(57)【要約】【課題】  光磁気ディスク等の記録媒体において、テスト領域に所定のデータを記録・再生して最適な記録レーザパワーを求める際の時間を短縮すると共により正確な記録レーザパワーを求めることを目的とする。【解決手段】  光磁気ディスク１において、テスト領域２２のトラックピッチをデータ領域２３のトラックピッチよりも狭くする。例えば、データ領域２３のトラックピッチが０．６μｍとすると、テスト領域２２のトラックピッチを０．５５μｍとする。【選択図】      図３
2011003273.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
螺旋または同心円状のトラックを有すると共にデータを記録・再生するためのデータ領域及びデータの記録のテストを行うためのテスト領域とを有する記録媒体において、
前記テスト領域のトラックピッチを前記データ領域のトラックピッチよりも狭くすると共に、前記テスト領域を記録可能な未記録領域としたことを特徴とする記録媒体。
【請求項２】
前記テスト領域は前記データ領域よりも内周側に設けられていることを特徴とする請求項１記載の記録媒体。
【請求項３】
複数のテスト領域が設けられていることを特徴とする請求項１記載の記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は記録媒体のトラック構造に関し、特にテストトラックのトラックピッチをデータ記録トラックのトラックピッチよりも狭くした記録媒体及びこれを記録再生する記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、記録媒体（例えば光磁気ディスク）を用いた記録再生装置では、予めディスク内のテスト領域（あるいはテストトラック）と呼ばれる領域に所定のテストデータを記録・再生し、記録・再生時の最適なレーザパワーを決定していた。具体的には、再生時のレーザパワー（以下、再生レーザパワー）を一定とした状態で、記録時のレーザパワー（以下、記録レーザパワー）を段階的に増大させ、各記録レーザパワーで記録した時のデータを再生してそのビットエラーレート（以下、ＢＥＲ）を測定すると、図７に示す実線のように鍋底状に変化する。
【０００３】
そこで、例えばＥ１、Ｅ２、Ｅ３、Ｅ４の４点の記録レーザパワーにおいてＢＥＲを測定し、これを図中点線で示す２次曲線で近似して、ＢＥＲが最低となるときの記録レーザパワーの最適値Ｐｍを決定することができる。ここで、２次曲線で近似して求めた記録レーザパワーの最適値Ｐｍは、前記図７において実線で示したグラフの鍋底の中心付近になることが望ましい。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０００-１１３４６７号公報
【特許文献２】特開平８-４５０８１号公報
【特許文献３】特開平１０-２２２８７４号公報
【特許文献４】特開平８-２０３０８５公報
【特許文献５】特開２０００-２９３８９８号公報
【特許文献６】特開平１１-２５５３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
然し乍ら、前記Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３、Ｅ４の４点の記録レーザパワーが図８に示すようにずれていた場合、近似曲線は同図において点線で示したようになり、よって求められた記録レーザパワーの最適値Ｐｎは、実線で示したグラフの鍋底の中心よりずれてしまうことになる。そして、ディスク内において多少の特性変化が存在する場合は、前述のように求められた記録レーザパワーが適切でなくなり、場所によってはＢＥＲが増大して安定した記録・再生が行えなくなる恐れがあった。
【０００６】
尚、記録レーザパワーを上記のようなＥ１〜Ｅ４の４点よりも多くして広範囲に記録・再生テストを行ってＢＥＲを測定し、これに基づいて記録レーザパワーの最適値を求めることも考えられるが、これでは記録レーザパワーの最適値を求めるのに多くの時間がかかってしまう。
【０００７】
そこで、本発明は、短時間で、且つ適切な記録レーザパワーの最適値を求めることができる記録媒体及びこれを記録再生する記録再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するため本発明では、螺旋または同心円状のトラックを有すると共にデータを記録・再生するためのデータ領域及びデータの記録のテストを行うためのテスト領域とを有する記録媒体において、前記テスト領域のトラックピッチを前記データ領域のトラックピッチよりも狭くすると共に、前記テスト領域を記録可能な未記録領域としたことを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の記録媒体は、前記テスト領域は前記データ領域よりも内周側に設けられていることを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の記録媒体は、複数の前記テスト領域が設けられていることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
以上、詳述した如く本発明に依れば、螺旋または同心円状のトラックを有すると共にデータを記録・再生するためのデータ領域及びデータの記録のテストを行うためのテスト領域とを有する記録媒体において、前記テスト領域のトラックピッチを前記データ領域のトラックピッチよりも狭くすると共に、前記テスト領域を記録可能な未記録領域としたので、短時間で且つ正確な記録レーザパワーの最適値を求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の記録媒体（光磁気ディスク）の要部側断面図である。
【図２】本発明の記録媒体（光磁気ディスク）の膜構造を示す図である。
【図３】本発明の記録媒体（光磁気ディスク）の各領域を示す図である。
【図４】本発明の記録媒体（光磁気ディスク）のＢＥＲ特性を示す図である。
【図５】各トラックピッチにおけるＢＥＲ特性を示す図である。
【図６】本発明の記録再生装置の構成を示す概略ブロック図である。
【図７】従来の光磁気ディスクのＢＥＲ特性を示す図である。
【図８】従来の光磁気ディスクにおける問題点を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図面を参照しつつ本発明の一実施形態について詳述する。
【００１４】
先ず、図１は本発明の光磁気ディスクの要部側断面図である。同図に示すように、光磁気ディスク１にはレーザ光入射側とは反対側にランドＬとグルーブＧによってトラックが形成されている。そしてそのトラックピッチ（ＴＰ）は同図に示す距離ｔの１／２である（即ち、ＴＰ＝ｔ／２）。
【００１５】
また、光磁気ディスク１は、図２に示すように、ポリカーボネートから成る基板１１の上に、ＳｉＮから成る下地層１２、ＧｄＦｅＣｏから成る再生層１３、ＧｄＦｅＡｌから成るマスク層１４、ＳｉＮから成る中間層１５、ＴｂＦｅＣｏから成る記録層１６、ＳｉＮから成る誘電体層１７、Ａｌから成る放熱層１８が形成されているが、この膜構造に限定されるものではない。
【００１６】
さらに、図３に示すように、光磁気ディスクには、リードイン領域２１、データ記録領域２２、テスト領域２３、リードアウト領域２４が設けられている。この例では、データ記録領域２２よりも内周側にテスト領域２３が設けられている。そして、前記テスト領域２３のトラックピッチは、データ記録領域２２のトラックピッチよりも狭くなっている。この狭トラックピッチのテスト領域２２は、ディスクの内周側に設ければディスクのチルトの影響を受けにくくなり、また、線速度一定で記録・再生を行うディスクでは、テスト領域に使うトラックの容量を少なくすることができるのでデータ領域の容量を増やすことができる。ただし、テスト領域２２は同図の場所・数に限られず、ディスク内の複数箇所に設ければシーク時間を短縮することができる。
【００１７】
テスト領域２２のトラックピッチを狭くした場合、ＢＥＲ特性は図４の実線のような鍋底状にはならず、点線のように２次曲線に近い形となる。このため、テスト領域２２においてＥ１、Ｅ２、Ｅ３、Ｅ４の４点の記録レーザパワーでテストデータを記録し、これを一定の再生レーザパワーでそれぞれ再生してＢＥＲを測定した場合、点線で示す近似曲線と実線で示す曲線とが略一致し、適切な記録レーザパワーの最適値Ｐｍ’を求めることができる。
【００１８】
また、テスト領域２２のトラックピッチを狭くしたことによってＢＥＲ特性が実線Ｂのように２次曲線に近い形となると、前述のようなＥ１〜Ｅ４の４点でなく、３点であっても適切な記録レーザパワーの最適値を求めることが可能となり、記録レーザパワーの最適値を求めるのに要する時間を短縮することができる。
【００１９】
次に、図５はテスト領域２２のトラックピッチ（ＴＰ）を狭くしていった場合の各ＢＥＲ特性を示している。同図に示すように、トラックピッチが０．６μｍの時は鍋底状の特性であっても、トラックピッチが０．５５μｍになるとこれが２次曲線に近くなり、記録レーザパワーも少し低レーザパワー側にシフトすることがわかる。さらにトラックピッチが狭くなるとＢＥＲが上昇し、記録レーザパワーの最適値も低下するようになる。例えば、データ領域のトラックピッチを０．６μｍ、テスト領域のトラックピッチを０．５μｍとすると、テスト領域で求めた記録レーザパワーの最適値とデータ領域における実際の最適な記録レーザパワーとがずれ、実際にデータ領域に最適な記録レーザパワーよりも小さい記録レーザパワーの最適値が求められることになる。然し乍ら、予めテスト領域とデータ領域のトラックピッチの差が判っていればこれを校正することは可能であり、以下、これについて詳述する。
【００２０】
図６は本発明の光磁気ディスクを記録・再生するための記録再生装置の概略構成を示すブロック図である。
【００２１】
同図において、３１はディスクを回転させるスピンドルモータ、３２はスピンドル駆動回路、３３は光ピックアップ、３４はレーザ光駆動回路、３５はスレッド駆動回路、３６はサーボ回路、３７はＲＦ増幅回路、３８はＰＬＬおよびエンコード／デコード回路、３９は入出力インタフェース回路、４０はシステム制御回路である。
【００２２】
システム制御回路４０内のメモリ領域（図示せず）には、テスト領域のトラックピッチを０．５５μｍ、データ領域のトラックピッチを０．６μｍであるとすると、各トラックピッチにおける最適な記録レーザーパワーの標準値に基づいて次式で求められた補正係数ｎが予め格納されている。
【００２３】
【数１】
2011003273.tif 000003
【００２４】
ここで、各記録レーザーパワーＰＴ，ＰＤの標準値は、一例としては複数の光磁気ディスクを用いて実際に記録テストを行って統計的に求めることが考えられる。
【００２５】
よって、記録再生装置に実際に装着されている光磁気ディスクに対する最適なレーザパワーを求めるには、上述のように、実際に光磁気ディスクのテスト領域で記録レーザパワーの最適値Ｐｍを求め、これに前記補正係数ｎを乗じてやれば、データ領域における最適な記録レーザパワーを近似することができる。
【００２６】
尚、上記の如き最適な記録レーザパワーを近似する処理については、システム制御回路４０内のソフトウエアで実現されている。
【００２７】
また、前記記録再生装置の通常の記録及び再生時の動作については、一般的な光磁気ディスク記録再生装置と同様であるのでその詳細な説明は割愛する。
【００２８】
さらに、上記の説明では、光磁気ディスク及びその記録再生を例に説明したが、これに限らず、相変化型ディスク等、他の記録媒体及びその記録再生装置にも適用できることは言うまでも無い。
【符号の説明】
【００２９】
１    光磁気ディスク
１１  基板
１２  下地層
１３  再生層
１４  マスク層
１５  中間層
１６  記録層
１７  誘電体層
１８  放熱層
２１  リードイン領域
２２  データ記録領域
２３  テスト領域
２４  リードアウト領域
【図１】
2011003273.tif 000004
【図２】
2011003273.tif 000005
【図３】
2011003273.tif 000006
【図４】
2011003273.tif 000007
【図５】
2011003273.tif 000008
【図６】
2011003273.tif 000009
【図７】
2011003273.tif 000010
【図８】
2011003273.tif 000011