(57)【要約】  コンピュータメモリ蓄積用のハードディスクへと製品化されるディスクのカセットシステムであり、一対の端部と、これら端部の間を延びていてディスク受容領域を形成する一対の側壁部分とを有している。側壁部分はいっしょになって、ディスクを保持するための軸方向に位置揃えされた複数のスロットを形成している。端部のうちの少なくとも一つはテストディスクレシーバを有している。テストディスクレシーバはスロット又はポケットである。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のデータ記憶ディスクを処理及び運搬するための基板キャリアシステムであって、そのシステムが、
テストディスクと、
キャリアと、
を有し、キャリアは、一対の離間した端部構造と、これら端部構造の間を延びてディスク受容領域を限定する一対の離間した側壁とを有し、離間した側壁の各々は、ディスク受容領域へ面した複数のリッジを有し、これら複数のリッジが複数のスロットを形成しており、各スロットは複数のデータ記憶ディスクのうちの一つを個々に受容し、端部構造の少なくとも一つがテストディスクを保持するためのディスク受容部分を有しているシステム。
【請求項２】
ディスク受容部分は少なくとも一つの端部構造に形成されたポケットである請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
ディスク受容部分は少なくとも一つの端部構造に形成されたスロットである請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
端部構造の各々はテストディスクを保持するための手段を有する請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
テストディスクは周辺部を有し、周辺部は第１の半径を有する第１の部分と、第２の半径を有する第２の部分とを有し、第２の半径が第１の半径よりも大きくなっている請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
テストディスクは一対の離間したショルダ部分を有し、テストディスクは、テストディスクがディスク受容部分の中に受容されたときに、ショルダ部分とキャリアの少なくとも一つの端部構造との接触によって支持される請求項５に記載のシステム。
【請求項７】
テストディスクの第１の部分はほぼ円形の主要本体部分を有し、テストディスクの第２の部分は主要本体部分から突き出したタブ部分を有する請求項５に記載のシステム。
【請求項８】
側壁の各々は外側エッジを備えた上側フランジを有し、各上側フランジの外側エッジはそこに形成された横方向に延びる複数の鋸歯状部分を有している請求項１に記載のシステム。
【請求項９】
側壁の各々はキャリアを面上に支持するための下側スカート部分を有する請求項１に記載のシステム。
【請求項１０】
下側スカート部分の少なくとも一つはその下側エッジに形成された位置合わせノッチを有する請求項９に記載のシステム。
【請求項１１】
複数のデータ記憶ディスクを処理及び運搬するための基板キャリアシステムであって、そのシステムが、
テストディスクと、
キャリアと、
を有し、キャリアは、一対の離間した端部構造と、これら端部構造の間を延びてディスク受容領域を限定する一対の離間した側壁とを有し、離間した側壁の各々は、ディスク受容領域へ面した複数のリッジを有し、これら複数のリッジが複数のスロットを形成しており、各スロットは複数のデータ記憶ディスクのうちの一つを個々に受容し、端部構造の少なくとも一つがテストディスクを保持するための手段を有しているシステム。
【請求項１２】
テストディスクを保持するための手段は少なくとも一つの端部構造に形成されたポケットである請求項１１に記載のシステム。
【請求項１３】
テストディスクを保持するための手段は少なくとも一つの端部構造に形成されたスロットである請求項１１に記載のシステム。
【請求項１４】
端部構造の各々はテストディスクを保持するための手段を有する請求項１１に記載のシステム。
【請求項１５】
テストディスクは周辺部を有し、周辺部は第１の半径を有する第１の部分と、第２の半径を有する第２の部分とを有し、第２の半径が第１の半径よりも大きくなっている請求項１１に記載のシステム。
【請求項１６】
テストディスクは一対の離間したショルダ部分を有し、テストディスクは、テストディスクがテストディスクを保持するための手段の中に受容されたときに、ショルダ部分とキャリアの少なくとも一つの端部構造との接触によって支持される請求項１５に記載のシステム。
【請求項１７】
テストディスクの第１の部分はほぼ円形の主要本体部分を有し、テストディスクの第２の部分は主要本体部分から突き出したタブ部分を有する請求項１５に記載のシステム。
【請求項１８】
側壁の各々は外側エッジを備えた上側フランジを有し、各上側フランジの外側エッジはそこに形成された横方向に延びる複数の鋸歯状部分を有している請求項１１に記載のシステム。
【請求項１９】
側壁の各々はキャリアを面上に支持するための下側スカート部分を有する請求項１１に記載のシステム。
【請求項２０】
下側スカート部分の少なくとも一つはその下側エッジに形成された位置合わせノッチを有する請求項１９に記載のシステム。
【請求項２１】
別の品質管理用テストディスクを備えている複数のデータ記憶ディスクをバッチ処理するための方法であって、その方法が、
キャリアを準備する段階を有し、キャリアは一対の離間した端部構造と、これら端部構造の間を延びてディスク受容領域を限定する一対の離間した側壁とを有し、離間した側壁の各々は、ディスク受容領域へ面した複数のリッジを有し、これら複数のリッジが複数のスロットを形成しており、端部構造の少なくとも一つがテストディスクを保持するためのディスク受容構造を有し、さらに、
複数のデータ記憶ディスクのうちの一つを個々にキャリアのスロットの各々に配置する段階と、
テストディスクをディスク受容構造の中に設置する段階と、
を有する方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
関連出願
本願は2004年3月26日に出願されたディスクカセットシステムという名称の米国仮特許出願第60/556,848号の利益を主張している。その出願はその全体がここにおいて文献援用される。
【０００２】
発明の分野
この発明はディスクキャリアに関する。さらに詳しくは、この発明はコンピュータのハードドライブディスク基板を処理しパッケージングするためのカセットに関する。
【０００３】
発明の背景
製造及び運搬のときに多数のハードディスク基板を保持するために形成された基板キャリアは、データ記憶デバイス産業においては周知のものである。そうした従来のキャリアの例は、米国特許第5,921,397号、第5,704,494号、第4,669,612号及び第5,348,151号に開示されている。これらの特許の各々はその全体がここにおいて文献援用される。
【０００４】
従来の周知のキャリアを用いてハードディスクの処理を行うとき、一般的な品質管理のやり方では、品質管理の検査やロットの識別のために、ディスクの一つを「テストディスク」として指定している。試験では、検査されるテストディスクに対する損傷や破壊を必要とする。その結果として、バッチ当たりの完成ハードディスクの収量は少なくとも１ディスクだけ減少する。また、指定したテストディスクの処理後の追跡や操作のために、ディスク処理の複雑さが増大する。
【０００５】
また、ディスク処理では、しばしば、３００℃あるいはそれ以上の温度でディスクのベーキングを行うことになる。その結果、処理時におけるディスクキャリアの操作は一般的に自動化されている。ロボット装置の不適切なインデックシング(indexing)によるディスクの損傷や粒子発生を最小限に抑えるために、キャリアの位置合わせにおいては比較的高い精度が望まれる。従来のキャリアは、位置合わせ精度が一般的に実用可能な程度であるけれども、ときには位置合わせを誤ることがあり、その結果として、ディスクが損傷したり、処理環境に過剰な粒子を発生させたりする。
【０００６】
当該業界において要求されているものは、従来のキャリアにおける上述したような欠点に対応したディスクキャリアである。
【特許文献１】米国特許第5,921,397号明細書
【特許文献２】米国特許第5,704,494号明細書
【特許文献３】米国特許第4,669,612号明細書
【特許文献４】米国特許第5,348,151号明細書
【発明の開示】
【０００７】
この発明は、ディスクキャリアに対する当該業界における要求に対応しており、テストディスクの処理をより容易にするとともに、自動位置合わせの精度を改善している。この発明の一実施形態によれば、コンピュータメモリ蓄積用のハードディスクへと製品化されるディスクのためのカセットシステムは、一対の端部と、これら端部の間を延びてディスク受容領域を限定する一対の側壁部分とを有している。側壁部分はいっしょになって、ディスクを保持するための軸方向に位置揃えされた複数のスロットを形成している。端部のうちの少なくとも一つはテストディスクレシーバを有している。テストディスクレシーバはスロット又はポケットである。
【０００８】
この発明の別の実施形態は、側壁部分の各々にある鋸歯状のフランジに特徴を有する。これらのフランジはロボットその他による自動化されたハンドリングシステムのための位置合わせ手段として機能する。フランジは非対称に形成されて、最初のディスクを確実に位置検出できるようになっていることが好ましい。
【０００９】
この発明の一実施形態の特徴は、端部フレームの一方又は両方に、テスト試料を挿入するためのテストディスクレシーバを有していることである。このテストディスクレシーバは、ポケット又はスロットであり、好ましくは、カセット端部の拘束部の中へきっちりと入るような寸法を有している。
この発明によるテストディスクレシーバを備えた端部の利点は、テスト試料が処理されたハードディスクを試験のために指定する必要性をなくしていることである。
【００１０】
この発明による一実施形態の別の特徴は、テストディスクが任意の構造又は形状でよいため、処理中のディスクと容易に識別が可能なことである。
別の実施形態によれば、テストディスクはカセット端部の両方に挿入される。二つのテストディスクを用意することによって、他の高価な製品を破壊することなく、必要に応じて二つのサンプルに対して試験を行えば、品質評価の信頼性が改善される。
【００１１】
この発明の他の特徴や利点は、ディスクキャリアの全体の寸法が変更されず、その結果、業界の標準ベースフットプリントで処理されるディスクの数が同一のまま維持されることである。
この発明の他の目的や利点は、ここでの説明、図面及び請求の範囲を参照すれば、当業者にとっては明らかであろう。
【００１２】
好ましい実施形態の詳細な説明
図１〜図３に描かれているように、この発明の実施形態によるディスクキャリア１０は、一般に、端部構造１２、１４及び側壁１６、１８を有している。これらは開口した底部２１を有するほぼ長方形のディスク受容領域２０を形成するように配置されている。ディスク受容領域２０の中に設置されたディスクのまわりに処理用流体を容易に循環させられるようになっている。側壁１６、１８の各々は複数のリブ２２を有している。リブ２２はディスク受容領域２０へ向かって内向きに配向され、複数のスロット２４を形成するように配置されている。各スロット２４は一つのハードディスク（図示されていない）を受容するような寸法を有しており、多数のハードディスクが軸方向に位置揃えされて配列されるとともに離間された状態で保持されるようになっている。各側壁１６、１８は下側のスタンドオフスカート部分(stand-off  skirt  portion)２６をさらに有している。スカート部２６は図面において寸法「Ｄ」で表された深さを有している。深さＤは、ディスクキャリア１０の底部エッジ２８が面上に設置されたときに、スロット２４の中に受容されたハードディスクを所定の位置に維持するのに十分なように選択される。さらに、下側のスタンドオフスカート部分２６はディスクキャリア１０を確実に位置合わせできるようにするためのセンタリングノッチ３０を有している。
【００１３】
図２及び図３を参照するとわかるように、この発明の一実施形態においては、側壁１６、１８の上側フランジ３６、３８の外側エッジ３２、３４は多数の横方向に突き出した鋸歯状部分４０を有している。この鋸歯状部分４０は、ディスクキャリア１０の自動ハンドリングのときに、インデックス及び位置合わせの手段として機能する。好ましくは、鋸歯状部分４０は端部構造１２、１４の間で外側エッジ３２、３４の長さ全体にわたって延びていて、各端部構造１２、１４に隣接する最初のスロット２４を確実に自動的に位置合わせするとともに識別できるようになっている。
【００１４】
端部構造１２、１４は離間されており、側壁１６、１８の対向する端部に配置されている。各端部構造１２、１４の上側表面４４には、一つ又は複数のアパーチャ４２が設けられている。これは、運搬用デバイス（図示されていない）を受容して、ディスクキャリア１０をロボットによって運搬できるようにするするためのものである。端部構造１２、１４上にはインデックス構造４６が設けられている。これは、アパーチャ又は穴であり、端部構造１２、１４を自動的に区別できるようにするためのものである。各端部構造１２、１４は半円形の切り欠き部(radiused  cutout)４８を有している。切り欠き部４８はカバー（図示されていない）を受容するために外側に面したレリーフ部分５０を有している。ディスクキャリア１０は米国特許第4,557,382号に記載されているような上部カバー及び底部カバーを取り付けることができる。この特許は、その全体がここにおいて文献援用される。
【００１５】
この発明の一実施形態によれば、少なくとも端部構造１２はテストディスクレシーバ５２を有している。これは、スロット又はポケット５４として形成される。ポケット５４の形状や寸法はテストディスクの所望の形状又は寸法に対応するように選択できることがわかるであろう。テストディスクはスロット２４の中に入れられる処理されるディスクと同じ寸法又は形状である必要はない。スロット又はポケット５４は、図１に描かれているように、端部構造１２と一体化されていてもよいし、端部構造１２にリセスとして形成され、別のカバー部材（図示されていない）で覆われたものでもよい。別の実施形態においては、スロット又はポケット５４は、完全に別個の構造として形成され、その後、ハードディスクの処理環境に耐えるだけの十分な強度及び耐久性を有する任意の手段を用いて端部構造１２へ取り付けられたものである。さらに別の実施形態においては、スロット又はポケット５４は、上述した任意の形態を用いて、両方の端部構造１２、１４に設けられる。
【００１６】
ディスクキャリア１０は処理環境に適した任意の材料あるいは材料の組み合わせから形成される。好ましい材料は、所望の寸法及び公差に鍛造あるいは機械加工されたアルミニウムであるが、それ以外に、他の金属も使用できるし、ポリマ又は熱可塑性樹脂、たとえば、ポリエーテルエーテルケトン（ＰＥＥＫ）などを温度が許す限り使用できる。
【００１７】
ディスクキャリア１０の実施形態で使用されるテストディスク５６の形態の一例が図４及び図４Ａに示されている。テストディスク５６は、一般に、平坦な本体５７を有しており、上部５８、下部６０及び周辺部６２を有している。周辺部６２は、一般に、弧状の形状を有し、上部５８は図４において「Ａ」で表されている第１の半径を有し、下部６０は図４において「Ｂ」で表されている比較的小さな半径を有している。上部５８と下部６０との交差領域では、半径の違いによって一対のショルダ６４、６６が形成されている。周辺部６２においては、半径Ａ及びＢの中心を通るディスクの水平軸Ｃ−Ｃと平行に延びる直線部分６８が、ショルダ６４、６６の各々に形成されていることが好ましい。
【００１８】
使用時には、テストディスク５６の下部６０がディスクキャリア１０のポケット５４の中に挿入される。ポケット５４は、直線部分６８が端部１２の上側表面４４に接触するように寸法設定されている。従って、テストディスク５６は、ポケット５４の中において、ショルダ６４、６６で支持され、上部５８は上側表面４４から上方へ延びていて、処理流体に容易にさらされるようになっている。
【００１９】
テストディスク７０の別の実施形態が図５及び図５Ａに示されている。テストディスク７０は、一般に、平坦な本体７２を有しており、上部７４、下部７６及び周辺部７８を有している。この場合も、周辺部７８は、一般に、弧状の形状を有している。しかしながら、この実施形態においては、上部７４は図５において「Ｂ」で表されている第１の半径を有するようなディスクとして形成されている。また、下部７６は上部７４から延びるタブとして形成されており、図５において「Ａ」で表された比較的大きい半径を有する。下部７６は一対の対向する側部８０、８２を有している。これらは、テストディスク７０を貫く垂直の対称軸とほぼ平行に形成されている。
【００２０】
使用時には、下部７６が端部１２のポケット５４の中に挿入される。この実施形態においては、ポケット５４は、下部７６の半円形の底部エッジ８４がポケット５４の底部の上に載って、ディスクの位置を支持するように寸法設定されている。先の実施形態と同様に、上部７４の少なくとも一部は上側表面４４から上方へ延びていて、容易に処理用流体にさらされるようになっている。
【００２１】
描かれている実施形態の各々は、周辺部が二つの半径を備えたテストディスクを有しているけれども、任意の形態又は幾何学形状のテストディスクもこの発明の範囲内で使用できる。この点に関して、ポケット５４及び／又はテストディスクは、各々が所望の任意の形状、寸法又は形態を有する他方に合うように製造される。
【００２２】
以上、ほんのいくつかの実施形態について詳しく説明してきたが、この発明の範囲内における他の実施形態及び修正は当該分野における技術者には明らかであろう。従って、この発明の範囲は、上述した特定の実施形態には限定されることはなく、ここに添付された特許請求の範囲によってのみ限定される。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】この発明の一実施形態によるディスクキャリアの上側斜視図である。
【図２】図１のディスクキャリアの上側平面図である。
【図３】この発明によるディスクキャリアの別の実施形態の上側斜視図である。
【図４】この発明の実施形態によるテストディスクの正面図である。
【図４Ａ】図４のテストディスクの端面図である。
【図５】この発明の別の実施形態によるテストディスクの正面図である。
【図５Ａ】図５のテストディスクの端面図である。
【図６】この発明の実施形態によるディスクキャリアの下側斜視図である。
【図７】図２のディスクキャリアの７−７線断面図である。
【図８】この発明によるディスクキャリアの実施形態の底面図である。
【図９】図８のディスクキャリアの側面図である。
【図１０】図８のディスクキャリアの端面図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図４Ａ】
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【図５】
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【図５Ａ】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【国際調査報告】
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