(57)【要約】【課題】本発明は、光ファイバの屈折率を容易かつ精度よく測定することが可能な光ファイバ屈折率測定装置及び光ファイバ屈折率測定方法の提供を目的とする。【解決手段】上記目的を達成するために、本願発明の光ファイバ屈折率測定装置は、光周波数が線形的に変化するパルス光ｐｉｎを発生する光周波数チャープパルス光源１と、光周波数チャープパルス光源１からのパルス光ｐｉｎを測定経路４と参照経路５に分岐する光分岐器２と、測定経路４を伝搬する測定パルス光φ１と参照経路５を伝搬する参照パルス光φ２を合波する光合波器８と、光合波器８の合波する合波パルス光ｐｏｕｔのパルス波形を検出する光パルス検出器３と、参照経路５の光路長を可変する光路長調整器６と、測定経路４の途中に光ファイバを挿抜可能に接続する光コネクタ７と、を備える。【選択図】図２
2011128040.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光周波数が線形的に変化しながらパルス光を発生する光周波数チャープパルス光源と、
前記光周波数チャープパルス光源からの光周波数チャープパルス光を２つの光路に分岐する光分岐器と、
前記２つの光路を伝搬する光周波数チャープパルス光を合波する光合波器と、
前記光合波器の合波する合波パルス光のパルス波形を検出する光パルス検出器と、
前記２つの光路の一方の光路長を可変する光路長調整器と、
前記２つの光路の他方の途中に光ファイバを挿抜可能に接続する光コネクタと、
を備える光ファイバ屈折率測定装置。
【請求項２】
前記光パルス検出器は、前記合波パルス光のビート波形を検出することを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ屈折率測定装置。
【請求項３】
前記光パルス検出器の検出するビート波形が消失したか否かを判定するビート波形判定部をさらに備えることを特徴とする請求項２に記載の光ファイバ屈折率測定装置。
【請求項４】
前記光路長調整器は、前記光パルス検出器の検出するビート波形が消失するように、前記２つの光路の一方の光路長を伸縮することを特徴とする請求項３に記載の光ファイバ屈折率測定装置。
【請求項５】
光周波数が線形的に変化する光周波数チャープパルス光を２つの光路に分岐して合波したときに、前記２つの光路の光路長が等しくなる前記２つの光路の一方の光路長と、前記２つの光路の他方の途中に光ファイバを挿入した状態で前記光周波数チャープパルス光を２つの光路に分岐して合波したときに、前記２つの光路の光路長が等しくなる前記２つの光路の一方の光路長との差分を用いて前記光ファイバの屈折率を算出する光ファイバ屈折率測定方法。
【請求項６】
２つの光周波数チャープパルス光の合波パルス光のビート波形が消失したか否かを判定することによって、前記２つの光路の光路長が等しくなるか否かを判定することを特徴とする請求項５に記載の光ファイバ屈折率測定方法。
【請求項７】
２つの光周波数チャープパルス光の合波パルス光のビート波形が消失するように前記２つの光路の一方の光路長を伸縮することによって、前記２つの光路の光路長を等しくすることを特徴とする請求項６に記載の光ファイバ屈折率測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバの屈折率を測定するための光ファイバ屈折率測定装置及び光ファイバ屈折率測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光デバイスの屈折率の測定方法が提案されている（例えば、特許文献１から５参照。）。特許文献１、２、３、４の測定方法では、ファブリ・ペロー、マイケルソン、およびマッハ・ツェンダ等の干渉計を利用し、その際に生じる干渉縞の情報から求める。特許文献５の測定方法では、屈折率が明らかである部材を通して、透過光の回折角から求める。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平６−１４７９８５号公報
【特許文献２】特開平８−４３２５４号公報
【特許文献３】特開２０００−２８５２６号公報
【特許文献４】特開２００５−３００４８８号公報
【特許文献５】特開２０００−１４６８３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記の特許文献１、２、３、４の測定方法では、高精度な光軸合わせを必要とするため構成が複雑であり、装置が高価になるという問題があった。上記の特許文献５の測定方法では、複雑で高価な装置は必要としないものの、実測された屈折角に大きな誤差を有するため、被測定物の屈折率の精度が上がらないという問題があった。
【０００５】
そこで、本発明は、光ファイバの屈折率を容易かつ精度よく測定することが可能な光ファイバ屈折率測定装置及び光ファイバ屈折率測定方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本願発明の光ファイバ屈折率測定装置は、マッハ・ツェンダ干渉計を光ファイバで構成し、参照経路に光路長を連続的に延伸できる光路長調整器を備えた機器構成により測定を行う。光周波数チャープパルス光源の光周波数チャープパルス光の光周波数を線形的にチャープさせ、参照経路、測定経路の２経路を通過してくる参照パルス光と測定パルス光との重ね合わせ時に生じるビート波形が、被測定光ファイバの挿入前後で消失するように光路長調整器を制御する。これにより、光周波数チャープパルス光が被測定光ファイバを通過する時間を光路長調整器の延伸長として実測でき、被測定光ファイバの屈折率を導出することが可能となる。
【０００７】
具体的には、本願発明の光ファイバ屈折率測定装置は、光周波数が線形的に変化しながらパルス光を発生する光周波数チャープパルス光源と、前記光周波数チャープパルス光源からの光周波数チャープパルス光を２つの光路に分岐する光分岐器と、前記２つの光路を伝搬する光周波数チャープパルス光を合波する光合波器と、前記光合波器の合波する合波パルス光のパルス波形を検出する光パルス検出器と、前記２つの光路の一方の光路長を可変する光路長調整器と、前記２つの光路の他方の途中に光ファイバを挿抜可能に接続する光コネクタと、を備える。
【０００８】
光周波数チャープパルス光源、光分岐器及び光合波器を備え、マッハ・ツェンダ干渉計を構成する。２つの光路のうちの測定経路に光コネクタを用いて、測定経路で被測定光ファイバを挿抜可能にしている。２つの光路のうちの参照経路に光路長調整器を備え、参照経路の光路長を可変する。光パルス検出器は、参照経路を通過してくる参照パルス及び測定経路を通過してくる測定パルス光を重ね合わせた合波パルス光に生じるビート波形を検出する。
【０００９】
被測定光ファイバの挿入前後でビート波形が消失するように光路長調整器を制御し、被測定光ファイバの挿入前後での光路長調整器の変化量を測定すれば、被測定光ファイバの空間光路長に相当する長さを求めることができる。これにより、既知量である被測定光ファイバの物理的な実長と空気の屈折率とを用いて被測定光ファイバの屈折率を精度よく導出することが可能となる。
【００１０】
本願発明の光ファイバ屈折率測定装置は、光周波数チャープパルス光源、光分岐器、光合波器、光コネクタ、光路長調整器及び光パルス検出器の各構成を光ファイバで接続するため、高精度な光軸合わせを行うことなく、光ファイバの屈折率を容易に測定することが可能となる。
【００１１】
本願発明の光ファイバ屈折率測定装置では、前記光パルス検出器は、前記合波パルス光のビート波形を検出することが好ましい。これにより、被測定光ファイバの挿入前後でビート波形が消失したか否かの判定を容易に行うことができる。
【００１２】
本願発明の光ファイバ屈折率測定装置では、前記光パルス検出器の検出するビート波形が消失したか否かを判定するビート波形判定部をさらに備えることが好ましい。これにより、被測定光ファイバの挿入前後でビート波形が消失するように、光路長調整器を自動で制御することができる。
【００１３】
本願発明の光ファイバ屈折率測定装置では、前記光路長調整器は、前記光パルス検出器の検出するビート波形が消失するように、前記２つの光路の一方の光路長を伸縮することが好ましい。これにより、被測定光ファイバの屈折率を自動で測定することができる。
【００１４】
具体的には、本願発明の光ファイバ屈折率測定方法は、光周波数が線形的に変化する光周波数チャープパルス光を２つの光路に分岐して合波したときに、前記２つの光路の光路長が等しくなる前記２つの光路の一方の光路長と、前記２つの光路の他方の途中に光ファイバを挿入した状態で前記光周波数チャープパルス光を２つの光路に分岐して合波したときに、前記２つの光路の光路長が等しくなる前記２つの光路の一方の光路長との差分を用いて前記光ファイバの屈折率を算出する。
【００１５】
本願発明の光ファイバ屈折率測定方法は、光周波数が線形的に変化するパルス光（以下、光周波数チャープパルス光と呼ぶ。）を２つの光路に分岐して再び合波したときに、前記２つの光路のうちの測定経路に被測定光ファイバを挿入したとき及び挿入しないときの変化量を前記２つの光路のうちの参照経路の光路長差として測定する。この変化量、即ち、参照経路の光路長差が、前記２つの光路における屈折率の違いを通して被測定光ファイバの物理的な実長と等しくなるということを用いれば、被測定光ファイバの屈折率を算出することができる。
【００１６】
ここで、合波パルス光にビート波形が生じなくなったことを用いているため、容易にかつ精度よく参照経路の光路長と測定経路の光路長とが一致したか否かを判定することができる。したがって、本願発明の光ファイバ屈折率測定方法は、光ファイバの屈折率を容易かつ精度よく測定することが可能となる。
【００１７】
本願発明の光ファイバ屈折率測定方法では、２つの光周波数チャープパルス光の合波パルス光のビート波形が消失したか否かを判定することによって、前記２つの光路の光路長が等しくなるか否かを判定することが好ましい。これにより、被測定光ファイバの挿入前後でビート波形が消失するように、光路長調整器を自動で制御することができる。
【００１８】
本願発明の光ファイバ屈折率測定方法では、２つの光周波数チャープパルス光の合波パルス光のビート波形が消失するように前記２つの光路の一方の光路長を伸縮することによって、前記２つの光路の光路長を等しくすることが好ましい。これにより、被測定光ファイバの屈折率を自動で測定することができる。
【００１９】
なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、光ファイバの屈折率を容易かつ精度よく測定することが可能な光ファイバ屈折率測定装置及び光ファイバ屈折率測定方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本実施形態に係る光ファイバ屈折率測定装置の一例を示す。
【図２】光コネクタ７に被測定光ファイバ１００が接続されている状態を示す。
【図３】合波パルス光ｐｏｕｔのパルス波形の一例を示す。
【図４】光ファイバ屈折率測定方法の一例を示すフローチャートである。
【図５】合波パルス光ｐｏｕｔのパルス波形の一例であり、（ａ）は被測定光ファイバ１００挿入前の零位点位置Ｘ１での波形を示し、（ｂ）は被測定光ファイバ１００挿入後の波形（位置Ｘ１）を示し、（ｃ）は被測定光ファイバ１００挿入後の零位点位置Ｘ２での波形を示す。
【図６】本実施例に係るパラメータと被測定光ファイバの屈折率の算出結果を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００２３】
図１に、本実施形態に係る光ファイバ屈折率測定装置の一例を示す。本実施形態に係る光ファイバ屈折率測定装置は、光周波数チャープパルス光源１と、光分岐器２と、光合波器８と、光パルス検出器３と、光路長調整器６と、光コネクタ７と、ビート波形判定部９と、を備える。
【００２４】
光周波数チャープパルス光源１は、光周波数が線形的に変化しながらパルス光を発生し、光周波数チャープパルス光（以下、パルス光ｐｉｎと称する）を出力する。光周波数チャープパルス光源１は、例えば、周波数シフト帰還型レーザである。
【００２５】
光分岐器２は、例えば光カプラであり、光周波数チャープパルス光源１からのパルス光ｐｉｎを２つの光路に分岐する。本実施形態では、２つの光路の一方を参照経路５と表記し、２つの光路の他方を測定経路４と表記する。参照経路５を伝搬する参照パルス光をφ２と表記し、測定経路４を伝搬する測定パルス光をφ１と表記する。光合波器８は、例えば光カプラであり、測定経路４を伝搬する測定パルス光φ１と参照経路５を伝搬する参照パルス光φ２を合波する。光分岐器２及び光合波器８は、マッハ・ツェンダ干渉計を構成する。
【００２６】
ここで、参照経路５の途中には光路長調整器６が挿入されている。このため、参照経路５の光路長は、光路長調整器６を経由して伝搬した光路長となる。光路長調整器６は、参照経路５の光路長を可変する。参照経路５の光路長を可変することで、測定経路４と参照経路５の光路長を等しくすることができる。光路長の変化は、参照パルス光φ２の伝搬経路の長さを可変してもよいし、参照パルス光φ２の伝搬経路の屈折率を可変してもよい。
【００２７】
光路長調整器６は、例えば、距離の可変な光出力端６１及び光入力端６２を備える。この場合、光出力端６１と光入力端６２の間には、屈折率が既知の媒質が充填される。屈折率が既知の媒質は、例えば空気である。光出力端６１と光入力端６２の距離を計測することで、光出力端６１と光入力端６２の間の光路長変化を測定することができる。
【００２８】
測定経路４の途中には光コネクタ７が設置されている。このため、測定経路４の光路長は、光コネクタ７を経由して伝搬した光路長となる。光コネクタ７は、測定経路４の途中に被測定光ファイバ１００を挿抜可能に接続する。光コネクタ７の構成は問わないが、測定経路４の光路上に被測定光ファイバ１００が挿入される。例えば、コネクタ接続を用いた構成であってもよいし、メカニカルスプライス接続を用いた構成であってもよい。
【００２９】
図２に、光コネクタ７に被測定光ファイバ１００が挿入されている状態を示す。このとき、測定経路４の光路長は、光コネクタ７及び被測定光ファイバ１００を経由して伝搬した光路長となる。
【００３０】
光パルス検出器３は、光合波器８の合波する合波パルス光ｐｏｕｔのパルス波形を検出する。光パルス検出器３には、例えば光オシロスコープを用いることができる。光パルス検出器３は、合波パルス光ｐｏｕｔのビート波形を検出する。これにより、測定経路４と参照経路５の光路長が等しくなる零位点を検出することができる。
【００３１】
以下、図３を用いてビート波形による零位点検出の原理について説明する。図３は、合波パルス光ｐｏｕｔのビート波形のイメージ図を表す。同図において、２２は測定経路４側の測定パルス光φ１の光周波数チャープ直線、２３は参照経路５側の参照パルス光φ２の光周波数チャープ直線、２４はビート波形、Δωは光周波数差である。
【００３２】
光周波数が線形的にチャープした測定パルス光φ１及び参照パルス光φ２が、マッハ・ツェンダ干渉計を通過するとき、その光路差ΔＬのため異なる光周波数の光が合波される。このため、光パルス検出器３で検出される合波パルス光ｐｏｕｔのパルス波形には、差周波成分Δωの干渉波形（交流成分）すなわちビート波形が観測される。
【００３３】
ここで、光分岐器２によって分岐され、測定経路４を伝搬するパルス光φ１と、参照経路５を伝搬するパルス光φ２を平面波で近似すると［数１］と［数２］によって表される。
【００３４】
【数１】
2011128040.tif 000003
【数２】
2011128040.tif 000004
【００３５】
Ｌ１は測定経路４の光路長、Ｌ２は参照経路５の光路長、ω（Ｌ１）は光路長Ｌ１における光周波数、ω（Ｌ２）は光路長Ｌ２における光周波数、Ａ及びＢは振幅、ｋ０は真空中の波数、ｎ１及びｎ２はコアと空気中の屈折率、φ０は初期位相である。
【００３６】
ここで、光パルス検出器３で計測される電流値Ｉは、上記パルス光φ１とφ２を重ね合わせた干渉波の２乗に比例することから、電流値Ｉは［数３］により与えられる。但し、光−電気の変換効率を１とし、合波時の偏波結合効率も１と仮定する。
【００３７】
【数３】
2011128040.tif 000005
但し、式中の＊は複素共役である。
【００３８】
［数１］と［数２］を［数３］に代入すると、［数４］が得られる。
【数４】
2011128040.tif 000006
但し、ΔＬ＝ｎ１・Ｌ１−ｎ２・Ｌ２、Δω＝ω（Ｌ１）−ω（Ｌ２）である。
【００３９】
ここで、図３からわかるように光路差がない場合（ΔＬ＝０）、合波される測定パルス光φ１と参照パルス光φ２の光周波数ωもまた一致し、Δω＝０となることから、［数４］の第３項のコサイン部が「１」となり、電流値Ｉからビート波形が消失する。つまり、電流値Ｉが一定値となる。これを利用して測定経路４と参照経路５の光路長を一致させることができる。以下、このビート波形がない状態を零位点と称する。
【００４０】
一方、測定経路４と参照経路５の光路長に差がある場合、当該経路を伝搬するパルス光φ１とφ２の光周波数がチャープしているため、その光路長差に応じた光周波数差分だけのビート波形が発生する。
【００４１】
なお、測定経路４と参照経路５の光路長が等しいか否かの判定は、自動で行ってもよい。例えば、ビート波形判定部９を備えていてもよい。ビート波形判定部９は、光パルス検出器３の検出するビート波形が消失したか否かを判定する。これにより、測定経路４と参照経路５の光路長を自動で等しくさせることができる。この場合、ビート波形判定部９は、光パルス検出器３の検出するビート波形が消失するように、光路長調整器６に対して、参照経路５の光路長を伸縮させる構成とすることができる。これにより、被測定光ファイバ１００の屈折率を自動で測定することができる。
【００４２】
次に、本実施形態に係る光ファイバ屈折率測定装置を用いた光ファイバ屈折率測定方法について説明する。本実施形態に係る光ファイバ屈折率測定方法は、測定経路４の途中に被測定光ファイバ１００を挿入した場合としない場合において測定経路４と参照経路５の光路長が等しくなる零位点を各々求め、このときの参照経路５の光路長の差分を用いて被測定光ファイバ１００の屈折率を算出する。
【００４３】
ここで、測定経路４の光路長及び参照経路５の光路長が等しくなるか否かは、合波パルス光ｐｏｕｔのビート波形を用いて判定する。そして、当該合波パルス光ｐｏｕｔのビート波形が消失するように参照経路５の光路長を伸縮して、測定経路４の光路長及び参照経路５の光路長を等しくする。
【００４４】
例えば、被測定光ファイバ１００挿入前の図１に示す構成において、光出力端６１の位置をＸ０と、ビート波形が生じなくなる光入力端６２の位置Ｘ１を検出する。そして、光出力端６１の位置Ｘ０と、光入力端６２の位置Ｘ１の距離｜Ｘ０−Ｘ１｜を測定する。一方で、被測定光ファイバ１００挿入後の図２に示す構成において、光出力端６１の位置をＸ０と、ビート波形が生じなくなる光入力端６２の位置Ｘ２を検出する。そして、光出力端６１の位置Ｘ０と、光入力端６２の位置Ｘ２の距離｜Ｘ０−Ｘ２｜を測定する。距離｜Ｘ０−Ｘ１｜と距離｜Ｘ０−Ｘ２｜の差分｜Ｘ２−Ｘ１｜を算出する。これにより、被測定光ファイバ１００を挿入後の延伸長｜Ｘ２−Ｘ１｜を求めることができる。
【００４５】
次に、図１と図４を用いて光ファイバ屈折率測定方法について詳細に説明する。図４は、光ファイバ屈折率測定方法の一例を示すフローチャートである。
【００４６】
手順Ｓ１では、光周波数チャープパルス光源１から光周波数チャープパルス光ｐｉｎを送出し、被測定光ファイバ１００を挿入する前のマッハ・ツェンダ干渉計の零位点における位置Ｘ１を光路長調整器６で求める。
【００４７】
手順Ｓ２では、手順Ｓ１の状態に対して測定対象の被測定光ファイバ１００を挿入し、光周波数チャープパルス光ｐｉｎを送出する。
【００４８】
手順Ｓ３では、合波パルス光ｐｏｕｔを光パルス検出器３でモニタし、合波パルス光ｐｏｕｔの上部に生じるビート波形を検出する。手順Ｓ４では、ビート波形が消失したか否かを判定する。ビート波形が消失していなければ手順Ｓ５へ移行し、ビート波形が消失していれば手順Ｓ６へ移行する。手順Ｓ５では、ビート波形が消失するように光路長調整器６を用いて参照経路５の長さを調整する。
【００４９】
手順Ｓ６では、ビート波形が消失するときの零位点の位置Ｘ２を計測する。これにより、光路長調整器６の延伸長｜Ｘ２−Ｘ１｜を求めることができる。
【００５０】
手順Ｓ７では、被測定光ファイバ１００の屈折率ｎＦｉｂｅｒを導出する。測定対象の被測定光ファイバ１００の長さをＬ（実測長）、光速度をｃ、被測定光ファイバ１００の屈折率をｎＦｉｂｅｒ、光出力端６１と光入力端６２の間の媒質の屈折率をｎＡｉｒとすると、被測定光ファイバ１００の屈折率ｎＦｉｂｅｒは、［数５］によって導出できる。
【００５１】
【数５】
2011128040.tif 000007
【００５２】
ここで、測定対象の被測定光ファイバ１００の屈折率ｎＦｉｂｅｒ及び空間光路の屈折率ｎＡｉｒは、厳密には温度依存性と波長依存性をもつ。このため、測定条件を明確にする必要がある。例えば、石英ガラスでは、１℃の温度上昇に対して屈折率は約１０−５増加し、１００ｎｍの波長増大に対して屈折率は１０−３程度減少する。
【００５３】
図５は、合波パルス光ｐｏｕｔのパルス波形の一例であり、（ａ）は被測定光ファイバ１００挿入前の零位点位置Ｘ１での波形を示し、（ｂ）は被測定光ファイバ１００挿入後の波形（位置Ｘ１）を示し、（ｃ）は被測定光ファイバ１００挿入後の零位点位置Ｘ２での波形を示す。図４に示す手順Ｓ１では、図５（ａ）に示すように、合波パルス光ｐｏｕｔのビート波形が消失している。図４に示す手順Ｓ３から手順Ｓ５では、図５（ｂ）に示すように、合波パルス光ｐｏｕｔのビート波形が現れている。図４に示す手順Ｓ６では、図５（ｃ）に示すように、合波パルス光ｐｏｕｔのビート波形が消失している。
【実施例】
【００５４】
図４で説明した屈折率の導出方法に従いながら、被測定光ファイバ１００の屈折率を導出した。図６に、本実施例に係るパラメータと被測定光ファイバの屈折率の算出結果を示す。被測定光ファイバ１００には、ＳＭ（Ｓｉｎｇｌｅ  Ｍｏｄｅ）ファイバ、分散シフトファイバ又はピュアシリカＳＭファイバ（純粋石英コアファイバ）を用いた。光路長調整器６における光出力端６１と光入力端６２の間の媒質には空気を用い、光入力端６２の移動精度は１００μｍ／パルスであった。
【００５５】
ＳＭファイバの場合、計測より｜Ｘ２−Ｘ１｜＝｜１８８２１−２５２２８｜×１００×１０−６＝０．６４０７０（ｍ）、Ｌ＝０．４３８０（ｍ）が得られた。１５℃、１気圧、波長１３００ｎｍの環境下における標準空気の屈折率ｎＡｉｒは１．０００２７３５であることから、ｎ≒１．４６３２が求められた。分散シフトファイバとピュアシリカＳＭファイバについても同様に算出した結果、各々、１．４７０３と１．４５９１が求められた。
【００５６】
以上説明したように、被測定光ファイバ１００の挿入前後におけるマッハ・ツェンダ干渉計の零位点を検出することで、被測定光ファイバ１００の実測長Ｌと光路長調整器６の延伸長｜Ｘ２−Ｘ１｜が求められる。この差は、被測定光ファイバ１００と空気を通過する光の伝搬速度の違い、即ち、両者の屈折率の違いから生じている。そこで、既知量である標準空気の屈折率ｎＡｉｒを鑑みて、被測定光ファイバ１００の屈折率ｎＦｉｂｅｒを算出する。これにより、被測定光ファイバ１００の屈折率を容易に精度よく、かつ、安価に測定することができる。また、測定時の温度環境や測定波長も変えることができることから、各種環境下における屈折率を導出できることは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００５７】
本発明の光ファイバ屈折率測定装置及び光ファイバ屈折率測定方法は光ファイバの状態で被測定光ファイバの屈折率を容易かつ精度よく測定できるため、情報通信産業に利用することができる。
【符号の説明】
【００５８】
１：光周波数チャープパルス光源
２：光分岐器
３：光パルス検出器
４：測定経路（２つの光路の他方）
５：参照経路（２つの光路の一方）
６：光路長調整器
７：光コネクタ
８：光合波器
９：ビート波形判定部
２２：測定パルス光φ１の光周波数チャープ直線
２３：参照パルス光φ２の光周波数チャープ直線
２４：ビート波形
６１：光出力端
６２：光入力端
１００：被測定光ファイバ
【図１】
2011128040.tif 000008
【図２】
2011128040.tif 000009
【図３】
2011128040.tif 000010
【図４】
2011128040.tif 000011
【図５】
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【図６】
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