(57)【要約】【課題】レーザダイオードの経時劣化に応じて、レーザダイオードの負荷を上げる以外の手法でも、安定的に動作できるようにする光ディスク装置を提供することである。【解決手段】光ディスクｄの再生を行うレーザダイオード２２を有する光ピックアップ１１を備えたＢＤ再生装置（光ディスク装置）１０において、レーザダイオード２２の劣化に応じて増加する駆動電流値が所定の閾値を超えた場合、サーボエラー又はディスク判別ミスに対するリトライ回数の上限を上げる構成とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの再生及び／又は記録を行うレーザダイオードを有する光ピックアップを備えた光ディスク装置において、
前記レーザダイオードの劣化に応じて増加するパラメータが所定の閾値を超えた場合、前記レーザダイオードの劣化によって生じるエラーに対するリトライ回数の上限を上げることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記レーザダイオードの駆動電流値を測定して前記パラメータとすることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記駆動電流値を所定時間毎に測定して記録することを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記光ピックアップの温度を測定して前記パラメータとすることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記温度を所定時間毎に測定して記録することを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記レーザダイオードの累積使用時間を測定して前記パラメータとすることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記閾値が複数設定され、各閾値を超える度に、前記レーザダイオードの劣化によって生じるエラーに対するリトライ回数の上限を上げることを特徴とする請求項１〜６の何れかに記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記レーザダイオードの劣化によって生じるエラーが、サーボエラー又はディスク判別ミスであることを特徴とする請求項１〜７の何れかに記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザダイオードのレーザで記録媒体の再生及び／又は記録を行う光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置の光ピックアップにはレーザダイオードが使用されている。このレーザダイオードには寿命があり、使用時間及び使用出力に応じて性能が劣化する。そして、性能劣化が一定以上になると、例えば、ディスクの種類の判別を誤ったり、光ディスクの再生中にサーボエラーを生じたりするなどの不具合が起こる可能性が高くなる。
【０００３】
こうした光ディスク装置のレーザダイオードの特性を考慮して、従来から様々な提案がなされている。
【０００４】
例えば、特許文献１には、光ヘッドにより記録媒体上にデータを記録する際の光ビームのパワー値を任意の値に設定する記録パワー値制御手段と、記録媒体上に記録したデータが正確に記録されたかをチェックする記録品質チェック手段と、記録品質チェック手段によって記録品質が異常と判断された場合に、記録パワー値制御手段によって記録パワー値を増加させて記録動作の再試行（ライトリトライ）を行うか、あるいは交替処理を行うかを判断する再試行判断手段と、記録動作時に使用する記録パワーの初期値を選択する記録パワー初期値選択手段とを備え、記録動作の再試行動作を行うことによって、記録媒体における最適な記録パワー値を検索しながら記録動作を行う光ディスク装置の構成が開示されている。
【０００５】
また、特許文献２には、レーザ光を照射するレーザダイオードの電流経路に設けられ、所定時におけるレーザダイオードの駆動電流を検出する抵抗器と、抵抗器により検出されたレーザダイオードの駆動電流値を記憶するフラッシュＲＯＭと、フラッシュＲＯＭに記憶された所定時の駆動電流値と現在の駆動電流値とを比較する比較器とを備え、現在の駆動電流値が所定時の駆動電流値より所定量大きいときにレーザダイオードが劣化していると判断して、レーザダイオードのレーザ劣化判定をパワーメータや電流計等の外部機器を利用せずに装置内部で行う光記録再生装置の構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平１１−１５４３３０号公報
【特許文献２】特開平１１−１６１９９５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
レーザダイオードが経時劣化することを前提としたときの光ディスク装置の課題の１つとして、レーザダイオードがある程度経時劣化しても安定的に再生・録画動作できるようにすることが挙げられる。この課題について、特許文献１の手法では、記録パワー値を増加させるには限度があり、特許文献２にはレーザダイオードの劣化を補う技術については開示されていない。
【０００８】
本発明は、レーザダイオードの経時劣化に応じて、レーザダイオードの負荷を上げる以外の手法でも、安定的に動作できるようにする光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために本発明は、光ディスクの再生及び／又は記録を行うレーザダイオードを有する光ピックアップを備えた光ディスク装置において、前記レーザダイオードの劣化に応じて増加するパラメータが所定の閾値を超えた場合、前記レーザダイオードの劣化によって生じるエラーに対するリトライ回数の上限を上げることを特徴とする。
【００１０】
この構成によれば、レーザダイオードの劣化に応じてリトライ回数の上限が上がり、エラーが抑制される。
【００１１】
上記の光ディスク装置において、前記レーザダイオードの駆動電流値を測定して前記パラメータとすることが望ましい。前記駆動電流値は、例えば、所定時間毎に測定して記録すればよい。
【００１２】
この構成によれば、レーザダイオードの駆動電流値というレーザダイオードの劣化に関わる値を用いることで、レーザダイオードの経時劣化を正確に知ることができる。
【００１３】
また上記の光ディスク装置において、前記光ピックアップの温度を測定して前記パラメータとすることが望ましい。前記温度は、例えば、所定時間毎に測定して記録すればよい。
【００１４】
この構成によれば、光ピックアップの温度というレーザダイオードの劣化に関わる値を用いることで、レーザダイオードの劣化を知ることができる。
【００１５】
また上記の光ディスク装置において、前記レーザダイオードの累積使用時間を測定して前記パラメータとすることが望ましい。
【００１６】
この構成によれば、レーザダイオードの累積使用時間というレーザダイオードの劣化に関わる値を用いることで、レーザダイオードの経時劣化を知ることができる。
【００１７】
また上記の光ディスク装置において、前記閾値が複数設定され、各閾値を超える度に、前記レーザダイオードの劣化によって生じるエラーに対するリトライ回数の上限を上げるようにしてもよい。
【００１８】
この構成によれば、レーザダイオードの劣化具合に応じて細かくリトライ回数を制御することができる。
【００１９】
また、前記レーザダイオードの劣化によって生じるエラーは、具体的には、サーボエラー又はディスク判別ミスとすることができる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によると、レーザダイオードの劣化に応じてエラーに対するリトライ回数の上限を上げることにより、初期値のリトライ回数ではサーボエラーなどが解消しない場合に対処できる。その結果、再生性能が向上し、安定的に動作する光ディスク装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明のＢＤ再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明のＢＤ再生装置における再生時の動作の一部を示すフローチャートである。
【図３】本発明のＢＤ再生装置におけるＩｏｐに対するリトライ回数の上限Ｎを示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、光ディスク装置の一例としてＢＤ（Blu-ray Disc）再生装置を用いて説明する。図１は、ＢＤ再生装置１０の構成を示すブロック図である。ＢＤ再生装置１０は、光ピックアップ１１と、ＲＦアンプ１２と、モータ１４と、サーボ回路１４と、信号処理回路１５と、トラックバッファ１６と、システムデコーダ１７と、システムマイコン（制御部）１８と、表示部１９と、フラッシュＲＯＭ２０とを備えている。
【００２３】
光ピックアップ１１は、所定波長のレーザ光をディスクｄの記録面に向けて照射し、その反射光を受けて電気信号（反射光検出信号）に変換する。また光ピックアップ１１は、この反射光検出信号をＲＦアンプ１２に供給する。なお、光ピックアップ１１は、ディスクｄから対象のデータを適宜読み出すことができるように、所定のガイド軸等により、ディスクｄの径方向に移動自在に支持されている。
【００２４】
また光ピックアップ１１には、温度計２１が備えられている。温度計２１は光ピックアップ１１内の温度、特にディスクｄの再生を行うレーザダイオード周辺の温度を測定することが望ましく、サーミスタなどを用いることができる。
【００２５】
ここで、光ピックアップ１１に搭載されている再生用のレーザダイオード２２は、同一の駆動電流が流された場合であっても、温度変化や経時劣化に応じて出力するレーザ強度が変化する。そこで、光ピックアップ１１では、例えば、レーザダイオード２２の出力するレーザ強度を検出し、レーザ強度を再生処理可能な値にするよう駆動電流を調整するようになっている。調整した後の駆動電流値（Ｉｏｐ）は、フラッシュＲＯＭ２０などに記録する。
【００２６】
ＲＦアンプ１２は、光ピックアップ１１より供給された反射光検出信号からＲＦ信号、トラッキング信号、及びフォーカス信号等を生成する。更に、ＲＦ信号をデータスライスした二値化信号を生成する。ＲＦアンプ１２は、生成したトラッキング信号等をサーボ回路１４に供給し、また、生成した二値化信号を再生信号として信号処理回路１５に供給する。
【００２７】
モータ１３は、ディスクｄを搭載する所定のターンテーブルを回転させるためのスピンドルモータ等からなる。モータ１３は、サーボ回路１４により制御され、ディスクｄを例えば線速度が一定となるように回転駆動させる。
【００２８】
サーボ回路１４は、モータ１３を駆動制御し、所定の回転速度で回転駆動させる。また、サーボ回路１４は、ＲＦアンプ１２から供給されるトラッキング信号等によりスレッドモータ（不図示）を駆動制御し、光ピックアップ１１をディスクｄの径方向に適宜移動させる。
【００２９】
信号処理回路１５は、ＲＦアンプ１２から供給される再生信号を復調し、そして、誤り訂正等を行う。信号処理回路１５は、この復調等により得られた復調データをトラックバッファ１６に順次供給する。
【００３０】
トラックバッファ１６は、所定容量のＲＡＭ等からなり、信号処理回路１５から供給された復調データを順次記憶する。なお、トラックバッファ１６に記憶された復調データは、システムデコーダ１７へ逐次供給される。
【００３１】
システムデコーダ１７は、トラックバッファ１６から供給される復調データをデコードし、映像データ及び音声データ等を生成する。システムデコーダ１７は、生成した映像データ及び音声データ等を所定のＡＶアンプ等に供給する。
【００３２】
システムマイコン１８は、例えば、ＲＯＭ、ＲＡＭ、及びＣＰＵを備えた１チップマイコン等からなり、ＢＤ再生装置１０全体を制御する。例えば、システムマイコン１８は、読み出し対象となる対象データのアドレスを設定し、サーボ回路１４等を制御して、設定したアドレスの対象データをサーチする。そして、サーチした対象データをディスクｄから読み出し、信号制御回路１５を制御して、読み出した対象データ（再生信号）の復調及び誤り訂正等を行い、復調データをトラックバッファ１６に格納する。システムマイコン１８は、これらアドレス設定、サーチ、読み出し、復調・誤り訂正、データ格納等からなる一連の動作をトラックバッファ１６の空き容量等に応じて繰り返し行う。
【００３３】
またこれらの動作と並行して、システムマイコン１８は、システムデコーダ１７を制御してトラックバッファ１６に格納されている復調データをデコードし、映像データ及び音声データ等を順次再生する。
【００３４】
表示部１９は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）パネル等からなり、ＢＤ再生装置１０の動作状況等を表示する。
【００３５】
次に、ＢＤ再生装置１０の動作について説明する。図２はＢＤ再生装置１０における再生時の動作の一部を示すフローチャートである。
【００３６】
ディスクｄの再生が指示されると、システムマイコン１８の制御により、ステップＳ１０において、ディスクｄの回転駆動が開始される。それとともに、ステップＳ１１へ進んで、システムマイコン１８はフラッシュＲＯＭ２０に記録されているレーザダイオード２２の最新のＩｏｐを読み出す。なお、ＩｏｐのフラッシュＲＯＭ２０への記録は、所定時間毎（例えば１時間毎）、再生開始毎など、適時更新することで最新の情報に保つことができる。
【００３７】
次にステップＳ１２へ進んで、読み出したＩｏｐが第１閾値Ｔ1を超えているか否かを判別する。第１閾値Ｔ1は、レーザダイオード２２の劣化がある程度進み、サーボエラー（フォーカスエラー、トラッキングエラー）やディスク判別ミスなどレーザダイオード２２の劣化によって生じる不具合が起こりやすくなっているかどうかを判断するための閾値であり、例えば４０ｍＡとすることができる。
【００３８】
ステップＳ１２においてＩｏｐ≦Ｔ1である場合は、不具合が生じる程レーザダイオード２２は劣化していないと判断し、ステップＳ１３へ進んでレーザダイオード２２の劣化によって生じるエラーに対するリトライ回数の上限Ｎを初期値であるＮ1（例えば１０回）とする。
【００３９】
一方、ステップＳ１２においてＩｏｐ＞Ｔ1である場合は、少なくともレーザダイオード２２の劣化がある程度進み、レーザダイオード２２の劣化によって生じる不具合が起こりやすくなっている（第１段階）と判断し、ステップＳ１４へ進む。
【００４０】
ステップＳ１４では、読み出したＩｏｐが第２閾値Ｔ2を超えているか否かを判別する。第２閾値Ｔ2は、レーザダイオード２２の劣化が第１段階よりもさらに進み、サーボエラー（フォーカスエラー、トラッキングエラー）やディスク判別ミスなどレーザダイオード２２の劣化によって生じる不具合がさらに起こりやすくなっているかどうかを判断するための閾値であり、例えば６０ｍＡとすることができる。
【００４１】
ステップＳ１４においてＩｏｐ≦Ｔ2である場合は、第１段階であると判断し、ステップＳ１５へ進んでレーザダイオード２２の劣化によって生じるエラーに対するリトライ回数の上限Ｎを初期値Ｎ1よりも大きいＮ2（例えば１５回）とする。
【００４２】
一方、ステップＳ１４においてＩｏｐ＞Ｔ2である場合は、レーザダイオード２２の劣化が第１段階よりもさらに進み、レーザダイオード２２の劣化によって生じる不具合がさらに起こりやすくなっている（第２段階）と判断し、ステップＳ１６へ進む。
【００４３】
ステップＳ１６では、レーザダイオード２２の劣化によって生じるエラーに対するリトライ回数の上限ＮをＮ2よりも大きいＮ3（例えば２０回）とする。
【００４４】
図３は、Ｉｏｐに対するリトライ回数の上限Ｎを、上記の例示した値に基づいてグラフ化したものである。これによると、レーザダイオード２２の劣化が進むにつれてリトライ回数Ｎの上限を上げているのが一目でわかる。
【００４５】
このように、レーザダイオード２２の劣化に応じて増加するＩｏｐが所定の閾値を超えた場合、レーザダイオード２２の劣化によって生じるエラーに対するリトライ回数Ｎの上限をＮ2、Ｎ3と上げることにより、初期値Ｎ1のリトライ回数ではサーボエラーなどが解消しない場合に対処できる。その結果、再生性能が向上し、安定的に動作するＢＤ再生装置１０が得られる。
【００４６】
なお、上記の実施形態では２つの閾値Ｔ1、Ｔ2を採用したが、閾値の数には特に限定はなく、１つでも３つ以上でも構わない。好ましくは、閾値が複数設定され、各閾値を超える度に、レーザダイオード２２の劣化によって生じるエラーに対するリトライ回数の上限Ｎを上げることである。
【００４７】
また、上記の実施形態ではＩｏｐを用いてリトライ回数の上限Ｎを決定したが、レーザダイオード２２の劣化に応じて変化するパラメータであれば、Ｉｏｐの代わりに用いることができる。
【００４８】
例えば、上記のパラメータとして温度計２１で測定された温度を用いることができる。温度が高いということはレーザダイオード２２が劣化しているということに繋がるからである。この場合、温度を所定時間毎に測定してフラッシュＲＯＭ２０に記録し、そこから読み出した温度を、例えば第１閾値や第２閾値となる予め設定された温度と比較することにより、図２と同様の処理でリトライ回数の上限Ｎを決定することができる。
【００４９】
また例えば、上記のパラメータとしてレーザダイオード２２の累積使用時間を用いることもできる。累積使用時間が長いということはレーザダイオード２２が経時劣化しているということに繋がるからである。累積使用時間は例えばシステムマイコン１８で管理することができる。この場合、例えば第１閾値や第２閾値となる予め設定された累積使用時間と比較することにより、図２と同様の処理でリトライ回数の上限Ｎを決定することができる。
【００５０】
なお、レーザダイオード２２の劣化に応じて減少するパラメータを採用した場合は、所定の閾値を下まわった場合、サーボエラーに対するリトライ回数の上限を上げるようにすればよい。また、上記の各種パラメータを適宜組み合わせて用いてもよい。
【００５１】
上記の実施形態では再生装置を例に説明したが、録画や録音機能を有する装置においては、録画時や録音時の動作に対する不具合を抑制するために本発明を上記の実施形態と同様に適用できる。その際、レーザダイオードは、再生及び記録を行うもの、再生のみを行うもの、記録のみを行うものを適宜組み合わせて使用すればよい。
【産業上の利用可能性】
【００５２】
本発明は、レーザダイオードのレーザで記録媒体の再生及び／又は記録を行う装置、つまり、ＢＤ、ＤＶＤ、ＣＤなどの光ディスクの再生又は／及び記録を行う光ディスク装置に利用することができる。
【符号の説明】
【００５３】
１０  ＢＤ再生装置（光ディスク装置）
１１  光ピックアップ
２２  レーザダイオード
ｄ  光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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