【事件の表示】
　上記当事者間の特許第５３２０４４２号発明「デンドライト状銅粉」の特許無効審判事件について、次のとおり審決する。
【結　論】
　特許第５３２０４４２号の明細書及び特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正明細書及び特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項１−３について訂正することを認める。
　本件審判の請求は、成り立たない。
　審判費用は、請求人の負担とする。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　本件特許第５３２０４４２号（以下「本件特許」という。）は、平成２３年７月１３日に出願（特願２０１１−１５４５７７号）されたものであって、その請求項１乃至３に係る発明について、平成２５年７月１９日に特許権の設定登録がなされたものである。　
 
　これに対し、株式会社ニューメタルス　エンド　ケミカルス　コーポレーションから平成２６年３月３１日に、請求項１〜３に係る発明の特許について無効審判の請求がなされたものであるところ、審判請求以降の手続は、おおむね次のとおりである。　
 
平成２６年　６月１７日付け　答弁書、訂正請求書
　　　同年　７月２４日付け　手続補正書（被請求人） 
　　　同年　８月２５日付け　審尋
　　　同年　９月２３日差出　上申書（請求人）
　　　同年１０月１６日付け　審判事件弁駁書
　　　同年１０月２０日付け　参加申請書（請求人側）
　　　同年１１月　４日差出　手続補正書（請求人）
　　　同年１２月１７日付け　参加許否の決定　
　　　同年１２月１８日付け　審尋 
平成２７年　１月２３日付け　審判事件審尋回答書（請求人）
　　　同年　２月２６日付け　通知書 
　　　同年　３月１０日付け　同意回答書（被請求人）
　　　同年　３月２７日付け　審理事項通知書（１回目）　
　　　同年　５月１５日付け　口頭審理陳述要領書（被請求人）　
　　　同年　５月１６日付け　口頭審理陳述要領書（請求人、参加人）
　　　同年　５月２２日付け　審理事項通知書（２回目）　
　　　同年　５月２９日差出　口頭審理陳述要領書（２）（請求人、参加人）
　　　同年　５月２９日差出　口頭審理陳述要領書（３）（請求人、参加人）
　　　同年　５月２９日付け　口頭審理陳述要領書（２）（被請求人）　
　　　同年　５月２９日　　　口頭審理　
　　　同年　６月　２日付け　上申書（請求人、参加人）
　　　同年　６月１６日付け　上申書（被請求人）　
　　　同年　７月　１日付け　上申書（２）（請求人、参加人）
　　　同年　７月２８日付け　無効理由通知書
　　　同年　８月２５日差出　意見書 （請求人、参加人）
　　　同年　８月２７日付け　審判事件意見書、訂正請求書
　　　同年１０月　１日付け　手続補正書（被請求人） 
　　　同年１１月２０日付け　審判事件弁駁書
平成２８年　１月２１日付け　訂正拒絶理由通知書
　　　同年　２月１５日付け　審判事件意見書、手続補正書 （被請求人）
　　　同年　８月　３日付け　補正許否の決定
第２　訂正請求についての当審の判断
１　請求の趣旨・本件訂正の内容　
　被請求人が平成２７年８月２７日に提出し、平成２７年１０月１日付けの手続補正書及び平成２８年２月１５日付けの手続補正書によって、請求の理由及び訂正明細書が補正された、訂正請求書による訂正（以下、当該補正された訂正請求書に係る訂正を「本件訂正」という。）の趣旨は、「特許第５３２０４４２号の明細書、特許請求の範囲及び図面を、本件請求書に添付した訂正明細書、特許請求の範囲及び図面のとおり一群の請求項ごとに訂正することを求める。」というものであって、本件訂正の内容は、上記平成２８年２月１５日付けの手続補正書に記載されているとおり、以下の訂正事項１〜１３からなるものである。
　なお、本件訂正については、平成２８年２月１５日付けで手続補正（以下、「訂正補正」という。）がなされているところ、当該訂正補正は、訂正事項（Ｋ）を訂正の目的と整合するように補正するものであり、また、訂正事項（Ｎ）、（Ｏ）、（Ｐ）を削除するものであるから、訂正請求書の要旨を変更するものではない。
　以下、本件訂正前の明細書及び特許請求の範囲をそれぞれ「訂正前明細書」及び「訂正前特許請求の範囲」といい、本件訂正後の明細書及び特許請求の範囲をそれぞれ「訂正明細書」及び「訂正特許請求の範囲」という。また、上記訂正補正によって、図面の訂正はなくなったので、本件訂正前後にかかわらず単に「図面」という。訂正事項の下線は当審が付加したものであり、本件訂正によって記載が変更された箇所を表す。
（１）　訂正事項１　
　訂正前特許請求の範囲の請求項１において、「電解法によって得られる銅粉であって、」の後に、「レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０が５μｍ以上２５μｍ以下であって、」を追加する。
　また、請求項１を引用する請求項２〜３も同様に訂正する。
 
（２）　訂正事項２　
　訂正前特許請求の範囲の請求項１において、「８０
％
個数％
　また、請求項１を引用する請求項２〜３も同様に訂正する。
 
（３）　訂正事項３　
　訂正前明細書の段落【００２２】において、「８０
％
個数％
％
個数％
 
（４）　訂正事項４　
　訂正前明細書の段落【００２４】において、
「（Ｄ５０）
  本銅粉の中心粒径（Ｄ５０）、すなわちレーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０は、
５μｍ〜５０μｍであるのが好ましく、中でも８μｍ以上或いは４５μｍ以下、その中でも１０μｍ以上或いは４０μｍ以下、その中でも特に２５μｍ以下であるのがより一層好ましい
「（Ｄ５０）
　本銅粉の中心粒径（Ｄ５０）、すなわちレーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０は、
５μｍ以上２５μｍ以下であるのが好ましい
と訂正する。
 
（５）　訂正事項５　
　訂正前明細書の段落【００３７】において、
「＜粒子形状の観察＞
　走査型電子顕微鏡（２，０００倍）にて、任意の１００視野において
、それぞれ
、
「＜粒子形状の観察＞
　走査型電子顕微鏡（２，０００倍）にて、任意の１００視野におい
て５
それぞれ
と訂正する。
 
（６）　訂正事項６　
　訂正前明細書の段落【００４２】において、「９０
％
個数％
 
（７）　訂正事項７　
　訂正前明細書の段落【００４３】において、「９０
％
個数％
 
（８）　訂正事項８　
　訂正前明細書の段落【００４４】において、「９０
％
個数％
 
（９）　訂正事項９　
　訂正前明細書の段落【００４６】において、「９０
％
個数％
 
（１０）　訂正事項１０　
　訂正前明細書の段落【００４７】において、「９０
％
個数％
 
（１１）　訂正事項１１　
　訂正前特許請求の範囲の請求項１において、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）」とあるのを「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ
、観察倍率２，０００倍
　また、請求項１を引用する請求項２〜３も同様に訂正する。
（１２）　訂正事項１２　
　訂正前特許請求の範囲の請求項１において、「銅粉粒子を観察した際、」の前に「、任意の１００視野において５００個の」を追加する。
　また、請求項１を引用する請求項２〜３も同様に訂正する。
（１３）　訂正事項１３　
　訂正前特許請求の範囲の請求項１において、「全銅粉粒子のうちの」とあるのを、「全銅粉粒子
すなわち前記５００個の銅粉粒子
　また、請求項１を引用する請求項２〜３も同様に訂正する。
２　訂正の適否についての判断
（１）　訂正事項１について　
　ア　訂正の目的の適否　
　訂正事項１は、訂正前特許請求の範囲の請求項１に、新たに「レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０が５μｍ以上２５μｍ以下であって、」なる発明特定事項を追加するものであるところ、訂正事項１は、訂正前特許請求の範囲の請求項１に係る発明の特定事項である「デンドライト状銅粉」について、レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０が５μｍ以上２５μｍ以下であることを、新たに規定することによって、特許請求の範囲を減縮しようとするものである。
　したがって、訂正事項１は、請求項１について、特許法第１３４条の２第１項ただし書第１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　また、請求項１を引用する請求項２、３においても、請求項１と同様に、訂正事項１は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
 
　イ　新規事項追加の有無　
　訂正前明細書の段落【００２４】の記載「本銅粉の中心粒径（Ｄ５０）、すなわちレーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０は、５μｍ〜５０μｍであるのが好ましく、中でも８μｍ以上或いは４５μｍ以下、その中でも１０μｍ以上或いは４０μｍ以下、その中でも特に２５μｍ以下であるのがより一層好ましい。」に基づいて、体積累積粒径Ｄ５０の好ましいとされる範囲について検討する。
　まず、段落【００２４】の上記記載に基づけば、好ましいとされる範囲は「５μｍ〜５０μｍ」であり、当該「５μｍ〜５０μｍ」の範囲において、中でも好ましいとされる「８μｍ以上或いは４５μｍ以下」とは、具体的に「８μｍ〜５０μｍ」又は「５μｍ〜４５μｍ」の範囲である。
　さらに、当該「８μｍ〜５０μｍ」又は「５μｍ〜４５μｍ」の範囲において、その中でも好ましいとされる「１０μｍ以上或いは４０μｍ以下」とは、具体的に「１０μｍ〜５０μｍ」、「１０μｍ〜４５μｍ」、「８μｍ〜４０μｍ」又は「５μｍ〜４０μｍ」の範囲である。
　さらに、当該「１０μｍ〜５０μｍ」、「１０μｍ〜４５μｍ」、「８μｍ〜４０μｍ」又は「５μｍ〜４０μｍ」の範囲において、その中でも特に好ましいとされる「２５μｍ以下」とは、具体的に「１０μｍ〜２５μｍ」、「８μｍ〜２５μｍ」又は「５μｍ〜２５μｍ」の範囲である。
　したがって、訂正前明細書の段落【００２４】には、体積累積粒径Ｄ５０の特に好ましい範囲が「５μｍ〜２５μｍ」すなわち「５μｍ以上２５μｍ以下」であることが記載されており、訂正事項１は訂正前明細書の上記記載に基づいてなされたものであって、新たな技術事項を導入するものではないから、訂正事項１は、訂正前明細書に記載した事項の範囲内においてしたものであるといえる。
　したがって、訂正事項１は、特許法第１３４条の２第９項で準用する第１２６条第５項の規定に適合する。
 
　ウ　特許請求の範囲の実質上の拡張・変更の存否について　
　上記アで検討したように、訂正事項１は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものであるから、この訂正事項によって、実質上特許請求の範囲が拡張されたり、変更されたりするものでないことは明らかである。
　したがって、訂正事項１は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。　
 
（２）　訂正事項２について　
　ア　訂正の目的の適否　
　訂正事項２は、訂正前特許請求の範囲の請求項１において、「８０％以上」との記載を「８０個数％以上」と訂正するものである。
　上記「８０％以上」なる記載について、「％」が、個数に基づく％であるのか、体積に基づく％であるのか、質量に基づく％であるのか明瞭ではなかったため、「個数％」とすることによって、明瞭でない記載を解消しようとするものである。
　したがって、訂正事項２は、請求項１について、特許法第１３４条の２第１項ただし書第３号に規定する明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。
　また、請求項１を引用する請求項２、３においても、請求項１と同様に、訂正事項１は、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。
　イ　新規事項追加の有無　
　本件訂正前の請求項１の記載によれば、「８０％以上」とは、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて銅粉粒子を観察した際」に、「全銅粉粒子」のうちの「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子」（以下「特定形状サイズの銅粉粒子」という。）の割合を表しており、また、上記「％」の値について、訂正前明細書の段落【００２１】〜【００２２】の記載も参照すれば、上記「％」の算出にあたり、走査型電子顕微鏡によって銅粉粒子を一つ一つ観察して、銅粉粒子毎に、上記特定形状サイズの銅粉粒子であるか否かを判断し、観察した全銅粉粒子の個数に対する上記特定形状サイズの銅粉粒子の個数の割合を算出しているものと認められるから、上記「％」とは、体積や質量を基準とした％ではなく、個数を基準とした％、すなわち、「個数％」を意味するものと解するのが相当である。
　よって、「８０％以上」を「８０個数％以上」と訂正する、訂正事項２は、訂正前明細書に記載した事項の範囲内においてしたものであるといえる。
　したがって、訂正事項２は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。
　ウ　特許請求の範囲の実質上の拡張・変更の存否について　
　上記アで検討したように、訂正事項１は、明瞭でない記載の釈明を目的とするものであるから、この訂正事項によって、実質上特許請求の範囲が拡張されたり、変更されたりするものでないことは明らかである。
　したがって、訂正事項２は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。　
（３）　訂正事項３、６〜１０について 
　ア　訂正の目的の適否　
　訂正事項３、６〜１０は、訂正前明細書の段落【００２２】、【００４２】、【００４３】、【００４４】、【００４６】、【００４７】のそれぞれにおいて、「８０％以上」、「９０％以上」との記載を、それぞれ、「８０個数％以上」、「９０個数％以上」と訂正するものである。
　ここで、上記「８０％以上」及び「９０％以上」なる記載は、上記「％」が、個数に基づく％であるのか、体積に基づく％であるのか、質量に基づく％であるのか明瞭ではなかったため、「個数％」とすることによって、明瞭でない記載を解消しようとするものである。
　したがって、訂正事項３、６〜１０は、特許法第１３４条の２第１項ただし書第３号に規定する明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。
　イ　新規事項追加の有無　
　上記（２）イで検討したように、訂正前明細書の段落【００２１】〜【００２２】の記載を参照すれば、段落【００２２】、【００４２】、【００４３】、【００４４】、【００４６】、【００４７】に記載された「％」とは、体積や質量を基準とした％ではなく、個数を基準とした％、すなわち、「個数％」を意味していたものと解するのが相当である。
　よって、「８０％以上」を「８０個数％以上」と訂正し、「９０％以上」を「９０個数％以上」と訂正する、訂正事項３、６〜１０は、訂正前明細書に記載した事項の範囲内においてしたものであるといえる。
　したがって、訂正事項３、６〜１０は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。
　ウ　特許請求の範囲の実質上の拡張・変更の存否について　
　上記アで検討したように、訂正事項３、６〜１０は、明瞭でない記載の釈明を目的とするものであるから、この訂正事項によって、実質上特許請求の範囲が拡張されたり、変更されたりするものでないことは明らかである。
　したがって、訂正事項３、６〜１０は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。
（４）　訂正事項４について　
　ア　訂正の目的の適否　
　訂正事項４は、訂正前明細書の段落【００２４】に記載された「体積累積粒径Ｄ５０」の範囲と上限値について、訂正事項１に係る訂正によって生じる特許請求の範囲の記載と発明の詳細な説明との記載の不一致を解消することにより、記載の整合を図るものである。
　よって、訂正事項４は、特許法第１３４条の２第１項ただし書第３号に規定する明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。　
 
　イ　新規事項追加の有無　
　上記（１）イで検討したように、訂正前明細書の段落【００２４】には、「体積累積粒径Ｄ５０」の特に好ましい範囲が「５μｍ以上２５μｍ以下」であることが記載されているといえ、また、「５０μｍ以下」において「様々な導電性ペーストに適用可能となり、好ましい。」のであれば、「５０μｍ以下」の範囲に含まれる「２５μｍ以下」においても、同様に、「様々な導電性ペーストに適用可能となり、好ましい。」ことは明らかである。
　よって、訂正事項４は、訂正前明細書に記載した事項の範囲内においてしたものであるといえる。
　したがって、訂正請求４は、特許法第１３４条の２第９項で準用する第１２６条第５項の規定に適合する。
 
　ウ　特許請求の範囲の実質上の拡張・変更の存否について　
　上記アのとおり、訂正事項４は、明瞭でない記載の釈明を目的とするものであるから、この訂正事項によって、実質上特許請求の範囲が拡張されたり、変更されたりするものでないことは明らかである。
　したがって、訂正事項４は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。　
 
（５）　訂正事項５について　
　ア　訂正の目的の適否　
　訂正事項５は、訂正前明細書の段落【００３７】の「任意の１００視野において、それぞれ５００個の粒子の形状を観察し、主軸の太さａ（「主軸太さａ」）、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ（「枝長ｂ」）、主軸の長径に対する枝の本数（「枝本数／長径Ｌ」）を測定」との記載が、任意の１００視野のそれぞれにおいて５００個の粒子の形状を観察し、主軸の太さａ等を測定することを意味するのか（以下「前者」という。）、任意の１００視野において形状を観察した５００個の粒子のそれぞれについて主軸の太さａ等を測定することを意味するのか（以下「後者」という。）明瞭ではなかったため、「任意の１００視野において５００個の粒子の形状を観察し、５００個の粒子それぞれ主軸の太さａ（「主軸太さａ」）、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ（「枝長ｂ」）、主軸の長径に対する枝の本数（「枝本数／長径Ｌ」）を測定」と訂正することにより、後者の意味であることを明確にしたものである。
　したがって、訂正事項５は、特許法第１３４条の２第１項ただし書第３号に規定する明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。
　イ　新規事項追加の有無　
　（ア）訂正前明細書の段落【００３７】の上記記載について、仮に前者の意味で記載されているとすれば、走査型電子顕微鏡で形状を観察する際、１視野あたり観察する粒子の個数は５００個であり、１００視野全てで観察する粒子の個数は５００×１００＝５００００個となるが、後者の意味で記載されているとすれば、１００視野で５００個の粒子を観察するから、１視野あたり観察する粒子の個数は、５００÷１００＝５個であり、１００視野全てで観察する粒子の個数は５００個となる。
　そこで、段落【００３７】の記載が、前者と後者のいずれを意味するかについて、以下検討する。
　（イ）図２は、「実施例１で得られた電解銅粉から任意に選択した一部の粉末を、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて１２、０００倍の倍率で観察した際のＳＥＭ写真」（段落【００１７】参照。）であり、１枚のＳＥＭ写真によって観察される領域は、上記「１視野」に相当するものと考えられる。
　図２から、その中心に明瞭に写っている１個の粒子の他に、背景に１〜２個の粒子が写っていることが見て取れる。つまり、実施例１の銅粉を観察すると、１２、０００倍の倍率で観察したＳＥＭ写真には２〜３個の粒子が写っており、２、０００倍の倍率で観察したＳＥＭ写真には、１２、０００倍のＳＥＭ写真の６×６＝３６倍の領域が写ることを勘案すると、（２〜３）×３６＝７２〜１０８個の粒子が写るものと推定される。
　すると、２、０００倍の１枚のＳＥＭ写真には、高々１００個程度の粒子が写るものと推定されるから、当該１枚のＳＥＭ写真、すなわち、１視野から５個の粒子を測定することはできるけれども、５００個の粒子を測定することはできないので、１枚のＳＥＭ写真において観察する粒子の数は５個が正しいと考えられる。
　したがって、訂正前明細書の段落【００３７】の上記記載は、図２の視認事項に基づいて検討すれば、後者、すなわち、任意の１００視野において形状を観察した５００個の粒子のそれぞれについて主軸の太さａ等を測定することを意味するものと解される。
  （ウ）訂正前明細書の段落【００３７】の上記記載が、仮に前者、すなわち、任意の１００視野のそれぞれにおいて５００個の粒子の形状を観察し、主軸の太さａ等を測定することを意味しているとすると、観察する粒子の数は１００×５００＝５００００個となる。観察する銅粉粒子の個数が多いほど、全銅粉粒子における「特定形状サイズの銅粉粒子」の個数についての正確な割合を求めることができることは、統計学における大数の法則から明らかではあるものの、５００００個という個数は、実際に観察することが不可能とまではいえないにしても、観察や測定にかかるコストや時間を勘案すれば不合理といえるほど大きい個数であり、標本を抽出する当業者であれば、通常採用しないような大きな個数であるといえる。
　したがって、この点からも、訂正前明細書の段落【００３７】の上記記載は、前者を意味せず、後者を意味するものといえる。
　（エ）以上から、訂正事項５は、訂正前明細書に記載した事項の範囲内においてしたものであるといえる。
　したがって、訂正事項５は、特許法第１３４条の２第９項で準用する第１２６条第５項の規定に適合する。
ウ　特許請求の範囲の実質上の拡張・変更の存否について　
　上記アで検討したように、訂正事項５は、明瞭でない記載の釈明を目的とするものであるから、この訂正事項によって、実質上特許請求の範囲が拡張されたり、変更されたりするものでないことは明らかである。
　したがって、訂正事項５は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。　
（６）　訂正事項１１について　
　ア　訂正の目的の適否　
　訂正事項１１は、訂正前特許請求の範囲の請求項１に、走査型電子顕微鏡を用いて銅粉粒子を観察する際の条件として、「観察倍率２，０００倍」を新たに規定することにより、特許請求の範囲を減縮しようとするものである。
　したがって、訂正事項１１は、請求項１について、特許法第１３４条の２第１項ただし書第１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　また、請求項１を引用する請求項２、３においても、請求項１と同様に、訂正事項１１は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　イ　新規事項追加の有無　
　訂正前明細書の段落【００３７】には、「＜粒子形状の観察＞
　走査型電子顕微鏡（２，０００倍）にて、任意の１００視野において、それぞれ５００個の粒子の形状を観察し、主軸の太さａ（「主軸太さａ」）、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ（「枝長ｂ」）、主軸の長径に対する枝の本数（「枝本数／長径Ｌ」）を測定し、その平均値を表１に示した。」と記載されているので、走査型電子顕微鏡を用いて銅粉粒子を観察する際の観察倍率として２０００倍とすることが記載されているといえる。
　よって、訂正事項１１は、訂正前明細書の上記記載に基づいてなされたものであって、新たな技術事項を導入するものではないから、訂正事項１１は、訂正前明細書に記載した事項の範囲内においてしたものであるといえる。
　したがって、訂正事項１１は、特許法第１３４条の２第９項で準用する第１２６条第５項の規定に適合する。
 
　ウ　特許請求の範囲の実質上の拡張・変更の存否について　
　上記アで検討したように、訂正事項１１は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものであるから、この訂正事項によって、実質上特許請求の範囲が拡張されたり、変更されたりするものでないことは明らかである。
　したがって、訂正事項１１は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。
（７）　訂正事項１２について　
ア　訂正の目的の適否　
　訂正事項１２は、訂正前特許請求の範囲の請求項１において、走査型電子顕微鏡を用いて観察する対象となる銅粉粒子が、「任意の１００視野において５００個の」銅粉粒子であることを新たに規定することによって、特許請求の範囲を減縮しようとするものである。
　したがって、訂正事項１２は、請求項１について、特許法第１３４条の２第１項ただし書第１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　また、請求項１を引用する請求項２、３においても、請求項１と同様に、訂正事項１２は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
イ　新規事項追加の有無
　訂正前明細書の段落【００３７】の記載「走査型電子顕微鏡（２，０００倍）にて、任意の１００視野において、それぞれ５００個の粒子の形状を観察し、主軸の太さａ（「主軸太さａ」）、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ（「枝長ｂ」）、主軸の長径に対する枝の本数（「枝本数／長径Ｌ」）を測定し」は、上記（５）イの（イ）と（ウ）で検討したとおり、任意の１００視野において形状を観察した５００個の粒子のそれぞれについて主軸の太さａ等を測定することを意味していると解されるから、走査型電子顕微鏡を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察することは、訂正前明細書に記載されているといえる。
　したがって、訂正事項１２は、請求項１について、訂正前明細書に記載した事項の範囲内においてしたものであるといえるから、特許法第１３４条の２第９項で準用する第１２６条第５項の規定に適合する。
ウ　特許請求の範囲の実質上の拡張・変更の存否について　
　上記アで検討したように、訂正事項１２は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものであるから、この訂正事項によって、実質上特許請求の範囲が拡張されたり、変更されたりするものでないことは明らかである。
　したがって、訂正事項１２は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。　
（８）　請求項１〜３に係る訂正事項１３について　
ア　訂正の目的の適否　
　訂正事項１３は、本件訂正前の請求項１において、「全銅粉粒子のうちの」と記載されているところを、「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉のうちの」と訂正するものである。
　ここで、訂正事項１３は、本件訂正前の請求項１に記載された「全銅粉粒子」が、「デンドライト状銅粉」に含まれる「銅粉粒子」の全てを意味するのか、それとも、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて」「観察」する対象となる５００個の「銅粉粒子」の全てを意味するのかが明瞭ではなかったため、後者、すなわち、「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉のうちの」と訂正することによって、後者を意味することを明確にしたものである。
　よって、当該訂正事項１３は、特許法第１３４条の２第１項ただし書第３号に規定する明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。
　
イ　新規事項追加の有無　
　本件訂正前の請求項１の記載によれば、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて銅粉粒子を観察」することにより、「特定の銅粉粒子」が「全銅粉粒子のうちの８０％以上含有する」ものであることが特定されているところ、「特定の銅粉粒子」を８０％以上含有されると判断された「全銅粉粒子」とは、走査型電子顕微鏡を用いて観察されたところの銅粉粒子の全てであることは明らかである。そして、上記（５）イの（イ）と（ウ）で検討したとおり、走査型電子顕微鏡を用いて観察される銅粉粒子の個数が５００個であることは、訂正前明細書の段落【００３７】に記載されているといえる。
　よって、訂正事項１３は、訂正前明細書に記載した事項の範囲内においてしたものであるから、特許法第１３４条の２第９項で準用する第１２６条第５項に適合する。
ウ　特許請求の範囲の実質上の拡張・変更の存否について　
　上記アのとおり、訂正事項１３は、明瞭でない記載の釈明を目的とするものであるから、この訂正事項によって、実質上特許請求の範囲が拡張されたり、変更されたりするものでないことは明らかである。
　したがって、訂正事項１３は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。
（９）　一群の請求項について　
ア　訂正事項１、２、１１〜１３に係る本件訂正後の請求項１を、請求項２、３が引用しているから、訂正後の請求項１〜３は、一群の請求項を構成するものであり、一群の請求項ごとに訂正を求める本件訂正請求は、特許法第１３４条の２第３項の規定に適合するものである。
 
イ　訂正事項３〜１０は、いずれも、本件訂正後の請求項１及び請求項１を引用する請求項２、３と関係しており、請求項１〜３の全てについて行う本件訂正請求は、特許法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第４項の規定に適合するものである。
３　訂正の適否についての結論　
　以上のとおりであるから、本件訂正は、特許法第１３４条の２第１項ただし書第１号及び第３号に掲げる事項を目的とするものに該当し、特許法第１３４条の２第３項、同法第１３４条の２第９項で準用する同法第１２６条第４項、第５項及び第６項の規定に適合するので、本件訂正を認める。　
 
第３　本件発明　
　上記第２のとおり、本件訂正は認められたので、本件特許の請求項１〜３に係る発明（以下、それぞれ「本件発明１〜３」といい、これらをまとめて「本件発明」という。）は、本件訂正後の特許請求の範囲の請求項１〜３に記載された事項により特定される次のとおりのものである。　
 
「【請求項１】
  電解法によって得られる銅粉であって、
　レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０が５μｍ以上２５μｍ以下であって、
　走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、観察倍率２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察した際、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子が全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０個数％以上含有するデンドライト状銅粉。
【請求項２】
  酸素濃度が０．２０％以下であることを特徴とする請求項１に記載のデンドライト状銅粉。
【請求項３】
  請求項１のデンドライト状を呈する銅粉粒子において、主軸の長径Ｌに対する枝の分岐本数（枝本数／長径Ｌ）０．５本／μｍ〜４．０本／μｍであることを特徴とする請求項１又は２に記載のデンドライト状銅粉。」
 
第４　請求人及び参加人の主張と証拠方法、並びに当審からの無効理由　
１　請求人及び参加人の主張の概要　
（１）　請求人は、「特許第５３２０４４２号の特許請求の範囲の請求項１−３に記載された発明についての特許を無効とする。審判費用は被請求人の負担とする、」との審決を求め、審判請求書とともに甲第１号証〜甲第９号証を提出し、審判事件弁駁書（平成２６年１０月１６日付け）とともに甲第１０〜１９号証を提出し、手続補正書とともに甲第７号証の差し替えを提出し、審判事件審尋回答書を提出した。そして、請求人及び参加人は、口頭審理陳述要領書とともに甲第２０〜３０号証を提出し、口頭審理陳述要領書（２）とともに甲第３１〜３４号証を提出し、口頭審理陳述要領書（３）を提出し、口頭審理の場で甲第１号証の第４０頁の写しを提出し、上申書を提出し、上申書（２）とともに甲第３５〜３８号証を提出し、さらに、意見書、審判事件弁駁書（平成２７年１１月２０日付け）を提出している。そして、上記提出書類及び口頭審理における主張を整理すると、請求人及び参加人の主張する無効理由は以下のとおりである。　
 
ア　無効理由１−１　
　本件発明１〜３は、甲第４〜７号証を参酌すれば、甲第１号証に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号の規定により特許を受けることができないものであるから、その特許は同法第１２３条第１項第２号に該当し、無効とすべきである。
 
イ　無効理由１−２　
　本件発明１〜３は、甲第４〜７号証を参酌すれば、甲第１号証に基づき、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、その特許は同法第１２３条第１項第２号に該当し、無効とすべきである。
 
ウ　無効理由１−３　
　本件発明１〜３は、甲第８号証を参酌すれば、甲第９号証と甲第１号証に基づき、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、その特許は同法第１２３条第１項第２号に該当し、無効とすべきである。
 
エ　無効理由１−４
　本件発明１は、甲第２８号証の記載事項を甲第１号証に適用することによって、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、その特許は同法第１２３条第１項第２号に該当し、無効とすべきである。　
オ　無効理由２−１
　本願の図２に撮影されたデンドライト状銅粉は、その全景が撮影されておらず、または、末端まで撮影されておらず、本件発明１の特定のデンドライト形状を備えるか確認できないので、本件発明１は発明の詳細な説明に記載したものではない。したがって、その特許は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである。
カ　無効理由２−２
　「８０％以上」が仮に個数基準であったとしても、この個数を区別する手段がなく、８０％個数以上と、８０％個数以下を比較するすべがないから、発明の詳細な説明には当業者が本件発明１〜３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されていない。したがって、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである。
キ　無効理由２−３
　「特定の銅粉形状」及び「含有率８０（個数）％以上」の本件発明１−３を意図して作成、分離・選択することができないから、発明の詳細な説明には当業者が本件発明１〜３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されていない。したがって、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである。 
ク　無効理由２−４
　１枚のＳＥＭ画像では、主軸から四方に枝分かれする枝本数（特に主軸の裏側の本数）を確認することは不可能であるから、発明の詳細な説明には当業者が本件発明３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されていない。したがって、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである。
ケ　無効理由２−５
　デンドライト状電解銅粉は、同一製法で作成したとしても同一形状になるとは限らず、即ち主軸の太さ、枝の長さ、枝の本数を制御することは到底できず、それを制御する特別な製法を明細書に認めることはできないから、発明の詳細な説明には当業者が本件発明１−３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されていない。したがって、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである。
コ　無効理由２−６
　銅粉のＳＥＭ画像からは、幹の裏側にある最も長い枝の長さを測定することはできず、また、枝の長さが測定できる場合であっても、奥行きを無視した見掛けの長さが測定されるに過ぎないので、「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」を測定することはできないから、そのような「長さｂ」を特定した請求項１に係る発明は、当業者であっても実施できないものである。したがって、発明の詳細な説明には当業者が本件発明１の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されておらず、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである。
サ　無効理由２−７
　走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて銅粉粒子を観察した際、撮影する方向によって銅粉は異なる形状として観察されるので、同一の銅粉であっても、請求項１で特定される電解銅粉が「８０個数％以上を満たす」ことも、「８０個数％以上を満たさない」ことも起こり得るから、特許を受けようとする発明が明確であるとは言えず、また、当業者であっても、実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものであるとはいえない。したがって、その特許は、特許法第３６条第６項第２号及び特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである。
（２）上記（１）に記載されたア〜サの無効理由は、被請求人が行った訂正請求にともなって、審判請求書に記載された無効理由１及び２の一部が、平成２６年１０月１６日付け弁駁書によって撤回され、また、口頭審理陳述要領書において、２つの無効理由（「理由１−４」、「理由２−６」）が追加され、さらに、口頭審理陳述要領書（２）において、１つの無効理由（「理由２−７」）が追加されたものである。なお、無効理由が上記（１）のとおりであることは、口頭審理の場で請求人に確認し、第１回口頭審理調書に添付した別紙２にまとめられている。
　なお、請求人及び参加人は、平成２７年７月１日付けの上申書（２）において、１）訂正後の請求項１〜３に係る本件発明は、当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものではないから、特許法第３６条第４項第１号に違反しているとの無効理由（以下「無効理由３−１」という。）、及び、２）体積累積粒度径Ｄ５０についての限定事項は設計的事項であり、当業者が容易に発明をすることができるものであるから、特許法第２９条第２項に違反している、との無効理由（以下「無効理由３−２」という。）を職権で審理することを要請し、平成２７年８月２５日差出の意見書において、３）請求項１に係る発明は物の発明であるが、請求項１の「電解法によって得られる銅粉」という記載は、製造に関して技術的な特徴が付された記載であるため、当該請求項１にはその物の製造方法が記載されているといえるので、発明が明確ではないから、特許法第３６条第６項第２号に違反しているとの無効理由（以下「無効理由３−３」という。）を職権で審理することを要請しているが、平成２８年８月３日付けの補正許否の決定に記載したように、特許法第１３１条の２第２項の規定に基づき、上記無効理由３−１，３−２，２−２の追加を許可しない、との決定を行った。
［証拠方法］
甲第１号証：“金属粉末”，ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌｔａｔｅ　ＧｍｂＨ＆Ｃｏ．ＫＧ，エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社，表紙，ｐ２−４，８，２２−２３，４０，４４−４５，裏表紙，（第４０頁については、平成２７年５月２９日付けで追加で提出された。）
甲第２号証：「送信者：”Ｅｉｋｏ　Ｆｕｊｉｗａｒａ”」，「宛先：”下保さん”」，「送信日時：２００５年６月１日　１３：４５」，「添付：EC_Pro_GraHb_Do_DINA4.pdf」の記載がある電子メールの内容をプリントアウトしたもの。
甲第３号証：甲第２号証の電子メールに添付されたＰＤＦファイル「EC_Pro_GraHb_Do_DINA4.pdf 」をプリントアウトしたもの、“金属粉末”と記載された表紙と裏表紙，ｐ．２−５，８−９，２２−２３，４４−４５
甲第４号証：“Ｅｌｅｃｔｒｏｌｙｔｉｃ　Ｃｏｐｐｅｒ　Ｐｏｗｄｅｒｓ　ａｎｄ　ｍｕｃｈ　ｍｏｒｅ”，ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ，２０１１年１２月，表紙，ｐ．２−５，裏表紙
甲第５号証：Ｔｅｓｔ　ｒｅｐｏｒｔ，ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ，ｓａｍｐｌｅ：ＣｕＣＨＬ７，１４．１２．２００９
甲第６号証：Ｔｅｓｔ　ｒｅｐｏｒｔ，ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ，ｓａｍｐｌｅ：ＣｕＣＨＬ８，２．２０１３
甲第７号証：Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８のＳＥＭ分析結果
甲第８号証：Ｔｅｓｔ　ｒｅｐｏｒｔ，ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ，ｓａｍｐｌｅ：Ｃｕ　ｐｏｗｄｅｒ　ｓａｍｐｌｅ　Ｍｉｔｓｕｉ　ＭＦＤ２，１１．１２．２００９
甲第９号証：特開昭６３−２８６４７７号公報
甲第１０号証：「差出人：”Ｙｕｋｉｈｉｋｏ　Ａｔｓｕｍｉ”」，「日時：２００９年９月４日　１８：１２」，「宛先：”ＳＡＳＡＫＩ　Ａｋｉｈｉｒｏ”」，「添付：電解銅粉Page22 200908.pdf；電解銅粉 200909.pdf 」の記載がある電子メールの内容をプリントアウトしたもの
甲第１１号証：甲第１０号証の電子メールに添付されたＰＤＦファイル「電解銅粉Page22 200908.pdf」及び「電解銅粉 200909.pdf 」をプリントアウトしたもの
甲第１２号証：甲第４号証の抄訳及び補足
甲第１３号証：“Ｅｌｅｃｔｒｏｌｙｔｉｃ　Ｃｏｐｐｅｒ　Ｐｏｗｄｅｒｓ　ａｎｄ　ｍｕｃｈ　ｍｏｒｅ”，［online］，ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ社，インターネット＜ＵＲＬ：http://www.ggp-metal.com/en/index.php＞，日本語抄訳
甲第１４号証：“Relation between evidence No.1 and No.4”、GGP Metalpowder AG CEO and President Mr. Thomas Gmoehling，翻訳，添付資料１号証，４号証
甲第１５号証：“Evidence No.5 and No.6”、GGP Metalpowder AG CEO and President Mr. Thomas Gmoehling，翻訳，添付資料５号証，６号証，１号証
甲第１６号証：“Evidence No.7”、GGP Metalpowder AG CEO and President Mr. Thomas Gmoehling，翻訳，添付資料７号証，１号証
甲第１７号証：“Evidence No.8”、GGP Metalpowder AG CEO and President Mr. Thomas Gmoehling，翻訳，添付資料８号証
甲第１８号証：“エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社の特別清算情報−平成２３年（ヒ）第２０４８号”，［online］，破産データバンク，
　「特別清算の開始を命ずる」，インターネット＜ＵＲＬ：http://bank-db.com/hasan/363203＞，
　「特別清算手続を終結する」，インターネット＜ＵＲＬ：http://bank-db.com/hasan/452409＞
甲第１９号証：「Ｆｒｏｍ：Ｙｕｋｉｈｉｋｏ　Ａｔｓｕｍｉ　ｃｏｊｐ」，「Ｔｏ：ＫＡＭＥＩ　Ｍｉｔｓｕｏ；ＳＡＳＡＫＩ　Ａｋｉｈｉｒｏ」，「Ｓｅｎｔ：Ｍｏｎｄａｙ，Ｎｏｖｅｍｂｅｒ　０８，２０１０　４：３１　ＰＭ」，「Ｓｕｂｊｅｃｔ：［Ｔｕｎｇａｌｏｙ］１２月納期、ＣＨ−Ｌ７，Ｌ１２の出荷検査結果。納入予定」の記載がある電子メールをプリントアウトしたもの。
甲第２０号証：甲第１号証のカタログ「金属粉末」の受領証明書，２０１５年５月８日，増原大地の押印
甲第２１号証：甲第１号証のカタログ「金属粉末」の受領証明書，２０１５年５月８日，堀浩史の押印
甲第２２号証：“基礎　粒子径分布測定の一般論、光の基礎理論　１．粒子径分布測定の一般論　１−３．粒子径分布”，［online］，日機装株式会社，インターネット＜ＵＲＬ：http://www.nikkiso.co.jp/products/particle/technical/principle/theory04.html＞
甲第２３号証：“ＨＥＬＯＳ−Ｐａｒｔｉｋｅｌｇｒｏβｅｎａｎａｌｙｓｅ（当審訳：ＨＥＬＯＳ測定装置−粒子径分析）”，ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ，２０１５−０５−０７
甲第２４号証：“粉博士のやさしい粉講座：実践コース”，“２１　任意％粒子径とメディアン径”，［online］，株式会社島津製作所，インターネット＜ＵＲＬ：http://www.an.shimadzu.co.jp/powder/lecture/practice/p01/lesson21.html＞
甲第２５号証：“ＨＥＬＯＳ　レーザー回折式粒子径分布測定装置”，［online］，Ｓｙｍｐａｔｅｃ　ＧｍｂＨ，インターネット＜ＵＲＬ：https://www.sympatec.com/JP/LaserDiffraction/HELOS.html＞
甲第２６号証：“レーザー回折法による粒子径測定法”，第１、１８、２１頁，［online］，独立行政法人医薬品医療機器総合機構，インターネット＜ＵＲＬ：https://www.pmda.go.jp/files/000203152.pdf＞
甲第２７号証：特表２００７−５２２２９２号公報
甲第２８号証：特開平５−１１４７７２号公報
甲第２９号証：“粉博士のやさしい粉講座：実践コース”，“２７　針状・繊維状粒子の測定”，［online］，株式会社島津製作所，インターネット＜ＵＲＬ：http://www.an.shimadzu.co.jp/powder/lecture/practice/p01/lesson27.html＞
甲第３０号証：“長さの異なる疑似枝（異なる色に着色した割り箸）を疑似主軸に接着し、撮影方向により、枝の長さが変動することの説明写真”
甲第３１号証：ＣｕＣＨ−Ｌ７のレーザー法粒度測定結果
甲第３２号証：“★送付案内★”，「件名：Ｅｃｋａ　Ｇｒａｎｕｌｅｓ　カタログ送付」，「発信日：２０１５年５月１８日」の記載あり。
甲第３３号証：“ＭＥＴＡＬ　ＰＯＷＤＥＲＳ”，ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ，５．２．０４．０２／０３ＧＢ，表紙，Forword，ｐ３，２０−２１，裏表紙
甲第３４号証：特開２０１２−１９３０６８号公報の図１
甲第３５号証：特開２０１３−５３３４７号公報
甲第３６号証：特願２０１１−１９２６００号の拒絶理由通知書の写し
甲第３７号証：特開２０１２−１５３９６７号公報
甲第３８号証：特願２０１１−０１６６１３号の拒絶査定の写し
 
２　甲号証の記載事項
　請求人及び参加人が証拠方法として提出した甲号証の記載事項は、それぞれ次のとおりである（なお、下線は当審が付与したものであり、「…」は記載の省略を表す。）。　
（１）　甲第１号証（「金属粉末」のカタログ）について
（１−１）　甲第１号証の記載事項　
　甲１ア　「
  
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　                   」
                   （第４頁「ＥＣＫＡ金属粉末製品一覧」からの抜粋）
　甲１アの金属粉末製品一覧の抜粋から、ＥＣＫＡ社が製造する金属粉末のうち、「銅（ＣＨ）」が「電解法」によって形成されるものであることが見て取れる。
　甲１イ　「電解法（グレード名：ＣＨ）
ＥＣＫＡ電解銅粉末（ＣＨ等級）は
樹枝状の粒子として析出します
粉末の形状および粒度は電解液の組成、電流および電解液温度を調整することによって管理します。また、各種プロセスパラメータを調整することによって、粉末の見掛密度を低（ＣＨ−Ｌ）、中（ＣＨ−Ｍ）、高（ＣＨ−Ｓ）に変えることもできます
　
　甲１ウ　「
  
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」（第８頁左下図）
　甲１ウの写真は、甲１イの説明とともに同じ頁に並んで掲載されており、当該写真内に「ＣＨ」と表示されていることから、甲１ウの写真に写っている物体は、甲１イに記載された「電解銅粉末（ＣＨ等級）」に含まれる銅粉粒子であるものと認められる。また、甲１ウの写真は、「電解銅粉（ＣＨ等級）」に含まれる樹枝状の銅粉粒子を走査型電子顕微鏡で撮影した写真、すなわち、ＳＥＭ写真であることは明らかである。
　そして、「電解銅粉末（ＣＨ等級）」が「樹枝状の粒子として析出」することが甲１イに記載されているから、「電解銅粉末（ＣＨ等級）」であれば、甲１ウのＳＥＭ写真のような樹枝状の銅粉粒子を含有しているものと認められる。
　
　甲１エ　「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」（第２２頁）
　甲１エの表から、「銅（グレード名：ＣＨ）」の銅粉末には、「軽量タイプ（ＣＨ−Ｌ）」、「中間重量タイプ（ＣＨ−Ｍ）」、「重量タイプ（ＣＨ−Ｓ）」の３つの等級があり、これら３つの等級は、甲１イの記載を参照すれば、粉末の見掛密度の高低によって分類されているものである。そこで、粉末の見掛密度の一番小さい等級である「軽量タイプ（ＣＨ−Ｌ）」に属する銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」と「ＣＨ−Ｌ８」に注目すると、銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」の「見掛密度［ｇ／ｃｍ３］」が「０．７」、「粒度［ｍｍ］」が「＜０．０６３」であり、銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」の「見掛密度［ｇ／ｃｍ３］」が「０．８」、「粒度［ｍｍ］」が「＜０．０６３」であることが見て取れる。また、甲１エの表の左上には「樹木状」と記載されており、甲１イに記載された「樹枝状」と同じ意味で使用されているものと認められる。
　甲１オ「５．２．０５．０２／０３．ＪＰ」（前表紙　右上）
　甲１カ「ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ
Ｍｅｔａｌ−Ｐｏｗｄｅｒ−Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ」（前表紙　下部）
　甲１キ「ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ
Ｍｅｔａｌ−Ｐｏｗｄｅｒ−Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ
ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　ＧｍｂＨ　＆　Ｃｏ．ＫＧ
…
エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社」（後表紙）
　甲１キの記載から、甲第１号証のカタログの作成者が、「ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　ＧｍｂＨ　＆　Ｃｏ．ＫＧ」（以下、「ＥＣＫＡ社」と記載する場合がある。）の日本法人の「エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社」（以下、「エカ社」と記載する場合がある。）であるものと認められる。
　なお、下記甲１５エ、甲１７イの記載を参照すれば、「ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ」は、独語表記の「ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ」を英語表記したものである。
　甲１ク　「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」（第４０頁）
　上記甲１クは、甲第１号証のカタログの第４０頁の上側部分であり、審判請求書に添付された甲第１号証には含まれていなかったが、口頭審理が開催された平成２７年５月２９日に追加で提出されたものである。
（１−２）　甲第１号証の頒布の事実について　
　ア　甲第１号証の表紙に上記甲１オのとおり「５．２．０５．０２／０３．ＪＰ」と記載されている点について、請求人及び参加人は、平成２７年５月２７日付けの口頭審理陳述要領書（２）の「５．Ｂ．（３）［ご質問３］について」において、「５．２」は、エカ社での書類の種類の分類であって、カタログを表し、「０５．」はカタログの５回目の改訂を表し（第８頁１６行に記載された「０４」、「４回目」はそれぞれ「０５」、「５回目」の誤記であることが口頭審理の場で確認されている。（調書の別紙１の４．ア参照））、「０２／０３．」は、２００２年〜２００３年の作成であることを表し、「ＪＰ」は日本語版であることを表すと説明している。
　また、請求人及び参加人は、上記説明を補完するために提出した甲第３３号証（標題が「ＭＥＴＡＬ　ＰＯＷＤＥＲＳ」であるカタログ）について、その表紙に「５．２．０４．０２／０３．ＧＢ」と記載されている点について、「５．２」は、エカ社での書類の種類の分類であって、カタログを表し、「０４．」はカタログの４回目の改訂を表し、「０２／０３．」はオリジナルのＧＢの作成年が２００２年〜２００３年であることを表し、「ＧＢ」はイギリス版であることを表し、甲第１号証のカタログは甲第３３号証のカタログの改訂版であると説明している。
　イ　上記アの説明によって、イギリスで２００２年〜２００３年に作成された甲第３３号証のカタログを基にして、甲第１号証の日本版のカタログが作成されたものであるとすると、甲第１号証が２００２年〜２００３年以降に作成されたものであるということは推定されるが、甲第１号証の日本語版カタログがいつ頒布されたものであるかについては、不明といわざるを得ない。
　したがって、甲第１号証の記載「５．２．０５．０２／０３．ＪＰ」自体から、その頒布年月日を認定することはできない。
　ウ　平成２７年６月１６日付けの上申書において、被請求人は、甲第１０〜３０号証及び甲第３２〜３４号証について書証の真正を争わないことを記載している（第２頁７．Ａ．（１））ところ、甲第２０号証には、ＯＨＡＲＡ（ＴＨＡＩＬＡＮＤ）Ｃｏ．，Ｌｔｄの増原大地氏が、２００６年頃、甲第１号証のカタログを、エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社神戸支店の支店長である入江氏から、対面による手渡しで受領したことを証明する旨記載されており、甲第２１号証には、小原化工株式会社名古屋支店支店長である堀浩史氏が、２０１１年３月、甲第１号証のカタログを、株式会社ニューメタルス　エンド　ケミカルス　コーポレーションの渥美幸彦氏から対面による手渡しで受領したことを証明する旨記載されている。
　そして、被請求人は、口頭審理陳述要領書（２）の７．Ｂ．（３）で、甲第２０、２１号証の記載内容について、手渡された甲第１号証のカタログには「黙示の秘密義務を課して渡された可能性がある」と主張しているが、カタログが商品の販売活動のために広く頒布される性質のものであり、上記イに記載されているように、甲第１号証のカタログと同内容の古い版のカタログが外国で作成されていた事情も勘案すると、甲第１号証のカタログに秘密義務が課せられていたとの被請求人の上記主張は合理的とはいえず、採用できない。
　したがって、甲第２０号証及び甲第２１号証による証明によって、甲第１号証のカタログが２００６年頃及び２０１１年３月に日本国内において頒布された事実が認められるので、甲第１号証は、本件特許の出願日である平成２３年（２０１１年）７月１３日前に頒布されたものであると認められる。
（２）　甲第４号証（「Ｅｌｅｃｔｒｏｌｙｔｉｃ　Ｃｏｐｐｅｒ　Ｐｏｗｄｅｒｓ　ａｎｄ　ｍｕｃｈ　ｍｏｒｅ」のカタログ）　
　甲４ア　「ｈｅａｄｑｕａｒｔｅｒ
ＧＧＰ
ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ
We are located in Furth, Germany: 」（第２頁左欄１〜４行）
（当審訳：本社
ＧＧＰ
ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ
我々は、ドイツのフュルトに位置している。）
　甲４イ　「ｈｉｓｔｏｒｙ
…
２００９　Ｉｎｓｏｌｖｅｎｃｙ　ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　Ｖｅｌｄｅｎ　ＧｍｂＨ
２０１０　Ｔａｋｅｏｖｅｒ　ｂｙ　ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ」（第２頁右欄１行〜最下行）
（当審訳：社史
…
２００９年　ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　Ｖｅｌｄｅｎ　ＧｍｂＨが破産。              
２０１０年　ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧによって業務が引き継がれた。）
　
　甲４ウ　「１｜Ｅｌｅｃｔｒｏｌｙｓｉｓ
Ｄｅｎｄｒｉｔｉｃ　ｃｏｐｐｅｒ　ｐｏｗｄｅｒ
By electrolysis we produce dendritic copper powders: 
Thereby due to process parameters and preparation we can offer a wide range of different grades from light apparent density (AD) (0,7 g/cm3) up tp heavy grades(3,0 g/cm3).」（第４頁３〜７行。右上の図内の表示。）
（当審訳：１｜電気分解
樹枝状銅粉末
電気分解によって、我々は樹枝状銅粉末を生産します。：
それにより、プロセスパラメータや前処理を調整することによって、軽量タイプの見掛密度（ＡＤ）（０．７ｇ／ｃｍ３）のものから重量タイプの見掛密度（３．０ｇ／ｃｍ３）のものまで、幅広い異なるグレードを提供できます。）
　
　甲４エ　「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」（第５頁上側）
　
　甲４エの表の左欄には、「Ａｐａｒｅｎｔ　Ｄｅｎｓｉｔｙ（当審訳：見掛密度）」の小（０，７〜１，２）、中（１，３〜１，９）、大（２，０〜２，７）によって分類された、「ｌｉｇｈｔ」、「ｍｅｄｉｕｍ」、「ｈｅａｖｙ」の３つのＴｙｐｅの電子顕微鏡写真が掲載されており、見掛密度が大きくなるにしたがって、電解銅粉粒子の枝が、細いものから太いものに変化し、そのサイズが小さいものから大きいものに変化する様子が見て取れる。すなわち、「ｌｉｇｈｔ」の電子顕微鏡写真を見ると、中心部分から多数の枝が分岐しており、見掛密度が大きくなって、「ｍｅｄｉｕｍ」、「ｈｅａｖｙ」となるに伴い、枝が太くなり、サイズが大きくなって、ブロッコリーのような形状に変化する様子を見て取ることができる。
　甲４オ　「Ｖｅｒｓｉｏｎ　１２／２０１１」（裏表紙の右下）
　
　甲第４号証のカタログは、甲４アの記載から、「ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ」（以下、「ＧＧＰ社」と記載する場合がある。）によって作製されたものと認められる。
　また、当該甲第４号証のカタログは、甲４オの記載から、２０１１年１２月に作製されたものであることが推定される。
（３）　甲第５号証（Ｔｅｓｔ　ｒｅｐｏｒｔ）について
（３−１）甲第５号証の記載事項
　甲５ア　「ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ」（頁の右上）
　甲５イ　「ｓａｍｐｌｅ：ＣｕＣＨＬ７」（頁の上部左側）
　なお、上記甲５イの記載「ＣｕＣＨＬ７」は、上記甲４エの表に記載されているように、ＧＧＰ社が製造している銅粉末の名称であり、「ＣＨ−Ｌ７」は、上記甲１エの表に記載されているように、ＥＣＫＡ社が製造している銅粉末の名称であること、また、審判請求書の第１０頁１４〜１５行に「甲第５号証は、ＥＣＫＡ社によって「２００９年１２月１４日」に撮影された「ＣＨ−Ｌ７」のＳＥＭ画像である。」と記載されていることから、上記甲５イの「ｓａｍｐｌｅ」の欄に記載された「ＣｕＣＨＬ７」は「ＣＨ−Ｌ７」を意味するものと認められる。
　甲５ウ　「
 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 」
（甲第５号証に掲載された２枚の写真のうち、下方にある、「８００×」すなわち８００倍の表示がされたＳＥＭ写真）
　上記甲５ウの８００倍のＳＥＭ写真から、銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」が、多数の樹枝状の銅粉粒子を含有することを見て取れるが、いずれの銅粉粒子に注目しても、「主軸」及び「主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈」することが明確に視認できるような、「主軸」及び「枝」を備えた銅粉粒子を確認することはできない。
　したがって、上記８００倍のＳＥＭ写真からは、銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」に、「主軸の太さａ」及び「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」を測定することができるような「銅粉粒子」が含有されているとはいえない。
　甲５エ　「Ｓｉｅｖｅ　ａｎａｌｙｓｉｓ：　＞６３μｍ　　＿
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　＞４５μｍ　　０，２％
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　＞３２μｍ　１８，６％
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　＞２５μｍ　４４，２％
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　＜２５μｍ　３７，０％」
（当審訳：ふるい分析　６３μｍより大きいものが　　　　＿
　　　　　　　　　　　４５μｍより大きいものが　　　０．２％
　　　　　　　　　　　３２μｍより大きいものが　　１８．６％
　　　　　　　　　　　２５μｍより大きいものが　　４４．２％
　　　　　　　　　　　２５μｍ未満のものが　　　　３７．０％）（頁の下部）
　甲５オ　　「　　ＡＤ：　０，７７ｇ／ｃｍ３
　　　　　　　ＦＳＳＳ：　２２００ｃｍ２／ｇ
　　　　　　　　　 Ｏ２：　０，１１％
　　　　　　Ｈｅｌｏｓ：　Ｘ１０：　１１，６μｍ
　　　　　　　　　　　　　Ｘ５０：　３１，８μｍ
　　　　　　　　　　　　　Ｘ９０：　６２，９μｍ」（頁の下部）
　甲５カ　「ＧＲ−Ｅ／ＡＴ　１４．１２．２００９」（頁の右下）
（３−２）甲第５号証の書証の成立について
ア　甲第５号証には、「ｓａｍｐｌｅ：ＣｕＣＨＬ７」（当審注：「ＣｕＣＨＬ７」は「ＣＨ−Ｌ７」の誤記である。）なる標題が付された、異なる倍率で撮影された２枚のＳＥＭ写真が掲載されるとともに、ふるい分析等の分析結果が記載されているが、この書類には、書類作成者によるサインも署名もされていないので、誰によって上記ＳＥＭ写真の撮影、分析がなされ、書類が作成されたものか不明である。また、請求人は審判請求書において、甲第５号証が、「ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　ＧｍｂＨ　＆　Ｃｏ．ＫＧ社によるＣｕ ＣＨ−Ｌ７のＳＥＭ分析結果（ＳＥＭ画像）」であると説明しているが、ＥＣＫＡ社の誰によって上記ＳＥＭ写真の撮影、分析、書類の作成がされたものかについて説明しておらず、上記ＳＥＭ写真に写っている銅粉粒子が、「ＣＨ−Ｌ７」であることの根拠についても、何ら説明がなされていない。
イ　上記アの点について、甲第１５号証には、下記甲１５エ〜カ、クに記載されているように、甲第５号証に記載された「ＣｕＣＨＬ７」（当審注：「ＣｕＣＨＬ７」は「ＣＨ−Ｌ７」の誤記である。）と甲第１号証に記載された「ＣＨ−Ｌ７」は同一の製品で電解銅粉末であること、「ＧＲ−Ｅ／ＡＴ」がＳＥＭ写真を撮影したＥＣＫＡ社の部門を意味すること、「１４．１２．２００９」は、このレポートが２００９年１２月１４日に作成されたことを示していること、が事実であり、正しいことを証明しますと、ＧＧＰ社のＣＥＯ兼社長のＴｈｏｍａｓ Ｇｍｏｅｈｌｉｎｇ氏（以下「ＧＧＰ社社長」という。）が、署名付きで記載している。
ウ　しかしながら、甲第１５号証においても、「ＣＨ−Ｌ７」のＳＥＭ写真を撮影し、分析し、書類を作成した者が誰であるか、及び、甲第５号証のＳＥＭ写真が「ＣＨ−Ｌ７」を撮影したものであることについて、説明も証明もされていない。
エ　したがって、甲第１５号証を参酌しても、甲第５号証が真正な書証であるとは認められず、甲第５号証を証拠として採用することができない。
（４）　甲第６号証（Ｔｅｓｔ　ｒｅｐｏｒｔ）について
（４−１）甲第６号証の記載事項
　甲６ア　「ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ」（頁の右上）
　甲６イ　「ｓａｍｐｌｅ：ＣｕＣＨＬ８」（頁の上部左側）
　甲６ウ　「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
（甲第６号証に掲載された２枚の写真のうち、下方にある、倍率の大きい方のＳＥＭ写真）
　上記倍率の大きいＳＥＭ写真から、銅粉は、複数の樹枝状の銅粉粒子を含有していることを見て取れるが、いずれの銅粉粒子に注目しても、「主軸」及び「主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈」することが明確に視認できるような、「主軸」及び「枝」を備えた銅粉粒子を確認することはできない。
　甲６エ　「Ｓｉｅｖｅ　ａｎａｌｙｓｉｓ：　＞６３μｍ　０．７％
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　＜６３μｍ　９９．３％」
（当審訳：ふるい分析　６３μｍより大きいものが　　０．７％
　　　　　　　　　　　６３μｍ未満のものが　　　９９．３％）（頁の下部）
　甲６オ　「　ＡＤ：
　　　　　ＦＳＳＳ：
　　　　　　　Ｏ２：
　　　　Ｈｅｌｏｓ：　　　　　　　　　　」（頁の下部）
　甲６カ　「ＧＲ−Ｅ／ＡＴ　２．２０１３」（頁の右下）
（４−２）甲第６号証の書証の成立について
ア　甲第６号証には、「ｓａｍｐｌｅ：ＣｕＣＨＬ８」なる標題が付された、異なる倍率で撮影された２枚のＳＥＭ写真が掲載されるとともに、ふるい分析の結果が記載されているが、この書類には、書類作成者によるサインも署名もされていないので、誰によって上記ＳＥＭ写真の撮影、分析がなされ、書類が作成されたものか不明である。また、請求人は審判請求書において、甲第６号証が、「ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ社によるＣｕ ＣＨ−Ｌ８のＳＥＭ分析結果のＳＥＭ分析結果（ＳＥＭ画像）」であると説明しているが、ＧＧＰ社の誰によって上記ＳＥＭ写真の撮影、分析、書類の作成がされたものかについて説明しておらず、上記ＳＥＭ画像に写っている銅粉粒子が、「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」であることの根拠についても、何ら説明がなされていない。
イ　上記アの点について、甲第１５号証には、下記甲１５エ〜カ、クに記載されているように、甲第６号証に記載された「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」と甲第１号証に記載された「ＣＨ−Ｌ８」は同一の製品で樹枝状電解銅粉末であること、「ＧＲ−Ｅ／ＡＴ」がＳＥＭ写真を撮影したＥＣＫＡ社の部門の事を意味すること、「２．２０１３」は、このレポートが２０１３年２月に作成されたことを示していること、が事実であり、正しいことを証明しますと、ＧＧＰ社のＣＥＯ兼社長のＴｈｏｍａｓ Ｇｍｏｅｈｌｉｎｇ氏が、署名付きで記載している。
ウ　しかしながら、甲第１５号証においても、「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」のＳＥＭ写真を撮影し、分析し、書類を作成した者が誰であるか、及び、甲第６号証のＳＥＭ写真が「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」を撮影したものであることについて、説明も証明もされていない。
エ　さらに、甲第６号証の右下の記載「ＧＲ−Ｅ／ＡＴ　２．２０１３」について、上記イによれば、「ＧＲ−Ｅ／ＡＴ」は、ＳＥＭ写真を撮影したＥＣＫＡ社の部門名を表し、後半の「２．２０１３」は当該レポートの作成年月を表すところ、２０１３年にはＥＣＫＡ社の業務はＧＧＰ社に引き継がれていたのであるから、ＳＥＭ写真はＥＣＫＡ社によって撮影されたが、当該レポートはＧＧＰ社によって作成されたものと推定されるものの、当該レポートがどのような経緯で作成されるに至ったかが不明であり、この点においても、甲第６号証が真正な書証であることについて疑義を与えるものである。
オ　したがって、甲第１５号証を参酌しても、甲第６号証が真正な書証であるとは認められず、甲第６号証を証拠として採用することができない。
（５）　甲第７号証（Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８のＳＥＭ分析結果）について
（５−１）甲第７号証の記載事項
　甲７ア　「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
　なお、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」は、上記（２）に記載されているように、ＧＧＰ社が生産している銅粉末の名称であり、ＥＣＫＡ社が生産しているものではないから、写真の標題に記載された上記「ＥＣＫＡ社」は「ＧＧＰ社」の誤記と認められる。
　
　甲７イ　「（Ｂ）拡大
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
　甲７イのＳＥＭ写真（Ｂ）から、「対象」と矢印で示された、一つのデンドライト状銅粉末について、「主軸太さａ」、「枝長ｂ」及び「長径Ｌ」と書き込みがなされていることが見て取れる。
　また、「対象」と矢印で示された上記一つのデンドライト状銅粉末に注目すると、略左右方向に伸びた一本の主軸を備えており、当該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈している様子が見て取れる。また、上記１つのデンドライト状銅粉末において、上記主軸に沿った粒子の長さが「長径Ｌ」と矢印付きで表示され、上記主軸から分岐した枝のうち一番長い枝の長さが「枝長ｂ」と矢印付きで表示され、上記主軸の太さが「主軸太さａ」と矢印付きで表示されていることが見て取れる。
　
　甲７ウ　「（Ｃ）計算結果（概要）
　　　　　　　　　ａ＝　０．８μｍ
　　　　　　　　　ｂ＝　９．０μｍ
　　　　　　　　　Ｌ＝４２．８μｍ」　（頁の下部）
　
　甲７エ　「（Ｄ）推定結果
　枝本数／Ｌ＝　０．５〜４（請求項３）
　の範囲になるには、対象の場合の許容枝本数（Ｘ）は、
　Ｘ＝４２．８×（０．５〜４）
　　＝約２１〜１７１（本）
　対象の枝は、上記範囲にあるといえる。」  （頁の下部）
（５−２）甲第７号証の書証の成立について
ア　甲第７号証には、「（Ａ）ＥＣＫＡ社　Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」及び「（Ｂ）拡大」なる標題が付された２枚のＳＥＭ写真が掲載されるとともに、「（Ｃ）計算結果（概要）」と、「（Ｄ）推定結果」が書き加えられているが、この書類の作成者によるサインも署名もされていないので、誰によって撮影、分析がなされ、書類が作成されたものか不明である。そして、請求人は審判請求書において、甲第７号証が、「ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ社によるＣｕ　ＣＨ−Ｌ８のＳＥＭ分析結果（ＳＥＭ画像）」であると説明しているが、ＧＧＰ社の誰によって上記ＳＥＭ写真の撮影、分析、書類の作成がされたものかについて説明しておらず、上記ＳＥＭ画像に写っている銅粉粒子が、「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」であることについて、何ら説明も証明もなされていない。
　
イ　上記アの点について、甲第１６号証には、下記甲１６イ〜甲１６オに記載されているように、甲第７号証のＳＥＭ写真がＧＧＰ社によって撮影されたものであること、甲第７号証のＳＥＭ写真に書き込まれた長さや直径は、日本の弁理士により書き加えられたものであること、甲第７号証に書き加えられた樹枝状電解銅粉末の構造の分析結果に同意すること、甲第７号証に記載された「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」と甲第１号証に記載された「ＣＨ−Ｌ８」は同じ製品で樹枝状電解銅粉末であること、が事実であり、正しいことを証明しますと、ＧＧＰ社のＣＥＯ兼社長のＴｈｏｍａｓ Ｇｍｏｅｈｌｉｎｇ氏が、署名付きで記載している。
ウ　しかしながら、甲第１６号証においても、「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」のＳＥＭ写真（Ａ）を撮影した者がＧＧＰ社の誰であるか、及び、甲第７号証のＳＥＭ写真（Ａ）が「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」を撮影したものであることについて、説明も証明もされていない。
　また、上記イに記載したように、甲第７号証の（Ｃ）及び（Ｄ）の記載事項は、日本の弁理士によって書き加えられたものであることが明らかにされたものであり、甲第７号証がＧＧＰ社によって作成されたものではないことが明らかになった。
エ　したがって、甲第１６号証を参酌しても、甲第７号証が真正な書証であるとは認められず、甲第７号証を証拠として採用することができない。
（６）　甲第８号証（Ｔｅｓｔ　ｒｅｐｏｒｔ）について
（６−１）甲第８号証の記載事項
　甲８ア　「ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ」（頁の右上）
　甲８イ　「ｓａｍｐｌｅ：　Ｃｕ　ｐｏｗｄｅｒ　ｓａｍｐｌｅ　Ｍｉｔｓｕｉ　ＭＦＤ２」（頁の上部）
　甲８ウ　「　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
（甲第８号証に掲載された２枚の写真のうち、下方にある、「８００×」すなわち８００倍の表示がされた写真）
　上記甲８ウの８００倍のＳＥＭ写真において、その中央やや上方に赤い○で囲まれた箇所の中心にあるデンドライト状の銅粉粒子に注目すると、倍率が低いため明瞭ではないが、略右上から左下方向に伸びた黒っぽい一本の主軸を備えており、当該主軸からその左側に、複数の枝が斜めに分岐して、二次元的あるいは三次元的に成長したデンドライト状を呈している様子が見て取れる。
　しかしながら、上記デンドライト状の銅粉粒子について、「主軸の太さａ」についても、「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」についても測定がなされておらず、それらの数値は不明である。
　甲８エ　「Ｓｉｅｖｅ　ａｎａｌｙｓｉｓ：　＞６３μｍ　_
　　　　　　　　　　　　　　　　＞４５μｍ　０，８％
　　　　　　　　　　　　　　　　＞３２μｍ　１，２％
　　　　　　　　　　　　　　　　＞２５μｍ　８，０％
　　　　　　　　　　　　　　　　＜２５μｍ　９０，０％」（頁の下部）
　（当審訳：ふるい分析　６３μｍ超のものが　＿
　　　　　　　　　　　　４５μｍ超のものが　　　０．８％
　　　　　　　　　　　　３２μｍ超のものが　　　１．２％
　　　　　　　　　　　　２５μｍ超のものが　　　８．０％
　　　　　　　　　　　　２５μｍ未満のものが　９０．０％）
　甲８オ　「　　ＡＤ：　０，５４ｇ／ｃｍ３
　　　　　　ＦＳＳＳ：　３４００ｃｍ２／ｇ
　　　　　　　　Ｏ２：　０，２０％
　　　　　　Ｈｅｌｏｓ：　　Ｘ１０：　６，１μｍ
　　　　　　　　　　　　　　Ｘ５０：　１８，９μｍ
　　　　　　　　　　　　　　Ｘ９０：　４３，１μｍ」（頁の下部）
　甲８カ　「ＧＲ−Ｅ／ＡＴ　１１．１２．２００９」（頁の右下）
（６−２）甲第８号証の書証の成立について
ア　甲第８号証には、「ｓａｍｐｌｅ：　Ｃｕ　ｐｏｗｄｅｒ　ｓａｍｐｌｅ　Ｍｉｔｓｕｉ　ＭＦＤ２」なる標題が付された、異なる倍率で撮影された２枚のＳＥＭ写真が掲載されるとともに、ふるい分析等の分析結果が記載されているが、この書類には、書類作成者によるサインも署名もされていないので、誰によって撮影、分析がなされ、書類が作成されたものか不明である。また、請求人は審判請求書において、甲第８号証が、「ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　ＧｍｂＨ　＆　Ｃｏ．ＫＧ社によるＭＦ−Ｄ２のＳＥＭ分析結果（ＳＥＭ画像）」であると説明しているが、ＥＣＫＡ社の誰によって上記ＳＥＭ写真の撮影、分析、書類の作成がされたものかについて説明しておらず、上記ＳＥＭ写真に写っている銅粉粒子が、「ＭＦ−Ｄ２」であることについて、何ら説明も証明もなされていない。
イ　上記アの点について、甲第１７号証には、下記甲１７ア〜甲１７カに記載されているように、甲第８号証に記載された「ＭＦＤ２」を市場で入手したこと、「ＧＲ−Ｅ／ＡＴ」がＳＥＭ写真を撮影したＥＣＫＡ社の部門を意味すること、「１１．１２．２００９」は、このＳＥＭ写真が２００９年１２月１１日に作成されたことを示していること、が事実であり、正しいことを証明しますと、ＧＧＰ社のＣＥＯ兼社長のＴｈｏｍａｓ Ｇｍｏｅｈｌｉｎｇ氏が、署名付きで記載している。
ウ　しかしながら、甲第１７号証においも、「ＭＦＤ２」を撮影し、分析し、書類を作成した者が誰であるか、及び、甲第８号証のＳＥＭ写真が「ＭＦＤ２」を撮影したものであることについて、説明も証明もしていない。また、「ＭＦＤ２」をどのような経緯で入手したかについても説明も証明もされていない。
エ　したがって、甲第１７号証を参酌しても、甲第８号証が真正な書証であるとは認められず、甲第８号証を証拠として採用することができない。
（７）　甲第９号証（特開昭６３−２８６４７７号公報）について
　甲第９号証は本件特許に係る出願の出願日前に日本国内で頒布されたものであり、以下の事項が記載されている。
　甲９ア　「２．特許請求の範囲
１．ジクミルフェニルオキシアセテートチタネートからなる表面被覆剤で被覆処理された銅粉、樹脂バインダー、分散剤、および溶剤を含有する導電性塗料組成物。
２．該表面被覆剤の使用量が、銅粉に対して０．１〜１０重量％である特許請求の範囲第１項記載の導電性塗料組成物。
３．銅粉の粒子形状が、樹枝状、フレーク状、粒状、または球状である特許請求の範囲第１項または第２項記載の導電性塗料組成物。」（第１頁左欄４〜１４行）
　甲９イ　「〔産業上の利用分野〕
この発明は電磁波シールド材料に関し、より詳細には、貯蔵安定性および電磁波シールド効果を向上させた電磁波シールド用導電性塗料組成物に関する。」（第１頁右欄下から２行〜第２頁左上欄３行）
　甲９ウ　「銅粉
　この発明で用いられる銅粉の形状は、電解法、還元法、アトマイズ法より得られる樹枝状、粒状、球状であり、更にこれらを機械的に加工したフレーク状などもある。
　
電解法で得られた樹枝状銅粉は、０．５０〜２．００ｇ／ｃｃの見掛密度、１．００ｍ
２
／ｇ以下の比表面積、１００μｍ以下の粒度分布、５〜３０μｍの平均粒径を有することが好ましい
　甲９エ　「実験例１
　
見掛密度１．４５ｇ／ｃｃ、比表面積０．４１ｍ
２
／ｇ、粒度分布１〜６０μｍ、平均粒径１３．４μｍの銅粉（三井金属鉱業製、ＭＦ−Ｄ２）
　甲９オ　「実験例２
　実験例１で用いた表面被覆処理銅粉（表面被覆剤の使用量は銅粉に対して１．００重量％、塗料中の被覆処理銅粉の含有量は７５重量％である）と、樹脂バインダーとしてのメタクリル酸樹脂（三菱レイヨン製、アクリボンドＢＣ−４１５Ｂ）と、溶剤としてのトルエンとから導電性塗料を調製した。」（第５頁右上欄３行〜９行）
　甲９カ　「実験例４
　銀被覆量２．００重量％の銅粉（三井金属鉱業製、ＭＦ−Ｄ２）を用いたこと以外、実験例２と同様にシールド効果を測定した。」（第７頁左下欄１行〜４行）
　甲９キ　「実験例５
　銀被覆量２．００重量％の銅粉および銀未被覆銅粉（三井金属鉱業製、ＭＦ−Ｄ２）を、実験例１と同様に、この発明によるジクミルフェニルオキシアセテートチタネート（チタネートＡ）表面被覆剤の被覆量１．００重量％で被覆した。」（第７頁左下欄１４行〜１９行）
（８）　甲第１４号証（“Relation between evidence No.1 and No.4”（当審訳：甲第１号証と甲第４号証の関係））について
　甲１４ア　「
Evidence No.1---ECKA Granular Japan's brochure in Japanese, page 22
Evidence No.4---GGP's brochure in English, page 2 and page 5 」
（当審訳：
甲第１号証−−−エカ・グラニュラー・ジャパンの日本語版カタログの第２２頁
甲第４号証−−−ＧＧＰ社の英語版カタログの第２頁と第５頁）
　甲１４イ　「CH-L7 on Page 22 of evidence No.1 and Cu CH-L7 on page 5 of evidence No.4 is the same products. Besides, CH-L8 on Page 22 of evidence No.1 and Cu CH-L8 is the same product, too.」
（当審訳：甲第１号証の第２２頁にある“ＣＨ−Ｌ７”と甲第４号証の第５頁にある“Ｃｕ ＣＨ−Ｌ７”とは同一の製品です。加えて、甲第１号証の第２２頁にある“ＣＨ−Ｌ８”と（甲第４号証の第５頁にある）“Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８”とは同一の製品です。）
　
　甲１４ウ　「GGP Metalpowder Ag toke over dendritic Cu powder production line of ECKA Granulate Velden GmbH (ECKA Granulate GmbH Co. KG) in May 2010. GGP Metalpowder is still keeping dendritic Cu powder production by using the same production line and the same production method as ECKA produced before 2010. And GGP Metalpowder is selling dendritic Cu powder to the customers all over the world.」
（当審訳：ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ社は、樹枝状銅粉末生産工程をＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　Ｖｅｌｄｅｎ　ＧｍｂＨ　（ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　ＧｍｂＨ　Ｃｏ．ＫＧ）から２０１０年５月に引き継ぎました。ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ社は、ＥＣＫＡ社が２０１０年までに使用していた生産工程と生産方法をそのまま使用しています。ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ社は、樹枝状銅粉末を全世界のお客様に販売しております。）
　
　甲１４エ　「We hereby certify that above statement is true and correct.
Date : 26.09.2014
GGP Metalpowder AG
CEO and President
Mr. Thomas Gmoehling 」
（当審訳：我々は、上記記載が真実であり正しいことを証明します。
２０１４年９月２６日
ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ
最高経営責任者　兼　社長　トーマス　グミューリング）
（９）　甲第１５号証（“Evidence No.5 and No.6”（当審訳：甲第５号証と甲第６号証））について
　甲１５ア　「
 Evidence No.5---SEM photo of CH-L7 
 Evidence No.6---SEM photo of CH-L8 
 Evidence No.1---ECKA Granular Japan's brochure in Japanese, page 22」
（当審訳：
甲第５号証−−−ＣＨ−Ｌ７のＳＥＭ写真
甲第６号証−−−ＣＨ−Ｌ８のＳＥＭ写真
甲第１号証−−−エカ・グラニュラー・ジャパンの日本語版カタログの第２２頁。）
　なお、甲第６号証に掲載されている写真は、「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」のＳＥＭ写真であるから、上記「ＣＨ−Ｌ８」は「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」の誤記と認められる。
　甲１５イ　「1. Trautenfurt is the name of the place where GGP's (ECKA's)dendritic Cu powder factory is located.」（当審訳：１．”Ｔｒａｕｔｅｎｆｕｒｔ”とは、ＧＧＰ社（ＥＣＫＡ社）の樹枝状銅粉末の工場がある場所の名前です。）
　
　甲１５ウ　「2. 10.12.09 is the date that the sample of CH-L7 was produced in Trautenfurt.」（当審訳：２．“１０．１２．０９”とは、ＣＨ−Ｌ７のサンプルがＴｒａｕｔｅｎｆｕｒｔ工場で作られた年月日を示しています。）
　
　甲１５エ　「3. GR-E/AT is the name of the department at ECKA, where this SEM photo was taken. GR means Granulate (engl.:Granules), E means Entwicklung (engl.:Development) and AT means Anwendungs-Technik (engl.:Application-Technology).」（当審訳：３．“ＧＲ−Ｅ／ＡＴ”は、ＳＥＭ写真を撮影したＥＣＫＡ社の部門の事を意味します。具体的には、ＧＲは“Ｇｒａｎｕｌａｔｅ”（英語でＧｒａｎｕｌｅｓ）を、Ｅは“Ｅｎｔｗｉｃｋｌｕｎｇ”（英語でＤｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔ）を、ＡＴは“Ａｎｗｅｎｄｕｎｇｓ−Ｔｅｃｈｎｉｋ”（英語でＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ−Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ）を表しています。）
　
　甲１５オ　「4. On evidence 5 (CH-L7)there is an indication as 14.12.2009, it means that this SEM report was issued on Dec. 12 in 2009. On evidence 6 (CH-L8),there is an indication as 2,2013. It means that this SEM report was issued in Feb. 2013.」（当審訳：４．甲第５号証（ＣＨ−Ｌ７）の“１４．１２．２００９”との記述は、このＳＥＭレポートが２００９年１２月１２日（当審注：１２日は１４日の誤記と認められる。）に作成されたことを示しています。甲第６号証（ＣＨ−Ｌ８）の“２．２０１３”の記述は、このＳＥＭレポートが２０１３年２月に作成されたことを示しています。）
　
　甲１５カ　「5. On evidence No. 5, Cu CH L7 is the same products on evidence No.1 as CH-L7, it is dendritic Cu powder. On evidence No. 6, Cu CH L8 is 
the same product on evidence CH-L7
　
　甲１５キ　「6. In Aug 2009, ECKA Granuels failed into insolvency, however in accordance with the Corporation Rehabilitation Law (in Germany ), ECKA was keeping production and RD activities. ECKA could take SEM photo in Dec. 2009.」（当審訳：２００９年８月に、ＥＣＫＡ社は経営破綻状態となってしまいました。しかしながら、ドイツ国の会社更生法の適用を受け、ＥＣＫＡ社は生産と開発業務を継続していました。ＥＣＫＡ社は２００９年１２月に該当のＳＥＭ写真を撮影できる状態でした。）
　甲１５ク　「We hereby certify that above statement is true and correct.
Date : 26.09.2014
GGP Metalpowder AG
CEO and President
Mr. Thomas Gmoehling 」
（当審訳：我々は、上記記載が真実であり正しいことを証明します。
２０１４年９月２６日
ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ
最高経営責任者　兼　社長　トーマス　グミューリング）
（１０）　甲第１６号証（“Evidence No.7”（当審訳：甲第７号証））について
　甲１６ア　「
 Evidence No.7---SEM photo of CH-L7 with some measurements
 Evidence No.1---ECKA Granular Japan's brocure in Japanese, page 22」
（当審訳：
甲第７号証−−−ＣＨ−Ｌ７のＳＥＭ写真および測定結果
甲第１号証−−−エカ・グラニュラー・ジャパンの日本語版カタログの第２２頁。）
　なお、甲第７号証に掲載されている写真は、「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」のＳＥＭ写真であるから、上記「ＣＨ−Ｌ７」は「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」の誤記と認められる。
　
　甲１６イ　「1. SEM photo in Evidence No.7 was took by GGP Metalpowder AG. On the photo, there are some description about length and diameter of dendrite construction. These description were added by contracted patent solicitor in Japan.」
（当審訳：１．甲第７号証のＳＥＭ写真は、ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧが撮影したものです。写真には、樹枝状構造を示す長さや直径の記載があります。これらの記載は、請求人代理人の日本の弁理士により書き加えられたものです。）
　
　甲１６ウ　「2. In accordance with information form the patent solicitor in Japan, analysis of dendrite construction (length/ diameter of the branch, number of the branch, measuring results, etc. )are estimated by 20 micron bar which is on the SEM photo. GGP agreed the analysis results by the patent solicitor in Japan.」（当審訳：２．請求人代理人の日本の弁理士からの情報では、樹枝状銅粉末の構造の分析（枝の長さや直径、枝の本数、測定結果など）は、ＳＥＭ写真中の”２０μｍ”の長さを示すバーから推測したものです。ＧＧＰ社は請求人代理人の分析結果に同意いたします。）
　
　甲１６エ　「3. Cu CH-L8 on evidence 7 is the same product as CH-L8 on evidence No.1, it is dendritic Cu powder.」（当審訳：３．甲第７号証記載の”Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８”と甲第１号証記載の”ＣＨ−Ｌ８”は同じ製品で、樹枝状銅粉末です。）
　
　甲１６オ　「We hereby certify that above statement is true and correct.
Date : 26.09.2014
GGP Metalpowder AG
CEO and President
Mr. Thomas Gmoehling 」
（当審訳：我々は、上記記載が真実であり正しいことを証明します。
２０１４年９月２６日
ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ
最高経営責任者　兼　社長　トーマス　グミューリング）
 
（１１）　甲第１７号証（“Evidence No.8”）について
　甲１７ア　「
 Evidence No.8---SEM photo of Mitsui MFD2
（当審訳：（添付資料）
甲第８号証−−−三井ＭＦＤ２のＳＥＭ写真）
　
　甲１７イ　「1. GR-E/AT is the name of the department at ECKA, where this SEM photo was taken. GR means Granulate (engl.:Granules), E means Entwicklung (engl.:Development) and AT means Anwendungs-Technik (engl.:Application-Technology).」
（当審訳：１．“ＧＲ−Ｅ／ＡＴ”は、ＳＥＭ写真を撮影したＥＣＫＡ社の部門の事を意味します。具体的には、ＧＲは“Ｇｒａｎｕｌａｔｅ”（英語でＧｒａｎｕｌｅｓ）を、Ｅは“Ｅｎｔｗｉｃｋｌｕｎｇ”（英語でＤｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔ）を、ＡＴは“Ａｎｗｅｎｄｕｎｇｓ−Ｔｅｃｈｎｉｋ”（英語でＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ−Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ）を表しています。）
　
　甲１７ウ　「2. There is a indication as 11.12.2009. It means that these SEM photos were taken on 1th Dec. in 2009. 」（当審訳：「１１．１２．２００９」の記載がある。これは、これらのＳＥＭ写真が２００９年１２月１１日（当審注：「1th」は「11th」の誤記と認められる）に撮影されたことを表している。）
　
　甲１７エ　「3. In Aug 2009, ECKA Granuels failed into insolvency, however in accordance with the Corparation Rehabilitation Low (in Germany ), ECKA was keeping production and RD activities. ECKA could take SEM photo in Dec. 2009.」（当審訳：２００９年８月に、ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｅｌｓ社は経営破綻状態となってしまいました。しかしながら、ドイツの会社更生法の適用を受けて、ＥＣＫＡ社は生産と開発業務を継続していました。ＥＣＫＡ社は２００９年１２月にＳＥＭ写真を撮影できる状況でした。）
　甲１７オ　「4. On evidence 8, there is an indication as Cu powder sample Mitsui MFD2. We are sure that we took SEM photo of Mitsui's MFD2 which we obtained on the market.」（当審訳：８号証には、「Ｃｕ　ｐｏｗｄｅｒ　ｓａｍｐｌｅ　Ｍｉｔｓｕｉ　ＭＦＤ２」との記載がある。われわれは、市場で入手した三井金属のＭＦＤ２のＳＥＭ写真を撮影したことは確かであると思います。）
　
　甲１７カ　「We hereby certify that above statement is true and correct.
Date : 26.09.2014
GGP Metalpowder AG
CEO and President
Mr. Thomas Gmoehling 」
（当審訳：我々は、上記記載が真実であり正しいことを証明します。
２０１４年９月２６日
ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ
最高経営責任者　兼　社長　トーマス　グミューリング）
（１２）　甲第１８号証（“エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社の特別清算情報−平成２３年（ヒ）第２０４８号”）
　甲第１８号証は、インターネット上のホームページである「破産データバンク」の内容をプリントアウトしたものであり、以下の事項が記載されている。
　甲１８ア　「平成２３年（ヒ）第２０４８号
・官報「２０１１−０７−０４」日発行
・官報掲載場所「本誌（５５８９号）」の「２４ページ」目
・清算「エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社」
…
特別清算情報
１．決定年月日　平成２３年６月２３日
２．主文清算株式会社につき特別清算の開始を命ずる。
３．東京地方裁判所民事第８部」（第１頁）
　甲１８イ　「平成２３年（ヒ）第２０４８号
・官報「２０１１−１０−２７」日発行
・官報掲載場所「本誌（５６６８号）」の「２６ページ」目
・清算「エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社」
…
特別清算情報
１．決定年月日　平成２３年１０月１７日
２．主文本件特別清算手続を終結する。
３．東京地方裁判所民事第８部」（第２頁）
（１３）甲第２０号証（甲第１号証のカタログ「金属粉末」の受領証明書）
　甲２０ア　「ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　ＧｍｂＨ＆Ｃｏ．ＫＧ　エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社発行のカタログ「金属粉末」（２．５．０５０２／０３．ＪＰ）（無効２０１４−８０００５１審判事件提出の甲第１号証）の受領証明書」
　なお、甲２０アに記載された「（２．５．０５０２／０３．ＪＰ）」なる記載は、「（５．２．０５０２／０３．ＪＰ）」の誤記であることが、口頭審理の場で確認されている（調書の別紙１の３．カを参照。）。
　甲２０イ　「私、増原大地は、２００６年頃、エカ・グラニュラー／ジャパン株式会社の金属粉末の日本語カタログ（無効２０１４−８０００５１審判事件に提出された甲第１号証）を、その当時エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社神戸支店の支店長である入江氏から、対面による手渡しで受領いたしました。
…
　上記記載事項が、真実に相違ないこと証明いたします。」
（１４）甲第２１号証（甲第１号証のカタログ「金属粉末」の受領証明書）
　甲２１ア　「ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　ＧｍｂＨ＆Ｃｏ．ＫＧ　エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社発行のカタログ「金属粉末」（２．５．０５０２／０３．ＪＰ）（無効２０１４−８０００５１審判事件提出の甲第１号証）の受領証明書」
　なお、甲２１アに記載された「（２．５．０５０２／０３．ＪＰ）」なる記載は、「（５．２．０５０２／０３．ＪＰ）」の誤記であることが、口頭審理の場で確認されている（調書の別紙１の３．カを参照。）。
　甲２１イ　「私、堀浩史は、２０１１年３月、エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社の金属粉末の日本語カタログ（無効２０１４−８０００５１審判事件に提出された甲第１号証）を、その当時、株式会社ニューメタルス　エンド　ケミカルス　コーポレーションの渥見幸彦氏（現、株式会社ＧＧＰメタルパウダージャパン、代表取締役）から、対面による手渡しで受領いたしました。
…
　上記記載事項が、真実に相違ないこと証明いたします。」
（１５）　甲第２２号証（“基礎　粒子径分布測定の一般論、光の基礎理論　１．粒子径分布測定の一般論　１−３．粒子径分布”）について
　甲第２２号証は、インターネット上のホームページである「日機装株式会社」の「基礎　粒子径分布測定の一般論、光の基礎理論　１．粒子径分布測定の一般論　１−３．粒子径分布」の内容をプリントアウトしたものであり、以下の事項が記載されている。
　甲２２ア　「１−３．粒子径分布
粉体、つまり集合体としての粒子の大きさは、多数個の測定結果を大きさ（粒子径）毎の存在比率の分布として表すのが一般的です。これを粒子径分布といいます。
…
存在比率の基準としては、体積基準（体積分布）、個数基準（個数分布）等があります。マイクロトラック（レーザー回折・散乱法）では原理上体積分布を測定しています。
…
粒子径分布は頻度として表す場合と、累積分布として表す場合があります。累積分布には、細かい粒子の側をゼロとして右上がりのカーブとなるオーバーサイズと、粗い側をゼロとして右下がりするアンダーサイズがあります。
…
粉体の大きさを、必ず分布で表さなければならないとすると不便です。このため一つの指標をもって粒度を表すことがあります。次のような指標がよく使われます。
　・モード径・・・出現比率がもっとも大きい粒子径チャンネル。または分布の極大値。
　・メジアン径（メディアン径）・・・俗にｄ５０ともいいます。粉体をある粒子径から２つに分けたとき、大きい側と小さい側が等量となる径のことです。この他に、ｄ１０、ｄ９０などもよく使われます。」
（１６）　甲第２５号証（“ＨＥＬＯＳ　レーザー回折式粒子径分布測定装置”）について
　甲第２５号証は、インターネット上のホームページである「Ｓｙｍｐａｔｅｃ　Ｇｍｂｈ」社の「ＨＥＬＯＳ　レーザー回折式粒子径分布測定装置」の内容をプリントアウトしたものであり、以下の事項が記載されている。
　甲２５ア　「レーザー回折法のＨＥＬＯＳ（ヘロス）システムは一つの測定原理で０．１μｍから８７５０μｍの範囲の粒子径を測定します。」
（１７）　甲第２６号証（“レーザー回折法による粒子径測定法”）について
　甲第２６号証は、インターネット上のホームページである「独立行政法人医薬品医療機器総合機構」に掲載されたＰＤＦファイルの内容をプリントアウトしたものであり、以下の事項が記載されている。
　甲２６ア　「５．結果の記録
　粒子径分布のデータは，通例，ふるい下積算分布及び／又は体積基準積算密度分布として記録する．粒子径を表すのに記号ｘを用い，粒子径は体積相当球の直径として定義する．Ｑ３（ｘ）は粒子径ｘにおけるふるい下体積分率を表す．図示する場合には，ｘを横軸に，従属変数であるＱ３（ｘ）を縦軸にしてプロットする．最も一般的な特性値は，粒子径分布曲線から内挿によって計算される．繁用されているものは，積算ふるい下値で１０％，５０％，９０％における粒子径（それぞれ，ｘ１０，ｘ５０，ｘ９０として表示）である．ｘ５０はメジアン径として知られている．記号ｄも粒子径を表すのに広く用いられているので，ｘの代わりにｄを用いてもよい．」（第２１頁左欄２３〜３４行）
（１８）　甲第２８号証（特開平５−１１４７７２号公報）について
　甲第２８号証は本件特許に係る出願の出願日前に日本国内で頒布されたものであり、以下の事項が記載されている。
　甲２８ア　「【０００４】このように、導電性銅ペーストを用いた印刷配線基板は、安価で耐マイグレーション性に優れているという特徴はあるものの、反面、導電性、耐湿信頼性、密着信頼性などにおいて多くの問題点を残しており、これらの問題点を解消した導電性ペーストを用いて得られる印刷配線基板は未だ得られていないのが実情である。
【０００５】しかして、本発明の目的は導電性、耐湿信頼性、密着信頼性が改善され、また耐マイグレーションがより優れた導電性銅ペーストを用いて作製される印刷配線基板を提供することにある。」
　甲２８イ　「【００２８】
本発明に用いる導電性粉末としては、銅粉末
が挙げられるが、特に銅粉末が好ましい
その形態は
好ましくは、電解により生成した樹枝状の電解銅粉
である
平均粒子径は３０μｍ以下であることが好ましく、高密度、多接触点充填の点から、１〜１０μｍの樹枝状粉がより好ましい
ここでいう平均粒子径とは堀場製作所製ＬＡ−５００型レーザー回析式粒度分布定装置で求めた体積基準によるメジアン径を指すものとする
（１９）　甲第２９号証（“粉博士のやさしい粉講座：実践コース”，“２７　針状・繊維状粒子の測定”）について
　甲第２９号証は、インターネット上のホームページである「島津製作所」の「粉博士のやさしい粉講座：実践コース」の内容をプリントアウトしたものであり、以下の事項が記載されている。
　甲２９ア　「○レーザ回折式粒度分布測定装置
２７　針状・繊維状粒子の測定
粒度分布は、通常、粒子径スケールに対する粒子量（積算または頻度）として表現されます。また、レーザ回折式粒度分布測定装置の測定原理「レーザ回折・散乱法」では、粒子が球形であると仮定して計算された回折・散乱光の光強度分布パターンに基づいて粒度分布を求めています。したがって、粒度分布測定では、常に粒子が球形であるという前提や仮定に基づいて測定が行われています。
それでは、図１や図２に示すような針状・繊維状粒子を測定した場合に、どのような結果がえられるのでしょうか。」
　甲２９イ「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
　甲２９ウ　「結論から言えば、図３のような粒度分布の測定結果が得られます。ここでは、測定対象となる粒子群が、まったく同じ形状・サイズの粒子だけから構成されるという前提をおいています。この場合、測定結果として得られる粒度分布は、針状・繊維状粒子の短径が分布下限に、長径が分布上限にほぼ相当するような比較的広い分布となります。」
　甲２９エ　「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
　甲２９オ「粒子群の中に、さまざまな形状・サイズの針状・繊維状粒子が含まれている場合、測定結果の分布範囲は、その中で最も小さな短径から、最も大きな長径へと広がります。
したがって、このような針状・繊維状粒子の場合でも、測定対象の粒子群に含まれる粒子の形状・サイズのばらつきが大きくなれば分布範囲は広がりますし、ばらつきが小さくなれば分布範囲は狭くなります。また、
形状・サイズが大きく（長く）なれば、粒度分布は全体として大きいほうに移動しますし、また、形状・サイズが小さく（短く）なれば、粒度分布は全体として小さいほうに移動します
同様に、針状・繊維状粒子が凝集していれば、粒度分布は全体として大きいほうに移動しますし、また、うまく分散していれば、粒度分布は全体として小さいほうに移動します。つまり、針状・繊維状粒子の分散・凝集状態を評価できるわけです。」
（２０）　甲第３１号証（ＣｕＣＨ−Ｌ７のレーザー法粒度測定結果）について
　甲第３１号証は、平成２７年５月２７日付けの口頭審理陳述要領書（２）の説明によれば、ＧＧＰメタル社分析のＣｕＣＨ−Ｌ７のレーザー法粒度測定結果であり、以下の事項が記載されている。
（２０−１）甲第３１号証の記載事項
　甲３１ア　「
　甲３１アのグラフ上部の記載から、当該グラフが、銅粉末「ＣｕＣＨ−Ｌ７」を測定対象として、レーザー法粒度測定をした結果が示されており、グラフ上部の枠内の測定結果から、Ｘ（５０％）が１９．８０μｍであることが見て取れる。　
（２０−２）甲第３１号証の書証の成立について
ア　甲第３１号証には、銅粉末「ＣｕＣＨ−Ｌ７」を測定対象として、レーザー法粒度測定をした分析結果が記載されているが、この書類には、書類作成者によるサインも署名もされていないので、誰によって分析がなされ、書類が作成されたものか不明である。そして、請求人は口頭審理陳述要領書（２）において、誰によって分析及び書類の作成がされたものかについて説明しておらず、上記測定対象となっている銅粉粒子が、「ＣｕＣＨ−Ｌ７」であることの根拠についても、何ら説明がなされていない。
イ　上記アの点について、平成２７年５月２９日差出の口頭審理陳述要領書（３）の第２頁には、「甲第３１号証は、ドイツ　ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ社（ＧＧＰ社）が、製造した電解銅粉ＣｕＣＨ−Ｌ７（甲第１号証のＣＨ−Ｌ７の現在の商品名）について、平成２７年５月に、ＧＧＰ社の品質管理者が、ＳＹＭＰＡＴＥＣ社製レーザー回折式粒度分布装置（ＨＥＬＯＳ／ＢＲ＆ＲＯＤＯＳ）で、体積基準の累積粒度分布を測定した結果です。
　Ｘ（５０％）（Ｄ５０）が、訂正後の請求項１に記載の『５μｍ以上２５μｍ以下』の範囲である『１９．８０μｍ』を示しております。」と記載されている。
ウ　しかしながら、上記口頭審理陳述要領書（３）においても、甲第３１号証の分析を行い、書類を作成した者が誰であるかについて説明しておらず、上記分析が「ＣｕＣＨ−Ｌ７」を対象に行われたことの根拠についても、何ら説明がなされていない。
エ　なお、甲第３１号証には、上記イに記載したように、Ｈｅｌｏｓを用いて測定されたＸ５０の値が１９．８０μｍと記載されているが、甲第５号証には、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」のＸ５０を同様に測定した値が、３１．８μｍと記載されている。したがって、同じ銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」について、同じ測定装置で測定したにもかかわらず、甲第５号証と甲第３１号証では、それぞれにおいて測定されたＸ５０の値が大きく相違しているため、甲第３１号証が、仮に真正な書証であって、証拠として採用できるものであったとしても、甲第３１号証のＸ５０についての測定結果は、直ちには採用できないものである。
オ　したがって、平成２７年５月２９日差出しの口頭審理陳述要領書（３）の上記イの記載を参酌しても、甲第３１号証が真正な書証であるとは認められず、甲第３１号証を証拠として採用することができない。
３　当審から通知した無効理由通知　
　平成２７年７月２８日付けで当審から通知した無効理由１．及び２．は次のとおりである。
　１．本件特許は、特許請求の範囲の記載が下記（１）の点で不備のため、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしておらず、特許法第１２３条第１項第４号に該当し、無効にすべきものである。 
 ２．本件特許は、特許請求の範囲の記載が下記（２）の点で不備のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしておらず、特許法第１２３条第１項第４号に該当し、無効にすべきものである。 
 
　なお、下記（１）、（２）に限り、平成２７年８月２７日付け訂正請求書に添付した訂正明細書を「訂正明細書」と記載し、当該訂正請求書による訂正前のものを「特許明細書」と記載する。
　（１）サポート要件について 
　ア　本件発明の課題は、訂正明細書の段落【００１４】に記載されているように、「優れた導通性を得るのに適したデンドライト成長を呈する銅粉粒子を含有し、導通性がより一層優れた新たなデンドライト状銅粉を提供せんとする」ことである。 
　イ　ところで、訂正明細書には、段落【００３６】に「本発明が以下の実施例に限定されるものではない。」と記載した上で、段落【００３７】に「走査型電子顕微鏡（２，０００倍）にて、任意の１００視野において５００個の粒子の形状を観察し、それぞれ主軸の太さａ（「主軸太さａ」）、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ（「枝長ｂ」）、主軸の長径に対する枝の本数（「枝本数／長径Ｌ」）を測定し、その平均値を表１に示した。」と記載されていることから、走査型電子顕微鏡による観察は、実施例においては、任意の複数の視野において複数の粒子を観察することにより行われているが、本件発明の「観察」は、その発明特定事項からみて、実施例のものに限らないと解することができる。 
　ウ　すなわち、請求項１には「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて銅粉粒子を観察した際」と記載されているところ、上記「観察」する「銅粉粒子」について、任意の視野において観察されたものであるとは記載されておらず、また、「観察」の対象とする「銅粉粒子」の数も特定されていないため、請求項１に記載された「観察」については、一つの「特定形状の銅粉粒子」を探し出し、当該一つの「特定形状の銅粉粒子」が含まれる特定の視野において、当該一つの「特定形状の銅粉粒子」を「銅粉粒子」として観察する場合が含まれるといえる。 
　エ　そして、請求項１には、「全銅粉粒子」についても何ら定義がされていないのであるから、探し出した上記一つの「特定形状の銅粉粒子」を「全銅粉粒子」ということも可能であり、このとき、「特定形状の銅粉粒子」が少なくとも一つ含有される「デンドライト状銅粉」は、「特定形状の銅粉粒子」が「全銅粉粒子」のうちの１００個数％（すなわち、全１個中の１個。）含有するものであるということができる。 
　オ　しかるに、「特定形状の銅粉粒子」は、「優れた導通性を得るのに適したデンドライト成長を呈する銅粉粒子」として「デンドライト状銅粉」に所定量（全体の８０個数％以上）を含有させるものであるといえるから、上記ウで検討したような「特定形状の銅粉粒子」がわずか１個のみ含有されるような「デンドライト状銅粉」が、本件発明の課題を解決できるものとはいえないことは明らかである。 
　カ　また、請求項１において、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）」を用いる「銅粉粒子」の「観察」について、仮に、「任意の複数の視野において複数の粒子を観察すること」が特定されていた場合において、観察する粒子の個数がごく少量、例えば１０個であり、そのうち「特定形状の銅粉粒子」が８個含有されていることが判明したとしても、サンプリング量が少なく統計的な偏りがあるため、その「デンドライト状銅粉」が、本件発明の課題を解決するために十分な個数％、すなわち、８０個数％以上の「特定形状の銅粉粒子」を含有していることを、十分な確からしさで判断することはできない、すなわち、本件発明の課題を解決できるものであるとはいえない。 
　キ　したがって、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）」を用いる「銅粉粒子」の「観察」について、「任意の複数の視野において複数の粒子を観察すること」が特定されておらず、また、「観察する粒子の個数」が特定されていない、本件の請求項１には、発明の課題を解決するための手段が反映されていないため、発明の詳細な説明に記載した範囲を超えて特許を請求することとなっている。 
　（２）発明の明確性について 
　ア　請求項１に記載された「全銅粉粒子」の「全」とは、「デンドライト状銅粉」に含まれる「銅粉粒子」の全てを意味するのか、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて」「観察」の対象となる複数の「銅粉粒子」の全てを意味するのか、あるいは、他の意味であるのか不明である。 
　イ　図１のモデル図によれば、「銅粉粒子」の「主軸」の太さは、上方が細く尖っており、下方に行くほど太くなっている。また、図２のＳＥＭ写真においても、右方ほど細く、左方ほど太くなっていることが見て取れる。このとき、「銅粉粒子」の「主軸」の太さは、測定する方法によって異なる値となる。例えば、「主軸」のちょうど中間で太さを測定する場合、「主軸」の何カ所かで測定した複数の太さの平均値をとる場合、「主軸」の一番太い箇所を測定する場合、「主軸」の太い側の端部の太さを測定する場合では、いずれも相互に異なる値として測定され得ることは明らかである。しかるに、請求項１には「主軸の太さａ」の測定方法が記載されていないから、請求項１に記載された「主軸の太さａ」は、「銅粉粒子」の「主軸」をどのように測定して得られた値であるか不明である。 
　ウ　請求項１に記載された「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」（以下「長さｂ」という。）が、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて銅粉粒子を観察した際」に得られる長さであるとは認められるものの、「長さｂ」が、どのように測定して得られたものであるかが、請求項１には記載されていない。そのため、「長さｂ」が、「銅粉粒子」が有する三次元に伸びた複数の枝のうち、実際に最も長い枝を選択し、当該最も長い枝について、枝の伸びる方向に沿って測定された長さ（以下「真の最長長さ」という。）を表すのか、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）によって撮影された１枚のＳＥＭ写真（以下「ＳＥＭ写真」という。）で確認できる、見かけ上、最も長く見える枝の長さ（以下「見かけの最長長さ」という。）を表すのか、あるいは、それ以外の測定方法で取得された長さを表すのか不明である。 
　エ　請求項３に記載された「主軸の長径Ｌに対する枝の分岐本数（枝本数／長径Ｌ）」（以下「分岐本数」という。）が、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて銅粉粒子を観察した際」に得られる「分岐本数」であるとは認められるものの、「分岐本数」が、どのような測定によって得られたものであるかが、請求項１には記載されていない。そのため、「分岐本数」が、「銅粉粒子」が有する三次元に伸びた複数の枝全ての本数（以下「真の分岐本数」という。）を表すのか、１枚のＳＥＭ写真で確認できる見かけ上の「銅粉粒子」の枝全ての本数（以下「見かけの分岐本数」という。）を表すのか、あるいは、それ以外の測定方法で取得された本数を表すのか不明である。
第５　被請求人の主張と証拠方法　
１　被請求人の主張の概要　
　被請求人は、「（１）本件無効審判の請求は成り立たない。（２）審判費用については、請求人が負担すべきものとする。」との審決を求め、答弁書とともに乙第１〜２号証を提出し、訂正請求書（特許法第１３４条の２第６項の規定により、取り下げられたものとみなす。）を提出し、同意回答書を提出し、口頭審理陳述要領書及び口頭審理陳述要領書（２）を提出し、上申書を提出し、当審の無効理由通知に対して審判事件意見書及び訂正請求書を提出し、訂正拒絶理由通知書に対して審判事件意見書及び手続補正書を提出することにより、請求人の主張する理由及び証拠、並びに当審が通知した無効理由によっては本件発明を無効とすることはできないと主張している。　
［証拠方法］
乙第１号証：鈴木淑夫、岩石学辞典、初版第１刷、２００５年３月２０日、株式会社朝倉書店、第３６４頁
乙第２号証：特開２００８−１３８３７号公報
２　乙号証の記載事項　
　被請求人が証拠方法として提出した乙号証の記載事項は、それぞれ次のとおりである。　
 
（１）　乙第１号証（鈴木淑夫、岩石学辞典、初版第１刷、２００５年３月２０日、株式会社朝倉書店、第３６４頁）
　乙１ア　「じゅしじょう　樹枝状　ｄｅｎｄｒｉｔｉｃ
　過冷却状態の融液から凝固した結晶成長の一形態で，特定の結晶学的な方向に急速に成長する．小さい結晶が多数連結して枝分かれした樹木のようになった結晶の集合組織にもこの語を用いる．ギリシャ語でｄｅｎｄｒｏｓは樹木のこと．」
 
（２）　乙第２号証（特開２００８−１３８３７号公報）　
　乙第２号証は本件特許に係る発明の出願日前に日本国内で頒布されたものであり、以下の事項が記載されている。
　乙２ア「【００４５】
【図１】実施例１で出発原料として用いた樹枝状電解銅粉の走査型電子顕微鏡写真である。」
　乙２イ「【図１】
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
第６　当審の判断　
１　無効理由１−１、１−２、１−４について
　甲第１号証を主引用例とする、無効理由１−１、１−２、１−４について検討する。
　
（１）　甲第１号証に記載された発明　
ア　上記甲１エの表によれば、樹枝状の銅粉である「銅（グレード名：ＣＨ）」には、見掛密度が異なる「軽量タイプ（ＣＨ−Ｌ）」、「中間重量タイプ（ＣＨ−Ｍ）」、「重量タイプ（ＣＨ−Ｓ）」の３つの等級があるが、「軽量タイプ」の「電解銅粉末（ＣＨ等級）」に属する「銅粉末（ＣＨ−Ｌ８）」及び「銅粉末（ＣＨ−Ｌ７）」を走査型電子顕微鏡で観察すると、どのような形状の銅粉粒子を含有しているかは不明である。
　この点に関して、甲１ウのＳＥＭ写真は、「銅（グレード名：ＣＨ）」に属するいずれかの銅粉のＳＥＭ写真であるとは推定されるものの、「銅粉末（ＣＨ−Ｌ８）」及び「銅粉末（ＣＨ−Ｌ７）」に含まれる銅粉粒子の形状が、甲１ウのＳＥＭ写真のようになっているかは不明である。
　しかしながら、甲１イによれば、「銅（グレード名：ＣＨ）」の銅粉は、電解法によって形成された銅粉末であり、樹枝状の粒子として析出するのであるから、「銅粉末（ＣＨ−Ｌ８）」及び「銅粉末（ＣＨ−Ｌ７）」を走査型電子顕微鏡で観察すると、甲１ウのＳＥＭ写真に写っている銅粉粒子に類似した、少なくとも樹枝状といえるような銅粉粒子を含有しているものと認められる。
イ　「銅粉末（ＣＨ−Ｌ８）」及び「銅粉末（ＣＨ−Ｌ７）」の「粒度」は、いずれも、甲１エに記載されているように、「＜０．０６３ｍｍ」である。なお、上記「粒度」が「＜０．０６３ｍｍ」であるとは、下記（３−２−１−１）アで検討するように、目開き６３μｍの篩を通過した銅粉末であることを意味しており、このことを、以下、「粒度６３μｍ」と記載する。
ウ　したがって、上記ア、イの検討に基づいて、「銅粉末（ＣＨ−Ｌ８）」と「銅粉末（ＣＨ−Ｌ７）」の二つの銅粉末について、訂正特許請求の範囲の請求項１の記載に則して記載すると、甲第１号証には、
「電解法によって形成された銅粉末であって、
　粒度が６３μｍであって、
　走査型電子顕微鏡を用いて銅粉粒子を観察した際、樹枝状の銅粉粒子を含有する銅粉末。」
が記載されていると認められる（以下、「甲１発明」という。）。　
　なお、本審決において、銅粉粒子が「樹枝状」であるとは、電解法によって形成された銅粉が取り得る形状であって、甲１ウ、甲４エ、乙２イのＳＥＭ写真のように、樹枝が比較的細いものから、樹枝が太く大きくなりブロッコリー状のものまでを含む、広い概念を表すものとして使用し、「デンドライト状」であるとは、訂正明細書の段落【００２０】に記載されているように、本件特許に係る図１、図２のような、主軸と、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長した特定の形状を表すものとして使用する。なお、「デンドライト状」の銅粉粒子は同時に「樹枝状」であるといえる。
（２）　本件発明１と甲１発明との対比　
　本件発明１と甲１発明とを対比する。
ア　甲１発明の「銅粉末」は、本件発明１の「銅粉」に相当している。
イ　甲１発明の「銅粉末」と本件発明１の「銅粉」は、いずれも、「電解法によって得られる」点で一致している。
ウ　甲１発明の「樹枝状の銅粉粒子」について、その詳細な形状は不明である。したがって、甲１発明の「樹枝状の銅粉粒子」と本件発明１の「デンドライト状を呈する銅粉粒子」は、いずれも、樹枝状を呈する銅粉粒子、の点で共通する。
エ　以上から、本件発明１と甲１発明の一致点と相違点は次のとおりである。
≪一致点≫
「電解法によって得られる銅粉であって、
　走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて、銅粉粒子を観察した際、樹枝状を呈する銅粉粒子が含有される銅粉。」　
 
≪相違点１≫ 
本件発明１の「銅粉」は「レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０が５μｍ以上２５μｍ以下」であるのに対し、甲１発明の「銅粉末」は、「粒度が６３μｍ」であるが、「レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０」の値が不明である点。
 
≪相違点２≫ 
　「銅粉」に含有される「銅粉粒子」が、「走査型電子顕微鏡」を用いて観察した際、本件発明１では、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する」（以下、「特定形状サイズである」という。）ものであるのに対し、甲１発明では、樹枝状ではあるが、具体的にどのような形状やサイズであるか不明である点。
≪相違点３≫ 
　「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、観察倍率２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察した際」、本件発明１の「銅粉」は、特定形状サイズである「デンドライト状を呈する銅粉粒子が全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０個数％以上含有する」のに対して、甲１発明の「銅粉末」は、特定形状サイズの銅粉粒子を含んでいるか不明であり、したがって、特定形状サイズである「デンドライト状を呈する銅粉粒子が全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０個数％以上含有する」かも不明である点。
 
（３）　相違点についての判断　
　相違点１〜３のうち、最初に、相違点２について検討する。
　なお、後述の（３−１）〜（５）においては、前記第４の２で検討したとおり、甲第５〜７、３１号証を証拠として採用できないことを前提として、甲第５〜７、３１号証が仮に採用できる場合も含めて検討を行い、後述の（６）においては、甲第５〜７、３１号証がいずれも証拠として採用できるものとして、予備的な検討を行う。
（３−１）相違点２の検討
（３−１−１）甲第４号証に記載された銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」及び「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」は、それぞれ、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」及び「ＣＨ−Ｌ７」と同一の銅粉末であること
ア　上記甲１キの記載から、甲第１号証のカタログは、「ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ　ＧｍｂＨ　＆　Ｃｏ．ＫＧ」（ＥＣＫＡ社）の日本法人である「エカ・グラニュラー・ジャパン株式会社」（エカ社）によって作成されたものと認められる。
　一方、上記甲４アの記載から、甲第４号証のカタログは、「ＧＧＰ　Ｍｅｔａｌｐｏｗｄｅｒ　ＡＧ」（ＧＧＰ社）によって作成されたものと認められる。
イ　上記甲４イの記載から、２００９年にＥＣＫＡ社は破産し、２０１０年にＧＧＰ社がＥＣＫＡ社の業務を引き継いだものと認められる。
　なお、日本法人のエカ社については、上記甲１８ア、イの記載から、平成２３年６月２３日に特別清算が開始され、平成２３年１０月１７日に特別清算手続が終結したものと認められる。
ウ　上記甲１４ウの記載から、ＥＣＫＡ社の事業を引き継いだＧＧＰ社は、ＥＣＫＡ社が２０１０年までに使用していた生産工程と生産方法をそのまま使用しているものと認められる。
エ　平成２６年１０月１６日付け弁駁書 の第７頁下から７〜５行には、「ＧＧＰ社は、ＥＣＫＡ社の生産工程（工場）及び生産方法をそのままで、現在も、甲第１号証の『ＣＨ−Ｌ７』及び『ＣＨ−Ｌ８』を『Ｃｕ ＣＨ−Ｌ７』及び『Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８』として製造、販売しております。」と記載されている。 
オ　上記ア〜エの検討及び記載事項に基づくと、ＥＣＫＡ社が破産した後、ＥＣＫＡ社の業務、生産工程（工場）、及び生産方法がＧＧＰ社によって引き継がれたものと認められる。この結果、ＥＣＫＡ社が製造、販売していた銅粉「ＣＨ−Ｌ８」及び「ＣＨ−Ｌ７」は、それぞれ、引き続き、ＧＧＰ社によって、銅粉「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」及び「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ７」として製造、販売が続けられることになったものと認められ、このため、ＥＣＫＡ社によって作成された甲第１号証のカタログに掲載されていた「ＣＨ−Ｌ８」及び「ＣＨ−Ｌ７」は、それぞれ、ＧＧＰ社によって作成された甲第４号証のカタログに掲載されていた「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」及び「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ７」と同一の銅粉であると認められる。
カ　甲第４号証に記載された銅粉「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」と、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」が同一の銅粉であることは、甲第１号証と甲第４号証の次の記載からも裏付けられる。
　上記甲１エの表には、銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」の「見掛密度」、「酸素量」、「比表面積」、「粒度」がそれぞれ、「０．８」、「＜０．３０」、「２３００」、「＜０．０６３」と記載されている。
　上記甲４エの表には、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」の「Aparent Density」、「Oxygen content」、「Specific Surface」、「Cut」がそれぞれ、「０．８」、「＜０，３０」、「２３００」、「＜０，０６３」と記載されている。
　上記甲１エの表に記載された４つのパラメータ「見掛密度」、「酸素量」、「比表面積」、「粒度」は、それぞれ上記甲４エの表に記載された４つのパラメータ「Aparent Density」、「Oxygen content」、「Specific Surface」、「Cut」に相当することが明らかであるところ、上記両銅粉末において、上記４つのパラメータの値が完全に一致しているので、甲第４号証に記載された銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」と、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」が同一の銅粉であることが裏付けられる。
キ　また、甲第４号証に記載された銅粉「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」と、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」が同一の銅粉であることも、甲第１号証の上記甲１エの表の記載と、甲第４号証の上記甲４エの表の記載から、上記カで検討したと同様に裏付けられる。
　
（３−１−２）証拠として採用できない甲第５号証の記載事項
　甲第５号証に掲載された甲５ウの８００倍のＳＥＭ写真は、上記甲５イのなお書きで指摘したように標題に誤記を含んでおり、標題を誤記を正した上で参照すれば、銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」のＳＥＭ写真であって、上記甲５ウの視認事項を参照すると、上記８００倍のＳＥＭ写真の銅粉末は、「主軸の太さａ」及び「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」が測定できるような銅粉粒子を含有しているとはいえない。
（３−１−３）証拠として採用できない甲第６号証の記載事項
　甲第６号証に掲載されたＳＥＭ写真は、その標題には「ＣｕＣＨＬ８」と記載されているが、審判請求書の第１７頁の６）の記載を参照すれば、上記ＳＥＭ写真は、ＧＧＰ社によって撮影された「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」のＳＥＭ写真であるものと認められる。そして、上記甲６ウの視認事項を参照すると、上記ＳＥＭ写真からは、銅粉「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」が樹枝状の銅粉粒子を含有するものとはいえるものの、銅粉「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」が、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子」を含有しているということを確認することができない。
（３−１−４）証拠として採用できない甲第７号証の記載事項
　甲第７号証に掲載された甲７ア、甲７イのＳＥＭ写真（Ａ）、（Ｂ）は、その標題を参照すれば、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」のＳＥＭ写真であって、上記甲７イの視認事項及び甲７ウの記載を参照すると、上記ＳＥＭ写真（Ａ）、（Ｂ）の銅粉末は、「一本の主軸を備えており、当該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、その主軸太さａが０．８μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さである枝長ｂが９．０μｍである」銅粉粒子を含有しているものと認められる。
　そして、主軸の太さａが０．８μｍであることは、「主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍ」に該当し、枝長ｂが９．０μｍであることは、「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍ」に該当するから、甲第７号証の上記銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」は、上記特定形状サイズの銅粉粒子を含有しているといえる。
（３−１−５）相違点２が実質的な相違点であること
ア　銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」については、そのＳＥＭ写真と測定結果が、甲第６号証と甲第７号証に記載されているところ、上記（３−１−３）で検討したように、甲第６号証には、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」が、特定形状サイズの銅粉粒子を含有していることが示されていないが、上記（３−１−４）で検討したように、甲第７号証には、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」が、特定形状サイズの銅粉粒子を含有していることが示されている。そして、上記銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」とは甲第４号証のＧＧＰ社のカタログに掲載された銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」のことであり、また、上記（３−１−１）で検討したように、甲第４号証の銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」は甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」と同一の銅粉末であるから、甲第７号証が証拠として採用できるのであれば、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」は、甲第７号証に記載された銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」と同一の銅粉末であるといえるので、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」は、上記特定形状サイズの銅粉粒子を含有しているということができる。
イ　しかしながら、上記第４の２（５）（５−２）で検討したように、甲第７号証は、真正な書証であると認められず、証拠として採用することができないから、甲第７号証から銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」が上記特定形状サイズの銅粉粒子を含有していることを認定することができないため、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」に、上記特定形状サイズの銅粉粒子が含有されているということができない。
ウ　また、上記（３−１−２）で検討したように、甲第５号証に掲載された、８００倍のＳＥＭ写真に撮影されている銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」は、「主軸の太さａ」及び「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」が測定できるような銅粉粒子を含有していないし、そもそも、上記第４の２（３）（３−２）で検討したように、甲第５号証は、真正な書証であるとはいえないから、甲第５号証を証拠として採用することができない。
　したがって、甲第５号証を参酌することはできないが、仮に参酌できたとしても、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」に、特定形状サイズの銅粉粒子が含有されているとはいえない。
エ　以上のとおり、当該甲第５〜７号証は証拠として採用できないものであるから、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」又は「ＣＨ−Ｌ７」に、上記特定形状サイズの銅粉粒子が含有されているとはいえず、したがって、甲１発明の銅粉末に、上記特定形状サイズの銅粉粒子が含有されているとはいえない。
　よって、甲１発明は、相違点２に係る本件発明１の特定事項を有しているとはいえないため、相違点２の点で本件発明１と相違している。
（３−１−６）相違点２の容易想到性
ア　甲第１号証の上記甲１イの記載によれば、電解法によって電解銅粉末を形成するにあたり、電解液の組成、電流および電解液温度を調整することによって粉末の形状および粒度を管理することができ、各種プロセスパラメータを調整することによって、粉末の見掛密度を低（ＣＨ−Ｌ）、中（ＣＨ−Ｍ）、高（ＣＨ−Ｓ）に変えることができる。
イ　また、甲第４号証の上記甲４エの視認事項からも確認できるように、電解法によって電解銅粉末を形成するにあたり、見掛密度が大きくなるにしたがって、電解銅粉粒子の枝が太くなり、電解銅粉粒子のサイズが大きくなって、ブロッコリーのような形状に変化する。
                                 　
ウ　上記ア及びイの事項を勘案すれば、電解銅粉作成時のプロセスパラメータを調整することにより、銅粉粒子の枝の太さや銅粉粒子のサイズを変化させることができるものと認められる。
エ　しかしながら、甲第１号証には、電解法によって形成された銅粉が、上記特定形状サイズの銅粉粒子を含有することについて記載も示唆もされていないから、甲１発明において、電解法のプロセスパラメータを調整することによって、銅粉粒子の枝の太さを変えて見掛密度を変更することができるとしても、何の契機もなしに、上記特定形状サイズの銅粉粒子を含有させることが、当業者にとって容易になし得ることであるとまではいうことができない。
オ　よって、甲１発明の銅粉末において、上記特定形状サイズの銅粉粒子が含有されるようにすること、すなわち、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが、甲第１号証の記載に基づいて、当業者にとって容易になし得ることであるはいえない。
（３−１−７）相違点２の検討のまとめ
　甲第４〜７号証を参酌しようとしても、当該甲第５〜７号証は証拠として採用できないものであるから、甲１発明は、相違点２の点で本件発明１と相違している。
　また、甲第１号証に記載された事項を考慮しても、甲１発明において、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
（３−２）相違点１の検討
　次に、相違点１について検討する。
（３−２−１）相違点１が実質的な相違点であること
（３−２−１−１）甲１発明の粒度が６３μｍであることについて
ア　平成２７年５月２９日差出の口頭審理陳述要領書（２）の第９頁（４）の説明によれば、甲第１号証において、「ＣＨ−Ｌ８」の「粒度［ｍｍ］」の欄に「＜０．０６３」と記載されていることは、甲第１号証の甲１クの「国際試験ふるい比較表」に記載された規格「２００１　ＤＩＮ　ＩＳＯ　３３１０」に基づいて、目開き６３μｍの篩を通過した銅粉末であることを意味しているものと認められる。
イ　したがって、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」と「ＣＨ−Ｌ７」の粒度が６３μｍであるということは、これら銅粉末が、目開き６３μｍの篩を通過した銅粉末であることを意味している。そして、目開き６３μｍの篩を通過した銅粉末については、６３μｍを超えるような粒径の銅粉粒子をほとんど含まない銅粉末であるといえるが、粒径６３μｍ以下の粒径分布、すなわち、粒径値に対する分布割合が特定されているわけではないから、体積累積粒径Ｄ５０を確定することはできない。したがって、甲第１号証において、銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」と「ＣＨ−Ｌ７」の粒度の記載によっても、これら銅粉末のＤ５０がどのような値であるかは不明である。
　なお、甲第４号証にも、上記甲４エの表に、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」と「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」の粒度が「＜０．０６３ｍｍ」であると記載されているのみであり、Ｄ５０について記載されていないので、上記と同様に、これら銅粉末のＤ５０がどのような値であるかは不明である。
（３−２−１−２）甲第７，６号証に基づくＤ５０の検討
　銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」については、そのＳＥＭ写真と測定結果が、甲第６号証と甲第７号証に記載されているところ、甲第７号証には、Ｄ５０の測定結果について記載がない。また、甲第６号証には、「Ｈｅｌｏｓ」と記載された欄はあるものの、Ｄ５０の値は記載されていない。なお、上記「Ｈｅｌｏｓ」とは、平成２７年５月１６日付けの口頭審理陳述要領書の第１０頁の「２）」によれば、甲第２５号証に示されているように、ドイツのシンパテック社のレーザー回折粒子径分布測定装置のことであるから、本来、この欄に「Ｈｅｌｏｓ」で測定したＤ５０が記載されるべきであるが、Ｄ５０の数値は記載されていない。
　したがって、仮に、甲第６、７号証が証拠として参酌できるとしても、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」のＤ５０の値は不明であるから、甲第１号証に記載された銅粉「ＣＨ−Ｌ８」についてもＤ５０の値は不明である。
（３−２−１−３）甲第５，３１号証に基づくＤ５０の検討
ア　甲第５号証は、「ｓａｍｐｌｅ：ＣｕＣＨＬ７」についての「Ｔｅｓｔ　Ｒｅｐｏｒｔ」であるところ、甲第５号証は、第４の２（３）（３−２）で検討したとおり、真正な書証とは認められないため、証拠として採用できないものである。甲第５号証が、仮に、真正な書証であって証拠として採用できるとしても、「Ｈｅｌｏｓ」と記載された欄には「Ｘ５０」が「３１，８μｍ」であると記載されている。ここで、「Ｘ５０」が「Ｄ５０（メディアン／中央値）」を意味することは、請求人が、平成２７年５月１６日付けの口頭審理陳述要領書の第１０頁の「２）」において説明しており、また、上記甲２６アにも記載されているように、当業者には周知の事項である。
　したがって、仮に、甲第５号証が証拠として採用できたとしても、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」のＤ５０の値は「３１．８μｍ」であるから、「５μｍ以上２５μｍ以下」の範囲には入っていない。
イ　甲第３１号証は、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」を測定対象として、レーザー回折式粒度分布装置（ＨＥＬＯＳ）を用いて分析した結果が記載されているところ、第４の２（２０）（２０−２）で検討したとおり、真正な書証とは認められないため、証拠として採用できないものである。甲第３１号証が、仮に、真正な書証であって証拠として採用できるとすれば、甲第３１号証には、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」のＸ５０の値が「１９．８０μｍ」であることが記載されているから、Ｄ５０は「５μｍ以上２５μｍ以下」の範囲に入っている。
ウ　上記ア、イの検討によれば、甲第５号証と甲第３１号証では、いずれも、同一の銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」を測定対象として、レーザー回折式粒度分布装置（ＨＥＬＯＳ）を用いて分析しているにもかかわらず、甲第５号証にはＤ５０が「３１．８μｍ」と記載されており、甲第３１号証にはＤ５０が「１９．８０μｍ」と記載されていて、両者で大きく相違しており、どちらの値が適正なものであるか不明であるから、仮に、甲第５号証と甲第３１号証が証拠として採用できるものであったとしても、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ７」のＸ５０の値を特定することができず、したがって、Ｄ５０の値は不明である。
（３−２−１−４）簡易計算式に基づく検討
　参考のため、平成２７年５月１６日付けの口頭審理陳述要領書の５．Ｂ．（２）１）に記載された、簡易計算式を用いたＤ９０からＤ５０の類推方法によってＤ５０を検討する（なお、この類推方法は、平成２７年５月２７日付けの口頭審理陳述要領書（２）の第１０頁３〜７行に記載されているように、請求人によって撤回された。）。上記簡易計算式を用いた上で、さらに、甲第１号証に記載された「粒度」が体積基準の「Ｄ９０」に相当するとの請求人の主張も採用して、粒度６３μｍからＤ５０を類推すると、６３／９０×５０＝３５μｍと計算できる。したがって、仮に、上記類推方法が採用可能であるとしても、銅粉「ＣＨ−Ｌ８」と「ＣＨ−Ｌ７」のＤ５０はいずれも３５μｍと類推されるので、本件発明１の「５μｍ以上２５μｍ以下」の範囲に入っていることは証明されない。
（３−２−１−５）相違点１が実質的な相違点であることのまとめ
ア　上記（３−２−１−１）で検討したとおり、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」と「ＣＨ−Ｌ７」について、これらの粒度が６３μｍであるということからは、体積累積粒径Ｄ５０を確定することはできないため、甲第１号証の記載に基づけば、上記銅粉末のいずれについても、Ｄ５０の値は不明である。
イ　上記（３−２−１−２）で検討したとおり、仮に、甲第６、７号証が証拠として採用できて、これらを参酌できるとしても、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」について、そのＤ５０の値は不明である。
ウ　上記（３−２−１−３）で検討したとおり、仮に、甲第５、３１号証が証拠として採用できて、これらを参酌できるとしても、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」について、そのＤ５０の値は不明である。
エ　甲１発明は、甲第１号証に記載された銅粉末「ＣＨ−Ｌ８」と「ＣＨ−Ｌ７」に基づいて認定されたものであるから、上記ア〜ウの検討を勘案すると、仮に、甲第５〜７、３１号証が証拠として採用できて、これらを参酌できるとしても、甲１発明においてＤ５０は不明であるといえるので、第５〜７、３１号証が証拠として採用できるか否かにかかわらず、相違点１は、甲１発明と本件発明１の実質的な相違点である。
（３−２−２）相違点１の容易想到性
　甲１発明において、「レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０」を「５μｍ以上２５μｍ以下」とすることが当業者にとって容易になし得ることであるかについて検討する。
（３−２−２−１）Ｄ５０が調整可能であること
ア　甲第１号証の上記甲１イの記載によれば、電解法によって電解銅粉末を形成するにあたり、電解液の組成、電流および電解液温度を調整することによって粉末の形状および粒度を管理することができ、各種プロセスパラメータを調整することによって、粉末の見掛密度を低（ＣＨ−Ｌ）、中（ＣＨ−Ｍ）、高（ＣＨ−Ｓ）に変えることできる。
イ　また、甲第４号証の上記甲４エの視認事項からも確認できるように、電解法によって電解銅粉末を形成するにあたり、見掛密度が大きくなるにしたがって、電解銅粉粒子の枝が太くなり、電解銅粉粒子のサイズが大きくなって、ブロッコリーのような形状に変化する。
ウ　上記ア及びイの事項を勘案すれば、電解銅粉作成時のプロセスパラメータを調整することにより、銅粉粒子の枝の太さや銅粉粒子のサイズを変化させることができるものと認められる。
エ　そして、甲第２９号証の上記甲２９ア〜オの記載によれば、レーザ回折式粒度分布測定装置を用いて、針状・繊維状粒子を測定すると、図３の粒度分布に示されるように、針状・繊維状粒子の短径が分布下限に相当し、その長径が分布上限に相当する、比較的広い分布となること、そして、粒子の形状・サイズが大きく（長く）なれば、粒度分布は全体として大きいほうに移動し、また、形状・サイズが小さく（短く）なれば、粒度分布は全体として小さい方に移動することが説明されている。
オ　甲第２９号証には、樹枝状の銅粉粒子の測定について記載されていないが、樹枝状の銅粉粒子は複数の針状・繊維状粒子が複合したものと考えられるから、上記エのレーザ回折式粒度分布測定装置を用いて得られる粒度分布の説明は、樹枝状の銅粉粒子の測定にも適用可能であるものと認められる。
　すると、樹枝状の銅粉粒子が、上記イのように、見掛密度が大きくなるにしたがって、粒子の枝の太さやサイズが大きくなると、図３のような頻度分布で表した粒度分布は全体として大きいほうに移動することとなり、その結果、上記粒度分布を累積分布で表現した累積分布曲線が移動するから、当該累積分布曲線における累積度数５０％に対応する粒子径であるＤ５０も大きくなるといえる。また、同様の理由により、見掛密度が小さくなるにしたがって、Ｄ５０は小さくなるといえる。
カ　つまり、電解銅粉作成時のプロセスパラメータを調整することにより、銅粉粒子の見掛密度が大きく（または小さく）なるように変化させると、銅粉粒子の枝の太さや銅粉粒子のサイズが大きく（または小さく）なり、Ｄ５０も大きく（または小さく）することができるといえるが、このことは当業者にとって技術常識であるものと認められる。
（３−２−２−２）樹枝状の電解銅粉にとって好ましいＤ５０の値
　甲第２８号証の上記甲２８イの記載によれば、導電性銅ペーストに用いられる導電性粉末としては、樹枝状の電解銅粉が好ましく、その平均粒子径、すなわち、体積基準によるメジアン径については、高密度充填、多接触点充填の点から、３０μｍ以下であることが好ましく、１〜１０μｍがより好ましいことが記載されている。
　したがって、甲第２８号証によれば、樹枝状の電解銅粉を導電性ペーストに使用するために、良好な導電性の点から、平均粒子径、すなわち体積基準によるメジアン径については、１〜１０μｍがより好ましいことが記載されており、この平均粒径の値は、相違点１に係る本件発明１の発明特定事項である「５μｍ以上２５μｍ以下」と、５〜１０μｍ範囲で重複している。
　つまり、甲第２８号証には、樹枝状の電解銅粉のＤ５０を「５μｍ以上２５μｍ以下」とすることが好ましいことが記載されている。
（３−２−２−３）相違点１の容易想到性の判断
ア　上記（３−２−２−１）及び上記（３−２−２−２）の検討から、甲１発明の銅粉末を導電性ペーストに用いる場合に、良好な導電性を実現する観点から、プロセスパラメータを調整して、銅粉粒子の枝の太さやサイズを変化させることによって、体積累積粒径Ｄ５０を、甲第２８号証に記載されている「５μｍ以上２５μｍ以下」とすること自体は、当業者にとって格別困難なことであるとはいえない。
イ　しかしながら、甲１発明の銅粉末において、プロセスパラメータを調整することにより、体積累積粒径Ｄ５０を変化させると、上記（３−２−２−１）イに記載したように、当該銅粉に含有される銅粉粒子の枝の太さや銅粉粒子のサイズが変化することとなる。また、請求人は、口頭審理の場で、Ｄ５０を変更すると、銅粉の枝の長さが変化することを認めている（第１回口頭審理調書の請求人の「６」参照。）。
　これは、言い換えれば、甲１発明の銅粉末において、「体積累積粒径Ｄ５０」と、「主軸の太さａ」、「長径Ｌ」及び「枝長ｂ」とは相互に関連しているので、これらの４つの値をそれぞれ独立に設定することができないものであることを表している。
ウ　そして、電解法によって得られる樹枝状の銅粉において、「レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０が５μｍ以上２５μｍ以下」とすると同時に、「主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する」「銅粉粒子」を含有するものとすることができること、すなわち、相違点１に係る本件発明１の特定事項と、相違点２に係る本件発明１の特定事項を同時に満足することについては、いずれの甲号証にも記載も示唆もされていない。
エ　以上、ア〜ウの検討を勘案すると、甲１発明において、プロセスパラメータを調整することにより、「体積累積粒径Ｄ５０」を「５μｍ以上２５μｍ以下」とすること、すなわち、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすること自体は、当業者にとって格別困難なことではあるとはいえない。しかしながら、電解銅粉において、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすることと、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが独立して実現可能であるといえない以上、Ｄ５０を特定の値にするためにプロセスパラメータを調整すると、上記イで検討したとおり、甲１発明の銅粉末に含有される樹枝状の銅粉粒子の「主軸の太さａ」、「長径Ｌ」及び「枝長ｂ」が変化してしまい、これらの値を所望の値にすることができなくなるので、相違点１に係る本件発明の特定事項とすると同時に、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが容易になし得ることであるとはいえない。
オ　つまり、甲１発明において、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすること自体は、当業者にとって容易になし得ることであるとしても、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすると同時に、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
（３−２−３）相違点１の検討のまとめ
　甲第５〜７、３１号証は証拠として採用できないものであるところ、これら甲号証を参酌できるか否かにかかわらず、甲１発明は、相違点１の点で本件発明１と相違している。
　また、甲第２８号証に記載された事項を勘案すれば、甲１発明において、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえるものの、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすると同時に、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
（３−３）相違点３の検討
　最後に、相違点３について検討する。
（３−３−１）相違点３が実質的な相違点であり、当業者が容易になし得ることではないこと
ア　相違点２に係る本件発明の特定事項は、本件発明１の「銅粉」が、特定形状サイズの銅粉粒子、すなわち、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する」銅粉粒子を含有することを特定するものであるが、相違点３に係る本件発明１の特定事項は、本件発明１の「銅粉」が、当該特定形状サイズの銅粉粒子について、さらに、「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０％個数以上含有する」点を特定するものである。
イ　そして、上記（３−１−５）で相違点２について検討したように、甲１発明の銅粉末は、特定形状サイズの銅粉粒子を含有しているものであるとはいえない、つまり、特定形状サイズの銅粉粒子をわずか一つでも含有しているものであるとすらいえないのであるから、甲１発明の銅粉末が、当該特定形状の銅粉粒子を「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０％個数以上含有する」といえないことは明らかである。
　したがって、甲１発明は、相違点３の点で本件発明１と相違している。
ウ　また、上記（３−１−６）で相違点２について検討したように、甲第１号証に記載された事項を考慮しても、甲１発明の銅粉末において、特定形状サイズの銅粉粒子が含有されるようにすることが、当業者が容易になし得ることであるといえない、つまり、特定形状サイズの銅粉粒子をわずか一つでも含有するようにすることですら、当業者が容易になし得ることであるといえないのであるから、甲１発明の銅粉末が、当該特定形状サイズの銅粉粒子を、「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０％個数以上含有する」ようにすることが、当業者が容易になし得ることであるといえないことは明らかである。
　したがって、甲１発明において、相違点３に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者が容易になし得ることであるとはいえない。
（３−３−２）相違点３の検討のまとめ
　甲１発明は、相違点２の点で本件発明１と相違しているから、相違点３の点においても相違している。
　また、甲１発明において、甲第１号証に記載された事項を考慮しても、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえないから、相違点３に係る本件発明１の特定事項とすることについても、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
（４）本件発明１についての検討のまとめ
　以上、上記（３−１）、（３−２）、（３−３）の検討によれば、次のことがいえる。
（４−１）無効理由１−１について
　甲１発明は、甲第４〜７号証を参酌しようとしても、当該甲第５〜７号証は証拠として採用できないものであるから、相違点１〜３の点において、本件発明１と相違している。
　したがって、本件発明１は、甲第４〜７号証のうち証拠として採用可能な甲第４号証を参酌しても、甲第１号証に記載された発明であるとはいえない。
　よって、無効理由１−１によって、本件発明１に係る特許を無効とすることはできない。
（４−２）無効理由１−２について
　本件発明１は、甲第４〜７号証のうち証拠として採用可能な甲第４号証を参酌しても、甲１発明において、甲第１号証の記載に基づいて、相違点２及び相違点３に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
　また、甲１発明において、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすることが当業者にとって容易になし得ることであるとしても、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすると同時に、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
　以上から、本件発明１に係る特許は、甲第４〜７号証のうち証拠として採用可能な甲第４号証を参酌しても、甲第１号証の記載に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。
　よって、無効理由１−２によって、本件発明１に係る特許を無効とすることはできない。
（４−３）無効理由１−４について
　本件発明１は、甲第４〜７号証のうち証拠として採用可能な甲第４号証を参酌しても、甲１発明において、甲第１号証の記載に基づいて、相違点２及び相違点３に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
　また、甲１発明において、甲第２８号証の記載に基づいて、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすることが当業者にとって容易になし得ることであるとしても、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすると同時に、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
　以上から、本件発明１に係る特許は、甲第４〜７号証のうち証拠として採用可能な甲第４号証を参酌しても、甲第１号証の記載と甲第２８号証の記載に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。
　よって、無効理由１−４によって、本件発明１に係る特許を無効とすることはできない。
（５）　本件発明２、３についての検討
（５−１）無効理由１−１について　
　本件発明１の発明特定事項を有する本件発明２、３と甲１発明とを対比すると、両者は、少なくとも、上記相違点１〜３で相違している。
　したがって、上記（４−１）の検討と同様に、本件発明２、３は、いずれも、甲第４〜７号証のうち証拠として採用可能な甲第４号証を参酌しても、甲第１号証に記載された発明であるとはいえない。
　よって、無効理由１−１によって、本件発明２、３に係る特許を無効とすることはできない。
（５−２）無効理由１−２について
　本件発明１の発明特定事項を有する本件発明２、３は、上記（４−２）の検討と同様に、甲第４〜７号証のうち証拠として採用可能な甲第４号証を参酌しても、甲第１号証の記載に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。
　よって、無効理由１−２によって、本件発明２、３に係る特許を無効とすることはできない。
（５−３）無効理由１−４について
　本件発明１の発明特定事項を有する本件発明２、３は、上記（４−３）の検討と同様に、甲第４〜７号証のうち証拠として採用可能な甲第４号証を参酌しても、甲第１号証の記載と甲第２８号証の記載に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。
　よって、無効理由１−４によって、本件発明２、３に係る特許を無効とすることはできない。
（６）予備的な検討
　上記（３）〜（５）の検討では、甲第５〜７、３１号証を証拠として採用できないものであることを前提として検討しているが、仮に、甲第５〜７、３１号証がいずれも証拠として採用できるものとして、以下予備的に検討を行う。
（６−１）甲１発明と本件発明１は相違すること
（６−１−１）相違点２は実質的な相違点ではないこと
　甲第７号証が証拠として採用できる場合には、上記（３−１−５）アで検討したように、甲１発明の銅粉末には、特定形状サイズの銅粉粒子、つまり、「一本の主軸を備えており、当該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、その主軸太さａが０．８μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さである枝長ｂが９．０μｍであるデンドライト状を呈する」銅粉粒子が含有されていることとなる。
　つまり、相違点２は、甲１発明と本件発明との実質的な相違点ではない。
（６−１−２）相違点１が実質的な相違点であること
　上記（３−２−１−５）で検討したように、甲第５〜７、３１号証が証拠として採用できて、これらを参酌できる場合においても、甲１発明においてＤ５０は不明である。
　したがって、相違点１は、甲１発明と本件発明１の実質的な相違点である。
（６−１−３）相違点３が実質的な相違点であること
ア　甲第７号証の上記甲７ア、イ、ウの記載によれば、写真（Ａ）に含まれる多数の銅粉粒子のうち、実際に、「主軸太さａ」、「枝長ｂ」及び「長径Ｌ」が測定されて、「主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍ」であることが確認されたのは、「対象」と矢印で示された、わずか１個の銅粉粒子のみである。
イ　上記甲７アのＳＥＭ写真（Ａ）を見る限り、上記「対象」と矢印で示された１個の銅粉粒子以外に、「主軸から複数の枝が斜めに分岐」する構造が確認でき、しかも「太さ」が測定可能である程度に明瞭に「主軸」が確認できる銅粉粒子は、下記ウの参考写真に示すとおり、当審により丸印を付した、せいぜい３つ程度である。そして、これら３つの銅粉粒子について実際に、「主軸の太さａ」や「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」を測定したときに、それぞれ、「０．３μｍ〜５．０μｍ」及び「０．６μｍ〜１０．０μｍ」の範囲に入るかは不明であるが、仮に上記３つの銅粉粒子の全てが上記範囲に含まれており、したがって「特定形状サイズ」を有する銅粉粒子であるといえたとしても、ＳＥＭ写真（Ａ）の中に含まれる「特定形状サイズ」の銅粉粒子は高々４個程度であり、目視で概略数十個存在すると認められる全銅粉粒子の８０％どころか、半分（５０％）すら「特定形状サイズ」の銅粉粒子であるとはいえない
ウ　参考写真
エ　上記参考写真の中に含まれる銅粉粒子の数は、上述のとおり、目視で概略数十個であり、その中に含まれる「特定形状サイズ」の銅粉粒子は高々４個程度であるところ、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」の他の部分を走査型電子顕微鏡で撮影したとしても、上記写真（Ａ）と同様の割合で「特定形状サイズ」の銅粉粒子が発見されるものと推定される。
オ　したがって、甲第７号証を参酌しても、銅粉末「Ｃｕ　ＣＨ−Ｌ８」は、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、観察倍率２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察」した場合に、特定形状サイズの銅粉粒子が「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０個数％以上含有」されているとはいえない。
カ　次に、上記甲６イの視認事項によれば、甲第６号証に掲載された、甲６ウの銅粉末「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」のＳＥＭ写真を見ても、「主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈」するような「主軸」及び「枝」を備えた銅粉粒子は、わずか一個すら確認することができない。
　したがって、甲第６号証を参酌しても、銅粉末「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ８」が、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、観察倍率２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察」した場合に、特定形状サイズの銅粉粒子が「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０個数％以上含有」しているとはいえないことは明らかである。
キ　さらに、上記甲５ウの視認事項によれば、甲第５号証に掲載された、銅粉末「ＣＨ−Ｌ７」のＳＥＭ写真を見ても、「主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈」するような「主軸」及び「枝」を備えた銅粉粒子は、わずか一個すら確認することができない。
　したがって、甲第５号証を参酌しても、銅粉末「Ｃｕ ＣＨ−Ｌ７」が、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、観察倍率２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察」した場合に、特定形状サイズの銅粉粒子が「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０％個数以上含有」しているとはいえないことは明らかである。
ク　したがって、甲第７号証、甲第６号証、甲第５号証のいずれを参酌しても、相違点３は、本件発明１と甲１発明の実質的な相違点である。
（６−２）相違点１、３に関する容易性の判断
（６−２−１）相違点１に関する容易性の判断
ア　甲第５〜７、３１号証が証拠として採用できる場合においても、上記（３−２−２−１）、（３−２−２−２）の検討は何ら変更する点はないので、そのまま採用できる。したがって、この場合においても、甲１発明の銅粉末において、プロセスパラメータを調整して、銅粉粒子の主軸や枝の太さや長さを変化させることによって、体積累積粒径Ｄ５０を、甲第２８号証に記載されている「５μｍ以上２５μｍ以下」のものとすること、すなわち、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすること自体は、当業者にとって格別困難なことであるとはいえない。
イ　しかしながら、甲１発明の銅粉末において、プロセスパラメータを調整することにより、体積累積粒径Ｄ５０を変化させると、上記（３−２−２−３）イに記載したように、当該銅粉に含有される銅粉粒子の枝の太さや長さ、銅粉粒子のサイズが変化することとなる。
ウ　したがって、甲１発明が、上記（６−１−１）で検討したように、特定形状サイズの銅粉粒子を含有していたとしても、プロセスパラメータを調整することによって、Ｄ５０を「５μｍ以上２５μｍ以下」のものとすると、上記イに記載したように、「主軸太さａ」や「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さである枝長ｂ」が変化することとなるので、その際には、甲１発明はもはや、「その主軸太さａが０．８μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さである枝長ｂが９．０μｍである」銅粉粒子を含有しているとは直ちにはいえなくなってしまう。
エ　つまり、甲１発明の銅粉末において、相違点２に係る本件発明１の特定事項を備えるものとしたままで、甲第１号証の記載に基づいて、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
（６−２−２）相違点３に関する容易性の判断
ア　上記（６−１−３）で検討したとおり、本件発明１と甲１発明は、相違点３において相違している。
イ　そして、甲第１号証、甲第５〜７号証を含め、提出されたいずれの甲号証にも、電解法によって形成された銅粉末において、上記特定形状サイズの銅粉粒子の含有割合を増やして、「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０％個数以上含有する」ようにすること、及び、含有割合を増やして、「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０個数％以上含有する」ようにするための具体的方法については、記載も示唆もされておらず、また、当業者にとって技術常識であるともいえない。
ウ　したがって、甲１発明において、特定形状サイズの銅粉粒子の含有割合を増やすことにより、相違点３に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者が容易になし得ることであるということはできない。　
（６−３）本件発明１についての予備的な検討のまとめ
（６−３−１）無効理由１−１について
　甲１発明は、甲第４〜７号証を参酌しても、相違点１と相違点３において、本件発明１と相違している。
　したがって、本件発明１は、甲第４〜７号証を参酌しても、甲第１号証に記載された発明と同一であるとはいえない。
　よって、無効理由１−１によって、本件発明１に係る特許を無効とすることはできない。
（６−３−２）無効理由１−２について
　本件発明１は、甲第４〜７号証を参酌し、甲第１号証の記載事項を勘案したとしても、甲１発明において、相違点２に係る本件発明１の特定事項を備えるものとしたままで、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。また、甲１発明において相違点３に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者が容易になし得ることであるということはできない。
　したがって、本件発明１に係る特許は、甲第４〜７号証を参酌しても、甲第１号証の記載に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。
　よって、無効理由１−２によって、本件発明１に係る特許を無効とすることはできない。
（６−３−３）無効理由１−４について
　甲１発明において、甲第２８号証の記載に基づいて、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすること自体は、当業者にとって容易になし得ることであるとしても、甲１発明において、相違点２に係る本件発明１の特定事項を備えるものとしたままで、相違点１に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。また、甲１発明において相違点３に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者が容易になし得ることであるということはできない。
　したがって、本件発明１に係る特許は、甲第２８号証の記載事項を甲第１号証に適用したとしても、当業者が容易に発明することができたものではない。
　よって、無効理由１−４によって、本件発明１に係る特許を無効とすることはできない。
（６−４）　本件発明２、３についての予備的な検討
（６−４−１）無効理由１−１について　
　本件発明１の発明特定事項を有する本件発明２、３と甲１発明とを対比すると、両者は、少なくとも、上記相違点１と相違点３において相違している。
　したがって、上記（６−３−１）の検討と同様に、本件発明２、３は、いずれも、甲第４〜７号証を参酌しても、甲第１号証に記載された発明と同一であるとはいえない。
　よって、無効理由１−１によって、本件発明２、３に係る特許を無効とすることはできない。
　
（６−４−２）無効理由１−２について
　本件発明１の発明特定事項を有する本件発明２、３は、上記（６−３−２）の検討と同様に、甲第４〜７号証を参酌しても、甲第１号証の記載に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。
　よって、無効理由１−２によって、本件発明２、３に係る特許を無効とすることはできない。
（６−４−３）無効理由１−４について
　本件発明１の発明特定事項を有する本件発明２、３は、上記（６−３−３）の検討と同様に、甲第２８号証の記載事項を甲第１号証に適用したとしても、当業者が容易に発明することができたものではない。
　よって、無効理由１−４によって、本件発明２、３に係る特許を無効とすることはできない。
２　無効理由１−３について　
（１）　甲第９号証に記載された発明　
ア　甲第９号証の上記甲９エには、三井金属鉱業製の銅粉「ＭＦ−Ｄ２」について、その見掛密度が１．４５ｇ／ｃｃ、比表面積が０．４１ｍ２／ｇ、粒度分布が１〜６０μｍ、平均粒径が１３．４μｍであることが記載されている。
イ　甲第９号証に記載された、「銅粉ＭＦ−Ｄ２」は、本件無効審判の被請求人である三井金属鉱業株式会社によって製造されたものであり、被請求人が、平成２６年６月１７日付けの答弁書の第１２頁の下から６行目において、「ＭＦ−Ｄ２」が「三井金属鉱業（株）の電解銅粉製品型番ＭＦ−Ｄ２」であると認めているので、甲第９号証に記載された「銅粉ＭＦ−Ｄ２」は電解銅粉、つまり、電解法によって製造された銅粉であり、上記甲９ウに記載された「電解法で得られた樹枝状銅粉」に該当するものと認められる。
ウ　甲第９号証の甲９エに記載された銅粉「ＭＦ−Ｄ２」が、甲９ウに記載された「電解法で得られた樹枝状銅粉」であることは、上記アに記載した銅粉「ＭＦ−Ｄ２」の見掛密度、比表面積、粒度分布、平均粒径のいずれのパラメータについても、上記甲９ウに記載された「電解法で得られた樹枝状銅粉」の、好ましいとされた上記パラメータの範囲内に入っていることからも裏付けられる。また、「樹枝状銅粉」とは、銅粉に含有される銅粉粒子の形状が樹枝状であることを意味しているものと認められる。　
エ　したがって、甲第９号証の上記甲９ウと上記甲９エの記載事項と、上記ア〜ウの検討に基づくと、甲第９号証には、次の銅粉が記載されていると認められる。
「電解法によって得られる銅粉であって、
見掛密度が１．４５ｇ／ｃｃ、比表面積が０．４１ｍ２／ｇ、粒度分布が１〜６０μｍ、平均粒径が１３．４μｍである、
樹枝状の銅粉粒子を含有する樹枝状銅粉。」（以下、「甲９発明」という。）
 
（２）　本件発明１と甲９発明との対比　
　本件発明１と甲９発明とを対比する。　
ア　甲９発明の「銅粉」と本件発明１の「銅粉」は、いずれも、「電解法によって得られる」点で一致している。
イ　本件発明１の「レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒度Ｄ５０」は、上記甲２２アにも記載されているように、銅粉粒子の平均粒径を表す指標として使用されることは技術常識であるから、本件発明１と甲９発明のいずれにおいても、「平均粒径」が「５μｍ以上２５μｍ以下」である点で共通している。
ウ　甲９発明の「樹枝状の銅粉粒子」について、その詳細な形状は不明である。したがって、甲９発明の「樹枝状の銅粉粒子」と本件発明１の「デンドライト状を呈する銅粉粒子」は、いずれも、樹枝状を呈する銅粉粒子、の点で共通する。
エ　以上の検討から、本件発明１と甲９発明の一致点と相違点は次のとおりである。
≪一致点≫
「電解法によって得られる銅粉であって、
平均粒径が５μｍ以上２５μｍ以下であって、
樹枝状を呈する銅粉粒子を含有する銅粉。」
≪相違点１≫ 
　「銅粉」の「平均粒径」が「５μｍ以上２５μｍ以下」である点について、本件発明１においては、「平均粒径」とは「レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒度Ｄ５０」のことであって、当該「Ｄ５０」が「５μｍ以上２５μｍ以下」であるのに対して、甲９発明では、どのような方法で測定された「平均粒径」が「５μｍ以上２５μｍ以下」であるのか不明である点。
≪相違点２≫ 
　本件発明１の「銅粉」は、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察した際」、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子」（以下、「特定形状サイズの銅粉粒子」という。）を「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０個数％以上含有する」のに対して、甲９発明の「銅粉」は「樹枝状の銅粉粒子」を含有するものの、当該「樹枝状の銅粉粒子」が「特定形状サイズの銅粉粒子」であるか不明であり、また、「特定形状の銅粉粒子」がどの程度の割合で含有されているか不明である点。
（３）相違点についての判断　
　最初に相違点２について検討した後、相違点１について検討する。
（３−１）相違点２についての判断
（３−１−１）甲第８号証の記載事項。
　甲第８号証に掲載された甲８ウのＳＥＭ写真は、甲８アの記載から「ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ」社（甲１５エの記載を参照すれば、「ｅｃｋａｇｒａｎｕｌｅｓ」とは「ＥＣＫＡ　Ｇｒａｎｕｌａｔｅ」の英語表記であり、ＥＣＫＡ社のことである。）によって撮影されたものであり、その標題を参照すれば、銅粉末「ＭＦＤ２」のＳＥＭ写真であって、上記甲８ウの視認事項を参照すると、上記ＳＥＭ写真の銅粉末「ＭＦＤ２」は、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈」する銅粉粒子を含有しているものと認められる。
　また、銅粉末「ＭＦＤ２」の各種測定結果については、甲８オに記載されている。ここで、「ＡＤ」は見掛密度を表しているものと認められる。ＦＳＳＳについては、その単位が「ｃｍ２／ｇ」であり、ＥＣＫＡ社の日本法人によって作成された甲第１号証のカタログの甲１エの表に「比表面積（Ｆｉｓｈｅｒ）［ｃｍ２／ｇ］」と記載されていることを参照すると、フィッシャー法によって測定された比表面積を表しているものと推定される。「Ｈｅｌｏｓ」はドイツのシンパテック社のレーザー回折粒子径分布測定装置で測定したことを表し、Ｘ５０、Ｘ９０は、それぞれＤ５０、Ｄ９０を表しているものと認められる（上記１（３）（３−２）（３−２−１）の（３−２−１−２）と（３−２−１−３）アを参照のこと。）。
　しかしながら、甲第８号証では、銅粉末「ＭＦＤ２」に含有される銅粉粒子について、上述のとおり、「主軸」が存在するものとは認められるが、「主軸の太さａ」について測定がなされておらず、その数値は不明であり、「主軸から伸びた枝」が存在するものとは認められるが、「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」について測定がなされておらず、その数値は不明である。
（３−１−２）甲第９号証に記載された「銅粉ＭＦ−Ｄ２」と甲第８号証の銅粉末「ＭＦＤ２」の同一性について
　甲第９号証に記載された「銅粉ＭＦ−Ｄ２」の見掛密度が１．４５ｇ／ｃｃ、比表面積が０．４１ｍ２／ｇであるのに対して、甲第８号証で測定された銅粉末「ＭＦＤ２」の見掛密度（ＡＤ）が０．５４ｇ／ｃｍ３、比表面積（ＦＳＳＳ）が３４００ｃｍ２／ｇ（＝０．３４ｍ２／ｇ）であるので、両者は、見掛密度と比表面積のいずれにおいてもその数値が大きく相違している。
　また、甲第９号証の「銅粉ＭＦ−Ｄ２」の平均粒径が１３．４μｍであるのに対して、甲第８号証の銅粉末「ＭＦＤ２」のＤ５０（Ｘ５０）が１８．９であり、平均粒径として必ずしもＤ５０が使用されるとは限らないが、仮に平均粒径がＤ５０として測定されているとすると、平均粒径についても両者でその数値が大きく相違している。
　したがって、甲第９号証の「銅粉ＭＦ−Ｄ２」と甲第８号証の銅粉末「ＭＦＤ２」は、見掛密度、比表面積および平均粒径のいずれについても数値が大きく相違することから、同一の銅粉末であると認めることはできない。
（３−１−３）相違点２が実質的な相違点であること
　上記（３−１−１）で検討したように、甲第８号証には、銅粉末「ＭＦＤ２」が、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈」する銅粉粒子を含有することが示されているから、甲第８号証が証拠として採用でき、甲第８号証の銅粉末「ＭＦＤ２」と甲第９号証に記載された銅粉「ＭＦ−Ｄ２」が同一の銅粉末であれば、甲第９号証に記載された銅粉「ＭＦ−Ｄ２」も「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈」する銅粉粒子を含有しているということができる。
　しかしながら、上記第４の２（６）（６―２）で検討したように、甲第８号証は、真正な書証であるといえないため、証拠として採用することができないし、上記（３−１−２）で検討したように、甲第９号証の「銅粉ＭＦ−Ｄ２」と甲第８号証の銅粉末「ＭＦＤ２」は、同一の銅粉末であると認めることもできないから、甲第９号証に記載された「銅粉ＭＦ−Ｄ２」が、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈」する銅粉粒子を含有しているということはできない。
　なお、仮に、甲第８号証が、証拠として採用することができ、甲第９号証の「銅粉ＭＦ−Ｄ２」と甲第８号証の銅粉末「ＭＦＤ２」が、同一の銅粉末であると認めることができたとしても、甲第９号証に記載された「銅粉ＭＦ−Ｄ２」が、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈」する銅粉粒子を含有しているといえるにとどまり、「銅粉ＭＦ−Ｄ２」の「主軸の太さａ」と「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」の数値は不明であるし、「特定形状サイズの銅粉粒子」を「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０個数％以上含有する」ということもできない。
　したがって、甲第８号証を証拠として採用できないものであるところ、仮に甲第８号証を証拠として採用でき、これを参酌できるとしても、相違点２は、本件発明１と甲９発明との実質的な相違点である。
（３−１−４）相違点２の容易想到性について
　甲第１号証の上記甲１イの記載によれば、電解法によって電解銅粉末を形成するにあたり、電解液の組成、電流および電解液温度を調整することによって粉末の形状および粒度を管理することができ、各種プロセスパラメータを調整することによって、粉末の見掛密度を低（ＣＨ−Ｌ）、中（ＣＨ−Ｍ）、高（ＣＨ−Ｓ）に変えることできる。つまり、電解法によって銅粉を形成するにあたり、プロセスパラメータを調整すると見掛密度を変えることができることが示されているけれども、甲第１号証には、電解法によって形成される銅粉末に含有される銅粉粒子を、上記特定形状サイズの銅粉粒子とすること、及び、上記特定形状サイズの銅粉粒子とするための具体的な方法については何ら記載されていないため、甲第１号証の記載事項を参照したとしても、何の契機もなしに、甲９発明の銅粉に上記特定形状の銅粉粒子を含有させることが容易になし得ることであるということはできない。
　また、甲９発明の銅粉末において、特定形状サイズの銅粉粒子を含有するようにすることが、当業者にとって容易になし得ることであるといえないということは、わずか１個の特定形状サイズの銅粉粒子を含有するようにすることすら、当業者が容易になし得ることであるといえないということであるから、甲１発明の銅粉末が、当該特定形状サイズの銅粉粒子を、「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０％個数以上含有する」ようにすることが、当業者が容易になし得ることであるといえないことは明らかである。
　したがって、甲９発明の銅粉末において、甲第１号証の記載事項を勘案したとしても、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
（３−２）相違点１についての判断
（３−２−１）相違点１が実質的な相違点でないこと
ア　甲第９号証には、銅粉「ＭＦ−Ｄ２」の平均粒径が１３．４μｍであることが記載されているが、上記平均粒径がどのように測定によって得られたものであるかについては記載されていない。
イ　甲第２２号証に、粒子径分布には体積基準と個数基準があること、また、粒子径分布を頻度分布として表示した場合に、出現比率が最も大きい粒子径チャンネルまたは分布の極大値で表すモード径と、粒子径分布を累積分布として表示した場合に、それより大きい側と小さい側が等量であることを表すｄ５０といわれるメジアン径（メディアン径）があることが記載されているとおり、平均粒径には複数の表現方法があるため、甲第９号証に記載された「平均粒径」がどの方法で測定されたものか不明である。
ウ　そこで、上記（３−１−２）で検討したように、甲第８号証には、銅粉末「ＭＦＤ２」のＤ５０（Ｘ５０）が１８．９であることが示されているから、甲第８号証が証拠として採用でき、甲第８号証の銅粉末「ＭＦＤ２」と甲第９号証に記載された「銅粉ＭＦ−Ｄ２」が同一の銅粉末であれば、甲第９号証に記載された「銅粉ＭＦ−Ｄ２」もＤ５０（Ｘ５０）が１８．９μｍ、すなわち、「５μｍ以上２５μｍ以下」であるということができる。
　しかれども、上記第４の２（６）（６―２）で検討したように、甲第８号証は、真正な書証であるといえないため、証拠として採用することができないし、上記（３−１−２）で検討したように、甲第９号証の「銅粉ＭＦ−Ｄ２」と甲第８号証の銅粉末「ＭＦＤ２」は、同一の銅粉末であると認めることもできないから、甲第９号証に記載された「銅粉ＭＦ−Ｄ２」のＤ５０（Ｘ５０）が１８．９μｍ、すなわち、「５μｍ以上２５μｍ以下」であるということはできない。
エ　しかしながら、銅粉粒子の平均粒径をＤ５０を用いて表すことは、甲２８イにも記載されているように、当業者によって普通に行われていることであるから、甲第９号証に記載された平均粒径がＤ５０を表すものと解釈しても、特に不合理な点はない。また、仮に、甲第９号証に記載された平均粒径がＤ５０ではないとしても、Ｄ５０は平均粒径を表すのであるから、Ｄ５０が１３．４μｍと大きく異なることはないと考えられるので、Ｄ５０は実質的に「５μｍ以上２５μｍ以下」の範囲に含まれているものと推定される。
オ　したがって、相違点１は、本件発明１と甲９発明との実質的な相違点ではない。
（４）本件発明１についての検討のまとめ
　以上の検討から、甲第８号証を証拠として採用できないものであるところ、仮に甲第８号証を証拠として採用でき、これを参酌できるとしても、甲９発明は、相違点２の点で本件発明１と相違している。
　また、甲９発明の銅粉末において、甲第１号証の記載事項を勘案したとしても、相違点２に係る本件発明１の特定事項とすることが、当業者にとって容易になし得ることであるとはいえない。
（５）本件発明２、３について　
　本件発明１の発明特定事項を有する本件発明２、３と甲９発明とを対比すると、両者は、少なくとも、上記相違点２で相違している。
　そして、本件発明２、３は、上記（３）、（４）で検討した理由と同じ理由により、甲９発明と甲第１号証の記載事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
（６）無効理由１−３についてのまとめ
　本件発明１〜３は、甲第８号証を参酌するか否かにかかわらず、甲９発明と甲第１号証の記載に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
　よって、無効理由１−３によって、本件発明１〜３に係る特許を無効とすることはできない。
３　無効理由２−１について　
（１）請求人の主張
　請求人が主張する無効理由２−１は、本願の図２に撮影されたデンドライト状銅粉は、その全景が撮影されておらず、または、末端まで撮影されておらず、本件発明１の特定のデンドライト形状を備えるか確認できないので、本件発明１は発明の詳細な説明に記載したものではなく、その特許は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである、というものである。
（２）当審の判断
（２−１）図２の銅粉粒子について
　図２は、訂正明細書の段落【００１７】の記載によれば、実施例１で得られた電解銅粉の一部を、ＳＥＭによって１２０００倍の倍率で観察したときのＳＥＭ写真である。
　そして、図２を見ると、略左右方向に伸びる主軸を有し、当該主軸から複数の枝が斜めに分岐している一つの銅粉粒子を見て取ることができる。
　上記銅粉粒子は、図２のＳＥＭ写真の右側では先端が確認できるが、図２のＳＥＭ写真の左端で終端しているのか、さらに当該左端を超えて左方へ伸びている部分（以下「延長部」という。）を有しているか不明であり、その全体像については確認することができない。
　しかしながら、訂正明細書の段落【００２０】に、「（デンドライト状銅粉粒子）
  本銅粉において『デンドライト状銅粉粒子』とは、図１に示されるように、電子顕微鏡（５００〜２０、０００倍）で観察した際に、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長した形状を呈する銅粉粒子を意味し、幅広の葉が集まって松ぼっくり状を呈するものや、多数の針状部が放射状に伸長してなる形状のものは含まない。」と記載されているように、本件発明の銅粉を電子顕微鏡で観察すると、図１のモデル図に示されるように、一本の主軸を備え、当該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈するものであると説明されているところ、図２に記載の銅粉粒子も、少なくとも当該図２に写っている範囲内において、図１のモデル図と同様に、一本の主軸を備え、当該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長した形状を呈する様子を確認することができるので、図１及びその記載と、図２に撮影された銅粉粒子の様子が互いに整合しており、特に矛盾はない。
　したがって、図２の銅粉粒子は、当該粒子の左側の延長部が存在しているか否か不明であるけれども、図１及び段落【００２０】の上記記載を参酌すると、図２の銅粉粒子の全体を見たときに、図１のモデル図と同様に、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長した形状を呈するものであると認められる。
（２−２）実施例の銅粉粒子について
　訂正明細書の段落【００４１】〜【００４７】には実施例１〜５について記載されており、例えば、段落【００４２】には、実施例１として得られた電解銅粉を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて観察したところ、少なくとも９０個数％以上の銅粉粒子は、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して三次元的に成長したデンドライト状を呈していることを確認できたと記載されている。他の実施例２〜４についても同様である。
　また、訂正明細書の段落【００５２】の【表１】には、実施例１〜５の電解銅粉について測定した、主軸の太さａ、枝長ｂ、枝本数／長径Ｌ等の値が記載されているので、実施例１〜５の電解銅粉は、実際に、主軸の太さａ、枝長ｂ、長径Ｌが測定可能なものであることが示唆されている。つまり、実施例１〜５の電解銅粉は、太さａと長径Ｌが測定可能な主軸を備え、主軸から伸びた最も長い枝の長さｂが測定可能な枝を備えた銅粉粒子を含有するといえる。
　したがって、実施例１〜５の電解銅粉は、いずれも、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈する銅粉粒子を含有するものであると認められる。
（３）まとめ
　以上の検討から、図２のＳＥＭ写真上の銅粉粒子は、その全体像を確認することができないけれども、図１及び訂正明細書の段落【００２０】の記載も参酌すれば、図２の銅粉粒子の全体は、図１のモデル図と同様に、一本の主軸を備え、当該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長した形状を呈するものと認められる。
　また、実施例１〜５の電解銅粉に含有される銅粉粒子は、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長した形状を呈するものであると認められる。
　したがって、本願の図２に記載された銅粉粒子もしくは実施例１〜５として記載された銅粉に含有される銅粉粒子は、本件発明１で特定される、特定のデンドライト形状を備えるものと認められるので、本件発明１は、発明の詳細な説明に記載したものであるといえるから、本件発明１に係る特許は、特許法第３６条第６項第１号に違反して特許されたものではない。
　よって、無効理由２−１によって、本件発明１に係る特許を無効とすることはできない。
４　無効理由２−２について　
（１）請求人の主張
　請求人が主張する無効理由２−２は、「８０％以上」が仮に個数基準であったとしても、この個数を区別する手段がなく、８０個数％以上と、８０個数％以下を比較（当審注：「比較」は「区別」の意味で用いられていることが明らかであるから、４における検討においては、「比較」は「区別」を意味するものとして、もしくは、「区別」として記載する。）するすべがないから、発明の詳細な説明には当業者が本件発明１〜３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されておらず、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである、というものである。
（２）当審の判断
　本件発明１は、「銅粉」が、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、観察倍率２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察した際、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子が全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０個数％以上含有する」ことを特定している。
　そこで、実際に、観察倍率２０００倍の走査型電子顕微鏡で銅粉を観察して、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察することを想定すると、観察する５００個の銅粉粒子の各々について、ＳＥＭ写真でその形状を観察するとともに、主軸の太さと枝の長さを測定することによって、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子」であるか否か、すなわち特定形状サイズの銅粉粒子であるか否かを判断することは可能であり、その結果、観察した５００個中に含まれる特定形状サイズの銅粉粒子の個数を求めることができる。そして、特定形状サイズの銅粉粒子が４００個以上であれば上記割合が「８０個数％以上」となるので、上記銅粉は、本件発明１で特定される条件に該当することとなり、特定形状サイズの銅粉粒子が３９９個以下であれば上記割合が「８０個数％未満」となるので、上記銅粉は、本件発明１で特定される条件に該当しないこととなる。
　してみると、銅粉を電子顕微鏡で観察することによって、特定形状サイズの銅粉粒子が「８０個数％以上」含有されているか、もしくは、「８０個数％未満」しか含有されていないかについて、明確に区別がつけられることは明らかである。
（３）まとめ
　以上の検討から、「８０個数％以上と、８０個数％以下を比較するすべ」があることは明らかであるから、発明の詳細な説明には当業者が本件特許発明１〜３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されている。
　よって、無効理由２−２によって、本件発明１〜３に係る特許を無効とすることはできない。
５　無効理由２−３について　
（１）請求人の主張
　請求人が主張する無効理由２−３は、「特定の銅粉形状」及び「含有率８０（個数）％以上」の本件発明１−３を意図して作成、分離・選択することができないから、発明の詳細な説明には当業者が本件発明１−３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されておらず、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである、というものである。
（２）当審の判断
　訂正明細書には、実施例１〜５の銅粉の製造方法について、次のように記載されている。
「【００４１】
＜実施例１＞
　２．５ｍ×１．１ｍ×１．５ｍの大きさ（約４ｍ3）の電解槽内に、それぞれ大きさ（１．０ｍ×１．０ｍ）９枚の陰極板と不溶性陽極板（ＤＳＥ（ペルメレック電極社製））とを電極間距離５ｃｍとなるように吊設し、電解液としての硫酸銅溶液を３０Ｌ／分で循環させて、この電解液に陽極と陰極を浸漬し、これに直流電流を流して電気分解を行い、陰極表面に粉末状の銅を析出させた。
　この際、循環させる電解液のＣｕ濃度を５ｇ／Ｌ、硫酸（Ｈ2ＳＯ4）濃度を１００ｇ／Ｌ、電流密度を１００Ａ／ｍ２に調整して１時間電解を実施した。
　電解中、電解槽の底部の電解液の銅イオン濃度よりも、電極間の電解液の銅イオン濃度が常に薄く維持されていた。
【００４２】
　そして、陰極表面に析出した銅を、機械的に掻き落として回収し、その後、洗浄し、銅粉１ｋｇ相当の含水銅粉ケーキを得た。このケーキを水３Ｌに分散させ、工業用ゼラチン（：新田ゼラチン社製）１０ｇ／Ｌの水溶液１Ｌを加えて１０分間攪拌した後、ブフナー漏斗で濾過し、洗浄後、減圧状態（１×１０-3Ｐａ）で８０℃、６時間乾燥させ、電解銅粉を得た。
　
こうして得られた電解銅粉を、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて観察したところ、少なくとも９０個数％以上の銅粉粒子は、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して三次元的に成長したデンドライト状を呈していることを確認できた
【００４３】
＜実施例２＞
 　電解時間を４０分、循環液量を２０Ｌ／分とした以外は、実施例１と同様にして電解銅粉を得た。
　
得られた電解銅粉を、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて観察したところ、少なくとも９０個数％以上の銅粉粒子は、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して三次元的に成長したデンドライト状を呈していることを確認できた
【００４４】
＜実施例３＞
　電解時間を４０分、電解液のＣｕ濃度を１ｇ／Ｌ、循環液量を１０Ｌ／分とした以外は、実施例１と同様にして電解銅粉を得た。
　
得られた電解銅粉を、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて観察したところ、少なくとも９０個数％以上の銅粉粒子は、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して三次元的に成長したデンドライト状を呈していることを確認できた
【００４５】
＜実施例４＞
　５．０ｍ×１．１ｍ×１．５ｍの大きさ（約８ｍ3）の電解槽内に、それぞれ大きさ（１．０ｍ×１．０ｍ）１９枚の陰極板と不溶性陽極板（ＤＳＥ（ペルメレック電極社製））とを電極間距離１０ｃｍとなるように吊設し、電解液としての硫酸銅溶液を４０Ｌ／分で循環させて、この電解液に陽極と陰極を浸漬し、これに直流電流を流して電気分解を行い、陰極表面に粉末状の銅を析出させた。
　この際、循環させる電解液のＣｕ濃度を５ｇ／Ｌ、硫酸（Ｈ2ＳＯ4）濃度を２００ｇ／Ｌ、電流密度を２００Ａ／ｍ２に調整して１時間電解を実施した。
　電解中、電解槽の底部の電解液の銅イオン濃度よりも、電極間の電解液の銅イオン濃度が常に薄く維持されていた。
【００４６】
　陰極表面に析出した銅を、機械的に掻き落として回収し、その後、洗浄し、銅粉１ｋｇ相当の含水銅粉ケーキを得た。このケーキを水６Ｌに分散させ、工業用ゼラチン（：新田ゼラチン社製）１０ｇ／Ｌの水溶液２Ｌを加えて１０分間攪拌した後、ブフナー漏斗で濾過し、洗浄後、減圧状態（１×１０-3Ｐａ）で８０℃、６時間乾燥させて電解銅粉を得た。
　
得られた電解銅粉を、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて観察したところ、少なくとも９０個数％以上の銅粉粒子は、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して三次元的に成長したデンドライト状を呈していることを確認できた
【００４７】
＜実施例５＞
　Ｃｕ濃度を１ｇ／Ｌ、電解時間を３０分、循環液量を２０Ｌ／分とした以外は、実施例４と同様にして電解銅粉を得た。
　
得られた電解銅粉を、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて観察したところ、少なくとも９０個数％以上の銅粉粒子は、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して三次元的に成長したデンドライト状を呈していることを確認できた
　また、実施例１〜５の電解銅粉の各種の測定結果については、表１に次のとおり記載されている。
「【００５２】
　【表１】 
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
　訂正明細書の上記記載によれば、上記実施例１〜５のそれぞれについて、電解銅粉の製造方法が明確に記載されており、得られた電解銅粉を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて観察すると、いずれの実施例においても、少なくとも９０％以上の銅粉粒子は、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して三次元的に成長したデンドライト状を呈していることを確認できたと記載されている。
　また、表１を参照すると、実施例１〜５のそれぞれについて、Ｄ５０、主軸の太さａ、枝長ｂ、枝本数／長径Ｌ、酸素濃度が記載されており、いずれの実施例においても、上記各パラメータが、本件特許１〜３に記載された範囲に入っていることが確認できる。
　つまり、上記実施例１〜５の製造方法によって得られた電解銅粉は、分離・選択等の追加の処理をしなくても、そのままで、本件特許１〜３の特定事項の特徴を有するものであるといえる。
（３）まとめ
　以上の検討から、発明の詳細な説明には当業者が本件発明１〜３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されている。
　よって、無効理由２−３によって、本件発明１〜３に係る特許を無効とすることはできない。
                                               
６　無効理由２−４について　
（１）請求人の主張
　請求人が主張する無効理由２−４は、１枚のＳＥＭ画像では、主軸から四方に枝分かれする枝本数（特に主軸の裏側の本数）を確認することは不可能であるから、発明の詳細な説明には当業者が本件発明３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されておらず、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである、というものである。
（２）当審の判断
　訂正明細書には、銅粉粒子の観察について次の記載がある。
「【００１５】
　本発明は、
走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて銅粉粒子を観察した際
「【００３７】
＜粒子形状の観察＞
  
走査型電子顕微鏡（２，０００倍）にて、任意の１００視野において、それぞれ５００個の粒子の形状を観察し
　訂正明細書の上記の記載から、本件発明を特徴づける、主軸の太さａや、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂや、長径Ｌや、枝本数は、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で銅粉粒子を撮影して得られたＳＥＭ写真から求めるられるものと認められる。
　そして、走査型電子顕微鏡で銅粉粒子を観察する際に、各々の銅粉粒子は様々な方向を向いているから、主軸や枝を、当該主軸が伸びる方向と垂直な方向から、もしくは、当該枝が伸びる方向と垂直な方向から観察できるとは限らないので、ＳＥＭ写真から測定された主軸の太さａや、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂや、長径Ｌや枝本数は正確な値ではなく、あくまで、見掛けの値を表しているものであるといえるし、例えば、枝が主軸の後方に隠れている場合は、最も長い枝の長さｂや何本かの枝の本数が測定されないこともあり得る。
　しかしながら、訂正明細書には、主軸の太さａや、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂや、長径Ｌや枝本数を測定するにあたり、銅粉粒子の裏側まで含めた、正確に測定した真の値を測定するとは一切記載されておらず、単に、ＳＥＭ写真から求めることが記載されているのみである。
　したがって、本件発明３において特定されている、主軸の太さａや、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂや、長径Ｌや、枝本数は、１枚のＳＥＭ写真上の銅粉粒子を観察し測定することによって求められる、見掛けの太さや長さや本数であると考えるのが相当である。
　そして、このように、ＳＥＭ写真から見掛けの太さや長さや本数を測定することによって、主軸の太さａや、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂや、長径Ｌや、枝本数を決定することは、当業者にとって何ら困難なことではない。
　なお、本件発明３において特定される主軸の太さａや、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂや、長径Ｌや、枝本数が、ＳＥＭ写真から得られる見掛けの値であるとしても、訂正明細書の段落【００５３】に、「上記実施例とこれまで行った試験結果を総合的に考えると、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、且つ主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子であれば、優れた導通性を得るのに必要十分にデンドライトが成長しており、優れた導通性を得ることができることが分かった。」と記載されているように、本件発明３の特徴を有する実施例１〜５は、優れた導電性を得るという効果を有しているのであるから、被請求人が、平成２７年５月１６日付けの口頭審理陳述要領書の５．Ａ．（３）で主張しているように、長さｂの特定には技術的な意義がない、ということはできない。
（３）まとめ
　以上の検討から、１枚のＳＥＭ画像では、主軸から四方に枝分かれする枝本数（特に主軸の裏側の本数）を確認することは不可能であるとしても、本件発明３を特定する、主軸の太さａや、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂや、長径Ｌや、枝本数は、ＳＥＭ写真から測定できる見掛けの値を採用しているものと考えることが相当であるので、本件発明３は訂正明細書の記載に基づいて実施可能であるといえる。
　したがって、発明の詳細な説明には、当業者が本件発明３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されている。
　よって、無効理由２−４によって、本件発明４に係る特許を無効とすることはできない。
７　無効理由２−５について　
（１）請求人の主張
　請求人が主張する無効理由２−５は、デンドライト状電解銅粉は、同一製法で作成したとしても同一形状になるとは限らず、即ち主軸の太さ、枝の長さ、枝の本数を制御することは到底できず、それを制御する特別な製法を明細書に認めることはできないから、発明の詳細な説明には当業者が本件特許発明１〜３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されておらず、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである、というものである。
　
（２）当審の判断
　上記５（２）で摘記した訂正明細書の段落【００４１】〜【００４７】に記載されているとおり、実施例１〜５の電解銅粉の製法を採用することによって、表１に記載のように、本件発明１〜３の特定事項である、主軸の太さａや、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂや、枝本数／長径Ｌの特徴を有する電解銅粉を製造することができるものと認められる。このことは、実施例１〜５として記載された特定の製造方法により、本件発明１〜３に係る電解銅粉が製造可能であることを示している。
（３）まとめ
　以上の検討から、訂正明細書の発明の詳細な説明には、当業者が本件発明１〜３の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されている。
　よって、無効理由２−５によって、本件発明１〜３に係る特許を無効とすることはできない。
　
８　無効理由２−６について　
（１）請求人の主張
　請求人が主張する無効理由２−６は、銅粉のＳＥＭ画像からは、幹の裏側にある最も長い枝の長さを測定することはできず、また、枝の長さが測定できる場合であっても、奥行きを無視した見掛けの長さが測定されるに過ぎないので、「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」を測定することはできないから、そのような「長さｂ」を特定した請求項１に係る発明は、当業者であっても実施できないものである。したがって、発明の詳細な説明には当業者が本件発明１の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されておらず、その特許は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである、というものである。
（２）当審の判断
　上記６で無効理由２−４について検討したように、本件発明３において、主軸の太さａや、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂや、長径Ｌや、枝本数は、ＳＥＭ写真から測定できる見掛けの値を採用していると考えることが相当である。
　したがって、本件発明１において、「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」を測定するとは、奥行きを無視した見掛けの長さが一番長い枝の長さをＳＥＭ写真から測定することであるといえるから、そのような「長さｂ」を特定する本件発明１は、当業者であれば容易に実施可能なものであるといえる。
（３）まとめ
　したがって、訂正明細書の発明の詳細な説明には、当業者が本件発明１の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されているといえる。
　よって、無効理由２−６によって、本件発明１に係る特許を無効とすることはできない。
９　無効理由２−７について　
（１）請求人の主張
　請求人が主張する無効理由２−７は、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて銅粉粒子を観察した際、撮影する方向によって銅粉は異なる形状として観察されるので、同一の銅粉であっても、請求項１で特定される電解銅粉が「８０個数％以上を満たす」ことも、「８０個数％以上を満たさない」ことも起こり得るから、特許を受けようとする発明が明確であるとは言えず、また、当業者であっても、実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものであるとはいえないから、その特許は、特許法第３６条第６項第２号及び特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるので、同法第１２３条第１項第４号に該当し、無効とすべきである、というものである。
（２）当審の判断
　電解銅粉に含まれる一つの銅粉粒子を走査型電子顕微鏡で観察する場合、走査型電子顕微鏡における銅粉粒子の載置状態や、銅粉粒子をどの方向から撮影するか、すなわち、撮影方向によって、当該銅粉粒子の見掛けの主軸の太さａ（以下「見掛け太さａ」という。）や、見掛けの主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ（以下「見掛け長さｂ」という。）や、見掛けの長径Ｌ（以下「見掛け長径Ｌ」という。）や、見掛けの枝本数（以下「見掛け本数」という。）が変化することは明らかである。
　しかしながら、走査型電子顕微鏡で銅粉粒子を複数回観察し、例えば、その最も長い枝の長さｂを測定する場合、走査型電子顕微鏡における銅粉粒子の載置状態や撮影方向が変化すると、一つの銅粉粒子の見掛け長さｂが変化するだけではなく、その他の多数の銅粉粒子においても同時に見掛け長さｂが変化する。
　このような見掛け長さｂの変化は、ある銅粉粒子では見掛け長さｂが短くなる変化として観察され、他の銅粉粒子では見掛け長さｂが長くなる変化として観察される。そうすると、ある観察視野では、本件発明１で特定された「０．６μｍ〜１０．０μｍ」の範囲内のものと判定されたいくつかの粒子が、別の観察視野では、上記範囲内でないものと判定されると同時に、上記ある観察視野では、上記範囲内ではないとして判定された他のいくつかの粒子が、上記別の観察視野では、上記範囲内のものと判定されるので、多数の銅粉粒子の全体としては、上記範囲内に含まれる銅粉粒子の個数の増減の変化が打ち消し合って、常にほぼ一定の割合になるものと考えられる。
　また、長さｂ以外に、主軸の太さａや、長径Ｌや、枝本数を観察する場合についても同様である。
　以上の検討から、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて一つの銅粉粒子を観察する場合には、撮影する方向によって上記銅粉粒子は異なる形状として観察されるけれども、多数の銅粉粒子を観察する場合には、たとえ銅粉粒子の載置状態や撮影する方向が変わったとしても、必ずしも特定形状サイズの電解銅粉が「８０個数％以上を満たす」割合が変化するということはできず、上記割合はほぼ変化しないものと認められる。
（３）まとめ
　以上のとおりであるから、本件特許に係る訂正特許請求の範囲の請求項１について、特許を受けようとする発明は明確でないとはいえず、また、訂正明細書の発明の詳細な説明は、当業者が本件発明１の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものでないともいえない。
　よって、無効理由２−７によって、本件発明１に係る特許を無効とすることはできない。
１０　当審が通知した無効理由について　
（１）当審から通知した無効理由１．（サポート要件）について
ア　本件発明の課題は、訂正明細書の段落【００１４】に記載されているように、「優れた導通性を得るのに適したデンドライト成長を呈する銅粉粒子を含有し、導通性がより一層優れた新たなデンドライト状銅粉を提供せんとする」ことである。
イ　上記本件発明の課題を解決することができる、本件発明の実施形態について、訂正明細書には次の記載がある。
「【００１９】
　本実施形態に係る銅粉（「本銅粉」と称する）は、デンドライト状銅粉粒子（「本銅粉粒子」と称する）を含有する銅粉である。
【００２０】
（デンドライト状銅粉粒子）
　本銅粉において「デンドライト状銅粉粒子」とは、図１に示されるように、電子顕微鏡（５００〜２０、０００倍）で観察した際に、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長した形状を呈する銅粉粒子を意味し、幅広の葉が集まって松ぼっくり状を呈するものや、多数の針状部が放射状に伸長してなる形状のものは含まない。
【００２１】
　中でも、本銅粉粒子を電子顕微鏡（５００〜２０，０００倍）で観察した際、次のような所定の特徴を有するデンドライト状を呈するのが好ましい。
　・主軸の太さａは０．３μｍ〜５．０μｍであることが重要であり、中でも０．４μｍ以上或いは４．５μｍ以下、中でも特に特に０．５μｍ以上或いは４．０μｍ以下であるのがさらに好ましい。デンドライトにおける主軸の太さａが０．３μｍ以下では、主軸がしっかりとしていないために枝が成長し難い一方、５．０μｍよりも太くなると、粒子が凝集し易くなり、松ぼっくり状になりやすくなってしまう。
　・主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ（「枝長ｂ」と称する）は、デンドライトの成長度合いを示しており、０．６μｍ〜１０．０μｍであることが重要であり、中でも０．７μｍ以上或いは９．０μｍ以下、その中でも０．８μｍ以上或いは８．０μｍ以下であるのがさらに好ましい。枝長ｂが０．６μｍ未満では、デンドライトが十分に成長しているとは言えない。一方、枝長ｂが１０．０μｍを超えると、銅粉の流動性が低下して取り扱いが難しくなるようになる。
　・主軸の長径Ｌに対する枝の本数（枝本数／長径Ｌ）は、デンドライトの枝の多さを示しており、０．５本／μｍ〜４．０本／μｍであるのが好ましく、中でも０．６本／μｍ以上或いは３．５本／μｍ以下、その中でも特に０．８本／μｍ以上或いは３．０本／μｍ以下であるのがさらに好ましい。枝本数／長径Ｌが０．５本／μｍ以上であれば、枝の数は十分に多く、接点を十分に確保できる一方、枝本数／長径Ｌが４．０本／μｍ以下であれば、枝の数が多過ぎて銅粉の流動性が劣るようになることを防ぐことができる。
【００２２】
　但し、
電子顕微鏡（５００〜２０，０００倍）で観察した際、多くが上記の如きデンドライト状粒子で占められていれば、それ以外の形状の粒子が混じっていても、上記の如きデンドライト状粒子のみからなる銅粉と同様の効果を得ることができる
よって、かかる観点から、本銅粉は、電子顕微鏡（５００〜２０，０００倍）で観察した際、上記の如きデンドライト状の銅粉粒子が全銅粉粒子のうちの８０個数％以上
を占めていれば、上記の如きデンドライト状とは認められない非デンドライト状の銅粉粒子が含まれていてもよい
　上記段落【００２２】の下線部を参照すれば、上記アに記載した課題を解決するためには、銅粉が特定のデンドライト状粒子で占められている必要があり、具体的には全銅粉粒子のうちの８０個数％以上とすることが記載されている。
ウ　一方、本件訂正前の特許請求の範囲の請求項１は次のように記載されていた。
「【請求項１】
　電解法によって得られる銅粉であって、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて銅粉粒子を観察した際、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子が全銅粉粒子のうちの８０％以上含有するデンドライト状銅粉。」
エ　上記ウに記載した本件訂正前の請求項１においては、走査型電子顕微鏡を用いてどのような銅粉粒子を何個観察するか特定されていなかったため、「一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子」、すなわち「特定形状サイズの銅粉粒子」を一つ探し出し、当該一つの「特定形状サイズの銅粉粒子」が含まれる特定の視野において、当該一つの「特定形状サイズの銅粉粒子」を「銅粉粒子」として観察する場合が含まれており、また、「全銅粉粒子」についても何をもって全ての銅粉粒子というかについて特定されていなかったため、「全銅粉粒子」が上記探し出した一つの特定形状サイズの銅粉粒子である場合も含まれていた。
　そのため、本件訂正前の特許請求の範囲の請求項１に係る発明は、銅粉中に特定形状サイズの銅粉粒子がただ一つのみ含有される場合を含んでおり、この場合、銅粉の多くが特定形状サイズの銅粉粒子で占められているものであるとはいえないから、本件訂正前の請求項１に係る発明は、必ずしも、上記アに記載した、「導通性がより一層優れた新たなデンドライト状銅粉を提供」するという課題を解決することができるものではなかった。
オ　しかしながら、本件訂正によって、特許請求の範囲の請求項１は次のように訂正された。
「【請求項１】
  電解法によって得られる銅粉であって、
　レーザー回折散乱式粒度分布測定装置によって測定される体積累積粒径Ｄ５０が５μｍ以上２５μｍ以下であって、
　走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、観察倍率２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察した際、一本の主軸を備えており、該主軸から複数の枝が斜めに分岐して、二次元的或いは三次元的に成長したデンドライト状を呈し、かつ、主軸の太さａが０．３μｍ〜５．０μｍであり、主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂが０．６μｍ〜１０．０μｍであるデンドライト状を呈する銅粉粒子が全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子のうちの８０％個数以上含有するデンドライト状銅粉。」
カ　上記オに記載した本件訂正後の請求項１においては、走査型電子顕微鏡を用いた銅粉粒子の観察が、「観察倍率２，０００倍」で、「任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察」することにより行われ、「全銅粉粒子」とは「前記５００個の銅粉粒子」であるので、本件訂正後の請求項１に係る発明の銅粉は、多数の特定形状サイズの銅粉粒子で占められることが明らかになった。よって、本件訂正後の請求項１に係る発明の銅粉は、上記アに記載した、「導通性がより一層優れた新たなデンドライト状銅粉を提供」するという課題を解決することができるものである。
キ　以上のとおり、本件発明１は、上記アに記載した課題を解決できるものである。
　よって、当審から通知した無効理由（１）によって、本件発明１を無効とすることはできない。
（２）当審から通知した無効理由２．（発明の明確性）について
ア　本件訂正前の請求項１に記載された「全銅粉粒子」は、「全」が何を意味するか不明であると無効理由通知において指摘された。
　しかしながら、本件訂正によって、「全銅粉粒子」を「全銅粉粒子すなわち前記５００個の銅粉粒子」と訂正したので、本件訂正後の請求項１に記載された「全銅粉粒子」の「全」とは、「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて」「観察」する「５００個の銅粉粒子」の全てであることが明らかになったから、上記指摘の点は不明瞭とはいえない。
イ　図１のモデル図によれば、「銅粉粒子」の「主軸」は、上方が細く尖っており、下方に行くほど太くなっていることが見て取れ、また、図２のＳＥＭ写真においても、右方ほど細く、左方ほど太くなっていることが見て取れる。したがって、同一の銅粉粒子であっても、測定する箇所が違えば主軸の太さは異なる値となるから、本件訂正前の請求項１に記載された「主軸の太さ」を一義的に決めることができないため、当該請求項１はその記載が不明瞭であると無効理由通知において指摘された。
　しかしながら、図１のモデル図には、主軸の最も太い箇所を指して「主軸太さａ」と記載されているし、また、平成２７年８月２７日付けの審判事件意見書の第３頁の（イ）の主張のとおり、太い箇所と細い箇所がある主軸について、その太さを測定するにあたり、最も太い箇所を測定することは技術常識的に妥当なことと理解できることである。
　したがって、本件訂正後の請求項１に記載された「主軸の太さ」とは、「銅粉粒子」の「主軸の最も太い箇所の幅」を意味することが明らかであるから、上記指摘の点は不明瞭とはいえない。
　　　
ウ　本件訂正前の請求項１に記載された「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」とは、「銅粉粒子」の主軸から分岐する複数の枝のうち、実際に最も長い枝を選択し、当該最も長い枝について、枝の伸びる方向に沿って測定された長さを表すのか、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）によって撮影された１枚のＳＥＭ写真で確認できる、見かけ上、最も長く見える枝の長さを表すのか不明であると無効理由通知において指摘された。
　しかしながら、本件訂正後の請求項１には「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、観察倍率２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察した際」と記載されていることから、「主軸から伸びた枝の中で最も長い枝の長さｂ」とは、走査型電子顕微鏡で撮影されたＳＥＭ写真で確認できる長さであると考えるのが合理的であるので、平成２７年８月２７日付けの審判事件意見書の第３頁の（ウ）の主張のとおり、ＳＥＭ写真で確認できる、見かけ上、最も長く見える枝の長さであることが明らかであるから、上記指摘の点は不明瞭とはいえない。
エ　本件訂正前の請求項３に記載された「軸の長径Ｌに対する枝の分岐本数（枝本数／長径Ｌ）」における「分岐本数」とは、「銅粉粒子」が有する三次元に伸びた複数の枝全ての本数を表すのか、１枚のＳＥＭ写真で確認できる見かけ上の「銅粉粒子」の枝全ての本数を表すのか不明であると無効理由通知において指摘された。
　しかしながら、本件訂正後の請求項１には「走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、観察倍率２，０００倍）を用いて、任意の１００視野において５００個の銅粉粒子を観察した際」と記載されていることから、「分岐本数」とは、走査型電子顕微鏡で撮影されたＳＥＭ写真で確認できる枝の本数であると考えるのが合理的であるので、平成２７年８月２７日付けの審判事件意見書の第４頁の（エ）の主張のとおり、ＳＥＭ写真で確認できる見掛け上の枝の本数であることが明らかであるから、上記指摘の点は不明瞭とはいえない。
オ　以上のとおり、上記ア〜エのいずれの点においても、特許請求の範囲の請求項１、３の記載が不明瞭であるとはいえない。
　よって、当審から通知した無効理由２．によって、本件発明１、３を無効とすることはできない。
第７　まとめ　
　以上のとおり、請求人の主張する理由及び提出した証拠方法、並びに当審が通知した無効理由によっては、本件訂正により訂正された特許請求の範囲の請求項１ないし３に係る発明についての特許を無効とすることはできない。
　審判に関する費用については、特許法第１６９条第２項の規定で準用する民事訴訟法第６１条の規定により、請求人の負担すべきものとする。 
　よって、結論のとおり審決する。