(57)【要約】【課題】被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号のうちの所望の被測定信号に対して信号解析処理を行うことが可能な信号分析装置及び信号分析方法を提供する。【解決手段】ＤＵＴ１から逐次出力される被測定信号Ｓｉｇを周波数変換する周波数変換部１０と、周波数変換部１０により周波数変換された被測定信号Ｓｉｇをサンプリングしてディジタルデータに変換するＡＤＣ２０と、前記ディジタルデータを一時的に記憶するバッファメモリ３１と、ＤＵＴ１から被測定信号Ｓｉｇに同期して出力される外部トリガ信号Ｅｔｒｇの数をカウントするトリガカウンタ３２と、トリガカウンタ３２のカウント値が操作部４０により入力された設定値に到達した場合に、前記設定値に対応する外部トリガ信号Ｅｔｒｇに同期した被測定信号Ｓｉｇのディジタルデータをバッファメモリ３１から読み出すデータ読出部３３，３４と、を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号（Ｓｉｇ）に対して信号解析処理を行う信号分析装置（１００）であって、
操作入力を受け付ける操作部（４０）と、
各前記被測定信号を周波数変換する周波数変換部（１０）と、
前記周波数変換部により周波数変換された各前記被測定信号をサンプリングしてディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器（２０）と、
前記ディジタルデータを一時的に記憶するバッファメモリ（３１）と、
前記被試験対象から各前記被測定信号に同期して出力される外部トリガ信号（Ｅｔｒｇ）の数をカウントするトリガカウンタ（３２）と、
前記トリガカウンタのカウント値が前記操作部により入力された設定値に到達した場合に、前記設定値に対応する前記外部トリガ信号に同期した前記被測定信号の前記ディジタルデータを前記バッファメモリから読み出すデータ読出部（３３，３４）と、
前記データ読出部により読み出された前記ディジタルデータに対して所定の信号解析処理を行う解析処理部（３６）と、を備えることを特徴とする信号分析装置。
【請求項２】
被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号（Ｓｉｇ）に対して信号解析処理を行う信号分析装置（１００）であって、
操作入力を受け付ける操作部（４０）と、
各前記被測定信号を周波数変換する周波数変換部（１０）と、
前記周波数変換部により周波数変換された各前記被測定信号をサンプリングしてディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器（２０）と、
前記ディジタルデータを一時的に記憶するバッファメモリ（３１）と、
前記周波数変換部により周波数変換された各前記被測定信号の信号レベルがあらかじめ定められた閾値を横切ったタイミングで、内部トリガ信号（Ｉｔｒｇ）を発生させる内部トリガ信号発生部（５０）と、
前記内部トリガ信号発生部から出力された前記内部トリガ信号の数をカウントするトリガカウンタ（３２）と、
前記トリガカウンタのカウント値が前記操作部により入力された設定値に到達した場合に、前記設定値に対応する前記内部トリガ信号に同期した前記被測定信号の前記ディジタルデータを前記バッファメモリから読み出すデータ読出部（３３，３４）と、
前記データ読出部により読み出された前記ディジタルデータに対して所定の信号解析処理を行う解析処理部（３６）と、を備えることを特徴とする信号分析装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載の信号分析装置を用いる信号分析方法であって、
前記外部トリガ信号又は前記内部トリガ信号の数をカウントするステップ（Ｓ５）と、
前記トリガカウンタのカウント値が前記操作部により入力された設定値に到達した場合に、前記設定値に対応する前記外部トリガ信号又は前記内部トリガ信号に同期した前記被測定信号の前記ディジタルデータを前記バッファメモリから読み出すデータ読出ステップ（Ｓ８）と、
前記データ読出ステップで読み出された前記ディジタルデータに対して所定の信号解析処理を行う解析処理ステップ（Ｓ９）と、を含むことを特徴とする信号分析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、信号分析装置及び信号分析方法に関し、特に、トリガ信号を用いてアナログの被測定信号の取り込みと信号解析を実行する信号分析装置及び信号分析方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
被試験対象（Device Under Test：ＤＵＴ）から出力されるＲＦ信号を被測定信号として受信し、当該被測定信号に対して信号解析処理を行うシグナルアナライザやスペクトラムアナライザなどの信号分析装置が従来から知られている。
【０００３】
信号分析装置は、入力された被測定信号の搬送波周波数を中間周波数に変換する周波数変換部と、中間周波数を含む所定の通過帯域の信号成分のみを通過させる中間周波（ＩＦ）フィルタと、ＩＦフィルタを通過した被測定信号（ＩＦ信号）を所定のサンプリングレートでサンプリングしてディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）と、を備えている。
【０００４】
さらに、信号分析装置は、ＡＤＣから出力されたディジタルデータをディジタル信号処理することにより、被測定信号の振幅波形や周波数スペクトラム波形等の画像情報を生成して、これらの画像情報を表示装置に表示させるように構成されている。
【０００５】
信号分析装置には、被測定信号の取り込み及び信号解析処理を開始するためのトリガ機能を備えたものがある。トリガ機能の中には、表示装置に表示される波形信号であるビデオ信号のレベルがある閾値を超えた（あるいは下回った）タイミングでトリガが掛かる「ビデオトリガ」、広い通過帯域のＩＦ信号のレベルがある閾値を超えた（あるいは下回った）タイミングでトリガが掛かる「ワイドＩＦトリガ」、外部から入力されたトリガ信号の立上りエッジ又は立下りエッジの少なくともいずれかのタイミングでトリガが掛かる「外部トリガ」などがある。
【０００６】
トリガ機能を備えた信号分析装置として、ディジタル変調された信号を復調してシリアルデータ列を生成し、このシリアルデータ列に基づいてトリガ信号を発生する装置が既に提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特許第３４２４９９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献１に開示されたような従来の信号分析装置は、それぞれがトリガ信号に対応付けられた複数の被測定信号が連続的に入力される場合、ある被測定信号の取り込み及び信号解析処理が完了した時点から最初に検知したトリガ信号に対応する被測定信号を自動的に取り込むようになっている。このため、ある被測定信号の取り込み及び信号解析処理が行われている期間に１以上の被測定信号が信号分析装置に入力されるような状況では、ユーザの所望の被測定信号を取り込むことができない場合があるという問題があった。
【０００９】
例えば、図４に一例を示すように、ＤＵＴから逐次出力される複数の被測定信号Ｓｉｇのうちの１番目の被試験信号Ｓｉｇ１の取り込み及び信号解析処理が自動的に実行された場合には、所望の被試験信号が３番目に信号分析装置に入力された被試験信号Ｓｉｇ３であったとしても、被試験信号Ｓｉｇ３の取り込み及び信号解析処理を行うことが不可能になる。
【００１０】
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号のうちの所望の被測定信号に対して信号解析処理を行うことが可能な信号分析装置及び信号分析方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、本発明に係る信号分析装置は、被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号に対して信号解析処理を行う信号分析装置であって、操作入力を受け付ける操作部と、各前記被測定信号を周波数変換する周波数変換部と、前記周波数変換部により周波数変換された各前記被測定信号をサンプリングしてディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、前記ディジタルデータを一時的に記憶するバッファメモリと、前記被試験対象から各前記被測定信号に同期して出力される外部トリガ信号の数をカウントするトリガカウンタと、前記トリガカウンタのカウント値が前記操作部により入力された設定値に到達した場合に、前記設定値に対応する前記外部トリガ信号に同期した前記被測定信号の前記ディジタルデータを前記バッファメモリから読み出すデータ読出部と、前記データ読出部により読み出された前記ディジタルデータに対して所定の信号解析処理を行う解析処理部と、を備える構成である。
【００１２】
この構成により、本発明に係る信号分析装置は、被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号のうちの所望の被測定信号に対して信号解析処理を行うことができる。
【００１３】
また、本発明に係る信号分析装置は、被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号に対して信号解析処理を行う信号分析装置であって、操作入力を受け付ける操作部と、各前記被測定信号を周波数変換する周波数変換部と、前記周波数変換部により周波数変換された各前記被測定信号をサンプリングしてディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、前記ディジタルデータを一時的に記憶するバッファメモリと、前記周波数変換部により周波数変換された各前記被測定信号の信号レベルがあらかじめ定められた閾値を横切ったタイミングで、内部トリガ信号を発生させる内部トリガ信号発生部と、前記内部トリガ信号発生部から出力された前記内部トリガ信号の数をカウントするトリガカウンタと、前記トリガカウンタのカウント値が前記操作部により入力された設定値に到達した場合に、前記設定値に対応する前記内部トリガ信号に同期した前記被測定信号の前記ディジタルデータを前記バッファメモリから読み出すデータ読出部と、前記データ読出部により読み出された前記ディジタルデータに対して所定の信号解析処理を行う解析処理部と、を備える構成である。
【００１４】
この構成により、本発明に係る信号分析装置は、被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号のうちの所望の被測定信号に対して信号解析処理を行うことができる。
【００１５】
また、本発明に係る信号分析方法は、上記のいずれかの信号分析装置を用いる信号分析方法であって、前記外部トリガ信号又は前記内部トリガ信号の数をカウントするステップと、前記トリガカウンタのカウント値が前記操作部により入力された設定値に到達した場合に、前記設定値に対応する前記外部トリガ信号又は前記内部トリガ信号に同期した前記被測定信号の前記ディジタルデータを前記バッファメモリから読み出すデータ読出ステップと、前記データ読出ステップで読み出された前記ディジタルデータに対して所定の信号解析処理を行う解析処理ステップと、を含む。
【００１６】
この構成により、本発明に係る信号分析方法は、被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号のうちの所望の被測定信号に対して信号解析処理を行うことができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明は、被試験対象から逐次出力される複数の被測定信号のうちの所望の被測定信号に対して信号解析処理を行うことが可能な信号分析装置及び信号分析方法を提供するものである。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施形態に係る信号分析装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態に係る信号分析装置の処理とトリガ信号のタイミングを説明するための説明図である。
【図３】本発明の実施形態に係る信号分析装置を用いる信号分析方法の処理を説明するためのフローチャートである。
【図４】従来の信号分析装置の処理とトリガ信号のタイミングを説明するための説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明に係る信号分析装置及び信号分析方法の実施形態について、図面を用いて説明する。
【００２０】
図１に示すように、本発明の実施形態に係る信号分析装置１００は、周波数変換部１０と、Ａ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）２０と、ディジタル信号処理部３０と、操作部４０と、表示部４１と、制御部４２と、を備え、ＤＵＴ１から逐次出力される複数の被測定信号Ｓｉｇに対して信号解析処理を行うものである。
【００２１】
さらに、信号分析装置１００は、ＲＦ信号入力端子４３と、トリガ信号入力端子４４と、分岐部４５と、内部トリガ信号発生部５０と、を備える。
【００２２】
ＤＵＴ１は、例えば無線通信アンテナとＲＦ回路を有する無線端末機器や基地局などである。ＤＵＴ１の通信規格としては、例えば、セルラ（ＬＴＥ、ＬＴＥ−Ａ、Ｗ−ＣＤＭＡ（登録商標）、ＧＳＭ（登録商標）、ＣＤＭＡ２０００、１ｘＥＶ−ＤＯ、ＴＤ−ＳＣＤＭＡ等）、無線ＬＡＮ（ＩＥＥＥ８０２．１１ｂ／ｇ／ａ／ｎ／ａｃ／ａｄ等）、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、ＧＮＳＳ（ＧＰＳ、Ｇａｌｉｌｅｏ、ＧＬＯＮＡＳＳ、ＢｅｉＤｏｕ等）、ＦＭ、及びディジタル放送（ＤＶＢ−Ｈ、ＩＳＤＢ−Ｔ等）が挙げられる。
【００２３】
ＤＵＴ１と周波数変換部１０とは、ＲＦ信号入力端子４３を介して同軸ケーブルで接続されてもよく、あるいは、無線通信で接続されてもよい。また、ＤＵＴ１が各被測定信号Ｓｉｇに同期した外部トリガ信号Ｅｔｒｇを出力するものである場合には、ＤＵＴ１とディジタル信号処理部３０とは、トリガ信号入力端子４４を介して同軸ケーブルで接続される。
【００２４】
周波数変換部１０は、ＤＵＴ１から出力された各被測定信号Ｓｉｇを周波数変換するものであり、アッテネータ（ＡＴＴ）１１と、局部発振器１２と、ミキサ１３と、増幅器１４と、ＩＦフィルタ１５と、ＩＦ増幅器１６と、を有する。
【００２５】
ＡＴＴ１１は、内部に抵抗を有し、ＤＵＴ１からの高周波の被測定信号Ｓｉｇを後段のディジタル信号処理部３０において処理可能な信号レベルに減衰させるためのもので、インピーダンスを変化させない電子部品である。
【００２６】
局部発振器１２は、ローカル信号として、元の被測定信号Ｓｉｇの周波数の値よりも変換先の周波数の値の分だけ高い周波数あるいは低い周波数の正弦波を発生させるものである。局部発振器１２から発振されるローカル信号の周波数は、所望の解析帯域に応じて制御部４２により設定される。
【００２７】
ミキサ１３は、ＡＴＴ１１で減衰された周波数ｆＳの被測定信号Ｓｉｇと、局部発振器１２から発振された周波数ｆＬのローカル信号とを混合し、２つの信号の和及び差の周波数成分を含む出力信号を生成するものである。
【００２８】
増幅器１４は、ミキサ１３からの出力信号を増幅してＩＦフィルタ１５に出力するものである。
【００２９】
ＩＦフィルタ１５は、アナログのバンドパス・フィルタなどで構成され、増幅器１４からの出力信号をフィルタリングするようになっている。ＩＦフィルタ１５は、ミキサ１３によって被測定信号Ｓｉｇとローカル信号とを混合させた中間周波数｜ｆＬ−ｆＳ｜又はｆＬ＋ｆＳが所定の周波数範囲内にあるときに、これらの中間周波数の中間周波数信号を出力する。
【００３０】
ＩＦ増幅器１６は、ＩＦフィルタ１５から出力される中間周波数信号を増幅する固定利得の増幅器である。
【００３１】
分岐部４５は、ＩＦ増幅器１６の出力をＡＤＣ２０及び内部トリガ信号発生部５０に入力するように構成されている。
【００３２】
ＡＤＣ２０は、ＩＦ増幅器１６から出力された中間周波数信号、すなわち周波数変換部１０により周波数変換された各被測定信号Ｓｉｇを所定のサンプリングレートでサンプリングして、ディジタルデータに変換する。ＡＤＣ２０は、このディジタルデータをディジタル信号処理部３０に出力するようになっている。
【００３３】
内部トリガ信号発生部５０は、「ワイドＩＦトリガ」を実行するための内部トリガ信号Ｉｔｒｇを発生させるものであり、検波器５１と、トリガ回路５２と、を有する。
【００３４】
検波器５１は、例えば包絡線検波器であり、ＩＦ増幅器１６で増幅された中間周波数信号を直流に変換するようになっている。
【００３５】
トリガ回路５２は、検波器５１からの出力信号、すなわち周波数変換部１０により周波数変換された各被測定信号Ｓｉｇの信号レベル（振幅レベル又はパワーレベル）があらかじめ定められた閾値を横切ったタイミングで、内部トリガ信号Ｉｔｒｇを発生させるようになっている。ここで、閾値を横切ったタイミングとは、検波器５１からの出力信号のレベルがある閾値を超えたタイミングと下回ったタイミングとのいずれかを指す。
【００３６】
ディジタル信号処理部３０は、例えば、バッファメモリ３１と、トリガカウンタ３２と、波形データ読出指示部３３と、波形データ記憶部３４と、直交復調部３５と、解析処理部３６と、を含む。波形データ読出指示部３３及び波形データ記憶部３４はデータ読出部を構成する。
【００３７】
バッファメモリ３１は、ＡＤＣ２０から出力された被測定信号Ｓｉｇのディジタルデータを一時的に記憶するようになっている。バッファメモリ３１は、有限個数のディジタルデータを連続的に記憶可能であり、その有限個数を超えて入力された最新のディジタルデータで最古のディジタルデータを更新するようになっている。
【００３８】
トリガカウンタ３２は、ＤＵＴ１から各被測定信号Ｓｉｇに同期して出力される外部トリガ信号Ｅｔｒｇがトリガ信号入力端子４４に入力される場合に、外部トリガ信号Ｅｔｒｇの数をカウントするようになっている。また、トリガカウンタ３２は、外部トリガ信号Ｅｔｒｇがトリガ信号入力端子４４に入力されない場合に、トリガ回路５２から各被測定信号Ｓｉｇに同期して出力される内部トリガ信号Ｉｔｒｇの数をカウントするようになっている。
【００３９】
波形データ読出指示部３３は、トリガカウンタ３２のカウント値が操作部４０により入力された設定値に到達した場合に、当該設定値に対応する外部トリガ信号Ｅｔｒｇ又は内部トリガ信号Ｉｔｒｇに同期した被測定信号Ｓｉｇのディジタルデータをバッファメモリ３１から読み出すための読出指示信号を、波形データ記憶部３４に出力するようになっている。
【００４０】
波形データ記憶部３４は、波形データ読出指示部３３から読出指示信号が入力されたタイミングで、１つの被測定信号Ｓｉｇの波形データに相当するＭ個のディジタルデータをバッファメモリ３１から読み出し、読み出したＭ個のディジタルデータを記憶する。すなわち、バッファメモリ３１及び波形データ記憶部３４において被測定信号Ｓｉｇの取り込みが行われる。なお、バッファメモリ３１は、Ｍ個以上のディジタルデータを記憶可能な記憶容量を有している必要がある。
【００４１】
例えば、図２に一例を示すように、ＤＵＴ１から逐次出力される複数の被測定信号Ｓｉｇのうちの３番目の被測定信号Ｓｉｇ３に対して取り込み及び信号解析処理を実行したい場合には、操作部４０により設定値として"３"が設定されればよい。この場合、波形データ読出指示部３３は、１番目と２番目の被測定信号Ｓｉｇ１，Ｓｉｇ２に同期した外部トリガ信号Ｅｔｒｇ又は内部トリガ信号Ｉｔｒｇについては読出指示信号を出力せず、３番目の被測定信号Ｓｉｇ３に同期した外部トリガ信号Ｅｔｒｇ又は内部トリガ信号Ｉｔｒｇについては読出指示信号を出力する。なお、設定値は操作部４０により複数個設定可能である。
【００４２】
なお、トリガカウンタ３２は、カウント値が設定値に到達した場合にカウント値を"０"にリセットする機能を備えていてもよい。例えば設定値が"３"であれば、カウント値は"０"→"１"→"２"→"３"→"０"→"１"→"２"→"３"→・・・のように変化し、３×Ｎ番目（Ｎは自然数）の被測定信号Ｓｉｇ３×Ｎに対して信号解析処理を実行することが可能になる。
【００４３】
直交復調部３５は、波形データ記憶部３４に記憶された被測定信号Ｓｉｇの波形データを直交復調して、互いに直交する直交信号Ｉ（ｔ）及びＱ（ｔ）を生成するようになっている。直交復調部３５としては、例えばヒルベルト変換を利用した直交分配器を用いることができる。
【００４４】
解析処理部３６は、直交復調部３５から出力された直交信号Ｉ（ｔ）及びＱ（ｔ）に対して、ディジタルフィルタ処理等のディジタル信号処理を施すようになっている。さらに、解析処理部３６は、上記のディジタル信号処理が施された直交信号Ｉ（ｔ）及びＱ（ｔ）を用いて所定の信号解析処理を行う。解析処理部３６が実行する信号解析処理としては、例えば、被測定信号Ｓｉｇの振幅、位相、周波数などの時間変化を示す時系列データやスペクトラムの生成、チャネルパワー、占有帯域幅、隣接チャネル漏洩電力、バースト平均電力などの被測定信号Ｓｉｇの品質を評価するための測定が挙げられる。
【００４５】
制御部４２は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、信号分析装置１００を構成する上記各部の動作を制御する。
【００４６】
なお、ディジタル信号処理部３０は、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）などのディジタル回路で構成することや、制御部４２による所定のプログラムの実行によりソフトウェア的に構成することが可能である。あるいは、ディジタル信号処理部３０は、ディジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。
【００４７】
表示部４１は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、解析処理部３６による解析処理結果などを表示するようになっている。
【００４８】
操作部４０は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示部４１の表示画面に設けられたタッチパネルで構成される。あるいは、操作部４０は、キーボード又はマウスのような入力デバイスを含んで構成されてもよい。また、操作部４０は、リモートコマンドなどによる遠隔制御を行う外部制御装置で構成されてもよい。
【００４９】
操作部４０による入力操作は、制御部４２により検知されるようになっている。例えば、操作部４０により、所望の被測定信号Ｓｉｇに対して取り込み及び信号解析処理を実行するためのトリガカウンタ３２のカウント値の設定値をユーザが指定することができる。さらに、操作部４０により、ＤＵＴ１からの外部トリガ信号Ｅｔｒｇをトリガ信号入力端子４４に入力する構成にするか否かをユーザが指定することができるようになっていてもよい。
【００５０】
以下、本実施形態に係る信号分析装置１００を用いる信号分析方法について、図３のフローチャートを参照しながらその処理の一例を説明する。
【００５１】
まず、ユーザによる操作部４０の操作により、所望の被測定信号Ｓｉｇの取り込み及び信号解析処理を実行するためのトリガカウンタ３２のカウント値の設定値の入力や、ＤＵＴ１からの外部トリガ信号Ｅｔｒｇをトリガ信号入力端子４４に入力する構成にするか否かを指定するための入力などが行われる（ステップＳ１）。
【００５２】
次に、周波数変換部１０は、ＤＵＴ１から出力された被測定信号Ｓｉｇを周波数変換する処理を開始する（周波数変換ステップＳ２）。
【００５３】
次に、ＡＤＣ２０は、ステップＳ２で周波数変換された各被測定信号Ｓｉｇをサンプリングしてディジタルデータに変換する処理を開始する（Ａ／Ｄ変換ステップＳ３）。
【００５４】
次に、バッファメモリ３１は、ステップＳ３で生成されたディジタルデータの記憶を開始する（ステップＳ４）。
【００５５】
次に、トリガカウンタ３２は、各被測定信号Ｓｉｇに同期した外部トリガ信号Ｅｔｒｇ又は内部トリガ信号Ｉｔｒｇの数をカウントする（ステップＳ５）。
【００５６】
次に、波形データ読出指示部３３は、ステップＳ５で得られたカウント値が、ステップＳ１で入力された設定値に到達したか否かを判定する（ステップＳ６）。否定判定の場合にはステップＳ５に戻り、肯定判定の場合にはステップＳ７に進む。
【００５７】
次に、波形データ読出指示部３３は、ステップＳ１で入力された設定値に対応する外部トリガ信号Ｅｔｒｇ又は内部トリガ信号Ｉｔｒｇに同期した被測定信号Ｓｉｇのディジタルデータをバッファメモリ３１から読み出すための読出指示信号を、波形データ記憶部３４に出力する（ステップＳ７）。
【００５８】
次に、波形データ記憶部３４は、バッファメモリ３１に記憶された複数のディジタルデータの中から、ステップＳ１で入力されたカウント値の設定値に対応する被測定信号Ｓｉｇの波形データを読み出し、読み出した波形データを記憶する（データ読出ステップＳ８）。
【００５９】
次に、解析処理部３６は、ステップＳ８で読み出された波形データに対して所定の信号解析処理を行う（解析処理ステップＳ９）。
【００６０】
次に、制御部４２は、ステップＳ１で入力されたカウント値の設定値に対応する全ての被測定信号Ｓｉｇに対して、ステップＳ９の信号解析処理が実行されたか否かを判定する（ステップＳ１０）。否定判定の場合にはステップＳ５に戻り、肯定判定の場合には処理を終了する。
【００６１】
以上説明したように、本実施形態に係る信号分析装置１００は、被測定信号Ｓｉｇに同期して出力される外部トリガ信号Ｅｔｒｇの数をカウントする機能を備えることにより、ＤＵＴ１から逐次出力される複数の被測定信号Ｓｉｇのうちの所望の被測定信号に対して信号解析処理を行うことができる。
【００６２】
また、本実施形態に係る信号分析装置１００は、「ワイドＩＦトリガ」を実行するための内部トリガ信号Ｉｔｒｇの数をカウントする機能を備えることにより、ＤＵＴ１から逐次出力される複数の被測定信号Ｓｉｇのうちの所望の被測定信号に対して信号解析処理を行うことができる。
【符号の説明】
【００６３】
１  ＤＵＴ
１０  周波数変換部
２０  ＡＤＣ
３０  ディジタル信号処理部
３１  バッファメモリ
３２  トリガカウンタ
３３  波形データ読出指示部
３４  波形データ記憶部
３５  直交復調部
３６  解析処理部
４０  操作部
４１  表示部
４２  制御部
５０  内部トリガ信号発生部
５１  検波器
５２  トリガ回路
１００  信号分析装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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