(57)【要約】【課題】バイポーラ電極の長さの計測精度を向上させる。【解決手段】計測装置６０は、バイポーラ電極３２の長さＬを計測する。計測装置６０は、バイポーラ電極３２が載置される載置面６２ａを有する計測台６２と、バイポーラ電極３２の載置位置を規制する規制部材６４と、縁３２ａを含む撮像範囲Ｒ１でバイポーラ電極３２を撮像することによって第１画像を生成するカメラ６８ａと、縁３２ｂを含む撮像範囲Ｒ２でバイポーラ電極３２を撮像することによって第２画像を生成するカメラ６８ｂと、第１画像及び第２画像に基づいて、縁３２ａと縁３２ｂとの間の距離を算出する制御部７０と、を備える。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電極板と、前記電極板の第１面に設けられた第１活物質層と、前記電極板の前記第１面とは反対の第２面に設けられた第２活物質層と、を有するバイポーラ電極の第１方向の長さを計測する計測装置であって、
前記第１活物質層が接触するように前記バイポーラ電極が載置される載置面を有する計測台と、
前記載置面に設けられ、前記バイポーラ電極のいずれかの縁が当接することによって前記バイポーラ電極の載置位置を規制する第１規制部材と、
前記バイポーラ電極の前記第１方向と交差する第２方向に沿って延びる第１縁を含む第１撮像範囲で前記バイポーラ電極を撮像することによって第１画像を生成する第１撮像部と、
前記バイポーラ電極の前記第１縁と前記第１方向において対向する第２縁を含む第２撮像範囲で前記バイポーラ電極を撮像することによって第２画像を生成する第２撮像部と、
前記第１画像及び前記第２画像に基づいて、前記第１縁と前記第２縁との間の距離を算出する制御部と、を備える、
計測装置。
【請求項２】
前記第１規制部材は、前記載置面と交差する当接面を有する、
請求項１に記載の計測装置。
【請求項３】
前記載置面に設けられ、前記当接面と交差する方向に沿って延びる一対の第２規制部材をさらに備え、
前記一対の第２規制部材同士の離間距離は、前記バイポーラ電極の前記第１方向における前記長さの設計値よりも大きい、
請求項２に記載の計測装置。
【請求項４】
前記第２活物質層と接触する接触面を有し、前記載置面に向かって前記バイポーラ電極を押える押え部材をさらに備える、
請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の計測装置。
【請求項５】
前記第１撮像範囲は、前記バイポーラ電極の前記第１方向に沿って延びる第３縁を含み、
前記制御部は、前記第１画像に基づいて、前記第１縁と前記第３縁とのなす角度を算出する、
請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の計測装置。
【請求項６】
前記第１撮像範囲は、前記第２活物質層の前記第２方向に沿って延びる第４縁を含み、
前記制御部は、前記第１画像に基づいて、前記第１縁と前記第４縁との間の距離を算出する、
請求項１〜請求項５のいずれか一項に記載の計測装置。
【請求項７】
電極板と、前記電極板の第１面に設けられた第１活物質層と、前記電極板の前記第１面とは反対の第２面に設けられた第２活物質層と、を有するバイポーラ電極の第１方向の長さを計測する計測方法であって、
前記第１活物質層が計測台の載置面と接触するように前記バイポーラ電極を前記載置面に載置する載置工程と、
前記バイポーラ電極の前記第１方向と交差する第２方向に沿って延びる第１縁を含む第１撮像範囲で前記バイポーラ電極を撮像することによって第１画像を生成するとともに、前記バイポーラ電極の前記第１縁と前記第１方向において対向する第２縁を含む第２撮像範囲で前記バイポーラ電極を撮像することによって第２画像を生成する撮像工程と、
前記第１画像及び前記第２画像に基づいて、前記第１縁と前記第２縁との間の距離を算出する算出工程と、を備え、
前記載置工程では、前記載置面に設けられるとともに前記バイポーラ電極の載置位置を規制する第１規制部材に前記バイポーラ電極のいずれかの縁が当接した状態で、前記バイポーラ電極が前記載置面に載置される、
計測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計測装置及び計測方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
計測対象物を撮像した画像に基づいて、計測対象物の長さを計測する技術が知られている。例えば、特許文献１に記載の寸法測定装置（計測装置）では、測定対象物（計測対象物）としてのキャタピラブロックを搬送する搬送手段が設けられ、搬送手段上で移動している計測対象物を撮像する２台のカメラが設けられている。２台のカメラによって撮像された計測対象物における左右の端部を含む画像が画像処理されることによって、計測対象物の左端から右端までの長さが計測されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平８−１０１０１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、複数のバイポーラ電極が積層されることによって構成される電極積層体を備えるバイポーラ電池がある。電極積層体を構成する際に、複数のバイポーラ電極それぞれの長さは、所定の範囲に収まっていることが望まれる。このため、複数のバイポーラ電極の製造工程において、各バイポーラ電極の長さを計測する場合がある。
【０００５】
各バイポーラ電極は、例えば金属箔と、金属箔の両面に活物質が塗工されることで形成された正極活物質層及び負極活物質層とによって構成されており、各バイポーラ電極の厚さは薄い。このため、特許文献１に記載の計測装置のように、バイポーラ電極が搬送手段によって搬送されている間に、バイポーラ電極の長さを計測しようとすると、バイポーラ電極（金属箔）の端部が巻き上がり上方に浮いてしまう可能性がある。バイポーラ電極の端部が上方に浮いた状態にてカメラがバイポーラ電極を撮像した場合、バイポーラ電極の長さが正しく計測されないおそれがある。
【０００６】
本発明は、バイポーラ電極の長さの計測精度を向上させることが可能な計測装置及び計測方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一側面に係る計測装置は、電極板と、電極板の第１面に設けられた第１活物質層と、電極板の第１面とは反対の第２面に設けられた第２活物質層と、を有するバイポーラ電極の第１方向の長さを計測する計測装置である。この計測装置は、第１活物質層が接触するようにバイポーラ電極が載置される載置面を有する計測台と、載置面に設けられ、バイポーラ電極のいずれかの縁が当接することによってバイポーラ電極の載置位置を規制する第１規制部材と、バイポーラ電極の第１方向と交差する第２方向に沿って延びる第１縁を含む第１撮像範囲でバイポーラ電極を撮像することによって第１画像を生成する第１撮像部と、バイポーラ電極の第１縁と第１方向において対向する第２縁を含む第２撮像範囲でバイポーラ電極を撮像することによって第２画像を生成する第２撮像部と、第１画像及び第２画像に基づいて、第１縁と第２縁との間の距離を算出する制御部と、を備える。
【０００８】
この計測装置では、計測台の載置面に設けられた第１規制部材にバイポーラ電極のいずれかの縁が当接することによって載置位置が規制された状態で、載置面に載置されたバイポーラ電極が撮像される。また、バイポーラ電極が撮像されることによって生成される第１画像及び第２画像に基づき、バイポーラ電極の第１縁と第２縁との間の距離が算出される。バイポーラ電極は、第１規制部材に当接するとともに計測台の載置面に静止した状態で載置されており、静止状態においてバイポーラ電極が撮像されている。このため、バイポーラ電極の端部が上方に浮いてしまう可能性が低減される。その結果、バイポーラ電極の長さの計測精度を向上させることが可能となる。
【０００９】
第１規制部材は、載置面と交差する当接面を有してもよい。
【００１０】
この場合、バイポーラ電極の縁を当接面に当接させることよってバイポーラ電極の載置位置が規制される。このため、バイポーラ電極の載置位置がより確実に規制されるとともに、平面視におけるバイポーラ電極の傾きが規制される。その結果、バイポーラ電極を計測可能な載置位置に容易に配置することが可能となる。
【００１１】
計測装置は、載置面に設けられ、当接面と交差する方向に沿って延びる一対の第２規制部材をさらに備えてもよい。一対の第２規制部材同士の離間距離は、バイポーラ電極の第１方向における長さの設計値よりも大きくてもよい。
【００１２】
この場合、一対の第２規制部材の間にバイポーラ電極が載置されることによって、一対の第２規制部材が互いに対向する方向におけるバイポーラ電極の載置位置が規制される。このため、バイポーラ電極を計測可能な載置位置にさらに容易に配置することが可能となる。
【００１３】
計測装置は、第２活物質層と接触する接触面を有し、載置面に向かってバイポーラ電極を押える押え部材をさらに備えてもよい。
【００１４】
この場合、バイポーラ電極が、計測台の載置面と押え部材の接触面との間に挟まれた状態で載置面に向かって押えられる。このため、バイポーラ電極の端部が上方に浮こうとしても、押え部材の接触面によってバイポーラ電極の動きが抑えられる。その結果、バイポーラ電極の端部が上方に浮くことをさらに抑制できるので、バイポーラ電極の長さの計測精度をさらに向上させることが可能となる。
【００１５】
第１撮像範囲は、バイポーラ電極の第１方向に沿って延びる第３縁を含んでもよい。制御部は、第１画像に基づいて、第１縁と第３縁とのなす角度を算出してもよい。
【００１６】
この場合、第１縁と第３縁とを含むバイポーラ電極の角部が所望の角度を有しているかどうかを判定することが可能となる。
【００１７】
第１撮像範囲は、第２活物質層の第２方向に沿って延びる第４縁を含んでもよい。制御部は、第１画像に基づいて、第１縁と第４縁との間の距離を算出してもよい。
【００１８】
この場合、電極板に対して第２活物質層が所望の位置に形成されているかどうかを判定することが可能となる。
【００１９】
本発明の他の側面に係る計測方法は、電極板と、電極板の第１面に設けられた第１活物質層と、電極板の第１面とは反対の第２面に設けられた第２活物質層と、を有するバイポーラ電極の第１方向の長さを計測する計測方法である。この計測方法は、第１活物質層が計測台の載置面と接触するようにバイポーラ電極を載置面に載置する載置工程と、バイポーラ電極の第１方向と交差する第２方向に沿って延びる第１縁を含む第１撮像範囲でバイポーラ電極を撮像することによって第１画像を生成するとともに、バイポーラ電極の第１縁と第１方向において対向する第２縁を含む第２撮像範囲でバイポーラ電極を撮像することによって第２画像を生成する撮像工程と、第１画像及び第２画像に基づいて、第１縁と第２縁との間の距離を算出する算出工程と、を備える。載置工程では、載置面に設けられるとともにバイポーラ電極の載置位置を規制する第１規制部材にバイポーラ電極のいずれかの縁が当接した状態で、バイポーラ電極が載置面に載置される。
【００２０】
この計測方法では、計測台の載置面に設けられた第１規制部材にバイポーラ電極のいずれかの縁が当接することによって載置位置が規制された状態で、載置面に載置されたバイポーラ電極が撮像される。また、バイポーラ電極が撮像されることによって生成される第１画像及び第２画像に基づき、バイポーラ電極の第１縁と第２縁との間の距離が算出される。バイポーラ電極は、第１規制部材に当接するとともに計測台の載置面に静止した状態で載置されており、静止状態においてバイポーラ電極が撮像されている。このため、バイポーラ電極の端部が上方に浮いてしまう可能性が低減される。その結果、バイポーラ電極の長さの計測精度を向上させることが可能となる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、バイポーラ電極の長さの計測精度を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】図１は、蓄電モジュールを備える蓄電装置の実施形態を示す概略断面図である。
【図２】図２は、図１の蓄電装置を構成する蓄電モジュールを示す概略断面図である。
【図３】図３は、図２に示されるバイポーラ電極の平面図である。
【図４】図４は、一実施形態に係る計測装置の平面図である。
【図５】図５は、図４の計測装置の側面図である。
【図６】図６は、バイポーラ電極の計測方法を示す工程図である。
【図７】図７は、バイポーラ電極の長さを算出する方法を説明するための図である。
【図８】図８は、変形例に係る計測装置の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施形態が詳細に説明される。図面の説明において、同一又は同等の要素には同一符号が用いられ、重複する説明は省略される。図面には必要に応じて直交座標系が示される。例えば、ＸＹＺ直交座標系におけるＸ軸方向及びＹ軸方向が水平方向であり、Ｚ軸方向が鉛直方向である。
【００２４】
図１を参照して、蓄電装置の実施形態について説明する。図１は、蓄電モジュールを備える蓄電装置の実施形態を示す概略断面図である。図１に示される蓄電装置１０は、例えばフォークリフト、ハイブリッド自動車、及び電気自動車等の各種車両のバッテリとして用いられる。蓄電装置１０は、複数（本実施形態では３つ）の蓄電モジュール１２を備えるが、単一の蓄電モジュール１２を備えてもよい。蓄電モジュール１２は、例えばバイポーラ電池である。蓄電モジュール１２は、例えばニッケル水素二次電池、及びリチウムイオン二次電池等の二次電池であるが、電気二重層キャパシタであってもよい。以下の説明では、ニッケル水素二次電池を例示する。
【００２５】
複数の蓄電モジュール１２は、例えば金属板等の導電板１４を介して積層され得る。積層方向から見て、蓄電モジュール１２及び導電板１４は例えば矩形形状を有する。各蓄電モジュール１２の詳細については後述する。導電板１４は、蓄電モジュール１２の積層方向（Ｚ軸方向）において両端に位置する蓄電モジュール１２の外側にもそれぞれ配置される。導電板１４は、隣り合う蓄電モジュール１２と電気的に接続される。これにより、複数の蓄電モジュール１２が積層方向に直列に接続される。積層方向において、一端に位置する導電板１４には正極端子２４が接続されており、他端に位置する導電板１４には負極端子２６が接続されている。正極端子２４は、正極端子２４が接続される導電板１４と一体であってもよい。負極端子２６は、負極端子２６が接続される導電板１４と一体であってもよい。正極端子２４及び負極端子２６は、積層方向に交差する方向（Ｘ軸方向）に延在している。これらの正極端子２４及び負極端子２６により、蓄電装置１０の充放電を実施できる。
【００２６】
導電板１４は、蓄電モジュール１２において発生した熱を放出するための放熱板としても機能し得る。導電板１４の内部に設けられた複数の空隙１４ａを空気等の冷媒が通過することにより、蓄電モジュール１２からの熱を効率的に外部に放出できる。各空隙１４ａは例えば積層方向に交差する方向（Ｙ軸方向）に延在する。積層方向から見て、導電板１４の面積は、蓄電モジュール１２の面積よりも小さいが、蓄電モジュール１２の面積と同じかそれより大きくてもよい。また、積層方向から見て、導電板１４は蓄電モジュール１２を覆っていてもよい。
【００２７】
蓄電装置１０は、交互に積層された蓄電モジュール１２及び導電板１４を積層方向に拘束する拘束部材１６を備え得る。拘束部材１６は、一対の拘束プレート１６Ａ，１６Ｂと、拘束プレート１６Ａ，１６Ｂ同士を連結する連結部材（ボルト１８及びナット２０）と、を備える。各拘束プレート１６Ａ，１６Ｂと導電板１４との間には、例えば樹脂フィルム等の絶縁フィルム２２が配置される。各拘束プレート１６Ａ，１６Ｂは、例えば鉄等の金属によって構成されている。積層方向から見て、各拘束プレート１６Ａ，１６Ｂ及び絶縁フィルム２２は例えば矩形形状を有する。積層方向から見て、絶縁フィルム２２の面積は導電板１４の面積よりも大きく、絶縁フィルム２２は導電板１４を覆っていてもよい。また、積層方向から見て、各拘束プレート１６Ａ，１６Ｂの面積は、蓄電モジュール１２の面積よりも大きく、各拘束プレート１６Ａ，１６Ｂは蓄電モジュール１２を覆っていてもよい。積層方向から見て、拘束プレート１６Ａの縁部には、ボルト１８の軸部を挿通させる挿通孔Ｈ１が蓄電モジュール１２よりも外側となる位置に設けられている。同様に、積層方向から見て、拘束プレート１６Ｂの縁部には、ボルト１８の軸部を挿通させる挿通孔Ｈ２が蓄電モジュール１２よりも外側となる位置に設けられている。積層方向から見て各拘束プレート１６Ａ，１６Ｂが矩形形状を有している場合、挿通孔Ｈ１及び挿通孔Ｈ２は、拘束プレート１６Ａ，１６Ｂの角部に位置する。
【００２８】
一方の拘束プレート１６Ａは、負極端子２６に接続された導電板１４に絶縁フィルム２２を介して突き当てられ、他方の拘束プレート１６Ｂは、正極端子２４に接続された導電板１４に絶縁フィルム２２を介して突き当てられている。ボルト１８は、例えば一方の拘束プレート１６Ａから他方の拘束プレート１６Ｂに向かって挿通孔Ｈ１及び挿通孔Ｈ２に通される。他方の拘束プレート１６Ｂから突出するボルト１８の先端には、ナット２０が螺合されている。これにより、絶縁フィルム２２、導電板１４及び蓄電モジュール１２が挟持されてユニット化されると共に、積層方向に拘束荷重が付加される。
【００２９】
図２を参照して、蓄電装置を構成する蓄電モジュールについて説明する。図２は、図１の蓄電装置を構成する蓄電モジュールを示す概略断面図である。図２に示される蓄電モジュール１２は、複数のバイポーラ電極３２が積層された積層体３０を備える。バイポーラ電極３２の積層方向から見て、積層体３０は、例えば矩形形状を有する。隣り合うバイポーラ電極３２間にはセパレータ４０が配置され得る。
【００３０】
各バイポーラ電極３２は、電極板３４と、電極板３４の面３４ｃに設けられた正極３６と、電極板３４の面３４ｄに設けられた負極３８とを含む。積層体３０において、一のバイポーラ電極３２の正極３６は、セパレータ４０を挟んで積層方向に隣り合う一方のバイポーラ電極３２の負極３８と対向し、一のバイポーラ電極３２の負極３８は、セパレータ４０を挟んで積層方向に隣り合う他方のバイポーラ電極３２の正極３６と対向している。
【００３１】
積層方向において、積層体３０の一端には、内側面（図示下側の面）に負極３８が配置された電極板３４が配置される。この電極板３４は負極側終端電極に相当する。積層方向において、積層体３０の他端には、内側面（図示上側の面）に正極３６が配置された電極板３４が配置される。この電極板３４は正極側終端電極に相当する。負極側終端電極の負極３８は、セパレータ４０を介して最上層のバイポーラ電極３２の正極３６と対向している。正極側終端電極の正極３６は、セパレータ４０を介して最下層のバイポーラ電極３２の負極３８と対向している。これら終端電極の電極板３４はそれぞれ隣り合う導電板１４（図１参照）に接続される。
【００３２】
蓄電モジュール１２は、バイポーラ電極３２の積層方向に延在し、積層体３０を収容する筒状の樹脂部５０を備える。樹脂部５０は、複数の電極板３４の周縁部３４ａを保持する。樹脂部５０は、積層体３０を取り囲むように構成されている。樹脂部５０は、バイポーラ電極３２の積層方向から見て例えば矩形形状を有している。すなわち、樹脂部５０は例えば矩形枠状である。
【００３３】
樹脂部５０は、電極板３４の周縁部３４ａを保持する第１シール部５２と、積層方向に交差する方向（Ｘ軸方向及びＹ軸方向）において第１シール部５２の外側に設けられた第２シール部５４とを有する。
【００３４】
樹脂部５０の内壁を構成する第１シール部５２は、複数のバイポーラ電極３２（すなわち積層体３０）における電極板３４の周縁部３４ａの全周にわたって設けられている。第１シール部５２は、電極板３４の周縁部３４ａに例えば溶着されており、その周縁部３４ａをシールする。すなわち、第１シール部５２は、電極板３４の周縁部３４ａに接合されている。各バイポーラ電極３２の電極板３４の周縁部３４ａは、第１シール部５２に保持されている。積層体３０の両端に配置された電極板３４の周縁部３４ａも、第１シール部５２に保持されている。これにより、積層方向に隣り合う電極板３４，３４間には、当該電極板３４，３４と第１シール部５２とによって液密に仕切られた内部空間が形成されている。当該内部空間には、例えば水酸化カリウム水溶液等のアルカリ溶液からなる電解液（不図示）が収容されている。
【００３５】
樹脂部５０の外壁を構成する第２シール部５４は、バイポーラ電極３２の積層方向に延在する第１シール部５２の外周面５２ａを覆っている。第２シール部５４の内周面５４ａは、第１シール部５２の外周面５２ａに例えば溶着されており、その外周面５２ａをシールする。すなわち、第２シール部５４は、第１シール部５２の外周面５２ａに接合されている。第１シール部５２に対する第２シール部５４の溶着面（接合面）は、例えば４つの矩形平面をなす。
【００３６】
電極板３４は、例えばニッケルからなる矩形の金属箔である。電極板３４の周縁部３４ａは、正極活物質及び負極活物質が塗工されない未塗工領域となっている。未塗工領域では、電極板３４が露出している。その未塗工領域が、樹脂部５０の内壁を構成する第１シール部５２に保持されている。正極３６を構成する正極活物質としては、例えば水酸化ニッケルが挙げられる。負極３８を構成する負極活物質としては、例えば水素吸蔵合金が挙げられる。積層方向から見て、電極板３４の面３４ｄにおける負極３８の形成領域は、電極板３４の面３４ｃにおける正極３６の形成領域に対して一回り大きくてもよい。
【００３７】
セパレータ４０は、例えばシート状に形成されている。セパレータ４０は、例えば矩形形状を有する。セパレータ４０を形成する材料としては、ポリエチレン（ＰＥ）、ポリプロピレン（ＰＰ）等のポリオレフィン系樹脂からなる多孔質フィルム、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、メチルセルロース等からなる織布又は不織布等が例示される。また、セパレータ４０は、フッ化ビニリデン樹脂化合物等で補強されてもよい。
【００３８】
樹脂部５０（第１シール部５２及び第２シール部５４）は、例えば絶縁性の樹脂を用いた射出成形によって矩形の筒状に形成されている。樹脂部５０を構成する樹脂材料としては、例えばポリプロピレン（ＰＰ）、ポリフェニレンサルファイド（ＰＰＳ）、又は変性ポリフェニレンエーテル（変性ＰＰＥ）等が挙げられる。
【００３９】
図３を参照して、バイポーラ電極３２についてさらに説明する。図３は、図２に示されるバイポーラ電極の平面図である。図３に示されるように、バイポーラ電極３２は、平面視において略矩形状に形成されている。バイポーラ電極３２では、正極３６は、平面視において略矩形状に形成されている。
【００４０】
バイポーラ電極３２は、Ｙ軸方向（第２方向）に沿って延びる縁３２ａ（第１縁）及び縁３２ｂ（第２縁）と、Ｘ軸方向（第１方向）に沿って延びる縁３２ｃ（第３縁）及び縁３２ｄと、を有している。縁３２ａと縁３２ｂとはＸ軸方向において互いに対向しており、縁３２ｃと縁３２ｄとはＹ軸方向において互いに対向している。バイポーラ電極３２のＸ軸方向の長さＬは、縁３２ａと縁３２ｂとの間の距離である。バイポーラ電極３２のＹ軸方向の長さは、縁３２ｃと縁３２ｄとの間の距離である。長さＬの設計値は、例えば４５０ｍｍ程度であり、バイポーラ電極３２のＹ軸方向における長さの設計値は、例えば２５０ｍｍ程度である。なお、縁３２ａ及び縁３２ｂは、電極板３４のＸ軸方向において互いに対向する一対の縁に相当する。縁３２ｃ及び縁３２ｄは、電極板３４のＹ軸方向において互いに対向する一対の縁に相当する。
【００４１】
正極３６は、Ｙ軸方向に沿って延びる縁３６ａ（第４縁）及び縁３６ｂと、Ｘ軸方向に沿って延びる縁３６ｃ及び縁３６ｄと、を有している。縁３６ａと縁３６ｂとはＸ軸方向において互いに対向しており、縁３６ｃと縁３６ｄとはＹ軸方向において互いに対向している。縁３６ａがバイポーラ電極３２の縁３２ａ側に位置しており、縁３６ｃがバイポーラ電極３２の縁３２ｃ側に位置している。
【００４２】
バイポーラ電極３２のＸ軸方向における端部３３ａには、角部３３ｃ及び角部３３ｄが含まれる。角部３３ｃは、端部３３ａのうちのＹ軸方向における一端部であり、縁３２ａと縁３２ｃとによって形成される角を含む。角部３３ｄは、端部３３ａのうちのＹ軸方向における他端部であり、縁３２ａと縁３２ｄとによって形成される角を含む。バイポーラ電極３２のＸ軸方向において端部３３ａとは反対の端部３３ｂには、角部３３ｅ及び角部３３ｆが含まれる。角部３３ｅは、端部３３ｂのうちのＹ軸方向における一端部であり、縁３２ｂと縁３２ｃとによって形成される角を含む。角部３３ｆは、端部３３ｂのうちのＹ軸方向における他端部であり、縁３２ｂと縁３２ｄとによって形成される角を含む。
【００４３】
次に図４及び図５を参照して、一実施形態に係る計測装置について説明する。図４は、一実施形態に係る計測装置の平面図である。図５は、図４の計測装置の側面図である。図４及び図５では、計測装置６０に単一のバイポーラ電極３２が載置された状態が示されている。
【００４４】
図４及び図５に示される計測装置６０は、バイポーラ電極３２の長さＬを計測する装置である。つまり、計測装置６０は、バイポーラ電極３２における縁３２ａと縁３２ｂとの間の距離（長さＬ）を計測する。計測装置６０は、載置面６２ａを有する計測台６２と、規制部材６４（第１規制部材）と、規制部材６６ａと、規制部材６６ｂと、カメラ６８ａ（第１撮像部）と、カメラ６８ｂ（第２撮像部）と、制御部７０と、を備えている。
【００４５】
計測台６２は、バイポーラ電極３２を載置するための台である。計測台６２は、載置されたバイポーラ電極３２を支持する。計測台６２は、計測台６２の上端に載置面６２ａを有している。載置面６２ａは、方向Ｄ３と直交する平面（水平面）に沿って延びており、平面視において例えば矩形形状を有する。載置面６２ａには、規制部材６４と、規制部材６６ａと、規制部材６６ｂと、が設けられている。
【００４６】
規制部材６４は、バイポーラ電極３２の載置位置を規制する部材である。規制部材６４は、載置面６２ａの方向Ｄ２における一端部に配置されている。規制部材６４は、方向Ｄ１に沿って延在しており、略直方体状である。規制部材６４にバイポーラ電極３２が当接することによって、バイポーラ電極３２の載置位置が規制される。規制部材６４は、方向Ｄ２と直交する平面に沿って延びる当接面６４ａを有している。つまり、当接面６４ａは載置面６２ａと直交している。当接面６４ａは、平面視における計測台６２の中央を向く規制部材６４の一側面である。当接面６４ａにバイポーラ電極３２の縁３２ｃが当接することによって、バイポーラ電極３２の方向Ｄ２における載置位置が規制される。
【００４７】
規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂ（一対の第２規制部材）は、バイポーラ電極３２の載置位置を規制する部材である。規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂは、方向Ｄ１に沿って離間して配置されている。具体的には、規制部材６６ａは載置面６２ａの方向Ｄ１における一端部に配置されており、規制部材６６ｂは載置面６２ａの方向Ｄ１における他端部に配置されている。規制部材６６ａは、方向Ｄ２に沿って延びており、略直方体状である。規制部材６６ｂは、方向Ｄ２に沿って延びており、略直方体状である。このように、規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂは、当接面６４ａと直交する方向に沿って延びている。規制部材６６ａと規制部材６６ｂとの離間距離は、長さＬの設計値よりも大きい。規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂの間に、バイポーラ電極３２が配置されることによって、バイポーラ電極３２の方向Ｄ１における載置位置が規制される。
【００４８】
カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂは、計測対象物を撮像する装置である。カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂのそれぞれは、載置面６２ａに載置されたバイポーラ電極３２の一部分を撮像する。カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂのそれぞれは、例えば所定画素数の画像を生成可能なデジタルカメラである。カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂは、計測台６２（載置面６２ａ）よりも上方に設けられており、例えば計測台６２の側面から延びる固定部材等によって計測台６２に固定される。カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂそれぞれのレンズが載置面６２ａを向いた状態で、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂは計測台６２に固定されている。カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂは、例えば互いに略同一の高さに設けられる。カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂは、方向Ｄ１において離間して配置されている。
【００４９】
カメラ６８ａは、バイポーラ電極３２の端部３３ａを撮像範囲Ｒ１（第１撮像範囲）で撮像することによって、第１画像を生成する。ここでは、撮像範囲Ｒ１は、載置面６２ａに載置されたバイポーラ電極３２の角部３３ｃが撮像範囲Ｒ１に含まれるように設定される。このように撮像範囲Ｒ１が設定されることで、撮像範囲Ｒ１には縁３２ａの一部が含まれる。なお、ここでは、撮像範囲Ｒ１に正極３６の縁３６ａ及び縁３６ｃの一部も含まれるように撮像範囲Ｒ１は設定される。カメラ６８ａは、生成した第１画像を制御部７０に出力する。
【００５０】
カメラ６８ｂは、バイポーラ電極３２の端部３３ｂを撮像範囲Ｒ２（第２撮像範囲）で撮像することによって、第２画像を生成する。ここでは、撮像範囲Ｒ２は、載置面６２ａに載置されたバイポーラ電極３２の角部３３ｅが撮像範囲Ｒ２に含まれるように設定される。このように撮像範囲Ｒ２が設定されることで、撮像範囲Ｒ２には縁３２ｂの一部が含まれる。なお、ここでは、撮像範囲Ｒ２に正極３６の縁３６ｂ及び縁３６ｃの一部も含まれるように撮像範囲Ｒ２は設定される。カメラ６８ｂは、生成した第２画像を制御部７０に出力する。
【００５１】
撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２のそれぞれは、方向Ｄ１に沿って延びる一対の辺と方向Ｄ２に沿って延びる一対の辺とを有する略長方形状の範囲に設定される。例えば、撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２のそれぞれは、各辺の長さが約５０ｍｍである略正方形状の範囲である。例えば、撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２は、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂの載置面６２ａからの高さ又は焦点距離が調整されることによって、所望の範囲に設定される。
【００５２】
撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２のそれぞれにおける方向Ｄ１に沿う一対の辺は、平面視における規制部材６４の当接面６４ａが延びる方向と略平行である。撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２のそれぞれにおける方向Ｄ１に沿う一対の辺のうちの平面視における計測台６２の中央からより離れた一方は、例えば、方向Ｄ２において当接面６４ａよりも平面視における計測台６２の中央から離れて位置している。撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２は、方向Ｄ１において、規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂの間に位置している。例えば、方向Ｄ１において互いの離間距離が最も大きい撮像範囲Ｒ１の辺と撮像範囲Ｒ２の辺との間の距離は、規制部材６６ａと規制部材６６ｂとの離間距離と略等しい。
【００５３】
第１画像は撮像範囲Ｒ１と相似する形状に生成され、第２画像は撮像範囲Ｒ２と相似する形状に生成される。第１画像及び第２画像のそれぞれは、方向Ｄ１に相当する横方向及び方向Ｄ２に相当する縦方向に並ぶ複数の画素を有している。第１画像及び第２画像のそれぞれは、例えば２００万程度の画素数を有している。
【００５４】
制御部７０は、所定の制御を行うコンピュータである。制御部７０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）及び入出力インターフェース並びに画像処理を行うソフトウェア等から構成されている。制御部７０は、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂのそれぞれと通信可能に接続されている。制御部７０は、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂに撮像を指示する。制御部７０は、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂのそれぞれが生成した第１画像及び第２画像を取得する。さらに、制御部７０は、第１画像及び第２画像に基づいてバイポーラ電極３２の長さＬを算出する。制御部７０は、算出した結果に基づいた計測結果を表示するディスプレイ等を有してもよい。また、制御部７０は、作業員からの指示を受け付ける入力装置を有してもよい。制御部７０が行う算出方法の詳細については後述する。
【００５５】
次に図６及び図７を参照して、一実施形態の計測装置６０を用いて行われるバイポーラ電極３２の計測方法について説明する。図６は、バイポーラ電極の計測方法を示す工程図である。図７は、バイポーラ電極の長さを算出する方法を説明するための図である。
【００５６】
例えば、バイポーラ電極３２の製造工程の一部である検査工程には、バイポーラ電極３２の長さＬの計測が含まれる。複数のバイポーラ電極３２の製造工程では、例えば長手方向に延びる導電性シートの両面において、長手方向に所定間隔を有する複数の領域にわたって活物質が塗工されることで電極母材が生成される。電極母材は、バイポーラ電極３２のもととなる電極材料であり、供給ロールに巻かれる。そして、電極母材が供給ロールから巻き出されるとともに、電極母材が搬送手段によって搬送され、電極母材が切断されることでバイポーラ電極３２が生成される。そして、上述の計測装置６０を用いて、電極母材が切断されることで形成された各バイポーラ電極３２の長さＬが計測される。
【００５７】
図６に示されるように、バイポーラ電極３２の計測方法では、まず準備工程（ステップＳ０１）が行われる。準備工程では、カメラ６８ａとカメラ６８ｂとの間の距離の校正（キャリブレーション）が行われる。カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂの固定位置は維持されたまま、距離の校正がソフトウェア上で行われる。具体的に説明すると、撮像範囲Ｒ１には基準線Ｆ１が含まれており、撮像範囲Ｒ２には基準線Ｆ２が含まれている。基準線Ｆ１は、第１画像において基準となる画素位置に相当する仮想的な線であり、例えば第１画像において横方向の略中央に位置し、縦方向に垂直に延びる画素列に相当する。すなわち、基準線Ｆ１は、撮像範囲Ｒ１において方向Ｄ１の略中央に位置し、方向Ｄ２に沿って延びている。基準線Ｆ２は、第２画像において基準となる画素位置に相当する仮想的な線であり、例えば第２画像において横方向の略中央に位置し、縦方向に垂直に延びる画素列に相当する。すなわち、基準線Ｆ２は、撮像範囲Ｒ２において方向Ｄ１の略中央に位置し、方向Ｄ２に沿って延びている。
【００５８】
続いて、長さＬｋを有するバイポーラ電極３２が計測台６２に載置される。長さＬｋは、他の計測手段によって予め測定されている。すなわち、長さＬｋは既知の値である。そして、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂのそれぞれは、計測台６２に載置されたバイポーラ電極３２の端部３３ａ及び端部３３ｂを撮像することによって、第１画像及び第２画像を生成する。制御部７０は、第１画像に基づいて縁３２ａと基準線Ｆ１との間の距離Ｌ１を算出するとともに、第２画像に基づいて縁３２ｂと基準線Ｆ２との間の距離Ｌ２を算出する。
【００５９】
撮像範囲Ｒ１において縁３２ａが基準線Ｆ１よりも撮像範囲Ｒ２から遠い場合、距離Ｌ１は正の値である。反対に、撮像範囲Ｒ１において縁３２ａが基準線Ｆ１よりも撮像範囲Ｒ２に近い場合、距離Ｌ１は負の値である。撮像範囲Ｒ２において縁３２ｂが基準線Ｆ２よりも撮像範囲Ｒ１から遠い場合、距離Ｌ２は正の値である。撮像範囲Ｒ２において縁３２ｂが基準線Ｆ２よりも撮像範囲Ｒ１に近い場合、距離Ｌ２は負の値である。
【００６０】
距離Ｌ１の算出では、制御部７０は、第１画像における縁３２ａを検出し、第１画像における縁３２ａと基準線Ｆ１との間に位置する横方向の画素数Ｐ１を取得する。制御部７０は、画素数Ｐ１に１画素あたりの換算距離Ｌｃ１を乗算することによって、距離Ｌ１を算出する。換算距離Ｌｃ１は、第１画像における１画素を撮像範囲Ｒ１での実際の距離に対応づけた比率であり、換算距離Ｌｃ１は予め制御部７０に記憶されている。換算距離Ｌｃ１は、例えば数十μｍである。
【００６１】
距離Ｌ２の算出では、制御部７０は、第２画像における縁３２ｂを検出し、第２画像における縁３２ｂと基準線Ｆ２との間に位置する横方向の画素数Ｐ２を取得する。制御部７０は、画素数Ｐ２に１画素あたりの換算距離Ｌｃ２を乗算することによって、距離Ｌ２を算出する。換算距離Ｌｃ２は、第２画像における１画素を撮像範囲Ｒ２での実際の距離に対応づけた比率であり、換算距離Ｌｃ２は予め制御部７０に記憶されている。換算距離Ｌｃ２は、例えば、換算距離Ｌｃ１と同一の値である。
【００６２】
なお、第１画像において基準線Ｆ１に対して縁３２ａが傾いている場合、第１画像の縦方向における画素位置によって縁３２ａと基準線Ｆ１との間の画素数が異なる可能性がある。この場合、制御部７０は、例えば縦方向の各画素位置における縁３２ａと基準線Ｆ１との間の画素数の平均値を画素数Ｐ１として算出してもよい。制御部７０は、第２画像においても同様に縦方向の各画素位置による縁３２ｂと基準線Ｆ２との間の画素数の平均値を画素数Ｐ２として算出してもよい。
【００６３】
準備工程で用いられるバイポーラ電極３２の長さＬｋは、式（１）に示されるように、距離Ｌ１と、距離Ｌ２と、基準線Ｆ１と基準線Ｆ２との間の距離Ｌｓと、を合算した値である。長さＬｋは既知であるので、制御部７０は、式（２）に示されるように、長さＬｋから距離Ｌ１及び距離Ｌ２を減算することによって、距離Ｌｓを算出する。そして、制御部７０は、算出した距離Ｌｓの値を校正値として記憶する。これにより、カメラ６８ａとカメラ６８ｂとの間の距離の校正が終了する。なお、既知の長さＬｋを有するバイポーラ電極３２に代えて、既知の長さＬｋを有する校正用の板状部材が用いられてもよい。準備工程よりも後の工程において、距離Ｌｓが上述の校正値に設定された状態で、他のバイポーラ電極３２の長さＬの計測が行われる。
Lk=L1+Ls+L2…(1)
Ls=Lk-L1-L2…(2)
【００６４】
続いて、長さＬが未知の値であるバイポーラ電極３２を載置面６２ａに載置する載置工程（ステップＳ０２）が行われる。バイポーラ電極３２は、例えば作業員又はロボットアームによって、載置面６２ａに載置される。バイポーラ電極３２は、電極板３４の面３４ｃ（第２面）に設けられた正極３６（第２活物質層）が上方を向くととともに負極３８が下方を向いた状態で載置面６２ａに載置される。また、縁３２ａ及び縁３２ｂが方向Ｄ２に沿うとともに縁３２ｃ及び縁３２ｄが方向Ｄ１に沿った状態でバイポーラ電極３２は載置面６２ａに載置される。この際、バイポーラ電極３２が規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂの間に挿入されるとともに、縁３２ｃが規制部材６４の当接面６４ａに当接した状態で、バイポーラ電極３２は載置面６２ａに載置される。つまり、バイポーラ電極３２は、規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂの間に配置され、当接面６４ａに当接した状態で載置面６２ａに載置されており、静止している。バイポーラ電極３２が載置された状態において、電極板３４の面３４ｄ（第１面）に設けられた負極３８（第１活物質層）は、載置面６２ａと接触する。
【００６５】
続いて、バイポーラ電極３２を撮像する撮像工程（ステップＳ０３）が行われる。バイポーラ電極３２は、規制部材６４、規制部材６６ａ、及び規制部材６６ｂによって載置位置が規制された状態で載置されるので、撮像範囲Ｒ１には角部３３ｃが含まれる。また、撮像範囲Ｒ２には角部３３ｅが含まれる。カメラ６８ａは、撮像範囲Ｒ１でバイポーラ電極３２を撮像することによって第１画像を生成する。カメラ６８ｂは、撮像範囲Ｒ２でバイポーラ電極３２を撮像することによって第２画像を生成する。なお、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂの撮像は、例えば作業員が制御部７０に撮像の指示を入力することで行われてもよく、センサ等でバイポーラ電極３２が載置されたことを検出した後に自動的に行われてもよい。また、カメラ６８ａによる撮像とカメラ６８ｂによる撮像とは、同時に行われてもよく、互いに異なるタイミングで行われてもよい。
【００６６】
続いて、バイポーラ電極３２の長さＬを算出する算出工程（ステップＳ０４）が行われる。まず制御部７０は、ステップＳ０３において生成された第１画像及び第２画像を取得する。そして、制御部７０は、距離Ｌ１及び距離Ｌ２を算出し、距離Ｌ１、距離Ｌ２、及び距離Ｌｓに基づいて長さＬを算出する。具体的には、制御部７０は、第１画像における縁３２ａと基準線Ｆ１との間に位置する横方向の画素数Ｐ１に基づいて、距離Ｌ１を算出する。制御部７０は、第２画像における縁３２ｂと基準線Ｆ２との間に位置する横方向の画素数Ｐ２に基づいて、距離Ｌ２を算出する。距離Ｌ１と距離Ｌ２の算出は、ステップＳ０１と同様にして行われる。
【００６７】
ステップＳ０１において、距離Ｌｓは既知の値（校正値）に設定されているので、制御部７０は、式（３）に示されるように、距離Ｌ１、距離Ｌ２、及び距離Ｌｓを合算することによって、長さＬを算出する。
L=L1+Ls+L2…(3)
【００６８】
ステップＳ０４において、長さＬの計測に加えて、制御部７０は他の計測を行ってもよい。制御部７０は、角部３３ｃにおける角度θ１を算出するとともに、角部３３ｅにおける角度θ２を算出する。角度θ１は、縁３２ａと縁３２ｃとのなす角度であり、角度θ２は、縁３２ｂと縁３２ｃとのなす角度である。具体的には、制御部７０は、第１画像における縁３２ａと縁３２ｃとのなす角度を算出することによって、角度θ１を算出する。制御部７０は、第２画像における縁３２ｂと縁３２ｃとのなす角度を算出することによって、角度θ２を算出する。
【００６９】
さらに、ステップＳ０４において、制御部７０は、互いに隣り合うバイポーラ電極３２の縁３２ａ〜３２ｃのそれぞれと正極３６の縁３６ａ〜３６ｃのそれぞれとの間の距離Ｌ３〜Ｌ５を算出する。具体的には、制御部７０は、第１画像における縁３２ａと縁３６ａとの間に位置する横方向の画素数に基づき、縁３２ａと縁３６ａとの間の距離Ｌ３を算出する。制御部７０は、第１画像における縁３２ｃと縁３６ｃとの間に位置する縦方向の画素数に基づき、縁３２ｃと縁３６ｃとの間の距離Ｌ４を算出する。
【００７０】
制御部７０は、第２画像における縁３２ｂと縁３６ｂとの間に位置する横方向の画素数に基づき、縁３２ｂと縁３６ｂとの間の距離Ｌ５を算出する。なお、制御部７０は、第１画像に代えて、第２画像における縁３２ｃと縁３６ｃとの間に位置する縦方向の画素数に基づき、縁３２ｃと縁３６ｃとの間の距離Ｌ４を算出してもよい。距離Ｌ３〜Ｌ５の算出は、距離Ｌ１，Ｌ２の算出と同様にして行われる。
【００７１】
制御部７０に各種判定閾値が予め記憶され、ステップＳ０４において、制御部７０は、計測したバイポーラ電極３２の各種長さ（距離）又は角度と判定閾値とを比較することによって、計測対象であるバイポーラ電極３２が不適合品であるかどうかを判定してもよい。制御部７０は、作業員にそのバイポーラ電極３２の判定結果を通知するための通知手段を有してもよい。例えば、制御部７０は計測対象のバイポーラ電極３２が不適合品であるかどうかの判定結果を表示するディスプレイを有してもよい。
【００７２】
これにより、単一のバイポーラ電極３２の計測が終了する。続いて、ステップＳ０２からステップＳ０４までの工程が繰り返されることで、他の複数のバイポーラ電極３２の計測が行われる。なお、各バイポーラ電極３２の計測が行われる前後に、載置面６２ａに載置されたバイポーラ電極３２を対象として、作業員による外観検査等の他の検査が行われもよい。
【００７３】
バイポーラ電極３２の計測後、例えば、次の工程では、バイポーラ電極３２の周縁部３４ａに枠体が接合され、枠体が接合された複数のバイポーラ電極３２が積層されることで、図２に示される積層体３０が得られる。複数の枠体が積層されることで第１シール部５２が構成される。そして、第２シール部５４が例えば射出成形によって形成される。続いて、樹脂部５０内に電解液が注入されることによって、蓄電モジュール１２が製造される。
【００７４】
以上説明したように、計測装置６０では、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂによって生成される第１画像及び第２画像に基づいて、バイポーラ電極３２の長さＬが計測される。ノギス等を用いてバイポーラ電極３２の長さＬを計測する方法も考えられるが、この場合、計測時にノギス等がバイポーラ電極３２に接触し、バイポーラ電極３２を損傷させてしまうおそれがある。これに対して、上述の計測装置６０では、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂは、バイポーラ電極３２に非接触の状態でバイポーラ電極３２を撮像する。このため、バイポーラ電極３２が損傷する可能性を低減することが可能となる。
【００７５】
カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂによって端部３３ａ及び端部３３ｂが撮像されることで、長さＬが計測される。このため、バイポーラ電極３２の全面が１台のカメラによって撮像されることによって、バイポーラ電極３２の長さＬが計測される場合と比べて、計測に必要な画像を得るために必要となるカメラの画素数を減らすことが可能となる。これにより、少ない画素数を有するカメラによって、バイポーラ電極３２の計測を行うことが可能となる。
【００７６】
計測装置６０の製造（組立て）の際、カメラ６８ａとカメラ６８ｂとは、互いの距離がバイポーラ電極３２の長さＬに概ね合うように計測台６２に固定される。つまり、この段階では、カメラ６８ａとカメラ６８ｂとの間の距離は、未知の値である。そして、準備工程において、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂの固定位置が変更されることなく、カメラ６８ａ（基準線Ｆ１）とカメラ６８ｂ（基準線Ｆ２）との間の距離Ｌｓが、ソフトウェア上で算出される。そして、算出された距離Ｌｓの値を用いることによってバイポーラ電極３２の長さＬが計測される。これにより、カメラ６８ａとカメラ６８ｂとの物理的な距離を精度よく調整することなく、バイポーラ電極３２の計測を行うことが可能となる。
【００７７】
バイポーラ電極３２を搬送しながらバイポーラ電極３２の計測が行われる場合、例えば搬送手段の載置面と負極３８とが接触するように搬送手段の載置面にバイポーラ電極３２が載置されると、電極板３４の周縁部３４ａと搬送手段の載置面との間には隙間が生じる。このため、バイポーラ電極３２の移動に伴ってバイポーラ電極３２のいずれかの端部が上方に浮いてしまうおそれがある。バイポーラ電極３２のいずれかの端部が上方に浮いた状態にて、端部３３ａ及び端部３３ｂが撮像されると、長さＬが正しく計測されないおそれがある。
【００７８】
これに対して、上述の計測装置６０では、載置面６２ａに設けられた規制部材６４にバイポーラ電極３２の縁３２ｃが当接することによって載置位置が規制された状態で、載置面６２ａに載置されたバイポーラ電極３２の端部３３ａ及び端部３３ｂが撮像される。バイポーラ電極３２は、規制部材６４に当接するとともに載置面６２ａに静止した状態で載置されており、静止状態において端部３３ａ及び端部３３ｂが撮像されている。このため、バイポーラ電極３２に含まれる端部が上方に浮いてしまう可能性が低減される。その結果、バイポーラ電極３２の長さＬの計測精度を向上させることが可能となる。
【００７９】
バイポーラ電極３２の縁３２ｃが当接面６４ａに当接することよってバイポーラ電極３２の載置位置が規制される。縁３２ｃが当接面６４ａに沿うようにバイポーラ電極３２が載置面６２ａに載置されるので、バイポーラ電極３２の方向Ｄ２における載置位置が規制されるとともに、平面視におけるバイポーラ電極３２の傾きが規制される。さらに、撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２は、平面視における当接面６４ａが延びる方向と撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２それぞれの方向Ｄ１に沿う一対の辺とが互いに略平行となるように設定される。これにより、第１画像において縁３２ａが基準線Ｆ１と略平行となり、第２画像において縁３２ｂが基準線Ｆ２と略平行となる。従って、基準線Ｆ１に対する縁３２ａの傾き、及び基準線Ｆ２に対する縁３２ｂの傾きを考慮することなく、距離Ｌ１及び距離Ｌ２を算出することができる。その結果、バイポーラ電極３２の長さＬを容易に計測可能な載置位置にバイポーラ電極３２を配置することが可能となる。
【００８０】
方向Ｄ１において、撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２は、規制部材６６ａと規制部材６６ｂとの間に位置する。このため、規制部材６６ａと規制部材６６ｂとの間にバイポーラ電極３２を載置することによって、方向Ｄ１におけるバイポーラ電極３２の載置位置が規制される。これにより、バイポーラ電極３２を規制部材６６ａと規制部材６６ｂとの間に配置すれば、方向Ｄ１におけるバイポーラ電極３２の位置をバイポーラ電極３２が撮像範囲Ｒ１，Ｒ２に含まれるように調整することなく、バイポーラ電極３２が撮像範囲Ｒ１，Ｒ２に含まれる。その結果、バイポーラ電極３２を計測可能な載置位置に容易に配置することが可能となる。
【００８１】
第１画像に基づいて縁３２ａと縁３２ｃとのなす角度θ１が算出され、第２画像に基づいて縁３２ｂと縁３２ｃとのなす角度θ２が算出されている。このため、角度θ１，θ２の算出結果が直角に略等しいかどうかを判定することによって、バイポーラ電極３２が矩形状に形成されているかどうかを判定することが可能となる。つまり、平行四辺形状又は台形状に形成されたバイポーラ電極３２を不適合品であると判定することが可能となる。
【００８２】
第１画像に基づいて縁３２ａと縁３６ａとの間の距離Ｌ３が計測され、第２画像に基づいて縁３２ｂと縁３６ｂとの間の距離Ｌ５が算出され、第１画像及び第２画像の少なくともいずれかに基づいて縁３２ｃと縁３６ｃとの間の距離Ｌ４が算出される。これらの距離Ｌ３〜Ｌ５の算出結果を用いることで、電極板３４に対して正極３６が所望の位置に形成されているかどうかを判定することが可能となる。
【００８３】
本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限られない。
【００８４】
図８は、変形例に係る計測装置の断面図である。変形例に係る計測装置６０Ａは、押え部材７２をさらに備える点において計測装置６０と相違する。押え部材７２は、例えば板状の透明な部材である。押え部材７２は、例えば透明なアクリル板である。押え部材７２は、載置面６２ａに載置されたバイポーラ電極３２よりも上方に配置され、平面視において例えばバイポーラ電極３２の全面を覆う大きさ（面積）を有する。押え部材７２は、接触面７２ａを有しており、接触面７２ａはバイポーラ電極３２の正極３６と接触している。これにより、押え部材７２は、載置面６２ａに向かってバイポーラ電極３２を押えている。載置工程において、バイポーラ電極３２が載置面６２ａに載置された後、押え部材７２がバイポーラ電極３２の上に配置される。押え部材７２は、例えば押え部材７２の一端が規制部材６４に当接した状態でバイポーラ電極３２の上に配置される。その後、撮像工程において、カメラ６８ａ，６８ｂによる撮像が行われる。なお、押え部材７２の平面視における大きさ（面積）は、バイポーラ電極３２よりも小さくてもよい。押え部材７２は、押え部材７２の一端が規制部材６４に当接するようにバイポーラ電極３２の上に配置された状態で、方向Ｄ１に沿って延びる接触面７２ａを有していればよい。
【００８５】
計測装置６０Ａでは、バイポーラ電極３２が、載置面６２ａと接触面７２ａとの間に挟まれた状態で、載置面６２ａに向かって押えられている。このため、バイポーラ電極３２に含まれる端部が上方に浮こうとしても、押え部材７２（接触面７２ａ）によってバイポーラ電極３２（電極板３４）の動きが抑えられる。その結果、バイポーラ電極３２の端部が上方に浮くことをさらに抑制できるので、バイポーラ電極３２の長さＬの計測精度をさらに向上させることが可能となる。
【００８６】
面３４ｄ（第２面）に設けられた負極３８（第２活物質層）が上方を向くようにバイポーラ電極３２が載置面６２ａに載置された状態で、バイポーラ電極３２の計測が行われてもよい。この場合、面３４ｃ（第１面）に設けられた正極３６（第１活物質層）は載置面６２ａと接触する。また、互いに隣り合うバイポーラ電極３２の各縁と負極３８の各縁との間の距離が計測されてもよい。
【００８７】
撮像範囲Ｒ１は角部３３ｃを含んでおり、撮像範囲Ｒ２は角部３３ｅを含んでいるが、撮像範囲Ｒ１，Ｒ２の設定は、これに限られない。撮像範囲Ｒ１は、縁３２ａを含んでいれば、端部３３ａのうちのいずれの箇所を含むように設定されてもよい。撮像範囲Ｒ２は、縁３２ｂを含んでいれば、端部３３ｂのうちのいずれの箇所を含むように設定されてもよい。
【００８８】
撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２は、互いに同じ大きさの範囲であってもよく、互いに異なる大きさの範囲であってもよい。撮像範囲Ｒ１及び撮像範囲Ｒ２は、方向Ｄ２において互いに異なる位置であってもよい。
【００８９】
バイポーラ電極３２の縁３２ｄが当接面６４ａに当接した状態で、長さＬが計測されてもよい。
【００９０】
計測装置６０，６０Ａは、バイポーラ電極３２のＹ軸方向における長さを計測してもよい。具体的には、計測装置６０，６０Ａは、縁３２ｃと縁３２ｄとの間の距離を計測してもよい。この場合、縁３２ａ及び縁３２ｂのいずれかが当接面６４ａに当接した状態で、バイポーラ電極３２の計測が行われてもよい。
【００９１】
計測装置６０，６０Ａは、カメラ６８ａ及びカメラ６８ｂに加え、別のカメラをさらに備えてもよい。例えば、計測装置６０，６０Ａにおいて、撮像範囲に角部３３ｄが含まれるように設定されたカメラが設けられてもよく、撮像範囲に角部３３ｆが含まれるように設定されたカメラが設けられてもよい。この場合、縁３２ｃと縁３２ｄとの間の距離が、長さＬとともに計測されてもよい。さらに、縁３２ｄと縁３６ｄとの間の距離が計測されてもよい。この場合、縁３２ｄと縁３６ｄとの間の距離の算出結果とともに、距離Ｌ３〜Ｌ５の算出結果を用いることによって、電極板３４に対して正極３６が所望の範囲に形成されているかどうかを判定することが可能となる。
【００９２】
規制部材６４は、方向Ｄ２における載置面６２ａの両端部のうちのカメラ６８ａ及びカメラ６８ｂが位置する一端部と反対の他端部に設けられてもよい。規制部材６４が、方向Ｄ１における載置面６２ａの両端部のうちのいずれか一方に設けられるとともに、規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂが、方向Ｄ２においてバイポーラ電極３２のＹ軸方向における長さの設計値の間隔を有して離間して配置されてもよい。
【００９３】
計測装置６０は、規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂを備えていなくもよい。この場合、規制部材６４は、載置面６２ａのいずれの端部に設けられてもよい。また、計測装置６０は、規制部材６４に加え、当接面６４ａと直交する方向に沿って延びる当接面を有する別の規制部材を規制部材６４と隣り合う端部に備えてもよい。規制部材６４と別の規制部材とに、バイポーラ電極３２の隣り合う縁（例えば、縁３２ａ及び縁３２ｃ）がそれぞれ当接することで、方向Ｄ１及び方向Ｄ２におけるバイポーラ電極３２の載置位置が規制されてもよい。
【００９４】
規制部材６４は、直方体状でなくてもよく、当接面６４ａ又は当接個所を有する部材であればよい。規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂは、直方体状でなくてもよく、方向Ｄ１において離間して設けられる一対の部材であればよい。規制部材６６ａ及び規制部材６６ｂは、互いに異なる形状であってもよい。
【符号の説明】
【００９５】
３２…バイポーラ電極、３２ａ〜３２ｄ…縁、３４…電極板、３６…正極、３８…負極、６０，６０Ａ…計測装置、６２…計測台、６２ａ…載置面、６４…規制部材、６４ａ…当接面、６６ａ，６６ｂ…規制部材、６８ａ，６８ｂ…カメラ、７０…制御部、７２…押え部材、Ｒ１，Ｒ２…撮像範囲。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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