(57)【要約】【課題】  周波数特性測定装置において、簡易な構成及び処理によって回路の破壊を防ぐことができる検波回路を提供する。【解決手段】  入力された信号を増幅する増幅素子４１と、評価対象から出力された信号を第１又は第２の経路のいずれかに出力するＳＰＤＴ５３と、第１の経路上に設けられた減衰器５５と、第１又は第２の経路のいずれかから入力された信号を増幅素子５４に出力するＳＰＤＴ５４と、ＳＰＤＴ５３，５４を制御する制御部５１とを備え、制御部５１が、掃引開始時はＳＰＤＴ５３，５４を第１の経路に切り替えておき、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、算出された検波入力レベルが増幅素子４１の許容範囲内であれば、ＳＰＤＴ５３，５４を第２の経路に切り替える検波回路としている。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
評価対象となる回路の周波数特性を測定する装置に設けられ、前記評価対象から出力された信号を入力して検波する検波回路であって、
入力された信号を増幅する増幅素子と、
前記評価対象から出力された信号を第１又は第２の経路のいずれかに出力する第１のスイッチと、
前記第１の経路上に設けられた減衰器と、
前記第１又は第２の経路のいずれかから入力された信号を前記増幅素子に出力する第２のスイッチと、
前記第１のスイッチ及び前記第２のスイッチを制御する制御部とを備え、
前記制御部が、掃引開始時は前記第１及び第２のスイッチを前記第１の経路に切り替え、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、前記算出された検波入力レベルが前記増幅素子の許容範囲内であれば、前記第１及び第２のスイッチを前記第２の経路に切り替えることを特徴とする検波回路。
【請求項２】
減衰器における減衰量を、評価対象が水晶振動子である場合に前記水晶振動子を保持する水晶ホルダに設けられたマッチング回路における減衰量と同等以上にすることを特徴とする請求項１記載の検波回路。
【請求項３】
評価対象となる回路の周波数特性を測定する装置に設けられ、前記評価対象から出力された信号を入力して検波する検波回路であって、
入力された信号を増幅する増幅素子と、
前記評価対象から出力された信号を入力して、それぞれ異なる減衰量で減衰して前記増幅素子に出力する複数の経路と、
前記評価対象から出力された信号を前記複数の経路のいずれかに切り替えて入力する制御部とを備え、
前記制御部が、掃引開始時は前記信号の経路を前記複数の経路の内、最大の減衰量を備えた経路に切り替え、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、前記算出された検波入力レベルを前記増幅素子の許容範囲内に減衰する最小の減衰量を備えた経路に切り替えることを特徴とする検波回路。
【請求項４】
前記最大の減衰量を、評価対象が水晶振動子である場合に前記水晶振動子を保持する水晶ホルダに設けられたマッチング回路における減衰量と同等以上にすることを特徴とする請求項３記載の検波回路。
【請求項５】
評価対象から出力された信号を第１又は第２又は第３の経路のいずれかに出力する第１のスイッチと、
前記第１の経路上に設けられた第１の減衰器と、
第２の経路上に設けられ、減衰量が前記第１の減衰器の減衰量より小さい第２の減衰器と、
前記第１又は第２又は第３の経路のいずれかから入力された信号を前記増幅素子に出力する第２のスイッチと、
前記第１のスイッチ及び前記第２のスイッチを制御する制御部とを備え、
前記制御部が、掃引開始時は前記第１及び第２のスイッチを前記第１の経路に切り替え、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、前記算出された検波入力レベルが前記増幅素子の許容範囲内であるか否かを判断する第１の判断を行い、前記第１の判断で許容範囲内であると判断された場合には、前記第１及び第２のスイッチを前記第３の経路に切り替え、前記第１の判断で許容範囲外であると判断された場合には、前記算出された検波入力レベルが前記第２の減衰器での減衰により前記増幅素子の許容範囲内となるか否かを判断する第２の判断を行い、前記第２の判断で許容範囲内となると判断された場合には、前記第１及び第２のスイッチを前記第２の経路に切り替えることを特徴とする請求項３又は４記載の検波回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、水晶振動子等の周波数特性の評価に用いられる検波回路に係り、特に回路の破壊を防ぐと共に、検波入力を不要に減衰させないようにして正確な測定を可能とする検波回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
［先行技術の説明：図４］
水晶振動子等の周波数特性の評価に用いられる周波数評価装置の内、検波回路を含む部分の構成について図４を用いて説明する。図４は、周波数評価装置の構成（部分）を示す説明図である。
図４に示すように、水晶振動子の評価を行う構成としては、シンセサイザ（ＳＹＮ）１と、無線部（ＲＦ）２と、マッチング回路を備えた水晶ホルダ（Ｘｔａｌ  Ｈｏｌｄｅｒ）３と、検波回路（ＤＥＴ）４とを備えたものがある。
【０００３】
そして、上記構成を用いて水晶振動子の評価を行う際には、シンセサイザ１から特定の周波数を出力し、無線部２で増幅して水晶ホルダ３にセットされた水晶振動子に印加し、当該水晶振動子からの出力を検波回路４に入力して検波し、検波出力を外部の評価装置において評価するようになっている。
【０００４】
また、水晶振動子以外のケーブルや治具等による周波数特性を補正するために、水晶振動子を外した状態でマッチング回路を短絡させて測定を行うことが必要である。マッチング回路を短絡させた場合、検波回路３への入力は３０ｄＢ程度減衰される。
【０００５】
ここで、マッチング回路がない状態で短絡させた場合には、検波回路４への入力が過大となるため、検波回路４を破壊してしまう恐れがある。
特に検波回路４内に設けられた増幅素子は破壊され易く、例えば、電力レベルで＋１３ｄＢｍを越えると破壊されてしまう。
【０００６】
そこで、従来は、短絡した場合の検波部への入力レベルを事前に測定し、入力レベルが適正範囲に入っていることを確認してから測定を行うようになっていた。
【０００７】
［先行技術の文献］
尚、周波数特性評価装置に関する技術としては、特開平３−３５１７２号公報「ネットワークアナライザ」（出願人：アンリツ株式会社／特許文献１）、特開平１１−６４４０５号公報「変調解析装置及びスペクトラムアナライザ」（出願人：株式会社アドバンテスト／特許文献２）、実開平６−４３５７７号公報「スペクトラムアナライザ」（出願人：株式会社アドバンテスト／特許文献３）がある。
【０００８】
特許文献１には、周波数特性評価装置において、検波入力の前段にＡＴＴ（可変減衰器）と制御回路とを備え、検波部での掃引を開始して、検波出力に基づいて演算を行い、ＡＴＴと利得とを調整することが記載されている。
特許文献２には、周波数特性評価装置において、入力の前段にＡＴＴ（可変減衰器）と制御回路とを備え、可変減衰器の出力レベルに応じて、可変減衰器と可変ゲインアンプのゲインを調整することが記載されている。
【０００９】
また、特許文献３には、周波数特性評価装置において、周波数入力の前段にハイパスフィルタを備え、基本周波数帯の掃引時にはハイパスフィルタを通過しない経路を選択し、高調波帯掃引時にはハイパスフィルタを通過する経路を選択する構成が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開平３−３５１７２号公報
【特許文献２】特開平１１−６４４０５号公報
【特許文献３】実開平６−４３５７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、従来の周波数特性評価に用いられる検波回路では、測定前に検波回路への入力レベルを事前にチェックしなければならず、操作が煩雑であるという問題点があった。
また、特許文献１又は２記載の周波数特性評価装置では、制御回路が常時可変減衰器や利得の制御を行わなければならず、処理が増大するという問題点があった。
また、特許文献３には、検波出力から算出された検波入力レベルに基づいて経路を選択して減衰量を変えることは記載されていない。
【００１２】
本発明は上記実状に鑑みて為されたもので、簡易な構成及び処理によって回路の破壊を防ぐことができる検波回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記従来例の問題点を解決するための本発明は、評価対象となる回路の周波数特性を測定する装置に設けられ、評価対象から出力された信号を入力して検波する検波回路であって、入力された信号を増幅する増幅素子と、評価対象から出力された信号を第１又は第２の経路のいずれかに出力する第１のスイッチと、第１の経路上に設けられた減衰器と、第１又は第２の経路のいずれかから入力された信号を増幅素子に出力する第２のスイッチと、第１のスイッチ及び第２のスイッチを制御する制御部とを備え、制御部が、掃引開始時は第１及び第２のスイッチを第１の経路に切り替え、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、算出された検波入力レベルが増幅素子の許容範囲内であれば、第１及び第２のスイッチを第２の経路に切り替えることを特徴としている。
【００１４】
また、本発明は、上記検波回路において、減衰器における減衰量を、評価対象が水晶振動子である場合に前記水晶振動子を保持する水晶ホルダに設けられたマッチング回路における減衰量と同等以上にすることを特徴としている。
【００１５】
また、本発明は、評価対象となる回路の周波数特性を測定する装置に設けられ、評価対象から出力された信号を入力して検波する検波回路であって、入力された信号を増幅する増幅素子と、評価対象から出力された信号を入力して、それぞれ異なる減衰量で減衰して増幅素子に出力する複数の経路と、評価対象から出力された信号を複数の経路のいずれかに切り替えて入力する制御部とを備え、制御部が、掃引開始時は前記信号の経路を、当該複数の経路の内、最大の減衰量を備えた経路に切り替え、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、算出された検波入力レベルを増幅素子の許容範囲内に減衰する最小の減衰量を備えた経路に切り替えることを特徴としている。
【００１６】
また、本発明は、上記検波回路において、最大の減衰量を、評価対象が水晶振動子である場合に水晶振動子を保持する水晶ホルダに設けられたマッチング回路における減衰量と同等以上にすることを特徴としている。
【００１７】
また、本発明は、上記検波回路において、評価対象から出力された信号を第１又は第２又は第３の経路のいずれかに出力する第１のスイッチと、第１の経路上に設けられた第１の減衰器と、第２の経路上に設けられ、減衰量が第１の減衰器の減衰量より小さい第２の減衰器と、第１又は第２又は第３の経路のいずれかから入力された信号を増幅素子に出力する第２のスイッチと、第１のスイッチ及び第２のスイッチを制御する制御部とを備え、制御部が、掃引開始時は第１及び第２のスイッチを第１の経路に切り替え、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、算出された検波入力レベルが増幅素子の許容範囲内であるか否かを判断する第１の判断を行い、第１の判断で許容範囲内であると判断された場合には、第１及び第２のスイッチを第３の経路に切り替え、第１の判断で許容範囲外であると判断された場合には、算出された検波入力レベルが前記第２の減衰器での減衰により増幅素子の許容範囲内となるか否かを判断する第２の判断を行い、第２の判断で許容範囲内となると判断された場合には、第１及び第２のスイッチを第２の経路に切り替えることを特徴としている。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、評価対象となる回路の周波数特性を測定する装置に設けられ、評価対象から出力された信号を入力して検波する検波回路であって、入力された信号を増幅する増幅素子と、評価対象から出力された信号を第１又は第２の経路のいずれかに出力する第１のスイッチと、第１の経路上に設けられた減衰器と、第１又は第２の経路のいずれかから入力された信号を増幅素子に出力する第２のスイッチと、第１のスイッチ及び第２のスイッチを制御する制御部とを備え、制御部が、掃引開始時は第１及び第２のスイッチを第１の経路に切り替え、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、算出された検波入力レベルが増幅素子の許容範囲内であれば、第１及び第２のスイッチを第２の経路に切り替える検波回路としているので、簡易な構成及び処理によって、増幅素子が破壊されるのを防ぐことができる効果がある。
【００１９】
また、本発明によれば、減衰器における減衰量を、評価対象が水晶振動子である場合に前記水晶振動子を保持する水晶ホルダに設けられたマッチング回路における減衰量と同等以上にする上記検波回路としているので、マッチング回路を通さずに短絡させた場合でも、増幅素子の破壊を確実に防ぐことができる効果がある。
【００２０】
また、本発明によれば、評価対象となる回路の周波数特性を測定する装置に設けられ、評価対象から出力された信号を入力して検波する検波回路であって、入力された信号を増幅する増幅素子と、評価対象から出力された信号を入力して、それぞれ異なる減衰量で減衰して増幅素子に出力する複数の経路と、評価対象から出力された信号を複数の経路のいずれかに切り替えて入力する制御部とを備え、制御部が、掃引開始時は前記信号の経路を、当該複数の経路の内、最大の減衰量を備えた経路に切り替え、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、算出された検波入力レベルを増幅素子の許容範囲内に減衰する最小の減衰量を備えた経路に切り替える検波回路としているので、増幅素子の破壊を防ぐことができ、また、検波入力レベルを不要に減衰させるのを防ぎ、正確な測定を行うことができる効果がある。
【００２１】
また、本発明によれば、最大の減衰量を、評価対象が水晶振動子である場合に水晶振動子を保持する水晶ホルダに設けられたマッチング回路における減衰量と同等以上にする上記検波回路としているので、マッチング回路を通さずに短絡させた場合でも、増幅素子の破壊を確実に防ぐことができ、また、検波入力レベルを不要に減衰させるのを防ぎ、正確な測定を行うことができる効果がある。
【００２２】
また、本発明によれば、評価対象から出力された信号を第１又は第２又は第３の経路のいずれかに出力する第１のスイッチと、第１の経路上に設けられた第１の減衰器と、第２の経路上に設けられ、減衰量が第１の減衰器の減衰量より小さい第２の減衰器と、第１又は第２又は第３の経路のいずれかから入力された信号を増幅素子に出力する第２のスイッチと、第１のスイッチ及び第２のスイッチを制御する制御部とを備え、制御部が、掃引開始時は第１及び第２のスイッチを第１の経路に切り替え、掃引開始後、検波出力レベルに基づいて検波入力レベルを算出し、算出された検波入力レベルが増幅素子の許容範囲内であるか否かを判断する第１の判断を行い、第１の判断で許容範囲内であると判断された場合には、第１及び第２のスイッチを第３の経路に切り替え、第１の判断で許容範囲外であると判断された場合には、算出された検波入力レベルが前記第２の減衰器での減衰により増幅素子の許容範囲内となるか否かを判断する第２の判断を行い、第２の判断で許容範囲内となると判断された場合には、第１及び第２のスイッチを第２の経路に切り替える上記検波回路としているので、増幅素子の破壊を防ぐことができ、また、検波入力レベルを不要に減衰させるのを防ぎ、正確な測定を行うことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の実施の形態に係る検波回路の構成図である。
【図２】制御部５１における処理を示すフローチャートである。
【図３】本発明の別の実施の形態に係る保護回路の構成図である。
【図４】周波数評価装置の構成（部分）を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
［実施の形態の概要］
本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
本発明の実施の形態に係る検波回路は、増幅素子の入力段に設けられ、マッチング回路と同等以上の減衰量を備えた減衰器と、検波入力を、減衰器を通して出力する第１の経路又は減衰器を通さずに出力する第２の経路のいずれかに切り替えるスイッチとを備えた保護回路と、検波出力に応じてスイッチを切り替える制御部とを備え、制御部が、掃引開始時にはスイッチを第１の経路に切り替えておき、掃引開始後、検波出力を用いて演算を行い、算出された検波入力が適正範囲内であるかどうかを判断し、適正範囲内であればスイッチを第２の経路に切り替えるものであり、簡易な構成及び処理で増幅素子の破壊を防ぐことができるものである。
【００２５】
また、本発明の実施の形態に係る検波回路は、保護回路が、第１の減衰器と、第１の減衰器より減衰量の小さい第２の減衰器と、検波入力を第１の減衰器を通す経路又は第２の減衰器を通す経路又はいずれの減衰器も通さない経路のいずれかに切り替えるスイッチとを備え、制御部が、掃引開始時にはスイッチを第１の減衰器を通す経路に切り替えておき、掃引開始後、検波出力を用いて演算を行い、算出された検波入力に応じて適切な経路を選択してスイッチを切り替えるものであり、簡易な構成及び処理で増幅素子の破壊を防ぐことができると共に、検波入力に応じて減衰量を調節でき、検波入力の不要な減衰を防ぎ、正確な評価を行うことができるものである。
【００２６】
［実施の形態の検波回路：図１］
本発明の実施の形態に係る検波回路について図１を用いて説明する。図１は、本発明の実施の形態に係る検波回路の構成図である。
図１に示すように、本検波回路は、従来と同様の部分として、ＡＭＰ４１と、ミキサ（ＭＩＸ）４２と、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）４３と、ＡＭＰ４４と、ＡＧＣ（Auto Gain Controller）４５と、ＢＰＦ（Band Pass Filter）４６と、ログアンプ（ＬＯＧ）４７と、オペアンプ（ＯＰ−ＡＭＰ）４８と、減衰器４９と、ＡＭＰ５０とを備え、本検波回路の特徴部分として、制御部（ＣＰＵ）５１と、保護回路５２とを備えている。
【００２７】
ミキサ４２は、シンセサイザからのローカル周波数とＡＭＰ４１の出力とを合成する。これにより、ＢＰＦ４６の通過帯域を通過させるために落とし込むものである。
ローパスフィルタ４３は、入力された信号の高周波成分を除去する。
ＡＧＣ４５は、ログアンプ４７の出力に基づいて利得を調整して増幅する。
ログアンプ４７は、入力信号を対数変換する。
【００２８】
そして、上記構成の検波回路の従来と同様の部分の動作は従来と同様であり、入力された信号はＡＭＰ４１で増幅され、ミキサ４２でシンセサイザからのローカル周波数とＡＭＰ４１の出力と合成され、ＬＰＦ４３で高周波成分が除去され、更にＡＭＰ４４で増幅されて、ＡＧＣ４５でログアンプ４７からの出力に基づいて調整された利得で増幅され、ＢＰＦ４６で帯域制限され、ログアンプ４７で対数変換されて、検波出力が得られる。検波出力は、入力されるＲＦ信号のレベルに応じた直流電圧として取り出される。
【００２９】
［保護回路５２］
本回路の特徴部分である保護回路について図１を用いて説明する。
保護回路５２は、ＳＰＤＴ（Single Pole Double Throw）５３，５４と、減衰器（ＡＴＴ：Attenuator）５５と、信号線５６とを備えている。
ＳＰＤＴ５３は、入力されたＲＦ信号を、制御部５１からの指示に従って信号線５６又は減衰器５５のいずれかに切り替えて出力する。ＳＰＤＴ５３は、請求項における第１のスイッチに相当する。
また、ＳＰＤＴ５４は、制御部５１からの指示に従って信号線５６又は減衰器５５のいずれかから入力された信号をＡＭＰ４１に出力する。ＳＰＤＴ５４は、請求項における第２のスイッチに相当する。
ＳＰＤＴ５３，５４は、ＦＥＴ半導体スイッチやＰＩＮダイオードで構成される。
減衰器５５は、入力されたＲＦ信号を一定の減衰量で減衰するものであり、マッチング回路における減衰量と同等以上とすることが考えられる。
【００３０】
［制御部５１］
制御部５１は、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等で構成され、オペアンプ４８からの検波出力を分岐して入力し、検波出力レベルを用いて演算を行い、演算結果に基づいて保護回路５２のＳＰＤＴ５３及び５４の切り替え制御を行う。
具体的には、制御部５１では、検出された検波出力レベルから、検波回路４に入力されるＲＦ信号（検波入力）の入力レベルを逆算する演算を行い、算出された検波入力レベルがＡＭＰ４１の許容範囲であるかどうかを判断し、許容範囲であれば信号線５６を通る経路でＡＭＰ４１に入力させ、許容範囲でなければ減衰器５５を通る経路でＡＭＰ４１に入力させる制御を行うものである。
【００３１】
制御部５１における演算について説明する。
上述したように、ＡＭＰ４１は、＋１３ｄＢｍまでの入力レベルであれば許容でき、また、評価動作時の検波入力は最大＋２０ｄＢｍ変動する。つまり、検波入力レベルが−７ｄＢｍ未満であれば最大＋２０ｄＢｍ変動したとしてもＡＭＰ４１の破壊を免れることができるものである。
【００３２】
そこで、本回路の制御部５１では、マージンをとって、算出した検波入力が−１０ｄＢｍ以下であれば検波入力を信号線５６側の経路を通してＡＭＰ４１に入力し、−１０ｄＢｍを超えた場合には減衰器５５を通してＡＭＰ４１に入力するように、ＳＰＤＴ５３，５４を制御する。
尚、減衰器５５を通る経路は請求項における第１の経路に相当し、信号線５６を通る経路は第２の経路に相当している。
【００３３】
つまり、制御部５１は、評価開始の際には、破壊を防ぐためにＳＰＤＴ５３，５４を減衰器５５側に切り替えておき、掃引開始後、検出された検波出力に基づいて、（検波出力レベル−減衰器５５の減衰量）を算出し、（検波出力レベル−減衰器５５の減衰量）≦−１０ｄＢｍであれば、検波入力を減衰させる必要はないとして、ＳＰＤＴ５３，５４を信号線５６を通る経路側に切り替える。
【００３４】
また、（検波出力レベル−減衰器５５の減衰量）＞−１０ｄＢｍであれば、検波入力を減衰させてからＡＭＰ４１に入力させるために、ＳＰＤＴ５３，５４を減衰器５５を通る経路側に切り替えたままとする。
これにより、本回路では、マッチング回路を用いずに短絡させたとしても、ＡＭＰ４１の破壊を防ぐことができるものである。
【００３５】
例えば、減衰器５５の減衰量を−３０ｄＢとした場合、制御部５１で検出した検波出力が−２０ｄＢｍであれば、逆算される検波入力は、−２０−（−３０）＝＋１０ｄＢｍとなり、−１０ｄＢｍより大きいので、制御部５１は、減衰器５５を通る経路を選択するようＳＰＤＴ５３及び５４を切り替える。
また、検波出力が−３０ｄＢｍの場合、検波入力は−３０−（−３０）＝０ｄＢｍとなり、−１０ｄＢｍより大きいので、減衰器５５を通る経路を選択する。
更に、検波出力が−４０ｄＢｍの場合、検波入力は−４０−（−３０）＝−１０ｄＢｍとなり、−１０ｄＢｍ以下であるため、減衰は不要であり、信号線５６を通る経路を選択する。
【００３６】
［制御部５１における処理：図２］
次に、制御部５１における処理について図２を用いて説明する。図２は、制御部５１における処理を示すフローチャートである。
図２に示すように、制御部５１は、周波数補正を行う際に、ＳＰＤＴ５３，５４を減衰器５５側に切り替えておき（１００）、掃引開始する（１０２）。
そして、制御部５１は、検波出力を取得すると（１０４）、（検波出力レベル−減衰器５５の減衰量）≦−１０ｄＢｍであるかどうかを判断し（１０６）、（検波出力レベル−減衰器５５の減衰量）が−１０ｄＢｍ以下であれば（Yesの場合）、減衰器５５を通らない経路、つまり信号線５６を通る経路を選択するようＳＰＤＴ５３，５４を切り替え（１０８）、処理を終了する。
【００３７】
また、処理１０６で、（検波出力レベル−減衰器５５の減衰量）が−１０ｄＢｍを越えていれば（Noの場合）、ＡＭＰ４１を保護するために減衰器５５を通る経路を選択するようＳＰＤＴ５３，５４を切り替え（１１０）、処理を終了する。
このようにして制御部５１の処理が行われるものである。
【００３８】
つまり、本検波回路は、検波出力レベルに基づいて入力レベルを算出し、しきい値と比較して、ＡＭＰ４１への入力経路を減衰器５５を通す経路又は減衰器５５を通さない経路のいずれかに切り替えるものであり、例えば、可変減衰器における減衰量を調整するのに比べて簡易な構成及び処理で実現可能とするものである。
【００３９】
［別の実施の形態に係る保護回路：図３］
次に、本発明の別の実施の形態に係る保護回路について図３を用いて説明する。図３は、本発明の別の実施の形態に係る保護回路の構成図である。
図３に示すように、本発明の別の実施の形態に係る検波回路（別の検波回路）の保護回路（別の保護回路）は、図１に示した検波回路において保護回路５２の代わりに設けられるものであり、ＳＰ３Ｔ６１と、ＳＰ３Ｔ６２と、信号線６３と、減衰器（ＡＴＴ1）６４と、減衰器（ＡＴＴ2）６５とを備えている。
【００４０】
ＳＰ３Ｔ６１，６２は、ＳＰＤＴ５３，５４と同様にＦＥＴスイッチ又はＰＩＮダイオードスイッチで構成される。
そして、ＳＰ３Ｔ６１は、制御部５１からの指示に基づいて、検波入力を、信号線６３、減衰器６４、減衰器６５のいずれかに出力する。
ＳＰ３Ｔ６２は、制御部５１からの指示に基づいて、信号線６３、減衰器６４、減衰器６５のいずれかから入力される信号をＡＭＰ４１に出力する。
【００４１】
減衰器６４と減衰器６５は、それぞれ入力された信号を一定の減衰量で減衰させるものであり、減衰器６４の減衰量（Ａ1）は、減衰器６５の減衰量（Ａ2）よりも小さいものとしている。減衰器６５の減衰量は、マッチング回路における減衰量と同等以上とすることが望ましい。
尚、減衰器６５は請求項における第１の減衰器に相当し、減衰器６４は第２の減衰器に相当している。
【００４２】
そして、別の検波回路では、検波入力レベルに応じて、必要十分な減衰量となるよう、制御部５１が、検波入力の経路を減衰器６４又は６５又は信号線６３のいずれかに切り替えて出力するものである。
尚、減衰器６５を通る経路は請求項における第１の経路に相当し、減衰器６４を通る経路は請求項における第２の経路に相当し、信号線６３を通る経路は第３の経路に相当している。
【００４３】
［別の検波回路の動作］
別の検波回路における制御部５１の動作について説明する。
別の検波回路の制御部５１は、評価を開始する際には、まず、減衰量の大きい減衰器６５の経路を選択するようＳＰ３Ｔ６１，６２を切り替えておく。
そして、掃引開始後、制御部５１は、検波出力と検波出力を取得して検波入力を逆算し、逆算された検波入力レベルに基づいて３つの内最適な経路を選択し、ＳＰ３Ｔ６１，６２を切り替える。
【００４４】
ＳＰ３Ｔ６１，６２の切り替え方法について具体的に説明する。
制御部５１は、まず、（検波出力レベル−減衰器６５の減衰量（Ａ2））を算出して、入力検波レベルを求め、このまま減衰器６５を通る経路とするか、若しくは減衰器６４を通る経路を選択可能かどうかを判断し、減衰器６４を通る経路が許容される場合には、更に、信号線６３を通る経路が選択可能かどうかを判断する。
これは、検波入力レベルを必要以上に減衰させないようにして、正確な周波数特性の測定を行うためである。
【００４５】
つまり、制御部５１は、まず、（検波出力レベル−減衰器６５の減衰量（Ａ2））＋減衰器６４の減衰量（Ａ1）≦−１０であるかどうかを判断し、その条件を満たす場合には、更に、（検波出力レベル−減衰器６５の減衰量（Ａ2））≦−１０であるかどうかを判断する。
【００４６】
具体的な数値を用いて説明すると、例えば、減衰器６４の減衰量を−３０ｄＢ、減衰器６５の減衰量を−４０ｄＢとし、減衰器６５の経路での検波出力が−１０ｄＢｍであったとすると、（検波出力レベル−減衰器６５の減衰量（Ａ2））＋減衰器６４の減衰量（Ａ1）＝（−１０−（−４０））−３０＝０ｄＢｍとなり、−１０ｄＢｍを越えてしまうので、減衰器６４を通る経路を選択することはできず、このまま減衰器６５を通る経路を選択する。
【００４７】
一方、減衰器６５の経路での検波出力が−２０ｄＢｍであるとすると、（検波出力レベル−減衰器６５の減衰量（Ａ2））＋減衰器６４の減衰量（Ａ1）＝（−２０−（−４０））−３０＝−１０ｄＢｍとなり、−１０ｄＢｍ以下となるため、減衰器６４を通してもＡＭＰ４１は破壊されず、減衰器６４を通る経路を選択することが可能である。
【００４８】
この場合、制御部５１は、更に信号線６３を通る経路が可能かどうかを判断する。
（検波出力レベル−減衰器６５の減衰量（Ａ2））＝（−２０−（−４０））＝２０ｄＢｍとなり、−１０ｄＢｍを越えてしまうため、信号線６３を通る経路を選択することはできない。
よって、この場合には、減衰器６４を通る経路を選択するようＳＰ３Ｔ６１，６２を切り替える。
【００４９】
また、算出された検波入力レベルが−１０ｄＢｍであれば、制御部５１は、信号線３を通る経路を選択するようＳＰ３Ｔ６１，６２を切り替える。
このようにして、別の検波回路における制御部５１の動作が行われるものである。
【００５０】
これにより、別の検波回路では、検波出力から逆算した検波入力に応じてきめ細かく減衰量を調整してＡＭＰ４１に入力させることができ、ＡＭＰ４１の破壊を防ぐことができると共に、検波入力を無駄に減衰させるのを防ぐことができ、評価の測定精度を低下させずにすむものである。
また、ここでは、各経路の減衰量を３通り（０，Ａ1，Ａ2）としたが、より細かく段階分けすることも可能であり、入力検波レベルに応じてより適切な減衰量とすることができるものである。
【００５１】
更に、減衰器６４、信号線６３の順で経路選択を判断するようにしたが、反対に、算出された検波入力レベルに基づいて、まず、信号線６３を通る経路が選択可能かどうかを判断する第１の判断を行い、選択可能であればＳＰ３Ｔ６１，６２を信号線６３に切り替え、第１の判断で選択不可能であれは、次に、減衰器６４を通る経路が選択可能かどうかを判断する第２の判断を行い、選択可能であればＳＰ３Ｔ６１，６２を減衰器６４を通る経路に切り替えるようにしてもよい。
【００５２】
［実施の形態の効果］
本発明の実施の形態に係る検波回路によれば、ＡＭＰ４１の入力段に、ＳＰＤＴ５３，５４と、マッチング回路と同等以上の減衰量を備えた減衰器５５と、信号線５６とを有する保護回路５２を備え、制御部５１が、掃引開始時にはＳＰＤＴ５３，５４を減衰器５４側に切り替えておき、掃引開始後、検波出力から検波回路への入力レベルを算出し、算出された入力レベルが−１０ｄＢｍ以下であれば、ＡＭＰ４１の許容範囲であるとして、ＳＰＤＴ５３，５４を信号線５６側に切り替え、入力レベルが−１０ｄＢｍを越えている場合にはＳＰＤＴ５３，５４を減衰器５４側に切り替えるものとしており、簡易な構成及び処理により、マッチング回路を通さずに短絡させた場合の回路の破壊を防ぐことができる効果がある。
【００５３】
また、本発明の実施の形態に係る別の検波回路によれば、ＡＭＰ４１の入力段に、ＳＰ３Ｔ６１，６２と、信号線６３と、減衰量の異なる減衰器６４及び減衰器６５とを備え、制御部が、掃引開始時には、ＳＰ３Ｔ６１，６２をマッチング回路と同等以上の減衰量を備えた減衰器６５を通る経路に切り替えておき、掃引開始後、検波出力に基づいて検波入力レベルを算出し、算出された入力レベルが、減衰器６５より減衰量の小さい減衰器６４を通る経路でも可能かどうかを判断する第１の判断を行い、第１の判断で不可能であればそのまま減衰器６５を通る経路とし、第１の判断で可能であれば、更に、信号線６３を通る経路でも可能かどうかを判断する第２の判断を行い、第２の判断で不可能であれば減衰器６４を通る経路とし、第２の判断で可能であれば信号線６３を通る経路を選択するようＳＰ３Ｔ６１，６２を切り替えるようにしているので、簡易な構成及び処理で回路の破壊を防ぐことができ、更に、検波入力の不要な減衰を防ぎ、正確な測定を行うことができる効果がある。
【産業上の利用可能性】
【００５４】
本発明は、回路の破壊を防ぐと共に、検波入力を不要に減衰させないようにして正確な測定を可能とする検波回路に適している。
【符号の説明】
【００５５】
１…シンセサイザ、  ２…無線部、  ３…水晶ホルダ、  ４…検波回路、  ４１…ＡＭＰ、  ４２…ミキサ、  ４３…ローパスフィルタ、  ４４…ＡＭＰ、  ４５…ＡＧＣ、  ４６…バンドパスフィルタ、  ４７…ログアンプ、  ４８…オペアンプ、  ４９…減衰器、  ５０…ＡＭＰ、  ５１…制御部、  ５２…保護回路、  ５３，５４…ＳＰＤＴ、  ５５…減衰器、  ５６…信号線、  ６１，６２…ＳＰ３Ｔ、  ６３…信号線、  ６４，６５…減衰器
【図１】
2011185721.tif 000003
【図２】
2011185721.tif 000004
【図３】
2011185721.tif 000005
【図４】
2011185721.tif 000006
【手続補正書】
【提出日】平成22年4月8日(2010.4.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
制御部５１における演算について説明する。
上述したように、ＡＭＰ４１は、＋１３ｄＢｍまでの入力レベルであれば許容でき、また、評価動作時の検波入力は最大＋２０ｄＢｍとなる。つまり、保護回路５２の減衰量が７ｄＢ以上であれば最大＋２０ｄＢｍ入力したとしてもＡＭＰ４１の破壊を免れることができるものである。