(57)【要約】【課題】システム全体の処理時間を短縮できる試験装置を提供する。【解決手段】要求信号送信部２３２は、要求信号を送信する。応答信号判断部２３６は、応答信号が、通信が異常であるか否かを判断する。通信が正常である場合、時刻比較部２３８は、共有サーバ３からの最新時刻情報と試験結果格納部２２０からの最新時刻情報とを比較する。両者が一致しない場合、試験結果取得部２４０は、共有サーバ３から、試験結果情報を取得する。【選択図】図３
2011221697.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験器に対して試験を実行する試験装置であって、この試験装置は、当該試験装置とは別の１つ以上の他の試験装置とともに記憶装置と接続可能であり、前記記憶装置は、当該試験装置および前記１つ以上の他の試験装置によって実行されて得られた試験結果を、試験が実行された時刻とともに記憶し、
前記被試験器に対して試験を実行して得られた試験結果を前記記憶装置に送信する試験結果送信手段と、
前記記憶装置に記憶された前記１つ以上の他の試験装置の試験結果を取得する試験結果取得手段と、
前記取得された前記他の試験装置の試験結果を、試験が実行された時刻とともに記憶する試験結果記憶手段と、
前記記憶装置に対して、この記憶装置と当該試験装置とが通信可能か否かを確認するための応答信号を要求する要求信号を送信する要求信号送信手段と、
前記記憶装置から、前記要求信号に応答して送信された応答信号を受信する応答信号受信手段と、
前記応答手段によって前記応答信号が受信され、受信された応答信号が通信可能であることを示す場合に、前記試験結果記憶手段に記憶された前記他の試験装置の試験結果に関する時刻と、前記記憶装置に記憶された前記他の試験装置の試験結果に関する時刻とを比較する比較手段と
を有し、
前記比較手段によって、前記記憶装置に記憶された前記他の試験装置の試験結果に関する時刻が、前記試験結果記憶手段に記憶された前記他の試験装置の試験結果に関する時刻よりも新しいと判断された場合に、前記試験結果取得手段は、前記記憶装置に記憶された前記他の前記試験装置の試験結果を取得する
試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験器に対して試験を行う試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１は、故障装置とそれに対応する計測装置とを自動的に接続して性能試験を行い、試験結果に基づいて故障部位を特定する試験装置を開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−３０４１２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明は、上述した背景からなされたものであり、システム全体の処理時間を短縮できる試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係る試験装置は、被試験器に対して試験を実行する試験装置であって、この試験装置は、当該試験装置とは別の１つ以上の他の試験装置とともに記憶装置と接続可能であり、前記記憶装置は、当該試験装置および前記１つ以上の他の試験装置によって実行されて得られた試験結果を、試験が実行された時刻とともに記憶し、前記被試験器に対して試験を実行して得られた試験結果を前記記憶装置に送信する試験結果送信手段と、前記記憶装置に記憶された前記１つ以上の他の試験装置の試験結果を取得する試験結果取得手段と、前記取得された前記他の試験装置の試験結果を、試験が実行された時刻とともに記憶する試験結果記憶手段と、前記記憶装置に対して、この記憶装置と当該試験装置とが通信可能か否かを確認するための応答信号を要求する要求信号を送信する要求信号送信手段と、前記記憶装置から、前記要求信号に応答して送信された応答信号を受信する応答信号受信手段と、前記応答手段によって前記応答信号が受信され、受信された応答信号が通信可能であることを示す場合に、前記試験結果記憶手段に記憶された前記他の試験装置の試験結果に関する時刻と、前記記憶装置に記憶された前記他の試験装置の試験結果に関する時刻とを比較する比較手段とを有し、
前記比較手段によって、前記記憶装置に記憶された前記他の試験装置の試験結果に関する時刻が、前記試験結果記憶手段に記憶された前記他の試験装置の試験結果に関する時刻よりも新しいと判断された場合に、前記試験結果取得手段は、前記記憶装置に記憶された前記他の前記試験装置の試験結果を取得する。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、システム全体の処理時間を短縮可能な試験装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本実施形態にかかる試験システムおよび試験装置の構成を示す図である。
【図２】試験装置において動作する試験プログラム、および、試験プログラムにおいて処理される各情報の構成を示す図である。
【図３】試験プログラムによる試験結果情報の取得処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
図１は、本実施形態にかかる試験システム１および試験装置２の構成を示す図であり、（Ａ）は本実施形態に係る試験システム１の構成を示し、（Ｂ）は試験システム１の試験装置２のハードウェア構成を示す。
図１（Ａ）に示すように、試験システム１は、試験装置２−１〜２−Ｎ、測定器１２０−１〜１２０−ｎが、ＬＡＮ（Local Area Network）などのネットワーク１００を介して接続されて構成されている。
また、測定器１２０−１〜１２０−ｎには、切替器１０２を介して、被試験器１１０−１〜１１０−ｍ（Ｎ，ｎ，ｍは２以上の整数。但し、Ｎ，ｎ，ｍがそれぞれ常に同じ数とは限らない）が接続されている。
試験装置２−１〜２−Ｎは、被試験器１１０−１〜１１０−ｍおよび共有サーバ３と、ネットワーク１００を介して接続されている。
【０００９】
なお、以下の各図において、図示の具体化および明確化のために、本実施形態の説明に必要ない構成部分が、適宜、省略される。
さらに、以下、試験装置２−１〜２−Ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを特定せずに示す場合には、単に試験装置２などと略記することがある。
【００１０】
また、図１（Ａ）に示した試験システム１を構成する装置のうち、任意の２つ以上は、適宜、一体に構成されうる。
また、ある１つの装置において実現される複数の機能が、それぞれ別々の装置において実現されるようにしてもよいし、図１（Ａ）に示されていない装置において実現されるようにしてもよい。
【００１１】
ネットワーク１００は、たとえば、ＬＡＮ（Local Area Network）などであり、信号を伝送するための伝送路である。
試験装置２は、たとえばコンピュータであって、測定器１２０を用いて、被試験器１１０に対して所定の試験を実行する。
また、試験装置２は、ネットワーク１００を介して、測定器１２０、切替器１０２、被試験器１１０および共有サーバ３と通信を行うように構成されている。
【００１２】
被試験器１１０は、たとえば無線機などであって、試験装置２によって実行される試験の対象となる。
測定器１２０は、汎用の測定機器であって、試験装置２が実行する試験で使用され、試験装置２からの制御信号に応じて、試験信号を発信する。
切替器１０２は、各被試験器１１０から出力信号を受け入れ、試験装置２からの切替信号に応じて、どの被試験器１１０から発信された出力信号を測定器１２０に対して送信するかを選択し、選択された出力信号を測定器１２０に送信する。
共有サーバ３は、試験装置２−１〜２−Ｎ間の通信を仲介し、また、試験装置２−１〜２−Ｎからの試験結果を示す情報（図２（Ｂ）を用いて後述する試験結果情報）を格納する。
【００１３】
試験装置２は、被試験器１１０に対して、測定条件を示す情報（測定条件情報）を送信する。
被試験器１１０は、試験装置２から受信した測定条件情報に従って信号を出力し、その出力信号は、切替器１０２を介して測定器１２０に入力される。
測定器１２０は、被試験器１１０からの出力信号を測定し、その結果得られた試験結果を示す信号（試験結果信号）を、試験装置２に対して送信する。
また、試験装置２は、試験の内容に応じて、試験対象の被試験器１１０と使用する測定器１２０とを選択する。
さらに、試験装置２は、選択された被試験器１１０からの出力信号が選択された測定器１２０に送信されるようにするための切替信号を、切替器１０２に対して送信する。
【００１４】
また、本実施形態にかかる試験システム１においては、複数の試験装置２−１〜２−Ｎが、複数の測定器１２０−１〜１２０ｎおよび切替器１０２を使用して、複数の被試験器１１０−１〜１１０−ｍに対して並列に試験を実行することができる。
また、試験装置２−１がある試験を実行する場合であって、試験装置２−１に直接接続されていない測定器１２０−２を使用するとき、試験装置２−１は、測定器１２０−２が接続された試験装置２−２に対し、ネットワーク１００および共有サーバ３を介して、測定指示を送信する。
これによって、試験装置２−１は、直接接続されていない測定器１２０−２を使用して、試験を実行することができる。
また、共有サーバ３に格納された各試験装置２からの試験結果情報は、他の試験装置２からも参照することができるようになっている。
【００１５】
図１（Ｂ）に示すように、試験装置２は、ＣＰＵ１５２およびメモリ１５４などを含む本体１５０、キーボードおよび表示装置などを含む入出力装置１５６、他の装置との通信を行う通信装置１５８、および、ＣＤ装置およびＨＤＤ装置など、記録媒体１６２に対するデータの記録および再生を行う記録装置１６０から構成される。
つまり、試験装置２は、情報処理および他の装置との通信が可能なコンピュータとしてのハードウェア構成部分を有している。
【００１６】
図２は、試験装置２において動作する試験プログラム２０と、この試験プログラム２０によって処理される情報および信号を示す図であり、図２（Ａ）は、試験プログラム２０を示す図であり、図２（Ｂ）〜（Ｅ）は、この試験プログラム２０によって処理される情報および信号の構成を示す図である。
図２（Ａ）に示すように、試験プログラム２０は、操作部２０２、試験実行制御部２０６、通信ＩＦ２０８、切替器インタフェース（ＩＦ）２１０、測定器ＩＦ２１２、被試験器ＩＦ２１４、試験結果格納部２２０、表示部２２２、試験結果送信部２２４、試験結果取得モジュール２３、および試験結果取得制御部２３０から構成される。
試験結果モジュール２３は、要求信号送信部２３２、応答信号受信部２３４、応答信号判断部２３６、時刻比較部２３８、および試験結果取得部２４０から構成される。
【００１７】
試験プログラム２０は、たとえば、記憶媒体１６２を介して試験装置２に供給され、メモリ１５４にロードされ、試験装置２にインストールされたＯＳ上で、試験装置２のハードウェア資源を具体的に利用して実行される。
この場合、操作部２０２および試験結果表示部２２２は入出力装置１５６によって実現されるようにしてもよいし、切替器ＩＦ２１０、測定器ＩＦ２１２および被試験器ＩＦ２１４は通信装置１５８によって実現されるようにしてもよい。
なお、本実施形態においては、コンピュータである試験装置２が試験プログラム２０を実行するとしたが、試験プログラム２０の機能をハードウェアで構成することによって実現してもよい。
【００１８】
操作部２０２は、作業者が試験項目等を選択するための機能であって、キーボードなどの入出力装置１５６に対する作業者の操作を受け入れ、その操作を示す信号を試験実行制御部２０６に対して出力する。
試験実行制御部２０６は、試験項目等を示す信号に基づいて、切替器１０２がその試験項目に対応する被試験器１１０からの出力信号を測定器１２０に送信するように、切替信号を、切替器ＩＦ２１０およびネットワーク１００を介して、切替器１０２に対して送信する。
切替器１０２は、この切替信号に応じて、被試験器１１０からの出力信号をどの測定器１２０に送信するかを選択するように構成されている。
【００１９】
また、試験実行制御部２０６は、試験対象の被試験器１１０に対して、試験項目に応じた測定条件を、被試験器ＩＦ２１４およびネットワーク１００を介して送信する。
さらに、試験実行制御部２０６は、測定器１２０から、ネットワーク１００および測定器ＩＦ２１２を介して試験結果信号を受信し、受信した試験結果信号に、時刻その他の必要な情報を付加して、試験結果情報を作成する。
さらに、試験実行制御部２０６は、作成した試験結果情報を試験結果格納部２２０に対して出力する。
【００２０】
試験結果格納部２２０は、試験実行制御部２０６からの試験結果情報（自身の試験装置２によって実行された試験に関する試験結果情報）を格納する。
さらに、試験結果格納部２２０は、後述する試験結果取得モジュール２３よって取得された、他の試験装置２によって実行された試験に関する試験結果情報を格納する。
【００２１】
図２（Ｂ）は、試験結果格納部２２０が格納する試験結果情報のグループ（試験結果情報グループ）の構成を例示する図である。
図２（Ｂ）に例示するように、試験結果情報グループは、最新時刻情報（タイムスタンプ）と試験結果情報＃１〜＃Ｍ（Ｍは１以上の整数）とを含む。
最新時刻情報は、各試験装置２が実行した試験のうちの最新の時刻を示す。
試験結果情報＃１〜＃Ｍは、それぞれ、その試験の識別子である試験識別子、その試験を実行した試験装置２の識別子である試験装置識別子、その試験の対象の被試験器１１０の識別しである被試験器識別子、その試験に使用された測定器１２０の識別子である測定器識別子、その試験が実行された時刻（日時）に関する情報、および、試験結果データを含む。
【００２２】
また、試験結果格納部２２０は、試験結果情報を受け入れたときに、既に格納されている試験結果情報のうち、試験識別子が同じものがあるか否かを判断し、試験識別子が同じ試験結果情報がある場合は、その試験結果情報に含まれる試験結果データおよび時刻の更新のみを行ってもよい。
試験結果格納部２２０は、新たな試験結果情報が格納された（あるいは更新された）場合に、最新時刻情報を、その試験結果情報に含まれる時刻に合わせて更新する。
【００２３】
なお、共有サーバ３もまた、図２（Ｂ）に例示する態様で、各試験装置２に関する試験結果情報グループを格納する。
つまり、共有サーバ３は、各試験装置２から試験結果情報を受信する毎に、最新時刻情報を、その試験結果情報に含まれる時刻に合わせて更新する。
【００２４】
試験結果格納部２２０は、試験結果情報が格納または更新された場合に、その試験結果情報を、表示部２２２に対して出力する。
表示部２２２は、試験結果格納部２２０からの試験結果情報を、入出力装置１５６に表示するための処理を行う。
【００２５】
試験結果取得制御部２３０は、所定のタイミングで、共有サーバ３から、他の試験装置２の試験結果情報を取得するための処理を行う。
この所定のタイミングとは、例えば、自身の試験装置２の電源がＯＮとなった場合、自身の試験装置２が試験を行って試験結果情報を格納または更新する場合、または試験結果情報の表示を行う場合である。
また、試験結果取得制御部２３０は、試験結果取得モジュール２３の処理を制御し、状態判定フラグによって、試験結果取得モジュール２３の処理内容の状態を管理する。
状態判定フラグは、送信完了ビット、応答ビット、および最新状態ビットを含む。
【００２６】
試験結果取得モジュール２３において、要求信号送信部２３２は、試験結果取得制御部２３０からの制御に応じて、図２（Ｃ）に例示する要求信号を、通信ＩＦ２０８およびネットワーク１００を介して、共有サーバ３に対して送信する。
図２（Ｃ）は、要求信号の構成を例示する図である。
図２（Ｃ）に例示するように、要求信号は、この信号のタイプを指定するタイプコード、チェックサム、送信元（自身の試験装置２）アドレス、および宛先（共有サーバ３）アドレスを含む。
ここで、要求信号は、例えば、ＩＣＭＰ（Internet Control Message Protocol）メッセージである。
ＩＣＭＰメッセージのタイプを、以下に示す。
【００２７】
【表１】
2011221697.tif 000003
【００２８】
この場合、要求信号のタイプコードは「８」（エコー要求）である。
また、試験結果取得制御部２３０は、要求信号送信部２３２が要求信号を送信すると、状態判定フラグの送信完了ビットを「０」から「１」に設定する。
【００２９】
応答信号受信部２３４は、ネットワーク１００および通信ＩＦ２０８を介して、共有サーバ３から、図２（Ｄ）または図（Ｅ）に例示する応答信号を受信する。
図２（Ｄ）および図（Ｅ）は、応答信号を例示する図であり、（Ｄ）は通信が正常であることを示す応答信号であり、（Ｅ）は通信が異常であることを示す応答信号である。
応答信号は、図２（Ｄ）および図（Ｅ）に例示するように、タイプコード、チェックサム、送信元（共有サーバ３）アドレス、および宛先（自身の試験装置２）アドレスを含む。
通信が異常であることを示す応答信号は、さらに、異常の種類を示すコードを含む。
応答信号は、要求信号と同様に、例えば、ＩＣＭＰメッセージであり、応答信号のタイプコードは、表１のように、通信が正常である場合は「０」であり、異常である場合は「３」である。
また、通信が異常であることを示す応答信号（図２（Ｅ））の異常の種類を示すコードは、例えば、以下の宛先到達不能コードから選択される。
【００３０】
【表２】
2011221697.tif 000004
【００３１】
応答信号判断部２３６は、試験結果取得制御部２３０の制御に応じて、応答信号受信部２３４が受信した応答信号が、通信が正常であることを示すか異常であることを示すかを判断する。
具体的には、応答信号判断部２３６は、応答信号のタイプコードが「０」（エコー応答）であるか「３」（宛先到達不能）であるかを判断する。
応答信号判断部２３６によって、応答信号がエコー応答であると判断された（つまり通信が正常である）場合には、試験結果取得制御部２３０は、状態判定フラグの応答ビットを「０」から「１」に設定する。
一方、応答信号判断部２３６によって、応答信号がエコー応答でないと判断された（つまり通信が異常である）場合、または要求信号が送信されてから所定の期間内に応答信号を受信しない場合には、試験結果取得制御部２３０は、状態判定フラグの応答ビットを「０」から「１」に設定しない。
【００３２】
応答信号判断部２３６によって応答信号がエコー応答であると判断された（つまり通信が正常である）場合、時刻比較部２３８は、試験結果取得制御部２３０の制御に応じて、共有サーバ３から、図２（Ｂ）に示す試験結果情報グループに含まれる最新時刻情報を取得する。
また、時刻比較部２３８は、試験結果格納部２２０から、図２（Ｂ）に示す試験結果情報グループに含まれる最新時刻情報を取得する。
さらに、時刻比較部２３８は、共有サーバ３からの最新時刻情報と試験結果格納部２２０からの最新時刻情報とを比較する。
【００３３】
自身の試験装置２が共有サーバ３と接続されていない間または自身の試験装置２の電源がＯＦＦである間に、他の試験装置２が試験を行った場合は、その間に、自身の試験装置２が未取得の試験結果情報が共有サーバ３に格納されるので、共有サーバ３に格納された最新時刻情報は、自身の試験装置２に格納された最新時刻情報よりも新しい。
このように、時刻比較部２３８が、共有サーバ３からの最新時刻情報が示す時刻が試験結果格納部２２０からの最新時刻情報が示す時刻よりも新しいと判断した場合（つまりタイムスタンプが一致しない場合）には、試験結果取得制御部２３０は、状態判定フラグの最新状態ビットを「０」から「１」に設定する。
一方、時刻比較部２３８が、共有サーバ３からの最新時刻情報が示す時刻が試験結果格納部２２０からの最新時刻情報が示す時刻よりも新しいと判断しない場合（つまりタイムスタンプが一致する場合）には、試験結果取得制御部２３０は、状態判定フラグの最新状態ビットを「０」から「１」に設定しない。
【００３４】
試験結果取得制御部２３０が、状態判定フラグの最新状態ビットを「０」から「１」に設定した場合、つまり、状態判定フラグの全てのビットが「１」に設定された場合、試験結果取得部２４０は、試験結果取得制御部２３０の制御に応じて、共有サーバ３から、他の試験装置２によって作成された試験結果情報を取得する。
この場合、試験結果取得部２４０は、全ての試験装置２に関する試験結果情報を取得してもよいし、指定された試験装置２に関する試験結果情報を取得してもよいし、試験結果格納部２２０に格納された最新時刻情報が示す時刻以降の試験結果情報を取得してもよい。
さらに、試験結果取得部２４０は、取得した試験結果情報を、試験結果格納部２２０に格納する。
この場合、試験結果格納部２２０は、格納された試験結果情報に含まれる時刻に合わせて、最新時刻情報を更新する。
【００３５】
図３は、試験プログラム２０による試験結果情報の取得処理を示すフローチャート（Ｓ１０）である。
ステップ１０２（Ｓ１０２）において、試験結果取得制御部２３０は、状態判定フラグのビットが全て「１」であるか否かを判断し、全て「１」であればＳ１１４に進み、そうでなければＳ１０４に進む。
ステップ１０４（Ｓ１０４）において、要求信号送信部２３２は、要求信号（エコー要求）を送信する。
このとき、試験結果取得制御部２３０は、送信完了ビットを「１」に設定する。
【００３６】
ステップ１０６（Ｓ１０６）において、試験結果取得制御部２３０は、要求信号が送信されてから所定時間が経過したか否かを判断し、所定時間が経過した（タイムアウトとなった）場合は処理を終了し、そうでない場合はＳ１０８に進む。
ステップ１０８（Ｓ１０８）において、応答信号受信部２３４は、応答信号を受信する。
ステップ１１０（Ｓ１１０）において、応答信号判断部２３６は、応答信号が、通信が異常であるか否かを判断し、異常である場合には処理を終了する。
一方、正常である場合、試験結果取得制御部２３０は、応答ビットを「１」に設定し、処理はＳ１１２に進む。
【００３７】
ステップ１１２（Ｓ１１２）において、時刻比較部２３８は、共有サーバ３からの最新時刻情報と試験結果格納部２２０からの最新時刻情報とを比較し、両者が一致する場合は処理を終了する。
一方、一致しない場合（つまり共有サーバ３からの最新時刻情報が示す時刻が試験結果格納部２２０からの最新時刻情報が示す時刻よりも新しい場合）、試験結果取得制御部２３０は、最新状態ビットを「１」に設定し、処理はＳ１１４に進む。
ステップ１１４（Ｓ１１４）において、試験結果取得部２４０は、共有サーバ３から、試験結果情報を取得する。
【００３８】
従来、試験装置は、共有サーバと接続されているか否かに関わらず、また、自身に格納された試験情報が最新か否かに関わらず、共有サーバからの試験情報の取得処理を行うので、共有サーバから情報を取得できないとの結果を得るまでに冗長な応答処理時間（待ち時間）を要し、結果としてシステム全体の処理時間が増大していた。
一方、以上説明したように、本実施形態に係る試験装置２は、共有サーバ３と通信可能な状態であり、かつ、試験装置２に格納された試験情報が最新の状態でない場合のみに、共有サーバ３からの試験情報の取得処理を行うので、上記のような問題が発生せず、システム全体の処理時間の短縮が可能である。
【００３９】
なお、上記実施形態においては、測定器１２０が被試験器１１０からの出力信号を測定する場合を実施例として示したが、例えば測定器１２０が信号発生器等である場合、試験装置２からの制御信号に応じて、測定器１２０が試験を行うための試験信号を被試験器１１０に対して発信するようにしてもよい。
この場合、被試験器１１０は、受信した試験信号に応じて出力信号を送信し、試験装置２は、その出力信号に応じて試験結果を得るようにしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００４０】
本発明は、被試験器に対して試験を行う試験装置に利用可能である。
【符号の説明】
【００４１】
１・・・試験システム、１００・・・ネットワーク、１０２・・・切替器、１１０・・・被試験器、１２０・・・測定器、２・・・試験装置、２０・・・試験プログラム、２０２・・・操作部、２０６・・・試験実行制御部、２２０・・・試験結果格納部、２２２・・・表示部、２２４・・・試験結果送信部、２３・・・試験結果取得モジュール、２３０・・・試験結果取得制御部、２３２・・・要求信号送信部、２３４・・・応答信号受信部、２３６・・・応答信号判断部、２３８・・・時刻比較部、２４０・・・試験結果取得部
【図１】
2011221697.tif 000005
【図２】
2011221697.tif 000006
【図３】
2011221697.tif 000007