(57)【要約】【課題】インダクタ素子のリアクトル損失を良好に測定する。【解決手段】リアクトル損失測定装置は、インダクタ素子に印加される周期的な電流の波形を予め測定し、複数の周波数の正弦波形群として等価的にフーリエ級数展開する演算を行い、自己インダクタンス値と可変容量キャパシタ素子の可変容量値とによって共振現象を起こすまで可変容量値を調整された状態で、インダクタ素子に印加されてある電圧と電流とを測定して、このときの共振周波数についてのリアクトル損失を繰り返し算出する。【選択図】図４
2019132604.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
自己インダクタンス値とリアクトル損失との直列接続等価回路であらわされるインダクタ素子の、前記リアクトル損失を導出するリアクトル損失測定方法であって、
前記インダクタ素子に印加される周期的な電流の波形を予め測定しておいて、複数の周波数の正弦波形群として等価的にフーリエ級数（Ｆｏｕｒｉｅｒ  ｓｅｒｉｅｓ）展開する演算を行う第一の工程と、
前記正弦波形のひとつを印加したときに、前記自己インダクタンス値と共振現象を起こすキャパシタンス値を有する可変容量キャパシタ素子を前記インダクタ素子に直列接続する第二の工程と、
前記インダクタ素子の前記自己インダクタンス値と前記可変容量キャパシタ素子の可変容量値とによって前記共振現象を起こすまで前記可変容量値を調整する第三の工程と、
前記共振現象を起こしているものとみなせる状態で、前記インダクタ素子に印加されてある電圧と、同インダクタ素子に流れている電流とを測定して、このときの共振周波数についての前記リアクトル損失を算出する第四の工程と、
前記複数の周波数のうち、基本周波数を含む所定の個数の周波数値について、それぞれ、前記第三の工程および前記第四の工程を繰り返し、その終了の都度、前記リアクトル損失の推定量を記録していく第五の工程と、
前記第五の工程が終了した後に、前記リアクトル損失の推定量の積算結果を所定通知先に通知する第六の工程と、を備えることを特徴とする、リアクトル損失測定方法。
【請求項２】
自己インダクタンス値とリアクトル損失との直列接続等価回路であらわされるインダクタ素子の、前記リアクトル損失を導出するリアクトル損失測定装置であって、
駆動周波数を変化できる正弦波の電流波形を発生する波形発生器と、
前記波形発生器の一方の極に一端が接続される第一のバリアブルコンデンサと、
前記波形発生器の他方の極に一端が接続される第二のバリアブルコンデンサと、
直流重畳されたオフセット状態の波形を生成する電流源である直流電源と、
前記直流電源の正極に一端が接続される第一の実験用インダクタ素子と、
前記直流電源の負極に一端が接続される第二の実験用インダクタ素子と、
前記波形発生器と第一、第二のバリアブルコンデンサとを制御する測定制御部とを備えて構成され、
前記第一のバリアブルコンデンサの他端および前記第一の実験用インダクタ素子の他端が、前記インダクタ素子の一端と接続され、前記第二のバリアブルコンデンサの他端および前記第二の実験用インダクタ素子コイルの他端が、前記インダクタ素子の他端と接続されて、２つの閉ループ回路を構成するように接続され、
前記測定制御部は、
前記インダクタ素子を駆動させたい回路で予め測定された周期的な電流波形を、フーリエ級数（Ｆｏｕｒｉｅｒ  ｓｅｒｉｅｓ）の姿に近似展開して前記波形発生器に前記正弦波の電流波形を生成させたあとで、前記第一のバリアブルコンデンサと前記第二のバリアブルコンデンサの可変容量値を前記インダクタ素子との間でインダクタ素子と共振を起こすまで加減調節し、電流計と電圧計の機能を備えて前記インダクタ素子の両端に印加する電圧の波形と前記インダクタ素子に流れる電流の波形とを観測して前記リアクトル損失を導出するように構成されてあることを特徴とする、リアクトル損失測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＤＣ／ＤＣコンバータに代表される、インダクタ素子と半導体スイッチング素子とを有する電力伝達回路における、インダクタ素子のリアクトル損失値を測定する方法、および、同方法を使用した測定装置についての発明である。
【背景技術】
【０００２】
太陽光発電システムに用いられるパワーコンディショナーは、その内蔵するＤＣ／ＤＣコンバータやインバータ回路に代表される電力変換部と称される電力伝達回路に、インダクタ素子と、同インダクタ素子に電気エネルギーを蓄えさせて放出させるためのスイッチング動作を実行する半導体スイッチング素子とを有して構成されている。
【０００３】
特許文献１は、ＤＣ／ＤＣコンバータの半導体スイッチング素子として、ＶｉｎレベルラインからＶｏｕｔレベルラインと、ＧＮＤレベルラインとにわたる素子（符号Ｑ１またはＱ２）と、ＶｉｎレベルラインからＶｏｕｔレベルラインにわたるもうひとつの素子（符号Ｑ２またはＱ１）という、２つのＧａＮ性半導体スイッチング素子を採用したがゆえに、電力変換動作における電力損失の低減を大幅に改善できた好適なＤＣ／ＤＣコンバータを開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実用新案登録第３１７５９８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、インダクタ素子Ｌは、回路設計の当業者に広く知られたとおり、そもそも、理想的に純粋な自己インダクタンス値Ｌsと、抵抗値に相当するリアクトル損失Ｒsとの直列回路による等価回路とみなされるべきである（図１（ａ）参照）。そして、上述のように高周波で電力伝達を繰り返すと、リアクトル損失Ｒsにおける電力ロス（顕著な兆候として発熱）が、１秒当たりその運用しているスイッチング周波数ｆ回だけ発生し、電流ＩによるＩ2・Ｒs・ｆなる電力量が毎秒当たり失われていることになる。
【０００６】
このようなインダクタ素子Ｌの電力ロス量の一因であるリアクトル損失Ｒsを測り捕るための良好な手法は未だ見つからず、せめて、インダクタ素子Ｌの電力ロス量が、ＤＣ／ＤＣコンバータの入出力の比較による伝達効率の一部として含まれているとして評価するにとどまっていた。
【０００７】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、インダクタ素子の等価成分のうち抵抗値に起因するリアクトル損失を良好に測定できるリアクトル損失測定方法、そして同方法を使用したリアクトル損失測定装置を、提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のリアクトル損失測定方法は、自己インダクタンス値とリアクトル損失との直列接続等価回路であらわされるインダクタ素子の、リアクトル損失を導出するリアクトル損失測定方法であって、インダクタ素子に印加される周期的な電流の波形を予め測定しておいて、複数の周波数の正弦波形群として等価的にフーリエ級数（Ｆｏｕｒｉｅｒ  ｓｅｒｉｅｓ）展開する演算を行う第一の工程と、正弦波形のひとつを印加したときに、自己イ
ンダクタンス値と共振現象を起こすキャパシタンス値を有する可変容量キャパシタ素子をインダクタ素子に直列接続する第二の工程と、インダクタ素子の自己インダクタンス値Ｌｓ前記可変容量キャパシタ素子の可変容量値とによって共振現象を起こすまで可変容量値を調整する第三の工程と、共振現象を起こしているものとみなせる状態で、インダクタ素子に印加されてある電圧と、同インダクタ素子に流れている電流とを測定して、このときの共振周波数についてのリアクトル損失を算出する第四の工程と、複数の周波数のうち、基本周波数を含む所定の個数の周波数値について、それぞれ、第三の工程および第四の工程を繰り返し、その終了の都度、前記リアクトル損失の推定量を記録していく第五の工程と、第五の工程が終了した後に、前記リアクトル損失の推定量の積算結果を所定通知先に通知する第六の工程とを備えることを特徴とする。
【０００９】
また、本発明のリアクトル損失測定方法を実行するリアクトル損失測定装置は、自己インダクタンス値とリアクトル損失との直列接続等価回路であらわされるインダクタ素子の、前記リアクトル損失を導出するリアクトル損失測定装置であって、駆動周波数を変化できる正弦波の電流波形を発生する波形発生器と、前記波形発生器の一方の極に一端が接続される第一のバリアブルコンデンサと、前記波形発生器の他方の極に一端が接続される第二のバリアブルコンデンサと、直流重畳されたオフセット状態の波形を生成する電流源である直流電源と、前記直流電源の正極に一端が接続される第一の実験用インダクタ素子と、前記直流電源の負極に一端が接続される第二の実験用インダクタ素子と、前記波形発生器と第一、第二のバリアブルコンデンサとを制御する測定制御部とを備えて構成され、前記第一のバリアブルコンデンサの他端および前記第一の実験用インダクタ素子の他端が、前記インダクタ素子の一端と接続され、前記第二のバリアブルコンデンサの他端および前記第二の実験用インダクタ素子コイルの他端が、前記インダクタ素子の他端と接続されて、２つの閉ループ回路を構成するように接続され、前記測定制御部は、前記インダクタ素子を駆動させたい回路で予め測定された周期的な電流波形をフーリエ級数（Ｆｏｕｒｉｅｒ  ｓｅｒｉｅｓ）の姿に近似展開して前記波形発生器に前記正弦波の電流波形を生成させたあとで、前記第一のバリアブルコンデンサと前記第二のバリアブルコンデンサの可変容量値を前記インダクタ素子Ｌとの間でインダクタ素子Ｌと共振を起こすまで加減調節し、電流計と電圧計の機能を備えて前記インダクタ素子の両端に印加する電圧の波形と前記インダクタ素子に流れる電流の波形とを観測して前記リアクトル損失を導出するように構成されてあることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、インダクタ素子の等価成分のうち抵抗値に起因するリアクトル損失を良好に測定できるリアクトル損失測定方法、そして同方法を使用したリアクトル損失測定装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】インダクタ素子の等価回路を示した模式図
【図２】インダクタ素子に流れる電流波形を測定する波形収集装置をあらわす模式図
【図３】波形収集装置で収集された電流波形を模式的にあらわすグラフ
【図４】本発明のリアクトル損失測定装置をあらわした模式的な回路図
【図５】本発明のリアクトル損失装置の実行手順を説明するフローチャート
【図６】本発明の測定方法の実行結果を表示画面から報知する一例の模式図
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本発明に係る一実施の形態を、図１乃至図６を用いて以下に説明する。図１は、インダクタ素子の等価回路のうち抵抗値に起因するリアクトル損失を良好に測定するための考え方を示した模式図であり、図１（ａ）はインダクタ素子の等価回路をあらわしており、図１（ｂ）は、図１（ａ）であらわした等価回路に可変容量キャパシタ素子を直列接続して
共振を起こさせるように構成した測定用等価回路図を示している。図２は、図１で示したインダクタ素子と、半導体スイッチング素子とを有する電力伝達回路として、典型的な昇圧型ＤＣ／ＤＣコンバータ回路をあらわし、半導体スイッチング素子をＤＣＤＣ変換駆動させる場合にインダクタ素子に流れる電流の波形を測定しておくための波形収集装置をあらわす模式図である。図３は、図２の波形収集装置で収集された電流波形を模式的にあらわすグラフである。
【００１３】
図４は、本発明のリアクトル損失測定方法および同方法を使用したリアクトル損失測定装置をあらわした模式的な回路図である。図５は、本発明のリアクトル損失測定方法の実行手順を説明するフローチャートである。図６は、同測定方法の実行結果を報知する表示装置１１の表示画面から報知する一例の模式図である。
【００１４】
図１（ａ）にあらわすように、インダクタ素子Ｌは、回路設計の当業者に広く知られたとおり、理想的に純粋な自己インダクタンス値Ｌs〔単位：ヘンリー〕と、抵抗値に相当するリアクトル損失Ｒs〔単位：オーム〕との直列回路による等価回路とみなされるべきである。なお、インダクタ素子Ｌの両端に通電する電圧波形または電流波形の周波数をω（オメガ）／２π〔単位：ヘルツ〕とすると、自己インダクタンス値Ｌsによる誘導性リアクタンスはω・Ｌsとあらわされ、電圧波形と電流波形との位相差θは下記のように表される。
【００１５】
【数１】
2019132604.tif 000003
本願発明者は、リアクトル損失Ｒsだけを測定できるようにすべく、誘導性リアクタンスω・Ｌsを無視できる状態を作り出すために、誘導性リアクタンスω・Ｌsを相殺できるよう、リアクタンスとしてマイナスの因子である容量性リアクタンスを持つ素子であるコンデンサを投入することを想起した。すなわち、本願発明の発明者は、図１（ｂ）に模式的に示したように、自己インダクタンス値Ｌsを可変容量キャパシタ素子Ｃｖａｒｉと直列接続させた状態で、次式（２）のようにあらわせることに着目した。なお、ｊはインピーダンス演算でよく用いられる虚数演算単位である。
【００１６】
【数２】
2019132604.tif 000004
この式（２）にて、リアクトル損失Ｒs以外を見えないようにするには、リアクタンス成分である次式（３）が成り立てばよいので、結局、式（４）が成り立てばよいことに至る。
【００１７】
【数３】
2019132604.tif 000005
【００１８】
【数４】
2019132604.tif 000006
つまり、式（４）は、自己インダクタンス値Ｌsと外付けのコンデンサ（可変容量キャパシタ素子）Ｃｖａｒｉとの共振現象を引き起こせばよいことをあらわし、このときのωは、その共振現象のときの周波数である共振周波数（符号でωRとあらわすことにする）をあらわしている。この、共振周波数ωRを与えるコンデンサの容量値を、共振時容量値ＣRとあらわすことにする。
【００１９】
共振時容量値ＣRつまり共振周波数ωRのときには、式（１）であらわした位相差θがゼロ相当の状態となり、電圧波形と電流波形との位相のズレを起こしていない状態であるので、いわゆるＬＣ共振状態である。
【００２０】
そのようなＬＣ共振状態を作り出せれば、同ＬＣ共振状態で観測される電流波形の振幅Ｉａを分母にし、同ＬＣ共振状態で観測される電圧波形の振幅Ｖａを分子にして、オームの法則Ｒ＝Ｖａ／Ｉａの式で算出できる抵抗値Ｒを、その共振周波数ωRの場合でのリアクトル損失Ｒsとみなすのである。
【００２１】
さて、インダクタ素子Ｌに印加される電流や電圧の波形は、単一周波数で振動する単一波形のみで構成されているわけではなく、通常は、インダクタ素子Ｌが実装されるＤＣ／ＤＣコンバータ回路の半導体スイッチング素子のスイッチング波形によって、波形が決定される。例えば、そのような半導体スイッチング素子のスイッチング波形が矩形波であれば、インダクタ素子Ｌに印加される電流は、三角波または鋸歯状波（のこぎり波）のような周期的な波形として発生することが知られている。
【００２２】
そこで、そのような電流波形が三角波または鋸歯状波（のこぎり波）のような周期的な波形であることに着眼した発明者は、周期的な波形であれば、フーリエ級数（Ｆｏｕｒｉｅｒ  ｓｅｒｉｅｓ）の姿に近似展開したうえで、式（４）のＬＣ共振状態でのリアクトル損失Ｒsを測定するアプローチを想起した。
【００２３】
すなわち、発明者は、ＤＣ／ＤＣコンバータなどの電力伝達回路におけるインダクタ素子Ｌに生じる電流波形が周期的な波形であると観測できれば、ファンクションジェネレータ等の波形発生器を用いてフーリエ級数展開できるので、その展開した波形を周波数ごとにひとつずつ図１（ｂ）のＬＣ直列接続等価回路に印加した状態で、可変容量キャパシタ素子Ｃｖａｒｉの可変容量値を加減することで、その共振周波数ωRのときのＬＣ共振状態を生み出すことが出来、その共振周波数ωRの場合でのリアクトル損失Ｒsを算出できるものと考えた。
【００２４】
以下に、上述した考えを実現する具体的な手順を示す。
【００２５】
図２は、図１で説明したインダクタ素子Ｌが組み込まれて使用される昇圧型ＤＣ／ＤＣコンバータをあらわす。昇圧型ＤＣ／ＤＣコンバータ回路１は、すでに広く知られた回路構成に過ぎず、昇圧チョッパを用いたものであり、入力端の正極ＶｉｎとグランドＧＮＤとを接続するように備えられる入力コンデンサＣ１と、出力端の正極ＶｏｕｔとグランドＧＮＤとを接続するように備えられる出力コンデンサＣ２と、一端を入力端の正極Ｖｉｎと接続され、他端を半導体スイッチング素子Ｑのコレクタ端子と接続されて測定対象となるインダクタ素子Ｌと、エミッタ端子をグランドＧＮＤ側に接続されてベース端子にスイッチングのためのオンオフ信号を（不図示の制御マイコンなどから）印加されて開閉動作
を行う前述の半導体スイッチング素子Ｑと、インダクタ素子Ｌの他端にアノードを接続されるとともに出力端の正極Ｖｏｕｔおよび出力コンデンサＣ２の正極にカソードを接続されて、出力コンデンサＣ２にせっかく蓄電された電荷が入力コンデンサＣ１側へ逆流しないよう防止する逆流防止ダイオードＤとを備えて接続されてある。なお、半導体スイッチング素子Ｑは、バイポーラトランジスタに限らず、例えばＩＧＢＴやＭＯＳＦＥＴなど、電力制御用途のスペックを有する素子であればどれを用いてもかまわないことは、いうまでもない。
【００２６】
インダクタ素子Ｌは、その他端に、電流測定用の電流センサＳを配設されており、電流センサＳにより測られる電流波形は、電流計Ａにて可視表示で確認可能である。ここで、電流計Ａは、インダクタ素子Ｌに流れて電流センサＳで測定される電流の波形をとらえ、その周期的電流波形の周期と振幅とオフセット値とを把握するものであり、オシロスコープやシンクロスコープなどで実現できる。このように、インダクタ素子Ｌを駆動させたい昇圧型ＤＣ／ＤＣコンバータ回路１という回路で測定した電流波形が周期的であるとみなせたら、フーリエ級数展開を試みる対象とする。
【００２７】
図３は、図２の半導体スイッチング素子Ｑのベース端子にスイッチングのために、矩形波のオンオフ電圧信号（破線で図示）を（不図示の制御マイコンなどから）印加した結果、その矩形波と同期して同矩形波の切り替わり時点に頂点（山）または底点（谷）を有する三角波または鋸歯状波（のこぎり波）の波形をする電流波形が電流計Ａで観測されたことを示すグラフである。この観測された電流波形は、インダクタ素子Ｌの接続してある入力コンデンサＣ１や半導体スイッチング素子Ｑなどの動作の影響によって、基準電流値Ｉdcだけ直流重畳されたオフセット状態の波形として測定されてある。
【００２８】
このように、図２および図３で示したように、インダクタ素子Ｌに流れる電流波形が周期的であるとみなせたあとに、インダクタ素子Ｌのリアクトル損失Ｒsを算出すべく、インダクタ素子Ｌをリアクトル損失測定装置１０に移し変えた状態を、図４なる回路図に示す。図４に示すリアクトル損失測定装置１０は、交流電流波形発生器ＡＣと、交流電流波形発生器ＡＣの一方の極に一端が接続される第一のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ１および他方の極に一端が接続される第二のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ２と、直流電流発生源２と、直流電流発生源２の正極に一端が接続される第一の実験用インダクタ素子Ｌ1および負極に一端が接続される第二の実験用インダクタ素子Ｌ2と、測定制御部３とを備える。ここで、第一のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ１の他端および第一の実験用インダクタ素子Ｌ1の他端が、インダクタ素子Ｌの一端と接続され、第二のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ２の他端および第二の実験用インダクタ素子Ｌ2の他端が、インダクタ素子Ｌの他端と接続されて、２つの閉ループ回路を構成するように接続される。交流電流波形発生器ＡＣと第一のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ１と第二のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ２とインダクタ素子Ｌとによって閉ループ回路ＬＰ１を構成し、直流電流発生源２と第一の実験用インダクタ素子Ｌ1と第二の実験用インダクタ素子Ｌ2とインダクタ素子Ｌとによって閉ループ回路ＬＰ２を構成している。
【００２９】
交流電流波形発生器ＡＣは、振動周波数を変化できる正弦波の電流波形を発生できる波形発生器であり、例えば、電圧制御発振器を備えるＰＬＬ式ファンクションジェネレータを有する。第一のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ１、第二のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ２は、インダクタ素子Ｌと接続して図１（ｂ）の状態を作り出すものであり、これら２つの素子で、可変容量キャパシタ素子Ｃｖａｒｉに相当する。
【００３０】
直流電流発生源２は、図３で説明した基準電流値Ｉdcを生成する電流源に相当する電池などの直流電源である。第一の実験用インダクタ素子Ｌ1、第二の実験用インダクタ素子Ｌ2は、交流電流波形発生器ＡＣから発せられる交流電流が直流電流発生源２の直流出力
の妨げにならぬよう、直流重畳の交流電流波形をインダクタ素子Ｌに印加する手助けとなる。
【００３１】
測定制御部３は、リアクトル損失測定装置１０の測定動作を制御するものであり、電流計と電圧計の機能を備えた制御装置である。測定制御部３は、交流電流波形発生器ＡＣの動作を制御可能であり、第一のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ１、第二のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ２の可変容量値を加減調節可能であり、インダクタ素子Ｌの両端に印加する電圧の波形とインダクタ素子Ｌに流れる電流の波形とを観測可能に構成されてある。測定制御部３は、計算演算器を備えており、電流計Ａにて観測された周期的電流波形を、フーリエ級数（Ｆｏｕｒｉｅｒ  ｓｅｒｉｅｓ）の姿に近似展開する。測定制御部３は、フーリエ級数展開した結果として得られる第１次成分正弦波の基本周波数ｆ1をはじめ、第２次成分正弦波の成分周波数ｆ2から第ｎ次成分正弦波の成分周波数ｆnまで、これらｎ種類の正弦波のそれぞれの振幅値も含めて、フーリエ級数展開の演算結果として算出する。ここで、ｎは、整数であり、フーリエ級数展開の理論を踏まえるとｎの値を大きくするほどフーリエ級数展開前の原波形に近づく再現性を強くできるが、ｎの値を無限大に増加することは実験時間の制約を受けるので、ｎの値をどこか上限値で打ち切って、実験結果を近似値として扱うのが現実的である。
【００３２】
図５は、このような測定制御部３の動作の手順を例示するフローチャートである。まず、測定制御部３は、電流計Ａで測定された電流センサＳ測定電流波形の周期的電流波形の周期と振幅とオフセット値とを記憶格納する。（ステップＳ１０）
次に、測定制御部３は、計算演算器を備えており、電流計Ａにて観測された周期的電流波形を、フーリエ級数（Ｆｏｕｒｉｅｒ  ｓｅｒｉｅｓ）の姿に近似展開する。（ステップＳ２０）なお、ステップ１０とステップ２０を、第一の工程と称することにする。
【００３３】
次に、測定制御部３は、正弦波形電流波形のひとつを印加したときに、自己インダクタンス値Ｌs共振現象を起こすキャパシタンス値を有する可変容量キャパシタ素子を、インダクタ素子Ｌに直列接続する。この接続工程を、第二の工程と称することにする（ステップＳ３０）。
【００３４】
第１次成分正弦波の基本周波数ｆ1で振動する正弦波電流を、交流電流波形発生器ＡＣに発生させる。（ステップＳ４０）さらに、測定制御部３は、インダクタ素子Ｌと、第一のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ１、第二のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ２とのＬＣ共振が起きるまで、第一のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ１、第二のバリアブルコンデンサＣｖａｒｉ２の可変容量値を、加減調節する。（ステップＳ５０）なお、ステップ４０とステップ５０を、第三の工程と称することにする。
【００３５】
このとき、ＬＣ共振が起きているのだから、インダクタ素子Ｌにかかる電圧の波形と、インダクタ素子Ｌに流れる電流の波形とは、位相が同相になっているとみなせる（ステップＳ５１のＹｅｓ）。そこで、測定制御部３は、インダクタ素子Ｌの両端に印加する電圧波形の振幅Ｖａと、インダクタ素子Ｌに流れる電流波形の振幅Ｉａとを測定し、オームの法則Ｒ＝Ｖａ／Ｉａの式で算出できる抵抗値Ｒを、その共振周波数ωRの場合つまり第１次成分正弦波の基本周波数ｆ1でのリアクトル損失Ｒsとみなすのである。これを、第１次成分正弦波の基本周波数ｆ1（第１次共振周波数ωR1）における第一次リアクトル損失Ｒs1として、測定制御部３は、記憶部（不図示）へ記録しておく。（ステップＳ５２）なお、ステップＳ５１とステップＳ５２とを、第四の工程と称することにする。
【００３６】
測定制御部３は、上述したステップＳ３０からステップＳ５２までの動作を、第２次成分正弦波の成分周波数ｆ2（第２次共振周波数ωR2）から第ｎ次成分正弦波の成分周波数ｆn（第ｎ次共振周波数ωRn）まで行い（ステップＳ６０）、共振周波数ωRnの場合での
第ｎ次リアクトル損失Ｒsnまで、記憶部（不図示）へ記録しておく。（ステップＳ６１）なお、ステップ６０とステップ６１とを、第五の工程と称することにする。この後、測定制御部３は、図６に示すように結果を報知する。（ステップＳ７０）なお、ステップ７０を、第六の工程と称することにする。
【００３７】
図６は、測定制御部３による第１次リアクトル損失Ｒs1から第ｎ次リアクトル損失Ｒsnまでの測定結果をあらわす模式的な画面表示の図示例であり、第１次リアクトル損失Ｒs1から第ｎ次リアクトル損失Ｒsnまでの測定結果を記憶部（不図示）へ記録し終わった内容を、図６に例示するように、測定制御部３から、表示装置１１へ表示させて近傍の観測者に可視表示したり、所定の通信宛先に定められてある通知先（スマートフォンなどの通信装置や、データ蓄積を担う通信装置）に宛てて、通知する。測定制御部３は、表示装置１１に表示させるにとどまらず音声通知で結果を通知するようにしても良い。このとき、測定制御部３は、表示装置１１に表示させるには、インダクタ素子Ｌの電流波形の測定波形を模式的に示したり、フーリエ級数展開した結果の波形群を模式的に示したり、正弦波形の電流波形を個別に模式的に図示すると、試験内容を視覚的に把握させやすい。図６では、上述の試験サンプル数として整数ｎ＝９という９次成分までを画面表示した例を示してある。
【００３８】
なお、上述の一実施の形態では、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路を例に挙げたが、本発明はこれに限られるものではなく、インダクタ素子のリアクトル損失量を測りたい電力伝達回路（電力変換回路）であって、周期性の駆動電圧波形が印加されるインダクタ素子であれば、適用は可能である。
【符号の説明】
【００３９】
１        昇圧型ＤＣ／ＤＣコンバータ回路
２        直流電流発生源
３        測定制御部
１０        リアクトル損失測定装置
１１        表示装置
Ａ        電流計
ＡＣ        交流電流波形発生器
Ｃ１        入力コンデンサ
Ｃ２        出力コンデンサ
Ｃｖａｒｉ        可変容量キャパシタ素子
Ｃｖａｒｉ１        第一のバリアブルコンデンサ
Ｃｖａｒｉ２        第二のバリアブルコンデンサ
Ｄ        逆流防止ダイオード
Ｉａ        電流波形の振幅
Ｉdc        基準電流値
Ｌ        インダクタ素子
Ｌs        自己インダクタンス値
Ｌ1        第一の実験用インダクタ素子
Ｌ2        第二の実験用インダクタ素子
ＬＰ１        閉ループ回路
ＬＰ２        閉ループ回路
Ｑ        半導体スイッチング素子
Ｒs        リアクトル損失
Ｓ        電流センサ
Ｖａ        電圧波形の振幅
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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