(57)【要約】【課題】光ディスク装置のサーボ制御において、サーボ追従性能を向上させることである。【解決手段】  光スポットが追従しているトラックが既記録であるか未記録であるかと、光ディスクに対して情報が記録されているか再生されているかとに応じて、前記サーボエラー信号に対するゲインを設定するゲイン設定部と、  前記ゲインが設定されたサーボエラー信号に基づきサーボアクチュエータを駆動する駆動信号を生成する駆動信号生成部と、を備え、  前記ゲイン設定部は、前記光スポットが追従しているトラックが既記録であり、かつ、前記光ディスクから情報が再生されている場合には、レーザ光の発光パワーを調整するために前記光ディスク上に設けられた所定の領域へシークする際に設定するゲインを変更する。【選択図】図１
2011170933.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対してレーザ光を照射して情報の記録もしくは再生を行う光ディスク装置であって、  
光スポットを光ディスク上に集光させる対物レンズと、
前記光ディスクからの反射光量に応じた電気信号を出力する光検出部と、
前記光検出手段の出力信号からサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成部と、  
前記光スポットが追従しているトラックが既記録であるか未記録であるかと、前記光ディスクに対して情報が記録されているか再生されているかとに応じて、前記サーボエラー信号に対するゲインを設定するゲイン設定部と、
前記ゲインが設定されたサーボエラー信号に基づきサーボアクチュエータを駆動する駆動信号を生成する駆動信号生成部と、を備え、
前記ゲイン設定部は、前記光スポットが追従しているトラックが既記録であり、かつ、前記光ディスクから情報が再生されている場合には、レーザ光の発光パワーを調整するために前記光ディスク上に設けられた所定の領域へシークする際に設定するゲインを変更することを特徴とする光ディスク装置。  
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記ゲイン設定部は、前記所定の領域へのシークが失敗した後のリトライ動作において、前記光スポットが追従しているトラックが既記録であり、かつ、前記光ディスクから情報が再生されている場合には、設定するゲインを変更することを特徴とする光ディスク装置。  
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記ゲイン設定部は、前記所定の領域へのシークが失敗した後のリトライ動作において、前記光スポットが追従しているトラックが既記録であり、かつ、前記光ディスクから情報が再生されている場合には、設定するゲインを減少させることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記ゲイン設定部は、前記光ディスクの任意のアドレスへのシークが失敗した後のリトライ動作においてゲインを変更し、  
前記光スポットが追従しているトラックが既記録であり、かつ、前記光ディスクから情報が再生されている場合には、シーク先が前記所定の領域である場合に限り前記ゲインの変更量を増加させることを特徴とする光ディスク装置。  
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記光検出手段の出力信号から、前記光ディスクからの反射光の光量の総和信号を生成する総和信号生成部を備え、  
前記総和信号の電圧レベルに応じてゲイン調整を実施するゲイン調整部と、を有することを特徴とする光ディスク装置。  
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記ゲイン設定部は、前記光ディスクに情報が記録されている場合には、レーザ光の発光パワーを調整するために前記光ディスク上に設けられた所定の領域へシークする際にゲインを変更しないことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記ゲイン設定部は、前記トラックが未記録であり、かつ、前記光ディスクから情報が再生されている場合には、レーザ光の発光パワーを調整するために前記光ディスク上に設けられた所定の領域へシークする際にゲインを変更しないことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
請求項１ないし７のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
前記所定の領域とは、ＯＰＣ領域、またはＰＣＡ領域であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
光ディスクに対してレーザ光を照射して情報の記録もしくは再生を行う光ディスク装置であって、  
光スポットを光ディスク上に集光させる対物レンズと、
前記光ディスクからの反射光量に応じた電気信号を出力する光検出部と、
前記光検出手段の出力信号からサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成部と、  
前記光スポットが追従しているトラックが既記録であるか未記録であるかと、前記光ディスクに対して情報が記録されているか再生されているかとに応じて、前記サーボエラー信号に対するゲインを設定するゲイン設定部と、
前記ゲインが設定されたサーボエラー信号に基づきサーボアクチュエータを駆動する駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報の再生時と比較して、光ディスク装置は、情報の記録時にはレーザ発光パワーを大きくすることで光ディスクに情報を記録する。この結果、情報の記録時にはディテクタの出力信号が大きくなる。特許文献１には、例えば、その段落番号００１２に、「ＴＥ信号及びＦＥ信号を全光量和で割ることにより、レーザダイオード１からの出射光のパワーが変化してもサーボゲインを一定とする」との記載がある。以下、これをＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｇａｉｎ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ぶ。
【０００３】
特許文献２には、例えば、その段落番号０００５に、「光ディスク媒体の記録領域と未記録領域で媒体の反射率が変化することによりＤＰＰ信号の振幅が記録領域と未記録領域で変化してしまうという問題点がある。」との記載、「ＡＧＣを適用することで光ディスク媒体の記録領域と未記録領域で媒体の反射率が変化してもＤＰＰ信号の振幅の変動を抑制することができる」との記載がある。
【０００４】
更に非特許文献１によれば、光ディスクの一種であるＤＶＤ−Ｒの規格では、未記録部でのＡＧＣによる正規化後のプッシュプル振幅ＰＰｂ、既記録部でのＡＧＣによる正規化後のプッシュプル振幅ＰＰａを用いて、
【数１】
2011170933.tif 000003
を定義し、上記ＰＰｒの値に関して
【数２】
2011170933.tif 000004
を満たす必要があると規定されている。
【０００５】
また、特許文献３は、例えば、その請求項９に、「前記光ピックアップを記憶済領域で動作させるときは、前記第１調整値記憶手段の調整値をゲイン調整手段に設定し、前記光ピックアップを未記録領域で動作させるときは、前記第２調整値記憶手段の調整値をゲイン調整手段に設定する」が記載されている。
【０００６】
また、記録発光時の最適記録パワーを決定する手法として、最適パワー制御（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ；ＯＰＣ）と呼ばれる技術が知られている。特許文献４によれば、その請求項１に、「特定領域に最適記録パワーを設定するためのテスト記録領域を備えたディスクにおいて、前記テスト記録を行うために特定領域中の一部に基準記録パワーを変更させながらテスト記録を行う過程と、前記特定領域中の残りの領域は同一レベルの基準記録パワーによりテスト記録を行う過程と、前記各テスト記録の結果から最適記録パワーを決定する過程と、を順次行う」最適記録パワー決定方法が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平６−５２５６４
【特許文献２】特開２００７−３２８８３３
【特許文献３】特開２００１−２６６３６７
【特許文献４】特開２００１−２１６６４３
【非特許文献】
【０００８】
【非特許文献１】ECMA-359 80 mm (1,46 Gbytes per side) and 120 mm(4,70 Gbytes per side) DVD Recordable Disk (DVD-R) 1st Edition / December 2004
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明が解決しようとする課題は、光ディスク装置のトラッキングサーボ、フォーカスサーボともに同様の課題を有しているが、ここではトラッキングサーボを例に説明する。また、光ディスクとしてはＤＶＤ−Ｒを例に説明する。
【００１０】
前述したように、ＤＶＤ−Ｒの既記録部のプッシュプル振幅は、規格（非特許文献１）によって数値ＰＰｒの規定がある。本明細書では、上記ＰＰｒを既記録部プッシュプル振幅比と呼ぶことにする。
【００１１】
プッシュプル振幅が変化するということは、トラッキングサーボのゲインが変化することを意味する。（数２）の規定に基づけば、ＡＧＣを用いてトラッキングサーボを実施する場合、未記録部でのトラッキングサーボのゲインに対して、既記録部でのトラッキングサーボのゲインは−６ｄＢ〜０ｄＢの範囲で低下することを示している。ここで０．５倍は約−６．０２ｄＢであるが、本明細書では簡単のため整数値に丸めた値、−６ｄＢとして以下、説明する。
【００１２】
従って、ＤＶＤ−Ｒの情報再生時のトラッキングサーボとしては、規格に規定のあるＡＧＣで正規化したプッシュプル信号を用いてトラッキングサーボを実施し、トラッキングサーボのゲインが−６ｄＢ〜０ｄＢの範囲で変動することを想定してサーボ特性を設計すればよい。このように規格の規定に基づきトラッキングサーボを設計することで、未記録部であっても既記録部であっても、安定したトラック追従性能を達成することができる。
【００１３】
もしくは、特許文献３のように、現在追従しているトラックが未記録状態か既記録状態であるかに同期してゲインを切り替えることで、未記録部と既記録部のゲイン差をなくし、より追従性能を上げることも可能である。
【００１４】
しかし、ＤＶＤ−Ｒの規格によって規定されているのは最適記録パワーで記録された既記録部のプッシュプル振幅である。従って、特許文献４に記載されているＯＰＣを考えたとき、記録パワーを変化させて記録した既記録部が存在するＯＰＣ領域に関してはプッシュプル振幅の規定がなされていない。そのため、最適パワーで記録した既記録部と比較してＯＰＣ領域においてプッシュプル振幅が変化する記録膜特性を有する光ディスクが存在すること、及び上記光ディスクに関して従来技術での解決には課題があることを本発明者は見出した。
【００１５】
以下、まずはＤＶＤ−Ｒのように規格によって既記録部プッシュプル振幅比が規定されている媒体を例に、詳細に説明する。
【００１６】
図１４は、記録パワーと、該記録パワーで記録された既記録部での既記録部プッシュプル振幅比の関係を模式的に示したものである。横軸は記録パワーであり、変数Ｐｗで表す。図中のＰ０は最適記録パワーを示している。またＰｌｏｗはＯＰＣ時に実際に発光するパワーの最低パワー、ＰｈｉｇｈはＯＰＣ時に実際に発光するパワーの最高パワーを示している。
【００１７】
また、図１４の縦軸は既記録部プッシュプル振幅比ＰＰｒをデシベル（ｄＢ）表記で示したものであり、Ｐｃは規格上のＰＰｒ範囲の中心値を示し、Ｓは規格上のＰＰｒ範囲を示している。例えばＤＶＤ−Ｒの場合、規格上のＰＰｒの範囲は（数２）から０ｄＢ〜−６ｄＢであるので、Ｐｃ＝−３ｄＢとなる。また、Ｒで示した範囲は、トラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲を示している。ここでは簡単のため、トラッキングサーボのゲインが増加した場合の許容限界のみを示している（ゲインが減少した場合の許容限界は図示していない）。
【００１８】
図１４（ａ）は光ディスクにおける、記録パワーと、該記録パワーで記録された既記録部での既記録部プッシュプル振幅比ＰＰｒの関係の一例である。記録パワーＰｗ＝Ｐ０での既記録部プッシュプル振幅比ＰＰｒ（図中の黒丸）は規格上のＰＰｒ範囲の中心値Ｐｃと一致し、ＯＰＣ領域でのトラッキングサーボのゲイン変動幅はトラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒの範囲内に収まっている。このような記録膜の特性であれば、従来の技術でも問題は起こらない。
【００１９】
しかしながら、記録膜の特性によっては、図１４（ｂ）Ｂで示すような記録パワーと、該記録パワーで記録された既記録部での既記録部プッシュプル振幅比ＰＰｒの関係を持つ光ディスクが存在する。
【００２０】
図１４（ｂ）Ｂにおいて、記録パワーＰｗ＝Ｐ０でのＰＰｒ（図中の黒丸）は規格上のＰＰｒ範囲に収まっているが、中心値Ｒｃとは一致していないため、記録パワーＰｗが最適記録パワーＰ０から離れると、ＰＰｒはトラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒを超える。図１４（ｂ）の場合は、高パワーで記録した領域において、トラッキングサーボのゲインが許容範囲Ｒを超えて高くなる。
【００２１】
従来技術の特許文献３のように最適記録パワーでの既記録部でのゲインを未記録部に合わせると、図１４（ｂ）Ｂ’となる。また、この図の場合は最適記録パワーＰ０でのＰＰｒは規格上のＰＰｒ範囲に収まっているが、中心値Ｒｃと一致していないため不利であった点に着目し、最適記録パワーＰ０でのＰＰｒを中心値Ｒｃにあわせると、図１４（ｂ）Ｂ’’となる。
【００２２】
図１４（ｂ）Ｂ’は更なる性能劣化を招き、他方で図１４（ｂ）Ｂ’’の場合には高パワーで記録した領域におけるトラッキングサーボのゲインは改善するものの、図１４（ｂ）のように直線の傾きが大きい場合には、いずれの場合もＰＰｒがトラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒを超えてしまう。
【００２３】
このように、最適記録パワーＰ０での既記録部でのゲイン増加量はトラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒに収まっている場合であっても、記録パワーが最適値でない状態で記録されたＯＰＣ領域におけるゲインは、許容範囲Ｒに収まらなくなる可能性があるという課題があった。
【００２４】
以上、ＤＶＤ−Ｒのプッシュプル振幅を例に、規格に既記録部プッシュプル振幅比についての規定がある場合を例に説明した。しかし既記録部でのプッシュプル振幅に関して、既記録部プッシュプル振幅比についての規定がない媒体も考えられる。また、ＤＶＤ−Ｒの規格であっても、既記録部でのフォーカスエラー振幅についての規定はなく、同様の課題がある。
【００２５】
このような場合には例えば、未記録部のサーボエラー信号振幅と既記録部のサーボエラー信号振幅とで、変化が小さくて済むのはＡＧＣによる正規化を実施する場合か、ＡＧＣによる正規化を実施しない場合か、を実際の光ディスクを用いて調査し、判断する。
【００２６】
このようにＡＧＣで正規化したサーボエラー信号（トラッキングエラー信号、もしくはフォーカスエラー信号）が規格で規定されていない媒体であっても、図１４（ｂ）のような特性の記録膜の媒体に対してＡＧＣを用いてサーボをかける場合には、同様にサーボのゲイン変動に対する許容範囲を超えてゲインが変動してしまうという課題があった。
【００２７】
本発明の目的は、光ディスク装置のサーボ性能を向上させることである。
【課題を解決するための手段】
【００２８】
上記の目的は、例えば、特許請求の範囲に記載の構成により達成される。その一例としては、レーザ光の発光パワーを調整するために光ディスク上に設けられた所定の領域へシークする際に、ゲイン切り替え手段が、光スポットが追従しているトラックが記録済であり、かつ光ディスクから情報が再生されている場合に、選択するゲイン値を変更することで達成できる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、光ディスク装置のサーボ性能を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】実施例１を示すブロック図である。
【図２】実施例１のＦＥＳ振幅補正回路を示す構成図である。
【図３】実施例１のトラッキング系ゲイン変更回路を示す構成図である。
【図４】実施例１のシーク動作実施時のフローチャートである。
【図５】実施例１を説明する特性図である。
【図６】実施例１のＯＰＣのフローチャートである。
【図７】実施例１を説明する波形図である。
【図８】実施例１のトラッキングサーボ特性である。
【図９】実施例２を示すブロック図である。
【図１０】実施例２のトラッキング系ゲイン変更回路を示す構成図である。
【図１１】実施例２のシーク動作実施時のフローチャートである。
【図１２（ａ）】実施例２のリトライ配列である。
【図１２（ｂ）】実施例２のリトライ配列である。
【図１３】実施例２を説明する特性図である。
【図１４】解決しようとする課題を説明する特性図である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下、本発明を実施するための形態について図を用いて説明する。
【００３２】
本発明はトラッキング制御、フォーカス制御共に適用可能であるが、ここではトラッキング制御を例に説明を行う。
【実施例１】
【００３３】
本発明における実施例１について、以下に説明する。
【００３４】
図１は本実施例による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【００３５】
光ディスク１０１は、光ディスク装置の各種の信号処理を行う信号処理回路１０３に搭載されたシステム制御回路１０３１からの指令信号を受けたスピンドル制御回路１０３８から出力される制御信号に基づいてスピンドルモータ駆動回路１１１によりスピンドルモータ１０４が駆動され、所定の回転数で回転される。
【００３６】
レーザ光源１０２２は、システム制御回路１０３１からピックアップ１０２に搭載されたレーザパワー制御回路１０２１への指示信号により所定のパワーでレーザ光を発光する。レーザ光源１０２２から発光されたレーザ光は、コリメートレンズ１０２３、ビームスプリッタ１０２４、立上ミラー１０２５、対物レンズ１０２７を通して光ディスク１０１の情報記録面に光スポットとして集光される。光ディスク１０１の情報記録面で反射した光はビームスプリッタ１０２４で分岐され、集光レンズ１０２８で光検出器１０２９に集光される。光検出器１０２９は、集光された光を電気信号に変換し、サーボエラー信号生成回路１０５、総和信号生成回路１０６、記録状態判別回路１０７に出力する。
【００３７】
サーボエラー信号生成回路１０５は、後述するフォーカス制御に使用するためのフォーカスエラー信号ＦＥＳ、及び、後述するトラッキング制御に使用するためのトラッキングエラー信号ＴＥＳを生成して出力する。本実施例においては、ＴＥＳ信号はプッシュプル法で生成されるものとする。
【００３８】
また総和信号生成回路１０６は、光検出器１０２９で集光した全光量に比例した電圧をＳＵＭ信号として出力する。また、再生信号処理回路１０７は、光ディスク１０１から読み出した情報（現在のアドレス情報、光ディスク１０１に記録されているメディアＩＤを含む）をシステム制御回路１０３１に出力する。なお、ＳＵＭ信号は、プルインエラー信号、総光量信号と言い換えても良い。
【００３９】
また記録状態判別回路１０８は、再生信号処理回路１０７から出力される信号を元に、ＢＬＡＮＫ信号を出力する。ＢＬＡＮＫ信号とは、現在レーザ光が集光されている記録面上のトラックが未記録状態であるか既記録状態であるかを示す信号とする。ＢＬＡＮＫ信号は一例として、再生信号処理回路１０７から出力されるＲＦ信号の振幅が所定の値を超えていれば既記録部と判別することで生成できる。ＢＬＡＮＫ信号は未記録状態の時にＨｉｇｈレベルとなり、既記録状態の時にＬｏｗレベルとなる信号であるとする。このように、例えば、記録状態判別回路１０８が、信号処理回路１０３に対して、光ディスクが記録状態か未記録状態を報告する手段として機能する。
【００４０】
ＦＥＳ振幅補正回路１０３２は、サーボエラー信号生成回路１０５から出力されるフォーカスエラー信号ＦＥＳの信号振幅を補正し、補正された補正フォーカスエラー信号ＮＦＥＳをフォーカス制御回路１０３３に出力する。また、ＦＥＳ振幅補正回路１０３２による補正は、光量信号生成回路１０６から出力される総和信号ＳＵＭに基づいて行う。
【００４１】
フォーカス制御回路１０３３は、システム制御回路１０３１の指示により、補正フォーカス誤差信号ＮＦＥＳに基づいてフォーカス駆動信号ＦＯＤを出力する。
【００４２】
アクチュエータ駆動回路１０９は、フォーカス駆動信号ＦＯＤに従って対物レンズ１０２７と一体で動作するように構成されたアクチュエータ１０２６をディスク面に垂直な方向に駆動する。上記したようにフォーカス制御回路１０３３及びアクチュエータ駆動回路１０９が動作することで、光ディスク１０１に照射された光スポットが常に光ディスク１０１の情報記録面で合焦するようにフォーカス制御が行われる。
【００４３】
フォーカス制御が動作して、光スポットがディスク１の情報記録面で合焦すると、サーボエラー信号生成回路１０５は、光スポットと情報記録面上のトラックとの位置のずれを示すトラッキングエラー信号ＴＥＳを出力する。トラッキングエラー信号ＴＥＳはトラッキング系ゲイン変更回路１０３４に入力される。トラッキング系ゲイン変更回路１０３４は、システム制御回路１０３１の指示により総和信号ＳＵＭ、及び記録状態判別回路１０７の出力するＢＬＡＮＫ信号、後述するＲＤＷＲ信号に基づいて信号振幅を補正し、補正された補正トラッキングエラー信号ＣＴＥＳを出力する。補正トラッキングエラー信号ＣＴＥＳは、トラッキング制御回路１０３５に出力される。
【００４４】
トラッキング制御回路１０３５は、システム制御回路１０３１からの指令信号により補正トラッキング誤差信号ＣＴＥＳに基づいて光ディスク１０１に照射された光スポットが情報記録面上のトラックを追従するように対物レンズ１０２７をディスク半径方向に駆動するための信号を出力する。トラッキング制御回路１０３５から出力された信号は、スイッチ１０３６ｂを介してアクチュエータ駆動回路１０９にトラッキング駆動信号ＴＲＤとして入力される。なお、トラッキング系ゲイン変更回路１０３４、及びトラッキング制御回路１０３５とで、入力されるトラッキングサーボ信号に対して所定のゲインを設定して出力する駆動信号生成部として機能する。また、例えば、トラッキング系ゲイン変更回路１０３４と、システム制御回路１０３１とで、ゲインを設定するゲイン設定部として機能する。
【００４５】
アクチュエータ駆動回路１０９ではトラッキング駆動信号ＴＲＤに従ってアクチュエータ１０２６を駆動することで対物レンズ１０２７がディスク半径方向に駆動され、光スポットが情報記録面上のトラックを追従する。
【００４６】
また、スライダ制御回路１０３７は、システム制御回路１０３１からの指令信号を受けると、トラッキングアクチュエータ駆動信号ＴＲＤの平均値に基づいてスライダモータ１１１を駆動するスライダ駆動信号を出力する。このスライダ駆動信号に従ってスライダモータ駆動回路１０９がスライダモータ１１２を駆動することにより、トラックを追従し続けた場合であっても対物レンズ１０２７が常に中立位置近傍で動作するように光ピックアップ１０２がディスク半径方向に移送される。
【００４７】
更に、光ディスク１０１上の半径の異なる位置へ光ピックアップ１０２を駆動するシーク動作においては、システム制御回路１０３１からのシーク動作の指示を受けてスライダ駆動回路１０３７がスライダ駆動信号を出力し、このスライダ駆動信号に従ってスライダモータ駆動回路１０９がスライダモータ１１１を駆動することでシーク動作を行う。
【００４８】
更にシステム制御回路１０３１から指令を受けた動作状態信号生成回路１０３９は、光ディスク装置の動作状態を表すＲＤＷＲ信号を出力する。ここでＲＤＷＲ信号は、情報の記録中にＨｉｇｈとなり、それ以外はＬｏｗとなる信号とする。従って、情報の再生中に出力されるＲＤＷＲ信号は、Ｌｏｗの値となる。
【００４９】
次に、かかる光ディスク装置におけるＦＥＳ振幅補正回路１０３２の構成について、図２を用いて説明する。
【００５０】
ＦＥＳ振幅補正回路１０３２は除算器２０１からなり、除算器２０１はＦＥＳ信号とＳＵＭ信号を入力として、
【数３】
2011170933.tif 000005
で表される電圧をＮＦＥＳ信号として出力する。
【００５１】
次に、かかる光ディスク装置におけるトラッキング系ゲイン変更回路１０３４の構成について、図３を用いて説明する。
【００５２】
符号３０１は除算器であり、ＴＥＳ信号とＳＵＭ信号を入力として、
【数４】
2011170933.tif 000006
で表される電圧をＮＴＥＳ信号として出力する。
【００５３】
符号３０２は可変ゲインであり、ＮＴＥＳ信号の振幅をシステム制御回路１０３１の指示に基づき増幅、もしくは減衰する。
【００５４】
符号３０３は第一のセレクタであり、ＢＬＡＮＫ信号の電圧レベルに応じてＮＴＥＳ信号と可変ゲイン３０２の出力信号のいずれかを選択して出力する。本実施例においては、第一のセレクタ３０３は、ＢＬＡＮＫ信号がＨｉｇｈレベルの時に、つまり、未記録領域ないし未記録トラックにアクセスされている場合に、図３におけるａの端子が選択されてＮＴＥＳ信号を出力する。また、第一のセレクタ３０３は、ＢＬＡＮＫ信号がＬｏｗレベルの時、つまり既記録領域ないし既記録トラックにアクセスされている場合に、図３におけるｂの端子が選択されて可変ゲイン３０２の出力信号を出力するものとする。
【００５５】
符号３０４は第二のセレクタであり、システム制御回路１０３１の出力するＲＤＷＲ信号に基づいて第一のセレクタ３０３の出力信号と、ＮＴＥＳ信号のいずれかを選択してＣＴＥＳ信号として出力する。本実施例においては、第二のセレクタ３０４は、ＲＤＷＲ信号がＬｏｗレベルの時、例えば情報の再生中に、図３におけるｃの端子が選択されて第一のセレクタ３０３の出力信号を出力する。また、第二のセレクタ３０４は、ＲＤＷＲ信号がＨｉｇｈレベルの時、例えば情報の記録中には、図３におけるｄの端子が選択されてＮＴＥＳ信号を出力するものとする。
【００５６】
かかるトラッキング系ゲイン変更回路１０３４の構成によれば、記録パワーでの発光中や、再生パワーで未記録部を追従している際は可変ゲイン３０２によるゲイン変更はされず、再生パワーで既記録部を追従している条件において可変ゲイン３０２によるゲイン変更が有効になる。
【００５７】
次に、本実施例におけるシステム制御回路１０３１のシーク動作時の動作について説明する。図４はシーク動作実施時のシステム制御回路１０３１のフローチャートである。
【００５８】
シーク動作を開始すると（ステップＳ４０１）、システム制御回路１０３１はトラッキングサーボをオフする（ステップＳ４０２）。続いて、システム制御回路１０３１は、スライダ駆動の要否を判断する（ステップＳ４０３）。スライダ移動の必要があると判断した場合は（ステップＳ４０３でＹｅｓの場合）、システム制御回路１０３１は、スライダ移動を実施させる（ステップＳ４０４）。続いて、システム制御回路１０３１は、シークの目標アドレスがＯＰＣ領域の範囲内であるかを判断する（ステップＳ４０５）。また、スライダ移動の必要がないと判断した場合は（ステップＳ４０３でＮｏの場合）、システム制御回路１０３１は、シークの目標アドレスがＯＰＣ領域の範囲内であるかを判断する（ステップＳ４０５）。なお、ＯＰＣ領域とは、レーザ光の記録発光パワーの調整に用いる領域であるが、試し書き領域、ＰＣＡ領域と言い換えても良い。
【００５９】
Ｓ４０５において、目標アドレスがＯＰＣ領域の範囲内でなかった場合（ステップＳ４０５でＮｏの場合）、システム制御回路１０３１は、可変ゲイン３０２の値を初期値に変更する（ステップＳ４０６）。次に、システム制御回路１０３１は、トラック引き込みを実施する（ステップＳ４０８）。本実施例においては、可変ゲイン３０２の初期値＝０ｄＢとする。
【００６０】
Ｓ４０５において、目標アドレスがＯＰＣ領域の範囲内である場合（ステップＳ４０５でＹｅｓの場合）、システム制御回路１０３１は、光ディスク１０１に記録されているメディアＩＤに基づき可変ゲイン３０２に設定する値を決定して、可変ゲイン３０２の値を変更する（ステップＳ４０７）。このとき、ゲインの変更量をΔＧとし、本実施例においてΔＧは負の値とする。ステップＳ４０７の後、トラック引き込みを実施する（ステップＳ４０８）。
【００６１】
続いて、システム制御回路１０３１は、再生信号処理回路１０７の出力信号から現在のアドレス情報を取得し（ステップＳ４０９）、現在のアドレスとシークの目標アドレスとの差分が所定のアドレス範囲内であるかどうかを判断する（ステップＳ４１０）。
【００６２】
現在のアドレスとシークの目標アドレスとの差分が所定のアドレス範囲内でなければ（ステップＳ４１０でＮｏの場合）、システム制御回路１０３１は、トラックジャンプを実施し（ステップＳ４１１）、ステップＳ４１０に戻る。現在のアドレスとシークの目標アドレスとの差分が所定のアドレス範囲内であれば（ステップＳ４１０でＹｅｓの場合）、シーク動作を終了する（ステップＳ４１２）。
【００６３】
以上述べたように、本実施例の光ディスク装置は、Ｓ４０７に示されるように、ＯＰＣ領域にシークを行う場合に、可変ゲイン３０２の設定値が変更されるものである。また、図３について述べたように、ゲインの値は、光ディスク装置が記録中か再生中、サーボをかけているトラックが未記録か既記録かに応じて設定されるものである。
【００６４】
次に、本実施例の光ディスク装置が、サーボ特性をどのように改善するかについて、ＯＰＣ処理についての説明を含めて記載する。また、以下の例では、ＤＶＤ−Ｒを例に説明する。
【００６５】
図５（ａ）は、ＤＶＤ−Ｒにおける、記録パワーと、該記録パワーで記録された既記録部でのトラッキングサーボのゲインの関係の一例を示す図である。以下の説明では、図５（ａ）の直線Ｌに示す特性の記録膜を有するＤＶＤ−Ｒに基づいて説明する。横軸は記録パワーであり、図中のＰ０は最適記録パワーを示している。またＰｌｏｗはＯＰＣ時に実際に発光するパワーの最低パワー、ＰｈｉｇｈはＯＰＣ時に実際に発光するパワーの最高パワーを示している。
【００６６】
また、図５（ａ）の縦軸は、上記記録パワーで記録された既記録部を再生した場合のトラッキングサーボのゲインを、未記録部を基準としてデシベル表記（ｄＢ）で示したものである。Ｐｃは規格上のＰＰｒ範囲の中心値である−３ｄＢであり、Ｓは規格上のＰＰｒ範囲（０ｄＢ〜−６ｄＢ）を示している。また、Ｒで示した範囲は、トラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲を示している。
【００６７】
図５（ａ）からわかるように、記録パワーＰｗ＝Ｐｈｉｇｈで記録された既記録部において既記録部でのトラッキングサーボのゲインは、トラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒを超えている（図中のＡ点）。
【００６８】
ここで、光ディスクの記録膜特性とトラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲が図５（ａ）に示した関係にある光ディスク装置に関して、ＯＰＣを実施する場合について説明する。
【００６９】
図６のフローチャートを用いて、ＯＰＣについて説明する。ＯＰＣにおいては、光ディスク装置は、まずＯＰＣでテスト記録すべきアドレスへシークしする（ステップＳ６０１）。次に、光ディスク装置は、レーザパワーを変えてテスト記録を行う（ステップＳ６０２）。本実施例においては、記録パワーを低パワーから高パワーに、５段階に変化させてテスト記録するものとし、５段階の記録パワーは、図５（ａ）において白丸で示した５つの点に相当するものとする。
【００７０】
続いて、光ディスク装置は、ステップＳ６０２にテスト記録した領域へシークし（ステップＳ６０３）、記録品質チェックを行い（ステップＳ６０４）、最終的に最適記録パワーを決定する（ステップＳ６０５）。
【００７１】
このうち、ステップＳ６０１やステップＳ６０３において、ＯＰＣ領域へのシーク動作が行われるが、そのシーク動作中及びステップＳ６０４の記録品質チェック中に、以前のＯＰＣにてテスト記録された既記録部をフォローイングにて通過することになる。
【００７２】
次に、図７を用いて、上記したフォローイング処理において取得される光ディスク装置内の各部の信号波形について説明する。
【００７３】
図７（ａ）はＳＵＭ信号であり、（ｂ）はプッシュプル法で生成されたＴＥＳ信号である。また、ＶｒｅｆはＴＥＳ信号の基準レベルを示す。図７においてｔ１≦ｔ≦ｔ２の期間に通過した領域Ａ１は、図５のＰｌｏｗの記録パワーでテスト記録した領域である。また、図７中、ｔ３≦ｔ≦ｔ４の期間に通過した領域Ａ２は、図５のＰ０の記録パワーでテスト記録した領域である。また、図７中、ｔ５≦ｔ≦ｔ６の期間に通過した領域Ａ３は、図５のＰｈｉｇｈの記録パワーでテスト記録した領域を示している。
【００７４】
図７（ｂ）では、高パワーで記録した領域において、ＴＥ信号が発振する波形となっている。このような波形となる理由について、次に説明する。
【００７５】
図８は、図５で例示した光ディスクにおけるトラッキングサーボ特性を示す図である。図中、（ａ）はゲイン、（ｂ）は位相の特性を示している。図８（ａ）において、Ｇｌｏｗは記録パワーＰｌｏｗで記録した領域Ａ１でのゲイン特性、Ｇ０は最適記録パワーＰ０で記録した領域Ａ２でのゲイン特性、Ｇｈｉｇｈは記録パワーＰｈｉｇｈで記録した領域Ａ３でのゲイン特性である。このように、図５で示した記録膜の特性の場合には、高パワーで記録された既記録部ほどトラッキングサーボ特性のゲインが増加する。なお、位相特性は領域Ａ１、Ａ２、Ａ３で変化せず、同一の特性となる。
【００７６】
図８における周波数ｆｚ１、ｆｚ２は位相が−１８０°となる周波数であり、周波数ｆｚ２においてＧｈｉｇｈのゲインが０ｄＢに近い値となっている。このような状態はゲイン余裕が低く、サーボ系が不安定になりやすい。サーボ系が不安定となった結果、ｆｚ２の周波数の外乱成分がトラッキングサーボ系に入力されると、図７（ｂ）に示したようにサーボ系が発振してしまう。サーボ系が発振すると、最悪の場合はサーボが外れて、シーク動作が失敗する。
【００７７】
また、サーボ系としての安定性が保たれていて発振には至らない状態であっても、サーボ系に加わるｆｚ２の周波数の外乱成分のレベルが大きいと、ｆｚ２の周波数成分に対する追従性能が劣化しているため追従誤差が大きくなり、隣接トラックに移動してしまう現象が起こる。この結果、シークを繰り返しても目標アドレス（ＯＰＣ実施予定アドレスもしくはＯＰＣ実施済みアドレス）に到達できない状態に陥り、最終的にはシーク動作が失敗する。
【００７８】
このように、以前のＯＰＣにてテスト記録された既記録部をフォローイングにて通過する際に安定性が劣化し、発振や追従性能劣化が原因で、目標アドレス（ＯＰＣ実施予定アドレスもしくはＯＰＣ実施済みアドレス）に到達できないという現象が起こりうる。そのため、ＯＰＣ領域へのシークやＯＰＣ領域の既記録部のフォローイングさえ成功すればＯＰＣが正常に終了する記録膜を有する光ディスクであっても、目標アドレスに到達できないがためにＯＰＣが失敗し、情報の記録ができない状態に陥る。以下では、この問題をＯＰＣ領域でのサーボ安定性劣化と呼ぶ。
【００７９】
以上を鑑み、本明細書における「トラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒ」は、トラッキングサーボ系が安定条件を満たすためのゲイン変動に対する許容範囲ではなく、サーボ系に加わる外乱成分のレベルが大きく隣接トラックに移動してしまう現象をも回避するための、ゲイン変動に対する許容範囲とする。
【００８０】
ここで、実際に隣接トラックに移動してしまうかどうかは、入力される外乱成分の周波数におけるサーボ系の安定性と、外乱成分の振幅レベルで決まる。光ディスクの規格においては、光ディスクの追従対象であるトラックの変位（外乱）について、トラックの変位の最大振幅レベルが周波数に応じて規定されている。即ち「トラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒ」は、光ディスクの規格で規定されているトラックの変位の最大振幅レベルに基づき決定され、外乱成分の周波数によって範囲が変動する。
【００８１】
従来は、このようなＯＰＣ領域でのサーボ安定性劣化を起こさないように、サーボ特性を最適化してトラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒを広くすることで、ＯＰＣ領域でのサーボ安定性劣化を回避していた。しかし、今後、光ディスク装置に対しては、更なる薄型化、軽量化が求められると予想されている。そして、薄型化や軽量化を図ると、図８（ａ）においてＲで示した副共振と呼ばれるゲインのピークは一般に、レベルが大きくなり、またその周波数が低周波数側へ移動する傾向を発明者は経験的に得ている。この結果、薄型化、軽量化を図った光ディスク装置では、サーボゲインが増加した場合の安定度が従来以上に低下する。
【００８２】
また、今後は、更なる高倍速化も要求されている。高倍速に対応するためには、サーボ帯域をより高帯域化する必要があり、その結果としてサーボゲインが増加した場合の安定度が従来以上に低下する。
【００８３】
以上の理由により、薄型化や軽量化、もしくは高倍速化を図った光ディスク装置においては、ＯＰＣ領域でのサーボ安定性劣化を回避することがより困難になる。そのため、ＯＰＣ領域でのサーボ安定性劣化を解決する発明が望まれていた。従って従来技術では、特に薄型化、軽量化を図った光ディスク装置において、図７のようなＯＰＣ領域でのサーボ安定性劣化に対応できず、ＯＰＣ領域においてサーボ安定性が劣化するという課題があった。
【００８４】
また、本実施例において、図５で示したトラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒは、サーボゲインが低下する場合と比較して増加した場合の方が、サーボが不安定になりやすいことを示している。これは上述したような薄型化、軽量化、もしくは高倍速化を図った光ディスク装置を想定している。
【００８５】
一方、本実施例の光ディスク装置は、図４で示したシーク動作時のフローチャートに従い、可変ゲイン３０２の値がΔＧだけ変化させる。可変ゲイン３０２によるゲイン変更が有効になるのは再生パワーで既記録部を追従している場合であり、ΔＧは負であることから、記録パワーと該記録パワーで記録された既記録部でのプッシュプル振幅の関係は、図５（ｂ）の直線Ｌ’になる。
【００８６】
この図５（ｂ）からわかるように、ＯＰＣ領域での既記録部でのトラッキングサーボのゲインは、トラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒを超えなくなる。この結果、図７のようなＯＰＣ領域再生時のサーボ安定性劣化を回避できる。
【００８７】
なお、本実施例では記録パワーでの発光中はΔＧのゲイン変更を無効とする構成とした。以下、本実施例のように記録パワーでの発光中にゲイン変更を無効とせずに、ＯＰＣ領域へのシークで単純にサーボゲインを変更してしまう場合の問題点について説明する。
【００８８】
例えば、図６で示したＯＰＣのフローチャート中、ステップＳ６０１のＯＰＣ領域へシークでトラッキングサーボのゲインを変更してしまうと、シークが成功した後、ステップＳ６０２の記録時にもゲインが変化してしまう。
【００８９】
しかし、本光ディスク装置の処理を実行する場合に問題となるのは、あくまで記録パワーが最適でない状態で記録された既記録部を、情報を再生する際に用いるレーザ発光パワーで通過した際のサーボゲインの変動である。仮に記録発光中にまで、サーボゲインを変更してＯＰＣを実施してしまうと、記録発光中のサーボ残留誤差が変化し、その影響で記録品質も変わってしまう。そのため、最適な記録品質の評価ではなくなり、ＯＰＣの精度が劣化して最適記録パワーが求まらないという問題がある。従って、本光ディスク装置は、ＯＰＣ実施中の記録発光時には未記録状態のトラックに対してレーザパワーを上げて情報の記録を行うのであり、サーボゲインは変更せずに、実際の記録発光と同一のサーボゲインで行う。
【００９０】
なお、シークのリトライで変更したサーボゲインを、シーク成功をもって元に戻せばＯＰＣ精度の問題は回避できるが、ステップＳ６０４にて記録品質をチェックするためにＯＰＣでテスト記録した領域を再生する際に、再度サーボが外れてしまうという問題点がある  。
【００９１】
以上の理由から、ＯＰＣ領域再生時のサーボ安定性劣化を解決するのに最適な構成は、記録パワーでの発光中や、再生パワーで未記録部を追従している際にはゲイン変更はされず、再生パワーで既記録部を追従している条件においてゲイン変更が有効になる構成であり、その一例が本実施例のトラッキング系ゲイン変更回路１０３４である。
【００９２】
以上の動作により、実施例１による光ディスク装置は、ＯＰＣ領域におけるサーボ追従性能を向上することができる。また、実施例１の光ディスク装置によると、記録パワーが最適でない状態で記録された既記録部を、情報を再生する際に用いるレーザ発光パワーで通過した際のサーボゲインの変動を抑制し、サーボ性能を向上することが可能となる。また、実施例１の光ディスク装置によると、サーボ性能を維持しつつ、装置の薄型化、軽量化を図ることが可能となる。また、実施例１の光ディスク装置によると、他の光ディスク装置によって過度の高パワーや低パワーで記録された結果、トラッキングゲインの上下幅が広がってしまった光ディスクに対しても、サーボ性能を向上させることが可能となる。
【実施例２】
【００９３】
実施例２について、以下に説明する。
【００９４】
実施例１では、ＯＰＣ領域へのシークを契機として可変ゲイン３０２に設定する値を変更した。
【００９５】
実施例２における光ディスク装置は、実施例１のようにＯＰＣ領域へのシークで必ずゲイン変更をするのではなく、例えば、ＯＰＣ領域へのシークが失敗した後のリトライ動作において、トラッキングサーボのゲインを変更する構成を備えるものとする。
【００９６】
図９は本実施例による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【００９７】
実施例１のブロック図である図１と共通の構成要素については共通の符号を付し、説明を省略する。
【００９８】
符号１０４０はトラッキング系ゲイン変更回路である。トラッキング系ゲイン変更回路１０４０は、システム制御回路１０４１の指示により総和信号ＳＵＭ、及び記録状態判別回路１０７の出力するＢＬＡＮＫ信号、動作状態信号生成回路１０３９の出力するＲＤＷＲ信号に基づいて信号振幅を補正する。また、トラッキング系ゲイン変更回路１０４０は、補正された補正トラッキングエラー信号ＣＴＥＳがトラッキング制御回路１０３５に出力する。
【００９９】
符号１０４１は、システム制御回路である。システム制御回路１０４１は、後述するシーク動作時の動作以外に関しては、実施例１におけるシステム制御回路１０３１と同等の制御を行う。
【０１００】
次に、図１０を用いて、本実施例のトラッキング系ゲイン変更回路１０４０の構成について説明する。実施例１におけるトラッキング系ゲイン変更回路と共通の構成要素については共通の符号を付し、説明を省略する。
【０１０１】
符号３０５は第一の可変ゲインであり、ＮＴＥＳ信号の振幅をシステム制御回路１０４１の指示に基づき増幅、もしくは減衰する。
【０１０２】
符号３０６は第二の可変ゲインであり、ＮＴＥＳ信号の振幅をシステム制御回路１０４１の指示に基づき増幅、もしくは減衰する。
【０１０３】
符号３０７は第一のセレクタであり、ＢＬＡＮＫ信号の電圧レベルに応じて第一の可変ゲイン３０５の出力信号と第二の可変ゲイン３０６の出力信号のいずれかを選択して出力する。本実施例においては、第一のセレクタ３０７は、ＢＬＡＮＫ信号がＨｉｇｈレベルの時に図１０におけるａの端子が選択されて第一の可変ゲイン３０５の出力信号を出力する。また、第一のセレクタ３０７は、ＢＬＡＮＫ信号がＬｏｗレベルの時に図１０におけるｂの端子が選択されて第二の可変ゲイン３０６の出力信号を出力するものとする。
【０１０４】
符号３０８は第二のセレクタであり、システム制御回路１０３１の出力するＲＤＷＲ信号に基づいて第一のセレクタ３０７の出力信号と、第一の可変ゲイン３０５の出力信号のいずれかを選択してＣＴＥＳ信号として出力する。本実施例においては、第二のセレクタ３０８は、ＲＤＷＲ信号がＬｏｗレベルの時に図１０におけるｃの端子が選択されて第一のセレクタ３０７の出力信号を出力する。また、第二セレクタ３０８は、ＲＤＷＲ信号がＨｉｇｈレベルの時に図１０におけるｄの端子が選択されて第一の可変ゲイン３０５の出力信号を出力するものとする。
【０１０５】
かかるトラッキング系ゲイン変更回路１０４０の構成によれば、記録パワーでの発光中や、再生パワーで未記録部を追従している際は第二の可変ゲイン３０６によるゲイン変更が有効となり、再生パワーで既記録部を追従している条件において第一の可変ゲイン３０５によるゲイン変更が有効になる。
【０１０６】
次に、本実施例におけるシステム制御回路１０４１のシーク動作時の動作について説明する。図１１はシーク動作実施時のシステム制御回路１０４１のフローチャートである。
【０１０７】
シーク動作を開始すると（ステップＳ１１０１）、システム制御回路１０４１はシークのリトライ回数をカウントするカウンタＲｅｔｒｙＮｕｍを０にリセットするとともに、シークの実施時間を計測するタイマＳｅｅｋＴｉｍｅｒをリセットする（ステップＳ１１０２）。
【０１０８】
続いて、システム制御回路１０４１は、トラッキングサーボをオフする（ステップＳ１１０３）。次に、システム制御回路１０４１は、スライダ駆動の要否を判断する（ステップＳ１１０４）。Ｓ１１０４において、スライダ移動の必要があると判断した場合は（ステップＳ１１０４でＹｅｓの場合）、システム制御回路１０４１は、スライダ移動を実施させる（ステップＳ１４０５）。次に、システム制御回路１０４１は、シークの目標アドレスがＯＰＣ領域の範囲内であるかを判断する（ステップＳ１１０６）。
【０１０９】
一方、Ｓ１１０４において、スライダ移動の必要がないと判断した場合は（ステップＳ１１０４でＮｏの場合）、システム制御回路１０４１は、シークの目標アドレスがＯＰＣ領域の範囲内であるかを判断する（ステップＳ１１０６）。
【０１１０】
Ｓ１１０６において、目標アドレスがＯＰＣ領域の範囲内でなかった場合（ステップＳ１１０６でＮｏの場合）、システム制御回路１０４１は、後述する通常領域用リトライ配列に従い、シークリトライ回数ＲｅｔｒｙＮｕｍに応じて第一の可変ゲイン３０５の値を変更する（ステップＳ１１０７）。
【０１１１】
一方、Ｓ１１０６において、目標アドレスがＯＰＣ領域の範囲内でなかった場合（ステップＳ１１０６でＹｅｓの場合）、システム制御回路１０４１は後述するＯＰＣ領域用リトライ配列に従い、シークリトライ回数ＲｅｔｒｙＮｕｍに応じて第一の可変ゲイン３０５の値を変更する（ステップＳ１１０８）。
【０１１２】
ステップＳ１１０６もしくはステップＳ１１０７の後、システム制御回路１０４１は後述する通常領域用リトライ配列に従い、シークリトライ回数ＲｅｔｒｙＮｕｍに応じて第二の可変ゲイン３０６の値を変更する（ステップＳ１１０９）。
【０１１３】
Ｓ１１０９に続いて、システム制御回路１０４１は、トラック引き込みを実施し（ステップＳ１１１０）、トラック引き込みが正常に終了したかを判断する（ステップＳ１１１１）。Ｓ１１１１において、トラック引き込みが正常終了せずに失敗したと判断した場合（ステップＳ１１１１でＮｏの場合）、システム制御回路１０４１は、後述するリトライ処理に移行する（ステップＳ１１１９）。
【０１１４】
Ｓ１１１１において、トラック引き込みが正常終了したと判断した場合（ステップ１１１１でＹｅｓの場合）には、システム制御回路１０４１は、再生信号処理回路１０７の出力信号から現在のアドレス情報を取得する（ステップＳ１１１２）。続いて、システム制御回路１０４１は、現在のアドレスが正常に取得できたかを判断する（ステップＳ１１１３）。Ｓ１１１３において、現在のアドレスが正常に取得できずに失敗したと判断した場合（ステップ１１１３でＮｏの場合）、システム制御回路１０４１は、後述するリトライ処理に移行する（ステップＳ１１１９）。
【０１１５】
Ｓ１１１３において、現在のアドレスが正常に取得できたと判断した場合（ステップＳ１１１３でＹｅｓの場合）、現在のアドレスとシークの目標アドレスとの差分が所定のアドレス範囲内であるかどうかを判断する（ステップＳ１１１４）。
【０１１６】
Ｓ１１１４において、現在のアドレスとシークの目標アドレスとの差分が所定のアドレス範囲内でない場合（ステップＳ１１１４でＮｏの場合）、システム制御回路１０４１は、まずはシーク実施時間計測タイマＳｅｅｋＴｉｍｅｒが所定の値Ｔｔｈより小さいかを判断する（ステップＳ１１１５）。Ｓ１１１５において、シーク実施時間計測タイマＳｅｅｋＴｉｍｅｒが所定の値Ｔｔｈ以上であれば（ステップＳ１１１５でＮｏの場合）、システム制御回路１０４１は、現在のリトライ条件ではシークは成功しないと予想して、後述するリトライ処理に移行する（ステップＳ１１１９）。
【０１１７】
Ｓ１１１５において、シーク実施時間計測タイマＳｅｅｋＴｉｍｅｒが所定の値Ｔｔｈより小さい場合（ステップＳ１１１５でＹｅｓの場合）、システム制御回路１０４１は、トラックジャンプを実施し（ステップＳ１１１６）、トラックジャンプが正常に終了したかを判断する（ステップＳ１１１７）。Ｓ１１１７において、トラックジャンプが正常終了せずに失敗したと判断した場合（ステップ１１１７でＮｏの場合）、後述するリトライ処理に移行する（ステップＳ１１１９）。
【０１１８】
一方、Ｓ１１１７において、トラックジャンプが正常に終了したと判断した場合（ステップ１１１７でＹｅｓの場合）、ステップＳ１１１２に戻る。
【０１１９】
また、Ｓ１１１４において、現在のアドレスとシークの目標アドレスとの差分が所定のアドレス範囲内であれば（ステップＳ１１１４でＹｅｓの場合）、システム制御回路１０４１は、シーク動作を終了する（ステップＳ１１１８）。
【０１２０】
また、シーク中に異常を検出した場合には、ステップＳ１１１９にて、システム制御回路１０４１は、リトライ処理を行う。リトライ処理では、シークリトライ回数ＲｅｔｒｙＮｕｍに１を加算し、その後、ステップＳ１１０３に戻る。
【０１２１】
以上のフローチャートによれば、ＯＰＣ領域以外へのシークのリトライでは、第一の可変ゲイン３０５及び第二の可変ゲイン３０６は通常領域用リトライ配列に従い共通の値となる。一方で、ＯＰＣ領域へのシークのリトライでは、第二の可変ゲイン３０６は通常領域用リトライ配列に従い設定されるものの、第一の可変ゲイン３０５に関してはＯＰＣ領域用リトライ配列に従い設定された上で、トラック引き込みが実施される。
【０１２２】
次に、ステップＳ１１０７及びステップＳ１１０８、ステップＳ１１０９において、可変ゲインに設定するゲインの値を決めるためのリトライ配列について、図１２（ａ）（ｂ）を用いて説明する。
【０１２３】
図１２（ａ）は、本実施例における通常領域用リトライ配列である。設定ゲインは、シークリトライ回数ＲｅｔｒｙＮｕｍに応じて第一の可変ゲイン３０５または第二の可変ゲイン３０６に設定する値であり、ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝０の行からわかるように、本実施例の第一の可変ゲイン３０５及び第二の可変ゲイン３０６の初期値はともに０ｄＢであるとしている。
【０１２４】
図１２（ａ）によれば、本実施例におけるＯＰＣ領域以外のシークでは、１回目から３回目までのリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝１〜３）はゲインを変更せずに再度シークを実施し、次の３回のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝４〜６）はゲインを２ｄＢ下げ、更に次の３回のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝７〜９）はゲインを２ｄＢ上げる。このリトライ配列によれば、ＯＰＣ領域以外へのシークでは、トラッキングサーボのゲインを最大で±２ｄＢ変化させてシークのリトライを実施する。
【０１２５】
これに対し、図１２（ｂ）は本実施例におけるＯＰＣ領域用リトライ配列を示す。
【０１２６】
図１２（ｂ）に示す設定ゲインは、ＯＰＣ領域でのシークのリトライにおいて、再生パワーで既記録部を追従している条件において有効となる可変ゲイン３０５の値である。一方で、記録パワーでの発光中や、再生パワーで未記録部を追従している場合には、図１２（ａ）の通常領域用リトライ配列が適用される。そこで図１２（ｂ）においてΔＧｒｅｃは、再生パワーでトラックを追従している際の未記録部でのゲインＧｕｎｒｅｃと既記録部でのゲインＧｒｅｃの差（即ち、ΔＧｒｅｃ＝Ｇｒｅｃ−Ｇｕｎｒｅｃ）を示している。
【０１２７】
図１２（ｂ）によれば、本実施例におけるＯＰＣ領域へのシークが失敗した場合には、１回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝１）はゲインを変更せずに再度シークを実施し、２回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝２）では第一の可変ゲイン３０５及び第二の可変ゲイン３０６を、ともに２ｄＢゲインを減少する。３回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝３）では、第一の可変ゲイン３０５及び第二の可変ゲイン３０６を、ともに初期値に対して２ｄＢゲインを増加する。
【０１２８】
更に失敗した場合、４回目のリトライは初期値に対して第一の可変ゲイン３０５のみを２ｄＢ下げた状態にする。この時、既記録部でのみゲインが２ｄＢ下がった状態になる。４回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝４）以降、６回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝６）までの３回のリトライでは、ΔＧｒｅｃ＝−２ｄＢである点が共通である。即ち、再生パワーで追従している場合、既記録部でのみゲインが２ｄＢ下がった状態になる。５回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝５）では上記の関係を維持したまま、第一の可変ゲイン３０５及び第二の可変ゲイン３０６をそれぞれ４回目のリトライ条件に対して２ｄＢ下げ、６回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝６）では上記の関係を維持したまま、第一の可変ゲイン３０５及び第二の可変ゲイン３０６をそれぞれ４回目のリトライ条件に対して２ｄＢ上げる。
【０１２９】
更に７回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝７）以降、９回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝９）までの３回のリトライでは、ΔＧｒｅｃ＝＋２ｄＢであり、再生パワーで追従している場合、既記録部でのみゲインが２ｄＢ上がった状態になる。その関係を維持した上で、同様にトラッキングサーボのゲインを変更するリトライ配列となっている。
【０１３０】
これによって、ＯＰＣ領域の既記録部でトラッキングサーボのゲインが変動することと、シークのリトライでのゲイン変更を合わせたリトライが実施できる。即ち、例えばＯＰＣ領域の既記録部でのトラッキングサーボのゲインが２ｄＢ上がる場合には、既記録部についてのみトラッキングサーボのゲインを２ｄＢ下げた状態にするのが好ましく、シークのリトライではその状態から更にトラッキングサーボ系全体のゲインを最大で±２ｄＢ変化させることが望ましい。これは４回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝４）以降、６回目のリトライ（ＲｅｔｒｙＮｕｍ＝６）までの３回のリトライで実施されている。このように、ＯＰＣ領域へのシークのリトライでは、ＯＰＣ領域は最適記録パワーでは記録されていないことを鑑みて、ＯＰＣ領域以外へのシークのリトライよりもゲインを大きく変更することが望ましい。
【０１３１】
次に、本実施例の光ディスク装置が、サーボ特性をどのように改善するかについて、ＯＰＣ処理についての説明を含めて記載する。また、以下の例では、ＤＶＤ−Ｒを例に説明する。
【０１３２】
図１３は、ＤＶＤ−Ｒにおける、記録パワーと、該記録パワーで記録された既記録部でのトラッキングサーボのゲインの関係の一例を示す図である。以下、図１３に示す特性の記録膜を有するＤＶＤ−Ｒに基づいて説明する。
【０１３３】
図１３において範囲Ｒはトラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲であり、範囲Ｒ２は、トラッキングサーボ系が安定条件を満たすためのゲイン変動に対する許容範囲である。即ち、ゲイン変動がＲ２の範囲を超えた場合にはサーボ系が制御不能になる。しかしながら、前述したようにトラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒは、サーボ系に加わる外乱成分のレベルが大きく隣接トラックに移動してしまう現象をも回避するための、ゲイン変動に対する許容範囲である。このため、範囲Ｒ２は範囲Ｒを包含する。
【０１３４】
図１３に示すように、ＯＰＣ領域において最高記録パワーＰｈｉｇｈで記録された既記録部（Ａ点）及び最低記録パワーＰｌｏｗで記録された既記録部（Ｂ点）ともに、トラッキングサーボのゲイン変動に対する許容範囲Ｒを超える場合を考える。この場合、ＯＰＣ領域の既記録部でのトラッキングサーボのゲインの変動は範囲Ｒ２の範囲に収まっているので、サーボ系は安定である。次に、サーボ系としての安定性が保たれていて発振には至らない状態であっても、サーボ系に加わる不安定周波数の外乱成分のレベルが大きいと、追従性能劣化が原因で隣接トラックに移動してしまう現象について考える。
【０１３５】
上述したように許容範囲Ｒは、光ディスクの規格で規定されているトラックの変位の最大振幅レベルに基づき決めている。実際の光ディスクは規格上限のトラック変位を有している訳ではないので、実際に隣接トラックに移動してしまうかどうかは、不安定周波数の外乱（トラック変位）の大きさで決まる。
【０１３６】
また、図１３では実施例１と同様に、サーボゲインが低下する場合と比較して増加した場合の方が、サーボが不安定になりやすい例を示している。そのためＢ点よりもＡ点の方が範囲Ｒからは外れているが、必ずしも最高記録パワーで記録した既記録部（Ａ点に相当）で隣接トラックに移動してしまう現象が起こるとは限らない。一方、最低記録パワーで記録した既記録部（Ｂ点に相当）を追従中にサーボ系に入力されるトラック変位成分に、図８でｆｚ１として示した周波数のトラック変動成分が存在し、その振幅レベルが大きかった場合には、隣接トラックに移動してしまう可能性がある。
【０１３７】
そして、上記のＡ点でサーボ安定性劣化が起こる場合にはトラッキングサーボのゲインを減少することで改善するが、一方、上記のＢ点でサーボ安定性劣化が起こる場合にはトラッキングサーボのゲインを増加することで改善する。従って、図１３の場合には、ＯＰＣ領域に存在するトラック変位成分の周波数によって、トラッキングサーボのゲインを増加すべきか減少すべきかが異なる。
【０１３８】
このようなＯＰＣ領域へのシークを行う場合、実施例２の光ディスク装置は、実施例１のようにサーボゲインを減少させるだけでなく、シークのリトライでサーボゲインの増加も実施させる構成を備える。更に望ましくは、実施例２の光ディスク装置は、ＯＰＣ領域以外へのシークのリトライよりもゲインを大きく変更する。以上を鑑み、本実施例の効果としては、図１３のような場合にもＯＰＣ領域でのサーボ安定性劣化を改善できる。つまり、実施例２の光ディスク装置は、ＯＰＣ領域の既記録部にトラッキングゲインが低い領域が存在して隣接トラックへの移動が発生し得るディスクに対しても、サーボ安定性劣化を抑制できる。
【０１３９】
また、本実施例は実施例１と異なり光ディスク１０１に記録されているメディアＩＤによらず、ＯＰＣ領域用リトライ配列に従い可変ゲイン３０５の値を変更する動作とした。これによる効果としては、光ディスク装置が未知の媒体であっても、安定したサーボ性能を実現できることが挙げられる。
【０１４０】
また、実施例２の光ディスク装置は、図１２（ｂ）に示すように、２回目までのリトライまではゲインを変更しない。これにより、例えば、図１３に示すディスクの特性以外の原因によってシークが失敗した場合にも対応することが可能となる。
【０１４１】
以上の動作により、実施例２による光ディスク装置は、ＯＰＣ領域におけるサーボ追従性能を向上することができる。
【０１４２】
なお、実施例１では、ＯＰＣ領域へのシークを契機として、既記録部再生中のトラッキングサーボのゲインを減少させる動作とした。トラッキングサーボのゲインを減少させる動作とした理由は上述したように、特に薄型化、軽量化を図った光ディスク装置においてサーボゲインが増加した場合の安定度が従来以上に低下する傾向があるからであるが、薄型化、軽量化を図らない光ディスクでは上記傾向は必ずしも当てはまらない。そのため、ＯＰＣ領域へのシークを契機として、既記録部再生中のトラッキングサーボのゲインを増減する方向は、ゲインを減少する方向に限定されるものではない。
【０１４３】
また、実施例１では、サーボゲインが低下する場合と比較して増加した場合の方が不安定になりやすいサーボ系を例に、ＯＰＣ領域へのシークを契機として、既記録部再生中のトラッキングサーボのゲインを減少させる動作とした。これは、ＯＰＣ領域でのサーボ安定性劣化が起こるとすればゲインが増加したことで起こると予想できるためである。即ち、ＯＰＣ領域へのシークを契機として、既記録部再生中のトラッキングサーボのゲインを増減する方向は、サーボ系がより安定になる（発振条件から遠ざかる）ゲイン増減方向と一致することが望ましい。
【０１４４】
また、実施例１では光ディスク１０１に記録されているメディアＩＤに基づき可変ゲイン３０２のゲイン変更量ΔＧを決める動作とした。しかし、「既記録部再生中のトラッキングサーボのゲインを増減する方向は、サーボ系がより安定になるゲイン増減方向と一致することが望ましい」という考え方に基づけば、ゲイン変更量ΔＧはサーボ特性に依存して、サーボ系の安定性が保たれる範囲で決定することができる。サーボ特性はディスク種別に応じて変わるので、ゲイン変更量ΔＧはディスク種別に応じて変更する動作としてもよい。メディアＩＤによらない動作とすれば、光ディスク装置が未知の媒体であっても、安定したサーボ性能を実現できる。
【０１４５】
また、実施例２では、実施例１と異なり光ディスク１０１に記録されているメディアＩＤによらず、ＯＰＣ領域用リトライ配列に従い可変ゲイン３０５の値を変更する動作とした。しかし、メディアＩＤによってＯＰＣ領域用リトライ配列を変更する動作としてもよい。または、メディアＩＤによってはＯＰＣ領域用リトライ配列を使用せず、ＯＰＣ領域へのシークであっても通常領域用リトライ配列を使用する動作としてもよい。
【０１４６】
また、実施例２のリトライ配列では未記録部と既記録部のゲイン差ΔＧｒｅｃについて、リトライ配列にΔＧｒｅｃ＝−２ｄＢの状態、ΔＧｒｅｃ＝＋２ｄＢの状態の両方を含むとしたが、ΔＧｒｅｃ＝−２ｄＢのみ、もしくはΔＧｒｅｃ＝＋２ｄＢのみを含むようにしてもよい。このように片方のみを含むとした場合には、図１３の場合には対応できない可能性が残るものの、実施例１の説明で使用した図５の場合には既記録部におけるトラッキングサーボのゲインを下げるだけでも改善効果が得られるためである。
【０１４７】
また、以上の実施例では、規格によって既記録部プッシュプル振幅比が規定されているＤＶＤ−Ｒを例に説明した。しかし本発明が適用可能な光ディスクはＤＶＤ−Ｒに限定されるものではなく、また、規格によって既記録部プッシュプル振幅比が規定されていない光ディスクに対しても本発明は適用可能である。
【０１４８】
また、本発明は光ディスク装置のフォーカス制御に関しても、同様に適用可能であることは明らかである。
【０１４９】
さらに、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【０１５０】
また、上記の各構成は、それらの一部又は全部が、ハードウェアで構成されても、プロセッサでプログラムが実行されることにより実現されるように構成されてもよい。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【符号の説明】
【０１５１】
１０１…光ディスク、１０２…ピックアップ、１０３…信号処理回路、１０４…スピンドルモータ、１０５…サーボエラー信号生成回路、１０６…総和信号生成回路、１０７…再生信号処理回路、１０８…記録状態判別回路、１０９…アクチュエータ駆動回路、１１０…スピンドルモータ駆動回路、１１１…スライダモータ、１１２…スライダモータ、１０２１…レーザパワー制御回路、１０２２…レーザ光源、１０２３…コリメートレンズ、１０２４…ビームスプリッタ、１０２５…立上ミラー、１０２６…アクチュエータ、１０２７…対物レンズ、１０２８…集光レンズ、１０２９…光検出器、１０３１…システム制御回路、１０３２…ＦＥＳ振幅補正回路、１０３３…フォーカス制御回路、１０３４…トラッキング系ゲイン変更回路、１０３５…トラッキング制御回路、１０３６…スイッチ、１０３７…スライダ制御回路、１０３８…スピンドル制御回路、１０３９…動作状態信号生成回路、１０４０…トラッキング系ゲイン変更回路、１０４１…システム制御回路、２０１…除算器、３０１…除算器、３０２…可変ゲイン、３０３…第一のセレクタ、３０４…第二のセレクタ、３０５…第一の可変ゲイン、３０６…第二の可変ゲイン、３０７…第一のセレクタ、３０８…第二のセレクタ
【図１】
2011170933.tif 000007
【図２】
2011170933.tif 000008
【図３】
2011170933.tif 000009
【図４】
2011170933.tif 000010
【図５】
2011170933.tif 000011
【図６】
2011170933.tif 000012
【図７】
2011170933.tif 000013
【図８】
2011170933.tif 000014
【図９】
2011170933.tif 000015
【図１０】
2011170933.tif 000016
【図１１】
2011170933.tif 000017
【図１２（ａ）】
2011170933.tif 000018
【図１２（ｂ）】
2011170933.tif 000019
【図１３】
2011170933.tif 000020
【図１４】
2011170933.tif 000021