(57)【要約】【課題】画像読み取りにおける生産性を落すことなく、読取り手段の読取り面に付着したゴミによる縦スジ画像の発生を防止できるようにする。【解決手段】２つの読取り部１１７，１３３によって原稿の両面の読み取りと読み取り面におけるゴミ読み取りとを行い、読み取った原稿読取画像データとゴミ検出用画像データとをメモリ制御部１１ｂによってメモリ１１ｃへ書き込む。第２画像処理部１１ｄのゴミ検出処理部では、ゴミ検出用画像データに基づいてゴミ検出判定が行われる。ゴミ補正処理部では、ゴミ検出処理部で検出されたゴミ位置を示すゴミ検出データに基づいて、原稿読取画像データの補正処理を行うため、縦黒スジや縦白スジの出ない適正な原稿読取画像を得ることができる。【選択図】図３
2011023920.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿を搬送しながら原稿の両面画像を読み取ると共に、それぞれの読み取り面におけるゴミ検出画像を読み取る読取り手段と、
前記読取り手段が読み取った原稿読取画像データおよびゴミ検出用画像データを記憶するメモリ手段と、
前記メモリ手段に記憶した前記原稿読取画像データおよび前記ゴミ検出用画像データを取り出して、それぞれ画像処理を行う画像処理手段と、
前記メモリ手段に対して前記原稿読取画像データおよび前記ゴミ検出用画像データの書き込み制御と読み取り制御を行うメモリ制御手段と、
を備え、前記画像処理手段は、前記メモリ制御手段が前記メモリ手段から取り出した前記ゴミ検出用画像データに基づいてゴミ検出判定を行い、検出されたゴミ位置を示すゴミ検出データに基づいて前記メモリ手段から取り出した前記原稿読取画像データの補正処理を行うことを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記メモリ制御手段が前記メモリ手段から取り出した両面原稿のうち少なくとも一方の面の前記ゴミ検出用画像データは、シェーディング補正処理が施された画像データであって、
前記画像処理手段は、
前記ゴミ検出用画像データに基づいて前記読取り手段の読取り面に付着したゴミとその位置とを検出するゴミ検出処理部と、
前記ゴミ検出処理部で検出されたゴミの位置情報に基づいて、前記メモリ制御手段が前記メモリ手段から取り出した前記原稿読取画像データの中のゴミ付着を起因とする縦スジ画像データを補正するゴミ補正処理部と、
を備えていることを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記メモリ制御手段が前記メモリ手段から取り出した両面原稿のうち少なくとも一方の面の前記ゴミ検出用画像データは、シェーディング補正処理を施す前の生画像データであって、
前記画像処理手段は、
前記ゴミ検出用画像データがシェーディング補正処理前の生画像データの場合に、ゴミ候補とされる注目画素位置の理想的な画素レベルを算出し、実際の画素レベルとの差分を算出する生データ画素レベル算出部と、
前記生データ画素レベル算出部で算出された注目画素における理想的な画素レベルと実際の画素レベルとの差分値に基づいて、前記読取り手段の読取り面に付着したゴミとその位置とを検出するゴミ検出処理部と、
前記ゴミ検出処理部で検出されたゴミの位置情報に基づいて、前記メモリ制御手段が前記メモリ手段から取り出した前記原稿読取画像データの中のゴミ付着を起因とする縦スジ画像データを補正するゴミ補正処理部と、
を備えていることを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記読取り手段において読取り素子の特性のばらつきの著しい画素をゴミ検出の対象画素から外す第１マスク手段をさらに備え、
前記ゴミ検出処理部は、前記第１マスク手段によって読取り素子の特性のばらつきの著しい画素をゴミ検出の対象画素から外したゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出判定を行い、
前記ゴミ補正処理部は、前記ゴミ検出処理部の判定結果であるゴミ検出データに基づいて前記原稿読取画像データの補正処理を行うことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記読取り手段が複数のラインセンサを１ライン上に配置した読取りデバイスにより構成され、
前記読取り手段において前記ラインセンサ同士が接するつなぎ目部分の画素をゴミ検出の対象画素から外す第２マスク手段をさらに備え、
前記ゴミ検出処理部は、前記第２マスク手段によってラインセンサ間の特性の違いにより生じるラインセンサ同士のつなぎ目部分の画素をゴミ検出の対象画素から外したゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出判定を行い、
前記ゴミ補正処理部は、前記ゴミ検出処理部の判定結果であるゴミ検出データに基づいて前記原稿読取画像データの補正処理を行うことを特徴とする請求項３または４に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記読取り手段が原稿の両面画像を別々に読み取る複数の読取りデバイスにより構成され、
装置全体を制御する制御手段をさらに備え、
前記ゴミ検出処理部は、前記各読取りデバイスの特性に応じたゴミ検出処理パラメータをそれぞれ保持し、前記制御手段が前記ゴミ検出処理部に対して前記ゴミ検出用画像データの読取りデバイスに合わせてゴミ検出処理パラメータを切り替え、ゴミ検出処理を行うことを特徴とする請求項２〜５のいずれか一つに記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記ゴミ補正処理部は、前記ゴミ検出処理部でのゴミ検出処理によって得られたゴミ画素位置における画素レベルと、補正処理を行う前記原稿読取画像データのゴミ画素位置における画素レベルとを比較し、ゴミの周囲画素の画素レベルとの差分情報に基づいてゴミ画素位置における画素レベルがゴミの周囲画素と同じ画素レベルとなるように補正することを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記ゴミ補正処理部は、前記ゴミ検出処理部でのゴミ検出処理によって得られたゴミ画素位置に基づいて、補正処理を行う前記原稿読取画像データのゴミ画素位置における画素レベルと、ゴミの周囲画素の画素レベルとを検出し、ゴミ画素位置における画素レベルがゴミの周囲画素と同じ画素レベルとなるように補正することを特徴とする請求項３または４に記載の画像読取装置。
【請求項９】
前記ゴミ補正処理部は、前記ゴミ検出処理部のゴミ検出処理によって得られたゴミ画素位置のレベルとその周囲画素のレベルとに基づいて前記ラインセンサ同士が接するつなぎ目部分の画素を検出して、補正対象画素から外し、補正処理を行う前記原稿読取画像データの対象画素の画素レベルがその周囲画素と同じ画素レベルとなるように補正することを特徴とする請求項５に記載の画像読取装置。
【請求項１０】
前記読取り手段が原稿の両面画像を別々に読み取る複数の読取りデバイスにより構成され、
装置全体を制御する制御手段をさらに備え、
前記ゴミ補正処理部は、前記各読取りデバイスの特性に応じた縦スジ画像の補正処理パラメータをそれぞれ保持し、前記制御手段が前記ゴミ補正処理部に対して前記原稿読取画像データの読取りデバイスに合わせて補正処理パラメータを切り替え、縦スジ画像の補正処理を行うことを特徴とする請求項７〜９のいずれか一つに記載の画像読取装置。
【請求項１１】
前記請求項１〜１０のいずれか一つに記載の画像読取装置を備えていることを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置および画像形成装置に関し、より詳しくは、両面原稿の画像を読み取ると共に、その読み取り面におけるゴミ付着に起因する縦スジの補正処理を行う画像読取装置および画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の特許文献１によれば、両面原稿を２つの読み取りセンサを用いて一度に読み取る画像読取装置であって、原稿読み取り時に各々の読み取り面においてゴミ付着による縦白スジ、縦黒スジの不具合を起こさないようにするため、シェーディング補正用の白基準部材を副走査方向に移動させる手段を用いて、白基準データをゴミ付着の無い状態で読み取ることで、原稿読み取り時における縦白スジや縦黒スジの発生しない画像が得られるようにした画像読取装置が開示されている。
【０００３】
また、特許文献２によれば、原稿読み取り前のゴミ検出処理により、読み取り面におけるゴミの有無を検出し、その検出したゴミの影響による原稿中の縦白スジや縦黒スジを補正する画像処理装置が開示されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記特許文献１にあっては、原稿搬送装置内にシェーディング補正用の白基準部材を副走査方向に移動させる大掛かりな機械的構造が必要となる上、白基準部材を原稿読み取り毎に移動させる時間が必要となり、また、移動させるための領域を確保しなければならないことから、画像読取装置が大型化するという問題があった。
【０００５】
さらに、上記特許文献２にあっては、原稿読み取り前のゴミ検出処理によって、読み取り面におけるゴミの検出を行い、その検出したゴミのレベルで白スジ補正や黒スジ補正を行っているが、ゴミの検出処理においてレベル判断を行うため、実際の原稿読取画像データの中で正しく補正処理できない場合が発生すると、過補正などを招くことがあり、余計にスジを目立たせる場合が発生するという問題があった。
【０００６】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、画像読み取りにおける生産性を落すことなく、読取り手段の読取り面に付着したゴミによる縦スジ画像の発生を防止することが可能な画像読取装置および画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の画像読取装置は、原稿を搬送しながら原稿の両面画像を読み取ると共に、それぞれの読み取り面におけるゴミ検出画像を読み取る読取り手段と、前記読取り手段が読み取った原稿読取画像データおよびゴミ検出用画像データを記憶するメモリ手段と、前記メモリ手段に記憶した前記原稿読取画像データおよび前記ゴミ検出用画像データを取り出して、それぞれ画像処理を行う画像処理手段と、前記メモリ手段に対して前記原稿読取画像データおよび前記ゴミ検出用画像データの書き込み制御と読み取り制御を行うメモリ制御手段と、を備え、前記画像処理手段は、前記メモリ制御手段が前記メモリ手段から取り出した前記ゴミ検出用画像データに基づいてゴミ検出判定を行い、検出されたゴミ位置を示すゴミ検出データに基づいて前記メモリ手段から取り出した前記原稿読取画像データの補正処理を行うことを特徴とする。
【０００８】
また、本発明の画像形成装置は、上記画像読取装置を備えていることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、画像読み取りにおける生産性を落すことなく、読取り手段の読取り面に付着したゴミによる縦スジ画像の発生を防止することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本発明の第１の実施の形態にかかる画像形成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、図１の画像形成装置におけるＡＤＦを含めた原稿を読み取る画像読取部の断面構成を示す図である。
【図３】図３は、図１の画像読取部と画像形成部の構成を示す機能ブロック図である。
【図４】図４は、第１読取り部と第２読取り部が読み取った原稿読取画像データの処理タイミングを説明するタイミングチャートである。
【図５】図５は、第１読取り部と第２読取り部が読み取ったゴミ検出用画像データと原稿読取画像データの処理タイミングを説明するタイミングチャートである。
【図６】図６は、第１の実施の形態にかかる第２画像処理部の構成ブロック図である。
【図７】図７は、主走査のライン同期信号とゴミ検出用画像データの主走査方向への分布とゴミ検出データとを示すタイミングチャートである。
【図８】図８は、様々な原稿レベルの原稿読取画像データをゴミ補正処理部で補正処理を行った補正処理結果を示す図である。
【図９】図９は、主走査のライン同期信号とシェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データの主走査方向への分布とゴミ検出データとを示すタイミングチャートである。
【図１０】図１０は、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データの注目画素の理想的な画素レベルを算出する方法を説明する図である。
【図１１】図１１は、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行い様々な原稿レベルの原稿読取画像データをゴミ補正処理部で補正処理を行った補正処理結果を示す図である。
【図１２】図１２は、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う場合に読み取りデバイスのレベルのばらつきによるレベル低下画素がある場合のゴミ検出用画像データを示す図である。
【図１３】図１３は、主走査のライン同期信号とシェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データの主走査方向への分布と読み取りデバイスのレベル低下画素を予め除去してゴミ検出処理を行ったゴミ検出データとを示すタイミングチャートである。
【図１４】図１４は、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う場合に１ライン分の主走査幅にラインセンサを３個並べて読取りデバイスを構成した場合のゴミ検出用画像データを示す図である。
【図１５】図１５は、主走査のライン同期信号とシェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データの主走査方向への分布と読み取りデバイスのつなぎ画素を予め除去してゴミ検出処理を行ったゴミ検出データとを示すタイミングチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる画像読取装置および画像形成装置の最良な実施の形態を詳細に説明する。なお、以下に述べる実施の形態は、本発明の好適な実施の形態であるから、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。
【００１２】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の第１の実施の形態にかかる画像形成装置の構成を示すブロック図である。以下、図１を用いて、この画像形成装置の構成および機能について説明する。図１に示す画像形成装置１０は、画像読取部１１（２つの読取り手段、メモリ手段、画像処理手段、メモリ制御手段を含む）、ＡＤＦ（Ａｕｔｏ  Ｄｏｃｕｍｅｎｔ  Ｆｅｅｄｅｒ：自動原稿送り装置）１２、操作表示部１３、画像形成部１４、両面ユニット１５、排紙仕分け装置（ソータ）１６、給紙カセット１７、拡張部１８、および利用者制限機器１９などにより構成されている。 
【００１３】
画像読取部１１は、光源を原稿に照射し、その反射光を光電変換する読取デバイスにより電気信号に変換し、量子化処理、シェーディング補正処理、ＭＴＦ（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）補正処理、および変倍処理などを行うものである。第１の実施の形態では、画像読取部１１に異なるデバイスによる２つの読取り部を備えている。画像読取部１１における量子化処理は、ＣＣＤにより電気信号に変換されたアナログデータを２値あるいは多値データに変換する処理である。変倍処理は、画像の読み取り密度を変化させて、読み取った画像データを用いてデータ補間を行う処理である。また、シェーディング補正処理は、原稿を照射する光源の照射ムラおよびＣＣＤの感度のばらつきに対する補正処理である。ＭＴＦ補正は、光学系によるボケを補正する処理である。 
【００１４】
ＡＤＦ１２は、画像読取部１１の上部に設けられ、原稿を自動送りするものである。また、画像読取部１１の上部に設けられた操作表示部１３は、画像形成装置の状態を表示すると共に、操作画面を表示してユーザが各種指示を入力できるようにしたものである。 
【００１５】
画像形成部１４は、両面ユニット１５と、排紙仕分け装置（ソータ）１６と、給紙カセット１７とを有し、電気信号で送信された画像イメージを電子写真、感熱、熱転写、インクジェットなどの手段により、普通紙や感熱紙などの画像を形成する部位である。 
【００１６】
拡張部１８は、画像形成装置において実現できる拡張機能（アプリケーション）を制御する部位である。 
【００１７】
利用者制限機器１９は、利用者を特定、限定、および管理するための機器である。例えば、コインラック、キーカウンター、キーカード、プリペイドカードなどがあげられる。特に、電子写真プロセスを使用している画像形成装置の場合は、電気消費量が多いため、使用を制限する機会が多い。また、利用者を制限するために暗証コードなどを使用する場合がある。 
【００１８】
図２は、図１の画像形成装置におけるＡＤＦを含めた原稿を読み取る画像読取部の断面構成を示す図である。以下、図２を用いて、ＡＤＦと画像読取部の構成および動作について説明する。 
【００１９】
図２に示すように、スキャナ１１０のコンタクトガラス１１１上に置かれた原稿は、照明ランプ１１２により照明され、原稿の反射光（画像光）が第１ミラー１１３で副走査方向ｙと平行に反射される。照明ランプ１１２および第１ミラー１１３は、副走査方向ｙに定速駆動される第１キャリッジに搭載されている。この第１キャリッジと同方向にその１／２の速度で駆動される第２キャリッジには、第２ミラー１１４および第３ミラー１１５が搭載されている。そして、第１ミラー１１３が反射した画像光は、第２ミラー１１４で下（ｚ）方向に反射され、第３ミラー１１５で副走査方向ｙに反射されて、レンズ１１６により集束され、ＣＣＤ１１７に照射され、電気信号に変換される。 
【００２０】
上記した第１および第２キャリッジは、走行体モータ１１８を駆動源として、ｙ方向に往（原稿走査），復（リタ−ン）駆動される。このように、スキャナ１１０は、コンタクトガラス１１１上の原稿をランプ１１２および第１ミラー１１３で走査し、原稿画像をＣＣＤ１１７に投影するフラットベッド方式の原稿スキャナである。また、このスキャナ１１０は、シートスルー読み取りも可能なように、第１キャリッジがホームポジション（ＨＰ：待機位置）で停止しているときの第１ミラー１１３の読み取り視野位置に、シートスルー読み取り窓であるガラス１２０がある。そして、このガラス１２０の上方には、ＡＤＦ（自動原稿供給装置）１２が装着されていて、ＡＤＦ１２の搬送ドラム（プラテン）１２４がガラス１２０に対向している。 
【００２１】
ＡＤＦ１２の原稿トレイ１２１に積載された原稿は、ピックアップローラ１２２およびレジストローラ対１２３で搬送ドラム１２４と押さえローラ１２５の間に送り込まれて、搬送ドラム１２４に密着して読み取りガラス１２０の上を通過し、排紙ローラ１２６，１２７で、原稿トレイ１２１の下方の圧板兼用の排紙トレイ１２８上に排出される。 
【００２２】
原稿の表面の画像は、原稿読取窓である読み取りガラス１２０を通過する際に、その直下に移動している照明ランプ１１２により照射され、原稿の表面の反射光は、第１ミラー１１３以下の光学系を介してＣＣＤ１１７に照射され光電変換される。すなわち、ＲＧＢの各色画像信号に変換される。搬送ドラム１２４の表面は、読み取りガラス１２０に対向する白色背板であり、白基準面となるように白色である。 
【００２３】
また、原稿の裏面の画像は、光源および撮像素子を内蔵する撮像装置１３３で読み取られ、光電変換される。すなわち、ＲＧＢの各色画像信号に変換される。撮像装置１３３に対向する白色背板１３４があり、撮像装置１３３と白色背板１３４の間を原稿が通過する。 
【００２４】
さらに、読み取りガラス１２０と原稿始端の位置決め用のスケール１３２との間には、基準白板１１９、ならびに、第１キャリッジを検出する基点センサ１２９がある。基準白板１１９は、照明ランプ１１２の個々の発光強度のばらつき、主走査方向のばらつき、ＣＣＤ１１７の画素毎の感度ムラ等を原因として、一様な濃度の原稿を読み取ったにもかかわらず、原稿読取画像データがばらつく現象を補正（シェーディング補正）するために用意されている。 
【００２５】
ＡＤＦ１２の基体１２８は、奥側（図２の紙面に対して奥行き方向）においてスキャナ１１０の基体にヒンジ結合（蝶番連結）されていて、基体１２８の手前側（図２の紙面に対して手前方向）に取っ手１３０があり、ＡＤＦ１２の基体１２８を引き上げることによって、ＡＤＦ１２を開くことができる。ＡＤＦ１２の基体１２８の奥側には、ＡＤＦ１２の開閉を検出するスイッチがある。ＡＤＦ１２の、コンタクトガラス１１１に対向する圧板１３１がＡＤＦ１２の底面部に装着されており、ＡＤＦ１２が閉じると、圧板１３１の下面が、図２に示すように、コンタクトガラス１１１の上面に密着するように構成されている。 
【００２６】
図３は、図１の画像読取部と画像形成部の構成を示す機能ブロック図である。図３に示すように、２つの読取り手段としての第１読取り部１１７および第２読取り部１３３は、原稿の両面をスキャンすることにより、原稿の両面画像データを生成する構成部である。また、この第１読取り部１１７および第２読取り部１３３は、原稿をスキャンしない間に読み取り面に付着したゴミ、汚れ、埃など検知する目的で、白色背板を介して読み取り面の画像を読み取ったゴミ検出用画像データを出力するゴミ検知機能も備えている。なお、ここでは、第１読取り部が図２に示すＣＣＤ１１７に相当し、第２読取り部が図２の撮像装置１３３に相当するため、同一符号を付している。
【００２７】
この第１読取り部１１７および第２読取り部１３３で読み取った画像データは、第１画像処理部１１ａに入力される。第１画像処理部１１ａでは、受け取った画像データの特性に基づいてスキャナ処理が行われる。具体的には、光量分布の歪みにより発生する画像濃度のばらつきを補正するシェーディング補正、あるいは原稿地肌に応じて地肌濃度を調整する等の処理をそれぞれの画像データごとに行う。
【００２８】
第１画像処理部１１ａでスキャナ処理された画像データは、次段のメモリ制御手段としてのメモリ制御部１１ｂに入力される。このメモリ制御部１１ｂでは、受け取ったそれぞれの画像データをメモリ手段としてのメモリ１１ｃにフレームごとに蓄積する。フレームごとに蓄積された画像データは、例えば第１読取り部１１７で読み取った画像データをフレームごとに取り出して、次段の画像処理手段としての第２画像処理部１１ｄに送る。
【００２９】
第２画像処理部１１ｄでは、様々な画像処理を行った後、バスを介してその処理データがメモリユニット２０に送られる。このメモリユニット２０には、大量に画像データを扱う目的でＨＤＤ等のストレージ２１が接続されている。そして、そのストレージ２１に画像データを蓄え、次の入力画像を受け取ったり、あるいはハードコピーを行ったりするために蓄積してあった画像データを第２画像処理部１１ｄに送出したりする。このようにメモリユニット２０は、ストレージ２１を用いて画像データの蓄積処理と、ストレージ２１からの画像データの取り出しとをコントロールする機能を持っている。
【００３０】
この第１の実施の形態では、第１読取り部１１７からの画像データを先に処理したので、次に扱う画像データは、第２読取り部１３３からの画像データを処理する。第２読取り部１３３からの画像データは、第１読取り部１１７からの画像データと同様に処理され、要求に応じてストレージ２１から画像データを取り出して、第２画像処理部１１ｄに送る。メモリユニット２０から画像データを受け取った第２画像処理部１１ｄは、次段の画像形成部１４を構成する書き込み画像処理部１４ａに画像データを送る。
【００３１】
この書き込み画像処理部１４ａでは、ハードコピーを行うために適した画像処理が行われ、次段のＶＤＣ１４ｂに画像データを送る。このＶＤＣ１４ｂでは、次段のＶＤＢ１４ｃでの処理に適した画像フォーマットに変える等の前段処理を行った上で、次段のＶＤＢ１４ｃに画像データを送る。ＶＤＢ１４ｃでは、受け取った画像データをレーザダイオード発光、あるいはその他の書き込み処理を行った後、転写処理によって転写紙に画像を転写し、ハードコピーを得る。また、図３に示す画像形成装置には、装置全体の制御を行う制御手段としてのＣＰＵ２２と、プログラムを記憶しワーク領域として利用可能なＣＰＵメモリ２３とを備えている。
【００３２】
なお、図３の例では、第１読取り部１１７と第２読取り部１３３のそれぞれで読み取った画像データの特性の違いは第２画像処理部１１ｄに与えて、それぞれの画像データに応じた設定データの切り替えにより吸収するようにしたが、必ずしもこの構成に限定されない。
【００３３】
図４は、第１読取り部と第２読取り部が読み取った原稿読取画像データの処理タイミングを説明するタイミングチャートである。図４の（Ａ）は、第１読取り部１１７で読み取った画像データの入力例であり、原稿読み取り領域のタイミングで（Ｂ）に示す読み取り画像データが入力される。読み取った読み取り画像データは、図３に示す第１画像処理部１１ａでのスキャナ処理を経て、メモリ制御部１１ｂによりメモリ１１ｃに対してデータを蓄積する。このデータの蓄積タイミングを示したのが図４の（Ｃ）および（Ｄ）である。（Ｃ）に示すメモリライト区間において、原稿を読み取ってメモリ制御部１１ｂに送られた読み取り画像データを（Ｄ）のタイミングでメモリ１１ｃに書き込むようにする。
【００３４】
次に、図４の（Ｅ）および（Ｆ）は、第２読取り部１３３にて読み取った画像データの入力例である。なお、本第１の実施の形態では、第２読取り部１３３の読み取り画像データの入力が、図２に示すように原稿搬送路上の第１読取り部１１７の下流側に位置しているため、タイミング上は第１読取り部１１７の入力タイミングから遅れて入力されている。
【００３５】
入力された画像データは、第１読取り部１１７で読み取った画像データと同様に、第１画像処理部１１ａを経て、メモリ制御部１１ｂにてメモリ１１ｃにデータを蓄積する。このデータの蓄積タイミングを示したのが図４の（Ｇ）および（Ｈ）である。
【００３６】
上記処理例では、２つの読取り部１１７，１３３が読み取った画像データをメモリ制御部１１ｂによってメモリ１１ｃに蓄積するように処理される。このように、それぞれの読取り部１１７，１３３で読み取られた画像データは、一旦メモリ１１ｃに蓄積され、次の処理としてメモリ制御部１１ｂによってメモリ１１ｃからデータを取り出して、次段処理部に出力される。このメモリ１１ｃからのデータの取り出しと出力処理のタイミングを示したのが、図４の（Ｉ）および（Ｊ）と、（Ｋ）および（Ｌ）である。この例では、第１読取り部１１７で読み取った画像データを取り出した後に、第２読取り部１３３で読み取った画像データを取り出しているが、この順番は一例であって、処理要求によってどちらを先に取り出しても構わない。
【００３７】
また、ここでは、第１読取り部１１７と第２読取り部１３３で読み取った画像データをメモリ制御部１１ｂで一旦メモリ１１ｃに蓄積し、その蓄積画像データの中からそれぞれの原稿読取画像データを順番に処理する構成としている。画像読取装置における生産性は、両面原稿を読み取る時間、次の原稿を搬送する時間、および原稿を排紙する時間内にメモリ制御部１１ｂにて画像データを取り出して、２つの画像データを順番に処理することが必要となる。仮に、メモリ１１ｃからの画像データの取り出し時間と、その取り出した画像データの処理に時間がかかると、その処理時間が生産性を決めることになる。このため、メモリ１１ｃに対するデータ蓄積時間は、読取り部での読み取り時間と同じとし、メモリ１１ｃからの取り出しについては高速で行う必要がある。本第１の実施の形態では、約２倍程度の処理を想定して図４に示している。また、ここでの処理速度が遅い場合は、各読取り部から取得したフレームデータの切り替え時間が短くなるため、この切り替え時間内でさまざまな設定を行う必要がある。
【００３８】
本第１の実施の形態の画像形成装置は、上記のように構成されており、以下その動作について説明する。本発明の特徴であるゴミ検出処理とは、原稿を搬送させながら原稿画像の読み取りを行う際に、その読み取り面に不必要な異物の付着の有無を検知することである。仮に、読み取り面に異物が付着していて、ライン単位で読み取りを行う場合は、ライン毎に毎回同じ位置で異物を読み取るため、副走査方向の縦線画像となって現れる。このような不具合要因を検出するためには、読み取り面でのゴミ付着の有無を検出するゴミ検出処理が必要となる。
【００３９】
このゴミ検出処理は、原稿が搬送されていない状態で、読み取り面における画像データ（ゴミ検出用画像データ）を読み取り、そのゴミ検出用画像データ中に読み取りを阻害する異物が無いかどうかを検知するものである。
【００４０】
まず、図２に示すように、原稿搬送しながら第１読取り部であるＣＣＤ１１７を使って原稿の表面を読み取る場合は、ガラス１２０を通して原稿の画像データを読み取る。また、原稿が搬送されない状態での読み取り面におけるゴミ検知は、このガラス１２０の読み取り面の画像データを読み取って、ゴミ付着の有無を検出するものである。ゴミ検知を行う場合、原稿が搬送されない状態の読み取り面の背景は搬送ドラム１２４の白色を利用している。
【００４１】
次に、第２読取り部である撮像装置１３３を使って原稿の裏面を読み取る。図２の撮像装置１３３は、固定されていて移動しないため、この固定位置で原稿が搬送されていない時間帯に異物の付着の有無を検出するゴミ検出用画像データを読み取る。原稿が搬送されない状態での読み取り背景は、ここでは白色背板１３４を用いている。ゴミ検出処理のタイミングについては、図５を用いて説明する。
【００４２】
図５は、第１読取り部と第２読取り部が読み取ったゴミ検出用画像データと原稿読取画像データの処理タイミングを説明するタイミングチャートであり、図４のタイミングチャートにゴミ検出処理のタイミングを加えたものである。図５の（Ａ）は、第１読取り部１１７で読み取ったゴミ検出用画像データと原稿読取画像データの入力例であり、原稿読み取り領域のタイミングで（Ｂ）に示すゴミ検出用画像データｂと原稿読取画像データとが入力される。読み取ったゴミ検出用画像データ（図中のｂ）と原稿読取画像データは、図３に示す第１画像処理部１１ａでのスキャナ処理を経て、メモリ制御部１１ｂによりメモリ１１ｃに対してデータを蓄積する。このデータの蓄積タイミングを示したのが図５の（Ｃ）および（Ｄ）である。（Ｃ）に示すそれぞれのメモリライト区間において、ゴミと原稿とを読み取ってメモリ制御部１１ｂに送られたゴミ検出用画像データ（図中のｄ）と原稿読取画像データとを（Ｄ）のタイミングでメモリ１１ｃに書き込むようにする。ここでは、原稿読み取り前にゴミ読み取りを行っているが、必ずしもこれに限定されず、逆の順序で行っても良い。
【００４３】
次に、図５の（Ｅ）および（Ｆ）は、第２読取り部１３３にて読み取ったゴミ検出用画像データ（図中のｆ）と原稿読取画像データの入力例である。なお、本第１の実施の形態では、第２読取り部１３３の読み取り画像データの入力が、図２に示すように原稿搬送路上の第１読取り部１１７の下流側に位置しているため、タイミング上は第１読取り部１１７の入力タイミングから遅れて入力されている。
【００４４】
入力されたゴミ検出用画像データと原稿読取画像データとは、第１読取り部１１７で読み取った画像データと同様に、第１画像処理部１１ａを経て、メモリ制御部１１ｂにてメモリ１１ｃにデータを蓄積する。このデータの蓄積タイミングを示したのが図５の（Ｇ）および（Ｈ）である。
【００４５】
上記処理例では、２つの読取り部１１７，１３３が読み取ったゴミ検出用画像データと原稿読取画像データをメモリ制御部１１ｂによってメモリ１１ｃに蓄積するように処理される。このように、それぞれの読取り部１１７，１３３で読み取られたゴミ検出用画像データと原稿読取画像データは、一旦メモリ１１ｃに蓄積され、次の処理としてメモリ制御部１１ｂによってメモリ１１ｃからデータを取り出して、次段処理部である第２画像処理部１１ｄに出力される。この第２画像処理部１１ｄには、ゴミ検出処理を行うゴミ検出処理部（図６の３０）と、検出されたゴミ位置に基づいて原稿読取画像データを補正するゴミ補正処理部（図６の３１）とを備えている。そして、このメモリ１１ｃからのデータの取り出しと出力処理のタイミングを示したのが、図５の（Ｉ）および（Ｊ）と、（Ｋ）および（Ｌ）である。ここでは、第１読取り部１１７で読み取った画像データを取り出した後に、第２読取り部１３３で読み取った画像データを取り出している。この順番は、あくまでも一例であり、処理要求によってどちらを先に取り出しても良い。
【００４６】
図６は、第１の実施の形態にかかる第２画像処理部の構成ブロック図である。図６の第２画像処理部１１ｄは、メモリ制御部１１ｂより送られてくる原稿読取画像データに対して、ゴミ検出データで示す画素位置の画像に対して補正処理を行うことにより、ゴミ検出位置にある原稿読取画像データを補正してメモリユニット２０に出力するものである。第２画像処理部１１ｄは、図６に示すように、ゴミ検出処理部３０、ゴミ補正処理部３１、および生データ画素レベル算出部３２などで構成されている。なお、生データ画素レベル算出部３２は、シェーディング補正を行っていない生の画像データが入力された場合に、画素レベルの算出処理を行う構成部である。本第１の実施の形態では、シェーディング補正された画像データを扱うため、メモリ制御部１１ｂから入力されたゴミ検出用画像データは、生データ画素レベル算出部３２をスルーして、ゴミ検出処理部３０で処理される。生データ画素レベル算出部３２の構成説明については、後述する。
【００４７】
まず、第２画像処理部１１ｄは、メモリ制御部１１ｂから原稿読取画像データを入力する前にゴミ検出用画像データを入力し、ゴミ検出処理部３０にてゴミ検出処理が行われる。このゴミ検出処理部３０は、ゴミ検出用の設定パラメータを与えることによって、各種画像データに対応することができる。ゴミ検出処理部３０で検出したゴミの情報は、ライン同期信号に連動して、ゴミ検出データとして次段のゴミ補正処理部３１に入力される。
【００４８】
ゴミ補正処理部３１では、後からメモリ制御部１１ｂより送られてくる原稿読取画像データに対して、前記ゴミ検出処理部３０からのゴミ検出データが示す画素位置の画像の補正処理を行うことにより、原稿読取画像データにおけるゴミ検出位置の画像が補正された原稿読取画像データとし、これをメモリユニット２０に出力する。
【００４９】
図７は、主走査のライン同期信号とゴミ検出用画像データの主走査方向への分布とゴミ検出データとを示すタイミングチャートである。図７に示すゴミ検出用画像データのＲ位置とＳ位置にゴミデータ候補が存在している。ここでは、図６に示すゴミ検出処理部３０における設定パラメータによって、図７のＲ位置にある画素をゴミとして検出し、Ｓ位置にある画素はゴミでは無いと判定した判定結果が図７のゴミ検出データである。このゴミ検出データは、検出した画素の主走査方向における画素位置を示している。ゴミ補正処理部３１は、ゴミ検出処理部３０から入力されるゴミ検出データに基づいて、原稿読取画像データ中に存在するゴミ位置の画素の補正処理を行うことによって、読取面に付着したゴミ起因による縦スジの発生を防止することができる。
【００５０】
図８は、シェーディング補正処理が施されたゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行い様々な原稿レベルの原稿読取画像データをゴミ補正処理部で補正処理を行った補正処理結果を示す図である。図８では、様々な原稿レベルの原稿読取画像データをｋライン目データ、ｍライン目データ、ｎライン目データ、ｐライン目データとして順番に配置している。例えば、ｋライン目データは、均一なグレイレベルの入力であり、Ｒ位置の画素近傍でゴミによるレベル低下が見られる。このため、これをゴミ補正処理部３１にて補正処理を行うことにより、ゴミ補正処理後データであるｋ′ライン目データを得ることができる。なお、このゴミ補正処理は、原稿読取画像データのＲ位置画素近傍の画像を用いてＲ位置の画像を算出し、補正処理を行うことによって、ゴミによる縦スジの発生を防止することができる。
【００５１】
上記したｋライン目データと同様に、ｍライン目データ、ｎライン目データ、ｐライン目データに対してもＲ位置の画素近傍の画像データを用いてＲ位置の画像を算出し、補正処理を行うことによって、ゴミによる縦スジの発生を防止することができる。なお本第１実施の形態では、ｋライン目データ、ｍライン目データ、ｐライン目データは黒スジを発生し、nライン目データは白スジを発生するデータである。
【００５２】
このように、第１の実施の形態によれば、２つの読取り部１１７，１３３を用いて原稿の両面読み取りを行い、それぞれの面のゴミ検出用画像データに基づいてゴミ検出を行い、ゴミ検出データの検出位置における原稿読取画像データを補正することにより、読み取り面のゴミ付着によって起こる縦スジ画像を補正することができる。また、複数の読取り部を設けて原稿の両面読取りを行っているため、生産性を落すことなく適正に原稿を読取ることができる。
【００５３】
（第２の実施の形態）
第２の実施の形態の特徴は、第２画像処理部１１ｄのゴミ検出処理部３０でゴミ検出処理を行う際に、シェーディング補正処理が施されていない画像データを用いる場合であっても、正しく縦スジ補正処理を行えるようにした点にある。
【００５４】
図９は、主走査のライン同期信号とシェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データの主走査方向への分布とゴミ検出データとを示すタイミングチャートである。上記した第１の実施の形態のように、シェーディング補正処理が施された画像データを用いてゴミ検出処理を行うと、適正にゴミ検出を行えないことがある。その場合、シェーディング補正処理の施されていない画像データを用いる必要があるが、図９に示すように、シェーディング補正前のゴミ検出用画像データは、原稿を照射するランプの光量分布によって、画像データの中央部レベルが高く、端部にいくに従ってレベルが落ちている。このような分布特性を持った画像データに対して、固定のしきい値を用いてゴミ付着の検出を行うと、ゴミの分布位置によって画素レベルが変化することから、検出品質にばらつきが生じる。そこで、本第２の実施の形態では、注目画素位置の近傍の画像レベルを用いて、注目画素の理想的な画素レベルの算出を行い、その画素レベルと実際の画素レベルとの差分を図６の生データ画素レベル算出部３２で算出した後、ゴミ検出処理部３０でゴミ検出判定処理を行っている。
【００５５】
図１０は、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データの注目画素の理想的な画素レベルを算出する方法を説明する図である。この画素レベルの算出処理は、図６に示す第２画像処理部１１ｄの生データ画素レベル算出部３２において行われる。例えば、図１０に示すように、注目画素Ｒの位置における理想的な画素レベルはｒであり、このｒの画素レベルを周囲画素を用いて算出する。その場合の算出方法は、周囲画素との平均化演算を行うことによって簡略に算出するようにしても良い。同様にＳ位置における理想的な画素レベルはｓであり、Ｔ位置における理想的な画素レベルはｔとなる。このように、生データ画素レベル算出部３２では、それぞれの位置（Ｒ、Ｓ、Ｔ）における理想的な画素レベル（ｒ、ｓ、ｔ）と、実際の画素レベルとの差分算出を行い、その算出された差分を用いて、ゴミ検出処理部３０においてゴミ検出判定が行われる。
【００５６】
図９の例では、Ｒ位置とＳ位置にゴミデータ候補が存在している。ここでは、Ｒ位置の画素をゴミと検出し、Ｓ位置の画素はゴミでは無いと判定したもので、その判定結果が図９に示すゴミ検出データとなる。このゴミ検出データは、検出した画素の主走査の位置を示しており、このデータを図６に示すゴミ補正処理部３１に入力し、このデータに基づいて原稿読取画像データ中に存在するゴミ位置の画素を補正処理することで、縦スジの発生を防止することができる。その後の処理については、上記第１の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
【００５７】
図１１は、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行い様々な原稿レベルの原稿読取画像データをゴミ補正処理部で補正処理を行った補正処理結果を示す図である。図１１の場合も、様々な原稿レベルの原稿読取画像データをｋライン目データ、ｍライン目データ、ｎライン目データ、ｐライン目データとして順番に配置している。例えば、ｋライン目データは、均一なグレイレベルの入力であり、Ｒ位置の画素近傍でゴミによるレベル低下が見られる。そこで、これをゴミ補正処理部３１にて補正処理を行うことにより、ゴミ補正処理後データであるｋ′ライン目データが得られる。なお、ゴミ補正処理部３１は、原稿読取画像データのＲ位置画素近傍の画像を用いてＲ位置の画像を算出し、補正処理を行うことで、ゴミによる縦スジの発生を防止している。
【００５８】
このように、第２の実施の形態によれば、２つの読取り部１１７，１３３を用いて原稿の両面読み取りを行い、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う場合であっても、生データ画素レベル算出部３２において注目画素の理想的な画素レベルを周囲画素を用いて算出し、実際の画素レベルとの差分を算出して、ゴミ検出処理部３０においてゴミ検出判定を行い、ゴミ検出データの検出位置における原稿読取画像データを補正することにより、読取面のゴミ付着によって起こる縦スジ画像を補正することができる。また、上記第１の実施の形態と同様に、複数の読取り部を設けて原稿の両面読取りを行っているため、生産性を落すことなく適正に原稿を読取ることができる。
【００５９】
（第３の実施の形態）
第３の実施の形態の特徴は、第２の実施の形態の処理をさらに進めたもので、ゴミ検出処理に用いられるシェーディング補正処理が施されていない画像データにおいて、読取りに使用するデバイスの特性により画素毎の光電変換時にレベルのばらつきが発生している場合、そのばらつきがゴミ検出処理において誤検出とならないようにした点にある。
【００６０】
図１２は、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う場合に読み取りデバイスのレベルのばらつきによるレベル低下画素がある場合のゴミ検出用画像データを示す図である。図３に示す画像読取部１１の第１読取り部１１７と第２読取り部１３３には、ＣＣＤなどの読み取りデバイスを用いているが、デバイスの特性によっては画素毎の光電変換時にレベルのばらつきが発生することがある。そこで、図１２では説明を簡略化するため、レベル低下位置が第１読取り部１１７のＵ位置の１箇所だけとして説明する。このＵ位置における画素レベルのレベル低下が大きい場合は、第１読取り部１１７を使って読み取り面のゴミ検出用画像データを取得する際に、Ｕ位置の画素の検出をマスクしてゴミ検出の対象画素から除くようにする。このマスクの設定は、デバイス毎に特性が異なるため、第１読取り部１１７および第２読取り部１３３に対してそれぞれ個別に行うようにしている。
【００６１】
また、Ｕ位置の画素データを除去する手段は、これに限定されず、第１画像処理部１１ａに対して第１読取り部１１７と第２読取り部１３３のそれぞれ除去すべき画素データの位置を予め設定しておき、第１読取り部１１７と第２読取り部１３３のいずれから入力される画像データかによって、除去すべき画素データの位置を変えながら除去するように構成しても良い。
【００６２】
第３の実施の形態では、上記のように読み取りデバイスの特性のばらつきによるレベル低下画素を予め設定しておくことにより、ゴミ検出の対象画素から除くことが可能となり、読み取り面に付着したゴミと混同して補正処理が行われるのを防止することができる。
【００６３】
図１３は、主走査のライン同期信号とシェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データの主走査方向への分布と読み取りデバイスのレベル低下画素を予め除去してゴミ検出処理を行ったゴミ検出データとを示すタイミングチャートである。図１３の例では、ゴミ検出用画像データのＲ位置とＳ位置にゴミデータ候補が存在していて、Ｕ位置に読み取りデバイスの特性のばらつきによるレベル低下画素がある。このＵ位置の画素は、第１読取り部１１７にレベル低下画素として予め設定されているため、図１３では既に除去されている。従って、上記第２の実施の形態の図９と同様に処理され、図６の生データ画素レベル算出部３２を用いて画素レベルの算出が行われ、ゴミ検出処理部３０でゴミ検出処理を行うことによって、Ｒ位置の画素はゴミと検出され、Ｓ位置の画素はゴミで無いと判定される。その判定結果が図１３に示すゴミ検出データである。
【００６４】
このゴミ検出データは、検出した画素の主走査の位置を示しており、このデータを図６に示すゴミ補正処理部３１に入力し、このデータに基づいて原稿読取画像データ中に存在するゴミ位置の画素を補正処理することにより、縦スジの発生を防止することができる。その後の処理については、上記第１の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
【００６５】
このように、第３の実施の形態によれば、２つの読取り部１１７，１３３を用いて原稿の両面読み取りを行い、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う際に、読み取りデバイスの特性のばらつきによるレベル低下画素の画素位置を予め設定しておくことにより、ゴミ検出の対象画素から除くことができるので、読み取り面に付着したゴミと混同して縦スジ画像の補正処理が行われるのを防ぐことができる。
【００６６】
（第４の実施の形態）
第４の実施の形態の特徴は、読取りに使用されるデバイスが複数のラインセンサを１ライン上に並べて構成され、ゴミ検出処理に用いられるゴミ検出用画像データにはシェーディング補正処理の施されていない画像データが用いられているという点にある。
【００６７】
図１４は、シェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う場合に１ライン分の主走査幅にラインセンサを３個並べて読取りデバイスを構成した場合のゴミ検出用画像データを示す図である。図１４では、１ライン分の主走査幅を得るためにラインセンサが３個並べて構成され、それぞれのラインセンサ間に光電変換時のばらつきがある場合である。このため、図１４に示すように、画像データのレベル再現において、ラインセンサ間のつなぎ画素であるＶ位置とＷ位置においてゴミ検出処理の際に、誤検知が発生し易くなる。
【００６８】
そこで、第４の実施の形態では、図３に示す画像読取部１１の第１読取り部１１７と第２読取り部１３３において、３個のラインセンサの間のつなぎ画素であるＶ位置とＷ位置の画素の検出をマスクし、ゴミ検出の対象画素から除くように構成されている。このマスクの設定は、つなぎ画素のＶ位置の画素とＷ位置の画素が予め分かっていることから、ゴミ検出時の検出除外対象として除外設定が施されている。
【００６９】
図１５は、主走査のライン同期信号とシェーディング補正処理が施されていないゴミ検出用画像データの主走査方向への分布と読み取りデバイスのつなぎ画素を予め除去してゴミ検出処理を行ったゴミ検出データとを示すタイミングチャートである。図１５の例では、図１４に示したＶ位置とＷ位置とがラインセンサのつなぎ画素であるため、この部分の画素が検出除外対象として処理され、ゴミ検出処理による検出対象から除外される。このため、Ｒ位置とＳ位置がゴミ検出処理の対象となり、この後の処理は上記第２の実施の形態における図１０と同様となる。すなわち、図６の第２画像処理部１１ｄの生データ画素レベル算出部３２では、画素レベルの算出処理が行われ、Ｖ位置とＷ位置における理想的な画素レベルと、実際の画素レベルとの差分算出を行い、その算出された差分を用いて、ゴミ検出処理部３０においてゴミ検出判定が行われる。
【００７０】
図１５の例では、Ｒ位置とＳ位置にゴミデータ候補が存在し、ここでは、Ｒ位置の画素をゴミと検出し、Ｓ位置の画素はゴミでは無いと判定したもので、その判定結果が図１５に示すゴミ検出データとなる。このゴミ検出データは、検出した画素の主走査の位置を示しており、このデータを図６に示すゴミ補正処理部３１に入力し、このデータに基づいて原稿読取画像データ中に存在するゴミ位置の画素を補正処理することにより、縦スジの発生を防止することができる。その後の処理については、上記第１の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
【００７１】
このように、第４の実施の形態によれば、読取りに使用されるデバイスが複数のラインセンサを１ライン上に並べて構成され、ゴミ検出処理に用いられるゴミ検出用画像データにシェーディング補正処理の施されていない画像データを用いる場合であっても、それぞれの読取り部１１７、１３３においてラインセンサのつなぎ画素を検出除外対象として処理するため、仮にラインセンサ間に光電変換時のばらつきがあったとしてもゴミ検出処理による検出対象から除外されることから、つなぎ画素をゴミと誤検出することがなくなり、読取面のゴミ付着によって起こる縦スジ画像の補正を適正に行うことができる。
【００７２】
（第５の実施の形態）
第５の実施の形態の特徴は、第１読取り部１１７と第２読取り部１３３とを使って原稿の両面読取りを行っているが、２つの読取り部の特性が全く同一とは限らないため、それぞれの読取りに適した設定をゴミ検出処理の前に施した上でゴミ検出処理を行い、適正な処理データが得られるようにした点にある。
【００７３】
第５の実施の形態では、図６に示すゴミ検出処理部３０に不図示のメモリを備えていて、２つの読取り部１１７、１３３の特性に応じたゴミ検出処理パラメータをそれぞれ保持している。そして、図３に示す制御手段としてのＣＰＵ２２は、第１読取り部１１７と第２読取り部１３３で読み取られたゴミ検出用画像データを第２画像処理部１１ｄのゴミ検出処理部３０で処理する際に、いずれの読取り部で読み取った画像データかによって、ゴミ検出処理部３０内のメモリに保持されたゴミ検出処理パラメータを切り替えて、ゴミ検出処理を行うように制御する。
【００７４】
この切り替えタイミングは、図５の（Ｌ）に示すように、第１読取り部１１７で読み取ったゴミ検出用画像データを取り出してＬ１のタイミングでゴミ検出処理を行った後に、第２読取り部１３３で読み取ったゴミ検出用画像データを取り出してＬ２のタイミングでゴミ検出処理を行っているので、それぞれのゴミ検出処理を行う前にＣＰＵ２２がゴミ検出処理部３０のメモリに保持されているゴミ検出処理パラメータを適正な設定値に切り替えることで対応することができる。
【００７５】
このように、第５の実施の形態によれば、両面読取りに使用される２つの読取りデバイスが異なる読み取り特性を持っていたとしても、適正なタイミングでＣＰＵ２２が第２画像処理部１１ｄのゴミ検出処理部３０のメモリが保持するゴミ検出処理パラメータを切り替えることによって、画像読取りにおける生産性を落とすことなく、それぞれのデバイスの読取り特性に応じたゴミ検出処理を行うことが可能となり、適正な縦スジ画像の補正処理を行うことができる。
【００７６】
（第６の実施の形態）
第６の実施の形態の特徴は、シェーディング補正されたゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う際に、ゴミ検出処理時のゴミ画素位置の画素レベルよりも、補正処理時における原稿読取画像データのゴミ画素位置の画素レベルの方がレベル低下している場合であっても、適正な縦スジ補正処理を行えるようにした点にある。
【００７７】
ゴミ検出処理時には、白い背景を用いているため、ゴミの周囲画素が明るく、この明るい周囲画素の影響を受けて、ゴミ画素位置の画素レベルが通常より高めに検出されることがある。これに対し、補正処理時における原稿読取画像データは、必ずしも背景が白とは限らず、ゴミ検出処理時のような周囲画素の影響を受け難く、ゴミ検出処理時よりも補正処理時の画素レベルが低下するという傾向がある。このため、ゴミ検出処理部３０で検出した画素レベルを参考にして、ゴミ補正処理部３１においてゴミ画素位置の画素レベルを補正しようとすると、過補正となってしまい、白い縦スジが発生することがあった。
【００７８】
そこで、第６の実施の形態では、図６に示す第２画像処理部１１ｄ内のゴミ検出処理部３０において、検出したゴミ画素位置の画素レベルをサンプリングする。続いて、ゴミ補正処理部３１では、ゴミ補正処理を行う前の原稿読取画像データのゴミ画素位置の画素レベルを求め、ゴミ検出処理時にサンプリングした画素レベルと比較して、画素レベルが低下している場合は、過補正になる可能性が高い。その場合、ゴミ補正処理部３１では、ゴミ検出処理部３０で検出した画素レベルを参考にしてゴミ画素位置を補正するのではなく、ゴミ画素位置とその周囲画素レベルとを検出し、ゴミ画素位置における画素レベルがゴミの周囲画素と同じ画素レベルとなるように補正する。
【００７９】
このように、第６の実施の形態によれば、シェーディング補正されたゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う場合に、ゴミ検出処理時と補正処理時のゴミ画素位置の画素レベルを比較し、ゴミ検出処理時のゴミ画素位置の画素レベルよりも補正処理時の画素レベルの方が低下している場合は、ゴミ補正処理部３１において、原稿読取画像データのゴミ画素位置とその周囲画素のレベルとを検出し、ゴミ画素位置における画素レベルがゴミの周囲画素と同じ画素レベルになるように補正することで、過補正を防止し、適正な縦スジ補正処理を行うことができる。
【００８０】
（第７の実施の形態）
第７の実施の形態の特徴は、シェーディング補正前のゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う際に、上記第６の実施の形態と同様に周囲画素の影響を受けて、ゴミ検出処理時よりも補正処理時の方がゴミ画素位置の画素レベルが低下する場合であっても、適正な縦スジ補正処理を行えるようにした点にある。
【００８１】
第７の実施の形態は、ゴミ検出処理時にシェーディング補正前のゴミ検出用画像データを用い、補正処理時にはシェーディング補正を行った原稿読取画像データを用いているため、両者の画像レベルが異なることから、第６の実施の形態のように画素レベルを比較することができない。そこで、第７の実施の形態では、ゴミ検出処理時にシェーディング補正前のゴミ検出用画像データを用いる場合、常にゴミ補正処理部３１において、ゴミ画素位置の画素レベルとその周囲画素レベルとを検出し、ゴミ画素位置における画素レベルがゴミの周囲画素と同じ画素レベルとなるように補正する。
【００８２】
このように、第７の実施の形態によれば、シェーディング補正前のゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う場合は、常にゴミ補正処理部３１において、ゴミ画素位置の画素レベルとその周囲画素レベルとを検出し、ゴミ画素位置における画素レベルがゴミの周囲画素と同じ画素レベルとなるように補正することで、過補正を防止し、適正な縦スジ補正処理を行うことができる。
【００８３】
（第８の実施の形態）
第８の実施の形態の特徴は、シェーディング補正前のゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行う際に、上記第４の実施の形態のように複数のラインセンサが１ライン上に配置されて読取りデバイスが構成され、ラインセンサ間で再現画像にレベル差がある場合、つなぎ画素のレベル差をゴミとして検出し、過補正処理が行われることのないようにする点にある。
【００８４】
例えば図１４に示すように、読取り特性の異なる複数のラインセンサを１ライン上に配置し、シェーディング補正前のゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行うと、ラインセンサ間のつなぎ目部分に段差（レベル差）を生じる。図１４では、Ｖ位置画素とＷ画素位置がつなぎ画素となる。このため、段差のあるゴミ検出用画像データを用いて、図６に示す第２画像処理部１１ｄのゴミ検出処理部３０でゴミ検出処理を行うと、つなぎ画素がゴミとして検出され、次段のゴミ補正処理部３１で縦スジ補正処理を行うと、過補正となることがあった。例えば、縦スジ補正処理を行う原稿読取画像データは、シェーディング補正によって均一濃度の画像となるので、補正処理を行ってもレベル差は生じないが、つなぎ目部分に文字などの像があると、その部分が補正されてしまうため、文字画像の崩れが生じる（過補正となる）。
【００８５】
そこで、第８の実施の形態では、図６の第２画像処理部１１ｄのゴミ補正処理部３１において、ゴミ検出処理部３０のゴミ検出処理によって得られたゴミ画素位置の画素レベルと、その周囲画素の画素レベルとに基づいて、ラインセンサ同士が接するつなぎ目部分の画素か否かを検出し、つなぎ目部分の画素であれば補正対象画素から外すようにする。そして、ゴミ補正処理部３１は、前記原稿読取画像データの補正対象画素の画素レベルと、その周囲画素の画素レベルとに基づいて、ゴミ画素位置の画素レベルがゴミの周囲画素と同じ画素レベルとなるように補正を行う。これにより、ラインセンサ間のつなぎ目部分をゴミとして検出することによる過補正を防止すると共に、縦スジ補正処理に必要な読取り面に付着したゴミ画像のみを適正に補正することができる。
【００８６】
このように、第８の実施の形態によれば、シェーディング補正前のゴミ検出用画像データを用いてゴミ検出処理を行い、読取りデバイスが複数のラインセンサを１ライン上に配置することによって構成され、ラインセンサ間で再現画像にレベル差があった場合でも、ラインセンサ間のつなぎ目部分を縦スジ補正対象としないように補正対象画素から外すことによって、過補正を防止し、読取り面に付着したゴミのみを補正対象画素として、適正に縦スジ補正処理を行うことができる。
【００８７】
（第９の実施の形態）
第９の実施の形態の特徴は、第１読取り部１１７と第２読取り部１３３とを使って原稿の両面読取りを行っているが、２つの読取り部の特性が全く同一とは限らないため、それぞれの読取りに適した設定を縦スジ画像の補正前に施した上でゴミ補正処理を行うことにより、適正な縦スジ画像の補正処理を行うようにした点にある。
【００８８】
第９の実施の形態では、図６に示すゴミ検出処理部３１に不図示のメモリを備えていて、２つの読取り部１１７、１３３の特性に応じた縦スジ画像の補正処理パラメータをそれぞれ保持している。そして、図３に示す制御手段としてのＣＰＵ２２は、第１読取り部１１７と第２読取り部１３３で読み取った原稿読取画像データを第２画像処理部１１ｄのゴミ補正処理部３１で補正処理を行う際に、いずれの読取り部で読み取った原稿読取画像データかによって、ゴミ補正処理部３１内のメモリに保持された補正処理パラメータを切り替えてゴミ補正処理を行うように制御する。
【００８９】
この切り替えタイミングは、図５の（Ｌ）に示すように、第１読取り部１１７で読み取った原稿読取画像データ（図中ではＬ１の後の出力データ）を取り出してゴミ補正処理を行った後に、第２読取り部１３３で読み取った原稿読取画像データ（図中ではＬ２の後の出力データ）を取り出してゴミ補正処理を行っているので、それぞれのゴミ補正処理を行う前にＣＰＵ２２がゴミ補正処理部３１のメモリに保持されている補正処理パラメータを適正な設定値に切り替えることによって対応することができる。
【００９０】
このように、第９の実施の形態によれば、両面読取りに使用される２つの読取りデバイスが異なる読み取り特性を持っていたとしても、適正なタイミングでＣＰＵ２２が第２画像処理部１１ｄのゴミ補正処理部３１のメモリが保持する補正処理パラメータを切り替えることによって、画像読取りにおける生産性を落とすことなく、それぞれのデバイスの読取り特性に応じた適正な縦スジ画像の補正処理を行うことができる。
【符号の説明】
【００９１】
１１  画像読取部
１１ｂ  メモリ制御部
１１ｃ  メモリ
１１ｄ  第２画像処理部
２２  ＣＰＵ
２３  ＣＰＵメモリ
３０  ゴミ検出処理部
３１  ゴミ補正処理部
３２  生データ画素レベル算出部
１１７  第１読取り部
１３３  第２読取り部
【先行技術文献】
【特許文献】
【００９２】
【特許文献１】特開２００５−１２９９８６号公報
【特許文献２】特開２００２−２６２０８３号公報
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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