(57)【要約】【課題】試験時間の短縮が可能な試験装置を提供する。【解決手段】複数の波長帯の信号を出力する第１被試験物および第２被試験物から出力される信号を用いて、第１および第２被試験物について第１項目の試験を行う第１試験部と、第１および第２被試験物から出力される信号を用いて、第１および第２被試験物について第２項目の試験を行う第２試験部と、試験の順番を制御する制御部と、を具備し、制御部は、第１期間に、第１の波長帯の信号を用い、第１試験部が第１および第２被試験物について第１項目の試験を順に行い、並行して、第２試験部が第２および第１被試験物について第２項目の試験を順に行い、第１期間後の第２期間に、第２の波長帯の信号を用い、第１試験部が第１および第２被試験物について第１項目の試験を順に行い、並行して、第２試験部が第２および第１被試験物について第２項目の試験を順に行うように制御する試験装置。【選択図】  図４
2019078652.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれ複数の波長帯の信号を出力する第１被試験物および第２被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第１被試験物および前記第２被試験物について第１項目の試験を行う第１試験部と、
前記第１被試験物および前記第２被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第１被試験物および前記第２被試験物について第２項目の試験を行う第２試験部と、
前記第１試験部および前記第２試験部が行う試験の順番を制御する制御部と、を具備し、
前記制御部は、第１期間に、前記複数の波長帯のうち第１の波長帯の信号を用い、前記第１試験部が前記第１被試験物および前記第２被試験物それぞれについて前記第１項目の試験を順に行い、かつ前記第１試験部による試験と並行して、前記第２試験部が前記第２被試験物および前記第１被試験物それぞれについて前記第２項目の試験を順に行い、
前記第１期間後の第２期間に、前記複数の波長帯のうち第２の波長帯の信号を用い、前記第１試験部が前記第１被試験物および前記第２被試験物それぞれについて前記第１項目の試験を順に行い、かつ前記第１試験部による試験と並行して、前記第２試験部が前記第２被試験物および前記第１被試験物それぞれについて前記第２項目の試験を順に行うように制御する試験装置。
【請求項２】
前記第１被試験物および前記第２被試験物の少なくとも一方から前記複数の波長帯の信号が入力される複数の第１入力ポートと、前記第１試験部または前記第２試験部に接続される第１出力ポートとを有し、前記複数の第１入力ポートのうち１つを選択して前記第１出力ポートに接続する第１スイッチを具備し、
前記制御部は、前記第１期間において前記第１出力ポートから前記第１の波長帯の信号が出力され、前記第２期間において前記第１出力ポートから前記第２の波長帯の信号が出力されるように前記第１スイッチを制御する請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記第１被試験物から前記複数の波長帯の信号のうち１つの波長帯の信号が入力する第２入力ポート、前記第２被試験物から前記１つの波長帯の信号が入力する第３入力ポート、前記第１試験部に接続された第２出力ポート、および前記第２試験部に接続された第３出力ポートを有する第２スイッチを具備し、
前記制御部は、前記第１期間および前記第２期間のそれぞれにおいて、前記第２入力ポートと前記第２出力ポートとが接続され、かつ前記第３入力ポートと前記第３出力ポートとが接続された後、前記第２入力ポートと前記第３出力ポートとが接続され、かつ前記第３入力ポートと前記第２出力ポートとが接続されるように、前記第２スイッチを制御する請求項１または２に記載の試験装置。
【請求項４】
前記第１被試験物および前記第２被試験物は、光源から出力される光信号を受信する受信部を含み、
前記波長帯ごとに前記受信部の試験を行う第３試験部を具備し、
前記制御部は、前記第１期間に、前記第３試験部が前記第１の波長帯における前記第１被試験物および前記第２被試験物それぞれの前記受信部の試験を行い、前記第２期間に、前記第３試験部が前記第２の波長帯における前記第１被試験物および前記第２被試験物の前記受信部の試験を行うように制御する請求項１から３のいずれか一項に記載の試験装置。
【請求項５】
前記第１試験部および前記第２試験部のいずれか一方は光信号のパワーを測定するパワー測定部を含み、
前記第１被試験物または前記第２被試験物から前記パワー測定部までの光信号の経路と少なくとも一部において同じ経路を伝播した光信号のパワーと、前記第１被試験物または前記第２被試験物から前記パワー測定部までの経路を伝播しない光信号のパワーとの差に基づいて、前記パワー測定部のパワーの測定結果を補正する補正部と、を具備する請求項１から４のいずれか一項に記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光信号を出力する発光装置の特性について、試験装置を用いた試験が行われる（例えば特許文献１）。発光装置が光信号を出力し、試験装置が光信号を用いて、試験項目ごとに試験を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２７１５９０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
例えば光トランシーバなどの装置は、複数の波長帯の光信号を出力する。試験装置は波長帯ごとに試験を行うものであるため、試験装置の設定を波長帯に応じたものに変更する。この結果、試験時間が長くなってしまう。
【０００５】
そこで、試験時間の短縮が可能な試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る試験装置は、それぞれ複数の波長帯の信号を出力する第１被試験物および第２被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第１被試験物および前記第２被試験物について第１項目の試験を行う第１試験部と、前記第１被試験物および前記第２被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第１被試験物および前記第２被試験物について第２項目の試験を行う第２試験部と、前記第１試験部および前記第２試験部が行う試験の順番を制御する制御部と、を具備し、前記制御部は、第１期間に、前記複数の波長帯のうち第１の波長帯の信号を用い、前記第１試験部が前記第１被試験物および前記第２被試験物それぞれについて前記第１項目の試験を順に行い、かつ前記第１試験部による試験と並行して、前記第２試験部が前記第２被試験物および前記第１被試験物それぞれについて前記第２項目の試験を順に行い、前記第１期間後の第２期間に、前記複数の波長帯のうち第２の波長帯の信号を用い、前記第１試験部が前記第１被試験物および前記第２被試験物それぞれについて前記第１項目の試験を順に行い、かつ前記第１試験部による試験と並行して、前記第２試験部が前記第２被試験物および前記第１被試験物それぞれについて前記第２項目の試験を順に行うように制御するものである。
【発明の効果】
【０００７】
上記発明によれば、試験時間の短縮が可能である。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は試験装置を例示するブロック図である。
【図２】図２（ａ）および図２（ｂ）は被試験物、分岐部、第１スイッチおよび第２スイッチを拡大したブロック図である。
【図３】図３（ａ）は受信部を例示するブロック図である。図３（ｂ）は送信部を例示するブロック図である。
【図４】図４は試験装置による試験の順番を示す表である。
【図５】図５は試験装置による試験を示すフローチャートである。
【図６】図６は試験装置による試験を示すフローチャートである。
【図７】図７は光信号の損失の測定の際の試験装置を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
[本願発明の実施形態の説明]
最初に本願発明の実施形態の内容を列記して説明する。
本願発明の一形態は、（１）それぞれ複数の波長帯の信号を出力する第１被試験物および第２被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第１被試験物および前記第２被試験物について第１項目の試験を行う第１試験部と、前記第１被試験物および前記第２被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第１被試験物および前記第２被試験物について第２項目の試験を行う第２試験部と、前記第１試験部および前記第２試験部が行う試験の順番を制御する制御部と、を具備し、前記制御部は、第１期間に、前記複数の波長帯のうち第１の波長帯の信号を用い、前記第１試験部が前記第１被試験物および前記第２被試験物それぞれについて前記第１項目の試験を順に行い、かつ前記第１試験部による試験と並行して、前記第２試験部が前記第２被試験物および前記第１被試験物それぞれについて前記第２項目の試験を順に行い、前記第１期間後の第２期間に、前記複数の波長帯のうち第２の波長帯の信号を用い、前記第１試験部が前記第１被試験物および前記第２被試験物それぞれについて前記第１項目の試験を順に行い、かつ前記第１試験部による試験と並行して、前記第２試験部が前記第２被試験物および前記第１被試験物それぞれについて前記第２項目の試験を順に行うように制御する試験装置である。同一の波長帯における試験を連続して行い、その後に別の波長帯における試験を行うため、第１試験部および第２試験部の設定の回数が少なくなる。また第１試験部と第２試験部とを並行して稼働させる。この結果、試験時間の短縮が可能である。
（２）前記第１被試験物および前記第２被試験物の少なくとも一方から前記複数の波長帯の信号が入力される複数の第１入力ポートと、前記第１試験部または前記第２試験部に接続される第１出力ポートとを有し、前記複数の第１入力ポートのうち１つを選択して前記第１出力ポートに接続する第１スイッチを具備し、前記制御部は、前記第１期間において前記第１出力ポートから前記第１の波長帯の信号が出力され、前記第２期間において前記第１出力ポートから前記第２の波長帯の信号が出力されるように前記第１スイッチを制御してもよい。これにより、複数の波長帯のうちから１つの波長帯を選択し、当該波長帯における試験が可能である。
（３）前記第１被試験物から前記複数の波長帯の信号のうち１つの波長帯の信号が入力する第２入力ポート、前記第２被試験物から前記１つの波長帯の信号が入力する第３入力ポート、前記第１試験部に接続された第２出力ポート、および前記第２試験部に接続された第３出力ポートを有する第２スイッチを具備し、前記制御部は、前記第１期間および前記第２期間のそれぞれにおいて、前記第２入力ポートと前記第２出力ポートとが接続され、かつ前記第３入力ポートと前記第３出力ポートとが接続された後、前記第２入力ポートと前記第３出力ポートとが接続され、かつ前記第３入力ポートと前記第２出力ポートとが接続されるように、前記第２スイッチを制御してもよい。第１および第２被試験物と第１および第２試験部との接続を切り替えることで、試験項目の選択が可能である。
（４）前記第１被試験物および前記第２被試験物は、光源から出力される光信号を受信する受信部を含み、前記波長帯ごとに前記受信部の試験を行う第３試験部を具備し、前記制御部は、前記第１期間に、前記第３試験部が前記第１の波長帯における前記第１被試験物および前記第２被試験物それぞれの前記受信部の試験を行い、前記第２期間に、前記第３試験部が前記第２の波長帯における前記第１被試験物および前記第２被試験物の前記受信部の試験を行うように制御してもよい。同一の波長帯において第１被試験物および第２被試験部それぞれの送信試験および受信試験を連続で行うため、試験時間の短縮が可能である。
（５）前記第１試験部および前記第２試験部のいずれか一方は光信号のパワーを測定するパワー測定部を含み、前記第１被試験物または前記第２被試験物から前記パワー測定部までの光信号の経路と少なくとも一部において同じ経路を伝播した光信号のパワーと、前記第１被試験物または前記第２被試験物から前記パワー測定部までの経路を伝播しない光信号のパワーとの差に基づいて、前記パワー測定部のパワーの測定結果を補正する補正部と、を具備してもよい。経路におけるパワーの損失に基づいてパワーの測定結果を補正することで、試験の精度が向上する。
【００１０】
［本願発明の実施形態の詳細］
本発明の実施形態に係る試験装置の具体例を、以下に図面を参照しつつ説明する。なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【実施例１】
【００１１】
（試験装置）
実施例１に係る試験装置１００は、被試験物４０ａおよび４０ｂの試験を行うものである。図１は試験装置１００を例示するブロック図である。図１に示すように、試験装置１００は、制御部１０、分岐部１２ａ、１２ｂ、１８、２４ａおよび２４ｂ、第１スイッチ１４ａおよび１４ｂ、第２スイッチ１６、試験部２０ａ〜２０ｆ、光源２２ａおよび２２ｂ、減衰器２５ａおよび２５ｂ、合波部２６ａおよび２６ｂ、ハイパワー光源２８、アンプ３０、ならびに第３スイッチ３２を備える。
【００１２】
制御部１０は例えばパーソナルコンピュータなどであり、ＣＰＵ（Central Processing Unit、中央処理装置）などの処理装置、ならびにハードディスクドライブ（ＨＤＤ：Hard Disc Drive）およびＳＳＤ（Solid State Drive）などの記憶部を有する。制御部１０は例えば記憶部に記憶されたプログラムを実行することで、試験装置１００による試験を制御する。具体的には、制御部１０は例えば第１スイッチ１４ａおよび１４ｂ、第２スイッチ１６におけるポートの接続を変更することができる。また制御部１０は、試験部２０ａ〜２０ｄの波長帯に対する設定、および試験部２０ｅ、２０ｆの試験を行うための光の経路（光源〜被試験物までの経路）の設定をすることができる。経路の設定とは例えば第３スイッチ３２の経路およびポートの変更などである。
【００１３】
光源２２ａから出力される光信号は例えば４つの波長帯を含む。分岐部２４ａは光源２２ａから入力される光信号を波長帯ごとに４つに分岐させ、減衰器２５ａに出力する。減衰器２５ａは４つの光信号を減衰させ、合波部２６ａに出力する。合波部２６ａは４つの光信号を１つの光信号として、第３スイッチ３２に出力する。光源２２ｂ、分岐部２４ｂ、減衰器２５ｂ、合波部２６ｂも同様に機能し、合波部２６ｂは光信号を第３スイッチ３２に出力する。
【００１４】
ハイパワー光源２８はアンプ３０に光信号を出力し、アンプ３０は光信号を増幅して第３スイッチ３２に出力する。第３スイッチ３２は、合波部２６ａから入力される光信号とアンプ３０から入力される光信号を選択して光信号Ｌａ０として被試験物４０ａに出力する。第３スイッチ３２は、合波部２６ｂから入力される光信号を選択して光信号Ｌｂ０として被試験物４０ｂに出力する。
【００１５】
（被試験物）
被試験物４０ａおよび４０ｂは、例えばＣＦＰ（C Form-factor Pluggable）およびＱＳＦＰ（Quad Small Form‐factor Pluggable）２８などの規格に対応した光トランシーバである。被試験物４０ａおよび４０ｂは、第３スイッチ３２から光信号が入力され、かつ光信号を出力する。被試験物４０ａが出力する光信号Ｌａおよび被試験物４０ｂが出力する光信号Ｌｂは、それぞれ４つの波長帯（第１の波長帯〜第４の波長帯）を含む信号である。
【００１６】
図２（ａ）および図２（ｂ）は被試験物、分岐部、第１スイッチおよび第２スイッチを拡大したブロック図である。図２（ａ）と図２（ｂ）とでは、第２スイッチ１６のポートの接続が異なる。
【００１７】
図２（ａ）および図２（ｂ）に示すように、被試験物４０ａは送信部４２ａおよび受信部４４ａを備え、被試験物４０ｂは送信部４２ｂおよび受信部４４ｂを備える。受信部４４ａおよび４４ｂは例えばＲＯＳＡ（Receiver Optical Subassembly）である。送信部４２ａおよび４２ｂは例えばＴＯＳＡ（Transmitter Optical Subassembly）である。
【００１８】
図３（ａ）は受信部４４ａを例示するブロック図である。図３（ａ）に示すように、受信部４４ａは例えば分岐部４５および４つの受光素子４６を含む。分岐部４５は、第３スイッチ３２から入力される光信号Ｌａ０を波長帯の異なる４つの光信号に分け、受光素子４６に出力する。受光素子４６は例えばフォトダイオードなどであり、光信号を電気信号に変換し出力する。受信部４４ｂも受信部４４ａと同様の構成を有する。
【００１９】
図３（ｂ）は送信部４２ａを例示するブロック図である。図３（ｂ）に示すように、送信部４２ａは例えば４つの発光素子４１および合波部４３を含む。発光素子４１は例えば半導体レーザ素子などであり、電気信号を光信号に変換する。４つの発光素子４１が出力する光信号の波長は互いに異なり、第１の波長帯〜第４の波長帯のそれぞれに対応する。合波部４３は、４つの発光素子４１から入力される４つの光信号を１つの光信号Ｌａに合波し、出力する。送信部４２ｂも送信部４２ａと同様の構成を有する。
【００２０】
図２（ａ）および図２（ｂ）に示すように、被試験物４０ａが出力する光信号をＬａ、被試験物４０ｂが出力する光信号をＬｂとする。分岐部１２ａは、被試験物４０ａから入力される光信号Ｌａを、波長帯の異なる４つの光信号Ｌａ１〜Ｌａ４に分ける。分岐部１２ｂは、被試験物４０ｂから入力される光信号Ｌｂを、波長帯の異なる４つの光信号Ｌｂ１〜Ｌｂ４に分ける。
【００２１】
（第１スイッチ）
第１スイッチ１４ａは、４つの入力ポートＰａ１〜Ｐａ４、および１つの出力ポートＰａ５を有する。入力ポートＰａ１〜Ｐａ４には、光信号Ｌａ１〜Ｌａ４のそれぞれが入力する。第１スイッチ１４ａは、入力ポートＰａ１〜Ｐａ４のうち１つを選択して出力ポートＰａ５と接続することができる。出力ポートＰａ５からは、光信号Ｌａ１〜Ｌａ４のうち選択された入力ポートＰａ１〜Ｐａ４に対応する光信号が出力される。第１スイッチ１４ｂは、４つの入力ポートＰｂ１〜Ｐｂ４、および１つの出力ポートＰｂ５を有する。第１スイッチ１４ｂは入力ポートＰｂ１〜Ｐｂ４のうち１つを選択して出力ポートＰｂ５と接続する。出力ポートＰｂ５からは光信号Ｌｂ１〜Ｌｂ４のうち選択された入力ポートＰｂ１〜Ｐｂ４に対応する光信号が出力される。
【００２２】
このように、第１スイッチ１４ａは、被試験物４０ａの出力する光信号Ｌａのうち１つの波長帯に対応した光信号（Ｌａ１〜Ｌａ４のいずれか）を出力する。第１スイッチ１４ｂは、被試験物４０ｂの出力する光信号Ｌｂのうち１つの波長帯に対応した光信号（Ｌｂ１〜Ｌｂ４のいずれか）を出力する。図１に示した制御部１０は、第１スイッチ１４ａおよび１４ｂにおける、入力ポートと出力ポートとの接続を制御する。
【００２３】
（第２スイッチ）
第２スイッチ１６は２つの入力ポートＰ１およびＰ２、２つの出力ポートＰ３およびＰ４を備える。入力ポートＰ１は第１スイッチ１４ａの出力ポートＰａ５に接続され、入力ポートＰ２は第１スイッチ１４ｂの出力ポートＰｂ５に接続されている。第２スイッチ１６は、入力ポートＰ１およびＰ２の一方を出力ポートＰ３およびＰ４の一方と接続し、入力ポートＰ１およびＰ２の他方を出力ポートＰ３およびＰ４の他方と接続する。
【００２４】
図２（ａ）においては、入力ポートＰ１と出力ポートＰ３とが接続され、入力ポートＰ２と出力ポートＰ４とが接続されている。４つの光信号Ｌａ１〜Ｌａ４のうち１つが、第１スイッチ１４ａの出力ポートＰａ５から、第２スイッチ１６の入力ポートＰ１に入力する。入力ポートＰ１に入力した光信号は、出力ポートＰ３から図１の試験部２０ａに入力する。４つの光信号Ｌｂ１〜Ｌｂ４のうち１つが、第１スイッチ１４ｂの出力ポートＰｂ５から、第２スイッチ１６の入力ポートＰ２に入力する。入力ポートＰ２に入力した光信号は、出力ポートＰ４から図１の分岐部１８に入力する。光信号は分岐部１８において３つに分けられ、試験部２０ｂ〜２０ｄに入力する。
【００２５】
図２（ｂ）においては、入力ポートＰ１と出力ポートＰ４とが接続され、入力ポートＰ２と出力ポートＰ３とが接続されている。４つの光信号Ｌａ１〜Ｌａ４のうち１つは、第１スイッチ１４ａの出力ポートＰａ５、第２スイッチ１６の入力ポートＰ１および出力ポートＰ４を介して、図１の分岐部１８に入力する。光信号は分岐部１８において３つに分けられ、試験部２０ｂ〜２０ｄに入力する。４つの光信号Ｌｂ１〜Ｌｂ４のうち１つが、第１スイッチ１４ｂの出力ポートＰｂ５、第２スイッチ１６の入力ポートＰ２および出力ポートＰ３を介して、図１の試験部２０ａに入力する。
【００２６】
このように、第２スイッチ１６は、被試験物４０ａおよび４０ｂの一方を試験部２０ａに接続し、被試験物４０ａおよび４０ｂの他方を試験部２０ｂ〜２０ｄに接続する。図１に示した制御部１０は、第２スイッチ１６における入力ポートの選択を制御する。
【００２７】
（試験部）
図１に示すように、試験装置１００は、試験項目に対応した複数の試験部２０ａ〜２０ｆを有する。試験部２０ａ〜２０ｆのそれぞれは、一回の試験において一台の被試験物の試験を行うものであり、二台の被試験物に対して同時に試験を行うものではない。また試験部２０ａ〜２０ｆは、波長帯ごとに試験を行う。試験部２０ａ〜２０ｄは被試験物の送信部の試験を行い、試験部２０ｅおよび２０ｆは受信部の試験を行う。
【００２８】
試験部２０ａ〜２０ｄには、光信号Ｌａ１〜Ｌｂ４のいずれかが入力する。試験部２０ａは波形測定器であり、光信号の波形の試験を行う。波形の試験は例えばマスク試験、消光比、クロスポイントについての試験を含む。試験部２０ｂは光スペクトラムアナライザであり、光信号の波長の試験を行う。波長の試験は例えば光信号の中心波長の測定を含む。試験部２０ｃは光パワーメータであり、光信号のパワーの試験を行う。パワーの試験は例えば光信号の出力のモニタ、ＯＭＡ（Optical Modulation Amplitude）、パワー誤差の試験などを含む。試験部２０ｄは送信感度の試験を行うものであり、例えば光信号の誤り率を測定する。
【００２９】
図１に示す電気信号ＳａおよびＳｂは被試験物の受信部が出力する電気信号である。試験部２０ｅには被試験物４０ａから電気信号Ｓａが入力し、試験部２０ｅは電気信号Ｓａを用いて被試験物４０ａの受信部４４ａの試験を行う。試験部２０ｆには被試験物４０ｂから電気信号Ｓｂが入力し、試験部２０ｆは電気信号Ｓｂを用いて被試験物４０ｂの受信部４４ｂの試験を行う。受信部４４ａおよび４４ｂの試験は、受信感度、信号のＬＯＳ（Loss of Signal）、パワー誤差などである。
【００３０】
制御部１０は、試験部２０ａ〜２０ｄの設定を波長帯ごとに変更する。例えば第１の波長帯の光信号Ｌａ１またはＬｂ１を用いて試験を行う場合、試験部２０ａ〜２０ｄの設定を第１の波長帯に対応したものとする。第２の波長帯の光信号Ｌａ２またはＬｂ２を用いて試験を行う場合、第１の波長帯に対応した設定から第２の波長帯に対応した設定に変更する。こうした設定の回数が多くなると試験時間が長くなる。したがって試験時間の短縮のため、設定の回数を減らすことが好ましい。
【００３１】
（試験）
図４は試験装置１００による試験の順番を示す表である。図４に示すように、最初に第１の波長帯における試験を行い、その後に第２の波長帯における試験、第３の波長帯における試験、第４の波長帯における試験を順に行う。各波長帯において、被試験物４０ａおよび４０ｂに対し、試験部２０ａ〜２０ｆがそれぞれの試験項目に応じた試験を行う。試験部２０ａ〜２０ｄは送信試験、試験部２０ｅおよび２０ｆは受信試験に用いられる。
【００３２】
期間ｔ１は第１の波長帯の試験期間である。複数の試験部が同時に稼働するように、被試験物４０ａの試験と被試験物４０ｂの試験とは並行して実施する。被試験物４０ａについて、試験部２０ａによる波形の試験、試験部２０ｂによる波長の試験、試験部２０ｃによるパワーの試験、試験部２０ｄによる誤り率の試験、試験部２０ｅによる受信試験を行う。被試験物４０ａの試験と並行して、被試験物４０ｂについて、試験部２０ｂによる試験、試験部２０ｃによる試験、試験部２０ｄによる試験、試験部２０ａによる試験、試験部２０ｆによる受信試験を順に行う。
【００３３】
期間ｔ１のうちの期間ｔａ１において、試験部２０ａは被試験物４０ａの試験を行い、それと同時に試験部２０ｂ〜２０ｄは被試験物４０ｂの試験を行う。期間ｔａ１後のｔｂ１において、試験部２０ｂ〜２０ｅは被試験物４０ａの試験を行い、同時に試験部２０ａは被試験物４０ｂの試験を行う。その後、期間ｔｃ１において、試験部２０ｆは被試験物４０ｂの受信試験を行う。
【００３４】
第１の波長帯における試験の終了後（期間ｔ１後）、期間ｔ２において第２の波長帯における試験を行う。さらに期間ｔ２後の期間ｔ３およびｔ４において、第３の波長帯および第４の波長帯の試験を行う。各波長帯における試験の順番、つまり試験部２０ａ〜２０ｆの動作の順番は第１の波長帯における試験と同じである。以上のような試験は、図１の制御部１０が制御を行うことで実現される。
【００３５】
図５および図６は試験装置１００による試験を示すフローチャートである。図５に示すように、制御部１０は、試験部の設定を第１の波長帯に対応した設定とする（ステップＳ１０）。制御部１０は、被試験物４０ａと試験部２０ａとを接続する（ステップＳ１２）。すなわち、制御部１０は、図２（ａ）の第１スイッチ１４ａの入力ポートＰａ１と出力ポートＰａ５とを接続し、第２スイッチ１６の入力ポートＰ１と出力ポートＰ３とを接続する。これにより、図３（ｂ）の４つの発光素子４１のうち１つが出力する第１の波長帯の光信号Ｌａ１が、図２（ａ）の第１スイッチ１４ａおよび第２スイッチ１６を介して、図１の試験部２０ａに入力する。
【００３６】
制御部１０は、被試験物４０ｂと試験部２０ｂ〜２０ｄとを接続する（ステップＳ１４）。すなわち制御部１０は、図２（ａ）の第１スイッチ１４ｂの入力ポートＰｂ１と出力ポートＰｂ５とを接続し、第２スイッチ１６の入力ポートＰ２と出力ポートＰ４とを接続する。これにより、第１の波長帯の光信号Ｌｂ１が第１スイッチ１４ａおよび第２スイッチ１６を介して、図１の試験部２０ｂ〜２０ｄに入力する。図５に示すように、試験部２０ａは被試験物４０ａの試験を行い（ステップＳ１６）、それと並行して試験部２０ｂ〜２０ｄは被試験物４０ｂの試験を行う（ステップＳ１８）。ステップＳ１２〜Ｓ１８は図４の期間ｔａ１に対応する。
【００３７】
制御部１０は、被試験物４０ａと試験部２０ｂ〜２０ｄとを接続する（ステップＳ２０）。すなわち図２（ｂ）に示すように、制御部１０は、第２スイッチ１６の入力ポートＰ１と出力ポートＰ４とを接続する。これにより、光信号Ｌａ１が第１スイッチ１４ａおよび第２スイッチ１６を介して、図１の試験部２０ｂ〜２０ｄに入力する。制御部１０は、被試験物４０ｂと試験部２０ａとを接続する（ステップＳ２２）。すなわち図２（ｂ）に示すように、制御部１０は、第２スイッチ１６の入力ポートＰ２と出力ポートＰ３とを接続する。これにより、光信号Ｌｂ１が第１スイッチ１４ａおよび第２スイッチ１６を介して、図１の試験部２０ａに入力する。図５に示すように、試験部２０ｂ〜２０ｅは被試験物４０ａの試験を行う（ステップＳ２４）。それと並行して、試験部２０ａは被試験物４０ｂの試験を行い、試験部２０ｆも受信試験を行う（ステップＳ２６）。ステップＳ２０〜Ｓ２６は図４の期間ｔｂ１およびｔｃ１に対応する。
【００３８】
制御部１０は、試験部２０ａ〜２０ｄの設定および光経路の設定を第２の波長帯に対応した設定とする（ステップＳ２８）。ステップＳ１２〜Ｓ２６に対応するステップＳ３０〜Ｓ４４において、第２の波長帯における、被試験物４０ａおよび４０ｂの試験が実施される。図６に示すように、制御部１０は、試験部２０ａ〜２０ｄの設定および光経路の設定を第３の波長帯に対応した設定とする（ステップＳ４６）。ステップＳ１２〜Ｓ２６に対応するステップＳ４８〜Ｓ６２において、第３の波長帯における、被試験物４０ａおよび４０ｂの試験が実施される。制御部１０は、試験部２０ａ〜２０ｄの設定および光経路の設定を第４の波長帯に対応した設定とする（ステップＳ６４）。ステップＳ１２〜Ｓ２６に対応するステップＳ６６〜Ｓ８０において、第３の波長帯における、被試験物４０ａおよび４０ｂの試験が実施される。ステップＳ８０の後、制御は終了する。
【００３９】
実施例１によれば、波長帯ごとに被試験物４０ａおよび４０ｂの試験を行う。すなわち、制御部１０が第１の波長帯に対応して試験部２０ａ〜２０ｄの設定および光経路の設定をした後、第１の波長帯における被試験物４０ａおよび４０ｂの試験が行われる（図４の期間ｔ１、図５のステップＳ１０〜Ｓ２６）。第１の波長帯における試験がすべて終了した後、制御部１０は試験部２０ａ〜２０ｄの設定および光経路の設定を第２の波長帯に対応したものとする（図５のステップＳ２８）。第２の波長帯における被試験物４０ａおよび４０ｂの試験が行われる（ステップＳ３０〜Ｓ４４）。さらに、第３の波長帯および第４の波長帯における試験が行われる（ステップＳ４６〜Ｓ８０）。このように、同じ波長帯における試験を連続して行い、終了後に別の波長帯の試験に移行する。したがって、試験部２０ａ〜２０ｄの設定および光経路の設定の回数は波長帯と同じであり、実施例１においては４回である。この結果、試験時間を短縮することができる。
【００４０】
被試験物ごとに試験を行うと、試験部の設定の回数が増加し、試験時間が長くなる。例えば、第１〜第４の波長帯における被試験物４０ａの試験を行い、その後に第１〜第４の波長帯における被試験物４０ｂの試験を行う。この場合、試験部２０ａ〜２０ｄの設定および光経路の設定の回数は、被試験物の数と波長帯の数との積である８回となる。このため試験時間は長くなる。被試験物の数が増えると、設定の回数および試験時間はさらに増加する。実施例１によれば、設定の回数は波長帯の数に等しいため、試験時間は短くなる。また、被試験物の数が３つ以上の場合でも設定の回数は変わらないため、試験時間の大幅な増加は抑制される。
【００４１】
実施例１においては、試験部２０ａ〜２０ｅを並行して稼働させる。すなわち、試験部２０ａは光信号Ｌａ１を用いて被試験物４０ａの試験を行い、この試験と並行して試験部２０ｂ〜２０ｄは光信号Ｌｂ１を用いて被試験物４０ｂの試験を行う（図４の期間ｔａ１、図５のステップＳ１２〜Ｓ１８）。また、試験部２０ｂ〜２０ｄは光信号Ｌａ１を用いて被試験物４０ａの試験を行い、当該試験と並行して、試験部２０ａは光信号Ｌｂ１を用いて被試験物４０ｂの試験を行う（図４の期間ｔｂ１、図５のステップＳ２０〜Ｓ２６）。このため試験時間を効果的に短縮することができる。
【００４２】
試験項目は変更してもよく、試験項目の数の増減をしてもよい。試験項目に応じた試験部を試験装置１００に設け、並行して動作させればよい。特に、図４のように長い時間がかかる試験と、短い時間で実行できる試験とを同時に行うことが、試験時間の短縮には有効である。例えば、複数の試験のうち、試験部２０ａによる波形の試験には最も長い時間がかかる。したがって、試験部２０ａが稼働している間、他の試験部２０ｂ〜２０ｄも稼働することが好ましい。
【００４３】
各波長帯における試験の順番は同一とすることが好ましい。例えば、図４に示した試験の順番を第１〜第４の波長帯にも適用する。制御部１０は各波長帯において同一の処理を行えばよいため、処理が簡略化される。
【００４４】
第１の波長帯における試験を行う場合、制御部１０は、第１スイッチ１４ａの入力ポートＰａ１と出力ポートＰａ５とを接続し、第１スイッチ１４ｂの入力ポートＰｂ１と出力ポートＰｂ５とを接続する。これにより、第１の波長帯の光信号Ｌａ１が出力ポートＰａ５から出力され、光信号Ｌｂ１が出力ポートＰｂ５から出力される。第２〜第４の波長帯において試験を行う場合、制御部１０は第１スイッチ１４ａおよび１４ｂそれぞれの入力ポートを切り替えて出力ポートに接続する。すなわち第１スイッチ１４ａおよび１４ｂの入力ポートの選択により、複数の波長帯から１つの波長帯の選択が可能である。
【００４５】
制御部１０は、第２スイッチ１６の入力ポートＰ１と出力ポートＰ３とを接続し、入力ポートＰ２と出力ポートＰ４とを接続する。これにより図３の期間ｔａ１の試験が行われる。また、制御部１０は、入力ポートＰ１と出力ポートＰ４とを接続し、入力ポートＰ２と出力ポートＰ３とを接続する。これにより図３の期間ｔｂ１の試験が行われる。このように、第２スイッチ１６の入力ポートと出力ポートとの接続の切り替えにより、被試験物と試験部との接続を切り替え、試験項目の選択が可能である。被試験物の数および試験項目の数などに応じて、第１スイッチおよび第２スイッチの数を変更してもよい。
【００４６】
試験部２０ａ〜２０ｄが第１の波長帯における送信部４２ａおよび４２ｂの試験を行う期間ｔ１において、試験部２０ｅは第１の波長帯における受信部４４ａの試験を行い、試験部２０ｆは受信部４４ｂの試験を行う。他の波長帯においても同様である。同一の波長帯において、送信試験および受信試験を連続して実施するため、試験部の設定の回数が少なくなり、試験時間が短縮される。
【００４７】
試験装置１００における光信号の経路は例えば光ファイバなどであり、光信号のパワーは経路において損失する。したがって、試験の前に経路における損失を測定し、その損失を用いてパワーの測定結果を補正することが好ましい。
【００４８】
図７は光信号の損失の測定の際の試験装置１００を示すブロック図である。図７に示すように、光源２２ａおよび２２ｂからは光信号を出力させず、ハイパワー光源２８から光信号を出力させる。第３スイッチ３２が出力する光信号を２つの光信号Ｌｃ０およびＬｄ０に分岐させる。分岐直後の光信号Ｌｃ０およびＬｄ０のパワーは同程度である。光信号Ｌｃ０は被試験物４０ａから試験部２０ｃまでの経路を通らない。光信号Ｌｃ０のパワーを不図示の測定器で測定する。測定される光信号Ｌｃ０のパワーは、被試験物４０ａから試験部２０ｃまでの経路における損失を含まないパワーである。
【００４９】
光信号Ｌｄ０は、第３スイッチ３２から、分岐部１２ａ、第１スイッチ１４ａ、第２スイッチ１６、分岐部１８を通じて、試験部２０ｃに入力する。つまり光信号Ｌｄ０は、光信号Ｌａ１の経路のうち、被試験物４０ａから分岐部１２ａまでの経路を除いた経路を通って試験部２０ｃに入力する。すなわち、試験部２０ｃは、被試験物４０ａから試験部２０ｃまでの経路において損失した後の光信号Ｌｄ０のパワーを測定する。
【００５０】
制御部１０は補正部として機能する。すなわち制御部１０は、光信号Ｌｃ０のパワーと光信号Ｌｄ０のパワーとの差分を損失量として算出し、被試験物４０ａの光信号のパワーの測定結果を補正する。補正とは、例えば損失量をパワーの測定結果に加算することなどである。これによりパワーの測定の精度が向上する。
【００５１】
光信号Ｌｄ０は、被試験物４０ａから試験部２０ｃまでの経路の少なくとも一部を通ればよく、好ましくは分岐部１２ａから試験部２０ｃまでのように経路の大部分を通る。これにより損失を精度高く算出することができる。分岐部１２ａから第１スイッチ１４ａまでの他の経路（光信号Ｌａ２〜Ｌａ４の経路）、および被試験物４０ｂから試験部２０ｃまでの経路における損失も、上記と同様の方法で取得することができる。
【符号の説明】
【００５２】
１０                                          制御部
１２ａ、１２ｂ、１８、２４ａ、２４ｂ、４５    分岐部
１４ａ、１４ｂ                                第１スイッチ
１６                                          第２スイッチ
２０ａ〜２０ｆ                                試験部
２２ａ、２２ｂ                                光源
２５ａ、２５ｂ                                減衰器
２６ａ、２６ｂ、４３                          合波部
２８                                          ハイパワー光源
３０                                          アンプ
３２                                          第３スイッチ
４０ａ、４０ｂ                                被試験物
４１                                          発光素子
４２ａ、４２ｂ                                送信部
４４ａ、４４ｂ                                受信部
４６                                          受光素子
Ｐａ１〜Ｐａ４、Ｐｂ１〜Ｐｂ４、Ｐ１、Ｐ２    入力ポート
Ｐａ５、Ｐｂ５、Ｐ３、Ｐ４                    出力ポート
１００                                        試験装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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