(57)【要約】  記録媒体上の耐汚染レベル評価方法を提供する。人工物質が付着されたスタンプを光記録媒体上に接触させることによって、光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するステップと、指紋に対する感度を判断するために、人工指紋の形成された領域内のシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定し、測定されたＳＥＲによって光記録媒体が良好な品質を持つか粗悪な品質を持つかを判断するステップと、を備える。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体上の耐汚染レベルを評価する方法において、
人工物質の付着されたスタンプを前記光記録媒体上に接触させることによって、前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するステップと、
前記人工指紋に対する感度を決定するために、前記人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定するステップと、
を備えることを特徴とする耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項２】
測定する前記ステップは、前記測定されたＳＥＲを基準値と比較するステップを含むことを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項３】
前記測定されたＳＥＲが前記基準値よりも小さい時に、前記光記録媒体は良好な品質を持つことを特徴とする請求項２に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項４】
前記基準値は、４．２×１０−３であることを特徴とする請求項３に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項５】
前記人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸、紫色染料のうち少なくとも１つで形成されることを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項６】
前記スタンプは、Ｓｉ（シリコン）−ゴムで形成されることを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項７】
前記スタンプは、約１０ｍｍの直径を持つことを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項８】
前記スタンプは、５００ｇの圧力でディスクと接触することを特徴とする請求項１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項９】
光記録媒体の表面上の耐汚染レベルを評価する方法において、
（ａ）人工指紋物質が形成されたスタンプパッド上に所定の圧力でスタンプを接触させ、前記スタンプ上に前記人工指紋物質を付着させるステップと、
（ｂ）前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するために、前記光記録媒体の表面上に前記人工指紋物質を持つ前記スタンプを接触させるステップと、
（ｃ）前記人工指紋が形成された位置上のシンボルエラーレート（ＳＥＲ）に従って、前記指紋の感度を決定するステップと、
を備えることを特徴とする耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１０】
前記ステップ（ｃ）は、前記ＳＥＲを基準と比較することによって前記感度を有するか否かを判断することを特徴とする請求項９に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１１】
前記ステップ（ｃ）は、前記ＳＥＲが前記基準よりも小さい時、前記光記録媒体は良好な品質を持つと判断することを特徴とする請求項１０に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１２】
前記基準は、４．２×１０−３であることを特徴とする請求項１１に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１３】
前記ステップ（ｂ）は、前記スタンプを前記表面上に所定の圧力で接触させることを特徴とする請求項１０に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１４】
前記ステップ（ｂ）において、前記所定の圧力は５００ｇであることを特徴とする請求項１３に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１５】
過酷な条件または標準条件に応じて、前記ステップ（ａ）から、前記人工スタンプ物質が付着された前記スタンプをダミーへ接触させる回数を制御するステップをさらに備えることを特徴とする請求項９に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１６】
前記スタンプが前記過酷な条件である場合、前記スタンプから前記ダミーへの接触回数は０または１であり、前記スタンプが前記標準条件である場合、スタンプからダミーへの接触回数は２から４の間にあることを特徴とする請求項１５に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１７】
前記スタンプが前記過酷な条件である場合、前記ステップ（ｃ）は、前記ＳＥＲが４．２×１０−３よりも小さい時、前記光記録媒体は良好な品質を持っていると判断するステップを含むことを特徴とする請求項１５に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１８】
前記スタンプが前記標準条件である場合、前記ステップ（ｃ）は、前記ＳＥＲが１．５×１０−３よりも小さい時、光記録媒体は良好な品質を持っていると判断するステップを含むことを特徴とする請求項１５に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項１９】
前記ダミーは、ポリカーボネートで形成されることを特徴とする請求項１５に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項２０】
前記人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸、紫色染料のうち少なくとも１つで形成されることを特徴とする請求項９に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項２１】
前記スタンプは、Ｓｉ（シリコン）−ゴムで形成されることを特徴とする請求項９に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項２２】
前記ステップ（ａ）において、前記スタンプは５００ｇの圧力で前記スタンプパッドに接触させることを特徴とする請求項９に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項２３】
前記ステップ（ｂ）は、前記標準条件によって形成された前記スタンプを、所定の回数だけ前記光記録媒体に接触させ、前記光記録媒体の表面上に前記人工指紋を形成させることを特徴とする請求項１２に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項２４】
前記ステップ（ｂ）は、前記光記録媒体の表面上に形成された前記人工指紋が前記光記録媒体の１つのロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックの少なくとも５０％を覆うまで前記光記録媒体の表面に前記スタンプを接触させることを特徴とする請求項２３に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項２５】
前記ステップ（ｃ）は、前記ＳＥＲが４．２×１０−３よりも小さい時、前記光記録媒体は良好な品質を持っていると判断するステップを含むことを特徴とする請求項２４に記載の耐汚染レベルを評価する方法。
【請求項２６】
請求項１乃至請求項２５の少なくともいずれか１つによって評価された耐汚染レベルを持つ光記録媒体と同じ種類であることを特徴とする光記録媒体。
【請求項２７】
光記録媒体上の耐汚染レベルの評価装置であって、
人工物質の付着されたスタンプを前記光記録媒体上に接触させることによって、前記光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するスタンプと、
前記指紋に対する感度を決定するために、前記人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定する測定ユニットと、
を備えることを特徴とする耐汚染レベル評価装置。
【請求項２８】
前記測定ユニットは、前記ＳＥＲを基準値と比較することを特徴とする請求項２７に記載の耐汚染レベル評価装置。
【請求項２９】
前記測定ユニットは、前記測定されたＳＥＲが前記基準値よりも小さい時、光記録媒体は良好な品質を持っていると判断することを特徴とする請求項２８に記載の耐汚染レベル評価装置。
【請求項３０】
前記基準値は、４．２×１０−３であることを特徴とする請求項２９に記載の耐汚染レベル評価装置。
【請求項３１】
前記人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸、紫色染料のうち少なくとも１つで形成されることを特徴とする請求項２７に記載の耐汚染レベル評価装置。
【請求項３２】
前記スタンプは、Ｓｉ（シリコン）−ゴムで形成されることを特徴とする、請求項２７に記載の耐汚染レベル評価装置。
【請求項３３】
前記スタンプは、５００ｇの圧力でディスクと接触させることを特徴とする請求項２７に記載の耐汚染レベル評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクのような光記録媒体に関し、より詳細には、光ディスクの表面上の耐汚染レベルを評価する方法に関する。本発明は広い分野に応用が可能であり、中でも光ディスクの表面上に形成された保護膜の特性を量子化（ｑｕａｎｔｉｚｅ）することによってその安定性を改善するのに特に好適である。
【背景技術】
【０００２】
一般に、光ディスクは、レーザービームを用いて光ディスクの表面上に情報を記録するのに使用される。より具体的に、光ディスクは、デジタル信号に変換された音声、映像および文字情報を持つ大容量のデータ記憶手段である。低い強度のレーザービームが入射され、相異なる強度で反射された光を認識することによって光ディスクの読出を行う。光ディスク媒体は、コンパクトディスク（ＣＤ）、デジタルビデオディスク（ＤＶＤ）、レーザーディスク（ＬＤ）などを含む。また、近来、ブルーレイディスク（ＢＤ）および次世代ディスク（ＡＯＤ）が、次世代記憶手段の標準規格として活発に競いあいながら開発されている。
【０００３】
ブルーレイディスクは、高解像度ビデオディスクレコーダ（ＨＤＶＤＲ）を目標に開発されている。ブルーレイディスクは、青紫色半導体レーザ（ＢＰＳＬ）を使用する次世代光ディスク記憶手段とされている。したがって、ブルーレイディスクは、２７ギカバイト（ＧＢ）の記憶容量を持ち、これは、通常の映画を１３時間再生できることと、高解像度ＴＶ（ＨＤＴＶ）画質を持つヴィジュアル素材を２時間再生することに対応する。上述したように、従来のＤＶＤの短所を補うことのできる次世代記憶手段としてブルーレイディスクに対する関心と焦点は高まりつつある。しかしながら、ブルーレイディスクの微細な信号特性のために、傷、変形もしくは形状欠陥、指紋、製造プロセス中における不純物付着などに起因した品質欠陥が発生することがある。したがって、ブルーレイディスクの製造完了後には品質検査プロセスが実行され、検査済みの製品が出荷され市販される。
【０００４】
一般に、従来技術の光ディスク品質検査プロセスは、四つの測定フローによって行われる。同一の製造装置で製造された複数の光ディスクがいずれも同じ特性を持つと言う条件で、製造者は光ディスクを無作為に選択し、選択された光ディスクを測定システム上にマウントする。第１の測定フローでは、光ディスクからの高周波信号とジッター(jitter)を測定する。第２の測定フローでは、光ディスクから再生された信号に基づいてサーボ信号（すなわち、フォーカスエラー信号およびトラックエラー信号）を測定する。第３の測定フローでは、現在品質検査中の光ディスクの機械的特性を検出する。最後に、最後（第４）の測定フローでは、光ディスクの光学特性を測定する。
【０００５】
上述のように、従来技術の光ディスク品質検査プロセスは、情報記録時の精度検査、光ディスクの機械的および光学的特性検査などからなる。高密度光ディスクを使用する間に、記録／再生情報のためのレーザービームの入射面上に生じうる指紋のような化学的および物理的な汚染は、光ディスク信号の品質低下を招く。このため、データを損ねるだけでなく、ディスク上の記録／再生情報を不能にしてしまう。そこで、このような問題が発生するのを防止するために、耐汚染レベルおよび表面安定性を改善するようにディスクの表面上に保護膜が形成され、光ディスクは、汚染からディスクを保護するためにカートリッジに挿入される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、最近では、ディスクの体積を最小化するために、保護膜のみを有しカートリッジを備えないディスクが市販されている。したがって、ディスクの表面上に形成される保護膜の耐汚染レベルを量子化する（ｑｕａｎｔｉｚｅ）ことが、ディスクの効率的な製造および利用のための重要な要素とされている。
【０００７】
しかしながら、従来技術においては、高密度光ディスクの表面上で発生する耐汚染レベルを評価する量子化された方法は未だ開発されていない。耐汚染レベルは、単に十分に熟練した製造者の個人的な判定によってのみ評価され、この際の判定は、ディスクの表面に付着された汚染された実際の指紋または汚染物の量やレベルを観察することに基づいている。したがって、上述した従来の耐汚染レベル評価方法によって検査が行われる時は、ある程度の誤判定が発生し得る。この誤判定によって、欠陥のあるディスクが出荷され販売されてしまう恐れがあった。
【０００８】
したがって、本発明は、従来技術の限界および短所に起因する１つ以上の問題を大幅に克服した光ディスク表面上の耐汚染レベルの評価方法を対象としている。
【０００９】
本発明の目的は、光ディスク表面上の安定性を改善するために形成された保護膜の特性を量子化できる光ディスク表面上の耐汚染レベル評価方法を提供することにある。
【００１０】
本発明の他の長所、目的および特徴は、部分的に後述する詳細な説明に開示することによって、部分的には実験の際に技術分野の当業者に明白になり、あるいは本発明の実施から自明になるだろう。本発明の目的と他の長所は、添付図面の他、後述される説明と請求の範囲に詳細に開示された構造によって具現され獲得可能になろう。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記の目的と長所を実現するために、本明細書で具体化され幅広く説明された本発明の目的とともに、ここでは、光記録媒体上の耐汚染レベル評価方法において、人工物質の付着されたスタンプを光記録媒体上に接触させることによって、光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するステップと、指紋に対する感度（ｓｅｎｓｉｔｉｖｉｔｙ）を決定するために、人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレートを測定するステップと、を備えることを特徴とする耐汚染レベル評価方法が提供される。
【００１２】
人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸、紫色染料のうち少なくとも１つで形成され得る。スタンプは、Ｓｉ（シリコン）−ゴムで形成することができ、約１０ｍｍの直径を持つことができる。スタンプは、５００ｇの圧力でディスクと接触させることができる。
【００１３】
本発明の他の態様によれば、光記録媒体の表面上の耐汚染レベル評価方法であって、（ａ）人工指紋物質の形成されたスタンプパッド上に所定の圧力でスタンプを接触させ、スタンプ上に人工指紋物質を付着させるステップと、（ｂ）光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するために、光記録媒体の表面上に人工指紋物質を持つスタンプを接触させるステップと、（ｃ）人工指紋の形成された位置上のシンボルエラーレート（ＳＥＲ）によって指紋の感度を決定するステップと、を備えることを特徴とする耐汚染レベル評価方法が提供される。
【００１４】
本発明の他の態様によれば、光記録媒体の表面上の耐汚染レベル評価方法において、過酷な条件または標準条件によって、ステップ（ａ）において人工スタンプ物質が付着されたスタンプがダミーに接触する回数を制御するステップをさらに備える。
【００１５】
この時、スタンプからダミーへの接触回数が０または１である時、スタンプは過酷な条件であるとすることができ、スタンプからダミーへの接触回数が２から４との間にある時、スタンプは標準条件であるとすることができる。スタンプが過酷な条件にある場合、ステップ（ｃ）は、ＳＥＲが４．２×１０−３よりも小さい時、光記録媒体は良好な品質を持つと判断するステップと、ＳＥＲが４．２×１０−３以上である時、光記録媒体は粗悪な品質を持つと判断するステップを備える。一方、スタンプが標準条件である場合、ステップ（ｃ）は、ＳＥＲが１．５×１０−３よりも小さい時、光記録媒体は良好な品質を持つと判断するステップと、ＳＥＲが１．５×１０−３以上である時、光記録媒体は粗悪な品質を持つと判断するステップと、を備える。
【００１６】
本発明のさらに他の態様によれば、上記の方法によって評価された光記録媒体と同じ種類の光記録媒体が提供される。
【００１７】
本発明のさらに他の態様によれば、光記録媒体上の耐汚染レベル評価装置において、人工物質が付着されたスタンプを光記録媒体上に接触させることによって、光記録媒体の表面上に人工指紋を形成するスタンプと、指紋に対する感度を決定するために、人工指紋の形成された領域におけるシンボルエラーレート（ＳＥＲ）を測定する測定ユニットと、を備えることを特徴とする耐汚染レベル評価装置が提供される。
【００１８】
ステップ（ｂ）において、表面上に形成された人工指紋が、光記録媒体の１つのロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックの少なくとも５０％を覆うまで、光記録媒体の表面にスタンプを接触させ、ステップ（ｃ）は、ＳＥＲが４．２×１０−３よりも小さい時、光記録媒体は良好な品質を持つと判断するステップと、ＳＥＲが４．２×１０−３以上である時、光記録媒体は粗悪な品質を持つと判断するステップと、を備える。
【００１９】
本発明についての上述の一般的な説明および後述する詳細な説明はいずれも、例示的なものであり、請求項における本発明に対する追加的な説明を提供するものとして理解されるべきである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、添付図面に示された数例を用いて、本発明の好ましい実施例について詳細に説明する。図面中、同一の構成要素には、できる限り同一の参照符号を使用するものとする。
【００２１】
図１Ａから図１Ｄは、ディスク表面上の耐汚染レベル評価方法の手順を示す図である。図１Ａを参照すると、人工指紋を形成するためのスタンプ１０が、少なくても一度スタンプパッド３０に接触させる。この時、スタンプ１０上には人工指紋物質が形成されることによって、スタンプパッド３０に接触するスタンプ１０に人工指紋物質を付着させる。続いて、人工指紋物質２０ａが付着されたスタンプ１０は、図１Ｂに示すように、ダミーに少なくとも一度接触することによって、人工指紋物質２０ａがスタンプ１０に過度に付着されるのを防止する。スタンプ１０がダミー４０と接触する回数によって、スタンプ１０は過酷な条件と標準条件とに分けることができる。所定回数だけダミー４０に接触させたスタンプ１０は、その後、図１Ｃに示すように保護膜が形成されているディスク５０と接触させることによって、人工指紋２０ｂをディスク５０の表面上に付着させる。この時、ダミーは、ポリカーボネート板で形成されていることが好ましい。その後、図１Ｄに示すように、ディスク５０の表面上に形成された人工指紋２０ｂのシンボルエラーレート（ＳＥＲ）が測定されることによって、指紋の感度を決定するか、または、製造されたディスクを良好および欠陥（不良）に区分する。
【００２２】
ＳＥＲは、関連データブロック内のエラーバイトの数を、データブロック内の総バイト数で除算した値で決定される。ブルーレイシステムにおいて、ＳＥＲは、関連ロングディスタンスコード（ＬＤＣ）内のエラーバイト数を、ＬＤＣブロック内の総バイト数で除算した値として決定される。
【００２３】
図２を参照すると、製造されたディスク５０の品質は、スタンプ１０によってディスク５０の表面上に形成された人工指紋２０ｂの数およびシンボルエラーレート（ＳＥＲ）と人工指紋２０ｂの数との関係によって判断され区分される。より具体的に、図２は、４０ｍｍの半径を持つブルーレイディスクの表面上にランダムに形成された直径１０ｍｍ人工指紋の数とシンボルエラーレート（ＳＥＲ）の変化を表すデータを示す。ディスクの表面上に１つの人工指紋１００のみが形成される時、ディスクの全トラックのうち約４％のみが覆われるようになる。また、ディスクの表面上に１５個の人工指紋２００が形成される時、ディスクの全トラックのうち約６０％が覆われるようになる。
【００２４】
また、ディスクの表面上に６個以上の人工指紋が形成される時、ＳＥＲは飽和する（または、飽和状態にある）。より具体的に、６個以上の人工指紋は、１つの全体ロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックを覆うのに充分である。本発明において、示されたＳＥＲ結果によれば、一連の条件で図２に説明された検査の間に、製造されたディスクは、ＳＥＲが４．２×１０−３よりも小さい時に良好な品質を持つと判断され、ＳＥＲが４．２×１０−３以上である時に粗悪な品質を持つと判断される。以下、添付図面を参照しつつ、ディスク表面上の耐汚染レベル評価方法について詳細に説明する。
【００２５】
第１の実施例
図３は、本発明の第１の実施例によるディスク表面上の耐汚染レベル評価方法を示す図である。図３を参照すると、人工指紋を形成するためのスタンプは、スタンプ上に人工指紋物質を付着させるべく、人工指紋物質の形成されたスタンプパッド上に少なくとも一度接触させる（Ｓ１０）。この時、人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸および極少量の紫色染料のうち少なくとも１つで形成される。また、スタンプは、Ｓｉ−ゴムで形成されることができ、人工指紋物質が付着されたスタンプは、約１０ｍｍの直径を有することが好ましい。その後、スタンプは、５００ｇの圧力でスタンプパッドに接触させる。
【００２６】
次に、人工指紋物質がスタンプに過度に付着されるのを防止するために、人工指紋物質の形成されたスタンプは、ダミー（すなわち、ポリカーボネート板）に少なくとも１度接触させる（Ｓ２０からＳ３０）。この時、スタンプは、ダミーとも５００ｇの圧力で接触させ、ダミーに対するスタンプの接触回数によって、スタンプの条件は過酷な条件および標準条件に区分される。より具体的に、下記の表１に示すように、接触回数が０と１との間にあると、スタンプは過酷な条件であると判断され、接触回数が２から４の間にあると、スタンプは標準条件であると判断される。このような条件は、表１に示す接触回数に制限されるものではなく、ディスク表面上の耐汚染レベルを評価する検査装置によって変更ができる。
【００２７】
【表１】
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【００２８】
したがって、ディスク表面上の耐汚染レベルを評価するに当たって、スタンプの条件が標準条件に設定された時、スタンプからダミーへの接触回数を、２回と４回との間に増やすことによって、スタンプを標準条件に設定する（Ｓ１２０）。続いて、所定回数だけダミーに接触させたスタンプは、保護膜の形成されたディスクに５００ｇの圧力で一回のみ接触させることによって、ディスクの表面上に人工指紋を形成する（Ｓ６０）。この時、ダミーはポリカーボネート板で形成されることが好ましい。その後、耐汚染レベルの評価によってディスクの品質（すなわち、良好または不良）を判断するために、ディスク上に形成された人工指紋のＳＥＲが測定される（Ｓ７０）。この時、ディスクの品質、すなわちディスクが良好な品質を持つか粗悪な品質を持つかは、スタンプが過酷な条件であるか標準条件であるかによって変わってくる（Ｓ８０）。
【００２９】
上述したプロセスＳ８０の結果に従って、現在使用されているスタンプが過酷な条件である場合、ディスクの表面上に形成された人工指紋のＳＥＲ値が４．２×１０−３よりも小さい時は、ディスクは良好な品質を持つと判断される（Ｓ１００）。一方、ＳＥＲ値が４．２×１０−３以上である時、ディスクは粗悪な品質を持つと判断される（Ｓ１１０）。また、上述したプロセスＳ８０の結果に従って、現在使用されているスタンプが標準条件である場合、ディスクの表面上に形成された人工指紋のＳＥＲ値が１．５×１０−３よりも小さい時、ディスクは良好な品質を持つと判断される（Ｓ１４０）。一方、ディスクのＳＥＲ値が１．５×１０−３以上である時、ディスクは粗悪な品質を持つと判断される（Ｓ１５０）。
【００３０】
スタンプが過酷な条件である場合のディスクの表面上に一度形成された人工指紋の基準評価値と、スタンプが標準条件である場合のディスクの表面上に一度形成された人工指紋の基準評価値とが同一に設定される場合、製造されたディスクの品質を判断するプロセス中には誤差が生じることがあるため、スタンプが標準条件にある場合、基準評価値は１．５×１０−３に設定される。したがって、標準条件における基準評価値を、過酷な条件における基準評価値の１／３に設定することによって、同様な耐汚染レベルの評価が得られる。
【００３１】
第２の実施例
図４は、本発明の第２の実施例によるディスク表面上の耐汚染レベル評価方法を示す図である。図４を参照すると、人工指紋を形成するためのスタンプは、スタンプ上に人工指紋物質を付着させるべく、人工指紋物質が形成されたスタンプパッド上に少なくとも一度接触させる（Ｓ２００）。この時、人工指紋物質は、水、メタノール、塩化ナトリウム（ＮａＣｌ）、尿素、乳酸および極少量の紫色染料のうちの少なくとも１つで形成される。また、スタンプは、Ｓｉ−ゴムで形成することができ、人工指紋物質が付着されたスタンプは、約１０ｍｍの直径を持つことが好ましい。その後、スタンプは、５００ｇの圧力でスタンプパッドに接触させる。
【００３２】
次に、人工指紋物質がスタンプに過度に付着されるのを防止するために、人工指紋物質の形成されたスタンプは、ダミー（すなわち、ポリカーボネート板）に少なくとも２回、そして４回よりは少なく接触させる（Ｓ２１０）。この時、スタンプは、ダミーとも５００ｇの圧力で接触させる。その後、所定の回数だけダミーに接触させたスタンプを、保護膜の形成されたディスクに５００ｇの圧力で接触させることによって、ディスクの表面上に人工指紋を形成する（Ｓ２３０）。その後、スタンプからのディスクの表面への接触回数を増やすことによって、ディスク表面上に形成された人工指紋は、ディスクの１つのロングディスタンスコード（ＬＤＣ）ブロックの少なくとも５０％を覆う。この時、１つのＬＤＣブロック内の人工指紋の数が増加するにつれて、ＳＥＲは増加（上昇）する。したがって、正確な耐汚染レベルを評価するためには、充分な数の人工指紋が１つのＬＤＣブロックの少なくとも５０％を覆うように形成されなければならない。例えば、ディスクが、４０ｍｍの半径を持つ時、ディスク上の１つのＬＤＣブロックに形成された人工指紋は、１つのＬＤＣブロックの少なくとも５０％を覆うように、ディスク円周上の１／４で少なくとも３回、形成されなければならない。その後、ディスクの表面上に形成される人工指紋のＳＥＲ値を測定した後、ディスクの品質（すなわち、良好または不良）が耐汚染レベルの評価を経て判断される（Ｓ２５０）。その後、ディスクは、ＳＥＲ値が４．２×１０−３よりも小さい時、良好な品質を持つと判断され（Ｓ２７０）、ＳＥＲ値が４．２×１０−３以上である時、粗悪な品質を持つと判断される（Ｓ２８０）。
【００３３】
ディスクに対する汚染度検査時に製造者の単純な感覚（または、個人的な判断）に依存する代わりに、本発明は、ディスクの表面に汚染物を付着させてディスクのＳＥＲ値を測定した後にディスクの品質を判断することによって、製造されたディスクの品質（すなわち、良好な品質または粗悪な品質）を判断する。
【００３４】
本発明によるディスク表面の汚染度評価方法は、次のような効果を有する。まず、製造されたディスクの品質に大きい影響をおよぼす表面の汚染度が、客観的な基準値に基づいて量子化され、評価される。また、ディスク表面の安定性特性を改善するために、保護膜の特性を量子化することによって、評価結果の信頼度を改善できる。最後に、ディスクの品質、すなわちディスクが良好な品質であるかあるいは粗悪な品質であるかが、客観的な基準値に基づいて正確に判断される。このため、一貫した製品特性とユーザからの高い信頼度が保障される。
【産業上の利用可能性】
【００３５】
本発明の属する技術分野における通常の知識を持つ者であれば、本発明の精神または範囲を逸脱しない限度内で種々の変更が可能である。したがって、本発明は、添付した請求の範囲とその均等物の内容の範囲にあるものであれば、このような変更も含むものとして理解されるべきである。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１Ａ】ディスク表面上の耐汚染レベル評価方法の手順を示す図である。
【図１Ｂ】ディスク表面上の耐汚染レベル評価方法の手順を示す図である。
【図１Ｃ】ディスク表面上の耐汚染レベル評価方法の手順を示す図である。
【図１Ｄ】ディスク表面上の耐汚染レベル評価方法の手順を示す図である。
【図２】本発明によってスタンプがダミーに接触する回数とシンボルエラーレート（ＳＥＲ）の関係を示すグラフである。
【図３】本発明の第１の実施例によるディスク表面上の耐汚染レベル評価方法を示す図である。
【図４】本発明の第２の実施例によるディスク表面上の耐汚染レベル評価方法を示す図である。
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図１Ｃ】
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【図１Ｄ】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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