(57)【要約】  【課題】観察領域の温度変化に拘わらず、画素間のコントラストが適切に維持された被写体像を生成するための技術を提供する。  【解決手段】放射体３にて放射されたミリ波を基準ミリ波センサ２２で受信し、その検出値と基準検出値との誤差を補正値として、各ミリ波センサの検出値を補正する。放射体３は、基準となるミリ波を放射すべく観察領域１００に配置されていることから、例えば、観察領域１００の温度が上昇すれば、ミリ波としての熱雑音も大きくなる結果、基準ミリ波センサ２２の検出値も大きくなる。つまり、基準ミリ波センサ２２の検出値と基準検出値との誤差は、観察領域１００の温度変化に応じて変動するものであるため、この誤差を補正値として各ミリ波センサ２２の検出値を補正すれば、各検出値から観察領域１００の温度変化の影響を除去することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
観察対象となる領域であり、該領域の一部において基準となるミリ波を放射する放射体が配置された観察領域について、該観察領域から放射されるミリ波を取り込んで被写体像を結像させるレンズアンテナと、
前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波が被写体像を結像する結像領域に配置された１以上のミリ波センサからなり、該ミリ波センサそれぞれが、受信したミリ波の信号レベルに応じた検出値を出力するミリ波センサ群と、
前記１以上のミリ波センサから出力された検出値それぞれに基づいて、該検出値に応じた成分の画素を配置してなる被写体像を生成する画像生成手段と、
前記１以上のミリ波センサのうち、前記放射体から放射されたミリ波を受信するミリ波センサとして定められた基準ミリ波センサの検出値について、あらかじめ定められた基準検出値との誤差を、前記ミリ波センサそれぞれに対する補正値として設定する補正値設定手段と、
前記１以上のミリ波センサそれぞれの検出値を、前記補正値設定手段により設定された補正値により補正する検出値補正手段と、
前記１以上のミリ波センサそれぞれの検出値を、前記画像生成手段による被写体像の生成に先立って、前記補正値設定手段により設定された補正値により補正する検出値補正手段と、を備えている
ことを特徴とするミリ波撮像装置。
【請求項２】
所定のタイミングで前記基準ミリ波センサに検出された検出値を基準検出値として設定する基準設定手段、を備え、
前記補正値設定手段は、前記基準ミリ波センサの検出値と前記基準設定手段により設定された基準検出値との誤差を、前記ミリ波センサそれぞれに対する補正値として設定する
ことを特徴とする請求項１に記載のミリ波撮像装置。
【請求項３】
前記ミリ波センサ群は、前記結像領域において複数のミリ波センサが一列に配置されてなり、該ミリ波センサにより受信されたミリ波により一列分の被写体像に対応する検出値を出力するラインセンサとして構成されており、
さらに、
前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波を反射させて前記ミリ波センサ群へと導く反射面を有するリフレクタと、
前記リフレクタの反射面で反射したミリ波による被写体像の結像領域を、前記ミリ波センサの配置された方向と交差する方向に沿って変位させるべく、前記反射面による反射角を順次変更させることにより、前記ミリ波センサ群に、一列分の被写体像に対応する検出値として、前記反射面の反射角に応じた列の被写体像に対応する検出値群を順に出力させる反射角変更手段と、を備え、
前記画像生成手段は、前記ミリ波センサ群から検出値群が出力される毎に、該検出値群における各検出値に応じたパラメータの画素を一列に配置した一列分の被写体像を生成する
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載のミリ波撮像装置。
【請求項４】
観察対象となる領域（観察領域）に配置され、該観察領域の一部において基準となるミリ波を放射する放射体と、
請求項１から３のいずれかに記載のミリ波撮像装置と、からなる
ことを特徴とするミリ波撮像システム。
【請求項５】
前記放射体は、基準となる熱雑音を発生する熱雑音源，または，電波吸収体により構成されている
ことを特徴とする請求項４に記載のミリ波撮像システム。
【請求項６】
コンピュータを、請求項１から３のいずれかに記載の全ての手段として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被写体から放射されるミリ波を受信して被写体を撮像するミリ波撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、人物などの被写体から放射されるミリ波を受信することによって、被写体を撮像し、その撮像画像から被写体において隠された金属・非金属類の武器や、密輸品を検出することが提案されている（特許文献１，２参照）。
【０００３】
この種の技術では、被写体となる人物とそれ以外の領域とで放射されるミリ波の信号レベルが異なることを利用し、その信号レベルに応じた成分（例えば色相、明度、彩度など）の値で画素を配置することにより、被写体の撮像画像を生成している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−２５８４９６号公報
【特許文献２】特許第２７８８５１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、上記のように複数のミリ波センサを利用して被写体の撮像画像を生成するミリ波撮像装置では、観察対象となる観察領域の温度が変化すると、画像における画素間のコントラストが適切に維持できなくなり、鮮明な画像が得られなくなることがある。
【０００６】
例えば、観察領域の温度が上昇した場合には、熱雑音として放射されるミリ波の信号レベルが大きくなるため、ミリ波センサそれぞれからの検出値も同様に大きくなってしまう。このとき、温度がある程度高くなると、ミリ波センサそれぞれからの検出値も大きくなり、この検出値に応じて決めるべき各画素の成分が全て最大値（または最小値）となってしまい、画像における画素間のコントラストが維持できなくなる。
【０００７】
本発明は、こうした問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、観察領域の温度変化に拘わらず、画素間のコントラストが適切に維持された被写体像を生成するための技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するため第１の構成（請求項１）は、観察対象となる領域であり、該領域の一部において基準となるミリ波を放射する放射体が配置された観察領域について、該観察領域から放射されるミリ波を取り込んで被写体像を結像させるレンズアンテナと、前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波が被写体像を結像する結像領域に配置された１以上のミリ波センサからなり、該ミリ波センサそれぞれが、受信したミリ波の信号レベルに応じた検出値を出力するミリ波センサ群と、前記１以上のミリ波センサから出力された検出値それぞれに基づいて、該検出値に応じた成分の画素を配置してなる被写体像を生成する画像生成手段と、前記１以上のミリ波センサのうち、前記放射体から放射されたミリ波を受信するミリ波センサとして定められた基準ミリ波センサの検出値について、あらかじめ定められた基準検出値との誤差を、前記ミリ波センサそれぞれに対する補正値として設定する補正値設定手段と、前記１以上のミリ波センサそれぞれの検出値を、前記補正値設定手段により設定された補正値により補正する検出値補正手段と、前記１以上のミリ波センサそれぞれの検出値を、前記画像生成手段による被写体像の生成に先立って、前記補正値設定手段により設定された補正値により補正する検出値補正手段と、を備えている。
【０００９】
この構成において、１以上のミリ波センサそれぞれの検出値を補正するに際しては、補正値が、基準ミリ波センサの検出値と基準検出値との誤差であることから、この誤差が相殺されるように検出値から補正値を加減算することとすればよい。
【００１０】
また、この構成における「基準検出値」は、熱雑音が充分に小さい状態における基準ミリ波センサからの検出値を設定しておくことが望ましく、この場合、画素間のコントラストを適切に維持できている状態での検出値を「基準検出値」とすることができる。
【００１１】
また、この「基準検出値」はあらかじめ設定した値であってもよいし、任意に設定できる値としてもよい。この後者のためには、例えば、第２の構成（請求項２）のようにすることが考えられる。
【００１２】
第２の構成では、所定のタイミングで前記基準ミリ波センサに検出された検出値を基準検出値として設定する基準設定手段、を備えている。そして、前記補正値設定手段は、前記基準ミリ波センサの検出値と前記基準設定手段により設定された基準検出値との誤差を、前記ミリ波センサそれぞれに対する補正値として設定する。
【００１３】
この構成における「所定のタイミング」については、どのようなタイミングであってもよく、例えば、ユーザが特定の操作をしたタイミングや、ミリ波撮像装置を起動して撮像を開始したタイミングとすることなどが考えられる。
【００１４】
また、上記各構成において、ミリ波センサ群は、複数のミリ波センサがマトリクス状に配置されたミリ波センサアレイを採用すればよい。また、複数のミリ波センサが一列に配置されたミリ波ラインセンサを採用してもよい。
【００１５】
ミリ波センサ群としてラインセンサを採用するためには、上記各構成を第３の構成（請求項３）のようにするとよい。
第３の構成の前記ミリ波センサ群は、前記結像領域において複数のミリ波センサが一列に配置されてなり、該ミリ波センサにより受信されたミリ波により一列分の被写体像に対応する検出値を出力するラインセンサとされている。
【００１６】
さらに、前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波を反射させて前記ミリ波センサ群へと導く反射面を有するリフレクタと、前記リフレクタの反射面で反射したミリ波による被写体像の結像領域を、前記ミリ波センサの配置された方向と交差する方向に沿って変位させるべく、前記反射面による反射角を順次変更させることにより、前記ミリ波センサ群に、一列分の被写体像に対応する検出値として、前記反射面の反射角に応じた列の被写体像に対応する検出値群を順に出力させる反射角変更手段と、を備えている。
【００１７】
そして、前記画像生成手段は、前記ミリ波センサ群から検出値群が出力される毎に、該検出値群における各検出値に応じたパラメータの画素を一列に配置した一列分の被写体像を生成する。
【００１８】
また、上記課題を解決するため第４の構成（請求項４）は、観察対象となる領域（観察領域）に配置され、該観察領域の一部において基準となるミリ波を放射する放射体と、上述したいずれかに記載のミリ波撮像装置と、からなることを特徴とするミリ波撮像システムである。
【００１９】
また、この構成における放射体は、第５の構成（請求項５）のように、基準となる熱雑音を発生する熱雑音源，または，電波吸収体により構成されているとよい。
また、上記課題を解決するためには、上述した各構成における全ての手段として機能させるためのプログラム（請求項６）としてもよい。
【００２０】
なお、上述したプログラムは、コンピュータシステムによる処理に適した命令の順番付けられた列からなるものであって、各種記録媒体や通信回線を介してミリ波撮像装置や、これを利用するユーザ等に提供されるものである。
【発明の効果】
【００２１】
上記各構成にかかるミリ波撮像装置では、放射体から放射されたミリ波を基準ミリ波センサで受信し、この基準ミリ波センサの検出値と基準検出値との誤差を補正値として、各ミリ波センサの検出値を補正している。放射体は、基準となるミリ波を放射すべく観察領域に配置されていることから、例えば、観察領域の温度が上昇すれば、ミリ波としての熱雑音も大きくなる結果、基準ミリ波センサの検出値も大きくなる。
【００２２】
つまり、基準ミリ波センサの検出値と基準検出値との誤差は、観察領域の温度変化に応じて変動するものであるため、この誤差を補正値として各ミリ波センサの検出値を補正すれば、各検出値から観察領域の温度変化の影響を除去することができる。
【００２３】
例えば、観察領域の温度が上昇し、各ミリ波センサの検出値に応じて決めるべき画素の成分が全て最大値（または最小値）となってしまうような場合でも、ここから温度変化に応じた誤差が減算（または加算）される結果、本来的な検出値に戻される。
【００２４】
こうして、補正された検出値に基づいて被写体像を生成すれば、観察領域の温度変化に拘わらず、画素間のコントラストが適切に維持された鮮明な被写体像とすることができる。
【００２５】
また、上記第２の構成では、補正値を設定するための基準となる基準検出値を、所定のタイミングで都度設定することができる。そのため、観察領域の温度が充分に低い状態の時に、基準ミリ波センサの検出値を基準検出値として設定しておけば、ミリ波としての熱雑音が小さい時の検出値を基準検出値とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】ミリ波撮像装置の全体構成を示すブロック図
【図２】ラインセンサを構成するミリ波センサの構成を示すブロック図
【図３】第１実施形態における撮像処理を示すフローチャート
【図４】第１実施形態において、ミリ波放射部から放射されるミリ波がリフレクタに反射される様子を示す図
【図５】第２実施形態における撮像処理を示すフローチャート
【図６】第２実施形態において、ミリ波放射部から放射されるミリ波がリフレクタに反射される様子を示す図
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下に本発明の実施形態を図面と共に説明する。
（１）  第１実施形態
（１−１）  全体構成
ミリ波撮像システム１は、図１に示すように、ミリ波撮像装置２と、撮影対象となる撮影領域１００においてミリ波を放射する放射体３と、で構成される。
【００２８】
ミリ波撮像装置２は、観察領域１００から放射されるミリ波を取り込んで被写体像を結像させるレンズアンテナ１０と、レンズアンテナ１０に取り込まれたミリ波が被写体像を結像する結像領域に配置されたミリ波センサアレイ２０と、ミリ波撮像装置２全体の動作を制御する制御部５０と、を備えている。なお、このミリ波センサアレイ２０が本発明におけるミリ波センサ群である。
【００２９】
これらのうち、ミリ波センサアレイ２０は、結像領域内において、ミリ波の到来方向に向けられた複数のミリ波センサ２２それぞれを、ミリ波の到来方向と交差する平面に沿ってマトリクス状に配置したものであり、ミリ波センサ２２それぞれが、受信したミリ波の信号レベルに応じた検出値を出力する。各ミリ波センサ２２の検出値は、結像領域に結像される被写体像のうち、そのミリ波センサ２２の配置された位置に対応する被写体像の画素情報（本実施形態においては該当画素の濃淡を示す情報）となる。
【００３０】
また、ミリ波センサ２２は、図２に示すように、ミリ波を受信するための受信アンテナ１０２と、受信アンテナ１０２からの受信信号を増幅するローノイズアンプ（ＬＮＡ）１０４と、ＬＮＡ１０４にて増幅された受信信号を検波し、その信号レベルを検出する検波器１０８と、から構成されている。
【００３１】
放射体３は、観察領域１００の一部領域に配置されており、こうして配置された位置からレンズアンテナ１０に向けて基準となるミリ波を放射する。こうして放射体３から放射されたミリ波は、ミリ波センサアレイ２０におけるミリ波センサ２２のうち、あらかじめ定められたいずれかのミリ波センサ（以降「基準ミリ波センサ」という）２２により受信される。
【００３２】
なお、本実施形態において、放射体３は、基準となる熱雑音を発生する熱雑音源，または，電波吸収体により構成されている。
（１−２）  制御部５０による撮像処理
以下に、制御部５０が、内蔵するメモリに格納されたプログラムに従って実行する撮像処理の処理手順を図３に基づいて説明する。
【００３３】
この撮像処理では、まず、ミリ波センサアレイ２０におけるミリ波センサ２２のうち、基準ミリ波センサ２２の検出値、つまり放射体３から放射されるミリ波の信号レベルを示す検出値が取得される（ｓ１２０）。ここで、放射体３を電波吸収体で構成した場合には、ここからのミリ波の放射量が著しく少ないことから、検出値としても「０」に近い検出値が取得されることとなる。
【００３４】
次に、上記ｓ１２０にて取得された検出値に基づき、以降の処理で補正値を算出するための基準となる基準検出値が決定される（ｓ１３０）。ここでは、上記ｓ１２０にて取得された検出値が基準検出値として決定される。
【００３５】
次に、上記ｓ１３０にて決定された基準検出値に基づいて、検出値を補正するための補正値が決定される（ｓ１４０）。ここでは、上記ｓ１３０にて決定された基準検出値ｒと、この時点で基準ミリ波センサに検出された検出値ｄと、の誤差（ｒ−ｄ）が算出され、これが各ミリ波センサ２２の補正値として決定される。
【００３６】
なお、このｓ１４０が撮像処理の起動後最初に行われる場合は、上記ｓ１３０にて決定された基準検出値と、上記ｓ１２０にて取得された検出値と、の誤差が補正値として決定されることとなるが、これら検出値は一致するため、「０」が補正値として決定される。
【００３７】
次に、上記ｓ１４０にて決定された補正値が、ミリ波センサ２２それぞれの検出値に対する補正値として設定される（ｓ１５０）。
次に、被写体像の撮像を継続すべきか否かがチェックされる（ｓ１７０）。ここでは、ミリ波撮像装置２に対し、外部から撮像を終了するための指令（ユーザによる操作を含む）を受けた場合に、撮像を終了つまり撮像を継続すべきでないと判定される。
【００３８】
このｓ１７０で撮像を継続すべきと判定された場合（ｓ１７０：ＹＥＳ）、ミリ波センサアレイ２０のミリ波センサ２２による検出値それぞれが取得される（ｓ１８０）。
次に、上記ｓ１８０にて取得された検出値それぞれが、この時点で設定されている補正値に基づいて補正される（ｓ１９０）。ここでは、設定済みの補正値が正の値であれば、上記ｓ１８０にて取得された検出値それぞれから補正値の絶対値が減算され、補正値が負の値であれば、上記ｓ１８０にて取得された検出値それぞれに補正値の絶対値が加算される。
【００３９】
次に、上記ｓ１９０にて補正された検出値で示される画素情報それぞれを、その検出値を検出したミリ波センサ２２の位置に対応する画素の画素情報とし、各画素情報で示される画素（画素情報で示される成分の画素）を配置してなる被写体像が生成される（ｓ２００）。こうして生成された被写体像は、表示装置への表示を行うべく画像メモリに格納される。
【００４０】
このｓ２００が行われたら、上記ｓ１２０と同様、基準ミリ波センサ２２から検出値が取得された後（ｓ２１０）、プロセスがｓ１４０へと戻る。この場合のｓ１４０では、ｓ２１０で取得された検出値と、上記ｓ１３０にて決定された基準検出値との誤差が補正値として決定される。
【００４１】
以降、撮像を継続すべきと判定されている間（ｓ１７０「ＹＥＳ」）、ｓ１４０〜ｓ２１０が繰り返され、上記ｓ１７０で撮像を終了すべきと判定された場合（ｓ１７０：ＮＯ）、本撮像処理が終了する。
【００４２】
このように、撮像処理では、初期設定された検出値（基準検出値）を基準として（ｓ１３０）、基準ミリ波センサにおける検出値の変動分を補正値として各ミリ波センサ２２の検出値を補正したうえで（ｓ１９０）、被写体像を生成している（ｓ２００）。
（２）  第２実施形態
（２−１）  全体構成
本実施形態におけるミリ波撮像システム４は、図４に示すように、ミリ波撮像装置５と、撮影対象となる撮影領域においてミリ波を放射する放射体３と、で構成される。なお、本実施形態において、第１実施形態と同様の構成は、第１実施形態と同じ符号を付して詳細な説明を省略する。
【００４３】
ミリ波撮像装置５は、レンズアンテナ１０と、複数のミリ波センサ２２が一列に配置されてなるミリ波ラインセンサ６０と、レンズアンテナ１０に取り込まれたミリ波を反射させてミリ波ラインセンサ６０へと導く反射面３２を有するリフレクタ３０と、ミリ波撮像装置５全体の動作を制御する制御部５０と、を備えている。なお、このミリ波ラインセンサ６０が本発明におけるミリ波センサ群である。
【００４４】
これらのうち、ミリ波ラインセンサ６０は、結像領域内において、ミリ波の到来方向に向けられた複数のミリ波センサ２２それぞれを、ミリ波の到来方向と交差する平面に沿って一方向に並べたものであり、ミリ波センサ２２それぞれが、受信したミリ波の信号レベルに応じた検出値を出力する。
【００４５】
リフレクタ３０には、反射面３２によるミリ波の反射角を、ミリ波センサ２２の配置された方向と交差する方向に沿って変位させるための変位機構３４が備えられている。
（２−２）  制御部５０による撮像処理
以下に、制御部５０が、内蔵するメモリに格納されたプログラムに従って実行する撮像処理の処理手順を図５に基づいて説明する。
【００４６】
この撮像処理では、まず、放射体３から放射されるミリ波により結像する像の領域がミリ波センサ２２の配置された領域に重複するまで、リフレクタ３０の反射面３２による反射角が変更される（ｓ１１０）。ここでは、リフレクタ３０の変位機構３４に対し、反射面３２によるミリ波の反射角を所定の初期角度θ’まで変位させるべく指令がなされ、この指令を受けた変位機構３４は、放射体３から放射されるミリ波により結像する像の領域が、ミリ波センサ２２の配置された領域に重複するまで、反射面３２によるミリ波の反射角を初期角度θ’まで変更させる（図６参照）。
【００４７】
次に、上記ｓ１１０にて反射角が初期角度まで変更された時点において、ミリ波ラインセンサ６０におけるミリ波センサ２２のうち、基準ミリ波センサの検出値、つまり放射体３から放射されるミリ波の信号レベルを示す検出値が取得される（ｓ１２０）。
【００４８】
次に、上記ｓ１２０にて取得された検出値に基づき、以降の処理で補正値を算出するための基準となる基準検出値が決定される（ｓ１３０）。
次に、上記ｓ１３０にて決定された基準検出値に基づいて、検出値を補正するための補正値が決定され（ｓ１４０）、この補正値が補正値として設定される（ｓ１５０）。
【００４９】
次に、リフレクタ３０の反射面３２による反射角を、一定の角度範囲θ”で繰り返し連続的に変更する走査制御が開始される（ｓ１６０）。ここでは、リフレクタ３０の変位機構３４に対し、反射面３２によるミリ波の反射角を連続的に変更すべき旨の指令がなされ、この指令を受けた変位機構３４は、一定の角度範囲θ”で反射面３２によるミリ波の反射角を連続的に繰り返し変更するようになる。これにより、ミリ波ラインセンサ６０による観察領域１００の走査が行われる。
【００５０】
なお、ここで反射角が変更される角度範囲θ”は、レンズアンテナ１０に取り込まれたミリ波による被写体像の結像領域が、ミリ波センサ２２の配置された領域に重複するようにあらかじめ設定されたものである。
【００５１】
次に、被写体像の撮像を継続すべきか否かがチェックされ（ｓ１７０）、撮像を継続すべきと判定された場合（ｓ１７０：ＹＥＳ）、ミリ波ラインセンサ６０のミリ波センサ２２による検出値それぞれが取得される（ｓ１８０）。
【００５２】
次に、上記ｓ１８０にて取得された検出値それぞれが、この時点で設定されている補正値に基づいて補正され（ｓ１９０）、補正された検出値で示される画素情報それぞれを、その検出値を検出したミリ波センサ２２の位置に対応する画素の画素情報として、各画素情報で示される画素（画素情報で示される濃度の画素）を配置してなる一列分の被写体像が生成される（ｓ２００）。こうして生成された被写体像は、画像メモリのうち、該当する列に対応する記憶領域に格納される。
【００５３】
このｓ２００が行われたら、上記ｓ１２０と同様、基準ミリ波センサ２２から検出値が取得された後（ｓ２１０）、プロセスがｓ１４０へと戻る。
そして、上記ｓ１７０で撮像を終了すべきと判定された場合（ｓ１７０：ＮＯ）、本撮像処理が終了する。
（３）  作用，効果
上述したミリ波撮像装置２，５では、放射体３にて放射されたミリ波を基準ミリ波センサ２２で受信し、この基準ミリ波センサ２２からの検出値と基準検出値との誤差を補正値として、各ミリ波センサの検出値を補正している（図３，図５のｓ１２０〜ｓ２１０）。
【００５４】
放射体３は、基準となるミリ波を放射すべく観察領域１００に配置されていることから、例えば、観察領域１００の温度が上昇すれば、ミリ波としての熱雑音も大きくなる結果、基準ミリ波センサ２２の検出値も大きくなる。
【００５５】
つまり、基準ミリ波センサ２２の検出値と基準検出値との誤差は、観察領域１００の温度変化に応じて変動するものであるため、この誤差を補正値として各ミリ波センサ２２の検出値を補正すれば、各検出値から観察領域１００の温度変化の影響を除去することができる。
【００５６】
例えば、観察領域１００の温度が上昇し、各ミリ波センサ２２の検出値に応じて決めるべき画素の成分が全て最大値（または最小値）となってしまうような場合でも、ここから温度変化に応じた誤差が減算（または加算）される結果、本来的な検出値に戻される。
【００５７】
こうして、補正された検出値に基づいて被写体像を生成すれば、観察領域１００の温度変化に拘わらず、画素間のコントラストが適切に維持された鮮明な被写体像とすることができる。
【００５８】
また、上記実施形態では、補正値を設定するための基準となる基準検出値を、撮像処理が起動する都度設定することができる（図３，図５のｓ１２０）。そのため、観察領域１００の温度が充分に低い状態の時に、撮像処理を起動させれば、ミリ波としての熱雑音が小さい時の検出値を基準検出値として設定することができる。
（４）変形例
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の形態をとり得ることはいうまでもない。
【００５９】
例えば、上記実施形態においては、撮像処理において「基準検出値」を設定するように構成されている。しかし、画素間のコントラストを適切に維持できている状態での検出値を、あらかじめ固定的に「基準検出値」として設定しておいてもよい。
【００６０】
また、上記実施形態では、撮像処理が起動された直後のタイミングで「基準検出値」を設定するように構成されている（図３，図５のｓ１２０）。しかし、「基準検出値」を設定するタイミングは、これに限らず、例えば、ユーザが特定の操作をしたタイミングとしてもよい。
（５）本発明との対応関係
以上説明した実施形態において、図３，図５におけるｓ２００が本発明における画像生成手段であり、同図ｓ１４０，ｓ１５０が本発明における補正値設定手段であり、同図ｓ１９０が本発明における検出値補正手段であり、同図ｓ１２０，ｓ１３０が本発明における基準設定手段であり、図５のｓ１１０，ｓ１６０が本発明における反射角変更手段である。
【符号の説明】
【００６１】
１…ミリ波撮像システム、２…ミリ波撮像装置、３…放射体、４…ミリ波撮像システム、５…ミリ波撮像装置、１０…レンズアンテナ、２０…ミリ波センサアレイ、２２…ミリ波センサ、２２…基準ミリ波センサ、３０…リフレクタ、３２…反射面、３４…変位機構、５０…制御部、６０…ミリ波ラインセンサ、１００…観察領域、１０２…受信アンテナ、１０４…ローノイズアンプ、１０８…検波器。
【図１】
2011127914.tif 000003
【図２】
2011127914.tif 000004
【図３】
2011127914.tif 000005
【図４】
2011127914.tif 000006
【図５】
2011127914.tif 000007
【図６】
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