(57)【要約】【課題】配線モデルの配線間隔の合否を容易に検証すること。【解決手段】算出手段２は、各配線モデル４、５が伝搬する信号の伝搬速度と、送信素子モデル６の立ち上がり時間（ｔｒ）または立ち下がり時間（ｔｆ）とに基づいて、配線モデル４、５の特性インピーダンスを算出する区間となる区間長を設定する。例えば、区間長は、次式（２）で表される。区間長＝（伝搬速度×ｔｒｔｆ）／分割係数・・・（２）ここで、ｔｒｔｆは、立ち上がり時間または立ち下がり時間のいずれか一方を意味している。【選択図】図１
2011215681.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板モデルに配置された配線モデルの間隔の合否を検証する配線間隔検証プログラムにおいて、
コンピュータに、
前記各配線モデルの信号の伝搬速度と、前記信号を送信する素子モデルの立ち上がり時間または立ち下がり時間とに基づいて、前記配線モデルの特性インピーダンスを算出する区間となる区間長を設定する算出手順、
を実行させることを特徴とする配線間隔検証プログラム。
【請求項２】
前記算出手順では、さらに、前記区間における反射波の振幅が入射波の振幅の所定倍以下になるよう決定された係数に基づいて、前記区間長を設定することを特徴とする請求項１記載の配線間隔検証プログラム。
【請求項３】
前記コンピュータを、さらに、複数の前記配線モデルに関する条件と前記条件に対応する特性インピーダンスとを関連づけて記憶する記憶手段として機能させ、
前記算出手順では、特性インピーダンス算出対象となる前記配線モデルに関する条件と、前記記憶手段に記憶された前記配線モデルに関する条件とを比較し、特性インピーダンス算出対象となる前記配線モデルに関する条件に最も近い前記記憶手段に記憶された条件に関連づけられた特性インピーダンスを、前記対象配線の特性インピーダンスに決定することを特徴とする請求項１記載の配線間隔検証プログラム。
【請求項４】
前記コンピュータに、さらに、
予め定めた複数の前記区間の基準インピーダンスを算出する基準インピーダンス算出手順、
前記基準インピーダンスの算出対象となった前記各区間の特性インピーダンスについて区間長方向の分布図を作成し、作成した前記分布図から前記基準インピーダンスとの不整合の度合いを示す指標を算出する不整合度算出手順、
前記不整合度算出手順により算出された前記指標により前記配線の合否を判定する判定手順、
を実行させることを特徴とする請求項１記載の配線間隔検証プログラム。
【請求項５】
前記指標は、前記分布図の各区間における、前記基準インピーダンスと前記各区間の特性インピーダンスによって囲まれた面積の積算値であることを特徴とする請求項４記載の配線間隔検証プログラム。
【請求項６】
前記不整合度算出手順では、前記各区間の前記面積が、予め決定した基準値以下である場合、当該区間の面積を積算の対象から除外することを特徴とする請求項５記載の配線間隔検証プログラム。
【請求項７】
前記不整合度算出手順では、前記区間における前記配線が伝搬する信号の立ち上がり時間または立ち下がり時間に基づいて前記基準値を算出することを特徴とする請求項６記載の配線間隔検証プログラム。
【請求項８】
前記算出手順では、さらに、前記基板モデル上の欠損領域による特性インピーダンスの増加量を算出し、
区間毎の前記配線モデルの特性インピーダンスに、さらに、欠損領域による特性インピーダンスの増加量を加算した値を前記区間の特性インピーダンスとすることを特徴とする請求項１記載の配線間隔検証プログラム。
【請求項９】
前記コンピュータに、さらに、
前記配線モデルの物理的な形状または誘電特性の変化点を検出する検出手順を実行させ、
前記算出手順では、前記検出手順により検出された変化点を中心とした両側の所定区間において前記区間長を設定することを特徴とする請求項１記載の配線間隔検証プログラム。
【請求項１０】
基板モデルに配置された配線モデルの間隔の合否を検証する配線間隔検証装置において、
前記各配線モデルの信号の伝搬速度と、前記信号を送信する素子モデルの立ち上がり時間または立ち下がり時間とに基づいて、前記配線モデルの特性インピーダンスを算出する区間となる区間長を設定する算出部、
を有することを特徴とする配線間隔検証装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は配線間隔検証プログラムおよび配線間隔検証装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル電子機器に求められる情報処理の量は、増加の一途をたどっている。この多量の情報を処理するため、電子機器内のデジタル信号の転送速度が高速化されている。
【０００３】
他方、基板の小型化、薄型化等により、信号伝送の品質の悪化が指摘されている。
例えば、プリント基板内の配線の密度が高くなり、配線の間隔を十分に確保することが難しくなっている。配線の間隔が狭い部分は、ノイズによって信号伝送の品質が悪化する可能性があることが知られている。
【０００４】
このような信号伝送の品質の悪化に対し、設計段階において配線モデルに寄生する負荷（配線寄生負荷）を算出し、当該配線寄生負荷の変動する部分を検出することにより、信号伝送の品質が悪化する箇所を予測する技術が知られている。
【０００５】
例えば、予め配線寄生負荷を見積もりしたリファレンスモデルを用意しておき、このモデル内のリファレンスパターンデータの持つレイアウトパターンデータと入力されたレイアウトデータのレイアウトパターンデータとのパターンマッチングを行うことにより、配線寄生負荷を算出する方法が知られている。
【０００６】
また、各配線の負荷をモデル化した配線負荷モデルの隣接配線数に応じた特性パラメータを抽出し、該特性パラメータと各配線負荷モデルの配線長とに基づき、分布定数回路データを出力する方法が知られている。
【０００７】
また、計算式を用いて配線モデルの特性インピーダンスを算出し、ノイズに影響を及ぼす可能性が高い部位を検出する方法が知られている。
図３０は、特性インピーダンスを算出する例を説明する図である。
【０００８】
ここで、基板モデル９０の配線モデル９１が配置される層９２の厚さをｈ、層９２の誘電率をεr、配線モデル９１の厚さをｔ、配線モデル９１の幅をｗとすると、特性インピーダンスＺ０は、次式（１）で表すことができる。
【０００９】
Ｚ０＝８７．０／（εr＋１．４１）0.5ｌｎ（５．９８ｈ／（０．８ｗ＋ｔ））・・・（１）
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開平９−４４５５０号公報
【特許文献２】特開平５−５４０９２号公報
【特許文献３】特開２００２−１６３３２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
算出の対象となる配線モデルの種類（差動配線、シングル配線等）や信号の種類（クロック、データ等）が多種多数の場合、各配線モデルの特性インピーダンスを算出する区間を決定することが難しい。
【００１２】
しかしながら、３次元電磁解析ソフト等を用いて配線モデルの特性インピーダンスを算出すると、演算処理に多大な算出時間を要するという問題があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、配線モデルの配線間隔の合否を容易に検証することができる配線間隔検証プログラムおよび配線間隔検証装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために、基板モデルに配置された配線モデルの間隔の合否を検証する配線間隔検証プログラムが提供される。この配線間隔検証プログラムは、コンピュータを、各配線モデルの信号の伝搬速度と、信号を送信する素子モデルの立ち上がり時間または立ち下がり時間とに基づいて、配線モデルの特性インピーダンスを算出する区間となる区間長を設定する算出手段として機能させる。
【発明の効果】
【００１４】
開示の配線間隔検証プログラムによれば、配線モデルの配線間隔の合否を容易に検証することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】第１の実施の形態の配線間隔検証装置の概要を示す図である。
【図２】第２の実施の形態の配線間隔検証装置のハードウェア構成例を示す図である。
【図３】第２の実施の形態の配線間隔検証装置の機能を示すブロック図である。
【図４】検証対象回路モデルの構造を示す斜視図である。
【図５】特性インピーダンスＤＢのデータ構造を示す図である。
【図６】誘電率の異なる特性インピーダンスデータテーブルを示す図である。
【図７】設計ＤＢのデータ構造を示す図である。
【図８】配線間隔の算出方法の一例を示す図である。
【図９】第２の実施の形態の配線間隔検証装置の全体処理を示すフローチャートである。
【図１０】近似計算処理を示すフローチャートである。
【図１１】対象ネットの選択を示す図である。
【図１２】シミュレーションモデルの作成の一例を示す図である。
【図１３】モニタに表示された合否判定の一例を示す図である。
【図１４】シングル配線を有する検証対象回路モデルの一例を示す図である。
【図１５】第３の実施の形態の配線間隔検証装置の機能を示すブロック図である。
【図１６】基準インピーダンスの算出例を示す図である。
【図１７】不整合面積の算出を説明する図である。
【図１８】第３の実施の形態の配線間隔検証装置の全体処理を示すフローチャートである。
【図１９】第４の実施の形態の基板モデルの構造を示す斜視図である。
【図２０】第４の実施の形態の配線間隔検証装置の機能を示すブロック図である。
【図２１】第４の実施の形態の欠損領域データを示す図である。
【図２２】第４の実施の形態の配線間隔検証装置における配線モデルと欠損領域の位置関係を分類した結果の一例を示す図である。
【図２３】雑音係数ＤＢに格納される特性インピーダンスの増加特性を示す図である。
【図２４】第４の実施の形態の配線間隔検証装置で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲を説明するための図である。
【図２５】第４の実施の形態の配線間隔検証装置で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内に存在する欠損領域の面積の算出方法を説明するための図である。
【図２６】図２５の判定結果を表形式で示す図である。
【図２７】図２５に示す欠損領域モデルによって影響を受ける配線モデルの特性インピーダンスを表現するモデルを示す図である。
【図２８】第４の実施の形態の配線間隔検証装置における配線モデルの区間毎の特性インピーダンスの計算結果を示す図である。
【図２９】第４の実施の形態の配線間隔検証装置の全体処理を示すフローチャートである。
【図３０】特性インピーダンスを算出する例を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
まず、実施の形態の配線間隔検証装置について説明し、その後、実施の形態をより具体的に説明する。
【００１７】
＜第１の実施の形態＞
図１は、第１の実施の形態の配線間隔検証装置の概要を示す図である。
実施の形態の配線間隔検証プログラムは、配線モデルの間隔の合否を検証するプログラムであって、配線間隔検証装置（コンピュータ）１を、算出手段２として機能させる。
【００１８】
図１では、基板モデル３上に、差動信号を伝送する配線モデル４、５と、信号を送信するＩＣ（Integrated Circuit）等の送信素子モデル６と、送信素子モデル６が送信した差動信号を、配線モデル４、５を介して受信する受信素子モデル７とを図示している。
【００１９】
配線モデル４、５の幅が、広くなったり狭くなったりしている。これに応じて配線モデル４、５の特性インピーダンスが変化する。
算出手段２は、各配線モデル４、５が伝搬する信号の伝搬速度と、送信素子モデル６の立ち上がり時間（ｔｒ）または立ち下がり時間（ｔｆ）とに基づいて、配線モデル４、５それぞれの特性インピーダンスを算出する区間となる区間長を設定する。
【００２０】
例えば、区間長は、次式（２）で表される。
区間長＝（伝搬速度×ｔｒｔｆ）／分割係数・・・（２）
ここで、ｔｒｔｆは、立ち上がり時間または立ち下がり時間のいずれか一方を意味している。
【００２１】
なお、立ち上がり時間と立ち下がり時間が異なる場合は、値の小さい方を用いるのが好ましい。
ここで、分割係数は、区間長毎に分割される区間における反射波の振幅が、ｔｒｔｆの時間内に入射波の振幅の０．１倍以下となるように設定するのが好ましい。これにより、配線モデル４、５が伝搬する信号に与えるノイズの影響を軽減することができる。なお、０．１倍は例示であり、これに限定されないのは言うまでもない。また、分割係数は、例えば、配線間隔検証装置１を操作するユーザが決定したり、予め定めた数式によって決定したりすることができる。
【００２２】
実配線における特性インピーダンスの不整合が信号品質に影響を与えるか否かの分岐点はｔｒｔｆにより異なる。ｔｒｔｆが小さい場合は、差動信号に多くの高周波成分が含まれる可能性がある。周波数が高い信号は波長が短い。波長が短い信号は、短い距離の特性インピーダンスの不整合でも、その高周波成分の物理長が、波長に対して無視できない長さとなるため、波形品質を悪化させる。よって、式（２）を用いて区間長を算出することにより、ｔｒｔｆが小さい場合には、区間長を小さく設定し、より細かい単位でのモデリングが可能となる。これにより、配線モデルの合否の信頼性を向上することができる。また、伝搬速度と、ｔｒｔｆとに基づいて、区間長を設定するようにしたので、容易に区間長を決定することができる。
【００２３】
また、式（２）にて決定した区間長を、後述する工程に適用することで、配線モデルの合否を容易に検証することができる。
なお、本実施の形態の配線間隔検証装置１が実行する処理は、例えば、プリント基板上に配置された配線モデルのデザインルールチェック（DRC）工程に適用することができる。
【００２４】
以下、実施の形態をより具体的に説明する。
＜第２の実施の形態＞
第２の実施の形態では、一例として、隣接する２信号を、差動信号を構成する２信号とし、その差動インピーダンスを算出する方法を示す。
【００２５】
図２は、第２の実施の形態の配線間隔検証装置のハードウェア構成例を示す図である。
配線間隔検証装置１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１０１によって装置全体が制御されている。ＣＰＵ１０１には、バス１０８を介してＲＡＭ（Random Access Memory）１０２、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ:Hard Disk Drive）１０３、グラフィック処理装置１０４、入力インタフェース１０５、外部補助記憶装置１０６および通信インタフェース１０７が接続されている。
【００２６】
ＲＡＭ１０２には、ＣＰＵ１０１に実行させるＯＳ（Operating System）のプログラムやアプリケーションプログラムの少なくとも一部が一時的に格納される。また、ＲＡＭ１０２には、ＣＰＵ１０１による処理に必要な各種データが格納される。ＨＤＤ１０３には、ＯＳやアプリケーションプログラムが格納される。また、ＨＤＤ１０３内には、プログラムファイルが格納される。
【００２７】
グラフィック処理装置１０４には、モニタ１０４ａが接続されている。グラフィック処理装置１０４は、ＣＰＵ１０１からの命令に従って、画像をモニタ１０４ａの画面に表示させる。入力インタフェース１０５には、キーボード１０５ａとマウス１０５ｂとが接続されている。入力インタフェース１０５は、キーボード１０５ａやマウス１０５ｂから送られてくる信号を、バス１０８を介してＣＰＵ１０１に送信する。
【００２８】
外部補助記憶装置１０６は、記録媒体に書き込まれた情報を読み取ったり、記録媒体に情報を書き込んだりする。外部補助記憶装置１０６で読み書きが可能な記録媒体としては、例えば、磁気記録装置、光ディスク、光磁気記録媒体、半導体メモリ等が挙げられる。磁気記録装置としては、例えば、ＨＤＤ、フレキシブルディスク（ＦＤ）、磁気テープ等が挙げられる。光ディスクとしては、例えば、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＣＤ−Ｒ（Recordable）／ＲＷ（ReWritable）等が挙げられる。光磁気記録媒体としては、例えば、ＭＯ（Magneto-Optical disk）等が挙げられる。
【００２９】
通信インタフェース１０７は、ネットワーク３０に接続されている。通信インタフェース１０７は、ネットワーク３０を介して、他のコンピュータとの間でデータの送受信を行う。
【００３０】
以上のようなハードウェア構成によって、本実施の形態の処理機能を実現することができる。このようなハードウェア構成の配線間隔検証装置１００内には、以下のような機能が設けられる。
【００３１】
図３は、第２の実施の形態の配線間隔検証装置の機能を示すブロック図である。
配線間隔検証装置１００は、パラメータ入力受付部１１０と、特性インピーダンスＤＢ（データベース）１２０と、設計ＤＢ１３０と、特性インピーダンス算出部１４０と、モデル作成部１５０と、シミュレーション実行部１６０と、合否判定部１７０とを有している。
【００３２】
特性インピーダンスＤＢ１２０および設計ＤＢ１３０は、ＨＤＤ１０３の一領域により実現することができる。また、パラメータ入力受付部１１０、特性インピーダンス算出部１４０、モデル作成部１５０、シミュレーション実行部１６０、および、合否判定部１７０は、ＣＰＵ１０１の一機能により実現することができる。
【００３３】
パラメータ入力受付部１１０は、後述する選択画面をモニタ１０４ａに表示する。そして、キーボード１０５ａまたはマウス１０５ｂを介して入力される条件に基づき、区間長を算出する対象ネットを特定する。入力される条件としては、例えば、配線モデルによって伝送される信号の種類（属性情報）、特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲、ランク付けのために抽出する際の特性インピーダンスの閾値等が挙げられる。
【００３４】
また、パラメータ入力受付部１１０は、この他にも種々の条件の入力を受け付ける。
特性インピーダンスＤＢ１２０には、配線モデルの配線間隔、配線幅、および、層間隔と特性インピーダンスとの関係を示す数値を、複数の条件について羅列したデータが格納されている。
【００３５】
設計ＤＢ１３０には、検証の対象となる配線に関する設計データが格納されている。
図４は、検証対象回路モデルの構造を示す斜視図である。
図４に示す検証対象回路モデル２０では、送信素子モデル１１が生成した差動信号を受信素子モデル１２に伝送する配線モデル１３、１４が、複数の誘電体層が積層された基板モデル１０の最上位の誘電体層に形成されている。各誘電体層は、コア材または接着層のいずれかである。
【００３６】
配線モデル１３、１４は、信号を伝送するための配線または所定形状のパターンである。配線モデル１３は、ほぼ９０°に屈曲する屈曲部１３ａ、１３ｂを有している。配線モデル１４は、ほぼ９０°に屈曲する屈曲部１４ａ、１４ｂを有している。
【００３７】
配線モデル１３の屈曲部１３ａ、１３ｂに挟まれた部位と、配線モデル１４の屈曲部１４ａ、１４ｂに挟まれた部位との間隙は、配線モデル１３、１４の他の部位の間隙に比べて狭くなっている。
【００３８】
基板モデル１０には、信号線等として用いる配線モデル１３、１４が形成される層と、ベタモデル（図示せず）が形成される層とが交互に積層されている。
ベタモデルは、平面的に形成され、グランド電位に保持されて伝送信号の復路となるパターンを形成している。このため、配線モデル１３、１４とベタモデルは、配線モデル１３、１４における信号特性が良好（典型的には特性インピーダンス整合が取れた状態（例えば、５０Ω））になるように設計するのが好ましい。
【００３９】
なお、ベタモデルは、所定の正または負の電位に保持されていてもよい。
なお、図４に示すＸ軸方向およびＹ軸方向の座標については、後述する。
再び図３に戻って説明する。
【００４０】
特性インピーダンス算出部１４０は、設計ＤＢ１３０から抽出した情報を入力条件とし、特性インピーダンスＤＢ１２０に格納されている情報に基づいて、パラメータ入力受付部１１０が特定した対象ネットについて、隣接する２配線モデルの特性インピーダンスを算出する。具体的には、特性インピーダンスを算出する区間の単位となる区間長を設定する。そして、設定した配線モデルの区間長によって仕切られた１つの区間を特性インピーダンス算出区間とする。そして、各特性インピーダンス算出区間の特性インピーダンスを算出する。なお、特性インピーダンス算出部１４０は、特性インピーダンス算出区間毎に、算出した特性インピーダンスを記憶する機能を有していてもよい。
【００４１】
モデル作成部１５０は、シミュレーションモデルを作成する。具体的には、特性インピーダンス算出部１４０によって算出された各特性インピーダンス算出区間の特性インピーダンスに応じた伝送路モデルを作成する。そして、配線モデルの信号送信側の送信素子モデルと伝送路モデルを接続する。また、配線モデルの信号受信側の受信素子モデルと伝送路モデルを接続する。これが、シミュレーションモデルとなる。
【００４２】
ここで、一定の範囲、および、刻み値の特性インピーダンスを持ったものを複数含んだライブラリ（伝送路ライブラリ）を予め用意しておき、モデル作成部１５０は、算出された特性インピーダンスに応じたものを呼び出してシミュレーションモデルを作成するのが好ましい。
【００４３】
なお、このライブラリは、配線間隔検証装置１００が有していてもよいし、配線間隔検証装置１００の外部に設けられていてもよい。
シミュレーション実行部１６０は、モデル作成部１５０によって作成されたシミュレーションモデルに対し波形シミュレーションを実行する。そして、シミュレーション実行結果のアイパターン波形を得る。
【００４４】
合否判定部１７０は、シミュレーション実行部１６０によって得られたアイパターン波形に、受信素子の規格であるマスクを当てはめ、マスクに対するアイパターン波形の割り込み有無を確認することによって、配線設計の品質に関する配線間隔の合否を判定する。
【００４５】
なお、合否判定部１７０は、アイパターン波形およびマスクをモニタ１０４ａに表示する機能を有していてもよい。
次に、配線間隔検証装置１００が有する各ＤＢが格納している情報を説明する。
【００４６】
図５は、特性インピーダンスＤＢのデータ構造を示す図である。
特性インピーダンスＤＢ１２０では、情報がテーブル化されて格納されている。
特性インピーダンスデータテーブル１２１は、入力条件および算出結果の欄を有している。横方向に並べられた情報同士が互いに関連づけられている。
【００４７】
入力条件の欄には、ユーザにより入力される条件を示す項目が設定されている。具体的には、誘電率、層間隔（ｍｍ）、配線幅（ｍｍ）および配線間隔（ｍｍ）の項目が設定されている。これらの項目には、用意された値が予め設定されている。
【００４８】
図５に示す特性インピーダンスデータテーブル１２１は、誘電率が３．８である場合のテーブルを示している。この誘電率３．８に対し、層間隔が０．２ｍｍから０．１ｍｍ単位で増加する場合の各配線幅が０．１ｍｍから０．０５ｍｍ単位で増加する場合の配線間隔が０．３ｍｍ、０．４ｍｍ、０．５ｍｍの場合の各パターンが設定されている。
【００４９】
算出結果の欄には、入力条件に基づいて算出される特性インピーダンスが予め設定されている。
なお、特性インピーダンスデータテーブル１２１は、入力される誘電率毎に複数設定されている。
【００５０】
図６は、誘電率の異なる特性インピーダンスデータテーブルを示す図である。
図６に示す特性インピーダンスデータテーブル１２１は、誘電率が４．３である場合のテーブルを示している。
【００５１】
このような特性インピーダンスデータテーブル１２１を設けることにより、演算時間の短縮を図ることができる。
図７は、設計ＤＢのデータ構造を示す図である。
【００５２】
設計ＤＢ１３０では、情報がテーブル化されて格納されている。
設計データテーブル１３１は、ネット番号、ペア認識、配線層、誘電率、層間隔（ｍｍ）、配線幅（ｍｍ）、配線間隔（ｍｍ）、始点（ｍｍ）および終点（ｍｍ）の欄を有している。横方向に並べられた情報同士が互いに関連づけられている。
【００５３】
前述したように、設計データテーブル１３１は、多層の基板モデルについてのデータを示している。この基板モデルは、配線パターンを有する配線層と、グランド電位に保持されるグランド層とを有している。配線層は、グランド層に挟まれている。
【００５４】
ネット番号の欄には、配線モデルを識別する情報が設定されている。
ペア認識の欄には、差動信号を伝送する配線モデルのペアを識別する情報が設定されている。例えば、１Ｐｏｓｉおよび１Ｎｅｇａが、配線モデルのペアを構成していることを示している。また、２Ｐｏｓｉ、２Ｎｅｇａが、配線モデルのペアを構成していることを示している。
【００５５】
配線層の欄には、基板モデルの、配線モデルのペアが存在する層を識別する情報を設定されている。
誘電率の欄には、配線モデルの誘電率が設定されている。
【００５６】
層間隔（ｍｍ）の欄には、基板モデルの、配線モデルが設置されている層を挟むグランド層の間隔を示す値が設定されている。
配線幅（ｍｍ）の欄には、各配線モデルの自身の幅（図３０の幅ｗに相当）を示す値が設定されている。
【００５７】
配線間隔（ｍｍ）の欄には、配線モデルペア間の最短距離を示す値が設定されている。
始点（ｍｍ）および終点（ｍｍ）の欄は、さらに、Ｘ座標およびＹ座標の欄に分かれている。ここで、Ｘ座標、Ｙ座標は、例えば、図４に示す基板モデル１０の左下の頂点を基準（０，０）とし、頂点から他の頂点へ向かう辺をそれぞれＸ軸、Ｙ軸としたときの座標を表している。
【００５８】
始点のＸ座標の欄は、当該配線モデルの始点のＸ座標が設定されている。始点のＹ座標の欄は、当該配線モデルの始点のＹ座標が設定されている。終点のＸ座標の欄は、当該配線モデルの終点のＸ座標が設定されている。終点のＹ座標の欄は、当該配線モデルの終点のＹ座標が設定されている。
【００５９】
なお、配線間隔は、以下のようにして算出される。
図８は、配線間隔の算出方法の一例を示す図である。
ネット番号１の配線モデルとネット番号２の配線モデルの配線間隔ｈ１の算出を例にとる。
【００６０】
まず、Ｙ軸方向の配線間隔ｈを求める。
Ｙ軸方向の配線間隔ｈ＝Ｐｏｓｉ配線始点のＹ軸座標−Ｎｅｇａ配線のＹ軸座標＝｜１０（ｍｍ）−２０（ｍｍ）｜＝１０（ｍｍ）
次に、配線がＹ軸と成す角度θを求める。
【００６１】
Ｙ軸と成す角度θ=ｔａｎ＾−１（Ｘ軸方向の増加分／Ｙ軸方向の増加分）=ｔａｎ＾−１（（２０−１０）／（１００−１０））=０．１１（ｒａｄ）
次に、配線間隔ｈ１を求める。
【００６２】
配線間隔ｈ１＝Ｙ軸方向の配線間隔×ｓｉｎ（配線がＹ軸と成す角度）＝１０（ｍｍ）×ｓｉｎ（０．１１）＝１．１（ｍｍ）
次に、配線間隔検証装置１００の処理の流れを説明する。
【００６３】
図９は、第２の実施の形態の配線間隔検証装置の全体処理を示すフローチャートである。
［ステップＳ１］  パラメータ入力受付部１１０が、対象ネットの選択を受け付ける。その後、ステップＳ２に遷移する。
【００６４】
［ステップＳ２］  特性インピーダンス算出部１４０が、配線モデルの区間長を設定する。その後、ステップＳ３に遷移する。
［ステップＳ３］  特性インピーダンス算出部１４０は、区間長によって区切られた各特性インピーダンス算出区間について、設計データテーブル１３１を参照し、配線間隔、配線幅、層間隔、および、誘電率を抽出する。そして、これを入力条件として特性インピーダンスデータテーブル１２１の内容をもとに近似計算を行って、各区間の特性インピーダンスを算出する。その後、ステップＳ４に遷移する。なお、近似計算については、後述する。
【００６５】
［ステップＳ４］  モデル作成部１５０が、特性インピーダンス算出部１４０によって算出された特性インピーダンスに基づいてシミュレーションモデルを作成する。その後、ステップＳ５に遷移する。
【００６６】
［ステップＳ５］  シミュレーション実行部１６０が、モデル作成部１５０によって作成されたシミュレーションモデルのシミュレーションを実行する。そして、シミュレーション実行結果のアイパターン波形を得る。その後、ステップＳ６に遷移する。
【００６７】
［ステップＳ６］  合否判定部１７０が、作成されたアイパターン波形にマスクを当てはめ合否を判定する。
以上で配線間隔検証装置１００の全体処理の説明を終了する。
【００６８】
次に、ステップＳ３にて説明した近似計算について説明する。
近似計算は物理寸法、誘電率のパラメータについて対象値に最も近い特性インピーダンスデータベース上の条件値に対応する値を該当値として選択する方式により実現する。
【００６９】
図１０は、近似計算処理を示すフローチャートである。
［ステップＳ１１］  特性インピーダンス算出部１４０は、設計データテーブル１３１から抽出したパラメータのうち、１つのパラメータを選択する。そして、選択したパラメータの値を「対象値」とする。その後、ステップＳ１２に遷移する。
【００７０】
［ステップＳ１２］  特性インピーダンス算出部１４０は、各特性インピーダンスデータテーブル１２１間の、ステップＳ１１にて選択したパラメータの刻み幅を認識し、これを「ステップ値」とする。その後、ステップＳ１３に遷移する。
【００７１】
［ステップＳ１３］  特性インピーダンス算出部１４０は、各特性インピーダンスデータテーブル１２１におけるステップＳ１１にて選択したパラメータの初期値を決定する。これを「特性インピーダンスデータベース値」とする。その後、ステップＳ１４に遷移する。
【００７２】
［ステップＳ１４］  特性インピーダンス算出部１４０は、特性インピーダンスデータベース値−対象値の絶対値を算出する。これを差分値とする。その後、ステップＳ１５に遷移する。
【００７３】
［ステップＳ１５］  特性インピーダンス算出部１４０は、差分値がステップ値の半分以下か否かを判断する。差分値がステップ値の半分以下ではない場合（ステップＳ１５のＮｏ）、ステップＳ１６に遷移する。差分値がステップ値の半分以下である場合（ステップＳ１５のＹｅｓ）、ステップＳ１７に遷移する。
【００７４】
［ステップＳ１６］  特性インピーダンス算出部１４０は、次の特性インピーダンスデータテーブル１２１におけるパラメータの値を選択する。その後、ステップＳ１４に遷移する。
【００７５】
［ステップＳ１７］  特性インピーダンス算出部１４０は、その時点における特性インピーダンスデータベース値を「該当値」に決定する。その後、ステップＳ１８に遷移する。
【００７６】
［ステップＳ１８］  特性インピーダンス算出部１４０は、当該パラメータが、最終パラメータか否かを判断する。最終パラメータではない場合（ステップＳ１８のＮｏ）、ステップＳ１１に遷移し、ステップＳ１１以降の処理を繰り返し行う。最終パラメータである場合（ステップＳ１８のＹｅｓ）、ステップＳ１９に遷移する。
【００７７】
［ステップＳ１９］  特性インピーダンス算出部１４０は、対応する特性インピーダンスデータベース値を、計算結果として出力する。その後、近似計算処理を終了する。
以上で、近似計算処理の説明を終了する。
【００７８】
次に、配線間隔検証装置１００の各処理について具体例を用いて説明する。
＜検証対象ネットの選択＞
図１１は、対象ネットの選択を示す図である。
【００７９】
ユーザは、基板ネット（図示せず）の中から、無作為に１ネットを検証対象のネットとして選択することができる。
図１１では、対象ネットを絞り込む選択画面３１がモニタ１０４ａに表示されている。選択画面３１には、パラメータとして、「信号種類」と「ｔｒｔｆ」が表示されている。ユーザは、キーボードやマウスを用いて「信号種類」の属性「ＣＬＫ」または「ＤＡＴＡ」のいずれか一方を選択することができる。また、「ｔｒｔｆ」の属性「１ｎｓ以下」または「０．２ｎｓ以下」のいずれか一方を選択することができる。また、他にもユーザは、波形の劣化が気になる部分（例えば、伝送速度が１００Ｍｂｐｓ程度の部分）を選択して対象ネットを絞り込むこともできる。
【００８０】
＜区間長の設定＞
区間長は、第１の実施の形態にて説明した式（２）を用いて設定する。以下、式（２）を再掲する。
【００８１】
区間長＝（伝送路の伝搬速度×ｔｒｔｆ）／分割係数・・・（２）
本実施の形態では、一例として、分割後の区間における反射波の振幅が、ｔｒｔｆの時間内に入射波の振幅の０．１倍となるように分割係数を設定する。分割係数の計算式は、次式（３）にて表すことができる。
【００８２】
分割係数＝ｌｏｇ０．１・・・（３）（但し、ｌｏｇの底は、反射係数）
なお、式（３）は、反射係数＾分割係数＝０．１を変形したものである。
ここで反射係数は、次式（４）にて表すことができる。
【００８３】
反射係数＝（（基準インピーダンス（Ω）±最大不整合度（Ω））−基準インピーダンス）／（（基準インピーダンス（Ω）±最大不整合度（Ω））＋基準インピーダンス）・・・（４）
ここで、基準インピーダンスは、予め定めた値（例えば、５０（Ω））である。また、最大不整合度は、基準インピーダンスに対するずれを許容する量である。この値は、例えば、予め決定された値である。一例として、基準インピーダンスが５０Ωである場合、最大不整合度は５Ω程度（１０％程度）とすることができる。
【００８４】
この計算式により区間長を設定することができる。
＜各特性インピーダンス算出区間の特性インピーダンス算出＞
特性インピーダンス算出部１４０は、設計データテーブル１３１を参照し、区間長によって区切られた各特性インピーダンス算出区間について、配線間隔、配線幅、層間隔、および、誘電率を抽出する。そして、これを入力条件として特性インピーダンスデータテーブル１２１を参照し、近似計算によって各区間の特性インピーダンスを算出する。
【００８５】
以下、近似計算の一例を示す。
＜近似計算＞
前述したように、特性インピーダンス算出部１４０は、物理寸法、誘電率のパラメータについて対象値にもっとも近い特性インピーダンスデータテーブル１２１の条件値に対応する値を該当値として選択する方式により近似計算を実現する。
【００８６】
以下、特性インピーダンス算出部１４０が、設計データテーブル１３１からパラメータとして誘電率４．２、層間隔０．３１（ｍｍ）、配線幅０．１６（ｍｍ）、配線間隔０．４８（ｍｍ）を抽出した場合を例に説明する。
【００８７】
まず、誘電率を選択する。そして、設計データテーブル１３１から抽出した誘電率の値「４．２」を対象値に決定する。また、各特性インピーダンスデータテーブル１２１を参照すると、各特性インピーダンスデータテーブル１２１の誘電率の刻み幅は、４．３−３．８＝０．５である。従って、ステップ値を「０．５」に決定する。また、特性インピーダンスデータベース値の初期値を誘電率が小さい方の値「３．８」に決定する。
【００８８】
この条件において、差分値は、｜特性インピーダンスデータベース値−対象値｜＝｜３．８−４．２｜＝０．４となる。
ステップ値の半分は、ステップ値／２＝０．５／２＝０．２５となる。
【００８９】
ここで、差分値０．４は、ステップ値の半分０．２５以下ではないので、次の特性インピーダンスデータテーブル１２１における誘電率の値「４．３」を特性インピーダンスデータベース値として選択する。
【００９０】
差分値は、｜特性インピーダンスデータベース値−対象値｜＝｜４．３−４．２｜＝０．１となる。
ここで、差分値０．１は、ステップ値の半分０．２５以下であるので、４．３を該当値に決定する。
【００９１】
また、誘電率は、最終パラメータではないため、次のパラメータとして層間隔を選択する。そして、設計データテーブル１３１から抽出した層間隔の値「０．３１」を対象値に決定する。また、各特性インピーダンスデータテーブル１２１を参照すると、各特性インピーダンスデータテーブル１２１の層間隔の刻み幅は、０．１（ｍｍ）である。従って、ステップ値を「０．１」に決定する。また、特性インピーダンスデータベース値の初期値を最も小さい層間隔「０．２」に決定する。
【００９２】
この条件において、差分値は、｜特性インピーダンスデータベース値−対象値｜＝｜０．１−０．３１｜＝０．２１となる。
ステップ値の半分は、ステップ値／２＝０．１／２＝０．０５となる。
【００９３】
ここで、差分値０．２１は、ステップ値の半分０．０５以下ではないので、次の特性インピーダンスデータテーブル１２１における層間隔の値「０．３」を特性インピーダンスデータベース値として選択する。
【００９４】
差分値は、｜特性インピーダンスデータベース値−対象値｜＝｜０．３−０．３１｜＝０．０１となる。
ここで、差分値０．０１は、ステップ値の半分０．０５以下であるので、０．３（ｍｍ）を該当値に決定する。
【００９５】
また、層間隔は、最終パラメータではないため、次のパラメータとして配線幅を選択する。そして、設計データテーブル１３１から抽出した配線幅の値「０．１６」を対象値に決定する。また、各特性インピーダンスデータテーブル１２１を参照すると、各特性インピーダンスデータテーブル１２１の配線幅の刻み幅は、０．０５（ｍｍ）である。従って、ステップ値を「０．０５」に決定する。また、特性インピーダンスデータベース値の初期値を最も小さい配線幅「０．１」に決定する。
【００９６】
この条件において、差分値は、｜特性インピーダンスデータベース値−対象値｜＝｜０．１−０．１６｜＝０．０６となる。
ステップ値の半分は、ステップ値／２＝０．０５／２＝０．０２５となる。
【００９７】
ここで、差分値０．０６は、ステップ値の半分０．０２５以下ではないので、次の特性インピーダンスデータテーブル１２１における配線幅の値「０．１５」を特性インピーダンスデータベース値として選択する。
【００９８】
差分値は、｜特性インピーダンスデータベース値−対象値｜＝｜０．１５−０．１６｜＝０．０１となる。
ここで、差分値０．０１は、ステップ値の半分０．０２５以下であるので、０．１５（ｍｍ）を該当値に決定する。
【００９９】
また、配線幅は、最終パラメータではないため、次のパラメータとして配線間隔を選択する。そして、設計データテーブル１３１から抽出した配線間隔の値「０．４８」を対象値に決定する。また、各特性インピーダンスデータテーブル１２１を参照すると、各特性インピーダンスデータテーブル１２１の配線間隔の刻み幅は、０．１（ｍｍ）である。従って、ステップ値を「０．１」に決定する。また、特性インピーダンスデータベース値の初期値を最も小さい配線間隔「０．３」に決定する。
【０１００】
この条件において、差分値は、｜特性インピーダンスデータベース値−対象値｜＝｜０．３−０．４８｜＝０．１６となる。
ステップ値の半分は、ステップ値／２＝０．１／２＝０．０５となる。
【０１０１】
ここで、差分値０．１６は、ステップ値の半分０．０５以下ではないので、次の特性インピーダンスデータテーブル１２１における配線間隔の値「０．４」を特性インピーダンスデータベース値として選択する。
【０１０２】
差分値は、｜特性インピーダンスデータベース値−対象値｜＝｜０．４−０．４８｜＝０．０８となる。
ここで、差分値０．０８は、ステップ値の半分０．０５以下ではないので、次の特性インピーダンスデータテーブル１２１における配線間隔の値「０．５」を特性インピーダンスデータベース値として選択する。
【０１０３】
差分値は、｜特性インピーダンスデータベース値−対象値｜＝｜０．５−０．４８｜＝０．０２となる。
ここで、差分値０．０２は、ステップ値の半分０．０５以下であるので、０．５（ｍｍ）を該当値に決定する。
【０１０４】
また、配線間隔は、最終パラメータであるため、特性インピーダンスデータテーブル１２１を参照し、誘電率「４．３」、層間隔「０．３」、配線幅「０．１５」、および、配線間隔「０．５」に一致する特性インピーダンス９４．８Ωを抽出する。
【０１０５】
＜シミュレーションモデルの作成＞
図１２は、シミュレーションモデルの作成の一例を示す図である。
図１２は、モデル作成部１５０が配線モデル１３、１４から作成した伝送路モデル１５１を示している。
【０１０６】
伝送路モデル１５１のＸ軸は、配線モデルの物理的な位置を示している。Ｙ軸は、特性インピーダンス算出部１４０が抽出した特性インピーダンスを示している。
また、図１２は、モデル作成部１５０が伝送路モデル１５１と伝送路ライブラリ１５２から作成したシミュレーションモデル１５３を示している。
【０１０７】
シミュレーションモデル１５３は、特性インピーダンスが同一の区間は、連続的な区間モデルとして表されており、特性インピーダンスが異なる部分では、区間モデルが途切れている。
【０１０８】
＜合否判定＞
図１３は、モニタに表示された合否判定の一例を示す図である。
合否判定部１７０は、作成されたアイパターン波形１７１に、受信素子モデル１２の規格であるマスク１７２を当てはめ、マスク１７２に対するアイパターン波形１７１の割り込み有無を確認することによって、配線設計の品質に関する配線間隔の合否を判定する。図１３に示すアイパターン波形１７１は、マスク１７２を覆う部分が存在しないので、合否判定部１７０は、配線モデルの配線間隔が合格であると判定する。
【０１０９】
以上述べたように、本実施の形態の配線間隔検証装置１００によれば、特性インピーダンス算出部１４０が、式（２）に基づいて、適切な特性インピーダンス算出区間の区間長を算出した。これにより、ユーザのスキルにかかわらず、適切な特性インピーダンス算出区間の区間長を設定することができる。従って、この区間長によるシミュレーションモデルを作成し、合否判定を行うことで、ユーザは対象ネットの選択を行うだけで、信頼性の高い配線間隔の合否を容易に取得することができる。
【０１１０】
また、区間長の設定に伴う演算は、例えば、３次元電磁解析ソフトが実行する演算等に比べて簡易な演算であり、演算処理に要する時間を短縮することができる。
また、本実施の形態では隣接する２信号を、差動ペアを構成する２信号としたが、開示の配線間隔検証装置１００は、それぞれが独立したシングル配線を有する検証対象回路モデルにも適用することができる。
【０１１１】
図１４は、シングル配線を有する検証対象回路モデルの一例を示す図である。なお、図４と同様の機能を有する部位には、同じ符号を付し、詳しい説明を省略する。
図１４に示す検証対象回路モデル２０ａは、送信素子モデル１１ａが生成したシングルエンド信号を受信素子モデル１２ａに伝送する配線モデル１３が形成されている。また、送信素子モデル１１ｂが生成したシングルエンド信号を受信素子モデル１２ｂに伝送する配線モデル１４が形成されている。この場合、送信素子モデル１１ａ、１１ｂのｔｒｔｆが異なる場合には、いずれか小さい方のｔｒｔｆを用いて式（２）を計算し、区間長を決定するのが好ましい。これにより、合否判定の精度を高めることができる。
【０１１２】
また、本実施の形態では、配線モデルの全体に亘って区間長を算出するようにした。しかし、これに限らず、配線モデルの特定の部位のみについて区間長を算出するようにしてもよい。
【０１１３】
例えば、配線モデルの物理形状の変化点、例えば、図１４に示す配線モデル１３、１４では、ほぼ直角に折れ曲がる屈曲部１３ａ、１４ａおよび屈曲部１３ｂ、１４ｂをそれぞれ変化点に設定する。そして各変化点の近傍の区間長を算出し、算出した区間長における特性インピーダンスのみの合否判定を行う。そして、その合否判定をもって配線モデル１３、１４全体の合否結果とするようにしてもよい。これにより、演算時間を短縮し、処理の高速化が図れる。
【０１１４】
また、変化点は、屈曲部分に限らず、誘電特性が変化する点を設定するようにしてもよい。
また、区間長を算出する区間は、ユーザが任意に決定してもよいし、変化点を中心として両側に特性インピーダンス算出区間を所定区間（例えば、１区間）ずつ設けるようにしてもよい。
【０１１５】
ところで、本実施の形態では、インピーダンスの不連続点を検出することを目的としている。このため、配線モデルの伝送路全体に亘って一様に特性インピーダンスが基準インピーダンスからずれている場合は、検出漏れが発生する可能性がある。従って、配線モデルの伝送路全体の特性インピーダンスの平均値を求め、この平均値が基準インピーダンスを含む所定のばらつき基準を満たさない場合は、警告メッセージの表示や、警告音等によりアラームをユーザに報知するようにしてもよい。
【０１１６】
＜第３の実施の形態＞
次に、第３の実施の形態の配線間隔検証装置について説明する。
以下、第３の実施の形態の配線間隔検証装置について、前述した第２の実施の形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
【０１１７】
第３の実施の形態の配線間隔検証装置は、配線方向を横軸とした特性変化の分布図を利用し図式的な指標を設定して合否判定する点が第２の実施の形態の配線間隔検証装置１００と異なっている。
【０１１８】
図１５は、第３の実施の形態の配線間隔検証装置の機能を示すブロック図である。
第３の実施の形態の配線間隔検証装置１００ａは、特性インピーダンス算出部１４０の機能が一部異なる特性インピーダンス算出部１４０ａを有している。また、モデル作成部１５０とシミュレーション実行部１６０と合否判定部１７０の代わりに不整合面積算出部１８０と合否判定部１７０ａとを有している。
【０１１９】
特性インピーダンス算出部１４０ａは、所定数分の各特性インピーダンス算出区間における特性インピーダンスの基準となる値を示す基準インピーダンスを算出する。なお、本実施の基準インピーダンスは、第２の実施の形態の式（４）にて示した基準インピーダンスとは別個の概念である。
【０１２０】
図１６は、基準インピーダンスの算出例を示す図である。
特性インピーダンス算出部１４０ａは、基準インピーダンスを算出する対象区間を決定する。具体的には、まず、送信素子モデル１１に接続されている配線モデル１３、１４の特性インピーダンス算出区間を対象区間とする。そして、当該対象区間を含み、受信素子モデル１２に向かう方向の所定数分（以下、１１個とする）の特性インピーダンス算出区間を基準インピーダンス算出区間とする。特性インピーダンス算出区間の個数は、例えば、ユーザが設定することができる。
【０１２１】
特性インピーダンス算出部１４０ａは、対象区間を受信素子モデル１２の方向に遷移させながら、全ての特性インピーダンス算出区間を対象区間とする。具体的には、次の対象区間は、送信素子モデル１１に接続されている配線モデル１３、１４の特性インピーダンス算出区間に隣接する特性インピーダンス算出区間となる。この場合、当該対象区間と、当該対象区間の送信素子モデル１１側に隣接する１つの特性インピーダンス算出区間と、当該対象区間の受信素子モデル１２側に隣接する９つの特性インピーダンス算出区間の計１１個の特性インピーダンス算出区間を基準インピーダンス算出区間とする。
【０１２２】
対象区間の遷移がある程度進み、前後５つの特性インピーダンス算出区間が確保できるまで、このような処理を行う。
図１６（ａ）は、対象区間の遷移がある程度進み、図１６（ａ）中、左右５つの特性インピーダンス算出区間が確保できる状態を示している。
【０１２３】
各特性インピーダンス算出区間における特性インピーダンスが、それぞれ、左側から１００Ω、１００Ω、１００Ω、１００Ω、１０５Ω、１１０Ω、１０５Ω、１００Ω、１００Ω、１００Ω、１００Ωであれば、図１６（ｂ）のヒストグラムに示すように、その中の最も数の多い（ヒストグラムの頂点の）特性インピーダンス１００Ωを当該対象区間の基準インピーダンスに決定する。なお、ヒストグラムの頂点を求める際には一般的なプログラム言語に用意されているＭＡＸ関数を使用することができる。
【０１２４】
再び図１５に戻って説明する。
不整合面積算出部１８０は、各特性インピーダンス算出区間それぞれの区間において、基準インピーダンスと特性インピーダンス曲線との差分を求める。これを特性インピーダンス算出区間それぞれの不整合面積とする。各区間の不整合面積は、次式（５）で表される。
【０１２５】
不整合面積＝ｔｒｔｆ（ｎｓ）×基準インピーダンス（Ω）×判定係数Ａ・・・（５）
なお、判定係数Ａは、実使用上問題の無いような小さな不整合を積算の対象から除外する等の目的で設けられている。この判定係数Ａは、後述する判定係数Ｂとの間で関連性を有している。一例として、後述する判定係数Ｂが０．１の場合、判定係数Ａは、その１／１０倍である０．０１等に設定することができる。
【０１２６】
そして、不整合面積が存在する区間が連続して存在する場合、その区間をひとまとまりとして不整合面積を合算する。合算の結果得られた値を連続不整合面積とする。なお、連続区間は、前区間の不整合面積の有無を条件として、不整合面積が０となるまでの区間とする。
【０１２７】
図１７は、不整合面積の算出を説明する図である。
図１７に示す基準インピーダンス算出区間の基準インピーダンスは、１００Ωである。左側から４つの特性インピーダンス算出区間では、特性インピーダンス曲線と基準インピーダンスとの差分は０である。左側から５個目の特性インピーダンス算出区間では、特性インピーダンス曲線と基準インピーダンスとの差分は５Ωである。左側から６個目の特性インピーダンス算出区間では、特性インピーダンス曲線と基準インピーダンスとの差分は１０Ωである。左側から７個目の特性インピーダンス算出区間では、特性インピーダンス曲線と基準インピーダンスとの差分は５Ωである。左側から８個目〜１１個目の特性インピーダンス算出区間では、特性インピーダンス曲線と基準インピーダンスとの差分は０である。
【０１２８】
このように、５個目〜７個目の特性インピーダンス算出区間において、連続して不整合面積が存在する。図１７では、５個目の特性インピーダンス算出区間の斜線部の不整合面積Ｍ１は、１０５（Ω）×０．５（ｎｓ）＝５２．５（Ω・ｎｓ）である。６個目の特性インピーダンス算出区間の斜線部の不整合面積Ｍ２は、１１０（Ω）×０．５（ｎｓ）＝５５（Ω・ｎｓ）である。７個目の特性インピーダンス算出区間の斜線部の不整合面積Ｍ３は、１０５（Ω）×０．５（ｎｓ）＝５２．５（Ω・ｎｓ）である。
【０１２９】
次に、連続不整合面積を求める。５個目〜７個目の特性インピーダンス算出区間において、連続して不整合面積が存在するため、５個目〜７個目の特性インピーダンス算出区間における不整合面積の和が、連続不整合面積となる。具体的には、連続不整合面積＝５２．５（Ω・ｎｓ）＋５５（Ω・ｎｓ）＋５２．５（Ω・ｎｓ）＝１６０（Ω・ｎｓ）となる。
【０１３０】
再び図１５に戻って説明する。
合否判定部１７０ａは、送信素子に接続された配線開始区間から最終区間までの不整合面積の和が、許容できる値以内か否かを判断することにより、配線間隔の合否を判定する。具体的には、次式（６）を使用して合否を判定する。
【０１３１】
連続不整合面積＜ｔｒｔｆ（ｎｓ）×基準インピーダンス（Ω）×判定係数Ｂ・・・（６）
ここで、判定係数Ｂは、特性インピーダンス曲線の基準インピーダンスに対するずれを許容する値であり、任意に定めることができる。一例として、０．１等が挙げられる。０．１の場合、特性インピーダンス曲線の、基準インピーダンスに対する１０％のずれを許容していることを示している。
【０１３２】
上記式（６）を満たす関係であれば、合否判定部１７０ａは、配線モデルの配線間隔が合格であると判定する。
このような判定処理を行うことにより、使用上看過できる不整合を配線間隔エラーの対象から除外することができる。
【０１３３】
図１８は、第３の実施の形態の配線間隔検証装置の全体処理を示すフローチャートである。第２の実施の形態の処理と同じ処理には同じステップ番号を付し、その説明を省略する。
【０１３４】
［ステップＳ３ａ］  特性インピーダンス算出部１４０ａは、送信素子モデルに隣接する特性インピーダンス算出区間を対象区間に決定する。その後、ステップＳ４ａに遷移する。
【０１３５】
［ステップＳ４ａ］  特性インピーダンス算出部１４０ａは、決定した対象区間により決定される基準インピーダンス算出区間における基準インピーダンスを算出する。その後、ステップＳ５ａに遷移する。
【０１３６】
［ステップＳ５ａ］  不整合面積算出部１８０は、不整合面積を算出する。その後、ステップＳ６ａに遷移する。
［ステップＳ６ａ］  不整合面積算出部１８０は、当該基準インピーダンス算出区間において、不整合面積が存在する区間が連続して存在するか否かを判断する。不整合面積が存在する区間が連続して存在する場合（ステップＳ６ａのＹｅｓ）、ステップＳ７ａに遷移する。不整合面積が存在する区間が連続して存在しない場合（ステップＳ６ａのＮｏ）、ステップＳ８ａに遷移する。
【０１３７】
［ステップＳ７ａ］  不整合面積算出部１８０は、連続した不整合面積が存在する区間について連続不整合面積を算出する。その後、ステップＳ８ａに遷移する。
［ステップＳ８ａ］  不整合面積算出部１８０は、不整合面積を算出した区間が最終区間、つまり、受信素子モデルと接続されている区間か否かを判定する。最終区間に該当しない場合（ステップ８ａのＮｏ）、ステップＳ９ａに遷移する。最終区間に該当する場合（ステップＳ８ａのＹｅｓ）、ステップＳ１０ａに遷移する。
【０１３８】
［ステップＳ９ａ］  次の特性インピーダンス算出区間（現在の対象区間に隣接する特性インピーダンス算出区間）に遷移する。その後、ステップＳ４ａに遷移し、当該特性インピーダンス算出区間を対象区間とし、ステップＳ４ａ以降の処理を継続して行う。
【０１３９】
［ステップＳ１０ａ］  合否判定部１７０ａは、開始区間から最終区間までの連続不整合面積の和に対し合否判定を実施する。判定基準は前述した式（６）を用いる。その後、全体処理を終了する。
【０１４０】
以上で、配線間隔検証装置１００ａの処理の説明を終了する。
この第３の実施の形態の配線間隔検証装置１００ａによれば、第２の実施の形態の配線間隔検証装置１００と同様の効果が得られる。
【０１４１】
そして、第３の実施の形態の配線間隔検証装置１００ａによれば、さらに、シミュレーションに要する計算時間を省略し、検証処理全体の動作時間を短縮することが可能となる。
【０１４２】
なお、本実施の形態では、ヒストグラムの頂点の特性インピーダンス１００Ωを特性インピーダンス算出区間の基準インピーダンスに決定した。しかし、これに限らず、不整合部分が伝送路全体に対し少ないことを前提とすれば、特性インピーダンスの平均値を基準インピーダンスとすることもできる。これにより、より簡単な計算式で基準インピーダンスを算出することができる。この方法によれば、例えば、図１６（ａ）に示す基準インピーダンス算出区間における基準インピーダンスは、（１００×８＋１０５×２＋１１０×１）／１１＝１０１．８（Ω）となる。
【０１４３】
＜第４の実施の形態＞
次に、第４の実施の形態の配線間隔検証装置について説明する。
以下、第４の実施の形態の配線間隔検証装置について、前述した第２の実施の形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
【０１４４】
第４の実施の形態の配線間隔検証装置は、特性インピーダンスの基準となる広域導体（ベタ）に欠損が存在する場合に対応する機能を有している点が第２の実施の形態の配線間隔検証装置１００と異なっている。
【０１４５】
図１９は、第４の実施の形態の基板モデルの構造を示す斜視図である。
図１９に示す検証対象回路モデル２０ｂの基板モデル１０ａには、例えば、層間の配線を通すために、配線モデル１３、１４が配置されている層の１つ下のグランド層に設けられた欠損領域モデル（貫通孔モデル）１５が形成されている。
【０１４６】
配線モデル１３、１４と欠損領域モデル１５が近接すると、配線モデル１３、１４の特性インピーダンスが不整合の状態になる可能性がある。特性インピーダンスの不整合は、信号特性の劣化をもたらす。
【０１４７】
ここで、欠損領域によって配線モデルに信号特性の劣化が生じるのは、図１９に示す基板モデル１０ａでは、配線モデル１３、１４が形成されている誘電体層と同一の誘電体層、一層上の誘電体層、または一層下の誘電体層に欠損領域モデル１５が存在し、平面透視で近接している場合である。
【０１４８】
配線間隔検証装置１００ｂは、基板モデルの配線構造の設計段階における作業効率を向上させるために、特性インピーダンスの変化量の大きい配線モデルを計算によって求める。この特性インピーダンスの変化量の計算にあたっては、第２の実施の形態にて求めた区間長を設定する。
【０１４９】
次に、第４の実施の形態の配線間隔検証装置１００ｂの機能を説明する。
図２０は、第４の実施の形態の配線間隔検証装置の機能を示すブロック図である。
配線間隔検証装置１００ｂは、設計ＤＢ１３０が記憶する情報に加え、新たな情報が記憶されている設計ＤＢ１３０ａと、特性インピーダンス算出部１４０が有する機能に加え、新たな機能が追加されている特性インピーダンス算出部１４０ｂとを有している。また、配線間隔検証装置１００ｂは、欠損領域検出部１９０と、雑音係数ＤＢ２００と、面積算出部２１０とをさらに有している。
【０１５０】
欠損領域検出部１９０および面積算出部２１０は、ＣＰＵ１０１の一機能により実現することができる。また、雑音係数ＤＢ２００は、ＨＤＤ１０３の一機能により実現することができる。
【０１５１】
設計ＤＢ１３０ａは、欠損領域モデルに関するデータ（欠損領域データ）を有している。
図２１は、第４の実施の形態の欠損領域データを示す図である。
【０１５２】
図２１に示す欠損領域データテーブル１３２には、ネット番号、配線層、直径および中心座標の欄が設けられている。横方向に並べられた情報同士が互いに関連づけられている。
【０１５３】
ネット番号の欄には欠損領域モデルを識別する情報が設定されている。
配線層の欄には、基板モデルの、欠損領域モデルが存在する層を識別する情報が設定されている。
【０１５４】
直径（ｍｍ）の欄には、欠損領域モデルの直径（最大直径）が設定されている。
中心座標（ｍｍ）の欄は、さらに、Ｘ座標およびＹ座標の欄に分かれている。ここで、Ｘ座標、Ｙ座標は、例えば、図１９に示す基板モデル１０ａの左下の頂点を基準（０，０）とし、頂点から他の頂点へ向かう辺をそれぞれＸ軸、Ｙ軸としたときの座標を表している。
【０１５５】
Ｘ座標の欄は、当該欠損領域モデルの中心のＸ座標が設定されている。Ｙ座標の欄は、当該欠損領域モデルのＹ座標が設定されている。
再び図２０に戻って説明する。
【０１５６】
欠損領域検出部１９０は、設計データテーブル１３１に設定されている配線モデルのＸ座標、Ｙ座標と、図２１に示す欠損領域データテーブル１３２に設定されている欠損領域モデルのＸ座標、Ｙ座標とに基づき、平面透視における配線モデルに対する欠損領域モデルの位置関係を分類し、分類結果を作成する。詳細については、図２２を用いて後述する。
【０１５７】
面積算出部２１０は、パラメータ入力受付部１１０が特定した対象ネットの配線モデルを抽出し、平面透視で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内にある欠損領域の面積を計算する。
【０１５８】
特性インピーダンス算出部１４０ｂは、欠損領域検出部１９０によって分類された配線モデルおよび欠損領域モデルの位置関係と、面積算出部２１０によって計算された欠損領域モデルの面積とを用いて、計算対象となる配線モデルの特性インピーダンスの変化量を区間長毎に計算する。
【０１５９】
次に、配線間隔検証装置１００ｂにおける配線モデルと欠損領域の位置関係の判定について説明する。位置関係の判定は、欠損領域検出部１９０によって実行される。
図２２は、第４の実施の形態の配線間隔検証装置における配線モデルと欠損領域の位置関係を分類した結果の一例を示す図である。
【０１６０】
図２２に示す分類データテーブル１９１は、分類結果を表すデータを有するテーブルである。
欠損領域検出部１９０は、設計データテーブル１３１に示す配線モデルのＸ座標、Ｙ座標と、欠損領域データテーブル１３２に示す欠損領域モデルのＸ座標、Ｙ座標とに基づき、平面透視における配線モデルに対する欠損領域モデルの位置を分類する。
【０１６１】
また、欠損領域検出部１９０は、平面透視における位置関係の分類に加えて、欠損領域モデルが配線モデルと同一層、一層上の層、または一層下の層のいずれかにあるか否か（すなわち、欠損領域と配線モデルの間が２層以上離れていないか否か）を判定する。
【０１６２】
具体的には、欠損領域検出部１９０は、配線モデルの各区間を表す始点および終点のＸ座標値、Ｙ座標値と、欠損領域データテーブル１３２に示す欠損領域モデルのＸ座標値、Ｙ座標値とのＸＹ座標上における位置関係を算出することにより、平面透視における配線モデルに対する欠損領域モデルの位置を分類する。平面透視における配線モデルに対する欠損領域モデルの位置は、配線の片側、両側、または、真上／真下のいずれかに分類される。
【０１６３】
分類データテーブル１９１の該当する部分には、「１」が設定され、非該当の部分には「０」が設定される。
また、欠損領域検出部１９０は、配線モデルの配線層の番号から、欠損領域モデルの配線層の番号を減算した値が、０、＋１、または−１のいずれかに該当するか否かを判定する。＋２以上、または−２以下の場合は、配線モデルと欠損領域モデルとの間に別のベタモデルが形成されていると考えられるため、判断対象となっている配線モデルと欠損領域モデルとの間には、信号特性の劣化に繋がる関連性が低いと考えることができるからである。
【０１６４】
以上の判定を行うことにより、欠損領域検出部１９０は、配線モデルと欠損領域モデルの位置関係を分類し、分類データテーブル１９１を作成する。
図２３は、雑音係数ＤＢに格納される特性インピーダンスの増加特性を示す図である。
【０１６５】
この増加特性を表すデータは、特性インピーダンスの変化量を計算するために用いられるデータであり、配線モデルと欠損領域モデルの位置関係に対する欠損領域モデルの単位面積あたりの特性インピーダンスの増加（劣化）を表すデータである。
【０１６６】
図２３に示す増加特性を表すデータは、配線モデルおよび欠損領域モデルの位置関係と、欠損領域モデルの大きさとに対する配線モデルの信号特性の変化量を表している。
配線モデルと欠損領域モデルの位置関係は、（Ａ）配線モデルの真上または真下に欠損領域モデルが位置する、（Ｂ）配線モデルの両側に欠損領域モデルが位置する、または、（Ｃ）配線モデルの片側のみに欠損領域モデルが位置する、の３つのパターンに分類できる。ここで、配線モデルの理想的な特性インピーダンスを５０（Ω）とすると、位置関係（Ｃ）、（Ｂ）、（Ａ）の順に特性インピーダンスの不整合度合が高まるため、図２３に示す特性は、位置関係（Ａ）の特性インピーダンスが一番高くなり、位置関係（Ｂ）、（Ｃ）の順で特性インピーダンスが低下するように増加係数（特性の傾き）が設定されている。
【０１６７】
図２４は、第４の実施の形態の配線間隔検証装置で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲を説明するための図である。
図２４には、基板モデル１０ａに形成された配線モデル１３と欠損領域モデル１５の位置関係と、特性インピーダンスの変化量を計算する幅方向の範囲（計算対象となる幅方向の範囲）を拡大して示している。
【０１６８】
配線間隔検証装置１００ｂは、計算対象となる幅方向の範囲を予め設定してから特性インピーダンスの変化量を計算する。
計算対象となる幅方向の範囲は、ユーザが指定することができる。ユーザの指定は、パラメータ入力受付部１１０が受け付ける。
【０１６９】
ここでは、例えば、配線モデル１３の配線幅（０．１ｍｍ）の４０倍（４．０ｍｍ）に設定された場合を例示する。
図２４に示すように、平面透視において配線モデル１３の近傍に位置する欠損領域モデル１５のうちの部分１５ａ（斜線で示す部分）が配線モデル１３から４．０ｍｍ以内に含まれる範囲である。
【０１７０】
この場合、配線間隔検証装置１００ｂは、欠損領域モデル１５のうち、計算対象となる幅方向の範囲に含まれる部分１５ａによる配線モデル１３の特性インピーダンスの変化量を求める。この特性インピーダンスの変化量を把握することにより、配線モデル１３の信号特性に与える影響を把握することができる。同様の手法で配線モデル１４についても信号特性による影響を把握することができる。
【０１７１】
図２５は、第４の実施の形態の配線間隔検証装置で特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内に存在する欠損領域の面積の算出方法を説明するための図である。ここでは、配線モデル１３と欠損領域モデル１５を用いて説明する。
【０１７２】
欠損領域検出部１９０は、特性インピーダンスの変化量の計算を行う幅方向の範囲内における欠損領域モデル１５を検出する。面積算出部２１０は、欠損領域検出部１９０の検出結果に基づいて、欠損領域モデル１５の面積を算出する。
【０１７３】
欠損領域モデル１５の検出および面積の計算においては、特性インピーダンスの変化量の計算の対象となる配線モデル１３の始点から終点にかけて、計算を行う幅方向の範囲内にある領域を所定面積の正方形のメッシュに区画する。そして、配線モデル１３をメッシュの辺の長さの区間に分割し、メッシュ毎に欠損領域モデル１５の有無を判定する。
【０１７４】
欠損領域モデル１５の有無の判定では、メッシュ内の少なくとも一部に欠損領域モデル１５が存在していれば、そのメッシュは欠損領域「有」と判定する。すなわち、欠損領域「無」と判定されるのは、判定対象となるメッシュ内に、欠損領域モデル１５が全く存在しない場合である。
【０１７５】
なお、メッシュの一辺の長さは、区間長に設定される。
本実施の形態では、メッシュを表す一辺の長さを０．５ｍｍに設定するため、配線モデル１３を長さ方向に０．５ｍｍの区間に分割する。そして、面積算出部２１０が区間毎に欠損領域モデル１５の面積を計算する。
【０１７６】
なお、メッシュの座標は、メッシュの四隅の座標のうち、数値が一番小さいものを用いる。すなわち、図２５では、左下の頂点の座標値を、メッシュを特定する座標として用いる。
【０１７７】
図２５に示す例では、Ｘ＝２８．５〜３１．５の範囲、かつ、Ｙ＝２０．０〜２２．０の範囲に含まれるメッシュについて、Ｘ軸方向に０．５ｍｍ毎に刻んだ区間毎に、欠損領域モデル１５の有無を判定する。なお、図２５では、欠損領域モデル１５が「有」と判定されたメッシュ内に「有」の文字を記し、欠損領域モデル１５が「無」と判定されたメッシュ内に「無」の文字を記す。
【０１７８】
また、配線モデル１３の区間毎の面積は、区間毎のメッシュの数より、Ｘ＝２８．５〜２９．０の区間では０．５ｍｍ2、Ｘ＝２９．０〜２９．５の区間では０．５ｍｍ2、Ｘ＝２９．５〜３０．０の区間では０．５ｍｍ2、Ｘ＝３０．０〜３０．５の区間では０．５ｍｍ2、Ｘ＝３０．５〜３１．０の区間では０．５ｍｍ2、Ｘ＝３１．０〜３１．５の区間では０．２５ｍｍ2となる。
【０１７９】
図２６は、図２５の判定結果を表形式で示す図である。
欠損領域「有」と判定されたメッシュには、フラグ“１”を立て、欠損領域「無」と判定された単位面積には、フラグを“０”に設定する。このフラグは、特性インピーダンス算出部１４０ｂが特性インピーダンスの変化量を算出する際に用いる。
【０１８０】
図２６に示す判定結果では、配線モデル１３、１４の各区間における欠損領域モデル１５の面積は、区間毎の欠損領域「有」を表すフラグ“１”の数に、メッシュの単位面積（０．２５ｍｍ2）を乗じた値として表される。
【０１８１】
なお、図２６には、配線モデル１３についての判定結果を示すが、パラメータ入力受付部１１０によって作成される属性情報に該当する配線モデルのすべての区間について、同様の判定結果を得ることができる。
【０１８２】
図２７は、図２５に示す欠損領域モデルによって影響を受ける配線モデルの特性インピーダンスを表現するモデルを示す図である。
モデル１４２は、図２３に示す特性と図２６に示す判別結果に基づき、特性インピーダンス算出部１４０ｂによって作成される。
【０１８３】
特性インピーダンス算出部１４０ｂは、図２３に示す特性と図２６に示す判別結果とを用いて、配線モデルの各区間における欠損領域により影響を受ける特性インピーダンスを算出する。
【０１８４】
ここで、配線モデルの各区間における特性インピーダンスの増加量は、次式（７）で求まる。
増加量＝増加係数×区間内の欠損領域の面積・・・（７）
増加係数は、図２３に示す特性（Ａ）〜（Ｃ）のいずれかの増加係数である。
【０１８５】
各区間で欠損領域モデル１５は配線モデル１３の片側に位置しているため、図２３に示す（Ｃ）の特性を用いると、Ｘ＝２８．５〜２９．０の区間では４Ω、Ｘ＝２９．０〜２９．５の区間では４Ω、Ｘ＝２９．５〜３０．０の区間では４Ω、Ｘ＝３０．０〜３０．５の区間では４Ω、Ｘ＝３０．５〜３１．０の区間では４Ω、Ｘ＝３１．０〜３１．５の区間では２Ωとなる。
【０１８６】
このようにして、配線モデル１３の各区間における増加量が特性インピーダンス算出部１４０ｂによって求められる。なお、特性インピーダンス算出部１４０ｂによる増加量の計算は、配線モデル１４についても同様に行うことができる。
【０１８７】
図２８は、第４の実施の形態の配線間隔検証装置における配線モデルの区間毎の特性インピーダンスの計算結果を示す図である。
図２８の表は、図２７に示す配線モデル１３、１４の特性インピーダンスの計算結果を表形式で示すデータであり、特性インピーダンス算出部１４０によって計算された後、ＨＤＤ１０３に格納される。図２８におけるＸＹ座標は、各区間の始点の座標を表す。図２８には、（Ｘ，Ｙ）＝（２８．５，２０．０）〜（３１．５，２０．０）の区間における計算結果のみを示すが、実際には、属性条件等によって指定される配線モデル１３、１４のすべての区間について計算が行われる。
【０１８８】
図２８に示す特性インピーダンスの欄には、特性インピーダンス算出部１４０ｂが、図１０に示す近似計算処理によって算出した特性インピーダンスに、式（７）にて算出した増加量を加算した値が設定されている。
【０１８９】
次に、第４の実施の形態の配線間隔検証装置１００ｂの処理を説明する。
図２９は、第４の実施の形態の配線間隔検証装置の全体処理を示すフローチャートである。第２の実施の形態の処理と同じ処理には同じステップ番号を付し、その説明を省略する。
【０１９０】
［ステップＳ３ｂ］  特性インピーダンス算出部１４０ｂは、欠損部により増加する各特性インピーダンス算出区間の増加量を算出する。そして、求めた増加量を、ステップＳ３にて求めた特性インピーダンスに加算する。その後、ステップＳ４ｂに遷移する。
【０１９１】
［ステップＳ４ｂ］  モデル作成部１５０が、ステップＳ３ｂにて算出された特性インピーダンスに基づいてシミュレーションモデルを作成する。その後、ステップＳ５に遷移する。
【０１９２】
以上で、第４の実施の形態の配線間隔検証装置１００ｂの全体処理の説明を終了する。
この第４の実施の形態の配線間隔検証装置によれば、第２の実施の形態の配線間隔検証装置１００と同様の効果が得られる。
【０１９３】
そして、第４の実施の形態の配線間隔検証装置１００ｂによれば、さらに、特性インピーダンスの基準となる広域導体（ベタ）に欠損があるような場合でも、その影響を算出する手法とともに用いることにより、両者の複合要因を加味したシミュレーションを実施することが可能である。
【０１９４】
以上、本発明の配線間隔検証プログラムおよび配線間隔検証装置を、図示の実施の形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置換することができる。また、本発明に、他の任意の構成物や工程が付加されていてもよい。
【０１９５】
また、本発明は、前述した各実施の形態のうちの、任意の２以上の構成（特徴）を組み合わせたものであってもよい。
また、配線間隔検証装置１００、１００ａ、１００ｂが行った処理が、複数の装置によって分散処理されるようにしてもよい。例えば、１つの装置が、区間長の算出処理までを行っておき、他の装置が、その区間長を用いて配線モデルの合否の判定を行うようにしてもよい。
【０１９６】
なお、上記の処理機能は、コンピュータによって実現することができる。その場合、配線間隔検証装置１００、１００ａ、１００ｂが有する機能の処理内容を記述したプログラムが提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記処理機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録しておくことができる。コンピュータで読み取り可能な記録媒体としては、例えば、磁気記録装置、光ディスク、光磁気記録媒体、半導体メモリ等が挙げられる。磁気記録装置としては、例えば、ハードディスク装置（ＨＤＤ）、フレキシブルディスク（ＦＤ）、磁気テープ等が挙げられる。光ディスクとしては、例えば、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＣＤ−Ｒ（Recordable）／ＲＷ（ReWritable）等が挙げられる。光磁気記録媒体としては、例えば、ＭＯ（Magneto-Optical disk）等が挙げられる。
【０１９７】
プログラムを流通させる場合には、例えば、そのプログラムが記録されたＤＶＤ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬型記録媒体が販売される。また、プログラムをサーバコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータから他のコンピュータにそのプログラムを転送することもできる。
【０１９８】
配線間隔検証プログラムを実行するコンピュータは、例えば、可搬型記録媒体に記録されたプログラムもしくはサーバコンピュータから転送されたプログラムを、自己の記憶装置に格納する。そして、コンピュータは、自己の記憶装置からプログラムを読み取り、プログラムに従った処理を実行する。なお、コンピュータは、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み取り、そのプログラムに従った処理を実行することもできる。また、コンピュータは、サーバコンピュータからプログラムが転送される毎に、逐次、受け取ったプログラムに従った処理を実行することもできる。
【０１９９】
以上の第１〜第４の実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
（付記１）  基板モデルに配置された配線モデルの間隔の合否を検証する配線間隔検証プログラムにおいて、
コンピュータに、
前記各配線モデルの信号の伝搬速度と、前記信号を送信する素子モデルの立ち上がり時間または立ち下がり時間とに基づいて、前記配線モデルの特性インピーダンスを算出する区間となる区間長を設定する算出手順、
を実行させることを特徴とする配線間隔検証プログラム。
【０２００】
（付記２）  前記算出手順では、さらに、前記区間における反射波の振幅が入射波の振幅の所定倍以下になるよう決定された係数に基づいて、前記区間長を設定することを特徴とする付記１記載の配線間隔検証プログラム。
【０２０１】
（付記３）  前記コンピュータを、さらに、複数の前記配線モデルに関する条件と前記条件に対応する特性インピーダンスとを関連づけて記憶する記憶手段として機能させ、
前記算出手順では、特性インピーダンス算出対象となる前記配線モデルに関する条件と、前記記憶手段に記憶された前記配線モデルに関する条件とを比較し、特性インピーダンス算出対象となる前記配線モデルに関する条件に最も近い前記記憶手段に記憶された条件に関連づけられた特性インピーダンスを、前記対象配線の特性インピーダンスに決定することを特徴とする付記１記載の配線間隔検証プログラム。
【０２０２】
（付記４）  前記コンピュータに、さらに、
予め定めた複数の前記区間の基準インピーダンスを算出する基準インピーダンス算出手順、
前記基準インピーダンスの算出対象となった前記各区間の特性インピーダンスについて区間長方向の分布図を作成し、作成した前記分布図から前記基準インピーダンスとの不整合の度合いを示す指標を算出する不整合度算出手順、
前記不整合度算出手順により算出された前記指標により前記配線の合否を判定する判定手順、
を実行させることを特徴とする付記１記載の配線間隔検証プログラム。
【０２０３】
（付記５）  前記指標は、前記分布図の各区間における、前記基準インピーダンスと前記各区間の特性インピーダンスによって囲まれた面積の積算値であることを特徴とする付記４記載の配線間隔検証プログラム。
【０２０４】
（付記６）  前記不整合度算出手順では、前記各区間の前記面積が、予め決定した基準値以下である場合、当該区間の面積を積算の対象から除外することを特徴とする付記５記載の配線間隔検証プログラム。
【０２０５】
（付記７）  前記不整合度算出手順では、前記区間における前記配線が伝搬する信号の立ち上がり時間または立ち下がり時間に基づいて前記基準値を算出することを特徴とする付記６記載の配線間隔検証プログラム。
【０２０６】
（付記８）  前記算出手順では、特性インピーダンス算出対象となる前記配線モデルを、前記配線モデルに設定された属性により絞り込むことを特徴とする付記１記載の配線間隔検証プログラム。
【０２０７】
（付記９）  前記算出手順では、さらに、前記基板モデル上の欠損領域による特性インピーダンスの増加量を算出し、
区間毎の前記配線モデルの特性インピーダンスに、さらに、欠損領域による特性インピーダンスの増加量を加算した値を前記区間の特性インピーダンスとすることを特徴とする付記１記載の配線間隔検証プログラム。
【０２０８】
（付記１０）  前記コンピュータに、さらに、
前記配線モデルの物理的な形状または誘電特性の変化点を検出する検出手順を実行させ、
前記算出手順では、前記検出手順により検出された変化点を中心とした両側の所定区間において前記区間長を設定することを特徴とする付記１記載の配線間隔検証プログラム。
【０２０９】
（付記１１）  基板モデルに配置された配線モデルの間隔の合否を検証する配線間隔検証装置において、
前記各配線モデルの信号の伝搬速度と、前記信号を送信する素子モデルの立ち上がり時間または立ち下がり時間とに基づいて、前記配線モデルの特性インピーダンスを算出する区間となる区間長を設定する算出部、
を有することを特徴とする配線間隔検証装置。
【符号の説明】
【０２１０】
１、１００、１００ａ、１００ｂ  配線間隔検証装置
２  算出手段
３、１０、１０ａ  基板モデル
４、５、１３、１４  配線モデル
６、１１、１１ａ、１１ｂ  送信素子モデル
７、１２、１２ａ、１２ｂ  受信素子モデル
１５  欠損領域モデル
１５ａ  部分
２０、２０ａ、２０ｂ  検証対象回路モデル
３１  選択画面
１１０  パラメータ入力受付部
１２０  特性インピーダンスＤＢ
１２１  特性インピーダンスデータテーブル
１３０、１３０ａ  設計ＤＢ
１３１  設計データテーブル
１３２  欠損領域データテーブル
１４０、１４０ａ、１４０ｂ  特性インピーダンス算出部
１４２  モデル
１５０  モデル作成部
１５１  伝送路モデル
１５２  伝送路ライブラリ
１５３  シミュレーションモデル
１６０  シミュレーション実行部
１７０、１７０ａ  合否判定部
１７１  アイパターン波形
１７２  マスク
１８０  不整合面積算出部
１９０  欠損領域検出部
１９１  分類データテーブル
２００  雑音係数ＤＢ
２１０  面積算出部
Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３  不整合面積
【図１】
2011215681.tif 000003
【図２】
2011215681.tif 000004
【図３】
2011215681.tif 000005
【図４】
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【図５】
2011215681.tif 000007
【図６】
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【図７】
2011215681.tif 000009
【図８】
2011215681.tif 000010
【図９】
2011215681.tif 000011
【図１０】
2011215681.tif 000012
【図１１】
2011215681.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
2011215681.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
2011215681.tif 000019
【図１８】
2011215681.tif 000020
【図１９】
2011215681.tif 000021
【図２０】
2011215681.tif 000022
【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
2011215681.tif 000025
【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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