(57)【要約】【課題】短時間で楕円の印影とその傾き角を検出し自動正立させてモニタ表示する楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置を提供する。【解決手段】画像取得部６、ノイズ除去部７及びエッジ抽出部８は、印影ＤＢサーバ１４から読み込んだ印影イメージ１の輪郭外側領域の罫線やゴミ等の画像を除去する。中心仮定領域の設定処理部９は印影イメージに外接する矩形の中心とｘ軸ｙ軸に沿って十字形に設けた複数の分布点から引いた複数の直線とから印影イメージの中心座標を決定する。長径短径候補算出処理部１０は印影イメージの中心座標とｙ軸ｘ軸で形成される１／４楕円周領域を順次に角２等分しながら短径を抽出し、短径から長径を算出する。傾き角算出部１１は上記得られたデータから逆正接関数を用いて楕円の傾き角θを算出する。楕円形抽出処理部１２と楕円正立処理部１３は上記得られたデータからＨｏｕｇｈ変換により楕円の抽出と正立イメージの変換を行う。【選択図】図２
2011204197.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スキャナで読み取った又はイメージデータベースから読み出した印影イメージをイメージメモリに展開するイメージ展開部と、
該イメージ展開部が前記イメージメモリに展開した前記印影イメージの中心座標のＸ値、Ｙ値、長径の長さ、短径の長さ、及び傾き角の合計５つのパラメータを予め決定する演算部と、
該演算部が決定した前記５つのパラメータを用いてＨｏｕｇｈ変換により前記印影イメージが楕円であることを検出させる楕円形抽出部と、
該楕円形抽出部により抽出された前記印影イメージが正立形に対して傾きがあるとき該傾きの角度を正立の角度に補正する楕円正立処理部と、
該楕円正立処理部により正立の角度に補正された前記印影イメージをモニタ画面に表示する表示部と、
を有することを特徴とする楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置。
【請求項２】
前記演算部は、前記印影イメージの中心座標を決定する中心決定部と、前記印影イメージが楕円であるとき該楕円の長径と短径を算出する長径短径算出部と、楕円の前記印影イメージが正立形に対して傾きがあるとき該傾きの角度を算出する傾き角算出部と、を有することを特徴とする請求項１記載の楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置。
【請求項３】
前記中心決定部は、
前記印影イメージに外接する矩形を抽出し、
該矩形の中心座標を算出し、
該中心座標を中心としてｘ軸及びｙ軸に沿って十字形に所定の間隔で展開する分布点を設定し、
前記ｘ軸に沿って展開する前記分布点を通って前記ｙ軸に平行な直線を引き、
該直線毎に該直線と前記印影イメージの最外部との２交点を取得し、
該２交点間の距離をｙ軸方向線分長とし、
前記ｙ軸に沿って展開する前記分布点を通って前記ｘ軸に平行な直線を引き、
該直線毎に該直線と前記印影イメージの最外部との２交点を取得し、
該２交点間の距離をｘ軸方向線分長とし、
前記ｙ軸方向線分長のうち最長のｙ軸方向線分長が前記ｘ軸と交わる点をＸｐとし、
前記ｘ軸方向線分長のうち最長のｘ軸方向線分長が前記ｙ軸と交わる点をＹｐとし、
前記印影イメージの中心座標を（Ｘｐ，Ｙｐ）と決定する、
ことを特徴とする請求項２記載の楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置。
【請求項４】
前記長径短径算出部は、
前記印影イメージの中心から前記ｙ軸の方向に引いた線と前記印影イメージの最外部との交点と、前記印影イメージの中心との距離を線分Ｄｙとして取得し、
前記印影イメージの中心から前記ｘ軸の方向に引いた線と前記印影イメージの最外部との交点と、前記印影イメージの中心との距離を線分Ｄｘとして取得し、
前記線分Ｄｙと前記線分Ｄｘとの間の角度を２等分する角２等分線と前記印影イメージの最外部との交点と、前記印影イメージの中心との距離を線分Ｄｗとして取得し、
前記線分Ｄｙ＞前記線分Ｄｘのとき前記線分Ｄｗと前記線分Ｄｘとの間を前記印影イメージの短径が存在する短径存在領域とし、
前記線分Ｄｙ＜前記線分ｒＤｘのとき前記線分Ｄｗと前記線分Ｄｘとの間を前記印影イメージの長径が存在する長径存在領域とし、
前記短径存在領域に角２等分線を引き、該角２等分線と前記印影イメージの最外部との交点と、前記印影イメージの中心との距離を線分Ｄｗｉとして取得し、
前記線分Ｄｗ＞前記線分Ｄｘのとき前記線分Ｄｗｉと前記線分Ｄｘとの間を前記短径が存在する新たな短径存在領域とし、
前記線分Ｄｗ＜前記線分Ｄｘのとき前記線分Ｄｗｉと前記線分Ｄｗとの間を前記短径が存在する新たな短径存在領域とし、
前記新たな短径存在領域に対し角２等分線を引いて線分Ｄｗｉ＋ｎ（ｎ＝１、２、・・・）を取得し、更に新たな短径存在領域を取得するということを繰り返し、
前記線分Ｄｗｉ＋ｎを挟む２つの線分の長さの差分が所定の誤差以内であるとき、前記線分Ｄｗｉ＋ｎを前記短径であると決定し、
該短径に垂直で印影イメージの中心を通り前記印影イメージの最外部と交わる線分を前記長径と決定する、
ことを特徴とする請求項２記載の楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置。
【請求項５】
前記傾き角算出部は、
前記印影イメージの中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と前記短径と前記印影イメージの最外部との交点座標（Ｘａ，Ｙａ）とから、該交点座標（Ｘａ，Ｙａ）から前記ｘ軸に垂直に降ろした線と前記ｘ軸との交点座標（Ｘａ，Ｙｐ）を求め、
これらの座標（Ｘｐ，Ｙｐ）、（Ｘａ，Ｙａ）、及び（Ｘａ，Ｙｐ）をパラメータとして逆正接関数を用い、楕円の傾き角θを算出する、
ことを特徴とする請求項２記載の楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、楕円印の印影を検出し、その検出した楕円印の傾いた印影を自動正立させる楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、銀行等で顧客の帳票を取扱う場合、帳票に押捺された印影を予め登録し、本人確認の際には他の用紙に押捺された印鑑の印影と登録されている印影とを照合し、照合が一致すれば本人であると認証する本人確認の方法が採用されている。
【０００３】
しかしながら、印鑑が例えば楕円印であると、登録されている印影が正立でなく斜めであったり、登録されている印影が正立であっても、用紙に押捺された印影が斜めであったりすると、モニタなどによる印影の照合時に比較が困難になる場合が多い。
【０００４】
このような場合の登録印影と押捺印影の比較を自動化して照合作業を容易にするために、例えば、仮中心算出部、長径短径算出部と傾き算出部で楕円の図形的性質を用いて演算処理し、演算結果を評価し、評価が充分に収束するまで繰り返し演算して、楕円の中心と傾きを決定する画像解析装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
また、例えば、かすれや欠け等が有っても印影に対し複数の直線を引いてそれらの交点群の中から印影の中心点を得る印影位置決め方法と装置が提案されている（例えば、特許文献２参照）。
【０００６】
また、例えば、エッジと接線ベクトルを抽出し、点・線対称図形の抽出を経て、ハフ変換で楕円の長径と短径を演算して楕円を抽出する形状認識装置が提案されている（例えば、特許文献３参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平１１−３４４３１０号公報
【特許文献２】特開２００２−１０９５４４号公報
【特許文献３】特開２００２−２１６１３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献１〜３に示される従来技術は、楕円印の検出に複雑な演算を用いて多くの処理時間を要するという課題がある。
上記の課題を解決するために、本発明は、楕円印の印影を検出し、その検出した楕円印の傾いた印影を自動正立させる楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置は、スキャナで読み取った又はイメージデータベースから読み出した印影イメージをイメージメモリに展開するイメージ展開部と、該イメージ展開部が上記イメージメモリに展開した上記印影イメージの中心座標のＸ値、Ｙ値、長径の長さ、短径の長さ、及び傾き角の合計５つのパラメータを予め決定する演算部と、該演算部が決定した上記５つのパラメータを用いてＨｏｕｇｈ変換により上記印影イメージが楕円であることを検出させる楕円形抽出部と、該楕円形抽出部により抽出された上記印影イメージが正立形に対して傾きがあるとき該傾きの角度を正立の角度に補正する楕円正立処理部と、該楕円正立処理部により正立の角度に補正された上記印影イメージをモニタ画面に表示する表示部と、を有して構成される。
【００１０】
この楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置において、上記演算部は、例えば、上記印影イメージの中心座標を決定する中心決定部と、上記印影イメージが楕円であるとき該楕円の長径と短径を算出する長径短径算出部と、楕円の上記印影イメージが正立形に対して傾きがあるとき該傾きの角度を算出する傾き角算出部と、を有して構成される。
【００１１】
この場合、上記中心決定部は、例えば、上記印影イメージに外接する矩形を抽出し、該矩形の中心座標を算出し、該中心座標を中心としてｘ軸及びｙ軸に沿って十字形に所定の間隔で展開する分布点を設定し、上記ｘ軸に沿って展開する上記分布点を通って上記ｙ軸に平行な直線を引き、該直線毎に該直線と上記印影イメージの最外部との２交点を取得し、該２交点間の距離をｙ軸方向線分長とし、上記ｙ軸に沿って展開する上記分布点を通って上記ｘ軸に平行な直線を引き、該直線毎に該直線と上記印影イメージの最外部との２交点を取得し、該２交点間の距離をｘ軸方向線分長とし、上記ｙ軸方向線分長のうち最長のｙ軸方向線分長が上記ｘ軸と交わる点をＸｐとし、上記ｘ軸方向線分長のうち最長のｘ軸方向線分長が上記ｙ軸と交わる点をＹｐとし、上記印影イメージの中心座標を（Ｘｐ，Ｙｐ）と決定するように構成される。
【００１２】
また、上記長径短径算出部は、例えば、上記印影イメージの中心から上記ｙ軸の方向に引いた線と上記印影イメージの最外部との交点と、上記印影イメージの中心との距離を線分Ｄｙとして取得し、上記印影イメージの中心から上記ｘ軸の方向に引いた線と上記印影イメージの最外部との交点と、上記印影イメージの中心との距離を線分Ｄｘとして取得し、上記線分Ｄｙと上記線分Ｄｘとの間の角度を２等分する角２等分線と上記印影イメージの最外部との交点と、上記印影イメージの中心との距離を線分Ｄｗとして取得し、上記線分Ｄｙ＞上記線分Ｄｘのとき上記線分Ｄｗと上記線分Ｄｘとの間を上記印影イメージの短径が存在する短径存在領域と仮定し、上記線分Ｄｙ＜上記線分Ｄｘのとき上記線分Ｄｗと上記線分Ｄｘとの間を上記印影イメージの長径が存在する長径存在領域とし、上記短径存在領域に角２等分線を引き、該角２等分線と上記印影イメージの最外部との交点と、上記印影イメージの中心との距離を線分Ｄｗｉとして取得し、上記線分Ｄｗ＞上記線分Ｄｘのとき上記線分Ｄｗｉと上記線分Ｄｘとの間を上記短径が存在する新たな短径存在領域とし、上記線分Ｄｗ＜上記線分Ｄｘのとき上記線分Ｄｗｉと上記線分Ｄｗとの間を上記短径が存在する新たな短径存在領域とし、上記新たな短径存在領域に対し角２等分線を引いて線分Ｄｗｉ＋ｎ（ｎ＝１、２、・・・）を取得し、更に新たな短径存在領域を取得するということを繰り返し、上記線分Ｄｗｉ＋ｎを挟む２つの線分の長さの差分が所定の誤差以内であるとき、上記線分Ｄｗｉ＋ｎを上記短径であると決定し、該短径に垂直で印影イメージの中心を通り上記印影イメージの最外部と交わる線分を上記長径と決定する、ように構成される。
【００１３】
また、上記傾き角算出部は、例えば、上記印影イメージの中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と上記短径と上記印影イメージの最外部との交点座標（Ｘａ，Ｙａ）とから、該交点座標（Ｘａ，Ｙａ）から上記ｘ軸に垂直に降ろした線と上記ｘ軸との交点座標（Ｘａ，Ｙｐ）を求め、これらの座標（Ｘｐ，Ｙｐ）、（Ｘａ，Ｙａ）、及び（Ｘａ，Ｙｐ）をパラメータとして逆正接関数を用い、楕円の傾き角θを算出する、ように構成される。
【発明の効果】
【００１４】
本発明は、短時間で、楕円印の印影を検出し、その検出した楕円印の傾いた印影を自動正立させる楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置を提供することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の実施例１に係る楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置において検出されて自動正立処理される楕円印の印影イメージを示す図である。
【図２】実施例１に係る楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置の機能ブロック図である。
【図３】実施例１に係る楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置によって処理される楕円印検出と検出された楕円印の自動正立処理の処理動作を示すメインフローチャートである。
【図４】図３に示すメインフローチャートにおけるステップＳ２の楕円中心仮定点決定処理の詳細を説明するフローチャートである。
【図５】楕円中心仮定点決定処理の処理内容を具体的に示す図（その１）である。
【図６】楕円中心仮定点決定処理の処理内容を具体的に示す図（その２）である。
【図７】(a),(b),(c)は楕円中心仮定点決定処理の処理内容を具体的に示す図（その３）である。
【図８】楕円中心仮定点決定処理の処理内容を具体的に示す図（その４）である。
【図９】(a),(b),(c)は楕円中心仮定点決定処理の処理内容を具体的に示す図（その５）である。
【図１０】楕円中心仮定点決定処理の処理内容を具体的に示す図（その６）である。
【図１１Ａ】図３に示すメインフローチャートにおけるステップＳ３の長径短径算出処理を更に詳しく説明するフローチャート（その１）である。
【図１１Ｂ】図３に示すメインフローチャートにおけるステップＳ３の長径短径算出処理を更に詳しく説明するフローチャート（その２）である。
【図１２Ａ】図３に示すメインフローチャートにおけるステップＳ３の長径短径算出処理を更に詳しく説明するフローチャート（その３）である。
【図１２Ｂ】図３に示すメインフローチャートにおけるステップＳ３の長径短径算出処理を更に詳しく説明するフローチャート（その４）である。
【図１３】(a),(b),(c) は長径短径算出処理の処理内容を具体的に示す図（その１）である。
【図１４】長径短径算出処理の処理内容を具体的に示す図（その２）である。
【図１５】(a),(b) は長径短径算出処理の処理内容を具体的に示す図（その３）である。
【図１６】(a) 〜(e) は長径短径探索処理の基本となる４つのパターンと線分Ｄｘ、Ｄｙ、Ｄｗ及びＤｖの大小関係を説明する図である。
【図１７】図１６のパターンと探索モード及び探索領域との関係を示す図表である。
【図１８】(a),(b),(c) はパターン１の場合を取り上げて短径探索処理の手順を具体的に示す図（その１）である。
【図１９】(a),(b),(c) はパターン１の場合を取り上げて短径探索処理の手順を具体的に示す図（その２）である。
【図２０】(a),(b),(c) はパターン１の場合を取り上げて短径探索処理の手順を具体的に示す図（その３）である。
【図２１】図３に示すメインフローチャートにおけるステップＳ４の傾き角算出処理を更に詳しく説明するフローチャートである。
【図２２】傾き角算出処理における処理内容を具体的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
【実施例１】
【００１７】
図１は、実施例１に係る楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置において検出されて自動正立処理される楕円印の印影イメージを示す図である。図１に示す楕円印の印影イメージ１において、その縁枠２の内側に示されるＡの印鑑文字３は、苗字等を簡略に模式的に示したものである。
【００１８】
この印影イメージ１は、登録印をスキャナで読み込んで、記憶装置の印影データベースに登録されている印影イメージを読み出したものである。また、この印影イメージ１の縁枠２の幅ｎの値は、統計上サンプリングした値を使用する（例えばｎ＝０．５ｍｍとする）。
【００１９】
図２は、実施例１に係る楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置の機能ブロック図である。図２に示すように、楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置５は、画像取得部６、ノイズ除去部７、エッジ抽出部８、中心仮定領域の設定処理部９、長径短径候補算出処理部１０、傾き角算出部１１、楕円形抽出処理部１２、楕円正立処理部１３を備えている。
【００２０】
画像取得部６には外部の印影ＤＢ（データベース）サーバ１４が接続され、楕円正立処理部１３には、外部のモニタ１５が接続されている。
図３は、上記構成の楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置５によって処理される楕円印検出と、その検出された楕円印の自動正立処理の処理動作を示すメインフローチャートである。以下、楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置５を単に制御装置５という。
【００２１】
図３において、処理が開始されると、制御装置５は、先ず、印影イメージ読み込み処理を行う（ステップＳ１）。この処理は、制御装置５の図２に示す画像取得部６、ノイズ除去部７、及びエッジ抽出部８によって行われる処理である。
【００２２】
画像取得部６、ノイズ除去部７、及びエッジ抽出部８は、従来技術のイメージ処理部と同様の機能部を有している。ここまでの処理で、印影イメージ１の外側の罫線の除去、及びラベリング手法を用いて印影イメージの輪郭の外側領域にあるゴミ等の画像は除去することができる。これにより図１に示す楕円印の印影イメージ１が取得される。
【００２３】
続くステップＳ２の楕円中心仮定点決定処理では、中心仮定領域の設定処理部９によって詳しくは後述する処理が行われる。また、次のステップＳ３の長径短径算出処理では、長径短径候補算出処理部１０によって詳しくは後述する処理が行われる。
【００２４】
その後に続くステップＳ４の傾き角算出処理では、傾き角算出部１１により詳しくは後述する処理が行われ、印影イメージ１の中心座標と傾き角が算出される。この後、従来技術と同様の機能部である楕円形抽出処理部１２によって、ステップＳ５の楕円Ｈｏｕｇｈ変換処理が行われて図１に示す楕円印の印影イメージ１がイメージデータとして検出される。
【００２５】
続いて、ステップＳ６で、上記検出した印影イメージ１のイメージデータが楕円であるかを判定し、楕円と判断した場合はステップＳ７で、楕円正立処理部１３による印影イメージ１のイメージデータの回転処理が行われて、正立した楕円印のイメージデータが生成される。
【００２６】
そして、ステップＳ８では、同じく楕円正立処理部１３からモニタ１５に対し、回転処理によって正立した楕円印のイメージデータが出力される。これにより、正立した楕円印の印影がモニタ１５に映し出されて、処理が終了する。
【００２７】
図４は、図３に示すメインフローチャートのステップＳ２における楕円中心仮定点決定処理の詳細を説明するフローチャートである。
図５、図６、図７(a),(b),(c) 、図８、図９(a),(b),(c) 及び図１０は、それぞれ楕円中心仮定点決定処理の処理内容を具体的に示す図である。
【００２８】
先ず、図４において処理が開始されると、制御装置５は、従来からのエッジ抽出処理の技術を用いて円検出処理とエッジ抽出処理により取得される印影輪郭に外接する矩形領域を抽出し、その抽出した矩形領域の縦横の長さＢ、Ａを求める（ステップＳ２０１）。
【００２９】
この処理では、図５に示すように印影イメージ１の縁枠２に外接する矩形領域１６が抽出され、その矩形領域１６の縦横の長さＢｍｍ及びＡｍｍが取得される。次に制御装置５は、印影イメージ１の中心付近の座標（ｘ０，ｙ０）を取得する（ステップＳ２０２）。
【００３０】
この処理では、矩形領域１６の座標値から、図５に示すように矩形領域１６の中心座標（ｘ０、ｙ０）を求める。このように矩形領域１６の中心座標（ｘ０、ｙ０）を印影イメージ１の中心付近の座標とするのは、印影イメージ１に外接する矩形領域１６の中心が印影イメージ１の中心とは限らないからである。
【００３１】
次に、図４では処理フローの図示が省略されているが、制御装置５は、図６に示すように、矩形領域１６の中心座標（ｘ０、ｙ０）を中心に、図５の矩形領域１６の縦横の長さのそれぞれ１／２の縦横の長さの縦Ｂ／２ｍｍ及び横Ａ／２ｍｍの矩形を設定する。
【００３２】
そして、この設定した矩形領域を中心仮定領域１７とする。中心仮定領域とは、エッジ抽出した楕円の印影イメージ１の中心座標が、この範囲内に存在すると仮定する領域の意味である。
【００３３】
そして、この中心仮定領域１７内に存在すると仮定する中心仮定点を検索するための検索幅として、印影イメージ１の縁枠２の幅ｎを設定する（ステップＳ２０３）。
次に、これも図４では処理フローの図示が省略されているが、中心仮定領域１７内に、矩形領域１６の中心座標（ｘ０、ｙ０）、つまり中心仮定領域１７の仮の中心位置を中心として、ｘ軸、ｙ軸に平行に十字形に、間隔ｎで分布する分布点１８が配置される。
以後の説明では上記分布点を図６に示すように、それぞれ５個の分布点１８で代表的に示す。
【００３４】
続いて、制御装置５は、カウンタｉの値ｉを０に初期化する（ステップＳ２０４）。
更に続いて、制御装置５は、（ｘ０−Ａ／４＋ｉ＊ｎ，ｙ０）の位置に、ｙ軸に平行な直線を引く（ステップＳ２０５）。
【００３５】
最初は、ｉ＝０であるからｉ＊ｎ＝０である。したがって（ｘ０−Ａ／４，ｙ０）の位置に直線が引かれる。上記の（ｘ０−Ａ／４，ｙ０）の位置は、図７(a) に示す分布点１８−０の位置である。この位置を通ってｙ軸に平行な直線１９−０が引かれる。そして、制御装置５は、直線１９−０と楕円の印影イメージ１の外側輪郭との２つの交点２１−０、２１−０間の距離を算出する（ステップＳ２０６）。
【００３６】
尚、直線と楕円印イメージ１との交点は、縁枠２との交点と印鑑文字３との交点とが発生する場合があるが、上記２つの交点は、常に直線と楕円印イメージとの交点のうち最も外側のものを楕円輪郭の外側輪郭との交点とみなすものとする。
【００３７】
また、印影イメージ１の外側輪郭とは、図１に示した縁幅ｎには内外に輪郭を持つが、その外側の輪郭のことである。制御装置５は、上記算出した交点間距離を不図示のメモリに記憶する（ステップＳ２０７）。
【００３８】
次に、制御装置５は、カウンタｉの値ｉを「１」インクリメントして（ステップＳ２０８）、そのカウンタｉの値ｉが、ｉ＞Ａ＊１／２＊１／ｎとなったか否か判別する８ステップＳ２０９）。
【００３９】
ここで、ｉ＝Ａ＊１／２＊１／ｎ、つまりｉ＝Ａ／２ｎなら、ｉ＊ｎ＝Ａ／２となる。したがって、線引きの位置座標（ｘ０−Ａ／４＋ｉ＊ｎ，ｙ０）は（ｘ０＋Ａ／４，ｙ０）、つまり、図７(c) に示す分布点１８−ｍ（ｍ＝０、１、２、・・・、Ａ／２ｎ）の位置である。
【００４０】
カウンタｉの値ｉが、未だｉ＞Ａ＊１／２＊１／ｎでない場合は（Ｓ２０９の判別がＮｏ）、制御装置５は、ステップＳ２０５に戻って、ステップＳ２０６〜Ｓ２０９の処理を繰り返す。
【００４１】
これにより、図７(a) に示すように、分布点１８−０の次に間隔ｎで配置されている分布点１８−１を通ってｙ軸に平行な直線１９−１が引かれる。そして、この処理が、ｉ＞Ａ＊１／２＊１／ｎとなるまで（Ｓ２０９の判別がＹｅｓ）順次繰り返される。
【００４２】
これにより、図７(b) に示すように、印影イメージ１の仮の中心座標（ｘ０，ｙ０）の分布点１８を含み、最右端の分布点１８−ｍまで、中心仮定領域１７内においてｘ軸上に間隔ｎで配置されたＡ／２ｎ＋１個の分布点１８を通ってｙ軸に平行なＡ／２ｎ＋１本の直線が生成される。
【００４３】
そして、これらＡ／２ｎ＋１本の直線それぞれについて、印影イメージ１の外側輪郭との２つの交点間の距離が算出され、その算出された交点間距離がメモリに記憶される。
尚、ここで、直線と楕円印イメージとの交点は、縁枠２との交点と印鑑文字３との交点とが発生する場合があるが、上記２つの交点は、常に直線と楕円印イメージとの交点のうち最も外側のものを楕円輪郭との交点とみなす。
【００４４】
やがて、ステップＳ２０９で、ｉ＞Ａ＊１／２＊１／ｎとなった場合は（Ｓ２０９の判別がＹｅｓ）、制御装置５は、メモリに記憶された分布点１８の全てから引いた直線と楕円印イメージとの２交点間距離の中から、図８に示すように、もっとも大きい交点間距離の値を持つ直線αのｘ座標Ｘｐを取り出す（ステップＳ２１０）。
【００４５】
ここで、楕円の内部を通る直線があって、その直線に平行な直線のうち、２交点間の距離が最長のものは、楕円の中心を通るという性質を利用して、印影イメージ１の中心座標は、上記の直線α上にあると判断する。また、ｘ座標Ｘｐは、印影イメージ１の中心のｘ座標に最も近いと判断する。
【００４６】
次に、制御装置５は、印影イメージ１の中心座標を抽出するために、y軸上に間隔ｎで分布配置されている分布点１８を通り、x軸に平行に直線を引く。
すなわち、制御装置５は、再びカウンタｉの値ｉを０に初期化する（ステップＳ２１１）。更に続いて、制御装置５は、（Ｘｐ，ｙ０−Ｂ／４＋ｉ＊ｎ）の位置に、ｙ軸に平行な直線を引く（ステップＳ２１２）。
【００４７】
この場合も最初はｉ＝０であるからｉ＊ｎ＝０である。したがって（Ｘｐ、ｙ０−Ｂ／４）の位置に直線が引かれる。上記の（Ｘｐ、ｙ０−Ｂ／４）の位置は、図９(a) に示す分布点１８−ｙ０の位置である。この位置を通ってｘ軸に平行な直線１９−ｙ０が引かれる。
【００４８】
そして、制御装置５は、直線１９−ｙ０と楕円の印影イメージ１の外側輪郭との２つの交点間の距離を算出する（ステップＳ２１３）。これにより、図９(a) に示す直線１９−ｙ０と印影イメージ１の外側輪郭との２つの交点２１−ｙ０、２１−ｙ０間の距離が算出される。
【００４９】
尚、この場合も、印影イメージ１の外側輪郭との２交点は、印鑑文字３との交点を除き、図１に示した縁幅ｎの内外の輪郭に対する外側の輪郭との２交点である。制御装置５は、上記算出した交点間距離を不図示のメモリに記憶する（ステップＳ２１４）。
【００５０】
次に、制御装置５は、カウンタｉの値ｉを「１」インクリメントして（ステップＳ２１５）、そのカウンタｉの値ｉが、ｉ＞Ｂ＊１／２＊１／ｎとなったか否か判別する８ステップＳ２１６）。
【００５１】
ここで、ｉ＝Ｂ＊１／２＊１／ｎ、つまりｉ＝Ｂ／２ｎなら、ｉ＊ｎ＝Ｂ／２となる。したがって、線引きの位置座標（Ｘｐ，ｙ０−Ｂ／４＋ｉ＊ｎ）は（Ｘｐ，ｙ０＋Ｂ／４）、つまり、図９(c) に示す分布点１８−ｙｍ（ｍ＝０、１、２、・・・、Ｂ／２ｎ）の位置である。
【００５２】
カウンタｉの値ｉが、未だｉ＞Ｂ＊１／２＊１／ｎでない場合は（Ｓ２１６の判別がＮｏ）、制御装置５は、ステップＳ２１２に戻って、ステップＳ２１２〜Ｓ２１６の処理を繰り返す。
【００５３】
これにより、図９(a) に示すように、分布点１８−ｙ０の次に間隔ｎで配置されている分布点１８−ｙ１を通ってｘ軸に平行な直線１９−ｙ１が引かれる。そして、この処理が、ｉ＞Ｂ＊１／２＊１／ｎとなるまで（Ｓ２１６の判別がＹｅｓ）順次繰り返される。
【００５４】
これにより、図９(b) に示すように、印影イメージ１の仮の中心座標（ｘ０，ｙ０）の分布点１８を含み、最下端の分布点１８−ｙｍまで、中心仮定領域１７内においてｙ軸上に間隔ｎで配置されたＢ／２ｎ＋１個の分布点１８を通ってｘ軸に平行なＢ／２ｎ＋１本の直線が生成される。
【００５５】
そして、これらＢ／２ｎ＋１本の直線それぞれについて、印影イメージ１の外側輪郭との２つの交点間の距離が算出され、その算出された交点間距離がメモリに記憶される。
ここで、ステップＳ２１７で、ｉ＞Ｂ＊１／２＊１／ｎとなるので（Ｓ２１７の判別がＹｅｓ）、制御装置５は、メモリに記憶された交点間距離のうち、もっとも大きい値のｙ座標Ｙｐを取り出す（ステップ２１７）。
【００５６】
制御装置５は、メモリに記憶された分布点１８の全てから引いた直線と楕円印イメージとの２交点間距離の中から、図１０に示すように、もっとも大きい交点間距離の値を持つ直線βのｙ座標Ｙｐを取り出す（ステップＳ２１７）。
【００５７】
この場合も、楕円の内部を通る直線があって、その直線に平行な直線のうち、２交点間の距離が最長のものは、楕円の中心を通るという性質を利用して、印影イメージ１の中心座標は、上記の直線β上にあると判断する。そしてｙ座標Ｙｐは、印影イメージ１の中心のｙ座標に最も近いと判断する。
【００５８】
そこで、直線αと直線βの交点となる座標（Ｘｐ，Ｙｐ）を印影イメージ１の中心座標に最も近い座標であると見做すことにして、つまり印影イメージ１の仮の中心座標「中心仮定座標」と決定して（ステップＳ２１８）、図３のステップＳ２の楕円中心仮定点決定処理を終了する。
【００５９】
図１１Ａ、図１１Ｂ、図１２Ａ及び図１２Ｂは、図３に示すメインフローチャートにおけるステップＳ３の長径短径算出処理を更に詳しく説明するフローチャートである。
図１３(a),(b),(c) 、図１４(a),(b),(c) 、図１５(a),(b) 、図１６(a) 〜(e) 、図１７、図１８(a),(b),(c) 、図１９(a),(b),(c) 、及び図２０(a),(b),(c) は、それぞれ長径短径算出処理の処理内容を具体的に示す図である。
【００６０】
図１１Ａにおいて、制御装置５は、楕円の長径と短径を求めるため、楕円の長径及び短径となる印影イメージ１の縁枠２の周上の座標位置を算出するための処理を行う。
そのために、制御装置５は、先ず、上記の楕円中心仮定点決定処理で決定した楕円の中心仮定座標（Ｘｐ，Ｙｐ）からx座標とy座標にそれぞれ平行に線２２及び２３を引く（ステップＳ３０１）（図１３(a) 参照）。  
【００６１】
次に、線２２又は２３と印影イメージ１の最も上部外側との交点座標を獲得して、この座標を座標（Ｘｐ，Ｙｕ）とする（ステップＳ３０２）（図１３(a) 参照）。
更に、線２２又は２３と印影イメージ１の最も右外側との交点座標を獲得して、この座標を座標（Ｘｒ，Ｙｐ）とする（ステップＳ３０３）（図１３(a) 参照）。
【００６２】
ここで取得された最も上部外側との交点座標（Ｘｐ，Ｙｕ）と最も右外側との交点座標（Ｘｒ，Ｙｐ）との間の４分の１楕円周２４（図１３(b) 参照）上のどこかに、楕円の長径又は短径がある。
【００６３】
そこで、制御装置５は、最も上部外側との交点座標（Ｘｐ，Ｙｕ）と中心仮定座標（Ｘｐ，Ｙｐ）との距離Ｄｙを取得し、この距離Ｄｙの直線を線分Ｄｙとする（ステップＳ３０４）（図１３(c) 参照）。
【００６４】
更に制御装置５は、最も右外側との交点座標（Ｘｒ，Ｙｐ）と中心仮定座標（Ｘｐ，Ｙｐ）との距離Ｄｘを取得し、この距離Ｄｘの直線を線分Ｄｘとする（ステップＳ３０５）（図１３(c) 参照）。
【００６５】
そして、これらの線分Ｄｙと線分Ｄｘに対し、それらの間の角度を２等分する直線２５を引く。そして、直線２５と印影イメージ１の最も両外側輪郭との２交点の座標を求め、その２交点間の距離Ｄｗを取得し、この距離Ｄｗの直線を線分Ｄｗとする（ステップＳ３０６）（図１４(a) 参照）。
【００６６】
印影イメージ１が楕円であれば、線分Ｄｙと線分Ｄｘの長さの差が許容誤差以下の場合には、２つの線の２等分線（直線２５）上に楕円の長径又は短径が存在する可能性がある。すなわち線分Ｄｗは楕円の長径又は短径である可能性がある。
【００６７】
図１４(a) までは楕円の印影が左に傾斜している場合を例にとって説明したてきたが、実際には、制御装置５は、処理段階の後半に至るまで、楕円の印影イメージ１が左右どちらに傾斜しているかは不明のままである。
【００６８】
図１５(a) のように楕円の印影イメージ１が左に傾斜している場合は、線分Ｄｗが楕円の短径となる。そして、図１５(b) のように楕円の印影イメージ１が右に傾斜している場合は、線分Ｄｗが楕円の長径となる。
【００６９】
このことを検出するために、制御装置５は、誤差の値として楕円がまったく傾いていない状態からのぶれ角が例えば５度以内とした場合の、線分Ｄｙと線分Ｄｘの長さの差以内であるか否かで判断する。
【００７０】
そして、制御装置５は、この線分Ｄｙと線分Ｄｘの長さの差分の誤差許容値を一例として±７．３％を設定する（ステップＳ３０７）。この数値は「長径短径比＝３：２」でかつ長径短径軸からのぶれ角を５度まで許容した場合のシュミレーション値として決定した値であり、実運用上は外部的に指定する可変値である。
【００７１】
この設定値に基づいて、制御装置５は、線分Ｄｙと線分Ｄｘの長さの差によって処理を分岐する。すなわち、先ず、線分Ｄｙの長さが線分Ｄｘの長さに対し所定の誤差以内であるか否かを判別する（ステップＳ３０８）。
【００７２】
ここで長さの差が所定の誤差以内であれば（Ｓ３０８の判別がＹｅｓ）、更に続いて制御装置５は、「Ｄｘ＜Ｄｗ／２＜Ｄｙ」又は「Ｄｙ＜Ｄｗ／２＜Ｄｘ」であるか否か判別する（ステップＳ３０９）。
【００７３】
そして、判別がＹｅｓの場合は、制御装置５は、現在調べている印鑑の印影イメージ１の形状は、楕円でない（例えば、円の場合）と判断して処理を終了する（ステップＳ３１０）。
【００７４】
一方、ステップＳ３０９の判別がＮｏの場合は、制御装置５は、２等分線２５上の交点座標（Ｘｗ，Ｙｗ）が短径の座標か長径の座標かを判断するために、２等分線２５（＝線分Ｄｗ）に垂直かつ印影イメージ１の中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）を通る直線２６を引く（以下、図１５(a),(b) 参照）。
【００７５】
更に、制御装置５は、その直線２６と印影イメージ１の両外側輪郭との２交点の座標を求め、その２交点間の距離Ｄｖを取得し、この距離Ｄｖの直線を線分Ｄｖとする（ステップＳ３１１）。
【００７６】
そして、制御装置５は、線分Ｄｗと線分Ｄｖのうち、大きい方（長い方）を長径、小さい方（短い方）を短径として（ステップＳ３１２）、処理を終了する。尚、この処理では、長径は、図１５(a) の場合では線分Ｄｖ、図１５(b) の場合では線分Ｄｗ、短径は、図１５(a) の場合では線分Ｄｗ、図１５(b) の場合では線分Ｄｖ、となる。
【００７７】
また、上記ステップＳ３０８の判別でＮｏの場合は、この場合も制御装置５は、図１６(a) に示すように、２等分線２５上の交点座標（Ｘｗ，Ｙｗ）が短径の座標か長径の座標かを判断するために、２等分線２５（＝線分Ｄｗ）に垂直かつ印影イメージ１の中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）を通る直線２６を引く。
【００７８】
更に、制御装置５は、その直線２６と印影イメージ１の両外側輪郭との２交点の座標を求め、その２交点間の距離Ｄｖを取得し、この距離Ｄｖの直線を線分Ｄｖとする（ステップＳ３１３）。
【００７９】
そして、制御装置５は、「（Ｄｗ／２）＞Ｄｘ」か否かを判別する（ステップＳ３１４）。そして、Ｓ３１４の判別がＹｅｓなら長径の探索を行うと決定し（ステップＳ３１５）、Ｓ３１４の判別がＮｏなら短径の探索を行うと決定し（ステップＳ３１６）、いずれの場合もステップＳ３１７の処理に進む。
【００８０】
ステップＳ３１７の処理では、制御装置５は、以後に行う処理の最大繰り返し数ｎを設定する。設定値の一例としてｎ＝５とする。これは直交座標の第一象限（９０度）にて探索し、長径短径の軸のぶれ角を５度まで許容した場合の最大繰り返し回数であり「４＜ｌｏｇ２（９０／５）＜５」から算出された値である。このｎも許容するぶれ角の値によって可変的に決定する外部設定値である。
【００８１】
制御装置５は、上記の設定の下に、カウンタｉの値を「１」に初期設定する（ステップＳ３１８）。そして、図１１Ｂにおいて、先ず、繰り返し探索の初期値を設定する。
先ず、Ｄｗ／２をＤｗ０とし（ステップＳ６００）、ＤｙをＤｙ０とし（ステップＳ６０１）、ＤｘをＤｘ０として（ステップＳ６０２）、短径探索モードで且つＤｙ０＞Ｄｘ０、又は長径探索モードで且つＤｙ０＜Ｄｘ０であるか否か判別する（ステップＳ６０３）。
【００８２】
そして、上記の判別がＹｅｓなら、２等分線からｘ軸側を探索する場合の初期値としてＤｗ０をＤｙ１とし（ステップＳ６０４）、Ｄｘ０をＤｘ１として（ステップＳ６０５）、ステップＳ３１９（図１１Ｂ）〜Ｓ３３２（図１２Ａ）の処理を、「ｉ≦ｎ」の範囲で結果が出るまで繰り返して行う。
【００８３】
また、上記の判別がＮｏなら、２等分線からｙ軸側を探索する場合の初期値としてＤｙ０をＤｙ１とし（ステップＳ６０６）、Ｄｗ０をＤｘ１として（ステップＳ６０７）、ステップＳ３１９〜Ｓ３３２の処理を「ｉ≦ｎ」の範囲で結果が出るまで繰り返して行う。
【００８４】
この繰り返し処理では、先ず、制御装置５は、線分Ｄｙiと線分Ｄｘi間の角度を２等分する直線２５を引く。ここでＤｙi、Ｄｘｉはそれぞれ繰り返し処理のｉ回目における、短径（もしくは長径）を探索する楕円領域上において、最もｙ軸、ｘ軸に近い線分のことである。そして、直線２５と印影イメージ１の最も外側輪郭との交点の座標（Ｘｗｉ，Ｙｗｉ）を獲得する（ステップＳ３２０）（図１６(a) 参照）。
【００８５】
そして、２等分の直線２５の印影イメージ１の中心（Ｘｐ，Ｙｐ）から交点座標（Ｘｗｉ，Ｙｗｉ）までの距離（線分）Ｄｗｉを算出する（ステップＳ３２３）。尚、図１４(a) に示す線分Ｄｗは、繰り返し処理においてｉ＝１の場合のＤｗｉを２倍した線分に相当する。線分Ｄｗｉは繰り返し処理の中で、Ｄｙｉ、Ｄｘｉが順次位置を変えることで変化する線分である（図１４(b) 参照）。
【００８６】
上記に続いて制御装置５は、線分Ｄｙｉの長さと線分Ｄｘｉの長さとの差分が所定の誤差以内であるか否かを判別し（ステップＳ３２４）、この判別がＹｅｓなら、ステップＳ３２５、Ｓ３２６の処理を行って、処理を終了する。
【００８７】
このステップＳ３２５、Ｓ３２６の処理は、ＤｗがＤｗｉになりＤｖが２＊Ｄｖｉとなるだけで前述したステップＳ３１１、Ｓ３１２の処理と同一である。尚、Ｄｖｉは中心から外側輪郭までの長さ、２＊Ｄｖｉは中心から外側輪両端部間の長さである。
【００８８】
また、上記ステップＳ３２４の判別がＮｏなら、制御装置５は、続いて現在の探索モードが、短径の探索モードか否かを判別する（ステップＳ３２８）。この探索モードは、前述のステップＳ３１５又はＳ３１６で設定された探索モードである。
【００８９】
そして、制御装置５は、上記の判別結果に基づいて、それぞれ次の繰り返し処理のためのｙ軸側境界線Ｄｙｉ及びｘ軸側境界線Ｄｘｉを更新するための処理を行う。すなわち、制御装置５は、上記の判別結果が短径探索モードであるなら（Ｓ３２８の判別がＹｅｓ）、続いて「Ｄｙｉ＞Ｄｘｉ」か否か判別する（ステップＳ７００）。
【００９０】
そして、「Ｄｙｉ＞Ｄｘｉ」なら（Ｓ７００の判別がＹｅｓ）、この場合は２等分線よりｘ軸側を探索する場合であり、ＤｗｉをＤｙ（ｉ＋１）とし(ステップＳ７０１)、ＤｘｉをＤｘ（ｉ＋１）として（ステップＳ７０２）、ステップ３３１に進む。
【００９１】
また、上記判別が「Ｄｙｉ＞Ｄｘｉ」でないなら（Ｓ７００の判別がＮｏ）、この場合は２等分線よりｙ軸側を探索する場合であり、Ｄｗ０をＤｘ（ｉ＋１）とし(ステップＳ７０３)、ＤｙｉをＤｙ（ｉ＋１）として（ステップＳ７０４）、ステップ３３１に進む。
【００９２】
一方、制御装置５は、長径探索モードであるなら（Ｓ３２８の判別がＮｏ）、この場合も、続いて「Ｄｙｉ＞Ｄｘｉ」か否か判別する（ステップＳ７０５）。
そして、「Ｄｙｉ＞Ｄｘｉ」なら（Ｓ７０５の判別がＹｅｓ）、この場合は２等分線よりｙ軸側を探索する場合であり、ＤｙｉをＤｙ（ｉ＋１）とし(ステップＳ７０６)、ＤｗｉをＤｘ（ｉ＋１）として（ステップＳ７０７）、ステップ３３１に進む。
【００９３】
また、上記判別が「Ｄｙｉ＞Ｄｘｉ」でないなら（Ｓ７０５の判別がＮｏ）、この場合は２等分線よりｘ軸側を探索する場合であり、ＤｗｉをＤｙ（ｉ＋１）とし(ステップＳ７０８)、ＤｘｉをＤｘ（ｉ＋１）として（ステップＳ７０９）、ステップ３３１に進む。
【００９４】
制御装置５は、上記いずれの場合も、次にカウンタｉの値を「１」インクリメントし、そのｉの値がｉ＜ｎであることを確認して、ステップＳ３２０〜Ｓ３３１の繰り返し処理に戻る。
【００９５】
そして、ステップＳ３２４で、線分ＤｙｉとＤｘｉの長さの差分が所定の誤差以内であるか否かを判別する。
上記の判別がＹｅｓなら、ステップＳ３２５及びＳ３２６の処理によりは、ＤｗｉとＤｖｉを求め、どちらが長径で、どちら短径かを決定する。判別がＮｏなら、再び２等分線を取得して、上記の処理を繰り返す。
【００９６】
また、ｉ＝ｎ＋１なら、繰り返しの処理を出て、ｉ＝ｎとして、図１２ＢのステップＳ３３３〜Ｓ３３６の処理を行う。ステップＳ３３３、Ｓ３３５、Ｓ３３６の処理は、ステップＳ３２４、Ｓ３２５、Ｓ３２６の処理と同一である。ステップＳ３３６の処理はステップＳ３１０の処理と同一である。
【００９７】
ここで、上記の処理で行っている内容を、別の面から説明する。尚、以下の説明ではＤｗｉをＤｗと読み替え、ＤｖｉをＤｖと読み変えることにする。
先ず本例では求める径が長径か短径かを決定するために、楕円印影パターンの傾きを、線分Ｄｘ、Ｄｙ、Ｄｗ、及びＤｖの大小関係から以下に示す４つのパターンに分類している。
【００９８】
パターン１は、Ｄｙ＞ＤｘかつＤｗ＜Ｄｖの場合である（図１６(b) 参照）。
パターン２は、Ｄｙ＞ＤｘかつＤｗ＞Ｄｖの場合である（図１６(c) 参照）。
パターン３は、Ｄｙ＜ＤｘかつＤｗ＜Ｄｖの場合である（図１６(d) 参照）。
パターン４は、Ｄｙ＜ＤｘかつＤｗ＞Ｄｖの場合である（図１６(e) 参照）。
【００９９】
図１７は、上記の線分Ｄｘ、Ｄｙ、Ｄｗ及びＤｖの大小関係と、長径・短径の探索モードとの関係を示す図表である。同表は、パターン番号１、２、３、４に対して、それぞれ分類条件１として上に示した線分ＤｙとＤｘの大小関係、分類条件２として上に示した線分ＤｗとＤｖの大小関係を示している。
【０１００】
そして、パターン１の場合は短径探索モードであり、２等分線の下側領域、つまり線分Ｄｘ側を、更に２等分しながら探索していく探索モードとなる（図１６(b) のハッチング領域参照）。
【０１０１】
また、パターン３の場合は同じ短径探索モードであるが、２等分線の上側領域、つまり線分Ｄｙ側を、更に２等分しながら探索していく探索モードとなる（図１６(d) のハッチング領域参照）。
【０１０２】
また、パターン２の場合は長径探索モードであり、２等分線の上側領域、つまり線分Ｄｙ側を、更に２等分しながら探索していく探索モードとなる（図１６(c) のハッチング領域参照）。
【０１０３】
そして、パターン４の場合は同じ長径探索モードであるが、２等分線の下側領域、つまり線分Ｄｘ側を、更に２等分しながら探索していく探索モードとなる（図１６(e) のハッチング領域参照）。
【０１０４】
ここで、代表的にパターン１の場合を取り上げて更に説明する。
図１８(a),(b),(c) 、図１９(a),(b),(c) 、及び図２０(a),(b),(c) は、パターン１の場合の短径探索手順を説明する図である。
【０１０５】
パターン１の場合は、図１８(a) に示すように、線分ＤｙとＤｘ間の４分の１楕円周２７−０上に短径座標点が存在することになる。
そこで、図１８(b) に示すように、線分ＤｙとＤｘ間の角度を等分する２等分線２５−０を引いて、その楕円周上との交点を求め、その交点と楕円の中心との距離Ｄｗ０（線分Ｄｗ０）を求めておく。
【０１０６】
ここで、パターン１ではＤｙ＞Ｄｘであるので、楕円の短径は、線分Ｄｗ０よりもＤｘ側の８分の１楕円周２７−１上にある。そこで、その短径座標点を求めるために、図１８(c) に示すように、Ｄｗ０とＤｘの間に２等分線Ｄｗ１（当初の処理からは４等分線）をさらに引く。
【０１０７】
ここで、Ｄｗ０＞Ｄｘなら、Ｄｗ１よりもＤｘ側の１６分の１楕円周２７−２ａ上に楕円の短径が存在する。他方、Ｄｗ０＜Ｄｘなら、図１９(a) に示すように、Ｄｗ１よりもＤｗ０側の１６分の１楕円周２７−２ｂ上に楕円の短径が存在する。
【０１０８】
また、Ｄｗ０≒Ｄｘ（一例として±７．３％以内の誤差）であるなら、Ｄｗ１は短径と見做すことができる。このように、２等分線の生成を繰り返して短径を探索し（以下、２分探索処理という）、最終的に短径を検出する。
【０１０９】
尚、上記のＤｗ０、Ｄｗ１，・・・は、図１２のフローチャートに示したＤｗｉでありまた、同フローチャートのＤｘｉとの大きさの比較判断におけるＤｙｉでもある。
このように、２分探索処理を所定回数行うか、または一致（誤差以内に収束）するまで繰り返して得られた、図１９(c) に示す短径と見做せるＤｗｉの楕円印影イメージ１との交点座標（Ｘａ，Ｙａ）を検出する。今はパターン１の場合の処理であるため、この（Ｘａ，Ｙａ）を短径点の座標とみなす。
【０１１０】
次に、楕円の長径を求める。図２０(a) に示すように、楕円の中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）、短径とみなした楕円周上の交点（Ｘａ，Ｙａ）とする。長径の座標はこれら座標点から求まる直線の方程式「ｙ＝−（（Ｘａ−Ｘｐ）／（Ｙａ−Ｙｐ））（ｘ−Ｘｐ）＋Ｙｐ」を用い、図２０(b) に示すように、印影イメージ１の中心（Ｘｐ，Ｙｐ）通り、短径線に垂直な直線を引く。
【０１１１】
次に、図２０(c) に示すように、この垂直線と印影イメージ１との外側交点（Ｘ，Ｙ）を求め、これを長径の座標値とみなす。このようにして、長径と短径に該当する座標点を求め、中心座標からのそれぞれの距離を算出する。
【０１１２】
これにより、楕円検出処理に必要なパラメータである長径と短径の値が取得される。尚、上述の説明は楕円印影がパターン１のものについて説明であるが、他のパターン２〜４も同様に算出することができる。長径の場合は短径を求める処理が長径に置き換わるだけである。
このようにして、楕円イメージの長径、短径が決定され、図３に示した長径・短径算出処理が終了する。
【０１１３】
図２１は、図３に示すメインフローチャートにおけるステップＳ４の傾き角算出処理を更に詳しく説明するフローチャートである。
図２２は、上記の傾き角算出処理における処理内容を具体的に示す図である。
先ず、図２１において、上述した長径・短径算出処理で求めた楕円の中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）、短径とみなした線分の楕円周上の交点（Ｘａ、Ｙａ）の他に、図２２(a) に示すように、中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）を通りｘ軸に平行な線へ下ろした（Ｘａ、Ｙａ）からの交点（Ｘａ，Ｙｐ）を求める（ステップＳ４０１）。
【０１１４】
続いて、上記の中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）、短径と楕円周上の交点（Ｘａ、Ｙａ）、この交点からｘ軸に垂直に下ろした交点（Ｘａ，Ｙｐ）の３点をパラメータとして逆正接関数を用い、楕円の傾き角θを算出する（ステップＳ４０２）。
そして、上記算出した楕円の傾き角θをメモリに記憶して（ステップＳ４０３）、処理を終了する。
【０１１５】
続く、図３の楕円Ｈｏｕｇｈ変換処理では、上述した図３のステップＳ２、Ｓ３、Ｓ４の処理で算出した楕円の中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）、長径Ｄｖ（又はＤｗ）、短径Ｄｗ（又はＤｖ）、傾き角θの５つのパラメータを用い、印影イメージ１の各画素位置からＨｏｕｇｈ変換を利用して楕円検出を行う。
【０１１６】
先ず、Ｈｏｕｇｈ変換処理では、一般的に行われている手法を用い、傾いた楕円の方程式のパラメータとして上記の楕円の中心座標、長径の長さ、短径の長さ、傾き角、および印影イメージ上の画素の座標値を使用して、Ｈｏｕｇｈ空間への写像を行う（ステップＳ５）。
【０１１７】
Ｈｏｕｇｈ逆変換処理によって実空間上（印影イメージ上）の外側輪郭が楕円であるか否かを判断する（ステップＳ６）。そして、楕円であると判断できれば（Ｓ６の判別がＹｅｓ）、ステップＳ４で算出した傾き角θ分だけ、印影イメージ１を回転させる（ステップＳ７）。
【０１１８】
そして、その回転させた印影イメージ１´をモニタに表示させて（ステップＳ８）、全ての処理を終了する。これにより、図２２(b) に示すように、スキャナで読み込まれ、モニタ上に傾いて表示されていた印影イメージ１が、θ分回転して、正立した印影イメージ１´として表示される。このように傾いた印影イメージを自動的に正立させせることができる。
【０１１９】
このように本発明の楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置によれば、楕円印を検出するための算出処理時間を短縮して楕円印の検出を容易にすると共に傾いた楕円印を自動正立させて表示装置に出力できるので、ユーザーインターフェースが向上し、照合業務におけるユーザーの負担を軽減することができるようになる。
【０１２０】
図形を検出するための手法として最も一般的に用いられるものの一つとしてＨｏｕｇｈ変換があるが、楕円検出のＨｏｕｇｈ変換は、計算時間があまりにも膨大となり、産業利用するには課題が多い。これは、傾いた楕円の方程式は、楕円中心のｘ座標とｙ座標、長径の長さ、短径の長さ、及び傾き角の合計５つのパラメータが使用されることによる。
【０１２１】
すなわち、実空間（本発明では画面上に読み取った印影イメージの画素座標）上の全ての画素に対し、５つのパラメータが取り得る値の範囲全てにおいて、５次元パラメータ空間に写像することになる。このため大量の計算時間を要し、実用化が難しい。
【０１２２】
これに対して、本発明の楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置では、楕円の中心座標、長径、短径、傾き角の５つのパラメータを、本発明の迅速な処理方法で予め決定しておいてから、Ｈｏｕｇｈ変換により楕円を検出させる。これにより５次元パラメータ空間への写像に要する計算は、前述の予め決定した値のみを使用すればよく（つまり、パラメータの取り得る値の範囲全てにて計算する必要がなく）、計算時間が大幅に短縮され、Ｈｏｕｇｈ変換の実用化が可能となる。
【０１２３】
このように予めパラメータを決定してＨｏｕｇｈ変換を実行することによって楕円が検出されさえすれば、楕円の傾き角の検出と正立像への補正は容易となる。
【産業上の利用可能性】
【０１２４】
本発明は、印鑑照合業務にて楕円印を照合する際に利用することができる。
【符号の説明】
【０１２５】
１  印影イメージ
２  縁枠２
３  印鑑文字
ｎ  縁枠の幅
５  楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置（制御装置）
６  画像取得部
７  ノイズ除去部
８  エッジ抽出部
９  中心仮定領域の設定処理部
１０  長径短径候補算出処理部
１１  傾き角算出部
１２  楕円形抽出処理部
１３  楕円正立処理部
１４  印影ＤＢ（データベース）サーバ
１５  モニタ
１６  外接矩形
１７  中心仮定領域
１８（１８−０、１８−１、・・・、１８−ｍ）  分布点
１９（１９−０、１９−１、・・・、１９−ｍ）  ｙ軸に平行な直線
２１（２１−０、２１−１、・・・、２１ーｍ）  ２つの交点
２２  中心仮定座標からx座標に平行な線
２３  中心仮定座標からy座標に平行な線
２４  ４分の１楕円周
２５、２５ｉ  ２つの線分の間の角度を２等分する直線
２６、２６ｉ  ２等分する直線に垂直で中心座標を通る直線
２７ｉ  短径の交点座標が存在する楕円周部分
【図１】
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【図４】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１２Ａ】
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【図１２Ｂ】
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【図２１】
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【図２】
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【図３】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２２】
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