(57)【要約】【課題】信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。【解決手段】遮断器が、トリップ回路により保護継電器から送信される信号に基づいて制御され、トリップ回路が、ロック端子１２０が挿抜されることにより、接続又は遮断される電力系統において、保護継電器を試験する装置であって、保護継電器に接続されたテストターミナル２０と、テストターミナル２０に挿入された状態で保護継電器を試験するテストプラグ４０と、ロック端子１２０が挿入される挿入部６６と、ロック端子１２０が挿入部６６に挿入されていない状態ではプラグ挿入口２４の全体又は一部を閉じ、挿入部６６に挿入されるロック端子１２０により作動されてプラグ挿入口２４の全体又は一部を開く開閉機構６０とを備える。【選択図】図３
2011226861.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象の電気設備の状態に応じた信号が、信号線路により他の電気設備に送信され、該他の電気設備が前記信号に基づいて制御されると共に、前記信号線路は、ロック端子が挿入された状態で接続され、前記ロック端子が取外された状態で遮断される電力系統において、前記試験対象の電気設備を試験する装置であって、
前記試験対象の電気設備に接続された試験端子と、
前記試験端子に挿入された状態で前記試験対象の電気設備の試験に用いられる試験プラグと、
前記ロック端子が挿入される挿入部と、
前記ロック端子が前記挿入部に挿入されていない状態では前記試験プラグの前記試験端子への挿入口の全体又は一部を閉じ、前記挿入部に挿入される前記ロック端子により作動されて前記挿入口の全体又は一部を開く開閉手段と、
を備える電気設備の試験装置。
【請求項２】
前記開閉手段は、
前記挿入口を閉じる閉位置で停止でき、前記挿入口を開く開位置と前記閉位置との間で移動できるように、前記挿入口の周囲で支持された開閉部材と、
前記挿入部に挿入される前記ロック端子から受ける力を前記開閉部材に伝達することにより、前記開閉部材を前記閉位置から前記開位置へ移動させる伝達部と、
を備える請求項１に記載の電気設備の試験装置。
【請求項３】
前記ロック端子の前記挿入部への挿入方向は、前記試験プラグの前記試験端子への挿入方向に対して直交するように設定されており、
前記開閉部材は、前記試験プラグの前記試験端子への挿入方向と平行である軸の周りに回動可能であり、
前記伝達部は、前記挿入部に挿入される前記ロック端子の力を、前記開閉部材を前記開位置側へ回動させる力に変換するカムである
請求項２に記載の電気設備の試験装置。
【請求項４】
前記挿入部に、前記ロック端子に対して係脱可能に設けられ、前記ロック端子に係合することにより前記ロック端子の前記挿入部からの抜け出しを阻止し、前記ロック端子から離脱することにより前記ロック端子の前記挿入部からの抜け出しを許容する抜け出し阻止手段を備える請求項１から請求項３までの何れか1項に記載の電気設備の試験装置。
【請求項５】
前記試験対象の電気設備は、継電器であり、
前記他の電気設備は、前記継電器の状態に応じた信号に基づいて制御される遮断器である請求項１から請求項４までの何れか１項に記載の電気設備の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電力系統に設けられた電気設備を試験する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電力系統に設けられた保護継電器等の電気設備を試験する装置として、保護継電器に接続された試験端子と、該試験端子に挿入される試験プラグとを備えるものが知られている（例えば、特許文献１参照）。該試験装置では、試験プラグを試験端子に挿入した状態で、保護継電器が電圧回路および電流回路から遮断され、試験プラグと保護継電器とは閉回路を形成する。この状態で、試験プラグから保護継電器に対して電流や電圧が入力され、保護継電器の動作試験が行われる。
【０００３】
ここで、保護継電器により過電流や過電圧等の電力系統における電流や電圧の異常が検出された場合には、検出信号が保護継電器から遮断器に出力され、遮断器が駆動されて電力線路が遮断される。このため、保護継電器の動作試験を行う場合には、保護継電器と遮断器との間の信号線路を遮断することにより、遮断器の不要な動作を防止する必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−１４７３７２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記信号線路の遮断を失念することが考えられる。即ち、上記信号線路を遮断する前に、試験プラグを試験端子に挿入して保護継電器の動作試験を実施してしまい、遮断器を不要に動作させてしまう可能性がある。
【０００６】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、信号線路を遮断する前に、誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施するのを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明に係る電気設備の試験装置は、試験対象の電気設備の状態に応じた信号が、信号線路により他の電気設備に送信され、該他の電気設備が前記信号に基づいて制御されると共に、前記信号線路は、ロック端子が挿入された状態で接続され、前記ロック端子が取外された状態で遮断される電力系統において、前記試験対象の電気設備を試験する装置であって、前記試験対象の電気設備に接続された試験端子と、前記試験端子に挿入された状態で前記試験対象の電気設備の試験に用いられる試験プラグと、前記ロック端子が挿入される挿入部と、前記ロック端子が前記挿入部に挿入されていない状態では前記試験プラグの前記試験端子への挿入口の全体又は一部を閉じ、前記挿入部に挿入される前記ロック端子により作動されて前記挿入口の全体又は一部を開く開閉手段と、を備える。
【０００８】
上記電気設備の試験装置において、前記開閉手段は、前記挿入口を閉じる閉位置で停止でき、前記挿入口を開く開位置と前記閉位置との間で移動できるように、前記挿入口の周囲で支持された開閉部材と、前記挿入部に挿入される前記ロック端子から受ける力を前記開閉部材に伝達することにより、前記開閉部材を前記閉位置から前記開位置へ移動させる伝達部と、を備えてもよい。
【０００９】
上記電気設備の試験装置において、前記ロック端子の前記挿入部への挿入方向は、前記試験プラグの前記試験端子への挿入方向に対して直交するように設定されていてもよく、前記開閉部材は、前記試験プラグの前記試験端子への挿入方向と平行である軸の周りに回動可能であってもよく、前記伝達部は、前記挿入部に挿入される前記ロック端子の力を、前記開閉部材を前記開位置側へ回動させる力に変換するカムであってもよい。
【００１０】
上記電気設備の試験装置は、前記挿入部に、前記ロック端子に対して係脱可能に設けられ、前記ロック端子に係合することにより前記ロック端子の前記挿入部からの抜け出しを阻止し、前記ロック端子から離脱することにより前記ロック端子の前記挿入部からの抜け出しを許容する抜け出し阻止手段を備えてもよい。
【００１１】
上記電気設備の試験装置において、前記試験対象の電気設備は、継電器であってもよく、前記他の電気設備は、前記継電器の状態に応じた信号に基づいて制御される遮断器であってもよい。
【発明の効果】
【００１２】
上記電気設備の試験装置によれば、信号線路を遮断する前に、誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】一実施形態に係る保護継電器の試験装置の概略構成を示す図である。
【図２】テストターミナルを示す側断面図である。
【図３】テストプラグ及びテストターミナルを示す斜視図である。
【図４】テストプラグが挿入された状態のテストターミナルを示す側断面図である。
【図５】（Ａ）は、プラグ挿入口を閉じた状態の開閉機構を示す正面図であり、（Ｂ）は、同状態の開閉機構を示す側面図である。
【図６】（Ａ）は、プラグ挿入口を開く状態の開閉機構を示す正面図であり、（Ｂ）は、同状態の開閉機構を示す側面図である。
【図７】（Ａ）は、プラグ挿入口を開いた状態の開閉機構を示す正面図であり、（Ｂ）は、同状態の開閉機構を示す側面図である。
【図８】他の実施形態に係る開閉機構を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態を説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係る保護継電器１００の試験装置１０の概略構成を示す図である。この図に示すように、保護継電器１００を備える電力系統では、電力線路１０２に変流器１０４と遮断器１１０とが設けられている。変流器１０４はＣＴ回路１０６を介して、遮断器１１０はトリップ回路１１２を介して、それぞれ保護継電器１００に接続されている。
【００１５】
遮断器１１０は、保護継電器１００からトリップ回路１１２を介して出力される信号に基づいて、遮断制御される。例えば、保護継電器１００が、過電流や地絡過電流や過電圧や地絡過電圧等を検出した場合に、検出信号（Trip信号）がトリップ回路１１２を介して遮断器１１０に出力され、遮断器１１０は遮断動作を実行する。
【００１６】
また、トリップ回路１１２には、ロック端子１２０が設けられている。ロック端子１２０は、保護継電器１００側の端子と遮断器１１０側の端子との間に挿入されたり、これらの端子の間から引き抜かれたりする端子である。ロック端子１２０が両側の端子の間に挿入された状態で、両側の端子の間が短絡される。一方、ロック端子１２０が両側の端子の間から引き抜かれた状態で、両側の端子は開放され、トリップ回路１１２は、保護継電器１００から遮断される。
【００１７】
試験装置１０は、テストターミナル２０とテストプラグ４０とを備えている。テストターミナル２０は、ＣＴ回路１０６とトリップ回路１１２とに対応して設けられた接点２２を備えている。一方、テストプラグ４０は、接点２２に挿入される導体４２を備えている。
【００１８】
図２は、テストターミナル２０を示す側断面図である。この図に示すように、テストターミナル２０は、プラグ挿入口２４を有する箱体２６と、箱体２６内に設けられた接点２２と、接点２２と接続された上下一対の端子２８、２９とを備えている。箱体２６は、保護継電器１００を備えるリレー盤に、プラグ挿入口２４が該リレー盤の前面から露出するように取り付けられている。
【００１９】
接点２２は、上下一対の可動接触板３０、３１と、上下一対の支持導体３２、３３と、上下一対の中継接点３４、３５とを備えている。上側の可動接触板３０及び中継接点３４は、上側の支持導体３２を介して上側の端子２８に導通されており、下側の可動接触板３１及び中継接点３５は下側の支持導体３３を介して下側の端子２９に導通されている。図示するように、テストプラグ４０がテストターミナル２０に挿入されていない状態で、上側の中継接点３４は下側の可動接触板３１に当接し、下側の中継接点３５は上側の可動接触板３０に当接している。
【００２０】
即ち、テストプラグ４０がテストターミナル２０に挿入されていない状態では、端子２８と端子２９とが、支持導体３２、３３、可動接触板３０、３１、及び中継接点３４、３５により導通されている。
【００２１】
図３は、テストプラグ４０及びテストターミナル２０を示す斜視図である。この図に示すように、テストプラグ４０は、絶縁支持体４４と、絶縁支持体４４から突出した絶縁板４６と、絶縁板４６に取り付けられた複数の導体４２とを備えている。各導体４２は、絶縁板４６を上下に挟んだ導体板４８、４９を備えている。即ち、上下の導体板４８、４９は、絶縁板４６により絶縁されている。
【００２２】
また、テストプラグ４０は、絶縁支持体４４から絶縁板４６の反対側へ突出した端子５０と、端子５０に着脱される短絡片５２とを備えている。端子５０は、上側の導体板４８に接続された接点と下側の導体板４９に接続された接点とが絶縁された構成となっている。これらの接点に短絡片５２が取り付けられることにより、上側の導体板４８と下側の導体板４９とが導通される。
【００２３】
図４は、テストプラグ４０をテストターミナル２０に挿入した状態を示す側断面図である。この図に示すように、テストプラグ４０をテストターミナル２０に挿入した状態では、導体４２が上下の可動接触板３０、３１により狭持される。この状態では、上側の可動接触板３０と下側の中継接点３５とが非接触となり、下側の可動接触板３１と上側の中継接点３４とが非接触となる。このため、短絡片４９を端子５０から取り外している状態では、上側の端子２８と下側の端子２９との導通が遮断される。一方、短絡片４９を端子５０に取り付けた上体では、上側の端子２８と下側の端子２９とが導通される。
【００２４】
次に、テストターミナル２０のプラグ挿入口２４を開閉する開閉機構６０について説明する。図３に示すように、開閉機構６０は、プラグ挿入口２４を開閉するバー６２と、バー６２を支持するケーシング６４と、ケーシング６４に設けられた挿入部６６と、バー６２と一体で設けられたカム６８とを備えている。
【００２５】
バー６２は、角柱状の板材であり、少なくとも一部がプラグ挿入口２４を覆うことができるように寸法が設定されている。また、バー６２の長手方向一端側（以下、基端側という）は、長手方向一端部（以下、基端部という）にかけて次第に幅が狭くなるように弧状に形成されている。
【００２６】
ケーシング６４は、プラグ挿入口２４の長手方向一端側に配されている。ケーシング６４は、上下方向を長手方向とする矩形柱状の部材であり、ケーシング６４の下端部が、プラグ挿入口２４の高さに位置するように、リレー盤の前面に取り付けられている。ケーシング６４は、下側収容部７０と挿入部６６と上側収容部７２とを備えている。下側収容部７０と挿入部６６と上側収容部７２とは、プラグ挿入口２４側に開口している。
【００２７】
下側収容部７０は、ケーシング６４の下端側に形成された空間であり、バー６２の基端側を収容する。また、挿入部６６と上側収容部７２とは、の下側収容部７０の上側に形成された空間である。挿入部６６と上側収容部７２とは、テストプラグ４０を挿入する方向（以下、プラグ挿入方向という）の手前側から奥側へこの順で配されている。
【００２８】
挿入部６６は、上下方向に延びるスリットであり、ロック端子１２０を収容する。挿入部６６の下端部は下側収容部７０に繋がっている。また、挿入部６６の上下方向中央部には、上下両側よりも幅広の幅広部７４が形成されている。この幅広部７４は、ケーシング６４におけるプラグ挿入方向の手前側に開口している。
【００２９】
挿入部６６に挿入した状態でのロック端子１２０の側断面形状と、挿入部６６の側断面形状とは、相似形であり、ロック端子１２０と挿入部６６との間には、ロック端子１２０の厚み方向及び上下方向に関して僅かに隙間が空いている。上側収容部７２は、下側収容部７０から上方に延びる空間であり、バー６２を収容する。
【００３０】
カム６８は、バー６２の基端側にバー６２と一体で設けられている。カム６８は、バー６２からプラグ挿入方向の手前側に突出するように形成されており、カム面６９を有している。
【００３１】
バー６２の基端側及びカム６８には軸７６が挿通されている。この軸７６は、下側収容部７０内にプラグ挿入方向と平行に配されている。また、軸７６の両端部は、ケーシング６４の下部に固定されている。即ち、バー６２の基端側及びカム６８は、プラグ挿入方向と平行な軸７６の周りに回動可能に、ケーシング６４の下部に支持されている。
【００３２】
この図に示すように、ロック端子１２０が挿入部６６に挿入された状態で、ロック端子１２０とカム６８との作用により、バー６２は、長手方向他端側（以下、先端側という）が持ち上げられた状態となり、プラグ挿入口２４を開放する。
【００３３】
図５（Ａ）は、バー６２を水平にすることによりプラグ挿入口２４を閉じた状態の開閉機構６０を示す正面図であり、図５（Ｂ）は、同状態の開閉機構６０を示す側面図である。これらの図に示すように、ロック端子１２０は、上下一対のコ字状の導体部１２２と、該上下一対の導体部１２２の間に設けられた絶縁部１２４とを備えており、ロック端子１２０は、正面視にてＥ字状に形成されている。また、絶縁部１２４の厚み寸法は、導体部１２２の厚み寸法よりも大きく設定されている。ここで、バー６２によりプラグ挿入口２４が閉じた状態では、ロック端子１２０は、図示するように挿入部６６から外れた状態にある。
【００３４】
また、図５（Ｂ）に示すように、挿入部６６は、上下方向中央部に上下両側よりも幅広の幅広部７４が形成されているので、絶縁部１２４は、幅広部７４に挿入可能であり、導体部１２２は、挿入部６６の上下両側に挿入可能である。
【００３５】
図５（Ａ）に示すように、ロック端子１２０が挿入部６６に挿入されていない状態では、バー６２の長手方向一端側が下側収容部７０の底面に当接する。この状態で、バー６２は、自重で降下して水平になり、プラグ挿入口２４を塞ぐ。
【００３６】
カム６８のカム面６９は、下側収容部７０内に位置する。該カム面６９は、バー６２が水平な状態でバー６２の上側にかけて基端側に傾斜する面である。また、該カム面６９の上端部は、ロック端子１２０の下側の導体部１２２の挿入経路に位置している。
【００３７】
図６（Ａ）は、プラグ挿入口２４を開く状態の開閉機構６０を示す正面図であり、図６（Ｂ）は、同状態の開閉機構６０を示す側面図である。これらの図に示すように、ロック端子１２０を、トリップ回路１１２から取り外して挿入部６６に挿入する場合、絶縁部１２４を幅広部７４に挿入し、上下の導体部１２２を挿入部６６の上下両側に挿入する。
【００３８】
ロック端子１２０が挿入部６６に挿入されると、下側の導体部１２２の下端部が、カム面６９の上端部に当接する。この際、下側の導体部１２２からカム面６９に水平方向（ロック端子１２０の挿入方向）の力が作用し、該水平方向の力が、カム面６９により上向きの回転力に変換される。これにより、バー６２は、先端側が持ち上がる方向（図中反時計回り方向）へ回動する。
【００３９】
図７（Ａ）は、プラグ挿入口２４を開いた状態の開閉機構６０を示す正面図であり、図６（Ｂ）は、同状態の開閉機構６０を示す側面図である。これらの図に示すように、ロック端子１２０が挿入部６６の最深部まで挿入された場合には、バー６２が、プラグ挿入口２４とプラグ挿入方向に重なり合わない位置まで回動される。これにより、プラグ挿入口２４が開いた状態となり、テストプラグ４０をテストターミナル２０に挿入できるようになる。
【００４０】
テストプラグ４０をテストターミナル２０に挿入して保護継電器１００の動作試験を行った後は、テストプラグ４０をテストターミナル２０から引き抜き、ロック端子１２０を挿入部６６から引き抜くことが好ましい。さらにその後、ロック端子１２０をトリップ回路１１２に装着することが好ましい。これにより、バー６２が、上述の様に自重で降下（図中時計回り方向に回動）してプラグ挿入口２４を塞ぐ。即ち、図４（Ａ）、（Ｂ）の状態に戻る。
【００４１】
ここで、ロック端子１２０がトリップ回路１１２に装着された状態では、トリップ回路１１２は、保護継電器１００と遮断器１１０とに接続されている。この状態でテストプラグ４０をテストターミナル２０に挿入できるとした場合、保護継電器１００を遮断器１００に接続した状態で、テストプラグ４０により保護継電器１００に過電流や地絡過電流を入力する動作試験を実施し得る。この場合、不必要に遮断器１１０が遮断動作を実行してしまうことになる。
【００４２】
しかし、本実施形態に係る試験装置１０では、プラグ挿入口２４の開閉用のバー６２を開く際には、挿入部６６に挿入しなければならないロック端子１２０をトリップ回路１１２から引き抜かなければならない。これにより、ロック端子１２０がトリップ回路１１２に装着された状態で、テストプラグ４０をテストターミナル２０に挿入することを防止でき、保護継電器１００の動作試験時における不必要な遮断器１１０の遮断動作（即ち、停電）を防止できる。
【００４３】
また、本実施形態に係る試験装置１０では、バー６２が、プラグ挿入口２４を閉じる位置で停止でき、該閉じる位置と開く位置との間で移動できるように、プラグ挿入口２４の横側で支持されている。また、カム６８が、挿入部６６に挿入されるロック端子１２０から受ける力をバー６２に伝達することにより、バー６２を、プラグ挿入口２４を閉じる位置から開く位置へと移動させる。
【００４４】
これにより、ロック端子１２０を挿入部６６に挿入していない状態では、バー６２によりプラグ挿入口２４を塞ぎ、ロック端子１２０を挿入部６６に挿入することにより、プラグ挿入口２４を開くことができる。
【００４５】
また、本実施形態に係る試験装置１０では、ロック端子１２０の挿入部６６への挿入方向が、テストプラグ４０のテストターミナル２０への挿入方向に対して直交するように設定されている。また、バー６２は、テストプラグ４０のテストターミナル２０への挿入方向と平行である軸７６の周りに回動可能である。さらに、カム６８は、挿入部６６に挿入されるロック端子１２０の力を、バー６２を開放側へ回動させる力に変換する。
【００４６】
即ち、本実施形態に係る試験装置１０の開閉機構６０では、バー６２がプラグ挿入口２４の外側で、リレー盤の前面に沿って回動し、また、ロック端子１２０もリレー盤の前面に沿って挿抜される。さらに、カム６８もバー６２からリレー盤の反対側に突出させればよい。これにより、開閉機構６０の全体を、リレー盤の外側に配置することができるので、開閉機構６０を設置するためにリレー盤に特殊な構造を設ける必要はない。従って、開閉機構６０を、既存のリレー盤に取り付けることができる。
【００４７】
また、開閉機構６０では、挿入部６６の幅広部７４がプラグ挿入方向の手前側に開口している。このため、ロック端子１２０が挿入部６６に挿入されていることを確認できる。また、挿入部６６に挿入したロック端子１２０を挿入部６６から取り外すことができる。
【００４８】
図８は、他の実施形態に係る開閉機構１６０を示す斜視図である。この図に示すように、開閉機構１６０は、挿入部６６に挿入されたロック端子１２０の抜け出しを阻止したり許容したりする抜け出し阻止機構８０を備えている。抜け出し阻止機構８０は、幅広部７４の開口側の下縁部における端子挿入方向の手前側の端部に設けられたヒンジ８２と、ヒンジ８２に長手方向一端部を支持されたバー８４とを備えている。
【００４９】
ヒンジ８２は、ロック端子１２０の挿入方向に対して平行な軸の周りに回転可能であり、バー８４は、ヒンジ８２からヒンジ８２の外径方向へ延びている。これにより、バー８４は、ロック端子１２０の挿入方向に対して平行な軸の周りに回動可能に、幅広部７４の開口の下縁部における端子挿入方向の手前側の端部に支持されている。
【００５０】
バー８４の長手方向他端部（以下、先端部という）は、幅広部７４の開口の反対側の下縁部まで延びている。これにより、図中実線で示すように、バー８４が水平に倒れた状態で、バー８４の先端部は、幅広部７４の開口の反対側の下縁部により保持される。また、図中破線で示すように、バー８４が鉛直に立った状態で、バー８４の全体は、幅広部７４の開口に収まる。
【００５１】
従って、バー８４を鉛直に立てた状態では、挿入部６６の入口が開放されるため、ロック端子１２０を挿入部６６に挿入したり、ロック端子１２０を挿入部６６から抜き出したりすることが可能である。また、バー８４を水平に倒した状態では、挿入部６６の入口がバー８４により閉鎖され、バー８４がロック端子１２０の挿入方向手前側と係合する。このため、ロック端子１２０が挿入部６６から抜け出すことを阻止できる。
【００５２】
ここで、挿入部６６に挿入されたロック端子１２０は、先端部が持ち上がった状態のバー８４を支えている。このため、挿入部６６に挿入されたロック端子１２０には、バー８４の重量により抜け出す方向の力が作用する。
【００５３】
しかし、本実施形態に係る開閉機構１６０では、水平に倒した状態のバー８４が、ロック端子１２０の挿入方向手前側と係合することにより、ロック端子１２０の挿入部６６からの抜け出しが阻止される。従って、バー８４の重量の大小に関わらず、ロック端子１２０の挿入部６６からの抜け出しを防止でき、バー８４の下降を防止できる。
【００５４】
以上、本発明を実施するための形態について説明したが、上記実施の形態は本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明はその趣旨を逸脱することなく変更、改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。例えば、上記実施の形態では、試験対象の電気設備を保護継電器１００とし、試験対象の電気設備の状態に応じて制御される電気設備を遮断器１１０として説明した。しかし、試験対象の電気設備としては、遠隔監視制御装置等も挙げられ、試験対象の電気設備の状態に応じて制御される電気設備としては、変圧器や変流器等も挙げられる。
【００５５】
また、上記の実施の形態では、テストプラグ４０により接続又は遮断される回路をトリップ回路１１２とＣＴ回路１０６とした。しかし、該回路にさらに変圧器に接続されたＰＴ回路を加える等、適宜変更してもよい。
【００５６】
また、上記実施の形態では、プラグ挿入口２４を開閉する機構を、基端側を支点として回動可能なバー６２を備える開閉機構６０を例に挙げて説明した。しかし、プラグ挿入口２４を開閉する機構としては、上側を支点として回動可能に吊り下げられた扉を備える開閉機構等の他の機構も挙げられる。
【００５７】
また、上記実施の形態では、挿入部６６に挿入されるロック端子１２０の力を、バー６２に伝達する伝達部としてカム６８を例に挙げて説明した。しかし、該伝達部としては、リンク機構等の他の機構も挙げられる。
【００５８】
さらに、上記実施の形態では、挿入部６６に挿入されるロック端子１２０の力を、バー６２の伝達するカム６８を備える構成を例に挙げて説明した。しかし、挿入部６６に挿入されるロック端子１２０の力が、バー６２に直接作用してバー６２が移動する構成も挙げられる。
【符号の説明】
【００５９】
１０  試験装置、２０  テストターミナル（試験端子）、２２  接点、２４  プラグ挿入口（挿入口）、２６  箱体、２８、２９  端子、３０、３１  可動接触板、３２、３３  支持導体、３４、３５  中継接点、４０  テストプラグ（試験プラグ）、４２  導体、４４  絶縁支持体、４６  絶縁板、４８、４９  導体板、５０  端子、５２  短絡片、６０  開閉機構（開閉手段）、６２  バー（開閉部材）、６４  ケーシング、６６  挿入部、６８  カム（伝達部）、６９  カム面、７０  下側収容部、７２  上側収容部、７４  幅広部、７６  軸、８０  抜け出し阻止機構（抜け出し阻止手段）、８２  ヒンジ、８４  バー、１００  保護継電器（試験対象の電気設備）、１０２  電力線路、１０４  変流器、１０６  ＣＴ回路、１１０  遮断器（他の電気設備）、１１２  トリップ回路（信号線路）、１２０  ロック端子、１２２  導体部、１２４  絶縁部
【図１】
2011226861.tif 000003
【図２】
2011226861.tif 000004
【図３】
2011226861.tif 000005
【図４】
2011226861.tif 000006
【図５】
2011226861.tif 000007
【図６】
2011226861.tif 000008
【図７】
2011226861.tif 000009
【図８】
2011226861.tif 000010