(57)【要約】  本発明は情報媒体に対して読み出し又は書き込みするための光学走査装置に関する。当該光学走査装置は放射線ビームを生成する放射線源、放射線ビームを複数の放射線サブビーム群に分割する手段、複数のスポット群を情報媒体に収束させるためのフォーカシング手段を有する。ここで、該情報媒体は複数の放射線サブビームを検出枝及びフォーカス誤差信号を検出するフォーカス誤差検出手段に対して反射する。フォーカス誤差検出手段は、反射された放射線サブビームを焦点面に収束させるためのサーボレンズ、１つの反射された放射線サブビームを焦点面で分離するための空間フィルター、及び分離された放射線サブビームからのフォーカス誤差信号を検出するためのスプリット検出器、を前記検出枝に有する。フォーカス誤差検出手段はさらに、フォーカス誤差信号がフォーカシング手段の位置を補正するために用い得るかどうか決定する決定サブ手段を有する。
2007510246.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学走査装置であって：
放射線ビームを生成する放射線源、
前記放射線ビームを複数の放射線サブビーム群に分割する手段、
前記複数の放射線サブビーム群を、該複数の放射線サブビーム群をフォーカス検出枝に向かって反射するように意図された情報媒体に集束させるためのフォーカシング手段、並びに
前記反射された複数の放射線サブビーム群を焦点面に収束させるためのサーボレンズ、１つの反射された放射線サブビームを前記複数の反射されたサブビーム群から前記焦点面で分離するための空間フィルター、及び分離された前記放射線サブビームからのフォーカス誤差信号を検出するための検出器、を前記フォーカス検出枝に有するフォーカス誤差検出手段、
を有する装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光学走査装置であって、フォーカス誤差補正手段、及び検出された前記フォーカス誤差信号に応じてフォーカス誤差補正の形式を決定するための決定手段を有する装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光学走査装置であって、前記決定手段が、中心アパーチャ信号を計算し、かつ、該中心アパーチャ信号が第１の所定の閾値より高い場合に、前記フォーカス誤差信号を前記フォーカシング手段の位置の補正に使用することを決定する装置。
【請求項４】
請求項２に記載の光学走査装置であって、前記検出器が正規化中心アパーチャ信号を計算するための拡張検出領域を有し、かつ、前記決定手段が、該正規化中心アパーチャ信号が第２の所定の閾値より高い場合に、前記フォーカス誤差信号を前記フォーカシング手段の位置の補正に使用することを決定する装置。
【請求項５】
請求項３又は４の何れかに記載の光学走査装置であって、前記決定手段が前記フォーカス誤差信号を使用しないことを決定するとき、前記フォーカシング手段の前記位置が所定の単位ステップだけ補正される装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光学走査装置であって、前記空間フィルターが前記焦点面でのスポット群の間隔に等しい直径を有する装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光学走査装置であって、前記空間フィルターがスリットを有する装置。
【請求項８】
請求項１に記載の光学走査装置であって、前記空間フィルターがホールを有する装置。
【請求項９】
請求項１に記載の光学走査装置であって、前記空間フィルターがウェッジの透過領域を制限することにより得られる装置。
【請求項１０】
情報媒体の読み出し方法であって：
放射線ビームを生成する工程、
前記放射線ビームを複数の放射線サブビーム群に分割する工程、
前記複数の放射線サブビーム群を、該複数の放射線サブビームをフォーカス検出枝に向かって反射するように意図された情報媒体に収束させる工程、並びに
前記フォーカス検出枝で前記放射線サブビーム群からのフォーカス誤差を検出する工程であり、
前記反射された放射線サブビーム群を焦点面に収束させる副工程、
前記反射された放射線サブビーム群を空間的にフィルター処理する副工程、
前記フィルター処理された放射線サブビーム群を２つのハーフ部に分配する副工程、及び
前記フィルター処理された放射線サブビーム群により形成されるスポット群によってフォーカス誤差信号をスプリット検出器にて測定する副工程、
を有する工程、
を有する方法。
【請求項１１】
請求項１０に記載の情報媒体の読み出し方法であって、前記放射線サブビーム群の焦点を前記情報媒体に補正する工程を有し、前記フォーカス誤差を検出する工程がさらに、前記フォーカス誤差信号に応じてフォーカス誤差補正の形式を決定するための決定副工程を有する方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の情報媒体の読み出し方法であって、前記決定副工程が前記スポット群からの中心アパーチャ信号を計算し、かつ、該中心アパーチャ信号が第１の所定の閾値より高い場合に、前記フォーカス誤差信号を使用することを決定する方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は情報媒体に対して書き込み又は読み出しするための光学走査装置に関する。
【０００２】
本発明はまた、このような光学走査装置を用いて情報媒体に対して書き込み又は読み出しする方法に関する。
【０００３】
本発明は例えば光ディスクでの多次元データ記憶に関連する。
【背景技術】
【０００４】
光ディスクはデータが連続したビットストリームの形態でディスクの反射性表面に一連のマークとして符号化された透明基板で作られる。マークは螺旋状のトラックに沿って配置される。データは光ディスクから光学走査装置によって読み取られる。光学走査装置は、ディスク上のトラックにフォーカシング手段によって集光されるレーザビーム、及びディスクの表面から反射される光を検出する検出手段を有する。光ディスクを回転させることにより、ディスク表面から反射される光は、回転しながらレーザ照射領域に入っては出て行く窪み群のパターンによって変調される。光学走査装置は変調された反射レーザ光を検出し電気信号を生成する。電気信号は光ディスクに記憶されたデジタルデータを再生するために復号化される。光学走査装置は、ディスクの反り又は偏心率に拘わらず如何なるディスクトラックにあるデータも読み出し又は書き込みできるように位置決めされ、かつ焦点を合わされるピックアップアセンブリを有する。
【０００５】
このために、光学走査装置は通常、フォーカス誤差検出手段を含むサーボ機構、及び、光ディスクを焦点に維持するためにフォーカシング手段を移動させるアクチュエータを有する。フォーカス誤差検出手段は光ディスクから検出器に反射される照射ビームによって形成される光スポットの或る特定のパラメータを測定する。フォーカス誤差検出手段は、例えば非点収差法又はフーコー法のような幾つかの従来からの方法を利用する。
【０００６】
複数ビーム光学走査装置は現在開発中であり、従来からのディスクのデータ検索を可能にし、さらに多重同心螺旋状又は多重同心円状のトラックを有する光ディスクを読むことを可能とする。このような複数ビーム光学走査装置は、複数ビームが相互に非常に近接しており、そのことが検出器の大きさを厳しく制限するため、フォーカス誤差検出及び補正を困難にする原因となる。もし検出器が過大である場合には幾つかのスポットが検出器に影響を与える。スポットの直径が大きいほど、近接するビーム間のクロストークを発生させる原因ともなる。さらに、焦点が外れたとき、スポット群は検出器を超えて拡がる又は相互に重なる可能性があり、その結果、正確なフォーカス誤差信号を取得することが困難となる。
【０００７】
特許文献１に複数ビーム光学走査装置に使用するためのフォーカス誤差検出手段が開示されている。このフォーカス誤差検出手段は非点収差法を実践し、フォーカス誤差を決定するために用いられる分離ビームセットを生成する光学素子として、ホログラフィ素子又は回折格子の何れかを有する。これらのビームは、スポット間の重なりを捕らえるように構成された多元素フォーカス検出器上に向けられる。フォーカス検出器の設計は、非点収差に対しての軸の回転、及び検出器でのスポットの間隔を光学素子によって空けることと共同で、フォーカス誤差信号の生成を可能にする。フォーカス誤差信号は検出器の大きさを超えるスポットの大きさ、及びスポット間の重なりを補償する。
【０００８】
この解法の欠点は、検出器でのスポットの重なりを回避できないことである。さらに、これはフーコー法を実践するフォーカス誤差検出手段を有する光学走査装置に適用されない。
【特許文献１】米国特許第６２２９７７１号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明の目的は、フーコー法を実践するフォーカス誤差検出手段によって処理されるとき、複数スポットの干渉及び重なりを回避するための解法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る光学走査装置は、
放射線ビームを生成する放射線源、
前記放射線ビームを複数の放射線サブビーム群に分割する手段、
前記複数の放射線サブビーム群を、該複数の放射線サブビームを検出枝に対して反射するように意図された情報媒体に収束させるためのフォーカシング手段、並びに
前記反射された複数の放射線サブビーム群を焦点面に収束させるためのサーボレンズ、１つの反射された放射線サブビームを前記複数の反射されたサブビーム群から焦点面で分離するための空間フィルター、及び分離された前記放射線サブビームからのフォーカス誤差信号を検出するための検出器、を前記検出枝に有するフォーカス誤差検出手段、
を有する。
【００１１】
複数の反射放射線サブビーム群は焦点面又はその近傍に集光されることが求められる。本発明に従って空間フィルターが、１つを除いて全ての放射線サブビーム群を遮るように意図される。それ故、唯一の放射線スポットが検出器によって検出され、それによって、正確なフォーカス誤差信号を測定することが可能となる。その結果、本発明では、ピンぼけ量を与える誤差信号が得られることから、有用なＳ字曲線を取得することができる。
【００１２】
光学走査装置は前記検出されたフォーカス誤差信号に応じて、フォーカス誤差補正の形式を決定するための決定手段を有することが有利である。
【００１３】
放射線スポット群が焦点に近いとき、空間フィルターが、１つを除いて全ての放射線サブビーム群を覆い隠すことが効果的である。しかし、反射された放射線サブビーム群が焦点から離れ過ぎているときには、反射された放射線サブビーム群の幾つかが空間フィルター面で干渉し、部分的に空間フィルターを通過して検出器に重なり合った放射線スポットを形成する場合がある。この場合、検出器は幾つかの重なり合った放射線スポットを検出する。得られるフォーカス誤差信号は、それ故、幾つかの放射線スポットからの寄与を受け、有用なＳ字曲線を導き出すことができない。
【００１４】
本発明に従った決定手段は、検出されたフォーカス誤差信号が有用なＳ字曲線に寄与する範囲として捕獲範囲を決定する。検出されたフォーカス誤差信号が捕獲範囲内であるとき、位置誤差がＳ字曲線から計算され、フォーカシング手段の位置を補正するために用いられ、閉ループ補正が遂行される。対照的に、検出されたフォーカス誤差信号が捕獲範囲の外側に出ているとき、位置誤差はＳ字曲線から計算されずに、フォーカシング手段の位置が所定の移動単位だけ変えられる。検出されたフォーカス誤差信号が捕獲範囲内に入るまで開ループ補正が遂行される。
【００１５】
本発明の利点は補正の形式をピンぼけ量に適合させることである。
【００１６】
本発明の第１実施形態においては、空間フィルターがスリットを有する。スリットは１次元で光を遮り、スポット群の１次元配列にうまく適合される。スリットの利点は１つの軸に沿った位置合わせが重要ではないことである。
【００１７】
本発明の第２実施形態においては、空間フィルターがホールを有する。ホールは２次元で光を遮り、読み出しスポット群の２次元配列を使用するように適合される。
【００１８】
本発明のこれら及び他の観点は後述の実施形態を参照して明白となり、かつ明瞭にされるであろう。
【実施例】
【００１９】
実施例により添付の図面を参照して本発明を詳細に述べる。
【００２０】
以下では、２次元データ記憶が可能な光ディスクについて本発明を述べる。しかし、本発明はより一般に、空間的に接近しながらも相異なる収束ビームを用いる応用であってフォーカス誤差信号が取得される応用に関するものである。これは、コンパクトディスク（ＣＤ）、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）、ブルーレイディスク（ＢＤ）のような従来からのフォーマット、２次元又はより高次元のフォーマット等の光学記憶情報媒体への複数ビームアクセスであり得る。これはまた、データ記憶の他の、表面への光描画、表面クリーニング、光ピンセット構想等の表面パターン形成応用にも関する。
【００２１】
図１ａは、幅広の螺旋トラックＢＳを形成する多重の同心螺旋状トラックを有する光ディスクの概略図である。図１ｂに示されるように、幅広の螺旋状トラックＢＳは複数の隣接する直線データトラックを備える２次元記憶容量を有する。幅広の螺旋状トラックは、放射線ビームを幅広の螺旋ＢＳ内にある直線データトラックと同数のザブビームに分割する光学走査装置により読み取られる。
【００２２】
図２は、光学走査装置が図１ａの光ディスクを読み取る方法を概略的に示している。光学走査装置は、放射線ビームRBを生成するための放射線源1、放射線ビームRBを複数の放射線サブビーム群RSB1乃至RSBNに分割する回折格子2、放射線サブビーム群RSB1乃至RSBNの焦点を光路に沿って光ディスクODに合わせるためのフォーカシング手段を有する。ただし、Nは整数である。フォーカシング手段は特にコリメータレンズ3及び対物レンズ4を有する。放射線サブビーム群RSB1乃至RSBNは光ディスクODにより反射され、ビームスプリッター5によってフォーカス検出枝に向けて向きを変えられる。フォーカス検出枝はフォーカス誤差検出手段を有し、該手段はフォーカス誤差信号を検出するフーコー法を実践する。フォーカス誤差検出手段は反射放射線サブビーム群の焦点を焦点面FPに合わせるためのサーボレンズ6、反射放射線サブビーム群を２つのハーフ部に分配するためのスプリット手段7、及び反射放射線サブビーム群の２つのハーフ部によって形成されるスポット群を検出するスプリット検出器8を有する。スプリット検出器は検出された光スポットからのフォーカス誤差信号FESを計算し、フォーカス誤差信号のＳ字曲線を対物レンズ4の変位の関数として描く。光学走査装置はさらに、アクチュエータ10を駆動するためのサーボ電子装置を有する補正手段9を有し、該アクチュエータは対物レンズ4を作動させてフォーカス誤差を補正する。フォーカス誤差検出手段及び補正手段は通常、閉サーボループを形成し、該ループ内では、フォーカス誤差信号の値を可能な限りゼロに近づけるために対物レンズ4の位置が変えられる。
【００２３】
光学走査装置はさらに、光ディスクODで読み取られたデータを取り出すための高周波検出枝を有する。反射されたサブビーム群RSB1乃至RSBNはビームスプリッター30によって高周波検出枝に向けて向きを変えられ、第２のサーボレンズ31によって高周波検出器32に集光される。反射サブビーム群RSB1乃至RSBNは高周波検出器にて読み出しスポット群を形成する。高周波検出器は読み出しスポット群を別々に測定する。
【００２４】
この検出枝は通常、スプリット手段7と同様の回折格子又はホログラフィ素子を用いることにより、フォーカス検出枝と統合される。
【００２５】
図３ａから３ｃはフーコー法の原理を例示している。スプリット手段7は例えばナイフエッジであるが、ウェッジ、スプリット格子又はスプリットホログラムであってもよい。フーコー法は、焦点の縦方向の変化がスプリット検出器8において放射線ビームの重心の変位を発生させるという原理に基づく。サーボレンズ6は放射線ビームの焦点をスプリット手段7に描く。ディスクが焦点に合っていないとき、放射線源の放射線ビームによる光路長は長くなり、ビームの焦点はスプリット手段7の前方又は後方の何れかになる。図３ａは焦点が合っている放射線ビーム、図３ｂは焦点が焦点面の後方にある放射線ビーム、図３ｃは焦点が焦点面の前方にある放射線ビームを示している。
【００２６】
図３ａに示されるように、放射線の焦点が合っているとき、スポットの２つの対称なハーフ部がスプリット検出器8の検出領域D1及びD2に形成される。図３ｂ及び３ｃに示されるように、放射線ビームの焦点が合っていないとき、スポットのハーフ部はもはや対称でない。
【００２７】
図４ａはスプリット検出器に形成されたスポットから得られるＳ字曲線を表している。スプリット検出器の検出領域D1及びD2で受信された信号S1及び信号S2が測定される。それらはフォーカス誤差信号FESに次式のように寄与する。
FES＝(S1-S2)／(S1+S2)
得られたフォーカス誤差信号はＳ字曲線を対物レンズ4の変位zの関数として描くために用いられる。Ｓ字曲線のゼロ点は焦点の合う位置に対応する。
【００２８】
図４ｂ及び４ｃは本発明に従ったフォーカス誤差検出手段を表している。当該フォーカス誤差検出手段は空間フィルター20を有し、該フィルターは放射線サブビーム群をフィルター処理し１つの放射線サブビームのみを通すために焦点面FPの位置に配置される。
【００２９】
有利には、空間フィルターはサーボレンズの焦点でのスポット群の間隔に等しい直径を有する。このように、最大のＳ字曲線長を得るために、空間フィルターは１つのスポットを通すために充分なだけ大きく、かつ、他のスポット群を遮断するために充分なだけ小さい。
【００３０】
フーコー法は２つの方法で実施され得る。サーボレンズ6は反射放射線サブビーム群を、図４ｂに示されるようにスプリット手段、又は図４ｃに示されるようにスプリット検出器の何れかに収束させる。第１の場合には、本発明に従った空間フィルター20はスプリット手段の少しだけ前方に配置される。この場合、空間フィルターは、当該空間フィルターの透過領域に対応するウェッジの部分を透過性材料で製造することにより、そして、この部分を非透過性ホルダーに組み込むことにより実施され得る。このような選択肢の利点は、ウェッジに関する空間フィルターの配置について如何なる問題をも除去できることである。
【００３１】
第２の場合には、本発明に従った空間フィルター21はスプリット検出器の少しだけ前方に配置される。空間フィルターの機能はまた、検出素子の大きさを適宜制限することにより検出器に統合され得る。
【００３２】
有利には、空間フィルター20はサーボレンズの焦点での放射線サブビーム群の間隔に等しい直径を有する。図１ａ及び１ｂに表されている光ディスクについては、放射線サブビーム群の間隔は2.8λ／NAに等しい。ただし、λは波長を表し、NAは放射線サブビーム群の開口数を表す。
【００３３】
このように、空間フィルターは１つの放射線サブビームを通すために充分なだけ大きく、かつ、他の放射線サブビーム群を遮断するために充分なだけ小さい。それ故に、スプリット検出器8において唯一のスポットが形成され、それは正確なフォーカス誤差信号を計算すること及び最大のＳ字曲線長を有するＳ字曲線を描くことを可能にする。Ｓ字曲線長は、対物レンズ4の位置の範囲であって、読み出しスポットの焦点は合っていないが正しい誤差信号を生じる範囲に対応する。
【００３４】
本発明の第１実施形態においては、空間フィルターはスリットを有する。１次元で光を遮るスリットが、スポット群の１次元配列にうまく適合される。スリットの利点はスリットの位置合わせが１方向では重要でないことである。
【００３５】
本発明の第２実施形態においては、空間フィルターがホールを有する。２次元で光を遮るホールが、スポット群の２次元配列にうまく適合される。
【００３６】
有利には、図５に示されるように、本発明に従ったフォーカス誤差検出手段はさらに、検出されたフォーカス誤差信号に応じてフォーカス誤差補正の形式を決定するための決定手段11を有する。実際のところ、放射線サブビーム群が焦点に近いとき、空間フィルターが、１つを除いて全ての反射放射線サブビーム群を覆い隠すことが効果的である。それに従って、Ｓ字曲線は信頼性あるものとなり、レンズアクチュエータ10を駆動するために有効に用いられ得る。しかし、放射線サブビーム群が焦点から離れ過ぎているときには、放射線サブビーム群の幾つかが空間フィルター平面で干渉し、部分的に空間フィルターを通過してスプリット検出器8に重なり合った放射線スポットを形成する場合がある。この場合、スプリット検出器8は幾つかの重なり合った放射線スポットを検出する。得られるフォーカス誤差信号は、それ故、幾つかの放射線スポットからの寄与を受け、有用なＳ字曲線を導き出すことができない。閉サーボループが間違った根拠により対物レンズ位置を補正することを防止するため、本発明に従った決定手段は、フォーカス誤差信号FESが対物レンズ位置を補正するために有効に使用され得るときを決定する。このため、決定手段11は、検出領域D1及びD2でそれぞれ測定される信号S1及びS2から、中心アパーチャ（CA）信号をCA=S1+S2の方法で計算することが有利である。そして、CA信号が捕獲範囲に含まれる場合に、決定手段はフォーカス誤差信号FESを対物レンズ位置の補正のために使用することを決定する。
【００３７】
有利には、CA信号が第１の所定の閾値より高い場合に、決定手段11はフォーカス誤差信号FESが有効に用いられ得ると決定する。実際のところ、極端に焦点の合っていない放射線サブビーム群はスプリット検出器の２つのハーフ部に重なり合ったスポット群を形成し、それらのスポット群は、放射線サブビーム群が焦点に近いときより低いCA信号を導き出す。
【００３８】
なお、閾値は用途に依存する。
【００３９】
CA信号が第１の所定の閾値より小さいとき、決定手段11は対物レンズ位置がＳ字曲線を基礎にしては効果的に補正され得ないと決定し、開ループ補正が遂行される。例えば、アクチュエータ10は対物レンズ4を所定ステップだけ移動させる。CA信号がフォーカス誤差検出手段によって新たに測定される。もしCA信号が増大しているならば、このことは移動が正しい方向に為されたことを意味する。決定手段が閉サーボループを再開させることを決定できるまで、すなわちCA信号が捕獲範囲内に収まるまで、操作が繰り返される。
【００４０】
図６ａ及び６ｂに表される本発明の変形例では、スプリット検出器8が、２つの検出ハーフ部D1及びD2とともに拡張検出領域EDAを形成する、２つの追加検出ハーフ部D3及びD4を有する。拡張検出領域は検出領域D1及びD2を超えて拡がるスポットの強度を検出する。図６ａは検出器の２つのハーフ部D1及びD2内に含まれるスポットを示している。対照的に、図６ｂは直径が２つのハーフ部D1及びD2より大きく、２つの追加ハーフ部D3及びD4に及ぶスポットを示している。本発明の当該変形例を用いて、第１のCA信号の第１の測定が２つのハーフ部D1及びD2内で実行され、第２のCA信号の第２の測定が追加ハーフ部D3及びD4内で実行される。フォーカス誤差信号は第１の測定で得られる。正規化CA信号CANが、２つのハーフ部D1及びD2について測定された信号と追加ハーフ部D3及びD4について測定された信号との比として次式のように計算される。
CAN＝(S1+S2)／(S3+S4)
【００４１】
正規化CA信号CANが第２の所定の閾値より高い場合、検出手段はフォーカス誤差信号を対物レンズ位置の補正のために使用することを決定する。この変形例の利点は、分離された反射サブビームにより形成されたスポットが検出器8の検出領域D1及びD2の範囲をどの程度超えているかを測定することである。この測定は決定に考慮される。従って、本発明の変形例を用いて、フォーカス誤差信号は過大でなく充分な高強度を有するスポットに活用される。
【００４２】
図７ａは、図１ｂに示されるような２次元同心螺旋状トラックを読み出すための複数の放射線サブビーム群を有する光学走査装置から得られた、実験でのフォーカス誤差信号FES1及び方形波信号SWS1を示している。方形波信号SWS1はスプリット検出器のCA信号から得られる。多重Ｓ字曲線が見られ、大きなオフセットが存在しているため、Ｓ字曲線はゼロ電圧ラインと交わっていない。
【００４３】
図７ｂは、本発明に従った２次元同心螺旋状トラックを読み出すための複数の放射線サブビーム群を有する光学走査装置から実験的に得られた、CA信号CAS、方形波信号SWS2、及び実験でのフォーカス誤差信号FES2を示している。方形波信号SWS2はスプリット検出器のCA信号CASから得られ、そして、用いられた閾値THを表示している。CA信号が閾値を上回るとき、フォーカス誤差信号FES2がはっきりした焦点Ｓ字曲線を示している。
【００４４】
図面及び先述の記載は本発明を限定するものではなく例示するものである。添付の請求項の範囲に含まれる代替が多数存在することは明らかであろう。この点において、ハードウェハ若しくはソフトウェア又はそれら双方の品目によって、本機能を実施する方法は多数存在すると言える。この点において、図面はごく概略であり、それぞれ本発明に係る単一のとり得る実施形態を表すに過ぎない。従って、図面は異なる機能を異なるブロックとして示しているが、このことは決して、ハードウェア又はソフトウェアの単一の品目が幾つかの機能を果たすことを排除するものではないし、単一の機能がハードウェハ若しくはソフトウェア又はそれら双方の品目の組み合わせによって実行されることを排除するものでもない。
【００４５】
請求項内の如何なる参照符号も請求項を限定するものとして解釈されるべきではない。“有する”  という動詞及びその活用形は請求項で述べられたもの以外の要素又は工程の存在を排除するものではない。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】（ａ）多重の同心螺旋状データトラックを有する光ディスクの概略図、（ｂ）２次元トラック上のデータ配置の概略図である。
【図２】複数ビーム読み出しのための光学走査装置における光路を表す概略図である。
【図３】ナイフエッジ・フーコー法の原理を例示する図である。
【図４】（ａ）フォーカス誤差信号から得られるＳ字曲線を表す図、（ｂ）（ｃ）本発明に従った検出枝における光路を２つの取り得る焦点面位置について例示する図である。
【図５】本発明に従った光学走査装置における光路を表す概略図である。
【図６】本発明の実施形態に従った検出器の概略図である。
【図７】本発明を用いないとき及び用いたときに得られたＳ字曲線を表す図である。
【図１ａ】
2007510246.tif 000003
【図１ｂ】
2007510246.tif 000004
【図２】
2007510246.tif 000005
【図３ａ】
2007510246.tif 000006
【図３ｂ】
2007510246.tif 000007
【図３ｃ】
2007510246.tif 000008
【図４ａ】
2007510246.tif 000009
【図４ｂ】
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【図４ｃ】
2007510246.tif 000011
【図５】
2007510246.tif 000012
【図６ａ】
2007510246.tif 000013
【図６ｂ】
2007510246.tif 000014
【図７ａ】
2007510246.tif 000015
【図７ｂ】
2007510246.tif 000016
【国際調査報告】
2007510246.tif 000017
2007510246.tif 000018