(57)【要約】【課題】ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥画素として検出してしまうことを防止又は軽減することができる欠陥画素閾値特定装置及び欠陥画素閾値特定プログラムを提供する。【解決手段】本発明にかかる欠陥画素閾値特定装置は、撮像素子の画素毎の画素レベルを特定した画像データを複数回取得する画像データ取得手段と、画像データ取得手段が複数回取得した複数の画像データから特定する画素毎の前記画素レベルを用いて画素毎に演算し、画素毎の演算値を算出する演算値算出手段と、演算値算出手段が算出した画素毎の演算値に基づき、演算値毎の画素数を演算値の極値側から演算値毎に積算した画素数の積算値が、欠陥画素数と第１の所定の範囲内となる画素数に対応する演算値を欠陥画素閾値として特定する欠陥画素閾値特定手段と、を備える。【選択図】図３
2011030107.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め欠陥画素の欠陥画素数が設定されている撮像素子の欠陥画素を検出するための欠陥画素閾値を特定する欠陥画素閾値特定装置であって、
前記撮像素子に検査用の撮影をさせて得られる、前記撮像素子の画素毎の画素レベルを特定した画像データを複数回取得する画像データ取得手段と、
前記画像データ取得手段が複数回取得した、複数の前記画像データから特定する前記画素毎の前記画素レベルを用いて前記画素毎に演算し、前記画素毎の演算値を算出する演算値算出手段と、
前記演算値算出手段が算出した前記画素毎の前記演算値に基づき、前記演算値毎の画素数を前記演算値の極値側から前記演算値毎に積算した前記画素数の積算値が、前記欠陥画素数と第１の所定の範囲内となる前記画素数に対応する前記演算値を前記欠陥画素閾値として特定する欠陥画素閾値特定手段と、
を備えることを特徴とする欠陥画素閾値特定装置。
【請求項２】
前記演算値算出手段は、
前記画像データ取得手段が複数回取得した複数の前記画像データそれぞれに基づき、複数の前記画像データそれぞれについて、前記画素レベル毎の画素数を前記画素レベルの極値側から前記画素レベル毎に積算した前記画素数の積算値が、前記欠陥画素数と第２の所定の範囲内となる前記画素数に対応する前記画素レベルを画素レベル閾値として特定する画素レベル閾値特定手段と、
前記画素レベル閾値特定手段が特定した、複数の前記画像データそれぞれにおける、前記画素レベル閾値以上又は前記画素レベル閾値より大きい前記画素レベルを、複数の前記画像データについて、前記画素毎に積算する画素レベル積算手段と、を備え、
前記画素レベル積算手段が積算した前記画素毎の積算値は、前記画素毎の前記演算値であることを特徴とする請求項１に記載の欠陥画素閾値特定装置。
【請求項３】
前記画素レベル閾値特定手段は、前記画像データ取得手段が複数回取得した複数の前記画像データそれぞれに基づき、複数の前記画像データそれぞれについて、前記画素レベル毎の前記画素数の分布である画素レベル−画素数分布情報を生成し、生成した前記画素レベル−画素数分布情報に基づいて、前記画素レベル毎の前記画素数を前記画素レベルの極値側から前記画素レベル毎に積算していくことを特徴とする請求項２に記載の欠陥画素閾値特定装置。
【請求項４】
前記欠陥画素閾値特定手段は、前記演算値算出手段が算出した前記画素毎の前記演算値に基づき、前記演算値毎の前記画素数の分布である演算値−画素数分布情報を生成し、生成した前記演算値−画素数分布情報に基づいて、前記演算値毎の前記画素数を前記演算値の極値側から前記演算値毎に積算していくことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の欠陥画素閾値特定装置。
【請求項５】
前記演算値算出手段が算出した前記画素毎の前記演算値と、前記欠陥画素閾値特定手段が特定した前記欠陥画素閾値と、を比較し、前記画素の中から前記欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段をさらに備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の欠陥画素閾値特定装置。
【請求項６】
前記欠陥画素閾値特定手段は、前記画素数に対応する前記演算値と、予め設定されている設定画素閾値と、のうちのいずれかを前記欠陥画素閾値として特定することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の欠陥画素閾値特定装置。
【請求項７】
前記検査用の撮影は、遮光撮影であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の欠陥画素閾値特定装置。
【請求項８】
前記検査用の撮影は、均一の明るさで露光させる照明を用いた撮影であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の欠陥画素閾値特定装置。
【請求項９】
予め欠陥画素の欠陥画素数が設定されている撮像素子の欠陥画素を検出するための欠陥画素閾値を特定するコンピュータに、
前記撮像素子に検査用の撮影をさせて得られる、前記撮像素子の画素毎の画素レベルを特定した画像データを複数回取得する画像データ取得ステップと、
前記画像データ取得ステップで複数回取得した、複数の前記画像データから特定する前記画素毎の前記画素レベルを用いて前記画素毎に演算し、前記画素毎の演算値を算出する演算値算出ステップと、
前記演算値算出ステップで算出した前記画素毎の前記演算値に基づき、前記演算値毎の画素数を前記演算値の極値側から前記演算値毎に積算した前記画素数の積算値が、前記欠陥画素数と第１の所定の範囲内となる前記画素数に対応する前記演算値を前記欠陥画素閾値として特定する欠陥画素閾値特定ステップと、
を行わせることを特徴とする欠陥画素閾値特定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子の欠陥画素を検出するための欠陥画素閾値を特定する欠陥画素閾値特定装置及び欠陥画素閾値特定プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＣＣＤ（Charge Coupled Devices）やＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）等の撮像素子は数百万以上の画素数を有している。そのため、欠陥が全くない画素を備えた撮像素子を製造することは実際には困難である。従って、撮像素子には、ある程度の欠陥画素が存在するものとされ、デジタルカメラの工場出荷前の検査時等においては撮像素子の欠陥画素を検出することが行われている。
【０００３】
この種の技術として、例えば、特許文献１には、遮光撮影を行うことにより撮像素子から画素毎に得られる画素値と、欠陥画素の疑いがある画素値として予め設定されている閾値とを比較することにより欠陥画素の有無を判定している。そして、特許文献１には、欠陥を有する画素位置を登録しておくことにより、デジタルカメラを実際に使用するユーザが撮影を行ったときに、登録した画素位置に対して画素値の補正処理が施される旨が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−１５２６０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１の手法は、撮影によってノイズが発生した画素の画素値が閾値を超えるか否かにより欠陥画素を特定している。しかし、撮影によって発生するノイズの中には、欠陥画素の有無によらず、撮影の度に画像上で発生する位置が異なるノイズ（以下、ランダムノイズという）がある。特許文献１の手法では、このランダムノイズが発生した画素の画素値が閾値を超えていた場合に、この画素が欠陥画素でないにも関わらず、この画素を欠陥画素であると判断してしまうという問題があった。
【０００６】
このように、実際に欠陥がない画素を欠陥画素として判断すると、欠陥画素でない画素に対しても画素値の補正処理（いわゆる過補正）が施されてしまうという問題が生じていた。
【０００７】
本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥画素として検出してしまうことを防止又は軽減することができる欠陥画素閾値特定装置及び欠陥画素閾値特定プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の欠陥画素閾値特定装置は、予め欠陥画素の欠陥画素数が設定されている撮像素子の欠陥画素を検出するための欠陥画素閾値を特定する欠陥画素閾値特定装置であって、
前記撮像素子に検査用の撮影をさせて得られる、前記撮像素子の画素毎の画素レベルを特定した画像データを複数回取得する画像データ取得手段と、
前記画像データ取得手段が複数回取得した、複数の前記画像データから特定する前記画素毎の前記画素レベルを用いて前記画素毎に演算し、前記画素毎の演算値を算出する演算値算出手段と、
前記演算値算出手段が算出した前記画素毎の前記演算値に基づき、前記演算値毎の画素数を前記演算値の極値側から前記演算値毎に積算した前記画素数の積算値が、前記欠陥画素数と第１の所定の範囲内となる前記画素数に対応する前記演算値を前記欠陥画素閾値として特定する欠陥画素閾値特定手段と、
を備える。
【０００９】
また、本発明の欠陥画素閾値特定プログラムは、
予め欠陥画素の欠陥画素数が設定されている撮像素子の欠陥画素を検出するための欠陥画素閾値を特定するコンピュータに、
前記撮像素子に検査用の撮影をさせて得られる、前記撮像素子の画素毎の画素レベルを特定した画像データを複数回取得する画像データ取得ステップと、
前記画像データ取得ステップで複数回取得した、複数の前記画像データから特定する前記画素毎の前記画素レベルを用いて前記画素毎に演算し、前記画素毎の演算値を算出する演算値算出ステップと、
前記演算値算出ステップで算出した前記画素毎の前記演算値に基づき、前記演算値毎の画素数を前記演算値の極値側から前記演算値毎に積算した前記画素数の積算値が、前記欠陥画素数と第１の所定の範囲内となる前記画素数に対応する前記演算値を前記欠陥画素閾値として特定する欠陥画素閾値特定ステップと、
を行わせる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明に係る欠陥画素閾値特定装置及び欠陥画素閾値特定プログラムによれば、ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥画素として検出してしまうことを防止又は軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の一実施形態に係る欠陥画素閾値特定装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る欠陥画素閾値特定装置の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る欠陥画素閾値特定処理を示すフローチャートである。
【図４】本発明の一実施形態に係る画素レベル閾値の特定処理の詳細を示すフローチャートである。
【図５】本発明の一実施形態に係る画素値−画素数分布情報を示す図である。
【図６】本発明の一実施形態に係る画素レベル閾値の特定によって生成されるノイズマップデータを示す図である。
【図７】本発明の一実施形態に係る画素毎に画素位置と画素値とを関連付けたデータを示す図である。
【図８】本発明の一実施形態に係る欠陥画素閾値の特定処理の詳細を示すフローチャートである。
【図９】本発明の一実施形態に係る演算値−画素数分布情報を示す図である。
【図１０】本発明の一実施形態に係る欠陥画素閾値の特定によって生成される合成ノイズマップデータを示す図である。
【図１１】本発明の一実施形態に係る画素毎に画素位置と合成画素値とを関連付けたデータを示す図である。
【図１２】本発明の一実施形態に係る欠陥画素閾値の判定処理の詳細を示すフローチャートである。
【図１３】本発明の一実施形態に係る欠陥画素閾値の判定後の合成ノイズマップデータを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本発明の一実施形態について図面を参照して説明する。なお、本発明は下記の実施形態及び図面によって限定されるものではない。本発明の要旨を変更しない範囲で下記の実施形態及び図面に変更を加えることができるのはもちろんである。また、以下では、本発明の理解を容易にするために、重要でない公知の技術的事項については説明を適宜省略している。
【００１３】
本実施の形態では、欠陥画素閾値特定装置がデジタルカメラ（コンピュータ）である場合について説明する。はじめに、本発明の欠陥画素閾値特定装置の構成を説明する。
【００１４】
欠陥画素閾値特定装置１は、その構成を大きく分けると、光学装置１０１、撮像素子１０２、ドライバ１０３、信号処理部１０４、画像処理部１０５、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１０６、ＲＡＭ（Random Access Memory）１０７、ＲＯＭ（Read Only Memory）１０８、記憶部１０９、操作部１１０、表示部１１１、及びバス１１２を備える。欠陥画素閾値特定装置１が有する構成要素の機能の少なくとも一部は、欠陥画素閾値特定装置１の外部に形成されてもよい。
【００１５】
光学装置１０１は、撮影レンズ、レンズ駆動部、及び、絞り兼用シャッタ部等から構成される。光学装置１０１は、これらを用いて、被写体像を撮像素子１０２の露光面（受光素子が形成されている面）に結像する。撮影レンズは、フォーカスレンズ及びズームレンズ等から構成されるレンズ群からなる。レンズ群を構成する複数のレンズは、それぞれ、レンズ駆動部によって駆動される。レンズ駆動部は、ＣＰＵ１０６の制御のもと、フォーカスレンズ及びズームレンズ等のレンズ群を光軸方向にそれぞれ移動させるモータと、フォーカスモータ及びズームモータ等のレンズ群をそれぞれ駆動させるモータドライバとから構成される。絞り兼用シャッタ部は、絞り兼用シャッタと、駆動回路とを含む。駆動回路はＣＰＵ１０６の制御のもと、絞り兼用シャッタを動作させる。この絞り兼用シャッタは、絞りとシャッタとして機能する。絞りとは、撮影レンズから入ってくる光の量を制御する機構のことをいい、シャッタとは、撮像素子１０２に光を当てる時間（つまり、受光素子が受光する時間）を制御する機構のことをいう。
【００１６】
撮像素子１０２は、ここでは、インターライントランスファ型ＣＣＤ（Charge Coupled Device：電荷結合素子）イメージセンサである。撮像素子１０２はベイヤー配列の色フィルタを有しており、電子シャッタとしての機能も有する。この電子シャッタのシャッタ速度は、ドライバ１０３を介してＣＰＵ１０６によって制御される。撮像素子１０２は、例えば、フルフレームトランスファ型ＣＣＤイメージセンサ、又は、フレームトランスファ型ＣＣＤイメージセンサ等の他のＣＣＤイメージセンサであってもよい。フルフレームトランスファ型ＣＣＤイメージセンサは、垂直転送ＣＣＤの各素子で直接光電変換を行うイメージセンサである。また、フレームトランスファ型ＣＣＤイメージセンサは、受光用ＣＣＤと転送用ＣＣＤを持ち、垂直帰線期間に受光用ＣＣＤから転送用ＣＣＤに転送を行うイメージセンサである。撮像素子１０２は、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサ等の他のイメージセンサであってもよい。撮像素子１０２は、撮影対象の画像を画素毎に光電変換し、光電変換により発生した画素毎の電荷をアンプにより増幅する。撮像素子１０２は、画素毎に増幅した撮像信号を信号処理部１０４に供給する。
【００１７】
タイミングジェネレータ１１３は、ＣＰＵ１０６の制御のもと、ドライバ１０３を動作させるためのパルス信号、及び、信号処理部１０４を動作させるためのパルス信号を生成し、生成したパルス信号をドライバ１０３及び信号処理部１０４に供給する。また、タイミングジェネレータ１１３は、このようなパルス信号の供給によって、ドライバ１０３の動作タイミング（つまり、撮像素子１０２の動作タイミング）と、信号処理部１０４の動作タイミングとの同期を図る。つまり、ドライバ１０３及び信号処理部１０４の動作タイミングは、タイミングジェネレータ１１３を介してＣＰＵ１０６によって制御される。
【００１８】
ドライバ１０３は、タイミングジェネレータ１１３からのパルス信号に基づいて撮像素子１０２を動作させる駆動回路である。
【００１９】
信号処理部１０４は、ＣＤＳ（Correlated Double Sampling）回路、ＡＧＣ（Automatic Gain Control）回路、及び、Ａ／Ｄ（Analog/digital）変換器等を含む。信号処理部１０４は、いわゆるＡＦＥ（Analog Front End）である。ＣＤＳ回路によって、相関二重サンプリングが行われる。ＡＧＣ回路によって、自動利得調整が行われる。Ａ／Ｄ変換器によって、アナログ信号がデジタル信号に変換される。信号処理部１０４は、Ａ／Ｄ変換器によって変換されたデジタル信号を画像データ（撮像素子１０２の画素毎の画素値を特定するデータ）として、画像処理部１０５に供給する。つまり、信号処理部１０４は、ＣＰＵ１０６の制御（タイミングの制御）のもと、撮像素子１０２が出力するアナログ信号である撮像信号を画素毎に取得し、画素毎に取得した撮像信号それぞれに所定の処理（相関二重サンプリング及び自動利得調整等）を施す。そして、信号処理部１０４は、画素毎に所定の処理を施した信号それぞれをデジタル信号に変換し、変換したデジタル信号を、画像処理部１０５に供給する。この画素毎のデジタル信号の集合（１フレーム分のデジタル信号）が、撮像素子１０２の画素毎の画素値を特定した画像データ（ベイヤデータ）である。
【００２０】
画像処理部１０５は、信号処理部１０４から供給される画像データを処理するＤＳＰ(Digital Signal Processor)等を備える。本実施形態においては、画像処理部１０５（特に、ＤＳＰ）は、ＣＰＵ１０６の制御のもと、後述の欠陥画素閾値特定処理を行う。また、画像処理部１０５（特に、ＤＳＰ）は、デジタル写真の撮影時（ライブビュー画像表示時）に供給される画像データをＹＵＶ（輝度、色差）データに変換し、変換したＹＵＶデータを、ＲＡＭ１０７を介してＣＰＵ１０６に供給する。
【００２１】
ＣＰＵ１０６は、欠陥画素閾値特定装置１の各構成要素の動作を制御する。特に、ＣＰＵ１０６は、操作部１１０から供給されるキー入力信号及びＲＯＭ１０８に記憶されている欠陥画素閾値特定プログラム１１４に従って、各構成要素を制御するとともに、画像処理部１０５に後述の欠陥画素閾値特定処理を行わせる。また、ＣＰＵ１０６は、各構成要素を制御するための制御データを生成し、生成した制御データを、ＲＡＭ１０７を介して各構成要素に供給することによって各構成要素を制御する。
【００２２】
ＲＡＭ１０７は、適宜の半導体記憶装置によって構成される。ＲＡＭ１０７には、ＣＰＵ１０６の作業領域が設けられ、ＣＰＵ１０６が処理した後のデータ（例えば制御データ）が記憶される。ＣＰＵ１０６に供給されるデータは、ＲＡＭ１０７を介して供給される。また、ＲＡＭ１０７は、ＣＰＵ１０６から受け取るデータを、適宜、他の構成要素に供給する。
【００２３】
ＲＯＭ１０８は、適宜の半導体記憶装置によって構成される。ＲＯＭ１０８には、本発明の欠陥画素閾値特定プログラム等の各種プログラム、及び、ＣＰＵ１０６が使用する各種データ等が記憶されている。これらのプログラム及びデータは、ＣＰＵ１０６によって直接読み出されるか、ＲＡＭ１０７に一度記憶される。なお、ＲＯＭ１０８を書き換え等が可能な他の補助記憶装置に変更してもよい。
【００２４】
記憶部１０９は、ＣＰＵ１０６の制御のもと、ＲＡＭ１０７が記憶する画像データや、画像処理部１０５において検出される欠陥画素の位置情報を適宜記憶する。なお、記憶部１０９は、フラッシュメモリを含む。
【００２５】
操作部１１０は、キー入力装置を含み、ユーザからの入力を受け付け、受け付けた入力に応じた入力信号（入力データ）をＣＰＵ１０６に対して供給する。ＣＰＵ１０６は、供給された入力信号に対応して、各部（各装置）を制御する。キー入力装置は、半押し全押しの２段階操作可能なシャッタボタン、モード切替キー、十字キー、ズームキー、及び、メニューキー等の複数の操作キーを含み、ユーザのキー操作に応じた入力信号（入力データ）をＣＰＵ１０６に対して供給する。
【００２６】
表示部１１１は、液晶ディスプレイ等の表示装置を含む。表示部１１１は、ＣＰＵ１０６の制御のもと、欠陥画素閾値特定装置１を操作するために必要な種々の画面や、撮影時のライブビュー画像（ファインダ画像）や記憶部１０９に記憶された画像データ等を表示する。例えば撮影時のライブビュー画像を表示する場合、表示部１１１には、ＣＰＵ１０６からＲＡＭ１０７を介して、表示用データ（例えばＹＵＶデータやこのＣＰＵ１０６がＹＵＶデータをもとに生成したデータ）が供給される。表示部１１１は、ＣＰＵ１０６の制御のもと、供給された信号をＤ／Ａ変換器を用いてアナログ映像信号に変換し、変換したアナログ映像信号に基づいて画像を表示する。
【００２７】
バス１１２は、バス１１２に接続された各構成要素でやりとりされるデータ等を伝送する伝送路である。
【００２８】
なお、欠陥画素閾値特定プログラム１１４は、ＯＳ（Operating System）と協働して、ＣＰＵ１０６等に処理を実行させるものであってもよい。欠陥画素閾値特定プログラム１１４は、圧縮、又は暗号化されたものであってもよい。欠陥画素閾値特定プログラム１１４は、持ち運び可能な記憶媒体等に記録されてもよい。持ち運び可能な記憶媒体は、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disk Read Only Memory）又はＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital Versatile Disk Read Only Memory）等である。欠陥画素閾値特定プログラム１１４は、持ち運び可能な記憶媒体から各種の読取装置を介して欠陥画素閾値特定装置１にインストールされてもよい。また、欠陥画素閾値特定プログラム１１４は、インターネット等のネットワークから各種の通信部を介して欠陥画素閾値特定装置１にダウンロード及びインストールされてもよい。また、欠陥画素閾値特定プログラム１１４は、サーバ等の記憶装置に格納されて、ＣＰＵ１０６への指示を行っても良い。欠陥画素閾値特定プログラム１１４を記憶した読み取り可能な記憶媒体（例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ハードディスク、又は、フラッシュメモリ）は、コンピュータが読み取り可能なプログラム製品となる。
【００２９】
つづいて、図２のブロック図を用いて本発明の欠陥画素閾値特定装置１の機能構成を説明する。欠陥画素閾値特定装置１は、その機能構成を大きく分けると、撮像部２０１、操作部２０２、表示部２０３、記憶部２０４、及び、制御部２０５を備える。
【００３０】
撮像部２０１は、図１の光学装置１０１及び撮像素子１０２により実現される。また、操作部２０２は、図１の操作部１１０に相当する。表示部２０３は、図１の表示部１１１に相当する。また、記憶部２０４は、図１の記憶部１０９に相当する。制御部２０５は、前記の各部を制御するものであって、図１のＣＰＵ１０６、ドライバ１０３、信号処理部１０４、画像処理部１０５、ＲＡＭ１０７、ＲＯＭ１０８、タイミングジェネレータ１１３、及び、欠陥画素閾値特定プログラム１１４により実現される。
【００３１】
制御部２０５は、画像データ取得部２０６、演算値算出部２０７、欠陥画素閾値特定部２０８、及び、欠陥画素検出部２０９を備え、演算値算出部２０７は、画素レベル閾値特定部２１０、及び、画素レベル積算部２１１を備える。これら各構成要素２０６〜２１１によって、後述の欠陥画素閾値特定処理が実行される。これらの各構成応要素２０６〜２１１は、図１の画像処理部１０５によって構成される。
【００３２】
つづいて、本発明の欠陥画素閾値特定装置１が行う処理動作を説明する。本実施の形態では、デジタルカメラの工場出荷前の検査時において、検査員が欠陥画素閾値特定装置１を使用する場合を例に説明する。
【００３３】
まず検査員は、欠陥画素閾値特定装置１の操作部２０２を操作し、表示部２０３に表示されるメニュー画面の中から欠陥画素閾値特定処理を行うか否かを選択する。検査員が、操作部２０２により実行の選択操作を行うと、操作部２０２は、制御部２０５に対して欠陥画素閾値特定処理を要求する信号を供給する。これにより、制御部２０５は、欠陥画素閾値特定処理の実行を開始し、制御部２０５内の各構成要素２０６〜２１１が欠陥画素閾値特定処理を行う。
【００３４】
具体的には、図１の操作部１１０がＣＰＵ１０６に対してプログラムを開始する信号を供給することにより、ＣＰＵ１０６は、欠陥画素閾値特定処理を開始することを認識し、ＲＯＭ１０８に記憶されている欠陥画素閾値特定プログラム１１４を読み出す。
【００３５】
図３を用いて、欠陥画素閾値特定処理について説明する。まず、画像データ取得部２０６（画像処理部１０５）は、撮像部２０１から画像データを取得する（図３のステップＳ３０１）。
【００３６】
具体的には、図１のＣＰＵ１０６は、欠陥画素閾値特定プログラム１１４に従い、光学装置１０１の絞り兼用シャッタ部を制御し、駆動回路を駆動し、絞り兼用シャッタを閉じた状態にする。これにより、光学装置１０１から撮像素子１０２への入射光は遮断された状態になる。つづいて、ＣＰＵ１０６は、タイミングジェネレータ１１３を介してドライバ１０３を制御し、撮像素子１０２を動作させる。撮像素子１０２は、遮光撮影を行って、真っ黒な画像を取り込む（以下、この真っ黒な画像を元画像という）。撮像素子１０２は、遮光撮影時の元画像を画素毎に光電変換し、光電変換により発生した画素毎の電荷をアンプにより増幅し、画素毎に増幅した撮像信号を信号処理部１０４に供給する。信号処理部１０４は、撮像素子１０２から信号を受け取ると、この信号に対して、相関二重サンプリング、自動利得調整、及び、ＡＤ（アナログ−デジタル）変換等を行い、ＡＤ変換後のデジタル信号を画像処理部１０５に供給する。これによって、ＣＰＵ１０６は、画像処理部１０５に画像データを取得させるとともに、画像処理部１０５を制御して画像処理部１０５に欠陥画素閾値特定処理の図３のステップＳ３０２以降の処理を行わせる。このようにして、画像データ取得部２０６は、撮像部２０１から画像データを取得する。
【００３７】
つづいて、画像データ取得部２０６が撮像部２０１から画像データを取得すると、演算値算出部２０７の画素レベル閾値特定部２１０（画像処理部１０５）は、画像データ取得部２０６が取得した画像データを用いて画素レベル閾値の特定を行う。
【００３８】
画素レベル閾値特定部２１０は、画像データを受け取ると、画像処理を行う初期値としてｎ＝０を設定した後（図３のステップＳ３０２）、ｎ＝ｎ＋１とする（ステップＳ３０３）。「ｎ」は、画像データの番号を示すものであり、ここではｎ＝１番目の画像データについて処理を行う。画像処理部１０５は、受け取った画像データをもとに、画素レベル閾値の特定を行う（図３のステップＳ３０４）。
【００３９】
図４を用いて画素レベル閾値の特定の処理について説明する。画素レベル閾値特定部２１０は、画像データ取得部２０６が取得した画像データをもとに、画素毎の画素位置及び画素レベル（ここでは、画素値）を取得する（図４のステップＳ４０１）。つまり、画素レベル閾値特定部２１０は、撮像素子１０２の左上の位置に相当する画素から右下の位置に相当する画素に向けて、順次１画素ずつ走査し、画像データが有する各画素の画素レベルを画素位置とともに関連付けて特定し、特定した情報を画素レベル閾値特定部２１０の記憶部（ＲＡＭ１０７等であってもよい、以下同じ）等に保持する。ここで画素値とは、撮像素子１０２のベイヤー配列された色フィルタから得られるＲＧＢ（Red-Green-Blue）値を示すベイヤデータである。また、画素位置とは、撮像素子１０２に配列した各画素の位置をＸ−Ｙ座標値で表したものである。撮像素子１０２は、遮光撮影により真っ黒な画像を取り込んでいるため、画像処理部１０５が受け取る画像データの各画素レベルは、ほとんど「０（ゼロ）」近傍となるのが通常であるが、欠陥画素等がある場合には、ノイズが発生し、大きい画素レベルを取得することがある。ここで、本実施形態において、検出すべき欠陥画素は、ランダムノイズのみが発生する画素を除いた画素である。ランダムノイズは、撮影の度に画像上で発生する位置が異なるノイズなので、本当に欠陥がある画素として特定することはできない。本実施の形態においては、撮像素子に備えられるイメージセンサの性能に依存して発生する暗電流の影響を受けて、その画素で決まって暗電流ノイズ（固定パターンノイズ）が発生する画素と、その暗電流ノイズが極端に大きくなった場合に欠陥してしまった画素（画素欠陥）と、のうちの少なくとも一方を欠陥画素として検出する。大きい画素レベルが検出される画素は、「白キズ」と呼ばれる欠陥画素のおそれがあり、画像中には白い点が表れる場合がある。
【００４０】
つづいて、画素レベル閾値特定部２１０は、取得した各画素の画素レベルに基づいて、同じ値の画素レベルをとる画素数を画素レベル毎に算出して、画素値−画素数分布情報を生成する（図４のステップＳ４０２）。例えば、画素レベル閾値特定部２１０は、画素値レベル毎の画素数の分布を表す情報である「画素値ヒストグラム」を生成する（図５）。
【００４１】
つづいて、画素レベル閾値特定部２１０は、画素値−画素数分布情報を用いて、画素レベルの極値側（ここでは、最大値）から画素数を積算していき、画素レベル閾値を特定する（図４のステップＳ４０３）。
【００４２】
撮像素子１０２には、欠陥画素の欠陥画素数が設定されている。この欠陥画素数は、撮像素子１０２を生産する生産者が発表している、撮像素子１０２が有する欠陥画素の数（ここでは３，０００個）である。この欠陥画素数は、画素レベル閾値特定部２１０に予め設定されているものとする（例えば画像処理部１０５の記憶部に格納されている）。欠陥画素数は、ＲＯＭ１０８に格納され、ＣＰＵ１０６がこれを読み出して、読み出した欠陥画素数を画像処理部１０５に供給してもよい。
【００４３】
画素レベル閾値特定部２１０は、画素レベル毎の画素数を画素レベルの極値側から画素レベル毎に積算した画素数の積算値が、前記の予め設定された欠陥画素数と第１の所定の範囲内となる画素数に対応する画素レベルを、画素レベル閾値として特定する。
【００４４】
例えば、画素レベル閾値特定部２１０は、生成した画素値ヒストグラムをもとに、最大値（ここでは、２５５）から最大値−ｎ（ｎは、１，２，３，４，５，・・・最大値までの整数）までの画素レベルをとる画素数を積算した値（第１積算値）と、最大値から最大値−ｎ＋１までの画素レベルをとる画素数を積算した値（第２積算値）とを算出する。次に画素レベル閾値特定部２１０は、第１積算値と第２積算値とのうちのどちらが前記の欠陥画素数に近い値であるかを判別する。これは、例えば、第１積算値と欠陥画素数との差の絶対値と、第２積算値と欠陥画素数との差の絶対値と、を比較することによって行う。絶対値が小さい値となる方の積算値が欠陥画素数に近い値となる。画素レベル閾値特定部２１０は、このような処理を、第２積算値が第１積算値よりも欠陥画素数に近い値となるまで、ｎを１から１ずつ加算して繰り返し行う。第２積算値が第１積算値よりも欠陥画素数に近い値となった場合、このときの、第２積算値が予め設定された欠陥画素数に一番近い値（ここでは、２，９７６）となる。画素レベル閾値特定部２１０は、このときの第２積算値における最後に積算した画素数に対応する画素レベルである最大値−ｎ＋１の値（すなわち、画素レベルで、ここでは８）を前記の画素レベル閾値として特定する。
【００４５】
なお、第２積算値と第１積算値とが欠陥画素数を挟んで同じだけ近い場合（例えば上記の差の絶対値が同じで符号が逆の場合）、このときの最大値−ｎ＋１の値を前記の画素レベル閾値として特定する。なお、画素レベル閾値特定部２１０は、このときの第１積算値における最後に積算した画素数に対応する画素レベルである最大値−ｎの値（すなわち、画素レベルで、ここでは９）を前記の画素レベル閾値として特定しもよい。また、第２積算値と第１積算値とが欠陥画素数を挟んで同じだけ近い場合（例えば上記の差の絶対値が同じで符号が逆の場合）、このときの最大値−ｎの値を前記の画素レベル閾値として特定してもよい。このときは、この画素レベル閾値より大きい数値をもつ画素レベルについて後述の処理を行う。
【００４６】
つづいて、画素レベル閾値特定部２１０は、保持した画素位置及び画素レベルを用いて、前記で特定した画素レベル閾値（８）以上の画素レベルに対応する画素位置を特定し、特定した画素位置及び画素位置がもつ画素レベルをもとにノイズマップデータを生成する（ステップＳ４０４）。ノイズマップデータとは、撮像素子１０２に配列した各画素に対応する画素位置と画素値とを関連付けてマップ上に表したデータである。本実施の形態では、図６に示すように、画素レベル閾値（８）以上の画素値を有する画素６０１〜６０４には各画素の画素値を表し、画素レベル閾値（８）未満の画素値を有する画素は、欠陥画素の候補から除くために「０（ゼロ）」の画素値を表している。その後、画素レベル閾値特定部２１０は、生成したノイズマップデータを画素レベル閾値特定部２１０の記憶部に保持する。以上により、画素レベル閾値特定部２１０は、ｎ＝１番目の画像データについて、画素レベル閾値の特定を行う。なお、本実施の形態では、説明の便宜上、縦５×横５＝２５の画素に対応したノイズマップデータを例に示しているが、実際は数百万画素に対応したノイズマップデータが生成される。また、ノイズマップデータの代わりに、撮像素子１０２に配列した各画素について、これに対応する画素位置と画素値とを関連付けてテーブル上に表したテーブルデータ（図７）を生成して保持し、後述の処理で利用しても良い。
【００４７】
その後、画素レベル閾値特定部２１０は、画像データの番号を示す「ｎ」が、所定値「ｍ」であるか否かを判定する（ステップＳ３０５）。所定値とは、画素レベル閾値特定部２１０が処理を行う画像データの数である。本実施の形態では、「ｍ＝５」として設定している。「ｎ＝ｍ＝５」でない場合（ステップＳ３０５；Ｎｏ）、画素レベル閾値特定部２１０は、画像データ取得部２０６（具体的にはＣＰＵ１０６等）に対して次の画像データの取得を要求する。これに従い、画像データ取得部２０６（具体的にはＣＰＵ１０６等）は、上記した画像データの取得処理と同じ処理を行う（ステップＳ３０６）。これによって、次の画像データは画素レベル閾値特定部２１０に供給される。これに従い、画素レベル閾値特定部２１０は、上記した画素レベル閾値の特定処理と同じ処理を行う（ステップＳ３０３及び３０４）。そして、これらの処理を繰り返し行って、「ｎ＝ｍ＝５」となった場合（ステップＳ３０５；Ｙｅｓ）、演算値算出部２０７の画素レベル積算部２１１は、画素レベルの積算処理を行う（ステップＳ３０７）。なお、ｎ＝２番目以降の画像データについて特定する画素レベル閾値は、ｎ＝１番目の画像データについて特定した画素レベル閾値を用い、画素レベル閾値の特定を省略しても良い。
【００４８】
画素レベル積算部２１１は、画素レベル閾値特定部２１０が特定した、複数の画像データそれぞれにおける、画素レベル閾値以上の画素レベルを、複数の画像データについて、画素毎に積算する。具体的には、画素レベル積算部２１１は、画素レベル閾値特定部２１０が画素レベル閾値を元に生成したノイズマップデータの画素位置を参照し、同じ画素位置の画素値について、順次１画素ずつ加算の演算処理を行い、画素毎の積算値を算出する。なお、本実施の形態では、積算値の最大値は「２５５」として設定し、積算値が２５５を超えても、その値で止めておくものとする。
【００４９】
このようにして、演算値算出部２０７は、画像データ取得部２０６が画像データを複数回取得し、複数の画像データから特定する画素毎の画素レベルを用いて画素毎に演算し、画素毎の演算値（画素毎の積算値）を算出する。なお、上記では、演算値算出部２０７は、画素レベル閾値以上の画素レベルを用いて画素毎の演算値を算出しているが、画素毎の画素レベルを画素毎に単純に積算することによって、演算値算出部２０７は、画像データ取得部２０６が画像データを複数回取得し、複数の画像データから特定する画素毎の画素レベルを用いて画素毎に演算してもよい。
【００５０】
なお、演算値算出部２０７は、画素毎の演算値を演算値算出部２０７の記憶部（ＲＡＭ１０７等であってもよい、以下同じ）等に保持する。画素毎の演算値は、各画素の位置情報と各画素の演算値とを関連付けた情報である。
【００５１】
演算値算出部２０７が画素レベルの積算処理を行うと、欠陥画素閾値特定部２０８（画像処理部１０５）は、欠陥画素閾値の特定を行う（ステップＳ３０８）。図８を用い、ステップＳ３０８の欠陥画素閾値の特定の詳細について説明する。欠陥画素閾値特定部２０８は、演算値算出部２０７が算出し、保持した画素毎の演算値に基づいて、同じ値の演算値をとる画素数を演算値毎に算出して、演算値毎の画素数の分布である演算値−画素数分布情報を生成する（ステップＳ８０１）。例えば、欠陥画素閾値特定部２０８は、演算値毎の画素数の分布を表す情報である「演算値ヒストグラム」を生成する（図９）。
【００５２】
つづいて、欠陥画素閾値特定部２０８は、演算値−画素数分布情報を用いて、演算値の極値側（ここでは、最大値）から画素数を積算していき、欠陥画素閾値を特定する（ステップＳ８０２）。
【００５３】
上記と同様、欠陥画素数は、欠陥画素閾値特定部２０８に予め設定されているものとする。欠陥画素閾値特定部２０８は、演算値毎の画素数を演算値の極値側から演算値毎に積算した画素数の積算値が、前記の予め設定された欠陥画素数と第２の所定の範囲内となる画素数に対応する演算値を欠陥レベル閾値として特定する。この具体的な方法は、画素レベル閾値を特定する方法と同様である（画素レベルを演算値に変更すればよい。）。これによって、欠陥画素閾値特定部２０８は、予め設定された欠陥画素数（３，０００）に最も近い積算画素数（２，９６０）をとる演算値（４０）を欠陥画素閾値として特定する（ステップＳ８０２）。
【００５４】
つづいて、欠陥画素閾値特定部２０８は、演算値算出部２０７が保持した画素毎の演算値を用いて、前記で特定した欠陥画素閾値（４０）以上の演算値に対応する画素位置を特定し、特定した画素位置及び画素位置がもつ演算値をもとに合成ノイズマップデータを生成する（ステップＳ８０３）。合成ノイズマップデータとは、撮像素子１０２に配列した各画素に対応する画素位置と演算値とを関連付けてマップ上に表したデータである。本実施の形態では、図１０に示すように、欠陥画素閾値（４０）以上の演算値を有する画素１００１〜１００４には各画素の演算値を表し、欠陥画素閾値（４０）以下の演算値を有する画素は、欠陥画素の候補から除くために「０（ゼロ）」の画素値を表している。
【００５５】
ここで画素１００５は、ｎ＝１番目の画像データでは、画素レベル閾値の特定において特定した画素レベル閾値以上であり、欠陥画素の候補に挙げられる。しかし、欠陥画素閾値の特定において特定した欠陥画素閾値により、画素１００５は欠陥を有していないものとして欠陥画素の候補から除かれている。つまり、欠陥画素閾値により欠陥画素候補を特定することにより、欠陥画素の存在によってノイズ（固定パターンノイズ）が発生した画素と、欠陥画素の有無によらずに撮影の度に画像上で発生する位置が異なるランダムノイズが発生した画素との差別化を図ることができる。これにより、画素１００５を、ｎ＝１番目の画像データを取得した際にランダムノイズのみが発生した画素として欠陥画素の候補から除くことができ、ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥画素として検出してしまうことを防止又は軽減することができる。
【００５６】
その後、欠陥画素閾値特定部２０８は、合成ノイズマップデータを欠陥画素閾値特定部２０８の記憶部（ＲＡＭ１０７等であってもよい、以下同じ）等に保持する。以上により、欠陥画素閾値特定部２０８は、欠陥画素閾値の特定を行い欠陥画素の検出を行う。なお、本実施の形態では、説明の便宜上、縦５×横５＝２５の画素に対応した合成ノイズマップデータを例に示しているが、実際は数百万画素に対応した合成ノイズマップデータが生成される。また、合成ノイズマップデータの代わりに、撮像素子１０２に配列した各画素について、これに対応する画素位置と画素値とを関連付けてテーブル上に表したテーブルデータ（図１１）を生成して保持しても良い。以下で、このテーブルデータを使用してもよい。
【００５７】
その後、欠陥画素閾値特定部２０８は、欠陥画素閾値の判定を行う（ステップＳ３０９）。図１２を用いて欠陥画素閾値の判定の詳細について説明する。欠陥画素閾値特定部２０８は、欠陥画素閾値特定部２０８が特定した欠陥画素閾値が、予め設定されている設定画素閾値以上（又はよりも上）であるか判別する（ステップＳ１２０１）。設定画素閾値とは、過去の経験をもとに設定されている欠陥を有する画素が取り得る画素値である。例えば、欠陥画素の存在によってノイズが発生する画素値について、これを撮影回数分、乗算したものを設定する。本実施の形態では、欠陥を有する画素が取り得る画素閾値を「１０」とし、これに基づいて５回の遮光撮影を行うので、欠陥画素閾値の初期値として「５０」を設定している。この設定画素閾値は、欠陥画素閾値特定部２０８に予め設定されているものとする（例えば画像処理部１０５の記憶部に格納されている）。設定画素閾値は、ＲＯＭ１０８に格納され、ＣＰＵ１０６がこれを読み出して、読み出した設定画素閾値を画像処理部１０５に供給してもよい。欠陥画素閾値が設定画素閾値以上（又はよりも上）である場合（ステップＳ１２０１；Ｙｅｓ）、欠陥画素閾値特定部２０８は、欠陥画素閾値特定部２０８が特定した欠陥画素閾値（演算値）を欠陥画素の検出に用いる欠陥画素閾値であると特定する（ステップＳ１２０２）。この場合、欠陥画素閾値特定部２０８は、合成ノイズマップデータに示されている演算値を有する画素を、全て欠陥画素として検出する。一方、欠陥画素閾値が設定画素閾値以下（又はよりも下）の場合（ステップＳ１２０１；Ｎｏ）、欠陥画素閾値特定部２０８は、設定画素閾値を欠陥画素閾値として特定する（ステップＳ１２０３）。そして、この場合、欠陥画素閾値特定部２０８は、欠陥画素閾値特定部２０８が生成して保持した合成ノイズマップデータを修正する（図１２のステップＳ１２０４）。本実施の形態では、図１３に示すように、欠陥画素閾値（４０）が設定画素閾値（５０）未満なので、設定画素閾値（５０）以上（又は上）の画素１３０１〜１３０３には各画素の演算値を表し、設定画素閾値（５０）以下（又は未満）の画素１３０４は、欠陥画素の候補から除くために「０（ゼロ）」の画素値を表している
【００５８】
ここで画素１３０４は、欠陥画素閾値の特定処理において特定した欠陥画素閾値により、ここと同じ位置の画素が欠陥を有するおそれがあるものとして欠陥画素の候補に挙げられていた。しかし、欠陥画素閾値の判定処理において決定した新たな欠陥画素閾値により、画素１３０４は欠陥を有していないものとして欠陥画素の候補から除かれている。つまり、欠陥画素閾値の特定処理において特定した欠陥画素閾値が小さい値であった場合、ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥がある画素として特定してしまうおそれがある。そこで設定画素閾値を用いて欠陥画素閾値との比較、判定を行うことにより、欠陥画素閾値が設定画素閾値未満である場合には設定画素閾値を新たな欠陥画素閾値としている。これにより、画素１３０４は、ランダムノイズのみが発生した画素として欠陥画素の候補から除くことができ、ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥画素として検出してしまうことを防止又は軽減することができる。なお、設定画素閾値は固定値とする他、更新しても良い。つまり、設定画素閾値よりも欠陥画素閾値が大きい値を取った場合、元の設定画素閾値と決定した欠陥画素閾値との平均を求めた値を新たな設定画素閾値として更新しても良い。
【００５９】
その後、欠陥画素検出部２０９（画像処理部１０５）は、判定後の合成ノイズマップデータに示されている演算値を有する画素１３０１〜１３０３を、欠陥画素として検出する（ステップＳ３１０）。そして、欠陥画素検出部２０９は、欠陥画素を特定する画素位置を記憶部２０４に記憶する。例えば、画像処理部１０５は、欠陥画素を特定する画素位置を、ＲＡＭ１０７を介してＣＰＵ１０６に供給し、ＣＰＵ１０６は、受け取った欠陥画素を特定する画素位置を記憶部１０９に記憶する。以上により、欠陥画素閾値特定処理が終了する。そして、制御部２０５は、表示部２０３に欠陥画素検出処理が終了したことを表示することにより、検査員は、これを認識する。
【００６０】
その後、デジタルカメラを実際に使用するユーザが撮影を行ったとき、欠陥画素閾値特定装置１は、記憶部１０９に記憶した欠陥画素を特定する画素位置に対して画素値の補正処理を施す。画素値の補正処理は、欠陥を有する画素に対して周辺画素の画素平均値を置換することにより行う。
【００６１】
以上、本実施の形態の欠陥画素閾値特定装置１によれば、撮像素子１０２に検査用の撮影をさせて得られる、撮像素子１０２の画素毎の画素レベルを特定した画像データを複数回取得する画像データ取得部２０６と、画像データ取得部２０６が複数回取得した複数の画像データから特定する画素毎の画素レベルを用いて画素毎に演算し、画素毎の演算値を算出する演算値算出部２０７と、演算値算出部２０７が算出した画素毎の演算値に基づき、演算値毎の画素数を演算値の極値側から演算値毎に積算した画素数の積算値が、欠陥画素数と第１の所定の範囲内となる画素数に対応する演算値を欠陥画素閾値として特定する欠陥画素閾値特定部２０８とを備える。これにより、予め設定されている欠陥画素数に依存して欠陥画素閾値を特定できるので、適切な数の欠陥画素を検出することができる欠陥画素閾値を特定できる。このため、欠陥画素の存在によってノイズ（固定パターンノイズや画素欠陥により発生するノイズ）が発生した画素と、欠陥画素の有無によらずに撮影の度に画像上で発生する位置が異なるランダムノイズが発生した画素との差別化を図ることができる。その結果、ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥画素の候補から除くことができ、ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥画素として検出してしまうことを防止又は軽減することができる。
【００６２】
また、本実施形態の欠陥画素閾値特定装置１によれば、前記画素数に対応する前記演算値と、予め設定されている設定画素閾値と、のうちのいずれかを前記欠陥画素閾値として特定している。これにより、欠陥画素閾値が小さい値を取った場合でも、ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥画素の候補から除くことができ、ランダムノイズのみが発生した画素を欠陥画素として検出してしまうことを防止又は軽減する。
【００６３】
また、本実施形態の欠陥画素閾値特定装置１のように、画素レベル−画素数分布情報及び又は演算値−画素数分布情報を使用することによって、欠陥画素閾値を特定しやすくなる。
【００６４】
なお、本実施形態では、デジタルカメラの工場出荷前の検査時において、検査員が欠陥画素閾値特定装置１を使用する場合を例に説明したが、デジタルカメラを実際に使用するユーザが撮影前に欠陥画素閾値特定装置１を使用することもできる。
【００６５】
また、本実施形態では、欠陥画素閾値特定装置がデジタルカメラであるとして説明したが、カメラ機能を搭載する携帯電話にも適用することが可能である。また、デジタルカメラ等の装置とは独立させ、複数の画像データをもとに撮像素子の欠陥画素を検出する検査用装置として利用することもできる。
【００６６】
さらに、本実施形態では、遮光撮影により取得した画像データをもとに欠陥画素を検出したが、これとは別に、均一の明るさで露光させる照明を用いた撮影により画像データを取得し、これをもとに欠陥画素を検出しても良い。つまり、光学装置１０１から撮像素子１０２への入射光を遮断した状態で、撮像素子１０２を均一の明るさで露光させる照明を用いて撮影を行うことにより、真っ白な画像を取り込み、この画像データをもとに欠陥画素を検出しても良い。この場合、受け取る画像データの各画素値は、ほとんど「２５５」近傍となるのが通常であるが、欠陥画素等がある場合には、ノイズが発生し、小さい画素値を取得することがある。このような場合、小さい画素値を有する画素は、「黒キズ」と呼ばれる欠陥画素のおそれがあり、画像中には黒い点が表れる。この場合について、欠陥画素の欠陥画素数に最も近い画素数をとる演算値を欠陥画素閾値として特定する際、演算値の最小値側から演算値毎に積算することにより特定することが必要となる。また、設定画素閾値を用いて欠陥画素閾値との比較を行うときには、欠陥画素閾値が設定画素閾値以下又は未満である場合に、設定画素閾値を欠陥画素閾値として決定することが必要となる。このように、欠陥画素閾値特定処理で撮像素子が行う撮影は、撮像素子１０２に均一の明るさで露光させる照明を用いた撮影や遮光撮影等の、撮像素子に検査用の撮影であればよい。
【００６７】
また、本実施形態では、画像データが有する画素毎の画素値を基に欠陥画素候補を特定したが、画素値を用いることに限定されない。つまり、本実施の形態では、画素毎の画素レベルについて、画素値を用いたが、画像処理部１０５は、画像処理部１０５がＹＵＶデータに変換した後の画像データが有する画素毎の輝度値を基に欠陥画素候補を特定することもできる。この場合でも、上記と同様の効果を得ることができる。つまり、画素レベルとしては、画素値でも、輝度値でもよい。また、欠陥画素閾値特定処理で使用される画像データは、撮像素子の画素毎の画素レベルを特定した画像データであればよく、ＹＵＶデータであっても、ベイヤデータであってもよい。
【００６８】
なお、画像処理部１０５（特にＤＳＰ）が、直接、欠陥画素閾値特定プログラム１１４に従って、欠陥画素閾値特定処理を行ってもよい。この場合、当然プログラムの記述は異なる。また、ＣＰＵ１０６は、他のプログラムによって、光学装置１０１及びタイミングジェネレータ１１３等の画像処理部１０５以外の構成要素を制御する。なお、画像処理部１０５（特にＤＳＰ）は、欠陥画素閾値特定処理を行う専用回路として構成してもよい。また、ＣＰＵ１０６が、直接、欠陥画素閾値特定プログラム１１４に従って、欠陥画素閾値特定処理を行ってもよい（この場合、当然プログラムの記述は異なる。）。この場合、各構成要素２０６〜２１１は、ＣＰＵ１０６及びＲＡＭ１０７等によって構成される。その他、ＣＰＵ１０６は、画像処理部１０５が行う処理の少なくとも一部を実行してもよい。
【符号の説明】
【００６９】
１・・・欠陥画素閾値特定装置、１０１・・・光学装置、１０２・・・撮像素子、１０３・・・ドライバ、１０４・・・信号処理部、１０５・・・画像処理部、１０６・・・ＣＰＵ、１０７・・・ＲＡＭ、１０８・・・ＲＯＭ、１０９・・・記憶部、１１０・・・操作部、１１１・・・表示部、１１２・・・バス、１１３・・・タイミングジェネレータ、１１４・・・欠陥画素閾値特定プログラム、２０１・・・撮像部、２０２・・・操作部、２０３・・・表示部、２０４・・・記憶部、２０５・・・制御部、２０６・・・画像データ取得部、２０７・・・演算値算出部、２０８・・・欠陥画素閾値特定部、２０９・・・欠陥画素検出部、２１０・・・画素レベル閾値特定部、２１１・・・画素レベル積算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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