(57)【要約】【課題】記録ストラテジを適切に補正して記録品質を向上する。【解決手段】システムコントローラ７は、ＯＰＣ処理により求められる最適記録パワーにおいて試し書きしたデータの再生信号の変調度が閾値以上になるように、記録ストラテジに対して記録パルス列のデューティ比を変更する補正を行い、このデューティ比補正後の記録ストラテジを用いて試し書きしたデータの再生信号のジッタが閾値以下になるように、デューティ比補正後の記録ストラテジに対して、記録パルス列のエッジのタイミングを変更してエッジシフトを改善するように補正する。【選択図】図１
2011054240.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに登録された記録ストラテジに従って複数の記録パワーにて前記光ディスクに試し書きを行い、試し書きしたデータを再生した再生信号から前記光ディスクの本記録に最適な記録パワーである最適記録パワーを算出する最適記録パワー算出手段と、
前記光ディスクに試し書きしたデータを再生した再生信号の変調度を算出する変調度算出手段と、
前記記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正するデューティ比補正手段と、
前記最適記録パワー算出手段で算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が前記変調度閾値以上になるまで、前記デューティ比補正手段により前記記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記デューティ比を変更した補正後の前記記録ストラテジに従って前記最適記録パワー算出手段により最適記録パワーを算出する処理を繰り返すように制御するデューティ比補正制御手段と、
前記最適記録パワー算出手段で算出した、試し書きしたデータの再生信号の変調度が前記変調度閾値以上である最適記録パワーで、前記最適記録パワーの算出に前記最適記録パワー算出手段で用いた記録ストラテジに従って前記光ディスクに試し書きを行う試し書き手段と、
前記試し書き手段により試し書きされたデータの再生信号から、前記光ディスクに記録されている各記録マークのエッジシフト量を測定するエッジシフト量測定手段と、
前記試し書き手段により試し書きされたデータの再生信号のジッタを測定するジッタ測定手段と、
前記エッジシフト量を小さくすべく前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正するパルスエッジタイミング補正手段と、
前記ジッタ測定手段で測定されたジッタが所定のジッタ閾値より大きい場合に、前記ジッタ測定手段で測定されるジッタが前記ジッタ閾値以下になるまで、前記パルスエッジタイミング補正手段により前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更した補正後の前記記録ストラテジに従って前記試し書き手段により試し書きを行う処理を繰り返すように制御するパルスエッジタイミング補正制御手段と、
前記試し書き手段で試し書きしたデータの再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下である記録ストラテジを、本光ディスク記録再生装置が前記光ディスクに対して用いる記録ストラテジとして決定し、この記録ストラテジを前記光ディスクに書き込む記録ストラテジ決定手段と
を備えることを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項２】
光ディスクに登録された記録ストラテジに従って複数の記録パワーにて前記光ディスクに試し書きを行い、試し書きしたデータを再生した再生信号から前記光ディスクの本記録に最適な記録パワーである最適記録パワーを算出する最適記録パワー算出手段と、
前記光ディスクに試し書きしたデータを再生した再生信号の変調度を算出する変調度算出手段と、
前記最適記録パワー算出手段で算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、最適記録パワーを変更する最適記録パワー変更手段と、
前記最適記録パワー算出手段で算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、前記記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正するデューティ比補正手段と、
前記最適記録パワー変更手段で変更後の最適記録パワーで、前記デューティ比補正手段による補正後の記録ストラテジに従って前記光ディスクに試し書きを行う試し書き手段と、
前記試し書き手段により試し書きされたデータの再生信号から、前記光ディスクに記録されている各記録マークのエッジシフト量を測定するエッジシフト量測定手段と、
前記試し書き手段により試し書きされたデータの再生信号のジッタを測定するジッタ測定手段と、
前記エッジシフト量を小さくすべく前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正するパルスエッジタイミング補正手段と、
前記ジッタ測定手段で測定されたジッタが所定のジッタ閾値より大きい場合に、前記ジッタ測定手段で測定されるジッタが前記ジッタ閾値以下になるまで、前記パルスエッジタイミング補正手段により前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更した補正後の前記記録ストラテジに従って前記試し書き手段により試し書きを行う処理を繰り返すように制御するパルスエッジタイミング補正制御手段と、
前記試し書き手段で試し書きしたデータの再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下である記録ストラテジを、本光ディスク記録再生装置が前記光ディスクに対して用いる記録ストラテジとして決定し、この記録ストラテジを前記光ディスクに書き込む記録ストラテジ決定手段と
を備えることを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項３】
光ディスクに登録された記録ストラテジに従って複数の記録パワーにて前記光ディスクに試し書きを行い、試し書きしたデータを再生した再生信号から前記光ディスクの本記録に最適な記録パワーである最適記録パワーを算出する最適記録パワー算出ステップと、
前記最適記録パワー算出ステップで算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が前記変調度閾値以上になるまで、前記記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記デューティ比を変更した補正後の前記記録ストラテジを用いて最適記録パワーを算出する処理を繰り返すデューティ比補正ステップと、
前記最適記録パワー算出ステップまたは前記デューティ比補正ステップで算出した、試し書きしたデータの再生信号の変調度が前記変調度閾値以上である最適記録パワーで、前記最適記録パワーの算出に用いた記録ストラテジに従って前記光ディスクに試し書きを行う試し書きステップと、
前記試し書きステップにより試し書きされたデータの再生信号から、前記光ディスクに記録されている各記録マークのエッジシフト量および再生信号のジッタを測定する測定ステップと、
前記測定ステップで測定されたジッタが所定のジッタ閾値より大きい場合に、試し書きしたデータの再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下になるまで、前記エッジシフト量を小さくすべく前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更した補正後の前記記録ストラテジに従って試し書きを行う処理を繰り返すパルスエッジタイミング補正ステップと、
前記試し試し書きステップまたは前記パルスエッジタイミング補正ステップで試し書きに用いた、再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下となる記録ストラテジを、光ディスク記録再生装置が前記光ディスクに対して用いる記録ストラテジとして決定して前記光ディスクに書き込む決定ステップと
を含むことを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項４】
光ディスクに登録された記録ストラテジに従って複数の記録パワーにて前記光ディスクに試し書きを行い、試し書きしたデータを再生した再生信号から前記光ディスクの本記録に最適な記録パワーである最適記録パワーを算出する最適記録パワー算出ステップと、
前記最適記録パワー算出ステップで算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、最適記録パワーを変更する最適記録パワー変更ステップと、
前記最適記録パワー算出ステップで算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、前記記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正するデューティ比補正ステップと、
前記最適記録パワー変更ステップで変更後の最適記録パワーで、前記デューティ比補正ステップによる補正後の記録ストラテジに従って前記光ディスクに試し書きを行う試し書きステップと、
前記試し書きステップにより試し書きされたデータの再生信号から、前記光ディスクに記録されている各記録マークのエッジシフト量および再生信号のジッタを測定する測定ステップと、
前記測定ステップで測定されたジッタが所定のジッタ閾値より大きい場合に、試し書きしたデータの再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下になるまで、前記エッジシフト量を小さくすべく前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更した補正後の前記記録ストラテジに従って試し書きを行う処理を繰り返すパルスエッジタイミング補正ステップと、
前記試し試し書きステップまたは前記パルスエッジタイミング補正ステップで試し書きに用いた、再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下となる記録ストラテジを、光ディスク記録再生装置が前記光ディスクに対して用いる記録ストラテジとして決定して前記光ディスクに書き込む決定ステップと
を含むことを特徴とする光ディスク記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録を行う光ディスク記録再生装置および光ディスク記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、光ディスク記録再生装置においては、ＢＤ−Ｒ（Blu-ray Disc Recordable），ＢＤ−ＲＥ（Blu-ray Disc Rewritable），ＤＶＤ−Ｒ（Digital Versatile Disk Recordable）等の記録可能な光ディスクに対する記録動作に先立ってＯＰＣ（Optimum Power Control）処理を行い、所定の記録ストラテジにおける最適記録パワーの記録パルスを発生できるようにしている。記録ストラテジとは、記録パルスに対する制御規則のことを指す。
【０００３】
通常、記録ストラテジは、光ディスクのＩＤ別に予め光ディスク記録再生装置に登録されている。光ディスク記録再生装置は、記録対象の光ディスクに対応した記録ストラテジを、登録済みの記録ストラテジから読み出して採用する。
【０００４】
光ディスク記録再生装置に登録されていない光ディスクである未知ディスク（Unknown disc）に記録を行う場合は、光ディスク記録再生装置は、光ディスク（未知ディスク）からディスク情報（Disc Information）を読み出して、このディスク情報に含まれる記録ストラテジを採用する。
【０００５】
しかし、ディスク情報に含まれる記録ストラテジは、光ディスクの規格書で規定された記録条件で記録する場合に対応したものであり、一般に、光ディスク記録再生装置の記録条件とは差がある。このような記録条件の差異等に起因して、記録ストラテジの最適記録パルスエッジ位置がばらつくことがある。記録パルスのパルスエッジ位置が適切でない場合には、光ディスク上に記録される記録マークのマーク長やエッジ位置などが適正範囲から外れ、再生時にジッタ特性など情報の再生品質を劣化させることになる。このため、未知ディスクから読み出した記録ストラテジを補正する必要が生じることがある。
【０００６】
記録ストラテジを補正する技術として、例えば、特許文献１〜３に記載されたものがある。
【０００７】
特許文献１の技術では、まず、記録対象の光ディスク（未知ディスク）からディスク情報を読み出し、ディスク情報に含まれる記録ストラテジを用いてＯＰＣ処理を実行して最適記録パワーを求める。次いで、求めた最適記録パワーで、ディスク情報に含まれる記録ストラテジを用いて試し書きして、試し書きしたデータを再生した再生信号に基づいて、記録マークのエッジシフト量と、再生信号のジッタとを測定する。
【０００８】
そして、ジッタが所定の閾値を超えていれば、エッジシフトを改善するように記録ストラテジを補正し、補正後の記録ストラテジを用いて最適記録パワーで試し書きし、上記エッジシフト量とジッタとを測定する。再生信号のジッタが閾値以下になるまで、エッジシフトを改善するための記録ストラテジの補正と試し書きとを繰り返し、ジッタが閾値以下となる記録ストラテジを、記録対象の光ディスクに用いる記録ストラテジとして決定する。
【０００９】
また、特許文献２には、設定された記録ストラテジに基づき形成された記録マークのエッジシフト量を測定して、 記録パルスのエッジ補正量に対する記録マークのエッジシフト量の感度を算出して、好適な記録ストラテジを算出する技術が開示されている。
【００１０】
また、特許文献３には、試し書きされた信号の再生信号の非対称性を示すパラメータであるβ値から最適な記録パルス幅を算出して、好適な記録ストラテジを算出する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２００８−１０３０１７号公報
【特許文献２】特開２００７−２２６９１６号公報
【特許文献３】特開２００５−１４９６１０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
ＯＰＣ処理で求めた最適記録パワーにより記録したデータの再生信号の変調度が小さい場合、記録マークのエッジ位置が適正であっても、再生信号のジッタが大きくなる。したがって、このような場合、上記特許文献１〜３のような技術で記録ストラテジを補正してエッジシフトを改善しても、再生信号のジッタ特性を向上できず、記録品質を十分に向上することができなかった。
【００１３】
本発明は上記に鑑みてなされたもので、記録ストラテジを適切に補正して記録品質を向上することができる光ディスク記録再生装置および光ディスク記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の一態様によれば、光ディスクに登録された記録ストラテジに従って複数の記録パワーにて前記光ディスクに試し書きを行い、試し書きしたデータを再生した再生信号から前記光ディスクの本記録に最適な記録パワーである最適記録パワーを算出する最適記録パワー算出手段と、前記光ディスクに試し書きしたデータを再生した再生信号の変調度を算出する変調度算出手段と、前記記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正するデューティ比補正手段と、前記最適記録パワー算出手段で算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が前記変調度閾値以上になるまで、前記デューティ比補正手段により前記記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記デューティ比を変更した補正後の前記記録ストラテジに従って前記最適記録パワー算出手段により最適記録パワーを算出する処理を繰り返すように制御するデューティ比補正制御手段と、前記最適記録パワー算出手段で算出した、試し書きしたデータの再生信号の変調度が前記変調度閾値以上である最適記録パワーで、前記最適記録パワーの算出に前記最適記録パワー算出手段で用いた記録ストラテジに従って前記光ディスクに試し書きを行う試し書き手段と、前記試し書き手段により試し書きされたデータの再生信号から、前記光ディスクに記録されている各記録マークのエッジシフト量を測定するエッジシフト量測定手段と、前記試し書き手段により試し書きされたデータの再生信号のジッタを測定するジッタ測定手段と、前記エッジシフト量を小さくすべく前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正するパルスエッジタイミング補正手段と、前記ジッタ測定手段で測定されたジッタが所定のジッタ閾値より大きい場合に、前記ジッタ測定手段で測定されるジッタが前記ジッタ閾値以下になるまで、前記パルスエッジタイミング補正手段により前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更した補正後の前記記録ストラテジに従って前記試し書き手段により試し書きを行う処理を繰り返すように制御するパルスエッジタイミング補正制御手段と、前記試し書き手段で試し書きしたデータの再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下である記録ストラテジを、本光ディスク記録再生装置が前記光ディスクに対して用いる記録ストラテジとして決定し、この記録ストラテジを前記光ディスクに書き込む記録ストラテジ決定手段とを備えることを特徴とする光ディスク記録再生装置が提供される。
【００１５】
本発明の他の態様によれば、光ディスクに登録された記録ストラテジに従って複数の記録パワーにて前記光ディスクに試し書きを行い、試し書きしたデータを再生した再生信号から前記光ディスクの本記録に最適な記録パワーである最適記録パワーを算出する最適記録パワー算出手段と、前記光ディスクに試し書きしたデータを再生した再生信号の変調度を算出する変調度算出手段と、前記最適記録パワー算出手段で算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、最適記録パワーを変更する最適記録パワー変更手段と、前記最適記録パワー算出手段で算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、前記記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正するデューティ比補正手段と、前記最適記録パワー変更手段で変更後の最適記録パワーで、前記デューティ比補正手段による補正後の記録ストラテジに従って前記光ディスクに試し書きを行う試し書き手段と、前記試し書き手段により試し書きされたデータの再生信号から、前記光ディスクに記録されている各記録マークのエッジシフト量を測定するエッジシフト量測定手段と、前記試し書き手段により試し書きされたデータの再生信号のジッタを測定するジッタ測定手段と、前記エッジシフト量を小さくすべく前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正するパルスエッジタイミング補正手段と、前記ジッタ測定手段で測定されたジッタが所定のジッタ閾値より大きい場合に、前記ジッタ測定手段で測定されるジッタが前記ジッタ閾値以下になるまで、前記パルスエッジタイミング補正手段により前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更した補正後の前記記録ストラテジに従って前記試し書き手段により試し書きを行う処理を繰り返すように制御するパルスエッジタイミング補正制御手段と、前記試し書き手段で試し書きしたデータの再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下である記録ストラテジを、本光ディスク記録再生装置が前記光ディスクに対して用いる記録ストラテジとして決定し、この記録ストラテジを前記光ディスクに書き込む記録ストラテジ決定手段とを備えることを特徴とする光ディスク記録再生装置が提供される。
【００１６】
本発明の他の態様によれば、光ディスクに登録された記録ストラテジに従って複数の記録パワーにて前記光ディスクに試し書きを行い、試し書きしたデータを再生した再生信号から前記光ディスクの本記録に最適な記録パワーである最適記録パワーを算出する最適記録パワー算出ステップと、前記最適記録パワー算出ステップで算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が前記変調度閾値以上になるまで、前記記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記デューティ比を変更した補正後の前記記録ストラテジを用いて最適記録パワーを算出する処理を繰り返すデューティ比補正ステップと、前記最適記録パワー算出ステップまたは前記デューティ比補正ステップで算出した、試し書きしたデータの再生信号の変調度が前記変調度閾値以上である最適記録パワーで、前記最適記録パワーの算出に用いた記録ストラテジに従って前記光ディスクに試し書きを行う試し書きステップと、前記試し書きステップにより試し書きされたデータの再生信号から、前記光ディスクに記録されている各記録マークのエッジシフト量および再生信号のジッタを測定する測定ステップと、前記測定ステップで測定されたジッタが所定のジッタ閾値より大きい場合に、試し書きしたデータの再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下になるまで、前記エッジシフト量を小さくすべく前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更した補正後の前記記録ストラテジに従って試し書きを行う処理を繰り返すパルスエッジタイミング補正ステップと、前記試し試し書きステップまたは前記パルスエッジタイミング補正ステップで試し書きに用いた、再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下となる記録ストラテジを、光ディスク記録再生装置が前記光ディスクに対して用いる記録ストラテジとして決定して前記光ディスクに書き込む決定ステップとを含むことを特徴とする光ディスク記録方法が提供される。
【００１７】
本発明の他の態様によれば、光ディスクに登録された記録ストラテジに従って複数の記録パワーにて前記光ディスクに試し書きを行い、試し書きしたデータを再生した再生信号から前記光ディスクの本記録に最適な記録パワーである最適記録パワーを算出する最適記録パワー算出ステップと、前記最適記録パワー算出ステップで算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、最適記録パワーを変更する最適記録パワー変更ステップと、前記最適記録パワー算出ステップで算出した最適記録パワーに対応する再生信号の変調度が所定の変調度閾値より小さい場合に、前記記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように前記記録ストラテジを補正するデューティ比補正ステップと、前記最適記録パワー変更ステップで変更後の最適記録パワーで、前記デューティ比補正ステップによる補正後の記録ストラテジに従って前記光ディスクに試し書きを行う試し書きステップと、前記試し書きステップにより試し書きされたデータの再生信号から、前記光ディスクに記録されている各記録マークのエッジシフト量および再生信号のジッタを測定する測定ステップと、前記測定ステップで測定されたジッタが所定のジッタ閾値より大きい場合に、試し書きしたデータの再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下になるまで、前記エッジシフト量を小さくすべく前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように前記記録ストラテジを補正した後、前記記録パルス列のエッジのタイミングを変更した補正後の前記記録ストラテジに従って試し書きを行う処理を繰り返すパルスエッジタイミング補正ステップと、前記試し試し書きステップまたは前記パルスエッジタイミング補正ステップで試し書きに用いた、再生信号のジッタが前記ジッタ閾値以下となる記録ストラテジを、光ディスク記録再生装置が前記光ディスクに対して用いる記録ストラテジとして決定して前記光ディスクに書き込む決定ステップとを含むことを特徴とする光ディスク記録方法が提供される。
【発明の効果】
【００１８】
本発明の光ディスク記録再生装置および光ディスク記録方法によれば、記録ストラテジを適切に補正して記録品質を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す光ディスク記録再生装置の記録状態検出部の構成を示すブロック図である。
【図３】直流分がカットされた再生信号の一例を示す波形図である。
【図４】記録ストラテジに従って構成されるレーザ光の記録パルス列の一例を示す図である。
【図５】図１に示す光ディスク記録再生装置においてエッジシフト量を測定可能な記録マークのマーク長とスペース長との組み合せを示す図である。
【図６】図１に示す光ディスク記録再生装置で記録ストラテジの補正を行う動作を示すフローチャートである。
【図７】ＯＰＣ処理に用いるレーザ光の記録ピークパワーの段階的な変化を示す図である。
【図８】記録ピークパワーに対する再生信号の変調度およびβ値の特性の一例を示す図である。
【図９】記録ストラテジのデューティ比補正の方法を示す図である。
【図１０】ＨＴＬタイプのＢＤ−Ｒにおいて、記録ストラテジに対してデューティ比を変更する補正を行っていない場合の記録特性を示す図である。
【図１１】ＨＴＬタイプのＢＤ−Ｒにおいて、記録ストラテジに対してデューティ比を変更する補正を行った場合の記録特性を示す図である。
【図１２】ＬＴＨタイプのＢＤ−Ｒにおいて、記録ストラテジに対してデューティ比を変更する補正を行っていない場合の記録特性を示す図である。
【図１３】ＬＴＨタイプのＢＤ−Ｒにおいて、記録ストラテジに対してデューティ比を変更する補正を行った場合の記録特性を示す図である。
【図１４】記録ストラテジの補正を行っていない場合のエッジシフト量の測定結果の一例を示す図である。
【図１５】記録ストラテジに対してデューティ比を変更する補正を行った場合のエッジシフト量の測定結果の一例を示す図である。
【図１６】記録ストラテジに対してデューティ比を変更する補正を行った後、エッジシフトを改善する補正を行った場合のエッジシフト量の測定結果の一例を示す図である。
【図１７】再生信号のジッタ特性の一例を示す図である。
【図１８】ＨＴＬタイプのＢＤ−Ｒにおけるβ値と変調度との相関特性の一例を示す図である。
【図１９】ＬＴＨタイプのＢＤ−Ｒにおけるβ値と変調度との相関特性の一例を示す図である。
【図２０】ＨＴＬタイプのＢＤ−Ｒにおける記録マークの記録開始タイミングの補正量とβ値との相関特性の一例を示す図である。
【図２１】ＬＴＨタイプのＢＤ−Ｒにおける記録マークの記録開始タイミングの補正量とβ値との相関特性の一例を示す図である。
【図２２】本発明の実施の形態の変形例に係る光ディスク記録再生装置で記録ストラテジの補正を行う動作を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００２１】
図１は、本発明の実施の形態に係る光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。図１に示すように、本実施の形態に係る光ディスク記録再生装置１は、光ピックアップ２と、記録再生部３と、ＦＥＰ（フロントエンドプロセッサ）４と、記録状態検出部５と、再生信号処理部６と、システムコントローラ７と、プログラムメモリ８と、データメモリ９と、内部バス１０と、ＩＦ（インターフェイス）部１１とを備える。
【００２２】
光ピックアップ２は、光源であるレーザダイオード（図示せず）からのレーザ光を光ディスク２０に照射して情報の記録を行い、また、再生時には光ディスク２０からの反射光を受光して電気信号に変換して出力する。光ディスク２０は、記録可能な光ディスクであり、例えばＢＤ−Ｒである。
【００２３】
記録再生部３は、記録時において、記録データと記録ストラテジとに基づいて、光ピックアップ２の光源を駆動する記録パルス列を生成し、これを光ピックアップ２の光源駆動回路（図示せず）に供給する。再生時には、記録再生部３は、光ピックアップ２から再生用のレーザ光を射出させる。
【００２４】
ＦＥＰ４は、光ピックアップ２から供給される電気信号に基づいて、光ディスク２０に記録された情報を読み取った再生信号（再生ＲＦ信号）、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号等を生成する。
【００２５】
記録状態検出部５は、光ディスク２０に試し書きにより記録されたデータを再生して得られる再生信号の変調度や、再生信号の非対称性の程度を示すβ値を算出するために必要なデータを検出する。
【００２６】
図２は、記録状態検出部５の構成を示すブロック図である。図２に示すように、記録状態検出部５は、ＨＰＦ（ハイパスフィルタ）５１と、ピークレベル検出部５２と、ボトムレベル検出部５３と、ピークレベル検出部５４とを備える。
【００２７】
ハイパスフィルタ５１は、光ピックアップ２から入力される再生信号の直流分をカットする。直流分がカットされた再生信号の一例を図３に示す。この信号は、ピークレベル検出部５２およびボトムレベル検出部５３に入力される。
【００２８】
ピークレベル検出部５２は、ハイパスフィルタ５１により直流分がカットされた再生信号の＋側のピークをアナログ処理により検出する。ピークレベル検出部５２の出力をＡ１とする。
【００２９】
ボトムレベル検出部５３は、ハイパスフィルタ５１により直流分がカットされた再生信号の−側のピークをアナログ処理により検出する。ボトムレベル検出部５３の出力をＡ２とする。
【００３０】
ピークレベル検出部５４は、光ピックアップ２から入力される再生信号の＋側のピークをアナログ処理により検出する。ピークレベル検出部５４の出力をＡ３とする。記録状態検出部５で検出されたＡ１〜Ａ３のデータは、再生信号処理部６に送られる。
【００３１】
再生信号処理部６は、記録状態検出部５で検出されたＡ１〜Ａ３から、再生信号の変調度およびβ値を算出する。変調度ｍは、以下の（数式１）により求められ、β値は、以下の（数式２）により求められる。
【００３２】
ｍ＝（Ａ１−Ａ２）／Ａ３            …（数式１）
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）  …（数式２）
また、再生信号処理部６は、再生信号を２値化した信号と、再生信号からＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路（図示せず）によって生成されるＰＬＬクロックとの間の位相差とから、光ディスク２０に記録された記録マークのエッジシフト量、および再生信号のジッタを測定する。
【００３３】
システムコントローラ７は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を有し、制御プログラムに応じた処理を行うことによって、光ディスク記録再生装置１全体の動作を制御する。
【００３４】
プログラムメモリ８は、システムコントローラ７の制御プログラムを格納する。データメモリ９は、光ディスク２０へ記録するデータ、光ディスク２０から再生したデータ等を一時的に保持する。
【００３５】
内部バス１０は、光ディスク記録再生装置１全体の情報伝達を行う経路である。ＩＦ部１１は、上位装置３０と内部バス１０とのインターフェイスを行う。
【００３６】
上位装置３０は、例えば、パーソナルコンピュータであり、光ディスク記録再生装置１に光ディスク２０に対する記録または再生を命令する。上位装置３０と光ディスク記録再生装置１とは同一筐体に収められていてもよい。このような形態は、例えば、ＢＤレコーダにおいて採用されている。
【００３７】
光ディスク２０への記録は、光ピックアップ２から射出するレーザ光をパルス列の発光波形として行う。記録ストラテジに従って構成されるレーザ光の記録パルス列の一例を図４に示す。図４（ｃ）に示すようなレーザ光の記録パルス列は、図４（ａ）に示すようなクロックを基準に、例えば、図４（ｂ）に示すような記録データのデータパターン（２Ｔマーク、３Ｔスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース、５Ｔマーク）により変調されたパルス列となる。なお、Ｔはクロックの周期である。
【００３８】
図４（ｃ）において、Ｐｗは記録ピークパワーとしてのレベル、Ｐｍは中間パワーとしてのレベル、Ｐｓはスペースパワーとしてのレベル、Ｐｃはクーリングパワーとしてのレベルである。
【００３９】
記録ストラテジは、図４（ｃ）のような、記録マークの長さ（マーク長）に応じた記録パルス列を構成するためのパラメータを有している。このパラメータとしては、各記録マークの記録開始タイミング時間（先頭パルスの開始タイミング時間）を示すＴｓｔｐ、クーリングパルスの開始タイミング時間を示すＴｓｃｐ、クーリングパルスの終了タイミング時間を示すＴｅｃｐ、中間パワーのパルスの開始タイミング時間を示すパラメータ等が含まれる。このようなパラメータは、各マーク長（２Ｔ，３Ｔ，…）および各記録マークの両端のスペース長（記録マーク間の時間長）に応じて設定されている。
【００４０】
データパターンのハイレベル期間には、レベルＰｗ，Ｐｍの記録パワーと、レベルＰｃのクーリングパワーとの組み合せでレーザ光が出力されることによる加熱→冷却の急冷条件により、光ディスク２０の記録層に図４（ｄ）に示すような記録マークが形成される。なお、図４において、２Ｍ，３Ｍ，５Ｍはそれぞれ、マーク長が２Ｔ，３Ｔ，５Ｔの記録マークを示し、２Ｓ，３Ｓはそれぞれ、スペース長が２Ｔ，３Ｔのスペースを示す。
【００４１】
ここで、光ディスク記録再生装置１においてエッジシフト量を測定可能な記録マークのマーク長とスペース長との組み合せについて、図５を参照して説明する。図５（ａ）は、記録ストラテジに応じた記録パルス列の一例、図５（ｂ）は、光ディスク２０上に記録される記録マーク、図５（ｃ）は、エッジシフト量を測定可能なマーク長とスペース長との組み合せを示す表である。エッジシフト量とは、記録マークのエッジがクロックの基準位置からずれる量のことである。
【００４２】
光ディスクでは、記録に用いられるマーク長およびスペース長が決められており、例えばＢＤ−Ｒでは、マーク長およびスペース長は、２Ｔ〜９Ｔとされている。 図５では、この場合の組み合せを示している。
【００４３】
図５（ａ）において、横軸はパルスタイミングを示す時間軸であり、縦軸は記録パワーレベルを示す。図５（ｂ）において、図示左側を前、図示右側を後とする。また、図５（ｃ）において、「≧５Ｍ」はマーク長が５Ｔ以上（５Ｔ〜９Ｔ）の記録マークを示し、「≧５Ｓ」はスペース長が５Ｔ以上（５Ｔ〜９Ｔ）のスペースを示す。
【００４４】
光ディスク記録再生装置１では、再生信号処理部６により、記録マーク２Ｍ，３Ｍ，４Ｍ，５Ｍ以上のそれぞれの前側のエッジ（始端）と後側のエッジ（終端）に対して、スペース２Ｓ，３Ｓ，４Ｓ，５Ｓ以上のそれぞれとの間でのエッジシフト量が測定される。
【００４５】
例えば、記録マーク２Ｍの前側のエッジにおいては、記録マーク２Ｍの前方のスペースが２Ｓ，３Ｓ，４Ｓ，５Ｓ以上の４種類の場合のそれぞれに対してエッジシフト量の測定が可能であり、記録マーク２Ｍの後側のエッジにおいても、記録マーク２Ｍの後方のスペースが２Ｓ，３Ｓ，４Ｓ，５Ｓ以上の４種類の場合のそれぞれに対してエッジシフト量の測定が可能である。
【００４６】
図５（ｃ）に示す表において、２Ｓ２Ｍは、記録マーク２Ｍの前方のスペース２Ｓと記録マーク２Ｍの前側のエッジとの組み合せ、３Ｓ２Ｍは、記録マーク２Ｍの前方のスペース３Ｓと記録マーク２Ｍの前側のエッジとの組み合せ、４Ｓ２Ｍは、記録マーク２Ｍの前方のスペース４Ｓと記録マーク２Ｍの前側のエッジとの組み合せ、５Ｓ２Ｍは、記録マーク２Ｍの前方のスペース５Ｓ以上と記録マーク２Ｍの前側のエッジとの間の組み合せ、２Ｍ２Ｓは、記録マーク２Ｍの後側のエッジと記録マーク２Ｍの後方のスペース２Ｓとの組み合せ、２Ｍ３Ｓは、記録マーク２Ｍの後側のエッジと記録マーク２Ｍの後方のスペース３Ｓとの組み合せ、２Ｍ４Ｓは、記録マーク２Ｍの後側のエッジと記録マーク２Ｍの後方のスペース４Ｓとの組み合せ、２Ｍ５Ｓは、記録マーク２Ｍの後側のエッジと記録マーク２Ｍの後方のスペース５Ｓ以上との組み合せをそれぞれ示す。記録マーク３Ｍ，４Ｍ，５Ｍ以上についても同様である。すなわち、光ディスク記録再生装置１の再生信号処理部６では、ＢＤ系の光ディスクに対して情報を記録する場合は、図５（ｃ）の表中の合計３２通りの組み合せにつき、記録マークのエッジシフト量の測定を行う。 
次に、光ディスク記録再生装置１で記録ストラテジの補正を行う際の動作について、図６に示すフローチャートを参照して説明する。
【００４７】
光ディスク記録再生装置１は、未知ディスクである光ディスク２０が装填されたときや、上位装置３０から指示されたとき等に、記録ストラテジの補正を行う。なお、ここでは、光ディスク２０がＢＤ−Ｒであり、ＯＰＣ処理において、β値が予め設定された目標β値と一致する記録パワーを最適記録パワーとして決定するβ法を用いるものとする。
【００４８】
まず、ステップＳ１０において、システムコントローラ７は、記録再生部３および光ピックアップ２により光ディスク２０を再生させ、ＦＥＰ４で得られた再生信号から光ディスク２０のディスク情報に含まれる記録ストラテジと目標β値とを読み取る。読み取られた記録ストラテジおよび目標β値は、データメモリ９に記憶される。
【００４９】
次いで、ステップＳ２０において、システムコントローラ７は、ＯＰＣ処理を実行し、最適記録パワーＰｏと変調度ｍとを算出する。
【００５０】
ＯＰＣ処理においては、システムコントローラ７は、テスト用記録データと、ステップＳ１０で読み取った記録ストラテジとに基づいて、記録再生部３にテスト用の記録パルス列を生成させ、これに基づいて光ピックアップ２からレーザ光を射出させ、光ディスク２０の試し書き領域に試し書きさせる。ＯＰＣ処理で用いられるテスト用記録データは、図５（ｃ）に示した合計３２通りの組み合せをすべて含むようなランダムパターンのデータである。
【００５１】
ＯＰＣ処理における試し書きは、記録ピークパワーＰｗを図７に示すように段階的に変化させ、この各パワーにおいてそれぞれ行われる。図７に示すように、記録ピークパワーＰｗを振る範囲をＯＰＣレンジと呼ぶ。ＯＰＣレンジは、記録ピークパワーＰｗを振る範囲の基準となる中心パワーに対して、例えば＋２５％、−２５％の範囲とし、図７では、その範囲内で記録ピークパワーＰｗを１６段階で振る例を示している。
【００５２】
試し書き後、システムコントローラ７は、記録再生部３および光ピックアップ２により、試し書きした領域を再生させ、ＦＥＰ４で得られる再生信号から、前述のデータＡ１〜Ａ３を記録状態検出部５に検出させる。
【００５３】
そして、システムコントローラ７は、記録状態検出部５で検出したデータＡ１〜Ａ３を用いて、各段階の記録ピークパワーＰｗに対して、前述の（数式１）により変調度ｍを算出するとともに（数式２）によりβ値を算出するように再生信号処理部６を制御する。
【００５４】
記録ピークパワーＰｗに対するβ特性は、図８に示すように、最適記録パワーＰｏ近傍で線形特性となる。システムコントローラ７は、ステップＳ１０で読み取った目標β値に対応する記録ピークパワーＰｗを最適記録パワーＰｏとして決定する。算出された変調度ｍ、β値、および最適記録パワーＰｏは、データメモリ９に記憶される。
【００５５】
次いで、ステップＳ３０において、システムコントローラ７は、ステップＳ２０で決定した最適記録パワーＰｏに対応する再生信号の変調度ｍが所定の変調度閾値（例えば３５％）以上であるか否かを判断する。変調度閾値以上である場合（ステップＳ３０：ＹＥＳ）、ステップＳ５０に進み、変調度閾値未満である場合（ステップＳ３０：ＮＯ）、ステップＳ４０に進む。
【００５６】
ステップＳ４０では、システムコントローラ７は、ステップＳ２０でＯＰＣ処理に用いた記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように、記録ストラテジを補正する。記録ストラテジのデューティ比補正の方法を図９に示す。システムコントローラ７は、すべての記録マークの記録開始タイミングＴｓｔｐを一律に同じ量ΔＴｓｔｐだけ遅らせる方向にシフトさせるように記録ストラテジを変更することで、すべての記録マークに対応した記録パルス列のデューティ比を変更する。このようなデューティ比を変更する補正により、再生信号の変調度ｍを大きくすることができる。
【００５７】
その後、ステップＳ２０に戻る。ステップＳ２０〜Ｓ４０により、システムコントローラ７は、ＯＰＣ処理で算出した最適記録パワーＰｏに対応する再生信号の変調度ｍが変調度閾値より小さい場合に、最適記録パワーＰｏに対応する再生信号の変調度ｍが変調度閾値以上になるまで、記録パルス列のデューティ比を変更するように記録ストラテジを補正した後、デューティ比を変更した補正後の記録ストラテジに従って最適記録パワーＰｏを算出する処理を繰り返す。
【００５８】
ステップＳ５０では、システムコントローラ７は、テスト用記録データと、記録ストラテジとに基づいて、記録再生部３に最適記録パワーＰｏのテスト用の記録パルス列を生成させ、これに基づいて光ピックアップ２からレーザ光を射出させ、光ディスク２０の試し書き領域に試し書きさせる。ここで用いる記録ストラテジは、再生信号の変調度ｍが変調度閾値以上となる最適記録パワーＰｏの算出に用いた記録ストラテジであり、ステップＳ４０でデューディ比を変更する補正をした場合は、この補正後の記録ストラテジである。
【００５９】
次いで、ステップＳ６０において、システムコントローラ７は、記録再生部３および光ピックアップ２により、ステップＳ５０で試し書きした領域を再生させ、ＦＥＰ４で得られる再生信号から、光ディスク２０に記録された各記録マークのエッジシフト量、および再生信号のジッタを再生信号処理部６に測定させる。
【００６０】
次いで、ステップＳ７０において、システムコントローラ７は、ステップＳ６０で算出されたジッタが所定のジッタ閾値（例えば１２％）以下であるか否かを判断する。ジッタ閾値以下である場合（ステップＳ７０：ＹＥＳ）、ステップＳ９０に進み、ジッタ閾値より大きい場合（ステップＳ７０：ＮＯ）、ステップＳ８０に進む。
【００６１】
ステップＳ８０では、システムコントローラ７は、ステップＳ５０での試し書きに用いた記録ストラテジに応じた記録パルス列のエッジ（始端、終端）のタイミングを変更するように、記録ストラテジを補正する。記録パルス列のエッジのタイミングの変更は、ステップＳ６０で算出したエッジシフト量を小さくするように、各記録マークに応じたＴｓｔｐ，Ｔｓｃｐ，およびＴｅｃｐを変更することで行う。
【００６２】
その後、ステップＳ５０に戻る。ステップＳ５０〜Ｓ８０により、システムコントローラ７は、ステップＳ５０で試し書きした領域の再生信号のジッタがジッタ閾値より大きい場合に、再生信号のジッタがジッタ閾値以下になるまで、記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように記録ストラテジを補正した後、この補正後の記録ストラテジに従って試し書きを行う処理を繰り返す。
【００６３】
ステップＳ９０では、システムコントローラ７は、ステップＳ５０での試し書きに用いた、試し書きした領域の再生信号のジッタがジッタ閾値以下である記録ストラテジを、光ディスク記録再生装置１が光ディスク２０に対して用いる記録ストラテジとして決定する。そして、システムコントローラ７は、記録再生部３および光ピックアップ２を制御して、この決定した記録ストラテジを、光ディスク記録再生装置１のシリアル番号と関連付けて光ディスク２０に書き込ませる。
【００６４】
上記の手順により決定した記録ストラテジが記録された光ディスク２０を光ディスク記録再生装置１で用いるときは、光ディスク２０に記録された記録ストラテジが用いられる。
【００６５】
ＨＴＬ（High to Low）タイプのＢＤ−Ｒにおいて、ＯＰＣ処理により得られた記録ピークパワーに対するβ値の特性および変調度の特性を図１０、図１１に示す。また、ＬＴＨ（Low to High）タイプのＢＤ−Ｒにおいて、ＯＰＣ処理により得られた記録ピークパワーに対するβ値の特性および変調度の特性を図１２、図１３に示す。
【００６６】
図１０、図１２は、従来のように、ＢＤ−Ｒのディスク情報に含まれる記録ストラテジに対して、デューティ比を変更する補正を行っていない場合の特性を示す。図１１、図１３は、本実施の形態のように、デューティ比を変更する補正を行った場合の特性を示す。ＨＴＬタイプとＬＴＨタイプとでは、記録ピークパワーに対するβ値の特性が互いに逆極性になる。なお、図１０〜図１３において、横軸は、ＢＤ−Ｒのディスク情報に含まれる最適記録パワーに対する、ＯＰＣ処理で用いた記録ピークパワーの比率を示す。
【００６７】
従来技術のようにデューティ比を変更する補正を行わない場合、図１０、図１２のように、ＯＰＣ処理で求められる、目標β値（例えば８％）になる最適記録パワーＰｏ´における再生信号の変調度が、３０％を下回ることがある。この状態では再生信号の振幅が小さ過ぎてエッジシフトの改善だけではジッタ特性を向上できず、記録品質を確保できない。
【００６８】
これに対し、本実施の形態のようにデューティ比を変更する補正を行うと、図１１、図１３に示すように、目標β値（例えば８％）になる最適記録パワーＰｏにおける再生信号の変調度は４０％以上に改善することができる。これにより、再生信号のジッタ特性を向上することができる。
【００６９】
図１４は、ＨＴＬタイプのＢＤ−Ｒにおいて記録ストラテジの補正を行っていない場合の、図５（ｃ）に示した合計３２通りのエッジシフト量の測定結果の一例を示す図であり、図１４（ａ）は記録マークの始端、図１４（ｂ）は記録マークの終端のエッジシフト量を示す。これに対し、図１５（ａ），（ｂ）は、記録パルス列のデューティ比を変更するように記録ストラテジを補正した場合の、記録マークの始端、終端におけるエッジシフト量の測定結果の一例を示す図である。記録マークの記録開始タイミングの補正量ΔＴｓｔｐは４（Ｔ／３２）である。
【００７０】
また、図１６は、（ａ），（ｂ）は、デューティ比を変更する記録ストラテジの補正後、エッジシフトを改善するために記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように記録ストラテジを補正した場合の、記録マークの始端、終端におけるエッジシフト量の測定結果の一例を示す図である。
【００７１】
図１５に示すように、再生信号の変調度を改善するために記録パルス列のデューティ比を変更するような記録ストラテジの補正を行うと、図１４に対して、エッジシフト量が変化する。特に記録マーク２Ｍにおいて大きく変化している。
【００７２】
このように、デューティ比を変更するとエッジシフト量が変化してしまうので、デューティ比の変更後に、エッジシフトを改善する補正を行うことで、図１６に示すような良好なエッジシフト量を得ることができる。
【００７３】
図１７は、ＢＤ−Ｒのディスク情報に含まれる記録ストラテジを補正せずに用いて記録を行った場合と、図６に示した手順により補正した記録ストラテジを用いて記録を行った場合の再生信号のジッタ特性の一例を示す図である。図１７に示すように、本実施の形態における記録ストラテジの補正により、再生信号のジッタ特性を改善することができる。
【００７４】
ここで、記録マークの記録開始タイミングの補正量ΔＴｓｔｐの決め方について説明する。
【００７５】
ＨＴＬタイプの場合、図１０、図１１から、記録ストラテジに対してデューティ比を変更する補正を行った場合と補正を行わなかった場合とについて、図１８に示すようなβ値と変調度との相関特性が得られる。図１８によれば、変調度が１０％変化すると、β値は約１０％変化する。ＬＴＨタイプについても同様に、図１２、図１３から、図１９に示すようなβ値と変調度との相関特性が得られる。図１９によれば、変調度が１０％変化すると、β値は約８％変化する。
【００７６】
また、ＨＴＬタイプの場合、記録マークの記録開始タイミングの補正量ΔＴｓｔｐを変化させたときのβ値は、図２０に示すように変化する。図２０によれば、補正量ΔＴｓｔｐを４（Ｔ／３２）だけ増加すれば、β値は約１０％増加する。ＬＴＨタイプの場合、補正量ΔＴｓｔｐを変化させたときのβ値は、図２１に示すように変化する。図２１によれば、補正量ΔＴｓｔｐを４（Ｔ／３２）だけ増加すれば、β値は約１０％増加する。
【００７７】
上記のように、図１８、図１９により変調度とβ値との関係が得られ、図２０、図２１により補正量ΔＴｓｔｐとβ値との関係が得られる。このため、ＨＴＬタイプの場合は、図１８と図２０とから、β値を介して変調度と補正量ΔＴｓｔｐとの関係が得られ、ＨＴＬタイプの場合も同様に、図１９と図２１とから変調度と補正量ΔＴｓｔｐとの関係が得られる。
【００７８】
これにより、変調度を所望量だけ変化させるための補正量ΔＴｓｔｐが得られる。上記の例では、ＨＴＬタイプの場合、変調度を１０％上昇させるためには、補正量ΔＴｓｔｐを４（Ｔ／３２）とすればよい。また、ＬＴＨタイプの場合、変調度を１０％上昇させるためには、補正量ΔＴｓｔｐを３（Ｔ／３２）とすればよい。
【００７９】
上記説明のように本実施の形態では、記録パルス列のデューティ比を変更するように記録ストラテジを補正して再生信号の変調度を改善し、その後、記録パルス列のエッジのタイミングを変更するように記録ストラテジを補正して記録マークのエッジシフトを改善することで、記録ストラテジを適切に補正して再生信号のジッタ特性を向上することができ、良好な記録品質を得ることができる。
【００８０】
（変形例）
図２２は、本発明の実施の形態の変形例に係る光ディスク記録再生装置で記録ストラテジの補正を行う際の動作を示すフローチャートである。なお、本変形例に係る光ディスク記録再生装置は、図１に示した上記実施の形態に係る光ディスク記録再生装置１と同様の構成である。
【００８１】
図２２において、ステップＳ１１０〜Ｓ１３０の処理は、前述した図６のフローチャートにおけるステップＳ１０〜Ｓ３０の処理と同様であるため説明を省略する。ステップＳ１３０の判断において、ステップＳ１２０で算出した最適記録パワーＰｏに対応する再生信号の変調度ｍが所定の変調度閾値以上である場合（ステップＳ１３０：ＹＥＳ）、ステップＳ１６０に進み、変調度閾値未満である場合（ステップＳ１３０：ＮＯ）、ステップＳ１４０に進む。
【００８２】
ステップＳ１４０では、システムコントローラ７は、最適記録パワーＰｏを、ステップＳ１２０で算出した値から変更する。変更後の最適記録パワーＰｏとしては、図１０や図１２に示したような特性から、変調度が例えば４０％を超えるような記録パワーを選択する。
【００８３】
次いで、ステップＳ１５０において、システムコントローラ７は、ステップＳ１２０でＯＰＣ処理に用いた記録ストラテジに応じた記録パルス列のデューティ比を変更するように、記録ストラテジを補正する。記録ストラテジのデューティ比補正の方法は、前述したステップＳ４０と同様である。
【００８４】
以下、ステップＳ１６０〜Ｓ２００の処理は、前述した図６のフローチャートにおけるステップＳ５０〜Ｓ９０の処理と同様であるため説明を省略する。
【００８５】
本変形例によっても、上記実施の形態と同様に、記録ストラテジを適切に補正して再生信号のジッタ特性を向上することができ、良好な記録品質を得ることができるとともに、ＯＰＣ処理を再実行せずに最適記録パワーＰｏを変更するので、光ディスク２０の試し書き領域の使用を節約できる。また、処理時間を短縮できる。
【００８６】
なお、上記実施の形態およびその変形例では、光ディスク２０がＢＤ−Ｒである場合について説明したが、光ディスク２０がＢＤ−ＲＥなどの書き換え可能な光ディスクでもよい。この場合、ＯＰＣ処理では、β法ではなく、変調度を利用する公知のκ法やγ法を採用いる。
【符号の説明】
【００８７】
１  光ディスク記録再生装置
２  光ピックアップ
３  記録再生部
４  ＦＥＰ
５  記録状態検出部
６  再生信号処理部
７  システムコントローラ
８  プログラムメモリ
９  データメモリ
１０  内部バス
１１  ＩＦ部
２０  光ディスク
３０  上位装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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