プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、本発明に含まれる。
【００６５】
以上、実施形態を参照して本発明について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではない。本発明の趣旨に反しない範囲で変更された発明、及び本発明と均等な発明も本発明に含まれる。また、上述した実施形態及びその変形された態様は、本発明の趣旨に反しない範囲で適宜組み合わせることができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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