(57)【要約】【課題】可搬性、収納性を十分に確保でき、しかも、反射による測定への影響を抑えられるとともに、高い位置の測定の際にも踏み台を不要にできる電磁界測定装置を提供する。【解決手段】電界プローブ１２が取付けられる支柱２を、高さ方向に伸縮可能なテレスコピック式のものとする。より具体的には、支柱２を、高さ方向に伸縮可能な多重筒体３と、多重筒体３の内側に設けられ多重筒体３に対して高さ方向に変位可能な中心部材７とにより構成する。必要に応じて支柱２を伸縮させることができるから、上記課題を解決できる。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
高さ方向に沿って複数箇所の電界および／または磁界を測定する電磁界測定装置において、
高さ方向に伸縮可能な多重筒体と該多重筒体の内側に設けられ該多重筒体に対して高さ方向に変位可能な中心部材とからなるテレスコピック式の支柱と、
該支柱の中心部材に取付けられ電界および／または磁界を測定する電磁界センサとを備えてなる電磁界測定装置。
【請求項２】
前記電磁界センサは、前記中心部材の上端部に取付ける構成としてなる請求項１に記載の電磁界測定装置。
【請求項３】
前記支柱には、前記電磁界センサを予め設定された高さ位置で固定する位置決め機構を設ける構成としてなる請求項１または２に記載の電磁界測定装置。
【請求項４】
前記多重筒体は、径方向外側から順に第一，第二，第三の筒体により構成されており、
前記位置決め機構は、前記第三の筒体に対し前記中心部材の高さ位置を固定する第一の固定部材と、前記第二の筒体に対し前記第三の筒体の高さ位置を固定する第二の固定部材と、前記第一の筒体に対し前記第二の筒体の高さ位置を固定する第三の固定部材とからなり、
前記第一の固定部材は、前記中心部材の外面から水平方向に突出する状態で該中心部材に取付けられ、該中心部材の外面から水平方向に突出する部分の下面を前記第三の筒体の上面に当接させる構成としてなり、
前記第二の固定部材は、前記第三の筒体の外面から水平方向に突出する状態で該第三の筒体に取付けられ、該第三の筒体の外面から水平方向に突出する部分の下面を前記第二の筒体の上面に当接させる構成としてなり、
前記第三の固定部材は、前記第二の筒体の外面から水平方向に突出する状態で該第二の筒体に取付けられ、該第二の筒体の外面から水平方向に突出する部分の下面を前記第一の筒体の上面に当接させる構成としてなる請求項３に記載の電磁界測定装置。
【請求項５】
前記多重筒体を構成する第一，第二，第三の筒体と、前記中心部材と、前記位置決め機構を構成する第一，二，三の固定部材とは、比誘電率が１に近い樹脂材料により造られる構成としてなる請求項４に記載の電磁界測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば放射イミュニティ試験を行う際等に試験室（電波暗室）内の電界強度を測定するのに好適に用いられる電磁界測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、各種の電子機器は、他の電子機器から発せられる電磁波（妨害電磁波）や人体等からの静電気放電等を受けても誤作動しないことが求められている。また、このような妨害電磁波や静電気放電等に対するイミュニティ（妨害に対する耐性、妨害の受けにくさの程度）は、例えば国際規格等で規定された各種のイミュニティ試験により評価することが行われている。そして、例えば妨害電磁波に対する耐性に関しては、例えばＩＥＣ（国際電気標準会議）規格に規定された無線周波数放射イミュニティ試験（IEC61000-4-3）により評価することが行われている。
【０００３】
ここで、放射イミュニティ試験は、例えば試験室（電波暗室）内で供試体に電磁波を放射してその供試体が正常に動作するかを観察することにより行われる。そして、この試験では、供試体の周囲の電界が均一であることを予め測定することが要求されている。より具体的には、例えばIEC61000-4-3の規格であれば、供試体の前部（電磁波を放射するアンテナに最も近い部位）における垂直平面の１６箇所位置（電波暗室の床面から８０ｃｍ、１３０ｃｍ、１８０ｃｍ、２３０ｃｍの４段階の高さでそれぞれ水平方向に４箇所位置の合計１６箇所位置）の電界強度を測定することが要求されている。
【０００４】
そして、従来技術による電磁界測定装置としては、例えば測定位置に対応するマークを１６箇所に付した位置合わせボードを用いて電界センサの位置合わせを行い、当該位置で電界強度を測定するように構成したものが知られている（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１１−１７４１０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上述した従来技術では、１５０ｃｍ四方の大きな位置合わせボードを用いる必要があるため、この位置合わせボードの運搬や収納場所の確保が面倒になり、可搬性、収納性の面からは好ましくない。しかも、１ＧＨｚ以上の電界測定の際に、位置合わせボードおよびポールにより反射の影響を受けるため、電界強度の測定精度を確保しにくく、IEC61000-4-3に定められた電界均一性を満足しなくなるといった問題が生じる。
【０００７】
また、高い位置（例えば規格で規定された高さ２３０ｃｍの位置）の測定を行う際には、この高さに電界センサを設置するための踏み台が必要になり、この踏み台の運搬や踏み台の昇り降り等の面倒な作業が必要になる。
【０００８】
一方、位置合わせボードを用いずに、例えば高さ方向に延びる棒状の支柱に目盛りを付し、支柱に対する電界センサの取付け位置を目盛りに合わせて調節することにより、所定の高さ位置で電界強度の測定を行えるようにすることが考えられる。しかしながら、この場合には、２３０ｃｍ以上の高さの支柱が必要になり、可搬性、収納性を十分に確保できない。また、電界測定の際に、支柱により反射の影響を受ける可能性もあり、測定精度を十分に確保できない可能性もある。また、高い位置の測定を行う際には、上述した従来技術と同様に踏み台が必要になり、作業性を確保しにくいといった問題もある。
【０００９】
本発明は上述した従来技術の問題に鑑みなされたもので、本発明の目的は、可搬性、収納性を十分に確保でき、しかも、反射による測定への影響を抑えられるとともに、高い位置の測定の際にも踏み台を不要にできる電磁界測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上述した課題を解決するため、本発明は、高さ方向に沿って複数箇所の電界および／または磁界を測定する電磁界測定装置に適用される。
【００１１】
そして、請求項１の発明が採用する構成の特徴は、高さ方向に伸縮可能な多重筒体と該多重筒体の内側に設けられ該多重筒体に対して高さ方向に変位可能な中心部材とからなるテレスコピック式の支柱と、該支柱の中心部材に取付けられ電界および／または磁界を測定する電磁界センサとを備えてなる構成としたことにある。
【００１２】
また、請求項２の発明は、前記電磁界センサは、前記中心部材の上端部に取付ける構成としたことにある。
【００１３】
また、請求項３の発明は、前記支柱には、前記電磁界センサを予め設定された高さ位置で固定する位置決め機構を設ける構成としたことにある。
【００１４】
また、請求項４の発明は、前記多重筒体は、径方向外側から順に第一，第二，第三の筒体により構成されており、前記位置決め機構は、前記第三の筒体に対し前記中心部材の高さ位置を固定する第一の固定部材と、前記第二の筒体に対し前記第三の筒体の高さ位置を固定する第二の固定部材と、前記第一の筒体に対し前記第二の筒体の高さ位置を固定する第三の固定部材とからなり、前記第一の固定部材は、前記中心部材の外面から水平方向に突出する状態で該中心部材に取付けられ、該中心部材の外面から水平方向に突出する部分の下面を前記第三の筒体の上面に当接させる構成としてなり、前記第二の固定部材は、前記第三の筒体の外面から水平方向に突出する状態で該第三の筒体に取付けられ、該第三の筒体の外面から水平方向に突出する部分の下面を前記第二の筒体の上面に当接させる構成としてなり、前記第三の固定部材は、前記第二の筒体の外面から水平方向に突出する状態で該第二の筒体に取付けられ、該第二の筒体の外面から水平方向に突出する部分の下面を前記第一の筒体の上面に当接させる構成としたことにある。
【００１５】
さらに、請求項５の発明は、前記多重筒体を構成する第一，第二，第三の筒体と、前記中心部材と、前記位置決め機構を構成する第一，二，三の固定部材とは、比誘電率が１に近い樹脂材料により造られる構成としたことにある。
【発明の効果】
【００１６】
請求項１の発明によれば、支柱が高さ方向に伸縮するから、支柱を縮めた状態で装置の運搬や収納を行うことができ、可搬性、収納性を十分に確保できる。また、測定高さに応じて支柱を伸縮させることができるから、支柱による反射の影響を抑えることもでき、測定精度の向上を図れる。また、測定者が床面に立った状態で支柱を伸縮させることにより、支柱に取付けられた電磁界センサを高い位置に配置することもできる。このため、踏み台の運搬、昇り降り等の作業を省略でき、作業性の向上を図れる。
【００１７】
また、請求項２の発明によれば、電磁界センサが中心部材の上端部に取付けられているから、測定時に電磁界センサの下側にのみ支柱が存在するようにでき、支柱による反射の影響を最小限に抑えることができる。
【００１８】
また、請求項３の発明によれば、位置決め機構により電磁界センサを予め設定された高さ位置で固定することができるから、例えば試験の規格で規定された高さ位置に電磁界センサを正確に設置することができ、試験結果の正確性、信頼性を確保できる。
【００１９】
また、請求項４の発明によれば、多重筒体を構成する３個の筒体のうち最も内側に位置する第三の筒体に対して中心部材を、第一の固定部材により所定の高さ位置（突出量）で確実に固定することができる。また、多重筒体を構成する各筒体のうち第二の筒体に対して第三の筒体を、第二の固定部材により所定の高さ位置（突出量）で確実に固定することができる。さらに、多重筒体を構成する各筒体のうち第一の筒体に対して第二の筒体を、第三の固定部材により所定の高さ位置（突出量）で確実に固定することができる。このため、支柱を伸縮させる作業と第一，第二，第三の各固定部材を取付ける作業との２つの簡単な作業で、例えば試験の規格で規定された高さ位置に電磁界センサを正確に設置することができ、作業の容易化と試験結果の信頼性の確保とを高次元で両立させることができる。
【００２０】
さらに、請求項５の発明によれば、第一，第二，第三の筒体と、中心部材と、第一，二，三の固定部材とを比誘電率が１に近い樹脂材料により造るから、これらの部材による反射の影響をなくすことができ、測定精度の向上を図れる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の第１の実施の形態による電磁界測定装置を支柱を最も縮めた状態で示す斜視図である。
【図２】図１の状態から中心部材のみを上方に突出させ、第一の固定部材を中心部材に取付ける前の状態を示す斜視図である。
【図３】図２の状態から第一の固定部材を中心部材に取付けた状態を示す斜視図である。
【図４】電磁界測定装置を、支柱を最も縮めた状態から最も伸ばした状態までの４段階にわたる伸縮状態をそれぞれの状態毎に示す正面図である。
【図５】電磁界測定装置を支柱を最も伸ばした状態で示す斜視図である。
【図６】図５中の矢示VI−VI方向からみた断面図である。
【図７】中心部材を、図６中の矢示VII−VII方向からみた要部正面図である。
【図８】電磁界測定装置により測定を行っている状態を模式的に示す斜視図である。
【図９】本発明の第２の実施の形態による電磁界測定装置を示す図２と同様な斜視図である。
【図１０】電磁界測定装置を示す図３と同様な斜視図である。
【図１１】中心部材を示す図７と同様な要部正面図である。
【図１２】中心部材に第一の固定部材を取り付けた状態を示す要部正面図である。
【図１３】電磁界測定装置を支柱を最も伸ばした状態で示す斜視図である。
【図１４】図１３中の矢示XIV−XIV方向からみた断面図である。
【図１５】本発明の第１の変形例による電磁界測定装置を示す図２と同様な斜視図である。
【図１６】中心部材を示す図７と同様な要部正面図である。
【図１７】本発明の第２の変形例による電磁界測定装置を示す図２と同様な斜視図である。
【図１８】中心部材を示す図７と同様な要部正面図である。
【図１９】本発明の第３の変形例による中心部材を示す図７と同様な要部正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態による電磁界測定装置を電界測定装置に適用した場合を例に挙げて、添付図面を参照しつつ詳細に説明する。
【００２３】
まず、図１ないし図８は本発明の第１の実施の形態を示している。図中、１は電磁界測定装置としての電界測定装置で、該電界測定装置１は、高さ方向に沿って複数箇所、例えば図８に模式的に示すように複数の測定ポイントＰ1〜Ｐ16の電界を測定するものである。ここで、電界測定装置１は、後述の支柱２、電界プローブ１２等によって構成されている。
【００２４】
２は高さ方向に伸縮可能なテレスコピック式の支柱で、該支柱２は、後述の多重筒体３、中心部材７、位置決め機構８等によって構成されている。ここで、支柱２は、図４に示すように、最も短くした状態から最も長くした状態までの４段階の伸縮を可能としており、後述の電界プローブ１２を、Ｈ1（例えば８０ｃｍ）、Ｈ2（例えば１３０ｃｍ）、Ｈ3（例えば１８０ｃｍ）、Ｈ4（例えば２３０ｃｍ）の高さ位置で測定を行えるようにするものである。
【００２５】
３は高さ方向に伸縮可能な多重筒体で、該多重筒体３は、中心軸Ｏ（図１参照）が高さ方向に沿った状態で互いに重なり合った複数（本実施の形態の場合は３個）の第一，第二，第三の各筒体４，５，６によって構成されている。ここで、第一，第二，第三の各筒体４，５，６は、いずれも、非導電性材料、例えば軽量で比誘電率が１に近い合成樹脂等の樹脂材料により円筒状に形成されている。より具体的には、例えば比誘電率が１．０１〜１．１程度の発泡スチロール（発泡ポリスチレン）、比誘電率が２．０程度のフッ素樹脂等、比誘電率が１〜２．５（より好ましくは１〜２．０）の樹脂材料により形成されている。また、第一，第二，第三の各筒体４，５，６の重量は、支柱２全体としての重量（第一，第二，第三の各筒体４，５，６と後述の中心部材７と位置決め機構８とを合わせた合計重量）が、例えば１０〜２０ｋｇ程度（より好ましくは１３〜１７ｋｇ程度）になるように設定する。すなわち、支柱２を伸ばした際に転倒を防止でき、かつ、支柱２を搬送する際に過度の負担にならない重量、言い換えれば、支柱２の安定性と可搬性とを両立できる重量となるように設定する。
【００２６】
また、第一，第二，第三の各筒体４，５，６のうち最も外径側に位置する第一の筒体４は、円筒状に形成された筒部４Ａと、該筒部４Ａの上端部から径方向内側に向けて突出した内向き鍔部４Ｂと、筒部４Ａの内周面から径方向内側に突出する状態で設けられた底板部４Ｃとを備えている。
【００２７】
ここで、底板部４Ｃは、筒部４Ａの内周面から内径側に、後述する中心部材７の外向き鍔部７Ｃの外周縁よりも内径側となる位置まで突出するように設けられている。また、第二，第三の各筒体５，６および後述の中心部材７は、第一の筒体４に挿入（収容）され、底板部４Ｃによって第一の筒体４の内側に固定される。そして、底板部４Ｃは、第二，第三の各筒体５，６および中心部材７が第一の筒体４から下方に抜け落ちるのを阻止する。
【００２８】
一方、内向き鍔部４Ｂは、第一の筒体４に対して後述の第二の筒体５を上方に伸ばした際に、この第二の筒体５の外向き鍔部５Ｃと当接し、この第二の筒体５が第一の筒体４から上方に抜け出るのを阻止する。
【００２９】
また、第一，第二，第三の各筒体４，５，６のうち、第一の筒体４の内径側でかつ第三の筒体６の外径側に位置する第二の筒体５は、円筒状に形成された筒部５Ａと、該筒部５Ａの上端部から径方向内側に向けて突出した内向き鍔部５Ｂと、筒部５Ａの下端部から径方向外方に向けて突出した外向き鍔部５Ｃとを備えている。
【００３０】
また、筒部５Ａには、後述の下段棒状体１１を挿通するための１対の挿通孔５Ｄを、筒部５Ａの中心軸Ｏを挟んで互いに正対する状態で設けている。また、各挿通孔５Ｄは、筒部５Ａのうち、外向き鍔部５Ｃの上面から第一の筒体４の内向き鍔部４Ｂの厚さ分上側となる位置に設けられており、その孔形状は、後述の下段棒状体１１の断面形状と同様の四角形としている。
【００３１】
また、内向き鍔部５Ｂは、第二の筒体５に対して後述の第三の筒体６を上方に伸ばした際に、この第三の筒体６の外向き鍔部６Ｃと当接することにより、この第三の筒体６が第二の筒体５から上方に抜け出るのを阻止する。
【００３２】
また、第一，第二，第三の各筒体４，５，６のうち最も内径側に位置する（第二の筒体５の内径側に位置する）第三の筒体６は、円筒状に形成された筒部６Ａと、該筒部６Ａの上端部から径方向内側に向けて突出した内向き鍔部６Ｂと、筒部６Ａの下端部から径方向外方に向けて突出した外向き鍔部６Ｃとを備えている。
【００３３】
また、筒部６Ａには、後述の中段棒状体１０を挿通するための１対の挿通孔６Ｄを、筒部６Ａの中心軸Ｏを挟んで互いに正対する状態で設けている。また、各挿通孔６Ｄは、筒部６Ａのうち、外向き鍔部６Ｃの上面から第二の筒体５の内向き鍔部５Ｂの厚さ分上側となる位置に設けられており、その孔形状は、後述の中段棒状体１０の断面形状と同様の四角形としている。
【００３４】
また、内向き鍔部６Ｂは、第三の筒体６に対して後述の中心部材７を上方に伸ばした際に、この中心部材７の外向き鍔部７Ｃと当接することにより、この中心部材７が第三の筒体６から上方に抜け出るのを阻止する。
【００３５】
７は多重筒体３の内側に設けられた中心部材で、該中心部材７は、該多重筒体３に対して高さ方向に変位を可能としている。そして、中心部材７も、第一，第二，第三の各筒体４，５，６と同様に、非導電性材料、例えば軽量で比誘電率が１に近い発泡スチロール（発泡ポリスチレン）、合成樹脂等の樹脂材料により形成されている。ここで、該中心部材７は、円筒状に形成された筒部７Ａと、該筒部７Ａの上端開口部を覆う上板部７Ｂと、筒部７Ａの下端部から径方向外方に向けて突出した外向き鍔部７Ｃとを備えている。
【００３６】
また、筒部７Ａには、後述の上段棒状体９を挿通するための１対の挿通孔７Ｄを、筒部７Ａの中心軸Ｏを挟んで互いに正対する状態で設けている。また、各挿通孔７Ｄは、筒部７Ａのうち、外向き鍔部７Ｃの上面から第三の筒体６の内向き鍔部６Ｂの厚さ分上側となる位置に設けられており、その孔形状は、後述の上段棒状体９の断面形状と同様な四角形としている。
【００３７】
また、上板部７Ｂは、後述の電界プローブ１２を上面に載置するものである。そして、この上板部７Ｂには、電界プローブ１２に接続されるケーブル１２Ａを挿通するための貫通孔７Ｅが設けられている。
【００３８】
８は後述の電界プローブ１２を予め設定された高さ位置で固定するための位置決め機構で、該位置決め機構８は、後述の上段棒状体９、中段棒状体１０、下段棒状体１１等により構成している。
【００３９】
９は第一の固定部材としての上段棒状体で、該上段棒状体９は、第三の筒体６に対し中心部材７を所定の高さ位置（突出量）で固定するものである。ここで、上段棒状体９は、非導電性材料、例えば軽量で比誘電率が１に近く（例えば１〜２．５、より好ましくは１〜２．０）、かつ、固定部材としての必要な強度を有する合成樹脂等の樹脂材料により造られたもので、中心部材７に設けられた１対の挿通孔７Ｄに挿通可能な断面四角形の角柱として形成されている。
【００４０】
また、上段棒状体９は、図２および図３に示すように、第三の筒体６に対し中心部材７を上方に突出させた状態で中心部材７の各挿通孔７Ｄに挿通され、両端部が中心部材７の外周面から突出した状態で中心部材７に取付けられる。この状態で、第三の筒体６の内向き鍔部６Ｂが、上段棒状体９のうち中心部材７の外周面から突出した部分の下面と中心部材７の外向き鍔部７Ｃの上面とにより上下方向に挟持されて、第三の筒体６に対して中心部材７が例えば５０ｃｍ突出した状態で固定される。
【００４１】
１０は第二の固定部材としての中段棒状体で、該中段棒状体１０は、多重筒体３を構成する第二の筒体５に対しその内側に位置する第三の筒体６を、所定の高さ位置（突出量）で固定するものである。ここで、中段棒状体１０も、上段棒状体９とほぼ同様な合成樹脂等の樹脂材料により造られ、第三の筒体６に設けられた１対の挿通孔６Ｄに挿通可能な断面四角形の角柱として形成されている。
【００４２】
また、中段棒状体１０は、第二の筒体５に対し第三の筒体６および中心部材７を上方に突出させた状態で第三の筒体６の各挿通孔６Ｄに挿通され、両端部が第三の筒体６の外周面から突出した状態で第三の筒体６に取付けられる。この状態で、第二の筒体５の内向き鍔部５Ｂが、中段棒状体１０のうち第三の筒体６の外周面から突出した部分の下面と第三の筒体６の外向き鍔部６Ｃの上面とにより上下方向に挟持されて、第二の筒体５に対して第三の筒体６が例えば５０ｃｍ突出した状態で固定される。
【００４３】
１１は第三の固定部材としての下段棒状体で、該下段棒状体１１は、多重筒体３を構成する第一の筒体４に対しその内側に位置する第二の筒体５を、所定の高さ位置（突出量）で固定するものである。ここで、下段棒状体１１も、上段棒状体９や中段棒状体１０とほぼ同様な合成樹脂等の樹脂材料により造られたもので、第二の筒体５に設けられた１対の挿通孔５Ｄに挿通可能な断面四角形の角柱として形成されている。
【００４４】
また、下段棒状体１１は、第一の筒体４に対し第二，第三の筒体５，６および中心部材７を上方に突出させた状態で第二の筒体５の各挿通孔５Ｄに挿通され、両端部が第二の筒体５の外周面から突出した状態で第二の筒体５に取付けられる。この状態で、第一の筒体４の内向き鍔部４Ｂが、下段棒状体１１のうち第二の筒体５の外周面から突出した部分の下面と第二の筒体５の外向き鍔部５Ｃの上面とにより上下方向に挟持されて、第一の筒体４に対して第二の筒体５が例えば５０ｃｍ突出した状態で固定される。
【００４５】
１２は電界を測定する電界センサとしての電界プローブ１２で、該電界プローブ１２は、支柱２を構成する中心部材７の上端部、すなわち、中心部材７の上板部７Ｂの上面に取付けられている。ここで、電界プローブ１２は、例えば等方性電界プローブ等により構成されており、電界プローブ１２の信号はケーブル１２Ａを介して電界モニタ等の計測機器（図示省略）に入力される。
【００４６】
本実施の形態による電界測定装置１は上述の如き構成を有するもので、次に電界測定装置１を用いて電界均一性を測定するときの測定手順について説明する。
【００４７】
まず、図１に示すように支柱２を最も縮めた状態で電界測定装置１を、例えば放射イミュニティ試験等を行う試験室（電波暗室）等の電界強度の測定を行う場所に設置する。この際、電界測定装置１は、電界プローブ１２を支柱２から取外して測定を行う場所に運搬することができる。すなわち、測定を行う場所に支柱２を運搬してからこの支柱２に電界プローブ１２を取付けることができる。そして、例えば無線周波数放射イミュニティ試験（IEC61000-4-3）に規定された電界強度の測定（電界均一性の測定）を行う場合には、図８に模式的に示すように、電界測定装置１の支柱２を伸縮させることにより、試験に規定された測定ポイントＰ1〜Ｐ16で電界強度の測定を行う。
【００４８】
より詳細に説明すると、例えば支柱２を最も縮めた状態で、８０ｃｍの高さの測定ポイントＰ1〜Ｐ4の何れか、例えばＰ1に、電界プローブ１２が位置するように、電界測定装置１を設置する。この際、支柱２の中心部材７を測定ポイントＰ1の真下に設置してから、中心部材７に電界プローブ１２を取付けて、電界プローブ１２を測定ポイントＰ1に位置させるようにすることができる。そして、当該測定ポイントＰ1で電界強度の測定を行う。
【００４９】
次に、１３０ｃｍの高さの測定ポイント、例えばＰ5の測定を行う場合には、図２に示すように、中心部材７のみを高さ方向に変位させ（上方に突出させ、持ち上げ）、中心部材７の挿通孔７Ｄを第三の筒体６の上面よりも上側に位置させる。そして、この状態から、図３に示すように、上段棒状体９を中心部材７の各挿通孔７Ｄに挿通して、中心部材７に上段棒状体９を取付ける。
【００５０】
この状態で、上段棒状体９のうち中心部材７の外周面から水平方向に突出する部分の下面が、第三の筒体６の内向き鍔部６Ｂの上面に当接する。すなわち、第三の筒体６の内向き鍔部６Ｂが、中心部材７の外向き鍔部７Ｃの上面と上段棒状体９の下面とにより上下方向に挟持されることにより、第三の筒体６に対して中心部材７が所定の高さ位置、すなわち、中心部材７が第三の筒体６に対して５０ｃｍ上方に突出した状態で固定される。この状態で、電界プローブ１２は１３０ｃｍの高さの測定ポイントＰ5に位置するので、当該測定ポイントＰ5で電界強度の測定を行う。
【００５１】
次いで、１８０ｃｍの高さの測定ポイント、例えばＰ9の測定を行う場合には、図３に示す状態から、第三の筒体６を高さ方向に変位させ（上方に突出させ、持ち上げ）、第三の筒体６の挿通孔６Ｄを第二の筒体５の上面よりも上側に位置させる。そして、この状態から、中段棒状体１０を第三の筒体６の挿通孔６Ｄに挿通して、第三の筒体６に中段棒状体１０を取付ける。
【００５２】
この状態で、中段棒状体１０のうち第三の筒体６の外周面から水平方向に突出する部分の下面が、第二の筒体５の内向き鍔部５Ｂの上面に当接する。すなわち、第二の筒体５の内向き鍔部５Ｂが、第三の筒体６の外向き鍔部６Ｃの上面と中段棒状体１０の下面とにより上下方向に挟持されることにより、第二の筒体５に対して第三の筒体６が所定の高さ位置、すなわち、第三の筒体６が第二の筒体５に対して５０ｃｍ上方に突出した状態で固定される。この状態で、電界プローブ１２は１８０ｃｍの高さの測定ポイントＰ9に位置するので、当該測定ポイントＰ9で電界強度の測定を行う。
【００５３】
次いで、２３０ｃｍの高さの測定ポイント、例えばＰ13の測定を行う場合には、上述の１８０ｃｍに伸ばした状態から、第二の筒体５を高さ方向に変位させ（上方に突出させ、持ち上げ）、第二の筒体５の挿通孔５Ｄを第一の筒体４の上面よりも上側に位置させる。そして、この状態から、下段棒状体１１を第二の筒体５の挿通孔５Ｄに挿通して、第二の筒体５に下段棒状体１１を取付ける。
【００５４】
この状態で、下段棒状体１１のうち第二の筒体５の外周面から水平方向に突出する部分の下面が、第一の筒体４の内向き鍔部４Ｂの上面に当接する。すなわち、第一の筒体４の内向き鍔部４Ｂが、第二の筒体５の外向き鍔部５Ｃの上面と下段棒状体１１の下面とにより上下方向に挟持されることにより、第一の筒体４に対して第二の筒体５が所定の高さ位置、すなわち、第二の筒体５が第一の筒体４に対して５０ｃｍ上方に突出した状態で固定される。この状態で、電界プローブ１２は２３０ｃｍの高さの測定ポイントＰ13に位置するので、当該測定ポイントＰ13で電界強度の測定を行う。
【００５５】
一方、測定終了後等に、上述の２３０ｃｍに伸ばした状態から支柱２を縮める場合は、まず、第二の筒体５を手で支えつつ下段棒状体１１を第二の筒体５の挿通孔５Ｄから抜く。そして、第二の筒体５を下方に変位させ、第二の筒体５を第一の筒体４内に収納する。この状態で、電界プローブ１２の高さ位置は１８０ｃｍとなる。
【００５６】
また、更に支柱２を縮める場合には、第三の筒体６を手で支えつつ中段棒状体１０を第三の筒体６の挿通孔６Ｄから抜く。そして、第三の筒体６を下方に変位させ、第三の筒体６を第二の筒体５内に収納する。この状態で、電界プローブ１２の高さ位置は１３０ｃｍとなる。
【００５７】
また、更に支柱２を縮める場合には、中心部材７を手で支えつつ上段棒状体９を中心部材７の挿通孔７Ｄから抜く。そして、中心部材７を下方に変位させ、中心部材７を第三の筒体６内に収納する。この状態で、電界プローブ１２の高さ位置は８０ｃｍとなる。
【００５８】
また、電界測定装置１を収納場所等に収納する場合には、電界プローブ１２を中心部材７から取り外して支柱２のみとした状態で運搬することができる。
【００５９】
このように本実施の形態の場合には、支柱２の伸縮作業と位置決め機構８（上段，中段，下段各棒状体９，１０，１１）による多重筒体３および中心部材７の高さ位置の固定作業とにより、電界プローブ１２を予め設定された高さ位置に正確かつ容易に配置することができる。このため、例えば無線周波数放射イミュニティ試験に規定された電界強度の測定を正確に行うことができ、試験結果の正確性、信頼性を確保できると共に、試験に要する時間の短縮化を図れる。特に、支柱２を伸縮させる作業と上段，中段，下段各棒状体９，１０，１１を取付ける作業との２つの簡単な作業で、試験の規格で規定された高さ位置に電界プローブ１２を正確に設置することができる。また、例えば従来技術のように、ボードに付されたマークや支柱に付された目盛り等に合わせて電界プローブの位置合わせを行う必要もない。このため、作業の容易化と試験結果の信頼性の確保とを高次元で両立させることができる。
【００６０】
また、支柱２が高さ方向に伸縮するから、支柱２を縮めた状態（例えば８０ｃｍの高さ）で電界測定装置１（支柱２）の運搬や収納を行うことができ、可搬性、収納性を十分に確保できる。また、測定高さに応じて支柱２を伸縮させることができるから、支柱２による反射の影響を抑えることもでき、測定精度の向上を図れる。特に、本実施の形態の場合には、電界プローブ１２が中心部材７の上端部に取付けられているから、測定時に電界プローブ１２の下側にのみ支柱２が存在するようにでき、支柱２による反射の影響を最小限に抑えることができる。しかも、支柱２を構成する第一，第二，第三の各筒体４，５，６、中心部材７、上段，中段，下段の各棒状体９、１０、１１は、比誘電率が１に近い（例えば１〜２．５、より好ましくは１〜２．０の）樹脂材料により造られているから、この面からも反射の影響を抑えられ、測定精度の向上を図れる。
【００６１】
また、支柱２の伸縮作業は、測定者（作業者）が試験室（電波暗室）等の床面に立った状態で行うことができる。すなわち、図４に示すように、支柱２を伸ばす場合には、中心部材７、第三の筒体６、第二の筒体５の順に高さ方向に持ち上げつつ固定し、支柱２を縮める場合には、第二の筒体５、第三の筒体６、中心部材７の順に下方に降ろしつつ第一の筒体４内に収納する。そして、この作業はいずれも、踏み台を必要とすることなく床面に立った状態で行える。このため、踏み台の運搬、昇り降り等の作業を省略でき、作業性の向上を図れる。
【００６２】
次に、図９ないし図１４は本発明の第２の実施の形態を示している。本実施の形態の特徴は、位置決め機構を構成する第一，第二の各固定部材を環状体により構成したことにある。なお、本実施の形態では、上述した第１の実施の形態と同一の構成要素に同一符号を付し、その説明を省略するものとする。
【００６３】
図中、２１は高さ方向に伸縮可能な多重筒体で、該多重筒体２１は、上述の第１の実施の形態の多重筒体３と同様に、第一，第二，第三の各筒体４，２２，２３によって構成されている。
【００６４】
２２は多重筒体２１のうち第一の筒体４の内径側でかつ第三の筒体２３の外径側に位置する第二の筒体で、該第二の筒体２２は、上述の第１の実施の形態の第二の筒体５と同様に、筒部２２Ａと、内向き鍔部２２Ｂと、外向き鍔部２２Ｃとを備えている。
【００６５】
また、筒部２２Ａには、後述の下段環状体２８を係止する係止溝２２Ｄを、筒部２２Ａの外周面から径方向内側に切欠いた状態で全周にわたって設けている。また、係止溝２２Ｄは、筒部２２Ａのうち、外向き鍔部２２Ｃの上面から第一の筒体４の内向き鍔部４Ｂの厚さ分上側となる位置に設けられている。
【００６６】
２３は多重筒体２１のうち最も内径側に位置する第三の筒体で、該第三の筒体２３は、上述の第１の実施の形態の第三の筒体６と同様に、筒部２３Ａと、内向き鍔部２３Ｂと、外向き鍔部２３Ｃとを備えている。
【００６７】
また、筒部２３Ａには、後述の中段環状体２７を係止する係止溝２３Ｄを、筒部２３Ａの外周面から径方向内側に切欠いた状態で全周にわたって設けている。また、係止溝２３Ｄは、筒部２３Ａのうち、外向き鍔部２３Ｃの上面から第二の筒体２２の内向き鍔部２２Ｂの厚さ分上側となる位置に設けられている。
【００６８】
２４は多重筒体２１の内側に設けられた中心部材で、該中心部材２４は、上述の第１の実施の形態の中心部材７と同様に、筒部２４Ａと、上板部２４Ｂと、外向き鍔部２４Ｃとを備えている。
【００６９】
また、筒部２４Ａには、後述の上段環状体２６を係止する係止溝２４Ｄを、筒部２４Ａの外周面から径方向内側に切欠いた状態で全周にわたって設けている。また、係止溝２４Ｄは、筒部２４Ａのうち、外向き鍔部２４Ｃの上面から第三の筒体２３の内向き鍔部２３Ｂの厚さ分上側となる位置に設けられている。
【００７０】
２５は電界プローブ１２を予め設定された高さ位置で固定するための位置決め機構で、該位置決め機構２５は、後述の上段環状体２６、中段環状体２７、下段環状体２８等により構成している。
【００７１】
２６は第一の固定部材としての上段環状体で、該上段環状体２６は、第三の筒体２３に対し中心部材２４を所定の高さ位置（突出量）で固定するものである。ここで、上段環状体２６は、非導電性材料、例えば軽量で比誘電率が１に近く（例えば１〜２．５、より好ましくは１〜２．０）、かつ、固定部材としての必要な強度を有する合成樹脂等の樹脂材料により造られたもので、中心部材２４に設けられた係止溝２４Ｄに係止可能な断面四角形の環状部材として形成されている。また、上段環状体２６は、中心部材２４の係止溝２４Ｄに径方向外側から係止できるように、１対の半環状部材２６Ａからなる２つ割れのものとしている。
【００７２】
そして、上段環状体２６は、図９および図１０に示すように、第三の筒体２３に対し中心部材２４を上方に突出させた状態で、中心部材２４の係止溝２４Ｄに係止することにより、上段環状体２６の外径側部分が中心部材２４の外周面から径方向外側に全周にわたって突出した状態で中心部材２４に取付けられる。この状態で、第三の筒体２３の内向き鍔部２３Ｂが、上段環状体２６のうち係止溝２４Ｄから突出した部分の下面と中心部材２４の外向き鍔部２４Ｃの上面とにより上下方向に挟持されて、第三の筒体２３に対して中心部材２４が例えば５０ｃｍ突出した状態で固定される。
【００７３】
２７は第二の固定部材としての中段環状体で、該中段環状体２７は、第二の筒体２２に対し第三の筒体２３を所定の高さ位置（突出量）で固定するものである。ここで、中段環状体２７も、上段環状体２６とほぼ同様な合成樹脂等の樹脂材料により造られ、第三の筒体２３に設けられた係止溝２３Ｄに係止可能な断面四角形の環状部材として形成されている。また、中段環状体２７も、第三の筒体２３の係止溝２３Ｄに径方向外側から係止できるように、１対の半環状部材２７Ａからなる２つ割れのものとしている。
【００７４】
そして、中段環状体２７は、第二の筒体２２に対し第三の筒体２３および中心部材２４を上方に突出させた状態で、第三の筒体２３の係止溝２３Ｄに係止することにより、中段環状体２７の外径側部分が第三の筒体２３の外周面から径方向外側に全周にわたって突出した状態で第三の筒体２３に取付けられる。この状態で、第二の筒体２２の内向き鍔部２２Ｂが、中段環状体２７のうち係止溝２３Ｄから突出した部分の下面と第三の筒体２３の外向き鍔部２３Ｃの上面とにより上下方向に挟持されて、第二の筒体２２に対して第三の筒体２３が例えば５０ｃｍ突出した状態で固定される。
【００７５】
２８は第三の固定部材としての下段環状体で、該下段環状体２８は、第一の筒体４に対し第二の筒体２２を所定の高さ位置（突出量）で固定するものである。ここで、下段環状体２８も、上段，中段各環状体２６，２７とほぼ同様な合成樹脂等の樹脂材料により造られ、第二の筒体２２に設けられた係止溝２２Ｄに係止可能な断面四角形の環状部材として形成されている。また、下段環状体２８も、第二の筒体２２の係止溝２２Ｄに径方向外側から係止できるように、１対の半環状部材２８Ａからなる２つ割れのものとしている。
【００７６】
そして、下段環状体２８は、第一の筒体４に対し第二、第三の各筒体２２，２３および中心部材２４を上方に突出させた状態で、第二の筒体２２の係止溝２２Ｄに係止することにより、下段環状体２８の外径側部分が第二の筒体２２の外周面から径方向外側に全周にわたって突出した状態で第二の筒体２２に取付けられる。この状態で、第一の筒体４の内向き鍔部４Ｂが、下段環状体２８のうち係止溝２２Ｄから突出した部分の下面と第二の筒体２２の外向き鍔部２２Ｃの上面とにより上下方向に挟持されて、第一の筒体４に対して第二の筒体２２が例えば５０ｃｍ突出した状態で固定される。
【００７７】
本実施の形態による電界測定装置１は、上述の如き上段，中段，下段各環状体２６，２７，２８により位置決め機構２５を構成するもので、その基本的作用については、上述した第１の実施の形態によるものと格別差異はない。
【００７８】
然るに、本実施の形態によれば、上段，中段，下段各環状体２６，２７，２８を各係止溝２２Ｄ，２３Ｄ，２４Ｄに全周にわたって係止するので、上段，中段，下段各環状体２６，２７，２８と第一，第二，第三の各筒体４，２２，２３および中心部材２４との接触面積の増大を図れ、固定強度の向上を図れる。
【００７９】
なお、上述した第１の実施の形態では、上段，中段，下段各棒状体９，１０，１１を断面四角形の多角柱により構成した場合を例に挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限るものではなく、上段，中段，下段各棒状体を、例えば断面円形の円柱や断面楕円形の楕円柱、断面三角形の三角柱等の四角形以外の多角柱等により構成してもよい。また、中空状の筒体により上段，中段，下段各棒状体を構成してもよい。
【００８０】
また、上述した第１の実施の形態では、１本の上段棒状体９を用いた場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、例えば図１５および図１６に示すように、複数本（図示の変形例では２本）の上段棒状体９′，９′を用いる構成としてもよい。この場合には、上段棒状体９′，９′の数に合わせて挿通孔７Ｄ´，７Ｄ´を設ける。また、図示は省略するが、中段，下段各棒状体に関しても、上段棒状体と同様に、複数本ずつ用いる構成とすることもできる。
【００８１】
また、上述した第１の実施の形態では、中心部材７に設けた挿通孔７Ｄに上段棒状体９を挿通する構成とした場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、例えば図１７および図１８に示すように、中心部材７の外周面から切欠いた状態で１対の凹溝３１を互いに平行に設け、これら各凹溝３１、３１に上段棒状体９′，９′を係止する構成としてもよい。また、図示は省略するが、中段，下段各棒状体に関しても、上段棒状体と同様に、第二、第三の各筒体に設けた凹溝に係止する構成とすることもできる。
【００８２】
また、上述した第１の実施の形態では、中心部材７に設けた挿通孔７Ｄに上段棒状体９を挿通する構成とした場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、例えば図１９に示すように、中心部材７の下面から上方に切欠いた状態で１対の凹部３２を互いに正対する状態で設け、これら各凹部３２に上段棒状体を挿通する構成とすることもできる。また、図示は省略するが、中段，下段各棒状体に関しても、上段棒状体と同様に、第二、第三の各筒体に設けた凹部に挿通する構成とすることもできる。
【００８３】
また、上述した各実施の形態では、支柱２を構成する多重筒体３，２１（第一，第二，第三の各筒体４，５，６，２２，２３）および中心部材７、２４を円筒状の筒体により構成した場合を例に挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限るものではなく、四角筒等の断面が多角形状の多角筒体、断面が楕円形状の非円形筒体等により、多重筒体および中心部材を構成してもよい。ただし、支柱２による反射が測定に与える影響を最小限に抑える面からは、円筒状（断面円形状）のものを用いることが好ましい。
【００８４】
また、上述した各実施の形態では、中心部材７、２４を中空状の筒体により構成した場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、中心部材を円柱、多角柱等の中空状でない（充実体の）柱部材により構成してもよい。この場合には、電界プローブに接続されるケーブルは、支柱の外側に高さ方向に沿って配設することができる。
【００８５】
また、上述した各実施の形態では、電界プローブ１２の高さ位置を無線周波数放射イミュニティ試験（IEC61000-4-3）に規定された測定位置に対応させた場合を例に挙げて説明した。すなわち、電界プローブ１２を、８０ｃｍ、１３０ｃｍ、１８０ｃｍ、２３０ｃｍの高さ位置で測定（電界均一性の測定）を行えるように構成した場合を例に挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限るものではなく、例えば他の規格等に合わせて、電界プローブを他の高さで測定できるように構成してもよい。この場合には、測定すべき高さ位置に対応して、支柱の伸縮寸法、すなわち、多重筒体の個数や寸法、中心部材等の寸法、位置決め機構を設ける位置や寸法等を適宜設定する。
【００８６】
また、上述した各実施の形態では、電界センサとしての電界プローブ１２を用いて電界強度を測定する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、例えば磁界を測定する電磁センサを用いる構成とすることもできる。また、電界および磁界を測定する電磁界センサを用いる構成とすることもできる。言い換えれば、測定対象（例えば試験の規格等）に応じて必要なセンサを適宜選択することができる。
【符号の説明】
【００８７】
１  電界測定装置（電磁界測定装置）
２  支柱
３，２１  多重筒体
４  第一の筒体
５，２２  第二の筒体
６，２３  第三の筒体
７，２４  中心部材
８，２５  位置決め機構
９  上段棒状体（第一の固定部材）
１０  中段棒状体（第二の固定部材）
１１  下段棒状体（第三の固定部材）
１２  電界プローブ（電磁界センサ）
２６  上段環状体（第一の固定部材）
２７  中段環状体（第二の固定部材）
２８  下段環状体（第三の固定部材）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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