(57)【要約】【課題】触感を正確に検出する触覚デバイスを提供する。【解決手段】弾性部１３３に埋め込まれる第１の光ファイバ１３０を伝搬する測定光と第２の光ファイバ１４０を伝搬する参照光との干渉光を出力する光ファイバ干渉計１０と、前記干渉光に基づいて、前記測定光と前記参照光との位相差を検出する光位相同期回路２０と、を備える。前記弾性部１３３は、表面に凹凸を有する。また、前記弾性部１３３は、被覆部材１５０で覆われる。【選択図】図１
2019144070.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
弾性部に埋め込まれる第１の光ファイバを伝搬する測定光と第２の光ファイバを伝搬する参照光との干渉光を出力する光ファイバ干渉計と、
前記干渉光に基づいて、前記測定光と前記参照光との位相差を検出する光位相同期回路と、
を備えることを特徴とする触覚デバイス。
【請求項２】
前記弾性部は、表面に凹凸を有する、
ことを特徴とする請求項１に記載の触覚デバイス。
【請求項３】
前記弾性部は、被覆部材で覆われる、
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の触覚デバイス。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、触覚デバイスに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、人間の触覚を代用する種々の触覚デバイスの開発が盛んに行われている。例えば、特許文献１には、偏平な支持体とエラストマー層との間に配置される光ファイバを含むネットワークと、光ファイバに供給される光の強度変化を検出する読み取り回路と、を備える偏平触覚センサが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開昭６３−２９２０３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来の触覚デバイスは、人間の皮膚のように、触感（例えば、たたかれる、こすられる、ねじられる、など）を正確に検出することができなかった。
【０００５】
本発明に係る実施形態は、触感を正確に検出する触覚デバイスを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の実施形態に係る触覚デバイスは、弾性部に埋め込まれる第１の光ファイバを伝搬する測定光と第２の光ファイバを伝搬する参照光との干渉光を出力する光ファイバ干渉計と、前記干渉光に基づいて、前記測定光と前記参照光との位相差を検出する光位相同期回路と、を備える。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の実施形態に係る触覚デバイスによれば、触感を正確に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施形態に係る触覚デバイスの構成を示すブロック図である。
【図２Ａ】本実施形態に係る弾性部を説明するための斜視図である。
【図２Ｂ】本実施形態に係る弾性部を説明するための側面図である。
【図３】本実施形態に係る弾性部を覆う被覆部材の一例を示す模式図である。
【図４Ａ】本実施形態に係る弾性部を人間がたたく場合を説明するための模式図である。
【図４Ｂ】本実施形態に係る触覚デバイスが触感を検出する場合における検出結果の一例を示すグラフである。
【図５Ａ】本実施形態に係る弾性部を人間がこする場合を説明するための模式図である。
【図５Ｂ】本実施形態に係る触覚デバイスが触感を検出する場合における検出結果の一例を示すグラフである。
【図６Ａ】本実施形態に係る弾性部を人間がねじる場合を説明するための模式図である。
【図６Ｂ】本実施形態に係る触覚デバイスが触感を検出する場合における検出結果の一例を示すグラフである。
【図７Ａ】本実施形態に係る弾性部の表面の一例を示す模式図である。
【図７Ｂ】本実施形態に係る弾性部の表面の一例を示す模式図である。
【図７Ｃ】本実施形態に係る弾性部の表面の一例を示す模式図である。
【図７Ｄ】本実施形態に係る弾性部の表面の一例を示す模式図である。
【図７Ｅ】本実施形態に係る弾性部の表面の一例を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、実施形態に係る触覚デバイスについて説明する。なお、以下の説明において参照する図面は、実施形態を概略的に示したものであるため、各部材のスケールや間隔、位置関係などが誇張、あるいは、部材の一部の図示が省略されている場合がある。また、平面図とその断面図において、各部材のスケールや間隔が一致しない場合もある。また、以下の説明では、同一の名称及び符号については原則として同一又は同質の部材を示しており、詳細な説明を適宜省略することとする。また、本明細書において、「上」、「下」などは構成要素間の相対的な位置を示すものであって、絶対的な位置を示すことを意図したものではない。
【００１０】
≪触覚デバイス１００の構成≫
まず、図１を参照して、本実施形態に係る触覚デバイス１００の構成について説明する。
【００１１】
触覚デバイス１００は、光ファイバ干渉計１０と、光位相同期回路２０と、を備えている。
【００１２】
光ファイバ干渉計１０は、光源１１、第１のカプラ１２、第２のカプラ１５、センシングアーム１３、リファレンスアーム１４、などを備えている。光ファイバ干渉計１０は、その構成が特に限定されるものではないが、例えば、マッハ・ツェンダー型干渉計、マイケルソン型干渉計、などを適用することができる。光ファイバ干渉計１０は、光源１１が出射する光を２つの経路（センシングアーム１３、リファレンスアーム１４）に分割し、各々の経路を伝搬した２つの光が光検出器に到達する前に、当該２つの光を合成する。この際、２つの光における位相が異なっていた場合、光源１１が出射する元の光と比較して、干渉光の強度は変化する。触覚デバイス１００は、当該干渉光の強度変化に基づいて触感を検出することができる。
【００１３】
センシングアーム１３は、触覚をセンシングする機能を有しており、第１の光ファイバ１３０の伸縮に伴って位相変動する測定光を伝搬させる。センシングアーム１３は、第１の光ファイバ１３０、光減衰器１３１、第１の偏光調整素子１３２、エラストマー（弾性部）１３３、などを含む。センシングアーム１３は、一端が第１のカプラ１２に接続され、他端が第２のカプラ１５に接続されている。
【００１４】
光源１１は、第１のカプラ１２に光を照射する。光源１１が出射する光としては、例えば、レーザ光、等が挙げられる。光源１１がレーザ光を出射する場合、レーザ光の波長は、例えば、１４３０ｎｍ〜１５５０ｎｍであることが好ましい。光源１１としては、例えば、ＬＤ（Laser Diode）等を用いることができる。
【００１５】
第１のカプラ１２は、光源１１が出射する光を、第１の光ファイバ１３０を伝搬する測定光と第２の光ファイバ１４０を伝搬する参照光とに分割する。そして、第１のカプラ１２は、分割した一方の光（測定光）を光減衰器１３１へと入射させ、分割した他方の光（参照光）を位相変調器１４１へと入射させる。なお、分割する割合は、測定光を検出し易いように分割されることが好ましい。
【００１６】
第１の光ファイバ１３０、第２の光ファイバ１４０は、芯部のコアと芯部に対して外側に設けられる外側部のクラッドとを備え、例えば、透過率の高い石英ガラス、プラスチック、などで構成される。第１の光ファイバ１３０は、第１のカプラ１２によって分割された測定光を伝搬する。第２の光ファイバ１４０は、第１のカプラ１２によって分割された参照光を伝搬する。第１の光ファイバ１３０は、ここでは、光減衰器１３１、第１の偏光調整素子１３２、エラストマー１３３をつなぐように設けられている。第２の光ファイバ１４０は、ここでは、位相変調器１４１、光ファイバ伸縮器１４２、第２の偏光調整素子１４３をつなぐように設けられている。
【００１７】
光減衰器１３１は、センシングアーム１３に備えられ、第１のカプラ１２とエラストマー１３３との間に設けられる。光減衰器１３１は、第１のカプラ１２から入射する測定光の強度が、光検出器２１のダイナミックレンジに応じた適切な値となるように、測定光の減衰量を調整する。光減衰器１３１は、第１のカプラ１２から入射する測定光を、減衰させた後に第１の偏光調整素子１３２へと入射させる。
【００１８】
第１の偏光調整素子１３２は、第１の光ファイバ１３０に配置され、光減衰器１３１によって減衰された光の偏光状態を制御する。第１の偏光調整素子１３２は、例えば、波長板、偏光子などで構成され、当該素子に入射する光は、当該素子によって偏光状態が調整される。第１の偏光調整素子１３２によって、測定光の偏光状態を制御することで、第１の光ファイバ１３０内を伝搬する測定光の割合を増やし、触覚デバイス１００における検出精度を高めることができる。
【００１９】
エラストマー１３３は、所定の厚さを有し、平面視において、例えば、矩形状に形成されている。エラストマー１３３は、平面視において、例えば、四角形、三角形、六角形、などの多角形であっても良いし、円形、楕円形、などであっても良い。
詳細は後述するが、エラストマー１３３に対して、測定対象（例えば、人間）が何らかの動作（例えば、たたく、こする、ねじる）を行うことで、第１の光ファイバ１３０の状態が変化し、センシングアーム１３を伝搬する光の位相が変動する。一方、リファレンスアーム１４を伝搬する光の位相は変動しないため、測定光と参照光との間に位相差が生じる。触覚デバイス１００は、当該位相差を検出することで触感を検出する。
エラストマー１３３には、第１の光ファイバ１３０が埋め込まれている（図２参照）。図２Ａ、及び図２Ｂに示すように、第１の光ファイバ１３０は、エラストマー１３３の中心に貫通するように埋め込まれていることが好ましい。これにより、触覚デバイス１００は、人間がエラストマー１３３に対して施した動作に基づく位相変動を、均等に検出することができるため、触覚デバイス１００としての検出精度を高めることができる。
【００２０】
エラストマー１３３に用いられる材料としては、例えば、シリコーンゴム、エチレン−プロピレン共重合ゴム、天然ゴム、スチレン−ブタジエン共重合ゴム、アクリロニトリル−ブタジエン共重合ゴム、アクリルゴム、エピクロロヒドリンゴム、クロロスルホン化ポリエチレン、塩素化ポリエチレン、ウレタンゴムなどが挙げられる。
【００２１】
また、エラストマー１３３は、図３に示すように、表面を被覆する被覆部材１５０を有していてもよい。被覆部材１５０に用いられる材料としては、例えば、布や不織布、樹脂、などが挙げられる。また、被覆部材１５０は、不透明、透明、或いは半透明の何れの状態であってもよい。例えば、触覚デバイス１００をロボット装置に適用した場合、エラストマー１３３が被覆部材１５０によって被覆されることで、触覚デバイス１００を保護することができるとともに、測定対象（例えば、人間）に対する安全性を高めることもできる。
なお、エラストマー１３３が被覆部材１５０によって被覆される場合であっても、被覆部材１５０に対して、測定対象（例えば、人間）が何らかの動作（例えば、たたく、こする、ねじる）を行うことで、第１の光ファイバ１３０の状態が変化し、センシングアーム１３を伝搬する光の位相が変動する。従って、触覚デバイス１００は、エラストマー１３３が被覆部材１５０によって被覆される場合であっても、当該位相変動を検出することで、エラストマー１３３が被覆部材１５０によって被覆されない場合と同様の検出精度を維持することが可能である。
【００２２】
リファレンスアーム１４は、センシングアーム１３で測定した測定光に対して基準となる参照光を維持する機能を有しており、参照光を伝搬させる。リファレンスアーム１４は、第２の光ファイバ１４０、位相変調器１４１、光ファイバ伸縮器１４２、第２の偏光調整素子１４３、などを含む。リファレンスアーム１４は、一端が第１のカプラ１２に接続され、他端が第２のカプラ１５に接続されている。
【００２３】
位相変調器１４１は、リファレンスアーム１４に備えられ、第１のカプラ１２と光ファイバ伸縮器１４２との間に設けられる。位相変調器１４１は、第１のカプラ１２から入射する参照光の位相を変調し、変調後の光を光ファイバ伸縮器１４２及び任意波形発生器２２へと入射させる。位相変調器１４１は、例えば、電気光学変調器であり、屈折率の変化を利用して当該変調器に入射する参照光の位相を変調する。
【００２４】
光ファイバ伸縮器１４２は、リファレンスアーム１４に備えられ、位相変調器１４１と第２のカプラ１５との間に設けられる。光ファイバ伸縮器１４２は、圧電素子などを備えており、後述の圧電駆動部２７から入力される制御信号に基づいて、圧電素子を駆動させて、第２の光ファイバ１４０を伸縮させる。例えば、光ファイバ伸縮器１４２は、第２の光ファイバ１４０を伸ばすことで光路長を長くして、参照光の位相差を変化させ、測定光の位相差に合わせるように動作する（干渉光の位相ずれを補償する）。また、例えば、光ファイバ伸縮器１４２は、第２の光ファイバ１４０を縮ませることで光路長を短くして、参照光の位相差を変化させ、測定光の位相差に合わせるように動作する（干渉光の位相ずれを補償する）。
光ファイバ伸縮器１４２の構成は、特に限定されるものではなく、例えば、円筒型の圧電素子に光ファイバを多層巻きにした構成、フレームに光ファイバを巻き付けて圧電素子によって当該フレームを伸縮させる構成、などであってもよい。
【００２５】
第２の偏光調整素子１４３は、第２の光ファイバ１４０に配置され、リファレンスアーム１４を伝搬する参照光の偏光状態を制御する。第２の偏光調整素子１４３は、例えば、波長板、偏光子などで構成され、当該素子に入射する光は、当該素子によって偏光状態が調整される。第２の光ファイバ１４０内を伝搬する基準となる参照光の割合を増やし、触覚デバイス１００における検出精度を高めることができる。
【００２６】
第２のカプラ１５は、センシングアーム１３から出力される測定光とリファレンスアーム１４から出力される参照光とを合成する。そして、第２のカプラ１５は、測定光と参照光とを合成した干渉光を、光位相同期回路２０へと入射させる。
【００２７】
光位相同期回路２０は、光検出器２１、任意波形発生器２２、ミキサー２３、ローパスフィルタ２４、ＰＩＤ（Proportional Integral Derivative）回路２５、信号調整部２６、圧電駆動部２７、などを備えている。
【００２８】
光位相同期回路２０は、センシングアーム１３の位相変化に合わせて、リファレンスアーム１４の位相を変化させる回路である。例えば、光位相同期回路２０がオフの場合、位相差がそのまま光検出器２１の出力になる。例えば、光位相同期回路２０がオンの場合、所定時間で、位相差をゼロにするように光位相同期回路２０が動き、位相差が生じると、当該位相差が光検出器２１の出力になる。
【００２９】
光位相同期回路２０は、光ファイバ干渉計１０から送られた干渉光を検出し、当該干渉光に基づいて、測定光と参照光との位相差を検出すると共に、干渉光が基準値となるようにフィードバック制御を行う。当該位相差は、触覚デバイス１００における触感を反映している。また、光位相同期回路２０は、光ファイバ干渉計１０から入射する干渉光の位相を、予め設定された基準の参照光の位相と同期させるための制御信号を生成し、光ファイバ干渉計１０（具体的には、光ファイバ伸縮器１４２）へと出力する。即ち、光位相同期回路２０は、エラストマー１３３の触感を検出する検出機能と、干渉光の位相ずれを補償する補償機能と、を備える。光位相同期回路２０を用いることで、本実施形態に係る触覚デバイス１００は、従来の触覚デバイスと比較して、触感を正確に検出することができるという効果を奏する。
【００３０】
光検出器２１は、光ファイバ干渉計１０に接続され、光ファイバ干渉計１０から入射する干渉光を検出する。光検出器２１は、例えば、フォトダイオードであり、受光した干渉光の光信号を電圧信号へと変換し、ミキサー２３のＲＦ端子へと出力する。また、光検出器２１の出力は、オシロスコープによって検出される。
【００３１】
任意波形発生器２２は、位相変調器１４１とミキサー２３との間に設けられ、出力が位相変調器１４１とミキサー２３に入力される。任意波形発生回路２２が、リファレンスアーム１４にディザ（微小な位相変動）与えることで、位相差の検出感度を上げることが可能になる。
【００３２】
ミキサー２３は、入力端子として、光検出器２１と接続するＲＦ端子及び任意波形発生器２２と接続するＬＯ端子を備え、出力端子として、ローパスフィルタ２４と接続するＩＦ端子を備えている。ミキサー２３は、光検出器２１から入力される電圧信号と任意波形発生器２２から入力される電圧信号とをホモダイン検波して、測定光と参照光との位相差となる位相差信号を生成し、ローパスフィルタ２４へと出力する。
【００３３】
ローパスフィルタ２４は、ミキサー２３から入力される位相差信号のうち、所定の周波数より低い周波数の成分を略減衰させずに、所定の周波数より高い周波数の成分を減衰させる。即ち、ローパスフィルタ２４は、位相差信号の不要成分を除去して、ＰＩＤ回路２５へと出力する。なお、ここでいう不要成分とは、ノイズなどを指すものとする。
【００３４】
ＰＩＤ回路２５は、ローパスフィルタ２４から入力される位相差信号を検出する。当該位相差信号は、位相の変動成分のみを取り出した信号となるため、当該位相差信号を検出し、フィードバック制御を行うことで、触覚デバイス１００において、安定性の高い触感の検出を行うことが可能になる。
また、ＰＩＤ回路２５は、当該位相差信号に基づいて、干渉光の位相と参照光の位相とを近づけるような制御信号を生成し、信号調整部２６へと出力する。
例えば、ＰＩＤ回路２５は、位相差信号に基づいて、参照光の位相に対して干渉光の位相が遅れていることを検出した場合には、第２の光ファイバ１４０を短くする方向に変化させる制御信号を生成し、信号調整部２６へと出力する。また、例えば、ＰＩＤ回路２５は、位相差信号に基づいて、参照光の位相に対して干渉光の位相が進んでいることを検出した場合には、第２の光ファイバ１４０を長くする方向に変化させる制御信号を生成し、信号調整部２６へと出力する。
ＰＩＤ回路２５が、干渉光の位相と参照光の位相とを近づけるような制御信号を生成することで、測定光と参照光との位相差を減少させて、干渉光の位相ずれを補償することが可能になる。これにより、触覚デバイス１００は、安定性の高い検出を行うことが可能になる。なお、上記で説明したとおり、エラストマー１３３が被覆部材１５０によって被覆される場合であっても、触覚デバイス１００は、エラストマー１３３が被覆部材１５０によって被覆されない場合と同様の検出精度を維持することが可能である。
【００３５】
信号調整部２６は、ＰＩＤ回路２５から入力される制御信号が、光ファイバ伸縮器１４２に備えられる圧電素子を駆動させる駆動電圧として適切な値となるように、当該制御信号を調整し、圧電駆動部２７へと出力する。信号調整部２６は、例えば、比較器、スイッチ回路及び加算回路などを備え、ＰＩＤ回路２５の後段でフィードバック信号（ＰＩＤ回路２５から入力される制御信号）を調整する回路とすることができる。
【００３６】
圧電駆動部２７は、信号調整部２６から入力される制御信号に基づいて、光ファイバ伸縮器１４２に備えられる圧電素子を駆動させるための駆動電圧を生成し、光ファイバ伸縮器１４２へと出力する。光ファイバ伸縮器１４２に備えられる圧電素子は、当該駆動電圧に基づいて駆動する。例えば、参照光の位相に対して干渉光の位相が進んでいることが検出された場合、圧電駆動部２７が所定の駆動電圧を圧電素子に印加すると、第２の光ファイバ１４０が伸びることで光路長が長くなる。また、例えば、参照光の位相に対して干渉光の位相が遅れていることが検出された場合、圧電駆動部２７が所定の駆動電圧を圧電素子に印加すると、第２の光ファイバ１４０が縮むことで光路長が短くなる。即ち、圧電駆動部２７によって第２の光ファイバ１４０の伸縮が制御されることで、参照光の位相は、厳密に制御される。
【００３７】
上述の光位相同期回路２０が、ノイズや電磁干渉などによる位相変動を吸収し、必要な位相差信号のみを取り出すことで、測定光と参照光との位相差を高精度に検出することができる。また、上述の光位相同期回路２０が、位相差信号に基づいて、圧電素子の駆動電圧を生成し、光ファイバ伸縮器１４２へとフィードバックすることで、干渉光の位相ずれを補償し、検出安定性を向上させることができる。
【００３８】
≪検出結果≫
本実施形態に係る触覚デバイス１００によって検出された触感を、具体的に、電圧波形として表した検出結果を、図５乃至図７に示す。なお、電圧波形の検出には、オシロスコープを用いている。
【００３９】
図４Ａは、本実施形態に係るエラストマー１３３を人間がたたく場合を示しており、図４Ｂは、この場合における検出結果を示している。横軸は時間を、縦軸は電圧を表している。
【００４０】
図４Ａに示すように、エラストマー１３３を人間が３回たたくと、図４Ｂに示すように、電圧波形には、３つの顕著なピークが現れることがわかる。即ち、人間によってたたかれるという触感が、図４Ｂに示す電圧波形に正確に表示されていることがわかる。
従って、触覚デバイス１００は、測定光と参照光との位相差を検出することで、人間の皮膚と同様に、たたかれるという触感を正確に検出可能であることがわかった。
【００４１】
図５Ａは、本実施形態に係るエラストマー１３３を人間がこする場合を示しており、図５Ｂは、この場合における検出結果を示している。横軸は時間を、縦軸は電圧を表している。
【００４２】
図５Ａに示すように、エラストマー１３３を人間が矢印方向にこすると、図５Ｂに示すように、電圧波形には、正弦波が現れることがわかる。即ち、人間によってこすられるという触感が、図５Ｂに示す電圧波形に正確に表示されていることがわかる。
従って、触覚デバイス１００は、測定光と参照光との位相差を検出することで、人間の皮膚と同様に、こすられるという触感を正確に検出可能であることがわかった。
【００４３】
図６Ａは、本実施形態に係るエラストマー１３３を人間がねじる場合を示しており、図６Ｂは、この場合における検出結果を示している。横軸は時間を、縦軸は電圧を表している。
【００４４】
図６Ａに示すように、エラストマー１３３を人間が矢印方向にねじると、図６Ｂに示すように、電圧波形には、ジグザグ波が現れることがわかる。即ち、人間によってねじられるという触感が、図６Ｂに示す電圧波形に正確に表示されていることがわかる。
従って、触覚デバイス１００は、測定光と参照光との位相差を検出することで、人間の皮膚と同様に、ねじられるという触感を正確に検出できることがわかった。
【００４５】
上述のように、本実施形態に係る触覚デバイス１００によれば、光位相同期回路２０を用いて、測定光と参照光との位相差を検出し、参照光の位相ずれを補償することで、触感を検出する。これにより、触感の検出安定性が低いという従来の触覚デバイスに生じる問題点を回避し、触感を正確に検出可能な触覚デバイス１００を実現できる。
【００４６】
≪変形例≫
次に、本実施形態に係るエラストマー１３３の変形例について説明する。図７は、本実施形態の変形例に係るエラストマー１３３の全体構成を示す図である。図７に示すように、エラストマー１３３は、表面に凹凸を有していてもよい。
例えば、図７Ａに示すように、エラストマー１３３は、表面に、柱状の突起をランダムに有していてもよい。
例えば、図７Ｂに示すように、エラストマー１３３は、表面に、渦巻き形状の凸部を有していてもよい。
例えば、図７Ｃに示すように、エラストマー１３３は、表面に、複数の円柱を規則的に有していてもよい。
例えば、図７Ｄに示すように、エラストマー１３３は、表面に、複数の矩形状の柱を規則的に有していてもよい。
例えば、図７Ｅに示すように、エラストマー１３３は、表面に、ラビリンス構造の凸部を有していてもよい。
エラストマー１３３の表面に凹凸が形成されることで、エラストマー１３３の表面を人間の指が移動する距離をより厳密に検出することが可能になる。また、指などの表面のスライディングの方向の依存性を用途に合わせることができる。これにより、触覚デバイス１００としての検出精度を高めることができる。
【００４７】
以上、発明を実施するための形態により具体的に説明したが、本発明の趣旨はこれらの記載に限定されるものではなく、特許請求の範囲の記載に基づいて広く解釈されなければならない。また、これらの記載に基づいて種々変更、改変などしたものも本発明の趣旨に含まれることはいうまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００４８】
本開示の実施形態に係る触覚デバイスは、ロボット装置、人工皮膚などに利用することができる。
【符号の説明】
【００４９】
１０    光ファイバ干渉計
１１    光源
１２    第１のカプラ
１５    第２のカプラ１５
２０    光位相同期回路
１００  触覚デバイス
１３０  第１の光ファイバ
１３３  エラストマー（弾性部）
１４０  第２の光ファイバ
１５０  被覆部材
【図１】
2019144070.tif 000003
【図２Ａ】
2019144070.tif 000004
【図２Ｂ】
2019144070.tif 000005
【図３】
2019144070.tif 000006
【図４Ａ】
2019144070.tif 000007
【図４Ｂ】
2019144070.tif 000008
【図５Ａ】
2019144070.tif 000009
【図５Ｂ】
2019144070.tif 000010
【図６Ａ】
2019144070.tif 000011
【図６Ｂ】
2019144070.tif 000012
【図７Ａ】
2019144070.tif 000013
【図７Ｂ】
2019144070.tif 000014
【図７Ｃ】
2019144070.tif 000015
【図７Ｄ】
2019144070.tif 000016
【図７Ｅ】
2019144070.tif 000017