【事件の表示】
　特願２０１３−２６０３９８「光電センサならびに物体の検出および距離測定方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２６年　７月　３日出願公開、特開２０１４−１２２８９１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２５年１２月１７日（パリ条約による優先権　外国庁受理　２０１２年１２月２１日（以下、「優先日」という。）　独国）の出願であって、平成２６年１０月２３日付けの拒絶理由通知に対して平成２７年１月１４日付けで手続補正がなされたが、平成２７年６月２４日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成２７年１０月５日付けで拒絶査定不服審判が請求されるとともに手続補正がなされ、当審における平成２８年６月３０日付けの拒絶理由通知に対して、平成２８年９月１５日付けで手続補正がなされ、同日付で意見書の提出がなされたものである。
第２　本願発明
１　本願発明
　本願の請求項１ないし１１係る発明は、平成２８年９月１５日付け手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１１に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は次のとおりである。
「【請求項１】
　監視領域（１８）内の物体の検出および距離測定のための光電センサ（１０）であって、
　投光ビーム（１４）を投光するための投光器（１２）と、前記監視領域（１８）内で前記投光ビーム（１４）を周期的に偏向させるための回転可能な偏向部（１６）と、前記監視領域（１８）内で拡散反射または反射されたビーム（２０）から受光信号を生成するための受光器（２４）と、前記受光信号をサンプリングするためのＡＤ変換器（３０）と、前記受光信号に基づいて、前記物体までの距離を光伝播時間法を用いて測定するとともに混濁の強さを測定するための評価部（３２）とを備えた光電センサにおいて、
　前記投光ビーム（１４）は、ある投光時点に投光され、ある投光パルス波形を有する投光パルスであり、
　前記評価部（３２）は、前記混濁の強さの測定によって、混濁の有無、及び混濁が存在する場合には複数の測定角度における該混濁の強さを決定するものであり、
　前記評価部（３２）が、前記受光信号中の受光パルスに基づいて、前記投光ビーム（１４）中にある物体に帰属する受光時点を検知し、前記複数の測定角度のそれぞれについて前記投光ビーム（１４）の方向における混濁の強さを求め、前記混濁の強さの測定の対象となった前記受光信号と同一の信号から距離を求め、距離測定の際に、該同一の信号に含まれる前記混濁の強さを該受光信号から求め、前記複数の測定角度における混濁の強さから該混濁の強さの角度分布を得ることを特徴とする、光電センサ。」
２　当審の拒絶理由の概要
　当審において平成２８年６月３０日付けで通知した拒絶理由の概要は、
「１　この出願は、特許請求の範囲の記載が、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
２　この出願は、特許請求の範囲の記載が、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。
３　この出願の請求項１ないし１０に係る発明は、その優先日前日本国内又は外国において頒布された、特表２０１１−５０５５４５号公報に記載された発明及び特開２００９−１１００６９号公報、特開平０９−１５９７６５号公報、特開平１０−４８３３５号公報に記載された技術に基いて、その優先日前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。」
　というものである。
３　引用例及びその記載事項
（１）当審において平成２８年６月３０日付けで通知した拒絶の理由に引用され、本願の優先日前に頒布された刊行物である特表２０１１−５０５５４５号公報（以下、「引用例１」という。）には、図面ととに、次の事項が記載されている（下線は、当審で付したものである。）。
ａ「【技術分野】
【０００１】
  本発明は、一般に
能動的オブジェクト検出システム
検知領域内のオブジェクトの距離座標および角度座標を測定するパルスレーザスキャナ
ｂ「【０００９】
  小さく近いオブジェクトの反射は、特に、保証された測定精度を有する長い検知範囲でわずかに反射するオブジェクトを検出することが能動的オブジェクト検出システムに必要とされる場合に問題となる。この種のスキャナは、スキャナとより遠いオブジェクトとの間に存在し検出される小さくより近いオブジェクトに対し大きく影響される。例えば
、小さい浮遊粒子、煙のパフまたは浮遊煤じん（たとえばコンクリート塵）の一過性の雲は、
この種の”クラッタ”
ｃ「【００２１】
  図１は、能動的オブジェクト検出システム１０（以下にシステム１０と称する）の一実施形態を示す。システム１０は、パルス電磁信号を放射し信号の戻り反射を検出することによってオブジェクトの存在を監視するという意味において、”能動的に”オブジェクトを検出する。１以上の実施形態において
、システム１０は、光パルス１４を放射し対応する戻り反射１６を受光することによって、少なくとも指定されたサイズのオブジェクト１２を検出する
【００２２】
  この設定を支持するため、システム１０は、
光パルス１４を放射しオブジェクト１２から対応する戻り反射１６を受光するまでの間の経過時間を決定することによって、検出オブジェクト１２までの距離を算出するように構成される距離決定回路１８
光パルスに対して複数の戻り反射が受光される場合にクラッタ関連の戻り反射２２を除去するように構成されるクラッタ除去回路２０を含む。
【００２３】
  すなわち、”通常の”計画では、システム１０は、放射した光パルス１４の各々に対して１つの反射だけが戻ったことを見ることを予想するが、クラッタについては、システム１０は、実際のオブジェクト１２からオブジェクト関連の戻り反射１６を受光するとともに１以上のクラッタ関連の戻り反射２２をしばしば受信する。クラッタ関連の反射２２の受信は、例えば、放射された光パルス１４のビーム経路に存在している１以上の小粒子（一般に”クラッタ２４”と称される）に放射された光パルス１４が当たった結果である。
【００２４】
  図示した例の詳細を続けてると、システム１０は１以上の付加的な処理回路および制御回路３０を含む。そして、それはシステム制御回路および入力／出力インタフェース回路および１以上のメモリ回路３２を含み得る。図示された回路は、距離決定回路１８およびクラッタ除去回路２０を含み、全部または一部がハードウェアにおいて実施され得、統合したまたは分離した回路の組み合わせを含み得る。他方で、少なくとも、システム１０のいくつかの実施形態は、図示された回路の全部または一部を高い集積度（例えばマイクロプロセッサ・ベースまたはデジタルシグナルプロセッサ・ベースでの実装）で実装する。
【００２５】
  いずれにせよ、
システム１０は、発光系３４および受光系３６を更に含む。
受光系３６は、
出力信号（戻り反射信号）を生成するように構成される光検出機構（例えばアバランシェ・フォトダイオード）を含む。
ｄ「【００３５】
  一実施形態において、クラッタ除去回路２０は、所定の監視境界または輪郭に沿ったまたは内部のオブジェクトを検出するシステム１０における方法に従ってクラッタ除去処理を実行するように構成される。たとえば、図７は、システム１０を設定モードまたは境界学習モードにするこにより定義され得る所定の監視輪郭５０に従ってオブジェクトを監視するシステム１０の構成を例示する。ここで、システム１０は、”背景”または予想イメージとしてオブジェクトの所与の一組を記憶するために、１次元、２次元または３次元空間空間にわたって
１以上の放射された光パルスを走査または掃引できる。そうすることによって、
オブジェクトを検出できる。
１８０度の走査計画を表す点に注意し、それは、１８０度の走査平面を数度ずつ増加させるステッピングを行い、各増加位置で光パルス１４が放射され距離評価のためにオブジェクト関連の戻り反射が評価することにより、システム１０によって繰り返し走査される
ｅ「【００３９】
  強度閾値５２は、アナログ戻り反射信号ラインまたはデジタル化戻り反射値に適用されることができる。当業者は、上述したように
受光系３６が戻り反射の受光に動的に応答する
デジタル信号ラインを提供
クラッタ除去回路２０
は、戻り反射の強度を決定する
反射パルスの振幅
図１０は、
クラッタ除去処理を示し、高いおよび低い強度閾値が使用される。ノイズ除去目的（すなわち、低い閾値未満の任意のものは全く無視される）に使用され得る低い閾値を上回る２個の早期の戻り反射パルスを見ることが出来る。しかしながら、３番目の（最後の）パルスだけは高い閾値を上回る。そうすると、距離決定は最後のパルスに対して実行される。
ｆ「【００４５】
  動作中、
システム１０は
パルス光ビーム（例えばレーザ光線）を掃引する。
【００４６】
  たとえば、図１２は、図１１に示したレーザスキャナ実施例の断面図を提供する。ここで、発光系３４は、モーター搭載の回転ミラー・アセンブリ７０を含むということが分かる。（静止した）
レーザダイオード７２は、回転ミラー・アセンブリ７０の下に取り付けられ、
レーザダイオード７２からの光パルス１４は、送信ミラー７４に当たる。送信ミラー７４は、ウィンドウ６２（図１２では不図示）を介し外へ光パルス１４の向きを変える。ミラー・アセンブリが回転すると共に監視領域全体に対し光パルス１４を掃引するようにして光パルスを発し、スキャン平面を好適に定義する。
【００４７】
  １以上の実施例において、ミラー・アセンブリ７０はエンコーダ（例えばミラー・アセンブリの回転角度をトラッキングする光学エンコーダ・ホイール）を含む。エンコーダ・フィードバックも、ミラーＲＰＭの閉ループ制御のために使用することができる。３次元領域を監視するために、更により複雑なアセンブリ（振動および／または複数軸関節）を用いることも可能である。
【００４８】
  
図１２に対する関心の更なる詳細は、図１において導入された受光系３６に対して与えられる実施例を含む。
出て行く光パルス１４によって照射される特定のオブジェクト１２からの任意の戻り反射が受光系３６によって受光される。
【００４９】
  
図１２に戻ると、
受光系要素
光検出器８２
ｇ「【００５８】
  最後に、所定の境界内で起こる任意の二次的反射検出、必要な検出能力（または精度）を保証するのに十分強いことを確実にするため、最小強度条件は、システム１０が検証処理をするように構成されるものであれば適用されることができる。例えば、システムの
光検出器からアナログの戻り反射信号を処理するために用いるためアナログ・デジタル変換器を使用することが出来、
ｈ　図１には、「戻り反射信号」が、「距離決定回路１８」及び「クラッタ除去回路２０」に入力することが示されている。
ｉ　図１０には、「３個のパルスのアナログ合計　最初の２個はクラッタ・イベントを含む」と注釈が記載されている。更に、図１０の、「時間遅延」と「信号振幅」の関係を示す波形は３個のパルスがあり、最初の２個のパルスは、信号振幅のピーク値が低閾値より高くて高閾値より低いことが示されている。
ア　段落【０００１】の記載から、引用例１には、「検知領域内のオブジェクトの距離座標および角度座標を測定するパルスレーザスキャナの能動的オブジェクト検出システム」が記載されている。
イ　段落【００３５】の記載から、引用例１には、「オブジェクトの検出は、１８０度の走査平面を数度ずつ増加させるステッピングを行い、各増加位置で光パルス１４が放射され距離評価のためにオブジェクト関連の戻り反射が評価することにより、システム１０によって繰り返し走査される」ことが記載されている。
ウ　段落【００２１】の記載から、引用例１には、「システム１０は、光パルス１４を放射し対応する戻り反射１６を受光することによって、少なくとも指定されたサイズのオブジェクト１２を検出する」ことが記載されている。
エ　段落【００４５】及び【００４６】の記載から、引用例１には、「システム１０は、パルス光ビーム（例えばレーザ光線）を掃引し、レーザダイオード７２は、回転ミラー・アセンブリ７０の下に取り付けられ、レーザダイオード７２からの光パルス１４は、送信ミラー７４に当たり、送信ミラー７４は、ウィンドウ６２を介し外へ光パルス１４の向きを変え、ミラー・アセンブリが回転すると共に監視領域全体に対し光パルス１４を掃引するようにして光パルスを発し、スキャン平面を好適に定義する」ことが記載されている。
オ　段落【００２５】に「光検出機構（例えばアバランシェ・フォトダイオード）」と記載され、アバランシェ・フォトダイオードは、光を検出するものであって光検出器といえるから、段落【００２５】の記載から引用例１には「戻り反射信号を生成するように構成された光検出器」が記載されている。
　また、段落【００４８】及び【００４９】の記載から、引用例１には、「出て行く光パルス１４によって照射される特定のオブジェクト１２からの任意の戻り反射が受光系３６によって受光され、受光系要素は、光検出器８２」であることが記載されている。
　そして、段落【００２５】の「光検出機構（例えばアバランシェ・フォトダイオード）」と、段落【００４９】の「光検出器８２」は、ともにシステム１０の受光系３６の装置であるから、同一の装置の異なる表記であるといえ、
　段落【００２５】、【００４８】及び【００４９】の記載から、引用例１には、「出て行く光パルス１４によって照射される特定のオブジェクト１２からの任意の戻り反射が受光系３６によって受光され、受光系要素は、戻り反射信号を生成するよう構成された光検出器８２」であることが記載されている。
カ　段落【００５８】の記載から、引用例１には、「光検出器からアナログの戻り反射信号を処理するために用いるためアナログ・デジタル変換器を使用することが出来」ることが記載されている。
キ　段落【００３９】の記載から、引用例１には、「受光系３６が戻り反射の受光に動的に応答するデジタル信号ラインを提供」することが記載されている。
ク　段落【００２２】及び上記ｈの記載から、引用例１には、「戻り反射信号を入力し、光パルス１４を放射しオブジェクト１２から対応する戻り反射１６を受光するまでの間の経過時間を決定することによって、検出オブジェクト１２までの距離を算出するように構成される距離決定回路１８、戻り反射信号を入力し、光パルスに対して複数の戻り反射が受光される場合にクラッタ関連の戻り反射２２を除去するように構成されるクラッタ除去回路２０を含む」ことが記載されている。
ケ　段落【００３９】の記載から、引用例１には、「クラッタ除去回路２０は、反射パルスの振幅により戻り反射の強度を決定する」ことが記載されている。
コ　段落【０００９】の記載から、引用例１には、「クラッタは、小さい浮遊粒子、煙のパフまたは浮遊煤じん（たとえばコンクリート塵）の一過性の雲」であることが記載されている。
サ　図１０記載の「３個のパルスのアナログ合計　最初の２個はクラッタ・イベントを含む」の注釈、及び、「時間遅延」と「信号振幅」の関係を示す波形は３個のパルスがあり、最初の２個のパルスは、信号振幅のピーク値が低閾値より高くて高閾値より低いことの記載から（上記ｉ）、図１０には、信号振幅のピーク値が、低閾値より高くて高閾値より低いパルスは、クラッタであることが示されている。
　そして、段落【００３９】に「図１０は、・・・クラッタ除去処理を示し、高いおよび低い強度閾値が使用される。ノイズ除去目的（すなわち、低い閾値未満の任意のものは全く無視される）に使用され得る低い閾値を上回る２個の早期の戻り反射パルスを見ることが出来る。しかしながら、３番目の（最後の）パルスだけは高い閾値を上回る。そうすると、距離決定は最後のパルスに対して実行される。」の記載があり、段落【００２２】に「距離を算出するように構成される距離決定回路１８」とあるので、引用例１には、「クラッタ除去処理は、高いおよび低い強度閾値が使用され、信号振幅のピーク値が、ノイズ除去目的に使用され得る低い閾値を上回り、高い閾値を下回る２個の早期の戻り反射パルスをクラッタとし、３番目のパルスだけは高い閾値を上回るので、距離決定回路１８による距離決定は、最後のパルスに対して実行される」ことが記載されているといえる。
　したがって、上記引用例１に記載された事項、図面の記載、及び上記アないしサを総合すると、引用例１には、次の事項が記載されている（以下、「引用発明」という。）
「検知領域内のオブジェクトの距離座標および角度座標を測定するパルスレーザスキャナの能動的オブジェクト検出システムであって、
　オブジェクトの検出は、１８０度の走査平面を数度ずつ増加させるステッピングを行い、各増加位置で光パルス１４が放射され距離評価のためにオブジェクト関連の戻り反射が評価することにより、システム１０によって繰り返し走査され、
　システム１０は、光パルス１４を放射し対応する戻り反射１６を受光することによって、少なくとも指定されたサイズのオブジェクト１２を検出し、
　システム１０は、パルス光ビーム（例えばレーザ光線）を掃引し、レーザダイオード７２は、回転ミラー・アセンブリ７０の下に取り付けられ、レーザダイオード７２からの光パルス１４は、送信ミラー７４に当たり、送信ミラー７４は、ウィンドウ６２を介し外へ光パルス１４の向きを変え、ミラー・アセンブリが回転すると共に監視領域全体に対し光パルス１４を掃引するようにして光パルスを発し、スキャン平面を好適に定義し、
　出て行く光パルス１４によって照射される特定のオブジェクト１２からの任意の戻り反射が受光系３６によって受光され、受光系要素は、戻り反射信号を生成するよう構成された光検出器８２であり、
　光検出器からアナログの戻り反射信号を処理するために用いるためアナログ・デジタル変換器を使用することが出来、受光系３６が戻り反射の受光に動的に応答するデジタル信号ラインを提供し、
　戻り反射信号を入力し、光パルス１４を放射しオブジェクト１２から対応する戻り反射１６を受光するまでの間の経過時間を決定することによって、検出オブジェクト１２までの距離を算出するように構成される距離決定回路１８、戻り反射信号を入力し、光パルスに対して複数の戻り反射が受光される場合にクラッタ関連の戻り反射２２を除去するように構成されるクラッタ除去回路２０を含み、
　クラッタ除去回路２０は、反射パルスの振幅により戻り反射の強度を決定し、
　クラッタは、小さい浮遊粒子、煙のパフまたは浮遊煤じん（たとえばコンクリート塵）の一過性の雲であり、
　クラッタ除去処理は、高いおよび低い強度閾値が使用され、信号振幅のピーク値が、ノイズ除去目的に使用され得る低い閾値を上回り、高い閾値を下回る２個の早期の戻り反射パルスをクラッタとし、３番目のパルスだけは高い閾値を上回るので、距離決定回路１８による距離決定は最後のパルスに対して実行される能動的オブジェクト検出システム。」
（２）当審において平成２８年６月３０日付けで通知した拒絶の理由に引用され、本願の優先日前に頒布された刊行物である特開２００９−１１００６９号公報（以下、「引用例２」という。）には、図面ととに、次の事項が記載されている（下線は、当審で付したものである。）。
ａ「【００６７】
  ＜第３実施形態＞
  第１実施形態や第２実施形態では、主として雨、雪などの影響への対策を行ったが、例えば、濃霧が発生しているような場合は、霧として空中に浮かんでいる水滴の大きさが雨滴や雪に比べて非常に小さいため、対策の効果が十分有効ではないこともあり得る。そこで、このような霧への対策を考慮して構成した
レーザエリアセンサ
【００６８】
  この第３実施形態では、レーザ距離計によって
パルスレーザ光の出射方向に存在する少なくとも１以上の物体までの距離および反射光の受光レベルが取得できる
検知エリア内における所定角度間隔の方向毎の距離データ、反射光の受光レベルデータ、およびパルス時間幅データが所定時間毎に時系列で取得される。
ｂ「【００７１】
  一方、
濃霧が発生しているような場合には、
パルスレーザ光が拡散反射されるため、受光信号波形におけるパルスとしては、
パルスＰ７１、パルスＰ７２、パルスＰ７３、パルスＰ７４のように、それぞれの受光レベルが他の反射に比べて低いところで変動し
【００７２】
  そこで、第３実施形態の
データ補正部では
次のような補正を行ってもよい。
【００７３】
  例えば、パルスＰ７４のようにそのパルス時間幅Ｗｔ７４が所定時間幅以上であるときには、対応する距離データを除去するようにしてもよい。
【００７４】
  また、
パルスＰ７１、パルスＰ７２、パルスＰ７３、パルスＰ７４のようにそれらの角度幅Ｗｄ７０が所定角度幅以上（例えば４つの測定方向以上を含む場合）であるときに、対応する距離データを除去するようにしてもよい。
ア　段落【００６７】及び【００６８】の記載から、引用例２には、「パルスレーザー光により物体までの方向毎の距離を得るレーザエリアセンサ」が記載されている。
イ　段落【００７１】、【００７２】及び【００７４】の記載から、引用例２には、次の事項が記載されている。
「濃霧が発生しているような場合には、パルスレーザ光が拡散反射されるため、受光信号波形におけるパルスとしては、パルスＰ７１、パルスＰ７２、パルスＰ７３、パルスＰ７４のように、それぞれの受光レベルが他の反射に比べて低いところで変動し、データ補正部で、パルスＰ７１、パルスＰ７２、パルスＰ７３、パルスＰ７４のようにそれらの角度幅Ｗｄ７０が所定角度幅以上（例えば４つの測定方向以上を含む場合）であるときに、対応する距離データを除去すること。」
４　対比
　本願発明と引用発明を対比する。
（１）引用発明の「検知領域内」、「オブジェクト」、「パルスレーザスキャナの能動的オブジェクト検出システム」は、本願発明の「監視領域（１８）内」、「物体」、「光電センサ（１０）」にそれぞれ相当する。
　そして、引用発明の「オブジェクトの距離座標・・・を測定する」ことは、本願発明の「物体の検出および距離測定」に相当するので、引用発明の「検知領域内のオブジェクトの距離座標および角度座標を測定するパルスレーザスキャナの能動的オブジェクト検出システムであって」は、本願発明の「監視領域（１８）内の物体の検出および距離測定のための光電センサ（１０）であって」に相当する。
（２）引用発明の「パルス光ビーム（例えばレーザ光線）」は、本願発明の「投光ビーム（１４）」に相当する。
　引用発明の「レーザダイオード７２からの光パルス１４」の記載より、「レーザダイオード７２」が「光パルス１４」を放射しているといえるので、引用発明の「パルス光ビーム（例えばレーザ光線）」は、「レーザダイオード７２」からの「光パルス１４」の投光である。
　したがって、引用発明の「レーザダイオード７２」は、本願発明の「投光ビーム（１４）を投光するための投光器（１２）」に相当する。
（３）引用発明の「回転ミラー・アセンブリ７０」は、「下に取り付けられ」た「レーザダイオード７２からの光パルス１４」を、「送信ミラー７４に当」て、「送信ミラー７４は、ウィンドウ６２を介し外へ光パルス１４の向きを変え、ミラー・アセンブリが回転すると共に監視領域全体に対し光パルス１４を掃引するようにして光パルスを発」するので、引用発明の「回転ミラー・アセンブリ７０」は、本願発明の「前記監視領域（１８）内で前記投光ビーム（１４）を偏向させるための回転可能な偏向部（１６）」に相当する。
　そして、引用発明に「オブジェクトの検出は・・・システム１０によって繰り返し走査」されるとあり、「繰り返し走査」するにあたりこれを周期的に行うことは常套手段であるから、引用発明の「回転ミラー・アセンブリ７０」は、本願発明の「前記監視領域（１８）内で前記投光ビーム（１４）を周期的に偏向させるための回転可能な偏向部（１６）」に相当するといえる。
（４）引用発明の「戻り反射信号」は、本願発明の「受光信号」に相当する。
　そして、引用発明の「出て行く光パルス１４によって照射される特定のオブジェクト１２からの任意の戻り反射」は、本願発明の「前記監視領域（１８）内で拡散反射または反射されたビーム（２０）」に相当するので、引用発明の「出て行く光パルス１４によって照射される特定のオブジェクト１２からの任意の戻り反射が受光系３６によって受光され」「戻り反射信号を生成するよう構成された光検出器８２」は、本願発明の「前記監視領域（１８）内で拡散反射または反射されたビーム（２０）から受光信号を生成するための受光器（２４）」に相当する。
（５）アナログ・デジタル変換器は、アナログ信号をサンプリングしてデジタル信号に変換する処理を行うものであるから、引用発明の「光検出器からアナログの戻り反射信号を処理するために用いるためアナログ・デジタル変換器」は、アナログの「戻り反射信号」をサンプリングしてデジタル信号に変換しており、本願発明の「前記受光信号をサンプリングするためのＡＤ変換器（３０）」に相当する。
（６）
ア　引用発明の「経過時間を決定することによって、検出オブジェクト１２までの距離を算出する」ことは、本願発明の「前記物体までの距離を光伝播時間法を用いて測定する」ことに相当するので、
　引用発明の「戻り反射信号を入力し、光パルス１４を放射しオブジェクト１２から対応する戻り反射１６を受光するまでの間の経過時間を決定することによって、検出オブジェクト１２までの距離を算出する」ことは、本願発明の「前記受光信号に基づいて、前記物体までの距離を光伝播時間法を用いて測定する」ことに相当する。
イ　引用発明の「クラッタ」は、「小さい浮遊粒子、煙のパフまたは浮遊煤じん（たとえばコンクリート塵）の一過性の雲」であるから、本願発明の「混濁」に相当する。
　引用発明の「クラッタ除去回路２０」は、「反射パルスの振幅により戻り反射の強度を決定し」、「複数の戻り反射が受光される場合にクラッタ関連の戻り反射２２を除去」する。そして、「クラッタ除去回路２０」の「クラッタ除去処理」は、「信号振幅のピーク値が、ノイズ除去目的に使用され得る低い閾値を上回り、高い閾値を下回る」「戻り反射パルスをクラッタ」として除去するものである。
　ここで、「クラッタ除去処理」に用いられる「信号振幅のピーク値」は、「クラッタ」の「強度」を測定したものであり、引用発明の「クラッタ除去処理」において「信号振幅のピーク値」を求めることは、本願発明の「混濁の強さを測定する」ことに相当する。
　上記ア及びイより、引用発明の「戻り反射信号を入力し、光パルス１４を放射しオブジェクト１２から対応する戻り反射１６を受光するまでの間の経過時間を決定することによって、検出オブジェクト１２までの距離を算出するように構成される距離決定回路１８」及び「クラッタ除去処理」において「信号振幅のピーク値」を求める「クラッタ除去回路２０」は、本願発明の「前記受光信号に基づいて、前記物体までの距離を光伝播時間法を用いて測定するとともに混濁の強さを測定するための評価部（３２）」に相当する。
（７）引用発明の「光パルス１４」は、「レーザダイオード７２」から放射されたものであるから（上記（２））、パルス波形を有している。
　引用発明の「パルス光ビーム（例えばレーザ光線）」は、「レーザダイオード７２」からの「光パルス１４」の投光であるので（上記（２））、引用発明の「パルス光ビーム（例えばレーザ光線）」は、パルス波形を有する投光「光パルス１４」といえるので、引用発明の「パルス光ビーム（例えばレーザ光線）」は、本願発明の「ある投光時点に投光され、ある投光パルス波形を有する投光パルス」である「前記投光ビーム（１４）」に相当する。
（８）引用発明の「信号振幅のピーク値」は、「クラッタ」の「強度」を測定したものであり、引用発明の「クラッタ除去処理は、高いおよび低い強度閾値が使用され、信号振幅のピーク値が、ノイズ除去目的に使用され得る低い閾値を上回り、高い閾値を下回る」「戻り反射パルスをクラッタ」としているので、引用発明の「クラッタ除去回路２０」（「距離決定回路１８」とともに、本願発明の「評価部（３２）」に相当（上記（６））。）の「クラッタ除去処理」において「信号振幅のピーク値」から閾値によって、クラッタを求めることは、本願発明の「前記評価部（３２）は、前記混濁の強さの測定によって、混濁の有無」「を決定するものであ」ることに相当する。
　また、引用発明は「オブジェクトの検出は、１８０度の走査平面を数度ずつ増加させるステッピングを行い、各増加位置で光パルス１４が放射され距離評価のためにオブジェクト関連の戻り反射が評価」しており、オブジェクトの検出において、クラッタによる戻り反射が伴うことは明らかであるから、引用発明の「クラッタ除去回路２０」の「クラッタ除去処理」は、本願発明の「前記評価部（３２）」の「混濁が存在する場合には複数の測定角度における該混濁の強さを決定するものであ」る処理に相当する。
（９）
ア　引用発明の「戻り反射信号」は、本願発明の「受光信号」に相当し、引用発明の「戻り反射１６」は、戻り反射信号中の信号であるから、本願発明の受光信号中の「受光パルス」に相当し、引用発明の「光パルス１４を放射」した「オブジェクト１２」は、本願発明の「前記投光ビーム（１４）中にある物体」に相当し、引用発明の「オブジェクト１２から対応する戻り反射１６を受光するまでの間の経過時間」は、本願発明の「物体に帰属する受光時点」に相当するので、
　引用発明の「距離決定回路１８」が、「戻り反射信号を入力し、光パルス１４を放射しオブジェクト１２から対応する戻り反射１６を受光するまでの間の経過時間を決定すること」は、本願発明の「前記評価部（３２）が、前記受光信号中の受光パルスに基づいて、前記投光ビーム（１４）中にある物体に帰属する受光時点を検知し」に相当する。
イ　引用発明の「信号振幅のピーク値」は、「クラッタ」の「強度」を測定したものであり、引用発明の「クラッタ除去処理」は、クラッタ除去処理の際に「信号振幅のピーク値」を求めているといえるから、引用発明の「クラッタ除去回路２０」（「距離決定回路１８」とともに、本願発明の「評価部（３２）」に相当（上記（６））。）の「クラッタ除去処理」において「信号振幅のピーク値」を求めることは、本願発明の「前記評価部（３２）は」「混濁の強さを求め」ることに相当する。
　また、引用発明は「オブジェクトの監視は、１８０度の走査平面を数度ずつ増加させるステッピングを行い、各増加位置で光パルス１４が放射され距離評価のためにオブジェクト関連の戻り反射が評価」しており、オブジェクトの監視においてクラッタによる戻り反射が伴うことは明らかであるから、引用発明の「クラッタ除去回路２０」の「クラッタ除去処理」において「信号振幅のピーク値」を求めることは、本願発明の「前記評価部（３２）が、」「前記複数の測定角度のそれぞれについて前記投光ビーム（１４）の方向における混濁の強さを求め」ることに相当する。
ウ　引用発明の「クラッタ除去処理」と「距離決定」は、「信号振幅のピーク値」の測定と「距離決定」を、同一の戻り反射信号に含まれる「２個の早期の戻り反射パルス」と「最後のパルス」について行っており、引用発明は、同一の戻り反射信号から、「クラッタ」の「強度」の測定と「距離決定」を行っているといえ
　引用発明の「クラッタ除去回路２０」の「クラッタ除去処理」と「距離決定回路１８」の「距離決定」が、「信号振幅のピーク値が」「低い閾値を上回り、高い閾値を下回る２個の早期の戻り反射パルスをクラッタとし、３番目のパルスだけは高い閾値を上回るので、距離決定回路１８による距離決定は最後のパルスに対して実行される」ことは、本願発明の「前記評価部（３２）が、」「前記混濁の強さの測定の対象となった前記受光信号と同一の信号から距離を求め、距離測定の際に、該同一の信号に含まれる前記混濁の強さを該受光信号から求め」ることに相当する。
　上記ア〜ウより、引用発明の「距離決定回路１８」及び「クラッタ除去回路２０」は、本願発明の「前記受光信号中の受光パルスに基づいて、前記投光ビーム（１４）中にある物体に帰属する受光時点を検知し、前記複数の測定角度のそれぞれについて前記投光ビーム（１４）の方向における混濁の強さを求め、前記混濁の強さの測定の対象となった前記受光信号と同一の信号から距離を求め、距離測定の際に、該同一の信号に含まれる前記混濁の強さを該受光信号から求め」る「前記評価部（３２）」に相当する。
　すると本願発明と引用発明とは、次の（一致点）及び（相違点）を有する。
（一致点）
「監視領域（１８）内の物体の検出および距離測定のための光電センサ（１０）であって、
　投光ビーム（１４）を投光するための投光器（１２）と、前記監視領域（１８）内で前記投光ビーム（１４）を周期的に偏向させるための回転可能な偏向部（１６）と、前記監視領域（１８）内で拡散反射または反射されたビーム（２０）から受光信号を生成するための受光器（２４）と、前記受光信号をサンプリングするためのＡＤ変換器（３０）と、前記受光信号に基づいて、前記物体までの距離を光伝播時間法を用いて測定するとともに混濁の強さを測定するための評価部（３２）とを備えた光電センサにおいて、
　前記投光ビーム（１４）は、ある投光時点に投光され、ある投光パルス波形を有する投光パルスであり、
　前記評価部（３２）は、前記混濁の強さの測定によって、混濁の有無、及び混濁が存在する場合には複数の測定角度における該混濁の強さを決定するものであり、
　前記評価部（３２）が、前記受光信号中の受光パルスに基づいて、前記投光ビーム（１４）中にある物体に帰属する受光時点を検知し、前記複数の測定角度のそれぞれについて前記投光ビーム（１４）の方向における混濁の強さを求め、前記混濁の強さの測定の対象となった前記受光信号と同一の信号から距離を求め、距離測定の際に、該同一の信号に含まれる前記混濁の強さを該受光信号から求めることを特徴とする、光電センサ。」
（相違点）
　本願発明が「前記複数の測定角度における混濁の強さから該混濁の強さの角度分布を得る」のに対して、引用発明は、そのような特定がない点。
５　判断
　（相違点）について
　引用例２には「濃霧が発生しているような場合には、パルスレーザ光が拡散反射されるため、受光信号波形におけるパルスとしては、パルスＰ７１、パルスＰ７２、パルスＰ７３、パルスＰ７４のように、それぞれの受光レベルが他の反射に比べて低いところで変動し、データ補正部で、パルスＰ７１、パルスＰ７２、パルスＰ７３、パルスＰ７４のようにそれらの角度幅Ｗｄ７０が所定角度幅以上（例えば４つの測定方向以上を含む場合）であるときに、対応する距離データを除去すること」（上記３（２）イ）が記載されている。
　上記記載は「濃霧」に「対応する距離データを除去する」ために、受光レベルが他の反射に比べて低いところで変動するパルスが、４つの測定方向以上に含まれるかを検出しており、このような検出を行うためには所定数以上の測定方向における受光レベルデータ（角度分布）を用いる必要があることは明らかといえる。
　してみると、引用例２には、混濁の強さの角度分布を得る技術が記載されているといえる。
　そして、引用例２は、パルスレーザー光により物体までの方向毎の距離を得るレーザエリアセンサに関するものであるから（上記３（２）ア）、上記混濁の強さの角度分布を得る技術を、引用発明のオブジェクトの距離座標および角度座標を測定するパルスレーザスキャナの能動的オブジェクト検出システムに適用し、上記相違点に係る本願発明の構成とすることは、当業者が容易になし得たことである。
　そして、上記相違点を総合的に判断しても、本願発明が奏する効果は引用発明、引用例２に記載された技術から当業者が十分に予測できたものであって格別なものとはいえない。 
 　 
　よって、本願発明は、引用発明、引用例２に記載された技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 
６　むすび
　以上のとおり、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、その余の請求項に論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。  
 　 
　よって、結論のとおり審決する。