(57)【要約】【課題】レンジの変更をハードウェアで制御することで、ソフトウェアによるレンジの変更よりも高速にテストを行うことができる回路テスト装置を提供する。【解決手段】テストすべき電圧値を取得し、取得した電圧値に応じたレンジの値を決定するレンジ決定部２２と、テスト対象の回路に印加する電圧のレンジの値を、現在設定されているレンジの値から、レンジ決定部２２によって決定されたレンジの値となるように自己の回路構成を変更するレンジ設定部２３とを有する回路テスト装置を提供する。【選択図】図１
2011095217.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストすべき電圧値を取得し、該電圧値に応じたレンジの値を決定するレンジ決定部と、
テスト対象の回路に印加する電圧のレンジの値を、現在設定されているレンジの値から、前記レンジ決定部によって決定されたレンジの値となるように自己の回路構成を変更するレンジ設定部と、
を有する回路テスト装置。
【請求項２】
請求項１に記載の回路テスト装置において、
さらに、現在のレンジの値を記憶するレジスタを有し、
前記レンジ設定部は、前記レジスタから前記現在設定されているレンジの値を取得し、さらに、前記取得後、前記レンジ決定部によって決定されたレンジの値を前記レジスタに記憶させることを特徴とする回路テスト装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の回路テスト装置において、
さらに、フラグレジスタを有し、
前記フラグレジスタに所定値が記憶されている場合、前記レンジ決定部は、テストすべき電圧値を取得し、該電圧値に応じたレンジを決定し、前記レンジ設定部は、前記テスト対象の回路に印加する電圧のレンジの値を、現在設定されているレンジの値から、前記レンジ決定部によって決定されたレンジの値となるように自己の回路構成を変更し、
一方、前記フラグレジスタに所定値が記憶されていない場合、前記レンジ設定部は、ユーザが指定したレンジの値で前記テスト対象の回路に電圧を印加するように自己の回路構成を変更することを特徴とする回路テスト装置。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載の回路テスト装置において、
前記レンジ決定部は、電圧値とレンジの値との対応関係を記憶した記憶装置を有し、該対応関係に基づき、取得した電圧値に応じたレンジの値を決定することを特徴とする回路テスト装置。
【請求項５】
回路テスト装置が、
テストすべき電圧値を取得し、該電圧値に応じたレンジの値を決定し、
テスト対象の回路に印加する電圧のレンジの値を、現在設定されているレンジの値から、前記決定されたレンジの値となるように前記回路テスト装置の回路構成を変更する
ことを特徴とする回路テスト方法。
【請求項６】
請求項５に記載の回路テスト方法において、
前記回路テスト装置は、現在のレンジの値を記憶するレジスタを有し、該レジスタから前記現在設定されているレンジの値を取得し、該取得後、前記決定されたレンジの値を前記レジスタに記憶させることを特徴とする回路テスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＬＳＩの動作テストを実施する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＬＳＩ（Large Scale Integration）の動作テストを実施するＬＳＩテスタでは、テストプログラムと呼ばれるプログラムコードに従い、ハードウェア（以下、Ｈ／Ｗ）のレジスタに対する制御を行うことで、テスト対象ＬＳＩの動作テストを実行する。
【０００３】
テスト対象のＬＳＩに流れる電流、または印加する電圧のレンジを変更する場合、ＬＳＩテスタは、テストすべき電流値または電圧値（以降、物理値と表記）に基づき、設定することができる一番分解能の良いレンジとなるようにソフトウェア（以下、Ｓ／Ｗ）の処理でレンジを設定する。このように最適なレンジに自動的に設定する処理は、ＡＵＴＯレンジ制御と称されている。
【０００４】
図３を参照しつつ、従来のＬＳＩテスタでのＡＵＴＯレンジ制御の動作について説明する。尚、図３の説明では、Ｈ／Ｗレジスタに設定するレンジは電圧のレンジであるものとする。
【０００５】
ＬＳＩテスタは、まず、ユーザからの指示に基づきＡＵＴＯレンジ制御を行うか否かの判定を行う（Ｓ１０１）。ここで、ＡＵＴＯレンジ制御を行うと判断した場合（Ｓ１０１、Ｙ）、ＬＳＩテスタは、例えばテストプログラムのコード内に記載する等でユーザが設定した電流値を取得する（Ｓ１０３）。その後、取得した電流値に依存した電圧のレンジを決定する（Ｓ１０４）。ステップＳ１０４の処理では、ＬＳＩテスタは、最適なレンジとなるまで順次レンジを狭めていくことで、テストする電圧のレンジを決定する。
【０００６】
ＬＳＩテスタは、このように決定された電圧のレンジをＨ／Ｗのレジスタに設定する（ステップＳ１０５、Ｓ１０６）。ＬＳＩテスタは、Ｈ／Ｗのレジスタに設定されているビット列に基づき、ステップＳ１０４で決定されたレンジでテスト対象ＬＳＩに電圧を印加する。
【０００７】
尚、ＡＵＴＯレンジ制御を行わない場合（Ｓ１０１、Ｎ）、予め初期値として定義されている電圧のレンジ、またはユーザから指定された電圧のレンジを取得し（Ｓ１０２）、取得した電圧のレンジをＨ／Ｗのレジスタに設定する（ステップＳ１０５、Ｓ１０６）。
【０００８】
図３において、ステップＳ１０１からＳ１０５までは、ＬＳＩテスタのＳ／Ｗによる処理であり、Ｓ１０６はＨ／Ｗによる処理である。
【０００９】
また、図３のステップＳ１０３では、ユーザが設定した電流値に補正値を含まない。補正値はユーザが設定した物理値と、Ｈ／Ｗから実際に出力される誤差を補う役割を果たす値である。従来の動作では物理値レジスタにはユーザがテストプログラムに記述した物理値と、補正演算により取得した補正値をＳ／Ｗにて加算し、その結果を物理値として物理値レジスタに設定している。一方、ＡＵＴＯレンジ制御ではユーザが設定した物理値に対して、ＡＵＴＯレンジを決定する必要があるため、補正演算を含まない値を参照し、レンジを決定する。
【００１０】
また、図３の動作例では、電圧のレンジとしたが、電圧値を取得することで電流のレンジとすることも可能である。
【００１１】
また、関連のある技術として、以下の文献が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開平７−１６１７８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
従来はＡＵＴＯレンジ制御が指定され、且つ、物理値が変数であるテストプログラムが記述されている場合、解析を介さずに制御を行うことができないためフルバーストさせることができない。フルバーストとは、予め解析され、保存された値をレジスタに高速設定することで、テストの高速化を図る方法である。
【００１４】
また、図３の説明において、ステップＳ１０４でレンジ変更の制御を行っているが、例えば１０００V、１００V、１０V、５Vのレンジ変更が可能である場合、１０００Vから５Vへ変更する場合と１００Vから５Vへ変更する場合とでは、レンジ変更のステップ数が異なる。例えば１０００Vから５Vへのレンジ変更は１０００Vから１００V、１００Ｖから１０Ｖ、１０Ｖから５Ｖの３ステップ必要となり、１００Vから５Vへのレンジ変更は、１００Vから１０Ｖ、１０Vから５Ｖの２ステップが必要となる。
【００１５】
レンジ変更をソフトウェア側で制御する場合、IF文を用いた分岐処理で行う必要があるが、分岐処理では処理が遅く、上述のフルバーストに対応できない。
【００１６】
本発明は、上述した問題点を解決するためになされたものであり、ＡＵＴＯレンジ制御の処理をＨ／Ｗで実装することにより、処理を高速（フルバースト）で動作させることを可能とする回路テスト装置、回路テスト方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上述した課題を解決するため、本発明の一態様に係る回路テスト装置は、テストすべき電圧値を取得し、電圧値に応じたレンジの値を決定するレンジ決定部と、テスト対象の回路に印加する電圧のレンジの値を、現在設定されているレンジの値から、レンジ決定部によって決定されたレンジの値となるように自己の回路構成を変更するレンジ設定部と、を有する。
【００１８】
また、本発明の一態様に係る回路テスト方法は、回路テスト装置が、テストすべき電圧値を取得し、電圧値に応じたレンジの値を決定し、テスト対象の回路に印加する電圧のレンジの値を、現在設定されているレンジの値から、決定されたレンジの値となるように回路テスト装置の回路構成を変更することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１９】
本発明に係る回路テスト装置、回路テスト方法によれば、レンジの変更をソフトウェア側で制御するのではなくハードウェアで制御することができ、より高速にテストを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本実施の形態に係るＬＳＩテスタの構成の一例を示すブロック図である。
【図２】本実施の形態に係るＬＳＩテスタの動作の一例を示す図である。
【図３】従来のＬＳＩテスタの動作を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。図１に、本実施の形態に係るＬＳＩテスタのブロック図を示す。本実施の形態のＬＳＩテスタ１００（回路テスト装置）は、Ｓ／Ｗ処理部１０、Ｈ／Ｗ処理部２０を有する。Ｓ／Ｗ処理部１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、メモリ、および所定のプログラムが予め導入されている不揮発性記憶装置を少なくとも有するコンピュータである。Ｈ／Ｗ処理部２０は、テスト対象のＬＳＩであるテスト対象ユニット２００に対し、印加する電圧のレンジを決定し、決定したレンジで電圧を印加するように内部の回路構成を変更するユニットである。
【００２２】
Ｓ／Ｗ処理部１０は、物理値取得部１１、補正値算出部１２、レンジ取得部１３、通知部１４を有する。これら各ユニットは、Ｓ／Ｗ処理部１０の不揮発記憶装置に予め記憶されているプログラムが、上述のメモリに展開され、上述のＣＰＵによる演算処理が実行されることで実現される。すなわち、Ｓ／Ｗ処理部１０内の各ユニットはソフトウェアによる制御に基づき実現される。
【００２３】
物理値取得部１１は、何Vでテストを行うかの電圧値（物理値）を取得し、取得した物理値を未補正物理値レジスタ３１に記憶する。
【００２４】
補正値算出部１２は、未補正物理値レジスタ３１に記憶されている物理値を所得し、補正値を算出して補正値レジスタ３２に記憶する。尚、補正値算出部１２は予め定義された補正値を補正値レジスタ３２に記憶させてもよい。
【００２５】
レンジ取得部１３は、ＡＵＴＯレンジ制御を行うかの指定をユーザからの指示に基づき取得し、ＡＵＴＯレンジ制御を行う指定である場合にＡＵＴＯレンジレジスタ３３（フラグレジスタ）に所定値を設定する。また、ユーザが直接レンジを指定した場合、レンジ取得部１３は、ユーザが指定したレンジの値を取得し、レンジ設定用レジスタ３４にその値を記憶する。
【００２６】
通知部１４は、レンジ設定部２３からの割り込みを受けた場合、ユーザに通知、または次工程に処理を移す。
【００２７】
Ｈ／Ｗ処理部２０は、電子回路のみで実装されたユニットであり、記憶部２１、レンジ決定部２２、レンジ設定部２３を有する。
【００２８】
記憶部２１は、本実施の形態で用いる各データを記憶するレジスタの集合であり、未補正物理値レジスタ３１、補正値レジスタ３２、ＡＵＴＯレンジレジスタ３３、レンジ設定用レジスタ３４、現在値レジスタ３５を有する。
【００２９】
レンジ決定部２２は、物理値とレンジとの対応関係である閾値データ３６を記憶した不揮発性記憶装置（例えばフラッシュメモリ）を有する。レンジ決定部２２は、物理値および補正値を未補正物理値レジスタ３１、補正値レジスタ３２それぞれから取得し、物理値に対し補正値で補正する（以下、この補正後の値を補正後物理値（テストすべき電圧値）とする）。レンジ決定部２２は、閾値データ３６からこの補正後物理値に対応するレンジを取得し、設定するレンジを決定する。尚、閾値データ３６は、記憶部２１に記憶されていてもよい。また、本実施の形態ではレンジ決定部２２が補正後物理値を算出するものとするが、他のユニット（例えば補正値算出部１２）が補正後物理値を算出し、レンジ決定部２２は、この算出された値を取得する実装であってもよい。
【００３０】
レンジ設定部２３は、レンジ決定部２２で決定されたレンジで電圧がテスト対象ユニット２００に印加されるようにハードウェア上に設定変更する処理（例えば１０００Vのレ
ンジを１０Vのレンジに変更する処理）を行うＰＬＤ（Programmable logic device）であり、本実施の形態ではＦＰＧＡ(Field programmable gate array)で実装されている。尚、レンジ設定部２３は、現在値レジスタ３５に値が設定されている場合、その値を前回設定したレンジの値として取得し、取得した前回設定レンジ値から次に設定すべきレンジで電圧が印加されるように、レンジ設定部２３自身の回路を変更する。
【００３１】
またレンジ設定部２３は、設定するレンジの値を現在値レジスタ３５に記憶させ、レンジの設定が完了したときに通知部１４に対し割り込みを発生させる。
【００３２】
テスト対象ユニット２００は、テスト対象のＬＳＩであり、H／W処理部２０が有する図示しないインターフェイスを介してＬＳＩテスタ１００と接続されている。
【００３３】
次に、ＬＳＩテスタ１００の動作について、図２を参照しつつ説明する。
【００３４】
物理値取得部１１は、何Ｖにすべきかの電圧値（物理値）を取得し、取得した物理値を未補正物理値レジスタ３１に記憶する（ステップＳ１）。補正値算出部１２は、未補正物理値レジスタ３１に記憶されている物理値を取得し、補正値を算出して補正値レジスタ３２に記憶する（Ｓ２）。
【００３５】
レンジ取得部１３は、ＡＵＴＯレンジ制御を行うか否かの指示、またはユーザ指定のレンジ値を取得し、ユーザ指定のレンジ値を取得した場合はレンジ設定用レジスタ３４に取得した値を記憶する（Ｓ３）。また、ＡＵＴＯレンジ制御を行う指示を受けた場合は、ＡＵＴＯレンジレジスタ３３に所定値を記憶する（Ｓ３）。
【００３６】
次に、レンジ決定部２２は、ＡＵＴＯレンジレジスタ３３に所定値が設定されているかを判定することで、ＡＵＴＯレンジ制御を行うか否かを判断する（Ｓ４）。ここで、ＡＵＴＯレンジレジスタ３３に所定値が設定されている場合（Ｓ４、Ｙ）、レンジ決定部２２は、未補正物理値レジスタ３１、補正値レジスタ３２から値をそれぞれ取得し、補正後物理値を算出する。その後、レンジ決定部２２は、閾値データ３６から算出した補正後物理値に対応するレンジ値を取得する（Ｓ５）。レンジ決定部２２は、このようにして物理値が収まる最も分解能の良いレンジを決定する。
【００３７】
レンジ設定部２３は、レンジ決定部２２で決定されたレンジの値でテスト対象ユニット２００に電圧が印加されるような回路構成となるように、レンジ設定部２３自身の回路構成を変更する（Ｓ６）。このとき、レンジ設定部２３は、現在値レジスタ３５から値を取得し、この値を前回のレンジとし、前回レンジ値からレンジ決定部２２で取得されたレンジの値となるように自己の回路構成の変更を行う。
【００３８】
また、現在値レジスタ３５に例えば５Ｖの値が記憶されており、レンジ決定部２２で決定された値が例えば１０Ｖである場合、レンジ設定部２３は、スパイクを発生させないため、内部の１０Ｖ用ビットと５Ｖ用ビットの両方を一旦設定して（両方をＯＮにする）、その後１０Ｖ用ビットのみを設定するようにする。この制御はレンジ設定部２３内でＨ／Ｗコーディングされる。また、レンジ設定部２３は、現在値レジスタ３５から値を取得した後に、設定するレンジの値、すなわちレンジ決定部２２で決定されたレンジの値を現在値レジスタ３５に記憶する。
【００３９】
尚、ＡＵＴＯレンジレジスタ３３に所定値が設定されていない場合（Ｓ４、Ｎ）、レンジ設定部２３は、レンジ設定用レジスタ３４に記憶されているユーザが指定したレンジの値を取得し、テスト対象ユニット２００に対して、取得したレンジの値で電圧を印加するように自己の回路構成を変更する。
【００４０】
レンジ設定部２３は、設定が完了次第レンジ設定完了の割り込みを発生させ（Ｓ７）、通知部１４は、レンジ設定終了の割り込みを取得し、ユーザに通知、または次工程に処理を移す（Ｓ８）。
【００４１】
本実施の形態では、物理値を電圧として説明したが、電流であっても本実施の形態は適用可能である。
【００４２】
本実施の形態のＬＳＩテスタ１００は、上述のように、テストすべき電圧値を取得し、取得した電圧値に応じたレンジの値を決定するレンジ決定部２２と、テスト対象の回路に印加する電圧のレンジの値を、現在設定されているレンジの値から、レンジ決定部２２によって決定されたレンジの値となるように自己の回路構成を変更するレンジ設定部２３とを有する。
【００４３】
従来のＬＳＩテスタでは、テストプログラムで物理値が変数で記述されていた場合、物理値により決定するＡＵＴＯレンジは、事前に手順を決定することができず、フルバースト動作させることができなかった。本実施の形態では、ＡＵＴＯレンジをＨ／Ｗで実装することにより、また現在値レジスタ３５を用いることで前回のレンジの値を取得することで、ステップ数の差によって生ずる手順の差異を吸収することができ、ＡＵＴＯレンジの処理を高速（フルバースト）で動作させることが可能となる。
【００４４】
また、テストプログラム言語のイメージをそのままＨ／Ｗに設定することで、Ｓ／Ｗの複雑度を下げることが可能となる。
【００４５】
本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他の様々な形で実施することができる。そのため、前述の実施の形態は、あらゆる点で単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、何ら拘束されない。更に、特許請求の範囲の均等範囲に属する全ての変形、様々な改良、代替および改質は、全て本発明の範囲内のものである。
【符号の説明】
【００４６】
１０  Ｓ／Ｗ処理部
１１  物理値取得部
１２  補正値算出部
１３  レンジ取得部
１４  通知部
２０  Ｈ／Ｗ処理部
２１  記憶部
２２  レンジ決定部
２３  レンジ設定部
３１  未補正物理値レジスタ
３２  補正値レジスタ
３３  ＡＵＴＯレンジレジスタ
３４  レンジ設定用レジスタ
３５  現在値レジスタ
３６  閾値データ
１００  ＬＳＩテスタ
２００  テスト対象ユニット
【図１】
2011095217.tif 000003
【図２】
2011095217.tif 000004
【図３】
2011095217.tif 000005