(57)【要約】【課題】試験端子に対する接触状態が不揃いであることに起因してトリップ回路が不用意にトリップ動作することを防止するとともに、試験端子に対する挿抜にかかる操作者の負担軽減を図ること。【解決手段】試験端子１０２に対するＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂの挿入にともなって当該ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂがＣＴ回路側接触子対４０３を離間させる前に、トリップ回路側接触子対４０３を絶縁する絶縁部材５０１と、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂによりＣＴ回路側接触子対４０３が電気的に接続された後に、トリップ回路側接触子対４０３を電気的に接続する接続部材と、を備えたトリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄを備える試験端子１０２を構成した。【選択図】図４
2011169865.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
離間可能に接触する複数の接触子対を備えた試験端子に対して挿抜される試験プラグであって、
前記複数の接触子対のうちＣＴ回路に接続された接触子対（以下「ＣＴ回路側接触子対」という）を離間させる位置に挿入され、少なくとも前記試験端子に対して所定位置まで挿入された状態において、離間させた前記ＣＴ回路側接触子対を電気的に接続するＣＴ回路側接触子と、
前記試験端子に対する前記ＣＴ回路側接触子の挿入にともなって前記複数の接触子対のうちトリップ回路に接続された接触子対（以下「トリップ回路側接触子対」という）を離間させる位置に挿入され、前記ＣＴ回路側接触子が所定位置まで挿入された状態において前記トリップ回路側接触子対を電気的に接続するトリップ回路側接触子と、
を備え、
前記トリップ回路側接触子は、
前記試験端子に対する前記ＣＴ回路側接触子の挿入にともなって当該ＣＴ回路側接触子が前記ＣＴ回路側接触子対を離間させる前に、前記トリップ回路側接触子対を絶縁する絶縁部材と、前記ＣＴ回路側接触子により前記ＣＴ回路側接触子対が電気的に接続された後に、前記トリップ回路側接触子対を電気的に接続する接続部材と、を備えたことを特徴とする試験プラグ。
【請求項２】
前記絶縁部材は、前記試験端子からの前記ＣＴ回路側接触子の引き抜きにともなって、前記ＣＴ回路側接触子対から前記ＣＴ回路側接触子が引き抜かれる前に前記トリップ回路側接触子対を絶縁し、前記ＣＴ回路側接触子が前記ＣＴ回路側接触子対から引き抜かれた後に前記トリップ回路側接触子対から引き抜かれることを特徴とする請求項１に記載の試験プラグ。
【請求項３】
前記トリップ回路側接触子は、前記ＣＴ回路側接触子より長く、
前記絶縁部材は、前記トリップ回路側端子の先端から所定の長さまでの範囲に設けられていることを特徴とする請求項１または２に記載の試験プラグ。
【請求項４】
前記トリップ回路側接触子は、
当該トリップ回路側接触子の挿抜方向に沿って設けられ、離間することによって前記トリップ回路から絶縁される主接触子対および前記トリップ回路に常時接続された副接触子対を備えたトリップ回路側接触子対に挿入され、
前記試験端子に対する前記ＣＴ回路側接触子の挿入にともなって、前記副接触子対を離間させた後に前記主接触子対を離間させ、
前記接続部材は、前記ＣＴ回路側接触子対と前記ＣＴ回路側接触子とが電気的に接続した後に、前記副接触子対に電気的に接続することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに記載の試験プラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、試験プラグに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＴ（Ｃｕｒｒｅｎｔ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒ）回路の差電流を検知した場合に、遮断器をトリップさせるリレーが設置されている変電所がある。このような変電所においては、変電所内に設けられた配電盤における所定の試験端子に対して試験プラグを挿入（装着）し、挿入した試験プラグを介して取得される電気信号を用いた所定の測定作業がおこなわれる。試験プラグは、所定の作業をおこなうごとに盤に挿入（装着）し、所定の作業後は盤から引き抜いて取り外す。
【０００３】
試験プラグが備える各接続部は、それぞれ、試験端子に対して試験プラグが挿入された場合に、試験端子における上部端子または下部端子に接続（接触）する。試験プラグが備える各接続部と試験端子における上部端子または下部端子との接続（接触）状態にばらつきがある場合、差電流が流れてリレーが誤動作するおそれがある。接続（接触）状態のばらつきは、試験端子に対して試験プラグを着脱（挿抜）する際に発生しやすい。
【０００４】
このような、試験プラグの挿抜に際しての誤動作を回避するために、従来、たとえば、盤に対する試験プラグの挿入に先立って遮断器への指令回路をトリップロックしていた。また、従来、遮断器への指令回路のトリップロックは、盤からの試験プラグの引き抜き後に解除していた。
【０００５】
トリップロックがされていない状態で試験プラグの挿抜をおこなった場合、リレーが誤動作し、変電所内全停事故となってしまう。また、トリップロックの解除を忘れ、トリップロックがされた状態で過電流が流れる事故が発生した場合、本来は動作するはずであった遮断器がトリップ（自動遮断）せず、当該事故によって停電する範囲が不要に拡大されてしまうこともある。
【０００６】
また、従来、試験プラグの挿抜をおこなう盤と、トリップロックにかかる操作をおこなう盤とが異なる盤によって実現されている場合には、たとえば、試験プラグの挿入をおこなう前に、トリップロックにかかる操作をおこなう盤においてトリップロックをおこなってから、試験プラグを挿入する盤まで移動して、試験プラグの挿入をおこなわなくてはならない。同様に、たとえば、試験プラグの取り外しをおこなう際には、試験プラグが挿入されている盤において試験プラグを引き抜いてからトリップロックを解除する盤まで移動し、トリップロックの解除をおこなわなくてはならない。
【０００７】
このように、従来の技術では、試験プラグの挿抜をおこなう盤と、トリップロックにかかる操作をおこなう盤とが異なる盤によって実現されている場合には、作業箇所が多くなるとともに、作業に際して移動をともなうため、作業がわずらわしく、また、作業箇所を誤認するなどのミスを誘発しやすい。
【０００８】
このような不具合を解決するために、従来、たとえば、トリップロック端子を試験端子本体ケースに一体化することにより、試験プラグ挿入操作に際してＣＴ・ＰＴ（Ｐｏｔｅｎｔｉａｌ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒ）回路とトリップ回路とを同時に切離すようにした技術があった（たとえば、下記特許文献１を参照。）。
【０００９】
また、従来、たとえば、試験端子本体において、全回線のトリップロック端子を直列接続するとともに補助リレー励磁回路を接続することにより、ある一回線の試験プラグ挿入時でも自動的に全回線トリップロックするようにした技術があった（たとえば、下記特許文献２を参照。）。また、従来、たとえば、試験プラグの中性点Ｎ相の接触子の長さを他より短くすることにより、試験プラグが完全に挿入されるまでリレーを非作動状態とするようにした技術があった（たとえば、下記特許文献３を参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開昭５７−３６５２９号公報
【特許文献２】特開昭６０−２０２０号公報
【特許文献３】特開平８−５６５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、上述した特許文献１、２に記載された従来の技術では、試験プラグの挿入操作に際してＣＴ・ＰＴ回路とトリップ回路とを同時に切離すことはできない。このため、プラグ接触不揃いが発生することを完全に回避することができず、リレーが誤動作して遮断器がトリップするおそれがあるという問題があった。
【００１２】
また、上述した特許文献２に記載された従来の技術では、一回線の試験プラグ挿入時でも自動的に全回線トリップロックしてしまう。このため、盤に試験プラグを挿入している間は他回線のリレーを有効に活用することができないという問題があった。
【００１３】
また、上述した特許文献３に記載された従来の技術では、リレー用の試験端子には有効な効果を発揮するものの、遠隔監視制御装置の計測用の試験端子には適用できないという問題があった。さらに、上述した特許文献３に記載された従来の技術では、リレーは非動作であるが、不揃いは発生している可能性があった。このため、トリップロック端子をロックした方がより確実であり、確実性に劣るという問題があった。
【００１４】
この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するため、試験端子に対する接触状態が不揃いであることに起因してトリップ回路が不用意にトリップ動作することを防止するとともに、試験端子に対する挿抜にかかる操作者の負担軽減を図ることができる試験端子を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、この発明にかかる試験プラグは、離間可能に接触する複数の接触子対を備えた試験端子に対して挿抜される試験プラグであって、前記複数の接触子対のうちＣＴ回路に接続された接触子対（以下「ＣＴ回路側接触子対」という）を離間させる位置に挿入され、少なくとも前記試験端子に対して所定位置まで挿入された状態において、離間させた前記ＣＴ回路側接触子対を電気的に接続するＣＴ回路側接触子と、前記試験端子に対する前記ＣＴ回路側接触子の挿入にともなって前記複数の接触子対のうちトリップ回路に接続された接触子対（以下「トリップ回路側接触子対」という）を離間させる位置に挿入され、前記ＣＴ回路側接触子が所定位置まで挿入された状態において前記トリップ回路側接触子対を電気的に接続するトリップ回路側接触子と、を備え、前記トリップ回路側接触子が、前記試験端子に対する前記ＣＴ回路側接触子の挿入にともなって当該ＣＴ回路側接触子が前記ＣＴ回路側接触子対を離間させる前に、前記トリップ回路側接触子対を絶縁する絶縁部材と、前記ＣＴ回路側接触子により前記ＣＴ回路側接触子対が電気的に接続された後に、前記トリップ回路側接触子対を電気的に接続する接続部材と、を備えたことを特徴とする。
【００１６】
また、この発明にかかる試験プラグは、上記の発明において、前記絶縁部材が、前記試験端子からの前記ＣＴ回路側接触子の引き抜きにともなって、前記ＣＴ回路側接触子対から前記ＣＴ回路側接触子が引き抜かれる前に前記トリップ回路側接触子対を絶縁し、前記ＣＴ回路側接触子が前記ＣＴ回路側接触子対から引き抜かれた後に前記トリップ回路側接触子対から引き抜かれることを特徴とする。
【００１７】
また、この発明にかかる試験プラグは、上記の発明において、前記トリップ回路側接触子が、前記ＣＴ回路側接触子より長く、前記絶縁部材が、前記トリップ回路側端子の先端から所定の長さまでの範囲に設けられていることを特徴とする。
【００１８】
また、この発明にかかる試験プラグは、上記の発明において、前記トリップ回路側接触子が、当該トリップ回路側接触子の挿抜方向に沿って設けられ、離間することによって前記トリップ回路から絶縁される主接触子対および前記トリップ回路に常時接続された副接触子対を備えたトリップ回路側接触子対に挿入され、前記試験端子に対する前記ＣＴ回路側接触子の挿入にともなって、前記副接触子対を離間させた後に前記主接触子対を離間させ、前記接続部材が、前記ＣＴ回路側接触子対と前記ＣＴ回路側接触子とが電気的に接続した後に、前記副接触子対に電気的に接続することを特徴とする。
【００１９】
上記の発明によれば、操作者に対して試験端子に対して試験プラグを挿入する動作をおこなわせるだけで、ＣＴ回路側接触子とＣＴ回路側接触子対とが電気的に接続される前にトリップ回路を開放することができる。
【００２０】
また、上記の発明によれば、操作者に対して、試験端子に対して試験プラグを挿入する動作をおこなわせるだけで、ＣＴ回路側接触子によりＣＴ回路側接触子対が電気的に接続された後にふたたびトリップ回路を有効にすることができる。
【００２１】
また、上記の発明によれば、操作者に対して試験端子から試験プラグを引き抜く動作をおこなわせるだけで、トリップ回路側接触子対を電気的に絶縁した状態で、ＣＴ回路側接触子対の間からＣＴ回路側接触子を引き抜いてＣＴ回路側接触子対を接触させ、通常状態に復帰させることができる。
【００２２】
このように、上記の発明によれば、操作者に対して試験端子に対して試験プラグを挿抜する動作をおこなわせるだけで、ＣＴ回路側接触子とＣＴ回路側接触子対との接触状態が不安定である間はトリップ回路を開放することができる。
【発明の効果】
【００２３】
この発明にかかる試験プラグによれば、操作者に対して試験端子に対して試験プラグを挿抜する動作をおこなわせるだけで、ＣＴ回路側接触子とＣＴ回路側接触子対との接触状態が不安定である間はトリップ回路を開放することができるので、試験端子に対する接触状態が不揃いであることに起因してトリップ回路が不用意にトリップ動作することを防止するとともに、試験端子に対する挿抜にかかる操作者の負担軽減を図ることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】この発明にかかる実施の形態のテストターミナルの構成を示す説明図（その１）である。
【図２】この発明にかかる実施の形態のテストターミナルの構成を示す説明図（その２）である。
【図３】試験端子の配置例を示す説明図である。
【図４】試験プラグおよび試験端子の構成を示す説明図（その１）である。
【図５】試験プラグおよび試験端子の構成を示す説明図（その２）である。
【図６】試験プラグおよび試験端子の構成を示す説明図（その３）である。
【図７】試験プラグおよび試験端子の構成を示す説明図（その４）である。
【図８】試験プラグおよび試験端子の構成を示す説明図（その５）である。
【図９】導通バーを示す説明図である。
【図１０】テストターミナルの導通状態を示す説明図（その１）である。
【図１１】テストターミナルの導通状態を示す説明図（その２）である。
【図１２】テストターミナルの導通状態を示す説明図（その３）である。
【図１３】試験プラグの挿入位置を示す説明図（その１）である。
【図１４】試験プラグの挿入位置を示す説明図（その２）である。
【図１５】試験プラグの挿入位置を示す説明図（その３）である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる試験プラグの好適な実施の形態を詳細に説明する。
【００２６】
（テストターミナルの構成）
まず、この発明にかかる実施の形態のテストターミナルの構成について説明する。この発明にかかる実施の形態においては、４極のテストターミナルへの適用例を示している。図１および図２は、この発明にかかる実施の形態のテストターミナルの構成を示す説明図である。図１および図２において、この発明にかかる実施の形態のテストターミナル１００は、試験プラグ（テストプラグ）１０１と試験端子（テスト端子）１０２とを備えている。
【００２７】
試験プラグ１０１は、接触子（ＣＴ回路側接触子対、トリップ回路側接触子対）１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、１０１ｄを備えている。この実施の形態においては、４極のテストターミナル１００であるため、試験プラグ１０１は、４つの接触子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、１０１ｄを備えている。
【００２８】
試験端子１０２は、試験プラグ１０１が備える接触子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、１０１ｄの挿入を受け付けるプラグ挿入口１０３が設けられた箱体１０４を備えている。テストターミナル１００においては、プラグ挿入口１０３を介して、箱体１０４に対して試験プラグ１０１の接触子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、１０１ｄを挿抜することによって、試験プラグ１０１を試験端子１０２に対して着脱することができる。
【００２９】
図３は、試験端子１０２の配置例を示す説明図である。図３において、試験端子１０２は、配電盤３００に設けられる。試験端子１０２は、配電盤３００がなす盤面においてプラグ挿入口１０３が開口するように、配電盤３００に組み込まれている。配電盤３００の近傍には、トリップロック端子３０１が設けられている。トリップロック端子３０１は、バーを外すことにより遮断指令をロックすることができる。トリップロック端子３０１については、公知の技術であるため説明を省略する。
【００３０】
（試験プラグ１０１および試験端子１０２の構成）
つぎに、試験端子１０２および試験プラグ１０１の構成について説明する。図４〜図８は、試験プラグおよび試験端子の構成を示す説明図である。図４においては、試験端子１０２および試験プラグ１０１の一部断面を示している。図５においては、試験プラグ１０１を図４における紙面上側から見た状態を示している。図６においては、試験プラグ１０１を図５における矢印Ａ方向から見た状態を示している。図７においては、試験プラグ１０１を図５における矢印Ｂ方向から見た状態を示している。図８においては、試験プラグ１０１を図５における矢印Ｃ方向から見た状態を示している。
【００３１】
図４において、試験端子１０２は、上部端子４０１および下部端子４０２を備えている。上部端子４０１および下部端子４０２は、それぞれ、試験端子１０２の箱体１０４の外側に突出している。上部端子４０１および下部端子４０２は、一部がＣＴ回路に接続され、別の一部が遮断器への指令回路（以下、「トリップ回路」という）に接続される。ＣＴ回路およびトリップ回路については、公知の技術であるため説明を省略する。
【００３２】
試験端子１０２が備える箱体１０４内には、複数の接触子対４０３が設けられている。この実施の形態においては、４つの接触子対４０３が設けられている。４つの接触子対４０３のうちの２つの接触子対４０３は、ＣＴ回路に接続されている。４つの接触子対４０３のうちの別の２つの接触子対４０３は、トリップ回路に接続されている。以下、適宜、ＣＴ回路に接続された接触子対４０３をＣＴ回路側接触子対、トリップ回路に接続された接触子対をトリップ回路側接触子対とし、符号４０３を付して説明する。
【００３３】
ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３は、それぞれ、離間可能に接触する一対の可動接触板４０３ａ、４０３ｂによって構成されている。可動接触板４０３ａ、４０３ｂは、金属材料などの導電性を有する材料によって形成された平板によって実現することができる。
【００３４】
ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３は、それぞれ、主接触部と副接触部とを備えている。主接触部および副接触部は、一対の可動接触板４０３ａ、４０３ｂを、それぞれ長手方向に沿って折り曲げる（湾曲させる）ことによって形成されている。箱体１０４内には、ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３において、副接触部どうしが互いに当接する方向に、一対の可動接触板４０３ａ、４０３ｂを付勢する圧縮コイルスプリング４０４ａが設けられている。
【００３５】
試験端子１０２に対して試験プラグ１０１が挿入されていない状態においては、ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３において、副接触部どうしが当接している。試験端子１０２に対して試験プラグ１０１が挿入されている状態においては、ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３における副接触部は、それぞれ、挿入された試験プラグ１０１が備えるＣＴ回路側接触子対４０３あるいはトリップ回路側接触子対４０３に当接する。
【００３６】
また、箱体１０４内には、ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３において、主接触部どうしが互いに当接する方向に、一対の可動接触板４０３ａ、４０３ｂを付勢する圧縮コイルスプリング４０４ｂが設けられている。試験端子１０２に対して試験プラグ１０１が挿入されていない状態においては、ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３において、主接触部どうしが当接している。試験端子１０２に対して試験プラグ１０１が挿入されている状態においては、ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３における主接触部は、それぞれ、挿入された試験プラグ１０１が備えるＣＴ回路側接触子対４０３あるいはトリップ回路側接触子対４０３に当接する。
【００３７】
また、ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３において、プラグ挿入口１０３側とは反対側の端部には、それぞれ、中断接点が設けられている。ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３において、一方の可動接触板４０３ａ（図４における紙面上側の可動接触板４０３ａ）に設けられた中断接点は、試験端子１０２に対して試験プラグ１０１を挿入していない状態において、中継接続部材４０５を介して下部端子４０２に接続されている。
【００３８】
ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３において、他方の可動接触板４０３ｂ（図４における紙面下側の可動接触板４０３ｂ）に設けられた中断接点は、試験端子１０２に対して試験プラグ１０１を挿入していない状態において、中継接続部材４０５を介して上部端子４０１に接続されている。
【００３９】
試験端子１０２の箱体１０４内には、支持導体４０６が設けられている。支持導体４０６は、金属材料など導電性を有する材料によって形成されている。支持導体４０６は、それぞれ、上部端子４０１あるいは下部端子４０２に接続されている。ＣＴ回路側接触子対４０３およびトリップ回路側接触子対４０３をなす一対の可動接触板４０３ａ、４０３ｂは、それぞれ、副接触部と主接触部との間において、支持導体４０６に常時接触している。
【００４０】
図４、図５、図６、図７および図８において、試験プラグ１０１は、前部端子４０７と後部端子４０８とを備えている。前部端子４０７および後部端子４０８は、端子支持部４１０に設けられている。前部端子４０７と後部端子４０８との間には、導通バー（図９を参照）を着脱可能に設けることができる。
【００４１】
前部端子４０７および後部端子４０８は、端子支持部４１０の高さ方向（図５における紙面上下方向）、および、端子支持部４１０の幅方向（図５における紙面左右方向）において、それぞれ、互い違いに配列されている。上記の上部端子４０１および下部端子４０２も、前部端子４０７および後部端子４０８の配列と同様に（図示を省略する）、箱体１０４の高さ方向および幅方向において、それぞれ、互い違いに配列されている。
【００４２】
接触子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、１０１ｄは、絶縁性を有する絶縁材料によって形成されている。接触子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、１０１ｄは、それぞれ、試験端子１０２における上部端子４０１に接触する接続部材４１１と、試験端子１０２における下部端子４０２に接触する接続部材４１１とを備えている。接続部材４１１は、金属などの材料によって形成されており、導電性を有する。
【００４３】
４本の接触子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、１０１ｄのうちの２本は、接続部材４１１を介してＣＴ回路に接続される。４本の接触子のうちの別の２本は、トリップ回路に接続される。トリップ回路に接続される接触子（以下「トリップ回路側接触子」という）１０１ｃ、１０１ｄは、ＣＴ回路に接続される接触子（以下「ＣＴ回路側接触子」という）１０１ａ、１０１ｂよりも長い。すなわち、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄの端子支持部４１０側の端部から反対側の端部（先端）までの長さは、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂの端子支持部４１０側の端部から反対側の端部（先端）までの長さよりも長い。
【００４４】
ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂに設けられた接続部材４１１は、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂにおける上側（図７における紙面上側）の面、および、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂにおける下側（図７における紙面下側）の面をそれぞれ覆うように設けられている。トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄに設けられた接続部材４１１は、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄにおける上側（図８における紙面上側）の面の一部、および、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄにおける下側（図８における紙面下側）の面の一部をそれぞれ覆うように設けられている。トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄに設けられた接続部材４１１は、それぞれ、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄにおける端子支持部４１０側に設けられている。
【００４５】
これにより、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄの先端側は、絶縁材料が露出している。この実施の形態においては、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄを構成する絶縁材料のうち、先端から接続部材が設けられている部分までの範囲においてトリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄの表面に露出している絶縁材料によって絶縁部材を実現することができる。以下、絶縁部材を、符号５０１を付して説明する。
【００４６】
絶縁部材５０１は、プラグ挿入口１０３を介して試験プラグ１０１を試験端子１０２に挿入する際に、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂがＣＴ回路側接触子対４０３に接触するよりも前にトリップ回路側接触子対４０３にするとともに、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂがＣＴ回路側接触子対４０３に接触した後に、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄに設けられた接続部材がトリップ回路側接触子対４０３に接触するような範囲に設けられている。
【００４７】
図９は、導通バーを示す説明図である。図９において、導通バー９０１は、金属材料など導電性を有する材料によって形成されている。導通バー９０１は、前部端子４０７に接触することにより前部端子４０７に電気的に接続される接触部９０２と、後部端子４０８に接触することにより前部端子４０７に電気的に接続される接触部９０３と、これらの２つの接触部を電気的に接続する接続部９０４と、によって構成されている。
【００４８】
（テストターミナル１００の導通状態）
つぎに、テストターミナル１００の導通状態について説明する。図１０、図１１および図１２は、テストターミナル１００の導通状態を示す説明図である。図１０、図１１および図１２において、上記の構成を備えたテストターミナル１００は、試験プラグ１０１が試験端子１０２に挿入される前は、トリップ回路側接触子対４０３を介して導通されている（図１０を参照）。
【００４９】
プラグ挿入口１０３を介して試験プラグ１０１を試験端子１０２に挿入した場合、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄがＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂよりも長く、かつ、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄの先端側は絶縁材料が露出しているため、トリップ回路側接触子対４０３の間に入り込んだトリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄの絶縁部材５０１によってトリップ回路側接触子対４０３が離間される。この状態においては、トリップ回路側接触子対４０３からトリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄへの導通はない。すなわち、トリップ回路が開放され、トリップロックがおこなわれた状態となる（図１１を参照）。
【００５０】
プラグ挿入口１０３を介して試験プラグ１０１を試験端子１０２に完全に挿入した場合、トリップ回路側接触子対４０３に、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄが備える接続部材４１１が接触する。これにより、トリップ回路がふたたび形成される（図１２を参照）。このように、この実施の形態の試験プラグ１０１を用いることにより、プラグ挿入口１０３を介して試験プラグ１０１を試験端子１０２に挿入するだけで、ＣＴ回路側接触子対４０３とＣＴ回路とが接続されるよりも先に、トリップ回路を開放することができる。
【００５１】
また、この実施の形態の試験プラグ１０１を用いることにより、プラグ挿入口１０３を介して試験プラグ１０１を試験端子１０２に挿入するだけで、試験プラグ１０１を試験端子１０２に完全に挿入した後にトリップロックを解除し、トリップ回路を機能させることができる。
【００５２】
一方、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂは、トリップ回路側接触子対４０３の間にトリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄが入り込んだ後に、ＣＴ回路側接触子対４０３の間に入り込む。ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂの上面および下面には、それぞれ、接続部材４１１が一面に設けられているため、ＣＴ回路側接触子対４０３とＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂとの間において導通が生じる。すなわち、ＣＴ回路は開放されず、導通状態を維持する。
【００５３】
試験プラグ１０１を試験端子１０２から引き抜く際には、トリップ回路側接触子対４０３の間に絶縁部材５０１が位置づけられることによって、ＣＴ回路側接触子対４０３とＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂとが接触している状態において、トリップ回路を開放することができる。
【００５４】
その後、試験プラグ１０１を試験端子１０２からさらに引き抜くと、ＣＴ回路側接触子対４０３の間からＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂが引き抜かれ、ＣＴ回路側接触子対４０３どうしが接触する。その後、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄがトリップ回路側接触子対４０３の間から引き抜かれる。これにより、トリップロックを解除し、トリップ回路を機能させることができる。
【００５５】
このように、テストターミナル１００においては、トリップロック端子３０１を試験端子１０２本体ケースに一体化するとともに、ＣＴ回路に対する試験プラグ１０１の操作中のみトリップ回路を開放（トリップロック）する構造とされている。具体的には、試験プラグ１０１において、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄを、絶縁性を有する材料によって形成する（絶縁物とする）とともに、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂより長くしている。トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄの長さは、ＣＴ回路より先にトリップ回路を開放するような長さとしている。
【００５６】
また、試験プラグ１０１において、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄの導電部である接続部材を、試験プラグ１０１の試験端子１０２に対する挿入が完了した状態において副接触部と接触するような長さとしている。これにより、試験プラグ１０１の試験端子１０２に対する挿入が完了した状態においては、試験プラグ１０１のトリップ回路側の前部端子４０７と後部端子４０８とを介してトリップ回路が形成される。また、試験プラグ１０１において、トリップ回路側の前部端子４０７と後部端子４０８とに導通バー９０１を挿入しておくことにより、試験プラグ１０１操作中のみトリップ回路を開放することができる。
【００５７】
また、テストターミナル１００においては、試験プラグ１０１を試験端子１０２から引き抜く場合も、試験プラグ１０１を試験端子１０２に対して挿入する場合と同様に、ＣＴ回路のプラグ操作中のみにトリップ回路を開放（トリップロック）する構造とされている。
【００５８】
上述した実施の形態においては、接続部材間を絶縁する絶縁材料が露出するような構成のトリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄとしたが、これに限るものではない。たとえば、既存の試験プラグ１０１におけるトリップ回路側接触子の先端に、絶縁性を有する材料によって形成されたキャップを設けた構成としてもよい。また、あるいは、既存の試験プラグ１０１におけるトリップ回路側接触子の先端を、絶縁性を有する材料によって挟み込むような構成としてもよい。なお、上述した試験プラグ１０１は、ＣＴ回路が４相であれば８極の試験端子１０２に適用することができる。
【００５９】
そして、上記のような構造の試験プラグ１０１とすることにより、試験プラグ１０１の試験端子１０２に対する接触状態が不揃いであることによるリレー誤動作を防止することができる。また、上記のような構造の試験プラグ１０１とすることにより、トリップロック失念によるリレー誤動作を防止することができる。また、上記のような構造の試験プラグ１０１とすることにより、トリップロックの戻し忘れを防止することができる。
【００６０】
また、上記のような構造の試験プラグ１０１とすることにより、試験プラグ１０１操作時のみトリップロックをおこなうことができ、操作時以外はリレーを活かすことができる。さらに、上記のような構造の試験プラグ１０１とすることにより、トリップ回路側の前部端子４０７と後部端子４０８との間における導通バー９０１を外すだけで、トリップロックしたままの状態を維持することもできる。また、上記のような構造の試験プラグ１０１とすることにより、遠隔監視制御装置の計測用の試験端子１０２にも適用できる。また、上記のような構造の試験プラグ１０１とすることにより、遠隔監視制御装置の試験プラグ１０１着脱時に、他盤にあるトリップロックをする必要がなくなる。
【００６１】
図１３、図１４および図１５は、試験プラグ１０１の挿入位置を示す説明図である。図１３、図１４および図１５において、従来は、受電盤１３１０に設けられた試験端子１０２に対して試験プラグを挿抜（着脱）する際に、トリップ回路をトリップロックしていた。また、従来は、遠隔監視制御装置１２２０に設けられた試験端子１０２に対して試験プラグを挿抜（着脱）する際に、トリップ回路をトリップロックしていた。図１３において符号１３０１は、差電流リレーを示している。
【００６２】
従来、トリップロックに際しては、図１４および図１５に示したように、トリップロック端子１４０１、１５０１におけるバー１４０１ａ、１５０１ａを、作業者が手動によって外すことによってトリップロックをおこなっていた。このため、たとえば、試験プラグの挿抜をおこなう盤と、トリップロックにかかる操作をおこなう盤とが異なる盤によって実現されている場合には、試験プラグの挿抜をおこなう前に、トリップロックにかかる操作をおこなう盤においてトリップロックやトリップロックの解除をおこなわなくてはならず、煩わしい作業をともなっていた。
【００６３】
これに対して、この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１は、トリップ回路に接続された試験端子１０２に対して試験プラグ１０１を挿入する動作をおこなわせるだけで容易かつ確実にトリップロックをおこなうことができるとともに、試験端子１０２から試験プラグ１０１を引き抜く動作をおこなわせるだけで容易かつ確実に通常状態に復帰させることができる。
【００６４】
以上説明したように、この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１は、離間可能に接触する複数の接触子対４０３を備えた試験端子１０２に対して挿抜される試験プラグ１０１であって、ＣＴ回路側接触子対４０３を離間させる位置に挿入され、少なくとも試験端子１０２に対して所定位置まで挿入された状態において、離間させたＣＴ回路側接触子対４０３を電気的に接続するＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂと、試験端子１０２に対するＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂの挿入にともなってトリップ回路側接触子対４０３を離間させる位置に挿入され、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂが所定位置まで挿入された状態においてトリップ回路側接触子対４０３を電気的に接続するトリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄと、を備え、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄが、試験端子１０２に対するＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂの挿入にともなって当該ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂがＣＴ回路側接触子対４０３を離間させる前に、トリップ回路側接触子対４０３を絶縁する絶縁部材５０１と、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂによりＣＴ回路側接触子対４０３が電気的に接続された後に、トリップ回路側接触子対４０３を電気的に接続する接続部材と、を備えたことを特徴としている。
【００６５】
この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１によれば、操作者に対して、試験端子１０２に対して試験プラグ１０１を挿入する動作をおこなわせるだけで、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂとＣＴ回路側接触子対４０３とが電気的に接続される前にトリップ回路を開放することができる。
【００６６】
これにより、ＣＴ回路側接触子対４０３に対するＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂの挿入に際しては、確実にトリップロックをおこなうことができ、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂとＣＴ回路側接触子対４０３との接触状態が不揃いであることに起因してトリップ回路が不用意にトリップ動作することを防止することができる。
【００６７】
また、この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１によれば、操作者に対して、試験端子１０２に対して試験プラグ１０１を挿入する動作をおこなわせるだけで、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂによりＣＴ回路側接触子対４０３が電気的に接続された後にふたたびトリップ回路を有効にすることができる。これにより、試験プラグ１０１を介して試験用電源を接続するなどの作業中に、ＣＴ回路の差電流を検知した場合に遮断器をトリップさせることができ、試験端子１０２に接続されている電気機器や回路などの負荷を保護することができる。
【００６８】
また、この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１は、絶縁部材５０１が、試験端子１０２からのＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂの引き抜きにともなって、ＣＴ回路側接触子対４０３からＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂが引き抜かれる前にトリップ回路側接触子対４０３を絶縁し、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂがＣＴ回路側接触子対４０３から引き抜かれた後にトリップ回路側接触子対４０３から引き抜かれることを特徴としている。
【００６９】
この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１によれば、操作者に対して試験端子１０２から試験プラグ１０１を引き抜く動作をおこなわせるだけで、トリップ回路側接触子対４０３を電気的に絶縁した状態で、ＣＴ回路側接触子対４０３の間からＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂを引き抜いてＣＴ回路側接触子対４０３を接触させ、通常状態に復帰させることができる。
【００７０】
これにより、操作者に対して、試験端子１０２から試験プラグ１０１を引き抜く動作をおこなわせるだけで、トリップロック回路を開放した状態で、ＣＴ回路側接触子対４０３に対するＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂの挿抜に際してのトリップロックおよびトリップロックの解除をおこなうことができ、試験端子１０２に対する試験プラグ１０１の挿抜にかかる操作者の負担軽減を図ることができる。
【００７１】
また、この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１は、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄが、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂより長く、絶縁部材５０１が、トリップ回路側端子の先端から所定の長さまでの範囲に設けられていることを特徴としている。この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１によれば、簡易な構成によって、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂがＣＴ回路側接触子対４０３を離間させる前にトリップ回路側接触子対４０３を電気的に絶縁することができる。
【００７２】
これにより、簡易な構成によって、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂとＣＴ回路側接触子対４０３との接触状態が不揃いであることに起因してトリップ回路が不用意にトリップ動作することを防止することができる。
【００７３】
また、この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１は、トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄが、当該トリップ回路側接触子１０１ｃ、１０１ｄの挿抜方向に沿って設けられ、離間することによってトリップ回路から絶縁される主接触子対４０３およびトリップ回路に常時接続された副接触子対４０３を備えたトリップ回路側接触子対４０３に挿入され、試験端子１０２に対するＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂの挿入にともなって、副接触子対４０３を離間させた後に主接触子対４０３を離間させ、接続部材４１１が、ＣＴ回路側接触子対４０３とＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂとが電気的に接続した後に、副接触子対４０３に電気的に接続することを特徴としている。
【００７４】
この発明にかかる実施の形態の試験プラグ１０１によれば、ＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂとＣＴ回路側接触子対４０３とが電気的に接続される前にトリップ回路を開放し、ＣＴ回路側接触子対４０３とＣＴ回路側接触子１０１ａ、１０１ｂとが電気的に接続された後に、ふたたびトリップ回路を有効にすることができる。
【産業上の利用可能性】
【００７５】
以上のように、この発明にかかる試験プラグは、遮断器をトリップさせるリレーが設置された電気施設における点検作業などに用いる試験プラグに有用であり、特に、大電流をあつかう電気施設における点検作業に用いる試験プラグに適している。
【符号の説明】
【００７６】
１００  テストターミナル
１０１  試験プラグ
１０１ａ、１０１ｂ  ＣＴ回路側接触子
１０１ｃ、１０１ｄ  トリップ回路側接触子
１０２  試験端子
４０３  ＣＴ回路側接触子対、トリップ回路側接触子対
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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