(57)【要約】      （修正有）【課題】記録層を３層以上有する多層光記録媒体の製品コストの削減を図る。【解決手段】或る規定数の記録層を有する多層光記録媒体の製造にあたり、上記規定数の記録層のみを形成するのではなく、規定数以上の余剰の記録層を形成する。規定数の記録層以外の余剰の記録層を形成しておくことで、余剰の記録層の形成に伴う製造コストの増加分よりも、余剰の記録層を設けたことによる実効的な歩留の向上効果の方がはるかに上回るようにすることができ、製品コストの削減が図られるようにできる。但し当該手法により製品コストの削減を図る場合、情報記録が不能な無効な記録層を有する光記録媒体の流通も許容する必要性があるため、光記録媒体に対して有効／無効層識別情報を記録するものとし、記録装置側では当該有効／無効層識別情報に基づき有効な記録層のみを対象として情報記録が行われるようにする。【選択図】図６
2011100525.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光の照射により主の情報の記録再生が行われる光ディスクを有して構成される光記録媒体であって、
上記光ディスクが３以上の記録層を有すると共に、上記記録層ごとに上記主の情報の記録可能／不能の別を表す有効／無効層識別情報が記録されている
光記録媒体。
【請求項２】
上記有効／無効層識別情報は、上記光ディスクに対して光学的な手段により記録されている請求項１に記載の光記録媒体。
【請求項３】
上記有効／無効層識別情報は、上記光ディスクにおけるＢＣＡ（Burst Cutting Area）に対して記録されている請求項２に記載の光記録媒体。
【請求項４】
上記有効／無効層識別情報は、上記光記録媒体における上記光ディスク以外の部分に対して非光学的な手段により記録されている
請求項１に記載の光記録媒体。
【請求項５】
上記光記録媒体は、上記光ディスクと上記光ディスクを内部に格納したカートリッジとを有して構成されており、
上記有効／無効層識別情報は、上記カートリッジ内に設けられた半導体メモリに対して記録されている
請求項４に記載の光記録媒体。
【請求項６】
光の照射により主の情報の記録再生が行われる光ディスクを有して構成される光記録媒体であって、上記光ディスクが３以上の記録層を有すると共に、上記記録層ごとに上記主の情報の記録可能／不能の別を表す有効／無効層識別情報が記録されている光記録媒体より、上記有効／無効層識別情報を読み出す有効／無効層識別情報読出部と、
上記光ディスクに対してレーザ光照射を行って上記記録層にマークを形成することによって上記主の情報の記録を行う記録部と、
上記有効／無効層識別情報読出部により読み出した上記有効／無効層識別情報に基づき、有効な記録層のみを対象として上記記録部による上記主の情報の記録が行われるように制御を行う記録制御部と
を備える記録装置。
【請求項７】
上記有効／無効層識別情報は、上記光ディスクに対して光学的な手段により記録されており、
上記有効／無効層識別情報読出部は、
上記記録部が有する上記レーザ光の光学系を利用して上記有効／無効層識別情報を読み出す
請求項６に記載の記録装置。
【請求項８】
上記有効／無効層識別情報は、上記光記録媒体における上記光ディスク以外の部分に対して非光学的な手段により記録されており、
上記有効／無効層識別情報読出部は、
上記記録部が有する上記レーザ光の光学系とは別途に設けられた非光学的な手段によって上記有効／無効層識別情報を読み出す
請求項６に記載の記録装置。
【請求項９】
光の照射により主の情報の記録再生が行われる光ディスクを有して構成される光記録媒体であって上記光ディスクが３以上の記録層を有する光記録媒体について、上記光ディスクの上記記録層ごとに上記主の情報の記録可能／不能の別を検査する検査部と、
上記検査部による検査結果に基づき生成した上記記録層ごとの上記主の情報の記録可能／不能の別を表す有効／無効層識別情報を、上記光記録媒体に対して記録する有効／無効層識別情報記録部と、
上記光記録媒体より上記有効／無効層識別情報を読み出す有効／無効層識別情報読出部と、
上記光ディスクに対してレーザ光照射を行って上記記録層にマークを形成することによって上記主の情報の記録を行う記録部と、
上記有効／無効層識別情報読出部により読み出した上記有効／無効層識別情報に基づき、有効な記録層のみを対象として上記記録部による上記主の情報の記録が行われるように制御を行う記録制御部と
を備える記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光の照射により情報の記録再生が行われる光記録媒体に関する。また、上記光記録媒体に対する情報記録を行う記録装置に関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】国際公開第ＷＯ２００６／１０６７３５号パンフレット
【特許文献２】特開２００８−２８７８５４号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。
【０００４】
これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなどの光記録媒体においては、記録容量の増大化を図るための１つのアプローチとして、記録層を多層化するという手法が採られる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、記録層を多層化した多層光記録媒体は、単層の光記録媒体と比較すると一般に製造コスト（ここでの「製造コスト」は製造装置の初期投資コストや材料費などのランニングコスト、タクトタイムを考え、歩留分は考慮していないとする）が大となり、また記録層を積層するプロセスが層数の増加に伴い増えることから歩留の悪化も生じる。
このため、多層光記録媒体は、最終的に製品として出荷するまでに要する「製品コスト」が大となり、また大記録容量化を推し進めた場合の「製品コスト」の増加が著しくなる。「製品コスト」は、上記製造コストと上記歩留とを併せて考慮したものであり、後に詳述する。
【０００６】
本発明は以上の点に鑑み為されたものであり、多層光記録媒体の製品コストの増大化を抑制することをその課題とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題の解決のため、本発明では光記録媒体として以下のように構成することとした。
すなわち、本発明の光記録媒体は、光の照射により主の情報（コンテンツデータ等）の記録再生が行われる光ディスクを有して構成される光記録媒体であって、上記光ディスクが３以上の記録層を有すると共に、上記記録層ごとに上記主の情報の記録可能／不能の別を表す有効／無効層識別情報が記録されているものである。
ここで、記録可能とは一部のみ記録が可能な場合も含む。従って有効層とは一部記録を可能とした記録層も含むこととする。
【０００８】
また本発明では記録装置として以下のように構成することとした。
つまり、光の照射により主の情報の記録再生が行われる光ディスクを有して構成される光記録媒体であって、上記光ディスクが３以上の記録層を有すると共に、上記記録層ごとに上記主の情報の記録可能／不能の別を表す有効／無効層識別情報が記録されている光記録媒体より、上記有効／無効層識別情報を読み出す有効／無効層識別情報読出部を備える。
また、上記光ディスクに対してレーザ光照射を行って上記記録層にマークを形成することによって上記主の情報の記録を行う記録部を備える。
さらに、上記有効／無効層識別情報読出部により読み出した上記有効／無効層識別情報に基づき、有効な記録層のみを対象として上記記録部による上記主の情報の記録が行われるように制御を行う記録制御部を備えるものである。
【０００９】
また本発明では記録装置として以下のようにも構成することとした。
すなわち、光の照射により主の情報の記録再生が行われる光ディスクを有して構成される光記録媒体であって上記光ディスクが３以上の記録層を有する光記録媒体について、上記光ディスクの上記記録層ごとに上記主の情報の記録可能／不能の別を検査する検査部を備える。
また、上記検査部による検査結果に基づき生成した上記記録層ごとの記録可能／不能の別を表す有効／無効層識別情報を、上記光記録媒体に対して記録する有効／無効層識別情報記録部を備える。
また、上記光記録媒体より上記有効／無効層識別情報を読み出す有効／無効層識別情報読出部を備える。
また、上記光ディスクに対してレーザ光照射を行って上記記録層にマークを形成することによって上記主の情報の記録を行う記録部を備える。
さらに、上記有効／無効層識別情報読出部により読み出した上記有効／無効層識別情報に基づき、有効な記録層のみを対象として上記記録部による上記主の情報の記録が行われるように制御を行う記録制御部を備えるものである。
【００１０】
ここで、本出願人は、多層光記録媒体の出荷までに要する最終的な「製品コスト」の削減を図るための手法として、或る規定数の記録層を有する（つまり規定の記録容量を有する）光記録媒体の製造にあたり上記規定数の記録層のみを形成するのではなく、規定数以上の余剰の記録層を形成した光記録媒体を製造するという手法を考案するに至った。
例えば、規定数の記録層のみを有する光記録媒体を製造した場合には、記録層のうち１つでも無効な層が形成されてしまうと、その光記録媒体は製品として出荷することができず、ロスが生じる。これに対し上記余剰の記録層を形成しておけば、後に詳述するようにして規定数の記録層のみを形成する手法と比較してロス（有効記録層の層数が規定数に満たない光記録媒体）となる確率を低下でき、結果として「製品コスト」の削減が図られるようにすることができる。
但し、当該手法により製品コストの削減を図るとした場合は、主の情報の記録が不能な無効な記録層を有する光記録媒体の流通も許容する必要性がある。
この点を考慮し本発明では、上記のようにして光記録媒体に対して有効／無効層識別情報を記録するものとし、また記録装置側では、当該有効／無効層識別情報に基づき有効な記録層のみを対象として主の情報の記録が行われるようにしている。
このような本発明により、上記余剰の記録層の形成によって製品コストの削減を図る手法（無効な記録層を有する光記録媒体の流通を許容する手法）の実現化が図られるようにすることができる。
【発明の効果】
【００１１】
上記のようにして本発明によれば、余剰の記録層の形成によって製品コストの削減を図る手法（無効な記録層を有する光記録媒体の流通を許容する手法）の実現化が図られるようにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】単層光記録媒体の製造方法を例示した図である。
【図２】２層光記録媒体の製造方法を例示した図である。
【図３】多層光記録媒体の製造方法を例示した図である。
【図４】規定記録層数を２０層とした場合における中間層・記録層の１組を積層する際の歩留（仕掛品歩留）と多層光記録媒体製造にあたっての実効的な歩留（製品歩留）との関係を、余剰層として設ける記録層の層数ごとに示した図である。
【図５】規定記録層数を２０層とした場合における中間層・記録層の１組を積層する際の歩留（仕掛品歩留）と多層光記録媒体の製品コストとの関係を、余剰層として設ける記録層の層数ごとに示した図である。
【図６】第１の実施の形態の場合における製品製造から実使用時までの流れについて説明するための図である。
【図７】有効／無効層識別情報の具体的な内容の一例を示した図である。
【図８】第１の実施の形態としての記録装置の内部構成について説明するための図である。
【図９】第２の実施の形態の場合における製品製造から実使用時までの流れについて説明するための図である。    図である。
【図１０】第２の実施の形態としての記録装置の内部構成について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行う。
＜１．多層光記録媒体の製品コスト削減手法について＞
[1-1．多層光記録媒体の製造方法例]
[1-2．製品コスト削減の具体的な手法]
＜２．第１の実施の形態＞
[2-1．製品製造から実使用時までの流れ]
[2-2．第１の実施の形態としての記録装置の構成]
＜３．第２の実施の形態＞
[3-1．製品製造から実使用時までの流れ]
[3-2．第２の実施の形態としての記録装置の構成]
＜４．変形例＞
【００１４】
＜１．多層光記録媒体の製品コスト削減手法について＞
[1-1．多層光記録媒体の製造方法例]
先ずは図１を参照して、記録層を１層のみ有する単層光記録媒体の製造方法の例について説明する。
ここで以下の説明において、光記録媒体は、ディスク形状を有する光ディスクであるものとする。上記記録層には、レーザ光の照射に伴うマークの形成により主の情報（ユーザデータ、コンテンツデータ）についての記録が行われる。
図１においては、記録層を１層のみ有する単層光ディスクＤ-slの製造方法の一例として、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）の単層ディスク（いわゆるＳＬ：Single Layer）についての製造方法を例示している。
【００１５】
単層光ディスクＤ-slの製造にあたっては、先ずは図１（ａ）の基板生成工程により、その片面に凹凸断面形状（ピットやグルーブなどの形成に伴う凹凸断面形状）が与えられて位置情報などの必要な情報の記録が行われた基板ＢＳを生成する。
図示は省略したが、この基板生成工程が行われる前の段階で、原盤生成工程として、マスタリング装置を使用して例えばウォブリンググルーブ等の形成により位置情報（例えば半径位置情報や回転角度情報などの絶対位置情報）の記録が行われたディスク原盤が生成される。基板生成工程は、当該ディスク原盤から生成したスタンパを用いた射出成形によって基板ＢＳを生成する工程となる。
【００１６】
そして、図１（ｂ）に示す記録層積層工程により、上記基板ＢＳの上記位置情報の記録が行われた面（凹凸断面形状が与えられた面）側に対して、記録膜（記録層）Ｒが成膜（積層）される。
【００１７】
その上で、図１（ｃ）に示すカバー層積層工程により、上記記録膜Ｒ上に対し例えば樹脂によるカバー層ＣＶが積層される。
カバー層ＣＶの積層手法は、例えば紫外線硬化樹脂をスピンコートし紫外線照射により硬化する手法や、予め所定の膜厚に調整されたシート状の樹脂フィルムを接着層で貼り付ける手法などを挙げることができる。
【００１８】
続いて、図２を参照し、記録層を２層有する２層光ディスクＤ-dlの製造方法の一例として、ＢＤの２層ディスク（いわゆるＤＬ：Dual Layer）の製造方法について説明する。
この場合、図２（ａ）の基板生成工程、図２（ｂ）の記録層積層工程はそれぞれ図１（ａ）、図１（ｂ）にて説明したものと同様となる。
【００１９】
２層光ディスクＤ-dlを製造する場合は、単層光ディスクＤ-slの場合と比較して、図２（ｃ）に示す中間層積層工程、及び図２（ｄ）に示す２度目の記録層積層工程が追加されることになる。
中間層は、記録層を離間して配置するために設けられるものであり、特にこの場合の中間層Ｍｉｄは、新たに形成される記録層（図中の半透明記録膜Ｒｈｍ）に対して位置情報を埋め込むための層としても機能するものとなっている。
図２（ｃ）に示す中間層積層工程においては、基板ＢＳ上に積層された記録膜Ｒ上に対して、例えば紫外線硬化樹脂をスピンコートにより塗布或いはシート状にゲル化させた紫外線硬化樹脂を載置した状態にて、前述のスタンパを用いて位置情報の記録（転写）を行い、その上で紫外線照射を行って当該紫外線硬化樹脂を硬化させる。これにより図中に示される中間層Ｍｉｄの積層状態を得ることができる。
【００２０】
そしてこの場合、図２（ｄ）に示す２度目の記録層積層工程では、積層する記録膜として、半透明記録膜Ｒｈｍを用いることになる。具体的に図２（ｄ）の記録層積層工程では、上記中間層Ｍｉｄ上に対して半透明記録膜Ｒｈｍを成膜（積層）する。
このことで、カバー層ＣＶ側から入射するレーザ光が、上記半透明記録膜Ｒｈｍを介して記録膜Ｒまで到達することが可能となる。
【００２１】
このように中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍとを積層した後、図２（ｅ）に示すカバー層積層工程として、上記半透明記録膜Ｒｈｍ上に対して先の図１（ｃ）にて説明した手法と同様の手法によりカバー層ＣＶを積層する。
【００２２】
図３は、図１、図２に示したディスク製造方法に基づき記録層を３以上有する多層光ディスクＤ-mlを製造する方法を示している。
この図３を参照して理解されるように、記録層を３以上有する多層光ディスクＤ-mlは、基板ＢＳに対する記録膜Ｒの積層後に、図中の破線により囲って示す、中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍの１組の積層工程が少なくとも２回以上繰り返し行われることで製造される。
この点からも理解されるように、多層光ディスクＤ-mlに関して記録層数を増やすにあたっては、上記中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍの１組の積層工程が繰り返されることになる。
【００２３】
[1-2．製品コスト削減の具体的な手法]
以上の前提を踏まえた上で、以下、多層光ディスクＤ-mlの製品コスト削減のための具体的な手法について説明していく。
先ず、従来の多層光ディスクＤ-mlの製造手法について考えてみると、従来においては、規定の記録容量（記録層数)を有するディスク製品の製造にあたり、規定数の記録層のみを形成するようにされている。このために、記録層の層数を増やすごとに歩留が大幅に悪化する傾向となり、大記録容量化を推し進める場合のコストの増加が著しいものとなる。
以下、この点について考察してみる。
【００２４】
先ず、本明細書においては、「製造コスト」と「製品コスト」という語を用いる。
「製造コスト」は、製造装置の初期投資コストや材料費などのランニングコスト、タクトタイムを考慮したものであり、歩留分は考慮に入れないものとする。
「製品コスト」は、歩留分も考慮に入れた概念であり、最終的に製品の出荷までに要するコストを指す。
【００２５】
ここで、図１（ｃ）に示される単層光ディスクＤ-slの１枚あたりの製造コストをＣＴ1、歩留をＹＲ1とおく。
また、図２（ｅ）に示される２層光ディスクＤ-dlの１枚あたりの製造コストをＣＴ2、歩留をＹＲ2とおく。
さらに、記録層がＮ層（但しＮ≧３）の多層光ディスクＤ-mlの１枚あたりの製造コストをＣＴN、歩留をＹＲNとおく。
前述のように多層光ディスクＤ-mlの製造にあたっては、中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍの積層工程が繰り返される。この点を考慮すると、多層ディスクＤ-mlの製造コストＣＴN、歩留ＹＲNは、単層光ディスクＤ-sl及び２層光ディスクＤ-dlの製造コスト、歩留に基づきそれぞれ以下の[式１]、[式２]のように表すことができる。
ＣＴN≒ＣＴ1＋（ＣＴ2−ＣＴ1）×（Ｎ−１）    ・・・[式１]
ＹＲN≒ＹＲ1×（ＹＲ2／ＹＲ1）N-1＝ＹＲ2N-1／ＹＲ1N-2    ・・・[式２]
【００２６】
一般に単層光ディスクＤ-slの歩留は良く、１００％近い数値が期待できる。一方で中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍを形成するプロセスは歩留が悪く、このためＹＲ2＜ＹＲ1となる。
２層光ディスクＤ-dlは記録層として基板ＢＳ上に１層、中間層Ｍｉｄ上に１層の計２層を有する。また多層光ディスクＤ-mlの記録層数は、基板ＢＳ上に１層、中間層Ｍｉｄ上のＮ−１層の合計Ｎ層となる。
２層光ディスクＤ-dlの歩留ＹＲ2は、上述のように単層光ディスクＤ-slの歩留が１００％近い値を期待できる点を考慮すると、中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍを形成する歩留（仕掛品歩留）とほぼ等しいと見なすことができる。
【００２７】
上記[式１]は、記録層数が増えて中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍの形成プロセスが増えると製造コストもそれに比例して増えることを示している。
例えば、基板ＢＳ上に記録層を１層形成した後、中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍを形成する装置で残りのＮ−１層を形成するには、当該装置をＮ−１回繰り返し用いる必要がある。このため、Ｎ層の多層光ディスクＤ-mlのタクトタイムはおよそＮ−１倍になる。或いは、中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍの形成装置をＮ−１組に増やし、２層光ディスクＤ-dlと略同一のタクトタイムを実現した場合にも、初期投資コストがＮ−１倍となる。これらの点を考慮すると、［式１］が成り立つことが理解できる。
【００２８】
[式２]は、Ｎ層の多層光ディスクＤ-mlを実現するには、不良のない中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍの組をＮ−１回連続して形成する必要があることを表している。これは、１層でも不良層がある場合には他の層に不良がなくともＮ層の多層光ディスクＤ-mlとしては不良品とみなされるためである。
【００２９】
このように最終的に良品として出荷できる光ディスクの製造にあたって歩留を考慮して算出したコストが、「製品コスト」となる。すなわち、当該製品コストＧとおくと、
Ｇ＝ＣＴ／ＹＲ    ・・・[式３]
と表せる。
【００３０】
単層光ディスクＤ-slの製品コストをＧ1、２層光ディスクＤ-dlの製品コストをＧ2、多層光ディスクＤ-mlの製品コストをＧNとおくと、
Ｇ1＝ＣＴ1／ＹＲ1    ・・・[式４.１]
Ｇ2＝ＣＴ2／ＹＲ2    ・・・[式４.２]
ＧN＝ＣＴN／ＹＲN
＝｛ＣＴ1＋（ＣＴ2−ＣＴ1）×（Ｎ−１）｝×ＹＲ1N-2／ＹＲ2N-1
・・・[式４.３]
である。
【００３１】
これら[式４.１]〜[式４.３]より、多層光ディスクＤ-mlの製品コストＧNは、単層光ディスクＤ-slや２層光ディスクＤ-dlの製品コストＧ1、Ｇ2と比較して非常に大きく、さらに記録層数の増加に伴って製品コストの増加率が飛躍的に大きくなるという点が理解できる。
【００３２】
ここで本出願人は、このような多層光ディスクＤ-mlの製品コスト高の問題解決を図るための手法として、以下のような手法を考案した。
すなわち、予め不良層の発生を想定し、実際に必要な規定の記録層数よりも多くの記録層を有する多層光ディスクＤ-mlを製造するという手法である。例えば、規定の記録層数をｘとすると、余剰層としてＭ層の記録層を追加的に形成して、合計でｘ＋Ｍ＝Ｎ層の多層光ディスクＤ-mlを製造するというものである。
【００３３】
このような本実施の形態としての多層光ディスクＤ-mlは、例えばｘ層の光ディスク製品として販売するとした場合には、実際はＮ層の記録層を有していながら、そのうちのｘ層のみを有効な記録層として用いる（すなわちＮ−ｘ＝Ｍ層は使用しない）といった使用法が採られることになる。
【００３４】
上記のように余剰層としてＭ層の記録層を追加的に設ける（Ｍ層の余剰層を交代層として用いる）ものとすれば、記録層の総数Ｎのうち不良の層数がＭ以下であれば規定の記録層数ｘを確保することができ、結果として実効的な歩留を向上させることができる。
【００３５】
ここで、このようにＭ層の余剰層を有する本実施の形態としての多層光ディスクＤ-mlの歩留をＹＲNMとおく。この歩留（製品歩留）ＹＲNMは、合計でＮ層を形成する際に不良層がＭ層以下となる確率であると見ることができる。
具体的に、中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍの１組を形成する際の仕掛品歩留をα（＝ＹＲ2／ＹＲ1）として、上記製品歩留ＹＲNMを求めると次の[式５]のようになる。
但し[式５]の導出にあたり、単層光ディスクＤ-slを製造する際の歩留ＹＲ1は簡単のため１００％と仮定した。
ＹＲNM＝αN＋αN-1×（１−α）×NＣ1＋αN-2×（１−α）2×NＣ2＋・・・＋αN-M+1×（１−α）M-1×NＣM-1＋αN-M×（１−α）M×NＣM    ・・・[式５]
具体的な例として、Ｎ＝２０＋Ｍとして計算すると
ＹＲNM＝α20+M＋α19+M×（１−α）×20+MＣ1＋α18+M×（１−α）2×20+MＣ2＋・・・＋α21×（１−α）M-1×20+MＣM-1＋α20×（１−α）M×20+MＣM
となる。
【００３６】
図４は、規定記録層数ｘ＝２０とした場合における、中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍの１組を積層する際の仕掛品歩留αと多層光ディスクＤ-mlの製造にあたっての製品歩留との関係を、余剰層として設ける記録層の層数Ｍごとに示している。
この図４においては、横軸を中間層Ｍｉｄと半透明記録膜Ｒｈｍを１組を形成する際の仕掛品歩留α、縦軸を多層光ディスク製造にあたっての製品歩留ＹＲNMとして、余剰層の層数Ｍをそれぞれ０、１、２、５、１０とした場合の計算結果を示している。
【００３７】
ここで、先にも述べた通り、現状においては、仕掛品歩留αを１００％近い数値とすることは困難となる。この点を踏まえて図４を参照すると、余剰層を設ける（Ｍ≠０）本実施の形態の手法によれば、余剰層を設けない従来の場合と比較して製品歩留ＹＲNMを向上できることが分かる。
また、実施の形態の手法によれば、余剰層の層数Ｍを増加させることで製品歩留ＹＲNMのさらなる向上が図られることが分かる。
【００３８】
このようにして余剰層の層数Ｍを増やすことにより、製品歩留ＹＲNMの向上が図られるものとなる。
一方で、最終的な製品コストＧを考える場合、余剰層の層数Ｍを増やすことによる製造コストＣＴの増加分を考慮に入れなければならない。
【００３９】
図５は、規定記録層数ｘ＝２０とした場合における仕掛品歩留αと製品コストとの関係を余剰層として設ける記録層の層数Ｍごとに示した図である。
なおこの図５において、縦軸の製品コストの値は、余剰層を設けずＭ＝０とする従来の手法を採る場合において仕掛品歩留αが１００％であるときの製品コストを１とした場合の数値で表している。
またこの図５においても余剰層の層数Ｍをそれぞれ０、１、２、５、１０とした場合の計算結果を示している。
【００４０】
図示するようにして横軸の仕掛品歩留αが１００％であるときには、製品コストは余剰層が少ないほど小で、余剰層が増加するに従って大となる。
しかしながら仕掛品歩留αの値が小となる（悪化する）につれて、この関係は次第に逆転していくものとなり、余剰層の層数Ｍが大であるほど製品コストの削減が図られる。つまり、前述のように仕掛品歩留αを１００％にできない現状においては、余剰層を設けることによる製品コストの増加分よりも、余剰層を設けたことで製品歩留ＹＲNMが向上して製品コストの削減が図られる効果の方がはるかに大となるものである。
【００４１】
図５の計算結果によると、規定記録層数ｘ＝２０とする場合においては、仕掛品歩留αがおよそ８５％〜９５％の範囲内であれば余剰層の数はＭ＝５程度が適当であり、また仕掛品歩留αがおよそ８５％以下であればＭ＝１０程度が適当であることが分かる。
【００４２】
＜２．第１の実施の形態＞
[2-1．製品製造から実使用時までの流れ]
上記の説明からも理解されるように、余剰の記録層を設けるという本実施の形態としての手法を採ることにより、有効な記録層が規定数以上確保された良品としての多層光ディスクＤ-mlの製品コストを有効に削減することができる。
【００４３】
ここで、このような余剰の記録層を有する多層光ディスクＤ-mlは、製品としては、少なくとも規定の層数分有効な記録層を有していればよく、換言すれば、それ以外の記録層は全て不良であっても構わないことになる。
この点からも理解されるように、上記により説明した本実施の形態としてのコスト削減手法は、多層光ディスクＤ-mlとして不良層（無効な記録層）を有する製品の流通を許容する手法となるものである。
【００４４】
このように無効な記録層の存在が許容される多層光ディスクＤ-mlに関して、通常の多層光ディスク製品と何ら違わぬ運用をした場合には、ディスクに対して適正に主の情報の記録再生を行うことができなくなる虞がある。
そこで本実施の形態では、余剰層が形成された多層光ディスクＤ-mlに対応する運用手法として、以下のような手法を提案する。
すなわち、多層光ディスクＤ-mlに対して、主の情報の記録可能／不能の別を示す有効／無効層識別情報を記録するものとし、記録装置側では、当該有効／無効層識別情報に基づき有効な記録層のみを対象として主の情報の記録を行うようにするというものである。
このような手法を採ることにより、上述のように不良層の存在が許容される多層光ディスクＤ-mlに対応して適正に主の情報の記録再生が行われるようにすることができ、結果として、余剰層を有する多層光ディスクＤ-mlの製造により製品コストＧの削減を図る手法の実現化が図られるようにすることができる。
【００４５】
以下、先ずは第１の実施の形態として、多層光ディスクＤ-mlに対する上記有効／無効層識別情報の記録を、製品出荷前に予め行っておくことを前提とした場合の手法について説明する。
【００４６】
図６は、第１の実施の形態の場合における製品製造から実使用時までの流れを示した図である。
先ずは図６（ａ）に示されるディスク製造工程により、図中のディスク製造装置１を用いて、先の図１〜図３を参照して説明した手法によって余剰層も含めて合計Ｎ層の記録層を有する実施の形態としての多層光ディスクＤ-mlを製造する。
【００４７】
そして、当該ディスク製造工程により製造された多層光ディスクＤ-mlについて、図６（ｂ）の検査工程により、図中の検査装置２を用いて記録層ごとに主の情報の記録が可能であるか不能であるかについての検査を行う。すなわち、記録層ごとに有効記録層／無効記録層を判定する検査を行うものである。
このような有効記録層／無効記録層の検査は、例えば記録層ごとに光照射を行い、その結果得られる反射光の受光信号の変化を記録層ごとに観察することで行うことができる。すなわち、半透明記録膜Ｒｈｍの成膜の失敗部分、或いは中間層Ｍｉｄの失敗部分では成功部分と比較して受光信号に変化が生じるので、その変化の有無を検出した結果に基づき有効記録層／無効記録層の別を判定する。
上記検査装置２による検査の結果、記録層ごとに主の情報の適正な記録が可能であるか不能であるかの別を示す有効／無効層識別情報が得られる。
【００４８】
なお確認のために述べておくと、無効な記録層となる不良層の発生は、主に、中間層Ｍｉｄのスピンコート時にゴミや埃の付着によって放射状に平坦性の損なわれた領域が生じ、その領域での透過光量や反射光量が変化することが原因となる。また、中間層Ｍｉｄにおいては前述のスタンパを用いた転写工程において、転写不良により一部（例えば外周部のみなど）位置情報を検出不能な領域が形成されてしまうという不良も生じ得る。さらには、半透明記録膜Ｒｈｍの形成において膜厚が設定値から外れたりコンタミネーションにより所望な光学特性（反射率や透過率）が得られないといったケースもある。
これらのケースのうち、中間層Ｍｉｄの積層工程に失敗した場合には、非平坦部分は記録面内の半径方向に放射状に形成される場合が殆どとなり、周内にそのような非平坦部分を含むとその箇所にて正常なフォーカス／トラッキングサーボなどの制御が困難となる。このため、このケースでは該当記録層を情報記録に用いることが非常に困難（実質的に不能）となり、その記録層全体を無効なものとして扱うことになる。
一方で、位置情報の一部転写不良による場合は、転写不良が生じていない半径位置においては正常なフォーカス／トラッキングサーボなどの制御を行うことができるので、その半径領域は有効領域として扱うことができる。従ってそのような場合は一部有効な記録層として扱うことになる。
以下の説明においては簡単のため、「無効な記録層（無効層）」はその全域が使用不能であるものとし、一部有効な記録層は含まないものとする。
【００４９】
ここで、図示は省略したが、前述の検査工程の結果、有効な記録層の数が規定記録層数ｘに満たないことが判明した多層光ディスクＤ-mlについては、出荷対象から除外することになる。
【００５０】
続いて、図６（ｃ）の層情報記録工程により、図中の層情報記録装置３を用いて多層光ディスクＤ-mlに対して検査結果としての有効／無効層識別情報の記録を行う。
ここで、本例において、多層光ディスクＤ-mlに対する上記有効／無効層識別情報の記録は、多層光ディスクＤ-mlの内周部分に設けられたＢＣＡ（Burst Cutting Area）にバーコード状の記録マークを形成することで行う。
この場合の上記層情報記録装置３は、このようなバーコード状の記録マークを形成するための光学系を有し、当該光学系に設けられた光源を上記有効／無効層識別情報に応じて発光駆動することで、ＢＣＡ内に上記有効／無効層識別情報の記録を行う。
【００５１】
このように有効／無効層識別情報をＢＣＡに対して記録することで、記録層に対して書き込み可能なデータ容量が減少してしまうことの防止を図ることができる。
【００５２】
ここで、上記有効／無効層識別情報の具体的な内容（データ構造）としては、次の図７に示すものを挙げることができる。
この図７では、記録層の別を識別するための情報として、各記録層のディスク表面からの光学距離（屈折率×表面からの距離）の情報を用いた例を示している。具体的にこの場合の有効／無効層識別情報としては、図示するように各記録層の表面からの光学距離の情報ごとに、有効／無効の別を表す情報を対応づけたものとなる。
【００５３】
なお、各記録層の表面からの光学距離の情報は、記録装置側で逐次記録層を選択して主の情報の記録を行う際に用いられるものであるが、このような記録層ごとの光学距離の情報は有効／無効層識別情報に対して格納しておく必要性はなく、例えばリードインエリア等のディスク上の所定領域に記録されたディスク固有情報内に格納しておくといったこともできる。この場合、有効／無効層識別情報としては、上記表面からの光学距離の情報以外で各記録層の別を識別するための識別情報と、有効／無効の別を表す情報とを対応づけた情報とすればよい。
【００５４】
或いは、各記録層を識別するための手法としては、上記のような光学距離の情報により間接的に識別する手法以外にも、例えば各記録層に対して直接的にマーカ（記録層の識別情報）を記録しておき、それを検出することで各記録層の別を識別するといった手法を採ることもできる。その場合も有効／無効層識別情報としては、光学距離の情報以外の識別情報と有効／無効の別を表す情報とを対応づけた情報とすることになる。
【００５５】
説明を図６に戻す。
第１の実施の形態では、上記のような有効／無効層識別情報が記録された多層光ディスクＤ-mlが、製品として出荷されることになる。
【００５６】
図６（ｄ）は、このように有効／無効層識別情報が記録された多層光ディスクＤ-mlについて記録を行う第１の実施の形態としての記録装置（ディスクドライブ装置４とする）が行う動作について示してる。
第１の実施の形態としてのディスクドライブ装置４では、上記多層光ディスクＤ-mlから読み出した有効／無効層識別情報に基づいて主の情報（ユーザデータ）の記録を行うことになる。具体的には、上記有効／無効層識別情報に基づき、有効な記録層のみを対象としてユーザデータの記録を行うものである。
【００５７】
[2-2．第１の実施の形態としての記録装置の構成]
図８は、図６（ｄ）に示される第１の実施の形態としてのディスクドライブ装置４の内部構成を示している。
先ず、当該ディスクドライブ装置４に対して装填された多層光ディスクＤ-mlは、図中のスピンドルモータ（ＳＰＭ）１１により回転駆動される。
そして、ディスクドライブ装置４には、このように回転駆動される多層光ディスクＤ-mlに対してマーク記録（主の情報の記録）及び再生を行うためのレーザ光を照射するための光学ピックアップ（ＯＰ）１２が設けられる。
【００５８】
図示は省略したが、上記光学ピックアップ１２内には、上記レーザ光の光源であるレーザダイオードと、上記レーザ光の多層光ディスクＤ-mlへの出力端となる対物レンズ、及び上記レーザ光の多層光ディスクＤ-mlからの反射光を受光するためのフォトディテクタが設けられる。
また、上記対物レンズをフォーカス方向（多層光ディスクＤ-mlに対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：多層光ディスクＤ-mlの半径方向）に変位可能に保持する２軸機構が設けられる。
【００５９】
また、図示は省略したが、上記光学ピックアップ１２全体は、スライド機構により上記トラッキング方向にスライド移動可能に保持されている。
【００６０】
上記光学ピックアップ１２内において、上述したフォトディテクタにより得られた受光信号は、マトリクス回路１３に対して供給される。
マトリクス回路１３は、上記フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
具体的には、多層光ディスクＤ-mlに記録された主の情報の記録信号（記録変調符号列）についての再生信号に相当する高周波信号（以降、再生信号ＲＦと称する）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
マトリクス回路１３により生成された上記再生信号ＲＦは記録／再生処理部１４に供給される。また、上記フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥは、サーボ回路１６に対して供給される。
【００６１】
記録／再生処理部１４には、再生時において、上記マトリクス回路１３からの再生信号ＲＦが入力される。再生時において記録／再生処理部１４は、上記再生信号ＲＦについて例えば２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理などの再生信号処理を行って、多層光ディスクＤ-mlに記録された主の情報を再生した再生データを得る。
また記録時には、記録／再生処理部１４には、多層光ディスクＤ-mlに対して記録すべき主の情報（記録データ）が入力される。記録／再生処理部１４は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、多層光ディスクＤ-mlに実際に記録される「０」「１」の２値データ列である記録変調符号列を得る。記録／再生処理部１４は、後述するコントローラ１５からの指示に基づき、このように生成した記録変調符号列に応じた光学ピックアップ１２内のレーザダイオードの発光駆動を行う。これにより、多層光ディスクＤ-mlに対するマーク形成による主の情報の記録が実現される。
【００６２】
サーボ回路１６は、マトリクス回路１３からのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥから、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
すなわちフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに基づきフォーカスドライブ信号ＦＤ、トラッキングドライブ信号ＴＤを生成し、光学ピックアップ１２内の上述した２軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによって光学ピックアップ１２、マトリクス回路１３、サーボ回路１６、上記２軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
【００６３】
またサーボ回路１６は、コントローラ１５からのトラックジャンプ指令に応じて、トラッキングサーボループをオフとし、ジャンプドライブ信号を出力することで、トラックジャンプ動作を実行させる。
またサーボ回路１６は、トラッキングエラー信号ＴＥの低域成分として得られるスレッドエラー信号や、コントローラ１５からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、前述のスライド機構を駆動することで、光学ピックアップ１２の所要のスライド移動を実行させる。
【００６４】
またサーボ回路１６は、コントローラ１５からの指示に応じて、フォーカスサーボループをオフとして所謂層間ジャンプ動作や所望の記録層へのフォーカスオン動作（フォーカスサーボ引き込み）等の実行制御も行う。
【００６５】
コントローラ１５は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）を備えたマイクロコンピュータで構成され、ディスクドライブ装置４の全体制御を行う。
例えば上述した記録／再生処理部１４やサーボ回路１６に対する指示を行って、多層光ディスクＤ-mlに対する主の情報の記録や多層光ディスクＤ-mlに記録された主の情報の再生を実行させる。
【００６６】
また、特にこの場合のコントローラ１５は、記録／再生処理部１４及びサーボ回路１６に対する指示を行って、多層光ディスクＤ-mlに記録された有効／無効層識別情報の読み出し（再生）、及び読み出した有効／無効層識別情報の内容に基づく記録制御を行う。具体的に当該記録制御としては、上記有効／無効層識別情報から特定される有効な記録層のみを対象としたデータ記録が行われるように、記録／再生処理部１４及びサーボ回路１６に対する制御を行うことになる。
【００６７】
＜３．第２の実施の形態＞
[3-1．製品製造から実使用時までの流れ]
続いて、第２の実施の形態について説明する。
第２の実施の形態は、有効／無効層の検査及び有効／無効層識別情報の記録を出荷後において行うことを前提とするものである。
【００６８】
図９は、このような第２の実施の形態の場合における製品製造から実使用時までの流れについて説明するための図である。
先ずこの場合も、図９（ａ）に示すディスク製造工程として、先の図６（ａ）の場合と同様に多層光ディスクＤ-mlを製造する。
【００６９】
そして第２の実施の形態においては、このように製造された多層光ディスクＤ-mlに対し、図９（ｂ）に示すカートリッジ装着工程によりタグ付きカートリッジを装着する。
ここで、上記タグ付きカートリッジは、図示するようにして多層光ディスクＤ-mlをその内部に格納可能に構成されたカートリッジｃｒｔの所定位置に対し、ＲＦＩＤタグＴＧが付されたものである。
周知のようにＲＦＩＤタグは、無線による電力供給を受けるためのアンテナ部を備えて非接触により内部の半導体メモリに対する情報の書き込み及び読み出しが可能に構成された記憶装置である。
【００７０】
第２の実施の形態では、このように多層光ディスクＤ-mlに対してタグ付きカートリッジが装着された多層光ディスク製品ＤＭが出荷されることになる。
【００７１】
このように出荷された多層光ディスク製品ＤＭに対し、図９（ｃ）に示す第２の実施の形態としてのディスクドライブ装置２０により情報の記録／再生が行われることになる。
この図９（ｃ）に示されているように、第２の実施の形態のディスクドライブ２０は、多層光ディスク製品ＤＭに関して、＜１＞有効／無効層についての検査、＜２＞有効／無効層識別情報の記録、及び＜３＞有効／無効層識別情報に基づく主の情報の記録を行う。
ここで第２の実施の形態において、＜２＞の「有効／無効層識別情報の記録」は、多層光ディスク製品ＤＭに設けられたＲＦＩＤタグＴＧに対して行う。
【００７２】
この図９に示されるような第２の実施の形態としての運用手法によれば、有効／無効層についての検査が出荷後の実使用時（つまりユーザ側）において行われるので、製造側においてその分の手間を省くことができ、製品コストのさらなる削減を図ることができる。
【００７３】
なお、第２の実施の形態において、製造側では、有効な記録層の数が規定記録層数ｘを下回る製品が出荷されないようにするための有効／無効層についての簡易な検品は行っておくべきであり、従ってその分の手間は考慮すべきとなる。
【００７４】
[3-2．第２の実施の形態としての記録装置の構成]
図１０は、図９（ｃ）に示した第２の実施の形態としてのディスクドライブ装置２０の内部構成を示している。
なお図１０において、先の図８にて説明した部分と同様となる部分については同一符号を付して説明を省略する。
【００７５】
この図１０と先の図８とを比較して分かるように、第２の実施の形態のディスクドライブ装置２０は、先の第１の実施の形態のディスクドライブ装置４と比較して、タグ情報読出／書込部２１が追加された点と、コントローラ１５がコントローラ２２に変更された点とが異なる。
【００７６】
上記タグ情報読出／書込部２１は、無線による電力伝送を行うためのアンテナ部を備え、ディスクドライブ装置２０に対して装填された多層光ディスク製品ＤＭに付されたＲＦＩＤタグＴＧに対するデータの書込／読出を行う。
このタグ情報読出／書込部２１は、多層光ディスク製品ＤＭが記録のためにディスクドライブ装置２０内の所定位置に対してセットされた状態において、少なくとも上記アンテナ部により上記ＲＦＩＤタグＴＧへのデータ書込／読出が可能となる位置に対して設けられればよい。
【００７７】
また、上記コントローラ２２は、記録／再生処理部１４・サーボ回路１６に対する指示、及び上記タグ情報読出／書込部２１に対する指示を行って、多層光ディスクＤ-mlに形成された各記録層ごとの有効／無効層の検査、及び当該検査の結果に基づき生成した有効／無効層識別情報の多層光ディスク製品ＤＭに対する記録動作を実行させる。
具体的にコントローラ２２は、記録／再生処理部１４・サーボ回路１６に対する指示によって、順次異なる記録層へのレーザ光照射を実行させる一方で、その結果得られる受光信号に基づいて記録層ごとの有効／無効の検査を行い、その結果に基づいて有効／無効層識別情報を生成する。
その上で、上記タグ情報読出／書込部２１に対する指示を行って、このように生成した有効／無効層識別情報のＲＦＩＤタグＴＧに対する書込動作を実行させる。
【００７８】
また、コントローラ２２は、上記のように多層光ディスク製品ＤＭに対して有効／無効層識別情報を記録させた後、或いは既に有効／無効層識別情報の記録が行われた多層光ディスク製品ＤＭが装填された場合において、有効／無効層識別情報の内容に基づく記録制御を行う。
具体的に、有効／無効層識別情報を記録させた後においては、記録した有効／無効層識別情報の内容に基づき、有効な記録層のみを対象とした主の情報の記録が行われるように記録／再生処理部１４・サーボ回路１６を制御する。
また、既に有効／無効層識別情報の記録が行われた多層光ディスク製品ＤＭが装填された場合は、タグ情報読出／書込部２１に対する指示を行って多層光ディスク製品ＤＭ（ＲＦＩＤタグＴＧ）に記録された有効／無効層識別情報の読出を実行させた上で、読み出された有効／無効層識別情報の内容に基づき、有効な記録層のみを対象とした主の情報の記録が行われるように記録／再生処理部１４・サーボ回路１６を制御する。
【００７９】
＜４．変形例＞
以上、本発明の各実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えば、これまでで例示した多層光記録媒体の構成はあくまでも一例を示したものに過ぎず、必要に応じて層を追加する等、実際の実施形態に応じて適宜変更が可能である。
一例として、実施の形態では、各記録層ごとに半径位置や回転角度等を示す位置情報が記録される（ピット列やウォブリンググルーブなどが形成される）場合を例示したが、位置情報が記録される層は１層のみとして、他の記録層には位置情報を記録しない構成とすることもできる。
【００８０】
また、多層光ディスクＤ-mlの製造方法についても先に例示したものに限定されるべきものではなく、実際の実施形態に応じて適宜最適とされる手法が採られればよい。
【００８１】
また、第１の実施の形態においては、製造側においてのみ有効／無効層についての検査及び有効／無効層識別情報の記録を行うものとしたが、出荷後、ユーザ側（ディスクドライブ装置４側）においても有効／無効層の検査及び有効／無効層識別情報の記録（書き替え）を行うようにすることもできる。
ここで、製品出荷直後は有効な記録層であっても、使用に伴い不良等により無効となる可能性がある。上記のようにディスクドライブ装置４側においても有効／無効層についての検査及び有効／無効層識別情報の記録を行うとしたときは、このように新たに無効となった記録層が検出された場合には、有効／無効層識別情報の書き替えを行う。またこのとき、無効となった記録層に対して既にデータ記録が行われていた場合には、その記録データを他の有効な記録層にコピーする（待避させる）といったこともできる。
なお、このような有効／無効層識別情報の検査結果に応じた書き替え、及びデータの待避は第２の実施の形態においても行うことができる。
【００８２】
また、これまでの説明では、有効／無効層識別情報をユーザ側の装置にて記録（書き替えも含む）するとした場合において、有効／無効層識別情報の記録対象が多層光ディスクＤ-mlの外部に設けられた半導体メモリとされる場合を例示したが、このようにユーザ側の装置で記録を行う場合においても、第１の実施の形態の場合と同様に多層光ディスクＤ-mlのＢＣＡを記録対象とすることができる。或いは逆に、第１の実施の形態において多層光ディスクＤ-mlの外部に設けられた半導体メモリに対して有効／無効層識別情報を記録することもでき、その場合、ディスクドライブ装置４は上記メモリについての読出部を備え、当該読出部によって有効／無効層識別情報の読み出しを行うことになる。
ここで、有効／無効層識別情報を光学的な手段により記録するとした場合は、ＢＣＡに記録する手法以外にも、例えばリードインエリアやリードアウトエリアなど、ディスク上でユーザデータ以外の管理情報を記録するものとして設定された所定のエリア内に対して記録するなどの他の手法を採ることができる。
また、光学的な手段以外の手段により有効／無効層識別情報を記録する手法としても、ディスク本体外部に設けた半導体メモリに対して記録する手法以外の他の手法を採ることができる。
【００８３】
また、これまでの説明では特に言及しなかったが、余剰層を形成する本実施の形態としての多層光ディスクＤ-mlについては、あくまで記録層数がｘ層の製品として販売・使用する手法以外にも、ｘ層以上の容量を保証する製品として販売・使用する手法を採ることもできる。
すなわち前者の場合、ユーザ側のディスクドライブ装置（記録装置）では、実施の形態としての多層光ディスクＤ-mlを記録層数＝ｘに対応した記録容量を有するディスクとして扱う。また後者の場合、記録装置では、本実施の形態の多層光ディスクＤ-mlを有効／無効層識別情報から特定される有効記録層分の記録容量を有するディスクとして扱うものである。
【００８４】
また、これまでの説明では、本発明の記録装置が記録層に対するマークの形成による主の情報の記録と共に、マーク記録された主の情報の再生も可能な記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明の記録装置としては上記再生の機能が省略された記録専用装置に対しても好適に適用できる。
【符号の説明】
【００８５】
ＢＳ  基板、Ｒ  記録膜、ＣＶ  カバー層、Ｒｈｍ  半透明記録膜、Ｄ-ml  多層光ディスク、ｃｔｒ  カートリッジ、ＴＧ  ＲＦＩＤタグ、ＤＭ  多層光ディスク製品、１  ディスク製造装置、２  検査装置、３  層情報記録装置、４,２０  ディスクドライブ装置、１１  スピンドルモータ（ＳＰＭ）１２  光学ピックアップ（ＯＰ）、１３  マトリクス回路、１４  記録／再生処理部、１５,２２  コントローラ、２１  タグ情報読出／書込部
【図１】
2011100525.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2011100525.tif 000009
【図８】
2011100525.tif 000010
【図９】
2011100525.tif 000011
【図１０】
2011100525.tif 000012