(57)【要約】【課題】複数のイメージセンサチップを千鳥状に配列したイメージセンサにおいて、イメージセンサチップの実装位置のずれを高精度に補正することで、オーバーラップ画素部のスジ画像の発生を低減する。【解決手段】EVENチップからの画像データと、ODDチップからの画像データとを格納する格納部1101，1102と、複数の補正係数を格納する補正係数記憶部1104と、ODDチップからの画像データのオーバーラップ画素部に前記複数の補正係数を用いて補正演算した複数の画像データを格納する位置補正後データ格納部1105と、EVENチップからの画像データのオーバーラップ画素部と前記補正演算によって得られた複数の画像データとの差分量を検出することによって、EVENチップとODDチップの主走査位置ずれ量を検出する差分生成部1107とを有する。【選択図】図５
2011023789.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のイメージセンサチップを千鳥状に配置し、隣接するイメージセンサチップ同士を主走査方向に所定の画素数オーバーラップさせたイメージセンサと、
副走査方向の一方側に配置されたイメージセンサチップからの第１の画像データと、他方側に配置されたイメージセンサチップからの第２の画像データとを格納する手段と、
前記イメージセンサチップの主走査方向の複数の位置ずれ量に応じた複数の補正係数を格納する補正係数格納手段と、
前記第２の画像データのオーバーラップ画素部に前記複数の補正係数を用いて補正演算した複数の画像データを格納する手段と、
前記第１の画像データのオーバーラップ画素部と前記補正演算によって得られた複数の画像データとの差分量を検出することによって、前記イメージセンサ内のイメージセンサチップの主走査位置ずれ量を検出する主走査位置ずれ量検出手段と
を有することを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像読み取り装置において、
前記主走査位置ずれ量検出手段によって得られた複数の差分量の中で、差分量が最小となる補正係数に基づいて、前記第１の画像データのオーバーラップ画素部以外の画素に主走査位置補正演算を実行する主走査位置ずれ補正手段を有することを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項３】
請求項２に記載の画像読み取り装置において、
前記主走査位置ずれ補正手段は、前記位置ずれ量検出手段によって検出されたずれ量が大きい程、前記オーバーラップ画素部以外の画素への主走査位置補正演算の対象とする画素数を多くすることを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項４】
請求項３に記載の画像読み取り装置において、
主走査位置ずれ補正手段は、前記位置ずれ量検出手段によって検出されたずれ量が所定の閾値以下の場合には、前記オーバーラップ画素部以外の画素への主走査位置補正演算を実行しないことを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項５】
請求項２に記載の画像読み取り装置において、
前記位置ずれ量検出手段は、前記主走査位置ずれ検出をオーバーラップ画素部の複数画素に対して行い、前記主走査位置ずれ補正手段は、該複数画素の差分量の合計が最小となる補正係数に基づいて前記補正演算を実行することを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の画像読み取り装置を備えた画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、イメージセンサチップを千鳥状に配列した画像読み取り装置、及びそれを備えた画像形成装置に関し、さらに詳しくは、イメージセンサチップの主走査方向の位置ずれに起因するスジ画像を低減して高画質化を図る技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、複写機やファクシミリ等に設けられた画像読み取り装置、或いはコンピュータ入力用のスキャナとして、原稿の画像情報を自動的に読み取る画像読み取り装置が用いられている。この種の画像読み取り装置では、原稿の搬送路に直交する方向に延設された光源を用いて原稿に光を照射し、原稿からの反射光をイメージセンサにて受光することで、原稿上の画像を読み取っている。
【０００３】
より詳しくは、例えばキセノンランプを光源とする光を原稿に照射し、原稿からの反射光を縮小光学系を介して光センサで読み取る方式が一般的であったが、最近では、装置の小型化を目的として、ＬＥＤ(Light Emitting Diode：発光ダイオード)を光源とし、例えばセルフォックレンズ（登録商標）を介してリニアセンサで画像を直接読み取るＣＩＳ(Contact Image Sensor)と呼ばれるものが実用化されてきている。 
【０００４】
このようなＣＩＳにおけるリニアセンサとしては、例えば多数の受光画素を直線状に並べたイメージセンサチップ(受光チップ)を、千鳥状に複数並べて構成したマルチチップ方式のイメージセンサアレイが広く用いられている。
【０００５】
図１１及び図１２に、このようなイメージセンサチップを千鳥状に配列したＣＩＳにおける隣接するイメージセンサチップの配置を示す。理想的には図１１に示すように、隣接するイメージセンサチップの位置関係は、隣接するイメージセンサチップＳａ、Ｓｂの画素の重心位置が主走査方向に一致するように配置される。しかし、製造上、イメージセンサチップの配置バラツキ（実装ずれ）が主走査方向に数μm単位で発生することは避けられず、例えば、図１２に示すような位置関係で配置されるイメージセンサが製造される可能性がある。
【０００６】
図１２の様なイメージセンサチップ構造のイメージセンサを用いて網点画像を読み取った場合、以下に示す画像の不具合が想定される。図１３及び図１４を用いて説明する。ここで、図１３は原稿画像（一部）と、それを実装ずれの無いイメージセンサチップで読み取った場合の出力画像を示し、図１４は原稿画像（一部）と、それを実装ずれの有るイメージセンサチップで読み取った場合の出力画像を示している。
【０００７】
ここでは、それぞれが304個の画素を有する複数のイメージセンサチップのうち、隣接する２個のイメージセンサチップＳａの後端の画素a297〜a304付近及びイメージセンサチップＳｂの先端の画素b001〜015を表している。また、画素a299〜304及び画素b001〜006の６画素をオーバーラップさせたイメージセンサを用いた場合を想定している。なお、最終出力に用いる画素としては、a297〜304、b007〜としており、b001〜006は使用しない。また、１画素幅（エリア）に対して黒色部、白色部が混在している場合には最終出力画像として中間濃度の出力（便宜上、図示はドットの集合）が得られるものと想定している。
【０００８】
図１３と図１４における最終出力画像の相違点は、画素a304と画素b007、即ちイメージセンサチップの繋ぎ目部分に顕著に現れる。図１３の場合には、最終出力としてある固定パターンの出力が得られるのに対して、図１４の場合ではイメージセンサチップの繋ぎ目に相当する画素a304、画素b007の部分でパターンに変化が生じる。パターンに変化が生じると、パターン切り換わりの部分が目立ったスジ画像として認識され、画質低減に繋がってしまう問題となる。イメージセンサの多くは数千画素を有しており、そのためには多数のイメージセンサチップを配列する必要がある。よって、多数のイメージセンサチップ間で実装ずれが発生すると、主走査方向に多数のスジ画像が発生する可能性が有る。
【０００９】
そこで、このような実装ずれに起因するスジ画像の発生を防止するため、イメージセンサチップと反対側に配置された圧板の各イメージセンサチップのオーバーラップ部分の位置の一部に所定の印（縦線）を付け、その印を各イメージセンサチップで読み取り、比較することによって、千鳥状に配置されたイメージセンサチップの主走査、副走査の位置ずれを検出して、補正することを特徴とする画像読み取り装置が提案されている（特許文献１参照）。
【００１０】
しかしながら、この画像読み取り装置の場合、圧板に付けた２つの印の位置が狙いの位置と異なってしまうと、隣接するイメージセンサチップ間の位置ずれが無いにも関わらず、位置ずれが有ると判断する（誤検出する）という問題がある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明は、上記従来の問題を解決するためになされたものであって、その目的は、複数のイメージセンサチップを千鳥状に配列したイメージセンサにおいて、イメージセンサチップの実装位置のずれを高精度に補正することで、スジ画像の発生を低減することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の画像読み取り装置は、複数のイメージセンサチップを千鳥状に配置し、隣接するイメージセンサチップ同士を主走査方向に所定の画素数オーバーラップさせたイメージセンサと、副走査方向の一方側に配置されたイメージセンサチップからの第１の画像データと、他方側に配置されたイメージセンサチップからの第２の画像データとを格納する手段と、前記イメージセンサチップの主走査方向の複数の位置ずれ量に応じた複数の補正係数を格納する補正係数格納手段と、前記第２の画像データのオーバーラップ画素部に前記複数の補正係数を用いて補正演算した複数の画像データを格納する手段と、前記第１の画像データのオーバーラップ画素部と前記補正演算によって得られた複数の画像データとの差分量を検出することによって、前記イメージセンサ内のイメージセンサチップの主走査位置ずれ量を検出する主走査位置ずれ量検出手段とを有することを特徴とする画像読み取り装置である。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、複数のイメージセンサチップを千鳥状に配列したイメージセンサにおいて、イメージセンサチップの実装位置のずれを高精度に補正することで、スジ画像の発生を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施形態の画像読み取り装置の断面図である。
【図２】本発明の実施形態の画像読み取り装置の制御ブロック図である。
【図３】本発明の実施形態の画像読み取り装置の読み取り部のブロック図である。
【図４】本発明の実施形態の画像読み取り装置におけるイメージセンサチップの配列を示す図である。
【図５】図３の画像処理部内の主走査位置補正部の機能ブロック図である。
【図６】４画素のサンプリング点のデータから新サンプリング点のデータを３次関数コンボリューション法により求める概念を示す図である。
【図７】本発明の実施形態の画像読み取り装置において３次関数コンボリューション法を用いた場合の補正係数の一例を示す図である。
【図８】イメージセンサチップの主走査方向の位置ずれを示す図である。
【図９】オーバーラップ画素以外の画像に対する主走査位置補正の概念を示す図である。
【図１０】図５のずれ量判定部、補正対象画素数決定部、及び第２の補正部の処理フローを示す図である。
【図１１】イメージセンサチップを千鳥状に配列したＣＩＳにおいて、隣接するイメージセンサチップに実装ずれが無い場合の配置を示す図である。
【図１２】イメージセンサチップを千鳥状に配列したＣＩＳにおいて、隣接するイメージセンサチップに実装ずれが有る場合の配置を示す図である。
【図１３】原稿画像と、それを実装ずれの無いイメージセンサチップで読み取った場合の出力画像を示す図である。
【図１４】原稿画像と、それを実装ずれの有るイメージセンサチップで読み取った場合の出力画像を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。
図１は本発明の実施形態の画像読み取り装置の断面図であり、図２はその制御ブロック図である。この画像読み取り装置は、読取対象原稿を固定の読み取り部に搬送し、所定の速度で読み取り部を通過させながら画像読み取りを行う装置である。この画像読み取り装置は、デジタル複合機などの画像形成装置に設けることができる。
【００１６】
図１に示すように、原稿束１をセットする原稿セット部Ａ、セットされた原稿束１から一枚ずつ原稿を分離して給送する分離給送部Ｂ、給送された原稿を一時的に突き当てて整合する働きと、整合後の原稿を引き出し搬送する働きを有するレジスト部Ｃ、搬送される原稿をターンさせて、原稿面を読み取り側(下方)に向けて搬送するターン部Ｄ、原稿表面の画像を、コンタクトガラスの下方より読み取る第一読み取り搬送部Ｅ、表面読み取り後の原稿の裏面を読み取る第二読み取り搬送部Ｆ、裏面の読み取りが完了した原稿を機外に排出する排紙部Ｇ、読み取り完了後の原稿を積載保持するスタック部Ｈを備えている。これらの搬送動作は、図２のコントローラ100により制御されるピックアップモータ101、給紙モータ102、読み取りモータ103、排紙モータ104、及び底板上昇モータ105により行われる。
【００１７】
原稿束１は、可動原稿テーブル３を含む原稿テーブル２上に表面が上向きの状態でセットされる。さらに、図示しないサイドガイドによって、原稿束１の巾方向（搬送方向と直交する方向）の位置決めが行われる。原稿のセットはセットフィラー４、原稿セットセンサ５により検知され、Ｉ／Ｆ（インタフェース）107により本体制御部111に送信される。また、原稿テーブル２の表面に設けられた原稿長さ検知センサ30又は31(反射型センサ又は原稿１枚にても検知可能なアクチェーター・タイプのセンサ)により原稿の搬送方向長さの概略が判定される（少なくとも同一原稿サイズの縦か横かを判断可能なセンサが必要)。
【００１８】
可動原稿テーブル３は底板上昇モータ105により図に示すａ、ｂ方向に上下動可能な構成になっていて、原稿がセットされた事を前記セットフィラー４、原稿セットセンサ５が検知すると、底板上昇モータ105を正転させて原稿束１の最上面がピックアップローラ７と接触するように可動原稿テーブル３を上昇させる。ピックアップローラ７は、ピックアップモータ101により駆動されるカム機構で図に示すｃ、ｄ方向に動作すると共に、可動原稿テーブル３が上昇すると、可動原稿テーブル３上の原稿上面により押されてｃ方向に上がり、テーブル給紙適正位置センサ８により上限を検知可能となっている。
【００１９】
本体操作部108よりプリントキーが押下され、本体制御部111からＩ／Ｆ107を介してコントローラ100に原稿給紙信号が送信されると、ピックアップローラ７は給紙モータ102の正転によりコロが回転し、原稿テーブル２上の数枚(理想的には１枚)の原稿をピックアップする。ピックアップローラ７の回転方向は、最上位の原稿を給紙口に搬送する方向である。
【００２０】
給紙ベルト９は給紙モータ102の正転により給紙方向に駆動され、リバースローラ10は給紙モータ102の正転により給紙と逆方向に回転駆動され、最上位の原稿とその下の原稿を分離して、最上位の原稿のみを給紙できる構成となっている。さらに詳しく説明すると、リバースローラ10は給紙ベルト９と所定圧で接し、給紙ベルト９と直接接している時、又は原稿１枚を介して接している状態では給紙ベルト９の回転につられて反時計方向に連れ回りし、原稿が万一２枚以上給紙ベルト９とリバースローラ10の間に侵入した時は連れ回り力がトルクリミッタのトルクよりも低くなるように設定されている。このため、リバースローラ10は本来の駆動方向である時計方向に回転し、余分な原稿を押し戻す働きをし、重送が防止される。
【００２１】
給紙ベルト９及びリバースローラ10の作用により１枚に分離された原稿は給紙ベルト９によって更に送られ、突き当てセンサ11によって先端が検知され、更に進んで、停止しているプルアウトローラ12に突き当たる。
【００２２】
その後、前出の突き当てセンサ11による検知から定められた所定距離送られ、結果的には、プルアウトローラ12に所定量撓みを持って押し当てられた状態で給紙モータ102を停止させることにより、給紙ベルト９の駆動が停止する。
【００２３】
この時、ピックアップモータ101を回転させることで、ピックアップローラ７を原稿上面から退避させ、原稿を給紙ベルト９の搬送力のみで送ることにより、原稿先端は、プルアウトローラ12の上下ローラ対のニップに進入し、先端の整合(スキュー補正)が行われる。プルアウトローラ12は、スキュー補正機能を有すると共に、分離後にスキュー補正された原稿を中間ローラ14まで搬送するためのローラであり、給紙モータ102の逆転により駆動される。また。この給紙モータ102の逆転時、プルアウトローラ12と中間ローラ14は駆動されるが、ピックアップローラ７と給紙ベルト９は駆動されていない。
【００２４】
原稿幅センサ13は図１の奥行き方向に複数個並べられ、プルアウトローラ12により搬送された原稿の搬送方向に直交する幅方向のサイズを検知する。また、原稿の搬送方向の長さは、原稿の先端後端を突き当てセンサ11で読み取ることにより、モータパルスカウントから原稿の長さを検知する。
【００２５】
プルアウトローラ12及び中間ローラ14の駆動によりレジスト部Ｃからターン部Ｄに原稿が搬送される際には、レジスト部Ｃでの搬送速度を第一読み取り搬送部Ｅでの搬送速度よりも高速に設定して、原稿を読み取り部へ送り込む処理時間の短縮を図っている。
【００２６】
原稿先端が読み取り入口センサ15により検出されると、読み取り入口ローラ16の上下ローラ対のニップに原稿先端が進入する前に、原稿搬送速度を読み取り搬送速度と同速にするために減速を開始すると同時に、読み取りモータ103を正転駆動して、読み取り入口ローラ16、読み取り出口ローラ23、及びＣＩＳ出口ローラ27を駆動する。原稿先端をレジストセンサ17にて検知すると、所定の搬送距離をかけて減速し、読み取り位置20の手前で一時停止すると共に、本体制御部111にＩ／Ｆ107を介してレジスト停止信号を送信する。
【００２７】
続いて本体制御部111より読み取り開始信号を受信すると、レジスト停止していた原稿は、読み取り位置20に原稿の先端が到達するまでに所定の搬送速度に立ち上がるように加速されて搬送される。
【００２８】
読み取りモータ103のパルスカウントにより検出された原稿先端が読み取り部に到達するタイミングで、本体制御部111に対して第１面（表面）の副走査方向効画像領域を示すゲート信号が、読み取り部を原稿後端が抜けるまで送信される。
【００２９】
片面原稿読み取りの場合には、第一読み取り搬送部Ｅを通過した原稿は第二読み取り搬送部Ｆを経て排紙部Ｇへ搬送される。この際、排紙センサ24により原稿先端が検知されると、排紙モータ104を正転駆動し、排紙ローラ28を反時計方向に回転させる。また、排紙センサ24による原稿の先端検知からの排紙モータ104のパルスカウントにより、原稿後端が排紙ローラ28の上下ローラ対のニップから抜ける直前に排紙モータ104の駆動速度を減速させて、排紙トレイ29に排出される原稿が飛び出さない様に制御する。
【００３０】
両面原稿読み取りの場合には、排紙センサ24にて原稿先端を検知してから、読み取りモータ103のパルスカウントにより第二読み取り部25に原稿先端が到達するタイミングで、第二読み取り部25に対して、コントローラ100から副走査方向の有効画像領域を示すゲート信号が第二読み取り部25を原稿後端が抜けるまで送信される。第二読み取りローラ26は第二読み取り部25における原稿の浮きを抑えると同時に、第二読み取り部25におけるシェーディングデータを取得するための基準白部を兼ねるものである。
【００３１】
図３は、第二読み取り部25の電気回路の要部を示すブロック図である。同図に示すように、第二読み取り部25は、ＬＥＤアレイ、蛍光灯、或いは冷陰極管などからなる光源部200を有している。また、主走査方向（原稿幅方向）に並ぶ複数のイメージセンサチップ201、それぞれのイメージセンサチップ201に個別に接続された複数のアンプ回路202、それぞれのアンプ回路202に個別に接続された複数のＡ／Ｄコンバータ203と、それぞれのＡ／Ｄコンバータ203に個別に接続された黒補正部204も有している。黒補正部204は、Ａ／Ｄコンバータ203の出力信号に含まれている黒レベルオフセットを除去する。更には、画像処理部205、メモリ206、出力制御回路207、Ｉ／Ｆ回路208なども有している。
【００３２】
イメージセンサチップ201は、等倍密着イメージセンサと称される光電変換素子と集光レンズとを具備するものである。図４に第二読み取り部25におけるイメージセンサチップ201の配列を示す。図示のように、各イメージセンサチップ201は１ラインずつのＲＧＢ画素を備えており、隣接するイメージセンサチップ201は、原稿搬送方向（副走査方向）に４ラインオフセットして配置されており、オーバーラップ画素の数は10である。
【００３３】
第二読み取り部25による読み取り位置に、図示しない原稿が進入するのに先立って、コントローラ100から光源部200に点灯オン信号が送られる。これにより、光源部200が点灯し、その光を図示しない原稿に向けて照射する。原稿からの反射光は、複数のイメージセンサチップ201において、集光レンズによって光電変換素子に集光され、画像情報として読み取られる。
【００３４】
それぞれのイメージセンサチップ201で読み取られた画像情報は、アンプ回路202によって増幅された後、Ａ／Ｄコンバータ203によってデジタル画像情報に変換される。これらデジタル画像情報は、黒補正部204でオフセット成分が除去され、画像処理部205に入力されてシェーデイング補正などが施される。
【００３５】
図４に示すように、奇数番目チップ（以下、EVENチップと呼ぶ）と偶数番目チップ（以下、ODDチップと呼ぶ）とで副走査方向の読み取り位置が異なる構造となっているため、メモリ206を用いて千鳥状に配置されたイメージセンサチップ201のうち、原稿読み取り上流側にあるイメージセンサチップからの画像データ出力を一時的に蓄積して、ＣＩＳの同色センサ同士のライン間隔（ここでは４ライン）に応じて原稿読み取り下流側のイメージセンサチップからの画像データ出力との位置合わせ、即ち副走査位置補正を行う。
【００３６】
副走査位置補正後、出力制御回路207によって画像処理部209に受入可能なデータ形式に変換された後、Ｉ／Ｆ回路208経由で画像処理部209内のEVENチップ用メモリ210及びODDチップ用メモリ211に出力される。
【００３７】
なお、コントローラ100からは原稿の先端が第二読み取り部25による読み取り位置に到達するタイミング（そのタイミング以降の画像データが有効データとして扱われる）を知らせるためのタイミング信号や光源の点灯信号、電源電力等が出力される。
【００３８】
画像処理部209内のEVENチップ用メモリ210、ODDチップ用メモリ211に一旦格納された画像データに対して、主走査位置補正部212にて本実施形態の特徴である主走査位置補正が実行される。
【００３９】
以下、主走査位置補正について説明する。図５は画像処理部209内の主走査位置補正部212の機能ブロック図である。ここではEVENチップを基準として、ODDチップに主走査位置補正を実行する前提で説明する。
【００４０】
EVENチップ用メモリ210、ODDチップ用メモリ211に格納された画像データから、オーバーラップ画素領域の画像データを読み出して、基準とするEVENチップのデータをEVENチップ出力（基準出力）格納部1101に格納し、主走査位置補正が行われるODDチップのデータをODDチップ出力格納部1102に格納する。
【００４１】
全20チップ構成（EVEN、ODDチップそれぞれ10チップ）の場合にはオーバーラップ画素領域は19箇所あるので、領域毎に主走査位置補正係数を算出する必要がある。ODDチップ出力格納部1102に格納された画像データに対しては、第１の補正部1103及び補正係数記憶部1104によって以下の演算が行われる。
【００４２】
イメージセンサチップの実装ずれは数μm単位で発生するものであるため、１画素幅（600dpiの場合42.3μm）よりも小さい単位でずれ量を検出する必要がある。本実施形態では３次関数コンボリューション法を用いる。図６は、４点（画素）のサンプリング点のデータから新サンプリング点のデータを３次関数コンボリューション法により求める概念図であり、図７は３次関数コンボリューション法を用いる際の補正係数表の一例を示すものである。
【００４３】
図６に示すように、注目画素の画像データ「n」、１画素前の画像データ「n−1」、１画素後の画像データ「n＋1」、２画素後の画像データ「n＋2」から、下記の式［１］を用いて補間演算し、新サンプリング点の画像データ「n’」を求める。
N’＝W1＊（n−1）＋W2＊n＋W3＊（n＋1）＋W4＊（n＋2）  …式［１］
【００４４】
ここで、W1〜W4は補正係数記憶部1104に記憶されている補正係数である。１画素幅以下の補正係数として、後述する図９のように1/32画素単位の主走査位置ずれ量に対応する場合には、32種の係数を補正係数記憶部1104に格納する必要があるため、本実施形態では、図７に示すように32種の係数を格納している。
【００４５】
以下、具体的な主走査位置ずれ量検出の手法について説明する。
図８に示すようにEVENチップＳａを基準とした場合に、ODDチップＳｂは＋方向、−方向いずれの方向にもずれることが考えられる。ずれ方向が正負どちらかは分からないため、正負両方向に対する位置ずれを想定してずれ量検出を行う。なお、実際の演算では、ノイズ成分を除去するために画素単位に複数ラインの平均値を、注目画素のデータとするのが望ましい。平均化ライン数はイメージセンサチップのノイズ成分（Ｓ／Ｎ）を考慮した任意のライン数とすれば良い。
【００４６】
〈＋方向ずれの場合〉
位置ずれ量検出のための注目画素をb3とした場合について説明する。＋方向にずれていると仮定すると、b3の本来の出力b3’を求めるためには以下の式［２］の演算を行う。
b3’＝b1×W1＋b2×W2＋b3×W3＋b4×W4  …式［２］
【００４７】
〈−方向ずれの場合〉
位置ずれ量検出のための注目画素をb3とした場合について説明する。−方向にずれていると仮定すると、b3の本来の出力b3’を求めるためには以下の式［３］の演算を行う。
b3’＝b2×W1＋b3×W2＋b4×W3＋b5×W4  …式［３］
【００４８】
第１の補正部1103は、図７に示す各ずれ量毎のODDチップのオーバーラップ画素出力を上述式［２］、［３］の演算によって算出し、位置補正後データ格納部1105に補正演算後のデータを格納する。
【００４９】
次に、差分生成部1107によって、遅延メモリ1106を介して出力されるEVENチップ出力格納部1101の画像データと、位置補正後データ格納部1105に格納されたODDチップデータとの、想定ずれ量毎の差分量が抽出される。次いで、ずれ量判定部1108において、差分生成部1107にて求められた想定ずれ量毎の差分量の中で最小となるずれ量が、実際の実装ずれ量であると判定する。
【００５０】
次に、ずれ量検出以降の補正方法について説明する。
オーバーラップ画素に対してのみ、前記演算で求めたずれ量に相当する補正を実行するだけでは、最終画像としてスジ画像を低減することは出来ない。例えば、＋方向にずれがある場合にオーバーラップ画素のみの補正を行うと、図８の画素b10とその次の画素（b11）との間に、元々の実装ずれが発生してしまうことになり、結局何ら補正出来ない結果となってしまう。
【００５１】
そこで、本実施形態では、非オーバーラップ画素に対しても、３次関数コンボリューション法を応用した補正処理を実行することによって、チップ間隙間に発生するスジ画像の低減を図る。即ち、ずれ量判定部1108によって得られたずれ量検出結果に基づいて、補正対象画素数決定部1109が、非オーバーラップ画素への補正演算の対象とする画素数の決定を行う。なお、ずれ量に対する補正対象画素数が線形な関係であっても非線形な関係であっても構わないが、ずれ量が大きいほど補正対象画素数が多くなる構成とすることによって、ずれ量によらず常に適切な補正演算を実行することが可能となる。
【００５２】
非オーバーラップ画素への補正処理は、第２の補正部1110にて実行される。図９は非オーバーラップ画素に対する主走査位置補正の概要を表したものである。この図では、＋方向のずれ量＝12/32画素と判定した場合に、非オーバーラップ画素の12画素に対して1/32画素ピッチで補正演算を実施する際の例について説明する。ただし、補正対象画素数及び演算ピッチについては本例に限定されない。
【００５３】
〈画素b11に対する補正〉
図７の表におけるずれ量「12/32」を選択し、「b11’＝ b9×(−19/128)＋b10×99/128＋b11×59/128＋b12×(−11/128）」を演算する。
【００５４】
〈画素b12に対する補正〉
図７の表におけるずれ量「11/32」を選択し、「b12’＝ b10×(−19/128)＋b11×103/128＋b12×54/128＋b13×(−10/128）」を演算する。
【００５５】
〈画素b13に対する補正〉
図７の表におけるずれ量「10/32」を選択し、「b13’＝ b11×(−19/128)＋b12×107/128＋b13×49／128＋b14×(−9/128）」を演算する。
【００５６】
画素b14〜20についても同様な演算を行う（演算式は明らかであるから省略する）。
〈画素b21に対する補正〉
図７の表におけるずれ量「2/32」を選択し、「b21’＝ b19×(−7/128)＋b20×127/128＋b21×8/128＋b22×０」を演算する。
【００５７】
〈画素b22に対する補正〉
図７の表におけるずれ量「1/32」を選択し、「b22’＝ b20×(−4/128)＋b21×127/128＋b22×4/128＋b23×０」を演算する。
【００５８】
b23以降は補正しない。このように、画素b11〜b22の12画素に対して、段階的に位置を補正する処理を実行することで、本来あるはずの実装ずれ量：12/32画素を12画素に分散させることによってスジを目立たなくすることが可能となる。
【００５９】
例えば検出したずれ量が1/32画素以下の場合には、補正処理を実行しなくても画像への影響は軽微であると予想されるため、補正処理自体を実行しない選択肢も考えられる。図１０にその処理フローの一例を示す。
【００６０】
ずれ量判定部1108にてずれ量が検出されると（ステップＳＴ１）、補正対象画素数決定部1109にてずれ量が所定の閾値α（ここでは1/32画素）以下であるかどうかが判定される（ステップＳＴ２）。そして、閾値α以下であれば、ずれ量は微小であると判断して補正処理を実行しない（ステップＳＴ３）。閾値αよりも大きい場合には、ずれ量に応じて補正対象画素数が選択され（ステップＳＴ４）、第２の補正部1110にて主走査位置補正処理が行われる（ステップＳＴ５）。
【００６１】
このように、イメージセンサチップの実装位置ずれ量に応じて、主走査位置補正演算の対象とする画素数を選択する手段を有することによって、ずれ量が画質低下に影響しない微小なレベルの場合には補正処理を実施しないようにして、補正処理の負荷及び処理時間の低減を図ることが可能となる。
【００６２】
なお、以上の説明では、画素b3画素のみを対象とした説明としたが、１画素のみの検出では、イメージセンサ読み取り面に付着するゴミ、汚れの影響等、何らかのノイズ要因によって誤検出してしまう可能性も考えられる。
【００６３】
そこで、本実施形態では、可能な限り位置ずれ検出のための画素数を増やし、その差分量の合計から位置ずれ量を判断することによってより高精度な位置ずれ量検出を可能とする。具体的には、b4、b5、・・・、b10までを対象として、想定しているずれ量毎にΔ3＝a3−b3’、Δ4＝a4−b4’、・・・、Δ10＝a10−b10’という演算により、オーバーラップ画素の差分を順次検出していく。これらの差分量の合計値が最小となる場合が位置ずれ量であり、更にずれ量毎にオーバーラップ各画素の差分量の合計値を演算する。そして、差分量の合計が最小となる補正係数に基づいて前記補正演算を実行する。
【００６４】
以上詳細に説明したように、本発明の実施形態の画像読み取り装置は下記（１）〜（４）の特徴を有する。
（１）複数のイメージセンサチップを千鳥状に配置し、隣接するイメージセンサチップ同士を主走査方向に所定の画素数オーバーラップさせたイメージセンサにおいて、オーバーラップ画素部の画像データに基づいて、高精度に位置ずれ量を検出し、更に、位置ずれ量に基づいて非オーバーラップ画素部に補正演算を実行するため、イメージセンサチップ繋ぎ目部に発生するスジ画像による画質低下を回避することができる。
（２）オーバーラップ画素部のデータに基づいて検出した位置ずれ量が大きいほど、非オーバーラップ画素部の補正演算の対象となる画素数を多くすることによって、ずれ量によらずに常に適切な補正演算を実行することができる。
（３）イメージセンサチップの実装位置ずれ量に応じて、主走査位置補正演算の対象とする画素数の選択手段を有することによって、ずれ量が画質低下に影響しない微小なレベルの場合には補正処理を実施しないようにして、補正処理の負荷及び処理時間の低減を図ることができる。
（４）位置ずれ検出に用いる画素をオーバーラップ画素部の複数画素を対象とすることによって、イメージセンサ読取面に付着するゴミ、汚れの影響等、何らかのノイズ要因によって誤検出の可能性を低減し、高精度な位置ずれ量検出を行うことができる。
【符号の説明】
【００６５】
25・・・第二読み取り部、201・・・イメージセンサチップ、210・・・EVENチップ用メモリ、211・・・ODDチップ用メモリ、1103・・・第１の補正部、1104・・・補正係数記憶部、1105・・・位置補正後データ格納部、1107・・・差分生成部、1108・・・ずれ量判定部、1109・・・補正対象画素数決定部、1110・・・第２の補正部、Ｓａ・・・EVENチップ、Ｓｂ・・・ODDチップ。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００６６】
【特許文献１】特開２００８−２２０６２号公報
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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