【事件の表示】
　特願２０１３−５４７６６８「イオン注入の改善された静電トラップ質量分析計」拒絶査定不服審判事件〔平成２４年　７月　５日国際公開、ＷＯ２０１２／０９２４５７、平成２６年　１月２０日国内公表、特表２０１４−５０１４３９、請求項の数（９）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の概要
　本願は、２０１１年１２月２９日（パリ条約による優先権主張外国庁受理２０１０年１２月２９日、英国）を国際出願日とする出願であって、平成２６年６月１６日付けで拒絶理由が通知され、同年１２月１６日付けで意見書及び手続補正書が提出されたが、平成２７年４月２３日付けで拒絶査定（以下、「原査定」という。）がなされた。
　本件は、これに対して、平成２７年８月２６日に拒絶査定に対する審判請求がなされたものである。
　その後、当審において、平成２８年４月４日付けで拒絶理由（以下、「当審拒理（１）」という。）が通知され、同年１０月５日付けで意見書及び手続補正書が提出され、同年１１月２日付けで拒絶理由（以下、「当審拒理（２）」という。）が通知され、平成２９年１月２５日付けで意見書及び手続補正書が提出された。
第２　本願発明
　本願の請求項１〜９に係る発明は、平成２９年１月２５日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１〜９に記載された事項により特定されるものと認められるところ、本願の請求項１〜９に係る発明、（以下、「本願発明１」〜「本願発明９」といい、これらをまとめて「本願発明」という。）は、次のとおりのものである。
「　【請求項１】
　静的で傾斜化されていない電位を有するトラップ電極を含む分析静電トラップ（１４）での質量スペクトル分析の方法において、
　無電界領域によって離間されている反射性電界領域を有する静電トラッピング電界であって、第１のＸ方向の等時性イオン振動と第２の横断するＹ方向の空間的集束による移動イオンの不定トラッピングとを提供していて、実質的に第３のＺ方向に延ばされている、静電トラッピング電界、を形成する段階と、
　少なくとも１００イオン振動サイクルに亘って提供されたイオンビームを前記トラッピング電界の中へ前記第１のＸ方向に対して所定の傾斜角度で注入する段階と、
　トラップされたイオンの運動を起こさせる段階と、
　振動する前記イオンによって生じる画像電流信号を検出する段階と、
　前記信号を、振動周波数のスペクトルへ変換し、それに続けて（ｍ／ｚ）スペクトルへ変換する段階とを備え、
　前記第３のＺ方向が、周回方向である、方法。
　　【請求項２】
　イオンビームの注入の期間と期間の間に、イオンを高周波（ＲＦ）電界に中間的に蓄積する段階を更に備えている、請求項１に記載の方法。
　　【請求項３】
　前記反射性静電界領域は、（ｉ）イオンミラーの電界、（ｉｉ）静電セクタの電界、及び（ｉｉｉ）イオンミラーと静電セクタの両方の特徴を有するハイブリッド電界、から成る群より選択された少なくとも１つの電界領域を備えている、請求項１又は２に記載の方法。
　　【請求項４】
　前記Ｚ方向に延ばされている静電界は、中空円柱形電界を備えている、請求項１から請求項３の何れかに記載の方法。
　　【請求項５】
　前記イオンビーム注入の段階は、オンとオフに切り替えることができる操舵手段を有する無電界空間を介して注入する段階を備えている、請求項１から請求項４の何れかに記載の方法。
　　【請求項６】
　前記画像電流信号を周波数スペクトルへ変換する段階は、フーリエ分析か又はフィルタ対角化法（ＦＤＭ）のどちらかを備えている、請求項１から請求項５の何れかに記載の方法。
　　【請求項７】
　静電トラップ質量分析計において、
　イオンビームを形成するためのイオン源（１２）と、
　無電界領域によって離間されているイオン反射領域を有する静電トラップ（１４）であって、当該静電トラップの電極の形状及び電位が、第１のＸ方向の等時性イオン振動と第２のＹ方向の空間的イオン閉じ込めを提供しており、前記トラップは実質的に第３のＺ方向に延ばされている、静電トラップ（１４）と、
　静電トラップ電位を傾斜させることなしに、前記静電トラップの中へ前記イオンビームを導入するための手段と、
　トラップされたイオンの少なくとも一部の運動を起こさせるための手段（１８）と、
　移動するイオン雲によって生じる画像電流信号を測定するための検出器と、
　検出器信号波形から質量スペクトルを再構築するための手段とを備え、
　前記第３のＺ方向が、周回方向である、静電トラップ質量分析計。
　　【請求項８】
　イオン蓄積のため、及び前記イオンビームの周期的放出を提供するための、高周波イオンガイド（１３）を更に備えている、請求項７に記載の静電トラップ質量分析計。
　　【請求項９】
　前記静電トラップ（１４）は、（ｉ）少なくとも２つの静電イオンミラー、（ｉｉ）少なくとも２つの静電偏向セクタ、及び（ｉｉｉ）少なくとも１つの静電イオンミラーと少なくとも１つの静電偏向セクタ、から成る群より選択された電極を備えている、請求項７又は請求項８に記載の静電トラップ質量分析計。」
第３　原査定の理由について
１　原査定の理由の概要
　本願発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　記
引用文献１：特表２００５−５３８３４６号公報
引用文献２：特表２００９−５１２１６２号公報
引用文献３：特表２０１０−５０９７３２号公報
引用文献４：特表２０１０−５３１０３８号公報
引用文献５：特表２００７−５２６５９６号公報
　引用文献１（特に、【０１１７】〜【０１２０】及び図１６を参照）には、円筒１６２、１６３によって形成される自由飛行チャネルと、集束円筒１６４及び反射円筒１６５を含む２つの静電ミラーを有するマルチパスセパレータ１６１に、イオンビームを注入する段階を備え、イオンがミラー間で複数の跳ね返りを生じつつ、円筒（１６２，１６３）間の空間を周回する、質量スペクトル分析方法が記載されている。
　引用文献２（特に、【００２４】、【００２７】、【００５６】を参照）には、静電トラップによる多重反射を用いた質量スペクトル分析方法において、静電トラップに注入するイオンビームを連続イオンビームとする技術が記載されている。
　引用文献３（特に、【００４４】を参照）には、静電トラップによる多重反射を用いた質量スペクトル分析方法において、振動ＲＦポテンシャルを印加する技術が記載されている。
　引用文献４（特に、【００２９】を参照）には、静電トラップによる多重反射を用いた質量スペクトル分析方法において、静電トラップ内のイオンの振動による誘導電流信号をフーリエ変換して質量スペクトルに変換する技術が記載されている。
　例えば、引用文献５（特に、図１６を参照）にも記載されているとおり、静電トラップを多重化し、両者を独立に使用することは、周知の技術である。
　そして、引用文献１に記載された発明に、引用文献２〜３に記載された技術及び周知技術を採用することは当業者が容易に想到し得ることである。
２　原査定の理由の判断
（１）各引用文献の記載事項
ア　引用文献１には、以下の事項が記載されている。（下線は当審が付した。）
（ア）「【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
　発明の詳細な説明
　方法
　この発明の
タンデム質量分析の方法は、
　
１．異なる検体イオンの混合物を含むイオン供給源でイオンパルスを生成するステップと、
　
２．低エネルギで動作する第１の飛行時間型質量分析計内で検体イオンを時間で分離して、それらの質量の順番にイオンパケットの列を生成するステップと、
　
３．前記分離されたイオンパケットを混合することなく、検体イオンを順番に断片化するステップと、
　
４．第１の分離のステップのタイムスケールよりもずっと短いタイムスケールで第２の飛行時間型質量分析計内で断片イオンを急速に質量分析するステップと、
　
５．イオン供給源からの単一のイオンパルスで複数の検体イオンの質量対電荷比に対して断片質量スペクトルを取得するステップと、
　
６．任意で複数の供給源のパルスにわたって検体イオンの各々に対して断片スペクトルを合計するステップとを含む。
【００２９】
　７．この方法の鍵は、同じ質量対電荷比に対する断片化時間および断片質量分析の時間よりもはるかに長い第１のＴＯＦでの分離時間を配置している点である。タイムスケールにおける実質的な差は、イオン供給源からの単一のイオン注入当り複数の親イオンに対して、分離し、断片化し、断片を質量分析するために使用される。タイムスケールにおける実質的な差は、第１のＴＯＦでより長い飛行経路、および／または低いイオンのエネルギを選択することにより実現される。
【００３０】
　ブロック図
　図１を参照すると、この方法が主なタンデムＭＳ−ＭＳの構成要素のブロック図により示される。
タイムネストされた取得（１１）を用いた一般的なＴＯＦ−ＴＯＦ機器は、順番に通信するパルスイオン供給源（１２）、第１の飛行時間型質量分析計−ＴＯＦ１（１３）、断片化セル−ＣＩＤ／ＳＩＤ（１４）、第２の飛行時間型質量分析計ＴＯＦ２（１５）、およびタイムネストされた取得のためのデータシステム（１６）を含む。
【００３１】
　動作
　簡単に言うと、動作において、パルスイオン供給源は検体（親）イオンのイオンパルスを生成し、電圧源（１７）により制御される、１から１０ｅＶの間の小さなエネルギでイオンをＴＯＦ１に注入する。これがこの発明と先行技術との鍵となる差である。ＴＯＦ分析計は通常３から３０ｋｅＶの間のエネルギで動作するためである。ＴＯＦ１での分離は数ミリ秒で行なわれる。案内となる例として、ＴＯＦ１＝８ｍの有効長、イオンエネルギＥ＝３ｅＶおよびイオン質量ｍ＝１０００ａ．ｕを考える。そのような例では、イオン速度はＶ＝８００ｍ／ｓであり、飛行時間は１０ｍｓである。時間分離された親イオンは、ＴＯＦ１とセルとの間のＤＣバイアスにより制御される、増加されたエネルギでＴＯＦ１からＣＩＤセルに順番に排出される。ガス分子とのエネルギ衝突が親イオンを断片に変える。後続のガス衝突により断片イオンの衝突減衰が生じる。断片はセルを通って急速に移動し、ＴＯＦ２分析計に注入される。ＴＯＦ２は、１０から１００ｕｓの間のはるかに短いタイムスケールで断片イオンを分離する。ＴＯＦ１とＴＯＦ２とのタイムスケールにおける劇的な差により、供給源パルス間の異なる親イオンに対応する複数の断片スペクトルのデータ取得が可能となる。特別なデータ取得システム（１６）は、タイムネストされた態様で複数の断片スペクトルを取得し、個々のスペクトルはともに混合されない。各親イオンに対する断片スペクトルはいくつかのイオン供給源パルスにわたって統合される。イオン供給源で生成されたイオンパルスは、すべてのステージでイオンを拒否することなく、複数の親に対するＭＳ−ＭＳデータの完全なセットを取得するために使用される。
【００３２】
　時間図
　図２を参照すると、典型的な時間図が、この発明の方法、個々の装置の同期、およびタイムネストされたデータ取得の原則を示す。上部のグラフ（２１）は取得サイクルを示し、イオンの注入は１０ｍｓごと、すなわち、１秒に１００回行なわれる。
親イオンは１０ｍｓの時間内でＴＯＦ１で分離され、ＣＩＤセルは、親イオンの質量に従って整列されたイオンパケットの列を受取る、グラフ（２２）。
【００３３】
　頑強モード
　上述の動作モードでは、タイムネストされた取得は直接的に行なわれる。機器の動作パラメータは、イオン供給源からのイオンビームの構成にかかわらず同じであり、データはずっと取得される。親イオンスペクトルおよびさまざまな親に対する断片スペクトルのようなすべての情報は、後続のデータ分析で抽出される。
【００３４】
　データ依存取得−ＤＤＡ
　「データ依存取得」と呼ばれるべき別の動作モードでは、ＭＳ−ＭＳ分析は２つのステップで行なわれる。第１のステップでは、親の質量スペクトルがＴＯＦ２で取得され、ＴＯＦ１およびＣＩＤセルは、断片化なしに連続してイオンを通過させる。第２のステップでは、機器はＭＳ−ＭＳとして動作され、すなわち、ＴＯＦ１は親イオンを分離し、断片化セルは断片を形成し、ＴＯＦ２はタイムネストされたデータの態様で断片質量スペクトルを取得する。タイムネストされた取得は、親イオンの質量についての情報を利用し、かつ親イオンが来ない空白時間でのデータの取得を回避することにより向上される。任意の時限式ゲート（１９）を使用して、ＴＯＦ１の分離および化学的な雑音の抑制を向上してもよい。当然、ＴＯＦ１から来るイオンパケットは、ＣＩＤセルの出口の同じイオンパケットよりも短いことが予想される。時限式ゲートは、親イオンの到達に対応する複数の狭い時間窓でのみイオンを入れる。そのようなゲーティングは化学的な背景から来るイオン信号を抑圧し、検出の限界を改善する。ゲートの操作を使用して、感度を犠牲にすることにより近い質量の親イオンの対の分離を向上してもよい。ＭＳ−ＭＳデータのいくつかのセットが取得され、時限式ゲートは一度に対の１つの親の質量のみを入れる。」
（イ）「【０１１２】
　マルチパスＴＯＦ１
　図１５を参照すると、さらに「静電マルチパスセパレータ」と呼ばれる、この発明の第１（すなわちＴＯ１）の飛行時間型セパレータ（１５１）の別の好ましい実施例は、自由飛行チャネル（１５２）、および集束電極（１５４）ならびに反射電極（１５５）を含む２つの静電ミラー（１５３）を含む。自由飛行チャネル１５２は入口および出口の窓（１５６）を有する。すべての電極はＹ軸に沿って延在し、静電場はイオンの経路の区域で２次元である。パルスイオンビームは空間的な集束レンズ（１５７）およびステアリングプレート（１５８）のセットを介してマルチターン静電ＴＯＦ１５１に導入される。イオンのイオン経路は線（１５９）によって示される。典型的な軸方向の電位分布Ｕ（ｘ）はグラフ１６０によって示される。
【０１１３】
　動作において、イオンパルスはレンズ１５８により平行なビームに集束され、プレート（１５９）によってステアリングされる。
ビームはＸ軸に対して小さな角度で入口の窓１５６を介してセパレータ１５１に導入される。
複数のフルターンの後（各フルターンは反射の対によって形成される）、イオンは出口の窓１５７を通ってセパレータを出て、それらのｍ／ｚ比に従って時間分離される。フルターンの数は注入角度によって異なり、両方ともステアリングプレートの電位によって調節可能である。
【０１１４】
　静電ミラーは、当該技術分野で周知である、グリドルＴＯＦのミラーと同様に設計される。ミラー電極に印加される静電電位は、空間的な集束および飛行時間集束の条件を満たすように調節される。グラフ１６０は、それら要件を満たす軸方向の電位分布Ｕ（ｘ）の種類を示す。Ｚ方向に沿った空間的な集束を提供するため、静電ミラー１５３の各々は、自由飛行領域（破線によって示される）の中央面の近くにある焦点を備えたレンズを形成する。イオンビーム（線１５９）は入口の窓１５６で平行なビームとして開始する。右側のミラーでの第１の反射の後、ビームは中間面にある点に集束される。なお、すべてのイオンの集束は、軸に交差する単一のイオンの軌道によって図面では示される。左手のミラーでの反射の後、ビームは再び平行なビームに変換される。
【０１１５】
　ＳＩＭＩＯＮプログラムを使用した発明者のイオン光学機器のシミュレーションによると、特定のＴＯＦ１  １５１での空間的な集束は、少なくとも１次での飛行時間集束と互換性があり、すなわち、当初のエネルギおよび直交する変位での飛行時間の第１の導関数はゼロに等しい。イオンビームは、当初の空間的な拡散がＴＯＦ１の幅の５％より少なく、かつ角度の拡散が２度より小さい場合のみ閉じ込められる。３％より下のエネルギの拡散では、ＴＯＦ１の飛行時間分解能は１０，０００を超える。そのような当初の条件は、線形の蓄積四重極からのパルス排出の後に約３０電子ボルトに加速されるイオンビームに対して現実的である。
【０１１６】
　他の実施例と比較して比較的高いエネルギ（３０から１００ｅＶ）での動作は、ＴＯＦ１でのミリ秒のタイムスケールの分離を実現するためにＴＯＦ１での長いイオン経路（３０から１００ｍ）を必要とする。イオン経路は、ＴＯＦ１の設計の複雑さが少ないこと、およびその静的な動作のため、容易に延長可能である。約２０のフルイオンターンを用いた１ｍの長さの機器は、少なくとも５０ｍの有効な飛行経路に対応する。
【０１１７】
　円筒形のマルチパスＴＯＦ１
　図１６を参照すると、この発明の別の好ましい実施例は、２次元の場を円筒形の場へと折畳むことにより形成された、変形された静電マルチパスセパレータを示す。この実施例では、
小型の設計のために円筒形のマルチパスセパレータ（１６１）と呼ばれ、
セパレータ１６１は、円筒（１６２，１６３）によって形成される自由飛行チャネル、および集束円筒（１６４）ならびに反射円筒（１６５）を含む２つの静電ミラーを含む。自由飛行チャネル１６２の外部の円筒は入口および出口の窓（１６６）を有し、ビームデフレクタ（１７０）を備える。パルスイオンビームは、空間的な集束レンズ（１６７）を介し、ステアリングプレート（１６８）の対を介し、入口の窓１６６およびデフレクタ１７０を通じて、セパレータ１６１に導入される。
【０１１８】
　動作において、円筒形のセパレータは上述の２次元の静電マルチパスセパレータに非常に類似している。
イオンはミラー間で複数の跳ね返りを生じさせられつつ、レンズの電極によって空間的に集束される。イオンを同じ半径の軌道の近くに保持するため、付加的な電位が外部および内部の円筒１６２ならびに１６３の間に印加される。
【０１１９】
　イオンの入口および出口は複数の態様で組織することができる。図１６Ｂは、Ｘ軸に沿ってイオンビームを整列する後続の水平な偏向を用いたスリット型の窓１６６Ｂを通じたイオンの導入の例を示す。フリンジ場を低減するため、デフレクタ１７０Ｂはメッシュによって囲まれる。図１６Ｃは、円筒形の分析器の全体のセグメントのカットアウトを通じたＸ軸に沿ったイオンの導入の例を示す。
ビームはプレート１７０Ｃによる水平な偏向の後に分析器に注入される。場の歪みは、カットアウト内で両面ＰＣＢ、等電位を使用することにより最小化され、
（ウ）「【図１】
【図２】
【図１５】
【図１６】
　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 」
　段落【０１１２】〜【０１１６】及び図１５に記載された「マルチパスＴＯＦ１」と段落【０１１７】〜【０１１９】及び図１６に記載された「円筒形のマルチパスＴＯＦ１」とは、２次元の場か円筒形の場かの違いがあるが、他の基本的な構成が共通することは明らかである。
　すると、上記引用文献１には、以下の発明（以下「引用発明１」という。）が記載されている。
　
「円筒（１６２，１６３）によって形成される自由飛行チャネル、および集束円筒（１６４）ならびに反射円筒（１６５）を含む２つの静電ミラーを含み、自由飛行チャネル（１６２）の外部の円筒は入口および出口の窓（１６６）を有し、ビームデフレクタ（１７０）を備える円筒形のマルチパスセパレータ（１６１）内で親イオンを時間で分離して、それらの質量の順番にイオンパケットの列を生成する方法であって、
　パルスイオンビームは、空間的な集束レンズ（１６７）を介し、ステアリングプレート（１６８）の対を介し、入口の窓（１６６）およびデフレクタ（１７０）を通じて、Ｘ軸に対して小さな角度で、セパレータ（１６１）に導入され、
　ビームはプレート（１７０Ｃ）による水平な偏向の後に分析器に注入されて、場の歪みは、カットアウト内で両面ＰＣＢ、等電位を使用することにより最小化され、
　イオンはミラー間で複数の跳ね返りを生じさせられつつ、レンズの電極によって空間的に集束され、イオンを同じ半径の軌道の近くに保持するため、付加的な電位が外部および内部の円筒（１６２ならびに１６３）の間に印加され、
　複数のフルターンの後（各フルターンは反射の対によって形成される）、イオンは出口の窓（１６６）およびデフレクタ（１７０）を通ってセパレータ（１６１）を出て、それらのｍ／ｚ比に従って時間分離され、フルターンの数は注入角度によって異なり、両方ともステアリングプレート（１６８）の電位によって調節可能である、方法。」
イ　引用文献２には、以下の事項が記載されている。（下線は当審が付した。）
（ア）「【技術分野】
【０００１】
　本発明は、一般に質量分光分析の分野に関し、より詳細には、
多重反射型飛行時間質量分析計（ＭＲ‐ＴＯＦ  ＭＳ）
（イ）「【００２９】
　図１を参照すると、
直交イオン加速器を備えたＭＲ−ＴＯＦ  ＭＳ１１
【００３０】
　更に、Ｘ−Ｙ平面における側面図２１を示す図２も参照すると、
ＭＲ−ＴＯＦの第一の実施形態は、イオンビーム ２３を発生する一般的なイオン源２２を有する。
初期ビームは、イオン軌道面に対して略直角（即ち、垂直）にＭＲ−ＴＯＦ分析計に導入される。
【００３１】
　上のように平面グリッド無しイオンミラー１２を周期的レンズ１７と組み合わせると、同時係属出願中のＰＣＴ特許出願ＷＯ２００５/００１８７８  Ａ２に記載の多重反射型ＴＯＦ質量分析計が形成される。この特許出願の全体を、本明細書の一部を構成するものとしてここに援用する。この分析計は、イオンミラー１２によるイオンパケットの多重反射（ここではＸ軸方向）とゆっくりとしたドリフト（ここではＺ軸方向）とによって特徴付けられており、これらによりＸ−Ｚ平面に平行なのこ刃状のイオン軌道が形成される。中央軌道１９に沿ったイオンドリフト及び閉じ込めは、一組の周期的レンズ１７によって強制される。エッジ偏向器はイオン経路を２倍にできる。この分析計は、高次の空間及び飛行時間収束が可能であり、全質量範囲を維持しながら飛行経路を大幅に延ばす。ＭＲ−ＴＯＦ  ＭＳへのイオンの導入の細部は本発明の一主題である。
【００３２】
　動作においては、
イオン源２２は、連続、準連続又はパルス状のイオンビーム２３を形成する。
（ウ）「【図１】
【図２】
　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 」
　すると、上記引用文献２には、以下の技術事項（以下「引用文献２の技術事項」という。）が記載されている。
「多重反射型飛行時間質量分析計（ＭＲ‐ＴＯＦ  ＭＳ）のＭＲ−ＴＯＦ分析計に、連続、準連続又はパルス状のイオンビーム２３を形成するイオン源２２から初期ビームは、イオン軌道面に対して略直角（即ち、垂直）に導入されること。」
ウ　引用文献３には、以下の事項が記載されている。（下線は当審が付した。）
（ア）「【００４１】
　自己共鳴による放出
　先の章で説明したように、図２Ｂで示したような非調和ポテンシャルを有する静電型トラップにおけるイオンエネルギーの自己共鳴励起は、純粋な静電型トラップからイオンを質量選択的に放出させるのに利用することができる。自己共鳴状態は、数多くある様々な手段によって達成することができる。静電型トラップからのイオンの自己共鳴放出に用いることができる２つの基本的な動作態様を、図３に示された好ましい実施形態を扱う本章で説明する。この好ましい実施形態は、図１に示されたトラップの好ましい実施形態に基づいたものであり、図２Ｂの実線の曲線で実質的に表すことが可能な、Ｚ軸心沿いのトラッピングポテンシャルを特徴とする。
【００４２】
　図３に示された、質量分析計の好ましい一実施形態において、
静電型イオントラップは円筒対称なカップ状の電極１，２を備えており、
・・・中略・・・
【００４４】
　第１の好ましい動作態様において、
捕捉されたイオンの固有振動数とほぼ同一の周波数を有する、交流励起源としてのＲＦ電源２１の小さい振動ＲＦポテンシャルを、側方のトラップ用の一方の電極１に印加すること
（イ）「【図１】
【図２Ｂ】
【図３】
　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 」
　すると、上記引用文献３には、以下の技術事項（以下「引用文献３の技術事項」という。）が記載されている。
「円筒対称なカップ状の電極１，２を備えた静電型イオントラップにおいて、捕捉されたイオンの固有振動数とほぼ同一の周波数を有する、交流励起源としてのＲＦ電源２１の小さい振動ＲＦポテンシャルを、側方のトラップ用の一方の電極１に印加すること。」
エ　引用文献４には、以下の事項が記載されている。（下線は当審が付した。）
（ア）「【技術分野】
【０００１】
　本発明は、
多重反射イオン光学装置に関する。本発明は特に、限定されるわけではないが、多重反射飛行時間型（multi-reflecting time-of-flight(TOF)）質量分析器に関する。
（イ）「【００２８】
　提案されるシステムのアクセプタンスはX軸及びY軸の横方向において非対称である。この特性は、イオン雲がイオントラップ軸に沿って伸張される線形イオントラップ（linear ion traps: LIT）に基づくいくつかの先進的なイオン源に適している。そのような源においては、エミッタンスを減少させるために衝突冷却を利用することができる。LIT源は三次元イオントラップ源やMALDIと比較してずっと大きな電荷容量を有している。このことを念頭において、本発明の他の実施形態では、本イオン光学装置をイオントラップとして動作させる。すなわちイオントラップ内でのイオン運動に応じてマススペクトルを生成するイメージ電流検出を利用するイオントラップの形態を有する。
【００２９】
　Z軸（飛行）方向における理想的なエネルギー収束の故に、m/zが類似するイオンパケットは、多数回の（実際、何百万回という）振動があったとしても、軌跡に沿って広がることがない。
荷電粒子は近くの電極上に表面電荷を誘導することが知られている。イオントラップ内におけるイオン雲の振動により、この誘導電荷は飛行領域を囲む一対の電極に接続された回路内に交流電流を生成する。この電流は感度の高い検流計によって測定し、記録することができる。時間領域信号をフーリエ変換（Fourier transform: FT）することによって試料のマススペクトルが得られる。
本発明に係るイオン光学装置はイメージ電流検出及びフーリエ変換処理を利用する静電イオントラップとして用いることが可能である。
　すると、上記引用文献４には、以下の技術事項（以下「引用文献４の技術事項」という。）が記載されている。
「多重反射イオン光学装置（特に、限定されるわけではないが、多重反射飛行時間型（multi-reflecting time-of-flight(TOF)）質量分析器を、イオントラップ内におけるイオン雲の振動により、飛行領域を囲む一対の電極に接続された回路内に生成される交流電流を感度の高い検流計によって測定、記録して、時間領域信号をフーリエ変換（Fourier transform: FT）することによって試料のマススペクトルを得る、イメージ電流検出及びフーリエ変換処理を利用する静電イオントラップとして用いること。」
オ　引用文献５には、以下の事項が記載されている。（下線は当審が付した。）
（ア）「【技術分野】
【０００１】
　本発明は、一般に質量分光分析の分野に関し、詳細には多重反射飛行時間型質量分析計（ＭＲ−ＴＯＦ  ＭＳ）及びその使用方法に関する。」
（イ）「【０１０６】
　図１６は、
高分解能タンデム型飛行時間質量分析計１７１の好ましい実施形態を示す。タンデム１７１は、第１のＭＲ−ＴＯＦにおいて時限イオン選択を使用しまたフラグメント分析のために第２の多重反射分析装置３１Ｂを使用すること
【０１０７】
　タンデムＭＳ１７１の他の要素は、前述の要素と類似している。パルスイオン源５１は、連続イオン源、二重蓄積イオンガイド、及び加速器から成る。前述の第１のＭＲ−ＴＯＦ  ＭＳ３１Ａは、無電界領域１４Ａ、２つの平面グリッドレスミラー１５Ａ、１組の周期的レンズ１７Ａ、１対のエッジ偏向器３２Ａと３３Ａ、オフライン検出器３４Ａ、及び時限イオンセレクタ１７２（第２のＭＲ−ＴＯＦ  ３１Ｂには使用されていない）から成る。前述の高速フラグメンテーションセル１５２は、ポート１５７を介してガスが比較的高いガス圧（０．１〜１Ｔｏｒｒ）で充填された短い（５〜３０ｍｍ）ＲＦ四重極１５８を含む。この四重極は、両端に集束レンズ１５４を有する状態で内側セル１５６によって取り囲まれている。セルは、例えば、軸方向ＤＣ電界を変調することによってセル内を通過するイオンを減速し加速する手段１５９と１６０を有することが好ましい。
【０１０８】
　動作において、イオンは、パルスイオン源５１に蓄積され、飛行時間分離のために第１のＭＲ−ＴＯＦ分析装置３１Ａ内に放出される。分離されたイオン又はそのようなイオンの一部は、時限イオンゲート１７２によってフラグメンテーションセル１５２に入れられ、そこでイオンはフラグメント化される。フラグメントイオンは、周期的に、質量分析のためにセル１５２から第２のＭＲ−ＴＯＦ分析装置３１Ｂにパルス式に送られる。以下では、２つのタンデム動作モード、即ち並行ＭＳ−ＭＳ分析の高スループットモードと、順次ＭＳ−ＭＳ分析の高分解能モードについて説明する。
【０１０９】
　最初の高スループットモードにおいて、第１の分析装置は、約−５０Ｖに調整された浮遊可能な無電解領域１４Ａの電位によって制御された低いイオンエネルギーで動作する。分離には約１０ミリ秒時間かかり、全ての親イオンがフラグメンテーションセル１５２に入る。時限イオンゲート１７２は、親イオンを入れている間オフのままであるが、溶媒イオンと化学バックグラウンドイオンの大部分を含む低質量範囲の抑制に使用されることがある。第２の分析装置は、約−５ｋＶに保持される無電解領域１４Ｂの電位によって制御される高イオンエネルギーに調整され、即ちイオン速度は、第１の分析装置よりも１桁大きい。第２の分析装置内の飛行経路は、イオンドリフト方向を戻す追加の偏向器１７３を使用することによって実質的に短縮される。イオンは、イオンミラー１５Ｂで２回だけ反射され、検出器３４Ｂに導かれる。フラグメントイオンの代表的な飛行経路は、約０．５ｍになり、即ち、
第１のＭＲ−ＴＯＦ３１Ａ
【０１１０】
　第２の高分解能測定モードにおいて、両方のＭＲ−ＴＯＦ分析装置は、高いエネルギーと分解能で動作する。エネルギーは、無電解領域１４Ａと１４Ｂの両方に負の高電位（例えば、−５ｋＶ）を印加することによって調整される。代表的な３０ｍの飛行経路において、飛行時間は約１ミリ秒であると思われる。その結果、パルスイオン源の周波数を１ｋＨｚに調整する必要がある。第２の蓄積装置の抽出パルスは、高分解能ＭＲ−ＴＯＦ  ＭＳ内で使用されているものと類似のより強い電界を提供するように調整される。より高い電圧（例えば−５ｋＶ）パルスが射出孔９２に印加され、対応する正の高電圧パルス（＋５ｋＶ）が補助電極８４に印加される。より強い電界に比例して、サイズ０．５ｍｍのイオン雲の場合、ターンアラウンドタイム（５〜１０ナノ秒）が減少し、イオンエネルギーの広がり（１００〜２００ｅＶ）が拡大すると推定される。第１のＭＲ−ＴＯＦ分析装置の予想分解能は、約５０，０００〜１００，０００であると予想される。
【０１１１】
　そのような分解能で単一のイオン種を選択するためには、ブラッドベリー＝ニールセンゲート、即ち、１つの平面内に配置された交互の２列のワイヤで構成された装置で達成可能な０．３ｍｍの空間分解能の時限イオンセレクタを必要とする。２つの列の間に短い１０〜３０ナノ秒のパルスを印加することによって、短いパルスのイオンがゲート内に入り、同時に、他のイオン種は操縦され、次に止まったときに失われる。例として、第１のレンズの近くの中間飛行時間集束平面内に時限イオンゲートが配置される。ワイヤに印加される１０００Ｖのパルスによって、１０ｋＶイオンが３度（１／２０）ずれ、これは、ＣＩＤセルの１ｍｍの入口アパーチャ１５３を外すのに十分である。親イオン選択の分解能は、更に、第１のＭＲ−ＴＯＦ内の飛行経路と飛行時間の同時拡張により複数のエッジ反射を使用することによって改善することができる。いずれにしてもゲートが１ｍ／ｚの親イオンを入れるので、関連した質量範囲の縮小は重要ではなくなる。また、この場合、ターンアラウンドタイムが長くなることを犠牲にして親イオンのエネルギーの広がりを５０ｅＶ以下に小さくすることが望ましく、この長いターンアラウンドタイムは、第１の分析装置内で飛行経路を長くし、加速エネルギーを低くし、飛行時間を長くすることによって補うことができる。
【０１１２】
　質量選択された親イオンは、約５０〜１００ｅＶまで減速され、フラグメンテーションセル１５２の入口アパーチャに集中する。そのようなエネルギーの注入によって、選択された親イオンのフラグメント化が起こる。フラグメントは、ＲＦトラップ１５７内のＲＦ閉じ込めと、補助電極と出射孔のＤＣ電位によって形成される軸方向ＤＣウェルを配列することによってフラグメンテーションセル１５２内に蓄積される。これらの電極に電気パルスを印加することによって、フラグメントイオンは、質量分析のために第２のＭＲ−ＴＯＦ内にパルス式に放出される。イオンパルスと第２の分析装置のパラメータは、第１のＭＲ−ＴＯＦのものと類似している。ＣＩＤセルは、前述のパルスイオン源の様々な要素と機構を含むことができる。従って、フラグメントの質量分析は、５０，０００〜１００，０００の高い解像力（分解能）が期待される。説明したタンデムは、分析時間の完全な使用を可能にする。第２のＭＲ−ＴＯＦ３１Ｂにおいてフラグメントセル１５２が空になりフラグメントイオンが質量分離されている間、第１の分析装置３１Ａは、親イオンの選択とフラグメンテーションセル内への注入を同時に行うために使用されてもよい。」
（ウ）「【図１６】
　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 」
　すると、上記引用文献５には、以下の技術事項（以下「引用文献５の技術事項」という。）が記載されている。
「高分解能タンデム型飛行時間質量分析計１７１は、第１のＭＲ−ＴＯＦ３１Ａにおいて時限イオン選択を使用し、また、フラグメント分析のために第２の多重反射分析装置３１Ｂを使用すること。」
（２）対比
　本願発明１と引用発明１を対比する。
・引用発明１の
「円筒（１６２，１６３）によって形成される自由飛行チャネル、および集束円筒（１６４）ならびに反射円筒（１６５）を含む２つの静電ミラーを含み、」
「イオンはミラー間で複数の跳ね返りを生じさせられつつ、レンズの電極によって空間的に集束され、イオンを同じ半径の軌道の近くに保持するため、付加的な電位が外部および内部の円筒（１６２ならびに１６３）の間に印加され」ることが、
　本願発明１の「無電界領域によって離間されている反射性電界領域を有する静電トラッピング電界であって、第１のＸ方向の等時性イオン振動と第２の横断するＹ方向の空間的集束による移動イオンの不定トラッピングとを提供していて、実質的に第３のＺ方向に延ばされている、静電トラッピング電界、を形成する段階と、」
「を備え、」
「前記第３のＺ方向が、周回方向である」ことに相当する。
・引用発明１の「パルスイオンビームは、空間的な集束レンズ（１６７）を介し、ステアリングプレート（１６８）の対を介し、入口の窓（１６６）およびデフレクタ（１７０）を通じて、Ｘ軸に対して小さな角度で、セパレータ（１６１）に導入され」ることと、
　本願発明１の「少なくとも１００イオン振動サイクルに亘って提供されたイオンビームを前記トラッピング電界の中へ前記第１のＸ方向に対して所定の傾斜角度で注入する段階」とは、
「イオンビームを前記トラッピング電界の中へ前記第１のＸ方向に対して所定の傾斜角度で注入する段階」で一致する。
・引用発明１では、「ビームはプレート（１７０Ｃ）による水平な偏向の後に分析器に注入されて、場の歪みは、カットアウト内で両面ＰＣＢ、等電位を使用することにより最小化され」るのであるから、「イオンを同じ半径の軌道の近くに保持するため、」「外部および内部の円筒（１６２ならびに１６３）の間に印加され」る「付加的な電位」を、「イオンビーム」を注入する際に、傾斜化する必要がないことは明らかであるから、引用発明１の「ビームデフレクタ（１７０）を備える円筒形のマルチパスセパレータ（１６１）」は、
　本願発明１の「静的で傾斜化されていない電位を有するトラップ電極を含む分析静電トラップ（１４）」に相当する。
・引用発明１の「複数のフルターンの後（各フルターンは反射の対によって形成される）、イオンは出口の窓（１６６）およびデフレクタ（１７０）を通ってセパレータ（１６１）を出」る際に、「イオン」が「デフレクタ（１７０）」から力を受けて、運動方向を変えることは明らかであるから、
　引用発明１の「複数のフルターンの後（各フルターンは反射の対によって形成される）、イオンは出口の窓（１６６）およびデフレクタ（１７０）を通ってセパレータ（１６１）を出」ることは、本願発明１の「トラップされたイオンの運動を起こさせる段階とを備え」ることに相当する。
・本願発明１の「質量スペクトル分析の方法」に、「分析静電トラップ（１４）で、」イオンを時間で分離して、それらの質量の順番にイオンパケットの列を生成する方法が含まれることは、技術常識からみて明らかであるから、
　本願発明１の「分析静電トラップ（１４）での質量スペクトル分析の方法」が、引用発明１の「円筒形のマルチパスセパレータ（１６１）内で親イオンを時間で分離して、それらの質量の順番にイオンパケットの列を生成する方法」を含むといえる。
　すると、本願発明１と引用発明１は、
「静的で傾斜化されていない電位を有するトラップ電極を含む分析静電トラップ（１４）で、時間で分離して、それらの質量の順番にイオンパケットの列を生成する方法において、
　無電界領域によって離間されている反射性電界領域を有する静電トラッピング電界であって、第１のＸ方向の等時性イオン振動と第２の横断するＹ方向の空間的集束による移動イオンの不定トラッピングとを提供していて、実質的に第３のＺ方向に延ばされている、静電トラッピング電界、を形成する段階と、
　イオンビームを前記トラッピング電界の中へ前記第１のＸ方向に対して所定の傾斜角度で注入する段階と、
　トラップされたイオンの運動を起こさせる段階とを備え、
　前記第３のＺ方向が、周回方向である、方法。」
で一致し、次の各点で相違する。
・本願発明１は、「質量スペクトル分析の方法において、」
「振動する前記イオンによって生じる画像電流信号を検出する段階と、
　前記信号を、振動周波数のスペクトルへ変換し、それに続けて（ｍ／ｚ）スペクトルへ変換する段階とを備え」るのに対して、
　引用発明１は、振動するイオンによって生じる信号を（ｍ／ｚ）スペクトルへ変換する段階を備えた、質量スペクトルを分析する方法ではない点。（以下、「相違点ア」という。）
・本願発明１は、「少なくとも１００イオン振動サイクルに亘って提供されたイオンビーム」であるのに対して、引用発明１は、「パルスイオンビーム」であって、「フルターンの数は注入角度によって異なり、両方ともステアリングプレート（１６８）の電位によって調節可能である」とのみ特定され、どの程度の「フルターンの数」に亘って供給されるパルスイオンビームであるかが明らかでない点。（以下、「相違点イ」という。）
（３）判断
　上記相違点アについて検討する。
　上記相違点アに係る本願発明１の構成と同様の事項が、引用文献４の技術事項として、引用文献４により公知であると認められる。
　一方、引用発明１は、引用文献１の記載から、
　順番に通信するパルスイオン供給源（１２）、第１の飛行時間型質量分析計−ＴＯＦ１（１３）、断片化セル−ＣＩＤ／ＳＩＤ（１４）、第２の飛行時間型質量分析計ＴＯＦ２（１５）、およびタイムネストされた取得のためのデータシステム（１６）を含む、タイムネストされた取得（１１）を用いた一般的なＴＯＦ−ＴＯＦ機器による、
　１．異なる検体イオンの混合物を含むイオン供給源でイオンパルスを生成するステップと、
　２．低エネルギで動作する第１の飛行時間型質量分析計内で検体イオンを時間で分離して、それらの質量の順番にイオンパケットの列を生成するステップと、
　３．前記分離されたイオンパケットを混合することなく、検体イオンを順番に断片化するステップと、
　４．第１の分離のステップのタイムスケールよりもずっと短いタイムスケールで第２の飛行時間型質量分析計内で断片イオンを急速に質量分析するステップと、
　５．イオン供給源からの単一のイオンパルスで複数の検体イオンの質量対電荷比に対して断片質量スペクトルを取得するステップと、
　６．任意で複数の供給源のパルスにわたって検体イオンの各々に対して断片スペクトルを合計するステップとを含む、
タンデム質量分析の方法の一部に使用される、
　異なる検体イオンの混合物を含むイオン供給源でイオンパルスを生成するための第１の飛行時間型質量分析計−ＴＯＦ１（１３）に相当するものであって（特に、引用文献１の段落【００２８】〜【００３０】参照）、スペクトルを得るための構成はタイムネストされた取得のためのデータシステム（１６）であり、引用発明１の「円筒形のマルチパスセパレータ（１６１）」内でスペクトルを得るためのデータを取得することが想定されないものであることは、当業者には明らかである。
　すると、引用文献４の技術事項のように、引用発明１の「円筒形のマルチパスセパレータ（１６１）」と類似する、多重反射飛行時間型質量分析器を、イオントラップ内におけるイオン雲の振動により、飛行領域を囲む一対の電極に接続された回路内に生成される交流電流を感度の高い検流計によって測定、記録して、時間領域信号をフーリエ変換することによって試料のマススペクトルを得る、イメージ電流検出及びフーリエ変換処理を利用する静電イオントラップとして用いることが公知であるとしても、引用発明１は、そもそも、スペクトルを得るためのデータを取得することが想定されないものであるから、引用発明１に引用文献４の技術事項を採用する動機付けは存在しない。
　また、引用文献２の技術事項、引用文献３の技術事項、引用文献５の技術事項は、いずれも、多重反射飛行時間型質量分析器をイメージ電流検出及びフーリエ変換処理を利用する静電イオントラップとして用いるという技術事項ではない。
　したがって、上記相違点アは、引用発明１に、引用文献２の技術事項、引用文献３の技術事項、引用文献４の技術事項及び引用文献５の技術事項を参酌しても、当業者が容易に想到し得ることであるとはいえない。
　そして、本願発明１は、上記相違点アに係る構成を備えることにより、本願の明細書に記載された効果を奏する。
　よって、本願発明１は、上記相違点イについて検討するまでもなく、当業者が引用発明１、引用文献２の技術事項、引用文献３の技術事項、引用文献４の技術事項及び引用文献５の技術事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるということはできない。
（４）小括
　以上のとおり、本願発明１は、当業者が引用発明１、引用文献２の技術事項、引用文献３の技術事項、引用文献４の技術事項及び引用文献５の技術事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるということはできない。
　また、本願発明２〜６は、本願発明１をさらに限定したものであり、本願発明７は、上記相違点アに係る構成と同様の
「移動するイオン雲によって生じる画像電流信号を測定するための検出器と、
　検出器信号波形から質量スペクトルを再構築するための手段とを備え」た「静電トラップ質量分析計」に係る発明であり、本願発明８〜９は、本願発明７を更に限定したものであるから、本願発明１と同様に、当業者が引用発明、引用文献２の技術事項、引用文献３の技術事項、引用文献４の技術事項及び引用文献５の技術事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるということはできない。
　よって、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
第４　当審拒絶理由について
１　当審拒理（１）について
（１）当審拒理（１）の概要
ア　本願発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の刊行物に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができない、
　また、そうではないとしても、本願発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　記
引用文献１：特表２００５−５３８３４６号公報
イ　本願は、特許請求の範囲の記載が不備のため、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
ウ　本願は、特許請求の範囲の記載が不備のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。
エ　本願は、明細書及び図面の記載が不備のため、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない。
（２）当審拒理（１）の判断
ア　理由アについて
　上記「第３」で検討したとおり、本願発明１〜９は、当業者が引用発明１であるということもできないし、引用発明１に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるということもできない。
イ　理由イ、ウ、エについて
　理由イ、ウ、エは、平成２８年１０月５日付け手続補正書でした手続補正により、該当する請求項が削除され、また、適切に補正されたことにより、解消された。
（３）小括
　したがって、当審拒理（１）で通知した拒絶理由は解消した。
　そうすると、もはや、当審拒理（１）で通知した拒絶理由によって本願を拒絶することはできない。
２　当審拒理（２）について
（１）当審拒理（２）の概要
ア　本願は、特許請求の範囲の記載が不備のため、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
イ　本願は、明細書及び図面の記載が不備のため、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない。
（２）当審拒理（２）の判断
　理由ア、イは、平成２９年１月２５日付け手続補正書でした手続補正により、該当する請求項が削除され、また、適切に補正されたことにより、解消された。
（３）小括
　したがって、当審拒理（２）で通知した拒絶理由は解消した。
　そうすると、もはや、当審拒理（２）で通知した拒絶理由によって本願を拒絶することはできない。
第５　むすび
　以上のとおり、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。