(57)【要約】【課題】位相雑音測定を行うための専用の装置を準備することなく、低コストな構成で位相雑音の測定を行うことができる測定システム及び測定方法を提供する。【解決手段】ＤＵＴ１から出力される被測定信号Ｓを２分配する分配器１０と、分配器１０により２分配された被測定信号Ｓに対してそれぞれ信号解析処理を行う２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂと、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂからの出力を処理する処理装置６０と、を備える測定システム１００であって、処理装置６０は、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂにより生成された被測定信号Ｓの位相の時間変化を示す位相データ列間で相互相関処理を行う相互相関処理部６１と、相互相関処理部６１による相互相関処理の結果に基づいて被測定信号Ｓの位相雑音を算出する位相雑音算出部６２と、を有する。【選択図】図１
2019158418.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象（１）から出力される被測定信号を２分配する分配器（１０）と、前記分配器により２分配された前記被測定信号に対してそれぞれ信号解析処理を行う２台の信号分析装置（２０ａ，２０ｂ）と、前記２台の信号分析装置からの出力を処理する処理装置（６０）と、を備える測定システム（１００）であって、
各前記信号分析装置は、
ローカル信号を出力するローカル信号源（２３）と、
前記被測定信号を前記ローカル信号と混合することにより周波数変換するミキサ（２４）と、
前記ミキサにより周波数変換された前記被測定信号をサンプリングしてディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器（３１）と、
前記ディジタルデータに対してディジタル信号処理を行うディジタル信号処理部（４０）と、を有し、
前記ディジタル信号処理部は、前記ディジタルデータから前記被測定信号の位相の時間変化を示す位相データ列を生成する位相データ列生成部（４３）を含み、
前記処理装置は、
前記２台の信号分析装置の各位相データ列生成部により生成された前記位相データ列間で相互相関処理を行う相互相関処理部（６１）と、
前記相互相関処理部による前記相互相関処理の結果に基づいて前記被測定信号の位相雑音を算出する位相雑音算出部（６２）と、を有することを特徴とする測定システム。
【請求項２】
前記位相データ列生成部は、前記位相データ列をＮ個（Ｎは自然数）生成するものであり、
前記相互相関処理部は、
前記２台の信号分析装置の各前記位相データ列生成部により生成された２×Ｎ個の前記位相データ列のクロススペクトルをＮ個算出するクロススペクトル算出部（６１ａ）と、
前記クロススペクトル算出部により算出されたＮ個の前記クロススペクトルを平均処理する平均処理部（６１ｂ）と、を含み、
前記位相雑音算出部は、前記平均処理部により平均処理されたクロススペクトルに基づいて前記被測定信号の位相雑音を算出することを特徴とする請求項１に記載の測定システム。
【請求項３】
被試験対象（１）から出力される被測定信号を２分配する分配器（１０）と、前記分配器により２分配された前記被測定信号に対してそれぞれ信号解析処理を行う２台の信号分析装置（２０ａ，２０ｂ）と、前記２台の信号分析装置からの出力を処理する処理装置（６０）と、を用いる測定方法であって、
前記２台の信号分析装置により、前記被測定信号の位相の時間変化を示す位相データ列を生成する位相データ列生成ステップ（Ｓ２）と、
前記処理装置により、前記位相データ列生成ステップで前記２台の信号分析装置により生成された前記位相データ列間で相互相関処理を行う相互相関処理ステップ（Ｓ３，Ｓ４）と、
前記処理装置により、前記相互相関処理ステップによる前記相互相関処理の結果に基づいて前記被測定信号の位相雑音を算出する位相雑音算出ステップ（Ｓ５）と、を含むことを特徴とする測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定システム及び測定方法に関し、特に、信号の位相雑音を測定する測定システム及び測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、通信システムは高速化の一途をたどっており、通信システムを構成する電子機器や通信機器の高性能化が進んでいる。このような高速の通信システムに対応した機器の品質評価に際しては、伝送される信号の位相雑音特性を測定することが必須となっている。
【０００３】
位相雑音測定を行うための装置においては、装置内の主にローカル信号源に起因する位相雑音が、被試験対象（Device Under Test：ＤＵＴ）から出力される被測定信号に重畳される。このため、精度の良い位相雑音測定を実現するためには、位相雑音性能の良いローカル信号源や部品が必要となり、装置が非常に高価になってしまうという問題があった。
【０００４】
一方、内部雑音の統計性に基づいた信号処理を行うことにより、装置の回路内部で大きな雑音を含む場合でも、信号検出を可能とする信号検出装置が既に提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
特許文献１に開示された信号検出装置は、アレイ状に並べられた複数の比較器に被測定信号が入力され、被測定信号が閾値Ｂを超えた比較器の数Ｎ＋と、閾値−Ｂを下回った比較器の数Ｎ−とから、雑音に埋もれた小さな入力信号波形を推定する構成になっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特許第５２７８９４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１に開示された装置に実際に搭載できる比較器の個数には限界があるため、位相雑音測定の用途に適用するには雑音の低減効果が不十分であるという問題があった。
【０００８】
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、位相雑音測定を行うための専用の装置を準備することなく、低コストな構成で位相雑音の測定を行うことができる測定システム及び測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明に係る測定システムは、被試験対象から出力される被測定信号を２分配する分配器と、前記分配器により２分配された前記被測定信号に対してそれぞれ信号解析処理を行う２台の信号分析装置と、前記２台の信号分析装置からの出力を処理する処理装置と、を備える測定システムであって、各前記信号分析装置は、ローカル信号を出力するローカル信号源と、前記被測定信号を前記ローカル信号と混合することにより周波数変換するミキサと、前記ミキサにより周波数変換された前記被測定信号をサンプリングしてディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、前記ディジタルデータに対してディジタル信号処理を行うディジタル信号処理部と、を有し、前記ディジタル信号処理部は、前記ディジタルデータから前記被測定信号の位相の時間変化を示す位相データ列を生成する位相データ列生成部を含み、前記処理装置は、前記２台の信号分析装置の各位相データ列生成部により生成された前記位相データ列間で相互相関処理を行う相互相関処理部と、前記相互相関処理部による前記相互相関処理の結果に基づいて前記被測定信号の位相雑音を算出する位相雑音算出部と、を有する構成である。
【００１０】
この構成により、本発明に係る測定システムは、位相雑音測定を行うための専用の装置を準備することなく、低コストな構成で位相雑音の測定を行うことができる。また、本発明に係る測定システムを構成する各信号分析装置は、測定システムから切り離された場合には、単体で位相雑音測定以外の用途にも利用可能である。
【００１１】
また、本発明に係る測定システムは、前記位相データ列生成部は、前記位相データ列をＮ個（Ｎは自然数）生成するものであり、前記相互相関処理部は、前記２台の信号分析装置の各前記位相データ列生成部により生成された２×Ｎ個の前記位相データ列のクロススペクトルをＮ個算出するクロススペクトル算出部と、前記クロススペクトル算出部により算出されたＮ個の前記クロススペクトルを平均処理する平均処理部と、を含み、前記位相雑音算出部は、前記平均処理部により平均処理されたクロススペクトルに基づいて前記被測定信号の位相雑音を算出する構成であってもよい。
【００１２】
この構成により、本発明に係る測定システムは、信号分析装置に起因する位相雑音を更に減少させて、被測定信号の位相雑音を精度良く測定することができる。
【００１３】
また、本発明に係る測定方法は、被試験対象から出力される被測定信号を２分配する分配器と、前記分配器により２分配された前記被測定信号に対してそれぞれ信号解析処理を行う２台の信号分析装置と、前記２台の信号分析装置からの出力を処理する処理装置と、を用いる測定方法であって、前記２台の信号分析装置により、前記被測定信号の位相の時間変化を示す位相データ列を生成する位相データ列生成ステップと、前記処理装置により、前記位相データ列生成ステップで前記２台の信号分析装置により生成された前記位相データ列間で相互相関処理を行う相互相関処理ステップと、前記処理装置により、前記相互相関処理ステップによる前記相互相関処理の結果に基づいて前記被測定信号の位相雑音を算出する位相雑音算出ステップと、を含む。
【００１４】
この構成により、本発明に係る測定方法は、位相雑音測定を行うための専用の装置を準備することなく、低コストな構成で位相雑音の測定を行うことができる。また、本発明に係る測定方法で用いられる各信号分析装置は、単体で位相雑音測定以外の用途にも利用可能である。
【発明の効果】
【００１５】
本発明は、位相雑音測定を行うための専用の装置を準備することなく、低コストな構成で位相雑音の測定を行うことができる測定システム及び測定方法を提供するものである。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施形態に係る測定システムの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態に係る測定システムが備える信号分析装置の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施形態に係る測定システムを用いる測定方法の処理を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明に係る測定システム及び測定方法の実施形態について、図面を用いて説明する。
【００１８】
図１に示すように、本発明の実施形態に係る測定システム１００は、ＤＵＴ１から出力される被測定信号Ｓを２分配する分配器１０と、分配器１０により２分配された被測定信号Ｓに対してそれぞれ信号解析処理を行う２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂと、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂからの出力を処理する処理装置６０と、を備え、被測定信号Ｓの位相雑音を測定するものである。
【００１９】
ＤＵＴ１は、例えば無線通信アンテナとＲＦ回路を有する無線端末機器や基地局などである。ＤＵＴ１の通信規格としては、例えば、セルラ（ＬＴＥ、ＬＴＥ−Ａ、Ｗ−ＣＤＭＡ（登録商標）、ＧＳＭ（登録商標）、ＣＤＭＡ２０００、１ｘＥＶ−ＤＯ、ＴＤ−ＳＣＤＭＡ等）、無線ＬＡＮ（ＩＥＥＥ８０２．１１ｂ／ｇ／ａ／ｎ／ａｃ／ａｄ等）、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、ＧＮＳＳ（ＧＰＳ、Ｇａｌｉｌｅｏ、ＧＬＯＮＡＳＳ、ＢｅｉＤｏｕ等）、ＦＭ、及びディジタル放送（ＤＶＢ−Ｈ、ＩＳＤＢ−Ｔ等）が挙げられる。
【００２０】
２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂは同一の構成を有している。図２に示すように、各信号分析装置２０ａ，２０ｂは、アナログ信号処理部２１と、Ａ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）３１，３２と、ディジタル信号処理部４０と、表示部５０と、操作部５１と、制御部５２と、を備え、ＤＵＴ１から出力される被測定信号Ｓの信号解析処理を行うものである。
【００２１】
アナログ信号処理部２１は、ＤＵＴ１から出力された被測定信号Ｓに対して周波数変換などのアナログ信号処理を行うものであり、アッテネータ（ＡＴＴ）２２と、ローカル信号源２３と、ミキサ２４と、ＲＢＷフィルタ２５と、対数（ＬＯＧ）変換器２６と、検波器２７と、ＶＢＷフィルタ２８と、スイッチ（ＳＷ）２９と、掃引部３０と、を有する。
【００２２】
ＡＴＴ２２は、内部に抵抗を有し、ＤＵＴ１からの高周波の被測定信号Ｓを後段のディジタル信号処理部４０において処理可能な信号レベルに減衰させるためのもので、インピーダンスを変化させない電子部品である。
【００２３】
ローカル信号源２３は、ローカル信号として、元の被測定信号Ｓの周波数の値よりも変換先の周波数の値の分だけ高い周波数あるいは低い周波数の正弦波を出力するものである。ローカル信号源２３から出力されるローカル信号の周波数は、所望の解析帯域に応じて制御部５２により設定される。
【００２４】
ミキサ２４は、ＡＴＴ２２で減衰された周波数ｆＳの被測定信号Ｓと、ローカル信号源２３から出力された周波数ｆＬのローカル信号とを混合し、２つの信号の和及び差の周波数の出力信号、すなわち中間周波数｜ｆＬ−ｆＳ｜又はｆＬ＋ｆＳの中間周波数信号を生成するものである。つまり、ミキサ２４は、被測定信号Ｓをローカル信号と混合することにより周波数変換する周波数変換部を構成する。
【００２５】
ＳＷ２９は、ミキサ２４の出力側を直接ＡＤＣ３１に接続する状態、又は、ＶＢＷフィルタ２８の出力側をＡＤＣ３１に接続する状態のいずれかの状態を取るように構成されている。
【００２６】
掃引部３０は、ＳＷ２９によりＶＢＷフィルタ２８の出力側がＡＤＣ３１に接続されている状態で、ローカル信号源２３から出力されるローカル信号の周波数ｆＬを所定の周波数範囲にわたって掃引させるための掃引ランプ信号を生成するものであって、設定される掃引時間に応じて掃引ランプ信号の生成を制御するものである。
【００２７】
なお、ＳＷ２９によりミキサ２４の出力側が直接ＡＤＣ３１に接続されている状態では、ローカル信号源２３から出力されるローカル信号の周波数ｆＬは固定される。
【００２８】
ＡＤＣ３２は、掃引部３０において生成される掃引ランプ信号をディジタルデータに変換して制御部５２に出力する。これにより、制御部５２は、ＡＤＣ３２からのディジタルデータを基準として、掃引部３０における掃引ランプ信号を生成するための掃引期間などを制御する。
【００２９】
ＲＢＷフィルタ２５は、アナログのバンドパス・フィルタなどで構成され、被測定信号Ｓの通信規格に応じた分解能帯域幅でミキサ２４から出力された中間周波数信号をフィルタリングするようになっている。
【００３０】
ＬＯＧ変換器２６は、ＲＢＷフィルタ２５の出力信号レベルをデシベル単位に変換して検波器２７に出力するようになっている。
【００３１】
検波器２７は、例えば包絡線検波器であり、ＬＯＧ変換器２６の出力を直流に変換するようになっている。
【００３２】
ＶＢＷフィルタ２８は、例えばアナログのローパス・フィルタで構成され、遮断周波数で定まるビデオ帯域幅を有する。このＶＢＷフィルタ２８は、検波器２７から出力される信号に対してあらかじめ定められたビデオ帯域幅の帯域制限処理を行って、表示部５０に最終的に表示される周波数スペクトラム波形の高周波成分（雑音成分）を除去した信号を出力するようになっている。
【００３３】
ＡＤＣ３１は、ＳＷ２９によりミキサ２４の出力側とＡＤＣ３１が接続された状態で、ミキサ２４から出力された中間周波数信号を所定のサンプリングレートでサンプリングして、ディジタルデータに変換する。ＡＤＣ３１は、このディジタルデータをディジタル信号処理部４０に出力するようになっている。なお、ＡＤＣ３１のサンプリングレートは、信号分析装置２０ａと信号分析装置２０ｂとで同一であることが望ましい。
【００３４】
また、ＡＤＣ３１は、ＳＷ２９によりＶＢＷフィルタ２８の出力側とＡＤＣ３１が接続された状態で、ＶＢＷフィルタ２８の出力を所定のサンプリングレートでサンプリングして、ディジタルデータに変換する。ＡＤＣ３１は、このディジタルデータをディジタル信号処理部４０に出力するようになっている。
【００３５】
ディジタル信号処理部４０は、ＡＤＣ３１から出力された被測定信号Ｓのディジタルデータに対してディジタル信号処理を行うものであり、波形メモリ４１と、直交復調部４２と、位相データ列生成部４３と、解析処理部４４と、を含む。
【００３６】
波形メモリ４１は、ＡＤＣ３１から出力された被測定信号Ｓのディジタルデータを記憶するようになっている。
【００３７】
直交復調部４２は、波形メモリ４１に記憶された被測定信号Ｓのディジタルデータを直交復調して、互いに直交する直交信号Ｉ（ｔ）及びＱ（ｔ）を生成するようになっている。直交復調部４２としては、例えばヒルベルト変換を利用した直交分配器を用いることができる。
【００３８】
位相データ列生成部４３は、直交復調部４２から出力された直交信号Ｉ（ｔ）及びＱ（ｔ）から、被測定信号Ｓの位相の時間変化を示す位相データ列をＮ個（Ｎは自然数）生成するようになっている。なお、上記の位相データ列を構成するデータの個数は、信号分析装置２０ａと信号分析装置２０ｂとで同一であることが望ましい。
【００３９】
解析処理部４４は、ＳＷ２９によりＶＢＷフィルタ２８の出力側がＡＤＣ３１に接続されている場合には、波形メモリ４１に記憶された被測定信号Ｓのディジタルデータに対して、所定の信号解析処理を行うようになっている。
【００４０】
また、解析処理部４４は、ＳＷ２９によりミキサ２４の出力側がＡＤＣ３１に接続されている場合には、直交復調部４２から出力された直交信号Ｉ（ｔ）及びＱ（ｔ）に対して、所定の信号解析処理を行うようになっている。
【００４１】
解析処理部４４が実行する信号解析処理としては、例えば、被測定信号Ｓの振幅、位相、周波数などの時間変化を示す時系列データやスペクトラムの生成、チャネルパワー、占有帯域幅、隣接チャネル漏洩電力、バースト平均電力、変調精度（ＥＶＭ）、送信パワーレベル、送信スペクトラムマスク、エラーベクトル振幅、最小入力感度、最大入力レベル、スプリアス放射などの被測定信号Ｓの品質を評価するための測定が挙げられる。
【００４２】
つまり、各信号分析装置２０ａ，２０ｂは、測定システム１００から切り離された場合には、単体で位相雑音測定以外の用途にも利用可能である。
【００４３】
制御部５２は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、各信号分析装置２０ａ，２０ｂを構成する上記各部の動作を制御する。
【００４４】
なお、ディジタル信号処理部４０は、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）などのディジタル回路で構成することや、制御部５２による所定のプログラムの実行によりソフトウェア的に構成することが可能である。あるいは、ディジタル信号処理部４０は、ディジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。
【００４５】
表示部５０は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、解析処理部４４による解析処理結果などを表示するようになっている。
【００４６】
操作部５１は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示部５０の表示画面に設けられたタッチパネルで構成される。あるいは、操作部５１は、キーボード又はマウスのような入力デバイスを含んで構成されてもよい。また、操作部５１は、リモートコマンドなどによる遠隔制御を行う外部制御装置で構成されてもよい。
【００４７】
操作部５１による入力操作は、制御部５２により検知されるようになっている。例えば、操作部５１により、ユーザがＳＷ２９の接続状態を切り替えることが可能である。
【００４８】
図１に示すように、処理装置６０は、相互相関処理部６１と、位相雑音算出部６２と、操作部６３と、表示部６４と、制御部６５と、を含む。処理装置６０は、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂに起因する雑音が、被測定信号Ｓに含まれるＤＵＴ１に起因する雑音に重畳されることを抑制するための処理を行う。
【００４９】
相互相関処理部６１は、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂの各位相データ列生成部４３により生成された位相データ列間で相互相関処理を行うものであり、クロススペクトル算出部６１ａと、平均処理部６１ｂと、を含む。
【００５０】
クロススペクトル算出部６１ａは、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂの各位相データ列生成部４３により生成された２×Ｎ個の位相データ列ａ（ｔ，ｎ），ｂ（ｔ，ｎ）のスペクトルＡ（ｆ，ｎ），Ｂ（ｆ，ｎ）からクロススペクトルＣ（ｆ，ｎ）を下記の式（１）に示すようにＮ個算出する。ここで、ｔは時間であり、ｆは周波数であり、ｎは１からＮまでの自然数である。クロススペクトルＣ（ｆ，ｎ）は、位相データ列ａ（ｔ，ｎ），ｂ（ｔ，ｎ）の相互相関関数をフーリエ変換したものに相当する。ここで、式（１）中の"＊"は複素共役を表している。
【数１】
2019158418.tif 000003
【００５１】
また、クロススペクトルＣ（ｆ，ｎ）は、下記の式（２）に示すように、振幅成分｜Ｃ（ｆ，ｎ）｜と、位相データ列ａ（ｔ，ｎ），ｂ（ｔ，ｎ）間の位相差θ（ｆ，ｎ）で表すことができる。
【数２】
2019158418.tif 000004
【００５２】
平均処理部６１ｂは、クロススペクトル算出部６１ａにより算出されたＮ個のクロススペクトルＣ（ｆ，ｎ）を下記の式（３）に示すように平均処理するようになっている。
【数３】
2019158418.tif 000005
【００５３】
２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂの主にローカル信号源２３に起因する位相雑音は互いに無相関であるため、上記の平均処理により、ランダムな位相差θ（ｆ，ｎ）が周波数ｆごとに平均処理されてゼロに近づく。このため、平均処理の回数Ｎを増やすほど、式（３）の平均処理されたクロススペクトルは、本来の被測定信号Ｓの位相のスペクトルに近づく。
【００５４】
位相雑音算出部６２は、相互相関処理部６１による相互相関処理の結果、すなわち平均処理部６１ｂにより平均処理された式（３）のクロススペクトルに基づいて、被測定信号Ｓの位相雑音を算出するようになっている。
【００５５】
例えば、位相雑音算出部６２は、式（３）のクロススペクトルを、被測定信号Ｓのキャリア周波数（中心周波数）からの周波数オフセットにおける１Ｈｚ帯域幅当たりの雑音電力とキャリア信号電力との比である単側波帯（ＳＳＢ）位相雑音［ｄＢｃ／Ｈｚ］に規格化するようになっている。
【００５６】
制御部６５は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、処理装置６０を構成する上記各部の動作を制御する。
【００５７】
なお、相互相関処理部６１及び位相雑音算出部６２は、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）などのディジタル回路で構成することや、制御部６５による所定のプログラムの実行によりソフトウェア的に構成することが可能である。あるいは、相互相関処理部６１及び位相雑音算出部６２は、ディジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。
【００５８】
表示部６４は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、位相雑音算出部６２により算出されたＳＳＢ位相雑音を表示するようになっている。
【００５９】
操作部６３は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示部６４の表示画面に設けられたタッチパネルで構成される。あるいは、操作部６３は、キーボード又はマウスのような入力デバイスを含んで構成されてもよい。また、操作部６３は、リモートコマンドなどによる遠隔制御を行う外部制御装置で構成されてもよい。
【００６０】
操作部６３による入力操作は、制御部６５により検知されるようになっている。例えば、操作部６３により、平均処理部６１ｂにおける平均回数Ｎをユーザが指定することができる。
【００６１】
以下、本実施形態に係る測定システム１００を用いる測定方法について、図３のフローチャートを参照しながらその処理の一例を説明する。
【００６２】
まず、ユーザによる操作部６３の操作により、ミキサ２４の出力側が直接ＡＤＣ３１に接続される状態にＳＷ２９が切り替えられる（ステップＳ１）。
【００６３】
次に、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂの各位相データ列生成部４３は、被測定信号Ｓの位相の時間変化を示す位相データ列をＮ個（Ｎは自然数）生成する（位相データ列生成ステップＳ２）。
【００６４】
次に、処理装置６０の相互相関処理部６１は、ステップＳ２で２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂにより生成された位相データ列間で相互相関処理を行う（相互相関処理ステップＳ３）。例えば、ステップＳ３において相互相関処理部６１は、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂの各位相データ列生成部４３により生成された２×Ｎ個の位相データ列のクロススペクトルをＮ個算出する。
【００６５】
次に、相互相関処理部６１は、ステップＳ３により算出されたＮ個のクロススペクトルを平均処理する（相互相関処理ステップＳ４）。
【００６６】
次に、位相雑音算出部６２は、ステップＳ３，Ｓ４による相互相関処理の結果に基づいて被測定信号Ｓの位相雑音を算出する（位相雑音算出ステップＳ５）。例えば、ステップＳ５において位相雑音算出部６２は、ステップＳ４により平均処理されたクロススペクトルに基づいて被測定信号Ｓの位相雑音を算出する。
【００６７】
以上説明したように、本実施形態に係る測定システム１００は、１台の信号分析装置を用いて被測定信号Ｓの位相雑音の測定を行う場合と比較して、信号分析装置に起因する位相雑音を減少させることができるため、被測定信号Ｓの位相雑音を精度良く測定することができる。
【００６８】
また、本実施形態に係る測定システム１００は、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂにより生成された位相データ列間での相互相関処理の結果に基づいて被測定信号Ｓの位相雑音を算出する構成であるため、位相雑音測定を行うための専用の装置を準備することなく、低コストな構成で位相雑音の測定を行うことができる。
【００６９】
また、本実施形態に係る測定システム１００は、２台の信号分析装置２０ａ，２０ｂにより生成された２以上のスペクトルのクロススペクトルを平均化することにより、信号分析装置に起因する位相雑音を更に減少させて、被測定信号Ｓの位相雑音を精度良く測定することができる。
【００７０】
また、本実施形態に係る測定システム１００を構成する各信号分析装置２０ａ，２０ｂは、測定システム１００から切り離された場合には、単体で位相雑音測定以外の用途にも利用可能である。
【符号の説明】
【００７１】
１  ＤＵＴ
１０  分配器
２０ａ，２０ｂ  信号分析装置
３１  ＡＤＣ
２３  ローカル信号源
２４  ミキサ
４０  ディジタル信号処理部
４３  位相データ列生成部
６０  処理装置
６１  相互相関処理部
６１ａ  クロススペクトル算出部
６１ｂ  平均処理部
６２  位相雑音算出部
１００  測定システム
【図１】
2019158418.tif 000006
【図２】
2019158418.tif 000007
【図３】
2019158418.tif 000008