(57)【要約】      （修正有）【課題】光ディスク装置において、セットアップ時からの温度変化に対して、対物レンズのチルト量を的確に補正する。【解決手段】光ディスクの再生又は記録を行う光ディスク装置１００は、前記光ディスクに光源からの光を照射する対物レンズ１０３と、前記光ディスクの径方向における前記対物レンズ１０３の傾きをチルト量に制御するアクチュエータ１６０と、前記装置内部の温度を検出する温度センサ１６４と、前記光ディスクの装填の際に実施される初期調整時からの温度変化に応じて前記チルト量を補正する制御部１１４と、を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの再生又は記録を行う光ディスク装置であって、
前記光ディスクに光源からの光を照射する対物レンズと、
前記光ディスクの径方向における前記対物レンズの傾きをチルト量に制御するアクチュエータと、
前記装置内部の温度を検出する温度センサと、
前記光ディスクの装填の際に実施される初期調整時からの温度変化に応じて前記チルト量を補正する制御部と、
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記初期調整時からの前記温度変化が、前記光ディスクの再生又は記録に起因する温度変化量を超える場合に、前記制御部が前記チルト量を補正することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記チルト量の補正量を前記光ディスクの種類又はディスクＩＤごとに演算することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記チルト量の補正量を演算し、前記初期調整時に設定された基準チルト量に前記補正量を加算した値を新たなチルト量に設定することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記温度変化に比例するように前記チルト量の補正量を演算することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクの再生又は記録を行う光ディスク装置に使用する記録再生方法であって、
前記光ディスクの装填の際に実施される初期調整時に、前記装置内部の温度を検出する第一の温度検出ステップと、
前記初期調整後に、前記装置内部の温度を検出する第二の温度検出ステップと、
前記光ディスクに光源からの光を照射する対物レンズの光ディスク径方向における傾きをチルト量に制御する制御ステップと、
前記光ディスクの再生又は記録を行う記録再生ステップと、を含み、
前記制御ステップでは、第一の温度検出ステップで検出された温度と第二の温度検出ステップで検出された温度との変化に応じて、前記チルト量を補正することを特徴とする記録再生方法。
【請求項７】
前記制御ステップでは、前記変化が、前記光ディスクの再生又は記録に起因する温度変化量を超える場合に、前記チルト量を補正することを特徴とする請求項６に記載の記録再生方法。
【請求項８】
前記制御ステップでは、前記チルト量の補正量を前記光ディスクの種類又はディスクＩＤごとに演算することを特徴とする請求項６に記載の記録再生方法。
【請求項９】
前記制御ステップでは、前記チルト量の補正量を演算し、前記初期調整時に設定された基準チルト量に前記補正量を加算した値を新たなチルト量に設定することを特徴とする請求項６に記載の記録再生方法。
【請求項１０】
前記制御ステップでは、前記温度変化に比例するように前記チルト量の補正量を演算することを特徴とする請求項６に記載の記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置及び記録再生方法に関する。特に、光ディスク装置の対物レンズのチルト制御（傾き制御）に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクは、光ピックアップからのレーザ光の光軸に対して垂直方向から傾くと、正確な情報の記録再生が行われなくなる。そこで、一般的に、光ピックアップの対物レンズのチルト（傾き）制御が実施される。
【０００３】
従来技術として、特許文献１は、光ディスク装填の際の初期調整（セットアップ）時に、チルト量を調整することを開示する。特許文献２は、光ディスクの記録中に、反射光量から最適なチルト量を温度に対して学習することを開示する。特許文献３は、温度変化に伴う光ディスクのチルトに対してトラックオフセット量及びフォーカスオフセット量を制御することにより、光ディスクのチルトに対する対策を間接的に実施する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−３０５２６４号公報
【特許文献２】特開２００５−２１６３３１号公報
【特許文献３】特開平４−３０７４３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、特許文献１のように、セットアップ時にチルト量を調整しても、その後温度変化があるとチルト量を補正する必要が生じる。また、温度変化に対応するため、特許文献２のチルト学習・制御を温度ごとに実施すると、学習時の再生又は記録の停止が発生することが問題となる。また、特許文献３では、トラック制御用信号とフォーカス制御用信号にそれぞれのオフセット量を加減算するような２次元的な制御のため、誤差が大きくなる可能性がある。
【０００６】
従って、従来技術では、再生又は記録開始後に、セットアップ時からの温度変化に対してチルト量を好適に補正することができないおそれがある。
【０００７】
本発明は、初期調整時（セットアップ時）からの温度変化に対して、チルト量を的確に補正することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の代表的な一例を示せば以下の通りである。すなわち、光ディスクの再生又は記録を行う光ディスク装置であって、前記光ディスクに光源からの光を照射する対物レンズと、前記光ディスクの径方向における前記対物レンズの傾きをチルト量に制御するアクチュエータと、前記装置内部の温度を検出する温度センサと、前記光ディスクの装填の際に実施される初期調整時からの温度変化に応じて前記チルト量を補正する制御部と、を備えることを特徴とする光ディスク装置である。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の実施形態によると、初期調整時からの温度変化に対して、対物レンズのチルト量を的確に補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の第一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】光ディスクの温度による変形の様子を例示する図である。
【図３】温度と対物レンズのチルト量の関係を例示する図である。
【図４】チルト量をシンボルエラーレートから求める方法を示す図である。
【図５】本発明の第一実施形態に係るチルト制御のフローチャートである。
【図６】本発明の第一実施形態に係る、光ディスクの種類ごとに比例係数を定める参照テーブルを示す図である。
【図７】本発明の第二実施形態に係る、光ディスクの種類に応じてチルト補正量（絶対値）を定める参照テーブルを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
［第一実施形態］
図１は、本発明の実施の形態の光ディスク記録再生装置１００（以下、光ディスク装置と呼ぶ）の構成を示すブロック図である。
【００１２】
本実施形態の光ディスク装置１００は、ホストコンピュータ１５０と接続され、装填された光ディスク１０１（例えば、ブルーレイディスク）から再生したデータをホストコンピュータ１５０へ出力する。なお、光ディスク装置１００は、ホストコンピュータ１５０から入力されるデータを書き込み可能な光ディスク１０１に記録する機能も有する。
【００１３】
本実施形態の光ディスク装置１００は、スピンドルモータ１０２、Ｉ／Ｖ変換回路１０９、信号処理回路１１０、復調回路１１１、光ディスク判別部１１２、レーザドライバ１１３、システムコントローラ（制御部）１１４、メモリ１１５、データバス１１６、光ピックアップ１２０及びレーザパワー制御回路１２３を備える。
【００１４】
スピンドルモータ１０２は、光ディスク装置１００に装填された光ディスク１０１を回転駆動する。
【００１５】
光ピックアップ１２０は、対物レンズ１０３、スプリッタ１０４、コリメートレンズ１０５、集光レンズ１０６、光電変換素子１０７、レーザ光源１０８等を備える。光ピックアップ１２０は、光ディスク１０１からデータを再生する時には、レーザ光源１０８からの弱いレーザ光を光ディスク１０１に照射し、そのレーザ光の反射光により、光ディスク１０１に記録されているデータを再生し、反射光に対応するＲＦ信号を出力する。
【００１６】
レーザ光源１０８は、記録及び再生のために所定の強度のレーザ光を発生する半導体レーザであり、光ディスク装置に装填される光ディスクの種類（ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc））毎に定められた波長のレーザ光を発光する。レーザ光源１０８から発光されたレーザ光は、コリメートレンズ１０５及び対物レンズ１０３を介して光ディスク１０１の記録面の所定半径の位置に照射される。
【００１７】
また、レーザ光源１０８は、光ディスク１０１にデータを記録する時には、再生時より強いレーザ光を光ディスク１０１に照射する。光ディスク１０１は、レーザ光が照射された部分の熱による相変化等によって記録層に記録ピットを形成し、記録層の反射率を変化させてデータを記録する。
【００１８】
光ディスク１０１の記録面で反射したレーザ光は、スプリッタ１０４で分離され、集光レンズ１０６で集光され、光電変換素子１０７に導かれる。光電変換素子１０７は、受光した反射光を電気信号（ＲＦ信号）に変換し、反射光に対応するＲＦ信号を出力する。
【００１９】
対物レンズ１０３は、アクチュエータ１６０によってディスクの径方向（ラジアルチルト方向）に傾き（チルト）が制御される。また、対物レンズ１０３は、光ディスク面上にレーザ光が合焦するように移動調整される。アクチュエータ１６０は、ディスクの径方向に対物レンズ１０３の傾きを変化させるチルトコイル、ディスク回転軸方向に平行に対物レンズ１０３を移動させるフォーカスコイル、ディスク半径方向（トラッキング方向）に対物レンズ１０３を移動させるトラッキングコイルを有するものでよい。駆動回路１６２は、システムコントローラ１１４からの指令に応じて、アクチュエータ１６０に駆動電流を供給する。
【００２０】
温度センサ１６４は、光ディスク装置内の温度を検出する。温度センサ１６４として、レーザ光源１０８の温度を検出するため光ピックアップ１２０に設けられる温度センサ等の既存の温度センサを用いてもよいし、光ディスク近傍の温度を検出する温度センサを新たに設けてもよい。
【００２１】
Ｉ／Ｖ変換回路１０９は、光電変換素子１０７から出力された電流信号を電圧信号に変換し、増幅する。信号処理回路１１０は、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）であり、光電変換素子１０７から出力されたＲＦ信号をデジタルデータに変換する。また、信号処理回路１１０は、光ディスクの種類や製造者を示すディスクＩＤによって異なる光ディスク判別用信号、光ビームの焦点を調整するためのフォーカス誤差信号、光ディスク１０１のトラックに追従するためのトラッキング誤差信号等を出力する。
【００２２】
復調回路１１１は、信号処理回路１１０から出力されたデジタルデータを光ディスクの種類毎に定められたフォーマットに従って復調し、エラー検出及びエラー訂正を行う。復調されたデータは、メモリ１１５（バッファ）に一時的に格納される。
【００２３】
光ディスク判別部１１２は、信号処理回路１１０から出力される光ディスク判別用信号によって、光ディスク装置に装填された光ディスク１０１の種類や、光ディスク１０１の製造者を示すディスクＩＤを判別する。光ディスク判別部１１２は、本実施形態では、回路として構成されているが、システムコントローラ１１４によって実行されるプログラムによって構成してもよい。
【００２４】
光ディスクの種類として、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc）に大別され、さらにＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤの中でもＲＯＭ、−Ｒ、−ＲＥ（ＲＷ）等の種類に分類される。光ディスクの判別手法は、種々の公知の手法を用いることができる。例えば、ＲＦ信号の振幅、フォーカスエラー信号、光ディスクに記録された管理情報（ＢＣＡ）に基づいて、光ディスク判別用信号を生じさせることができる。なお、製造者を示すディスクＩＤが管理情報として光ディスクに通常記録されているため、管理情報に関する信号を光ディスク判別用信号として用いてディスクＩＤを判別できる。
【００２５】
光ディスク判別部１１２から出力される光ディスク１０１の判別結果は、データバス１１６を介してシステムコントローラ１１４に入力される。システムコントローラ１１４は光ディスクの判別結果に基づいて、判別された光ディスクに最適な条件（再生条件、書込条件）になるように、各回路を制御する。
【００２６】
レーザドライバ１１３は、光ピックアップ１２０のレーザ光源１０８を駆動するためのレーザ駆動信号１１７を出力する。レーザパワー制御回路１２３は、光ディスク判別部１１２による光ディスクの種類の判別結果に従って、再生時又は書込時のレーザパワー目標値を設定する。
【００２７】
システムコントローラ１１４は、光ディスク装置１００の動作を制御するマイクロプロセッサ及びメモリ（ＲＡＭ、ＲＯＭ等）を備える。システムコントローラ１１４のメモリは、実行されるプログラム、及び、該プログラムを実行する際に必要なデータを格納する。システムコントローラ１１４は、光ディスク装置１００と接続されるホストコンピュータ１５０との間のデータ及びコマンドの送受信を制御するインターフェースを備える。また、システムコントローラ１１４は、メモリ１１５に一時的に記憶されたデータの読み出し、及びメモリ１１５へのデータの書き込みを制御する。また、システムコントローラ１１４は、ホストコンピュータ１５０から受信したコマンドを解釈し、受信したコマンドに従った処理を行う。
【００２８】
メモリ１１５は、バッファ領域を含み、光ディスク１０１から再生されたデータをバッファ領域に一時的に記憶する。データバス１１６は、光ディスク装置１００の各回路に接続する。
【００２９】
次に、対物レンズ１０３のチルト制御について説明する。図２のように、光ディスク１０１は、温度に依存して、水平方向（ディスク回転軸に垂直な方向）に対してある傾斜角γだけ傾く。これは、光ディスク１０１の上面側と下面側の熱膨張率の違いなどによって、温度変化に伴って、光ディスク１０１が、上面側又は下面側に反って変形するためである。例えば、光ディスク１０１は、温度がある基準温度より低い場合（例えば０℃）に下面側に反り、温度が基準温度より高い場合（例えば５０℃）に上面側に反る。この場合、反射光に対応する信号を最大にするために、対物レンズ１０３をこの傾斜角γに応じたチルト量θだけディスクの径方向に傾ける必要がある。
【００３０】
図３は、光ディスクに対して、最適なチルト量θの温度依存性を実験的に求めたものである。なお、対物レンズの傾きとシンボルエラーレート（ＳＥＲ）の関係を、図４のように各温度で実験的に求めることにより、チルト量θは決定される。図４で、シンボルエラーレート（ＳＥＲ）は、対物レンズの傾きの所定の範囲（ＳＥＲ−Ｍａｒｇｉｎ)においてほぼ最小値をとるが、この所定の範囲の中心の値が、チルト量θに設定される。なお、シンボルエラーレートの最小値が明らかであれば、その最小値をとる対物レンズの傾きをチルト量θとして決定することもできる。
【００３１】
このようにして求められたチルト量θは、温度Ｔの関数となる（即ち、θ＝θ（Ｔ））。従って、光ディスクの装填の際の初期調整（セットアップ）の時点で対物レンズのチルト量θの適切に調整しても、初期調整の時点から温度変化ΔＴがあると、チルト量を補正させることが必要になる。補正量Δθは、初期調整時の温度Ｔ0とすると、θ（Ｔ0＋ΔＴ）−θ（Ｔ0）となる。なお、図３のように、実験結果ではチルト量θが温度Ｔに比例する。チルト量θが温度Ｔに比例する場合（θ＝αＴ＋β）には、補正量Δθは、αΔＴで与えられる。なお、比例係数αと定数βは光ディスクの種類やディスクＩＤに依存する。
【００３２】
図５は、システムコントローラ１１４が実施するチルト制御の一例を示すフローチャートである。このフローチャートは、光ディスクが装填された時に開始する。光ディスクの装填は図示しないセンサ等により検出され、検出信号がシステムコントローラ１１４に入力される。
【００３３】
ステップＳ１において、スピンドルモータ１０２が回転され、光ディスク装填の際の光ディスク装置１００の各種初期調整が実施される。初期調整として、装填された光ディスク１０１の種類の判別や光ピックアップ１２０の調整などが実施される。光ピックアップ１２０の調整として、レーザパワーの調整、フォーカス調整、光ディスク装填時のチルト調整が実施される。ここでのチルト調整（初期チルト調整）は、対物レンズ１０３を傾けてＲＦ信号の振幅が最大になるチルト量θsを探索し、対物レンズ１０３の傾きを、探索されたチルト量θs（基準チルト量）に調整するとよい。さらに、温度センサ１６４を介して、初期調整時（特にチルト調整時）の光ディスク装置内の温度Ｔ0が検出される。
【００３４】
ステップＳ２において、ステップＳ１で調整・設定された条件で、光ディスクの再生又は記録が開始される。
【００３５】
ステップＳ３において、温度センサ１６４を介して、再生又は記録中の光ディスク装置内の温度Ｔ1が検出される。
【００３６】
ステップＳ４において、光ディスク装填の際（再生又は記録前）の初期調整時の温度Ｔ0と、再生又は記録時の光ディスク装置内の温度Ｔ1との温度差ΔＴ（＝Ｔ1−Ｔ0）が演算される。さらに、この温度差の絶対値｜Ｔ1−Ｔ0｜と所定値Ｘが比較され、温度差の絶対値｜Ｔ1−Ｔ0｜が所定値Ｘ以上か否か判断される。例えば、所定値Ｘは、ＢＤ−Ｒに対して１５度（℃）である。
【００３７】
温度差の絶対値が所定値Ｘ以上（｜Ｔ1−Ｔ0｜≧Ｘ）の場合、チルト補正量Δθを演算するために、ルーチンはステップＳ５に進む。一方、温度差の絶対値が所定値Ｘより小さい（｜Ｔ1−Ｔ0｜＜Ｘ）場合、チルト補正量Δθをゼロに設定した後、ルーチンはステップＳ６に進む。このように、調整時の温度Ｔ0と再生又は記録時の温度Ｔ1との温度差が少ない場合には、チルト量θを補正しない（Δθ＝０）。このため、再生又は記録時のチルト補正動作の回数を必要最小限にでき、安定的に再生又は記録ができる。
【００３８】
なお、例えば、所定値Ｘを光ディスク装置１００の再生動作又は記録動作に起因する温度変化量として定めることができる。この温度変化量は、再生又は記録時のレーザ照射などに起因する温度変化量である。このようにすれば、光ディスク装置の再生動作又は記録動作に起因する温度変化の他に光ディスク装置外部の周囲温度の変化があった場合にのみ、チルト量θの補正をすることができ、光ディスク装置周囲の環境温度の変化に対してチルト量を補正できる。また、所定値Ｘは、再生又は記録のエラーが生じない温度変化量に定めてよい。なお、所定値Ｘは、光ディスクの種類やディスクＩＤ（製造者）ごとに定めて、システムコントローラ１１４のメモリに記憶しておいてもよい。
【００３９】
ステップＳ５において、チルト補正量Δθが求められる。チルト量θが温度Ｔに対して比例する場合には、チルト補正量Δθは、温度差（温度変化）ΔＴに比例係数αを掛けた値αΔＴとなる（即ち、Δθ＝α×（Ｔ1−Ｔ0））。補正量の指標としての比例係数αは光ディスクの種類に依存するため、例えば図６に示す光ディスクの種類ごとに比例係数αを定める参照テーブルに基づいて、比例係数αが光ディスクの種類に応じて決定できる。参照テーブルは、事前に作成されシステムコントローラ１１４のメモリに記憶されるため、初期調整時や再生又は記録時に学習により作成する必要がなく簡便である。
【００４０】
なお、同じ種類の光ディスクであれば、ディスクＩＤ（製造者）によらず比例係数αは略一定であるため、本実施形態のチルト制御では、ディスクＩＤごとに比例係数αを定めて補正量を算出しない。しかし、ディスクＩＤごとに比例係数αを定めて、ディスクＩＤごとに補正量を算出することも可能である。
【００４１】
さらに、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤごとに、補正量の温度依存性は同様の傾向を示すため、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤごとに、１つの比例係数αを定めて補正量を算出することもできる。さらに、光ディスクが、その径方向の断面が曲線状になるように変形し、光ディスクの半径Ｒに依存して光ディスクの反り（傾き）が変化する場合がある。この場合には、レーザの照射位置における光ディスクの半径Ｒ（又はゾーン）ごとに図６のような参照テーブルを作成して、この半径Ｒに応じて比例係数αから補正量を算出することも可能である。一例として、ＢＤ−Ｒの場合、比例係数α3は約−０．０１（deg／℃）程度である。
【００４２】
ステップＳ６において、ステップＳ１の基準チルト量θSに補正量Δθを加えた値にチルト量θが設定され、アクチュエータ１６０を介して光ディスクの径方向における対物レンズ１０３の傾きはこのチルト量（θ＝θS＋Δθ）に制御される。このため、このチルト量θに対応する指令信号が、システムコントローラ１１４から駆動回路１６２に送出される。なお、｜Ｔ1−Ｔ0｜＜Ｘの場合、Δθ＝０のため、チルト量は基準チルト量θSに維持される。
【００４３】
ステップＳ７において、光ディスクの再生又は記録される次のエリアが存在するか判断される。次のエリアが存在する場合には、ルーチンは、ステップＳ２に戻り、光ディスクの次のエリアが再生又は記録される。次のエリアが存在しない場合には、ルーチンは、終了する。
【００４４】
−作用効果−
以上説明したように、第一実施形態によると、初期調整後に、システムコントローラ（制御部）は、光ディスクの装填の際に実施する初期調整の時点からの温度変化に応じて補正量を演算し、アクチュエータを介してチルト量を補正量に応じて変化させる。これにより、初期調整時からの温度変化に対して、チルト量を的確に補正することができる。さらに、補正量を光ディスクの種類又はディスクＩＤごとに演算することにより、光ディスクの種類又はディスクＩＤごとに温度変化による光ディスクの変形が異なる場合にも的確にチルト量を補正できる。また、再生動作又は記録動作に起因する温度変化量に相当する所定値以上の温度変化があった場合にチルト量を変化させるなら、装置外部の温度変化があった場合にのみチルト量θの補正をすることができる。
【００４５】
［第二実施形態］
第一実施形態において、チルト量θは温度Ｔに比例するとして、光ディスクの種類等に応じて比例係数αを定める参照テーブルを用いて、比例係数αと温度差ΔＴからチルト補正量Δθを求めた。しかし、第二実施形態において、補正量の演算を簡略化する。このため、光ディスクの種類等に応じてチルト補正量（絶対値）Δθ’を定める参照テーブルを用いて、光ディスクの種類等に応じて直接的にチルト補正量Δθ’を定める。これは、実際には、温度に対して細かくチルト量θを補正する必要がなく、又、想定される温度変化も過度に大きくないためである。他の構成は、第一実施形態と同様であり、説明を省略する。
【００４６】
ステップＳ４で温度差ΔＴの絶対値が所定値Ｘ以上（｜Ｔ1−Ｔ0｜≧Ｘ）の場合、チルト補正量Δθを演算するために、ルーチンはステップＳ５に進む。例えば、所定値Ｘは、再生動作又は記録動作に起因する温度変化量に相当するものでよい。この場合、装置外部の温度変化があった場合のみチルト量θの補正をすることができる。
【００４７】
ステップＳ５において、補正量は、図７のような参照テーブルから、ディスクの種類等に応じて直接的に求められる。参照テーブルは、事前に作成されシステムコントローラ１１４のメモリに記憶されるため、初期調整時や再生又は記録時に学習により作成する必要がなく簡便である。
【００４８】
ステップＳ６では、チルト量θが設定され、アクチュエータ１６０を介して対物レンズの傾きは設定されたチルト量θに制御される。ここで、光ディスク装置内の温度Ｔ1が初期調整時の温度Ｔ0よりもＸ度以上低くなった場合（Ｔ0−Ｔ1≧Ｘの場合）に、チルト量θは、基準チルト量θSに補正量Δθ’を加算した値に設定される（θ＝θS＋Δθ’）。逆に、光ディスク装置内の温度Ｔ1が初期調整時の温度Ｔ0よりもＸ度以上高くなった場合（Ｔ1−Ｔ0≧Ｘの場合）に、チルト量θは、基準チルト量θSに補正量Δθ’を減算した値に設定される（θ＝θS−Δθ’）。これらは、初期調整の時点からの温度変化に応じて最終的な補正量（＋Δθ’、−Δθ’）を演算して、基準チルト量θSに加算することに相当する。一例として、ＢＤ−Ｒの場合、Ｘ＝１５度に対して、補正量Δθ’は約０．２（deg）である。
【００４９】
なお、ここでは、光ディスク１０１が、温度がある基準温度より低い時に下面側に反り、温度が基準温度より高い時に上面側に反る場合を想定している。逆に、光ディスク１０１がある基準温度より低い時に上面側に反り、温度が基準温度より高い時に下面側に反る場合においては、加算と減算を入れ替えればよい。
【００５０】
−作用効果−
以上説明したように、第二実施形態では、第一実施形態の効果を有する他、補正量を直接的に参照テーブルにより定めるため、補正量の演算が簡略化できる。
【符号の説明】
【００５１】
１００  光ディスク装置
１０３  対物レンズ
１１４  システムコントローラ（制御部）
１６０  アクチュエータ
１６４  温度センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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