【手続補正書】
【提出日】平成27年12月9日(2015.12.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の波長帯域の光を照射した被検体からの戻り光に基づいて、前記被検体の眼底画像を取得する平面画像取得手段と、
前記第１の波長帯域よりも長い第２の波長帯域を掃引させながら測定光を射出する光源と、
前記光源から射出された前記測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光に基づいて、該被検体の断層画像を取得する断層画像取得手段と、を有し、
前記断層画像取得手段の光学系と前記平面画像取得手段の光学系との少なくとも一つは、前記第１の波長帯域と前記第２の波長帯域との差によって生じる光路長差を低減するように構成されることを特徴とする光干渉断層撮影装置。
【請求項２】
前記第２の波長帯域の光を合焦手段を介して前記被検体に照射する場合に、前記第１の波長帯域と前記第２の波長帯域との差によって生じる光路長差に対応した移動量に基づいて前記合焦手段を光路に沿って移動する移動手段を更に有し、
前記断層画像取得手段が、前記移動手段により移動した前記合焦手段の位置で、前記第２の波長帯域の光を掃引しながら照明した前記被検体からの戻り光と前記参照光とを合波して得た合波光に基づいて、該被検体の断層画像を取得することを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項３】
前記被検体が被検眼であり、
前記被検眼の眼底を自発蛍光撮影した後に、連続して自動的に前記断層画像取得手段により前記断層画像を取得することを特徴とする請求項１または２に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項４】
前記平面画像を取得するためのセンサが設けられた光路と前記断層画像を取得するためのセンサが設けられた光路とを分岐するためのダイクロイックミラーを更に有し、
前記断層画像を取得するためのセンサが設けられた光路は、前記ダイクロイックミラーの反射光路であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項５】
前記第１の波長帯域の最長波長である第１の波長が、前記第２の波長帯域の最短波長である第２の波長よりも短いことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項６】
前記平面画像取得手段は、前記平面画像を第１の平面画像として取得し、前記断層画像取得手段が前記断層画像を取得した後に、前記第２の波長帯域よりも短い第３の波長帯域の光を照射した前記被検体からの戻り光に基づいて前記被検体の第２の平面画像を取得することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項７】
前記断層画像取得手段が前記断層画像を取得する前に前記光路長差を補正し、前記平面画像取得手段が前記第２の平面画像を取得する前に前記第２の波長帯域と前記第３の波長帯域との差によって生じる光路長差を補正する補正手段を更に有することを特徴とする請求項６に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項８】
前記第１の波長帯域の光は、赤外光であり、
前記第３の波長帯域の光は、可視光であり、
前記平面画像取得手段は、前記赤外光と前記可視光との両方の波長帯域に感度を有する共通の撮像素子を用いて、前記赤外光を照射した前記被検体からの戻り光に基づいて前記第１の平面画像を取得し、前記可視光を照射した前記被検体からの戻り光に基づいて前記第２の平面画像を取得することを特徴とする請求項６または７に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項９】
赤外光と可視光との両方の波長帯域に感度を有する共通の撮像素子を用いて、赤外光を照射した被検体からの戻り光に基づいて前記被検体の第１の平面画像を取得し、可視光を照射した前記被検体からの戻り光に基づいて前記被検体の第２の平面画像を取得する平面画像取得手段と、
前記赤外光の波長帯域よりも長い波長帯域を掃引させながら測定光を射出する光源と、
前記光源から射出された前記測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光に基づいて、前記被検体の断層画像を取得する断層画像取得手段と、を有し、
前記平面画像取得手段は、前記断層画像取得手段が前記断層画像を取得する前に前記第１の平面画像を取得し、
前記平面画像取得手段は、前記断層画像取得手段が前記断層画像を取得した後に前記第２の平面画像を取得し、
前記平面画像取得手段の光学系は、前記赤外光の波長帯域と前記可視光の波長帯域との差によって生じる光路長差を低減するように構成されることを特徴とする光干渉断層撮影装置。
【請求項１０】
前記断層画像取得手段は、前記測定光と前記参照光との光路長差が調整された後に、前記断層画像を取得することを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項１１】
前記被検体は、被検眼であることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項１２】
第１の波長帯域の光を照射した被検体からの戻り光に基づいて、前記被検体の平面画像を取得する工程と、
前記第１の波長帯域よりも長い第２の波長帯域を掃引させながら射出された測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光に基づいて、該被検体の断層画像を取得する工程と、を有し、
前記断層画像を取得するための光学系と前記平面画像を取得するための光学系との少なくとも一つは、前記第１の波長帯域と前記第２の波長帯域との差によって生じる光路長差を低減するように構成されることを特徴とする光干渉断層撮影方法。
【請求項１３】
前記第２の波長帯域の光を合焦手段を介して前記被検体に照射する場合に、前記第１の波長帯域と前記第２の波長帯域との差によって生じる光路長差に対応した移動量に基づいて合焦手段を光路に沿って移動する工程を更に有し、
前記移動した前記合焦手段の位置で、前記第２の波長帯域の光を掃引しながら照射した前記被検体からの戻り光と前記参照光とを合波して得た合波光に基づいて、該被検体の断層画像が取得されることを特徴とする請求項１２に記載の光干渉断層撮影方法。
【請求項１４】
前記被検体が被検眼であり、
前記被検眼の眼底を自発蛍光撮影した後に、連続して自動的に前記断層画像が取得されることを特徴とする請求項１２または１３に記載の光干渉断層撮影方法。
【請求項１５】
前記平面画像が第１の平面画像として取得され、
前記断層画像が取得された後に、前記第２の波長帯域よりも短い第３の波長帯域の光を照射した前記被検体からの戻り光に基づいて前記被検体の第２の平面画像を取得する工程を更に有することを特徴とする請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影方法。
【請求項１６】
前記断層画像が取得される前に前記光路長差が補正され、前記第２の平面画像が取得される前に前記第２の波長帯域と前記第３の波長帯域との差によって生じる光路長差を補正する工程を更に有することを特徴とする請求項１５に記載の光干渉断層撮影方法。
【請求項１７】
前記第１の波長帯域の光は、赤外光であり、
前記第３の波長帯域の光は、可視光であり、
前記赤外光と前記可視光との両方の波長帯域に感度を有する共通の撮像素子を用いて、前記赤外光を照射した前記被検体からの戻り光に基づいて前記第１の平面画像が取得され、前記可視光を照射した前記被検体からの戻り光に基づいて前記第２の平面画像とが取得されることを特徴とする請求項１５または１６に記載の光干渉断層撮影方法。
【請求項１８】
赤外光と可視光との両方の波長帯域に感度を有する共通の撮像素子を用いて、赤外光を照射した被検体からの戻り光に基づいて前記被検体の第１の平面画像を取得し、可視光を照射した前記被検体からの戻り光に基づいて前記被検体の第２の平面画像を取得する工程と、
前記赤外光の波長帯域よりも長い波長帯域を掃引させながら射出された測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光に基づいて、前記被検体の断層画像を取得する工程と、を有し、
前記断層画像が取得される前に前記第１の平面画像が取得され、
前記断層画像が取得された後に前記第２の平面画像が取得され、
前記平面画像を取得するための光学系は、前記赤外光の波長帯域と前記可視光の波長帯域との差によって生じる光路長差を低減するように構成されることを特徴とする光干渉断層撮影方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
本発明に係る光干渉断層撮影装置の一つは、
第１の波長帯域の光を照射した被検体からの戻り光に基づいて、前記被検体の眼底画像を取得する平面画像取得手段と、
前記第１の波長帯域よりも長い第２の波長帯域を掃引させながら測定光を射出する光源と、
前記光源から射出された前記測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波して得た合波光に基づいて、該被検体の断層画像を取得する断層画像取得手段と、を有し、
前記断層画像取得手段の光学系と前記平面画像取得手段の光学系との少なくとも一つは、前記第１の波長帯域と前記第２の波長帯域との差によって生じる光路長差を低減するように構成される。