(57)【要約】【課題】オーバヘッドを最小限にして誤り率測定の時間短縮を図る。【解決手段】外部処理装置１０は、送信する試験用のコマンドを一つにパッケージ化したパッケージコマンドを一電文で送信し、誤り率測定装置２０は、外部処理装置１０から送信されたパッケージコマンドを受信した状態のまま出力するとともに、被試験デバイス３０の測定結果データを外部処理装置１０に対して一電文で送信する主制御部２１と、主制御部２１からのパッケージコマンドを解析し、予め設定された設定手順に従って試験用コマンドのコマンド内容に基づくコマンド設定を行う副制御部２２と、副制御部２２によって設定されたコマンド内容に従って被試験デバイス３０の誤り率を測定する誤り率測定部２３とを備えた。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所望の試験条件で被試験デバイス（３０）の誤り率を測定するのに必要な試験用コマンドを送信する外部処理装置（１０）と、
該外部処理装置から送信された試験用コマンドのコマンド内容に基づき、前記被試験デバイスに対してテスト信号を送信し、当該被試験デバイスを介して入力される被測定信号から前記被試験デバイスの誤り率を測定する誤り率測定装置（２０）と、
で構成される前記誤り率測定システム（１）において、
前記外部処理装置は、前記誤り率測定装置に対して送信する試験用のコマンドを一つにパッケージ化したパッケージコマンドを一電文で送信し、
前記誤り率測定装置は、
前記外部処理装置から送信されたパッケージコマンドを受信した状態のまま出力するとともに、前記被試験デバイスの測定結果データを前記外部処理装置に対して一電文で送信する主制御部（２１）と、
該主制御部からの前記パッケージコマンドを解析し、予め設定された設定手順に従って前記試験用コマンドのコマンド内容に基づくコマンド設定を行う副制御部（２２）と、
該副制御部によって設定されたコマンド内容に従って前記被試験デバイスの誤り率を測定する誤り率測定部（２３）と、
を備えたすることを特徴とする誤り率測定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、所望の試験条件に応じて被試験デバイスの誤り率を測定するため試験用コマンドを設定・送信する外部処理装置と、外部処理装置から送信された試験用コマンドに基づき被試験デバイスのビット誤り率を測定する誤り率測定装置とで構成される誤り率測定システムに係り、特に低エラーレート評価時における誤り率測定の時間短縮を図る誤り率測定システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、各種のディジタル無線通信装置が普及している。これらのディジタル無線通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標の一つとして、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率（Bit Error Rate）が周知である。
【０００３】
そして、試験対象となる光電変換部品などの被試験デバイス（Device Under Test ）の誤り率を測定するための装置として、被試験デバイスに対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を検出する誤り率測定装置が知られている。
【０００４】
また、誤り率測定装置として、例えば下記特許文献１に開示されるように、ＰＣ（Personal Computer ）などの外部処理装置から送信される所望の試験条件に応じた試験用コマンド（設定コマンド、測定コマンド、測定結果取得コマンドなど）を入力することで、装置を駆動させる構成のものも知られている。このような構成では、外部処理装置から誤り率測定装置に対して試験用コマンドを送信し、誤り率測定装置は入力したコマンドを順次解析しながらコマンド設定を行って被試験デバイスの誤り率を測定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平８−１４９５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上述したように外部処理装置から送信される試験用コマンドに基づき誤り率測定装置を駆動して被試験デバイスの誤り率を測定する場合、例えば下記処理１〜処理４に示すような測定シーケンスに従って誤り率の測定処理を行っている。
【０００７】
ここで、図４を参照しながら、測定シーケンスに基づく処理例について説明する。
（処理１）
まず、設定コマンド（設定コマンドＡ〜Ｄ）を設定する順に外部処理装置１０１から一つずつ送信する。誤り率測定装置１０２は、１つの設定コマンドを受信すると、受信したコマンドを主制御部１０３（アプリケーションソフトウェア）で解析した後、副制御部１０４（ファームウェア）に出力する。そして、副制御部１０４がコマンド内容に基づき、設定対象となる誤り率測定部１０５（パルスパターン発生器１０５ａ（Pulse Pattern Generator ：ＰＰＧ）や誤り率検出器１０５ｂ（Error Detector：ＥＤ）など）に対してコマンド設定を行う。また、副制御部１０４は、誤り率測定部１０５に対するコマンド設定が完了する度に、処理終了を示す応答を主制御部１０３に出力する。
なお、処理１におけるシーケンスは、外部処理装置１０１から受信するコマンド毎に実行している。
（処理２）
次に、外部処理装置１０１から測定コマンドを送信する。誤り率測定装置１０２は、測定コマンドを受信すると、主制御部１０３にてコマンドを解析して副制御部１０４に出力し、副制御部１０４の制御に基づき、誤り率測定部１０５による被試験デバイス１０６の誤り率測定処理を開始する。また、副制御部１０４は、誤り率測定部１０５による誤り率測定処理が開始すると、処理開始を示す応答を主制御部１０３に出力する。
（処理３）
次に、外部処理装置１０１から測定結果取得コマンドを送信する。誤り率測定装置１０２は、測定結果取得コマンドを受信すると、主制御部１０３にてコマンドを解析して副制御部１０４に出力し、副制御部１０４の制御により誤り率測定部１０５からの測定結果を問い合せる。
（処理４）
誤り率測定装置１０２は、測定結果取得コマンドによって誤り率測定部１０５から問い合わせた測定結果を、外部処理装置１０１に送信する。
なお、目的の測定結果を全て取得するまで、処理１〜４は繰り返し行う。
【０００８】
このように、誤り率測定装置１０２の構成として、外部処理装置１０１から誤り率測定に関する試験用コマンドを送信して誤り率測定処理を行う場合、外部処理装置１０１から誤り率測定装置１０２に対して試験用コマンドを一つずつ送信し、コマンド毎の応答を確認している。従って、送信するコマンド数が多い場合に、各コマンドの送受信時間や設定時間などのオーバヘッドが多すぎてしまい、測定開始から測定結果を取得するまでに多大な時間が掛かってしまうという問題があった。
【０００９】
特に、低エラーレート評価の試験（装置構成として、１秒間に１０Ｇｂｉｔのパターン出力が可能な装置において、１０5 〜１０6 個のｂｉｔを被試験デバイスに出力して誤り率を測定）を行う場合は、実際のデータ取り込み時間が数μｓ程度であるにも係わらず、外部処理装置１０１からのコマンド送受信やコマンド設定によるオーバヘッドや装置の測定仕様などの総合的な処理時間が数百ｍｓ程度を要し、試験効率が悪かった。
【００１０】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、外部処理装置からのコマンド入力時におけるオーバヘッドを低減して測定開始から測定結果取得までの時間短縮を図ることのできる誤り率測定システムを提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記した目的を達成するために、請求項１記載の誤り率測定システムは、所望の試験条件で被試験デバイス３０の誤り率を測定するのに必要な試験用コマンドを送信する外部処理装置１０と、
該外部処理装置から送信された試験用コマンドのコマンド内容に基づき、前記被試験デバイスに対してテスト信号を送信し、当該被試験デバイスを介して入力される被測定信号にから前記被試験デバイスの誤り率を測定する誤り率測定装置２０と、
で構成される前記誤り率測定システム１において、
前記外部処理装置は、前記誤り率測定装置に対して送信する試験用のコマンドを一つにパッケージ化したパッケージコマンドを一電文で送信し、
前記誤り率測定装置は、
前記外部処理装置から送信されたパッケージコマンドを受信した状態のまま出力するとともに、前記被試験デバイスの測定結果データを前記外部処理装置に対して一電文で送信する主制御部２１と、
該主制御部からの前記パッケージコマンドを解析し、予め設定された設定手順に従って前記試験用コマンドのコマンド内容に基づくコマンド設定を行う副制御部２２と、
該副制御部によって設定されたコマンド内容に従って前記被試験デバイスの誤り率を測定する誤り率測定部２３と、
を備えたすることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の誤り率測定システムによれば、外部処理装置と誤り率測定装置との間におけるコマンド送受信時間や誤り率測定装置におけるコマンド設定時のオーバーヘッドを最小限まで削減することができるため、測定開始から測定結果取得までに要する処理時間の大幅な短縮化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明に係る誤り率測定システムの構成を示す概略構成図である。
【図２】同システムにおける制御シーケンス例を示す説明図である。
【図３】同システムにおける他の制御シーケンス例を示す説明図である。
【図４】従来の誤り率測定システムの構成を示す概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではなく、この形態に基づいて当業者等によりなされる実施可能な他の形態、実施例及び運用技術等は全て本発明の範疇に含まれる。
【００１５】
［システム構成］
まず、本発明に係る誤り率測定システムの構成について、図１を参照しながら説明する。図示のように、本例の誤り率測定システム１は、外部処理装置１０、誤り率測定装置２０とで構成され、外部処理装置１０からのコマンド入力に基づき、試験対象となる例えば高速通信に利用する光電変換部品などの誤り率測定が必要な部品である被試験デバイス３０（Device Under Test ）の誤り率を測定している。
【００１６】
外部処理装置１０は、例えば入力手段（キーボードやマウスなど）や表示手段（液晶ディスプレイなど）を備えたＰＣ（Personal Computer ）などのデータ通信可能な処理端末で構成され、誤り率測定装置２０と通信可能に接続されている。外部処理装置１０は、ユーザの所定操作に基づき、被試験デバイス３０の誤り率を測定する上で誤り率測定装置２０の駆動に必要な試験用コマンド（設定コマンド、測定コマンド、測定結果取得コマンドなど）を一つにパッケージ化したパッケージコマンドを作成し、これを一電文で誤り率測定装置２０に送信している。また、外部処理装置１０は、誤り率測定装置２０から送信された被試験デバイス３０の誤り率測定結果である測定結果データを受信している。
【００１７】
ここで、本例の誤り率測定システム１で用いられるパッケージコマンドについて説明する。外部処理装置１０で作成されるパッケージコマンドは、誤り率測定装置２０に接続される後述する誤り率測定部２３（パルスパターン発生器２３ａ、誤り率検出器２３ｂ）に係る各種制御を行うためのコマンドや測定開始から測定結果取得に関するコマンドなどの試験用コマンドを一つにパッケージ化したものである。
【００１８】
コマンドの一例としては、下記のようなものがある。
＜パルスパターン発生器２３ａに関するコマンド例＞
・ＢｉｔＲａｔｅ：パルスパターン発生器２３ａから被試験デバイス３０に送信する信号のｂｉｔ量
・ＢｉｔＲａｔｅＯｆｆｓｅｔ：上記ＢｉｔＲａｔｅのオフセット値
・Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ：パルスパターン発生器２３ａから被試験デバイス３０に送信する信号のレベル
・ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ：パルスパターン発生器２３ａから被試験デバイス３０に送信する信号の信号パターン
＜誤り率検出器２３ｂに関するコマンド例＞
・ＢｉｔＲａｔｅ：被試験デバイス３０から受信する信号のｂｉｔ量
・ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ：被試験デバイス３０から受信する信号の信号パターン
その他、誤り率測定を開始するための測定コマンド、誤り率測定部２３による測定結果を取得するための測定結果取得コマンドなどを有する。
【００１９】
誤り率測定装置２０は、主制御部２１、副制御部２２、誤り率測定部２３とを備えて構成される。また、誤り率測定装置２０は、例えば装置の駆動や測定した誤り率の測定結果などの各種表示内容の表示設定を行うための操作部２４（テンキーや設定ボタンなどの操作機器で構成）、所望の表示内容を表示するための表示部２５（液晶ディスプレイなどの表示機器で構成）を備えている。
【００２０】
主制御部２１は、例えば外部処理装置１０で作成されたパッケージコマンドを受信した際に、このコマンドを受信した状態のまま副制御部２２へ出力する処理、誤り率測定部２３で測定した被試験デバイス３０の測定結果データ（測定結果情報、測定エラー情報）を外部処理装置１０に出力する処理、操作部２４からの入力指示に基づく駆動制御処理、表示部２５に対する測定結果の表示制御処理など、誤り率測定装置２０を構成する各部の駆動制御を行うためのアプリケーションソフトウェアとして機能実現している。
【００２１】
副制御部２２は、コマンド解析手段２２ａ、コマンド設定手段２２ｂ、測定結果処理手段２２ｃとを備え、誤り率測定部２３を駆動制御するためのファームウェアとして機能実現している。副制御部２２は、主制御部２１を介して入力したパッケージコマンドの解析処理、解析した各コマンドを設定手順に従って誤り率測定部２３に設定する処理、誤り率測定部２３で測定した測定結果データの取得・出力処理をしている。
【００２２】
コマンド解析手段２２ａは、主制御部２１から出力されたパッケージコマンドを解析し、解析した各コマンドをパッケージ化されたときに予め設定された設定手順に従ってコマンド設定手段２２ｂに出力している。
【００２３】
コマンド設定手段２２ｂは、コマンド解析手段２２ａから出力されたコマンド内容に基づき、誤り率測定部２３を構成する各機器に対するコマンド設定を行っている。
【００２４】
測定結果処理手段２２ｃは、コマンド設定手段２２ｂによって測定結果の取得を行うための測定結果取得コマンドが設定されると、このコマンド内容に基づき誤り率測定部２３で測定した被試験デバイス３０の誤り率に関する測定結果情報と測定エラー情報を取得（例えば所定周期でポーリングしながら取得）する。また、測定結果処理手段２２ｃは、誤り率測定部２３で測定した測定結果情報や測定時のエラー情報である測定エラー情報等の測定結果に関する全情報を取得すると、これらの情報を測定結果データとして主制御部２１に出力している。
【００２５】
誤り率測定部２３は、設定されたコマンド内容に基づくパルスパターンのテスト信号を被試験デバイス３０に対して送信するパルスパターン発生器２３ａ（Pulse Pattern Generator ：ＰＰＧ）や、パルスパターン発生器２３ａから送信したテスト信号を被試験デバイス３０を介して受信して誤り率を測定する誤り率検出器２３ｂ（Error Detector：ＥＤ）などで構成される。誤り率測定部２３は、副制御部２２によって設定されたコマンド内容に基づき、誤り率測定に関する処理（各機器の駆動処理、テスト信号の送信処理、測定条件に応じた測定処理、測定開始／終了の処理、測定結果の比較・演算処理や測定結果出力処理など）を行っている。
【００２６】
［システムの処理動作］
次に、上述した誤り率測定システム１における一連の処理シーケンスについて、図２を参照しながら説明する。
なお、以下の説明では、外部処理装置１０から送信されるパッケージコマンドとして、パルスパターン発生器２３ａの設定コマンド（ＢｉｔＲａｔｅ、ＢｉｔＲａｔｅＯｆｆｓｅｔ、Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ、ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ）、誤り率検出器２３ｂの設定コマンド（ＢｉｔＲａｔｅ、ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ）、測定コマンド、測定結果取得コマンドを用いて誤り率測定部２３のコマンド設定を行う場合の処理動作例とする。
【００２７】
ユーザは、まず外部処理装置１０を所定操作し、上述した誤り率測定部２３を構成する各機器に対する試験用コマンドを所望の試験条件に基づき作成し、各コマンドを一つにパッケージ化したパッケージコマンドを誤り率測定装置２０に一電文で送信する。
【００２８】
誤り率測定装置２０は、送信されたパッケージコマンドを受信すると、受信した状態で主制御部２１を介して副制御部２２に出力する。副制御部２２は、パッケージコマンドを解析し、設定手順に従って解析した各コマンドを誤り率測定部２３を構成する各機器（パルスパターン発生器２３ａ及び誤り率検出器２３ｂ）に対してコマンド設定を行う。
【００２９】
誤り率測定部２３の各機器に対するコマンド設定が終了すると、次に測定コマンドと測定結果取得コマンドを設定する。パルスパターン発生器２３ａは、設定されたコマンドに従って、被試験デバイス３０に対してテスト信号を出力する。そして、誤り率検出器２３ｂは、パルスパターン発生器２３ａから出力されたテスト信号を、被試験デバイス３０を介して被測定信号として入力し、基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を測定結果情報として取得するとともに、測定エラー情報を取得する。
【００３０】
なお、誤り率検出器２３ｂで測定された誤り率の測定結果情報として、ＥｒｒｏｒＣｏｕｎｔ（ＥＣ：エラー発生回数）、ＣｌｏｃｋＣｏｕｎｔ（ＣＣ：受信したクロック数）、ＥｒｒｏｒＲａｔｅ（ＥＲ：エラー発生率→ＥＣ／ＣＣ×１００）を取得し、測定エラー情報として、ＣＲＵｎｌｏｃｋ（クロックエラー：クロックエラーが発生して、測定できない状態を示すエラー）、Ｓｙｎｃｌｏｓｓ（同期エラー：クロックは正常だが、Ｐａｔｔｅｒｎ同期ができていない状態を示すエラー）を取得する。
【００３１】
そして、誤り率検出器２３ｂによる誤り率の測定が完了すると、測定結果処理手段２２ｃによって測定結果情報と測定エラー情報を誤り率測定部２３から取得し、これらの情報を測定結果データとして主制御部２１を介して一電文で外部処理装置１０に送信する。
【００３２】
以上説明したように、上述した誤り率測定システム１は、外部処理装置１０にて誤り率測定装置２０の駆動するのに必要な試験用コマンドをパッケージ化したパッケージコマンドを作成し、誤り率測定装置２０に一電文で送信する。誤り率測定装置２０は、外部処理装置１０からのパッケージコマンドを主制御部２１を介してファームウェアとして機能実現する副制御部２２に出力し、副制御部２２にてパッケージコマンドの解析や誤り率測定部２３を構成する各機器に対するコマンド設定を行う。そして、誤り率測定部２３で測定した被試験デバイス３０の測定結果情報と測定エラー情報を測定結果データとして取得すると、この測定結果データを外部処理装置１０に一電文で送信する。
【００３３】
これにより、従来のように外部処理装置１０から入力したコマンドをコマンド毎に一つ一つ主制御部２１で解析した後、副制御部２２から誤り測定部に対してコマンド設定を行うという、コマンド毎の応答に係る時間や主制御部２１と副制御部２２との間のオーバヘッド（通信時間や処理時間）を最小限まで削減することができるため、測定開始から測定結果取得までに要する処理時間の大幅な短縮化を図ることができる。そのため、この時間短縮の効果は、特に低エラーレートにおける被試験デバイス３０の誤り率評価試験を行う際の処理時間に顕著に現れる。
【００３４】
ところで、上述した処理シーケンスでは、試験用コマンドである設定コマンド、測定コマンド、測定結果取得コマンドを一つにパッケージ化したパッケージコマンドを作成し、これを一電文で誤り率測定装置２０に送信した処理で説明したが、処理シーケンスの他の例として、例えば図３に示すように、被試験デバイス３０の応答時間を考慮し、誤り率測定部２３に係る各設定コマンドと、測定開始／測定結果取得処理に係る設定コマンドとをそれぞれ別のパッケージコマンドとして送信することもできる。
【００３５】
図示のように、外部処理装置１０でパルスパターン発生器２３ａの設定コマンド（ＢｉｔＲａｔｅ、ＢｉｔＲａｔｅＯｆｆｓｅｔ、Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ、ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ）、誤り率検出器２３ｂの設定コマンド（ＢｉｔＲａｔｅ、ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ）を一つにパッケージ化した誤り率測定部用パッケージコマンドと、測定コマンド、測定結果取得コマンドを一つにパッケージ化した測定開始／結果取得パッケージコマンドを別に作成し、誤り率測定部用パッケージコマンドを誤り率測定装置２０に一電文で送信し、誤り率測定部２３のコマンド設定が終了して測定開始状態になった後に、測定開始／結果取得パッケージコマンドを誤り率測定装置２０に一電文で送信する処理シーケンスとすることで、被試験デバイス３０の応答時間を考慮した誤り率測定を行うことができる。
【符号の説明】
【００３６】
１…誤り率測定システム
１０…外部処理装置
２０…誤り率測定装置
２１…主制御部
２２…副制御部（２２ａ…コマンド解析手段、２２ｂ…コマンド設定手段、２２ｃ…測定結果処理手段）
２３…誤り率測定部（２３ａ…パルスパターン発生器、２３ｂ…誤り率検出器）
２４…操作部
２５…表示部
３０…被試験デバイス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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