【事件の表示】
　特願２０１２−５５５４８４「座標位置測定装置による測定エラーの修正」拒絶査定不服審判事件〔平成２３年９月９日国際公開、ＷＯ２０１１／１０７７４６、平成２５年６月１０日国内公表、特表２０１３−５２１４８９、請求項の数（１０）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２３年３月４日（パリ条約による優先権主張２０１０年（平成２２年）３月４日（以下、「優先日」という。）、英国）を国際出願日とする出願であって、平成２６年８月１９日付けの拒絶理由の通知に対し平成２７年１月２３日に意見書及び手続補正書が提出されたが、同年６月１２日付けで拒絶査定（同年同月１６日謄本送達）（以下、「原査定」という。）がなされ、これに対して、同年１０月１６日に拒絶査定不服審判が請求され同時に手続補正書（同手続補正書でした補正を、以下、「本件補正１」という。）が提出され、その後、当審において平成２８年６月３０日付けで拒絶理由（以下、「当審拒絶理由」という。）を通知したところ、同年１２月２７日に意見書及び手続補正書（同手続補正書でした補正を、以下、「本件補正２」という。）が提出されたものである。
第２　本願発明について
１　本願発明
　本願の請求項１ないし１０に係る発明（以下、それぞれを「本願発明１」等という。）は、本件補正２により補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１０に記載された事項により特定された、次のとおりのものである。
「　【請求項１】
　座標位置測定装置のためのエラー修正方法であって、
　（ｉ）各々が第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第一の基準座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の高い第一のデータ値を含む第一のデータセットを取得するステップと、
　（ｉｉ）前記第一の基準座標位置測定装置によって前記第一の物体の前記表面上で測定された点を使用して、第一のデータ値の各々によって表される各位置における前記第一の物体の面法線を計算するステップと、
　（ｉｉｉ）各々が前記第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第二の座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の低い第二のデータ値を含む第二のデータセットを取得するステップと、
　（ｉｖ）各々が前記第一のデータセットにより表される表面と前記第二のデータセットにより表される表面の間の位置差を表す１つまたは複数のエラー値を含むエラーマップを計算するステップと、を含み、
　ステップ（ｉｖ）が、前記面法線の方向の位置差を判断することによって、各エラー値を計算するステップを含み、
　前記方法が、前記第二の座標位置測定装置を用いて、前記第一の物体または、前記第一の物体と名目上同一の物体について加工または測定作業を実行するステップ（ｖ）をさらに含み、測定精度の低い前記表面上の位置が、ステップ（ｉｖ）で計算された前記エラーマップを使って修正されることを特徴とする方法。
　　【請求項２】
　ステップ（ｖ）が、前記第一の物体と名目上同一の別の物体を得るステップと、前記第二の座標位置測定装置を使って、前記別の物体を測定するステップと、前記エラーマップを用いて、前記別の物体の前記測定値を修正するステップと、を含むことを特徴とする、請求項１に記載の方法。
　　【請求項３】
　ステップ（ｖ）は、加工作業を実行して、前記第一の物体または前記第一の物体と名目上同一の物体の表面形状を改変するステップと、前記エラーマップを用いて、前記加工作業により生成される前記表面形状を調整するステップと、を含むことを特徴とする、請求項１に記載の方法。
　　【請求項４】
　前記加工作業が、前記第一の物体または前記第一の物体と名目上同一の物体に材料を追加するステップ、またはそこから材料を除去するステップを含むことを特徴とする、請求項３に記載の方法。
　　【請求項５】
　前記１つまたは複数の第一のデータ値および／または前記１つまたは複数の第二のデータ値を、第二のデータ値の各々が確実に第一のデータ値の前記面法線上にあるようにするための補間工程を用いて生成するステップを含み、ステップ（ｉｖ）で計算したエラー値の各々が、第一のデータ値と、それに関連する、前記面法線に沿った第二のデータ値の間の位置差を含むことを特徴とする、請求項１〜４のいずれか一項に記載の方法。
　　【請求項６】
　前記第二の座標位置測定装置は、測定プローブを備えることを特徴とする、請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法。
　　【請求項７】
　前記第一の基準座標位置測定装置が、校正された座標測定機を含むことを特徴とする、請求項１〜６のいずれか一項に記載の方法。
　　【請求項８】
　前記第二の座標位置測定装置がパラレル座標位置測定装置であることを特徴とする、請求項１〜７のいずれか一項に記載の方法。
　　【請求項９】
　ステップ（ｉｉｉ）が補間工程を用いて、前記第二の座標位置測定装置により測定された前記第一の物体の前記表面上の複数の点の位置から前記１つまたは複数の第二のデータ値を計算するステップを含み、ステップ（ｉｉｉ）で計算された第二のデータ値の各々が、第一のデータ値の前記面法線上に存在するように構成されることを特徴とする、請求項８に記載の方法。
　　【請求項１０】
　各々が前記第一の物体の前記表面上のある点を表す１つまたは複数の第三のデータ値を含む第三のデータセットを取得するステップと、
　各々が第二のデータ値と第三のデータ値の位置差を表す１つまたは複数のエラー値を含む第二のエラーマップを計算するステップと、を含み、前記位置差が、実質的に、前記第一のデータ値に関連する前記面法線の方向に判断される
　ことを特徴とする、請求項１〜９のいずれか一項に記載の方法。」
２　原査定の拒絶理由及び当審拒絶理由
（１）原査定の理由の概要
　原査定の拒絶理由は、概略、以下のとおりである。
ア　本願は、特許請求の範囲の記載が次の「不備１」の点で、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない（理由１）。
（不備１）
　請求項１には「座標位置測定装置のためのエラー修正方法であって」と記載されているが、請求項１−１１にはエラー修正が必要な座標位置測定装置を用いた測定を行うステップが記載されていないから、請求項１−１１に記載の構成によりなぜ座標位置測定装置のエラー値が計算されるのかが不明であり、請求項１−１１を引用する請求項１４、１５についても同様である。
イ　本願は、発明の詳細な説明の記載が次の「不備２」の点で、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない（理由２）。
（不備２）
　請求項６には「第一のデータ値を含み、前記既知の面法線に垂直な平面を定義するステップと、前記第一のデータ値の前記既知の面法線に沿った前記第二のデータ値の少なくともいくつかを推定して、前記第二のデータ値の推定が前記定義された平面と交差する位置を判断するステップと、前記第二のデータ値の推定のうちのどれが、前記定義された平面と、前記選択された第一のデータ値に最も近い交差点で交差するかを確定するステップと、前記最も近い交差点と、その推定のもとになった、関連する前記第二のデータ値の位置差から前記エラー値を計算するステップ」と記載されているが、どのようにすれば、複数の「前記第二のデータ値の推定が前記定義された平面と交差する位置」が得られるのかが不明であり、どのようにしてエラー値を計算できるのかが不明であるから、この出願の発明の詳細な説明は、当業者が請求項６−１５に係る発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載されたものでない。
ウ　本願の請求項１、２、７ないし９及び１２に係る発明は、優先日前に頒布された刊行物である特表２００７−５１５６３８号公報（以下、「引用文献１」という。）に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができない（理由４）。
エ　本願の請求項３ないし５、１１及び１３ないし１５に係る発明は、引用文献１に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない（理由５）。
（２）当審拒絶理由の概要
　当審拒絶理由は、概略、以下のとおりである。
ア　本願の請求項１ないし７及び９ないし１３に係る発明は、優先日前に頒布された刊行物である、次の引用例１に記載された発明、及び、次の周知例２ないし５に記載された周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない（理由１）
　引用例１：特表２００６−５０９１９４号公報
　　　　　（以下、「引用文献２」という。）
　周知例２：特表２００２−５４１４６９号公報
　　　　　（以下、「引用文献３」という。）
　周知例３：米国特許出願公開第２００４／０１８９９４４号明細書
　　　　　（以下、「引用文献４」という。）
　周知例４：特表２００８−５１１４５４号公報
　　　　　（以下、「引用文献５」という。）
　周知例５：特開平７−２１２３８号公報
　　　　　（以下、「引用文献６」という。）
イ　本願は、特許請求の範囲の記載が次の「不備３」の点で、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない（理由２）。
（不備３）
　請求項８には、「前記第一の基準座標位置測定装置によって前記第一の物体の前記表面上で測定された点を使用して、第一のデータ値の各々によって表される各位置における前記第一の物体の前記面法線を計算するステップを含む」と記載されているが、一方で、請求項８が間接的に引用する請求項１には、「前記第一の物体の面法線が第一のデータ値の各々により表される各位置において既知であり」と記載されており、両記載は、文言上整合していないから、請求項８及びこれを引用する請求項１１ないし１３に係る発明は、明確でない。
３　引用文献の記載事項
（１）引用文献１
ア　引用文献１には、図面とともに、次の記載がある（下線は当審で付与した。以下同じ。）。
（ア）「【技術分野】
【０００１】
　本発明は、
スキャンシステムの較正方法
対象物の
表面輪郭に関する情報を得る目的で、対象物のスキャンに使用可能である機械およびプローブの組み合わせを意味する
【背景技術】
【０００２】
　
機械とは、
座標測定機械（ＣＭＭ）
であってよく、プローブとは、ワークピース接触スタイラスを有する測定プローブである。
（イ）「【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
　以下、添付の図面を参照して本発明の好適な実施形態を説明する。
【００２４】
　本発明の
第１ステップでは、
測定すべき対象物
がＣＭＭの機械テーブル
に取り付けられ、対象物の周りのパスで、プローブ
は機械の軸
により低速駆動される。
異なるプローブたわみをもって行われた３回の異なるスキャンの結果、対象物
の各ポイントは３つの異なる測定値
を持つことになる。対象物の各ポイントに関して外挿を行い、
プローブたわみがゼロの場合での測定値を、プローブ力の誤差に起因した実際の測定値の誤差を持たないものとして決定する
（ウ）「【００４９】
　本発明の
第２ステップでは、
対象物は高速でスキャンされる。
高速スキャンで得られた測定データは、
第１ステップにおいて説明したように作成された、対象物の実寸法に関連する測定力誤差補正済み低速スキャン
と比較される。動的誤差の
マップは、高速スキャンと測定力誤差補正済み低速スキャンとを比較することによって作成することができる。この動的誤差マップは、続いて高速で実施されるスキャンを補正するのに用いられる。
【００５０】
　続くスキャンは、最初の高速スキャンと同じスタイラスたわみまたはプローブ力をもって行われる必要はない。動的誤差関数が誤差をたわみまたは力に関連付けるからである。しかしながら、続くスキャンについても同程度の高速をもって行うことは望ましいことである。
【００５１】
　図１２は、対象物の実直径と高速スキャン４０を通じて得られた測定値とを示している。これは、上述したような測定力誤差補正低速スキャンによって生成されたものである。」
イ　したがって、上記ア（ア）ないし（ウ）の記載並びに図面の図１ないし図３及び図１２から、引用文献１には、次の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されていると認められる（括弧内は、関連する記載箇所を示す。以下同じ。）。
「対象物の表面輪郭に関する情報を得る目的で、対象物のスキャンに使用可能である、座標測定機械（ＣＭＭ）およびワークピース接触スタイラスを有する測定プローブの組み合わせである、スキャンシステムの較正方法であって、（【０００１】、【０００２】）
　第１ステップでは、測定すべき対象物がＣＭＭの機械テーブルに取り付けられ、対象物の周りのパスで、プローブは機械の軸により低速駆動され、異なるプローブたわみをもって行われた３回の異なるスキャンの結果、対象物の各ポイントは３つの異なる測定値を持ち、対象物の各ポイントに関して外挿を行い、プローブたわみがゼロの場合での測定値を、プローブ力の誤差に起因した実際の測定値の誤差を持たないものとして決定し、（【００２４】）
　第２ステップでは、対象物は高速でスキャンされ、高速スキャンで得られた測定データは、第１ステップにおいて説明したように作成された、対象物の実寸法に関連する測定力誤差補正済み低速スキャンと比較され、動的誤差のマップは、高速スキャンと測定力誤差補正済み低速スキャンとを比較することによって作成することができ、この動的誤差マップは、続いて高速で実施されるスキャンを補正するのに用いられる、（【００４９】）
　方法。」
（２）引用文献２
ア　引用文献２には、図面とともに、次の記載がある。
（ア）「【技術分野】
【０００１】
　本発明は、
三次元座標測定装置を用いて加工物の寸法を検査する方法
（イ）「【００２３】
　次のアーチファクトは、加工物からなるものとすることができる。
最初のアーチファクトは、次のアーチファクトと実質的に同一の加工物からなるものとすることができる。
（ウ）「【００２９】
　
アーチファクトは、１回目は、例えば較正研究所のＣＭＭといった高精度基準機の接触式プローブを用いて測定することができる。次いで、このアーチファクトは、２回目は、繰り返しに適したインライン（例えば、生産現場）の三次元座標測定装置の非接触式プローブを用いて測定することができる。
（エ）「【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
　図１に示される三次元座標測定機は、加工物１６を配置することができる工作テーブル１２を備える。好ましくは、この配置は、少なくとも名目上は同じ位置および方向で流れる生産品から、名目上は実質的に同一である一連の加工物の各々をテーブル上に配置する自動的手段（図示せず）によって行われる。可撓性スタイラス１８および加工物に接触する先端部２０を有するアナログ・プローブ１４が、機械の中空軸１０に取り付けられるが、（タッチトリガー・プローブを含む）他の種類の接触式プローブを用いることもできる。中空軸１０およびプローブ１４は、コンピュータで制御されるＸ、Ｙ、およびＺ駆動部の動作によって、Ｘ、Ｙ、およびＺ方向に移動することができる。Ｘ、Ｙ、およびＺの（目盛の出力についての計数値を含む）目盛は、プローブが取り付けられる中空軸の位置の瞬間的な座標を３次元で示す。プローブのスタイラスの撓みを示すプローブからの信号をＣＭＭのＸ、Ｙ、およびＺ目盛の読み取り値と組み合わせて、スタイラス先端部の位置、すなわち
加工物の表面の位置を計算する。
（オ）「【００３６】
　図２は、三次元座標測定機の中空軸１０に取り付けられた非接触式プローブ２２を示すものであり、この非接触式プローブ２２は、例えば、光学プローブ、キャパシタンス・プローブ、またはインダクタンス・プローブからなるものとすることができる。中空軸１０が加工物１６周囲の経路でプローブ２２を移動させるのにつれて、該プローブは、自分自身と該加工物の表面との間の距離を検出する。プローブからの信号をＣＭＭのＸ、Ｙ、およびＺ目盛の読み取り値と組み合わせて、
加工物の表面の位置を計算する。
【００３７】
　図５を参照すると、本検査方法においては以下の手順を用いる。較正アーチファクトまたは
加工物などのアーチファクトを、
ＣＭＭ
上に配置し
、
接触式プローブを用いて走査または測定する
【００３８】
　接触式プローブを、例えばインダクタンス・プローブといった非接触式プローブに交換する。
次に、
非接触式プローブを用いて、加工物を走査または測定する
【００３９】
　
接触走査による結果と非接触走査による結果との間の差から、誤差マップ
を生成する
【００４０】
　ここで、
次のアーチファクトをＣＭＭ上に配置し、非接触式プローブを用いて走査または測定する
【００４１】
　このように、非接触誤差マップと共に取得された
次のアーチファクトに対応する測定データは、この誤差マップ
を用いて補正されることができる
この方法により、未較正の非接触式プローブを使用して測定誤差を補正することが可能になる。
【００４２】
　異なる表面および隅部といった加工物の特定の特徴は、特にインダクタンス・プローブおよびキャパシタンス・プローブを用いる非接触走査による測定に影響を与える場合がある。
本方法の利点は、接触走査による測定データはこれらの形状による影響を受けないので、非接触走査の際に生じる場合があるこれらの影響に起因する誤差が、誤差マップまたは関数によって補正されることである。
イ　したがって、上記ア（ア）ないし（オ）の記載並びに図面の図１、図２及び図５から、引用文献２には、次の発明（以下、「引用発明２」という。）が記載されていると認められる。
「三次元座標測定装置を用いて加工物の寸法を検査する方法であって、（【０００１】）
　加工物などのアーチファクトをＣＭＭ上に配置し、接触式プローブを用いて走査または測定して加工物の表面の位置を計算し、（【００３３】、【００３７】）
　次に、非接触式プローブを用いて加工物を走査または測定して加工物の表面の位置を計算し、（【００３６】、【００３８】）
　接触走査による結果と非接触走査による結果との間の差から、誤差マップを生成し、（【００３９】）
　最初のアーチファクトと実質的に同一の加工物からなる次のアーチファクトをＣＭＭ上に配置し、非接触式プローブを用いて走査または測定して加工物の表面の位置を計算し、次のアーチファクトに対応する測定データがこの誤差マップを用いて補正される、（【００２３】、【００３６】、【００４０】、【００４１】）
　方法。」
（３）引用文献３
ア　引用文献３には、図面とともに、次の記載がある。
（ア）「【０００１】
  本発明は、
走査システムを校正する方法に関する。
走査システムは、
表面の輪郭について情報を得るために、一緒に製品を走査するのに使用できる機械とプローブとの組合せを意味する
機械は、座標測定機械（ＣＭＭ）
であってもよい。
      【０００２】
  大まかに言えば、本発明は、走査システムを動的に校正する方法に関する。それで、
異なる走査速度で（及びそれ故に異なる加速度で）製品を走査する時に生じたシステムの誤差は、
マップ化されてもよい。
（イ）「【００２５】
　一度最大走査速度がこの方法により確立されると、（ｎ）点における
表面に垂直な方向の誤差マップ
が、
蓄積され得る。
イ　したがって、上記ア（ア）及び（イ）の記載から、引用文献３には、次の技術が記載されていると認められる。
「製品を走査して表面の輪郭の情報を得るために使用する、座標測定機械（ＣＭＭ）とプローブとの組合せからなる走査システムを校正する方法において、異なる走査速度で（及びそれ故に異なる加速度で）製品を走査する時に生じたシステムの誤差をマップ化し、表面に垂直な方向の誤差マップとして蓄積する」技術。
（４）引用文献４
ア　引用文献４には、図面とともに、次の記載がある（括弧書きは当審訳である。）。
（ア）「[0006] Usually trackers or other surface scan measurement systems utilize integrated software capable of comparing measurement data with CAD model data, computing deviations between the actual surface shape and its model, and presenting results in graphic form on a computer screen or a plotter.（通常、トラッカ又は他の表面走査測定システムは、
測定データをＣＡＤモデルデータと比較し、実表面の形状とそのモデルとの間の偏差を計算し、
（イ）「[0017] The actual surface is measured at some arbitrary points (dense enough to represent that surface), for example, by a tracker, resulting a point cloud [X(k), Y(k), Zactual(k)].（実表面は、例えばトラッカによって、いくつかの任意の点で（その表面を表すのに十分緻密に）測定され、点群[X(k), Y(k), Zactual(k)]を発生させる。）Here“k”denotes points on the measured surface.（ここで、“k”は、測定面上の点を示す。）
[0018] The measured point cloud data taken at arbitrary points on the surface are converted, using interpolation, to generate a data set of“knot points”that represents the actual surface by points that computed for the nodes of the mesh grid.（面上の任意の点で
取得された測定点群データは、補間を用い、変換されて、
実表面を表す
結節点
のデータセットを生成する。
[0019] Based on the CAD model data for the nominal surface, the method of the present invention then computes a deviation D(i) for each knot of the actual (measured) surface in a direction normal to the actual surface at that knot point.（
公称表面のためのＣＡＤモデルデータに基づき、
実表面（測定された表面）の各結節点における偏差
を、その結節点での実表面の法線方向に演算する。
（ウ）「[0055] While the deviation D has been described as measured from a knot in the actual surface 10 along a line normal to that surface, it is possible to measure the deviation from a knot 60 on the nominal surface 28, along a line normal to the surface at that knot.（偏差Ｄは、実表面１０の結節点からその表面の法線に沿って測られると説明してきたが、
偏差を、公称表面
上の結節点
から、その結節点でのその表面の法線に沿って測ることも可能である。
イ　したがって、上記ア（ア）ないし（ウ）の記載から、引用文献４には、次の技術が記載されていると認められる。
「測定データをＣＡＤモデルデータと比較し、実表面の形状とそのモデルとの間の偏差を計算するにあたり、取得された測定点群データから補間を用い変換され生成された、実表面を表す結節点のデータセットと、公称表面のためのＣＡＤモデルデータとに基づき、実表面（測定された表面）の各結節点における偏差を、その結節点での実表面の法線方向に演算するか、又は、偏差を、公称表面上の結節点からその結節点での公称表面の法線に沿って演算する」技術。
（５）引用文献５
ア　引用文献５には、図面とともに、次の記載がある。
（ア）「【００４０】
　ＣＡＤモデルのワークピースに対応するワークピースが工作機械のテーブル上に置かれ、工作機械指令コードは、工作機械のスピンドルに取り付けられている測定プローブを制御し、
ＣＡＤモデルの公称データ点の位置に対応する測定点を取得する
測定プローブにより取得される
実際の点及び公称点は、比較され、許容誤差マップを作る
【００４１】
　実際の点は、公称点とともに直接的にまたは間接的に使用され得る。実際の点は、例えば、接触トリガー・プローブ（a touch trigger probe）のような測定プローブからデータを取得することにより直接的に使用され得る。実際の点は、例えば、実際の点のデータを（例えば、システム・ノイズを減少させるために）フィルタにかけ、公称点に最も近い実際の点を識別することにより、あるいは、２つの実際の点の間で補間し、公称点に最も近い点を作り出すことにより、実際の点のデータが修正されるステップを含むことにより間接的に使用され得る。」
（イ）「【００５８】
　図３は、プローブ４２により測定されるワークピース４０を示している。プローブ４２は、ワークピース４０の表面と接触状態にある針先端（a stylus tip）４６を持つ可撓性の針（a deflectable stylus）４４を有する。ＣＡＤ図面のような設計データから導き出された公称データ点Ｐｎが示されている。公称データ点Ｐｎに対応する測定される点である実際のデータ点Ｐａが示されている。
実際のデータ点
と公称データ点
との間の距離はｄ１である。
【００５９】
　しかしながら、
公称データ点
と表面法線
の方向に平行な表面との間の距離は、
ｄ２である。ｄ１またはｄ２のどちらか一方がこの方法で使用され得る。
【００６０】
　図４は、それぞれ、平面上に及び縁部に位置している公称データ点Ｐ１及びＰ２を持つワークピース５０を示している。各点に対する公称データは、これらの異なる特徴を認識する情報を含み得る。
【００６１】
　ワークピースが測定されると、実際の部品データが公称部品データとともに保管される。これら２組のデータは、既に述べたように、適合される。これらのデータ組は、また、ワークピースが許容誤差の範囲内にあるかどうかを判断し、次の切削ルーチン（cutting routines）を調整するのに使用され得る。」
イ　したがって、上記ア（ア）及び（イ）の記載から、引用文献５には、次の技術が記載されていると認められる。
「測定プローブにより取得される実際の点及びＣＡＤモデルの公称データ点が比較されて許容誤差マップが作られる際に、実際のデータ点と公称データ点との間の距離ｄ１、または、公称データ点と表面法線の方向に平行な表面との間の距離ｄ２のどちらか一方が使用される」技術。
（６）引用文献６
ア　引用文献６には、図面とともに、次の記載がある。
（ア）「【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、三次元形状加工物の評価装置、特に
ＣＡＤデータと実際に測定して得た測定データの比較により三次元形状加工物を評価するものに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、表面が曲面上に形成された被測定物の表面形状を測定する三次元測定機が知られている。これら三次元測定機では、プローブを被測定物の表面に当接して、複数の測定点の三次元座標を求める。
【０００３】そして、この三次元測定機による形状測定は、設計寸法との比較により、加工物の形状を評価するために用いられる。このため、形状測定は、ＣＡＤデータや図面データを基準に行われる。また、測定結果から被測定物の研削量等を求める場合には、ＣＡＤデータにより決定される基準面と被測定物の面との距離（面直方向の距離）が必要となる。」
（イ）「【００１３】次に、外部記憶装置２の測定データ格納領域２ｂから測定データを１つだけ取り込む（２−２）。そして、測定データが終了したか否かを判定するために、測定データがあるか否かを判定する（２−３）。測定データがなければ処理が終っているため、終了のための処理を行う。一方、測定データがある場合には、
形状データベースに含まれる三次元自由曲面形状
【００１４】そして、選択された
測定データと、
三次元自由曲面形状
に対する垂線と、三次元自由曲面形状との交点を計算する
。
測定データから三次元自由曲面に下した垂線と三次元自由曲面との交点
【００１５】交点が求まったか否かを判定し（２−８）、交点が求まった場合には、これを近傍点として専用のメモリに登録する。（２−９）。そして、近傍点の登録を終った場合及び（２−８）において近傍点が求まらなかった場合には（２−５）に戻り、全ての近傍面についての交点演算が終了するまでこの処理を繰り返す。そして、近傍面がなくなった場合には、求まった近傍点の中から最近傍点を抽出する（２−１０）。そして、
交点と測定データとの距離を計算する
。
イ　したがって、上記ア（ア）及び（イ）の記載から、引用文献６には、次の技術が記載されていると認められる。
「ＣＡＤデータと実際に測定して得た測定データの比較により三次元形状加工物を評価するにあたり、測定データから、形状データベースに含まれる三次元自由曲面に下した垂線と、三次元自由曲面との交点を計算し、交点と測定データとの距離を計算する」技術。
４　当審の判断
（１）原査定の理由についての判断
ア　理由１について
　本件補正１及び本件補正２によって、「（ｉ）」及び「（ｉｉ）」の各「ステップ」に「第一の基準座標位置測定装置」が用いられる点、並びに、「（ｉｉｉ）」及び「（ｖ）」の各「ステップ」に「第二の座標位置測定装置」が用いられる点が、それぞれ明確に特定されたので、原査定の拒絶理由の理由１の不備１は解消している。
　したがって、本件補正２による補正後の請求項１ないし１０に係る発明は、いずれも明確なものとなった。
イ　理由２について
　本件補正１によって、本件補正１による補正前の請求項６が削除されるとともに、同請求項６を直接又は間接的に引用する各請求項において、同請求項６を引用する部分が削除されたので、原査定の拒絶理由の理由２の不備２は解消している。
　したがって、本願の発明の詳細な説明は、本件補正２による補正後の請求項１ないし１０に係る発明を当業者が実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものとなった。
ウ　理由４及び５について
（ア）本願発明１について
ａ　対比
　本願発明１と引用発明１とを対比する。
（ａ）引用発明１において、「高速スキャンと測定力誤差補正済み低速スキャンとを比較することによって作成」された「動的誤差マップ」が、「続いて高速で実施されるスキャンを補正するのに用いられる」ことから、「対象物の実寸法に関連する測定力誤差補正済み低速スキャン」による測定の方が、「高速スキャン」による測定よりも精度が高いことは、明らかである。したがって、引用発明１において「座標測定機械（ＣＭＭ）およびワークピース接触スタイラスを有する測定プローブの組み合わせである、スキャンシステム」により「対象物の実寸法に関連する測定力誤差補正済み低速スキャン」を行うことは、機能的にみて、本願発明１において「第一の基準座標位置測定装置を使って」「測定値」を「取得」することに相当し、また、引用発明１において「座標測定機械（ＣＭＭ）およびワークピース接触スタイラスを有する測定プローブの組み合わせである、スキャンシステム」により「高速スキャン」を行うことは、機能的にみて、本願発明１において「第二の座標位置測定装置を使って」「測定値」を「取得」することに相当するといえる。
　そして、引用発明１の「対象物」は、本願発明１の「第一の物体」に相当し、更に、引用発明１において、「対象物の表面輪郭に関する情報を得る目的で、対象物のスキャン」を行って、「低速駆動」での「スキャンの結果」得られた「測定値」は、「対象物」の表面上にある位置を表すものといえる。
　よって、引用発明１における「第１ステップ」、すなわち「測定すべき対象物がＣＭＭの機械テーブルに取り付けられ、対象物の周りのパスで、プローブは機械の軸により低速駆動され、異なるプローブたわみをもって行われた３回の異なるスキャンの結果、対象物の各ポイントは３つの異なる測定値を持ち、対象物の各ポイントに関して外挿を行い、プローブたわみがゼロの場合での測定値を、プローブ力の誤差に起因した実際の測定値の誤差を持たないものとして決定」する、「対象物の実寸法に関連する測定力誤差補正済み低速スキャン」のステップは、本願発明１における、「（ｉ）各々が第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第一の基準座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の高い第一のデータ値を含む第一のデータセットを取得するステップ」に相当するといえる。
（ｂ）上記（ａ）で述べた点を踏まえると、引用発明１において、「対象物の表面輪郭に関する情報を得る目的で」「対象物は高速でスキャンされ」、その「高速スキャン」の結果、「測定データ」が「得られ」ることは、本願発明１における、「（ｉｉｉ）各々が前記第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第二の座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の低い第二のデータ値を含む第二のデータセットを取得するステップ」に相当するといえる。
（ｃ）引用発明１において、「動的誤差のマップ」は、「高速スキャンと測定力誤差補正済み低速スキャンとを比較することによって作成」されるものであるところ、「高速スキャン」及び「測定力誤差補正済み低速スキャン」は、いずれも「対象物の表面輪郭に関する情報を得る目的で、対象物のスキャン」を行ったものであるから、「マップ」化される「動的誤差」は、「高速スキャン」及び「測定力誤差補正済み低速スキャン」の両測定における表面の間の位置差を表すものといえる。したがって、引用発明１において、「動的誤差のマップ」を「高速スキャンと測定力誤差補正済み低速スキャンとを比較することによって作成する」ことは、本願発明１における、「（ｉｖ）各々が前記第一のデータセットにより表される表面と前記第二のデータセットにより表される表面の間の位置差を表す１つまたは複数のエラー値を含むエラーマップを計算するステップ」に相当するといえる。
（ｄ）上記（ａ）及び（ｃ）で述べた点を踏まえると、引用発明１において、「この動的誤差マップは、続いて高速で実施されるスキャンを補正するのに用いられる」ことと、本願発明１において、「前記第二の座標位置測定装置を用いて、前記第一の物体または、前記第一の物体と名目上同一の物体について加工または測定作業を実行するステップ（ｖ）をさらに含み、測定精度の低い前記表面上の位置が、ステップ（ｉｖ）で計算された前記エラーマップを使って修正されること」とは、「前記第二の座標位置測定装置を用いて、測定作業を実行するステップ（ｖ）をさらに含み、測定精度の低い前記表面上の位置が、ステップ（ｉｖ）で計算された前記エラーマップを使って修正されること」である点で共通する。
（ｅ）引用発明１の「対象物の表面輪郭に関する情報を得る目的で、対象物のスキャンに使用可能である、座標測定機械（ＣＭＭ）およびワークピース接触スタイラスを有する測定プローブの組み合わせである、スキャンシステムの較正方法」は、次の相違点は除いて、本願発明１の「座標位置測定装置のためのエラー修正方法」に相当するといえる。
ｂ　上記ａ（ａ）ないし（ｅ）から、本願発明１と引用発明１とは、
「座標位置測定装置のためのエラー修正方法であって、
　（ｉ）各々が第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第一の基準座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の高い第一のデータ値を含む第一のデータセットを取得するステップと、
　（ｉｉｉ）各々が前記第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第二の座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の低い第二のデータ値を含む第二のデータセットを取得するステップと、
　（ｉｖ）各々が前記第一のデータセットにより表される表面と前記第二のデータセットにより表される表面の間の位置差を表す１つまたは複数のエラー値を含むエラーマップを計算するステップと、を含み、
　前記方法が、前記第二の座標位置測定装置を用いて、測定作業を実行するステップ（ｖ）をさらに含み、測定精度の低い前記表面上の位置が、ステップ（ｉｖ）で計算された前記エラーマップを使って修正されることを特徴とする方法。」
である点で一致し、次の点で相違する。
（相違点１）
　本願発明１では、「（ｉｉ）前記第一の基準座標位置測定装置によって前記第一の物体の前記表面上で測定された点を使用して、第一のデータ値の各々によって表される各位置における前記第一の物体の面法線を計算するステップ」「を含」むのに対し、引用発明１では、そのようなステップについて特定がない点。
（相違点２）
　本願発明１では、「ステップ（ｉｖ）が、前記面法線の方向の位置差を判断することによって、各エラー値を計算するステップを含」むのに対し、引用発明１では、「マップ」化される「動的誤差」が、「高速スキャンと測定力誤差補正済み低速スキャンとを比較することによって」どのようにして計算されるかについて特定がない点。
（相違点３）
　本願発明１では、「前記第二の座標位置測定装置を用いて、前記第一の物体または、前記第一の物体と名目上同一の物体について加工または測定作業を実行するステップ（ｖ）をさらに含」むのに対し、引用発明１では、「続いて高速で実施されるスキャン」が、何に対して実行されるかについて特定がなく、「対象物」または「対象物」と名目上同一の物体に対して実行されるか否かが不明である点。
ｃ　相違点の判断
　上記相違点１及び２については、技術的なつながりを考慮し、まとめて検討する。
　一般に、ＣＭＭとプローブとの組合せからなる走査システムにおいて、異なる走査で生じた誤差についてマップ化する際に、生成する誤差マップを、製品の表面に垂直な方向の誤差マップとすることは、例えば引用文献３（上記３（３）イ）に示されているように周知の技術であり、また、測定した表面形状の誤差を算出する際に、法線の方向を、既知のＣＡＤデータの表面から求めることも、例えば引用文献４（上記３（４）イ）、引用文献５（上記３（５）イ）、引用文献６（上記３（６）イ）に示されているように周知の技術である。
　しかしながら、測定精度の高い第一の基準座標位置測定装置で測定した第一の物体の表面の位置と、測定精度の低い第二の座標位置測定装置で測定した第一の物体の表面の位置との差を、エラーマップとしてマップ化するにあたり、「前記第一の基準座標位置測定装置によって前記第一の物体の前記表面上で測定された点を使用して、第一のデータ値の各々によって表される各位置における前記第一の物体の面法線を計算」した上で、該エラーマップの各エラー値の計算を「前記面法線の方向の位置差を判断することによって」行うことについては、周知技術であったとはいえないから、引用発明１において、たとえ引用文献３ないし６に記載された周知技術を考慮したとしても、本願発明１の上記相違点１及び２に係る構成とすることは、当業者が容易になしえたことであるとはいえない。
ｄ　したがって、上記相違点３については検討するまでもなく、本願発明１は、引用発明１ではなく、また、引用発明１及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるともいえない。
（イ）本願発明２ないし１０について
　本願発明２ないし１０は、いずれも、本願発明１を更に限定したものであるから、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明１ではなく、また、引用発明１及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるともいえない。
エ　小括
　以上のとおりであるから、本願の特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の記載は、特許法第３６条第６項第２号及び同条第４項第１号に規定する要件を満たすものであり、また、本願の請求項１ないし１０に係る発明は、同法第２９条第１項第３号に該当せず、同条第２項の規定により特許を受けることができないともいえない。
　したがって、原査定の拒絶理由によっては、本願を拒絶することはできない。
（２）当審拒絶理由についての判断
ア　理由１について
（ア）本願発明１について
ａ　対比
　本願発明１と引用発明２とを対比する。
（ａ）引用発明２において、「接触式プローブを用い」た測定の方が、「非接触式プローブを用い」た測定よりも精度が高いことは、例えば引用文献２の「アーチファクトは、１回目は、例えば較正研究所のＣＭＭといった高精度基準機の接触式プローブを用いて測定することができる。次いで、このアーチファクトは、２回目は、繰り返しに適したインライン（例えば、生産現場）の三次元座標測定装置の非接触式プローブを用いて測定することができる。」（上記３（２）ア（ウ）【００２９】）あるいは「本方法の利点は、接触走査による測定データはこれらの形状による影響を受けないので、非接触走査の際に生じる場合があるこれらの影響に起因する誤差が、誤差マップまたは関数によって補正されることである。」（上記３（２）ア（オ）【００４２】）といった記載から、明らかであるから、引用発明２において「接触式プローブを用い」た場合の「ＣＭＭ」が、本願発明１の「第一の基準座標位置測定装置」に相当し、引用発明２において「非接触式プローブを用い」た場合の「ＣＭＭ」が、本願発明１の「第二の座標位置測定装置」に相当するといえる。そして、引用発明２における「アーチファクト」としての「加工物」は、本願発明１の「第一の物体」に相当するから、引用発明２において、「加工物などのアーチファクトをＣＭＭ上に配置し、接触式プローブを用いて走査または測定して加工物の表面の位置を計算」することは、本願発明１における、「（ｉ）各々が第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第一の基準座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の高い第一のデータ値を含む第一のデータセットを取得するステップ」に相当するといえる。
（ｂ）上記（ａ）で述べた点を踏まえると、引用発明２において、「次に、非接触式プローブを用いて加工物を走査または測定して加工物の表面の位置を計算」することは、本願発明１における、「（ｉｉｉ）各々が前記第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第二の座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の低い第二のデータ値を含む第二のデータセットを取得するステップ」に相当するといえる。
（ｃ）引用発明２における「誤差マップ」は、「接触走査による結果と非接触走査による結果との間の差」、すなわち「接触式プローブを用いて走査または測定し」たときと、「非接触式プローブを用いて」「走査または測定し」たときとの、「加工物の表面の位置」の「差」から、「生成」されるものであり、本願発明１の「エラーマップ」に相当するから、引用発明２において、「接触走査による結果と非接触走査による結果との間の差から、誤差マップを生成」することは、本願発明１における、「（ｉｖ）各々が前記第一のデータセットにより表される表面と前記第二のデータセットにより表される表面の間の位置差を表す１つまたは複数のエラー値を含むエラーマップを計算するステップ」に相当するといえる。
（ｄ）引用発明２における「最初のアーチファクトと実質的に同一の加工物からなる次のアーチファクト」は、本願発明１の「前記第一の物体または、前記第一の物体と名目上同一の物体」に相当する。したがって、上記（ａ）及び（ｃ）で述べた点を踏まえると、引用発明２において、「最初のアーチファクトと実質的に同一の加工物からなる次のアーチファクトをＣＭＭ上に配置し、非接触式プローブを用いて走査または測定して加工物の表面の位置を計算」することは、本願発明１における、「前記第二の座標位置測定装置を用いて、前記第一の物体または、前記第一の物体と名目上同一の物体について」「測定作業を実行するステップ（ｖ）」に相当し、また、引用発明２において、「次のアーチファクトに対応する測定データがこの誤差マップを用いて補正される」ことは、本願発明１において、「測定精度の低い前記表面上の位置が、ステップ（ｉｖ）で計算された前記エラーマップを使って修正されること」に相当するといえる。
（ｅ）引用文献２に、例えば「この方法により、未較正の非接触式プローブを使用して測定誤差を補正することが可能になる。」（上記３（２）ア（オ）【００４１】）と記載されているとおり、引用発明２によれば、「ＣＭＭ」に「非接触式プローブを用い」た場合における測定誤差が「誤差マップを用いて補正される」のであるから、引用発明２における「三次元座標測定装置を用いて加工物の寸法を検査する方法」は、次の相違点は除いて、本願発明１の「座標位置測定装置のためのエラー修正方法」に相当するといえる。
ｂ　上記ａ（ａ）ないし（ｅ）から、本願発明１と引用発明２とは、
「座標位置測定装置のためのエラー修正方法であって、
　（ｉ）各々が第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第一の基準座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の高い第一のデータ値を含む第一のデータセットを取得するステップと、
　（ｉｉｉ）各々が前記第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の、第二の座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の低い第二のデータ値を含む第二のデータセットを取得するステップと、
　（ｉｖ）各々が前記第一のデータセットにより表される表面と前記第二のデータセットにより表される表面の間の位置差を表す１つまたは複数のエラー値を含むエラーマップを計算するステップと、を含み、
　前記方法が、前記第二の座標位置測定装置を用いて、前記第一の物体または、前記第一の物体と名目上同一の物体について加工または測定作業を実行するステップ（ｖ）をさらに含み、測定精度の低い前記表面上の位置が、ステップ（ｉｖ）で計算された前記エラーマップを使って修正されることを特徴とする方法。」
である点で一致し、次の点で相違する。
（相違点１）
　本願発明１では、「（ｉｉ）前記第一の基準座標位置測定装置によって前記第一の物体の前記表面上で測定された点を使用して、第一のデータ値の各々によって表される各位置における前記第一の物体の面法線を計算するステップ」「を含」むのに対し、引用発明２では、そのようなステップについて特定がない点。
（相違点２）
　本願発明１では、「ステップ（ｉｖ）が、前記面法線の方向の位置差を判断することによって、各エラー値を計算するステップを含」むのに対し、引用発明２では、「マップ」化される「誤差」が、「接触走査による結果と非接触走査による結果との間の差から」どのようにして計算されるかについて特定がない点。
ｃ　相違点の判断
　上記相違点１及び２については、技術的なつながりを考慮し、まとめて検討する。
　一般に、ＣＭＭとプローブとの組合せからなる走査システムにおいて、異なる走査で生じた誤差についてマップ化する際に、生成する誤差マップを、製品の表面に垂直な方向の誤差マップとすることは、例えば引用文献３（上記３（３）イ）に示されているように周知の技術であり、また、測定した表面形状の誤差を算出する際に、法線の方向を、既知のＣＡＤデータの表面から求めることも、例えば引用文献４（上記３（４）イ）、引用文献５（上記３（５）イ）、引用文献６（上記３（６）イ）に示されているように周知の技術である。
　しかしながら、測定精度の高い第一の基準座標位置測定装置で測定した第一の物体の表面の位置と、測定精度の低い第二の座標位置測定装置で測定した第一の物体の表面の位置との差を、エラーマップとしてマップ化するにあたり、「前記第一の基準座標位置測定装置によって前記第一の物体の前記表面上で測定された点を使用して、第一のデータ値の各々によって表される各位置における前記第一の物体の面法線を計算」した上で、該エラーマップの各エラー値の計算を「前記面法線の方向の位置差を判断することによって」行うことについては、引用文献３ないし６のいずれにも記載されておらず、周知技術であったともいえないから、引用発明２において、たとえ引用文献３ないし６に記載された周知技術を考慮したとしても、本願発明１の上記相違点１及び２に係る構成とすることは、当業者が容易になしえたことであるとはいえない。
ｄ　したがって、本願発明１は、引用発明２及び引用文献３ないし６に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
（イ）本願発明２ないし１０について
　本願発明２ないし１０は、いずれも、本願発明１を更に限定したものであるから、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明２及び引用文献３ないし６に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
イ　理由２について
　本件補正２によって、補正前の請求項８に記載されていた「前記第一の基準座標位置測定装置によって前記第一の物体の前記表面上で測定された点を使用して、第一のデータ値の各々によって表される各位置における前記第一の物体の前記面法線を計算するステップ」との事項が、請求項１に追加され、一方で、補正前の請求項１の「前記第一の物体の面法線が第一のデータ値の各々により表される各位置において既知であり」との記載が、請求項１から削除されるとともに、補正前の請求項１の「実質的に既知の面法線」との記載が、補正後の請求項１の「前記面法線」に補正されたので、当審拒絶理由の理由２の不備３は解消している。
　したがって、本件補正２による補正後の請求項１ないし１０に係る発明は、いずれも明確なものとなった。
ウ　小括
　以上のとおりであるから、本願の請求項１ないし１０に係る発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないとはいえず、また、本願の特許請求の範囲の記載は、同法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たすものであり、当審拒絶理由によっては、本願を拒絶することはできない。
５　むすび
　以上のとおり、本願については、原査定の拒絶理由及び当審において通知した拒絶理由を検討してもその理由によって拒絶すべきものとすることはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。 
　よって、結論のとおり審決する。