(57)【要約】【課題】  膨大な計算量を必要とせず、微小なパターン抜けの影響を考慮して、配線パターンでの信号特性の変化をシミュレートするシミュレーション装置を提供する。【解決手段】  配線パターンの属性及び位置を表す属性情報及び位置情報を関連付けて格納する第１データベースと、プリント基板のベタパターンのパターン抜け領域の位置及び大きさを表す位置情報及び大きさ情報を格納する第２データベースと、配線パターン及びパターン抜け領域の位置関係と、パターン抜け領域の大きさとに対する配線パターンの信号特性の変化量を表す変化量情報を格納する第３データベースと、配線パターンの属性を入力する入力部と、入力部に入力される属性に該当する配線パターンの位置情報、パターン抜け領域の位置情報及び大きさ情報、及び変化量情報に基づき、入力部に入力される属性に該当する配線パターンにおける信号特性の変化量を求める変化量処理部を含む。【選択図】図６
2011028401.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント基板に形成される配線パターンにおける信号特性の変化をシミュレートするシミュレーション装置であって、
前記配線パターンの属性及び位置を表す属性情報及び位置情報を関連付けて格納する第１データベースと、
前記プリント基板に形成されるベタパターンのパターン抜け領域の位置及び大きさを表す位置情報及び大きさ情報を格納する第２データベースと、
前記配線パターン及び前記パターン抜け領域の位置関係と、前記パターン抜け領域の大きさとに対する前記配線パターンの信号特性の変化量を表す変化量情報を格納する第３データベースと、
前記配線パターンの属性情報を入力する入力部と、
前記入力部に入力される属性情報に該当する配線パターンの位置情報、前記パターン抜け領域の位置情報及び大きさ情報、及び前記変化量情報に基づき、前記入力部に入力される属性情報に該当する配線パターンにおける信号特性の変化量を求める変化量処理部と
を含む、シミュレーション装置。
【請求項２】
前記変化量処理部によって求められる前記信号特性の変化量を視覚的に表す配線モデルを作成するモデル作成部をさらに含む、請求項１又は２に記載のシミュレーション装置。
【請求項３】
前記変化量処理部は、前記パターン抜け領域の大きさ情報として前記パターン抜け領域の面積データを用いて、前記配線パターンにおける信号特性の変化量を求める、請求項１又は２に記載のシミュレーション装置。
【請求項４】
前記変化量処理部は、平面透視で前記配線パターンの幅方向における所定の範囲内に位置する前記パターン抜け領域の面積データを用いて、前記配線パターンにおける信号特性の変化量を求める、請求項３に記載のシミュレーション装置。
【請求項５】
前記変化量処理部は、前記パターン抜け領域を所定の単位面積に分割し、前記単位面積毎に前記配線パターンにおける信号特性の変化量を求める、請求項３又は４に記載のシミュレーション装置。
【請求項６】
前記変化量処理部は、前記信号特性の変化量を求めるに際して、前記配線パターンの周囲における前記パターン抜け領域の有無を判定する際に、前記単位面積よりも大きな領域内で判定を行う、請求項５に記載のシミュレーション装置。
【請求項７】
前記単位面積は、前記配線パターンを伝送される信号の立上り時間又は立下り時間と、前記配線パターンにおける前記信号の伝搬速度とに基づいて設定される辺によって規定される、請求項５又は６に記載のシミュレーション装置。
【請求項８】
前記配線パターンにおける信号特性の変化量は、前記配線パターンの特性インピーダンスの変化、又は、前記配線パターンに生じるクロストークによる信号特性の変化量である、請求項１乃至７のいずれか一項記載のシミュレーション装置。
【請求項９】
前記配線パターンの特性インピーダンスの変化、又は、前記配線パターンに生じるクロストークによる信号特性の変化量を用いてアイパターンを作成するアイパターン処理部をさらに含む、請求項８に記載のシミュレーション装置。
【請求項１０】
前記アイパターン処理部は、アイパターンマスクと、アイパターン又は雑音の時間軸マージン又は電圧軸マージンが最小の配線パターンを抽出する、請求項９に記載のシミュレーション装置。
【請求項１１】
プリント基板に形成される配線パターンの属性及び位置を表す属性情報及び位置情報を関連付けて格納する第１データベースと、前記プリント基板に形成されるベタパターンのパターン抜け領域の位置及び大きさを表す位置情報及び大きさ情報を格納する第２データベースと、前記配線パターン及び前記パターン抜け領域の位置関係と前記パターン抜け領域の大きさとに対する前記配線パターンの信号特性の変化量を表す変化量情報を格納する第３データベースとを含むコンピュータが前記配線パターンにおける信号特性の変化をシミュレートするシミュレーション方法であって、
前記コンピュータが、
前記配線パターンの属性を入力する入力部に入力される属性に該当する配線パターンの位置情報、前記パターン抜け領域の位置情報及び大きさ情報、及び前記変化量情報に基づき、前記入力部に入力される属性に該当する配線パターンにおける信号特性の変化量を求める変化量処理を実行する、シミュレーション方法。
【請求項１２】
プリント基板に形成される配線パターンの属性及び位置を表す属性情報及び位置情報を関連付けて格納する第１データベースと、前記プリント基板に形成されるベタパターンのパターン抜け領域の位置及び大きさを表す位置情報及び大きさ情報を格納する第２データベースと、前記配線パターン及び前記パターン抜け領域の位置関係と前記パターン抜け領域の大きさとに対する前記配線パターンの信号特性の変化量を表す変化量情報を格納する第３データベースとを含むコンピュータが前記配線パターンにおける信号特性の変化をシミュレートするシミュレーションプログラムであって、
前記コンピュータに、
前記配線パターンの属性を入力する入力部に入力される属性に該当する配線パターンの位置情報、前記パターン抜け領域の位置情報及び大きさ情報、及び前記変化量情報に基づき、前記入力部に入力される属性に該当する配線パターンにおける信号特性の変化量を求める変化量処理を実行させる、シミュレーションプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
プリント基板に形成される配線パターンのパターン抜けによって生じる信号特性の変化をシミュレートするシミュレーション装置、シミュレーション方法、シミュレーションプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子装置のプリント基板では、実装する電子素子の数の増大、及びプリント基板の小型化等により、高密度実装が進んでいる。
【０００３】
高密度実装が進むに連れ、プリント基板における電流の経路は複雑化し、配線のインピーダンスの不整合又はクロストーク等の問題が生じやすくなっている。このため、高密度実装のプリント基板には益々高度な回路設計が求められている。
【０００４】
このような高密度実装が行われるプリント基板の回路設計は、膨大な演算を必要とするため、回路設計を支援する種々の装置が提案されていた。例えば、適正な配線構造を計算する装置、プリント基板に形成される配線パターンの面積等を計算する装置、又は、微小なパターン抜けを除去して等価回路モデルを作成する装置等があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−３３１５３９号公報
【特許文献２】特開平０９−８１６０２号公報
【特許文献３】特開２００８−１５６３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、近年の電子装置の処理速度の高速化により、配線構造又は配線パターンの面積等を計算する装置では計算量が益々膨大になり、計算に必要なコスト及び時間は多大なものとなっていた。
【０００７】
また、高密度実装により配線パターンに形成されるパターン抜け領域の微細化が進んでいるが、特に高速な信号を取り扱う回路の場合には、微小なパターン抜けであっても信号特性が大幅に劣化する場合がある。このため、微小なパターン抜けを除去して計算を行う装置では、高速信号を取り扱う回路設計に限界が生じる可能性があった。
【０００８】
そこで、膨大な計算量を必要とせず、微小なパターン抜けの影響を考慮して、配線パターンにおける信号特性の変化をシミュレートするシミュレーション装置、シミュレーション方法、シミュレーションプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の実施の形態の一観点のシミュレーション装置は、プリント基板に形成される配線パターンにおける信号特性の変化をシミュレートするシミュレーション装置であって、前記配線パターンの属性及び位置を表す属性情報及び位置情報を関連付けて格納する第１データベースと、前記プリント基板に形成されるベタパターンのパターン抜け領域の位置及び大きさを表す位置情報及び大きさ情報を格納する第２データベースと、前記配線パターン及び前記パターン抜け領域の位置関係と、前記パターン抜け領域の大きさとに対する前記配線パターンの信号特性の変化量を表す変化量情報を格納する第３データベースと、前記配線パターンの属性を入力する入力部と、前記入力部に入力される属性に該当する配線パターンの位置情報、前記パターン抜け領域の位置情報及び大きさ情報、及び前記変化量情報に基づき、前記入力部に入力される属性に該当する配線パターンにおける信号特性の変化量を求める変化量処理部とを含む。
【発明の効果】
【００１０】
膨大な計算量を必要とせず、微小なパターン抜けの影響を考慮して、配線パターンにおける信号特性の変化をシミュレートするシミュレーション装置、シミュレーション方法、シミュレーションプログラムを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施の形態１のシミュレーション装置が適用されるコンピュータシステムの斜視図である。
【図２】コンピュータシステム１０の本体部１１内の要部の構成を説明するブロック図である。
【図３】実施の形態１のシミュレーション装置によってプリント基板の配線設計の支援を行うための計算が行われる電子機器を示す図であり、（Ａ）は斜視透視図、（Ｂ）は電子機器に含まれるプリント基板を示す図である。
【図４】実施の形態１のシミュレーション装置によって配線設計の支援を行うための計算を行うプリント基板の構造を示す斜視分解図である。
【図５】実施の形態１のシミュレーション装置で用いるＣＡＤデータの一例を示す図である。
【図６】実施の形態１のシミュレーション装置の機能を示す機能ブロック図である。
【図７】実施の形態１のシミュレーション装置における配線パターンとベタ抜け領域の位置関係を分類した結果の一例を示す図である。
【図８】実施の形態１のシミュレーション装置のデータベース２０に格納される特性インピーダンスの増加特性を示す図である。
【図９】実施の形態１のシミュレーション装置で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲を説明するための図である。
【図１０】実施の形態１のシミュレーション装置で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内に存在するベタ抜け領域の面積の算出方法を説明するための図である。
【図１１】図１０の判定結果を表形式で示す図である。
【図１２】図１０に示すベタ抜け領域８Ａによって影響を受ける配線パターン６Ｂの特性インピーダンスを示す図である。
【図１３】実施の形態１のシミュレーション装置における配線パターンの区間毎の特性インピーダンスの計算結果を表す。
【図１４】実施の形態１のシミュレーション装置によるプリント基板の試験の支援を行うための計算処理を表すフローチャートである。
【図１５】実施の形態１のシミュレーション装置のモデル作成部２１６による特性インピーダンスの計算処理を示すフローチャートである。
【図１６】実施の形態１のシミュレーション装置によって作成された配線モデルの一例を示す図である。
【図１７】実施の形態１のシミュレーション装置におけるベタ抜け領域８の面積を計算する他の手法を説明するための図である。
【図１８】配線パターン６Ｂ、６Ｃとベタ抜け領域８Ａとの位置関係の一例を示す斜視図である。
【図１９】図１８に示す配線パターン６Ｂ、６Ｃとベタ抜け領域８Ａとの位置関係を平面透視で示す図である。
【図２０】実施の形態２のシミュレーション装置の機能を示すブロック図である。
【図２１】実施の形態２のシミュレーション装置におけるクロストーク領域の単位面積におけるクロストークの強度を表すテーブルである。
【図２２】実施の形態２のシミュレーション装置においてクロストークの強度を計算する際に用いる補正係数のテーブルを示す図である。
【図２３】実施の形態２のシミュレーション装置でクロストークの強度を計算する際に用いるクロストーク領域の面積の算出方法を説明するための図である。
【図２４】図２３の判定結果に配線パターン同士の間隔の抽出結果を付加して表形式で示す図である。
【図２５】アイパターンを示す図である。アイパターンは、信号波形の遷移を多数サンプリングして重ね合わせ、グラフィカルに表示したものである。
【図２６】実施の形態３のシミュレーション装置の機能を示すブロック図である。
【図２７】実施の形態３のシミュレーション装置における判定処理を表すフローチャートである。
【図２８】実施の形態４のシミュレーション装置によって作成された配線モデルの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明のシミュレーション装置を適用した実施の形態について説明する。
【００１３】
［実施の形態１］
図１は、実施の形態１のシミュレーション装置が適用されるコンピュータシステムの斜視図である。図１に示すコンピュータシステム１０は、本体部１１、ディスプレイ１２、キーボード１３、マウス１４、及びモデム１５を含む。
【００１４】
本体部１１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit：中央演算装置）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive：ハードディスクドライブ）、及びディスクドライブ等を内蔵する。ディスプレイ１２は、本体部１１からの指示により表示画面１２Ａ上に解析結果等を表示する表示部であり、例えば、液晶モニタであればよい。キーボード１３は、コンピュータシステム１０に種々の情報を入力するための入力部である。マウス１４は、ディスプレイ１２の表示画面１２Ａ上の任意の位置を指定する入力部である。モデム１５は、外部のデータベース等にアクセスして他のコンピュータシステムに記憶されているプログラム等をダウンロードする。
【００１５】
コンピュータシステム１０にプリント基板の配線設計の支援機能を持たせるシミュレーションプログラム（シミュレーションプログラムソフトウェア又はツール）は、ディスク１７等の可搬型記録媒体に格納されるか、モデム１５等の通信装置を使って他のコンピュータシステムの記録媒体１６からダウンロードされ、コンピュータシステム１０に入力されてコンパイルされる。
【００１６】
シミュレーションプログラムは、コンピュータシステム１０（即ち、後述するＣＰＵ２１）をプリント基板の配線設計の支援機能を有するシミュレーション装置として動作させる。シミュレーションプログラムは、例えばディスク１７等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体に格納されていてもよい。コンピュータ読み取り可能な記録媒体は、ディスク１７、ＩＣカードメモリ、フロッピー（登録商標）ディスク等の磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬型記録媒体に限定されるものではなく、モデム１５又はＬＡＮ等の通信装置を介して接続されるコンピュータシステムでアクセス可能な各種記録媒体を含む。
【００１７】
図２は、コンピュータシステム１０の本体部１１内の要部の構成を説明するブロック図である。本体部１１は、バス２０によって接続されたプロセッサ（ＣＰＵ）２１、ＲＡＭ又はＲＯＭ等を含むメモリ部２２、ディスク１７用のディスクドライブ２３、及びハードディスクドライブ（ＨＤＤ）２４を含む。実施の形態１では、ディスプレイ１２、キーボード１３、及びマウス１４は、バス２０を介してＣＰＵ２１に接続されているが、これらはＣＰＵ２１に直接的に接続されていてもよい。また、ディスプレイ１２は、入出力画像データの処理を行う周知のグラフィックインタフェース（図示せず）を介してＣＰＵ２１に接続されていてもよい。
【００１８】
コンピュータシステム１０において、キーボード１３及びマウス１４は、シミュレーション装置の入力部である。ディスプレイ１２は、プリント基板の配線設計の支援機能による計算結果を画面１２Ａ上に表示する表示部である。ＣＰＵ２１は、少なくとも、入力部に入力される属性に該当する配線パターンの位置情報、パターン抜け領域の位置情報及び大きさ情報、及び変化量情報に基づき、入力部に入力される属性に該当する配線パターンにおける信号特性の変化量を求める変化量処理部として機能する。
【００１９】
なお、コンピュータシステム１０は、図１及び図２に示す構成のものに限定されず、各種周知の要素を付加してもよく、又は代替的に用いてもよい。
【００２０】
図３は、実施の形態１のシミュレーション装置によってプリント基板の配線設計の支援を行うための計算が行われる電子機器を示す図であり、（Ａ）は斜視透視図、（Ｂ）は電子機器に含まれるプリント基板を示す図である。実施の形態１では、電子機器の一例として携帯電話端末機１を示す。
【００２１】
図３（Ａ）に示すように、携帯電話端末機１の筐体２の外面には、表示部３及び操作部４が設けられており、筐体２の内部には、破線で示すプリント基板５が収納されている。
【００２２】
筐体２は、樹脂製又は金属製の筐体であり、表示部３及び操作部４を設置するための開口部を有する。表示部３は、例えば、文字、数字、画像等を表示できる液晶パネルであればよい。また、操作部４は、テンキーに加え、携帯電話端末機１の機能を選択するための種々の選択キーを含む。なお、携帯電話端末機１は、近接通信装置（赤外線通信装置、電子マネー用の通信装置等）又はカメラ等の付属装置を含んでもよい。
【００２３】
また、図３（Ｂ）に示すプリント基板５は、例えばＦＲ４（ガラス布基材エポキシ樹脂基板）で構成され、表面５Ａには銅箔をパターニングすることにより配線パターン６が形成されている。配線パターン６は、電子機器の駆動に必要な各種信号の伝送経路となるものである。配線パターン６は、例えば、レジストを用いたエッチング処理によってパターニングされている。
【００２４】
配線パターン６には、携帯電話端末１で通話、電子メール、又はインターネット等の通信を行うために必要なＩＣ（Integrated Circuit：集積回路）及びメモリ等が電気的に接続されている。
【００２５】
プリント基板５として用いるＦＲ４は、一般に、複数の絶縁層を積層し、各絶縁層の間（層間）、積層構造の最上面、及び積層構造の最下面にパターニングされた銅箔を有する。
【００２６】
このため、携帯電話端末１で通話、電子メール、及びインターネット等の通信を行うために必要な配線及び回路は、ＦＲ４の層間や最下面にも形成されていてもよい。
【００２７】
また、プリント基板５は、配線パターン６を形成でき、回路を搭載することのできる誘電体製の基板であれば、ＦＲ４以外の基板であってもよい。
【００２８】
また、配線パターン６は、電力損失が小さく、導電率が高い金属であれば銅（Ｃｕ）以外の金属（例えば、アルミニウム（Ａｌ）等）であってもよい。
【００２９】
このようなプリント基板５に形成される配線パターン６のＣＡＤ（Computer Aided Design：コンピュータ支援設計）データは、図２に示すＨＤＤ２４に格納されている。
【００３０】
なお、プリント基板５は、実際には、複数の層が積層され、ＧＮＤ用又は電源用のベタパターンも形成されている。この詳細については、次に図４を用いて説明する。
【００３１】
図４は、実施の形態１のシミュレーション装置によって配線設計の支援を行うための計算を行うプリント基板の構造を示す斜視分解図である。
【００３２】
図４に示すプリント基板５は、五層構造を有する。プリント基板５は、配線パターン６とベタパターン７を含む。図４に示すプリント基板５では、配線パターン６とベタパターン７は、誘電体層５ａ〜５ｅのいずれかに形成されている。誘電体層５ａ〜５ｅは、コア材又は接着層のいずれかである。
【００３３】
配線パターン６は、信号を伝送するための配線又は所定形状のパターンである。ベタパターン７は、平面的に形成され、グランド電位に保持されて伝送信号の復路となるパターンである。このため、配線パターン６とベタパターン７は、配線パターン６における信号特性が良好（典型的にはインピーダンス整合が取れた状態（例えば、５０Ω））になるように設計する必要がある。
【００３４】
図４には、プリント基板５の五層のうちの最上層の誘電体層５ａ、二層目の誘電体層５ｂ、三層目の誘電体層５ｃ、四層目の誘電体層５ｄ、及び五層目の誘電体層５ｅを分離した状態で示す。誘電体層５ａ及び５ｃには、配線パターン６Ａ、６Ｂが形成されている。誘電体層５ｂと誘電体層５ｄには、ベタパターン７が形成されている。誘電体層５ｄに形成されたベタパターン７には、ベタ抜け領域８（８Ａ、８Ｂ）が形成されている。ベタ抜け領域８Ａ、８Ｂは、例えば、層間の配線を通すために設けられている。なお、以下の説明では、６Ａ、６Ｂを区別することなく配線パターンを指す場合には、符号６を用いる。同様に、８Ａ、８Ｂを区別することなくベタ抜け領域を指す場合には、符号８を用いる。
【００３５】
ここでは、説明の便宜上、誘電体層５ｅに形成される配線パターン６の図示を省くが、プリント基板５は、信号線等として用いる配線パターン６が形成される層と、ベタパターン７が形成される層とが交互に積層されている。
【００３６】
また、図４には接地電位に保持されるベタパターン７を示すが、プリント基板５は、接地電位に保持されるベタパターン７に加えて、所定の正又は負の電位に保持される電源用のベタパターンを含んでいてもよい。
【００３７】
また、五層構造のプリント基板５には、最下層の誘電体層５ｅは必ずしも必要ではなく、誘電体層５ｄの裏面側に配線パターン６が形成されていてもよい。
【００３８】
なお、図４に示すＸ軸方向及びＹ軸方向の座標については、図５を用いて説明する。
【００３９】
図５は、実施の形態１のシミュレーション装置で用いるＣＡＤデータの一例を示す図である。ＣＡＤデータは、プリント基板５に含まれる各層のサイズ、プリント基板５に形成されるビア等の位置、サイズ、プリント基板５に形成される各配線パターン６の層番号、信号の種類、データ速度、誘電率、電気伝導率、配線幅、銅箔厚、層間距離、配線高さ、始点位置、及び終点位置等を含む。
【００４０】
このようなプリント基板５のＣＡＤ（Computer Aided Design：コンピュータ支援設計）データは、図２に示すＨＤＤ２４に格納されている。
【００４１】
図５（Ａ）に示す表は、配線パターン６の識別子、層番号、信号名、データ速度、誘電率、配線幅、配線厚、層間距離、始点座標、及び終点座標を関連付けた第１データベースの一形態である。このうち、信号名は、配線パターン６を伝送される信号の種類を表しており、配線パターン６の属性を表す属性情報の一例として第１データベースに含まれている。また、配線幅、配線厚、層間距離、配線高さ、始点座標、及び終点座標は、配線パターン６の位置情報の一例として第１データベースに含まれている。なお、層間距離とは、ベタパターン７同士の間の距離をいう。すなわち、図４では誘電体層５ｂのベタパターン７と誘電体層５ｄのベタパターン７との間の距離を表す。また、配線高さとは、ベタパターン７に対する配線パターン６の高さをいい、図４では誘電体層５ｄのベタパターン７に対する誘電体層５ｃの配線パターン６の高さに相当する。
【００４２】
図５（Ｂ）に示す表は、ベタ抜け領域の識別子、層番号、直径、及び中心座標を関連付けた第２データベースの一形態である。ベタ抜け領域の識別子、層番号、直径、及び中心座標は、ベタパターン７に形成されるベタ抜け領域８の位置情報の一例を表している。
【００４３】
ここで、図５（Ａ）に示す始点座標と終点座標のＸ座標値、Ｙ座標値、及び、図５（Ｂ）に示す中心座標のＸ座標値、Ｙ座標値は、図４に示すＸ軸、Ｙ軸における座標を表している。
【００４４】
図５（Ａ）に示す識別子Ｎｏ．１〜Ｎｏ．６の配線パターンは、図４に示す誘電体層５ａ、５ｃに形成された配線パターン６Ａ、６Ｂを示す。配線パターン６Ａ、６Ｂには、信号名"data001"のデータ信号が伝送される。
【００４５】
図５（Ｂ）に示す識別子Ｎｏ．１、Ｎｏ．２のベタ抜け領域は、図４に示す誘電体層５ｄに形成されたベタ抜け領域８Ａ、８Ｂを示す。
【００４６】
ここで、図４に示すように配線パターン６Ｂとベタ抜け領域８Ａ、８Ｂは近接している。これらの位置関係は、図５（Ａ）、（ｂ）に示す座標値からも分かるように、Ｎｏ．４の配線パターンとＮｏ．１のベタ抜け領域（８Ａ）が近接し、Ｎｏ．６の配線パターンとＮｏ．３のベタ抜け領域（８Ｂ）が近接していることが分かる。
【００４７】
このように、配線パターン６Ｂとベタ抜け領域８Ａ、８Ｂが近接すると、配線パターン６Ｂの特性インピーダンスが不整合の状態になる可能性がある。インピーダンスの不整合は、信号特性の劣化をもたらす。
【００４８】
ここで、ベタ抜け領域によって配線パターン６に信号特性の劣化が生じるのは、図４（ａ）に示すプリント基板５では、配線パターン６が形成されている誘電体層（５ｃ）と同一の誘電体層（５ｃ）、一層上の誘電体層（５ｂ）、又は一層下の誘電体層（５ｄ）にベタ抜け領域が存在し、平面透視で近接している場合である。
【００４９】
実施の形態１のシミュレーション装置は、プリント基板５の配線構造の設計段階における作業効率を向上させるために、特性インピーダンスの変化量の大きい配線パターン６を計算によって求める。この特性インピーダンスの変化量の計算にあたっては、配線パターン６に対する幅方向の範囲を設定する。幅方向の範囲の設定については、図１４を用いて後述する。ここでは、その前に、実施の形態１のシミュレーション装置の構成について図６を用いて説明する。
【００５０】
図６は、実施の形態１のシミュレーション装置の機能を示す機能ブロック図である。この機能ブロックは、図２に示すＣＰＵ２１がＨＤＤ２４に格納されているシミュレーションプログラムを実行することによって実現される。
【００５１】
ＣＰＵ２１によって実現される機能ブロックは、設計データ読出部２１１、条件作成部２１２、ベタ抜け領域検出部２１３、面積計算部２１４、インピーダンス計算部２１５、モデル作成部２１６、処理結果表示部２１７、及び管理部２１８を含む。
【００５２】
設計データ読出部２１１は、ＨＤＤ２４に格納されているＣＡＤデータを読み出す。
【００５３】
条件作成部２１２は、キーボード１３又はマウス１４を介して入力される条件に基づき、後述する特性インピーダンスの変化量を計算するための条件を作成する。入力される条件としては、例えば、配線パターン６によって伝送される信号の種類（属性情報）、特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲、ランク付けのために抽出する際のインピーダンスの閾値等が挙げられる。
【００５４】
ベタ抜け領域検出部２１３は、図５（Ａ）に示す配線パターン６のＸ座標、Ｙ座標と、図５（Ｂ）に示すベタ抜け領域８のＸ座標、Ｙ座標とに基づき、平面透視における配線パターン６に対するベタ抜け領域８の位置関係を分類し、分類結果を作成する。詳細については、図７を用いて後述する。
【００５５】
面積計算部２１４は、条件作成部２１２によって作成された配線パターン６によって伝送される信号の種類（信号名）によって対象となる配線パターン６を抽出し、平面透視で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内にあるベタ抜け領域の面積を計算する。
【００５６】
インピーダンス計算部２１５は、ベタ抜け領域検出部２１３によって分類された配線パターン６及びベタ抜け領域８の位置関係と、面積計算部２１４によって計算されたベタ抜け領域８の面積とを用いて、計算対象となる配線パターン６の特性インピーダンスの変化量を所定の区間毎に計算する。
【００５７】
モデル作成部２１６は、インピーダンス計算部２１５によって計算される所定の区間毎の特性インピーダンスの変化量を配線パターン６の始点から終点まで積分することにより、配線パターン６の特性インピーダンスの分布を視覚的に表す配線モデルを作成する。
【００５８】
処理結果表示部２１７は、インピーダンス計算部２１５による計算結果、又はモデル作成部２１６によって作成されるシミュレーションモデルを図１に示すディスプレイ１２の表示画面１２Ａに表示する。表示内容については後述する。
【００５９】
管理部２１８は、ＨＤＤ２４へのデータの格納を管理するデータ管理部である。
【００６０】
次に、実施の形態１のシミュレーション装置における配線パターンとベタ抜け領域の位置関係の判定について説明する。位置関係の判定は、ベタ抜け領域検出部２１３（図６参照）によって実行される。
【００６１】
図７は、実施の形態１のシミュレーション装置における配線パターンとベタ抜け領域の位置関係を分類した結果の一例を示す図である。
【００６２】
ベタ抜け領域検出部２１３は、図５（Ａ）に示す配線パターン６のＸ座標、Ｙ座標と、図５（Ｂ）に示すベタ抜け領域８のＸ座標、Ｙ座標とに基づき、平面透視における配線パターン６に対するベタ抜け領域８の位置を分類する。
【００６３】
また、ベタ抜け領域検出部２１３は、平面透視における位置関係の分類に加えて、ベタ抜け領域８が配線パターン６と同一層、一層上の層、又は一層下の層のいずれかにあるか否か（すなわち、ベタ抜け領域と配線パターンの間が２層以上離れていないか否か）を判定する。
【００６４】
具体的には、ベタ抜け領域検出部２１３は、図５（Ａ）に示す配線パターン６の各区間を表す始点及び終点のＸ座標値、Ｙ座標値と、図５（Ｂ）に示すベタ抜け領域８のＸ座標値、Ｙ座標値とのＸＹ座標上における位置関係を算出することにより、平面透視における配線パターン６に対するベタ抜け領域８の位置を分類する。平面透視における配線パターン６に対するベタ抜け領域８の位置は、配線の片側、両側、又は、真上／真下のいずれかに分類される。
【００６５】
また、ベタ抜け領域検出部２１３は、図５（Ａ）に示す配線パターン６の層番号から、図５（Ｂ）に示す層番号を減算した値が０、＋１、又は−１のいずれかに該当するか否かを判定する。＋２以上、又は−２以下の場合は、配線パターン６とベタ抜け領域８との間に別のベタパターン７が形成されていると考えられるため、判断対象となっている配線パターン６とベタ抜け領域８との間には、信号特性の劣化に繋がる関係がないと考えられるからである。
【００６６】
以上の判定を行うことにより、ベタ抜け領域検出部２１３は、配線パターン６とベタ抜け領域８の位置関係を分類し、図７に示す分類結果を表すデータを作成する。
【００６７】
図８は、実施の形態１のシミュレーション装置のデータベース２０に格納される特性インピーダンスの増加特性を示す図である。この増加特性を表すデータは、特性インピーダンスの変化量を計算するために用いられるデータであり、配線パターン６とベタ抜け領域８の位置関係に対するベタ抜け領域８の単位面積あたりの特性インピーダンスの増加（劣化）を表すデータである。図８に示す増加特性を表すデータは、配線パターン６及びベタ抜け領域８の位置関係と、ベタ抜け領域８の大きさとに対する配線パターン６の信号特性の変化量を表す変化量情報の一形態であり、第３データベースとしてＨＤＤ２４に格納される。
【００６８】
配線パターン６とベタ抜け領域８の位置関係は、（Ａ）配線パターン６の真上又は真下にベタ抜け領域８が位置する、（Ｂ）配線パターン６の両側にベタ抜け領域８が位置する、又は、（Ｃ）配線パターン６の片側のみにベタ抜け領域８が位置する、の３つのパターンに分類できる。ここで、配線パターンの理想的な特性インピーダンスを５０（Ω）とすると、位置関係（Ｃ）、（Ｂ）、（Ａ）の順に特性インピーダンスの不整合度合が高まるため、図８に示す特性は、位置関係（Ａ）の特性インピーダンスが一番高くなり、位置関係（Ｂ）、（Ｃ）の順で特性インピーダンスが低下するように増加係数（特性の傾き）が設定されている。
【００６９】
実施の形態１のシミュレーション装置では、特性インピーダンスの変化量の計算を行う範囲として設定された範囲内に存在するベタ抜け領域８の面積と、配線パターン６に対するベタ抜け領域８の位置関係とに基づいて、配線パターン６の特性インピーダンスの変化量を算出する。
【００７０】
図９は、実施の形態１のシミュレーション装置で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲を説明するための図である。図９には、図４に示す誘電体層５ｃに形成された配線パターン６Ｂと誘電体層５ｄに形成されたベタ抜け領域８Ａの位置関係と、特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲（計算対象となる幅方向の範囲）を拡大して示す。
【００７１】
実施の形態１のシミュレーション装置では、計算対象となる幅方向の範囲を予め設定してから特性インピーダンスの変化量の計算を行う。
【００７２】
計算対象となる幅方向の範囲は、パラメータ入力部１０（図１参照）を介して入力する。
【００７３】
ここでは、例えば、配線パターン６Ｂの配線幅（０．１ｍｍ）の４０倍（４．０ｍｍ）に設定されたとする。
【００７４】
図９に示すように、平面透視において配線パターン６Ｂの近傍に位置するベタ抜け領域８Ａのうちの一部８ａ（ドットで示す部分）が配線パターン６Ｂから４．０ｍｍ以内に含まれる範囲である。
【００７５】
実施の形態１のシミュレーション装置では、ベタ抜け領域８Ａのうち、計算対象となる幅方向の範囲に含まれる部分８ａによる配線パターン６Ｂの特性インピーダンスの変化量を求める。この特性インピーダンスの変化量を把握することにより、配線パターン６Ｂの信号特性に与える影響を把握することができ、同様の手法ですべての配線パターン６について信号特性による影響を把握することができる。
【００７６】
図１０は、実施の形態１のシミュレーション装置で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内に存在するベタ抜け領域の面積の算出方法を説明するための図である。ここでは、配線パターン８Ｂとベタ抜け領域８Ａを用いて説明する。
【００７７】
ベタ抜け領域検出部２１３は、特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内におけるベタ抜け領域８Ａを検出し、面積計算部２１４は、ベタ抜け領域検出部２１３の検出結果に基づいて、ベタ抜け領域８Ａの面積を算出する。
【００７８】
ベタ抜け領域８Ａの検出及び面積の計算においては、特性インピーダンスの変化量の計算の対象となる配線パターン６Ｂの始点から終点にかけて、計算を行う幅方向の範囲内にある領域を所定面積の正方形のメッシュに区画する。そして、配線パターン６Ｂをメッシュの辺の長さの区間に分割し、メッシュ毎にベタ抜け領域８Ａの有無を判定する。
【００７９】
ベタ抜け領域８Ａの有無の判定では、メッシュ内の少なくとも一部にベタ抜け領域８Ａが存在していれば、そのメッシュはベタ抜け領域「有」と判定する。すなわち、ベタ抜け領域「無」と判定されるのは、判定対象となるメッシュ内に、ベタ抜け領域８Ａが全く存在しない場合である。
【００８０】
なお、メッシュの一辺の長さは、例えば、次式（１）で表される値に設定される。
【００８１】
メッシュの１辺の長さ＝立上り時間伝送路の伝搬速度／任意分割数      （１）
【００８２】
ここでは、メッシュを表す一辺の長さを０．５ｍｍに設定するため、配線パターン６Ｂを長さ方向に０．５ｍｍの区間に分割し、面積計算部２１４が区間毎にベタ抜け領域８Ａの面積を計算する。
【００８３】
なお、メッシュの座標は、メッシュの四隅の座標のうち、数値が一番小さいものを用いる。すなわち、図１０では、左下の頂点の座標値をメッシュを特定する座標として用いる。
【００８４】
図１０に示す例では、Ｘ＝２８．５〜３１．５の範囲、かつ、Ｙ＝２０．０〜２２．０の範囲に含まれるメッシュについて、Ｘ軸方向に０．５ｍｍ毎に刻んだ区間毎に、ベタ抜き領域８Ａの有無を判定することになる。なお、図１０では、ベタ抜き領域「有」と判定されたメッシュ内に「有」の文字を記し、ベタ抜き領域「無」と判定されたメッシュ内に「無」の文字を記す。
【００８５】
また、配線パターン６Ｂの区間毎の面積は、区間毎のメッシュの数より、Ｘ＝２８．５〜２９．０の区間では０．５ｍｍ２、Ｘ＝２９．０〜２９．５の区間では０．５ｍｍ２、Ｘ＝２９．５〜３０．０の区間では０．５ｍｍ２、Ｘ＝３０．０〜３０．５の区間では０．５ｍｍ２、Ｘ＝３０．５〜３１．０の区間では０．５ｍｍ２、Ｘ＝３１．０〜３１．５の区間では０．２５ｍｍ２となる。
【００８６】
図１１は、図１０の判定結果を表形式で示す図である。
【００８７】
ベタ抜け領域「有」と判定されたメッシュには、フラグ"１"を立て、ベタ抜け領域「無」と判定された単位面積には、フラグを"０"に設定する。このフラグは、インピーダンス計算部２１５が特性インピーダンスの変化量を算出する際に用いられる。
【００８８】
図１１に示す判定結果では、配線パターン６Ｂの各区間におけるベタ抜け領域８Ａの面積は、区間毎のベタ抜け領域「有り」を表すフラグ"１"の数に、メッシュの単位面積（０．２５ｍｍ２）を乗じた値として表される。
【００８９】
なお、図１１には、配線パターン６Ｂについての判定結果を示すが、条件作成部２１２によって作成される属性情報に該当する配線パターン６のすべての区間について、同様の判定結果を得ることができる。
【００９０】
図１２は、図１０に示すベタ抜け領域８Ａによって影響を受ける配線パターン６Ｂの特性インピーダンスを示す図である。図８に示す特性と図１１に示す判別結果に基づき、インピーダンス計算部２１５によって作成される。
【００９１】
インピーダンス計算部２１５は、図８に示す特性と図１１に示す判別結果とを用いて、配線パターンの各区間における特性インピーダンスを算出する。
【００９２】
ここで、配線パターン６の各区間における特性インピーダンスは、次式（２）で求まる。
【００９３】
特性インピーダンス＝増加係数×区間内のベタ抜け領域の面積＋オフセット値  （２）
【００９４】
増加係数は、図８に示す特性（１）〜（３）のいずれかの増加係数である。オフセット値は、５０（Ω）に設定される。
【００９５】
各区間でベタ抜け領域８Ａは配線パターン６の片側に位置しているため、図８に示す（３）の特性を用いると、Ｘ＝２８．５〜２９．０の区間では５４Ω、Ｘ＝２９．０〜２９．５の区間では５４Ω、Ｘ＝２９．５〜３０．０の区間では５４Ω、Ｘ＝３０．０〜３０．５の区間では５４Ω、Ｘ＝３０．５〜３１．０の区間では５４Ω、Ｘ＝３１．０〜３１．５の区間では５２Ωとなる。
【００９６】
このようにして、配線パターン６Ｂの各区間における特性インピーダンスがインピーダンス計算部２１５によって求められる。なお、インピーダンス計算部２１５による特性インピーダンスの計算は、すべての配線パターン６について同様に行うことができる。
【００９７】
モデル作成部２１６は、インピーダンス計算部２１５によって求められた区間毎の特性インピーダンスの値を配線パターン６の始点から終点まで積分することにより、配線パターン６の始点から終点までのインピーダンスを求める。
【００９８】
図１３は、実施の形態１のシミュレーション装置における配線パターンの区間毎の特性インピーダンスの計算結果を表す。図１３の表は、図１２に示す配線パターン６Ｂの特性インピーダンスの計算結果を表形式で示すデータであり、インピーダンス計算部２１５によって計算された後、ＨＤＤ２４に格納される。図１３におけるＸＹ座標は、各区間の始点の座標を表す。図１３には、（Ｘ，Ｙ）＝（２８．５，２０．０）〜（３１．５，２０．０）の区間における計算結果のみを示すが、実際には、属性条件等によって指定される配線パターン６のずべての区間について計算が行われる。
【００９９】
次に、実施の形態１のシミュレーション装置によるプリント基板の試験の支援を行うための計算手法について説明する。以下では、図１に示すコンピュータシステム１０をプリント基板の試験の支援を行うための計算機能を有するシミュレーション装置として動作させるシミュレーションプログラムは、図２に示すＨＤＤ２４に格納されているものとして説明を行う。
【０１００】
図１４は、実施の形態１のシミュレーション装置によるプリント基板の試験の支援を行うための計算処理を表すフローチャートである。図１４に示す計算は、ＣＰＵ２１が実施の形態１のシミュレーションプログラムを実行することによって行われる。
【０１０１】
ＣＰＵ２１は、計算処理をスタートさせると、まず、ＨＤＤ２４に格納されているＣＡＤデータを読み出す（ステップＳ１）。これは、ＣＰＵ２１内の設計データ読出部２１１によって行われる処理であり、図５に示すＣＡＤデータが読み出される。
【０１０２】
次いで、ＣＰＵ２１は、特性インピーダンスの変化量を計算するための条件を作成する（ステップＳ２）。この処理は、キーボード１３又はマウス１４を介して入力される条件に基づき、特性インピーダンスの変化量を計算するための条件を作成する処理であり、ＣＰＵ２１内の条件作成部２１２によって行われる処理である。入力される条件としては、例えば、配線パターン６によって伝送される信号の種類、特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲、ランク付けのために抽出する際のインピーダンスの閾値等が挙げられる。
【０１０３】
次に、ＣＰＵ２１は、平面透視における配線パターン６に対するベタ抜け領域８の位置関係を分類し、分類結果を表すデータを作成する（ステップＳ３）。この処理は、図５（Ａ）に示す配線パターン６のＸ座標、Ｙ座標と、図５（Ｂ）に示すベタ抜け領域８のＸ座標、Ｙ座標とに基づき、図７に示す分類表を作成する処理であり、ＣＰＵ２１内のベタ抜け領域検出部２１３によって行われる処理である。
【０１０４】
ＣＰＵ２１は、条件作成部２１２によって作成された配線パターン６によって伝送される信号の種類によって対象となる配線パターン６を抽出し、平面透視で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内にあるベタ抜け領域の面積を計算する（ステップＳ４）。この処理は、ＣＰＵ２１内の面積計算部２１４によって行われる処理である。
【０１０５】
次いで、ＣＰＵ２１は、ベタ抜け領域検出部２１３によって分類された配線パターン６とベタ抜け領域８の位置関係と、面積計算部２１４によって計算されたベタ抜け領域８の面積とを用いて、計算対象となる配線パターン６の特性インピーダンスの変化量を計算する（ステップＳ５）。この処理は、ＣＰＵ２１内のインピーダンス計算部２１５によって行われる処理であり、配線パターン６の各区間（図１０で言えばメッシュの辺の長さである０．５ｍｍ毎に区分される区間毎）に特性インピーダンスの変化量の計算が行われる。
【０１０６】
次いで、ＣＰＵ２１は、ステップＳ５において計算される所定の区間毎の特性インピーダンスの変化量を配線パターン６の始点から終点まで積分することにより、配線パターン６のシミュレーションモデルを作成する（ステップＳ６）。この処理は、ＣＰＵ２１内のモデル作成部２１６によって行われる処理であり、モデル作成部２１６が図１３に示すインピーダンス計算部２１５の計算結果が示す各区間における特性インピーダンスの値を積分することによって行われる。
【０１０７】
処理結果表示部２１７は、インピーダンス計算部２１５による計算結果、又はモデル作成部２１６によって作成されるシミュレーションモデルを図１に示すディスプレイ１２の表示画面１２Ａに表示する（ステップＳ７）。表示内容については後述する。
【０１０８】
以上により、特性インピーダンスの変化量を計算するためにＣＰＵ２１によって実行される一連の処理が終了する。
【０１０９】
図１５は、実施の形態１のシミュレーション装置のモデル作成部２１６による特性インピーダンスの計算処理を示すフローチャートである。
【０１１０】
ここでは、図４における座標（Ｘ，Ｙ）＝（１０，２０）で表される配線パターン６Ａの一端に送信機が接続され、座標（Ｘ，Ｙ）＝（８０，４０）で表される配線パターン６Ａの他端に受信機が接続されているものとし、一端を送信端、他端を受信端と称する。
【０１１１】
また、以下の特性インピーダンスの計算処理において区間毎の特性インピーダンスの値を積分する際には、同一の特性インピーダンスの値を有する区間の数を連続区間数と称する。
【０１１２】
モデル作成部２１６は、処理が開始されると、まず、連続区間数を"０"に設定する（ステップＳ１１）。
【０１１３】
次いで、モデル作成部２１６は、送信端に接続されている区間の特性インピーダンスを積分計算の初期値に設定する（ステップＳ１２）。すなわち、図４に示す座標（Ｘ，Ｙ）＝（１０，２０）の送信端に接続される配線パターン６Ａの最初の０．５ｍｍの区間における特性インピーダンスの値をＨＤＤ２４から読み込み、積分計算の初期値に設定する。
【０１１４】
モデル作成部２１６は、ステップＳ１２の処理が終了すると、次の区間へ進行する（ステップＳ１３）。次の区間の特性インピーダンスの値を積分するためである。
【０１１５】
モデル作成部２１６は、次の区間の特性インピーダンスが、前の区間の特性インピーダンスと同一であるか否かを判定する（ステップＳ１４）。
【０１１６】
モデル作成部２１６は、ステップＳ１４で同一特性インピーダンスではないと判定した場合は、それまでの連続区間数で区間モデルを作成する（ステップＳ１５）。作成された区間モデルは、メモリ部２２のＲＡＭ等に一時的に保存される。なお、区間モデルについては、図１６を用いて後述する。
【０１１７】
次いで、モデル作成部２１６は、連続区間数を"０"に設定する（ステップＳ１６）。
【０１１８】
ステップＳ１６の処理が終了すると、モデル作成部２１６は、最終区間であるか否かを判定する（ステップＳ１７）。最終区間でない場合は、手順はステップＳ１３にリターンする。
【０１１９】
モデル作成部２１６は、ステップＳ１４において、前の区間と同一の特性インピーダンスではないと判定した場合は、連続区間数を"１"増やして（インクリメントして）、フローをステップＳ１３にリターンする。次の区間が連続区間であるか否かを判定するためである。
【０１２０】
一方、モデル作成部２１６は、ステップＳ１７において最終区間であると判定した場合は、それまでに作成し、メモリ部２２のＲＡＭに保存した配線モデルを出力する（ステップＳ１８）。これにより、モデル作成部２１６による配線モデルの作成処理が終了する。
【０１２１】
図１６は、実施の形態１のシミュレーション装置によって作成された配線モデルの一例を示す図である。図１６に示す配線モデルは、誘電体層５ｃの座標（Ｘ，Ｙ）＝（１０，２０）〜（５０，２０）にあるNo.4の配線パターン６Ｂをモデル化したものである。特性インピーダンスの値が同一の区間は、連続的な区間モデルとして表されており、特性インピーダンスの値が異なる点では、区間モデルが途切れている。
【０１２２】
モデル作成部２１６によって作成される図１６に示す配線モデルは、処理結果表示部２１７により、図１に示すディスプレイ１２の表示画面１２Ａに表示される。
【０１２３】
以上のように、実施の形態１のシミュレーション装置によれば、ＣＡＤデータを用いて配線パターン６の近傍の微小なベタ抜け領域８の影響も含めて特性インピーダンスの変化を計算できるので、高速信号を伝送するプリント基板の配線設計段階において微小な信号特性の変化を考慮した設計が可能になる。
【０１２４】
特に、重要度の高い信号等を伝送する配線パターン６を選択すれば、膨大な数の配線パターン６のうちの重要度の高い配線パターン６について、特性インピーダンスのずれが大きい配線パターン６を特定することができる。重要度の高い配線パターン６は、配線パターン６の属性（伝送される信号の種類（信号名））によって選ぶことができるので、すべての配線パターン６について計算を行う必要はなく、工程数を低減して効率的にシミュレーションを行うことができる。
【０１２５】
また、配線パターン６の幅方向の幅を設定して特性インピーダンスの変化を計算できるので、計算量を減らすことができ、効率的にシミュレーションを行うことができる。
【０１２６】
また、ベタ抜け領域８の面積に基づいて特性インピーダンスの変化量を計算するので、ＣＡＤデータを用いて特性インピーダンスの変化量を容易に計算することができる。
【０１２７】
なお、以上で説明した実施の形態１のシミュレーション装置における処理内容は、例えば、以下で説明するように、部分的に改変してもよい。
【０１２８】
図１７は、実施の形態１のシミュレーション装置におけるベタ抜け領域８の面積を計算する他の手法を説明するための図である。
【０１２９】
以上の説明では、配線パターン６の始点から終点の間において、幅方向の範囲内にあるベタ抜け領域８をメッシュに分割し、単位面積毎に特性インピーダンスの変化量を求めた。しかしながら、図１７（Ａ）に示すように、メッシュに分割する前に、配線パターン６を所定長さＡの複数の区間に分割し、各区間でベタ抜け領域８の有無を判定した後に、ベタ抜け領域８の存在していた区間について、図１７（Ｂ）に示すようにメッシュへの分割を行い、単位面積毎に特性インピーダンスの変化量を計算してもよい。
【０１３０】
［実施の形態２］
実施の形態２のシミュレーション装置は、信号特性の変化量を計算するにあたり、クロストークによる信号特性の変化量を計算する点が、特性インピーダンスの変化量を計算することによって信号特性の変化量を計算する実施の形態１と異なる。
【０１３１】
実施の形態１において図４に示したように、配線パターン６Ｂとベタ抜け領域８Ａ、８Ｂは近接している場合に、ベタ抜け領域８Ａ、８Ｂが形成されている誘電体層５ｄの一層下の誘電体層５ｅにある配線パターン６Ｃがベタ抜け領域８Ａ、８Ｂの近傍にあると、ベタ抜け領域８Ａ、８Ｂを通じて、配線パターン同士のクロストークが生じる場合がある。クロストークは、信号特性の変化をもたらす。
【０１３２】
図１８は、配線パターン６Ｂ、６Ｃとベタ抜け領域８Ａとの位置関係の一例を示す斜視図である。配線パターン６Ｂは三層目の誘電体層５ｃに形成され、ベタ抜け領域８Ａは、四層目の誘電体層５ｄに形成されたベタパターン７に開口され、配線パターン６Ｃは、五層目の誘電体層５ｅに形成されているが、図１８では、説明の便宜上、誘電体層５ｃ〜５ｅを省略して示す。
【０１３３】
また、ベタ抜け領域８Ａの内部には、信号ビア又はＧＮＤビアが形成されるが、ここでは説明の便宜上、図示を省略する。
【０１３４】
図１９は、図１８に示す配線パターン６Ｂ、６Ｃとベタ抜け領域８Ａとの位置関係を平面透視で示す図である。図１８に示すような位置関係の場合、平面透視すると、ベタ抜け領域８Ａの真下に配線パターン６Ｃが位置する。
【０１３５】
実施の形態２のシミュレーション装置では、クロストーク領域の面積を計算し、計算した面積に、クロストークによるノイズを求めるための係数を乗じることによって信号特性の変化量のシミュレーションを行う。
【０１３６】
ここで、クロストーク領域とは、配線パターン６の幅方向の設定範囲に存在するベタ抜け領域８の部分８ａ（ドットで示す部分）の内部において、配線パターン６と平面視で重複する領域をいう。すなわち、配線パターン６の幅方向の設定範囲内において、ベタ抜け領域８と配線パターン６が重複する領域をいう。図１９では、ベタ抜け領域８Ａを通じて見える配線パターン６Ｃの部分がクロストーク領域となる。
【０１３７】
図２０は、実施の形態２のシミュレーション装置の機能を示すブロック図である。この機能ブロックは、図２に示すＣＰＵ２１がＨＤＤ２４に格納されているプリント基板試験支援プログラムを実行することによって実現される。
【０１３８】
ＣＰＵ２１によって実現される機能ブロックは、設計データ読出部３１１、条件作成部３１２、クロストーク領域検出部３１３、面積計算部３１４、変化量計算部３１５、モデル作成部３１６、処理結果表示部３１７、及び管理部３１８を含む。以下、相違点を中心に説明する。
【０１３９】
設計データ読出部３１１は、実施の形態１の設計データ読出部２１１と同一の処理を行う。
【０１４０】
条件作成部３１２は、キーボード１３又はマウス１４を介して入力される条件に基づき、後述するクロストークによる信号特性の変化量を計算するための条件を作成する。入力される条件としては、例えば、配線パターン６によって伝送される信号の種類、クロストークによる信号特性の変化量の計算を行う幅方向の範囲、又は、クロストーク領域の面積を計算する際のメッシュの一辺の長さ等が挙げられる。
【０１４１】
クロストーク領域検出部３１３は、図５（Ａ）に示す配線パターン６のＸ座標、Ｙ座標と、図５（Ｂ）に示すベタ抜け領域８のＸ座標、Ｙ座標とに基づき、平面透視における配線パターン６に対するベタ抜け領域８と、ベタ抜け領域８を通じて平面透視で見える別の配線パターン６の位置関係を分類する。
【０１４２】
面積計算部３１４は、条件作成部３１２によって作成された配線パターン６によって伝送される信号の種類（信号名）によって対象となる配線パターン６を抽出し、クロストークの強度の計算を行う幅方向の範囲内にあるクロストーク領域の面積を計算する。ここで、上述したように、クロストーク領域とは、配線パターン６の幅方向の設定範囲内において、ベタ抜け領域８と配線パターン６が重複する領域である。このため、実施の形態２のシミュレーション装置における信号特性の変化量は、ベタ抜け領域８の面積を用いて計算されることになる。
【０１４３】
変化量計算部３１５は、クロストーク領域検出部３１３によって分類された配線パターン６、ベタ抜け領域８、及び別の配線パターン６の位置関係と、面積計算部３１４によって計算されたクロストーク領域の面積とを用いて、計算対象となる配線パターン６の信号特性の変化量としてクロストークの強度を計算する。
【０１４４】
モデル作成部３１６は、インピーダンス計算部３１５によって計算される所定の区間毎の特性インピーダンスの変化量を配線パターン６の始点から終点まで積分することにより、配線パターン６のシミュレーションモデルを作成する。
【０１４５】
処理結果表示部３１７は、インピーダンス計算部２１５による計算結果、又はモデル作成部３１６によって作成されるシミュレーションモデルを図１に示すディスプレイ１２の表示画面１２Ａに表示する。表示内容については後述する。
【０１４６】
管理部３１８は、ＨＤＤ２４へのデータの格納を管理するデータ管理部である。
【０１４７】
図２１は、実施の形態２のシミュレーション装置におけるクロストーク領域の単位面積におけるクロストークの強度を表すテーブルである。
【０１４８】
このクロストークの強度を表すテーブルは、信号特性の変化量を図る指標としてクロストークの強度を計算するために用いられるデータであり、誘電体層の誘電率と層間距離に対するクロストーク領域の単位面積あたりのクロストークの強度を表す。図２１に示すテーブルは、配線パターン６及びベタ抜け領域８の位置関係と、ベタ抜け領域８の大きさとに対する配線パターン６の信号特性の変化量を表す変化量情報の一形態であり、第３データベースとしてＨＤＤ２４に格納される。
【０１４９】
図２２は、実施の形態２のシミュレーション装置においてクロストークの強度を計算する際に用いる補正係数のテーブルを示す図である。補正係数は、配線パターン同士の間の距離と、配線パターンとベタ抜け領域との間の距離とに応じて値が設定されている。
【０１５０】
なお、配線パターン６同士の間の距離とは、平面視における配線パターン６同士の間の距離であり、図１９に示す配線パターン６Ｂと６Ｃとの間の距離をいう。また、配線パターンとベタ抜け領域との間の距離とは、図１９に示す配線パターン６Ｂのようにベタ抜け領域８からオフセットしている場合における配線パターン６Ｂとベタ抜け領域８との間の距離（オフセット量）をいう。
【０１５１】
図２３は、実施の形態２のシミュレーション装置でクロストークの強度を計算する際に用いるクロストーク領域の面積の算出方法を説明するための図である。
【０１５２】
クロストーク領域検出部３１３は、クロストーク領域の面積を算出する。面積の算出は、信号特性の変化量の計算の対象となる配線パターン６の始点から終点にかけて、計算を行う範囲を所定面積の正方形のメッシュに区画し、メッシュ毎にベタ抜け領域８及び配線パターン６が存在するか否かを判定する。
【０１５３】
判定対象となるメッシュ内の少なくとも一部にベタ抜け領域８及び配線パターン６が存在していれば、そのメッシュはクロストーク領域「有」と判定する。すなわち、クロストーク領域「無」と判定されるのは、判定対象となるメッシュ内に、ベタ抜け領域８と配線パターン６が同時に存在しない場合である。
【０１５４】
なお、メッシュの一辺の長さは、例えば、次式（３）で表される値に設定される。
【０１５５】
メッシュの１辺の長さ＝立上り時間伝送路の伝搬速度／任意分割数      （３）
【０１５６】
ここでは、メッシュを表す一辺の長さは、０．５ｍｍであるものとする。また、メッシュの座標は、メッシュの四隅の座標のうち、数値が一番小さいものを用いる。すなわち、図２３では、左下の頂点の座標値をメッシュを特定する座標として用いる。
【０１５７】
図２３に示す例では、Ｘ＝２８．５〜３１．５の範囲、かつ、Ｙ＝２０．０〜２２．０の範囲に含まれるメッシュについてクロストーク領域の有無を判定することになる。なお、図２３では、クロストーク領域「有」と判定されたメッシュ内に「有」の文字を記し、クロストーク領域「無」と判定されたメッシュ内に「無」の文字を記す。
【０１５８】
図２３に示す例では、図１８に示したように、ベタ抜けパターン８Ａを通じて見える配線パターン６Ｃの部分がクロストーク領域であるため、算出結果として、Ｘ＝２８．５〜２９．０の区間では０ｍｍ２、Ｘ＝２９．０〜２９．５の区間では０．２５ｍｍ２、Ｘ＝２９．５〜３０．０の区間では０．２５ｍｍ２、Ｘ＝３０．０〜３０．５の区間では０．２５ｍｍ２、Ｘ＝３０．５〜３１．０の区間では０．２５ｍｍ２、Ｘ＝３１．０〜３１．５の区間では０ｍｍ２の面積が得られた。
【０１５９】
図２４は、図２３の判定結果に配線パターン同士の間隔の抽出結果を付加して表形式で示す図である。
【０１６０】
クロストーク領域が「有」と判定されたメッシュには、フラグ"１"を立て、クロストーク領域が「無」と判定されたメッシュのフラグは"０"に設定する。このフラグは、変化量計算部３１５がクロストークの強度を算出する際に用いられる。
【０１６１】
変化量計算部３１５は、ＣＡＤデータに含まれる誘電率及び層間距離を用いて、図２１に示すテーブルから単位面積当たりの雑音量を選択するとともに、ＣＡＤデータに含まれる位置データと図２４に示す配線パターン同士の間隔の抽出結果とを用いて図２２に示すテーブルから補正係数を選択し、次式（４）を用いて単位面積毎のクロストークの強度を算出する。
【０１６２】
クロストークの強度＝単位面積当たりの雑音量×補正係数    （４）
【０１６３】
式（４）に基づいて変化量計算部３１５によって計算された単位面積毎のクロストークの強度は、実施の形態１における単位面積毎の特性インピーダンスと同様に、配線パターン６の始点から終点まで積分され、各配線パターン６のクロストークの強度が算出される。
【０１６４】
以後は、実施の形態１と同様に、モデル作成部３１６による配線モデルの作成が行われる。
【０１６５】
以上、実施の形態２のシミュレーション装置によれば、ＣＡＤデータを用いてクロストーク領域の面積を計算し、クロストークの強度を計算する。このため、重要度の高い信号等を伝送する配線パターン６を選択すれば、膨大な数の配線パターン６のうちの重要度の高い配線パターン６について、クロストークの強度が大きい配線パターン６を特定することができる。重要度の高い配線パターン６は、配線パターン６の属性（伝送される信号の種類（信号名））によって選ぶことができるので、すべての配線パターン６について計算を行う必要はなく、工程数を低減することができる。
【０１６６】
また、ＣＡＤデータを用いて微小なパターン抜け等も考慮に入れてクロストークの強度を計算することができるので、特に、高速信号を取り扱うプリント基板５の設計段階において、微小なパターン抜け等も考慮に入れて信号特性に与える影響の大きい配線を特定できる。
【０１６７】
なお、実施の形態２のシミュレーション装置を実施の形態１のシミュレーション装置と組み合わせてもよい。すなわち、特性インピーダンスの変化と、クロストークの影響との両方を考慮して、信号特性の変化量をシミュレーションするようにしてもよい。
【０１６８】
例えば、実施の形態１で得られる特性インピーダンスを用いてアイパターンを作成し、アイパターンに実施の形態２で得られるクロストークの強度を雑音として重畳してもよい。
【０１６９】
図２５は、アイパターンを示す図である。アイパターンは、信号波形の遷移を多数サンプリングして重ね合わせ、横軸が時間軸、縦軸が電圧軸で規定される座標にグラフィカルに表示したものである。
【０１７０】
波形が同じ位置(タイミング・電圧)で複数重ね合っていれば、品質の良い波形であり、逆に、波形の位置(タイミング・電圧)がずれている場合は、品質の悪い波形であり、ジッタが悪くなる。
【０１７１】
実施の形態１及び２のシミュレーション装置を組み合わせると、図２５に示すように、クロストークによって生じる雑音をアイパターンに重畳してディスプレイ１２の表示画面１２Ａに表示することができる。これにより、アイパターンに雑音を重畳させた状態でアイマスクの大きさを評価できるので、膨大な計算を必要とすることなく、ベタ抜け領域が近傍に存在する配線パターンの信号特性を設計者が評価することができる。なお、アイパターンの作成及び雑音の重畳は、ＣＰＵ２１の一機能としてのアイパターン処理部が行うようにすればよい。
【０１７２】
［実施の形態３］
図２６は、実施の形態３のシミュレーション装置の機能を示すブロック図である。
【０１７３】
実施の形態３のシミュレーション装置は、実施の形態２で作成したアイパターンを利用し、時間軸マージン又は電圧軸マージンの少ない配線パターン６を抽出する。この抽出処理は、アイパターン処理部３１９が行う。図２６に示す実施の形態３のシミュレーション装置の機能ブロックは、図２０に示す実施の形態２のシミュレーション装置の機能ブロックにアイパターン処理部３１９を追加した構成である。以下、アイパターン処理部３１９が実行する判定処理について説明する。なお、アイパターンについては図２５を援用する。
【０１７４】
ここで、時間軸マージンとは、アイパターン又は雑音と、アイマスクとの時間軸方向におけるマージンをいう。また、電圧軸マージンとは、アイパターン又は雑音と、アイマスクとの電圧軸方向におけるマージンをいう。最小の時間軸マージン及び最小の電圧軸マージンの算出手法は種々あるが、例えば、最小の時間軸マージンは、図２５に示す六角形のアイマスクの時間軸方向における両端の頂点と、アイパターン又は雑音との間のマージンのうち、小さい方をアイパターン処理部３１９が計算することによって求めることができる。また、最小の電圧軸マージンは、図２５に示す六角形のアイマスクの電圧軸方向における４つの頂点と、アイパターン又は雑音との間のマージンのうち、最小の電圧軸マージンをアイパターン処理部３１９が計算することによって求めることができる。
【０１７５】
図２７は、実施の形態３のシミュレーション装置における判定処理を表すフローチャートである。図２７に示す付加的な判定処理は、アイパターン処理部３１９によって実行される。
【０１７６】
シミュレーション装置は、アイパターンの結果、ベタ抜け領域８の面積の計算結果、配線パターン６の配線長、プリエンファシスのレベル、及びイコライザのレベルを用いて信号特性の劣化度合が高い配線パターン６を抽出する。
【０１７７】
なお、信号名等の属性で選択された配線パターン６についてのベタ抜け領域８の面積（始点から終点までの合計値）、配線長、プリエンファシスのレベル、及びイコライザのレベルを表すデータは、図２７に示す処理を行うに際して、配線パターン６の識別子とともに条件作成部２１２によってＨＤＤ２４内に格納されているものとする。
【０１７８】
アイパターン処理部３１９は、最初に計算を行う配線パターン６についてアイパターンを作成する（ステップＳ２０）。
【０１７９】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２０で作成したアイパターンを表すデータを、ベタ抜け領域８の面積、配線パターン６の配線長、プリエンファシスのレベル、及びイコライザのレベルを表すデータと関連付けて、配線パターン６の識別子とともにＨＤＤ２４内に格納する（ステップＳ２１）。
【０１８０】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２１の処理を終えると、次の配線パターン６についてのベタ抜け領域８の面積、配線パターン６の配線長、プリエンファシスのレベル、及びイコライザのレベルを表すデータを読み出す（ステップＳ２２）。
【０１８１】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２２で読み出したベタ抜け領域８の面積、配線パターン６の配線長、プリエンファシスのレベル、及びイコライザのレベルを表すデータのうちのプリエンファシス及びイコライザのレベルが、ステップＳ２０で最初に計算を行った配線パターン６のプリエンファシス及びイコライザのレベルと同一か否かを判定する（ステップＳ２３）。
【０１８２】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２３でＹｅｓと判定した場合には、ステップＳ２０で最初に計算を行った配線パターン６の配線長と、ステップＳ２２で読み出した配線パターン６の配線長の違いが±１０％以内であるか否かを判定する（ステップＳ２４）。
【０１８３】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２４でＹｅｓと判定した場合には、ステップＳ２０で最初に計算を行った配線パターン６についてのベタ抜け領域８の面積と、ステップＳ２２で読み出した配線パターン６についてのベタ抜け領域８の面積の違いが±１０％以内であるか否かを判定する（ステップＳ２５）。
【０１８４】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２５でＹｅｓと判定した場合は、アイパターンを作成せずにフローをステップＳ２２にリターンし、さらに次の配線パターン６についてのベタ抜け領域８の面積、配線パターン６の配線長、プリエンファシスのレベル、及びイコライザのレベルを表すデータを読み出す。ステップＳ２０で最初に計算を行った配線パターン６と、ステップＳ２２で読み出した配線パターン６とは近似しているため、アイパターンの作成処理は不要と考えられるからである。
【０１８５】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２３、Ｓ２４、又はステップＳ２５のいずれかでＮｏと判定した場合は、アイパターンの作成処理を実行し、作成したアイパターンを表すデータをＨＤＤ２４に格納する（ステップＳ２６）。ステップＳ２０で最初に計算を行った配線パターン６と、ステップＳ２２で読み出した配線パターン６とはベタ抜け領域８の面積や配線長等が近似しておらず、アイパターンの形状が異なる可能性が大きいため、アイパターンを作成することとしたものである。
【０１８６】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２６の処理が終了すると、ステップＳ２６でアイパターンを作成した配線パターン６が信号名等の属性情報で絞られた配線パターン６のうちの最終の配線パターン６であったか否かを判定する（ステップＳ２７）。すなわち、信号名等で絞られた配線パターン６の全てについての処理を行ったか否かを判定する。
【０１８７】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２７において、最終の配線パターン６ではないと判定した場合は、フローをステップＳ２１にリターンする。信号名等の属性情報で絞られた残りの配線パターン６についても判定を行うためである。
【０１８８】
一方、アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２７において、最終の配線パターン６であると判定した場合は、ステップＳ２０及びステップＳ２７でアイパターンを作成した配線パターン６のアイパターンのデータをＨＤＤ２４から読み出し、マージンが最小のものを抽出する（ステップＳ２８）。ここで、マージンとしては、上述した時間軸マージン又は電圧軸マージンのどちらを用いてもよく、両方を用いてもよい。
【０１８９】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ２８で抽出した配線パターン６をマージンが最小の配線パターン６の候補としてＨＤＤ２４に保存する（ステップＳ２９）。この処理は、具体的には、例えば、マージンが最小の配線パターン６を表すデータに、マージン最小候補の配線パターン６であることを示すフラグを立てることによって実現される。
【０１９０】
アイパターン処理部３１９は、判定対象として最初の配線パターン６を選択し、最初の配線パターン６についてのベタ抜け領域８の面積、配線パターン６の配線長、プリエンファシスのレベル、及びイコライザのレベルを表すデータを読み出す（ステップＳ３０）。
【０１９１】
アイパターン処理部３１９は、マージン最小候補の配線パターン６についてのプリエンファシスのレベル及びイコライザのレベルが判定対象の配線パターン６についてのプリエンファシスのレベル及びイコライザのレベルと同一であるか否かを判定する（ステップＳ３１）。
【０１９２】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ３１でＹｅｓと判定した場合には、マージン最小候補の配線パターン６についてのベタ抜け領域８の面積及び配線長と、判定対象の配線パターン６についてのベタ抜け領域８の面積及び配線長との違いが±１０％以内であるか否かを判定する（ステップＳ３２）。
【０１９３】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ３２でＹｅｓと判定した場合は、判定対象の配線パターン６についてアイパターンを作成する（ステップＳ３３）。
【０１９４】
アイパターン処理部３１９は、アイパターンの作成が終了すると、次の配線パターン６についてのベタ抜け領域８の面積、配線パターン６の配線長、プリエンファシスのレベル、及びイコライザのレベルを表すデータを読み出す（ステップＳ３４）。
【０１９５】
なお、ステップＳ３１又はＳ３２において、Ｎｏと判定した場合においても、アイパターン処理部３１９は、フローをステップＳ３４に進行させる。
【０１９６】
アイパターン処理部３１９は、最終の配線パターン６であるか否かを判定する（ステップＳ３５）。最終の配線パターン６でない場合は、アイパターン処理部３１９はフローをステップＳ３１にリターンする。
【０１９７】
なお、フローがステップＳ３５からステップＳ３１にリターンした場合は、上述のステップＳ３１〜Ｓ３３における判定対象の配線パターン６は、ステップＳ３４で読み出された配線パターン６となる。
【０１９８】
アイパターン処理部３１９は、ステップＳ３５で最終の配線パターン６であると判定した場合は、マージンが最小の配線パターン６を抽出する（ステップＳ３６）。これにより、マージンが最小の配線パターン６が確定する。
【０１９９】
アイパターン処理部３１９は、判定結果を出力する（ステップＳ３７）。アイパターン処理部３１９は、例えば、マージンが最小の配線パターン６の識別番号を図１に示すディスプレイ１２の表示画面１２Ａに表示する。
【０２００】
以上により、図２７に示す一連の処理が終了する。
【０２０１】
図２７に示す処理を行うことにより、実施の形態３のシミュレーション装置によれば、第一段階として配線パターン６の中からマージンが最小の候補を抽出し、第二段階として、マージン最小候補の配線パターン６と全ての配線パターン６のプリエンファシスとイコライザのレベル、ベタ抜け領域８の面積、及び配線長を比較することにより、すべての配線パターン６についてアイパターンを作成することなく、信号名等で選択された配線パターン６の中から、マージンが最小の配線パターン６を抽出することができる。
【０２０２】
マージンが最小の配線パターン６は、信号特性の劣化度合が大きい配線パターン６であるため、アイパターンを利用しつつ、少ない工程で信号特性の劣化度合が大きい配線パターン６を抽出することができる。
【０２０３】
なお、図２７に示す処理は、ベタ抜け領域８の面積の代わりに、特性インピーダンスのずれを表す値を用いて行ってもよい。
【０２０４】
［実施の形態４］
実施の形態４のシミュレーション装置は、インピーダンス計算部２１５が配線パターン６の始点から終点までに存在するベタ抜け領域８の面積によって配線モデルを作成する点が、インピーダンス計算部２１５が特性インピーダンスの具体的な値を求めて配線モデルを作成する実施の形態１と異なる。すなわち、実施の形態４では、信号特性の変化量を表す値としてベタ抜け領域８の面積を用いる。その他の構成は実施の形態１のシミュレーション装置と同一であるため、同一の構成要素には同一符号を用い、その説明を省略する。
【０２０５】
実施の形態４のインピーダンス計算部２１５は、面積計算部２１４によって計算されたベタ抜け領域８の面積を配線パターン６の始点から終点まで積分し、特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内で配線パターン６の始点と終点の間に存在するベタ抜け領域８の面積を求める。実施の形態４のインピーダンス計算部２１５は、図８に示す増加係数を乗算することなく、（２）式に示した区間内のベタ抜け領域８の面積を配線パターン６の始点から終点まで積分し、面積の積分値によって配線モデルを作成する。
【０２０６】
図２８は、実施の形態４のシミュレーション装置によって作成された配線モデルの一例を示す図である。図２８に示す配線モデルは、誘電体層５ｃの座標（Ｘ，Ｙ）＝（１０，２０）〜（５０，２０）にあるNo.4の配線パターン６をモデル化したものである。ベタ抜け領域の面積の値が同一の区間は、連続的な区間モデルとして表されており、ベタ抜け領域の面積の値が異なる点では、区間モデルが途切れている。
【０２０７】
このように、ベタ抜け領域８の面積によって配線モデルを作成しても、設計者は配線パターンにおける信号特性の変化量を評価することができ、効率よく配線設計を行うことができる。
【０２０８】
なお、実施の形態４では、実施の形態１における特性インピーダンスのずれを計算する代わりに、信号特性の劣化をもたらすベタ抜け領域の面積を求めることにより、配線モデルを作成する形態について説明した。
【０２０９】
しかしながら、このように信号特性の劣化をもたらす領域の面積を用いて配線モデルを作成することは、実施の形態２及び実施の形態３に適用することもできる。実施の形態２に適用する場合は、クロストーク領域の面積の計算結果に基づいて、配線モデルを作成すればよい。また、実施の形態３に適用する場合は、クロストーク面積の計算結果に基づいてアイパターンを作成すればよい。
【０２１０】
以上、本発明の例示的な実施の形態のシミュレーション装置、シミュレーション方法、シミュレーションプログラムについて説明したが、本発明は、具体的に開示された実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲から逸脱することなく、種々の変形や変更が可能である。
【符号の説明】
【０２１１】
１  携帯電話端末機
２  筐体
３  表示部
４  操作部
５  プリント基板
５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄ、５ｅ  誘電体層
６、６Ａ、６Ｂ、６Ｃ  配線パターン
７  ベタパターン
８（８Ａ、８Ｂ）  ベタ抜け領域
１０  コンピュータシステム
１１  本体部
１２  ディスプレイ
１３  キーボード
１４  マウス
１５  モデム
１６  記録媒体
１７  ディスク
２１  ＣＰＵ
２２  メモリ部
２３  ディスクドライブ
２０  バス
２４  ＨＤＤ
２１１、３１１  設計データ読出部
２１２、３１２  条件作成部
２１３  ベタ抜け領域検出部
２１４、３１４  面積計算部
２１５  インピーダンス計算部
２１６、３１６  モデル作成部
２１７、３１７  処理結果表示部
２１８、３１８  管理部２１８
３１３  クロストーク領域検出部
３１５  変化量計算部
【図１】
2011028401.tif 000003
【図２】
2011028401.tif 000004
【図５】
2011028401.tif 000005
【図６】
2011028401.tif 000006
【図７】
2011028401.tif 000007
【図８】
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【図９】
2011028401.tif 000009
【図１０】
2011028401.tif 000010
【図１１】
2011028401.tif 000011
【図１２】
2011028401.tif 000012
【図１３】
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【図１４】
2011028401.tif 000014
【図１５】
2011028401.tif 000015
【図１６】
2011028401.tif 000016
【図１７】
2011028401.tif 000017
【図１８】
2011028401.tif 000018
【図１９】
2011028401.tif 000019
【図２０】
2011028401.tif 000020
【図２１】
2011028401.tif 000021
【図２２】
2011028401.tif 000022
【図２３】
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【図２４】
2011028401.tif 000024
【図２５】
2011028401.tif 000025
【図２６】
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【図２７】
2011028401.tif 000027
【図２８】
2011028401.tif 000028
【図３】
2011028401.tif 000029
【図４】
2011028401.tif 000030