(57)【要約】【課題】従来のＰＯＴＤＲと等しい観測時間で、感度の不安定性を排除する。【解決手段】光源部と、光ファイバと、偏光状態計測部とを備えて構成される。光源部は、互いに波長が僅かに異なり、かつ、偏光状態が直交する第１光短パルス及び第２光短パルスを合波して、プローブ光を生成する。光ファイバにはプローブ光が入力される。偏光状態計測部は、プローブ光が光ファイバで反射された反射光から抽出された、第１光短パルス及び第２光短パルスのそれぞれと等しい波長帯成分を抽出して、それぞれ偏光状態を測定して、偏光状態の時間変化に基づいて、振動を検知する。【選択図】図１
2019039881.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに波長が僅かに異なり、かつ、偏光状態が直交する第１光短パルス及び第２光短パルスを合波して、プローブ光を生成する光源部と、
前記プローブ光が入力される光ファイバと、
前記プローブ光が前記光ファイバで反射された反射光から抽出された前記第１光短パルス及び前記第２光短パルスのそれぞれと等しい波長帯成分を抽出して、それぞれ偏光状態を測定して、前記偏光状態の時間変化に基づいて、振動を検知する偏光状態計測部と
を備えることを特徴とする振動検知光ファイバセンサ。
【請求項２】
前記光ファイバが、低偏波モード分散ファイバである
ことを特徴とする請求項１に記載の振動検知光ファイバセンサ。
【請求項３】
前記偏光状態計測部は、
前記反射光から、前記第１光短パルス及び前記第２光短パルスのそれぞれと等しい波長帯成分を抽出するＷＤＭフィルタと、
前記ＷＤＭフィルタで抽出された、前記第１光短パルスと等しい波長帯成分の第１のストークスパラメータを測定する第１偏光計と、
前記ＷＤＭフィルタで抽出された、前記第２光短パルスと等しい波長帯成分の第２のストークスパラメータを測定する第２偏光計と、
前記第１のストークスパラメータ及び前記第２のストークスパラメータから算出される複屈折性の時間変化の固有値を利用して、振動の有無又は振動の位置を特定する演算器と
を備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の振動検知光ファイバセンサ。
【請求項４】
前記光源部は、
互いに波長が僅かに異なる連続光を生成する第１レーザ光源及び第２レーザ光源と、
パルス状の電気信号を生成する関数発生器と、
前記電気信号に応じて、第１レーザ光源及び第２レーザ光源で生成された連続光から、それぞれ光短パルスを生成する、第１強度スイッチ及び第２強度スイッチと、
前記第２強度スイッチが生成した光短パルスの偏光状態を回転する波長板と、
前記第１強度スイッチ及び前記波長板から出力された光短パルスを多重する光カプラと
を備えることを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の振動検知光ファイバセンサ。
【請求項５】
互いに波長が僅かに異なり、かつ、偏光状態が直交する第１光短パルス及び第２光短パルスを合波して、プローブ光を生成する過程と、
前記プローブ光が光ファイバで反射された反射光から抽出された前記第１光短パルス及び前記第２光短パルスのそれぞれと等しい波長帯成分を抽出して、それぞれ偏光状態を測定して、前記偏光状態の時間変化に基づいて、振動を検知する過程と
を備えることを特徴とする振動検知方法。
【請求項６】
前記振動を検知する過程は、
前記反射光から、前記第１光短パルス及び前記第２光短パルスのそれぞれと等しい波長帯成分を抽出する過程と、
抽出された、前記第１光短パルスと等しい波長帯成分の第１のストークスパラメータを測定する過程と、
抽出された、前記第２光短パルスと等しい波長帯成分の第２のストークスパラメータを測定する過程と、
前記第１のストークスパラメータ及び前記第２のストークスパラメータから算出される複屈折性の時間変化の固有値を利用して、振動の有無又は振動の位置を特定する過程と
を備えることを特徴とする請求項５に記載の振動検知方法。
【請求項７】
前記プローブ光を生成する過程は、
互いに波長が僅かに異なる第１連続光及び第２連続光を生成する過程と、
パルス状の電気信号を生成する過程と、
前記電気信号に応じて、第１連続光及び第２連続光から、それぞれ第１光短パルス及び第２光短パルスを生成する過程と、
前記第２光短パルスの偏光状態を回転する過程と、
前記第１光短パルス及び偏光状態が回転した前記第２光短パルスを多重して、前記プローブ光を得る過程と
を備えることを特徴とする請求項５又は６に記載の振動検知方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ファイバの複屈折の時間変動を観測して、この光ファイバに外部から加えられた振動を検知し、その振動位置を特定する振動検知光ファイバセンサ及び振動検知方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
発電所や工場などの大型の施設にとって、人の不法な侵入行為を検知することは極めて重要である。このため、施設の外周のフェンス等に設けられる、侵入行為を検知するセンサは重要な役割を担っている。
【０００３】
特に、外周の長さが１ｋｍを超えるような距離の侵入検知センサには、光ファイバの低損失性を活用した侵入検知センサが利用されている。
【０００４】
光ファイバに外部から振動が加えられると、光ファイバから出力される光波の偏光状態が時間変化する。この原因は、振動に伴う光ファイバの複屈折性（複屈折の固有軸と複屈折によって発生する直交偏光軸間の位相差）の時間変化であり、この結果として出力光波の偏光状態（ＳＯＰ：Ｓｔａｔｅ  ｏｆ  Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ）の時間変化が観測される。フェンス等に光ファイバを張り付け、この光ファイバにプローブ光を入力し、出力されるプローブ光の偏光状態の時間変化を観察すれば、フェンス等の振動を検知できる。
【０００５】
侵入検知センサとして用いられる振動検知光ファイバセンサで重要な機能は主に２つある。１つは、侵入行為の見逃しと誤検知を低減することであり、もう１つは、侵入行為が発生した位置を特定することである。
【０００６】
振動検知光ファイバセンサとして、偏光時間領域反射率測定法（ＰＯＴＤＲ：Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍｅｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）を利用したものがある（例えば、非特許文献１又は２参照）。これは、偏光状態を利用した時間領域反射率測定法（ＯＴＤＲ）である。
【０００７】
光ファイバに光パルスを入力すると、光パルスの入力端に、光パルスの伝搬に要する時間遅延を伴った反射光が観測される。光ファイバに振動が加わると、光ファイバの複屈折性が変化する。反射光の偏光状態は、複屈折性に依存する。このため、偏光子を介して反射光の時間変化を観測することで、光パルスが光ファイバの振動の影響を受けた位置を特定できる。
【０００８】
しかしながら、光ファイバから出力される反射光の偏光状態の時間変化は、振動によって変化する光ファイバの複屈折の固有軸の方向だけでなく、振動点へ入射される伝搬光の偏光状態にも依存する。一般に、光ファイバを伝搬する光波の偏光状態は、ランダムに分布した静的な複屈折性によってランダムに変化する。このため、侵入行為等による複屈折性の変化点に入射される偏光状態はランダムである。さらに、侵入行為等に伴い発生する複屈折性の変化も、この光ファイバの振動の加わり方に依存する。
【０００９】
これらの依存性をもつ現象に対して、単一の偏光状態の光パルスを利用した方法では、出力される反射光の偏光状態の変化の様子が一意に定まらないので、検出感度が不安定である。
【００１０】
さらに、検出される反射光の偏光状態の変化を、偏光子を介して検知する場合、偏光子は一定の偏光状態のみ透過する素子なので、検知の感度は、ファイバへの入射光の偏光状態のみならず、偏光子に到達した反射光の偏光状態にも依存する。
【００１１】
この振動に対する感度の不安定性は、単一の偏光状態の光パルスを利用し、さらに偏光子によって反射光の偏光状態の変化を観測する手段を取る以上、原理的に避けられない。
【００１２】
これに対し、プローブ光として、直交する偏光状態に、周期的に交互に切り換えられる光パルスを用いて、複屈折性の時間変化の固有値から求まるＤｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ（ＤＡＶ）を利用する振動検知光ファイバセンサが提案されている（例えば、非特許文献３参照）。この振動検知光ファイバセンサを利用すると、入射光の偏光状態の依存性を排除して、かつ、常に最大の偏光状態の時間変化を解析的に得ることができる。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【００１３】
【非特許文献１】N. Linze, P. Megret, and M. Wuilpart, "Development of an Intrusion Sensor Based on a Polarization-OTDR System”, IEEE Sensors Journal, Vol.12, No.10, October 2012, pp.3005-3009
【非特許文献２】Z. Zhang and X. Bao, "Distributed optical fiber vibration sensor based on spectrum analysis of polarization-OTDR", Optics Express, Vol.16, No.14, pp.10240-10247
【非特許文献３】Y. Kanda and H. Murai, “Novel extraction method of the maximum variation-rate of State-of-Polarization vector from time-varying birefringence,”OFC2016, W2A.21
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかしながら、複屈折性の時間変化の固有値を利用する振動検知光ファイバセンサでは、２つの偏光状態がスイッチされる入射光を利用する。このため、単一の偏光状態を入射するセンサに対して、測定に要する時間が２倍必要である。
【００１５】
一般に、ＯＴＤＲ法は、反射光の強度が−３０ｄＢ程度と小さい。このため、ＯＴＤＲ法では、複数回光パルスを入射し、それらの反射光を平均することで、信号対雑音比を向上させている。
【００１６】
例えば、非特許文献１に記載の方法では、５秒間の平均によって検知を行っている。複屈折性の時間変化の固有値の解析法をＰＯＴＤＲに適用した場合、この２倍の時間が必要である。このため、侵入行為が発生してから発報までに要する時間が長くなってしまう。
【００１７】
この発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものである。
【００１８】
この発明の目的は、従来のＰＯＴＤＲと等しい観測時間で、感度の不安定性を排除する、振動検知光ファイバセンサ及び振動検知方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
上述の目的を達成するため、この発明の振動検知光ファイバセンサは、光源部と、光ファイバと、偏光状態計測部とを備えて構成される。
【００２０】
光源部は、互いに波長が僅かに異なり、かつ、偏光状態が直交する第１光短パルス及び第２光短パルスを合波して、プローブ光を生成する。光ファイバにはプローブ光が入力される。偏光状態計測部は、プローブ光が光ファイバで反射された反射光から抽出された、第１光短パルス及び第２光短パルスのそれぞれと等しい波長帯成分を抽出して、それぞれ偏光状態を測定して、偏光状態の時間変化に基づいて、振動を検知する。
【００２１】
また、この発明の振動検知方法は、以下の過程を備えて構成される。
【００２２】
先ず、互いに波長が僅かに異なり、かつ、偏光状態が直交する第１光短パルス及び第２光短パルスを合波して、プローブ光を生成する。次に、プローブ光が光ファイバで反射された反射光から抽出された第１光短パルス及び第２光短パルスのそれぞれと等しい波長帯成分を抽出して、それぞれ偏光状態を測定して、偏光状態の時間変化に基づいて、振動を検知する。
【発明の効果】
【００２３】
この発明の振動検知光ファイバセンサ及び振動検知方法は、プローブ光として、互いに波長が僅かに異なり、かつ、偏光状態が直交する第１光短パルス及び第２光短パルスを合波したプローブ光を用いて、複屈折性の時間変化の固有値から求まるＤＡＶを利用している。このため、入射光の偏光状態に依存しない振動検知が可能になる。
【００２４】
また、プローブ光として、第１光短パルス及び第２光短パルスを多重したものを用いているので、従来のＰＯＴＤＲに比べて観測時間が長くならない。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】振動検知光ファイバセンサの概略的構成を示すブロック図である。
【図２】波長が異なり、偏光状態が互いに直交する光短パルスを光ファイバに入射したときの、反射光の概念を示す図である。
【図３】本発明の効果を説明するための概念図であって、非特許文献３に記載の解析方法を、ＰＯＴＤＲに適用した時の結果を示している。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、図を参照して、この発明の実施の形態について説明するが、各構成要素の形状、大きさ及び配置関係については、この発明が理解できる程度に概略的に示したものに過ぎず、また、単なる好適例に過ぎない。従って、この発明は以下の実施の形態に限定されるものではなく、この発明の構成の範囲を逸脱せずにこの発明の効果を達成できる多くの変更又は変形を行うことができる。
【００２７】
また、明細書における説明においてベクトル量を扱うが、ベクトル量を表す文字の上に付する右向き矢印は、混乱が生じない範囲で省略することがある。
【００２８】
（振動検知光ファイバセンサ）
図１を参照して、振動検知光ファイバセンサの実施形態について説明する。図１は、振動検知光ファイバセンサの概略的構成を示すブロック図である。この振動検知光ファイバセンサは、光源部１０、光ファイバ２０、光サーキュレータ４０、及び、偏光状態計測部３０を備えて構成される。
【００２９】
光源部１０は、互いに波長が僅かに異なり、かつ、偏光状態が直交する第１光短パルス及び第２光短パルスを合波してプローブ光を生成する。光源部１０は、例えば、第１レーザ光源１１２、第２レーザ光源１１４、第１強度スイッチ１２２、第２強度スイッチ１２４、関数発生器１３０、波長板１４０及び光カプラ１５０を備えて構成される。
【００３０】
第１レーザ光源１１２及び第２レーザ光源１１４は、互いに波長が僅かに異なる第１連続光及び第２連続光を生成する。光ファイバ２０等での波長依存性の影響を抑えるためには、第１連続光及び第２連続光の波長差は小さい方が望ましい。このため、第１連続光及び第２連続光の波長として、偏光状態計測部３０で分離可能な近接波長が選択される。
【００３１】
例えば、偏光状態計測部３０で分離可能な波長の差が０．１ｎｍの場合、第１連続光及び第２連続光の波長は、単一モード光ファイバが低損失の波長帯である通信波長帯において、それぞれ、１５５０．０ｎｍ及び１５５０．１ｎｍに設定できる。
【００３２】
第１強度スイッチ１２２は、関数発生器１３０で発生した電気信号に応じて、第１連続光を強度変調して、第１光短パルスを生成する。同様に、第２強度スイッチ１２４は、関数発生器１３０で発生した電気信号に応じて、第２連続光を強度変調して、第２光短パルスを生成する。第１連続光及び第２連続光と同様に、第１光短パルス及び第２光短パルスも互いに波長が僅かに異なる。
【００３３】
第１強度スイッチ１２２及び第２強度スイッチ１２４は、消光特性に優れた音響光学効果を利用するＡＯＭ（Ａｃｏｕｓｔｉｃ  Ｏｐｔｉｃ  Ｍｏｄｕｌａｔｏｒ）を用いて構成することができる。
【００３４】
ここで、光短パルスのパルス幅は空間分解能を決定し、繰り返し周波数は測定距離を決定する。光波には、光ファイバでの伝搬に伴って、１ｍあたりおよそ５ｎｓの伝搬遅延が発生する。反射光には、プローブ光が入力されてから反射するまでの時間と、反射してから反射光が出力されるまでの時間がかかるので、１ｍあたり往復で１０ｎｓの遅延が発生する。
【００３５】
例えば、測定距離を５ｋｍ、空間分解能を２０ｍにする場合、光短パルスの幅は２００ｎｓ、繰り返し周波数は２０ｋＨｚと設定できる。
【００３６】
波長板１４０は、第２光短パルスの偏光状態に回転を与える。回転の量は、波長が異なる２つの光短パルスの偏光状態を表すストークスベクトルが、ストークス空間内で互いに直交する偏光状態とすればよい。
【００３７】
例えば、第１強度スイッチ１２２及び第２強度スイッチ１２４からそれぞれ出力される光短パルスの偏光状態を表すストークスベクトルがともに［１、０、０］Ｔの場合、波長板１４０として、λ／２板を利用することで、波長板１４０から出力される第２光短パルスの偏光状態を表すストークスベクトルを［０、０、１］Ｔに変換できる。
【００３８】
従って、波長が僅かに異なり、偏光状態を表すストークスベクトルがストークス空間内で互いに直交する２つの光短パルスが得られる。
【００３９】
第１強度スイッチ１２２と波長板１４０から出力された光短パルスは、光カプラ１５０によって多重される。
【００４０】
光カプラ１５０で多重された光短パルスは、プローブ光として光サーキュレータ４０を経て光ファイバ２０に送られる。
【００４１】
なお、光ファイバ２０は、低偏波モード分散（ＰＭＤ：Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ  Ｍｏｄｅ  Ｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）ファイバが望ましい。低ＰＭＤファイバとして、複屈折性の波長依存性を抑えた、ＰＭＤ係数が０．０１ｐｓ／（ｋｍ）１／２程度の単一モード光ファイバが市販されている。
【００４２】
光ファイバ２０に送られたプローブ光は、光ファイバ２０を伝播し、プローブ光の一部は、光ファイバ２０で反射され、反射光として偏光状態計測部３０に送られる。
【００４３】
偏光状態計測部３０は、ＷＤＭフィルタ３１０、第１偏光計３１２、第２偏光計３１４、アナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換器３２０及び演算器３３０を備えて構成される。
【００４４】
偏光状態計測部３０に送られた反射光は、ＷＤＭフィルタ３１０において、第１レーザ光源１１２の波長帯と、第２レーザ光源１１４の波長帯に２分岐される。２分岐された反射光は、一方が第１偏光計３１２に送られ、他方が第２偏光計３１４に送られる。第１偏光計３１２に送られる反射光の波長帯は、第１レーザ光源１１２の波長帯と等しく、第２偏光計３１４に送られる反射光の波長帯は、第２レーザ光源１１４の波長帯と等しい。
【００４５】
なお、ＷＤＭフィルタ３１０に換えて、波長カプラ、第１波長フィルタ及び第２波長フィルタを用いてもよい。この場合、波長カプラは反射光を２分岐して、一方を第１波長フィルタを経て第１偏光計に送り、他方を第２波長フィルタを経て第２偏光計に送る。ここで、第１波長フィルタの透過帯域を、第１レーザ光源１１２の波長帯域と等しく、第２波長フィルタの透過帯域を、第２レーザ光源１１４の波長帯域と等しく設定すればよい。
【００４６】
第１偏光計３１２及び第２偏光計３１４は、受け取った反射光の第１及び第２のストークスパラメータを取得する。反射光のストークスパラメータは、Ａ／Ｄ変換器３２０に送られる。
【００４７】
第１偏光計３１２及び第２偏光計３１４は、ストークスパラメータの時間依存性を観測できるものであればよく、その測定速度帯域は光ファイバ２０のストークスベクトルの時間依存性の偏波変動速度に対してサンプリング定理(標本化定理)を満たしていればよい。
【００４８】
Ａ／Ｄ変換器３２０は、アナログ信号として取得されたストークスパラメータをデジタル信号に変換する。
【００４９】
ここで、Ａ／Ｄ変換器３２０の標本化周波数は、関数発生器１３０で発生する電気パルスに対して、標本化定理を満たす周波数であればよい。標本化定理とは、アナログ信号をデジタル信号へと変換する際に、どの程度の間隔で標本化(サンプリング)すればよいかを定量的に示す定理である。
【００５０】
Ａ／Ｄ変換器３２０で変換されたデジタル信号は、演算器３３０に送られる。
【００５１】
演算器３３０は、デジタル信号に変換されたストークスパラメータを用いて、ＤＡＶを算出する。演算器３３０は、透過光のストークスパラメータから算出されたＤＡＶを用いて、異常な振動の有無を検知する。また、異常な振動が検知された場合に、演算器３３０は、反射光のストークスパラメータから算出されたＤＡＶを用いて、振動の位置を特定する。演算器３３０としては、例えば、ＤＡＶの算出及び振動の位置の特定を行うソフトウエアがインストールされた市販のパーソナルコンピュータ（ＰＣ）を利用できる。
【００５２】
（ＤＡＶの算出方法）
ＤＡＶの算出方法について説明する。
【００５３】
光ファイバから出力される光波の偏光状態の時間発展は、以下の式（１）で与えられる（例えば、非特許文献３参照）。
【００５４】
【数１】
2019039881.tif 000003
【００５５】
ここで、ｓｏｕｔ（ｔ）は、光ファイバへ入力される任意の光波に対して、時刻ｔにおいてこの光ファイバから出力される光波の偏光状態を表す３行１列のストークスベクトルである。ここで、ｔは光ファイバの出力端において定義される時刻である。
【００５６】
角速度ベクトルωｂは、複屈折の時間変化を反映する光ファイバ固有の特性であり、微小な時間幅ｄｔ内でストークスベクトルｓｏｕｔ（ｔ）に、角速度ベクトルωｂの向きを中心とする回転を与える、３行１列の実ベクトルである。一方、光ファイバから出力される光波の偏光状態ｓｏｕｔ（ｔ）は、光ファイバに入力される光波の偏光状態に依存する。この偏光状態を表すストークスベクトルの先端は、光ファイバへの入射偏光状態に依存してポアンカレ球面上のあらゆる点を通り得る。
【００５７】
ここで、重要な点は、角速度ベクトルωｂは光ファイバの固有の複屈折の時間変化を示すものであり、入力される光波の偏光状態に依存しないことである。すなわち、光ファイバから出力される光波の偏光状態ｓｏｕｔ（ｔ）は、光ファイバに入力される光波の偏光状態に依存するのに対し、角速度ベクトルωｂは入力される光波の偏光状態に依存しない。このため、角速度ベクトルωｂを測定すれば、入力される光波の偏光状態に依存せずに光ファイバの固有の複屈折の時間変化、すなわち、振動に関する光ファイバの特性が分かる。
【００５８】
角速度ベクトルωｂの長さは、光ファイバのＪｏｎｅｓ行列の時間部分により定義される時間発展演算子の２つの固有値の差であるＤＡＶになる。
【００５９】
角速度ベクトルωｂは、光ファイバの複屈折性を表す３行３列の回転行列Ｒ（ｔ）を測定することによって求められる。ここでは、光ファイバへ入力される光波の偏光状態は変動しないとする。
【００６０】
光ファイバへ入力される光波のストークスベクトルをｓｉｎ（ｔ）とすると、ストークスベクトルｓｉｎ（ｔ）及びｓｏｕｔ（ｔ）、並びに、回転行列Ｒ（ｔ）の関係は、以下の式（２）で与えられる。
【００６１】
【数２】
2019039881.tif 000004
【００６２】
上式（２）の１次の時間微分は、以下の式（３）で与えられる。
【００６３】
【数３】
2019039881.tif 000005
【００６４】
上式（２）及び（３）から、以下の式（４）が得られる。
【００６５】
【数４】
2019039881.tif 000006
【００６６】
ここで、†は随伴作用素を意味する。上式（４）を上式（３）の右辺に代入すると以下の式（５）が得られる。
【００６７】
【数５】
2019039881.tif 000007
【００６８】
上式（１）と上式（５）を比較すると、角速度ベクトル外積演算子表現「ωｂ×」が以下の式（６）で与えられる。
【００６９】
【数６】
2019039881.tif 000008
【００７０】
更に、角速度ベクトル外積演算子表現「ωｂ×」を行列表現すると、以下の式（７）が得られる。
【００７１】
【数７】
2019039881.tif 000009
【００７２】
ここで、角速度ベクトルωｂは、３行１列の縦ベクトルであり、以下の式（８）で表される。
【００７３】
【数８】
2019039881.tif 000010
【００７４】
以上説明したように、回転行列Ｒ（ｔ）の時間変化を測定すれば、上式（６）及び上式（７）から角速度ベクトルωｂが求められる。また、角速度ベクトルωｂの大きさを与える絶対値｜ωｂ｜は、出力される光波のストークスベクトルｓｏｕｔ（ｔ）の先端が、時間の経過とともにポアンカレ球面上に描く円の角速度（ｒａｄ／ｓｅｃ）と一致する。
【００７５】
光ファイバへ入力される光波の偏光状態によって出力される光波のストークスベクトルｓｏｕｔ（ｔ）の先端の位置が異なるので、ｓｏｕｔ（ｔ）のポアンカレ球面上で描く円の半径も入力される光波の偏光状態に依存する。しかしながら、ｓｏｕｔ（ｔ）の先端が描く円の角速度は、円の半径によらず入力される光波の偏光状態に依存しない。このように、光ファイバそのものに備わった複屈折の固有状態を与える角速度ベクトルωｂを測定すれば、入力される光波の偏光状態に依存せずに、光ファイバの複屈折の時間変化を定量化できる。
【００７６】
光ファイバから光波が出力される時刻ｔにおける回転行列Ｒ（ｔ）の測定は互いに直交する２偏光状態に対して、それぞれ測定される光波の偏光状態から求めることができる。
【００７７】
ここで、第１偏光計３１２で得られるストークスベクトルをｔ１、第２偏光計３１４で得られるストークスベクトルをｔ３として、それぞれベクトル成分表記すると、以下の式（９）で表される。
【００７８】
【数９】
2019039881.tif 000011
【００７９】
なお、ストークスベクトルｔ１、ｔ２及びｔ３は、いずれもその絶対値が１になるように規格化されている。
【００８０】
回転行列Ｒ（ｔ）は、ストークスベクトルｔ１、ｔ２及びｔ３を用いて、以下の式（１０）及び（１１）と表される（例えば、非特許文献３参照）。
【００８１】
【数１０】
2019039881.tif 000012
【００８２】
ここで、ストークスベクトルｔ２は、以下の式（１２）で与えられる。
【００８３】
【数１１】
2019039881.tif 000013
【００８４】
ストークスベクトルｔ１及びｔ３は、反射光が返ってくる時刻ごとに測定され、その時刻と伝搬遅延量から、ファイバの長手方向の反射光のストークスベクトルが得られる。ストークスベクトルｔ１及びｔ３の時間変化を観測すれば、ファイバの長手方向の各位置のＲ（ｔ）の時間変化が得られる。各位置において、Ｒ（ｔ）の時間変化を計算し、上式（６）及び（７）より時間経過に対する角速度ベクトルωｂの時間変化を求めることができる。また、角速度ベクトルωｂが求まれば、ＤＡＶは角速度ベクトルωｂの長さとして容易に求まる。
【００８５】
（振動検知）
図２は、波長が異なり、偏光状態が互いに直交する光短パルスを光ファイバに入射したときの、反射光の概念を示す図である。測定距離を４．２ｋｍとし、３ｋｍ地点で振動を加えている。
【００８６】
図２の上段は、第１偏光計で得られるストークスパラメータを示し、図２の中段は、第２偏光計で得られるストークスパラメータを示している。また、図２の下段は、上述したＤＡＶを示している。参考のため、図２の下段には、単一偏光状態の光短パルスを入力する従来のＰＯＴＤＲの概念も示している。
【００８７】
ＰＯＴＤＲでは、振動を加えた位置以降のストークスパラメータが変化する。しかし、図２の上段に示すように、偏光状態によっては、ストークスパラメータの変化が明確でない場合もある。
【００８８】
また、図２の下段に示すように、従来のＰＯＴＤＲ（図２中、ＩＩで示す。）では、結果が、プローブ光及び反射光の偏光状態に依存するため、振動に対して検知結果が小さい場合がある。これに対し、ＤＡＶ（図２中、Ｉで示す。）を用いると、振動による変化をより確実に検知できる。
【００８９】
図３を参照して、本発明の効果を説明する。図３は、本発明の効果を説明するための概念図であって、非特許文献３に記載の解析方法を、ＰＯＴＤＲに適用した時の結果を示している。
【００９０】
プローブ光や反射光の偏光状態に依存する、非特許文献１又は２に記載のＰＯＴＤＲと異なり、非特許文献３に記載のＤＡＶを用いると、プローブ光の偏光状態に依存せずに、最大の偏波状態の変化をとらえることができる。
【００９１】
しかし、非特許文献３に記載の方法では、１つの状態を決定するために偏光状態が異なる２つの光短パルスが必要となるので、時間的に交互に偏光状態がスイッチする光短パルスを用いている。このため、非特許文献１又は２と比較して２倍の測定時間を要する。
【００９２】
また、反射光は強度が弱いため、一般に、ＯＴＤＲでは繰り返し測定した結果を平均化処理して、信号対雑音比を改善する。図３では、平均化回数が８回（図３中、Ｉで示す。）、３２回（図３中、ＩＩで示す。）、５１２回（図３中、ＩＩＩで示す。）の場合を示している。
【００９３】
図２と同様に３ｋｍの位置で振動を加えた場合、平均化回数が少なくなると、３ｋｍ以前に大きな雑音が観測される。このように、平均化回数は、検知結果にとって重要である。
【００９４】
本発明では、波長が異なり、偏光状態が互いに直交する光短パルスが多重されたプローブ光に対する反射光を観測する。このため、異なる入射偏光状態に対する反射光を、偏波スイッチすることなく同時に観測できる。このため、従来のＰＴＤＲ法と同じ測定時間（平均化回数）で、入射光の偏光依存性を排除した結果が得られる。
【００９５】
光ファイバの１ｎｍ程度の近接した波長に対する、複屈折の依存性は、数１０ｋｍ程度の距離ではほとんど無視できる。
【００９６】
このため、近接した波長空間を利用した同時測定が可能になる。
【符号の説明】
【００９７】
１０    光源部
２０    光ファイバ
３０    偏光状態計測部
４０    光サーキュレータ
１１２    第１レーザ光源
１１４    第２レーザ光源
１２２    第１強度スイッチ
１２４    第２強度スイッチ
１３０    関数発生器
１４０    波長板
１５０    光カプラ
３１０    ＷＤＭフィルタ
３１２    第１偏光計
３１４    第２偏光計
３２０    Ａ／Ｄ変換器
３３０    演算器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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