(57)【要約】【課題】  画像読取装置（スキャナ）のキャリッジ変動や光学歪み、記録媒体の変形などの影響を低減して、高精度のドット位置の測定が可能で、ロバストネス性が高いドット位置測定方法及びドット位置測定装置を提供する。【解決手段】  各ノズル０，５，１０，１５，…により形成された共通ラインブロックＬＣＢ及びＬＣＢｂを平均化して得られたラインブロックをLCBAveとし、ラインブロックLCBAveのラインLc0_ave, Lc5_ave, Lc10_ave, …のＸ座標をそれぞれx0@LCB_ave, x5@LCB_ave, x10@LCB_ave, …とする。共通ラインブロックを複数形成して平均化することにより、上記誤差が小さくなっている。即ち、dx5_ave < dx5, dx5b, dx10_ave < dx10, dx10bとなっている。これにより、共通ラインブロックの位置変動（誤差）が各ラインブロックの測定位置の補正結果に与える影響を低減することが可能になる。【選択図】    図１３
2011079257.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の方向に沿って配列された複数の記録素子を備える記録ヘッドと記録媒体とを前記第１の方向に垂直な第２の方向に相対的に移動させながら、前記記録媒体上に各記録素子に対応したドット列による複数のラインを含む測定用ラインパターンを形成する工程であって、前記第１の方向に所定間隔離れた記録素子を用いて記録されたライン群を含む複数のラインブロックと、各ラインブロックに対してそれぞれ同じ記録素子によって記録されたラインを含む複数の共通ラインブロックとを含む測定用ラインパターンを形成するラインパターン形成工程と、
前記ラインパターン形成工程において前記記録媒体上に形成された前記測定用ラインパターンの画像を画像読取装置によって読み取る読取工程と、
前記画像読取装置によって読み取られた前記測定用ラインパターンの画像から前記複数のラインブロック及び前記共通ラインブロックに含まれる前記ラインの位置を測定するライン位置測定工程と、
前記複数の共通ラインブロックにそれぞれ含まれる同じ記録素子によって形成されたラインの位置の測定値の平均値を求める平均化工程と、
前記平均値に基づいて各ラインの位置の測定値を補正するライン位置補正工程と、
を備えるドット位置測定方法。
【請求項２】
各共通ラインブロックに含まれる第１のラインの位置の測定値に対して、前記第１のラインの形成に用いられた第１の記録素子に近接する第２の記録素子によって形成された第２のラインの位置の測定値を平均化した特性値を算出する特性値算出工程と、
前記特性値に基づいて、前記第１のラインの位置の測定値を補正する共通ラインブロック内ライン位置補正工程とを更に備え、
前記平均化工程では、前記共通ラインブロック内ライン位置補正工程において補正された測定値の平均値を求める、請求項１記載のドット位置測定方法。
【請求項３】
前記画像読取装置により読み取られた画像の主走査方向に沿う固定位置の歪みを補正する歪み補正工程を更に備える請求項１又は２記載のドット位置測定方法。
【請求項４】
前記ライン位置補正工程において補正された前記ラインの位置の測定値に基づいて、前記画像読取装置の位置歪み補正関数を決定する位置歪み補正関数決定工程と、
前記決定した位置歪み補正関数を用いて、前記ライン位置補正工程において補正された前記ラインの位置の測定値を更に補正する位置歪み補正工程と、
を更に備える請求項３記載のドット位置測定方法。
【請求項５】
前記画像読取装置の位置歪み特性を補正するための固定位置歪み補正テーブルを予め作成しておき、
前記ライン位置補正工程において補正された前記ラインの位置の測定値を、前記固定歪み補正テーブルを用いて更に補正し、又は、前記ライン位置補正工程において補正する前の前記ライン位置のデータを前記固定歪み補正テーブルを用いて補正する固定位置歪み補正工程を更に備える請求項３記載のドット位置測定方法。
【請求項６】
第１の方向に沿って配列された複数の記録素子を備える記録ヘッドと記録媒体とを前記第１の方向に垂直な第２の方向に相対的に移動させながら、前記記録媒体上に各記録素子に対応したドット列による複数のラインを含む測定用ラインパターンを形成する画像形成装置を用いて前記記録媒体上に形成された、前記第１の方向に所定間隔離れた記録素子を用いて記録されたライン群を含む複数のラインブロックと、各ラインブロックに対してそれぞれ同じ記録素子によって記録されたラインを含む複数の共通ラインブロックとを含む測定用ラインパターンの画像を読み取る画像読取装置と、
前記画像読取装置によって読み取られた前記測定用ラインパターンの画像から前記複数のラインブロック及び前記共通ラインブロックに含まれる前記ラインの位置を測定するライン位置測定手段と、
前記複数の共通ラインブロックにそれぞれ含まれる同じ記録素子によって形成されたラインの位置の測定値の平均値を求める平均化手段と、
前記平均値に基づいて各ラインの位置の測定値を補正するライン位置補正手段と、
を備えるドット位置測定装置。
【請求項７】
各共通ラインブロックに含まれる第１のラインの位置の測定値に対して、前記第１のラインの形成に用いられた第１の記録素子に近接する第２の記録素子によって形成された第２のラインの位置の測定値を平均化した特性値を算出する特性値算出手段と、
前記特性値に基づいて、前記第１のラインの位置の測定値を補正する共通ラインブロック内ライン位置補正手段とを更に備え、
前記平均化手段は、前記共通ラインブロック内ライン位置補正手段において補正された測定値の平均値を求める、請求項６記載のドット位置測定装置。
【請求項８】
前記画像読取装置により読み取られた画像の主走査方向に沿う固定位置の歪みを補正する歪み補正手段を更に備える請求項６又は７記載のドット位置測定装置。
【請求項９】
前記ライン位置補正手段によって補正された前記ラインの位置の測定値に基づいて、前記画像読取装置の位置歪み補正関数を決定する位置歪み補正関数決定手段と、
前記決定した位置歪み補正関数を用いて、前記ライン位置補正手段において補正された前記ラインの位置の測定値を更に補正する位置歪み補正手段と、
を更に備える請求項８記載のドット位置測定装置。
【請求項１０】
前記画像読取装置の位置歪み特性を補正するための固定位置歪み補正テーブルを予め作成しておき、
前記ライン位置補正手段によって補正された前記ラインの位置の測定値を、前記固定歪み補正テーブルを用いて更に補正し、又は、前記ライン位置補正手段において補正する前の前記ライン位置のデータを前記固定歪み補正テーブルを用いて補正する固定位置歪み補正手段を更に備える請求項８記載のドット位置測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はドット位置測定方法及びドット位置測定装置に係り、特にインクジェットヘッドの各ノズルによって記録されるドットの着弾位置の測定に好適なドット位置測定方法及びドット位置測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
記録紙等の記録媒体に画像を記録する方法の一つとして、画像信号に応じてインク液滴を吐出させ、そのインク液滴を被記録媒体上に着弾させることにより画像を記録するインクジェット描画方式がある。このようなインクジェット描画方式を用いた画像形成装置としては、インク液滴を吐出する記録素子（吐出部、ノズル）を被記録媒体の１辺の全域に対応させてライン状に配置して、記録媒体を吐出部に直交する方向に搬送することで、記録媒体の全域に画像を記録するフルラインヘッド型の画像描画装置がある。上記フルラインヘッド型の画像描画装置によれば、吐出部を移動させることなく記録媒体を搬送することで、記録媒体の全域に画像を描画することができ、記録速度を高速化することができる。
【０００３】
しかしながら、ラインヘッド型の画像描画装置は、吐出部の位置ずれ等の製造時のバラツキなどにより、記録媒体に記録した画像にスジ、ムラが発生するという問題がある。このようなスジ、ムラは着弾位置のバラツキが一因であり、着弾位置に基づいてスジ・ムラを補正する技術が知られている。
【０００４】
特許文献１には、ラインパターンをスキャナ装置で読み取り、同時に基準パターンを読み取ることで、スキャナ搬送誤差を補正しつつ、着弾位置を測定する技術が開示されている。
【０００５】
特許文献２には、ラインパターンをスキャナ装置で読み取り、読み取った画像からラインのエッジ位置を決定し、１つのラインについて複数のエッジ位置からライン位置（着弾位置）を測定する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００８−４４２７３号公報
【特許文献２】特開２００８−８０６３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
近年、用紙幅の大型化、ラインヘッドの高密度化が進むに従い、インク液滴の位置を測定する対象となるノズル数は数万以上にもなる。例えば、記録幅１１インチ、解像度１２００ＤＰＩでは１インク当り１３２００ノズルであり、ＣＭＹＫの４インクでは合計５２８００のノズル数となる。このような多数のノズルを持つヘッドについて、高速、高精度、且つ、低コストな着弾位置の測定方法が必要とされている。
【０００８】
具体的に１２００ＤＰＩの画像描画装置を例に考察すると、１２００ＤＰＩの記録格子間隔は２１．１７μｍであり、隙間なくドットを打滴するためにはドット径は２１．１７×√２以上必要であるから、ドット径は約３０〜４０μｍ必要になる。
【０００９】
スキャナ装置は高解像度タイプでも４８００ＤＰＩが市販機のほぼ上限で、そのときのスキャナ装置の読み取り格子間隔は約５．２９μｍである。ドット径と対比すると高々６〜８画素から着弾位置を決定しなければならない。２４００ＤＰＩでは更にその半分である。着弾位置精度を向上させるには読取装置（スキャナ）の解像度を高解像度化することが望ましいが、スキャナの高解像度化には、（１）読み取り画像データの大きさの問題、（２）読み取りが一回で終了しない問題がある。
【００１０】
例えば、読み取り解像度４８００ＤＰＩ、着弾位置精度測定サンプルの大きさをＡ３サイズと仮定すると、Ａ３読み取り範囲：１１．５インチ×１５．５インチ、カラー画像：ＲＧＢ３チャンネル各８ビットとして、読み取り画像のデータ量は合計で１２．３ＧＢである。読み取り解像度が２４００ＤＰＩとしても３．０８ＧＢである。このような大きさのデータはハードディスク装置（ＨＤＤ）への書き込みだけでも長い時間が掛かる。
【００１１】
一方、顕微鏡タイプやステージ移動タイプの読取装置と比較して、市販のスキャナは、安価であり、また、大面積の画像を高速で読み取れるという利点がある。しかしながら、現状の市販のスキャナでは最高解像度（例えば、Ａ４スキャナにおいて４８００ＤＰＩ、Ａ３スキャナにおいて２４００ＤＰＩ）で読み取ることが可能な範囲（面積）に制限があるので、読み取り対象の範囲を一度に読み取ることができない。このため、読み取り対象の範囲を短冊状の領域に分割して、複数回に分けて読み取る必要がある。
【００１２】
このように、１枚の画像を複数回に分けて読み取る場合、各回ごとにスキャナの初期動作のための時間（明暗補正を行う時間、読み取り指定位置までの移動時間）が必要になる。一般的には、分割した読み取り領域に対応するデータ相互間の整合性を確保するために、各読み取り領域には、隣り合う読み取り領域との間でオーバーラップする領域を設ける必要がある。即ち、画像データとしてオーバーラップ領域分の容量が余分に必要であり、読み取り時間もオーバーラップ領域の分長くなる。一般的には、読み取り範囲全域に対する分割数が増大するにつれて、読み取り範囲に対するオーバーラップ領域の比率が大きくなる。画像データを小さくして処理や書き込み時間を減らす工夫をしたとしても、分割には画像データ容量の増大と読み取り時間の増加の問題が発生する。
【００１３】
特許文献１、２に開示されている技術は、読み取り時の主副解像度が同じであるため、画像が一度に読み取れない、又は、処理対象の画像サイズが大きいため処理時間が長くなる問題がある。
【００１４】
また、市販スキャナの多くは、読み取り範囲を一定の速度で全て読み取るのではなく、データ転送と読み取りを繰り返している。このとき、読み取り動作を中断してキャリッジを停止し、再びキャリッジが動作することがある。ドット着弾位置精度として１０μｍ程度を期待する場合には、キャリッジ再起動による位置変動は無視することができるが、サブミクロンオーダーの測定精度が要求される場合には、このキャリッジ再起動による位置変動は無視できない誤差要因である。
【００１５】
更に、測定対象が副走査方向に長い場合（機種によって異なるが、目安程度として、例えば、１０ｃｍ以上長い場合）、走査機構のキャリッジのふらつきによる位置変動も誤差要因となる。このような誤差は、図４５に示すように、隣接するノズルによる着弾ドットのラインを副走査方向に異なる位置に配置したラインパターンを測定する場合に顕著になる。
【００１６】
図４５に示したラインブロック０は、ラインヘッドの端から順にノズル番号を０，１，２，３，・・・としたとき、ノズル番号０，４，８，・・・のように「４Ｎ＋０」のノズル番号を持つノズルによって形成されるライン９２の群のブロックである（ただし、Ｎは０以上の整数）。ラインブロック１はノズル番号１，５，９，・・・のように「４Ｎ＋１」のノズル番号からなるラインブロックである。ラインブロック２は「４Ｎ＋２」、ラインブロック３は「４Ｎ＋３」のノズル番号からなるラインブロックである。このように一定のノズル間隔でラインを形成したラインブロックを記録紙１６上の異なる位置に配置するラインパターンにより、全ノズルに対応するラインを形成することができる。
【００１７】
図４６は、スキャナ副走査位置が異なる場合の測定位置の関係を示したグラフである。図４６に示すように、副走査方向の異なる位置に配置されたラインブロックＡ，Ｂについてそれぞれ各ライン位置を測定したときの測定位置は線形の関係にある。上記のようなスキャナ要因の誤差はスキャナで読み取った格子座標系の乱れとして顕れる。
【００１８】
図４７は、図４５に示した４ノズル間隔のラインブロックに代えて、１６ノズル間隔のラインブロックを副走査方向の異なる位置に配置したラインパターンから各ラインの位置（ドット位置）誤差を測定した結果を示すグラフである。
【００１９】
本来、各ノズル位置に対応する位置誤差はランダムであるはずであるが、実際には、図４７に示すように、全体としては１６ノズルを周期とする規則的な位置誤差が発生している。これは、副走査方向位置の異なるラインブロックごとに、オフセット的な位置誤差を含んでいることによる。
【００２０】
つまり、副走査方向に複数のラインブロックに分かれた各ラインブロック内でのデータ間では測定精度が得られていても、ラインブロック間相互の測定精度に一定のオフセット的な誤差が加わっているために、測定結果がラインブロック数の周期で相似形に繰り返す現象が発生している。
【００２１】
スキャナの解像度（例えば、２４００ＤＰＩ）に対して、２〜３μｍ程度の誤差は、通常の測定においては問題とならない。しかしながら、サブミクロンオーダーの測定を目標とする場合、このずれが無視できず、複数のラインブロックにおける測定結果をマージする場合に問題となる。
【００２２】
更に、スキャナ要因の誤差以外に、用紙変形（一例として、記録紙に処理液を塗布してインクを打滴する印字装置において、印字開始位置と印字終了位置において記録紙の伸びが異なることによって発生する）も同様な現象を発生させる。用紙変形下でのドット着弾位置測定ではオフセット的な誤差とライン間隔の伸張誤差が複合して発生する。
【００２３】
図４８は、等間隔ラインをスキャナで読み取り、読み取ったライン間隔を主走査位置ごとにプロットしたグラフである。図中の副走査位置１、副走査位置２、副走査位置３はそれぞれ異なる副走査位置で、主走査方向に等間隔で並ぶ副走査方向ラインを読み取った結果である。
【００２４】
図４８に示すように、スキャナの主走査方向に位置歪みがあるために、理想的には等間隔になるべきライン間隔が主走査位置で変動している。この主走査方向の位置歪みは副走査位置によって異なる傾向を持っている。主走査方向の位置歪み特性が副走査位置によって異なるために、各特性は異なる傾向を持っている。
【００２５】
図４９は、副走査位置１を基準にして、副走査位置２と副走査位置３のライン間隔との差分をプロットしたグラフである。副走査位置１に対して、副走査位置２と副走査位置３の主走査方向の位置歪み特性は、主走査位置の中ほどでライン間隔が短くなる傾向がある。副走査位置２と副走査位置３の主走査方向の位置歪み特性は主走査方向の２５０ｍｍ付近で傾向が大きく異なっている。
【００２６】
このように、主走査方向の歪みがあるスキャナ装置ではスキャナ読み取り画像格子位置に基づいて求めた位置には歪みが存在する。この歪みは副走査位置によって異なる傾向がある場合、歪みを補正するパラメータとして２次元的（主走査方向、副走査方向）なパラメータが必要となる。このような２次元的なパラメータを得るためには２次元的に正確なスケールが必要になる。このような２次元スケールは非常に高価、取り扱いが難しい。また、一般的には測定精度を補償するために定期的な補正パラメータの保守が必要なため、保守を含めると測定に要するコストは非常に高くなる。
【００２７】
特許文献１、２には、スキャナで読み取った画像データの乱れを補正する技術は開示されていない。
【００２８】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、画像読取装置（スキャナ）のキャリッジ変動や光学歪み、記録媒体の変形などの影響を低減して、高精度のドット位置の測定が可能で、ロバストネス性が高いドット位置測定方法及びドット位置測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
本発明の第１の態様に係るドット位置測定方法は、第１の方向に沿って配列された複数の記録素子を備える記録ヘッドと記録媒体とを前記第１の方向に垂直な第２の方向に相対的に移動させながら、前記記録素子から液滴を吐出させて、前記記録媒体上にドットを連続して記録して、前記記録媒体上に各記録素子に対応したドット列による複数のラインを含む測定用ラインパターンを形成する工程であって、前記第１の方向に所定間隔離れた記録素子を用いて記録されたライン群を含む複数のラインブロックと、各ラインブロックに対してそれぞれ同じ記録素子によって記録されたラインを含む複数の共通ラインブロックとを含む測定用ラインパターンを形成するラインパターン形成工程と、前記ラインパターン形成工程において前記記録媒体上に形成された前記測定用ラインパターンの画像を画像読取装置によって読み取る読取工程と、前記画像読取装置によって読み取られた前記測定用ラインパターンの画像から前記複数のラインブロック及び前記共通ラインブロックに含まれる前記ラインの位置を測定するライン位置測定工程と、前記複数の共通ラインブロックにそれぞれ含まれる同じ記録素子によって形成されたラインの位置の測定値の平均値を求める平均化工程と、前記平均値に基づいて各ラインの位置の測定値を補正するライン位置補正工程とを備える。
【００３０】
本発明の第２の態様に係るドット位置測定方法は、上記第１の態様において、各共通ラインブロックに含まれる第１のラインの位置の測定値に対して、前記第１のラインの形成に用いられた第１の記録素子に近接する第２の記録素子によって形成された第２のラインの位置の測定値を平均化した特性値を算出する特性値算出工程と、前記特性値に基づいて、前記第１のラインの位置の測定値を補正する共通ラインブロック内ライン位置補正工程とを更に備え、前記平均化工程では、前記共通ラインブロック内ライン位置補正工程において補正された測定値の平均値を求めるようにしたものである。
【００３１】
本発明の第３の態様に係るドット位置測定方法は、上記第１又は第２の態様において、前記画像読取装置により読み取られた画像の主走査方向に沿う固定位置の歪みを補正する歪み補正工程を更に備えるものである。
【００３２】
本発明の第４の態様に係るドット位置測定方法は、上記第３の態様において、前記ライン位置補正工程において補正された前記ラインの位置の測定値に基づいて、前記画像読取装置の位置歪み補正関数を決定する位置歪み補正関数決定工程と、前記決定した位置歪み補正関数を用いて、前記ライン位置補正工程において補正された前記ラインの位置の測定値を更に補正する位置歪み補正工程とを更に備えるものである。
【００３３】
本発明の第５の態様に係るドット位置測定方法は、上記第３の態様において、前記画像読取装置の位置歪み特性を補正するための固定位置歪み補正テーブルを予め作成しておき、前記ライン位置補正工程において補正された前記ラインの位置の測定値を、前記固定歪み補正テーブルを用いて更に補正し、又は、前記ライン位置補正工程において補正する前の前記ライン位置のデータを前記固定歪み補正テーブルを用いて補正する固定位置歪み補正工程を更に備えるものである。
【００３４】
本発明の第６の態様に係るドット位置測定装置は、第１の方向に沿って配列された複数の記録素子を備える記録ヘッドと記録媒体とを前記第１の方向に垂直な第２の方向に相対的に移動させながら、前記記録素子から液滴を吐出させて、前記記録媒体上にドットを連続して記録して、前記記録媒体上に各記録素子に対応したドット列による複数のラインを含む測定用ラインパターンを形成する画像形成装置を用いて前記記録媒体上に形成された、前記第１の方向に所定間隔離れた記録素子を用いて記録されたライン群を含む複数のラインブロックと、各ラインブロックに対してそれぞれ同じ記録素子によって記録されたラインを含む複数の共通ラインブロックとを含む測定用ラインパターンの画像を読み取る画像読取装置と、前記画像読取装置によって読み取られた前記測定用ラインパターンの画像から前記複数のラインブロック及び前記共通ラインブロックに含まれる前記ラインの位置を測定するライン位置測定手段と、前記複数の共通ラインブロックにそれぞれ含まれる同じ記録素子によって形成されたラインの位置の測定値の平均値を求める平均化手段と、前記平均値に基づいて各ラインの位置の測定値を補正するライン位置補正手段とを備える。
【００３５】
本発明の第７の態様に係るドット位置測定装置は、上記第６の態様において、各共通ラインブロックに含まれる第１のラインの位置の測定値に対して、前記第１のラインの形成に用いられた第１の記録素子に近接する第２の記録素子によって形成された第２のラインの位置の測定値を平均化した特性値を算出する特性値算出手段と、前記特性値に基づいて、前記第１のラインの位置の測定値を補正する共通ラインブロック内ライン位置補正手段とを更に備え、前記平均化手段は、前記共通ラインブロック内ライン位置補正手段において補正された測定値の平均値を求めるものである。
【００３６】
本発明の第８の態様に係るドット位置測定装置は、上記第６又は第７の態様において、前記画像読取装置により読み取られた画像の主走査方向に沿う固定位置の歪みを補正する歪み補正手段を更に備える。
【００３７】
本発明の第９の態様に係るドット位置測定装置は、上記第８の態様において、前記ライン位置補正手段によって補正された前記ラインの位置の測定値に基づいて、前記画像読取装置の位置歪み補正関数を決定する位置歪み補正関数決定手段と、前記決定した位置歪み補正関数を用いて、前記ライン位置補正手段において補正された前記ラインの位置の測定値を更に補正する位置歪み補正手段とを更に備える。
【００３８】
本発明の第１０の態様に係るドット位置測定装置は、上記第８の態様において、前記画像読取装置の位置歪み特性を補正するための固定位置歪み補正テーブルを予め作成しておき、前記ライン位置補正手段によって補正された前記ラインの位置の測定値を、前記固定歪み補正テーブルを用いて更に補正し、又は、前記ライン位置補正手段において補正する前の前記ライン位置のデータを前記固定歪み補正テーブルを用いて補正する固定位置歪み補正手段を更に備える。
【発明の効果】
【００３９】
本発明によれば、共通ラインブロック（基準ラインブロック）を基準位置として、各ラインブロックの測定位置を補正する場合に、共通ラインブロックを複数設けて各共通ラインブロック内のラインの位置の測定値を平均化することにより、画像読取装置の主走査方向におけるランダムな位置変動の影響を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の一実施形態に係るインクジェット記録装置の全体構成図
【図２】図２（ａ）：ヘッド５０の構造例を示す平面透視図であり、図２（ｂ）・・・図２（ａ）の一部の拡大図
【図３】ヘッド５０の他の構造例を示す平面透視図
【図４】記録素子単位となる１つの液滴吐出素子（１つのノズル５１に対応したインク室ユニット）の立体的構成を示す断面図（図２（ａ）中の４−４線に沿う断面図）
【図５】ヘッドのノズル配列を示す拡大図
【図６】インクジェット記録装置１０のシステム構成を示すブロック図
【図７】フルラインヘッドの模式図
【図８】図８（ａ）：ラインヘッドのノズルから打滴されたインク滴が吐出方向のバラツキによって、着弾位置が理想的な位置に対してバラツク様子を示す図、図８（ｂ）：図８（ａ）に示した特性を有するヘッド５０を使用して記録紙１６上に副走査方向のラインを描画した例を示す図
【図９】本発明の実施形態で使用するドット位置測定用のラインパターンの全体図
【図１０】従来の測定ラインパターンを説明するための図
【図１１】本発明の一実施形態に係る測定ラインパターンを説明する図
【図１２】スキャナの副走査変動がない（無視できる）として共通ラインブロックを平均化したときの結果を示す図
【図１３】共通ラインブロックを平均した結果と他の測定位置（ラインブロック測定位置）との関係を示す図
【図１４】ドット位置測定用ラインパターンをスキャナで読み取るときのスキャナ主走査方向と副走査方向の関係を説明する図
【図１５】スキャナ座標系（読み取り座標系）とドット位置測定用ラインパターンの関係を説明する図
【図１６】スキャナ装置で読み取った画像上（スキャナ画素を正方として表現している）のドット位置測定用ラインパターンを示す図
【図１７】本発明の一実施形態に係るドット位置の測定処理の流れを示すフローチャート
【図１８】図１７のステップＳ２０におけるラインブロック内位置測定処理の流れを示すフローチャート
【図１９】ＲＯＩ内ライン位置測定処理の内容を示すフローチャート
【図２０】ＲＯＩ内のライン位置測定処理を示すフローチャート
【図２１】図２１（ａ）：演算対象とする１つのＲＯＩの例を示す図、図２１（ｂ）：図２１（ａ）に示すＲＯＩをライン長さ方向（図中の下向き矢印方向）に画像信号を平均化して得た平均プロファイル画像を示す図
【図２２】平均化したプロファイル画像と平均化プロファイルにフィルタ処理を施した結果を示すグラフ
【図２３】フィルタ処理後の平均化プロファイル画像の庁周期の階調値変動を示すグラフ
【図２４】Ｗ／Ｂ補正処理の流れを示すフローチャート
【図２５】フィルタ処理したプロファイル画像に対してＷ（ホワイト、白地）区間とＢ（ブラック、インク）区間を設定した様子を示す図
【図２６】Ｗ／Ｂ補正した結果のプロファイル画像において、エッジを規定する閾値ＥＴＨとなる位置をラインに対して前後２箇所（図２６における左側のエッジ位置ＥＧＬ、右側のエッジ位置ＥＧＲ）決定する様子を示す図
【図２７】１００μｍ間隔に正確に製作された校正用ラインブロックを読み取り、ＲＯＩ１とＲＯＩ２で決定したライン位置（Ｘ座標）をライン間の距離（ライン間隔）に変換した結果を示す図
【図２８】図２７と同じ１００μｍ間隔に正確に製作された校正用ラインブロックを読み取り、ＲＯＩ１からＲＯＩ４を平均したライン位置（Ｘ座標）をライン間の距離に変換した結果を示す図
【図２９】回転角補正処理の流れを示すフローチャート
【図３０】本発明の一実施形態に係る基準ライン位置の補正処理を説明するための図
【図３１】基準ライン位置特性値の決定処理の流れを示すフローチャート
【図３２】基準ラインブロック内の位置の補正処理の流れを示すフローチャート
【図３３】基準ライン位置の統計的な決定処理の流れを示すフローチャート
【図３４】ラインブロック位置補正処理の流れを示すフローチャート
【図３５】ラインブロック間の位置補正（補正関数）に高次多項式関数を適用して、同じテストパターンを繰り返し測定したときの補正処理の結果を示す図
【図３６】区分的な多項式による補正関数の説明図
【図３７】位置歪み補正処理の流れを示すフローチャート
【図３８】間隔値（ノズル間隔）のデータ集合Ｒ２の例を示すグラフ
【図３９】測定位置のデータと近似多項式の例を示す図
【図４０】カラースキャナの各ＲＧＢチャンネルの固定位置歪み補正テーブルを説明する図
【図４１】カラースキャナの各ＲＧＢチャンネルの固定位置歪み補正テーブルを説明する図
【図４２】基準ラインブロック固定歪み補正処理のフローチャート
【図４３】スキャンごとの主走査方向の歪みの変動を示すグラフ
【図４４】ドット位置測定装置の構成例を示すブロック図
【図４５】従来のドット位置測定用ラインパターンの例を示す図
【図４６】スキャナ副走査位置に依存する位置変動を示すグラフ
【図４７】各ノズルに対応するドット位置誤差（回転角補正後）の測定結果の例を示す図
【図４８】等間隔スケールを読み取ったときの主走査方向の歪みを示すグラフ
【図４９】副走査位置で異なる主走査方向歪みを示すグラフ
【発明を実施するための形態】
【００４１】
以下、添付図面に従って本発明に係るドット位置測定方法及びドット位置測定装置の好ましい実施の形態について説明する。
【００４２】
ここでは、画像形成装置（インクジェット記録装置）によるインクドットの着弾位置（すなわち、ドット位置）の測定への適用例について説明する。まず、インクジェット記録装置の全体構成について説明する。
【００４３】
［インクジェット記録装置］
図１は、本発明の一実施形態に係るインクジェット記録装置の全体構成図である。
【００４４】
同図に示すように、このインクジェット記録装置１０は、黒（Ｋ），シアン（Ｃ），マゼンタ（Ｍ），イエロー（Ｙ）の各インクに対応して設けられた複数のインクジェット記録ヘッド（「液体吐出ヘッド」に相当、以下、「ヘッド」という。）１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙを有する印字部１２と、各ヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙに供給するインクを貯蔵しておくインク貯蔵／装填部１４と、記録媒体たる記録紙１６を供給する給紙部１８と、記録紙１６のカールを除去するデカール処理部２０と、前記印字部１２のノズル面（インク吐出面）に対向して配置され、記録紙１６の平面性を保持しながら記録紙１６を搬送するベルト搬送部２２と、記録済みの記録紙（プリント物）を外部に排出する排紙部２６とを備えている。
【００４５】
インク貯蔵／装填部１４は、各ヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙに対応する色のインクを貯蔵するインクタンクを有し、各タンクは所要の管路を介してヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙと連通されている。
【００４６】
図１では、給紙部１８の一例としてロール紙（連続用紙）のマガジンが示されているが、紙幅や紙質等が異なる複数のマガジンを併設してもよい。また、ロール紙のマガジンに代えて、又はこれと併用して、カット紙が積層装填されたカセットによって用紙を供給してもよい。
【００４７】
複数種類の記録媒体（メディア）を利用可能な構成にした場合、使用される記録媒体の種類（メディア種）を特定する手段を設け、メディア種に応じて適切なインク吐出を実現するようにインク吐出制御を行うことが好ましい。
【００４８】
給紙部１８から送り出される記録紙１６はマガジンに装填されていたことによる巻きクセが残り、カールする。このカールを除去するために、デカール処理部２０においてマガジンの巻きクセ方向と逆方向に加熱ドラム３０で記録紙１６に熱を与える。このとき、多少印字面が外側に弱いカールとなるように加熱温度を制御するとより好ましい。
【００４９】
デカール処理後、裁断用のカッター（第１のカッター）２８で所望のサイズにカットされた記録紙１６は、ベルト搬送部２２へと送られる。ベルト搬送部２２は、ローラ３１、３２間に無端状のベルト３３が巻き掛けられた構造を有し、少なくとも印字部１２のノズル面に対向する部分が水平面（フラット面）をなすように構成されている。
【００５０】
ベルト３３は、記録紙１６の幅よりも広い幅寸法を有しており、ベルト面には多数の吸引穴（不図示）が形成されている。ローラ３１、３２間に掛け渡されたベルト３３の内側において印字部１２のノズル面に対向する位置には吸着チャンバ３４が設けられており、この吸着チャンバ３４をファン３５で吸引して負圧にすることによって記録紙１６がベルト３３上に吸着保持される。なお、吸引吸着方式に代えて、静電吸着方式を採用してもよい。
【００５１】
ローラ３１、３２の少なくとも一方にモータ（図６中符号８８）の動力が伝達されることにより、ベルト３３は図１上の時計回り方向に駆動され、ベルト３３上に保持された記録紙１６は図１の左から右へと搬送される。
【００５２】
ベルト３３の外側の所定位置（印字領域以外の適当な位置）には、ベルト清掃部３６が設けられている。ベルト清掃部３６の詳細構成は図示しないが、例えば、ブラシ・ロール、吸水ロール等をニップする方式、清浄エアーを吹き掛けるエアーブロー方式、或いはこれらの組合せなどがある。
【００５３】
ベルト搬送部２２により形成される用紙搬送路上において印字部１２の上流側には、加熱ファン４０が設けられている。加熱ファン４０は、印字前の記録紙１６に加熱空気を吹き付け、記録紙１６を加熱する。印字直前に記録紙１６を加熱しておくことにより、インクが着弾後乾き易くなる。
【００５４】
印字部１２の各ヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙは、当該インクジェット記録装置１０が対象とする記録紙１６の最大紙幅に対応する長さを有し、そのノズル面には最大サイズの記録媒体の少なくとも一辺を超える長さ（描画可能範囲の全幅）にわたりインク吐出用のノズルが複数配列されたフルライン型のヘッドとなっている（図２参照）。
【００５５】
ヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙは、記録紙１６の送り方向に沿って上流側から黒（Ｋ）、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）の色順に配置され、それぞれのヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙが記録紙１６の搬送方向と略直交する方向に沿って延在するように設置される。
【００５６】
ベルト搬送部２２により記録紙１６を搬送しつつ各ヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙからそれぞれ異色のインクを吐出することにより記録紙１６上にカラー画像を形成し得る。
【００５７】
このように、紙幅の全域をカバーするノズル列を有するフルライン型のヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙを色別に設ける構成によれば、紙送り方向（副走査方向）について記録紙１６と印字部１２を相対的に移動させる動作を１回行うだけで（即ち、１回の副走査で）、記録紙１６の全面に画像を記録することができる。かかるフルライン型（ページワイド）ヘッドによるシングルパス方式の画像形成は、記録媒体の搬送方向（副走査方向）と直交する方向（主走査方向）に往復動作するシリアル（シャトル）型ヘッドによるマルチパス方式を適用する場合に比べて高速印字が可能であり、プリント生産性を向上させることができる。
【００５８】
本実施形態では、ＫＣＭＹの標準色（４色）の構成を例示したが、インク色や色数の組合せは本実施形態の構成に限定されず、必要に応じて淡インク、濃インク、特別色インクを追加してもよい。例えば、ライトシアン、ライトマゼンタなどのライト系インクを吐出するインクジェットヘッドを追加する構成も可能である。また、各色ヘッドの配置順序も特に限定はない。
【００５９】
印字部１２の後段には後乾燥部４２が設けられている。後乾燥部４２は、印字された画像面を乾燥させる手段であり、例えば、加熱ファンが用いられる。印字後のインクが乾燥するまでは印字面と接触することは避けたほうが好ましいので、熱風を吹き付ける方式が好ましい。
【００６０】
後乾燥部４２の後段には、加熱・加圧部４４が設けられている。加熱・加圧部４４は、画像表面の光沢度を制御するための手段であり、画像面を加熱しながら所定の表面凹凸形状を有する加圧ローラ４５で加圧し、画像面に凹凸形状を転写する。
【００６１】
こうして生成されたプリント物は排紙部２６から排出される。本来プリントすべき本画像（目的の画像を印刷したもの）とテスト印字とは分けて排出することが好ましい。このインクジェット記録装置１０では、本画像のプリント物と、テスト印字のプリント物とを選別してそれぞれの排出部２６Ａ、２６Ｂへと送るために排紙経路を切り換える不図示の選別手段が設けられている。なお、大きめの用紙に本画像とテスト印字とを同時に並列に形成する場合は、カッター（第２のカッター）４８によってテスト印字の部分を切り離す。
【００６２】
また、図１には示さないが、本画像の排出部２６Ａには、オーダー別に画像を集積するソーターが設けられる。その他、本例のインクジェット記録装置１０には、各ヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙのクリーニング（ノズル面のワイピング、パージ、ノズル吸引等）を行うヘッドメンテナンス部や、用紙搬送路上における記録紙１６の位置等を検出するセンサ、装置各部の温度を検出する温度センサなどを備えている。
【００６３】
［ヘッドの構造］
次に、ヘッドの構造について説明する。色別の各ヘッド１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙの構造は共通しているので、以下、これらを代表して符号５０によってヘッドを示すものとする。
【００６４】
図２（ａ）はヘッド５０の構造例を示す平面透視図であり、図２（ｂ）はその一部の拡大図である。また、図３は、ヘッド５０の他の構造例を示す平面透視図、図４は、記録素子単位となる１つの液滴吐出素子（１つのノズル５１に対応したインク室ユニット）の立体的構成を示す断面図（図２（ａ）中の４−４線に沿う断面図）である。
【００６５】
本実施形態に係るヘッド５０は、図２（ａ）及び図２（ｂ）に示したように、インク吐出口であるノズル５１と、各ノズル５１に対応する圧力室５２等からなる複数のインク室ユニット（液滴吐出素子）５３を千鳥でマトリクス状に（２次元的に）配置させた構造を有し、これにより、ヘッド長手方向（紙送り方向と直交する方向）に沿って並ぶように投影（正射影）される実質的なノズル間隔（投影ノズルピッチ）の高密度化を達成している。
【００６６】
記録紙１６の送り方向（矢印Ｓ方向；副走査方向）と略直交する方向（矢印Ｍ方向；主走査方向）に記録紙１６の全幅Ｗｍに対応する長さ以上のノズル列を構成する形態は本例に限定されない。例えば、図２（ａ）の構成に代えて、図３に示すように、複数のノズル５１が２次元に配列された短尺のヘッドモジュール５０’を千鳥状に配列して繋ぎ合わせることで記録紙１６の全幅に対応する長さのノズル列を有するラインヘッドを構成してもよい。
【００６７】
各ノズル５１に対応して設けられている圧力室５２は、その平面形状が概略正方形となっており（図２（ａ）及び図２（ｂ）参照）、対角線上の両隅部の一方にノズル５１への流出口が設けられ、他方に供給インクの流入口（供給口）５４が設けられている。なお、圧力室５２の形状は、本例に限定されず、平面形状が４角形（菱形、長方形など）、５角形、６角形その他の多角形、円形、楕円形など、多様な形態があり得る。
【００６８】
図４に示したように、各圧力室５２は供給口５４を介して共通流路５５と連通されている。共通流路５５はインク供給源たるインクタンク（不図示）と連通しており、インクタンクから供給されるインクは共通流路５５を介して各圧力室５２に分配供給される。
【００６９】
圧力室５２の一部の面（図４において天面）を構成している加圧板（共通電極と兼用される振動板）５６には個別電極５７を備えたアクチュエータ５８が接合されている。個別電極５７と共通電極間に駆動電圧を印加することによってアクチュエータ５８が変形して圧力室５２の容積が変化し、これに伴う圧力変化によりノズル５１からインクが吐出される。なお、アクチュエータ５８には、チタン酸ジルコン酸鉛やチタン酸バリウムなどの圧電体を用いた圧電素子が好適に用いられる。インク吐出後、アクチュエータ５８の変位が元に戻る際に、共通流路５５から供給口５４を通って新しいインクが圧力室５２に再充填される。
【００７０】
入力画像から生成されるドット配置データに応じて各ノズル５１に対応したアクチュエータ５８の駆動を制御することにより、ノズル５１からインク滴を吐出させることができる。記録紙１６を一定の速度で副走査方向に搬送しながら、その搬送速度に合わせて各ノズル５１のインク吐出タイミングを制御することによって、記録紙１６上に所望の画像を記録することができる。
【００７１】
上述した構造を有するインク室ユニット５３を図５に示す如く主走査方向に沿う行方向及び主走査方向に対して直交しない一定の角度ψを有する斜めの列方向とに沿って一定の配列パターンで斜めの格子状に多数配列させることにより、高密度のノズルヘッドが実現されている。即ち、主走査方向に対してある角度ψの方向に沿ってインク室ユニット５３を一定のピッチｄで複数配列する構造により、主走査方向については、実質的に各ノズル５１が一定のピッチＰＮ＝ｄ×cosψで直線状に配列されたものと等価的に取り扱うことができる。
【００７２】
図５に示すようなマトリクス状に配置されたノズル５１を駆動する場合は、ノズル５１-11、５１-12、５１-13、５１-14、５１-15、５１-16を１つのブロックとし（他にはノズル５１-21、・・・、５１-26を１つのブロック、ノズル５１-31、・・・、５１-36を１つのブロック、・・・として）、記録紙１６の搬送速度に応じて、ブロックごとに片方の端から他方の端に向かって順次駆動（ノズル５１-11、５１-12、・・・、５１-16を順次駆動）することで記録紙１６の幅方向（用紙の搬送方向と直交する方向）に１ライン（１列のドットによるライン又は複数列のドットから成るライン）を印字する。
【００７３】
かかるノズル駆動（主走査）によって記録される１ライン（或いは帯状領域の長手方向）の示す方向を主走査方向といい、この主走査で形成された１ライン（１列のドットによるライン又は複数列のドットから成るライン）の印字を、ヘッドと記録紙１６との相対移動によって当該相対移動方向に繰り返し行うことを副走査という。即ち、本実施形態では、記録紙１６の搬送方向が副走査方向であり、それに直交する方向が主走査方向ということになる。
【００７４】
なお、本実施形態では、ヘッド５０に設けられたノズル５１から吐出させるインクの吐出力発生手段として圧電素子を適用したが、吐出用の圧力（吐出エネルギー）を発生させる手段は、圧電素子に限らず、サーマル方式におけるヒータ（加熱素子）や他の方式による各種アクチュエータなど様々な手段、方式を適用し得る。
【００７５】
また、本発明の実施に際してヘッド５０におけるノズル５１の配列形態は図示の例に限定されず、様々なノズル配置構造を適用できる。例えば、図２で説明したマトリクス配列に代えて、１列の直線配列、Ｖ字状のノズル配列、Ｖ字状配列を繰り返し単位とするジグザク状（Ｗ字状など）のような折れ線状のノズル配列なども可能である。
【００７６】
［制御系の説明］
図６は、インクジェット記録装置１０のシステム構成を示すブロック図である。
【００７７】
同図に示したように、インクジェット記録装置１０は、通信インターフェース７０、システムコントローラ７２、画像メモリ７４、ＲＯＭ７５、モータドライバ７６、ヒータドライバ７８、プリント制御部８０、画像バッファメモリ８２、ヘッドドライバ８４を備えている。
【００７８】
通信インターフェース７０は、ホストコンピュータ８６から送られてくる画像データを受信するインターフェース部（画像入力部）である。通信インターフェース７０にはＵＳＢ（Universal Serial Bus）、ＩＥＥＥ１３９４、イーサネット（登録商標）、無線ネットワークなどのシリアルインターフェースやセントロニクスなどのパラレルインターフェースを適用することができる。この部分には、通信を高速化するためのバッファメモリ（不図示）を搭載してもよい。
【００７９】
ホストコンピュータ８６から送出された画像データは通信インターフェース７０を介してインクジェット記録装置１０に取り込まれ、一旦画像メモリ７４に記憶される。画像メモリ７４は、通信インターフェース７０を介して入力された画像を格納する記憶手段であり、システムコントローラ７２を通じてデータの読み書きが行われる。画像メモリ７４は、半導体素子からなるメモリに限らず、ハードディスクなど磁気媒体を用いてもよい。
【００８０】
システムコントローラ７２は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）及びその周辺回路等から構成され、所定のプログラムに従ってインクジェット記録装置１０の全体を制御する制御装置として機能するとともに、各種演算を行う演算装置として機能する。即ち、システムコントローラ７２は、通信インターフェース７０、画像メモリ７４、モータドライバ７６、ヒータドライバ７８等の各部を制御し、ホストコンピュータ８６との間の通信制御、画像メモリ７４及びＲＯＭ７５の読み書き制御等を行うとともに、搬送系のモータ８８やヒータ８９を制御する制御信号を生成する。
【００８１】
ＲＯＭ７５には、システムコントローラ７２のＣＰＵが実行するプログラム及び制御に必要な各種データなどが格納されている。ＲＯＭ７５は、書き換え不能な記憶手段であってもよいし、ＥＥＰＲＯＭのような書き換え可能な記憶手段であってもよい。画像メモリ７４は、画像データの一時記憶領域として利用されるとともに、プログラムの展開領域及びＣＰＵの演算作業領域としても利用される。
【００８２】
モータドライバ７６は、システムコントローラ７２からの指示に従って搬送系のモータ８８を駆動するドライバ（駆動回路）である。ヒータドライバ７８は、システムコントローラ７２からの指示に従って後乾燥部４２等のヒータ８９を駆動するドライバである。
【００８３】
プリント制御部８０は、システムコントローラ７２の制御に従い、画像メモリ７４内の画像データ（元画像のデータ）から印字制御用の信号を生成するための各種加工、補正などの処理を行う信号処理機能を有し、生成した印字データ（ドットデータ）をヘッドドライバ８４に供給する制御部である。
【００８４】
プリント制御部８０には画像バッファメモリ８２が備えられており、プリント制御部８０における画像データ処理時に画像データやパラメータなどのデータが画像バッファメモリ８２に一時的に格納される。なお、図６において画像バッファメモリ８２はプリント制御部８０に付随する態様で示されているが、画像メモリ７４と兼用することも可能である。また、プリント制御部８０とシステムコントローラ７２とを統合して１つのプロセッサで構成する態様も可能である。
【００８５】
画像入力から印字出力までの処理の流れを概説すると、印刷すべき画像のデータは、通信インターフェース７０を介して外部から入力され、画像メモリ７４に蓄えられる。この段階では、例えば、ＲＧＢの画像データが画像メモリ７４に記憶される。
【００８６】
インクジェット記録装置１０では、インク（色材）による微細なドットの打滴密度やドットサイズを変えることによって、人の目に疑似的な連続階調の画像を形成するため、入力されたデジタル画像の階調（画像の濃淡）をできるだけ忠実に再現するようなドットパターンに変換する必要がある。そのため、画像メモリ７４に蓄えられた元画像（ＲＧＢ）のデータは、システムコントローラ７２を介してプリント制御部８０に送られ、該プリント制御部８０において閾値マトリクスや誤差拡散などを用いたハーフトーン化処理によってインク色ごとのドットデータに変換される。
【００８７】
即ち、プリント制御部８０は、入力されたＲＧＢ画像データをＫ，Ｃ，Ｍ，Ｙの４色のドットデータに変換する処理を行う。こうして、プリント制御部８０で生成されたドットデータは、画像バッファメモリ８２に蓄えられる。
【００８８】
ヘッドドライバ８４は、プリント制御部８０から与えられる印字データ（即ち、画像バッファメモリ８２に記憶されたドットデータ）に基づき、ヘッド５０の各ノズル５１に対応するアクチュエータ５８を駆動するための駆動信号を出力する。ヘッドドライバ８４にはヘッドの駆動条件を一定に保つためのフィードバック制御系を含んでいてもよい。
【００８９】
ヘッドドライバ８４から出力された駆動信号がヘッド５０に加えられることによって、該当するノズル５１からインクが吐出される。記録紙１６の搬送速度に同期してヘッド５０からのインク吐出を制御することにより、記録紙１６上に画像が形成される。
【００９０】
上記のように、プリント制御部８０における所要の信号処理を経て生成されたドットデータに基づき、ヘッドドライバ８４を介して各ノズルからのインク液滴の吐出量や吐出タイミングの制御が行われる。これにより、所望のドットサイズやドット配置が実現される。
【００９１】
また、プリント制御部８０は、後述するドット位置測定方法によって取得されるドット位置の情報等に基づいてヘッド５０に対する各種補正を行うとともに、必要に応じて予備吐出やノズル吸引、ワイピング等のクリーニング動作（ノズル回復動作）を実施する制御を行う。
【００９２】
［ドット位置測定方法の説明］
次に、本実施形態に係るドット位置測定方法について詳細に説明する。
【００９３】
図７は、フルラインヘッドの模式図である。同図では、図示の簡略化のために、複数のノズル５１が１列に並んだヘッド５０を示すが、図２乃至図５で説明したように、複数のノズルが２次元配列されてなるマトリクスヘッドについて当然に適用できる。即ち、２次元配列のノズル群は主走査方向に沿う直線上に正射影される実質的なノズル列を考慮することにより、１列のノズル列と実質的に同等のものとして取り扱うことができる。
【００９４】
図８（ａ）は、ラインヘッドのノズルから打滴されたインク滴が吐出方向のバラツキによって、着弾位置が理想的な位置に対してバラツク様子を示す図である。図８（ｂ）は、図８（ａ）に示した特性を有するヘッド５０を使用して記録紙１６上に副走査方向のラインを描画した例を示す図である。ヘッド５０のノズル５１から記録紙１６に向けて液滴を吐出しつつ、記録紙１６を搬送することにより、記録紙１６上にインク滴が着弾し、図８（ｂ）に示すように、各ノズル５１からの着弾インクによるドット９０がライン状に並んだドット列（ライン９２）が形成される。図８（ｃ）は、図８（ｂ）のライン９２を簡略化して示す図である。以下、図示の便宜上、連続打滴の着弾ドット列によるライン９２は、図８（ｃ）のような記載を用いる。
【００９５】
図８（ｂ）及び図８（ｃ）に示したように、各ライン９２はそれぞれ１つのノズル５１から連続的な打滴で形成される。高記録密度のラインヘッドの場合、全ノズルから同時に打滴すると隣接ノズルによるドット同士が部分的に重なり合うため、１ドット列のラインにはならない。それぞれのライン９２が互いに重なり合わないようにするため、同時吐出するノズル間は少なくとも１ノズル、好ましくは３ノズル以上、間隔をあけることが望ましい。なお、図８では、図示の都合上、同時吐出するノズル間に２ノズルの間隔をあけた様子を図示した。
【００９６】
図８から明らかなように、ヘッドの特性によるドット着弾位置に応じてライン位置が変わっている。つまり、各ノズルの着弾位置を測定することは、ラインの位置を測定することに等しいことが分かる。
【００９７】
［ドット位置測定用ラインパターンの例］
図９は、本発明の実施形態で使用するドット位置測定用のラインパターンの全体図である。ヘッド５０における全ノズル５１についてラインを得るためには、例えば、図９のようなラインパターンのサンプルチャート（測定用チャート）を形成する。
【００９８】
図示のチャートは、複数のラインブロック（ここでは、５段のラインブロック０〜４を図示）を含む。ラインブロックは、一定間隔のノズルを用いてラインを描画した複数のライン（ライン群）からなるブロックである。
【００９９】
図８のラインヘッドで左端から順にノズル番号を０，１，２，３，・・・とする。図９に示したラインブロック０は、ノズル番号０，４，８，・・・のように「４Ｎ＋０」のノズル番号からなるラインブロック（４の倍数に対応するノズル番号を持つノズルによって形成されるライン群のブロック）である（ただし、Ｎは０以上の整数）。ラインブロック１はノズル番号１，５，９，・・・のように「４Ｎ＋１」のノズル番号からなるラインブロックである。ラインブロック２は「４Ｎ＋２」、ラインブロック３は「４Ｎ＋３」のノズル番号からなるラインブロックである。ラインブロック４は共通ラインブロック（基準ラインブロック）であり、ラインブロック０からラインブロック３と同じノズル番号を略均等に含む。
【０１００】
本実施形態に係るラインブロック４は「５Ｎ＋０」のノズル番号からなる（ノズル番号０，５，１０，１５，２０，・・・）。ラインブロック０とラインブロック４では、ノズル番号０，２０，４０，６０，・・・が同じノズル番号である。ラインブロック１とラインブロック４では、ノズル番号５，２５，４５，６５，・・・が同じノズル番号である。ラインブロック２とラインブロック４では、ノズル番号１０，３０，５０，７０，・・・が同じノズル番号である。ラインブロック３とラインブロック４では、ノズル番号１５，３５，５５，７５，・・・が同じノズル番号である。このように同じノズルから打滴され離れた位置にラインを形成している。本実施形態では、このラインブロック０とラインブロック４の共通するノズル番号のライン位置を利用して、ラインパターンを読み取ったときの回転角を補正する。
【０１０１】
本実施形態では、４Ｎ＋Ｍ（Ｍ＝０，１，２，３）の例を説明するが４倍数に限定されない。ＡＮ＋Ｂ（Ｂ＝０，１，・・・，Ａ−１）、Ａは２以上の整数について適応可能である。
【０１０２】
ラインブロック４に相当する基準ラインブロックはＣＮ＋Ｄ（Ｃ≠Ａ、ＣとＡは公約数を１以外に持たない（互いに素）。Ｄ＝０，１，Ｃ−１のどれでもよい）の形式で、Ａ×Ｃの値が共通するノズル番号の周期になる。
【０１０３】
図９に示す例では、ラインブロック０から３までで、１ヘッドの全てのノズルに対応したラインが形成される。
【０１０４】
即ち、ラインヘッドにおいて、実質的に主走査方向に沿って１列に並ぶノズル列（正射影によって得られる実質的なノズル列）を構成するノズルに、その主走査方向の端から順番にノズル番号を付与したとき、例えば、４Ｎ＋０，４Ｎ＋１，４Ｎ＋２，４Ｎ＋３のノズル番号のグループ（ブロック）ごとに打滴タイミングを変えて、それぞれライン群（いわゆる「１オンｎオフ」タイプのラインパターン）を形成する。
【０１０５】
これにより、図９に示すように、各ブロック内で隣接ライン同士が重なり合わず、全ノズルについて独立したラインを形成できる（いわゆる「１オンｎオフ」タイプのラインパターン）。ＣＭＹＫの各インク色に対応するヘッドについて、図９のようなラインブロック群が形成される。
【０１０６】
以下、ラインブロック４を共通ラインブロック（あるいは、共通ノズルを含むラインブロック）とする。まず、各ラインブロック（ラインブロック０〜４）について、各ラインブロックごとにラインブロック内位置を測定する。次にラインブロック４と共通するノズルを各ラインブロックごとに抽出する。ここで、
ラインブロック０に属するライン位置：xi＠LB0, yi＠LB0, ｉ：ノズル番号，
ラインブロックｎに属するライン位置：xi＠LBn, yi＠LBn, ｉ：ノズル番号，
共通ラインブロックに属するライン位置：xi＠LCB, yi＠LCB, ｉ：ノズル番号，
とする。
【０１０７】
次に、ラインブロック０について、共通ラインブロックのノズル番号と同じノズル番号を全て抽出する。ノズル番号０，２０，４０，・・・が同じノズルであるので、これら測定位置を抽出する。
【０１０８】
ラインブロック０に属するライン位置をINPUT_DATA＠LB0= ｛x0＠LB0, x20＠LB0, x40＠LB0, ・・・｝、共通ラインブロックに属するライン位置をOUTPUT_DATA＠LB0=｛x0＠LCB, x20＠LCB, x40＠LCB, ・・・｝とする。
【０１０９】
次に、INPUT_DATA＠LB0をOUTPUT_DATA＠LB0に変換する補正関数g＠LB0（x）を決定する。そして、下記に示すように、ラインブロック０の測定値を補正関数g＠LB0（x）を用いて変換する。
【０１１０】
｛x0＠LB0, x4＠LB0, x8＠LB0, ・・・｝  ⇒  ｛x'0＠LB0, x'4＠LB0, x'8＠LB0, ・・・｝
同様にして、ラインブロック１、２、３についても共通ラインブロックのノズル番号と同じノズル番号を全て抽出、補正関数g＠LB1（x）, g＠LB2（x）, g＠LB3（x）を決定し、各補正関数で変換する。変換後のデータは共通ラインブロックという１つの物差しで相対位置が確定しているため、副走査位置による位置変動の影響を低減した測定位置となっている。
【０１１１】
しかしながら、共通ラインブロックと各ラインブロックに属するライン位置が高い精度で一致することを前提にしているため、ライン形成時の位置変動（形成時に発生するラインダムな変動）が大きい場合、特に共通ラインブロックに変動がある場合には、変動がある共通ラインブロックの測定位置に基づいて各ラインブロックの測定位置を補正するために全体として誤差が大きくなる問題がある。
【０１１２】
図１０は、従来の測定ラインパターンを説明するための図である。例えば、ラインＬ５（ノズル５に相当）、ラインＬ１０（ノズル１０に相当）に変動があるとした場合、ノズル５により形成されたラインＬ５とＬｃ５との間の位置変動（誤差）ｄｘ５と、ノズル１０により形成されたラインＬ１０とＬｃ１０との間の位置変動（誤差）ｄｘ１０は、それぞれ下記の式（１−１）及び（１−２）により表される。
【０１１３】
dx5 = x5＠LB1 - x5＠LCB     ・・・（１−１）
dx10 = x10＠LB3 - x10＠LCB  ・・・（１−２）
上記のように、共通ラインブロックの位置変動（誤差）がある場合、上記共通ラインブロックの測定位置に基づいて各ラインブロックの測定位置を補正すると、この誤差が各ラインブロックの補正後の測定位置に影響してしまう。
【０１１４】
図１１は、本発明の一実施形態に係る測定ラインパターンを説明する図である。
【０１１５】
図１１に示す例では、共通ラインブロックが２つ（ＬＣＢ、ＬＣＢｂ）設けられている。
【０１１６】
図１０と同様にラインＬ５（ノズル５に相当）、ラインＬ１０（ノズル１０に相当）に変動があるとした場合、ノズル５により形成されたラインＬ５とＬｃ５との間の位置変動（誤差）ｄｘ５と、ノズル１０により形成されたラインＬ１０とＬｃ１０との間の位置変動（誤差）ｄｘ１０と、ノズル５により形成されたラインＬ５とＬｃ５ｂとの間の位置変動（誤差）ｄｘ５ｂと、ノズル１０により形成されたラインＬ１０とＬｃ１０ｂとの間の位置変動（誤差）ｄｘ１０ｂは、下記の式（２−１）から（２−４）により表される。
【０１１７】
dx5 = x5＠LB1 - x5＠LCB       ・・・（２−１）
dx10 = x10＠LB3 - x10＠LCB    ・・・（２−２）
dx5b = x5 ＠LB1 - x5＠LCBb    ・・・（２−３）
dx10b = x10＠LB3 - x10＠LCBb  ・・・（２−４）
図１２は、スキャナの副走査変動がない（無視できる）として共通ラインブロックを平均化したときの結果を示す図である。図１３は、共通ラインブロックを平均した結果と他の測定位置（ラインブロック測定位置）との関係を示す図である。
【０１１８】
図１２及び図１３において、各ノズル０，５，１０，１５，・・・により形成された共通ラインブロックＬＣＢ及びＬＣＢｂを平均化して得られた仮想的なラインブロックをLCBAveとし、ラインブロックLCBAveのラインLc0_ave, Lc5_ave, Lc10_ave, ・・・のＸ座標をそれぞれx0＠LCB_ave, x5＠LCB_ave, x10＠LCB_ave, ・・・とする。座標x0＠LCB_ave, x5＠LCB_ave, x10＠LCB_ave, ・・・は、例えば、共通ラインブロックＬＣＢとＬＣＢｂにおける各ラインのＸ座標の平均値（例えば、相加平均）を算出することにより求められる。
【０１１９】
ノズル５により形成されたラインＬ５と平均化された共通ラインブロックLc5_Aveとの間の位置変動（誤差）dx5_aveと、ノズル１０により形成されたラインＬ１０と平均化された共通ラインブロックLc10_Aveとの間の位置変動（誤差）dx10_aveは、下記の式（３−１）及び（３−２）により表される。
【０１２０】
dx5_ave = x5＠LB1 - x5＠LCB_ave       ・・・（３−１）
dx10_ave = x10＠LB3 - x10＠LCB_ave    ・・・（３−２）
本実施形態によれば、図１３に示すように、共通ラインブロックを複数形成して平均化することにより、上記誤差が小さくなっている。即ち、dx5_ave < dx5, dx5b, dx10_ave < dx10, dx10bとなっている。これにより、共通ラインブロックの位置変動（誤差）が各ラインブロックの測定位置の補正結果に与える影響を低減することが可能になる。
【０１２１】
［本実施形態における測定用ラインパターンの読み取り］
図１４は、ドット位置測定用ラインパターンをスキャナで読み取るときのスキャナ主走査方向と副走査方向の関係を説明する図である。図１４に示すように、ラインブロック内におけるライン９２の並び方向をスキャナ主走査方向に、ライン９２の長さ方向（長手方向）をスキャナ副走査方向に合わせてドット位置測定用ラインパターンを読み取る。
【０１２２】
図１５は、スキャナ座標系（読み取り座標系）とドット位置測定用ラインパターンの関係を説明する図である。スキャナは主走査方向を高解像度（高精度）に設定、スキャナ副走査方向は低解像度に設定して読み取る。例えば、画像形成装置の記録解像度が１２００ＤＰＩのとき、スキャナの主走査解像度はサンプリング定理から２４００ＤＰＩ以上が好ましく、副走査解像度はこれよりも大幅に低解像度の２００ＤＰＩ以下が好ましい。副走査解像度の下限はラインの長さと上記ＡＮ＋ＢのＡの設定に基づいて変わるが、スキャナ装置の動作する範囲であれば、１００ＤＰＩもしくは５０ＤＰＩでも構わない。
【０１２３】
スキャナによる読取解像度の好ましい条件の目安として、副走査方向の読取解像度は、主走査方向の読取解像度の１／１０以下、且つ、１／６０以上の範囲とする。
【０１２４】
プリンタ装置が１２００ＤＰＩである場合、読取解像度は主走査方向２４００ＤＰＩ、副走査解像度５０〜２００ＤＰＩが好ましい。
【０１２５】
主走査解像度は必要な測定精度によって異なる。例として誤差σ＜０．４（μｍ）以下の場合、主走査２４００ＤＰＩ、副走査２００ＤＰＩ以下が望ましい。解像度の下限はサンプルチャートの１オンＮオフの段数（Ｎ＋１段）と１段当たりのライン長ＬをＮＬ画素で読み取る、という条件から決まる。
【０１２６】
なお、サンプルチャートの（Ｎ＋１段）は１枚の記録用紙に収まり、且つ、１回の読み取り動作で読み取り可能であることも制約条件となる。
【０１２７】
すなわち、以下の関係（式１，式２）を満たすことが条件となる。
【０１２８】
［式１］（Ｎ＋１）×Ｌ＞（Ｎ＋１）×ＮＬ／副走査解像度
且つ
［式２］Ａ３乃至Ａ４サイズ用紙の縦方向の長さ＞（Ｎ＋１）×Ｌ
ここで、ＮＬは後述する画像平均化領域ＲＯＩのＹ方向の画素数とＲＯＩの数と各ＲＯＩのＹ方向のズレ量で決まるため、ＮＬは次式［式３］となる。
【０１２９】
［式３］
ＮＬ＝（ＲＯＩのＹ方向の画素数）＋（ＲＯＩの数−１）×（ＲＯＩのズレ量）
仮に、（ＲＯＩのＹ方向の画素数）＝１０画素、（ＲＯＩの数）＝４、（ＲＯＩのズレ量）＝２画素とすると、［式３］より、
ＮＬ＝１０＋（４−１）×２＝１６（画素）
Ｎ＝４、Ｌ＝２（インチ）とすると、［式１］より
（副走査解像度）＞｛（Ｎ＋１）×ＮＬ｝／｛（Ｎ＋１）×Ｌ｝なので、
（副走査解像度）＞（ＮＬ／Ｌ）＝１６／２＝８（ＤＰＩ）
となる。
【０１３０】
別の例として、Ｎを１６とすると、Ｌは０．６（インチ）
（副走査解像度）＞１６／０．６＝２６（ＤＰＩ）
となる。
【０１３１】
図１５に示したスキャナ座標格子の各セル（符号９６）は、スキャナ装置における１つの読取画素が捉える領域（１画素のアパーチャ）を示している。同図では、図示の便宜上、スキャナ主走査画素サイズ（ＰＸ）に対して、スキャナ副走査画素サイズ（ＰＹ）が約２倍程度の比率の長方形で描かれているが、実際の画素の縦横比率は、スキャナの主走査解像度と副走査解像度の関係を反映したものとなる。
【０１３２】
なお、読み取り対象となるドット位置測定用ラインパターンのプリント物をスキャナ装置（フラットベッド）に置くとき、注意深く置いても、ドット位置測定用ラインパターンとスキャナ読み取り座標系の間に回転角（θ）ができてしまう。この回転角を補正しない場合、ラインパターンの高さに応じてラインブロック間に一定の誤差が生じる。このため、本実施形態では、この回転角の補正を行う処理を実施する。回転角補正の詳細は後述する。
【０１３３】
図１６は、スキャナ装置で読み取った画像上（スキャナ画素を正方として表現している）のドット位置測定用ラインパターンを示す図である。画像データ上のＸ座標をスキャナ主走査方向、画像データ上のＹ座標をスキャナ副走査方向とする。
【０１３４】
［読み取り画像データの解析］
図１７は、本発明の一実施形態に係るドット位置の測定処理の流れを示すフローチャートである。同図の測定フローの開始に先立ち、図９を用いて説明したとおり、インクジェットヘッドの各ノズルから記録紙１６上に測定対象のインクを打滴しつつ、ヘッド５０と記録紙１６を相対的に移動させ、各ノズル５１から打滴されるインクにより、各ノズルに対応するドット列によるラインパターンを記録紙１６上に形成する。つまり、測定対象のインクを用いてラインパターンを形成したサンプルチャート（測定用チャート）を形成する。
【０１３５】
そして、上記により形成されたラインパターンが画像読取装置（スキャナ）により読み取られる（図１７のステップＳ１０）。このとき、図１４で説明したように、ライン長さ方向をスキャナの副走査方向、ライン並び方向をスキャナの主走査方向とし、主走査方向を高解像度、副走査方向を低解像度でラインパターンを撮像する。なお、スキャナ（不図示）は、Ｒ（赤），Ｇ（緑），Ｂ（青）の各色のカラーフィルタを備えたＲＧＢごとの受光素子列を有する３ラインセンサ（いわゆるＲＧＢラインセンサ）を備え、サンプルチャートの全面（すべてのラインブロック）を電子画像データとして取り込む。
【０１３６】
ここで、測定対象のインクに合わせて読み取り画像のカラーが選択される。即ち、ラインパターン上のインクに応じて撮像画像のカラーチャンネルが設定される。インクカラーがシアン（Ｃ）インクのときにはＲチャンネル（レッドチャンネル）、マゼンタ（Ｍ）インクのときはＧチャンネル（グリーンチャンネル）、イエロー（Ｙ）インクのときはＢチャンネル（ブルーチャンネル）とする。ブラックインクのときはＧチャンネルが望ましいが、Ｒチャンネルでも良い。他の２次色インクや特色インクの場合、記録紙１６上に記録されたインクの分光反射率とスキャナのカラーチャンネルの分光感度の関係とに基づいて、測定対象インクを撮像したときに、スキャナのカラーチャンネルのなかで最も高コントラストに読み取れるチャンネルを選択する。つまり、１インク色について１チャンネルで処理を行う。
【０１３７】
次いで、ステップＳ１０において読み取られた画像データ上のラインブロック位置が検出され、各ラインブロックごとに、それぞれのライン位置が測定される（ステップＳ２０）。
【０１３８】
［ラインブロック内位置測定］
図１８は、図１７のステップＳ２０におけるラインブロック内位置測定処理の流れを示すフローチャートである。図１８のラインブロック内位置測定処理においては、まず、各ラインブロックに対して画像平均化領域ＲＯＩ（Region Of Interest）が所定数設定される（ステップＳ２００）。即ち、図１９に示すように、１つのラインブロックに対して複数のＲＯＩ（Region Of Interest）が設定される。ＲＯＩは、演算対象とするラインブロックの一部分を切り出す所定形状の領域を特定するものであり、図１９に示す例では、４つの矩形のＲＯＩ１、ＲＯＩ２、ＲＯＩ３及びＲＯＩ４が設定されている。ここで、各ＲＯＩはＹ方向に一定間隔ズラして設定される。例えば、上記一定間隔を２画素とした場合、ＲＯＩ２はＲＯＩ１に対してＹ方向に２画素ずらし、ＲＯＩ３はＲＯＩ１に対して４画素ずらし、ＲＯＩ４はＲＯＩ１に対して６画素ずらした位置にそれぞれ設定される。Ｘ方向に関してはラインをＲＯＩから外さなければ、各ＲＯＩをずらす必要はない。但し、図１９では、図示の便宜上、ＲＯＩ１〜ＲＯＩ４が重ならないように、Ｘ方向に関しても一定間隔でずらして図示されている。
【０１３９】
次に、上記ステップＳ２００において設定された各ＲＯＩごとにライン位置が測定される（図１８のステップＳ２０２）。ステップＳ２０２では、図２０に示すフローチャートに従ってライン位置を示すＸ座標が決定される。Ｙ座標は、各ＲＯＩ１からＲＯＩ４のＹ方向の中心位置を使用する。このようにして決定したＲＯＩ１からＲＯＩ４までのライン位置が平均化されて、ラインブロックのライン位置（座標）が決定される（図１８のステップＳ２０４）。
【０１４０】
図２０は、ＲＯＩ内のライン位置測定処理を示すフローチャートである。図２０のラインブロック内位置測定処理では、まず、ＲＯＩ内の画像信号が、所定方向、本実施形態ではスキャナ副走査方向（Ｙ座標方向）に平均化されて、平均化プロファイル画像が作成される（図２０のステップＳ２０６）。
【０１４１】
図２１（ａ）は、演算対象とする１つのＲＯＩの例を示す図であり、図２１（ｂ）は、図２１（ａ）に示すＲＯＩをライン長さ方向（図中の下向き矢印方向）に画像信号を平均化して得た平均プロファイル画像を示す図である。なお、図２１（ｂ）において、横軸は画像データのＸ方向位置（画素位置）を表し、縦軸は読み取った画像データの階調値を表す。ここでは、インクによるドットの濃度が高いほど階調値が小さい値となっており、ドットが存在しない部分（記録紙１６の白地部分）は階調値が大きい値となっている。
【０１４２】
図２１（ａ）に示すように、ドット位置測定用ラインパターンにゴミ９４の付着があったり、ライン９２にサテライト９５（インク吐出時に主液滴から分離したサテライト滴と呼ばれる副液滴が発生し、このサテライト滴が記録紙１６上の主液滴と異なる位置に付着したもの）が発生していても、ライン長さ方向（図中下向き矢印方向）に平均化することでゴミ９４のコントラストは低下し、サテライト９５によるプロファイル画像の歪みは低減する（図２１（ｂ）参照）。
【０１４３】
続いて、ステップＳ２０６において作成された平均プロファイル画像が所定のフィルタによってフィルタ処理（平滑化処理）される。そして、フィルタ処理されたプロファイル画像（Ｘ座標方向）が作成される（図２０のステップＳ２０８）。
【０１４４】
図２２は、平均化したプロファイル画像と平均化プロファイルにフィルタ処理を施した結果を示すグラフであり、図２３は、フィルタ処理後の平均化プロファイル画像の長周期の階調値変動を示すグラフである。図２２及び図２３に示す例では、平均化したプロファイル画像に対してフィルタ処理を行うとともに、ゴミのコントラストを低下し、サテライトによる歪みを低減した結果を示している。フィルタとしては対称形の５から９タップ程度のリニアフィルタが処理速度や効果の観点で好ましい。
【０１４５】
図２２に示すように、フィルタ処理を行った結果、短周期の歪みは補正される。しかしながら、図２３に示すように、スキャナ読み取り時のシェーディング（照明の明暗変動等）に起因する長周期の階調値の変動は依然として残る。このようなシェーディングは階調値に基づいてライン位置を決定するアルゴリズムでは、位置誤差の重大な原因となる。このため上記フィルタ処理（図２０のステップＳ２０８）に続いて、フィルタ処理後の平均プロファイル画像に対してＷ（ホワイト、白地）／Ｂ（ブラック、インク）補正が行われる（図２０のステップＳ２１０）。
【０１４６】
図２４は、Ｗ／Ｂ補正処理の流れを示すフローチャートである。Ｗ／Ｂ補正処理においては、まず、フィルタ処理後のプロファイル画像において各ラインにＷ（ホワイト、白地）区間とＢ（ブラック、インク）区間が設定され（ステップＳ２１６）、各Ｗ区間とＢ区間ごとにそれぞれ代表値が決定する（ステップＳ２１８）。
【０１４７】
図２５は、フィルタ処理したプロファイル画像に対してＷ（ホワイト、白地）区間とＢ（ブラック、インク）区間を設定した様子を示す図である。このようなＷ区間Ｂ区間は、プロファイルグラフを判別分析法などを使用して２値化処理し、２値化処理した結果を更にモフォロジー処理（太らせ処理を所定回数、細らせ処理を同所定回数）した結果に対して、黒画素をＢ区間、白画素をＷ区間とすることで設定できる。各Ｂ区間はプロファイル画像の谷（極小値）部分を含み、各Ｗ区間はプロファイル画像の山（極大値）部分を含むものとして設定される。黒画素に対して所定画素数分前後に増加してＢ区間、白画素に対して前後に所定画素増加してＷ区間としてもよい。
【０１４８】
このようにして決定したＷ区間において、フィルタ処理したプロファイル画像に対して、Ｗ区間を代表する階調値と位置とが決定される。代表値としては、例えば、Ｗ区間内の最大値を用いる。Ｗ区間の位置としては、Ｗ区間の中心位置を用いる。各Ｗ区間Ｗｉ（ｉ＝０，１，２，・・・）に対して、代表する階調値ＷＬｉと位置ＷＸｉが決定される。
【０１４９】
同様に、Ｂ区間において、フィルタ処理したプロファイル画像に対して、Ｂ区間を代表する階調値と位置とが決定される。代表値としては、例えば、Ｂ区間内の最小値を用いる。Ｂ区間の位置はＢ区間の中心位置を用いる。各Ｂ区間Ｂｉ（ｉ＝０，１，２，・・・）に対して、代表する階調値ＢＬｉと位置ＢＸｉを決定する。
【０１５０】
こうして求めたＷ区間ごとの代表値とＢ区間ごとの代表値に基づいて、フィルタ処理後のプロファイル画像の階調値を補正する（図２４のステップＳ２２０）。なお、Ｗ区間は「非記録領域」、Ｂ区間は「記録領域」に対応している。
【０１５１】
［Ｗ／Ｂ補正処理］
Ｗ／Ｂ補正処理では、フィルタ処理したプロファイル画像に対して、各位置Ｘと階調値Ｌとが以下のように補正される。即ち、決定したＷ区間の代表値ＷＬｉとＷＸｉを線形補間して任意のＸに対して推定値ＷＬを求める。また、決定したＢ区間の代表値ＢＬｉとＢＸｉを線形補間して任意のＸに対して推定値ＢＬを求める。
【０１５２】
Ｗ／Ｂ補正後の白階調値をＷ０、黒階調値をＢ０とすると、
Ｌ´＝補正係数Ｋ（Ｌ−ＢＬ）＋Ｂ０
補正係数Ｋ＝（Ｗ０−Ｂ０）／（ＷＬ−ＢＬ）
つまり、入力値がＷＬのとき出力値がＷ０に、入力値がＢＬのときに出力値がＢ０になるように線形変換される。
【０１５３】
こうしてＷ／Ｂのレベルを補正する処理（ステップＳ２２０）を終えたら、図２１のサブルーチンを抜けて、図２０のＲＯＩ内ライン位置測定フローに復帰し、図２０のステップＳ２１２に進む。ステップＳ２１２では、Ｗ／Ｂ補正したプロファイル画像において、所定の階調値（エッジ閾値階調値）に一致するエッジ位置（Ｘ座標）を各ラインにつき２箇所（左右）決定する。
【０１５４】
図２６は、Ｗ／Ｂ補正した結果のプロファイル画像において、エッジを規定する閾値ＥＴＨとなる位置をラインに対して前後２箇所（図２６における左側のエッジ位置ＥＧＬ、右側のエッジ位置ＥＧＲ）決定する様子を示す図である。
【０１５５】
Ｗ／Ｂ補正した結果のプロファイル画像と閾値ＥＴＨとが正確に一致しない場合、公知の補間アルゴリズムを使用してエッジ位置を決定する。公知の補間アルゴリズムとしては線形補間やスプライン補間、キュービック補間が適用できる。
【０１５６】
次いで、各ラインにおいて２箇所決定したエッジ位置がラインごとに平均化され、その平均値がライン位置（Ｘ座標）として決定される（図１６のステップＳ２１４）。また、ＲＯＩのＹ座標方向の中心座標がライン位置のＹ座標として決定される。即ち、ライン位置のＹ座標としては各ＲＯＩのＹ方向の中心位置が使用される。
【０１５７】
このようにして、ＲＯＩに対応するライン位置を決定した後、図２０のサブルーチンを抜けて、図１８のラインブロック内位置測定フローに復帰し、図１８のステップＳ２０４に進む。ステップＳ２０４では、複数のＲＯＩ（ＲＯＩ１〜ＲＯＩ４）について、各ＲＯＩで測定したライン位置が平均化した位置をラインブロックに対応するライン位置（Ｘ座標、Ｙ座標）として決定される。こうして、各ラインブロックについて、同様の処理を行い、各ラインブロックごとにライン位置を測定する。
【０１５８】
なお、各ライン位置の特定方法については、上述した両端エッジ位置から求める手法に限らず、例えば、プロファイル画像の極値から求めるなど、他の演算方法を適用してもよい。
【０１５９】
［物理値変換］
上記のようにして求めたライン位置の情報は、スキャナ座標系の画素位置に対応するものなので、この画素位置を物理的な単位（例えば、μｍ単位）に変換する。即ち、上記ライン位置に主走査解像度、副走査解像度に応じた係数を乗じることにより物理値に変換される。この物理値変換は、後述の回転補正を行う前に、主副解像度の違いを補正する目的で実施する。
【０１６０】
例えば、主走査読取解像度が２４００ＤＰＩの場合、係数は２５４００／２４００（μｍ／Ｄｏｔ）である。副走査読取解像度が２００ＤＰＩの場合、係数は２５４００／２００（μｍ／Ｄｏｔ）である。かかる係数を用いて、画素位置をμｍ単位の物理値に変換する演算を行う。
【０１６１】
なお、画像データ上における画素の座標系から実際の記録媒体上の座標系への変換は上記のような係数による換算式によって定義されるため、どちらの座標系で演算を進めるか、また、どの演算段階で座標変換を行うか、については任意性がある。
【０１６２】
図２７は、１００μｍ間隔に正確に製作された校正用ラインブロックを読み取り、ＲＯＩ１とＲＯＩ２で決定したライン位置（Ｘ座標）をライン間の距離（ライン間隔）に変換した結果を示す図である。図２８は、図２７と同じ１００μｍ間隔に正確に製作された校正用ラインブロックを読み取り、ＲＯＩ１からＲＯＩ４を平均したライン位置（Ｘ座標）をライン間の距離に変換した結果を示す図である。図２７及び図２８において、横軸はライン番号、縦軸はライン間の距離（μｍ）である。なお、図２７において、中心値が１００μｍから若干ずれているのはラインブロックの回転角を補正していないためである。
【０１６３】
図２８と図２７を比較すると明らかなように、図２８ではライン間隔のバラツキが低減されており、ライン間距離が一定値に近づいていることが分かる。つまり、規則的に一定間隔でずらした複数のＲＯＩに対して決定したライン位置を平均化することの優れた効果が分かる。
【０１６４】
［回転角の補正］
次に、回転角補正処理について説明する。回転角補正処理は、例えば、基準ラインブロックＬＣＢ又はＬＣＢｂのうちのいずれか一方を基準として行われる。
【０１６５】
図２９は、回転角補正処理の流れを示すフローチャートである。
【０１６６】
回転角補正処理では、まず、回転補正用ラインブロックに基づいて回転が決定される（ステップＳ２３０）。即ち、測定用チャートに含まれるラインブロックのライン位置のうち、異なるラインブロックに属するが、同じノズルから形成されたラインの位置座標（図１７のステップＳ２０において決定されたライン位置（Ｘ座標、Ｙ座標））に基づいてラインパターンとスキャナ読み取り座標との回転角（図１５のθ参照）を求める。そして、この求めた回転角（θ）に基づいて各ラインブロックの位置（即ち、各ライン位置）を回転補正する（ステップＳ２３２）。
【０１６７】
［回転角の算出及び回転角補正］
本実施形態の場合、回転補正用のラインブロックとして、図９におけるラインブロック０とラインブロック４を用いる。図１８のステップＳ２０４で説明したように、ラインブロック０からラインブロック４までのライン位置を決定した後で、ラインブロック０とラインブロック４において同じノズルから作成したライン位置の座標をピックアップする。
【０１６８】
本実施形態では、ラインブロック０とラインブロック４は、ノズル番号０，２０，４０，６０，・・・が同じノズルでラインを作成しているので、これら共通のノズル番号に対応するライン位置が利用できる。
【０１６９】
ラインブロック０に属するノズル番号０のライン位置をＰ０＠ＬＢ０＝（x0_LB0, y0_LB0）とし、ラインブロック４に属するノズル番号０のライン位置をＰ０＠ＬＢ４＝（x0_LB4, y0_LB4）とする。
【０１７０】
これら２つの位置の成す角度θ０は、ΔＹ０＝y0_LB4 − y0_LB0、ΔＸ０＝x0_LB4 − x0_LB0として、tanθ０＝ΔＹ／ΔＸの関係から求められる。
【０１７１】
他のノズル番号、ノズル２０、ノズル４０、ノズル６０、等についても同様にθ２０、θ４０、θ６０、等を求め、その平均値を回転角θとして決定する。このようにして決定したθを用いて回転補正を行う。
【０１７２】
ラインブロック０からラインブロック３までの各ライン位置（ｘ，ｙ）を回転マトリクスＲ（−θ）で変換して回転角をキャンセルしたライン位置（ｘ´，ｙ´）を求める。
【０１７３】
［基準ライン位置の補正］
次に、図１７のフローチャートのステップＳ３０からＳ６０に進み、基準ライン位置特性値に基づく基準ライン位置の補正及びラインブロックの位置の補正が行われる。まず、複数の基準ラインブロック（図９参照）に基づいて、基準ライン位置特性値が決定される（図１７のステップＳ３０）。
【０１７４】
図３０は、本発明の一実施形態に係る基準ライン位置の補正処理を説明するための図である。
【０１７５】
図３０に示すように、本実施形態では、ラインブロックＬＢ０（４Ｎ＋０，Ｎ＝０），ＬＢ１（４Ｎ＋１，Ｎ＝０），ＬＢ２（４Ｎ＋２，Ｎ＝０），ＬＢ３（４Ｎ＋３，Ｎ＝０），・・・が記録紙上に形成されるとともに、ラインブロックＬＢ０（４Ｎ＋０，Ｎ＝０）に対応する共通ラインブロック（基準ラインブロック）として２つのラインブロックＬＣＢ，ＬＣＢｂが形成される。
【０１７６】
図３１は、基準ライン位置特性値の決定処理の流れを示すフローチャートである。
【０１７７】
まず、各基準ラインブロックに含まれるラインを形成した記録素子に近接する近接記録素子が抽出される（ステップＳ３００）。
【０１７８】
図３０に示す例では、ノズル０とノズル５、ノズル５とノズル１０、ノズル１０とノズル１５、・・・を近接するノズルとする。なお、上記近接記録素子の選択基準は、スキャナの特性によって決定することが望ましい。例えば、スキャナの主走査方向の歪みが非常に急峻な場合では、ノズル０とノズル５、ノズル１０とノズル１５、・・・のように、近接記録素子の組み合わせがオーバーラップしない方が好ましい。また、スキャナの主走査方向の歪みが緩やかな場合では、ノズル０とノズル５とノズル１０、ノズル５とノズル１０とノズル１５、・・・のようにオーバーラップさせる方が好ましい。以下、上記により抽出された近接記録素子の組み合わせを順番に０，１，・・・とする。
【０１７９】
次に、ステップＳ３００において抽出された近接記録素子に対応する複数の測定ライン位置を各基準ラインブロック内で平均化し、基準ライン位置特性値を算出する（ステップＳ３０２）。ステップＳ３０２では、近接記録素子の組み合わせごとに平均値を求め、この平均値を基準ライン位置特性値とする。
【０１８０】
共通ラインブロックＬＣＢ（５Ｎ＋０）に属する測定位置をxi＠LCB, yi＠LCB（ｉ：ノズル番号）、共通ラインブロックＬＣＢｂ（５Ｎ＋０）に属する測定位置をxi＠LCBb, yi＠LCBb（ｉ：ノズル番号）とする。共通ラインブロックＬＣＢに属するラインＬｃ０，Ｌｃ５，Ｌｃ１０，Ｌｃ１５のＸ座標をx0＠LCB, x5＠LCB, x10＠LCB, x15＠LCB, ・・・、共通ラインブロックＬＣＢｂに属するラインＬｃ０ｂ，Ｌｃ５ｂ，Ｌｃ１０ｂ，Ｌｃ１５ｂのＸ座標をx0＠LCBb, x5＠LCBb, x10＠LCBb, x15＠LCBb, ・・・とすると、各近接記録素子の組み合わせ組０（ノズル０とノズル５）、組１（ノズル５とノズル１０）、組２（ノズル１０とノズル１５）、・・・に対応する基準ライン位置特性値x_mk_0＠LCB, x_mk_1＠LCB, x_mk_2＠LCB, ・・・, x_mk_0＠LCBb, x_mk_1＠LCBb, x_mk_2＠LCBb, ・・・は、それぞれ下記の式（３−１），・・・，（４−１），・・・により表される。
【０１８１】
x_mk_0＠LCB = （x0＠LCB + x5＠LCB） /2    ・・・（３−１）
x_mk_1＠LCB = （x5＠LCB + x10＠LCB） /2   ・・・（３−２）
x_mk_2＠LCB = （x10＠LCB + x15＠LCB） /2  ・・・（３−３）
・・・
x_mk_0＠LCBb = （x0＠LCBb + x5＠LCBb） /2    ・・・（４−１）
x_mk_1＠LCBb = （x5＠LCBb + x10＠LCBb） /2   ・・・（４−２）
x_mk_2＠LCBb = （x10＠LCBb + x15＠LCBb） /2  ・・・（４−３）
・・・
次に、複数の基準ラインブロック内の位置が基準ライン位置特性値に基づいて補正される（図１７のステップＳ４０）。
【０１８２】
図３２は、基準ラインブロック内の位置の補正処理の流れを示すフローチャートである。
【０１８３】
まず、基準ラインブロックのうちの１つが補正基準ラインブロックとして決定される（ステップＳ４００）。ステップＳ４００では、基準ライン位置特性値x_mk_j＠LCBn（ここで、“ｎ”は基準ラインブロックを特定するための添え字であり、本実施形態では“ｎ”は“無印”又は“ｂ”である。）から下記の式（５）により表されるパラメータx_mk_distance_jを基準ブロックごとに計算し、パラメータx_mk_distance_jの統計的なバラツキ（例えば、標準偏差）が最小になる基準ラインブロックが補正基準ラインブロックとして選択される。
【０１８４】
x_mk_distance_j＠LCBn = x_mk_j+1＠LCBn - x_mk_j＠LCBn  ・・・（５）
以下の説明では、説明の便宜上、基準ラインブロックＬＣＢｂを補正基準ラインブロックとして選択したものとする。
【０１８５】
次に、補正基準ラインブロックＬＣＢｂを補正結果、各基準ラインブロックＬＣＢを補正前とし、上記基準ライン位置特性値x_mk_j＠LCBnに基づいて基準ラインブロックＬＣＢ内の各ラインの測定位置を補正するための補正関数h＠LCB（x）が決定される（ステップＳ４０２）。具体的には、補正関数h＠LCB（x）は、基準ラインブロックＬＣＢの基準ライン位置特性値：INPUT_DATA＠LCB = ｛x_mk_0＠LCB, x_mk_1＠LCB, x_mk_2＠LCB, ・・・｝を、基準ラインブロックＬＣＢｂの基準ライン位置特性値：OUTPUT_DATA＠LCB = ｛x_mk_0＠LCBb, x_mk_1＠LCBb, x_mk_2＠LCBb, ・・・｝に変換するものである。上記基準ラインブロック内の測定値を補正するための関数h＠LCB（x）としては、単純な補間処理（線形補間、スプライン補間）のための関数、又は多項式変換関数（区分的な多項式）を利用できる。
【０１８６】
次に、ステップＳ４０２において求めた補正関数h＠LCB（x）により、各基準ラインブロック内の測定位置が補正される（ステップＳ４０４）。以下、基準ラインブロックＬＣＢ内の各ラインＬｃ０，Ｌｃ５，Ｌｃ１０，・・・のＸ座標｛x0＠LCB, x5＠LCB, x10＠LCB, ・・・｝を補正関数h＠LCB（x）により変換した値をそれぞれ｛x'0＠LCB, x'5＠LCB, x'10＠LCB, ・・・｝とする。
【０１８７】
次に、補正した複数の基準ラインブロック内の位置が、対応する記録素子ごとに平均化され、統計的な基準ライン位置が決定される（図１７のステップＳ５０）。
【０１８８】
図３３は、基準ライン位置の統計的な決定処理の流れを示すフローチャートである。
【０１８９】
まず、ステップＳ４０において基準ライン位置特性値に基づいて位置補正された各基準ラインブロック内の測定位置が記録素子ごとに抽出される（ステップＳ５００）。
【０１９０】
次に、抽出した各基準ラインブロックの位置補正した測定位置を、各基準ブロック間で平均化する（ステップＳ５０２）。そして、ステップＳ５０２において求められたxave_i＠LCBを共通ノズルの測定位置（統計的な基準ライン位置）とする。ステップＳ５０２では、補正基準ラインブロックＬＣＢｂに関する測定位置データ：x0＠LCBb, x5＠LCBb, x10＠LCBb, x15＠LCBb, ・・・と、基準ラインブロックＬＣＢに関する、補正関数h＠LCB（x）により補正した後のデータ：x'0＠LCB, x'5＠LCB, x'10＠LCB, x'15＠LCB, ・・・とが各ノズル0, 5, 10, 15, ・・・ごとに平均化され、下記の式（６）に示す基準ライン位置：xave_0＠LCB, xave_5＠LCB, xave_10＠LCB, xave_15＠LCB, ・・・が算出される。
【０１９１】
xave_i＠LCB = （xi＠LCBb + x'i＠LCB）/2，（ｉ：ノズル番号）  ・・・（６）
［ラインブロック位置補正処理］
次に、ラインブロックの位置補正処理（図１７のステップＳ６０）について説明する。回転角補正処理後の測定値であっても、スキャナ要因等によるオフセット的な誤差が残っている（図４７参照）。そのため、図１７のステップＳ６０ではラインブロック間の位置補正処理を行う。
【０１９２】
図３４は、ラインブロック位置補正処理の流れを示すフローチャートである。図３４の処理では、図２９の処理によって算出された基準ライン位置に基づいて決定される仮想的なラインブロックに基づいて各ノズル0, 5, 10, 15, ・・・に対応するラインブロック（それぞれxave_0＠LCB, xave_5＠LCB, xave_10＠LCB, xave_15＠LCB, ・・・）の位置補正処理が行われる。
【０１９３】
図３４のラインブロック位置補正処理フローが開始すると、まず、上記の式（６）によって算出された基準ライン位置xave_0＠LCB, xave_5＠LCB, xave_10＠LCB, xave_15＠LCB, ・・・に基づいて、各ノズル0, 5, 10, 15, ・・・に対応する仮想的なラインを含む仮想的なラインブロックが決定される。そして、各ラインブロックに対してそれぞれ仮想的なラインブロックと共通するノズルにより形成されたラインを抽出し、この抽出したラインについて、基準ライン位置（Ｘ座標）を出力値、各ラインブロック測定位置（Ｘ座標）を入力値とする補正関数を各ラインブロックごとに求める（ステップＳ６００）。補正関数は、後述する通り、区分的な多項式を最小自乗法により決定する。こうして、各ラインブロックについて補正関数を得る。
【０１９４】
次いで、各ラインブロックの全ての測定位置（Ｘ座標）を、求めた対応する補正関数（区分的な多項式）を用いて変換する（ステップＳ６０２）。
【０１９５】
［ラインブロック位置補正］
ここで、ラインブロック間の位置補正について具体例で説明する。本実施形態では、ラインブロック０からラインブロック３をそれぞれ位置補正するが、ここでは、ラインブロック０の位置補正について説明し、他のラインブロックの位置補正は同様に行うことができるため、説明を省略する。
【０１９６】
まず、上記の式（６）によって算出された基準ライン位置xave_0＠LCB, xave_5＠LCB, xave_10＠LCB, xave_15＠LCB, ・・・に基づいて、各ノズル0, 5, 10, 15, ・・・に対応する仮想的なラインを含む仮想的なラインブロック４´が決定される。そして、ラインブロック０と仮想的なラインブロック４´と同じノズル番号のライン測定位置（ノズル番号0, 5, 10, 15, ・・・）を抽出する。
【０１９７】
ラインブロック０の測定位置（Ｘ座標）を、lb0_x0,  lb0_x5, lb0_x10, lb0_x15,・・・とすると、両ブロックに共通するノズル番号の測定位置は、以下の通りである。
【０１９８】
X= ｛lb0_x0, lb0_x20, lb0_x40, lb0_x60, ・・・｝
Y= ｛xave_0＠LCB, xave_20＠LCB, xave_40＠LCB, xave_60＠LCB, ・・・｝
これら共通するノズル番号の位置を用いて、y = f0（x）となる補正関数f0を決定する。
【０１９９】
補正関数は、スキャナの変動要因がオフセット的な要因だけであれば、Y= X + a0（０次関数）について、a0を最小自乗法で決定すればよく、キャリッジの微小な回転が問題になる場合は、Y= a1×X + a0（１次関数）について、a0, a1を最小自乗法で決定する。用紙変形については変形に即した補正関数を用いてればよい。用紙変形とスキャナ要因が複合している場合は、用紙変形モデルとスキャナ変形モデルの積を補正関数に選べばよい。
【０２００】
一般的にはY= Σai×X^i （i= 0, ・・・, n）の多項式を用いることができる。なお、上記の式中の「＾」の記号は累乗（巾）の演算を表す。
【０２０１】
［高次多項式を用いる場合の課題］
図３５は、ラインブロック間の位置補正（補正関数）に高次多項式関数を適用して、同じテストパターンを繰り返し測定したときの補正処理の結果を示す図である。図３５において、横軸は主走査方向位置、縦軸はライン間隔誤差を示す。
【０２０２】
図３５のように同じテストパターンを測定しても、測定値が安定しない現象が発生する。図中の「繰返し１」ではテストパターンを高精度に測定できているが、「繰返し２」では測定値が周期的に正負の誤差を持ってしまっている。この現象は高次多項式を選択したときに特有の発振現象である。
【０２０３】
このような発振現象は、図４９に示すように各副走査位置間の主走査方向の位置歪み特性差が周期的な成分を若干含んでいる場合に発生する可能性が高くなると推測される。
【０２０４】
このようなスキャナ特性に対しては、高次多項式関数の適用に代えて、区分的に低次多項式を補正関数として選択することが好ましい。
【０２０５】
［区分多項式による補正関数の説明］
図３６は、区分的な多項式による補正関数の説明図である。
【０２０６】
図３６の左側に示したデータ列（xi, yi）（ただし、ｉ＝0, 1, 2, ・・・, （n-1））について、所定の範囲（区分）のデータ群を１つのまとまりとして扱い（ここでは、６個の連続するデータ群を区分の単位として例示）、各区分のデータ集合S0, S1, ・・・, Sm-1についてそれぞれ多項式funcj（x）（ただし、j＝0, 1, 2, ・・・, （m-1））を対応付ける（ｎ及びｍは自然数）。
【０２０７】
各区分のデータ集合S0, S1, ・・・, Sm-1は隣接する区分間で互いに一部をオーバーラップさせている。各区分のデータ集合S0, S1, ・・・, Sm-1について、それぞれのデータ集合の中心値C0, C1, ・・・, Cm-2を求め、これらC0, C1, ・・・, Cm-2の値を境界とする各区分範囲に対して、それぞれ対応する多項式を定義する。対応する多項式は、注目する区分範囲を担う２つの多項式funcj（x）, funcj＋１（x）について比率ｔを用いた重み付け平均とする。
【０２０８】
図９で説明したテストパターンの測定データに適用した例で具体的に説明すると次の通りである。
【０２０９】
あるラインブロックに属する各ラインの位置データは、Ｘ座標方向に関して、ほぼ等間隔のデータとなっている。このようなほぼ等間隔のデータである場合、データ列の端から所定個数（例えば、６個）の連続するデータを最初のデータ集合Ｓ０として抽出する。
【０２１０】
ラインブロック０とラインブロック４とで同じノズル（共通ノズル）で描画されたラインの位置データ（Ｘ座標）について、以下のように抽出する。
【０２１１】
X0 = ｛lb0_x0, lb0_x20, lb0_x40, lb0_x60, lb0_x80, lb0_x100｝
Y0 = ｛xave_0＠LCB, xave_20＠LCB, xave_40＠LCB, xave_60＠LCB, xave_80＠LCB,
xave_100＠LCB｝
集合X0の要素は、ラインブロック０に属し、ノズル番号０，２０，４０，６０，８０，１００に対応する位置のデータである。
【０２１２】
集合Y0の要素は、仮想的なラインブロック４´に属し、同じノズル番号０，２０，４０，６０，８０，１００に対応する位置のデータである。集合X0の要素は、補正関数の入力値となるものであり、集合Y0の要素は補正関数の出力値となるものである。つまり、集合X0を集合Y0に一致させるように補正することになる。
【０２１３】
このデータ集合S0と一部をオーバーラップさせて、次のデータ集合S1を次のようにする。
【０２１４】
X1 = ｛lb0_x60, lb0_x80, lb0_x120, lb0_x140, lb0_x160, lb0_x180｝
Y1 = ｛xave_60＠LCB, xave_80＠LCB, xave_120＠LCB, xave_140＠LCB, xave_160＠LCB,xave_180＠LCB ｝
以下同様に、一部をオーバーラップさせながら順次データ集合S2, S3, ・・・を抽出する。
【０２１５】
つまり、補正したいデータ列の全体に対して、所定範囲（ここでは、６データとするが、データ個数は任意に設定可能である。）の部分集合S0, S1, S2, ・・・に分けていく。
【０２１６】
次に各データ集合S0, S1, S2, ・・・について、それぞれ対応する近似多項式func0（x）, func1（x）, func2（x）, ・・・を最小自乗法で求める。
【０２１７】
さらに、各部分集合について、およそ真ん中あたりの位置（中心値）を求める。すなわち、データ集合S0の中心値C0を決定する。C0はX0の平均値とする。同様に、データ集合S1の中心値C1を決定する。C1はX1の平均値とする。以下、同じように、全てのデータ集合Siについて、それぞれ中心値Ci（CiはX1の平均値）を決定する。
【０２１８】
なお、各データ集合S0, S1, S2, ・・・に対応する近似多項式を最小自乗法で求める際の最小自乗法の重み付けを、データ集合Siに対応する中心値Ciからの距離ｒijに応じて決定しても良い。
【０２１９】
例えば、データ集合Siの要素xjについてCiからの距離ｒijを次式で定義し、
rij = ｜xj − Ci|, xj ∈ Si
このrijの最大値をrmaxjとして、qj= rmaxj×２に対するrijの比（rij/qj）を用いて重みWjを次式で定義する。
【０２２０】
wj = （1 - （rij / qj））/（1 + （rij / qj））
このような重みWjを付加した最小自乗法によって各データ集合S0, S１, S2, ・・・に対応する近似関数を求めることができる。
【０２２１】
データ集合S0に対応する近似関数をfunc0（x）、データ集合S1に対応する近似関数をfunc1（x）、以下同様に、Siに対応する近似関数をfunci（x）とする。
【０２２２】
このようにして決定した補正関数の集合f0（x） = ｛func0（x）, func1（x）, func2（x）, ・・・｝を用いて、ラインブロック０の測定位置（X座標）｛lb0_x0, lb0_x4, lb0_x8, ・・・｝を変換する。
【０２２３】
次に、区分的な多項式を用いた変換（補正処理）の手順を説明する。
【０２２４】
入力値をxkとする。この入力値に対して、まずxkと各c0, c1,c2, ....の大小関係から、次のような場合に分ける。
【０２２５】
[1] xk ≦ c0 の場合
[2] cl ≦ xk ≦cl+1の場合（ｌは0からm-1のいずれかの自然数）
[3] cm-1≦ xkの場合
なお、[1]又は[3]で等号が成立する場合は[2]に含めることも可能である。
【０２２６】
[1]の場合には、対応する近似多項式func0（x）に対して、xkを入力したyk=func0（xk）が変換結果ykである。
【０２２７】
[2]の場合、clとcl+1にそれぞれ対応する近似多項式funcl（x）, funcl+1（x）と、cl及びcl+1とxkの位置関係から求めた比率tを用いて、
t = （cl+1 - xk） / （cl+1 - cl）
yk = t×funcl（xk） + （1−t）×funcl+1（xk）
が変換結果ykである。
【０２２８】
オーバーラップ領域について２つの多項式を適切な比率で組み合わせることにより、区分的な関数を滑らかに連続させることができる。
【０２２９】
[3]の場合、対応する近似多項式funcm-1（x）に対して、xkを入力したyk=funcm-1（xk）が変換結果ykである。
【０２３０】
こうして、ラインブロック０の測定位置（Ｘ座標）｛lb0_x0, lb0_x4, lb0_x8, ・・・｝を変換する。
【０２３１】
図９で説明したラインブロック１とラインブロック４についても同様に補正関数f1（x）を決定し、決定した補正関数f1（x）を用いて、ラインブロック１の測定位置（Ｘ座標）｛lb1_x1, lb1_x5, lb1_x9, ・・・｝を変換する。
【０２３２】
ラインブロック２、３についても同様に、それぞれ補正関数f2（x）, f3（x）を決定し、決定した補正関数f2（x）, f3（x）を用いて、それぞれのラインブロック２，３の測定位置（Ｘ座標）を変換する。
【０２３３】
このようにして、同一の基準ラインブロックの位置を基準にして、各ラインブロックの位置を補正するので、ラインブロック相互の位置誤差を低減することが可能になる。また、用紙変形についても変形の度合いがラインブロック０からラインブロック３で異なっていても、基準ラインブロックを基準に補正されるので用紙変形による測定誤差を低減することが可能になる。
【０２３４】
特に、上述した区分的な多項式は次数を３〜５に抑えても良好な近似が可能であるので、図３６のような高次多項式を用いたときに懸念される発振現象を防止することができる。
【０２３５】
例えば、Ａ３幅１２００dpiのページワイド（フルライン）ヘッドについて、１つの高次多項式で近似しようとすると、次数は１８次〜２０次となり発振現象を起こし得るが、本実施形態によれば、２次〜５次の低次多項式となるため、発振現象を抑えつつ、歪み（変動）に追従する補正が可能である。
【０２３６】
なお、本実施形態（図３６）では、各区分について３データずつオーバーラップさせているが、オーバーラップの量は特に限定されない。オーバーラップさせるデータ量が多いほど、補正関数の滑らかさが向上し、オーバーラップさせるデータ量を少なくすれば、各区分に対応した個々の多項式の影響をより強く反映させた補正関数となる。
【０２３７】
［各ラインブロックの統合］
次に、図１７のステップＳ７０に示した各ラインブロックのライン位置補正関数で補正した位置を統合する処理について説明する。
【０２３８】
この統合処理では、上記固定位置歪み補正テーブルによって補正した各ラインブロックの位置のＸ座標を、ノズル番号順に並べる処理を行う。こうして、ノズル番号順に並べた結果が各ノズルのドット着弾位置である。
【０２３９】
本実施形態のドット位置測定方法によれば、基準ラインブロックを読み取った副走査位置におけるスキャナ主走査方向の位置歪みを、予め求めた固定的な主走査方向の位置歪み補正テーブルで補正することで、高精度な位置を測定することが可能である。このような１次元的な位置歪みを補正する固定的な補正パラメータを作成する目的に使用する１次元スケールは、比較的入手が容易であり、２次元スケールに比べて安価である。
【０２４０】
［位置歪み補正処理］
次に、位置歪み補正処理（図１７のステップＳ８０）が行われる。
【０２４１】
図３７は、位置歪み補正処理の流れを示すフローチャートである。
【０２４２】
図３７の位置歪み補正フローが開始すると、まず、図１７のステップＳ７０で統合した位置データに基づいて、位置歪みを補正する関数を決定する（ステップＳ８００）。そして、この決定した位置歪み補正関数を用いて、前記統合した位置データを補正する（ステップＳ８０２）。
【０２４３】
図３７のステップＳ８０２の処理を終えると、図３７のサブルーチンを抜けて、図１７の全体フローに復帰し、処理を終了する。
【０２４４】
ここで、ステップＳ８００、Ｓ８０２における具体的な計算方法を例示する。
【０２４５】
［位置歪み補正処理の第１例］
まず、ステップＳ１１４で得られた統合した位置データ列Ｒ１＝｛xx0, xx1, xx2, xx3, ・・・, xxm-1｝を間隔値のデータ列Ｒ２に変換する。すなわち、隣接する２つのデータxx_i+1 、 xx_iの差を間隔値ssiとして計算し、そのデータ集合Ｒ２を得る。
【０２４６】
図３８は、間隔値（ノズル間隔）のデータ集合Ｒ２の例を示すグラフである。
【０２４７】
R2 = ｛ss0, ss1, ss2, ... , ssm-2｝， ssi = xx_i+1 − xx_i
こうして得られた間隔値ssiのデータ列Ｒ２について、移動平均やローパスフィルタ処理によって高周波成分を除いたデータ集合ＬＲ２を作成する。図３８には２７個のデータ区間の移動平均の結果も併記した。
【０２４８】
例えば、「２×nn＋１」個の点の移動平均を取る場合（ただし、「nn」は自然数とする。）、データ集合ＬＲ２は、次式で表される。
【０２４９】
LR2 = ｛lss0, lss1, lss2, ..., lssm-2｝
lssi = Σ（si+k） / （2*nn + 1）， k = −nn, ・・・, nn
或いはまた、ローパスフィルタ処理を適用する場合は、次式で表される。
【０２５０】
LR2 = ｛lss0, lss1, lss2, ・・・, lssm - 2｝
lssi = Σlpfk×si+k，k= −nn, ・・・, nn
ただし、lpfｋはローパスフィルタの係数である。
【０２５１】
こうして、高周波成分を除いたデータ列ＬＲ２は間隔値のデータ列であるため、これを位置のデータ列へと変換するために、ＬＲ２の累積和を順番に取ったデータ列Ｒ２Ｘを計算する。
【０２５２】
R2X = ｛r2x0, r2x1, r2x3, ・・・ , r2xm-1｝
r2xi = Σ（lssk）， k=0, ・・・, i-1
ただし、r2x0 = 0とする
このＲ２Ｘを求める計算は、統合した位置データ列Ｒ１を間隔値のデータ列Ｒ２に変換する工程の逆の演算に相当している。こうして求めたデータ列Ｒ２Ｘをスキャナ主走査方向の歪み特性とする。
【０２５３】
その一方、理想的な位置のデータ列Ｒ２Ｙ（ノズル番号×の理想的なノズル間隔のデータ列）はノズル間隔から求める。
【０２５４】
ノズル間隔（ドット着弾位置）が理想的には等間隔の場合、ノズル間距離をLLとする。この場合、理想的な位置のデータ列Ｒ２Ｙは、次式で計算される。
【０２５５】
R2Y = ｛r2y0, r2y1, r2y2, ・・・, r2ym-1｝
r2yi = LL × i，  ただし、i = 0, 1, 2, ・・・, m-1
データ列Ｒ２Ｘを入力データ列、Ｒ２Ｙを出力データ列とした補正関数を用いて、元の統合した位置データ列Ｒ１を補正する。
【０２５６】
なお、補正関数としては、線形補間やキュービック補間、スプライン補間を使用する。
【０２５７】
［位置歪み補正処理の第２例］
また、別の方法として、次のような方法を適用することが可能である。
【０２５８】
図２８のステップＳ１１４で得られた統合した位置データ列Ｒ１は、理想的な位置に対して、各ノズルの着弾位置誤差が確率的に正規分布を取ると仮定すると、位置データ列Ｒ１に対して、スキャナの主走査方向の位置歪みに相当する補正関数（多項式）を最小自乗法で近似式として求めることができる。
【０２５９】
すなわち、ノズルの理想的な位置を入力値X、データ列R1を出力値Yとして関数を求める。
【０２６０】
ノズルの理想的な位置のデータ列（入力値X）は、次のとおりである。
【０２６１】
X = ｛xx0, xx1, xx2, ・・・, xxm-1｝
xxi = LL × i，  ただし、i = 0, 1, 2, ・・・, m-1
統合した位置データ列Ｒ１=｛yy0, yy1, yy2, yy3, ・・・, yym-1｝に対し、近似多項式func（x）を公知の方法で求める。図３９は、測定位置のデータと近似多項式の例を示す図である。
【０２６２】
なお、この近似多項式について、図３６と同様に、区分的な多項式を適用することも可能である。
【０２６３】
次いで、位置データ列Ｒ１と対応する近似式との差分を求め、求めた差分をノズルの理想的な位置に加えた結果が、補正後の位置である。
【０２６４】
（補正後の位置）＝ yyi - func（xxi） + xxi
この第２例に係る方法は、ノズル間隔が一定でなくても適用可能である。xxiをノズル理想位置のデータ列に置き換えればよい。
【０２６５】
［ドット位置の決定］
上記補正したライン位置のＸ座標がノズル番号に対応するドット位置である。このようにして各ノズルからのドットの着弾位置のばらつき情報を得て、ムラ補正などの演算処理に利用することができる。
【０２６６】
［更なる測定精度向上の工夫］
基準となるラインブロック４については特に精度を向上させる目的で、ＲＯＩの多重度を増大したり、ライン長さを長くして平均範囲を広げたりすることは好適である。また、ラインブロック４（基準ラインブロック）を測定用チャート内に複数配置して、複数の測定結果を統計処理した位置を基準ラインブロックの位置として使用することは、スキャナのローカリティの影響を低減する効果がある。
【０２６７】
［位置歪み補正処理の別の実施形態］
なお、本実施形態では、ラインブロック位置補正後の測定位置を統合処理（図１７のステップＳ７０）の後に、位置歪み補正処理（ステップＳ８０）を行うようにしたが、上記位置歪み補正処理に代えて、基準ラインブロック固定歪み補正処理を、ステップＳ６０のラインブロック位置補正処理の後に行う態様も可能である。
【０２６８】
［基準ラインブロック固定歪み補正］
即ち、本実施形態では、ラインブロック位置補正の処理（図３４）が終了した後に、基準ラインブロック固定歪み補正の処理（図４２）が行われる。
【０２６９】
この処理は、基準ラインブロックに対応する固定的な位置補正テーブル（「固定位置歪み補正テーブル」という。）を用いて、上記補正関数（区分的な多項式）で変換した位置（Ｘ座標）を補正するものである。
【０２７０】
以下、基準ラインブロック固定歪み補正の処理内容について説明する。
【０２７１】
基準ラインブロック固定歪み補正の実施に先立ち、予め固定位置歪み補正テーブルを作成しておく必要がある。すなわち、測定に用いるスキャナについて、テストパターン読み取るときに基準ラインブロックに相当する位置の主走査方向の位置歪みを予め測定しておき、これを固定位置歪み補正テーブルとして記憶しておく。
【０２７２】
この固定位置歪み補正テーブルは、次のようにして取得する。
【０２７３】
予め等間隔のラインが並んだ１次元スケールを用意し、この１次元スケールをテストパターンの基準ラインブロックに相当する位置（副走査方向位置）に置き、補正対象のスキャナで当該１次元スケールを読み取る。そして、１次元スケール読み込み各位置をスキャナ座標に基づいて求めた結果を入力値とし、等間隔ラインの実際の値を出力値として、この入力値−出力値の関係を、測定ノイズを除去する処理をして求めることができる。
【０２７４】
一例として、前記入力値−出力値から近似多項式を求めてこの近似多項式を固定位置歪み補正テーブルとすることができる。
【０２７５】
図４０及び図４１は、カラースキャナの各ＲＧＢチャンネルの固定位置歪み補正テーブルを説明する図である。
【０２７６】
１次元スケールのラインを分光反射率がほぼ一定の色材で形成し、カラースキャナのＧチャンネルの入力値と出力値を６次多項式で近似したものが図４０である。また、図４１は、Ｇチャンネルの位置データとのＲチャンネルとＢチャンネルでそれぞれ差分を求めて、その差分値を多項式で近似した固定位置歪み補正テーブルである。
【０２７７】
Ｇチャネルで読み取った位置はＧチャンネル用の固定位置歪み補正テーブル（図４０）をそのまま使用する。一方、Ｒチャンネルで読み取った位置は、Ｇチャンネル用固定位置歪み補正テーブル（図４０）と差分（Ｒ−Ｇ）用固定位置歪み補正テーブル（図４１）を足し合わせたテーブルを使用する。Ｂチャンネルで読み取った位置は、Ｇチャンネル用固定位置歪み補正テーブル（図４０）と差分（Ｂ−Ｇ）用固定位置歪み補正テーブル（図４１）を足し合わせたテーブルを使用する。なお、図４０及び図４１中の近似式の表記において「Ｅ−α」は、１０の（−α）乗を表す。
【０２７８】
図４０及び図４１に示したような固定位置歪みテーブルを予めメモリ等の記憶手段に記憶しておき、基準ラインブロック固定歪み補正処理の際に当該テーブルを読み出して補正を行う。
【０２７９】
図４２は、基準ラインブロック固定歪み補正処理のフローチャートである。図４２の基準ラインブロック固定歪み補正フローが開始すると、まず、基準ラインブロック位置に対応する固定歪み補正テーブルを記憶手段から取り出す（ステップＳ７０２）。
【０２８０】
次いで、この取り出した固定歪み補正テーブルを用いて、ラインブロック位置補正処理（図１７のステップＳ６０）で補正した位置をさらに補正する（図４２のステップＳ７０４）。求めるドット位置は、基準ラインブロックに対応する固定的な位置補正テーブルを用いて補正した後のＸ座標である。
【０２８１】
図４２のステップＳ７０４の処理を終えると、ラインブロックの統合処理（図１７のステップＳ７０）が行われた後処理が終了する。
【０２８２】
［本実施形態の作用・効果］
本実施形態では、測定対象のテストパターン上のドット着弾位置方向と、スキャナ装置の主走査方向を同じ方向にして（図１４）、スキャナの読み取り解像度を主走査方向に対して副走査方向を粗くして読み取る（図１５）。これによって市販スキャナでもＡ３全面を一度に高速に読み取りが可能になり、測定時間が短縮される効果がある。
【０２８３】
また、読み取った画像データ量が約２５７ＭＢ程度（主走査２４００ＤＰＩ、副走査２００ＤＰＩの場合）と小さくなるので、データ処理時間が大幅に短縮され、処理に必要なコンピュータの性能を抑えられるという効果がある。したがって、目標とする高精度なドット位置測定を比較的低コストで実現することができる。
【０２８４】
更に、本実施形態では、読み取った画像内のライン位置を決定するに際し、ラインの長手方向（スキャナ装置の副走査方向）を部分的に平均処理した平均プロファイル画像を作成し、平均プロファイル画像をフィルタリング処理する。既述した副走査方向の低解像度読み取りと、この平均化、フィルタリング処理によってインクの飛び散り（サテライト）やゴミのコントラストが相対的に低くなり、特別なゴミ除去の工夫が必要なくなる効果がある。
【０２８５】
また、平均化処理は同時に、平均化方向の不規則なノイズの影響を低減して階調値の信頼性を増大させ、階調値に基づいて位置を決定するアルゴリズムの精度を向上させる効果がある。フィルタリング処理は同時に、不規則なノイズ成分やサンプリング歪みを低減して、プロファイル画像を滑らかにしてライン位置に関する信頼性を向上させる効果がある。
【０２８６】
更に、平均化したプロファイル画像において、各ライン近傍の白地濃度とインク濃度に基づいて階調値を補正する処理（Ｗ／Ｂ補正処理）により、スキャナ装置のフレアや記録紙の散乱の影響によるプロファイル画像の歪みを補正し、同時にスキャナ装置の主走査方向のシェーディングを低減する効果がある。このように階調値を補正することで階調値に基づく位置精度を向上させることができる。
【０２８７】
また、本実施形態では、上記平均化プロファイルを計算する領域（ＲＯＩ）をライン長手方向に一定量ずつズラして複数の平均化プロファイル画像を用いてライン位置を計算し、得られた複数のライン位置を平均化する。この処理により、読み取りラインとスキャナ装置の読取素子との相対的な位置関係（所謂サンプリング位相）を変化させて更にライン位置精度を向上させることができる。
【０２８８】
また、本実施形態では、測定対象のラインパターン上の各ラインブロックに対して、略均等に同じノズルから形成されたラインを含む基準ラインブロックを配置する（図７）。この基準ラインブロックを基準位置として、各ラインブロックの測定位置を補正し、スキャナのキャリッジ位置変動に起因する読み取り画像格子の乱れの影響を低減することができる。更に、この補正の仕組みによって、用紙変形の影響を低減した測定も可能である。
【０２８９】
図４３は、スキャンごとの主走査方向の歪みの変動を示すグラフである。図４３に示す例では、主走査方向の歪みの変動の傾向は、副走査位置１，２，３に応じて異なっている。このように、主走査方向の歪みの変動の傾向がスキャンごとに、且つ、図中の副走査位置３のように右端部付近だけが局所的に大きく変動することがある。
【０２９０】
同一記録素子（以下、共通ノズルという。）によって記録される位置が一致することを前提として、ドット位置の検出及び補正を行うことが考えられる。この場合、スキャナの図形変動（主走査方向の歪みの変動）が局所的に発生し、且つ、図形変動が発生している範囲（領域）が同一記録素子の描画領域を含む場合には測定精度が劣化するという問題が生じる。この問題は、具体的には共通ノズルを含むブロック内のデータを基準として他の測定値を補正する際に、基準となる共通ノズルを含む位置に図形変動が局所的に発生する場合に顕著になる。
【０２９１】
上記のような図形変動がスキャナによる測定対象領域に含まれており、且つ、主走査方向の歪みが大きく変化する位置が共通ノズルを含むブロック内であった場合、基準として他の測定値を補正する測定データに非線形歪みが含まれるので、スキャナによる測定全体の精度低下が顕著になる問題がある。
【０２９２】
スキャナによって読み取られた画像に基づいて決定した各ラインパターンの位置（ライン位置）をＰｉ＝（ｘｉ，ｙｉ）とする。ここで、ｉは記録素子番号であり、Ｘ方向を測定サンプルのライン並び方向且つスキャナ主走査方向、Ｙ方向を測定サンプルのラインブロック並び方向且つスキャナ副走査方向とする。ライン位置Ｐｉ＝（ｘｉ，ｙｉ）の具体的な数値はスキャナ読み取り座標（μｍ）とする。
【０２９３】
ライン位置Ｐｉ＝（ｘｉ，ｙｉ）には、Ｘ方向の測定値には誤差として、Ｅｓ（ｘ，ｙ）、Ｅｓｒ（ｙ）及びＥｐ（ｙ）が含まれる。即ち、ライン位置の測定値のＸ座標ｘｉの真の値を＜ｘｉ＞とすると、測定値ｘｉは、下記の式（１）により表される。
【０２９４】
xi = <xi> + Es（xi, y） + Esr（y） + Ep（y）  ・・・（１）
ここで、Ｅｓ（ｘｉ，ｙ）は、スキャナ副走査位置に依存するスキャナ主走査方向の歪み固定成分、Ｅｓｒ（ｙ）は、スキャナ主走査位置の歪みのランダム変動成分、Ｅｐ（ｙ）は、画像を記録するごとに発生する記録素子がもつ記録位置のランダム変動成分である。なお、Ｅｓ（ｘｉ，ｙ）は近傍では変化量が少ない（相関が高い）が、主走査全体では大きな成分となる場合もある。また、Ｅｓｒ（ｙ）とＥｐ（ｙ）はランダム変動するため場所によって変化量は変わらない。
【０２９５】
共通ノズルとして選択された記録素子の測定位置に基づいて、他の測定位置を補正する場合、測定値ｘｉのうち上記Ｅｓｒ（ｙ）やＥｐ（ｙ）のように、ランダムに変動する成分が無視できないほど大きい場合、共通ノズルのもつ誤差が他の測定ラインブロックに大きく影響して全体として測定精度が低下するという問題がある。
【０２９６】
これに対して、本実施形態では、共通ノズルに相当する測定位置の精度を向上させるために、共通ノズルを含む基準ラインブロックを複数設ける（図３０のＬＣＢ，ＬＣＢｂなど）。
【０２９７】
x＠LcをラインブロックＬｃにおける記録素子ｉの測定位置（Ｘ座標）とすると、記録素子ｉに対応するラインブロックＬｃの測定位置xi＠Lc並びに近傍の測定位置xi-k＠Lc及びxi+k＠Lcは下記の式（Ａ−１）から（Ａ−３）により表される。
【０２９８】
xi＠Lc = <Xi> + Es（xi＠Lc, y＠Lc） + Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc）        ・・・（Ａ−１）
xi-k＠Lc = <Xi-k> + Es（xi-k＠Lc, y＠Lc） + Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc）  ・・・（Ａ−２）
xi+k＠Lc = <Xi+k> + Es（xi+k＠Lc, y＠Lc） + Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc）  ・・・（Ａ−３）
この３測定位置の平均値（基準ライン特性値）XAve_i＠Lcは、下記の式（Ｂ）により表される。
【０２９９】
XAve_i＠Lc = （xi＠Lc + xi-k＠Lc + xi+k＠Lc）/3
= （<Xi> + <Xi-k> + <Xi+k>）/3
+ （Es（xi＠Lc, y＠Lc） + Es（xi-k＠Lc, y＠Lc） + Es（xi+k＠Lc, y＠Lc））/3  + ｛Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc） + Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc） + Esr（y＠Lc）+ Ep（y＠Lc）｝/3  ・・・（Ｂ）
同様に、ラインブロックＬｃｂにおける平均値は、下記の式（Ｃ）により表される。
【０３００】
XAve_i＠Lcb = （xi＠Lcb + xi-k＠Lcb + xi+k＠Lcb）/3
= （<Xi> + <Xi-k> + <Xi+k>）/3
+ ｛Es（xi＠Lc, y＠Lcb） + Es（xi-k＠Lc, y＠Lcb） + Es（xi+k＠Lc, y＠Lcb）｝/3 + ｛Esr（y＠Lcb） + Ep（y＠Lcb） + Esr（y＠Lcb） + Ep（y＠Lcb） + Esr（y＠Lcb） + Ep（y＠Lcb）｝/3  ・・・（Ｃ）
このとき、｛（<Xi> + <Xi-k> + <Xi+k>）/3 + （Es（xi＠Lc, y＠Lc） + Es（xi-k＠Lc, y＠Lc） + Es（xi+k＠Lc,y＠Lc））｝/3はラインブロックＬｃに対応するスキャナ主走査歪み成分である。また、（<Xi> + <Xi-k> + <Xi+k>）/3 + ｛Es（xi＠Lc, y＠Lcb） + Es（xi-k＠Lc, y＠Lcb） + Es（xi+k＠Lc, y＠Lcb）｝/3も同様にラインブロックＬｃｂに対応するスキャナ主走査歪み成分である。
【０３０１】
｛Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc） + Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc） + Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc）｝/3はランダムな性質から、元の測定値のランダムな誤差成分σが1/√３に低下する。
【０３０２】
｛Esr（y＠Lcb） + Ep（y＠Lcb） + Esr（y＠Lcb） + Ep（y＠Lcb） + Esr（y＠Lcb） + Ep（y＠Lcb）｝/3も同様に元の測定値のランダムな誤差成分σが１／√３に低下している。
【０３０３】
従って、ラインブロックＬｃとＬｃｂの間において、XAve_i＠Lcと対応するXAve_i＠Lcbに基づいて、Ｌｃｂの各測定値xi＠Lcｂを補正することで、ランダムな変動の影響を低減して、主走査歪み固定成分Es（xi＠Lc, y＠Lcb）を補正することができる。ここで、Es（xi＠Lc, y＠Lcb）, Es（xi-k＠Lc, y＠Lcb）, Es（xi+k＠Lc, y＠Lcb） はほぼ等しい値である。
【０３０４】
次に、ラインブロックＬｃｂの測定値をラインブロックＬｃで補正した測定値をxi＠Lcb（Lc）とすると、
xi＠Lcb（Lc） = <Xi> + Es（xi＠Lc, y＠Lc） + Esr（y＠Lcb） + Ep（y＠Lcb）  ・・・（Ｄ）
補正した測定値とラインブロックＬｃの測定値の平均値（統計的な測定位置）を計算すると、
XAve_i = ｛xi＠Lc + xi＠Lcb（Lc）｝/2
= （<Xi>） + （Es（xi＠Lc,y＠Lc））
+ ｛Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc） + Esr（y＠Lcb） + Ep（y＠Lcb）｝/2
｛Esr（y＠Lc） + Ep（y＠Lc） + Esr（y＠Lcb） +Ep（y＠Lcb）｝/2はランダムな性質から、元の測定値のランダムな誤差成分σが１／√２に低下する。
【０３０５】
以上では、近傍記録素子３個と２つの共通ラインブロック（基準ラインブロック）の例で説明したが、近傍記録素子をＭ個、共通ラインブロック（基準ラインブロック）をＮ個として、Ｍ及びＮを大きな数に設定することで、精度の高い測定演算処理が可能になる。
【０３０６】
［ドット位置測定装置の構成例］
次に、上述したドット位置測定方法の実施に用いるドット位置測定装置の構成例について説明する。本例のドット位置測定に用いる画像解析の処理アルゴリズムをコンピュータに実行させるプログラム（ドット位置測定処理プログラム）を作成し、このプログラムによってコンピュータを動作させることにより、当該コンピュータをドット計測装置の演算装置として機能させることができる。
【０３０７】
図４４は、ドット位置測定装置の構成例を示すブロック図である。
【０３０８】
図示のドット位置測定装置２００は、画像読取装置２０２としてのフラットベットスキャナーと、画像解析の演算等を行うコンピュータ２１０とから構成される。
【０３０９】
画像読取装置２０２は、測定用ラインパターンを撮像するＲＧＢラインセンサを備えるとともに、該ラインセンサを読み取り走査方向（図１０のスキャナ副走査方向）に移動させる走査機構及びラインセンサの駆動回路、センサの出力信号（撮像信号）をＡ／Ｄ変換して、所定フォーマットのデジタル画像データに変換する信号処理回路等を備えている。
【０３１０】
コンピュータ２１０は、本体２１２と、ディスプレイ（表示手段）２１４及びキーボードやマウスなど入力装置（各種の指示を入力するための入力手段）２１６から構成される。本体２１２内には中央演算処理装置（ＣＰＵ）２２０、ＲＡＭ２２２、ＲＯＭ２２４、入力装置２１６からの信号入力を制御する入力制御部２２６、ディスプレイ２１４に対して表示用の信号を出力する表示制御部２２８、ハードディスク装置２３０、通信インターフェース２３２、及びメディアインターフェース２３４などを有し、これら各回路はバス２３６を介して相互に接続されている。
【０３１１】
ＣＰＵ２２０は、全体の制御装置及び演算装置（演算手段）として機能する。ＲＡＭ２２２は、データの一時記憶領域やＣＰＵ２２０によるプログラム実行時の作業用領域として利用される。ＲＯＭ２２４は、ＣＰＵ２２０を動作させるブートプログラムや各種設定値・ネットワーク接続情報などを記憶する書き換え可能な不揮発性の記憶手段である。ハードディスク装置２３０には、オペレーティングシステム（ＯＳ）や各種のアプリケーションソフト（プログラム）やデータ等が格納される。
【０３１２】
通信インターフェース２３２は、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）やＬＡＮ、Bluetooth（登録商標）など所定の通信方式に従って外部機器や通信ネットワークに接続するための手段である。メディアインターフェース２３４は、メモリカードや磁気ディスク、光磁気ディスク、光ディスクに代表される外部記憶装置２３８の読み書き制御を行う手段である。
【０３１３】
本実施形態では、通信インターフェース２３２を介して画像読取装置２０２とコンピュータ２１０とが接続され、画像読取装置２０２で読み取った撮像画像のデータがコンピュータ２１０に取り込まれる。なお、画像読取装置２０２によって取得された撮像画像のデータを外部記憶装置２３８に一旦記憶し、外部記憶装置２３８を通じて撮像画像データをコンピュータ２１０に取り込む構成も可能である。
【０３１４】
本発明の実施形態に係るドット位置測定方法における画像解析の処理プログラムは、ハードディスク装置２３０、或いは外部記憶装置２３８に格納されており、必要に応じて当該プログラムが読み出され、ＲＡＭ２２２に展開されて実行される。或いは、通信インターフェース２３２を介して接続される不図示のネットワーク上に設置されたサーバによってプログラムが提供される態様も可能であるし、インターネット上のサーバによって本プログラムによる演算処理サービスを提供するという態様も考えられる。
【０３１５】
オペレータは、ディスプレイ２１４上に表示されるアプリケーションウインドウ（不図示）を見ながら入力装置２１６を操作して各種初期値の設定を入力することができるとともに、演算結果をディスプレイ２１４上で確認することができる。
【０３１６】
また、演算結果のデータ（計測結果）は、外部記憶装置２３８に記憶したり、通信インターフェース２３２を介して外部に出力したりすることができる。計測結果の情報は、通信インターフェース２３２又は外部記憶装置２３８を介してインクジェット記録装置に入力される。
【０３１７】
（変形例１）
図３６で説明したドット位置測定装置２００の機能をインクジェット記録装置に組み込む構成も可能であり、測定用ラインパターンの印字からその読み取り、並びにその後の画像解析によるドット位置計測という一連の動作をインクジェット記録装置の制御プログラムによって連続的に実施する態様も可能である。
【０３１８】
例えば、図１で説明したインクジェット記録装置１０における印字部１２の後段に、印字結果を読み取るラインセンサ（印字検出部）を設け、このラインセンサによって測定用ラインパターンを読み取る態様が可能である。
【０３１９】
（変形例２）
上記実施形態では、記録媒体の全幅に対応する長さのノズル列を有するページワイドのフルライン型ヘッドを用いたインクジェット記録装置を説明したが、本発明の適用範囲はこれに限定されず、シリアル型（シャトルスキャン型）ヘッドなど、短尺の記録ヘッドを移動させながら、複数回のヘッド走査により画像記録を行うインクジェット記録装置についても本発明を適用可能である。
【０３２０】
（変形例３）
図１では、記録媒体（記録紙１６）の搬送手段として、ベルト搬送方式を用いているが、本発明の実施に際して、記録媒体の搬送手段はベルト搬送方式に限らず、ドラム搬送方式、ニップ搬送方式など、各種形態を採用し得る。
【０３２１】
（変形例４）
上述の説明では、記録ヘッドを用いる画像形成装置の一例としてインクジェット記録装置を例示したが、本発明の適用範囲はこれに限定されない。インクジェット方式以外では、サーマル素子を記録素子とする記録ヘッドを備えた熱転写記録装置、ＬＥＤ素子を記録素子とする記録ヘッドを備えたＬＥＤ電子写真プリンタ、ＬＥＤライン露光ヘッドを有する銀塩写真方式プリンタなど、ドット記録を行う各種方式の画像形成装置についても本発明を適用することが可能である。
【０３２２】
また、画像形成装置という用語の解釈においては、写真プリントやポスター印刷などのいわゆるグラフィック印刷の用途に限定されず、インクジェット技術を利用したレジスト印刷装置、電子回路基板の配線描画装置、微細構造物形成装置など、画像として把握できるパターンを形成し得る工業用途の装置も包含する。
【０３２３】
即ち、本発明は、記録ヘッドとして機能する液体吐出ヘッドを用いて機能液その他各種の液体を被吐出媒体（記録媒体）に向けて噴射する各種の装置（塗装装置、塗布装置、配線描画装置、微細構造物形成装置など）におけるドット着弾位置の測定技術として広く適用可能である。
【０３２４】
なお、基準ライン位置特性値に基づいて共通ラインブロック（基準ラインブロック）に含まれるラインの測定位置を補正してから、統計処理（平均化）するという本発明の技術思想は、基準ラインブロック以外の各ラインブロックに対しても適用可能である。即ち、図３０のラインブロック０，１，２，３に関しても、各ラインブロックにそれぞれ対応する同じパターンを作成し、それぞれラインブロック０ｂ、ラインブロック１ｂ、ラインブロック３ｂとする。そして、各ラインブロック０と０ｂ，１と１ｂ，・・・についてラインの測定位置の平均化を行って各ラインの測定位置の精度を向上させてから、共通ラインブロックと一致するノズル番号に関する補正を行うことも可能である。
【０３２５】
なお、本実施形態に係るドット位置測定方法は、インクジェット記録装置１０のシステムコントローラ６４及びプリント制御部７８、又はドット位置測定装置２００に上記の処理を実行させるコンピュータプログラム、該コンピュータプログラムを記録した記録媒体又はプログラム製品としても実現することができる。
【符号の説明】
【０３２６】
１０・・・インクジェット記録装置、１２・・・印字部、１２Ｋ，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙ・・・ヘッド、１６・・・記録紙、５０・・・ヘッド、５１・・・ノズル、５２・・・圧力室、５８・・・アクチュエータ、７２・・・システムコントローラ、８０・・・プリント制御部、９０・・・ドット、９２・・・ライン、２００・・・ドット位置測定装置、２０２・・・画像読取装置、２１０・・・コンピュータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2011079257.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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【図４９】
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