【事件の表示】
　特願２０１２−５７１９７「繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システムおよび部分放電計測方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２５年９月２６日出願公開、特開２０１３−１９０３４２、請求項の数（８）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２４年３月１４日の出願であって、平成２７年７月６日付けの拒絶理由の通知に対し同年９月１０日に意見書及び手続補正書が提出されたが、同年１１月１１日付けで拒絶査定（同年同月２４日謄本送達）（以下、「原査定」という。）がなされ、これに対して、平成２８年２月１９日に拒絶査定不服審判が請求され同時に手続補正書が提出され、同年８月２２日に上申書が提出され、その後、当審において同年９月７日付けで拒絶理由（以下、「当審拒絶理由１」という。）を通知したところ、同年１１月１０日に意見書及び手続補正書が提出され、さらに、当審において同年１２月９日付けで拒絶理由（以下、「当審拒絶理由２」という。）を通知（特許法第１７条の２第１項第３号の最後の拒絶理由通知）したところ、平成２９年１月１６日に意見書及び手続補正書（同手続補正書でした補正を、以下、「本件補正」という。）が提出されたものである。
第２　本件補正における補正の適否
１　補正の内容
　本件補正は、特許請求の範囲及び明細書を、それぞれ以下のとおり補正するものである。
（１）特許請求の範囲の補正
ア　補正前の特許請求の範囲の記載
　本件補正による補正前の、平成２８年１１月１０日付け手続補正書により補正された特許請求の範囲の記載は、次のとおりである。
「　【請求項１】
　指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源と、
　所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、
　前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、
　前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部と、
　前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記直流電源に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として出力する電圧指示部と、
　前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路と、
　周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部と、
　前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路と、
　前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部と、
　前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記初期電圧および前記２周期目以降の周期における前記指示電圧を設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部と、
　を具備する部分放電計測システムであって、
　前記制御部は、前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、
　前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とすること、
　を特徴とする繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項２】
　前記部分放電回数算出部は、前記検出信号に対してデジタルフィルタ処理を行うことにより、前記検出信号から不要な信号成分を除去して前記部分放電を表す部分放電信号のみを抽出し、周期ごとに前記部分放電信号を抽出した回数を前記部分放電回数としてカウントすることを特徴とする請求項１に記載の繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項３】
　前記部分放電回数算出部は、前記検出信号の立ち上がり時間に基づいてデジタルフィルタ処理のカットオフ周波数を算出し、前記カットオフ周波数に基づいて前記検出信号に対する前記デジタルフィルタ処理を行うことを特徴とする請求項２に記載の繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項４】
　前記部分放電回数算出部は、前記印加電圧信号の立ち上がり時間に基づいてデジタルフィルタ処理のカットオフ周波数を算出し、前記カットオフ周波数に基づいて前記検出信号に対する前記デジタルフィルタ処理を行うことを特徴とする請求項２に記載の繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項５】
　前記部分放電回数算出部は、前記検出信号に対するデジタル微分処理を行うことにより、前記検出信号から前記不要な信号成分を除去して前記部分放電信号のみを抽出することを特徴とする請求項２に記載の繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項６】
　指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力し、昇圧ランプ電圧出力および降圧ランプ電圧出力が可能な直流電源と、
　所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、
　前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、
　前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部と、
　前記昇圧ランプ電圧出力のための開始電圧と上限電圧と昇圧時間とを設定する電圧指示信号を前記直流電源に出力する電圧指示部と、
　前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路と、
　周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部と、
　前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路と、
　前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部と、
　前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記開始電圧と上限電圧と昇圧時間とを設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部と、
　を具備する部分放電計測システムであって、
　前記制御部は、前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記降圧ランプ電圧出力のための終了電圧および降圧時間を設定した電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、
　前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とすること、
　を特徴とする繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項７】
　指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源と、所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、を具備する繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システムの計測装置であって、
　前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部と、
　前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記直流電源に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として出力する電圧指示部と、
　前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路と、
　周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部と、
　前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路と、
　前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部と、
　前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記初期電圧および前記２周期目以降の周期における前記指示電圧を設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部と、
　を具備し、
　前記制御部は、前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、
　前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とすること、
　を特徴とする計測装置。
　　【請求項８】
　指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源と、所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、信号指示部と、電圧指示部と、検出信号観測回路と、部分放電回数算出部と、印加電圧信号観測回路と、電圧値取得部と、制御部と、を具備する部分放電計測システムによる計測方法であって、
　前記制御部が、前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号指示部に出力する工程と、
　前記信号指示部が前記方形波指示信号を前記信号発生器に出力する工程と、
　前記制御部が、前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力する工程と、
　前記電圧指示部が、前記電圧指示信号を前記直流電源に出力する工程と、
　前記検出信号観測回路が、前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する工程と、
　前記部分放電回数算出部が、周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする工程と、
　前記印加電圧信号観測回路が、前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する工程と、
　前記制御部が、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする工程と、
　前記部分放電開始電圧が取得された後の各周期で、前記制御部が、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力する工程と、
　前記部分放電開始電圧が取得された後に、前記電圧指示部が、前記減算した電圧が設定された前記電圧指示信号を直流電源に出力する工程と、
　前記制御部が、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とする工程と、
　を具備することを特徴とする計測方法。」
イ　補正後の特許請求の範囲の記載
　本件補正による補正後の特許請求の範囲の記載は、次のとおりである（下線は、補正箇所を示す。以下同じ。）。
「　【請求項１】
　指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源と、
　所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、
　前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、
　前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部と、
　前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記直流電源に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として出力する電圧指示部と、
　前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路と、
　周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部と、
　前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路と、
　前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部と、
　前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記初期電圧および前記２周期目以降の周期における前記指示電圧を設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、
前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、
　を具備する部分放電計測システムであって、
　前記制御部は、前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、
　前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に、
前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で
　を特徴とする繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項２】
　前記部分放電回数算出部は、前記検出信号に対してデジタルフィルタ処理を行うことにより、前記検出信号から不要な信号成分を除去して前記部分放電を表す部分放電信号のみを抽出し、周期ごとに前記部分放電信号を抽出した回数を前記部分放電回数としてカウントすることを特徴とする請求項１に記載の繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項３】
　前記部分放電回数算出部は、前記検出信号の立ち上がり時間に基づいてデジタルフィルタ処理のカットオフ周波数を算出し、前記カットオフ周波数に基づいて前記検出信号に対する前記デジタルフィルタ処理を行うことを特徴とする請求項２に記載の繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項４】
　前記部分放電回数算出部は、前記印加電圧信号の立ち上がり時間に基づいてデジタルフィルタ処理のカットオフ周波数を算出し、前記カットオフ周波数に基づいて前記検出信号に対する前記デジタルフィルタ処理を行うことを特徴とする請求項２に記載の繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項５】
　前記部分放電回数算出部は、前記検出信号に対するデジタル微分処理を行うことにより、前記検出信号から前記不要な信号成分を除去して前記部分放電信号のみを抽出することを特徴とする請求項２に記載の繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項６】
　指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力し、昇圧ランプ電圧出力および降圧ランプ電圧出力が可能な直流電源と、
　所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、
　前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、
　前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部と、
　前記昇圧ランプ電圧出力のための開始電圧と上限電圧と昇圧時間とを設定する電圧指示信号を前記直流電源に出力する電圧指示部と、
　前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路と、
　周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部と、
　前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路と、
　前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部と、
　前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記開始電圧と上限電圧と昇圧時間とを設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、
前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、
　を具備する部分放電計測システムであって、
　前記制御部は、前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記降圧ランプ電圧出力のための終了電圧および降圧時間を設定した電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、
　前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に
前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で
　を特徴とする繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。
　　【請求項７】
　指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源と、所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、を具備する繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システムの計測装置であって、
　前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部と、
　前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記直流電源に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として出力する電圧指示部と、
　前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路と、
　周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部と、
　前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路と、
　前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部と、
　前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記初期電圧および前記２周期目以降の周期における前記指示電圧を設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、
前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、
　を具備し、
　前記制御部は、前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、
　前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に
前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で
　を特徴とする計測装置。
　　【請求項８】
　指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源と、所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、信号指示部と、電圧指示部と、検出信号観測回路と、部分放電回数算出部と、印加電圧信号観測回路と、電圧値取得部と、制御部と、を具備する部分放電計測システムによる計測方法であって、
　前記制御部が、前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号指示部に出力する工程と、
　前記信号指示部が前記方形波指示信号を前記信号発生器に出力する工程と、
　前記制御部が、前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力する工程と、
　前記電圧指示部が、前記電圧指示信号を前記直流電源に出力する工程と、
　前記検出信号観測回路が、前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する工程と、
　前記部分放電回数算出部が、周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする工程と、
　前記印加電圧信号観測回路が、前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する工程と、
　前記制御部が、
前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、
　前記部分放電開始電圧が取得された
周期以降で初めの周期から
前記指示電圧の加算を行わずに、
　前記部分放電開始電圧が取得された後に、前記電圧指示部が、前記減算した電圧が設定された前記電圧指示信号を直流電源に出力する工程と、
　前記制御部が、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に、
前記部分放電回数が規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で
　を具備することを特徴とする計測方法。」
（２）明細書の補正
　明細書の補正は、【００１１】について、補正前に「前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部」、「前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とすること」、「前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部」及び「前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とすること」とあるのを、それぞれ「
前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、
前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で
前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、
前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で
前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、
前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で
前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、
周期以降で初めの周期から
前記指示電圧の加算を行わずに、
前記部分放電回数が規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で
２　補正の適否
　特許請求の範囲についての補正は、通知された当審拒絶理由２の指摘（下記「第３」２（３））を受けて、本件補正による補正前の請求項１、６、７及び８の明瞭でない記載を、それぞれ本件補正による補正後の請求項１、６、７及び８の記載のとおりに正すことにより、その記載の本来の意味内容を明らかにするものであるから、特許法第１７条の２第５項第４号の「明りようでない記載の釈明（拒絶理由通知に係る拒絶の理由に示す事項についてするものに限る。）」を目的とするものに該当する。
　また、本件補正は、特許法第１７条の２第３項及び第４項に違反するところもない。
　したがって、本件補正は、特許法第１７条の２第３項ないし第５項の規定に適合する。
第３　本願発明について
１　本願発明
　本件補正は、上記「第２」のとおり特許法第１７条の２第３項ないし第５項の規定に適合するので、本願の請求項１ないし８に係る発明（以下、それぞれを「本願発明１」等という。）は、本件補正により補正された特許請求の範囲の請求項１ないし８に記載された事項により特定された、上記「第２」１（１）イに記載したとおりのものである。
２　原査定の拒絶理由及び当審拒絶理由
（１）原査定の理由の概要
ア　原査定の拒絶理由は、概略、本願の請求項１ないし８に係る発明は、その出願前に頒布された次の刊行物（以下、それぞれを番号順に「引用文献１」等という。）に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない、というものである。なお、引用文献１ないし５は、いずれも平成２７年７月６日付け拒絶理由通知書において引用されたものであり（そのうち、引用文献２ないし５は、いずれも周知技術を示す文献として引用されたものである。）、引用文献６ないし９は、いずれも周知技術を示す文献として平成２７年１１月１１日付け拒絶査定において新たに引用されたものである。
　１．特開２００９−１１５５０５号公報
　２．特開２００２−１６９２００号公報
　３．特開平１０−３３５０８９号公報
　４．特開平８−２０４４５５号公報
　５．特開２００６−３８６８８号公報
　６．特開２０１０−２８１６７３号公報
　７．木村健，“繰返しインパルス下の部分放電開始電圧のIEC規格”，
　　　電気学会研究会資料（放電研究会），社団法人 電気学会，
　　　2010年12月2日，ED-10-127，p.13-17
　８．実願昭５７−１４７０３３号（実開昭５９−５２４１０号）の
　　　マイクロフィルム
　９．特開２００３−２１９６７７号公報
イ　請求項１に係る発明についての、より具体的な拒絶理由は、次のとおりである。
（ア）引用文献１には、
　指示電圧である高電圧を出力する直流電源（２１）と、
　所定個数のパルス信号がパルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器（２４，６１；【００３６】の「１０パルス」等）と、
　前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子（２２）を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチ（２３；【００１２】）と、
　方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部（６１）と、
　前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記直流電源に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として設定する電圧指示部（６３）と、
　前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路（４０，５０）と、
　周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部（６１）と、
　前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路（３０，５０）と、
　前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする電圧値取得部（【００４０】「放電ありの回数・・・放電発生確率」、「放電発生確率（Ｐｘ）は判定値（Ｐｎ）以上」、「印加電圧は放電開始発生電圧になる」等）と、
　を具備する繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム、
が記載又は示唆されている。
　設定倍の電圧で、出力電圧を指定することは、設計的事項である（発明の詳細な説明等を参酌しても、格別の技術的意義は読み取れない。）。
　例えば引用文献２（主に図６）、引用文献３（主に図３）、引用文献４（図３）で開示されるように、重ね合わせにより信号を生成する構成は、周知である。
　所定電圧を減算する構成を採ることに格別の困難性はない（引用文献１【００４３】等）。
（イ）引用文献１に対し、出願人は、「印加電圧を低下させていくだけであって、本願請求項１に係る発明のように、印加電圧を上昇させていって部分放電開始電圧を取得した後に印加電圧を低下させていくという技術については記載も暗示もされていない」と主張している。しかしながら、部分放電開始電圧と部分放電終了電圧の取得が記載されており、また、部分放電終了電圧の取得には部分放電が発生するように印加電圧する手順があることからみても、印加電圧の上昇後に低下させていく手法をとることは、当業者ならば容易に想到し得たものである。
　また、このような手順をとることは、例えば引用文献６（【００２３】「部分放電開始電圧と部分放電消滅電圧とを続けて測定してもよい」等）、引用文献７（図１等の手順）にも開示されるように、当業者ならば自明であるともいえる。
　さらに、出願人は、引用文献２−４に対し、技術分野が異なる旨の主張をしているが、この種の信号を生成する構成（重ね合わせ、ゲート回路、論理積等による信号の生成又は制御）は広く用いられている技術であり（引用文献８の第１図、第３図（ＡＮＤ回路等）で開示されるような試験に関する技術分野、引用文献９【００２７】−【００２８】及び図３に開示されるような本願明細書【０００２】等の電動機に関する技術分野等）、引用文献１に開示されるこの種の検査（引用文献７も参照）で採用することに格別の困難性はない。
（２）当審拒絶理由１の概要
ア　当審拒絶理由１は、概略、本願の請求項１ないし８に係る発明は、その出願前に頒布された次の刊行物に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない、というものである。なお、周知例２ないし８は、いずれも周知技術を示す文献として引用されたものである。
　引用例１．木村健，“繰返しインパルス下の部分放電開始電圧のIEC
　　　　　　規格”，電気学会研究会資料（放電研究会），社団法人
　　　　　　電気学会，2010年12月2日，ED-10-127，p.13-17（上記（１）
　　　　　　アの引用文献７に同じ。以下、「引用文献７」という。）
　周知例２．特開２００９−１１５５０５号公報（上記（１）アの
　　　　　　引用文献１に同じ。以下、「引用文献１」という。）
　周知例３．特開２００３−２１９６７７号公報（上記（１）アの
　　　　　　引用文献９に同じ。以下、「引用文献９」という。）
　周知例４．村上義信、外5名，“繰返しインパルス電圧下における部分
　　　　　　放電開始電圧測定の第1次共同実験”，平成22年電気学会
　　　　　　全国大会講演論文集，社団法人 電気学会，2010年3月5日，
　　　　　　p.33-36（以下、「引用文献１０」という。）
　周知例５．特開２０１０−２８１６７３号公報（上記（１）アの
　　　　　　引用文献６に同じ。以下、「引用文献６」という。）
　周知例６．特開平１１−１１８８７０号公報
　　　　　　（以下、「引用文献１１」という。）
　周知例７．特開平１−２７２９８３号公報
　　　　　　（以下、「引用文献１２」という。）
　周知例８．特開平９−１０５７６６号公報
　　　　　　（以下、「引用文献１３」という。）
イ　請求項１、７及び８に係る発明についての、より具体的な拒絶理由は、次のとおりである。
　本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献７には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる（括弧内は関連する記載箇所を示す。）。
「繰返しインパルス電圧における部分放電計測法において、（p.13「１．まえがき」）
　試験前に、電圧インパルスの最小値、最大値、電圧ステップ値、繰返し周波数を決めてインパルス電源を設定し、（p.15「2.5 電圧インパルスの上昇・下降の手順」）
　最小電圧から繰返しインパルス電圧を発生させ、繰返し電圧インパルスの値は低い電圧毎の段階状に上昇させ、（p.15「2.5 電圧インパルスの上昇・下降の手順」）
　部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶは、同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以上の部分放電パルスが発生した時の最小電圧として求められ、（p.14「2.1 用語の定義」、p.15「2.5 電圧インパルスの上昇・下降の手順」）
　最大電圧に達した後、繰返し電圧インパルスは電圧ステップ毎に下降させ、（p.15「2.5 電圧インパルスの上昇・下降の手順」）
　部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶは、同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以下の部分放電パルスが発生した時の最大電圧として求められ、（p.14「2.1 用語の定義」、p.15「2.5 電圧インパルスの上昇・下降の手順」）
　電圧インパルス１０発が供給される供給期間の後に、電圧インパルスの供給が休止される休止期間が設けられ、供給期間と休止期間とが周期的に繰り返され、（p.15図５）
　Test Objectの部分放電は、ＵＨＦ電磁波アンテナにより検出される、（p.14「2.3 UHF電磁波アンテナによるPD検出」、図２）
　方法。」
　一般に、高電圧直流電源、容量素子及び半導体スイッチを用い、ゲートパルス制御回路によって半導体スイッチをオン／オフ制御し、容量素子に充電した電荷を瞬時に放出することでインパルス電圧を発生させることは、周知技術であり（例えば、引用文献１（【００１２】）を参照。）、また、所定のパルス幅及び所定のパルス繰り返し周波数を有するパルス信号と、１周期が供給期間と休止期間を含む期間設定信号との重ね合わせにより、供給期間と休止期間とが周期的に繰り返され、所定個数のパルス信号が前記供給期間にのみ発生する方形波信号を生成し、該方形波信号によってスイッチング素子の制御を行うことも、周知技術である（例えば、引用文献９（【００２８】）を参照。）から、引用発明において、「繰返しインパルス電圧」を「発生」するための「インパルス電源」の具体的な構成として、これらの周知技術を採用することは、当業者が適宜なし得たことである。
　そして、引用発明において、そのように「インパルス電源」の具体的な構成として前述の周知技術を採用するにあたり、方形波信号を生成するためのパルス信号のパルス幅、パルス繰り返し周波数、供給期間におけるパルス数を設定することによって、「電圧インパルス」の「繰返し周波数」及び個数（「１０発」）を決めること、及び、高電圧直流電源を、指示電圧の設定倍の電圧を出力するものとすることは、単なる設計的事項にすぎないものである。
　部分放電開始電圧とするための電圧値を、印加されたインパルス電圧の信号を観測し、そのピーク電圧によって取得することは、周知の技術である（例えば、引用文献１０（「2・5 実験方法」）を参照。）。
　部分放電開始電圧と部分放電消滅電圧とを比較した場合に、部分放電開始電圧の方が高いことは、一般に広く知られているところである（例えば、引用文献６（【００２４】）、引用文献１１（【００３４】）を参照。）から、部分放電消滅電圧の検出において、その初期値に部分放電開始電圧を用いることが可能であることは、明らかであるといえる。そして、部分放電試験において、供試体に必要以上の電圧を印加しないようにすることも、当業者が通常考慮することである（例えば、引用文献１２（第２ページ左下欄第１８〜１９行）、引用文献１３（【０００５】）を参照。）から、引用発明においても、「Test Object」に必要以上の電圧を印加しないようにするために、「部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶ」が「求められ」た時点で、「繰返し電圧インパルスの値」の「上昇」を止めて「下降」に転じるようにし、それにより「部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶ」を「求め」るようにすることは、当業者が適宜なし得たことである。
　引用発明において、「部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶ」を「求め」る際の「部分放電パルス」の数を、「同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以下」（すなわち、６発未満）に代えて、４発以下（すなわち、５発未満）としたことは、当業者が適宜なしうる設計変更にすぎないものである。
　そして、引用発明において「部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶ」とするための電圧値について、観測した信号のピーク電圧から求めるのであれば、「部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶ」についても同様にして求めるのが通常である。
（３）当審拒絶理由２の概要
　当審拒絶理由１は、概略、本願は、特許請求の範囲の記載が次の点で不備（以下、それぞれを順に「不備１」、「不備２」という。）のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない、というものである。
ア　請求項８に、「前記制御部が、・・・２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力する工程」と記載され、一方で、「前記部分放電開始電圧が取得された後の各周期で、前記制御部が、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力する工程」と記載されているところ、「前記制御部が、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力する」のは、「前記部分放電開始電圧が取得された後の各周期」のうちのどの周期においてであるのか、明らかでないから、請求項８に係る発明は、明確でない。
イ　請求項１に、「・・・前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部・・・前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とする」と記載されているところ、「前記部分放電回数が規定回数以上になった」かどうか、及び、「前記部分放電回数が前記規定回数未満になった」かどうかが、「制御部」において比較され判定されているのか、あるいは「制御部」以外において比較され判定されているのか、いずれか明らかでないから、請求項１及びこれを引用する請求項２ないし５に係る発明は、明確でなく、さらに、同様の点で、請求項６ないし８に係る発明も、明確でない。
３　当審の判断
（１）引用文献の記載事項
ア　引用文献１
（ア）本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献１には、次の事項が記載されている（下線は当審で付与した。以下同じ。）。
ａ　「【技術分野】
【０００１】
　この発明は、巻線（例えば、モータ、変圧器、インダクタ、回転電機の固定子巻線等の巻線部品）のレアーショート（巻線間の絶縁破壊）及び部分放電の有無を検査する検査装置あるいは検査方法に関する。」
ｂ　「【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
　以下、図面に基づいて、本発明の実施の形態例について説明する。
　なお、各図間において、同一符号は同一あるいは相当のものであることを表す。
実施の形態１
　図１は、実施の形態１に係る巻線の検査装置の構成を示すブロック図である。
　図１に示すように、本実施の形態による
巻線の検査装置
　なお、被試験巻線（検査対象の巻線）１０は、例えば、モータ、変圧器、インダクタ、磁界発生用コイル等の巻線部品（以降、単に巻線と称す）である。
【００１２】
　インパルス電圧発生手段２０は、被試験巻線１０にインパルス電圧を印加するものであり、
高電圧発生回路
、高圧コンデンサ
、高電圧スイッチング回路
及びゲートパルス制御回路
を備えている。
　高電圧発生回路２１は、高圧コンデンサ２２に電荷を充電するためのものである。
　この
高電圧発生回路
一般的なコイル（巻線）の絶縁試験が可能な程度(通常、数ｋＶ)の高い電圧を発生する。
　
高圧コンデンサ
は、
高電圧スイッチング回路
のスイッチ作用(ゲート制御)によって、充電した電荷を瞬時に放出することにより、インパルス電圧を発生させるものである。
　
高電圧スイッチング回路
は、ゲートパルス制御回路
によってオン／オフ制御され、オンになったときに高圧コンデンサ
に充電されている電荷を瞬時に被試験巻線
に放出させる。
サイリスタ、ＭＯＳＦＥＴ（モス電界効果トランジスタ）またはＩＧＢＴ（絶縁ゲートバイポーラトランジスタ）などの汎用素子で構成する。
【００１３】
　高電圧発生回路２１から印加されていた充電電圧及び高圧コンデンサ２２に充電されている電荷は、被試験巻線１０への１回のインパルス電圧印加によって０になる。
　このため、
インパルス電圧の印加休止期間中に、高圧コンデンサ
に高電圧発生回路
から絶えず電荷が充電されるようにしておく
　端子間電圧検出手段３０は、
被巻試験線
の端子間に印加する高電圧を計測する端子間電圧検出回路
　端子間電圧検出回路３１は高電圧に耐える分圧器（図示なし）で構成されており、インパルス電圧発生手段２０から
インパルス電圧が被試験巻線
に印加された際の被試験巻線
の端子間に発生する電圧（共振振動電圧）を所定比で分圧するものである。
　端子間電圧検出回路３１の図示しない分圧器は、電圧の分圧比に応じた抵抗値及び静電容量を有している。
　「被試験巻線１０の端子間に発生する共振振動電圧」を分圧器で分圧した電圧を「振動電圧信号」あるいは「共振電圧信号」と呼ぶ。
　端子間電圧検出回路３１の分圧器で分圧された端子間電圧である振動電圧信号は、波形メモリ手段５０の第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１に入力される。
【００１４】
　電磁波検出手段４０は、マイクロ波帯（１〜２ＧＨｚの周波数うち、公共で使用されていない周波数）のアンテナ（マイクロ波アンテナ）４１と電磁波検出回路４２とを備えている。
　
インパルス電圧を被試験巻線
に印加した際に
被試験巻線内の絶縁耐力の低下で起きる部分放電
により発生する電磁波をアンテナ
で捕らえ、電磁波検出回路
で
電磁波検波信号に変換する。
　電磁波検出回路４２が出力する電磁波検波信号は、波形メモリ手段５０の第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５２に入力される。
　波形メモリ手段５０は、端子間電圧検出手段３０からの振動電圧信号及び電磁波検出手段４０からの電磁波波形信号を、デジタル信号に変換すると共に、デジタル信号に変換されたそれぞれの信号波形を記憶するものである。
　第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１及び第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５２のそれぞれでデジタル信号に変換された振動電圧信号及び電磁波波形信号は、試験制御手段６０に入力されて被試験巻線１０の状態判定に供される。
【００１５】
　試験制御手段６０は、制御装置（ＣＰＵ）６１、操作入力装置６２、高電圧制御回路６３及び表示装置（モニタ）６４を備えている。
　
制御装置（ＣＰＵ）
は被試験巻線
に印加するインパルス電圧の大きさを設定し、高電圧制御回路
は制御装置（ＣＰＵ）
によって設定された大きさのインパルス電圧を
発生するように高電圧発生回路
を制御する。
　また、インパルス電圧が被試験巻線１０に印加されたときに被試験巻線１０の端子間に発生する振動電圧信号は、第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１によってデジタル信号に変換され、デジタル化された振動電圧信号の波形がメモリされる。
　制御装置（ＣＰＵ）６１は、第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１によってメモリされたデジタル信号（即ち、振動電圧信号）や第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５２によってメモリされたデジタル信号（即ち、電磁波信号）の時間変化を示す波形の特徴量に基づいて、被試験巻線１０の良否（レヤーショートの有無及び部分放電の有無）を判定するものである。
　なお、この制御装置（ＣＰＵ）６１は、入出カインターフェース、記憶装置、演算装置などを有する専用マイクロコントローラ、マイクロコンピュータもしくはコンピュータによって実現される。
　制御装置（ＣＰＵ）６１によって被試験巻線１０の良否を自動的に判定する方法については、後述の実施の形態５で詳述する。
　また、操作入力装置６２は、制御装置（ＣＰＵ）６１に対して必要な操作（動作）を指示するためのものであり、キーボードやタッチパネルなどである。
　また、表示装置６４は、制御装置（ＣＰＵ）６１に第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１及び第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５２のからそれぞれ入力される振動電圧信号及び電磁波波形信号を表示する。」
ｃ　「【００３５】
実施の形態５
　
本実施の形態による巻線の検査装置のハードウエア構成は、基本的には実施の形態１
で説明したものと同じである
　本実施の形態では、試験制御手段６０における制御装置（ＣＰＵ）６１と高電圧制御回路６３を用いてインパルス印加電圧の制御を行うと共に、被試験巻線１０にインパルス印加の際に発生する放電を電磁波検出手段４０で検出し、放電発生の有無を自動で判定することにより、インパルス電圧の印加電圧に同期した放電発生試験を行うことができる。
　
放電発生開始電圧、放電発生終了電圧の測定は、制御装置（ＣＰＵ）
に組み込まれているソフトウエアで
複数のパラメータ（測定条件及び判定条件）を設定することにより、自動的に評価することができる。
【００３６】
　放電発生開始電圧の測定は、制御装置（ＣＰＵ）６１に組み込まれているソフトウエアの下記に示す複数のパラメータを設定することにより、自動的に評価することができる。
　
測定条件の設定内容の例
　　＊　
インパルス電圧の印加開始電圧
１０００Ｖ
　　＊　
印加終了電圧
５０００Ｖ
　　＊　
電圧増加ステップ量
１０Ｖ
　　＊　
１ステップについての繰り返しインパルス印加数
１０パルス
　　＊　
インパルス印加リトライ回数
　
判定条件の設定内容
　　＊　放電波形レベルのピーク値（Ｐｐｅａｋ）：１５
　　　　（測定結果が設定値以上でＮＧ、単位は無い）
　　＊　放電波形面積の大きさ（Ｐｍａｘ）：５０
　　　　（測定結果が設定値以上でＮＧ、単位は無い）
　　＊　
同一電圧にて繰り返しパルスを印加した際の放電発生率
５０％
　これらのパラメータにより、放電発生開始電圧測定の自動測定が行える。
【００３７】
　具体例として、図１１のフローチャート１及び図１２のフローチャート２を用いて放電発生開始電圧の測定動作について説明する。
　なお、図１１と図１２を合わせて、
放電発生開始電圧測定の手順
　図１１に示すように、
まず試験条件（即ち、上記測定条件）を設定し、試験を開始し、インパルス電圧
に
インパルス電圧の印加開始電圧
を代入する。
　
次に、高圧コンデンサ
をインパルス電圧
に充電し、ゲートバルス制御回路
から高電圧スイッチング回路
にゲートパルスを出力して高電圧スイッチング回路
を通電し、インパルス電圧を被試験巻線
へ印加する。
　
次に、
端子間電圧検出回路
により被試験巻線
の端子間に発生する電圧波形信号を
サンプリングし、サンプリングデータを
メモリし、
【００３８】
　電圧波形判定（Ｃ）のステップでは、
メモリした波形データから印加電圧値を求め、
　
一方、
インパルス電圧を被試験巻線
へ印加すると、発生する電磁波信号を
サンプリングし、サンプリングデータを
メモリし、
　電磁波波形判定（Ｅ）のステップでは、第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５２の波形メモリに
メモリした電磁波信号の波形データから
部分放電の有無
を判定する。
【００３９】
　次に、図１２に示すように、
インパルス電圧を予め設定した繰り返しインパルス数
分印加したかどうか
Ｙｅｓであれば
部分放電なし
であるか否かの判定
　電磁波波形が良（即ち、放電なし）である（Ｙｅｓ）と判定した場合は、電圧波形が良（即ち、巻線間の絶縁不良が無し）であるか否かを判定し、Ｎｏ（即ち、巻線間の絶縁不良が有り）であれば「不合格（即ち、巻線試験ＮＧ）」と判定する。
　また、Ｙｅｓ（即ち、巻線間の絶縁不良が無し）の場合は、インパルス電圧Ｖｉｎｐは設定された終了電圧Ｖｅ以上であるか否かを判定し、Ｙｅｓであれば「合格（即ち、放電発生無しＯＫ／巻線試験ＯＫ）」と判定する。
　また、Ｎｏの場合（インパルス電圧Ｖｉｎｐが終了電圧Ｖｅで無い場合）は、インパルス電圧Ｖｉｎｐに△V（電圧増加ステップ量）を加算して試験を継続し、図１１のインパルス電圧印加（Ａ）のステップに戻る。
【００４０】
　一方、図１２のフローにおいて、電磁波波形が良でないと判定（即ち、
放電ありと判定
すると、放電ありの回数と繰り返しインパルス印加数とで放電発生確率
を求め、放電発生確率
は判定値（
以上であるか否かを判定し、
　また、「放電発生確率（Ｐｘ）が判定値（Ｐｎ）以上であるか否か」の
判定結果がＹｅｓの場合は、印加リトライ回数
試験したか
印加電圧は放電開始発生電圧になる。
　「印加リトライ回数（Ｖｒ）試験したか否かの判定結果」がＮｏの場合は、図１１のインパルス電圧印加（Ａ）のステップに戻り、
リトライを継続する。
　図１２に示すように、「合格」や「不合格」の判定
結果及び印加電圧
表示される。
【００４１】
　図１１及び図１２のフローチャートに基づく「放電発生開始電圧測定」の手順は、上述したとおりであるが、更に説明を補足しておく。
　放電発生開始の自動測定では、
印加開始電圧
から終了電圧
までの電圧を、設定した電圧増加ステップ量
の割合で、自動で段階的に昇圧しながら
、連続的に繰り返しインパルス印加数
回のインパルス電圧印加を行い、その時の電磁波波形を印加回数
分測定する。
　段階的な電圧スイープ毎に、繰り返しインパルス印加数（Ｖｎ）回測定した電磁波波形のデータから、１パルス毎に以下に示す判定処理を行う。
　放電波形のピーク値及び放電波形の面積の大きさをソフトウエア処理により求め、それぞれが、放電波形レベルのピーク値（Ｐｐｅａｋ）、放電波形面積の大きさ（Ｐｍａｘ）の判定条件以上だった場合、「放電発生あり」と判断する。
　その「放電あり」が、繰り返しインパルス印加数（Ｖｎ）回のうち、何回「放電あり」であったかにより放電発生率を計算で求め（求めた確率値をＰｘとする）、この求めた確率値Ｐｘが繰り返しパルスを印加した際の放電発生率（Ｐｎ）（％）の判定条件以上であった場合（Ｐｘ＞Ｐｎの場合）、「放電発生」と判断する。
【００４２】
　しかしながら、放電発生は不安定であるため、上記「放電発生」の状態を何回か繰り返してリトライ測定を行うことにより、再現性の良いより完全な放電発生の確認を行うことが可能となる。
　具体的には、「放電発生」の状態を、設定したインパルス印加リトライ回数（Ｖｒ）回繰り返し測定を行い、リトライ回数分全てが「放電発生」の場合を、「放電発生電圧」として、電圧スイープは中断し、その時の電圧値を「放電発生開始電圧」として示す。
　また、繰り返しパルスを印加した際の放電発生率（Ｐｎ）（％）の判定条件以下であった場合は、「放電発生無し」と判断し、スイープ電圧に電圧増加ステップ量（ΔＶ）を加えて測定を継続する。
　このように自動による電圧スイープの測定では、放電発生と判断した場合、その放電発生確率を計算により求め、放電発生の再現性を確認する為に設定したリトライ回数分を自動で繰り返し行い、放電発生有無の判断を行うことで、より確実な放電発生自動測定を行なうことができる効果がある。
　放電波形レベルのピーク値（Ｐｐｅａｋ）、放電波形面積の大きさ（Ｐｍａｘ）の判定は、それぞれ片方だけの判定（即ち、ＰｐｅａｋあるいはＰｍａｘの判定）であっても、両方判定を行い、どちらかが判定条件以上だった場合でも、任意に設定可能である。
【００４３】
　なお、上記説明では
放電発生開始電圧の試験
放電発生終了電圧の試験も同様に実施することができる。
　この場合の試験のフローチャートは、図１１において「
電圧増加ステップ量
とあるのを
電圧減少ステップ量
と変更すればよく、他は同じである。
【００４４】
　以上説明したように、本実施の形態による巻線の検査装置は、検査対象の巻線である被試験巻線１０の端子間にインパルス電圧を印加するインパルス電圧発生手段２０と、インパルス電圧発生手段２０からインパルス電圧を印加することにより被試験巻線１０の端子間に発生する振動電圧の波形を検出する端子間電圧検出手段３０と、被試験巻線１０の放電により発生する電磁波を検出する電磁波検出手段４０と、端子間電圧検出手段３０が検出する振動電圧の波形信号をＡ／Ｄ変換し、振動電圧波形として記憶する第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１と、電磁波検出手段４０が検出する電磁波の信号をＡ／Ｄ変換し、電磁波波形として記憶する第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段と、第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１が記憶した振動電圧波形及び第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５２が記憶した電磁波波形を表示する表示装置６４と、第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１が記憶した振動電圧波形及び第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段が記憶した電磁波波形に基づいて、被試験巻線１０の良否を自動的に評価する制御装置（ＣＰＵ）６１を備えている。
【００４５】
　本実施の形態では、第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１が記憶した振動電圧波形及び第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段が記憶した電磁波波形に基づいて、
被試験巻線
の良否を自動的に評価する
【００４６】
　また、制御装置（ＣＰＵ）６１は、
インパルス電圧を連続して被試験巻線１０に印加した際の放電発生の確率を計算により求め、求めた放電発生確率に基づいて
放電発生の有無を自動判定する
　また、制御装置（ＣＰＵ）６１は、
被試験巻線１０に印加するインパルス電圧を段階的に上昇あるいは下降させる。
　また、前記制御装置（ＣＰＵ）は、前記第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段のＡ／Ｄでサンプリングされ、数値化された電磁波波形データから計算によりパルス状の放電波形の面積を求めることで、被試験巻線１０の放電エネルギー相当の大小を判定できる。」
ｄ　「【図１】
」
ｅ　「【図１１】
」
ｆ　「【図１２】
」
ｇ　図１２のフローチャートからは、「「不合格」判定 放電発生有りNG 
印加電圧が放電開始発生電圧になる
結果を表示
印加電圧表示
終了する
（イ）上記記載事項において、「実施の形態５」（上記（ア）ｃ）に着目すると、「実施の形態５」の巻線の検査装置のハードウエア構成は、基本的に「実施の形態１」（上記（ア）ｂ）と同じにされている（上記（ア）ｃ【００３５】）。
　したがって、上記（ア）ａないしｇの記載から、引用文献１には、次の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されていると認められる（括弧内は、特に関連する記載箇所を示す。）。
「一般的なコイル（巻線）の絶縁試験が可能な程度(通常、数ｋＶ)の高い電圧を発生する高電圧発生回路と、（上記（ア）ｂ【００１２】）
　ゲートパルス制御回路と、（上記（ア）ｂ【００１２】）
　インパルス電圧の印加休止期間中に高電圧発生回路から絶えず電荷が充電されるようにしておき、高電圧スイッチング回路のスイッチ作用(ゲート制御)によって、充電した電荷を瞬時に放出することにより、インパルス電圧を発生させる高圧コンデンサと、（上記（ア）ｂ【００１２】、【００１３】）
　サイリスタ、ＭＯＳＦＥＴ（モス電界効果トランジスタ）またはＩＧＢＴ（絶縁ゲートバイポーラトランジスタ）などの汎用素子で構成されており、ゲートパルス制御回路によってオン／オフ制御され、オンになったときに高圧コンデンサに充電されている電荷を瞬時に被試験巻線に放出させる高電圧スイッチング回路と、（上記（ア）ｂ【００１２】）
　インパルス電圧が被試験巻線に印加された際の被試験巻線の端子間に発生する電圧（共振振動電圧）を所定比で分圧して、被巻試験線の端子間に印加する高電圧を計測する端子間電圧検出回路と、（上記（ア）ｂ【００１３】）
　インパルス電圧を被試験巻線に印加した際、被試験巻線内の絶縁耐力の低下で起きる部分放電により発生する電磁波をアンテナで捕らえ、電磁波検波信号に変換する電磁波検出回路と、（上記（ア）ｂ【００１４】）
　被試験巻線に印加するインパルス電圧の大きさを設定し、被試験巻線１０に印加するインパルス電圧を段階的に上昇あるいは下降させるとともに、インパルス電圧を連続して被試験巻線１０に印加した際の放電発生の確率を計算により求め、求めた放電発生確率に基づいて放電発生の有無を自動判定して、被試験巻線の良否を自動的に評価する制御装置（ＣＰＵ）と、（上記（ア）ｂ【００１５】、ｃ【００４５】、【００４６】）
　制御装置（ＣＰＵ）によって設定された大きさのインパルス電圧を発生するように高電圧発生回路を制御する高電圧制御回路と、（上記（ア）ｂ【００１５】）
　を備えた、巻線の検査装置であって、（上記（ア）ｂ【００１１】、ｃ【００３５】）
　放電発生開始電圧、放電発生終了電圧の測定は、制御装置（ＣＰＵ）に組み込まれているソフトウエアで複数のパラメータ（測定条件及び判定条件）を設定することにより、自動的に評価するものであり、（上記（ア）ｃ【００３５】）
　測定条件の設定内容の例では、インパルス電圧の印加開始電圧を１０００Ｖ、印加終了電圧を５０００Ｖ、電圧増加ステップ量を１０Ｖ、１ステップについての繰り返しインパルス印加数を１０パルス、インパルス印加リトライ回数を３回とし、判定条件の設定内容の例では、同一電圧にて繰り返しパルスを印加した際の放電発生率を５０％とし、（上記（ア）ｃ【００３６】）
　放電発生開始電圧測定の手順は、（上記（ア）ｃ【００３７】）
　まず試験条件（即ち、上記測定条件）を設定し、試験を開始し、インパルス電圧にインパルス電圧の印加開始電圧を代入し、次に、高圧コンデンサをインパルス電圧に充電し、ゲートバルス制御回路から高電圧スイッチング回路にゲートパルスを出力して高電圧スイッチング回路を通電し、インパルス電圧を被試験巻線へ印加し、（上記（ア）ｃ【００３７】）
　次に、端子間電圧検出回路により被試験巻線の端子間に発生する電圧波形信号をサンプリングし、サンプリングデータをメモリし、メモリした波形データから印加電圧値を求め、一方、インパルス電圧を被試験巻線へ印加すると、発生する電磁波信号をサンプリングし、サンプリングデータをメモリし、メモリした電磁波信号の波形データから部分放電の有無を判定し、（上記（ア）ｃ【００３７】、【００３８】）
　印加開始電圧から終了電圧までの電圧を、設定した電圧増加ステップ量の割合で、自動で段階的に昇圧しながら、連続的に繰り返しインパルス印加数回のインパルス電圧印加を行い、その時の電磁波波形を印加回数分測定し、（上記（ア）ｃ【００４１】）
　インパルス電圧を予め設定した繰り返しインパルス数分印加したら、部分放電なしであるか否かを判定し、放電ありと判定すると、放電ありの回数と繰り返しインパルス印加数とで放電発生確率を求め、放電発生確率が判定値以上であるか否かを判定し、判定結果がＹｅｓの場合は、印加リトライ回数試験するまでリトライを継続した上で印加電圧が放電開始発生電圧になり、結果及び印加電圧が表示されて終了し、（上記（ア）ｃ【００３９】、【００４０】、ｇ）
　放電発生終了電圧の試験も、放電発生開始電圧の試験と同様に実施することができ、電圧増加ステップ量を電圧減少ステップ量と変更すれば、他は同じである、（上記（ア）ｃ【００４３】）
　巻線の検査装置。」
（ウ）また、上記（ア）ｃ及びｅないしｇの記載から、引用文献１には、次の技術的事項が記載されていると認められる。
「自動で段階的に昇圧しながらインパルス電圧を被試験巻線へ印加して放電発生開始電圧を測定するにあたり、印加電圧が放電開始発生電圧として求められると、結果及び印加電圧を表示して測定手順を終了させる」点。
イ　引用文献２
　本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献２には、図面とともに、次の事項が記載されている。
「【００４５】＜バースト制御された発振信号によって制御する第３の方法＞次に、
発振回路
より出力するバースト制御された発振信号
【００４６】図６は、第１の実施形態において発振信号を制御する第３の方法を実現する発振回路１１の回路構成を示すブロック図である。図１１は、第１の実施形態において発振信号を制御する第３の方法を実現する発振回路１１の各部の動作を説明するタイムチャートである。
【００４７】第３の方法における
発振回路
は、所定周波数の矩形波Ｂ１を出力する第１発振器
指示されたデューティ比の矩形波Ｂ２を出力する第２発振器
並びに矩形波Ｂ１及びＢ２の論理積を採ることにより、
バースト（間欠）発振信号Ｂ３を供給するＡＮＤ素子
を備える。
ウ　引用文献３
　本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献３には、図面とともに、次の事項が記載されている。
「【０００４】
バースト発振回路
コンパレータ１０ａは、
ＰＷＭ制御された
駆動パルスを発生する。
【０００５】
コンパレータ１０ｂは、
ＰＷＭ制御された
ウインドウパルスを発生する。ゲート回路
は、１入力が負論理入力を持つ２入力ＡＮＤゲート
とインバータ
とからなり、コンパレータ１０ａの出力をＡＮＤゲート
の一方の入力に、コンパレータ１０ｂの出力をＡＮＤゲート
の負論理側入力にそれぞれ受けて、コンパレータ１０ｂのＬＯＷレベル期間をウインドウ期間として
ＰＷＭ制御されたバーストパルスを発生してインバータ
を介して駆動トランジスタ
のゲートに加えてこれを駆動する。
エ　引用文献４
　本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献４には、図面とともに、次の事項が記載されている。
「【０００３】従来の
ノイズ発生器は、
高周波信号
を発生するシグナルジェネレータ
と、パルス
を発生するパルスジェネレータ
の出力をパルス変調器
に入力して、高周波信号
をパルス
により変調して、ノイズを模擬した信号
を発生させる。
オ　引用文献５
　本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献５には、図面とともに、次の事項が記載されている。
ａ　「【技術分野】
【０００１】
　本発明は、
インバータ駆動モータのモータ巻線ターン間の部分放電を計測するための計測装置
ｂ　「【００２５】
　図１に戻る。サージ電圧波形調整回路４の出力５は、部分放電電流検出器３を介して、供試モータ２の３相巻線の内、２つの巻線の口出し２２、２３に接続される。また、部分放電電流検出器３において、それぞれの高圧接続線は、互いに逆方向に貫通している。それにより、サージ電圧の立ち上がりと立ち下がりの急峻電圧時間変化に伴いモータ巻線２２、２３の浮遊容量に同時に流れる充電電流をキャンセルし、かつ、被試験相の巻線の高圧印加側で発生する部分放電電流を高感度に検出することができる。一方、供試モータ２の３相巻線の内、他相の巻線の口出し２４はサージ電圧発生装置１の負極性一定電圧出力端子２８が接続される。なお、モータコア２５を接地することで、サージ電圧発生装置１の出力電圧が、被試験相２２、２３の巻線−コア間に印加される。モータの各絶縁部に加わる電圧は、サージ電圧計測器８、９、１０を接続することで計測でき、例えばサージ電圧波形調整回路４の出力５と、モータ被試験相の巻線の任意ターン２６とサージ電圧発生装置１の一定電圧出力端子２８の対地電圧を計測することができる。
【００２６】
　解析表示装置７には、サージ電圧計測器８、９、１０と部分放電電流検出器３の出力が接続される。解析表示装置７内部では、サージ電圧計測器８、９、１０の出力電圧を演算することで、モータの巻線ターン間、巻線‐コア間、異相間絶縁部に加わる電圧を表示、記録する。具体的には、実施例１では巻線ターン間電圧は、サージ電圧計測器８と９の出力の差電圧をアナログもしくはデジタル演算することで求められる。また、実施例１ではモータコア２５を接地しているので、巻線‐コア間電圧はサージ電圧計測器８の対地電圧と一致する。巻線２２、２３の相と巻線２４の相の異相間電圧は、サージ電圧計測器８と１０の出力の差電圧をアナログもしくはデジタル演算することで求められる。
部分放電電流検出器
の出力は、
アナログもしくはデジタルハイパスフィルタもしくはバンドパスフィルタに接続され、サージ電圧の立ち上がりと立ち下がりの急峻電圧時間変化に伴いモータ巻線
の浮遊容量に流れる充電電流を除去し、部分放電電流のみを表示し、記録することができる。ハイパスフィルタもしくはバンドパスフィルタのカットオフ周波数は、サージ電圧の立ち上がり、立ち下がり時間０．１μｓの逆数の１０ＭＨｚ以上が必要であり、３０ＭＨｚ〜７０ＭＨｚ程度が望ましい。
カ　引用文献６
（ア）本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献６には、図面とともに、次の事項が記載されている。
ａ　「【技術分野】
【０００１】
　本発明は、
絶縁物に高電圧を印加した際に、絶縁物の内部または外部で発生する部分放電を計測する
【背景技術】
【０００２】
　変圧器をはじめとする電気設備では、経年劣化或いは環境劣化により、絶縁物の内部や外部において部分放電と称する微小な放電が発生したり、さらに絶縁物が長期間部分放電に晒されることで絶縁材料が劣化し、何れは絶縁破壊に至ることがよく知られている。したがって、設備を構成する絶縁材料の部分放電特性を詳細に把握することは、事故を防止するためにも重要である。
　部分放電は、絶縁物にあるレベル以上の電圧が印加されると発生する。その場合、
部分放電開始電圧は、印加する電圧レベルを徐々に上昇させて、部分放電が最初に発生した際の印加電圧で定義され、部分放電消滅電圧は、部分放電が発生している状態から徐々に電圧レベルを下降させて、最初に部分放電が消滅した際の印加電圧で定義される。
ｂ　「【００１６】
　次に、部分放電電圧計測システム１により部分放電開始電圧を測定する方法について説明する。図２は、本実施例における
部分放電開始電圧の測定手順
【００１７】
　ステップＳ３では、電圧制御プログラム９が発振器５に振幅Ａの正弦波電圧を生成するように指示を与える。これにより、発振器５で生成された振幅Ａの正弦波電圧は、アンプ６で増幅された後、変圧器７でさらに昇圧されて
絶縁物
に印加される。
【００１８】
　ステップＳ６では、電圧制御プログラム９が初期電圧ＶiとステップＳ５算出した電圧値Ｖとを比較し、（Ｖ≧Ｖi）であれば（ＹＥＳ）ステップＳ８に移行し、それ以外であれば（ＮＯ）ステップＳ７に移行する。ステップＳ７では、振幅Ａに対し、所定の振幅変化幅ΔＡをｎ倍（１＜ｎ）した増加幅を加えたものを新たな振幅Ａとすると、ステップＳ３に戻る。そして、ステップＳ６において（Ｖ≧Ｖi）となるまで、ステップＳ３からステップＳ７を繰り返し実行する。
　尚、変化幅ΔＡは、発振器５の出力電圧の最小単位（出力分解能）で決まり、倍率ｎについては、発振器５に対し、出力分解能のｎ倍（ｎ［ｍＶ］）の電圧を指示するものとなる。そして、例えばアンプ６のゲインが「１００」，変圧器８の昇圧率が「６０」であるとすれば、変化幅ΔＡに応じて電源装置２が出力する電圧レベルは、１ｍＶ×１００×６０＝６Ｖとなる。
【００１９】
　ステップＳ８では、部分放電信号計測回路１６が、部分放電検出ユニット３より出力される部分放電信号波形（判定対象信号）を計測し、ステップＳ９では、部分放電信号レベル算出プログラム１７が、部分放電信号レベルの最大値ＰＤmaxを算出する。
【００２０】
　図３（ａ）は、絶縁物８にて部分放電が発生していない状態で、部分放電検出ユニット３が出力した電圧６周期分の部分放電信号波形の一例であり、図３（ｂ）は、部分放電が発生した状態の（ａ）相当図である。図３（ｂ）に示すように、部分放電が発生すると、ピーク値が異なるインパルス状の信号波形が間欠的に観測される。そこで、部分放電信号レベルの最大値があるレベル以上となったか否かを判定すれば、部分放電の発生を確実に検知できる。
　再び、図２を参照する。ステップＳ１０では、部分放電判定プログラム１９が、所定のしきい値Ｔｈi（測定対象の絶縁物８に応じて異なる）と最大値ＰＤmaxとを比較し、（ＰＤmax≧Ｔｈi）であれば
部分放電が発生したと判定して
電圧値
を部分放電開始電圧として、
表示する。
【００２１】
　一方、ステップＳ１０において（ＰＤmax＜Ｔｈi）の場合には（ＮＯ）、
部分放電の発生はないと判定し、
　尚、ステップＳ７における電圧の増加幅は（ΔＡ・ｎ）に設定されているが、ステップＳ１２における
電圧の増加
【００２２】
　図４は、
部分放電消滅電圧の測定手順
初期電圧
絶縁物
に印加される電圧
をセットする。
　ステップＳ２３では、部分放電判定プログラム１９が、所定のしきい値Ｔｈeと最大値ＰＤmaxを比較し、（ＰＤmax＜Ｔｈe）となれば部分放電が消滅したと判定し（ＹＥＳ）、ステップＳ２６に移行する。ステップＳ２６では、ステップＳ５で算出した電圧値Ｖを部分放電消滅電圧として、計測制御装置４の表示パネルなどに表示する。
【００２３】
　ステップＳ２３において、（ＰＤmax≧Ｔｈe）の場合は（ＮＯ）部分放電が継続していると判定し、ステップＳ２４にて所定の電圧下降時間Δｔdown（例えば０．５秒）が経過するまで待機する。Δｔdownが経過するとステップＳ２５に進み、電圧制御プログラム９が振幅Ａを振幅変化幅ΔＡだけ減少させて、ステップＳ３に戻る。なお、ステップＳ２３では（ＰＤmax＜Ｔｈe）という判定式を用いたが、（Ｔｈe≦ＰＤmax）を用いても構わない。また、図２及び図４では、部分放電開始電圧と部分放電消滅電圧とを個別に測定する手順として説明したが、図２のステップＳ１３
を実行した後に
部分放電開始電圧と部分放電消滅電圧とを続けて測定してもよい。
ｃ　「【００２４】
　
一般に、部分放電開始電圧と部分放電消滅電圧とでは、前者が高く、後者が低い値となる。
（イ）したがって、上記（ア）ａ及びｃの記載から、引用文献６には、次の技術的事項が記載されていると認められる。
「絶縁物に高電圧を印加した際に絶縁物の内部または外部で発生する部分放電の計測において、部分放電開始電圧は、印加する電圧レベルを徐々に上昇させて部分放電が最初に発生した際の印加電圧で定義され、部分放電消滅電圧は、部分放電が発生している状態から徐々に電圧レベルを下降させて最初に部分放電が消滅した際の印加電圧で定義され、一般に、部分放電開始電圧と部分放電消滅電圧とでは、前者が高く、後者が低い値となる」点。
（ウ）また、上記（ア）ａ及びｂの記載並びに図面の図２ないし図４から、引用文献６には、次の技術的事項が記載されていると認められる。
「絶縁物に高電圧を印加した際に絶縁物の内部または外部で発生する部分放電の計測において、部分放電開始電圧の測定手順では、絶縁物への印加電圧を増加させながら部分放電の有無を判定し、部分放電が発生したと判定されると、電圧値を部分放電開始電圧として表示し部分放電開始電圧の測定手順を終了し、その後、絶縁物への印加電圧を初期電圧にセットし、続けて部分放電消滅電圧の測定手順を実行する」点。
キ　引用文献７
（ア）本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献７には、次の事項が記載されている。
ａ　「2006年10月に発行されたIEC60034-18-41（以下-41と省略）はモータコイルに部分放電が無いことを要求する初の規格である(10)。その部分放電測定法として同年４月に発行されたばかりのIEC61934TSEd.1が引用されている(11)。これは
繰返しインパルス電圧における部分放電計測
　本稿では、IEC61934の第２版の主な改訂内容を紹介するとともに、関連IEC規格改定の動向についても紹介する。」（１３ページ左欄第１１行ないし最下行）
ｂ　「2.1 用語の定義
　IEC61934第１版の最も特徴的な点は、初めて
繰返しインパルス電圧における部分放電開始電圧RPDIV、消滅電圧RPDEV
ｃ　「
図１　繰返し電圧インパルスの上昇・下降の例
（PDIV、PDEV、RPDIV、RPDEVの表示例）
Figure 1 Example of increasing and decreasing the impulse voltage magnitude」（１４ページ左欄）
ｄ　「2.2 
インパルス電源
　第１版にはインパルス電源に関する記載が全くなく、これではRPDIV等が使用電源に応じて変化することが十分想定された。そのため、まずPWM制御により生じるインバータサージを模擬するという目的を説明し、さらに具体的なインパルス電圧波形として発行済のIEC62068-1(12)の表を追加した。なお、この数値の範囲は議論の結果、一部修正している。基本的にモータコイルの端部ターンにかかる電圧を模擬しているので、PWM波形の方形波の幅と誤解したコメントは除外した。
2.3 
UHF電磁波アンテナ
　第１版では従来のコンデンサ法・CT法などに加えて、方向性結合器のみが電磁波センサとして記載されていた。一方日本ではオンライン
部分放電センサ
ｅ　「
図２　UHF電磁アンテナ
Figure 2 Circuit using an electromagnetic UHF antenna」（１４ページ右欄）
ｆ　「2.5 電圧インパルスの上昇・下降の手順
　第１版では具体的にどのように具体的に試験するのか全く触れられていなかった。そのため筆者は以下の文を提案し、イタリアから若干のコメントがあったが、ほぼそのまま８節として受け入れられた。その全文を記す。
　７節で述べたバックグランドノイズや検出限界を確認したのち、PDIV、PDEV、RPDIV、RPDEVを次のように測定する。
繰返し電圧インパルスの値は
低い電圧毎の段階状に上昇させ、その後下降させる。
求めていく。
・
試験前に電圧インパルスの最小値、最大値、電圧ステップ値、繰返し周波数を決めておく。
・予備試験によって、最小電圧は部分放電が発生しない電圧に選ぶ。
・予備試験によって、最大電圧では電圧インパルスに対して部分放電が必ず発生する電圧に選ぶ。
・必要であれば
試験前にインパルス電源を
設定する。
・
最小電圧から繰返しインパルス電圧を発生させる。
・PDIVは初めて部分放電が１発発生した時の電圧とする。
・
RPDIVは同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以上の部分放電パルスが発生した時の最小電圧とする。
・
最大電圧に達した後、繰返し電圧インパルスは電圧ステップ毎に下降させる。
・
RPDEVは同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以下の部分放電パルスが発生した時の最大電圧とする。
・PDEVは部分放電パルスが消滅した時の電圧である。
この手順以外の（連続的）電圧上昇・下降も可能である。
注）PDIVやPDEVは電圧上昇下降が繰り返されると変動する可能性が高い。
2.6 付録Ｃの追加
　2007年より電気学会調査専門委員会の有志委員で共同実験(RRT)が発足し、RPDIV測定データを収集している。この狙いは、同一のツイストペア試料を用い、同一の繰返しインパルス電圧パターンを用いて、各研究機関のセンサで部分放電計測して求めたRPDIVを共通のデータシートで統計処理したものである。
　測定中の温度と気圧は共通の補正式で補正し、normalizeを意味するNを頭に付けている。図5がRRTに使用した繰返し負極インパルス電圧波形、図６は相対湿度のRPDIV特性である。またRPDIV付近の電圧インパルスに対する部分放電パルス発生状態の実例も追加した。」（１５ページ左欄下から１８行目ないし右欄第２７行）
ｇ　「
図５　RRTに使用した繰返し負極インパルス電圧(15)
Figure 5 The sequence of negative voltage impulses used of RRT」（１５ページ右欄）
ｈ　図５から、
電圧インパルス１０発が供給される供給期間の後に、電圧インパルスの供給が休止される休止期間が設けられ、供給期間と休止期間とが周期的に繰り返される
（イ）上記（ア）ａ及びｄの記載によれば、「繰返しインパルス電圧における部分放電計測」のためのシステムは、「インパルス電源」と、「ＵＨＦ電磁波アンテナ」を有する「部分放電センサ」と、を備えるものといえ、また、上記（ア）ｂに記載された「消滅電圧」が「繰返しインパルス電圧における部分放電消滅電圧」を意味することは、明らかである。
　したがって、上記（ア）ａないしｈの記載から、引用文献７には、次の発明（以下、「引用発明７」という。）が記載されていると認められる（括弧内は、特に関連する記載箇所を示す。）。
「繰返しインパルス電圧における部分放電計測のためのシステムであって、インパルス電源と、ＵＨＦ電磁波アンテナを有する部分放電センサと、を備えており、（上記（ア）ａ、ｄ）
　試験前に、電圧インパルスの最小値、最大値、電圧ステップ値、繰返し周波数を決めてインパルス電源を設定し、（上記（ア）ｆ）
　最小電圧から繰返しインパルス電圧を発生させ、繰返し電圧インパルスの値は低い電圧毎の段階状に上昇させ、（上記（ア）ｆ）
　繰返しインパルス電圧における部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶは、同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以上の部分放電パルスが発生した時の最小電圧として求められ、（上記（ア）ｂ、ｆ）
　最大電圧に達した後、繰返し電圧インパルスは電圧ステップ毎に下降させ、（上記（ア）ｆ）
　繰返しインパルス電圧における部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶは、同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以下の部分放電パルスが発生した時の最大電圧として求められ、（上記（ア）ｂ、ｆ）
　電圧インパルス１０発が供給される供給期間の後に、電圧インパルスの供給が休止される休止期間を設け、供給期間と休止期間とを周期的に繰り返す、（上記（ア）ｈ）
　システム。」
（ウ）また、上記（ア）ａないしｃ及びｆの記載から、引用文献７には、次の技術的事項が記載されていると認められる。
「繰返しインパルス電圧における部分放電計測において、
　繰返し電圧インパルスの値を段階状に上昇させて、繰返しインパルス電圧における部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶを求め、
　その後、繰返し電圧インパルスの値を段階状に下降させて、繰返しインパルス電圧における部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶを求める」点。
ク　引用文献８
　本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献８には、図面とともに、次の事項が記載されている。
ａ　「一般にデマンド監視装置の機能試験には、電力量を模擬する
パルス発生装置
　これに対して、従来は第１図に示すように、一定周波数のパルスを発生するパルス発生回路１とパルス間隔をタイマー等を用いて手動で任意に設定するパルス間隔設定器２とそのパルス出力回路３とを組合せたものが多く用いられている。」（明細書第１ページ第２０行ないし第２ページ第６行）
ｂ　「本考案の一実施例を第３図に示す。
　第３図は折線Ｘを任意の傾斜で６段、合計３０分間設定できるものを示している。
　第３図において１００ｍ秒間隔のパルス発生装置４で発生した１０ＨＺのパルス列はパルスカウント回路５で１／１０に分周されて１ＨＺのパルス列となり、ＡＮＤ回路１１−１〜１１−６を介してそれぞれパルス間隔設定回路６−１〜６−６に入力されると共に出力時間設定回路８−１〜８−６に入力される。
　尚スイッチ７−１〜７−６はそれぞれＡＮＤ回路１１−１〜１１−６を阻止するためのパルスカットスイッチであり、これによって折線Ｘの段数を減らすことができる。
上記１ＨＺパルスは先ず１段目のパルス間隔設定回路６−１で任意に分周され、
所要パルス間隔の試験パルス列
を出力時間設定回路
で任意に設定した時間
だけＡＮＤ回路
を介して出力し、
　設定時間Ｔ１が経過すると、次段のＡＮＤ回路１１−２がオンとなり、上記１段目と同じようにして２段目の試験パルス列Ｐ２が設定されたパルス間隔で設定時間Ｔ２だけ出力される。
以下順次６段目までの試験パルス列が出力され、最終的に３０分カウント回路１０が３０分をカウントアップすると出力時間設定回路８−１〜８−６をそれぞれリセット回路９−１〜９−６を介してすべてリセットし、上記の試験パルス列が再度１段目から発生される。
　これによって任意の折線形状をもった３０分間の試験用パルス列Ｘが繰返し得られる。
　尚上記は試験パルス列が６段の場合について説明したが回路数を変えることによって任意の段数をとることが可能である。」（明細書第３ページ第１４行ないし第５ページ第６行）
ケ　引用文献９
　本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献９には、図面とともに、次の事項が記載されている。
「【００２６】これは、図２に波線枠７２で囲むように、三相交流発電電動機１０のリアクトルを介してＩＰＤ５２のＦＥＴ５２ａとスイッチング素子２７のＦＥＴ２７ａとが直列に接続された構造となっているので電流経路が遮断されるものである。この遮断機能を以降ＩＰＤの保護機能という。
【００２７】２つ目の特徴は、ＰＷＭ駆動回路５８を用いたことにある。
ＰＷＭ駆動回路
は、
複数回の「Ｌ」／「Ｈ」を繰り返すＰＷＭ駆動信号を生成して論理積回路
に供給する。
【００２８】
論理積回路
には
ゲート駆動信号（第１信号）とＰＷＭ駆動回路
からのＰＷＭ駆動信号（第２信号）とが入力されるので、論理積回路
の出力信号（第３信号）は、
ゲート駆動信号が「Ｈ」のときにＰＷＭ駆動信号による「Ｌ」／「Ｈ」を繰り返す。この出力信号（第３信号）はスイッチング素子
のゲート端に供給され、これによって、スイッチング素子
のＦＥＴが高速にスイッチング動作する。
コ　引用文献１０
　本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献１０には、次の事項が記載されている。
「2・5 実験方法
　第１次RRTの実験方法は以下の通りとした。
　[1]実験前にはアルコール付きガーゼで表面を清浄する。
　[2]2.3節で述べたインパルス電圧を印加する。
　[3]同一試料で10回測定し、10本の試料を用いて実施する。
　[4]
RPDIVは10発のインパルス電圧に対しPDが５発以上発生した時のインパルスピーク電圧を分圧器で読み直して
求める。
　[5]実験結果は共通テンプレートに入力し、測定条件に対する共通の補正と統計処理を行う。」（３３ページ右欄下から２行目ないし３４ページ左欄第８行）（なお、摘記にあたり都合上、○に数字は、[ ]に数字と表記した。）
サ　引用文献１１
（ア）本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献１１には、図面とともに、次の事項が記載されている。
「【００３２】この実施の形態２は、従来方法の
部分放電を測定する絶縁試験において、
【００３３】例えば６．６ｋＶ用エポキシ樹脂モールド形計器用変圧器の絶縁試験の状況を次に示す。図１は６．６ｋＶ用エポキシ樹脂モールド形計器用変圧器の断面図である。図において、２０はモールド形計器用変圧器、２１は高圧側コイル、２２は低圧側コイル、２３は高圧コイル２１と低圧コイル２２を所定の間隔を保持して周囲を覆った主絶縁部、２４は鉄心である。試験回路は図２５の被試験物１の部分に図１の６．６ｋＶ用計器用変圧器を接続して行ったものである。
【００３４】
被試験物としてのモールド形計器用変圧器
に
高圧側コイル
と低圧側コイル
の間に試験電圧を印加して部分放電を測定した結果
８．６ｋＶで部分放電が開始し、５．０ｋＶで消滅しており、部分放電開始電圧と消滅電圧に差がある結果が得られている。
（イ）したがって、上記（ア）の記載から、引用文献１１には、次の技術的事項が記載されていると認められる。
「部分放電を測定する絶縁試験において、被試験物としてのモールド形計器用変圧器に、高圧側コイルと低圧側コイルの間に試験電圧を印加して部分放電を測定したところ、８．６ｋＶで部分放電が開始し、５．０ｋＶで消滅しており、部分放電開始電圧と消滅電圧に差がある結果が得られた」点。
シ　引用文献１２
（ア）本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献１２には、次の事項が記載されている。
「〔発明が解決しようとする問題点〕
　しかしながら、
部分放電試験において
測定中に絶縁破壊する危険性がある。
　またｔａｎδ試験においては、前述したように測定中に絶縁破壊する危険性があった。
本発明は上述した点に鑑みて創案された方法で、その目的とするところは、絶縁劣化の程度を短時間に精度よく測定出来、且つ供試巻線の絶縁劣化の程度が進んでいるものであっても、測定中に絶縁破壊しない程度の電圧を印加すればよい回転電機の巻線の絶縁診断方法を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
　つまり、その目的を達成するための手段は、回転電機の巻線の絶縁劣化の進行を電気的特性の変化に基づいて計測する絶縁診断方法において、巻線に電圧を印加せしめたとき発生する放電電荷量を計測するときに、一定の部分放電電荷量以上の累積発生頻度と巻線に印加せしめた電圧とを同時に計測して記録装置に記録させ、印加電圧の上昇に対して一定の部分放電電荷量以上の累積発生頻度の増加程度により絶縁劣化の程度を測定することにある。また、請求項第（２）項に記載したように、前記累積頻度につきある設定した累積発生頻度に部分放電電荷量が到達したときに、印加電圧を遮断せしめて、
巻線に必要以上の電圧を印加させない
〔作用〕
　その作用は、供試絶縁体が建全な場合、この絶縁体内部には微少な空隙、すなわちボイドしかなく、部分放電の開始電圧は比較的高く、同じ印加電圧ではその発生個数も少ない。しかし、供試絶縁体が熱の影響を受けて膨張・収縮を繰り返すうちに、絶縁層に亀裂が生じたりしてボイドは初期のときより大きくなり、同一の電圧でも部分放電の発生個数は増えてくる。従って、第２図に示されるように、印加電圧の上昇に対して一定の部分放電電荷以上の累積発生頻度の増加程度により、絶縁劣化の程度が判る。
　本発明の診断方法はその現象を利用した方法であり、また請求項第（２）に記載したように、ある一定の放電電荷量以上の累積発生頻度を測定しつつ、累積発生頻度の限界を定めてその累積発生頻度に到達したときに供試体に印加している電圧を遮断しようとする場合もある。これにより、
供試絶縁体に必要以上の電圧を印加することが防止できる。
（イ）したがって、上記（ア）の記載から、引用文献１２には、次の技術的事項が記載されていると認められる。
「部分放電試験において、測定中に絶縁破壊する危険性を避けるため、巻線に必要以上の電圧を印加させないようにし、供試絶縁体に必要以上の電圧を印加することを防止する」点。
ス　引用文献１３
（ア）本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献１３には、次の事項が記載されている。
「【０００５】
【発明が解決しようとする課題】この様な
部分放電試験において、
部分放電消滅電圧については、実際に試料に対して部分放電を発生させて、その正確な値を測定する必要がある。
試料に対して長時間の電圧印加を行ったり、基準電圧を大きく上回る過度の高電圧を印加することが避けられず、試験時間を長時間必要としたり、また、試料にかかる高電圧ストレスが大きいという問題があった。
（イ）したがって、上記（ア）の記載から、引用文献１３には、次の技術的事項が記載されていると認められる。
「部分放電試験において、部分放電消滅電圧については、実際に試料に対して部分放電を発生させて、その正確な値を測定する必要があるため、試料に対して長時間の電圧印加を行ったり、基準電圧を大きく上回る過度の高電圧を印加することが避けられず、試験時間を長時間必要としたり、また、試料にかかる高電圧ストレスが大きいという問題がある」点。
（２）原査定の理由についての判断
ア　本願発明１について
（ア）対比
ａ　本願発明１と引用発明１とを対比する。
（ａ）引用発明１の「高圧コンデンサ」においては、「高電圧発生回路から」の「電荷が充電される」とともに、「充電した電荷」が「高電圧スイッチング回路のスイッチ作用(ゲート制御)によって」「瞬時に放出」されるので、引用発明１の「高電圧発生回路」によって「発生」させられる、「一般的なコイル（巻線）の絶縁試験が可能な程度(通常、数ｋＶ)の高い電圧」が、直流電圧であることは、明らかである。
　そして、引用発明１の「高電圧制御回路」は、「制御装置（ＣＰＵ）によって設定された大きさのインパルス電圧を発生するように高電圧発生回路を制御する」ものであるので、引用発明１の「高電圧発生回路」は、「高電圧制御回路」の指示する「インパルス電圧」の「大きさ」に応じた「高い電圧を発生する」ものといえる。
　したがって、引用発明１の「高電圧発生回路」と、本願発明１の「指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源」とは、「指示電圧に応じた高電圧を出力する直流電源」である点で共通する。
（ｂ）引用発明１の「ゲートパルス制御回路」は、「高電圧スイッチング回路」を「オン／オフ制御」することにより、「高電圧スイッチング回路にゲートパルスを出力して高電圧スイッチング回路を通電し、インパルス電圧を被試験巻線へ印加」するものであるところ、引用発明１において、「測定条件の設定内容の例では」、「１ステップについての繰り返しインパルス印加数を１０パルス」として「設定」されているから、「１ステップについての繰り返しインパルス印加数」と同じ回数の「１０パルス」の「ゲートパルス」が、「ゲートパルス制御回路」から「出力」されることは、明らかであり、また、そのような「１０パルス」の「ゲートパルス」から構成される信号が、所定のパルス幅及び所定のパルス繰り返し周波数を有するとともにパルス供給期間にのみ発生する方形波の信号であることも、明らかである。
　したがって、引用発明１の「ゲートパルス制御回路」と、本願発明１の「所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器」とは、「所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を有する所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器」である点で共通する。
（ｃ）引用発明１の「高電圧スイッチング回路」は、「ゲートパルス制御回路によってオン／オフ制御され」るものであるところ、「サイリスタ、ＭＯＳＦＥＴ（モス電界効果トランジスタ）またはＩＧＢＴ（絶縁ゲートバイポーラトランジスタ）などの汎用素子で構成されて」いるので、半導体スイッチということができ、また、引用発明１において、「ゲートパルス制御回路」の生成する方形波信号の電圧値が、ハイレベルかローレベルか、すなわち、予め設定された電圧しきい値よりも高いか低いかに応じて、「高電圧スイッチング回路」の「オン／オフ」が「制御され」ることは、明らかである。
　そして、引用発明１における、「高電圧スイッチング回路のスイッチ作用(ゲート制御)によって」「インパルス電圧を発生させる高圧コンデンサ」は、「インパルス電圧の印加休止期間中に」、すなわち「高電圧スイッチング回路」が「オフ」のときに、「高電圧発生回路から絶えず電荷が充電されるようにしておき」、「高電圧スイッチング回路」が「オンになったときに」、「充電されている電荷を瞬時に被試験巻線に放出」するものであるから、引用発明１において、「被試験巻線に」印加される「インパルス電圧」のピーク値が、「高電圧発生回路」の電圧値となることも、明らかである。
　したがって、引用発明１の「サイリスタ、ＭＯＳＦＥＴ（モス電界効果トランジスタ）またはＩＧＢＴ（絶縁ゲートバイポーラトランジスタ）などの汎用素子で構成されており、ゲートパルス制御回路によってオン／オフ制御され、オンになったときに高圧コンデンサに充電されている電荷を瞬時に被試験巻線に放出させる高電圧スイッチング回路」は、本願発明１の「前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチ」に相当する。
（ｄ）引用発明１においては、「制御装置（ＣＰＵ）に組み込まれているソフトウエアで」「設定」された「１ステップについての繰り返しインパルス印加数」と同じ回数の「１０パルス」の「ゲートパルス」が、「ゲートパルス制御回路」から「出力」されるところ、そのような「１０パルス」の「ゲートパルス」から構成される信号が、所定のパルス幅及び所定のパルス繰り返し周波数を有する方形波の信号であることは、明らかである（上記（ｂ））ので、引用発明１の「制御装置（ＣＰＵ）」が、「ゲートパルス制御回路」に対し、所定のパルス幅、所定のパルス繰り返し周波数及び所定回数（「１０パルス」）が設定された方形波を「出力」するよう、指示するための信号を出力していることも、明らかであるといえる。
　したがって、引用発明１の「制御装置（ＣＰＵ）」は、そのような方形波についての指示信号を、「ゲートパルス制御回路」に対し出力する手段を備えるものということができ、引用発明１の「制御装置（ＣＰＵ）」における該手段が、本願発明１の「前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部」に相当する。
（ｅ）引用発明１の「高電圧制御回路」は、「制御装置（ＣＰＵ）によって設定された大きさのインパルス電圧を発生するように高電圧発生回路を制御する」ものであるところ、引用発明１においては、「制御装置（ＣＰＵ）に組み込まれているソフトウエアで」、「測定条件の設定内容の例では、インパルス電圧の印加開始電圧を１０００Ｖ」、「電圧増加ステップ量を１０Ｖ」として「設定」され、「印加開始電圧から終了電圧までの電圧を、設定した電圧増加ステップ量の割合で、自動で段階的に昇圧しながら、連続的に繰り返しインパルス印加数回のインパルス電圧印加を行」うから、引用発明１の「高電圧制御回路」は、「高電圧発生回路」に対し、１周期目においては「インパルス電圧の印加開始電圧」の「１０００Ｖ」を指示する信号を出力し、２周期目以降の周期においては、直前の周期で指示した電圧に「電圧増加ステップ量」の「１０Ｖ」を加算した電圧を指示する信号を出力するものといえる。
　したがって、引用発明１の「高電圧制御回路」は、本願発明１の「前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記直流電源に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として出力する電圧指示部」に相当する。
（ｆ）引用発明１においては、「インパルス電圧を被試験巻線に印加した際」、「電磁波検出回路」により「被試験巻線内の絶縁耐力の低下で起きる部分放電により発生する電磁波をアンテナで捕らえ、電磁波検波信号に変換する」とともに、「発生する電磁波信号をサンプリングし、サンプリングデータをメモリし、メモリした電磁波信号の波形データから部分放電の有無を判定し」ているので、引用発明１は、「インパルス電圧」が「印加」された「被試験巻線内の絶縁耐力の低下で起きる部分放電」に基づいた検出信号を観測する回路を備えるものということができ、引用発明１の当該回路が、本願発明１の「前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路」に相当する。
（ｇ）引用発明１においては、「インパルス電圧を予め設定した繰り返しインパルス数分印加したら、部分放電なしであるか否かを判定し、放電ありと判定すると、放電ありの回数と繰り返しインパルス印加数とで放電発生確率を求め」ているので、引用発明１は、周期ごとに「部分放電」に基づいた検出信号の入力回数を「放電ありの回数」としてカウントする手段を備えるものということができ、引用発明１の当該手段が、本願発明１の「周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部」に相当する。
（ｈ）引用発明１の「端子間電圧検出回路」は、「インパルス電圧が被試験巻線に印加された際の被試験巻線の端子間に発生する電圧（共振振動電圧）を所定比で分圧して、被巻試験線の端子間に印加する高電圧を計測する」ものであるから、本願発明１の「前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路」に相当する。
（ｉ）引用発明１においては、「端子間電圧検出回路により被試験巻線の端子間に発生する電圧波形信号をサンプリングし、サンプリングデータをメモリし、メモリした波形データから印加電圧値を求め」ているので、引用発明１は、「被試験巻線に印加された」「インパルス電圧」を表す「印加電圧」の信号を「端子間電圧検出回路」から取得する手段を備えるものということができ、引用発明１の当該手段が、本願発明１の「前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部」に相当する。
（ｊ）引用発明１において、「放電発生開始電圧」「の測定は、制御装置（ＣＰＵ）に組み込まれているソフトウエアで複数のパラメータ（測定条件及び判定条件）を設定することにより、自動的に評価するものであり」、「放電ありの回数と繰り返しインパルス印加数とで放電発生確率を求め、放電発生確率が判定値以上であるか否かを判定し、判定結果がＹｅｓの場合は、印加リトライ回数試験するまでリトライを継続した上で印加電圧が放電開始発生電圧にな」るところ、「放電発生確率が判定値以上であるか否か」の「判定」は、「放電ありの回数」が規定回数「以上であるか否か」の「判定」ということができ、また、「放電開始発生電圧にな」る「印加電圧」が「インパルス電圧」のピーク値であることも、明らかである。
　したがって、更に上記（ｄ）及び（ｅ）も踏まえると、上記引用発明１の「被試験巻線に印加するインパルス電圧の大きさを設定し、被試験巻線１０に印加するインパルス電圧を段階的に上昇あるいは下降させるとともに、インパルス電圧を連続して被試験巻線１０に印加した際の放電発生の確率を計算により求め、求めた放電発生確率に基づいて放電発生の有無を自動判定して、被試験巻線の良否を自動的に評価する制御装置（ＣＰＵ）」と、本願発明１の「前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記初期電圧および前記２周期目以降の周期における前記指示電圧を設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部」とは、「前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記初期電圧および前記２周期目以降の周期における前記指示電圧を設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数以上になった周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部」である点で共通する。
（ｋ）引用発明１において、「放電発生終了電圧の試験も、放電発生開始電圧の試験と同様に実施することができ、電圧増加ステップ量を電圧減少ステップ量と変更すれば、他は同じである」ところ、「放電発生開始電圧測定の手順」では、「印加開始電圧から終了電圧までの電圧を、設定した電圧増加ステップ量の割合で、自動で段階的に昇圧しながら、連続的に繰り返しインパルス印加数回のインパルス電圧印加を行」うものとされているので、「放電発生終了電圧の試験」にあっては、「電圧減少ステップ量」「の割合で、自動で段階的に」減圧「しながら、連続的に繰り返しインパルス印加数回のインパルス電圧印加を行」うものとなることは、明らかである。
　したがって、引用発明１において、「放電発生終了電圧の測定は、制御装置（ＣＰＵ）に組み込まれているソフトウエアで複数のパラメータ（測定条件及び判定条件）を設定することにより、自動的に評価するものであり」、「放電発生終了電圧の試験も、放電発生開始電圧の試験と同様に実施することができ、電圧増加ステップ量を電圧減少ステップ量と変更すれば、他は同じである」ことと、本願発明１において、「前記制御部は、前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に、前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とすること」とは、「前記制御部は、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、部分放電消滅電圧を求める」点で共通する。
（ｌ）引用発明１の「巻線の検査装置」は、「連続的に繰り返し」「インパルス電圧印加を行」って「放電発生開始電圧、放電発生終了電圧の測定」を行うものであるから、次の相違点は除いて、本願発明１の「繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム」に相当するといえる。
ｂ　したがって、上記ａ（ａ）ないし（ｌ）から、本願発明１と引用発明１とは、
「指示電圧に応じた高電圧を出力する直流電源と、
　所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を有する所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、
　前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、
　前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部と、
　前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記直流電源に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として出力する電圧指示部と、
　前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路と、
　周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部と、
　前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路と、
　前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部と、
　前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記初期電圧および前記２周期目以降の周期における前記指示電圧を設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数以上になった周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部と、
　を具備する部分放電計測システムであって、
　前記制御部は、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、部分放電消滅電圧を求める、
　繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。」
である点で一致し、次の点で相違する。
（相違点１）
　直流電源の出力する高電圧が、本願発明１では、「指示電圧の設定倍の電圧と」されているのに対し、
　引用発明１では、そのような特定がない点。
（相違点２）
　信号発生器において、方形波信号が、本願発明１では、「その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と」「所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号」「とを重ね合わせて」「生成」されるのに対し、
　引用発明１では、そのような特定がない点。
（相違点３）
　制御部が、本願発明１では、「前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする」のに対し、
　引用発明１では、「放電発生確率が判定値以上」になり「印加リトライ回数試験するまでリトライを継続した上で印加電圧が放電開始発生電圧にな」る点。
（相違点４）
　制御部が、本願発明１では、「前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し」、「前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に、前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とする」のに対し、
　引用発明１では、「放電発生開始電圧」が取得されて「結果及び印加電圧が表示されて終了し」た後に、「インパルス電圧」の「昇圧」は行わずに「放電発生終了電圧の試験」を「実施する」点については、特定がなく、また、「放電発生終了電圧の試験」に関し、「放電発生確率」又は「放電ありの回数」がどのようになったときの「印加電圧」をもって「放電発生終了電圧」とするかについても、特定がない点。
（イ）判断
　事案に鑑み、最初に上記相違点４について検討する。
　例えば引用文献６（上記（１）カ（イ））に示されているように、一般に、部分放電開始電圧と部分放電消滅電圧とを比較した場合に、部分放電開始電圧の方が高いことは、周知の事項と認められ、また、例えば引用文献６（上記（１）カ（ウ））、引用文献７（上記（１）キ（ウ））に示されているように、部分放電開始電圧の測定に続いて部分放電消滅電圧の測定を行うことも、周知の事項と認められる。
　しかしながら、部分放電開始電圧の測定に続いて部分放電消滅電圧の測定を行うにあたり、部分放電消滅電圧測定における印加電圧の初期値を、部分放電開始電圧を取得した際の印加電圧として定めること（すなわち、部分放電開始電圧が取得された以降、印加電圧は加算せずに部分放電消滅電圧の測定に移行すること）については、引用文献６、７のほか引用文献２ないし５、８、９にも記載されておらず周知技術であったともいえないから、引用発明１において、たとえ前述の周知事項を考慮したとしても、「放電発生開始電圧」が取得されて「結果及び印加電圧が表示され」た後、「インパルス電圧」は「昇圧」せずに「放電発生開始電圧」が取得された際の「インパルス電圧」を初期値に定めた上で、引き続き「放電発生終了電圧の試験」を「実施する」ようにすることは、当業者が容易になし得たことであるとはいえない。
　したがって、上記相違点１ないし３については検討するまでもなく、本願発明１は、引用発明１及び引用文献２ないし９に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
イ　本願発明２ないし５について
　本願発明２ないし５は、いずれも、本願発明１を更に限定したものであるから、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明１及び引用文献２ないし９に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
ウ　本願発明６について
　本願発明６は、本願発明１の「指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源」との構成を、本願発明６の「指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力し、昇圧ランプ電圧出力および降圧ランプ電圧出力が可能な直流電源」との構成に置き換えた上で、それに合わせて、「前記直流電源に出力」する「電圧指示信号」についても、本願発明１では、「前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧」を「設定」し、「２周期目以降の周期において」「直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として」「設定」し、「前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定」していたものを、本願発明６では、「前記昇圧ランプ電圧出力のための開始電圧と上限電圧と昇圧時間」並びに「前記降圧ランプ電圧出力のための終了電圧および降圧時間」を設定するように変更したものであり、これらの変更点を除けば、引用発明１に対し本願発明１の上記相違点４と同様の相違点を有するものといえる。
　してみると、本願発明６は、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明１及び引用文献２ないし９に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
エ　本願発明７について
　本願発明７は、「繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システムの計測装置」の発明ではあるが、本願発明１の上記相違点４に係る構成と同様の構成を、その発明特定事項に含むものであるから、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明１及び引用文献２ないし９に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
オ　本願発明８について
　本願発明８は、「部分放電計測システムによる計測方法」の発明ではあるが、本願発明１の上記相違点４に係る構成と同様の構成を、その発明特定事項に含むものであるから、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明１及び引用文献２ないし９に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
カ　小括
　以上のとおりであるから、本願の請求項１ないし８に係る発明は、引用発明１及び引用文献２ないし９に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものでなく、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないとはいえない。
　したがって、原査定の拒絶理由によっては、本願を拒絶することはできない。
（３）当審拒絶理由１についての判断
ア　本願発明１について
（ア）対比
ａ　本願発明１と引用発明７とを対比する。
（ａ）引用発明７の「インパルス電源」は、「試験前に、電圧インパルスの最小値、最大値、電圧ステップ値、繰返し周波数を決めて」「設定」されて、「最小電圧から繰返しインパルス電圧を発生させ、繰返し電圧インパルスの値は低い電圧毎の段階状に上昇させ」、「電圧インパルス１０発が供給される供給期間の後に、電圧インパルスの供給が休止される休止期間を設け、供給期間と休止期間とを周期的に繰り返す」ものであるところ、引用発明７において、「インパルス電源」の「発生」する「繰返しインパルス電圧」が高電圧であること（なお、引用文献７の図１（上記（１）キ（ア）ｃ）には、「Voltage」が「1000」ないし「2000」の範囲にある「Voltage impulse」が示されている。）、該「繰返しインパルス電圧」が測定対象物に印加されること（なお、引用文献７の図２（上記（１）キ（ア）ｅ）には、「Supply」及び「Test Object」が示されている。）、「繰返し電圧インパルスの値」を「低い電圧毎の段階状に上昇させ」るための「電圧ステップ値」が、「電圧インパルスの最小値」よりも低い電圧値とされていること、「繰返し電圧インパルスの値」が、「電圧インパルス１０発」ごと、すなわち「供給期間と休止期間と」からなる「周期」ごとに、「段階状に上昇させ」られること、及び、「供給期間」における「電圧インパルス」の個数である「１０発」が、「試験前に」あらかじめ設定された個数であることは、いずれも明らかである。
　したがって、引用発明７の「インパルス電源」と、本願発明１における、「指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源と、所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部と、前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記直流電源に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として出力する電圧指示部と」からなる構成とは、「所定のパルス繰り返し周波数と所定個数と初期電圧とが設定され、供給期間および前記供給期間の後の休止期間を含む周期ごとに、１周期目には初期電圧の電圧が指示され、２周期目以降の周期においては直前の周期に指示された電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧が指示されて、前記所定の繰り返し周波数を有する前記所定個数の高電圧のインパルス電圧を前記供給期間にのみ発生させて測定対象物に印加する手段」である点で共通する。
（ｂ）引用発明７の「ＵＨＦ電磁波アンテナを有する部分放電センサ」が、「繰返し電圧インパルス」が印加された測定対象物からの「部分放電」に基づいた信号を観測するための回路を有していること（なお、引用文献７の図２（上記（１）キ（ア）ｅ）には、「Test Object」、「Antenna」及び「Acquisition System」が示されている。）は、明らかであるので、引用発明７の「部分放電センサ」における当該回路が、本願発明１の「前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路」に相当する。
（ｃ）引用発明７においては、「同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以上の部分放電パルスが発生した」ことを判定しているので、測定対象物からの「部分放電」に基づいた信号の入力回数を、「供給期間と休止期間と」からなる「周期」ごとにカウントしていることは、明らかである。また、引用発明７において、「部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶ」として求められる、「同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以上の部分放電パルスが発生した時の最小電圧」が、「部分放電パルス」の回数が「５発以上」となった最初の「周期」における電圧値のことであることも、明らかである（なお、引用文献７の図１（上記（１）キ（ア）ｃ）も参照。）。
　したがって、引用発明７において、「繰返しインパルス電圧における部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶは、同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以上の部分放電パルスが発生した時の最小電圧として求められ」ることと、本願発明１において、「周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部と、前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路と、前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部と、前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記初期電圧および前記２周期目以降の周期における前記指示電圧を設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部と、を具備する」こととは、「周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントし、前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において部分放電開始電圧を取得」する点で共通する。
（ｄ）引用発明７において、「部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶ」が「求められ、最大電圧に達した後、繰返し電圧インパルスは電圧ステップ毎に下降させ」ることと、本願発明１において、「前記制御部は、前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力」することとは、「前記部分放電開始電圧が取得された後、各周期において、直前の周期に指示した電圧に前記所定電圧を減算した電圧を指示」する点で共通する。
（ｅ）引用発明７において、「部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶ」として求められる、「同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以下の部分放電パルスが発生した時の最大電圧」が、「部分放電パルス」の回数が「５発以下」（すなわち、６発未満）となった最初の「周期」における電圧値のことであることは、明らかである（なお、引用例１の図１も参照。）。
　したがって、引用発明７において、「部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶは、同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以下の部分放電パルスが発生した時の最大電圧として求められ」ることと、本願発明１において、「前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に、前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とすること」とは、「前記部分放電開始電圧が取得された後、前記部分放電回数が規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数未満になった最初の周期において部分放電消滅電圧を取得する」点で共通する。
（ｆ）引用発明７の「繰返しインパルス電圧における部分放電計測のためのシステム」は、次の相違点は除いて、本願発明１の「繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム」に相当するといえる。
ｂ　したがって、上記ａ（ａ）ないし（ｆ）から、本願発明１と引用発明７とは、
「所定のパルス繰り返し周波数と所定個数と初期電圧とが設定され、供給期間および前記供給期間の後の休止期間を含む周期ごとに、１周期目には初期電圧の電圧が指示され、２周期目以降の周期においては直前の周期に指示された電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧が指示されて、前記所定の繰り返し周波数を有する前記所定個数の高電圧のインパルス電圧を前記供給期間にのみ発生させて測定対象物に印加する手段と、
　前記インパルス電圧が印加された前記測定対象物から発生する部分放電に基づいた検出信号を観測する検出信号観測回路と、
　を具備する部分放電計測システムであって、
　周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントし、前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において部分放電開始電圧を取得し、
　前記部分放電開始電圧が取得された後、各周期において、直前の周期に指示した電圧に前記所定電圧を減算した電圧を指示し、
　前記部分放電開始電圧が取得された後、前記部分放電回数が規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数未満になった最初の周期において部分放電消滅電圧を取得する、
　繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システム。」
である点で一致し、次の点で相違する。
（相違点１）
　インパルス電圧を印加する手段が、本願発明１では、「指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源と、所定のパルス幅および所定のパルス繰り返し周波数を表すパルス信号を生成し、その１周期がパルス供給期間および前記パルス供給期間の後のパルス休止期間を含む期間設定信号と前記パルス信号とを重ね合わせて、所定個数の前記パルス信号が前記パルス供給期間にのみ発生する方形波信号を生成する信号発生器と、前記方形波信号の電圧値が予め設定された電圧しきい値よりも低いときに前記直流電源からの前記高電圧により容量素子を充電し、前記方形波信号の電圧値が前記電圧しきい値以上であるときに前記容量素子から前記高電圧の値をピーク値とするインパルス電圧を測定対象物に印加する半導体スイッチと、前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とが設定された方形波指示信号を前記信号発生器に出力する信号指示部と、前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧が設定された電圧指示信号を前記直流電源に出力し、２周期目以降の周期において、前記電圧指示信号に対して、直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として出力する電圧指示部と」からなるのに対し、
　引用発明７では、「インパルス電源」について、そのような特定がない点。
（相違点２）
　本願発明１では、「周期ごとに前記検出信号の入力回数を部分放電回数としてカウントする部分放電回数算出部と、前記測定対象物に印加される前記インパルス電圧を表す印加電圧信号を観測する印加電圧信号観測回路と、前記印加電圧信号観測回路から前記印加電圧信号を取得する電圧値取得部と、前記方形波指示信号の前記所定のパルス幅と前記所定のパルス繰り返し周波数と前記所定個数とを設定して前記方形波指示信号を前記信号指示部に出力し、前記初期電圧および前記２周期目以降の周期における前記指示電圧を設定して前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力し、前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部と、を具備する」のに対し、
　引用発明７では、「繰返しインパルス電圧における部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶは、同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以上の部分放電パルスが発生した時の最小電圧として求められ」るものの、そのための具体的な手段については特定がない点。
（相違点３）
　本願発明１では、「前記制御部は、前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力」するのに対し、
　引用発明７では、「制御部」、「電圧値取得部」及び「電圧指示部」の構成について特定がなく、また、「部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶ」が「求められ」てからも「最大電圧に達」するまで「繰返し電圧インパルスの値は低い電圧毎の段階状に上昇させ」られ、「最大電圧に達した後、繰返し電圧インパルスは電圧ステップ毎に下降させ」られている点。
（相違点４）
　本願発明１では、「前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に、前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とする」のに対し、
　引用発明７では、「制御部」の構成について特定がなく、また、「部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶは、同じ極性の電圧インパルス１０発に対して、５発以下の部分放電パルスが発生した時の最大電圧として求められ」ている点。
（イ）判断
　事案に鑑み、最初に上記相違点３について検討する。
　例えば引用文献６（上記（１）カ（イ））、引用文献１１（上記（１）サ（イ））に示されているように、一般に、部分放電開始電圧と部分放電消滅電圧とを比較した場合に、部分放電開始電圧の方が高いことは、周知の事項と認められる。
　また、例えば引用文献１２（上記（１）シ（イ））、引用文献１３（上記（１）ス（イ））に示されているように、部分放電試験において、供試体に必要以上の電圧を印加しないようにすることも、周知の事項と認められる。
　そして、例えば引用文献１（上記（１）ア（ウ））に示されているように、部分放電開始電圧が取得された時点で部分放電開始電圧の測定手順を終了させること、更には、例えば引用文献６（上記（１）カ（ウ））に示されているように、部分放電開始電圧が取得された時点で部分放電開始電圧の測定手順を終了し、続いて、印加電圧を初期値にセットした上で部分放電消滅電圧の測定手順に移行することは、いずれも周知の事項と認められる。
　しかしながら、部分放電開始電圧の測定に続いて部分放電消滅電圧の測定を行うにあたり、部分放電消滅電圧測定における印加電圧の初期値を、部分放電開始電圧を取得した際の印加電圧として定めること（すなわち、部分放電開始電圧が取得された以降、印加電圧は加算せずに部分放電消滅電圧の測定に移行すること）については、引用文献１、６、１１ないし１３のほか引用文献９、１０にも記載されておらず周知技術であったともいえないから、引用発明７において、たとえ前述の周知事項を考慮したとしても、「部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶ」が「求められ」た後、「繰返し電圧インパルスの値」は「上昇させ」ずに「部分放電開始電圧ＲＰＤＩＶ」が「求められ」た際の「繰返し電圧インパルスの値」を初期値に定めた上で、引き続き「部分放電消滅電圧ＲＰＤＥＶ」を「求め」るようにすることは、当業者が容易になし得たことであるとはいえない。
　したがって、上記相違点１、２及び４については検討するまでもなく、本願発明１は、引用発明７並びに引用文献１、６及び９ないし１３に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
イ　本願発明２ないし５について
　本願発明２ないし５は、いずれも、本願発明１を更に限定したものであるから、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明７並びに引用文献１、６及び９ないし１３に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
ウ　本願発明６について
　本願発明６は、本願発明１の「指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力する直流電源」との構成を、本願発明６の「指示電圧の設定倍の電圧として高電圧を出力し、昇圧ランプ電圧出力および降圧ランプ電圧出力が可能な直流電源」との構成に置き換えた上で、それに合わせて、「前記直流電源に出力」する「電圧指示信号」についても、本願発明１では、「前記方形波信号の１周期目に前記指示電圧として初期電圧」を「設定」し、「２周期目以降の周期において」「直前の周期の前記指示電圧に前記初期電圧よりも低い所定電圧を加算した電圧を前記指示電圧として」「設定」し、「前記電圧値取得部により前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期からの各周期においては、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定」していたものを、本願発明６では、「前記昇圧ランプ電圧出力のための開始電圧と上限電圧と昇圧時間」並びに「前記降圧ランプ電圧出力のための終了電圧および降圧時間」「を設定」するように変更したものであり、これらの変更点を除けば、引用発明７に対し本願発明１の上記相違点３と同様の相違点を有するものといえる。
　してみると、本願発明６は、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明７並びに引用文献１、６及び９ないし１３に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
エ　本願発明７について
　本願発明７は、「繰り返しインパルス電圧による部分放電計測システムの計測装置」の発明ではあるが、本願発明１の上記相違点３に係る構成と同様の構成を、その発明特定事項に含むものであるから、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明７並びに引用文献１、６及び９ないし１３に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
オ　本願発明８について
　本願発明８は、「部分放電計測システムによる計測方法」の発明ではあるが、本願発明１の上記相違点３に係る構成と同様の構成を、その発明特定事項に含むものであるから、本願発明１について述べたのと同様の理由により、引用発明７並びに引用文献１、６及び９ないし１３に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
カ　小括
　以上のとおりであるから、本願の請求項１ないし８に係る発明は、引用発明７並びに引用文献１、６及び９ないし１３に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものでなく、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないとはいえない。
　したがって、当審拒絶理由１によっては、本願を拒絶することはできない。
（４）当審拒絶理由２についての判断
ア　不備１について
　本件補正により、請求項８において、補正前の「前記部分放電開始電圧が取得された後の各周期で、前記制御部が、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力する工程」との記載を、「前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で初めの周期から後の各周期で、前記制御部が、前記指示電圧の加算を行わずに、直前の周期の前記指示電圧に前記所定電圧を減算した電圧が前記指示電圧として設定された前記電圧指示信号を前記電圧指示部に出力する工程」とする補正がなされたので、不備１は解消した。
イ　不備２について
　本件補正により、請求項１において、補正前の「前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部」及び「前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とする」との記載を、それぞれ、「前記部分放電回数が規定回数以上になったか否かを判定し、前記部分放電回数が規定回数以上になった最初の周期において前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電開始電圧とする制御部」及び「前記制御部は、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降に、前記部分放電回数が前記規定回数未満になったか否かを判定し、前記部分放電開始電圧が取得された周期以降で前記部分放電回数が前記規定回数未満になった最初の周期において、前記印加電圧信号観測回路からの前記印加電圧信号が表す電圧のピーク値を部分放電消滅電圧とする」とする補正がなされ、また、請求項６、７及び８においても同様の補正がなされたので、不備２は解消した。
ウ　小括
　以上のとおりであるから、本件補正による補正後の請求項１ないし８に係る発明は、いずれも明確であり、本願の特許請求の範囲の記載は、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たすものである。
　したがって、当審拒絶理由２によっては、本願を拒絶することはできない。
４　むすび
　以上のとおり、本願については、原査定の拒絶理由及び当審において通知した拒絶理由を検討してもその理由によって拒絶すべきものとすることはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。 
　よって、結論のとおり審決する。