【手続補正書】
【提出日】平成28年9月5日(2016.9.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
非破壊検査（１０６）規格を確定するための方法であって、前記方法は
複数の試料（１１２）中の各試料が前記複数の試料（１１２）中の任意の数の他の試料とは異なる空隙率を有するように、選択された部品タイプ（１０４）と同じ一連の選択された特性を有する前記複数の試料（１１２）中の各試料に異なる技術を使用して、前記複数の試料（１１２）を形成することと、
コンピュータ断層撮影システム（１３２）を使用して生成される前記各試料の３次元画像（１３６）から抽出される容積データ（１４８）を使用して、前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対して空隙率レベルを特定することと、
前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対して特定される前記空隙率レベルに基づいて、前記複数の試料（１１２）から選択された空隙率レベル群（１５６）に対して、前記選択された部品タイプ（１０４）の部品（１０８）の非破壊検査（１０６）を実施する際に使用するように構成されている規格群（１０２）を確定することと
を含み、
前記規格群（１０２）を確定することには、
前記選択された部品タイプ（１０４）の評価に使用される前記選択された空隙率レベル群（１５６）を特定することと、
前記規格群（１０２）中の規格として選択された許容誤差範囲内で前記選択された空隙率レベル群（１５６）中の選択された空隙率レベルに一致する前記空隙率レベルを有する前記複数の試料（１１２）中の試料を確定することと
が含まれる、方法。
【請求項２】
前記コンピュータ断層撮影システム（１３２）を使用して、前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対して、複数の２次元画像を含む３次元画像（１３６）を生成することをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記コンピュータ断層撮影システム（１３２）を使用して生成される前記各試料の前記３次元画像（１３６）から抽出される前記容積データ（１４８）を使用して前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対して空隙率レベルを特定する前記ステップは、
前記コンピュータ断層撮影システム（１３２）によって生成される前記各試料の前記３次元画像（１３６）から前記複数の試料（１１２）中の前記各試料の前記容積データを抽出することと、
前記各試料内部の何もない空間に対して第１の容積（１５０）を特定することと、
前記各試料の第２の容積（１５２）を特定することと、
前記各試料内部の何もない空間に対する前記第１の容積（１５０）及び前記各試料の前記第２の容積（１５２）を使用して、前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対して前記空隙率レベルを特定することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に異なる技術を使用して、前記複数の試料（１１２）を形成する前記ステップは、
複数の硬化技術（１２２）から選択される硬化技術（１２４）により前記複数の試料（１１２）中の試料（１２８）を硬化することを含み、
前記複数の硬化技術（１２２）中の各硬化技術（１２４）は、異なる硬化サイクル長、異なる硬化温度、異なる硬化圧力、異なる硬化真空引き、及び異なる硬化デバイスのうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に異なる技術を使用して、前記複数の試料（１１２）を形成する前記ステップは、
前記選択された部品タイプ（１０４）と同じ一連の選択された特性であって、材料組成（１１６）、厚み（１１８）、及び幾何形状（１１９）のうちの少なくとも１つを含む一連の選択された特性を備える複合材料の断片（１１３）を形成することと、
前記複合材料の断片（１１３）を、前記複数の断片中の各断片が同じサイズである複数の断片に分割することと
を含み、
前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に異なる硬化技術（１２４）を使用して前記複数の試料（１１２）を形成する前記ステップは、
前記複数の試料（１１２）を形成するため、複数の硬化技術（１２２）を使用して前記複数の断片を硬化すること
をさらに含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記選択された部品タイプ（１０４）と同じ一連の選択された特性を有する任意の部品の評価で将来使用するため前記規格群（１０２）を保存すること
をさらに含み、前記一連の選択された特性は、材料組成（１１６）、厚み（１１８）、及び幾何形状（１１９）のうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
非破壊検査システム（１６０）を使用して部品を評価する方法であって、
前記非破壊検査システム（１６０）を使用して、前記部品に対して規格群（１０２）の各規格の非破壊検査（１０６）を実施することによって、前記規格群（１０２）に対して基準検査データ（１６２）を生成することと、
前記非破壊検査システム（１６０）を使用して前記部品の非破壊検査（１０６）を実施することにより、前記部品に対して部品検査データ（１６４）を生成することと、
前記基準検査データ（１６２）及び前記部品検査データ（１６４）を使用して前記部品の部品空隙率を特定することと
を含み、
前記規格群（１０２）は、コンピュータ断層撮影システム（１３２）を使用して生成される各試料の３次元画像（１３６）から抽出される容積データ（１４８）を使用して、複数の試料（１１２）中の各試料に対して特定される空隙率レベルに基づいて、前記複数の試料（１１２）から確定され、
前記規格群（１０２）を確定することには、
選択された部品タイプ（１０４）の評価に使用される前記選択された空隙率レベル群（１５６）を特定することと、
前記規格群（１０２）中の規格として選択された許容誤差範囲内で前記選択された空隙率レベル群（１５６）中の選択された空隙率レベルに一致する前記空隙率レベルを有する前記複数の試料（１１２）中の試料を確定することと
が含まれる、方法。
【請求項８】
前記基準検査データ（１６２）及び前記部品検査データ（１６４）を使用して前記部品の部品空隙率を特定する前記ステップは、
前記基準検査データ（１６２）及び前記部品検査データ（１６４）を使用して、前記部品空隙率が選択された閾値を上回るかどうかを判定することを含み、
前記非破壊検査システムを使用して前記部品に対して前記規格群（１０２）の各規格の前記非破壊検査（１０６）を実施することによって、前記規格群（１０２）に対して前記基準検査データ（１６２）を生成する前記ステップは、
超音波検査システムを使用して前記部品に対して前記規格群（１０２）の各規格の超音波検査を実施することによって、前記規格群（１０２）に対して前記基準検査データ（１６２）を生成することを含み、
前記非破壊検査システムを使用して前記部品の前記非破壊検査（１０６）を実施することにより、前記部品に対して前記部品検査データ（１６４）を生成する前記ステップは、
超音波検査システムを使用して前記部品の超音波検査を実施することにより、前記部品に対して前記部品検査データ（１６４）を生成することを含む、
請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記部品と同じ選択された部品タイプ（１０４）の別の部品の評価で将来使用するため保存場所に前記規格群（１０２）を保存することをさらに含み、前記別の部品は前記部品と同じ一連の選択された特性を有し、前記同じ一連の選択された特性は材料組成（１１６）、厚み（１１８）、及び幾何形状（１１９）のうちの少なくとも１つを含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
複数の試料（１１２）中の各試料が前記複数の試料（１１２）中の任意の数の他の試料とは異なる空隙率を有するように、且つ前記複数の試料（１１２）中の前記各試料が選択された部品タイプ（１０４）と同じ一連の選択された特性を有するように形成される前記複数の試料（１１２）と、
コンピュータ断層撮影システム（１３２）を使用して生成される前記各試料の３次元画像（１３６）から抽出される容積データ（１４８）を使用して前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対して空隙率レベルを特定するように構成されたデータ解析器と
を備える装置であって、
選択された空隙率レベル群（１５６）に対する規格群（１０２）は、前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対して特定される前記空隙率レベルに基づいて前記複数の試料（１１２）から確定され、
前記規格群（１０２）は前記選択された部品タイプ（１０４）の部品（１０８）の非破壊検査（１０６）を実施する際に使用するように構成され、
前記データ解析器は、選択された許容誤差範囲内で前記選択された空隙率レベル群中の選択された空隙率レベルに一致する前記空隙率レベルを有する前記複数の試料中の試料を特定してレポートを生成するように構成される、装置。
【請求項１１】
前記コンピュータ断層撮影システム（１３２）をさらに備え、前記コンピュータ断層撮影システム（１３２）は、前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対して、複数の２次元画像（１３８）を含む前記３次元画像（１３６）を生成するように構成されている、請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
前記データ解析器は、
前記コンピュータ断層撮影システム（１３２）によって生成される前記各試料の前記３次元画像（１３６）から前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対する前記容積データ（１４８）を抽出することによって、前記複数の試料（１１２）中の前記各試料の前記空隙率レベルを特定し、
前記各試料内部の何もない空間に対して第１の容積（１５０）を特定し、
前記各試料の第２の容積（１５２）を特定し、
且つ前記各試料内部の何もない空間に対する前記第１の容積（１５０）及び前記各試料の前記第２の容積（１５２）を使用して、前記複数の試料（１１２）中の前記各試料に対する前記空隙率レベルを特定するように構成されている、請求項１０に記載の装置。
【請求項１３】
前記規格群（１０２）における各規格を、前記選択された空隙率レベル群中の当該各規格に対応する選択された空隙率レベルで標識するように構成される標識システムをさらに備える、請求項１０に記載の装置。
【請求項１４】
任意の数の硬化デバイスをさらに含み、
前記複数の試料（１１２）中の前記各試料は、前記任意の数の硬化デバイス中の少なくとも１つの硬化デバイス及び複数の硬化技術（１２２）から選択される硬化技術（１２４）を使用して硬化され、
前記複数の硬化技術（１２２）中の各硬化技術（１２４）は、異なる硬化サイクル長、異なる硬化温度、異なる硬化圧力、異なる硬化真空引き、及び異なる硬化デバイスのうちの少なくとも１つを含む、請求項１０に記載の装置。
【請求項１５】
前記同じ一連の選択された特性は、材料組成（１１６）、厚み（１１８）、及び幾何形状（１１９）のうちの少なくとも１つを含み、前記複数の試料（１１２）中の前記各試料は前記選択された部品タイプ（１０４）の前記部品と同じ複合材料（１１３）からなる、請求項１０に記載の装置。