(57)【要約】【課題】簡素な構成にて効果的に迷光を除去することができ、且つ、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制することができるようにする。【解決手段】ディスクによって反射されたレーザ光を第１の方向と第２の方向に収束させて非点収差を導入する。第１の方向と第２の方向に平行な２つの直線で分割された４つの光束領域Ａ〜Ｄの光の進行方向を、それぞれ、Ｄａ〜Ｄｄの方向に変換させる。これにより、光検出器上に信号光のみを含む信号光領域が生成される。この領域内にセンサパターンを配置することで、迷光の影響が抑制される。トラックのないテストディスクにレーザ光を照射したときの領域ＢとＣの光量バランスと、領域Ａ、Ｄの左右の光量バランスによりトラッキングエラー信号のＤＣ成分を抑制するための補正倍率を求める。この補正倍率により、トラッキングエラー信号を補正する。【選択図】図９
2011034605.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光をディスク上に収束させる対物レンズと、
前記ディスクによって反射された前記レーザ光に非点収差を導入して、第１の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第１の焦線位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第２の焦線位置とを前記レーザ光の進行方向に互いに離間させる非点収差素子と、
前記ディスクによって反射された前記レーザ光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせ、これら４つの光束を互いに離散させる分光素子と、
前記分光素子にて離散された４つの光束を受光するセンサ群を有する光検出器と、
前記レーザ光の光軸に対する前記分光素子の位置ずれよってトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制するための補正値を保持したメモリと、を有する、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
光ピックアップ装置と、
前記光ピックアップ装置から出力される信号を演算する演算回路と、
制御パラメータを保持するメモリと、を備え、
前記光ピックアップ装置は；
レーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光をディスク上に収束させる対物レンズと、
前記ディスクによって反射された前記レーザ光に非点収差を導入して、第１の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第１の焦線位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第２の焦線位置とを前記レーザ光の進行方向に互いに離間させる非点収差素子と、
前記ディスクによって反射された前記レーザ光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせ、これら４つの光束を互いに離散させる分光素子と、
前記分光素子にて離散された４つの光束を受光する光検出器と、を備え、
前記メモリは；
前記レーザ光の光軸に対する前記分光素子の位置ずれよってトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制するための補正値を保持し、
前記演算回路は；
前記光検出器からの出力に基づいてトラッキングエラー信号を生成する演算部と、
前記演算部からの出力を前記補正値に基づいて補正する補正部と、を有する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク装置において、
前記非点収差素子は、前記第１の方向と前記第２の方向が前記ディスクからのトラック像の方向に対して４５°傾くように配置され、
前記演算部は、前記４つの光束のうち、前記トラック像に対して垂直な方向にある２つの光束の光量バランスを算出する第１の演算部を備え、
前記補正部は、前記第１の演算部からの出力を前記メモリに保持された第１の補正値に基づいて補正する第１の補正部を有する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスク装置において、
前記演算部は、前記４つの光束のうち、前記トラック像に対して平行な方向にある２つの光束の前記トラック像に対して垂直な方向の光量バランスを算出する第２の演算部を備え、
前記補正部は、前記第２の演算部からの出力を前記メモリに保持された第２の補正値に基づいて補正する第２の補正部を有する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項３に記載の光ディスク装置において、
前記トラック像に対して垂直な方向にある２つの光束に基づく前記光検出器からの信号をそれぞれ信号ＳＰ１、ＳＰ２とするとき、
前記信号ＳＰ１、ＳＰ２の高周波成分をカットするローパスフィルタと、
前記ローパスフィルタによって高周波成分がカットされた前記信号ＳＰ１とＳＰ２の比率を演算して前記第１の補正値を算出する補正値演算部と、を有する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
照射光の焦点を目標面上のトラックに追従させる焦点調整方法であって、
前記目標面によって反射された前記照射光に非点収差を導入して、第１の方向に前記照射光が収束することによって生じる第１の焦点位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記照射光が収束することによって生じる第２の焦点位置とを前記照射光の進行方向に互いに離間させ、
前記目標面によって反射された前記照射光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせて、これら４つの光束を互いに離散させ、
前記４つの光束の光量バランスから非点収差法に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、生成したフォーカスエラー信号に基づいて前記照射光の光軸方向における前記焦点の位置を調節し、
前記目標面によって反射された前記レーザ光の、前記トラックの回折像に垂直な方向の光量バランスに基づいてプッシュプル信号を生成し、生成したプッシュプル信号に基づいて前記照射光の前記トラックを横切る方向における前記焦点の位置を調節し、
前記トラックを横切る方向における前記焦点の位置調節の前に、前記トラックが形成されていない平坦な反射面に前記照射光を収束させたときの、前記回折像に垂直な方向の光量バランスに基づいて、前記プッシュプル信号のＤＣ成分を抑制するための補正値を求め、求めた補正値に基づいて前記プッシュプル信号を補正し、補正した前記プッシュプル信号に基づいて前記トラックを横切る方向における前記焦点の位置を調節する、
ことを特徴とする焦点調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ装置、光ディスク装置および焦点調整方法に関するものであり、特に、複数の記録層が積層された記録媒体に対して記録／再生を行う際に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスクの大容量化に伴い、記録層の多層化が進んでいる。一枚のディスク内に複数の記録層を含めることにより、ディスクのデータ容量を顕著に高めることができる。記録層を積層する場合、これまでは片面２層が一般的であったが、最近では、さらに大容量化を進めるために、片面に３層以上の記録層を配することも検討されている。ここで、記録層の積層数を増加させると、ディスクの大容量化を促進できる。しかし、その一方で、記録層間の間隔が狭くなり、層間クロストークによる信号劣化が増大する。
【０００３】
記録層を多層化すると、記録／再生対象とされる記録層（ターゲット記録層）からの反射光が微弱となる。このため、ターゲット記録層の上下にある記録層から、不要な反射光（迷光）が光検出器に入射すると、検出信号が劣化し、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボに悪影響を及ぼす惧れがある。したがって、このように記録層が多数配されている場合には、適正に迷光を除去して、光検出器からの信号を安定化させる必要がある。
【０００４】
以下の特許文献１には、ピンホールを用いて迷光を除去する技術が、特許文献２には、１／２波長板と偏光光学素子を組み合わせることにより迷光を除去する技術が、それぞれ記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−２６０６６９号公報
【特許文献２】特開２００６−２５２７１６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記特許文献１の技術によれば、ターゲット記録層から反射されたレーザ光（信号光）の収束位置にピンホールを正確に位置づける必要があるため、ピンホールの位置調整作業が困難であるとの課題がある。位置調整作業を容易にするためピンホールのサイズを大きくすると、迷光がピンホールを通過する割合が増加し、迷光による信号劣化を効果的に抑制できなくなる。
【０００７】
また、特許文献２の技術によれば、迷光を除去するために、１／２波長板と偏光光学素子が２つずつ必要である他、さらに、２つのレンズが必要であるため、部品点数とコストが増加し、また、各部材の配置調整が煩雑であるとの課題がある。また、これらの部材を並べて配置するスペースが必要となり、光学系が大型化するとの課題もある。
【０００８】
なお、光ピックアップ装置または光ディスク装置においては、ディスクによって反射されたレーザ光の光量分布の偏りに基づいてトラッキングエラー信号が生成される。かかるトラッキングエラー信号には、装置内に配された光学素子の位置がレーザ光軸に対してずれることによりＤＣ成分が重畳されることがある。かかるＤＣ成分は、光学系の設置時や、経時劣化時など、所定のタイミングで抑制されるのが望ましい。
【０００９】
本発明は、このような課題を解消するためになされたものであり、簡素な構成にて効果的に迷光を除去することができ、加えて、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を効果的に抑制できるようにする光ピックアップ装置および光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の第１の態様は、光ピックアップ装置に関する。本態様に係る光ピックアップ装置は、レーザ光源と、前記レーザ光源から出射されたレーザ光をディスク上に収束させる対物レンズと、前記ディスクによって反射された前記レーザ光に非点収差を導入して、第１の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第１の焦線位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第２の焦線位置とを前記レーザ光の進行方向に互いに離間させる非点収差素子と、前記ディスクによって反射された前記レーザ光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせ、これら４つの光束を互いに離散させる分光素子と、前記分光素子にて離散された４つの光束を受光するセンサ群を有する光検出器と、前記レーザ光の光軸に対する前記分光素子の位置ずれよってトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制するための補正値を保持したメモリとを有する。ここで、この補正値は、前記センサ群から出力される信号のうち、前記トラッキングエラー信号の生成において互いに差が取られる第１および第２の信号間のバランスに基づいて設定される。この設定において、第１および第２の信号は、前記ディスク上のトラックによる影響がない状態とされる。たとえば、トラックが形成されていない平坦な反射面に前記レーザ光を収束させたときの第１および第２の信号間のバランスに基づいて、前記補正値が設定される。
【００１１】
本発明の第２の態様は、光ディスク装置に関する。本態様に係る光ディスク装置は、光ピックアップ装置と、前記光ピックアップ装置から出力される信号を演算する演算回路と、制御パラメータを保持するメモリとを備える。ここで、前記光ピックアップ装置は、レーザ光源と、前記レーザ光源から出射されたレーザ光をディスク上に収束させる対物レンズと、前記ディスクによって反射された前記レーザ光に非点収差を導入して、第１の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第１の焦線位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第２の焦線位置とを前記レーザ光の進行方向に互いに離間させる非点収差素子と、前記ディスクによって反射された前記レーザ光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせ、これら４つの光束を互いに離散させる分光素子と、前記分光素子にて離散された４つの光束を受光する光検出器とを備える。また、前記メモリは、前記レーザ光の光軸に対する前記分光素子の位置ずれよってトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制するための補正値を保持する。さらに、前記演算回路は、前記光検出器からの出力に基づいてトラッキングエラー信号を生成する演算部と、前記演算部からの出力を前記補正値に基づいて補正する補正部とを有する。
【００１２】
本発明の第３の態様は、照射光の焦点を目標面上のトラックに追従させる焦点調整方法に関する。本態様に係る焦点調整方法は、前記目標面によって反射された前記照射光に非点収差を導入して、第１の方向に前記照射光が収束することによって生じる第１の焦点位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記照射光が収束することによって生じる第２の焦点位置とを前記照射光の進行方向に互いに離間させ、前記目標面によって反射された前記照射光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせて、これら４つの光束を互いに離散させる。そして、前記４つの光束の光量バランスから非点収差法に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、生成したフォーカスエラー信号に基づいて前記照射光の光軸方向における前記焦点の位置を調節し、また、前記目標面によって反射された前記レーザ光の、前記トラックの回折像に垂直な方向の光量バランスに基づいてプッシュプル信号を生成し、生成したプッシュプル信号に基づいて前記照射光の前記トラックを横切る方向における前記焦点の位置を調節する。ここで、前記トラックを横切る方向における前記焦点の位置調節の前に、前記トラックが形成されていない平坦な反射面に前記照射光を収束させたときの、前記回折像に垂直な方向の光量バランスに基づいて、前記プッシュプル信号のＤＣ成分を抑制するための補正値を求める。そして、求めた補正値に基づいて前記プッシュプル信号を補正し、補正した前記プッシュプル信号に基づいて前記トラックを横切る方向における前記焦点の位置を調節する。
【発明の効果】
【００１３】
発明によれば、簡素な構成にて効果的に迷光を除去することができ、また、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制することができる。
【００１４】
本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態によって何ら制限されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図２】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図３】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図４】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図５】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図６】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図７】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図８】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図９】実施形態に係る技術原理（角度付与と光束の分布）を説明する図である。
【図１０】実施の形態に係るセンサパターンの配置方法を示す図である。
【図１１】角度調整素子の位置ずれによりプッシュプル信号にＤＣ成分が重畳することを説明する図である。
【図１２】プッシュプル信号のＤＣ成分を検証（シミュレーション）するために用いた光学系を示す図である。
【図１３】角度調整素子の位置ずれが生じたときの信号光の光量バランスを検証したシミュレーション結果を示す図である。
【図１４】角度調整素子の位置ずれが生じたときの信号ＰＰ１、ＰＰ２の状態を検証したシミュレーション結果を示す図である。
【図１５】実施例に係る光ピックアップ装置の光学系および光ディスク装置の構成を示す図である。
【図１６】実施例に係る角度調整素子の構成例を示す図である。
【図１７】実施例に係る演算処理部の構成を示す図である。
【図１８】実施例に係る演算処理部の構成を示す図である。
【図１９】実施例および本発明の技術原理の好ましい適用範囲を示す図である。
【図２０】実施例に係る角度調整素子と光検出器の位置調整を説明する図である。
【図２１】変更例に係るピックアップ装置の光学系および光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２２】変更例に係る演算処理部の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。
【００１７】
＜技術的原理＞
まず、図１ないし図１０を参照して、本実施の形態に適用される技術的原理について説明する。
【００１８】
図１（ａ）は、ターゲット記録層によって反射されたレーザ光（信号光）が、平行光の状態でアナモレンズ等の非点収差素子に入射されたときの信号光と迷光の収束状態を示す図である。なお、“迷光１”は、レーザ光入射面側から見てターゲット記録層よりも一つ奥側にある記録層にて反射されたレーザ光であり、“迷光２”は、ターゲット記録層よりも一つ手前にある記録層にて反射されたレーザ光である。また、同図は、信号光がターゲット記録層にフォーカス合わせされたときの状態を示している。
【００１９】
図示の如く、アナモレンズの作用により、図中の“曲面方向”に信号光が収束することによって面Ｓ１に焦線が生じ、さらに、この曲面方向に垂直な図中の“平面方向”に信号光が収束することによって面Ｓ２に焦線が生じる。そして、面Ｓ１と面Ｓ２の間の面Ｓ０において、信号光のスポットが最小（最小錯乱円）となる。非点収差法に基づくフォーカス調整では、面Ｓ０に光検出器の受光面が置かれる。なお、ここではアナモレンズにおける非点収差作用を簡単に説明するために、便宜上、“曲面方向”と“平面方向”と表現しているが、実際には、互いに異なる位置に焦線を結ぶ作用がアナモレンズによって生じれば良く、図１中の“平面方向”においてアナモレンズが曲率を持っていても良い。なお、アナモレンズに収束状態でレーザ光が入射する場合は、“平面方向”におけるアナモレンズの形状は直線状（曲率半径＝∞）となり得る。
【００２０】
なお、同図（ａ）に示す如く、迷光１の焦線位置（同図では、非点収差素子による２つの焦線位置の間の範囲を“収束範囲”と示す）は、信号光の焦線位置よりも非点収差素子に接近しており、また、迷光２の焦線位置は、信号光の焦線位置よりも非点収差素子から離れている。
【００２１】
図１（ｂ）〜（ｅ）は、それぞれ、平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上における信号光のビーム形状を示す図である。真円で非点収差素子に入射した信号光は、面Ｓ１上で楕円となり、面Ｓ０上で略真円となった後、面Ｓ２上にて再び楕円となる。ここで、面Ｓ１上のビーム形状と面Ｓ２上のビーム形状は、それぞれの長軸が互いに垂直の関係となっている。
【００２２】
ここで、同図（ａ）および（ｂ）のように、平行光部分におけるビームの外周に、反時計方向に８つの位置（位置１〜８：同図では丸囲み数字で表記）を設定すると、位置１〜８を通る光線は、非点収差素子によってそれぞれ収束作用を受ける。なお、位置４と位置８は、曲面方向に平行な直線にて平行光部分のビーム断面を２分割する場合の分割線上に位置しており、位置２と位置６は、平面方向に平行な直線にて平行光部分のビーム断面を２分割する場合の分割線上に位置している。位置１、３、５、７はそれぞれ、位置２、４、６、８によって区分される外周円弧の中間にある。
【００２３】
平行光部分において位置４と位置８を通る光線は、面Ｓ１で曲面方向の焦線へと収束された後に面Ｓ０へと入射する。このため、これら位置４、８を通る光線は、面Ｓ０上において、同図（ｄ）に示す位置４、８を通る。同様に、平行光部分において位置１、３、５、７を通る光線も、面Ｓ１にて曲面方向の焦線へと収束された後に面Ｓ０へと入射するため、面Ｓ０上では、同図（ｄ）に示す位置１、３、５、７を通る。これに対し、平行光部分において位置２、６を通る光線は、面Ｓ１で曲面方向の焦線へと収束されずに面Ｓ０へと入射する。このため、これら位置２、６を通る光線は、面Ｓ０上において、同図（ｄ）に示す位置２、６を通る。
【００２４】
図２（ｂ）〜（ｅ）は、それぞれ、平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上における迷光１のビーム形状と光線通過位置を示す図である。同図（ｂ）に示すように、迷光１の外周にも、上記信号光の場合と同様に８つの位置１〜８を設定すると、これら８つの位置１〜８を通る光線は、曲面方向の焦線および平面方向の焦線の何れかに収束された後に面Ｓ０へと入射する。このため、平行光部分において位置１〜８を通る光線は、面Ｓ０上において、それぞれ、同図（ｄ）に示す位置１〜８を通る。
【００２５】
図３（ｂ）〜（ｅ）は、それぞれ、平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上における迷光２のビーム形状と光線通過位置を示す図である。同図（ｂ）に示すように、迷光２の外周にも、上記信号光の場合と同様に８つの位置１〜８を設定すると、これら８つの位置１〜８を通る光線は、曲面方向の焦線と平面方向の焦線の何れへも収束されることなく面Ｓ０へと入射する。このため、平行光部分において位置１〜８を通る光線は、面Ｓ０上において、それぞれ、同図（ｄ）に示す位置１〜８を通る。
【００２６】
図４は、以上に説明した平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上におけるビーム形状と光線の通過位置を、信号光、迷光１および迷光２を対比して示す図である。同図中の（ｃ）の段を対比して分かるとおり、平行光部分において位置１を通過した信号光、迷光１および迷光２の光束は、それぞれ、面Ｓ０上において、互いに異なる外周位置を通過する。同様に、平行光部分において位置３，４，５，７，８を通過した信号光、迷光１および迷光２の光束も、面Ｓ０において、互いに異なる外周位置を通過する。平行光部分において位置２，６を通過した信号光と迷光２の光束は、面Ｓ０において、同じ外周位置を通過する。この場合も、平行光部分において位置２，６を通過した信号光と迷光１の光束は、面Ｓ０において、互いに異なる外周位置を通過し、また、平行光部分において位置２、６を通過した迷光１と迷光２の光束は、面Ｓ０において、互いに異なる外周位置を通過する。
【００２７】
次に、以上の現象を考慮して、平行光部分における信号光および迷光１、２の領域分割パターンと、面Ｓ０上における信号光および迷光１、２の照射領域との関係について検討する。
【００２８】
まず、図５（ａ）に示すように、平行光部分における信号光および迷光１、２を、平面方向と曲面方向に対して４５°傾いた２つの直線で分割し、４つの光束領域Ａ〜Ｄに区分したとする。なお、この分割パターンは、従来の非点収差法に基づく領域分割に対応するものである。
【００２９】
この場合、上述の現象により、光束領域Ａ〜Ｄの信号光は、面Ｓ０上において、同図（ｂ）のように分布する。また、光束領域Ａ〜Ｄの迷光１および迷光２は、上述の現象により、それぞれ、同図（ｃ）および（ｄ）のように分布する。
【００３０】
ここで、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２を光束領域毎に取り出すと、各光の分布は、図６（ａ）ないし（ｄ）のようになる。この場合、各光束領域の信号光には、同じ光束領域の迷光１および迷光２の何れか一方が必ず重なる。このため、各光束領域の信号光を光検出器上のセンサパターンで受光すると、少なくとも、同じ光束領域における迷光１または迷光２が対応するセンサパターンに同時に入射し、これにより検出信号に劣化が生じる。
【００３１】
これに対し、図７（ａ）に示すように、平行光部分における信号光および迷光１、２を、平面方向と曲面方向に平行な２つの直線で分割し、４つの光束領域Ａ〜Ｄに区分したとする。この場合、上述の現象から、光束領域Ａ〜Ｄの信号光は、面Ｓ０上において、同図（ｂ）のように分布する。また、光束領域Ａ〜Ｄの迷光１および迷光２は、上述の現象により、それぞれ、同図（ｃ）および（ｄ）のように分布する。
【００３２】
ここで、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２を光束領域毎に取り出すと、各光の分布は、図８（ａ）ないし（ｄ）のようになる。この場合、各光束領域の信号光には、同じ光束領域の迷光１および迷光２の何れも重ならない。このため、各光束領域内の光束（信号光、迷光１、２）を異なる方向に離散させた後に、信号光のみをセンサパターンにて受光するように構成すると、対応するセンサパターンには信号光のみが入射し、迷光の入射を抑止することができる。これにより、迷光による検出信号の劣化を回避することができる。
【００３３】
以上のように、信号光および迷光１、２を平面方向と曲面方向に平行な２つの直線で４つの光束領域Ａ〜Ｄに分割し、これら光束領域Ａ〜Ｄを通る光を分散させて面Ｓ０上において離間させることにより、信号光のみを取り出すことができる。本実施の形態は、この原理を基盤とするものである。
【００３４】
図９は、図７（ａ）に示す４つの光束領域Ａ〜Ｄを通る光束（信号光、迷光１、２）の進行方向を、それぞれ、異なる方向に、同じ角度だけ変化させたときの、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２の分布状態を示す図である。ここでは、同図（ａ）に示すように、光束領域Ａ〜Ｄを通る光束（信号光、迷光１、２）の進行方向が、それぞれ、方向Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ、Ｄｄに、同じ角度量α（図示せず）だけ変化している。なお、方向Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ、Ｄｄは、平面方向と曲面方向に対して、それぞれ、４５°の傾きを持っている。
【００３５】
この場合、方向Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ、Ｄｄにおける角度量αを調節することにより、Ｓ０平面上において、同図（ｂ）に示すように各光束領域の信号光と迷光１、２を分布させることができる。その結果、図示の如く、信号光のみが存在する信号光領域をＳ０平面上に設定することができる。この信号光領域に光検出器のセンサパターンを設定することにより、各領域の信号光のみを、対応するセンサパターンにて受光することができる。
【００３６】
図１０は、センサパターンの配置方法を説明する図である。同図（ａ）および（ｂ）は、従来の非点収差法に基づく光束の分割方法とセンサパターンを示す図であり、同図（ｃ）および（ｄ）は、上述の原理に基づく光束の分割方法とセンサパターンを示す図である。ここで、トラック方向は、平面方向および曲面方向に対して４５°の傾きを持っている。なお、同図（ａ）および（ｂ）には、説明の便宜上、光束が８つの光束領域ａ〜ｈに区分されている。また、トラック溝による回折の像（トラック像）が実線で示され、オフフォーカス時のビーム形状が点線によって示されている。
【００３７】
なお、トラック溝による信号光の０次回折像と一次回折像の重なり状態は、波長／（トラックピッチ×対物レンズＮＡ）で求められることが知られており、同図（ａ）、（ｂ）、（ｄ）のように、４つの光束領域ａ、ｄ、ｅ、ｈに一次回折像が収まる条件は、波長／（トラックピッチ×対物レンズＮＡ）＞√２となる。
【００３８】
従来の非点収差法では、光検出器のセンサＰ１〜Ｐ４（４分割センサ）が同図（ｂ）のように設定される。この場合、光束領域ａ〜ｈの光強度に基づく検出信号成分をＡ〜Ｈで表すと、フォーカスエラー信号ＦＥとプッシュプル信号ＰＰは、
ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ＋Ｈ）    …（１）
ＰＰ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｇ＋Ｈ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）    …（２）
の演算により求まる。
【００３９】
これに対し、上記図９（ｂ）の分布状態では、上述の如く、信号光領域内に、図１０（ｃ）の状態で信号光が分布している。この場合、同図（ａ）に示す光束領域ａ〜ｈを通る信号光は、同図（ｄ）のようになる。すなわち、同図（ａ）の光束領域ａ〜ｈを通る信号光は、光検出器のセンサパターンが置かれる面Ｓ０上では、同図（ｄ）に示す光束領域ａ〜ｈへと導かれる。
【００４０】
したがって、同図（ｄ）に示す光束領域ａ〜ｈの位置に、同図（ｄ）に重ねて示す如くセンサＰ１１〜Ｐ１８を設定すれば、同図（ｂ）の場合と同様の演算処理によって、フォーカスエラー信号とプッシュプル信号を生成することができる。すなわち、この場合も、光束領域ａ〜ｈの光束を受光するセンサパターンからの検出信号をＡ〜Ｈで表すと、同図（ｂ）の場合と同様、フォーカスエラー信号ＦＥとプッシュプル信号ＰＰは、上記式（１）、（２）の演算により取得することができる。
【００４１】
以上のように、本原理によれば、平行光部分における信号光および迷光１、２を、図１の平面方向と曲面方向に平行な２つの直線で４つの光束領域Ａ〜Ｄに分割し、これら光束領域Ａ〜Ｄを通る光を分散させ、さらに、分散させた後の各光束領域Ａ〜Ｄにおける信号光を、２分割された受光部（２分割センサ）によって個別に受光することにより、従来の非点収差法に基づく場合と同様の演算処理にて、フォーカスエラー信号とプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成することができる。
【００４２】
ところで、図９（ａ）に示す光束領域Ａ〜Ｄを通る光束（信号光、迷光１、２）が、面Ｓ０上で図９（ｂ）に示す分布状態となるために、実際の光学系では、各光束領域を通る光束の進行方向を変化させる角度調整素子が用いられる。しかしながら、角度調整素子の位置が、ディスクからの反射光のトラック像の方向に対して垂直な方向にずれていると、上記式（２）により生成されたプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に、角度調整素子の位置ずれに基づくＤＣ成分が重畳されるとの問題が生じる。
【００４３】
図１１は、角度調整素子の位置ずれにより、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に、ＤＣ成分が重畳することを説明する図である。同図（ａ）、（ｂ）は、角度調整素子をディスクの反射光の進行方向から見た図であり、同図（ｃ）は、図１０（ｄ）で示したセンサＰ１１〜Ｐ１８を示す図であり、図１１（ｄ）は、同図（ｃ）のセンサパターンに入射する信号光の分布を並び替えた図である。
【００４４】
同図（ａ）に示す如く、角度調整素子は、レーザ光の入射面の上右左下に４つの異なる領域が形成されている。かかる４つの領域は、それぞれ、図９（ａ）に示す４つの光束領域Ａ〜Ｄを通るレーザ光を互いに分離させて、光検出面上で、図９（ｂ）に示すように各光束領域を通るレーザ光を分布させる作用を有する。この場合、ディスクからの反射光の光軸が、角度調整素子の４つの異なる領域の交わる点（中心点Ｏ）を通るように調整される。
【００４５】
しかしながら、図１１（ｂ）に示す如く、角度調整素子がディスクからの反射光のトラック像の方向に対して垂直な方向（図中、上方向）にずれると、光束領域Ａ〜Ｄを通る信号光は、センサＰ１１〜Ｐ１８に、同図（ｃ）の如く照射される。同図（ｃ）のセンサパターンに入射する信号光の分布は、頂角が互いに向かい合うよう並び替えられると、同図（ｄ）に示す如く、左右を分割する中心線に対して左右非対称な形状となる。すなわち、角度調整素子の位置ずれにより、センサＰ１１〜Ｐ１８に入射する信号光に、トラック像の方向に対して垂直な方向に偏りが生じるため、上記式（２）に従って得られるプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）にＤＣ成分が重畳されることとなる。
【００４６】
なお、角度調整素子が、ディスクからの反射光のトラック像の方向に対して平行な方向にずれている場合にも、センサＰ１１〜Ｐ１８に入射する信号光に偏りが生じる。この場合の偏りは、トラック像の方向に対して平行な方向であるため、上記式（２）に従って得られるプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）にＤＣ成分が重畳されることはない。
【００４７】
このように、角度調整素子が、ディスクからの反射光のトラック像の方向に対して垂直な方向にずれることにより生じるＤＣ成分は、図１０（ｄ）に示すセンサパターンにおいて、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を以下のように修正することにより、効果的に抑制され得る。
【００４８】
以下、本件出願の発明者が行ったシミュレーション結果とともに、ＤＣ成分を効果的に抑制可能なプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）の生成手法について説明する。
【００４９】
図１２（ａ）は、本シミュレーションに用いた光学系を示す図である。図中、１０は、波長４０５ｎｍのレーザ光を出射する半導体レーザ、１１は、半導体レーザ１０から出射されたレーザ光を略全反射する偏光ビームスプリッタ、１２は、レーザ光を平行光に変換するコリメートレンズ、１３は、コリメートレンズ１２側から入射されるレーザ光（直線偏光）を円偏光に変換する１／４波長板、１４は、レーザ光のビーム形状をレーザ光軸を中心とする真円に調整するためのアパーチャ、１５は、レーザ光をディスク上に収束させる対物レンズ、１６は、偏光ビームスプリッタ１１を透過したディスクからの反射光に非点収差を導入する検出レンズ、１７は、上記図９（ａ）を参照して説明した作用をレーザ光に付与する角度調整素子、１８は、光検出器である。
【００５０】
本光学系の設計条件は、以下の通りである。
（１）往路倍率：１０倍
（２）復路倍率：２０倍
（３）角度調整素子１７によって付与される分光角度：１．９°
（４）角度調整素子１７の分光面と光検出器１７の検出面の間の距離（空気換算）：４ｍｍ
（５）角度調整素子１７を配さないときの光検出面上におけるスポット径：６０μｍ
（６）角度調整素子１７を配したときの光検出面上における各信号光（光束領域Ａ〜Ｄをそれぞれ通過）の変位距離：１００μｍ
（７）レーザ光の広がり角：垂直広がり角＝２０．０°、水平広がり角＝９．０°
（８）レンズ有効径：φ＝２．４ｍｍ
（９）対物レンズの開口数：０．８５
（１０）対物レンズの焦点距離：１．４ｍｍ
（１１）ディスクのトラックピッチ：０．３２μｍ
【００５１】
上記（１）の往路倍率とは、対物レンズの焦点距離に対するコリメートレンズの焦点距離の比であり、（２）の復路倍率とは、対物レンズの焦点距離に対するコリメートレンズと検出レンズの合成焦点距離の比のことである。本光学系では、ディスクによって反射されたレーザ光（信号光）は、角度調整素子１７を除去すると検出面上において最小錯乱円となる。上記（５）のスポット径とは、この最小錯乱円の径のことである。
【００５２】
また、上記（６）の変位距離とは、角度調整素子１７を除去したときの検出面上における信号光の光軸中心と、角度調整素子１７を配したときの各信号光の頂点位置（図８に示す扇型が直角となる頂点の位置）との間の距離のことである。なお、センサパターンの寸法条件は、図１２（ｂ）の通りである。
【００５３】
上記（７）の垂直広がり角とは、光ピックアップ装置１０に内蔵されるレーザ素子の半導体層の層間方向におけるレーザ光の広がり角を意味し、水平広がり角とは半導体層に平行な方向におけるレーザ光の広がり角を意味する。ここで、広がり角は、図１２（ｃ）に示すように、ピーク強度Ｐの半分以上の強度を持つビーム部分の広がり角とされている。上記（８）のレンズ有効径とは、アパーチャ１４を通過した後、対物レンズ１５に入射する際のビームの直径を意味する。
【００５４】
図１３は、上記条件のもとで、角度調整素子１７の位置ずれがある場合とない場合の信号光の強度をシミュレーションしたシミュレーション結果である。同図上段は、角度調整素子１７の位置ずれがない状態で、ディスク上のビームスポットがトラックセンターに位置するときと、トラックセンターからディスク径方向にずれたときの信号光の強度をシミュレーションしたものである。また、同図下段は、角度調整素子１７の位置ずれがある状態で、ディスク上のビームスポットがトラックセンターに位置するときと、トラックセンターからディスク径方向にずれたときの信号光の強度をシミュレーションしたものである。なお、図１２において、ディスクのトラック溝の方向は、Ｚ軸方向とし、角度調整素子１７の位置ずれは、Ｙ軸正方向に３０μｍとした。
【００５５】
なお、“１／４トラックずれ”は、ビームスポットがトラックセンターからトラックピッチの１／４だけディスク外周方向にずれていることを示しており、“−１／４トラックずれ”は、ビームスポットがトラックセンターからトラックピッチの１／４だけディスク内周方向にずれていることを示している。また、“トラックずれ無し”は、トラックセンターに対するビームスポットのずれ（デトラック）が生じていないことを示している。
【００５６】
図１３の上段を参照すると、ビームスポットがトラックセンターに位置づけられている状態では、４つの信号光のうち左右２つの信号光の強度が均等となっており、ビームスポットがトラックセンターからディスク外周方向および内周方向にずれると、ずれ方向に応じて、左右２つの信号光の強度に差が生じている。よって、角度調整素子１７の位置ずれがない場合には、左右２つの信号光を受光するセンサからの出力信号をもとに、左右２つの信号光の強度差を求めることにより、適正にプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を求めることができる。
【００５７】
これに対し、同図の下段左端のシミュレーション結果を参照すると、ビームスポットがトラックセンターに位置づけられているにも関わらず、左右２つの信号光に強度差が生じている。すなわち、ここでは、右側の信号光の強度が左側の信号光の強度よりも大きくなっている。また、同図の下段中央のシミュレーション結果では、上段中央のシミュレーション結果よりも、右側の信号光と左側の信号光の強度差が小さくなっており、逆に、同図の下段右端のシミュレーション結果では、上段右端のシミュレーション結果よりも、右側の信号光と左側の信号光の強度差が大きくなっている。このように、角度調整素子１７の位置ずれが生じた場合には、信号光の左右のバランスが不適正となり、このため、左右２つの信号光を受光するセンサからの出力信号をもとに左右２つの信号光の強度差を求めても、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を適正に求めることができない。すなわち、この場合、プッシュプル信号には、角度調整素子１７の位置ずれに基づくＤＣ成分が重畳されることとなる。
【００５８】
次に、４つの信号光のうち上下２つの信号光について検討すると、同図上段の３つのシミュレーション結果では、デトラックの有無に拘わりなく、上下２つの信号光の左右の強度バランスは均等である。他方、同図下段の３つのシミュレーション結果では、デトラックの有無に拘わりなく、上下２つの信号光に同様のひずみが生じており、このひずみによって、上下２つの信号光の左右方向の強度バランスが不均等となっている。すなわち、ここでは、何れの場合も、上下２つの信号光の強度が右側に偏っている。
【００５９】
かかるシミュレーション結果から、角度調整素子１７の位置ずれが生じると、左右２つの信号光の強度が左右何れかの方向に偏ることが分かり、また、上下２つの信号光の左右方向の強度が左右何れかの方向に偏ることが分かる。したがって、角度調整素子の位置がずれている場合に、左右２つの信号光の強度比が求められ、上下２つの信号光の左右方向の強度比が求められれば、かかる２つの強度比により、角度調整素子の位置がずれていない場合と同様、適正なプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）が得られる可能性がある。
【００６０】
そこで、本件出願の発明者は、以下に示すように、角度調整素子１７がディスクからの反射光のトラック像の方向に対して垂直な方向に位置ずれを生じている場合、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるＤＣ成分が抑制可能となり得る演算式を設定した。
【００６１】
図１１（ｃ）を参照して、各センサから出力される検出信号を、それぞれ、同図のＡ〜Ｈとする。記録層にトラックのない鏡面ディスクにレーザ光が照射されたときの検出信号Ａ〜ＨをＡ０〜Ｈ０とし、Ｄ０＋Ｅ０、Ａ０＋Ｈ０、Ｂ０＋Ｇ０、Ｃ０＋Ｆ０を、それぞれ、ＳＰ１〜ＳＰ４すると、上下２つの信号光の左右方向の強度差を示す補正倍率αと、左右の信号光の強度差を示す補正倍率βは、以下の式によって算出される。
【００６２】
α＝ＳＰ４／ＳＰ３＝（Ｃ０＋Ｆ０）／（Ｂ０＋Ｇ０）    …（３）
β＝ＳＰ２／ＳＰ１＝（Ａ０＋Ｈ０）／（Ｄ０＋Ｅ０）    …（４）
【００６３】
次に、記録層にトラックがある通常のディスクにトラッキングサーボをおこなったときの検出信号Ａ〜ＨをＡ１〜Ｈ１とし、Ｄ１＋Ｅ１、Ａ１＋Ｈ１、Ｂ１＋Ｇ１、Ｃ１＋Ｆ１を、それぞれ、ＰＰ１Ｒ、ＰＰ１Ｌ、ＰＰ２Ｒ、ＰＰ２Ｌとする。このとき、左右２つの信号光の強度差に関する信号ＰＰ１と、上下２つの信号光の左右方向の強度差に関する信号ＰＰ２は、上記式（３）、（４）で求めた補正倍率α、βを用いて強度バランスの補正が行われると、以下の式によって算出される。
【００６４】
ＰＰ１＝β・ＰＰ１Ｒ−ＰＰ１Ｌ＝β（Ｄ１＋Ｅ１）−（Ａ１＋Ｈ１）    …（５）
ＰＰ２＝α・ＰＰ２Ｒ−ＰＰ２Ｌ＝α（Ｂ１＋Ｇ１）−（Ｃ１＋Ｆ１）    …（６）
【００６５】
この場合、トラッキングエラー信号ＴＥは、次式によって求められる。
【００６６】
ＴＥ＝ＰＰ１−ＰＰ２    …（７）
【００６７】
なお、上記式（２）に示した従前のプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）は、上記式（５）、（６）においてαおよびβの値を１として（α、βによる補正を行わない）、上記式（７）により求めたトラックングエラー信号ＴＥに対応する。
【００６８】
次に、上記式（５）、（６）に示したＰＰ１、ＰＰ２を、シミュレーションにより求め、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるＤＣ成分を抑制できるかを検討した。なお、シミュレーションの条件は、上記と同様である。
【００６９】
図１４は、シミュレーション結果を示す図である。
【００７０】
同図は、デトラック量を変化させたときの上記信号ＰＰ１、ＰＰ２の変化を求めたシミュレーション結果である。横軸は、トラックピッチを１として表した場合のデトラック量を示している。なお、同図の“補正前”とは、従前の演算方法、すなわち、α、βで補正を行わない場合（上記式（５）、（６）において、α＝１、β＝１とした場合と等価）を示し、“補正後”とは、上記式（３）、（４）により求められたα、βを用いて信号ＰＰ１、ＰＰ２が補正された場合を示している。
【００７１】
図示の如く、補正前のＰＰ１、ＰＰ２にはＤＣ成分が重畳しており、ＰＰ１、ＰＰ２のグラフは上方向にシフトしている。これは、図１３の下段で示したシミュレーション結果と一致する。すなわち、角度調整素子の位置ずれが生じていることにより、左右２つの信号光の強度が右方向に偏っており、上下２つの信号光の左右方向の強度が右方向に偏っている。
【００７２】
他方、図示の如く、補正後のＰＰ１、ＰＰ２にはＤＣ成分が重畳されておらず、デトラック量が０となるとき、ＰＰ１、ＰＰ２の検出信号も略０となることが分かる。これにより、上記式（７）により生成されるトラッキングエラー信号ＴＥについても、ＤＣ成分が重畳されず、デトラック量が０となるとき、信号値も略０となることが分かる。
【００７３】
以上のシミュレーション結果から分かるとおり、上記式（３）〜（７）の演算により、角度調整素子の位置ずれに拘わらず、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。したがって、上記図１〜図１０を参照して説明した基本原理に、さらに、上記式（３）〜（７）の演算を適用することにより、迷光の影響が除去された高品質の信号を生成できるとともに、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。
【００７４】
＜実施例＞
以下、上記原理に基づく実施例について説明する。
【００７５】
図１５に、本実施例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す。なお、同図には、便宜上、関連する回路構成が併せて図示されている。また、同図中のディスクには、複数の記録層が積層して配置されている。
【００７６】
図示の如く、光ピックアップ装置の光学系は、半導体レーザ１０１と、偏光ビームスプリッタ１０２と、コリメートレンズ１０３と、レンズアクチュエータ１０４と、立ち上げミラー１０５と、１／４波長板１０６と、アパーチャ１０７と、対物レンズ１０８と、ホルダ１０９と、対物レンズアクチュエータ１１０と、検出レンズ１１１と、角度調整素子１１２と、光検出器１１３を備えている。
【００７７】
半導体レーザ１０１は、所定波長のレーザ光を出射する。半導体レーザ１０１から出射されるレーザ光の広がり角は、上記シミュレーションの場合と同様、水平広がり角と垂直広がり角が異なっている。
【００７８】
偏光ビームスプリッタ１０２は、半導体レーザ１０１から入射されるレーザ光（Ｓ偏光）を略全反射するとともに、コリメートレンズ１０３側から入射されるレーザ光（Ｐ偏光）を略全透過する。コリメートレンズ１０３は、偏光ビームスプリッタ１０２側から入射されるレーザ光を平行光に変換する。
【００７９】
レンズアクチュエータ１０４は、サーボ回路２０３から入力されるサーボ信号に応じてコリメートレンズ１０３を光軸方向に変位させる。これにより、レーザ光に生じる収差が補正される。立ち上げミラー１０５は、コリメートレンズ１０３側から入射されたレーザ光を対物レンズ１０８に向かう方向に反射する。
【００８０】
１／４波長板１０６は、ディスクへと向かうレーザ光を円偏光に変換するとともに、ディスクからの反射光をディスクへ向かう際の偏光方向に直交する直線偏光に変換する。これにより、ディスクによって反射されたレーザ光は、偏光ビームスプリッタ１０２を透過する。
【００８１】
アパーチャ１０７は、図１２におけるアパーチャ１４と同様、対物レンズ１０８に対するレーザ光の有効径が適正となるように、レーザ光のビーム形状を円形形状に調整する。対物レンズ１０８は、レーザ光をディスク内のターゲット記録層に適正に収束できるよう設計されている。ホルダ１０９は、１／４波長板１０６と対物レンズ１０８を一体的に保持する。対物レンズアクチュエータ１１０は、従来周知の電磁駆動回路によって構成され、当該回路のうち、フォーカスコイル等のコイル部がホルダ１０９に装着されている。
【００８２】
検出レンズ１１１は、ディスクからの反射光に非点収差を導入する。すなわち、検出レンズ１１１は、図１の非点収差素子に相当する。検出レンズ１１１は、平面方向と曲面方向が、ディスクからのトラック像に対してそれぞれ４５°の傾きとなるよう配置される。
【００８３】
角度調整素子１１２は、検出レンズ１１１側から入射されたレーザ光の進行方向を、図９を参照して述べた如く変化させる。すなわち、角度調整素子１１２は、入射されたレーザ光のうち、図９の光束領域Ａ〜Ｄを通過する光束の進行方向を、それぞれ、方向Ｄａ〜Ｄｄに、同じ角度量αだけ変化させる。なお、角度量αは、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２の分布状態が、図９（ｂ）の分布状態となるように設定されている。
【００８４】
光検出器１１３は、図１０（ｄ）に示すセンサパターンを有する。光検出器１１３は、このセンサパターンが図１の面Ｓ０の位置に位置づけられるように配置される。光検出器１１３には、図１０（ｄ）に示す８個のセンサＰ１１〜Ｐ１８が配されており、これらが、各々、図１０（ｄ）の光束領域ａ〜ｈを通る光束を受光する。
【００８５】
信号演算回路２０１は、光検出器１１３の８個のセンサから出力された検出信号を、図１０（ｄ）を参照して述べた如く演算処理し、フォーカスエラー信号を生成する。また、信号演算回路２０１は、これら８個のセンサから出力された検出信号を加算して再生ＲＦ信号を生成する。さらに、信号演算回路２０１は、コントローラ２０４により設定された補正倍率α、βに基づいて、光検出器１１３の８個のセンサから出力された検出信号を、上記式（５）〜（７）に従って演算処理し、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成する。生成されたフォーカスエラー信号とプッシュプル信号はサーボ回路２０３に送られ、再生ＲＦ信号は再生回路２０２とサーボ回路２０３に送られる。また、信号演算回路２０１は、後述の如く、上記式（３）、（４）に従って補正倍率α、βを生成し、コントローラ２０４に出力する。
【００８６】
再生回路２０２は、信号演算回路２０１から入力された再生ＲＦ信号を復調して再生データを生成する。サーボ回路２０３は、信号演算回路２０１から入力されたフォーカスエラー信号とプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）から、フォーカスサーボ信号とトラッキングサーボ信号を生成し、これらを対物レンズアクチュエータ１１０に出力する。また、サーボ回路２０３は、信号演算回路２０１から入力された再生ＲＦ信号の品質が最良になるよう、レンズアクチュータ１０４にサーボ信号を出力する。
【００８７】
コントローラ２０４は、内蔵メモリに格納されたプログラムに従って各部を制御する。また、コントローラ２０４は、内部に制御パラメータ格納用のメモリ２０４ａを有する。メモリ２０４ａは、信号演算回路２０１で生成された補正倍率α、βを格納する。メモリ２０４ａに格納された補正倍率α、βは、信号演算回路２０１に設定される。信号演算回路２０１は、設定された補正倍率を用いて、上記式（５）、（６）に従ってプッシュプル信号を生成する。
【００８８】
図１６は、角度調整素子１１２の構成例を示す図である。同図（ａ）は、回折パターンを有するホログラム素子によって角度調整素子１１２を構成する場合の構成例を示し、同図（ｂ）および（ｃ）は、多面プリズムによって角度調整素子１１２を構成する場合の構成例を示している。
【００８９】
まず、同図（ａ）の構成例において、角度調整素子１１２は、正方形形状の透明板にて形成され、光入射面にホログラムパターンが形成されている。光入射面は、図示の如く、４つのホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに区分されている。これらホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに、それぞれ、図９（ａ）の光束領域Ａ〜Ｄを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が入射するよう、角度調整素子１１２が検出レンズ１１１の後段に配置される。
【００９０】
ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄは、入射されたレーザ光（信号光、迷光１、２）を、それぞれ、方向Ｖａ〜Ｖｄに回折させる。方向Ｖａ〜Ｖｄは、図９（ａ）の方向Ｄａ〜Ｄｄに一致している。よって、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄは、回折により、検出レンズ１１１から入射されたレーザ光（信号光、迷光１、２）の進行方向を、それぞれ、図９（ａ）のＤａ〜Ｄｄの方向に変化させる。各領域における回折角は同じとなっている。
【００９１】
ここで、回折角は、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が、図１の面Ｓ０において、図９（ｂ）のように分布するよう調整されている。よって、上記の如く、図１０（ｄ）のセンサパターンを有する光検出器１１３の受光面を面Ｓ０に配置することにより、上記８個のセンサによって、対応する信号光を適正に受光することができる。
【００９２】
なお、上記ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄの回折効率は互いに同じとなっている。ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに形成されるホログラムがステップ型である場合、回折効率は、ホログラムパターンのステップ数と１ステップあたりの高さによって調整され、回折角は、ホログラムパターンのピッチによって調整される。よって、この場合には、予め決められた回折次数の回折効率が所期の値となるように、ホログラムパターンのステップ数と１ステップあたりの高さが設定され、さらに、当該回折次数における回折角が図９（ｂ）の分布を与え得るように、ホログラムパターンのピッチが調整される。
【００９３】
なお、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに形成されるホログラムをブレーズ型とすることも可能である。この場合、ステップ型のホログラムよりも回折効率を高めることができる。
【００９４】
図１６（ｂ）の構成例において、角度調整素子１１２は、光出射面が平坦で、且つ、光入射面が４つの領域において異なる方向に個別に傾斜する透明体によって形成されている。同図（ｃ）は同図（ｂ）を光入射面側から見た図である。図示の如く、角度調整素子１１２の光入射面には、４つの傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈが形成されている。これら傾斜面に入射面側から光線がＸ軸に平行に入射すると、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈに入射する際の屈折作用によって、光の進行方向が、それぞれ、同図（ｃ）のＶｅ〜Ｖｈの方向に変化する。ここで、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈにおける屈折角は、同じである。
【００９５】
同図（ｂ）の角度調整素子１１２は、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈに、それぞれ、図９（ａ）の光束領域Ａ〜Ｄを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が入射するよう、検出レンズ１１１の後段に配置される。こうして角度調整素子１１２が配置されると、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈにおける屈折方向Ｖｅ〜Ｖｈが、図９（ａ）の方向Ｄａ〜Ｄｄに一致することとなる。よって、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈは、屈折により、検出レンズ１１１から入射されたレーザ光（信号光、迷光１、２）の進行方向を、一定角度だけ、それぞれ、図９（ａ）のＤａ〜Ｄｄの方向に変化させる。
【００９６】
ここで、各傾斜面における屈折角は、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が、図１の面Ｓ０において、図９（ｂ）のように分布するよう調整されている。よって、面Ｓ０に、図１０（ｄ）のセンサパターンを有する光検出器１１３を配置することにより、上記８個のセンサによって、対応する信号光を適正に受光することができる。このような屈折作用は、回折作用に比べて波長依存性が格段に小さいため、光源の波長変化や多波長光源に対する適応性が高い。
【００９７】
なお、図１６（ａ）の構成例では、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに、レーザ光の進行方向を一定角度だけ変化させる角度付与の回折作用のみを持たせるようにしたが、角度付与の他、検出レンズ１１１による非点収差作用をも同時に発揮するホログラムパターンを、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに設定しても良い。また、角度調整素子１１２の光入射面に上記角度付与のためのホログラムパターンを形成し、非点収差作用を持たせるためのホログラムパターンを角度調整素子１１２の光出射面に持たせるようにしても良い。同様に、図１６（ｂ）の角度調整素子１１２においても、光出射面に、非点収差を導入するためのレンズ面を形成するようにしても良く、あるいは、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈを曲面形状として、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈに非点収差のレンズ作用を持たせるようにしても良い。こうすると、検出レンズ１１１を省略することができ、部品点数とコストの削減を図ることができる。
【００９８】
図１７は、信号演算回路２０１のうち、上記式（３）、（４）により補正倍率α、βを生成する演算処理部の構成を示す図である。図示の如く、補正倍率α、βを生成する演算処理部は、加算回路２１〜２４と、除算回路２５、２６と、ＬＰＦ（ローパスフィルタ）２７〜３０と、スイッチ３１〜３８とを備えている。
【００９９】
加算回路２１は、センサＰ１１、Ｐ１２からの出力信号を加算して、左側の信号光の光量に応じた信号ＳＰ２を出力する。加算回路２２は、センサＰ１７、Ｐ１８からの出力信号を加算して、右側の信号光の光量に応じた信号ＳＰ１を出力する。加算回路２３は、センサＰ１３、Ｐ１４からの出力信号を加算して、上下２つの信号光の左側の信号光の光量に応じた信号ＳＰ４を出力する。加算回路２４は、センサＰ１５、Ｐ１６からの出力信号を加算して、上下２つの信号光の右側の信号光の光量に応じた信号ＳＰ３を出力する。
【０１００】
スイッチ３１〜３８は、図１５で示したコントローラ２０４の指示により、連動して上側もしくは下側に接続される。これにより、各スイッチ間に設置されたＬＰＦ２７〜３０が使用される場合の接続と、使用されない場合の接続とが切り替えられる。かかる切り替えは、補正倍率α、βが求められる際に用いられるディスクの種類によって決定される。すなわち、トラック溝のある通常のディスクが用いられる場合、スイッチ３１〜３８は上側に接続され、ＬＰＦ２７〜３０が使用される。トラック溝のないテストディスク（鏡面ディスク）が用いられる場合、スイッチ３１〜３８は下側に接続され、ＬＰＦ２７〜３０は使用されない。
【０１０１】
ＬＰＦ２７〜３０は、スイッチ３１〜３８が上側に接続されているとき、それぞれ、加算器２１、２２、２４、２３から出力される信号ＳＰ２、ＳＰ１、ＳＰ３、ＳＰ４の高周波成分をカットした直流成分を、後段の回路に出力する。すなわち、ＬＰＦ２７〜３０は、ディスクが回転する際にビームスポットがトラック溝を横切ることによって生じる高周波数の変動成分を、信号ＳＰ１〜ＳＰ４からカットし、信号ＳＰ１〜ＳＰ４の直流成分に応じた信号を後段の回路に出力する。こうすると、補正倍率α、βが求められる際に通常のディスクが用いられても、スイッチ３１〜３８が上側に接続されＬＰＦ２７〜３０が使用されることにより、トラック溝による影響が抑制された信号が除算回路２５、２６に供給され、テストディスク（鏡面ディスク）が用いられたときに近い状態で補正倍率α、βが求められ得る。
【０１０２】
なお、補正倍率α、βが求められる際にテストディスクが用いられる場合には、トラック溝による高周波数の変動成分は生じないため、スイッチ３１〜３８が下側に接続されて、信号ＳＰ１〜ＳＰ４がそのまま除算回路２５、２６に供給される。
【０１０３】
除算回路２５は、スイッチ３５、３６からの出力信号を除算し、これにより、左右２つの信号光の光量比に基づく補正倍率βが生成される。除算回路２６は、加算回路２３、２４からの出力信号を除算し、これにより、上下２つの信号光の左右方向の光量比に基づく補正倍率αが生成される。
【０１０４】
なお、補正倍率α、βが求められる際には、まず、フォーカスエラー信号が０となるよう、対物レンズ１０８の位置が光軸方向に調整され、しかる後に、図１７に示す演算処理部により、補正倍率α、βが求められる。
【０１０５】
本実施の形態では、光ディスク装置の製造時にテストディスクを用いて補正倍率α、βが求められ、コントローラ２０４内の制御パラメータ格納用のメモリ２０４ａに格納される。このとき、図１７におけるスイッチ３１〜３８が、それぞれ、下側に接続され、除算回路２５、２６により上記式（３）、（４）の演算が行われる。光ディスク装置の使用開始時には、こうしてメモリに格納された補正倍率α、βを用いて、上記式（５）〜（７）に基づきトラッキングエラー信号ＴＥが生成される。
【０１０６】
また、光ディスク装置の使用が開始された後、たとえば、所定の時間経過毎に、通常のディスクを用いて補正倍率α、βが求められ、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）の生成に用いられる補正倍率が更新される。このとき、図１７におけるスイッチ３１〜３８は、それぞれ、上側に接続され、ＬＰＦ２７〜３０により高周波成分をカットされた信号ＳＰ１〜ＳＰ４をもとに、除算回路２５、２６により、上記式（３）、（４）の演算が行われる。なお、このように通常のディスクを用いて補正倍率α、βが求められる際には、フォーカスサーボのみＯＮとされて所定の記録層にレーザ光が収束され、トラッキングサーボはＯＦＦとされる。
【０１０７】
図１８は、信号演算回路２０１のうち、上記式（５）〜（７）によりプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成する演算処理部の構成を示す図である。図示の如く、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成する演算処理部は、加算回路４１〜４４と、乗算回路４５、４６と、減算回路４７、４８、４９とを備えている。
【０１０８】
加算回路４１は、センサＰ１１、Ｐ１２からの出力信号を加算して、左側の信号光の光量に応じた信号ＰＰ１Ｌを出力する。加算回路４２は、センサＰ１７、Ｐ１８からの出力信号を加算して、右側の信号光の光量に応じた信号ＰＰ１Ｒを出力する。加算回路４３は、センサＰ１３、Ｐ１４からの出力信号を加算して、上下２つの信号光の左側の信号光の光量に応じた信号ＰＰ２Ｌを出力する。加算回路４４は、センサＰ１５、Ｐ１６からの出力信号を加算して、上下２つの信号光の右側の信号光の光量に応じた信号ＰＰ２Ｒを出力する。
【０１０９】
なお、加算回路４１〜４４は、図１７に示した加算回路２１〜２４と同じセンサからの出力信号を加算するため、図１７の加算回路２１〜２４と図１８の加算回路４１〜４４は、それぞれ、同じ加算回路により構成されていても良い。
【０１１０】
乗算回路４５は、加算回路４２から出力される信号ＰＰ１Ｒに補正倍率βを乗じた信号を減算回路４７に出力する。乗算回路４６は、加算回路４４から出力される信号ＰＰ２Ｒに補正倍率αを乗じた信号を減算回路４８に出力する。
【０１１１】
なお、乗算回路４５、４６における補正倍率α、βは、コントローラ２０４により調整される。すなわち、光ディスク装置の使用開始時には、上記のようにテストディスクを用いて取得され、メモリ２０４ａに格納された補正倍率α、βが、それぞれ、乗算回路４６、４５に設定される。また、使用開始から所定時間が経過する毎に、通常のディスクを用いて補正倍率α、βが取得され、取得された補正倍率α、βが、それぞれ、乗算回路４６、４５に設定される。
【０１１２】
減算回路４７は、加算回路４１と乗算回路４５からの出力信号の差分を取り、これにより、左右２つの信号光に基づく上記信号ＰＰ１を生成する。減算回路４８は、加算回路４３と乗算回路４６からの出力信号の差分を取り、これにより、上下２つの信号光に基づく上記信号ＰＰ２を生成する。減算回路４９は、減算回路４７、４８からの出力信号を減算し、減算後の信号をトラッキングエラー信号ＴＥとして出力する。
【０１１３】
なお、図１５に示す信号演算回路２０１は、光ピックアップ装置側にあっても、光ディスク装置側にあっても良い。また、信号演算回路２０１を構成する回路部の一部が光ピックアップ装置側にあってもよい。たとえば、図１７、１８に示す演算部の全てが、光ピックアップ装置側にあっても、光ディスク装置側にあっても良く、あるいは、補正倍率α、βまたは信号ＰＰ１、ＰＰ２を生成する演算処理部は光ピックアップ装置側にあり、それより後段側の回路は光ディスク装置側にある等、演算処理部が光ピックアップ装置と光ディスク装置に分かれて配置されていても良い。
【０１１４】
また、本実施の形態では、テストディスクを用いて、図１７の演算処理部により得られた補正倍率α、βが光ディスク装置側のコントローラ２０４内のメモリ２０４ａに格納されるとしたが、これら補正倍率α、βは、光ピックアップ装置内に配されたメモリや、光検出器１１３に一体化されたメモリ等に記憶されるようにしても良い。
【０１１５】
以上、本実施例によれば、ディスク内に配された記録層のうちターゲット記録層から反射された信号光と、当該ターゲット記録層の上および下の記録層から反射された迷光１、２とが、光検出器１１３の受光面（オンフォーカス時に信号光スポットが最小錯乱円になる面Ｓ０）上において、互いに重なり合わないようにすることができる。具体的には、受光面（面Ｓ０）上における信号光と迷光１、２の分布を、図９（ｂ）の状態にすることができる。したがって、図９（ｂ）の信号光領域に、図１０（ｄ）に示すセンサパターンを配置することにより、センサＰ１１〜Ｐ１８によって、対応する信号光のみを受光することができる。このため、迷光による検出信号の劣化を抑制することができる。
【０１１６】
加えて、本実施例によれば、図１７の回路構成により補正倍率α、βが生成され、図１８の回路構成によりプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）が生成される。これにより、上記シミュレーション結果をもとに説明した如く、角度調整素子１１２に位置ずれが生じている場合に、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。
【０１１７】
また、これらの効果を、ディスクによって反射されたレーザ光の光路中、すなわち、図１５の構成では検出レンズ１１１と光検出器１１３の間に、角度調整素子１１２を配置するのみで達成することができる。したがって、本実施例によれば、簡素な構成にて効果的に迷光による影響を除去することができ、かつ、角度調整素子１１２に位置ずれが生じている場合に、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。
【０１１８】
なお、上記原理による迷光除去効果は、図１９に示すように、迷光１の平面方向の焦線位置が面Ｓ０（信号光のスポットが最小錯乱円となる面）よりも非点収差素子に接近した位置にあり、且つ、迷光２の曲面方向の焦線位置が面Ｓ０よりも非点収差素子から離れた位置にあるときに奏され得るものである。すなわち、この関係が満たされていれば、信号光と迷光１、２の分布は上記図８に示す状態となり、面Ｓ０において、信号光と迷光１、２が重なり合わないようすることができる。換言すれば、この関係が満たされる限り、たとえ、信号光の曲面方向の焦線位置よりも迷光１の平面方向の焦線位置が面Ｓ０に接近し、あるいは、信号光の平面方向の焦線位置よりも迷光２の曲面方向の焦線位置が面Ｓ０に接近したとしても、上記原理に基づく本発明ないし実施例の効果は奏され得る。
【０１１９】
なお、図１７の演算処理部による補正倍率α、βの取得は、光学系の設置が完了した状態、すなわち、角度調整素子１１２と光検出器１１３の位置が調整（決定）された状態で行われる必要がある。かかる位置調整は、たとえば、以下の手法により行うことができる。
【０１２０】
図２０（ａ）は、角度調整素子１１２と光検出器１１３の位置調整を行うための演算処理部の一部構成を示す図である。図示の如く、位置調整を行うための演算処理部は、図１７で示した加算回路２１〜２４に加えて、加算回路５１〜５４を備えている。なお、加算回路２１〜２４、５１〜５４の後段の回路については、便宜上、図示が省略されている。
【０１２１】
加算回路５１は、センサＰ１４、Ｐ１６からの出力信号を加算して、上側の信号光の光量に応じた信号ＳＰ５を出力する。加算回路５２は、センサＰ１３、Ｐ１５からの出力信号を加算して、下側の信号光の光量に応じた信号ＳＰ６を出力する。加算回路５３は、センサＰ１２、Ｐ１８からの出力信号を加算して、左右２つの信号光の上側の信号光の光量に応じた信号ＳＰ７を出力する。加算回路５４は、センサＰ１１、Ｐ１７からの出力信号を加算して、左右２つの信号光の下側の信号光の光量に応じた信号ＳＰ８を出力する。
【０１２２】
まず、角度調整素子１１２の位置調整について説明する。
【０１２３】
図２０（ｂ）は、角度調整素子１１２の位置がＹ軸負方向にずれていることを示す図である。角度調整素子１１２の上、右、左、下の４つの領域を通る信号光の光量は、それぞれ、同図（ａ）の加算器２１、５２、５１、２２から出力される信号ＳＰ２、ＳＰ６、ＳＰ５、ＳＰ１に相当する。
【０１２４】
図示の如く、角度調整素子１１２の位置が下方向にずれると、信号ＳＰ２が増加し、信号ＳＰ１が減少する。このことから、角度調整素子１１２の位置が上下方向にずれるときに信号ＳＰ１と信号ＳＰ２が比較され、角度調整素子１１２の位置が左右方向にずれるときに信号ＳＰ５と信号ＳＰ６が比較されれば、角度調整素子１１２の位置ずれ方向が分かる。
【０１２５】
よって、角度調整素子１１２のＹ軸負方向の位置ずれを表すＭ１と、角度調整素子１１２のＺ軸正方向の位置ずれを表すＮ１は、以下の式により算出される。
【０１２６】
Ｍ１＝（ＳＰ２−ＳＰ１）／（ＳＰ２＋ＳＰ１）    …（８）
Ｎ１＝（ＳＰ６−ＳＰ５）／（ＳＰ６＋ＳＰ５）    …（９）
【０１２７】
こうして得られたＭ１とＮ１が、それぞれ０となるよう、角度調整素子１１２の位置調整が行われる。
【０１２８】
次に、光検出器１１３の位置調整について説明する。
【０１２９】
図２０（ｃ）は、光検出器１１３の位置がＺ軸正方向にずれていることを示す図である。図示の如く、光検出器１１３が左方向にずれると、センサＰ１１、Ｐ１２、Ｐ１５、Ｐ１６に入射する信号光の光量の和が増加し、センサＰ１３、Ｐ１４、Ｐ１７、Ｐ１８に入射する信号光の光量の和が減少する。このとき、信号ＳＰ２と信号ＳＰ３の和が増加し、信号ＳＰ１と信号ＳＰ４の和が減少している。このことから、光検出器１１３の位置が左右方向にずれるとき、信号ＳＰ２と信号ＳＰ３の加算値と、信号ＳＰ１と信号ＳＰ４の加算値が比較されれば、光検出器１１３の左右の位置ずれ方向が分かる。同様に、光検出器１１３の位置が上下方向にずれるとき、信号ＳＰ６と信号ＳＰ７の加算値と、信号ＳＰ５と信号ＳＰ８の加算値が比較されれば、光検出器１１３の上下の位置ずれ方向が分かる。
【０１３０】
よって、光検出器１１３のＺ軸正方向の位置ずれを表すＭ２と、光検出器１１３のＹ軸負方向の位置ずれを表すＮ２は、以下の式により算出される。
【０１３１】
Ｍ２＝｛（ＳＰ２＋ＳＰ３）−（ＳＰ１＋ＳＰ４）｝
／｛（ＳＰ２＋ＳＰ３）＋（ＳＰ１＋ＳＰ４）｝    …（１０）
Ｎ２＝｛（ＳＰ６＋ＳＰ７）−（ＳＰ５＋ＳＰ８）｝
／｛（ＳＰ６＋ＳＰ７）＋（ＳＰ５＋ＳＰ８）｝    …（１１）
【０１３２】
こうして得られたＭ２とＮ２が、それぞれ０となるよう、光検出器１１３の位置調整が行われる。
【０１３３】
なお、角度調整素子１１２と光検出器１１３の位置調整は、上記式（８）〜（１１）の値が、それぞれ０となるよう並行して行われる。
【０１３４】
以上、本発明の実施例および変更例について説明したが、本発明は、上記実施例および変更例に制限されるものではなく、また、本発明の実施形態も上記以外に種々の変更が可能である。
【０１３５】
たとえば、上記実施の形態では、補正倍率α、βを、トラックの無いテストディスクを用いて、ディスク装置の製造時に取得するようにしたが、光ピックアップ装置の製造時に、当該テストディスクを用いて評価装置により補正倍率α、βを取得し、取得した補正倍率α、βを、光ピックアップ装置内のメモリに保持するようにしても良い。
【０１３６】
図２１は、この場合の光ディスク装置の構成を示す図である。本構成例では、光ピックアップ装置１００内に配されたメモリ１２１に補正倍率α、βが保持されている。上記のように、これら補正倍率α、βは、光ピックアップ装置の製造時に、トラックの無いテストディスクを用いて評価装置により、上記式（３）、（４）の演算を行うことにより取得される。
【０１３７】
なお、ここでは、トラックの無いテストディスクを用いて補正倍率α、βが取得されたが、トラックを有するテストディスクや通常のディスクを用いて補正倍率α、βを取得し、取得した補正倍率α、βを、光ピックアップ装置１００の製造時に、メモリ１２１に保持させるようにしても良い。この場合、評価装置は、図１７に示すような回路構成を有する。トラックの無いテストディスクが用いられる場合、スイッチ３１〜３８は下側に接続され、補正倍率α、βが取得される。トラックを有するテストディスクまたは通常のディスクが用いられる場合、スイッチ３１〜３８は上側に接続され、補正倍率α、βが取得される。こうして取得された補正倍率α、βが、光ピックアップ装置１００内のメモリ１２１に保持される。
【０１３８】
このような補正倍率α、βの演算および取得は、光学系の位置調整が完了した後に行われる。すなわち、光学系の設置時等に角度調整素子１１２の位置が調整された後、角度調整素子１１２の僅かな位置ずれにより生じるプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のＤＣ成分が、上述した原理により抑制されるよう、補正倍率α、βが求められる。
【０１３９】
コントローラ２０４は、光ピックアップ装置１００が組み込まれ、その後、通電されたときに、光ピックアップ装置１００内のメモリ１２１から補正倍率α、βを読み出し、読み出した補正倍率α、βを、図１８に示す乗算回路４５、４６に設定する。こうして、光ディスク装置の使用開始時には、メモリ１２１に格納された補正倍率α、βをもとに、トラッキングエラー信号ＴＥが生成される。
【０１４０】
なお、光ディスク装置の使用開始後には、上記実施の形態と同様、たとえば所定時間が経過する毎に、通常のディスクを用いて、補正倍率α、βが取得され、乗算回路４５、４６に設定される。こうすることにより、光学系の設置後に、経時劣化等により角度調整素子１１２に位置ずれが生じる場合にも、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）の精度が高く維持される。
【０１４１】
なお、かかる構成によれば、光ピックアップ装置１００の製造時に、テストディスクを用いた補正倍率α、βの取得が行われるため、光ディスク装置には、テストディスクを用いて補正倍率α、βを取得するための回路構成を用いなくても良い。すなわち、本構成では、図１７におけるスイッチ３１〜３８を省略し、ＬＰＦ２７〜３０からの信号のみを除算回路２５、２６に供給するようにすることができる。
【０１４２】
なお、光ディスク装置の使用開始後において、通常のディスクを用いた補正倍率α、βの更新動作を受け付け可能とする場合には、図１７の回路構成のままとされる。この場合、テストディスクを用いて補正倍率α、βの更新を行う場合は、スイッチ３１〜３８が下側に接続され、通常のディスクを用いて補正倍率α、βの更新を行う場合は、スイッチ３１〜３８が上側に接続される。
【０１４３】
なお、図２１の構成においても、上記実施の形態と同様、信号演算回路２０１の一部が光ピックアップ装置１００側にあっても良い。
【０１４４】
また、上記実施の形態では、図１８に示す信号ＰＰ１と信号ＰＰ２の両方を用いてトラッキングエラー信号ＴＥを生成したが、たとえば、図２２（ａ）に示すように、信号ＰＰ２を用いずに、信号ＰＰ１をそのままトラッキングエラー信号ＴＥとして用いても良い。この場合、補正倍率αは不要となるため、図２２（ｂ）に示すように、補正倍率αを生成するための構成が省略される。また、補正倍率αを保持する構成も省略される。図１４に示すように、トラックずれに対する信号ＰＰ２の変動は小さいため、このように信号ＰＰ１をそのままトラッキングエラー信号に用いても、上記実施の形態に比べそれほど遜色のないトラッキングエラー信号が得られる。また、こうすると、演算処理部の構成を簡素化することができる。
【０１４５】
また、図１８の構成では、減算回路４７、４８に入力される信号のうち、加算回路４２、４４からの信号を補正するようにしたが、これに替えて、加算回路４１、４３から入力される信号の方を補正するようにしても良い。
【０１４６】
さらに、上記実施の形態では、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号の両方を生成できるよう、光検出器１１３に８つのセンサＰ１１〜Ｐ１８が配されたが、光検出器１１３からの出力をもとにフォーカスエラー信号を生成する必要がない場合には、センサＰ１１、Ｐ１２を分離せずに１つのセンサで構成し、また、センサＰ１８、Ｐ１７を分離せずに一つのセンサで構成するようにしても良い。この場合、たとえば、図１５の角度調整素子１１２と光検出器１１３の間にハーフミラーが配置され、ハーフミラーによって反射された光束を受光する光検出器が別に配置される。この場合も、別に配置された光検出器には、図９（ｂ）に示すような信号光領域が生じる。この光検出器には、フォーカスエラー信号の演算に必要な形態でセンサパターンが配されれば良い。
【０１４７】
この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【０１４８】
１００  光ピックアップ装置
１０１  半導体レーザ（レーザ光源）
１０８  対物レンズ
１１１  検出レンズ（非点収差素子）
１１２  角度調整素子（分光素子）
１１３  光検出器
１２１  メモリ
２０１  信号演算回路（演算回路）
２０４ａ  メモリ
２５  除算回路（補正値演算部）
２７、２８  ＬＰＦ（ローパスフィルタ）
４５  乗算回路（補正部、第１の補正部）
４６  乗算回路（補正部、第２の補正部）
４７  減算回路（演算部、第１の演算部）
４８  減算回路（演算部、第２の演算部）
４９  減算回路（演算部）
【図１】
2011034605.tif 000003
【図２】
2011034605.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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