(57)【要約】  本発明は、電磁装置の放射を測定ための構成に関する。前記構成は、本質的に、前記装置を配置する支持部材（２０）と、弧状部材（１０）と、弧状部材（１０）上に配列された測定プローブのネットワークと、弧状部材（１０）がある面内にある幾何学的軸を中心として支持部材（２０）と弧状部材（１０）との間で前記装置を駆動する手段と、を備える。弧状部材（１０）は本質的に円弧を描き、支持部材上に中心合わせされている。創作性のある構成は、支持部材（２０）および弧状部材（１０）が弧状部材（１０）の面を横切る幾何学的軸を中心として回転され得ること、および、装置が、第２の幾何学的軸を中心として回転された後の選択された位置に支持部材（２０）と弧状部材（１０）とを保持する手段を備えること、によって特徴付けられる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象からの電磁放射の少なくとも一つの特性を測定するための装置であって、
前記対象を受けるようになされた支持部材と、
略円弧上に配列されたプローブのネットワークと、を備え、
プローブのネットワークおよび支持部材を互いに対して角度をずらす（傾斜させる）ため、プローブのネットワークがなす面においてまたはプローブのネットワークがなす面と平行に、プローブのネットワークおよび支持部材の相対傾斜を可能し、これにより、プローブのネットワークおよび試験対象のいくつかの相対角度位置において測定が実行され得るようにする手段を、さらに備えたことを特徴とする装置。
【請求項２】
プローブのネットワークおよび支持部材の相対回動を可能にする前記手段は、地面に対して支持部材を傾斜させ得る手段を含むことを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項３】
プローブのネットワークおよび支持部材の相対傾斜を可能にする前記手段は、地面に対してプローブのネットワークを傾斜させ得る手段を含むことを特徴とする請求項１または２に記載の装置。
【請求項４】
前記プローブのネットワークおよび支持部材を相対傾斜させる手段は、プローブのネットワークの角度ピッチよりも小さく、プローブのネットワークおよび支持部材の相対角度をずらし得ることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の装置。
【請求項５】
前記プローブのネットワークおよび支持部材を相対傾斜させる手段は、プローブのネットワークの角度ピッチの分割分に対応し、プローブのネットワークおよび支持部材の相対角度をずらし得ることを特徴とする請求項４に記載の装置。
【請求項６】
前記プローブのネットワークおよび支持部材を相対傾斜させる手段は、少なくともプローブのネットワークの角度ピッチと等しい角度だけ、プローブのネットワークおよび支持部材の相対角度をずらし得ることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一項に記載の装置。
【請求項７】
おおよそ弧の直径上にある回転主軸を中心として相対回転するよう支持部材および弧を駆動し得る手段を含むタイプであることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか一項に記載の装置。
【請求項８】
プローブのネットワークに対しプローブのネットワークがなす面に直交する方向へ試験対象を相対移動させ得る手段を含むタイプであることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一項に記載の装置。
【請求項９】
試験対象を受けるようになされた支持部材と、略円弧上に配列されたプローブのネットワークと、を備えた装置を用い、前記対象からの電磁放射の少なくとも一つの特性を測定するための方法であって、
前記対象が前記支持部材上に配置され、次に、前記プローブのネットワークに対する試験対象の異なる位置に対応した一連の測定を実行するためにプローブのネットワークが用いられ、
前記装置は、請求項１乃至８のいずれか一項に記載の装置であり、
プローブのネットワークがなす面においてまたはプローブのネットワークがなす面と平行に、プローブのネットワークおよび支持部材が相対傾斜させられ、これにより、試験対象に対するプローブのネットワークのいくつかの角度位置における捕捉を実行することを特徴とする方法。
【請求項１０】
前記装置は請求項７に記載の装置であり、
弧および／または支持部材は、主軸を中心として回転するよう駆動されて、いくつかの相対位置に配置され、
これらの各回転位置に対し、プローブのネットワークがなす面においてまたはプローブのネットワークがなす面と平行に、プローブのネットワークおよび支持部材が相対傾斜させられ、これにより、試験対象に対するプローブのネットワークのいくつかの角度位置における捕捉を実行することを特徴とする請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記装置は請求項８に記載の装置であり、
弧または支持部材は、弧がなす面に直交する方向へ移動させられて、いくつかの相対位置に配置され、
これらの各位置に対し、プローブのネットワークがなす面においてまたはプローブのネットワークがなす面と平行に、プローブのネットワークおよび支持部材が相対傾斜させられ、これにより、試験対象に対するプローブのネットワークのいくつかの角度位置における捕捉を実行することを特徴とする請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象からの電磁放射に関連する少なくとも一つの変数を測定するための装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
試験対象の放射線図を測定するため、研究されるべき試験対象の周囲の弧上に分配されたプローブのネットワーク（環状ネットワーク、a circular network）の形式を取る装置を使用することが、既に提案されている。
【０００３】
私達は、とりわけ、プローブの弧および試験対象が弧の直径に相当する軸を中心として互いに対して相対回転することを可能にする手段を、含んだこのタイプの装置に精通している。一般的に、試験対象自体が弧の直径に相当する垂直軸を中心として回転する。しかしながら、変形例として、試験対象が固定された状態で、プローブの弧自体が回転することも、想定され得る。
【０００４】
この方法では、プローブのネットワークは、弧および試験対象の回動軸の周りに広がる連続する面において、試験対象の放射を計測する。したがって、一般的に、測定は、試験対象をすっぽり取り囲む球上にて、行われる。
【０００５】
私達は、対象を取り囲む円柱上にて放射を測定するため、プローブのネットワークがなす面に対して直交する方向に試験対象を、相対的な方法にて、移動させることにより、弧上のプローブのネットワークを使用することについても、精通している。
【０００６】
弧上のプローブのネットワークの構成は、球上位置（球コーディネート）における測定および円柱上位置（円柱コーディネート）における測定のいずれに用いられるかによらず、ネットワーク内におけるプローブの配列によってもたらされる別個の測定ピッチに関連した制限を有している。
【０００７】
連続的に移動し得る単一のプローブの場合と対照的に、プローブのネットワークを用いることは、試験対象の形状および測定されるべき領域を拘束することになる。
【０００８】
とりわけ、近接場領域（the near-field area）においてよく知られた理論によれば、サンプリング位置の数は試験対象の電気容量（the electrical dimension）と関連する。
【０００９】
この点について、「ハンセン、Ｊ．Ｅ．、エディター（１９８８）、球状近接場アンテナ測定、ロンドン：ペリグリーンス（Hansen, J.E., Editor (1988) Spherical Near-Field Antenna Measurements, London: Peregrines）」を参照することができる。
【００１０】
とりわけ、サンプリング位置の数は、試験対象を取り囲む最小球または最小円柱の半径（Ｒ）の関数となり、
【数１】
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を満たす。
【００１１】
結果として、Ｎ個のプローブのネットワークは、最大半径Ｒを有する球または円柱に含まれる対象の分析のみを可能にする。
【００１２】
言い換えると、所定の分析周波数または波長、および、所定のプローブのネットワークに対して、分析され得る対象の最大大きさが存在する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
本発明の一つの目的は、この欠点を回避すること、並びに、所定のネットワークの使用範囲、とりわけ試験対象の大きさ、あるいは、測定され得る周波数または波長の観点から使用範囲を広げるため、この拘束を解除し得るようにすること、である。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
この目的は、試験対象からの電磁放射の少なくとも一つの特性を測定するための装置であって、前記対象を受けるようになされた支持部材と、略円弧上に配列されたプローブのネットワークと、を備え、プローブのネットワークおよび支持部材を互いに対して角度をずらすため、プローブのネットワークがなす面においてまたはプローブのネットワークがなす面と平行に、プローブのネットワークおよび支持部材の相対傾斜を可能し、これにより、プローブのネットワークおよび試験対象のいくつかの相対角度位置において実行される測定を可能にする手段を、さらに備えたことを特徴とする装置を用い、本発明により達成される。
【００１５】
このような装置によれば、支持部材に対するプローブのネットワークの角度をずらし、少なくとも第２の連続した測定をもたらすことができる。この方法においては、ハードウェアへの条件を増やすことなく、各面においてサンプル採取される位置の数を増加させることができる。
【００１６】
いくつかの一連の連続した測定の過程で得られるポイントが集合して、円形状のプローブネットワークで得られ得るよりも高密度のメッシュを形成する。
【００１７】
本発明の他の特徴、目的、および利点は、単なる例であっていずれの方法にも限定されないとともに添付図面を参照しながら読まれるべきである以下の詳細な説明を、読むことにより明らかになるだろう。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
図１は、十字で図式的に表された多数の電磁プローブ（electromagnetic probes）または測定アンテナ（measuring antenna）１１を含む弧状部材（弧）１０、および、電磁挙動を究明されようとしている対象（例えば、携帯電話）を支持することを意図された支持部材２０を示している。この支持部材２０は、本質的に、地面３０から弧状部材１０の幾何学的中心近傍まで延び出たマスト（a mast）である。この幾何学的中心は、円４０により、図１内に強調して表示されている。
【００１９】
弧状部材１０は地面に対して固定されている。一方、支持部材２０を含むマストは、図１内にＡで表示された主軸を中心として回転駆動される。
【００２０】
この目的のため、ギヤを有する形式の駆動手段２７がマストの基部に設けられている。
【００２１】
マスト２０の基部が揺れ動かされてマストがわずかに回動し得るようにし、これにより、中心４０を中心として試験対象をわずかに回動させる手段も設けられている。
【００２２】
この回動によって、軸Ａは、プローブのネットワークに対して角度をずらされ得り、プローブのネットワークに関連して軸Ａおよび試験対象に対して移動させられたいくつかの配置を可能にする。
【００２３】
したがって、各測定面において、つまり、軸を中心として回転するマスト２０が固定される各位置において、軸Ａおよび試験対象に対するプローブのネットワークの異なる相対角度位置に対応したいくつかの連続的な測定値を採取することができる。
【００２４】
したがって、弧状部材がなす面におけるマスト２０の傾斜は、電磁測定位置を増加させることと、所定ピッチのプローブのネットワークにより、プローブのネットワークのピッチよりも小さいピッチで、例えばプローブのネットワークのピッチの一部（分割分）である角度ピッチでのサンプリング方法を実行することと、に用いられ得る。
【００２５】
有用には、傾斜手段は、例えば、少なくともすべての２つのプローブ間の角度ピッチだけ角度をずらし得るように選択される。
【００２６】
例えば図１に示された例において、これらの手段は、アクチュエータ（２６）を駆動する電気モータ２５を含んでいる。
【００２７】
このアクチュエータは弧状部材２０がなす面内を略水平に延び、基部の一方の端部に屈曲可能に連結されている。このアクチュエータの動きは、マスト２０を傾斜させ、弧状部材の中心４０を中心としたマスト２０の略回動するような動きをもたらすことに、用いられる。
【００２８】
この傾斜動作を可能にするため、マスト２０の基部は凸状の底面２１を装備されている。凸状の底面２１は、略ローラー状のローラー２２を用いて相補的な凹状面（図示せず）上に配置されており、アクチュエータが動作させられている場合に前記相補的な凹状面（図示せず）上を移動する。
【００２９】
相補的な凸状形状および凹状形状は、所望の傾斜動作／回動動作を可能にするよう選択される。
【００３０】
他の実施態様が図２に示されている。
【００３１】
この実施態様において、マスト２０は、その軸を中心として回転し得るように取り付けられている。一方、弧状部材１０は、弧状部材１０がなす面内において弧状部材１０自身が中心４０の周りを回動することができるようにするローラー５０上に取り付けられている。
【００３２】
この目的のため、電気モータ駆動手段６０が設けられており、これにより、少なくとも一つの角度ピッチ分だけ角度をずらす動作で弧状部材を移動させ得る。
【００３３】
このモータ駆動手段６０は、もちろん、両方向へ動作することができるようになっている。
【００３４】
記載された二つの例のうちのどちらかにおいて、試験対象がプローブのネットワークがなす面に直交する方向への移動させられるようにし、これにより、円柱上位置（円柱コーディネート）における領域測定（field measurement）を可能にしてもよいことが、理解されるだろう。
【００３５】
手段は、具体的には、支持部材のレベルに設けるようにしてもよい。これにより、ネットワークがなす面に対して直交する方向へ試験対象を案内することができる。
【００３６】
もちろん、装置は、Ａ軸を中心として回転しないようにして、用いられてもよい。
【００３７】
プローブのネットワークと試験対象との各相対位置に対し、捕捉が、試験対象に関連したプローブのネットワークのいくつかの相対傾斜位置において行われる。
【００３８】
したがって、測定される位置の数の増加に対応した測定結果を得ることができる。
【００３９】
本発明により提案された構成は、同様に、用いられるプローブにネットワークに関連したより多くの数の測定位置をもたらし、結果として、測定される対象の形状をより大きくし、あるいは、周波数または波長の範囲をより大きくする。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】図１は、本発明の一つの可能な実施態様を示す線図である。
【図２】図２は、本発明の他の可能な実施態様を示す線図である。
【図１】
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【図２】
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【国際調査報告】
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