(57)【要約】【課題】電気装置の電圧試験ターミナルに抜き差ししても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる電圧試験プラグを提供することである。【解決手段】中間端子２９に接続された中間導体２８は、電圧試験ターミナル１１に挿入されとき、第１接点１８を経由して第２接点１９に接続されたとき第１接点１８との接続を保持しつつ第３接点２０を開き、外部端子２４に接続された上部導体２２は、中間導体２８がさらに電圧試験ターミナル１１に挿入されて第１接点１８との接続を切り離したとき第１接点１８に接続され、内側端子２５に接続された下部導体２３は、第１接点１８を経由して第２接点１９に接続され、電気装置を試験するときには試験器を外側端子２４間に接続し、電圧測定のときには接続片を中間端子２９と内側端子２５との間に接続する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気装置と接続される電気装置接続端子と外部電源に接続される外部電源端子との間に第１接点及び第２接点を有しかつ前記外部電源との接続を切り離す第３接点を有した電圧試験ターミナルに挿入され、前記電気装置を試験するときには前記第３接点を開いて前記電気装置を前記外部電源から切り離し前記第１接点及び第２接点を通して試験器を前記電気装置に接続し、前記外部電源から前記電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには前記第３接点を開いた状態で前記第１接点及び第２接点を通して前記電気装置と前記外部電源とを接続するための電圧試験プラグにおいて、前記電圧試験ターミナルに挿入され前記第１接点を経由して前記第２接点に接続されたとき前記第１接点との接続を保持しつつ前記第３接点を開く中間導体と、前記電圧試験ターミナルにさらに挿入され前記中間導体が前記第１接点との接続を切り離したとき前記第１接点に接続される上部導体と、前記電圧試験ターミナルに挿入されたとき前記第１接点を経由して前記第２接点に接続される下部導体と、前記上部導体に接続され前記電気装置を試験するときに前記試験器を接続するための外側端子と、前記中間導体に接続され前記電圧測定のときに前記中間導体と前記下部導体とを短絡するための接続片を接続するための中間端子と、前記下部導体に接続され前記電圧測定のときに前記接続片を接続するための内側端子とを備えたことを特徴とする電圧試験プラグ。
【請求項２】
前記電気装置を試験するときに前記外部端子の接続部に試験器の試験線を締め付け挟んで接続する可動の外側摘みと、前記電圧測定のときにコ字状に形成された前記接続片の一方端を前記中間端子の接続部に締め付け挟んで接続する可動の中間摘みと、前記電圧測定のときにコ字状に形成された前記接続片の他方端を前記内側端子の接続部に締め付け挟んで接続する可動の内側摘みとを備えたことを特徴とする請求項１記載の電圧試験プラグ。
【請求項３】
前記接続片の一方端及び他方端の形状は、前記接続片の一方端が前記中間端子の接続部のみに、前記接続片の他方端が前記内側端子の接続部のみに嵌合するように、互いに異なる形状に形成されたことを特徴とする請求項２記載の電圧試験プラグ。
【請求項４】
前記電気装置を試験するときに前記外部端子の接続部に試験器の試験線を締め付け挟んで接続し、前記電圧測定のときにコ字状に形成された前記接続片の一方端を締め付け挟んで接続する可動の外側摘みと、前記中間端子の接続部と前記内側端子の接続部とが対面するように前記中間端子を搭載し前記電圧測定のときに前記中間端子の接続部と前記内側端子の接続部との間にコ字状に形成された前記接続片の他方端を締め付け挟んで接続する可動の内側摘みとを備え、前記内側摘みの前記内側端子側への移動は、前記中間端子の接続部と前記内側端子の接続部との距離が前記接続片の他方端の幅より短い距離で、前記中間端子の接続部が前記内側端子の接続部に当接しない距離の移動制限位置まで移動可能であることを特徴とする請求項１記載の電圧試験プラグ。
【請求項５】
前記内側摘みの前記内側端子側への移動制限位置は、前記内側摘みを移動させるネジ切り範囲で定めるようにしたことを特徴とする請求項４記載の電圧試験プラグ。
【請求項６】
前記内側摘みの前記内側端子側への移動制限位置は、前記中間端子の接続部を搭載した前記内側摘みの外装絶縁体と、前記内側端子の接続部が固定された絶縁体との当接位置で定めるようにしたことを特徴とする請求項４記載の電圧試験プラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気装置の電圧試験ターミナルに挿入され電気装置の試験及び電圧測定に使用する電圧試験プラグに関する。
【背景技術】
【０００２】
電圧試験プラグは、変電所リレー盤や監視制御盤等の電気装置の点検・試験において、電気装置の電圧試験ターミナルに挿入して、電気装置を外部電源、例えば電力系統から切り離す装置として用いられている。そして、外部電源の代わりに試験器を電気装置に接続し、試験器から電気装置に試験入力を印加するために使用するものである。
【０００３】
現在、使用している電圧試験プラグは、試験器の試験線を接続したままの電圧試験プラグを抜き差しすると、内部抵抗が小さい試験器を介して相間短絡する。相間短絡すると、計器用変圧器（以下、変圧器と記す）の２次ヒューズが溶断したり、保護リレーの誤表示が発生したり、あるいは損傷や感電等の不具合を引き起こしてしまうことがある。そのため、試験器の試験線を接続したまま電圧試験プラグの「挿入・引抜き」については、行わないようにすることが安全上義務づけられている。
【０００４】
図１６は従来の電圧試験ターミナル及び電圧試験プラグの構成図であり、図１６（ａ）は電圧試験ターミナルの一例を示す構成図、図１６（ｂ）は電圧試験プラグの一例を示す平面図である。図１６（ａ）に示すように、電圧試験ターミナル１１は、電気装置１２と接続される電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃと、外部電源に接続される外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃとを有している。図１６では外部電源として、電力系統１５から三相の変圧器１６で降圧された電源が供給される場合を示している。変圧器１６の２次側には２次ヒューズ１７ａ、１７ｂ、１７ｃがそれぞれ設けられ、電圧試験ターミナル１１の外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃに接続されている。
【０００５】
電圧試験ターミナル１１の各々のターミナル１１ａ、１１ｂ、１１ｃは、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃと、外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃとの間に第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを有し、さらに、外部電源との接続を切り離すための第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃを有している。
【０００６】
一方、電圧試験プラグ２１は、図１６（ｂ）に示すように、電圧試験ターミナル１１の各々のターミナル１１ａ、１１ｂ、１１ｃに挿入されるプラグ２１ａ、２１ｂ、２１ｃを有している。電圧試験プラグ２１の各々のプラグ２１ａ、２１ｂ、２１ｃは、それぞれ上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃを有し、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃに接続される外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃに接続される内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとを有している。
【０００７】
電圧試験プラグ２１は、電気装置１２を試験するとき、あるいは、外部電源から電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには、電圧試験ターミナル１１に挿入される。電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１に挿入されていない状態では、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃは閉じている状態であるので、外部電源から外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃ及び電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃを通って電気装置１２に電源が供給される。
【０００８】
電気装置１２を試験するときには、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入した後に、試験器を外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃに接続する。例えば、試験器を外側端子２４ａ、２４ｂ間に接続し、ａ相とｂ相との間に試験電圧を印加する。一方、外部電源から電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには、外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片を接続した状態で、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入し、外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃ或いは接続された接続片に、電圧測定器を接続して電圧を測定する。例えば、電圧測定器を外側端子２４ａ、２４ｂ間に接続し、ａ相とｂ相との間の電圧を測定する。
【０００９】
図１７は、電圧測定のときに従来の電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入したときの動作説明図であり、図１７（ａ）は電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の途中まで挿入され第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接した場合の説明図、図１７（ｂ）は電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後まで挿入され第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接した場合の説明図である。
【００１０】
電圧測定のときには、電圧試験プラグ２１の外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃを接続し、その状態で、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入する。図１７（ａ）に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の途中の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接する。これにより、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃと外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃとの間に、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃを介した短絡回路が第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃと並列に形成される。
【００１１】
すなわち、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃ、接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃ、内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃ、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ、外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃの短絡回路が形成される。従って、電気装置１２は、この短絡回路と第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃとの並列回路により変圧器１６（外部電源）に接続されることになる。
【００１２】
図１７（ｂ）に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後の位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃは、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃの双方に当接する。電圧試験プラグ２１が第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接すると、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路を形成するとともに、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開く。もし、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路が形成されずに、先に第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開いたとしても、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃを介した短絡回路が既に形成されているので、電気装置１２には変圧器１６（外部電源）からの電源が瞬断することなく供給される。
【００１３】
このように、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを用意しているのは、電気装置１２を運転したままの状態を維持しつつ電圧測定する場合に、外部電源の瞬断を防止するためである。すなわち、電圧試験プラグ２１を第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入した段階で、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃを介した短絡回路を形成して、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが閉じている状態で、外部電源から電気装置１２に流れる回路を予め形成しておき、その後に、電圧試験プラグ２１が第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃの位置まで挿入された段階で、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路が形成するとともに第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃを開く。これにより、外部電源からの電源が瞬断することなく電気装置１２に供給される。
【００１４】
そして、図１７（ｂ）の状態で、例えば、ａ相とｂ相との間の電圧を測定するには、電圧測定器を外側端子２４ａ、２４ｂ間に或いは接続された接続片２６ａ、２６ｂに接続して、ａ相とｂ相との間の電圧を測定する。
【００１５】
次に、図１８は、電気装置１２を試験するときに従来の電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入したときの動作説明図であり、図１８（ａ）は電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の途中まで挿入され第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接した場合の説明図、図１８（ｂ）は電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後まで挿入され第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接した場合の説明図である。
【００１６】
図１７に示した電圧測定の場合と異なり、外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃを接続せずに、電圧試験プラグ２１の電圧試験ターミナル１１に挿入する。
【００１７】
図１８（ａ）に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の途中の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接する。この場合、図１７に示された接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃが外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続されていないので、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃと外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃとの間に短絡回路は形成されない。この状態では、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃは閉じたままであり、変圧器１６（外部電源）から第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃを通して電気装置１２に電源が供給されている。
【００１８】
図１８（ｂ）に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後の位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃは、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃの双方に当接する。電圧試験プラグ２１が第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接すると、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開く。この場合、図１７に示された接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃが外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続されていないので、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路も形成されない。従って、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開くことから、変圧器１６（外部電源）から電気装置１２への電源が遮断される。
【００１９】
この状態で、図１９に示すように、電圧試験プラグ２１の外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃ間に試験器２７を接続し、試験器２７から電気装置１２に試験電源を供給する。図１９では、ａ相とｂ相との間に試験電圧を印加して試験を行っている場合を示している。すなわち、図１９中の矢印に示すように、試験電流が流れ電気装置１２を試験する。
【００２０】
図２０は、電気装置１２を試験するときに試験器２７を接続したまま電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入した場合の動作説明図である。
【００２１】
図２０に示すように、電圧試験プラグ２１の外側端子２４ａ、２４ｂ間に試験器２７を接続したまま電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、試験器２７を介して変圧器１６（外部電源）が相間短絡する。そのため、試験器２７の試験線を電圧試験プラグ２１に接続する場合は、図１８及び図１９に示すとおり、先ず電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に完全挿入した後、試験線を外側端子２４に接続することにしている。
【００２２】
仮に試験器２７の試験線が接続されたまま、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接し、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが閉じたままである。従って、変圧器１６（外部電源）から、第３接点２０ａ、第１接点１８ａ、上部導体２２ａ、外側端子２４ａ、試験器２７、外側端子２４ｂ、上部導体２２ｂ、第１接点１８ｂ、第３接点２０ｂを通って、変圧器１６に戻る回路が形成される。試験器２７は電圧電源であることから内部抵抗が小さく、変圧器１６の相間短絡回路を形成することになる。
【００２３】
このように、従来の電圧試験プラグ２１は、電圧試験ターミナル１１に挿入されると、電圧試験ターミナル１１側の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃと第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃと順に接続され、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに接続されると、さらに奥の第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開放して電気的に切り離される構造となっている。
【００２４】
これは、電気装置１２の試験を行う場合に外部電源から試験器２７に接続を切り換える場合と、電気装置１２を使用したままで電圧測定をする場合との２つの異なる操作を同一の構造で行うためである。このことから、試験器２７を接続したままの電圧試験プラグ２１が挿入されると、構造上、挿入途中の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接したときに相間短絡となってしまう。
【００２５】
この相間短絡を防止するものとして、試験回路と電圧試験プラグとの間に閉回路が形成されているか否かを検出し、電圧試験端子へ挿入された電圧試験プラグの位置を検出し、閉回路が検出され、かつ、電圧試験プラグの位置が挿入前と検出されたとき、電圧試験プラグの挿入を阻止する一方、閉回路が検出され、かつ、電圧試験プラグが挿入されたとき電圧試験プラグの引き抜きを阻止し、電圧試験プラグに試験回路が接続されたまま抜き差しされることによる電気装置や外部の電圧回路の誤動作や損傷を防止できるようにしたものがある（例えば、特許文献１参照）。
【００２６】
また、電圧試験プラグが電圧試験端子へ挿入されたとき電気装置の端末に電気的に接続される第１の端子（内部接続端子）と、試験器の端末と電気的に接続される第２の端子（中心接続端子）と、第１の端子（内部接続端子）と第２の端子（中心接続端子）とを選択的に電気的に接続、非接続の状態に切り換えできるスイッチ手段（中心接続端子）を備え、必要に応じて電圧試験プラグのナットを操作するなどして中心接続端子を電圧試験プラグ筐体に対して摺動させることにより、電圧試験プラグを「非接続状態」から「接続状態」に、或は「接続状態」から「非接続状態」に切り換え、電圧試験の作業効率を向上させ、配線作業の結線ミスや操作ミスを防止するようにしたものがある（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２７】
【特許文献１】特開平７−１２８４４号公報
【特許文献２】特開２００９−３６５９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２８】
しかし、特許文献１のものでは、電圧試験プラグの挿入を阻止したり電圧試験プラグの引き抜きを阻止したりするものであるので、試験回路と外部電源との短絡は防止できるが、そのための機構部が必要となり構造が複雑となる。また、抜き差しを行う際、抜き差しの解除操作が新たに必要となり、従来の取り扱い運用や操作手順の変更あるいは追加をしなければならない課題が残ってしまう。
【００２９】
特許文献２のものは、中心接続端子を電圧試験プラグ筐体に対して摺動させることにより、電圧試験プラグを「非接続状態」から「接続状態」に、或は「接続状態」から「非接続状態」に切り換えるものであるので、そのための機構部が必要となり構造が複雑となり、「接続状態」から「非接続状態」に切り換えるための操作が必要となる。
【００３０】
本発明の目的は、従来の取り扱い運用はそのままに電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止でき、電圧測定のときには電気装置と接続する電圧試験ターミナルに抜き差ししても瞬断を防止できる電圧試験プラグを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００３１】
請求項１の発明に係る電圧試験プラグは、電気装置と接続される電気装置接続端子と外部電源に接続される外部電源端子との間に第１接点及び第２接点を有しかつ前記外部電源との接続を切り離す第３接点を有した電圧試験ターミナルに挿入され、前記電気装置を試験するときには前記第３接点を開いて前記電気装置を前記外部電源から切り離し前記第１接点及び第２接点を通して試験器を前記電気装置に接続し、前記外部電源から前記電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには前記第３接点を開いた状態で前記第１接点及び第２接点を通して前記電気装置と前記外部電源とを接続するための電圧試験プラグにおいて、前記電圧試験ターミナルに挿入され前記第１接点を経由して前記第２接点に接続されたとき前記第１接点との接続を保持しつつ前記第３接点を開く中間導体と、前記電圧試験ターミナルにさらに挿入され前記中間導体が前記第１接点との接続を切り離したとき前記第１接点に接続される上部導体と、前記電圧試験ターミナルに挿入されたとき前記第１接点を経由して前記第２接点に接続される下部導体と、前記上部導体に接続され前記電気装置を試験するときに前記試験器を接続するための外側端子と、前記中間導体に接続され前記電圧測定のときに前記中間導体と前記下部導体とを短絡するための接続片を接続するための中間端子と、前記下部導体に接続され前記電圧測定のときに前記接続片を接続するための内側端子とを備えたことを特徴とする。
【００３２】
請求項２の発明に係る電圧試験プラグは、請求項１の発明において、前記電気装置を試験するときに前記外側端子の接続部に試験器の試験線を締め付け挟んで接続する可動の外側摘みと、前記電圧測定のときにコ字状に形成された前記接続片の一方端を前記中間端子の接続部に締め付け挟んで接続する可動の中間摘みと、前記電圧測定のときにコ字状に形成された前記接続片の他方端を前記内側端子の接続部に締め付け挟んで接続する可動の内側摘みとを備えたことを特徴とする。
【００３３】
請求項３の発明に係る電圧試験プラグは、請求項２の発明において、前記接続片の一方端及び他方端の形状は、前記接続片の一方端が前記中間端子の接続部のみに、前記接続片の他方端が前記内側端子の接続部のみに嵌合するように、互いに異なる形状に形成されたことを特徴とする。
【００３４】
請求項４の発明に係る電圧試験プラグは、請求項１の発明において、前記電気装置を試験するときに前記外側端子の接続部に試験器の試験線を締め付け挟んで接続し、前記電圧測定のときにコ字状に形成された前記接続片の一方端を締め付け挟んで接続する可動の外側摘みと、前記中間端子の接続部と前記内側端子の接続部とが対面するように前記中間端子を搭載し前記電圧測定のときに前記中間端子の接続部と前記内側端子の接続部との間にコ字状に形成された前記接続片の他方端を締め付け挟んで接続する可動の内側摘みとを備え、前記内側摘みの前記内側端子側への移動は、前記中間端子の接続部と前記内側端子の接続部との距離が前記接続片の他方端の幅より短い距離で、前記中間端子の接続部が前記内側端子の接続部に当接しない距離の移動制限位置まで移動可能であることを特徴とする。
【００３５】
請求項５の発明に係る電圧試験プラグは、請求項４の発明において、前記内側摘みの前記内側端子側への移動制限位置は、前記内側摘みを移動させるネジ切り範囲で定めるようにしたことを特徴とする。
【００３６】
請求項６の発明に係る電圧試験プラグは、請求項４の発明において、前記内側摘みの前記内側端子側への移動制限位置は、前記中間端子の接続部を搭載した前記内側摘みの外装絶縁体と、前記内側端子の接続部が固定された絶縁体との当接位置で定めるようにしたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００３７】
請求項１の発明によれば、外側端子に接続される上部導体及び内側端子に接続される下部導体に加え、外側端子と内側端子との間に中間端子を設けるとともに、その中間端子に接続される中間導体を設け、電気装置の試験のときは外部端子に試験器を接続し、電圧測定のときは中間端子と内側端子との間に接続片を接続し、中間導体は第１接点を経由して第２接点に接続されたときに、第１接点との接続を保持しつつ第３接点を開き、上部導体は中間導体が第１接点との接続を切り離したときに第１接点に接続されるので、電圧試験ターミナルに抜き差ししても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる。
【００３８】
請求項２の発明によれば、請求項１の発明の効果に加え、電気装置を試験するときには、可動の外側摘みにより、外側端子の接続部に試験器の試験線を締め付け挟んで接続するので、従来の場合の試験器の接続操作と同様な接続操作となる。また、電圧測定のときには、可動の中間摘みにより、コ字状に形成された接続片の一方端を中間端子の接続部に締め付け挟んで接続し、可動の内側摘みにより、コ字状に形成された接続片の他方端を内側端子の接続部に締め付け挟んで接続するので、外側摘みに代えて中間摘みと内側摘みとの間に接続片を挟むことになり、従来の場合の電圧測定の接続操作とほぼ同様な接続操作となる。
【００３９】
請求項３の発明によれば、請求項２の発明の効果に加え、接続片の一方端及び他方端の形状は、接続片の一方端が中間端子の接続部のみに、接続片の他方端が内側端子の接続部のみに嵌合するように、互いに異なる形状に形成されているので、接続片を誤って中間端子と内側端子との間以外に接続することを防止できる。
【００４０】
請求項４の発明によれば、請求項１の発明の効果に加え、電気装置を試験するときには可動の外側摘みにより、外側端子の接続部に試験器の試験線を締め付け挟んで接続するので、従来の場合の試験器の接続操作と同様な接続操作となる。また、電圧測定のときには、コ字状に形成された接続片の一方端を締め付け挟んで接続し、可動の中間摘みにより、中間端子の接続部と内側端子の接続部との間にコ字状に形成された接続片の他方端を締め付け挟んで接続するので、従来の場合の電圧測定の接続操作と同様な接続操作となる。
【００４１】
また、内側摘みの内側端子側への移動は、中間端子の接続部と内側端子の接続部との距離が接続片の他方端の幅より短い距離で、中間端子の接続部が内側端子の接続部に当接しない距離の移動制限位置まで移動可能としているので、中間端子の接続部と内側端子の接続部との間で確実に接続片を挟持することができる。中間端子の接続部は内側端子の接続部に当接しない距離の移動制限位置までしか移動できないので、接続片を接続しないときは、中間端子の接続部と内側端子の接続部との間が短絡することを防止できる。
【００４２】
請求項５の発明によれば、請求項４の発明の効果に加え、内側摘みの内側端子側への移動制限位置は、内側摘みを移動させるネジ切り範囲で定めるので、内側摘みが回動できなくなった位置で内側摘みの移動を制限できる。従って、中間端子の接続部が内側端子の接続部に当接することはない。
【００４３】
請求項６の発明によれば、請求項４の発明の効果に加え、内側摘みの内側端子側への移動制限位置は、中間端子の接続部を搭載した内側摘みの外装絶縁体と、内側端子の接続部が固定された絶縁体との当接位置で定めるので、中間端子を内側摘み内に内蔵することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの平面図。
【図２】本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの側面図。
【図３】電圧測定のときに本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグを電圧試験ターミナルの途中まで挿入したときの動作説明図。
【図４】図３（ｂ）の状態から電圧試験プラグを電圧試験ターミナルの最後まで挿入したときの説明図。
【図５】電気装置を試験するときに試験器を接続したまま本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入した場合の動作説明図。
【図６】図５（ｂ）の状態から電圧試験プラグを電圧試験ターミナルの最後まで挿入したときの説明図。
【図７】本発明の実施の形態における接続片の構造図。
【図８】本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの端子部分の断面図。
【図９】本発明の実施の形態における接続片の他の一例及び電圧試験プラグの端子部分の他の一例の構造図。
【図１０】本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグで摘みを外側摘みと内側摘みとの２つの摘みとした場合の端子部分の断面図。
【図１１】本発明の実施の形態における別の他の一例の接続片の構造図。
【図１２】本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグで摘みを外側摘みと内側摘みとの２つの摘みとした場合に接続片の接続状態を示す端子部分の断面図。
【図１３】本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグで摘みを外側摘みと内側摘みとの２つの摘みとした場合の他の一例の端子部分の断面図。
【図１４】本発明の実施の形態におけるさらに別の他の一例の接続片の構造図。
【図１５】図１３に示した電気試験プラグに図１４に示す接続片を接続した場合の端子部分の断面図。
【図１６】従来の電圧試験ターミナル及び電圧試験プラグの構成図。
【図１７】電圧測定のときに従来の電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入したときの動作説明図。
【図１８】電気装置を試験するときに従来の電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入したときの動作説明図。
【図１９】電気装置を試験するときの従来の電圧試験ターミナル及び電圧試験プラグの構成図。
【図２０】電気装置を試験するときに試験器を接続したまま従来の電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入した場合の動作説明図。
【発明を実施するための形態】
【００４５】
以下、本発明の実施の形態を説明する。図１は本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの平面図、図２は側面図である。図１及び図２では、電圧試験プラグ２１が３極プラグである場合を示しており、赤相、白相、黒相（Ｒ相、Ｓ相、Ｔ相）の３個のプラグ２１ａ、２１ｂ、２１ｃを有している。４極プラグの場合は緑相（中性相）を含む４個のプラグを有することになる。以下の説明では、３極プラグである場合について説明する。各々のプラグ２１ａ、２１ｂ、２１ｃは、それぞれ上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ、及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃを有し、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃは外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃに接続され、中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃは中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃに接続され、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃは内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃにそれぞれ接続される。
【００４６】
外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃは軸上に固定されており、可動の外側摘み３０ａ、３０ｂ、３０ｃと固定の外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃとの間に試験線を挟んで試験器を接続する。同様に、中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃ及び内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃも軸上に固定されており、可動の中間摘み３１ａ、３１ｂ、３１ｃと固定の中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃとの間に接続片の一方端を挟み、また、可動の内側摘み３２ａ、３２ｂ、３２ｃと固定の内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片の他方端を挟み、これにより接続片を接続する。
【００４７】
以下、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ、中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃは同一構成であるので、図２を用いて、上部導体２２ｃ、下部導体２３ｃ、中間導体２８ｃについて説明する。
【００４８】
上部導体２２ｃは、電圧試験プラグ２１のプラグ２１ｃの上面部に帯状に形成され、一方端は外側端子２４ｃに接続され、他方端はプラグ２１ｃの先端部の手前まで延伸して形成されている。プラグ２１ｃは絶縁材料で形成されている。下部導体２３ｃは、電圧試験プラグ２１のプラグ２１ｃの下面部に帯状に形成され、一方端は内側端子２５ｃに接続され、他方端はプラグ２１ｃの先端部まで延伸して形成されている。
【００４９】
また、中間導体２８ｃは、プラグ２１ｃの上部導体２２ｃと下部導体２３ｃとの中間に帯状に上部導体２２ｃより長く形成され、一方端は中間端子２８ｃに接続され、他方端はプラグ２１ｃの先端部まで延伸して形成されている。すなわち、中間導体２８ｃの他方端部は、上部導体２２ｃの他方端部位置で屈曲して、プラグ２１ｃの上面部に位置し、プラグ２１ｃの先端部まで延伸して形成されている。
【００５０】
このように、電圧試験プラグ２１は、プラグ２１ｃの上面部に上部導体２２ｃと中間導体２８ｃとの２つの導体が区分して形成され、プラグ２１ｃの上面先端側に中間導体２８ｃが位置し、プラグ２１ｃの上面手前側に上部導体２２ｃが位置する構造としている。なお、下部導体２３ｃは従来と同様な構造である。そして、外側端子２４ｃ及び内側端子２５ｃに加えて中間端子２９ｃを設け、中間端子２９ｃに中間導体２８ｃの一方端を接続している。
【００５１】
次に、本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入した場合の動作について説明する。図３は、電圧測定のときに本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１の途中まで挿入したときの動作説明図であり、図３（ａ）は、電圧試験プラグ２１の下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃが電圧試験ターミナル１１の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接し、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに到達していない位置まで挿入された場合の説明図、図３（ｂ）は電圧試験プラグ２１の下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃが電圧試験ターミナル１１の第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接し、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに到達していない位置まで挿入された場合の説明図である。
【００５２】
電圧測定のときには、電圧試験プラグ２１の中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃを接続し、その状態で、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入する。
【００５３】
図３（ａ）に示すように、電圧試験プラグ２１の下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃが電圧試験ターミナル１１の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃは第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接するが、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃはまだ第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接しない。この状態では、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃと外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃとの間に、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃを介した短絡回路が第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃと並列に形成される。
【００５４】
すなわち、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ、中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃ、中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃ、接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃ、内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃ、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ、外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃの短絡回路が形成される。従って、電気装置１２は、この短絡回路と第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃとの並列回路により変圧器１６（外部電源）に接続されることになる。
【００５５】
図３（ｂ）に示すように、電圧試験プラグ２１の下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃが電圧試験ターミナル１１の第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃは、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃとの接続を保持しつつ第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接する。
【００５６】
電圧試験プラグ２１が第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接すると、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路を形成するとともに、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開く。もし、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路が形成されずに、先に第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開いたとしても、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃを介した短絡回路が既に形成されているので、電気装置１２には変圧器１６（外部電源）からの電源が瞬断することなく供給される。
【００５７】
図４は、図３（ｂ）の状態から電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１の最後まで挿入したときの説明図である。図４に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後の位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃは、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃから離れ、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃのみに当接し、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃは、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃの双方に当接する。また、電圧試験プラグ２１の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接する。この状態では、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路を形成するとともに、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃは開いている。第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路が既に形成されているので、電気装置１２には変圧器１６（外部電源）からの電源が瞬断することなく供給される。
【００５８】
この状態で、電圧測定を行う際には、中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃの間に電圧測定器を接続して電圧を測定することになる。例えば、ａ相とｂ相との間の電圧を測定するときは中間端子２９ａ、２９ｂの間に電圧測定器を接続する。
【００５９】
次に、図５は、電気装置１２を試験するときに試験器２７を接続したまま本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入した場合の動作説明図であり、図５（ａ）は、電圧試験プラグ２１の下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃが電圧試験ターミナル１１の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接し、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに到達していない位置まで挿入された場合の説明図、図５（ｂ）は電圧試験プラグ２１の下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃが電圧試験ターミナル１１の第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接し、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに到達していない位置まで挿入された場合の説明図である。図５では、外側端子２４ａ、２４ｂに試験器２７が接続されている場合を示している。
【００６０】
図５（ａ）に示すように、電圧試験プラグ２１の下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃが電圧試験ターミナル１１の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃは第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接するが、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃはまだ第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接しない。
【００６１】
この状態では、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃは閉じたままであり、変圧器１６（外部電源）から電気装置１２に電源が供給されている。また、中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間には接続片が接続されていないので、短絡回路は形成されない。一方、外側端子２４ａ、２４ｂには試験器２７が接続されているが、外側端子２４ａ、２４ｂに接続されている上部導体２２ａ、２２ｂは、第１接点１８ａ、１８ｂに当接していないので、試験器２７を介した短絡回路は形成されない。従って、変圧器１６（外部電源）から試験器２７に電源が供給されることはない。
【００６２】
図５（ｂ）に示すように、電圧試験プラグ２１の下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ及び中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃが電圧試験ターミナル１１の第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接すると、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開く。一方、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃはまだ第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接しないので、試験器２７を介した回路も形成されない。従って、電気装置１２は変圧器１６（外部電源）から切り離され、かつ試験器２７を介した短絡回路も形成されないので、変圧器１６（外部電源）から試験器２７に電源が供給されることはない。
【００６３】
図６は、図５（ｂ）の状態から電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１の最後まで挿入したときの説明図である。図６に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後の位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃは、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃから離れ、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃのみに当接し、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃは、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃの双方に当接する。また、電圧試験プラグ２１の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接する。
【００６４】
この状態では、電圧試験プラグ２１の外側端子２４ａ、２４ｂの間に接続された試験器２７から電気装置１２に試験電源が供給できる状態となる。つまり、矢印で示す方向の試験電流が電気装置１２に流れ電気装置１２を試験できる。
【００６５】
このように、本発明の実施の形態では、電圧試験ターミナル１１の構造は変更せずに、電圧試験プラグ２１に中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃを追加して設け、中間導体２８ａ、２８ｂ、２８ｃは、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１に第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃを経由して第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃまで挿入されたときに、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃとの接続を保持しつつ第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃを開くので、試験器２７を接続したまま電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入しても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる。図２０の説明のとおり、試験器２７の試験線を接続したまま電圧試験プラグの「挿入」を行ってしまう誤った手順であっても、短絡を防止できる。
【００６６】
以上の説明では、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入する場合について説明したが、試験器２７を接続したまま電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１から「引き抜く」場合においても同様に相間短絡を防止できる。
【００６７】
ここで、本発明の実施の形態では、電圧測定のときには、中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃを接続した状態で、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入し、中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃに電圧測定器を接続して電圧を測定することになるが、電圧試験プラグ２１の端子として、外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃ及び内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃに加えて、中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃを追加した３端子としたことから、接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃを誤って、中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間以外の端子間に接続する可能性がある。そこで、接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃを誤って接続しない対策が必要となる。
【００６８】
図７は、本発明の実施の形態における接続片２６の構造図であり、図７（ａ）は接続片２６の平面図、図７（ｂ）は接続片２６の側面図である。接続片２６は断面がコ字状に形成されており、接続片２６の一方端２６１は中間端子に接続され、他方端２６２は内側端子に接続されて、中間端子と内側端子とを短絡する。接続片２６の一方端２６１と他方端２６２との形状は、互いに異なる形状に形成されている。すなわち、接続片２６の一方端２６１は中間端子の軸方向に突出した凹凸形状に形成され、接続片２６の他方端２６２は内側端子の軸方向に凹凸形状がないように形成されている。これにより、接続片２６の一方端２６１が中間端子の接続部のみに、接続片２６の他方端２６１が内側端子の接続部のみに嵌合する。
【００６９】
図８は、本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグ２１の端子部分の断面図であり、図８（ａ）は接続片２６を接続していない状態での断面図、図８（ｂ）は接続片２６を接続した状態での断面図である。図８（ａ）、図８（ｂ）では、電圧試験プラグ２１のプラグ２１ａの端子部分を示しているが、プラグ２１ｂ、２１ｃはプラグ２１ａと同じであるので、プラグ２１ａの端子部分について説明する。
【００７０】
図８（ａ）に示すように、外側端子２４ａは軸上に固定されており、可動の外側摘み３０ａと固定の外側端子２４ａとの隙間３３に試験線を挿入して、可動の外側摘み３０ａを回動して試験器の試験線を締め付け挟んで試験器を接続する。
【００７１】
また、中間端子２９ａも軸上に固定されており、可動の中間摘み３１ａと固定の中間端子２９ａとの隙間３４に接続片２６の一方端２６１を挿入して、可動の中間摘み３１ａを回動して接続片２６の一方端２６１を締め付け挟んで接続片２６の一方端２６１を接続する。
【００７２】
同様に、内側端子２５ａも軸上に固定されており、可動の内側摘み３２ａと固定の内側端子２５ａとの隙間３５に接続片２６の他方端２６２を挿入して、可動の内側摘み３２ａを回動して接続片２６の他方端２６２を締め付け挟んで接続片２６の他方端２６２を接続する。
【００７３】
図８（ａ）、図８（ｂ）に示すように、可動の中間摘み３１ａは、接続片２６の一方端２６１の凹凸形状に対応して、凹凸形状の凹部を押圧する突起部３７を有し、中間端子２９ａの接続部は、接続片２６の一方端２６１の凹凸形状に対応して、その凹凸形状の凸部を収納して嵌合する空洞部３６を有している。従って、接続片２６の一方端２６１を隙間３４に挿入し、中間摘み３１ａを回動したとき、可動の中間摘み３１ａの突起部３７が接続片２６の一方端２６１の凹部を押圧して、一方端２６１の凸部が空洞部３６に嵌合して、図８（ｂ）に示すように、接続片２６の一方端２６１は中間端子２９ａに適合して接続されることになる。
【００７４】
一方、接続片２６の一方端２６１を可動の外側摘み３０ａと固定の外側端子２４ａとの隙間３３に挿入した場合には、外側端子２４ａには、接続片２６の一方端２６１の凹凸形状を収納する空洞部が形成されていないので、接続片２６の一方端２６１は外側端子２４ａには接続できない。この場合、接続片２６の他方端２６２は、可動の中間摘み３１ａと中間端子２９ａとの隙間３４に挿入されることになるが、他方端２６２には凹凸形状が形成されていないので、接続片２６の他方端２６２は中間端子２９ａに適合して接続されることはない。
【００７５】
このように、接続片２６の一方端２６１は中間端子２９ａ、２９ｂ、２９ｃのみに対して接続を可能としているので、接続片２６の接続を誤って中間端子と内側端子との間以外に接続することを防止できる。以上の説明では、接続片２６の一方端２６１を凹凸形状に形成したが、接続片２６の他方端を凹凸形状に形成するようにしてもよいし、図９に示すように、一方端２６１及び他方端２６２の一方または双方を幅広形状に形成してもよい。図９では、一方端２６１を軸方向に幅広形状に形成した場合を示している。
【００７６】
図９は、接続片２６の他の一例及びその接続片２６が接続される電圧試験プラグ２１の端子部分の構造図であり、図９（ａ）は他の一例の接続片２６の平面図、図９（ｂ）はその接続片２６の側面図、図９（ｃ）は他の一例の接続片２６が接続される電圧試験プラグ２１の端子部分の側面図である。
【００７７】
図９に示すように、一方端２６１が軸方向に幅広形状に形成されたことから、電圧試験プラグ２１の中間摘み３１ａは中間端子２９ａとの間に幅広形状を挟持することになる。従って、中間摘み３１ａと中間端子２９ａとの最大距離を幅広形状より大きく形成し、内側摘み３２ａと内側端子２５ａとの最大距離を幅広形状より小さく形成しておくと、幅広形状が誤って内側摘み３２ａと内側端子２５ａに挿入されることはない。なお、この場合、図８に示した空洞部や突起部３７は特に設ける必要はない。
【００７８】
以上述べたように、本発明の実施の形態によれば、電圧試験ターミナル１１の構造は変更せずに、電圧試験ターミナル１１の第１接点１８と接触する電圧試験プラグ１１の上側の板状導線を上部導体２２と中間導体２８との２つに分けて、電圧試験プラグ１１の挿入時の第１接点１８及び第２接点１９の導通を分け、また、電圧試験プラグ１１の端子部分は、中間導体２８に接続される中間端子２９を追加して設け、外側端子、中間端子、内側端子の３端子とするので、試験器の試験線を外側端子間に接続したままでも、短絡が起きない構造となる。
【００７９】
また、３端子構造となることで従来より１端子増えるが、電圧測定試験の際に使用する接続片２６を接続する端子は、中間端子と内側端子との間と定め、その間にしか接続できない構造とするので誤接続を回避できる。
【００８０】
以上の説明では、外側端子２４に対して外側摘み３０、中間端子２９に対して中間摘み３１、内側端子２５に対して内側摘み３２をそれぞれ設けた場合を説明したが、内側摘み３２に中間端子２９を搭載して中間摘み３１を省略するようにしてもよい。
【００８１】
図１０は、その場合の電圧試験プラグの端子部分の断面図である。図１０（ａ）に示すように、電圧試験プラグの摘みは外側摘み３０と内側摘み３２との２つの摘みからなり、外側摘み３０は、電圧試験プラグの軸に設けられたネジ３８により、外側摘み３０を回動させることにより軸上を移動可能となっている。また、内側摘み３２は中間端子２９を搭載し、中間端子２９の接続部と内側端子２５の接続部とが対面するように配置されている。内側摘み３２は、電圧試験プラグの軸に設けられたネジ３９により、内側摘み３２を回動させることにより軸上を移動可能となっている。
【００８２】
外側端子２４と外側摘み３０との隙間３３には、電気装置１２を試験するときに試験器の試験線が挿入され、電圧測定のときに、図１１に示すようなコ字状に形成された接続片２６の一方端２６１が挿入される。また、内側摘み３２の中間端子２９と内側端子２５との隙間４０には、図１１に示すような接続片２６の他方端２６２が挿入される。
【００８３】
次に、図１０（ｂ）に示すように、内側摘み３２の内側端子２５側への移動は、内側端子２５から制限距離ＬＬを保った移動制限位置まで移動可能としている。この制限距離ＬＬは、内側摘み３２を移動させるネジ３９のネジ切り範囲で定める。この制限距離ＬＬは、接続片２６の他方端２６２の幅より短い距離である。これにより、隙間４０に接続片２６の他方端２６２を挿入し接続したときは、内側摘み３２の移動によって、中間端子２９の接続部と内側端子２５の接続部とが接触して短絡する。一方、隙間４０に接続片２６の他方端２６２を接続しないときは、内側摘み３２の移動によって、中間端子２９の接続部と内側端子２５の接続部とが接触せず、短絡することを防止できる。
【００８４】
これは、接続片２６を接続しないときに、内側摘み３２の移動によって、中間端子２９の接続部と内側端子２５の接続部とが接触せず、短絡することを防止できるためである。すなわち、従来と同様に、接続片２６の接続操作において、接続片２６を接続したときのみ、外部電源から電気装置１２への電源供給を維持しつつ、接続片２６に電圧測定器を接続して電圧測定ができるようにするためである。
【００８５】
電気装置１２を試験するときには、外側端子２４と外側摘み３０との隙間３３に試験器の試験線を挿入し、外側摘み３０を回動して試験器の試験線を締め付け挟んで試験器を接続する。そして、接続片２６は接続しない。これにより、電気装置１２の試験の場合は、従来と同様の試験器の接続動作となる。
【００８６】
一方、電圧測定のときには、図１０を基に、図１２に示すように、外側端子２４と外側摘み３０との隙間３３にコ字状に形成された接続片２６の一方端２６１を締め付け挟んで接続するとともに、内側摘み３２の中間端子２９と内側端子２５との隙間４０に接続片２６の他方端２６２を挿入して、内側摘み３２を回動して締め付け挟んで接続片２６の他方端２６２を接続する。この場合、制限距離ＬＬは、接続片２６の他方端２６２の幅より短い距離であるので、内側摘み３２の移動によって、接続片２６の他方端２６２を中間端子２９の接続部と内側端子２５の接続部との間に締め付けることができる。これにより、従来と同様に、接続片２６の接続操作において、接続片２６を接続したときのみ、外部電源から電気装置１２への電源供給を維持しつつ、接続片２６に電圧測定器を接続して電圧測定ができる。
【００８７】
図１３は、本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグで摘みを外側摘みと内側摘みとの２つの摘みとした場合の他の一例の端子部分の断面図である。この一例は、図１０に示した一例に対し、内側摘み３２の内側端子２５側への移動制限位置は、ネジ切り範囲で定めることに代えて、中間端子２９の接続部を搭載した内側摘み３２の外装絶縁体と、内側端子２５の接続部が固定された絶縁体との当接位置で定めるようにしたものである。図１０と同一要素には、同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００８８】
図１３（ａ）に示すように、内側摘み３２の外装絶縁体には突起部４１が設けられ、この突起部４１に対面して、内側端子２５の接続部が固定された絶縁体には突起部４１を受け止める係止部４２が設けられている。内側摘み３２は、電圧試験プラグの軸に設けられたネジ３９により、内側摘み３２を回動させることにより電圧試験プラグの軸上を移動し、図１３（ｂ）に示すように、内側摘み３２の突起部４１が内側端子２５側の係止部４２に当接すると、内側摘み３２の内側端子２５側への移動は制限される。これにより、内側摘み３２の移動による中間端子２９の接続部と内側端子２５の接続部との接触を防止し、中間端子２９の接続部と内側端子２５の接続部とが短絡することを防止する。
【００８９】
電気装置１２を試験するときには、外側端子２４と外側摘み３０との隙間３３に試験器の試験線を挿入し、外側摘み３０を回動して試験器の試験線を締め付け挟んで試験器を接続する。そして、接続片２６は接続しない。これにより、電気装置１２の試験の場合は、従来と同様の試験器の接続動作となる。
【００９０】
一方、電圧測定のときには、外側端子２４と外側摘み３０との隙間３３に、図１４に示すようなコ字状に形成された接続片２６の一方端２６１を締め付け挟んで接続するとともに、内側摘み３２の中間端子２９と内側端子２５との隙間４０に接続片２６の他方端２６２を挿入して、内側摘み３２を回動して締め付け挟んで接続片２６の他方端２６２を接続する。
【００９１】
図１５は、図１３に示した電気試験プラグに図１４に示す接続片２６を接続した場合の端子部分の断面図である。図１５に示すように、内側摘み３２の移動によって、接続片２６の他方端２６２が中間端子２９の接続部と内側端子２５の接続部との間に締め付けられる。これにより、従来と同様に、接続片２６の接続操作において、接続片２６を接続したときのみ、外部電源から電気装置１２への電源供給を維持しつつ、接続片２６に電圧測定器を接続して電圧測定ができる。
【００９２】
このように、内側摘み３２に中間端子２９を搭載して中間摘み３１を省略した場合であっても、電圧測定のときに電圧試験プラグの抜き差しによる瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる。しかも、電圧試験プラグの摘みは２つであるので、従来の接続操作と異なることがなく作業性に違和感を持つことはない。
【符号の説明】
【００９３】
１１…電圧試験ターミナル、１２…電気装置、１３…電気装置接続端子、１４…外部電源接続端子、１５…電力系統、１６…変圧器、１７…２次ヒューズ、１８…第１接点、１９…第２接点、２０…第３接点、２１…電圧試験プラグ、２２…上部導体、２３…下部導体、２４…外側端子、２５…内側端子、２６…接続片、２７…試験器、２８…中間導体、２９…中間端子、３０…外側摘み、３１…中間摘み、３２…内側摘み、３３、３４、３５…隙間、３６…空洞部、３７…突起部、３８、３９…ネジ、４０…隙間、４１…突起部、４２…係止部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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