【手続補正書】
【提出日】平成28年3月8日(2016.3.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
分析対象の試料を収容した試料容器と、
試料の分析に用いる試薬を収容した試薬容器と、
前記試料と試薬とを混合した反応液を収容反応する反応容器と、
前記試料容器から前記反応容器に試料を分注する試料分注機構と、
前記試薬容器から前記反応容器に試薬を分注する試薬分注機構と、
散乱光測定用の光源から前記反応容器に収容された反応液に照射された光の散乱光量を測定する散乱光測定機構と、
前記反応容器に収容された反応液の吸光度を測定する吸光度測定機構と、
予め用意した成分が既知の基準試料に係る反応液の前記散乱光測定機構による測定結果から散乱光量検量線を演算する散乱光量検量線演算部と、
前記基準試料に係る反応液の前記吸光度測定機構による測定結果から吸光度検量線を演算する吸光度検量線演算部と、
予め定めた演算基準値に基づいて前記散乱光量検量線及び前記吸光度検量線の検量線上に求めた演算基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算する変換式演算部と、
前記座標系変換式を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換部と、
前記演算基準点を含む範囲であって、前記座標系変換式により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた重複条件を満たすような範囲を算出する重複範囲演算部と、
前記重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、前記散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、前記吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを算出する測定範囲演算部と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
請求項１記載の自動分析装置において、
前記分析対象の試料に係る反応液の前記散乱光測定機構による測定結果から、前記反応液の反応過程における散乱光量の変化を示す散乱光量曲線を演算する散乱光量曲線演算部と、
前記分析対象の試料に係る反応液の前記吸光度測定機構による測定結果から、前記反応液の反応過程における吸光度の変化を示す吸光度曲線を演算する吸光度曲線演算部と、
予め定めた曲線用演算基準値に基づいて前記散乱光量曲線及び前記吸光度曲線の曲線上に求めた曲線用演算基準点を用いて、一方の曲線の座標系を他方の曲線の座標系に変換する曲線用座標系変換式を演算する曲線用変換式演算部と、
前記曲線用座標系変換式を用いて一方の曲線の座標系を他方の曲線の座標系に変換する曲線用座標系変換部と、
前記曲線用座標系変換式により変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線との重複状態に基づいて、前記試料の測定結果の異常を判定する第１異常判定部と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
請求項２記載の自動分析装置において、
前記変換式演算部により演算された座標系変換式と、曲線用変換式演算部曲線により演算された曲線用座標系変換式の係数の比較結果に基づいて、前記試料の測定結果の異常を判定する第２異常判定部を備えたことを特徴とする自動分析装置。
【請求項４】
請求項２記載の自動分析装置において、
前記曲線用座標系変換式により変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた曲線重複条件を満たすような範囲を算出する曲線重複範囲演算部を備え、
測定範囲演算部は、前記曲線重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、前記散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、前記吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを再算出する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項５】
請求項２〜４の何れか１項記載の自動分析装置において、
前記曲線用座標系変換式を用いて変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線とを重複して表示する表示装置と、
前記演算基準値又は前記曲線用演算基準値を再設定する基準値再設定手段と、
前記散乱光測定機構及び前記吸光度測定機構による測定結果、及び、前記基準値再設定手段で再設定された各基準値を用いた前記測定範囲の再計算の実施をオペレータが指示することができる再計算指示手段と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。
【請求項６】
分析対象の試料を収容した試料容器と、
試料の分析に用いる試薬を収容した試薬容器と、
前記試料と試薬とを混合した反応液を収容反応する反応容器と、
前記試料容器から前記反応容器に試料を分注する試料分注機構と、
前記試薬容器から前記反応容器に試薬を分注する試薬分注機構と、
散乱光測定用の光源から前記反応容器に収容された反応液に照射された光の散乱光量を測定する散乱光測定機構と、
前記反応容器に収容された反応液の吸光度を測定する吸光度測定機構と
を備えた自動分析装置の分析方法であって、
予め用意した成分が既知の基準試料に係る反応液の前記散乱光測定機構による測定結果から散乱光量検量線を演算する手順と、
前記基準試料に係る反応液の前記吸光度測定機構による測定結果から吸光度検量線を演算する手順と、
予め定めた演算基準値に基づいて前記散乱光量検量線及び前記吸光度検量線の検量線上に求めた演算基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算する手順と、
前記座標系変換式を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換し、
前記演算基準点を含む範囲であって、前記座標系変換式により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた重複条件を満たすような範囲を算出する手順と、
算出された重複範囲に基づいて、前記散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、前記吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを算出する手順と
を備えたことを特徴とする自動分析装置の分析方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明は、分析対象の試料を収容した試料容器と、試料の分析に用いる試薬を収容した試薬容器と、前記試料と試薬とを混合した反応液を収容反応する反応容器と、前記試料容器から前記反応容器に試料を分注する試料分注機構と、前記試薬容器から前記反応容器に試薬を分注する試薬分注機構と、散乱光測定用の光源から前記反応容器に収容された反応液に照射された光の散乱光量を測定する散乱光測定機構と、前記反応容器に収容された反応液の吸光度を測定する吸光度測定機構と、予め用意した成分が既知の基準試料に係る反応液の前記散乱光測定機構による測定結果から散乱光量検量線を演算する散乱光量検量線演算部と、前記基準試料に係る反応液の前記吸光度測定機構による測定結果から吸光度検量線を演算する吸光度検量線演算部と、予め定めた演算基準値に基づいて前記散乱光量検量線及び前記吸光度検量線の検量線上に求めた演算基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算する変換式演算部と、前記座標系変換式を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換部と、前記演算基準点を含む範囲であって、前記座標系変換式により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた重複条件を満たすような範囲を算出する重複範囲演算部と、前記重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、前記散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、前記吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを算出する測定範囲演算部とを備えたものとする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
（１−７．３）変換式演算部
コンピュータ１８は、予め定めた演算基準値に基づいて散乱光量検量線及び吸光度検量線の検量線上に求めた演算基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算する変換式演算部としての機能を有している。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
（１−７．９）曲線用変換式演算部
コンピュータ１８は、予め定めた曲線用演算基準値に基づいて散乱光量曲線及び吸光度曲線の曲線上に求めた曲線用演算基準点を用いて、一方の曲線の座標系を他方の曲線の座標系に変換する曲線用座標系変換式を演算する曲線用変換式演算部としての機能を有している。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５０】
（２−３．１）変換式演算処理
変換式演算処理は、予め定めた濃度に関する演算基準値ａ２（図７参照）に基づいて散乱光量検量線１０４及び吸光度検量線１０５の検量線上に求めた演算基準点Ｐ１，Ｐ２（図４、図５参照）を用いて、一方の検量線（例えば、散乱光量検量線１０４）の座標系を他方の検量線（例えば、吸光度検量線１０５）の座標系に変換する座標系変換式を演算する処理である。演算基準点Ｐ１，Ｐ２は、後述する重複範囲（相関範囲）内となるような点を予め実験的・経験的に求めたものであり、メモリ１１に記憶されている。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５１】
座標系変換式としては種々の関数が挙げられるが、例えば、各濃度における変換後の値をＹ、元の値をＸ、係数をＡ，Ｂとする（式１）
Ｙ＝ＡＸ＋Ｂ  ・・・・（式１）
を座標系変換式として用いる場合が考えられる。このときの係数Ａ，Ｂは、濃度に関する演算基準値に基づいて各検量線上に求めた演算基準点を用いて算出される。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６４】
（２−６．３）曲線用変換式演算処理
曲線用変換式演算処理は、散乱光量曲線及び吸光度曲線に対して、検量線に対する変換式演算処理と同様の処理を行うものである。すなわち、曲線用変換式演算処理は、予め定めた曲線用演算基準値に基づいて散乱光量曲線及び吸光度曲線の曲線上に求めた曲線用演算基準点を用いて、一方の曲線（例えば、散乱光量曲線）の座標系を他方の曲線（例えば、吸光度曲線）の座標系に変換する曲線用座標系変換式を演算する処理である。曲線用演算基準点は、予め実験的・経験的に求めたものであり、メモリ１１に記憶されている。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７５】
これに対し本願発明は、予め定めた演算基準値に基づいて散乱光量検量線及び吸光度検量線の検量線上に求めた演算基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算し、この座標系変換式を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換し、演算基準点を含む範囲であって、座標系変換式により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた重複条件を満たすような範囲を算出し、算出された重複範囲に基づいて、散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを算出するように構成したので、ように構成したので、試料における検出対象成分の濃度に対して、より精度の高い分析結果を得られる分析方法を容易に判断することができる。