(57)【要約】  セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーを含む支持材組成物。この組成物は、セラミック材料の顆粒および非放射性、検出可能な材料の顆粒を、凝集させ、圧縮によって粒子を作成することによって調製することができる。支持材組成物の複数の粒子が導入された、割れ目の入った地下累層中の支持材の逆流は、試料中のトレーサーの存在を検出することにより、この逆流の試料を分析することによって追跡することができる。【特許請求の範囲】
【請求項１】
セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーを含む支持材組成物。
【請求項２】
前記支持材組成物が粒子である、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項４】
前記トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項３に記載の支持材組成物。
【請求項５】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タナラム、ジルコニウム、ラナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項６】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項５に記載の支持材組成物。
【請求項７】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項６に記載の支持材組成物。
【請求項８】
樹脂を実質的に含まない、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項９】
前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１０】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１１】
コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された粒子を含み、前記粒子が前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた前記非放射性、検出可能なトレーサーを含む、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項１２】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１４】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、希土類金属、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１５】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１６】
前記粒子が、前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１７】
前記粒子が約２０メッシュから約４０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１８】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１９】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２０】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２１】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２２】
非放射性、検出可能な材料が複数の異なるトレーサー金属である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２３】
非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウムおよびゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロムおよびマンガンからなる群から選択される複数のトレーサー金属の組合せである、請求項２２に記載の支持材組成物。
【請求項２４】
前記トレーサーが、組成物の約０．０３から約０．２重量パーセントを構成する、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項２５】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２６】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２７】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２８】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２９】
非放射性、検出可能な材料およびセラミック材料を含む粒子を製造する方法であって、前記粒子を製造するために、前記セラミック材料の顆粒および前記非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させることを含む方法。
【請求項３０】
前記非放射性、検出可能な材料が、前記セラミック材料中に存在しないか、または重量に基づいて約１，０００ｐｐｍ未満の濃度において前記セラミック材料中に存在する、請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥または圧縮によって実施される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
前記粒子が約２０メッシュと約４０メッシュの間の大きさである、請求項２９に記載の方法。
【請求項３３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３４】
トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３６】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３４に記載の方法。
【請求項３７】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３５に記載の方法。
【請求項３８】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項２５に記載の方法。
【請求項３９】
前記粒子が、前記セラミック材料に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料から本質的になる、請求項２５に記載の方法。
【請求項４０】
前記粒子が、前記セラミック材料と接触している非放射性、検出可能な材料を含む、請求項２５に記載の方法。
【請求項４１】
セラミック材料の顆粒および非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させて、セラミック材料中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料を含み、樹脂を実質的に含まない粒子を製造し、次いで、前記樹脂を実質的に含まない粒子をコーティング材料により少なくとも部分的被覆することを含む、コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された、実質的に樹脂を含まない粒子の製造方法。
【請求項４２】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥、または圧縮によって実施される、請求項４０に記載の方法。
【請求項４３】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項４０に記載の方法。
【請求項４４】
前記粒子が、前記セラミック材料に接触している非放射性，検出可能な材料を含む、請求項４０に記載の方法。
【請求項４５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項４０に記載の方法。
【請求項４６】
試料中のトレーサーの存在を検出することによって逆流の試料を分析することを含む、請求項２に記載の複数の支持材組成物粒子が導入された割れ目の入った地下累層における、支持材の逆流を追跡する方法。
【請求項４７】
地下累層の形成が複数の帯域を有し、請求項２４に記載の複数のタイプの支持材組成物粒子を導入することによって逆流が追跡され、支持材組成物粒子のそれぞれのタイプは、他のタイプの支持材組成物粒子のトレーサーから区別可能なトレーサーにより標識されており、それぞれのタイプの支持材組成物粒子を異なる帯域に導き、それぞれのトレーサーの存在を検出することによって帯域の少なくとも１つからの逆流の試料を分析し、これにより逆流に伴う支持材組成物粒子のタイプを特定する、請求項４５に記載の方法。
【請求項４８】
トレーサーの少なくとも１つがトレーサーのタイプの組合せである、請求項４６に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、支持剤に関し、より詳細には支持剤の存在の検出を可能にするために標識付けられた支持剤に関する。
【背景技術】
【０００２】
地下累層からの原油および天然ガスなどの炭化水素の回収を最大にしようとする場合に直面する問題の１つは、低透過性累層内の炭化水素の閉じ込めである。実際に、坑井は、しばしばこのような低透過性岩石累層中に閉じ込められた大量の炭化水素を含む。閉じ込められた炭化水素は、勿論、坑井孔に容易に流れない。
【０００３】
したがって、閉じ込められた炭化水素を含む地下累層には、しばしば「割れ目」を入れて、累層からの閉じ込められた炭化水素の回収を増大させる。一般に割れ目を入れるには、累層応力を上回る速度および圧力で、増粘された水性流体または炭化水素流体を坑井孔中に注入し、これにより岩石疲労を起こさせ、累層中に新規な割れ目を開口または誘導する。割れ目とは、累層マトリックス中の自然のまたは誘導された裂け目、または流路である。注入される流体は通常、一般に「支持剤」または単に「支持材」と呼ばれる支持材材料を含む。支持材は、砂またはセラミック粒子などの微粒子固体であり、支持材は樹脂などの他の材料により被覆されていてよいし、されていなくともよい。作用させた注入圧力が除かれた後に、そうしなければ閉じようとする割れ目が、割れ目中に残された支持剤によって支持開口される。したがって、さらに通過性の流路が形成されて、注入圧力が除かれた後に、油またはガスを坑井孔に流れるようにする。
【０００４】
しかし、しばしば支持材の実質的部分が、割れ目中に残留せず、坑井孔に逆流する。このような支持材の逆流は、割れ目を支持開口する目的に役立つべく逆流させられた支持材の破壊により、非効率な結果となるのみならず、生産装置の深刻な磨耗を生じることがある。支持材が送入される２つ以上の帯域を含む坑井において、どの帯域が支持材逆流問題の根源である可能性があるかを決定することは、非常に難しいことである。したがって、支持材逆流問題は、このような坑井において、特に面倒なものである。
【０００５】
支持材逆流の根源であるその帯域（１つまたは複数）を区別するための手段を提供するいくつかの技法が開発されてきた。一般に、このような技法は、何らかの標準方法によって検出することができるトレーサーまたはマーカーにより支持材を標識するものである。このような技法によれば、それぞれの帯域に送入される支持材は、他の帯域に関連付けられたトレーサーとは異なるトレーサーにより標識される。どのトレーサーが、累層から逆流した支持材中に存在するかを検出することによって、次いで、支持材が流出する帯域を、決めることができる。
【０００６】
しかし、今迄に開発された技法は、どれも完全に満足の行くものではない。例えば、放射性トレーサーが使用されてきたが、放射性材料は保存寿命が短い傾向があり、取り扱いが難しいことがあり、環境に有害な可能性がある。米国特許第６，６９１，７８０号は、非放射性材料により支持材を標識する技法を開示しているが、この技法は支持材を覆う樹脂被覆内の標識を使用する。したがってこの技法は、樹脂被覆された支持材に限定され、被覆が摩擦、熱または他の原因によって失われた場合には、標識が損失され易い。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
結果として、上述の問題を回避する優れた標識支持材、およびこれらを製造する方法が依然として求められている。特に、標識支持材が非放射性であること、および摩擦などによるトレーサーの損失を受けないように標識されることが望まれる。さらに、支持材は、分散媒体中に懸濁する必要があり、割れ目を支持開口するために実質的な力に耐える必要があるために、および支持材の目的が、流体の流動または「通過性」を増大することであるために、標識支持材は、非標識支持材の強度および密度を維持すべきであり、および非標識支持材と少なくとも同様の通過性（すなわち、流体の流動）を備えるべきである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
したがって、簡潔に言えば、本発明はセラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーを含む新規な支持材組成物を対象とする。
【０００９】
また本発明は、非放射性、検出可能な材料およびセラミック材料を含む粒子を製造する新規な方法であり、粒子を製造するために圧縮によって、セラミック材料の顆粒、および非放射性、検出可能な材料の顆粒の凝集を含む方法を対象とする。
【００１０】
また、本発明は、セラミック材料中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料を含む樹脂を実質的に含まない粒子を製造するための、セラミック材料の顆粒および非放射性、検出可能な材料の顆粒の凝集を含む、樹脂被覆をする必要はないが、（そのように所望する場合には）樹脂により少なくとも部分的に被覆することができる、樹脂を実質的に含まない粒子を製造する新規な方法を対象とする。被覆が所望される場合は、このように形成された、樹脂を実質的に含まない粒子を、次いで被覆材料により少なくとも部分的に被覆してもよい。
【００１１】
また、本発明は、複数のこのような標識支持材組成物粒子が導入された、割れ目の入った地下累層において、支持材の逆流を追跡する新規な方法を対象とする。この方法によれば、逆流の試料は、試料中のトレーサーの存在を検出することによって分析される。
【００１２】
したがって、本発明によって実現されることがわかったいくつかの利点の中で、コーティングによりセラミック材料を伴うよりも、セラミック材料と一体となっている標識を提供すること；このような標識を担持する支持材を供給すること；標識が存在するにもかかわらず望ましい強度、密度および通過性を維持するような支持材を供給すること；このような標識支持材を調製する方法を提供すること；およびこのような支持材を伴う微粒子逆流を追跡する方法を供給すること、に留意することができる。
【００１３】
本発明のさらなる特徴および利点、ならびに本発明の種々の実施形態の構造および操作は、添付図面を参照して、以下詳細に記載する。
【００１４】
本発明によれば、驚くべきことに、支持材の強度または通過性を減少させることなしに、あるいは支持材の密度を望ましくなく変えることなしに、非放射性トレーサーをセラミック支持材中に埋め込むことができることが発見された。実際に、支持材は、本発明の方法によって標識することができ、同等の強度および密度を有する、標識支持材の異なる変型を区別できるようにする。さらに、標識は、セラミックに埋め込まれているので、摩擦、熱または一般に支持材が出合う他の原因による、支持材の磨耗または剥離する傾向がない。また、主題の発明のトレーサーは、放射性トレーサーのように崩壊しないので、トレーサーは有害でなく、実質的に無限の保存寿命を有する。
【００１５】
ボーキサイト（低品質または「真」のボーキサイト）もしくはカオリンを含む粒子またはボーキサイトもしくはカオリン由来の粒子または１種または複数のクレー、アルミナ、シリカおよびこれらのいずれかの混合物を含む他の粒子は、本発明の調製技法による標識に特に適することが見い出された。しかし、セラミック支持材のいずれも本発明の調製技法によって標識することができると思われる。セラミック材料の多くが支持材に適することはよく知られている。例えばＬｕｎｇｈｏｆｅｒ米国特許第５，１２０，４５５号、Ｆｉｔｚｇｉｂｂｏｎ米国特許第４，４２７，０６８号および同第４，８７９，１８１号、およびこれらの特許のそれぞれにおいて引用されている特許は、種々の支持材および支持材材料を特定しており、参照により本明細書に組み込む。本明細書においては、支持材材料自体は、これに適用されるトレーサーとは異なり、区別して、「セラミック組成物」と呼ぶ。
【００１６】
本発明の標識支持材は、支持材製造業においてよく知られている任意の標準ペレット化またはタブレット化技法、粉体を支持材、ペレットまたはタブレットに凝集させるペレット化およびタブレット化技術によって調製することができると思われる。しかしここでは、粉体は、セラミック組成物およびトレーサーの混合物であり、以下に論ずるように、得られる粒子、ペレットまたはタブレットは、適切な支持材についてよく知られているように、適当な大きさ、形状、強度および密度を有する。したがって、例えば、標識支持材は、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥、または圧縮によって調製することができる。優れた標識支持材を得るために形成された圧縮技法の例が、非標識支持材について、米国特許第４，８７９，１８１号に記載されている。ただし、ここでは、上に述べたように、か焼クレー、アルミナ、ボーキサイトおよびこれらの混合物以外の代替セラミック組成物を出発成分におけるセラミック組成物として使用することができ、非放射性、検出可能なトレーサーを、セラミック出発成分と混合する。得られた混合物を混練し、均質化し、圧縮することよってペレット化する。
【００１７】
トレーサーは、特に、試料の化学的組成物を決めることができる方法による検出で、支持材中に検出可能な任意の非放射性材料であってよい。例えばトレーサー材料は、誘導と組合せの高周波プラズマ（ＩＣＰ）、Ｘ線蛍光、またはプロトン誘導Ｘ線放射（ＰＩＸＥ）によって検出可能なものであってよい。しかし、化学分析などの、トレーサーの存在を検出することができる他の方法を使用してよい。このような方法によって、ある種の材料の存在を検出する技法はよく知られている。したがって、米国特許第６，６９１，７８０号は、ＩＣＰにより標識支持材の存在を検出する方法を記載する。米国特許第６，６９１，７８０号の支持材は、トレーサー含有樹脂被膜により標識されているが、この特許のＩＣＰ検出技法は、本発明の標識支持材にも適用できる。米国特許第６，６９１，７８０号のＩＣＰ方法によれば：
水性試料をＩＣＰ分光光度計内で霧状にし、得られたエアゾールをＩＣＰ分光光度計内に位置したアルゴンプラズマトーチに運ぶ。ＩＣＰ分光光度計は、溶液成分が高温プラズマに入ったときに生成される元素特有の原子放射の強度を測定する。ＩＣＰ分光光度計内の内蔵コンピュータが、標準検量線にアクセスして、測定された強度を元素濃度に変換する。ＩＣＰ法により使用するＩＣＰ分光光度計は、一般にＴｈｅｒｍｏ  Ｅｌｅｃｔｒｏｎ  ＣｏｒｐｏｒａｔｉｏｎのＴｈｅｒｍｏ  ＡＲＬビジネスユニット、Ａｇｉｌｅｎｔ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ、および他のいくつかの会社から市販されている。
【００１８】
以下に説明するように、セラミック内に埋め込まれているのではなく、外部被覆においてさらされているトレーサーに、検出が依存していない限り、米国特許第６，６９１，７８０号に述べられているような他の検出技法、それゆえトレーサーも同様に適用することができる。
【００１９】
また、トレーサーとして使用される材料は、セラミック組成物中に別に存在するものではなく、あるいは少なくとも、重量を基準にして、約１，０００ｐｐｍ未満の濃度において組成物中に存在するものであることが好ましい。これは、セラミック組成物中に存在する材料からの干渉から生じる偽の濃度測定を避けるために望ましく、多帯域累層の場合には、他の帯域から逆流する支持材の材料の存在から生じる偽の測定値を避けるために望ましい。一般に、トレーサーは、支持材（特に、支持材が、検出されることが望まれる最低濃度において、試験されるべき試料中に存在する場合）中の濃度において、化学的分析によって検出可能であり、密度、強度および通過性に関して支持材の物理特性を低下させない任意の物質、特に固体であってよいと考えられる。
【００２０】
このような考慮に基づいて、ある種の金属のセラミック形態が、特に良好なトレーサー材料であることがわかった。このような好ましい金属の例には、希土類金属のランタニドシリーズ、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、およびこれらの組合せ、特に、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガン、およびこれらの組合せ、特にランタン、セリウム、およびこれらの組合せが含まれる。金属は、元素形態において使用することができるが、この金属形態におけるいくつかの金属は、有害であり、金属のセラミック形態（酸化物、水酸化物および炭酸塩）などの、金属を含む、より一般的化合物を使用することが考えられる。したがって、本明細書において、金属自体に対する言及は、広い意味でとらえるものとし、金属の分子的、イオン的、および鉱物学的形態も含まれる。勿論、支持材が逆流してくる帯域を区別することが望まれる多帯域用途では、トレーサーが検出可能であるばかりでなく、１つのタイプを他の帯域で使用された他のタイプと区別することができるように検出可能であることが望ましい。
【００２１】
さらに、累層中の帯域の数が、使用可能な異なるタイプのトレーサーの数を超える地下累層への適用については、トレーサーのタイプの組合せが、特に有益である。このような状況において、複数の異なるタイプのトレーサーを、組み合わせて、組合せによって規定される別個のトレーサーを生成することができる。例示として、１６種の異なるタイプのトレーサーが利用できる場合、４種のタイプのトレーサー、例えば、Ａ〜Ｄを明示することができ、一方、残りの１１種は、例えば、１〜１２を明示することができる。トレーサーのタイプを１対にすることによってＡ１、Ａ２、．．．Ｂ１、Ｂ２など、トレーサーの組合せの形態において、４８種の異なるトレーサーを使用して、４８種の異なる帯域を区別することができる。今や、明らかなように、異なるやり方において、トレーサータイプを組み合わせることによって、限られた数のトレーサーのタイプにより、多くの異なる帯域が区別されることができる。
【００２２】
他の状況では、トレーサーを混合することから生じるかも知れない混乱を回避するために、ある種の技法を使用することができる。例えば、逆流がトレーサーＡ１、Ａ２、Ｂ１およびＢ２を含む場合に、トレーサータイプＡ、Ｂ、１および２の検出から、Ａ１に関連した帯域からのトレーサータイプＡの量がどれ位か、およびどの位の量がＡ２に関連するのかを決定するのは難しいことがある。トレーサーＢ１およびＢ２からのトレーサータイプ１および２の追加量の存在が、検出されたトレーサータイプ１および２の量に基づいて、Ａ１およびＡ２を区別する機能を妨害または複雑にするであろう。しかし、トレーサーの組合せを、逆流を混同することは考えられない本質的に異なる帯域に割り当てることが可能であり、これにより、このような重複を避ける。
【００２３】
セラミック組成物と混合するのに望ましいトレーサーの量は、種々の状況によって変わる。だがそれにもかかわらず、支持材中のトレーサーの濃度は、逆流中の支持材の量が、トレーサーの存在の検出が望まれるレベルにある場合に、逆流中のトレーサーの存在が選択された検出方法によって検出可能であるように、十分であるべきである。また、より多くのトレーサーを使用すると、価格が高くなることがあり、ある場合には、支持材の望ましい品質を低下させ得るので、支持材中のトレーサーの濃度は、実質上そのレベルを超えないことが望ましい。一般に、通常の検出技法によって便利に検出するには、少なくとも約０．０３重量％のトレーサー濃度が望ましく、一方、ある状況においては、０．１５％を超える、特に０．２重量％を超えるトレーサー濃度は、焼成温度を著しく変化させることがわかってきており、さらに軽量支持材の特性を低下させることがある。したがって、一般に、セラミック組成物の重量に基づいて、約０．００５から約０．５、好ましくは約０．０１から約０．３、さらに好ましくは約０．０３から約０．２、よりさらに好ましくは約０．０３から約０．１５、例えば約０．０５から約０．１５、典型的には約０．１３重量パーセントが、特に有用であることがわかった。トレーサーのタイプの組合せを使用する状況においては、それぞれのタイプは、検出されることが望まれる支持材のレベルにおいて、検出できる十分な濃度において存在するべきである。一般に、このような状況においては、それぞれのタイプのトレーサーは、セラミック組成物の重量に基づいて、少なくとも約０．００５パーセント、好ましくは少なくとも約０．０１パーセント、さらに好ましくは少なくとも約０．０２、よりさらに好ましくは少なくとも約０．０３重量パーセントの濃度において存在すべきである。しかし、いずれにせよ、最低濃度は、化学分析の方法の感度に依存し、それゆえ、０．０１パーセントより低い濃度でもいくつかの分析技法により使用することができる。例えば、中性子放射化分析（ＮＡＡ）は、Ｌａ２Ｏ３およびＣｅＯ２に対して１〜５ｐｐｍ（または０．０００１〜０．０００５重量％）の検出限界を有することができると報告されており、これは、０．００１重量％の範囲において検出（その濃度レベル）を可能とすることになる。
【００２４】
上に述べたように、本発明においてトレーサーが出発支持材成分の一部として含まれる以外は、標識支持材は、非標識支持材について米国特許第４，８７９，１８１号に記載されている方法において調製することができる。したがって、本発明による標識支持材は、一般にセラミック材料の顆粒および非放射性、検出可能な材料の顆粒の凝集によって調製され、圧縮またはいくつかの他の凝集手段によって粒子を調製することが意図される。例えば、セラミック組成物の微細な顆粒およびトレーサーの微細な顆粒の混合物を一緒に圧縮して、支持材粒子を形成する。したがって、簡潔だがさらに詳細には、標識支持材は、以下のように調製することができる。
【００２５】
セラミック組成物の出発材料（か焼クレー、およびアルミナ、ボーキサイトまたはこれらの混合物、あるいは適切な支持材材料として上に論議した他の成分などの）を、上に論議した量において、トレーサーと一緒に、所定の比においてボールミルなどの高強度ミキサーに添加することができる。次いで、これらミキサーへの添加物を微細粉体に磨砕し、次いで、これを撹拌して、乾燥均一微細粒子混合物を形成する。例えば、この粉体は、Ｅｉｒｉｃｈ  Ｍｉｘｅｒとして知られているＥｉｒｉｃｈ  Ｍａｃｈｉｎｅｓ，Ｉｎｃ．から得られる撹拌または混合装置により撹拌することができる。同様な混合装置は、他の製造会社から入手可能である。混合物を撹拌している間に、複合材、セラミック粉体混合物からの球状ペレットの形成を生じさせるために十分な水を添加してもよい。得られたペレットは、乾燥することができ、次いで、乾燥ペレットを、例えば、２．７０から３．６０の間の見掛け比重、および例えば、１立方センチメートル当り約１．０から約２．０グラムの嵩密度を有する、焼結球状ペレットを回収するために十分な時間、焼結温度において焼くことができる。勿論、使用される特定の時間および温度は出発成分に依存し、焼いた後のペレットの物理試験の結果により実験的に求められる。得られたペレットは篩って、例えば、約４０メッシュから約２０メッシュ、約１６メッシュから約２０メッシュ、約３０メッシュから約５０メッシュ、約３０メッシュから約６０メッシュ、または約１６メッシュから約３０メッシュの大きさの範囲内の支持材を作成する。このプロセスのさらに特定の詳細は、米国特許第４，８７９，１８１号において論議されている。
【００２６】
支持材を調製する他に知られている方法は、本発明の標識支持材を調製するのと同様に改変することができる。したがって、例えば、調製の代替方法は、米国特許第４，４４０，８６６号に記載されており、米国特許第５，１２０，４５５号に参照されている同様に改変されたプロセスによってもよいと考えられている。米国特許第５，１２０，４５５号に参照されている特許を含んで、これらの特許を参照により本明細書に組み込む。
【００２７】
したがって、得られた標識支持材は、セラミック組成物に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーを含む。標識支持材は、粉体化されたセラミック組成物および粉体化されたトレーサーの混合物から調製することができ、それゆえ、トレーサーを含まないセラミック粒子を覆う、別個のトレーサー含有被膜ではなく、セラミック組成物およびトレーサーの混合物（凝集物）を含む。事実、少なくともある程度のトレーサーは、セラミック組成物によって少なくとも部分的に（および完全に）囲まれている。そして、驚くことには、本発明の方法によって支持材を標識することは、支持材の、強度、密度または通過性を低下させないことが判明している。さらに、支持材粒子のトレーサーが、このようにセラミック組成物と接触していて、事実、セラミック組成物に直接接着しているので、トレーサー含有樹脂により粒子を被覆する必要がない。支持材組成物は、実質上または完全に樹脂を含まなくてよいが、また、そのように所望する場合には、支持材組成物は樹脂などのコーティング材料により部分的にまたは完全に被覆してもよく、この被覆は、実質上または完全にトレーサーを含まなくてよい。上に論議したように、トレーサーは、複数の別のタイプのトレーサー、一般に、別のタイプのトレーサー金属を含むことができる。
【００２８】
本発明の標識支持材は、従来技術の支持材の代わりに、および特に従来の標識組成物の代わりに使用して、地下累層内の１つまたは複数の帯域から支持材が逆流しているかどうか、およびどのくらいの量の支持材が逆流しているかを決めることができる。事実、本発明の標識支持材が、放射性でなく、強度があり、樹脂被覆を施す必要がないなどということが、従来の支持材が有用でなく、または実際的でない状況において、このような支持材を使用可能にする。さらに、多帯域の場合には、本発明の標識支持材により、どの帯域またはどの複数の帯域が逆流に関連しているかを特定することが可能である。
【００２９】
要約すれば、１つまたは多帯域を有する地下累層を扱うことができ、例えば、通常の（標識または非標識）支持材を本発明の標識支持材で置き換えること以外は標準技法によって、抗井に割れ目を入れるための破壊流体によって、標識支持材を累層の抗井孔中に導入することによって、この帯域からの逆流を、追跡することができる。多帯域累層の場合には、複数のタイプの標識支持材（他のタイプの標識支持材のトレーサーと区別可能なトレーサーで標識されたそれぞれのタイプの支持材）を、異なる帯域にそれぞれのタイプの支持材を向けることによって使用することができる。上に説明したように、複数のトレーサーは、トレーサーのタイプの複数の組合せであってよい。次いで、１つまたは複数の帯域からの逆流を、例えば、逆流の少なくとも一部分を収集することによって、および逆流中のトレーサーを検出することによって特定された逆流に伴う支持材（それゆえ帯域）を分析することができる。
【００３０】
以下の実施例は、本発明の好ましい実施形態を記載する。本明細書における特許請求の範囲の範囲内の他の実施形態は、本明細書において開示されている本発明の明細書または実施を考慮すると、当分野の技術者には明らかであろう。実施例と合わせて明細書は、例示的にすぎないものと考えるものであり、本発明の範囲および精神は、実施例を準拠する特許請求の範囲によって示される。実施例において特定された百分率は、重量に基づく。
【実施例１】
【００３１】
試験は、ボーキサイトベースの支持材へのトレーサーの低い添加レベルが、高強度支持材の必要とされる最終的物理特性を変化させるか否かを検討するために実施した。２種の異なるマーカー（酸化ランタンおよび酸化セリウム）を実験室試験した。非標識支持材のバッチを、標識添加有りおよびなしの形で実験室において作製した。得られた、嵩密度、見掛け比重、１５ｋｐｓｉにおける破砕、および通過性の試験は、標識添加なしのバッチと比較して、２種いずれの標識を添加したバッチに対しても物理特性の低下を示さなかった。
【実施例２】
【００３２】
高精度の実験室装置による実験室設定において可能である、高度のプロセスの制御により、実験室作製の支持材試料は、向上した特性を有することがあるので、支持材の特性をより直接に比較するために、上の実施例１の、トレーサー添加のない支持材の対照バッチを、トレーサー添加のあるバッチと同時に作製した。
【００３３】
ボーキサイトベース原料の１つのバッチをトレーサーなしで、実験室において粉砕した。別のバッチをトレーサーとブレンドし、次いで、実験室において磨砕して、均一なブレンドを作製した。それぞれのバッチを実験室キルンにおいてペレットにし、焼結した。焼結したペレットのそれぞれのバッチを、以下の篩分布に分級した：
【００３４】
【表１】
2007531839.tif 000002
【００３５】
密度、強度、および通過性試験を、ＡＰＩ規格によってそれぞれのバッチについて実施した。比重は、Ｍｉｃｒｏｍｅｒｉｔｉｃｓ  Ｈｅｌｉｕｍ  Ｐｙｃｎｏｍｅｔｅｒを使用して測定した。
【００３６】
以下の表は、０．０３％の濃度レベルにおける、２種の異なる試行に対するトレーサーＡ（酸化ランタン）を含む支持材および０．０３％の濃度レベルにおいて、トレーサーＢ（酸化セリウム）を含む支持材の密度および破壊強度を示す。
【００３７】
【表２】
2007531839.tif 000003
【００３８】
支持材の４つのバッチの全ての通過性（ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｉｔｙ）を図１に示す。
【００３９】
密度および破壊強度データおよび通過性データは、それぞれの試験に対して実験誤差内にあり、その結果、トレーサーＡまたはトレーサーＢを０．０３％の濃度において添加した場合、支持材の特性低下は測定されないことを示す。
【実施例３】
【００４０】
試料は、Ｘ線蛍光（ＸＲＦ）および誘導結合プラズマ（ＩＣＰ）分析のために、２つの外部の実験室に送付した。余分の試料を、それぞれの実験室に送付し、全ての試料を包括的、連続的識別番号（ＸＲＦ００１．．．０１５として、およびＩＣＰ００１．．．０１０として）でのみ区別した。対照バッチについてのＸＲＦ＆ＩＣＰで、上の実施例２に記載されたトレーサーＡおよびＢのバックグラウンド濃度（重量％における）を測定した。トレーサーＡまたはＢを含むバッチのＸＲＦおよびＩＣＰ分析で、トレーサーＡおよびＢの総濃度（重量％における）を測定した。
【００４１】
０．０３重量％の濃度レベルにおいて添加された標識ＡまたはＢを有する標識バッチに対して、ＸＲＦにより測定された、得られた化学的性質は、
６種の対照バッチ試料中のトレーサーＡのバックグラウンド濃度：０．００％±０．０１
５種の標識バッチ試料中のトレーサーＡの総測定濃度：０．０２％±０．０１
６種の対照バッチ試料中のトレーサーＢのバックグラウンド濃度：０．０１％±０．０１
３種の標識バッチ試料中のトレーサーＢの総測定濃度：０．０４％±０．０１
０．０３％の濃度レベルにおいてトレーサーＡまたはＢを有する標識バッチに対して、ＩＣＰにより測定された、得られた化学的性質は：
４種の対照バッチ試料中のトレーサーＡのバックグラウンド濃度：０．００３％±０．００１
４種の標識バッチ試料中のトレーサーＡの総測定濃度：０．０３２％±０．００１
４種の対照バッチ試料中のトレーサーＢのバックグラウンド濃度：０．０３０％±０．０１０
２種の標識バッチ試料中のトレーサーＢの総測定濃度：０．０５１％±０．００１
であった。
【００４２】
ＸＲＦならびにＩＣＰ分析は、少なくとも０．０１％以内でトレーサーの存在を検出することができた。
【００４３】
限定することなしに、全ての記事、パンフレット、マニュアル、定期刊行物、テキスト、原稿、ウエブサイト出版物、および全ての出版物を含めて、本明細書に引用された全ての参考文献を参照により本明細書に合体する。本明細書において、参考文献の議論は、これらの著者によってなされた主張を単に要約しようとするものであり、いかなる参考文献も従来技術を構成するという承認は得ていない。出願人は、引用された参考文献の精度および適切さを問題にする権利を留保する。
【００４４】
上の観点において、本発明のいくつかの利点が実現し、他の有利な結果が得られることがわかる。
【００４５】
本発明の範囲を逸脱することなしに、上の方法および組成物において、種々の変更がなされるので、上の記載に含まれ、および付随する図面に示される全ての事柄は、例示的であり、限定する意味ではないことを意図するものである。
【実施例４】
【００４６】
粉砕されたＣｏｍａｌｃｏ  Ｂａｕｘｉｔｅのいくつかの試料のそれぞれと、ブレンドなし（対照）で、または測定可能な量においてこのボーキサイト中に見出されない特別の希土類添加物または他のセラミック添加物とを、Ｌａｂ  Ｅｉｒｉｃｈミキサー中で、１０分間ブレンドした。次いで、このブレンドを、粒径を低下させるためにジェットミルにかけて、粉体にし、この成分を緊密に混合した。この粉体を未焼結ペレットにペレット化し、篩って−１６から＋４０の篩範囲にした。それぞれのブレンドから形成されたペレットの２つの試料を誘導と組合せのプラズマ（ＩＣＰ）によって分析するために実験室に送付した。それぞれのブレンドからの他の未焼結ペレットについては、ボート３個分のブレンドをそれぞれ篩って−１６から＋４０の篩範囲にし、９６０℃／時間においてピーク温度（約１５００℃）に焼き、約３０分間保持した。
【００４７】
ＩＣＰ分析は、本来存在するよりも高い濃度（すなわち、対照によって表される未処理支持材中の標識剤のバックグラウンドレベル）の標識剤の存在を検出できることを示した。以下の表において、「標識剤組成物のバックグラウンドレベル」と表示された、欄中の第１の数字は、未処理対照において測定された、未焼結ペレットの形態における試料に対する標識剤組成物の濃度（重量％における）であり、第２の数字は、微粉の形態における試料に対するものである。「標識剤の測定されたレベル」と表示された、欄中の第１の数字は、標識剤が添加された支持材において測定された、未焼結ペレットの形態における試料に対する標識剤組成物の濃度（重量％における）であり、第２の数字は、微粉の形態における試料に対するものである。「差」と表示された欄は、標識剤組成物に対して測定された標識剤の平均濃度と、対照試料において測定された標識剤組成物の平均バックグラウンド濃度との間の差である。それぞれの標識支持材に対して、ＺｒＳｉＯ４（この場合には０．２５％添加）以外は０．１％の標識剤を添加した。
【００４８】
【表３】
2007531839.tif 000004
【００４９】
同様の試験を、添加したＬａ２Ｏ３を測定された％Ｌａ２Ｏ３の結果と比較しつつ、Ｌａ２Ｏ３を添加しなかった対照と比較して、他の試料について以下のように行った。
【００５０】
【表４】
2007531839.tif 000005
【００５１】
試験を、ＣｅＯ２に対して繰り返し、以下の結果を得た。
【００５２】
【表５】
2007531839.tif 000006
【００５３】
さらなる試験を、Ｘ線蛍光（ＸＲＦ）を使用して実施し、添加物なしに対する、ならびに０．０３％および０．１５％Ｌａ２Ｏ３およびＣｅＯ２添加に対する以下の測定されたＬａ２Ｏ３濃度を得た。
【００５４】
【表６】
2007531839.tif 000007
【００５５】
【表７】
2007531839.tif 000008
【００５６】
さらなる試験を、ＩＣＰを使用して実施し、添加剤なしに対する、ならびに０．０３％および０．１５％Ｌａ２Ｏ３およびＣｅＯ２添加に対する以下の測定された濃度を得た。
【００５７】
【表８】
2007531839.tif 000009
【００５８】
【表９】
2007531839.tif 000010
【００５９】
また、得られたペレットを、標準ＡＮＳＩ試験によって嵩密度、標準ＡＰＩ試験によって見掛け比重、Ｈｅｌｉｕｍ  Ｐｉｃｎｏｍｅｔｅｒによって比重、および標準ＡＰＩ試験によって１５ｋｓｉにおける破壊強度に対して分析した。以下の結果が得られ、標識剤の測定された含有量はＩＣＰによって求めた。
【００６０】
【表１０】
2007531839.tif 000011
【００６１】
【表１１】
2007531839.tif 000012
【００６２】
【表１２】
2007531839.tif 000013
【実施例５】
【００６３】
実施例４のプロセスを、ボーキサイトベースのペレットの代わりにカオリンベースのペレットについて繰り返した。結果は以下の通りであった：
【００６４】
【表１３】
2007531839.tif 000014
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】トレーサー「Ａ」により標識された支持材の通過性およびトレーサー「Ｂ」により標識された支持材の通過性と比較した（ここでトレーサー「Ａ」はランタン酸化物およびトレーサー「Ｂ」は酸化セリウムである。）非標識支持材に対する通過性のグラフである。
【図１】
2007531839.tif 000015
【手続補正書】
【提出日】平成17年10月21日(2005.10.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーを含む支持材組成物。
【請求項２】
前記支持材組成物が粒子である、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項４】
前記トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項３に記載の支持材組成物。
【請求項５】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、ラナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項６】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項５に記載の支持材組成物。
【請求項７】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項６に記載の支持材組成物。
【請求項８】
樹脂を実質的に含まない、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項９】
前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１０】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１１】
コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された粒子を含み、前記粒子が前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた前記非放射性、検出可能なトレーサーを含む、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項１２】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１４】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、希土類金属、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１５】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１６】
前記粒子が、前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１７】
前記粒子が約２０メッシュから約４０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１８】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１９】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２０】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２１】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２２】
非放射性、検出可能な材料が複数の異なるトレーサー金属である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２３】
非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウムおよびゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロムおよびマンガンからなる群から選択される複数のトレーサー金属の組合せである、請求項２２に記載の支持材組成物。
【請求項２４】
前記トレーサーが、組成物の約０．０３から約０．２重量パーセントを構成する、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項２５】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２６】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２７】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２８】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２９】
非放射性、検出可能な材料およびセラミック材料を含む粒子を製造する方法であって、前記粒子を製造するために、前記セラミック材料の顆粒および前記非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させることを含む方法。
【請求項３０】
前記非放射性、検出可能な材料が、前記セラミック材料中に存在しないか、または重量に基づいて約１，０００ｐｐｍ未満の濃度において前記セラミック材料中に存在する、請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥または圧縮によって実施される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
前記粒子が約２０メッシュと約４０メッシュの間の大きさである、請求項２９に記載の方法。
【請求項３３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３４】
トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３６】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３４に記載の方法。
【請求項３７】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３５に記載の方法。
【請求項３８】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項３５に記載の方法。
【請求項３９】
前記粒子が、前記セラミック材料に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料から本質的になる、請求項３５に記載の方法。
【請求項４０】
前記粒子が、前記セラミック材料と接触している非放射性、検出可能な材料を含む、請求項３５に記載の方法。
【請求項４１】
セラミック材料の顆粒および非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させて、セラミック材料中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料を含み、樹脂を実質的に含まない粒子を製造し、次いで、前記樹脂を実質的に含まない粒子をコーティング材料により少なくとも部分的被覆することを含む、コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された、実質的に樹脂を含まない粒子の製造方法。
【請求項４２】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥、または圧縮によって実施される、請求項４０に記載の方法。
【請求項４３】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項４０に記載の方法。
【請求項４４】
前記粒子が、前記セラミック材料に接触している非放射性，検出可能な材料を含む、請求項４０に記載の方法。
【請求項４５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項４０に記載の方法。
【請求項４６】
試料中のトレーサーの存在を検出することによって逆流の試料を分析することを含む、請求項２に記載の複数の支持材組成物粒子が導入された割れ目の入った地下累層における、支持材の逆流を追跡する方法。
【請求項４７】
地下累層の形成が複数の帯域を有し、請求項２４に記載の複数のタイプの支持材組成物粒子を導入することによって逆流が追跡され、支持材組成物粒子のそれぞれのタイプは、他のタイプの支持材組成物粒子のトレーサーから区別可能なトレーサーにより標識されており、それぞれのタイプの支持材組成物粒子を異なる帯域に導き、それぞれのトレーサーの存在を検出することによって帯域の少なくとも１つからの逆流の試料を分析し、これにより逆流に伴う支持材組成物粒子のタイプを特定する、請求項４５に記載の方法。
【請求項４８】
トレーサーの少なくとも１つがトレーサーのタイプの組合せである、請求項４６に記載の方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
試験は、ボーキサイトベースの支持材へのトレーサーの低い添加レベルが、高強度支持材の必要とされる最終的物理特性を変化させるか否かを検討するために実施した。２種の異なるマーカー（酸化ランタンおよび酸化セリウム）を実験室試験した。非標識支持材のバッチを、標識添加有りおよびなしの形で実験室において作製した。得られた、嵩密度、見掛け比重、１５ｋｐｓｉ（１０３．５ＭＰａ）における破砕、および通過性の試験は、標識添加なしのバッチと比較して、２種いずれの標識を添加したバッチに対しても物理特性の低下を示さなかった。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
【表２】
2007531839.tif 000016
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５９】
また、得られたペレットを、標準ＡＮＳＩ試験によって嵩密度、標準ＡＰＩ試験によって見掛け比重、Ｈｅｌｉｕｍ  Ｐｉｃｎｏｍｅｔｅｒによって比重、および標準ＡＰＩ試験によって１５ｋｓｉ（１０３ＭＰａ）における破壊強度に対して分析した。以下の結果が得られ、標識剤の測定された含有量はＩＣＰによって求めた。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６０】
【表１０】
2007531839.tif 000017
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６１】
【表１１】
2007531839.tif 000018
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６２】
【表１２】
2007531839.tif 000019
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６４】
【表１３】
2007531839.tif 000020
【手続補正書】
【提出日】平成18年12月5日(2006.12.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーを含む支持材組成物。
【請求項２】
前記支持材組成物が粒子である、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項４】
前記トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項３に記載の支持材組成物。
【請求項５】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、ラナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項６】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項５に記載の支持材組成物。
【請求項７】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項６に記載の支持材組成物。
【請求項８】
樹脂を実質的に含まない、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項９】
前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１０】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１１】
コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された粒子を含み、前記粒子が前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた前記非放射性、検出可能なトレーサーを含む、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項１２】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１４】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、希土類金属、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１５】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１６】
前記粒子が、前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１７】
前記粒子が約２０メッシュから約４０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１８】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１９】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２０】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２１】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２２】
非放射性、検出可能な材料が複数の異なるトレーサー金属である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２３】
非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウムおよびゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロムおよびマンガンからなる群から選択される複数のトレーサー金属の組合せである、請求項２２に記載の支持材組成物。
【請求項２４】
前記トレーサーが、組成物の約０．０３から約０．２重量パーセントを構成する、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項２５】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２６】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２７】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２８】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２９】
非放射性、検出可能な材料およびセラミック材料を含む粒子を製造する方法であって、前記粒子を製造するために、前記セラミック材料の顆粒および前記非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させることを含む方法。
【請求項３０】
前記非放射性、検出可能な材料が、前記セラミック材料中に存在しないか、または重量に基づいて約１，０００ｐｐｍ未満の濃度において前記セラミック材料中に存在する、請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥または圧縮によって実施される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
前記粒子が約２０メッシュと約４０メッシュの間の大きさである、請求項２９に記載の方法。
【請求項３３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３４】
トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３６】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３４に記載の方法。
【請求項３７】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３５に記載の方法。
【請求項３８】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項３５に記載の方法。
【請求項３９】
前記粒子が、前記セラミック材料に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料から本質的になる、請求項３５に記載の方法。
【請求項４０】
前記粒子が、前記セラミック材料と接触している非放射性、検出可能な材料を含む、請求項３５に記載の方法。
【請求項４１】
セラミック材料の顆粒および非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させて、セラミック材料中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料を含み、樹脂を実質的に含まない粒子を製造し、次いで、前記樹脂を実質的に含まない粒子をコーティング材料により少なくとも部分的被覆することを含む、コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された、実質的に樹脂を含まない粒子の製造方法。
【請求項４２】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥、または圧縮によって実施される、請求項４１に記載の方法。
【請求項４３】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項４１に記載の方法。
【請求項４４】
前記粒子が、前記セラミック材料に接触している非放射性，検出可能な材料を含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項４５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項４１に記載の方法。
【請求項４６】
試料中のトレーサーの存在を検出することによって逆流の試料を分析することを含む、請求項２に記載の複数の支持材組成物粒子が導入された割れ目の入った地下累層における、支持材の逆流を追跡する方法。
【請求項４７】
地下累層の形成が複数の帯域を有し、請求項２４に記載の複数のタイプの支持材組成物粒子を導入することによって逆流が追跡され、支持材組成物粒子のそれぞれのタイプは、他のタイプの支持材組成物粒子のトレーサーから区別可能なトレーサーにより標識されており、それぞれのタイプの支持材組成物粒子を異なる帯域に導き、それぞれのトレーサーの存在を検出することによって帯域の少なくとも１つからの逆流の試料を分析し、これにより逆流に伴う支持材組成物粒子のタイプを特定する、請求項４６に記載の方法。
【請求項４８】
トレーサーの少なくとも１つがトレーサーのタイプの組合せである、請求項４７に記載の方法。
【手続補正書】
【提出日】平成19年1月29日(2007.1.29)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーを含む支持材組成物。
【請求項２】
前記支持材組成物が粒子である、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項４】
前記トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項３に記載の支持材組成物。
【請求項５】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、ラナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項６】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項５に記載の支持材組成物。
【請求項７】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項６に記載の支持材組成物。
【請求項８】
樹脂を実質的に含まない、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項９】
前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１０】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１１】
コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された粒子を含み、前記粒子が前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた前記非放射性、検出可能なトレーサーを含む、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項１２】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１４】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、希土類金属、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１５】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１６】
前記粒子が、前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１７】
前記粒子が約２０メッシュから約４０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１８】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１９】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２０】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２１】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２２】
非放射性、検出可能な材料が複数の異なるトレーサー金属である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２３】
非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウムおよびゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロムおよびマンガンからなる群から選択される複数のトレーサー金属の組合せである、請求項２２に記載の支持材組成物。
【請求項２４】
前記トレーサーが、組成物の約０．０３から約０．２重量パーセントを構成する、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項２５】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２６】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２７】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２８】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２９】
非放射性、検出可能な材料およびセラミック材料を含む粒子を製造する方法であって、前記粒子を製造するために、前記セラミック材料の顆粒および前記非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させることを含む方法。
【請求項３０】
前記非放射性、検出可能な材料が、前記セラミック材料中に存在しないか、または重量に基づいて約１，０００ｐｐｍ未満の濃度において前記セラミック材料中に存在する、請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥または圧縮によって実施される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
前記粒子が約２０メッシュと約４０メッシュの間の大きさである、請求項２９に記載の方法。
【請求項３３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３４】
トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３６】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３４に記載の方法。
【請求項３７】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３５に記載の方法。
【請求項３８】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項３５に記載の方法。
【請求項３９】
前記粒子が、前記セラミック材料に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料から本質的になる、請求項３５に記載の方法。
【請求項４０】
前記粒子が、前記セラミック材料と接触している非放射性、検出可能な材料を含む、請求項３５に記載の方法。
【請求項４１】
セラミック材料の顆粒および非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させて、セラミック材料中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料を含み、樹脂を実質的に含まない粒子を製造し、次いで、前記樹脂を実質的に含まない粒子をコーティング材料により少なくとも部分的被覆することを含む、コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された、実質的に樹脂を含まない粒子の製造方法。
【請求項４２】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥、または圧縮によって実施される、請求項４１に記載の方法。
【請求項４３】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項４１に記載の方法。
【請求項４４】
前記粒子が、前記セラミック材料に接触している非放射性，検出可能な材料を含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項４５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項４１に記載の方法。
【請求項４６】
試料中のトレーサーの存在を検出することによって逆流の試料を分析することを含む、請求項２に記載の複数の支持材組成物粒子が導入された割れ目の入った地下累層における、支持材の逆流を追跡する方法。
【請求項４７】
地下累層の形成が複数の帯域を有し、請求項２３に記載の複数のタイプの支持材組成物粒子を導入することによって逆流が追跡され、支持材組成物粒子のそれぞれのタイプは、他のタイプの支持材組成物粒子のトレーサーから区別可能なトレーサーにより標識されており、それぞれのタイプの支持材組成物粒子を異なる帯域に導き、それぞれのトレーサーの存在を検出することによって帯域の少なくとも１つからの逆流の試料を分析し、これにより逆流に伴う支持材組成物粒子のタイプを特定する、請求項４６に記載の方法。
【請求項４８】
トレーサーの少なくとも１つがトレーサーのタイプの組合せである、請求項４７に記載の方法。
【手続補正書】
【提出日】平成19年2月15日(2007.2.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーを含む支持材組成物。
【請求項２】
前記支持材組成物が粒子である、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項４】
前記トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項３に記載の支持材組成物。
【請求項５】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項６】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項５に記載の支持材組成物。
【請求項７】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項６に記載の支持材組成物。
【請求項８】
樹脂を実質的に含まない、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項９】
前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１０】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１１】
コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された粒子を含み、前記粒子が前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた前記非放射性、検出可能なトレーサーを含む、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項１２】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、前記セラミック組成物と接触している、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１４】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが、希土類金属、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１５】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１６】
前記粒子が、前記セラミック組成物中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能なトレーサーから本質的になる請求項１１に記載の支持材組成物。
【請求項１７】
前記粒子が約２０メッシュから約４０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１８】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項１９】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２０】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２１】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２２】
非放射性、検出可能な材料が複数の異なるトレーサー金属である、請求項２に記載の支持材組成物。
【請求項２３】
非放射性、検出可能なトレーサーが、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウムおよびゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロムおよびマンガンからなる群から選択される複数のトレーサー金属の組合せである、請求項２２に記載の支持材組成物。
【請求項２４】
前記トレーサーが、組成物の約０．０３から約０．２重量パーセントを構成する、請求項１に記載の支持材組成物。
【請求項２５】
前記粒子が約１６メッシュから約２０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２６】
前記粒子が約３０メッシュから約５０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２７】
前記粒子が約３０メッシュから約６０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２８】
前記粒子が約１６メッシュから約３０メッシュの大きさである、請求項２４に記載の支持材組成物。
【請求項２９】
非放射性、検出可能な材料およびセラミック材料を含む粒子を製造する方法であって、前記粒子を製造するために、前記セラミック材料の顆粒および前記非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させることを含む方法。
【請求項３０】
前記非放射性、検出可能な材料が、前記セラミック材料中に存在しないか、または重量に基づいて約１，０００ｐｐｍ未満の濃度において前記セラミック材料中に存在する、請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥または圧縮によって実施される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
前記粒子が約２０メッシュと約４０メッシュの間の大きさである、請求項２９に記載の方法。
【請求項３３】
前記非放射性、検出可能なトレーサーが化学分析によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３４】
トレーサーが、Ｘ線蛍光、誘導と組合せのプラズマまたはプロトン誘導Ｘ線放射によって検出可能である、請求項２９に記載の方法。
【請求項３５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項２９に記載の方法。
【請求項３６】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウム、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３４に記載の方法。
【請求項３７】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタン、セリウムおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項３５に記載の方法。
【請求項３８】
前記粒子が樹脂を実質的に含まない、請求項３５に記載の方法。
【請求項３９】
前記粒子が、前記セラミック材料に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料から本質的になる、請求項３５に記載の方法。
【請求項４０】
前記粒子が、前記セラミック材料と接触している非放射性、検出可能な材料を含む、請求項３５に記載の方法。
【請求項４１】
セラミック材料の顆粒および非放射性、検出可能な材料の顆粒を凝集させて、セラミック材料中に少なくとも部分的に埋め込まれた非放射性、検出可能な材料を含み、樹脂を実質的に含まない粒子を製造し、次いで、前記樹脂を実質的に含まない粒子をコーティング材料により少なくとも部分的被覆することを含む、コーティング材料により少なくとも部分的に被覆された、実質的に樹脂を含まない粒子の製造方法。
【請求項４２】
前記凝集が、連続噴霧微粒化、噴霧流動化、噴霧乾燥、または圧縮によって実施される、請求項４１に記載の方法。
【請求項４３】
前記コーティング材料が樹脂である、請求項４１に記載の方法。
【請求項４４】
前記粒子が、前記セラミック材料に接触している非放射性，検出可能な材料を含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項４５】
前記非放射性、検出可能な材料が、ランタニド、ストロンチウム、バリウム、ガリウム、ゲルマニウム、タンタル、ジルコニウム、バナジウム、クロム、マンガンおよびこれらの組合せからなる群から選択される、請求項４１に記載の方法。
【請求項４６】
試料中のトレーサーの存在を検出することによって逆流の試料を分析することを含む、請求項２に記載の複数の支持材組成物粒子が導入された割れ目の入った地下累層における、支持材の逆流を追跡する方法。
【請求項４７】
地下累層の形成が複数の帯域を有し、請求項２３に記載の複数のタイプの支持材組成物粒子を導入することによって逆流が追跡され、支持材組成物粒子のそれぞれのタイプは、他のタイプの支持材組成物粒子のトレーサーから区別可能なトレーサーにより標識されており、それぞれのタイプの支持材組成物粒子を異なる帯域に導き、それぞれのトレーサーの存在を検出することによって帯域の少なくとも１つからの逆流の試料を分析し、これにより逆流に伴う支持材組成物粒子のタイプを特定する、請求項４６に記載の方法。
【請求項４８】
トレーサーの少なくとも１つがトレーサーのタイプの組合せである、請求項４７に記載の方法。
【国際調査報告】
2007531839.tif 000021
2007531839.tif 000022
2007531839.tif 000023