(57)【要約】【課題】回転テーブルの偏心やテーブル面傾斜などの既知の幾何誤差量を利用して投影画像を直接補正することで、高精度な断層画像、ボリュームデータを生成する。【解決手段】回転テーブル１６上に配置した被検体Ｗを回転させながらＸ線を照射し、その投影画像を再構成して被検体Ｗの断層画像を生成するようにした計測用Ｘ線ＣＴ装置１により断層画像を生成する際に、投影画像に含まれる幾何誤差量を予め取得して記憶し、該記憶された幾何誤差量を用いて投影画像を補正し、補正後の投影画像を用いて断層画像を再構成する。【選択図】図１０
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転テーブル上に配置した被検体を回転させながらＸ線を照射し、その投影画像を再構成して被検体の断層画像を生成するようにした計測用Ｘ線ＣＴ装置において、
予め取得した、投影画像に含まれる幾何誤差量を記憶する手段と、
該記憶された幾何誤差量を用いて投影画像を補正する手段と、
補正後の投影画像を用いて断層画像を再構成する手段と、
を備えたことを特徴とする計測用Ｘ線ＣＴ装置。
【請求項２】
前記幾何誤差量が、回転テーブルの偏心や面傾斜であることを特徴とする請求項１に記載の計測用Ｘ線ＣＴ装置。
【請求項３】
回転テーブル上に配置した被検体を回転させながらＸ線を照射し、その投影画像を再構成して被検体の断層画像を生成するようにした計測用Ｘ線ＣＴ装置により断層画像を生成する際に、
投影画像に含まれる幾何誤差量を予め取得して記憶し、
該記憶された幾何誤差量を用いて投影画像を補正し、
補正後の投影画像を用いて断層画像を再構成することを特徴とする計測用Ｘ線ＣＴ装置の断層画像生成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計測用Ｘ線ＣＴ装置、及び、その断層画像生成方法に係り、特に、回転テーブルの回転軸の偏心やテーブル面傾斜などの幾何誤差量にかかわらず、高精度な断層画像を生成することが可能な、計測用Ｘ線ＣＴ装置、及び、その断層画像生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
１９７０年代に医療用Ｘ線ＣＴ装置が実用に供され、この技術をベースに１９８０年代初期頃より工業用製品のためのＸ線ＣＴ装置が登場した。以来、工業用Ｘ線ＣＴ装置は、外観からでは確認困難な鋳物部品の鬆、溶接部品の溶接不良、および電子回路部品の回路パターンの欠陥などの観察・検査に用いられてきた。一方、近年３Ｄプリンタの普及に伴い、３Ｄプリンタによる加工品内部の観察・検査のみならず、内部構造の３Ｄ寸法計測とその高精度化の需要が増大しつつある。
【０００３】
上述の技術の動向に対して、計測用Ｘ線ＣＴ装置がドイツを中心に普及し始めている（特許文献１、２参照）。この計測用Ｘ線ＣＴ装置では、測定対象を回転テーブル中心に配置して測定対象を回転させながらＸ線照射を行う。
【０００４】
計測で使用する一般的なＸ線ＣＴ装置１の構成を図１に示す。Ｘ線を遮蔽するエンクロージャ１０の中にコーンビーム状のＸ線１３を照射するＸ線源１２、Ｘ線１３を検出するＸ線検出器１４、被検体Ｗを置いてＣＴ撮像の為に被検体Ｗを回転させる回転テーブル１６、Ｘ線検出器１４に映る被検体Ｗの位置や倍率を調整するためのＸＹＺ移動機構部１８があり、それらのデバイスを制御するコントローラ２０、及び、ユーザ操作によりコントローラ２０に指示を与える制御ＰＣ２２などで構成される。
【０００５】
制御ＰＣ２２は、各デバイス制御の他に、Ｘ線検出器１４に映る被検体Ｗの投影画像を表示する機能や、被検体Ｗの複数の投影画像から断層画像を再構成する機能を有する。
【０００６】
Ｘ線源１２から照射されたＸ線１３は、図２に示す如く、回転テーブル１６上の被検体Ｗを透過してＸ線検出器１４に届く。被検体Ｗを回転させながらあらゆる方向の被検体Ｗの透過画像（投影画像）をＸ線検出器１４で得て、逆投影法や逐次近似法などの再構成アルゴリズムを使って再構成することにより、被検体Ｗの断層画像を生成する。
【０００７】
前記ＸＹＺ移動機構部１８のＸＹＺ軸と回転テーブル１６のθ軸を制御することにより、被検体Ｗの位置を移動することができ、被検体Ｗの撮影範囲（位置、倍率）や撮影角度を調整することができる。
【０００８】
Ｘ線ＣＴ装置１の最終目的である被検体Ｗの断層画像またはボリュームデータ（被検体Ｗの立体像または断層画像のＺ軸方向の集合）を得るには、被検体ＷのＣＴスキャンを行う。
【０００９】
ＣＴスキャンは被検体Ｗの投影画像取得とＣＴ再構成の２つの処理で構成され、投影画像取得処理では、Ｘ線照射中に被検体Ｗを載せた回転テーブル１６を一定速度で連続的あるいは一定ステップ幅で断続的に回転し、全周囲方向(一定間隔)の被検体Ｗの投影画像を取得する。得られた全周囲方向(一定間隔)の投影画像を逆投影法や逐次近似法などのＣＴ再構成アルゴリズムを使ってＣＴ再構成することで、図３に例示する如く、被検体（図３ではマスターボール）の断層画像またはボリュームデータが得られる。
【００１０】
ＣＴ再構成アルゴリズムの分類には大きく逆投影法と逐次近似法がある。
【００１１】
逆投影法は図４に例示する如く、投影画像をその画像が得られた投影方向から順次逆投影していく。
【００１２】
逐次近似法は図５に例示する如く、推定した被検体の像から投影画像を計算で求め、その投影画像が実際の投影画像と近くなるように被検体の像を繰り返し修正していく。
【００１３】
逆投影法や逐次近似法はさらに細かく分類されて数多くのアルゴリズムが存在するが、いずれのアルゴリズムであっても、それらは投影画像が正しいアライメントで取得されることを前提としている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１４】
【特許文献１】特開２００２−７１３４５号公報
【特許文献２】特開２００４−１２４０７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
前記のように被検体の回転には回転テーブルが用いられるが、ＣＴスキャン時の回転テーブルに回転軸の偏心やテーブル面傾斜があると、各回転角度で得られる投影画像にその影響が含まれてしまい、その影響はＣＴ再構成で得られた断層画像にアーチファクトとして現れるという問題点を有していた。
【００１６】
例えば逆投影法では、回転テーブルの位置誤差により一部の投影画像の投影像位置がずれた場合、その投影画像は間違った位置に逆投影することになり、ＣＴ再構成計算に矛盾が出てくる。また、逐次近似法では誤差のある投影画像に近づけることになってしまう。
【００１７】
投影画像が正しいアライメントで取得されているかどうかを確認する指標には、次の２つのパラメータがある。
【００１８】
（１）回転軸…被検体の回転軸。
（２）スキャン軸…１つの断面画像を生成するときのスキャン位置。この位置はＸ線がＸ線検出器と直交する点（理想的にはＸ線検出器の中心）を通り、回転軸に直交する軸となる。ボリュームデータを生成する際もＣＴ再構成アルゴリズムで考慮している。
【００１９】
高精度なＣＴ再構成を行うには、図６に例示する如く、上記の回転軸とスキャン軸の投影位置が全周囲方向の投影画像で一致し、かつＣＴ再構成アルゴリズムで前提としているそれらの位置と一致している必要がある。
【００２０】
前述のＣＴ再構成の原理より、回転テーブルに、図７に例示するような回転軸の偏心や、図８に例示するようなテーブル面傾斜がある場合、実際の回転軸やスキャン軸は、計算上のそれらの軸と一致しなくなる。また、回転テーブル回転角度により偏心や面傾斜が変化する場合は、全周囲方向の投影画像間でも回転軸やスキャン軸の投影位置が異なり、ＣＴ再構成が正確に行われない。
【００２１】
このように投影画像上の被検体像が計算上の位置と乖離している場合、ＣＴ再構成で生成される断層画像やボリュームデータの被検体像がぼやけるだけではなく、図９に例示する如く、被検体像に大きなノイズ（虚像含む）が発生したり、ＣＴ再構成計算に失敗したりする。
【００２２】
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、回転テーブル回転軸の偏心やテーブル面傾斜などの幾何誤差量を事前に取得できる場合に、その誤差量を利用して投影画像を直接補正することで、高精度な断層画像を生成することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
本発明は、回転テーブル上に配置した被検体を回転させながらＸ線を照射し、その投影画像を再構成して被検体の断層画像を生成するようにした計測用Ｘ線ＣＴ装置において、予め取得した、投影画像に含まれる幾何誤差量を記憶する手段と、該記憶された幾何誤差量を用いて投影画像を補正する手段と、補正後の投影画像を用いて断層画像を再構成する手段と、を備えることにより、前記課題を解決したものである。
【００２４】
ここで、前記幾何誤差量が、回転テーブルの偏心や面傾斜であることができる。
【００２５】
又、回転テーブル上に配置した被検体を回転させながらＸ線を照射し、その投影画像を再構成して被検体の断層画像を生成するようにした計測用Ｘ線ＣＴ装置により断層画像を生成する際に、投影画像に含まれる幾何誤差量を予め取得して記憶し、該記憶された幾何誤差量を用いて投影画像を補正し、補正後の投影画像を用いて断層画像を再構成することができる。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、回転テーブルの偏心やテーブル面傾斜などの既知の幾何誤差量を利用して投影画像を直接補正することで、高精度な断層画像やボリュームデータを生成することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】計測用で使用する一般的なＸ線ＣＴ装置の全体構成を示す断面図
【図２】同じく要部配置を示す斜視図
【図３】ＣＴ再構成の概要を示す図
【図４】逆投影法の概要を示す図
【図５】逐次近似法の概要を示す図
【図６】理想的な投影画像の例を示す図
【図７】回転テーブルの偏心を示すためのＸ線ＣＴ装置の要部の平面図
【図８】回転テーブルの面傾斜を示すためのＸ線ＣＴ装置でＸ線源から被検体とＸ線検出器を見た状態を示す側面図
【図９】回転テーブルに偏心や面傾斜がある場合の投影画像の例を示す図
【図１０】本発明の第１実施形態における処理手順を示す流れ図
【図１１】実施形態で用いる座標系の定義を説明するための、Ｘ線ＣＴ装置を上方から見た平面図
【図１２】同じく投影画像上の座標系の定義を示す側面図
【図１３】同じく幾何誤差量を取得するために用いられるマスターボールの配置例を示す斜視図
【図１４】同じく三次元測定機の例を示す斜視図
【図１５】同じくフィッティング円の例を示す平面図
【図１６】同じく回転テーブル上におけるフィッティングした平面及び円を示す斜視図
【図１７】同じく逆投影法を上から俯瞰した平面図
【図１８】同じく側面から見たＣＴスキャンと逆投影の様子を表す側面図
【図１９】同じく補正手順を示す流れ図
【図２０】同じくＣＴ再構成の逆投影計算でボリュームデータを生成している様子を示す側面図
【図２１】同じく回転方法を示す図
【図２２】本発明の第２実施形態における処理手順を示す流れ図
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施形態及び実施例に記載した内容により限定されるものではない。又、以下に記載した実施形態及び実施例における構成要件には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。更に、以下に記載した実施形態及び実施例で開示した構成要素は適宜組み合わせてもよいし、適宜選択して用いてもよい。
【００２９】
図１０に本発明による投影画像の補正を含んだＣＴスキャンの第１実施形態の手順を示す。
【００３０】
まずステップ１０１で、Ｘ線１３を照射して被検体Ｗを載せた回転テーブル１６を一定速度で連続的あるいは一定ステップ幅で断続的に回転し、全周囲方向（一定間隔）の被検体Ｗの投影画像を取得する。
【００３１】
次いで、ＣＴ再構成に際して、投影画像をＣＴ再構成の計算に用いる前に、ステップ１０２で、テーブル偏心・面傾斜を含む既知の幾何誤差量を用いて投影画像を補正する。
【００３２】
次いで、補正した投影画像を用いてステップ１０３でＣＴ再構成の計算を行い、ボリュームデータを生成する。
【００３３】
前出ステップ１０２における投影画像の具体的な補正手順を以下に示す。
【００３４】
ここで、補正手順の説明のために、座標系の定義を図１１、図１２に示す。
【００３５】
即ち、例えば図１１のように原点をＸ線源１２の位置、Ｘ軸をＸ線源１２からＸ線検出器１４方向の軸、Ｚ軸を回転テーブル１６面に垂直かつ上方向の軸、Ｙ軸をＸ、Ｚと直交する方向の軸として構成される座標系を定義する。
【００３６】
投影画像上の座標系は、図１２に示すように、原点Ｏを投影画像中心、Ｕ軸を水平方向の軸、Ｖ軸を垂直方向の軸と定義する。Ｕ軸はＹ軸の投影像と、Ｖ軸はＺ軸の投影像と一致し、それぞれ向きも一致しているものとする。
【００３７】
次に、テーブル偏心・面傾斜の幾何誤差量の取得例について説明する。
【００３８】
本発明による補正を行うには、回転テーブル１６の偏心や面傾斜の幾何誤差量をあらかじめ取得しておくことが前提である。取得方法としては例えば、図１３に示す如く、同じ高さのマスターボール３０を回転テーブル１６の周囲の中心から同じ距離の位置に複数（図では３本）配置し、回転テーブル１６の定ピッチ角度ごとにマスターボール３０の空間位置を、図１４に例示するような三次元測定機６０で座標測定することができる。
【００３９】
前記三次元測定機６０は、基準面となる定盤６２と、該定盤６２上を前後方向（Ｙ軸方向）に移動可能な一対の支柱６４ａ、６４ｂ及び、その上に架け渡されたビーム６４ｃを有する門型フレーム６４と、該門型フレーム６４のビーム６４ｃ上を左右方向（Ｘ軸方向）に移動可能なコラム６６と、該コラム６６上を上下方向（Ｚ軸方向）に移動可能なスライダ６８と、該スライダ６８の下端に固定されたプローブ７０と、該プローブ７０の先端（図では下端）に固定されたスタイラス７２ａ及び例えば球状の測定子７２ｂを備えている。
【００４０】
具体的には、回転テーブル１６をある角度に設定し、その状態で三次元測定機６０を使って全てのマスターボール３０の空間位置を求める。空間位置を求める方法としては、例えばマスターボール３０の各箇所を三次元測定機６０の測定子７２ｂで接触測定し、得られた測定点を基に球フィッティング（球あてはめ）を行って、その中心を空間位置とする。そして、周囲に配置したマスターボール３０の空間位置を使って円フィッティングを行う。図１５に示す如く、回転テーブル１６を定ピッチ角度で回転させて、このフィッティング円を複数（図１５ではθ＝０°、９０°、１８０°の３つ）取得し、その位置変化を調べることで、回転テーブル１６の偏心を計算することができる。もし偏心が無ければ、各角度で計算したフィッティング円の位置は全て一致する。
【００４１】
具体的な計算方法としては、はじめにある角度における各マスターボール３０の空間座標から平面フィッティングにより平面を求める。例えば、ある回転角度θのi番目のマスターボール３０の空間位置をＰθiとしたとき、最小二乗法を使って次のように計算する。
【数１】
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【００４２】
次に各マスターボール３０の空間位置をその平面に投影して、その平面上で円フィッティングを行い、円の中心位置Ｃθを計算する。平面には新しい二次元座標系（例えばＵ軸、Ｖ軸で構成）を作成しておき、平面に投影した平面位置をＰθi’としたとき、最小二乗法を使って次のように計算する。
【数２】
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【００４３】
得られた平面上の円中心（Cu,Cv）を空間座標に変換して、図１６に示すような円の中心位置Ｃθを求める。
【００４４】
以上の計算を各回転角度で行い、全ての角度においてＣθを計算する。
【数３】
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【００４５】
これらのテーブル偏心量・面傾斜の導出は１つの例であり、マスターボール３０以外の校正治具を用いても良いし、三次元測定機６０以外の測定（例えば投影画像に映るマスターボール３０の位置・傾斜変化検出）を用いても良い。
【００４６】
次に、偏心・面傾斜の幾何誤差量をＣＴ再構成に適用して補正する原理について説明する。
【００４７】
ここでは逆投影法のＣＴ再構成で具体的に説明する。
【００４８】
逆投影法によるＣＴ再構成は、被検体Ｗの周囲方向の投影画像を投影したときと同じ角度で逆投影し、ボリュームデータ（または断面画像）を得る。ここで、逆投影法を考える上で必要となる平行ビームスキャンについて説明する。
【００４９】
平行ビームスキャンは、ＣＴスキャンの回転角度ごとに、Ｘ線源１２がＸ線検出器１４と平行に移動し、Ｘ線検出器１４へ入射するＸ線１３が常に直交する構成のスキャン方式である。逆投影法はＸ線検出器１４で得た投影画像から画像平面に直交して逆投影するため、平行ビームスキャンの逆の原理になる。
【００５０】
平行ビームスキャンの逆投影法によるＣＴ再構成は投影画像の画素値ｐ、回転角度θ、断面画像の画素値μを用いて次のように表すことができる。
【数４】
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【００５１】
上式は各角度で取得した投影画像に対してコンボリューション（畳み込み積分）を行いながらその画素値を積算していくことを示しており、図１７のような処理イメージとなる。
【００５２】
逆投影法によるＣＴ再構成が正しく行われる条件としては、ＣＴスキャン時に被検体内部を透過したＸ線を、そのときと同じ位置・方向に逆投影することである。
【００５３】
次に、回転テーブルに偏心や面傾斜がある場合の逆投影の具体的な影響について説明する。図１８は側面から見たＣＴスキャンと逆投影の様子を表わしている。
【００５４】
回転テーブル１６には偏心や面傾斜があり、被検体Ｗの回転軸は投影面に平行では無い。一方、逆投影計算では回転軸に平行な投影面に対して逆投影が行われ、計算上の投影面を物理空間上に置くと図１８のようになる。
【００５５】
被検体Ｗ内の１つの点Ｓについて着目すると、その点Ｓが投影されて映る投影面の位置はＰであるが、逆投影計算で使用する投影画像の位置はＰ’となり、ここでＣＴ再構成の誤差が生じることになる。
【００５６】
本発明ではＣＴ再構成時に計算上の投影面の姿勢を実際の投影面の姿勢に補正することで、投影時と逆投影時で扱う投影画像の画素を同じものにし、逆投影計算を正しく行うようにする。
【００５７】
なお、平行ビームスキャン以外のスキャン方式であっても、通常は逆投影計算の中で平行ビームに換算して計算を行っている。よって先述の平行ビームスキャンの計算式をより一般化かつ簡略化して次のように表現することにする。
【数５】
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【００５８】
実際の計算では個々のスキャン方式の計算に従って逆投影を行う必要があるが、ここでの補正の説明には、投影画像をコンボリューションして周囲方向に逆投影する本質的な計算式があれば良いので、上式（１２）を使うことにする。
【００５９】
以下、図１９を参照して、図１０のステップ１０２の補正手順について説明する。
【００６０】
まずステップ１０２１で、補正を含んだ逆投影計算式を導出する。
【００６１】
前記のように、ＣＴ再構成における投影画像の姿勢を実際の姿勢に変換することで、ＣＴ再構成の補正を行う。
【００６２】
この補正は厳密に言えば、ＣＴ再構成の逆投影計算で参照する投影画像の画素位置を正しい画素位置に変換する処理になる。
【００６３】
図２０はＣＴ再構成の逆投影計算でボリュームデータを生成している様子を示している。イメージし易いように、前出の空間座標系と同じ座標系にボリュームデータと投影画像を配置している。ボリュームデータ中心は座標系原点に配置し、ＣＴスキャン時の回転角度θ＝０°で取得したときの投影画像をＸ軸に直交する姿勢で配置している。
【００６４】
ここで、ボリュームデータのある点Ｓ（ｘ，ｙ，ｚ）を再構成することを考える。点Ｓの投影画像上の位置Ｐは、（投影画像の座標系定義より）投影画像上のＵ軸がＹ軸と平行かつＶ軸がＺ軸と平行であり、Ｘ軸が投影画像の原点を通るため、次のように表すことができる。
【数６】
2019158534.tif 000008
【００６５】
各角度θで取得した投影画像に対応できるように拡張すると、位置Ｐを空間上でＺ軸回りに回転することを踏まえて次のように表わすことができる。
【数７】
2019158534.tif 000009
【００６６】
点Ｓの再構成は投影画像上の位置Ｐの画素値を使って計算されるが、偏心や面傾斜の影響により位置Ｐの画素値は点Ｓの投影データを含んでいない。点Ｓの投影データを含む投影画像上の位置は、上図に実際の被検体Ｗの姿勢を当てはめて、点Ｓと同じ被検体上の位置である点Ｓ’を投影した位置Ｐ’となる。つまり、点Ｓの再構成では位置Ｐではなく位置Ｐ’の画素を使えば良いことになる。
【００６７】
ボリュームデータと被検体Ｗの姿勢を変換する行列をＭθ（導出手順は後述）とした場合、位置Ｐ’は次のように求めることができる。
【数８】
2019158534.tif 000010
【００６８】
ここで、前出の姿勢変換行列Ｍθは次のように求めることができる。
【００６９】
被検体Ｗの姿勢は回転テーブル１６の姿勢と同じであるため、偏心量Ｅθでオフセットし、面傾斜ベクトルＮθの傾きがある。まずはこの被検体Ｗの姿勢を元に戻すことを考える。元に戻すとは、被検体Ｗの姿勢を偏心量だけ逆にオフセットした上で、面傾斜ベクトルをＺ軸（面傾斜が無いときはＺ軸と同じため）に一致させる回転を行う。
【００７０】
回転方法について、ここでは、図２１に示す如く、（Ａ）Ｚ軸回り、（Ｂ）Ｙ軸回りの順に回転させる。
【数９】
2019158534.tif 000011
【００７１】
はじめに図２１（Ａ）に示したＺ軸回りの回転により面傾斜ベクトルＮθをＸＺ平面上に載せ、その変換したベクトルをＮ’θとする。次にベクトルＮ’θを図２１（Ｂ）に示したＹ軸回りの回転によりＺ軸と一致させる。
【００７２】
このように姿勢を戻す変換は偏心量逆オフセット、Ｚ軸回転、Ｙ軸回転の順で行うため、姿勢変換行列Ｍθは、この逆の順で逆変換を行えば良い。姿勢変換行列Ｍθは次のようになる。
【数１０】
2019158534.tif 000012
【００７３】
上記より、テーブル偏心・面傾斜の幾何誤差量を用いた補正を含んだ逆投影計算式は次のようになる。
【数１１】
2019158534.tif 000013
【００７４】
通常、投影画像上の位置μ’、ｖ’は整数にはならないため、ｐ（μ’，ｖ’，θ）で画素値を参照するときは線形補間等により適切な画素値を取得するようにする必要がある。
【００７５】
次いで、図１９のステップ１０２２に進み、前出ステップ１０２１で求めた逆投影計算式を使って逆投影計算することで補正を行う。
【００７６】
例えばボリュームデータの各画素を１つずつ完成させる手順であれば、ステップ１０２１で得た逆投影計算式を適用して各角度の投影画像から所望の画素を持ってくれば良い。
【００７７】
この場合、角度θに依存する姿勢変換行列Ｍθをあらかじめ全角度分用意しておく必要がある。
【００７８】
また、各角度の投影画像ごとに逆投影していきボリュームデータを徐々に構成していく手順であれば、実質的には各角度の投影画像自体を補正してから通常の逆投影計算を行う事に等しい。補正前後の画素位置の関係は下記のように分かっているため投影画像の補正は可能である。
【数１２】
2019158534.tif 000014
【００７９】
第１実施形態の図１０に示したステップ１０２と１０３を一体化した本発明の第２実施形態の処理手順を図２２に示す。
【００８０】
本実施形態においては、第１実施形態と同様のステップ１０１終了後、ステップ２０２で、前出（１９）式に示した姿勢変換行列Ｍθを用いて再構成処理を行う。
【００８１】
本実施形態においては、姿勢変換行列ＭθをＣＴ再構成処理に適用するため、処理が早くかつ容易である。
【００８２】
上記実施形態では逆投影法による例を示したが、投影画像自体を補正することで他の再構成法（例えば逐次再構成など）にも適用可能である。
【００８３】
また、回転テーブルの偏心・面傾斜の幾何誤差に限らず、既知の幾何誤差量が変換行列（上記の姿勢変換行列Ｍθ）で表すことができれば、どのような幾何誤差でも補正することができる。
【符号の説明】
【００８４】
１…Ｘ線ＣＴ装置
１２…Ｘ線源
１３…Ｘ線
１４…Ｘ線検出器
１６…回転テーブル
２０…マスターボール
６０…三次元測定機
７２ｂ…測定子
Ｗ…被検体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
2019158534.tif 000030
【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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