(57)【要約】【課題】レーザダイオードを駆動させる直流電流及び高周波重畳電流の電流値を最適に調整できる光ディスク装置を提案する。【解決手段】光ディスク装置において、直流電流に高周波電流を重畳して駆動電流として前記レーザ光源に供給し、当該レーザ光源を駆動させるレーザドライバと、前記サーボ信号又は再生信号に基づいて、前記レーザドライバが前記レーザ光源に供給する前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する制御部と、を備え、前記制御部は、前記サーボ信号又は再生信号の波形変動を表す値が波形変動の仕様値を満たし、前記再生信号の再生性能を表す値が再生性能の仕様値を満たし、且つ、前記光ディスクの前記レーザ光に対する耐久性能を表す値が耐久性能の仕様値を満たすように、前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する。【選択図】図９
2011100514.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源から出射されたレーザ光を光ディスクに反射させ、反射させた反射光をフォトダイオードで電気信号として検出し、検出した電気信号からサーボ信号又は再生信号を生成する光ディスク装置であって、
直流電流に高周波電流を重畳して駆動電流として前記レーザ光源に供給し、当該レーザ光源を駆動させるレーザドライバと、
前記サーボ信号又は再生信号に基づいて、前記レーザドライバが前記レーザ光源に供給する前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記サーボ信号又は再生信号の波形変動を表す値が波形変動の仕様値を満たし、前記再生信号の再生性能を表す値が再生性能の仕様値を満たし、且つ、前記光ディスクの前記レーザ光に対する耐久性能を表す値が耐久性能の仕様値を満たすように、前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御部は、
前記サーボ信号又は再生信号の波形の極大値と極小値とを検出し、
前記サーボ信号又は再生信号の波形変動を表す値として、前記極大値と極小値との変動量又は振幅中心の変動量を測定し、
測定した値がその仕様値を満たすように、前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御部は、
前記再生信号の再生性能を表す値として、前記再生信号のジッター、エラーレート、及び振幅の少なくとも一つを測定し、
測定した値がその仕様値を満たすように、前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置
【請求項４】
前記制御部は、
前記光ディスクの前記レーザ光に対する耐久性能を表す値として、前記光ディスクを所定の回数再生した後の前記再生信号のジッター、エラーレート、及び振幅の少なくとも一つの変化量を測定し、
測定した値がその仕様値を満たすように、前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御部は、
前記駆動電流の平均パワーと、平均パワーと前記駆動電流のピークパワーとの比である駆動電流変調度とをそれぞれ変化させて、変化させる毎に前記サーボ信号又は再生信号の波形変動を表す値、前記再生信号の再生性能を表す値、又は前記光ディスクの前記レーザ光に対する耐久性能を表す値を測定し、
前記波形変動を表す値がその仕様値を満たし、前記再生性能を表す値がその仕様値を満たし、且つ、前記光ディスクの前記レーザ光に対する耐久性能を表す値がその仕様値を満たす前記平均パワー及び前記駆動電流変調度の範囲を特定し、
特定した前記範囲内の前記平均パワー及び前記駆動電流変調度となるように、前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記駆動電流の消費電力が最も小さくなるように、前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記サーボ信号又は再生信号の波形変動を表す値が波形変動の仕様値を満たし、前記再生信号の再生性能を表す値が再生性能の仕様値を満たし、且つ、前記光ディスクの前記レーザ光に対する耐久性能を表す値が耐久性能の仕様値を満たすような条件が無い場合には、再生を中止する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記制御部は、前記光ディスクを再生する速度を変更する毎に前記直流電流値及び／又は前記高周波重畳電流値を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記制御部は、再生する前記光ディスク上の記録層を変更する毎に前記直流電流値及び／又は前記高周波重畳電流値を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクを再生する光ディスク装置に関し、例えば、複数の記録層を備える光ディスクを再生可能な光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＢＤ（Blu-ray）規格の光ディスクにおいて、記録容量を増加させるために記録層を増加させる技術が提案され、既に二層ディスクが実用化されている。今後、更なる大容量化を目的として三層や四層以上の記録層を有する光ディスク（以下、多層ディスク）の実用化が予想される。
【０００３】
しかし、多層ディスクの再生においては、記録層の反射率低下による再生品質の低下が起こりやすい。そのため、光ディスクにレーザ光を照射するレーザダイオードに供給する直流電流と高周波重畳電流とを増加させ、Ｓ／Ｎ比を良好にすることで解決する。
【０００４】
ところで、記録型の光ディスクの場合、レーザダイオードに供給する直流電流と高周波重畳電流とを単純に増加させてしまうと、いわゆる再生耐力を確保できなくなる。
【０００５】
これに対し、特許文献１では、光ディスク装置において、再生パワーを徐々に増加させ、それぞれの再生パワーで再生した場合の再生信号の品質を表す指標値を測定し、測定した指標値が最小値となる下限再生パワーを参照して、最適再生パワーを設定する技術が開示されている。
【０００６】
また、特許文献２では、光ディスク装置において、ジッター検出器が、記録された情報を再生し、再生信号として検出し、コントローラが、ジッター検出器により検出された再生信号に応じて、高周波電流の重畳レベルを設定する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００９−１４０５８０号公報
【特許文献２】特開２００７−１７２７７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上記技術を用いた光ディスク装置による多層ディスクの再生においては、記録再生の対象層以外の層からの反射光の影響により、サーボ信号や再生信号が変動してしまうという問題があった。これらの信号が変動することで、再生品質の低下を引き起こしてしまう。そのため、レーザダイオードを駆動するための直流電流及び高周波重畳電流の電流値を、記録再生の対象層以外の層からの反射光の影響を受けないように調整する必要がある。
【０００９】
本発明は、以上の点を考慮してなされたもので、レーザダイオードを駆動させる直流電流及び高周波重畳電流の電流値を最適に調整できる光ディスク装置を提案しようとするものである。  
【課題を解決するための手段】
【００１０】
かかる課題を解決するため本発明の一態様においては、レーザ光源から出射されたレーザ光を光ディスクに反射させ、反射させた反射光をフォトダイオードで電気信号として検出し、検出した電気信号からサーボ信号又は再生信号を生成する光ディスク装置において、直流電流に高周波電流を重畳して駆動電流として前記レーザ光源に供給し、当該レーザ光源を駆動させるレーザドライバと、前記サーボ信号又は再生信号に基づいて、前記レーザドライバが前記レーザ光源に供給する前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整する制御部と、を備え、前記制御部は、前記サーボ信号又は再生信号の波形変動を表す値が波形変動の仕様値を満たし、前記再生信号の再生性能を表す値が再生性能の仕様値を満たし、且つ、前記光ディスクの前記レーザ光に対する耐久性能を表す値が耐久性能の仕様値を満たすように、前記直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、レーザダイオードを駆動させる直流電流及び高周波重畳電流の電流値を最適に調整できる光ディスク装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本実施の形態による光ディスク装置を示すブロック図である。
【図２】レーザダイオードの駆動電流と発光波形の関係を示した図である。
【図３】ディテクタに光ディスクからの反射光が投影されている状態を説明するための図である。
【図４】（Ａ）は、単層ディスクにおけるトラッキングエラー信号の波形図であり、（Ｂ）は、多層ディスクにおけるトラッキング信号の波形図である。
【図５】再生パワーとＨＦ変調度に対するＴＥ信号の波形変動を示す図である。
【図６】再生パワーとＨＦ変調度に対する再生信号の再生性能を示す図である。
【図７】再生パワーとＨＦ変調度に対する光ディスクの再生耐力を示す図である。
【図８】再生パワーとＨＦ変調度に対する波形変動、再生性能、及び再生耐力が各仕様値を満たす範囲を示す図である。
【図９】再生パワー及びＨＦ変調度決定処理を説明するためのフローチャートである。
【図１０】波形変動測定処理を説明するためのフローチャートである。
【図１１】再生性能測定処理を説明するためのフローチャートである。
【図１２】再生耐力測定処理を説明するためのフローチャートである。
【図１３】他の実施の形態による再生耐力の測定方法を説明するための図である。
【符号の説明】
【００１３】
１……光ディスク装置、２……光ディスク、３……光ピックアップ、４……マイコン、５……アナログ信号処理器、６……デジタル信号処理器、３１……レーザダイオード、３２……レーザドライバ、３３……ビームスプリッタ、３４……パワーモニタ、３５……偏光ビームスプリッタ、３６……ディテクタ、３７……１／４波長板、３８……対物レンズ。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面について本発明の実施の形態を詳述する。
【００１５】
（１）本実施の形態の光ディスク装置の構成
図１において、１は全体として本実施の形態による光ディスク装置を示す。この光ディスク装置１は、光ピックアップ３とマイコン４とアナログ信号処理器５とデジタル信号処理器６とを備え、光ディスク２が装填されるように構成されている。
【００１６】
光ピックアップ３は、レーザ光を光ディスク２に照射し、反射した反射光を検出して光電変換により電気信号に変換し、アナログ信号処理器５に供給する。また、光ピックアップ３は、レーザダイオード３１と、レーザドライバ３２と、ビームスプリッタ３３と、パワーモニタ３４と、偏光ビームスプリッタ３５と、ディテクタ３６と、１／４波長板３７と、対物レンズ３８とを備える。
【００１７】
レーザダイオード３１は、レーザドライバ３２から供給された駆動電流に応じた発光パワーでレーザ光を発光する。
【００１８】
レーザドライバ３２は、図示しない直流電流回路と高周波電流回路を備えている。レーザドライバ３２は、マイコン４の制御に応じて、直流電流回路に出力させた直流電流に、高周波電流回路に出力させた高周波電流を重畳してレーザダイオード３１に供給し、レーザダイオード３１を駆動させる。
【００１９】
ここで、図２を参照して、レーザダイオード３１が発光したレーザ光の発光パワーと、レーザドライバ３２がレーザダイオード３１に供給する駆動電流との関係を説明する。
【００２０】
レーザダイオード３１に供給される駆動電流の電流値と、レーザダイオード３１が発光したレーザ光の発光パワーの関係は、直線２０１に示されるような比例関係である。この特性はレーザダイオードによって異なる。また、レーザドライバ３２は、レーザダイオード３１に、正弦波２０２のような駆動電流を供給する。この駆動電流は、直流電流に高周波電流が重畳されている。正弦波２０２で示される駆動電流を、直線２０１で示される特性を有するレーザダイオード３１に供給した場合に、レーザダイオード３１は、発光パワーが波形２０３のような発光波形となるレーザ光を出力する。
【００２１】
すなわち、レーザドライバ３２が出力する駆動電流に含まれる直流成分と高周波成分とを変化させることで、発光波形を制御することが可能である。ここで、発光波形２０３の平均パワーに対するピークパワーの比を「ＨＦ変調度」と定義する。また、以下、「再生パワー」とは図２における平均パワーのことを示す。
【００２２】
ビームスプリッタ３３は、レーザダイオード３１からのレーザ光の一部を透過させ、一部を反射させてパワーモニタ３４に導く。
【００２３】
パワーモニタ３４は、ＡＰＣ（Automatic Power Control）駆動のためのフォトダイオードであり、ビームスプリッタ３３を介してレーザダイオード３１が出力したレーザ光を検出し、検出したレーザ光を光電変換により電気信号に変換してマイコン４に出力する。
【００２４】
偏光ビームスプリッタ３５は、ビームスプリッタ３３からのレーザ光を透過させ、１／４波長板３７は、偏光ビームスプリッタ３５からのレーザ光の位相をπ／２ずらし、偏光方向を変化させる。対物レンズ３８は、１／４波長板３７からのレーザ光を光ディスク２の記録層上に集光し、光ディスク２の記録層上で反射したレーザ光を平行光に変換する。光ディスク２にて反射したレーザ光は、光ディスク２の記録層に書き込まれた情報を光の強度変化として保持している。
【００２５】
１／４波長板３７は、対物レンズ３８からのレーザ光の偏光方向を変化させ、偏光ビームスプリッタ３５は、１／４波長板３７からのレーザ光を反射させ、ディテクタ３６に集光する。
【００２６】
ディテクタ３６は、複数に分割されたフォトダイオードで構成され、偏光ビームスプリッタ３５からのレーザ光を検出し、検出したレーザ光を光電変換により電気信号に変換し、アナログ信号処理器５に出力する。
【００２７】
マイコン４は、後述するサーボ信号の波形変動、再生信号の再生性能、及び光ディスク２の再生耐力を測定し、それらがそれぞれの仕様値を満たすＨＦ変調度及び再生パワーにおける範囲を特定し、特定した範囲内で使用するＨＦ変調度及び再生パワーを決定し、決定した再生パワー及びＨＦ変調度となるように直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整し、光ディスク２の再生を開始する。その後、マイコン４は、パワーモニタ３４から供給された電気信号に基づいて、決定した再生パワーを維持するようにＡＰＣ駆動を行いながら、レーザダイオード３１にレーザ光を照射させる。また、マイコン４は、デジタル信号処理器６より供給されたサーボ信号に基づいて、対物レンズ３８を駆動するアクチュエータ（図不掲載）をフィードバック制御する。また、マイコン４は、図示しないＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）規格等のインタフェースを備え、当該インタフェースを介してパーソナルコンピュータ等のホスト装置と通信を行う。
【００２８】
アナログ信号処理器５は、ディテクタ３６から供給された電気信号に基づいて再生信号を生成し、生成した再生信号に対して等化、増幅などの処理を行い、デジタル信号処理器６に出力する。デジタル信号処理器６は、アナログ信号処理器５によって供給された再生信号に対し、アナログ／デジタル変換、等化、デコードなどの信号処理を行い、また、再生信号のジッターやデコードしたデータのエラーレートを測定する。デコードしたデータ、再生信号のジッター、及びデータのエラーレートは、マイコン４に出力される。
【００２９】
また、アナログ信号処理器５は、ディテクタ３６から供給された電気信号に基づいて、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号）、及びウォブル信号等のサーボ信号を生成し、デジタル信号処理器６に出力する。デジタル信号処理器６は、アナログ信号処理器５により供給されたサーボ信号のジッター等を測定する。また、サーボ信号、及びサーボ信号のジッターは、マイコン４に出力される。
【００３０】
（２）従来の光ディスク装置の問題点
先ず、図３を参照して、ディテクタ３６に光ディスク２の反射光が集光している際の状態を説明する。ディテクタ３６は、二つ以上のフォトダイオード３０１から構成されている。光ディスク２の再生する対象となる記録層からの反射光が、スポット３０２としてフォトダイオード３０１に投射されると、ディテクタ３６は、光ディスク２の記録層上の構造や記録状態に応じた電気信号を出力する。しかし、多層ディスクを記録再生する場合には、再生する対象となる記録層以外の記録層からの反射光も、スポット３０３としてフォトダイオード３０１に投射されてしまう。
【００３１】
その結果、単層ディスクでは、図４（Ａ）に示すように、ＴＥ信号における極大値及び極小値が、全時間においてほぼ一定であるが、多層ディスクでは、図４（Ｂ）に示すように、ＴＥ信号における極大値及び極小値が、変動する。これは、ディテクタ３６上で対象層からの反射光と他層からの反射光とが干渉するためである。このような波形変動が発生すると、トラッキングを正常に行うことができなくなり、記録再生性能を悪化させる要因となる。
【００３２】
（３）本実施の形態の光ディスク装置の動作の概要
次に、図５乃至８を参照して、光ディスク装置１の動作を簡単に説明する。
【００３３】
光ディスク装置１は、光ディスク２が装填されると、所定の刻み幅のＨＦ変調度毎に、所定の刻み幅の再生パワー毎に、ＴＥ信号の波形変動を測定して、図５に示すような、再生パワー及びＨＦ変調度に対するＴＥ信号の波形変動を示す二次元マップを生成する。ＴＥ信号の波形変動は、例えば、ＴＥ信号の各極大値の標準偏差、ＴＥ信号の各極小値の標準偏差、又は、ＴＥ信号の各振幅中心の標準偏差で表わされる。ここで、ライン５０１は、ＴＥ信号の波形変動が仕様値（例えば、標準偏差「Ａ」）を取る線であり、ライン５０２は、波形変動が仕様値を満たさない値（例えば、標準偏差「Ａ＋α」）を取る線であり、ライン５０３〜５０６は、波形変動が仕様値を満たす値（例えば、標準偏差「Ａ−α」、「Ａ−２α」、「Ａ−３α」「Ａ−４α」）を取る線である。つまり、ＨＦ変調度を増加させると、対象層からの反射光と他層からの反射光との干渉を抑制し、波形変動を抑制することが出来る。また、波形変動は再生パワーにも依存する。ここでは、ライン５０１よりライン５０３〜５０６側のＨＦ変調度及び再生パワーでレーザ光を出力すれば、ＴＥ信号の波形変動は仕様値を満たすことができる。
【００３４】
次に、光ディスク装置１は、所定の刻み幅のＨＦ変調度毎に、所定の刻み幅の再生パワー毎に、再生信号の再生性能を測定して、図６に示すような、再生パワー及びＨＦ変調度に対する再生信号の再生性能を示す二次元マップを生成する。再生信号の再生性能は、例えば、再生信号のジッター又はエラーレートで表わされる。ここで、ライン６０１は、再生信号の再生性能が仕様値（例えば、ジッターＢ［％］）を取る線であり、ライン６０２，６０３は、再生性能が仕様値を満たさない値（例えば、ジッターＢ＋β［％］、Ｂ＋２β［％］）を取る線であり、ライン６０４，６０５は、再生性能が仕様値を満たす値（例えば、ジッターＢ−β［％］、Ｂ−２β［％］）を取る線である。つまり、ＨＦ変調度を増加させると、戻り光の寄与を抑制することでレーザノイズを低減し、再生性能を向上できる。また、再生パワーを増加させると、信号振幅を増加させ、再生性能を向上できる。ここでは、ライン６０１よりライン６０４，６０５側のＨＦ変調度及び再生パワーでレーザ光を出力すれば、再生信号の再生性能は仕様値を満たすことができる。
【００３５】
その後、光ディスク装置１は、所定の刻み幅のＨＦ変調度毎に、所定の刻み幅の再生パワー毎に、光ディスク２の再生耐力を測定して、図７に示すような、再生パワー及びＨＦ変調度に対する光ディスク２の再生耐力を示す二次元マップを生成する。再生耐力は、例えば、光ディスク２の所定の記録領域で、所定回数、再生した後の再生信号の再生性能の劣化量である。ここで、ライン７０１は、再生耐力が仕様値（例えば、ジッターの劣化量Ｃ［％］）を取る線であり、ライン７０２は、再生耐力が仕様値を満たさない値（例えば、ジッターの劣化量Ｃ＋γ［％］）を取る線であり、ライン７０３〜７０５は、再生耐力が仕様値を満たす値（例えば、ジッターの劣化量Ｃ−γ［％］、Ｃ−２γ［％］、Ｃ−３γ［％］）を取る線である。つまり、再生耐力は、再生パワー及びＨＦ変調度の増加に伴って減少する。これは、光ディスク２の記録層に与える熱量が増加するためである。ここでは、ライン７０１よりライン７０３〜７０５側のＨＦ変調度及び再生パワーでレーザ光を出力すれば、光ディスク２の再生耐力は仕様値を満たすことができる。
【００３６】
そして、光ディスク装置１は、ＴＥ信号の波形変動、再生信号の再生性能、及び、光ディスク２の再生耐力が各仕様値を満たす範囲、つまり、図８に示すような、ライン５０１，６０１，７０１で囲まれる範囲を特定し、特定した範囲内で再生パワー及びＨＦ変調度を決定し、決定したＨＦ変調度及び再生パワーで再生を行う。複数のＨＦ変調度の値、又は、複数の再生パワーの値を取ることができる場合には、例えば、消費電力が最も小さくなるようにＨＦ変調度及び再生パワーを決定する。一方、仕様値を満たす範囲がなかった場合には再生を中止する。
【００３７】
このようにして、光ディスク装置１は、ＴＥ信号の波形変動、再生信号の再生性能、及び、光ディスク２の再生耐力が各仕様値を満たす最適なＨＦ変調度及び再生パワーで再生を行うことができる。
【００３８】
（４）光ディスク装置における具体的な処理
（４−１）再生パワー及びＨＦ変調度決定処理
ここで、図９を参照して、光ディスク装置１が再生パワー及びＨＦ変調度を決定する再生パワー及びＨＦ変調度決定処理を説明する。
【００３９】
先ず、マイコン４は、光ディスク２が光ディスク装置１に装填されたことを検知した場合に（ＳＰ１）、初期再生パワー及び初期ＨＦ変調度でレーザダイオード３１を発光させる（ＳＰ２）。
【００４０】
ここで、初期再生パワーは、フォーカス及びトラッキングのサーボ制御が可能であり、且つ、再生性能を測定できる範囲で小さな値、例えば、多層ディスクでは１．０ｍＷとしても良いし、光ディスクに記録されている推奨の再生パワーとしても良い。初期ＨＦ変調度も同様に小さな値、例えば変調度１とすれば良い。これは高周波電流を重畳せず、直流電流のみで発光することを意味する。このような条件で再生することによって、光ディスクに記録されている情報を破壊する可能性を抑制できる。
【００４１】
次に、マイコン４は、フォーカスサーボの制御を開始し（ＳＰ３）、図５に示すような、再生パワー及びＨＦ変調度に対する波形変動の二次元マップを得る波形変動測定処理を行う（ＳＰ４）。なお、波形変動測定処理について詳細に後述する。
【００４２】
そして、マイコン４は、再び、再生条件を初期再生パワーと初期ＨＦ変調度に設定し（ＳＰ５）、図示しないアクチュエータを駆動させて対物レンズ３８を移動させ、レーザ光の光ディスク２の記録層上におけるスポット位置を記録領域へ移動させ、トラッキングサーボの制御を開始する（ＳＰ６）。
【００４３】
マイコン４は、図６に示すような、再生パワー及びＨＦ変調度に対する再生性能の二次元マップを得る再生性能測定処理を行う（ＳＰ７）。なお、再生性能測定処理について詳細に後述する。
【００４４】
マイコン４は、図７に示すような、再生パワー及びＨＦ変調度に対する再生耐力の二次元マップを得る再生耐力測定処理を行う（ＳＰ８）。なお、再生耐力測定処理について詳細に後述する。
【００４５】
マイコン４は、ステップＳＰ４、ＳＰ７、ＳＰ８において得られた二次元マップを用いて、波形変動、再生性能、再生耐力の仕様を満たす再生パワー及びＨＦ変調度を決定し（ＳＰ９）、決定した再生パワー及びＨＦ変調度となるように直流電流及び／又は前記高周波重畳電流の電流値を調整し、光ディスク２の再生を開始し（ＳＰ１０）、処理を終了する。
【００４６】
（４−２）波形変動測定処理
ここで、図１０を参照して、再生パワー及びＨＦ変調度に対する波形変動の二次元マップを得る波形変動測定処理（ＳＰ４）を説明する。
【００４７】
マイコン４は、所定の範囲から予め決められた刻み幅で順に再生パワーを選択し（ＳＰ１１）、所定の範囲から予め決められた刻み幅で順にＨＦ変調度を選択し（ＳＰ１２）、選択した再生パワー及びＨＦ変調度でトラッキングエラー信号の波形変動を測定し（ＳＰ１３）、所定の範囲内の各ＨＦ変調度で波形変動を測定したか否かを判別する（ＳＰ１４）。ステップＳＰ１４において、否定結果を得ると、ステップＳＰ１２に戻る。
【００４８】
ステップＳＰ１４において、肯定結果を得ると、マイコン４は、所定の範囲内の各再生パワーで波形変動を測定したか否かを判別する（ＳＰ１５）。ステップＳＰ１５において、否定結果を得ると、ステップＳＰ１１に戻る。ステップＳＰ１５において、肯定結果を得ると、処理を終了する。
【００４９】
このようにして、再生パワー又はＨＦ変調度を所定の刻み幅だけ変化させた毎に、トラッキングエラー信号の波形変動を測定し、再生パワー及びＨＦ変調度に対する波形変動の二次元マップが得られる。
【００５０】
（４−３）再生性能測定処理
ここで、図１１を参照して、再生パワー及びＨＦ変調度に対する再生性能の二次元マップを得る波形変動測定処理（ＳＰ７）を説明する。
【００５１】
マイコン４は、所定の範囲から予め決められた刻み幅で順に再生パワーを選択し（ＳＰ２１）、所定の範囲から予め決められた刻み幅で順にＨＦ変調度を選択し（ＳＰ２２）、選択した再生パワー及びＨＦ変調度で再生信号の再生性能を測定し（ＳＰ２３）、所定の範囲内の各ＨＦ変調度で再生性能を測定したか否かを判別する（ＳＰ２４）。ステップＳＰ２４において、否定結果を得ると、ステップＳＰ２２に戻る。
【００５２】
ステップＳＰ２４において、肯定結果を得ると、マイコン４は、所定の範囲内の各再生パワーで波形変動を測定したか否かを判別する（ＳＰ２５）。ステップＳＰ２５において、否定結果を得ると、ステップＳＰ２１に戻る。ステップＳＰ２５において、肯定結果を得ると、処理を終了する。
【００５３】
このようにして、再生パワー又はＨＦ変調度を所定の刻み幅だけ変化させた毎に、再生信号の再生性能を測定し、再生パワー及びＨＦ変調度に対する再生性能の二次元マップが得られる。
【００５４】
（４−４）再生耐力測定処理
ここで、図１２を参照して、再生パワー及びＨＦ変調度に対する再生耐力の二次元マップを得る再生耐力測定処理（ＳＰ８）を説明する。
【００５５】
マイコン４は、所定の範囲から予め決められた刻み幅で順に再生パワーを選択し（ＳＰ３１）、所定の範囲から予め決められた刻み幅で順にＨＦ変調度を選択し（ＳＰ３２）、例えば、多層ディスクでは再生パワーを初期再生パワーから１ｍＷ増加するまで０．２ｍＷずつ増加させ、ＨＦ変調度を初期ＨＦ変調度から変調度４まで０．５ずつ増加させる。この刻み幅は、光ディスクの種別毎に予め決定されている。
【００５６】
マイコン４は、対物レンズ３８を移動させてレーザ光の焦点位置を、再生耐力測定処理で用いていない記録領域に移動させる（ＳＰ３３）。次に、マイコン４は、初期再生パワー及び初期ＨＦ変調度で再生性能を測定する（ＳＰ３４）。その後、マイコン４は、選択した再生パワー及びＨＦ変調度で光ディスク２上の同一領域を所定回数繰り返し再生する（ＳＰ３５）。所定回数とは、例えば５００回などであるが、セットアップに確保されている時間から決定してもよい。
【００５７】
マイコン４は、再び、初期再生パワー及び初期ＨＦ変調度で再生性能を測定し（ＳＰ３６）、ＳＰ３４及びＳＰ３６において測定した再生性能の劣化量（再生耐力）を算出する（ＳＰ３７）。マイコン４は、所定の範囲内の各ＨＦ変調度で再生性能を測定したか否かを判別する（ＳＰ３８）。ステップＳＰ３８において、否定結果を得ると、ステップＳＰ３２に戻る。
【００５８】
ステップＳＰ３８において、肯定結果を得ると、マイコン４は、所定の範囲内の各再生パワーで波形変動を測定したか否かを判別する（ＳＰ３９）。ステップＳＰ３９において、否定結果を得ると、ステップＳＰ３１に戻る。ステップＳＰ３９において、肯定結果を得ると、処理を終了する。
【００５９】
このようにして、再生パワー又はＨＦ変調度を所定の刻み幅だけ変化させた毎に、光ディスク２の再生耐力を測定し、再生パワー及びＨＦ変調度に対する光ディスク２の再生耐力の二次元マップが得られる。
【００６０】
以上、本実施の形態による光ディスク装置１は、再生パワー及びＨＦ変調度を光ディスク２に応じて動的に変化させることで、波形変動を抑制し、再生耐力を確保しながら良好な再生性能を得ることが出来る。
【００６１】
（５）他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、波形変動を測定するためにＴＥ信号を用いたが、再生信号を用いても良い。この場合、再生信号の再生性能を測定すると同時に波形変動を測定してもよい。
【００６２】
また上述の実施の形態においては、再生性能の指標として再生信号を用いたが、ウォブル信号を用いてもよい。
【００６３】
また上述の実施の形態においては、所定の刻み幅のＨＦ変調度毎に、所定の刻み幅の再生パワー毎に、波形変動等を測定したが、ＨＦ変調度及び再生パワーのいずれか一方を固定値として、もう片方のみを所定の刻み幅毎に変化させて、波形変動等を測定しても良い。
【００６４】
また上述の実施の形態においては、ＨＦ変調度毎に、波形変動等を測定したが、高周波重畳電流の振幅毎に、波形変動等を測定しても良いし、ＨＦ周波数毎に、波形変動等を測定しても良い。
【００６５】
また上述の実施の形態においては、波形変動、再生性能、再生耐力を測定したが、このうち一つまたは二つのみを測定するようにしても良い。この場合、測定しない指標については光ディスク装置設計時に予め測定しておいても良い。
【００６６】
また上述の実施の形態においては、光ディスク装填時に、ＨＦ変調度及び再生パワーを決定したが、光ディスクの半径などに応じて複数の再生速度で再生を行う場合は、再生速度を変更する毎に、ＨＦ変調度及び再生パワーを決定しても良い。再生速度によって再生性能や再生耐力が変化する場合、最適な再生パワーとＨＦ変調度が異なるからである。
【００６７】
また、多層ディスクを再生する場合は、再生する記録層を変更する毎に、ＨＦ変調度及び再生パワーを決定しても良い。記録層によって波形変動、再生性能、再生耐力が異なる場合、最適な再生パワーとＨＦ変調度が異なるからである。
【００６８】
また、再生耐力を測定する場合、記録されているデータを劣化させる可能性があるため、ＯＰＣ領域などデータを劣化させても問題ない領域で測定を行っても良い。
【００６９】
また、チルトやフォーカス調整等の再生パワー及びＨＦ条件に対してあまり依存性がない動作については、再生パワー及びＨＦ変調度の決定処理の前に行っても良い。その場合、初期再生パワー及び初期ＨＦ変調度を用いて調整すればよい。ゲイン調整など再生パワーに依存する動作については、再生パワーとＨＦ条件の調整の前後に行うのが良い。
【００７０】
また上述の実施の形態においては、情報が記録されている光ディスク２を適用したが、情報が記録されていない光ディスク２を適用する場合には、再生パワー及びＨＦ変調度の調整前に光ディスク２に情報の記録を行う必要がある。
【００７１】
また上述の実施の形態においては、再生耐力を測定する際に、所定の刻み幅で順に再生パワー毎に再生性能の劣化量を測定したが、再生パワーの低い領域では劣化量が小さく測定が困難な場合があるため、図１３に示すように、フィッティングによって劣化量を予測しても良い。図１３の例においては、測定点７０７に基づいてフィッティングを行い、近似線７０８を算出し、低い再生パワーにおける劣化量を予測することが出来る。
【００７２】
また上述の実施の形態においては、光ピックアップ３にレーザダイオード３１とパワーモニタ３４を分離して搭載したが、パワーモニタをパッケージングし、検出したパワーをマイコン１０１に出力するレーザダイオードを光ピックアップに搭載してもよい。この場合、省スペース化を図ることができ、且つ、制御が容易になる。また、マイコン１０１やレーザドライバ１０２、アナログ信号処理器１１１、デジタル信号処理器１１２のうち二つ以上のブロックを一つにまとめても良い。
【産業上の利用可能性】
【００７３】
本発明は、ＢＤ規格、ＤＶＤ規格、ＣＤ規格又はそれ以外の規格に準拠した光ディスク装置に適用することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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