(57)【要約】【課題】被検物の内部屈折率分布を高精度に計測する。【解決手段】計測方法は、第１の媒質および第２の媒質中に被検物を配置し、被検物に参照光を入射させて該被検物の透過波面をそれぞれ計測する第１および第２の計測ステップを有し、両計測ステップの計測結果を用いて該被検物の内部屈折率分布を算出する。第１および第２の計測ステップにおいて被検物における周辺部に入射して該被検物の同一点を通る参照光の光線をそれぞれ第１の光線および第２の光線とする。第１および第２の光線の進行方向を互いに異ならせて被検物を透過した後の参照光が被検物に入射する前の参照光に比べて平行光に近づくように該参照光の開口数を変更する。第１および第２の光線に沿った被検物の幾何学的厚みを用いて該被検物の実効的厚みを算出し、両計測ステップの計測結果と実効的厚みとを用いて被検物の内部屈折率分布を算出する。【選択図】図１
2011106975.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検物の屈折率よりも低い屈折率を有する第１の媒質中に前記被検物を配置し、前記被検物に参照光を入射させて該被検物の透過波面を計測する第１の計測ステップと、
前記被検物の屈折率よりも低く、かつ前記第１の媒質の屈折率とは異なる屈折率を有する第２の媒質中に前記被検物を配置し、前記被検物に前記参照光を入射させて該被検物の透過波面を計測する第２の計測ステップと、
該第１および第２の計測ステップの計測結果を用いて前記被検物の内部屈折率分布を算出する算出ステップとを有し、
前記第１および第２の計測ステップにおいて前記被検物に入射する前記参照光のうち、前記被検物における光軸上の中心部から離れた周辺部に入射して該被検物の同一点を通る光線をそれぞれ第１の光線および第２の光線とするとき、
前記第１および第２の計測ステップにおいて、前記第１および第２の光線の進行方向を互いに異ならせて、前記被検物を透過した後の前記参照光が前記被検物に入射する前の前記参照光に比べて平行光に近づくように該参照光の開口数を変更し、
前記算出ステップにおいて、前記第１および第２の光線のそれぞれに沿った前記被検物の幾何学的厚みを用いて該被検物の実効的厚みを算出し、前記第１および第２の計測ステップの計測結果と前記実効的厚みとを用いて前記被検物の内部屈折率分布を算出することを特徴とする屈折率分布計測方法。
【請求項２】
前記第１および第２の計測ステップにおいて、前記被検物を透過した後の前記参照光のうち、有効径における光軸側の５割以内の光が平行光となるように前記開口数を変更することを特徴とする請求項１に記載の屈折率分布計測方法。
【請求項３】
光学素子をモールド成形する成形ステップと、
前記光学素子を評価する評価ステップとを有し、
前記評価ステップにおいて、請求項１又は２に記載の計測方法を用いて前記光学素子の内部屈折率分布を計測することを特徴とする光学素子の製造方法。
【請求項４】
被検物の屈折率よりも低い屈折率を有する第１の媒質中に前記被検物を配置し、前記被検物に参照光を入射させて該被検物の透過波面を計測する第１の計測、および前記被検物の屈折率よりも低く、かつ前記第１の媒質の屈折率とは異なる屈折率を有する第２の媒質中に前記被検物を配置し、前記被検物に前記参照光を入射させて該被検物の透過波面を計測する第２の計測を行う計測部と、
前記第１および第２の計測の結果を用いて前記被検物の内部屈折率分布を算出する算出部とを有し、
前記第１および第２の計測において前記被検物に入射する前記参照光のうち、前記被検物における光軸上の中心部から離れた周辺部に入射して該被検物の同一点を通る光線をそれぞれ第１の光線および第２の光線とするとき、
前記計測部は、前記第１および第２の光線の進行方向を互いに異ならせて、前記被検物を透過した後の前記参照光が前記被検物に入射する前の前記参照光に比べて平行光に近づくように該参照光の開口数を変更し、
前記算出部は、前記第１および第２の光線のそれぞれに沿った前記被検物の幾何学的厚みを用いて該被検物の実効的厚みを算出し、前記第１および第２の計測の結果と前記実効的厚みとを用いて前記被検物の内部屈折率分布を算出することを特徴とする屈折率分布計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学素子等の被検物の屈折率分布を測定する方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラやレーザービームプリンタ等の光学機器に用いられるレンズ等の光学素子には、高い屈折率が求められている。また、高屈折率の光学ガラスやプラスチック材料でも、モールド成形技術を用いることで、非球面等の複雑な形状も容易に製作することができる。
【０００３】
ただし、モールド成形では、成形条件によって、光学素子の内部に屈折率の不均一が生じることがある。このような内部屈折率の不均一は、光学素子の光学特性に大きな影響を及ぼし、所望の光学特性を得られなくするおそれがある。このため、高屈折率を有する光学素子の内部の光学的均質性を高精度に計測することが求められている。
【０００４】
光学的均質性の測定法としては、一般に干渉測定法が知られている。干渉測定法によれば、被検物（光学素子）を高精度に加工して、その透過波面を計測することで、内部屈折率分布を計測することが可能である。また、被検物をガラスプレートに挟み、その間に注入した被検物とほぼ等しい屈折率を有するオイルに被検物を浸すことで、該被検物の面精度誤差を低減させる方法も提案されている。
【０００５】
特許文献１には、被検物を該被検物とほぼ等しい屈折率を有する媒質（マッチングオイル）に浸して透過波面を計測することで、該被検物の光学的性質を求める方法が開示されている。この方法によれば、被検物を高精度に加工することなく該被検物の内部屈折率分布を求めることができる。
【０００６】
また、特許文献２にて開示された計測方法では、被検物を、該被検物とほぼ等しい屈折率を有する第１のマッチングオイルに浸して透過波面を計測する。さらに、該被検物をこれとはわずかに異なる屈折率を有する第２のマッチングオイルに浸して透過波面を計測する。そして、第１のマッチングオイルによる計測結果と第２のマッチングオイルによる計測結果とから、被検物の形状と屈折率分布を求める。
【０００７】
第２のマッチングオイルによる計測では、検出器に、屈折率分布と被検物の形状の影響が干渉縞となって現れる。このため、第２のマッチングオイルの屈折率は、干渉縞が密になりすぎない範囲で被検物とわずかに異なっている必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開平０１−３１６６２７号公報
【特許文献２】特開平０２−００８７２６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
特許文献１，２にて開示された計測方法では、被検物の屈折率とほぼ等しい屈折率を有するマッチングオイルが必要である。しかしながら、屈折率が高いマッチングオイルは、透過率が低い。このため、特許文献１，２にて開示された計測方法により高屈折率の被検物の透過波面を計測すると、検出器からは小さな信号しか得られず、計測精度が低くなる。
【００１０】
一方、低い屈折率の媒質を用いると、被検物の形状に起因する収差が透過波面に加算される。また、計測に使用される光が平行光ではなくなるため、被検物以外の光学素子の配置誤差も透過波面に影響する。このため、透過波面から屈折率分布のみを精度良く抽出することが難しい。
【００１１】
本発明は、高屈折率の被検物を低屈折率の媒質に浸す場合でも、被検物の内部屈折率分布を高精度に計測できる計測方法および計測装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の一側面としての屈折率分布計測方法は、被検物の屈折率よりも低い屈折率を有する第１の媒質中に被検物を配置し、該被検物に参照光を入射させて該被検物の透過波面を計測する第１の計測ステップと、該被検物の屈折率よりも低く、かつ第１の媒質の屈折率とは異なる屈折率を有する第２の媒質中に該被検物を配置し、該被検物に該参照光を入射させて該被検物の透過波面を計測する第２の計測ステップと、該第１および第２の計測ステップの計測結果を用いて該被検物の内部屈折率分布を算出する算出ステップとを有する。第１および第２の計測ステップにおいて被検物に入射する参照光のうち、被検物における光軸上の中心部から離れた周辺部に入射して該被検物の同一点を通る光線をそれぞれ第１の光線および第２の光線とするとき、第１および第２の計測ステップにおいて、第１および第２の光線の進行方向を互いに異ならせて、被検物を透過した後の参照光が被検物に入射する前の参照光に比べて平行光に近づくように該参照光の開口数を変更する。そして、算出ステップにおいて、第１および第２の光線のそれぞれに沿った被検物の幾何学的厚みを用いて該被検物の実効的厚みを算出し、第１および第２の計測ステップの計測結果と実効的厚みとを用いて被検物の内部屈折率分布を算出することを特徴とする。
【００１３】
なお、光学素子をモールド成形する成形ステップと、該光学素子を評価する評価ステップとを有し、該評価ステップにおいて、上記計測方法を用いて光学素子の内部屈折率分布を計測するようにした光学素子の製造方法も本発明の他の一側面を構成する。
さらに、本発明の他の一側面としての屈折率分布計測装置は、被検物の屈折率よりも低い屈折率を有する第１の媒質中に該被検物を配置し、該被検物に参照光を入射させて該被検物の透過波面を計測する第１の計測、および該被検物の屈折率よりも低く、かつ第１の媒質の屈折率とは異なる屈折率を有する第２の媒質中に該被検物を配置し、該被検物に該参照光を入射させて該被検物の透過波面を計測する第２の計測を行う計測部と、第１および第２の計測の結果を用いて被検物の内部屈折率分布を算出する算出部とを有する。第１および第２の計測において被検物に入射する参照光のうち、被検物における光軸上の中心部から離れた周辺部に入射して該被検物の同一点を通る光線をそれぞれ第１の光線および第２の光線とするとき、計測部は、第１および第２の光線の進行方向を互いに異ならせて、被検物を透過した後の参照光が被検物に入射する前の参照光に比べて平行光に近づくように該参照光の開口数を変更する。そして、算出部は、第１および第２の光線のそれぞれに沿った被検物の幾何学的厚みを用いて該被検物の実効的厚みを算出し、第１および第２の計測の結果と実効的厚みとを用いて被検物の内部屈折率分布を算出することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、高い屈折率の被検物をそれよりも低い屈折率を有する媒質に浸して該被検物の内部屈折率分布を高い精度で計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の実施例１である屈折率分布計測装置の構成を示す図。
【図２】実施例１における屈折率分布の算出手順を示すフローチャート。
【図３】被検物上に定義された座標系と実施例１の計測装置内での光路を示す図。
【図４】ＣＣＤの位置に誤差がある場合の光路長の変化を示す図。
【図５】被検物を透過した光のＮＡと屈折率分布誤差との関係を示す図。
【図６】被検物の球面収差が大きい場合における被検物を透過した光の状態を示す図。
【図７】本発明の実施例２である屈折率分布計測装置の構成を示す図。
【図８】本発明の実施例３である屈折率分布計測装置の構成を示す図。
【図９】実施例１〜３にて説明した屈折率分布計測方法を用いた光学素子の製造方法を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。
【実施例１】
【００１７】
まず、本発明の実施例１である屈折率分布計測方法を実施する屈折率分布計測装置について説明する。本実施例では、被検物を、被検物よりも低く、互いに異なる屈折率を有する２種類の媒質（ここでは例として、空気と水とする）に浸してその透過波面を計測することにより、該被検物の内部屈折率分布を算出する。本実施例において、被検物は、例として、負のパワーを持つレンズ等の光学素子とする。
【００１８】
図１には、被検物４０を空気（第１の媒質）中および水（第２の媒質）中に配置してその透過波面を計測するＴａｌｂｏｔ干渉計（計測部）の概略構成を示している。被検物４０は、被検物ケース４１内において空気又は水に浸される。空気と水の屈折率はいずれも被検物４０の屈折率よりも低い。また、水の屈折率は、空気の屈折率よりも高い。
【００１９】
レーザ光源（例えば、Ｈｅ−Ｎｅレーザ）１０から射出されたレーザ光は、ピンホール２０を通過する際に回折される。ピンホール２０の直径φは、回折光が理想球面波と見なせる程度に小さく、コリメータレンズ３０の開口数（以下、ＮＡと記す）とレーザ光源１０の波長λとを用いて、以下の式を満たすように設計されている。
【００２０】
【数１】
2011106975.tif 000003
【００２１】
λが６００ｎｍであり、ＮＡが０．３程度である場合は、ピンホール２０の直径φは２μｍ程度でよい。
ピンホール２０を通過したレーザ光は、第１のコリメータレンズ３０および第２のコリメータレンズ３１を通過することで収束光となる。被検物４０を照明する光を生成する光学系をここでは、照明光学系という。本実施例では、ピンホール２０、第１のコリメータレンズ３０および第２のコリメータレンズ３１によって照明光学系が構成される。
収束光となったレーザ光は、被検物ケース４１内の空気又は水の中を通って被検物４０に入射し、これを透過する。被検物ケース４１内の媒質を通って被検物４０に入射するレーザ光を参照光という。参照光２１は、照明光学系からの光のうち実際に被検物４０を透過する光のみを意味し、被検物ケース４１や被検物４０の形状によって反射される光等、被検物４０を透過しない光は含まない。
被検物ケース４１内の空気又は水と被検物４０とを透過したレーザ光（透過光）は、概ね平行光となって２次元回折格子である直交回折格子５０を通過する。そして、検出器である撮像素子（ＣＣＤセンサ又はＣＭＯＳセンサであり、以下、ＣＣＤという）６０により撮像（計測）される。被検物４０を透過した透過光のＮＡが小さい場合、回折格子５０とＣＣＤ６０間の距離Ｚが以下の式（１）で示されるＴａｌｂｏｔ条件を満たすと、ＣＣＤ６０上に回折格子５０の偽解像が干渉縞として得られる。
【００２２】
【数２】
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【００２３】
ここで、Ｚは回折格子５０とＣＣＤ６０の間の距離を示し、ここではＴａｌｂｏｔ距離という。また、ｍは自然数であり、ｄは回折格子５０の格子ピッチである。Ｚ０は回折格子５０から被検物４０の像面までの距離である。ただし、距離Ｚ０は回折格子５０からＣＣＤ６０に向かう方向を正としている。被検物４０を透過した光が概ね平行光となっているときのＴａｌｂｏｔ距離Ｚは、式（２）においてＺ０→∞のときの値に相当する。回折格子５０の格子ピッチｄは、被検物４０の収差の大きさに応じて決められる。
【００２４】
図２には、ＣＣＤ６０により撮像された画像を用いて、被検物４０の内部屈折率分布ＧＩを算出する処理の手順を示す。この算出処理は、図１に示したマイクロコンピュータ等の演算ユニット（算出部）７０によってコンピュータプログラムに従って行われる。
【００２５】
まず、図１（ａ）に示したように、被検物ケース４１内に空気（図２には媒質１と記す）を満たし、該空気中（第１の媒質中）に被検物４０を配置する（ステップＳ１０）。
次に、被検物４０を透過した後の参照光（透過光）が、被検物４０に入射する前の参照光に比べてより平行光に近づくように、参照光２１のＮＡを変更する（ステップＳ２０）。参照光２１のＮＡの変更は、ＣＣＤ６０で透過光の光量分布を見ながら、第２のコリメータレンズ３１と被検物４０との光軸方向の間隔を調整することで行うことができる。第２のコリメータレンズ３１は、照明光学系を構成する光学素子のうち被検物４０に最も近い光学素子に相当する。
ここで、参照光２１のＮＡとは、照明光学系を透過した直後のＮＡではなく、媒質中のＮＡを意味する。透過光の光量分布の観察は、ＣＣＤ６０の代わりに、別途スクリーン等の散乱体を挿入して行ってもよい。透過光の光量分布の観察を行う代わりに、透過光が平行光に近づくように光学素子の配置を設計し、その設計値に基づいて第２のコリメータレンズ３１と被検物４０を配置してもよい。
【００２６】
そして、後述するステップＡに従って、被検物ケース４１内の媒質が空気である場合の透過波面（波面収差）Ｗ１を算出する（ステップＳ３０）。ステップＡは、次の３つのステップにより構成される。
【００２７】
まず、被検物４０が理想的な内部屈折率分布を有するとした場合のシミュレーション波面Ｗｓｉｍを計算する（ステップＳ３１）。このステップは、ステップ２０と同じ配置において、被検物４０の内部に一様の屈折率分布を与えて、別途、透過波面を計算するステップである。このように屈折率が一様である被検物を、基準被検物という。つまり、シミュレーション波面Ｗｓｉｍは、基準被検物に対応する透過波面である。
図３（ａ）に示される被検物４０内にある点（ｘ，ｙ）におけるＷｓｉｍは、式（３）で表される。ここでは、式（３）を簡略化するために、被検物ケース４１の壁の厚さを無視している。被検物ケース４１の壁は、光を透過する材質（例えば、ガラス）である。
【００２８】
【数３】
2011106975.tif 000005
【００２９】
ただし、Ｌ１ａ（ｘ，ｙ）〜Ｌ１ｄ（ｘ，ｙ）は、図３（ｂ）に示される参照光の光線２１ａに沿った上記各構成要素間の幾何学的距離である。光線２１ａは、図３（ａ）に示す被検物４０の内部のある点（ｘ，ｙ）を通る光線である。Ｌ１（ｘ，ｙ）は、被検物４０内における光線２１ａの光路の幾何学的長さ（距離）、すなわち光線２１ａに沿った被検物４０の幾何学的厚みである。
Ｌ１（ｘ，ｙ）は、基準被検物を用いた光線追跡によって計算することができる。そこで、シミュレーション波面Ｗｓｉｍを計算する際に、任意の点のＬ１（ｘ，ｙ）も算出しておく。Ｎ１は空気の屈折率であり、Ｎ（０，０）は、基準被検物の屈折率である。Ｎ（０，０）は、被検物４０の中心座標（０，０）の屈折率を光軸方向に平均化したときの屈折率に相当する。なお、Ｎ（０，０）は、別の測定方法により調べる必要がある。
【００３０】
次に、図１（ａ）に示した計測装置において被検物４０を空気に浸した状態（第１媒質中）での透過波面を計測する（ステップＳ３２）。このステップには、ＣＣＤ６０による干渉縞の画像の取得と、不図示の処理回路による透過波面の画像回復処理とを含む。透過波面の画像回復処理（以下、波面回復という）は、ＦＦＴ（高速フーリエ変換）法によって行う。ＦＦＴ法による波面回復は、収差が干渉縞のキャリア縞を乱す性質を利用して、キャリア縞と収差とを分離する方法である。具体的には、干渉縞に２次元ＦＦＴを行い、周波数マップに変換する。
次に、周波数マップにおけるキャリア周波数の近傍部分のみを切り出して、キャリア周波数が原点になるように座標変換した上で、ｉＦＦＴ（逆高速フーリエ変換）を行う。これにより、複素振幅マップの位相項が求められる。その結果得られた位相マップが、透過波面となる。
【００３１】
Ｗｍは、図３（ｂ）のＬ１ａ（ｘ，ｙ）〜Ｌ１ｄ（ｘ，ｙ）を用いて、以下の式（４）のように表される。
【００３２】
【数４】
2011106975.tif 000006
【００３３】
Ｎ（ｘ，ｙ）は、被検物４０の座標（ｘ，ｙ）における光線２１ａの進行方向に平均化された屈折率を示す。ｄＬ（ｘ，ｙ）は、光線２１ａの進行方向における被検物４０の厚み誤差（形状誤差）成分を示す。式（３）と式（４）におけるＬ１ａ（ｘ，ｙ）〜Ｌ１ｄ（ｘ，ｙ）とＬ１（ｘ，ｙ）は同じ値を用いている。これは、屈折率分布がある場合と無い場合の光路の違いは無視できるほど小さいためである。
【００３４】
ステップＡの最後に、ステップＳ３１で求めたシミュレーション波面ＷｓｉｍとステップＳ３２で求めた透過波面Ｗｍとの差分に相当する波面を計算する。その波面は、式（５）のようになる。
【００３５】
【数５】
2011106975.tif 000007
【００３６】
そして、式（６）に示す近似を行うことで、第１の透過波面Ｗ１を算出する（ステップＳ３３）。式（７）は、屈折率分布ＧＩと透過波面Ｗ１との関係を示す。
【００３７】
【数６】
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【００３８】
【数７】
2011106975.tif 000009
【００３９】
以上が、本実施例の屈折率分布計測方法における第１の計測ステップであり、その計測結果として第１の透過波面Ｗ１が得られる。
【００４０】
次に、図１（ｂ）に示すように、被検物ケース４１に水（図２には媒質２と記す）を満たした状態で、水中（第２の媒質中）に被検物４０を配置する（ステップＳ４０）。続いて、ステップＳ２０と同様にして、被検物４０を透過した後の参照光（透過光）が、被検物４０に入射する前の参照光に比べてより平行光に近づくように、被検物４０に入射する参照光２１のＮＡを変更する（ステップＳ５０）。水の屈折率が空気の屈折率よりも大きいため、第２のコリメータレンズ３１と被検物４０との間の光軸方向間隔は、被検物４０を水に浸した場合の方が空気に浸した場合よりも短くなる。
次に、水に浸した被検物４０が理想的な内部屈折率分布を有する場合のシミュレーション波面Wｓｉｍを計算する（ステップＳ３１）。そして、被検物４０を水に浸した状態（第２媒質中）で透過波面Ｗｍを計測し（ステップＳ３２）、シミュレーション波面Ｗｓｉｍと透過波面Ｗｍとの差分に相当する波面収差Ｗ２を求める（ステップＳ３３）。式（８）に、波面収差Ｗ２を示す。
【００４１】
【数８】
2011106975.tif 000010
【００４２】
式（８）中のＮ２は水の屈折率であり、Ｌ２（ｘ，ｙ）は、被検物４０内における光線２１ａの光路の幾何学的長さ（距離）、すなわち光線２１ａに沿った被検物４０の幾何学的厚みである。Ｌ２（ｘ，ｙ）も、シミュレーション波面Ｗｓｉｍを計算する際に、光線追跡によって計算できる。以上が、本実施例の屈折率分布計測方法における第２の計測ステップであり、その計測結果として第２の透過波面Ｗ２が得られる。
上述したように、第１および第２の計測ステップのそれぞれにおいて、透過光が平行光に近づくように参照光のＮＡを設定（変更）している。このため、被検物４０における光軸上の中心部から離れた周辺部でのある点（同一点）の座標を（ｘ，ｙ）とするとき、必然的にＬ１（ｘ，ｙ）とＬ２（ｘ，ｙ）は異なる値をとる。つまり、第１の媒質および点（ｘ，ｙ）を通る光線２１ａを第１の光線とし、第２の媒質および点（ｘ，ｙ）を通る光線２１ａを第２の光線とするとき、これら第１および第２の光線の進行方向（光軸に対する傾き）は互いに異なる。さらに言い替えれば、第１および第２の光線は、被検物４０内の点（ｘ，ｙ）において互いに交差する。
このように、本実施例では、第１および第２の計測ステップにおいて、参照光のＮＡを変更して、第１および第２の光線の進行方向を互いに異ならせる。これにより、各計測ステップにおいて、被検物４０を透過した後の参照光（透過光）を被検物４０に入射する前の参照光に比べて平行光に近づけるようにしている。
なお、本実施例にいう「透過光を平行光に近づける」とは、透過光が平行光であることが望ましいが、平行光でなくてもよいことを意味する。すなわち、わずかに発散又は収束する光であってもよい。この場合、透過光のうち、透過波面計測上の有効光束径（有効径）における光軸側（中心側）の５割以内の光が平行光となることが望ましい。
【００４３】
次に、以下の式（９）により、式（７）により得られた第１の波面収差Ｗ１と式（８）により得られた第２の波面収差Ｗ２から、被検物４０の形状誤差成分ｄＬ（ｘ，ｙ）を除去する。これにより、被検物４０の内部屈折率分布ＧＩを抽出することができる。
【００４４】
【数９】
2011106975.tif 000011
【００４５】
ここで、Ｌｅｆｆ（ｘ，ｙ）は、第１および第２の光線に沿った被検物４０の幾何学的厚みであるＬ１（ｘ，ｙ）とＬ２（ｘ，ｙ）から得られる実効的な被検物４０の厚み（実効的厚み）である。Ｌ１（ｘ，ｙ）がＬ２（ｘ，ｙ）と等しい、すなわち第１および第２の光線の進行方向（傾き）が一致するときは、Ｌｅｆｆ（ｘ，ｙ）はＬ１（ｘ，ｙ）およびＬ２（ｘ，ｙ）も等しくなる。
このように、被検物４０の実効的厚みＬｅｆｆ（ｘ，ｙ）は、光線追跡で得られたＬ１（ｘ，ｙ）とＬ２（ｘ，ｙ）を用いて算出できる。
最後に、ステップＳ３０およびステップＳ６０にて得られた第１および第２の透過波面Ｗ１，Ｗ２と、Ｌｅｆｆ（ｘ，ｙ）とを用いて、被検物４０の内部屈折率分布ＧＩを算出する（ステップＳ７０）。
【００４６】
被検物４０からの透過光を平行光に近づけるために行われるステップＳ２０とステップＳ５０は、被検物４０の配置誤差によって生じる屈折率分布の測定誤差を下げる効果を有する。例えば、ＣＣＤ６０に配置誤差があった場合の屈折率分布測定への影響を以下に述べる。
図４には、ＣＣＤ６０の配置位置が６０ａから６０ｂにずれた場合の光路長の変化を示している。図４（ａ）は透過光のＮＡが大きい場合を、図４（ｂ）は透過光のＮＡが小さい場合をそれぞれ示している。ΔＬ１ｄ（ｘ，ｙ）は、ＣＣＤ６０の配置誤差によって生じる光線２１ａの光路長の変化量である。このとき、ΔＬ１ｄ（ｘ，ｙ）とΔＬ１ｄ（０，０）の差分が屈折率分布に測定誤差として加算される。屈折率分布の測定誤差は、透過光のＮＡが大きくなるにつれて増加（ＮＡが小さくなるにつれて減少）し、透過光が完全な平行光である場合は０となる。
屈折率分布の測定誤差と透過光のＮＡとの関係は、ＣＣＤ６０だけではなく、第２のコリメータレンズ３１と被検物４０との間隔、被検物４０の厚み、被検物ケース４１の壁の厚みおよび被検物ケース４１の壁と被検物４０との間隔にも当てはまる。また、被検物４０と回折格子５０との間隔、Ｔａｌｂｏｔ距離および回折格子の周期の誤差にも当てはまる。
図５は、透過光のＮＡと屈折率分布の測定誤差との関係を、次のようなシミュレーション方法によって求めた結果を示している。
まず、ある屈折率分布（例えば、光軸上の中心から周辺に向かって二次関数的に変化する屈折率分布）を有する被検物を考える。次に、図１のように各光学素子を配置し、第２のコリメータレンズ３１と被検物４０との間隔を調整して、被検物４０からの透過光のＮＡをある値（例えば、ＮＡ＝０）に設定する。
そして、各光学素子に独立に配置誤差を与え、それぞれの屈折率分布を算出する。この屈折率分布は誤差を含んだ値になる。配置誤差が無い理想配置の場合の屈折率分布も別途算出しておき、配置誤差を与えた場合のそれぞれの屈折率分布との差分をとる。
このシミュレーション方法によって、例えばＣＣＤ６０に配置誤差を与えた場合の上記ΔＬ１ｄ（ｘ，ｙ）とΔＬ１ｄ（０，０）の差分に相当する量としての屈折率分布の誤差を算出することができる。さらに、各光学素子の場合において計算した差分量のルート二乗和をとることで、計測装置の屈折率分布の誤差（縦軸）を算出できる。同様の計算を、他のＮＡについても行い、横軸をＮＡとし、縦軸を計測装置の屈折率分布の誤差としてプロットすることで、図５のグラフが得られる。
また、図５は、被検物４０からの透過光のＮＡが小さくなるにつれて屈折率分布の測定誤差が減少していくことを示している。ＮＡが０．２以下になると、ＮＡに対する屈折率分布の誤差の勾配が小さくなり、ＮＡが０（平行光）のときに測定誤差が最小値となることがわかる。このため、被検物４０からの透過光をできるだけ平行光に近づけることで、高精度な屈折率分布計測が可能となる。
図６は、球面収差が大きい被検物からの透過光を示している。球面収差が大きい場合、図６（ａ）に示すように、ＮＡを０にすると被検物４０の中心付近を通る光線が互いに交差する場合がある。このとき、ＣＣＤ６０で受光した光線が被検物４０のどこを通ってきた光線かを判別することができない。このため、被検物４０の球面収差が大きい場合は、図６（ｂ）に示すように、被検物４０の中心部付近を通った透過光が平行光に近づくように配置すればよい。例えば、前述したように、透過光のうち有効径における光軸側（中心側）の５割以内の光が平行光となるようにすればよい。
ただし、上述した図５より、少なくともＮＡに対する屈折率分布誤差の勾配が小さくなるようにＮＡを０．２以下として、屈折率分布を高精度に計測できるようにするのが望ましい。
【００４７】
以下、被検物４０からの透過光を平行光に近づけることの計測精度上でのメリットについて説明する。
前述したように、第１および第２の計測ステップのそれぞれにおいて被検物４０からの透過光を平行光に近づけることで、第１および第２の光線は、被検物４０内の互いに異なる光路を辿る。このため、被検物４０内の第１および第２の光線の光路におけるＮ（ｘ，ｙ）の値も互いに異なる。第１の光線の進行方向での屈折率をＮ（ｘ，ｙ）とし、第２の光線の進行方向での屈折率をＮ（ｘ，ｙ）＋ΔＮ（ｘ，ｙ）とすると、ΔＮ（ｘ，ｙ）に起因する内部屈折率分布ＧＩの測定誤差ΔＧＩは、次の式（１０）によって表される。
【００４８】
【数１０】
2011106975.tif 000012
【００４９】
式（１０）の誤差ΔＧＩを低減するには、ΔＮ（ｘ，ｙ）を小さくする必要がある。ΔＮ（ｘ，ｙ）は第１の光線の光路と第２の光線の光路とが離れるにつれて大きくなる。例えば、第１および第２の光線が通る同一点の座標（ｘ，ｙ）が被検物４０の前面上あるいは後面上に存在するときに、第１の光線の光路と第２の光線の光路とが互いに最も離れるため、ΔＮ（ｘ，ｙ）は最大となる。逆に、座標（ｘ，ｙ）が被検物４０の前面と後面の間の中間付近に存在するとき、両光路は互いに近づくため、ΔＮ（ｘ，ｙ）は減少する。
そこで、それぞれの光路の差が特に大きくなる被検物４０の周辺部において、被検物４０内のそれぞれの光路が互いにできるだけ近づくように、参照光２１の有効径を調整すればよい。最適な有効径は、それぞれの媒質中で周辺光線の光線追跡を行い、被検物内の光路の座標から探すことができる。その有効径を計測に適用するには、例えば、ピンホールと被検物の間にダイアフラムを設置して参照光２１の光束径を調整すればよい。また、参照光の有効径を調整する代わりに、透過光の有効径、つまり透過波面Ｗｍの解析領域を調整してもよい。
式（１０）の誤差ΔＧＩは、被検物４０内での第１および第２の光線の光路（進行方向）を一致させれば０になる。しかしながら、被検物４０内での第１および第２の光線の光路を一致させることは、被検物４０からの透過光を平行光から遠ざける方向に作用し、該透過光を平行光に近づけることに反することになる。そして、透過光のＮＡ（つまり透過光が平行光から遠ざかること）に起因する誤差の方が、式（１０）に示す誤差よりも大きい。このことから、被検物４０からの透過光を平行光に近づけることは、被検物４０内での第１および第２の光線の光路を一致させることに比べて、計測精度の向上により効果がある。
【実施例２】
【００５０】
実施例１では、被検物４０を照明する照明光学系のうち被検物４０に最も近い光学素子の位置（該光学素子と被検物４０との間隔）を調整することで参照光のＮＡを変更する場合について説明した。これに対し、本発明の実施例２では、照明光学系のうち被検物４０に最も近い光学素子を交換することによって、参照光のＮＡを変更する。
図７には、本実施例の計測装置の構成を示す。被検物４０は負のパワーをもつレンズ等の光学素子である。また、２種類の媒質は、水（第１の媒質）とオイル（第２の媒質）である。
レーザ光源１０から射出されたレーザ光は、ピンホール２０を通ることで理想球面波となる。レーザ光は、第１および第２のコリメータレンズ３０，３１（３１′）を介して収束光に変換される。第２のコリメータレンズ３１（３１′）は、本実施例でも被検物４０を照明する照明光学系の被検物４０に最も近い光学素子であり、交換が可能である。収束光は、被検物ケース４１内に配置された被検物４０を通過する。被検物４０を透過した光（透過光）は、実施例１と同様に概ね平行光となる。そして、透過光の透過波面が、波面計測センサであるＴａｌｂｏｔ干渉計（回折格子５０およびＣＣＤ６０）により計測される。
まず、図７（ａ）に示したように、被検物ケース４１内に水を満たした状態で水中（第１の媒質中）に被検物４０を配置する（図２のステップＳ１０）。次に、被検物４０からの透過光が平行光に近づくように、適当なＦナンバーおよび口径を有する第２のコリメータレンズ３１をセットする（ステップＳ２０）。例えば、被検物４０からの透過光が発散光となっている場合は、Ｆナンバーが小さく、口径が大きい第２のコリメータレンズ３１に交換すればよい。この第２のコリメータレンズ３１の選択は、計測装置において透過光の光量分布を観察しながら行えばよい。光量分布の観察の代わりに、予め透過光が平行光に近づくように光学素子の配置を設計し、その設計値に基づいて第２のコリメータレンズ３１を選択してもよい。
そして、被検物ケース４１内の媒質が水である場合の第１の波面収差Ｗ１を、実施例１と同様の手順（ステップＡ）で求める（ステップＳ３０）。
【００５１】
次に、図７（ｂ）に示すように、被検物ケース４１内にオイルを満たした状態で、オイル中（第２の媒質中）に被検物４０を配置する（ステップＳ４０）。オイルの屈折率は、水の屈折率と異なる。そして、被検物４０からの透過光が平行光に近づくように、第２のコリメータレンズ３１を、適当なＦナンバーおよび口径を有する第２のコリメータレンズ３１′に交換する（ステップＳ５０）。例えば、オイルの屈折率が水の屈折率よりも高い場合には、第２のコリメータレンズ３１よりもＦナンバーが大きく、口径が小さい第２のコリメータレンズ３１′を用いればよい。
次に、ステップＡにより、被検物ケース４１内の媒質がオイルの場合の第２の波面収差Ｗ２を求める（ステップＳ６０）。
最後に、式（９）を用いて、被検物４０の実効的厚みを計算し、さらに被検物４０の内部屈折率分布ＧＩを算出する（ステップＳ７０）。
【実施例３】
【００５２】
実施例１，２では、被検物４０を照明する照明光学系のうち被検物４０に最も近い光学素子の位置を調整したり該光学素子を交換したりすることで参照光のＮＡを変更する場合について説明した。これに対し、本発明の実施例３では、被検物ケース４１内の媒質の屈折率を調整することによって、参照光のＮＡを変更する。
図８には、本実施例の計測装置の構成を示す。被検物４０は、正のパワーを有するレンズ等の光学素子である。
レーザ光源１０から射出されたレーザ光は、ピンホール２０を通ることで理想球面波となる。レーザ光は、第１および第２のコリメータレンズ３０，３１を介して収束光に変換される。収束光は、一度集光した後に発散光となる。発散光は、被検物ケース４１内に配置された被検物４０を通過し、該被検物４０を透過した光（透過光）は概ね平行光となる。そして、その透過波面が波面計測センサであるシャックハルトマンセンサ６１により計測される。被検物４０が正のパワーを有する光学素子である場合、第１および第２のコリメータレンズ３０，３１を介さずに、ピンホール２０からの発散光を直接、被検物４０に入射させてもよい。
【００５３】
まず、被検物ケース４１内に被検物４０を設置する。そして、被検物４０からの透過光が平行光に近づくように、適当な屈折率を有する第１の媒質を被検物ケース４１内に入れる（図２のステップＳ１０，Ｓ２０）。例えば、被検物ケース４１内に第１の媒質を入れたときの透過光が発散光であった場合には、より高い屈折率を有する第１の媒質に入れ替える。また、被検物ケース４１内に第１の媒質を入れたときの透過光が収束光であった場合は、より低い屈折率を有する第１の媒質に入れ替えればよい。この媒質の入れ替えは、計測装置において透過光の光量分布を観察しながら行えばよい。光量分布の観察の代わりに、予め透過光が平行光に近づくように光学素子の配置を設計し、その設計値に基づいて第１の媒質を選択してもよい。
図８（ａ）は、被検物４０からの透過光が平行光に近づくように選択された第１の媒質がエタノールである場合を示している。そして、被検物ケース４１内の媒質がエタノールの場合の第１の波面収差Ｗ１を、実施例１と同様の手順（ステップＡ）で求める（ステップＳ３０）。
【００５４】
次に、被検物ケース４１内に被検物４０を配置し、透過光が平行光に近づくように、適当な屈折率を有する第２の媒質を被検物ケース４１内に入れる（ステップＳ４０，Ｓ５０）。第２の媒質の屈折率は、第１の媒質の屈折率と異なる。しかし、第２のコリメータレンズ３１と被検物４０との光軸方向の間隔を変えない場合は、必然的に第１の媒質と第２の媒質の屈折率は近い値をとる。第１および第２の媒質は、同じ材料の温度を調整することで屈折率を変えたものでもよい。
図８（ｂ）は、第２の媒質が水の場合を示している。そして、ステップＡに従って、被検物ケース４１内の媒質が水の場合の第２の波面収差Ｗ２を求める（ステップＳ６０）。
最後に、式（９）を用いて、被検物４０の実効的厚みを計算し、さらにその内部屈折率分布ＧＩを算出する（ステップＳ７０）。
【実施例４】
【００５５】
実施例１〜３にて説明した屈折率分布計測装置（屈折率分布計測方法）によって計測された結果を、レンズ等の光学素子の製造方法にフィードバックすることも可能である。図９には、モールド成形を利用した光学素子の製造方法の例を示している。
図９において、ステップＳ２００は光学素子を設計するステップであり、設計者が光学設計ソフト等を用いて光学素子を設計する。
ステップＳ２１０は、ステップＳ２００で設計された光学素子に基づいて、光学素子をモールド成形するための金型を設計・加工するステップである。
ステップＳ２２０は、ステップＳ２１０で加工された金型を用いて、光学素子をモールド成形するステップである。
【００５６】
ステップＳ２３０は、ステップＳ２２０で成形された光学素子の形状を計測し、その精度を評価するステップである。ステップＳ２３０にて評価された形状が、要求する精度を満足しなかった場合、ステップＳ２４０にて金型の鏡面の補正量が算出され、ステップＳ２１０で再度金型を加工する。
【００５７】
ステップＳ２５０は、ステップＳ２３０で所望の形状精度を満足していた光学素子の光学性能を評価するステップである。ステップＳ２５０では、図２で説明したような屈折率分布算出フローを実行し、その結果を用いて光学素子の光学性能を評価する。ステップＳ２５０にて評価された光学性能が、要求する仕様に達しなかった場合は、ステップＳ２６０にて光学面の補正量が算出され、その結果を用いてステップＳ２００で再度、光学素子を設計する。
【００５８】
ステップＳ２７０は、ステップＳ２５０で所望の光学性能を実現できた光学素子の製造条件で、光学素子を量産するステップである。
【００５９】
本実施例の光学素子の製造方法により、光学素子の内部屈折率分布を高精度に計測することができるので、高屈折率硝材を用いた光学素子であっても、モールド成形で精度良く量産することが可能になる。
以上説明した各実施例は代表的な例にすぎず、本発明の実施に際しては、各実施例に対して種々の変形や変更が可能である。
【産業上の利用可能性】
【００６０】
被検物の内部屈折率分布を高精度に計測できる計測方法および計測装置を提供できる。
【符号の説明】
【００６１】
１０  レーザ光源
２１  参照光
４０  被検物
４１  被検物ケース
６０  ＣＣＤ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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