(57)【要約】【課題】広い範囲に亘って磁石の存在を精度よく検知できる遊技機において、遊技店員が作業を行っている場合等に磁石を検知した旨の報知を行わないようにして、遊技店員等に煩わしさを感じさせないようにする。【解決手段】遊技制御用マイクロコンピュータは、磁界用検出用回路が磁石を検出したことを示すエラー信号を出力した場合には、報知演出を行う演出制御用マイクロコンピュータに、異常報知の実行の契機になる磁界異常コマンドを送信するが、前面枠の開放／閉鎖に応じたコマンドも送信する。演出制御用マイクロコンピュータは、前面枠開放コマンドを受信していない状態（前面枠閉鎖コマンドの受信後の状態）において磁界異常コマンドを受信したら、異常報知を行う。【選択図】図７
2011078504.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
遊技球を用いて所定の遊技を行うことが可能な遊技機であって、
外枠と、
前記外枠に対して開放可能に設置された前面枠と、
前記前面枠の開放を検知する開放検知手段と、
磁気を検出して検出信号を出力する磁気検出手段と、
前記磁気検出手段が前記検出信号を出力したことにもとづいて報知を行う報知手段と、
前記開放検知手段が前記前面枠の開放を検知している間、前記報知手段による報知を禁止する報知禁止手段とを備えた
ことを特徴とする遊技機。
【請求項２】
前面枠に着脱可能に取り付けられ所定の板状体に複数の遊技用部品が取り付けられた遊技盤を備え、前記遊技用部品として演出用の画像表示装置が前記遊技盤に設けられ、前記画像表示装置を制御する演出制御手段が搭載された演出制御基板が前記画像表示装置の裏側に設置された遊技機であって、
磁気検出手段を、前記演出制御基板に搭載した
請求項１記載の遊技機。
【請求項３】
前面枠に着脱可能に取り付けられ、所定の板状体に複数の遊技用部品が取り付けられた遊技盤を備えた遊技機であって、
磁気検出手段を、前記前面枠に設置した
請求項１記載の遊技機。
【請求項４】
磁気検出手段は、外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁気センサであり、
前記磁気センサの検出電圧が基準値に対して所定の判定値を越えていることを検出した場合に、磁石が存在すると判定する磁石判定手段を備え、
前記磁石判定手段は、
判定の感度設定を行うための複数段階の設定値のうちのいずれか１つの設定値を特定可能な感度設定信号を入力する入力部と、
前記入力部に入力された前記感度設定信号により特定される設定値に応じて、磁石が存在すると判定するための判定値を設定する感度設定手段とを含む
請求項１から請求項３のうちのいずれかに記載の遊技機。
【請求項５】
感度設定手段は、
複数段階の設定値のうち第１段階の設定値が入力部に入力された場合には、判定値として第１判定値を設定し、
複数段階の設定値のうち前記第１段階の設定値より高感度の設定値である第２段階の設定値が前記入力部に入力された場合には、判定値として前記第１判定値と第２判定値とを設定し、
磁石判定手段は、前記第２段階の設定値が前記入力部に入力された場合には、前記第１判定値を用いた判定と前記第２判定値を用いた判定とを重複して行う
請求項４記載の遊技機。
【請求項６】
磁力を利用して運動可能な可動部材を遊技用部品として備えた遊技機であって、
磁気検出手段は、外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁気センサであり、
前記磁気センサの検出電圧が基準値に対して所定の判定値を越えていることを検出した場合に、磁石が存在すると判定する磁石判定手段と、
前記磁気センサの検出電圧にもとづいて、磁気発生源の移動方向または磁気発生源の移動距離を検出する移動検出手段とを備え、
前記磁石判定手段は、前記移動検出手段の検出結果が、前記可動部材の可動範囲外での磁気発生源の移動を示している場合に、磁石が存在すると判定する
請求項１から請求項５のうちのいずれかに記載の遊技機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、遊技球を用いて所定の遊技を行うことが可能な遊技機に関する。
【背景技術】
【０００２】
遊技機として、遊技媒体である遊技球を発射装置によって遊技領域に発射し、遊技領域に設けられている入賞口などの入賞領域に遊技球が入賞すると、所定個の賞球が遊技者に払い出されるものがある。さらに、識別情報を可変表示（「変動」ともいう。）可能な可変表示装置が設けられ、可変表示装置において識別情報の可変表示の表示結果が特定表示結果となった場合に、遊技状態（遊技機の状態。より具体的には、遊技機が制御されている状態。）を、所定の遊技価値を遊技者に与える状態にするように構成されたものがある。
【０００３】
なお、遊技価値とは、遊技機の遊技領域に設けられた可変入賞球装置の状態が打球が入賞しやすい遊技者にとって有利な状態になることや、遊技者にとって有利な状態になるための権利を発生させたりすることや、賞球払出の条件が成立しやすくなる状態になることである。
【０００４】
パチンコ遊技機では、始動入賞口（始動領域）に遊技球が入賞したことにもとづいて可変表示装置において開始される特別図柄（識別情報）の可変表示の表示結果として、あらかじめ定められた特定の表示態様が導出表示された場合に、「大当り」が発生する。なお、導出表示とは、図柄を停止表示させることである（いわゆる再変動の前の停止を除く。）。大当りが発生すると、例えば、大入賞口が所定回数開放して打球が入賞しやすい大当り遊技状態に移行する。そして、各開放期間において、所定個（例えば１０個）の大入賞口への入賞があると大入賞口は閉成する。なお、各開放について開放時間（例えば２９秒）が決められ、入賞数が所定個に達しなくても開放時間が経過すると大入賞口は閉成する。以下、各々の大入賞口の開放期間をラウンドということがある。
【０００５】
上記のように、入賞領域に遊技球が入賞すると、所定個の賞球が遊技者に払い出される。また、遊技球が始動領域に入賞すると、所定個の賞球が遊技者に払い出されるとともに、大当り遊技状態が発生する可能性がある識別情報の可変表示が開始される。パチンコ遊技機において使用される遊技球の材質は鋼である。よって、磁石によって遊技球を入賞領域（始動領域を含む。）に誘導する不正行為が行われることがある。
【０００６】
磁石を用いた不正行為を検知するために、磁石検出手段が内蔵された遊技機がある（例えば、特許文献１参照）。特許文献１に記載された遊技機に内蔵された磁石検出手段は、磁石を検出するための磁気センサとしてのリードスイッチを含む。また、磁気検知範囲を広げるために、長手方向の配置が異なる複数の磁気センサを含んでいる。そして、磁石検出手段が磁石を検知した場合には、報知手段によって、その旨の報知が行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００８−２４５８０５号公報（段落０００８−００１３）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
遊技機が設置されている遊技店において、遊技店員が、前面枠を開放して作業を行うことがある。例えば、パチンコ遊技機を例にすると、球詰まりを解消したりする場合がある。その場合に、前面枠が外枠に対して開放されると、磁石検出手段の検出範囲が、前面枠が閉じられているときの検出範囲とは変わり、遊技機設置島に存在する磁性を帯びた物（モータや帯磁した金属柱など）を磁石と誤認識し、遊技機から、磁石検出手段が磁石を検知した旨の報知が行われる可能性がある。遊技店員が作業を行っているときに、そのような報知がなされると、遊技店員に煩わしさを感じさせたり、遊技店員の作業効率の低下を招くおそれがある。
【０００９】
そこで、本発明は、遊技店員が作業を行っている場合等に磁石を検知した旨の報知を行わないようにして、遊技店員等に煩わしさを感じさせないようにすることができる遊技機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明による遊技機は、遊技球を用いて所定の遊技を行うことが可能な遊技機であって、外枠（例えば、外枠２Ａ）と、外枠に対して開放可能に設置された前面枠（例えば、前面枠２Ｂ）と、前面枠の開放を検知する開放検知手段（例えば、ドアスイッチ９６）と、磁気を検出して検出信号を出力する磁気検出手段（例えば、磁界検出素子１３０）と、磁気検出手段が検出信号を出力したことにもとづいて報知を行う報知手段（例えば、演出表示装置９、スピーカ２７、ＬＥＤ等の発光体）と、開放検知手段が前面枠の開放を検知している間、報知手段による報知を禁止する報知禁止手段（例えば、演出制御用マイクロコンピュータ１００において、ステップＳ９０２の処理を実行する部分）とを備えたことを特徴とする。
そのような構成によれば、不正行為を検知するための磁気検出手段および不正行為を報知するための報知手段が設けられていても、作業中などの遊技店員等に煩わしさを感じさせないようにすることができる
【００１１】
前面枠に着脱可能に取り付けられ所定の板状体に複数の遊技用部品（例えば、演出表示装置９）が取り付けられた遊技盤（例えば、遊技盤６）を備え、遊技用部品として演出用の画像表示装置（例えば、演出表示装置９）が遊技盤に設けられ、画像表示装置を制御する演出制御手段（例えば、演出制御用マイクロコンピュータ１００）が搭載された演出制御基板（例えば、８０）が画像表示装置の裏側に設置された遊技機であって、磁気検出手段を、演出制御基板に搭載してもよい（図１２（Ｂ）参照）。
そのような構成によれば、遊技盤における遊技領域に磁気センサを設置しないことから、本来の機能を実現するための機構部品の配置等を制約しないようにすることができる。
【００１２】
前面枠に着脱可能に取り付けられ、所定の板状体に複数の遊技用部品（例えば、演出表示装置９）が取り付けられた遊技盤（例えば、遊技盤６）を備えた遊技機であって、磁気検出手段を、前面枠に設置してもよい（図１２（Ｃ）参照）。
そのような構成によれば、遊技店において遊技盤が交換されても、磁気センサを継続して使用することができ、遊技機のコストを低減することができる。
【００１３】
磁気検出手段は、外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁気センサ（例えば、磁界検出素子１３０）であり、磁気センサの検出電圧が基準値（例えば、第３平均化部２７３が出力する基準値）に対して所定の判定値（例えば、しきい値）を越えていることを検出した場合に、磁石が存在すると判定する磁石判定手段（例えば、エラー判定部２５１）を備え、磁石判定手段は、判定の感度設定を行うための複数段階（例えば、４段階）の設定値のうちのいずれか１つの設定値を特定可能な感度設定信号を入力する入力部（例えば、図３８に示すＳＥＬＥＣＴ１，２の入力端子）と、入力部に入力された感度設定信号により特定される設定値に応じて、磁石が存在すると判定するための判定値（例えば、しきい値）を設定する感度設定手段（例えば、エラー判定部２５１における感度設定信号に応じて感度を内部設定する部分）とを含むように構成されていてもよい。
そのような構成によれば、遊技機の種類に応じて判定値を設定することができ、それぞれの種類の遊技機に応じて検出精度を高くすることができる。
【００１４】
感度設定手段は、複数段階の設定値のうち第１段階の設定値（例えば、「低」感度を示す感度選択信号）が入力部に入力された場合には、判定値として第１判定値（例えば、しきい値としての１５０）を設定し、複数段階の設定値のうち第１段階の設定値より高感度の設定値である第２段階の設定値（例えば、「中」感度を示す感度選択信号）が入力部に入力された場合には、判定値として第１判定値と第２判定値（例えば、しきい値としての６８）とを設定し、磁石判定手段は、第２段階の設定値が入力部に入力された場合には、第１判定値を用いた判定と第２判定値を用いた判定とを重複して行うように構成されていてもよい（図４６参照）。
そのような構成によれば、高感度の設定値が設定されている場合でも、低感度の設定値も用いて磁石の存在を検出することになり、高感度の設定値が設定されたときに広い範囲に亘って精度よく磁石の存在を検出することができる。
【００１５】
磁力を利用して運動可能な可動部材を遊技用部品（例えば、ソレノイドやモータ）として備えた遊技機であって、磁気検出手段は、外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁気センサ（例えば、磁界検出素子１３０）であり、磁気センサの検出電圧が基準値（例えば、第３平均化部２７３が出力する基準値）に対して所定の（例えば、しきい値）を越えていることを検出した場合に、磁石が存在すると判定する磁石判定手段（例えば、エラー判定部２５１）と、磁気センサの検出電圧にもとづいて、磁気発生源の移動方向または磁気発生源の移動距離を検出する移動検出手段（例えば、移動方向／距離判定部４１３：図３０参照）とを備え、磁石判定手段は、移動検出手段の検出結果が、可動部材の可動範囲外での磁気発生源の移動を示している場合に、磁石が存在すると判定するように構成されていてもよい。
そのような構成によれば、可動部材を不正行為に用いられている磁石と誤って検出することを防止できる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】パチンコ遊技機を正面からみた正面図である。
【図２】外枠に対して枠基体および前面扉を開放した状態のパチンコ遊技機の一例を示す斜視図である。
【図３】遊技制御基板（主基板）の回路構成例を示すブロック図である。
【図４】演出制御基板、ランプドライバ基板および音声出力基板の回路構成例を示すブロック図である。
【図５】遊技制御用マイクロコンピュータにおけるＣＰＵが実行するメイン処理を示すフローチャートである。
【図６】２ｍｓタイマ割込処理を示すフローチャートである。
【図７】磁気検出処理を示すフローチャートである。
【図８】演出制御用ＣＰＵが実行するメイン処理を示すフローチャートである。
【図９】演出制御処理におけるコマンド解析処理を示すフローチャートである。
【図１０】演出制御プロセス処理を示すフローチャートである。
【図１１】不正報知処理を示すフローチャートである。
【図１２】磁界検出素子の設置位置を説明するための説明図である。
【図１３】ソレノイドの漏れ磁束による磁界とソレノイドからの距離との関係の一例を示す説明図である。
【図１４】モータの漏れ磁束による磁界とモータからの距離との関係の一例を示す説明図である。
【図１５】一般的なソレノイドの構成を示す斜視図である。
【図１６】ソレノイドからの磁力線を示す説明図である。
【図１７】改良されたソレノイドの構成を示す斜視図である。
【図１８】ソレノイドからの磁力線を示す説明図である。
【図１９】磁界検出用回路の構成例を、磁界検出素子とともに示すブロック図である。
【図２０】（Ａ）は磁界検出素子の構成例を示すブロック図、（Ｂ）はＸ軸センサ、Ｙ軸センサおよびＺ軸センサの位置関係を示す説明図、（Ｃ）は互いに直交する３軸（Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸）を示す説明図である。
【図２１】第１の実施の形態における比較回路の動作を説明するための説明図である。
【図２２】第１の実施の形態における磁界検出用回路の具体例を磁界検出素子とともに示すブロック図である。
【図２３】磁界検出用回路の動作例を示すタイミング図である。
【図２４】第２の実施の形態における制御回路の構成例を示す説明図である。
【図２５】第２の実施の形態における制御回路の構成例を示す説明図である。
【図２６】第３の実施の形態における磁界検出素子の設置場所の一例を示す説明図である。
【図２７】第３の実施の形態における制御回路の構成例を示す説明図である。
【図２８】３次元ベクトルの平面への投影を示す説明図である。
【図２９】投影線にもとづいて磁石の位置を検出する方法を説明するための説明図である。
【図３０】第３の実施の形態の変形例における制御回路の構成を示す説明図である。
【図３１】投影線にもとづいて磁石の移動を検出する方法を説明するための説明図である。
【図３２】第４の実施の形態における磁界検出素子の軸を示す説明図である。
【図３３】磁界検出素子の検出範囲を説明するための説明図である。
【図３４】磁界検出素子の検出範囲を示す説明図である。
【図３５】磁界検出素子の検出範囲を示す説明図である。
【図３６】磁界検出素子の検出範囲と、磁石の動きと、磁石検出センサ装置の出力信号との関係を示す説明図である。
【図３７】磁界検出用回路の構成例を、磁界検出素子とともに示すブロック図である。
【図３８】磁石検出センサ装置の実現例の回路構成を示すブロック図である。
【図３９】磁石検出センサ装置における入出力端子の機能を示す説明図である。
【図４０】磁界検出素子の構成例を示すブロック図である。
【図４１】比較回路の動作を説明するための説明図である。
【図４２】制御回路の構成例を示す説明図である。
【図４３】制御回路の構成例を示す説明図である。
【図４４】基準磁界補正部の機能構成を示すブロック図である。
【図４５】感度設定タイミングおよびＭＧ信号の出力例を示す説明図である。
【図４６】制御回路におけるエラー判定部の具体的処理例を示す説明図である。
【図４７】遊技制御用マイクロコンピュータが異常報知を実行する場合の磁気検出処理を示すフローチャートである。
【図４８】遊技制御用マイクロコンピュータが異常報知を行うか否か決定する場合の磁気検出処理を示すフローチャートである。
【図４９】遊技制御用マイクロコンピュータが異常報知を行うか否か決定する場合の不正報知処理を示すフローチャートである。
【図５０】エラー信号が演出制御用マイクロコンピュータに入力される場合の中継基板、演出制御基板、ランプドライバ基板および音声出力基板の回路構成例を示すブロック図である。
【図５１】エラー信号が演出制御用マイクロコンピュータに入力される場合の不正報知処理を示すフローチャートである。
【図５２】ドアスイッチからの信号が演出制御用マイクロコンピュータに入力される場合の主基板の回路構成を示すブロック図である。
【図５３】ドアスイッチからの信号が演出制御用マイクロコンピュータに入力される場合の演出制御基板の回路構成を示すブロック図である。
【図５４】エラー信号のみが遊技制御用マイクロコンピュータに入力される場合の磁気検出処理を示すフローチャートである。
【図５５】エラー信号のみが遊技制御用マイクロコンピュータに入力される場合の不正報知処理を示すフローチャートである。
【図５６】論理積回路からのエラー信号が遊技制御用マイクロコンピュータに入力されるようにするための主基板の回路構成を示すブロック図である。
【図５７】図５６に示された回路構成を用いる場合の磁気検出処理を示すフローチャートである。
【図５８】論理積回路からのエラー信号が演出制御用マイクロコンピュータに入力されるようにするための演出制御基板の回路構成を示すブロック図である。
【図５９】図５８に示された回路構成を用いる場合の不正報知処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。まず、遊技機の一例であるパチンコ遊技機１の全体の構成について説明する。図１はパチンコ遊技機１を正面からみた正面図である。
【００１８】
パチンコ遊技機１は、遊技機設置島に取り付けられる縦長の方形状に形成された外枠（図示せず）と、外枠の内側に開閉可能に取り付けられた遊技枠とで構成される。また、パチンコ遊技機１は、前面枠に開閉可能に設けられている額縁状に形成されたガラス扉枠２を有する。遊技枠は、外枠に対して開閉自在に設置される前面枠（図示せず）と、機構部品等が取り付けられる機構板（図示せず）と、それらに取り付けられる種々の部品（後述する遊技盤６を除く）とを含む構造体である。外枠は一般に木材で形成され、前面枠および機構板は一般に合成樹脂で形成されている。
【００１９】
ガラス扉枠２の下部には打球供給皿（上皿）３がある。打球供給皿３の下部には、打球供給皿３に収容しきれない遊技球を貯留する余剰球受皿４や、打球を発射する打球操作ハンドル（操作ノブ）５が設けられている。また、ガラス扉枠２の背面には、遊技盤６が着脱可能に取り付けられている。なお、遊技盤６は、それを構成する板状体と、その板状体に取り付けられた種々の遊技用部品とを含む構造体である。また、遊技盤６の前面には、打ち込まれた遊技球が流下可能な遊技領域７が形成されている。
【００２０】
遊技領域７の中央付近には、液晶表示装置（ＬＣＤ）で構成された遊技用部品としての演出表示装置９が設けられている。演出表示装置９の表示画面には、特別図柄の可変表示に同期した飾り図柄の可変表示を行う飾り図柄表示領域がある。よって、演出表示装置９は、飾り図柄の可変表示を行う可変表示装置に相当する。飾り図柄表示領域には、例えば「左」、「中」、「右」の３つの装飾用（演出用）の識別情報を、例えば上から下に移動するように可変表示する。飾り図柄表示領域には「左」、「中」、「右」の各図柄表示エリア（図柄表示ライン）９Ｌ，９Ｃ，９Ｒがあるが、図柄表示エリア９Ｌ，９Ｃ，９Ｒの位置は、演出表示装置９の表示画面において固定的でなくてもよいし、図柄表示エリア９Ｌ，９Ｃ，９Ｒの３つ領域が離れてもよい。演出表示装置９は、演出制御基板に搭載されている演出制御用マイクロコンピュータによって制御される。演出制御用マイクロコンピュータが、特別図柄表示器８で特別図柄の可変表示が実行されているときに、その可変表示に伴って演出表示装置９で演出表示を実行させるので、遊技の進行状況を把握しやすくすることができる。
【００２１】
遊技盤６における下部の左側には、識別情報としての特別図柄を可変表示する特別図柄表示器８が設けられている。この実施の形態では、特別図柄表示器８は、０〜９の数字を可変表示可能な簡易で小型の表示器（例えば７セグメントＬＥＤ）で実現されている。すなわち、特別図柄表示器８は、０〜９の数字（または、記号）を可変表示するように構成されている。
【００２２】
小型の表示器は、例えば方形状に形成されている。また、この実施の形態では、特別図柄表示器８は、例えば、００〜９９の数字（または、２桁の記号）を可変表示するように構成されていてもよい。
【００２３】
演出表示装置９の下方には、第１始動入賞口１３を有する入賞装置が設けられている。第１始動入賞口１３に入賞した遊技球は、遊技盤６の背面に導かれ、第１始動口スイッチ１３ａによって検出される。
【００２４】
また、第１始動入賞口（第１始動口）１３を有する入賞装置の下方には、遊技球が入賞可能な第２始動入賞口１４を有する可変入賞球装置１５が設けられている。第２始動入賞口（第２始動口）１４に入賞した遊技球は、遊技盤６の背面に導かれ、第２始動口スイッチ１４ａによって検出される。可変入賞球装置１５は、ソレノイド１６によって開放状態とされる。可変入賞球装置１５が開放状態になることによって、遊技球が第２始動入賞口１４に入賞可能になり（始動入賞し易くなり）、遊技者にとって有利な状態になる。また、可変入賞球装置１５が閉放状態になっている状態では、遊技球は第２始動入賞口１４に入賞しない。なお、可変入賞球装置１５が閉状態になっている状態において、入賞はしづらいものの、入賞することは可能である（すなわち、遊技球が入賞しにくい）ように構成されていてもよい。
【００２５】
以下、第１始動入賞口１３と第２始動入賞口１４とを総称して始動入賞口または始動口ということがある。可変入賞球装置１５が開放状態に制御されているときには可変入賞球装置１５に向かう遊技球は第２始動入賞口１４に極めて入賞しやすい。
【００２６】
なお、この実施の形態では、図１に示すように、第２始動入賞口１４に対してのみ開閉動作を行う可変入賞球装置１５が設けられているが、第１始動入賞口１３および第２始動入賞口１４のいずれについても開閉動作を行う可変入賞球装置が設けられている構成であってもよい。
【００２７】
特別図柄表示器８の側方には、始動入賞口に入った有効入賞球数すなわち保留記憶数（保留記憶を、始動記憶または始動入賞記憶ともいう。）を表示する４つの表示器からなる特別図柄保留記憶表示器１８が設けられている。遊技球が第１始動入賞口１３または第２始動入賞口１４に入り第１始動口スイッチ１３ａまたは第２始動口スイッチ１４ａで検出されると、保留記憶数が上限値に達していないことを条件として（有効始動入賞であることを条件として）、保留記憶数を１増やす。また、特別図柄保留記憶表示器１８において点灯する表示器の数を１増やす。そして、特別図柄の可変表示を開始できる状態であれば（例えば、特別図柄の可変表示が終了し、開始条件が成立したこと）、特別図柄表示器８において特別図柄の可変表示が開始される。すなわち、特別図柄の可変表示は、始動入賞口への入賞に対応する。なお、特別図柄表示器８での可変表示が開始される毎に、特別図柄保留記憶表示器１８において点灯する表示器の数を１減らす。
【００２８】
また、演出表示装置９の表示画面には、保留記憶数を表示する領域（以下、保留記憶表示部１８ｃという。）が設けられている。
【００２９】
特別図柄の可変表示は、可変表示の実行条件である始動条件が成立（例えば、遊技球が第１始動入賞口１３または第２始動入賞口１４に入賞したこと）した後、可変表示の開始条件（例えば、保留記憶数が０でない場合であって、特別図柄の可変表示が実行されていない状態であり、かつ、大当り遊技が実行されていない状態）が成立したことにもとづいて開始され、可変表示時間が経過すると表示結果（停止図柄）を導出表示する。なお、入賞とは、入賞口などのあらかじめ入賞領域として定められている領域に遊技球が入ったことである。また、表示結果を導出表示するとは、図柄（識別情報の例）を最終的に停止表示（確定）させることである。
【００３０】
特別図柄表示器８において、特別図柄の可変表示が開始された後、所定時間（変動時間）が経過すると、特別図柄の可変表示結果である停止図柄を停止表示（導出表示）する。大当りにすることに決定されている場合には、特定の特別図柄（大当り図柄）が停止表示される。はずれにすることに決定されている場合には、大当り図柄以外の特別図柄が停止表示される。大当り図柄が導出表示された場合には、遊技状態が、特定遊技状態としての大当り遊技状態に制御される。この実施の形態では、一例として、「３」、「７」を示す数字を大当り図柄とし、「−」を示す記号をはずれ図柄にする。
【００３１】
特別図柄表示器８に大当り図柄が停止表示された場合には、特別可変入賞球装置２０における開閉板が、所定期間（例えば、２９秒間）または所定個（例えば、１０個）の入賞球が発生するまでの期間、開放状態になって、特別可変入賞球装置２０を遊技者にとって有利な第１状態に変化させるラウンドが開始される。ラウンドの回数は、例えば１５である。
【００３２】
また、大当り遊技状態が終了した後、遊技状態が時短状態に制御される。時短状態では、通常状態（確変状態や時短状態ではない状態）に比べて特別図柄の可変表示における特別図柄の変動時間が短縮される。時短状態は、例えば、所定回数（例えば、１００回）の特別図柄の可変表示が実行されることと、可変表示結果が「大当り」となることのうち、いずれかの条件が先に成立したときに終了する。なお、大当り状態が終了した後に、時短状態にせずに通常状態になるようにしてもよい。
【００３３】
遊技状態を確変状態に制御することに決定されている場合には、大当り遊技状態が終了した後、遊技状態が確変状態に制御される。確変状態は、例えば、次に可変表示結果として大当り図柄が導出表示されるまで継続する。遊技状態を大当り遊技状態に制御することに決定されている場合に導出表示される特別図柄の停止図柄を、大当り図柄という。そして、遊技状態を大当り状態に制御しないことに決定されている場合に導出表示される特別図柄の停止図柄を、はずれ図柄という。
【００３４】
また、確変状態では、低確率状態（通常状態）に比べて、大当りに決定される確率が高くなっている。例えば、１０倍になっている。具体的には、確変状態では、大当り判定用乱数の値と一致すると大当りにすることに決定される判定値の数が、通常状態に比べて１０倍になっている。また、普通図柄表示器１０の停止図柄が当り図柄になる確率が高められている。すなわち、第２始動入賞口１４が開放しやすくなって、始動入賞が生じやすくなっている。具体的には、確変状態は、普通図柄当り判定用乱数の値と一致すると当りにすることに決定される判定値の数が、通常状態に比べて多い。また、普通図柄表示器１０の停止図柄が当り図柄になる確率を高めることに加えて、可変入賞球装置１５の開放回数または開放時間を多くしたり、可変入賞球装置１５の開放回数および開放時間を多くしたりしてもよい。また、時短状態でも、普通図柄表示器１０の停止図柄が当り図柄になる確率を高めたり、可変入賞球装置１５の開放回数または開放時間を多くしたり、可変入賞球装置１５の開放回数および開放時間を多くしたりしてもよい。
【００３５】
演出表示装置９は、特別図柄表示器８による特別図柄の可変表示時間中に、装飾用（演出用）の図柄としての飾り図柄の可変表示を行う。特別図柄表示器８における特別図柄の可変表示と、演出表示装置９における飾り図柄の可変表示とは同期している。同期とは、可変表示の開始時点および終了時点が同じであって、可変表示の期間が同じであることをいう。特別図柄表示器８において大当り図柄が停止表示されるときと、演出表示装置９において大当りを想起させるような飾り図柄の組み合わせが停止表示される。
【００３６】
演出表示装置９の表示領域では、開始条件が成立したことにもとづいて、「左」、「中」、「右」の各図柄表示エリアにおいて飾り図柄の変動が開始され、例えば、「左」→「右」→「中」の順序で飾り図柄の停止図柄が停止表示（導出表示）される。
【００３７】
飾り図柄の可変表示が開始されてから「左」、「中」、「右」の各図柄表示エリアにおいて停止図柄が導出表示されるまでの期間（可変表示期間＝変動時間）で、飾り図柄の可変表示状態が所定のリーチ状態となることがある。リーチ状態は、演出表示装置９の表示領域において停止表示された飾り図柄が大当り組み合わせの一部を構成しているときに未だ停止表示されていない飾り図柄の変動が継続している表示状態、または、全部もしくは一部の飾り図柄が大当り組み合わせの全部または一部を構成しながら同期して変動している表示状態である。リーチ状態における表示演出が、リーチ演出表示（リーチ演出）である。
【００３８】
また、図１に示すように、可変入賞球装置１５の下方には、特別可変入賞球装置２０が設けられている。特別可変入賞球装置２０は開閉板を備え、特別図柄表示器８に特定表示結果（大当り図柄）が導出表示されたときに生起する特定遊技状態（大当り遊技状態）においてソレノイド２１によって開閉板が開放状態に制御されることによって、入賞領域となる大入賞口が開放状態になる。大入賞口に入賞した遊技球はカウントスイッチ２３で検出される。
【００３９】
遊技領域６には、遊技球の入賞にもとづいてあらかじめ決められている所定数の景品遊技球の払出を行うための入賞口（普通入賞口）２９，３０，３３，３９も設けられている。入賞口２９，３０，３３，３９に入賞した遊技球は、入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａで検出される。
【００４０】
遊技盤６の右側方には、普通図柄表示器１０が設けられている。普通図柄表示器１０は、普通図柄と呼ばれる複数種類の識別情報（例えば、「○」および「×」）を可変表示する。
【００４１】
遊技球がゲート３２を通過しゲートスイッチ３２ａで検出されると、普通図柄表示器１０の表示の可変表示が開始される。この実施の形態では、上下のランプ（点灯時に図柄が視認可能になる）が交互に点灯することによって可変表示が行われ、例えば、可変表示の終了時に下側のランプが点灯すれば当りとなる。そして、普通図柄表示器１０における停止図柄が所定の図柄（当り図柄）である場合に、可変入賞球装置１５が所定回数、所定時間だけ開放状態になる。すなわち、可変入賞球装置１５の状態は、普通図柄の停止図柄が当り図柄である場合に、遊技者にとって不利な状態から有利な状態（第２始動入賞口１４に遊技球が入賞可能な状態）に変化する。普通図柄表示器１０の近傍には、ゲート３２を通過した入賞球数を表示する４つのＬＥＤによる表示部を有する普通図柄保留記憶表示器４１が設けられている。ゲート３２への遊技球の通過がある毎に、すなわちゲートスイッチ３２ａによって遊技球が検出される毎に、普通図柄保留記憶表示器４１は点灯するＬＥＤを１増やす。そして、普通図柄表示器１０の可変表示が開始される毎に、点灯するＬＥＤを１減らす。さらに、通常状態に比べて大当りとすることに決定される確率が高い状態である確変状態では、普通図柄表示器１０における停止図柄が当り図柄になる確率が高められるとともに、可変入賞球装置１５の開放時間と開放回数が高められる。また、確変状態ではないが図柄の変動時間が短縮されている時短状態（特別図柄の可変表示時間が短縮される遊技状態）でも、可変入賞球装置１５の開放時間と開放回数が高められる。
【００４２】
遊技盤６の遊技領域７の左右周辺には、遊技中に点滅表示される装飾ＬＥＤ（ランプでもよい。）２５が設けられ、下部には、入賞しなかった打球が取り込まれるアウト口２６がある。また、遊技領域７の外側の左右上部には、所定の音声出力として効果音や音声を発声する２つのスピーカ２７が設けられている。遊技領域７の外周には、前面枠に設けられた枠ＬＥＤ（ランプでもよい。）２８が設けられている。
【００４３】
遊技機には、遊技者が打球操作ハンドル５を操作することに応じて駆動モータを駆動し、駆動モータの回転力を利用して遊技球を遊技領域７に発射する打球発射装置（図示せず）が設けられている。打球発射装置から発射された遊技球は、遊技領域７を囲むように円形状に形成された打球レールを通って遊技領域７に入り、その後、遊技領域７を下りてくる。遊技球が第１始動入賞口１３または第２始動入賞口１４に入り第１始動口スイッチ１３ａまたは第２始動口スイッチ１４ａで検出された後、特別図柄の可変表示を開始できる状態であれば、特別図柄表示器８において特別図柄の可変表示が開始されるとともに、演出表示装置９において飾り図柄の可変表示が開始される。
【００４４】
図２は、外枠２Ａに対してガラス扉枠２および前面枠２Ｂを開放した状態のパチンコ遊技機１の一例を示す斜視図である。前面枠２Ｂは外枠２Ａの一側に開閉自在に軸支され、前面枠２Ｂにはパチンコ遊技機１の主要構成部のほぼ全ててが集約して設けられる。前面枠２Ｂに設けられる主要構成部として、遊技盤６、下皿４、打球操作ハンドル５、機構板等があるが、図２では、下皿４、遊技盤６および機構板３６は記載省略されている。また、上皿３が設けられている上皿部分も、図２では記載省略されている。
【００４５】
外枠２Ａにおける平面部（図２中のＡ部分）には、前面枠２Ｂの開放を検出するための検出手段としてのドアスイッチ９６が設けられている。ドアスイッチ９６は、前面枠２Ｂが開放されるとその旨の信号を主基板３１に出力する。
【００４６】
図２に示す例では、ドアスイッチ９６の頭部２０９が、ドアスイッチ９６の内部で棒部（図示せず）に接続されたばね（図示せず）を圧縮することによって、ドアスイッチ９６の内部に設けられている接点を導通させる。そして、接点が導通していないときに、ドアスイッチ９６は開放されたことを示す信号を出力する。
【００４７】
なお、ドアスイッチ９６は、前面枠２Ｂにおいて、カラス扉枠２と当接する部分に設けられ、カラス扉枠２の開放を検出するための検出手段として設けられていてもよい。その場合には、ドアスイッチ９６は、前面枠２Ｂが外枠２Ａから離れた場合にも、その旨を検出できるように構成され、カラス扉枠２が開放された場合または前面枠２Ｂが開放された場合に、開放されたことを示す信号を出力する。
【００４８】
図３は、主基板（遊技制御基板）３１における回路構成の一例を示すブロック図である。なお、図３は、払出制御基板３７および演出制御基板８０等も示されている。主基板３１には、プログラムに従ってパチンコ遊技機１を制御する遊技制御用マイクロコンピュータ（遊技制御手段に相当）５６０が搭載されている。遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、ゲーム制御（遊技進行制御）用のプログラム等を記憶するＲＯＭ５４、ワークメモリとして使用される記憶手段としてのＲＡＭ５５、プログラムに従って制御動作を行うＣＰＵ５６およびＩ／Ｏポート部５７を含む。この実施の形態では、ＲＯＭ５４およびＲＡＭ５５は遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に内蔵されている。すなわち、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、１チップマイクロコンピュータである。１チップマイクロコンピュータには、少なくともＣＰＵ５６のほかＲＡＭ５５が内蔵されていればよく、ＲＯＭ５４は外付けであっても内蔵されていてもよい。また、Ｉ／Ｏポート部５７は、外付けであってもよい。遊技制御用マイクロコンピュータ５６０には、さらに、ハードウェア乱数（ハードウェア回路が発生する乱数）を発生する乱数回路５０３が内蔵されている。
【００４９】
また、ＲＡＭ５５は、その一部または全部が電源基板９１０において作成されるバックアップ電源によってバックアップされている不揮発性記憶手段としてのバックアップＲＡＭである。すなわち、遊技機に対する電力供給が停止しても、所定期間（バックアップ電源としてのコンデンサが放電してバックアップ電源が電力供給不能になるまで）は、ＲＡＭ５５の一部または全部の内容は保存される。特に、少なくとも、遊技状態すなわち遊技制御手段の制御状態に応じたデータ（特別図柄プロセスフラグなど）と未払出賞球数を示すデータは、バックアップＲＡＭに保存される。遊技制御手段の制御状態に応じたデータとは、停電等が生じた後に復旧した場合に、そのデータにもとづいて、制御状態を停電等の発生前に復旧させるために必要なデータである。また、制御状態に応じたデータと未払出賞球数を示すデータとを遊技の進行状態を示すデータと定義する。なお、この実施の形態では、ＲＡＭ５５の全部が、電源バックアップされているとする。
【００５０】
なお、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０においてＣＰＵ５６がＲＯＭ５４に格納されているプログラムに従って制御を実行するので、以下、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０（またはＣＰＵ５６）が実行する（または、処理を行う）ということは、具体的には、ＣＰＵ５６がプログラムに従って制御を実行することである。このことは、主基板３１以外の他の基板に搭載されているマイクロコンピュータについても同様である。
【００５１】
乱数回路５０３は、特別図柄の可変表示の表示結果により大当りとするか否か判定するための判定用の乱数を発生するために用いられるハードウェア回路である。乱数回路５０３は、初期値（例えば、０）と上限値（例えば、６５５３５）とが設定された数値範囲内で、数値データを、設定された更新規則に従って更新し、ランダムなタイミングで発生する始動入賞時が数値データの読出（抽出）時であることにもとづいて、読出される数値データが乱数値となる乱数発生機能を有する。
【００５２】
また、ゲートスイッチ３２ａ、第１始動口スイッチ１３ａ、第２始動口スイッチ１４ａ、カウントスイッチ２３、入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａからの検出信号を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に与える入力ドライバ回路５８も主基板３１に搭載されている。なお、ドアスイッチ９６からの信号も、入力ドライバ回路５８を介して遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力される。また、可変入賞球装置１５を開閉するソレノイド１６、および大入賞口を形成する特別可変入賞球装置２０を開閉するソレノイド２１を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０からの指令に従って駆動する出力回路５９も主基板３１に搭載されている。
【００５３】
また、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、特別図柄を可変表示（変動表示）する特別図柄表示器８、普通図柄を可変表示する普通図柄表示器１０、特別図柄保留記憶表示器１８および普通図柄保留記憶表示器４１の表示制御を行う。
【００５４】
なお、大当り遊技状態の発生を示す大当り情報等の情報出力信号をホールコンピュータ等の外部装置に対して出力する情報出力回路（図示せず）も主基板３１に搭載されている。
【００５５】
また、主基板３１には、互いに直交する３軸に沿って配置されたアモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁界検出素子（磁気センサ）１３０と、磁界検出素子１３０の検出電圧にもとづいて磁石が遊技機近傍に存在するか否か判定する磁界検出用回路１４０とが設けられている。アモルファスワイヤは、アモルファス磁性体を細線状（例えば、太さ１００μｍ）に形成したものである。
【００５６】
磁界検出用回路１４０は、磁石が遊技機近傍に存在すると判定した場合に、エラー信号を出力する。エラー信号は、入力ドライバ回路５８を介して遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力される。遊技制御用マイクロコンピュータ５６０にエラー信号が入力されると、ＣＰＵ５６は、遊技機に設けられている演出装置（演出表示装置９、スピーカ２７、ＬＥＤ等の発光体）を用いて、異常報知（不正行為発見報知）を行うための制御を実行する。
【００５７】
磁石によって遊技球を入賞領域（特に、始動入賞口）に誘導する不正行為が行われるときには、磁石が遊技機１の近傍に存在することになる。磁界検出用回路１４０が遊技機近傍に磁石が存在すると判定したときにＣＰＵ５６が異常報知を行うための制御を実行することによって、不正行為が行われている場合に、または不正行為が行われる可能性がある場合に、異常報知によって遊技店員等に、その旨を認識させることができる。
【００５８】
また、この実施の形態では、演出制御基板８０に搭載されている演出制御手段（演出制御用マイクロコンピュータで構成される。）が、中継基板７７を介して遊技制御用マイクロコンピュータ５６０から演出内容を指示する演出制御コマンドを受信し、飾り図柄を可変表示する演出表示装置９の表示制御を行う。
【００５９】
また、演出制御基板８０に搭載されている演出制御手段が、ランプドライバ基板３５を介して、遊技盤に設けられている装飾ＬＥＤ２５や枠側に設けられている枠ＬＥＤ２８等の表示制御を行うとともに、音声出力基板７０を介してスピーカ２７からの音出力の制御を行う。
【００６０】
図４は、中継基板７７、演出制御基板８０、ランプドライバ基板３５および音声出力基板７０の回路構成例を示すブロック図である。なお、図４に示す例では、ランプドライバ基板３５および音声出力基板７０には、マイクロコンピュータは搭載されていないが、マイクロコンピュータを搭載してもよい。また、ランプドライバ基板３５および音声出力基板７０を設けずに、演出制御に関して演出制御基板８０のみを設けてもよい。演出制御基板８０のみを設けた場合には、図４に示すランプドライバ基板３５および音声出力基板７０に搭載されている回路等も、演出制御基板８０に搭載される。
【００６１】
演出制御基板８０は、演出制御用ＣＰＵ１０１、および演出制御プロセスフラグ等の演出に関する情報を記憶するＲＡＭを含む演出制御用マイクロコンピュータ１００を搭載している。なお、ＲＡＭは外付けであってもよい。この実施の形態では、演出制御用マイクロコンピュータ１００におけるＲＡＭは電源バックアップされていない。演出制御基板８０において、演出制御用ＣＰＵ１０１は、内蔵または外付けのＲＯＭ（図示せず）に格納されたプログラムに従って動作し、中継基板７７を介して入力される主基板３１からの取込信号（演出制御ＩＮＴ信号）に応じて、入力ドライバ１０２および入力ポート１０３を介して演出制御コマンドを受信する。また、演出制御用ＣＰＵ１０１は、演出制御コマンドにもとづいて、ＶＤＰ（ビデオディスプレイプロセッサ）１０９に演出表示装置９の表示制御を行わせる。
【００６２】
この実施の形態では、演出制御用マイクロコンピュータ１００と共動して演出表示装置９の表示制御を行うＶＤＰ１０９が演出制御基板８０に搭載されている。ＶＤＰ１０９は、演出制御用マイクロコンピュータ１００とは独立したアドレス空間を有し、そこにＶＲＡＭをマッピングする。ＶＲＡＭは、画像データを展開するためのバッファメモリである。そして、ＶＤＰ１０９は、ＶＲＡＭ内の画像データをフレームメモリを介して演出表示装置９に出力する。
【００６３】
演出制御用ＣＰＵ１０１は、受信した演出制御コマンドに従ってＣＧＲＯＭ（図示せず）から必要なデータを読み出すための指令をＶＤＰ１０９に出力する。ＣＧＲＯＭは、演出表示装置９に表示されるキャラクタ画像データや動画像データ、具体的には、人物、文字、図形や記号等（飾り図柄を含む）、および背景画像のデータをあらかじめ格納しておくためのＲＯＭである。ＶＤＰ１０９は、演出制御用ＣＰＵ１０１の指令に応じて、ＣＧＲＯＭから画像データを読み出す。そして、ＶＤＰ１０９は、読み出した画像データにもとづいて表示制御を実行する。
【００６４】
演出制御コマンドおよび演出制御ＩＮＴ信号は、演出制御基板８０において、まず、入力ドライバ１０２に入力する。入力ドライバ１０２は、中継基板７７から入力された信号を演出制御基板８０の内部に向かう方向にしか通過させない（演出制御基板８０の内部から中継基板７７への方向には信号を通過させない）信号方向規制手段としての単方向性回路でもある。なお、図４に示す出力ポート５７１は、図３に示されたＩ／Ｏポート部５７の一部である。
【００６５】
さらに、演出制御用ＣＰＵ１０１は、出力ポート１０５を介してランプドライバ基板３５に対してＬＥＤを駆動する信号を出力する。また、演出制御用ＣＰＵ１０１は、出力ポート１０４を介して音声出力基板７０に対して音番号データを出力する。
【００６６】
ランプドライバ基板３５において、ＬＥＤを駆動する信号は、入力ドライバ３５１を介してＬＥＤドライバ３５２に入力される。ＬＥＤドライバ３５２は、ＬＥＤを駆動する信号にもとづいて枠ＬＥＤ２８などの枠側に設けられている発光体に電流を供給する。また、遊技盤側に設けられている装飾ＬＥＤ２５に電流を供給する。
【００６７】
音声出力基板７０において、音番号データは、入力ドライバ７０２を介して音声合成用ＩＣ７０３に入力される。音声合成用ＩＣ７０３は、音番号データに応じた音声や効果音を発生し増幅回路７０５に出力する。増幅回路７０５は、音声合成用ＩＣ７０３の出力レベルを、ボリューム７０６で設定されている音量に応じたレベルに増幅した音声信号をスピーカ２７に出力する。音声データＲＯＭ７０４には、音番号データに応じた制御データが格納されている。音番号データに応じた制御データは、所定期間（例えば飾り図柄の変動期間）における効果音または音声の出力態様を時系列的に示すデータの集まりである。
【００６８】
例えば、音番号データに応じた制御データとして、所定の期間内の効果音（音声および楽曲を含む。）のディジタルデータが音声データＲＯＭ７０４に格納されている。ディジタルデータとして、例えばＰＣＭデータが使用される。その場合には、１秒間の効果音が８ビット×８ｋ（８０００）＝６４ｋビットで表される。なお、ここでは、ＰＣＭデータを用いる場合を例にするが、ＡＤＰＣＭデータ等の他の形式のディジタル音声データを用いてもよい。
【００６９】
次に、遊技機の動作について説明する。図５は、主基板３１における遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が実行するメイン処理を示すフローチャートである。遊技機に対して電源が投入され電力供給が開始されると、リセット信号が入力されるリセット端子の入力レベルがハイレベルになり、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０（具体的には、ＣＰＵ５６）は、プログラムの内容が正当か否か確認するための処理であるセキュリティチェック処理を実行した後、ステップＳ１以降のメイン処理を開始する。メイン処理において、ＣＰＵ５６は、まず、必要な初期設定を行う。
【００７０】
初期設定処理において、ＣＰＵ５６は、まず、割込禁止に設定する（ステップＳ１）。次に、割込モードを割込モード２に設定し（ステップＳ２）、スタックポインタにスタックポインタ指定アドレスを設定する（ステップＳ３）。そして、内蔵デバイスの初期化（内蔵デバイス（内蔵周辺回路）であるＣＴＣ（カウンタ／タイマ）およびＰＩＯ（パラレル入出力ポート）の初期化など）を行った後（ステップＳ４）、ＲＡＭ５５をアクセス可能状態に設定する（ステップＳ５）。なお、割込モード２は、ＣＰＵ５６が内蔵する特定レジスタ（Ｉレジスタ）の値（１バイト）と内蔵デバイスが出力する割込ベクタ（１バイト：最下位ビット０）とから合成されるアドレスが、割込番地を示すモードである。
【００７１】
次いで、ＣＰＵ５６は、入力ポートを介して入力されるクリアスイッチ（例えば、電源基板に搭載されている。）の出力信号の状態を確認する（ステップＳ６）。その確認においてオンを検出した場合には、ＣＰＵ５６は、通常の初期化処理を実行する（ステップＳ１０〜Ｓ１５）。
【００７２】
クリアスイッチがオンの状態でない場合には、遊技機への電力供給が停止したときにバックアップＲＡＭ領域のデータ保護処理（例えばパリティデータの付加等の電力供給停止時処理）が行われたか否か確認する（ステップＳ７）。そのような保護処理が行われていないことを確認したら、ＣＰＵ５６は初期化処理を実行する。バックアップＲＡＭ領域にバックアップデータがあるか否かは、例えば、電力供給停止時処理においてバックアップＲＡＭ領域に設定されるバックアップフラグの状態によって確認される。
【００７３】
電力供給停止時処理が行われたことを確認したら、ＣＰＵ５６は、バックアップＲＡＭ領域のデータチェックを行う（ステップＳ８）。この実施の形態では、データチェックとしてパリティチェックを行う。よって、ステップＳ８では、算出したチェックサムと、電力供給停止時処理で同一の処理によって算出され保存されているチェックサムとを比較する。不測の停電等の電力供給停止が生じた後に復旧した場合には、バックアップＲＡＭ領域のデータは保存されているはずであるから、チェック結果（比較結果）は正常（一致）になる。チェック結果が正常でないということは、バックアップＲＡＭ領域のデータが、電力供給停止時のデータとは異なっていることを意味する。そのような場合には、内部状態を電力供給停止時の状態に戻すことができないので、電力供給の停止からの復旧時でない電源投入時に実行される初期化処理を実行する。
【００７４】
チェック結果が正常であれば、ＣＰＵ５６は、遊技制御手段の内部状態と演出制御手段等の電気部品制御手段の制御状態を電力供給停止時の状態に戻すための遊技状態復旧処理（ステップＳ４１〜Ｓ４３の処理）を行う。具体的には、ＲＯＭ５４に格納されているバックアップ時設定テーブルの先頭アドレスをポインタに設定し（ステップＳ４１）、バックアップ時設定テーブルの内容を順次作業領域（ＲＡＭ５５内の領域）に設定する（ステップＳ４２）。作業領域はバックアップ電源によって電源バックアップされている。バックアップ時設定テーブルには、作業領域のうち初期化してもよい領域についての初期化データが設定されている。ステップＳ４１およびＳ４２の処理によって、作業領域のうち初期化してはならない部分については、保存されていた内容がそのまま残る。初期化してはならない部分とは、例えば、電力供給停止前の遊技状態を示すデータ（特別図柄プロセスフラグ、確変フラグ、時短フラグなど）、出力ポートの出力状態が保存されている領域（出力ポートバッファ）、未払出賞球数を示すデータが設定されている部分などである。
【００７５】
また、ＣＰＵ５６は、電力供給復旧時の初期化コマンドとしての停電復旧指定コマンドを演出制御基板８０に送信する（ステップＳ４３）。そして、ステップＳ１４に移行する。
【００７６】
初期化処理では、ＣＰＵ５６は、まず、ＲＡＭクリア処理を行う（ステップＳ１０）。なお、ＲＡＭクリア処理によって、所定のデータ（例えば大当り判定用乱数を生成するためのカウンタのカウント値のデータ）は０に初期化されるが、任意の値またはあらかじめ決められている値に初期化するようにしてもよい。また、ＲＡＭ５５の全領域を初期化せず、所定のデータ（例えば大当り判定用乱数を生成するためのカウンタのカウント値のデータ）をそのままにしてもよい。また、ＲＯＭ５４に格納されている初期化時設定テーブルの先頭アドレスをポインタに設定し（ステップＳ１１）、初期化時設定テーブルの内容を順次ＲＡＭ５５における作業領域に設定する（ステップＳ１２）。
【００７７】
ステップＳ１１およびＳ１２の処理によって、特別図柄プロセスフラグなど制御状態に応じて選択的に処理を行うためのフラグに初期値が設定される。
【００７８】
また、ＣＰＵ５６は、サブ基板（主基板３１以外のマイクロコンピュータが搭載された基板。）を初期化するための初期化指定コマンド（遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が初期化処理を実行したことを示すコマンドでもある。）を演出制御基板８０に送信する（ステップＳ１３）。例えば、演出制御基板８０に搭載されている演出制御用マイクロコンピュータ１００は、初期化指定コマンドを受信すると、演出表示装置９において、遊技機の制御の初期化がなされたことを報知するための画面表示、すなわち初期化報知を行う。なお、初期化処理において、ＣＰＵ５６は、客待ちデモンストレーション指定（デモ指定）コマンドも送信する。
【００７９】
また、ＣＰＵ５６は、乱数回路５０３を初期設定する乱数回路設定処理を実行する（ステップＳ１４）。ＣＰＵ５６は、例えば、乱数回路設定プログラムに従って処理を実行することによって、乱数回路５０３にランダムＲの値を更新させるための設定を行う。
【００８０】
そして、ＣＰＵ５６は、所定時間（例えば２ｍｓ）毎に定期的にタイマ割込がかかるように遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に内蔵されているＣＴＣのレジスタの設定を行なう（ステップＳ１５）。すなわち、初期値として例えば２ｍｓに相当する値が所定のレジスタ（時間定数レジスタ）に設定される。この実施の形態では、２ｍｓ毎に定期的にタイマ割込がかかるとする。
【００８１】
初期化処理の実行（ステップＳ１０〜Ｓ１５）が完了すると、ＣＰＵ５６は、メイン処理で、表示用乱数更新処理（ステップＳ１７）および初期値用乱数更新処理（ステップＳ１８）を繰り返し実行する。表示用乱数更新処理および初期値用乱数更新処理を実行するときには割込禁止状態に設定し（ステップＳ１６）、表示用乱数更新処理および初期値用乱数更新処理の実行が終了すると割込許可状態に設定する（ステップＳ１９）。この実施の形態では、表示用乱数とは、変動パターン等を決定するための乱数であり、表示用乱数更新処理とは、表示用乱数を発生するためのカウンタのカウント値を更新する処理である。また、初期値用乱数更新処理とは、初期値用乱数を発生するためのカウンタのカウント値を更新する処理である。この実施の形態では、初期値用乱数とは、普通図柄の当りとするか否か決定するための乱数を発生するためのカウンタ（普通図柄当り判定用乱数発生カウンタ）等のカウント値の初期値を決定するための乱数である。後述する遊技の進行を制御する遊技制御処理（遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が、遊技機に設けられている可変表示装置、可変入賞球装置、球払出装置等の遊技用の装置を、自身で制御する処理、または他のマイクロコンピュータに制御させるために指令信号を送信する処理、遊技装置制御処理ともいう）において、大当り判定用乱数発生カウンタ等のカウント値が１周（乱数の取りうる値の最小値から最大値までの間の数値の個数分歩進したこと）すると、そのカウンタに初期値が設定される。
【００８２】
タイマ割込が発生すると、ＣＰＵ５６は、図６に示すステップＳ２０〜Ｓ３５のタイマ割込処理を実行する。タイマ割込処理において、まず、電源断信号が出力されたか否か（オン状態になったか否か）を検出する電源断検出処理を実行する（ステップＳ２０）。電源断信号は、例えば電源基板に搭載されている電源監視回路が、遊技機に供給される電源の電圧の低下を検出した場合に出力する。そして、電源断検出処理において、ＣＰＵ５６は、電源断信号が出力されたことを検出したら、必要なデータをバックアップＲＡＭ領域に保存するための電力供給停止時処理を実行する。次いで、入力ドライバ回路５８を介して、ゲートスイッチ３２ａ、第１始動口スイッチ１３ａ、第２始動口スイッチ１４ａ、カウントスイッチ２３、および入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａの検出信号を入力し、それらの状態判定を行う（スイッチ処理：ステップＳ２１）。
【００８３】
次に、ＣＰＵ５６は、特別図柄表示器８、普通図柄表示器１０、特別図柄保留記憶表示器１８、普通図柄保留記憶表示器４１の表示制御を行う表示制御処理を実行する（ステップＳ２２）。特別図柄表示器８および普通図柄表示器１０については、ステップＳ３２，Ｓ３３で設定される出力バッファの内容に応じて各表示器に対して駆動信号を出力する制御を実行する。
【００８４】
また、遊技制御に用いられる普通当り図柄決定用の乱数等の各判定用乱数を生成するための各カウンタのカウント値を更新する処理を行う（判定用乱数更新処理：ステップＳ２３）。ＣＰＵ５６は、さらに、初期値用乱数および表示用乱数を生成するためのカウンタのカウント値を更新する処理を行う（初期値用乱数更新処理，表示用乱数更新処理：ステップＳ２４，Ｓ２５）。
【００８５】
なお、この実施の形態では、大当り判定用乱数（ランダムＲ）は遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に内蔵されたハードウェアが生成する乱数であるが、大当り判定用乱数として、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０によってプログラムにもとづいて生成されるソフトウェア乱数を用いてもよい。
【００８６】
さらに、ＣＰＵ５６は、特別図柄プロセス処理を行う（ステップＳ２６）。特別図柄プロセス処理では、特別図柄表示器８および大入賞口を所定の順序で制御するための特別図柄プロセスフラグに従って該当する処理を実行する。ＣＰＵ５６は、特別図柄プロセスフラグの値を、遊技状態に応じて更新する。
【００８７】
次いで、普通図柄プロセス処理を行う（ステップＳ２７）。普通図柄プロセス処理では、ＣＰＵ５６は、普通図柄表示器１０の表示状態を所定の順序で制御するための普通図柄プロセスフラグに従って該当する処理を実行する。ＣＰＵ５６は、普通図柄プロセスフラグの値を、遊技状態に応じて更新する。
【００８８】
また、ＣＰＵ５６は、演出制御用マイクロコンピュータ１００に演出制御コマンドを送出する処理を行う（演出制御コマンド制御処理：ステップＳ２８）。
【００８９】
さらに、ＣＰＵ５６は、例えばホール管理用コンピュータに供給される大当り情報、始動情報、確率変動情報などのデータを出力する情報出力処理を行う（ステップＳ２９）。
【００９０】
また、ＣＰＵ５６は、第１始動口スイッチ１３ａ、第２始動口スイッチ１４ａ、カウントスイッチ２３および入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａの検出信号にもとづく賞球個数の設定などを行う賞球処理を実行する（ステップＳ３０）。具体的には、第１始動口スイッチ１３ａ、第２始動口スイッチ１４ａ、カウントスイッチ２３および入賞口スイッチ２９ａ，３０ａ，３３ａ，３９ａのいずれかがオンしたことにもとづく入賞検出に応じて、払出制御基板３７に搭載されている払出制御用マイクロコンピュータに賞球個数を示す払出制御コマンド（賞球個数信号）を出力する。払出制御用マイクロコンピュータは、賞球個数を示す払出制御コマンドに応じて球払出装置９７を駆動する。
【００９１】
この実施の形態では、出力ポートの出力状態に対応したＲＡＭ領域（出力ポートバッファ）が設けられているのであるが、ＣＰＵ５６は、出力ポートの出力状態に対応したＲＡＭ領域におけるソレノイドのオン／オフに関する内容を出力ポートに出力する（ステップＳ３１：出力処理）。
【００９２】
また、ＣＰＵ５６は、特別図柄プロセスフラグの値に応じて特別図柄の演出表示を行うための特別図柄表示制御データを特別図柄表示制御データ設定用の出力バッファに設定する特別図柄表示制御処理を行う（ステップＳ３２）。ＣＰＵ５６は、例えば、特別図柄プロセス処理でセットされる開始フラグがセットされると終了フラグがセットされるまで、変動速度が１コマ／０．２秒であれば、０．２秒が経過する毎に、出力バッファに設定される表示制御データの値を＋１する。また、ＣＰＵ５６は、出力バッファに設定された表示制御データに応じて、ステップＳ２２において駆動信号を出力することによって、特別図柄表示器８における特別図柄の可変表示を実行する。
【００９３】
さらに、ＣＰＵ５６は、普通図柄プロセスフラグの値に応じて普通図柄の演出表示を行うための普通図柄表示制御データを普通図柄表示制御データ設定用の出力バッファに設定する普通図柄表示制御処理を行う（ステップＳ３３）。ＣＰＵ５６は、例えば、普通図柄の変動に関する開始フラグがセットされると終了フラグがセットされるまで、普通図柄の変動速度が０．２秒ごとに表示状態（「○」および「×」）を切り替えるような速度であれば、０．２秒が経過する毎に、出力バッファに設定される表示制御データの値（例えば、「○」を示す１と「×」を示す０）を切り替える。また、ＣＰＵ５６は、出力バッファに設定された表示制御データに応じて、ステップＳ２２において駆動信号を出力することによって、普通図柄表示器１０における普通図柄の演出表示を実行する。
【００９４】
また、磁界検出用回路１４０からエラー信号が入力されているか否か確認し、エラー信号が入力されている場合には、演出装置を用いて、異常報知を行うための制御を実行する（ステップＳ３４：磁気検出処理）。
【００９５】
その後、割込許可状態に設定し（ステップＳ３５）、処理を終了する。
【００９６】
以上の制御によって、この実施の形態では、遊技制御処理は２ｍｓ毎に起動されることになる。なお、遊技制御処理は、タイマ割込処理におけるステップＳ２１〜Ｓ２８，Ｓ３０〜Ｓ３３の処理に相当する。また、この実施の形態では、タイマ割込処理で遊技制御処理が実行されているが、タイマ割込処理では例えば割込が発生したことを示すフラグのセットのみがなされ、遊技制御処理はメイン処理において実行されるようにしてもよい。
【００９７】
図７は、ステップＳ３４の磁気検出処理を示すフローチャートである。磁気検出処理において、ＣＰＵ５６は、前面枠２Ｂが閉鎖状態から開放状態に変化したか否か確認する（ステップＳ４０１）。すなわち、ドアスイッチ９６からの信号が、前面枠２Ｂの閉鎖を示す状態から開放を示す状態に変化したか否か確認する。前面枠２Ｂが閉鎖状態から開放状態に変化した場合には、前面枠開放コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信する（ステップＳ４０２）。また、前面枠開放中フラグをセットする（ステップＳ４０３）。なお、前面枠開放中フラグは、前面枠２Ｂが開放状態であることを意味するフラグである。すなわち、ＣＰＵ５６は、前面枠開放中フラグがセットされていない状態においてドアスイッチ９６からの信号が開放状態を示しているときに、前面枠２Ｂが閉鎖状態から開放状態に変化したと判定する。
【００９８】
また、ＣＰＵ５６は、前面枠２Ｂが開放状態から閉鎖状態に変化したか否か確認する（ステップＳ４０４）。すなわち、ドアスイッチ９６からの信号が、前面枠２Ｂの開放を示す状態から閉鎖を示す状態に変化したか否か確認する。具体的には、ＣＰＵ５６は、前面枠開放中フラグがセットされている状態においてドアスイッチ９６からの信号が閉鎖状態を示しているときに、前面枠２Ｂが開放状態から閉鎖状態に変化したと判定する。前面枠２Ｂが開放状態から閉鎖状態に変化した場合には、前面枠閉鎖コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信する（ステップＳ４０５）。また、前面枠開放中フラグをリセットする（ステップＳ４０６）。
【００９９】
なお、遊技機への電力供給が開始された直後において、前面枠開放中フラグはセットされていないので（図５に示すステップＳ１０，Ｓ１１の処理でリセット状態に設定される。）、前面枠２Ｂが閉鎖状態であれば、ＣＰＵ５６は、ステップＳ４０５の処理で前面枠閉鎖コマンドを送信することになる。
【０１００】
また、ＣＰＵ５６は、磁界異常中フラグがリセットされている状態において磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されたか否か確認する（ステップＳ４０７）。磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されたと判定した場合には、磁界異常コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信する（ステップＳ４０８）。また、磁界異常中フラグをセットする（ステップＳ４０９）。
【０１０１】
なお、ステップＳ４０７では、ＣＰＵ５６は、磁界検出用回路１４０からのエラー信号が磁界検出（磁石検出）に対応する状態（例えば、ハイレベル）になっているか否か確認する。エラー信号が磁界検出（磁石検出）に対応する状態になっていることをエラー信号が出力されているといい、エラー信号が磁界未検出（磁石未検出）に対応する状態（例えば、ローレベル）になっていることをエラー信号が出力されていないという。
【０１０２】
また、ＣＰＵ５６は、磁界異常中フラグがセットされている状態において磁界検出回路１４０からのエラー信号の入力がなくなったか否か確認する（ステップＳ４１０）。磁界検出回路１４０からのエラー信号が停止したことを確認した場合には、磁界正常コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信する（ステップＳ４１１）。また、磁界異常中フラグをリセットする（ステップＳ４１２）。
【０１０３】
次に、演出制御手段の動作を説明する。図８は、演出制御基板８０に搭載されている演出制御手段としての演出制御用マイクロコンピュータ１００（具体的には、演出制御用ＣＰＵ１０１）が実行するメイン処理を示すフローチャートである。演出制御用ＣＰＵ１０１は、電源が投入されると、メイン処理の実行を開始する。メイン処理では、まず、ＲＡＭ領域のクリアや各種初期値の設定、また演出制御の起動間隔（例えば、２ｍｓ）を決めるためのタイマの初期設定等を行うための初期化処理を行う（ステップＳ７０１）。その後、演出制御用ＣＰＵ１０１は、所定の乱数を生成するためのカウンタのカウンタ値を更新する乱数更新処理を実行する（ステップＳ７０２）。そして、タイマ割込フラグの監視（ステップＳ７０３）を行う。タイマ割込フラグがセットされていない場合には、ステップＳ７０２に移行する。なお、タイマ割込が発生すると、演出制御用ＣＰＵ１０１は、タイマ割込処理においてタイマ割込フラグをセットする。タイマ割込フラグがセットされていたら、演出制御用ＣＰＵ１０１は、そのフラグをクリアし（ステップＳ７０４）、ステップＳ７０５〜Ｓ７０６の演出制御処理およびステップＳ７０７の不正報知処理を実行する。
【０１０４】
演出制御処理において、演出制御用ＣＰＵ１０１は、まず、受信した演出制御コマンドを解析し、受信した演出制御コマンドに応じたフラグをセットする処理等を行う（コマンド解析処理：ステップＳ７０５）。次いで、演出制御用ＣＰＵ１０１は、演出制御プロセス処理を行う（ステップＳ７０６）。演出制御プロセス処理では、制御状態に応じた各プロセスのうち、現在の制御状態（演出制御プロセスフラグ）に対応した処理を選択して演出表示装置９の表示制御を実行する。
【０１０５】
また、演出制御用ＣＰＵ１０１は、ステップＳ７０７の不正報知処理において、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０から磁界異常コマンドを受信した（磁石を検出した状態に相当）か否か確認し、磁界異常コマンドを受信したら、演出装置を用いて異常報知を行う。ただし、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０から前面枠開放コマンドを受信していないことを条件にする。
【０１０６】
図９は、演出制御処理におけるコマンド解析処理（ステップＳ７０５）を示すフローチャートである。主基板３１から受信された演出制御コマンドは受信コマンドバッファに格納されるが、コマンド解析処理では、演出制御用マイクロコンピュータ１００は、コマンド受信バッファに格納されているコマンドの内容を確認する。
【０１０７】
なお、演出制御コマンドは２バイト構成であり、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、演出制御コマンドにおける各バイト（コマンドデータ）を出力するときに、コマンドデータの取り込みを指示するための演出制御ＩＮＴ信号を出力する。演出制御用マイクロコンピュータ１００において、演出制御コマンドは、演出制御ＩＮＴ信号にもとづく割込処理で受信され、２バイト構成の演出制御コマンドを６個格納可能なリングバッファ形式のコマンド受信バッファ（ＲＡＭに形成されている。）に保存される。また、割込処理で、受信したコマンドをどの領域に格納するのかを示すコマンド受信個数カウンタが用いられる。コマンド受信個数カウンタは、０〜１１の値をとる。コマンド解析処理では、演出制御用ＣＰＵ１０１が、コマンド受信バッファに保存されている演出制御コマンドがどのコマンドであるのか解析する。
【０１０８】
コマンド解析処理において、演出制御用ＣＰＵ１０１は、まず、コマンド受信バッファに受信コマンドが格納されているか否か確認する（ステップＳ６１１）。格納されているか否かは、コマンド受信個数カウンタの値と読出ポインタとを比較することによって判定される。両者が一致している場合が、受信コマンドが格納されていない場合である。コマンド受信バッファに受信コマンドが格納されている場合には、演出制御用ＣＰＵ１０１は、コマンド受信バッファから受信コマンドを読み出す（ステップＳ６１２）。なお、読み出したら読出ポインタの値を＋２しておく（ステップＳ６１３）。＋２するのは２バイト（１コマンド）ずつ読み出すからである。
【０１０９】
演出制御用ＣＰＵ１０１は、受信した演出制御コマンドが前面枠開放コマンドであれば（ステップＳ６１４）、前面枠開放コマンド受信フラグをセットする（ステップＳ６１５）。受信した演出制御コマンドが前面枠閉鎖コマンドであれば（ステップＳ６１６）、前面枠閉鎖コマンド受信フラグをセットする（ステップＳ６１７）。
【０１１０】
また、受信した演出制御コマンドが磁界異常コマンドであれば（ステップＳ６２１）、磁界異常コマンド受信フラグをセットする（ステップＳ６２２）。受信した演出制御コマンドが磁界正常コマンドであれば（ステップＳ６２３）、磁界正常コマンド受信フラグをセットする（ステップＳ６２４）。
【０１１１】
受信した演出制御コマンドがその他のコマンドであれば、演出制御用ＣＰＵ１０１は、受信した演出制御コマンドに応じたフラグをセットする（ステップＳ６３０）。そして、ステップＳ６１１に移行する。なお、その他の演出制御コマンドとして、飾り図柄の可変表示（変動）の制御に関わるコマンド等がある。
【０１１２】
図１０は、図８に示されたメイン処理における演出制御プロセス処理（ステップＳ７０６）を示すフローチャートである。演出制御用ＣＰＵ１０１は、演出制御プロセス処理では、演出制御プロセスフラグの値に応じてステップＳ８００〜Ｓ８０７のうちのいずれかの処理を行う。各処理において、以下のような処理が実行される。
【０１１３】
変動パターンコマンド受信待ち処理（ステップＳ８００）：演出制御プロセスフラグの値が変動パターンコマンド受信待ち処理（ステップＳ８００）に対応した値である場合に実行される。変動パターンコマンド受信待ち処理では、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０から変動パターンコマンドを受信しているか否か確認する。具体的には、コマンド解析処理でセットされる変動パターンコマンド受信フラグがセットされているか否か確認する。変動パターンコマンドを受信している場合には、そして、演出制御プロセスフラグの値を飾り図柄変動開始処理（ステップＳ８０１）に対応した値に更新する。なお、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、特別図柄の変動を開始するときに、変動パターンコマンドを送信する。
【０１１４】
飾り図柄変動開始処理（ステップＳ８０１）：演出制御プロセスフラグの値が飾り図柄変動開始処理（ステップＳ８０１）に対応した値である場合に実行される。飾り図柄変動開始処理では、飾り図柄および飾り図柄の変動が開始されるように制御する。そして、演出制御プロセスフラグの値を飾り図柄変動中処理（ステップＳ８０２）に対応した値に更新する。
【０１１５】
飾り図柄変動中処理（ステップＳ８０２）：演出制御プロセスフラグの値が飾り図柄変動中処理（ステップＳ８０２）に対応した値である場合に実行される。飾り図柄変動中処理では、変動パターンを構成する各変動状態（変動速度）の切替タイミング等を制御するとともに、変動時間の終了を監視する。そして、変動時間が終了したら、演出制御プロセスフラグの値を飾り図柄変動停止処理（ステップＳ８０３）に対応した値に更新する。
【０１１６】
飾り図柄変動停止処理（ステップＳ８０３）：演出制御プロセスフラグの値が飾り図柄変動停止処理（ステップＳ８０３）に対応した値である場合に実行される。飾り図柄変動停止処理では、全図柄停止を指示する演出制御コマンド（図柄確定指定コマンド）を受信したことにもとづいて、飾り図柄（および飾り図柄）の変動を停止し表示結果（停止図柄）を導出表示する制御を行う。そして、演出制御プロセスフラグの値を大当り表示処理（ステップＳ８０４）または変動パターンコマンド受信待ち処理（ステップＳ８００）に対応した値に更新する。なお、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、特別図柄の変動を終了するときに、図柄確定指定コマンドを送信する。
【０１１７】
大当り表示処理（ステップＳ８０４）：演出制御プロセスフラグの値が大当り表示処理（ステップＳ８０４）に対応した値である場合に実行される。大当り表示処理では、変動時間の終了後、演出表示装置９に大当りの発生を報知するための画面を表示する制御を行う。そして、演出制御プロセスフラグの値をラウンド中処理（ステップＳ８０５）に対応した値に更新する。
【０１１８】
ラウンド中処理（ステップＳ８０５）：演出制御プロセスフラグの値がラウンド中処理（ステップＳ８０５）に対応した値である場合に実行される。ラウンド中処理では、ラウンド中の表示制御を行う。そして、ラウンド終了条件が成立したら、最終ラウンドが終了していなければ、演出制御プロセスフラグの値をラウンド後処理（ステップＳ８０６）に対応した値に更新する。最終ラウンドが終了している場合には、演出制御プロセスフラグの値を大当り終了演出処理（ステップＳ８０７）に対応した値に更新する。
【０１１９】
ラウンド後処理（ステップＳ８０６）：演出制御プロセスフラグの値がラウンド後処理（ステップＳ８０６）に対応した値である場合に実行される。ラウンド後処理では、ラウンド間の表示制御を行う。そして、ラウンド開始条件が成立したら、演出制御プロセスフラグの値をラウンド中処理（ステップＳ８０５）に対応した値に更新する。
【０１２０】
大当り終了演出処理（ステップＳ８０７）：演出制御プロセスフラグの値が大当り終了演出処理（ステップＳ８０７）に対応した値である場合に実行される。大当り終了演出処理では、演出表示装置９において、大当り遊技状態が終了したことを遊技者に報知する表示制御を行う。そして、演出制御プロセスフラグの値を変動パターンコマンド受信待ち処理（ステップＳ８００）に対応した値に更新する。
【０１２１】
図１１は、ステップＳ７０７の不正報知処理を示すフローチャートである。不正報知処理において、演出制御用ＣＰＵ１０１は、異常報知（不正検出報知）の実行中であることを示す異常報知中フラグがセットされているか否か確認する（ステップＳ９０１）。異常報知中フラグがセットされている場合には、ステップＳ９１１に移行する。
【０１２２】
異常報知中フラグがセットされていない場合には、前面枠開放状態フラグがセットされているか否か確認する（ステップＳ９０２）。前面枠開放状態フラグがセットされている場合には、処理を終了する。
【０１２３】
前面枠開放状態フラグがセットされているということは、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０から前面枠開放コマンドを受信したことを意味する。遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、前面枠２Ｂが開放されていることをドアスイッチ９６によって検出したときに、前面枠開放コマンドを送信する。従って、ステップＳ９０２の処理によって、前面枠２Ｂが開放しているときには、ステップＳ９０５の処理等の実行が禁止される。
【０１２４】
前面枠開放状態フラグがセットされていない場合には、演出制御用ＣＰＵ１０１は、磁界異常コマンドを受信したことを示す磁界異常コマンド受信フラグがセットされているか否か確認する（ステップＳ９０３）。
【０１２５】
磁界異常コマンド受信フラグがセットされている場合には、演出制御用ＣＰＵ１０１は、磁界異常コマンド受信フラグをリセットし（ステップＳ９０４）、演出表示装置９に、例えば「磁石発見」を示す画像や異常検出の旨を示す画像を表示する制御を行う（ステップＳ９０５）。また、スピーカ２７から異常報知音が出力されるように、異常報知音に対応する音番号データを音声出力基板７０に出力する（ステップＳ９０６）。そして、異常報知中フラグをセットする（ステップＳ９０７）。
【０１２６】
以上のような処理によって、遊技球を入賞領域に不正に誘導するような不正行為に使用される可能性がある磁石、または不正行為に使用されている磁石が発見された場合には、演出表示装置９において異常報知がなされ、同時に、スピーカ２７から異常報知音が出力される。ただし、前面枠２Ｂが開放されているときには、異常報知は行われない。
【０１２７】
なお、演出制御用ＣＰＵ１０１は、演出表示装置９のみを用いて異常報知を行ったり、スピーカ２７のみを用いて異常報知を行ってもよい。また、他の演出装置（例えば、ＬＥＤ等の発光体）を用いて異常報知を行ったり、演出表示装置９やスピーカ２７と、他の演出装置（例えば、ＬＥＤ等の発光体）とを併用してもよい。また、演出制御用ＣＰＵ１０１は、不正検出に関連しない遊技機のエラー（例えば、球切れエラー）も報知するようにしてもよい。
【０１２８】
ステップＳ９１１では、演出制御用ＣＰＵ１０１は、磁界正常コマンドを受信したことを示す磁界正常コマンド受信フラグがセットされているか否か確認する。磁界正常コマンド受信フラグがセットされている場合には、演出制御用ＣＰＵ１０１は、磁界正常コマンド受信フラグをリセットし（ステップＳ９１２）、演出表示装置９における異常報知の表示を消去し（ステップＳ９１３）、スピーカ２７からの異常報知音の出力を停止する制御を行う（ステップＳ９１４）。また、異常報知中フラグをリセットする（ステップＳ９１５）。
【０１２９】
なお、この実施の形態では、磁界検出用回路１４０からのエラー信号の出力がなくなると（エラー信号が磁界未検出（磁石未検出）に対応する状態になると、具体的には磁界正常コマンドを受信すると）、異常報知を終了することになるが、一旦、磁界検出用回路１４０からエラー信号が出力されると、遊技機に対する電力供給が停止されるまで異常報知を継続するようにしてもよい。また、磁界検出用回路１４０からのエラー信号の出力が所定時間（例えば、３０秒）を越えて継続した場合には、エラー信号が出力されたときから所定時間（例えば、３０秒）が経過したときに、異常報知を終了するようにしてもよい。
【０１３０】
また、一旦、磁界検出用回路１４０からエラー信号が出力されると、所定時間（例えば、３０秒）以内にエラー信号の出力が停止しても、エラー信号が出力されたときから所定時間（例えば、３０秒）が経過するまで異常報知を継続するようにしてもよい。
【０１３１】
また、遊技機に設けられている所定のスイッチが押下されたことにもとづいて、異常報知を終了してもよい。
【０１３２】
なお、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、遊技機に対して電力供給が開始された時点（電源オン時）から所定の期間（例えば、３０秒）が経過するまで、磁気検出処理を実行しないようにしてもよい。また、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、ノイズ等にもとづくエラー信号の誤検出を防止するために、磁界検出用回路１４０からのエラー信号が出力されている時間がある程度の時間（例えば、１秒）継続したら、確かにエラー信号が出力されたと判定するようにしてもよい。
【０１３３】
また、演出制御用ＣＰＵ１０１は、前面枠が開放していることを検出した場合に（具体的には、前面枠開放状態フラグがセットされていることを確認した場合に）、磁界異常コマンドを受信していないことを条件に、前面枠が開放していることを報知する制御を実行してもよい。前面枠が開放していることを報知する制御は、例えば、前面枠が開放していることを意味する文字等を演出表示装置９に表示したり、ＬＥＤ（またはランプ）を所定の態様で点滅させたり、前面枠が開放していることを意味する音声をスピーカ２７から出力したりするための制御である。
【０１３４】
図１２は、磁界検出素子（磁気センサ）１３０の設置位置を説明するための説明図である。この実施の形態では、図１２（Ａ）に示すように、磁界検出素子１３０は、主基板３１に搭載されている。すなわち、磁界検出素子１３０は、遊技進行を制御する遊技制御手段（遊技制御用マイクロコンピュータ５６０）が搭載された主基板３１に搭載されている。
【０１３５】
しかし、図１２（Ｂ）に示すように、磁界検出素子１３０を、演出制御基板８０に搭載してもよい。すなわち、磁界検出素子１３０を、遊技盤６に設けられた演出表示装置９を制御する演出制御手段（演出制御用マイクロコンピュータ１００）が搭載された演出制御基板８０に搭載してもよい。なお、演出制御基板８０は、演出表示装置９の裏側（遊技者が存在する方を表側とする。）に設置されている。磁界検出素子１３０を演出制御基板８０に搭載する場合には、遊技盤６における遊技領域に磁界検出素子１３０を設置しないことから、本来の機能を実現するための機構部品の遊技盤６における配置等を制約しないようにすることができる。
【０１３６】
また、図１２（Ｃ）に示すように、磁界検出素子１３０が、遊技盤６が着脱可能に取り付けられる前面枠２Ｂに設けられていてもよい。その場合には、磁界検出素子１３０が、遊技盤６が着脱可能に取り付けられる前面枠２Ｂに設置されているので、遊技店において遊技盤６が交換されても、磁界検出素子１３０を継続して使用することができ、遊技機のコストを低減することができる。なお、図１２（Ｃ）に示す例では、磁界検出素子１３０は、前面枠２Ｂにおける比較的上部に設置されているが、打球供給皿３の近傍など他の箇所に設置してもよい。
【０１３７】
また、磁界検出素子１３０の設置位置は、主基板３１、演出制御基板８０、遊技盤６または前面枠２Ｂに限られず、遊技機に設けられている他の回路基板（払出制御基板３７など）であってもよく、回路基板とは別に専用の基板を設け、その基板に、磁界検出素子１３０を設置してもよい。
【０１３８】
図１３（ｂ），（ｃ）は、遊技機におけるソレノイド１６，２１（図３参照）として使用可能なソレノイド１２１の漏れ磁束による磁界とソレノイド１２１からの距離との関係の一例を示す説明図である。図１３（ｂ），（ｃ）において、横軸はソレノイド１２１からの距離を示し、縦軸は、ソレノイド１２１の漏れ磁束による磁界を示す。
【０１３９】
図１３（ａ）に示すように、磁界検出素子１３０に対してソレノイド１２１がいずれの位置にあっても、磁界検出素子１３０とソレノイド１２１との間の距離Ａ〜Ｄが１０ｃｍ以上であれば、磁界検出素子１３０の位置におけるモータ１２２の漏れ磁束による磁界はほぼ０なる。すなわち、磁界検出素子１３０の位置におけるソレノイド１２１の漏れ磁束による磁界は１００μＴよりもはるかに小さくなる。よって、磁界検出素子１３０の検出感度（磁界あり／なしの判定のしきい値）を１００μＴ程度にすると、遊技機に設けられているソレノイド１２１から磁界検出素子１３０を１０ｃｍ以上離せば、磁界検出素子１３０は、ソレノイド１２１の漏れ磁束の影響を受けずに、不正行為に使用される磁石を検出できることがわかる。
【０１４０】
図１４（ｂ）は、遊技機におけるモータ（球払出装置９７や打球発射装置等におけるモータ）として使用可能なモータ１２２の漏れ磁束による磁界とモータ１２２からの距離との関係の一例を示す説明図である。図１３（ｂ）において、横軸はモータ１２２からの距離を示し、縦軸は、モータ１２２の漏れ磁束による磁界を示す。
【０１４１】
図１４（ａ）に示すように、磁界検出素子１３０に対してモータ１２２がいずれの位置にあっても、磁界検出素子１３０とモータ１２２との間の距離Ａ〜Ｄが５ｃｍ以上であれば、磁界検出素子１３０の位置におけるモータ１２２の漏れ磁束による磁界はほぼ０なる。よって、遊技機に設けられているモータ１２２から磁界検出素子１３０を５ｃｍ以上離せば、磁界検出素子１３０は、モータ１２２の漏れ磁束の影響を受けずに、不正行為に使用される磁石を検出できることがわかる。
【０１４２】
以上のことから、磁界検出素子１３０を、遊技機に設けられているソレノイド１２１から１０ｃｍ以上離して設置し、遊技機に設けられているモータ１２２から５ｃｍ以上離して設置することが好ましいといえる。
【０１４３】
次に、遊技機において使用されるソレノイド（ソレノイド１６，２１）について説明する。一般に、ソレノイドは、コイル４０１、ヨーク４０２およびプランジャ４０３等で構成される。図１５には、プランジャ４０３に嵌め込まれるＥリング４０４も示されている。
【０１４４】
ソレノイドに通電するとコイル４０１が磁力線を発生し、その磁力線でプランジャ４０３が吸引されヨーク４０２とプランジャ４０３とで磁力線の閉回路ができる。しかし、一般的なソレノイドはプランジャ４０３の吸引時にプランジャ４０３の先端がヨーク４０２上面より飛び出している。飛び出している部分は磁性体であるために、その内部を通り最終的に空気中に飛び出す磁力線が多い（図１６参照）。なお、図１６において、複数の曲線は、磁力線を示す。
【０１４５】
そこで、図１７に示すように、プランジャ４０３の長さをプランジャ４０３の吸引時にプランジャ４０３の上端がヨーク４０２の上面と同じ位置にくるようにソレノイドを構成する。プランジャ４０３の上端とヨーク４０２の上面とを同じ位置にすることによって、プランジャ４０３内部を通った磁力線は、プランジャ４０３の上端の外周の角部分から飛び出し、すぐ横にあるヨーク４０２に入りやすくなるので、空気中に飛び出す磁力線を減らすことができる（図１８参照）。なお、図１７には、他の部材を接続するための接続部４０５とＯリング４０６も示されている。また、図１８において、複数の曲線は、磁力線を示す。
【０１４６】
なお、プランジャ４０３の長さを、吸引時にヨーク４０２の上面より下（ソレノイド内部）に引っ込むような長さにすると、吸引トルクが落ちるので好ましくない。ヨーク４０２の上面より上（ソレノイド外部）に出るような長さにする場合には、空気中に飛び出す磁力線の量が増えるが、高感度の磁界センサに影響を与えなければ実用上問題にはならない。
【０１４７】
プランジャ４０３の上端面には駆動対象機構等の部材を接続するための接続部４０５を取り付けるねじ穴が設けられ、非磁性体である真鍮で形成した接続部４０５を、丸ワッシャ（Ｏリング）４０６を間に挟み込む形でプランジャ４０３にねじ止めする。なお、接続部４０５の材質は、非磁性体で耐久性のある材質であればよく、例えば、ＰＯＭ（ポリアセタール）やステンレス等でもよい。また、プランジャ４０３に接続できる耐久性があれば、接続部４０５の形状は任意である。
【０１４８】
磁界検出素子１３０は、磁石の検出範囲を広くするために、微弱な磁力線を検出するように設定されるので、近傍にソレノイドが設置されているとソレノイドが通電されたときに漏れる磁力線に起因して磁界の誤検出を生じてしまう。そこで、上記のように、磁界検出素子１３０を、ソレノイド１２１から１０ｃｍ以上離して設置することが好ましいが、１０ｃｍ以上離せない場合には、図１７に示されたようなソレノイドを使用することによって、ソレノイド１２１が磁界検出素子１３０に与える影響をより小さくすることができ、誤検出の可能性を低減することができる。
【０１４９】
図１９は、磁界検出用回路１４０の構成例を、磁界検出素子１３０とともに示すブロック図である。図１９（Ａ）に示す構成例は、第１の実施の形態に相当する。第１の実施の形態では、磁界検出用回路１４０は、比較回路１５０と、制御回路１７０とを含む。比較回路１５０は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧（アナログ信号である電圧信号）を入力し、検出電圧を所定値と比較し、検出電圧が所定の範囲内に入っている場合に検出信号を出力する。検出信号は、制御回路１７０を介してエラー信号として遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対して出力される。
【０１５０】
なお、制御回路１７０としてプログラムに従って制御動作を行うマイクロコントローラ（例えば、テキサスインスツルメント社製ＭＳＰ４３０Ｆ２００２）を使用することができる。また、比較回路１５０として、マイクロコントローラに内蔵されている比較回路を使用してもよい。
【０１５１】
磁界検出用回路１４０は、互いに直交する３軸（Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸）に沿って配置されたアモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成であり、制御回路１７０は、磁界検出用回路１４０に対してＸＹＺ選択信号を出力する機能を有する。ＸＹＺ選択信号は、Ｘ軸の検出素子（Ｘ軸センサ）、Ｙ軸の検出素子（Ｙ軸センサ）およびＺ軸の検出素子（Ｚ軸センサ）のうちのどの検出素子からの検出電圧を出力させるのかを選択するための信号である。
【０１５２】
図１９（Ｂ）に示す構成例は、第２の実施の形態に相当する。第２の実施の形態では、磁界検出用回路１４０は、制御回路１８０で構成される。制御回路１８０として、第１の実施の形態における制御回路１７０と同様に、マイクロコントローラを使用することができる。
【０１５３】
制御回路１８０は、Ａ−Ｄ変換器１６０を内蔵している。Ａ−Ｄ変換器１６０は、磁界検出素子１３０が出力するアナログ信号である検出電圧をディジタル信号に変換する。また、制御回路１８０は、ＸＹＺ選択信号を出力する機能に加えて、初期値設定機能、検出電圧平均化機能、および初期値との比較機能を有する。制御回路１８０としてマイクロコントローラを使用する場合には、それらの機能は、プログラムで実現される。
【０１５４】
初期値設定機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧と比較される初期値を設定する機能である。検出電圧平均化機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧を時間平均する機能である。初期値との比較機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧と初期値とを比較する機能である。制御回路１８０は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧の初期値からの変化量が所定量を越えると、エラー信号を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対して出力する。
【０１５５】
図１９（Ｃ）に示す構成例は、第３の実施の形態に相当する。第３の実施の形態では、磁界検出用回路１４０は、制御回路１９０で構成される。制御回路１９０として、第１の実施の形態における制御回路１７０と同様に、マイクロコントローラを使用することができる。
【０１５６】
制御回路１９０は、ＸＹＺ選択信号を出力する機能に加えて、初期値設定機能、磁力線方向検出機能、および磁石位置推定機能を有する。制御回路１９０としてマイクロコントローラを使用する場合には、それらの機能は、プログラムで実現される。
【０１５７】
初期値設定機能は、第２の実施の形態における初期値設定機能と同様の機能である。磁力線方向検出機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧にもとづいて、磁石等の磁気発生体が存在することを検出し、磁石が存在することを検出した場合に、磁石の磁力線の向きを検出する機能である。磁石位置推定機能は、磁力線の向きにもとづいて、磁気発生体（例えば、磁石）が遊技機の前面に存在するのか裏面に存在するのかを判定し、遊技機の前面における特定の領域に磁気発生体が存在すると判定した場合に、不正行為に使用される可能性がある磁石または不正行為に使用されている磁石が存在すると判断する機能である。制御回路１９０は、磁石が存在すると判断した場合には、エラー信号を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対して出力する。
【０１５８】
図２０（Ａ）は、磁界検出素子１３０の構成例を示すブロック図である。図２０（Ａ）に示す例では、磁界検出素子１３０は、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚに加えて、クロック信号を出力する発振器１３１と、発振器１３１からのクロック信号を、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹまたはＺ軸センサ１３Ｚに対して出力するタイミング制御回路１３２と、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚの出力側に接続された基準電圧発生器１３３と、入力端子ＣＨ１，ＣＨ２に入力される選択信号に従って、タイミング制御回路１３２にクロック出力選択信号を出力するとともに、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹまたはＺ軸センサ１３Ｚの検出電圧を入力するサンプルホールド回路（選択回路）１３４と、サンプルホールド回路１３４が入力した検出電圧を増幅して出力する差動増幅器１３５とを有する。
【０１５９】
Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚは、図２０（Ｂ）に示すように、軸方向が互いに直交するように（図２０（Ｃ）参照）配置されている。また、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚの軸はアモルファスワイヤであり、図２０（Ａ）に示す例では、アモルファスワイヤに巻かれたコイルが、アモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して、インピーダンスの変化に応じた電圧値の検出電圧を出力する。なお、インピーダンスの変化を検出する部材は、アモルファスワイヤに巻かれたコイルではなく、アモルファスワイヤの近傍に設置されたコイルでもよい。
【０１６０】
実施の形態１．
図２１は、第１の実施の形態における比較回路１５０（図１９（Ａ）参照）の動作を説明するための説明図である。
【０１６１】
図２１（Ａ）に示すように、外部磁界が存在しない場合に、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚのそれぞれ（以下、センサという。）は、１．５Ｖの検出電圧を出力する場合を例にする。また、センサは、素子のばらつき等に起因して、外部磁界が存在しない場合に、０．８〜１．９Ｖの範囲で変動する特性を有するとする。
【０１６２】
よって、第１の実施の形態では、センサの検出電圧が０．８〜１．９Ｖの範囲である場合には、外部磁界が存在しないと判定することにする。すなわち、０．８〜１．９Ｖの範囲を磁界検出のための誤差範囲とする。
【０１６３】
さらに、地磁気の影響を排除するために磁界検出のための誤差範囲をさらに広げることにする。日本列島における地磁気の大きさは４４０００〜５１０００ｎＴである。また、センサの感度が３．８ｍＶ（最大）／μＴであるとすると、センサの出力電圧に対して地磁気が与える影響は、５１μＴ×３．８ｍＶ＝０．１９３８Ｖである。
【０１６４】
そこで、図２１（Ｂ）に示すように、誤差範囲を０．２Ｖ広げ、０．６〜２．１Ｖを誤差範囲とする。よって、図２１（Ｃ）に示すように、２．２Ｖを越える範囲、および０．６Ｖ未満の範囲を磁界検出範囲とする。
【０１６５】
図２２は、磁界検出用回路の具体例を、磁界検出素子１３０とともに示すブロック図である。
【０１６６】
図２２に示すように、磁界検出用回路における比較回路１５０は、比較器１５１を有する。比較器１５１は、比較電圧として、抵抗器１５２，１５３による分圧で作成される第１の比較電圧（２．１Ｖ）、および抵抗器１５４，１５５による分圧で作成される第２の比較電圧（０．６Ｖ）を入力するとともに、磁界検出素子１３０からの検出電圧を入力する。そして、比較器１５１は、磁界検出素子１３０からの検出電圧が第１の比較電圧（２．１Ｖ）を越えているか否かと、第２の比較電圧（０．６Ｖ）未満であるか否かとを検出する。そして、磁界検出素子１３０からの検出電圧が第１の比較電圧（２．１Ｖ）を越えている場合に、遊技機の近傍に磁石が存在すると判断して、異常信号（磁石が検出されたことを示す信号）を出力する。また、磁界検出素子１３０からの検出電圧が第２の比較電圧（０．６Ｖ）未満なったときにも、異常信号を出力する。よって、異常信号は、磁界検出素子１３０からの検出電圧が第１の比較電圧（２．１Ｖ）を越えているか、または第２の比較電圧（０．６Ｖ）未満である場合に出力され、磁界検出素子１３０からの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内である場合には異常信号は出力されない。
【０１６７】
なお、比較電圧は、抵抗器１５２，１５３，１５４，１５５の分圧によって作成されているので、抵抗器１５２，１５３，１５４，１５５を、異なる抵抗値の抵抗器に代えることによって、容易に比較電圧を変更することができる。比較電圧を変更する場合として、例えば、遊技機の内部や裏面に磁界を生じさせる部材（不正部材ではなく、遊技機に設けられているソレノイド等の正規のもの）が存在し、その部材の磁界によって、不正部材が存在していない場合の磁界検出素子１３０の検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲を外れるような場合がある。
【０１６８】
制御回路１７０におけるラッチ回路１７１は、比較器１５１からの信号をラッチする。なお、磁界検出素子１３０は、制御回路１７０からのＸＹＺ選択信号に応じてＸ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３Ｙ、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧を順次出力するが、ラッチ回路１７１は、ＸＹＺ選択信号と同等の選択信号を入力して、選択信号に従って、比較器１５１によるＸ軸センサ１３Ｘからの検出電圧の比較結果、比較器１５１によるＹ軸センサ１３Ｙからの検出電圧の比較結果、および比較器１５１によるＺ軸センサ１３Ｚからの検出電圧の比較結果を順次ラッチする。すなわち、Ｘ軸センサ１３Ｘが検出電圧を出力しているときには比較器１５１によるＸ軸センサ１３Ｘからの検出電圧の比較結果をラッチしてＸラッチ信号を出力し、Ｙ軸センサ１３Ｙが検出電圧を出力しているときには比較器１５１によるＹ軸センサ１３Ｙからの検出電圧の比較結果をラッチしてＹラッチ信号を出力し、Ｚ軸センサ１３Ｚが検出電圧を出力しているときには比較器１５１によるＺ軸センサ１３Ｚからの検出電圧の比較結果をラッチしてＺラッチ信号を出力する。
【０１６９】
ドライバ１７２は、ラッチ回路１７１からのＸラッチ信号、Ｙラッチ信号およびＺラッチ信号を入力する。そして、いずれか１つ以上のラッチ信号が、異常状態を示していた場合（検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲外である場合）には、エラー信号を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に出力する。
【０１７０】
図２３は、磁界検出用回路の動作例を示すタイミング図である。第１の実施の形態では、制御回路１７０は、Ｘ軸センサ１３ＸとＹ軸センサ１３ＹとＺ軸センサ１３Ｚとを、２ｍｓ毎に順に選択する。すなわち、２ｍｓ毎に、ＸＹＺ選択信号を、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚが順に動作するように変化させる。
【０１７１】
比較器１５１は、Ｘ軸センサ１３Ｘからの検出電圧、Ｙ軸センサ１３Ｙからの検出電圧およびＺ軸センサ１３Ｚからの検出電圧が、順次、０．６〜２．１Ｖの範囲内であるか否か検出する。なお、図２３では、センサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることが、磁石検出信号「有」で示され、センサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内にあることが、磁石検出信号「無」で示されている。
【０１７２】
第１の実施の形態では、ドライバ１７２は、Ｘラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合（図２３において「異常」と示されている場合）、Ｙラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合（図２３において「異常」と示されている場合）、またはＺラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合（図２３において「異常」と示されている場合）には、エラー信号を出力する。なお、図２３では、エラー信号が出力されていることが「異常」として示されている。
【０１７３】
また、ドライバ１７２は、Ｘラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内にあることを示し、Ｙラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内にあることを示し、かつ、Ｚラッチ信号がセンサからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲内にあることを示している場合には、エラー信号を出力しない。なお、図２３では、エラー信号が出力されていないことが「正常」として示されている。
【０１７４】
以上のように、第１の実施の形態では、磁界検出用回路１４０は、磁界検出素子１３０におけるＸ軸センサ１３ＸとＹ軸センサ１３ＹとＺ軸センサ１３Ｚとのうちのいずれか１つ以上が磁石の存在を検出した場合に、エラー信号が遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対して出力される。遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、エラー信号を入力した場合に、演出装置を用いて異常報知を行うための制御を行う（図７参照）。
【０１７５】
また、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３は、互いに直交する３軸に沿って配置されているので、磁石の向き（Ｎ極とＳ極との位置関係）がどのようになっている場合でも、精度よく磁石の存在を検出することができる。
【０１７６】
実施の形態２．
第１の実施の形態では、比較回路１５０が用いる比較電圧（０．６Ｖまたは２．１Ｖ）を調整することによって、磁界検出素子１３０におけるセンサの特性のばらつき等や地磁気の影響を排除したが、第２の実施の形態（実施の形態２）では、マイクロコントローラのソフトウェアによって、センサの特性のばらつき等や地磁気の影響を排除する。具体的には、遊技機に対する電力供給が開始されたとき等に磁界検出素子１３０から検出電圧を入力して、入力した検出電圧を初期値とし、磁界検出素子１３０からの検出電圧の初期値からの変化量が所定値を越えた場合に、遊技機の近傍に磁石が存在すると判断する。なお、初期値は適宜更新される。
【０１７７】
また、第２の実施の形態では、遊技機の内部や裏面に磁界を生じさせる部材（不正部材ではなく、遊技機に設けられているソレノイド等の正規のもの）が存在する場合に、その影響も排除する処理を行う。以下、遊技機の内部や裏面に存在する磁界を生じさせる部材をソレノイドとする。
【０１７８】
図２４および図２５は、図１９（Ｂ）に示された制御回路１８０の構成例を示す説明図である。なお、図２４および図２５には、制御回路１８０の機能すなわち制御回路１８０による一部の処理も、ブロックで示されている。また、図２４および図２５には、主として、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧を例にした構成および機能が示されているが、制御回路１８０は、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧およびＺ軸センサ１３Ｚの検出電圧についても、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧についての処理と同様の処理を行う。
【０１７９】
図２０に示された発振器１３１は、約２００ｋＨｚで発振しているとする。すなわち、発振器１３１は、約２００ｋＨｚのクロック信号を出力しているとする。すると、磁界検出素子１３０からの検出電圧に約２００ｋＨｚのノイズが混入している可能性がある。そこで、制御回路１８０は、磁界検出素子１３０からの検出電圧を平均化し、平均化後の信号を用いて処理を行う。制御回路１８０はＡ−Ｄ変換器１６０を有し、Ａ−Ｄ変換器１６０がディジタル化した検出電圧を用いて処理を行う。なお、Ａ−Ｄ変換器１６０は、１０ビットのディジタル信号を出力し、「１」は、約３．２ｍＶに相当する。つまり、「００００００００００」が０Ｖであるとすると、「０００００００００１」は約３．２ｍＶを示し、「００００００００１０」は約６．４ｍＶを示す。１０ビットで表される以降の値についても同様に、「１」増えた数値は、約３．２ｍＶ多くなっている値に相当する。
【０１８０】
第２の実施の形態でも、第１の実施の形態の場合と同様に、制御回路１８０は、Ｘ軸センサ１３ＸとＹ軸センサ１３ＹとＺ軸センサ１３Ｚとを、２ｍｓ毎に順に選択する。すなわち、２ｍｓ毎に、ＸＹＺ選択信号を、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚが順に動作するように変化させる。
【０１８１】
第２の実施の形態では、２ｍｓの期間内にＸ軸センサ１３Ｘの検出電圧を４回入力することにする。入力の周期（サンプリング周期）は、例えば１２３．２μｓである。１２３．２μは、５μｓ（２００ｋＭｚ相当）よりも十分長い時間であり、その周期で４回サンプリングすれば、約２００ｋＭｚのノイズ成分の影響は排除されると考えられる。
【０１８２】
図２４に示すように、Ａ−Ｄ変換器１６０の４回の出力は、それぞれ、レジスタ２１１〜２１４に順次格納される。第１平均化部２０２は、レジスタ２１１〜２１４に格納された検出電圧（ディジタル値に変換されたもの）を加算し、加算値を、下位ビットの方向に２ビット分シフトする。すなわち、１／４する処理を実行する。このように、平均化の対象の信号数を４にすれば、ビットシフト処理のみで平均化処理を実現できる。
【０１８３】
第１平均化部２０２の出力は、レジスタ２２１〜２２８に順次格納される。第１平均化部２０２は、６ｍｓに１回平均化処理を実行するので、レジスタ２２１〜２２８には、６ｍｓ毎の検出電圧の平均値が順次格納される。なお、第１平均化部２０２が新たなデータを出力する度に、レジスタ２２１〜２２８内のデータが次段に順次シフトされる。すなわち、レジスタ２２ｘ（ｘ：１〜８）の内容がレジスタ２２（ｘ＋１）に転送される。また、初段のレジスタ２２１に第１平均化部２０２が出力したデータが格納され、最終段のレジスタ２２８内のデータは破棄される。
【０１８４】
そして、第２平均化部２０３は、全てのレジスタ２２１〜２２８に平均値（第１平均化部２０２が出力したデータ）が格納された後、第１平均化部２０２が新たなデータを出力する度に、レジスタ２２１〜２２８に格納された平均値を加算し、加算値を、下位ビットの方向に３ビット分シフトする。すなわち、１／８する処理を実行する。よって、レジスタ２２１〜２２８に格納された平均値が、さらに平均化される。このように、第２平均化部２０３による平均化の対象の信号数を８にすれば、ビットシフト処理のみで平均化処理を実現できる。
【０１８５】
第１平均化部２０２はノイズ除去のために平均化処理を行ったが、第２平均化部２０３は、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧を時間的に平均する（時間平均する）。時間平均する理由は、瞬間的な磁界変化の検出を排除するためである。つまり、瞬間的な磁界変化の影響を排除するためである。
【０１８６】
第２平均化部２０３は、算出した平均化された検出電圧を、現状値レジスタ２３２に格納する。
【０１８７】
なお、第２平均化部２０３は、電力供給が開始されてから５秒間、すなわち制御回路１８０が動作開始してから５秒間、現状値レジスタ２３２に検出電圧を格納する処理を実行しない。また、５秒経過後、最初に算出した平均化された検出電圧を、初期値レジスタ２３１に格納する。なお、電力供給が開始されてから５秒後に初期値を設定するのは、遊技機の周辺の磁界環境が安定することを期待してのことであり、他の時間（０秒でもよい。）にしてもよい。
【０１８８】
また、第２平均化部２０３は、前回検出電圧を初期値レジスタ２３１に格納してから１０秒経過すると、再び、算出した平均化された検出電圧を、初期値レジスタ２３１に格納する。すなわち、定期的に初期値を更新する。定期的に初期値を更新する理由は、遊技機の稼働が進むと遊技機に設けられている電磁部品等が着磁する可能性も考えられ、着磁した場合には、遊技機の近傍に磁石が存在しない場合にセンサが出力する検出電圧の値が変わるからである。なお、この実施の形態では、１０秒毎に初期値を更新するが、１０秒の周期は一例であり、他の更新周期を用いてもよい。ただし、初期値を更新する周期が短すぎると、磁石を低速で動かして行う不正行為を検出できなくなるおそれがあるので、ある程度以上の長さの周期であることが好ましい。
【０１８９】
また、第２平均化部２０３は、遊技機に設けられているソレノイドが動作したことを検出してから、６０ｍｓ間、現状値レジスタ２３２に検出電圧を格納する処理を実行しない。また、６０ｍｓ経過後、最初に算出した平均化された検出電圧を、初期値レジスタ２３１に格納する。なお、遊技機に設けられているソレノイドが動作したことを検出してから、６０ｍｓ間、後段の減算部２３３、比較部２３４，２３５、加算部２４１、比較部２４４，２４５およびエラー判定部２５１も動作しない。減算部２３３、比較部２３４，２３５、加算部２４１、比較部２４４，２４５およびエラー判定部２５１を動作させない理由は、ソレノイドが動作したことを検出してから暫くの期間において、正確な磁石検出ができないと考えられ、エラー信号を出力するか否かの判断を中断すべきだからである。６０ｍｓにした理由は、実験に用いたソレノイドの動作開始時の急激な磁界変化の期間が約３０ｍｓであって、それに対して余裕を持たせた時間である。ただし、実際に使用するソレノイド等の特性に応じて、６０ｍｓ以外の時間を採用することが好ましい場合もある。また、ソレノイドが動作したことを検出したら初期値を更新する理由は、ソレノイドの動作中（動作開始時ほどではないが、動作していない場合比べると大きな磁界を生ずる。）では、ソレノイドが動作していないときに比べて、遊技機の近傍に磁石が存在しない場合にセンサが出力する検出電圧の値が変わるからである。
【０１９０】
ソレノイドが動作したことを検出するために、減算部２０４および比較部２０５が設けられている。ソレノイドには、動作開始時に比較的大きな電流が流れ、そのときに瞬間的に大きな磁界変化が生ずる。そこで、瞬間的な検出電圧の値、すなわち、第２平均化部２０３によって平均化される前の検出電圧の値と、第２平均化部２０３によって平均化された検出電圧の値との差分（この例では、差分の絶対値）が減算器２０４で算出され、減算器２０４による差分が、比較部２０５でしきい値と比較される。
【０１９１】
この例では、しきい値は、１２である（図２４におけるＤは１０進数であることを示す。）。なお、Ａ−Ｄ変換器１６０が出力するデータにおける「１」は約３．２ｍＶに相当するので、「１２」は、約３．２ｍＶ×１２＝約３８ｍＶに相当する。比較部２０５は、減算器２０４による差分がしきい値よりも大きい場合に、ソレノイドが動作したことを検出したことを示す信号を出力する。すなわち、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧が瞬間的に３８ｍＶ以上増加した場合に、ソレノイドが動作したことを検出したとする。
【０１９２】
なお、この例では、ソレノイドが動作したか否か検出するためのしきい値を３８ｍＶにしたが、その値は一例であって、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて、適宜しきい値を決定すればよい。
【０１９３】
減算部２３３は、初期値レジスタ２３１に格納されている初期値と現状値レジスタ２３２に格納されている検出電圧の値との差分（この例では、差分の絶対値）を算出する。そして、差分を、Ｘ軸変化量として、図２５に示す加算部２４１に出力する。Ｘ軸変化量は、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧の初期値からの差を示している。
【０１９４】
また、第２平均化部２０３が出力する平均化された検出電圧の値は、比較部２３４，２３５に入力される。比較部２３４は、入力された検出電圧の値としきい値（６５０Ｄ（１０進））とを比較し、入力された検出電圧の値がしきい値を越えている場合には異常信号（強磁界エラー信号）をエラー判定部２５１に出力する。また、比較部２３５は、入力された検出電圧の値としきい値（１８５Ｄ（１０進））とを比較し、入力された検出電圧の値がしきい値未満である場合には異常信号（強磁界エラー信号）をエラー判定部２５１に出力する。
【０１９５】
Ａ−Ｄ変換器１６０が出力するデータにおける「１」は約３．２ｍＶに相当するので、「６５０」は、約３．２ｍＶ×６５０＝約２．１Ｖに相当する。また、「１８５」は、約３．２ｍＶ×１８５＝約０．６Ｖに相当する。よって、Ｘ軸センサ１３Ｘからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合には、異常信号が出力される。なお、Ｙ軸センサ１３Ｙからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合にも異常信号（強磁界エラー信号）が出力され、Ｚ軸センサ１３Ｚからの検出電圧が０．６〜２．１Ｖの範囲から外れていることを示している場合にも異常信号（強磁界エラー信号）が出力される。
【０１９６】
加算部２４１には、Ｙ軸変化量およびＺ軸変化量も入力される。Ｙ軸変化量は、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧の、Ｙ軸についての初期値からの差を示している。また、Ｚ軸変化量は、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧の、Ｚ軸についての初期値からの差を示している。
【０１９７】
加算部２４１は、Ｘ軸変化量とＹ軸変化量とＺ軸変化量とを加算し、加算値（各軸変化量合計）を比較部２４４，２４５に出力する。比較部２４４は、加算値としきい値（８０Ｄ（１０進））とを比較する。そして、加算値がしきい値を越えている場合には、異常信号（磁界変化エラー信号）をエラー判定部２５１に出力する。また、比較部２４４は、加算値としきい値（６０Ｄ（１０進））とを比較する。そして、加算値がしきい値未満である場合には、異常解除信号（磁界変化エラー解除信号）をエラー判定部２５１に出力する。
【０１９８】
第２の実施の形態では、各軸の変化量を加算し、加算値にもとづいて、磁界変化があったか否か確認する。すなわち、遊技機の近傍に磁石が存在するか否か確認する。このように、３軸の各々の変化量を考慮して磁界変化があったか否か確認するので、磁界変化を精度よく確認することができる。なお、ここでは、３軸の各々の変化量を加算するので、３軸の各々の変化量を考慮する場合でも、制御回路１８０の処理は複雑化しない。
【０１９９】
また、比較部２４４が用いるしきい値は８０であるが、Ａ−Ｄ変換器１６０が出力するデータにおける「１」は約３．２ｍＶに相当するので、「８０」は、約３．２ｍＶ×８０＝約２５０ｍＶに相当する。比較部２４４は、加算値（各軸変化量合計）がしきい値よりも大きい場合に、磁界変化があったと判定する。すなわち、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧の初期値からの変化量と、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧の初期値からの変化量と、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧の初期値からの変化量との和が、約２５０ｍＶを越えた場合に、磁界変化があったと判定する。なお、２５０ｍＶとしたのは、実験に用いた磁石を遊技機の表面から２０ｃｍ離れた箇所に置いたときの磁界変化が２４０ｍＶであったからであり、その値に余裕を持たせた２５０ｍＶを採用した。
【０２００】
しかし、磁界変化があったか否か検出するためのしきい値としての２５０ｍＶは一例であって、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて、適宜しきい値を決定すればよい。
【０２０１】
また、比較部２４５が用いるしきい値は６０であるが、Ａ−Ｄ変換器１６０が出力するデータにおける「１」は約３．２ｍＶに相当するので、「６０」は、約３．２ｍＶ×６０＝約１９０ｍＶに相当する。比較部２４５は、加算値（各軸変化量合計）がしきい値未満になった場合に、磁界変化が解消したと判定する。すなわち、遊技機の近傍から磁石が存在しなくなったと判定する。
【０２０２】
なお、１９０ｍＶは、磁界変化を検出するためのしきい値に相当する２５０ｍＶから、実験の際の磁界変化である２４０ｍＶの１／４（＝６０ｍＶ）を差し引いた値に相当する。すなわち、この例では、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧の初期値からの変化量と、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧の初期値からの変化量と、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧の初期値からの変化量との和が約１９０ｍＶに相当する値になったら磁界変化が解消したと判定する。しかし、磁界変化が解消したと判定するためのしきい値は、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて適宜決定される。
【０２０３】
エラー判定部２５１は、Ｘ軸、Ｙ軸およびＺ軸についての異常信号（強磁界エラー信号）の１つ以上が所定時間継続して出力された場合に、エラー信号を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に出力する。なお、所定時間は、一例として１００ｍｓであるが、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて、適宜所定時間を決定すればよい。
【０２０４】
また、エラー判定部２５１は、比較部２４４から、異常信号（磁界変化エラー信号）が所定時間継続して出力された場合に、エラー信号を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に出力する。なお、所定時間は、一例として１００ｍｓであるが、センサの特性や遊技機の設置環境等に応じて、適宜所定時間を決定すればよい。
【０２０５】
また、エラー判定部２５１は、比較部２４４からの異常信号にもとづいてエラー信号を出力した後、比較部２４５から異常解除信号（磁界変化エラー解除信号）が入力された場合に、エラー信号の出力を停止する。
【０２０６】
以上のように、第２の実施の形態では、制御回路１８０が、磁界検出素子（磁気センサ）１３０の検出電圧を入力して、所定の時期（遊技機の周囲の磁界が安定していると判断される時期）に入力した検出電圧の値を初期値として設定し、磁界検出素子１３０の検出電圧が初期値に対して所定値以上異なる値であることを検出した場合に、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するので、磁石の向きによらず磁界を検出することができ、また、広い範囲に亘って磁石の存在を精度よく検知できる。
【０２０７】
また、第２の実施の形態では、所定の時期に設定した初期値と、磁界検出素子１３０の検出電圧とを比較するので、遊技機において磁界を生じさせる部品や、磁気を帯びる可能性がある部品を使用している場合でも、磁石が遊技機近傍に存在することを精度よく検出することができる。例えば、磁界検出素子１３０の近傍に、金属部品、ソレノイド、スピーカ等の磁気を帯びる可能性がある部品が存在する場合でも、従来の磁石検出方式とは異なり、それらの部品によって誤検出してしまうことなく、精度よく磁石を検出することができる。
【０２０８】
また、第２の実施の形態では、制御回路１８０は、磁界検出素子１３０の検出電圧を平均化した上で比較処理等を実行するので、ノイズの影響を排除することができるとともに、突発的に生じた磁界変化（不正行為に用いられる磁石によらない磁界変化）によって誤って磁石を検出した状態になることを防止することができる。さらに、遊技機における電気回路に電流が流れるときには電流にもとづく磁界が生ずるが、電流にもとづく磁界の影響も排除することができる。
【０２０９】
なお、第２の実施の形態では、磁石が遊技機近傍に存在すると判定する際に、比較部２４４からの異常信号（磁界変化エラー信号）と強磁界エラー信号とを併用したが、比較部２４４からの異常信号（磁界変化エラー信号）のみを用いて、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するようにしてもよい。
【０２１０】
実施の形態３．
第１の実施の形態および第２の実施の形態では、磁石が遊技機近傍に存在することを精度よく検出することができるが、遊技機に設けられている部材において磁石が用いられているような場合や、遊技機設置島内の設置物または遊技機設置島における反対側に設置されている遊技機が磁界を生じさせるような場合に、不正行為に用いられる磁石を検出したと判断する可能性がある。
【０２１１】
そこで、第３の実施の形態では、遊技機の前側（遊技者が存在する側）に存在する磁石のみを検出するように磁界検出用回路１４０を構成する。
【０２１２】
図２６は、第３の実施の形態（実施の形態３）における磁界検出素子（磁気センサ）の設置場所の一例を示す説明図である。図２６に示す例では、４つの磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄが、遊技盤６の外側四隅に設置されている。なお、図２６において、破線の円形は、磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄの磁界検出可能範囲を示す。磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄの磁界検出可能範囲は、遊技盤６の前面のほぼ全体（遊技領域の全体）をカバーしている。なお、図２６に示す例では、磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄのいずれか１つ以上によって遊技領域の全体がカバーされているが、各々の磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄが遊技領域の全体をカバーできるような特性を有する磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄを使用してもよい。また、第３の実施の形態では、４つの磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄが設置されているが、それよりも多い数の磁界検出素子が設置されていてもよい。
【０２１３】
図２７は、図１９（Ｃ）に示された制御回路１９０の構成例を示す説明図である。なお、図２７には、制御回路１９０の機能すなわち制御回路１９０による一部の処理も、ブロックで示されている。また、図２７には、主として、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧を例にした構成および機能が示されているが、制御回路１９０は、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧およびＺ軸センサ１３Ｚの検出電圧についても、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧についての処理と同様の処理を行う。
【０２１４】
Ａ−Ｄ変換器１６０、第１平均化部２０２、第２平均化部２０３、比較部２０５および減算部２３３は、第２の実施の形態におけるＡ−Ｄ変換器１６０、第１平均化部２０２、第２平均化部２０３、比較部２０５および減算部２３３と同様に動作する（図２４参照）。
【０２１５】
従って、減算部２３３は、第２の実施の形態の場合と同様に、初期値レジスタ２３１に格納されている初期値と現状値レジスタ２３２に格納されている検出電圧の値との差分を算出する。そして、差分を、Ｘ軸変化量として、ベクトル算出部２５０に出力する。なお、Ｘ軸変化量は、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧の初期値からの差を示している。また、ベクトル算出部２５０は、制御回路１９０に含まれている。
【０２１６】
また、制御回路１９０は、Ｘ軸センサ１３ＸについてＸ軸変化量を作成するのと同様にして、Ｙ軸センサ１３ＹについてＹ軸変化量を作成し、Ｚ軸センサ１３ＺについてＺ軸変化量を作成する。Ｙ軸変化量は、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧の初期値からの差を示し、Ｚ軸変化量は、Ｚ軸センサ１３Ｚの検出電圧の初期値からの差を示している。
【０２１７】
なお、制御回路１９０を含む磁界検出用回路１４０は、４つの磁界検出素子１３０Ａ，１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄのそれぞれに対応して設けられているが、図２７には、そのうちの１つのみの制御回路１９０が示されている。４つの制御回路１９０は、同じ構成の回路である。以下、磁界検出素子１３０Ａに対応して設けられている磁界検出用回路１４０を第１の磁界検出用回路とする。また、磁界検出素子１３０Ｂに対応して設けられている磁界検出用回路を第２の磁界検出用回路とし、磁界検出素子１３０Ｃに対応して設けられている磁界検出用回路を第３の磁界検出用回路とし、磁界検出素子１３０Ｄに対応して設けられている磁界検出用回路を第４の磁界検出用回路とする。
【０２１８】
第１〜第４の磁界検出用回路における制御回路１９０において、ベクトル算出部２５０は、減算部２３３が出力するＸ軸変化量をｘ成分とし、Ｙ軸センサ１３Ｙについての減算部（図２７において図示せず：Ｘ軸センサ１３Ｘについての減算部２３３と同様の処理を行うもの）が出力するＹ軸変化量をｙ成分とし、Ｚ軸センサ１３Ｚについての減算部（図２７において図示せず：Ｘ軸センサ１３Ｘについての減算部２３３と同様の処理を行うもの）が出力するＺ軸変化量をｚ成分とする３次元ベクトル（磁気ベクトル）を決定する。
【０２１９】
そして、ベクトル算出部２５０は、決定した３次元ベクトルを示すデータを、交点検出部４１１に出力する。交点検出部４１１は、第１〜第４の磁界検出用回路の外部に設けられている回路である。
【０２２０】
交点検出部４１１は、第１〜第４の磁界検出用回路における制御回路１９０のベクトル算出部２５０から、３次元ベクトルを示すデータを入力する。各々の３次元ベクトルにおけるＺ方向が一致していない場合には、交点検出部４１１は、いずれかの３次元ベクトル（例えば、第１の磁界検出用回路から出力された３次元ベクトル）におけるＺ軸に、他の３次元ベクトルのＺ軸を合わせる補正処理を行う。
【０２２１】
図２８は、３次元ベクトルの平面への投影を示す説明図である。図２９は、投影線にもとづいて磁石の位置を検出する方法を説明するための説明図である。図２８に示すように、交点検出部４１１は、各々の３次元ベクトルを、所定の平面に投影する。すると、所定の平面において、４本の線分（投影線）が現れる。なお、所定の平面は、例えば、Ｚ軸を鉛直方向とするＸ−Ｙ平面である。図２８には、Ｘ−Ｙ平面が遊技機１の表面および裏面に直交している例が示されているが、Ｘ−Ｙ平面は遊技機１の表面および裏面に直交しない場合もある。交点検出部４１１は、４本の線分のそれぞれを両方向に延長する。すると、図２９に示すように、４本の直線が交わる点が発生する。なお、図２９において、矢印１３０ａ〜１３０ｄは、図２６に示された磁界検出素子１３０Ａ〜１３０Ｄの検出信号にもとづいて第１〜第４の磁界検出用回路において算出された３次元ベクトルの投影線を示す。また、図２９には、投影線の両方向への延長線のうち一方向の延長線のみが示されている。交点検出部４１１は、所定の平面において、４本の直線が交わる点を示すデータを前後判定部４１２に出力する。なお、前後判定部４１２も、第１〜第４の磁界検出用回路の外部に設けられている回路である。
【０２２２】
前後判定部４１２は、４本の直線が交わる点の延長上に磁界を発生する部材（磁気発生源）が存在すると判断する。そして、磁気発生源が存在する側が、遊技盤６の面に対して表側（遊技者が存在する側）にあるのか後側にあるのか判定する。すなわち、交点検出部４１１が検出した磁気の方向にもとづいて、磁気発生源が遊技機の表側の特定の範囲内にあるのか否かを判定する。また、前後判定部４１２は、交点検出部４１１が出力した４本の直線が交わる点を示すデータにもとづいて、磁気発生源の位置を特定する処理も実行する。前後判定部４１２は、例えば、４本の直線が交わる点を、磁気発生源の位置とみなす。
【０２２３】
前後判定部４１２が、磁気発生源が存在する側が遊技盤６の面に対して表側にあると判定し、かつ、磁気発生源が遊技機の表側の特定の範囲内にあると判定した場合に、エラー判定部４１４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断して、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対してエラー信号を出力する。なお、図２９には、磁気発生源が遊技機の表側に存在している例が示されている。図２９は、遊技機１を上方から見た図に相当する。また、特定の範囲は、例えば、遊技領域に対応する領域である。さらに、特定の範囲を狭めてもよい。例えば、遊技領域における第１始動口１３および第２始動口１４が設けられている領域に対応する領域を特定の範囲とする。
【０２２４】
第３の実施の形態では、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であるのか否かを判定して不正行為に用いられる磁石が遊技機の近傍に存在するか否か判定するので、遊技機に設けられている部材において磁石が用いられているような場合や遊技機設置島内の設置物または遊技機設置島における反対側に設置されている遊技機が磁界を生じさせるような場合でも、不正行為に用いられる磁石を誤りなく検出することができる。
【０２２５】
なお、エラー判定部４１４は、前後判定部４１２が、磁気発生源が存在する側が遊技盤６の面に対して表側にあると判定した場合には、磁石が特定の範囲内にあるか否かに関係なく、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断して、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対してエラー信号を出力するようにしてもよい。
【０２２６】
また、Ａ−Ｄ変換器１６０、第１平均化部２０２、第２平均化部２０３、比較部２０５および減算部２３３は、第２の実施の形態におけるＡ−Ｄ変換器１６０、第１平均化部２０２、第２平均化部２０３、比較部２０５および減算部２３３と同様に動作するので、第２の実施の形態の場合と同様に、所定の時期に設定した初期値と、磁界検出素子１３０の検出電圧とを比較することになり、遊技機において磁界を生じさせる部品や、磁気を帯びる可能性がある部品を使用している場合でも、磁石が遊技機近傍に存在することを精度よく検出することができる。
【０２２７】
また、第２の実施の形態の場合と同様に、制御回路１９０は、磁界検出素子１３０の検出電圧を平均化した上で比較処理等を実行するので、ノイズの影響を排除することができるとともに、突発的に生じた磁界変化（不正行為に用いられる磁石によらない磁界変化）によって誤って磁石を検出した状態になることを防止することができる。さらに、遊技機における電気回路に電流が流れるときには電流にもとづく磁界が生ずるが、電流にもとづく磁界の影響も排除することができる。
【０２２８】
図３０は、第３の実施の形態の変形例を示すブロック図である。図３０に示す構成は、図２７に示す構成に対して、前後判定部４１２の出力にもとづいて、磁気発生源の移動方向および移動距離を判定する移動方向／距離判定部４１３が付加された構成である。
【０２２９】
前後判定部４１２は、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であるのか否か判定するのであるが、移動方向／距離判定部４１３は、前後判定部４１２の判定結果を、所定期間毎（この例では、０．５秒毎）に入力する。また、移動方向／距離判定部４１３は、交点検出部４１１から、４本の直線が交わる点を示すデータを所定期間毎に入力する。
【０２３０】
図３１は、４本の直線（投影線）にもとづいて磁石の移動を検出する方法を説明するための説明図である。移動方向／距離判定部４１３は、４本の直線が交わる点の移動方向によって磁気発生源の移動方向を判定し、また、４本の直線が交わる点の移動距離によって磁気発生源の移動方向を判定する。具体的には、移動方向／距離判定部４１３は、４本の直線が交わる点の移動方向を、磁気発生源の移動方向とみなし、４本の直線が交わる点の移動距離を、磁気発生源の移動距離とみなす。
【０２３１】
そして、磁気発生源の移動方向にもとづいて磁石を検出する場合には、移動方向／距離判定部４１３が、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であり、かつ、例えば、磁気発生源の移動方向が、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の設置位置に相当する箇所に向かっていないと判定したときに、エラー判定部４１４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断し、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対してエラー信号を出力する。図３１には、磁気発生源が存在する領域が表側における特定の範囲Ｗ内であることが示されている。その状態において、移動方向が所定の方向（例えば、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の設置位置に相当する箇所に向かわない方向）である場合には、エラー判定部４１４はエラー信号を出力する。また、図３１には、移動後の交点を決定するための投影線および延長線は記載省略されているが、移動後の交点は、移動前の交点を決定する場合と同様に、４つの３次元ベクトルの投影線にもとづいて決定される。
【０２３２】
また、磁気発生源の移動距離にもとづいて磁石を検出する場合には、移動方向／距離判定部４１３が、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であり、かつ、例えば、磁気発生源の移動距離が、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の移動可能距離の範囲に含まれないと判定したときに、エラー判定部４１４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断し、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対してエラー信号を出力する。
【０２３３】
エラー判定部４１４は、磁気発生源の移動方向および移動距離もとづいて、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であるか否か判定してもよい。例えば、移動方向／距離判定部４１３が、磁気発生源が存在する領域が遊技盤６の面に対して表側における特定の範囲内であり、かつ、磁気発生源の移動方向が、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の設置位置に相当する箇所に向かっていないことを検出し、さらに、磁気発生源の移動距離が、遊技機に設けられている磁気を帯びやすい可動部材の移動可能距離の範囲に含まれないことを検出した場合に、エラー判定部４１４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断し、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対してエラー信号を出力する。すなわち、可動部材の可動範囲外での磁気発生源の移動を示している場合に、エラー信号を出力する。
【０２３４】
第３の実施の形態の変形例では、磁気発生源の移動方向または磁気発生源の移動距離を検出し、検出結果にもとづいて、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するように構成されているので、磁界を生じさせる可能性がある正規の可動部材が遊技機に設けられている場合に、可動部材を不正行為に用いられている磁石と誤って検出することを防止できる等の効果がある。
【０２３５】
なお、磁気発生源の移動方向にもとづいて磁石を検出する場合に、移動方向／距離判定部４１３が、磁気発生源の移動方向が遊技領域７における特定部に相当する箇所に向かっていると判定したときに、エラー判定部４１４は、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断するようにしてもよい。遊技領域７における特定部は、例えば、入賞領域（特に、第１始動入賞口１３または第２始動入賞口１４）である。また、磁気発生源の移動距離にもとづいて磁石を検出する場合に、磁気発生源の移動距離が、所定の範囲に含まれるときには、磁気発生源が不正行為に用いられる磁石であると判断するようにしてもよい。所定の範囲は、１０〜４０ｃｍなど、遊技領域７内で磁石で不正に遊技球を入賞領域に誘導した場合に磁石が移動する範囲である。
【０２３６】
以上に説明したように、第１〜第３の実施の形態（変形例を含む。）では、磁石の向きによらず磁界を検出することができ、また、広い範囲に亘って磁石の存在を精度よく検知できる。さらに、遊技機の裏面に磁界を生じさせる可能性がある正規の部材が存在する場合にも、磁石の存在を精度よく検知できる。
【０２３７】
第１〜第３の実施の形態では、Ｘ軸センサ１３Ｘ、Ｙ軸センサ１３ＹおよびＺ軸センサ１３Ｚを含む磁界検出素子１３０を使用したが、磁界検出素子１３０を、Ｘ軸センサ１３ＸおよびＹ軸センサ１３Ｙの２軸のセンサを含む素子として構成してもよい。
【０２３８】
実施の形態４．
図３２は、２軸のセンサを含む磁界検出素子１３０の軸を示す説明図である。磁界検出素子１３０にはＸ軸の検出素子（Ｘ軸センサ）とＹ軸の検出素子（Ｙ軸センサ）とが内蔵され、図３２（Ａ），（Ｂ）に示すように、直交する２軸（Ｘ軸およびＹ軸）を有する。図３２（Ａ）と図３２（Ｂ）とは、磁界検出素子１３０を異なる方向から眺めた場合の斜視図に相当する。また、図３２（Ａ），（Ｂ）において、一方の方向への矢印がＸ軸またはＹ軸に相当し、その方向に直交する方向への矢印がＹ軸またはＸ軸に相当する。
【０２３９】
図３３は、磁界検出素子１３０の検出範囲を説明するための説明図である。図３３において、磁界検出素子１３０を中心とする曲面を表面とする立体状の部分が検出範囲である。図３３（Ａ）には、磁界検出素子１３０の２軸ともに磁石３００の方向を向いていない場合の検出範囲が示されている。つまり、磁石３００のＮ極からＳ極への方向が、Ｘ軸およびＹ軸を含むＸＹ平面に対して垂直である場合の検出範囲が示されている。また、図３３（Ｂ）には、磁界検出素子１３０の２軸のいずれかが磁石３００の方向を向いている場合の検出範囲が示されている。つまり、磁石３００のＮ極からＳ極への方向が、Ｘ軸またはＹ軸の方向と合致している場合の検出範囲が示されている。図３３（Ａ）に示す検出範囲において、磁界検出素子１３０からいずれの方向についても同形状である。また、図３３（Ｂ）に示す検出範囲において、磁石３００の方向を向いている軸の方向の検出範囲は広いが、それ以外の方では検出範囲はやや狭くなっている。
【０２４０】
図３４（Ａ），（Ｂ）は、図１２（Ｂ）に示すように磁界検出素子１３０が遊技盤６の裏面に設定されている場合の前面枠２Ｂでの磁界検出素子１３０の検出範囲を示す説明図である。図３４（Ａ），（Ｂ）に示す検出範囲は、磁界検出素子１３０の２軸ともに磁石（図３４において図示せず）の方向を向いていない場合の検出範囲である。なお、図３４（Ｂ）に、４種類の検出感度が示されているが、検出感度については後述する。
【０２４１】
また、図３４（Ａ）において、矢印が、磁界検出素子１３０の２軸の方向を示す。
【０２４２】
図３４（Ａ）には、２種類の磁石（直径φ、厚さｔ）が前面枠２Ｂに近接された場合の検出範囲（丸枠内）が示されている。また、図３４（Ｂ）には、３種類の磁石（直径φ、厚さｔ）が前面枠２Ｂに近接された場合の検出範囲が数値（検出範囲の直径）で示されている。
【０２４３】
図３５は、図１２（Ｂ）に示すように磁界検出素子１３０が遊技盤６の裏面に設定されている場合の前面枠２Ｂでの磁界検出素子１３０の検出範囲を示す説明図である。図３５に示す検出範囲は、磁界検出素子１３０の２軸のいずれかが磁石（図３５において図示せず）の方向を向いている場合の検出範囲である。図３５には、２種類の磁石（直径φ、厚さｔ）が前面枠２Ｂに近接された場合の検出範囲（曲線内）が示されている。
【０２４４】
また、図３５（Ａ）において、矢印が、磁界検出素子１３０の２軸の方向を示す。
【０２４５】
図３６は、この実施の形態における磁界検出素子１３０の検出範囲と、磁石（図３６において、黒丸で示されている。）の動きと、磁界検出素子１３０を内蔵する磁石検出センサ装置の出力信号（ＭＧ信号：磁気検出信号）との関係を示す説明図である。
【０２４６】
遊技機に対して電力供給が開始された時点（電源オン時）から所定の期間（例えば、３０秒）が経過するまで（図３６における「電源ＯＮ時に磁石が検出範囲に有った時」）、検出範囲内に磁石が存在しても、磁石検出センサ装置は、「磁気非検出」を示す信号を出力する。電源オン中（電源オン時から３０秒経過した後）に磁石が磁界検出素子１３０の近くに存在する場合には（図３６における「電源ＯＮ中に磁石がセンサに近い位置に有った時」）、磁石検出センサ装置は、「磁気検出」を示す信号を出力する。
【０２４７】
電源オン中（電源オン時から５秒経過した後）に磁石が検出範囲外から検出範囲内に入った場合には（図３６における「電源ＯＮ中に磁石を検出範囲に入れた時」）、磁石検出センサ装置は、「磁気非検出」を示す信号を出力する状態から「磁気検出」を示す信号を出力する状態に変化する。磁石が検出範囲内から検出範囲外に出た場合には（図３６における「磁気検出後、磁石が検出範囲から出た時」）、磁石検出センサ装置は、「磁気検出」を示す信号を出力する状態から「磁気非検出」を示す信号を出力する状態に変化する。磁石が検出範囲外から検出範囲内に極めてゆっくりと入った場合には（図３６における「１０〜３０分位かけてゆっくり検出範囲に近づけた時」）、磁石検出センサ装置は、「磁気非検出」を示す信号を出力する。
【０２４８】
図３７は、磁界検出用回路１４０の構成例を、磁界検出素子１３０とともに示すブロック図である。この実施の形態では、磁界検出用回路１４０は、制御回路２００で実現されている。
【０２４９】
制御回路２００は、Ａ−Ｄ変換器１６０を内蔵している。Ａ−Ｄ変換器１６０は、磁界検出素子１３０が出力するアナログ信号である検出電圧をディジタル信号に変換する。また、制御回路２００は、ＸＹ選択信号を出力する機能に加えて、基準値設定機能、検出電圧平均化機能、基準値との比較機能、および感度設定機能を有する。
【０２５０】
なお、制御回路２００としてプログラムに従って制御動作を行うマイクロコントローラ（例えば、テキサスインスツルメント社製ＭＳＰ４３０Ｆ２００２）を使用することができる。制御回路２００としてマイクロコントローラを使用する場合には、それらの機能は、プログラムで実現される。
【０２５１】
磁界検出用素子１３０は、互いに直交する２軸（Ｘ軸、Ｙ軸）に沿って配置されたアモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成であり、制御回路２００は、磁界検出用素子１３０に対してＸＹ選択信号を出力する機能を有する。ＸＹ選択信号は、Ｘ軸の検出素子（Ｘ軸センサ）およびＹ軸の検出素子（Ｙ軸センサ）のうちのどの検出素子からの検出電圧を出力させるのかを選択するための信号である。
【０２５２】
基準値設定機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧と比較される基準値を設定する機能である。検出電圧平均化機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧を時間平均する機能である。基準値との比較機能は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧と基準値とを比較する機能である。制御回路２００は、磁界検出素子１３０が出力する検出電圧の基準値からの変化量（差）が所定量を越えると、エラー信号を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に対して出力する。
【０２５３】
図３８は、磁石検出センサ装置の実現例の回路構成を示すブロック図である。図３９は、図３８に示す磁石検出センサ装置における入出力部（入出力端子）の機能を示す説明図である。図３８に示す磁石検出センサ装置２００は、磁界検出素子１３０と磁界検出用回路１４０とが一体になった装置である。図３８に示す例では、磁石検出センサ装置２００は、磁界検出素子１３０を内蔵するセンサＩＣ１８１と、磁界検出用回路１４０（制御回路２００）に相当する制御ＩＣ１８２と、外部から入力される＋１２Ｖの電圧を安定化してセンサＩＣ１８１および制御ＩＣ１８２に供給するレギュレータ１８３と、感度選択信号（ＳＥＬＥＣＴ１，２）を入力して制御ＩＣ１８２に出力するバッファ回路１８５，１８６と、磁気検出信号（ＭＧ信号）を出力する出力トランジスタ１８４とを含む。
【０２５４】
図４０は、センサＩＣ１８１の構成例（磁界検出素子１３０の構成例でもある。）を示すブロック図である。図４０に示す例では、磁界検出素子１３０は、Ｘ軸センサ１３ＸおよびＹ軸センサ１３Ｙに加えて、クロック信号を出力する発振器１３１と、発振器１３１からのクロック信号を、Ｘ軸センサ１３ＸまたはＹ軸センサ１３Ｙに対して出力するタイミング制御回路１３２と、Ｘ軸センサ１３ＸおよびＹ軸センサ１３Ｙの出力側に接続された基準電圧発生器１３３と、入力端子ＣＨ１，ＣＨ２に入力されるＸＹ選択信号に従って、タイミング制御回路１３２にクロック出力選択信号を出力するとともに、Ｘ軸センサ１３ＸまたはＹ軸センサ１３Ｙの検出電圧を入力するサンプルホールド回路（選択回路）１３４と、サンプルホールド回路１３４が入力した検出電圧を増幅して出力する差動増幅器１３５とを有する。
【０２５５】
Ｘ軸センサ１３ＸおよびＹ軸センサ１３Ｙは、軸方向が互いに直交するように配置されている。また、Ｘ軸センサ１３ＸおよびＹ軸センサ１３Ｙの軸はアモルファスワイヤであり、図４０に示す例では、アモルファスワイヤに巻かれたコイルが、アモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して、インピーダンスの変化に応じた電圧値の検出電圧を出力する。なお、インピーダンスの変化を検出する部材は、アモルファスワイヤに巻かれたコイルではなく、アモルファスワイヤの近傍に設置されたコイルでもよい。
【０２５６】
また、この実施の形態では、磁界検出素子１３０は、Ｘ軸センサ１３Ｘの軸およびＹ軸センサ１３Ｙの軸を含むＸＹ平面が前面枠２Ｂと並行になるように設置される。すなわち、図３４（Ａ）に示すように、磁界検出素子１３０が設置される。
【０２５７】
図４１は、基準値との比較機能を説明するための説明図である。図４１（Ａ）に示すように、外部磁界が存在しない場合に、磁界検出素子１３０におけるＸ軸センサ１３ＸおよびＹ軸センサ１３Ｙのそれぞれ（以下、センサという。）が、１．５Ｖの検出電圧を出力する場合を例にする。また、センサは、素子のばらつき等に起因して、外部磁界が存在しない場合に、０．８〜１．９Ｖの範囲で検出電圧が変動する特性を有するとする。
【０２５８】
よって、この実施の形態では、センサの検出電圧が０．８〜１．９Ｖの範囲である場合には、外部磁界が存在しないと判定することにする。すなわち、０．８〜１．９Ｖの範囲を磁界検出のための誤差範囲とする。
【０２５９】
さらに、地磁気の影響を排除するために磁界検出のための誤差範囲をさらに広げることにする。日本列島における地磁気の大きさは４４０００〜５１０００ｎＴである。また、センサの感度が、２．４ｍＶ（標準）／μＴで３．８ｍＶ（最大）／μＴであるとすると、センサの出力電圧に対して地磁気が与える影響は、５１μＴ×３．８ｍＶ＝０．１９３８Ｖである。
【０２６０】
そこで、図４１（Ｂ）に示すように、誤差範囲を０．２Ｖ広げ、０．６〜２．１Ｖを誤差範囲とする。よって、図４１（Ｃ）に示すように、２．２Ｖを越える範囲、および０．６Ｖ未満の範囲を磁界検出範囲とする。
【０２６１】
さらに、後述するように、さらに余裕を設け、２．５９８Ｖを越える範囲、および０．０９６Ｖを越える範囲未満の範囲を磁界検出範囲とする。また、磁界検出範囲内の磁界を検出した場合には「強磁界検出」したとするとともに（図４１（Ｄ）参照）、０．０９６〜２．５９８Ｖの範囲内に、「弱磁界検出」したとするしきい値を設定する。
【０２６２】
なお、前面枠２Ｂが開放している状態では、しきい値の設定を行わないことが好ましい。また、前面枠２Ｂが開放している状態から閉鎖した状態に移行した場合に、閉鎖した状態に移行した時点から所定時間（例えば、５秒）が経過するまで、しきい値設定を実行しないことが好ましい。そのような処理を実行することによって、前面枠２Ｂが開放している状況（一般に、遊技機が稼働している状況とは周囲環境の状態が異なっている。）における状況に応じたしきい値が設定されることが防止される。
【０２６３】
図４２〜図４４は、磁界検出用回路１４０（制御回路２００）の機能を具体的に示すブロック図である。この実施の形態では、制御回路２００を実現するマイクロコントローラのソフトウェアによって、センサの特性のばらつき等や地磁気の影響を排除する。具体的には、遊技機に対する電力供給が開始されたとき等に磁界検出素子１３０から検出電圧を入力して、入力した検出電圧を基準値とし、磁界検出素子１３０からの検出電圧の基準値からの変化量が所定値を越えた場合に、遊技機の近傍に磁石が存在すると判断する。なお、基準値は適宜更新される。
【０２６４】
なお、図４２〜図４４には、主として、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧を例にした構成および機能が示されているが、制御回路２００は、Ｙ軸センサ１３Ｙの検出電圧についても、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧についての処理と同様の処理を行う。
【０２６５】
また、制御回路２００は、遊技機に対する電力供給が開始された時点から例えば３０秒が経過するまで、磁界検出処理を実行しない（図３６における「電源ＯＮ時に磁石が検出範囲に有った時」参照）。その後、制御回路２００は、１分が経過する毎に、基準値を更新する。すなわち、定期的に基準値を更新する。基準値を更新する際に、磁界検出素子１３０（磁気センサ）の検出電圧と過去の磁気センサの検出電圧とにもとづいて、新たな基準値を決定する。定期的に基準値を更新する理由は、遊技機の稼働が進むと遊技機に設けられている電磁部品等が着磁する可能性も考えられ、着磁した場合には、遊技機の近傍に磁石が存在しない場合にセンサが出力する検出電圧の値が変わるからである。なお、この実施の形態では、１分毎に基準値を更新するが、１分の周期は一例であり、他の更新周期を用いてもよい。ただし、基準値を更新する周期が短すぎると、磁石を低速で動かして行う不正行為を検出できなくなるおそれがあるので、ある程度以上の長さの周期であることが好ましい。
【０２６６】
図４０に示された発振器１３１は、約２００ｋＨｚで発振しているとする。すなわち、発振器１３１は、約２００ｋＨｚのクロック信号を出力しているとすると、磁界検出素子１３０からの検出電圧に約２００ｋＨｚのノイズが混入している可能性がある。そこで、制御回路２００は、磁界検出素子１３０からの検出電圧を平均化し、平均化後の信号を用いて処理を行う。制御回路２００はＡ−Ｄ変換器１６０を有し、Ａ−Ｄ変換器１６０がディジタル化した検出電圧を用いて処理を行う。なお、Ａ−Ｄ変換器１６０は、１０ビットのディジタル信号を出力し、「１」は、約３．２ｍＶに相当する。つまり、「００００００００００」が０Ｖであるとすると、「０００００００００１」は約３．２ｍＶを示し、「００００００００１０」は約６．４ｍＶを示す。１０ビットで表される以降の値についても同様に、「１」増えた数値は、約３．２ｍＶ多くなっている値に相当する。
【０２６７】
制御回路２００は、Ｘ軸センサ１３ＸとＹ軸センサ１３Ｙとを、２ｍｓ毎に順に選択する。すなわち、２ｍｓ毎に、ＸＹ選択信号を、Ｘ軸センサ１３ＸおよびＹ軸センサ１３Ｙが順に動作するように変化させる。
【０２６８】
また、制御回路２００は、２ｍｓの期間内にＸ軸センサ１３Ｘの検出電圧を４回入力することにする。入力の周期（サンプリング周期）は、例えば１２３．２μｓである。１２３．２μは、５μｓ（２００ｋＭｚ相当）よりも十分長い時間であり、その周期で４回サンプリングすれば、約２００ｋＭｚのノイズ成分の影響は排除されると考えられる。
【０２６９】
図４２に示すように、Ａ−Ｄ変換器１６０の４回の出力は、それぞれ、レジスタ２１１〜２１４に順次格納される。第１平均化部２０２は、レジスタ２１１〜２１４に格納された検出電圧（ディジタル値に変換されたもの）を加算し、加算値を、下位ビットの方向に２ビット分シフトする。すなわち、１／４する処理を実行する。このように、平均化の対象の信号数を４にすれば、ビットシフト処理のみで平均化処理を実現できる。
【０２７０】
第１平均化部２０２の出力は、レジスタ２２１〜２２８に順次格納される。第１平均化部２０２は、４ｍｓに１回平均化処理を実行するので、レジスタ２２１〜２２８には、４ｍｓ毎の検出電圧の平均値が順次格納される。なお、第１平均化部２０２が新たなデータを出力する度に、レジスタ２２１〜２２８内のデータが次段に順次シフトされる。すなわち、レジスタ２２ｘ（ｘ：１〜８）の内容がレジスタ２２（ｘ＋１）に転送される。また、初段のレジスタ２２１に第１平均化部２０２が出力したデータが格納され、最終段のレジスタ２２８内のデータは破棄される。
【０２７１】
そして、第２平均化部２０３は、全てのレジスタ２２１〜２２８に平均値（第１平均化部２０２が出力したデータ）が格納された後、第１平均化部２０２が新たなデータを出力する度に、レジスタ２２１〜２２８に格納された平均値を加算し、加算値を、下位ビットの方向に３ビット分シフトする。すなわち、１／８する処理を実行する。よって、レジスタ２２１〜２２８に格納された平均値が、さらに平均化される。このように、第２平均化部２０３による平均化の対象の信号数を８にすれば、ビットシフト処理のみで平均化処理を実現できる。
【０２７２】
第１平均化部２０２はノイズ除去のために平均化処理を行ったが、第２平均化部２０３は、Ｘ軸センサ１３Ｘの検出電圧を時間的に平均する（時間平均する）。時間平均する理由は、瞬間的な磁界変化の検出を排除するためである。つまり、瞬間的な磁界変化の影響を排除するためである。
【０２７３】
第２平均化部２０３は、算出した平均化された検出電圧を、基準磁界補正部２３６および減算部２３７に出力する。第２平均化部２０３は、４ｍｓ経過する毎に、平均化された検出電圧（具体的には、検出電圧を示す値のデータ）を出力する。
【０２７４】
なお、第２平均化部２０３は、電力供給が開始されてから５秒間、すなわち制御回路２００が動作開始してから５秒間、検出電圧を出力する処理を実行しない。電力供給が開始されてから５秒が経過するまで検出電圧を出力しない理由は、遊技機の周辺の磁界環境が安定する前に磁界検出処理を実行しないようにするためであり、他の時間（０秒でもよい。）にしてもよい。
【０２７５】
図４４は、基準磁界補正部２３６の機能構成を示すブロック図である。基準磁界補正部２３６において、設定更新部２７１は、電源オンから５秒経過したときに、第２平均化部２０３が出力する検出電圧を、レジスタ２６１〜２６８に順次格納する。第２平均化部２０３は４ｍｓに１回検出電圧を出力するので、レジスタ２６１〜２６８には、４ｍｓ毎の検出電圧（平均化された検出電圧）が順次格納される。なお、電源オンから５秒経過したときから、第２平均化部２０３が新たなデータを出力する度に、レジスタ２６１〜２６８内のデータが次段に順次シフトされる。すなわち、レジスタ２６ｘ（ｘ：１〜８）の内容がレジスタ２６（ｘ＋１）に転送される。また、設定更新部２７１は、電源オンから５秒経過したときだけでなく、制御回路２００が磁界検出しなくなったとき（ＭＧ信号の状態を磁界非検出の状態にしたとき）から５秒経過したときに、第２平均化部２０３が出力した検出電圧を、レジスタ２６１〜２６８に順次格納する。
【０２７６】
その後、設定更新部２７１は、１分毎に、レジスタ２６ｘ（ｘ：１〜８）の内容がレジスタ２６（ｘ＋１）に転送するとともに、第２平均化部２０３が出力する検出電圧をレジスタ２６１に格納する。なお、最終段のレジスタ２６８内にあったデータは破棄される。また、第３平均化部２７３は、レジスタ２６１〜２６８に格納された検出電圧を加算し、加算値を、下位ビットの方向に３ビット分シフトする。すなわち、１／８する処理（平均化する処理）を実行する。そして、第３平均化部２７３は、平均化した値を基準値として、減算部２３７（図４２参照）および設定更新部２７１に出力する。なお、設定更新部２７１は、第３平均化部２７３から出力された基準値と直前の基準値との差が大きい（例えば、５以上）場合には、直前の基準値との差が５になるように第３平均化部２７３から出力された基準値を補正し、補正後の基準値をレジスタ２６１に格納する。
【０２７７】
以上のように、この実施の形態では、基準値を作成するためのデータが格納されるレジスタ２６１〜２６８には、電力供給開始時（具体的には、電源オンから５秒経過時）に第２平均化部２０３が出力したデータが初期値として格納され、その後、１分経過する度に、第２平均化部２０３が出力したデータで更新されるとともに、基準値が再計算される。つまり、基準値は、電源オンしてから５秒経過した後、１分ごとに更新される。なお、この実施の形態では、基準値は、第２平均化部２０３が現在出力したデータと、過去７分間の１分毎に第２平均化部２０３が出力したデータとの平均値である。
【０２７８】
図４２に示す減算部２３７は、第２平均化部２０３が出力する検出電圧（平均化された検出電圧）を現在磁界を示すデータとし、その値から、基準磁界補正部２３６が出力する基準値を減算する。すなわち、現在磁界の値と基準値との差を演算する。そして、演算値の絶対値を合成ベクトル算出部２３８に出力する。合成ベクトル算出部２３８には、基準値に対する磁界変化量（Ｘ軸センサ１３Ｘが検出した磁界変化量）の絶対値が入力されることになる。
【０２７９】
制御回路２００において、Ｙ軸センサ１３Ｙの出力についても、Ｘ軸センサ１３Ｘの出力に対する処理と同様の処理が実行され、合成ベクトル算出部２３８には、基準値に対するＹ軸に関する磁界変化量（Ｙ軸センサ１３Ｙが検出した磁界変化量）の絶対値が入力される。
【０２８０】
合成ベクトル算出部２３８は、入力された２つの磁界変化量の値から合成磁界変化量（一方の値の２乗と他方の値の２乗との和の平方根）を算出し、弱磁界検出部２４６に出力する。以下、合成磁界変化量をベクトル長という。
【０２８１】
弱磁界検出部２４６は、ベクトル長を所定のしきい値と比較することによって、磁界（弱磁界）が存在しているか否か判定する。
【０２８２】
上述したように、磁界検出用回路１４０において、制御回路２００に相当する制御ＩＣ１８２には、感度選択信号（ＳＥＬＥＣＴ１，２）が入力される（図３８参照）。
【０２８３】
図４５（Ａ）は、感度設定タイミングを示す説明図であり、図４５（Ｂ）は、ＭＧ信号の出力例を示す説明図である。図４５（Ａ）に示すように、制御回路２００は、電源がオンになったときから５秒後に感度選択信号を取り込んで、感度選択信号が示す感度を内部設定する。制御回路２００がマイクロコントローラで実現されている場合には、例えば、感度はマイクロコントローラにおけるレジスタに設定される。図３４（Ｂ）に示されたように、感度選択信号（ＳＥＬＥＣＴ１，２）が（０，０）を示す場合には「最高」感度を設定し、（０，１）を示す場合には「高」感度を設定し、（１，０）を示す場合には「中」感度を設定し、（０，０）を示す場合には「低」感度を設定する。
【０２８４】
また、感度には、「しきい値」、「チャタリング除去時間」、「ヒステリシス」が含まれる。「しきい値」は、磁界が存在するか否か判定するための判定値に相当する。「チャタリング除去時間」は、その時間以上、ベクトル長が「しきい値」を越えている場合に磁界が存在すると判定するための時間である。「ヒステリシス」は、磁界が存在すると判定された後、磁界が消えたと判定するための値であり、しきい値よりも小さい値である。
【０２８５】
従って、制御回路２００は、図４５（Ｂ）に示すように、ベクトル長（図４５（Ｂ）において曲線で示す。）がしきい値を越えている時間がチャタリング除去時間ｔを越えると、ＭＧ信号の状態を磁気検出を示す状態にする。また、ＭＧ信号の状態が磁気検出を示す状態であるときに、ベクトル長がヒステリシスの値まで低下したら、ＭＧ信号の状態を磁気非検出を示す状態にする。なお、図４５（Ｂ）には、制御回路２００が、ＭＧ信号の状態を磁気検出を示す状態にした場合には、少なくとも２ｍｓその状態を維持することが示されている。また、図４５（Ｂ）に示す例では、ローレベルが、ＭＧ信号の状態が磁気検出を示す状態に相当する。
【０２８６】
図４３に示すように、弱磁界検出部２４６は、４種類の検出方法を実行し、それぞれの検出方法による検出結果をエラー判定部（磁界検出部）２５１に出力する。４種類の検出方法は、以下のような検出方法である。
【０２８７】
（１）しきい値が４５（６０μＴに相当）、チャタリング除去時間が１０００ｍｓ、ヒステリシスが３４（４５μＴに相当）
（２）しきい値が５３（７０μＴに相当）、チャタリング除去時間が５００ｍｓ、ヒステリシスが４０（５３μＴに相当）
（３）しきい値が６８（９０μＴに相当）、チャタリング除去時間が２５０ｍｓ、ヒステリシスが５１（６８μＴに相当）
（４）しきい値が１５０（２００μＴに相当）、チャタリング除去時間が１５０ｍｓ、ヒステリシスが１１３（１５０μＴに相当）
【０２８８】
図４３に示すように、４種類の検出方法による検出結果は、上記の（１）の検出情報の検出結果である「６０μＴ磁界有無」、上記の（２）の検出情報の検出結果である「７０μＴ磁界有無」、上記の（３）の検出情報の検出結果である「９０μＴ磁界有無」、上記の（４）の検出情報の検出結果である「２００μＴ磁界有無」である。
【０２８９】
なお、上記の「しきい値」、「チャタリング除去時間」、「ヒステリシス」の値は好ましい例であるが、他の値を採用してもよい。
【０２９０】
また、４種類の検出方法のそれぞれにおける「しきい値」、「チャタリング除去時間」、「ヒステリシス」の値は変更可能である。
【０２９１】
この実施の形態では、感度選択信号（ＳＥＬＥＣＴ１，２）は、エラー判定部２５１に入力されている。エラー判定部２５１は、上記のように、電源がオンになったときから５秒後に感度選択信号を取り込んで、感度選択信号が示す感度を内部設定する。そして、設定された感度に応じて、弱磁界検出部２４６からの検出結果を選択し、選択した検出結果にもとづいてエラー信号（磁気検出を示す状態のＭＧ信号に相当）を出力する。
【０２９２】
図４２に示すように、第２平均化部２０３が出力する検出電圧（平均化された検出電圧）は比較部２３４，２３５にも入力される。比較部２３４は、入力された検出電圧の値としきい値（８１２Ｄ（１０進））とを比較し、入力された検出電圧の値がしきい値を越えている場合には異常信号（Ｘ軸強磁界エラー信号）エラー判定部２５１に出力する。また、比較部２３５は、入力された検出電圧の値としきい値（３０Ｄ（１０進））とを比較し、入力された検出電圧の値がしきい値未満である場合には異常信号をエラー判定部２５１に出力する。
【０２９３】
Ａ−Ｄ変換器１６０が出力するデータにおける「１」は約３．２ｍＶに相当するので、「８１２」は、約３．２ｍＶ×８１２＝約２．５９８Ｖに相当する。また、「３０」は、約３．２ｍＶ×３０＝約０．０９６Ｖに相当する。よって、Ｘ軸センサ１３Ｘからの検出電圧が０．０９６〜２．５９８Ｖの範囲から外れていることを示している場合には、異常信号が出力される。なお、Ｙ軸センサ１３Ｙからの検出電圧が０．０９６〜２．５９８Ｖの範囲から外れていることを示している場合にも異常信号（Ｙ軸強磁界エラー信号）がエラー判定部２５１に出力される。
【０２９４】
図４６は、制御回路２００におけるエラー判定部２５１の具体的処理例を示す説明図である。エラー判定部２５１は、「低」感度が設定されている場合には、ベクトル長がしきい値である１５０を越えている時間がチャタリング除去時間である１５０ｍｓを越えたとき、または強磁界検出時（Ｘ軸強磁界エラー信号またはＹ強磁界エラー信号が出力されたとき）に、磁石を検出したとして、エラー信号を出力する。すなわち、上記の（４）の検出方法によって弱磁界が検出されるか強磁界が検出されたときにエラー信号を出力する。
【０２９５】
「中」感度が設定されている場合には、ベクトル長がしきい値である６８を越えている時間がチャタリング除去時間である２５０ｍｓを越えたとき、ベクトル長がしきい値である１５０を越えている時間がチャタリング除去時間である１５０ｍｓを越えたとき、または強磁界検出時（Ｘ軸強磁界エラー信号またはＹ強磁界エラー信号が出力されたとき）に、磁石を検出したとして、エラー信号を出力する。すなわち、上記の（３）の検出方法または（４）の検出方法によって弱磁界が検出されるか強磁界が検出されたときにエラー信号を出力する。
【０２９６】
換言すれば、制御回路２００は、「中」感度が設定されている場合には、上記の（３）の検出方法によって弱磁界を検出しているとともに、（４）の検出方法によって弱磁界を検出していることになる。
【０２９７】
「高」感度が設定されている場合には、ベクトル長がしきい値である５３を越えている時間がチャタリング除去時間である５００ｍｓを越えたとき、ベクトル長がしきい値である６８を越えている時間がチャタリング除去時間である２５０ｍｓを越えたとき、ベクトル長がしきい値である１５０を越えている時間がチャタリング除去時間である１５０ｍｓを越えたとき、または強磁界検出時（Ｘ軸強磁界エラー信号またはＹ強磁界エラー信号が出力されたとき）に、磁石を検出したとして、エラー信号を出力する。すなわち、上記の（２）の検出方法、上記の（３）の検出方法または（４）の検出方法によって弱磁界が検出されるか強磁界が検出されたときにエラー信号を出力する。
【０２９８】
換言すれば、制御回路２００は、「高」感度が設定されている場合には、上記の（２）の検出方法によって弱磁界を検出しているとともに、上記の（３）の検出方法によって弱磁界を検出し、さらに（４）の検出方法によって弱磁界を検出していることになる。
【０２９９】
「最高」感度が設定されている場合には、ベクトル長がしきい値である４５を越えている時間がチャタリング除去時間である１０００ｍｓを越えたとき、ベクトル長がしきい値である５３を越えている時間がチャタリング除去時間である５００ｍｓを越えたとき、ベクトル長がしきい値である６８を越えている時間がチャタリング除去時間である２５０ｍｓを越えたとき、ベクトル長がしきい値である１５０を越えている時間がチャタリング除去時間である１５０ｍｓを越えたとき、または強磁界検出時（Ｘ軸強磁界エラー信号またはＹ強磁界エラー信号が出力されたとき）に、磁石を検出したとして、エラー信号を出力する。すなわち、上記の（１）の検出方法、上記の（２）の検出方法、上記の（３）の検出方法または（４）の検出方法によって弱磁界が検出されるか強磁界が検出されたときにエラー信号を出力する。
【０３００】
換言すれば、制御回路２００は、「最高」感度が設定されている場合には、上記の（１）〜（４）の全ての検出方法によって弱磁界を検出していることになる。
【０３０１】
この実施の形態では、エラー判定部２５１が、複数段階の設定値のうち第１段階の設定値（「低」感度を示す感度選択信号）が入力された場合には、判定値として第１判定値（しきい値としての１５０）を設定し、複数段階の設定値のうち第１段階の設定値より高感度の設定値である第２段階の設定値（「中」感度を示す感度選択信号）が入力された場合には、判定値として第１判定値と第２判定値（しきい値としての６８）とを設定し、第２段階の設定値が入力部に入力された場合には、第１判定値を用いた判定と第２判定値を用いた判定とを重複して行うように構成されているので、高感度の設定値が設定されている場合でも、低感度の設定値も用いて磁石の存在を検出することになり、高感度の設定値が設定されたときに広い範囲に亘って精度よく磁石の存在を検出することができる。
【０３０２】
なお、この実施の形態では、磁石が遊技機近傍に存在すると判定する際に、合成ベクトル算出部２３８が出力するベクトル長（弱磁界を示す信号）と強磁界エラー信号とを併用したが、弱磁界を示す信号のみを用いて、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するようにしてもよい。
【０３０３】
以上のように、この実施の形態では、制御回路２００が、磁界検出素子（磁気センサ）１３０の検出電圧を入力して、所定の時期（遊技機の周囲の磁界が安定していると判断される時期）以降に入力した検出電圧の値を基準値として設定し、磁界検出素子１３０の検出電圧が基準値に対して所定値（「しきい値」に相当）を越える差があることを検出した場合に、磁石が遊技機近傍に存在すると判定するので、磁石の向きによらず磁界を検出することができ、また、広い範囲に亘って磁石の存在を精度よく検知できる。
【０３０４】
また、この実施の形態では、定期的に更新される基準値と、磁界検出素子１３０の検出電圧とを比較するので、遊技機において磁界を生じさせる部品や、磁気を帯びる可能性がある部品を使用している場合でも、磁石が遊技機近傍に存在することを精度よく検出することができる。例えば、磁界検出素子１３０の近傍に、金属部品、ソレノイド、スピーカ等の磁気を帯びる可能性がある部品が存在する場合でも、従来の磁石検出方式とは異なり、それらの部品によって誤検出してしまうことなく、精度よく磁石を検出することができる。
【０３０５】
また、この実施の形態では、制御回路２００は、磁界検出素子１３０の検出電圧を平均化した上で比較処理等を実行するので、ノイズの影響を排除することができるとともに、突発的に生じた磁界変化（不正行為に用いられる磁石によらない磁界変化）によって誤って磁石を検出した状態になることを防止することができる。さらに、遊技機における電気回路に電流が流れるときには電流にもとづく磁界が生ずるが、電流にもとづく磁界の影響も排除することができる。
【０３０６】
以上に説明したように、この実施の形態では、磁石の向きによらず磁界を検出することができ、また、広い範囲に亘って磁石の存在を精度よく検知できる。さらに、遊技機の裏面に磁界を生じさせる可能性がある正規の部材が存在する場合にも、磁石の存在を精度よく検知できる。
【０３０７】
また、第１〜第４実施の形態では、前面枠２Ｂが開放されているときには、磁気検出手段が磁気を検出して検出信号を出力しても異常報知を行わない。よって、遊技店員が、前面枠２Ｂが開放して作業（例えば、遊技機裏面の上部に設置されている球タンクから球払出装置９７に至るタンクレールにおける球詰まりを解消するための作業や、遊技機設置島に設けられている球補給樋から遊技機や球貸し装置に遊技球を補給するシュートにおける球詰まりを解消するための作業）を行っているときに、遊技店員が作業を行っている場合等に磁石を検知した旨の報知を行わないようにすることによって、遊技店員等に煩わしさを感じさせないようにすることができる。
【０３０８】
変形例１．
第１〜第４実施の形態では、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、磁界検出用回路１４０からのエラー信号の状態にもとづいて、演出制御用マイクロコンピュータ１００に対して磁界異常コマンドまたは磁界正常コマンドを送信し、演出制御用マイクロコンピュータ１００が、異常報知を実行した。しかし、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が異常報知を実行するようにしてもよい。
【０３０９】
図４７は、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が異常報知を実行する場合の磁気検出処理（図６に示すステップＳ３４）を示すフローチャートである。図７に示された処理とは異なり、ＣＰＵ５６は、前面枠が開放中でない場合に（ステップＳ４２１）、磁界異常中フラグがリセットされている状態において磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されたか否か確認する（ステップＳ４２２）。磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されたと判定した場合には、特別図柄表示器８に「三」を表示する（ステップＳ４２３）。また、磁界異常中フラグをセットする（ステップＳ４２４）。なお、前面枠が開放中であるか否かは、ドアスイッチ９６からの信号の状態で判定される。
【０３１０】
また、ＣＰＵ５６は、磁界異常中フラグがセットされている状態において磁界検出回路１４０からのエラー信号の入力がなくなった場合には（ステップＳ４２５）、特別図柄表示器８に表示した「三」を消去する（ステップＳ４２５）。また、磁界異常中フラグをリセットする（ステップＳ４２７）。
【０３１１】
この例では、第１〜第３の実施の形態で用いられていた前面枠開放コマンド、前面枠閉鎖コマンド、磁界異常コマンドおよび磁界正常コマンドは使用されない。すなわち、異常報知に関して、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０から演出制御用マイクロコンピュータ１００に対してコマンドは送信されない。
【０３１２】
また、この例では、特別図柄表示器８に「三」が表示されることが異常報知（不正検出報知）に相当する。
【０３１３】
なお、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、自身が制御することが可能な特別図柄表示器８以外の部材（普通図柄表示器１０、特別図柄保留記憶表示器１８、普通図柄保留記憶表示器４１等）を用いて異常報知を行うようにしてもよい。また、第１〜第４実施の形態では、ＬＥＤ（またはランプ）やスピーカ２７等の演出装置は演出制御用マイクロコンピュータ１００によって制御されているが、ＬＥＤ（またはランプ）等を遊技制御用マイクロコンピュータ５６０によって制御されるように構成（例えば、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０の出力ポートからＬＥＤ（またはランプ）等への信号を出力するように構成）し、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が、特別図柄表示器８や普通図柄表示器１０等を使用せず、ＬＥＤ（またはランプ）等を用いて異常報知を行うようにしてもよい。その場合は、特別図柄表示器８や普通図柄表示器１０における本来の表示を報知のための表示に変更する必要はない。
【０３１４】
変形例２．
第１〜第４実施の形態では、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、ドアスイッチ９６からの信号にもとづいて前面枠開放コマンドまたは前面枠閉鎖コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信し、磁界検出用回路１４０からのエラー信号にもとづいて磁界異常コマンドまたは磁界正常コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信し、演出制御用マイクロコンピュータ１００が異常報知を行うか否か決定した（図７および図１１参照）。
【０３１５】
しかし、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が異常報知を行うか否か決定するようにしてもよい。図４８は、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が異常報知を行うか否か決定する場合の磁気検出処理を示すフローチャートである。
【０３１６】
図４８に示すように、ＣＰＵ５６は、前面枠が開放中でない場合に（ステップＳ４３１）、磁界異常中フラグがリセットされている状態において磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されたか否か確認する（ステップＳ４３２）。磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されたと判定した場合には、磁界異常コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信する（ステップＳ４３３）。また、磁界異常中フラグをセットする（ステップＳ４３４）。なお、前面枠が開放中であるか否かは、ドアスイッチ９６からの信号の状態で判定される。
【０３１７】
また、第１〜第４実施の形態では、磁界異常コマンドは、磁界検出用回路１４０が磁界検出（磁石検出）したことを示すコマンドであったが、この例では、磁界異常コマンドは、第１〜第４実施の形態の場合とは異なり、異常報知の実行を指示するコマンドとして使用され、前面枠が開放中でないときに磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されたことにもとづいて、ＣＰＵ５６が異常報知を行うことに決定した結果に応じたコマンドである。
【０３１８】
また、ＣＰＵ５６は、磁界異常中フラグがセットされている状態において磁界検出回路１４０からのエラー信号の入力がなくなった場合には（ステップＳ４３５）、磁界正常コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信する（ステップＳ４３６）。また、磁界異常中フラグをリセットする（ステップＳ４３７）。
【０３１９】
なお、第１〜第４実施の形態では、磁界正常コマンドは、磁界検出用回路１４０が磁界検出（磁石検出）しなくなったことを示すコマンドであったが、この例では、磁界正常コマンドは、第１〜第４実施の形態の場合とは異なり、異常報知の終了を指示するコマンドとして使用される。
【０３２０】
図４９は、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０が異常報知を行うか否か決定する場合の演出制御用ＣＰＵ１０１が実行する不正報知処理を示すフローチャートである。図４９に示すように、演出制御用ＣＰＵ１０１は、異常報知（不正検出報知）の実行中であることを示す異常報知中フラグがセットされているか否か確認する（ステップＳ９２１）。異常報知中フラグがセットされている場合には、ステップＳ９３１に移行する。
【０３２１】
異常報知中フラグがセットされていない場合には、磁界異常コマンド受信フラグがセットされているか否か確認する（ステップＳ９２３）。磁界異常コマンド受信フラグがセットされていない場合には、処理を終了する。
【０３２２】
磁界異常コマンド受信フラグがセットされている場合には、演出制御用ＣＰＵ１０１は、磁界異常コマンド受信フラグをリセットし（ステップＳ９２４）、演出表示装置９に、例えば「磁石発見」を示す画像や異常検出の旨を示す画像を表示する制御を行う（ステップＳ９２５）。また、スピーカ２７から異常報知音が出力されるように、異常報知音に対応する音番号データを音声出力基板７０に出力する（ステップＳ９２６）。そして、異常報知中フラグをセットする（ステップＳ９２７）。
【０３２３】
ステップＳ９３１では、演出制御用ＣＰＵ１０１は、磁界正常コマンドを受信したことを示す磁界正常コマンド受信フラグがセットされているか否か確認する。磁界正常コマンド受信フラグがセットされている場合には、演出制御用ＣＰＵ１０１は、磁界正常コマンド受信フラグをリセットし（ステップＳ９３２）、演出表示装置９における異常報知の表示を消去し（ステップＳ９３３）、スピーカ２７からの異常報知音の出力を停止する制御を行う（ステップＳ９３４）。また、異常報知中フラグをリセットする（ステップＳ９３５）。
【０３２４】
変形例３．
第１〜第４実施の形態では、ドアスイッチ９６からの信号および磁界検出用回路１４０からのエラー信号は、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力されていたが、ドアスイッチ９６からの信号および磁界検出用回路１４０からのエラー信号を、演出制御用マイクロコンピュータ１００に入力するようにしてもよい。
【０３２５】
図５０は、ドアスイッチ９６からの信号および磁界検出用回路１４０からのエラー信号が演出制御用マイクロコンピュータ１００に入力される場合の中継基板７７、演出制御基板８０、ランプドライバ基板３５および音声出力基板７０の回路構成例を示すブロック図である。
【０３２６】
また、演出制御基板８０には、互いに直交する２軸または３軸に沿って配置されたアモルファスワイヤに外部から与えられた磁界によるインピーダンスの変化を検出して各々の変化量にもとづく検出電圧を出力する構成の磁界検出素子（磁気センサ）１３０と、磁界検出素子１３０の検出電圧にもとづいて磁石が遊技機近傍に存在するか否か判定する磁界検出用回路１４０とが設けられている。
【０３２７】
磁界検出用回路１４０は、磁石が遊技機近傍に存在すると判定した場合に、エラー信号を出力する。エラー信号は、入力ポート１０７を介して演出制御用ＣＰＵ１０１に入力される。演出制御用ＣＰＵ１０１は、エラー信号が入力されると、遊技機に設けられている演出装置（演出表示装置９、スピーカ２７、ＬＥＤ等の発光体）を用いて、異常報知（不正行為発見報知）を行う。
【０３２８】
また、ドアスイッチ９６からの信号も、入力ポート１０７を介して演出制御用ＣＰＵ１０１に入力される。
【０３２９】
なお、磁界検出素子１３０は、演出制御基板８０の外部に設置されていてもよい。
【０３３０】
図５１は、磁界検出用回路１４０からのエラー信号が演出制御用マイクロコンピュータ１００に入力される場合の演出制御用ＣＰＵ１０１が実行する不正報知処理を示すフローチャートである。図５１に示すように、演出制御用ＣＰＵ１０１は、異常報知（不正検出報知）の実行中であることを示す異常報知中フラグがセットされているか否か確認する（ステップＳ９４１）。異常報知中フラグがセットされている場合には、ステップＳ９５１に移行する。
【０３３１】
異常報知中フラグがセットされていない場合には、演出制御用ＣＰＵ１０１は、前面枠２Ｂが開放状態であるか否か確認する（ステップＳ９４２）。すなわち、ドアスイッチ９６からの信号が、前面枠２Ｂの開放を示す状態であるか否か確認する。前面枠２Ｂが開放状態である場合には、処理を終了する。従って、異常報知（ステップＳ９４５，Ｓ９４６）の処理は実行されない。
【０３３２】
前面枠２Ｂが開放状態でない場合（閉鎖状態である場合）には、演出制御用ＣＰＵ１０１は、磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されたか否か確認する（ステップＳ９４３）。磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されたと判定した場合には、演出表示装置９に、例えば「磁石発見」を示す画像や異常検出の旨を示す画像を表示する制御を行う（ステップＳ９４５）。また、スピーカ２７から異常報知音が出力されるように、異常報知音に対応する音番号データを音声出力基板７０に出力する（ステップＳ９４６）。そして、異常報知中フラグをセットする（ステップＳ９４７）。
【０３３３】
ステップＳ９５１では、演出制御用ＣＰＵ１０１は、磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されているか否か確認する。磁界検出回路１４０からエラー信号が出力されていないと判定した場合、すなわちエラー信号が停止したと判定した場合には、演出表示装置９における異常報知の表示を消去し（ステップＳ９５３）、スピーカ２７からの異常報知音の出力を停止する制御を行う（ステップＳ９５４）。また、異常報知中フラグをリセットする（ステップＳ９５５）。
【０３３４】
この例では、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、異常報知に関する制御を実行しないので、遊技機に磁石検出の機能を搭載しても、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０の処理負担は増大しない。
【０３３５】
変形例４．
第１〜第４実施の形態では、ドアスイッチ９６からの信号および磁界検出用回路１４０からのエラー信号は、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力されていたが、ドアスイッチ９６からの信号が演出制御用マイクロコンピュータ１００に入力されるようにしてもよい。
【０３３６】
図５２は、ドアスイッチ９６からの信号が演出制御用マイクロコンピュータ１００に入力される場合の主基板５２の回路構成を示すブロック図である。ただし、図５２には、回路構成の一部のみが示されている。
【０３３７】
図５２に示すように、ドアスイッチ９６からの信号は、入力ドライバ回路５８には入力されていない。すなわち、ドアスイッチ９６からの信号および磁界検出用回路１４０からのエラー信号のうち、磁界検出用回路１４０からのエラー信号のみが遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力される。その他の構成は、図３に示された構成と同じである。
【０３３８】
図５３は、ドアスイッチ９６からの信号が演出制御用マイクロコンピュータ１００に入力される場合の演出制御基板８０の回路構成を示すブロック図である。ただし、図５３には、回路構成の一部のみが示されている。
【０３３９】
図５３に示すように、ドアスイッチ９６からの信号が、入力ポート１０７を介して演出制御用マイクロコンピュータ１００（具体的には、演出制御用ＣＰＵ１０１）に入力される。
【０３４０】
図５４は、磁界検出用回路１４０からのエラー信号のみが遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力される場合の磁気検出処理を示すフローチャートである。図５４に示す磁気検出処理では、図７に示されたステップＳ４０１〜Ｓ４０６の処理は実行されない。その他の処理は、図７に示された処理と同じである。
【０３４１】
図５５は、磁界検出用回路１４０からのエラー信号のみが遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力される場合の演出制御用ＣＰＵ１０１が実行する不正報知処理を示すフローチャートである。図１１に示された不正報知処理では、演出制御用ＣＰＵ１０１は、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０から前面枠開放コマンドを受信したことを意味する前面枠開放状態フラグがセットされているか否か確認したが（ステップＳ９０２）、図５５に示す不正報知処理では、演出制御用ＣＰＵ１０１は、前面枠２Ｂが開放状態であるか否かを直接確認する（ステップＳ９０２Ａ）。すなわち、ドアスイッチ９６からの信号が、前面枠２Ｂの開放を示す状態であるか否か確認する。その他の処理は、図１１に示された処理と同じである。
【０３４２】
変形例１〜４でも、前面枠２Ｂが開放されているときには、磁気検出手段が磁気を検出して検出信号を出力しても異常報知を行わない（図４９におけるステップＳ９２３、図５１におけるステップＳ９４２、図５５におけるステップＳ９０２Ａ等参照）。よって、遊技店員が、前面枠２Ｂが開放して作業を行っているときに、遊技店員が作業を行っている場合等に磁石を検知した旨の報知を行わないようにすることによって、遊技店員等に煩わしさを感じさせないようにすることができる。
【０３４３】
変形例５．
上記の各実施の形態および各変形例では、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０または演出制御用マイクロコンピュータ１００が、ドアスイッチ９６からの信号にもとづいて、前面枠２Ｂが開放状態にあるか否か判定した。しかし、前面枠２Ｂが開放状態にあるときにのみ、磁界検出用回路１４０からのエラー信号が遊技制御用マイクロコンピュータ５６０または演出制御用マイクロコンピュータ１００に入力されるように構成してもよい。
【０３４４】
図５６は、前面枠２Ｂが開放状態にあるときにのみ磁界検出用回路１４０からのエラー信号が遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力されるようにするための主基板３１の回路構成を示すブロック図である。ただし、図５６には、主基板３１の回路構成の一部のみが示されている。
【０３４５】
図５６に例示する回路構成では、ドアスイッチ９６からの信号が反転回路（ＮＯＴ回路）１４１を介して、論理積回路（ＡＮＤ回路）１４２の一方の入力端子に入力され、論理積回路１４２の他方の入力端子に磁界検出用回路１４０からのエラー信号が入力される。そして、論理積回路１４２の出力が、入力ドライバ回路５８を介して遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力される。
【０３４６】
なお、ドアスイッチ９６からの信号は、前面枠２Ｂが開放状態であるときにハイレベルになり、前面枠２Ｂが閉鎖状態であるときにローレベルになるとする。また、磁界検出用回路１４０からのエラー信号は、ハイレベルであるときが磁界検出（磁石検出）に対応する状態であり、ローレベルであるときが磁界未検出（磁石未検出）に対応するであるとする。
【０３４７】
従って、前面枠２Ｂが開放状態であるとき（ドアスイッチ９６からの信号がハイレベルであるとき）には、磁界検出用回路１４０からのエラー信号は、論理積回路１４２を通過しない。すなわち、論理積回路１４２の出力はローレベルである。そして、前面枠２Ｂが閉鎖状態であるとき（ドアスイッチ９６からの信号がローレベルであるとき）に、論理積回路１４２の出力に、磁界検出用回路１４０からのエラー信号の状態が現れる。
【０３４８】
よって、遊技制御用マイクロコンピュータ５６０は、論理積回路１４２の出力にもとづいて、前面枠２Ｂが開放状態であるか否か判定することなく、前面枠２Ｂが閉鎖状態であるときに磁界検出用回路１４０が磁石を検出している状態であるか否か知ることができる。
【０３４９】
図５７は、図５６に示された回路構成を用いる場合の磁気検出処理を示すフローチャートである。ＣＰＵ５６は、図５７に示すように、磁界異常中フラグがリセットされている状態において論理積回路１４２からエラー信号が出力されたか否か確認する（ステップＳ４５２）。エラー信号が出力されたと判定した場合には、磁界異常コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信する（ステップＳ４５３）。また、磁界異常中フラグをセットする（ステップＳ４５４）。
【０３５０】
第１〜第４実施の形態では、磁界異常コマンドは、磁界検出用回路１４０が磁界検出（磁石検出）したことを示すコマンドであったが、この例では、磁界異常コマンドは、第１〜第４実施の形態の場合とは異なり、異常報知の実行を指示するコマンドとして使用される。
【０３５１】
また、ＣＰＵ５６は、磁界異常中フラグがセットされている状態において論理積回路１４２からのエラー信号の入力がなくなった場合には（ステップＳ４５５）、磁界正常コマンドを演出制御用マイクロコンピュータ１００に送信する（ステップＳ４５６）。また、磁界異常中フラグをリセットする（ステップＳ４５７）。
【０３５２】
なお、第１〜第４実施の形態では、磁界正常コマンドは、磁界検出用回路１４０が磁界検出（磁石検出）しなくなったことを示すコマンドであったが、この例では、磁界正常コマンドは、第１〜第４実施の形態の場合とは異なり、異常報知の終了を指示するコマンドとして使用される。
【０３５３】
また、演出制御用ＣＰＵ１０１は、変形例２の場合と同様の不正報知処理を実行する（図４９参照）。
【０３５４】
また、図５６に例示された回路構成は一例であって、ドアスイッチ９６からの信号や磁界検出用回路１４０からのエラー信号の論理（ハイレベルが検出を示す状態であるのかローレベルが検出を示す状態であるのか）が、図５６に示された回路構成を採用する場合の論理と異なる場合には、図５６に示された論理回路素子と異なる回路が用いられる。また、図５６に示された回路構成を採用する場合の論理と同じ場合でも、図５６に示された論理回路素子（反転回路１４１と論理積回路１４２）とは異なる論理回路素子を用いてもよい。
【０３５５】
変形例６．
図５８は、前面枠２Ｂが開放状態にあるときにのみ磁界検出用回路１４０からのエラー信号が演出制御用マイクロコンピュータ１００に入力されるようにするための演出制御基板８０の回路構成を示すブロック図である。ただし、図５８には、演出制御基板８０の回路構成の一部のみが示されている。
【０３５６】
図５６に示された例と同様に、ドアスイッチ９６からの信号が反転回路（ＮＯＴ回路）１４１を介して、論理積回路（ＡＮＤ回路）１４２の一方の入力端子に入力され、論理積回路１４２の他方の入力端子に磁界検出用回路１４０からのエラー信号が入力される。そして、論理積回路１４２の出力が、入力ポート１０７を介して演出制御用マイクロコンピュータ１００（具体的には、演出制御用ＣＰＵ１０１）に入力される。
【０３５７】
図５９は、図５８に示された回路構成を用いる場合の不正報知処理を示すフローチャートである。演出制御用ＣＰＵ１０１は、図５９に示すように、異常報知（不正検出報知）の実行中であることを示す異常報知中フラグがセットされているか否か確認する（ステップＳ９６１）。異常報知中フラグがセットされている場合には、ステップＳ９７１に移行する。
【０３５８】
異常報知中フラグがセットされていない場合には、演出制御用ＣＰＵ１０１は、論理積回路１４２からエラー信号が出力されたか否か確認する（ステップＳ９４３）。エラー信号が出力されたと判定した場合には、演出表示装置９に、例えば「磁石発見」を示す画像や異常検出の旨を示す画像を表示する制御を行う（ステップＳ９６５）。また、スピーカ２７から異常報知音が出力されるように、異常報知音に対応する音番号データを音声出力基板７０に出力する（ステップＳ９６６）。そして、異常報知中フラグをセットする（ステップＳ９６７）。
【０３５９】
ステップＳ９７１では、演出制御用ＣＰＵ１０１は、論理積回路１４２からエラー信号が出力されているか否か確認する。論理積回路１４２からエラー信号が出力されていないと判定した場合、すなわちエラー信号が停止したと判定した場合には、演出表示装置９における異常報知の表示を消去し（ステップＳ９７３）、スピーカ２７からの異常報知音の出力を停止する制御を行う（ステップＳ９７４）。また、異常報知中フラグをリセットする（ステップＳ９７５）。
【０３６０】
変形例５，６でも、前面枠２Ｂが開放されているときには、磁気検出手段が磁気を検出して検出信号を出力しても異常報知を行わない。よって、遊技店員が、前面枠２Ｂが開放して作業を行っているときに、遊技店員が作業を行っている場合等に磁石を検知した旨の報知を行わないようにすることによって、遊技店員等に煩わしさを感じさせないようにすることができる。
【０３６１】
なお、上記の各実施の形態および各変形例では、始動入賞にもとづいて特別図柄表示器８に可変表示される特別図柄の停止図柄が所定の図柄の組み合わせになると大当りになるタイプの遊技機（第１種パチンコ遊技機ということにする。）を例にしたが、始動入賞にもとづいて開放する電動役物の所定領域（特定領域：Ｖ入賞領域）への入賞があると大当りになるタイプの遊技機（第２種パチンコ遊技機ということにする。）にも本発明を適用することができる。
【０３６２】
第２種パチンコ遊技機では、電動役物の入口および特定領域が不正行為を受けやすいので、磁界検出素子１３０および磁界検出用回路１４０は、特に、電動役物の入口および特定領域に遊技球を不正に誘導する行為を発見できるように設けられていることが好ましい。第２種パチンコ遊技機では、不正に遊技球を特定領域に入賞させることによって直接的に大当りを発生させることができ遊技店が被る損害が大きいので、磁界検出素子１３０および磁界検出用回路１４０による効果は大きい。しかし、この実施の形態で例示した第１種パチンコ遊技機についても、始動入賞口に遊技球を不正に誘導したり、大入賞口に遊技球を不正に誘導したりする不正行為によって遊技店が損害を被るおそれがあるので、磁界検出素子１３０および磁界検出用回路１４０を設けることは効果的である。
【０３６３】
また、上記の各実施の形態では、制御回路１７０，１８０，１９０，２００は、演出制御用マイクロコンピュータ１００の外部（エラー信号が遊技制御用マイクロコンピュータ５６０に入力させるように構成された場合には遊技制御用マイクロコンピュータ５６０の外部）に設けられているマイクロコントローラで実現されたが、制御回路２００の機能を、演出制御用マイクロコンピュータ１００または遊技制御用マイクロコンピュータ５６０で実現するようにしてもよい。
【０３６４】
なお、電子コンパス（磁気コンパス）を、遊技機に対する不正行為に用いられる磁石を検出するために単に流用したのでは、精度よく磁石を検出することは困難である。地磁気の影響を受け、しかも緯度の違いに応じて地磁気の強さは異なるからである。しかし、この実施の形態では、地磁気の影響を考慮して検出のしきい値を設定するので、地磁気の影響を受けずに、精度よく磁石を検出することができる。
【産業上の利用可能性】
【０３６５】
本発明を、遊技球を用いて所定の遊技を行うことが可能な遊技機に好適に適用することができる。
【符号の説明】
【０３６６】
１      パチンコ遊技機
２Ａ    外枠
２Ｂ    前面枠
６      遊技盤
７      遊技領域
８      特別図柄表示器
９      演出表示装置
１３    第１始動入賞口
１４    第２始動入賞口
１５    可変入賞球装置
３１    遊技制御基板（主基板）
５６    ＣＰＵ
５６０  遊技制御用マイクロコンピュータ
８０    演出制御基板
９６    ドアスイッチ
１００  演出制御用マイクロコンピュータ
１０１  演出制御用ＣＰＵ
１３０  磁界検出素子（磁気センサ）
１３１  発振器
１３２  タイミング制御回路
１３３  基準電圧発生器
１３４  サンプルホールド回路（選択回路）
１３５  差動増幅器
１３Ｘ  Ｘ軸センサ
１３Ｙ  Ｙ軸センサ
１３Ｚ  Ｚ軸センサ
１４０  磁界検出用回路
１５０  比較回路
１６０  Ａ−Ｄ変換器
１７１  ラッチ回路
１７２  ドライバ
１７０，１８０，１９０，２００  制御回路
２０２  第１平均化部
２０３  第２平均化部
２３４，２３５  比較部
２３６  基準磁界補正部
２３７  減算部
２３８  合成ベクトル算出部
２４６  弱磁界検出部
２５０  ベクトル算出部
２５１  エラー判定部
２７１  設定更新部
２７３  第３平均化部
４１１  交点検出部
４１２  前後判定部
４１３  移動方向／距離判定部
４１４  エラー判定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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【図４９】
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【図５０】
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【図５１】
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【図５２】
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【図５３】
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【図５４】
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【図５５】
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【図５６】
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【図５７】
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【図５８】
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【図５９】
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