(57)【要約】【課題】デバイスの性能の評価指標とする標準偏差を効率よく算出する。【解決手段】コンピュータが、デバイスが備える複数の素子のそれぞれが出力した複数の信号値を含むセンサ出力を所定数だけ取得する処理と並列に、取得したセンサ出力に含まれる信号値毎に、該信号値と予め定めた基準出力の信号値との偏差の２乗を算出し該偏差の２乗をメモリに記憶させた偏差の２乗の和に加算して該偏差の２乗の和を更新するとともに、該信号値をメモリに記憶させた積算値に加算して該積算値を更新する処理を、センサ出力単位で繰り返す第１の処理、所定数のセンサ出力の全てを取得し偏差の２乗の和及び積算値を更新した後、基準出力の信号値、偏差の２乗の和、及び積算値に基づいて、デバイスの素子が出力した信号値の標準偏差を算出する第２の処理、及び算出した信号値の標準偏差をデバイスの性能の評価指標として外部装置に出力する処理を実行するデバイス評価方法。【選択図】図３
2019090621.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータが、
デバイスが備える複数の素子のそれぞれが出力した複数の信号値を含むセンサ出力を所定数だけ取得する処理と並列に、
取得した前記センサ出力に含まれる前記信号値毎に、該信号値と予め定めた基準出力の信号値との偏差の２乗を算出して該偏差の２乗をメモリに記憶させた偏差の２乗の和に加算して該偏差の２乗の和を更新するとともに、該信号値を前記メモリに記憶させた積算値に加算して該積算値を更新する処理を、前記センサ出力単位で繰り返し、
所定数のセンサ出力を取得して前記メモリに記憶させた前記偏差の２乗の和及び前記積算値を更新した後、前記基準出力の信号値、前記偏差の２乗の和、及び前記積算値に基づいて、前記デバイスの前記素子が出力した信号値の標準偏差を算出し、
算出した前記信号値の標準偏差を前記デバイスの性能の評価指標として外部装置に出力する、
処理を実行することを特徴とするデバイス評価方法。
【請求項２】
前記センサ出力を取得しながら前記偏差の２乗の和を更新するとともに前記積算値を更新する処理では、前記コンピュータは、更新後の前記偏差の２乗の和及び前記積算値に前記信号値が含まれるセンサ出力を前記メモリから削除する、
ことを特徴とする請求項１に記載のデバイス評価方法。
【請求項３】
前記コンピュータは、標準偏差の算出に用いる複数の前記センサ出力のうちの、前記デバイスから最初に取得したセンサ出力の信号値を、前記基準出力の信号値として前記メモリに記憶させる、
ことを特徴とする請求項１に記載のデバイス評価方法。
【請求項４】
前記センサ出力を取得しながら前記偏差の２乗の和を更新するとともに前記積算値を更新する処理では、前記コンピュータは、前記偏差の２乗の和及び前記積算値を更新する毎に、偏差の２乗の和の算出対象となったセンサ出力の信号値に基づいて、前記基準出力の信号値を更新する、
ことを特徴とする請求項１に記載のデバイス評価方法。
【請求項５】
前記センサ出力を取得しながら前記偏差の２乗の和を更新するとともに前記積算値を更新する処理では、前記コンピュータは、前記偏差の２乗の和及び前記積算値を更新する毎に、前記デバイスから新たなセンサ出力を取得する、
ことを特徴とする請求項１に記載のデバイス評価方法。
【請求項６】
デバイスが備える複数の素子のそれぞれが出力した複数の信号値を含むセンサ出力を所定数だけ取得する処理と並列に、取得した前記センサ出力に含まれる前記信号値毎に、該信号値と予め定めた基準出力の信号値との偏差の２乗を算出し、該偏差の２乗を記憶部に記憶させた偏差の２乗の和に加算して該偏差の２乗の和を更新するとともに、該信号値を前記記憶部に記憶させた積算値に加算して該積算値を更新する処理を前記センサ出力単位で繰り返す逐次処理部と、
前記所定数のセンサ出力の全てを取得し前記偏差の２乗の和及び前記積算値の更新が終了した後、前記基準出力の信号値、前記偏差の２乗の和、及び前記積算値に基づいて、前記デバイスの前記素子が出力した信号値の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
算出した前記信号値の標準偏差を前記デバイスの性能の評価指標として外部装置に出力する出力部と、
を備えることを特徴とするデバイス評価装置。
【請求項７】
デバイスが備える複数の素子のそれぞれが出力した複数の信号値を含むセンサ出力を所定数だけ取得する処理と並列に、
取得した前記センサ出力に含まれる前記信号値毎に、該信号値と予め定めた基準出力の信号値との偏差の２乗を算出し、該偏差の２乗をメモリに記憶させた偏差の２乗の和に加算して該偏差の２乗の和を更新するとともに、該信号値を前記メモリに記憶させた積算値に加算して該積算値を更新する処理を、前記センサ出力単位で繰り返し、
前記所定数のセンサ出力の全てを取得し前記偏差の２乗の和及び前記積算値の更新が終了した後、前記基準出力の信号値、前記偏差の２乗の和、及び前記積算値に基づいて、前記デバイスの前記素子が出力した信号値の標準偏差を算出し、
算出した前記信号値の標準偏差を前記デバイスの性能の評価指標として外部装置に出力する、
処理をコンピュータに実行させることを特徴とするデバイス評価プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デバイス評価方法、デバイス評価装置、及びデバイス評価プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
二次元赤外線センサ等のデバイスの性能を評価する指標の一つとして、デバイスが出力する信号値に含まれるノイズの程度を示す指標がある。このノイズは、デバイスが一定の信号値を出力する環境下において該デバイスから実際に出力された信号値の時間方向（フレーム方向）の揺らぎを評価するものである。例えば、二次元赤外線センサにおけるノイズは、赤外線の放射量が均一な計測環境下で所定の期間内に赤外線受光素子が出力した複数の信号値における時間方向の揺らぎを評価するものである。
【０００３】
デバイスの性能の評価指標とするノイズは、所定期間内にデバイスが出力した複数の信号値についての標準偏差で表される。
【０００４】
デバイスの性能の評価指標とする上記のノイズは、例えば、デバイスが出力した信号値の補正に用いられる。この種の技術の一つとして、赤外線撮像装置で撮像した画像における各画素の画素値についての標準偏差を算出し、該標準偏差が小さい場合には、該標準偏差を使用して固定パターンノイズを補正する技術がある（例えば、特許文献１を参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】国際公開第２０１６／１８５７０１号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
デバイスの性能の評価指標とするノイズは、上記のように、所定期間内にデバイスが出力した複数の信号値についての標準偏差で表される。コンピュータ等の情報処理装置により標準偏差を算出する場合、所定期間内にデバイスが出力した複数の信号値を取得した後、該複数の信号値の平均値を算出し、信号値と平均値との偏差の２乗の和を算出することが多い。
【０００７】
しかしながら、評価の対象となるデバイスが二次元赤外線センサのように、一度に出力する信号値が、複数の素子のそれぞれが出力した信号値を含む場合、素子の数と比例して一度に出力される信号値のデータ量が大きくなる。このため、標準偏差の算出に用いる全ての信号値を情報処理装置に記憶させてから標準偏差を算出する場合、信号値を記憶するためには、記憶容量の大きい記憶装置が必要となる。
【０００８】
更に、所定期間内にデバイスが出力した全ての信号値を情報処理装置に記憶させてから標準偏差を算出する場合、信号値のデータ量が増大すると、情報処理装置において標準偏差の算出に要する時間が長くなる。
【０００９】
１つの側面において、本発明は、デバイスの性能の評価指標とする標準偏差を効率よく算出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
１つの態様のデバイス評価方法では、コンピュータが下記第１〜第３の処理を実行する。第１の処理は、デバイスが備える複数の素子のそれぞれが出力した複数の信号値を含むセンサ出力を所定数だけ取得する処理と並列に、取得したセンサ出力に含まれる信号値毎に、偏差の２乗の和を算出して更新するとともに、信号値の積算値を更新する処理をセンサ出力単位で行う処理である。第１の処理において、コンピュータは、センサ出力に含まれる信号値と予め定めた基準出力の信号値との偏差の２乗を算出し、該偏差の２乗をメモリに記憶させた偏差の２乗の和に加算して該偏差の２乗の和を更新する。また、第１の処理において、コンピュータは、センサ出力に含まれる信号値をメモリに記憶させた積算値に加算して該積算値を更新する。第２の処理は、所定数のセンサ出力の全てを取得し偏差の２乗の和及び積算値の更新が終了した後、基準出力の信号値、偏差の２乗の和、及び積算値に基づいて、デバイスの素子が出力した信号値の標準偏差を算出する処理である。第３の処理は、算出した信号値の標準偏差をデバイスの性能の評価指標として外部装置に出力する処理である。
【発明の効果】
【００１１】
上述の態様によれば、デバイスの性能の評価指標とする標準偏差を効率よく算出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】一実施形態に係るデバイス評価装置の機能的構成を示す図である。
【図２】評価の対象となるデバイスの一例を示す図である。
【図３】一実施形態に係るデバイス評価装置が行う処理を説明するフローチャートである。
【図４】１個の赤外線受光素子における信号値の揺らぎを説明するグラフ図であるである。
【図５】デバイス評価装置が行う処理の変形例を説明するフローチャートである。
【図６】コンピュータのハードウェア構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
図１は、一実施形態に係るデバイス評価装置の機能的構成を示す図である。
図１に示すように、本実施形態のデバイス評価装置１は、逐次処理部１１０と、標準偏差算出部１２０と、出力部１３０と、記憶部１９０とを備える。
【００１４】
逐次処理部１１０は、評価の対象となるデバイス２が順次出力する信号値（情報）に基づいて、デバイス２の評価指標となる標準偏差の算出に用いる値を逐次算出する。デバイス２は、例えば、二次元赤外線センサである。二次元赤外線センサは、Ｎ×Ｍ個の赤外線受光素子を備えたデバイスである。二次元赤外線センサが一度に出力する信号値は、Ｎ×Ｍ個の赤外線受光素子のそれぞれが出力した信号値を含む。以下の説明では、デバイス（二次元赤外線センサ）２が一度に出力する複数の信号値の組のことをセンサ出力という。
【００１５】
本実施形態のデバイス評価装置１における逐次処理部１１０は、二次元赤外線センサ等のデバイス２が出力する複数組のセンサ出力を取得する処理と並列に、取得したセンサ出力についての偏差の２乗の和と積算値とを算出する処理を行う。逐次処理部１１０は、センサ出力取得部１１１と、偏差２乗和算出部１１２と、積算値算出部１１３とを含む。
【００１６】
センサ出力取得部１１１は、所定のタイミングが到来する毎に、デバイス２が出力するセンサ出力Ｄｈを取得する。センサ出力取得部１１１が取得する１組のセンサ出力Ｄｈは、Ｎ×Ｍ個の赤外線受光素子のそれぞれが出力した信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）｛ｘ＝０〜Ｎ−１，ｙ＝０〜Ｍ−１｝を含む。センサ出力Ｄｈ及び信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）の添え字ｈは、複数組（Ｈ組）のセンサ出力を識別する識別子である。センサ出力取得部１１１は、例えば、標準偏差の算出に用いる複数組のセンサ出力のうちの最初に取得するセンサ出力Ｄ１を、基準出力として記憶部１９０の基準出力保持部１９１に格納する。また、センサ出力取得部１１１は、後続のセンサ出力Ｄ２〜ＤＨのそれぞれを取得したときには、取得したセンサ出力を記憶部１９０の後続出力保持部１９２に格納する。
【００１７】
偏差２乗和算出部１１２は、センサ出力Ｄｈ毎にセンサ出力Ｄｈと基準出力との偏差の２乗Ｑｈを算出し、現在算出されている偏差の２乗Ｑ１〜Ｑｈの和ＳＱｈを算出する。本実施形態の偏差２乗和算出部１１２は、偏差の２乗Ｑｈと、記憶部１９０の偏差２乗和保持部１９３で保持している偏差の２乗の和ＳＱｈ−１とにより偏差の２乗の和ＳＱｈを算出した後、偏差２乗和保持部１９３の和ＳＱｈ−１を算出した和ＳＱｈに更新する。なお、偏差２乗和算出部１１２は、センサ出力Ｄｈにおける信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）毎に、偏差の２乗ｑｈ（ｘ，ｙ）、及び偏差の２乗の和Ｓｑｈ（ｘ，ｙ）を算出する。すなわち、偏差の２乗の和ＳＱｈは、Ｎ×Ｍ個の和Ｓｑｈ（ｘ，ｙ）｛ｘ＝０〜Ｎ−１，ｙ＝０〜Ｍ−１｝を含む。
【００１８】
積算値算出部１１３は、複数組のセンサ出力Ｄ１〜Ｄｈの信号値を積算した値（積算値）ＳＲｈを算出する。本実施形態の積算値算出部１１３は、センサ出力Ｄｈと、記憶部１９０の積算値保持部１９４で保持している積算値ＳＲｈ−１とにより積算値ＳＲｈを算出した後、積算値保持部１９４の積算値ＳＲｈ−１を算出した積算値ＳＲｈに更新する。なお、積算値算出部１１３は、センサ出力Ｄｈにおける信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）毎に、積算値Ｓｒｈ（ｘ，ｙ）を算出する。すなわち、積算値ＳＲｈは、Ｎ×Ｍ個の積算値Ｓｒｈ（ｘ，ｙ）｛ｘ＝０〜Ｎ−１，ｙ＝０〜Ｍ−１｝を含む。
【００１９】
また、本実施形態のデバイス評価装置１における逐次処理部１１０は、センサ出力Ｄｈを取得して偏差の２乗の和ＳＱｈ及び積算値ＳＲｈを算出した後、センサ出力Ｄｈを記憶部１９０の後続出力保持部１９２から削除する。ここで、逐次処理部１１０がセンサ出力Ｄｈを記憶部１９０の後続出力保持部１９２から削除することは、後続出力保持部１９２で保持しているセンサ出力Ｄｈをセンサ出力Ｄｈ＋１で上書きすることを含む。
【００２０】
標準偏差算出部１２０は、基準出力（センサ出力Ｄ１）、偏差の２乗の和ＳＱＨ、及び積算値ＳＲＨに基づいて、複数組（Ｈ組）のセンサ出力の信号値についての標準偏差ＳＤを算出する。標準偏差算出部１２０は、二次元赤外線センサ（デバイス２）の素子Ｐ（ｘ，ｙ）毎に、Ｈ個の信号値ｄ１〜ｄＨについての標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）を算出する。本実施形態のデバイス評価装置１における標準偏差算出部１２０は、下記式（１），（２）により、素子Ｐ（ｘ，ｙ）の標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）を算出する。
【００２１】
【数１】
2019090621.tif 000003
【００２２】
出力部１３０は、標準偏差算出部１２０が算出した標準偏差を、デバイス２の各素子Ｐ（ｘ，ｙ）のノイズとして表示装置３に出力する。表示装置３は、例えば、デバイス（二次元赤外線センサ）２が出力したセンサ出力を表示する装置であり、補正部３１０と、表示部３２０と、記憶部３９０とを含む。デバイス評価装置１で算出した標準偏差は、表示装置３の記憶部３９０に格納される。表示装置３では、例えば、補正部３１０が、記憶部１９０に記憶させた補正情報に基づいて、デバイス２が出力したセンサ出力を補正する。補正部３１０が行う補正には、例えば、デバイス評価装置１で算出した標準偏差を利用した補正が含まれていてもよい。また、表示装置３では、補正部３１０で補正されたセンサ出力を表示部（例えば液晶ディスプレイ）３２０に表示する。また、表示装置３では、デバイス２のセンサ出力におけるノイズの程度を示す情報として、例えば、デバイス評価装置１で算出した標準偏差を表示部３２０に表示する。
【００２３】
図２は、評価の対象となるデバイスの一例を示す図である。
図２には、本実施形態のデバイス評価装置１による評価の対象となるデバイス２の一例として、二次元赤外線センサ２Ａを示している。二次元赤外線センサ２Ａは、赤外線検出部２１０と、変換部２２０と、出力部２３０とを含む。また、図２では省略しているが、二次元赤外線センサ２Ａは、光学系、及び該光学系を制御する制御部を含む。
【００２４】
赤外線検出部２１０は、Ｎ×Ｍ個の赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）｛ｘ＝０〜Ｎ−１，ｙ＝０〜Ｍ−１｝がマトリクス状に配置されている。赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）は、それぞれ、赤外線を受光すると、受光した赤外線量に応じた信号値（アナログ信号）を出力する。
【００２５】
変換部２２０及び出力部２３０は、赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）が出力したアナログ信号のそれぞれを所定のビット長（例えば１６bit長（有効１４bit））のデジタル信号に変換し、１組のセンサ出力としてデバイス評価装置１及び表示装置３に出力する。
【００２６】
二次元赤外線センサ２Ａの性能を評価する指標の１つとして赤外線受光素子が出力する信号値についてのノイズがある。信号値についてのノイズは、赤外線の放射量が一定である環境下において１つの赤外線受光素子（画素）から出力される信号量の時間方向（フレーム方向）の揺らぎを評価するものであり、信号量の標準偏差で表している。本実施形態のデバイス評価装置１は、例えば、赤外線の放射量が一定である計測環境下において二次元赤外線センサ２Ａが出力する複数組のセンサ出力に基づいて、該二次元赤外線センサ２Ａの各赤外線受光素子が出力した信号値についての標準偏差を算出する。このとき、本実施形態のデバイス評価装置１は、例えば、図３のフローチャートに沿った処理を行う。
【００２７】
図３は、一実施形態に係るデバイス評価装置が行う処理を説明するフローチャートである。
【００２８】
本実施形態のデバイス評価装置１は、まず、複数組のセンサ出力を識別する変数ｈを初期化する（ステップＳ１）。ステップＳ１の処理は、例えば、デバイス評価装置１の逐次処理部１１０に含まれるセンサ出力取得部１１１が行う。センサ出力取得部１１１は、例えば、変数ｈを１に設定する。
【００２９】
次に、デバイス評価装置１は、二次元赤外線センサ２Ａからセンサ出力Ｄ１を取得し、基準出力として保持する（ステップＳ２）。ステップＳ２の処理は、センサ出力取得部１１１が行う。センサ出力Ｄ１は、例えば、計測を開始した時刻Ｔ１に二次元赤外線センサ２Ａから取得したセンサ出力である。センサ出力Ｄ１は、二次元赤外線センサ２ＡにおけるＮ×Ｍ個の赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）のそれぞれが出力した信号値ｄ１（ｘ，ｙ）を含む。センサ出力取得部１１１は、取得したセンサ出力Ｄ１を記憶部１９０の基準出力保持部１９１に格納する。
【００３０】
次に、デバイス評価装置１は、偏差の２乗Ｑ１及び積算値Ｒ１を算出して保持する（ステップＳ３）。ステップＳ３の処理は、デバイス評価装置１の逐次処理部１１０に含まれる偏差２乗和算出部１１２と、積算値算出部１１３とが行う。ステップＳ３の処理では、偏差２乗和算出部１１２は、センサ出力Ｄ１に含まれる信号値ｄ１（ｘ，ｙ）毎に、該信号値ｄ１（ｘ，ｙ）と、基準出力における信号値（すなわちｄ１（ｘ，ｙ））との偏差の２乗ｑ１（ｘ，ｙ）を算出する。また、ステップＳ３の処理では、偏差２乗和算出部１１２は、Ｎ×Ｍ個の偏差の２乗ｑ１（ｘ，ｙ）｛ｘ＝０〜Ｎ−１，ｙ＝０〜Ｍ−１｝を含む偏差の２乗Ｑ１を、偏差の２乗の和ＳＱ１として記憶部１９０の偏差２乗和保持部１９３に格納する。一方、ステップＳ３の処理では、積算値算出部１１３は、Ｎ×Ｍ個の信号値ｄ１（ｘ，ｙ）を含むセンサ出力Ｄ１を、積算値ＳＲ１として記憶部１９０の積算値保持部１９４に格納する。
【００３１】
次に、デバイス評価装置１は、変数ｈをｈ＋１に更新し（ステップＳ４）、二次元赤外線センサ２Ａからセンサ出力Ｄｈを取得して後続出力として保持する（ステップＳ５）。ステップＳ４及びＳ５の処理は、センサ出力取得部１１１が行う。ステップＳ５の処理では、センサ出力取得部１１１は、例えば、センサ出力Ｄｈを取得するタイミングが到来すると、二次元赤外線センサ２ＡからＮ×Ｍ個の信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）を含むセンサ出力Ｄｈを取得する。
【００３２】
次に、デバイス評価装置１は、センサ出力Ｄｈと基準出力（センサ出力Ｄ１）との偏差の２乗Ｑｈを算出する（ステップＳ６）。ステップＳ６の処理は、偏差２乗和算出部１１２が行う。偏差２乗和算出部１１２は、センサ出力Ｄｈに含まれる信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）毎に、該信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）と、記憶部１９０の基準出力保持部１９１で保持しているセンサ出力Ｄ１の信号値ｄ１（ｘ，ｙ）との偏差の２乗ｑｈ（ｘ，ｙ）を算出する。すなわち、ステップＳ６の処理で偏差２乗和算出部１１２が算出する偏差の２乗Ｑｈは、Ｎ×Ｍ個の偏差の２乗ｑｈ（ｘ，ｙ）を含む。
【００３３】
次に、デバイス評価装置１は、ｈ組の偏差の２乗Ｑ１〜Ｑｈの和ＳＱｈを算出して更新する（ステップＳ７）。ステップＳ７の処理は、偏差２乗和算出部１１２が行う。ステップＳ７の処理では、偏差２乗和算出部１１２は、記憶部１９０の偏差２乗和保持部１９３から偏差の２乗の和ＳＱｈ−１を読み出し、読み出した偏差の２乗の和ＳＱｈ−１に偏差の２乗Ｑｈを加算する。このとき、偏差２乗和算出部１１２は、偏差の２乗の和ＳＱｈ−１に含まれるＮ×Ｍ個の和Ｓｑｈ−１（ｘ，ｙ）のそれぞれに、算出した偏差の２乗ｑｈ（ｘ，ｙ）を加算する。その後、偏差２乗和算出部１１２は、偏差２乗和保持部１９３で保持している偏差の２乗の和ＳＱｈ−１を、偏差の２乗Ｑ１〜Ｑｈの和ＳＱｈに更新する。
【００３４】
次に、デバイス評価装置１は、ｈ組のセンサ出力Ｄ１〜Ｄｈの積算値ＳＲｈを算出して更新する（ステップＳ８）。ステップＳ８の処理は、積算値算出部１１３が行う。ステップＳ８の処理では、積算値算出部１１３は、記憶部１９０の積算値保持部１９４から積算値ＳＲｈ−１を読み出し、読み出した積算値ＳＲｈ−１にセンサ出力Ｄｈを加算する。このとき、積算値算出部１１３は、積算値ＳＲｈ−１に含まれるＮ×Ｍ個の積算値Ｓｒｈ−１（ｘ，ｙ）のそれぞれに、センサ出力Ｄｈにおける信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）を加算する。その後、積算値算出部１１３は、積算値保持部１９４で保持している積算値ＳＲｈ−１を、センサ出力Ｄ１〜Ｄｈの積算値ＳＲｈに更新する。
【００３５】
次に、デバイス評価装置１は、センサ出力Ｄｈを削除し（ステップＳ９）、変数ｈがｈ≧Ｈであるか否かを判定する（ステップＳ１０）。ステップＳ９の処理及びステップＳ１０の判定は、例えば、センサ出力取得部１１１が行う。ステップＳ９の処理では、センサ出力取得部１１１は、記憶部１９０の後続出力保持部１９２に格納したセンサ出力Ｄｈを削除する。また、ステップＳ１０の判定では、センサ出力取得部１１１は、変数ｈの値が、標準偏差の算出に用いるセンサ出力の組数Ｈ以上であるか否かを判定する。ｈ＜Ｈである場合、センサ出力取得部１１１は、変数ｈをｈ＋１に更新する（ステップＳ４）。すなわち、ｈ＜Ｈである場合（ステップＳ１０；ＮＯ）、デバイス評価装置１は、ステップＳ４〜Ｓ１０の処理を繰り返す。
【００３６】
一方、ｈ≧Ｈである場合、センサ出力取得部１１１は、逐次処理部１１０によるステップＳ４〜Ｓ１０の処理を終了させる。すなわち、ｈ≧Ｈである場合（ステップＳ１０；ＹＥＳ）、デバイス評価装置１は、次に、センサ出力Ｄ１、偏差の２乗の和ＳＱＨ、及び積算値ＳＲＨに基づいて、標準偏差ＳＤを算出する（ステップＳ１１）。ステップＳ１１の処理は、デバイス評価装置１の標準偏差算出部１２０が行う。標準偏差算出部１２０は、下記式（１），（２）により、二次元赤外線センサ２Ａにおける各赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）が出力した信号値についての標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）を算出する。
【００３７】
【数２】
2019090621.tif 000004
【００３８】
標準偏差ＳＤを算出すると、デバイス評価装置１は、算出した標準偏差をノイズの評価指標として表示装置３等の外部装置に出力し（ステップＳ１２）、処理を終了する。
【００３９】
このように、本実施形態のデバイス評価装置１では、センサ出力Ｄｈを取得する毎に、該センサ出力Ｄｈと基準出力であるセンサ出力Ｄ１との偏差の２乗を算出し、それ以前にセンサ出力Ｄ１〜Ｄｈ−１に基づいて算出しておいた偏差の２乗との和ＳＱｈを算出する。また、本実施形態のデバイス評価装置１では、センサ出力Ｄｈを取得する毎に、それ以前に取得したセンサ出力Ｄ１〜Ｄｈ−１との積算値ＳＲｈとを算出する。すなわち、本実施形態のデバイス評価装置１は、デバイス２のセンサ出力を取得する処理と並列に、標準偏差の算出に用いる偏差の２乗の和ＳＱｈ及び積算値ＳＲｈを算出する処理を、センサ出力単位で繰り返し行う。そして、Ｈ番目のセンサ出力ＤＨを取得して偏差の２乗の和ＳＱＨ及び積算値ＳＲＨを算出した後、上記の式（１），（２）に基づいて、標準偏差ＳＤを算出する。
【００４０】
Ｈ組のセンサ出力Ｄ１〜ＤＨのそれぞれにおける信号値ｄ１（ｘ，ｙ）〜ｄＨ（ｘ，ｙ）についての標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）は、下記式（３）により算出することが多い。
【００４１】
【数３】
2019090621.tif 000005
【００４２】
式（３）におけるＡｄ（ｘ，ｙ）は、Ｈ個の信号値ｄ１（ｘ，ｙ）〜ｄＨ（ｘ，ｙ）の平均値である。すなわち、式（３）により標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）を算出する情報処理装置では、Ｈ組のセンサ出力Ｄ１〜ＤＨの全てを取得し保持しておく必要がある。
【００４３】
ここで、式（１），（２）により算出される標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）と式（３）により算出される標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）とが等しいことを説明するために、下記式（４）の計算を行う。
【００４４】
【数４】
2019090621.tif 000006
【００４５】
なお、式（４）では、赤外線受光素子及び信号値を識別する（ｘ，ｙ）を省略している。
【００４６】
式（４）における左辺第２項は、本実施形態のデバイス評価装置１において算出する１個の赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）についての偏差の２乗の和ＳｑＨ（ｘ，ｙ）である。すなわち、式（４）は、下記式（５）のように書き換えることが可能である。
【００４７】
【数５】
2019090621.tif 000007
【００４８】
式（５）におけるＡｄは、Ｈ個の信号値ｄ１（ｘ，ｙ）〜ｄＨ（ｘ，ｙ）の平均値である（すなわち、Ａｄ＝ＳｒＨ／Ｈである）。また、式（５）の右辺は、式（１）の右辺を二乗した値である。そして、標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）は、式（５）の左辺の平方根となる。よって、式（１），（２）により算出される標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）は、式（３）により算出される標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）と等しいといえる。
【００４９】
このように、本実施形態のデバイス評価装置１は、式（３）により算出される標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）と等しい標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）を算出する。しかも、本実施形態のデバイス評価装置１では、センサ出力を取得する処理と並列に偏差の２乗の和ＳＱｈ及び積算値ＳＲｈの算出処理を行うため、偏差の２乗の和ＳＱｈ及び積算値ＳＲｈの算出に用いたセンサ出力Ｄｈを記憶部１９０から削除することが可能となる。したがって、本実施形態のデバイス評価装置１は、Ｈ組のセンサ出力Ｄ１〜ＤＨを取得してから標準偏差ＳＤを算出する場合と比べて、記憶部１９０におけるセンサ出力の保持に必要な容量を低減することが可能となる。
【００５０】
例えば、図２の二次元赤外線センサ２Ａにおける赤外線検出部２１０の赤外線受光素子が１０００×１０００個であり、該二次元赤外線センサ２Ａが１素子当たり１６bit長（有効１４bit）のデジタル信号を出力するとする。この場合、１２０フレーム分（Ｈ＝１２０）のセンサ出力Ｄ１〜Ｄ１２０を記憶するのに必要な記憶部１９０の容量は２４０ＭＢ（＝１０００×１０００×２byte×１２０）となる。すなわち、１２０フレーム分のセンサ出力を取得してから標準偏差を算出する場合、デバイス評価装置１には、空き容量が２４０ＭＢ以上であるメモリ（記憶部１９０）が必要となる。
【００５１】
これに対し、本実施形態のデバイス評価装置１では、基準出力保持部１９１を１６bit長で確保し、偏差２乗和保持部１９３及び積算値保持部１９４をそれぞれ６４bit長で確保すると、標準偏差の算出に必要な記憶部１９０の容量は１８ＭＢとなる。すなわち、本実施形態のデバイス評価装置１では、標準偏差の算出に用いる情報を記憶するために必要な記憶部１９０の容量を、１２０フレーム分のセンサ出力を取得してから標準偏差を算出する場合と比べて１０分の１程度に低減することが可能となる。更に、標準偏差の算出に用いるセンサ出力を１２０００フレーム分に増加させた場合であっても、本実施形態のデバイス評価装置１では、標準偏差の算出に必要な情報を記憶するために必要な記憶部１９０の容量の増大を抑えることが可能となる。
【００５２】
更に、本実施形態のデバイス評価装置１のように基準出力（センサ出力Ｄ１）との偏差の２乗の和ＳＱｈを算出する場合、データ量は４bit程度の変化となる。このため、本実施形態のデバイス評価装置１では、偏差の２乗の和を算出する際に８bit程度の値の和を算出することとなる。これに対し、式（３）により標準偏差を算出する処理では、１４bitの値を用いることとなる。このため、式（３）により標準偏差を算出する情報処理装置では、偏差の２乗の和を算出する際に２８bitの値の和を算出することになる。よって、本実施形態のデバイス評価装置１では、式（３）により標準偏差を算出する場合と比べて、標準偏差の算出に用いる情報を保持するのに必要な記憶部１９０の容量を１／３以下に低減することが可能となる。
【００５３】
図４は、１個の赤外線受光素子における信号値の揺らぎを説明するグラフ図である
である。
【００５４】
図４のグラフ４には、図２の二次元赤外線センサ２Ａの赤外線検出部２１０における１個の赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）が出力する複数の信号値の時間変化を示している。グラフ４における横軸はセンサ出力を識別する変数ｈであり、赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）が信号を出力した時刻と対応する。グラフ４における縦軸は、赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）が出力した信号を１６３８４（＝２１４）階調で表現した場合の信号値である。
【００５５】
Ｈ組のセンサ出力Ｄ１〜ＤＨにおける１個の赤外線受光素子Ｐ（ｘ，ｙ）が出力した信号値ｄ１（ｘ，ｙ）〜ｄＨ（ｘ，ｙ）は、例えば、最大値と最小値との差Δｄが２０階調程度である。
【００５６】
しかしながら、Ｈ組のセンサ出力Ｄ１〜ＤＨの全てを取得した後で式（３）により標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）を算出する場合、Ｈ個の信号値ｄ１〜ｄＨについての平均値を算出した後、信号値と平均値との差の２乗の和を算出する。この場合、式（３）では１４bitの値による２乗の和を算出することとなるため、偏差の２乗の和を算出する処理では、２８bitの値の和を算出することとなる。このように標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）の算出に必要なbit数が多くなる場合、オーバーフロー（桁あふれ）により、算出した標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）の精度が低下する恐れがある。
【００５７】
これに対し、本実施形態のデバイス評価装置１では、上記のように、センサ出力Ｄｈ毎に基準出力（センサ出力Ｄ１）との偏差の２乗を算出し、該偏差の２乗の和を算出する。すなわち、本実施形態のデバイス評価装置１では、センサ出力Ｄｈに含まれる信号値ｄｈ毎に信号値ｄ１との偏差の２乗ｑｈを算出し、該偏差の２乗の和Ｓｑｈを算出する。この場合、センサ出力Ｄｈ毎に算出する偏差は２０階調程度の範囲内となるため、本実施形態のデバイス評価装置１において偏差の２乗ｑ１〜ｑｈの和Ｓｑｈを算出する処理では、例えば、８〜１０bit程度の値の和を算出することとなる。したがって、本実施形態のデバイス評価装置１では、標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）の算出に必要なbit数を低減させて偏差の２乗の和Ｓｑｈを算出することが可能となり、オーバーフローによる標準偏差ＳＤ（ｘ，ｙ）の精度の低下を防ぐことが可能となる。
【００５８】
また、本実施形態のデバイス評価装置１は、上記のように、記憶部１９０に多数のセンサ出力を保持するための領域を確保することが不要となる。よって、本実施形態のデバイス評価装置１を適用することで、二次元赤外線センサ２Ａのノイズの評価に用いるセンサ出力の組数（フレーム数）の制限が緩和され、例えば、１時間分といった長時間にわたるセンサ出力に基づいて標準偏差を算出することも容易となる。すなわち、本実施形態のデバイス評価装置１は、例えば、標準偏差の算出に用いるセンサ出力の組数を増やして標準偏差ＳＤの精度を向上させることが容易となる。
【００５９】
また、式（３）により標準偏差を算出する場合、全てのセンサ出力Ｄ１〜ＤＨを取得した後、平均値の算出及び偏差の２乗の和の算出を行う。これに対し、本実施形態のデバイス評価装置１では、センサ出力Ｄ１〜ＤＨを取得する処理と並列に偏差の２乗の和ＳＱＨ及び積算値ＳＲＨを算出する処理を行い、式（１），（２）により標準偏差ＳＤを算出する。このため、本実施形態のデバイス評価装置１では、式（３）により標準偏差を算出して出力する場合と比べて、全てのセンサ出力の取得を終了してから標準偏差を算出して出力するまでに要する時間が大幅に短縮される。
【００６０】
なお、本実施形態で挙げた二次元赤外線センサ２Ａは、評価の対象とするデバイス２の一例に過ぎない。本実施形態のデバイス評価装置１による評価の対象とすることが可能なデバイス２は、例えば、複数の素子が出力した信号値を含む１組の情報を１個の単位として出力する他の装置であってもよい。例えば、デバイス２は、可視光の受光量に応じた信号を出力する素子がマトリクス状に配置された装置や、紫外線の受光量に応じた信号を出力する素子がマトリクス状に配置された装置であってもよい。
【００６１】
また、本実施形態では、デバイス評価装置１がデバイス２（二次元赤外線センサ２Ａ）からセンサ出力を取得して標準偏差を算出する例を挙げている。しかしながら、デバイス評価装置１は、これに限らず、デバイス２が出力したセンサ出力等の出力データを記憶している、デバイス２とは別の外部装置や記録媒体からセンサ出力を取得して標準偏差を算出してもよい。
【００６２】
また、本実施形態のデバイス評価装置１は、例えば、二次元赤外線センサ２Ａ等のデバイス２と一体化されていてもよいし、表示装置３等の外部装置と一体化されていてもよい。更に、本実施形態のデバイス評価装置１は、デバイス２と表示装置３とが一体化された計測装置に内蔵されていてもよい。加えて、本実施形態のデバイス評価装置１は、例えば、管理装置等の、デバイス２及び表示装置３とは異なる外部装置に算出した標準偏差を出力する装置であってもよい。
【００６３】
また、図３のフローチャートは、本実施形態のデバイス評価装置１が行う処理の一例に過ぎない。本実施形態のデバイス評価装置１が行う処理は、図３のフローチャートに沿った処理に限らず、本実施形態の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。例えば、デバイス評価装置１は、偏差の２乗Ｑｈ及び和ＳＱｈを算出する処理（ステップＳ６及びＳ７）と、積算値ＳＲｈを算出する処理（ステップＳ８）とを並列に行ってもよい。また、例えば、デバイス評価装置１は、積算値ＳＲｈを算出する処理（ステップＳ８）の後で、偏差の２乗Ｑｈ及び和ＳＱｈを算出する処理（ステップＳ６及びＳ７）を行ってもよい。更に、図３のフローチャートでは、ステップＳ５においてセンサ出力Ｄｈに含まれるＮ×Ｍ個の信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）を取得した後、偏差の２乗の和及び積算値を算出する処理を行うようになっている。しかしながら、デバイス評価装置１が行う処理は、これに限らず、例えば、センサ出力Ｄｈに含まれる信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）を取得する処理と並列に、信号値ｈ（ｘ，ｙ）毎に偏差の２乗の和及び積算値を算出する処理であってもよい。加えて、デバイス評価装置１が行う処理は、ステップＳ５においてセンサ出力Ｄｈでセンサ出力Ｄｈ−１を上書きするようにし、ステップＳ９のセンサ出力Ｄｈを削除する処理を省略したものであってもよい。
【００６４】
また、本実施形態のデバイス評価装置１が行う処理は、上記のように、標準偏差の算出に用いるＨ組のセンサ出力Ｄ１〜ＤＨのうちの最初に取得するセンサ出力Ｄ１を基準出力とし、センサ出力毎に、センサ出力Ｄ１との偏差の２乗を算出している。しかしながら、偏差の２乗を算出する際の基準出力は、これに限らず、適宜変更可能である。例えば、デバイス評価装置１は、センサ出力Ｄｈに含まれる信号値の平均値を基準出力として保持し、センサ出力Ｄｈ＋１と基準出力との偏差の２乗を算出してもよい。
【００６５】
図５は、デバイス評価装置が行う処理の変形例を説明するフローチャートである。なお、図５のフローチャートにおける各処理のうちの、図３のフローチャートにおける処理と同じ処理内容である処理には、図３のフローチャートと同じ符号（例えば、Ｓ１，Ｓ３等）を付している。
【００６６】
デバイス評価装置１が行う処理の変形例では、デバイス評価装置１は、まず、センサ出力を識別する変数ｈを初期化する（ステップＳ１）。その後、デバイス評価装置１は、センサ出力Ｄ１を取得し、該センサ出力Ｄ１に含まれる信号値の平均値を基準出力として保持する（ステップＳ２０）。ステップＳ２０の処理は、例えば、デバイス評価装置１のセンサ出力取得部１１１が行う。センサ出力取得部１１１は、センサ出力Ｄ１を取得した後、センサ出力Ｄ１に含まれるＮ×Ｍ個の信号値ｄ１（ｘ，ｙ）の平均値を算出し、該平均値を基準出力として記憶部１９０の基準出力保持部１９１に格納する。
【００６７】
次に、デバイス評価装置１は、偏差の２乗Ｑ１及び積算値Ｒ１を算出して保持する（ステップＳ３）。ステップＳ３の処理は、デバイス評価装置１の偏差２乗和算出部１１２と積算値算出部１１３とが行う。偏差２乗和算出部１１２は、センサ出力Ｄ１に含まれる信号値ｄ１（ｘ，ｙ）毎に基準出力との偏差の２乗ｑ１を算出し、算出した偏差の２乗を偏差の２乗の和Ｓｑ１として偏差２乗和保持部１９３に格納する。積算値算出部１１３は、センサ出力Ｄ１に含まれる信号値ｄ１（ｘ，ｙ）を、積算値Ｓｒ１として積算値保持部１９４に格納する。
【００６８】
次に、デバイス評価装置１は、変数ｈをｈ＋１に更新し（ステップＳ４）、センサ出力Ｄｈを取得して後続出力として保持する（ステップＳ５）。その後、デバイス評価装置１は、センサ出力Ｄｈと基準出力との偏差の２乗Ｑｈ及び和ＳＱｈを算出して偏差の２乗の和ＳＱｈを更新する処理（ステップＳ６及びＳ７）、並びに積算値ＳＲｈを算出して更新する処理（ステップＳ８）を行う。ステップＳ４及びＳ５の処理は、センサ出力取得部１１１が行う。ステップＳ６及びＳ７の処理は、偏差２乗和算出部１１２が行う。ステップＳ８の処理は、積算値算出部１１３が行う。なお、ステップＳ５〜Ｓ８の処理は、上記のように、センサ出力Ｄｈに含まれる信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）を取得する処理と並列に、信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）毎に行ってもよい。
【００６９】
次に、デバイス評価装置１は、センサ出力Ｄｈの信号値の平均値を算出して基準出力を更新する（ステップＳ２１）。ステップＳ２１の処理は、例えば、センサ出力取得部１１１及び偏差２乗和算出部１１２のいずれかが行う。ステップＳ２１の処理では、センサ出力取得部１１１又は偏差２乗和算出部１１２は、センサ出力Ｄｈに含まれるＮ×Ｍ個の信号値ｄｈ（ｘ，ｙ）の平均値を算出し、基準出力保持部１９１で保持している基準出力を更新する。
【００７０】
その後、デバイス評価装置１は、センサ出力Ｄｈを削除し（ステップＳ９）、変数ｈがｈ≧Ｈであるか否かを判定する（ステップＳ１０）。ｈ＜Ｈである場合（ステップＳ１０；ＮＯ）、デバイス評価装置１は、ステップＳ４〜Ｓ１０の処理を繰り返す。一方、ｈ≧Ｈである場合（ステップＳ１０；ＹＥＳ）、デバイス評価装置１は、次に、標準偏差を算出し（ステップＳ１１）、算出した標準偏差をノイズの評価指標として外部装置に出力する（ステップＳ１２）。ステップＳ９の処理は、例えば、センサ出力取得部１１１及び偏差２乗和算出部１１２のいずれかが行う。ステップＳ１０の判定は、センサ出力取得部１１１が行う。ステップＳ１１の処理は、標準偏差算出部１２０が行う。ステップＳ１２の処理は、出力部１３０が行う。なお、デバイス評価装置１は、ステップＳ９の処理を行う代わりに、ステップＳ５においてセンサ出力Ｄｈでセンサ出力Ｄｈ−１を上書きしてもよい。
【００７１】
このように、センサ出力Ｄｈを取得して偏差の２乗の和及び積算値を算出して更新した後、センサ出力Ｄｈの信号値の平均値に基準出力を更新することで、センサ出力Ｄ１を保持し続けることなく、偏差の２乗の和及び積算値を算出することが可能となる。
【００７２】
また、本実施形態のデバイス評価装置１では、センサ出力Ｄ１を基準出力とする代わりに、例えば、センサ出力Ｄ１よりも前にデバイス２が出力したセンサ出力を取得して基準出力としてもよい。この際、本実施形態のデバイス評価装置１では、例えば、センサ出力Ｄ１よりも前にデバイス２が出力した複数組のセンサ出力を取得し、各センサ出力の信号値の平均値を基準出力としてもよい。加えて、基準出力は、評価の対象であるデバイス２が実際に出力した信号値（センサ出力）、或いは信号値の平均値に限らず、所定の固定値としてもよい。
【００７３】
上記の実施形態に係るデバイス評価装置１は、コンピュータと、該コンピュータに実行させるプログラムとにより実現可能である。以下、図６を参照して、コンピュータとプログラムとにより実現されるデバイス評価装置１について説明する。
【００７４】
図６は、コンピュータのハードウェア構成を示す図である。
図６に示すように、コンピュータ９は、プロセッサ９０１と、主記憶装置９０２と、補助記憶装置９０３と、入力装置９０４と、出力装置９０５と、入出力インタフェース９０６と、通信制御装置９０７と、媒体駆動装置９０８とを備える。コンピュータ９におけるこれらの要素９０１〜９０８は、バス９１０により相互に接続されており、要素間でのデータの受け渡しが可能になっている。
【００７５】
プロセッサ９０１は、Central Processing Unit（ＣＰＵ）やMicro Processing Unit（ＭＰＵ）等である。プロセッサ９０１は、オペレーティングシステムを含む各種のプログラムを実行することにより、コンピュータ９の全体の動作を制御する。また、プロセッサ９０１は、例えば、図３又は図５のフローチャートに沿った処理を含むデバイス評価プログラムを実行することにより、評価の対象であるデバイス２が出力した信号値についての標準偏差（ノイズ）を算出する。
【００７６】
主記憶装置９０２は、図示しないRead Only Memory（ＲＯＭ）及びRandom Access Memory（ＲＡＭ）を含む。主記憶装置９０２のＲＯＭには、例えば、コンピュータ９の起動時にプロセッサ９０１が読み出す所定の基本制御プログラム等が予め記録されている。また、主記憶装置９０２のＲＡＭは、プロセッサ９０１が各種のプログラムを実行する際に必要に応じて作業用記憶領域として使用する。主記憶装置９０２のＲＡＭは、例えば、デバイス評価装置１の記憶部１９０における基準出力保持部１９１、後続出力保持部１９２、偏差２乗和保持部１９３、積算値保持部１９４として利用可能である。
【００７７】
補助記憶装置９０３は、例えば、Hard Disk Drive（ＨＤＤ）や、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ（Solid State Drive（ＳＳＤ）を含む）等の、主記憶装置９０２のＲＡＭと比べて容量の大きい記憶装置である。補助記憶装置９０３は、プロセッサ９０１によって実行される各種のプログラムや各種のデータ等の記憶に利用可能である。補助記憶装置９０３は、例えば、図３又は図５のフローチャートに沿った処理を含むデバイス評価プログラムの記憶に利用可能である。また、補助記憶装置９０３は、例えば、デバイス評価装置１の記憶部１９０における基準出力保持部１９１、後続出力保持部１９２、偏差２乗和保持部１９３、積算値保持部１９４として利用可能である。
【００７８】
入力装置９０４は、例えば、キーボード装置やタッチパネル装置等である。コンピュータ９のオペレータ（利用者）が入力装置９０４に対して所定の操作を行うと、入力装置９０４は、その操作内容と対応付けられている入力情報をプロセッサ９０１に送信する。入力装置９０４としてのキーボード装置やタッチパネル装置は、例えば、標準偏差の算出に用いるセンサ出力の組数Ｈの設定等に利用可能である。なお、入力装置９０４は、例えば、評価の対象となるデバイス２を含んでもよい。
【００７９】
出力装置９０５は、例えば、液晶表示装置等の表示装置や、スピーカ等の音声再生装置である。出力装置９０５は、例えば、コンピュータ９において各種アプリケーションプログラムを実行したときの処理結果等の出力に利用可能である。出力装置９０５としての表示装置は、例えば、デバイス２から取得したセンサ出力の表示や、算出した標準偏差の値の表示等に利用可能である。
【００８０】
入出力インタフェース９０６は、コンピュータ９と、他の電子装置等とを接続する。入出力インタフェース９０６は、例えば、Universal Serial Bus（ＵＳＢ）規格のコネクタ等を備える。入出力インタフェース９０６は、例えば、コンピュータ９と二次元赤外線センサ２Ａ等のデバイス２との接続等に利用可能である。
【００８１】
通信制御装置９０７は、コンピュータ９をインターネット等の通信ネットワークに接続し、通信ネットワークを介したコンピュータ９と他の通信可能な電子装置との各種通信を制御する装置である。通信制御装置９０７は、例えば、コンピュータ９と、各種デバイス２の評価指標を収集して性能を評価する外部装置との間での通信の制御等に利用可能である。
【００８２】
媒体駆動装置９０８は、可搬型記録媒体１０に記録されているプログラムやデータの読み出し、及び補助記憶装置９０３に記憶されたデータ等の可搬型記録媒体１０への書き込みを行う。媒体駆動装置９０８には、例えば、１種類又は複数種類の規格に対応したメモリカード用リーダ／ライタが利用可能である。コンピュータ９がメモリカード用リーダ／ライタを媒体駆動装置９０８として備える場合、可搬型記録媒体１０には、メモリカード用リーダ／ライタが対応している規格、例えば、Secure  Digital（ＳＤ）規格のメモリカード（フラッシュメモリ）等を利用可能である。また、可搬型記録媒体１０としては、例えば、ＵＳＢ規格のコネクタを備えたフラッシュメモリが利用可能である。更に、コンピュータ９が媒体駆動装置９０８として利用可能な光ディスクドライブを搭載している場合、当該光ディスクドライブで認識可能な各種の光ディスクを可搬型記録媒体１０として利用可能である。可搬型記録媒体１０として利用可能な光ディスクには、例えば、Compact Disc（ＣＤ）、Digital Versatile Disc（ＤＶＤ）、Blu-ray Disc（登録商標）等がある。可搬型記録媒体１０は、例えば、図３又は図５のフローチャートに沿った処理を含むデバイス評価プログラムの記憶に利用可能である。また、可搬型記録媒体１０は、例えば、デバイス評価装置１の記憶部１９０における基準出力保持部１９１、後続出力保持部１９２、偏差２乗和保持部１９３、積算値保持部１９４として利用可能である。更に、可搬型記録媒体１０は、算出した標準偏差の記憶に利用可能である。なお、可搬型記録媒体１０は、記録されたプログラムやデータの読み出しのみが可能なものであってもよいし、記録されたプログラムやデータの読み出し及び書き換えが可能なものであってもよい。更に、媒体駆動装置９０８は、例えば、可搬型記録媒体１０からデータを読み出すことのみが可能な装置であってもよい。
【００８３】
コンピュータ９をデバイス評価装置１として動作させる場合、オペレータは、入力装置９０４等を利用してデバイス評価プログラムの実行開始命令をコンピュータ９に入力する。実行開始命令の入力を受け付けると、コンピュータ９のプロセッサ９０１は、補助記憶装置９０３等の非一時的な記録媒体に記憶させたデバイス評価プログラムを読み出して実行する。このとき、コンピュータ９のプロセッサ９０１は、例えば、図３又は図５のフローチャートに沿った処理を実行する。すなわち、コンピュータ９のプロセッサ９０１は、まず、デバイス２からセンサ出力を取得する処理と並列に、取得したセンサ出力と基準出力との偏差の２乗の和及び積算値を算出して更新する処理を行う。この間、コンピュータのプロセッサ９０１は、偏差の２乗の和及び積算値の算出を更新する毎に、偏差の２乗の和及び積算値の算出に用いたセンサ出力を、主記憶装置９０２のＲＡＭ、補助記憶装置９０３等の記憶装置から削除する。そして、標準偏差の算出に用いる複数組のセンサ出力を取得して偏差の２乗の和及び積算値を算出すると、コンピュータ９のプロセッサ９０１は、基準出力、偏差の２乗の和、及び積算値に基づいて、標準偏差を算出する。
【００８４】
デバイス評価プログラムを実行している間、プロセッサ９０１は、デバイス評価装置１における逐次処理部１１０、標準偏差算出部１２０、及び出力部１３０として機能する。また、デバイス評価プログラムを実行している間、主記憶装置９０２のＲＡＭ及び補助記憶装置９０３等の記憶装置は、デバイス評価装置１における記憶部１９０として機能する。
【００８５】
なお、デバイス評価装置１として動作させるコンピュータ９は、図６に示した要素９０１〜９０８の全てを含む必要はなく、用途や条件に応じて一部の要素を省略することも可能である。例えば、コンピュータ９は、媒体駆動装置９０８が省略されたものであってもよい。また、デバイス評価装置１として動作させるコンピュータ９は、図３又は図５のフローチャートに沿った処理を含むデバイス評価プログラムとともに、他のプログラムを実行してもよい。例えば、コンピュータ９は、デバイス評価プログラムを実行して算出した標準偏差、及びその他の補正情報に基づいて、デバイス２（二次元赤外線センサ２Ａ）のセンサ出力を補正する処理を含む補正プログラムを実行してもよい。
【００８６】
以上記載した各実施例を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
（付記１）
コンピュータが、
デバイスが備える複数の素子のそれぞれが出力した複数の信号値を含むセンサ出力を所定数だけ取得する処理と並列に、
取得した前記センサ出力に含まれる前記信号値毎に、該信号値と予め定めた基準出力の信号値との偏差の２乗を算出して該偏差の２乗をメモリに記憶させた偏差の２乗の和に加算して該偏差の２乗の和を更新するとともに、該信号値を前記メモリに記憶させた積算値に加算して該積算値を更新する処理を、前記センサ出力単位で繰り返し、
前記所定数のセンサ出力の全てを取得し前記偏差の２乗の和及び前記積算値の更新が終了した後、前記基準出力の信号値、前記偏差の２乗の和、及び前記積算値に基づいて、前記デバイスの前記素子が出力した信号値の標準偏差を算出し、
算出した前記信号値の標準偏差を前記デバイスの性能の評価指標として外部装置に出力する、
処理を実行することを特徴とするデバイス評価方法。
（付記２）
前記偏差の２乗の和を更新するとともに前記積算値を更新する処理では、前記コンピュータは、更新後に、前記偏差の２乗の和及び前記積算値の算出に用いた前記センサ出力を前記メモリから削除する、
ことを特徴とする付記１に記載のデバイス評価方法。
（付記３）
前記コンピュータは、標準偏差の算出に用いる前記所定数のセンサ出力のうちの、前記デバイスから最初に取得したセンサ出力の信号値を、前記基準出力の信号値として前記メモリに記憶させる、
ことを特徴とする付記１に記載のデバイス評価方法。
（付記４）
前記基準出力の信号値は、前記センサ出力に含まれる全ての信号値に対して共通の値とする、
ことを特徴とする付記１に記載のデバイス評価方法。
（付記５）
前記基準出力の信号値は、前記コンピュータが標準偏差の算出に用いる前記所定数のセンサ出力を前記デバイスから取得する前に、該デバイスが出力したセンサ出力の信号値に基づいて設定された値とする、
ことを特徴とする付記１に記載のデバイス評価方法。
（付記６）
前記基準出力の信号値は、前記デバイスが出力した１つの前記センサ出力の信号値とする、
ことを特徴とする付記５に記載のデバイス評価方法。
（付記７）
前記基準出力の信号値は、前記デバイスが出力した複数の前記センサ出力の信号値の平均値とする、
ことを特徴とする付記５に記載のデバイス評価方法。
（付記８）
前記偏差の２乗の和を更新するとともに前記積算値を更新する処理では、前記コンピュータは、前記偏差の２乗の和及び前記積算値を更新する毎に、偏差の２乗の和の算出対象となったセンサ出力の信号値に基づいて、前記基準出力の信号値を更新する、
ことを特徴とする付記１に記載のデバイス評価方法。
（付記９）
前記コンピュータは、前記デバイスから前記センサ出力を順次取得する、
ことを特徴とする付記１に記載のデバイス評価方法。
（付記１０）
前記コンピュータは、複数の前記センサ出力を記憶した外部装置から前記センサ出力を順次取得する、
ことを特徴とする付記１に記載のデバイス評価方法。
（付記１１）
前記センサ出力の取得と並列に、前記偏差の２乗の和を更新するとともに前記積算値を更新する処理では、前記コンピュータは、前記偏差の２乗の和及び前記積算値を更新する毎に、前記デバイスから新たなセンサ出力を取得する、
ことを特徴とする付記１に記載のデバイス評価方法。
（付記１２）
デバイスが備える複数の素子のそれぞれが出力した複数の信号値を含むセンサ出力を所定数だけ取得する処理と並列に、取得した前記センサ出力に含まれる前記信号値毎に、該信号値と予め定めた基準出力の信号値との偏差の２乗を算出し、該偏差の２乗を記憶部に記憶させた偏差の２乗の和に加算して該偏差の２乗の和を更新するとともに、該信号値を前記記憶部に記憶させた積算値に加算して該積算値を更新する処理を前記センサ出力単位で繰り返す逐次処理部と、
前記所定数のセンサ出力の全てを取得し前記偏差の２乗の和及び前記積算値の更新が終了した後、前記基準出力の信号値、前記偏差の２乗の和、及び前記積算値に基づいて、前記デバイスの前記素子が出力した信号値の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
算出した前記信号値の標準偏差を前記デバイスの性能の評価指標として外部装置に出力する出力部と、
を備えることを特徴とするデバイス評価装置。
（付記１３）
デバイスが備える複数の素子のそれぞれが出力した複数の信号値を含むセンサ出力を所定数だけ取得する処理と並列に、
取得した前記センサ出力に含まれる前記信号値毎に、該信号値と予め定めた基準出力の信号値との偏差の２乗を算出して該偏差の２乗をメモリに記憶させた偏差の２乗の和に加算して該偏差の２乗の和を更新するとともに、該信号値を前記メモリに記憶させた積算値に加算して該積算値を更新する処理を、前記センサ出力単位で繰り返し、
前記所定数のセンサ出力の全てを取得し前記偏差の２乗の和及び前記積算値の更新が終了した後、前記基準出力の信号値、前記偏差の２乗の和、及び前記積算値に基づいて、前記デバイスの前記素子が出力した信号値の標準偏差を算出し、
算出した前記信号値の標準偏差を前記デバイスの性能の評価指標として外部装置に出力する、
処理をコンピュータに実行させることを特徴とするデバイス評価プログラム。
【符号の説明】
【００８７】
１  デバイス評価装置
１１０  逐次処理部
１１１  センサ出力取得部
１１２  偏差２乗和算出部
１１３  積算値算出部
１２０  標準偏差算出部
１３０  出力部
１９０  記憶部
１９１  基準出力保持部
１９２  後続出力保持部
１９３  偏差２乗和保持部
１９４  積算値保持部
２  デバイス
２Ａ  二次元赤外線センサ
２１０  赤外線検出部
２２０  変換部
２３０  出力部
３  表示装置
３１０  補正部
３２０  表示部
３９０  記憶部
９  コンピュータ
９０１  プロセッサ
９０２  主記憶装置
９０３  補助記憶装置
９０４  入力装置
９０５  出力装置
９０６  入出力インタフェース
９０７  通信制御装置
９０８  媒体駆動装置
９１０  バス
１０  可搬型記録媒体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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