(57)【要約】【課題】記録パラメータを効率的かつ迅速に調整することができる光ディスク記録装置を提供する。【解決手段】情報が記録されるデータエリアと、データエリアの内側および外側に位置するテストエリアとを有する追記型光ディスク１０が適用される光ディスク記録装置１００である。光ディスク記録装置１００は、データエリアに情報を記録するための記録パワーおよびライトストラテジを含んでいる記録パラメータを調整する調整手段１１４，１１６，１１８，１２０と、調整された記録パラメータによりデータエリアに角速度一定で情報を記録する記録手段１０２と、を有する。前記調整手段は、テストエリアの未使用量を検出する検出手段と、検出された未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータを選択する選択手段と、を有する。【選択図】図１
2011134366.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報が記録されるデータエリアと、前記データエリアの内側および外側に位置するテストエリアとを有する追記型光ディスクが適用される光ディスク記録装置であって、
前記データエリアに情報を記録するための記録パワーおよびライトストラテジを含んでいる記録パラメータを調整する調整手段と、
調整された記録パラメータにより前記データエリアに角速度一定で情報を記録する記録手段と、を有し、
前記調整手段は、
前記テストエリアの未使用量を検出する検出手段と、
検出された未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータを選択する選択手段と、
を有することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
前記選択手段は、
前記テストエリアの各々の未使用量が、記録パワーとライトストラテジの両方を調整可能な容量を有する場合、
調整に使用されるテストエリアとして前記テストエリアの両方を選択し、かつ、調整する記録パラメータとして記録パワーとライトストラテジの両方を選択する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置。
【請求項３】
前記追記型光ディスクの固有情報に関連付けられた既定のライトストラテジが記憶されている記憶部をさらに有し、
前記選択手段は、
内側に位置する前記テストエリアの未使用量が、少なくとも記録パワーの調整可能な容量を有し、かつ、外側に位置する前記テストエリアの未使用量が、ライトストラテジの調整可能な容量を有しない場合、
調整に使用されるテストエリアとして内側に位置する前記テストエリアを選択し、調整する記録パラメータとして記録パワーを選択する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置。
【請求項４】
前記選択手段は、
内側に位置する前記テストエリアの未使用量が、記録パワーのみを調整可能な容量を有し、かつ、外側に位置する前記テストエリアの未使用量が、記録パワーとライトストラテジの両方を調整可能な容量を有する場合、
調整に使用されるテストエリアとして外側に位置する前記テストエリアを選択し、調整する記録パラメータとして記録パワーとライトストラテジの両方を選択する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置。
【請求項５】
前記検出手段は、
内側に位置する前記テストエリアが未使用であることを検出した場合、
外側に位置する前記テストエリアの未使用量の検出をスキップするように構成され、
前記選択手段は、上記の場合、
調整に使用されるテストエリアとして前記テストエリアの両方を選択し、かつ、調整する記録パラメータとして記録パワーとライトストラテジの両方を選択する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ−Ｒ等の追記型光ディスクは、記録層の組成、蓄熱、冷却速度の違い等の個体差があるため、個別に最適化された記録パラメータ（記録パワーおよびライトストラテジ）を使用して情報を記録することにより、良好な記録品質を維持している（例えば、特許文献１および２参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２５００１９号公報
【特許文献２】特開２００７−２１３７３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、角速度一定で情報を記録する場合、半径方向の位置に応じて速度（線速度）が異なるため、データエリアの内側および外側に位置するテストエリアを使用して基点速度毎に記録パラメータを調整しており、記録パラメータの設定に長時間を要する虞がある。例えば、内側に位置するテストエリアで、低速の基点速度用の記録パラメータを調整後、外側に位置するテストエリアに移動し、高速の基点速度用の記録パラメータを調整する際、外側に位置するテストエリアに十分な調整エリアが存在しない場合、内側に位置するテストエリアに戻り、固定ライトストラテジによりパワー調整をやり直すことが必要となる。
【０００５】
本発明は、上記従来技術に伴う課題を解決するためになされたものであり、記録パラメータを効率的かつ迅速に調整することができる光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するための本発明は、情報が記録されるデータエリアと、前記データエリアの内側および外側に位置するテストエリアとを有する追記型光ディスクが適用される光ディスク記録装置である。前記光ディスク記録装置は、前記データエリアに情報を記録するための記録パワーおよびライトストラテジを含んでいる記録パラメータを調整する調整手段と、調整された記録パラメータにより前記データエリアに角速度一定で情報を記録する記録手段と、を有する。前記調整手段は、前記テストエリアの未使用量を検出する検出手段と、検出された未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータを選択する選択手段と、を有する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明に係る光ディスク記録装置によれば、テストエリアの未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータが選択され、選択されたテストエリアを使用して、選択された記録パラメータが調整される。したがって、調整に使用されるテストエリアには、十分な調整エリアが確実に存在するため、それまでに行った調整動作および調整時間が無駄となることはなく、記録パラメータが短時間で効率的に設定される。つまり、記録パラメータを効率的かつ迅速に調整することができる光ディスク記録装置を提供することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置を説明するためのブロック図である。
【図２】図１に示される追記型光ディスクの構造を説明するための平面図である。
【図３】図１に示されるＷＳＴ演算部による記録パラメータの調整動作を説明するための図表である。
【図４】本発明の実施形態に係る記録方法を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しつつ説明する。
【００１０】
図１は、本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置を説明するためのブロック図、図２は、図１に示される追記型光ディスクの構造を説明するための平面図である。
【００１１】
本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置１００は、光ディスク１０に半導体レーザにより情報を記録したり、記録された情報を再生するために使用され、図１に示されるように、光ピックアップ１０２、ヘッドアンプ１０４、二値化回路１０６、クロックズレ測定部１０８、測定値記憶部１１０、データ弁別／演算部１１２、ＷＳＴ（ライトストラテジ）記憶部１１４、ベースＷＳＴ記憶部１１６、記録／未記録判定部１１８、ＷＳＴ演算部１２０、デコーダ１２２、エンコーダ１２４、記録パルス調整部１２６、レーザ駆動部１２８および制御部１３０を有する。
【００１２】
光ディスク１０は、ＤＶＤ＋Ｒ等の追記型であり、図２に示されるように、内側テストエリア１２、データエリア１４および外側テストエリア１６を有する。データエリア１４は、ＣＡＶ（角速度一定）によって情報が記録される領域である。内側および外側テストエリア１２，１６は、データエリア１４に情報を記録するための記録パラメータを調整するために利用される領域である。例えば、内側テストエリア１２は、リードインエリアの内側に位置するＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）領域に配置され、外側テストエリア１６は、リードアウトエリアの外側に位置するＰＣＡ領域に配置される。記録パラメータは、例えば、記録パワーおよびライトストラテジ（ＷＳＴ）である。なお、光ディスク１０には、自己の固有情報が記憶されている。固有情報は、例えば、ディスクＩＤであり、光ディスク１０の製造メーカや型番を特定することが可能である。
【００１３】
光ピックアップ１０２は、データエリア１４にＣＡＶによって情報を記録する記録手段であり、レーザ光源、光学部品および光検出器を有する。レーザ光源は、例えば、レーザダイオードである。光学部品は、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等である。光検出器は、４つの領域に分割され、光を電気信号に変換するために使用される。光ピックアップ１０２は、記録再生時のレーザ出力をモニタするフロントモニタダイオードを有することも可能である。
【００１４】
ヘッドアンプ１０４は、ＲＦ信号（データ信号)、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を生成するために使用される。ＲＦ信号は、光検出器の各分割領域への反射光量の総和を示す信号であり、光ディスク１０からの反射光を検出し、当該反射光に基づいて反射光量を演算することで生成される。フォーカスエラー信号は、光ピックアップ１０２の照射レーザの焦点ずれを検出する信号であり、例えば、非点収差法によって生成される。トラッキングエラー信号は、光ピックアップ１０２の照射レーザのトラックずれを検出する信号であり、例えば、プッシュプル法によって生成される。
【００１５】
二値化回路１０６は、ヘッドアンプ１０４からの検出信号を成形し、マークおよびスペースに応じた２値のデジタル信号を生成する再生信号生成回路である。例えば、二値化回路１０６は、ヘッドアンプ１０４から出力される３Ｔ，４Ｔ，５Ｔ，．．．のアナログ信号を、２値化された方形波に変更すための閾値を、常に調節している。
【００１６】
クロックズレ測定部１０８は、二値化回路１０６で生成されたデジタル信号とデコーダ１２２で生成された基準クロックとのエッジずれ（ｄＴ）を測定するために使用される。
【００１７】
測定値記憶部１１０は、例えば、高速のランダムアクセス記憶装置（ＲＡＭ）からなり、クロックズレ測定部１０８によって測定されたデータを一時的に記憶するために使用される。記憶されるデータは、各種信号のクロックズレ量およびその信号種類である。
【００１８】
データ弁別／演算部１１２は、測定値記憶部１１０に記憶されたデータ（クロックズレ測定部１０８における測定データ）を信号別に弁別し、各種演算を実行するために使用される。演算の対象は、各種信号のサンプル数比に基づくズレ、各信号分布の理論中心値からのズレ量（デビエーション）、時間差ジッタ（Ｄａｔａ−Ｃｌｏｃｋジッタ）、マークエッジ変化量に基づく相関関数、熱干渉効果による隣接エッジの影響である。
【００１９】
ＷＳＴ記憶部１１４、ベースＷＳＴ記憶部１１６、記録／未記録判定部１１８およびＷＳＴ演算部１２０は、一体として、データエリア１４に情報を記録するための記録パワーおよびＷＳＴを含んでいる記録パラメータを調整する調整手段を構成する。
【００２０】
ＷＳＴ記憶部１１４は、例えば、ＥＥＰＲＯＭ（電気的に消去可能なＰＲＯＭ，Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  ＰＲＯＭ）からなり、ＷＳＴ演算部１２０において計算されたＷＳＴを一時的に記憶するために使用される。
【００２１】
ベースＷＳＴ記憶部１１６は、例えば、読取り専用の不揮発性記憶装置（ＲＯＭ）からなり、ＷＳＴ演算部１２０において利用されるベースＷＳＴが記憶されている。ベースＷＳＴは、ストラテジ設計者によって予め計算されて用意され、光ディスク１０の固有情報に関連付けられた既定のＷＳＴである。
【００２２】
記録／未記録判定部１１８は、テストエリア１２，１６の未使用量を検出する検出手段である。ここで得られたテストエリアの記録／未記録情報は制御部１３０へ送られる。制御部は光ディスク装置１００の記録、再生動作の全てを制御するものである。内側テストエリア１２が未使用であることを検出した場合（未使用量が初期値と同一である場合）、外側テストエリア１６の未使用量の検出をスキップし、動作時間を削減するように構成されている。つまり、内側テストエリア１２が未使用である場合、光ディスク１０の初めての使用であり、外側テストエリア１６の未使用量の検出が不要であると判断する。
【００２３】
ＷＳＴ演算部１２０は、記録／未記録判定部１１８において検出されたテストエリア１２，１６の未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリア１２，１６および調整する記録パラメータを選択する選択手段と、選択されたテストエリアを使用して、選択された記録パラメータが最適化されるように調整する最適化手段とを有する。
【００２４】
ＷＳＴ演算部１２０は、上記のように、テストエリア１２，１６の未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータを選択し、選択されたテストエリアを使用して、選択された記録パラメータが最適化されるように調整する。したがって、調整に使用されるテストエリアには、十分な調整エリアが確実に存在するため、それまでに行った調整動作および調整時間が無駄となることはない。例えば、内側テストエリア１２で、低速の基点速度Ｖ１（例えば、６倍速）用の記録パラメータを調整後、外側テストエリア１６に移動し、高速の基点速度Ｖ２、Ｖ３およびＶ４（例えば、８倍速、１２倍速および１６倍速）用の記録パラメータを調整する際、外側テストエリア１６には、十分な調整エリアが確実に存在するため、内側テストエリア１２に戻り、固定ＷＳＴによりパワー調整をやり直すことを避けることが可能であり、記録パラメータが短時間で効率的に設定される。つまり、記録パラメータを効率的かつ迅速に調整することが可能である。
【００２５】
なお、固定ＷＳＴとして、例えば、光ディスク１０の固有情報に関連付けられた既定のＷＳＴを使用することが可能である。
【００２６】
また、記録パラメータを調整して最適化する方法は、特に限定されず、例えば、ベースＷＳＴを設定し、設定されたベースＷＳＴに基づいて、仮最適ＷＳＴを算出し、仮最適ＷＳＴでテスト記録（試し書き）後、その品位を測定して評価項目の規定値と比較し、規定値を満たさない場合には、記録速度や記録パワーを見直し、再度ベースＷＳＴの設定を行うことを、繰返すことによって実施可能である。
【００２７】
ベースＷＳＴの初期値は、ベースＷＳＴ記憶部１１６に記憶されている光ディスク１０の固有情報に関連付けられた既定のＷＳＴである。
【００２８】
デコーダ１２２は、二値化回路１０６において生成された二値化信号を、所定形式の再生信号に変換して出力する回路である。エンコーダ１２４は、記録信号を例えばＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）信号に変換して、記録パルス調整部１２６に出力する回路である。
【００２９】
記録パルス調整部１２６は、ＷＳＴ演算部１２０において設定された最適な記録パラメータに基づき、記録パルス列を形成し、レーザ駆動部１２８に出力するために使用される。
【００３０】
レーザ駆動部１２８は、記録パルス調整部１２６からの記録パルス列に応じ、光ピックアップ１０２のレーザ光源（例えば、レーザダイオード）を駆動するためのパルス信号を生成し、光ピックアップ１０２に出力する。
【００３１】
図３は、図１に示されるＷＳＴ演算部による記録パラメータの調整動作を説明するための図表である。
【００３２】
ＷＳＴ演算部１２０は、テストエリア１２，１６の状態に応じ、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータを選択し、図３に示される調整動作（ケース１〜９）が実施される。テストエリア１２，１６の状態は、テストエリアの未使用量に応じて、「利用可能エリア無し」、「パワー調整可能（ＷＳＴ調整不可）」、「ＷＳＴ調整可能（パワー調整含む）」の３つに分類される。「利用可能エリア無し」は、テストエリアの未使用量が小さすぎるあるいは全てが使用済みであり、記録パワーを調整するための利用可能エリアが無い状態を意味する。「パワー調整可能（ＷＳＴ調整不可）」は、テストエリアの未使用量が不十分であり、記録パワーのみを調整可能な容量を有する状態を意味する。「ＷＳＴ調整可能（パワー調整含む）」は、テストエリアの未使用量が十分大きく、記録パワーとＷＳＴの両方を調整可能な容量を有し、パワー調整後においてＷＳＴが調整可能である状態を意味する。
【００３３】
詳述すると、内側テストエリア１２の状態が「利用可能エリア無し」の場合、外側テストエリア１６の状態に係り無く、調整不能（エラー）となり、例えば、記録のためにセットされた光ディスクが吐き出される（ケース１〜３）。したがって、光ピックアップ１０２を内側テストエリア１２へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をしたり、光ピックアップ１０２を外側テストエリア１６へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をしたりするため等の不必要な動作の実行を、予め避けることが可能である。
【００３４】
内側テストエリア１２の状態が「パワー調整可能（ＷＳＴ調整不可）」であり、かつ、外側テストエリア１６の状態が「利用可能エリア無し」あるいは「パワー調整可能（ＷＳＴ調整不可）」である場合、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段は、調整に使用されるテストエリアとして内側テストエリア１２を選択し、調整する記録パラメータとして記録パワーを選択し、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段は、内側テストエリア１２において固定ＷＳＴを使用してパワー調整を実施する（ケース４および５）。したがって、内側テストエリア１２においてＷＳＴ調整をしたり、光ピックアップ１０２を外側テストエリア１６へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をしたりするため等の不必要な動作の実行を、予め避けることが可能である。
【００３５】
内側テストエリア１２の状態が「パワー調整可能（ＷＳＴ調整不可）」であり、かつ、外側テストエリア１６の状態が「ＷＳＴ調整可能」である場合、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段は、調整に使用されるテストエリアとして外側テストエリア１６を選択し、調整する記録パラメータとして記録パワーとＷＳＴの両方を選択し、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段は、外側テストエリア１６においてパワー調整およびＷＳＴ調整を実施する（ケース６）。したがって、光ピックアップ１０２を内側テストエリア１２へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をするため等の不必要な動作の実行を、予め避けることが可能である。
【００３６】
内側テストエリア１２の状態が「ＷＳＴ調整可能」であり、かつ、外側テストエリア１６の状態が「利用可能エリア無し」あるいは「パワー調整可能（ＷＳＴ調整不可）」である場合、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段は、調整に使用されるテストエリアとして内側テストエリア１２を選択し、調整する記録パラメータとして記録パワーを選択し、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段は、内側テストエリア１２において固定ＷＳＴによりパワー調整のみを実施する（ケース７および８）。したがって、内側テストエリア１２においてＷＳＴ調整をしたり、光ピックアップ１０２を外側テストエリア１６へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をしたりするため等の不必要な動作の実行を、予め避けることが可能である。
【００３７】
内側テストエリア１２の状態が「ＷＳＴ調整可能」であり、かつ、外側テストエリア１６の状態が「ＷＳＴ調整可能」である場合、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段は、調整に使用されるテストエリアとして内側テストエリア１２および外側テストエリア１６の両方を選択し、かつ、調整する記録パラメータとして記録パワーとＷＳＴの両方を選択し、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段は、内側テストエリア１２および外側テストエリア１６においてパワー調整およびＷＳＴ調整を実施する（ケース９）。
【００３８】
なお、記録／未記録判定部１１８において内側テストエリア１２が未使用であると検出された場合、上記のように、光ディスク１０の初めての使用であるため、内側テストエリア１２および外側テストエリア１６の状態は、「ＷＳＴ調整可能」である。したがって、この場合、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段は、調整に使用されるテストエリアとして内側テストエリア１２および外側テストエリア１６の両方を選択し、かつ、調整する記録パラメータとして記録パワーとＷＳＴの両方を選択し、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段は、内側テストエリア１２および外側テストエリア１６においてパワー調整およびＷＳＴ調整を実施する。
【００３９】
次に、本発明の実施形態に係る記録方法を説明する。
【００４０】
本発明の実施形態に係る記録方法は、光ディスク記録装置１００の調整手段（ＷＳＴ記憶部１１４、ベースＷＳＴ記憶部１１６、記録／未記録判定部１１８、ＷＳＴ演算部１２０）を用いて、データエリア１４に情報を記録するための記録パワーおよびＷＳＴを含んでいる記録パラメータを調整する調整工程と、光ディスク記録装置１００の光ピックアップ１０２を用いて、調整された記録パラメータによりデータエリアに角速度一定で情報を記録する記録工程と、を有する。
【００４１】
調整工程は、概して、記録／未記録判定部１１８を用いて、テストエリア１２，１６の未使用量を検出する検出ステップと、ＷＳＴ演算部１２０を用いて、検出された未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータを、選択する選択ステップと、ＷＳＴ演算部１２０を用いて、選択されたテストエリアを使用して、選択された記録パラメータが最適化されるように調整する最適化ステップと、を有する。
【００４２】
本記録方法においては、上記のように、テストエリア１２，１６の未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータが選択され、選択されたテストエリアを使用して、選択された記録パラメータが最適化されるように調整される。したがって、調整に使用されるテストエリアには、十分な調整エリアが確実に存在するため、それまでに行った調整動作および調整時間が無駄となることはない。例えば、内側テストエリア１２で、低速の基点速度Ｖ１（例えば、６倍速）用の記録パラメータを調整後、外側テストエリア１６に移動し、高速の基点速度Ｖ２、Ｖ３およびＶ４（例えば、８倍速、１２倍速および１６倍速）用の記録パラメータを調整する際、外側テストエリア１６には、十分な調整エリアが確実に存在するため、内側テストエリア１２に戻り、固定ＷＳＴによりパワー調整をやり直すことを避けることが可能であり、記録パラメータが短時間で効率的に設定される。つまり、記録パラメータを効率的かつ迅速に調整することが可能である。
【００４３】
なお、調整工程において、内側テストエリア１２においてパワー調整が不可能（調整不能）であり、エラーが発生した場合、記録工程はスキップされて動作は停止し、例えば、記録のためにセットされた光ディスクが吐き出されることになる。
【００４４】
次に、調整工程を詳述する。
【００４５】
図４は、本発明の実施形態に係る記録方法の調整工程を説明するためのフローチャートである。
【００４６】
調整工程においては、まず、記録／未記録判定部１１８を用いて、光ディスク１０の内側テストエリア１２の未使用量を検出し、内側テストエリア１２のブランクチャックが実施され（ステップＳ１０）、内側テストエリア１２が未使用であるか否かが判断される（ステップＳ１１）。
【００４７】
内側テストエリア１２が未使用である場合（ステップＳ１１のＹＥＳ）、光ディスク１０の初めての使用であり、外側テストエリア１６も未使用量であるため、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段を用いて、調整に使用されるテストエリアとして内側テストエリア１２および外側テストエリア１６の両方が選択され、かつ、調整する記録パラメータとして記録パワーとＷＳＴの両方が選択され、そして、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段を用いて、内側テストエリア１２および外側テストエリア１６においてパワー調整およびＷＳＴ調整が実施され（ステップＳ２１）、プロセスは終了する。なお、調整された記録パラメータは、記録工程において、光ピックアップ１０２を用いてデータエリア１４に角速度一定で情報を記録する際に、使用される。
【００４８】
内側テストエリア１２が未使用でない場合（ステップＳ１１のＮＯ）、記録／未記録判定部１１８を用いて、光ディスク１０の外側テストエリア１６の未使用量をさらに検出し、外側テストエリア１６のブランクチャックが実施される（ステップＳ１２）。
【００４９】
次に、内側テストエリア１２においてパワー調整が可能であるか否かが判断される（ステップＳ１３）。内側テストエリア１２においてパワー調整が不可能（調整不能）である場合（ステップＳ１３のＮＯ）、記録パラメータにおける調整可能な項目が存在しないため、エラーが発生し（ステップＳ１４）、プロセスは終了する。したがって、光ピックアップ１０２を内側テストエリア１２へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をしたり、光ピックアップ１０２を外側テストエリア１６へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をしたりするため等の不必要な動作の実行を、予め避けることが可能である。
【００５０】
内側テストエリア１２においてパワー調整が可能である場合（ステップＳ１３のＹＥＳ）、ＷＳＴ調整がさらに可能であるか否かが判断される（ステップＳ１５）。
【００５１】
内側テストエリア１２においてＷＳＴ調整が不可能である場合（ステップＳ１５のＮＯ）、外側テストエリア１６においてパワー調整とＷＳＴ調整の両方が可能であるか否かが判断される（ステップＳ１６）。
【００５２】
外側テストエリア１６においてパワー調整とＷＳＴ調整の両方が可能である場合（ステップＳ１６のＹＥＳ）、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段を用いて、調整に使用されるテストエリアとして外側テストエリア１６が選択され、かつ、調整する記録パラメータとして記録パワーとＷＳＴの両方が選択され、そして、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段を用いて、外側テストエリア１６においてパワー調整およびＷＳＴ調整が実施され（ステップＳ１８）、プロセスは終了する。したがって、光ピックアップ１０２を内側テストエリア１２へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をするため等の不必要な動作の実行を、予め避けることが可能である。
【００５３】
一方、外側テストエリア１６においてＷＳＴ調整が不可能である場合（ステップＳ１６のＮＯ）、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段を用いて、調整に使用されるテストエリアとして内側テストエリア１２が選択され、かつ、調整する記録パラメータとして記録パワーが選択され、そして、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段を用いて、内側テストエリア１２において固定ＷＳＴによりパワー調整のみが実施され（ステップＳ１７）、プロセスは終了する。したがって、内側テストエリア１２においてＷＳＴ調整をしたり、光ピックアップ１０２を外側テストエリア１６へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をしたりするため等の不必要な動作の実行を、予め避けることが可能である。
【００５４】
内側テストエリア１２においてＷＳＴ調整が不可能である場合（ステップＳ１５のＹＥＳ）、外側テストエリア１６においてパワー調整とＷＳＴ調整の両方が可能であるか否かが判断される（ステップＳ１９）。
【００５５】
外側テストエリア１６においてパワー調整とＷＳＴ調整の両方が可能である場合（ステップＳ１９のＹＥＳ）、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段を用いて、調整に使用されるテストエリアとして外側テストエリア１６が選択され、かつ、調整する記録パラメータとして記録パワーとＷＳＴの両方が選択され、そして、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段を用いて、外側テストエリア１６においてパワー調整およびＷＳＴ調整が実施され（ステップＳ２１）、プロセスは終了する。したがって、光ピックアップ１０２を内側テストエリア１２へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整するため等の不必要な動作の実行を、予め避けることが可能である。
【００５６】
一方、外側テストエリア１６においてＷＳＴ調整が不可能である場合（ステップＳ１９のＮＯ）、ＷＳＴ演算部１２０の選択手段を用いて、調整に使用されるテストエリアとして内側テストエリア１２が選択され、かつ、調整する記録パラメータとして記録パワーが選択され、そして、ＷＳＴ演算部１２０の最適化手段を用いて、内側テストエリア１２において固定ＷＳＴによりパワー調整のみが実施され（ステップＳ２０）、プロセスは終了する。したがって、内側テストエリア１２においてＷＳＴ調整をしたり、光ピックアップ１０２を外側テストエリア１６へ移動させてパワー調整およびＷＳＴ調整をしたりするため等の不必要な動作の実行を、避けることが可能である。
【００５７】
以上のように、本実施の形態に係る光ディスク記録装置および追記型光ディスクの記録方法においては、テストエリア１２，１６の未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータが選択され、選択されたテストエリアを使用して、選択された記録パラメータが最適化されるように調整される。したがって、調整に使用されるテストエリアには、十分な調整エリアが確実に存在するため、それまでに行った調整動作および調整時間が無駄となることはなく、記録パラメータが短時間で効率的に設定される。つまり、記録パラメータを効率的かつ迅速に調整することが可能である。
【００５８】
本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲で種々改変することができる。例えば、追記型光ディスクは、ＤＶＤ＋Ｒに限定されない。また、ＷＳＴの最適化は、光ディスク１０の固有情報に関連付けられた既定のＷＳＴを利用する形態に限定されない。
【符号の説明】
【００５９】
１０  光ディスク、
１２  内側テストエリア、
１４  データエリア、
１６  外側テストエリア、
１００  光ディスク記録装置、
１０２  光ピックアップ、
１０４  ヘッドアンプ、
１０６  二値化回路、
１０８  クロックズレ測定部、
１１０  測定値記憶部、
１１２  データ弁別／演算部、
１１４  ＷＳＴ記憶部、
１１６  ベースＷＳＴ記憶部、
１１８  記録／未記録判定部、
１２０  ＷＳＴ演算部、
１２２  デコーダ、
１２４  エンコーダ、
１２６  記録パルス調整部、
１２８  レーザ駆動部
１３０  制御部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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