【手続補正書】
【提出日】平成28年1月16日(2016.1.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼の複数の画像それぞれを異なる時間に取得する画像取得手段と、
走査手段を介して測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の画像に基づいて前記被検眼の移動量のうち少なくとも回転量を取得する移動量取得手段と、
前記走査手段による１つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で走査位置を前記取得された回転量に基づいて補正するように前記走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。
【請求項２】
前記複数の断層画像のうち前記取得された回転量が閾値を超えるか否かを判定する判定手段を更に有することを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮像装置。
【請求項３】
前記判定手段の判定結果に応じて、前記複数の断層画像それぞれに対して断層画像の歪み具合を示す表示形態を該断層画像に対応した状態で表示手段に表示させる表示制御手段を更に有することを特徴とする請求項２に記載の光干渉断層撮像装置。
【請求項４】
前記複数の断層画像のうち前記取得された回転量が前記閾値以下である断層画像を画像処理する画像処理手段を更に有することを特徴とする請求項２または３に記載の光干渉断層撮像装置。
【請求項５】
被検眼の複数の画像それぞれを異なる時間に取得する画像取得手段と、
走査手段を介して測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の画像に基づいて前記被検眼の移動量を取得する移動量取得手段と、
前記走査手段による１つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で走査位置を前記取得された移動量に基づいて補正するように前記走査手段を制御する制御手段と、
前記複数の断層画像のうち前記取得された移動量が閾値以下である断層画像を画像処理する画像処理手段と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。
【請求項６】
前記画像処理手段が、前記閾値以下である断層画像を重ね合わせ処理することを特徴とする請求項４または５に記載の光干渉断層撮像装置。
【請求項７】
前記制御手段が、前記閾値を超える断層画像を記憶手段から削除することを特徴とする請求項２乃至６のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
【請求項８】
前記画像取得手段が、前記被検眼の複数の眼底画像を前記複数の画像として取得し、
前記移動量取得手段が、前記複数の眼底画像に基づいて前記被検眼の回転量及びＸＹ方向の移動量を取得し、
前記制御手段が、前記取得された回転量及びＸＹ方向の移動量に基づいて前記１つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で走査位置を補正するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
【請求項９】
前記制御手段が、前記走査手段による１つの主走査の終了時と次の主走査の開始時との間で走査位置の補正を行い且つ前記走査手段による主走査中に走査位置の補正を停止するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
【請求項１０】
前記制御手段が、前記走査手段による副走査中に走査位置の補正を行い且つ前記走査手段による主走査中に走査位置の補正を停止するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
【請求項１１】
走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を取得する光干渉断層撮像装置の制御方法であって、
異なる時間に取得された前記被検眼の複数の画像に基づいて前記被検眼の移動量のうち少なくとも回転量を取得する工程と、
前記走査手段による１つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で走査位置を前記取得された回転量に基づいて補正するように前記走査手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項１２】
前記複数の断層画像のうち前記取得された回転量が閾値を超えるか否かを判定する工程を更に有することを特徴とする請求項１１に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項１３】
前記判定する工程における判定結果に応じて、前記複数の断層画像それぞれに対して断層画像の歪み具合を示す表示形態を該断層画像に対応した状態で表示手段に表示させる表示制御手段を更に有することを特徴とする請求項１２に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項１４】
前記複数の断層画像のうち前記取得された回転量が前記閾値以下である断層画像を画像処理する工程を更に有することを特徴とする請求項１２または１３に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項１５】
走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を取得する光干渉断層撮像装置の制御方法であって、
異なる時間に取得された前記被検眼の複数の画像に基づいて前記被検眼の移動量を取得する工程と、
前記走査手段による１つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で走査位置を前記取得された移動量に基づいて補正するように前記走査手段を制御する工程と、
前記複数の断層画像のうち前記取得された移動量が閾値以下である断層画像を画像処理する工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項１６】
前記画像処理する工程において、前記閾値以下である断層画像を重ね合わせ処理することを特徴とする請求項１４または１５に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項１７】
前記閾値を超える断層画像を記憶手段から削除する工程を更に有することを特徴とする請求項１２乃至１６のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項１８】
前記複数の画像は、前記被検眼の複数の眼底画像であり、
前記移動量を取得する工程において、前記複数の眼底画像に基づいて前記被検眼の回転量及びＸＹ方向の移動量を取得し、
前記制御する工程において、前記取得された回転量及びＸＹ方向の移動量に基づいて前記１つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で走査位置を補正するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１１乃至１７のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項１９】
前記制御する工程において、前記走査手段による１つの主走査の終了時と次の主走査の開始時との間で走査位置の補正を行い且つ前記走査手段による主走査中に走査位置の補正を停止するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１１乃至１８のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項２０】
前記制御する工程において、前記走査手段による副走査中に走査位置の補正を行い且つ前記走査手段による主走査中に走査位置の補正を停止するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１１乃至１９のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
【請求項２１】
請求項１１乃至２０のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
上記の目的を達成する本発明に係る光干渉断層撮像装置の一つは、
被検眼の複数の画像それぞれを異なる時間に取得する画像取得手段と、
走査手段を介して測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の画像に基づいて前記被検眼の移動量のうち少なくとも回転量を取得する移動量取得手段と、
前記走査手段による１つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で走査位置を前記取得された回転量に基づいて補正するように前記走査手段を制御する制御手段と、を有する。
また、本発明に係る光干渉断層撮像装置の一つは、
被検眼の複数の画像それぞれを異なる時間に取得する画像取得手段と、
走査手段を介して測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の画像に基づいて前記被検眼の移動量を取得する移動量取得手段と、
前記走査手段による１つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で走査位置を前記取得された移動量に基づいて補正するように前記走査手段を制御する制御手段と、
前記複数の断層画像のうち前記取得された移動量が閾値以下である断層画像を画像処理する画像処理手段と、を有する。