(57)【要約】【課題】  干渉光のスペクトルを利用して良好な正面画像を取得する。【解決手段】  光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光する干渉光学系と、被検物上でＸ−Ｙ方向に測定光束を走査させるために測定光束の進行方向を変える光スキャナと、干渉光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、各走査位置に関し，スペクトルに含まれる干渉信号を変換処理して被検物の断層画像を得る光断層像撮影装置において、被検物上で測定光がＸ−Ｙ方向に二次元走査されたときの各走査位置に関し，スペクトルに含まれる前記干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のＸ―Ｙ方向に関する二次元画像を得る画像処理手段を備える。【選択図】      図４
2011215134.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束が合成された光を受光する干渉光学系と、
前記測定光束の光路中に配置され，被検物上でＸ−Ｙ方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、
前記合成された光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、各走査位置に関し，前記スペクトルに含まれる干渉信号を深さプロファイルに変換処理して被検物の断層画像を得る光断層像撮影装置において、
被検物上で測定光がＸ−Ｙ方向に二次元走査されたときの各走査位置に関し，前記スペクトルに含まれる前記干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のＸ―Ｙ方向に関する二次元画像を得る画像処理手段を備えることを特徴とする光断層像撮影装置。
【請求項２】
請求項１の光断層像撮影装置において、
前記干渉光学系は、測定光束を被検眼の所定部位に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束が合成された光を受光素子に受光させる干渉光学系であることを特徴とする光断層像撮影装置。
【請求項３】
請求項１〜２のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記干渉信号の実信号をヒルベルト変換することによって前記干渉信号の実信号と虚信号を合わせた解析信号を取得し、前記解析信号に基づいて干渉光の波長毎の位相を示す位相信号を取得し、該位相信号に基づいてゼロクロス点の数を検出することを特徴とする光断層像撮影装置。
【請求項４】
請求項１〜２のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記干渉信号の実信号からゼロクロス点の数を直接検出することを特徴とする光断層像撮影装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記検出ユニットは、前記合成された光を分光する分光ユニット、又は前記光源から出射される光の波長を変化させる波長可変光源ユニットを有することを特徴とする光断層像撮影装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、検出ユニットからの出力信号に基づいて深さ方向に関する断層像の取得位置を検出し、検出された位置情報に基づいて断層像の取得位置による正面像の輝度変化を補正する光断層像撮影装置。
【請求項７】
請求項１〜５のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号の周波数を変換し、変換された干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のＸ―Ｙ方向に関する二次元画像を得る光断層像撮影装置。
【請求項８】
請求項７の光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号に対して周波数が増加する側に前記干渉信号の周波数を変換する光断層像撮影装置。
【請求項９】
請求項７の光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号の周波数より高周波数側に設定された所定の周波帯域に変換されるように前記干渉信号の周波数を変換する光断層像撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検物の断層像を撮影する光断層像撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系を持ち、被検物の断層像を撮影する光断層像撮影装置（Optical Coherence Tomography：ＯＣＴ）が知られている。このような装置は、例えば、眼球や皮膚などの生体の断層像を得るために使用される。
【０００３】
また、従来の装置は、スキャニングレーザオフサルモスコープ（ＳＬＯ）と赤外線カメラのいずれかと、干渉光学系とが複合化された装置（特許文献１参照）であり、検者は、被検物の正面画像を観察しながら、断層像を取得する際の位置を決めていた。
【０００４】
また、近年では、これらの構成を設けず、測定光束を二次元的に走査させ、ＸＹ各点について受光素子からの干渉信号のスペクトル強度を積算することにより、正面画像化する手法が開示されている（特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−２９４６７号公報
【特許文献２】米国特許登録第７３０１６４４号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来のようにＳＬＯ又は赤外線カメラを装置に設ける場合、光学系が増え、コストアップにつながる。また、ＳＬＯ又は赤外線を装置に設けずに干渉信号のスペクトル強度を積算して正面画像を構築する手法の場合、画質、見え方の点で不十分な点がある。
【０００７】
本発明は、上記問題点を鑑み、干渉光のスペクトルを利用して良好な正面画像が取得できる光断層像撮影装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００９】
（１）
光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束が合成された光を受光する干渉光学系と、
前記測定光束の光路中に配置され，被検物上でＸ−Ｙ方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、
前記合成された光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、各走査位置に関し，前記スペクトルに含まれる干渉信号を深さプロファイルに変換処理して被検物の断層画像を得る光断層像撮影装置において、
被検物上で測定光がＸ−Ｙ方向に二次元走査されたときの各走査位置に関し，前記スペクトルに含まれる前記干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のＸ―Ｙ方向に関する二次元画像を得る画像処理手段を備えることを特徴とする光断層像撮影装置。
（２）  （１）の光断層像撮影装置において、
前記干渉光学系は、測定光束を被検眼の所定部位に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束が合成された光を受光素子に受光させる干渉光学系であることを特徴とする光断層像撮影装置。
（３）  （１）〜（２）のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記干渉信号の実信号をヒルベルト変換することによって前記干渉信号の実信号と虚信号を合わせた解析信号を取得し、前記解析信号に基づいて干渉光の波長毎の位相を示す位相信号を取得し、該位相信号に基づいてゼロクロス点の数を検出することを特徴とする光断層像撮影装置。
（４）  （１）〜（２）のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記干渉信号の実信号からゼロクロス点の数を直接検出することを特徴とする光断層像撮影装置。
（５）  （１）〜（４）のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記検出ユニットは、前記合成された光を分光する分光ユニット、又は前記光源から出射される光の波長を変化させる波長可変光源ユニットを有することを特徴とする光断層像撮影装置。
（６）  （１）〜（５）のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、検出ユニットからの出力信号に基づいて深さ方向に関する断層像の取得位置を検出し、検出された位置情報に基づいて断層像の取得位置による正面像の輝度変化を補正する光断層像撮影装置。
（７）  （１）〜（５）のいずれかの光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号の周波数を変換し、変換された干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のＸ―Ｙ方向に関する二次元画像を得る光断層像撮影装置。
（８）  （７）の光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号に対して周波数が増加する側に前記干渉信号の周波数を変換する光断層像撮影装置。
（９）  （７）の光断層像撮影装置において、
前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号の周波数より高周波数側に設定された所定の周波帯域に変換されるように前記干渉信号の周波数を変換する光断層像撮影装置。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、干渉光のスペクトルを利用して良好な正面画像が取得できる。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態に係る光断層像撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、以下の説明においては、眼科撮影装置の一つである眼底撮影装置を例にとって説明する。なお、本実施形態においては、被検眼の奥行き方向をＺ方向（光軸Ｌ１方向）、水平方向をＸ方向、鉛直方向をＹ方向として説明する。
【００１２】
図１において、その光学系は、被検眼眼底の断層画像を光干渉の技術を用いて非侵襲で得るための干渉光学系（以下、ＯＣＴ光学系とする）１００と、被検眼眼底に固視標を投影する固視標投影光学系（以下、投影光学系とする）２００と、に大別される。なお、干渉光学系１００及び投影光学系２００は、図示なき筐体に内蔵され、その筐体は、周知のアライメント用移動機構（手動又は電動）により、被検者眼Ｅに対して三次元的に移動される。また、ハンディタイプの筐体であってもよい。
【００１３】
ダイクロイックミラー４０は、干渉光学系１００と投影光学系２００の光路を分割する光路分割部材として用いられる。そして、ダイクロイックミラー４０は、ＯＣＴ光学系１００に用いられる測定光を反射し、投影光学系２００に用いられる可視光を透過する特性を有する。また、ダイクロイックミラー４０は、ＯＣＴ光学系１００の光軸Ｌ１と投影光学系２００の光軸Ｌ２を同軸にする。
【００１４】
ダイクロイックミラー４０の反射方向に設けられたＯＣＴ光学系１００は、光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検眼眼底Ｅｆに導き，参照光束を参照光学系に導いた後、眼底Ｅｆで反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させるために配置されている。なお、ＯＣＴ光学系１００には、スペクトラル・ドメイン型のＯＣＴ光学系が使用されている。なお、出射する光の波長を変化させる波長可変光源を用いて干渉光のスペクトルを検出するスウィプト・ソース型（ＳＳ−ＯＣＴ）を用いるようにしてもよい。
【００１５】
２７はＯＣＴ光学系１００の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントな光を発するＯＣＴ光源であり、例えばＳＬＤ光源等が用いられる。ＯＣＴ光源２７には、例えば、中心波長８８０ｎｍで５０ｎｍの帯域を持つ光源が用いられる。２６は光分割部材と光結合部材としての役割を兼用するファイバーカップラーである。ＯＣＴ光源２７から発せられた光は、導光路としての光ファイバ３８ａを介して、ファイバーカップラー２６によって参照光と測定光とに分割される。測定光は光ファイバ３８ｂを介して被検眼Ｅへと向かい、参照光は光ファイバ３８ｃを介して参照ミラー３１へと向かう。
【００１６】
測定光を被検眼Ｅへ向けて出射する光路には、測定光を出射する光ファイバ３８ｂの端部３９ｂ、コリメートレンズ２２、被検眼眼底に対するフォーカス調整のため被検眼の屈折誤差に合わせて光軸方向に移動可能なフォーカシングレンズ２４、走査駆動機構５１の駆動により眼底上でＸＹ方向に測定光を走査させることが可能な２つのガルバノミラーの組み合せからなる走査部２３と、が配置されている。ダイクロイックミラー４０及び対物レンズ１０は、ＯＣＴ光学系１００からのＯＣＴ測定光を被検眼眼底へと導光する導光光学系としての役割を有する。なお、本実施形態の走査部２３では、２つのガルバノミラーによって測定光の反射角度を任意に調整することにより、眼底上に走査させる測定光の走査方向を任意に設定できるような構成となっている。よって、被検眼眼底の任意の領域の断層画像を得ることが可能となる。なお、光ファイバ３８ｂの端部３９ｂは、被検眼眼底と共役となるように配置される。また、走査部２３の２つのガルバノミラーは、被検眼瞳孔と略共役な位置に配置される。
【００１７】
上記ガルバノミラー及び走査駆動機構５１は、測定光束の光路中に配置され，被検眼の所定部位上でＸ−Ｙ方向に測定光束を走査させるために測定光束の進行方向を変える光スキャナ（光走査部）として用いられる。光スキャナには、ミラーの他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられる。
【００１８】
光ファイバ３８ｂの端部３９ｂから出射した測定光は、コリメートレンズ２２によってコリメートされた後、フォーカシングレンズ２４を介して、走査部２３に達し、２つのガルバノミラーの駆動により反射方向が変えられる。そして、走査部２３で反射された測定光は、ダイクロイックミラー４０で反射された後、対物レンズ１０を介して、被検眼眼底に集光される。
【００１９】
そして、眼底で反射した測定光は、対物レンズ１０を介して、ダイクロイックミラー４０で反射し、ＯＣＴ光学系１００に向かい、走査部２３の２つのガルバノミラー、フォーカシングレンズ２４、及びコリメートレンズ２２を介して、光ファイバ３８ｂの端部３９ｂに入射する。端部３９ｂに入射した測定光は、光ファイバ３８ｂ、ファイバーカップラー２６、光ファイバ３８ｄを介して、光ファイバ３８ｄの端部８４ａに達する。
【００２０】
一方、参照光を参照ミラー３１に向けて出射する光路には、参照光を出射する光ファイバ３８ｃの端部３９ｃ、コリメータレンズ２９、参照ミラー３１が配置されている。参照ミラー３１は、参照光の光路長を変化させるべく、参照ミラー駆動機構５０により光軸方向に移動可能な構成となっている。なお、図１では測定光と参照光の光路差を調整するために参照光の光路中に光路長可変部材が配置されたが、これに限るものではなく、測定光の光路中に光路長可変部材が配置されてもよい。例えば、コリメータレンズ２２及び光ファイバー３９ｂの端部が光軸方向に移動される。また、参照光学系は、図１のような反射型の参照光学系であってもよいし、透過型の参照光学系であってもよい。
【００２１】
光ファイバー３８ｃの端部３９ｃから出射した参照光は、コリメータレンズ２９で平行光束とされ、参照ミラー３１で反射された後、コリメータレンズ２９により集光されて光ファイバ３８ｃの端部３９ｃに入射する。端部３９ｃに入射した参照光は、光ファイバ３８ｃを介して、ファイバーカップラー２６に達する。
【００２２】
そして、光源２７から発せられた光によって前述のように生成される参照光と被検眼眼底に照射された測定光による眼底反射光は、ファイバーカップラー２６にて合成され干渉光とされた後、光ファイバ３８ｄを通じて端部８４ａから出射される。波長（周波数）毎の干渉信号を得るために干渉光を各波長（周波数）成分に分光し、干渉光のスペクトルを検出する分光光学系８００（スペクトロメータ部）は、コリメータレンズ８０、グレーティング（回折格子）８１、集光レンズ８２、受光素子８３にて構成されている。受光素子８３は、赤外域に感度を有する一次元素子（ラインセンサ）を用いている。
【００２３】
ここで、端部８４ａから出射された干渉光は、コリメータレンズ８０にて平行光とされた後、グレーティング８１にて各波長成分に分光される。そして、波長毎に分光された干渉光は、集光レンズ８２を介して、受光素子８３の受光面に集光する。これにより、受光素子８３上で干渉縞のスペクトル情報が記録される。そして、そのスペクトル情報が制御部７０へと入力され、フーリエ変換を用いて解析することで、被験者眼の深さ方向における情報（Ａスキャン信号）が計測可能となる。
【００２４】
ここで、制御部７０は、走査部２３により測定光を眼底上で所定の横断方向に走査することにより断層画像を取得できる。なお、取得された断層画像は、制御部７０に接続されたメモリ７２に記憶される。さらに、測定光をＸＹ方向に２次元的に走査することにより、被検眼眼底の３次元画像を取得することも可能である。
【００２５】
ダイクロイックミラー４０の透過方向に設けられた投影光学系２００は、被検眼を固視させるための光学系であり、固視方向を変更可能な構成であることが好ましい。投影光学系２００としては、例えば、点状光源（例えば、ＬＥＤ）、液晶ディスプレイ、等の構成が考えられる。
【００２６】
制御部７０は、表示モニタ７５に接続され、その表示画像を制御する。また、制御部７０には、メモリ（記憶部）７２、各種操作を行うための操作部７４、走査駆動機構５１、参照ミラー駆動機構５０、フォーカシングレンズ２４を光軸方向に移動させるための駆動機構２４ａ、等が接続されている。なお、モニタ７５は、アライメント観察用と撮影画像観察用で別でもよいし、もちろん一つの共用モニタであってもよい。
【００２７】
以上のような構成を備える装置において、その動作の概要について説明する。制御部７０は、受光素子８３によって検出されたスペクトルデータを処理し、画像処理により眼底断層像及び正面像を形成させる。断層像と正面像は、同時に取得されてもよいし、交互に取得されてもよいし、順次取得されてもよい。すなわち、スペクトルデータは、断層像及び正面像の少なくともいずれかの取得に用いられる。
【００２８】
断層像を得る場合、制御部７０は、駆動機構５１を用いて測定光を眼底Ｅｆ上で横断方向に走査させる。そして、制御部７０は、受光素子８３から出力されるスペクトルデータを眼底上の各走査位置（Ｘ、Ｙ）に関して検出し、検出されたスペクトルデータに含まれる干渉信号を深さプロファイルに変換処理し、各深さプロファイルを走査方向に並べて眼底断層像を形成させる（図２（ｂ）参照）。
【００２９】
スペクトルデータは、ノイズ除去処理によって干渉信号が抽出され、干渉信号の周波数（波数）毎の振幅レベルが解析されることによって深さプロファイルに変換される。周波数解析には、フーリエ変換が代表的である。なお、測定光の走査パターンには、例えば、ライン、クロスライン、ラスター、サークル、ラディアル、などが考えられる。また、測定光が２次元的に走査されることにより、３次元ＯＣＴ画像が取得される。また、断層像は、所定のフレームレートにて動画像として取得されてもよいし、静止画像として取得されてもよい。
【００３０】
正面像を得る場合、制御部７０は、駆動機構５１を用いて測定光を眼底Ｅｆ上でＸＹ方向に二次元走査させる。そして、制御部７０は、受光素子８３から出力されるスペクトルデータから干渉信号を得る。そして、制御部７０は、眼底Ｅｆ上で測定光がＸ−Ｙ方向に二次元走査されたときの各走査位置（Ｘ、Ｙ）に関し，スペクトルに含まれる干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のＸ―Ｙ方向に関する二次元画像を得る（図３、図４、図５参照）。
【００３１】
スペクトルデータに基づく干渉信号は、干渉信号におけるゼロクロス点の数が検出され、輝度値に変換される。例えば、干渉信号の実信号がヒルベルト変換されることによって干渉信号の実信号と虚信号を合わせた解析信号が取得される。そして、取得された解析信号に基づいて干渉光の各波長に関する位相の変化を示す位相信号が取得され、位相信号に基づいてゼロクロス点の数が検出される（図４参照）。なお、この位相信号は、波長の逆数である波数に関する位相の変化を示す信号として取得されてもよい。
【００３２】
また、干渉信号の実信号からゼロクロス点の数が直接検出されてもよい（図５参照）。また、干渉信号のゼロクロス点を検出するための電気回路が用いられてもよい。
【００３３】
なお、正面像は、前述３次元ＯＣＴ画像の取得と並行して取得されてもよいし、単独で取得されてもよい。また、正面像は、所定のフレームレートにて動画像として取得されてもよいし、静止画像として取得されてもよい。また、輝度値への変換に関し、眼底像の場合、ゼロクロスの数が多い場合に輝度が高くなるように設定が画像として観察しやすいが、被検物によっては、ゼロクロスの数が少ない場合に輝度が高くなるような設定もありうる。
【００３４】
図３は干渉信号におけるゼロクロス点の数を輝度値に変換することによって眼底正面像が形成されたときの実画像を示す図である。図４はスペクトルデータを得てから輝度値に変換するまでの処理について説明するフローチャートである。まず、眼底正面像が形成されるまでの概要について説明し、その後、詳細な具体的手法について説明する。
【００３５】
干渉信号には、眼底上の異なる深さ位置にて散乱された反射光による各干渉信号が含まれている。そして、干渉信号を波としてミクロで捉えると、干渉信号は、波数（周波数）の異なる波の集合である。ここで、波の波数は眼底上の深さと一定の関係を持っており、波数は眼底の深さ位置毎に変化する。なお、波数は、波が単位長さ進んだときの位相の進み具合を表し、位相の進みが速いほど波数が大きくなり、位相の進みが遅いほど波数が小さくなる。
【００３６】
具体的には、最も位相の進みが遅い波形は、測定光と参照光の光路長が一致する光路長一致位置（参照ミラー３１の配置位置に対応する深度位置）から最も近い眼底部位からの反射光による干渉信号によって形成される。そして、この最も近い部位から離れるにしたがって、干渉信号の位相の進みが速くなる。例えば、光路長一致位置が眼底前方に配置されている場合、眼底の浅い位置からの反射光による干渉信号ほど、位相の進みが遅い波形を示し、眼底の深い位置から反射された光による干渉信号ほど、位相の進みが速い波形を示す。
【００３７】
このような特性を利用し、干渉信号の周波数（波数）毎の振幅レベルが算出されることにより、深さ位置毎の測定光の反射強度を示す深さプロファイル（Ａスキャン信号）が得られる。
【００３８】
一方、干渉信号を波としてマクロで捉えると、干渉信号は、測定光に対する反射率の高い部位からの反射光に支配される。すなわち、反射率の高い部位からの反射光による干渉信号は、大きな振幅を持つ波形となる。これに対し、反射率の低い部位からの反射光による干渉信号は、相対的に小さい振幅を持つ波形となるため、埋没した格好となる。また、反射率の高い部位が深さ方向に複数ある場合、これらの反射光による干渉信号が混合された波形が大きな振幅を持つ。もちろん、前述のようにフーリエ解析等によってミクロ解析されれば、小さい振幅を持つ波形でも抽出される。
【００３９】
したがって、干渉信号の位相の進み具合が近似的に算出された場合、小さな振幅を持つ波形はほぼ無視され、大きな振幅を持つ波形の位相の進み具合が得られる。
【００４０】
そして、干渉信号の近似的な位相の進み具合は、干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出することによって求めることができる。この場合、位相の進みが速いほどゼロクロス点の数が多く、位相の進みが遅いほどゼロクロス点の数が少なくなる。
【００４１】
そして、ゼロクロス点の数が輝度値Ｌとして変換されると、反射率の高い部位の深さ位置が輝度で表現される。ここで、輝度の大小が反射率の高い部位の深さ位置の違いとして表される。そして、各走査位置（Ｘ、Ｙ）での輝度値Ｌが各画素に対応して配列され画像データとして表現されると、反射率の高い部位の深さ位置情報の二次元な分布情報が得られる（図３参照）。
【００４２】
図３は光路長一致位置が眼底前方にある場合の画像である。この場合、ゼロクロス点の数と反射率の高い部分との関係において、ゼロクロス点の数が少ないほど、反射率の高い部位が眼底の浅い位置にあり、ゼロクロス点の数が多いほど、反射率の高い部位が眼底の深い位置にあることになる。したがって、ゼロクロス点の数が輝度値に変換されることによって、反射率の高い部位の深さ情報が得られる。
【００４３】
図３において、眼底血管が走行していない部分は高い輝度で表示されている。血管が走行していない部分については、網膜色素上皮層と神経線維層での反射率が相対的に高い。このため、その中間位置に対応する深さが輝度値として表現されていると思われる。これは、反射率の高い部位が網膜の浅い位置と深い位置の両方に存在することを示している。
【００４４】
一方、眼底血管が走行している部分は低い輝度で表示されている。血管が走行している部分については、測定光が血管によって遮断されて網膜色素上皮層に到達しない。このため、神経線維層での反射率が相対的に高くなるので、神経線維層に対応する深さが輝度値として表現されていると思われる。これは、反射率の高い部位が眼底の浅い位置にあることを示している。
【００４５】
これらの関係は、各走査位置での干渉信号のゼロクロス点の数の大小が輝度値として表現されることによって、眼底上における眼底血管の走行状態が画像化できることを示している。
【００４６】
さらに、眼底の乳頭部については、他の部分よりも明るい輝度で表示されている。乳頭部については、眼底上で陥没した位置にあり、反射率の高い部位が他の部分に対して深い位置にあるので、乳頭の陥没状態が輝度値として表現されていると思われる。これは、反射率の高い部位が他の位置より深い位置にあることを示している。
【００４７】
すなわち、各走査位置での干渉信号のゼロクロス点の数の大小が輝度値として表現されることによって、眼底の乳頭部位（陥凹部）においても、その形態的特徴が確認できる。また、ゼロクロス点の数は、眼底からの戻り光の光量が少ない場合でもほぼ変化せず、画像への影響が少ない。
【００４８】
なお、干渉信号の強度（振幅）を積算して輝度値に変換する手法の場合、結果的に、眼底の乳頭部位での積算値が相対的に低いため、乳頭部での形態の確認が比較的難しい。これは、ＯＣＴ測定光の場合、眼底上のスポット径が小さく、陥没部での反射光が戻りにくいため、結果的に積算値が少なくなることが原因と思われる。
【００４９】
すなわち、上記手法によれば、正面画像の形成に不向きなスペクトルデータから良好な画像が得られる。そして、このような眼底画像は、断層像を取得する際の位置決め、取得された断層画像の眼底上での位置確認、３次元断層像を取得した際の撮影エラーの確認、などに用いることができる。
【００５０】
したがって、ＳＬＯ光学系のような専用の光学系を持たない装置として、大きなコストダウンが可能となる。もちろん専用のＳＬＯ光学系を持つ装置においても、３次元断層像のエラー確認等において利用できる。
【００５１】
なお、上記設定において、光路長一致位置が眼底後方（奥）にある場合、正面画像は反転される。したがって、正面画像の輝度の大小が反転されることで、実像・虚像の判定が可能である。
【００５２】
以下に、スペクトルデータを処理して正面像を取得する手法の具体例について説明する。制御部７０は、駆動機構５１の駆動を制御し、眼底Ｅｆ上の矩形領域上で測定光を２次元走査させる。そして、各走査位置（Ｘ、Ｙ）について、受光素子８３によって干渉光のスペクトルパワーが検出され、受光素子８３からスペクトルデータＳout（ｋ）が出力される。
【００５３】
Ｓout（ｋ）が数式表現されると、
【００５４】
【数１】
2011215134.tif 000003
となる。ｋは波数、ＥR（ｋ）は参照光の電場、ＥS（ｋ）は測定光の電場、ｚRは参照光の光路長、ｚnは測定光の光路長である。なお、波数ｋは、スペクトルが分光されたときの各波長の逆数であり、スペクトルを検出するラインセンサの各画素に対応する。したがって、ラインセンサによって得られた干渉信号の位相の進み具合を示す波数とは異なる。
【００５５】
ここで、スペクトルデータに含まれる信号の内、干渉成分に関連しない信号成分（数式（１）の右辺の第１項、第３項）がノイズ除去され、参照光と測定光による干渉信号（数式（１）の右辺の第２項）が抽出される。ノイズ除去手法としては、例えば、各走査位置におけるスペクトルデータの平均が算出され、スペクトルデータＳout（ｋ）からノイズに相当する平均スペクトルが差し引かれる（いわゆるＤＣサブトラクション、図４、図５参照）。
【００５６】
抽出された干渉信号は、ヒルベルト変換を経て、インターフェログラムの実数部Ｓreal（ｋ）と虚数部Ｓimag（ｋ）が求められる。ヒルベルト変換とは、実信号の全周波数成分を９０°移相した信号を虚信号とし、実信号から解析信号（実信号と虚信号を合わせたもの）を得るための手法であり、得られた解析信号から干渉信号の実数部（Ｓreal（ｋ））と虚信号（Ｓimag（ｋ））が導出される。
【００５７】
【数２】
2011215134.tif 000004
【００５８】
【数３】
2011215134.tif 000005
この場合、実数部Ｓreal（ｋ）と虚数部Ｓimag（ｋ）は、干渉信号をフーリエ変換し、変換後の信号の虚像成分を０（シンメトリックなデータを０）とした信号を逆フーリエ変換することによって得られる解析信号から算出可能である。なお、このような処理は、ヒルベルト変換と実質的に同一の処理である。
【００５９】
次に、求められた実数部Ｓreal（ｋ）と虚数部Ｓimag（ｋ）の比のArc Tangent2（４象限表現で求めた逆正接）がアンラッピングされ、位相信号Ｐ（ｋ）が求められる。ここで、Arc Tangent処理によって干渉信号の実数部と虚数部の比の逆正接が算出され、位相がある周期で飛んだデータ（負から正に転じたゼロクロス点毎のデータ）が得られる。アンラップは、その不連続になっている位相の飛びを接続する処理である。
【００６０】
【数４】
2011215134.tif 000006
位相信号Ｐ（ｋ）は、干渉光の各波数ｋに関する位相の変化を示し、ゼロクロス点の数を求めるための信号として用いることができる。例えば、位相信号Ｐ（ｋ）の最大値ｍａｘ（Ｐ）が小さいほど、Ｋｍｉｎ〜Ｋｍａｘの間でのゼロクロス点の数が少ないことを示している。一方、最大値ｍａｘ（Ｐ）が大きいほど、Ｋｍｉｎ〜Ｋｍａｘの間でのゼロクロス点の数が多いことを示している。
【００６１】
そして、その位相信号の最大値ｍａｘ（Ｐ）は、眼底信号Ｆとして輝度値Ｌに変換される。
【００６２】
【数５】
2011215134.tif 000007
この場合、最大値ｍａｘ（Ｐ）と輝度値Ｌとが対応付けされた計算式、テーブル等が用いられる。例えば、最大値ｍａｘ（Ｐ）が大きいほど高い輝度値に変換され、最大値ｍａｘ（Ｐ）が小さいほど低い輝度値に変換される。そして、各走査位置（Ｘ、Ｙ）での輝度値Ｌは、各走査位置（Ｘ、Ｙ）での輝度レベルとして各画素に対応して配列され、正面画像として形成される。
【００６３】
図３は前述の手法によって形成された正面画像の具体例を示す画像である。得られた正面画像は、干渉信号のゼロクロス点の数を基に形成された画像であり、各走査位置での輝度値Ｌは、反射率が高い部位の深さ位置を示している。本画像においては、眼底血管の走行状態、乳頭部の形態的特徴、等が確認できる。
【００６４】
なお、位相信号Ｐ（ｋ）を輝度値Ｌに変換する場合、最大波数Ｋｍａｘでの位相信号Ｐ（Ｋｍａｘ）に限定されず、ある波数Ｋ１における位相信号Ｐ（Ｋ１）が変換されてもよい。また、位相信号Ｐ（ｋ）からゼロクロス点の数の大小が求められればよく、位相信号Ｐ（ｋ）の積分値が輝度値Ｌに変換されてもよい。例えば、Ｋｍｉｎ〜Ｋｍａｘでの積分値であってもよいし、ある波数領域における積分値であってもよい。また、アンラッピングを行う前の不連続なデータからゼロクロス点の数が求められてもよい。
【００６５】
また、取得された正面画像が出力される場合、生画像が出力されてもよいし、画像処理を経て出力されてもよい。画像処理を行う場合、例えば、輝度値Ｌが複数の段階（例えば、７つ）に分けられ、各段階に応じたカラー表示が行われるようにしてもよい。また、あるフィルタリングを介して得られた画像が出力されてもよい。
【００６６】
図５は本発明に係る第２の実施形態について示すフローチャートである。第２の実施形態では、干渉信号の実数部及び虚数部を求めず、干渉信号のゼロクロス点の数を直接求める手法である。
【００６７】
ノイズ除去によって抽出された干渉信号部Ｓreal（ｋ）は、信号の正負を基準に二値化される。例えば、信号が閾値０より小さい領域については０に変換され、信号が閾値０以上の領域については１に変換される。
【００６８】
【数６】
2011215134.tif 000008
そして、バイナリゼーション処理された干渉信号は、微分処理される。
【００６９】
【数７】
2011215134.tif 000009
そして、微分処理された干渉信号は、さらに信号の正負を基準に二値化される。例えば、信号が閾値０より小さい領域については０に変換され、信号が閾値０以上の領域については１に変換される。
【００７０】
【数８】
2011215134.tif 000010
上記にように微分処理を経て二値化処理された干渉信号において、信号１の部分は、それぞれ位相が３６０°進んだ地点を示している。そこで、信号１の部分の数がカウントされることにより、Ｋｍｉｎ〜Ｋｍａｘの間でのゼロクロス点の数がわかる。
【００７１】
そして、この積分値は、眼底信号Ｆとして輝度値Ｌに変換される。
【００７２】
【数９】
2011215134.tif 000011
この場合、眼底信号Ｆと輝度値Ｌとが対応付けされた計算式、テーブル等が用いられる。例えば、ゼロクロス点の数が大きいほど高い輝度値に変換され、ゼロクロス点の数が小さいほど低い輝度値に変換される。そして、各走査位置（Ｘ、Ｙ）での輝度値Ｌは、各走査位置（Ｘ、Ｙ）での輝度レベルとして各画素に対応して配列され、正面画像として形成される。なお、本手法によっても、図３と同様の画像が得られる。
【００７３】
なお、ゼロクロス点の数を直接求める場合、上記手法に限定されるものではなく、干渉信号において基準線と交わるゼロクロス点が検出さればよい。例えば、波数ｋに関する干渉信号において０の値を持った部分の数をカウントしてもよい。
【００７４】
なお、以上説明において、ゼロクロス点の数を検出する場合、ゼロクロス点を予め検出し、検出されたゼロクロス点間のピークの数を検出してもよい。また、干渉信号が負から正に転じるときのゼロクロス点のみ、干渉信号が正から負に転じるときのゼロクロス点のみを検出してもよい。もちろん両方のゼロクロス点を検出し、その点の数を求めてもよい。
【００７５】
また、ノイズ除去を行う前のスペクトルからゼロクロス点の数を検出しても良い。例えば、スペクトルデータの生データと、各走査位置におけるスペクトルデータの平均とを照合させ、これらが交わる点の数が検出されるようにしてもよい。
【００７６】
また、検出されたゼロクロス点間の長さの平均を求めても良い。なぜなら、ゼロクロス点の数が多いことは、ゼロクロス点で区切られる各波形の平均周期は短くなる傾向にあり、ゼロクロス点の数が少ないことは、ゼロクロス点で区切られる各波形の平均周期が長くなる傾向となるからである。なお、干渉信号が正弦波に近い波形であれば、波数ｋに関して略正弦波上に変化する干渉信号の周期が検出されてもよい。
【００７７】
なお、以上の説明においては、深さプロファイルを得る前の干渉信号から反射率の高い部位の深さ情報を得るものとしたが、干渉信号から得られる深さプロファイルを用いて深さ情報を得るようにしてもよい。例えば、断層画像の取得後、Ａスキャン信号毎に最大輝度を示す点を検出し、その深さ位置を輝度値として出力する。例えば、最大輝度を示す位置が浅いほど低い輝度とし、最大輝度を示す位置が深いほど高い輝度にて表現される。
【００７８】
なお、眼底像のように高い輝度を示す部分が深さ方向に２つあるような場合（神経線維層と色素上皮層）は、以下のようにしてもよい。ある画素において最大輝度を示す深さ位置を検出するとき、その画素に対応するＡスキャン信号及びこれに隣接するＡスキャン信号（例えば、５ピクセル）における各最大輝度点の中で、最も浅い位置（又は最も深い位置）にあるものの深さ位置が検出されるようにしてもよい（図６参照）。
【００７９】
なお、被検眼からの測定光と，参照光とが合成された干渉光を受ける干渉光学系を有し被検眼の所定部位の断層像（例えば、前眼部断層像）を撮影する眼科撮影装置であれば、本発明の適用は可能である。
【００８０】
なお、上記手法によれば、ゼロクロス点の数に基づいて画像が形成されるため、スペクトルの振幅レベルの過飽和による影響を大きく受けない。例えば、前眼部の正面像を取得する場合において、強いノイズ反射光が角膜頂点部分にて検出されても、この影響を受けることなく、前眼部の形態的特徴が得られる。なお、スペクトル強度の積算値から前眼部正面像を得る場合、角膜頂点にてスペクトルが過飽和となり、画像全体のコントラストが得られない。
【００８１】
また、眼科撮影装置への適用に限るものではなく、眼以外の生体（例えば、皮膚、血管）、もしくは生体以外の試料、等の断層像を撮影する光断層像撮影装置においても、本発明の適用が可能である。もちろん被検物は、生体に限定されるものではない。
【００８２】
＜干渉信号への微分処理＞  なお、正面像を得る場合、干渉信号に対して微分処理（ハイパスフィルタ）を加えた上でゼロクロス点を計測することにより、ノイズ成分を除去するようにしてもよい。
【００８３】
＜干渉信号の周波数変換＞  なお、干渉信号の周波数を変換し、変換された干渉信号のゼロクロス点の数に基づいて正面像を取得することによって、正面像の画質が向上される。概して、周波数変換を行う場合、ｅikzは干渉信号、ΔＺを周波数シフト量とすると、ｅikzとｅiΔzを掛け合わせることにより干渉信号の周波数をシフトする。
【００８４】
【数１０】
2011215134.tif 000012
図７は変換処理を経て正面像を取得する場合の一例を示すフローチャートである。例えば、抽出された干渉信号に対してヒルベルト変換が施され、干渉信号の正周波数成分と負周波数成分が導出され、ΔＺに相当する周波数シフトが施される。
【００８５】
例えば、正周波数成分Ｓreal（ｋ）＋ｉＳimag（ｋ）にｅiΔzが掛けられ、
【００８６】
【数１１】
2011215134.tif 000013
負周波数成分Ｓreal（ｋ）−ｉＳimag（ｋ）にｅ-iΔzが掛けられ、
【００８７】
【数１２】
2011215134.tif 000014
となる。この場合、ヒルベルト変換前に、干渉信号内の周波数が変化されてもよい。
【００８８】
その後、正周波数成分と負周波数成分は合成され、位相信号Ｐ（ｋ）が求められる。そして、位相信号の最大値ｍａｘ（Ｐ）が眼底信号Ｆとして輝度値Ｌに変換される。そして、各ＸＹ位置での輝度として配列され、正面画像として形成される。例えば、各ＸＹ位置で取得されたｍａｘ（Ｐ）の中で、ｍａｘ（Ｐ）の最小値が輝度０、ｍａｘ（Ｐ）の最大値が輝度２５５にて表現される。
【００８９】
変換処理を用いた制御の一例を示す。眼底断層像を得る場合、呼吸による眼底の微動、眼全体の移動等によって、光路長一致位置Ｓ（参照光の光路長に対応する位置）に対して眼底位置が変化する（図８参照）。このため、各点で取得されるゼロクロス点の数が変化され、同一眼における同位置での像であっても、正面像の画質（例えば、コントラスト、明るさ）が異なってしまう可能性がある。
【００９０】
そこで、制御部７０は、深さ方向に関する断層像の取得位置を検出し、検出された位置情報に基づいて干渉信号の周波数をシフトさせることにより、正面像の画質を安定させる。
【００９１】
制御部７０は、取得される断層像に基づいて深さ方向での断層像の位置ずれを検出し、その検出結果に基づいて，眼底の所定部位（例えば、ＲＰＥ（retinal pigment epithelium）：網膜色素上皮層）からの干渉信号の周波数が、所定の周波数に変換されるように、干渉信号ｅikzに対してｅiΔzを掛け合わせる。所定の周波数としては、例えば、一致位置Ｓに対する基準位置Ｂにて所定部位の画像が取得されたときの干渉信号の周波数が設定される。
【００９２】
概して、制御部７０は、仮に、周波数シフトされた干渉信号に基づいて断層像を得た場合において、断層像における所定部位が基準位置Ｂにて形成されるように干渉信号の周波数をシフトさせる。
【００９３】
例えば、制御部７０は、深さ方向での断層像の輝度分布（中心部Ｃでの輝度分布）を取得し、輝度分布に基づいてピーク位置（ＲＰＥに対応）Ｐと基準位置Ｂとのずれ量ΔＤを検出する。そして、制御部７０は、検出されたずれ量ΔＤに対応する周波数シフト量Δｚを取得し、干渉信号ｅikzの周波数をシフトさせる。
【００９４】
この場合、シミュレーション、実験等によって、各ずれ量ΔＤに対して必要な周波数シフト量Δｚが予め求められ、補正情報（例えば、補正テーブル、補正演算式、など）としてメモリ７５に記憶される。この場合、ずれ方向に応じてシフト量の正負が異なる。
【００９５】
そして、制御部７０は、各ＸＹ位置にて取得される干渉信号の周波数を順次変換し、変換された干渉信号に基づいて正面像を得る。これにより、深さ方向に関して断層像の取得位置が変化しても、安定した正面像を取得できる。
【００９６】
なお、上記処理は、眼軸長に応じた光路長調整時においても有用である。また、上記処理は、ＥＤＩ（Enhanced depth imaging）撮影と、通常撮影とをそれぞれ行う装置においても、有用である。この場合、例えば、制御部７０は、一致位置Ｓの前方と後方に眼底が配置されたときの断層像の位置ずれ量ΔＤを検出する。そして、制御部７０は、検出されたずれ量ΔＤ分に対応する周波数シフト量Δｚを取得し、干渉信号ｅikzの周波数をシフトさせる。これにより、輝度の反転を回避できる。
【００９７】
なお、以上の説明においては、干渉信号の周波数をシフトさせたが、これに限定されない。概して、制御部７０は、スペクトル検出ユニットからの出力信号に基づいて深さ方向に関する断層像の取得位置を検出し、検出された位置情報に基づいて断層像の取得位置による正面像の輝度変化を補正する。
【００９８】
例えば、ずれ量ΔＤに基づいて位相信号の最大値ｍａｘ（Ｐ）又は輝度値Ｌを補正するようにしてもよい。基準位置に対してずれた位置で像が取得されるときの計測値（例えば、最大値ｍａｘ（Ｐ）、輝度値Ｌ）の変化量と、ずれ量ΔＤとの関係が補正情報として利用される。
【００９９】
なお、干渉信号と、断層像の取得位置は、一定の関係にある。したがって、断層像の取得位置の変化を、干渉信号を用いて間接的に取得し、取得結果を利用して補正してもよい。例えば、干渉信号のゼロクロス点の数が許容範囲を下回るような場合、制御部７０は、計測されたゼロクロス点の数に対して、基準位置からのゼロクロス点の変化量に対応する補正を行う。
【０１００】
＜高周波側へのシフト＞  上記変換処理において、断層像のＳ／Ｎ比を高めるため、深さ方向における断層像の取得位置は、一致位置Ｓの近傍に設定されるのが好ましい（図９（ａ）参照）。一方、正面像のＳ／Ｎ比を高めるため、正面像の取得における深さ方向の基準位置Ｂは、一致位置Ｓから遠い位置であることが好ましい（図９（ｂ）参照）。
【０１０１】
そこで、制御部７０は、一致位置Ｓの近傍にて断層像が取得されるように、駆動機構５０の駆動を制御する（図９（ａ）参照）ここで、一致位置Ｓの近傍に眼底が配置された光路長（通常の断層像取得位置）での干渉信号は、低周波数となる。そこで、制御部７０は、干渉信号の周波数を高周波数に変換し、変換された干渉信号のゼロクロス点を用いて正面像を得る。
【０１０２】
例えば、制御部７０は、眼底の所定部位（例えば、ＲＰＥ）からの干渉信号の周波数が、スペクトルから抽出されたときの周波数より高周波帯に設定された所定の周波数に変換されるように、干渉信号ｅikzに対してｅiΔzを掛け合わせる。
【０１０３】
なお、所定の周波数としては、例えば、通常、前述のような自動ＯＰＬ（OPTICAL PASS LENGTH）調整完了後に取得される干渉信号の周波数より高い周波数となるように設定される。好ましくは、所定の周波数として、深さ方向における撮像可能範囲の限界位置（前方又は後方）近傍で断層像が取得される（図９（ａ）参照）ときの干渉信号の周波数に設定される。
【０１０４】
このようにして、制御部７０は、周波数が増加する側に（位相の進みが速くなる側）干渉信号の周波数を変換する。図１０は周波数シフト前の干渉信号を簡略的に示す図であり、図１１は周波数をシフトさせた後の干渉信号を簡略的に示す図である。横軸（０〜２５６）は、ラインセンサの一部で受ける信号を表し、縦軸は、振幅を表す。
【０１０５】
図１０（ａ）及び図１１（ａ）において、波形ｆ０が高周波ノイズ（干渉信号に残存するノイズ成分）、波形ｆ１がＮＦＬ（ＮＦＬ：nerve fiver layer（神経線維層））からの光、波形ｆ２がＲＰＥ（網膜色素上皮層）からの光、に対応する波形である。図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）の波形は、波形ｆ０、波形ｆ１、波形ｆ２が重ね合わされた合成波形を示す。一般に、ＲＰＥでの反射率は、ＮＦＬの反射率より大きく、干渉信号（合成波形参照）をマクロ的に見た場合、血管の走行が無ければ、ＲＰＥでの反射が最も強く、ＮＦＬでの反射が２番目に大きい。
【０１０６】
＜周波数シフト前＞  図１０（ａ）において、波形ｆ１及び波形ｆ２は、位相の進みが遅い。そして、図１０（ｂ）に示すように、合成波形は、傾きが小さい（緩やか）。このため、合成波形は、高周波ノイズの影響を大きく受けるため、ゼロクロス点の位置は、波形ｆ２に対して大きく変化し、波形自体の形状も大きく歪んでしまう。このような場合、形成される正面像にノイズが発生しやすい。
【０１０７】
また、ＸＹ方向に関するＲＰＥの深さ位置の二次元分布を正面像として取得しようとする場合、結果的には、ＮＦＬとＲＰＥの中間での深さ位置に関する２次元分布が取得される。
【０１０８】
＜周波数シフト後＞  図１１（ａ）において、高周波にシフトされた波形ｆ１及び波形ｆ２は、位相の進みが速い。そして、図１１（ｂ）に示すように、合成波形は、傾きが大きい（険しい）。このため、合成波形は、高周波ノイズの影響をあまり受けず、ゼロクロス点の位置は、波形ｆ２に対して大きく変化せず、波形自体の形状もあまり変わらない。このような場合、ノイズの影響が少ない安定した正面像が得られる。
【０１０９】
また、周波数シフト前の画像と比較した場合、結果的には、ＸＹ方向に関するＲＰＥ近傍の深さ位置の二次元分布が正面像として取得される。その他、被検物によるが、反射が強い部位の深さ位置に関する正面像が精度よく得られる。
【０１１０】
なお、上記変換処置において、逆に、干渉信号の周波数が減るように周波数をシフトさせ、シフトされた干渉信号に基づいて正面像を取得してもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１１１】
【図１】本実施形態に係る光断層像撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。
【図２】取得された正面画像と断層像を示す模式図である。
【図３】干渉信号におけるゼロクロス点の数に基づいて眼底正面像が形成されたときの実画像を示す図である。
【図４】スペクトルデータを得てから輝度値に変換するまでの処理について説明するフローチャートである。
【図５】本発明に係る第２の実施形態について示すフローチャートである。
【図６】干渉信号から得られる深さプロファイルを用いて深さ情報を得る場合の例を示す図である。
【図７】変換処理を経て正面像を取得する場合の一例を示すフローチャートである。
【図８】光路長一致位置Ｓ（参照光の光路長に対応する位置）に対して眼底位置が変化したときの断層像を示す図である。
【図９】高周波側へのシフトについて説明する図である。
【図１０】周波数シフト前の干渉信号を簡略的に示す図である。
【図１１】周波数をシフトさせた後の干渉信号を簡略的に示す図である。
【符号の説明】
【０１１２】
２３  走査部
７０  制御部
８３  受光素子
１００  干渉光学系
８００  分光光学系
【図１】
2011215134.tif 000015
【図２】
2011215134.tif 000016
【図３】
2011215134.tif 000017
【図４】
2011215134.tif 000018
【図５】
2011215134.tif 000019
【図６】
2011215134.tif 000020
【図７】
2011215134.tif 000021
【図８】
2011215134.tif 000022
【図９】
2011215134.tif 000023
【図１０】
2011215134.tif 000024
【図１１】
2011215134.tif 000025