(57)【要約】【課題】複数種の光ディスク対応の再生装置では、対物レンズのフォーカシング方向センター位置はＤＶＤとブルーレイディスクとで差異があり、再生が長引くと、端子基板２４の突出部３６が線ばね２９を介してレンズホルダ１３により引っ張られ、クリープ変形してしまう。クリープ変形を回避するために、突出部３６の剛性を高めると、線ばね２９の振動を減衰する機能が低下してしまう。振動減衰機能とクリープ変形防止とを両立させる。【解決手段】再生中において、再生時間Ａ、周囲温度Ｔ及び浮上電圧（再生中の平均フォーカシングサーボ電圧）Ｂを監視する（Ｓ５１）。再生終了後、再生時間Ａ、再生中の端子基板２４の周囲温度Ｔ及び浮上電圧Ｂを確認し（Ｓ５２，Ｓ５３）、確認値Ｔ≧７０°Ｃか又は確認値Ａ≧１２０分であれば（Ｓ５４正）、レンズホルダ１３へ−Ｂの浮上電圧を約Ａ時間供給して、突出部３６をクリープ変形から初期形状へ塑性変形させる。【選択図】図４
2011113597.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップ装置と該光ピックアップ装置へのサーボ電圧を制御する光ピックアップ制御部とを備える光ディスク処理装置であって、
前記光ピックアップ装置は、
サーボ電圧用の配線端子をもつ端子基板が一端側に固定されているホルダダンパと、
対物レンズが配備され、前記ホルダダンパの他端側に配置されたレンズホルダと、
前記配線端子に接続され前記ホルダダンパの挿通孔を通過し前記レンズホルダに電気的に接続し、さらに前記レンズホルダを前記ホルダダンパに対して変位自在に支持する線ばねとを有し、
前記光ピックアップ制御部は、
連続再生時間若しくは再生時の周囲温度に基づき再生終了時に所定時間、所定電圧を前記レンズホルダへ供給する
ことを特徴とする光ディスク処理装置。
【請求項２】
前記光ピックアップ制御部は、
連続再生時間Ａが閾値Ａ１以上であるか又は周囲温度Ｔが閾値Ｔ１以上である場合、連続再生時間Ａと同程度の時間、前記レンズホルダに印加されていた電圧と同程度の電圧値であって逆極の電圧を印加することを特徴とする請求項１記載の光ディスク処理装置。
【請求項３】
光ピックアップ装置と該光ピックアップ装置へのサーボ電圧を制御する光ピックアップ制御部とを備える光ディスク処理装置であって、
前記光ピックアップ装置は、
サーボ電圧用の配線端子をもつ端子基板が一端側に固定されているホルダダンパと、
対物レンズが配備され、前記ホルダダンパの他端側に配置されたレンズホルダと、
前記配線端子に接続され前記ホルダダンパの挿通孔を通過し前記レンズホルダに電気的に接続し、さらに前記レンズホルダを前記ホルダダンパに対して変位自在に支持する線ばねと、
を有し、
前記光ピックアップ制御部は、
レンズホルダに掛かる電圧を制御しており、再生開始時及び終了時の前記光ピックアップ装置の入出力信号から直接若しくは間接に得られる信号レベル又は抽出情報の差異に基づき、再生終了時に所定時間、再生時に印加していた電圧と逆極の電圧を前記レンズホルダへ供給することを特徴とする光ディスク処理装置。
【請求項４】
光ピックアップ装置と該光ピックアップ装置へのサーボ電圧を制御する光ピックアップ制御部とを備える光ディスク処理装置であって、
前記光ピックアップ装置は、
サーボ電圧用の配線端子をもつ端子基板が一端側に固定されているホルダダンパと、
対物レンズが配備され、前記ホルダダンパの他端側に配置されたレンズホルダと、
前記配線端子に接続され前記ホルダダンパの挿通孔を通過し前記レンズホルダに電気的に接続し、さらに前記レンズホルダを前記ホルダダンパに対して変位自在に支持する線ばねとを有している光ディスク処理装置に対し、
光ディスクの連続再生時間若しくは再生時の光ピックアップ装置の周囲温度を測定し、
測定した連続再生時間若しくは周囲温度に基づき再生終了時に所定時間、所定電圧を前記レンズホルダへ供給する、
ことを特徴とする変形解消方法。
【請求項５】
光ピックアップ装置と該光ピックアップ装置へのサーボ電圧を制御する光ピックアップ制御部とを備える光ディスク処理装置であって、
前記光ピックアップ装置は、
サーボ電圧用の配線端子をもつ端子基板が一端側に固定されているホルダダンパと、
対物レンズが配備され、前記ホルダダンパの他端側に配置されたレンズホルダと、
前記配線端子に接続され前記ホルダダンパの挿通孔を通過し前記レンズホルダに電気的に接続し、さらに前記レンズホルダを前記ホルダダンパに対して変位自在に支持する線ばねと、
を有している光ディスク処理装置に対し、
光ディスクの再生開始時及び終了時の前記光ピックアップ装置の入出力信号から直接若しくは間接に得られる信号レベル又は抽出情報の差異を検出し、
検出した差異に基づき、再生終了時に所定時間、再生時に印加していた電圧と逆極の電圧を前記レンズホルダへ供給する、
ことを特徴とする変形解消方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ装置とその制御部と備え複数種の光ディスクの再生に対応する光ディスク処理装置及び変形解消方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１は、ＣＤ、ＤＶＤ及びＢＤ（ブレーレイディスク）の３種の光ディスクの再生に対応する光ピックアップ装置を開示する（特許文献１の図７）。該光ピックアップ装置は、ＣＤ及びＤＶＤ用の対物レンズと、ＢＤ用の対物レンズとを別々に装備するとともに、ＢＤ用の対物レンズは、ＣＤ及びＤＶＤ用の対物レンズに対してフォーカシング方向へ光ディスクより引き込ませた位置に設定し（特許文献１の図３）、フォーカシング方向のレンズホルダのトータルストロークを減少させている（特許文献１の図７）。
【０００３】
図７は従来の光ピックアップ装置１００の斜視図、図８は図７の端子基板１０１をホルダダンパ１２とは反対側から見た図である。光ピックアップ装置１００において、端子基板１０１以外の要素は、本発明の実施例として後述する光ピックアップ装置１０（図１）の要素と同一であるので、光ピックアップ装置１０の対応要素に付した符号と同一の符号を付して、それらの説明は省略し、主要点について述べる。
【０００４】
端子基板１０１は、ｙ軸方向へ中央の当て部３５と、その両端部の振動減衰部１０２とを有している。当て部３５はホルダダンパ１２の端面に固着され、振動減衰部１０２はホルダダンパ１２の端面との間にｚ軸方向へ所定の隙間をもち、ホルダダンパ１２に対して適度に弾性変形して、線ばね２９の振動を減衰させる。
【０００５】
光ディスク１１０のデータ読み取り状態では、光ディスク１１０の面振れ、偏芯、さらに外部からの振動によって、音飛びなどが発生することがないように、レンズホルダ１３がサーボロック状態で３方向（フォーカス、トラッキング及びチルト方向）に追従する。その際に線ばね２９を通じて発生する振動を、ホルダダンパ１２内のポケット（線ばね２９用の挿通孔）に充填された制振材（ゲル）と、線ばね２９の固定端である振動減衰部１０２にて抑制する必要がある。ゲルは振動の低い周波数の振動を減衰し、端子基板１０１の振動減衰部１０２は副共振など高い周波数の振動を減衰する。そのため、振動減衰部１０２は、線ばね２９から伝わる振動を吸収し易いように、形状を細くして撓み易くしたり、厚みを薄くするなどで剛性を下げて対応する必要がある。
【０００６】
最近では、ＢＤの普及に伴い、１つの光ピックアップ装置１００にて、３種類の光ディスク１１０（ＣＤ、ＤＶＤ又はＢＤ）を再生する必要が出てきている。３種類の光ディスク１１０は、読み取り面までの厚みの違いとレンズの焦点距離の関係から、再生する際のレンズアクチュエータ（レンズホルダ１３）の高さ（ｘ軸方向に対応）に差異が発生する。
【０００７】
図９は光ディスク１１０がそれぞれＢＤ、ＣＤ及びＤＶＤである場合の対物レンズ２７，２８のセンター位置を示している。センター位置とは、光ディスク１１０の種類ごとに再生時の標準のフォーカシング方向位置として設定したものである。現状で、一番差異があるＢＤとＤＶＤとのセンター位置の差は、０．７ｍｍ以上である。
【０００８】
通常、レンズホルダ１３の運動範囲を設計する際には、ＤＶＤのセンター位置とＢＤのセンター位置との中心を、レンズホルダ１３の基準センター位置（フォーカシングサーボ電圧＝０とした時のフォーカシング方向位置）とするため、該基準センター位置から０．７ｍｍ持ち上がる（光ディスク１１０へ近づく方を上とする、）ことはないが、それでもＢＤ又はＤＶＤ再生時には、線ばね２９が真っ直ぐの状態から０．３５ｍｍ程度持ち上げたり、引き下げたりした状態で保持されることになる。この持ち上げ又は引き下げした状態では、線ばね２９の撓みのモーメントにより端子基板１０１を捩る方向に力が働く。
【０００９】
図１０はＤＶＤの再生時に端子基板１０１に作用する捩じりを示している。まず、Ｓ１では、ＢＤからのデータ読み取りのために、レンズホルダ１３が上昇する。これにより、次のＳ２では、線ばね２９に撓みが発生し、Ｓ３では、端子基板１０１の振動減衰部１０２に回転モーメントが生じ、端子基板１０１に捩れが発生する。この状態で長時間連続再生を行うと、端子基板１０１を捩る力が端子基板１０１の剛性を上回り、Ｓ４のように、端子基板１０１にクリープ変形が発生する。該クリープ変形は、線ばね２９の撓みのモーメントと端子基板１０１の剛性が釣り合うまで進行し続け、飽和する。
【００１０】
ここで、長時間再生状態を解除しても、端子基板１０１のクリープ変形は残っており、結果的に、レンズホルダ１３の姿勢が初期状態から変化してしまうことになる。この姿勢変化が生じると、製品の再生アビリティーが悪化し、最悪の場合、再生不可となってしまう可能性もある。
【００１１】
そこで、該姿勢変化を防ぐために、端子基板１０１の剛性を上げてクリープ変形を起きにくくするという対応が一般的であるが、前述のように、端子基板１０１は、線ばね２９から伝わる振動を抑制するという役割も担っているため、剛性を上げると、今度は、振動の減衰特性が悪くなり、製品の再生アビリティーが悪化してしまう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００５−３０２１６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
端子基板１０１の形状を工夫して、振動の特性維持と姿勢変化抑制の両方に対応する方法を採る従来のやり方は以下の問題がある。
【００１４】
・端子基板１０１は、振動を吸収する役割も担っているため、剛性を上げてしまうと、振動吸収性が落ちてしまい、振動の再生アビリティーに対する許容度が少なくなる。
【００１５】
・振動特性が劣るため、副共振に対する許容が無くなってしまい、挙動の乱れを吸収できなくなる。その結果、サーボに影響が生じ、安定したサーボ特性が得られなくなる。
【００１６】
・両方の特性を満足するためには、端子基板１０１の形状を複雑にして対応する必要があり、設計の難易度が高くなる。
【００１７】
・端子基板１０１形状を工夫しても、長時間持ち上げられた又は持ち下げられた状態で再生姿勢が維持されると、端子基板１０１は徐々にクリープしてしまい、レンズホルダ１３の姿勢変化が発生してしまう。その結果、光ピックアップの光学性能が劣化してしまい、ピックアップの再生アビリティーが悪くなる。
【００１８】
特許文献１は、複数種の光ディスクに対応する光ピックアップ装置は開示するものの、端子基板のクリープ変形への対処についての言及を欠落している。
【００１９】
本発明の目的は、複数種の光ディスクの再生に対応する光ディスク処理装置において、線ばねの的確な振動減衰とクリープ変形防止との両立を図ることである。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
本発明の光ディスク処理装置は、光ピックアップ装置と該光ピックアップ装置へのサーボ電圧を制御する光ピックアップ制御部とを備える。前記光ピックアップ装置は、サーボ電圧用の配線端子をもつ端子基板が一端側に固定されているホルダダンパと、対物レンズが配備され、前記ホルダダンパの他端側に配置されたレンズホルダと、前記配線端子に接続され前記ホルダダンパの挿通孔を通過し前記レンズホルダに電気的に接続し、さらに前記レンズホルダを前記ホルダダンパに対して変位自在に支持する線ばねとを有する。前記光ピックアップ制御部は、連続再生時間若しくは再生時の周囲温度に基づき再生終了時に所定時間、所定電圧を前記レンズホルダへ供給する。
【００２１】
本発明の別の光ピックアップ装置は、光ピックアップ装置と該光ピックアップ装置へのサーボ電圧を制御する光ピックアップ制御部とを備える。前記光ピックアップ装置は、サーボ電圧用の配線端子をもつ端子基板が一端側に固定されているホルダダンパと、対物レンズが配備され、前記ホルダダンパの他端側に配置されたレンズホルダと、前記配線端子に接続され前記ホルダダンパの挿通孔を通過し前記レンズホルダに電気的に接続し、さらに前記レンズホルダを前記ホルダダンパに対して変位自在に支持する線ばねとを有する。前記光ピックアップ制御部は、レンズホルダに掛かる電圧を制御しており、再生開始時及び終了時の前記光ピックアップ装置の入出力信号から直接若しくは間接に得られる信号レベル又は抽出情報の差異に基づき、再生終了時に所定時間、再生時に印加していた電圧と逆極の電圧を前記レンズホルダへ供給する。
【００２２】
本発明の変形解消方法が適用される光ピックアップ装置は、光ピックアップ装置と該光ピックアップ装置へのサーボ電圧を制御する光ピックアップ制御部とを備え、前記光ピックアップ装置は、サーボ電圧用の配線端子をもつ端子基板が一端側に固定されているホルダダンパと、対物レンズが配備され、前記ホルダダンパの他端側に配置されたレンズホルダと、前記配線端子に接続され前記ホルダダンパの挿通孔を通過し前記レンズホルダに電気的に接続し、さらに前記レンズホルダを前記ホルダダンパに対して変位自在に支持する線ばねとを有している。本発明の変形解消方法によれば、
光ディスクの連続再生時間若しくは再生時の光ピックアップ装置の周囲温度を測定し、
測定した連続再生時間若しくは周囲温度に基づき再生終了時に所定時間、所定電圧を前記レンズホルダへ供給する。
【００２３】
本発明の別の変形解消方法が適用される光ピックアップ装置は、光ピックアップ装置と該光ピックアップ装置へのサーボ電圧を制御する光ピックアップ制御部とを備え、前記光ピックアップ装置は、サーボ電圧用の配線端子をもつ端子基板が一端側に固定されているホルダダンパと、対物レンズが配備され、前記ホルダダンパの他端側に配置されたレンズホルダと、前記配線端子に接続され前記ホルダダンパの挿通孔を通過し前記レンズホルダに電気的に接続し、さらに前記レンズホルダを前記ホルダダンパに対して変位自在に支持する線ばねと、
を有している。本発明の別の変形解消方法によれば、光ディスクの再生開始時及び終了時の前記光ピックアップ装置の入出力信号から直接若しくは間接に得られる信号レベル又は抽出情報の差異を検出し、
検出した差異に基づき、再生終了時に所定時間、再生時に印加していた電圧と逆極の電圧を前記レンズホルダへ供給する。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、端子基板の振動減衰部位にクリープ変形が生じても、それを解消することができるので、振動減衰部位は、クリープ変形を抑制するために剛性を増大させることなく、線ばねの振動を的確に減衰できる剛性に設定して、的確な振動抑制を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】光ピックアップ装置の斜視図である。
【図２】端子基板をホルダダンパとは反対側から見た図である。
【図３】別の端子基板をホルダダンパとは反対側から見た図である。
【図４】第１の端子基板矯正方法のフローチャートである。
【図５】第２の端子基板矯正方法のフローチャートである。
【図６】第３の端子基板矯正方法のフローチャートである。
【図７】従来の光ピックアップ装置の斜視図である。
【図８】従来の端子基板をホルダダンパとは反対側から見た図である。
【図９】光ディスクがそれぞれＢＤ、ＣＤ及びＤＶＤである場合の対物レンズのセンター位置を示す図である。
【図１０】ＤＶＤの再生時に端子基板に作用する捩じりを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
図１は光ピックアップ装置１０の斜視図である。該光ピックアップ装置１０はＢＤ、ＣＤ及びＤＶＤの３種の光ディスクの再生に対応しているディスク再生装置に装備される。該ディスク再生装置は、光ピックアップ装置１０の他に、該光ピックアップ装置１０を制御したり光ピックアップ装置１０からの入力信号を処理する制御部（図示せず）を備えている。図１において、ｘ軸はフォーカシング方向、ｙ軸はトラッキング方向、ｚ軸はトラックの接線方向である。ｘ軸の正の向きは光ディスク１１０（図９）に接近する向きに一致し、ｙ軸の正の向きは光ディスク１１０の半径方向外側へ向かう向きに一致し、ｚ軸の正の向きは、光ピックアップ装置１０に対する光ディスク１１０の回転方向の向きに一致している。なお、説明の便宜上、適宜、ｘ軸方向を「上下方向」、ｙ軸方向を「左右方向」と呼ぶことにする。
【００２７】
光ピックアップ装置１０は、ベース１１、ホルダダンパ１２及びレンズホルダ１３を備える。ベース１１は、光ディスク１１０（図９）の半径方向（ｙ方向）へスライドされる。ベース１１はｘ軸方向の正の向きへ突出する板状起立部１７，１８の対を有している。板状起立部１７，１８は、ｙ軸方向へ対峙し、対峙面側に磁石２０，２１を取り付けられている。端子基板２４はｚ軸方向正側のホルダダンパ１２の端面に固定される。端子基板２４の構造の詳細は図２において後述する。
【００２８】
レンズホルダ１３は、ホルダダンパ１２に対してｚ軸方向負側に配置され、対物レンズ２７，２８をｙ軸方向へ並べて装備する。ベース１１の板状起立部１７，１８は、レンズホルダ１３のトラッキングコイル３０をｚ軸方向両側から挟むように、レンズホルダ１３の通孔内へ所定間隙を開けて挿入されている。線ばね２９は、レンズホルダ１３の左右にそれぞれ３本ずつ存在し、各線ばね２９は、一端部において端子基板２４に半田３１（図１０）により固定され、ホルダダンパ１２内にｚ軸方向へ直線状に延びる挿通孔を通過し、他端部においてレンズホルダ１３の側面に半田３２（図１０）により固定されている。線ばね２９が通過するホルダダンパ１２内の挿通孔には、制振材（ゲル）が充填されており、線ばね２９のｘ軸方向及びｙ軸方向の低周波数の振動は該ゲルにより効果的に減衰される。
【００２９】
左右の線ばね２９は、ｘ方向の正負方向（上下方向）へ同一高さであるｙ方向の正負方向（左右方向）の２本が対になっており、上から１番目の線ばね２９の対はレンズホルダ１３のトラッキングコイル３０へトラッキングサーボ電圧を供給するものであり、上から２番目の線ばね２９の対は、レンズホルダ１３のフォーカシングコイル（図示せず）へ第１のフォーカシングサーボ電圧を供給するものであり、一番下の１対の線ばね２９は、レンズホルダ１３のフォーカシングコイル（図示せず）へ第２のフォーカシングサーボ電圧を供給するものである。フォーカシングコイルは、第１及び第２のフォーカシングサーボ電圧の合計電圧を供給される。レンズホルダ１３は、また、チルトコイル（図示せず）の対を有し、各チルトコイルはそれぞれ第１及び第２のフォーカシングサーボ電圧を供給され、結果、レンズホルダ１３は第１及び第２のフォーカシングサーボ電圧の差分に対応するチルト角に制御される。
【００３０】
図２は端子基板２４をホルダダンパ１２とは反対側から見た図である。端子基板２４は、左右方向中央の当て部３５と、当て部３５から左右へそれぞれ３個ずつ突出する突出部３６とを有している。左右の各突出部３６は、上下方向へ所定の隙間をもち、各突出部３６が独立して、弾性変形自在になっている。凹部４０は、最上段の突出部３６の上側縁の基端部及び最下段の突出部３６の下側縁の基端部に形成されて、突出部３６の変形性を高める（その分、剛性は低下する。）。
【００３１】
ボス通孔３７ａ，３７ｂは左右に並んで当て部３５に穿設され、左右のボス３９（図１）は、その軸部をボス通孔３７ａ，３７ｂにそれぞれ通して、端子基板２４をホルダダンパ１２の端面に面接着固定する。ボス通孔３７ａ，３７ｂの形状が左右で異なるのは、組付けの際に端子基板２４の左右を区別するためである。
【００３２】
当て部３５はホルダダンパ１２の端面に固着状態になるが、各突出部３６は、ホルダダンパ１２の左右端部の凹部のために、ｙ軸方向へホルダダンパ１２との間に間隙を有している。ばね孔３８は、各突出部３６に形成され、各線ばね２９の一端部を挿通後、該一端部が半田３１（図１０）により固定される。
【００３３】
図３は図２の端子基板２４とは別構造の端子基板４３をホルダダンパ１２とは反対側から見た図である。端子基板４３は、端子基板２４の代わりに光ピックアップ装置１０に使用可能となっている。端子基板４３の各部位において、その構造が端子基板２４の部位と同一のものについては、端子基板２４の該部位に付した符号と同一の符号を付して、説明は省略し、端子基板２４との相違点について説明する。
【００３４】
張出し部４４は、当て部３５の左右に１つずつ設けられ、各張出し部４４には３個のばね孔３８が上下方向へ一定間隔にかつ左右方向の位置を揃えて穿設されている。透孔４５は、張出し部４４の当て部３５側の端部に穿設され、当て部３５に対する張出し部４４の上下方向の弾性変形性を高める（その分、剛性は低下する。）。端子基板４３では、左右の３個ずつの線ばね２９は、それらが共通に固定されている張出し部４４により振動を減衰される。
【００３５】
従来の光ピックアップ装置１００について図９において説明したＢＤ、ＣＤ及びＤＶＤに対する対物レンズ２７，２８のセンター位置は、光ピックアップ装置１０についてもそのまま当てはまる。なお、対物レンズ２７はＣＤ又はＤＶＤの再生時に使用し、対物レンズ２８はＢＤの再生時に使用する。
【００３６】
図４は端子基板矯正方法５０のフローチャートである。端子基板矯正方法５０は光ディスク１１０（図９）の再生開始に伴い起動する。Ｓ５１では、光ディスク１１０の再生時間Ａ、再生中の端子基板２４の周辺温度Ｔ、及びレンズホルダ１３の浮上電圧Ｂを監視する。
【００３７】
浮上電圧Ｂとは、レンズホルダ１３のフォーカシングコイルの両端電圧に相当し、端子基板２４がクリープ変形前の初期形状にある場合には、Ｂ＝０である時、レンズホルダ１３は図９で説明した基準センター位置となり、Ｂ＞０である時、レンズホルダ１３は基準センター位置に対して上側へ移動し、Ｂ＜０である時、レンズホルダ１３は基準センター位置に対して下側へ移動する。クリープ変形が突出部３６（図２）又は張出し部４４（図３）に生じると、Ｂ＝０にしても、レンズホルダ１３は基準センター位置に戻らないことになる。
【００３８】
Ｓ５２では、光ディスク１１０の再生が終了する。Ｓ５３では、今回の再生における再生時間Ａ、端子基板の周辺温度Ｔ、及び浮上電圧Ｂを確認する。周辺温度Ｔ及び浮上電圧Ｂは、再生中、変動するので、典型的には再生期間の平均値を今回の再生における確認値とする。今回の再生に係る光ディスク１１０がＢＤである場合には、レンズホルダ１３のセンター位置は、基準センター位置に対してｘ軸方向の正側へずれるので、平均浮上電圧Ｂは正になる。今回の再生に係る光ディスク１１０がＤＶＤである場合には、レンズホルダ１３のセンター位置は、基準センター位置に対してｘ軸方向の負側へずれるので、平均浮上電圧Ｂは負になる。
【００３９】
Ｓ５４では、Ｓ５３で求めた確認値Ｔ，Ａについて、Ｔ≧７０°Ｃか、又はＡ≧１２０分であるか否かを判定し、いずれかの判定が正であれば、Ｓ５５へ進み、両判定共に否であれば、Ｓ５５をスキップして、端子基板矯正方法５０を終了する。Ｓ５５では、レンズホルダ１３の姿勢変化改善措置を実施する。具体的には、Ｓ５３における確認値Ａ，Ｂに対し、−Ｂの矯正電圧を約Ａ分、線ばね２９を介してレンズホルダ１３のフォーカシングコイルへ供給する。これにより、端子基板２４では、フォーカシングサーボ電圧用の線ばね２９を固定されている突出部３６のクリープ変形が矯正されて、該突出部３６は今回の連続再生前の初期形状へ戻る。また、端子基板４３では、張出し部４４のクリープ変形が矯正されて、該張出し部４４は今回の連続再生前の再生初期形状へ戻る。
【００４０】
前述したように、フォーカシングサーボ電圧は、第１及び第２のフォーカシングサーボ電圧に分割されて、図１の上から１番目及び２番目の線ばね２９の対を介してレンズホルダ１３のフォーカシングコイルへ供給される。Ｓ５５の−Ｂの浮上電圧の分担は、典型的には、線ばね２９の各対に、−Ｂ／２ずつ印加する。なお、Ｓ５１において、線ばね２９の対ごとに浮上電圧Ｂａ，Ｂｂを監視して、Ｓ５５では、各対に−Ｂａ，−Ｂｂを印加するようにすることもできる。
【００４１】
Ｓ５５のレンズホルダ１３の姿勢変化改善措置では、−Ｂの矯正電圧を約Ａ分、線ばね２９を介してレンズホルダ１３のフォーカシングコイルへ供給するが、−Ｂｘ（Ｂｘ＞Ｂ＞０）を、Ａｘ（Ａｘ＜Ａ）分、供給することもできる。すなわち、矯正電圧の絶対値を増大させて、その分、矯正時間を短縮させる。
【００４２】
図５は端子基板矯正方法６０のフローチャートである。図３の端子基板矯正方法５０では、姿勢変化改善措置の実施条件（トリガー）として、Ｓ５４において再生時間又は周囲温度が閾値以上になることしていたが、端子基板矯正方法６０では、各種レベル又はジッタについて再生開始時と終了時との差が閾値以上であることをトリガーとする。
【００４３】
Ｓ６１では、光ディスク１１０の再生時間Ａ、各種レベル、ジッタ、及びレンズホルダ１３の浮上電圧Ｂを監視する。各種レベルの各種とは、具体的には、例えば光ディスク１１０の再生中に光ピックアップ装置１０の入出力信号から直接又は間接に得られるＲＦ信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、クリープ変形サーボ電圧、又はジッタである。突出部３６や張出し部４４におけるクリープ変形の進行に伴い、これら各種信号の再生終了時のレベルは、再生開始時のレベルに対して増大する。
【００４４】
Ｓ６２では、光ディスク１１０の再生が終了する。Ｓ６３では、今回の再生の開始時と終了時とにおける各種レベル及びジッタの差と共に、再生時間Ａを確認する。Ｓ６４では、Ｓ６３で確認したレベル差又はジッタについて、レベル差が今回の再生の開始時のレベルに対して１５％以上であるか否か、又は再生終了時のジッタが再生開始時のジッタに対して５ｎｓ以上増大しているか否かを判定し、いずれかの判定が正であれば、Ｓ６５へ進み、両判定共に否であれば、Ｓ６５をスキップして、端子基板矯正方法６０を終了する。Ｓ６５は、端子基板矯正方法５０の前述のＳ５５と同一の処理であるので、説明は省略する。
【００４５】
図６は端子基板矯正方法７０のフローチャートである。端子基板矯正方法７０では、端子基板矯正方法５０（図４）の一部処理が省略されている。すなわち、端子基板矯正方法７０では、Ｓ７１，Ｓ７３において、端子基板矯正方法５０のＳ５１，Ｓ５３の周囲温度Ｔについては監視及び確認対象から除外されるとともに、端子基板矯正方法５０におけるＳ５４に相当するものが省略される。Ｓ７２，Ｓ７４は、それぞれ端子基板矯正方法５０のＳ５２，Ｓ５５と同一の処理である。端子基板矯正方法７０では、再生が終了すると、必ずＳ７４の姿勢変化改善処置が実行される。
【００４６】
光ピックアップ装置１０の有利点を列挙する。
（ａ）端子基板２４，４３の形状を、経時変化を気にすることなく、振動特性に特化した形状にできるため、振動への許容度が増し再生アビリティーの向上に繋がる。
【００４７】
（ｂ）端子基板２４，４３の形状を、振動特性に特化した形状にできるため、副共振の発生を大幅に改善することができ、サーボの設計が容易になるとともに、サーボの安定性も増す
【００４８】
（ｃ）端子基板２４，４３の設計を、振動特性に特化した形状にできるため、設計の自由度が増す。
【００４９】
（ｄ）使用時に変形が発生しても、常に初期状態に戻すことができるため、長期に渡る信頼性が確保できる。
【００５０】
（ｅ）各種レベルをトリガーにしておけば、ピックアップの自己復元機能とも捉えることができ、常に最適な状態に性能を維持することができる。
【００５１】
図１の光ピックアップ装置１０及びその制御部を備える光ディスク再生装置を抽象化した光ディスク処理装置（以下、「本装置」という。）について説明する。本装置は、光ピックアップ装置（例：図１の光ピックアップ装置１０）と該光ピックアップ装置へのサーボ電圧を制御する光ピックアップ制御部とを備えるものである。該光ピックアップ装置は、ホルダダンパ（例：図１のホルダダンパ１２）と、レンズホルダ（例：図１のレンズホルダ１３）と、線ばね（例：図１の線ばね２９）とを有している。該光ピックアップ制御部はクリープ変形解消手段を有している。
【００５２】
ホルダダンパは、サーボ電圧用の配線端子をもつ端子基板（例：図２の端子基板２４及び図４の端子基板４３）が一端側に固定されている。レンズホルダは、ホルダダンパの他端側に配置され、対物レンズ（例：図１の対物レンズ２７，２８）が配備され、ホルダダンパに対してサーボ電圧に応じてフォーカシング方向及びトラッキング方向へ変位する。線ばねは、一端部において端子基板の振動減衰部位（例：図２の突出部３６及び図２の張出し部４４）に固定され、ホルダダンパの制振剤入り挿通孔を通過し、他端部においてレンズホルダに結合して、レンズホルダをホルダダンパに対して変位自在に支持するとともに、端子基板の配線端子からのサーボ電圧をホルダダンパへ供給する。
【００５３】
光ピックアップ制御部のクリープ変形解消手段線ばねは、端子基板の振動減衰部位のクリープ変形に対し、該振動減衰部位を初期形状へ戻す塑性変形力を該振動減衰部位に及ぼす変位をレンズホルダに生じさせるクリープ変形解消電圧を線ばねを介してレンズホルダへ供給する。
【００５４】
典型的には、サーボ電圧はフォーカシングサーボ電圧であり、線ばねは、フォーカシングサーボ電圧を供給する線ばねである。
【００５５】
本装置では、光ピックアップ制御部がレンズホルダへ線ばねを介してクリープ変形解消電圧を供給することにより、クリープ変形解消電圧が、振動減衰部位のクリープ変形を引き起こした方向とは反対方向へ変位し、該変位したクリープ変形解消電圧が線ばねを介して振動減衰部位をクリープ変形から初期形状へ引き戻す方向へ塑性変形させるので、端子基板の振動減衰部位のクリープ変形が解消される。結果、ホルダダンパの振動減衰部位の剛性を、クリープ変形を起こさないように高めることなく、線ばねの振動減衰に威力を発揮する値に設定して、線ばねの良好な振動減衰を図ることができる。
【００５６】
好ましくは、光ピックアップ制御部はクリープ変形判定手段をさらに有する。該クリープ変形判定手段は、光ディスクの連続再生時間Ａ又は振動減衰部位の周囲温度Ｔに基づきホルダダンパの振動減衰部位のクリープ変形の有無を判定する。これに対し、クリープ変形解消手段は、クリープ変形有りの判定の場合には、クリープ変形解消電圧によるクリープ変形解消処理を実施する。典型的には、クリープ変形判定手段は、連続再生時間Ａが閾値Ａ１以上であるか又は周囲温度Ｔが閾値Ｔ１以上である場合、クリープ変形有りと判定する。
【００５７】
クリープ変形解消手段によるクリープ変形解消処理は、例えば、再生終了後、自動的に直ちに実行されてもよいし（例：図４のＳ５５、図５のＳ６５及び図６のＳ７４）、ユーザの指示を受けてから実行されてもよい。
【００５８】
別の好ましい光ピックアップ制御部では、クリープ変形判定手段は、再生開始時及び終了時の光ピックアップ装置の入出力信号から直接若しくは間接に得られる信号のレベル又は抽出情報の差異に基づき端子基板の振動減衰部位のクリープ変形の有無を判定する。この具体例は、図５の端子基板矯正方法６０のＳ６１，Ｓ６４である。
【００５９】
好ましくは、光ピックアップ制御部は、さらに、平均フォーカシングサーボ電圧測定手段を有する。該平均フォーカシングサーボ電圧測定手段は、光ディスクの再生中の平均フォーカシングサーボ電圧を測定する。クリープ変形解消手段では、クリープ変形解消電圧はその向きが平均フォーカシングサーボ電圧とは反対向き（逆極）としかつその絶対値が平均フォーカシングサーボ電圧以上にする。
【００６０】
好ましくは、光ピックアップ制御部は、さらに、連続再生時間測定手段を有する。連続再生時間測定手段は、光ディスクの連続再生時間Ａを測定する。クリープ変形解消手段は、クリープ変形解消電圧を、その絶対値をほぼ平均フォーカシングサーボ電圧にしてほぼ連続再生時間Ａだけレンズホルダに供給するか又はその絶対値を平均フォーカシングサーボ電圧より大きい値にして連続再生時間Ａより短い時間、レンズホルダに供給する。
【００６１】
本変形解消方法は、本光ディスク処理装置に適用され、（ｓ１）光ディスクの連続再生時間若しくは再生時の光ピックアップ装置の周囲温度を測定し、（ｓ２）測定した連続再生時間若しくは周囲温度に基づき再生終了時に所定時間、所定電圧をレンズホルダへ供給する。
【００６２】
別の本変形解消方法は、本光ディスク処理装置に適用され、（ｒ１）光ディスクの再生開始時及び終了時の光ピックアップ装置の入出力信号から直接若しくは間接に得られる信号レベル又は抽出情報の差異を検出し、（ｒ２）検出した差異に基づき、再生終了時に所定時間、再生時に印加していた電圧と逆極の電圧をレンズホルダへ供給する。
【００６３】
なお、本発明は上述した実施の形態のみに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更（付加及び削除も含む。）が可能であることは言うまでもない。
【００６４】
本明細書は様々な範囲及びレベルの発明を開示している。それら発明は、本明細書で説明した様々な技術的範囲及び具体的レベルの各装置及び各方法だけでなく、拡張ないし一般化の範囲で、各装置及び各方法から独立の作用、効果を奏する１つ又は複数の要素を抽出したものや、１つ又は複数の要素を拡張ないし一般化の範囲で変更したものや、さらに、各装置間及び各方法間で１つ又は複数の要素の組合せを入れ換えたものを含む。
【符号の説明】
【００６５】
１０：光ピックアップ装置、１２：ホルダダンパ、１３：レンズホルダ、２４，４３：端子基板、２７，２８：対物レンズ、２９：線ばね、３６：突出部（振動減衰部位）、４４：張出し部（振動減衰部位）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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