(57)【要約】      （修正有）【課題】デュアルインターフェイスカードのクロスアクセス機能の検査ができる。【解決手段】データベースとＩＣカードに対して、接触ＩＣのインターフェースで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けて前記データベースに保管する手段と、ＩＣカードに対して、非接触ＩＣのインターフェイスで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けて前記データベースに保管する手段と、データベースで接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションについて、カードＩＤに関連付けられている、接触ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果と、非接触ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果との照合を行う手段とを備える検査システム。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
データベースと、
ＩＣカードに対して、接触ＩＣのインターフェースで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けてデータベースに保管する手段と、
ＩＣカードに対して、非接触ＩＣのインターフェイスで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けてデータベースに保管する手段と、
データベースで、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションについて、カードＩＤに関連付けられている、接触ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果と、非接触ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果との照合を行う手段とを備えることを特徴とする検査システム。
【請求項２】
データベースは、ＩＣカードの前記アクセス結果以外の製造履歴情報も、カードＩＤに関連付けて保管するものであり、
ＩＣカードからカードＩＤを読み出し、このカードＩＤをトレーサビリティＩＤとしてＩＣカードの表面に印字するか、或いは、トレーサビリティＩＤを生成してＩＣカードの表面に印字すると共に、このカードＩＤと、このトレーサビリティＩＤとを関連付けてデータベースに保管する手段を備えることを特徴とする請求項１記載の検査システム。
【請求項３】
データベースを備えるシステムが実行する方法であって、
ＩＣカードに対して、接触ＩＣのインターフェースで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けてデータベースに保管する工程と、
ＩＣカードに対して、非接触ＩＣのインターフェイスで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けてデータベースに保管する工程と、
データベースで、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションについて、カードＩＤに関連付けられている、接触ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果と、非接触ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果との照合を行う工程とを含むことを特徴とする検査方法。
【請求項４】
データベースは、カードの前記アクセス結果以外の製造履歴情報も、カードＩＤに関連付けて保管するものであり、
ＩＣカードからカードＩＤを読み出し、このカードＩＤをトレーサビリティＩＤとしてＩＣカードの表面に印字するか、或いは、トレーサビリティＩＤを生成してＩＣカードの表面に印字すると共に、このカードＩＤと、このトレーサビリティＩＤとを関連付けてデータベースに保管する工程を含むことを特徴とする請求項３記載の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＩＣカードの検査システム及び検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、ＩＣカードは、接続端子を介してデータの通信を行う接触ＩＣチップを内蔵した接触ＩＣカードと、コイルを通じて電磁誘導により通信を行う非接触ＩＣチップを内蔵した非接触ＩＣカードとがあり、接触ＩＣのアプリケーションプログラム（以後アプリケーションとも云う）は、接触ＩＣのインタフェースでのみアクセス可能であり、非接触ＩＣのアプリケーションは、非接触ＩＣのインタフェースでのみアクセス可能である。
【０００３】
尚、アプリケーションにアクセスするとは、ＩＣカードに、このアプリケーションを実行を命じるコマンドを送信し、このＩＣカードから、このアプリケーションの実行結果を受信することを云う。
【０００４】
尚、また、接触ＩＣのアプリケーションの例としては、接触ＩＣのメモリ領域にアクセスするものが挙げられ、同様に、非接触ＩＣのアプリケーションの例としては、非接触ＩＣのメモリ領域にアクセスするものが挙げられる。
【０００５】
また、一般に、接触ＩＣチップと非接触ＩＣチップとを内蔵したハイブリッド型ＩＣカード（以後ハイブリッドカードとも云う）でも、それらのアプリケーションは独立しており、接触ＩＣのインタフェースで非接触ＩＣのアプリケーションをアクセスしたり、非接触ＩＣのインタフェースで接触ＩＣのアプリケーションをアクセスすることは不可能である。
【０００６】
また、一般に、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれの検査発行システムは、個別に分かれており、接触ＩＣ検査発行システムは、接触ＩＣのインタフェースでの接触ＩＣの検査のみ、非接触ＩＣ検査発行システムは、非接触ＩＣのインタフェースでの非接触ＩＣの検査のみができるだけである（例えば特許文献１参照）。
【０００７】
ところで、近年、１つのＩＣチップに非接触ＩＣのアプリケーションと接触ＩＣのアプリケーションとを搭載し、このチップに対して接触と非接触の２種のインターフェースを持ち、図１に示すように、接触ＩＣのインターフェースで接触ＩＣのアプリケーションをアクセス可能であり、非接触ＩＣのインターフェースで非接触ＩＣのアプリケーションをアクセス可能であるだけでなく、さらに、接触ＩＣのインターフェースで非接触ＩＣのアプリケーションもアクセス可能であり、非接触ＩＣのインターフェースで接触ＩＣのアプリケーションもアクセス可能であるというクロスアクセス機能を有するデュアルインターフェイス型ＩＣカード（以後デュアルインターフェイスカードとも云う）が開発されている（例えば特許文献２参照）。
【０００８】
このようなクロスアクセス機能を検査するためには、接触ＩＣのアプリケーションを、接触ＩＣのインターフェース、非接触ＩＣのインターフェース、それぞれでアクセスした結果が同一であり、非接触ＩＣのアプリケーションを、接触ＩＣのインターフェース、非接触ＩＣのインターフェース、それぞれでアクセスした結果が同一であることを確認する必要がある。
【０００９】
しかしながら、上述のように、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれの検査発行システムは、個別に分かれているので、クロスアクセス機能を検査することができない。
【００１０】
また、検査発行システムが個別に分かれているので、製造履歴の関連付けに人の手が関与しなければならない。そのため、製造工程の長いハイブリッドカード、デュアルインターフェイスカードの検査発行などでは、トレーサビリティ管理が複雑となり、管理ミスによる異常が発生したり、漏れなどが発生する可能がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２００４−７０７７９号公報
【特許文献２】特開２００８−９７０８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明は斯かる背景技術に鑑みてなされたもので、少なくとも、デュアルインターフェイスカードのクロスアクセス機能の検査ができ、さらには、トレーサビリティ管理が容易に行えることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明において上記課題を解決するために、まず請求項１の発明では、データベースと、
ＩＣカードに対して、接触ＩＣのインターフェースで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けてデータベースに保管する手段と、
ＩＣカードに対して、非接触ＩＣのインターフェイスで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けてデータベースに保管する手段と、
データベースで、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションについて、カードＩＤに関連付けられている、接触ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果と、非接触ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果との照合を行う手段とを備えることを特徴とする検査システムとしたものである。
【００１４】
また請求項２の発明では、データベースは、ＩＣカードの前記アクセス結果以外の製造履歴情報も、カードＩＤに関連付けて保管するものであり、
ＩＣカードからカードＩＤを読み出し、このカードＩＤをトレーサビリティＩＤとしてＩＣカードの表面に印字するか、或いは、トレーサビリティＩＤを生成してＩＣカードの表面に印字すると共に、このカードＩＤと、このトレーサビリティＩＤとを関連付けてデータベースに保管する手段を備えることを特徴とする請求項１記載の検査システムとしたものである。
【００１５】
また請求項３の発明では、データベースを備えるシステムが実行する方法であって、
ＩＣカードに対して、接触ＩＣのインターフェースで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けてデータベースに保管する工程と、
ＩＣカードに対して、非接触ＩＣのインターフェイスで、カードＩＤを読み出し、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションにアクセスして、このカードＩＤと、これらアクセス結果とを関連付けてデータベースに保管する工程と、
データベースで、接触ＩＣ、非接触ＩＣ、それぞれのアプリケーションについて、カードＩＤに関連付けられている、接触ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果と、非接触
ＩＣのインターフェイスでのアクセス結果との照合を行う工程とを含むことを特徴とする検査方法としたものである。
【００１６】
また請求項４の発明では、データベースは、カードの前記アクセス結果以外の製造履歴情報も、カードＩＤに関連付けて保管するものであり、
ＩＣカードからカードＩＤを読み出し、このカードＩＤをトレーサビリティＩＤとしてＩＣカードの表面に印字するか、或いは、トレーサビリティＩＤを生成してＩＣカードの表面に印字すると共に、このカードＩＤと、このトレーサビリティＩＤとを関連付けてデータベースに保管する工程を含むことを特徴とする請求項３記載の検査方法としたものである。
【発明の効果】
【００１７】
請求項１及び３の発明は、デュアルインターフェイスカードのクロスアクセス機能の検査ができるという効果がある。
【００１８】
請求項２及び４の発明は、トレーサビリティ管理が容易に行えるという効果がある。
【００１９】
従って、本発明は、少なくとも、デュアルインターフェイスカードのクロスアクセス機能の検査ができ、さらには、トレーサビリティ管理が容易に行えるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】デュアルインターフェースカードのクロスアクセス機能を説明する図。
【図２】本発明の一実施形態に係る検査発行システムの全体構成例を示す図。
【図３】本発明の一実施形態に係る検査発行システムによるデュアルインターフェースカードのクロスアクセス機能の検査でのデータの流れの例を説明する図。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下に、本発明の一実施形態を説明する。
【００２２】
１．構成
本実施形態の検査発行システムは、図２に示すように、カードＩＤ付与／取得部と、物理的検査部と、接触ＩＣ検査発行部と、非接触ＩＣ検査発行部と、トレーサビリティＩＤ印字部と、一元管理用データベースとを備える。
【００２３】
図２の矢印に示すように、原則として、カードＩＤ付与／取得部、物理的検査部、接触ＩＣ検査発行部、非接触ＩＣ検査発行部、トレーサビリティＩＤ印字部の順で、それぞれの部は、ＩＣカードに対して、処理を施しても良く、この順に拘束されなくても良い。
【００２４】
１．１．カードＩＤ付与／取得部
カードＩＤ付与／取得部は、ＩＣカードのＩＣチップ内に、未だユニークなカードＩＤが入っていない場合には、このカードＩＤを生成して、このＩＣチップに書き込むと共に、一元管理用データベースに保管し、他方、ＩＣカードのＩＣチップ内に、既にユニークなカードＩＤが入っている場合には、このＩＣチップから、このカードＩＤを読み出して取得して、一元管理用データベースに保管する。
【００２５】
１．２．物理的検査部
物理的検査部は、カード媒体の物理的要素について検査を行う。物理的要素には、例え
ば、カードの外形寸法や厚み、反り、突起、凹み、接触モジュールの端子段差などの加工結果が挙げられる。
【００２６】
また物理的検査部は、ＩＣカードのＩＣチップ内から、カードＩＤを読み出して取得して、このカードＩＤと検査結果とを関連付けて一元管理用データベースに保管する。
【００２７】
１．３．接触ＩＣ検査発行部
接触ＩＣ検査発行部は、接触ＩＣモジュールの規格で定められている接触端子Ｃ１〜Ｃ８の各端子に、ＩＣとのコンタクト用のピンを接触させた状態の接触ＩＣのインターフェイスで、ＩＣカードに検査及び発行のコマンドを実行させる。
【００２８】
検査と発行には、例えば、以下のようなものがある。
（１）ＲＳＴ、ＣＬＫ、Ｉ／Ｏ、ＶＰＰの断線確認。
（２）ＲＳＴ、ＣＬＫ、Ｉ／Ｏ、ＶＰＰのリーク確認。
（３）消費電流（ＶＤＤ：５．０Ｖ）の確認。
（４）ＡＴＲの期待値とのべリファイを行う。
（５）領域設定（ＩＣイニシャライズ）を行う。
【００２９】
また接触ＩＣ検査発行部は、ＩＣカードのＩＣチップ内から、カードＩＤを読み出して取得して、このカードＩＤと検査及び発行結果とを関連付けて一元管理用データベースに保管する。
【００３０】
１．４．非接触ＩＣ検査発行部
非接触ＩＣ検査発行部は、微弱電波用のアンテナを採用した非接触ＩＣ用のリーダライタを備え、このリーダライタのアンテナにＩＣカードが物理的に近づいた状態（リーダライタとＩＣカードとの間は５ｍｍ程度）の非接触ＩＣのインターフェイスで、ＩＣカードに検査及び発行のコマンドを実行させる。
【００３１】
微弱電波用のアンテナを採用するのは、複数の非接触ＩＣ検査発行部を隣接させた場合、非接触ＩＣカードとリーダライタとの個々の組の間での平行した通信処理時に、近接する組同士で干渉の影響が出ないようにするためである。
【００３２】
検査と発行には、例えば、以下のようなものがある。
（１）非接触ＩＣの機能検査。
（２）非接触ＩＣの周波数（共振周波数と回路の反射損失量）検査。
（３）０次発行、１次発行。
【００３３】
尚、０次発行とは、ＩＣカードに対して、ＩＣカードの正常動作の検査、ＩＤ（製造ＩＤデータ）のＩＣ書込みなどの処理を行うことである。
【００３４】
また、１次発行とは、独自アプリを書き込むためのエリアを作る処理を行うことである。
【００３５】
また非接触ＩＣ検査発行部は、ＩＣカードのＩＣチップ内から、カードＩＤを読み出して取得して、このカードＩＤと検査及び発行結果とを関連付けて一元管理用データベースに保管する。
【００３６】
１．５．トレーサビリティＩＤ印字部
トレーサビリティＩＤ印字部は、印字装置を備え、この印字装置でＩＣカード表面にユニークなＩＤ（トレーサビリティＩＤ）を印字する。
【００３７】
印字装置は、レーザー印字装置やインクジェットプリンタでも良い。
【００３８】
トレーサビリティＩＤは、ＩＣカードのＩＣチップ内に入っているカードＩＤでも良い。この場合、トレーサビリティＩＤ印字部は、ＩＣカードのＩＣチップ内からカードＩＤを読み出して取得して、カード表面に印字する。
【００３９】
またトレーサビリティＩＤは、ＩＣカードのＩＣチップ内に入っているカードＩＤとは全く無関係な、例えば、英数字のシリアル番号であっても良い。この場合、トレーサビリティＩＤ印字部は、トレーサビリティＩＤを生成して、ＩＣカード表面に印字すると共に、ＩＣカードのＩＣチップ内からカードＩＤを読み出して取得して、このカードＩＤとトレーサビリティＩＤとを関連付けて一元管理用データベースに保管する。
【００４０】
１．６．一元管理用データベース
一次元管理用データベースは、カードＩＤと、トレーサビリティＩＤと、製造履歴情報として、物理的検査部による検査結果と、接触ＩＣ検査発行部による検査及び発行結果と、非接触ＩＣ検査発行部による検査及び発行結果と、クロスアクセス機能検査結果とを関連付けしたデータを、一つのデータテーブルに保管する。クロスアクセス機能検査については、後述する。
【００４１】
このデータは、製造履歴情報から任意の項目だけを選択して、検索、出力することができる。またトレーサビリティＩＤを利用して、このデータを、カード発行確認、出荷検査用資料などにも使用することができる。例えば、カードのシリアル番号を始め、日付や不良項目毎に検索することが可能であり、不良カードの解析や不良率の調査などに使用することができる。
【００４２】
２．クロスアクセス機能の検査
本実施形態の検査発行システムによるデュアルインターフェースカードのクロスアクセス機能の検査の処理の流れの例を、以下のＳＴＥＰ１〜７に従って説明する。尚、この処理例でのデータの流れを、図３に示す。
【００４３】
Ｓ（ＳＴＥＰ）１；
本実施形態の検査発行システムの接触ＩＣ検査発行部は、接触ＩＣのインターフェースで、接触ＩＣのアプリケーションを実行するためのコマンドをデュアルインターフェースカードに送信することにより、接触ＩＣのアプリケーションにアクセスし、デュアルインターフェースカードから接触ＩＣのアプリケーションの実行結果を受信することにより、そのアクセス結果を受け取る。
【００４４】
Ｓ（ＳＴＥＰ）２；
本実施形態の検査発行システムの接触ＩＣ検査発行部は、接触ＩＣのインターフェースで、非接触ＩＣのアプリケーションを実行するためのコマンドをデュアルインターフェースカードに送信することにより、非接触ＩＣのアプリケーションにアクセスし、デュアルインターフェースカードから非接触ＩＣのアプリケーションの実行結果を受信することにより、そのアクセス結果を受け取る。
【００４５】
Ｓ（ＳＴＥＰ）３；
本実施形態の検査発行システムの接触ＩＣ検査発行部は、ＩＣカードのＩＣチップ内から、カードＩＤを読み出して取得して、このカードＩＤと、接触ＩＣのインターフェースでの接触ＩＣのアプリケーションのアクセス結果と、接触ＩＣのインターフェースでの非接触ＩＣのアプリケーションのアクセス結果とを関連付けて、クロスアクセス機能検査結
果の一部として、一次元管理用データベースに保管する。
【００４６】
Ｓ（ＳＴＥＰ）４；
本実施形態の検査発行システムの非接触ＩＣ検査発行部は、非接触ＩＣのインターフェースで、非接触ＩＣのアプリケーションを実行するためのコマンドをデュアルインターフェースカードに送信することにより、非接触ＩＣのアプリケーションにアクセスし、デュアルインターフェースカードから非接触ＩＣのアプリケーションの実行結果を受信することにより、そのアクセス結果を受け取る。
【００４７】
Ｓ（ＳＴＥＰ）５；
本実施形態の検査発行システムの非接触ＩＣ検査発行部は、非接触ＩＣのインターフェースで、接触ＩＣのアプリケーションを実行するためのコマンドをデュアルインターフェースカードに送信することにより、接触ＩＣのアプリケーションにアクセスし、デュアルインターフェースカードから接触ＩＣのアプリケーションの実行結果を受信することにより、そのアクセス結果を受け取る。
【００４８】
Ｓ（ＳＴＥＰ）６；
本実施形態の検査発行システムの非接触ＩＣ検査発行部は、ＩＣカードのＩＣチップ内から、カードＩＤを読み出して取得して、このカードＩＤと、非接触ＩＣのインターフェースでの接触ＩＣのアプリケーションのアクセス結果と、非接触ＩＣのインターフェースでの非接触ＩＣのアプリケーションのアクセス結果とを関連付けて、クロスアクセス機能検査結果の一部として、一次元管理用データベースに保管する。
【００４９】
Ｓ（ＳＴＥＰ）７；
本実施形態の検査発行システムは、一次元管理用データベースで、カードＩＤと関連付けられている、接触ＩＣのインターフェースでの接触ＩＣのアプリケーションのアクセス結果と、非接触ＩＣのインターフェースでの接触ＩＣのアプリケーションのアクセス結果との照合を行って、このカードＩＤと、この照合結果とを関連付けて、クロスアクセス機能検査結果の一部として、一元管理用データベースに保管する。
【００５０】
３．その他
本実施形態の検査発行システムでは、トレーサビリティＩＤの他に、固定の字なども印字することが可能である。また、検査発行が正常に完了した製品に、不良品の混入を防ぐために、不良品に対して、任意に設定したエラーコードを印字することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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