(57)【要約】  本願は、部材（１，３）の本体縁（５ａ）の位置の変化を測定する測定装置（７）に関し、測定装置は、変化に反応するセンサ（９）、光源（８）、本体縁（５ａ）に固定した測定縁（５）、及び光源（８）から出る光（６）を含んでいる。位置の変化から、（例えば軸受における）力Ｆによる変形についての情報を取得し、重量又は不平衡を求め、密封部又はプレスばめ部を監視することができる。測定は、なるべく導光体を使用して、反射又は透過で行われる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
部材（１，３）の少なくとも１つの本体縁（５ａ）の少なくとも１つの位置の変化を測定する装置（７，１３，１４，１５，３２）であって、測定装置がこの変化に反応する少なくとも１つのセンサ（９）を持っているものにおいて、測定装置（７，１３，１４，１５，３２）が、少なくとも１つの光源（８）、本体縁（５ａ）に対して動かない少なくとも１つの測定縁（５）、及び光源（８）から出る少なくとも１つの光（６）を持ち、測定縁（５）が、光（６）に対する初期位置から位置を変化可能であり、測定縁（５）の初期位置に対する位置の変化により大きさを変化される光（６）の部分（６ａ）が、妨げられることなくセンサ（９）に当たることを特徴とする、測定装置。
【請求項２】
測定縁（５）が本体縁（５ａ）であることを特徴とする、請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
本体縁（５ａ）が、部材（１，３）を貫通する可変な通路（４，３７，３８，３９，４０）を区画し、この通路を通って光（６）の部分がセンサ（９）に当たることを特徴とする、請求項２に記載の測定装置。
【請求項４】
初期位置に対して変化される測定縁（５）の光（６）に対する位置で同時に、
光（６）の第１の部分（６ａ）が妨げられることなくセンサ（９）に当り、
光（６）の少なくとも１つの第２の部分（６ｂ）が少なくとも測定縁（５）に当り、
光の第１の部分（６ａ）と第２の部分（６ｂ）が、初期位置からの測定縁（５）の位置の変化により、互いに大きさを変化可能であることを特徴とする、請求項１に記載の測定装置。
【請求項５】
初期位置に対して変化される測定縁（５）の光に対する位置で同時に、
光（６）の少なくとも２つの第２の部分（６ｂ）が、それぞれ別の所で測定縁（５）    に当り、
光（６）の第１の部分（６ａ）と少なくとも１つの第２の部分（６ｂ）が、初期位置からの測定縁（５）の位置の変化により、互いに大きさを変化可能であることを特徴とする、請求項４に記載の測定装置。
【請求項６】
光源（８）とセンサ（９）が互いに対向し、光の一部（６ｂ）が、光源（８）とセンサ（９）との間で測定縁に当たることを特徴とする、請求項１に記載の測定装置。
【請求項７】
光源（８）が反射鏡（３３）に対向し、反射鏡（３３）が光（６）を少なくとも一時的に少なくとも一部センサ（９）の方へ反射し、光（６）が光源（８）と反射鏡（３３）との間で少なくとも一部測定縁（５）に当たることを特徴とする、請求項１に記載の測定装置。
【請求項８】
測定装置（１３）が第１のセンサ（９）及び少なくとも１つの第２のセンサ（１７）を持ち、初期位置に対して変化される測定縁（５）の光に対する位置で同時に、
光（６）の第１の部分（６ａ）が妨げられることなく第１のセンサ（９）に当り、
光（６）の少なくとも１つの第２の部分（６ｂ）が少なくとも測定縁（５）に当り、
光（６）の第１の部分（６ａ）と第２の部分（６ｂ）が、初期位置からの測定縁（５    ）の位置の変化により、互いに大きさを変化され、
光（６）の第１の部分（６ａ）と第２の部分（６ｂ）が、初期状態に対して同じ大き    さで、従って位置の変化により影響されることなく、少なくとも一部第２のセンサ（    １７）に当たる
ことを特徴とする、請求項１に記載の測定装置。
【請求項９】
測定装置（１３）が制御装置（４３）を持ち、制御装置（４３）が第２のセンサ（１７）及び光源（８）に接続されていることを特徴とする、請求項８に記載の測定装置。
【請求項１０】
測定装置（１４）が、比較光（４４）を有する比較光源（２３）を持ち、比較光（４４）が、少なくとも光（６ａ）に対して、測定縁（５）の初期位置で同じ大きさであり、初期位置に対して可変な測定縁（５）の位置で同時に、
光源（８）の光（６）の第１の部分（６ａ）が妨げられることなくセンサ（９）に当    り、
光源（８）の光（６）の少なくとも１つの第２の部分（６ｂ）が、少なくとも測定縁    （５）に当り、
第１の部分（６ａ）と第２の部分（６ｂ）が、初期位置からの測定縁（５）の位置の    変化により、互いに大きさを変化され、
初期位置と比較して変化されない比較光源（２３）の比較光（４４）が、初期位置に    対して変化される光源（８）の光（６）の第１の部分（６ａ）と交互の順序でセンサ    （９）に当たる
ことを特徴とする、請求項１に記載の測定装置。
【請求項１１】
測定装置（３２）が少なくとも１つの導光媒体を持ち、この導光媒体により光（６）の部分（６ａ，６ｂ）が測定装置（３２）へ導かれることを特徴とする、請求項１又は８又は９又は１０に記載の測定装置。
【請求項１２】
導光媒体が少なくとも１つの導光ケーブル（３４）内にあることを特徴とする、請求項１１に記載の測定装置。
【請求項１３】
部材（１，３）が少なくとも１つの回転支持体（３５）又は直線支持体に属していることを特徴とする、請求項１に記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、部材の少なくとも１つの本体縁の少なくとも１つの位置の変化を測定する測定装置、即ち変化に反応する少なくとも１つのセンサを持つ測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】  このような測定装置はドイツ連邦共和国特許第２７４６９３７号明細書に記載されている。センサとしてのひずみ計により、ころがり軸受における力が測定される。レースと接触するセンサが、レースの弾性変形に反応する。センサは、例えば負荷区域の範囲にある軸受の本体表面に固定しているので、面及び縁における丸さからの湾曲のような変化を検出することができる。このようなひずみ計の製造及び取付けには比較的費用がかかる。更にひずみ計は温度及び機械的影響に対して弱い。比較的費用がかかり従って高価な電子評価装置が、センサにより供給される信号の評価のために必要である。
【発明の開示】
【課題が解決しようとする課題】
【０００３】  本発明がなされた時点に、簡単で信頼性があり頑丈で安価な測定装置を提供し、この測定装置により、本体面の位置及び形状の考えられるすべての変化、及びそれから誘導されて個々の本体縁の位置及び形状の変化も確実に検出できるようにする、という課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００４】  この課題は、請求項１の特徴部分によれば、次の特徴を持つ光学測定装置によって解決される。
測定装置は少なくとも１つの光源を持っている。光源として、例えば発光ダイオード、レーザ光源、赤外線源、電灯等のような考えられるすべての技術的光源が設けられている。
測定装置は、本体縁に対して固定した少なくとも１つの測定縁を持っている。側定縁は、選択的に、例えば機械的に又は熱膨張により負荷される縁の構成部分、又は部材にあって多くの縁から構成される面の構成部分、又は変形部の近くで部材に設けられる絞りの構成部分であってもよい。
この意味において絞りは、間隙、スリット又は穴又は異なるように形成される通路であり、この通路の縁において光源の光の一部が阻止され、光の他の部分がこの通路を通って妨げられることなくセンサ又は反射鏡へ当たる。従って絞りは光束の断面を限定する装置である。しかしスリットは、１つの部材に形成する代わりに、対向する２つの部材の間に形成することもできる。絞りは、部材における形状又は位置の変化によって変化される。
測定装置は、光源から出る少なくとも１つの光を持っている。光の種類、一般に光束は、択一的に選択可能であり、選ばれる光源に関係している。
測定縁又は本体縁は、初期位置から少なくとも１つの位置を変化可能である。この意味で位置の変化は、本体縁の変形、摩耗及び老化等による本体縁の位置の変化でもある。測定縁の位置の変化により大きさを変化される光の部分は、妨げられることなくセンサに当たる。１つ又は複数の測定縁は絞りを区画する。光の他の部分は、縁又は縁に続く部材の材料によって阻止され、その代わりに反射されるか又は吸収される。縁又は絞りは部材の変形又は変化と同じように動く。絞りにより、絞りを通ってセンサに当たる光の明るさが影響を受ける。通過量又は絞りの形状は、部材の変形又は移動に関係して変化する。その代わりに測定縁は部材の本体縁である。
センサは、選択される光源に応じて、感光抵抗、フォトダイオード、フォトトランジスタ等のようなすべての技術的受信器である。
【０００５】  測定装置は、例えば部材への力の作用によって生じる部材又は部材の範囲の位置の変化の測定のために設けられ、１つ又は複数の測定縁又は部材の本体縁が可変絞りとして使用される。部材は、例えば少なくとも限られた範囲で第１の部材に対して可動に設けられている。部材に加えられる力は、第２の部材に対する部材の移動をひき起こす。例えば移動する部材の測定縁が、スリットの所で本体縁に対向する部材に近づくか又はこれから離れる時、このような移動は装置により測定可能である。その場合スリットの変化は、スリットの光通過の変化により、センサによって検出される。
【０００６】  部材に形成される通路の弾性変形により、部材の荷重を検出することも考えられる。通路は貫通穴又はスリットの形状を持っている。本体縁は通路の最小自由断面を包囲して又は中断して区画している。
【０００７】  測定装置は、その代わりに選択的に、力の作用なしに部材の少なくとも１つの区域における形状変化から生じる位置の変化を測定するために設けられている。このような変形又は移動は、熱歪み又は摩耗、収縮、例えばブラスチックにおける老化による材料縮小の結果生じる。
【０００８】  測定装置は例えば洗濯機において使用される。装置は、洗濯機のドラムへ入れられる洗濯物の重量による変形又は移動を検出する。その場合測定装置により検出される洗濯物の重量により、例えば洗濯過程のために必要な水量が制御可能である。更にこの使用における測定装置は、不平衡のため大きすぎる力による変形又は移動の検出のために使用可能である。
【０００９】  測定縁の初期位置において光が、少なくとも測定縁及びそれに続く材料によって、センサに当たるのを完全に阻止されることも、考えられる。このような配置では、例えば通常位置で互いに接触するか又は互いに接触しながら動く２つ又はそれ以上の部材の接触個所を監視することができる。その例は、例えば圧力を受ける部材の間にある密封部又はプレスばめ部の接触個所である。部材の初期位置において、光が監視すべき場所へ向けられている。密封個所に摩耗又は老化により、又はプレスばめ部に過負荷により、間隙が生じると、光の少なくとも一部が間隙を通ってセンサへ達し、センサが信号により評価装置に反応する。
【００１０】  本発明の別の構成は、次の特徴を持つ測定装置の部材の配置を考慮している。
光源とセンサが互いに対向している。光の一部が、光源とセンサとの間で測定縁に当り、絞りを通らない。光の他の部分は、絞りを通ってセンサに達する。部材は例えば光源とセンサとの間にある。
光源が反射鏡に対向している。光の一部が、光源と反射鏡との間で測定縁に当り、絞りを通らない。光の他の部分は、絞りを通って反射鏡へ達する。部材は例えば光源と反射鏡との間にある。反射鏡は光の少なくとも一部をセンサの方へ反射する。センサは、選択的に、光源が存在する部材の側に設けるか、又は反射鏡の側に設けることができる。
センサにより、１つの共通な部材又は異なる部材にある複数の縁が監視される。例えば１つのセンサと異なる絞りへそれぞれ向けられる複数の光源とを持つ測定装置も設けられている。その場合適当な切換えにより、一方の光源が付勢され、この瞬間に他方の光源が消勢される。光源により照らされる絞りの明るさが、この瞬間にセンサで監視される。引き続く経過においてこの光源が消勢され、他の絞りにある光源が付勢される。今やこの他の絞りからの光の強さが監視され、任意の規定された順序で交代が行われる。
光源及び／又はセンサが、絞り又は部材から離して設けられている。光は、光源から絞り又は比較センサへ、かつ／又は絞りからセンサ又は反射鏡へ、導光媒体により導かれる。導光媒体は、導光ケーブル、ガラス又はプラスチックにような剛性導光体、液状又はガス状の光を導く媒体のようなすべての光を導く物質又は構造を意味する。
【００１１】  比較量としての光の明るさへの誤った関係、光源又はセンサの老化、温度及びそれから生じるセンサの特性の変化の影響、給電の変動従って測定値の誤りは、回避せねばならない。従って本発明の別の構成では、測定装置が第１のセンサ及び第２のセンサ及び第２の比較センサを持ち、かつ／又は測定装置が少なくとも１つの光源に加えて少なくとも１つの比較光源を持つことが考慮される。このような測定装置の配置、校正及び機能は、「発明を実施するための最良の形態」において詳細に説明される。
【００１２】  本発明による測定装置は簡単かつ安価に製造される。標準化されて安価で頑丈な多量生産の部材が使用可能である。センサの信号の評価及び評価装置のための技術は複雑でない。監視すべきシステムへの装置の取付けは簡単である。測定装置を収容するために必要な構造空間は小さい。部材は必要な絞りを簡単に設けられている。部材の規定通りの機能を妨げることなく、従って傷つき易いセンサ装置を必要とすることなく、絞りを任意の荷重に対して設計することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】  図１ａは通路４を持つ部材１の部分図を示している。部材１は図１ｂに示す軸受部材３、ハウジングの一部、又はゴムばね素子等であってもよい。部材１は、１つの方向に部材を貫通するスリット状の通路４を持っている。図１ｂには、例として別の通路３７，３８，３９，４０が示されている。通路４，３８は通路方向に対して直角に側方を閉じられて形成され、図１ｂの通路３９，４０は側方で開いている。通路４及び３０は、図１ａでは取囲む測定縁５により、図１ｂでは中断される測定縁５により区画されている。測定縁５は部材１又は３の本体縁５ａに相当してる。通路４，３８，３９は、少なくとも一方の側で、通路穴４１に移行し、この通路穴が通路４，３８，３９を両方向矢印１２の方向に弾性的に形成している。別の構成の通路は円形に又は任意に形成されている。通路３７は軸受部材３を接線方向に通っている。【００１４】  図１ｂは、転動体３６と例えば外レース又はフランジであってもよい軸受部材３とを持つころがり軸受３５を示している。１つ又は同じかあるいは異なる構成の複数の通路４，３７，３８，３９又は４０が内レース４２又は外レース３又は両方に形成されて前述した光センサ装置を備えているようにすることも、考えられる。【００１５】  光６は、例えば部材１の負荷されない初期状態にある部材１の一方の側へ当たる際における光束の投影で示されている。光６は、投影における束として、円又は図示した楕円のような任意の幾何学的形状を持つことができる。光６の一部分６ａは、通路の高さに相当する高さＨを持っている。光６の部分６ａは通路４を貫通する。光６の他の部分６ｂは本体縁５ａ又は測定縁５から部材へ当り、それぞれ高さＲを持っている。部分６ｂは本体縁５ａ及び部材１において反射されるか又は吸収されるが、通路４を通らない。【００１６】  部材１が例えば両方向矢印１２と同じ向きに圧縮力Ｆを受けるか、又は逆の方向に張力を受けると、通路４の間隙Ｓの大きさは、特定の限界内で連続的に可変である。限界は一般に張力及び圧縮力の両負荷方向に変位によって規定され、部材１が、この変位だけ、間隙Ｓにある通路４において、永久塑性変形なしに、二重矢印１２の方向に伸縮変形することができる。例えば圧縮負荷Ｆのため、寸法Ｓが特定の割合だけ小さくなると、同時に光の通過する部分６ａの高さＨも同時に小さくなり、同時に（少なくとも本体縁５ａの片側で）他の部分６ｂの高さＲが前記の割合だけ大きくなる。従って一層小さい部分６ａが通路４を通される。部材１が逆の方向に張力を受けると、間隙Ｓ、従って通路を通る光の部分６ａが増大する。その結果両方の場合、他方の側１ｂで通路４から出る光の明るさが、間隙Ｓが変化しない初期状態と比較して変化する。【００１７】  重要なことは、通路４及び本体縁５ａに当たる光が、間隙Ｓをできるだけ大きく変化し、従って両方向矢印２３の少なくとも１つの方向に本体縁５ａｍｐ位置ができるだけ大きく変化しても、常に１つの部分６ｂを持っていることである。【００１８】  図２は部材１の所にある測定装置７を示している。測定装置７は、光６を放射する光源８を持っている。この場合光源は例えば発光ダイオードの記号で示されている。更に測定装置７には、更にセンサ９及び評価装置１０が設けられて、接続線１１により互いに接続されている。測定装置７を部材１又はその近くに取付けた後、光源８、センサ９及び通路４の周囲光に対して露出する部分が密閉される（図示せず）。【００１９】  光６は一部通路４を通されて、センサ９に当たる。部分６ａの光量はセンサ０において電気信号に変換される。電気信号は接続線１１を経て評価装置１０へ導かれる。通路４が変化しない場合、従って本体縁５ａが初期位置にあると、この瞬間に例えば側１ｂで通路４から出てセンサ９へ当たる光量６ａが、信号に変換される。信号は評価装置１０へ導かれ、そこで評価され、初期状態として検出される。本体縁５ａの位置変化のため通路４が変化すると、センサ９に当たる光量が変化する。初期状態とは大きさの異なる信号が評価装置へ導かれ、そこで初期状態と比較される。【００２０】  測定装置７及び後述する測定装置１３，１４，１５及び３２は、例えば図示しない支持装置の不平衡を簡単に求めて評価するのに適している。不平衡のため変動する力は、通路４における異なる大きさの変形をひき起こす。間隙Ｓが周期的に変化し、それによりセンサ９に、それに応じて周期的に変化する交流信号が生じる。それにより評価装置１０において検知可能な交流信号の振幅は、例えば不平衡の大きさの直接の尺度として、そこで検知可能である。更に信号の周波数から、不平衡の周期性も求めることができる。周期性と軸回転数との比較によって、外部振動による障害に対する安全性に影響を及ぼすことができる。電子装置の適当な速さと感度において、装置７，１３，１４，１５及び３２により、現れる軸受損傷による振動の測定も可能である。【００２１】  後述する測定装置１３，１４，１５及び２２は、基本構造及び動作において測定装置７と対比可能である。これらも前述した原理に従って動作する。従って以下の説明において基本構造の個別部分に対しても、同じ符号が選ばれた。【００２２】  図３による測定装置１３は、装置７の基本構造に加えて、比較センサの機能を持つセンサ１７を持っている。センサ１７及び９は、記号的に感光抵抗として示されている。センサ１７は、測定装置１３の作動中に常にかつ通路４の変形の影響なしに、全部の光又は両方の部分６ａ及び６ｂのうち不変な割合がこのセンサへ入射するように、光源８の近くに設けられている。評価装置１０において、初期状態に対して不変な比較センサ９の値が、可変な値と比較されかつ評価される。測定装置１３は、選択的に、光源８及びセンサ１７に接続される制御装置４３を持っている。光源８により初期化される比較器（１７）に信号が、測定装置１３の作動中に、初期状態の光の目標値（校正値）と相違すると、作動中に制御装置４３が光源８の光の明るさを再び初期状態に制御又は修正するので、光源８から出る光６の大きさが一定に保たれる。【００２３】  図４は例えばセンサ９及び１７の可能な接続を示している。センサ９，１７は、照度に応じて電気抵抗を変化する。センサ９及び１７は、２つの補足抵抗１８及び１９とホィートストンブリッジ２０となるように接続されている。可変抵抗１９はブリッジ２０の平衡に用いられる。ブリッジ２０は一定電圧２１（Ｖ＋��びＶ−）を供給されている。出力信号として電圧２２（Ｕ＋及びＵ−）が取出される。部材１の負荷の初期状態において、部材１は既に基本荷重をかけられるか又は負荷されていない。抵抗１９の調節により、本体縁５ａの初期位置において出力電圧２２が零であるように、ブリッジ２０が平衡せしめられる。さて負荷により本体縁５ａの位置従って通路４を通る光量が変化すると、ブリッジ２０が非常に敏感に反応して、零とは異なる電圧２２を出力する。センサ９と１３が互いに平衡せしめられていることにより、装置は例えば温度変動及び老化に対して感応しない。【００２４】  図５は測定装置１４を示す。測定装置１４は、測定装置７の基本構造に加えて、比較光源２３を持っている。比較光源２３は、センサ９に直接又はその近くに設けられて、通路４の変形の影響を受けることなく、センサ９を光６により同じ強さで照らす。図６からわかるように、両方の光源８及び２３が、切換え装置２４により所定の頻度内で、交互に位置ＡからＢに切換えられる。例えば光源８に接点Ａが属し、比較光源２３に接点Ｂが属している。従って同じ時点に光源の１つ８又は２３のみが照らす。【００２５】  比較光源２３、選択的に光源８も、例えば操作素子２５及び／又は２６この場合可変抵抗を介して、その明るさを調節可能である。ＡとＢとの間の切換え頻度と、それに続いてセンサ９の出力信号の周波数を選択される評価によって、例えば光回路の５０Ｈｚの外乱周波数を効果的に抑制することができる。光源８と２３の平衡の際、操作素子２５により、光源２３の光２４の強さが、部材１の初期状態における光源８の光６の部分６ａの大きさに制御される。従ってセンサ９が両方の光源８及び２３から記録する光量６ａ及び４４が、本体縁５ａの初期位置においてちょうど同じ大きさである。図７には、従って（ＡからＢへまたその逆への）切換え時点がこの状態におけるセンサ９の信号２７を認められないようにすることが、グラフで示されている。ここでＹ軸は信号（例えば電圧）の値を表し、Ｘ軸は時間を表している。【００２６】  部材１が初期状態とは異なり、荷重をかけられるか又は荷重を除かれると、本体縁５ａの位置及び光源８の光量６ａが変化する。センサ９により記録される光量は今や互いに相違する。なぜならば、光４４は初期状態と比較して不変だからである。それにより図８に示す信号２８がセンサ９に生じる。大きさの相違は、両方の仮想値最大値３０と最小値３１との間の垂直間隔において認められる。（ＡからＢへまたその逆の）切換え周波数を持つ交流信号が生じ、評価装置におけるその振幅（値３０と３１との間の間隔）は、部材の負荷の程度として評価される。ＡからＢへの急激な切換えによる図示した方形電圧とは異なり、例えば波状（正弦波状、鋸歯状等）の信号の別の推移も可能である。前述した装置は、外乱周波数による障害に対して非常に安全である。なぜならば、交流信号は既知の切換え頻度により周波数について選択的に評価可能だからである。【００２７】  図９に示す測定装置１５では、部材１の一方の側１ａに光源８が設けられ、同じ側にセンサ９が設けられている。光６ａは他方の側で反射鏡３３に当り、これから通路４を通ってセンサ９へ反射される。【００２８】  図１０に示す測定装置３２には、光源８及びセンサ９が部材１及び通路４から大きく離れて設けられている。光６とその部分６ａ及び６ｂは、導光媒体により通路４へ導かれる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１ａ】  通路を持つ部材の一部を示す。
【図１ｂ】  軸受部材を示す。
【図２】  部材の所にある測定装置を示す。
【図３】  別の測定装置を示す。
【図４】  図３の２つのセンサの可能な回路を示す。
【図５】  別の測定装置を示す。
【図６】  図５の２つの可能な回路を示す。
【図７】  センサの信号を時間に関してグラフで示す。
【図８】  センサに生じる信号を示す。
【図９】  別の測定装置を示す。
【図１０】  別の測定装置を示す。
【符号の説明】
【００３０】  １      部材
１ａ    側
１ｂ    側
２      投影
３      軸受部材
４      通路
５      測定縁
５ａ    本体縁
６      光
６ａ    部分
６ｂ    部分
７      測定装置
８      光源
９      センサ
１０      評価装置
１１      接続縁
１２      両方向矢印
１３      測定装置
１４      測定装置
１５      測定装置
１６      センサ
１７      センサ
１８      補足抵抗
１９      補足抵抗
２０      ホィートストンブリッジ
２１      一定電圧
２２      電圧
２３      比較光源
２４      切換え装置
２５      操作素子
２６      操作素子
２７      信号
２８      信号
２９      切換え装置
３０      最大値
３１      最小値
３２      測定装置
３３      反射鏡
３４      導光体
３５      ころがり軸受
３６      転動体
３７      接線方向通路
３８      通路
３９      通路
４０      通路
４１      通路
４２      内レース
４３      制御装置
４４      光
【図１ａ】
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【図１ｂ】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【国際調査報告】
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