【事件の表示】
　特願２０１４−　３４９３６「Ｘ線検査装置およびＸ線検査装置の制御方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２７年　９月　７日出願公開、特開２０１５−１６１５０８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２６年２月２６日の出願であって、平成２８年１０月６日付けで拒絶査定（以下、「原査定」という。）がなされ、これに対して、同年１２月１２日に拒絶査定不服審判の請求がなされたものである。
第２　本願発明 
　本願の請求項１及び２に係る発明は、願書に最初に添付した特許請求の範囲の請求項１及び２に記載の事項により特定される発明であり、そのうち、本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、特許請求の範囲の請求項１に記載される以下のとおりのものと認める。 
「【請求項１】
　Ｘ線発生器と、ラインセンサと、前記Ｘ線発生器および前記ラインセンサが接続される制御部とを備え、
　前記制御部は、前記Ｘ線発生器と前記ラインセンサとの間に配置される被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させて前記被検査体の全体の二次元のＸ線画像を取得するＸ線画像取得動作と、前記被検査体の外周側で前記Ｘ線発生器および前記ラインセンサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作とを、前記Ｘ線発生器および前記ラインセンサが前記被検査体の外周側で１回転するまで交互に繰り返して複数枚の前記Ｘ線画像を取得し、取得した複数枚の前記Ｘ線画像からＣＴ画像を生成することを特徴とするＸ線検査装置。」
第３　原査定の概要
　原査定は、請求項１に係る発明は、引用文献２及び３に記載された発明に基づいて、当業者が容易になし得たものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない、という理由を含むものである。
第４　当審の判断
１．引用文献２
　原査定の理由において引用された、本願の出願前に頒布された刊行物である特開２０１１−１１２６５０号公報（以下、「引用文献２」という。）には、以下の事項が記載されている。なお、下線は当審による。
（１−１）
「【００２１】
　図１に示される
コンピュータ断層撮影システムは、サンプル１３の一連のＸ線投影を取るように構成されたＸ線システム１０を含む。
Ｘ線システム１０は、Ｘ線コーン１４を放出する
Ｘ線管、
Ｘ線検出器および、
垂直軸を中心にサンプル１３を回転させるように適合されたサンプルマニュピュレータ２０を含む。
Ｘ線検出器１２は二次元検出器である
全３６０度のサンプル１３の一連のＸ線投影は、所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ２０を段階的に回転させ、各回転角においてＸ線投影を取ることによって行われる。
Ｘ線投影１８は
二次元画像であり、
サンプル１３の一連のＸ線投影２１は様々な方向から取られる複数のＸ線投影１８であり、これは、好適な再構成法による全サンプル容積の容積構造の再構成を可能にするのに十分な情報を含む。
（１−２）
「【００２３】
　
Ｘ線投影は撮像装置１２から読み取られ、コンピュータ装置４０に送られ、
コンピュータ装置４０は、
計算装置４１
を含む。
【００２４】
　図１に示される実施形態では、
計算装置４１はサンプル１３のＸ線投影を取るためにＸ線システム１０、特にＸ線源１１およびサンプルマニピュレータ２０を制御するように構成される。
【００２５】
　
計算装置４１において、Ｘ線システム１０によってサンプル１３から取られる一連のＸ線投影２１はコンピュータ断層撮影再構成アルゴリズム２２に入力される。
サンプル１３の完全な容積データ２３は、全サンプル１３を通じた一連のその後の容積スライスによって得られる。
（１−３）
「【００３５】
　サンプル容積の信頼度２８は
自動欠陥認識（ＡＤＲ）
検査中のサンプル１３の欠陥を判定するためにＡＤＲアルゴリズムが再構成容積データ２３に適用される。
（１−４）図１
２．引用文献３
　原査定の理由において引用された、本願の出願前に頒布された刊行物である特開２０１０−２１０６２５号公報（以下、「引用文献３」という。）には、以下の事項が記載されている。
（２−１）
「【００２９】
　本発明によると、
検査装置１５は、
Ｘ線透視法
【００３０】
　有利には、該走査は、検査装置１５と方向Ｂから見た製品の動きＢとの間の相対停止の時に実行され、その結果、必要な放射強度がこのような方法で低減され、
画像
【００３１】
　
検査装置１５は、
製品フローの上方に配置されたＸ線放射線源１７から成り
ラインセンサ１９は、
製品フローの下方に配置されている。
【００３２】
　図２よりわかるように、例えば、２行のカップは製品フローの方向Ｂではカバーで覆われており、製品フローの幅方向においては、小さい広がりのみ、とりわけ、直線的な広がり２２のみが存在する。
製品フローを幅方向においても走査するために、源１７は、ラインセンサ１９と同期的に
製品フロー全体にわたって
移動させられ
【００３３】
　図３からわかるように、検査装置１５は、方向Ａにおける直線的な一定の動きに対する源１７用の上側直線棒２７と、ラインセンサ１９用の下側直線棒２９とを有しており、これらの棒は、適切な方策を用いることによって、走査範囲２０全体にわたる源１７およびセンサ１９の互いに同期的な連続した動きを可能にする。」
３．引用発明
　上記（１−１）〜（１−４）より、引用文献２には次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
　ここで、「Ｘ線投影」を「Ｘ線投影１８」に、「一連のＸ線投影」を「一連のＸ線投影２１」に符号を統一し、また、「Ｘ線源１１」を「Ｘ線管１１」に、「撮像装置１２」を「Ｘ線検出器１２」に記載を統一した。
　「サンプル１３の一連のＸ線投影２１を取るように構成されたＸ線システム１０を含むコンピュータ断層撮影システムであって、
　Ｘ線システム１０は、Ｘ線コーン１４を放出するＸ線管１１、Ｘ線検出器１２および、垂直軸を中心にサンプル１３を回転させるように適合されたサンプルマニュピュレータ２０を含み、Ｘ線検出器１２は二次元検出器であり、全３６０度のサンプル１３の一連のＸ線投影２１は、所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ２０を段階的に回転させ、各回転角においてＸ線投影１８を取ることによって行われ、Ｘ線投影１８は二次元画像であり、サンプル１３の一連のＸ線投影２１は様々な方向から取られる複数のＸ線投影１８であり、これは、好適な再構成法による全サンプル容積の容積構造の再構成を可能にするのに十分な情報を含むものであり、
　Ｘ線投影１８はＸ線検出器１２から読み取られ、コンピュータ装置４０に送られ、コンピュータ装置４０は、計算装置４１を含み、
　計算装置４１はサンプル１３のＸ線投影１８を取るためにＸ線システム１０、特にＸ線管１１およびサンプルマニピュレータ２０を制御するように構成され、
　計算装置４１において、Ｘ線システム１０によってサンプル１３から取られる一連のＸ線投影２１はコンピュータ断層撮影再構成アルゴリズム２２に入力され、サンプル１３の完全な容積データ２３は、全サンプル１３を通じた一連のその後の容積スライスによって得られ、
　検査中のサンプル１３の欠陥を判定するために自動欠陥認識（ＡＤＲ）アルゴリズムが再構成容積データ２３に適用される、
　コンピュータ断層撮影システム。」
４．対比
　本願発明と引用発明とを対比する。 
ア　
（ア）引用発明の「Ｘ線コーン１４を放出するＸ線管１１」は、本願発明の「Ｘ線発生器」に相当する。
（イ）引用発明の「二次元検出器」は、「Ｘ線検出器１２」であるから、引用発明の「二次元検出器」と本願発明の「ラインセンサ」とは、「Ｘ線センサ」である点で共通する。
（ウ）引用発明は、「Ｘ線投影１８はＸ線検出器１２から読み取られ、コンピュータ装置４０に送られ」、「コンピュータ装置４０」の「計算装置４１は」、「Ｘ線管１１」「を制御するように構成されており」、（１−４）の図１をみても、「コンピュータ装置４０」に「Ｘ線管１１」及び「二次元検出器」が接続されていることは明らかであるから、引用発明の「コンピュータ装置４０」と本願発明の「前記Ｘ線発生器および前記ラインセンサが接続される制御部」とは、「前記Ｘ線発生器および前記Ｘ線センサが接続される制御部」である点で共通する。
イ
（ア）引用発明は、「サンプル１３の一連のＸ線投影２１を取る」ものであり、（１−４）の図１をみても、引用発明の「サンプル１３」と、本願発明の「前記Ｘ線発生器と前記ラインセンサとの間に配置される被検査体」とは、「前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線センサとの間に配置される被検査体」である点で共通する。
（イ）引用発明の「サンプル１３の一連のＸ線投影２１は」、「全サンプル容積の容積構造の再構成を可能にするのに十分な情報を含むものであ」るから、引用発明における「サンプル１３の」「二次元画像」は、「サンプル１３の」全体の「二次元画像」であるといえ、本願発明の「被検査体の全体の二次元のＸ線画像」に相当する。
（ウ）上記（ア）及び（イ）を踏まえると、引用発明の「二次元検出器」を用いて「サンプル１３の」「二次元画像」「を取ること」と、本願発明の「前記Ｘ線発生器と前記ラインセンサとの間に配置される被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させて前記被検査体の全体の二次元のＸ線画像を取得するＸ線画像取得動作」とは、「前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線センサとの間に配置される被検査体に対して前記Ｘ線センサを用いて前記被検査体の全体の二次元のＸ線画像を取得するＸ線画像取得動作」である点で共通する。
ウ　引用発明において、「サンプルマニュピュレータ２０」は「垂直軸を中心にサンプル１３を回転させる」ものであり、「所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ２０を」「回転させ」ることは、「所定の小さな」回転角で「垂直軸を中心にサンプル１３を回転させる」ことであるから、引用発明の「所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ２０を」「回転させ」ることと、本願発明の「前記被検査体の外周側で前記Ｘ線発生器および前記ラインセンサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作」とは、「前記被検査体の外周側で前記Ｘ線発生器および前記Ｘ線センサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作」である点で共通する。
エ　引用発明において、「所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ２０を段階的に回転させ、各回転角においてＸ線投影１８を取ることによって」、「全３６０度のサンプル１３の一連のＸ線投影２１」を取得することは、上記イのＸ線画像取得動作と上記ウの回動動作とを交互に繰り返して「様々な方向から」「複数のＸ線投影１８」を取ることであるから、引用発明の「所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ２０を段階的に回転させ、各回転角においてＸ線投影１８を取ることによって」、「全３６０度のサンプル１３の一連のＸ線投影２１」を取得することと、本願発明の「前記Ｘ線発生器と前記ラインセンサとの間に配置される被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させて前記被検査体の全体の二次元のＸ線画像を取得するＸ線画像取得動作と、前記被検査体の外周側で前記Ｘ線発生器および前記ラインセンサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作とを、前記Ｘ線発生器および前記ラインセンサが前記被検査体の外周側で１回転するまで交互に繰り返して複数枚の前記Ｘ線画像を取得」することとは、「前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線センサとの間に配置される被検査体に対して前記Ｘ線センサを用いて前記被検査体の全体の二次元のＸ線画像を取得するＸ線画像取得動作と、前記被検査体の外周側で前記Ｘ線発生器および前記Ｘ線センサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作とを、前記Ｘ線発生器および前記Ｘ線センサが前記被検査体の外周側で１回転するまで交互に繰り返して複数枚の前記Ｘ線画像を取得」する点で共通する。
オ　引用発明では、「計算装置４１において、Ｘ線システム１０によってサンプル１３から取られる一連のＸ線投影２１はコンピュータ断層撮影再構成アルゴリズム２２に入力され、サンプル１３の完全な容積データ２３は、全サンプル１３を通じた一連のその後の容積スライスによって得られ」ており、ここでの「容積スライス」は、本願発明の「ＣＴ画像」に相当するところ、引用発明の「サンプル１３の完全な容積データ２３は、全サンプル１３を通じた一連のその後の容積スライスによって得られ」ることは、本願発明の「取得した複数枚の前記Ｘ線画像からＣＴ画像を生成する」ことに相当する。
カ　引用発明の「コンピュータ断層撮影システム」は、「検査中のサンプル１３の欠陥を判定する」ものであるから、本願発明の「Ｘ線検査装置」に相当する。
　以上から、両者は、 
　「Ｘ線発生器と、Ｘ線センサと、前記Ｘ線発生器および前記Ｘ線センサが接続される制御部とを備え、
　前記制御部は、前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線センサとの間に配置される被検査体に対して前記Ｘ線センサを用いて前記被検査体の全体の二次元のＸ線画像を取得するＸ線画像取得動作と、前記被検査体の外周側で前記Ｘ線発生器および前記Ｘ線センサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作とを、前記Ｘ線発生器および前記Ｘ線センサが前記被検査体の外周側で１回転するまで交互に繰り返して複数枚の前記Ｘ線画像を取得し、取得した複数枚の前記Ｘ線画像からＣＴ画像を生成する、Ｘ線検査装置。」
　である点で一致し、以下の点で相違する。 
（相違点） 
　本願発明では、Ｘ線センサとして「ラインセンサ」を用い、「被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させて」二次元のＸ線画像を取得するのに対し、引用発明では、「二次元検出器」を用いて二次元のＸ線画像を取得する点。
５．判断 　 
　上記相違点について検討する。
 
　引用文献３（括弧内には、対応する本願発明の発明特定事項を示す。）には、上記（２−１）から、Ｘ線透視法を用いた検査装置１５（Ｘ線検査装置）であって、製品フロー（被検査体）の上方に配置されたＸ線放射線源１７（Ｘ線発生器）と、製品フローの下方に配置されたラインセンサ１９（ラインセンサ）とを、同期的して、製品フロー全体にわたって直線移動さることによってＸ線透視画像（二次元のＸ線画像）を取得することが、技術的事項として記載されていることが把握できる。
　また、Ｘ線検査装置において、ラインセンサを使用して被検査体を相対的に移動させることによって被検査体の二次元のＸ線画像を取得することも、二次元検出器を使用して被検査体を移動させることなく被検査体の二次元のＸ線画像を取得することも、いずれも本願出願時の技術常識（例えば、特開２０１２−１０３０３１の段落【００２１】を参照）であり、当該技術常識を踏まえると、引用文献２の（１−１）における「Ｘ線検出器１２は二次元検出器であるが、一次元検出器を用いることも想定され・・・Ｘ線投影１８は一次元または二次元画像であ」るとの記載は、「一次元検出器」を用いて、「一次元」画像を取得する態様以外に、「二次元画像」を取得する態様を含むものと理解できることから、引用文献２には、「一次元検出器」を用いて「二次元のＸ線画像を取得する」ことが示唆されており、そのための手段を具体的に設計する動機が存在するといえる。また、Ｘ線検査装置において、同じ時間、同じ精度で、二次元のＸ線画像を取得できる場合、一般的により安価なデバイス、すなわち二次元検出器から一次元検出器に設計変更することは、普遍的に存在する課題要請であるといえる。
　してみると、引用発明において、上記動機の存在及び／又は上記課題要請を契機に上記引用文献３に記載された技術的事項を適用し、二次元のＸ線画像を取得するために、Ｘ線センサとして「ラインセンサ」を用い、「被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させ」ること、すなわち、上記相違点に係る本願発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に為し得たことである。
　そして、本願発明において、引用文献２、３から予測できない効果が奏されたとは認められない。 
６．小活
　よって、本願発明は引用文献２及び３に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
第５　むすび
　以上のとおり、この出願の請求項１に係る発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、他の請求項に係る発明について言及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。 
　よって、結論のとおり審決する。