【手続補正書】
【提出日】平成28年5月30日(2016.5.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品の表面上に光子の第１の組および光子の第２の組を順次放出するように構成された光子エミッタと、
光子検出器アレイと、
第１の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第１の組に対応する光子検出器アレイ信号、および、第２の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第２の組に対応する光子検出器アレイ信号を処理するように構成された処理手段とを備え、
散乱された前記光子の第１の組は、散乱された前記光子の第２の組とは異なり、
前記処理手段はさらに、前記物品の異質な表面特徴と前記物品の固有の表面特徴とを区別するように構成される、装置。
【請求項２】
前記光子検出器アレイに結合されたテレセントリックレンズをさらに備え、
前記テレセントリックレンズは、前記物品の表面特徴から散乱される前記光子の第１の組の焦点を前記第１の焦点面に合わせ、前記物品の表面特徴から散乱される前記光子の第２の組の焦点を前記第２の焦点面に合わせるように構成される、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記第１の焦点面は前記物品の表面と一致しており、
前記第２の焦点面は前記第１の焦点面の上方の高さｚのところにある、請求項１または２に記載の装置。
【請求項４】
前記第１の焦点面は前記物品の表面と一致しており、
前記第２の焦点面は前記第１の焦点面の上方の高さｚのところにあり、
前記高さｚは、前記物品の前記固有の表面特徴についての間隔の関数、前記光子の第２の組についての波長の関数、または、前記物品の前記固有の表面特徴についての間隔および前記光子の第２の組についての波長の両方の関数である、請求項１または２に記載の装置。
【請求項５】
前記第１の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第１の組に対応する前記光子検出器アレイ信号は、前記物品の前記異質な表面特徴および前記物品の前記固有の表面特徴の両方についての位置情報を提供し、
前記第２の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第２の組に対応する前記光子検出器アレイ信号は、前記物品の前記固有の表面特徴についての位置情報を提供する、請求項１から４のいずれか１項に記載の装置。
【請求項６】
前記物品の前記異質な表面特徴と前記物品の前記固有の表面特徴とを区別することは、前記物品の前記異質な表面特徴についての位置情報を判断するために、前記第１の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第１の組に対応する前記光子検出器アレイ信号を、前記第２の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第２の組に対応する前記光子検出器アレイ信号と対比することを含む、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
前記第１の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第１の組に対応する前記光子検出器アレイ信号、および、前記第２の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第２の組に対応する前記光子検出器アレイ信号を処理することは、第１の表面特徴マップおよび第２の表面特徴マップをそれぞれ生成することを含む、請求項１から４のいずれか１項に記載の装置。
【請求項８】
前記第１の表面特徴マップは、前記物品の前記異質な表面特徴および前記物品の前記固有の表面特徴の両方についての位置情報を提供し、
前記第２の表面特徴マップは、前記物品の前記固有の表面特徴についての位置情報を提供し、
前記物品の前記異質な表面特徴と前記物品の前記固有の表面特徴とを区別することは、前記物品の前記異質な表面特徴についての位置情報を判断するために前記第１の表面特徴マップを前記第２の表面特徴マップと対比することを含む、請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記処理手段は、前記物品の前記異質な表面特徴と前記物品の前記固有の表面特徴とを区別するように動作可能な１つ以上のコンピュータまたは等価の装置を備え、
前記物品の前記異質な表面特徴は汚染物質および／または欠陥を含み、
前記物品の前記固有の表面特徴はビットパターンメディアの磁気アイランドを含む、請求項１から８のいずれか１項に記載の装置。
【請求項１０】
物品の表面上に光子の第１の組および光子の第２の組を順次放出するように構成された光子エミッタと、
レンズと光子検出器アレイとの組合せと、
第１の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第１の組に対応する光子検出器アレイ信号、および、第２の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第２の組に対応する光子検出器アレイ信号を処理するように構成された処理手段とを備え、
前記第１の焦点面は、前記第２の焦点面とは異なり、
前記処理手段はさらに、前記物品の異質な表面特徴と前記物品の固有の表面特徴とを区別するように構成される、装置。
【請求項１１】
前記第１の焦点面は前記物品の表面と一致しており、
前記第２の焦点面は前記第１の焦点面の上方の高さｚのところにある、請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
前記第１の焦点面は前記物品の表面と一致しており、
前記第２の焦点面は前記第１の焦点面の上方の高さｚのところにあり、
前記高さｚは、前記物品の前記固有の表面特徴についての間隔の関数、前記光子の第２の組についての波長の関数、または、前記物品の前記固有の表面特徴についての間隔および前記光子の第２の組についての波長の両方の関数である、請求項１０に記載の装置。
【請求項１３】
前記処理手段は、前記物品の前記異質な表面特徴と前記物品の前記固有の表面特徴とを区別するように動作可能な１つ以上のコンピュータまたは等価の装置を備え、
前記物品の前記異質な表面特徴は汚染物質および／または欠陥を含み、
前記物品の前記固有の表面特徴はビットパターンメディアの磁気アイランドを含む、請求項１０から１２のいずれか１項に記載の装置。
【請求項１４】
光子検出器アレイと、
第１の焦点面に焦点が合わせられ、物品の表面特徴から散乱された光子の第１の組に対応する光子検出器アレイ信号、および、第２の焦点面に焦点が合わせられ、物品の表面特徴から散乱された光子の第２の組に対応する光子検出器アレイ信号を処理するように構成された処理手段とを備え、
前記光子の第１の組は、前記光子の第２の組とは異なり、
前記第１の焦点面は、前記第２の焦点面とは異なり、
前記処理手段はさらに、前記物品の異質な表面特徴と前記物品の固有の表面特徴とを区別するように構成される、装置。
【請求項１５】
前記光子検出器アレイに結合されたテレセントリックレンズをさらに備え、
前記テレセントリックレンズは、前記物品の表面特徴から散乱される前記光子の第１の組の焦点を前記第１の焦点面に合わせ、前記物品の表面特徴から散乱される前記光子の第２の組の焦点を前記第２の焦点面に合わせるように構成される、請求項１４に記載の装置。
【請求項１６】
前記第１の焦点面は前記物品の表面と一致しており、
前記第２の焦点面は前記第１の焦点面の上方の高さｚのところにある、請求項１４または１５に記載の装置。
【請求項１７】
前記第１の焦点面は前記物品の表面と一致しており、
前記第２の焦点面は前記第１の焦点面の上方の高さｚのところにあり、
前記高さｚは、前記物品の前記固有の表面特徴についての間隔の関数、前記光子の第２の組についての波長の関数、または、前記物品の前記固有の表面特徴についての間隔および前記光子の第２の組についての波長の両方の関数である、請求項１４または１５に記載の装置。
【請求項１８】
前記第１の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第１の組に対応する前記光子検出器アレイ信号、および、前記第２の焦点面に焦点が合わせられ、前記物品の表面特徴から散乱された前記光子の第２の組に対応する前記光子検出器アレイ信号を処理することは、第１の表面特徴マップおよび第２の表面特徴マップをそれぞれ生成することを含む、請求項１４から１７のいずれか１項に記載の装置。
【請求項１９】
前記第１の表面特徴マップは、前記物品の前記異質な表面特徴および前記物品の前記固有の表面特徴の両方についての位置情報を提供し、
前記第２の表面特徴マップは、前記物品の前記固有の表面特徴についての位置情報を提供し、
前記物品の前記異質な表面特徴と前記物品の前記固有の表面特徴とを区別することは、前記物品の前記異質な表面特徴についての位置情報を判断するために前記第１の表面特徴マップを前記第２の表面特徴マップと対比することを含む、請求項１８に記載の装置。
【請求項２０】
前記処理手段は、前記物品の前記異質な表面特徴と前記物品の前記固有の表面特徴とを区別するように動作可能な１つ以上のコンピュータまたは等価の装置を備え、
前記物品の前記異質な表面特徴は汚染物質および／または欠陥を含み、
前記物品の前記固有の表面特徴はビットパターンメディアの磁気アイランドを含む、請求項１４から１９のいずれか１項に記載の装置。