【手続補正書】
【提出日】平成28年1月5日(2016.1.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を測定する放射線モニタと、前記放射線モニタのテストを行う試験装置とを備え、測定モードとテストモードのいずれかのモードを選択でき、テスト時はテストモードを選択し、通常時は測定モードにして放射線を監視する放射線監視装置において、
前記放射線モニタは、放射線を検出して検出信号パルスを出力する放射線検出器と、
前記検出信号パルスを入力して計数率を測定する測定部と、を備え、
前記試験装置は、テストパルスを発生するテストパルス発生部と、該テストパルス発生部から出力されるテストパルスの繰り返し周波数を制御するとともに、前記測定部に入力を切り換えさせるテストパルス制御部と、を備え、
前記測定部は、前記検出信号パルスの波形を整形し、波高を増幅するとともに、前記検出信号パルスに重畳する高周波ノイズを除去するパルス増幅回路と、
該パルス増幅回路の出力パルスからノイズパルスを弁別除去してデジタルパルスを出力するノイズ弁別除去回路と、
前記デジタルパルスを入力して計数する計数回路と、
該計数回路から出力された計数値を入力して前記計数値の標準偏差が一定になるように計数率を求める演算部と、
該演算部の出力を表示するとともに、前記測定部の操作を行う表示・操作部と、
前記テストパルス制御部から前記演算部を経由して、前記検出信号パルスの入力、入力がないニュートラル、前記テストパルスの入力のいずれか１つに前記パルス増幅回路の入力を切り換えることができる入力切換回路と、を備え、
テストモードを選択した場合には、テスト項目が指定され、前記テストパルス制御部は、前記入力切換回路をニュートラルに切り換え、前記テストパルスの繰り返し周波数を、任意に設定されたスタート計数率の繰り返し周波数、または前記テスト項目に応じて規定された基準となるスタート計数率の繰り返し周波数と同じになるようにステップ状に変化させ、前記演算部の演算周期の計数率を、任意に設定された、またはテスト項目に応じて決められたスタート計数率に置き換えた後、次の演算周期で前記入力切換回路をニュートラルからテストパルスに切り換えてテストを開始し、決められた時間の経過後、当該テストを終了するようにしたことを特徴とする放射線監視装置。
【請求項２】
前記試験装置は、テストモードを選択した後に、前記テスト項目として入力に対する出力の直線性を測定する入出力応答テストを選択すると、
前記テストパルス制御部は、前記入力切換回路を検出信号パルスの入力またはテストパルスの入力からニュートラルに切り換え、前記テストパルスの繰り返し周波数をステップ状に最初のテストポイントまで変化させ、前記演算部の当該演算周期の計数率を最初のテストポイントと同じスタート計数率に置き換え、前記演算部の次の演算周期で前記入力切換回路をニュートラルからテストパルスに切り換え、所定の測定レンジ全体に対して予め決められたテストポイントについて、前記入出力応答テストを順次シーケンシャルに自動で行うようにしたことを特徴とする請求項１に記載の放射線監視装置。
【請求項３】
前記試験装置は、テストモードを選択した後、前記テスト項目として警報動作点の計数率を確認する警報テストを選択した際、
前記警報テストが高警報テストの場合には、テストパルス制御部は、前記入力切換回路を検出信号パルス入力またはテストパルス入力からニュートラルに切り換え、高警報動作点のレベルである高警報設定レベルでの計数率のテストパルスの繰り返し周波数がスタート計数率より大きい関係を満たすスタート計数率にステップ状に変化させ、前記演算部の演算周期の計数率をスタート計数率に置き換え、前記演算部の次の演算周期で前記入力切換回路をニュートラルからテストパルスに切り換えて、テストパルスの繰り返し周波数をスタート計数率から警報設定レベルをよぎるようにランプ状に変化させ、前記演算部は、演算周期毎にテストパルス入力に対する計数率を演算し、計数率が高警報設定レベル以上になったかどうかを判定し、条件を満たした場合に高警報を発信するとともに前記高警報設定レベル以上になった計数率で出力をホールドし、
前記警報テストが低警報テストの場合には、前記テストパルス制御部は、前記入力切換回路を検出信号パルス入力からニュートラルに切り換え、低警報動作点のレベルである低警報設定レベルでの計数率のテストパルスの繰り返し周波数がスタート計数率より小さい関係を満たすスタート計数率にステップ状に変化させ、前記演算部の演算周期の計数率をスタート計数率に置き換え、前記演算部の次の演算周期で前記入力切換回路をニュートラルからテストパルスに切り換えて、テストパルスの繰り返し周波数をスタート計数率から低警報設定レベルをよぎるようにランプ状に変化させ、前記演算部は、演算周期毎にテストパルス入力に対する計数率を演算し、計数率が低警報設定レベル以下になったかどうかを判定し、条件を満たした場合に低警報を発信するとともに前記低警報設定レベル以下になった計数率で出力をホールドしつつ、
前記高警報テストと前記低警報テストをシーケンシャルに自動的に行うようにしたことを特徴とする請求項１に記載の放射線監視装置。
【請求項４】
前記試験装置は、テストモードを選択した後、計数率の入出力応答時間テストを選択した際、スタート計数率とテストモードのスタート計数率が設定されると、前記テストパルス制御部は、前記入力切換回路をニュートラルに切り換え、テストパルスの繰り返し周波数に相当するスタート計数率にステップ状に変化させ、前記演算部の当該演算周期の計数率をスタート計数率に置き換え、前記演算部の次の演算周期で前記入力切換回路をテストパルスに切り換えて入出力応答を測定するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の放射線監視装置。
【請求項５】
前記テストパルス制御部は、前記入力切換回路を検出信号パルス入力からテストパルス入力に切り換える際に、直前の測定モードの計数率を記憶しておき、テストモードから測定モードに復帰させる場合、復帰直後の計数率をその直前の測定モードの計数率に置き換えるようにしたことを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の放射線監視装置。
【請求項６】
前記測定部は波形整形回路を備え、テストパルスが入力された際、前記入力されたテストパルスを波形整形するとともに、前記テストパルス発生部から出力するテストパルスの波高とパルス幅を制御し、テストパルスの波高とパルス幅を変化させるようにしたことを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の放射線監視装置。
【請求項７】
前記放射線モニタを複数備え、前記試験装置は前記複数の放射線モニタのテストを行えるようにしたことを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の放射線監視装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
この発明に係わる放射線測定装置は、
放射線を測定する放射線モニタと、前記放射線モニタのテストを行う試験装置とを備え、測定モードとテストモードのいずれかのモードを選択でき、テスト時はテストモードを選択し、通常時は測定モードにして放射線を監視する放射線監視装置において、
前記放射線モニタは、放射線を検出して検出信号パルスを出力する放射線検出器と、
前記検出信号パルスを入力して計数率を測定する測定部と、を備え、
前記試験装置は、テストパルスを発生するテストパルス発生部と、該テストパルス発生部から出力されるテストパルスの繰り返し周波数を制御するとともに、前記測定部に入力を切り換えさせるテストパルス制御部と、を備え、
前記測定部は、前記検出信号パルスの波形を整形し、波高を増幅するとともに、前記検出信号パルスに重畳する高周波ノイズを除去するパルス増幅回路と、
該パルス増幅回路の出力パルスからノイズパルスを弁別除去してデジタルパルスを出力するノイズ弁別除去回路と、
前記デジタルパルスを入力して計数する計数回路と、
該計数回路から出力された計数値を入力して前記計数値の標準偏差が一定になるように計数率を求める演算部と、
該演算部の出力を表示するとともに、前記測定部の操作を行う表示・操作部と、
前記テストパルス制御部から前記演算部を経由して、前記検出信号パルスの入力、入力がないニュートラル、前記テストパルスの入力のいずれか１つに前記パルス増幅回路の入力を切り換えることができる入力切換回路と、を備え、
テストモードを選択した場合には、テスト項目が指定され、前記テストパルス制御部は、前記入力切換回路をニュートラルに切り換え、前記テストパルスの繰り返し周波数を、任意に設定されたスタート計数率の繰り返し周波数、または前記テスト項目に応じて規定された基準となるスタート計数率の繰り返し周波数と同じになるようにステップ状に変化させ、前記演算部の演算周期の計数率を、任意に設定された、またはテスト項目に応じて決められたスタート計数率に置き換えた後、次の演算周期で前記入力切換回路をニュートラルからテストパルスに切り換えてテストを開始し、決められた時間の経過後、当該テストを終了するようにしたものである。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
前記放射線モニタは、測定モードとテストモードのいずれかの状態を選択でき、テストモードを選択してテスト項目を指定すると、前記テストパルス制御部は、前記入力切換回路をニュートラルに切り換え、テストパルスの繰り返し周波数を、任意に設定されたスタート計数率の繰り返し周波数、または前記テスト項目に応じて規定された基準となるスタート計数率の繰り返し周波数と同じになるようにステップ状に変化させ、前記演算部の演算周期の計数率を、任意に設定された、またはテスト項目に応じて決められたスタート計数率に置き換えた後、次の演算周期で前記入力切換回路をニュートラルからテストパルスに切り換えてテストを開始し、決められた時間の経過後、当該テストを終了するようにしたので、テスト時間を大幅に削減できるとともにテスト項目を臨機応変に変更できる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１３】
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