(57)【要約】【課題】迅速且つ高精度に合焦点位置を設定可能な電子部品実装装置の焦点位置設定装置を提供する。【解決手段】この焦点位置設定装置は、被撮像物の撮影画像から所定の領域を抽出して得られたコントラスト曲線の異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を求める。【選択図】図８
2011028103.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
吸着ヘッドに設けられた基板認識カメラを備える電子部品実装装置に用いられ、被撮像物の設置面に対して、予め設定されたサーチ開始位置からサーチ終了位置まで前記基板認識カメラの対物レンズを垂直方向に移動させながら、サンプリング間隔毎に被撮像物の画像を撮影し、この撮影画像のすべてまたは一部領域のコントラスト値から得られるコントラスト曲線に基づいて、前記基板認識カメラの合焦点位置を設定する焦点位置設定装置であって、
前記コントラスト曲線の異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を求める合焦点位置算出手段を有することを特徴とする電子部品実装装置の焦点位置設定装置。
【請求項２】
前記合焦点位置算出手段は、前記コントラスト曲線に対して第１の閾値及びそれよりも小さい第２の閾値をそれぞれ設定し、各閾値と前記コントラスト曲線との４つの交点座標から各閾値毎の中点座標を算出し、その各閾値毎の中点座標を相互に結ぶ線の延長線と前記コントラスト曲線との交点を前記合焦点位置として設定することを特徴とする請求項１に記載の電子部品実装装置の焦点位置設定装置。
【請求項３】
前記合焦点位置算出手段は、前記サンプリング間隔毎のコントラスト値の中からその最大値である最大コントラスト値を検索し、この最大コントラスト値に基づいてコントラスト値に関する仮の第１の閾値及びそれよりも小さい仮の第２の閾値をそれぞれ設定し、これら仮設定した各閾値を基準とする近似区間を前記コントラスト曲線に設けるとともに、当該近似区間内のコントラスト値を用いて前記コントラスト曲線の左右の勾配毎に一対の回帰直線を引き、その一対の回帰直線と前記コントラスト曲線との相関が最も強い近似区間の中点を、前記第１の閾値及び前記第２の閾値として設定することを特徴とする請求項２に記載の電子部品実装装置の焦点位置設定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品を基板上に実装する電子部品実装装置に係り、特に、吸着ヘッドに設けられた基板認識カメラの合焦点位置を設定する焦点位置設定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、この種の電子部品実装装置においては、電子部品の微小化や、電子部品回路基板の高密度化に伴い、より高精度な部品装着が求められている。そのため、電子部品の搭載位置のズレを一層抑制することが望まれており、基板認識カメラの合焦点位置を設定する焦点位置設定装置についても、迅速且つ高精度に合焦点位置を設定すべく、従来より種々の技術が提案されている。
【０００３】
例えば特許文献１記載の技術では、被撮像物の設置面に対して、基板を認識するカメラ（基板認識カメラ）により、予め設定されたサーチ開始位置からサーチ終了位置まで対物レンズを垂直方向に所定速度で移動させながら、所定サンプリング間隔毎に被撮像物の画像撮影し、この撮影画像から抽出画像として所定の領域を抽出し、この抽出画像のコントラスト値を算出するとともに対物レンズの位置を検出している。
【０００４】
次いで、サンプリング間隔毎のコントラスト値の中からその最大値である最大コントラスト値を検索し、この最大コントラスト値に基づいてコントラスト値に関する二つの閾値を設定し、サンプリング間隔毎のコントラスト値の中から二つの閾値間の値を抽出している。そして、これを所定の関数により近似することによりサンプリング間隔毎のコントラスト値のピーク位置を算出し、このピーク位置に基づいて対物レンズの合焦点位置を算出し、この合焦点位置に対物レンズの焦点を設定している（例えば同文献の図３参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１０−２３２３４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、上記特許文献１記載の技術では、基板認識カメラの合焦点位置を算出する際に使用するコントラスト値は、そのピーク値近傍の値も用いてサーチ領域を設定し、サーチ領域に設定された閾値内のコントラスト値を使用して、これを所定の関数により近似して近似曲線のピーク値を合焦位置とするものである。
しかしながら、特許文献１記載の合焦点位置の算出手順によれば、二つの閾値間のコントラストデータを抽出し、これを所定の関数により近似するときに、閾値内のサンプリングデータ（コントラスト値）を全て使用して合焦点位置を求めている。そのため、合焦点位置を精度良く求めようとすると、それに応じてサンプリング数が増えるので、処理時間が長くかかってしまうという問題がある。一方、処理時間を短くするためにサンプリング数を減らすと精度が悪くなってしまうという問題がある。
【０００７】
また、同文献記載の技術においては、基板認識カメラのレンズによって生じるコントラスト曲線（サンプリングされたコントラスト値を繋げた線分の集合線（図１０（ａ）参照））の特性（後述する）について特段の考慮がされていない。そのため、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に合焦点位置を算出可能とする上では、未だ改善の余地が残されている。
【０００８】
そこで、本発明は、このような問題点に着目してなされたものであって、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に合焦点位置を設定可能な電子部品実装装置の焦点位置設定装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本願発明者は、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に合焦点位置を算出するという課題を解決するに際し、基板認識カメラのレンズ特性に着目した。ここで、基板認識カメラのレンズの被写界深度について簡単に説明する。
レンズには被写界深度と呼ばれる「ピントが合っているように見える領域」が存在する。つまり、レンズにおいては、ある１つの設定で厳密な意味でピントが合っている場所は１点しか存在せず、その前後はボケている。しかし、このボケの程度は人間の眼にはとても小さい。そのため、人間の眼には一定の範囲でピントが合っているかのように見える。この領域を被写界深度という。
【００１０】
そして、この被写界深度には、レンズから見て象側を前方と定義すると、図９に示すように、レンズから見て物体側の焦点位置Ｂに対し前方に浅く（ピントの合う範囲が狭い）、後方に深い（ピントの合う範囲が広い）という特性がある。この特性は、物体側のＡ，Ｂ，Ｃ点が、像側のＡ'，Ｂ'，Ｃ'にそれぞれ結像されるので、像側にも当然同様に発生する。そのため、この特性をコントラスト曲線中に示すと、図１０（ｂ）に示す拡大図のように、コントラスト曲線の左右が非対称になる。つまり、基板認識カメラの合焦点位置に対して、レンズから見て前方ではコントラスト曲線の勾配が急になり、合焦点位置に対して後方ではコントラスト曲線の勾配がなだらかになるのである。したがって、「コントラスト曲線は左右対称ではない」ということができる。本願発明者は、このレンズ特性によって生じる「コントラスト曲線は左右対称ではない」という特性に着目し、鋭意検討の結果、本願発明に想到した。
【００１１】
すなわち、上記課題を解決するために、本発明は、吸着ヘッドに設けられた基板認識カメラを備える電子部品実装装置に用いられ、被撮像物の設置面に対して、予め設定されたサーチ開始位置からサーチ終了位置まで前記基板認識カメラの対物レンズを垂直方向に移動させながら、サンプリング間隔毎に被撮像物の画像を撮影し、この撮影画像から抽出画像として所定の領域を抽出し、この抽出画像のコントラスト値から得られるコントラスト曲線に基づいて、前記基板認識カメラの合焦点位置を設定する焦点位置設定装置であって、前記コントラスト曲線の異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を求める合焦点位置算出手段を有することを特徴としている。
【００１２】
ここで、コントラスト曲線の「左右」とは、コントラスト値のピーク値を中央としたときに、この中央に対してコントラスト曲線のサーチ開始位置の側とサーチ終了位置の側とをいう。
本発明に係る電子部品実装装置の焦点位置設定装置によれば、上述した「コントラスト曲線は左右対称ではない」という知見に基づいて、合焦点位置算出手段が、異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を設定するので、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に合焦点位置を設定することができる。
【００１３】
ここで、本発明に係る電子部品実装装置の焦点位置設定装置において、前記合焦点位置算出手段は、前記コントラスト曲線に対して第１の閾値及びそれよりも小さい第２の閾値をそれぞれ設定し、各閾値と前記コントラスト曲線との４つの交点座標から各閾値毎の中点座標を算出し、その各閾値毎の中点座標を相互に結ぶ線の延長線と前記コントラスト曲線との交点を前記合焦点位置として設定することは好ましい。
【００１４】
このような構成であれば、二つの閾値に対応するサンプリングデータを取得していれば、各閾値と前記コントラスト曲線との４つの交点座標から各閾値毎の中点座標を算出し、その各閾値毎の中点座標を相互に結ぶ線の延長線と前記コントラスト曲線との交点を算出するだけで、異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を設定することができる。そのため、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に焦点位置を設定する上で好適である。
【００１５】
また、本発明に係る電子部品実装装置の焦点位置設定装置において、前記合焦点位置算出手段は、前記サンプリング間隔毎のコントラスト値の中からその最大値である最大コントラスト値を検索し、この最大コントラスト値に基づいてコントラスト値に関する仮の第１の閾値及びそれよりも小さい仮の第２の閾値をそれぞれ設定し、これら仮設定した各閾値を基準とする近似区間を前記コントラスト曲線に設けるとともに、当該近似区間内のコントラスト値を用いて前記コントラスト曲線の左右の勾配毎に４つの回帰直線を引き、その４つの回帰直線と前記コントラスト曲線との交点を、前記第１の閾値及び前記第２の閾値として設定することは好ましい。
【００１６】
このような構成であれば、２つの閾値とコントラスト曲線との交点を求める際に、仮設定した各閾値を基準とする近似区間を設けており、仮設定した各閾値近傍のデータのみを使用して交点を求めることができるので、より精度良く合焦点位置を算出しようとする場合に、近似区間内のコントラスト値（サンプリングデータ）が増えたとしても短時間で合焦位置を求めることができる。したがって、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に焦点位置を設定する上でより好適である。
【発明の効果】
【００１７】
上述のように、本発明に係る電子部品実装装置の焦点位置設定装置によれば、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に合焦点位置を設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明に係る焦点位置設定装置を備える電子部品実装装置の一実施形態の外観の斜視図である。
【図２】焦点位置設定装置の構成を説明するブロック図である。
【図３】焦点位置設定装置で実行される焦点位置設定処理のフローチャートである。
【図４】焦点位置設定処理の過程を説明する図であり、同図は、コントラスト曲線の作成イメージを示している。
【図５】焦点位置設定処理の過程を説明する図であり、同図は、コントラスト曲線に対する二つの閾値が仮設定されたイメージを示している。
【図６】焦点位置設定処理の過程を説明する図であり、同図は、コントラスト曲線に対して、二つの仮の閾値との交点を算出し、近似区間を設定し、４つの回帰直線を求め、その４つの回帰直線に基づいて二つの閾値に対応した４つの交点座標を算出するイメージを示している。
【図７】焦点位置設定処理の過程を説明する図であり、同図は、４つの交点座標から各閾値毎の中点座標を算出するイメージを示している。
【図８】焦点位置設定処理の過程を説明する図であり、同図は、各閾値毎の中点座標を相互に結ぶ線の延長線とコントラスト曲線との交点を合焦点位置として設定するイメージを示している。
【図９】基板認識カメラの対物レンズの被写界深度を説明する図である。
【図１０】基板認識カメラの対物レンズの特性に基づき、得られるコントラスト曲線が左右非対称になるという知見を説明する図であり、同図（ａ）はそのコントラスト曲線の作成イメージを示し、同図（ｂ）は（ａ）での合焦点近傍（同図の符号Ｗ）の拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の一実施形態について、図面を適宜参照しつつ説明する。なお、図１は本発明に係る搭載位置補正装置としての基板マーク認識装置を備える電子部品実装装置の一実施形態の外観の斜視図である。
同図に示すように、この電子部品実装装置１は、電子部品（不図示）を供給する部品供給部９と、基板Ｋの搬入および搬出をする回路基板搬送路１０とを備えている。そして、部品供給部９の近傍には、電子部品を認識可能な部品認識カメラ８が配設されている。また、回路基板搬送路１０上には、基板Ｋが載置されるようになっている。さらに、回路基板搬送路１０の上方には吸着ヘッド３が配置されている。
【００２０】
この吸着ヘッド３には、基板認識カメラ２および吸着ノズル４が付設されている。ここで、基板認識カメラ２は、基板を被撮像物として撮像するカメラであり、リニアモータ２９を介して吸着ヘッド３に付設されており、リニアモータ２９を駆動することによってＺ軸方向に移動可能になっている。そして、吸着ヘッド３は、基板認識カメラ２および吸着ノズル４と共に、基板Ｋ上などの必要な位置に、所定のプログラムに基づいてＸ軸移動機構６およびＹ軸移動機構７によって適宜にＸ軸およびＹ軸方向に移動されるようになっている。
【００２１】
ここで、この電子部品実装装置１は、基板認識カメラ２の合焦点位置を設定する焦点位置設定装置を備えている。以下、この焦点位置設定装置について詳しく説明する。なお、図２は、焦点位置設定装置の構成を説明するブロック図である。
この焦点位置設定装置は、図２に示すように、上記リニアモータ２９と、これを駆動するためのモータ制御部３０と、この電子部品実装装置１の主制御装置２７、およびその記憶部３４に格納された画像認識プログラム３３とを備えて構成されている。
【００２２】
詳しくは、上記基板認識カメラ（以下、単に「カメラ」ともいう）２は基板Ｋの上方に位置可能に配置されている。また、基板Ｋ上には、基板マーク（フィデューシャルマーク）Ｋａが設けられている。カメラ２のレンズ２２は、基板Ｋに対向して設けられており、基板表面を撮像することができる。そして、このカメラ２によって撮像された画像の情報は、主制御装置２７に送られるようになっている。なお、基板Ｋとカメラ２との間には、照明装置２３が配設されている。また、この照明装置２３内には、ハーフミラー２３ａが内蔵され、照明装置２３の側方には、基板Ｋの表面が適切に照明された状態となるように、照明２４および拡散板２５が設けられている。そして、照明制御部２８は、照明用のＣＰＵ２８ａおよび照明コントローラ２８ｂを別個に有し、上記主制御装置２７との間で必要な情報の授受および照明装置２３の制御が可能になっている。
【００２３】
主制御装置２７は、Ａ／Ｄコンバータ３１、ＣＰＵ３２、および記憶部３４を備えて構成されている。この記憶部３４には、後述する焦点位置設定処理を含む所定の画像認識プログラム３３が格納されるとともに、カメラ２によって撮像された画像の情報を記憶する画像記憶部３４ａと、コントラスト値のデータ（サンプリングデータ）を記憶するコントラスト値記憶部３４ｂと、コントラスト曲線と閾値との交点座標を記憶する交点座標記憶部３４ｃと、設定すべき合焦点位置を記憶する合焦点位置記憶部３４ｄと、サンプリング時に参照されるカメラ２の基準高さを記憶するカメラ基準高さ記憶部３４ｅと、閾値に対する近似区間のデータを記憶する近似区間記憶部３４ｆとを含んで構成されている。
【００２４】
ここで、この主制御装置２７では、電子部品実装装置１全体の制御に加え、焦点位置設定処理を含む画像認識プログラム３３が実行される。そして、焦点位置設定処理は、例えば基板生産毎に準備処理として生産開始時に実行されるようになっている。以下、主制御装置２７での焦点位置設定処理について説明する。図３に、主制御装置２７での焦点位置設定処理のフローチャートを示す。
【００２５】
生産開始時において、上記ＣＰＵ３２で焦点位置設定処理が実行されると、図３に示すように、まず、ステップＳ１に移行して、カメラ２の初期位置、撮像開始位置（サーチ開始位置）、撮像終了位置（サーチ終了位置）、撮像間隔（サンプリング間隔）、２つの閾値に対する近似区間および撮像速度等の、予め設定されて上記記憶部３４に格納されている各データを取得する。続くステップＳ２では、取得された初期位置にカメラ２を移動し、ステップＳ３では、撮像開始位置にカメラ２が位置したか否かを判定し、撮像開始位置であればステップＳ４に移行し、そうでなければ被撮像物（基板Ｋ上の基板マーク（フィデューシャルマーク）Ｋａ）を撮像するために、カメラ２の撮像対象物方向への垂直移動を継続する。
【００２６】
続くステップＳ５では、予め設定してある撮像間隔毎に被撮像物を撮像し、ステップＳ６では、ステップＳ５で撮像された画像からコントラスト値を算出し、ステップＳ７では、予め設定してある撮像間隔だけカメラ２を移動する。さらに、ステップＳ８では、カメラ２の位置が予め設定してある撮像終了位置を越えたか否かを判定し、越えていればステップＳ９に移行し、そうでなければステップＳ５に処理を戻す。このステップＳ５〜Ｓ８の一連の処理により、撮像開始位置から撮像終了位置までを撮像間隔だけ繰り返し撮像することで、得られたコントラスト値からコントラスト曲線が作成される（図４参照）。なお、本実施形態は、カメラ基準高さ記憶部３４ｅにおいて記憶されるカメラ２の基準高さを、撮像開始位置から撮像終了位置の中央に設定している例である。
【００２７】
そして、ステップＳ９では、ステップＳ６で算出された撮像間隔毎のコントラスト値から、最大コントラスト値（最大値）を検索し、続くステップＳ１０では、図５に示すように、その最大コントラスト値を基準に仮の第一の閾値（同図中に閾値１と表記、以下他の図に同じ）、第二の閾値（同図中に閾値２と表記、以下他の図に同じ）を設定し、さらに、これに基づいて正式な第一の閾値、第二の閾値を設定する。ここで、本実施形態の例で採用した正式な第一の閾値、第二の閾値の設定方法を説明する。
【００２８】
本実施形態においては、過去の実験データで得た実績より、第一の閾値は最大コントラスト値の８５％（以下、第一閾値デフォルト値）近傍に、存在することが分っている。そこで、第一閾値デフォルト値の上下５％（最大コントラスト値の８０〜９０％）以内のコントラスト値を用い、図６で示したＺ３およびＺ３’領域のそれぞれについて回帰直線を引く。さらにこの一対の回帰直線のＲ2値（相関係数の２乗値）を求め、その和を算出する。続けて、上限は第一閾値デフォルト値にプラス１％刻みでオフセット値を設定し最大コントラスト値の９０％まで、下限はマイナス１％刻みで第一閾値オフセット値を設定し最大コントラスト値の８０％まで変化させ、前記第一閾値デフォルト値と同様、第一閾値オフセット値の上下５％以内のコントラスト値を用いて一対の回帰直線引き、そのＲ2値の和を算出する。ここで、Ｒ2値の和が最大となる一対の回帰直線が導き出された第一閾値オフセット値または第一閾値デフォルト値（同図のＺ１，Ｚ１’）を最も相関性が高いと判断し正式な第一の閾値と定める。
【００２９】
また第二の閾値は第一の閾値よりも小さい値として、最大コントラスト値の６０％（以下、第二閾値デフォルト値）近傍に存在することが分っているため、前記した正式な第一の閾値を定めた手法に則り、上限は第二閾値デフォルト値にプラス１％刻みで第二閾値オフセット値を設定し最大コントラスト値の６５％まで、下限はマイナス１％刻みで第二閾値オフセット値を設定し最大コントラスト値の５５％まで変化させ、２つの回帰直線のＲ2値の和が最大となる第二閾値オフセット値または第二閾値デフォルト値を正式な第二の閾値（同図Ｚ２，Ｚ２’）を設定する。
【００３０】
続くステップＳ１２では、ステップＳ１１で求めた正式な閾値、つまり４つの交点（Ｚ１，Ｚ１’、Ｚ２，Ｚ２’）に基づいて、コントラスト曲線の左右の各閾値相互を結ぶ線分を２等分する位置である中点をそれぞれ求める（図７参照）。
【００３１】
そして、ステップＳ１３では、ステップＳ１２で求めた、正式な各閾値の２つの中点を相互に結ぶ直線の延長線とコントラスト曲線との交点座標を算出し（図８参照）、続くステップＳ１４では、ステップＳ１３で求めた交点座標を合焦点位置として設定し、この合焦点位置にカメラ２を移動する。ここで、この交点座標を合焦点位置として設定すると、上述した「コントラスト曲線は左右対称ではない」という知見に基づいた、異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を設定することになる。なお、上記ステップＳ１〜Ｓ１３の処理並びにこれを実行可能とするＣＰＵ３２を含む主制御装置２７が、課題を解決するための手段に記載の「合焦点位置算出手段」に対応する。
【００３２】
次に、この電子部品実装装置の備える焦点位置設定装置の作用・効果について説明する。
上述したように、この焦点位置設定装置は、上述した「コントラスト曲線は左右対称ではない」という知見に基づいて、上記ステップＳ１〜Ｓ１３の処理により、異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を設定するので、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に合焦点位置を設定することができる。
【００３３】
そして、特に、この焦点位置設定装置によれば、コントラスト曲線に対して第１の閾値及びそれよりも小さい第２の閾値をそれぞれ設定し、各閾値とコントラスト曲線との４つの交点座標から各閾値毎の中点座標を算出し、その各閾値毎の中点座標を相互に結ぶ線の延長線とコントラスト曲線との交点を合焦点位置として設定するようになっているので、二つの閾値に対応するサンプリングデータを取得していれば、各閾値とコントラスト曲線との４つの交点座標から各閾値毎の中点座標を算出し、その各閾値毎の中点座標を相互に結ぶ線の延長線とコントラスト曲線との交点を算出するだけで、異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を設定することができる。そのため、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に焦点位置を設定する上で好適である。
【００３４】
また、この焦点位置設定装置によれば、２つの閾値とコントラスト曲線との交点を求める際に、仮設定した各閾値を基準とする近似区間を設けており、仮設定した各閾値近傍のデータのみを使用して交点を求めることができるので、より精度良く合焦点位置を算出しようとする場合に、近似区間内のコントラスト値（サンプリングデータ）が増えたとしても短時間で合焦位置を求めることができる。
【００３５】
以上説明したように、この焦点位置設定装置に採用した焦点位置設定方法は、コントラスト曲線が左右対称ではないという特性を考慮して、左右の勾配の比率から合焦点位置を算出することで、少ないサンプリング数であっても、迅速且つ高精度に焦点位置を設定可能である。また、各閾値に対し近似区間を設けることにより、閾値近傍のデータのみを使用して交点を求めているため、少ないデータ数からでも、一層精度良く且つ処理時間も短く合焦点位置を設定することが可能である。
【００３６】
なお、本発明に係る電子部品実装装置の焦点位置設定装置は、上記実施形態に限定されるものではなく、コントラスト曲線の異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を設定するという、本発明の趣旨を逸脱しなければ種々の変形が可能である。
【００３７】
例えば、上記実施形態では、２つの閾値の設定に際し、まず、各閾値のデフォルト値（仮設定の値）を規定してから相関性の高さを加味して正式な閾値を設定する例で説明したが、これに限定されず、デフォルト値そのままを正式な各閾値として用いて、以下は上記実施形態同様の処理によって合焦点位置を設定することもできる。しかし、より高精度に焦点位置を設定する上では本実施形態の例のように、各閾値のデフォルト値から相関性の高さの判断を加味して正式な閾値を設定することは好ましい。
【００３８】
例えば上記実施形態で、コントラスト曲線の左右の勾配毎にそれぞれ回帰直線を引き、この回帰直線と２つの閾値との４つの交点（Ｚ１，Ｚ１’、Ｚ２，Ｚ２’）に基づいて、各閾値毎の２つの中点を求め、２つの中点を相互に結ぶ直線の延長線とコントラスト曲線との交点座標を合焦点位置として設定することも一例である。これは子細な処理の具体的一例であって、本願の骨子は、コントラスト曲線の左右の勾配の比率から合焦点位置を算出するという技術思想にあることは勿論である。しかし、上記実施形態に示した構成であれば、コントラスト曲線の左右の勾配の比率に基づいて、異なる左右の勾配の急な側に偏倚した合焦点位置を設定する構成として好適である。
【符号の説明】
【００３９】
１    電子部品実装装置
２    基板認識カメラ（カメラ）
３    吸着ヘッド
４    吸着ノズル
６    Ｘ軸移動機構
７    Ｙ軸移動機構
８    部品認識カメラ
９    部品供給部
１０    回路基板搬送路
２２    レンズ
２３    照明装置
２４    照明
２５    拡散板
２７    画像処理装置
２８    照明制御部
２９    リニアモータ
３０    照明コントローラ
３１    Ａ／Ｄコンバータ
３２    ＣＰＵ
３３    画像認識プログラム
３４    記憶部
Ｋ    基板
【図１】
2011028103.tif 000003
【図２】
2011028103.tif 000004
【図３】
2011028103.tif 000005
【図４】
2011028103.tif 000006
【図５】
2011028103.tif 000007
【図６】
2011028103.tif 000008
【図７】
2011028103.tif 000009
【図８】
2011028103.tif 000010
【図９】
2011028103.tif 000011
【図１０】
2011028103.tif 000012