【手続補正書】
【提出日】平成28年3月11日(2016.3.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＮＭＲ計器内に試料を配置する工程、高周波パルスを印加する工程、及び自由誘導減衰を測定する工程を含む、試料の少なくとも１種類の成分の量を決定する方法であって、
内部磁場を有するＮＭＲ計器内に試料を配置し；
ＮＭＲ計器を用いて少なくとも１シーケンスの第１のπ／２および第２のπ高周波パルスを試料に印加し、第１のπ／２パルスからの自由誘導信号が十分に減衰する前に各それぞれの第２高周波パルスが印加され；
それぞれの第１高周波パルスを印加することにより発生するそれぞれの第１信号の振幅を測定してＦＩＤ値を決定し；
それぞれの第２高周波パルスを印加することにより発生するそれぞれの第２信号の振幅を測定してスピンエコー値を決定し；そして
スピンエコー値およびスピンエコー値のフラクションをＦＩＤ値から減算することにより、試料の少なくとも１種類の成分の量を決定する
ことを特徴とする方法。
【請求項２】
少なくとも１シーケンスの高周波パルスを試料に印加する工程が、２以上のシーケンスの高周波パルスを試料に印加することを含み；
測定した第１信号の振幅の平均値を用いてＦＩＤ値を決定し；そして
測定した第２信号の振幅の平均値を用いてスピンエコー値を決定する
ことを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
１６以下のシーケンスの高周波パルスを試料に印加する、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
試料を配置する工程、試料に高周波パルスを印加する工程、ならびに複数試料について第１および第２信号それぞれの振幅を測定する工程を実施し；
各試料のスピンエコー値をそれのＦＩＤ値から減算して、各試料の信号損失を確定し；そして
確定した信号損失に基づいて、ＦＩＤ値から減算したスピンエコー値のフラクションを決定する
ことを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
ＦＩＤ値から減算したスピンエコー値のフラクションが約３／２２である、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
試料が脂肪を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
試料が乾燥している、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
内部磁場が一定である、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
試料を秤量することを含む、請求項１に記載の方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８２】
本発明の態様
態様１
ＮＭＲ計器でＮＭＲ応答を測定する方法であって、
試料を、ＮＭＲ計器のマグネットの温度より高いヒーター温度で、ある加熱期間、加熱し；
その後、加熱試料を、マグネット温度と実質的に等しい内部温度を有するＮＭＲ計器内に、あるマグネット期間、配置し；そして
その後、ＮＭＲ計器を用いて加熱試料のＮＭＲ応答を測定する
ことを含む方法。
態様２
試料をヒーター温度で加熱する工程が、伝導加熱を用いて試料を加熱することを含む、態様１に記載の方法。
態様３
ヒーター温度が、（ｉ）加熱期間内に試料をマグネット温度とほぼ等しい温度にまで加熱するのに十分なほど高く、かつ（ｉｉ）加熱期間内に試料を蒸煮するのを避けるのに十分なほど低い、態様１に記載の方法。
態様４
ヒーター温度が約６０℃〜８０℃である、態様１に記載の方法。
態様５
加熱期間が、（ｉ）試料をヒーター温度でマグネット温度とほぼ等しい温度にまで加熱するのに十分なほど長く、かつ（ｉｉ）ヒーター温度で試料を蒸煮するのを避けるのに十分なほど短い、態様１に記載の方法。
態様６
加熱期間が約３０秒〜６０秒である、態様１に記載の方法。
態様７
マグネット温度が約４０℃である、態様１に記載の方法。
態様８
マグネット期間は、加熱試料の温度がマグネット温度とほぼ等しくなるのに十分なほど長い、態様１に記載の方法。
態様９
マグネット期間が約６０秒以下である、態様１に記載の方法。
態様１０
試料が脂肪を含む、態様１に記載の方法。
態様１１
試料が乾燥している、態様１に記載の方法。
態様１２
試料をヒーター温度で加熱する工程の前に、試料を秤量する、態様１に記載の方法。
態様１３
第２試料をヒーター温度で、加熱期間、加熱し；
その後、第２試料を、マグネット温度と等しい内部温度を有するＮＭＲ計器内に、マグネット期間、配置し；そして
その後、ＮＭＲ計器を用いてＮＭＲ測定を実施する
ことを含む、態様１に記載の方法。
態様１４
試料の少なくとも１種類の成分の量を決定する方法であって、
内部磁場を有するＮＭＲ計器内に試料を配置し；
ＮＭＲ計器を用いて少なくとも１シーケンスの第１および第２高周波パルスを試料に印加し；
それぞれの第１高周波パルスを印加することにより発生するそれぞれの第１信号の振幅を測定してＦＩＤ値を決定し；
それぞれの第２高周波パルスを印加することにより発生するそれぞれの第２信号の振幅を測定してスピンエコー値を決定し；そして
スピンエコー値およびスピンエコー値のフラクションをＦＩＤ値から減算することにより、試料の少なくとも１種類の成分の量を決定する
ことを含む方法。
態様１５
第１高周波パルスが単一π／２パルスであり；
第２高周波パルスが単一πパルスである、
態様１４に記載の方法。
態様１６
少なくとも１シーケンスの高周波パルスを試料に印加する工程が、２以上のシーケンスの高周波パルスを試料に印加することを含み；
測定した第１信号の振幅の平均値を用いてＦＩＤ値を決定し；そして
測定した第２信号の振幅の平均値を用いてスピンエコー値を決定する
ことを含む、態様１４に記載の方法。
態様１７
１６以下のシーケンスの高周波パルスを試料に印加する、態様１６に記載の方法。
態様１８
試料を配置する工程、試料に高周波パルスを印加する工程、ならびに複数試料について第１および第２信号それぞれの振幅を測定する工程を実施し；
各試料のスピンエコー値をそれのＦＩＤ値から減算して、各試料の信号損失を確定し；そして
確定した信号損失に基づいて、ＦＩＤ値から減算したスピンエコー値のフラクションを決定する
ことを含む、態様１４に記載の方法。
態様１９
ＦＩＤ値から減算したスピンエコー値のフラクションが約３／２２である、態様１４に記載の方法。
態様２０
試料が脂肪を含む、態様１４に記載の方法。
態様２１
試料が乾燥している、態様１４に記載の方法。
態様２２
内部磁場が一定である、態様１４に記載の方法。
態様２３
試料を秤量することを含む、態様１４に記載の方法。
態様２４
試料をＮＭＲ計器内に配置する前に、試料をＮＭＲ計器のマグネットの温度より高いヒーター温度で、ある加熱期間、加熱し；
その後、加熱試料をＮＭＲ計器内に配置し、そのＮＭＲ計器はマグネット温度と実質的に等しい内部温度を有し；そして
試料をＮＭＲ計器内に、あるマグネット期間、配置した後に、少なくとも１シーケンスの高周波パルスを印加する工程を開始する；
ことを含む、態様１４に記載の方法。
態様２５
試料をヒーター温度で加熱する工程が、伝導加熱を用いて試料を加熱することを含む、態様２４に記載の方法。
態様２６
ヒーター温度が、（ｉ）加熱期間内に試料をマグネット温度とほぼ等しい温度にまで加熱するのに十分なほど高く、かつ（ｉｉ）加熱期間内に試料を蒸煮するのを避けるのに十分なほど低い、態様２４に記載の方法。
態様２７
ヒーター温度が約６０℃〜８０℃である、態様２４に記載の方法。
態様２８
加熱期間が、（ｉ）試料をヒーター温度でマグネット温度とほぼ等しい温度にまで加熱するのに十分なほど長く、かつ（ｉｉ）ヒーター温度で試料を蒸煮するのを避けるのに十分なほど短い、態様２４に記載の方法。
態様２９
加熱期間が約３０秒〜６０秒である、態様２４に記載の方法。
態様３０
マグネット温度が約４０℃である、態様２４に記載の方法。
態様３１
マグネット期間は、加熱試料の温度がマグネット温度と等しくなるのに十分なほど長い、態様２４に記載の方法。
態様３２
マグネット期間が約６０秒以下である、態様２４に記載の方法。
態様３３
試料をヒーター温度で加熱する工程の前に、試料を秤量する、態様２４に記載の方法。
[0095]  本明細書および／または図面に、本発明の代表的態様を開示した。本発明はそのような代表的態様に限定されない。用語“および／または”の使用には、それに関連して列記した項目のうち１以上のありとあらゆる組合わせが含まれる。図面は模式図であり、したがって必ずしも同一尺度で描かれてはいない。別途明記しない限り、個々の用語は全般的かつ説明滴意味で用いられ、限定のためのものではない。