(57)【要約】【課題】試験端子に対する挿抜にともなう不具合の発生を容易かつ確実に防止するとともに、試験プラグにかかわる各種作業における安全性の向上を図ること。【解決手段】ＰＴテストターミナルにおける装置側接点と電源側接点との間に挿抜される基材１０１と、基材１０１に設けられ、当該基材１０１が装置側接点と電源側接点との間に挿入された状態において、装置側接点と電源側接点との電気的な接続を遮断する絶縁部材１０３と、基材に設けられ、当該基材が装置側接点と電源側接点との間に挿入された状態において装置側接点に電気的に接続される導電性部材１０２と、導電性部材１０２に電気的に接続され、試験器の接続端子に接続可能な接続用端子部材を実現するリード線１０４およびクリップ端子１０５と、を備えたＰＴＴ１００を構成した。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
配電盤内部に接続された装置側接点、および、当該装置側接点に電気的に接続されるとともに配電盤外部に接続された電源側接点を備えた試験端子における、前記装置側接点と前記電源側接点との間に挿抜される基材と、
前記基材に設けられ、当該基材が前記装置側接点と前記電源側接点との間に挿入された状態において、前記装置側接点と前記電源側接点との電気的な接続を遮断する絶縁部材と、
前記基材に設けられ、当該基材が前記装置側接点と前記電源側接点との間に挿入された状態において前記装置側接点に電気的に接続される導電性部材と、
前記導電性部材に電気的に接続され、試験器の接続端子に接続可能な接続用端子部材と、
を備えたことを特徴とする試験プラグ。
【請求項２】
前記接続用端子部材は、一端が前記導電性部材に電気的に接続され、他端に試験器の接続端子に接続可能なクリップ端子が設けられた所定の長さのリード線であることを特徴とする請求項１に記載の試験プラグ。
【請求項３】
前記リード線を繰り出し可能に保持するコードリール機構を備えたことを特徴とする請求項２に記載の試験プラグ。
【請求項４】
前記コードリール機構を覆うカバー部材を備えたことを特徴とする請求項３に記載の試験プラグ。
【請求項５】
前記導電性部材は複数設けられており、前記リード線は前記導電性部材ごとに異なる色の被覆がなされていることを特徴とする請求項２〜４のいずれか一つに記載の試験プラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、試験プラグに関する。
【背景技術】
【０００２】
配電盤は、電気回路の開閉や電気系統の切換えをおこなう設備であり、電源と負荷との間に設けられる。このような配電盤に対する作業に際しては、配電盤外部のＰＴ回路と配電盤内部の回路とを切離す必要がある。配電盤は、配電盤外部のＰＴ回路に接続されるＰＴテストターミナル（試験端子）を備えており、配電盤に対する作業に際しては、このＰＴテストターミナルへ試験プラグであるＰＴテストプラグ（以下「ＰＴＴ」という）を挿入することによって配電盤外部のＰＴ回路と配電盤内部の回路とを切離していた。
【０００３】
従来、配電盤に対する作業に際しては、ＰＴテストターミナルにＰＴＴを挿入した後、当該ＰＴＴに試験用リード線を介して試験器を接続することによって試験回路を構成してから、試験電圧を印加していた。試験用リード線は、ＰＴＴとは別体であり、配電盤に対する作業をおこなうごとに別途準備していた。ＰＴＴに対する配線接続（試験回路の構成）に際して、ＰＴＴと試験器とを接続する際は、ＰＴＴおよび試験器にそれぞれクリップを取り付けることによってＰＴＴと試験器とを接続していた。
【０００４】
また、従来、配電盤に対する作業が終了した後は、試験用リード線などのＰＴＴに接続されている配線を外し、その後、ＰＴテストターミナルからＰＴＴを引抜いていた。ＰＴＴは、配電盤作業時には必ず必要となるため使用頻度が高く、汎用性が高い構成とされていた。
【０００５】
ＰＴＴは、ＰＴテストターミナルに挿入された状態において視認可能な位置（前面）に、配線を接続するための締付端子を備えている。この締付端子は、ＰＴＴの主回路が充電されている間充電されるため、従来、ＰＴテストターミナルにＰＴＴを挿入している間は感電防止の養生をおこなっていた。
【０００６】
また、従来、たとえば、トリップロック端子を試験端子（ＰＴテストターミナル）本体ケースに一体化することにより、試験プラグ（ＰＴＴ）の挿入操作に際してＣＴ・ＰＴ（Ｐｏｔｅｎｔｉａｌ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒ）回路とトリップ回路とを同時に切離すようにした技術（たとえば、下記特許文献１を参照。）や、試験端子本体において、全回線のトリップロック端子を直列接続するとともに補助リレー励磁回路を接続することにより、ある一回線の試験プラグ挿入時でも自動的に全回線トリップロックするようにした技術（たとえば、下記特許文献２を参照。）などがあった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開昭５７−３６５２９号公報
【特許文献２】特開昭６０−２０２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述した従来の技術では、ＰＴテストターミナルに対してＰＴＴを挿入している途中においては、ＰＴテストターミナルの主接点が閉状態にあり、配電盤外部の回路と配電盤内部の回路とが導通状態となる。このために、短絡状態の試験回路を構成した状態のまま、ＰＴテストターミナルに対するＰＴＴの挿抜をおこなうと、同一のＰＴ回路に接続されている運転中の保護継電器などのＰＴ回路電圧が喪失することとなる。運転中の保護継電器などのＰＴ回路電圧が喪失した場合は、運用中の装置に支障を生じたり、ミストリップの原因となったりするという問題があった。
【０００９】
上記の理由から、上述した従来の技術では、必ず、ＰＴテストターミナルに対してＰＴＴを挿入してから配線をおこなうとともに、ＰＴテストターミナルからＰＴＴを引き抜く前にＰＴＴに接続されている配線を外さなくてはならず、配電盤に対する作業にともなう操作が煩わしいという問題があった。
【００１０】
また、上述した従来の技術では、主回路が充電されている間充電状態となる締付端子が露出しているため、ＰＴテストターミナルに対するＰＴＴの挿抜時やＰＴＴに対する配線接続（試験回路の構成）時などに、誤って締付端子に触れてしまい、感電する恐れがあるという問題があった。
【００１１】
また、上述した従来の技術では、ＰＴＴに対する配線接続（試験回路の構成）に際して、クリップを使用してＰＴＴと試験器とをそれぞれ接続していたため、誤った状態で配線（誤結線）がおこなわれることがあるという問題があった。誤配線がおこなわれた場合は、試験器や配電盤を損傷する原因となる。
【００１２】
また、上述した従来の技術では、試験用リード線を別途準備する必要があり、配電盤に対する作業に際しての準備や片付けが煩わしいという問題があった。さらに、上述した従来の技術では、リード線を複数本用いる場合に、準備したリード線の色が同一であると、試験回路の誤結線を生じさせやすくなったり、結線確認に時間がかかったりするという問題があった。
【００１３】
この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するため、試験端子に対する挿抜にともなう不具合の発生を容易かつ確実に防止するとともに、試験プラグにかかわる各種作業における安全性の向上を図ることができる試験プラグを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、この発明にかかる試験プラグは、配電盤内部に接続された装置側接点、および、当該装置側接点に電気的に接続されるとともに配電盤外部に接続された電源側接点を備えた試験端子における、前記装置側接点と前記電源側接点との間に挿抜される基材と、前記基材に設けられ、当該基材が前記装置側接点と前記電源側接点との間に挿入された状態において、前記装置側接点と前記電源側接点との電気的な接続を遮断する絶縁部材と、前記基材に設けられ、当該基材が前記装置側接点と前記電源側接点との間に挿入された状態において前記される導電性部材と、前記導電性部材に電気的に接続され、試験器の接続端子に接続可能な接続用端子部材と、を備えたことを特徴とする。
【００１５】
また、この発明にかかる試験プラグは、上記の発明において、前記接続用端子部材が、一端が前記導電性部材に電気的に接続され、他端に試験器の接続端子に接続可能なクリップ端子が設けられた所定の長さのリード線であることを特徴とする。
【００１６】
また、この発明にかかる試験プラグは、上記の発明において、前記リード線を繰り出し可能に保持するコードリール機構を備えたことを特徴とする。
【００１７】
また、この発明にかかる試験プラグは、上記の発明において、前記コードリール機構を覆うカバー部材を備えたことを特徴とする。
【００１８】
また、この発明にかかる試験プラグは、上記の発明において、前記導電性部材が複数設けられており、前記リード線が前記導電性部材ごとに異なる色の被覆がなされていることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１９】
この発明にかかる試験プラグによれば、ＰＴテストターミナルに対する挿抜にともなう不具合の発生を容易かつ確実に防止するとともに、試験プラグにかかわる各種作業における安全性の向上を図ることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】この発明にかかる実施の形態の試験プラグの構成を示す説明図（その１）である。
【図２】この発明にかかる実施の形態の試験プラグの構成を示す説明図（その２）である。
【図３】この発明にかかる実施の形態の試験プラグの構成を示す説明図（その３）である。
【図４】この発明にかかる実施の形態の試験プラグの構成を示す説明図（その４）である。
【図５】この発明にかかる実施の形態の試験プラグの構成を示す説明図（その５）である。
【図６】従来の試験プラグを示す説明図（その１）である。
【図７】従来の試験プラグを示す説明図（その２）である。
【図８】この発明にかかる実施の形態の試験プラグおよび従来の試験プラグの使用例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる試験プラグの好適な実施の形態を詳細に説明する。
【００２２】
（試験プラグの構成）
まず、この発明にかかる実施の形態の試験プラグの構成について説明する。図１、図２、図３、図４および図５は、この発明にかかる実施の形態の試験プラグの構成を示す説明図である。
【００２３】
図１においては、この発明にかかる実施の形態の試験プラグを、当該試験プラグの使用に際して斜め上方位置から見た状態を示している。図２は、この発明にかかる実施の形態の試験プラグを、当該試験プラグの使用に際して上方となる位置から見た状態を示している。図３は、この発明にかかる実施の形態の試験プラグを、当該試験プラグの使用に際して下方となる位置から見た状態を示している。
【００２４】
図４においては、この発明にかかる実施の形態の試験プラグを図１におけるＡ−Ａ線に平行な直線で切断した断面を、矢印Ａ方向から見た状態を示している。図５は、この発明にかかる実施の形態の試験プラグを図１におけるＢ−Ｂ線において切断した断面を、矢印Ｂ方向から見た状態を示している。
【００２５】
図１、図２、図３、図４および図５において、この発明にかかる実施の形態の試験プラグであるＰＴＴ１００は、試験器（図示を省略する）を用いた所定の試験作業に際して、試験端子であるＰＴテストターミナル（図示を省略する）に装着して使用される。ＰＴテストターミナルは、装置に接続された装置側接点と、電源に接続された電源側接点とを備えている。装置側接点は、バネなどによって、電源側接点に当接する方向に付勢されている。電源側接点は、バネなどによって、装置側接点に当接する方向に付勢されている。
【００２６】
これにより、装置側接点および電源側接点は、ＰＴテストターミナルに試験プラグが装着されていない状態において、互いに当接している。装置側接点と電源側接点とは、ＰＴテストターミナルに試験プラグが装着されていない状態において互いに当接することにより、電気的に接続されている。ＰＴテストターミナルは、１つの装置側接点および１つの電源側接点によって構成される接点部を、複数（たとえば４つ）備えている。
【００２７】
ＰＴテストターミナルは、ＰＴＴ１００が装着されるプラグ挿入口が設けられた箱体を備えている。ＰＴテストターミナルは、プラグ挿入口１００が配電盤（図８を参照）の盤面において開口するように、配電盤に組み込まれている。ＰＴＴ１００は、プラグ挿入口を介して箱体に挿抜されることによって、ＰＴテストターミナルに対して着脱される。
【００２８】
ＰＴＴ１００は、当該ＰＴＴ１００がＰＴテストターミナルに装着された状態において、ＰＴテストターミナルにおける装置側接点と電源側接点との間に挿入される基材１０１を備えている。基材１０１は、略板形状をなし、絶縁材料を用いて形成されている。
【００２９】
上記の装置側接点および電源側接点は、ＰＴテストターミナルにＰＴＴ１００が装着された状態においては、間に挿入された基材１０１によって互いに離間される。また、装置側接点および電源側接点は、バネなどによって互いに当接する方向に付勢されているため、ＰＴテストターミナルにＰＴＴ１００が装着された状態においては、それぞれ、基材１０１に当接する。
【００３０】
基材１０１には、導電性部材１０２が設けられている。導電性部材１０２は、板状あるいはシート状をなし、導電性を有する材料によって形成されている。導電性部材１０２は、基材１０１が装置側接点と電源側接点との間に挿入された状態において、装置側接点に電気的に接続される位置に設けられている。接点部すなわち装置側接点は複数（たとえば４つ）設けられているため、導電性部材１０２は、各装置側接点にそれぞれ独立して当接するように複数（たとえば４つ）設けられている。導電性部材１０２は、装置側接点に当接することによって、当該装置側接点に電気的に接続される。
【００３１】
また、基材１０１には、絶縁部材１０３が設けられている。絶縁部材１０３は、絶縁材料を用いて形成され、基材の表面に露出している。絶縁部材１０３は、基材１０１における装置側接点に対向する面のうち、導電性部材１０２が設けられている位置以外の位置に設けられている。また、絶縁部材１０３は、基材１０１における電源側接点に対向する面の全面にわたって設けられている。
【００３２】
絶縁部材１０３は、基材１０１の表面に、絶縁材料を用いて形成された板状あるいはシート状をなす部材を設けることによって実現することができる。あるいは、絶縁部材１０３は、基材１０１の表面によって実現してもよい。絶縁部材１０３によって、基材１０１が装置側接点と電源側接点との間に挿入された状態において、装置側接点と電源側接点との電気的な接続が遮断される。
【００３３】
導電性部材１０２には、リード線１０４の一端が電気的に接続されている。このリード線１０４の他端には、ワニ口クリップなどのクリップ端子１０５が設けられている。この実施の形態においては、リード線１０４およびクリップ端子１０５によって接続用端子部材を実現することができる。
【００３４】
リード線１０４は、当該リード線１０４の一端が接続される導電性部材１０２ごとに、異なる色の被覆がなされている。あるいは、リード線１０４は、当該リード線１０４の一端が接続される導電性部材１０２ごとに、異なる模様、異なるマークが設けられた被覆がなされたものであってもよい。これにより、各リード線１０４を、目視によって、容易かつ確実に識別することができる。
【００３５】
ＰＴＴ１００は、リード線１０４を巻き取った状態で、かつ、当該リード線１０４を巻き取った状態から繰り出し可能に保持するコードリール機構４０１を備えている。コードリール機構４０１は、リード線１０４ごとに設けられている。コードリール機構４０１は、たとえば、渦巻き状の板バネ（ゼンマイ）によって実現することができる。
【００３６】
コードリール機構４０１において、ゼンマイは、リード線１０４を繰り出した状態においては、渦巻きが延びるように変形する。コードリール機構４０１は、このゼンマイが元の渦巻き形状に復帰する際の付勢力を利用してリード線１０４を巻き取る。また、コードリール機構４０１は、リード線１０４を任意の長さ繰り出した状態で板バネの形状を固定するストッパ（図示を省略する）を備えている。
【００３７】
ストッパは、リード線１０４が最大長さまで繰り出された場合、あるいは、所定以上の強さで繰り出された場合に、板バネの形状を固定するストッパ機能を解除する構成を備えている。これにより、繰り出したリード線１０４を容易に巻き取ることができる。コードリール機構４０１は、たとえば、掃除機や扇風機などの家電製品が備える電気コードを巻き取る機構と同様であり、公知の技術を用いて容易に実現可能であるため説明を省略する。
【００３８】
また、ＰＴＴ１００は、コードリール機構４０１を覆うカバー部材１０６を備えている。カバー部材１０６は、コードリール機構４０１の全体を、当該コードリール機構４０１の外側から覆っている。カバー部材１０６には、カバー部材１０６の外側にリード線１０４の他端側を出すためのリード線挿通口１０６ａが設けられている。リード線挿通口１０６ａは、リード線１０４ごとに複数（たとえば４つ）設けられている。リード線挿通口１０６ａの開口径は、クリップ端子１０５の大きさよりも小さい。
【００３９】
具体的に、リード線挿通口１０６ａの開口径は、リード線１０４の長さ方向に直交する面内におけるクリップ端子１０５の断面の径よりも小さい。これによって、コードリール機構４０１によってリード線１０４が巻き取られた場合は、クリップ端子１０５がリード線挿通口１０６ａに引っかかるので、コードリール機構４０１によって巻き取ったリード線１０４が、カバー部材１０６の内側に入り込んでしまうことを防止することができる。
【００４０】
図６および図７は、従来の試験プラグを示す説明図である。図６および図７においては、上述した図１〜図５に示した各部と同一部分は同一符号で示し、説明を省略する。図６および図７において、従来の試験プラグであるＰＴＴ６００は、ＰＴテストターミナルの箱体におけるプラグ挿入口に嵌め込まれるようにして装着される、端子支持部材６０１を備えている。端子支持部材６０１には、装置側接点と電源側接点との間に挿入される基材６０２が取り付けられている。
【００４１】
基材６０２には、上面および下面に、それぞれ、接続部材６０３が設けられている。接続部材６０３は、金属製の板など導電性を有する材料によって形成され、基材の上下方向に沿って対をなすように配置されている。基材６０２の上面および下面に対をなすように設けられた接続部材６０３によって構成される接続部材対６０４は、接点部の数と同数（複数、具体的には４つ）設けられている。
【００４２】
ＰＴテストターミナルにＰＴＴ６００が装着された状態において、基材６０２の上面に設けられた接続部材６０３は、装置側接点に当接し、当該装置側接点に対して電気的に接続される。また、ＰＴテストターミナルにＰＴＴ６００が装着された状態において、基材６０２の下面に設けられた接続部材６０３は、電源側接点に当接し、当該電源側接点に対して電気的に接続される。
【００４３】
基材６０２の上面に設けられた接続部材６０３は、端子支持部材６０１の前方に突出するように設けられた前部端子６０５に電気的に接続されている。基材６０２の下面に設けられた接続部材６０３は、前部端子６０５と同様に、端子支持部材６０１の前方に突出するように設けられた後部端子６０６に電気的に接続されている。
【００４４】
図８は、この発明にかかる実施の形態のＰＴＴ１００および従来のＰＴＴ６００の使用例を示す説明図である。図８においては、この発明にかかる実施の形態のＰＴＴ１００および従来のＰＴＴ６００を、プラグ挿入口を介して配電盤８００に装着した状態を示している。
【００４５】
上述した構成を備えた従来のＰＴＴ６００を用いて配電盤８００に対する作業をおこなう際には、まず、試験器に接続されていない状態のＰＴＴ１００、６００を配電盤８００に設けられたＰＴテストターミナルに挿入し、図８に示した状態とする。そして、図８に示された状態において、配電盤８００から突出している前部端子６０５や後部端子６０６に対して試験器に応じた配線をおこない、従来のＰＴＴ６００と試験器とを接続することによって試験回路を構成していた。
【００４６】
従来のＰＴＴ６００を用いた試験回路の構成に際しては、従来のＰＴＴ６００とは別体とされた試験用のリード線を、配電盤に対する作業をおこなうごとに別途準備していた。従来のＰＴＴ６００に対する配線接続（試験回路の構成）に際して、従来のＰＴＴ６００と試験器とを接続する際は、従来のＰＴＴ６００および試験器にそれぞれクリップを取り付けることによって従来のＰＴＴ６００と試験器とを接続していた。
【００４７】
従来のＰＴＴ６００を用いた各種試験に際しては、試験器に対する試験電圧の印加は、試験回路の構成後におこなわれていた。ＰＴテストターミナルにＰＴＴ６００を挿入している間は、ＰＴＴ６００の主回路が充電されているため、従来は前部端子６０５および後部端子６０６に、感電防止のための養生部材８０１を設けていた。
【００４８】
これに対して、この発明にかかる実施の形態のＰＴＴ１００は、ＰＴテストターミナルに対する電気的な接続は装置側接点のみに対しておこなわれるため、試験器が接続されている状態のＰＴＴ１００をＰＴテストターミナルに対して挿抜した場合にも、ＰＴＴ１００に接続されている試験回路を短絡状態となっても運転中の配電盤８００に対して悪影響をあたえることがない。
【００４９】
以上説明したように、この実施の形態のＰＴＴ１００は、装置に接続された装置側接点、および、当該装置側接点に電気的に接続されるとともに電源に接続された電源側接点を備えたＰＴテストターミナルにおける、装置側接点と電源側接点との間に挿抜される基材１０１と、基材１０１に設けられ、当該基材１０１が装置側接点と電源側接点との間に挿入された状態において、装置側接点と電源側接点との電気的な接続を遮断する絶縁部材１０３と、基材１０１に設けられ、当該基材１０１が装置側接点と電源側接点との間に挿入された状態において装置側接点に電気的に接続される導電性部材１０２と、導電性部材１０２に電気的に接続され、試験器の接続端子に接続可能な接続用端子部材を実現するリード線１０４およびクリップ端子１０５と、を備えたことを特徴としている。
【００５０】
この実施の形態のＰＴＴ１００によれば、ＰＴテストターミナルに対する電気的な接続は装置側接点のみに対しておこなわれるため、ＰＴＴ１００に試験器を接続した状態でＰＴテストターミナルに対して挿抜した場合にも、ＰＴＴ１００に接続されている同一のＰＴ回路に接続されている運転中の保護継電器などのＰＴ回路電圧が喪失することがない。
【００５１】
すなわち、この実施の形態のＰＴＴ１００によれば、ＰＴＴ１００に接続されている試験器内を短絡状態とすることによって運転中の配電盤８００に対して悪影響をあたえることなく、試験器が接続された状態のＰＴＴ１００をＰＴテストターミナルに対して挿抜することができる。これによって、運用中の装置における支障やミストリップなどの不具合を発生させることを容易かつ確実に防止することができる。また、これによって、試験器を用いた各種作業（試験作業）にかかる安全性の向上を図ることができる。
【００５２】
また、この実施の形態のＰＴＴ１００によれば、試験専用のＰＴＴ１００とすることにより、主回路が充電状態である場合にもＰＴＴ１００においては活線部がないので、ＰＴＴ１００を用いた試験作業中の感電を防止することができる。これによって、試験器を用いた各種作業（試験作業）にかかる安全性の向上を図ることができる。
【００５３】
また、この実施の形態のＰＴＴ１００によれば、主回路が充電状態である場合にもＰＴＴ１００においては活線部がないので、感電防止の養生を不要とすることができる。これによって、ＰＴＴ１００を用いた試験作業に際しての作業効率の向上および安全性の向上を図ることができる。
【００５４】
また、この実施の形態のＰＴＴ１００は、一端が導電性部材１０２に電気的に接続され、他端に試験器の接続端子に接続可能なクリップ端子１０５が設けられた所定の長さのリード線１０４によって接続用端子部材を実現することを特徴としている。この実施の形態のＰＴＴ１００によれば、試験回路を構成するためのリード線１０４を別途準備する必要がないので、試験作業にかかる準備の効率化を図ることができる。
【００５５】
また、この実施の形態のＰＴＴ１００によれば、ＰＴＴ１００と試験器との位置関係の自由度を向上させることができるので、試験回路の配線にかかる作業負担を軽減するとともに配線作業の容易化を図ることができる。これによって、作業効率の向上を図ることができる。
【００５６】
また、この実施の形態のＰＴＴ１００は、リード線１０４を繰り出し可能に保持するコードリール機構４０１を備えたことを特徴としている。この実施の形態のＰＴＴ１００によれば、試験用のリード線１０４を巻き取り方式にすることにより、たとえばＰＴＴ１００の保管中などのＰＴＴ１００の不使用時に、リード線１０４がよれたりリード線１０４が切れたりすることを防止することができる。これによって、リード線１０４が損傷したために試験をおこなうことができなくなることを防止し、確実に試験作業をおこなうことができる。
【００５７】
また、この実施の形態のＰＴＴ１００は、コードリール機構４０１を覆うカバー部材１０６を備えたことを特徴としている。この実施の形態のＰＴＴ１００によれば、コードリール機構６０１に異物が干渉してコードリール機構４０１が損傷したり、リード線１０４に異物が巻き込まれてリード線１０４が損傷したりすることを確実に防止することができる。これによって、コードリール機構４０１やリード線１０４が損傷したために試験をおこなうことができなくなることを防止し、確実に試験作業をおこなうことができる。
【００５８】
また、この実施の形態のＰＴＴ１００は、コードリール機構４０１が、ゼンマイによる自動巻取り方式によってリード線１０４を巻き取ることができるため、ＰＴＴ１００の使用後の片付けを容易におこなうことができる。これによって、作業負担を軽減し、作業効率の向上を図ることができる。
【００５９】
また、この実施の形態のＰＴＴ１００は、リード線１０４が、複数設けられた導電性部材１０２ごとに異なる色の被覆がなされていることを特徴としている。この実施の形態のＰＴＴ１００によれば、各リード線１０４をそれぞれ目視によって容易に識別することができるので、各導電性部材１０２と試験器との接続状態を目視で容易に確認することができる。これによって、リード線１０４を取り違えることによって誤結線が生じることを抑制することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６０】
以上のように、この発明にかかる試験プラグは、点検作業などに用いる試験プラグに有用であり、特に、大電流をあつかう電気施設における点検作業に用いる試験プラグに適している。
【符号の説明】
【００６１】
１００  ＰＴＴ（試験プラグ）
１０１  基材
１０２  導電性部材
１０３  絶縁部材
１０４  リード線
１０５  クリップ端子
１０６  カバー部材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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