(57)【要約】【課題】少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。【解決手段】  遠方監視制御装置の被制御所装置の試験に用いられる自動試験装置において、被制御所装置の伝送部に接続され、制御所を模擬してデータ伝送処理を実行する模擬制御所手段と、被制御所装置の入出力部に接続され、入出力処理を実行する入出力手段と、前記両手段と接続され、入出力手段を介して出力したデータが模擬制御所手段を介して入力されるか否か、または、模擬制御所手段を介して出力したデータが前記入出力手段を介して入力されるか否かを試験する演算処理手段とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
遠方監視制御装置の被制御所装置の試験に用いられる自動試験装置であって、
前記被制御所装置の伝送部に接続され、制御所を模擬してデータ伝送処理を実行する模擬制御所手段と、
前記被制御所装置の入出力部に接続され、入出力処理を実行する入出力手段と、
前記両手段と接続され、前記入出力手段を介して出力したデータが前記模擬制御所手段を介して入力されるか否か、または、前記模擬制御所手段を介して出力したデータが前記入出力手段を介して入力されるか否かを試験する演算処理手段と、
を備えたことを特徴とする遠方監視制御装置用自動試験装置。
【請求項２】
前記入出力手段は、前記被制御所装置の端子台の個々の接続端子に付勢手段を介して接触する端子を具備した端子台アタッチメント手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載の遠方監視制御装置用自動試験装置。
【請求項３】
前記入出力手段の動作時間または加圧電圧を変化させて出力し、前記被制御装置から送られてくる表示情報に基づいて前記被制御所装置が正常に機能しているか否かを判定する手段と、
前記被制御所装置へ制御情報を送信する一方、前記被制御所装置の入出力部に抵抗を介して電圧を印加することによって発生する電気信号あるいは波形データを測定し、該測定データと前記制御情報とに基づいて前記被制御所装置が正常に機能しているか否かを判定する手段と、
を備えたことを特徴とする請求項１または２に記載の遠方監視制御装置用自動試験装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか一に記載の遠方監視制御装置用自動試験装置を用いて遠方監視制御装置を試験する方法であって、
被試験装置の表示、制御または計測のポジション表データと試験手順データとを前記演算処理手段に入力設定し、
入力設定された試験手順に従って、ポジションごとに個別または一括で試験を実行することを特徴とする試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、遠方監視制御装置の製造工場や現地で遠方監視制御装置の試験を効率よくかつ安全に実施することのできる遠方監視制御装置用自動試験装置および試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、製造工場や現地で遠方監視制御装置や配電盤の表示試験・制御試験を実施している。例えば、表示試験では、ヒューズクリップなどを用いて入力回路に電圧を入力して遠方監視制御装置の被制御所装置（子局）から表示情報が正しく送信されてくるかの確認試験を行っている。また、制御試験では、遠方監視制御装置の制御所装置（親局）の機能を模した模擬親装置などから制御出力を送信し、配電盤などの外部接続箇所で、被制御所装置から出力される信号の電圧確認等を行っている。
【０００３】
この確認試験は、ポジション数により違いはあるが、多い箇所では約３５０〜５００ポジション近くあり、現地では２日以上要している。人員も表示入力の作業と確認作業で２人以上必要となっている。また、被制御所装置の入力回路へ電圧を入力する際に、ヒューズクリップを用いることが多いので作業ミス等で接地させてしまう危険性がある。
【０００４】
従来、この遠方監視制御装置の試験方法、試験装置、あるいは試験をするための器具に関する特許提案がなされている。たとえば、特許文献１には、遠方監視制御装置の被制御所装置を、模擬親装置とパーソナルコンピュータ（以下、パソコンという）により試験を行う方法や試験装置が記載されている。また、特許文献２には、外部接続のための端子台を有する装置を試験する際に、端子台に簡単に試験装置を接続することのできる器具が記載されている。
【０００５】
しかしながら、上記の特許文献に記載されている技術は、被制御所装置に備えられている制御所装置との間で通信を行うための伝送部から、配電盤との間で入出力を行う入出力部の全てを自動試験するというものではなく、特にもっとも時間と人員を必要とする配電盤を模擬するための入出力作業を効率的に行う手法は開示されていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平９−９３８３５号公報
【特許文献２】特開２００４−２４７１１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は上述のかかる事情に鑑みてなされたものであり、少ない現場対応要員で効率的かつ安全に被制御所装置の試験を行うことができる遠方監視制御装置用自動試験装置および試験方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するため、本発明に係わる遠方監視制御装置用自動試験装置は、遠方監視制御装置の被制御所装置の試験に用いられる自動試験装置であって、前記被制御所装置の伝送部に接続され、制御所を模擬してデータ伝送処理を実行する模擬制御所手段と、前記被制御所装置の入出力部に接続され、入出力処理を実行する入出力手段と、前記両手段と接続され、前記入出力手段を介して出力したデータが前記模擬制御所手段を介して入力されるか否か、または、前記模擬制御所手段を介して出力したデータが前記入出力手段を介して入力されるか否かを試験する演算処理手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００９】
本発明では、被制御所装置の伝送部と自動試験装置の模擬制御所手段を接続し、被制御所装置の表示入力部および制御出力部を自動試験装置の入出力手段と接続する。そして、表示試験では、自動試験装置の備えるパソコンなどの演算処理手段から予め設定された試験情報（確認するポジションのオン、オフ）を、入出力手段を経由して被制御所装置の表示入力部へ送り、その入力情報を被制御所装置の伝送部から自動試験装置の模擬制御所手段へ送り、模擬制御所手段は、受信したデータを演算処理手段に渡す。演算処理手段は、上記の試験情報と模擬制御所手段から渡された結果とを照合して良否を判定する。また、制御試験では演算処理手段からの試験情報を模擬制御所手段から伝送出力して被制御所装置に入力させ、その結果の被制御所装置の制御出力を、模擬制御所手段を介して演算処理手段に入力して、この試験情報と結果情報を照合して良否を判定する。この入出力動作と照合処理により自動試験ができる。
【００１０】
特に、本発明に係わる上記の自動試験装置は、入出力手段の遠方監視制御装置の端子台への接続器具に、端子台の個々の接続端子にスプリング等の付勢手段により接触する端子を装備して、接続器具の各端子と端子台の対応する接続端子を一括して電気的に接触させる端子台アタッチメント手段を備えたことを特徴とする。
【００１１】
本発明では、上記の自動試験をする際に、被制御所装置と外部機器との接続が端子台の場合、前記端子台アタッチメント手段により被制御所装置の端子台の接続端子と、自動試験装置の入出力手段の対応する入出力点とを一括して接続することにより、効率的かつ容易に試験前の準備をすることができる。
【００１２】
また、本発明に係わる上記の自動試験装置は、入出力手段の各出力回路に抵抗を介して出力する構成とし、この出力回路の動作時間や出力電圧を変化させる処理をする処理手段と、この出力の電圧や電流とその波形を測定できる手段とを備えたことを特徴とする。
【００１３】
本発明では、基本的な動作試験に加えて、被制御所装置との接続箇所の電圧や電流の値や波形を測定することにより被制御所装置の入出力部の回路上の良否を判定することができる。なお、デジタル信号の入出力のみでなく、アナログ出力手段を設けることによって、計測の自動試験を実行するようにしてもよい。
【００１４】
たとえば、自動試験装置の演算処理手段は、入出力手段の動作電流または動作時間を仕様上の最低値に設定して出力し、被制御装置から送られてくる表示情報に基づいて被制御装置が正常に機能しているか否かを判定する。また、自動試験装置の演算処理手段は、被制御装置の入出力部の接点出力に電圧を印加して発生する電気信号あるいは波形データを入力する一方、模擬制御所手段を介して被制御装置へポジションごとに制御信号を出力し、該制御情報に該当するポジションの電気信号あるいは波形データに基づいて前記被制御装置が正常に機能しているか否かを判定する。
【００１５】
本発明に係わる試験方法は、上記の自動試験装置を用いて遠方監視制御装置を試験する方法にあって、試験の前に、被試験装置の表示や制御のポジション表データ、および試験手順を演算処理手段に入力設定して記憶させ、その後、ポジション単位で個別または一括で自動試験を開始することを特徴とする。
【００１６】
本発明では、自動試験の試験データや手順を演算処理手段に試験前に設定することにより、効率的に自動的に試験を行うことができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、遠方監視制御装置の自動試験装置を被制御所装置に接続し、自動試験装置に予め試験データを設定して自動試験をさせることによって、少ない現場対応要員で効率的かつ安全に試験を行うことができる。また、その試験成績書も自動的に作成できるなど現地での試験の効率向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の第１の実施の形態による自動試験装置の機能ブロック図である。
【図２】図１の自動試験装置の出力手段の回路図である。
【図３】図１の自動試験装置の入力手段の回路図である。
【図４】図１の自動試験装置の入力手段の第２の実施形態による回路図である。
【図５】図１の自動試験装置の入出力手段と被試験装置の端子台とを接続する端子台アタッチメントの構成図である。
【図６】本発明の第２の実施の形態による試験システムの構成図である。
【図７】本発明の第３の実施の形態による自動試験装置の機能ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の実施の形態を説明する。図１は、第１の実施の形態による遠方監視制御装置用自動試験装置１の機能ブロック図である。
【００２０】
この図で、遠方監視制御装置の被制御所装置（以降、子装置と略す。）５を自動試験するための自動試験装置１は、試験の良否の判定や操作、監視、記録などを行うパソコンなどで構成される演算処理手段３、子装置５と接続され子装置５のモデム１３ａを介して送られてくる表示情報を受信して演算処理手段３に渡し、演算処理手段３から渡される制御情報を子装置５に伝送する模擬制御所手段（以降、模擬親装置と略す。）２、子装置５の表示や制御の入出力部１４ａ，１５ａと接続され、演算処理手段３から子装置５への表示入力情報を出力し、子装置５からの制御出力情報を入力して演算処理手段３へ受け渡す入出力手段４から構成されている。なお、図１中ＤＩ１４ａ，１４ｂは入力回路、ＤＯ１５，１５ｂは出力回路である。また、ＩＦ１６ｂは、ＰＣ３とのデータの受け渡しを行うインタフェース手段である。
【００２１】
模擬親装置２は、遠方監視制御装置の制御所装置（親局）の機能を模擬して情報の処理を行う処理手段１１を中核として、子装置５とデータ伝送を行う際の変復調処理を行うモデム手段１３ｃ、データの送受信処理を実行する送受信手段１２、演算処理手段３との間で試験情報の授受を行うインタフェース手段（ＩＦ）１６ｃとで構成されている。なお、図１において、試験対象の子装置５は、便宜上外部とのインタフェース機能である入出力部１４ａ，１５ａとモデム１３ａのみを示しているが、子装置としての一般的な機能（図示せず）を備えている。
【００２２】
また、自動試験装置１の入出力手段４は、演算処理手段３とのインタフェース手段１６ｂ、子装置５に表示情報を出力する出力手段（ＤＯ）１５ｂ、子装置５の制御出力を入力する入力手段（ＤＩ）１４ｂとで構成されている。
【００２３】
図２は自動試験装置１の出力手段１５ｂの回路例である。この図では、表示情報を出力するリレー接点４１とこれに直列に挿入される抵抗４２の組み合わせを、子装置５の接続コネクタ２１や端子台２２ごとにコモン（共通）接続とし、このコモン接続線にヒューズ４４と電源活殺スイッチ４３を介して子装置５の表示電源のコモンに接続されるよう構成する。
【００２４】
また、出力手段１５ｂの各接点出力は子装置５の各表示入力１４ａに接続されるよう構成する。また、各コモンに流れる電流の値と波形を測定する電流測定手段４５を挿入すると共に、このコモンおよび各接点出力点の電圧の値と波形を測定する電圧測定手段４６を設ける。なお、子装置５の接続が端子台２２の場合は、図５に示すように端子台２２の各端子（ビス）２２１にバネ２２Ａ１の弾性力により圧接する端子２２Ａ２を複数備えた端子台アタッチメント手段２２Ａで一括接続する。
【００２５】
端子台アタッチメント手段２２Ａの端子２２Ａ２からは、その貫通孔を通してピン２２Ａ０がバネ２２Ａ１の弾性力によって突出しており、端子台２２の端子２２１に押されると、バネ２２Ａ１の弾性力に抗して引っ込むようになっている。バネ２２Ａ１の他端は導線２２Ａ３を介して、自動試験装置１の入出力手段４の対応する入出力点と繋がっている。端子台２２と、端子台アタッチメント手段２２Ａは、端子２２１と端子２２Ａ２が嵌合する位置で、図示しない螺子等の固定手段で端子台２２と端子台アタッチメント手段２２Ａとを固定させる。各要素２２Ａ０〜２２Ａ３は導体で形成されており、固定状態において、それぞれのピン２２Ａ０がバネ２２Ａ１の弾性力によって端子２２１に適度な圧力をもって接触する。端子台２２の端子２２１の螺子頭部の位置はそろっていない場合が多いが、この構成による端子台アタッチメント手段２２Ａによって確実に全ての端子を一括して接続することができる。
【００２６】
図３に示す入力手段１４ｂの回路例では、子装置５からの各制御出力を受ける複数のリレー手段４７を設け、さらに制御電源Ｐに電源活殺スイッチ４３、ヒューズ４４、小容量の抵抗４２、および電流測定手段４５を直列に接続して子装置の制御電源用コモンに接続する。そして電圧測定手段４６の測定点を制御電源コモン出力と、各制御出力取り込み箇所との間に挿入する。
【００２７】
次に、この表示試験における基本的な動作を説明する。
まず演算処理手段３には、事前に子装置５を自動試験するための試験情報を設定して記憶手段（Ｍ）３ｄに記憶させておく。そして表示入力試験をする場合、演算処理手段３に設定されている各表示試験情報が、演算処理手段３から入出力手段４に渡され、インタフェース手段１６ｂを介して出力手段１５ｂの該当する出力接点４１を順次にまたは同時に動作させる。子装置５は、表示入力部１４ａを介してこの出力を取り込み、その状態を子装置の機能によってモデム１３ａを介して予め決められたプロトコル（伝送手順）で表示情報として伝送する。この伝送情報を模擬親装置２のモデム１３ｃで取り込み、送受信手段１２でプロトコル処理後、処理手段１１により演算処理手段３で処理できるフォーマットに編集してインタフェース手段１６ｃを介して演算処理手段３に渡す。このインタフェース手段１６ｃは、通信ポートやＬＡＮポートなどにより行うのが望ましい。
【００２８】
演算処理手段３では、入出力手段４を介して出力した表示試験情報と、模擬親装置２を介して入力した子装置５からの表示情報とを照合して良否を判定する。
【００２９】
次に、制御出力の基本的な試験動作を図１と図３を用いて説明する。上述した表示試験と同様に、演算処理手段３に予め設定された制御試験手順に基づく制御情報が模擬親装置２に渡される。この制御情報は、子装置５とのプロトコルにしたがって模擬親装置２から子装置５へ伝送される。子装置５は、その制御情報を受信すると、子装置の機能により該当する出力手段１５ａを駆動して出力する。この出力された情報は、自動試験装置１の入出力手段４の入力手段１４ｂで入力され、インタフェース手段１６ｂを介して演算処理手段３にフィードバックされる。演算処理手段３は、前記した模擬親装２に渡した制御情報とこのフィードバックされた情報とを照合して動作の良否を判定する。これを全制御項目について順次行う。
【００３０】
次に付帯的な機能について説明する。表示試験については、入出力手段４の出力手段１５ｂの各出力接点４1の動作電流や動作時間を、ＰＣ３からの指令によって子装置５の規格または仕様上の最低値に設定して出力し、子装置５で入力できるか否かについて試験する。すなわち、ＰＣ３は、被制御装置から送られてくる表示情報に基づいて、最低値に設定された信号の出力位置に対応するポジションンがＯＮしていれば正常、ＯＮしていなければ異常として判定する。
【００３１】
また、図３の抵抗４２を介した測定点の電圧と電流の値、および波形を測定することにより子装置５の入力手段１４ａの入力インピーダンスやその他の回路の良否を電圧、電流値および波形データを収集する。
【００３２】
制御試験については、制御電源のコモンに抵抗４２を挿入して駆動した測定点の電圧、電流の値や波形を電圧測定手段４６と電流測定手段４５により測定することにより、子装置５の出力手段１５ａの接点などの良否を確認できる。また、模擬親装置２を介して子装置５へポジションごとに制御信号を出力し、該制御情報に該当するポジションの電気信号あるいは波形データに基づいて子装置５が正常に機能しているか否かを判定する。
【００３３】
次に、図４を用いて自動試験装置１の入出力手段４の出力手段１５ｂに関する第２の実施の形態を説明する。図２と異なる点は、電圧や電流を測定するために抵抗４２の挿入位置を各出力接点４１でなく、電源のコモンに挿入することである。
【００３４】
この形態の場合の電圧電流を測定する際の試験方法は、コモンごとの出力接点４１を１点ずつ動作させて試験することになる。
【００３５】
図６は、制御所システム６と子装置５を直接接続した状態で子装置５の動作試験を行う場合に、この自動試験装置１の演算処理手段３と入出力手段４を配電盤などの模擬装置として使用する場合の構成を示したものである。
【００３６】
この構成では、たとえば制御所システム６からの制御試験時には、子装置５の出力手段１５ａからの制御信号を入出力手段４の入力手段１４ｂで入力し、その制御出力で動作する機器の表示情報に該当する出力手段１５ｂの接点４１を動作させて子装置５の入力手段１４ａにフィードバックする。この方法により制御所からの応動試験が容易にできる。また、表示試験では、制御所システム６と予め決められた試験手順を前記演算処理手段３に設定しておき、順次出力手段１５ｂより出力して制御所システム間の試験ができる。
【００３７】
図７は、第３の実施の形態による自動試験装置１の機能ブロック図である。図１に示す第１の実施形態の入出力手段４に子装置５のアナログ計測入力部１８ａを試験するためのアナログ出力手段１７ｂを追加する。これによりアナログ計測の試験も演算処理手段３からの試験情報により自動試験ができる。
【００３８】
以上、本実施の形態によれば、被制御所遠方監視制御装置（子装置）を単独で自動試験をしたり、各種の性能試験や回路の良否を確認したりすることができ、また、この自動試験装置１は、制御所システムとの組み合わせ試験において、模擬配電盤として使用できるので、少ない現場対応要員で試験が可能となり、また装置の良否の確認が可能となる。また、端子台アタッチメントを用いることにより、子装置５が端子台を備えていても効率的かつ安全に接続ができる。
【００３９】
本発明は、上述の実施の形態に限定されること無くその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。たとえば、表示試験については、自動試験装置１における演算処理手段３と処理手段１１は時計を共通にしておき、演算処理手段３から試験用の出力を行った時刻を記憶し、一方、処理手段１１は、子装置５からデータを受信した時刻を記憶しておき、両時刻の差から子装置５の応答性能を評価するようにしても良い。制御試験についても同様である。
【産業上の利用可能性】
【００４０】
本発明は、遠方監視制御装置における各種の試験に利用することができる。
【符号の説明】
【００４１】
１  自動試験装置
２  模擬制御所手段
３  演算処理手段
３ｄ  記憶手段
４  入出力手段
５  被制御所遠方監視制御装置（被制御所装置）
１１  処理手段
１２  送受信手段
１３ａ，１３ｃ  モデム
１４ａ，１４ｂ  入力手段
１５ａ，１５ｂ  出力手段
１６ｂ，１６ｃ  インタフェース手段
１７ｂ  アナログ出力手段
１８ａ  アナログ計測入力部
２１，２１Ａ  コネクタ
２２  端子台
２２１  端子
２２Ａ  端子台アタッチメント手段（または、端子台一括接続手段という。）
２２Ａ０  ピン
２２Ａ１  バネ
２２Ａ２  端子
４１  接点
４２  抵抗
４３  スイッチ
４４  ヒューズ
４５  電流測定手段
４６  電圧測定手段
４７  リレー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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