【手続補正書】
【提出日】平成27年12月25日(2015.12.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】画像処理装置、光干渉断層撮像装置、画像処理方法および光干渉断層撮像方法
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、被検査物の断層画像の画像処理を行う画像処理装置、被検査物の断層画像を撮る光干渉断層撮像装置、画像処理方法および光干渉断層撮像方法に関する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物の複数の断層画像を取得する画像取得手段と、
前記複数の断層画像のうち１つの断層画像に対する他の断層画像の類似度を取得する類似情報取得手段と、
前記類似度が所定の範囲内であって異なる類似度の断層画像を、前記複数の断層画像から選択する選択手段と、
前記選択された断層画像から新たな断層画像を生成する生成手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記選択手段が、前記選択された断層画像のうち前記類似度が高い断層画像の枚数の方が他の断層画像の枚数よりも多くなるように、前記複数の断層画像から選択することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記被検査物が、被検眼であり、
前記複数の断層画像はそれぞれ、前記被検眼の黄斑あるいは視神経乳頭を含む断層画像であり、
前記類似情報取得手段が、前記複数の断層画像それぞれにおける前記黄斑あるいは視神経乳頭の凹部の曲率に基づいて、前記類似度を取得することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記被検査物が、被検眼であり、
前記類似情報取得手段が、前記被検眼の動き量に基づいて前記類似度を取得することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記新たな断層画像を表示手段に表示させる表示制御手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記表示制御手段が、
前記複数の断層画像を並べて前記表示手段に表示させ、
前記複数の断層画像それぞれに対応付けて前記類似度を示す表示形態を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記選択手段は、前記類似度が所定の値以上で各々異なる断層画像を選択することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記類似度は、相互相関係数に従って決定されることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記類似度は、逐次残差検定法に従って決定されることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記複数の断層画像は１００枚の画像を含み、
前記類似度は前記１００枚の画像における１枚目の画像と他の９９枚の画像の各々との比較により求められた類似度を含み、
前記類似度は百分率として求められ、
前記所定の範囲は９４％乃至１００％であり、
前記所定の範囲は９８％以上１００％以下、９６％以上９８％未満、９４％以上９６％未満の異なる三つの補助範囲を含み、
前記選択された断層画像は、前記選択された断層画像の枚数に関して、前記類似度の高い断層画像の方が多くなるように前記異なる三つの補助範囲の各々から選択された画像を含むことを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
前記選択された断層画像は、前記複数の断層画像を取得する際に用いた計測光のビーム径の２．５倍の範囲の中に含まれる移動量の断層画像となるように選択されることを特徴とする請求項１０に記載の画像処理装置。
【請求項１２】
被検査物の複数の断層画像を取得する画像取得手段と、
前記複数の断層画像における一の断層画像と前記複数の断層画像における他の断層画像との間の各々の複数の類似度を判定する類似度判定手段と、
前記判定された類似度が所定値以上の類似度の範囲にあって全てが同じ類似度とならない断層画像について、前記複数の断層画像において前記類似度の高い断層画像の数を前記類似度の低い断層画像の数よりも常に多くした複数の画像を用い、且つ前記複数の断層画像において前記複数の画像以外の断層画像を用いずに新しい断層画像を生成する生成手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項１３】
前記画像取得手段は、前記被検査物を断層撮像する光干渉断層撮像装置と通信可能に接続されており、前記光干渉断層撮像装置により前記被検査物を断層撮像して得た前記複数の断層画像を取得することを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１４】
前記被検査物において測定光を走査する走査手段と、前記被検査物が動いていない場合に、前記被検査物の同一位置で前記測定光が複数回走査されるように前記走査手段を制御する制御手段と、を有する光干渉断層撮像装置と通信可能に接続され、
前記画像取得手段は、前記被検査物の動きに対応する前記被検査物の異なる位置で前記測定光を走査して得た前記複数の断層画像を取得することを特徴とする請求項１乃至１３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１５】
被検査物において測定光を走査する走査手段と、
前記被検査物が動いていない場合に、前記被検査物の同一位置で前記測定光が複数回走査されるように前記走査手段を制御する制御手段と、
前記被検査物の動きに対応する前記被検査物の異なる位置で前記測定光を走査して得た前記被検査物の複数の断層画像を取得する画像取得手段と、
前記複数の断層画像の１つと他の断層画像との間の複数の類似度を取得する類似情報取得手段と、
前記複数の断層画像から所定の範囲内の異なる類似度を持つ断層画像を選択する選択手段と、
前記選択された断層画像から新たな断層画像を形成する形成手段と、を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。
【請求項１６】
被検査物の複数の断層画像を取得する画像取得手段と、
前記複数の断層画像の各々の取得位置に関する情報を取得する位置情報取得手段と、
前記取得位置に関する情報が所定の範囲内であって且つ前記情報が異なる断層画像を、前記複数の断層画像から選択する選択手段と、
前記選択された断層画像から新たな断層画像を生成する生成手段と、を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。
【請求項１７】
被検査物の複数の断層画像を取得する工程と、
前記複数の断層画像のうち１つの断層画像に対する他の断層画像の類似度を取得する工程と、
前記類似度が所定の範囲内であって異なる類似度の断層画像を、前記複数の断層画像から選択する工程と、
前記選択された断層画像から新たな断層画像を生成する工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項１８】
被検査物の複数の断層画像を取得する工程と、
前記複数の断層画像における一の断層画像と前記複数の断層画像における他の断層画像との間の各々の複数の類似度を判定する工程と、
前記判定された類似度が所定値以上の類似度の範囲にあって全てが同じ類似度とならない断層画像について、前記複数の断層画像において前記類似度の高い断層画像の数を前記類似度の低い断層画像の数よりも常に多くした複数の画像を用い、且つ前記複数の断層画像において前記複数の画像以外の断層画像を用いずに新しい断層画像を生成する工程と、を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項１９】
請求項１７乃至１８のいずれか１項に記載の画像処理方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項２０】
被検査物が動いていない場合に、前記被検査物の同一位置で測定光が複数回走査されるように、前記被検査物において前記測定光の走査を制御する工程と、
前記被検査物の動きに対応する前記被検査物の異なる位置で前記測定光を走査して得た前記被検査物の複数の断層画像を取得する工程と、
前記複数の断層画像の一つと他の断層画像との間の複数の類似度を取得する工程と、
前記複数の断層画像から所定の範囲内の異なる類似度を持つ断層画像を選択する工程と、
前記選択された断層画像から新たな断層画像を形成する形成工程と、を有することを特徴とする光干渉断層撮像方法。
【請求項２１】
被検査物の複数の断層画像を取得する工程と、
前記複数の断層画像の各々の取得位置に関する情報を取得する工程と、
前記取得位置に関する情報が所定の範囲内であって且つ前記情報が異なる断層画像を、前記複数の断層画像から選択する工程と、
前記選択された断層画像から新たな断層画像を生成する工程と、を有することを特徴とする光干渉断層撮像方法。
【請求項２２】
請求項２０又は２１に記載の光干渉断層撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。