(57)【要約】【課題】赤外線センサの検知温度を元にシーケンス制御を行うものにおいて、赤外線センサを覆う遮光フィルタの汚れなどの経年劣化による感度低下が原因で調理性能が低下することを防ぐこと。【解決手段】遮光フィルタ１４ｄを透過して赤外線センサ１４に光が入射する位置に発光ダイオード１４ｃを配置し、発光ダイオード１４ｃを点灯した時の赤外線センサ１４の値を使用初期と経年後で比較し、値が低下していれば、シーケンス制御の制御温度を低く設定して、値の低下量を補正した制御を行う事で、使用年数に限らず一定の調理性能を確保できる。【選択図】図２
2011077007.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
赤外線を透過する材料で構成されたトッププレートと、前記トッププレート下方に配置された加熱コイルと、前記トッププレート上に載置される被加熱物を加熱するために前記加熱コイルに供給する電力を制御する電力制御手段と、被加熱物の底面から放射される赤外線のうち前記トッププレートを透過した赤外線を受光する赤外線センサと、前記赤外線センサの受光量から被加熱物の底面温度を検知する赤外線温度検知部と、前記赤外線温度検知部で検知した底面温度が予め決めた温度１を超えると前記加熱コイルに供給する電力を下げる赤外線電力制御手段と、前記赤外線センサと前記トッププレートの間に配置され、被加熱物の底面から放射される赤外線以外の外乱光を抑制する絶縁物で構成されたフィルタと、光が前記フィルタを介して前記赤外線センサに入射する位置に配置された発光素子と、前記発光素子の発光を制御する発光制御手段と、前記赤外線センサの周囲温度を測定する位置に配置された周囲温度センサと、前記加熱コイルが被加熱物を加熱した累積時間を計時する計時手段と、不揮発性メモリとを備え、
累積時間が時間０の時に前記発光手段は前記発光素子を発光させ、発光時の前記赤外線センサの受光量０を前記不揮発性メモリに保存し、累積時間が前記時間０より大きい時間１になると、前記発光手段は前記発光素子を発光させ、発光時の前記赤外線センサの受光量１と前記受光量０と比較して、前記受光量１が前記受光量０より小さければ、前記赤外線電力制御手段の前記温度１を下げる加熱調理器。
【請求項２】
被加熱物が常温の時の赤外線センサの受光量２を不揮発性メモリに保存し、受光量０、受光量１を測定する直前の前記赤外線センサの受光量が前記受光量２以下である場合のみ、前記受光量０、前記受光量１の測定を行う請求項１に記載の加熱調理器。
【請求項３】
受光量０を検知した際の周囲温度センサの検知温度を周囲温度１として不揮発性メモリに保存し、時間１の前記周囲温度センサの検知温度が前記周囲温度１と同じである場合のみ、受光量１の測定を行う請求項１または２に記載の加熱調理器。
【請求項４】
発光素子の光がフィルタを介さず入射される位置に配置した第２の赤外線センサを備え、累積時間が時間０の時に発光制御手段は前記発光素子を発光させ、発光時の前記第２の赤外線センサの受光量３を不揮発性メモリに保存し、時間１で前記発光素子を発光させた時の発光時の前記第２の赤外線センサの受光量４が前記受光量３より小さければ、温度１を下げる量を小さくする請求項１〜３のいずれか１項に記載の加熱調理器。
【請求項５】
赤外線電力制御手段が加熱コイルに供給する電力を下げる際に用いる赤外線センサの受光量に（受光量０）／（受光量１）を掛けて補正する請求項１〜４のいずれか１項に記載の加熱調理器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、加熱調理器の温度センサ補正に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の加熱調理器である誘導加熱調理器の赤外線センサによる温度検出、センサの故障検知をするものがある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
図７に従来の加熱調理器のブロック図を示す。
【０００４】
加熱調理器は、鍋１０１を載せるトッププレート１０２と、鍋１０１を加熱する加熱コイル１０３と、加熱コイル１０３に高周波電流を供給する事で、鍋１０１を電磁誘導で発熱させるインバータ１０４と、インバータ１０４を制御する加熱制御部１０５を有する。
【０００５】
トッププレート１０２は、２．５μｍ以下の波長域の赤外線を効率よく透過するガラスセラミックなどにより形成される。トッププレート１０２下方には２．５μｍ以下の波長を検出するフォトダイオードなどで構成された赤外線センサから成る赤外線検出部１０６を備える。赤外線検出部１０６は、鍋１０１の鍋底が高温になると放射される赤外線が、トッププレート１０２を透過し、入射される赤外線入射部１０６ａを備える。赤外線検出部１０６の内部には貫通穴が設けられ、貫通穴の上部開口が赤外線入射部１０６ａから入射した赤外線を赤外線受光素子に導く事により、鍋１０１底面の狭い範囲から照射される赤外線を集光して、鍋１０１以外からの赤外線又は外乱光を遮断する。
【０００６】
赤外線検出部１０６の出力は、赤外線温度算出部１０７で演算され、鍋の底面温度に変換される。
【０００７】
トッププレート１０２下方には、赤外線入射部１０６ａの位置を示す発光部１０８が設けられ、ＬＥＤなどの発光体１０８ａと、発光体１０８ａの光を下方から入射して上端の発光面から光をトッププレート１０２の裏面に向かって照射する導光体１０８ｂを有する。発光部１０８は使用者に赤外線入射部１０６ａの位置を知らせるとともに発光体１０８ａの光の一部は、側面にも到達し、赤外線検出部１０６がこの光を検知できるよう構成される。
【０００８】
更に、発光部１０８の出力に基づいた赤外線温度算出部１０７の出力変化量により、赤外線検出部１０６の故障を検知する故障検知部１０９を有する。
【０００９】
また、トッププレート１０２の温度を検出するサーミスタなどの感温素子１１０と、感温素子１１０の出力から温度を算出する感熱温度算出部１１１と、赤外線温度算出部１０７の算出した温度と感熱温度算出部１１１の算出した温度により、調理に適した温度制御を行い、異常高温を検知した際は加熱を停止するように働く温度制御部１１２を有する。
【００１０】
トッププレート１０２前面には、使用者が所望の加熱コイル１０３で加熱を行うための操作部１１３と使用者に操作内容、加熱状態（故障を含む）を知らせる報知部１１４を有する。
【００１１】
図８に従来の加熱調理器の赤外線検出部１０６故障検知動作のタイミングチャートを示す。
【００１２】
図８（ａ）は工程、（ｂ）は加熱制御、（ｃ）は発光体１０８ａの発光状態、（ｄ）は赤外線センサの出力を示している。
【００１３】
工程１は加熱を開始する前の加熱停止工程であり、工程４は加熱工程である。工程２ａで発光部１０８は発光をオフする。故障検知部１０９は発光オフ後０．１秒経過時点ｔ２１で赤外線温度算出部１０７の出力を記憶する。工程３ａで発光部１０８は発光をオンする。故障検知部１０９は発光開始後０．１秒経過時点ｔ２２で赤外線温度算出部１０７の出力と時点ｔ２１で記憶した赤外線温度算出部１０７の出力を比較し、その差が所定の値以上であるか判断する。所定の値以上であれば、赤外線検出部１０６は、故障と判定する。以上の発光動作を繰り返しｔ２３、ｔ２４で行い同様の判定をする。
【００１４】
故障検知部１０９が故障と判定した場合、加熱制御部１０５は加熱を開始せず、報知部１１４により故障を使用者に通知する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１５】
【特許文献１】国際公開第０９／００１５４０号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
しかしながら、従来の構成では、実際には、赤外線入射部１０６ａの上面には外乱光除去のために赤外線センサの検知波長以外の波長の入射を抑制するフィルタが配置されている場合があり、このフィルタに埃や油膜が付着することで赤外線センサに入射する赤外線が減衰するが、故障検知のための発光体１０８ａの光は、側面から赤外線検出部１０６に入射するため、フィルタの汚れによる入射光の減衰が検知できないといった課題を有していた。
【００１７】
赤外線温度算出部１０７の算出した温度と感熱温度算出部１１１の算出した温度により、調理に適した温度制御を行う際に入射光が減衰していると温度制御が適切に行われず、調理性能が低下する。
【００１８】
また、発光素子１０８ａはレンズの汚れや経年変化によるレンズの変色などにより光度の低下が起こるため、赤外線センサが正常であっても発光素子１０８ａの光度低下により故障検知部１０９が故障と誤検知してしまう恐れがある。
【００１９】
従来は発光部１０８が発光をオンした時とオフした時の赤外線温度算出部１０７の出力の差が所定値を上回ると故障と検知して加熱を止めているため、発光素子１０８ａのレンズの汚れや経年変化によるレンズの変色などにより光度の低下した場合、使用者は経年劣化により鍋１０１の加熱ができなくなるといった課題も有していた。
【００２０】
本発明は、上記従来の課題を解決するもので、使用年数に限らず一定の調理性能を確保できる加熱調理器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
前記従来の課題を解決するために、本発明の加熱調理器は、赤外線センサの検知波長以外の波長の光を抑制するフィルタを介して光が赤外線センサに入射する位置に発光体を配置し、まず加熱コイルの累積時間が時間０の時に発光体を発光させ、その時の赤外線センサの出力を受光量０として不揮発性メモリに保存しておき、累積時間が時間０より大きい時間１になった時に再度発光体を発光させ、その時の赤外線センサの出力を受光量１として、受光量０と比較し、受光量０＞受光量１となった場合は、機器の使用過程でフィルタ
が汚れたために、赤外線センサの受光量が減衰していると判断する。加熱調理器は赤外線センサの出力から換算した温度が所定の温度になると加熱コイルに供給する電力を制御して揚げ物温度調節や温度過昇防止を行っている。赤外線センサの受光量が減衰していると判断すると、本来であれば鍋の底面温度は電力制御が必要な温度１に達しているが、赤外線センサの受光量が減衰しているため、赤外線センサの出力から算出した温度が低くなり電力制御が必要な温度１ではないと誤検知するため、温度１を低く設定して、赤外線センサ出力の減衰を補正した温度制御を行う。
【００２２】
この時、時間０で鍋底が常温の時の赤外線センサの出力を受光量２として、不揮発性メモリに保存し、受光量１を測定する直前の赤外線センサの出力が受光量２と同じである事を確認して測定し、受光量０、受光量１の測定では発光体の光度のみが測定されており、鍋の底面温度や外乱光の影響がない状態で測定を行う。
【００２３】
更に、赤外線センサの近傍の周囲温度を測定する周囲温度センサを設け、時間０で受光量０を測定する際に周囲温度を測定し周囲温度１として不揮発性メモリに保存した上で、受光量１を測定する際の周囲温度が周囲温度１と同じである事を確認して測定し、赤外線センサの温度特性の影響を無くす。
【００２４】
また、フィルタを介さず直接発光体の光度を測定する第２の赤外線センサを備え、受光量０、受光量１を測定する際の発光体光度を比較して、どちらかの受光量測定時の光度が低ければ、その分を補正した受光量に換算したあとで、比較を行う。
【００２５】
または、電力制御する際の赤外線センサの受光量に（受光量１）／（受光量０）を掛けて、受光量の減衰分を補正した後で電力制御を行う事で、揚げ物温度調節や温度過昇防止などの制御を赤外線センサの減衰の影響なく行う。
【発明の効果】
【００２６】
本発明により、鍋底温度をトッププレートごしに測定し、電力の制御により温度制御を行う加熱調理器において、鍋底温度を測定する赤外線センサがレンズの汚れなどで受光量が減衰した場合に、減衰前後の受光量の比較によりその減衰量を検知し、減衰量に合わせて温度制御の制御温度を設定しなおす事で、経年劣化によるレンズ汚れの影響を受けない温度制御が可能となり、使用年数に関わらず適切な調理性能を維持できる。
【００２７】
また、赤外線センサの受光量が減衰する前の受光量の測定時に鍋底温度を常温にしておき、周囲温度を保存するなどの測定条件を決めておき、減衰量を検知する際の受光量測定時に同じ測定条件で測定を行う事で、外乱光の影響、温度特性の影響などを無くし、精度の高い補正ができる。
【００２８】
更に、減衰量の検知に用いる発光体の光度を測定する第２の赤外線センサを備える事で、発光体の光度低下による減衰量の誤検知を防ぐ事ができる。
【００２９】
また、電力制御する際の赤外線センサの受光量に（受光量１）／（受光量０）を掛けて受光量全体を補正する事でも使用年数に関わらず適切な調理性能を維持できる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の実施の形態１、２における加熱調理器の構成を示す分解斜視図
【図２】本発明の実施の形態１における加熱調理器の断面図とブロック図
【図３】本発明の実施の形態１、２における加熱調理器の揚げ物温度調節を行う場合の温度推移を示す図
【図４】本発明の実施の形態１、２における加熱調理器の赤外線センサの減衰量の測定タイミングを示す図
【図５】本発明の実施の形態１、２における加熱調理器の制御温度を変更した後の揚げ物温度調節の温度推移を示す図
【図６】本発明の実施の形態２における加熱調理器の断面図とブロック図
【図７】従来の加熱調理器のブロック図
【図８】従来の加熱調理器の赤外線検出部の故障検知動作のタイミングチャート
【発明を実施するための形態】
【００３１】
第１の発明は、赤外線を透過する材料で構成されたトッププレートと、前記トッププレート下方に配置された加熱コイルと、前記トッププレート上に載置される被加熱物を加熱するために前記加熱コイルに供給する電力を制御する電力制御手段と、被加熱物の底面から放射される赤外線のうち前記トッププレートを透過した赤外線を受光する赤外線センサと、前記赤外線センサの受光量から被加熱物の底面温度を検知する赤外線温度検知部と、前記赤外線温度検知部で検知した底面温度が予め決めた温度１を超えると前記加熱コイルに供給する電力を下げる赤外線電力制御手段と、前記赤外線センサと前記トッププレートの間に配置され、被加熱物の底面から放射される赤外線以外の外乱光を抑制する絶縁物で構成されたフィルタと、光が前記フィルタを介して前記赤外線センサに入射する位置に配置された発光素子と、前記発光素子の発光を制御する発光制御手段と、前記赤外線センサの周囲温度を測定する位置に配置された周囲温度センサと、前記加熱コイルが被加熱物を加熱した累積時間を計時する計時手段と、不揮発性メモリとを備え、
累積時間が時間０の時に前記発光手段は前記発光素子を発光させ、発光時の前記赤外線センサの受光量０を前記不揮発性メモリに保存し、累積時間が前記時間０より大きい時間１になると、前記発光手段は前記発光素子を発光させ、発光時の前記赤外線センサの受光量１と前記受光量０と比較して、前記受光量１が前記受光量０より小さければ、前記赤外線電力制御手段の前記温度１を下げる事を特徴とすることにより、フィルタの汚れや赤外線センサの感度低下により、赤外線センサの出力が低下しても、赤外線センサ出力の減衰量を検知し、減衰量に合わせて、温度制御時の制御温度を変更するので、減衰に関係なく一定の温度制御が可能となり、調理性能が維持できる。また、経年劣化により赤外線センサ出力が減衰しても、補正による性能確保により継続して使用が可能になるので、使用者の利便性が高まる。
【００３２】
第２の発明は、特に、第１の発明において、被加熱物が常温の時の赤外線センサの受光量２を不揮発性メモリに保存し、受光量０、受光量１を測定する直前の前記赤外線センサの受光量が前記受光量２以下である場合のみ、前記受光量０、前記受光量１の測定を行うとすることにより、減衰量を検知する際の条件が被加熱物の底面温度が常温である事としたため、被加熱物の鍋底温度の影響を受けて、減衰量を誤検知する事を防止できる。また、鍋底温度以外にも外乱光の影響による減衰量誤検知を防止できる。
【００３３】
第３の発明は、特に、第１または第２の発明において、受光量０を検知した際の周囲温度センサの検知温度を周囲温度１として不揮発性メモリに保存し、時間１の前記周囲温度センサの検知温度が前記周囲温度１と同じである場合のみ、受光量１の測定を行うとすることのより、減衰量を検知する際の条件が赤外線センサの周囲温度を減衰前後で同じにして測定するようにしたため、赤外線センサやそれに付随する電子部品の温度特性の影響を受けて、減衰量を誤検知する事を防止できる。
【００３４】
第４の発明は、特に、第１〜３のいずれか１つの発明において、発光素子の光がフィルタを介さず入射される位置に配置した第２の赤外線センサを備え、累積時間が時間０の時に発光制御手段は前記発光素子を発光させ、発光時の前記第２の赤外線センサの受光量３を不揮発性メモリに保存し、時間１で前記発光素子を発光させた時の発光時の前記第２の赤外線センサの受光量４が前記受光量３より小さければ、前記温度１を下げる量を小さく
するとすることにより、発光素子のレンズ汚れやレンズの変色など経年劣化に伴う光度低下の影響により減衰量を誤検知する事を防止できる。
【００３５】
第５の発明は、特に、第１〜４のいずれか１つの発明において、電力制御する際の赤外線センサの受光量に（受光量１）／（受光量０）を掛けて受光量全体を補正したため、フィルタの汚れや赤外線センサの感度低下により、赤外線センサの出力が低下しても、減衰に関係なく一定の温度制御が可能となり、調理性能が維持できる。また、経年劣化により赤外線センサ出力が減衰しても、補正による性能確保により継続して使用が可能になるので、使用者の利便性が高まる。
【００３６】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、本実施の形態によって、本発明が限定されるものではない。
【００３７】
（実施の形態１）
図１から図４は、本発明の第１の実施の形態における加熱調理器である誘導加熱調理器を示す。図１は本実施の形態における誘導加熱調理器の構成を示す分解斜視図であり、図２は誘導加熱調理器の断面図とブロック図、図３は揚げ物温度調節を行う場合の温度推移、図４は赤外線センサの減衰量の測定タイミング、図５は制御温度を変更した後の揚げ物調整の温度推移である。
【００３８】
図１において、外郭を構成する本体１の上面には、耐熱強化ガラスからなるトッププレート２が配設されている。本体１内のトッププレート２の下面にはトッププレート２上方に載置された鍋３を加熱する２つの加熱コイル４、５と１つのラジェントヒーター６からなる加熱手段が配設されている。
【００３９】
トッププレート２上面には、誘導加熱コイル４、５、ラジェントヒーター６の配設されている位置に対応して、左加熱調理部７、右加熱調理部８、後ヒーター部９が印刷されている。
【００４０】
左加熱調理部７、右加熱調理部８の手前には、２つの加熱調理部に対応して操作部１０、表示部１１が左右方向に一列に並ぶように設けられている。
【００４１】
加熱コイル４、５には、トッププレート２に接触してトッププレート２の温度を測定するサーミスタ１２、１３と鍋底面温度をトッププレート２ごしに非接触で測定する赤外線センサ１４、１５が設けられている。
【００４２】
加熱コイル４、５と１つのラジェントヒーター６は、誘導加熱コイル５の下方に配置され、操作部１０より操作信号を受け取る制御部１６により制御される。
【００４３】
図２に図示しているように、加熱コイル４は２重に構成されており内径コイル４ａと外径コイル４ｂからなる。内径コイル４ａの中心近傍にサーミスタ１２、内径コイル４ａと外径コイル４ｂの間に赤外線センサ１４を配置している。赤外線センサ１４は鍋３から放射される赤外線のうちトッププレート２を透過した赤外線を受光するフォトダイオード１４ａ、フォトダイオード１４ａ近辺の周囲温度を測定する周囲温度サーミスタ１４ｂ、フォトダイオード１４ａの検知波長に近い波長で発光する発光ダイオード１４ｃ、フォトダイオード１４ａを覆うように配置され、フォトダイオード１４ａの検知波長以外の波長を減衰させる材料からなるフィルタ１４ｄ、フォトダイオード１４ａに入射する外乱光を遮り、鍋３が放射する赤外線を集光する働きを持つ集光筒１４ｅからなる。
【００４４】
フォトダイオード１４ａの出力は赤外線温度検知部１７で赤外線温度１７ａに換算され
、周囲温度サーミスタ１４ｂの出力は周囲温度検知部１８で周囲温度１８ａ、サーミスタ１２の出力は温度検知部１９でサーミスタ温度１９ａに換算されて、電力制御手段２０に送られる。
【００４５】
発光ダイオード１４ｃは、電力制御手段２０で点灯／消灯を制御される。
【００４６】
電力制御手段２０は操作部１０から火力情報を受け取ると、インバータ２１で高周波電流を発生させ加熱コイル４に供給する。加熱コイル４に流れる高周波電流により鍋３に誘導電流が発生し鍋３が加熱される。火力は１から１０の１０段階に変更でき、数字が大きくなる程高火力である。操作部１０では他に揚げ物温度の指定、自動湯沸しなど自動調理メニューの開始も電力制御手段２０に指示する。操作部１０の火力指示に従い電力制御手段２０は加熱コイル４に供給する電流量を制御する。
【００４７】
また、電力制御手段２０は、赤外線温度１７ａ、サーミスタ温度１９ａをもとに予め決められたシーケンス制御に従い加熱コイル４への供給電流を制御し、揚げ物温度調節や、自動炊飯などの自動調理を行う。更に、安全対策として各検知温度が危険温度を越えると火力を低下または停止する温度過昇防止手段を有する。更に、電力制御手段２０は、加熱コイル４への電力供給の累積時間２１を計時する計時手段２０ａ、不揮発性メモリ２０ｂを持つ。
【００４８】
図３で、電力制御手段２０は操作部１０から揚げ物温度１８０℃設定の指示を受け取ると、ｔ０で火力５から加熱を開始する。ｔ１で赤外線温度１７ａが１８０℃を超えると電力制御部２０は、火力を５から４に落とし加熱を続ける。更に赤外線温度１７ａが上昇し、ｔ２で２００℃になると火力を４から３に落とす。火力が下がると鍋底温度は下降し、赤外線温度１７ａがｔ３で２００℃を下回ると電力制御手段２０は火力を３から４に上げ、ｔ４で１８０℃を下回ると火力を４から５に上げる。以上の電力制御を繰り返し、赤外線温度１７ａが揚げ物温度１８０℃に対応する目標の温度になるようにする。
【００４９】
鍋底温度を検知するフォトダイオード１４ａから赤外線温度検知部１７への出力はフィルタ１４ｄに埃や油膜が付着するとフィルタ１４ｄの赤外線の透過率が下がり、鍋底温度から同じ量の赤外線が放射されていてもフォトダイオード１４ａに入射する赤外線の量が減るために、赤外線温度検知部１７が換算する赤外線温度１７ａは汚れていない場合より低く換算される。
【００５０】
この赤外線温度１７ａの減衰を補正するために、減衰量が測定される。累積時間２１が０時間の時に図４に図示しているようにＳ１のタイミングで発光ダイオード１４ｃを発光させ、その光をフォトダイオード１４ａが受光して十分出力が安定したＳ２のタイミングでの赤外線温度１７ａが１００℃であった場合、この温度を初期温度２２として不揮発性メモリ２０ｂに保存し、累積時間２１が１０００時間の時に同様に発光ダイオード１４ｃを発光させた時の赤外線温度１７ａが９０℃であれば、この温度を経過温度２３として不揮発性メモリ２０ｂに保存する。
【００５１】
経過温度２３は初期温度２２より１０℃低くなっているので、測定された減衰量１０℃として、揚げ物温度調理などの制御温度を１０℃下げる。
【００５２】
図５に図示しているように電力制御手段２０は、揚げ物温度調整を行う際の火力変化点の温度を１８０℃から１７０℃、２００℃から１９０℃とそれぞれ１０℃低く設定する。累積時間２１が０時間の時には鍋中の油温は赤外線温度１７ａと同じであったが、１０００時間後には、鍋中の油温に対して赤外線温度１７ａは１０℃低く検知するので、図５においても揚げ物温度１８０℃の設定に対応する赤外線温度１７ａは図３と同様に目標温度
に近づく。
【００５３】
また、電力制御手段２０は、図４で累積時間２１が発光ダイオード１４ｃを発光させる前の工程１での赤外線温度１７ａが３０℃以下になっている事を確認した上で、発光ダイオード１４ｃを発光させる工程２を実行する。これは、鍋３が高温であった場合、鍋底からの赤外線がＳ２での測定に影響し、実際の赤外線温度１７ａより高くなってしまう事を防ぐためである。したがって、減衰量を検知する際の条件が鍋（被加熱物）３の底面温度が常温である事としたため、被加熱物３の鍋底温度の影響を受けて、減衰量を誤検知する事を防止できる。また、鍋底温度以外にも外乱光の影響による減衰量誤検知を防止できる。
【００５４】
また、電力制御手段２０は、０時間での周囲温度１８ａを不揮発性メモリ２０ｂに保存し、仮に２５℃であったとすると、１０００時間で測定を行う際の周囲温度１８ａが２５℃であることを確認した上で工程２に移行する。同じ周囲温度で測定をする事で、フォトダイオード１４ａ、赤外線温度検知部１７の電子回路の温度特性の影響を排除できる。したがって、赤外線センサやそれに付随する電子部品の温度特性の影響を受けて、減衰量を誤検知する事を防止できる。
【００５５】
（実施の形態２）
本発明の第２の実施の形態について説明する。
【００５６】
実施の形態１と同一部分には同一符合を付して説明を省略し、以下異なる部分についてのみ説明する。
【００５７】
図６に第２の実施の形態の加熱調理器の断面図とブロック図を示す。
【００５８】
図６のように、発光ダイオード１４ｃの光がフィルタ１４ｄを透過せず直接入射する位置に第２のフォトダイオード２４を配置し、第２のフォトダイオード２４の出力は第２の赤外線検知部２５でＬＥＤ光度２５ａに換算され、電力制御手段２０に送られる。
【００５９】
図４で初期温度２２、経過温度２３を測定する際に第２のフォトダイオード２４でＬＥＤ光度２５ａも測定し、０時間でのＬＥＤ光度２５ａが１００ｍｃｄであった場合、初期光度２６として不揮発性メモリ２０ｂに保存し、１０００時間でのＬＥＤ光度２５ａが９０ｍｃｄであった場合、経過光度２７として不揮発性メモリ２０ｂに保存する。経過光度２７は初期光度２６より１０ｍｃｄ光度が低下しているため、発光ダイオード１４ｃの発光性能が９０％に低下したと判断し、経過温度２３が初期温度２２より１０℃低くなっていた場合の減衰量は、１０℃ではなく、（１００℃−９０℃）×９０％  の９℃とし、制御温度の補正を行うようにしている。したがって、発光素子のレンズ汚れやレンズの変色など経年劣化に伴う光度低下の影響により減衰量を誤検知する事を防止できる。
【００６０】
本発明は上記し且つ図面に記載した実施の形態にのみ限定されるものではなく、次のような変形または拡張が可能である。
【００６１】
揚げ物温度調整の制御温度や火力、赤外線温度の減衰量、測定の時間などの数値は本実施の形態に示した数値に限らない。
【００６２】
加熱手段の数は３つに限ること無く、１つ、２つ若しくは４つ以上であっても良い。加熱手段は、誘導加熱に限らない。赤外線センサはフォトダイオードに限らずサーモパイル、ＰＺＴ、フォトトランジスタなどでも良い。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明の加熱調理器は、調理器以外の赤外線センサを用いて温度を測定する電子機器等の用途にも適用できる。例えば、医療機器、サーモビューアでは精度の高い温度検知が必要なのでセンサ感度の減衰を補正すると、レンズ汚れなどの経年劣化が起こっても使用初期の性能を維持できる。
【符号の説明】
【００６４】
２  トッププレート
４、５  加熱コイル
１２  サーミスタ
１４  赤外線センサ（第１の赤外線センサ）
１４ａ  フォトダイオード
１４ｂ  周囲温度サーミスタ（周囲温度センサ）
１４ｃ  発光ダイオード（発光素子）
１４ｄ  フィルタ
１４ｅ  集光筒
１７  赤外線温度検知部（第１の赤外線検知部）
２０  電力制御手段（赤外線電力制御手段、発光制御手段）
２０ａ  計時手段
２０ｂ  不揮発性メモリ
２１  累積時間
２２  初期温度
２３  経過温度
２４  第２のフォトダイオード（第２の赤外線センサ）
２５  第２の赤外線検知部
２６  初期光度
２７  経過光度
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図１】
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【図２】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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