(57)【要約】  現在のリアルタイム・デバッグ・システムにおいて、デバッグ・メッセージが、制限された帯域幅のポート（１８）を介して集積回路（１０）から外部の開発システム（２５）へ送信される。メッセージを発生することが可能である多重バス・マスタ（１１，１２）及び／又は多重バス（１６）が集積回路（１０）に更に一層高密度に詰め込まれるようになるにつれ、当該制限された帯域幅ポート（１８）が集積回路（１０）から外部の開発システム（２５）へ送信されることになるデバッグ・メッセージの量を十分にサポートすることが益々難しくなりつつある。帯域幅を著しく改善するため、複数のマスク（７０，８０，９０，１００，１１０，１２０，１３０，１４０，１５０）及びマスキング回路（３６）を用いて、デバッグ・メッセージ（４０，５０）の一部（４１−４５，５１−５５）を選択的にマスキングする。
2007535760.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
デバッグ・メッセージをマスキングする方法であって、
デバッグ・メッセージを発生するステップと、
少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを前記デバッグ・メッセージに適用して、マスキングされたデバッグ・メッセージを発生するステップと
を備える方法。
【請求項２】
前記デバッグ・メッセージが、複数のフィールドを備える請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを前記デバッグ・メッセージに適用して、マスキングされたデバッグ・メッセージを発生する前記ステップが、前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを適用して、前記複数のフィールドのうちの少なくとも１つをマスキングするステップを備える請求項２記載の方法。
【請求項４】
前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを前記デバッグ・メッセージに適用して、マスキングされたデバッグ・メッセージを発生する前記ステップが、前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを適用して、前記複数のフィールドのうちの少なくとも１つのフィールドの一部をマスキングするステップを備え、
前記少なくとも１つのフィールドの前記一部が、前記少なくとも１つのフィールドの全部より小さい
請求項２記載の方法。
【請求項５】
前記複数のフィールドが、データ・フィールド及びアドレス・フィールドを備える請求項４記載の方法。
【請求項６】
前記複数のフィールドが、データ・サイズ・フィールド、ソース・フィールド及びメッセージ・タイプ・フィールドを備える請求項５記載の方法。
【請求項７】
前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを複数のユーザが構成可能なマスクから選択するステップを更に備え、
前記複数のユーザが構成可能なマスクのそれぞれが、前記デバッグ・メッセージ内の前記複数のフィールドのうちの１つのフィールドに対応する
請求項２記載の方法。
【請求項８】
少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを前記デバッグ・メッセージに適用して、マスキングされたデバッグ・メッセージを発生する前記ステップが、前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを適用して、前記複数のフィールドのうちの少なくとも１つのフィールドの一部をマスキングするステップを備え、
前記少なくとも１つのフィールドの前記一部が、前記少なくとも１つのフィールドの全部より小さい
請求項７記載の方法。
【請求項９】
前記複数のフィールドが、データ・フィールド、アドレス・フィールド、データ・サイズ・フィールド、ソース・フィールド及びメッセージ・タイプ・フィールドを備える請求項８記載の方法。
【請求項１０】
前記デバッグ・メッセージが、データ・フィールドを備え、
前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクが、前記データ・フィールドに対応する複数のユーザが構成可能なマスクから選択され、
前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクが、前記データ・フィールドのデータ・タイプに基づいて選択される
請求項１記載の方法。
【請求項１１】
前記データ・タイプが、前記データ・フィールド内のデータのサイズを指示する請求項１０記載の方法。
【請求項１２】
前記デバッグ・メッセージが、アドレス・フィールドを備え、
前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクが、前記アドレス・フィールドに対応する複数のユーザが構成可能なマスクから選択され、
前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクが、フル・アドレス又は相対アドレスのいずれが転送されるかに基づいて選択される
請求項１記載の方法。
【請求項１３】
デバッグ機能を実行し、当該デバッグ機能に対応するデバッグ・メッセージを発生するデバッグ回路と、
ユーザが構成可能なマスキング情報を格納するマスク記憶回路と、
前記マスク記憶回路に結合されたマスキング回路であって、前記ユーザが構成可能なマスキング情報を前記デバッグ・メッセージに適用して、マスキングされたデバッグ・メッセージを発生するマスキング回路と
を備える装置。
【請求項１４】
前記デバッグ回路に結合されたソース回路を更に備え、
前記デバッグ回路が、前記デバッグ機能を前記ソース回路の少なくとも一部について実行する
請求項１３記載の装置。
【請求項１５】
前記ソース回路が、プロセッサを備える請求項１４記載の装置。
【請求項１６】
前記ユーザが構成可能なマスキング情報が、複数のユーザが構成可能なマスクとして格納される請求項１３記載の装置。
【請求項１７】
前記マスキング回路が、前記複数のユーザが構成可能なマスクのうちの少なくとも１つを選択して、前記デバッグ・メッセージを適用して、前記のマスキングされたデバッグ・メッセージを発生する請求項１６記載の装置。
【請求項１８】
前記複数のユーザが構成可能なマスクのそれぞれが、前記マスク記憶回路内のユーザが構成可能なレジスタに格納される請求項１６記載の装置。
【請求項１９】
前記デバッグ・メッセージが、複数のフィールドを備え、
前記マスキング回路が、前記マスキング情報を適用して、前記複数のフィールドのうちの少なくとも１つのフィールドの一部をマスキングし、
前記少なくとも１つのフィールドの前記一部が、前記少なくとも１つのフィールドの全部より小さい
請求項１３記載の装置。
【請求項２０】
前記複数のフィールドが、データ・フィールド、アドレス・フィールド、データ・サイズ・フィールド、ソース・フィールド及びメッセージ・タイプ・フィールドを備える請求項１９記載の装置。
【請求項２１】
前記ユーザが構成可能なマスキング情報が、複数のユーザが構成可能なマスクとして格納され、
前記ユーザが構成可能なマスクのそれぞれが、前記複数のフィールドの少なくとも１つに対応する
請求項２０記載の装置。
【請求項２２】
前記マスキング回路が、前記複数のユーザが構成可能なマスクのうちの少なくとも１つを選択して、前記デバッグ・メッセージの前記複数のフィールドのうちの少なくとも１つフィールドに適用して、前記のマスキングされたデバッグ・メッセージを発生する請求項２１記載の装置。
【請求項２３】
前記ユーザが構成可能なマスクのうちの少なくとも２つが、前記データ・フィールドに対応し、
前記マスキング回路が、前記ユーザが構成可能なマスクのうちの前記少なくとも２つのうちの１つを、前記データ・フィールド内のデータのデータ・タイプに基づいて選択する
請求項２１記載の装置。
【請求項２４】
前記マスキング回路が、前記のマスキングされたデバッグ・メッセージをデバッグ端末装置を介して与える請求項１３記載の装置。
【請求項２５】
前記デバッグ回路及び前記マスキング回路に結合されたデバッグ・メッセージ記憶回路であって、前記の発生されたデバッグ・メッセージを格納するデバッグ・メッセージ記憶回路を更に備える請求項１３記載の装置。
【請求項２６】
前記マスキング回路に結合されたデバッグ・メッセージ記憶回路であって、前記の発生されたマスキングされたデバッグ・メッセージを格納するデバッグ・メッセージ記憶回路を更に備える請求項１３記載の装置。
【請求項２７】
前記デバッグ・メッセージ記憶回路が、前記のマスキングされたデバッグ・メッセージをデバッグ端末装置を介して与える請求項２６記載の装置。
【請求項２８】
デバッグ・メッセージを発生するデバッグ手段と、
少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを前記デバッグ・メッセージに適用して、マスキングされたデバッグ・メッセージを発生するマスキング手段と
を備える装置。
【請求項２９】
前記デバッグ・メッセージが、複数のフィールドを備える請求項２８記載の装置。
【請求項３０】
前記マスキング手段が、前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを適用して、前記複数のフィールドのうちの少なくとも１つフィールドの一部をマスキングし、
前記少なくとも１つフィールドの前記一部が、前記少なくとも１つのフィールドの全部より小さい
請求項２９記載の装置。
【請求項３１】
前記複数のフィールドが、データ・フィールド及びアドレス・フィールドを備える請求項３０記載の装置。
【請求項３２】
前記複数のフィールドが、データ・サイズ・フィールド、ソース・フィールド及びメッセージ・タイプ・フィールドを備える請求項３１記載の装置。
【請求項３３】
前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを複数のユーザが構成可能なマスクから選択する選択手段を更に備え、
前記複数のユーザが構成可能なマスクのそれぞれが、前記デバッグ・メッセージ内の前記複数のフィールドのうちの１つのフィールドに対応する
請求項２９記載の装置。
【請求項３４】
前記マスキング手段が、前記少なくとも１つのユーザが構成可能なマスクを適用して、前記複数のフィールドのうちの少なくとも１つフィールドの一部をマスキングし、
前記少なくとも１つフィールドの前記一部が、前記少なくとも１つフィールドの全部より小さい
請求項３３記載の装置。
【請求項３５】
前記複数のフィールドが、データ・フィールド、アドレス・フィールド、データ・サイズ・フィールド、ソース・フィールド及びメッセージ・タイプ・フィールドを備える請求項３４記載の装置。
【請求項３６】
マスキングする方法であって、
複数のマスクを設けるステップと、
前記複数のマスクのうちの１つマスクを、転送されるべきデータのデータ・タイプに基づいて選択するステップと、
前記複数のマスクのうちの前記の選択された１つのマスクを前記転送されるべきデータに適用して、転送されるべきマスキングされたデータを発生するステップと
を備える方法。
【請求項３７】
前記データ・タイプが、前記転送されるべきデータのサイズを指示する請求項３６記載の方法。
【請求項３８】
前記転送されるべきデータが、デバッグ・メッセージ内の１つのフィールドである請求項３６記載の方法。
【請求項３９】
前記複数のマスクのうちの前記の選択された１つのマスクを前記転送されるべきデータに適用した後では、前記転送されるべきデータは、マスキングされたデバッグ・メッセージ内の１つのフィールドである請求項３８記載の方法。
【請求項４０】
前記の転送されるべきマスキングされたデータが、前記転送されるべきデータより小さい請求項３６記載の方法。
【請求項４１】
複数のマスクを格納するマスク記憶回路と、
転送されるべきデータを格納するデータ記憶回路と、
前記マスク記憶回路及びデータ記憶回路に結合されたマスキング回路であって、前記複数のマスクのうちの１つを、前記転送されるべきデータのデータ・タイプに基づいて選択し、前記複数のマスクのうちの前記の選択された１つのマスクを前記転送されるべきデータに適用するマスキング回路と
を備える装置。
【請求項４２】
前記データ・タイプが、前記転送されるべきデータのサイズを指示する請求項４１記載の装置。
【請求項４３】
前記マスキング回路が、前記複数のマスクのうちの前記の選択された１つのマスクを前記転送されるべきデータに適用して、転送されるべきマスキングされたデータを発生し、前記の転送されるべきマスキングされたデータを端末装置を介して与える請求項４１記載の装置。
【請求項４４】
前記転送されるべきデータが、デバッグ回路によりデバッグ機能に応答して発生される請求項４１記載の装置。
【請求項４５】
前記複数のマスクのそれぞれが、前記転送されるべきデータに対応し、
前記転送されるべきデータが、前記デバッグ回路により発生されたデバッグ・メッセージのフィールドとして与えられる請求項４４記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
［関連出願］
本出願は、２０００年１１月７日に発行され、発明の名称が「データ・プロセッサのための開発インターフェース（Ｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ  Ｆｏｒ  Ａ  Ｄａｔａ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）」である米国特許Ｎｏ．６，１４５，１２２に関連し、当該特許は、本明細書に援用される。
【０００２】
［発明の分野］
本発明は、一般的に、データ処理システムに関し、より詳細には、開発インターフェースに対する適用性を有するデータ処理システム内におけるマスキングに関する。
【０００３】
［関連技術］
現在のリアルタイム・デバッグ・システムにおいては、デバッグ・メッセージは、制限された帯域幅ポートを介して集積回路から外部の開発システムに送信される。メッセージを発生することが可能である多重バス・マスタ及び／又は多重バスが集積回路に更に一層高密度に詰め込まれるようになるにつれ、当該制限された帯域幅ポートが集積回路から外部の開発システムへ送信されることになるデバッグ・メッセージの量を十分にサポートすることが益々難しくなりつつある。
【０００４】
［発明の詳細な説明］
本発明が、添付図面により一例としてであって限定するものとしてではなく説明され、そこにおいては、類似の参照番号は、類似の構成要素を示す。
【０００５】
当業者は、図面の中の構成要素が単純化及び明瞭化するよう示され、そして必ずしもスケール通りに描かれていないことを認めるであろう。例えば、図面の中の構成要素の幾らかの寸法は、本発明の実施形態の理解を改善するのを助けるため、他の構成要素に対して誇張されている。
【０００６】
本明細書において用いられるように、用語「バス」は、データ、アドレス、制御、又は状態のような１又はそれより多くの様々なタイプの情報を転送するため用いる複数の信号又は導体を指すため用いられる。数字の前にある符号「％」は、その数字がそのバイナリ又は基数２形式で表されることを指示する。数字の前にある符号「０ｘ」は、１６進又は基数１６形式で表されることを指示する。
【０００７】
図１は、本発明に従ったデータ処理システムをブロック図の形式で示す。図示の実施形態において、データ処理システム１０は、１又はそれより多くの処理ユニット１１及び１又はそれより多くの他のモジュール１２を含む。データ処理システム１０は、オプションでバス・インターフェース１３を含む。データ処理システム１０はまた、開発インターフェース１４を含む。データ処理システム１０はまた、オプションで１又はそれより多くのメモリ１５を含む。そしてこれらの構成要素の全ては、１又はそれより多くのバス１６により双方向に結合される。或る実施形態においては、メモリ１５は、オプションで、端末装置１９によりデータ処理システム１０の外部へ結合される。処理ユニット１１は、任意に端末装置２０によりデータ処理システム１０の外部へ結合される。モジュール１２は、任意に端末装置２１によりデータ処理システム１０の外部へ結合される。バス・インターフェース１３は、任意に端末装置１７によりデータ処理システム１０の外部へ結合される。
【０００８】
或る実施形態においては、開発インターフェース１４は、端末装置１８によりデータ処理システム１０の外部へ結合される。一実施形態においては、開発インターフェース１４は、端末装置１８により外部開発システム２５へ結合される。一実施形態においては、外部開発システム２５は、端末装置１８によりデータ処理システム１０に結合されたロジック・アナライザ２２を含む。一部の実施形態においては、ロジック・アナライザ２２は、コンピュータ２３へ双方向に結合され、当該コンピュータ２３は、デバッギング・ソフトウエアの機能を格納及び／又は実行する回路２４を含む。
【０００９】
本発明の代替実施形態は、データ処理システム１０のためのいずれのタイプのアーキテクチャを用い得る。図１に示されるアーキテクチャは、単に１つのあり得るアーキテクチャである。本発明の代替実施形態は、開発システム２５のためのいずれのタイプの開発システムを用い得る。端末装置１７−２１は、情報をデータ処理システム１０へ転送する、又は情報をデータ処理システム１０から転送するのを可能にするいずれのタイプの端末装置であり得る。他のモジュール１２は、いずれの機能を実行し得る。処理ユニット１１は、データをいずれの要領で処理し得る。メモリ１５は、情報を格納することが可能であるいずれのタイプの回路でよい。バス・インターフェース１３は、１又はそれより多くのバス１６とバス端末装置１７に結合された外部バス（図示せず）との間のインターフェースを可能にするいずれのタイプの回路でよい。
【００１０】
図２は、本発明の一実施形態に従った図１の開発インターフェース１４の一部をブロック図の形式で示す。一実施形態においては、開発インターフェース１４は、マスク記憶回路３２及び他のデバッグ回路３０を含み、当該マスク記憶回路３２及び他のデバッグ回路３０は、互いに、そして更に、バス１６及び端末装置１８に双方向に、結合される。マスキング回路３６は、マスク記憶回路３２及び端末装置１８に結合される。デバッグ・メッセージ記憶回路３４は、他のデバッグ回路３０及びマスキング回路３６に結合される。一実施形態においては、マスク記憶回路３２は、レジスタ３８の一部として含められる。本発明の代替実施形態は、結合されたマスク記憶回路３２を、開発インターフェース１４の中のどこにでも配置し得て、又は代替として、データ処理システム１０の中のどこにでも配置し得る。同様に、デバッグ・メッセージ記憶回路３４及びマスキング回路３６は、開発インターフェース１４又はデータ処理システム１０の中のどこにでも配置され、そしていずれの方法でも結合され得る。
【００１１】
デバッグ・メッセージ記憶回路３４はまた、データ記憶回路と呼ぶことができる。デバッグ・メッセージ記憶回路３４は、例えば、開発インターフェース１４が開発機能を越えた他の又は追加の機能を実行するとき、端末装置１８によりデータ処理システム１０の外部に転送されるべきデータを格納し得る。
【００１２】
図３は、本発明の一実施形態に従ったデータ書き込みフォーマット４０をブロック図の形式で示す。本発明の一実施形態においては、データ書き込みフォーマット４０は、複数のビット・フィールド、即ち、データ値ビット・フィールド４１、相対／フル・アドレス・ビット・フィールド４２、データ・サイズ・ビット・フィールド４３、ソース・プロセッサ・ビット・フィールド４４、及びメッセージ・タイプ・ビット・フィールド４５を含む。データ書き込みフォーマット４０が各ビット・フィールドに対して指示されたビット数を有するよう図示されているにも拘わらず、本発明の代替実施形態は、各ビット・フィールドに対していずれのビット数を用い得る。
【００１３】
本発明の幾つかの実施形態にとっては、アドレス・フィールド４２は、フル・アドレスか又は相対アドレスかのいずれかを表すことができる。本発明の代替実施形態は、アドレス・フィールドを異なる仕方で（例えば、フルのみ、相対のみ、等々）用い得る。データ・サイズ・フィールド４３を用いて、データ値フィールド４１の中で送信されるデータ値の幅を指示し得る。一実施形態にとっては、データ値は、８ビット、１６ビット、３２ビット、又は６４ビットのうちのいずれかの幅を有し得る。代替実施形態は、いずれの所望のデータ・サイズを用い得る。ソース・プロセッサ・フィールド４４を用いて、処理ユニット１１（図１参照）の中のどのプロセッサが特定のデータ書き込みメッセージに対応するかを指示し得る。本発明の代替実施形態は、代わりに、フィールド４４を一般的ソース・フィールドとして用い得て、そこにおいては、まさに処理ユニット１１でなくいずれのソース回路が、特定のデータ書き込みメッセージが対応するソース回路であってよい。例えば、ソース回路は、ＤＭＡ（直接メモリ・アクセス）回路であってよく、またバス１６のうちのいずれのバスについてのバス・マスタであってよく、或いはデータ処理システム１０の中のいずれの他の回路であってもよい。
【００１４】
メッセージ・タイプ・フィールド４５を用いて、どのタイプの情報が現在のメッセージ内に含まれるか（例えば、メッセージがデータ書き込みか又はデータ読み出しかどうか）を指示し得る。また、メッセージ・タイプ・フィールド４５を用いて、例えば、エラー状態が生じたか、否かのような特定の情報を与え得る。本発明の一実施形態においては、データ書き込みフォーマット４０は、ＩＥＥＥ（米国電気電子工学会）により定義されたＮＥＸＵＳ５００１（登録商標）（即ち、ＩＥＥＥＩＳＴＯ ５００１）デバッグ標準と互換性がある。本発明のこの実施形態にとっては、メッセージ・タイプ・フィールド４５を用いて、ＴＣＯＤＥＳを送信し得る。
【００１５】
本発明の代替実施形態は、図３に示されるビット・フィールドより多いビット・フィールド、又はそれより少ないビット・フィールド、或いはそれとは異なるビット・フィールドを用い得ることに注目されたい。
【００１６】
図４は、本発明の一実施形態に従ったデータ読み出しフォーマット５０をブロック図の形式で示す。図４のデータ読み出しメッセージ・フォーマット５０がデータ処理システム１０に対する読み出しアクセス用であり、一方図３のデータ書き込みメッセージ・フォーマット４０がデータ処理システム１０に対する書き込みアクセス用であることに注目されたい。本発明の一実施形態においては、メッセージ・タイプ・フィールド４５及び５５の中の１ビットを用いて、データ・メッセージ・タイプがフォーマット４０におけるような「書き込み」であるか、又はフォーマット５０におけるような「読み出し」であるかどうかを区別する。本発明の代替実施形態は、単一のデバッグ・メッセージ・タイプのみを用いるか、又は２より多いデバッグ・メッセージ・フォーマットを用いるか、或いは図３及び図４に示されるフォーマットとは異なるデバッグ・メッセージ・フォーマットを用いてもよい。一実施形態にとって、データ読み出しメッセージ・フォーマット５０のビット・フィールド５１−５５は、上記で説明したデータ書き込みメッセージ・フォーマット４０の対応のビット・フィールド４１−４５と同じ要領で機能する。代替実施形態において、ビット・フィールド５１−５５は、フォーマット４０に関する上記の説明とは異なる機能を有してよい。データ読み出しメッセージ・フォーマット５０が各ビット・フィールドに対して指示されたビット数を有するよう図示されているにも拘わらず、本発明の代替実施形態は、各ビット・フィールドに対していずれのビット数を用い得る。本発明の代替実施形態は、図４に示されるビット・フィールドより多くのビット・フィールドを、又はそれより少ないビット・フィールドを、或いはそれとは異なるビット・フィールドを用い得ることに注目されたい。
【００１７】
本発明の一実施形態においては、データ読み出しメッセージ・フォーマット５０は、ＩＥＥＥ（米国電気電子工学会）により定義されたＮＥＸＵＳ５００１（登録商標）（即ち、ＩＥＥＥＩＳＴＯ ５００１）デバッグ標準と互換性がある。本発明のこの実施形態にとって、メッセージ・タイプ・フィールド４５を用いて、ＴＣＯＤＥＳを送信し得る。
【００１８】
図５から図８は、本発明の一実施形態に従ったデータ・マスク制御レジスタ７０、８０、９０及び１００をブロック図の形式で示す。図示の実施形態においては、別々のマスクが、異なるデータ幅に対して用いられる。例えば、データ・マスク制御レジスタ７０は、２つの３２ビット部分７１及び７２を有し、それら２つの３２ビット部分７１及び７２のそれぞれは、３２ビット・マスクを格納する。次いで、３２ビット部分７１及び７２の中のそれぞれの３２ビット・マスクは、連結されて、１つの６４ビット・マスクを形成する。データ・マスク制御レジスタ８０は、３２ビット・マスクを格納し、データ・マスク制御レジスタ９０は、１６ビット・マスクを格納し、データ・マスク制御レジスタ１００は、８ビット・マスクを格納する。本発明の代替実施形態は、より多い、又はより少ない、或いは異なるデータ・マスク制御レジスタを用いてもよい。
【００１９】
また、代替実施形態においては、複数のマスク値が、同じレジスタに配置されることができる（例えば、データ・マスク制御レジスタ１００に格納されたマスクにより要求される８ビットは、同じ３２ビット・レジスタの中に、データ・マスク制御レジスタ９０の中に格納されたマスクにより要求される１６ビットとして格納されることができる。）。代替実施形態は、所与のデータ幅に対して複数のマスクを有することさえあり得る。例えば、データ・マスク制御レジスタ１００は、異なるデバッグ・メッセージを選択的にマスキングするため用い得る４個の異なる８ビット・マスク値を格納し得る。例えば、どの８ビット・マスク値を用いるかは、デバッグ・メッセージ自体の中の１フィールドにより決定され得る。例えば、図３及び図４を参照すると、メッセージ・タイプ・フィールド４５及び５５を用いて、レジスタ１００の中の複数のマスク値からどの８ビット・マスク値がマスキングを実行するため実際に用いられるかを選択し得る。
【００２０】
図２から図８を参照すると、データ・マスク制御レジスタ７０、８０、９０及び１００のうちの１つを用いて、マスク値をマスク記憶回路３２（図２を参照）からマスキング回路３６へ与える。選択されたマスクは、プロセッサ・データ転送のサイズに基づくか、又はアクセスの他の属性に基づいて選択される。次いで、マスキング回路３６は、このマスク値を用いて、データ値ビット・フィールド４１、５１の中の選択されたビットをマスキングする。そこで、データ値ビット・フィールド４１、５１の中のマスキングされたビットは、端末装置１８に送信されず、従って、外部開発システム２５へ送信されない。マスキング回路３６により与えられるマスキング・プロセスは、端末装置１８の実効帯域幅を著しく増大させることを可能にする。
【００２１】
図９は、本発明の一実施形態に従ったアドレス・マスク制御レジスタ１１０をブロック図の形式で示す。図１０は、本発明の一実施形態に従ったアドレス・マスク制御レジスタ１２０をブロック図の形式で示す。一実施形態においては、別々のマスク（アドレス・マスク制御レジスタ１１０及び１２０のそれぞれに格納されている。）は、正常なメッセージのため、そして同期化メッセージのため使用される。代替実施形態においては、アドレス・マスク制御レジスタ１１０を用いて、相対アドレスをマスキングし、そしてアドレス・マスク制御レジスタ１２０を用いて、フル・アドレスをマスキングする。また、別々のマスクが、読み出しメッセージのため、そして書き込みメッセージのため与えられる。この一例として、代替実施形態においては、アドレス・マスク制御レジスタ１１０に格納されたマスクを用いて、データ書き込みフォーマット４０（図３参照）のビット・フィールド４２の中の選択されたビットをマスキングし、そしてアドレス・マスク制御レジスタ１２０に格納されたマスクを用いて、データ読み出しメッセージ・フォーマット５０（図４参照）のビット・フィールド５２の中の選択されたビットをマスキングする。本発明の代替実施形態は、より多くの、又はより少ない、或いは異なるアドレス・マスク制御レジスタを用い得る。
【００２２】
また、代替実施形態においては、複数のマスク値が、同じレジスタの中に配置されることができる。代替実施形態は、所与のアドレス・タイプ（例えば、相対アドレス）に対する複数のマスクすら有し得る。例えば、アドレス・マスク制御レジスタ１１０は、特定の範囲のアドレスの中のアドレスを選択的にマスキングするため用いられ得るマスク値を格納し、一方アドレス・マスク制御レジスタ１２０は、異なる範囲のアドレスの中のアドレスを選択的にマスキングするため用いられ得るマスク値を格納し得る。代替として、メッセージ・タイプ・フィールド４５及び５５（図３及び図４参照）を用いて、複数のアドレス・マスク制御レジスタ１１０及び１２０からのどのアドレス・マスク値を実際に用いて、マスキングを実行するかを選択し得る。
【００２３】
図２〜図４及び図９〜図１０を参照すると、アドレス・マスク制御レジスタ１１０及び１２０のうちの１つを用いて、マスク値をマスク記憶回路３２（図２参照）からマスキング回路３６へ与える。次いで、マスキング回路３６は、このマスク値を用いて、アドレス・フィールド４２、５２の中の選択されたビットをマスキングする。そこで、アドレス・フィールド４２、５２の中のマスキングされたビットは、端末装置１８へ送信されず、従って、外部開発システム２５へ送信されない。マスキング回路３６により与えられるマスキング・プロセスは、端末装置１８の実効帯域幅を著しく増大させることを可能にする。
【００２４】
図１１は、本発明の一実施形態に従ったソース・マスク制御レジスタ１３０をブロック図の形式で示す。一実施形態においては、データ追跡メッセージのための個々のソース・プロセッサ・ビット・マスクは、ソース・マスク制御レジスタ１３０の一部に格納される。ソース・マスク制御レジスタ１３０の中に格納されたこのソース・プロセッサ・ビット・マスクを用いて、ビット・フィールド４４（図３参照）及びビット・フィールド５４（図４参照）の中の選択されたビットをマスキングし得る。代替実施形態においては、別々のマスクが、読み出しメッセージのため、そして書き込みメッセージのために与えられる。この一例として、代替実施形態においては、ソース・マスク制御レジスタ１３０の第１の部分に格納された第１のマスクを用いて、データ書き込みメッセージ・フォーマット４０（図３参照）のビット・フィールド４４の中の選択されたビットをマスキングし得て、そしてソース・マスク制御レジスタ１３０の第２の部分に格納された第２のマスクを用いて、データ読み出しメッセージ・フォーマット５０（図４参照）のビット・フィールド５４の中の選択されたビットをマスキングし得る。代替として、メッセージ・タイプ・フィールド４５及び５５（図３及び図４参照）を用いて、複数のソース・マスク値からどのソース・マスク値を実際に用いて、マスキングを実行するかを選択し得る。本発明の代替実施形態は、ソース・マスク制御レジスタ１３０の中のより多くの、又はより少ない、或いは異なるサイズ・フィールドを用い得る。
【００２５】
図２から図４及び図１１を参照すると、ソース・マスク制御レジスタ１３０からのマスクを用いて、マスク値をマスク記憶回路３２（図２を参照）からマスキング回路３６に与える。次いで、マスキング回路３６は、このマスク値を用いて、ソース・プロセッサ・フィールド４４、５４の中の選択されたビットをマスキングする。そこで、ソース・プロセッサ・フィールド４４、５４の中のマスキングされたビットは、端末装置１８へ送信されず、従って外部開発システム２５へ送信されない。マスキング回路３６により与えられるマスキング・プロセスは、端末装置１８の実効帯域幅を著しく増大させることを可能にする。
【００２６】
図１２は、本発明の一実施形態に従ったデータ・サイズ・マスク制御レジスタをブロック図の形式で示す。一実施形態においては、データ追跡メッセージに対する個々のデータ・サイズ・ビット・マスクは、データ・サイズ・マスク制御レジスタ１４０の一部に格納される。データ・サイズ・マスク制御レジスタ１４０の中の格納されたこのデータ・サイズ・マスクを用いて、ビット・フィールド４３（図３参照）及びビット・フィールド５３（図４参照）の中の選択されたビットをマスキングする。代替実施形態においては、別々のマスクが、読み出しメッセージのため、そして書き込みメッセージのため与えられる。代替として、メッセージ・タイプ・フィールド５４及び５５（図３及び図４参照）を用いて、複数のデータ・サイズ・マスク値からのどのデータ・サイズ・マスク値を実際に用いて、マスキングを実行するかを選択する。本発明の代替実施形態は、データ・サイズ・マスク制御レジスタ１４０の中のより多くの、又は少ない、或いは異なるサイズ・フィールドを用い得る。
【００２７】
図２から図４及び図１２を参照すると、データ・サイズ・マスク制御レジスタ１４０を用いて、マスク値をマスク記憶回路３２（図２参照）からマスキング回路３６へ与える。次いで、マスキング回路３６は、このマスク値を用いて、データ・サイズ・フィールド４３、５３の中の選択されたビットをマスキングする。そこで、データ・サイズ・フィールド４３、５３の中のマスキングされたビットは、端末装置１８へ送信されず、従って外部開発システム２５へ送信されない。マスキング回路３６により与えられるマスキング・プロセスは、端末装置１８の実効帯域幅を著しく増大させることを可能にする。
【００２８】
図１３は、本発明の一実施形態に従ったメッセージ・タイプ・マスク制御レジスタをブロック図の形式で示す。一実施形態において、全てのメッセージに対する個々のメッセージ・タイプ・ビット・マスクが、メッセージ・タイプ・マスク制御レジスタ１５０の一部に格納される。メッセージ・タイプ・マスク制御レジスタ１５０に格納されたこのメッセージ・タイプ・マスクを用いて、ビット・フィールド４５（図３参照）及びビット・フィールド５５（図４参照）の中の選択されたビットをマスキングする。代替実施形態においては、別々のマスクが、読み出しメッセージのため、そして書き込みメッセージのため与えられる。本発明の代替実施形態は、メッセージ・タイプ・マスク制御レジスタ１５０の中のより多くの、又はより少ない、或いは異なるサイズ・フィールドを用い得る。
【００２９】
図２から図４及び図１３を参照すると、メッセージ・タイプ・マスク制御レジスタ１５０からのマスクを用いて、マスク値をマスク記憶回路３２（図２参照）からマスキング回路３６へ与える。次いで、マスキング回路３６は、このマスク値を用いて、メッセージ・タイプ・フィールド４５、５５の中の選択されたビットをマスキングする。そこで、メッセージ・タイプ・フィールド４５、５５の中のマスキングされたビットは、端末装置１８へ送信されず、従って外部開発システム２５へ送信されない。マスキング回路３６をマスキングすることにより与えられるマスキング・プロセスは、端末装置１８の実効帯域幅を著しく増大させることを可能にする。
【００３０】
本発明の一実施形態においては、メッセージ・タイプ・マスク制御レジスタ１５０に格納されたメッセージ・タイプ・マスクを用いて、全てのメッセージをマスキングし得る一方、選択された他のレジスタ（例えば、レジスタ１１０−１５０）に格納されたマスクのみを用いて、選択されたメッセージ・タイプ（例えば、データ追跡メッセージ）をマスキングし得る。どんなタイプのメッセージが送られているかは、メッセージ・タイプ・フィールド４５及び５５（図３及び図４参照）により指示されることに注目されたい。本発明の代替実施形態は、使用可能なマスクのうちの１つ又はそれより多くのマスクを、メッセージ・タイプ、読み出し／書き込み、又はいずれの他の判定基準に基づいて選択的に適用し得る。本発明の一実施形態においては、メッセージ・タイプ・フィールド４５及び５５を用いて、ＮＥＸＵＳ５００１（登録商標）デバッグ標準により用いられるＴＣＯＤＥＳを与える。
【００３１】
レジスタが使用可能な十分なビットを有するならば、図５から図１３に示されたマスクのいずれも同じレジスタの中に共に配置され得ることに注目されたい。本発明の一実施形態においては、マスク・レジスタ７０、８０、９０、１００、１２０、１３０、１４０及び１５０は、全て、マスク記憶回路３２の一部として配置され得る。本発明の代替実施形態においては、マスク・レジスタ７０、８０、９０、１００、１２０、１３０、１４０及び１５０は、データ処理システム１０のいずれのところにも配置され得る。本発明の図示の実施形態は、マスク・レジスタ７０、８０、９０、１００、１２０、１３０、１４０及び１５０を用いて、そして図３及び図４に示されるフォーマット４０及び５０を用いて、デバッグ・メッセージの中のビットをマスキングするが、代替実施形態は、類似の又は異なるマスク・レジスタを用いて、そしていずれの所望のメッセージ・フォーマットを用いて、いずれの所望のタイプのメッセージの中のビットをマスキングし得る。
【００３２】
例２００
図１４は、マスキングを用いて、端末装置１８上に送信される出力ビットの数（即ち、帯域幅）を低減する仕方の例２００を記載する。図１４は、メモリの中の２つの制御変数（変数１及び変数２）がプログラムの流れを追跡している間にモニタリングされる例２００を示す。図１４に中のボックス２０１を参照すると、変数１は、アドレス０ｘ１３００Ｄ３Ｃ３に配置され、そして８ビットの変数タイプを有する。変数２は、アドレス０ｘ８１００１ＢＦ４に配置され、そして１６ビットの変数タイプを有する。図３及び図４に示されるデータ・メッセージ・フォーマット（書き込みに対して４０、読み出しに対して５０）を用いたデバッグ・メッセージが変数１に関して用いられる場合、開発インターフェース１４から外部開発システム２５へ送られるため、５２ビットが要求される（ボックス２０２参照）。同様に、図３及び図４に示されるデータ・メッセージ・フォーマット（書き込みに対して４０、読み出しに対して５０）を用いたデバッグ・メッセージが変数２に関して用いられる場合、開発インターフェース１４から外部開発システム２５へ送られるため、６０ビットが要求される（ボックス２０２参照）。
【００３３】
しかしながら、この例２００においては、デバッグ・メッセージの中のビットの多くは、外部開発システム２５に対して有効な情報を与えず、従って端末装置１８上の重要な帯域幅を空費している。ボックス２０４を参照すると、いずれの重要な情報を失うこと無しに端末装置１８上に送信されるビットの数を著しく低減することが可能である。ボックス２０４においては、データ・ビットの全てが、有効な情報を含み、従って全くマスキングされない。ボックス２０４においては、ビットＡ３１のみが、変数１に関するアドレス位置と変数２に関するアドレス位置とを区別するため要求される。従って、Ａ３１は、外部開発システム２５により要求されるアドレス・フィールド４２（図３を参照）の中の唯一のアドレス・ビットである。データ・フィールドの幅が既に外部開発システム２５により変数タイプから知られているので、データ・サイズ・フィールド５３（図３を参照）からのビットは、外部開発システム２５により要求されない。例２００においては、唯１つのソース・プロセッサがあり、その結果、ソース・プロセッサ・フィールド４４（図３を参照）からのビットは、外部開発システム２５により要求されない。例２００においては、メッセージ・タイプ・フィールド４５（図３を参照）により与えられる唯一の有効な情報は、エラーが生じたか否かを指示する個々のビットである。その結果、メッセージ・タイプ・フィールド４５からの唯一のビットが、外部開発システム２５により要求される。
【００３４】
変数デバッグ・メッセージの５２ビットが図５から図１３に示される関連のレジスタを用いてマスキングされて、不必要なビットを取り除く場合、その結果生じるマスキングされたメッセージは、著しく少ないビット、ほんの１０ビットを有することになる。従って、５２ビットを端末装置１８に送信しなければならない代わりに、１０ビットのみを送信すればよい。これは、外部開発システム２５に対する変数１について必要な情報を与える各追跡又はデバッグ・メッセージに関して反復されることができる帯域幅の著しい節約である。同様に、変数２の６０ビットが図５から図１３に示される関連のレジスタを用いてマスキングされて、不必要なビットを取り除く場合、その結果生じるマスキングされたメッセージは、著しく少ないビット、ほんの１８ビットを有することになる。従って、６０ビットを端末装置１８に送信しなければならない代わりに、１８ビットのみを送信すればよい。これは、外部開発システム２５に対する変数２について必要な情報を与える各追跡又はデバッグ・メッセージに関して反復されることができる帯域幅の著しい節約である。
【００３５】
ボックス２０６は、マスキングを与えて変数１に関するデバッグ・メッセージから不必要なビット（５２ビットがマスキングされてない）を、そして変数２に関するデバッグ・メッセージから不必要なビット（６０ビットがマスキングされてない）を取り除くため、マスク・レジスタ１５０（図１３を参照）、マスク・レジスタ１４０（図１２を参照）、及びマスク・レジスタ１２０（図１０参照）に格納される値を示す。データの全てが外部開発システム２５により要求されるので、データ・マスク・レジスタ７０、８０、９０及び１００をこの例２００で用いてなく、従ってマスキングが、データ・フィールド４１（図３を参照）について実行されないことに注目されたい。
【００３６】
例２００、３００及び４００で示される本発明の実施形態について、マスク・レジスタ・ビットの中のバイナリ１は、デバッグ・メッセージの対応のビットをマスキングして、それを端末装置１８上に送らないようにし、そしてマスク・レジスタ・ビットの中のバイナリ０は、デバッグ・メッセージの対応のビットをマスキングしないで、従ってそれを端末装置１８上に送信することを可能にさせる。例２００については、メッセージ・タイプ・マスク制御レジスタ１５０は、％１１１１１０を格納し、ソース・マスク制御レジスタ１３０は、％１１１１を格納し、データ・サイズ・マスク制御レジスタ１４０は、％１１１を格納し、そしてアドレス・（フル）マスク制御レジスタ１２０は、％１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１０を格納する。
【００３７】
例３００
図１５は、マスキングを用いて、端末装置１８上に送信される出力ビットの数（即ち、帯域幅）を低減する仕方を記載する。図１５は、メモリの中の混合型の単精度及び倍精度の浮動小数点制御変数のアレイが、プログラムの流れを追跡する間にモニタリングされる例３００を示す。外部開発システム２５が、制御変数が当該変数のデータ・タイプによりサポートされた大きさのほぼ１２．５％（即ち、１／８）を超えたときを決定するためモニタリングしている。図１５の中のボックス３０１を参照すると、アレイ１は、アドレス０ｘ１３００Ｄ３００−０ｘ１３００Ｄ３ＦＦに配置され、そしてランダムにアクセスすることができる１６個の倍精度変数及び３２個の単精度変数から成る。図３及び図４に示されるデータ・メッセージ・フォーマット（書き込みに対して４０、読み出しに対して５０）を用いたデバッグ・メッセージがアレイ１の中の倍精度変数に対して用いられる場合、開発インターフェース１４から外部開発システム２５へ送られるため、８５ビットが要求される（ボックス３０２を参照）。同様に、図３及び図４に示されるデータ・メッセージ・フォーマット（書き込みに対して４０、読み出しに対して５０）を用いたデバッグ・メッセージがアレイ１の中の単精度変数に対して用いられる場合、開発インターフェース１４から外部開発システム２５へ送られるため、５３ビットが要求される（ボックス３０２を参照）。
【００３８】
しかしながら、この例３００においては、デバッグ・メッセージの中のビットの多くは、有効な情報を外部開発システム２５に与えてなく、従って端末装置１８上の重要な帯域幅を空費している。ボックス３０４を参照すると、いずれの重要な情報を失うこと無しに、端末装置１８上に送信されるビットの数を著しく低減することが可能である。ボックス３０４においては、データ・フィールド４１（図３を参照）のほんの３ビットが、オーバーレンジの状況（指数部の上位３ビット）を決定するための有効な情報を含み、従ってマスキングされてない。ボックス３０４においては、アドレス・フィールド４２（図３を参照）の８ビットが、アレイ１の中のどの変数がこのデバッグ・メッセージに対応するかを識別するため要求される。データ・サイズ・フィールド４３（図３を参照）の中の１ビットが、変数が単精度か倍精度かを決定するため要求される。例３００においては、唯１つのソース・プロセッサが存在し、その結果、ソース・プロセッサ・フィールド４４（図３を参照）からのビットが、外部開発システム２５により要求されない。例３００においては、メッセージ・タイプ・フィールド４５（図３を参照）により与えられる唯一の有効な情報は、エラーが生じたか否かを指示する個々のビットである。その結果、メッセージ・タイプ・フィールド４５からの唯１つのビットが、外部開発システム２５により要求される。
【００３９】
倍精度アレイ１のデバッグ・メッセージの８５ビットが図５から図１３に示される関連のレジスタを用いてマスキングされて、不必要なビットを取り除く場合、その結果生じたマスキングされたメッセージは、著しく少ないビット、即ちほんの１３ビットを有することになる。従って、８５ビットを端末装置１８に送信しなければならない代わりに、ほんの１３ビットを送信すればよい。これは、倍精度アレイ１変数についての必要な情報を外部開発システム２５に与える各追跡又はデバッグ・メッセージに関して反復することができる帯域幅の著しい節約である。同様に、単精度アレイ１のデバッグ・メッセージの５３ビットが図５から図１３に示される関連のレジスタを用いてマスキングされて、不必要なビットを取り除く場合、その結果生じるマスキングされたメッセージは、著しく少ないビット、即ちほんの１３ビットを有することになる。従って、５３ビットを端末装置１８に送信しなければならない代わりに、ほんの１３ビットを送信すればよい。これは、単精度アレイ１変数についての必要な情報を外部開発システム２５に与える各追跡又はデバッグ・メッセージに関して反復することができる帯域幅の著しい節約である。
【００４０】
ボックス３０６は、マスキングを与えて、倍精度アレイ１変数に対するデバッグ・メッセージ（８５ビットがマスキングされてない）及び単精度アレイ１変数に対するデバッグ・メッセージ（５３ビットがマスキングされてない）から不必要なビットを取り除くため、マスク・レジスタ１５０（図１３を参照）、マスク・レジスタ１３０（図１１を参照）、マスク・レジスタ１４０（図１２を参照）、マスク・レジスタ１１０（図９を参照）、マスク・レジスタ７０（図５を参照）、及びマスク・レジスタ８０（図６を参照）に格納される値を示す。
【００４１】
例２００、３００及び４００に示された本発明の実施形態については、マスク・レジスタ・ビットの中のバイナリ１は、デバッグ・メッセージの対応のビットをマスキングしている状態にして、端末装置１８上に送信させず、そしてマスク・レジスタ・ビットのバイナリの中の０は、デバッグ・メッセージの対応のビットをマスキングしてない状態にし、従って端末装置１８上に送信することを可能にさせることに注目されたい。例３００については、メッセージ・タイプ・マスク制御レジスタ１５０は、％１１１１１０を格納し、ソース・マスク制御レジスタ１１０は、％１１１１を格納し、データ・サイズ・マスク制御レジスタ１４０は、％１１０を格納し、アドレス（相対）マスク制御レジスタ１１０は、％１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１０００００００００を格納し、データ・マスク制御レジスタ７０は、％１０００１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１を格納し、データ・マスク制御レジスタ８０は、％１０００１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１を格納する。
【００４２】
例４００
図１６は、マスキングを用いて、端末装置１８上に送信される出力ビットの数（即ち、帯域幅）を低減する仕方の例４００を記載する。図１６は、メモリの中の混合型の単精度及び倍精度の浮動小数点制御変数のアレイが、プログラムの流れを追跡する間にモニタリングされる例４００を示す。外部開発システム２５は、有界の制御変数の近似値をモニタリングしている。図１６の中のボックス４０１を参照すると、アレイ１は、アドレス０ｘ１３００Ｄ３００−０ｘ１３００Ｄ３ＦＦに配置され、そしてランダムにアクセスすることができる１６個の倍精度変数及び３２個の単精度変数から成る。図３及び図４に示されるデータ・メッセージ・フォーマット（書き込みに対して４０、読み出しに対して５０）を用いたデバッグ・メッセージがアレイ１の中の倍精度変数に対して用いられる場合、開発インターフェース１４から外部開発システム２５へ送られるため、８５ビットが要求される（ボックス４０２を参照）。同様に、図３及び図４に示されるデータ・メッセージ・フォーマット（書き込みに対して４０、読み出しに対して５０）を用いたデバッグ・メッセージがアレイ１の中の単精度変数に対して用いられる場合、開発インターフェース１４から外部開発システム２５へ送られるため、５３ビットが要求される（ボックス４０２を参照）。
【００４３】
しかしながら、この例４００においては、デバッグ・メッセージの中のビットの多くは、有効な情報を外部開発システム２５に与えてなく、従って端末装置１８上の重要な帯域幅を空費している。ボックス４０４を参照すると、いずれの重要な情報を失うこと無しに、端末装置１８上に送信されるビットの数を著しく低減することが可能である。ボックス４０４においては、データ・フィールド４１（図３を参照）の選択されたビットのみが、有効な情報（即ち、符号ビット、単精度指数部の下位５ビット、倍精度指数部の中位５ビット、及び仮数部の最上位ビットの一部分）を含み、従ってマスキングされてない。ボックス４０４においては、アドレス・フィールド４２（図３を参照）の８ビットが、アレイ１の中のどの変数がこのデバッグ・メッセージに対応するかを識別するため要求される。
データ・サイズ・フィールド４３（図３を参照）の中の１ビットが、変数が単精度か倍精度かを決定するため要求される。例４００においては、唯１つのソース・プロセッサが存在し、その結果、ソース・プロセッサ・フィールド４４（図３を参照）からのビットは、外部開発システム２５により要求されない。例４００においては、メッセージ・タイプ・フィールド４５（図３を参照）により与えられる唯一の有効な情報は、エラーが生じたか否かを指示する個々のビットである。その結果、メッセージ・タイプ・フィールド４５からの唯１つのビットが、外部開発システム２５により要求される。
【００４４】
倍精度アレイ１のデバッグ・メッセージの８５ビットが図５から図１３に示される関連のレジスタを用いてマスキングされて、不必要なビットを取り除く場合、その結果生じたマスキングされたメッセージは、著しく少ないビット、即ちほんの２０ビットを有する。従って、８５ビットを端末装置１８に送信しなければならない代わりに、ほんの２０ビットを送信すればよいことになる。これは、倍精度アレイ１変数についての必要な情報を外部開発システム２５に与える各追跡又はデバッグ・メッセージに関して反復することができる帯域幅の著しい節約である。同様に、単精度アレイ１のデバッグ・メッセージの５３ビットが図５から図１３に示される関連のレジスタを用いてマスキングされて、不必要なビットを取り除く場合、その結果生じるマスキングされたメッセージは、著しく少ないビット、即ちほんの２０ビットを有する。従って、５３ビットを端末装置１８に送信しなければならない代わりに、ほんの２０ビットを送信すればよいことになる。これは、単精度アレイ１変数についての必要な情報を外部開発システム２５に与える各追跡又はデバッグ・メッセージに関して反復することができる帯域幅の著しい節約である。
【００４５】
ボックス４０６は、マスキングを与えて、倍精度アレイ１変数に対するデバッグ・メッセージ（８５ビットがマスキングされてない。）及び単精度アレイ１変数に対するデバッグ・メッセージ（５３ビットがマスキングされてない。）から不必要なビットを取り除くため、マスク・レジスタ１５０（図１３を参照）、マスク・レジスタ１３０（図１１を参照）、マスク・レジスタ１４０（図１２を参照）、マスク・レジスタ１１０（図９を参照）、マスク・レジスタ７０（図５を参照）、及びマスク・レジスタ８０（図６を参照）に格納される値を示す。
【００４６】
例２００、３００及び４００に示された本発明の実施形態については、マスク・レジスタ・ビットの中のバイナリ１が、デバッグ・メッセージの対応のビットをマスキングさせて、端末装置１８上に送信させず、そしてマスク・レジスタ・ビットの中のバイナリ０が、デバッグ・メッセージの対応のビットをマスキングさせず、従って端末装置１８上へ送信することを可能にさせることに注目されたい。例４００については、メッセージ・タイプ・マスク制御レジスタ１５０は、％１１１１１０を格納し、ソース・マスク制御レジスタ１１０は、％１１１１を格納し、データ・サイズ・マスク制御レジスタ１４０は、％１１０を格納し、アドレス（相対）マスク制御レジスタ１１０は、％１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１０００００００００を格納し、データ・マスク制御レジスタ７０は、％０１１１０００００１１１００００１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１１を格納し、データ・マスク制御レジスタ８０は、％０１１１００００１１１１１１１１１１１１１１１１を格納する。
【００４７】
図１４から図１６に示された例２００、３００及び４００は、例示の目的のみに与えられていることに留意されたい。本発明は、いずれの所望の機能に対して用いられ得る。開発インターフェース及びデバッグ機能は、本発明が適用可能である分野の単なる一つである。本発明の様々な実施形態が、マスキング能力を希望するいずれの状況で有効であり得る。
【００４８】
前述の詳細な説明においては、本発明が、特定の実施形態を参照して説明された。しかしながら、当業者は、添付の特許請求の範囲に記載された本発明の範囲から逸脱することなしに様々な変更及び変化を行うことができることを認めるであろう。従って、本明細書及び図面は、限定的意味ではなく例示と考えるべきであり、そしてそのような変更は、本発明の範囲内に含まれることを意図するものである。
【００４９】
便益、他の利点、及び問題に対する解法が、特定の実施形態について上記で説明された。しかしながら、便益、他の利点、問題に対する解法、及びいずれの便益、利点、又はより顕著に生じる又はそうなる解法を生じ得るいずれの構成要素は、特許請求の範囲のいずれか又はその全ての重要な、又は必要な、或いは本質的な特徴又は構成要素と解釈されるべきである。本明細書で用いられるように、用語「備える」、「含む」、又はそれらのいずれの他の変形の用語は、非排他的包含をカバーすることを意図し、それにより一覧の構成要素を備えるプロセス、方法、物品、又は装置は、それらの構成要素のみを含むのではなく、明示的にリストされてない、又はそのようなプロセス、方法、物品又は装置に本来的でない他の構成要素を含んでよい。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】図１は、本発明の一実施形態に従ったデータ処理システムをブロック図の形式で示す。
【図２】図２は、本発明の一実施形態に従った図１の開発インターフェースの一部をブロック図の形式で示す。
【図３】図３は、本発明の一実施形態に従ったデータ書き込みメッセージ・フォーマットをブロック図の形式で示す。
【図４】図４は、本発明の一実施形態に従ったデータ読み出しメッセージ・フォーマットをブロック図の形式で示す。
【図５】図５は、本発明の一実施形態に従ったデータ・マスク制御レジスタ７０をブロック図の形式で示す。
【図６】図６は、本発明の一実施形態に従ったデータ・マスク制御レジスタ８０をブロック図の形式で示す。
【図７】図７は、本発明の一実施形態に従ったデータ・マスク制御レジスタ９０をブロック図の形式で示す。
【図８】図８は、本発明の一実施形態に従ったデータ・マスク制御レジスタ１００をブロック図の形式で示す。
【図９】図９は、本発明の一実施形態に従ったアドレス・マスク制御レジスタ１１０をブロック図の形式で示す。
【図１０】図１０は、本発明の一実施形態に従ったアドレス・マスク制御レジスタ１２０をブロック図の形式で示す。
【図１１】図１１は、本発明の一実施形態に従ったソース・マスク制御レジスタをブロック図の形式で示す。
【図１２】図１２は、本発明の一実施形態に従ったデータ・サイズ・マスク制御レジスタをブロック図の形式で示す。
【図１３】図１３は、本発明の一実施形態に従ったメッセージ・タイプ・マスク制御レジスタをブロック図の形式で示す。
【図１４】図１４は、端末装置１８上に送信される出力ビットの数を低減するため用い得るマスキングの仕方の一例２００を表形式で示す。
【図１５】図１５は、端末装置１８上に送信される出力ビットの数を低減するため用い得るマスキングの仕方の一例３００を表形式で示す。
【図１６】図１６は、端末装置１８上に送信される出力ビットの数を低減するため用い得るマスキングの仕方の一例４００を表形式で示す。
【図１】
2007535760.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【国際調査報告】
2007535760.tif 000019