(57)【要約】【課題】高周波コネクタの外部端子とアースブラケット間の接触抵抗を正確に求めることのできる高周波コネクタ検査方法を提供する。【解決手段】高周波コネクタ１０のシールド端子１５と電気的に接続されたアースブラケット２０を備えたアースブラケット付き高周波コネクタ３０のそのアースブラケット２０とシールド端子１５間の接触抵抗を測定し、測定結果の接触抵抗値が閾値以下であるかどうかを検査する高周波コネクタ検査方法において、低抵抗検査装置４９と低抵抗検査装置４９にそれぞれ電気的接続関係にある２個の検出子４６・４７を備え、検出子４６の接触部４６Ｃを高周波コネクタ１０内のアース側端子１５に接触させ、検出子４７の接触部４７Ｃをアースブラケット２０の連結部２０Ｒに接触させることにより、低抵抗検査装置４９に流れる電流値を測定し、測定された電流値からアースブラケット２０とシールド端子１５間の接触抵抗を求めるようにした。【選択図】図１
2011047885.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
高周波コネクタのシールド端子と電気的に接続されたアースブラケットを備えたアースブラケット付き高周波コネクタの前記アースブラケットと前記シールド端子間の接触抵抗を測定し、測定結果の前記接触抵抗値が閾値以下であるかどうかを検査する高周波コネクタ検査方法において、
低抵抗検査装置と前記低抵抗検査装置にそれぞれ電気的接続関係にある２個の検出子とを備え、
一方の前記検出子の接触部を前記高周波コネクタ内のアース側端子に接触させ、他方の前記検出子の接触部を前記アースブラケットに接触させることにより、前記低抵抗検査装置を含む閉回路を構成して閉回路に流れる電流値を測定し、前記測定された電流値から前記アースブラケットと前記シールド端子間の接触抵抗を求めることを特徴とする高周波コネクタ検査方法。
【請求項２】
前記アースブラケットがコ字状に曲折しており、前記検出子を前記コ字状の連結部に接触させることを特徴とする請求項１記載の高周波コネクタ検査方法。
【請求項３】
前記閾値を１Ωとすることを特徴とする請求項１記載の高周波コネクタ検査方法。
【請求項４】
高周波コネクタのシールド端子と電気的に接続されたアースブラケットを備えたアースブラケット付き高周波コネクタの前記アースブラケットと前記シールド端子間の接触抵抗を測定し、測定結果の前記接触抵抗値が閾値以下であるかどうかを検査する高周波コネクタ検査装置において、
前記アースブラケット付き高周波コネクタを載置する載置台と、低抵抗検査装置と、前記低抵抗検査装置にそれぞれ電気的接続関係にある２個の検出子と、を備え、
前記載置台は前記アースブラケット付き高周波コネクタをガタつきなく載置できる形状を備え、
前記載置台に前記アースブラケット付き高周波コネクタを載置した状態で、前記一方の前記検出子の接触部を前記高周波コネクタ内のアース側端子に接触でき、他方の前記検出子の接触部を前記アースブラケットに接触できるように前記２個の検出子をそれぞれ前記載置台に設け、
検査時に前記検出子の接触部を前記アース側端子に接触させ、前記検出子の接触部を前記アースブラケットに接触させることにより、前記低抵抗検査装置を含む閉回路を構成して閉回路に流れる電流値を測定し、前記測定された電流値から前記アースブラケットと前記シールド端子間の接触抵抗を求めることを特徴とする高周波コネクタ検査装置。
【請求項５】
前記載置台に前記アースブラケット付き高周波コネクタが載置されたことを検出する検出器を備え、前記検出器が前記高周波コネクタの載置を検出したら、前記検出子の接触部を自動的に前記アース側端子に接触させ、前記検出子の接触部を自動的に前記アースブラケットに接触させることを特徴とする請求項４記載の高周波コネクタ検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、同軸ケーブルの編組線に重畳した誘導ノイズを確実に車両ボディに逃がすためにアースブラケットを高周波コネクタのアース端子に接続して成る高周波コネクタの検査方法およびその装置に関し、特に、アースブラケットが高周波コネクタのアース端子に確実に挿着しているかどうかを正確かつ簡単に検査できる検査方法およびその装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
〈本発明が対象とする高周波コネクタの構成〉
本発明が対象としている高周波コネクタとはどのような構成のものなのかについて簡単に説明しておくこととする。
《高周波コネクタに関する図面の説明》
図５〜図１１は本発明の検査装置が検査対象としている高周波コネクタを説明する図で、図５および図６は高周波コネクタの縦断面図である。図５は高周波コネクタにアースブラケットを挿着する前の図、図６はアースブラケットの挿着後の図である。図７は図５のＸ−Ｘ断面図、図８は図５の正面図である。図９は外部端子の形状を説明する断面図、図１０は２個の外部端子とアースプレートとの接続関係を説明する斜視図、図１１はシールド電線と外部端子との接続関係を説明する斜視図である。
【０００３】
〈高周波コネクタにはアースブラケットが固定されている〉
図５〜図８において、高周波コネクタ１０のハウジング内部には、コネクタハウジングを貫通するシールド端子収容室１０Ｓ（図８）を２個と、１個の端子収容室１０Ｔ（図８）とが設けられており、その２つのシールド端子収容室１０Ｓの下方に隆起部１１が形成されて、この隆起部１１にその前後（図面で垂直方向）を貫通する係合孔１１Ｓ（図８、図５）が設けられ、さらに係合孔１１Ｓの内壁面には係合突起１１Ｔ（図５参照）が設けられている。
また、アースブラケット２０（図５）は長尺状をした途中が略コ字状に曲折されて成り、その先端部２０Ｓが係合孔１１Ｓに挿入され、後端部が導電性の対象物に取付・固定されて用いられる。
そして、アースブラケット２０の先端部２０Ｓの近傍には係止切り欠き２０Ｔが形成されており、先端部２０Ｓが係合孔１１Ｓ内に挿入されたとき、係合孔１１Ｓの内壁面に設けられた係合突起１１Ｔ（図５参照）がアースブラケット２０の係止切り欠き２０Ｔに係合してアースブラケット２０が高周波コネクタ１０に係止される。
【０００４】
〈シールド電線１２の構成〉
シールド電線１２は、シールド端子１３〜１５に接続するために先端部分の外部被覆１２Ｃを剥離してシールド編組１２Ｍを露出させ、更にシールド編組１２Ｍの先端部の内部被覆１２Ｈを除去して芯線１２Ｗを露出させる。
【０００５】
〈シールド端子の構成〉
シールド電線１２（図１１）の端部を固定するシールド端子は、内部端子１３と、内部端子１３を収納する絶縁支持体１４と、絶縁支持体１４が挿入される外部端子１５とにより構成されている。
【０００６】
《内部端子１３の構成》
内部端子１３（図１１）は先端部に雄型の電気接続部１３Ｃが設けられ、後端部に芯線圧接部Ｐ１、Ｐ２の２枚を立設してこの間に芯線１２Ｗを挟んで圧設する芯線接続部１３Ｐが設けられる。電気接続部１３Ｃはコネクタ１０が相手コネクタに嵌合したとき、相手コネクタの雌端子に電気接続される。芯線接続部１３Ｐに内部被覆１２Ｈを挿入して芯線圧接部Ｐ１、Ｐ２を互いに押圧することで内部被覆１２Ｈを貫通して芯線１２Ｗに圧接する。
【０００７】
《絶縁支持体１４の構成》
絶縁支持体１４（図１１）は外形が保持体収容部１５Ｈの内部に挿入されるような形状に形成され、かつ電気接続部１３Ｃの挿入される貫通孔１４Ａが中心に形成されている。、貫通孔１４Ａに挿入された電気接続部１３Ｃの先端部は貫通孔１４Ａより突出する（図５、図７）。
【０００８】
《外部端子１５の構成》
外部端子１５（図１１）は先端部に筒状の保持体収容部１５Ｈが形成され、保持体収容部１５Ｈの後方に保持体収容部１５Ｈの両側壁より外方に膨出する膨出部１５Ｂが設けられ、さらにその後方に両側端から上方に突出するシールド挟持片１５Ｋ１，外被挟持片１５Ｋ２が設けられている。
シールド挟持片１５Ｋ１及び外被挟持片１５Ｋ２は、加締め加工によりそれぞれシールド電線１２のシールド編組１２Ｍ及び外部被覆１０Ｃを挟持する。
膨出部１５Ｂは、端子収容室１０Ｓ（図８）の内壁面の外側に設けられた金属筒に接触する。
保持体収容部１５Ｈは金属板で四角円筒状に形成され、四角円筒の内部に絶縁支持体１４が挿入される（図５、図７）。
【０００９】
〈アースプレート１５Ｅの構成〉
アースプレート１５Ｅ（図９、図１０）は外部端子１５の近傍に外部端子１５とほぼ平行に配列され、アースプレート１５Ｅの後端部はほぼ直角に交叉する接続部材１５Ｃを介して外部端子１５の後端部と一体的に形成されている。導電性のアースブラケット２０が挿入する係合孔１１Ｓ（図８）が２個の収容室１０Ｓの下方にあるため、アースプレート１５Ｅの中間部を屈曲して先端部を係合孔１１Ｓの位置に合わせている（図９）。アースプレート１５Ｅの先端下部側に突起部１５Ｔ（図９）が形成されている。
【００１０】
〈シールド端子をコネクタの収容室に挿入してコネクタが完成〉
以上のように構成されたシールド電線１２をコネクタ１０に固定するには、シールド電線１２を接続したシールド端子１３〜１５をコネクタ１０の後方から収容室１０Ｓ（図８）に挿入すると、収容室１０Ｓの内壁面に斜めに突出するランスの先端がシールド端子の外部端子１５の上部に係合し、外部端子１５を係止して、コネクタ１０が完成する。このとき、アースプレート１５Ｅの先端部１５Ｓ（図９）は係合孔１１Ｓ（図８）に挿入される。
なお、収容室１０Ｔ（図８）にはシールド電線１２以外の一般の電線１２’を接続した端子が挿入されて同様に係止されるが、本発明には関係ないので詳しい説明は省略する。
【００１１】
〈シールド電線１２とアースブラケット２０の電気的接続〉
コネクタ１０の下方に形成された隆起部１１（図８）に設けられた係合孔１１Ｓにアースブラケット２０（図５）の先端部２０Ｓを挿入すると、アースブラケット２０が係合突起１１Ｔ（図５）に係合してコネクタ１０内に係止されると共に、アースブラケット２０の先端部２０Ｓがアースプレート１５Ｅの突起部１５Ｔ（図５）に圧接して、最終的にシールド電線１２とアースブラケット２０の電気的接続が完成する。すなわち、これによってシールド端子のシールドがアースプレート１５Ｅを経由して直接にアースブラケット２０にアースされる。
相手方コネクタハウジングがコネクタ１０に嵌合されると、相手方コネクタハウジングの内部に収容されたシールド端子がシールド端子１３〜１５に電気的に接続される。
シールド電線１２を用いた場合、同軸ケーブルのシールド編組１２Ｍに誘導ノイズが重畳し易くなるが、重畳した誘導ノイズは以上の構成によってシールド編組１２Ｍ→外部端子１５→アースプレート１５Ｅ→アースブラケット２０を経て確実に車両ボディに逃がされることとなる。
【００１２】
〈高周波コネクタ検査装置の必要性〉
シールド電線１２に誘導ノイズが重畳してもこのようにアースブラケット２０を経て車両ボディに逃がされることとなるのであるが、そのためにはシールド編組１２Ｍ→外部端子１５→アースプレート１５Ｅ→アースブラケット２０の電気的接続が確実に行われていることが必要である。
したがってアースブラケットが高周波コネクタのアース端子に確実に挿着しているかどうかを正確かつ迅速に検査できる検査装置が必要となる。
そこで、高周波コネクタの検査装置について調査したところ、特許文献１の検査装置が公知となっている。
【００１３】
〈特許文献１の検査装置〉
特許文献１の検査装置は、クランプやワイヤーハーネスを有するコネクタの導通検査に適合した導通検査器を提供するためのもので、具体的にはコネクタを保持するコネクタの保持部と、この保持部に接離移動可能な検査部とを備え、検査部には端子金具と接触できるコンタククトプローブと、クランプに接触できるコンタクトプローブとを備え、コネクタ保持部にはクランプやワイヤーハーネスを取り付けたままコネクタを収容保持できるようにした凹部が形成され、かつ２つのコンタクトプローブは端子金具とクランプの位置に対応して設置している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１４】
【特許文献１】特開平９−１４５７６８号公報
【特許文献２】特開２００７−１８７６０４号公報
【特許文献３】特開２００６−３００５６８号公報
【００１５】
〈特許文献１の検査装置の問題点〉
特許文献１の検査装置はこのようにクランプやワイヤーハーネスを取り付けたままコネクタを収容保持できるようにしたので、クランプやワイヤーハーネスを取り付けたまま付属部品センサをクランプに当接することによりクランプの取り付けの有無を簡単に検出することができるという効果があるが、しかしながら高周波コネクタのアース端子（外部端子）とアースブラケットとの間の接続状態を検査するものではなかった。
【００１６】
〈コネクタ間およびアースブラケット間の抵抗を検出する検出装置〉
そこで本出願人は高周波コネクタ同士を繋ぐ同軸ケーブルとこの高周波コネクタの一方に取り付けられたアースブラケットとの接続状態（抵抗）を測定できる検査装置を先に考出した。図１２は本出願人が先に考出した高周波コネクタとアースブラケットとの間の抵抗を測定する検査装置の原理図である。
１００は検査装置で、２個の検出子１２０、１３０と、検出子１２０と検出子１３０の間を電気的に接続する接続線１４０と、接続線１４０の途中に介在する抵抗検査装置１５０を用いて実現される。
検出子１２０の先端をアースブラケット２０側に、検出子１３０の先端を相手側コネクタ１０’の外部端子１５’にそれぞれ接触させることにより、シールド電線１２を介して閉回路（１２０→２０→２０Ｓ→１５Ｔ→１５Ｅ→１５→１２→１５’→１３０→１４０→１５０→１４０→１２０）が形成される。そして、抵抗検査装置１５０内には電源が内蔵されているので閉回路が形成されると、閉回路内に電流が流れ、この電流を測定することでこの閉回路の持つ抵抗値を検出することができる。
【００１７】
〈図１２の抵抗検査装置の問題点〉
しかしながら、図１２の抵抗検査装置でも、高周波コネクタのアース端子（外部端子）とアースブラケットとの間の接続状態を正確に検査することができないことが判った。
その理由は、抵抗検査装置１５０による抵抗値の測定は、検出子１２０と検出子１３０間の抵抗１ｋΩ〜１．８ｋΩ（機種によって若干異なるが）を基準値として、測定値が基準値を超えればＮＧ、基準値以下ならＯＫの判定を行うものであり、しかもその基準値は最大±２０％の誤差を吸収するので、高周波コネクタのシールド端子（外部端子１５）とアースブラケットとの間の小さな接触抵抗（ｍΩオーダー）を検出することができないからである。
また、編組線１２Ｍ（図７）を介して高周波コネクタ１０のシールド端子（外部端子）１５（図７）とアースブラケット２０（図７）の接触抵抗を検出する場合、検出子１２０と検出子１３０間の抵抗（編組線１２Ｍ自体の抵抗＋高周波コネクタのシールド端子１５とアースブラケット２０との間の接触抵抗の和）と編組線１２Ｍ自体の抵抗をそれぞれ測定し、その差分を計算しなければならない。ところが、編組線１２Ｍ自体の抵抗は高周波コネクタのシールド端子１５とアースブラケット２０との間の接触抵抗より大きいため、検出子１２０と検出子１３０間の抵抗は編組線１２Ｍ自体の抵抗が支配的になるので、アース端子とアースブラケットとの間の小さな接触抵抗は埋没してしまうからである。
【００１８】
《編組線１２Ｍとアースブラケット２０の接触抵抗の閾値は１Ω》
図１３は同軸ケーブルの編組線１２Ｍとアースブラケット２０の接触抵抗による誘導ノイズレベルの測定結果である。
接触抵抗値が０Ω、０．１Ω、１Ω、１０Ωの場合は周波数が１ＭＨ（白棒グラフ）１００ＭＨ（黒棒グラフ）いずれもノイズレベルが０．５で許容範囲であるのに対して、接触抵抗値が１２０Ω、１２００Ω、∞Ωとなると周波数が１ＭＨや１００ＭＨのいずれにおいてもノイズレベルが０．５を超えてしまいＮＧとなっている。
この結果判ることは、編組線１２Ｍとアースブラケット２０の接触抵抗値が１Ω以下であれば、同軸ケーブルの編組線に重畳した誘導ノイズを確実に車両ボディに逃すことができ、同軸ケーブルの編組線に重畳した誘導ノイズを低減することができる、ということである。したがって、編組線１２Ｍとアースブラケット２０の接触抵抗の閾値を１Ωとし、１Ω以下である小さな抵抗値を検出することのできる抵抗検査装置が要求される。
ところが  図１２の抵抗検査装置では原理的に編組線自体の大きな抵抗を含んでしまうため、高周波コネクタのアース端子（外部端子）とアースブラケットとの間の抵抗値を閾値の１Ωレベルで正確に検査することができなかった。
他に、特許文献２および特許文献３にも高周波コネクタの検査について開示されていたが、いずれも上記先行発明レベルであって、高周波コネクタのアース端子（外部端子）とアースブラケットとの間の抵抗値を正確に検査することができるものではない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
そこで、本発明は、これらの課題を解決するためになされたもので、高周波コネクタのアース端子（外部端子）とアースブラケットとの間の抵抗値をｍΩレベルで正確に測定することができる検査方法およびその方法を簡単に実現する検査装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
高周波コネクタ検査方法に係る第１発明は、高周波コネクタのシールド端子と電気的に接続されたアースブラケットを備えたアースブラケット付き高周波コネクタの前記アースブラケットと前記シールド端子間の接触抵抗を測定し、測定結果の前記接触抵抗値が閾値以下であるかどうかを検査する高周波コネクタ検査方法において、低抵抗検査装置と前記低抵抗検査装置にそれぞれ電気的接続関係にある２個の検出子とを備え、一方の前記検出子の接触部を前記高周波コネクタ内のアース側端子に接触させ、他方の前記検出子の接触部を前記アースブラケットに接触させることにより、前記低抵抗検査装置を含む閉回路を構成して閉回路に流れる電流値を測定し、前記測定された電流値から前記アースブラケットと前記シールド端子間の接触抵抗を求めることを特徴としている。
また、第２発明は、第１発明の高周波コネクタ検査方法において、前記アースブラケットがコ字状に曲折しており、前記検出子を前記コ字状の連結部に接触させることを特徴としている。
また、第３発明は、第１発明の高周波コネクタ検査方法において、前記閾値を１Ωとすることを特徴としている。
第４発明は、高周波コネクタ検査装置に係り、高周波コネクタのシールド端子と電気的に接続されたアースブラケットを備えたアースブラケット付き高周波コネクタの前記アースブラケットと前記シールド端子間の接触抵抗を測定し、測定結果の前記接触抵抗値が閾値以下であるかどうかを検査する高周波コネクタ検査装置において、前記アースブラケット付き高周波コネクタを載置する載置台と、低抵抗検査装置と、前記低抵抗検査装置にそれぞれ電気的接続関係にある２個の検出子と、を備え、前記載置台は前記アースブラケット付き高周波コネクタをガタつきなく載置できる形状を備え、前記載置台に前記アースブラケット付き高周波コネクタを載置した状態で、前記一方の前記検出子の接触部を前記高周波コネクタ内のアース側端子に接触でき、他方の前記検出子の接触部を前記アースブラケットに接触できるように前記２個の検出子をそれぞれ前記載置台に設け、検査時に前記検出子の接触部を前記アース側端子に接触させ、前記検出子の接触部を前記アースブラケットに接触させることにより、前記低抵抗検査装置を含む閉回路を構成して閉回路に流れる電流値を測定し、前記測定された電流値から前記アースブラケットと前記シールド端子間の接触抵抗を求めることを特徴としている。
そして、第５発明は、第４発明の高周波コネクタ検査装置において、前記載置台に前記アースブラケット付き高周波コネクタが載置されたことを検出する検出器を備え、前記検出器が前記高周波コネクタの載置を検出したら、前記検出子の接触部を自動的に前記アース側端子に接触させ、前記検出子の接触部を自動的に前記アースブラケットに接触させることを特徴としている。
【発明の効果】
【００２１】
第１発明によれば、低抵抗検査装置にそれぞれ電気的接続関係にある２個の検出子のうち第１の検出子の接触部を高周波コネクタ内のアース側端子に接触させ、第２の検出子の接触部をアースブラケットに接触させることにより、シールド線を介さずにアースブラケットとシールド端子間の接触抵抗を直接求めることができるので、小さな接触抵抗でも正確に求めることができるようになる。
【００２２】
第２発明によれば、コ字状に曲折したアースブラケットのコ字状の連結部に検出子の接触部を接触させることができるので、検出がし易くなる。
【００２３】
第３発明によれば、各試験の結果、閾値を１Ωとすることにより、利用可能な接触抵抗とＮＧとを正確に区別することができるようになる。
【００２４】
第４発明によれば、載置台にアースブラケット付き高周波コネクタをガタつきなく載置できるので、検出子の接触部を高周波コネクタ内のアース側端子に正確に接触でき、他方の検出子の接触部をアースブラケットに正確に接触できるようになり、したがってまた、アースブラケットとシールド端子間の接触抵抗を正確にかつ迅速に求めることができるようになる。
【００２５】
第５発明によれば、検出器が高周波コネクタの載置を検出したことによって、検出子の接触部を自動的にアース側端子に接触させ、検出子の接触部を自動的にアースブラケットに接触させることができるようになり、したがってまた、アースブラケットとシールド端子間の接触抵抗を迅速に求めることができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】図１は高周波コネクタのアース端子とアースブラケットとの間の抵抗値を正確に測定することができる本発明に係る検査方法の原理図（ａ）と、そこに用いられている検出子の構成と動作を説明する概念図（ｂ）である。
【図２】図２は高周波コネクタのアース端子とアースブラケットとの間の抵抗値を正確かつ簡単に測定することができる本発明に係る検査装置の概念平面図（ａ）と、概念側面図（ｂ）と、検査対象であるアースブラケット付き高周波コネクタの概念平面図（ｃ）である。
【図３】図３は検査対象３０を本発明に係る検査装置に載置したときの検出子４６・４７の動作を説明する平面図で、（１）から（３）に時系列で進む。
【図４】図４は図２の検査装置の上に検査対象であるアースブラケット付き高周波コネクタが載置された状態の概念平面図（ａ）と、概念側面図（ｂ）である。
【図５】図５は高周波コネクタにアースブラケットを挿着する前の高周波コネクタの縦断面図（ａ）と、そのアースブラケットの平面図（ｂ）である。
【図６】図６は高周波コネクタにアースブラケットを挿着した後の高周波コネクタの縦断面図である。
【図７】図７は図５のＸ−Ｘ断面図である。
【図８】図８は図５の正面図である。
【図９】図９は外部端子の形状を説明する断面図である。
【図１０】図１０は２個の外部端子とアースプレートとの接続関係を説明する斜視図である。
【図１１】図１１はシールド電線と外部端子との接続関係を説明する斜視図である。
【図１２】図１２は本出願人が先に考出した高周波コネクタとアースブラケットとの間の抵抗を測定する検査装置の原理図である。
【図１３】図１３は同軸ケーブルの編組線とアースブラケットの接触抵抗による誘導ノイズレベルの測定結果である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下に、高周波コネクタのアース端子とアースブラケットとの間の抵抗値をｍΩレベルで正確に測定することができる検査方法およびその方法を簡単に実現する検査装置について図面を用いて説明する。
【００２８】
〈本発明に係る検査方法〉
図１は高周波コネクタのアース端子とアースブラケットとの間の抵抗値を正確に測定することができる本発明に係る検査方法の原理図（ａ）と、そこに用いられている検出子の構成と動作を説明する概念図（ｂ）である。
図１において、高周波コネクタ１０の下方の隆起部に設けられた係合孔１１Ｓ（図５、図８）にアースブラケット２０の先端２０Ｓを挿入することでアースブラケット２０とアースプレート１５Ｅの先端部の突起１５Ｔとの電気的接触がなされ、これによってアースプレート１５Ｅからシールド端子（外部端子）１５、さらに外部端子１５に接続されているシールド電線１２の編組線１２Ｍとの電気的接続が完成する。
以上のアースブラケット２０付き高周波コネクタ１０は本発明の検査対象３０であり、図１では細めの太線で描いている。
これに対して図１で太線で描いたのが本発明に係る検査方法の実施装置で、２個の検出子４６、４７と、検出子４６と検出子４７の間を電気的に接続する接続線４８と、接続線４８の途中に介在する低抵抗検査装置４９を用いて実現される。
以下に、検出子４６、４７と低抵抗検査装置４９について簡単に説明する。
【００２９】
《検出子４６、４７の構成》
検出子４６、４７はいずれも同じものなので、検出子４７を示す図１（ｂ）を用いて説明する。図において、検出子４７は絶縁性材料でできた検出子ハウジング４７Ｈと、検出子ハウジング４７Ｈから出没自在に移動できる導電性検出子シャフト４７Ｓと、検出子シャフト４７Ｓの先端に設置されている検出子接触部４７Ｃと、検出子シャフト４７Ｓに電気的接続関係にあって検出子ハウジング４７Ｈの貫通孔を通って外部に引き出される検出子端子４７Ｔから成っている。
検出子接触部４７Ｃと検出子シャフト４７Ｓとは電気的接続がなされているので、検出子接触部４７Ｃと検出子端子４７Ｔとも電気的に接続されている。
検出子シャフト４７Ｓは、検出子ハウジング４７Ｈ内に収納されたスプリングによって常時検出子シャフト４７Ｓを押し出す方向に付勢されている。一方、この付勢力より大きな電磁力が検出子ハウジング４７Ｈ内に収納された電磁石によって発生すると、検出子シャフト４７Ｓは引き戻される。
【００３０】
《検出子４６、４７の動作》
電磁石が励磁されている間は電磁力の方がスプリング力に打ち勝って図１（ｂ）の（２）のように検出子シャフト４７Ｓは検出子ハウジング４７Ｈ内に引き寄せられ、したがってまた検出子シャフト４７Ｓの先端の検出子接触部４７Ｃも検出子ハウジング４７Ｈ側にある。
電磁石の励磁が解かれると、電磁力が消滅するのでスプリングによって検出子シャフト４７Ｓは図１（ｂ）の（１）のように検出子ハウジング４７Ｈから押し出される。したがってまた、検出子シャフト４７Ｓの先端の検出子接触部４７Ｃも検出子ハウジング４７Ｈから離れる。したがって、その途中に物体があれば検出子接触部４７Ｃはその物体に接触し、検出子シャフト４７Ｓのそれ以上の移動は阻止される。
【００３１】
《低抵抗検査装置４９の構成》
低抵抗検査装置４９は内部に所定電圧Ｅの電源を備えており、電源の＋端子と−端子にそれぞれ接続された検出子４６と検出子４７がそれぞれ検査対象に接触したとき接続線４８を介して閉回路が形成されるので、そのとき低抵抗検査装置４９内を流れる電流Ｉを測定することにより、閉回路全体の抵抗Ｒを式（１）によって求めることができる。
Ｒ＝Ｅ／Ｉ・・・・（１）
【００３２】
〈本発明の方法で外部端子とアースブラケット間の接触抵抗が正確に求まる理由〉
高周波コネクタ１０とアースブラケット２０から成る検査対象３０を固定した後、検出子４６の検出子接触部４６Ｃをコネクタ１０の外部端子１５に接触させ、一方、検出子４７の検出子接触部４７Ｃをコ字状に曲折したアースブラケット２０のコ字の連結部２０Ｒに接触させることにより、「低抵抗検査装置４９→接続線４８→検出子４６→検出子接触部４６Ｃ→外部端子１５→アースプレート１５Ｅ→突起１５Ｔ→アースブラケット２０→検出子接触部４７Ｃ→接続線４８→低抵抗検査装置４９」の閉回路が形成され、閉回路に電流が流れて、低抵抗検査装置４９での電流値を測定することにより閉回路全体の抵抗値Ｒが判る。そして、接続線４８自体の抵抗値、低抵抗検査装置４９の内部抵抗値、検出子接触部４６Ｃ・４７Ｃ自体の抵抗値、外部端子１５自体の抵抗値、アースプレート１５Ｅ自体の抵抗値、アースブラケット２０自体の抵抗値はいずれも小さく、また接触抵抗で見れば、検出子接触部４６Ｃと外部端子１５間の接触抵抗、およびアースブラケット２０と検出子接触部４７Ｃ間の接触抵抗は元々強い接触力で接触しているので接触抵抗も小さく、得られた閉回路全体の抵抗値Ｒの殆どは、アースプレート１５Ｅの突起１５Ｔとアースブラケット２０間の接触抵抗ということになる。
したがって、この方法によりアースプレートすなわち外部端子１５とアースブラケット２０間の接触抵抗が正確に求まることになる。
【００３３】
〈本発明に係る検査方法の長所〉
このように本発明に係る検査方法によれば、検出子を相手側コネクタの外部端子に接触させてシールド電線を介して接触抵抗を測定した先行発明と違って、抵抗値の大きいシールド電線を介さないので外部端子とアースブラケット間の接触抵抗を正確に求めることが可能となる。
【００３４】
〈本発明に係る検査装置の構成〉
図２は高周波コネクタのアース端子とアースブラケットとの間の抵抗値を正確かつ簡単に測定することができる本発明に係る検査装置の概念平面図（ａ）と、概念側面図（ｂ）と、検査対象であるアースブラケット付き高周波コネクタの概念平面図（ｃ）である。
図２において、４０は本発明に係る検査装置で、高周波コネクタ１０の側面部（反アースブラケット２０側）を収容する側面収容壁４１Ａと高周波コネクタ１０の底面部を載置する底面載置台４１Ｂとアースブラケット２０を載置するアースブラケット載置台４１Ｃとから形成され、この検査装置４０の上に周波コネクタ１０の側面部を側面収容壁４１Ａに、その底面部を底面載置台４１Ｂに、アースブラケット２０をアースブラケット載置台４１Ｃの上にくるように検査対象３０を載置した状態で、検出子４６の励磁時に検出子接触部４６Ｃがコネクタ１０の外部端子１５に接触する位置に検出子４６が配置されており、かつ検出子４７の励磁時に検出子接触部４７Ｃがコ字状のアースブラケット２０のコ字の連結部２０Ｒに検出子４７の検出子接触部４７Ｃが接触する位置に検出子４７が配置されている。
検出子４６と検出子４７はそれぞれ接続線４８を介して低抵抗検査装置４９に接続されている。
【００３５】
〈本発明に係る検査装置の動作〉
次ぎに、本発明に係る検査装置の動作について図３および図４を用いて説明する。
図３は検査対象３０を本発明に係る検査装置に載置したときの検出子４６・４７の動作を説明する平面図で、（１）から（３）に時系列で進む。
【００３６】
《検出子４６・４７の動作》
図３（１）は検査対象３０を本発明に係る検査装置４０に載置するときの平面図で、検査対象３０を本発明に係る検査装置４０に載置するとき検出子４６・４７の検出子接触部４６Ｃ・４７Ｃが邪魔にならないように検出子４６・４７が励磁されてそれぞれの検出子接触部４６Ｃ・４７Ｃは退避位置にある。したがって操作者は検査対象３０を簡単に検査装置４０に載置することができる。
その後、検出子４７が非励磁となり、検出子接触部４７Ｃがスプリング力で退避位置から図３（２）のように伸出して検出子接触部４７Ｃがアースブラケット２０の連結部２０Ｒに接触する。
続いて、検出子４６が非励磁となり、検出子接触部４６Ｃがスプリング力で退避位置から図３（３）のように伸出して検出子接触部４６Ｃがコネクタ１０の外部端子１５に接触する。
この（１）〜（３）の一連の動作はＣＰＵを用いて自動化することも可能である。すなわち、この検査装置に検査対象を載置したことを検出するセンサ（光センサや荷重センサ）を検査装置に備えておき、このセンサの出力をＣＰＵに送り、上記（１）〜（３）の動作を開始させることができる。
なお、この（１）〜（３）の一連の動作において、（２）のとき先に検出子４７を非励磁としたが、先に検出子４６を非励磁にしてももちろんよいし、検出子４６と検出子４７同時に非励磁としてもよい。
【００３７】
《検査の開始》
図３（３）のように、本発明に係る検査装置に検査対象が載置されて各検出子４６・４７がそれぞれの対象に接触したら、検査装置４０は図４のようにして検査が行われる。
２個の検出子４６、４７はそれぞれ接続線４８で低抵抗検査装置４９に接続されているので、「低抵抗検査装置４９→接続線４８→検出子４６→検出子接触部４６Ｃ→外部端子１５→アースプレート１５Ｅ→突起１５Ｔ→アースブラケット２０→検出子接触部４７Ｃ→接続線４８→低抵抗検査装置４９」の閉回路が形成され、閉回路に電流が流れて、低抵抗検査装置４９での電流値Ｉを測定し、前記式（１）のＲ＝Ｅ／Ｉによって閉回路全体の抵抗値Ｒが判る。
そして前述のように、接続線４８自体の抵抗値、低抵抗検査装置４９の内部抵抗値、検出子接触部４６・４７自体の抵抗値、外部端子１５自体の抵抗値、アースプレート１５Ｅ自体の抵抗値、アースブラケット２０自体の抵抗値はいずれも小さく、また接触抵抗で見れば、検出子接触部４６Ｃと外部端子１５間の接触抵抗、およびアースブラケット２０と検出子接触部４７Ｃ間の接触抵抗は元々強い接触力で接触しているので接触抵抗も小さく、得られた閉回路全体の抵抗値Ｒの殆どは、アースプレート１５Ｅの突起１５Ｔとアースブラケット２０間の接触抵抗ということになり、アースプレートすなわち外部端子１５とアースブラケット２０間の接触抵抗が正確に求まることになる。
【００３８】
このように本発明に係る検査方法によれば、抵抗値の大きいシールド電線を介さずに、直接、外部端子とアースブラケット間の接触抵抗を求めるようにしているので正確な検査が可能となる。
また、本発明に係る検査装置によれば、検査装置の上に検査対象（アースブラケット付き高周波コネクタ）を所定の位置に載置するだけで、２個の検出子が自動的に所定位置に移動してそれぞれの検出子の接触部を外部端子とアースブラケットに接触して低抵抗検査の閉回路を形成するので、簡単にかつ正確に外部端子とアースブラケット間の接触抵抗を求めることができる。
【符号の説明】
【００３９】
１０  高周波コネクタ
１２  シールド電線
１２Ｍ  編組線
１５  シールド端子（外部端子）
１５Ｅ  アースプレート
１５Ｔ  アースプレートの先端部の突起
２０  アースブラケット
３０  本発明の検査対象（アースブラケット付き高周波コネクタ）
４０  本発明に係る検査装置
４１Ａ  側面収容壁
４１Ｂ  底面載置台
４１Ｃ  アースブラケット載置台
４６、４７  検出子
４７Ｈ  検出子ハウジング
４７Ｓ  検出子シャフト
４７Ｃ  検出子接触部
４７Ｔ  検出子端子
４８  接続線
４９  低抵抗検査装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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