(57)【要約】【課題】良否判定機能を備えた測定装置において、良否判定条件をより多様かつ簡易に設定可能とする。【解決手段】  グラフ２０１上でボックスの描画操作（ｂ１、ｂ２）を受けつけてボックス４１１、４１２を描画/表示する（ｃ）。良否判定条件の設定完了を指示されたならば、その時点で表示されているボックスの各々を良否判定基準図形として設定する。デジタル信号処理部３の良否判定部３２は、良否判定基準図形であるボックス内に、特性データが表す特性波形のピークの座標が存在する場合（ｄ）に、当該良否判定基準図形に対応する良否判定結果を良とし、他の場合に（ｅ）、当該良否判定基準図形に対応する良否判定結果を否とする。【選択図】図４
2011007646.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定対象信号の特性の良否を判定する測定装置であって、
被測定対象信号の特性を測定する特性測定部と、
前記特性測定部が測定した特性の波形を表した特性グラフを表示する特性グラフ表示部と、
設定されている良否判定条件に従って、前記特性測定部が測定した特性の良否を判定する良否判定部と、
前記良否判定条件を設定する判定条件設定部とを有し、
当該判定条件設定部は、前記特性グラフ表示部が表示した前記特性グラフ上へのユーザの四角形の描画操作を受け付けて、当該四角形を当該特性グラフ上に表示すると共に、当該四角形の内部に相当する領域に、特性の波形のピークが存在することを前記良否判定条件として設定することを特徴とする測定装置。
【請求項２】
被測定対象信号の特性の良否を判定する測定装置であって、
被測定対象信号の特性を測定する特性測定部と、
前記特性測定部が測定した特性の波形を表した特性グラフを表示する特性グラフ表示部と、
設定されている良否判定条件に従って、前記特性測定部が測定した特性の良否を判定する良否判定部と、
前記良否判定条件を設定する判定条件設定部とを有し、
当該判定条件設定部は、前記特性グラフ表示部が表示した前記特性グラフ上において、ユーザの当該特性グラフに表されている特性の波形の移動操作を受け付けて、受け付けた移動操作に応じた移動量、前記特性の波形を移動した場合に得られる線を規格線として当該特性グラフ上に表示すると共に、当該規格線を、特性の波形が超えない、または、下回らないことを前記良否判定条件として設定することを特徴とする測定装置。
【請求項３】
被測定対象信号の特性の良否を判定する測定装置であって、
被測定対象信号の特性を測定する特性測定部と、
前記特性測定部が測定した特性の波形を表した特性グラフを表示する特性グラフ表示部と、
設定されている良否判定条件に従って、前記特性測定部が測定した特性の良否を判定する良否判定部と、
前記良否判定条件を設定する判定条件設定部とを有し、
当該判定条件設定部は、ユーザから数値の入力を受け付け、前記特性グラフ表示部が表示した前記特性グラフ上において、当該特性グラフに表されている前記特性の波形を入力を受け付けた数値に応じた移動量、前記特性の波形を移動した場合に得られる線を規格線として当該特性グラフ上に表示すると共に、当該規格線を、前特性の波形が超えない、または、下回らないことを前記良否判定条件として設定することを特徴とする測定装置。
【請求項４】
コンピュータによって読み取られ実行されるコンピュータプログラムであって、
前記コンピュータを請求項１、２または３記載の測定装置として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、良否判定機能を備えた測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
良否判定機能を備えた測定装置としては、被測定物の特性を測定し、前記測定した特性をグラフ上に表した特性波形が、当該グラフ上に設定した規格線内に収まっているか否かにより、被測定物の特性の良否を判定する測定装置が知られている。
また、このような測定装置において、グラフ上に設定する規格線を、ユーザの描線操作に応じて設定したり、ユーザの編集操作に応じて規格線の位置や形状を編集する技術も知られている（たとえば、特許文献１、２）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開2002-14128号公報
【特許文献２】実開平4-115075号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
前記特許文献１、２の技術によれば、良否判定条件として、グラフ上に設定した規格線内に収まっているか否かの条件しか用いることができない。また、ユーザにとって、描線操作によって複雑な形状の規格線を描画することは、その負担が大きい。
【０００５】
そこで、本発明は、良否判定機能を備えた測定装置において、良否判定条件をより多様かつ簡易に設定可能とすることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記課題達成のために、本発明は、被測定対象信号の特性の良否を判定する測定装置に、被測定対象信号の特性を測定する特性測定部と、前記特性測定部が測定した特性の波形を表した特性グラフを表示する特性グラフ表示部と、設定されている良否判定条件に従って、前記特性測定部が測定した特性の良否を判定する良否判定部と、前記良否判定条件を設定する判定条件設定部とを設けたものである。
【０００７】
ここで、判定条件設定部は、前記特性グラフ表示部が表示した前記特性グラフ上へのユーザの四角形の描画操作を受け付けて、当該四角形を当該特性グラフ上に表示すると共に、当該四角形の内部に相当する領域に、特性の波形のピークが存在することを前記良否判定条件として設定するものである。
【０００８】
このような測定装置によれば、特性グラフ上への四角形の描画操作を行うだけの簡易な操作で、特性の波形のピークに関する良否判定条件を設定することができる。
但し、この判定条件設定部は、前記特性グラフ表示部が表示した前記特性グラフ上において、ユーザの当該特性グラフに表されている前記特性の波形の移動操作を受け付けて、受け付けた移動操作に応じた移動量、前記特性の波形を移動した場合に得られる線を規格線として当該特性グラフ上に表示すると共に、当該規格線を、特性の波形が超えない、または、下回らないことを前記良否判定条件として設定するように構成してもよい。または、この判定条件設定部は、ユーザから数値の入力を受け付け、前記特性グラフ表示部が表示した前記特性グラフ上において、当該特性グラフに表されている前記特性の波形を入力を受け付けた数値に応じた移動量、前記特性の波形を移動した場合に得られる線を規格線として当該特性グラフ上に表示すると共に、当該規格線を、特性の波形が超えない、または、下回らないことを前記良否判定条件として設定するように構成してもよい。
【０００９】
これらのようにしても、特性グラフ上での波形移動操作や、数値入力を行うだけの簡易な操作で、良否判定条件を設定することができる。また、実測された特性の波形を利用して良否判定条件を設定できるので、実測された特性を利用した複雑な規格線による良否判定条件を容易に設定できるようになる。
なお、このような測定装置は、コンピュータを、以上のような測定装置として機能させるコンピュータプログラムを用いて実現するようにしてもよい。
【発明の効果】
【００１０】
以上のように、本発明によれば、良否判定機能を備えた測定装置において、良否判定条件をより多様かつ簡易に設定することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態に係る測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態に係る測定装置の表示例を示す図である。
【図３】本発明の実施形態に係る良否判定条件設定処理を示すフローチャートである。
【図４】本発明の実施形態に係る良否判定条件設定処理の処理例を示す図である。
【図５】本発明の実施形態に係る良否判定条件設定処理の処理例を示す図である。
【図６】本発明の実施形態に係る良否判定条件設定処理の処理例を示す図である。
【図７】本発明の実施形態に係る良否判定条件設定処理の処理例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態について説明する。
図１に、本実施形態に係る測定装置の構成を示す。
図示するように、測定装置は、アナログ信号処理部１、ＡＤコンバータ２、デジタル信号処理部３、信号処理用メモリ４、制御部５、メモリ６、キーボード７、タッチパネル８、表示装置９、通信インタフェース１０を備えている。
また、デジタル信号処理部３は、信号解析部３１と良否判定部３２とを備えている。
ただし、デジタル信号処理部３や制御部５は、ＣＰＵ回路（コンピュータ）を用いて構成されるものであってよく、この場合、ＣＰＵ回路が、予め用意されたプログラムを実行することにより、その機能が実現されることとなる。
さて、このような構成において、アナログ信号処理部１は、測定装置に入力するセンサ信号に対して、減衰処理などのレベル調整処理や、LPF、HPF、BPF等の各種周波数フィルタ処理などの、制御部５から指定されたアナログ信号処理を施したアナログ計測信号を、ＡＤコンバータ２に出力する。また、アナログ信号処理部１は、アナログ信号処理を施したアナログ計測信号をオーディオ信号として、外部におけるモニタ用に出力する機能も備えている。
【００１３】
ここで、測定装置に入力するセンサ信号は、マイクロフォンによりピックアップしたオーディオ信号や、加速度センサにより検出した加速度信号など、任意のセンサにより検出された信号であってよい。
さて、ＡＤコンバータ２はアナログ信号処理部１から入力するアナログ計測信号をデジタル信号に変換し、デジタル計測信号としてデジタル信号処理部３に出力する。
デジタル信号処理部３の、信号解析部３１は、信号処理用メモリ４を利用しながら、ＡＤコンバータ２から入力するデジタル計測信号に、制御部５から指定された信号解析処理を、外部から入力されるトリガ信号や参照信号を用いて施し、デジタル計測信号の所定の特性を表す特性データを生成する。ここで、信号解析部３１が行う信号解析処理としては、デジタル計測信号のパワースペクトルを求めるFET処理や、外部から入力される回転速度信号を参照しての、回転速度に対するデジタル計測信号の振幅値の関係の算出や、デジタル計測信号の振幅値の次数による正規化など任意の信号解析処理を用いるようにしてよい。また、もちろん、信号解析部３１が行う信号解析処理は、デジタル計測信号の波形をそのまま特性データとするものであってもよい。
【００１４】
一方、良否判定部３２は、制御部５から設定された良否判定条件に基づいて、信号解析部３１が生成した特性データの良否を判定する。
さて、制御部５は、キーボード７やタッチパネル８の操作に応じて、アナログ信号処理部１において行うアナログ信号処理の設定や、デジタル信号処理部３の信号解析部３１で行う信号解析処理の設定を行う。
また、制御部５は、この他、デジタル信号処理部３の良否判定部３２への良否判定条件の設定や、信号解析部３１が生成した特性データが表す特性波形の表示装置９への表示を行う。
ここで、測定装置は、ユーザがキーボード７やタッチパネル８により切替可能な動作モードとして、特性表示モードと、良否判定条件編集モードと、良否判定モードとの３つの動作モードを備えている。
そして、特性表示モードでは、制御部５は、図２ａに示すように、デジタル信号処理部３の信号解析部３１が生成した特性データが表す特性波形を表したグラフ２０１を、表示装置９に表示する。ここで、デジタル信号処理部３の信号解析部３１が生成した特性データは、メモリ６に記憶され、制御部５は、メモリ６に記憶されている特性データを読み出して、読み出した特性データが表す特性波形を表したグラフ２０１も図２ａ同様に表示することができる。
【００１５】
一方、図２ａに示すように特性データが表す特性波形を表したグラフ２０１を表示している状態で、ユーザによって動作モードが良否判定条件編集モードに切り替えられると、制御部５は、図３に示す良否判定条件設定処理を行う。
図示するように、この処理では、まず、基準タイプの選択をユーザから受け付ける（ステップ３０２）。基準タイプとしては、ボックス、規格線、数値指定波形オフセット、波形オフセットとを設ける。
そして、基準タイプとしてボックスが選択されたならば（ステップ３０４）、ユーザから、良否判定条件の設定完了を指示されるまで（ステップ３１０）、図２ａのように表示されている図４ａのグラフ２０１上へのボックス（四角形）の描画操作を受け付けて、グラフ２０１上に図４ｃに示すようにボックス４１１、４１２を描画/表示する（ステップ３０６）。また、描画したボックスの編集操作を受け付けてボックスの編集を行う（ステップ３０６）。
【００１６】
ここで、ボックスの描画操作は、図４ｂ１に示すようにタッチパネル８を用いた第１のポイント４０１から第２のポイント４０２へのドラッグ操作であり、制御部５は、このような、ボックスの描画操作に応じて、図４ｂ２に示すようにポイント４０１とポイント４０２を対角線上の頂点とするボックス４１０を描画、表示する。また、ボックスの編集は、タッチパネル８を用いた、ボックスの頂点や辺のドラッグ操作を受け付け、ドラッグ操作に応じて当該頂点や辺を移動することにより行う。なお、制御部５は、ボックスの描画操作や編集を、キーボード７の所定の操作によっても受け付ける。
【００１７】
そして、ユーザから、良否判定条件の設定完了を指示されたならば（ステップ３０８）、その時点で表示されているボックスの各々を良否判定基準図形とし、各良否判定基準図形に対応する良否判定条件を良否判定部３２に設定する（ステップ３１０）。ここで、各良否判定基準図形に対応する良否判定条件としては、グラフ２０１上の良否判定図形に対応するボックスのグラフ２０１上の座標と良否判定図形の種別であるボックスを設定する。
【００１８】
ここで、良否判定条件として、良否判定基準図形のグラフ２０１上の座標と良否判定図形の種別であるボックスが設定されている場合、デジタル信号処理部３の良否判定部３２は、良否判定基準図形であるボックス内に、特性データが表す特性波形のピークの座標が存在する場合に、当該良否判定基準図形に対応する良否判定結果を良とし、他の場合に、当該良否判定基準図形に対応する良否判定結果を否とする。また、全ての良否判定基準図形に対応する良否判定結果が良である場合に、総合判定結果を良とし、他の場合には否とする。
【００１９】
結果、図４ｄに示すように、良否判定基準図形として設定された全てのボックス４１１、４１２内に特性波形のピークが存在する場合に、総合判定結果は良となり、図４ｅに示すように、良否判定基準図形として設定されたいずれかのボックス４１１、４１２内に特性波形のピークが存在しない場合、総合判定結果は否となる。
【００２０】
そして、動作モードを、良否判定条件編集モードに切り替えられる前の動作モードに復帰し（ステップ３１２）、良否判定条件設定処理を終了する。
次に、基準タイプとして規格線が選択された場合には（ステップ３１４）、ユーザから、良否判定条件の設定完了を指示されるまで（ステップ３１８）、図２ａのように表示されている図５ａのグラフ２０１上への規格線の描画/編集操作を受け付けて、グラフ２０１上に図５ｃに示すように規格線５１１を描画/表示する（ステップ３１６）。また、描画した規格線の編集操作を受け付けて規格線の編集を行う（ステップ３１６）。
【００２１】
ここで、規格線の描画操作は、図５ｂ１-ｂ４に示すようにタッチパネル８のタッチによる、規格線のアンカーポイント５０１-５０５の指定であり、制御部５は、このような、規格線の描画操作に応じて、図５ｂ１-ｂ４に示すように指定された各アンカーポイント５０１-５０５を順次結んだ線分を規格線５１０として描画する。なお、制御部５は、規格線の描画操作を、キーボード７の所定の操作によっても受け付ける。
【００２２】
また、規格線の編集は、タッチパネル８を用いた、規格線５１０のアンカーポイントや辺のドラッグ操作を受け付け、ドラッグ操作に応じてアンカーポイントや辺を移動することにより行う。なお、制御部５は、規格線の編集を、キーボード７の所定の操作によって受け付ける。
そして、ユーザから、良否判定条件の設定完了を指示されたならば（ステップ３１８）、その時点で表示されている規格線を良否判定基準図形とし、規格線に対応する良否判定条件を良否判定部３２に設定する（ステップ３２０）。
ここで、規格線である良否判定基準図形に対応する良否判定条件としては、グラフ２０１上の規格線５１１の座標と良否判定図形の種別である規格線とユーザから設定を受け付けた規格線の上下のいずれ側を良とするかの識別を設定する。
ここで、良否判定条件として、良否判定基準図形のグラフ２０１上の座標と良否判定図形の種別である規格線が設定されている場合、デジタル信号処理部３の良否判定部３２は、次のように、総合判定結果を算定する。
すなわち、良否判定条件として規格線の下側を良とする識別が設定されている場合、特性データが表す特性波形の全てが、図５ｄに示すように、グラフ上で規格線５１１の下側に存在する場合に総合判定結果を良とし、特性データが表す特性波形の少なくとも一部が図５ｅに示すように、グラフ上で規格線５１１の上側に存在する場合に総合判定結果を否とする。
【００２３】
また、良否判定条件として規格線の上側を良とする識別が設定されている場合、特性データが表す特性波形の全てが、グラフ上で規格線の上側に存在する場合に総合判定結果を良とし、特性データが表す特性波形の少なくとも一部が、グラフ上で規格線の下側に存在する場合に総合判定結果を否とする。
【００２４】
そして、動作モードを、良否判定条件編集モードに切り替えられる前の動作モードに復帰し（ステップ３１２）、良否判定条件設定処理を終了する。
次に、基準タイプとして数値指定波形オフセットが選択された場合には（ステップ３２２）、図６ａに示すように数値入力ウインドウ６０１を表示して、ユーザから許容率の数値の入力を受け付けて（ステップ３２４）、図２ａのように表示している図６ｂのグラフ２０１の特性波形６１０を、入力を受け付けた数値に応じて上下に移動させた線を規格線６１１としてグラフ２０１上に描画/表示する（ステップ３２６）。
【００２５】
ここで、規格線６１１は、入力された数値をｘとして、グラフ２０１の特性波形６１０の最大振幅のｘ％分、特性波形６１０を上下移動させたものとする。ただし、規格線６１１は、入力された数値をｘとして、グラフ２０１の特性波形６１０の各振幅を、当該振幅のｘ％分シフトさせたものとしてもよい。
【００２６】
そして、ユーザから、良否判定条件の設定完了を指示されるまで（ステップ３３０）、ユーザの編集操作に応じて、規格線を編集する（ステップ３２８）。規格線の編集は、たとえば、規格線を、特性波形を解析して得られるペジェ曲線やスプライン曲線として構成し、そのアンカーポイントやコントロールポイントを、移動操作に応じて移動すること等により行う。
【００２７】
そして、ユーザから、良否判定条件の設定完了を指示されたならば（ステップ３３０）、その時点で表示されている規格線を良否判定基準図形とし、規格線に対応する良否判定条件を良否判定部３２に設定する（ステップ３３２）。
ここで、各良否判定基準図形に対応する良否判定条件としては、グラフ２０１上の規格線６１１の座標と良否判定図形の種別である規格線と上下のいずれ側を良とするかの識別を設定する。ここで、上下のいずれ側を良とするかは、ステップ３２４でユーザから受け付けた数値が正であれば下側を良とし、ステップ３２４でユーザから受け付けた数値が負であれば上側を良とするように設定する。
【００２８】
ここで、良否判定条件として、良否判定基準図形のグラフ２０１上の座標と良否判定図形の種別である規格線が設定されている場合、デジタル信号処理部３の良否判定部３２は、次のように、総合判定結果を算定する。
すなわち、良否判定条件として規格線の下側を良とする識別が設定されている場合、特性データが表す特性波形の全てが図６ｃ示すように、グラフ上で規格線６１１の下側に存在する場合に総合判定結果を良とし、特性データが表す特性波形の少なくとも一部が図６ｄに示すように、グラフ上で規格線６１１の上側に存在する場合に総合判定結果を否とする。
【００２９】
また、良否判定条件として規格線の上側を良とする識別が設定されている場合、特性データが表す特性波形の全てが、グラフ上で規格線６１１の上側に存在する場合に総合判定結果を良とし、特性データが表す特性波形の少なくとも一部が、グラフ上で規格線６１１の下側に存在する場合に総合判定結果を否とする。
【００３０】
そして、動作モードを、良否判定条件編集モードに切り替えられる前の動作モードに復帰し（ステップ３１２）、良否判定条件設定処理を終了する。
次に、基準タイプとして波形オフセットが選択された場合には（ステップ３３４）、図２ａのように表示している図７ａのグラフ２０１の特性波形７１０の移動操作を受け付けると共に、特性波形７１０を移動操作された分だけ移動した線を規格線７１１として、図７ｂに示すようにグラフ２０１上に描画/表示する（ステップ３２６）。
【００３１】
ここで、規格線７１１の移動操作は、図７ａに示すように、タッチパネル８を用いた特性波形７１０のドラッグ操作に応じて受け付け、図７ｂに示すように上下方向にドラッグされた長さΔＹだけ特性波形７１０を上下方向に移動させた線を規格線７１１とする。なお、制御部５は、規格線の移動操作を、キーボード７の所定の操作によっても受け付ける。
そして、ユーザから、良否判定条件の設定完了を指示されるまで（ステップ３４０）、ユーザの編集操作に応じて、規格線を編集する（ステップ３３８）。規格線の編集は、たとえば、規格線を、特性波形を解析して得られるペジェ曲線やスプライン曲線として構成し、そのアンカーポイントやコントロールポイントを、移動操作に応じて移動すること等により行う。
【００３２】
そして、ユーザから、良否判定条件の設定完了を指示されたならば（ステップ３４０）、その時点で表示されている規格線を良否判定基準図形とし、規格線に対応する良否判定条件を良否判定部３２に設定する（ステップ３４２）。
ここで、各良否判定基準図形に対応する良否判定条件としては、グラフ２０１上の規格線７１１の座標と良否判定図形の種別である規格線と上下のいずれ側を良とするかの識別を設定する。ここで、上下のいずれ側を良とするかは、ステップ３３６で特性波形７１０が上方向に移動操作されていれば下側を良とし、ステップ３３６で特性波形７１０が下方向に移動操作されていれば上側を良とするように設定する。
【００３３】
ここで、良否判定条件として、良否判定基準図形の良否判定基準図形のグラフ２０１上の座標と良否判定図形の種別である規格線が設定されている場合、デジタル信号処理部３の良否判定部３２は、次のように、総合判定結果を算定する。
すなわち、良否判定条件として規格線の下側を良とする識別が設定されている場合、特性データが表す特性波形の全てが図７ｃに示すように、グラフ上で規格線７１１の下側に存在する場合に総合判定結果を良とし、特性データが表す特性波形の少なくとも一部が図７ｄに示すように、グラフ上で規格線７１１の上側に存在する場合に総合判定結果を否とする。
【００３４】
また、良否判定条件として規格線の上側を良とする識別が設定されている場合、特性データが表す特性波形の全てが、グラフ上で規格線７１１の上側に存在する場合に総合判定結果を良とし、特性データが表す特性波形の少なくとも一部が、グラフ上で規格線７１１の下側に存在する場合に総合判定結果を否とする。
【００３５】
そして、動作モードを、良否判定条件編集モードに切り替えられる前の動作モードに復帰し（ステップ３１２）、良否判定条件設定処理を終了する。
以上、良否判定条件設定処理について説明した。
さて、最後に、良否判定モードが設定されているときには、制御部５は、各回の測定の度に、図２ｂ、ｃに示すように、デジタル信号処理部３の信号解析部３１が生成した特性データが表す特性波形と共に良否判定基準図形２０５を表したグラフ２０２と、デジタル信号処理部３の良否判定部３２の総合判定結果２０３と、各良否判定基準図形毎の当該良否判定基準図形に対応する良否判定結果の累積数（良判定された回数）２０４とを表示装置９に表示する。
【００３６】
以上、本発明の実施形態について説明した。
なお、以上の実施形態では、基準タイプとして、規格線、数値指定波形オフセット、波形オフセットを指定された場合に、良否判定条件設定処理において、規格線を一つだけ設定する場合について説明したが、以上の実施形態は、良否判定条件設定処理において、規格線を二つ設定するようにし、デジタル信号処理部３の良否判定部３２において、特性データが表す特性波形の全てが二つの規格線の間にある場合に、総合判定結果を良とし、他の場合に否とするように構成してもよい。
【００３７】
さて、以上のように本実施形態によれば、グラフ上へのボックスの描画操作を行うだけの簡易な操作で、特性の波形のピークに関する良否判定条件を設定することができるようになる。
また、グラフ上での波形移動操作や、数値入力を行うだけの簡易な操作で、良否判定条件を設定することもできる。また、これらの場合には、実測された特性を利用した複雑な規格線による良否判定条件を容易に設定できるようになる。
【符号の説明】
【００３８】
１…アナログ信号処理部、２…ＡＤコンバータ、３…デジタル信号処理部、４…信号処理用メモリ、５…制御部、６…メモリ、７…キーボード、８…タッチパネル、９…表示装置、１０…通信インタフェース、３１…信号解析部、３２…良否判定部。
【図１】
2011007646.tif 000003
【図２】
2011007646.tif 000004
【図３】
2011007646.tif 000005
【図４】
2011007646.tif 000006
【図５】
2011007646.tif 000007
【図６】
2011007646.tif 000008
【図７】
2011007646.tif 000009