【事件の表示】
　特願２０１３−５３４４１６「微分位相コントラスト画像形成」拒絶査定不服審判事件〔平成２４年　４月２６日国際公開、ＷＯ２０１２／０５２８８１、平成２６年　１月１６日国内公表、特表２０１４−５００９４７、請求項の数（１１）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２３年（２０１１年）１０月１２日（パリ条約による優先権主張　２０１０年１０月１９日、欧州特許庁）の出願であって、平成２５年４月２２日に手続補正がされ、平成２７年８月１９日付け（発送同年同月２５日）で拒絶理由通知が通知され、同年１１月２０日に手続補正がされるとともに意見書が提出されたが、平成２８年３月１６日付け（送達　同年同月２２日）付けで拒絶査定（以下「原査定」という。）がされ、これに対し、同年７月１５日に拒絶査定不服審判の請求がされると同時に手続補正がされた後、当審において、平成２９年４月１９日付けで拒絶理由（発送同年同月２５日、以下「当審拒絶理由」という。）が通知され、同年８月９日に手続補正がされるとともに意見書が提出されたものである。
　
第２　本願発明
　本願請求項１ないし１１に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」ないし「本願発明１１」といい、これらをまとめて「本願発明」という。）は、平成２９年８月９日付けの手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１１に記載された事項により特定される発明であり、本願発明１ないし１１は以下のとおりである。
「【請求項１】
　Ｘ線微分位相コントラスト画像形成の回折格子であって、
　第一のサブエリアと、
　第二のサブエリアとを備え、
　前記第一のサブエリアは、第一の格子ピッチにより周期的に配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造を有し、Ｘ線放射の位相及び／又は振幅を変えるように前記バーが配置され、前記ギャップは、Ｘ線を透過し、
　前記第二のサブエリアは、Ｘ線を透過し、前記第二のサブエリアは、当該回折格子においてＸ線を透過する開口を提供し、
　前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリアは、１つの画像取得ステップの間に、位相コントラストの画像情報がＸ線画像情報と共に記録することができるように、１つの方向において交互するようにライン状に配置され、
　少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、
　前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される、
　回折格子。
【請求項２】
　前記第一のサブエリア及び／又は第二のサブエリアは、第一のサブセットの繰返しピッチ及び／又は第二のサブセットの繰返しピッチで当該回折格子のエリアにわたり配置される、
　請求項１記載の回折格子。
【請求項３】
　オブジェクトの位相コントラスト画像を生成するＸ線システムの検出装置であって、
　第一の回折格子と、
　第二の回折格子と、
　センサをもつ検出器とを備え、
　前記センサは、画素の第一のサブグループの少なくとも１つのセンサ画素と画素の第二のサブグループの少なくとも１つのセンサ画素とを有し、
　前記第一の回折格子は、位相格子であり、
　前記第二の回折格子は、アナライザ格子であり、
　前記アナライザ格子及び／又は位相格子は、前記アナライザ格子の周期に関して横方向にシフトされ、
　前記位相格子及び前記アナライザ格子は、請求項１又は２記載のＸ線微分位相コントラスト画像形成の回折格子として設けられ、
　前記第一及び第二の回折格子は、第一の移動ピッチにより第一の位置から第二の位置に前記センサに関してそれぞれ移動し、
　前記第一の移動ピッチは、前記１つの方向において、交互するように配置される前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリアに適合され、
　前記センサは、位相コントラスト画像情報及びＸ線画像情報を記録する、
　検出装置。
【請求項４】
　前記画素のサイズは、前記回折格子の前記第一のサブエリア及び／又は前記第二のサブエリアのサイズとは異なる、
　請求項３記載の検出装置。
【請求項５】
　オブジェクトの位相コントラスト画像を生成するＸ線画像取得装置であって、
　Ｘ線源と、
　ソース格子と、
　位相格子と、
　アナライザ格子と、
　検出器とを備え、
　前記Ｘ線源は、Ｘ線の多色スペクトルのＸ線ビームを生成し、
　前記ソース格子は、前記アナライザ格子の位置で干渉が観察されるように、前記位相格子の少なくとも１つの完全な格子ピッチをコヒーレントに照明するため、十分な横方向のコヒーレンスを提供し、
　前記位相格子、前記アナライザ格子及び前記検出器は、請求項３又は４記載の検出装置として提供される、
　Ｘ線画像取得装置。
【請求項６】
　微分位相コントラスト画像形成のための医用Ｘ線画像形成システムであって、
　請求項５に記載の、オブジェクトの位相コントラスト画像を生成するＸ線画像取得装置と、
　処理ユニットと、
　インタフェースユニットと、
　オブジェクトを受ける装置とを備え、
　前記処理ユニットは、前記Ｘ線源を制御し、前記アナライザ格子及び／又は前記位相格子の位相をシフトすることを制御し、前記位相格子及び前記アナライザ格子の移動を制御し、
　前記インタフェースユニットは、記録された第一及び第二のＲＡＷ画像データを前記処理ユニットに供給し、
　前記オブジェクトを受ける装置は、前記位相コントラスト画像取得のために関心のあるオブジェクトを受ける、
　医用Ｘ線画像形成システム。
【請求項７】
　微分位相コントラスト画像形成の方法であって、
　ａ１）第一の位置において２つの回折格子をもつ干渉計にコヒーレントなＸ線照射を印加するステップと、前記２つの回折格子は、少なくとも格子部分と少なくとも開口部分とをそれぞれ有し、前記格子部分及び前記開口部分は、１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置され、第一の回折格子は、位相格子であり、第二の回折格子は、アナライザ格子であり、
　ａ２）少なくとも２つの部分をもつセンサにより第一のＲＡＷ画像データを記録するステップと、第一の部分と第二の部分は、位相コントラスト画像情報及びＸ線画像情報を記録し、
　ｂ）前記アナライザ格子及び前記位相格子を第二の位置に移動するステップと、
　ｃ１）前記第二の位置において、コヒーレントなＸ線照射を前記干渉計に印加するステップと、
　ｃ２）少なくとも２つの部分をもつセンサで第二のＲＡＷ画像データを記録するステップと、前記第一及び第二の部分は、Ｘ線画像情報及び位相コントラスト画像情報を記録し、
　ｄ）記録された第一及び第二のＲＡＷ画像データをＲＡＷ画像データとして提供するステップと、
　を含む方法。
【請求項８】
　前記位相格子及び前記アナライザ格子は、第一のサブエリアをそれぞれ有し、前記第一のサブエリアは、第一の格子ピッチにより周期的に配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造を備え、Ｘ線照射の位相及び／又は振幅を変えるように前記バーが配置され、前記ギャップは、Ｘ線を透過し、
　第二のサブエリアは、Ｘ線を透過し、前記第二のサブエリアは、前記回折格子においてＸ線を透過する開口を提供し、
　ステップａ２）は、前記第一の位置において、前記センサにより前記第一のＲＡＷ画像データを記録するステップを含み、前記センサは、画素の第一のサブグループの少なくとも１つのセンサ画素と、画素の第二のサブグループの少なくとも１つのセンサ画素とを含み、前記第一及び第二のサブグループは、位相コントラスト画像情報及びＸ線画像情報を記録し、
　ステップｂ）は、第一の移動ピッチにより、前記第一の位置から少なくとも前記第二の位置に前記センサに関して前記位相格子及び前記アナライザ格子を移動するステップを含み、前記移動ピッチは、前記１つの方向において交互するように配置される前記回折格子の前記第一及び第二のサブエリアに適合され、
　ステップｃ２）は、前記第二の位置において前記センサにより前記第二のＲＡＷ画像データを記録するステップを含み、前記第一及び第二のサブグループは、Ｘ線画像情報及び位相コントラスト画像情報を記録する、
　請求項７記載の方法。
【請求項９】
　前記第一及び第二の位置において、前記アナライザ格子の前記第一及び第二のサブエリアは、画素の第一のサブグループの前に少なくとも部分的に、画素の第二のサブグループの前に少なくとも部分的にそれぞれ配置され、前記第一及び第二の位置において、画素の第一のサブグループ及び画素の第二のサブグループの異なる第一及び第二の部分は、前記アナライザ格子の前記第一のサブエリアによりそれぞれカバーされ、
　ステップｃ）に続いて、第三の位置及び少なくとも更なる位置が設けられ、前記第三の位置及び少なくとも更なる位置に、前記回折格子が移動され、前記第三の位置及び少なくとも更なる位置において、コヒーレントＸ線照射を印加する間、第三及び更なるＲＡＷ画像データが記録され、
　前記第三及び更なる位置において、前記アナライザ格子及び前記位相格子の前記第一及び第二のサブエリアは、画素の第一のサブグループの前で少なくとも部分的に、画素の第二のサブグループの前に少なくとも部分的にそれぞれ配置され、前記第三及び更なる位置において、画素の第一及び第二のサブグループの異なる第三及び更なる部分は、前記アナライザ格子及び前記位相格子の前記第一のサブエリアによりそれぞれカバーされ、前記第三及び更なる部分は、前記第一及び第二の部分とそれぞれ部分的にオーバラップする、
　請求項８記載の方法。
【請求項１０】
　処理ユニットにより実行されたとき、請求項７乃至９の何れか記載の方法を実行させるコンピュータプログラム。
【請求項１１】
　請求項１０記載のコンピュータプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。」
　
　なお、本願発明７は物の発明である本願発明１を用いた微分位相コントラスト画像形成の方法の発明である。
　また、本願発明２ないし６は、本願発明１を減縮した発明であり、さらに、本願発明８ないし１１は、本願発明７を減縮した発明である。
　
第３　引用文献、引用発明等
１　引用文献について
（１）原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先日前に電気通信回線を通じて公衆に利用可能となつた文献である国際公開第２００９／１０１５６９号（以下「引用文献」という。）には、図面とともに次の事項が記載されている（訳は特表２０１１−５１２１８７号公報に基づいて当審にて付した。また、下線は当審にて付した。以下同じ。）。
ア　「FIELD OF THE INVENTION
 The invention relates to an X-ray detector, an X-ray device comprising such a detector, and a method for analyzing an X-ray intensity pattern, particularly for generating phase contrast X-ray images of an object.」（１頁２〜５行）
（技術分野
　本発明は、Ｘ線検出器、かかる検出器を有するＸ線装置、及びＸ線強度パターンを分析するための方法、特に対象物の位相コントラストＸ線画像を生成するための方法に関する。）
　
イ　「Figure 1 illustrates (not to scale!) the design of an X-ray device 100 that addresses the above issues. 
The X-ray device 100 comprises an X-ray source 10 for generating X-radiation.
 For purposes of clarity, only one cylindrical wave propagating in z-direction behind one slit of the grating G0 is illustrated in the Figure. The cylindrical wave passes through an object 1, for example the body of a patient, that shall be imaged by the device 100. The material of the object 1 induces a phase shift in the X-ray wave, resulting in an altered (disturbed) wave front behind the object 1. For each position x perpendicular to the optical axis, a phase shift Φ(x) is thus associated to the wave front that is characteristic of the material properties along the corresponding X-ray path. The complete function Φ is a phase contrast projection image of the object 1 one is interested in.
 In order to determine the phase shift function Φ, a diffractive optical element (DOE) is disposed behind the object 1. In the shown example, this DOE is realized by a phase grating G1 extending perpendicular to the optical axis (with its slits parallel to the slits of the source grating G0). The grating G1 generates an interference pattern in transmission geometry, i.e. in the space opposite to the object side. This interference pattern can, at fixed coordinates y and z (and neglecting a dependence on the X-ray wavelength), be characterized by a function
 I=I(x, Φ(x)).
 At a given distance from the DOE grating G1, the interference pattern will correspond to a periodic pattern of intensity maxima and minima as schematically illustrated in the Figure. Measuring this interference pattern with an X-ray detector 30 will then allow to infer the phase shifts Φ(x) that were introduced by the object 1.
 In practice, the measurement of the interference pattern I behind the grid G1 is however a nontrivial task as the required spatial resolution, determined by the distance between two adjacent maxima or minima, is much smaller than the size of the sensitive elements or pixels of usual X-ray detectors. As already explained above, it has been proposed in literature to place an absorption grating in front of the detector pixels, said grating having essentially the same periodicity as the grid G1 behind the object. Such an absorption grating has the effect to provide small windows through which the detector looks at corresponding subsections of the periodic interference pattern I, for example at small regions around the maxima, thus effectively measuring the intensity in these subsections. By shifting the absorption grating in x-direction, the interference pattern can be sampled at several positions, which allows to reconstruct it completely. A problem of this grid-stepping approach is that it requires complicated and precise mechanics. Moreover, the stepping implies that the measurements are made sequentially at different times, which is disadvantageous if the object moves or if a rotational setup shall be used for computed tomography (CT) reconstructions.
 In order to avoid these problems, it is proposed here replace the sampling in the time domain (i.e. the grid-stepping) with a sampling in the spatial domain. This can be achieved by a detector design like the one illustrated in Figure 1. 
The detector 30 comprises an array of 
sensitive elements or pixels
which generate an electrical signal corresponding to the intensity of X-radiation impinging on them
two global gratings G
2a
, G
2b
 that are disposed parallel to each other in front of the whole array of pixels.
The first grating G
2a
 has absorption lines only in front of every second pixel P
(i-1)a
, P
ia
, P
(i+1)a
 while the second grating G
2a
 has absorption lines only in front of the remaining pixels P
(i-1)b
, P
ib
, P
(i+1)b
.
the two gratings G
2a
, G
2b
 have the same periodicity or pitch (i.e. distance between their absorbing lines), but their line patterns are shifted with respect to each other by a distance d
ab
.
The pixels P
(i-1)a
, P
ia
, P
(i+1)a
 therefore sample other relative locations of the intensity pattern I than the pixels P
(i-1)b
, P
ib
, P
(i+1)b
. In combination, each pair [P
(i-1)a
 and P
(i-1)b
], [P
ia
 and P
ib
], and [P
(i+1)a
 and P
(i+1)b
] of adjacent pixels constitutes a macro-pixel Π
i-1
, Π
i
, Π
i+1
 that provides a simultaneous analysis of the local intensity pattern I at different sampling points.
 In Figure 1, only a linear arrangement of the pixels P(i-1)a, ... can be seen. In general, 
the array of pixels will however be two-dimensional.
　　rab=dab MODp
　　rac=dac MODp
　　rad=dad MODp,
where x MOD y refers to the modulo function, i.e. is the remainder when x is divided by y, where x, y are real numbers. dab, dac, dad are chosen such that rab, rac, rad are equally distributed over the pitch p, i.e. the phase sampling is equally distributed over 2π.
 This is illustrated in Figure 3, which shows two exemplary periods of an intensity pattern I. The shown periods are located at different x-positions above two different macro-pixel Πi, Πi+1. As described above, these two macro-pixels each comprise four (sub-) pixels that sample four different positions a, b, c, d of the intensity pattern (it should be noted that the Figure shows only the sampling in one period of the intensity pattern, while each sub-pixel in fact samples corresponding positions in many periods). From the sampling points, the local intensity pattern / can be reconstructed for each macro-pixel as known from prior art regarding phase contrast imaging with phase-stepping, thus revealing possible (phase-)shifts in the intensity pattern / between the positions of the considered macro- pixels Πi, Πi+1. As known from the state of the art, the desired phase contrast image can finally be deduced from these (phase-)shifts in the intensity pattern.
 In summary, the apparatus and method described above employ a sub- pixellation to determine the (phase-)shift of an intensity pattern. Each sub-pixel of one macro-pixel provides a different sampling of the intensity pattern. This is accomplished by a special analyzer grating which has a fixed position with respect to the pixel detector. The novel analyzer grating has the same shape as the pixel detector, i.e. it features sub-gratings. The pitch of all sub-gratings is the same as for a conventional analyzer grating. However, within the macro-pixel sub-gratings are slightly displaced with respect to each other. The offsets between sub-gratings of one macro-pixel are preferably chosen such that the corresponding sampling points of the intensity pattern cover the full shift interval of 2π. The described detector can measure the shift of a projection in one shot, eliminating the need to perform consecutive steps with the absorption grid for the same projection view. Essentially, sampling in the time domain is replaced a sampling in the spatial domain.
 Although the discussed examples dealt with a 2x2 macro-pixel, the design can be easily extended for a NxM pixel (N, M≧2). For instance, the sub-gratings of a macro-pixel with 3x3 sub-pixels could be designed for eight samplings as proved to be sufficient in Weitkamp et al.. Thus, one sub-pixel would provide redundant information. With adequate processing it could improve the robustness of the method.」（７頁２８行〜１０頁下から３行）
（図１は、上記の問題を扱うＸ線装置１００の設計を図示する（縮尺通りではない！）。
Ｘ線装置１００
Ｘ線放射を生成するためのＸ線源１０を有する
　明確さを目的として、格子Ｇ０の１つのスリットの後ろにｚ方向に伝播する１つの円筒波のみが図面に図示される。円筒波は、装置１００によって画像化される例えば患者の身体などの対象物１を通過する。対象物１の材料はＸ線波に位相シフトを誘導し、対象物１の後ろに変更された（撹乱された）波面をもたらす。従って、光軸に垂直な各位置ｘに対して、位相シフトΦ（ｘ）は対応するＸ線経路に沿った材料特性に特徴的な波面に関連する。完全関数Φは関心のある対象物１の位相コントラスト投影画像である。
　位相シフト関数Φを決定するために、回折光学素子（ＤＯＥ）が対象物１の後ろに配置される。示された実施例において、このＤＯＥは光軸に対して垂直に広がる位相格子Ｇ１によって実現される（そのスリットは線源格子Ｇ０のスリットに平行である）。格子Ｇ１は、透過幾何学、すなわち対象物側と反対の空間において、干渉パターンを生成する。この干渉パターンは、固定座標ｙ及びｚにおいて（Ｘ線波長への依存を無視して）、関数
　Ｉ＝Ｉ（ｘ，Φ（ｘ））
によって特徴付けられることができる。
　ＤＯＥ格子Ｇ１からの所定距離において、干渉パターンは図面に概略的に図示されるような強度の最大値と最小値の周期パターンに対応する。この干渉パターンをＸ線検出器３０で測定することは、対象物１によって導入された位相シフトΦ（ｘ）を推測することを可能にする。
　しかし実際には、格子Ｇ１の後ろの干渉パターンＩの測定は、２つの隣接する最大値又は最小値間の距離によって決定される所要空間分解能が、通常のＸ線検出器の感受性素子又はピクセルのサイズよりもはるかに小さいので、簡単な作業ではない。既に上述した通り、検出器ピクセルの前に吸収格子を置くことが文献において提案されており、上記格子は基本的に対象物の後ろの格子Ｇ１と同じ周期を持つ。このような吸収格子は小さな窓を与える効果を持ち、これを通して検出器は、周期的干渉パターンＩの対応する小区分、例えば最大値の周囲の小領域を”見て”、こうしてこれらの小区分における強度を効果的に測定する。吸収格子をｘ方向にシフトすることによって、干渉パターンは複数の位置においてサンプリングされることができ、これは干渉パターンを完全に再構成することを可能にする。この格子ステッピングアプローチの問題は、複雑で正確な機構を必要とすることである。さらに、このステッピングは測定が異なる時間において連続的になされることを示唆し、これは対象物が動く場合、又はコンピュータ断層撮影（ＣＴ）再構成のために回転設定が使用される場合には不都合である。
　これらの問題を回避するために、本明細書では、時間領域におけるサンプリング（すなわち格子ステッピング）を空間領域におけるサンプリングと置き換えることが提案される。これは図１に図示されたもののような検出器設計によって実現されることができる。
検出器３０
感受性素子又はピクセルのアレイ
を有し、
衝突するＸ線放射の強度に対応する電気信号を生成する
ピクセルのアレイ全体の前に互いに平行に配置される２つの”大域”格子Ｇ
２ａ
，Ｇ
２ｂ
第一の格子Ｇ
２ａ
は２つのピクセルにつき１つ（Ｐ
（ｉ−１）ａ
,Ｐ
ｉａ
，Ｐ
（ｉ＋１）ａ
）の前にのみ吸収線を持ち、一方第二の格子Ｇ
２ｂ
は残りのピクセル（Ｐ
（ｉ−１）ｂ
，Ｐ
ｉｂ
，Ｐ
（ｉ＋１）ｂ
）の前にのみ吸収線を持
２つの格子Ｇ
２ａ
，Ｇ
２ｂ
は同じ周期又はピッチ（すなわちその吸収線間の距離）を持つが、その線パターンは互いに対して距離ｄ
ａｂ
だけシフトされ
ピクセルＰ
（ｉ−１）ａ
,Ｐ
ｉａ
，Ｐ
（ｉ＋１）ａ
は、ピクセルＰ
（ｉ−１）ｂ
，Ｐ
ｉｂ
，Ｐ
（ｉ＋１）ｂ
以外の強度パターンＩの他の相対位置をサンプリング
組み合わせて、隣接ピクセルの各ペア［Ｐ
（ｉ−１）ａ
とＰ
（ｉ−１）ｂ
］，［Ｐ
ｉａ
とＰ
ｉｂ
］，［Ｐ
（ｉ＋１）ａ
とＰ
（ｉ＋１）ｂ
］は”マクロピクセル”Π
ｉ−１
，Π
ｉ
，Π
ｉ＋１
を構成し、これは異なるサンプリング点において局所強度パターンＩの同時分析をもたら
　図１においては、ピクセルＰ（ｉ−１）ａ，…の線状配列のみが見られる。しかし一般的には
ピクセルのアレイは二次元であ
　ｒａｂ＝ｄａｂＭＯＤｐ
　ｒａｃ＝ｄａｃＭＯＤｐ
　ｒａｄ＝ｄａｄＭＯＤｐｘＭＯＤｙとはモジュロ関数をあらわし、すなわちｘがｙで序されるときの余りであり、ｘ，ｙは実数である。ｄａｂ，ｄａｃ，ｄａｄは、ｒａｂ，ｒａｃ，ｒａｄがピッチｐにわたって均一に分布するように、すなわち位相サンプリングが２πにわたって均一に分布するように選ばれる。
　これは、強度パターンＩの２つの例示的な周期を示す図３に図示される。示された周期は２つの異なるマクロピクセルΠｉ，Πｉ＋１の上の異なるｘ位置に位置する。上記の通り、これらの２つのマクロピクセルは各々、強度パターンの４つの異なる位置ａ，ｂ，ｃ，ｄをサンプリングする４つの（サブ）ピクセルを有する（図は強度パターンの１周期におけるサンプリングしか示していないが、各サブピクセルは実際には多くの周期において対応する位置をサンプリングすることに留意すべきである）。位相ステッピングを伴う位相コントラストイメージングに関する従来技術からわかるように、サンプリング点から局所強度パターンＩが各マクロピクセルに対して再構成されることができ、その結果、検討されたマクロピクセルΠｉ，Πｉ＋１の位置間の強度パターンＩにおける可能な（位相）シフトを明らかにする。従来技術からわかるように、所望の位相コントラスト画像は最終的に強度パターンにおけるこれらの（位相）シフトから推測されることができる。
　要約すると、上記の装置及び方法は、強度パターンの（位相）シフトを決定するためにサブピクセレーションを利用する。１つのマクロピクセルの各サブピクセルは、強度パターンの異なるサンプリングをもたらす。これはピクセル検出器に対して固定位置をとる特殊なアナライザ格子によって達成される。この新しいアナライザ格子はピクセル検出器と同じ形状を持ち、すなわちサブ格子を特徴付ける。全サブ格子のピッチは従来のアナライザ格子の場合と同じである。しかしながら、マクロピクセル内においてサブ格子は互いに対してわずかにずらされる。１つのマクロピクセルのサブ格子間のオフセットは好ましくは、強度パターンの対応するサンプリング点が２πの全シフト間隔をカバーするように選ばれる。上記検出器は１ショットにおける投影のシフトを測定することができ、同じ投影図に対する吸収格子を用いる連続的な手順を実行する必要性を排除する。基本的に、時間領域におけるサンプリングは空間領域におけるサンプリングに置き換えられる。
　前述の実施例は２×２のマクロピクセルを扱ったが、設計はＮ×Ｍのピクセル（Ｎ，Ｍ≧２）用に容易に拡張されることができる。例えば、Weitkamp et al.の文献において十分であることが証明されているように、３×３のサブピクセルを持つマクロピクセルのサブ格子が８サンプリング用に設計されることができる。従って、１つのサブピクセルは重複情報を提供することになる。適切な処理を行えば該方法のロバスト性を向上させることができる。）
　
ウ　図１及び図２（ＦＩＧ．１及びＦＩＧ．２）は次のものである。
　
エ　上記ア及びイの記載を踏まえて上記ウの図１及び２を見ると、”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂはそれぞれ同じ周期又はピッチに配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造を有し、ピクセルＰ（ｉ−１）ａ,Ｐｉａ，Ｐ（ｉ＋１）ａは、ピクセルＰ（ｉ−１）ｂ，Ｐｉｂ，Ｐ（ｉ＋１）ｂ以外の強度パターンＩの他の相対位置をサンプリングするように前記バーが配置され、前記ギャップは、Ｘ線を透過し、前記”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂの複数のバー及びギャップをもつ格子構造ではない領域はＸ線を透過し、当該”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂにおいてＸ線を透過する領域を提供するものであることが見てとれる。
　
（２）引用発明
　上記（１）によれば、引用文献には、次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
「Ｘ線放射を生成するためのＸ線源１０及び検出器３０を有するＸ線装置１００において、
　前記検出器３０は感受性素子又はピクセルのアレイを有し、衝突するＸ線放射の強度に対応する電気信号を生成し、
　前記ピクセルのアレイ全体の前に２つの”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂが互いに平行に配置され、
　第一の格子Ｇ２ａは２つのピクセルにつき１つ（Ｐ（ｉ−１）ａ,Ｐｉａ，Ｐ（ｉ＋１）ａ）の前にのみ吸収線を持ち、一方第二の格子Ｇ２ｂは残りのピクセル（Ｐ（ｉ−１）ｂ，Ｐｉｂ，Ｐ（ｉ＋１）ｂ）の前にのみ吸収線を持ち、
　２つの格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂは同じ周期又はピッチ（すなわちその吸収線間の距離）を持つが、その線パターンは互いに対して距離ｄａｂだけシフトされ、
　ピクセルＰ（ｉ−１）ａ,Ｐｉａ，Ｐ（ｉ＋１）ａは、ピクセルＰ（ｉ−１）ｂ，Ｐｉｂ，Ｐ（ｉ＋１）ｂ以外の強度パターンＩの他の相対位置をサンプリングし、
　組み合わせて、隣接ピクセルの各ペア［Ｐ（ｉ−１）ａとＰ（ｉ−１）ｂ］，［ＰｉａとＰｉｂ］，［Ｐ（ｉ＋１）ａとＰ（ｉ＋１）ｂ］は”マクロピクセル”Πｉ−１，Πｉ，Πｉ＋１を構成し、これは異なるサンプリング点において局所強度パターンＩの同時分析をもたらし、
　ピクセルのアレイは二次元であり、
　前記”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂはそれぞれ同じ周期又はピッチに配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造を有し、ピクセルＰ（ｉ−１）ａ,Ｐｉａ，Ｐ（ｉ＋１）ａは、ピクセルＰ（ｉ−１）ｂ，Ｐｉｂ，Ｐ（ｉ＋１）ｂ以外の強度パターンＩの他の相対位置をサンプリングするように前記バーが配置され、前記ギャップは、Ｘ線を透過し、前記”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂの複数のバー及びギャップをもつ格子構造ではない領域はＸ線を透過し、当該”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂにおいてＸ線を透過する領域を提供するものである、Ｘ線装置１００。」
　
２　先願明細書について
（１）原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先日前の他の特許出願であって、その出願後に出願公開された特願２０１０−１８８４２９号（以下「先願」という。特開２０１２−４５０９９号公報参照。）の願書に最初に添付した明細書及び図面（以下「先願明細書」という。）には、図とともに以下の事項が記載されている
ア　「【技術分野】
【０００１】
　本発明は、
放射線画像の撮影に用いられるグリッド
【背景技術】
【０００２】
　放射線が被検体を透過する際の位相変化（角度変化）に基づいた画像（以下、位相コントラスト画像という）を得る放射線位相イメージングの一種として、タルボ干渉効果を用いた放射線画像撮影システムが考案されている。例えば、放射線としてＸ線を用いるＸ線画像撮影システムは、被検体の背後に配置した第１のグリッドと、第１のグリッドのグリッドピッチとＸ線波長で決まる特定距離（タルボ干渉距離）だけＸ線の照射方向の下流に配置した第２のグリッドと、その背後に配置したＸ線画像検出器とを有する。第１のグリッドを通過したＸ線は、タルボ干渉効果により第２のグリッドの位置で自己像（縞画像）を形成する。この自己像は、被検体とＸ線との相互作用（位相変化）により変調を受ける。
【０００３】
　上記Ｘ線画像撮影システムは、第１のグリッドの自己像と第２のグリッドとの重ね合わせにより強度変調された縞画像の被検体による変化（位相ズレ）から被検体の位相コントラスト画像を取得する。これは縞走査法と称されている。縞走査法では、第１のグリッドに対して第２のグリッドを、第１のグリッドの面にほぼ平行で、かつ第１のグリッドのグリッド方向（条帯方向）にほぼ垂直な方向に、グリッドピッチを等分割した走査ピッチで並進移動（走査）させながら各走査位置で撮影を行い、Ｘ線画像検出器で得られる各画素の画素データの上記走査位置に対する強度変化の位相のズレ量から位相微分像（被検体で屈折したＸ線の角度分布に対応）を取得する。この位相微分像を、上記の縞走査方向に沿って積分することにより被検体の位相コントラスト画像が得られる。」
　
イ　「【発明の効果】
【００１８】
　本発明の放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法は、一方の小グリッドのグリッド部と他方の小グリッドの非グリッド部とが対面するように重ね合わせているので、非グリッド部の大きさに影響されることなく、グリッド部の間隔が狭くなるように複数枚の小グリッドを配列することができる。これにより、本発明の放射線画像撮影用グリッドを用いた放射線画像撮影システムでは、複数枚の小グリッドのグリッド部間で位相コントラスト画像が取得できなくなるような事態が発生せず、高画質の位相コントラスト画像得ることができる。」
　
ウ　「【００２０】
　図１に示すように、本発明のＸ線画像撮影システム１０は、ｚ方向に配置された被検体Ｈに向けてＸ線を放射するＸ線源１１と、ｚ方向においてＸ線源１１に対向配置された線源グリッド１２と、線源グリッド１２からｚ方向に所定距離離れた位置に平行に配置された第１のグリッド１３と、第１のグリッド１３からｚ方向に所定距離離れた位置に平行に配置された第２のグリッド１４と、第２のグリッド１４に対向配置されたＸ線画像検出器１５とからなる。Ｘ線画像検出器１５は、例えば、半導体回路を用いたフラットパネル検出器（ＦＰＤ：Flat Panel Detector）が用いられている。
【００２１】
　線源グリッド１２、第１のグリッド１３及び第２のグリッド１４は、吸収型グリッドであり、ｚ方向に直交するｘ方向に直線状に延伸され、かつｚ方向及びｘ方向に直交するｙ方向に沿って所定のピッチで周期的に配列された複数のＸ線吸収部１７、１８、１９がそれぞれ縞状に設けられている。線源グリッド１２、第１のグリッド１３及び第２のグリッド１４は、Ｘ線吸収部１７、１８、１９によってＸ線を吸収し、Ｘ線吸収部の間に設けられたＸ線透過部によってＸ線を透過させる。
【００２２】
　以下、第２のグリッド１４を例にして、本発明の放射線画像撮影用グリッドの構成を説明する。なお、線源グリッド１２及び第１のグリッド１３は、Ｘ線吸収部１７、１８の幅、ピッチ、Ｘ線照射方向の厚さ等が異なる以外は第２のグリッド１４とほぼ同様の構成であるため、詳しい説明は省略する。
【００２３】
　図２（Ａ）は、第２のグリッド１４をＸ線画像検出器１５の側から見た平面図であり、同図（Ｂ）は同図（Ａ）のＡ−Ａ断面を表している。第２のグリッド１４は、
サイズの小さな２枚の小グリッド２１、２２から構成され
小グリッド２１、２２は、グリッドとして機能するグリッド部２１ａ，２２ａと、グリッド部２１ａ，２２ａの外周に設けられてグリッドとして機能しない非グリッド部２１ｂ，２２ｂとをそれぞれ備え
小グリッド２１、２２は、グリッド部２１ａ及び非グリッド部２２ｂと、非グリッド部２１ｂ及びグリッド部２２ａとが重なり合うように接合されており、ｚ方向から見たときにそれぞれのグリッド部と非グリッド部との境界が一致し、かつ２つのグリッド部２１ａ、２２ａが連続して１枚の大きなグリッド部を構成するように接合され
【００２４】
　図２（Ｂ）のグリッド部を拡大して表した図３に示すように、
小グリッド２１、２２は、シリコン等のＸ線透過性を有する材質で形成されたＸ線透過性基板２４と、このＸ線透過性基板２４に設けられたＸ線吸収部１９とからな
Ｘ線吸収部１９は、グリッド部２１ａ，２２ａ内に設けられ
Ｘ線吸収部１９は、Ｘ線透過性基板２４にｘ方向に沿って設けられ、ｙ方向に沿って配列された複数の溝２５の中に設けられており、Ｘ線吸収性に優れた金属、
から構成され
各Ｘ線吸収部１９を隔てている複数の隔壁２６は、Ｘ線透過部として機能する
　
エ　「【００３９】
　
縞画像は、第２のグリッド１４により強度変調され、
位相微分像
を取得する
【００４０】
　以上説明したように、本実施形態の放射線画像撮影用グリッドは、複数枚の小グリッド２１、２２を接合して構成しているので、大きな面積を得ることができ、位相コントラスト画像の撮影面積を広くすることができる。また、小グリッド２１、２２は、グリッド部２１ａ及び非グリッド部２２ｂと、非グリッド部２１ｂ及びグリッド部２２ａとが重なり合うように接合されており、ｚ方向から見たときにそれぞれのグリッド部と非グリッド部との境界が一致し、かつ２つのグリッド部２１ａ、２２ａが連続して１枚の大きなグリッド部を構成するように接合されているので、小グリッド２１、２２のグリッド部２１ａ，２２ａの間の間隔が画素サイズ以下となり、高画質の位相コントラスト画像を撮影することができる。」
　
オ　「【００４５】
　また、上記実施形態では、２枚の小グリッド２１、２２により第２のグリッド１４を構成したが、２枚以上の小グリッドを用いてもよい。例えば、図９（Ａ）に示すように、４枚の小グリッド４５ａ〜４５ｄを接合して大面積のグリッド４６を構成してもよい。この場合、同図（Ａ）のｙ方向の断面図である同図（Ｂ）に示すように、小グリッド４５ａ〜４５ｄを千鳥状に重ね合わせれば、小グリッドの枚数が多くなってもグリッド４６の厚みを抑えることができる。小グリッドの間に生じる隙間Ｅは、吸収グリッドとして使用する場合にはそのまま残しておいてもよい。しかし、干渉グリッドとして使用する場合には、隙間ＥでＸ線が干渉するため、小グリッド４５ａ〜４５ｄに使用しているＸ線透過性基板と同程度のＸ線透過性を有する材料により、隙間Ｅを埋めておくのが好ましい。
【００４６】
　図１０（Ａ）及びｙ方向断面を表す同図（Ｂ）に示すグリッド５０のように、小グリッド５１ａ〜５１ｅを階段状に重ね合わせて接合してもよい。このような接合を行う場合、グリッド５０の強度を向上させるため、２点鎖線で示すように、小グリッド５１ａ、５１ｂ、５１ｄ、５１ｅの下に、Ｘ線透過性を有するダミー基板５２ａ〜５２ｄを接合するのが好ましい。また、図１１に示すように、ダミー基板に代えて、凹状の支持基板５４を用いてもよい。支持基板５４に対する小グリッド５１ａ〜５１ｅの接合は、例えば、下段の小グリッドから順に接着剤で仮止めし、全ての小グリッドを仮止めした後に、本接着用の接着剤を支持基板５４と小グリッド５１ａ〜５１ｅの間に充填すればよい。
【００４７】
　図１２に示すように、上面が傾斜されたダミー基板５６ａ〜５６ｄを使用してグリッド５０の小グリッド５１ａ、５１ｂ、５１ｄ、５１ｅをＸ線焦点に向かうように傾斜させ、擬似的に凹面状のグリッドを構成してもよい。複数枚の小グリッドを用いてグリッドを大面積化した場合、コーンビーム状のＸ線のケラレが発生するが、小グリッドを傾けて凹状にすることにより収束構造のグリッドが得られるので、Ｘ線のケラレを少なくすることができる。また、凹面状の支持基板を用いて各小グリッドを傾斜させてもよい。
【００４８】
　上記各実施形態では、小グリッドを１方向のみで重ね合わせていたが、図１３に示すグリッド６０のように、小グリッドを複数方向に重ねて合わせてもよい。図１４に示すように、グリッド６０は、最下段の小グリッド６１の４辺に２段目の小グリッド６２ａ〜６２ｄをそれぞれ重ね合わせて接合し、２段目の小グリッド６２ａ〜６２ｄの間を埋めるように３段目の小グリッド６３ａ〜６３ｄを２段目の小グリッド６２ａ〜６２ｄの上に接合している。これによれば、グリッドをより大面積化することができる。なお、各小グリッドのグリッド部を縞状のグリッドではなく十字グリッドとし、各小グリッドをＸ線焦点に向けて傾斜させれば、球面状のグリッドを得ることもできる」
　
カ　図１、２、３、９及び１３は次のものである。
　
（２）先願発明
　上記（１）によれば、先願明細書には、次の発明（以下「先願発明」という。）が記載されているものと認められる。
「サイズの小さな２枚の小グリッド２１、２２から構成され、
　前記小グリッド２１、２２は、グリッドとして機能するグリッド部２１ａ，２２ａと、グリッド部２１ａ，２２ａの外周に設けられてグリッドとして機能しない非グリッド部２１ｂ，２２ｂとをそれぞれ備え、
　前記小グリッド２１、２２は、グリッド部２１ａ及び非グリッド部２２ｂと、非グリッド部２１ｂ及びグリッド部２２ａとが重なり合うように接合されており、ｚ方向から見たときにそれぞれのグリッド部と非グリッド部との境界が一致し、かつ２つのグリッド部２１ａ、２２ａが連続して１枚の大きなグリッド部を構成するように接合され、
　前記小グリッド２１、２２は、シリコン等のＸ線透過性を有する材質で形成されたＸ線透過性基板２４と、このＸ線透過性基板２４に設けられたＸ線吸収部１９とからなり、
　前記Ｘ線吸収部１９は、グリッド部２１ａ，２２ａ内に設けられ、
　前記Ｘ線吸収部１９は、Ｘ線透過性基板２４にｘ方向に沿って設けられ、ｙ方向に沿って配列された複数の溝２５の中に設けられており、Ｘ線吸収性に優れた金属から構成され、
　前記各Ｘ線吸収部１９を隔てている複数の隔壁２６は、Ｘ線透過部として機能する、
　縞画像は、第２のグリッド１４により強度変調され、位相微分像を取得する、
　放射線画像の撮影に用いられるグリッド。」
　
第４　対比・判断
１　本願発明と引用発明との対比・判断
（１）本願発明１について
ア　対比
　本願発明１と引用発明とを対比する。
（ア）引用発明の「”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂ」は、本願発明１の「回折格子」に相当する。
　
（イ）引用発明の「”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂ」の「それぞれ同じ周期又はピッチに配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造」領域は、「ピクセルＰ（ｉ−１）ａ,Ｐｉａ，Ｐ（ｉ＋１）ａは、ピクセルＰ（ｉ−１）ｂ，Ｐｉｂ，Ｐ（ｉ＋１）ｂ以外の強度パターンＩの他の相対位置をサンプリングするように前記バーが配置され、前記ギャップは、Ｘ線を透過」することは、本願発明１の「第一のサブエリアは、第一の格子ピッチにより周期的に配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造を有し、Ｘ線放射の位相及び／又は振幅を変えるように前記バーが配置され、前記ギャップは、Ｘ線を透過」することに相当する。
　
（ウ）引用発明の「”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂ」の「複数のバー及びギャップをもつ格子構造ではない領域」は、「Ｘ線を透過し、当該”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂにおいてＸ線を透過する領域を提供するものであることは、本願発明１の「第二のサブエリア」は、「Ｘ線を透過し」、「当該回折格子においてＸ線を透過する開口を提供」することに相当する。
　
（エ）上記（ア）ないし（ウ）によれば、両者は、
「Ｘ線微分位相コントラスト画像形成の回折格子であって、
　第一のサブエリアと、
　第二のサブエリアとを備え、
　前記第一のサブエリアは、第一の格子ピッチにより周期的に配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造を有し、Ｘ線放射の位相及び／又は振幅を変えるように前記バーが配置され、前記ギャップは、Ｘ線を透過し、
　前記第二のサブエリアは、Ｘ線を透過し、前記第二のサブエリアは、当該回折格子においてＸ線を透過する開口を提供する、
　回折格子。」
である点で一致し、以下の点で相違する。
　
・本願発明１の「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリア」は、「１つの画像取得ステップの間に、位相コントラストの画像情報がＸ線画像情報と共に記録することができるように、１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」のに対して、引用発明の「”大域”格子Ｇ２ａ，Ｇ２ｂ」の「それぞれ同じ周期又はピッチに配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造」領域及び「複数のバー及びギャップをもつ格子構造ではない領域」は、このように配置されるとは特定されない点（以下「相違点１」という。）。
　
イ　判断
　上記相違点１について検討する。
　引用発明の「ピクセルのアレイは二次元であ」る点に関して、引用文献には、「これは図２に図示され、例示的なピクセルアレイ上の上面図において、４つの隣接（サブ）ピクセルＰｉａ，Ｐｉｂ，Ｐｉｃ，Ｐｉｄから成る１つのマクロピクセルΠｉを示す」（上記「第３」「１」「（１）」「イ」）と記載され、続いて、「これらの２つのマクロピクセルは各々、強度パターンの４つの異なる位置ａ，ｂ，ｃ，ｄをサンプリングする４つの（サブ）ピクセルを有する・・・。位相ステッピングを伴う位相コントラストイメージングに関する従来技術からわかるように、サンプリング点から局所強度パターンＩが各マクロピクセルに対して再構成されることができ、その結果、検討されたマクロピクセルΠｉ，Πｉ＋１の位置間の強度パターンＩにおける可能な（位相）シフトを明らかにする。」及び「前述の実施例は２×２のマクロピクセルを扱ったが、設計はＮ×Ｍのピクセル（Ｎ，Ｍ≧２）用に容易に拡張されることができる。例えば、Weitkamp et al.の文献において十分であることが証明されているように、３×３のサブピクセルを持つマクロピクセルのサブ格子が８サンプリング用に設計されることができる。」（上記「第３」「１」「（１）」「イ」）と記載されている。
　上記記載によれば、引用発明のピクセルのアレイは、２×２のマクロピクセル、ないしは、Ｎ×Ｍのピクセル（Ｎ，Ｍ≧２）に配置することで、「サンプリング点から局所強度パターンＩが各マクロピクセルに対して再構成されることができ」るものであるから、引用発明のピクセルのアレイを、「１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」ものとする動機はない。
　また、このように配置することが容易に想到し得たとする証拠もない。
　したがって、本願発明１は、引用発明ではなく、また、当業者であっても引用発明に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。
　
（２）本願発明２ないし６について
　本願発明２ないし６も、本願発明１の「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリア」は、「１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」と同一の構成を備えるものであるから、本願発明１と同じ理由により、引用発明ではなく、また、当業者であっても引用発明に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。
　
（３）本願発明７ないし１１について
　本願発明７ないし１１も、本願発明１の上記「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリア」は、「１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」との構成に対応する、「前記格子部分及び前記開口部分は、１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置され」るとの構成を備えるから、本願発明１と同様の理由により、引用発明ではなく、また、当業者であっても引用発明に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。
　
２　本願発明と先願発明との対比・判断
（１）本願発明１について
ア　対比
　本願発明１と先願発明とを対比する。
（ア）先願発明の「位相微分像を取得する、放射線画像の撮影に用いられるグリッド」は、本願発明１の「Ｘ線微分位相コントラスト画像形成の回折格子」に相当する。
　
（イ）先願発明の「シリコン等のＸ線透過性を有する材質で形成されたＸ線透過性基板２４と、このＸ線透過性基板２４に設けられたＸ線吸収部１９とからなり、前記Ｘ線吸収部１９は、グリッド部２１ａ，２２ａ内に設けられ、前記Ｘ線吸収部１９は、Ｘ線透過性基板２４にｘ方向に沿って設けられ、ｙ方向に沿って配列された複数の溝２５の中に設けられており、Ｘ線吸収性に優れた金属から構成され、前記各Ｘ線吸収部１９を隔てている複数の隔壁２６は、Ｘ線透過部として機能する」「グリッドとして機能するグリッド部２１ａ，２２ａ」及び「グリッド部２１ａ，２２ａの外周に設けられてグリッドとして機能しない」「非グリッド部２１ｂ，２２ｂ」は、本願発明１の「第一の格子ピッチにより周期的に配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造を有し、Ｘ線放射の位相及び／又は振幅を変えるように前記バーが配置され、前記ギャップは、Ｘ線を透過」する「第一のサブエリア」及び「Ｘ線を透過し、前記第二のサブエリアは、当該回折格子においてＸ線を透過する開口を提供」する「第二のサブエリア」にそれぞれ相当する。
　
（ウ）上記（ア）及び（イ）によれば、両者は、
「Ｘ線微分位相コントラスト画像形成の回折格子であって、
　第一のサブエリアと、
　第二のサブエリアとを備え、
　前記第一のサブエリアは、第一の格子ピッチにより周期的に配置される複数のバー及びギャップをもつ格子構造を有し、Ｘ線放射の位相及び／又は振幅を変えるように前記バーが配置され、前記ギャップは、Ｘ線を透過し、
　前記第二のサブエリアは、Ｘ線を透過し、前記第二のサブエリアは、当該回折格子においてＸ線を透過する開口を提供する、
　回折格子。」
である点で一致し、以下の点で相違する。
　
・本願発明１の「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリア」は、「１つの画像取得ステップの間に、位相コントラストの画像情報がＸ線画像情報と共に記録することができるように、１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」のに対して、先願発明の「グリッド部２１ａ及び非グリッド部２２ｂ」は、「非グリッド部２１ｂ及びグリッド部２２ａとが重なり合うように接合されており、ｚ方向から見たときにそれぞれのグリッド部と非グリッド部との境界が一致し、かつ２つのグリッド部２１ａ、２２ａが連続して１枚の大きなグリッド部を構成するように接合され」るように配置される点（以下「相違点２」という。）。
　
イ　判断
　上記相違点２について検討する。
　先願発明の「非グリッド部２１ｂ及びグリッド部２２ａとが重なり合うように接合されており、ｚ方向から見たときにそれぞれのグリッド部と非グリッド部との境界が一致し、かつ２つのグリッド部２１ａ、２２ａが連続して１枚の大きなグリッド部を構成するように接合され」る点に関して、先願明細書には、「本発明の放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法は、一方の小グリッドのグリッド部と他方の小グリッドの非グリッド部とが対面するように重ね合わせているので、非グリッド部の大きさに影響されることなく、グリッド部の間隔が狭くなるように複数枚の小グリッドを配列することができる。これにより、本発明の放射線画像撮影用グリッドを用いた放射線画像撮影システムでは、複数枚の小グリッドのグリッド部間で位相コントラスト画像が取得できなくなるような事態が発生せず、高画質の位相コントラスト画像得ることができる。」（上記「第３」「２」「（１）」「イ」）と記載される。
　上記記載によれば、先願発明における「非グリッド部２１ｂ及びグリッド部２２ａ」の配列は、「非グリッド部の大きさに影響されることなく、グリッド部の間隔が狭くなるように複数枚の小グリッドを配列する」ものであって、これを「非グリッド部２１ｂ及びグリッド部２２ａ」を、「１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」ものとする動機はなく、上記相違点２が単なる設計的事項であるということはできない。
　したがって、本願発明１は、実質的にも先願発明ではない。
　
（２）本願発明２ないし６について
　本願発明２ないし６も、本願発明１の「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリア」は、「１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」と同一の構成を備えるものであるから、本願発明１と同じ理由により、先願発明ではない。
　
（３）本願発明７ないし１１について
　本願発明７ないし１１も、本願発明１の上記「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリア」は、「１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」との構成に対応する、「前記格子部分及び前記開口部分は、１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置され」るとの構成を備えるから、本願発明１と同様の理由により、先願発明ではない。
　
第５　原査定の概要及び原査定についての判断
１　原査定の理由の概略
（１）（明確性）この出願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。
Ａ．請求項１、１０、１２において、「密度情報」と記載されているが、前記「密度」はなんの密度なのかが明確でない。
Ｂ．請求項５に記載された「割合」はなんの割合なのかが明確でない。
Ｃ．請求項９において、「前記干渉ユニット」と記載されているが、前記記載の前に、「干渉ユニット」の記載がないため、前記「前記干渉ユニット」はなにを指しているのかが明確でない。
　
（２）（新規性）この出願の請求項１ないし３に係る発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された引用文献に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができない。
　
（３）（進歩性）この出願の請求項１ないし３に係る発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された引用文献に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
（４）（拡大先願）この出願の請求項１ないし３に係る発明は、その出願の日前の特許出願であって、その出願後に特許掲載公報の発行又は出願公開がされた先願の特許出願の願書に最初に添付された明細書、特許請求の範囲又は図面に記載された発明と同一であり、しかも、この出願の発明者がその出願前の特許出願に係る上記の発明をした者と同一ではなく、またこの出願の時において、その出願人が上記特許出願の出願人と同一でもないので、特許法第２９条の２の規定により、特許を受けることができない。
　
２　原査定についての判断
　しかしながら、平成２９年８月９日付けの手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１１は、上記「１」「（１）」の記載不備を解消している。
　また、特許請求の範囲の請求項１ないし３は、上記「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリア」は、「１つの方向において交互するようにライン状に配置され、少なくとも２つのライン状の格子のグループ及び少なくとも２つのライン状の開口のグループが設けられ、前記ライン状の格子のグループと前記ライン状の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」との構成を有するものとなっており、上記第４で検討したとおり、本願発明１ないし３は、引用発明ではなく、先願発明ではなく、また、当業者であっても引用発明に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。
　よって、上記「１」「（２）」ないし「１」「（４）」の拒絶理由についても解消された。
　したがって、原査定を維持することはできない。
　
第６　当審拒絶理由について
１　当審拒絶理由は、概略下記のとおりである。
　本件出願は、特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の記載が下記の点で、特許法第３６条第４項第１号、特許法第３６条第６項第１号及び同条第６項第２号、並びに、特許法第３７条に規定する要件を満たしていない。
（１）本願請求項１について
ア　本願請求項１は、「第一のサブエリア」及び「第一のサブエリアの少なくとも１つの部分」、「第二のサブエリア」及び「第二のサブエリアの少なくとも１つの部分」を発明特定事項とする。
　しかしながら、「第一（二）のサブエリア」を、「第一（二）のサブエリアの少なくとも１つの部分」と特定することにいかなる技術的意味があるのか不明である。
　また、「少なくとも１つ」と特定する以上、「第一（二）のサブエリアの・・・部分」が複数あるものを含むところ、「第一（二）のサブエリアの・・・部分」が２以上のあるものにおいてどのような技術的意味があり、かつ、「第一（二）のサブエリア」の「部分」ではない場所がいかなる技術的意味を持つのか理解できず、上記発明特定事項に係る記載は不明確な記載である（特許法第３６条第６項第２号）。
　
イ（ア）本願請求項１は、「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリアの部分」に係り、「少なくとも１つの方向において交互するように配置され」ることを発明特定事項とする。　
（イ）しかしながら、本願明細書及び図面（以下「本願明細書等」という。）には、「１つの方向において交互するように配置され」る場合と、「２つの方向において交互するように配置され」る場合のみ記載され、３つ以上の方向の場合は記載されておらず、明細書等の記載に基づいたものとは認められない（特許法第３６条第６項第１号）。
　そして、３つ以上の方向の場合はどのような配置であるのか理解できないから、上記（ア）の発明特定事項は不明確な記載を含むものである（特許法第３６条第６項第２号）。
　
（ウ）また、「１つの方向において交互するように配置され」る場合は、ライン状パターン（図１１ａ、ｂ等）を意味し、「２つの方向において交互するように配置され」る場合は、チェス盤のパターン（図６ａ、ｂ等）を意味すると理解されるが、本願請求項１の「前記第一のサブエリアの部分は、第一のサブエリアの部分のうちの少なくとも１つのラインを有する少なくとも１つの線形の格子のグループにおいて線形に配置され、前記第二のサブエリアの部分は、第二のサブエリアの部分のうちの少なくとも１つのラインを有する少なくとも１つの線形の開口のグループにおいて線形に配置され、少なくとも２つの線形の格子のグループ及び少なくとも２つの線形の開口のグループが設けられ、前記線形の格子のグループと前記線形の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」はライン状パターンを示すから、「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリアの部分」が「２つの方向において交互するように配置され」る場合はありえず、上記（ア）の発明特定事項（特に「少なくとも１つの」）は不明確である（特許法第３６条第６項第２号）。
　
ウ　本願請求項１は、「第一のサブエリアの部分」及び「第二のサブエリアの部分」に係り、「少なくとも１つのラインを有する少なくとも１つの線形の格子のグループにおいて線形に配置され」、「少なくとも２つの線形の格子のグループ及び少なくとも２つの線形の開口のグループが設けられ」ることを発明特定事項とする。
　しかしながら、「ラインを有する・・・線形の格子のグループにおいて線形に配置され」るとはどのように配置することを意味するのか冗長な記載で（単に、ライン状に配置することと何が異なるのか）不明確である。
　また、「線形」との記載が示す技術的事項も明細書に説明がなく、漠然としていて不明確である（特許法第３６条第６項第２号）（また、下線は当審が付した。以下同じ。）。
　
（２）本願請求項３について
ア　（本願請求項１または２を引用する）本願請求項３に係る発明は、「前記第一のサブエリア及び第二のサブエリアの部分」に係り、「チェス盤のパターンにおいて当該回折格子のエリアにわたり配置される」ことを発明特定事項とする。
　
イ　これに対して、本願請求項１に係る発明は、「第一のサブエリアの部分」及び「第二のサブエリアの部分」に係り、「前記第一のサブエリアの部分は、第一のサブエリアの部分のうちの少なくとも１つのラインを有する少なくとも１つの線形の格子のグループにおいて線形に配置され、前記第二のサブエリアの部分は、第二のサブエリアの部分のうちの少なくとも１つのラインを有する少なくとも１つの線形の開口のグループにおいて線形に配置され、少なくとも２つの線形の格子のグループ及び少なくとも２つの線形の開口のグループが設けられ、前記線形の格子のグループと前記線形の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」こと、すなわち、ライン状のパターンであることを発明特定事項とする。
　
ウ　そうすると、「第一のサブエリアの部分」及び「第二のサブエリアの部分」は、本願請求項１に係る発明は、上記イの発明事項のとおり、ライン状のパターンであるにもかかわらず、当該請求項１の構成を引用する本願請求項３に係る発明は、上記アの発明事項のとおりチェス盤のパターンであることとなる。
　したがって、本願請求項１または２を引用する本願請求項３に係る発明では、「第一のサブエリアの部分」及び「第二のサブエリアの部分」が、「ラインを有する・・・線形の格子のグループにおいて線形に配置され」ると同時に「チェス盤のパターンに・・・配置される」こととなり、技術的に矛盾していて、本願請求項３に係る発明がどのようなパターンに配置することを特定するものであるのか理解できない（特許法第３６条第６項第２号）。
　また、本願明細書等を見みても、このような配置は記載されていない（特許法第３６条第６項第１号）。
　
（３）本願請求項４について
ア　本願請求項４には、「少なくとも１つのセンサ画素」、「少なくとも第二の位置に前記センサに関してそれぞれ移動し」、「前記第一の移動ピッチは、前記少なくとも１つの方向において、交互するように配置される前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリアの部分に適合され」、「前記第一の位置及び前記第二の位置において、前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリアの部分の背後に、少なくとも２つの部分をもつセンサが配置され」ることを発明特定事項とするが、「少なくとも１つのセンサ画素」が「少なくとも２つの部分をもつセンサが配置され」るとは、発明の構成を曖昧にする記載であって不明確であり、また、「少なくとも第二の位置に前記センサに関してそれぞれ移動し」、「前記第一の移動ピッチは、前記少なくとも１つの方向において、交互するように配置される」も、発明の構成を曖昧にする記載であって不明確である（特許法第３６条第６項第２号）。
　
（４）本願請求項５について
ア　本願請求項５は、「前記第一の回折格子及び／又は前記第二の回折格子は、前記第一の回折格子及び／又は前記第二の回折格子の格子構造に対して鋭角」であることを発明特定事項とする。
　
イ　上記「鋭角」に関して本願明細書には下記の記載があるが、本願明細書等において、上記アの発明特定事項に係る記載は、上記（イ）の図１８及び１９のとおり、チェス盤のパターンの場合にとどまるから、「ラインを有する・・・線形の格子のグループにおいて線形に配置され」る本願請求項１を引用する本願請求項５は、本願明細書等に記載されたものではない（特許法第３６条第６項第１号）。
　
（５）本願請求項９について
ア　本願請求項１は、「前記第一のサブエリア及び前記第二のサブエリアの部分は、１つの画像取得ステップの間に、位相コントラストの画像情報がＸ線画像情報と共に記録することができるように、
少なくとも１つの方向において交互するように配置され、
　前記第一のサブエリアの部分は、第一のサブエリアの部分のうちの少なくとも１つのラインを有する少なくとも１つの線形の格子のグループにおいて線形に配置され、
　前記第二のサブエリアの部分は、第二のサブエリアの部分のうちの少なくとも１つのラインを有する少なくとも１つの線形の開口のグループにおいて線形に配置され、
　少なくとも２つの線形の格子のグループ及び少なくとも２つの線形の開口のグループが設けられ、
　前記線形の格子のグループと前記線形の開口のグループは、第一のラインピッチで交互するように配置される」ものであることを発明の構成に欠くことができない事項の主要部とするものである。
　
イ　これに対して、方法の発明である請求項９は当該構成を備えないものであって、当該発明は特定発明（請求項１）と、発明の構成に欠くことができない事項の主要部が相違し、また解決しようとする課題も相違するものとなり、特許法第３７条に規定する経済産業省令で定める技術的関係を有さない。
　したがって、請求項９及び同項を引用する請求項１０ないし１２は、特許法第３７条に規定する要件を満たさないものである。
　
（６）本願請求項１１について
　本願請求項１１における「変換ピッチ」は、本願明細書等に対応する記載がなく、何を意味するのか不明確である（特許法第３６条第６項第２号）。
　
（７）本願請求項１３及び１４について
ア　本願請求項１３に係る発明は、「処理ユニットにより実行されたとき、請求項９乃至１２の何れか記載の方法を実行させる、請求項１乃至８の何れか記載の装置を制御するコンピュータプログラム」であることを発明特定事項とする発明であり、また、本願請求項１４に係る発明は、「請求項１３記載のコンピュータプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。」であることを発明特定事項とする発明である。
　
イ　上記「コンピュータプログラム」及び「コンピュータプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体」に関して本願明細書には、「・・・に関する」及び「・・・にも適用される」と記載するにとどまり、発明として、具体的にどのように構成することで、「コンピュータプログラム」及び「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」となすのか、本願の発明の詳細な説明は、経済産業省令（特許法施行規則第２４条の２）で定めるところにより、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものとはいえない（特許法第３６条第４項第１号）。
　
２　当審拒絶理由についての判断
　しかしながら、平成２９年８月９日付けの手続補正で特許請求の範囲の請求項１ないし１１は、上記「第２」のとおり補正されたの結果、上記「１」の拒絶の理由は解消した。
　
第７　むすび
　以上のとおり、本願発明１ないし１１は、引用発明ではなく、先願発明ではなく、また、当業者であっても引用発明に基づいて容易に発明をすることができたものではない。
　したがって、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。