(57)【要約】【課題】シールドボックス内の被試験機機を試験・測定する装置において、不要な電磁波等の出入りをなくして、不要な電磁波等の影響をうけることなく、正確な試験・測定をおこなう。【解決手段】シールドボックス２２０外部には試験機２１５からの被試験機２０１を試験するための制御電気信号を光信号に変換する電気→光信号変換部１０６と、光信号を受ける発光素子１０５を有し、シールドボックスの壁面２０９には、発光素子１０５からの光信号を通過させるための穴１０４を有し、シールドボックス２２０の内部には発光素子１０５からの光信号をシールドボックスの壁の穴１０４を通して受けるための受光素子１０３を有し、受光素子１０３からの光信号を電気信号に変換する光→電気信号変換部１０２を有し、光→電気信号変換部１０２からの電気信号で被試験機機２０１を試験する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
シールドボックス内部の被試験機を試験・測定する装置において、シールドボックス外部には試験機からの被試験機を試験するための制御電気信号を光信号に変換する電気→光信号変換部と、前記光信号を受ける発光素子を有し、前記シールドボックスの壁には、前記発光素子からの光信号を通過させるための穴を有し、前記シールドボックスの内部には前記発光素子からの光信号を前記シールドボックスの壁の穴を通して受けるための受光素子を有し、前記受光素子からの光信号を電気信号に変換する光→電気信号変換部を有し、前記光→電気信号変換部からの電気信号で被試験機機を試験することを特徴とする試験・測定用シールドボックス。
【請求項２】
シールドボックス内部の被試験機を試験・測定する装置において、シールドボックス内部には被試験機からの試験結果の電気信号を光信号に変換する電気→光信号変換部と、前記光信号を受ける発光素子を有し、前記シールドボックスの壁には、前記発光素子からの光信号を通過させるための穴を有し、前記シールドボックスの外部には前記発光素子からの光信号を前記シールドボックスの壁の穴を通して受けるための受光素子を有し、受光素子からの光信号を電気信号に変換する光→電気信号変換部を有し、前記光→電気信号変換部からの電気信号で被試験機機の試験結果を取得することを特徴とする試験・測定用シールドボックス。
【請求項３】
請求項１と請求項２を有することを特徴とする試験・測定用シールドボックス。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シールドボックス内の被試験機と外部の試験機との間で制御信号のやり取りを行う試験・測定用シールドボックスに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来技術は、図2に示すような、シールドボックス２２０に入れた被試験機２01を試験機２15で試験する場合、試験機２15からの試験制御信号を制御部２１６、送信部２13、制御・データ電気信号線２05および被試験機２01の受信部２03を経由して制御部２０２に送られ、制御部202は被試験機２０１を制御して被試験機２０１を試験する。
【０００３】
被試験機２０１が制御されて試験された結果は制御部２02から送信部２04、制御・データ電気信号線２06および試験機２１５の受信部２14を経由して試験機２15の制御部２16に送られ、制御部216で処理することで、被試験機２01の試験がなされる。
【０００４】
図２に示す従来技術の場合、制御・データ電気信号線２05、２06を通して不要な電磁波がシールドボックス２２０内に入り込むため、被試験機２０１の動作が妨害され正確な測定ができないと言う問題がある。また、被試験機機２０１からの不要な電磁波が制御・データ電気信号線２05、２06を通してシールドボックス２２０の外部に漏れて試験機２15に悪影響を与える問題がある。
【０００５】
これらの不要な電磁波を防ぐために、制御・データ電気信号線２０５，２０６に、電磁波を遮断する効果を持つフィルターや貫通コンデンサー等をつけなければならず、コストアップになる。また、フィルターや貫通コンデンサーの場合、制御・データ電気信号周波数と電磁波の周波数の差が少ないと、不要な電磁波に対して充分な減衰が得られないと言う問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平９−１８００８５
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記のような従来例にあっては、シールドボックス220内およびこれに内接された被試験機２０１に不要な電磁波が入り込み、あるいは外部に漏洩して正確な試験・測定を行うことができないという課題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
シールドボックス内部の被試験機を試験・測定する装置において、シールドボックス外部には試験機からの被試験機を試験するための制御電気信号を光信号に変換する電気→光信号変換部と、前記光信号を受ける発光素子を有し、前記シールドボックスの壁には、前記発光素子からの光信号を通過させるための穴を有し、前記シールドボックスの内部には前記発光素子からの光信号を前記シールドボックスの壁の穴を通して受けるための受光素子を有し、前記受光素子からの光信号を電気信号に変換する光→電気信号変換部を有し、前記光→電気信号変換部からの電気信号で被試験機機を試験することを特徴とする。
【０００９】
シールドボックス内部の被試験機を試験・測定する装置において、シールドボックス内部には被試験機からの試験結果の電気信号を光信号に変換する電気→光信号変換部と、前記光信号を受ける発光素子を有し、前記シールドボックスの壁には、前記発光素子からの光信号を通過させるための穴を有し、前記シールドボックスの外部には前記発光素子からの光信号を前記シールドボックスの壁の穴を通して受けるための受光素子を有し、受光素子からの光信号を電気信号に変換する光→電気信号変換部を有し、前記光→電気信号変換部からの電気信号で被試験機機の試験結果を取得することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、シールドボックス内に制御・データ電気信号用の信号線を引き込まないため、不要な電磁波の出入りをなくし、不要な電磁波の影響を受けることがなく、正確な、試験・測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の系統図
【図２】本発明の構造図
【発明を実施するための形態】
【実施例】
【００１２】
図１は本発明の実施例を示す系統図である。図１に示すようにシールドボックス２２０がある。
【００１３】
シールドボックス２２０の内部には被試験機２０１があり、被試験機２０１の内部には送信部204、受信部２０３、制御部20２がある。また、シールドボックス２２０の内部には光→電気信号変換部１０２、電気→光信号変換部１０９、発光素子１１０、受光素子１０３がある。
【００１４】
シールドボックス２２０の外部には試験機２１５があり、試験機２１５の内部には送信部2１３、受信部２１４、制御部2１６がある。また、シールドボックス２２０の外部には発光素子１０５、受光素子１12、光→電気信号変換部１13、電気→光信号変換部１０６がある。
【００１５】
シールドボックス壁面２０９には発光素子１０５，１１０からの光信号が通過できるシールドボックスの穴１０４，１１１があり、発光素子１０５，１１０の光信号は受光素子１０３，１１２でこのシールドボックスの穴１０４を通して受け取ることができるようになっている。
【００１６】
次に被試験機２０１がどのようにして試験機２１５により試験されるかを説明する。試験機２１５は試験する情報を制御部２１６から送信部２１３に渡す。送信部２１３はこの情報を電気信号として制御・データ電気信号線１０７を介して電気→光信号変換部１０６に渡す。電気→光信号変換部１０６は電気信号を光信号に変換して発光素子１０５に渡す。
【００１７】
発光素子１０５はシールドボックスの穴１０４を通してシールドボックス２２０の内部の受光素子１０３に光信号を渡す。シールドボックス２２０の内部の受光素子１０３は光→電気信号変換部１０２にこの光信号を渡す。光→電気信号変換部１０２はこの光信号を電気信号に変換する。この電気信号を制御・データ電気信号線１０１を介して被試験機機２０１の受信部２０３に渡し、受信部２０３は被試験機２０１の制御部２０２に渡し被試験機機２０１の試験を実施する。
【００１８】
被試験機２０１の試験結果は被試験機機２０１の制御部２０２部で処理されて、被試験機２０１の送信部２０４に渡される。送信部２０４はこの情報を電気信号として制御・データ電気信号線１０８に渡される。この電気信号はシールドボックス２２０の内部の電気→光信号変換部１０９に渡され、電気→光信号変換部１０９で電気信号から光信号に変換され、発光素子１１０に渡される。
【００１９】
発光素子１１０はシールドボックスの穴１１１を通してシールドボックス２２０の外部の受光素子１１２に光信号を渡す。この受光素子１１２は光→電気信号変換部１１３にこの光信号を渡す。光→電気信号変換部１１３はこの光信号を電気信号に変換する。この電気信号を制御・データ電気信号線１１４を介して試験機２１５の受信部２１４に渡し試験機２１５の制御部２１６に渡し、制御部２１６で処理することにより被試験機機２０１の試験結果を得ることができる。
【００２０】
上記説明からも分るように、シールドボックス２２０の外部と内部とをつなぐのは発光素子と受光素子であり、電気的に不導体であるので不要な電磁波がシールドボックス２２０内に流入もしくは流出することがないので試験を妨げることがなく精度の良い試験をすることができる。
【符号の説明】
【００２１】
１０１、１０８、１０７、１１４，２０５、２０６  制御・データ電気信号線
１０２，１１３  光→電気信号変換部    
１０３、１１２  受光素子
１０４、１１１  シールドボックスの穴
１１０、１０５  発光素子
１０６、１０９  電気→光信号変換部
２０１  被試験機
２０２，２１６  制御部
２０３、２１４  受信部
２０４，２１３  送信部
２０８、２０９  ソケットまたは小穴
２０９  シールドボックス壁面
２１５  試験機
２２０  シールドボックス
【図１】
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【図２】
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