(57)【要約】【課題】ピット又はマークがポジション記録された光記録媒体に関して、再生信号のジッタ等の影響でクロックが表すサンプリングタイミングが相対的にばらつく場合にもピットやマーク部分での振幅値を正確に検出できるようにする。【解決手段】ピット又はマークの前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとで再生信号をサンプリングし、それらのサンプリング値を平均化する。このように前後双方のエッジタイミングでサンプリングした値を平均化することで、クロックが表すサンプリングタイミングが再生信号に対してばらつく場合にも、検出振幅値（つまり上記平均化により得られる値）にばらつきが生じないようにできる。すなわち、本来同じ振幅値が検出されるべき部分について、適正に同じ振幅値が検出されるようにできる。【選択図】図２１
2011238315.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピット又はマークがポジション記録された光記録媒体に対して光照射を行った結果得られる反射光を受光する受光部と、
上記受光部により得られた受光信号に基づき、上記ピット又はマークの前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとを表すクロック信号を生成するクロック生成部と、
上記クロック信号に基づいて、上記前方エッジタイミングと上記後方エッジタイミングとで上記受光信号に基づき得られる再生信号をサンプリングする両エッジサンプリング部と、
上記両エッジサンプリング部により得られた上記前方エッジタイミングでのサンプリング値と上記後方エッジタイミングでのサンプリング値とを平均化する平均化部と
を備える光学ドライブ装置。
【請求項２】
上記平均化部の出力値に基づき得られる信号についての増幅を行う増幅部をさらに備える
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項３】
上記光記録媒体は、
１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成されていると共に、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされており、
上記クロック信号に基づき、上記光記録媒体に形成されたそれぞれ異なるピット列位相を有する複数のピット列ごとに、そのピットの形成可能位置の前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとを表すタイミング選択信号をそれぞれ生成するタイミング選択信号生成部と、
上記タイミング選択信号生成部により生成された上記複数のピット列ごとの上記タイミング選択信号のうちから、指示されたタイミング選択信号に対する位相差が等しい２つのタイミング選択信号を選択するタイミング選択信号選択部と
をさらに備えると共に、
上記両エッジサンプリング部は、
上記タイミング選択信号選択部によって選択された一方のタイミング選択信号が表す前方エッジタイミングと後方エッジタイミングと、上記タイミング選択信号選択部によって選択された他方のタイミング選択信号が表す前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとのそれぞれにおいて、上記再生信号の値をサンプリングし、
上記平均化部は、
上記両エッジサンプリング部によって上記一方のタイミング選択信号が表す前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとでサンプリングされた各値と、上記両エッジサンプリング部によって上記他方のタイミング選択信号が表す前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとでサンプリングされた各値とのそれぞれを平均化して第１の平均値と第２の平均値とを得、
上記平均化部により得られた上記第１の平均値と上記第２の平均値との差分を計算して、上記指示されたタイミング選択信号によりそのピットの形成可能位置の前方及び後方エッジタイミングが表されるピット列に対するトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成部をさらに備える
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項４】
上記光記録媒体は、
深さ方向における複数位置に選択的にマーク記録が行われるバルク層を有するバルク型の光記録媒体とされ、且つ上記バルク層に対してマークポジション記録が行われており、
上記受光部は、
上記バルク層に形成されたマークからの反射光を受光する
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項５】
上記クロック生成部は、
上記受光信号に基づき得られる再生信号を所定閾値によりスライスして２値化信号を生成し、該２値化信号に基づいて上記クロック信号を生成する
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項６】
上記クロック生成部は、
上記２値化信号から、上記ピット又はマークの前方エッジタイミングを表す前方エッジタイミング信号と、上記ピット又はマークの後方エッジタイミングを表す後方エッジタイミング信号とをそれぞれ生成すると共に、これら前方エッジタイミング信号と後方エッジタイミング信号とを入力信号としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行って上記クロック信号を生成する
請求項５に記載の光学ドライブ装置。
【請求項７】
上記クロック生成部は、
上記２値化信号を入力信号としたＰＬＬ処理を行って上記クロック信号を生成する
請求項５に記載の光学ドライブ装置。
【請求項８】
ピット又はマークがポジション記録された光記録媒体に対して光照射を行った結果得られる反射光を受光する受光手順と、
上記受光手順により得た受光信号に基づき、上記ピット又はマークの前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとを表すクロック信号を生成するクロック生成手順と、
上記クロック信号に基づいて、上記前方エッジタイミングと上記後方エッジタイミングとで上記受光信号に基づき得られる再生信号をサンプリングする両エッジサンプリング手順と、
上記両エッジサンプリング手順により得られた上記前方エッジタイミングでのサンプリング値と上記後方エッジタイミングでのサンプリング値とを平均化する平均化手順と
を有する信号生成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体についての記録又は再生を行う光学ドライブ装置とその信号生成方法とに関するものであり、特に、ピット又はマークがポジション記録された光記録媒体を対象とする場合に適用して好適なものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開平０７−１５３１９８号公報
【特許文献２】特開平０７−１６９０５９号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。
【０００４】
これら光ディスクに対する記録手法の１つとして、ピット又はマークの形成部分を「１」、それ以外の部分を「０」とするいわゆるポジション記録が知られている。
図２８（ａ）（ｂ）に、このようなポジション記録の例を示す。
図２８（ａ）では、いわゆるｄ、ｋ制限を設けたポジション記録の例を示している。
ここでｄ、ｋ制限とは、最小走行長ｄ（ｄ≠０）、最大走行長ｋ（ｋ＞ｄ）による走行長制限を指す。より具体的に、「走行長」とは、符号「１」と「１」との間の「０」の個数を指すものであり、例えばｄ＝２且つｋ＝１０の走行長制限であれば、符号「１」と「１」との間の「０」の数を２以上１０以下に制限することになる。
この図２８（ａ）では、このようなｄ、ｋ制限下において、記録符号として「１００１００００１」が記録された状態を例示している。
【０００５】
また、図２８（ｂ）は、所定間隔でピットやマークの形成可能位置を設定しておき、該形成可能位置でのピット又はマークの形成有無により、ビット「０」「１」を表現するポジション記録が行われる場合を例示している。
具体的にこの図２８（ｂ）においては、ピット又はマークの形成可能位置がピット又はマーク２つ分おきの間隔で設定されている例を示しており、この場合、記録符号としては「１１０１」が記録されていることになる。
【０００６】
ここで、ポジション記録が行われる場合には、いわゆるマークエッジ記録（或いはピットエッジ記録）が行われる場合とは異なり、ピット又はマーク部分での振幅値が重要な意味を持つことが考えられる。
このとき、ピットやマークの形成部分での振幅値を検出するための１つの手法としては、ピークポジション検出の手法を挙げることができる。
【０００７】
図２９は、ピークポジションの検出手法の一例について説明するための図である。
ピット又はマーク部分での振幅値は、そのピークポジションを表すタイミング信号を生成し、該タイミング信号から生成したクロックに従って、再生信号（ｓｕｍ信号：全光量信号）の値をサンプリングすることで得ることができる。
具体的に、ピット又はマークのピークポジションを表すタイミング信号は、図のように所定の閾値Ｔｈ１によりｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号（ｓｕｍ信号を微分した信号）をスライスした信号とを生成し、これらのＡＮＤをとることで生成できる。
このようにして生成したピークポジションを表すタイミング信号に基づき、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）によりクロックを生成し、該クロックの立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値をサンプリングすることで、ピット又はマーク部分の振幅値を得ることができる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、このようなピーク検出の手法は、検出マージンが少なく、ｓｕｍ信号にジッタがある場合には、適正に振幅値を検出することができない虞がある。すなわち、ｓｕｍ信号にジッタがあると、それに伴いＰＬＬで生成されるクロックの品質悪化が悪化し、例えば図３０に示すようにクロックに基づくサンプリングタイミング（クロックの立ち上がりタイミング）が、ｓｕｍ信号に対してばらつくものとなって、その結果、振幅値を適正に検出することができない虞がある。
【０００９】
このようにしてサンプリングタイミングにばらつきが生じると、図３１に示すように、本来は同じ振幅値が得られるはずのピット又はマークであっても、そのサンプリング値がばらつくものとなってしまう。このようであると、ピット又はマーク部分での振幅値を正しく検出することはできないことになる。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記のような問題点に鑑み、本発明では光学ドライブ装置として以下のように構成することとした。
すなわち、ピット又はマークがポジション記録された光記録媒体に対して光照射を行った結果得られる反射光を受光する受光部を備える。
また、上記受光部により得られた受光信号に基づき、上記ピット又はマークの前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとを表すクロック信号を生成するクロック生成部を備える。
また、上記クロック信号に基づいて、上記前方エッジタイミングと上記後方エッジタイミングとで上記受光信号に基づき得られる再生信号をサンプリングする両エッジサンプリング部を備える。
また、上記両エッジサンプリング部により得られた上記前方エッジタイミングでのサンプリング値と上記後方エッジタイミングでのサンプリング値とを平均化する平均化部を備えるようにした。
【００１１】
上記のように本発明では、ピット又はマークの前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとで再生信号をサンプリングし、それらのサンプリング値を平均化するものとしている。このように前後双方のエッジタイミングでサンプリングした値を平均化することで、クロックが表すサンプリングタイミングが再生信号に対してばらつく場合にも、検出振幅値（つまり上記平均化により得られる値）にばらつきが生じないようにできる。換言すれば、本来同じ振幅値が検出されるべき部分について、適正に同じ振幅値が検出されるようにできる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ピット又はマークがポジション記録された光記録媒体に関して、再生信号のジッタ等の影響でクロックが表すサンプリングタイミングが相対的にばらつく場合にも、ピット又はマーク形成部分での振幅値を適正に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】前提例、比較例、及び実施の形態で記録／再生対象とするバルク型記録媒体の断面構造図である。
【図２】バルク型記録媒体に対するマーク記録時の動作について説明するための図である。
【図３】バルク型記録媒体の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
【図４】前提例、比較例、及び実施の形態の光学ドライブ装置が備える光学系の構成を主に示した図である。
【図５】ｓｋｅｗに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。
【図６】レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。
【図７】前提例、比較例、及び実施の形態で用いるバルク型記録媒体の基準面の表面を一部拡大して示した平面図である。
【図８】基準面全体におけるピットの形成態様について説明するための図である。
【図９】アドレス情報のフォーマットについて説明するための図である。
【図１０】バルク型記録媒体の回転駆動に伴い基準面上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びＰＰ（プッシュプル）信号の波形との関係を模式的に示した図である。
【図１１】ピークタイミングを表すタイミング信号から生成されたクロックと、該クロックに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。
【図１２】スポット位置ずれ補正の具体的な手法について説明するための図である。
【図１３】前提例としての光学ドライブ装置全体の内部構成を示したブロック図である。
【図１４】selector信号生成・選択部の内部構成を示した図である。
【図１５】前提例及び比較例におけるクロック生成回路の内部構成を示した図である。
【図１６】ｓｋｅｗやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図である。
【図１７】比較例におけるトラッキング誤差信号の生成手法について説明するための図である。
【図１８】比較例としてのトラッキング誤差信号の生成手法を実現するための構成について説明するための図である。
【図１９】実施の形態としてのサンプリング手法について説明するための図である。
【図２０】前方及び後方の両エッジタイミングを表すタイミング信号の生成手法について説明するための図である。
【図２１】両エッジサンプリングによるトラッキング誤差信号を生成するための構成について説明するための図である。
【図２２】実施の形態のクロック生成回路の内部構成を示した図である。
【図２３】実施の形態のクロック信号と、該クロック信号に基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。
【図２４】変形例１について説明するための図である。
【図２５】変形例２について説明するための図である。
【図２６】変形例３としてのサンプリング手法について説明するための図である。
【図２７】変形例３のサンプリング手法を実現するための構成について説明するための図である。
【図２８】ピット又はマークのポジション記録について説明するための図である。
【図２９】ピット又はマークのピーク検出手法について説明するための図である。
【図３０】クロックによるサンプリングタイミングが再生信号に対してばらつくことを説明するための図である。
【図３１】サンプリングタイミングのばらつきにより再生信号のサンプリング値がばらつくことについて説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
本明細書においては、実施の形態の説明に先立ち、先ずは前提例、またこの前提例を改良した比較例についての説明を行う。
この点を踏まえ、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．前提例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］
［1-2．光学系の構成］
［1-3．スポット位置ずれの問題］
［1-4．基準面の構造］
［1-5．アドレス情報について］
［1-6．トラッキングサーボの具体的な手法］
［1-7．具体的なスポット位置ずれ補正手法］
［1-8．光学ドライブ装置の全体的な内部構成］
＜２．比較例＞
［2-1．前提例の問題］
［2-2．比較例としてのトラッキング誤差信号生成手法］
［2-3．比較例の光学ドライブ装置の構成］
＜３．実施の形態＞
［3-1．比較例の問題］
［3-2．実施の形態としてのトラッキング誤差信号生成手法］
［3-3．実施の形態の光学ドライブ装置の構成］
＜４．変形例＞
［4-1．変形例１］
［4-2．変形例２］
［4-3．変形例３］
［4-4．その他の変形例］
【００１５】
＜１．前提例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］
図１は、前提例において記録／再生対象とする光記録媒体の断面構造図を示している。
ここで、この前提例をはじめとして、後述する比較例、及び実施の形態において記録／再生対象とする光記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
バルク型の光記録媒体とは、いわゆるバルク記録が行われる光記録媒体を指す。バルク記録とは、通常の多層光ディスクのような複数の記録膜が形成された多層構造は有さず、図のようなバルク層５としての記録層に対して逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行って多層記録を行う技術を指す。
【００１６】
図１において、バルク型記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされ、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対するレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）が行われる。また、記録情報の再生としても、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対してレーザ光を照射して行われる。
なお光記録媒体とは、光の照射により情報の記録／再生が行われる記録媒体を総称したものである。
【００１７】
図示するようにバルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する光学ドライブ装置（記録再生装置１０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。
【００１８】
また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向と一致する方向（すなわち光学ドライブ装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。
【００１９】
バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録／再生位置を案内するための位置案内子として後述するピット列が形成されていることで、凹凸の断面形状が与えられている。カバー層２は、後述するピット列が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
なお、バルク型記録媒体１における上記ピット列の具体的な形成態様については後述する。
【００２０】
また、上記ピット列が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
ここで、後述もするようにバルク記録方式では、記録層としてのバルク層５に対してマーク記録／再生を行うための光（録再用レーザ光）を照射すう一方で、上記のようなピット列などの位置案内子に基づきトラッキングやフォーカスのエラー信号を得るための光（サーボ用レーザ光）を別途に照射するものとされている。
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという選択性を有する反射膜が必要とされている。
従来よりバルク記録方式では、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いるようにされており、これに対応すべく、上記選択反射膜３としては、サーボ用レーザ光と同一の波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するという、波長選択性を有する選択反射膜が用いられる。
【００２１】
上記選択反射膜３の下層側には、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料で構成された中間層４を介して、記録層としてのバルク層５が積層（接着）されている。
バルク層５の形成材料（記録材料)としては、例えばポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式などのマイクロホログラム方式、或いはボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
ここで、上記マイクロホログラム方式については、例えば下記の参考文献１に開示されている。また、ボイド記録方式は、下記の参考文献２に開示されている。
・参考文献１・・・特開２００８−１３５１４４号公報
・参考文献２・・・特開２００８−１７６９０２号公報
なお、本発明で対象とする光記録媒体に対するマーク記録方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。以下の説明では一例として、上記のボイド記録方式が採用される場合を例示する。ボイド記録方式は、マークとしてボイド（空孔、空包）を形成する記録方式である。
【００２２】
ここで、図１に示すような断面構造を有するバルク型記録媒体１において、位置案内子が形成された選択反射膜３は、以下で説明もするようにサーボ用レーザ光に基づく録再用レーザ光の位置制御を行うにあたっての基準となる反射面となる。この意味で、選択反射膜３が形成された面を以下、基準面Ｒｅｆと称する。
【００２３】
図２は、バルク型記録媒体１の記録手法について説明するための図である。
先ず、先にも触れたように、バルク型記録媒体１に対しては、マークの記録／再生を行うための録再用レーザ光と共に、位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光とを照射するようにされる。
図示するようにこれら録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズ（後述する対物レンズ２０）を介してバルク型記録媒体１に照射される。
【００２４】
ここで、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層５に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層５内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる。図中では、バルク層５内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
なお、これら基準面Ｒｅｆからの各層位置Ｌへのオフセットｏｆ-Lの情報は、後述する記録再生装置１０におけるコントローラ４０に設定されている。
【００２５】
マークが未だ形成されていない記録時においては、録再用レーザ光の反射光に基づいてバルク層５内の各層位置Ｌを対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆにおいて案内溝に追従するようにして行うことになる。
【００２６】
但し、上記録再用レーザ光は、マーク記録のために基準面Ｒｅｆよりも下層側に形成されたバルク層５に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための録再光用フォーカス機構が設けられることになる（図４における固定レンズ１４、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６を参照）。すなわち、このような録再光用フォーカス機構により、録再用レーザ光の合焦位置を基準面Ｒｅｆよりも下層側に合わせることができ、それよってバルク層５内の所要の層位置に記録を行うことができるものである。
【００２７】
図３は、バルク型記録媒体１の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体１について再生を行う際は、記録時のように対物レンズの位置をサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要性はない。すなわち、再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌ（再生時については情報記録層Ｌとも称する）に形成されたマーク列を対象として、録再用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行えばよい。
【００２８】
このようにバルク型記録媒体１に対しては、マーク記録／再生を行うための録再用レーザ光と位置制御用光としてのサーボ光とを共通の対物レンズを介して（同一光軸上に合成して）照射するようにした上で、記録時においては、サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆの位置案内子に追従するように対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行い且つ、上述の録再光用フォーカス機構により録再用レーザ光の合焦位置を別途調整することによって、バルク層５内に案内溝が形成されていなくとも、所要の位置（深さ方向及びトラッキング方向）にマーク記録ができるように図られている。
また、再生時には、既に記録されたマーク列に録再用レーザ光の焦点位置が追従するようにして当該録再用レーザ光の反射光に基づく対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行うことで、バルク層５内に記録されたマークの再生を行うことができる。
【００２９】
［1-2．光学系の構成］
図４は、上記により説明したバルク型記録媒体１に対する記録／再生を行う光学ドライブ装置が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、記録再生装置１０が備える光学ピックアップＯＰの内部構成を主に示している。
【００３０】
図４において、記録再生装置１０に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録再生装置１０における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、図示は省略したスピンドルモータによる回転駆動が可能な状態に保持される。
光学ピックアップＯＰは、上記スピンドルモータにより回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光、サーボ用レーザ光を照射するために設けられる。
【００３１】
光学ピックアップＯＰ内には、マークによる情報記録、及びマークにより記録された情報の再生を行うための録再用レーザ光の光源である録再用レーザ１１と、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子を利用した位置制御を行うための光であるサーボ用レーザ光の光源であるサーボ用レーザ２４とが設けられる。
ここで、前述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長が異なる。本例の場合、録再用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、サーボ用レーザ光の波長はおよそ６４０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされる。
【００３２】
また、光学ピックアップＯＰ内には、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１への出力端となる対物レンズ２０が設けられる。  
さらには、上記録再用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための録再光用受光部２３と、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するためのサーボ光用受光部２９とが設けられる。
【００３３】
その上で、光学ピックアップＯＰ内においては、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光を上記対物レンズ２０に導くと共に、上記対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からの録再用レーザ光の反射光を上記録再光用受光部２３に導くための光学系が形成される。
【００３４】
具体的に、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光は、コリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように録再用レーザ１１側から入射した録再用レーザ光については透過するように構成されている。
【００３５】
上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した録再用レーザ光は、固定レンズ１４、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、前述した録再光用フォーカス機構に相当するものであり、光源である録再用レーザ１１に近い側が固定レンズ１４とされ、録再用レーザ１１に遠い側に可動レンズ１５が配置され、レンズ駆動部１６によって上記可動レンズ１５が録再用レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、録再用レーザ光について独立したフォーカス制御を行う。
後述もするように、当該録再光用フォーカス機構におけるレンズ駆動部１６は、図１３に示すコントローラ４０によって、対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に応じて駆動される。
【００３６】
上記録再光用フォーカス機構を形成する固定レンズ１４及び可動レンズ１５を介した録再用レーザ光は、図のようにミラー１７にて反射された後、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した録再用レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
【００３７】
上記ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２１が設けられる。
２軸アクチュエータ２１には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００３８】
ここで、再生時においては、上記のようにしてバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光が照射されることに応じて、バルク型記録媒体１（バルク層５内の再生対象の情報記録層Ｌに記録されたマーク列）より上記録再用レーザ光の反射光が得られる。このように得られた録再用レーザ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光の反射光は、１／４波長板１８→ミラー１７→録再光用フォーカス機構（可動レンズ１５→固定レンズ１４）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００３９】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する録再用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、録再用レーザ光１１側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した録再用レーザ光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射した録再用レーザ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。
【００４０】
このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射された録再用レーザ光の反射光は、集光レンズ２２を介して録再光用受光部２３の受光面上に集光する。
【００４１】
また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した録再用レーザ光についての光学系の構成に加えて、サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からのサーボ用レーザ光の反射光をサーボ光用受光部２９に導くための光学系が形成される。
図示するように上記サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このようにサーボ用レーザ２４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。
【００４２】
上記偏光ビームスプリッタ２６を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。
【００４３】
また、このようにバルク型記録媒体１にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先の録再用レーザ光の場合と同様にして、このようにバルク型記録媒体１側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としてのサーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。
【００４４】
偏光ビームスプリッタ２６にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ２８を介してサーボ光用受光部２９の受光面上に集光する。
【００４５】
ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録再生装置１０には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。
【００４６】
また、この場合の光学ピックアップＯＰ内においては、位置センサ３０、及びｓｋｅｗセンサ３１が設けられるが、これらについては後に改めて説明する。
【００４７】
［1-3．スポット位置ずれの問題］
ここで、上記により説明したようなバルク記録方式を採用する場合には、いわゆるｓｋｅｗ（チルト）の発生やディスク偏芯に伴う対物レンズ２０のレンズシフトの発生に伴い、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とに記録面内方向におけるスポット位置ずれが生じることが知られている。
【００４８】
図５は、ｓｋｅｗの発生に伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図５（ａ）に示すｓｋｅｗ無しの状態では、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置は記録面内方向において一致している。これに対し、図５（ｂ）に示すようなｓｋｅｗの発生に応じては、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光とに光軸のずれが生じ、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じてしまう。
【００４９】
また図６は、レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図６（ａ）に示すレンズシフト無しの状態では、対物レンズ２０が基準位置にあり、対物レンズ２０の中心と該対物レンズ２０に入射する各レーザ光の光軸ｃとが一致している。光学系は、このように対物レンズが基準位置にある状態において、各レーザ光の記録面内方向におけるスポット位置が一致するように設計されている。
【００５０】
これに対し、トラッキングサーボ制御により図６（ｂ）に示すようにディスク偏芯に追従するようにして対物レンズ２０が基準位置からシフトしてしまった場合（この場合は紙面左方向へのシフトとしている）には、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じる。
このようなレンズシフト起因のスポット位置ずれは、対物レンズ２０に対するサーボ用レーザ光と録再用レーザ光の入射態様の差によって生じるものとなる。具体的には、サーボ用レーザ光は対物レンズ２０に対して略平行光により入射するのに対し、録再用レーザ光は非平行光により入射することに起因するものである。
【００５１】
このようなｓｋｅｗやレンズシフトに起因したサーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置ずれが生じることによっては、バルク層５内における情報記録位置のずれが生じてしまう。つまり、先の説明からも理解されるように、記録時における録再用レーザ光のスポット位置は、サーボ用レーザ光の反射光に基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が行われることで制御されるので、上記のようなスポット位置ずれの発生に応じては、バルク層５内の意図した位置に記録を行うことができなくなってしまうものである。
【００５２】
このとき、ｓｋｅｗ・偏芯の発生量やトラックピッチ（位置案内子の形成間隔）の設定によっては、隣接するトラック間で情報記録位置が重なってしまう虞がある。具体的にディスクの偏芯やｓｋｅｗは、スピンドルモータへのディスクのクランプのされかたなどにより、ディスクが装填されるごとに異なる態様で発生することがあるので、例えば或るディスクについてディスク付け替えを伴う追記が行われたとき、前回の記録時に生じていたｓｋｅｗ・偏芯の態様と追記時に生じるｓｋｅｗ・偏芯の態様とが異なることに起因して、既記録部分のマーク列と追記部分のマーク列とに重なりが生じたり、場合によっては交差してしまうという問題が生じるものである。
このようであると、正しく記録信号を再生することはできなくなる。
【００５３】
このようなマーク列の重なりや交差の発生を防止するための一つの手法として、基準面Ｒｅｆにおけるトラックピッチを広めに設定しておくということを挙げることができる。
しかしながら、このように基準面Ｒｅｆのトラックピッチを広げた場合には、当然のことながらバルク層５における記録容量の縮小化を招くものとなってしまう。
【００５４】
そこで、情報記録位置のずれ自体を防止するために、ｓｋｅｗやレンズシフトを検出した結果から、録再用レーザ光のスポット位置ずれを補正するということが行われる。
図５や図６を参照して理解されるように、ｓｋｅｗの発生量とスポット位置ずれ量、及びレンズシフト量とスポット位置ずれ量とは、それぞれ相関するものとなっている。この点より、ｓｋｅｗ量の検出結果からｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれ補正量を求め、またレンズシフト量の検出結果からレンズシフト起因分のスポット位置ずれ補正量を求めた上で、それらの和を計算することで、ｓｋｅｗとレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量を算出できる。そして、このように算出した補正量に基づき、情報記録位置のずれを補正できる。
【００５５】
このような情報記録位置のずれ補正を行うために、記録再生装置１０には、先の図４に示した位置センサ３０及びｓｋｅｗセンサ３１を設けるものとしている。
図４において、位置センサ３０は、対物レンズ２０の近傍に設けられ、当該対物レンズ２０のトラッキング方向における位置（基準位置からの変位量）を検出する。すなわち、対物レンズ２０のレンズシフト量を検出するものである。
位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olは、後述するコントローラ４０に供給される。
なお、レンズシフト量を検出する手段としては上記位置センサ３０以外にも多様に考えられる。
【００５６】
また、ｓｋｅｗセンサ３１は、バルク型記録媒体１の傾き（ｓｋｅｗ）を検出する。例えばこの場合のｓｋｅｗセンサ３１は、バルク型記録媒体１に対して所定角度で光を照射する光照射部と、該光照射部により照射した光についてのバルク型記録媒体１からの反射光を受光する受光部とを備え、該受光部による上記反射光の受光位置のずれ量を検出することでバルク型記録媒体１の傾き量を検出する。
ｓｋｅｗセンサ３１による検出信号（ｓｋｅｗ検出信号ｓｋとする）としても、コントローラ４０に供給される。
なお、ｓｋｅｗを検出するための具体的な構成についても、上記により例示した構成に限定されるべきものではない。
【００５７】
ここで、上記の位置センサ３０やｓｋｅｗセンサ３１による検出結果に基づき得られた情報記録位置のずれ量に基づき情報記録位置を補正するための具体的手法の１つとしては、検出したずれ量に基づき、例えば録再用レーザ光の光軸を変化させるという手法を挙げることができる。具体的には、録再用レーザ光の光軸を例えばガルバノミラーなどを用いて変化させることで、情報記録位置のずれを補正することができる。
【００５８】
しかしながらこのように録再用レーザ光の光軸を変化させる手法で情報記録位置のずれ補正を行うためには、上記のガルバノミラーなどの別途の構成を追加する必要があり、これに伴って部品点数の増加や製造コストの増加を招くものとなってしまう。
【００５９】
そこで、前提例をはじめ、後述する比較例及び実施の形態においては、情報記録位置のずれ補正を、トラッキングサーボの対象位置を本来対象とすべき位置（つまり記録したいトラック）からずらすことで実現するものとしている。すなわち、先に説明したようなサーボ用レーザ光による位置案内子に従った対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が行われる下で、トラッキングサーボの対象位置を、記録したいトラックから補正量に応じた分だけずらすというものである。このことで、結果的に情報記録位置が上記記録したいトラック位置に合致するように制御することができる。
このようにトラッキングサーボの対象位置を本来の対象位置からずらす手法とすることで、例えば上記のような録再用レーザ光の光軸を調整するための別途の追加構成は不要とでき、その分、部品点数の削減や製造コストの削減を図ることができる。
【００６０】
［1-4．基準面の構造］
ここで、上記のようなサーボ用レーザ光によるトラッキングサーボの対象位置をオフセットさせることによる情報記録位置の補正を行うことに対応して、図１に示したバルク型記録媒体１は、その基準面Ｒｅｆに、以下で説明するような態様によるピット列が形成される。
【００６１】
図７は、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）の表面を一部拡大した平面図である。
この図７においては、紙面の左側から右側に向かう方向をピット列の形成方向、つまりはトラックの形成方向としている。この場合、サーボ用レーザ光のスポットは、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い、紙面の左側から右側に移動するものとする。
また、ピット列の形成方向と直交する方向（紙面の縦方向）は、バルク型記録媒体１の半径方向である。
【００６２】
また図７において、図中の白丸で示すＡ〜Ｆは、ピットの形成可能位置を表す。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、当該ピットの形成可能位置においてのみ形成されるものであって、ピットの形成可能位置以外にはピットの形成が行われない。
また、図中のＡ〜Ｆの符号の別はピット列の別（半径方向において配列されるピット列の別）を表し、これらＡ〜Ｆの符号に付される数字はピット列上におけるピットの形成可能位置の別を表す。
【００６３】
ここで、図中の黒太線で表す間隔は、従来のバルク型記録媒体１において実現可能な最小トラックピッチ（従来限界トラックピッチ）を表している。このことからも理解されるように、本実施の形態のバルク型記録媒体１では、Ａ〜Ｆの計６本のピット列が、半径方向において、従来限界の１トラック幅内に配列されていることになる。
【００６４】
但し、従来限界の１トラック幅内にこれら複数のピット列を単純に配列したのみでは、ピット列形成方向においてピットの形成位置が重なってしまう虞があり、つまりはピット列形成方向におけるピットの間隔が光学限界を超えてしまう虞がある。
【００６５】
そこで、本例においては、従来限界の１トラック幅内に配列される上記Ａ〜Ｆの複数のピット列間で、ピット列形成方向におけるピット同士の間隔が光学限界を超えないようにするべく、以下のような条件を定めている。
すなわち、
１）Ａ〜Ｆの各ピット列において、ピットの形成可能位置の間隔を所定の第１の間隔に制限する。
２）このようにピットの形成可能位置の間隔が制限されたＡ〜Ｆの各ピット列を、それぞれのピットの形成可能位置がピット列形成方向において所定の第２の間隔ずつずれたものとなるようにして配列する（つまり上記第２の間隔で各ピット列の位相をずらす）。
というものである。
【００６６】
ここで、半径方向に配列されるＡ〜Ｆのピット列におけるそれぞれのピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔（上記第２の間隔）をｎとおく。このとき、上記２）の条件が満たされるようにＡ〜Ｆの各ピット列が配列されることで、ピット列Ａ−Ｂ、ピット列Ｂ−Ｃ、ピット列Ｃ−Ｄ、ピット列Ｄ−Ｅ、ピット列Ｅ−Ｆ、及びピット列Ｆ−Ａの各ピット形成可能位置間の間隔は、図示するように全てｎとなる。
また、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の間隔（上記第１の間隔）は、この場合はＡ〜Ｆまでの計６つのピット列位相を実現するものとしているので、６ｎとなる。
【００６７】
本例において、基準面Ｒｅｆにおけるサーボ用レーザ光による情報再生は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）の場合と同様の波長λ＝６４０、開口数ＮＡ＝０．６５の条件で行うものとしている。このことに対応して本実施の形態では、各ピット形成可能位置の区間長はＤＶＤにおける最短マークと同じ３Ｔ分（Ｔはチャネルビット）の区間長とし、またピット列形成方向におけるＡ〜Ｆの各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も、同様の３Ｔ分の長さに設定している。つまりこのことによると、ｎ＝６Ｔとなる。
この結果、上記１）２）の条件が満たされるものとなっている。
【００６８】
ここで、基準面Ｒｅｆ全体におけるピットの形成態様について理解するために、次の図８を参照してより具体的なピット列の形成手法について説明する。
なお図８では、図示の都合上、ピット列の種類（位相）がＡ〜Ｃの３種のみとされた場合を例示している。
また図中において、黒丸はピット形成可能位置を表す。
【００６９】
この図８を参照して分かるように、バルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆにおいては、それぞれ位相の異なる複数種のピット列（図８ではＡ〜Ｃの３種としているが実際にはＡ〜Ｆの６種となる）を１セットとし、該複数種のピット列の１セットがスパイラル状に形成されている。
このことで、上記複数種のピット列のうちの所要の１種のピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置はスパイラル状の軌跡を描くことになる。
【００７０】
また、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、ＣＡＶ（角速度一定）により形成されたものとなる。このことから、図示するよう複数種のピット列の個々は、半径方向において、そのピットの形成位置（ピットの形成可能位置）が同じ角度位置に揃うものとなる。
【００７１】
［1-5．アドレス情報について］
続いて、図９により、基準面Ｒｅｆに記録されるアドレス情報のフォーマットの一例について説明する。
図９において、先ず図９（ａ）は、それぞれ異なるピット列位相を有するようにされた各ピット列（Ａ〜Ｆ）のピット形成可能位置の関係を模式化して示している。なお図９（ａ）においては「＊」マークによりピット形成可能位置を表している。
【００７２】
ここで、後述もするように、記録再生装置１０は、これらＡ〜Ｆのピット列のうちから１つのピット列を選択し、該選択した１つのピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにされている。
但し、このとき問題となるのは、Ａ〜Ｆの各ピット列は半径方向において従来の光学限界を超えた間隔で配列されているという点である。すなわち、この場合においてビームスポットがトラック上を移動（走査）して得られるトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）としては、Ａ〜Ｆの全てのピットを反映したものとなってしまうので、該トラッキングエラー信号に基づきトラッキングサーボをかけたとしても、選択した１つのピット列を追従することはできなくなる。
このために本例の記録再生装置１０は、後述するように、選択したピット列におけるピット形成可能位置の区間のトラッキングエラー信号を抽出し、該抽出したトラッキングエラー信号に基づいて（いわば間欠的に）トラッキングサーボをかけるようにされる。
【００７３】
そして、これと同様に、アドレス情報を読む場合にも、選択したピット列に記録される情報のみが選択的に読み出されるように、該選択したピット列のピット形成可能位置の区間の和信号（後述のｓｕｍ信号）を抽出し、該抽出した和信号に基づきアドレス情報を検出するという手法が採られる。
【００７４】
このような情報検出の手法に対応するために、本例では、ピット形成可能位置におけるピットの形成有無により、チャネルビット（記録符号）の「０」「１」を表現するフォーマットを採用するものとしている。すなわち、１つのピット形成可能位置が、１チャネルビット分の情報を担うものである。
【００７５】
その上で、このようなチャネルビットの複数個による「０」「１」のデータパターンにより、データビットの１ビットを表現するものとしている。
具体的に本例では、図９（ｂ）に示されるように、チャネルビット４つ分でデータビットの「０」「１」を表現するものとし、例えば４チャネルビットのパターン「１０１１」がデータビット「０」、４チャネルビットのパターン「１１０１」がデータビット「１」を表すものとしている。
【００７６】
このとき重要であるのは、チャネルビット「０」が連続しないという点である。つまり、チャネルビット「０」が連続してしまうということは、上述のようにトラッキングエラー信号を間欠的に用いてサーボを行うとしたときに、エラー信号が得られない期間が連続してしまうということ意味するので、これに伴い、トラッキングサーボの精度を確保することが非常に困難となってしまうためである。
このため本例では、例えば上記のようなデータビットの定義により、チャネルビット「０」が連続しないという条件が満たされるようにしている。すなわち上記のようなデータビットの定義により、トラッキングサーボの精度低下が最小限に抑えられるようにしているものである。
【００７７】
図９（ｃ）は、シンクパターンの一例を示している。
例えばシンクパターンについては、図示するように１２チャネルビットで表現するものとし、前半の８ビットを上記データビットの定義に当てはまらないチャネルビットパターン「１１１１１１１１」とし、その後の４チャネルビットのパターンでシンクの別（種類）を表すものとしている。具体的に、上記８ビットに続く４チャネルビットのパターンが「１０１１」であればＳｙｎｃ１、「１１０１」であればＳｙｎｃ２としている。
【００７８】
バルク型記録媒体１においては、アドレス情報が、上記のようなシンクの後に続けて記録されているものとする。
ここでアドレス情報としては、少なくとも絶対位置情報（半径位置の情報、及び回転角度位置の情報）を記録する。
なお確認のために述べておくと、本例では従来限界の１トラック幅内にＡ〜Ｆの複数本のピット列を配列するものとしているが、アドレス情報の記録は、各ピット列の半径位置が個別に表されるように（各ピット列の識別が可能となるように）、ピット列ごとに個別の情報が割り振られるようにして行う。すなわち、従来限界の１トラック幅内に配列されるＡ〜Ｆの各ピット列に対し同じアドレス情報を記録するものではない。
【００７９】
なお、図９の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆに対しては、ピットがポジション記録されていることになる。前述もした通り、ポジション記録とは、ピット又はマークの形成部分を「１」、それ以外の部分を「０」とする記録手法を指すものである。
【００８０】
［1-6．トラッキングサーボの具体的な手法］
上記のように従来の１トラック幅内に複数配列されるようにして形成されたピット列のうちから、任意のピット例を対象としてトラッキングサーボをかけるための手法は、具体的には以下で説明するものとなる。
【００８１】
図１０は、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い基準面Ｒｅｆ上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びプッシュプル信号ＰＰ（ＰＰ信号とも表記する）の波形との関係を模式的に示している。
上記ｓｕｍ信号は、図４に示したサーボ光用受光部２９としての複数の受光素子で得られた受光信号ＤＴ-svの和信号であり、上記ｓｕｍ微分信号はｓｕｍ信号を微分して得られる信号である。
ここで、この図では説明の便宜上、図中の各ピット形成可能位置の全てにピットが形成されているものとする。
【００８２】
図示するようにして、バルク型記録媒体１の回転に伴いサーボ用レーザ光のビームスポットが移動することに伴っては、ｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における配置間隔に応じた周期でその信号レベルがピークを迎えることになる。つまりこのｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における間隔（形成周期）を表していることになる。
【００８３】
ここで、この図の例ではサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ａ上に沿って移動するものとしているので、上記ｓｕｍ信号は、ピット列形成方向におけるピットＡの形成位置の通過時にピーク値が最大（絶対値）となり、またピットＢ〜ピットＤの各形成位置にかけて徐々にピーク値が減少していく傾向となる。そしてその後、ピットＥの形成位置→ピットＦの形成位置の順でピーク値は上昇傾向に転じ、再びピットＡの形成位置に至ることでピーク値が最大となる。すなわち、ピット列形成方向における上記ピットＥ、Ｆの形成位置においては、外周側に隣接するピット列Ｅ、Ｆにおけるピットの影響を受けるので、ｓｕｍ信号のピーク値はピットＥ、Ｆの形成位置ごとで順に上昇することになる。
【００８４】
また、上記ｓｕｍ信号を微分して生成されるｓｕｍ微分信号、及びトラッキング誤差信号としてのＰＰ信号としては、それぞれ図示するような波形が得られる。
上記ｓｕｍ微分信号は、各ピット列Ａ〜Ｆのピット形成位置（厳密にはピット形成可能位置である）のピット列形成方向における間隔に応じたクロックＣＬＫを生成するために用いられることになる。
【００８５】
前提例、及び後述する比較例では、クロックＣＬＫとして、各ピットのセンター位置（ピークポジション）に相当する位置（タイミング）を立ち上がり位置（タイミング）とする信号を生成するものとしている。具体的には、先の図１０にも示した所定の閾値Ｔｈ１でｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号をスライスした信号とを生成し、これらのＡＮＤをとることで、上記ピークポジションに相当する立ち上がりタイミングを有するタイミング信号を生成する（先の図２９を参照）。
【００８６】
図１１は、上記の手順により生成したタイミング信号から生成されたクロックＣＬＫと、該クロックＣＬＫに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。
この図に示すように、クロックＣＬＫとしては、各ピット（ピット形成可能位置）のピークポジションに対応したタイミングで立ち上がり、且つ各立ち上がり位置間の中間点が立ち下がり位置とされた信号となる。
このようなクロックＣＬＫは、上記のように生成されたタイミング信号を入力信号（参照信号）としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行って生成する。
【００８７】
このようにピットＡ〜Ｆの形成間隔に応じた周期を有するクロックＣＬＫを生成した上で、該クロックＣＬＫから、Ａ〜Ｆの個々のピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。
具体的にこれらselector信号としては、それぞれ上記クロックＣＬＫを１／６に分周して生成されたものとなっており、且つそれぞれの位相が１／６周期ずつずれたものとなっている。換言すれば、これら各selector信号は、それぞれの立ち上がりタイミングが１／６周期ずつずれたものとなるように、クロックＣＬＫをそれぞれのタイミングで１／６に分周して生成されるものである。
【００８８】
これらselector信号は、それぞれ、Ａ〜Ｆの対応するピット列のピット形成可能位置のタイミングを表す信号となる。前提例では、これらselector信号を生成した上で、任意のselector信号を選択し、該選択したselector信号が表す期間内におけるトラッキングエラー信号に従ってトラッキングサーボ制御を行うことで、Ａ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列上にサーボ用レーザ光のビームスポットをトレースさせる。つまりこのようにすることで、サーボ用レーザ光のビームスポット位置をＡ〜Ｆのうちの任意のピット列上にトレースさせることができるものである。
【００８９】
このようにＡ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が可能となることで、録再用レーザ光による情報記録位置のずれの補正にあたって行われるべきサーボ用レーザ光のスポット位置のオフセットは、少なくともこれらＡ〜Ｆの各ピット列の間隔で行うことができる。つまりこれにより、録再用レーザ光による情報記録位置を従来の１トラック幅よりも狭い間隔で微調整することができる。具体的にこの場合は、従来の１トラック幅を６分割した精度により情報記録位置を補正することができる。
【００９０】
［1-7．具体的なスポット位置ずれ補正手法］
実際にスポット位置ずれ補正を行うにあたっては、上記のようなピット列の選択による１／６トラック幅の精度による情報記録位置の補正を可能とした上で、さらに細かな精度による補正も可能となるようにする。具体的には、選択したピット列についてのトラッキングエラー信号に対してオフセットを与えるなど、トラッキングサーボループ内にオフセットを付与することで、１／６トラック幅を超えるさらなる微調整を可能とするものである。
【００９１】
このようなトラッキングサーボループに対するオフセット付与による補正も含めた、前提例としてのスポット位置ずれ補正の具体的な手法について、次の図１２を参照して説明する。
図１２において、図１２（ａ），図１２（ｂ）ではそれぞれ基準面Ｒｅｆ上の半径方向に配列されたピット列とサーボ用レーザ光、録再用レーザ光のそれぞれのスポットを示しており、図１２（ａ）は無補正の状態、図１２（ｂ）は補正後の状態を示している。
【００９２】
先ず図１２（ａ）において、無補正の状態では、サーボ用レーザ光の反射光に基づくトラッキングサーボ制御が行われることに伴い、サーボ用レーザ光のスポット位置は記録したいトラック（ピット列）上にあることになる。
そして、ｓｋｅｗやレンズシフトの発生に伴い、録再用レーザ光のスポット位置は、図のように上記記録したいトラックからずれた位置にあることになる。具体的にこの図においては、録再用レーザ光のスポット位置ずれがピット列８．５本分生じている場合を例示している。
【００９３】
このような録再用レーザ光のスポット位置のずれ量は、先の図４に示した位置センサ３０とｓｋｅｗセンサ３１とにより検出することができる。つまり換言すれば、このように生じる録再用レーザ光のスポット位置のずれを補正するための補正量の値（図１２（ｂ））は、これら位置センサ３０とｓｋｅｗセンサ３１の検出結果に基づいて算出するものである。
【００９４】
このとき、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値そのものは、図１２（ｂ）に示されているような補正量の値を直接的に表すものではなく、当然のことながらこれら位置検出信号ｐｓ-olの値やｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値を正規化して、トラッキングサーボ対象位置のオフセット量としての補正量の値を算出することになる。
具体的に、本例においては、以下のような考え方に基づき、ｓｋｅｗ及びレンズシフトに起因するスポット位置ずれを補正するための補正量（トラッキングサーボ対象位置のオフセット量）AD_OFSを計算するものとしている。
先ず、ｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SKと、レンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SHとを個別に考え、
AD_SK＝（ｓｋ−offset_SK）×gain_SK  ・・・［式１］
AD_SH＝（ｐｓ-ol−offset_SH）×gain_SH  ・・・［式２］
とする。ここで［式１］において、offset_SK、gain_SKは、ｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値に基づきｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SKを求めるにたって設定された補正係数である。
同様に［式２］において、offset_SH、gain_SHは、位置検出信号ｐｓ-olの値に基づきレンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SHを求めるにたって設定された補正係数である。
このようにｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれについての補正量AD_SKとレンズシフト起因分のスポット位置ずれについての補正量AD_SHとを個別に扱うものとした上で、ｓｋｅｗ及びレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量AD_OFSを、次の［式３］により計算する。
AD_OFS＝AD_SK＋AD_SH＋Ｄ_alm  ・・・［式３］
但し［式３］において、Ｄ_almは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の光軸位置のアライメントずれを表す補正係数である。
【００９５】
上記のような［式１］〜［式３］の演算により、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値とから、正規化された補正量AD_OFSを算出する。
【００９６】
ここで、上記のように求めた補正量AD_OFSは、距離の情報となる。前述のように本例の場合、スポット位置ずれの補正は、トラッキングサーボの対象とするピット列の選択を伴うものとなるので、上記のようにして求まった補正量AD_OFSの値から、トラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定する処理を行う必要がある。具体的には、補正量AD_OFSの値をピット列の形成ピッチの値によって除算することで、図１２（ａ）の記録したいトラックからオフセットさせるべきピット列の本数が求まり、その結果から、トラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定するものである。
【００９７】
また、上記除算を行った結果得られる余りの値は、補正のためにトラッキングサーボループに対して与えるべきオフセットの値を表すものであり、この値も取得しておく。具体的に図１２の例では、ピット列の形成ピッチの１／２の値が当該オフセットの値となる。
【００９８】
ここで、このように補正量AD_OFSの値からトラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定する過程で得られるオフセットの値（補正のためにトラッキングサーボループに付与すべきオフセットの値）については、オフセットｏｆｓと称する。
また、上記のようにして補正量AD_OFSの値から特定したピット列（補正のためにトラッキングサーボの対象とすべきピット列）については、補正用対象ピット列と称する。
【００９９】
上記のようにして補正量AD_OFSの値に基づき補正用対象ピット列の特定、及びオフセットｏｆｓの取得を行った上で、これらの情報に基づき、サーボ用レーザ光によるトラッキングサーボ対象位置をオフセットさせる。具体的には、上記補正用対象ピット列のピット形成可能位置のタイミングを表すselector信号を選択し、該選択したselector信号が表すタイミングでプッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドして得られるトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を行うことで、上記補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が行われるようにすると共に、その状態においてトラッキングサーボループ内に上記取得したオフセットｏｆｓを与えることで、トラッキングサーボの対象位置を上記補正量AD_OFSに応じた分だけオフセットさせる。
このような補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボ制御とトラッキングサーボループ内へのオフセットｏｆｓの付与とを行うことで、サーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御の目標値が、計算した補正量AD_OFSの値に応じた分だけオフセットされたことになる。従ってこのことで、サーボ用レーザ光のスポット位置は、図１２（ｂ）に示されるように、記録したいトラック位置から補正量AD_OFSの分だけオフセットされるものとなり、これに伴い、録再用レーザ光のスポット位置が、記録したいトラックに合わせ込まれることになる。つまりこの結果、情報記録位置のずれが補正されるものである。
確認のために述べておくと、上記のようにトラッキングサーボループ内に補正量AD_OFSから算出されたオフセットｏｆｓを与えることで、ピット列の形成間隔を超える精度での補正が実現される。
【０１００】
なおこのとき、図１２の例のように補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上の値となる（つまりこの場合はピット列３本分以上の値となる）場合は、ジャンプパルスを与えて、サーボ用レーザ光のスポット位置を補正用対象ピット列の方向に移動させることで、selector信号の選択切り替えによるトラッキングサーボ対象のピット列の選択切り替えが可能な状態となるようにする。
先の図１０や図１１を参照して理解されるように、或るピット列を対象としてトラッキングサーボをかけた状態において、selector信号の選択切り替えによりトラッキングサーボの対象として選択切り替え可能なピット列は、サーボ対象としているピット列を中心としてそれぞれ従来限界トラックの半本分（ピット列３本分）未満の距離内に位置するピット列までとなる。つまり図１２（ａ）のように補正前のサーボ対象のピット列がピット列Ａとされている状態では、selector信号の選択切り替えによりトラッキングサーボの対象として選択切り替え可能なピット列は、ピット列Ｂ、ピット列Ｃ、ピット列Ｆ、ピット列Ｅとなる。従って、図１２に示す例のように補正用対象ピット列が現在トラッキングサーボの対象としているピット列から従来限界トラックの半本分以上離れた位置にある場合には、トラッキングサーボを一瞬オフとした上で、上記補正対象ピット列の方向へのジャンプパルスを与えて、サーボ用レーザ光のスポット位置を補正用対象ピット列方向に移動させる。このとき与えるジャンプパルスの大きさは、現在トラッキングサーボの対象としているピット列から補正用対象ピット列までの距離に応じて変化させる。そして、該ジャンプパルスの付与を行った上で、補正用対象ピット列のselector信号を選択して該補正用対象ピット列についてのトラッキングエラー信号を得るものとし、該トラッキングエラー信号に基づくトラッキングサーボが行われるようにする。
このようにすることで、補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上となる場合にも、トラッキングサーボの対象ピット列を上記補正用対象ピット列に切り替えることができる。
【０１０１】
なお、計算した補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上である場合に補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボを行うための手法は、上記手法に限定されるべきものではなく、例えばトラッキングサーボの対象とするピット列を隣接するピット列に順次切り替えていって補正用対象ピット列に到達させるなど、他の手法を採ることもできる。
何れにしても、この場合のスポット位置ずれ補正の実現にあたっては、計算した補正量AD_OFSから特定した補正用対象ピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにすることに変わりはない。
【０１０２】
［1-8．光学ドライブ装置の全体的な内部構成］
図１３は、上記により説明した手法によりスポット位置ずれ補正を行う、前提例としての記録再生装置１０の全体的な内部構成を示している。
なお図１３において、光学ピックアップＯＰの内部構成については、先の図４に示した構成のうち録再用レーザ１１、レンズ駆動部１６、２軸アクチュエータ２１、及び位置センサ３０のみを抽出して示している。
【０１０３】
図１３において、記録再生装置１０には、バルク層５を対象とした記録／再生や、記録マークの再生時における対物レンズ２０のフォーカス／トラッキング制御（つまり録再用レーザ光の反射光に基づく位置制御）を行うための信号処理系の構成として、図中の記録処理部３２、録再光用マトリクス回路３３、再生処理部３４が設けられている。
【０１０４】
記録処理部３２には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３２は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
記録処理部３２は、このように生成した記録変調データ列に基づく記録パルスＲＣＰにより、光学ピックアップＯＰ内の録再用レーザ１１の発光駆動を行う。
【０１０５】
録再光用マトリクス回路３３は、図４に示した録再光用受光部２３としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-rp（出力電流）に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
具体的には、上述した記録変調データ列を再生した再生信号に相当する高周波信号（以降、再生信号ＲＦと称する）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-rpを生成する。
【０１０６】
録再光用マトリクス回路３３にて生成された上記再生信号ＲＦは、再生処理部３４に供給される。
また、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-rp、上記トラッキングエラー信号ＴＥ-rpは、録再光用サーボ回路３５に対して供給される。
【０１０７】
再生処理部３４は、上記再生信号ＲＦについて、２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
【０１０８】
また、録再光用サーボ回路３５は、マトリクス回路３３から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づきフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpをそれぞれ生成し、これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づくフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpに基づき、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
先の説明からも理解されるように、このような録再用レーザ光の反射光に基づく２軸アクチュエータ２１（対物レンズ２０）のサーボ制御は、再生時において行われるものである。
【０１０９】
また、録再光用サーボ回路３５は、再生時に対応してコントローラ４０から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして上記トラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。
【０１１０】
また、記録再生装置１０においては、サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系として、サーボ光用マトリクス回路３６、アドレス検出回路３７、サーボ光用サーボ回路３８、selector信号生成・選択回路３９、サンプルホールド回路ＳＨ１、及び加算器４１が設けられる。
【０１１１】
サーボ光用マトリクス回路３６は、図２に示したサーボ光用受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的にこの場合のサーボ光用マトリクス回路３６は、プッシュプル信号ＰＰ、ｓｕｍ信号（和信号）、及びフォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-svを生成する。
図示するようにプッシュプル信号ＰＰはサンプルホールド回路ＳＨ１に対して供給される。またフォーカスエラー信号ＦＥ-svはサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。
またｓｕｍ信号はアドレス検出回路３７及びselector信号生成・選択部３９に対して供給される。
【０１１２】
アドレス検出回路３７は、selector信号生成・選択部３９により後述するようにして生成・選択されたselector信号を入力し、該selector信号が表すピット形成可能位置のタイミング（この場合はselector信号がＨレベルの区間）で上記サーボ光用マトリクス回路３６からのｓｕｍ信号の値をサンプリングした結果に基づき、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報（少なくとも半径位置情報や回転角度位置情報を含む絶対位置情報）を検出する。
ここで、先の図９を参照して説明したように、本例の場合、各ピット列のアドレス情報は、そのピット列におけるピット形成可能位置でのピット形成有無を１チャネルビットの情報として記録されるものである。これに応じアドレス検出回路３７は、上記selector信号の立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値を識別することで、１チャネルビットの「０」「１」のデータ識別を行い、その結果に基づき、先の図９で説明したフォーマットに従ったアドレスデコード処理を行うことで、記録されたアドレス情報の検出（再生）を行う。
アドレス検出回路３７で検出されたアドレス情報は、コントローラ４０に対して供給される。
【０１１３】
selector信号生成・選択部３９は、ｓｕｍ信号に基づくクロックＣＬＫの生成、クロックＣＬＫに基づく各selector信号の生成、及び生成したselector信号のうちの指示されたselector信号の選択出力を行う。
【０１１４】
図１４は、selector信号生成・選択部３９の内部構成を示している。
図示するようにselector信号生成・選択部３９には、クロック生成回路４５、selector信号生成回路４６、及びselector信号選択回路４７が設けられる。
サーボ光用マトリクス回路３６からのｓｕｍ信号は、クロック生成回路４５に対して入力される。クロック生成回路４５は、先に説明した手順に従ってクロックＣＬＫを生成する。
【０１１５】
ここで、クロック生成回路４５の内部構成は、図１５に示すものとなる。
図１５において、クロック生成回路４５内にはスライス回路４５Ａ、ｓｕｍ微分回路４５Ｂ、スライス回路４５Ｃ、ＡＮＤゲート回路４５Ｄ、及びＰＬＬ回路４５Ｅが設けられる。
ｓｕｍ信号は、図示するようにスライス回路４５Ａとｓｕｍ微分回路４５Ａとに入力される。スライス回路４５Ａは、設定された閾値Ｔｈ１に基づき上記ｓｕｍ信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路４５Ｄに出力する。
上記ｓｕｍ微分回路４５Ｂは、ｓｕｍ信号を微分して先に説明したｓｕｍ微分信号を生成する。上記スライス回路４５Ｃは、設定された閾値Ｔｈ２に基づき、上記ｓｕｍ微分回路４５Ｂにより生成されたｓｕｍ微分信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路４５Ｄに出力する。
ＡＮＤゲート回路４５Ｄは、上記スライス回路４５Ａからの出力と上記スライス回路４５Ｃからの出力とのＡＮＤをとり、これによって先に説明したタイミング信号を生成する。
ＰＬＬ回路４５Ｅは、このようにＡＮＤゲート回路４５Ｄで得られたタイミング信号を入力信号としてＰＬＬ処理を行って、クロックＣＬＫを生成する。
【０１１６】
図１４に戻り、クロック生成回路４５により生成された上記クロックＣＬＫは、selector信号生成回路４６に供給される。
selector信号生成回路４６は、クロックＣＬＫに基づき、Ａ〜Ｆの各ピット列のそれぞれのピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にselector信号生成回路４６は、クロックＣＬＫを１／６に分周した信号として、それぞれ位相が１／６周期ずつずれた信号を生成することで、上記６種のselector信号を得る。
これら６種のselector信号はselector信号選択回路４７に対して供給される。
【０１１７】
selector信号選択回路４７は、入力した６種のselector信号のうちから、コントローラ４０より供給される選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号を選択・出力する。
【０１１８】
説明を図１３に戻す。
selector信号選択回路４７より出力されたselector信号は、前述したアドレス検出回路３７に供給されると共に、図のようにサンプルホールド回路ＳＨ１に対しても供給される。
【０１１９】
サンプルホールド回路ＳＨ１は、Ａ／Ｄ変換器を備え、サーボ光用マトリクス回路３６から供給されるプッシュプル信号ＰＰを上記selector信号の立ち上がりエッジでサンプルホールドする。
このようにしてサンプルホールド回路ＳＨ１によりselector信号に従ってプッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドして得られるトラッキングエラー信号については、以下、トラッキングエラー信号ＴＥ-svと称する。
【０１２０】
図示するようにサンプルホールド回路ＳＨ１により得られたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、加算器４１を介してサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。
またトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、コントローラ４０に対しても供給される。
【０１２１】
サーボ光用サーボ回路３８は、フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、及び加算器４１を介したトラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づき、それぞれフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
そして、記録時には、コントローラ４０からの指示に応じて、上記フォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svに基づいて、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動することで、サーボ用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、及び所要のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実現する。
【０１２２】
また、サーボ光用サーボ回路３８は、記録時に対応してコントローラ４０から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして２軸アクチュエータ２１のトラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作（ピット列間のジャンプ動作）を実現する。
【０１２３】
コントローラ４０は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
例えばコントローラ４０は、前述したように予め各層位置に対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、録再用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光学ピックアップＯＰ内のレンズ駆動部１６を駆動することで、深さ方向における記録位置の選択を行う。
【０１２４】
また、コントローラ４０は、先に説明したような記録／再生時の対物レンズ２０のサーボ制御切り替えを実現するための制御も行う。具体的にコントローラ４０は、記録時には、サーボ光用サーボ回路３８に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を指示し、また録再光用サーボ回路３５にはフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を停止するように指示を行う。
一方、再生時には、録再光用サーボ回路３５に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を指示し、サーボ光用サーボ回路３８に対しては、フォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を停止するように指示を行う。
【０１２５】
またコントローラ４０は、サーボ光用サーボ回路３８に対するシーク動作制御も行う。すなわち、サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上における所定の目標アドレスに移動させるようにサーボ回路３８に対する指示、及びselector信号生成・選択部３９（selector信号選択回路４７）に対する選択信号SLCTによるselector信号の選択指示を行う。
【０１２６】
ここで、この場合におけるシーク動作制御は、大まかには例えば以下のような手順で行われることになる。
１）前述のスライド駆動部を利用した光学ピックアップＯＰ全体の移動による目標アドレス付近への移動
２）サーボ用レーザ光のフォーカスサーボＯＮ
３）ｓｕｍ信号に基づくクロックＣＬＫの生成＆各selector信号の生成
４）任意に選択したselector信号に基づき、任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実行
５）上記４）にてトラッキングサーボがかかることで、アドレス情報（ピット列を識別するための情報）が読めるので、そのアドレスから目標アドレスまでのピット列ジャンプを行う
コントローラ４０は、上記１）２）の動作が実行されるように、サーボ回路３８に対する指示を行う。またコントローラ４０は、上記４）における任意のselector信号の選択のために、選択信号SLCTにより、selector信号生成・選択部３９に対し予め定められた位相によるselector信号の選択指示を行う。
またコントローラ４０は、上記５）の動作の実現のために、上記４）によるトラッキングサーボがかかることに応じてアドレス検出回路３７により検出されるアドレス情報を入力し、該アドレス情報に基づき、目標アドレスまでに要するピット列のジャンプ本数を計算し、該ジャンプ本数分だけピット列ジャンプ動作を実行させるための指示をサーボ回路３８に対して行う。
【０１２７】
また、コントローラ４０は、先に説明したスポット位置ずれ補正に係る制御処理として、以下のような処理も実行する。
つまりコントローラ４０は、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値とを逐次取得すると共に、これらｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と位置検出信号ｐｓ-olの値と、補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almとを用いた先の［式１］〜［式３］の演算を行うことで、補正量AD_OFSを逐次計算する。
そして、計算した補正量AD_OFSの値をピット列の形成ピッチの値により除算した結果に基づき、補正量AD_OFS分の補正を行うために選択すべき補正用対象ピット列を特定すると共に、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに与えるべきオフセットｏｆｓの値を取得する。
その上で、特定した補正用対象ピット列のピット形成可能位置のタイミングを表すselector信号の選択を、選択信号SLCTによってselector信号生成・選択部３９に指示すると共に、取得したオフセットｏｆｓの値を、加算器４１に出力してトラッキングエラー信号ＴＥ-svに対するオフセットｏｆｓの付与を実行させる。
なお、先に説明したように、計算した補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本以上となる場合は、サーボ光用サーボ回路３８に補正用対象ピット列が形成される方向へのジャンプパルスを与えることになる。
【０１２８】
また、コントローラ４０は、このようなスポット位置ずれ補正動作に伴いサーボ用レーザ光のスポット位置が本来対象とすべきピット列上からオフセットさせることに伴い生じるアドレス情報の誤差を補正するための処理も行う。具体的には、スポット位置ずれ補正動作の実行中において、アドレス検出回路３７から取得されるアドレス情報を、サーボ用レーザ光スポット位置のオフセット量（記録したいトラックから実際にサーボ対象としているピット列までのピット列本数）に応じて補正するものである。
【０１２９】
＜２．比較例＞
［2-1．前提例の問題］
上記により説明した前提例によれば、先の図５や図６にて説明したような情報記録位置のずれを補正して、バルク層５内の適正な位置にマークが記録されるようにできる。
しかしながら、前提例においては、トラッキングエラー信号ＴＥ-svとして、プッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドした信号を用いている。周知のようにプッシュプル信号ＰＰには、ｓｋｅｗやレンズシフトの成分が重畳してしまうことが知られている。
図１６は、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図であり、図１６（ａ）はｓｋｅｗ・レンズシフトが生じていない理想状態におけるサーボ光用受光部２９の受光面上の受光スポットを示し、図１６（ｂ）はｓｋｅｗ・レンズシフトが生じた場合におけるサーボ光用受光部２９の受光面上の受光スポットを示している。
なおこれら図１６（ａ）（ｂ）において、受光スポット内に示した斜線部は、ディスク上に形成されたピットからの一次回折光成分の重畳領域（プッシュプル信号成分重畳領域）を表している。
【０１３０】
先ず、確認のために述べておくと、プッシュプル信号ＰＰは、図中の受光素子Ａ，Ｂの組及び受光素子Ｃ，Ｄの組みがそれぞれディスクの半径方向に対応する方向に隣接する組であるとした場合、
ＰＰ＝（Ａi＋Ｂi）−（Ｃi＋Ｄi）  ・・・［式４］
により計算されるものである。但し［式４］において、Ａi，Ｂi，Ｃi，Ｄiはそれぞれ受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの受光信号である。
【０１３１】
ここで、サーボ用レーザ光のビームスポットは、対象とするピット列上を正確にトレースしていると仮定する。その場合において、ｓｋｅｗ・レンズシフトが生じていない図１６（ａ）の理想状態であれば、上記[式４]に従って計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は「０」となる。
これに対し、図１６（ｂ）に示すようなｓｋｅｗ・レンズシフトに伴う受光スポット位置ずれが生じている場合、[式４]により計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は、本来得られるべき「０」とは異なる値となってしまい、誤差が生じるものとなる。
【０１３２】
このことからも理解されるように、プッシュプル信号ＰＰにはｓｋｅｗやレンズシフトに伴うオフセットが生じる。
このようなｓｋｅｗやレンズシフトに伴うオフセット成分が無視できる程度であれば、前提例にて説明したトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成手法は有効であるが、さらなるトラッキングサーボ制御の精度向上や安定性向上を図るとした場合には、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴うオフセットが重畳しないより精度の高いトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成できることが望ましい。
【０１３３】
そこで先に本出願人は、特願２０１０−０６６１４９などにおいて、以下で比較例として説明するようなトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成手法を提案した。
【０１３４】
［2-2．比較例としてのトラッキング誤差信号生成手法］
図１７は、比較例としてのトラッキングエラー信号生成手法について説明するための図である。
なおこの図１７では、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列Ａ〜Ｆと、そのうちのピット列Ｄ上をトレースするようにトラッキングサーボがかけられている状態でのサーボ用レーザ光のスポット位置の移動軌跡（斜線部）と、該サーボ用レーザ光の移動に伴い得られるｓｕｍ信号の波形とを示している。
【０１３５】
例えばこの図１７に示されるようにサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上を正確にトレースしている場合、ｓｕｍ信号の値としては、ピット列Ｄ上のピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ）において最小値をとり、該ピット列Ｄに対する位相差が大となるピット列ほどそのピット形成位置での値が徐々に大となる傾向となる。
このとき、ｓｕｍ信号の値は、ピット列Ｄに対しそれぞれ隣接する（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｃ、ピット列Ｅのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−１、ｎ＋１）にて同じ値をとり、また、ピット列Ｄに対しそれぞれ同じ位相差を有するピット列Ｂ、ピット列Ｆのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−２、ｎ＋２）にて同じ値をとることになる。
【０１３６】
ここで、図中に示す状態とは異なり、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上から半径方向にずれた位置をトレースしたとすると、上記ピット列Ｄに対する位相差が等しいそれぞれのピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値には、ずれが生じることが分かる。
つまりこのことからも理解されるように、トラッキングサーボの対象とするピット列に対する位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号（和信号）の値は、上記トラッキングサーボの対象とするピット列に対するトラッキング方向の誤差を反映していることになる。具体的に、トラッキング誤差情報は、上記位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値の差分を計算することで得ることができる。
【０１３７】
以上の点を踏まえ、比較例においては、具体的に以下のようにしてｓｕｍ信号に基づくトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成を行う。
すなわち、先ずは、トラッキングサーボの対象とするピット列に対し位相差が等しい２つのピット列を選出する。具体的に本例では、トラッキングサーボの対象とするピット列にそれぞれ隣接するピット列を選出する。
その上で、これら選出した各ピット列のピット形成可能位置に対応するタイミング（図２１におけるｎ−１とｎ＋１が該当）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングし、それらサンプリングしたｓｕｍ信号の値の差分を計算する。このように計算された差分値が、トラッキングエラー信号ＴＥ-svとなる。
【０１３８】
［2-3．比較例の光学ドライブ装置の構成］
図１８は、上記により説明した比較例としてのトラッキングエラー信号生成手法を実現するための構成について説明するための図である。
なおこの図１８をはじめとして以下で説明する各図において、既に説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
【０１３９】
この図１８と先の図１３（及び図１４）と比較して分かるように、この場合の記録再生装置においては、サーボ光用マトリクス回路３６に代えてサーボ光用マトリクス回路５０が設けられ、またselector信号生成・選択部３９に代えてselector信号生成・選択部５１が設けられる。
またこの場合は、サンプルホールド回路ＳＨ１に代えて、サンプルホールド回路ＳＨ２とサンプルホールド回路ＳＨ３とが設けられ、さらに減算器５３が追加される。
【０１４０】
サーボ光用マトリクス回路５０は、サーボ光用受光部２９としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-sv（図１６に示した受光素子Ａ〜Ｄからの受光信号Ａｉ〜Ｄｉ）に基づき、フォーカスエラー信号ＦＥ-svとｓｕｍ信号とを生成する。図示するようにフォーカスエラー信号ＦＥ-svはサーボ光用サーボ回路３８に供給され、ｓｕｍ信号はアドレス検出回路３７、selector信号生成・選択部５１、サンプルホールド回路ＳＨ２、及びサンプルホールド回路ＳＨ３に対してそれぞれ供給される。
【０１４１】
selector信号生成・選択部５０は、その内部において、selector信号選択回路４７に代えてselector信号選択回路５２が設けられる点が先のselector信号生成・選択部３９と異なる。
selector信号選択回路５２は、selector信号生成回路４６から供給される各selector信号のうちから、コントローラ４０からの選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号を選択・出力する共に、該選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号に対応するピット列に対する位相差が等しい２つのピット列にそれぞれ対応するselector信号を選択・出力する。具体的に本例の場合は、選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号と共に、該選択信号SLCTで指示されたselector信号に対応するピット列に対しそれぞれ隣接するピット列に対応する２つのselector信号を選択・出力する。
ここで、このようにselector信号選択回路５２より選択出力されるselector信号のうち、選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号については、単にselector信号と表記する。また、選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号に対応するピット列に対する位相差が等しい２つのピット列にそれぞれ対応するselector信号については、それぞれselector_fw信号、selector_bw信号と表記する。
【０１４２】
selector信号選択回路５２より出力されたselector信号は、アドレス検出回路３７に供給される。また、selector信号選択回路５２より出力されたselector_fw信号はサンプルホールド回路ＳＨ２に供給され、selector_bw信号はサンプルホールド回路ＳＨ３に対して供給される。
【０１４３】
サンプルホールド回路ＳＨ２は、上記selector_fw信号により示されるタイミングで、マトリクス回路５０から供給されるｓｕｍ信号の値をサンプルホールドし、その結果を減算器５３に出力する。
サンプルホールド回路ＳＨ３は、上記selector_bw信号により示されるタイミングで、マトリクス回路５０から供給されるｓｕｍ信号の値をサンプルホールドし、その結果を減算器５３に出力する。
【０１４４】
減算器５３は、上記サンプルホールド回路ＳＨ２によるサンプルホールド出力値から、上記サンプルホールド回路ＳＨ３によるサンプルホールド出力値を減算し、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを得る。該トラッキングエラー信号ＴＥ-svは、図示するように加算器４１を介してサーボ回路３８に供給される。
【０１４５】
上記により説明した比較例としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成手法により、ｓｋｅｗやレンズシフトに起因するオフセット成分による悪影響を排除して、より正確なトラッキングエラー信号ＴＥ-svが得られるようにでき、結果、トラッキングサーボ制御のさらなる安定性の向上及び精度向上を図ることができる。
【０１４６】
＜３．実施の形態＞
［3-1．比較例の問題］
上記のように比較例では、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを、サーボ対象とするピット列に対する位相差がそれぞれ等しいピット列のｓｕｍ信号から生成するので、プッシュプル信号ＰＰを用いる場合のようなｓｋｅｗやレンズシフトに起因するエラー信号精度悪化の問題を有効に回避できる。
【０１４７】
ここで、比較例としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成手法によると、トラッキングエラー信号ＴＥ-svの精度は、サンプルホールド回路ＳＨ２やＳＨ３にてサンプリングされるｓｕｍ信号の値の精度に依存することが分かる。
先の図１８の説明からも理解されるように、サンプルホールド回路ＳＨ２,ＳＨ３におけるｓｕｍ信号のサンプリングタイミングは、それぞれselector_fw信号、selector_bw信号の立ち上がりタイミングとなるが、これらselector信号は、クロックＣＬＫに基づき生成されたものである。
そして、先の図１１を参照して分かるように、クロックＣＬＫは、ピット（ピットの形成可能位置）のピークポジションにて立ち上がる信号とされる。従って、上記サンプルホールド回路ＳＨ２,ＳＨ３におけるｓｕｍ信号のサンプリングは、ピークポジション検出により行われている。
【０１４８】
図３０、及び図３１にて説明したように、ピークポジション検出を行う場合は、再生信号（ｓｕｍ信号）にジッタがある場合に、クロックに基づくサンプリングタイミングが相対的にばらつくことがあり、その結果、適正にピーク値を検出することができないものとなってしまう。
従ってこの点より、上述した比較例によってもなお、トラッキングエラー信号ＴＥ-svとして正確な値を検出することができない虞がある。
【０１４９】
［3-2．実施の形態としてのトラッキング誤差信号生成手法］
本実施の形態は、比較例と同様にサーボ対象のピット列に対する位相差がそれぞれ等しいピット列のｓｕｍ信号からトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成するという手法を採る場合において、より正確なトラッキングエラー信号ＴＥ-svが得られるように図るものである。
そのための具体的なトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成手法は、以下に示す通りである。
【０１５０】
図１９は、実施の形態としてのｓｕｍ信号のサンプリング手法について説明するための図であり、図１９（ａ）は、ピット形成部分でのｓｕｍ信号の波形と本実施の形態で生成するクロック（後述するクロックＣＬＫ’）の波形との対応関係を示し、図１９（ｂ）は、上記クロックの立ち上がりタイミングがｓｕｍ信号に対してばらついた場合にサンプリングされる値を模式的に示している。
【０１５１】
図１９（ａ）に示されるように、本実施の形態では、ピット形成部分におけるｓｕｍ信号の前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとの双方に立ち上がりタイミングを有するクロック（以下、クロックＣＬＫ’と称する）を生成する。
【０１５２】
そして本実施の形態では、このようにｓｕｍ信号の両エッジタイミングで立ち上がるクロックＣＬＫ’を生成するものとした上で、該クロックＣＬＫ’に基づいて、前方及び後方の両エッジタイミングでｓｕｍ信号の値をサンプリングし、それらの値を平均化した値をｓｕｍ信号のサンプリング値として得る。
【０１５３】
このように両エッジタイミングでのサンプリング値を平均化する手法とすることで、サンプリングタイミングがｓｕｍ信号に対してばらついても、ｓｕｍ信号の値を適正に検出することができる。
具体的に、図１９（ｂ）では、クロックＣＬＫ’によるサンプリングタイミング（クロックＣＬＫ’の位相）が適正な状態（最左側）、進んだ状態（中央）、遅れた状態（最右側）をそれぞれ示しているが、この図を参照すると、上記のように両エッジタイミングでのサンプリング値を平均化することによって得られる値としては、どの状態においても同値になることが理解できる。
このことからも理解されるように、本実施の形態によれば、ｓｕｍ信号のジッタ等の影響によりクロックＣＬＫ’によるサンプリングタイミングがｓｕｍ信号に対して相対的にばらつく場合であっても、ｓｕｍ信号の値を正確に検出することができる。
このように正確なｓｕｍ信号の値の検出ができることで、トラッキングエラー信号ＴＥ-svについても正確な値を検出することができ、結果、トラッキングサーボのさらなる精度向上及び安定性向上を図ることができる。
【０１５４】
ここで、以下に、クロックＣＬＫ’の具体的な生成手法の例を挙げておく。
図２０は、前方及び後方の両エッジタイミングを表すタイミング信号の生成手法について説明するための図である。
本実施の形態において、クロックＣＬＫ’は、前方及び後方の両エッジタイミングを表すタイミング信号を生成し、該タイミング信号を入力信号としたＰＬＬ処理を行うことで生成するものとしている。図２０は、このようなクロックＣＬＫ’の生成手法を採る場合において必要となる上記タイミング信号の生成手法について説明するための図となる。
【０１５５】
先ず、上記タイミング信号の生成にあたっては、ｓｕｍ信号を所定の閾値Ｔｈ１を用いて２値化する。
この場合の２値化は、図中のｊと示す２値化信号のようにｓｕｍ信号の値が閾値Ｔｈ１を下回った状態でＨレベル、それ以外の状態でＬレベルとなる２値化信号（以下２値化信号ｊとも表記）と、図中ｋと示す２値化信号のようにｓｕｍ信号の値が閾値Ｔｈ１を下回った状態ではＬレベル、それ以外の状態でＨレベルとなる２値化信号（以下２値化信号ｋとも表記）とを生成するようにして行う。
【０１５６】
そして、２値化信号ｊ、２値化信号ｋのそれぞれをＬＰＦ（Low Pass Flter）にかけて、図中の信号ｌ、及び信号ｍを生成する。
さらに、これら信号ｌ、信号ｍに関して、それぞれを所定の閾値Ｔｈ３によりスライスして、上述の２値化信号ｊ、２値化信号ｍをそれぞれ所定時間だけ遅延させたものとなる２値化信号ｏ、２値化信号ｐを生成する。
なお、これら２値化信号ｏ、２値化信号ｐについては、上記のＬＰＦを用いず、単に遅延回路によって上記２値化信号ｊ、２値化信号ｍをそれぞれ遅延させて生成するようにもできる。
【０１５７】
その上で、２値化信号ｊと２値化信号ｏとから、ｓｕｍ信号の前方エッジタイミングを表す信号ｑを生成する。また、２値化信号ｋと２値化信号ｐとから、ｓｕｍ信号の後方エッジタイミングを表す信号ｒを生成する。
具体的に、信号ｑは、２値化信号ｊがＨレベルで且つ２値化信号ｏがＬレベルのときにＨレベルとなり、それ以外の場合にＬレベルとなる信号として生成する。同様に信号ｒとしても、２値化信号ｋがＨレベルで且つ２値化信号ｐがＬレベルのときにＨレベルとなりそれ以外の場合にＬレベルとなる信号として生成する。
【０１５８】
そして、これら信号ｑと信号ｒとを合成して、図中にｓと示すようにｓｕｍ信号の両エッジタイミングを表すタイミング信号（以下、両エッジタイミング信号とも称する）を生成する。
前述のクロックＣＬＫ’は、このようにして得られた両エッジタイミング信号を入力信号としたＰＬＬ処理を行うことで生成する。
【０１５９】
［3-3．実施の形態の光学ドライブ装置の構成］
図２１は、上記により説明した実施の形態としてのサンプリング手法によりトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成するための構成について説明するための図である。
なお、実施の形態の記録再生装置としても先の図４に示したものと同様の光学ピックアップＯＰが備えられるが、図２１においてはその図示は省略している。
また実施の形態の記録再生装置において、図２１に示す以外の部分については先の図１３にて説明したものと同様となるので、その図示は省略している。
【０１６０】
この図２１と先の図１８とを比較して分かるように、実施の形態の記録再生装置においては、比較例の場合の記録再生装置に設けられていたselector信号生成・選択部５１に代えてselector信号生成・選択部５５が設けられると共に、サンプルホールド回路ＳＨ２に代えて両エッジサンプリング部５８が、またサンプルホールド回路ＳＨ３に代えて両エッジサンプリング部６０が設けられる。さらに、平均化部５９と平均化部６１とが追加されたものとなる。
【０１６１】
先ず、selector信号生成・選択部５５は、クロック生成回路４５に代えてクロック生成部５６が設けられ、またselector信号生成回路４６に代えてselector信号生成回路５７が設けられた点が先のselector信号生成・選択部５１と異なる。
クロック生成回路５５は、先に説明した手法により、ｓｕｍ信号の両エッジタイミングを表すクロックＣＬＫ’を生成する。
【０１６２】
図２２は、クロック生成回路５６の内部構成を示している。
図示するようにクロック生成回路５６には、スライス回路６２、反転回路６３、ＬＰＦ６４、スライス回路６５、タイミング信号生成回路６６、ＬＰＦ６７、スライス回路６８、タイミング信号生成回路６９、加算器７０、及びＰＬＬ回路７１が設けられている。
【０１６３】
スライス回路６２には、図２１に示すサーボ光用マトリクス回路５０からのｓｕｍ信号が入力される。スライス回路６２は、予め設定された閾値Ｔｈ１によりｓｕｍ信号をスライスして、先の図２０に示したような２値化信号ｊを生成する。スライス回路６２により得られた２値化信号ｊはＬＰＦ６４とタイミング信号生成回路６６とに供給されると共に、反転回路６３に供給される。反転回路６３を介した２値化信号ｊは、図２０に示した２値化信号ｋとして、ＬＰＦ６７とタイミング信号生成回路６９とに供給される。
【０１６４】
ＬＰＦ６４は、２値化信号ｊの所定のカットオフ周波数以下の成分を通過させて、図２０に示した信号ｌを生成する。スライス回路６５は、予め定められた閾値Ｔｈ３により信号ｌをスライスして、図２０に示した２値化信号ｏを生成する。
タイミング信号生成部６６は、前述の２値化信号ｊと上記２値化信号ｏとに基づき、図２０に示した信号ｑとしての、前方エッジタイミングを表す信号を生成する。具体的にタイミング信号生成部６６は、２値化信号ｊがＨレベルで且つ２値化信号ｏがＬレベルのときにＨレベルとなり、それ以外の場合にＬレベルとなる信号を上記信号ｑとして生成・出力する。
【０１６５】
また、ＬＰＦ６７は、反転回路６３より入力される２値化信号ｋの所定のカットオフ周波数以下の成分を通過させて、図２０に示した信号ｍを生成する。スライス回路６８は、予め定められた閾値Ｔｈ３により信号ｍをスライスして、図２０に示した２値化信号ｐを生成する。
タイミング信号生成部６９は、反転回路６３からの２値化信号ｋと上記２値化信号ｐとに基づき、図２０に示した信号ｒとしての後方エッジタイミングを表す信号を生成する。具体的にタイミング信号生成部６９は、２値化信号ｋがＨレベルで且つ２値化信号ｐがＬレベルのときにＨレベルとなりそれ以外の場合にＬレベルとなる信号を上記信号ｒとして生成・出力する。
【０１６６】
加算器７０は、タイミング信号生成回路６５より出力される信号ｑとタイミング信号生成回路６８より出力される信号ｒとを加算（合成）し、図２０に示した信号ｓとしての両エッジタイミング信号を生成する。
【０１６７】
ＰＬＬ回路７１は、加算器７０より出力される両エッジタイミング信号を入力信号としたＰＬＬ処理を行い、クロックＣＬＫ’を生成する。
【０１６８】
説明を図２１に戻す。
図２１において、クロック生成回路５６により生成されたクロックＣＬＫ’は、selector信号生成回路５７に供給される。このselector信号生成回路５７は、クロックＣＬＫ’に基づき、Ａ〜Ｆの各位相によるピット列について、それぞれのピット形成可能位置の前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとを表す６種のselector信号を生成する。
【０１６９】
図２３は、クロックＣＬＫ’と、該クロックＣＬＫ’に基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。なおこの図２３においても説明の便宜上、全てのピット形成可能位置に対してピットが形成されているものとする。
【０１７０】
この図２３を参照して分かるように、selector信号生成回路５７は、selector信号として、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の両エッジタイミングをそれぞれ表す６種のselector信号を生成する。
具体的に、selector信号生成生成部５７は、クロックＣＬＫ’に関して、それぞれ異なる区間をマスクすることで、この図２３に示されるような、それぞれがＡ〜Ｆのうち対応するピット列上のピット形成可能位置の両エッジタイミングのみを表す各selector信号を生成する。
【０１７１】
selector信号生成回路５７にて生成された各selector信号は、selector信号選択回路５２に供給される。
この場合もselector信号選択回路５２は、選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号を出力すると共に、該指示された位相のselector信号に対する位相差がそれぞれ等しいものとなるselector_fw信号とselector_bw信号とを出力する。
ここで、先の比較例の場合におけるselector信号と区別するため、本実施の形態でクロックＣＬＫ’に基づき生成される図２３に示したように両エッジタイミングを表すselector信号については、以下、selector’信号と表記する。同様にselector_ｆw信号、selector_bw信号についても、selector_ｆw’信号、selector_bw’信号と表記して区別する。
【０１７２】
selector信号選択回路５２により選択・出力されたselector_fw’信号は、両エッジサンプリング部５８に供給され、またselector_bw’信号は両エッジサンプリング部６０に供給される。
両エッジサンプリング部５８は、selector_fw’信号が表す前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとでｓｕｍ信号の値をサンプリングし、これら両エッジタイミングでサンプリングした値を平均化部５９に出力する。
平均化部５９は両エッジサンプリング部５８で得られた上記両エッジタイミングでのサンプリング値を平均化し、その結果を減算器５３に出力する。
【０１７３】
また、両エッジサンプリング部６０は、selector_bw’信号が表す前方エッジタイミングと後方エッジタイミングとでｓｕｍ信号の値をサンプリングし、これら両エッジタイミングでサンプリングした値を平均化部６１に出力する。
そして平均化部６１は、両エッジサンプリング部６０で得られた上記両エッジタイミングでのサンプリング値を平均化し、その結果を減算器５３に出力する。
【０１７４】
このような構成により、この場合のトラッキングエラー信号ＴＥ-svとしては、両エッジタイミングでサンプリングしたｓｕｍ信号の値を平均化した値に基づいて生成することができ、その結果、比較例の場合のようにピークポジションにて検出したｓｕｍ信号値を用いたエラー信号ＴＥ-svの生成を行う場合よりも、正確なエラー信号ＴＥ-svを生成できる。
【０１７５】
なおこの場合、アドレス検出回路３７に対しては、selector信号選択回路５２により選択・出力されたselector’信号を入力するものとしている。つまりこの場合、アドレス検出回路３７は、このように入力されたselector’信号が表す両エッジタイミングでｓｕｍ信号をサンプリングし、それらのサンプリング値を平均化した値に基づき、チャネルデータの「０」「１」判定を行うものとなる。
【０１７６】
但し、アドレス情報の検出にあたって行われるべきチャネルデータ「０」「１」の判定は、実施の形態としての両エッジサンプリングの手法を採るまでもなく、単にｓｕｍ信号の２値化信号を用いて行うことができる。これは、チャネルデータの「０」「１」判定は、単にｓｕｍ信号のＨ／Ｌの判定を行えば足るものであり、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する場合ほどｓｕｍ信号のサンプリング値の正確性が要求されるものではないためである。
【０１７７】
＜４．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
以下、本発明に基づき実現可能な各種の変形例について述べる。
【０１７８】
［4-1．変形例１］
変形例１は、クロックの生成手法についての変形例である。
図２４は、変形例１について説明するための図であり、図２４（ａ）は変形例１におけるクロック生成回路７５の内部構成を示し、図２４（ｂ）は変形例１で生成されるクロックを用いる場合のサンプリング手法を模式的に示している。
【０１７９】
上記により説明した実施の形態では、クロックＣＬＫ’は、両エッジタイミングを表す両エッジタイミング信号を生成した上で、該両エッジタイミング信号に基づくＰＬＬ処理を行って生成するものとしたが、両エッジタイミングを表すクロックとしては、先の図２０に示した２値化信号ｊに基づくＰＬＬ処理を行って生成したものを用いることもできる。
図２４（ａ）は、その場合にクロック生成回路５６に代えて設けられるべきクロック生成回路７５の内部構成を示している。図示するようにクロック生成回路７５としては、ｓｕｍ信号を閾値Ｔｈ１によりスライスして２値化信号ｊを得るスライス回路６２と、該スライス回路６２により得られた２値化信号ｊを入力信号としたＰＬＬ処理を行ってクロックＣＬＫ''を生成するＰＬＬ回路７６とを備えるようにする。
【０１８０】
上記クロック生成回路７５にて生成されるクロックＣＬＫ''は、ｓｕｍ信号におけるピット形成可能位置の前方エッジタイミングで立ち上がり且つ後方エッジタイミングで立ち下がる信号となる。
従って、当該クロックＣＬＫ''に基づきselector信号生成回路５７にて生成される各selector信号（selector''とする）としては、それぞれ、その立ち上がりタイミングが対応するピット列のピット形成可能位置の前方エッジタイミングを表し、その立ち下がりタイミングが後方エッジタイミングを表す信号が得られることになる。
【０１８１】
先の実施の形態では、selector_fw’信号、selector_bw’信号はその立ち上がりタイミングが前方と後方のエッジタイミングを表すものであったため、両エッジサンプリング部５８,６０は、それぞれselector_fw’信号、selector_bw’信号の立ち上がりタイミングのみでｓｕｍ信号をサンプリングするものとしたが、上記説明からも理解されるようにこの変形例１の場合におけるselector_fw信号（以下、selector_fw''信号とする）、selector_bw信号（以下、selector_bw''信号とする）は、その立ち上がりタイミングと立ち下がりタイミングとで両エッジタイミングを表すので、この場合における両エッジサンプリング部５８,６０としては、selector_fw''信号、selector_bw''信号の立ち上がりタイミングと立ち下がりタイミングの双方でｓｕｍ信号をサンプリングするように構成する（図２４（ｂ）を参照）。
【０１８２】
図２４（ｂ）は、先の図１９（ｂ）と同様に、サンプリングタイミングが適正な状態（最左側）、進んだ状態（中央）、遅れた状態（最右側）をそれぞれ示しているが、この図２４（ｂ）と図１９（ｂ）とを比較すると、上記のようにクロックＣＬＫ''から生成したselector''信号によりサンプリングを行う変形例１の場合も、クロックＣＬＫ'から生成したselector'信号によりサンプリングを行う実施の形態と同様の効果が得られることが理解できる。
【０１８３】
［4-2．変形例２］
図２５は、変形例２について説明するための図である。
変形例２は、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを増幅するものである。
ここで、図１９（ｂ）や図２４（ｂ）を参照して分かるように、実施の形態としての両エッジサンプリングの手法を採る場合には、ピークポジション検出で得られるサンプリング値に対して絶対値的に低い値が検出されることになる。換言すれば、ゲインの低下を避けられないものとなる。
【０１８４】
この点に鑑み、実施の形態としての両エッジサンプリングの手法でサンプリングを行って得た信号を増幅することとしたのが、変形例２である。
具体的に、変形例２においては、図示するように減算器５３の直後となる位置に対して、増幅器８０を設けるものとしている。
このような増幅器８０を設けることで、両エッジサンプリングの手法を採る場合におけるトラッキングエラー信号ＴＥ-svのゲイン低下を防止できる。
【０１８５】
なお、ここでは減算器５３の直後となる位置に増幅器８０を挿入してゲイン低下の防止を図るものとしたが、増幅器８０としては、両エッジサンプリングを行って生成される信号のゲイン低下が防止されるように設けられればよいものであって、例えば平均化部５９,６１のそれぞれの直後に対して設ける等といったことも可能である。
【０１８６】
［4-3．変形例３］
変形例３は、バルク層５に記録されたマーク列の再生信号に関して、両エッジサンプリングの手法を適用するものである。
ここで、バルク記録において、特にボイド記録を行う場合には、いわゆるマークエッジ記録ではなく、マークポジション記録を行うことが検討されている。これは、特にボイド記録の場合には、記録時にマークの長さをコントロールすることが非常に困難とされているためである。
また、マークポジション記録を行うとしても、マーク間の距離が近接し過ぎるとマーク同士が結合してしまう虞があり、このためバルク記録を行う場合においては、最小走行長ｄ（ｄ≠０）による走行長制限を設けたマークポジション記録を行うことになる。また、逆にマーク間の距離が離間し過ぎた場合はＰＬＬの精度低下を招くため、この点で最大走行長ｋ（ｋ＞ｄ）による走行長制限も設ける。これらの点よりバルク記録においては、マークポジション記録として、先の図２８（ａ）にて説明したようなｄ、ｋ走行長制限付きのマークポジション記録を行うことが検討されている。
【０１８７】
ここで、マークポジション記録を行う場合には、マーク形成部分での振幅値が重要な意味を持つことが考えられ、従ってマーク列の再生信号について、両エッジサンプリングの手法を適用することが有効となり得る。
【０１８８】
図２６は、バルク層５に記録されたマーク列の再生信号について両エッジサンプリングを行う、変形例３としてのサンプリング手法にについて説明するための図である。図２６（ａ）は、先に説明した再生信号ＲＦと両エッジサンプリングを行うために生成されるべきクロックＣＬＫ-rpの波形を示し、図２６（ｂ）は、クロックＣＬＫ-rpが表すサンプリングタイミングが再生信号ＲＦに対してばらついた場合にサンプリングされる値を模式的に示している。
【０１８９】
先ず図２６（ａ）において、再生信号ＲＦは、先の図４に示した録再光用受光部２３としての複数の受光素子により得られた受光信号ＤＴ-rpの和信号（ｓｕｍ信号）に相当するものとなる。
なお図示するように再生信号ＲＦは、マークの形成部分でその振幅値が大となる信号となる。これは、本例にて記録マークとして形成されるボイドが反射体として機能することによるものである。
【０１９０】
変形例３では、このような再生信号ＲＦに基づき、先の変形例１の手法と同様の手法によってクロックＣＬＫ-rpを生成する。具体的には、図中に示すような予め定められた閾値Ｔｈ1-rpにより再生信号ＲＦをスライスして、その立ち上がりタイミングがマークの前方エッジタイミングを表し且つその立ち下がりタイミングがマークの後方エッジタイミングを表す２値化信号を生成する。その上で、該２値化信号を入力信号としたＰＬＬ処理を行うことで、図中に示すようなクロックＣＬＫ-rpを生成する。
【０１９１】
変形例３においては、このように生成したクロックＣＬＫ-rpにより再生信号ＲＦについての両エッジサンプリングを行う。具体的には、クロックＣＬＫ-rpの立ち上がり及び立ち下がりタイミングの双方で再生信号ＲＦのサンプリングを行うと共に、これらクロックＣＬＫ-rpの立ち上がり及び立ち下がりタイミングでサンプリングした値を平均化する。
【０１９２】
図２６（ｂ）を参照して分かるように、このような変形例３としてのサンプリングを行うものとすれば、ジッタ等によりクロックＣＬＫ-rpによるサンプリングタイミングが再生信号ＲＦに対してばらついても、再生信号ＲＦの値を正確に検出することができる。
【０１９３】
確認のため、図２７を参照し、変形例３のサンプリング手法を実現するための構成について説明しておく。
図示するようにこの場合の記録再生装置においては、録再光用マトリクス回路３３から出力された再生信号ＲＦを、スライス回路８１と、両エッジサンプリング部８３とにそれぞれ入力する。
スライス回路８１は、予め定められた閾値Ｔｈ1-rpにより再生信号ＲＦをスライスして、その立ち上がりタイミングがマークの前方エッジタイミングを表し且つその立ち下がりタイミングがマークの後方エッジタイミングを表す２値化信号を生成する。
【０１９４】
図中のＰＬＬ回路８２は、スライス回路８１により生成された上記２値化信号を入力信号としたＰＬＬ処理を行ってクロックＣＬＫ-rpを生成し、両エッジサンプリング部８３に与える。
両エッジサンプリング部８３は、上記クロックＣＬＫ-rpの立ち上がり及び立ち下がりタイミングの双方で再生信号ＲＦをサンプリングし、それらのサンプリング値を平均化部８４に出力する。
平均化部８４は、両エッジサンプリング部８４にて得られたこれら立ち上がり及び立ち下がりタイミングの双方での再生信号ＲＦのサンプリング値を平均化する。
平均化部８４は、このようにして平均化した値をマーク部振幅値として出力する。
【０１９５】
なお、この変形例３においても、両エッジサンプリングによるゲイン低下の防止を図るべく、増幅器８０を挿入可能であることは言うまでもない。
また、クロックＣＬＫ-rpに関しては、実施の形態で例示したように前方エッジタイミングと後方エッジタイミングの双方を表す両エッジタイミング信号を生成し、該両エッジタイミング信号に基づくＰＬＬ処理により生成してもよい。
【０１９６】
［4-4．その他の変形例］
ここで、これまでの説明では、バルク型記録媒体１を対象として記録又は再生を行う場合に本発明を適用する場合を例示したが、本発明は、ピット又はマークのポジション記録が行われた光記録媒体について記録又は再生を行う場合に広く好適に適用することができる。
【０１９７】
また、実施の形態のようにバルク型記録媒体１を対象とする場合に関して、基準面Ｒｅｆにおけるピット列は、スパイラル状に形成するのではなく、同心円状に形成することもできる。
ピット列を同心円状に記録する場合、バルク層５に対するマーク記録は、適正な半径方向ピッチが得られるようにして行うことになる。
例えば、マーク列の半径方向における適正な形成ピッチが従来限界トラックピッチ（ピット列６本分）である場合、マーク列の記録は、ピット列１周の記録を完了した後に、順次６本のピット列をジャンプしながら行うといった手法を挙げることができる。すなわち、或るピット列を１周記録→６本のピット列ジャンプ→ジャンプ先のピット列を１周記録→６本のピット列ジャンプ・・・を繰り返して、いわば同心円状記録に近いかたちでマーク列の記録を行うものである。
【０１９８】
また、同心円の場合であっても、ピット列を徐々にわたっていくことによるスパイラル記録を実現できる。具体的にスパイラル記録は以下のようにして行う。
先ず、スパイラル記録の実現にあたっては、或るピット列を対象としたトラッキングサーボの実行中に、サーボ対象のピット列の外周側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svが並行して得られるようにしておく。つまりこの場合は、selector信号に応じたタイミングでｓｕｍ信号をサンプリングしてトラッキングエラー信号ＴＥ-svを得るための構成を、少なくとも２つ設けるものとし、それらのうち何れか一方の出力を加算器４１に選択出力できるようにしておく。
その上で、或るピット列についてのトラッキングサーボ実行中に、サーボループ内にその値が徐々に大となるオフセットを与える。このようなオフセットの付与により、スポット位置は徐々に外周側にシフトしていく。
上記オフセットの付与によりスポット位置が対象ピット列とその外周隣接ピット列との間の適当な位置（例えば中間位置）に到達したことに応じ、サーボ対象ピット列を外周隣接ピット列に切り替えると共に、サーボループ内に与えるオフセットの極性を反転させる。
オフセットの極性反転後は、オフセットの値が徐々に大となる（絶対値としては徐々に小となる）ことで、スポット位置は切り替え後の対象ピット列に徐々に近づいていくことになる（切り替え後のピット列からみるとスポット位置は内周側にずれた位置にあるため）。そして、その後もオフセットが与えられ続けると、スポット位置は切り替え後の対象ピット列を通過し（このときオフセットはゼロである）、その後、さらに外周側に隣接するピット列との間の適当な位置に到達する。このように外周隣接ピット列との間の適当な位置に到達したことに応じて、上記と同様にサーボ対象とするピット列を外周隣接ピット列に切り替えると共にオフセットの極性を反転させる。
このように、オフセットの付与と外周隣接ピット列へのサーボ対象ピット列の切り替えとによるいわば「ピット列わたり」を繰り返していくことで、上記オフセットの傾き（値の上昇率）に応じた任意ピッチによるスパイラル記録を実現できる。
【０１９９】
また、先の説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列として、Ａ〜Ｆの計６つを設定するものとし、半径方向においてはこれら６つのパターン（ピット列位相）によるピット列が繰り返し形成されるものとしたが、上記複数のピット列の数は６つに限定されるべきものではなく、より多くの本数、或いはより少ない本数とすることもできる。
【０２００】
また、ピット列における各ピット形成可能位置の区間長は３Ｔ分の区間長とし、またピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も同様の３Ｔ分の長さに設定する（つまりｎ＝６Ｔに設定する）場合を例示したが、これらはあくまで一例を示したものに過ぎない。これら各ピット形成可能位置の区間長、及びピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔については、先に挙げた１）２）の条件が満たされるようにして設定されればよいものである。
【０２０１】
またこれまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列に関して、外周側ほどピット列位相が進み内周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列したが、例えば逆に内周側ほどピット列位相が進み外周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列するなど、上記複数のピット列の配列パターンは、ピット列形成方向において光学限界を超えないという条件の下で様々なパターンの設定が可能である。
【０２０２】
またこれまでの説明では、本発明が光記録媒体に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光記録媒体に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる（特に実施の形態のように基準面Ｒｅｆを有するバルク型の光記録媒体を対象とする場合）。
或いは、再生のみが可能とされた再生専用装置（再生装置）にも好適に適用できる。
【符号の説明】
【０２０３】
１  バルク型記録媒体、２  カバー層、３  選択反射膜、Ｒｅｆ  基準面、４  中間層、５  バルク層、Ｌ  マーク形成層位置（情報記録層位置）、１０  記録再生装置、１１  録再用レーザ、１２,２５  コリメーションレンズ、１３,２６  偏光ビームスプリッタ、１４  固定レンズ、１５  可動レンズ、１６  レンズ駆動部、１７  ミラー、１８,２７  １／４波長板、１９  ダイクロイックプリズム、２０  対物レンズ、２１  ２軸アクチュエータ、２２,２８  集光レンズ、２３  録再光用受光部、２４  サーボ用レーザ、２９  サーボ光用受光部、３０  位置センサ、３１  ｓｋｅｗセンサ、３２  記録処理部、３３  録再光用マトリクス回路、３４  再生処理部、３５  録再光用サーボ回路、３６,５０  サーボ光用マトリクス回路、３７  アドレス検出回路、３８  サーボ光用サーボ回路、３９,５１,５５  selector信号生成・選択部、４０  コントローラ、４１,７０  加算器、ＳＨ１〜ＳＨ３  サンプルホールド回路、４５,５６,７５  クロック生成回路、４５Ａ,４５Ｃ,６２,６５,６８,８１  スライス回路、４５Ｂ  ｓｕｍ微分回路、４５Ｄ  ＡＮＤゲート回路、４５Ｅ,７１,７６,８２  ＰＬＬ回路、４６,５７  selector信号生成回路、４７,５２  selector信号選択回路、５３  減算器、５８,６０,８３  両エッジサンプリング部、５９,６１,８４  平均化部、６３  反転回路、６４,６７  ＬＰＦ、６６,６９  タイミング信号生成回路、８０  増幅器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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