(57)【要約】【課題】誤検知を起こすおそれが低い高性能の光検出装置を提供する。【解決手段】本発明に係る光検出装置１は、供給される電流に応じた強度の光を出射するＬＥＤ２と、ＬＥＤ２が出射した光であって、被照射物により反射された光を受光するフォトダイオード３と、フォトダイオード３が受光した光の量が予め設定された設定値と同一になるか又は当該設定値を越した場合に、ＬＥＤ２からフォトダイオード３までの光の経路の途中に被検出物が存在すると認定し、フォトダイオード３が受光した光の量が当該設定値未満である場合に、ＬＥＤ２からフォトダイオード３までの光の経路の途中に被検出物が存在しないと認定する、認定部２１と、被検出物が存在しないと認定部２１が認定した場合に、ＬＥＤ２に供給される電流の値を当該電流の値よりも大きい値に変更するスキャン処理を行う処理部２２と、を備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
供給される電流に応じた強度の光を出射する発光手段と、
上記発光手段が出射した光であって、被照射物により反射された光を受光する受光手段と、
上記受光手段が受光した光の量が予め設定された設定値と同一になるか又は当該設定値を越した場合に、上記発光手段から上記受光手段までの光の経路の途中に被検出物が存在すると認定し、上記受光手段が受光した光の量が当該設定値未満である場合に、上記発光手段から上記受光手段までの光の経路の途中に被検出物が存在しないと認定する、認定手段と、
被検出物が存在しないと上記認定手段が認定した場合に、上記発光手段に供給される電流の値を当該電流の値よりも大きい値に変更するスキャン処理を行う認定結果処理手段と、
を備えていることを特徴とする光検出装置。
【請求項２】
外部装置との通信を行う入出力手段を備えており、
上記認定手段は、認定結果を上記認定結果処理手段に送信するものであり、
上記認定結果処理手段は、
受信した認定結果を上記入出力手段に送信する、通常検知処理を行うものであり、かつ、
外部からの指示に基づいて、上記スキャン処理または上記通常検知処理のいずれかを行うものであり、
上記入出力手段は、受信した認定結果を外部装置に送信することを特徴とする請求項１に記載の光検出装置。
【請求項３】
上記発光手段に供給される電流の値を調節する電流値調節手段を備えていることを特徴とする請求項１または２に記載の光検出装置。
【請求項４】
上記発光手段に供給する電流の値を記憶する記憶手段を備えており、
上記電流値調節手段は、上記発光手段に供給される電流の値を、上記記憶手段に記憶された電流の値に調節するものであり、
上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在しないと上記認定手段が認定した場合に、上記記憶手段に記憶された電流の値を変更することにより、上記発光手段に供給される電流の値を変更することを特徴とする請求項３に記載の光検出装置。
【請求項５】
上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在しないと上記認定手段が認定した場合に、上記記憶手段に記憶された電流の値を、当該電流の値よりも所定の量だけ大きい値に変更することを特徴とする請求項４に記載の光検出装置。
【請求項６】
上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在すると上記認定手段が認定した場合に、終了信号を生成するものであることを特徴とする請求項４または５に記載の光検出装置。
【請求項７】
上記認定結果処理手段が上記終了信号を生成したときに、上記終了信号を電流値読み出し手段に送信するものであり、上記電流値読み出し手段は、上記認定結果処理手段から上記終了信号を受信したときに、上記記憶手段に記憶されている上記スキャン処理に用いる電流の値を読み出すものであることを特徴とする請求項６に記載の光検出装置。
【請求項８】
上記記憶手段は、上記スキャン処理における電流の初期値を予め記憶しており、
上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を開始するときには、最初に、上記記憶手段に記憶された電流の値を上記初期値にするものであることを特徴とする請求項４〜７のいずれか１項に記載の光検出装置。
【請求項９】
上記記憶手段は、上記スキャン処理における電流の上限値を予め記憶しており、
上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、上記記憶手段に記憶された電流の値を当該電流の値よりも大きい値に変更する場合であって、変更後の電流の値が上記電流の上限値を超えた場合に、上記スキャン処理を終了するものであることを特徴とする請求項４〜８のいずれか１項に記載の光検出装置。
【請求項１０】
上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理にて被検出物が存在すると上記認定手段が認定した場合に、上記記憶手段に記憶された電流の値を、被検出物が存在すると上記認定手段が認定したときの電流の値よりも低い値に変更して、再度、上記スキャン処理を開始するものであることを特徴とする請求項４〜９のいずれか１項に記載の光検出装置。
【請求項１１】
上記記憶手段は、上記スキャン処理を行う回数の上限値と、実際に上記スキャン処理を行った回数の記憶値として０と、を予め記憶しており、
上記認定結果処理手段は、
上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在すると上記認定手段が認定した場合に、上記記憶値を、上記記憶値に１を加算した値に変更するとともに、
変更後の記憶値が上記回数の上限値よりも小さい場合に、再度、上記スキャン処理を開始し、かつ、
変更後の記憶値が上記回数の上限値と等しい場合に、上記スキャン処理を終了することを特徴とする請求項４〜１０のいずれか１項に記載の光検出装置。
【請求項１２】
上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在すると上記認定手段が認定した場合に、上記記憶手段に記憶されている電流の値を、上記スキャン処理の検出値として上記記憶手段に記憶させるものであることを特徴とする請求項４〜１１のいずれか１項に記載の光検出装置。
【請求項１３】
請求項１〜１２のいずれか１項に記載の光検出装置を備えていることを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検出物の検知を行うための光検出装置及びこれを備えた電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、携帯電話などに代表される画面付きモバイル機器が広く利用されている。モバイル機器においては、電池寿命を延長して利便性を高めることが求められている。例えば、携帯電話の通話中には画面を見ることがないため、液晶バックライトを消灯させ、液晶パネルの消費電力を低減させることにより、バッテリを長時間持たせることが可能となる。
【０００３】
さらに、近年の携帯電話では、タッチパネル機能付き画面が採用され、入力ヒューマンインターフェースが向上されている。しかし、タッチパネル機能付きの携帯電話では、通話中にタッチパネルが人の肌に触れて、タッチパネル機能が誤作動する問題が生じる恐れがある。
【０００４】
このような背景から、被検出物としての人の肌（主に頬）を検出し、画面の点灯／消灯、タッチパネル機能のオン／オフなどを自動調整するために、近接センサを搭載することが求められている。例えば、光学式で小型の物体検出センサを、近接センサとして用いることが提案されている。
【０００５】
このような近接センサとしては、例えば、特許文献１に、近接する人体の有無に応じて異なる信号を出力する人体検知センサを備えた人体検知センサ装置が記載されている。また、特許文献２には、光センサを制御するための光センサ制御装置が記載されており、この光センサ制御装置は、受光部から出力される電圧の出力電圧値を読み取る読取部と、この読み取り出力電圧値に基づいて受光部の受光感度を調整する調整部とを備えている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−７１８３３号公報（２００２年３月１２日公開）
【特許文献２】特開２００７−１２７５９１号公報（２００７年５月２４日公開）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述したような近接センサなどの光検出装置は、電子機器に搭載される場合、一般に電子機器を構成する筐体の内側に位置する。例えば、携帯電話のようなモバイル機器における、液晶表示画面の近傍にあるパネルの内側などである。
【０００８】
例えば、光を出射し、この光が被検出物に反射した反射光を検出することにより被検出物を検知する光検出装置の場合には、光検出装置の近傍の筐体は、光が透過できる専用の窓などが設けられることによって、光検出装置から出射する光、及び光検出装置に入射する光が透過できるようになっている。これにより、光検出装置から出射した光は、この筐体を透過し、本来検知すべき被検出物によって反射して光検出装置に戻る経路を通る。
【０００９】
従来の光検出装置の一例について、図５（ａ）〜（ｂ）ならびに図６を参照して以下に説明する。図５（ａ）〜（ｂ）は、従来の光検出装置の概略構成を示す模式図であり、図５（ａ）は、従来の光検出装置の断面図であり、図５（ｂ）は、従来の光検出装置の平面図である。また、図６は、図５（ａ）〜（ｂ）が示す光検出装置が備えるＩＣにおける主な回路構成を示すブロック図である。なお、図５（ａ）及び図６に示す光検出装置１００は、携帯電話などの電子機器の筐体を構成するパネル１０８の内側に一定の距離を保って保持されている。
【００１０】
図５（ａ）に示す光検出装置１００は、素子基板１０１の上に、発光素子としてのＬＥＤ１０２と、受光素子としてのフォトダイオード１０３と、ＩＣ１０４とが搭載されている構造となっている。
【００１１】
図５（ｂ）にも示すように、ＬＥＤ１０２及びフォトダイオード１０３は、透光樹脂１０５ａ及び１０５ｂによって封止されている。透光樹脂１０５ａ及び１０５ｂの周囲と、これらの間とは、光を通さない遮光樹脂１０６によって封止されている。
【００１２】
光検出装置１００と、負荷抵抗１１１とは、実装基板１０７の上に、リフローはんだ付けなどの方法で実装されている。負荷抵抗１１１は、ＬＥＤ１０２の電流を調整するためのものであり、図６に示すようにＬＥＤ１０２と接続される。
【００１３】
ここで、光検出装置１００が内側に保持されるパネル１０８における光検出装置１００の近傍には、光を透過させることができるパネル窓部１０９が備えられている。これにより、ＬＥＤ１０２から出射した光は、パネル窓部１０９を透過して、パネル１０８上にある被検出物１１０によって反射される。そして、被検出物１１０からの反射光は、パネル窓部１０９を透過してフォトダイオード１０３によって受光されることとなる。この光の経路を図５（ａ）及び図６に実線で示す。
【００１４】
光検出装置１００におけるＩＣ１０４は、主にＬＥＤ１０２及びフォトダイオード１０３の制御を行う。ＩＣ１０４は、図６に示すように、主にパルス発生回路１１３、信号処理回路１１６、及びバスインターフェース１１５により構成されている。
【００１５】
パルス発生回路１１３は、パルス信号を生成して電流増幅回路１１２に供給する。電流増幅回路１１２は、供給されたパルス信号を増幅し、ＬＥＤ１０２に電流を供給する。ＬＥＤ１０２は、供給された電流に基づいて発光する。なお、ＬＥＤ１０２に流れる電流は、光検出装置１００の外部に実装された負荷抵抗１１１の定数によって決まり、この電流によってＬＥＤ１０２の発光強度が決定される。
【００１６】
信号処理回路１１６は、フォトダイオード１０３に接続されている。ここで、フォトダイオード１０３には、上述したように、ＬＥＤ１０２から出射され、被検出物１１０によって反射された反射光が入射する。フォトダイオード１０３は、入射した光の量に準じた電流を信号処理回路１１６に入力する。信号処理回路１１６は、入力された電流の値と、予め設定されている検知閾値とを比較し、当該電流の値が検知閾値を越える場合には被検出物１１０が存在すると判断し、当該電流の値が検知閾値を越えない場合には被検出物１１０が存在しないと判断する。また、信号処理回路１１６は、当該電流の値が検知閾値を超えない状態から検知閾値を超えた状態に変化した場合は被検出物１１０が接近したと判断し、当該電流の値が検知閾値を超えた状態から検知閾値を超えない状態に変化した場合は被検出物１１０が遠ざかったと判断する。
【００１７】
信号処理回路１１６はまた、バスインターフェース１１５に接続されており、バスインターフェース１１５を介してバス入出力端子１１４から図示しないバスに、判断結果をデジタル出力する。このようにして、光検出装置１００は、被検出物１１０の有無を検出し、近接センサとして働く。
【００１８】
しかし、上述したような光検出装置においては、被検出物が存在しないにもかかわらず、本来検出すべき被検出物以外のものによって反射された光を検出することによって、被検出物が有ると判断してしまう、いわゆる誤検知が発生することがある。
【００１９】
例えば、図５（ａ）〜（ｂ）及び図６に示す光検出装置１００を例に説明すれば、ＬＥＤ１０２から出射した光が、被検出物ではないパネル窓部１０９によって反射され、この反射光がフォトダイオード１０３に入射してしまうことがある。このような光の経路を図５（ａ）及び図６に一点鎖線及び破線で示す。被検出物１１０が存在しない場合でも、パネル窓部１０９によって反射してフォトダイオード１０３に入射した光の量に準じた電流の値が検知閾値を越えた場合には、信号処理回路１１６は、被検出物が存在すると判断してしまうこととなり、すなわち誤検知が発生してしまう。
【００２０】
また、パネル窓部１０９により反射する光の量は、光検出装置１００から出射する光の強度、パネル窓部１０９における光の透過率、光検出装置１００とパネル窓部１０９との位置関係などによって異なる。また、パネル窓部１０９の透過率、光検出装置１００とパネル窓部１０９との位置関係等は、パネル窓部１０９の厚み、材質、表面処理方法等の電子機器の構成によって異なるものとなる。
【００２１】
そこで、上述した誤検知を回避するために、光検出装置１００が搭載される個々の電子機器の構成に対して、光検出装置１００から出射する光の強度、すなわちＬＥＤ１０２を流れる電流の値が適切に設定されている必要がある。
【００２２】
以下に、図５（ａ）〜（ｂ）及び図６に示す光検出装置１００におけるＬＥＤ１０２の電流の設定値について、搭載される個々の電子機器の構成に対して適切な値を選択する方法の一例について説明する。ここで、ＬＥＤ１０２の電流の設定値は、負荷抵抗１１１の定数により決定される。なお、上述したように、パネル窓部１０９により反射する光の量は、搭載される個々の電子機器の構成により異なるので、ＬＥＤ１０２の電流の設定値を選択する際には、光検出装置１００及び負荷抵抗１１１を、図５（ａ）に示すように、搭載される携帯電話などの電子機器等に実際に組み込んだ状態で行う必要がある。
【００２３】
図７は、図５（ａ）〜（ｂ）及び図６に示す従来の光検出装置におけるＬＥＤの電流の設定値を選択する手順を示すフローチャートである。
【００２４】
まず、最初にＬＥＤ１０２に流す電流の初期値を選択し、この初期値に対応する負荷抵抗１１１の定数を仮決定する（ステップＳ７０１）。この負荷抵抗１１１と光検出装置１００とを素子基板１０１の上に実装し、電子機器などの筐体に組み込む（ステップＳ７０２）。
【００２５】
次に、パネル窓部１０９の上部には被検出物１１０などの光を反射する部材を置かない状態で、信号処理回路１１６は、ＬＥＤ１０２が発光することによりフォトダイオード１０３に入射する光に準じた電流値を測定する（ステップＳ７０３）。その結果、信号処理回路１１６は、この電流値が予め設定された検知閾値を越えたか否か、すなわち誤検知が発生したか否かを判断する（ステップＳ７０４）。
【００２６】
ステップＳ７０４において、誤検知が発生しなかった場合（ＮＯ）には、最初に選択したＬＥＤ１０２の電流の初期値が、搭載される電子機器に対して適切であったと判断する。したがって、このときの負荷抵抗１１１が、最適な負荷抵抗として決定される（ステップＳ７１０）。ただし、このときのＬＥＤ１０２の電流の値が最適であるのかを調べるためには、つまりフォトダイオード１０３に入射した光に準じた電流値が検知閾値に対して十分余裕をもったものであるかを調べるためには、さらに負荷抵抗１１１の定数を変えてステップＳ７０２〜Ｓ７０４を行う必要がある。
【００２７】
一方、ステップＳ７０４において、誤検知が発生した場合（ＹＥＳ）には、素子基板１０１を筐体から取り外し（ステップＳ７０５）、別の定数を有する負荷抵抗１１１に交換し（ステップＳ７０６）、再度素子基板１０１を筐体に組み込む（ステップＳ７０７）。
【００２８】
その後、上述したステップＳ７０３及びＳ７０４と同様に、信号処理回路１１６は、フォトダイオード１０３に入射する光に準じた電流値を測定し（ステップＳ７０８）、その結果誤検知が発生したか否かを判断する（ステップＳ７０９）。
【００２９】
ステップＳ７０９において、誤検知が発生しなかった場合（ＮＯ）には、そのときの負荷抵抗１１１が、最適な負荷抵抗として決定される（ステップＳ７１０）。しかし、誤検知が発生した場合（ＹＥＳ）には、ステップＳ７０９において誤検知の発生がなくなるまで、再度ステップＳ７０５〜Ｓ７０９の一連の作業を繰り返す。
【００３０】
このように従来の光検出装置を搭載する携帯電話等の電子機器の設計段階においては、光検出装置におけるＬＥＤ等に流れる電流の値を、搭載される筐体等に適した値に設定するために、何度も筐体等から負荷抵抗を取り外して交換する必要があるなど、多大な労力と時間とを費やすこととなってしまう。また、上記特許文献１及び２には、上述したような誤検知を回避する方法については、記載されていない。
【００３１】
そこで、本発明は、誤検知を起こすおそれが低い高性能の光検出装置を容易に提供することを目的としたものである。
【課題を解決するための手段】
【００３２】
上記の課題を解決するために、本発明に係る光検出装置は、供給される電流に応じた強度の光を出射する発光手段と、上記発光手段が出射した光であって、被照射物により反射された光を受光する受光手段と、上記受光手段が受光した光の量が予め設定された設定値と同一になるか又は当該設定値を越した場合に、上記発光手段から上記受光手段までの光の経路の途中に被検出物が存在すると認定し、上記受光手段が受光した光の量が当該設定値未満である場合に、上記発光手段から上記受光手段までの光の経路の途中に被検出物が存在しないと認定する、認定手段と、被検出物が存在しないと上記認定手段が認定した場合に、上記発光手段に供給される電流の値を当該電流の値よりも大きい値に変更するスキャン処理を行う認定結果処理手段と、を備えていることを特徴とする。
【００３３】
上記の構成であれば、認定結果処理手段が、スキャン処理において、被検出物が存在すると認定手段が認定するまで、発光手段に供給される電流の値を当該電流の値よりも大きい値に変更するため、被検出物が存在すると認定手段が認定し始めるときの、発光手段に供給される電流の値を検出することが可能になる。
【００３４】
したがって、被検出物が存在しない状態においてスキャン処理を行えば、被検出物が存在しないにもかかわらず被検出物が存在すると認定手段が認定し始める電流の値を容易に検出できる。よって、発光手段に供給される電流を、検出された電流の値より低い値に設定すれば、誤検知を起こすおそれが低い高性能の光検出装置を容易に提供することができる。
【００３５】
また、被検出物が存在する状態においてスキャン処理を行えば、被検出物が存在すると認定手段が正しく認定し始める電流の値を容易に検出できる。よって、発光手段に供給される電流を、検出された電流の値に設定すれば、被検出物を確実に検出できる、精度の高い光検出装置を容易に提供することができる。
【００３６】
また、本発明に係る光検出装置では、外部装置との通信を行う入出力手段を備えており、上記認定手段は、認定結果を上記認定結果処理手段に送信するものであり、上記認定結果処理手段は、受信した認定結果を上記入出力手段に送信する、通常検知処理を行うものであり、かつ、外部からの指示に基づいて、上記スキャン処理または上記通常検知処理のいずれかを行うものであり、上記入出力手段は、受信した認定結果を外部装置に送信することが好ましい。
【００３７】
上記の構成であれば、被検出物の有無を検知し、その結果を外部装置に送信することができる。そのため、外部装置が受信した認定結果を表示するモニターである場合、又は外部装置がモニターに受信した認定結果を表示させるものである場合には、ユーザーは、この認定結果を知ることができる。
【００３８】
また、本発明に係る光検出装置では、上記発光手段に供給される電流の値を調節する電流値調節手段を備えていることが好ましい。
【００３９】
上記の構成であれば、発光手段に供給される電流の値を、所望の値に調節することができる。
【００４０】
また、本発明に係る光検出装置では、上記発光手段に供給する電流の値を記憶する記憶手段を備えており、上記電流値調節手段は、上記発光手段に供給される電流の値を、上記記憶手段に記憶された電流の値に調節するものであり、上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在しないと上記認定手段が認定した場合に、上記記憶手段に記憶された電流の値を変更することにより、上記発光手段に供給される電流の値を変更することが好ましい。
【００４１】
上記の構成であれば、認定結果処理手段は、スキャン処理において、発光手段に供給される電流の値を容易に変更することができる。
【００４２】
また、本発明に係る光検出装置では、上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在しないと上記認定手段が認定した場合に、上記記憶手段に記憶された電流の値を、当該電流の値よりも所定の量だけ大きい値に変更することが好ましい。
【００４３】
上記の構成であれば、認定結果処理手段は、スキャン処理において、発光手段に供給される電流の値を段階的に変更することができる。
【００４４】
また、本発明に係る光検出装置では、上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在すると上記認定手段が認定した場合に、終了信号を生成するものであることが好ましい。
【００４５】
上記の構成であれば、認定結果処理手段は、スキャン処理において、被検出物が存在すると認定手段が認定した場合に、終了信号を、例えば外部装置等に送信することにより、スキャン処理が終了したことを知らせることができる。
【００４６】
また、本発明に係る光検出装置では、上記認定結果処理手段が上記終了信号を生成したときに、上記終了信号を電流値読み出し手段に送信するものであり、上記電流値読み出し手段は、上記認定結果処理手段から上記終了信号を受信したときに、上記記憶手段に記憶されている上記スキャン処理に用いる電流の値を読み出すものであることが好ましい。
【００４７】
上記の構成であれば、電流値読み出し手段は、被検出物が存在すると認定手段が認定したときの電流の値を読み出すことができる。
【００４８】
また、本発明に係る光検出装置では、上記記憶手段は、上記スキャン処理における電流の初期値を予め記憶しており、上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を開始するときには、最初に、上記記憶手段に記憶された電流の値を上記初期値にするものであることが好ましい。
【００４９】
上記の構成であれば、スキャン処理を開始する際に、発光手段に供給される電流の値を初期値に変更することができる。
【００５０】
また、本発明に係る光検出装置では、上記記憶手段は、上記スキャン処理における電流の上限値を予め記憶しており、上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、上記記憶手段に記憶された電流の値を当該電流の値よりも大きい値に変更する場合であって、変更後の電流の値が上記電流の上限値を超えた場合に、上記スキャン処理を終了するものであることが好ましい。
【００５１】
上記の構成であれば、被検出物が存在すると認定手段が認定し始めるときの、発光手段に供給される電流の値を、スキャン処理における電流の上限値よりも低い範囲において検出することができる。
【００５２】
また、本発明に係る光検出装置では、上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理にて被検出物が存在すると上記認定手段が認定することによって、当該スキャン処理を終了した後に、上記記憶手段に記憶された電流の値を、被検出物が存在すると上記認定手段が認定したときの電流の値よりも低い値に変更して、再度、上記スキャン処理を開始するものであることが好ましい。
【００５３】
上記の構成であれば、スキャン処理を繰り返して行うことができる。
【００５４】
また、本発明に係る光検出装置では、上記記憶手段は、上記スキャン処理を行う回数の上限値と、実際に上記スキャン処理を行った回数の記憶値として０と、を予め記憶しており、上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在すると上記認定手段が認定した場合に、上記記憶値を、上記記憶値に１を加算した値に変更するとともに、変更後の記憶値が上記回数の上限値よりも小さい場合に、再度、上記スキャン処理を開始し、かつ、変更後の記憶値が上記回数の上限値と等しい場合に、上記スキャン処理を終了することが好ましい。
【００５５】
上記の構成であれば、スキャン処理を複数回繰り返して行うことができ、またその回数を予め設定することができる。
【００５６】
また、本発明に係る光検出装置では、上記認定結果処理手段は、上記スキャン処理を行うときには、被検出物が存在すると上記認定手段が認定した場合に、上記記憶手段に記憶されている電流の値を、上記スキャン処理の検出値として上記記憶手段に記憶させるものであることが好ましい。
【００５７】
上記の構成であれば、スキャン処理により検出された電流の値を検出値として記憶手段に記憶させておくことができる。したがって、スキャン処理を繰り返す場合には、それぞれのスキャン処理において検出された電流の値をそれぞれ記憶させておくことができる。
【００５８】
本発明に係る電子機器は、上述したいずれかの光検出装置を備えていることを特徴とする。
【００５９】
上記の構成であれば、誤検知を起こすおそれが低い高性能の光検出装置を備えた電子機器を提供することができる。
【発明の効果】
【００６０】
本発明に係る光検出装置は、以上のように、供給される電流に応じた強度の光を出射する発光手段と、上記発光手段が出射した光であって、被照射物により反射された光を受光する受光手段と、上記受光手段が受光した光の量が予め設定された設定値と同一になるか又は当該設定値を越した場合に、上記発光手段から上記受光手段までの光の経路の途中に被検出物が存在すると認定し、上記受光手段が受光した光の量が当該設定値未満である場合に、上記発光手段から上記受光手段までの光の経路の途中に被検出物が存在しないと認定する、認定手段と、被検出物が存在しないと上記認定手段が認定した場合に、上記発光手段に供給される電流の値を当該電流の値よりも大きい値に変更するスキャン処理を行う認定結果処理手段と、を備えているので、誤検知を起こすおそれが低い高性能の光検出装置とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明の一実施形態における光検出装置の概略構成を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態における光検出装置のスキャンモードを行う場合の手順の一例を示すフローチャートである。
【図３】本発明の一実施形態における光検出装置の記憶手段に記憶された設定値の一例を示す図である。
【図４】本発明の一実施形態における光検出装置のスキャンモードを行う場合の手順の他の例を示すフローチャートである。
【図５】（ａ）〜（ｂ）は、従来の光検出装置の概略構成を示す模式図であり、図５（ａ）は、従来の光検出装置の断面図であり、図５（ｂ）は、従来の光検出装置の平面図である。
【図６】図５（ａ）〜（ｂ）が示す光検出装置が備えるＩＣにおける主な回路構成を示すブロック図である。
【図７】図５（ａ）〜（ｂ）及び図６に示す従来の光検出装置におけるＬＥＤの電流の設定値を選択する手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００６２】
以下、本発明に係る光検出装置の一実施形態について、図１を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の一実施形態における光検出装置の概略構成を示す図であり、特に光検出装置が備えるＩＣにおける主な回路構成をブロック図により示したものである。
【００６３】
（光検出装置１の構成）
光検出装置１は、光を用いて被検出物１０の有無を検知するための検出装置である。光検出装置１は、例えばタッチパネル機能付き画面を備えた携帯電話などの電子機器において、タッチパネル上の被検出物の有無を検知する近接センサ等として用いることができる。ここでは、光検出装置１が、携帯電話などの電子機器の筐体を構成するパネル８の内側に一定の距離を保って保持されている場合について説明する。
【００６４】
本実施形態における光検出装置１は、ＬＥＤ２（発光手段）と、フォトダイオード３（受光手段）と、ＩＣ４とにより構成されている。
【００６５】
ＬＥＤ２は、光を出射するものであり、供給される電流に応じた強度の光を出射する。
【００６６】
フォトダイオード３は、入射した光を受けるものであり、受光した光の量に対応する電流を発生させるものである。フォトダイオード３は、ＬＥＤ２が出射した光であって、被照射物により反射された光を受光する。また、フォトダイオード３は、受光した光の量に対応する電流を、ＩＣ４における信号処理回路１６に入力する。
【００６７】
被照射物とは、ＬＥＤ２からの光が照射されるものであって、照射された光の少なくとも一部をフォトダイオード３の方向に反射させるものである。被照射物としては、光検出装置１が検知すべき被検出物１０のほか、光検出装置１が搭載される電子機器の筐体等、本来検知すべきでないが、ＬＥＤ２からの光が照射される可能性があり、その一部を反射させ得る部材等も挙げられる。
【００６８】
ここで、光検出装置１の近傍にあるパネル８には、例えば、光を透過させることができるパネル窓部９が備えられている。これにより、パネル８上に被検出物１０が存在する場合、ＬＥＤ２から出射した光は、パネル窓部９を透過して被検出物１０に照射し、この被検出物１０によって反射される。そして、被検出物１０からの反射光は、パネル窓部９を透過してフォトダイオード３に入射する。この光の経路を図１に実線で示す。
【００６９】
ＩＣ４は、主にＬＥＤ２及びフォトダイオード３の制御を行う。ＩＣ４は、図１に示すように、主にパルス発生回路１３、レジスタ１７（記憶手段）、定電流回路１８（電流値調節手段）、信号処理回路１６、及びバスインターフェース１５により構成されている。ＩＣ４は、外部装置（図示せず）及びその他の装置等（図示せず）に接続されているバス（図示せず）に、バス入出力端子１４（入出力手段）を介して接続されている。外部装置とは、チップセット、マイクロコンピューターなどを備えるものであってもよい。また、外部装置は、モニター等であってもよい。また、バスには、例えばＩ２Ｃ等を用いることができる。
【００７０】
パルス発生回路１３は、パルス信号を生成して定電流回路１８に供給する。パルス発生回路１３は、例えば、バスインターフェース１５及びバス入出力端子１４を介した外部装置からの指示に基づいてパルス信号を生成してもよい。また、レジスタ１７に記憶されているタイミングに基づいてパルス信号を生成してもよい。
【００７１】
レジスタ１７は、ＬＥＤ２に供給される電流の値（以下、「電流の供給値」ともいう。）を記憶する記憶部である。レジスタ１７に記憶された電流の供給値は、予めレジスタ１７に記憶されたものであってもよいし、バスインターフェース１５を介して外部からレジスタ１７に入力される値であってもよい。また、後述する処理部２２（認定結果処理手段）により、変更された値であってもよい。また、レジスタ１７は、後述する、スキャン処理における電流の初期値、電流の上限値等を予め記憶していてもよい。
【００７２】
定電流回路１８は、ＬＥＤ２に供給される電流の値を調節するものである。定電流回路１８は、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値を取得し、供給されたパルス信号を、当該電流の供給値に増幅してＬＥＤ２に供給する。したがって、ＬＥＤ２に流れる電流の値は、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値と等しいものとなる。
【００７３】
信号処理回路１６は、フォトダイオード３が受光した光の量に対応する電流が入力され、これを処理する回路である。信号処理回路１６は、認定部２１（認定手段）及び処理部２２により構成されている。また、バスインターフェース１５及びレジスタ１７に接続されている。
【００７４】
認定部２１は、被検出物１０の存在の有無を認定し、認定結果を生成するものである。認定部２１には、設定値が予め記憶されている。認定部２１は、フォトダイオード３が受光した光の量に対応する電流の値と、設定値とを比較し、当該電流の値が設定値と同一になるか又は越した場合には、ＬＥＤ２からフォトダイオード３までの光の経路の途中に被検出物が存在すると認定し、当該電流の値が設定値未満である場合には被検出物が存在しないと認定する。そして、生成した認定結果を処理部２２に送信する。
【００７５】
なお、設定値は、例えば、ＬＥＤ２に供給される電流の値を、設定したい値、例えば電子機器の消費電力等を考慮した場合の好ましい値などに設定した場合に、被検出物１０が存在するときにフォトダイオード３が受光する光の最低量を予測し、この光の最低量に対応する電流の値などに設定されてもよい。なお、設定値は、記憶手段に記憶されているものであってもよい。
【００７６】
処理部２２は、外部からの指示に基づいてスキャン処理又は通常検知処理を行うものである。ここで、処理部２２がスキャン処理を行っている状態をスキャンモードといい、処理部２２が通常検知処理を行っている状態を通常検知モードということとする。
【００７７】
外部からの指示とは、例えば外部からバス入出力端子１４及びバスインターフェース１５を介して処理部２２に送信される、スキャン処理を行うか通常検知処理を行うかを示す信号などであってもよい。外部とは、外部装置であってもよいし、外部装置以外の入力装置等であってもよい。また、当該信号は、外部装置において設定されたプログラム等により生じるものであってもよいし、ユーザーが入力装置に入力することによって生じるものであってもよい。
【００７８】
通常検知モードとは、光検出装置１が、被検出物１０の有無を検知する動作を行うモードである。
【００７９】
また、スキャンモードとは、ＬＥＤ２の電流を上げていき、被検出物が存在しないと認定部２１が認定している状態から、被検出物が存在すると認定部２１が認定し始めるときに、ＬＥＤ２に供給されている電流の値を検出する動作を行うモードである。このときの電流の値を、電流の限界値と称することとする。なお、この電流の限界値は、被検出物１０の有無、種類、光検出装置１からの距離等、又は光検出装置１が搭載される電子機器等の構成などによって異なるものとなる。
【００８０】
例えば、本来検出すべき被検出物１０を置かない状態においてスキャンモードを行うことにより、被検出物１０がないのにもかかわらず被検出物が存在すると認定部２１が認定し始める電流の限界値、すなわち誤検知を起こし始める電流の限界値を容易に検出することができる。誤検知は、例えば、ＬＥＤ２から出射して、本来検出すべき被検出物１０以外のパネル窓部９等により反射されてフォトダイオード３に入射した光の量が、設定値を超える場合等に生じ得る。なお、このような光の経路を図１に破線で示す。
【００８１】
また、例えば、被検出物１０を置いた状態においてスキャンモードを行うことにより、被検出物が存在すると認定部２１が正しく認定し始める電流の限界値を容易に検出することもできる。
【００８２】
スキャンモードは、例えば、光検出装置１を、搭載される電子機器等に実際に搭載させた状態で行うことが好ましい。これにより、その電子機器等の構成に対応する電流の限界値を正確に検出することができる。
【００８３】
したがって、被検出物１０を置かない状態においてスキャンモードを行うことにより電流の限界値を検出し、ＬＥＤ２の電流の設定値を、この限界値より低い値に設定することにより、誤検知を起こすおそれが低い高性能の光検出装置を備えた電子機器を容易に設計することができる。また、被検出物１０を置いた状態においてスキャンモードを行うことにより電流の限界値を検出し、ＬＥＤ２の電流の設定値を、この限界値に設定することにより、被検出物を確実に検出できる光検出装置を備えた電子機器を容易に設計することができる。
【００８４】
バスインターフェース１５とは、外部装置等とＩＣ４内の各構成要素とのデータのやりとりを仲介するものである。また、バス入出力端子１４とは、バスを介して外部装置等との通信を行う端子である。バス入出力端子１４は、受信した認定結果等のデータを外部装置にデジタル出力する。
【００８５】
ここで、処理部２２が行う通常検知処理及びスキャン処理についてさらに詳細に説明する。
【００８６】
（通常検知処理）
まず、通常検知処理を行うときの処理部２２の動作について説明する。
【００８７】
処理部２２は、通常検知処理を行うときには、バスインターフェース１５を介してバス入出力端子１４に、受信した認定結果を送信する。これにより、バス入出力端子１４によって、外部装置に認定結果がデジタル出力される。なお、外部装置は、例えば、受信した認定結果を表示するモニターであってもよい。これにより、光検出装置１のユーザーは、認定結果を知ることができる。
【００８８】
（スキャン処理）
次に、スキャン処理を行うときの処理部２２の動作について説明する。
【００８９】
処理部２２は、スキャン処理を行うときには、被検出物が存在しないという認定結果を受信した場合に、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値を、変更前の電流の供給値よりも大きい値に変更する。これにより、ＬＥＤ２に供給される電流の値を、当該電流の値より大きい値に変更するものである。これにより、ＬＥＤ２に供給される電流の値を大きくしていきながら、スキャン処理を行うことができる。
【００９０】
変更後の電流の供給値は、例えば、レジスタ１７に記憶されている変更前の電流の供給値よりも所定の量だけ大きい値であってもよい。これにより、処理部２２は、スキャン処理において、ＬＥＤ２に供給される電流の値を段階的に変更することができる。この所定の量は、予め設定されてレジスタ１７に入力され、記憶されているものであってもよい。
【００９１】
また、処理部２２は、被検出物が存在するという認定結果を受信した場合には、スキャン処理を終了してもよい。これにより、処理部２２は、スキャン処理において、被検出物が存在すると認定部２１が認定し始めるときの、ＬＥＤ２に供給される電流の値を保持させたまま、スキャン処理を終了することができる。
【００９２】
処理部２２は、スキャン処理を終了する場合に、割込み信号（終了信号）を生成してもよい。これにより、処理部２２は、この割込み信号を、割込み信号出力端子１９から外部装置等に送信することにより、スキャン処理が終了したことを知らせることができる。
【００９３】
割込み信号出力端子１９とは、光検出装置１から外部装置等に割込み信号を出力するための専用の出力端子である。なお、処理部２２は、生成した割込み信号を、割込み信号出力端子１９から、外部装置における電流値読み出し部（電流値読み出し手段）に出力してもよい。
【００９４】
電流値読み出し部とは、処理部２２から割込み信号を受信したときに、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値、つまりスキャン処理に用いた電流の値を読み出すものである。なお、本実施形態では、電流値読み出し部が外部装置に備えられている場合について説明するが、特にこれに限定されない。本発明における電流値読み出し手段は、例えば光検出装置に備えられていてもよく、また、認定結果処理手段から終了信号を直接受信するものであってもよい。この場合には、電流値読み出し手段は、さらに外部装置等に読み出した電流の値を送信してもよい。
【００９５】
本実施形態では、処理部２２から、割込み信号出力端子１９を通じて割込み信号を受信した電流値読み出し部は、バスインターフェース１５を介して、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値、つまりスキャン処理に用いた電流の値を読み出す。これにより、電流値読み出し部を備える外部装置等は、スキャン処理が終了した時点においてレジスタ１７に記憶されている電流の供給値、つまり直前のスキャン処理に用いたＬＥＤ２の電流の値であって、被検出物が存在すると認定部２１が認定したときの電流の値を取得することができる。
【００９６】
なお、外部装置は、例えば、読み出した電流の値を表示するモニターであってもよい。これにより、光検出装置１を使用するユーザーは、表示された電流の値を見ることによって、それぞれの電子機器に対応する、誤検知を起こし始めるＬＥＤ２の電流の限界値を知ることができる。したがって、ＬＥＤ２の電流の設定値を、この電流の限界値よりも低い値に設定することにより、誤検知を起こすおそれが低い高性能の光検出装置を備えた電子機器を容易に設計することができる。
【００９７】
また、レジスタ１７は、スキャン処理における電流の初期値を予め記憶していてもよく、処理部２２は、スキャン処理を開始するときに、最初に、レジスタ１７に記憶された電流の供給値を当該初期値に書き換えてもよい。これにより、スキャン処理を開始する際に、ＬＥＤ２に供給される電流の値を初期値にすることができる。
【００９８】
また、処理部２２は、被検出物が存在するという認定結果を受信することによってスキャン処理を終了した後に、このときにレジスタ１７に記憶されている電流の供給値を、当該供給値、すなわち被検出物が存在すると認定部２１が認定したときにおけるＬＥＤ２の電流の値よりも低い値に変更して、再度、スキャン処理を開始してもよい。これにより、スキャン処理を繰り返して行うことができる。被検出物が存在すると認定部２１が認定したときにおけるＬＥＤ２の電流の値よりも低い値、つまり変更後の値とは、上述した初期値であってもよい。
【００９９】
また、レジスタ１７は、スキャン処理を行う回数の上限値と、実際にスキャン処理を行った回数の記憶値として０と、を予め記憶していてもよい。この場合には、処理部２２は、スキャン処理において被検出物が存在するという認定結果を受信した場合に、レジスタ１７における記憶値を、当該記憶値に１を加算した値に変更するとともに、変更後の記憶値が当該回数の上限値よりも小さい場合には、再度、スキャン処理を開始してもよい。また、変更後の記憶値が当該回数の上限値と等しい場合には、スキャン処理を終了してもよい。これにより、スキャン処理を複数回繰り返して行うことができ、またその回数を予め設定することができる。
【０１００】
また、処理部２２は、スキャン処理において被検出物が存在するという認定結果を受信した場合には、その時点においてレジスタ１７に記憶されている電流の供給値、すなわち被検出物が存在すると認定部２１が認定したときにおけるＬＥＤ２の電流の値を、スキャン処理の検出値としてレジスタ１７に記憶させてもよい。これにより、スキャン処理を繰り返す場合には、それぞれのスキャン処理において検出された電流の限界値をそれぞれレジスタ１７に記憶させておくことができる。
【０１０１】
また、レジスタ１７は、スキャン処理における電流の上限値を予め記憶していてもよく、処理部２２は、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値を変更する場合であって、変更後の電流の供給値が当該電流の上限値を超えた場合には、スキャン処理を終了してもよい。これにより、被検出物が存在すると認定部２１が認定し始める電流の限界値を、スキャン処理における電流の上限値よりも低い範囲において検出することができる。
【０１０２】
以下に、光検出装置１を用いてスキャンモードを行う場合の手順の例を説明する。
【０１０３】
なお、以下のスキャンモードの例１及び２では、光検出装置１を、上述したようなパネル８を備えた電子機器に搭載して行う。また、レジスタ１７は、電流の初期値として１０ｍＡ、及び所定の量として１０ｍＡを予め記憶している。これらの値は、スキャンモードを開始する前に、例えば外部の入力装置等からレジスタ１７に入力することによって記憶させることができる。処理部２２は、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値を変更するときには、変更前の電流の供給値よりも所定の量、つまり１０ｍＡだけ大きい値に変更するものである。また、認定部２１には、設定値が記憶されている。
【０１０４】
（スキャンモードの例１）
スキャン処理を１回行う場合の例について、図２を参照して説明する。図２は、本発明の一実施形態における光検出装置のスキャンモードを行う場合の手順の一例を示すフローチャートである。なお、スキャンモードの例１では、パネル８の上部に被検出物１０を置かない状態においてスキャンモードを行う。
【０１０５】
まず、スキャンモードを開始する（ステップＳ２０１）。具体的には、光検出装置１に接続された入力装置等にスキャンモードを開始させる開始信号を入力する。これにより、入力装置は、開始信号を処理部２２に送信する。
【０１０６】
処理部２２は、受信した開始信号に基づいてスキャン処理を開始する。まず、処理部２２は、レジスタ１７に記憶されている電流の初期値（１０ｍＡ）を、電流の供給値としてレジスタ１７に書き込む（ステップＳ２０２）。
【０１０７】
次に、検知動作を行う（ステップＳ２０３）。具体的には、定電流回路１８は、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値（１０ｍＡ）にパルス信号を増幅し、ＬＥＤ２に供給する。これによりＬＥＤ２が発光し、パネル窓部９により反射された光がフォトダイオード３に入射する。なお、被検出物１０がない状態であるため、パネル窓部９を透過した光はフォトダイオード３には入射しない。フォトダイオード３は、受光した光に応じた電流を認定部２１に入力する。認定部２１は、この電流の値と設定値とを比較して、被検出物が存在するという認定結果、又は被検出物が存在しないという認定結果を生成した後、この認定結果を処理部２２に送信する。
【０１０８】
次に、誤検知の有無を判断する（ステップＳ２０４）。具体的には、処理部２２は、被検出物が存在するという認定結果を受信した場合には、誤検知有りと判断し（ＹＥＳ）、被検出物が存在しないという認定結果を受信した場合には、誤検知なしと判断する（ＮＯ）。
【０１０９】
処理部２２は、誤検知有りと判断した場合には、スキャン処理を終了する（ステップＳ２０８）。
【０１１０】
また、処理部２２は、誤検知なしと判断した場合には、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値を、この値よりも所定の量（１０ｍＡ）だけ大きい値（２０ｍＡ）に変更する（ステップＳ２０５）。
【０１１１】
次に、上述したステップＳ２０３と同様に、検知動作を行う（ステップＳ２０６）。
【０１１２】
処理部２２は、上述したステップＳ２０４と同様に、誤検知の有無を判断する（ステップＳ２０７）。そして、処理部２２は、誤検知有り（ＹＥＳ）と判断した場合には、スキャン処理を終了する（ステップＳ２０８）。また、処理部２２は、誤検知なし（ＮＯ）と判断した場合には、上記ステップＳ２０５〜Ｓ２０７を再度行い、ステップＳ２０７において誤検知有りと判断するまで、ステップＳ２０５〜Ｓ２０７の一連のステップを繰り返す。
【０１１３】
処理部２２は、ステップＳ２０８において、割込み信号を生成し、割込み信号出力端子１９から、割込み信号を外部装置の電流値読み出し部に出力する。割込み信号を受信した電流値読み出し部は、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値を読み出す。
【０１１４】
スキャンモードの例１では、スキャン処理により検出された電流の限界値は、誤検知を起こし始める電流の限界値であり、外部装置は、これを読み出すことが可能である。したがって、例えば外部装置がモニターであってこの電流の限界値を表示するなどにより、ユーザーは、誤検知を起こし始める電流の限界値を知ることができる。また、このスキャン処理において用いた電子機器に搭載する光検出装置１におけるＬＥＤ２の電流の設定値を、この電流の限界値よりも低い値に設定することにより、誤検知を起こすおそれが低い高性能の光検出装置を備えた電子機器を容易に設計することができる。
【０１１５】
なお、レジスタ１７は、スキャン処理における電流の上限値を予め記憶していてもよい。この場合には、処理部２２は、ステップＳ２０５において、変更後の電流の供給値がレジスタ１７に記憶されている電流の上限値を超えた場合には、スキャン処理を終了してもよい。
【０１１６】
また、レジスタ１７は、図３に示すように、電流の供給値として設定される予定の各値（ＬＥＤ電流値）に対応したレジスタ設定値を記憶していてもよい。図３は、本発明の一実施形態における光検出装置の記憶手段に記憶された設定値の一例を示す図である。
【０１１７】
図３に示す例では、レジスタ１７は３ｂｉｔにより構成されており、１０ｍＡから８０ｍＡまでの、１０ｍＡの間隔を有する各値に対応したレジスタ設定値を記憶している。この場合には、処理部２２は、レジスタ設定値のいずれかを選択することにより、そのレジスタ設定値に対応する値を電流の供給値として設定又は変更することができる。なお、レジスタ１７のｂｉｔ数が多いほど、より細かい電流の供給値の設定が可能となる。
【０１１８】
（スキャンモードの例２）
次に、スキャン処理を３回続けて行う場合の例について、図４を参照して説明する。図４は、本発明の一実施形態における光検出装置のスキャンモードを行う場合の手順の他の例を示すフローチャートである。
【０１１９】
なお、スキャンモードの例２では、パネル８の上部に被検出物１０を置かない状態においてスキャンモードを行う。また、スキャンモードの例２では、レジスタ１７には、スキャン処理を行う回数の上限値として３が予め記憶されている。回数の上限値は、スキャンモードを開始する前に、例えば外部の入力装置等からレジスタ１７に入力することによって記憶させることができる。これにより、例えば電子機器を設計する設計者がスキャンモードを開始する前に容易にスキャン処理を行う回数を設定できるので、より顧客のニーズにあったスキャンモードを行うことが可能となる。
【０１２０】
また、レジスタ１７は、スキャン処理において誤検知を起こす値であると判断されたときの電流の供給値をレジスタ値（検出値）として格納するための、専用レジスタ（図示せず）を有する。
【０１２１】
まず、スキャンモードを開始する（ステップＳ４０１）。具体的には、上述したステップＳ２０１と同様に行う。
【０１２２】
処理部２２は、受信した開始信号に基づいてスキャン処理を開始する。処理部２２は、まず、レジスタ１７に、回数レジスタ値（回数の記憶値）として０を書き込む（ステップＳ４０２）。その後、レジスタ１７に記憶されている電流の初期値（１０ｍＡ）を、電流の供給値としてレジスタ１７に書き込む（ステップＳ４０３）。
【０１２３】
次に、検知動作を行う（ステップＳ４０４）。具体的には、上述したステップＳ２０３と同様に行う。
【０１２４】
次に、誤検知の有無を判断する（ステップＳ４０５）。具体的には、上述したステップＳ２０４と同様に行う。
【０１２５】
処理部２２は、誤検知なしと判断した場合には、上述したステップＳ２０５〜Ｓ２０７と同様に行うステップＳ４０６〜Ｓ４０８を行い、ステップＳ４０８において誤検知有りと判断するまで、ステップＳ４０６〜Ｓ４０８の一連のステップを繰り返す。
【０１２６】
処理部２２は、ステップＳ４０５又はステップＳ４０８において誤検知有りと判断した場合には、レジスタ１７に記憶されている回数レジスタ値が０かどうかを確認する（Ｓ４０９）。
【０１２７】
処理部２２は、回数レジスタ値が０であれば（ＹＥＳ）、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値を、直前に行ったスキャン処理のレジスタ値（検出値）として専用レジスタに格納する（ステップＳ４１３）。ここでは、１回目のレジスタ値として格納する。そして、回数レジスタ値として記憶されている値に１を加算した値を、新たに回数レジスタ値として書き込む（Ｓ４１４）。ここでは、回数レジスタ値として１を書き込むことになる。その後、処理部２２は、上述したステップＳ４０３に戻り、新たにスキャン処理を開始する。
【０１２８】
処理部２２は、ステップＳ４０９において、回数レジスタ値が０でない場合には（ＮＯ）、次に、回数レジスタ値が（回数の上限値−１）以上かどうかを確認する（ステップＳ４１０）。ここでは、回数レジスタ値が２以上かどうかを確認する。
【０１２９】
処理部２２は、回数レジスタ値が２以上でない場合には（ＮＯ）、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値を、直前に行ったスキャン処理のレジスタ値（検出値）として専用レジスタに格納する（ステップＳ４１５）。ここでは、２回目のレジスタ値として格納する。そして、回数レジスタ値として記憶されている値に１を加算した値を、新たに回数レジスタ値として書き込む（Ｓ４１６）。例えば、回数レジスタ値として１が記憶されていた場合、新たに回数レジスタ値として２を書き込むことになる。その後、処理部２２は、上述したステップＳ４０３に戻り、新たにスキャン処理を開始する。
【０１３０】
処理部２２は、ステップＳ４１０において、回数レジスタ値が２以上である場合には（ＹＥＳ）、レジスタ１７に記憶されている電流の供給値を、直前に行ったスキャン処理のレジスタ値（検出値）として専用レジスタに格納する（ステップＳ４１１）。ここでは、３回目のレジスタ値として格納する。その後、処理部２２は、スキャン処理を終了する（Ｓ４１２）。
【０１３１】
また、処理部２２は、ステップＳ４１２において、上述したステップＳ２０８と同様に、電流値読み出し部に割込み信号を出力する。割込み信号を受信した電流値読み出し部は、専用レジスタに格納されている１〜３回目のレジスタ値を読み出す。
【０１３２】
スキャンモードの例２では、３回のスキャン処理により検出された電流の限界値は、それぞれ誤検知を起こし始める電流の限界値であり、外部装置は、これらをそれぞれ読み出すことが可能である。したがって、例えば外部装置がモニターであってこれらの電流の限界値を表示するなどにより、ユーザーは、これらの限界値を知ることができる。また、これらの限界値を比較することによって、誤検知を起こし始める電流の限界値を、より正確に導出することができる。さらに、このスキャン処理において用いた電子機器に搭載する光検出装置１におけるＬＥＤ２の電流の設定値を、この導出した電流の限界値よりも低い値に設定することにより、誤検知を起こすおそれが低い、より高性能の光検出装置を備えた電子機器を容易に設計することができる。
【０１３３】
なお、ここではスキャン処理を３回行う場合を例に説明したが、より多くのスキャン処理を行えば、さらに正確な電流の限界値を求めることができる。
【０１３４】
また、レジスタ１７は、スキャン処理における電流の上限値を予め記憶していてもよい。この場合には、処理部２２は、ステップＳ４０６において、変更後の電流の供給値がレジスタ１７に記憶されている電流の上限値を超えた場合には、スキャン処理を終了してもよい。
【０１３５】
（スキャンモードの例３）
次に、電子機器毎にキャリブレーションを実施するために、スキャン処理を行う場合の例について説明する。
【０１３６】
スキャンモードの例３では、レジスタ１７は、スキャン処理における電流の上限値を予め記憶している。この電流の上限値は、被検出物１０を置かない状態において予めスキャンモードを行い、その結果検出された電流の限界値より低い値に設定されている。すなわち、電流の上限値は、誤検知を起こし始める電流の限界値より低い値に設定されることとなる。
【０１３７】
また、スキャンモードの例３では、パネル８の上部に被検出物１０を置いた状態においてスキャンモードを行う。被検出物１０は、例えば、パネル窓部９の上部に一定の距離（例えば５０ｍｍ等）をおいて置くことが好ましい。
【０１３８】
スキャンモードは、上述したスキャンモードの例１又は２の手順により行うことができる。手順についての詳細な説明は、ここでは省略する。
【０１３９】
なお、スキャンモードの例３では、上述したステップＳ２０５又はステップＳ４０６において、変更後の電流の供給値がレジスタ１７に記憶されている電流の上限値を超えた場合には、スキャン処理を終了する。
【０１４０】
スキャンモードの例３では、スキャン処理により検出された電流の限界値は、被検出物が存在すると認定部２１が正しく認定し始める電流の限界値であり、つまり被検出物１０の検出が可能になり始める電流の限界値である。外部装置は、この電流の限界値を読み出すことが可能である。したがって、例えば外部装置がモニターであってこの電流の限界値を表示するなどにより、ユーザーは、被検出物１０の検出が可能になり始める電流の限界値を知ることができる。また、外部装置は、読み出した電流の限界値を、スキャン処理に用いた光検出装置又は電子機器固有の値として記憶しておいてもよい。
【０１４１】
また、スキャンモードの例３では、スキャン処理における電流の上限値を、誤検知を起こし始める電流の限界値より低い値に設定しているため、その後のスキャンモードにより検出された電流の限界値は、確実に、誤検知を起こし始める電流の限界値より低い値となる。
【０１４２】
したがって、このスキャンモードにおいて用いた電子機器に搭載する光検出装置１におけるＬＥＤ２の電流の設定値をこの限界値に設定することにより、被検出物を確実に検出できるとともに、誤検知を起こすおそれが低い、高性能の光検出装置を備えた電子機器を設計することができる。
【０１４３】
また、電子機器ごとに、被検出物１０の検出が可能になり始める電流の限界値は異なることがある。したがって、個々の電子機器ごとに上述したようなスキャンモードを行うことによって、それぞれにおいて検出された電流の限界値をＬＥＤ２の電流の設定値とすることにより、各電子機器における、被検出物１０を検出しうる被検出物１０とパネル８との距離のばらつきを、非常に小さくすることが可能になる。すなわち、光検出装置、またはこれを搭載する電子機器等の個体のばらつきを抑えるため、上述したスキャンモードを行うことにより、電子機器１台毎のキャリブレーションを実施することが可能である。
【０１４４】
なお、本実施形態においては、誤検知を回避するために、ＬＥＤ２に供給される電流の値を適切な値に設定する。したがって、例えば認定部２１における設定値を上げて誤検知を回避する方法もあるが、本実施形態であれば、ＬＥＤ２の電流の値を下げることによって対応することができ、電子機器の消費電力を低減させることが可能になる。
【０１４５】
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【０１４６】
光検出装置を搭載する電子機器に好適に適用できる。
【符号の説明】
【０１４７】
１    光検出装置
２    ＬＥＤ（発光手段）
３    フォトダイオード（受光手段）
１４  バス入出力端子（入出力手段）
１７  レジスタ（記憶手段）
１８  定電流回路（電流値調節手段）
２１  認定部（認定手段）
２２  処理部（認定結果処理手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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