(57)【要約】【課題】アナログ波形同士の比較精度を向上できる比較装置を提供する。【解決手段】ｎ（ｎは自然数）変数関数である第１関数で表される第１アナログ波形とｎ変数関数であり第１関数の変数と同一の変数を有する第２関数で表される第２アナログ波形とを比較する比較装置であって、第１アナログ波形と第２アナログ波形とが配置された座標系を表す座標系情報を受け付ける受付部と、座標系情報に表された第１アナログ波形に複数の計測点を設定する設定部と、計測点ごとに計測点と座標系情報に表された第２アナログ波形との最短距離を測定し、計測点ごとの最短距離を、第１アナログ波形と第２アナログ波形との比較結果として出力する測定部と、を含む。【選択図】図１
2011180663.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ｎ（ｎは自然数）変数関数である第１関数で表される第１アナログ波形と、前記ｎ変数関数であり前記第１関数の変数と同一の変数を有する第２関数で表される第２アナログ波形と、を比較する比較装置であって、
前記第１アナログ波形と前記第２アナログ波形とが配置された座標系を表す座標系情報を受け付ける受付部と、
前記座標系情報に表された第１アナログ波形に複数の計測点を設定する設定部と、
前記計測点ごとに、当該計測点と前記座標系情報に表された第２アナログ波形との最短距離を測定し、前記計測点ごとの最短距離を、前記第１アナログ波形と前記第２アナログ波形との比較結果として出力する測定部と、を含む比較装置。
【請求項２】
請求項１に記載の比較装置において、
前記比較結果を表すグラフを生成し、当該グラフを表示する表示制御部を、さらに含む比較装置。
【請求項３】
請求項２に記載の比較装置において、
前記表示制御部は、前記比較結果を用いて、前記最短距離を独立変数とし前記比較結果における前記最短距離の出現回数を従属変数とする第３関数のグラフを生成し、当該第３関数のグラフを表示する、比較装置。
【請求項４】
請求項３に記載の比較装置において、
前記表示制御部は、前記第３関数のグラフを予め定めたアラーム関数のグラフが配置された座標系に配置した際に、前記第３関数のグラフと前記アラーム関数のグラフとの交点が存在する場合に、アラーム表示を行う、比較装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか１項に記載の比較装置において、
前記設定部は、さらに、前記座標系情報に表された第２アナログ波形に複数の測定点を設定し、
前記測定部は、さらに、前記測定点ごとに、当該測定点と前記座標系情報に表された第１アナログ波形との最短距離を測定し、前記測定点ごとの最短距離を、前記第１アナログ波形と前記第２アナログ波形との比較結果として出力する、比較装置。
【請求項６】
コンピュータに、
ｎ（ｎは自然数）変数関数である第１関数で表される第１アナログ波形と、前記ｎ変数関数であり前記第１関数の変数と同一の変数を有する第２関数で表される第２アナログ波形と、が配置された座標系を表す座標系情報を受け付ける受付手順と、
前記座標系情報に表された第１アナログ波形に複数の計測点を設定する設定手順と、
前記計測点ごとに、当該計測点と前記座標系情報に表された第２アナログ波形との最短距離を測定し、前記計測点ごとの最短距離を、前記第１アナログ波形と前記第２アナログ波形との比較結果として出力する測定手順と、を実行させるためのプログラム。
【請求項７】
請求項６に記載のプログラムにおいて、
前記コンピュータに、
前記比較結果を表すグラフを生成し、当該グラフを表示する表示制御手順を、さらに実行させるプログラム。
【請求項８】
請求項７に記載のプログラムにおいて、
前記表示制御手順では、前記比較結果を用いて、前記最短距離を独立変数とし前記最短距離の出現回数を従属変数とする第３関数のグラフを生成し、当該第３関数のグラフを表示する、プログラム。
【請求項９】
請求項８に記載のプログラムにおいて、
前記表示制御手順では、前記第３関数のグラフを予め定めたアラーム関数のグラフが配置された座標系に配置した際に、前記第３関数のグラフと前記アラーム関数のグラフとの交点が存在する場合に、アラーム表示を行う、プログラム。
【請求項１０】
請求項６から９のいずれか１項に記載のプログラムにおいて、
前記設定手順では、さらに、前記座標系情報に表された第２アナログ波形に複数の測定点を設定し、
前記測定手順では、さらに、前記測定点ごとに、当該測定点と前記座標系情報に表された第１アナログ波形との最短距離を測定し、前記測定点ごとの最短距離を、前記第１アナログ波形と前記第２アナログ波形との比較結果として出力する、プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、比較装置およびプログラムに関し、例えば、関数で表されるアナログ波形同士を比較する比較装置およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、複数の波形を比較する技術が知られている（特許文献１参照）。以下、回路シミュレーションの過渡解析結果波形の期待値比較の例を説明する。
【０００３】
従来手法では、特定時刻の電位差または特定電位の時間差を比較するような、１次元での期待値比較が可能であった。図１８は、１次元での波形の比較を説明するための図である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平７−１４６９３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
図１８に示したような手法では、波形表示空間座標を（ｘ、 ｙ）すると、測定されるベクトルは（ｘ、０）、（０、ｙ）となり、特定方向の距離測定しか行えない。そのため、図１８に示したような手法では、比較対象の２つの波形の傾きと、固定方向である距離測定の方向と、の関係が変化すると、測定点によって、２つの波形の距離の測定結果が変わってしまうという問題があることを本願発明者らは明らかにした。図１９は、比較対象の２つの波形の傾きと距離測定の方向（固定方法）との関係が変化した場合に、測定点によって２つの波形の測定距離が変わってしまう例を示した図である。
【０００６】
以下、この問題を具体的に示すために一例を挙げて説明する。
【０００７】
回路設計においては、一旦回路の設計が終了した後に、回路の修正が行われることがある。また、回路の修正が行われる度に、修正箇所が適切に修正され、修正を必要としない部分が修正されていないことを確認するために、回路シミュレーションが必要となる。
【０００８】
回路シミュレーションにてシミュレートされた回路の出力波形がアナログ波形であると、例えば、図２０に示したように、基準波形（例えば修正後の回路の出力波形）１０２ａと比較対象波形（修正前の回路の出力波形）１０２ｂには、微小なＸ、Ｙ方向の誤差が存在する。これら誤差は、設計者が確認をすべきものではなく、シミュレーション上必然的に発生する所謂ノイズである。
【０００９】
このノイズについては、誤差＜所定の閾値という関係を満たす誤差を擬似エラーとして切り捨てる処理を行うことが適切である。
【００１０】
しかしながら、図１９に示したように、比較対象の２つの波形の傾きが、距離測定の方向（固定方法）に近づくにつれて、回路上では何ら修正されていないにも関わらず、Ｘ方向（距離測定の方向）の誤差が大きくなる、つまり、誤差＞所定の閾値という関係を満たす箇所（擬似エラーとして切り捨て処理されない箇所）が出てきてしまい、エラー検出上問題となる。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の比較装置は、ｎ（ｎは自然数）変数関数である第１関数で表される第１アナログ波形と、前記ｎ変数関数であり前記第１関数の変数と同一の変数を有する第２関数で表される第２アナログ波形と、を比較する比較装置であって、前記第１アナログ波形と前記第２アナログ波形とが配置された座標系を表す座標系情報を受け付ける受付部と、前記座標系情報に表された第１アナログ波形に複数の計測点を設定する設定部と、前記計測点ごとに、当該計測点と前記座標系情報に表された第２アナログ波形との最短距離を測定し、前記計測点ごとの最短距離を、前記第１アナログ波形と前記第２アナログ波形との比較結果として出力する測定部と、を含む。
【００１２】
本発明のプログラムは、コンピュータに、ｎ（ｎは自然数）変数関数である第１関数で表される第１アナログ波形と、前記ｎ変数関数であり前記第１関数の変数と同一の変数を有する第２関数で表される第２アナログ波形と、が配置された座標系を表す座標系情報を受け付ける受付手順と、前記座標系情報に表された第１アナログ波形に複数の計測点を設定する設定手順と、前記計測点ごとに、当該計測点と前記座標系情報に表された第２アナログ波形との最短距離を測定し、前記計測点ごとの最短距離を、前記第１アナログ波形と前記第２アナログ波形との比較結果として出力する測定手順と、を実行させる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、座標系情報に表された第１アナログ波形に複数の計測点が設定され、計測点ごとに、計測点と座標系情報に表された第２アナログ波形との最短距離が測定される。
【００１４】
第１アナログ波形上の計測点と第２アナログ波形とを結ぶ線分のうち第１アナログ波形上の計測点と第２アナログ波形との最短距離を示す線分が有する傾きは、第１アナログ波形の傾きおよび第２アナログ波形の傾きに応じて変わる。このため、第１アナログ波形上の計測点と第２アナログ波形との最短距離は、第１アナログ波形の特定方向に対する傾きおよび第２アナログ波形の特定方向に対する傾きの影響を受け難くなる。したがって、第１アナログ波形の傾きおよび第２アナログ波形の傾きに応じて、第１アナログ波形と第２アナログ波形との比較結果（距離）が変わってしまうことを防止することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の第１実施形態の比較装置１０を示したブロック図である。
【図２】受付部２が受け付ける座標系情報が表す座標系の一例を示した図である。
【図３】最短距離測定を説明するための図である。
【図４】ステップ７の処理を示した図である。
【図５】時刻と最短距離との関係を表すグラフの一例を示した図である。
【図６】最短距離と出現頻度の関係を表す分布図（第３関数のグラフ）の一例を示した図である。
【図７】修正前の回路図である。
【図８】修正前の回路の信号を示した図である。
【図９】修正後の回路図である。
【図１０】修正後の回路の信号を示した図である。
【図１１】各信号に対する解析時間毎の最短距離を表すグラフを示した図である。
【図１２】最短距離の出現頻度を表すグラフを示した図である。
【図１３】基準波形２０２に比較対象波形２０１と大きく異なる値（瞬間的パルス）が発生している例を示した図である。
【図１４】本実施形態の比較装置の処理を説明するためのフローチャートである。
【図１５】２つの３次元曲面を比較するケースを説明するための図である。
【図１６】最短距離測定を説明するための図である。
【図１７】最短距離の分布・出現頻度のグラフを説明するための図である。
【図１８】１次元での波形の比較を説明するための図である。
【図１９】比較対象の２つの波形の傾きと距離測定の方向（固定方法）との関係が変化した場合に、測定点によって２つの波形の測定距離が変わってしまう例を示した図である。
【図２０】基準波形と比較対象波形との比較を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態を説明する。
【００１７】
（第１実施形態）
図１は、本発明の第１実施形態の比較装置１０を示したブロック図である。
【００１８】
図１において、比較装置１０は、作成部１と、受付部２と、設定部３と、測定部４と、表示制御部５と、を含む。
【００１９】
作成部１は、ｎ（ｎは自然数）変数関数である第１関数で表される第１アナログ波形と、ｎ変数関数であり第１関数の変数と同一の変数を有する第２関数で表される第２アナログ波形と、を受け付けると、第１アナログ波形と第２アナログ波形とが配置された座標系を表す座標系情報を作成する。作成部１は、座標系情報を作成すると、座標系情報を受付部２に出力する。
【００２０】
受付部２は、作成部１にて作成された座標系情報を受け付ける。なお、受付部２は、ユーザによって作成された座標系情報を受け付けてもよい。受付部２は、座標系情報を受け付けると、座標系情報を設定部３に出力する。
【００２１】
設定部３は、受付部２から座標系情報を受け付けると、座標系情報に表された第１アナログ波形に複数の計測点を設定する。
【００２２】
測定部４は、設定部３にて設定された計測点ごとに、計測点と座標系情報に表された第２アナログ波形との距離つまり最短距離を測定する。測定部４は、計測点ごとの最短距離を、第１アナログ波形と第２アナログ波形との比較結果として表示制御部５に出力する。
【００２３】
表示制御部５は、測定部４から比較結果を受け付けると、比較結果を表すグラフを生成し、そのグラフを表示する。
【００２４】
本実施形態では、表示制御部５は、比較結果を用いて、最短距離を独立変数とし比較結果における最短距離の出現回数を従属変数とする第３関数のグラフを生成し、第３関数のグラフを表示する。
【００２５】
また、本実施形態では、表示制御部５は、第３関数のグラフを予め定めたアラーム関数のグラフが配置された座標系に配置した際に、第３関数のグラフとアラーム関数のグラフとの交点が存在する場合に、アラーム表示を行う。
【００２６】
このように、本実施形態による比較装置１０は、第１アナログ波形と第２アナログ波形とが配置された座標系を表す座標系情報を受け付ける受付部２と、座標系情報に表された第１アナログ波形に複数の計測点を設定する設定部３と、計測点ごとに計測点と座標系情報に表された第２アナログ波形との最短距離を測定し、計測点ごとの最短距離を第１アナログ波形と第２アナログ波形との比較結果として出力する測定部４と、を含む。
【００２７】
また、本実施形態では、比較装置１０は、比較結果を表すグラフを生成し、そのグラフを表示する表示制御部５を、さらに含む。
【００２８】
また、本実施形態では、表示制御部５は、比較結果を用いて、最短距離を独立変数とし比較結果における最短距離の出現回数を従属変数とする第３関数のグラフを生成し、第３関数のグラフを表示する。
【００２９】
また、本実施形態では、表示制御部５は、第３関数のグラフを、予め定めたアラーム関数のグラフと重ね合わせ、第３関数のグラフとアラーム関数のグラフとの交点が存在する場合に、アラーム表示を行う。
【００３０】
なお、比較装置１０は、コンピュータにて実現されてもよい。この場合、コンピュータは、コンピュータにて読み取り可能なＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disk Read Only Memory）のような記録媒体に記録されたプログラムを読込み実行することによって、作成部１と、受付部２、設定部３、測定部４、および、表示制御部５として機能する。記録媒体は、ＣＤ−ＲＯＭに限らず適宜変更可能である。
【００３１】
次に、動作を説明する。
【００３２】
図２は、受付部２が受け付ける座標系情報が表す座標系の一例を示した図である。
【００３３】
図２において、座標系情報は、比較対象波形２０１と基準波形２０２とが配置された２次元座標系を表す。比較対象波形２０１は、時間を変数とする１変数関数である第１関数で表される第１アナログ波形の一例である。基準波形２０２は、時間を変数とする１変数関数である第２関数で表される第２アナログ波形の一例である。比較対象波形２０１と基準
波形２０２は、時間をＸ軸とし回路の出力値をＹ軸とするＸＹ平面に配置されている。なお、座標系情報は、作成部１にて作成されてもよいし、ユーザにて作成されてもよい。
【００３４】
受付部２は、図２に示した座標系を表す座標系情報を受け付けると、その座標系情報を設定部３に出力する。
【００３５】
設定部３は、図２に示したように、比較対象波形２０１の解析ポイントの中から、最短距離測定の起点となるポイントＡを選択する（ステップ１）。なお、比較対象波形２０１の複数の解析ポイントは、予め座標系情報に示されてもよいし、設定部３にて設定されてもよい。また、基準波形２０２にも複数の解析ポイントが設けられている。基準波形２０２の複数の解析ポイントは、予め座標系情報に示されてもよいし、設定部３にて設定されてもよい。設定部３は、ポイントＡを選択すると、その選択結果と、座標系情報と、を測定部４に出力する。
【００３６】
測定部４は、ポイントＡの選択結果と座標系情報とを受け付けると、起点Ａに対し、半径ｒの最短距離検索範囲２０１ａを設ける（ステップ２）。図３（ａ）は、起点Ａに対し、半径ｒの最短距離検索範囲２０１ａが設けられた状態を示した図である。なお、ｒは予め初期化して設定しておく。
【００３７】
続いて、測定部４はＸ座標に着目し、図３（ａ）に示したように、参照基準波形２０２が有する解析ポイントのうち、検索範囲２０１ａに対応するＸ座標範囲よりも一つ外のポイントを含むＸ座標の範囲を、最短距離計算範囲２０１ｂとする（ステップ３）。
【００３８】
続いて、測定部４は、最短距離計算範囲２０１ｂ内の基準波形２０２に着目し、Ｘ座標で隣り合う２つの解析ポイントを含む直線をＬ１、Ｌ２、・・・のように定義する（ステップ４）。図３（ｂ）は、直線をＬ１、Ｌ２、・・・を表す図である。
【００３９】
続いて、測定部４は、図３（ｂ）に示したように、起点Ａと直線Ｌ、Ｌ２・・・との距離Ｄ１、Ｄ２・・・を求める（ステップ５）。
【００４０】
続いて、測定部４は、距離Ｄ１、Ｄ２・・・の中で値の最も小さいＤ１と、検索範囲２０１ａの半径ｒを比較する（ステップ６）。図３ではｒ＜Ｄ１となり、検索範囲２０１ａ内に基準波形２０２は存在しないことが判明する。
【００４１】
続いて、測定部４は、検索範囲２０１ａの半径ｒを大きくし、ステップ３〜６の処理を再度行う（ステップ７）。図４は、ステップ７の処理を示した図である。
【００４２】
測定部４は、半径ｒを大きくする処理を行うことによって、半径ｒよりも短い距離が１つだけ見つかると、その距離を、起点Ａと基準波形２０２との距離（最短距離）としては判定する。図４に示した例では、距離Ｄ１が、起点Ａと基準波形２０２との距離（最短距離）としては判定される。測定部４は、起点Ａについての測定が終了した旨を設定部３に通知する。
【００４３】
続いて、設定部３は、起点Ａについての測定が終了した旨を受け付けると、測定部４から座標系情報を読み取り、図２に示したように、比較対象波形２０１の解析ポイントの中から、次のポイントＢを選択する（ステップ８）。設定部３は、ポイントＢを選択すると、その選択結果を測定部４に出力する。
【００４４】
続いて、測定部４は、起点をポイントＢとしてステップ２〜７の処理を行い、起点Ｂと基準波形２０２との距離（最短距離）を測定する。
【００４５】
以下、設定部３と測定部４は、上記動作を繰り返して、比較対象波形２０１の全ての解析ポイントについて最短距離を求める（ステップ９）。
【００４６】
測定部４は、比較対象波形２０１の全ての解析ポイントについての最短距離を、比較結果として表示制御部５に出力する。
【００４７】
続いて、表示制御部５は、比較対象波形２０１の全ての解析ポイントについての最短距離を用いて、時刻と最短距離の関係をグラフとしてまとめ、そのグラブを表示する（ステップ１０）。図５は、時刻と最短距離との関係を表すグラフの一例を示した図である。
【００４８】
続いて、表示制御部５は、比較結果を用いて、最短距離を独立変数とし比較結果における最短距離の出現回数を従属変数とする第３関数のグラフを生成し、第３関数のグラフを表示する（ステップ１１）。図６は、最短距離と出現頻度の関係を表す分布図（第３関数のグラフ）の一例を示した図である。
【００４９】
なお、表示制御部５がウインドウ制御を行うことにより、人が目で行うのに近い比較（起点近傍での比較）を行うことが可能になる。例えば、表示制御部５は、図６に示したグラフを、予め定めたアラーム関数のグラフが配置された座標系に配置した際に、図６に示したグラフとアラーム関数のグラフとの交点が存在する場合に、アラーム表示を行う。
【００５０】
次に、回路修正前後の波形の比較例を説明する。具体的には、回路修正により、基準信号と比較対象信号がレベル軸方向にずれる場合での比較例を説明する。
【００５１】
図７および図８に修正前の回路図および波形を、図９および図１０に修正後の回路図および波形を示す。この例では、回路修正によって電源がつなぎ間違えられ、その結果、出力波形Ｄのレベルが変化している。図１１は、各信号に対する解析時間毎の最短距離を表すグラフであり、図１２は、最短距離の出現頻度を表すグラフである。
【００５２】
従来手法では、例えばＸ軸方向の１次元比較では、微小な誤差しか検出できず、Ｙ軸方向の差を検知できない。これに対し本手法では、Ｙ軸方向の大きな差だけでなく、Ｘ軸方向の微小誤差も検出できるため漏れの無い比較ができる。
【００５３】
本実施形態によれば、設定部３は、第１アナログ波形に複数の計測点を設定し、測定部４は、計測点ごとに、計測点と第２アナログ波形との最短距離を測定し、計測点ごとの最短距離を、第１アナログ波形と第２アナログ波形との比較結果として出力する。
【００５４】
第１アナログ波形上の計測点と第２アナログ波形とを結ぶ線分のうち第１アナログ波形上の計測点と第２アナログ波形との最短距離を示す線分が有する傾きは、第１アナログ波形の傾きおよび第２アナログ波形の傾きに応じて変わる。このため、第１アナログ波形上の計測点と第２アナログ波形との最短距離は、第１アナログ波形の傾きおよび第２アナログ波形の傾きの影響を受け難くなる。したがって、第１アナログ波形の傾きおよび第２アナログ波形の傾きに応じて、第１アナログ波形と第２アナログ波形との比較結果（最短距離）が変わってしまうことを防止することが可能になる。
【００５５】
また、本実施形態では、表示制御部５は、第１アナログ波形と第２アナログ波形との比較結果（最短距離）を表すグラフを生成し、そのグラフを表示する。このため、第１アナログ波形と第２アナログ波形との比較結果をユーザが認識しやすくなる。
【００５６】
また、本実施形態では、表示制御部５は、比較結果を用いて、最短距離を独立変数とし比較結果における最短距離の出現回数を従属変数とする第３関数のグラフを生成し、第３関数のグラフを表示する。このため、最短距離の出現頻度をユーザが認識しやすくなる。
【００５７】
また、本実施形態では、表示制御部５は、第３関数のグラフを予め定めたアラーム関数のグラフが配置された座標系に配置した際に、第３関数のグラフとアラーム関数のグラフとの交点が存在する場合に、アラーム表示を行う。このため、比較結果が、予期されていた結果（予め定めたアラーム関数のグラフ）と異なる場合、アラーム表示を行うことが可能になる。
【００５８】
（第２実施形態）
本実施形態は、比較対象波形だけでなく、基準波形上の解析ポイントを起点とした最短距離測定を行うものである。
【００５９】
図１３は、基準波形２０２に比較対象波形２０１と大きく異なる値（瞬間的パルス）が発生している例を示した図である。
【００６０】
図１３に示した例では、比較対象波形２０１の各ノード（解析ポイント）のうち基準波形２０２の瞬間的パルスの下に位置するノード（解析ポイント）の近くに、基準波形２０２の低レベルポイント２０２ａおよび２０２ｂがある。このため、比較対象波形２０１の各ノード（解析ポイント）を起点とした最短距離の測定が行われると、測定部４は、基準波形２０２の低レベルポイント２０２ａおよび２０２ｂを距離測定の対象として認識してしまい、瞬間的なパルスの頂点までの距離を見に行くことができない。
【００６１】
このため、図１３の右中段に示した分布図では、比較結果である最短距離が、短距離側に集中して出現し、瞬間的パルスによる誤差を認識できていない。
【００６２】
そこで、本実施形態では、比較対象波形２０１だけでなく、基準波形２０２を起点とした場合についても、最短距離の測定が行われる。
【００６３】
本実施形態では、図１に示した設定部３および測定部４に以下の機能が追加される。
【００６４】
設定部３は、さらに、座標系情報に表された基準波形（第２アナログ波形）２０２に複数の測定点を設定する。測定部４は、さらに、測定点ごとに、測定点と座標系情報に表された比較対象波形（第１アナログ波形）２０１との最短距離を測定する。測定部４は、さらに、測定点ごとの最短距離を比較結果として出力する。
【００６５】
これにより、瞬間的なパルスの頂点を起点とした最短距離測定が行われる。
【００６６】
図１３の右下段に示した分布図を見ると、最短距離が長いものが低頻度であるが出現しており、瞬間的パルスによる誤差を認識することが可能になる。
【００６７】
図１４は、本実施形態の比較装置の処理を説明するためのフローチャートである。
【００６８】
以下、図１４を参照して本実施形態の比較装置の処理を説明する。
【００６９】
作成部１は、修正前の回路の信号（例えば、修正前の回路の出力信号）であるアナログSim（基準信号）を受け付ける（ステップ１４０１）。なお、基準信号の波形は、一般的に基準波形と呼ぶことができる。
【００７０】
続いて、作成部１は、修正後の回路の信号（例えば、修正後の回路の出力信号）であるアナログSim（比較対象信号）を受け付ける（ステップ１４０２）。なお、比較対象信号の波形は、一般的に比較対象波形と呼ぶことができる。
【００７１】
続いて、作成部１は、基準信号と比較対象信号とをマージ（結合）する（ステップ１４０３）。具体的には、作成部１は、基準信号と比較対象信号とをＸＹ座標系に配置して座標系情報を作成する。作成部１は、座標系情報を受付部２に出力する。受付部２は、座標系情報を受け付けると、その座標系情報を設定部３に出力する。
【００７２】
続いて、設定部３は、基準信号と比較対象信号とのそれぞれに、複数の解析ポイントを設定し、比較対象信号の解析ポイントの中から、最短距離測定の起点となるデータポイント（ポイント）を選択する（ステップ１４０５）。設定部３は、データポイントの選択結果と、座標系情報と、を測定部４に出力する。
【００７３】
続いて、測定部４は、データポイントの選択結果と座標系情報とを受け付けると、検索範囲であるサーチエリアを規定する半径ｒを初期化して、半径ｒを初期値に設定する（ステップ１４０６）。
【００７４】
続いて、測定部４は、半径ｒにて規定されるサーチエリア内に基準信号が含まれているか、つまり、半径ｒにて規定されるサーチエリアを用いて最短距離の計算が可能であるかを確認する（ステップ１４０７）。
【００７５】
測定部４は、半径ｒにて規定されるサーチエリア内に基準信号が含まれていない場合、つまり、半径ｒにて規定されるサーチエリアを用いて最短距離の計算が可能でない場合、半径ｒを大きくしてサーチエリアを拡大し（ステップ１４０８）、再度、ステップ１４０７を実行する。
【００７６】
測定部４は、半径ｒにて規定されるサーチエリア内に基準信号が含まれている場合、つまり、半径ｒにて規定されるサーチエリアを用いて最短距離の計算が可能である場合、選択されたデータポイントと、サーチエリア内の基準信号と、の最短距離を、選択されたデータポイントと基準信号との最短距離として計算する（ステップ１４０９）。
【００７７】
続いて、測定部４は、選択されたデータポイントについての測定が終了した旨を設定部３に通知する。
【００７８】
設定部３は、選択されたデータポイントについての測定が終了した旨を受け付けると、測定部４から座標系情報を読み取り、比較対象信号の解析ポイントにおいて次のデータポイントを選択可能かを判断する（ステップ１４１０）。
【００７９】
次のデータポイントを選択可能である場合、設定部３は、次のデータポイント（ポイント）を選択し（ステップ１４１１）、データポイントの選択結果を測定部４に出力する。測定部４は、データポイントの選択結果を受け付けると、処理をステップ１４０６に戻す。
【００８０】
次のデータポイントを選択可能でない場合、つまり、比較対象信号中の全ての解析ポイントについて距離測定が行われた場合、設定部３は、次の比較対象信号を選択可能かを判断する（ステップ１４１２）。なお、ステップ１４１２は、複数の比較対象信号が存在する場合に有効な処理となる。
【００８１】
次の比較対象信号を選択可能な場合、つまり、まだ距離測定が行われていない比較対象信号が存在する場合、設定部３は、次の比較対象信号を選択し（ステップ１４１３）、処理をステップ１４０５に戻す。
【００８２】
次の比較対象信号を選択可能でない場合、つまり、まだ距離測定が行われていない比較対象信号が存在しない場合、設定部３は、基準信号と比較対象信号とを入れ替え済みかを判断する（ステップ１４１４）。
【００８３】
基準信号と比較対象信号とを入れ替え済みでない場合、設定部３は、基準信号と比較対象信号とを入れ替え（ステップ１４１５）、処理をステップ１４０４に戻す。なお、複数の比較対象信号が存在する場合、設定部３は、比較対象信号ごとに、基準信号と比較対象信号とを入れ替える。
【００８４】
基準信号と比較対象信号とを入れ替え済みである場合、設定部３は、基準信号と比較対象信号とを入れ替え済みである旨の通知を測定部４に出力し、測定部４は、その通知を受け付けると、比較対象信号単位で、最短距離の測定結果を、表示制御部５に出力する。
【００８５】
表示制御部５は、比較対象信号単位で最短距離の測定結果を受け付けると、比較対象信号単位で測定結果のグラフを作成し、比較対象信号単位でグラフを表示する（ステップ１４１６）。
【００８６】
本実施形態によれば、設定部３は、さらに、座標系情報に表された基準波形（第２アナログ波形）２０２に複数の測定点を設定する。測定部４は、さらに、測定点ごとに、測定点と座標系情報に表された比較対象波形（第１アナログ波形）２０１との最短距離を測定する。測定部４は、さらに、測定点ごとの最短距離を比較結果として出力する。
【００８７】
このため、基準波形に存在するパルスに起因する測定ミスを少なくすることが可能になる。
【００８８】
なお、上記各実施形態では、１変数関数で表されるアナログ波形の比較例を示したが、アナログ波形は、１変数関数で表されるものに限らずｍ（ｍは２以上の整数）変数関数で表されるアナログ波形であってもよい。
【００８９】
例えば、２つの３次元曲面（２変数関数で表されるアナログ波形）を比較するようなケース（図１５参照）については、信号が局面に置き換えられればよい。この場合、比較対象曲面の任意ポイントを起点とした、基準曲面までの最短距離測定が行われる。
【００９０】
また、線は２次元で表現される関数、面は３次元で表現される関数であり、起点からの距離を求めるプロセスにより最短距離を測定することができるため、同様に、ｎ次元で表現される関数で表されるアナログ波形（関数のグラフ）同士についても、両者が近似しているか否かの測定を行うことが可能である。
【００９１】
比較したい２つの波形は、解析ポイントの精度が異なる場合、または、精度が荒い場合がある。
【００９２】
上記各実施形態では、最短距離を測定する際の起点として解析ポイントが用いられるので、解析精度が荒い場合には、十分な数の最短距離がサンプリングできない可能性がある。
【００９３】
これを防ぐために、事前に２波形の精度を合わせ込む、または、精度を細かくする、といった精度コントロールを行うことが望ましい。
【００９４】
なお、回路シミュレータの精度比較を行うケースとしては、例えば以下がある。
【００９５】
まず、解析オプションの変更による精度への影響を調査する。
【００９６】
また、解析エンジンの変更、解析に用いる計算式または計算パラメータの変更、分散処理のための回路分割手法の変更など、回路動作の計算に関わるプログラムの変更を行った場合に、精度への影響を調査する。
【００９７】
また、新たな回路シミュレータを導入する場合に、実績のあるシミュレータと同等の精度が得られるかどうか調査する。
【００９８】
また、実回路の動作をどの程度忠実に再現可能かの精度を調査する。
【００９９】
精度比較の内容によっては、比較すべきノード数は数十万から数百万、場合によってはそれ以上あるケースも考えられる。このように膨大な数の比較を行う場合、許容範囲外の誤差を漏れなく抽出するのも大事ではあるが、人が目で確認すれば問題とならないような誤差をいかに抽出しないか、ということがより重要な課題である。
【０１００】
精度誤差がＸ軸方向とＹ軸方向の両方に現れることを考えれば、１次元方向のみの波形比較ではＸ軸およびＹ軸両方の比較を行う必要があるが、図１９や課題の欄で示した理由により、擬似エラー（小誤差を大誤差と誤認識する）の数が膨大となり、比較は現実的でない。
【０１０１】
これに対し上記各実施形態では、上記課題をクリアすることができるために、擬似エラーを大幅に減らし、より信頼性の高い波形比較を行うことが可能となる。
【０１０２】
以下に、上記各実施形態の効果を示す。
【０１０３】
上記各実施形態によれば、設定部３は、第１アナログ波形に複数の計測点を設定し、測定部４は、計測点ごとに、計測点と第２アナログ波形との最短距離を測定（図１６参照）し、計測点ごとの最短距離を、第１アナログ波形と第２アナログ波形との比較結果として出力する。
【０１０４】
このため、目視による形状認識と近い方法で、アナログ波形比較を行うことができる。
【０１０５】
また、最短距離の分布・出現頻度のグラフ（図１７参照）により、波形の形状比較結果を定量的に表現できる。
【０１０６】
また、波形ごとに測定次元を指定する必要がなく、かつ、次元指定ミスによる誤測定の心配がないため、膨大な数の波形を一括処理することができる。
【０１０７】
以上説明した各実施形態において、図示した構成は単なる一例であって、本発明はその構成に限定されるものではない。
【符号の説明】
【０１０８】
１      作成部
２      受付部
３      設定部
４      測定部
５      表示制御部
１０      比較装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図１５】
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