(57)【要約】【課題】  装置構成が複雑化することなくＡＯ−ＳＬＯ、ＡＯ−ＯＣＴ搭載装置のＡＯ制御を最適化する方法を提供することにある。【解決手段】  波長が互いに異なる第１の光源からの第１の測定光と第２の光源からの第２の測定光を眼底に照射するための共通光学系と、共通光学系を介した眼底からの第１の測定光の戻り光と、対応する参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、眼底の断層画像を生成する第１の生成手段と、共通光学系を介した眼底からの第２の測定光の戻り光に基づき、眼底の眼底画像を生成する第２の生成手段と、共通光学系に配置され、第１の測定光の戻り光の波面収差と第２の測定光の戻り光の波面収差の少なくとも一方の光の波面収差を検知する波面検知手段と、第１の測定光の戻り光と第２の測定光の戻り光の少なくとも一方の光を選択する選択手段とを有し、波面検知手段は選択された光の波面収差を測定する。【選択図】  図１
2019205822.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の光源からの第１の測定光と、前記第１の測定光とは波長が異なる第２の光源からの第２の測定光を眼底に照射するための共通光学系と、
前記共通光学系を介した前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の測定光に対応する参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成手段と、
前記共通光学系を介した前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成手段と、
前記共通光学系に配置され、前記第１の測定光の戻り光の波面収差と前記第２の測定光の戻り光の波面収差の少なくとも一方の光の波面収差を検知する波面検知手段と
前記第１の測定光の戻り光と前記第２の測定光の戻り光の少なくとも一方の光を選択する選択手段とを有し、
前記波面検知手段は、前記選択手段で選択された光の波面収差を検知することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
入射される光の波面収差を補正して出射する波面補正手段を更に有し、
前記第１の生成手段は、前記波面補正手段により補正された前記第１の測定光の戻り光に基づき前記断層画像を生成し、
前記第２の生成手段は、前記波面補正手段により補正された前記第２の測定光の戻り光に基づき前記眼底画像を生成することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記断層画像及び前記眼底画像と共に、前記選択手段により選択された光を識別可能に表示する表示手段を更に有することを請求項１又は２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記選択手段により前記第２の測定光の戻り光が選択され、前記第２の生成手段により前記波面補正手段により補正された前記第２の測定光の戻り光に基づき前記眼底画像を生成した後に、
前記選択手段により前記第１の測定光の戻り光が選択され、前記第１の生成手段により前記波面補正手段により補正された前記第１の測定光の戻り光に基づき前記断層画像を生成するように制御する手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記第２の測定光の光路に設けられ、前記第２の測定光のフォーカスを調整する調整手段と、
前記選択手段により前記第１の測定光の戻り光が選択されている場合、前記波面補正手段で補正される前記第２の測定光の前記波長の違いによるフォーカス位置のずれを、前記調整手段により調整する手段を更に有することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記選択手段により前記第１の測定光の戻り光が選択されている場合、前記波面検知手段で検知される前記第１の測定光の戻り光の測定の状態を判断する手段と、
前記測定の状態が基準を満たさない場合、前記第１の測定光の戻り光の波面収差の検知から、前記第１の測定光の戻り光と前記第２の測定光の戻り光の波面収差の検知へ変更する手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
第１の光源からの第１の測定光と、前記第１の測定光とは波長が異なる第２の光源からの第２の測定光を眼底に照射するための共通光学系と、
前記共通光学系を介した前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の測定光に対応する参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成手段と、
前記共通光学系を介した前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成手段と、
前記共通光学系に配置され、前記第１の測定光の戻り光の波面収差と前記第２の測定光の戻り光の波面収差の少なくとも１つの光の波面収差を検知する波面検知手段とを有する撮像装置の制御方法であって、
前記第１の測定光の戻り光と前記第２の測定光の戻り光の少なくとも１つを選択する工程と、
前記選択工程で選択された光の波面収差を、前記波面検知手段に検知させる工程とを有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【請求項８】
前記第２の測定光の戻り光に基づきアライメントを調整する調整手段と、
前記アライメントの終了を指示する指示手段とを更に有し、
前記選択手段は、前記指示手段の指示に基づき前記第１の測定光の戻り光を選択することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記アライメントの状態を表す第１のインジケータを表示する手段を更に有し、
前記アライメントの状態があらかじめ設定された基準を満たした場合に、前記第１のインジケータの表示の形態が変更されて表示されることを特徴とする請求項８に記載の撮像装置。
【請求項１０】
前記第１の生成手段により生成される前記眼底の断層画像の画質を表す第２のインジケータを表示する手段を更に有し、
前記第２のインジケータは、前記第１のインジケータの表示と、前記選択手段による選択の状態に基づいて表示を更新することを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
【請求項１１】
第１の光源からの第１の測定光と、前記第１の測定光とは波長が異なる第２の光源からの第２の測定光を眼底に照射するための共通光学系を介した前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の測定光に対応する参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成工程と、
前記共通光学系を介した前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成工程と、
前記共通光学系に配置され波面検知手段により、前記第１の測定光の戻り光の波面収差と前記第２の測定光の戻り光の波面収差の少なくとも一方の光の波面収差を検知する検知工程と
前記第１の測定光の戻り光と前記第２の測定光の戻り光の少なくとも一方の光を選択する選択工程とを有し、
前記波面検知手段は、前記選択工程において選択された光の波面収差を検知することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置およびその制御方法に関し、特に被検眼の眼底網膜の断層画像を取得する撮像装置およびその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼の眼底網膜の断層画像を撮像する断層画像撮像装置（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）は、眼底網膜からの反射光（サンプル光）を参照光と干渉させた干渉縞の周波数を解析することにより断層画像を生成している。
【０００３】
特に、このような眼科用の撮像装置は、近年において、照射レーザの高ＮＡ化等によってさらなる高解像度化が進められている。しかしながら、眼底を撮像する場合には、角膜や水晶体等の眼の光学組織を通して撮像をしなければならない。そのため、高解像度化が進むに連れて、これら角膜や水晶体の収差が撮像画像の画質に大きく影響するようになってきた。
【０００４】
そこで、補償光学（ＡＯ：Ａｄａｐｔｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃｓ）技術を用いて、被検眼の角膜や水晶体等の眼の光学組織によって乱された測定光及び反射光の波面を補正して微細な構造を撮像する技術が知られている。ＯＣＴにおいてもＡＯ技術を用いて視細胞を解像できる解像力を有するＯＣＴが開発されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１５−２２１０９１号公報
【特許文献２】特許第５６４１７４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
視細胞が解像できる程度の高精細なＯＣＴ画像を撮像する場合、通常の解像度のＯＣＴ画像よりも被検眼の動きによるモーションアーティファクトの影響を受けやすい。また、画質向上のために複数のＢスキャン画像を重ね合わせた断層画像を生成するためには、正確に同じライン上を測定光で走査することにより撮像した複数のＢスキャン画像が必要になるため、精度の高いトラッキングが求められる。
【０００７】
この場合、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像時のトラッキングのために撮像する動き検知用の画像にも、ＡＯ−ＯＣＴ画像と同等の解像力が求められる。そのため、ＡＯ−ＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）で撮像したＡＯ−ＳＬＯ画像を用いる必要がある。特許文献１では、重なり合う波長域を有する光源を用いるＡＯ−ＳＬＯ、ＡＯ−ＯＣＴ搭載機において、光路をわずかにずらすことで同時に撮像する技術が開示されている。しかし、この場合、撮影領域が異なるためトラッキングが困難となり、かつ装置が複雑化する課題が発生する。また、特許文献２の装置はＡＯ−ＳＬＯ、ＡＯ−ＯＣＴによる撮像が同時ではなく、ＡＯ−ＳＬＯ画像をＡＯ−ＯＣＴによる撮像時のトラッキングに用いることができない。
【０００８】
そのために、ＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像とＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像には、それぞれ異なる波長の光を用い、波長分離ミラーで分岐することで同じ領域を同時に撮影することが望ましい。しかし、ＡＯ−ＳＬＯ画像とＡＯ−ＯＣＴ画像を同時に取得できた場合でも、それぞれの光の色収差や深達度の違いに依存して好適なＡＯの制御方法が異なり、最適化することが難しかった。
【０００９】
本発明の目的は、装置構成が複雑化することなくＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像とＡＯ−ＯＣＴ画像撮像時のＡＯ制御を最適化する方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するために本発明の撮像装置は、第１の光源からの第１の測定光と、前記第１の測定光とは波長が異なる第２の光源からの第２の測定光を眼底に照射するための共通光学系と、前記共通光学系を介した前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の測定光に対応する参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成手段と、前記共通光学系を介した前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成手段と、前記共通光学系に配置され、前記第１の測定光の戻り光の波面収差と前記第２の測定光の戻り光の波面収差の少なくとも一方の光の波面収差を検知する波面検知手段と、前記第１の測定光の戻り光と前記第２の測定光の戻り光の少なくとも一方の光を選択する選択手段とを有し、前記波面検知手段は、前記選択手段で選択された光の波面収差を測定する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、装置構成が複雑化することなくＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像とＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像時のＡＯ制御を最適化することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の一実施形態における撮像装置の構成を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態における撮影時のモニタに表示される表示画面を示す図である。
【図３】本発明の一実施形態におけるＡＯ−ＯＣＴ画像とＡＯ−ＳＬＯ画像の取得位置の関係を説明するための図である。
【図４】本発明の一実施形態における眼底トラッキングを説明するための図である。
【図５】本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。
【図６】本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。
【図７】本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。
【図８】本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。
【図９】本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。
【図１０】本発明の一実施形態における撮像時のスキャナの駆動波形を説明するための図である。
【図１１】本発明の一実施形態のトラッキング時のＹスキャナの駆動波形を説明するための図である。
【図１２】本発明の一実施形態のトラッキング時のＸスキャナの駆動波形を説明するための図である。
【図１３】本発明の一実施形態におけるＸ方向走査部の構成を説明するための図である。
【図１４】本発明の一実施形態における撮像時のフローチャートである。
【図１５】本発明の一実施形態にトラッキング時のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本発明の一実施形態について図面を参照しながら、以下に詳細に説明する。以下の説明は本質的に、説明的及び例示的なものにすぎず、いかなる形でも、本開示及びその用途又は使用を限定することを意図していない。実施形態において示されるコンポーネントの相対的構成、並びに、ステップ、数値表現及び数値は、別段の具体的な指示がない限り、本開示の範囲を限定しない。当業者によってよく知られている技法、方法及びデバイスは、以下で論考する実施形態を可能にするために当業者がこれらの詳細を知る必要がないので、詳細に論考されていない場合がある。
【００１４】
［第１の実施形態］
本実施形態の装置により撮像できるものは、例えば、被検眼の眼底の網膜の断層画像である。
【００１５】
（装置構成）
本実施形態に係るフーリエドメイン方式の光干渉断層法を眼底断層画像の撮像装置に応用した例について、図１に示す撮像装置を用いて説明する。
【００１６】
図１は、本実施形態にかかる撮像装置であり、ＡＯ−ＯＣＴ部、ＡＯ−ＳＬＯ部、前眼部観察部、及び、固視灯部から構成される。なお、ＡＯ−ＯＣＴ部とＡＯ−ＳＬＯ部との共通光学系であるサンプル光学系も含まれる。
【００１７】
ＡＯ−ＯＣＴの光源１は、ＡＯ−ＯＣＴ測定光として低コヒーレンス光を発生させる光源である。本実施形態において光源１には、中心波長８５５ｎｍ、波長幅１００ｎｍのＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）光源を用いる。
【００１８】
光源１を発した光は、ファイバカプラ２によりサンプル光学系１０１、参照光学系１０２に分岐され、サンプル光学系１０１側に分岐された光は、アダプター３、ファイバ４を介してサンプル光学系１０１に導かれる。サンプル光学系１０１は、コリメータレンズ５、ＡＯ−ＳＬＯ光学系と分岐する波長分離ミラーであるＢＳ（ビームスプリッタ）６、波面検知光学系１０５へ光路を分岐するハーフミラーであるＢＳ（ビームスプリッタ）７、ミラー８、凹面鏡９、形状可変ミラーであり波面補正に用いる波面補正装置であるＤＭ（Ｄｅｆｏｍａｂｌｅ  Ｍｉｒｒｏｒ）１０、凹面鏡１１、ＯＣＴ測定光とＳＬＯ測定光との分岐、合流を行う波長分岐ミラーであるＢＳ（ビームスプリッタ）１２、固定ミラー１３、凹面鏡１４、Ｘ方向に走査するガルバノミラー、ＭＥＭＳミラー等のＸスキャナ１５、凹面鏡１６、ミラー１７ａ，１７ｂ、ミラー１９、レンズ２０、Ｙ方向の走査を行うＹスキャナ２１、凹面鏡２２、波長選択ミラーであり前眼部観察光学系１０６、固視灯光学系１０７との分岐を行うＢＳ（ビームスプリッタ）２３により構成される。ミラー１７ａ，１７ｂは一体となりステージ１８により光軸方向に移動自在に構成されており、サンプル光学系のフォーカス調整を行う。
【００１９】
光源２４は、ＡＯ−ＳＬＯ測定光を発する、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）光源、ＳＬＤ光源、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）光源等の光源であり、ＡＯ−ＯＣＴ測定光とは、波長が異なる。本実施形態においては、中心波長７６０ｎｍ、波長幅１０ｎｍのＳＬＤ光源を用いる。光源２４を発した光は、ファイバアダプタ２５を介して、ファイバ２６に導かれＡＯ−ＳＬＯ投影光学系１０３に導かれる。ＡＯ−ＳＬＯ投影光学系１０３は、コリメータレンズ２７、ＢＳ２８、フォーカス調整用レンズ２９，３０、ミラー３１、ＢＳ６を経て、サンプル光学系１０１のＡＯ−ＯＣＴ光路に合流し、前述の通りの経路を介してＢＳ１２に達する。
【００２０】
なお、ＢＳ２８は、ＡＯ−ＳＬＯ投影光学系とＡＯ−ＳＬＯ受光光学系の光路を分岐するために１０％の光は透過し、９０％の光を反射するハーフミラーである。また、ＢＳ６は、ＡＯ−ＳＬＯ測定光は透過し、ＡＯ−ＯＣＴ測定光は反射する波長分岐ミラーである。
【００２１】
ＢＳ１２は、後述するようにＡＯ−ＯＣＴ測定光は反射し、ＡＯ−ＳＬＯ測定光は透過する波長分岐ミラーであり、ＡＯ−ＳＬＯ測定光は透過し、高速なスキャナである高速スキャナ３２で反射され再びＢＳ１２により、ＡＯ−ＯＣＴ測定光に合流する。その後は、ＡＯ−ＯＣＴサンプル光学系と共通でありＢＳ（ビームスプリッタ）２３までが、ＡＯ−ＳＬＯ投影光学系を構成する。ＡＯ−ＳＬＯ受光光学系１０４は、ＢＳ２８の反射方向に配置され、レンズ３３、共焦点絞り３４、ＡＰＤ（Ａｖａｌａｎｃｈｅ  Ｐｈｏｔｏ  Ｄｉｏｄｅ）から成る受光素子３５により構成される。受光素子３５は共焦点絞り３４を介して眼底からの戻り光を受光する。
【００２２】
高速スキャナ３２としては、８ｋＨから１６ｋＨｚ程度で往復スキャンできる共振スキャナやＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ  Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍ）スキャナを用いることができる。但し、これらの高速スキャナは、振り角は調整できるものの、走査の中心角度を変更することはできない。そのためトラッキングのため、または、撮像範囲を移動するためには別途スキャナを用意する必要がある。
【００２３】
また、ＡＯ−ＯＣＴ測定光の眼底上で結像する照射位置は、ＡＯ−ＳＬＯ測定光の高速スキャナが振り角０の状態での眼底上で結像する照射位置に、略同一になるように調整されている。
【００２４】
参照光学系１０２は、コリメータレンズ３６、濃度可変フィルタ３７、ミラー３８、３９、４０、４１、コーナキューブミラーであるＣＱ４２、ミラー４３により構成される。ＣＱ４２は、反射面が直交する３面で構成され、ステージ４４上に配置され、±１００ｍｍ程度移動可能である。これにより、被検眼の眼軸長の差、サンプル光学系のステージ１８の移動によるＡＯ−ＯＣＴ測定光のフォーカス調整による光路長の変化に対応する。
【００２５】
分光器１０８の光学系は、コリメータレンズ４６、グレーティング等の分光部材４７、結像レンズ４８によりラインセンサ４９に干渉光が結像させる。
【００２６】
波面検知光学系１０５は、ミラー５５、レンズ５６、眼底共役絞り５７、レンズ５８、特性の異なる複数の光学フィルタが挿入離脱可能に構成されているターレットユニット６０、波面検知手段であるハルトマンシャックセンサー等の波面センサ６１により構成される。絞り５７は、眼底からの戻り光以外の不要な光が波面センサ６１に入るのを防止する。
【００２７】
前眼部観察光学系１０６はカメラ５１を有し、前眼部照明光源５２により照明された前眼部画像を撮像する。
【００２８】
固視灯投映光学系１０７は有機ＥＬ、液晶表示装置等の固視灯提示部５４を有し、固視灯提示部５４に指標を表示することにより、レンズ５３、可視光を透過する波長分岐ミラーであるＢＳ５０、ＢＳ２３を介して被検眼に固視目標を提示する。
【００２９】
また、６２はＰＣであり、後述するように上述の各部を制御する。
【００３０】
（Ｘ方向走査部）
図１３に、Ｘ方向走査部の構成を示す。図１と同じ構成は同一符号である。ＢＳ１２は、波長分岐ミラーであり、波長８０５ｎｍ〜９０５ｎｍのＡＯ−ＯＣＴ測定光は反射し、波長７５０ｎｍ〜７７０ｎｍのＡＯ−ＳＬＯ測定光は透過する。この透過特性は、屈折率の異なる複数種類の誘電体多層膜を３０〜７０層程度、既知の方法により真空蒸着することにより得られる。この多層膜は、入射側の表面に施されている。
【００３１】
ＢＳ１２の表面１２ａの領域１４１の多層膜に達したＡＯ−ＯＣＴ測定光は、図１３における上方に反射され固定ミラー１３に達する。ミラー１３の表面１３ａには、既知の反射防止膜が蒸着されており反射率は、０．３％以下である。したがってＡＯ−ＯＣＴ測定光は、表面１３ａで屈折され基板内に入り、裏面１３ｂに達する。ミラー１３の基板は、石英ガラス、光学ガラスのＢＫ７等であり屈折率１．５程度を有する。裏面１３ｂには、銀、金、アルミ等の金属膜が蒸着されている。
【００３２】
この膜によりＡＯ−ＯＣＴ測定光は反射され、再び基板中を透過し、ミラー面１３ａから空気中に出てＢＳ１２の表面１２ａの領域１４２の多層膜に達し、反射されＡＯ−ＳＬＯ測定光と合流する。ＡＯ−ＯＣＴ測定光は、ミラー１３の表面１３ａで屈折されて基板内を透過することにより非点収差の影響をうける。
【００３３】
ＡＯ−ＳＬＯ測定光は、表面１２ａの領域１４１の多層膜を透過、屈折してＢＳ１２の基板内に入射する。この基板もミラー１３同様  石英ガラス、光学ガラスのＢＫ７等である。そして裏面１２ｂより再び屈折されて空気中に出る。裏面１２ｂには、既知の反射防止膜が施されている。この反射防止膜は、ＡＯ−ＳＬＯ測定光及びＡＯ−ＯＣＴ測定光の反射率が、０．３％以下である。これによりゴースト、フレアーの発生を低減することができる。
【００３４】
また透過光は、平行平板でもあるＢＳ１２を斜めに透過することにより非点収差の影響を受ける。空気中に出たＡＯ−ＳＬＯ測定光は高速スキャナ３２の可動部のミラーにより反射され可動部のミラーの角度により異なる方向に走査される。高速スキャナ３２の可動部のミラーは平面鏡であり、表面に銀、銅、アルミ等の金属膜が施され、その上に誘電体多層膜の保護膜が施される。ＡＯ−ＳＬＯ測定光はこの金属膜面で反射される。そして再びＢＳ１２の領域１４２の反射防止面１２ｂにより屈折され基板内を通り表面１２ａの多層膜より空気中に出て進行する。このように、ＢＳ１２を二回透過するため、二回分の非点収差の影響を受ける。眼底からの戻り光についても進行する方向は逆だか、同一の収差の影響を受ける。
【００３５】
このとき、ＢＳ１２とミラー１３の基板の厚みが等しく、さらに同じ材質の硝子材料を使う等して基板の屈折率を等しくする。このような構成とすることにより、ＡＯ−ＯＣＴ測定光とＡＯ−ＳＬＯ測定光の非点収差がほぼ等しくなり、共通のＤＭを用いて同じ波面補正条件で、精度の高い収差補正が可能となる。
【００３６】
なお、ＡＯ−ＯＣＴ測定光とＡＯ−ＳＬＯ測定光のＸ方向走査部への入射光路が、ＡＯ−ＯＣＴ測定光の戻り光とＡＯ−ＳＬＯ測定光の戻り光のＸ方向走査部からの出射光路となる。また、ＡＯ−ＯＣＴ測定光とＡＯ−ＳＬＯ測定光のＸ方向走査部からの出射光路が、ＡＯ−ＯＣＴ測定光の戻り光とＡＯ−ＳＬＯ測定光の戻り光のＸ方向走査部への入射光路となる。
【００３７】
また、ＡＯ−ＯＣＴ測定光、ＡＯ−ＳＬＯ測定光に対し、ＤＭ１０、波面センサ６１、Ｘスキャナ１５、Ｙスキャナ２１、および被検眼の瞳が共役になり、眼底の投影位置も一致するように高速スキャナ３２、ＢＳ１２、ミラー１３の間隔及び角度が調整されている。これによりＡＯ−ＯＣＴ測定光、ＡＯ−ＳＬＯ測定光の収差を一つのＤＭ１０で良好に補正可能である。
【００３８】
以上の構成により、ＡＯ−ＯＣＴ測定光の光束に影響を与えることなく、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像範囲を中心とする眼底の正面画像を得ることができるため、この画像を用いて精度の高いトラッキングを行うことができる。
【００３９】
（撮像方法）
次に、上述の構成の装置を用いて、被検眼Ｅの眼底Ｅｒの同一領域を、複数回走査し、重ねあわせ画像を作成するためのＡＯ−ＯＣＴ画像を撮像して取得する方法を、図２と図１４を用いて説明する。図２は撮像時のＰＣ６２のモニタ７０に表示される表示画面を示す図であり、図１４は撮像時のフローチャートである。
【００４０】
被検眼Ｅを本装置の前に配置する。前眼部照明光源５２により照明された被検眼の前眼部からの反射光は、ＢＳ５０により反射され、前眼部観察カメラ５１により撮像され、ＰＣ６２のモニタ７０の前眼部像表示領域８０に表示される。撮像者は、この前眼部像を見ながら、表示領域８０の中心に被検眼の瞳孔像の中心が位置し、虹彩の模様が明瞭になるように指示する。ＰＣ６２は指示に応じて不図示のアライメント機構を駆動し、光学系と被検眼の瞳孔との位置合わせを行う（ステップＳ１５１）。
【００４１】
アライメントが終了したら、撮像者はモニタ上のＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像の開始スイッチ７１を操作する。このスイッチ入力を検知したＰＣ６２は自動的にＡＯ−ＳＬＯモードの動作を開始する。ここで、ＡＯ−ＳＬＯモードとは、ＡＯ−ＳＬＯ光源２４の光が波面センサ６１に到達し、波面収差を計測するモードである。なお、詳細は後述するが、本実施形態においてはＡＯ−ＯＣＴ光源１の光で波面収差を計測するＡＯ−ＯＣＴモード、ＡＯ−ＳＬＯ光源２４とＡＯ−ＯＣＴ光源１の両方からの光で波面収差を計測する混合モードが選択可能に構成されている。即ち、波面センサ６１は、ＡＯ−ＳＬＯ測定光とＡＯ−ＯＣＴ測定光の少なくとも一方の波面収差を検知する。ＡＯ−ＳＬＯ光源２４を点灯し、高速スキャナ３２、Ｙスキャナ２１を駆動し、ＡＯ−ＳＬＯ測定光による眼底のラスタスキャンを開始する（ステップＳ１５２）。
【００４２】
このようにして照明された眼底Ｅｒでの反射、散乱光は、ＡＯ−ＳＬＯサンプル光学系を戻り、１０％の光はＢＳ７を透過し、眼底共役絞り５７を介して波面センサ６１に達する。ＢＳ７により反射された９０％の光は、ＢＳ６を透過し、ＢＳ２８により９０％の光は反射され、レンズ３３により共焦点絞り３４に集光され、共焦点絞り３４を通過した光は、ＡＰＤ、ＰＭＴ等の受光素子３５に達する。受光素子３５で受光した光量に応じた電圧信号に基づいて、ＰＣ６２が画像データを生成し、モニタ７０上のＡＯ−ＳＬＯ画像の表示領域８１に眼底の正面画像として表示される。
【００４３】
撮像者は、この画像を見ながら、フォーカススイッチ７２を操作しフォーカス調整を指示する。フォーカススイッチ７２への入力を検知したＰＣ６２は、ミラー１７ａ、１７ｂを一体に光軸方向に動かすためにステージ１８の駆動部を制御する。これにより光学系内の眼底共役位置が変化しフォーカスを所望の深さ位置に合わせることができる（ステップＳ１５３）。これは、バダル（Ｂａｄａｌ）光学系と呼ばれるもので、瞳の結像関係は維持される。これにより表示領域８１には所望の深さのＡＯ−ＳＬＯ画像が表示される。
【００４４】
さらに撮像者は、固視灯操作スイッチ７３を操作し所望の領域の眼底画像が撮像されるように被検眼の固視を誘導する（ステップＳ１５４）。
【００４５】
（収差補正）
一定レベル以上の信号強度のＡＯ−ＳＬＯ画像が安定して得られることをＰＣ６２が検知すると収差補正（ＡＯ）動作を開始する。眼底からの戻り光の一部は、ＢＳ７を透過し波面センサ６１に達し、波面センサ６１の出力データはＰＣ６２に送られる。波面センサ６１は、受光素子の前にレンズアレイが配置されているため、出力画像は、スポットが碁盤の目状（格子状）に整列した画像である。被検眼に収差があると、これらのスポット位置が変化する。ＰＣ６２は、この各々のスポットのずれる方向、ズレ量を解析しＡＯ−ＳＬＯ測定光の戻り光の波面収差を求める（ステップＳ１５５）。
【００４６】
ＰＣ６２は、この波面収差を補正するために、収差補正デバイスであるＤＭ１０を構成する微小ミラーをそれぞれ変位させるパターンを求める。ＰＣ６２は、このパターンにしたがってＤＭ１０の微小ミラーの駆動を制御し、ＡＯ−ＳＬＯ測定光およびその戻り光の収差を補正する（ステップＳ１５６）。
【００４７】
ＡＯ−ＳＬＯ測定光の収差補正により、眼底に投影されるスポット径が小さくなり、同時に、共焦点絞りに結像するスポット径も小さくなるため受光素子３５の受光する光量は大きくなる。それにより、ＰＣ６２のモニタ７０上のＡＯ−ＳＬＯ画像の表示領域８１には解像度の高い視細胞像が明瞭に表示される。なお、線８１ａは、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像位置を示している。
【００４８】
（アライメント再調整）
ステップＳ１５１において前眼部観察に基づくアライメントを行ったが、まつ毛やまぶたにより瞳孔の一部が覆われたり、疾患により瞳孔全体の収差が計測できなかったりする場合、アライメントの再調整を行う（ステップＳ１８０）。撮像者は、表示領域８１に表示されるＡＯ−ＳＬＯ画像を見ながら、ＡＯ−ＳＬＯ画像の輝度値やコントラストが最も高くなるように指示する。ＰＣ６２は指示に応じて不図示のアライメント機構を駆動し、アライメント調整を行う。ＡＯ−ＳＬＯ画像を用いることにより、視細胞層など反射率の高い反射層からの戻り光が波面センサ６１に達するため、戻り光の光路が一部遮られる場合においても、良好なＡＯ動作を保った状態でアライメントの再調整を行うことが可能である。また、ＡＯ−ＳＬＯの画像構成にはＦＦＴなどの時間がかかる計算処理が不要であるため、高性能なＰＣを用いることなくビデオレート以上でＡＯ−ＳＬＯ画像を更新することが可能である。表示領域８１のＡＯ−ＳＬＯ画像が十分な速度で更新されるため、撮像者は容易に輝度値やコントラストの確認が可能である。
【００４９】
（アライメント終了判断）
モニタ７０上には、ＡＯ−ＳＬＯ画像の画質を示すインジケータ９４が表示されている。撮像者は、ＡＯ−ＳＬＯ画像の輝度値やコントラストに加え、アライメント再調整を終了するかどうかをインジケータ９４の表示に基づいて判断することも可能である。インジケータ９４は、ＡＯ−ＳＬＯ画像の輝度値のヒストグラム分布に基づいて計算される数値を目盛付きバーで表したものであり、あらかじめ設定されている基準の数値と比較して表示を更新するように動作する。本実施形態では、数値が基準値を上回る場合、ＰＣ６２がインジケータ９４の目盛表示を青色に強調表示し、適切なアライメント状態であることを撮像者が容易に判断できるようにする。
【００５０】
（ＡＯ−ＯＣＴ撮像）
アライメント再調整を行った後、撮像者は、スイッチ７４を操作してＡＯ−ＯＣＴモードを開始し、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像の開始を指示する（ステップＳ１５７）。スイッチ７４への入力を検知したＰＣ６２は、ＡＯ−ＯＣＴ光源１を点灯する。これによりカプラ２でサンプル光学系側に分岐されたＡＯ−ＯＣＴ測定光は、ファイバ４よりサンプル光学系に入射する。サンプル光学系に入ったＡＯ−ＯＣＴ測定光はコリメータレンズ５でコリメートされ、ＢＳ１２に達する。前述の通りＡＯ−ＯＣＴ測定光は、ＢＳ１２で反射され、さらに固定ミラー１３で反射され、再びＢＳ１２で反射されることにより、ＡＯ−ＳＬＯ測定光の光路に合流する。これにより、ＡＯ−ＯＣＴ測定光は、高速スキャナ３２の影響を受けることなく被検眼に達する。ＡＯ−ＯＣＴ測定光の眼底により反射された戻り光は、サンプル光学系を逆行し、ＢＳ１２により反射されミラー１３により反射され、再びＢＳ１２で反射され、ハーフミラーであるＢＳ７に達する。ＢＳ７は、９０％の光を反射し、１０％の光を透過する透過特性を有する。ＢＳ７による戻り光の１０％は透過して、波面センサ６１に向かい、戻り光の残りの９０％は、ＢＳ７とＢＳ６で反射され、コリメータレンズ５によりファイバ４の端面に結像され、ファイバ４を通り、ファイバカプラ２に達する。
【００５１】
（ＡＯ−ＯＣＴ波面検知）
ＡＯ−ＯＣＴモードが開始されると、ＰＣ６２により自動的にターレットユニット６０が駆動され、ＡＯ−ＳＬＯ測定光の戻り光がカットされるフィルタが波面センサ６１の前に挿入される。したがって、波面センサ６１に達する光はＡＯ−ＯＣＴ測定光のみとなり、波面を検知される光が、ＡＯ−ＳＬＯ測定光から、ＡＯ−ＯＣＴ測定光に切り替わりＡＯ−ＯＣＴ測定光の波面収差が検知される（ステップＳ１５８）。ただし、ＡＯ−ＳＬＯ投影光学系には、フォーカス調整レンズ２９，３０があり、ＡＯ−ＳＬＯ測定光とＡＯ−ＯＣＴ測定光の波長の違いにより、ＡＯ−ＯＣＴ測定光に基づきフォーカスを調整した際のＡＯ−ＳＬＯ測定光のフォーカスが合う位置の差は、フォーカス調整レンズ２９，３０により自動的に補正される。このように検知した波面収差をもとに前述と同様ＤＭ１０の各ミラーの駆動量を演算し、ＤＭ１０を駆動することにより波面収差を補正する（ステップＳ１５９）。これにより表示領域８２に表示されるＡＯ−ＯＣＴ画像は、より明るくコントラストも改善されている。
【００５２】
（モード切り替え判断）
被検眼Ｅの光学組織の状態や、眼底Ｅｒの撮像位置に応じて、波面センサ６１に達する光の光量が少なくなったり、波面センサ６１のスポットの一部が欠けたりするなどの問題が発生することがある。その場合、ＡＯ−ＯＣＴモードにより光源１からの光のみで波面収差を検知するのでは、ＡＯが正常に動作せず、所望のＡＯ−ＯＣＴ画像の画質が得られない。ステップＳ１６０において、撮像者がＡＯの動作、すなわち収差補正が適切に行われるかを判断し、適切である場合はステップＳ１６１、Ｓ１６２に進み、適切ではないと判断した場合にはステップＳ１７０に進みモード選択の指示に基づいた動作を行う。
【００５３】
ステップＳ１７０におけるモード選択の手順を、図２を参照しつつ以下に説明する。スイッチ７７は、波面センサ６１で取得されるスポット群の画像（以下、ハルトマン画像）を前眼部像表示領域８０に重畳表示するトグルスイッチとなっている。図２においては、ハルトマン像のスポット８５が重畳表示された状態を模式的に表している。なお、スポット８５は、波面センサ６１が出力する画像データそのものを半透明に表示したり、あるいはスポットのズレ量や輝度値に基づきソフト的に生成した図形を表示したりすることが可能である。後者の場合、輝度値が周囲に対して低いスポットを強調して表示し、撮像者が収差補正の状態を容易に判断できるようにするのが望ましい。また、前眼部を観察する場合においては、スイッチ７７を押下することにより、スポット８５を非表示とすることが可能であり、撮像者が状況に応じて使い分けることが可能に構成されている。
【００５４】
撮像者は、前眼部像表示領域８０、表示領域８１、８２の画像に基づき、モード選択メニュー７８より、ＡＯ−ＳＬＯモードまたはＡＯ−ＯＣＴモードを選択することが可能である。撮像者はさらに、ＡＯ−ＳＬＯとＡＯ−ＯＣＴの両方の光を収差計測に用いる混合モードを選択することが可能であり、ＰＣ６２は撮像者の選択に基づき、ターレットユニット６０を自動で駆動する。例えば、ＡＯ−ＯＣＴでの撮像時にＡＯ−ＳＬＯモードに切り替えた場合、ＡＯ−ＯＣＴの光をカットするフィルタが挿入される。また、ＰＣ６２は、撮像者のモード選択に基づき、強調表示枠９１、９２、９３を自動的に切り替え、現在どのモードで波面収差が検知されているのかが容易に判別できるように構成されている。例えば、ＡＯ−ＳＬＯモードの場合、強調表示枠９１、９２が強調表示され、表示枠９３は透明表示にすることで、ＡＯ−ＳＬＯの光を収差測定に用いていることを明瞭に撮像者に提示する。即ち、選択されている収差測定のための光が、ＡＯ−ＳＬＯ測定光の戻り光であるのか、ＡＯ−ＯＣＴ測定光の戻り光であるのか、両者の測定光の戻り光であるのかが識別可能な状態で表示される。
【００５５】
混合モードは、被検眼Ｅからの戻り光が少ない場合などに、ハルトマン像のスポットの輝度値を上げることが可能となり、有効なモードである。しかし、波長の異なる光を同時に収差計測に用いるため、色収差や深達度が異なる。特に、デフォーカス量が異なるため、意図したフォーカス位置の撮像にならない場合がある。この現象は、視神経乳頭周りの神経線維層が厚くなる場合に顕著となる。混合モードにおいては、ＰＣ６２があらかじめＡＯ−ＳＬＯとＡＯ−ＯＣＴの光の波長に基づきフォーカスの補正値を記憶しておき、ＤＭの制御量やフォーカス調整レンズ２９，３０の調整量を自動的に補正するように構成されている。このことにより、混合モードにおいても所望の範囲で撮像が可能となる。
【００５６】
なお、モードの切り替えは本実施形態のようにＡＯ−ＳＬＯモード、ＡＯ−ＯＣＴモードに順次遷移し、フォーカス調整レンズ２９，３０を自動的に調整する方法が望ましい。しかしながら、撮像者が不図示のメニューにより異なるシーケンスを事前に選択することも可能である。この方法により、例えば、視細胞層をＡＯ−ＳＬＯでフォーカスし、ＡＯを最適に制御した状態を保ったまま、ＡＯ−ＯＣＴを安定して撮像することなどが可能となる。また、モード選択メニュー７８は現在のモードに応じて自動的に表示が切り替わるように構成されている。
【００５７】
なお、本実施形態では、ステップＳ１７０におけるモード選択を撮像者が指示を行った。しかし、本形態に限らず、ＰＣ６２がハルトマン像を解析し、自動でモードを切り替える構成であっても良い。
【００５８】
（参照光学系）
ファイバカプラ２により参照光学系側に分岐された参照光は、偏光調整器４５で偏光状態がサンプル光学系の戻り光と合うように偏光調整される。そして、偏光調整された参照光は参照光学系１０２に入り、参照光量調整用のＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタ３７により適正な光量に調整される。そして、ミラー３８，３９，４０，４１で反射され、レトロリフレクタ４２により反射された参照光は、ミラー４１，４０，３９，３８により反射され、ミラー４３に達する。ミラー４３により垂直に反射された光は、再び光路を逆行しカプラ２に戻る。
【００５９】
この参照光学系１０２からの参照光と、サンプル光学系の被検眼の眼底からの戻り光は、カプラ２で合流（合波）し干渉光として、分光器１０８に導かれる。分光器１０８に導かれた干渉光は、レンズ４６でコリメートされ、回折格子等の分光手段４７により分光されレンズ４８によりラインセンサ４９上に干渉波が結像する。ラインセンサ４９の出力はＰＣ６２に送られ、Ａ／Ｄ変換部６２ａでデジタルデータに変換されメモリ６２ｂに記憶される。このデータは、固定パターンノイズの除去、波数変換の後、周波数解析等の既知の方法で演算され断層画像データが生成される。
【００６０】
（ゲート調整）
撮像者は、表示領域に所望の断層画像が表示されるように、図２に示す光路長調整スイッチ７６を用いて参照光学系１０２の光路長を調整する。光路長調整スイッチ７６への入力を検知したＰＣ６２は、入力に対応した方向にステージ４４を駆動する。これによりレトロリフレクタ４２は、光軸方向に移動し、光路長が変化する。そしてサンプル系の光路長と、参照系の光路長が略一致すると表示領域８２に視細胞の断層画像が表示される（ステップＳ１６０）。
【００６１】
（スキャン）
この時、表示領域８１には、同時に撮像されるＡＯ−ＳＬＯ画像が表示される。高速スキャナ３２はＯＣＴ光学系を迂回して配置されているため、ＡＯ−ＯＣＴ測定光はＹスキャナ２１でＹ方向（図３においては水平方向）にラインスキャンされるのみである。ＡＯ−ＳＬＯ測定光は、Ｙスキャナ２１によりＹ方向に、高速スキャナ３２によりＸ方向（図３においては垂直方向）に走査される。そのため、図３に示すように、ＡＯ−ＯＣＴ画像の取得位置である走査ライン３０２を上下方向の中心とする撮像範囲３０１のＡＯ−ＳＬＯ画像が取得される（ステップＳ１６１）。
【００６２】
図１０に示す波形１１１は、高速スキャナ３２のミラーの走査角度を表し、横軸は時間、縦軸は角度である。すなわち高速スキャナ３２はＸ方向に高速で往復振動している。それと同時にＹスキャナ２１は、波形１１２に示すように、波形１１１よりも遅い周期で走査されている。画像取得は、高速スキャナの往路、復路ともに行われる。
【００６３】
図１０に示す期間Ｐ１、Ｐ３はＡＯ−ＯＣＴ画像を１フレーム、ＡＯ−ＳＬＯ画像を１フレームの画像取得をする期間であり、Ｐ２は、Ｙスキャナ２１の帰線期間であり、画像取得は行われない。すなわち、Ｙスキャナ２１は、期間Ｐ１、Ｐ３には、θ２から−θ２まで、連続的に変化し、期間Ｐ２には、−θ２から＋θ２まで、期間Ｐ１、Ｐ３の時の角速度よりも速い角速度で走査される。このような走査を繰り返して、ＡＯ−ＳＬＯ部による二次元領域の撮像、ＡＯ−ＯＣＴ部によるラインの撮像を行う。
【００６４】
（トラッキング）
被検眼の動き検知、撮像範囲の補正というトラッキングについて図１５のフローチャートにより説明する。
【００６５】
ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像を開始するとトラッキングの参照画像として図３の３０１に示すように、ＡＯ−ＳＬＯ画像を１フレーム記録する（ステップＳ１６２１）。この時の画像サイズを４００×４００ピクセルとし縦４００ラインの画像により構成される。高速スキャナ３２のスキャン周波数を１６ｋＨｚとすると往復で画像を取得するので、４００ラインの画像を取得するのに１２．５ｍｓｅｃかかり、毎秒約７０フレームの画像が得られる。
【００６６】
図４に示すように、次のフレーム撮像時、所定ラインの画像を取得する毎に参照画像と相関演算を行い被検眼の動きを検知する。例えば本実施形態においては、２０ライン分の信号でトラッキング画像４０２を作成する（ステップＳ１６２２）。これによりＡＯ−ＯＣＴ画像の１ライン走査中に２０回（＝４００／２０）の位置検知が可能になる。つまり１ｍｓｅｃ以下の時間で被検眼の動きを検知し補正が可能になる。そのため、毎秒１ｍｍ程度の速さで動く固視微動に対しても、１μｍ以下の精度でトラッキングすることが可能になり、ライン幅３μｍのＯＣＴラインスキャンに対して十分な精度を得ることができる。
【００６７】
それぞれのトラッキング画像は、取得されると直ちに参照画像３０１と相関演算を行い、シフト量（ｓｆ３０２＿Ｘ，ＳＦ３０２＿Ｙ）を求める（ステップＳ１６２３）。被検眼の移動がなければ、Ｎ番目のトラッキング画像のシフト量は、（ｘ，ｙ）＝（２０×（ｎ−１），０）になるので、Ｎ番目のトラッキング画像から求める被検眼の移動量は、（ｓｆ３０２＿ｘ−２０Ｎ，ＳＦ３０２＿ｙ）となる。
【００６８】
この移動量より、Ｘスキャナ１５、Ｙスキャナ２１のミラー回転角度を演算し（ステップＳ１６３１）、前述の通り求めた被検眼の動きに追随するようにＸスキャナ１５、Ｙスキャナ２１を駆動する。Ｙスキャナ２１は、所定の波形で駆動中であるため、駆動中心がオフセットされる。また、Ｘスキャナ１５は、求められた量のオフセットのみを行う（ステップＳ１６３２）。
【００６９】
図１１の波形１２１は、Ｙスキャナ２１の角度変化を示し、図１２の波形１３１はＸスキャナ１５の角度変化を示す。横軸は時間縦、縦軸は走査角度である。前述の通り一定時間ごとに被検眼の移動量を補正するための角度のシフト量が演算されるため、波形１２２に示すようにスキャン角度のシフトが行われる。そのあとは、波形１２３に示すように通常の角速度で走査が行われる。実線は、角度シフトを加えられたミラー角度を示し、破線は、角度シフトがない場合の、ミラー角度を示す。図１２の波形１３１は、Ｘスキャナ１５の角度変化を示し、横軸は時間である。Ｘスキャナ１５は、被検眼の動きを補正するトラッキングにのみ使用されるため演算されたオフセット量のみ角度が変化する。
【００７０】
波形１３２に示すようなＸスキャナ１５の駆動中もＡＯ−ＳＬＯ画像の取得は行われるが、相関演算は、その部分を除いた画像で行われる。このようなトラッキング制御を続けることによりＡＯ−ＯＣＴ部は、同一ライン上の複数枚、所定枚数、例えば１００枚程度の断層画像を得ることができる（ステップＳ１６３３）。これらの断層画像は、厳密に同一領域であり、これらの画像を重ね合わせることによりコントラストの高いＡＯ−ＯＣＴ画像を作成することができる。
【００７１】
（アライメント状態）
モニタ７０上には、ＡＯ−ＯＣＴ画像の画質を示すインジケータ９５が表示される。インジケータ９５は、ＡＯ−ＯＣＴ画像のＡスキャンプロファイルに基づく感度の計算結果を目盛付きバーで表したものであり、あらかじめ設定されている基準の数値と比較して表示を更新するように動作する。
【００７２】
インジケータ９５は、アライメントの状態とＡＯ−ＯＣＴの調整状態に応じて表示方法が変更される。アライメント状態が良好であり、かつＡＯ−ＯＣＴの画質が良好な場合にはインジケータ９５が青色に強調表示される。また、アライメント状態は良好であるがフォーカスやゲート調整が不十分であり、良好なＡＯ−ＯＣＴ画像が得られない場合、インジケータ９５がオレンジ色に強調表示される。この表示方法の切り替えにより、撮像者は良好な画像を得るために調整すべき箇所を容易に判断することが可能である。
【００７３】
また、ＡＯ−ＯＣＴモードで撮影中にアライメントの再調整が必要となった場合、インジケータ９５は赤色に強調表示される。この表示により、ＡＯ−ＳＬＯモードまたは混合モードに切り替え、アライメント再調整を行うよう撮像者に促すことが可能である。
【００７４】
（ＯＣＴボリュームスキャン）
ＡＯ−ＯＣＴボリュームスキャンスイッチ７５が操作されると、ボリュームスキャンモードでの走査が開始される。
【００７５】
撮像者がＡＯ−ＯＣＴボリュームスキャンスイッチ７５を操作し、不図示のカーソルを用いて撮像範囲が設定されると、ＰＣ６２がＡＯ−ＯＣＴのラインスキャンラインがＹ方向にシフトするようにＸスキャナ１５に同期してＹスキャナ２１も駆動する。
【００７６】
図５の眼底画像上の枠５０１は、ＡＯ−ＯＣＴボリュームスキャンの撮像範囲を示す。眼底画像上の枠５０１に対応する領域を、ＡＯ−ＯＣＴ測定光で走査してＡＯ−ＯＣＴボリュームデータを取得するものである。図６の枠６０１は、図５の撮像範囲の最上ライン５０２をＡＯ−ＯＣＴ測定光で走査するときのＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲を示す。図５に示す通りＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲は、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像ライン５０２を中心とする矩形領域である。ここで得られたＡＯ−ＳＬＯ画像は、トラッキング参照画像として記憶される。次にＸスキャナ１５を駆動し、ＡＯ−ＯＣＴ測定光は図５のライン５０３に示す次の撮像ラインの走査を開始する。その時のＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲を図７の枠７０１に示す。撮像範囲６０１に対して、ＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲はＡＯ−ＯＣＴ画像の１ライン分下方に移動している。すなわち、図５のライン５０４をＡＯ−ＯＣＴ画像を撮像しているときは、ＡＯ−ＳＬＯ画像は図８の枠８０１に示す撮像範囲であり、最下ラインであるライン５０５を撮像している時は図９の枠９０１がＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲である。このようにＡＯ−ＯＣＴ測定光のスキャンラインの移動とともに、ＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲は移動する。これにより常にＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像範囲を中心とする近傍領域の画像情報が得られる。
【００７７】
（ＯＣＴボリュームスキャン時のトラッキング）
ＡＯ−ＯＣＴボリュームスキャンの時にも前述の通り、ＡＯ−ＳＬＯ画像を用いてトラッキングを行う。図７のライン５０３を走査中は、ＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲７０１の画像を取得しながら破線で示す２０ラインの範囲の画像を抜き出し、前回撮像したＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲６０１の画像との相関演算を行い、シフト量を求める。前述と同様このシフト量より、Ｘスキャン１５，Ｙスキャナ１６のシフト量を演算し、直ちに、Ｘスキャナ１５，Ｙスキャナ２１を駆動してＡＯ−ＯＣＴ測定光とＡＯ−ＳＬＯ測定光の眼底上での照射位置の補正を行う眼底トラッキングを行う。
【００７８】
このようにトラッキングを行いながら、ラインスキャンを繰り返すことによりＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像範囲５０１のＡＯ−ＯＣＴ画像（ボリュームデータ）を取得する。これにより図５の領域５０１の立体情報が得られる。
【００７９】
以上トラッキングに用いたＡＯ−ＳＬＯ画像は、それぞれシフト量を補正されて一枚の参照画像として作成され、次の列のＡＯ−ＯＣＴ画像のラインスキャン時の参照画像として用いるとよい。これにより参照画像を常に更新できるため、さらに精度の良いトラッキングを行うことができる。
【００８０】
［その他の実施形態］
なお、上述した実施形態では、被検査物が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被検査物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は撮像装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は撮像装置に例示される画像処理装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが好ましい。
【００８１】
また、本発明は、以下のように装置を構成することによっても達成できる。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコード（コンピュータプログラム）を記録した記録媒体（又は記憶媒体）をシステム或いは装置に供給することとしてもよい。また、該記録媒体の態様だけでなく、コンピュータの読み取り可能な記録媒体としてもよい。そして、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。この場合、該記録媒体から読み出されたプログラムコード自体が上述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記録した記録媒体は本発明を構成することになる。また、該実施形態は、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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