(57)【要約】【課題】ＤＩＰスイッチの設定をＤＩＰスイッチを実装した対象基板の電源を投入することなく、容易に外部から読み取ることが可能なＤＩＰスイッチ設定読み取り装置を提供する。【解決手段】ＤＩＰスイッチ２のスライド方向に対して直交する方向に進退する摺動ピン１０と、摺動ピン１０の進退動作に応じて閉状態又は開状態となる信号読み取り用の一対の接点１０３、１０４と、信号読み取り用の接点の閉状態又は開状態を電気的に読み取る読み取り回路（マイコン）３０３とを読み取り用基板４１１上に実装する。また、読み取り用基板４１１をＤＩＰスイッチ２が実装された読み取り対象基板４０１に押し当て、摺動ピン１０がＤＩＰスイッチの設定状態に応じて進退することによりＤＩＰスイッチの設定状態を読み取る。【選択図】図２
2011150844.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に実装されたＤＩＰスイッチの設定状態を外部から読み取るための読み取り装置であって、
前記ＤＩＰスイッチのスライド方向に対して直交する方向に進退するピンと、
前記ピンの進退動作に応じて閉状態又は開状態となる信号読み取り用の一対の接点と、
前記信号読み取り用の接点の閉状態又は開状態を電気的に読み取る読み取り回路とが読み取り用基板上に実装され、
前記読み取り用基板を前記ＤＩＰスイッチが実装された読み取り対象基板に押し当て、前記ピンが前記ＤＩＰスイッチの設定状態に応じて進退することにより前記ＤＩＰスイッチの設定を前記読み取り回路により読み取ることを特徴とするＤＩＰスイッチ設定読み取り装置。
【請求項２】
前記信号読み取り用の接点の間隔は前記ＤＩＰスイッチの接点間隔と同じに設定され、前記読み取り対象基板と前記読み取り用基板には同一の基板が用いられ、前記読み取り対象基板の一方の面に前記ＤＩＰスイッチが、前記読み取り用基板の他方側の面に前記信号読み取り用の接点が実装されていることを特徴とする請求項１に記載のＤＩＰスイッチ設定読み取り装置。
【請求項３】
前記読み取り用基板を前記読み取り対象基板に押し当てた時に、前記ＤＩＰスイッチのスライド操作部の位置に応じて前記ピンがバネ圧力によって前記ＤＩＰスイッチ側に突出、又はバネ圧力に抗して後退することを特徴とする請求項１又は２に記載のＤＩＰスイッチ設定読み取り装置。
【請求項４】
基板上に実装されたＤＩＰスイッチの設定状態を外部から読み取るための読み取り装置であって、
前記ＤＩＰスイッチのスライド操作部は、設定状態に応じて光を反射する反射部と光を反射しない非反射部に分けられており、
前記スライド操作部に光を照射し、前記反射部に向かい合った場合にはその反射光を受光してオン信号を出力し、前記非反射部に向かい合った場合にはオフ信号を出力するフォトセンサと、
前記フォトセンサの出力信号から前記ＤＩＰスイッチの設定状態を読み取るための読み取り回路とが読み取り用基板上に実装され、
前記読み取り用基板を前記ＤＩＰスイッチが実装された読み取り対象基板に押し当て、前記スライド操作部の設定位置に応じて変化する前記フォトセンサの出力信号から前記ＤＩＰスイッチの設定を前記読み取り回路により読み取ることを特徴とするＤＩＰスイッチ設定読み取り装置。
【請求項５】
前記読み取り用基板には、前記フォトセンサの出力信号を出力する一対の接点が配置され、前記接点の間隔は前記読み取り対象基板に配置された前記ＤＩＰスイッチの接点間隔と同じに設定され、前記読み取り対象基板と前記読み取り用基板には同一の基板が用いられ、前記読み取り対象基板の一方の面に前記ＤＩＰスイッチが、前記読み取り用基板の他方側の面に前記接点が実装されていることを特徴とする請求項４に記載のＤＩＰスイッチ設定読み取り装置。
【請求項６】
前記スライド操作部の反射部は、目視確認するために着色され、前記非反射部は着色されていないことを特徴とする請求項４又は５に記載のＤＩＰスイッチ設定読み取り装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器の設定等に用いられるＤＩＰスイッチの設定状態を読み取るＤＩＰスイッチ設定読み取り装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、電子機器の機器製造以降に各種設定を変更し、且つ、その設定を継続的に保持する方法としてＤＩＰスイッチが用いられているが、その設定が誤っていると機器は期待した動作をしない。そのため、正しい設定の確認方法としてＤＩＰスイッチ自体を目視する等の方法が採られている。しかし、目視による方法では、ＤＩＰスイッチの数が多くなった場合には、読み取り／確認に人為的ミスが発生することがしばしばであり、確実な確認方法ではない。
【０００３】
そこで、特許文献１には、懐中電灯のような照明装置を携帯することなく、ＤＩＰスイッチの操作面を照明し、操作すべきスライダの判別やポジションの確認を行う照光機能付きＤＩＰスイッチが記載されている。
【０００４】
また、特許文献２には、目視による確認ではなく、ＤＩＰスイッチを被覆するカバー本体に、ＤＩＰスイッチの各ビット毎に備えた操作レバーの操作方向を指定する可動式レバーを有することにより、ＤＩＰスイッチの設定誤りを外部から機械的に判定することが記載されている。
【０００５】
更に、特許文献３には、集合スイッチを実装した回路基板上にＤＩＰスイッチの各ビットを読み取るための読み取り装置を実装し、この読み取り装置で集合スイッチの各ビットの状態を読み取ることが記載されている。
【０００６】
また、特許文献４には、照明リングからＤＩＰスイッチの操作片に適当な角度で照明光を照射し、且つ、ＤＩＰスイッチのパッケージ表面の画像を撮像装置で撮像し、得られた画像中に検査領域を設定して当該領域の明暗分布からＤＩＰスイッチの設定を読み取ることが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００４−２５９６２８号公報
【特許文献２】特開平０２−２５２０１３号公報
【特許文献３】特開２００５−２１６６９７号公報
【特許文献４】特開２０００−２３２２６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１の方法は、ＤＩＰスイッチの操作面を照明することによってスライダの判別やポジションを確認するため、目視によって確認することには変わりがなく、確実にＤＩＰスイッチの設定を確認できるものではない。また、目視による確認では、ＤＩＰスイッチの数が多いと目視確認しその記録を残す作業は時間が掛かるだけでなく記録間違いが発生する可能性がある。
【０００９】
特許文献２の方法では、ＤＩＰスイッチの設定を判定するためには治具の設定を行う必要があるため、治具の設定自体を誤る可能性は排除できず、やはり人為的ミスが発生する可能性がある。
【００１０】
更に、特許文献３の方法では、集合スイッチを実装した回路基板上に読み取り回路を実装するものであり、外部から設定状態を読み取るものでない。また、読み取り対象基板の外部からＤＩＰスイッチの設定状態を読み取るとしても、ＤＩＰスイッチの設定を電気的に読み取るためには読み取り対象基板の電源を投入し、読み取り処理を行うことで可能であるが、必ずしも全ての場合に実施可能とは限らない。例えば、故障を疑われるために通電することを避ける必要がある場合等には対象基板の電源を投入しないで読み取ることが要求される。
【００１１】
また、特許文献４の方法は、光学的にＤＩＰスイッチの設定状態を読み取るものであるが、撮像装置でパッケージ表面を撮像する等読み取り装置の規模が大がかりになってしまう。
【００１２】
本発明の目的は、ＤＩＰスイッチの設定をＤＩＰスイッチを実装した対象基板の電源を投入することなく、容易に外部から読み取ることが可能なＤＩＰスイッチ設定読み取り装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、ＤＩＰスイッチのスライド方向に対して直交する方向に進退するピンと、ピンの進退動作に応じて閉状態又は開状態となる信号読み取り用の一対の接点と、信号読み取り用の接点の閉状態又は開状態を電気的に読み取る読み取り回路とを読み取り用基板上に実装する。また、読み取り用基板をＤＩＰスイッチが実装された読み取り対象基板に押し当て、ピンがＤＩＰスイッチの設定状態に応じて進退することによりＤＩＰスイッチの設定を読み取る。
【００１４】
また、本発明は、ＤＩＰスイッチのスライド操作部を設定状態に応じて光を反射する反射部と光を反射しない非反射部に分けておく。また、スライド操作部に光を照射し、反射部に向かい合った場合にはその反射光を受光してオン信号を出力し、非反射部に向かい合った場合にはオフ信号を出力するフォトセンサと、フォトセンサの出力信号からＤＩＰスイッチの設定状態を読み取る読み取り回路とを読み取り用基板上に実装する。そして、読み取り用基板をＤＩＰスイッチが実装された読み取り対象基板に押し当て、スライド操作部の設定位置に応じて変化するフォトセンサの出力信号からＤＩＰスイッチの設定を読み取る。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、ＤＩＰスイッチの設定を読み取り対象基板の電源を投入することなく、外部から容易に読み取ることができる。このため、製造時の検査や運用時の点検等の作業を効率化することが可能となる。
【００１６】
また、読み取り対象基板にＤＩＰスイッチ設定確認用の機構を設ける必要がないため、安価に作製することができる。更に、読み取り対象基板と同一の基板を使って読み取り装置を作製することが可能であるため、読み取り用基板の作製費用を低減することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明に係るＤＩＰスイッチ設定読み取り装置の第１の実施形態を示す図である。
【図２】本発明に係るＤＩＰスイッチ設定読み取り装置を読み取り対象のＤＩＰスイッチに装着した状態を示す図である。
【図３】本発明に係るＤＩＰスイッチ設定読み取り装置の読み取り回路の一例を示す図である。
【図４】本発明に係るＤＩＰスイッチ設定読み取り装置を実装した基板と、ＤＩＰスイッチを実装した基板の実装例を示す図である。
【図５】本発明の第２の実施形態に用いるＤＩＰスイッチの例を示す斜視図である。
【図６】図５のＤＩＰスイッチの操作部を示す斜視図である。
【図７】本発明に係るＤＩＰスイッチ設定読み取り装置の第２の実施形態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
次に、発明を実施するための形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００１９】
（第１の実施形態）
図１は本発明に係るＤＩＰスイッチ設定読み取り装置の第１の実施形態を示す図である。本発明に係るＤＩＰスイッチ設定読み取り装置１は、バネによって上下に摺動するバネ付き摺動ピン１０１、摺動ピン１０１に取り付けられた接点１０２、信号読み取り用の接点１０３、グランド接点１０４を含んで構成されている。摺動ピン１０１は読み取り装置１の孔部内に配置され、孔部に沿って上下に摺動する。摺動ピン１０１はＤＩＰスイッチ２のビット数に応じて設けられ、それぞれスライド式操作部２０１のスライド方向に対して直交する方向に進退する。
【００２０】
図２は本発明の読み取り装置１を読み取り対象となるスライド式ＤＩＰスイッチ２に押し当てた状態を示す。スライド式ＤＩＰスイッチ２は、左右方向にスライドするスライド式操作部２０１、操作部２０１に取り付けられ、同じくスライドする接点２０２、信号読み取り用の接点２０３、グランド接点２０４を含んで構成されている。ＤＩＰスイッチ２はプリント基板２０５に半田付けされている。同様に読み取り装置１はプリント基板１０５に半田付けされている。
【００２１】
操作部２０１が図２に示す位置にある状態では、接点２０２は接点２０３及び接点２０４と接触し、スイッチ閉状態となる。ＤＩＰスイッチ２のスイッチ閉状態において読み取り装置１をＤＩＰスイッチ２に押し当てると、操作部２０１によって摺動ピン１０１はバネ圧力に抗して押し下げられ、接点１０２は接点１０３及び接点１０４と接触するため、スイッチ閉状態となる。
【００２２】
また、操作部２０１が図面右方向にスライドした状態では、接点２０２は接点２０３から離れるため、スイッチ開状態となる。スイッチ開状態では、摺動ピン１０１がバネ圧力によって上方に付勢されるため、接点１０２は接点１０３及び接点１０４から離れ、スイッチ開状態となる。
【００２３】
このように読み取り装置１を読み取り対象のＤＩＰスイッチ２に押し当てると、スライド式ＤＩＰスイッチの設定状態に応じて摺動ピン１０１が進退し、ＤＩＰスイッチ２の開閉状態と同じ開閉状態が読み取り装置１側で発生する。この読み取り装置１の開閉状態を電気的に読み取ることにより、ＤＩＰスイッチ２の設定状態を目視によらず確認・記録することが可能となる。
【００２４】
即ち、プリント基板１０５に読み取り装置１とそのスイッチ状態を読み取るための回路を設けることにより、読み取り装置１を介してＤＩＰスイッチ２のスイッチ状態を観測できる。なお、端子１０３と端子１０４の間隔はＤＩＰスイッチ２の端子２０３と端子２０４の間隔と同等になっており、同一のプリント基板の裏面に半田付けが可能な構造となっている。このことは図４で詳しく説明する。
【００２５】
次に、本実施形態の読み取り動作及び使用例について説明する。図３はＤＩＰスイッチ２の設定状態を読み取る読み取り回路の一例を示す。図中３０１は図２の読み取り装置１を示すものであり、読み取り装置１の接点１０３と１０４の配列を示す。図３では４ビットの接点を示しており、４ビットのＤＩＰスイッチ２の状態を読み取る例を示すものである。読み取り装置１の出力はプルアップ抵抗３０２によってプルアップされ、マイクロコンピュータ（以下マイコンと省略する）３０３の汎用入力端子３０４に結線され、ハイ／ロー状態の読み取りを行う。
【００２６】
図４は図１の読み取り装置や図３の回路を搭載したプリント基板の実装例を示す。まず、プリント基板４０１は読み取り対象となるプリント基板であり、ＤＩＰスイッチ４０２及びＤＩＰスイッチ４０３、マイコン４０４がプリント基板４０１の表面に実装されている。一方、プリント基板４１１は読み取りを行う検査治具（読み取り用基板）であり、図１に示す読み取り装置４１２及び読み取り装置４１３、マイコン４１４が実装されている。マイコン４１４は図３のマイコン３０３と同じである。なお、図４ではプルアップ抵抗３０２は省略している。
【００２７】
マイコン４１４はプリント基板４１１の表面に、読み取り装置４１２及び読み取り装置４１３は裏面に実装されている。読み取り装置の接点１０３、１０４の間隔はＤＩＰスイッチの接点２０３、２０４の間隔と同一であるため、読み取り対象のプリント基板４０１の表面にＤＩＰスイッチ４０２、４０３を実装し、それと同一のプリント基板４１１の裏面に読み取り装置４１２、４１３を実装することが可能となる。
【００２８】
読み取り装置４１２はＤＩＰスイッチ４０２の設定状態を読み取り、読み取り装置４１３はＤＩＰスイッチ４０３の設定状態を読み取るものである。即ち、読み取り装置４１２、４１３をそれぞれ対応するＤＩＰスイッチ４０２、４０３に押し当てることで、図２で説明したようにＤＩＰスイッチ２のスライド式操作部２０１の設定状態に応じてバネ付き摺動ピン１０１の上下方向の位置が変化し、接点１０３と接点１０４が閉状態又は開状態となる。そのため、ＤＩＰスイッチの設定状態を観測でき、マイコン４１４にて電気的にハイ／ローを読み取る。なお、図４に示すように読み取り装置やマイコン等の読み取り回路を含んでＤＩＰスイッチ設定読み取り装置という。
【００２９】
また、プリント基板４０１とプリント基板４１１は部品未実装状態では同一の設計のものが利用できる。これにより、ＤＩＰスイッチ４０２とＤＩＰスイッチ４０３の相対位置関係は読み取り装置４１２と読み取り装置４１３の相対位置関係と同等であるため、それぞれを同時に嵌合させることが可能となる。
【００３０】
本実施形態では、読み取り対象基板の電源を投入することなく、読み取り用基板を読み取り対象基板に押し当てるだけでＤＩＰスイッチの設定状態を容易に外部から正確に読み取ることができる。そのため、製造時の検査や運用時の点検等の作業を効率化することが可能となる。
【００３１】
また、読み取り対象基板にＤＩＰスイッチ設定確認用の機構を設ける必要がなく、読み取り装置を安価に作製することができる。更に、読み取り対象の基板と同一の基板を使って読み取り用基板を作製でき、読み取り用基板の作製費用を低減することが可能となる。また、読み取り対象基板の外部からＤＩＰスイッチの設定状態を電気的に読み取るため、人為的ミスの発生がない。
【００３２】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。図５は本実施形態の読み取り対象のＤＩＰスイッチを示す斜視図である。図５に示すようにスライド式のＤＩＰスイッチ５の操作部５０１は、片側が着色されている。これは通常の目視での設定確認を容易にするためである。
【００３３】
図６は図５に示すスライド式操作部５０１の着色状態を示す。図６に示すように着色面５０２はそれ以外の非着色面５０３と異なる色調になっている。これにより、設定方向を容易に黙視できる。
【００３４】
また、着色面５０２は、例えば、フォトセンサの光の吸収率の低い色で着色され、非着色面５０３はフォトセンサの光吸収率の高い色調の部品となっており、着色面５０２は光を反射し、非着色面５０３は光を反射しない。そのため、反射型フォトセンサ６０１が着色面５０２に向かい合った時はオン信号を出力し、非着色面５０３に向かい合った時はオフ信号を出力する。
【００３５】
図７はＤＩＰスイッチ５の設定を読み取る読み取り装置６が読み取り対象のＤＩＰスイッチに嵌合している状態を示す。ＤＩＰスイッチ５の構成は操作部５０１の片側が着色されている以外は図２と同様である。また、図７では摺動ピン１０１の代わりに反射型フォトセンサ６０１が用いられ、反射型フォトセンサ６０１は自ら発光してその反射を読み取り、オン／オフ信号を出力する。反射型フォトセンサ６０１はＤＩＰスイッチのビット数に応じて設けられている。
【００３６】
図７では着色面５０２が反射型フォトセンサ６０１と向かい合う状態に設定され、この状態では反射型フォトセンサ６０１は着色面５０２からの反射光を受光するため、オン信号を出力する。一方、操作部５０１が反対側（図面右方向）に設定された場合には、非着色面５０３が反射型フォトセンサ６０１と向かい合うため、非着色面５０３からの反射光を受光せず、反射型フォトセンサ６０１はオフ信号を出力する。
【００３７】
その際、読み取り回路側では、反射型フォトセンサ６０１の「オフ信号」がＤＩＰスイッチの「開状態」、「オン信号」が「閉状態」と判断する。もちろん、着色面５０２と非着色面５０３の光の反射、非反射を反対に設定し、反射型フォトセンサ６０２のオン／オフ信号を反対にしても良い。
【００３８】
なお、図７に示す読み取り装置の信号読み取り用の接点の間隔は、図２と同様にＤＩＰスイッチの接点間隔と同じに設定されている。そのため、図４で説明したように読み取り対象基板と読み取り用基板には同じ基板を用い、読み取り対象基板の表面にＤＩＰスイッチを実装し、読み取り用基板の裏面に読み取り用接点やフォトセンサ等を含む読み取り装置を実装することが出来る。
【００３９】
また、読み取り用基板を読み取り対象基板に押し当てて、ＤＩＰスイッチの設定状態を読み取る動作も第１の実施形態の説明と同様である。更に、本実施形態では反射型フォトセンサ６０１の出力信号によりＤＩＰスイッチの設定状態を読み取るため、図３の読み取り回路と同等の回路を用いることができる。
【００４０】
このように光学的にＤＩＰスイッチの設定状態を読み取ることでも、第１の実施形態と同様の効果が得られる。また、フォトセンサを用いた簡単な構成でＤＩＰスイッチの設定状態を正確に読み取ることができる。更に、スライド操作部に着色部を設けているため目視でもＤＩＰスイッチの設定を確認できる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
本発明は、ＤＩＰスイッチを利用する電子機器の製造検査工程或いは出荷後の設置時／保守時検査に使用することができる。
【符号の説明】
【００４２】
１、６  読み取り装置
２、５  ＤＩＰスイッチ
１０１  摺動ピン
１０２、１０３、１０４  接点
１０５、２０５  プリント基板
２０１  スライド式操作部
２０２、２０３、２０４  接点
３０１  読み取り装置
３０２  プルアップ抵抗
３０３  マイコン
４０１  読み取り対象プリント基板
４０２、４０３  ＤＩＰスイッチ
４０４、４１４  マイコン
４１１  読み取り用プリント基板
５０１  スライド式操作部
５０２  着色面
５０３  非着色面
６０１  反射型フォトセンサ
【図１】
2011150844.tif 000003
【図２】
2011150844.tif 000004
【図３】
2011150844.tif 000005
【図４】
2011150844.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
2011150844.tif 000009