(57)【要約】  本発明は、記憶層及び読み出し層を備える光磁気記録媒体からの読み取り動作中に少なくとも１つの読み出しパラメータを制御する方法及び装置であって、読み取り信号におけるパルスにつながる拡大磁区が、放射電力による加熱により、かつ、外部磁界の助力によってマーク領域を上記記憶層から上記読み出し層に複製することによって上記読み出し層内に発生させられる。読み取り信号内のパルス・パターンが解析され、解析結果が、上記記憶層に記憶されたデータのランレングス特性と比較される。ランレングス違反の相対的な生起がこの比較から得られ、上記判定された相対的な生起との所定の連続した機能的関係を有するエラー信号が発生させられる。少なくとも１つの読み出し信号が、発生エラー信号に基づいて制御される。これによって、エラー信号が、非制御状態から制御状態への平滑な変遷を達成して制御ループのロバスト性を増加させることが可能であるように検出ランレングス違反の相対的な生起に依存するようになる。
2007518209.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶層及び読み出し層を備える光磁気記録媒体からの読み取り動作中に少なくとも１つの読み出しパラメータを制御する方法であって、読み取り信号におけるパルスにつながる拡大磁区が、放射電力を有する放射ビームによる加熱によってマーク領域を前記記憶層から前記読み出し層に複製することによって前記読み出し層内に発生させられ、
a)前記読み取り信号におけるパルス・パターンを解析する工程と、
b)該解析する工程の結果と、前記記憶層に記憶されたデータのランレングス特性とを比較する工程と、
c)該比較する工程から得られたランレングス違反の相対的な生起を判定する工程と、
d)該判定された相対的な生起との所定の連続した機能的関係を有するエラー信号を発生させる工程と、
e)前記少なくとも１つの読み出しパラメータを前記エラー信号に基づいて制御する工程とを備えることを特徴とする方法。
【請求項２】
請求項１記載の方法であって、前記少なくとも１つの読み出しパラメータは、少なくとも、前記放射電力と、前記読み取り動作中に印加される外部磁界の強度との一方、又は両方を備えることを特徴とする方法。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の方法であって、前記所定の機能的関係は、比例関係を備えることを特徴とする方法。
【請求項４】
請求項３記載の方法であって、前記比例関係を、非制御領域と制御領域との間の遷移領域内に備えることを特徴とする方法。
【請求項５】
請求項１又は２に記載の方法であって、前記判定する工程は、検出ランレングス違反の移動平均の算出を備えることを特徴とする方法。
【請求項６】
請求項１又は２に記載の方法であって、前記判定する工程は、時間平均化工程又は積分工程を備えることを特徴とする方法。
【請求項７】
請求項１、２、５又は６に記載の方法であって、前記ランレングス違反が、パルス集計関数によって、又はタイマ関数によって判定されることを特徴とする方法。
【請求項８】
請求項１又は２に記載の方法であって、前記パルス・パターンが、前記記憶媒体上に記録されたユーザ・データに相当することを特徴とする方法。
【請求項９】
請求項１又は２に記載の方法であって、前記パルス・パターンは、前記記録媒体の所定の部分に記録された所定のマーク・ランレングス及び空間ランレングスを備えた所定のデータ・パターンに相当することを特徴とする方法。
【請求項１０】
請求項９記載の方法であって、前記発生させる工程は、前記所定の部分の読み取り中の前記エラー信号の発生と、前記記録媒体の他の部分の読み取り中の前記発生エラー信号のフリーズとを備えることを特徴とする方法。
【請求項１１】
請求項１０記載の方法であって、前記フリーズされたエラー信号に基づいた制御は、前記記録媒体の前記他の部分上に記録されたユーザ・データから検出されたランレングス変動に基づいて拡充されることを特徴とする方法。
【請求項１２】
請求項９、１０又は１１に記載の方法であって、前記所定の部分はアドレス・ヘッダ部分であることを特徴とする方法。
【請求項１３】
請求項１又は２に記載の方法であって、前記比較する工程は、ランレングス違反の前記相対的な生起の相当する値に前記エラー信号の値を結びつけるルックアップ・テーブルに基づいて行われることを特徴とする方法。
【請求項１４】
記憶層及び読み出し層を備える光磁気記録媒体からの読み取り動作中に少なくとも１つの読み出しパラメータを制御する読み取り装置であって、読み取り信号におけるパルスにつながる拡大磁区が、放射電力による加熱によってマーク領域を前記記憶層から前記読み出し層に複製することによって前記読み出し層内に発生させられ、
a)前記読み取り信号におけるパルス・パターンを解析する解析手段と、
b)該解析手段による該解析の結果と、前記記憶層に記憶されたデータのランレングス特性とを比較し、該比較から得られるランレングス違反の相対的な生起を判定し、該判定された相対的な生起との所定の連続した機能的関係を有するエラー信号を発生させる比較手段と、
c)前記エラー信号を受信し、かつ、前記少なくとも１つの読み出しパラメータを前記エラー信号に基づいて制御する制御手段とを備えることを特徴とする装置。
【請求項１５】
請求項14記載の読み取り装置であって、前記少なくとも１つの読み取りパラメータは、少なくとも、前記放射電力と、前記読み取り動作中に印加される外部磁界の強度との一方、又は両方を備えることを特徴とする装置。
【請求項１６】
請求項１４又は１５に記載の読み取り装置であって、前記エラー信号の値と、前記相対的な生起の値との間の関係を規定する情報を記憶する記憶手段を更に備えることを特徴とする装置。
【請求項１７】
請求項１４、１５又は１６に記載の装置であって、MAMMOSディスクを読み取るためのディスク・プレイヤであることを特徴とする装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録層又は記録層、及び拡張層又は読み出し層を備える、MAMMOS（磁気増幅光磁気システム）などの光磁気記録媒体の読み取り中に放射電力及び/又は磁界強度などの少なくとも１つの読み出しパラメータを制御する方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光磁気記憶システムでは、記録マークの最小幅は、回折限界によって、すなわち、集束レンズの開口数（NA）、及びレーザ波長によって決まる。幅の削減は一般に、より短い波長のレーザ、及びより高いNAの集束光学系に基づくものである。光磁気記録中に、最小ビット長を、レーザ・パルス磁界変調（LP-MFM）を用いることによって光学的回折限度未満に削減することが可能である。LP-MFMでは、ビット遷移は、磁界の切り換えと、レーザの切り換えによって誘起される温度こう配とによって決まる。磁気超解像（MSR）手法又は磁区拡大（DoMEx）手法を、このようにして記録された小さな三日月形状のマークを読み出すのに用いなければならない。こうした手法は、静磁気の、又は交換結合された、いくつかのRE-TM層を備えた記録媒体に基づいている。MSRによれば、光磁気ディスク上の読み出し層は読み取り中に隣接ビットをマスクするよう形成される一方、磁区拡大によれば、スポットの中心における磁区が拡大される。磁区拡大手法のMSRに対する利点は、回折限度未満の長さを備えたビットを、回折限界スポットと同等のサイズを備えたビットのものと同様な信号対雑音比（SNR）によって検出することが可能であるという点である。MAMMOSは、静磁気結合された記憶層及び読み出し層に基づいた磁区拡大手法であって、磁界変調を、読み出し層内の拡大磁区の拡大及び崩壊に用いる手法である。
【０００３】
MAMMOSのような前述の磁区拡大手法では、記憶層からの書き込みマークが、レーザ加熱によって、外部磁界の助力によって読み出し層に複製される。この読み出し層の飽和保磁力が低いことによって、光スポットを埋め、マーク・サイズとは無関係の飽和信号レベルによって検出されるように複製マークが拡大することになる。外部磁界の逆転は、拡大磁区を崩壊させる。一方、記憶層内の空間は複製されないことになり、拡大は何ら生じないことになる。
【０００４】
MAMMOS読み出し処理の分解能、すなわち、隣接ビットからの干渉なしで再生することが可能な最小ビット・サイズは、温度誘起飽和保磁力プロファイルと、ビット・パターンの、外部磁界の強度によって変わってくる漂有磁界プロファイルとの重なりによって決まる、複製処理の空間的範囲（複製ウィンドウ）によって制限される。読み出し処理において用いるレーザ電力は、複製を可能にするのに十分高いものであるべきである。他方で、より高いレーザ電力によって又、飽和保磁力Hcが減少し、漂遊磁界が温度の上昇によって増加することが理由で上記重なりが増加する。この重なりが大きくなりすぎると、空間を正確な読み出しがもう可能でなくなるが、それは偽信号が隣接マークによって生じるからである。この最大レーザ電力と最小レーザ電力との差が電力マージンを定め、この電力マージンはビット長の減少によって大きく減少する。現行の読み出し手法によって、0.10μmのビット長を正しく検出することが可能であるが、電力マージン（すなわち、１６ビットDAC（ディジタル・アナログ変換器）の1ビット）が非常に狭いことを実験は明らかにしている。よって、光電力と、外部磁界の強度とのバランスをとることは、最適な条件を定めるうえで重要な要因である。
【０００５】
しかし、最適な条件が読み出し処理の初期段階中に設定されても、初期のバランスが読み取り中に環境変化によって妨げられることがあり得る。こうした環境変化には、磁界のボケ、ディスクのチルト、温度変化、ディスクの保護膜の厚さの非均一性、スライダの移動が磁気ヘッドに及ぼす影響等があり得る。よって、読み出し中に光電力及び磁界強度を制御することが必須である。
【０００６】
特開第2000-215537号明細書には、ディスク上の所定部分を規定する情報アイテムと、所定パルス数を規定するパルス情報とをディスク上の特定の部分から読み取ることによって光電力、及び/又は外部磁界の磁界強度を制御する方法及び装置が開示されている。更に、所定部分から読み取られた情報が備えるパルス数がカウントされ、パルス情報と比較される。光電力又は磁界強度が更に、比較結果に基づいて調節される。
【０００７】
更に、国際公開第03/023767明細書には、光磁気記録媒体からの読み取り処理中に光電力及び/又は磁界強度を制御するシステムが開示されている。読み取り信号内のパルス・パターンが解析され、解析結果が、記録媒体の記憶層に記憶されたデータのランレングス特性と比較される。放射電力及び/又は磁界強度が、比較結果に応じて制御される。この結果、電力及び/又は磁界の校正に確保しなければならないディスク容量がずっと少なくなるか、全く確保しなくてよくなるが、それは、ユーザ・データをこの目的で用いることが可能であるからである。
【０００８】
ランレングス違反のロバストな検出は、例えば、最小許容マーク・ランレングスが検出されないことを意味する。同様に、最大許容長よりも大きなランレングスの検出は、ランレングス違反を示す。しかし、違反、すなわち、更なるピークの数又は欠落しているピークの数を妥当な信頼度で検出するためには、観察された（ランダムな）データ系列は十分大きくなければならない。このことは、読み出し条件を補正するのに用いることができる適切な制御信号を得る前に多くのデータ・エラーが生じることを意味する。更に、エラー信号の離散的な特性によって、ロバストな制御ループの設計は、単純なものとはかけ離れたものになる。
【０００９】
図４は、エラー信号値を読み出しパラメータに対して示す図であり、この図では、エラー信号を、読み出しパラメータの値に応じてステップ単位で変化させている。図４に示すように、これは、例えば、ディスクの光学的特性又は磁気的特性における非均一性の場合、もっと悪くなる。読み出しパラメータが公称範囲のすぐ外にある場合、エラー信号がなおゼロである一方で、いくつかのデータ・エラーが生じる。例えば、+1のピークが生じ得るが、それは、しかし、判定閾値のなお下であるので、補正措置は何ら講じられない。読み出しパラメータが十分にそれる場合にのみ、エラー数は、エラー信号を発生させるのに十分大きい。よって、エラー信号の従来の離散的な特性は、粗い制御、及び、相当量の読み出しエラーを伴った遅い応答という欠点を有する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明の目的は、ロバスト性を向上させた、改良された読み取りパラメータ制御を提供する方法及び装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
この目的は、請求項１記載の方法及び請求項１４記載の装置によって達成される。
【００１２】
よって、エラー信号と、ランレングス違反の相対的な生起との間の連続した機能的関係が理由で、平滑なエラー信号を発生させることが可能であり、エラー信号値の望ましくない離散的なジャンプを妨げることが可能である。特に、エラー信号の値をランレングス違反の相対量に適合させることが可能である。このことは、改良された制御及び応答を、読み出しエラー数の削減によって達成することが可能であることを意味する。
【００１３】
所定の機能的関係は、比例関係を備え得る。この比例関係は、非制御領域と制御領域との間の遷移領域において設け得る。ディスクの非均一性によって1つ又は複数の遷移領域において主に生じる読み出しエラーは、それによってかなり削減することが可能である。
【００１４】
相対的な生起は、検出ランレングス違反の移動平均を算出することによって判定し得る。あるいは、判定は、時間平均化手順又は積分手順に基づくものであり得る。こうした別の手順は、エラー信号の離散的な特性に関連した上記課題に対する単純な解決策を提供する。
【００１５】
ランレングス違反は、パルス集計機能又はタイマ機能によって判定し得る。
【００１６】
解析に用いるパルス・パターンは、記録媒体上に記録されるユーザ・データに相当するものであり得るものであり、あるいは、パルス・パターンは、記録媒体の所定部分に記録された所定のマーク及び空間のランレングスを備えた所定のデータ・パターンに相当し得る。制御は、所定又は既知のデータ・パターン及びランダムなユーザ・データの組み合わせた評価又は解析に基づいていることもあり得る。所定データ・パターンは、ピークの検出数を集計し、期待数を除算することによって直接得ることが可能である。小さなランレングス数がよって、信頼度の高い検出には十分である。オプションとして、エラー信号を、所定の部分の読み取り中に発生させることができ、記録媒体の他の部分の読み取り中にフリーズさせる、又は一定に保つことが可能である。フリーズさせたエラー信号に基づいた制御を、記録媒体の他の部分上に記録されたユーザ・データから検出されたランレングス変動に基づいて拡充することが可能である。
【００１７】
特定の例として、所定の部分はアドレス・ヘッダ部分であり得る。
【００１８】
比較を、エラー信号の値を、ランレングス違反の相対的な生起の相当する値に結びつけるルックアップ・テーブルに基づいて行うことができる。
【００１９】
他の効果的な更なる展開を従属項に規定する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下に、本発明を、好ましい実施例に基づいて、添付図面を参照して説明する。
【００２１】
好ましい実施例を次に、図１に示すようにMAMMOSディスク・プレイヤに基づいて説明する。
【実施例】
【００２２】
図１は、好ましい実施例によるディスク・プレイヤの構成を示す。ディスク・プレイヤは、符号データと同期化させた周期を備えるパルスに記録中に変換された光によって、光磁気ディスクなどの光磁気記録媒体又は記録担体１０の照射のためのレーザ光放射部と、記録及び再生中に制御されたやり方で光磁気ディスク１０に磁界を印加させる磁気ヘッド１２を備える磁界印加部とを有する光ピックアップ装置３０を備える。光ピックアップ装置３０では、レーザはレーザ駆動回路に接続され、レーザ駆動回路は記録パルス及び読み出しパルスを記録/読み出しパルス調節装置３２から受信して、記録及び読み出しの動作中に光ピックアップ装置３０のレーザのパルス振幅及びタイミングを制御する。記録/読み出しパルス調節回路３２は、PLL（位相ロック・ループ）回路を備え得るクロック発生器２６からクロック信号を受信する。
【００２３】
なお、単純化する理由で、磁気ヘッド１２及び光ピックアップ装置３０を図１のディスク１０の両側に示す。しかし、好ましい実施例によれば、ディスク１０の同じ側に配置するべきである。
【００２４】
磁気ヘッド１２は、ヘッド・ドライバ装置１４に接続され、記録中に変調器２４から位相調節回路１８を介して符号変換データを受信する。変調器２４は入力記録データを所定符号に変換する。
【００２５】
再生中、ヘッド・ドライバ１４はクロック発生器２６から再生調節回路２０を介してクロック信号を受信し、再生調節回路２０は、磁気ヘッド１２に印加されるパルスのタイミング及び振幅を調節するための同期化信号を発生させる。記録/再生スイッチ１６を、記録中及び再生中にヘッド・ドライバ１４に供給する対象のそれぞれの信号を切り換える、又は選択するために設ける。
【００２６】
更に、光ピックアップ装置３０は、ディスク１０から反射されたレーザ光を検出し、読み取り信号を復号化して出力データを生成するよう構成された復号器２８に印加される相当する読み取り信号を生成する検出器を備える。更に、光ピックアップ装置３０によって発生させられる読み取り信号は、クロック発生器２６に供給され、クロック発生器２６では、ディスク１０のエンボス・クロック・マークから得られるクロック信号が抽出され、クロック発生器２６は、同期化目的のためにクロック信号を、記録パルス調節回路３２と、再生調節回路２０と、変調器２４とに供給する。特に、データ・チャネル・クロックをクロック発生器２６のPLL回路内に生成することができる。
【００２７】
データ記録の場合、光ピックアップ装置３０のレーザが、データ・チャネル・クロックの周期に相当する固定周波数によって変調され、回転ディスク１０のデータ記録領域又はスポットが局所で、等距離で加熱させられる。更に、クロック発生器２６によって出力されるデータ・チャネル・クロック出力は、変調器２４を制御して、標準的なクロック周期を備えたデータ信号を発生させる。記録データを変調器２４によって変調し、符号変換して、記録データの情報に相当する2値ランレングス情報を得る。
【００２８】
光磁気記録媒体１０の構造は、特開第２０００―２６００７９号明細書記載の構造に相当し得る。
【００２９】
大きな重なり（例えば、高すぎるレーザ電力）による偽信号の生起は通常避けるべきである。しかし、記憶層内の正確なデータが既知の場合、その生起と偽ピークの数は、熱レーザ・プロファイルに直接関係する、複製ウィンドウの空間幅に関する直接情報を与える。この情報は、ディスク上の先行データ及び/又は後続データを補正するのに用いるのみならず、レーザ電力、及び/又は外部磁界の磁界強度などの読み出しパラメータを補正する直接的な方法も提供することが可能である。
【００３０】
図１に示す実施例では、レーザ電力、及び/又は外部磁界の強度が、考えられる読み出しパラメータの例として制御される。しかし、複製ウィンドウのサイズ又は位相に影響を及ぼす他の適切な読み出しパラメータを同等にうまく制御することができる。制御装置２５を、第１の制御信号又はエラー信号３８及び第２の制御信号又はエラー信号３９をヘッド・ドライバ１４及び/又は光ピックアップ装置３０に供給するために設ける。第１の制御信号３８は、光ピックアップ装置３０に供給され、レーザ・ダイオード又は別の放射源の電流を駆動させて、ディスク１０を加熱させるために用いる光放射又はレーザ電力を調節するのに用いることが可能である。第２のエラー信号３９はヘッド・ドライバに供給され、磁気ヘッドで設けられるコイル配置の界磁電流を調節して、外部磁界の、磁界強度、すなわち磁界の強さを調節することが可能である。２つのエラー信号３８、３９を別のエラー信号又は合成させたエラー信号として供給することができる。後者の場合、ヘッド・ドライバ１４に供給される第２のエラー信号３９を光電力と磁界強度との間のバランスの細かい調節に用いることができる一方、光ピックアップ装置３０に供給される第１のエラー信号３９を、粗い調節に用いることができる。これは、光電力の変動が漂遊磁界にも飽和保磁力プロファイルにも影響を及ぼす一方、外部磁界の変動は、合計漂遊磁界のみにしか影響を及ぼさないからである。
【００３１】
制御装置２５は、復号器２８から得た読み出しデータの解析の結果を、不揮発性メモリ、例えば、ルックアップ・テーブル２３に記憶された参照データと比較する比較装置２２の比較結果を受信する。解析は、復号器２８から読み出しデータを受信する解析装置２１によって行われる。
【００３２】
図２は、ディスク１０のトラック上の磁化領域の空間的配置を示す、上の線で示すような、I１個のマーク（上方磁化）によって隔てられた空間（（相当する矢印によって示す）下方磁化）ランレングス
【００３３】
【数１】
2007518209.tif 000003
の範囲を備えたディスクの例の信号図を示す。表記
【００３４】
【数２】
2007518209.tif 000004
は、n個のチャネル・ビット（最小の空間又はマークの領域）に相当する持続時間を備えた空間ランレングスを表す一方、表記「In」はn個のチャネル・ビットに相当する持続時間を備えたマーク・ランレングスを表す。別々の複製ウィンドウ・サイズw1、w2及びw3によって走査した結果として生じる、重なり（上から2番目の行）の時間依存性も、外部磁界（3番目の行）によって発生させられるMAMMOSの信号又はピーク（４番目の行）とともに示す。通常の正しい読み出しのためには、複製ウィンドウは、（図２の複製ウィンドウ・サイズw1にあてはまる）チャネル・ビット長bの半分より小さいことを要する。この場合、各マーク・チャネルによって１つのMAMMOSピークがもたらされることになり、空間チャンネルの場合、ピークは何ら発生させられない。よって、連続したm個のピークの検出はIm個のマークのランレングスを示す一方、欠落しているs個のピークは
【００３５】
【数３】
2007518209.tif 000005
の空間ランレングスを示す。この状況を図２の実線によって示す。更に大きなウィンドウ・サイズ、例えばw2の場合、MAMMOSのピークは、更に大きな重なり（図２中の破線）のためにマーク領域の近くの空間領域についても発生させられることになる。例えば、I1個のマークによってこの場合、1個でなく3個のピークがもたらされることになる。明らかに、
【００３６】
【数４】
2007518209.tif 000006
個の空間及び
【００３７】
【数５】
2007518209.tif 000007
個の空間はその場合、もう検出することが可能でない。
【００３８】
【数６】
2007518209.tif 000008
個の空間は、欠落した（3個でなく）1個のピークを示すことになる。更に大きなウィンドウ・サイズ（2.5b＜w<4.5b）、例えば、w3によって、空間ランレングス検出及びマーク・ランレングス検出において4個のピークの差がもたらされるが、
【００３９】
【数７】
2007518209.tif 000009
の空間は、（欠落した１個のピークによって）検出することが可能な最小空間ランレングスである。
【００４０】
図３は、所定のランレングスで検出することが可能なピーク数又は欠落ピーク数に対して、異なる複製ウィンドウ・サイズが及ぼす影響を要約したテーブルを示す。ウィンドウ・サイズがチャネル・ビット長bの半分よりも小さい場合、読み出しデータの検出ピーク数及び欠落ピーク数は、記録情報のランレングスに相当する。複製ウィンドウ・サイズがb/2と2.5bとの間の範囲にある場合、検出ピーク数は記録マーク・ランレングスに2個のピークを加えたものに等しく、欠落ピーク数は、（ランレングスが3以上であると仮定すれば）記録空間ランレングスから2個のピークを引いたものに等しい。更に、複製ウィンドウ・サイズが2.5bと4.5bとの間の範囲にある場合、検出ピーク数は記録マーク・ランレングスに4個のピークを加えたものに等しく、欠落ピーク数は、記録空間ランレングスから4個のピークを引いたものに等しい、等である。
【００４１】
種々の読み取りストラテジ及び書き込みストラテジについて異なり得るが、（図２の構成と同様に）非常に容易に導き出すことが可能であり得るこのようなテーブルを利用して、複製ウィンドウを比較装置２２で測定することが可能であり、それによって、磁界強度及び/又は光電力を、制御装置２５によって発生させられる上記エラー信号３８、３９を用いて制御される。複製ウィンドウは、レーザ電力（、並びに周囲温度及び外部磁界）の増加とともに増加するので、読み出し中に電力及び/又は磁界の制御を、例えば、書き込みデータにおけるランレングス違反の検出によって、かつ/又は、既知のマーク・ランレングス及び空間ランレングスを備えた所定のデータ・パターンを備えた検査領域を用いることによって行うことが可能である。第１の選択肢は、電力の校正に確保しなければならないディスク容量がずっと少ないか、ディスク容量を何ら確保しなくてよいので特に魅力的であるが、それは、ユーザ・データがこの目的で用いられるからである。更に、ウィンドウが測定されると、（欠落）ピークの先行データ・ストリーム（の大半）を正しいランレングス・データに、ルックアップ・テーブル２３に記憶し得る、図３のテーブル情報をやはり用いて変換することが可能である。このようにして、環境変化の影響、例えば、周囲温度の変化、外部磁界強度（コイルからディスクまでの距離）、及びディスク特性におけるゆるやかな変動を実行中に補正することが可能である。
【００４２】
ランレングス違反は解析装置２１によって、例えば、パルス集計関数による読み出し信号のピーク数の判定に基づいて、又は、タイマ関数による読み出し信号の空間周期の測定に基づいて判定される。
【００４３】
(0,6)変調を仮定すれば、最小のマーク及び空間はＩ１及び
【００４４】
【数８】
2007518209.tif 000010
である一方、最大のマーク及び空間領域はＩ７及び
【００４５】
【数９】
2007518209.tif 000011
のそれぞれである。よって、解析装置２１によって観察されるデータ系列内の最小マーク・ランレングスが１よりも大きい（例えば、３個の連続ピーク）の場合、比較装置２２は、（先行データ全てに対して）2個のピークの補正と、よって、b/2と2.5bとの間のウィンドウ・サイズとを判定する。最大観察空間ランレングス
【００４６】
【数１０】
2007518209.tif 000012
が、例えば、7個でなく3個の欠落ピークしか示さない場合、比較装置２２は、4個のピークの補正と、2.5bと4.5bとの間のウィンドウ・サイズとを判定する。なお、そうした大きなウィンドウによって、
【００４７】
【数１１】
2007518209.tif 000013
及びより大きな空間ランレングスを検出し、補正することが可能であり、これはやはり、幾分密なレーザ電力制御に対する必要性を明らかにするものである。いずれの場合でも、光電力及び/又は磁界強度は、比較結果に基づいて制御装置２５で判定される相当量分削減されることを要する。変調のランレングス特性は、ディスク１０上に備えられるか、又は、ディスク・プレイヤの入力機能によって入力される情報に応じて解析装置２１又はルックアップ・テーブル２３においてあらかじめ設定することができる。
【００４８】
所要レーザ電力の更に好適な制御のために、ルックアップ・テーブル又はいくつかのアルゴリズム・パラメータをディスク１０上の所定の部分内にあらかじめ記録することができる。ルックアップ・テーブルは、ディスク１０の所定のウィンドウ対レーザ電力データの特性を記憶し得るものであり、この特性を制御装置２５によって読み取り、用いて、制御信号を発生させ得る。より高い線形速度（例えば、ＣＡＶ動作速度や別の読み出し速度）の場合、同じ温度に達するためにレーザ電力を増加させることを要する。よって、テーブルは、例えば、内部半径と外部半径との間の、変数として、又は、内挿手法としてディスク半径を備え得る。
【００４９】
エラー信号の離散的な特性から生じる上記問題、及び非均一性問題の単純な解決策は、第１のエラー信号及び/又は第２のエラー信号38、39を更なるピーク又は欠落ピークの検出数の相対的な生起に比例させることである。
【００５０】
図５は、本発明の好ましい実施例による、エラー信号の連続した特性を備えた改良された読み出し制御の場合の、第１のエラー信号及び/又は第２のエラー信号３８、３９（垂直軸）、対読み出しパラメータ、例えば、放射電力及び/又は磁界強度（水平軸）を示す図である。図５では、それぞれの矢印は、公称読み出しパラメータの範囲であって、前記第１のエラー信号３８及び/又は第２のエラー信号３９がゼロである範囲と、制御読み出しパラメータの範囲とを示す。制御範囲は、読み出しパラメータに応じてエラー信号が連続して変えられる連続領域を備える。エラー信号が連続して変えられる網掛け領域は、ディスクの非均一性によってもたらされる遷移領域を表す。
【００５１】
そのように連続して変動するエラー信号は、例えば、比較装置２２によって検出される違反の移動平均を例えば、制御装置２５において算出することによって、又は、時間平均化演算若しくは積分演算によって得ることができる。例えば、時間の２５％中の+1ピークの違反（、及び残りの７５％中の定格）によって、+0.25のエラーがもたらされ、時間の50%の-１ピークの違反の場合、-0.50のエラーがもたらされることになる、等である。しかし、そうした解決策は、信頼度が高く、安定したエラー信号を得る場合に、なお、大きなデータ系列にわたって積分しなければならないことになる。エラー信号値と判定された相対的な生起との間の何れかの他の機能的関係を用い、かつ、制御装置２５、又は、ルックアップ・テーブル２３や何れかの他のルックアップ・テーブル若しくはメモリに記憶し得る。
【００５２】
よって、更なる改良、又は任意的な修正は、上記改良された制御を小さな検査領域、例えば、既知のデータ・パターン、例えば
【００５３】
【数１２】
2007518209.tif 000014
の担体、
【００５４】
【数１３】
2007518209.tif 000015
の担体や、
【００５５】
【数１４】
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のパターンによって等間隔に、ディスク上に備えられた、前述のもの、又は更なるものと組み合わせることである。更なるピークの数は、検出ピーク数をカウントし、期待数を減算することによってそうした既知のパターンから直接得られる。少数のランレングスが、この場合における高精度の検出に既に十分であるので、そうした多くの領域を、容量オーバヘッドが非常に小さい状態に留めながら設けることが可能である。このことは、より高速で、より正確な制御につながり、よって、読み出しエラー数の削減につながることになる。実用的な実施例では、例えばアドレス・ヘッダ部分において備え得るこうした検査領域から得られるエラー信号、例えば、第１のエラー信号３８及び/又は第２のエラー信号３９は、1つ又は複数の読み出しパラメータ、例えば、外部磁界の放射電力及び/又は磁界強度の制御に備える制御ループ内で排他的に用い得る。
【００５６】
図６は、好ましい実施例による制御手順の流れ図である。工程S１０１では、検査領域（ヘッダ部分）が、例えば解析装置２１によって、検出される。更に、工程S102では、読み出しデータにおいて検出されるピークが解析装置２１によって集計される。工程S103では、制御装置２５は、比較装置２２から得られる出力情報から第１のエラー信号３８及び/又は第２のエラー信号３９を算出し、これらの第１のエラー信号及び/又は第２のエラー信号３８、３９をそれぞれの制御ループに供給する。更に、制御ループ、すわわち、第１のエラー信号及び/又は第２のエラー信号３８、３９の値は、手順が当初工程S101にもう一度飛んでから次の検査領域が検出されるまでフリーズ又は維持される。更なる措置又は改良として、検査領域間のユーザ・データからの比較装置２２によって判定されたランレングス違反結果を用いて、エラー信号又は制御信号をサポート又は拡充することができる。
【００５７】
なお、本発明を、光磁気ディスク記憶システムにおける磁区拡大のために何れかの読み取りシステムに施すことができる。解析装置２１、比較装置２２、ルックアップ・テーブル２３及び制御装置２５の機能を、相当する制御プログラムによって制御されるハードウェア装置又はプロセッサ装置であり得る単一の装置において備えることができる。読み出しデータを光ピックアップ装置３０から解析装置２１に直接供給することができる。好ましい実施例はよって、特許請求の範囲の範囲内で変わり得る。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】好ましい実施例による光磁気ディスク・プレイヤの略図である。
【図２】重なりの度合いが異なる読み出しストラテジの信号図である。
【図３】所定のマーク又は空間のランレングスに基づいた複製ウィンドウの空間幅の範囲を判定するテーブルである。
【図４】エラー信号の離散的な特性による従来技術の読み出し制御について、エラー信号対読み出しパラメータを示す図である。
【図５】好ましい実施例による、エラー信号の連続した特性による改良された読み出し制御について、エラー信号対読み出しパラメータを示す図である。
【図６】好ましい実施例による制御手順の流れ図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
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