(57)【要約】  【課題】予め準備した試験項目から何通りもの試験を可能とする技術を提供する。  【解決手段】試験装置１は、コマンド要素２１およびデータ要素２２からなる、被試験機の操作に係るコマンドブロック２０が複数記述されたサンプルシナリオ２の入力を受け付け、このサンプルシナリオ２に対して、記述順入替え処理、コマンドブロック挿入処理、コマンドブロック置換処理、コマンド要素入替え処理、およびスルー処理のうちの少なくとも一つを実施して、複数のコマンドブロック２０が試験順に記述された試験シナリオ５を生成する。また、試験シナリオ５に記述されているコマンドブロック２０各々を、この試験シナリオ５での記述順に従って、デフォルト速度送信モード、ランダム速度送信モード、ポーズ挿入送信モード、および速度可変送信モードのいずれかにより、被試験機に送信する。【選択図】図１
2011170643.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験装置による被試験機の試験方法であって
前記試験装置は、
コマンド要素およびデータ要素からなる前記被試験機の操作に係るコマンドブロックが複数記述されたサンプルシナリオの入力を受け付け、
前記サンプルシナリオに対して、前記コマンドブロックの記述順の入替え処理、任意の前記コマンドブロックの挿入処理、任意の前記コマンドブロックの置換処理、および、任意の前記コマンドブロック間での前記コマンド要素の入替え処理のうちの少なくとも一つを実施して、複数の前記コマンドブロックが試験順に記述された試験シナリオを生成し、
前記試験シナリオに記述されている前記コマンドブロック各々を、当該試験シナリオでの記述順に従って、単一もしくは連続する複数の前記コマンドブロック毎に定めた任意の送信間隔で前記被試験機に送信し、
前記試験シナリオに記述されている前記コマンドブロック毎に、当該コマンドブロック送信前後における前記被試験機の動作状態の変化に基づいて、当該コマンドブロックによる試験結果を判断する
ことを特徴とする試験方法。
【請求項２】
被試験機の試験を行う試験装置であって、
コマンド要素およびデータ要素からなる前記被試験機の操作に係るコマンドブロックが複数記述されたサンプルシナリオの入力を受け付けるサンプルシナリオ受付手段と、
少なくとも一つの前記コマンドブロックを記憶するコマンドブロック記憶手段と、
前記サンプルシナリオ受付手段により受け付けた前記サンプルシナリオに対して、前記コマンドブロックの記述順の入替え処理、前記コマンドブロック記憶手段に記憶されている任意の前記コマンドブロックの挿入処理、任意の前記コマンドブロックを、前記コマンドブロック記憶手段に記憶されている任意の前記コマンドブロックへ置換する処理、および、任意の前記コマンドブロック間での前記コマンド要素の入替え処理のうちの少なくとも一つを実施して、複数の前記コマンドブロックが試験順に記述された試験シナリオを生成する試験シナリオ生成手段と、
前記試験シナリオに記述されている前記コマンドブロック各々を、前記試験シナリオの記述順に従って前記被試験機に送信するコマンドブロック送信手段と、を有する
ことを特徴とする試験装置。
【請求項３】
被試験機の試験を行う試験装置であって、
コマンド要素およびデータ要素からなる前記被試験機の操作に係るコマンドブロックが試験順に複数記述された試験シナリオを記憶する試験シナリオ記憶手段と、
前記試験シナリオ記憶手段に記憶されている前記試験シナリオに記述されている前記コマンドブロック各々を、前記試験シナリオの記述順に従って、単一もしくは連続する複数の前記コマンドブロック毎に定めた任意の送信間隔で前記被試験機に送信するコマンドブロック送信手段と、を有する
ことを特徴とする試験装置。
【請求項４】
請求項２または３に記載の試験装置であって、
前記試験シナリオに記述されている前記コマンドブロック毎に、前記コマンドブロック送信手段による当該コマンドブロックの送信前後における前記被試験機の動作状態の変化に基づいて、当該コマンドブロックによる試験結果を判断する試験結果判断手段をさらに有する
ことを特徴とする試験装置。
【請求項５】
コンピュータで読取り可能なプログラムであって、
前記プログラムは、前記コンピュータを、
コマンド要素およびデータ要素からなる前記被試験機の操作に係るコマンドブロックが複数記述されたサンプルシナリオの入力を受け付けるサンプルシナリオ受付手段、
少なくとも一つの前記コマンドブロックを記憶するコマンドブロック記憶手段、
前記サンプルシナリオ受付手段により受け付けた前記サンプルシナリオに対して、前記コマンドブロックの記述順の入替え処理、前記コマンドブロック記憶手段に記憶されている任意の前記コマンドブロックの挿入処理、任意の前記コマンドブロックを、前記コマンドブロック記憶手段に記憶されている任意の前記コマンドブロックへ置換する処理、および、任意の前記コマンドブロック間での前記コマンド要素の入替え処理のうちの少なくとも一つを実施して、複数の前記コマンドブロックが試験順に記述された試験シナリオを生成する試験シナリオ生成手段、そして
前記試験シナリオに記述されている前記コマンドブロック各々を前記試験シナリオの記述順に従って前記被試験機に送信するコマンドブロック送信手段、として機能させる
ことを特徴とするコンピュータで読取り可能なプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験装置に関し、特に被試験機に対して複数の試験を順番に自動で行うための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、携帯電話機のソフトウエアに対する機能試験作業を自動化し、試験作業を効率化する技術が開示されている。この技術において、携帯電話機のソフトウエア機能試験装置は、試験項目として試験手順とそれに対する動作内容とが対比して記述された仕様書から、試験手順が記述された試験シナリオ、および試験シナリオの実施に対する被試験機の仕様上の動作内容が記述された試験規格を生成する。そして、試験シナリオに記述された試験手順で被試験機の試験を行い、試験規格に基づいてその試験結果の合否判定を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−９９２８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載の技術は、仕様書から試験シナリオを作成するため、仕様書に記述された試験項目以外の試験、例えば過負荷試験等を行うことができない。様々な試験を行うためには、試験項目として、これらすべての試験の試験手順とそれに対する動作内容とが対比して記述された仕様書を作成しなければならず、作業負担が大きい。
【０００５】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、予め準備した試験項目から何通りもの試験を可能とする技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明において、試験装置は、コマンド要素およびデータ要素からなる被試験機の操作に係るコマンドブロックが複数記述されたサンプルシナリオの入力を受け付け、このサンプルシナリオに対して、コマンドブロックの記述順の入替え処理、任意のコマンドブロックの挿入処理、任意のコマンドブロックの置換処理、および、コマンドブロック間でのコマンド要素の入替え処理のうちの少なくとも一つを実施して、複数のコマンドブロックが試験順に記述された試験シナリオを生成する。また、試験シナリオに記述されているコマンドブロック各々を、この試験シナリオでの記述順に従って、コマンドブロック毎あるいは連続する複数のコマンドブロック毎に定めた任意の送信間隔で被試験機に送信する。そして、試験シナリオに記述されているコマンドブロック毎に、コマンドブロック送信前後における被試験機の動作状態の変化に基づいて、コマンドブロックによる試験結果を判断する。
【０００７】
例えば、本発明は、被試験機の試験を行う試験装置であって、
コマンド要素およびデータ要素からなる前記被試験機の操作に係るコマンドブロックが複数記述されたサンプルシナリオの入力を受け付けるサンプルシナリオ受付手段と、
少なくとも一つの前記コマンドブロックを記憶するコマンドブロック記憶手段と、
前記サンプルシナリオ受付手段により受け付けた前記サンプルシナリオに対して、前記コマンドブロックの記述順の入替え処理、前記コマンドブロック記憶手段に記憶されている任意の前記コマンドブロックの挿入処理、任意の前記コマンドブロックを、前記コマンドブロック記憶手段に記憶されている任意の前記コマンドブロックへ置換する処理、および、任意の前記コマンドブロック間での前記コマンド要素の入替え処理のうちの少なくとも一つを実施して、複数の前記コマンドブロックが試験順に記述された試験シナリオを生成する試験シナリオ生成手段と、
前記試験シナリオに記述されている前記コマンドブロック各々を、前記試験シナリオの記述順に従って前記被試験機に送信するコマンドブロック送信手段と、を有する。
【０００８】
また、例えば、本発明は、被試験機の試験を行う試験装置であって、
コマンド要素およびデータ要素からなる前記被試験機の操作に係るコマンドブロックが試験順に複数記述された試験シナリオを記憶する試験シナリオ記憶手段と、
前記試験シナリオ記憶手段に記憶されている前記試験シナリオに記述されている前記コマンドブロック各々を、前記試験シナリオでの記述順に従って、前記コマンドブロック毎あるいは連続する複数の前記コマンドブロック毎に定めた任意の送信間隔で前記被試験機に送信するコマンドブロック送信手段と、を有する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、予め準備した試験項目から何通りもの試験を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本発明の一実施の形態に係る試験装置１の概略機能構成図である。
【図２】図２（Ａ）は、サンプルシナリオ２を模式的に表した図であり、図２（Ｂ）〜図２（Ｅ）は、試験シナリオ５を模式的に表した図である。
【図３】図３（Ａ）〜図３（Ｄ）は、コマンドブロック２０の送信タイミングを模式的に表した図である。
【図４】図４は、本発明の一実施の形態に係る試験装置１の試験シナリオ作成処理を説明するためのフロー図である。
【図５】図５は、本発明の一実施の形態に係る試験装置１のコマンドブロック送信処理を説明するためのフロー図である。
【図６】図６は、本発明の一実施の形態に係る試験装置１の試験結果出力処理を説明するためのフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下に、携帯電話機の試験装置を例にとり、本発明の実施の形態について説明する。
【００１２】
図１は、本発明の一実施の形態に係る試験装置１の概略機能構成図である。
【００１３】
図示するように、試験装置１は、制御端末インターフェース部１０１と、被試験機インターフェース部１０２と、サンプルシナリオ受付部１０３と、サンプルシナリオ記憶部１０４と、コマンドブロック記憶部１０５と、乱数生成部１０６と、試験シナリオ生成部１０７と、試験シナリオ記憶部１０８と、送信インターバル決定部１０９と、コマンドブロック送信部１１０と、表示画面データ受信部１１１と、試験対象コマンドブロック保持部１１２と、直前表示画面データ保持部１１３と、試験結果判定部１１４と、試験結果送信部１１５と、を有する。
【００１４】
制御端末インターフェース部１０１は、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）等の制御端末と接続するためのインターフェースであり、例えば、ＬＡＮ、無線ＬＡＮ、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｓｅｒｉａｌ  Ｂｕｓ）等のシリアルバス伝送、あるいはＢｕｌｅｔｏｏｔｈ等の近距離無線通信が用いられる。
【００１５】
被試験機インターフェース部１０２は、被試験機である携帯電話機と接続するためのインターフェースであり、例えば、ＵＳＢ等のシリアルバス伝送、あるいはＢｕｌｅｔｏｏｔｈ等の近距離無線通信が用いられる。
【００１６】
サンプルシナリオ受付部１０３は、制御端末インターフェース部１０１を介して制御端末からサンプルシナリオ２を受け付ける。図２（Ａ）は、サンプルシナリオ２を模式的に表した図である。図示するように、サンプルシナリオ２は、被試験機の操作に係るコマンドブロック２０が複数記述されて構成される。コマンドブロック２０は、コマンド要素２１およびデータ要素２２からなる。
【００１７】
サンプルシナリオ記憶部１０４には、サンプルシナリオ受付部１０３で受け付けたサンプルシナリオ２が記憶される。
【００１８】
コマンドブロック記憶部１０５には、被試験機の操作に係るコマンドブロック２０が予め複数記憶されている。なお、サンプルシナリオ受付部１０３で受け付けたサンプルシナリオ２を解析して抽出したコマンドブロック２０を、コマンドブロック記憶部１０５に記憶しておくようにしてもよい。
【００１９】
乱数生成部１０６は、試験シナリオ生成部１０７あるいは送信インターバル決定部１０９の指示に従い、予め定められた範囲内で乱数を生成する。
【００２０】
試験シナリオ生成部１０７は、乱数生成部１０６で生成された乱数に従い、サンプルシナリオ記憶部１０４に記憶されたサンプルシナリオ２に対して、コマンドブロック２０の記述順の入替え（以下、記述順入替え処理）、コマンドブロック記憶部１０５に記憶された任意のコマンドブロック２０の挿入（以下、コマンドブロック挿入処理）、任意のコマンドブロック２０を、コマンドブロック記憶部１０５に記憶された任意のコマンドブロック２０に置換（以下、コマンドブロック置換処理）、任意のコマンドブロック２０間でのコマンド要素２１の入替え（以下、コマンド要素入替え処理）、および何もしない（以下、スルー処理）のうち、少なくとも一つの処理を実施する。これにより、複数のコマンドブロック２０が試験順に記述された試験シナリオ５を生成する。
【００２１】
図２（Ｂ）〜図２（Ｅ）は、試験シナリオ５を模式的に表した図である。ここで、図２（Ｂ）は、図２（Ａ）に示すサンプルシナリオ２に対して記述順入替え処理を実施することにより作成された試験シナリオ５を示しており、図２（Ａ）に示すサンプルシナリオ２とはコマンドブロック２０の記述順が少なくとも一部入れ替わっている。また、図２（Ｃ）は、図２（Ａ）に示すサンプルシナリオ２に対してコマンドブロック挿入処理を実施することにより作成された試験シナリオ５を示しており、コマンドブロック記憶部１０５に記憶されている任意のコマンドブロック２０が挿入された分、図２（Ａ）に示すサンプルシナリオ２よりもコマンドブロック２０数が増加している。また、図２（Ｄ）は、図２（Ａ）に示すサンプルシナリオ２に対してコマンドブロック置換処理を実施することにより作成された試験シナリオ５を示しており、図２（Ａ）に示すサンプルシナリオ２の少なくとも一部のコマンドブロック２０が、コマンドブロック記憶部１０５に記憶されている任意のコマンドブロック２０に置き換えられている。また、図２（Ｅ）は、図２（Ａ）に示すサンプルシナリオ２に対してコマンド要素入替え処理を実施することにより作成された試験シナリオ５を示しており、図２（Ａ）に示すサンプルシナリオ２の少なくとも一部のコマンドブロック２０間のコマンド要素２１が入れ替えられている。
【００２２】
試験シナリオ記憶部１０８は、試験シナリオ生成部１０７により生成された試験シナリオ５が記憶される。
【００２３】
送信インターバル決定部１０９は、乱数生成部１０６で生成された乱数に従い、試験シナリオ記憶部１０８に記憶されている試験シナリオ５に記述されたコマンドブロック２０の送信インターバルを決定する。
【００２４】
コマンドブロック送信部１１０は、送信インターバル決定部１０９で決定された送信インターバルに従い、被試験機インターフェース部１０２を介して被試験機に、試験シナリオ記憶部１０８に記憶されている試験シナリオ５に記述されたコマンドブロック２０を記述順に送信する。
【００２５】
図３（Ａ）〜図３（Ｄ）は、コマンドブロック２０の送信タイミングを模式的に表した図である。ここで、図３（Ａ）は、デフォルトの送信インターバルＴ１での送信タイミング（以下、デフォルト速度送信モード）を示しており、図３（Ｂ）は、送信インターバル決定部１０９により乱数に基づいてランダムに決定された送信インターバルＴ２での送信タイミング（以下、ランダム速度送信モード）を示しており、図３（Ｃ）は、送信インターバル決定部１０９により乱数に基づいてランダムに決定されたコマンドブロック２０の送信インターバルＴ３にポーズｔが挿入される場合の送信タイミング（以下、ポーズ挿入送信モード）を示しており、そして、図３（Ｄ）は、送信インターバル決定部１０９により乱数に基づいてランダムに決定された数のコマンドブロック２０のグループ２３毎に、乱数に基づいてランダムに決定された送信インターバルＴ４（１）、Ｔ４（２）での送信タイミング（以下、速度可変送信モード）を示している。
【００２６】
表示画面データ受信部１１１は、被試験機インターフェース部１０２を介して被試験機から表示画面データ３を受信する。
【００２７】
試験対象コマンドブロック保持部１１２は、コマンドブロック送信部１１０が送信する最新のコマンドブロック２０（以下、試験対象コマンドブロック）を保持する。
【００２８】
直前表示画面データ保持部１１３は、試験対象コマンドブロックの送信直前あるいは送信時に表示画面データ受信部１１１が受信した表示画面データ３（以下、直前表示画面データ）を保持する。
【００２９】
試験結果判定部１１４は、試験対象コマンドブロックの送信後所定時間内に表示画面データ受信部１１１が受信した表示画面データ３（以下、直後表示画面データ）と、直前表示画面データ保持部１１３が保持している直前表示画面データとを比較する。そして、この比較結果に応じて試験の合否を判定する。具体的には、直後表示画面データと直前表示画面データとが相違している場合、被試験機が、試験対象コマンドブロックを受け付けて、その試験対象コマンドブロックが示す操作に従った処理を実行した結果、被試験機の表示画面が変化したものとして、試験「合格」と判定する。一方、直後表示画面データと直前表示画面データとが一致している場合、被試験機が試験対象コマンドブロックを受け付けておらず、あるいは被試験機が試験対象コマンドブロックを受け付けたけれどもその試験対象コマンドブロックが示す操作に従った処理を実行しておらず、このため、被試験機の表示画面に変化がないのとして、試験「不合格」と判定する。なお、直後表示画面データと直前表示画面データとが相違していても、直後表示画面データが所定の画面表示（例えばブラックアウト）を示している場合は試験「不合格」と判定するようにしてもよい。
【００３０】
試験結果送信部１１５は、試験結果判定部１１４により判定された試験の合否を、試験対象コマンドブロック保持部１１２が保持している試験対象コマンドブロックとともに、試験結果４として、制御端末インターフェース部１０１を介して制御端末に送信する。
【００３１】
図４は、本発明の一実施の形態に係る試験装置１の試験シナリオ作成処理を説明するためのフロー図である。このフローは、サンプルシナリオ受付部１０３が制御端末インターフェース部１０１を介して制御端末からサンプルシナリオ２を受け付けることで開始される。
【００３２】
まず、サンプルシナリオ受付部１０３は、このサンプルシナリオ２をサンプルシナリオ記憶部１０４に記憶する（Ｓ１０１）。
【００３３】
つぎに、試験シナリオ生成部１０７は、乱数生成部１０６に所定範囲（例えば０〜９）で乱数を生成させ、この乱数を処理予定回数Ａ１に設定する。また、処理済み回数Ａ２を初期値「０」に設定する（Ｓ１０２）。
【００３４】
つぎに、試験シナリオ生成部１０７は、乱数生成部１０６に所定範囲で乱数を生成させ、この乱数に応じて、試験シナリオ作成のための処理モードを選択する（Ｓ１０３）。例えば０〜４の範囲で乱数生成部１０６に乱数を生成させ、試験シナリオ作成のための処理モードとして、乱数「０」の場合は「スルー処理」、乱数「１」の場合は「記述順入替え処理」、乱数「２」の場合は「コマンドブロック挿入処理」、乱数「３」の場合は「コマンドブロック置換処理」、乱数「４」の場合は「コマンド要素入替え処理」を選択する。
【００３５】
Ｓ１０３で「スルー処理」が選択された場合、試験シナリオ生成部１０７は、サンプルシナリオ記憶部１０４に記憶されているサンプルシナリオ２に対して何もせずに、Ｓ１１８に進む。
【００３６】
また、Ｓ１０３で「記述順入替え処理」が選択された場合、試験シナリオ生成部１０７は、乱数生成部１０６に、１から、サンプルシナリオ２に記述されたコマンドブロック２０の総数（以下、ブロック総記述数）までの範囲内で２つの乱数を生成させ、これらの乱数を入替え行番Ｎ１、Ｎ２に設定する（Ｓ１０４）。そして、サンプルシナリオ２を編集し、サンプルシナリオ２のＮ１番目に記述されているコマンドブロック２０とＮ２番目に記述されているコマンドブロック２０とを入れ替える（Ｓ１０５）。
【００３７】
それから、試験シナリオ生成部１０７は、Ｓ１０４、Ｓ１０５に示す処理を既定回数繰り返したならば（Ｓ１０６でＹＥＳ）、Ｓ１１８に進み、既定回数繰り返していないならば（Ｓ１０６でＮＯ）、Ｓ１０４に戻る。
【００３８】
また、Ｓ１０３で「コマンドブロック挿入処理」が選択された場合、試験シナリオ生成部１０７は、１から（ブロック総記述数＋１）までの範囲内で乱数生成部１０６に乱数を生成させ、この乱数を挿入行番Ｎ３に設定する（Ｓ１０７）。また、試験シナリオ生成部１０７は、コマンドブロック記憶部１０５からコマンドブロック２０を任意に一つ選択する（Ｓ１０８）。例えば、１から、コマンドブロック記憶部１０５に記憶されているコマンドブロック２０の総数（以下、ブロック総記憶数）までの範囲内で乱数生成部１０６に乱数を生成させ、この乱数が示す順番に登録されているコマンドブロック２０を選択する。つぎに、試験シナリオ生成部１０７は、サンプルシナリオ２を編集し、サンプルシナリオ２のＮ３番目に記述されているコマンドブロック２０の直前に、コマンドブロック記憶部１０５から選択したコマンドブロック２０を挿入する（Ｓ１０９）。ただし、挿入行番Ｎ３として（ブロック総記述数＋１）が設定されている場合には、コマンドブロック記憶部１０５から選択したコマンドブロック２０をサンプルシナリオ２の末尾に追加する。
【００３９】
それから、試験シナリオ生成部１０７は、Ｓ１０７〜Ｓ１０９に示す処理を既定回数繰り返したならば（Ｓ１１０でＹＥＳ）、Ｓ１１８に進み、既定回数繰り返していないならば（Ｓ１１０でＮＯ）、Ｓ１０７に戻る。
【００４０】
また、Ｓ１０３で「コマンドブロック置換処理」が選択された場合、試験シナリオ生成部１０７は、１からブロック総記述数までの範囲内で乱数生成部１０６に乱数を生成させ、この乱数を置換行番Ｎ４に設定する（Ｓ１１１）。また、試験シナリオ生成部１０７は、Ｓ１０８と同じ要領で、コマンドブロック記憶部１０５からコマンドブロック２０を任意に一つ選択する（Ｓ１１２）。つぎに、試験シナリオ生成部１０７は、サンプルシナリオ２を編集し、サンプルシナリオ２においてＮ４番目に記述されているコマンドブロック２０を、コマンドブロック記憶部１０５から選択したコマンドブロック２０に置き換える（Ｓ１１３）。
【００４１】
それから、試験シナリオ生成部１０７は、Ｓ１１１〜Ｓ１１３に示す処理を既定回数繰り返したならば（Ｓ１１４でＹＥＳ）、Ｓ１１８に進み、既定回数繰り返していないならば（Ｓ１１４でＮＯ）、Ｓ１１１に戻る。
【００４２】
また、Ｓ１０３で「コマンド要素入替え処理」が選択された場合、試験シナリオ生成部１０７は、乱数生成部１０６に、１からブロック総記述数までの範囲内で２つの乱数を生成させ、これらの乱数を入替え行番Ｎ５、Ｎ６に設定する（Ｓ１１５）。そして、サンプルシナリオ２を編集し、サンプルシナリオ２においてＮ５番目に記述されているコマンドブロック２０のコマンド要素２１とＮ６番目に記述されているコマンドブロック２０のコマンド要素２１とを入れ替える（Ｓ１１６）。
【００４３】
それから、試験シナリオ生成部１０７は、Ｓ１１５、Ｓ１１６に示す処理を既定回数繰り返したならば（Ｓ１１７でＹＥＳ）、Ｓ１１８に進み、既定回数繰り返していないならば（Ｓ１１７でＮＯ）、Ｓ１１５に戻る。
【００４４】
さて、Ｓ１１８において、試験シナリオ生成部１０７は、処理済み回数Ａ２を処理予定回数Ａ１と比較する。そして、処理済み回数Ａ２が処理予定回数Ａ１より小さいならば（Ｓ１１８でＮＯ）、処理済み回数Ａ２を一つインクリメントして（Ｓ１１９）、Ｓ１０３に戻る。一方、処理済み回数Ａ２が処理予定回数Ａ１以上ならば（Ｓ１１８でＹＥＳ）、以上のようにして編集したサンプルシナリオ２を、試験シナリオ５として試験シナリオ記憶部１０８に記憶して（Ｓ１２０）、このフローを終了する。
【００４５】
図５は、本発明の一実施の形態に係る試験装置１のコマンドブロック送信処理を説明するためのフロー図である。このフローは、試験シナリオ記憶部１０８に試験シナリオ５が記憶されることで開始される。
【００４６】
まず、送信インターバル決定部１０９は、乱数生成部１０６に所定範囲内で乱数を生成させ、この乱数に応じて、試験シナリオ５に記述されたコマンドブロック２０の送信モードを選択する（Ｓ２０１）。例えば０〜３の範囲内で乱数生成部１０６に乱数を生成させて、コマンドブロックの送信モードとして、乱数「０」の場合は「デフォルト速度送信モード」、乱数「１」の場合は「ランダム速度送信モード」、乱数「２」の場合は「ポーズ挿入送信モード」、乱数「３」の場合は「速度可変送信モード」を選択する。
【００４７】
Ｓ２０１で「デフォルト速度送信モード」が選択された場合、送信インターバル決定部１０９は、所定の基準値（デフォルト値）を送信インターバルＴ１に設定し、この送信インターバルＴ１をコマンドブロック送信部１１０に通知する（Ｓ２０２）。これを受けて、コマンドブロック送信部１１０は、カウンタ値Ｃを初期値「１」に設定する（Ｓ２０３）。
【００４８】
つぎに、コマンドブロック送信部１１０は、試験シナリオ５においてＣ番目に記述されているコマンドブロック２０を試験対象コマンドブロックに設定し（Ｓ２０４）、この試験対象コマンドブロックを試験対象コマンドブロック保持部１１２に保持させるとともに、表示画面データ受信部１１１が被試験機から受信している表示画面データ３を、直前表示画面データとして直前表示画面データ保持部１１３に保持させる（Ｓ２０５）。それから、コマンドブロック送信部１１０は、被試験機インターフェース部１０２を介して被試験機に試験対象コマンドブロックを送信し、試験対象コマンドブロックの送信を試験結果判定部１１４に通知する（Ｓ２０６）。
【００４９】
つぎに、コマンドブロック送信部１１０は、カウンタ値Ｃが、試験シナリオ５に記述されているコマンドブロック２０の総数（以下、試験総数）に達したか否かを判断する（Ｓ２０７）。カウンタ値Ｃが試験総数に達していないならば（Ｓ２０７でＮＯ）、コマンドブロック送信部１１０は、カウンタ値Ｃを一つインクリメントするとともに、送信インターバル決定部１０９より通知された送信インターバルＴ１が経過するのを待ち（Ｓ２０８）、その後、Ｓ２０４に戻る。一方、カウンタ値Ｃが総試験数に達したならば（Ｓ２０７でＹＥＳ）、このフローを終了する。
【００５０】
また、Ｓ２０１で「ランダム速度送信モード」が選択された場合、送信インターバル決定部１０９は、乱数生成部１０６に所定範囲内で乱数を生成させ、この乱数に応じて決定した時間を送信インターバルＴ２に設定し、この送信インターバルＴ２をコマンドブロック送信部１１０に通知する（Ｓ２０９）。ここで乱数に応じて決定される時間は、上述のデフォルト値より短い時間となるようにしてもよい。その後、Ｓ２０３に進み、コマンドブロック送信部１１０は、「デフォルト速度送信モード」の場合と同様の要領により、試験対象コマンドブロックを送信する（Ｓ２０３〜Ｓ２０８）。
【００５１】
また、Ｓ２０１で「ポーズ挿入送信モード」が選択された場合、送信インターバル決定部１０９は、試験シナリオ５から任意数のコマンドブロック２０を選択し、これらのコマンドブロック２０をポーズ対象ブロックに設定する（Ｓ２１０）。例えば、乱数生成部１０６に試験総数の範囲内で乱数を生成させ、この乱数が示す数のコマンドブロック２０を試験シナリオ５からランダムに選択する。または、あらかじめ定めた数のコマンドブロック２０を試験シナリオ５からランダムに選択するようにしてもよい。
【００５２】
また、送信インターバル決定部１０９は、デフォルト値を送信インターバルＴ３に設定し、この送信インターバルＴ３を、ポーズ対象ブロックに設定されたコマンドブロック２０の情報とともにコマンドブロック送信部１１０に通知する（Ｓ２１１）。これを受けて、コマンドブロック送信部１１０は、カウンタ値Ｃを初期値「１」に設定する（Ｓ２１２）。
【００５３】
つぎに、コマンドブロック送信部１１０は、試験シナリオ５においてＣ番目に記述されているコマンドブロック２０を試験対象コマンドブロックに設定し（Ｓ２１３）、この試験対象コマンドブロックを試験対象コマンドブロック保持部１１２に保持させるとともに、表示画面データ受信部１１１が被試験機から受信している表示画面データ３を、直前表示画面データとして直前表示画面データ保持部１１３に保持させる。それから、コマンドブロック送信部１１０は、この試験対象コマンドブロックがポーズ対象ブロックに設定されているか否かを判断する（Ｓ２１４）。そして、試験対象コマンドブロックがポーズ対象ブロックに設定されているならば（Ｓ２１４でＹＥＳ）、コマンドブロック送信部１１０は、既定のポーズ時間ｔが経過するのを待つ（Ｓ２１５）。それから、被試験機インターフェース部１０２を介して被試験機に試験対象コマンドブロックを送信し、試験対象コマンドブロックの送信を試験結果判定部１１４に通知する（Ｓ２１６）。一方、試験対象コマンドブロックがポーズ対象ブロックに設定されていないならば（Ｓ２１４でＮＯ）、コマンドブロック送信部１１０は、直ちに、被試験機インターフェース部１０２を介して被試験機に試験対象コマンドブロックを送信する（Ｓ２１６）。
【００５４】
つぎに、コマンドブロック送信部１１０は、カウンタ値Ｃが試験総数に達したか否かを判断する（Ｓ２１７）。カウンタ値Ｃが試験総数に達していないならば（Ｓ２１７でＮＯ）、コマンドブロック送信部１１０は、カウンタ値Ｃを一つインクリメントするとともに、送信インターバル決定部１０９より通知された送信インターバルＴ３が経過するのを待ち（Ｓ２１８）、その後、Ｓ２１３に戻る。一方、カウンタ値Ｃが総試験数に達したならば（Ｓ２１７でＹＥＳ）、このフローを終了する。
【００５５】
また、Ｓ２０１で「速度可変送信モード」が選択された場合、送信インターバル決定部１０９は、試験シナリオ５を単一のコマンドブロック２０あるいは連続する複数のコマンドブロック２０からなる複数のグループ２３に分割する（Ｓ２１９）。例えば、乱数生成部１０６に試験総数の範囲内で乱数を生成させ、試験シナリオ５の先頭から順番にこの乱数が示す数のコマンドブロック２０を切り出すことで、試験シナリオ５を複数のグループ２３に分割する。
【００５６】
つぎに、送信インターバル決定部１０９は、以上のようにして作成されたグループ２３のうち、未選択のグループ２３であって、かつ試験シナリオ５の最も先頭側に位置するグループ２３を一つ選択する（Ｓ２２０）。それから、送信インターバル決定部１０９は、乱数生成部１０６に所定範囲内で乱数を生成させ、この乱数に応じて決定した時間を送信インターバルＴ４（k）に設定し、この送信インターバルＴ４（k）を、試験シナリオ５から選択したｋ個目のグループ２３の情報とともに、コマンドブロック送信部１１０に通知する（Ｓ２２１）。ここで乱数に応じて決定される時間Ｔ４（k）は、上述のデフォルト値Ｔ１より短い時間となるようにしてもよい。これを受けて、コマンドブロック送信部１１０は、カウンタ値Ｃを初期値「１」に設定する（Ｓ２２２）。
【００５７】
つぎに、コマンドブロック送信部１１０は、選択したグループ２３においてＣ番目に記述されているコマンドブロック２０を試験対象コマンドブロックに設定し（Ｓ２２３）、この試験対象コマンドブロックを試験対象コマンドブロック保持部１１２に保持させるとともに、表示画面データ受信部１１１が被試験機から受信している表示画面データ３を直前表示画面データとして直前表示画面データ保持部１１３に保持させる（Ｓ２２４）。それから、コマンドブロック送信部１１０は、被試験機インターフェース部１０２を介して被試験機に試験対象コマンドブロックを送信し、試験対象コマンドブロックの送信を表示画面データ受信部１１１および試験結果判定部１１４に通知する（Ｓ２２５）。
【００５８】
つぎに、コマンドブロック送信部１１０は、カウンタ値Ｃが、選択したグループ２３に記述されているコマンドブロック２０の総数（以下、グループ内試験数）に達したか否かを判断する（Ｓ２２６）。カウンタ値Ｃがグループ内試験数に達していないならば（Ｓ２２６でＮＯ）、コマンドブロック送信部１１０は、カウンタ値Ｃを一つインクリメントするとともに、送信インターバル決定部１０９より通知された送信インターバルＴ４（ｋ）が経過するのを待ち（Ｓ２２７）、その後、Ｓ２２３に戻る。一方、カウンタ値Ｃがグループ内試験数に達したならば（Ｓ２２６でＹＥＳ）、その旨を送信インターバル決定部１０９に通知する。これを受けて、送信インターバル決定部１０９は、Ｓ２１９で作成されたすべてのグループ２３を選択済みであるか否かを調べ（Ｓ２２８）、未選択のグループ２３があるならば（Ｓ２２８でＮＯ）、Ｓ２２０に戻り、すべてのグループ２３を選択済みならば（Ｓ２２８でＹＥＳ）、このフローを終了する。
【００５９】
図６は、本発明の一実施の形態に係る試験装置１の試験結果出力処理を説明するためのフロー図である。このフローは、被試験機インターフェース部１０２を介してコマンドブロック送信部１１０から被試験機に試験対象コマンドブロックが送信される毎（コマンドブロック送信部１１０から試験対象コマンドブロックの送信を通知される毎）に実施される。
【００６０】
まず、表示画面データ受信部１１１は、被試験機インターフェース部１０２を介して被試験機から受信した表示画面データ３を、直後表示画面データとして試験結果判定部１１４に通知する（Ｓ３０１）。これを受けて、試験結果判定部１１４は、直前表示画面データ保持部１１３に保持されている直前表示画面データを読み出し、この直前表示画面データと直後表示画面データとを比較して、両者の間に変化があるか否かを判断する（３０２）。
【００６１】
直前表示画面データと直後表示画面データとの間に変化がある場合（Ｓ３０３でＹＥＳ）、試験結果判定部１１４は、試験対象コマンドブロックによる試験に合格したものと判定する（Ｓ３０４）。そして、この合否判定結果（合格）を試験結果送信部１１５に通知する。これを受けて、試験結果送信部１１５は、この合否判定結果（合格）を、試験対象コマンドブロック保持部１１２が保持している試験対象コマンドブロックともに、試験結果４として、制御端末インターフェース部１０１を介して制御端末に送信し（Ｓ３０７）、このフローを終了する。
【００６２】
一方、直前表示画面データと直後表示画面データとの間に変化がない場合（Ｓ３０３でＮＯ）、試験結果判定部１１４は、試験対象コマンドブロックの送信から所定時間を経過していないならば（Ｓ３０５でＮＯ）、Ｓ３０１に戻り、所定時間を経過しているならば（Ｓ３０５でＹＥＳ）、試験対象コマンドブロックによる試験に不合格と判定する（Ｓ３０６）。そして、この合否判定結果（不合格）を試験結果送信部１１５に通知する。これを受けて、試験結果送信部１１５は、この合否判定結果（不合格）を、試験対象コマンドブロック保持部１１２が保持している試験対象コマンドブロックともに、試験結果４として、制御端末インターフェース部１０１を介して制御端末に送信し（Ｓ３０７）、このフローを終了する。
【００６３】
以上、本発明の一実施の形態を説明した。
【００６４】
本実施の形態において、試験装置１は、コマンド要素２１およびデータ要素２２からなるコマンドブロック２０が、被試験機の操作に係るコマンドブロック２０として複数記述されたサンプルシナリオ２の入力を受け付け、このサンプルシナリオ２に対して、記述順入替え処理、コマンドブロック挿入処理、コマンドブロック置換処理、コマンド要素入替え処理、およびスルー処理のうちの少なくとも一つを実施して、コマンドブロック２０を試験順に複数記述した試験シナリオ５を生成する。したがって、本実施の形態によれば、サンプルシナリオ２に記述されていないコマンドブロック２０、つまり予め準備されていない過負荷試験等の試験項目について、何通りもの試験を可能とする試験シナリオ５を生成することができる。
【００６５】
また、本実施の形態において、試験装置１は、試験シナリオ５に記述されているコマンドブロック２０各々を、この試験シナリオ５での記述順に従って、デフォルト速度送信モード、ランダム速度送信モード、ポーズ挿入送信モード、および速度可変送信モードのいずれかにより、被試験機に送信する。したがって、本実施の形態によれば、試験シナリオ５に記述されているコマンドブロック２０による試験項目を様々な条件で試験することができる。
【００６６】
また、本実施の形態において、試験装置１は、試験シナリオ５に記述されているコマンドブロック２０毎に、コマンドブロック２０の送信前後における被試験機の表示画面の変化に基づいて、コマンドブロック２０による試験結果を判断する。したがって、本実施の形態によれば、試験シナリオ５に記述されているコマンドブロック２０による試験項目各々について、その正常な動作内容を予め記述しておかなくても、試験の合否を判定することができる。
【００６７】
なお、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で数々の変形が可能である。
【００６８】
例えば、上記の実施の形態において、試験シナリオ生成部１０７は、乱数を用いてサンプルシナリオ２から２つのコマンドブロック２０を選択して両者を入れ替える処理を既定回数繰り返すことにより、「記述順入替え処理」を実施している。しかし、「記述順入替え処理」は、サンプルシナリオ２に記述されているコマンドブロック２０の記述順をランダムに入れ替えるものであればどのようなものでもよい。例えば、サンプルシナリオ２からランダムにコマンドブロック２０を抽出して、このコマンドブロック２０を順番に記述していくことにより「記述順入替え処理」を実施してもよい。
【００６９】
また、上記の実施の形態において、試験シナリオ生成部１０７は、乱数を用いてサンプルシナリオ２からコマンドブロック２０を選択して、このコマンドブロック２０の直前に、コマンドブロック記憶部１０５からランダムに選択したコマンドブロック２０を挿入する処理を既定回数繰り返すことにより、「コマンドブロック挿入処理」を実施している。しかし、「コマンドブロック挿入処理」は、コマンドブロック記憶部１０５からランダムに選択したコマンドブロック２０をサンプルシナリオ２の任意に箇所に挿入するものであればどのようなものでもよい。
【００７０】
また、上記の実施の形態において、試験シナリオ生成部１０７は、乱数を用いてサンプルシナリオ２からコマンドブロック２０を選択して、このコマンドブロック２０を、コマンドブロック記憶部１０５からランダムに選択したコマンドブロック２０に置換する処理を既定回数繰り返すことにより、「コマンドブロック置換処理」を実施している。しかし、「コマンドブロック置換処理」は、サンプルシナリオ２に記述されている任意のコマンドブロック２０を、コマンドブロック記憶部１０５からランダムに選択したコマンドブロック２０に置換するものであればどのようなものでもよい。
【００７１】
また、上記の実施の形態において、試験シナリオ生成部１０７は、乱数を用いてサンプルシナリオ２から２つのコマンドブロック２０を選択して両者のコマンド要素２１を入替える処理を既定回数繰り返すことにより、「コマンド要素入替え処理」を実施している。しかし、「コマンド要素入替え処理」は、サンプルシナリオ２に記述されているコマンドブロック２０のコマンド要素をランダムに入れ替えるものであればどのようなものでもよい。例えば、サンプルシナリオ２に記述されている各コマンドブロック２０をコマンド要素２１とデータ要素２２とに分解して、コマンド要素２１のグループおよびデータ要素２２のグループを生成する。そして、コマンド要素２１のグループのなかからランダムに抽出したコマンド要素２１と、データ要素２２のグループのなかからランダムに抽出したデータ要素２２とを組み合わせてコマンドブロック２０を新たに生成し、このコマンドブロック２０を順番に記述していくことにより「コマンド要素入替え処理」を実施してもよい。
【００７２】
また、上記の実施の形態において、ポーズ時間ｔは既定であるが、ポーズ時間ｔがランダムに設定されるようにしてもよい。
【００７３】
また、上記の実施の形態において、送信インターバル決定部１０９は、デフォルト速度送信モード、ランダム速度送信モード、ポーズ挿入送信モード、および速度可変送信モードのいずれかにより、コマンドブロック２０の送信インターバルを決定する。しかし、送信インターバル決定部１０９は、コマンドブロック２０毎あるいは連続する複数のコマンドブロック２０毎に、任意の送信インターバルを決定できるものであればよい。
【００７４】
また、上記の実施の形態において、試験結果判定部１１４は、コマンドブロック２０の送信前後における被試験機の表示画面の変化に基づいて、コマンドブロック２０による試験結果を判断しているが、コマンドブロック２０の送信前後における前記被試験機の動作状態の変化に基づいて試験結果を判断するものであればよい。
【００７５】
また、上記の実施の形態において、図１に示す試験装置１の機能構成は、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）などの集積ロジックＩＣによりハード的に実現されるものでもよいし、あるいはＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）などの計算機によりソフトウエア的に実現されるものでもよい。または、ＣＰＵ、メモリ、ＨＤＤ、ＤＶＤ−ＲＯＭ等の補助記憶装置、およびＮＩＣ（Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ  Ｃａｒｄ）、ＵＳＢ、Ｂｕｌｅｔｏｏｔｈ等の外部接続インターフェースを備えたＰＣ等のコンピュータシステムにおいて、ＣＰＵが所定のプログラムを補助記憶装置からメモリ上にロードして実行することで実現されるものでもよい。
【００７６】
また、上記の実施の形態では、携帯電話機が被試験機である場合を例にとり説明したが、本発明は、コマンドブロック受信および動作状態出力のためのインターフェースを備えた様々な被試験機の試験に適用可能である。
【符号の説明】
【００７７】
１：試験装置、２：サンプルシナリオ、３：表示画面データ、４：試験結果、５：試験シナリオ、２０：コマンドブロック、２１：コマンド要素、２２：データ要素、１０１：制御端末インターフェース部、１０２：被試験機インターフェース部、１０３：サンプルシナリオ受付部、１０４：サンプルシナリオ記憶部、１０５：コマンドブロック記憶部、１０６：乱数生成部、１０７：試験シナリオ生成部、１０８：試験シナリオ記憶部、１０９：送信インターバル決定部、１１０：コマンドブロック送信部、１１１：表示画面データ受信部、１１２：試験対象コマンドブロック保持部、１１３：直前表示画面データ保持部、１１４：試験結果判定部、１１５：試験結果送信部
【図１】
2011170643.tif 000003
【図２】
2011170643.tif 000004
【図３】
2011170643.tif 000005
【図４】
2011170643.tif 000006
【図５】
2011170643.tif 000007
【図６】
2011170643.tif 000008