(57)【要約】【課題】帯電ローラ及び現像ローラ各々に印加される交流電圧に含まれる高次高調波成分に起因して発生する横縞等による画像品質の低下を簡素な構成により防止することのできる画像形成装置を提供すること。【解決手段】帯電ローラに印加される帯電交流電圧における帯電基準周波数及び該帯電基準周波数の整数倍の高次高調波成分を含む帯電周波数各々と現像ローラに印加される現像交流電圧における現像基準周波数及び該現像基準周波数の整数倍の高次高調波成分を含む現像周波数各々との組み合わせごとの差分周波数のうち所定の許容レベル以下の差分周波数の成分が所定の許容レベル以下となるように（Ｓ５のＮｏ側），帯電基準周波数及び現像基準周波数のいずれか一方又は両方を変更する（Ｓ６）。【選択図】図３
2011180184.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
像担持体を帯電させる帯電ローラに予め設定された帯電基準周波数の帯電交流電圧を印加する帯電バイアス印加手段と，前記像担持体に形成された静電潜像を現像する現像ローラに予め設定された現像基準周波数の現像交流電圧を印加する現像バイアス印加手段とを備えてなる画像形成装置であって，
前記帯電交流電圧における帯電基準周波数及び該帯電基準周波数の整数倍の高次高調波成分を含む帯電周波数各々と前記現像交流電圧における現像基準周波数及び該現像基準周波数の整数倍の高次高調波成分を含む現像周波数各々との組み合わせごとの差分周波数のうち所定の許容レベル以下の差分周波数の成分が所定の許容レベル以下となるように前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数のいずれか一方又は両方を設定する周波数設定手段を備えてなることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記周波数設定手段が，予め設定されたテスト画像を前記像担持体に形成するテスト画像形成手段と，前記テスト画像形成手段により前記像担持体に形成された前記テスト画像に含まれた横縞の周波数成分を取得する横縞周波数取得手段と，前記横縞周波数取得手段により取得された横縞の周波数成分のうち前記所定の許容周波数以下の周波数成分が前記所定の許容レベルを超えているか否かを判定する周波数成分許容判定手段と，前記周波数成分許容判定手段により前記所定の許容レベルを超えていると判定されたことを条件に，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数のいずれか一方又は両方を変更する周波数変更手段とを含んでなる請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
予め設定された前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数の複数の組み合わせが記憶された基準周波数候補記憶手段を更に備えてなり，
前記周波数変更手段が，前記基準周波数候補記憶手段に記憶された前記組み合わせのいずれかを順に選択することにより，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数のいずれか一方又は両方を変更するものである請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記周波数変更手段が，現状の前記帯電基準周波数及び／又は前記現像基準周波数に所定周波数を加算及び／又は減算することにより，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数のいずれか一方又は両方を変更するものである請求項２に記載の画像形成装置。                                                                       
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，電子写真方式の複写機やプリンタ装置，ファクシミリ装置，複合機などの画像形成装置に関し，特に，帯電ローラ及び現像ローラ各々に印加する交流電圧の基準周波数の設定手法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式の複写機やプリンタ装置，ファクシミリ装置，複合機などの画像形成装置は，感光体ドラムを所定電位に帯電させる帯電ローラや，その帯電した感光体ドラムに静電潜像を形成する露光装置（ＬＳＵ），トナー等の現像剤を感光体ドラムに供給することにより該感光体ドラムに形成された静電潜像を現像する現像ローラなどを備えている（例えば特許文献１参照）。
この電子写真方式の画像形成装置では，帯電ローラ及び現像ローラ各々に所定の交流電圧が印加されることにより，例えば感光体ドラムの表面電位が１ｋＶ程度，現像ローラの表面電位が８００Ｖ程度に帯電される。そして，その帯電された感光体ドラムに対して画像データに基づく露光が行われ，該感光体ドラムの表面電位が部分的に１ｋＶから１００Ｖ程度にまで減衰されることにより，該感光体ドラムの表面に静電潜像が形成される。これにより，プラス電荷を帯びたトナーは，現像ローラから感光体ドラムに形成された静電潜像の部分にのみ付着することとなり，該静電潜像がトナーによって現像（可視化）される。
【０００３】
ところで，画像形成装置では，感光体ドラムの表面上において数ボルト程度の電位差が生じるだけでも形成画像に横縞（横ムラ）などが現れることとなる。この電位差が生じる原因として，帯電ローラ及び現像ローラ各々に印加される交流電圧の差分周波数が小さいことが考えられる。
そこで，感光体ドラムの表面上の電位差をなくすために，例えば差分周波数が数百Ｈｚ以上となるように帯電ローラ及び現像ローラ各々に印加する交流電圧の基準周波数を設定することが考えられる。例えば，帯電ローラに印加する交流電圧の基準周波数を２．０ｋＨｚ，現像ローラに印加する交流電圧の基準周波数を４．７ｋＨｚに設定することが考えられる。これにより，帯電ローラ及び現像ローラ各々に印加される交流電圧の波形が歪みのない正弦波であれば，差分周波数が十分に大きくなるため差分周波数が小さいことに起因する横縞などを防止することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平０６−１７５４７２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら，画像形成装置においては，帯電ローラや現像ローラの駆動負荷や回路基板の出力インピーダンスなどの稼働環境の変化に起因して，帯電ローラ及び現像ローラ各々に印加される交流電圧の波形が歪み，基準周波数の整数倍の高次高調波成分を持つ波形に変化することがある。
そして，この場合には，帯電ローラに印加される交流電圧の基準周波数及び高次高調波成分各々と現像ローラに印加される交流電圧の基準周波数及び高次高調波成分各々との組み合わせごとの差分周波数のうち数百Ｈｚ以下の差分周波数の成分（スペクトル）が高くなって副走査方向の横縞が生じるおそれがある。もちろん，この問題を解決するために，負荷変動などの環境変化でも交流電圧の波形が歪まない高性能の高圧電源を用いることや，帯電ローラや現像ローラ，感光体ドラムなどを負荷変動のないものとすることも考えられるが，このような構成を具現するためには構造の複雑化やコスト増加の問題が伴う。
従って，本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり，その目的とするところは，帯電ローラ及び現像ローラ各々に印加される交流電圧に含まれる高次高調波成分に起因して発生する横縞等による画像品質の低下を簡素な構成により防止することのできる画像形成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために本発明は，像担持体を帯電させる帯電ローラに予め設定された帯電基準周波数の帯電交流電圧を印加する帯電バイアス印加手段と，前記像担持体に形成された静電潜像を現像する現像ローラに予め設定された現像基準周波数の現像交流電圧を印加する現像バイアス印加手段とを備えてなる画像形成装置に適用されるものであって，前記帯電交流電圧における帯電基準周波数及び該帯電基準周波数の整数倍の高次高調波成分を含む帯電周波数各々と前記現像交流電圧における現像基準周波数及び該現像基準周波数の整数倍の高次高調波成分を含む現像周波数各々との組み合わせごとの差分周波数のうち所定の許容レベル以下の差分周波数の成分が所定の許容レベル以下となるように前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数のいずれか一方又は両方を設定する周波数設定手段を備えてなることを特徴とする画像形成装置として構成される。
これにより，前記所定の許容レベル以下の差分周波数の成分が前記所定の許容レベルを超えないように，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数が設定されるため，前記帯電周波数及び前記現像周波数に含まれる高次高調波成分に起因して発生する横縞等による画像品質の低下を防止することができる。また，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数の組み合わせが変更可能であればよく，負荷変動などの環境変化でも歪まない高性能の高圧電源を用いることや，帯電ローラや現像ローラ，感光体ドラムなどを負荷変動のないものとする必要がないため，その構成も簡素である。
【０００７】
ここで，前記周波数設定手段は，予め設定されたテスト画像を前記像担持体に形成するテスト画像形成手段と，前記テスト画像形成手段により前記像担持体に形成された前記テスト画像に含まれた横縞の周波数成分を取得する横縞周波数取得手段と，前記横縞周波数取得手段により取得された横縞の周波数成分のうち前記所定の許容周波数以下の周波数成分が前記所定の許容レベルを超えているか否かを判定する周波数成分許容判定手段と，前記周波数成分許容判定手段により前記所定の許容レベルを超えていると判定されたことを条件に，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数のいずれか一方又は両方を変更する周波数変更手段とを含んでなることが考えられる。これにより，前記周波数設定手段により自動的に前記帯電周波数及び前記現像周波数のいずれか一方又は両方を変更して横縞等による画像品質の低下を防止することができる。
より具体的には，予め設定された前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数の複数の組み合わせが記憶された基準周波数候補記憶手段を更に備えてなり，前記周波数変更手段が，前記基準周波数候補記憶手段に記憶された前記組み合わせのいずれかを順に選択することにより，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数のいずれか一方又は両方を変更するものであることが考えられる。また，前記周波数変更手段が，現状の前記帯電基準周波数及び／又は前記現像基準周波数に所定周波数を加算及び／又は減算することにより，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数のいずれか一方又は両方を変更するものであることも考えられる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば，前記所定の許容レベル以下の差分周波数の成分が前記所定の許容レベルを超えないように，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数が設定されるため，前記帯電周波数及び前記現像周波数に含まれる高次高調波成分に起因して発生する横縞等による画像品質の低下を防止することができる。また，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数の組み合わせが変更可能であればよく，負荷変動などの環境変化でも歪まない高性能の高圧電源を用いることや，帯電ローラや現像ローラ，感光体ドラムなどを負荷変動のないものとする必要がないため，その構成も簡素である。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施の形態に係る複合機Ｘの概略構成を示すブロック図。
【図２】帯電基準周波数及び現像基準周波数の異なる設定パターンにおける差分周波数の関係を示す差分周波数テーブルを示す図。
【図３】本発明の実施の形態に係る複合機Ｘで実行されるバイアス周波数設定処理の手順の一例を説明するためのフローチャート。
【図４】テスト画像のデータ及び印字結果の一例を示す図。
【図５】テスト画像のサンプリング結果の一例を示す図。
【図６】テスト画像のＦＦＴ解析の結果の一例を示す図。
【図７】本発明の実施の形態に係る複合機Ｘで実行されるバイアス周波数設定処理の手順の他の例を説明するためのフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下添付図面を参照しながら，本発明の実施の形態について説明し，本発明の理解に供する。尚，以下の実施の形態は，本発明を具体化した一例であって，本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
図１に示すように，本発明の実施の形態に係る複合機Ｘは，メイン制御部１，操作表示部２，スキャナ３，画像形成部４，データ記憶部５などを備えて概略構成された電子写真方式の画像形成装置である。なお，前記複合機Ｘについてここで説明しない構成については一般的な電子写真方式の画像形成装置と同様である。また，本発明は，例えば複写機やファクシミリ装置，プリンタ装置などの画像形成装置にも適用可能である。
前記メイン制御部１は，ＣＰＵ及びＲＯＭ，ＲＡＭ等の周辺装置を有しており，前記ＣＰＵで前記ＲＯＭに格納された所定の制御プログラムに従った処理を実行することにより，当該複合機Ｘを統括的に制御するものである。例えば，前記メイン制御部１は，後述のバイアス周波数設定処理（図３のフローチャート参照）を実行する。もちろん，前記メイン制御部１は，集積回路（ＡＳＩＣ）などの電子回路で構成されたものであってもよい。
【００１１】
前記操作表示部２は，当該複合機Ｘにおける各種の情報の表示や，ユーザによる入力操作を行うための液晶ディスプレイ，タッチパネル，各種操作キーなどを有している。
前記スキャナ３は，原稿台（不図示）に載置された原稿或いは自動原稿送り装置（ＡＤＦ，不図示）により搬送された原稿の画像を読み取るＣＣＤ等を有している。前記スキャナ３によって読み取られた画像データ或いは外部から入力された画像データは，不図示の画像処理部で所定の画像処理が施された後，前記画像形成部４に入力される。
【００１２】
前記画像形成部４は，入力される画像データに基づいて，不図示の給紙カセットから供給された用紙にトナー像を形成するものである。なお，ここでは説明の便宜上，前記画像形成部４がモノクロ対応の画像形成部である場合を例に挙げて説明するが，カラー対応の画像形成部であっても同様に本発明を適用することが可能である。
具体的に，前記画像形成部４は，該画像形成部４を制御するエンジン制御部４１，静電潜像及びトナー像を担持する感光体ドラム４２，前記感光体ドラム４２に接触しながら回転することにより該感光体ドラム４２を一様に帯電させる帯電ローラ４３，不図示のトナー収容部に収容されたトナーを前記感光体ドラム４２に供給することにより該感光体ドラム４２に形成された静電潜像をトナー（現像剤）によって現像する現像ローラ４４，前記帯電ローラ４３及び前記現像ローラ４４にバイアス電圧を印加する高圧電源４５，前記感光体ドラム４２に形成されたトナー像の濃度を検出するＩＤセンサ４６などを備えて構成されている。もちろん，前記画像形成部４には，前記感光体ドラム４２に静電潜像を形成する露光装置（ＬＳＵ）や，前記感光体ドラム４２を除電する除電装置，前記感光体ドラム４２をクリーニングするクリーニング装置，用紙に形成されたトナー像を溶融定着させる定着装置なども設けられているが，これらについては従来と異なるところがないため，ここでは説明を省略する。
【００１３】
前記高圧電源４５は，前記エンジン制御部４１からの制御指示に応じて，前記帯電ローラ４３に予め設定された帯電基準周波数の帯電交流電圧を印加し，前記現像ローラ４４に予め設定された現像基準周波数の現像交流電圧を印加する。ここに，前記高圧電源４５が，帯電バイアス印加手段及び現像バイアス印加手段の一例である。
例えば，前記帯電基準周波数は２．０［ｋＨｚ］，前記現像基準周波数は４．７［ｋＨｚ］に初期設定される。但し，前記高圧電源４５は，前記帯電基準周波数や前記現像基準周波数を変更することが可能であり，その変更は後述のバイアス周波数設定処理（図３参照）において前記メイン制御部１によって行われる。もちろん，前記帯電ローラ４３及び前記現像ローラ４４各々に対応して個別の高圧電源が設けられていてもよい。
【００１４】
ところで，前記高圧電源４５から前記帯電ローラ４３に印加される帯電交流電圧には，該帯電ローラ４３の負荷や使用環境などに応じて，前記帯電基準周波数の他，該帯電基準周波数の整数倍の帯電高次高調波成分が含まれることがある。以下，前記帯電基準周波数及び前記帯電高次高調波成分を合わせて帯電周波数と称する。
同じく，前記高圧電源４５から前記現像ローラ４４に印加される現像交流電圧には，該現像ローラ４４の負荷や使用環境などに応じて，前記現像基準周波数の他，該現像基準周波数の整数倍の現像高次高調波成分が含まれることがある。以下，前記現像基準周波数及び前記現像高次高調波成分を合わせて現像周波数と称する。
【００１５】
前記ＩＤセンサ４６は，前記感光体ドラム４２に対向配置され，該感光体ドラム４２の表面に形成されたトナー像の濃度を検出するものであって，その検出値はアナログ信号の電圧波形として，前記エンジン制御部４１を介して前記メイン制御部１に入力される。
これにより，前記ＩＤセンサ４６の検出結果（以下「ＩＤ電圧」という）は，前記メイン制御部１によって実行される後述のバイアス周波数設定処理において，形成画像に発生している横縞の周波数の判断に用いられる。
なお，前記画像形成部４が，複数色に対応する感光体ドラム４２の画像を中間転写する中間転写ベルトなどを有するカラー対応の画像形成部である場合，前記ＩＤセンサ４６はその中間転写ベルトに形成されたトナー像の濃度を検出するものであることが考えられる。また，前記ＩＤセンサ４６は，用紙に転写されたトナー像の濃度を検出するものであってもよい。
【００１６】
前記データ記憶部５は，後述のバイアス周波数設定処理（図３参照）で用いられる基準周波数の複数の設定パターンＰ１〜Ｐ３や，該設定パターンＰ１〜Ｐ３ごとに対応する差分周波数テーブルＴ１〜Ｔ３などの各種データを記憶する半導体メモリやハードディスクなどの記憶手段である。
ここに，図２は前記差分周波数テーブルＴ１〜Ｔ３を示すものであって，（ａ）〜（ｃ）各々は，帯電基準周波数が２．０［ｋＨｚ］，２．１［ｋＨｚ］，１．９［ｋＨｚ］であり，現像基準周波数が４．７［ｋＨｚ］である３つの設定パターンＰ１〜Ｐ３に対応する帯電周波数及び現像周波数の差分周波数を示すものである。このように，予め設定された前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数の複数の組み合わせが記憶された前記データ記憶部５が基準周波数候補記憶手段に相当する。
具体的に，図２（ａ）に示す前記差分周波数テーブルＴ１は，帯電基準周波数が２．０［ｋＨｚ］，現像基準周波数が４．７［ｋＨｚ］の設定パターンＰ１に対応するものであって，該帯電基準周波数及びその帯電高次高調波成分を含む帯電周波数各々と該現像基準周波数及びその現像高次高調波成分を含む現像周波数各々との組み合わせごとにおける差分周波数を示している。同じく，図２（ｂ）に示す差分周波数テーブルＴ２は，帯電基準周波数が２．１［ｋＨｚ］，現像基準周波数が４．７［ｋＨｚ］の設定パターンＰ２に対応するもの，図２（ｃ）に示す差分周波数テーブルＴ３は，帯電基準周波数が１．９［ｋＨｚ］，現像基準周波数が４．７［ｋＨｚ］の設定パターンＰ３に対応するものである。
【００１７】
ここに，図２（ａ）〜（ｃ）では，形成画像に現れる横縞が目視できる程度に目立つと考えられる差分周波数４００［Ｈｚ］以下の組み合わせ部分に網掛けを施している。
図２（ａ）を参照すると，帯電基準周波数が２．０［ｋＨｚ］，現像基準周波数が４．７［ｋＨｚ］である設定パターンＰ１の場合には，帯電周波数の３次の高調波成分（１４．１［ｋＨｚ］）と，現像周波数の７次の高調波成分（１４．０［ｋＨｚ］）との差分周波数が１００［Ｈｚ］であり，帯電周波数の６次の高調波成分（２８．２［ｋＨｚ］）と，現像周波数の１４次の高調波成分（２８．０［ｋＨｚ］）との差分周波数も２００［Ｈｚ］であり，形成画像に現れる横縞が目視できる程度に目立つと考えられる差分周波数４００［Ｈｚ］以下であることがわかる。
また，図２（ｂ）を参照すると，帯電基準周波数が２．１［ｋＨｚ］，現像基準周波数が４．７［ｋＨｚ］である設定パターンＰ２の場合には，帯電周波数の４次の高調波成分（１８．８［ｋＨｚ］）と，現像周波数の９次の高調波成分（１８．９［ｋＨｚ］）との差分周波数が１００［Ｈｚ］であり，帯電周波数の５次の高調波成分（２３．５［ｋＨｚ］）と，現像周波数の１１次の高調波成分（２３．１［ｋＨｚ］）との差分周波数も４００［Ｈｚ］であり，形成画像に現れる横縞が目視できる程度に目立つと考えられる差分周波数４００［Ｈｚ］以下であることがわかる。
同じく，図２（ｃ）を参照すると，帯電基準周波数が１．９［ｋＨｚ］，現像基準周波数が４．７［ｋＨｚ］である設定パターンＰ３の場合には，帯電周波数の２次の高調波成分（９．４［ｋＨｚ］）と，現像周波数の５次の高調波成分（９．５［ｋＨｚ］）との差分周波数が１００［Ｈｚ］であり，帯電周波数の４次の高調波成分（１８．８［ｋＨｚ］）と，現像周波数の１０次の高調波成分（１９．０［ｋＨｚ］）との差分周波数も２００［Ｈｚ］であり，形成画像に現れる横縞が目視できる程度に目立つと考えられる差分周波数４００［Ｈｚ］以下であることがわかる。
【００１８】
そして，前記複合機Ｘでは，前記メイン制御部１が，後述のバイアス周波数設定処理（図３のフローチャート参照）を実行し，前記差分周波数テーブルＴ１〜Ｔ３を参照して，前記帯電交流電圧及び前記現像交流電圧の帯電基準周波数及び現像基準周波数を前記設定パターンＰ１〜Ｐ３のいずれかに適宜設定することにより，形成画像における横縞などによる画像品質の低下を防止している。ここに，係る設定処理を実行するときの前記メイン制御部１が周波数設定手段に相当する。なお，前記メイン制御部１に代えて前記エンジン制御部４１が当該バイアス周波数設定処理を実行することも他の実施例として考えられる。
以下，図３のフローチャートに従って，前記メイン制御部１によって実行されるバイアス周波数設定処理の手順の一例について説明する。なお，図中のＳ１，Ｓ２，…は処理手順（ステップ）の番号を表している。
【００１９】
（ステップＳ１）
まず，ステップＳ１において，前記メイン制御部１は，当該バイアス周波数設定処理の開始要求の発生を待ち受けている（Ｓ１のＮｏ側）。例えば，当該バイアス周波数設定処理の開始要求は，ユーザやサービスマンによる前記操作表示部２に対する操作入力に応じて，或いは予め設定された所定期間経過ごとや所定枚数印字ごとに応じて前記メイン制御部１が発生させるものである。
そして，当該バイアス周波数設定処理の開始要求が発生したと判断されると（Ｓ１のＹｅｓ側），処理はステップＳ２に移行する。なお，当該バイアス周波数設定処理は，前記複合機Ｘの製造時や設置時にのみ実行されるものであってもよい。
【００２０】
（ステップＳ２）
ステップＳ２において，前記メイン制御部１は，前記画像形成部４に対して予め設定された所定のテスト画像（所謂ＰＧ画像）を前記感光体ドラム４２に形成させる画像形成処理を実行する。ここに，係る画像形成処理を実行するときの前記メイン制御部１がテスト画像形成手段に相当する。
このとき，前記テスト画像は，例えば前記帯電周波数及び前記現像周波数の差分周波数が低いことに起因して生じる横縞が目立つような１ｄｏｔ，２ｄｏｔラインで形成されるグレー画像やスクリーン処理等が施された画像である。なお，ここでは，図４（ａ）に示すように，２ｄｏｔラインで形成されるＡ３縦サイズのグレー画像を前記テスト画像として用いる場合を例に挙げて説明する。
これにより，前記画像形成部４では，前記テスト画像に基づく画像が前記感光体ドラム４２に形成されるが，このとき前記帯電周波数及び前記現像周波数の差分周波数が低ければ，図４（ｂ）に示すように形成画像に横縞が生じるおそれがある。なお，図４（ｂ）は，形成画像に生じる横縞をわかりやすく表したものである。
【００２１】
（ステップＳ３）
そして，ステップＳ３において，前記メイン制御部１は，前記エンジン制御部４１を介して前記ＩＤセンサ４６を制御することにより，前記感光体ドラム４２に形成された前記テスト画像の副走査方向の電圧変化を読み取り，該ＩＤセンサ４６によって検出されたＩＤ電圧を内部メモリなどに一次記憶する。
このとき，前記ＩＤセンサ４６による副走査方向の検出間隔は１ｄｏｔ間隔であることが考えられるが，サンプリング周波数が短いほど次のステップＳ４における前記テスト画像の横縞の周波数の検出精度が高まるため，極力サンプリング周波数は高いことが望ましい。なお，前記テスト画像の検出対象は副走査方向の全領域に限らず一部の領域であってもよい。また，主走査方向の複数ドットの濃度を検出し，その平均値各々を前記ＩＤ電圧として用いてもよい。
ここに，図５は，前記ＩＤセンサ４６により検出されるＩＤ電圧の一例を示す図である。図５に示すように，前記ＩＤ電圧は，前記感光体ドラム４２に形成された前記テスト画像に周期的に含まれた横縞の発生タイミングごとに瞬時的な低下を繰り返すこととなる。
【００２２】
（ステップＳ４）
次に，ステップＳ４において，前記メイン制御部１は，前記ステップＳ３で検出された前記ＩＤ電圧についてＦＦＴ（Fast Fourier Transform；高速フーリエ変換）解析を行うことにより，前記感光体ドラム４２に形成された前記テスト画像に含まれた横縞の周波数成分（周波数特性）を取得する。ここに，係る取得処理を実行するときの前記メイン制御部１が横縞周波数取得手段に相当する。
このとき，図６に示すＦＦＴ結果が得られたとすると，前記感光体ドラム４２の形成画像には，１００［Ｈｚ］や７００［Ｈｚ］の周波数の横縞が比較的多く発生していることがわかる。但し，周波数１００［Ｈｚ］の横縞が見えやすいことに対して，周波数７００［Ｈｚ］の横縞は目視しづらいものである。そこで，本実施の形態では，前記メイン制御部１において，横縞の周波数が４００［Ｈｚ］以下である場合に，その横縞が目立つものとして予め設定されているものとする。即ち，４００［Ｈｚ］が所定の許容周波数の一例である。なお，周波数が０近傍の極小さい領域の横縞が多数発生しているが，これは２ｄｏｔラインの画像に基づくものであって，前記帯電周波数及び前記現像周波数の差分周波数が低いことに起因するものではない。
また，本実施の形態では，前記メイン制御部１において，目視しづらいレベルであるか否かを判断するための指標が閾値Ｋとして予め設定されているものとする。即ち，閾値Ｋが所定の許容レベルの一例である。この場合，図６に示す例では，１００［Ｈｚ］前後の周波数成分の横縞はスペクトルが高く閾値Ｋを超えているため横縞の原因となるのに対し，２００［Ｈｚ］前後の周波数成分の横縞はスペクトルが低く閾値Ｋ以下であるため横縞の原因とならないと判断することができる。なお，前記閾値Ｋは，ユーザやサービスマンによる前記操作表示部２に対する操作入力に従って前記メイン制御部１により変更可能である。
【００２３】
（ステップＳ５）
そこで，続くステップＳ５では，前記メイン制御部１は，前記ステップＳ４におけるＦＦＴ解析の結果に基づいて，横縞の周波数成分のうち４００［ｋＨｚ］以下の周波数成分のスペクトルが前記閾値Ｋを超えているか否かを判定する。ここに，係る判定処理を実行するときの前記メイン制御部１が周波数成分許容判定手段に相当する。
なお，２ｄｏｔラインの画像データを前記テスト画像として用いると，０近傍の極小さい周波数成分の横縞が多数発生することになるため，当該ステップＳ５における判断は，前記ＦＦＴ解析の結果から前記テスト画像に基づく横縞の周波数成分を除去した後のＦＦＴ解析の結果に基づいて行えばよい。即ち，前記テスト画像に基づく横縞の周波数成分より高く４００［ｋＨｚ］以下の周波数成分のみを判定の対象とすればよい。
ここで，４００［ｋＨｚ］以下の周波数成分のスペクトルが前記閾値Ｋを超えていると判断されると（Ｓ５のＹｅｓ側），処理はステップＳ６に移行される。他方，４００［ｋＨｚ］以下の周波数成分のスペクトルが前記閾値Ｋを超えていなければ（Ｓ５のＮｏ側），前記感光体ドラム４２に形成された前記テスト画像の横縞が予め設定された許容量を超えていないため，前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数が変更されることなく，当該バイアス周波数設定処理は終了される。
【００２４】
（ステップＳ６）
ステップＳ６では，前記メイン制御部１が，前記エンジン制御部４１を介して前記高圧電源４５を制御することにより，前記帯電ローラ４３に印加する帯電交流電圧の帯電基準周波数を変更する。ここに，係る変更処理を実行するときの前記メイン制御部１が周波数変更手段に相当する。
具体的に，前記メイン制御部１は，前記ステップＳ４で得られたＦＦＴ解析の結果に基づいて，横縞に含まれた周波数成分のうちスペクトルが前記閾値Ｋ以上の周波数成分を特定し，その周波数成分が差分周波数となる前記現像周波数及び前記帯電周波数の組み合わせを特定する。
図６に示した例では，１００［Ｈｚ］近傍の周波数のレベルが前記閾値Ｋ以上であるため，図２（ａ）に示す前記差分周波数テーブルＴ１に基づいて，その横縞は，差分周波数が１００［Ｈｚ］となる現像周波数における３次の高調波成分と，帯電周波数における７次の高調波成分との組み合わせに起因して発生しているものと特定される。
そこで，前記メイン制御部１は，図２（ｂ），（ｃ）に示す前記差分周波数テーブルＴ２，Ｔ３に基づいて，前記現像周波数における３次の高調波成分と前記帯電周波数における７次の高調波成分との組み合わせの差分周波数が４００［Ｈｚ］を超える前記設定パターンＰ２，Ｐ３のいずれかを選択し，前記帯電基準周波数を変更する。ここでは，前記差分周波数テーブルＴ２，Ｔ３のいずれにおいても現像周波数における３次の高調波成分と帯電周波数における７次の高調波成分との組み合わせの差分周波数が４００［Ｈｚ］を超えているため，前記設定パターンＰ２，Ｐ３のいずれを選択してもよい。但し，前記差分周波数テーブルＴ２よりも前記差分周波数テーブルＴ３の方がその差分周波数が高いため，該差分周波数テーブルＴ３に対応する設定パターンＰ３を選択することが望ましい。
そして，前記メイン制御部１は，前記設定パターンＰ３を選択すると，現在の帯電基準周波数を前記設定パターンＰ３に対応する帯電基準周波数である１．９［ｋＨｚ］に変更する旨を前記高圧電源４５に指示する。これにより，前記高圧電源４５は，前記帯電ローラ４３に印加する帯電交流電圧の帯電基準周波数を１．９［ｋＨｚ］に変更する。
【００２５】
その後，前記メイン制御部１は，処理を前記ステップＳ２に戻すことにより，前記ステップＳ６で更新された後の前記帯電基準周波数のバイアス電圧が前記帯電ローラ４３に印加された状態で前記ステップＳ２以後の処理を再度実行する。
従って，前記複合機Ｘでは，前記メイン制御部１によって実行される前記バイアス周波数設定処理において，前記帯電交流電圧における帯電基準周波数及び該帯電基準周波数の整数倍の帯電高次高調波成分を含む帯電周波数各々と，前記現像交流電圧における現像基準周波数及び該現像基準周波数の整数倍の現像高次高調波成分を含む現像周波数各々との組み合わせごとの差分周波数のうち４００［ｋＨｚ］（所定の許容レベル）以下の差分周波数の成分が前記閾値Ｋ（所定の許容レベル）以下となるように前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数が設定される。これにより，当該バイアス周波数設定処理後は形成画像における横縞などによる画像品質の低下を防止することができる。また，前記高圧電源４５における前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数の組み合わせが変更可能であればよく，負荷変動などの環境変化でも歪まない高性能の高圧電源を用いることや，帯電ローラ４３や現像ローラ４４，感光体ドラム４２などを負荷変動のないものとする必要がないため，その構成も簡素である。
【００２６】
ところで，本実施の形態では，前記帯電基準周波数のみを変更する場合を例に挙げて説明したが，これに限らず前記現像基準周波数のみを変更することや前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数を共に変更することも他の実施例として考えられる。
また，前記ステップＳ６における前記帯電基準周波数や前記現像基準周波数の変更手法は，前述したように，予め設定された複数の設定パターンＰ１〜Ｐ３のいずれかに選択的に切り換えることに限らず，現在の帯電基準周波数や現像基準周波数に対して，５０［Ｈｚ］や１００［Ｈｚ］程度の所定周波数を加算や減算することによって帯電基準周波数や現像基準周波数を変更してもよい。
さらに，前記差分周波数テーブルＴ１〜Ｔ３が前記データ記憶部５に記憶されている構成に限らず，例えば前記差分周波数テーブルＴ１〜Ｔ３と同様の演算結果を得るためのテンプレートや演算式を前記データ記憶部５に記憶しておき，前記メイン制御部１が，そのテンプレートや演算式に対して任意の前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数を代入することにより，該差分周波数テーブルＴ１〜Ｔ３と同様の演算結果を得ることも考えられる。
【実施例】
【００２７】
前記実施の形態では，前記メイン制御部１によって自動的に前記帯電基準周波数や前記現像基準周波数が設定される場合について説明したが，例えば，ユーザやサービスマンの操作入力に応じて任意に前記帯電基準周波数や前記現像基準周波数を設定することも考えられる。
以下，図７のフローチャートに従って，前記メイン制御部１によって実行されるバイアス周波数設定処理の手順の他の例について説明する。なお，図中のＳ１１，Ｓ１２，…は処理手順（ステップ）の番号を表している。
【００２８】
（ステップＳ１１）
まず，ステップＳ１１において，前記メイン制御部１は，当該バイアス周波数設定処理の開始要求の発生を待ち受けている（Ｓ１１のＮｏ側）。具体的に，前記メイン制御部１は，ユーザやサービスマンによる前記操作表示部２に対する操作入力に応じて，当該バイアス周波数設定処理の開始要求を発生させる。そして，当該バイアス周波数設定処理の開始要求が発生したと判断されると（Ｓ１１のＹｅｓ側），処理はステップＳ１２に移行する。
例えば，ユーザやサービスマンは，前記複合機Ｘによって通常の印刷動作や前記テスト画像の印字処理を実行させた印刷結果を参照し，その印刷結果において目立つ横縞が発生している場合に，前記操作表示部２に対して当該バイアス周波数設定処理の開始要求操作を行う。
【００２９】
（ステップＳ１２〜Ｓ１３）
前記メイン制御部１は，予め設定された前記帯電基準周波数及び前記現像基準周波数の組み合わせである複数の前記設定パターンＰ１〜Ｐ３を前記操作表示部２に表示させ（Ｓ１２），その設定パターンＰ１〜Ｐ３の選択を待ち受ける（Ｓ１３のＮｏ側）。このとき表示される設定パターンＰ１〜Ｐ３は，図２（ａ）〜（ｃ）に示したように，差分周波数が４００［Ｈｚ］以下となる組み合わせが異なる複数の設定パターンとして予め設定されたものである。
ここで，前記設定パターンのいずれかが選択されると（Ｓ１３のＹｅｓ側），処理はステップＳ１４に移行する。なお，前記設定パターンＰ１〜Ｐ３各々について予め設定された優先順位に基づいて自動的に順に選択されることも他の実施例として考えられる。
【００３０】
（ステップＳ１４〜Ｓ１５）
ステップＳ１４において，前記メイン制御部１は，前記ステップＳ１３で選択された前記設定パターンＰ１〜Ｐ３のいずれかに従って，前記高圧電源４５における前記帯電基準周波数や前記現像基準周波数の設定値を変更する。これにより，前記帯電ローラ４３及び前記現像ローラ４４に印加される帯電交流電圧及び現像交流電圧各々の周波数特性が変化する。
続くステップＳ１５では，前記メイン制御部１は，前記ステップＳ１４で前記帯電基準周波数や前記現像基準周波数が変更された後の状態でテスト印字を行う。係るテスト印字は，前記テスト画像の画像形成処理（前記ステップＳ２と同様）によって実行すればよい。これにより，ユーザやサービスマンは，その印刷結果を参照することにより，前記ステップＳ１４における前記帯電基準周波数や前記現像基準周波数の変更によって形成画像における横縞の発生を改善することができたか否かを判断することができる。
【００３１】
（ステップＳ１６）
そして，ステップＳ１６では，前記メイン制御部１は，前記操作表示部２に対して，当該バイアス周波数設定処理を終了させるための操作入力が行われたか否かを判断する。ここで，当該バイアス周波数設定処理の終了操作がなされたと判断すると（Ｓ１６のＹｅｓ側），当該バイアス周波数設定処理は終了される。一方，当該バイアス周波数設定処理の終了操作がなされず継続する旨の操作入力がなされると（Ｓ１６のＮｏ側），処理は前記ステップＳ１２に戻される。
このように，本実施例に係るバイアス周波数設定処理（図７に示すフローチャート）では，ユーザやサービスマンは，形成画像に横縞が発生していないと判断するまで前記帯電基準周波数や前記現像基準周波数を任意に変更することができる。
【符号の説明】
【００３２】
１：メイン制御部
２：操作表示部
３：スキャナ
４：画像形成部
４１：エンジン制御部
４２：感光体ドラム
４３：帯電ローラ
４４：現像ローラ
４５：高圧電源
４６：ＩＤセンサ
５：データ記憶部
Ｘ：複合機（画像形成装置の一例）
Ｓ１，Ｓ２，…：処理手順（ステップ）番号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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