(57)【要約】本発明の主題は、接点片であって、支持体上にはんだ付けされたタングステンオーバーレイ（１）を含み、前記はんだ層及び前記支持体（任意）の少なくとも一部が、タングステンよりも低安定性の金属層により覆われている。前記タングステンオーバーレイの耐食性は、本発明により大幅に改善された。【選択図】図１
2007535092.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
金属支持体（３）上にはんだ付けされたタングステンオーバーレイ（１）を含む接点片であって、前記はんだ層(２)及び前記支持体（任意）の少なくとも一部が、タングステンよりも低安定性の金属の層（４）により覆われていることを特徴とする接点片。
【請求項２】
前記低安定性金属層が、厚み０．１から２０μｍであることを特徴とする請求項１記載の接点片。
【請求項３】
前記低安定性金属層が、厚み０．２から２μｍであることを特徴とする請求項２記載の接点片。
【請求項４】
前記低安定性金属が、Ｓｎ、Ｚｎ、Ｍｇ又はＡｌであることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の接点片。
【請求項５】
前記低安定性金属が、Ｓｎであることを特徴とする請求項４記載の接点片。
【請求項６】
請求項１から５のいずれかに記載の接点片の製造方法であって、タングステンよりも低安定性の金属層を前記接点片の上に形成し、ついで、タングステンオーバーレイ上の主金属を除去することを特徴とする製造方法。
【請求項７】
前記層が、電気メッキにより形成されることを特徴とする請求項６記載の製造方法。
【請求項８】
前記主金属を、前記はんだ及び前記金属支持体上に選択的に塗布することを特徴とする請求項６又は７記載の製造方法。
【請求項９】
前記タングステンオーバーレイを、滑り研磨により再び露出させることを特徴とする請求項６から８のいずれかに記載の製造方法。
【請求項１０】
請求項１から５のいずれかに記載の接点片の使用であって、ホーン接点又はリレイ接点としての使用。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、主金属製耐食層を備えたタングステン製の接点片に関する。
【背景技術】
【０００２】
タングステンのような全ての高融点の金属は、優れた難燃性であるため、高切換配列が相当の火花が発生する場合、電気機械切換装置の接点オーバーレイとして選択される金属である。接触力が十分高く、最低動作過電圧を与えるという条件で、タングステン接点片は、自動車電流遮断器、自動車のホーン及び継電器といった様々な切換装置に障害なく使用できる。一般に、前記接点片は、タングステンメッキを含むリベットと同様に、軟鉄又は銅製のリベット型支持体上に接点オーバーレイをはんだ付けすることにより製造される（図１参照）。
【０００３】
しかしながら、タングステンは、貴金属ではない。切換を大気中で行うと、酸化被膜がその表面に現れる。タングステン接点片の腐食形成は、５０年を超えると問題となることが知られており、好ましくない切換条件下は、接点材料として全世界に適用されたタングステンを損なう。乾燥した空気下及び熱環境中（砂漠の気候風土）では、前記タングステン接点は、長期間損なわれず、完全に機能する。しかしながら、前記環境が湿度を伴うと（熱帯気候）、保護されていないタングステンの腐食が急速に生じる。
【０００４】
腐食形成の環境及び影響は、以下の非特許文献１、非特許文献２及び非特許文献３に記載されている。
【０００５】
前記文献は、遊離有機物質による接触誤動作、特に、熱帯条件下における接触誤動作について報告されている。
【０００６】
近年、接点片の腐食による自動車供給部におけるファンファーレ及びシグナルホーンの誤動作に関する重大な調査が行われた。同様に、タングステンで覆われた電気機械継電器、前留分又は主接点に対しても行われている。
【０００７】
温暖及び湿潤気候下では、タングステン接点集合体は、次第に機能しなくなる傾向がある。これは、例えば、新型の自動車の販売を開始する前に、極めて大量の自動車が製造され、おそらく、自動車販売業者を介して顧客に納品される前に、温暖及び湿潤条件下で、何ヶ月も保管場所に放置されている場合、ホーン接点で統計上著しくみられる。
【０００８】
ホーンが作用しなくなる場合、前記接点片の開口部から悲しげな音が聞こえ、酸化タングステン及びタングステン酸塩の薄い酸化層が、閉じたタングステン接点片上及びその間にしばしば見えるようになる。この中間層によって、前記接点が分離し、前記接点の抵抗が高くなり、前記ホーンが作用しなくなる。顧客をいらだたせ、製造者にとってはコストがかかるこの不具合は、多くの努力により修復されている。
【０００９】
当業者に一般的に知られている方法は、切換装置に組み込む前に、薄いニッケル層で接点リベット全体を覆う方法である。ニッケルの表面安定化処理によると、ニッケル層が損なわれていなければ、スイッチを切った接点が、長い間、清潔かつ腐食層がない状態である。しかしながら、ホーン製造者における新しいホーンの必須試験によると、Ｎｉ層は、部分的に切換表面で破壊されている。前記ニッケル層の保護効果は、大幅に減少する。屋外試験において、ニッケルメッキの保護効果は、ほとんど証明されていない。
【００１０】
その他の可能性としては、タングステン切換表面を炭化水素で処理してもよい。タングステン炭素含有ハード層は、数μｍの厚みで形成される。何の疑いもなく、このようなハード層は、耐食性を増加させる。
【００１１】
日本国特許公報２０１２８／１９７４は、浸炭剤として黒鉛粉末を使用することを開示している（特許文献１）。
【００１２】
独国公開公報３２３２０９７  Ａ１は、調節された雰囲気の炉内において、浸炭剤としてプロパンを使用することを開示している（特許文献２）。これに関連して、好ましくない浸炭に伴うタングステン接点オーバーレイのはんだ面の欠陥と同様に、前記炉の加熱装置の障害を度外視することはできない。
【００１３】
さらには、両方法において、薄い保護層は、前記ホーンの切換により破壊され、入れ替わりに遊離型タングステンを保護することなく大気にさらされる。
【００１４】
このような層の調製には、費用がかかり、さらなる作業工程を必要とするため、非常に高価である。実際のところは、ハード層を含むタングステン接点は、それ自身が成功であることを証明できない。
【００１５】
タングステン接点リベットの耐食性を改善するためのさらなる態様は、前記接点リベットを銀メッキするか、一般的な銅メッキに代えて、高い銀含量を有するメッキ金属（すなわち、より安定な金属）を用いることである。
【００１６】
これらの方法は時々利用されたが、耐食性が劇的に改善されることはなかった。
【特許文献１】特許公報２０１２８／１９７４号公報
【特許文献２】独国特許公開公報３２３２０９７  Ａ１
【非特許文献１】Keil, A.: Eine spezifische Korrosionsersheinung an Wolfram-Kontakten. Werkstoffe und Korrosion 7 (1952) 263-265.
【非特許文献２】Keil, A.: Meyer, C.L.: Korrosionsersheinungen an Unterbrecherkontakten. Elektropost 7 (1954) 93-95.
【非特許文献３】Vinaricky, E et al.: Elektrische Kontakte, Werkstoffe und Anwendungen, Berlin 2002, p.178.
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
すなわち、本発明の目的は、Ｃｕ又はＡｇ硬質はんだ金属を用いて金属支持体上にメッキされたタングステンオーバーレイで構成されている接点片の開発であって、腐食条件下、特に温暖及び湿潤気候の影響下で、切換特性の低下を示さない接点片の開発である。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
この目的は、前記はんだ層及び前記支持体を薄い主金属層で覆うことにより、前記タングステンオーバーレイの耐食性を、大幅に改善できるという驚くべき発見により解決された。
【００１９】
すなわち、本発明の主題は、タングステンオーバーレイ（１）、メッキ（２）、及び、主金属の薄層（４）で覆われた支持体（３）を含む接点片である。
【００２０】
前記リベットの好ましい形態は、請求項２から４の主題である。接点片の製造方法は、請求項６から９の主題である。
【００２１】
本発明の主金属としては、動作条件下で電気化学系列がタングステンよりも陰性であるものが考えられる。好ましい例としては、スズ、亜鉛、マグネシウム及びアルミニウムであり、特に好ましくはスズ（Ｓｎ）である。電気化学系列については、スズは、タングステンと若干相違する。しかしながら、実際、スズが特に適当であることが証明されている。Ｓｎのガルバニック蒸着での結合を重視すると、後者は、非常に適当な費用で行うことができ、美観的にも美しい結果が得られる方法である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
本発明の解決方法は、切換接点において、燃性材料であるタングステンが、いかなる保護／外部層もなく、すなわち、後者は、スパーク発生又はその他の切換により考慮すべき不穏な影響力により破壊されない。前記主金属層の効果は、タングステンを物理的に覆い、保護することにより達成されるのではなく、単に電気化学的手段により達成される。
【００２３】
本発明者等は、それぞれの表面に液体膜を封入して局所的にガルバニック成分を形成することにより、安定性の小さい金属（Ｓｎ、Ｚｎ、Ｍｇ又はＡｌ）が、より安定なタングステンの影響により現電圧比（present potential ratio）未満で分解されるのであろうと仮定している。
【００２４】
銅（Ｃｕはんだとして）又はＡｇ（電解膜として）等のより安定的な元素が、Ｗと局所的にガルバニック成分を形成すると、Ｗ接点オーバーレイのタングステンは、いわゆる犠牲陽極として溶解されることが好ましい。局所的なガルバニック成分の観点から、保護層としてＡｇは非生産的であり、隣接はんだ層としての銅は、腐食をさらに促進する。電位の置換により陰極、すなわち、より安定となるため、同様の仮定がＮｉにも当てはまる。
【００２５】
添付の図面において、
図１は、タングステン接点オーバーレイ（１）、本発明により主金属層（４）で覆われている金属支持体（３）上のＣｕ又はＡｇ硬質はんだによるはんだ付け（２）からなるホーン及びリレイ接点のための接点片を模式的に描写する。
図２は、腐食試験後の０．５〜１μｍのＳｎ層でガルバニー電気保護したリベットの土台上のＷ製の接点オーバーレイを示す。
図３は、参考のための先行技術に基づくリベットのＷ製接点オーバーレイ（腐食試験前）を示す。
図４は、参考のための先行技術に基づくリベットのＷ製接点オーバーレイ（腐食試験後）を示す。
【００２６】
以下に、限定されない実施例により、本発明の好ましい形態を説明する。
【実施例１】
【００２７】
ニッケルメッキした鉄支持体にＣｕはんだではんだ付けしたタングステンオーバーレイ（直径４ｍｍ、厚み０.８ｍｍ）を含む接点リベットは、ガルバニー電気的に適用される厚み０.２〜２μｍのＳｎ層を備えている。つぎに、前記タングステン表面に付着した前記スズのみを、滑り研磨により機械的に除去する。このようにして準備した接点リベットを、腐食試験において、一定の環境にさらした（４８ｈ、９６％（相対湿度）及び５０℃）。この試験の間、前記スズ層を備えたリベット及び磁器支持体上にタングステン表面が露出しているリベット約２０個を、乾燥器に入れた。前記乾燥器の底部には、飽和硫酸カリウム溶液を配置し、上部の相対湿度を９６％に調節する。従来技術に基づき、分離磁器支持体上に何ら付加ガルバニック主金属層を備えないリベットを、参考用として加えた。前記乾燥機は、環境試験棚において４８時間、５０℃一定となるように温度を調整した。
【００２８】
４８時間後の結果を、図２及び４に示す。腐食させなかった標準（図３）と比較すると、ガルバニー電気処理後のリベットは、接点表面にわずかなかすみがみられただけであった。しかしながら、ガルバニー電気処理を行わなかったリベットは、Ｗ−表面が、薄い緑がかった茶色の膜で覆われており、前記膜は、Ｃｕはんだの周囲から始まって、タングステン表面や中心部に拡大していた。これらの膜は、おそらく、銅及びタングステンの無機酸塩である。これらが、ホーンの閉じた接点の間にあると、接点耐久性を減少させ、そして、ホーンを破壊する。
【実施例２】
【００２９】
実験装置は、実施例１と同じである。Ｓｎに代えて、Ｚｎをさらなるガルバニック層として使用した。処理を行わなかった標準と比較すると、実施例１と同様の結果が得られた。ここで、亜鉛メッキ支持体は、腐食により青みがかった光沢を示すという不都合が生じた。前記リベットは、見苦しくなった。
【００３０】
主金属Ａｌ及びＭｇは、Ｓｎ及びＺｎと同様の挙動を示した。しかしながら、ガルバニック層の適用は、これらの金属では若干難しく費用がかかる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】図１は、本発明の接点片の一例を示す模式図である。
【図２】図２は、本発明の実施例の結果を示す写真である。
【図３】図３は、本発明の比較例の結果を示す写真である。
【図４】図４は、本発明のその他の比較例の結果を示す写真である。
【符号の説明】
【００３２】
１    タングステンオーバーレイ
２    はんだ層
３    支持体
４    金属層
【図１】
2007535092.tif 000003
【図２】
2007535092.tif 000004
【図３】
2007535092.tif 000005
【図４】
2007535092.tif 000006
【手続補正書】
【提出日】平成17年1月13日(2005.1.13)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
はんだ層（２）を介して金属支持体（３）上にはんだ付けされたタングステンオーバーレイ（１）を含む接点片であって、前記はんだ層(２)及び前記支持体（３）の少なくとも一部が、スズ層（４）により覆われていることを特徴とする接点片。
【請求項２】
前記スズ層が、厚み０．１から２０μｍであることを特徴とする請求項１記載の接点片。
【請求項３】
前記スズ層が、厚み０．２から２μｍであることを特徴とする請求項２記載の接点片。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載の接点片の製造方法であって、スズ層（４）を前記接点片の上に形成し、ついで、タングステンオーバーレイ（１）上のスズ（４）を除去することを特徴とする製造方法。
【請求項５】
前記層が、電気メッキにより形成することを特徴とする請求項４記載の製造方法。
【請求項６】
前記スズを、前記はんだ及び前記金属支持体上に選択的に塗布することを特徴とする請求項４又は５記載の製造方法。
【請求項７】
前記タングステンオーバーレイを、滑り研磨により再び露出させることを特徴とする請求項４から６のいずれかに記載の製造方法。
【請求項８】
請求項１から３のいずれかに記載の接点片の使用であって、ホーン接点又はリレイ接点としての使用。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【書類名】      明細書
【発明の名称】  スズ製耐食層を備えたタングステン製の接点片
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スズ製耐食層を備えたタングステン製の接点片に関する。
【背景技術】
【０００２】
タングステンのような全ての高融点の金属は、優れた難燃性であるため、高切換配列が相当の火花が発生する場合、電気機械切換装置の接点オーバーレイとして選択される金属である。接触力が十分高く、最低動作過電圧を与えるという条件で、タングステン接点片は、自動車電流遮断器、自動車のホーン及び継電器といった様々な切換装置に障害なく使用できる。一般に、前記接点片は、タングステンメッキを含むリベットと同様に、軟鉄又は銅製のリベット型支持体上に接点オーバーレイをはんだ付けすることにより製造される（図１参照）。
【０００３】
しかしながら、タングステンは、貴金属ではない。切換を大気中で行うと、酸化被膜がその表面に現れる。タングステン接点片の腐食形成は、５０年を超えると問題となることが知られており、好ましくない切換条件下は、接点材料として全世界に適用されたタングステンを損なう。乾燥した空気下及び熱環境中（砂漠の気候風土）では、前記タングステン接点は、長期間損なわれず、完全に機能する。しかしながら、前記環境が湿度を伴うと（熱帯気候）、保護されていないタングステンの腐食が急速に生じる。
【０００４】
腐食形成の環境及び影響は、以下の非特許文献１、非特許文献２及び非特許文献３に記載されている。
【０００５】
前記文献は、遊離有機物質による接触誤動作、特に、熱帯条件下における接触誤動作について報告されている。
【０００６】
近年、接点片の腐食による自動車供給部におけるファンファーレ及びシグナルホーンの誤動作に関する重大な調査が行われた。同様に、タングステンで覆われた電気機械継電器、前留分又は主接点に対しても行われている。
【０００７】
温暖及び湿潤気候下では、タングステン接点集合体は、次第に機能しなくなる傾向がある。これは、例えば、新型の自動車の販売を開始する前に、極めて大量の自動車が製造され、おそらく、自動車販売業者を介して顧客に納品される前に、温暖及び湿潤条件下で、何ヶ月も保管場所に放置されている場合、ホーン接点で統計上著しくみられる。
【０００８】
ホーンが作用しなくなる場合、前記接点片の開口部から悲しげな音が聞こえ、酸化タングステン及びタングステン酸塩の薄い酸化層が、閉じたタングステン接点片上及びその間にしばしば見えるようになる。この中間層によって、前記接点が分離し、前記接点の抵抗が高くなり、前記ホーンが作用しなくなる。顧客をいらだたせ、製造者にとってはコストがかかるこの不具合は、多くの努力により修復されている。
【０００９】
当業者に一般的に知られている方法は、切換装置に組み込む前に、薄いニッケル層で接点リベット全体を覆う方法である。ニッケルの表面安定化処理によると、ニッケル層が損なわれていなければ、スイッチを切った接点が、長い間、清潔かつ腐食層がない状態である。しかしながら、ホーン製造者における新しいホーンの必須試験によると、Ｎｉ層は、部分的に切換表面で破壊されている。前記ニッケル層の保護効果は、大幅に減少する。屋外試験において、ニッケルメッキの保護効果は、ほとんど証明されていない。
【００１０】
ＵＳ−Ａ−２５４７９４７には、スチール製又は鉄製のアームからなる可動部分上に、タングステン接触板をはんだ付けするか溶接する内燃機関の点火装置のための電気接点の配置が開示されている（特許文献３）。タングステン表面上への黒色沈着物の形成を回避するために、前記配置を、ニッケル−クロム−カドミウム又は亜鉛でメッキし、タングステン表面の部分からメッキした金属を除去するために、前記接点表面及びその端面を研磨している。
【００１１】
その他の可能性としては、タングステン切換表面を炭化水素で処理してもよい。タングステン炭素含有ハード層は、数μｍの厚みで形成される。何の疑いもなく、このようなハード層は、耐食性を増加させる。
【００１２】
日本国特許公報２０１２８／１９７４は、浸炭剤として黒鉛粉末を使用することを開示している（特許文献１）。
【００１３】
独国公開公報３２３２０９７  Ａ１は、調節された雰囲気の炉内において、浸炭剤としてプロパンを使用することを開示している（特許文献２）。これに関連して、好ましくない浸炭に伴うタングステン接点オーバーレイのはんだ面の欠陥と同様に、前記炉の加熱装置の障害を度外視することはできない。
【００１４】
さらには、両方法において、薄い保護層は、前記ホーンの切換により破壊され、入れ替わりに遊離型タングステンを保護することなく大気にさらされる。
【００１５】
このような層の調製には、費用がかかり、さらなる作業工程を必要とするため、非常に高価である。実際のところは、ハード層を含むタングステン接点は、それ自身が成功であることを証明できない。
【００１６】
タングステン接点リベットの耐食性を改善するためのさらなる態様は、前記接点リベットを銀メッキするか、一般的な銅メッキに代えて、高い銀含量を有するメッキ金属（すなわち、より安定な金属）を用いることである。
【００１７】
これらの方法は時々利用されたが、耐食性が劇的に改善されることはなかった。
【００１８】
独国特許公開公報３６２６１４４  Ａ１には、銀基層、スズ製の中間層およびタングステン製の外層を含む接点が開示されている（特許文献４）。
【特許文献１】  特許公報２０１２８／１９７４号公報
【特許文献２】  独国特許公開公報３２３２０９７  Ａ１
【特許文献３】  ＵＳ−Ａ−２５４７９４７
【特許文献４】  独国特許公開公報３６２６１４４  Ａ１
【非特許文献１】  Keil, A.: Eine spezifische Korrosionsersheinung an Wolfram-Kontakten. Werkstoffe und Korrosion 7 (1952) 263-265.
【非特許文献２】  Keil, A.: Meyer, C.L.: Korrosionsersheinungen an Unterbrecherkontakten. Elektropost 7 (1954) 93-95.
【非特許文献３】  Vinaricky, E et al.: Elektrische Kontakte, Werkstoffe und Anwendungen, Berlin 2002, p.178.
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
すなわち、本発明の目的は、Ｃｕ又はＡｇ硬質はんだ金属を用いて金属支持体上にメッキされたタングステンオーバーレイで構成されている接点片の開発であって、腐食条件下、特に温暖及び湿潤気候の影響下で、切換特性の低下を示さない接点片の開発である。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
この目的は、前記はんだ層及び前記支持体を薄いスズ層で覆うことにより、前記タングステンオーバーレイの耐食性を、大幅に改善できるという驚くべき発見により解決された。
【００２１】
すなわち、本発明の主題は、タングステンオーバーレイ（１）、メッキ（２）、及び、スズ薄層（４）で覆われた支持体（３）を含む接点片である。
【００２２】
前記リベットの好ましい形態は、請求項２及び３の主題である。接点片の製造方法は、請求項４から７の主題である。電気化学系列については、スズは、タングステンと若干相違する。しかしながら、ＵＳ−Ａ−２５４７９４７で提案されるＮｉ、Ｃｒ、Ｃｄ及びＺｎといった低安定性金属と比較すると、実際、スズが特に適当であることが証明されている。Ｓｎのガルバニック蒸着での結合を重視すると、後者は、非常に適当な費用で行うことができ、美観的にも美しい結果が得られる方法である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
本発明の解決方法は、切換接点において、燃性材料であるタングステンが、いかなる保護／外部層もなく、すなわち、後者は、スパーク発生又はその他の切換により考慮すべき不穏な影響力により破壊されない。前記スズ層の効果は、タングステンを物理的に覆い、保護することにより達成されるのではなく、単に電気化学的手段により達成される。
【００２４】
本発明者等は、それぞれの表面に液体膜を封入して局所的にガルバニック成分を形成することにより、スズが、より安定なタングステンの影響により現電圧比（present potential ratio）未満で分解されるのであろうと仮定している。
【００２５】
銅（Ｃｕはんだとして）又はＡｇ（電解膜として）等のより安定的な元素が、Ｗと局所的にガルバニック成分を形成すると、Ｗ接点オーバーレイのタングステンは、いわゆる犠牲陽極として溶解されることが好ましい。局所的なガルバニック成分の観点から、保護層としてＡｇは非生産的であり、隣接はんだ層としての銅は、腐食をさらに促進する。電位の置換により陰極、すなわち、より安定となるため、同様の仮定がＮｉにもあてはまる。
【００２６】
添付の図面において、
図１は、タングステン接点オーバーレイ（１）、本発明によりスズ層（４）で覆われている金属支持体（３）上のＣｕ又はＡｇ硬質はんだによるはんだ付け（２）からなるホーン及びリレイ接点のための接点片を模式的に描写する。
図２は、腐食試験後の０．５〜１μｍのスズ層でガルバニー電気保護したリベットの土台上のＷ製の接点オーバーレイを示す。
図３は、参考のための先行技術に基づくリベットのＷ製接点オーバーレイ（腐食試験前）を示す。
図４は、参考のための先行技術に基づくリベットのＷ製接点オーバーレイ（腐食試験後）を示す。
【００２７】
以下に、限定されない実施例により、本発明の好ましい形態を説明する。
【実施例１】
【００２８】
ニッケルメッキした鉄支持体にＣｕはんだではんだ付けしたタングステンオーバーレイ（直径４ｍｍ、厚み０.８ｍｍ）を含む接点リベットは、ガルバニー電気的に適用される厚み０.２〜２μｍのスズ層を備えている。つぎに、前記タングステン表面に付着した前記スズのみを、滑り研磨により機械的に除去する。このようにして準備した接点リベットを、腐食試験において、一定の環境にさらした（４８ｈ、９６％（相対湿度）及び５０℃）。この試験の間、前記スズ層を備えたリベット及び磁器支持体上にタングステン表面が露出しているリベット約２０個、乾燥器に入れた。前記乾燥器の底部には、飽和硫酸カリウム溶液を配置し、上部の相対湿度を９６％に調節する。従来技術に基づき、分離磁器支持体上に何ら付加ガルバニック主金属層を備えないリベットを、参考用として加えた。前記乾燥機は、環境試験棚において４８時間、５０℃一定となるように温度を調整した。
【００２９】
４８時間後の結果を、図２及び４に示す。腐食させなかった標準（図３）と比較すると、ガルバニー電気処理後のリベットは、接点表面にわずかなかすみがみられただけであった。しかしながら、ガルバニー電気処理を行わなかったリベットは、Ｗ−表面が、薄い緑がかった茶色の膜で覆われており、前記膜は、Ｃｕはんだの周囲から始まって、タングステン表面や中心部に拡大していた。これらの膜は、おそらく、銅及びタングステンの無機酸塩である。これらが、ホーンの閉じた接点の間にあると、接点耐久性を減少させ、そして、ホーンを破壊する。
【００３０】
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の接点片の一例を示す模式図である。
【図２】図２は、本発明の実施例の結果を示す写真である。
【図３】図３は、本発明の比較例の結果を示す写真である。
【図４】図４は、本発明のその他の比較例の結果を示す写真である。
【符号の説明】
１    タングステンオーバーレイ
２    はんだ層
３    支持体
４    金属層
【国際調査報告】
2007535092.tif 000007
2007535092.tif 000008
2007535092.tif 000009
2007535092.tif 000010