【事件の表示】
　特願２０１３−５１２９７７「流れる条片の塗膜層の厚さを測定する方法及び装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２３年１２月　８日国際公開、ＷＯ２０１１／１５１５８５、平成２５年　６月２７日国内公表、特表２０１３−５２７４６６、請求項の数（１９）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯　
　本願は、平成２３年５月３０日（パリ条約による優先権主張　２０１０年５月３１日（以下、「優先日」という。）　仏国）を国際出願日とする出願であって、平成２６年９月２日付けで拒絶理由が通知され、平成２７年３月９日付けで誤訳訂正がなされたが、平成２７年８月１７日付けで、拒絶査定（以下、「原査定」という）がなされ、これに対し、平成２７年１２月２４日に拒絶査定不服審判が請求され、同時に手続補正がなされたものである。
　その後、当審において平成２８年９月１５日付けで拒絶理由（以下、「当審拒絶理由」という。）が通知されるとともに特許庁長官名による同一出願人による同日出願に係る指令書が通知され、平成２９年３月２１日付けで意見書の提出とともに手続補正がなされたものである。
第２　本願発明
　本願の請求項１−１９に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」−「本願発明１９」という。）は、平成２９年３月２１日付けの手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項１−１９に記載された事項により特定される発明であり、本願発明１は以下のとおりのものである。
「【請求項１】
　渦電流を用いるセンサにより、流れる条片の少なくとも１つのエリアで、塗膜層の厚さを表す数量が測定され、このエリアの前記塗膜層の厚さは、測定された前記数量と少なくとも１つの較正値から決定される、流れる条片の塗膜材料層の厚さを測定する方法において、
　渦電流センサを用いて行われる前記測定は、低励起周波数及び高励起周波数で前記流れる条片に面するコイルの複素インピーダンスの測定と、前記複素インピーダンス測定からの前記塗膜層の厚さを表す数量の生成とを含み、
　少なくとも１つの前記較正値は、渦電流センサを用いる前記測定が実行されるエリアの条片の少なくとも１つの点で、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて前記条片の前記塗膜層の厚さ測定を実行することにより決定されることを特徴とする、方法。」
第３　引用文献、引用発明等
１　引用文献１について
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献１（特開昭６１−１０２５０４号公報）には、図面とともに、次の事項が記載されている（下線は、当審で付与したものである。以下同様。）。
ａ　「それ故に本発明が本質的に特徴としていることは、導電性の素地の上に析出された金属薄層の厚さが、交番電圧によって励磁された磁気回路を、金属表面に近づけた時に現われる
うず電流によって生ずる、ジュール効果
ｂ　「ここに、
　
Ｐ：　ジュール効果による損失
　
Ｈ
Ｔ
２
：　導電性の金属表面上の平均の磁界
　
ω：　励磁の脈動
　
μ：　透磁率
　
ρ：　抵抗率
　
Ｋ：　定数
とする。
　特性μとρとを有する素地上に析出した、厚さｅで特性μｄとρｄとを示す金属層ｄについて、損失は次式によって表される。
ｃ　「
ジュール効果による損失を表す式（１）中の定数Ｋは、ある与えられた磁気回路に対して、厚さ既知の一連の試料から実験によって規定される。
ｄ　「
センサ１０は、帯Ｂからある距離をおいて置かれており、共通巻線１２を含んでいて交番電圧で励磁される磁気回路を包含し、測定用磁束φと対照磁束φ０とを発生する。信号はφ−φ０を感知する差動巻線１４の端子で集められる。該センサについて、励磁と直角位相にある信号成分はジュール効果による損失Ｐに対応し、その測定によって帯Ｂの上に析出した薄い被覆の厚さを測定することができ、
ｅ　「第６図の略図では、本発明による
センサＣ１とＣ２とを、溶融亜鉛メッキ浴から出てくる帯Ｂの両側に置く
　上記ａ〜ｅより、引用文献１には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている。
「センサＣ１とＣ２とを、溶融亜鉛メッキ浴から出てくる帯Ｂの両側に置き（上記ｅ）、
　センサ１０は、帯Ｂからある距離をおいて置かれており、共通巻線１２を含んでいて交番電圧で励磁される磁気回路を包含し、測定用磁束φと対照磁束φ０とを発生し、信号はφ−φ０を感知する差動巻線１４の端子で集められ、該センサについて、励磁と直角位相にある信号成分は、うず電流によって生ずるジュール効果による損失Ｐに対応し、その測定によって帯Ｂの上に析出した薄い被覆の厚さを測定することができ（上記ａ、ｄ）、
　ここに、
Ｐ：　ジュール効果による損失
ＨＴ２：　導電性の金属表面上の平均の磁界
ω：　励磁の脈動
μ：　透磁率
ρ：　抵抗率
Ｋ：　定数
とすると、
　特性μとρとを有する素地上に析出した、厚さｅで特性μｄとρｄとを示す金属層ｄについて、損失は式（１）によって表され、
式（１）　ｐ＝ＫＨＴ２ √（ωμｄρｄ）（上記ｂ）、
　ジュール効果による損失を表す式（１）中の定数Ｋは、ある与えられた磁気回路に対して、厚さ既知の一連の試料から実験によって規定される（上記ｃ）、方法。」
２　引用文献２について
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献２（特開昭５９−９５５２号公報）には、図面とともに、次の事項が記載されている。
「第２図は
多周波法を使用する
多周波渦流探傷装置
周波数ｆ１（例えば１００ｋＨｚ）の発振器、２は周波数ｆ２（例えば５００ｋＨｚ）の発振器であり、両発振器１，２の出力は混合器３にて混合され、
検出コイル１２，１２′に印加され、そのインピーダンス変化を表す信号が
力される。
欠陥信号が存在する場合はＢ１，Ｂ２（ベクトルを表わす）の差のｂが得られることになる。
　上記記載より、引用文献２には、次の周知の技術が記載されている。
「低周波数及び高周波数の発振器の出力を検出コイルに印加し、そのインピーダンス変化から、欠陥信号の存在を検出する、多周波法を使用する多周波渦流探傷装置。」
３　引用文献３について
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献３（特開２０００−２２７４２２号公報）には、図面とともに、次の事項が記載されている。
ａ　「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は金属被検体に交流磁界を印加し、それによって発生する渦電流に起因する磁場の、金属被検体の内部に存在する欠陥による変動を金属被検体の表面近傍に配置された磁気センサで検出することによって、
欠陥を探傷する渦流探傷方法
ｂ　「【００２５】たとえば、
渦流プローブ５ａを励磁する交流電源６ａの周波数ｆ１は低く、渦流プローブ５ｂを励磁する交流電源６ｂの周波数ｆ２は高くしておく
渦流プローブ５ａからは、薄鋼板１の
内部欠陥８によって発生する信号が検出される。
渦流プローブ５ｂからは、
薄鋼板１の表面近傍から発生するノイズが検出される。
　上記記載より、引用文献３には、次の周知の技術が記載されている。
「周波数の低い渦流プローブからは、薄鋼板の内部欠陥によって発生する信号が検出され、周波数の高い渦流プローブからは、薄鋼板の表面近傍から発生するノイズが検出される、欠陥を探傷する渦流探傷方法。」
４　引用文献５について
　原査定の備考欄で引用されためっきの厚さ試験方法，日本工業規格　ＪＩＳ　Ｈ８５０１:1999，日本，（財）日本規格協会 ，１９９９年には、図面とともに、次の事項が記載されている。
「１３．蛍光Ｘ線式試験方法
１３．１　要旨　
蛍光Ｘ線厚さ測定装置を用いて，
めっきの厚さを求める試験方法
　　備考  金属素地上又は非金属素地上のめっきの厚さを，非破壊的に測定することができる。
１３．２　装置  蛍光Ｘ線厚さ測定装置は，波長分散形とエネルギー分散形の両形式の装置がある。この装置の構成の一例を図６ａ）及びｂ）に示す。エネルギー分散形の場合には，備付けの検出器が比例計数管検出器か，半導体検出器かのいずれであるかによって，それぞれ測定可能な素地とめっきとの組合せが一部異なる。形式の差によって測定することができる素地とめっきとの組合せの代表例を表５に示す。」（「めっきの厚さ試験方法」の「１３．蛍光Ｘ線式試験方法」欄）
第４　対比・判断
１　本願発明１について
（１）対比
　本願発明１と引用発明を対比する。
ア　引用発明の「センサＣ１とＣ２」は、「励磁と直角位相にある信号成分は、うず電流によって生ずるジュール効果による損失Ｐに対応し、その測定によって帯Ｂの上に析出した薄い被覆の厚さを測定する」ので、本願発明１の「渦電流を用いるセンサ」に相当する。
イ　引用発明は「励磁と直角位相にある信号成分は、うず電流によって生ずるジュール効果による損失Ｐに対応し、その測定によって帯Ｂの上に析出した薄い被覆の厚さを測定することができ」るので、引用発明の「励磁と直角位相にある信号成分」に対応する「損失Ｐ」は、本願発明１の「塗膜層の厚さを表す数量」に相当するといえるので、
　引用発明の「センサＣ１とＣ２とを、溶融亜鉛メッキ浴から出てくる帯Ｂの両側に置き、」「励磁と直角位相にある信号成分は、うず電流によって生ずるジュール効果による損失Ｐに対応し、その測定によって帯Ｂの上に析出した薄い被覆の厚さを測定する」ことは、本願発明１の「渦電流を用いるセンサにより、流れる条片の少なくとも１つのエリアで、塗膜層の厚さを表す数量が測定され」に相当する。
ウ　引用発明のジュール効果による損失を表す式（１）中の「定数Ｋ」は、「ある与えられた磁気回路に対して、厚さ既知の一連の試料から実験によって規定される」のであるから、本願発明１の「較正値」に相当するといえる。
　そして、引用発明は「損失Ｐ」と「定数Ｋ」から、「式（１）　ｐ＝ＫＨＴ２ √（ωμｄρｄ）」により厚さが決定されるので、
　引用発明の「励磁と直角位相にある信号成分は、うず電流によって生ずるジュール効果による損失Ｐに対応し、その測定によって帯Ｂの上に析出した薄い被覆の厚さを測定することができ、」「ジュール効果による損失を表す式（１）中の定数Ｋは、ある与えられた磁気回路に対して、厚さ既知の一連の試料から実験によって規定される、方法」は、本願発明１の「このエリアの前記塗膜層の厚さは、測定された前記数量と少なくとも１つの較正値から決定される、流れる条片の塗膜材料層の厚さを測定する方法」に相当する。
　すると、本願発明１と引用発明とは、次の一致点及び相違点を有する。
（一致点）
「渦電流を用いるセンサにより、流れる条片の少なくとも１つのエリアで、塗膜層の厚さを表す数量が測定され、このエリアの前記塗膜層の厚さは、測定された前記数量と少なくとも１つの較正値から決定される、流れる条片の塗膜材料層の厚さを測定する方法。」
（相違点１）
　本願発明１は、「渦電流センサを用いて行われる前記測定は、低励起周波数及び高励起周波数で前記流れる条片に面するコイルの複素インピーダンスの測定と、前記複素インピーダンス測定からの前記塗膜層の厚さを表す数量の生成とを含」むのに対して、引用発明は、そのような特定がない点。
（相違点２）
　本願発明１は、「少なくとも１つの前記較正値は、渦電流センサを用いる前記測定が実行されるエリアの条片の少なくとも１つの点で、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて前記条片の前記塗膜層の厚さ測定を実行することにより決定される」のに対して、引用発明の「定数Ｋ」は、磁気回路に対して、厚さ既知の一連の試料から実験によって規定されるが、「定数Ｋ」を、渦電流センサを用いる測定が実行される少なくとも１つの点で、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて塗膜層の厚さ測定を実行することにより決定することは、特定されていない点。
（２）判断
ア　上記相違点１について検討する。
　引用発明のセンサ１０は、共通巻線１２を含んでいて交番電圧で励磁される磁気回路を包含し、測定用磁束φと対照磁束φ０とを発生し、信号はφ−φ０を差動巻線１４の端子で集め、励磁と直角位相にある信号成分を測定するものであるが、磁気回路を励磁する「交番電圧」が、「低励起周波数及び高励起周波数」であることは記載されていない。
　一方、引用文献２には、低周波数及び高周波数の発振器の出力を検出コイルに印加し、そのインピーダンス変化から、欠陥信号の存在を検出する、周知の多周波法を使用する多周波渦流探傷装置が記載されており（上記「第３　２」）、引用文献３には、周波数の低い渦流プローブからは、薄鋼板の内部欠陥によって発生する信号が検出され、周波数の高い渦流プローブからは、薄鋼板の表面近傍から発生するノイズが検出される、欠陥を探傷する周知の渦流探傷方法が記載されている（上記「第３　３」）。
　しかしながら、引用文献２及び３には、渦電流センサを用いて行われる測定が、低励起周波数及び高励起周波数で流れる条片に面するコイルの複素インピーダンスの測定と、前記複素インピーダンス測定からの塗膜層の厚さを表す数量の生成をすることは記載されていない。
　また、引用文献５においても、渦電流センサを用いて行われる測定が、低励起周波数及び高励起周波数で流れる条片に面するコイルの複素インピーダンスの測定と、前記複素インピーダンス測定からの塗膜層の厚さを表す数量の生成をすることは記載されていない。
　したがって、引用発明において、「交番電圧」を、「低励起周波数及び高励起周波数」として、低周波数及び高周波数の測定用磁束φと対照磁束φ０とを発生し、低周波数及び高周波数の信号成分の複素インピーダンス測定によって、励磁と直角位相にある信号成分を測定することは、当業者が容易になし得たことであるとはいえない。
　よって、上記相違点１に係る本願発明１の構成は、引用発明、引用文献２、３、５に記載された事項に基づいて、当業者が容易になし得たことであるとはいえない。
イ　上記相違点２について検討する。
　引用発明のジュール効果による損失を表す式（１）中の定数Ｋは、磁気回路に対して、厚さ既知の一連の試料から実験によって規定されるが、「定数Ｋ」を、センサを用いる測定が実行される少なくとも１つの点で、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて被膜の厚さ測定を実行することにより決定することは記載されていない。
　一方、引用文献５には、蛍光Ｘ線厚さ測定装置を用いて、めっきの厚さを求める周知の試験方法が記載されているが（上記「第３　４」）、渦電流センサを用いる測定が実行されるエリアの条片の少なくとも１つの点で、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて前記条片の記塗膜層の厚さ測定を実行することにより、較正値を決定することは記載されていない。
　また、引用文献２及び３においても、Ｘ蛍光厚さゲージについて記載されていないので、引用発明において、「定数Ｋ」を、センサを用いる測定が実行される少なくとも１つの点で、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて被膜の厚さ測定を実行することにより決定することは、当業者が容易になし得たことであるとはいえない。
　したがって、上記相違点２に係る本願発明１の構成は、引用発明、引用文献２、３、５に記載された事項に基づいて、当業者が容易になし得たことであるとはいえない。
ウ　よって、本願発明１は、引用発明、引用文献２、３、５に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたとはいえない。
２　本願発明２について
　本願発明１を引用する本願発明２は、本願発明１をさらに限定した発明であるから、引用発明、引用文献２、３、５に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたとはいえない。
３　本願発明３−１４について
　本願発明１を引用する本願発明３−１４は、本願発明１をさらに限定した発明であるから、引用発明、引用文献２−５に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたとはいえない。
４　本願発明１５−１９について
　本願発明１を引用する本願発明１５−１９は、本願発明１の方法を実行するための装置又は当該装置を備える設備の発明であるから、引用発明、引用文献２−５に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたとはいえない。
第５　原査定の概要及び原査定についての判断
　原査定は、請求項１について上記引用文献１−３、５に基づいて、請求項２−１９について上記引用文献１−５に基づいて、当業者が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないというものである。
　しかしながら、平成２９年３月２１日付け手続補正により補正された請求項１−１９は、「渦電流センサを用いて行われる前記測定は、低励起周波数及び高励起周波数で前記流れる条片に面するコイルの複素インピーダンスの測定と、前記複素インピーダンス測定からの前記塗膜層の厚さを表す数量の生成とを含み、少なくとも１つの前記較正値は、渦電流センサを用いる前記測定が実行されるエリアの条片の少なくとも１つの点で、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて前記条片の前記塗膜層の厚さ測定を実行することにより決定されること」という事項を有するものとなっており、上記のとおり、本願発明１は、引用発明、引用文献２、３、５に記載された事項に基づいて、本願発明２−１９は、引用発明、引用文献２−５に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明できたものではない。
　したがって、原査定を維持することはできない。
第６　当審拒絶理由について
１　特許法第３９条第２項について
　当審では、本願の請求項１−１９に係る発明は、それぞれ、特願２０１５−２５１５９０号（以下、「同日出願」という。）の請求項１、４−２１に係る発明と同一であるとの拒絶の理由を通知しているが、同日出願の請求項１が、平成２９年６月１６日付けの補正において、
「【請求項１】
　渦電流を用いるセンサにより、
流れる
　渦電流センサを用いて行われる前記測定は、低励起周波数及び高励起周波数で前記流れる条片に面するコイルの複素インピーダンスの測定と、前記複素インピーダンス測定からの前記塗膜層の厚さを表す数量の生成とを含み、
　少なくとも１つの前記較正値は、渦電流センサを用いる前記測定が実行される
前記条片の
れ、
　
ここで、前記複素インピーダンス測定からの前記塗膜層の厚さを表す数量を生成する段階が、高周波数及び低周波数で測定された複素インピーダンスからの補償された複素インピーダンスのｍｏｄｕｌｕｓ　Ｍの計算を含むか、または、渦電流センサが、測定ヘッド（５０）を含み、該測定ヘッド（５０）は、流れる条片に面して配置される第１のコイル（５１）と、第１のコイルと同一であり、第１のコイル（５１）に対向して位置決めされる第２のコイル（５２）とを含み、これらの両コイルは、伝熱樹脂からなるブロック（５４）内に含まれる
２　特許法第３６条第６項第１号について
　当審では、請求項１の「少なくとも１つの前記較正値は、渦電流センサを用いる前記測定が実行されるエリアの少なくとも１つの点で、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて前記塗膜層の厚さ測定を実行することにより決定されること」という点は、流れている条片の塗膜層の厚さの測定を、十分に高速で正確に行うという課題が解決していないこととなるので、発明の詳細な説明に記載されていないとの拒絶の理由を通知しているが、
　平成２９年３月２１日付けで提出された意見書の「少なくとも１つの較正値の決定のために、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて測定される（測定の対象である）「条片」については、流れる条片の測定であるいわゆるオンライン測定だけでなく、予め条片を測定するいわゆるオフライン測定も可能であるため（［００８８］、［００８９］及び［００７１］の記載等をご参照ください）」「本願発明の方法は、（測定を非常に短い時間に行うことができるが、相対的な測定、すなわち較正の必要がある塗膜層の厚さが得られる）渦流センサでの測定と、（測定時間はやや遅いがより正確に測定できる）Ｘ蛍光厚さゲージでの（オンライン又はオフラインでの）測定とを組み合わせることにより（段落［００５６］をご参照）、流れている条片の塗膜層の厚さを十分に高速で正確に測定できるものです（段落［００７０］をご参照）。」との記載を参酌した結果、この拒絶の理由は解消した。
第７　むすび
　以上のとおり、本願発明１、２は、引用発明、引用文献２、３、５に記載された事項に基づいて、本願発明３−１９は、引用発明、引用文献２−５に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明できたものではない。
　したがって、原査定の拒絶の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。