【事件の表示】
　特願２０１２−　１９８５１「粒子径計測装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２５年　８月１９日出願公開、特開２０１３−１６０５１４、請求項の数（３）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　本願は，平成２４年２月１日を出願日とする出願であって，平成２７年７月１６日付けで拒絶理由が通知され，同年９月２８日に手続補正がなされ，同年１２月１１日付けで拒絶査定がなされ，平成２８年３月１４日に拒絶査定不服審判の請求がなされ，同年１０月１４日に当審において面接審理を行い、同月１７日付けで当審からの拒絶理由（以下、当審拒絶理由」という。）が通知され、同年１１月８日に意見書及び手続補正書が提出されたものである。
　
第２　本願発明
　本願の請求項１−３に係る発明は、平成２８年１１月８日付けの手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１−３に記載された事項により特定される以下のとおりのものである（以下、それぞれ「本願発明１」−「本願発明３」という。また、下線は補正箇所を示す。）。
「　　【請求項１】
被測定粒子群を含む被測定物を通過させる測定空間に測定光を出射する光源と、
前記光源からの測定光を前記被測定物に照射することにより発生する光強度分布をＮ個の光検出素子で検出する検出器と、
Ｎ個の光検出素子からのＮ個のアナログ信号をＮ個の
二値化信号
二値化信号
前記変換ハードウェアからのＮ個の
二値化信号
二値化信号
Ｎ個の光検出素子の内のＸ個の光検出素子からのＸ個のアナログ信号を出力する出力ファームウェアと、前記出力ファームウェアからのＸ個のアナログ信号に基づいて、
各アナログ信号についてそれぞれ前記測定空間を通過した被測定粒子の粒子径区分を分類して、各粒子径区分における粒子個数を計測する粒子径計測部と、
前記粒子径計測部で計測された各粒子径区分における粒子個数を表示器に表示させるとともに、前記粒子個数計測部で計測された粒子個数を表示器に
表示する制御が可能となっている
前記表示制御部は、
前記粒子径計測で計測された
表示する制御が可能となっている
　　【請求項２】
Ｘ個のアナログ信号から得られた各粒子径区分における粒子個数の積算値を棒グラフで表示する機能を有しており、
前記粒子径計測部で計測した粒子を粒子径ごとの積算値で確認する場合には前記棒グラフ表示を、前記円グラフ表示と切り換えて選択表示
す
　　【請求項３】
前記表示制御部は、所定の時間区間での円グラフと、開始時間から現時間までの円グラフとを表示
す
　
第３　原査定の理由について
１　原査定の理由の概要
「この出願の下記の請求項に係る発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
・請求項１〜３
・引用文献等１−５
１．特開平０１−１８４４４２号公報
２．特開２００３−１７７０８６号公報（周知技術を示す文献）
３．特表２００６−５１１８２２号公報（周知技術を示す文献）
４．特開２０００−０４６７１９号公報
５．特開２００２−３１６２７９号公報（周知技術を示す文献）」
２　原査定の理由の判断
（１）刊行物の記載事項
　ア　刊行物１に記載された事項及び刊行物１に記載された発明について
（ア）
「２　特許請求の範囲
被測定試料を複数個の流体流に分割して単一の光線の光路に分散して交差させる試料分割手段と、前記複数個の流体流中の粒子による散乱光をそれぞれ集光して光電変換する各複数個の集光光学系および光電変換素子とを備えてなる光散乱式粒子計数装置
（イ）
「［実施例〕
　第１図〜第３図はこの発明の一実施例を示し、第１図において、試料空気は複数個の流れに分割され、レーザ光１の光路に紙面に垂直に交差され、複数個の照射領域４ａ、４ｂ、・・・、４ｎが形成される。
これらの照射領域４ａ、４ｂ、・・・、４ｎにおいて試料中の粒子によって生じた散乱光は、各照射領域４ａ、・・・、４ｎに対応して配置された複数個の集光光学系５ａ、５ｂ、・・・、５ｎによって複数個の光電変換素子６ａ、６ｂ、・・・、６ｎのそれぞれに入射される。
光電変換素子６ａ、６ｂ、・・・、６ｎからそれぞれ出力される各系統の出力信号は、それぞれ信号保持回路７ａ、７ｂ、・・・、７ｎに一時蓄積され、切換器８で順次読出すと同時に消去、次の信号の到来に備え待機する。
　第２図は試料分割手段等の要部を示し、試料空気吸引口９より吸引した試料空気は、分配チャンバ１０によってｎ個のノズル１１へほぼ等量ずつ分配される。一列に配列されたノズル１１の先端はレーザ光１の中心軸を通り、減圧ポンプ１２に接続された排出口１３に正対させる。ｎ個のノズル１１の先端から噴出した試料空気流は、シースエア吸引口１４から吸引された清浄空気に包まれ、一様な、乱れの少ない流れとなり、排出口１３へ流入する。
試料空気中の粒子１５がレーザ光１と交差通過する際に散乱する散乱光１６は、複数個の集光レンズでなる集光光学系５によってそれぞれ集光され、それぞれ独立した素子からなる光電変換素子アレイ６へ入射する。光電変換素子アレイの素子数はｎ個以上で、ｎ個のノズル１１のいずれから噴出された試料空気流に含まれる粒子の散乱光であっても、必ずいずれかの光電変換素子で捕捉される構造になっている。光電変換素子アレイ６の
ｎ個
の光電変換素子
光電変換素子アレイ６から取出される信号
に基づき、そのパルス高から粒子の大きさを、パルス数から粒子数
を求める
（ウ）上記（ア）、（イ）の記載事項を総合すると、刊行物１には、次の発明が記載されていると認められる。
「被測定試料を複数個の流体流に分割して単一の光線の光路に分散して交差させる試料分割手段と、前記複数個の流体流中の粒子による散乱光をそれぞれ集光して光電変換する各複数個の集光光学系および光電変換素子アレイ６とを備えてなる光散乱式粒子計数装置であって、
ｎ個の光電変換素子アレイ６から取出される信号に基づき、そのパルス高から粒子の大きさを、パルス数から粒子数を求める装置。」（以下，「引用発明１」という。）
　
　イ　刊行物２には「粒子計数装置の計数方法」に関する発明が記載されている。
　ウ　刊行物３には「空中浮遊病原体検出システム及び方法」に関する発明が記載されている。
　エ　刊行物４には「粒子個数計測方法および粒子計測装置」に関する発明が記載されている。
　オ　刊行物５には「レーザ加工方法およびレーザ加工装置」に関する発明が記載されている。
　
（２）対比
　本願発明１と引用発明１とを対比する。
　
ア　引用発明１の「被測定試料」は、本願発明１の「被測定粒子群を含む被測定物」に相当する。
　引用発明１は「被測定試料を複数個の流体流に分割して単一の光線の光路に分散して交差させる」のであるから、交差する部分において「被測定試料」が「光線の光路」と交差している。
　また、引用発明１において、光源を備えており、「光線の光路」が光源からのものであることは明らかである。
　そうすると引用発明１の「被測定試料を複数個の流体流に分割して単一の光線の光路に分散して交差させる」ことの光源は、本願発明１の「被測定粒子群を含む被測定物を通過させる測定空間に測定光を出射する光源」に相当する。
イ　散乱光は、測定するための光線の照射によるものであるから、引用発明１の「複数個の流体流中の粒子による散乱光をそれぞれ集光して光電変換する各複数個の集光光学系および光電変換素子アレイ６」は、本願発明１の「前記光源からの測定光を前記被測定物に照射することにより発生する光強度分布をＮ個の光検出素子で検出する検出器」に相当する。
　
ウ　引用発明１の「ｎ個の光電変換素子アレイ６から取出される信号に基づき、そのパルス高から粒子の大きさを、パルス数から粒子数を求める装置」と、
本願発明１の「Ｎ個の光検出素子からのＮ個のアナログ信号をＮ個の二値化信号に変換させた後、Ｎ個の二値化信号を出力する変換ハードウェアと、
前記変換ハードウェアからのＮ個の二値化信号に基づいて、各二値化信号についてそれぞれ前記被測定粒子が測定空間を通過したと認識する粒子個数計測部と、
Ｎ個の光検出素子の内のＸ個の光検出素子からのＸ個のアナログ信号を出力する出力ファームウェアと、前記出力ファームウェアからのＸ個のアナログ信号に基づいて、
各アナログ信号についてそれぞれ前記測定空間を通過した被測定粒子の粒子径区分を分類して、各粒子径区分における粒子個数を計測する粒子径計測部と、
前記粒子径計測部で計測された各粒子径区分における粒子個数を表示器に表示させるとともに、前記粒子個数計測部で計測された粒子個数を表示器に表示する制御が可能となっている表示制御部とを備える粒子径計測装置」とは、
「Ｎ個の光検出素子からのＮ個の信号からの、粒子個数計測と粒子径計測をする構成を備えた、
粒子径計測装置」の点で共通する。
　そうすると、両者は、
＜一致点＞
「測定粒子群を含む被測定物を通過させる測定空間に測定光を出射する光源と、
前記光源からの測定光を前記被測定物に照射することにより発生する光強度をＮ個の光検出素子で検出する検出器と、
Ｎ個の光検出素子からのＮ個の信号からの、粒子個数計測と粒子径計測をする構成を備えた、
粒子径計測装置。」
である点で一致し、以下の点で相違するといえる。
＜相違点１＞
　Ｎ個の光検出素子からのＮ個の信号からの、粒子個数計測と粒子径計測をする構成について、
本願発明１では、Ｎ個の信号は、光強度分布を検出するＮ個のアナログ信号であり、「Ｎ個のアナログ信号をＮ個の二値化信号に変換させた後、Ｎ個の二値化信号を出力する変換ハードウェアと、
前記変換ハードウェアからのＮ個の二値化信号に基づいて、各二値化信号についてそれぞれ前記被測定粒子が測定空間を通過したと認識する粒子個数計測部と、
Ｎ個の光検出素子の内のＸ個の光検出素子からのＸ個のアナログ信号を出力する出力ファームウェアと、前記出力ファームウェアからのＸ個のアナログ信号に基づいて、
各アナログ信号についてそれぞれ前記測定空間を通過した被測定粒子の粒子径区分を分類して、各粒子径区分における粒子個数を計測する粒子径計測部」であるのに対して、
引用発明１では、Ｎ個の信号について、光強度分布を検出するとも、Ｎ個のアナログ信号であるとも特定されていないが、そのパルス高から粒子の大きさを、パルス数から粒子数を求めるものであり、そのための構成は特定していない点
　
＜相違点２＞
　本願発明１では、「粒子径計測部で計測された各粒子径区分における粒子個数を表示器に表示させるとともに、前記粒子個数計測部で計測された粒子個数を表示器に表示する制御が可能となっている表示制御部とを備え」、「前記表示制御部は、前記粒子径計測で計測された全粒子個数に対する各粒子径区分における粒子個数の割合を円グラフで表示する制御が可能となっている」のに対して、
引用発明１では、表示については特定していない点。
　
（３）判断
　上記相違点について検討する。
　ア　相違点１について
　相違点１について検討するに、刊行物２〜５のいずれにも、Ｎ個の信号は、光強度分布を検出するＮ個のアナログ信号であり、「Ｎ個のアナログ信号をＮ個の二値化信号に変換させた後、Ｎ個の二値化信号を出力する変換ハードウェアと、
前記変換ハードウェアからのＮ個の二値化信号に基づいて、各二値化信号についてそれぞれ前記被測定粒子が測定空間を通過したと認識する粒子個数計測部と、
Ｎ個の光検出素子の内のＸ個の光検出素子からのＸ個のアナログ信号を出力する出力ファームウェアと、前記出力ファームウェアからのＸ個のアナログ信号に基づいて、
各アナログ信号についてそれぞれ前記測定空間を通過した被測定粒子の粒子径区分を分類して、各粒子径区分における粒子個数を計測する粒子径計測部」からなる構成は記載されてなく、また、そのような構成を示唆する記載もない。
　また、そのような構成が周知であるともいえない。
　したがって、引用発明１において、本願発明１の上記相違点１に係る構成は、刊行物２〜５に記載の技術事項に基づいて、当業者が容易に想到し得るものとはいえない。
　
（４）小括
　以上のとおりであるから、相違点２を検討するまでもなく、本願発明１は、当業者が引用発明１及び刊行物２〜５に記載の技術事項に基づいて容易に発明をすることができたとはいえない。
　また、本願発明２−３は、本願発明１をさらに限定したものであるので、本願発明１と同様に、当業者が引用発明１及び刊行物２〜５に記載の技術事項に基づいて容易に発明をすることができたとはいえない。
　よって、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　
第４　当審拒絶理由について
１　当審拒絶理由の概要
「理由１（特許法第３６条第６項第２号違反について）
　本件出願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で不備のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。
　　　　　　　　　　　　　　　　　記
　
　１　請求項１には、「Ｎ個の光検出素子からのＮ個のアナログ信号をＮ個のデジタル信号に変換させた後、Ｎ個のデジタル信号を出力する変換ハードウェア」と記載されているが、ここでいう「デジタル信号に変換」とは２値化の意味なのか、それとも例えば２５６階調等の多値化も含むものなのか不明確である。
　２　請求項１には、「・・・前記表示制御部は、全粒子個数に対する各粒子径区分における粒子個数の割合・・・・」と記載されているが、「全粒子個数」が「粒子個数計測部」で計測されたものなのか、「粒子径計測部」で計測されたものなのか明確でない。
　
　３　請求項１には、「・・・前記粒子径計測部で計測された各粒子径区分における粒子個数を表示器に表示させるとともに、前記粒子個数計測部で計測された粒子個数を表示器に表示させることが可能となっている表示制御部とを備える粒子径計測装置であって、
前記表示制御部は、全粒子個数に対する各粒子径区分における粒子個数の割合を円グラフで表示させることが可能となっている・・・・」と記載されている。
　しかし、ここでの「表示させることが可能」とは、表示させることが可能なソフトウエアをインストールすることができる、あるいは、表示させることが可能なソフトウエアをインストールすると表示させることができるという「表示制御部」の性能とも解釈することができるし、表示させることが可能なように制御するという「表示制御部」の制御内容とも解釈することができるので明確でない。
　
　してみると、請求項１に係る発明と、請求項１を直接または間接に引用する請求項２〜３に係る発明は、明確でない。」
２　当審拒絶理由の「理由１（特許法第３６条第６項第２号）」の判断
　平成２８年１１月８日付け手続補正書によって、本願の請求項１は「第２　本願発明」に記載したとおり補正された。
　当審拒絶理由で指摘した記載不備１〜３に対して、それぞれ「デジタル信号」が「二値化信号」と補正され、「全粒子個数に対する各粒子径区分における粒子個数の割合」が「前記粒子径計測で計測された全粒子個数に対する各粒子径区分における粒子個数の割合」と補正され、「表示させることが可能となっている表示制御部」が「表示する制御が可能となっている表示制御部」と補正されたことにより、請求項１に係る発明は明確となった。
　また、本件補正前の請求項２〜３に対応する本件補正後の請求項２〜３に係る発明も明確となった。
　よって、当審拒絶理由は解消した。
　
第５　むすび
　以上のとおりであるから、原査定の理由及び当審で通知した拒絶理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。