(57)【要約】【課題】  ディスプレイ用フィルターの周辺部に形成されたメッシュ状導電層の露出部の露出不良を検出する方法を提供する。【解決手段】  基材上にメッシュ状導電層と絶縁層を順次有するディスプレイ用フィルターの周辺部に前記絶縁層が除去されて形成された前記メッシュ状導電層の露出部における露出不良を検出する方法であって、前記露出部上に導電性部材を配置して該導電性部材を介して電気抵抗値を測定し、該電気抵抗値から露出不良を検出することを特徴とするメッシュ状導電層の露出不良検出方法。【選択図】図６
2011242628.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基材上にメッシュ状導電層と絶縁層を順次有するディスプレイ用フィルターの周辺部に前記絶縁層が除去されて形成された前記メッシュ状導電層の露出部における露出不良を検出する方法であって、前記露出部上に導電性部材を配置して該導電性部材を介して電気抵抗値を測定し、該電気抵抗値から露出不良を検出することを特徴とするメッシュ状導電層の露出不良検出方法。  
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、メッシュ状導電層上に絶縁層が積層されたディスプレイ用フィルターにおけるメッシュ状導電層の露出部の露出不良検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
有機ＥＬディスプレイ、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどのディスプレイには、通常、外光の反射防止、ディスプレイから発生する電磁波の遮蔽、ディスプレイの保護などを目的としたディスプレイ用フィルターがディスプレイの視認側に配置されている。
【０００３】
特にプラズマディスプレイは強度な電磁波を発生するために、導電層（電磁波遮蔽層）を具備したディスプレイ用フィルターがディスプレイパネルに装着されている。上記導電層として、電磁波遮蔽性が良好であること、透明度が高いこと、及び低コストであることから、メッシュ状導電層が一般的に用いられている。そして、該ディスプレイ用フィルターの導電層上には、通常、導電層の保護や反射防止等の機能を有する機能層が直接あるいはプラスチックフィルムや粘着剤層を介して積層されている。導電層上に積層される上記機能層、プラスチックフィルム、粘着剤層は、絶縁層としての役目も有する。
【０００４】
上記の導電層と機能層等の絶縁層を有するディスプレイ用フィルターがディスプレイパネルに装着された後、導電層とディスプレイ筐体の外部電極とを電気的に接続する必要がある。そのため、ディスプレイ用フィルターの周辺部（ディスプレイの非画像領域に相当する部分）に導電層の露出部分が形成されている。
【０００５】
図９は、プラズマディスプレイの一例の主要構成部分の模式断面図である。ディスプレイ用フィルター１００は画像表示パネル２１に貼り付けられており、画像表示パネル２１の画像表示領域の外周（非画像表示領域）には筐体の前面カバー２２がディスプレイ用フィルター１００を画像表示パネル２１に押圧するように組み立てられている。ディスプレイ用フィルター１００と前面カバー２２の間にはガスケット２３が配置されており、ガスケット２３はディスプレイ用フィルター１００の周辺部に形成された導電層の露出部（図示せず）と前面カバー２２の外部電極（図示せず）とを電気的に接続し、アースしている。
【０００６】
上記のディスプレイ用フィルターにおける導電層露出部の形成方法として、導電層上に積層された機能層等の絶縁層をレーザー照射により除去する方法（特許文献１〜３）、超音波半田コテによって除去する方法（特許文献４）、ドライエッチングによって除去する方法（特許文献５）、あるいは機能層等の絶縁層表面から導電層に達する切り込み線を入れて機能層等の絶縁層を物理的に剥離する方法（特許文献６）等がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】国際公開第２００８／０２９７０９号パンフレット
【特許文献２】特開２００７−２４３１５８号公報
【特許文献３】特開２００８−１９７５３９号公報
【特許文献４】特開２００１−３１８６１３号公報
【特許文献５】特開２０００−２１２７７９号公報
【特許文献６】特開２００４−３２７７２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上記の導電層露出部形成方法において、導電層はできるだけ破断せずに導電層を露出させることが要求されているが、導電層が十分に露出されずに、導電層上に積層された機能層等の絶縁層が残る場合がある。導電層上に機能層等の絶縁層が残っていると、ディスプレイ筐体の外部電極との電気的接続が不十分となって、本来の電磁波遮蔽性が得られないと言う不都合が起こる場合がある。特に導電層としてメッシュ状導電層を用いた場合は、機能層等の絶縁層の除去工程時にメッシュ状導電層のメッシュ線が破断されやすく、そのため機能層等の絶縁層の除去工程において除去するための処理強度を加減すると機能層等の絶縁層が露出部に残留するという不都合が起こりやすくなる。
【０００９】
上記したように、メッシュ状導電層上に機能層等の絶縁層を有するディスプレイ用フィルターにおいて、その周辺部に機能層等の絶縁層を除去してメッシュ状導電層の露出部を常時安定的に形成することは難しく、露出不良の全くない良品のみを製造することは困難である。
【００１０】
従って、メッシュ状導電層露出部の露出不良を検出することは、電磁波遮蔽性が目標スペックに達しない不良品を製造することを回避するために必要であり重要である。しかしながら、メッシュ状導電層露出部の露出不良を検出する方法はこれまで知られていなかった。
【００１１】
従って、本発明の目的は、ディスプレイ用フィルターの周辺部に形成されたメッシュ状導電層露出部の露出不良を簡易的に検出する方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の上記目的は、以下の発明によって基本的に達成された。
１）基材上にメッシュ状導電層と絶縁層を順次有するディスプレイ用フィルターの周辺部に前記絶縁層が除去されて形成された前記メッシュ状導電層の露出部における露出不良を検出する方法であって、前記露出部上に導電性部材を配置して該導電性部材を介して電気抵抗値を測定し、該電気抵抗値から露出不良を検出することを特徴とするメッシュ状導電層の露出不良検出方法。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、ディスプレイ用フィルターに形成されたメッシュ状導電層露出部の露出不良が簡易的に検出することができる。これによって、ディスプレイ装置を完成する前の中間工程で電磁波遮蔽性の欠陥を検出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明のメッシュ状導電層の露出部の露出不良検出方法が適用されるディスプレイ用フィルターの一例の模式平面図。
【図２】図１のＹ−Ｙ模式断面図。
【図３】本発明のディスプレイ用フィルターにおける露出部の長手方向の部分模式断面図。
【図４】本発明の測定方法を説明するための概略図であり、露出部の長手方向に導電性部材を配置したときの部分模式断面図。
【図５】本発明の測定方法の一例を示す概略図であり、図１の露出部４ａの長手方向に導電性部材を配置したときの部分模式断面図。
【図６】本発明の測定方法の一例を示す概略図であり、露出部の長手方向に導電性部材を配置したときの部分模式断面図。
【図７】本発明のディスプレイ用フィルターにおけるメッシュ状導電層の露出不良検出方法に好適に用いられる測定装置の一例の概略図。
【図８】本発明のディスプレイ用フィルターにおけるメッシュ状導電層の露出不良検出方法に好適に用いられる測定装置の他の例の概略図。
【図９】プラズマディスプレイの一例の主要構成部分の模式断面図。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
図１は、本発明のメッシュ状導電層の露出部の露出不良検出方法が適用されるディスプレイ用フィルターの一例の模式平面図である。図２は、図１のＹ−Ｙの模式断面図である。
【００１６】
ディスプレイ用フィルター１００は、基材１上にメッシュ状導電層２と絶縁層３が順次積層された構成になっている。ディスプレイ用フィルター１００の周辺部には、メッシュ状導電層の露出部（４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄ）が形成されている。ここで、ディスプレイ用フィルター１００の周辺部とは、ディスプレイ用フィルター１００が装着されるディスプレイの画像表示領域に相当する領域（以下、画像表示領域と言う）５の外周（非画像表示領域）を意味する。以下の説明において、メッシュ状導電層の露出部を単に「露出部」ということがある。
【００１７】
メッシュ状導電層上に積層される絶縁層は、詳細は後述するが、ハードコート層、反射防止層等の機能層、プラスチックフィルム、粘着剤層等である。絶縁層は、メッシュ状導電層のほぼ全域を覆うように積層されていることが好ましい。
【００１８】
図１に示すように、メッシュ状導電層の露出部（４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄ）は、矩形（略長方形）の画像表示領域５をほぼ囲むように形成されていることが好ましく、矩形の画像表示領域５の４辺に対してそれぞれ平行に直線状に形成されていることが好ましい。画像表示領域５の各辺に対応する各露出部（４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄ）の１つ当たりの長さ（長手方向の長さ）は、対応する画像表示領域の辺の長さと同等もしくはそれ以上の長さであることが好ましい。露出部の幅は、０．５〜１０ｍｍの範囲が適当であり、１〜８ｍｍの範囲が好ましく、２〜６ｍｍの範囲がより好ましい。
【００１９】
本発明において、メッシュ状導電層の露出部は、メッシュ状導電層上に積層された絶縁層が除去されて形成されたものである。このとき、絶縁層が完全に除去されずに、絶縁層が残っていると、メッシュ状導電層の露出部と外部電極との電気的接続が不十分となり、本来の電磁波遮蔽性が得られなくなる。
【００２０】
図３は、本発明のディスプレイ用フィルターにおける露出部の長手方向の部分模式断面図である。露出部はメッシュ状導電層上に積層された絶縁層が除去されることによって形成されるが、中には絶縁層が完全に除去されずに絶縁層が残留する場合がある。図３は、露出部においてメッシュ状導電層２上に絶縁層の残留物６が存在している状態を示すものである。
【００２１】
絶縁層は、一般的には透明樹脂を主体に形成されているために、露出部上に絶縁層が残っているかどうかを視覚的に判断することは困難である。また、露出部に直接に電気抵抗測定器の測定端子を当てて測定することも可能であるが、この方法は測定端子が残留物を突き破る危険性があり、安定的に検査することができないという問題がある。
【００２２】
そこで、本発明は、露出部上に導電性部材を配置して導電性部材を介在して電気抵抗値を測定することによって、露出部の露出不良が安定的に精度良く検出できることを見いだし、本発明を成すに至った。
【００２３】
即ち、本発明は、基材、メッシュ状導電層、及び絶縁層が順次積層されたディスプレイ用フィルターの周辺部に前記絶縁層が除去されて形成された前記メッシュ状導電層の露出部における露出不良を検出する方法であって、前記露出部上に導電性部材を配置して該導電性部材を介して電気抵抗値を測定し、該電気抵抗値から露出不良を検出することを特徴とする。
【００２４】
本発明において、露出部の電気抵抗値の測定は、直線状に連続的に形成された露出部の長手方向におけるある２点間の電気抵抗値を測定することによって行われる。例えば、図１において、直線状に連続的に形成された露出部４ａの長手方向におけるＡ点とＢ点が上記の電気抵抗値が測定される２点に相当する。
【００２５】
図４は、本発明の測定方法を説明するための概略図であり、露出部の長手方向に導電性部材を配置したときの部分模式断面図である。符号７が導電性部材であり、該導電性部材７はメッシュ状導電層２に接触するように配置されている。メッシュ状導電層２の上に絶縁層の残留物６が存在する部分では、メッシュ状導電層２と導電性部材７とは接触しない。
【００２６】
露出部におけるある２点間の電気抵抗値の測定は、導電性部材７を介して行われる。つまり、導電性部材７の上面に電気抵抗測定器の測定端子を当てて測定される。露出部におけるある２点をＡ１とＢ１としたとき、Ａ１−Ｂ１間の電気抵抗値は導電性部材７上のＡ１点とＢ１点に電気抵抗測定器の測定端子を当てて測定される。
【００２７】
図４において、Ａ１点とＢ１点は、メッシュ状導電層上に絶縁層の残留物が存在せずにメッシュ状導電層がほぼ完全に露出している正常な部分であり、Ａ１−Ｂ１間の電気抵抗値は、理論的には以下の数式から求められる。
・１／Ｒ-＝（１／Ｒａ）＋（１／Ｒｂ）
（式中、ＲはＡ１−Ｂ１間の電気抵抗値、ＲａはＡ１−Ｂ１間と同じ端子間距離でメッシュ状導電層のみを測定したときの電気抵抗値、ＲｂはＡ１−Ｂ１間と同じ端子間距離で導電性部材のみを測定したときの電気抵抗値をそれぞれ表す。）。
【００２８】
例えば、メッシュ状導電層の電気抵抗値Ｒａが０．１Ω、導電性部材の電気抵抗値Ｒｂが１Ωであるとすると、Ａ１−Ｂ１間の電気抵抗値Ｒは、上記式より、０．０９１Ωとなる。
【００２９】
一方、図４において、Ａ１−Ｂ１間と同じ距離だけ離れた露出部における他の２点をＡ２とＢ２としたとき、Ａ２点とＢ２点はメッシュ状導電層上に絶縁層の残留物６が存在しているために、メッシュ状導電層２と導電性部材７は接触せず、従って、Ａ２−Ｂ２間の電気抵抗値は、Ａ１−Ｂ１間と同じ端子間距離で導電性部材のみを測定したときの電気抵抗値Ｒｂとなる。例えば、導電性部材の電気抵抗値Ｒｂが１Ωであるとすると、Ａ２−Ｂ２間の電気抵抗値は１Ωとなる。
【００３０】
正常露出部であるＡ１−Ｂ１間の電気抵抗値が０．０９１Ωであるのに対して、露出不良部であるＡ２−Ｂ２間の電気抵抗値は１Ωであり、この電気抵抗値の差から、露出不良を検出することができる。
【００３１】
また、図４において、Ａ１−Ｂ１間と同じ距離だけ離れた露出部におけるある２点をＢ１とＡ２としたとき、Ｂ１点はほぼ完全にメッシュ状導電層が露出し、Ａ２点は露出不良部であり、Ｂ１−Ａ２間の電気抵抗値は、Ａ１−Ｂ１間の電気抵抗値とＡ２−Ｂ２間の電気抵抗値の中間的な値となり、露出不良個所として検出することができる。
【００３２】
但し、詳しくは後述するが、上記のＢ１−Ａ２間のような露出不良ケースが、ディスプレイ用フィルターの電磁波遮蔽性に必ずしも悪影響を与えるということはなく、電磁波遮蔽性において重要なことは露出不良部分の連続長さである。従って、Ｂ１−Ａ２間における露出不良部分の長さＬが重要であり、この長さＬはＢ１−Ａ２間の電気抵抗値から経験的に求めることが可能であり、それによってＢ１−Ａ２間の露出状態を判断することができる。
【００３３】
上記した理論上の電気抵抗値に対して、それぞれの２点間の実測電気抵抗値が連動すること、及び正常露出部と露出不良部の実測電気抵抗値には明確な差があることを確認している。
【００３４】
本発明の方法を用いる際には、予め正常露出部の導電性部材を介在したときの電気抵抗値を測定しておいて、その電気抵抗値を基準にして検査することが好ましい。正常露出部の導電性部材を介在したときの電気抵抗値は、例えば、メッシュ状導電層上に絶縁層を積層する前のメッシュ状導電層を用いて測定することができる。
【００３５】
メッシュ状導電層を有するディスプレイ用フィルターをディスプレイに装着することによって、ディスプレイから発生する電磁波を問題が生じないレベルにまで遮蔽するには、図１に示すように、画像表示領域５をほぼ囲むように画像表示領域５の４辺それぞれに露出部４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄを設けることが好ましく、加えて、全露出部（露出部４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄを合わせた全長）において万遍なく外部電極と電気的に接続されていることが重要である。
【００３６】
即ち、全露出部の全長において、外部電極と電気的に接続されない部分（露出不良部分）が連続して比較的長い状態で１個所でも存在すると、全体としての電磁波遮蔽性が低下して実使用に耐えなくなることがある。実使用に支障をきたす上記露出不良部分の連続長さは、プラズマディスプレイの機種や電磁波発生量等によって異なるため一概には決められないが、一般的なプラズマディスプレイでは３〜６ｃｍ程度が１つの目安であることを確認している。
【００３７】
つまり、全露出部の全長において、連続長さが３〜６ｃｍ以上の露出不良部分が１個所でも存在すると全体としての電磁波遮蔽性が低下する危険性がある。
【００３８】
従って、本発明のディスプレイ用フィルターにおけるメッシュ状導電層の露出不良検出方法を用いて、ディスプレイ用フィルターの電磁波遮蔽性の良否を簡易的に評価する場合は、本発明の露出不良検出方法におけるある２点間の距離を露出部の長手方向に対して３〜６ｃｍとすることが好ましい。更に測定範囲の一部が重複するように２点を設定することが好ましい。
【００３９】
図５は、本発明の測定方法の一例を示す概略図であり、図１の露出部４ａの長手方向に導電性部材を配置したときの部分模式断面図である。露出部４ａの一方の端部Ｅから、Ａ１−Ｂ１間、Ａ２−Ｂ２間、Ａ３−Ｂ３間、Ａ４−Ｂ４間、Ａ５−Ｂ５間、・・・・・のそれぞれの２点間の電気抵抗値を測定する。このとき、Ａ１−Ｂ１間とＡ２−Ｂ２間、Ａ２−Ｂ２間とＡ３−Ｂ３間といった隣り合う測定範囲は、測定範囲が一部重複するように設定されている。電気抵抗値を測定するそれぞれの２点間の距離は一定であることが好ましく、また測定範囲の重複部分の長さもそれぞれ一定であることが好ましい。２点間の距離が異なっていても、測定した電気抵抗値を同一の測定距離に換算し直して対比することができるので、２点間の距離は必ずしも一定である必要はない。電気抵抗値を測定する２点間の距離は３〜６ｃｍとすることが好ましく、測定範囲の重複部分の長さは、０．５〜４ｃｍの範囲が好ましい。
【００４０】
導電性部材は、電気抵抗値が測定される露出部の２点間を被覆するように配置される。導電性部材の幅は、露出部の幅と同程度もしくは若干大きくすることが好ましい。また、導電性部材は露出部のメッシュ状導電層に接触するように配置されることが重要である。
【００４１】
本発明のディスプレイ用フィルターにおけるメッシュ状導電層の露出不良検出方法を用いて、ディスプレイ用フィルターの電磁波遮蔽性の良否を簡易的に評価する場合は、図１に示す露出部（４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄ）の平面形状とほぼ同等もしくは若干大きい平面形状を有する導電性部材をそれぞれ用意し、それぞれの露出部上に配置することが好ましい。
【００４２】
導電性部材の電気抵抗値は、メッシュ状導電層の電気抵抗値と同等もしくは大きいことが好ましく、特にメッシュ状導電層の電気抵抗値より大きいことが好ましい。メッシュ状導電層の電気抵抗値は、通常０．５Ω以下であり、０．３Ω以下であることがより好ましく、特に０．１Ω以下であることが好ましい。従って、導電性部材の電気抵抗値は、０．１〜１０Ωの範囲が好ましく、特に０．１〜１Ωの範囲が好ましい。上記のメッシュ状導電層及び導電性部材の電気抵抗値は、測定端子間の距離が４ｃｍで測定されたものである。
【００４３】
導電性部材の材質としては、導電性ペースト、導電性粘着剤、金属片、導電性粘着剤と金属箔を積層したもの、柔軟性部材（例えばスポンジ、布、不織布）に金属箔や導電性繊維（例えば金属メッキが施された繊維）を被覆したもの等が挙げられる。
【００４４】
本発明の電気抵抗値の測定に用いられる測定方法としては４端子法が好ましい。４端子法を用いた測定方法の一例を図６に示す。図６は、本発明の測定方法の一例を示す概略図であり、露出部の長手方向に導電性部材を配置したときの部分模式断面図である。図６は、それぞれ２個の測定端子１１が所定間隔で配置された測定器を用いて、露出部の端部近傍から露出部の長手方向に順次繰り返し測定するときの態様を示すものである。
【００４５】
図６の繰り返し測定方法は、実際のディスプレイ用フィルターの全露出部を測定するには、多くの労力が要するため、以下の測定装置を用いることが好ましい。
図７は、本発明のディスプレイ用フィルターにおけるメッシュ状導電層の露出不良検出方法に好適に用いられる測定装置の一例の概略図である。測定端子固定台１２に測定端子１１が２個を一対として複数取り付けられており、測定端子固定台１２は２つの支柱１３に図示しない昇降装置によって昇降自在に取り付けられている。測定端子１１の数、測定端子固定台１２の長さは、図１で示す長辺側の露出部（４ａ、４ｃ）に対応するように設計されている。測定に際しては、Ａ１−Ｂ１間、Ａ２−Ｂ２間の電気抵抗値を測定するように電気配線（図示せず）されている。
【００４６】
また、図８に示すように、導電性部材１４を測定端子１１が接触するようにを予め測定端子固定台１２に導電性部材取り付け部材１５で固定しておくと、測定時に露出部に導電性部材を配置する手間が省けるので作業効率が向上する。
【００４７】
本発明において、ディスプレイ用フィルターの周辺部に絶縁層を除去してメッシュ状導電層の露出部を形成する方法としては、イ）レーザー照射により絶縁層を蒸発させて除去する方法、ロ）超音波半田コテによって絶縁層を除去する方法、ハ）ドライエッチングによって絶縁層を除去する方法、ニ）絶縁層表面から導電層に達する切り込み線を入れて絶縁層を物理的に剥離する方法等が挙げられる。これらの中でも、特にレーザーを照射する方法が好ましく用いられる。
【００４８】
レーザーを照射する方法は、ディスプレイ用フィルターの絶縁層側表面からレーザーを照射し、絶縁層を蒸発除去してメッシュ状導電層の露出部を形成する方法である。レーザーは、絶縁層に非接触で絶縁層を除去することができるので好ましい。
【００４９】
レーザーの出力源としては、ヨウ素、ＹＡＧ、ＣＯ２などがあるが、特にＣＯ２レーザーは、金属からなるメッシュ状導電層は破壊せずに有機物を主成分とする絶縁層を蒸発させて除去することができるという点で好ましい。
【００５０】
ディスプレイ用フィルターの周辺部にメッシュ状導電層の露出部を形成する工程は、ディスプレイ用フィルターをディスプレイパネルに装着する前に実施してもよいし、あるいはディスプレイ用フィルターをディスプレイパネルに装着後に実施してもよい。
【００５１】
本発明にかかるディスプレイ用フィルターは、メッシュ状導電層上に絶縁層が積層されたものである。ここで、絶縁層とは、電気抵抗値が１００Ω以上であることを意味する。上記の絶縁層の電気抵抗値は、測定端子間の距離が４ｃｍで測定されたものである。
【００５２】
絶縁層は、ハードコート層、反射防止層、防眩層、粘着剤層、近赤外線遮蔽層、及びプラスチックフィルム層の中から選ばれる少なくとも１つの層を含むことが好ましく、更に、ハードコート層、反射防止層、及び防眩層の中から選ばれる少なくとも１つの層を含むことが好ましい。
【００５３】
絶縁層は、単一層あるいは複数層で構成することができる。絶縁層は特にハードコート層を少なくとも含むことが好ましい。
【００５４】
絶縁層は、メッシュ状導電層上に直接積層されていることが好ましく、更に塗工によって積層されていることが好ましい。
【００５５】
絶縁層の特に好ましい態様は、メッシュ状導電層上に直接にハードコート層が塗工によって積層されていることである。この場合、絶縁層はハードコート層のみであってもよいし、あるいはハードコート層上に反射防止層が積層された構成であってもよい。
【００５６】
絶縁層として好ましく用いられるハードコート層は、樹脂として熱硬化性樹脂や活性エネルギー線硬化性樹脂が好ましく用いられ、特に活性エネルギー線硬化性樹脂が好ましく用いられる。
【００５７】
上記熱硬化性樹脂としては、熱によって重合又は架橋する、アクリル系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリオレフィン系樹脂、フッ素系樹脂、ポリイミド系樹脂等が挙げられる。
【００５８】
上記活性エネルギー線硬化性樹脂としては、ビニル基、アリル基、（メタ）アクリロイル基、（メタ）アクリロイルオキシ基等のエチレン性不飽和基を有する、モノマー、オリゴマー、プレポリマーを適宜混合した組成物を用いることができる。
【００５９】
モノマーの例としては、スチレン、メチル（メタ）アクリレート、ラウリル（メタ）アクリレート、エトキシジエチレングリコール（メタ）アクリレート、メトキシトリエチレングリコール（メタ）アクリレート、フェノキシエチル（メタ）アクリレート、テトラヒドロフルフリル（メタ）アクリレート、イソボルニル（メタ）アクリレート、２−ヒドロキシエチル（メタ）アクリレート、２−ヒドロキシプロピル（メタ）アクリレート、２−ヒドロキシ−３−フェノキシ（メタ）アクリレート等の単官能アクリレート、ネオペンチルグリコールジ（メタ）アクリレート、１，６−ヘキサンジオールジ（メタ）アクリレート、トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ペンタエリスリトールトリ（メタ）アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールトリ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ（メタ）アクリレート、トリペンタエリスリトールトリ（メタ）アクリレート、トリペンタエリスリトールヘキサ（メタ）トリアクリレート、トリメチロールプロパン（メタ）アクリル酸安息香酸エステル、トリメチロールプロパン安息香酸エステル等の多官能アクリレート、グリセリンジ（メタ）アクリレートヘキサメチレンジイソシアネート、ペンタエリスリトールトリ（メタ）アクリレートヘキサメチレンジイソシアネート等のウレタンアクリレート等を挙げることができる。
【００６０】
オリゴマー、プレポリマーとしては、ポリエステル（メタ）アクリレート、ポリウレタン（メタ）アクリレート、エポキシ（メタ）アクリレート、ポリエーテル（メタ）アクリレート、アルキット（メタ）アクリレート、メラミン（メタ）アクリレート、シリコーン（メタ）アクリレート等を挙げることができる。
【００６１】
上記した、モノマー、オリゴマー、プレポリマーは、単独もしくは複数混合して使用してもよいが、３官能以上の多官能モノマーを用いることが好ましい。
【００６２】
上記した、モノマー、オリゴマー、プレポリマーの重合を開始させるために、光重合開始剤を含有することが好ましい。かかる光重合開始剤の具体例としては、アセトフェノン、２，２−ジエトキシアセトフェノン、ｐ−ジメチルアセトフェノン、ｐ−ジメチルアミノプロピオフェノン、ベンゾフェノン、２−クロロベンゾフェノン、４，４’−ジクロロベンゾフェノン、４，４’−ビスジエチルアミノベンゾフェノン、ミヒラーケトン、ベンジル、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、メチルベンゾイルフォルメート、ｐ−イソプロピル−α−ヒドロキシイソブチルフェノン、α−ヒドロキシイソブチルフェノン、２，２−ジメトキシ−２−フェニルアセトフェノン、１−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトンなどのカルボニル化合物、テトラメチルチウラムモノスルフィド、テトラメチルチウラムジスルフィド、チオキサントン、２−クロロチオキサントン、２−メチルチオキサントンなどの硫黄化合物などを用いることができる。これらの光重合開始剤は単独で使用してもよいし、２種以上組み合せて用いてもよい。
【００６３】
絶縁層として、上記ハードコート層と反射防止層との積層構成を採用することができる。かかる反射防止層としては屈折率が１．２５〜１．４５の低屈折率層が好ましく用いられる。
【００６４】
絶縁層の厚みは、メッシュ状導電層上の厚みとして０．５〜２０μｍの範囲が好ましく、０．８〜１５μｍの範囲がより好ましく、更に１〜１０μｍの範囲が好ましく、特に１．５〜８μｍの範囲が好ましい。
【００６５】
本発明にかかるディスプレイ用フィルターは、基材上にメッシュ状導電層を有する。メッシュ状導電層の製造方法は、当分野で公知の方法を用いることができる。
メッシュ状導電層の製造方法としては、例えば、イ）メッシュ状導電層は、基材上に接着剤を介して貼り付けられた金属箔（例えば、銅箔、アルミ箔等）あるいは気相製膜法（スパッタ、真空蒸着等）で基材上に積層された金属膜をフォトリソエッチングしてメッシュ状に加工する方法、ロ）上記のようにして基材上に積層された金属箔や金属膜上に、印刷法でメッシュパターンのレジスト膜を印刷した後エッチング加工する方法、ハ）基材上に金属メッキの触媒層を印刷によってメッシュパターン状に印刷した後金属メッキする方法等が挙げられる。
【００６６】
メッシュ状導電層のメッシュパターンの形状（開口部の形状）は、例えば、正方形、長方形、菱形等の４角形からなる格子状メッシュパターン、三角形、５角形、６角形、８角形、１２角形のような多角形からなるメッシュパターン、円形、楕円形からなるメッシュパターン、前記の複合形状からなるメッシュパターン、及びランダムメッシュパターンが挙げられる。上記の中でも、４角形からなる格子状メッシュパターン、６角形からなるメッシュパターンが好ましく、更に規則的なメッシュパターンが好ましく用いられる。
【００６７】
メッシュ状導電層の厚みは、０．５〜１０μｍの範囲が適当であり、１〜８μｍの範囲が好ましく、特に１〜６μｍの範囲が好ましい。
【００６８】
メッシュ状導電層の線幅は、３〜５０μｍ程度が適当であり、５〜４０μｍの範囲が好ましく、６〜３０μｍの範囲がより好ましく、特に８〜２５μｍの範囲が好ましい。メッシュ状導電層のピッチ（隣接する細線部と細線部との距離）は、５０〜５００μｍの範囲が適当であり、７５〜４５０ｎｍの範囲が好ましく、１００〜３５０μｍの範囲が更に好ましい。
【００６９】
本発明のディスプレイ用フィルターにおける基材としては、ガラス板、樹脂板、プラスチックフィルム等を用いることができる。特にプラスチックフィルムが好ましく用いられる。かかるプラスチックフィルムを構成する樹脂としては、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル樹脂、トリアセチルセルロース等のセルロース樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリブチレン等のポリオレフィン樹脂、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂、アートン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリエーテルスルフォン樹脂等が挙げられる。これらの中でも、ポリエステル樹脂、ポリオレフィン樹脂およびセルロース樹脂が好ましく、特にポリエステル樹脂が好ましく用いられる。プラスチックフィルムの厚みとしては、５０〜３００μｍの範囲が適当であるが、コストの観点およびディスプレイ用積層体の剛性を確保するという観点から９０〜２５０μｍの範囲が特に好ましい。
【００７０】
本発明に用いられるプラスチックフィルムは、メッシュ状導電層あるいは後述する近赤外線遮蔽層や粘着剤層等との密着性（接着強度）の強化のための易接着層（プライマー層）が予め積層されたものが好ましい。
【００７１】
本発明のディスプレイ用フィルターは、基材に対してメッシュ状導電層とは反対面に近赤外線遮蔽層を有することが好ましい。かかる近赤外線遮蔽層は、波長８００〜１１００ｎｍの範囲における平均透過率が２０％以下となるように調整するのが好ましい。近赤外線遮蔽層は、近赤外線吸収剤を含む樹脂層であってもよいし、近赤外線吸収剤を含む粘着剤層であってもよい。近赤外線吸収剤としては、フタロシアニン系化合物、アントラキノン系化合物、ジチオール系化合物、ジイモニウム系化合物等の有機系近赤外線吸収剤、あるいは酸化チタン、酸化亜鉛、酸化インジウム、酸化錫、硫化亜鉛、セシウム含有酸化タングステン等の無機系近赤外線吸収剤を用いることができる。
【００７２】
樹脂バインダーとしては、ポリエステル系樹脂、（ メタ） アクリル系樹脂、（ メタ） アクリルウレタン系樹脂、ポリカーボネート系樹脂等が好ましく用いられ、中でも（ メタ） アクリル系樹脂が好適である。
【００７３】
粘着剤としては、アクリル系、シリコーン系、ウレタン系、ポリビニルブチラール系、エチレン−酢酸ビニル系等の粘着剤層を用いることができる。特にアクリル系粘着剤が好ましい。
【００７４】
近赤外線遮蔽層には、更に、５７０〜６１０ｎｍに極大吸収を有する色素、例えばテトラアザポルフィリン系色素を含有させることが好ましい。前記吸収極大波長における透過率は３０％以下となるように調整することが好ましい。
【００７５】
また、近赤外線遮蔽層には、５００ｎｍ付近、５５０ｎｍ付近に吸収を有する色素を含有させて色補正機能を付与することができる。
【００７６】
本発明のディスプレイ用フィルターは、基材に対してメッシュ状導電層とは反対側の最表面に粘着剤層を有することが好ましい。かかる粘着剤層は、本発明のディスプレイ用フィルターを、ディスプレイに直接にあるいはガラス板やアクリル板等の高剛性の透明基板を介して間接的に貼り付ける役目を有する。本発明のディスプレイ用フィルターは、ディスプレイに直接に貼り付けられることが好ましい。
【００７７】
また、近赤外線遮蔽層が粘着剤層である場合は、この粘着剤層が上記の貼着用粘着剤層の役目を兼ねることができる。
【符号の説明】
【００７８】
１  基材  
２  メッシュ状導電層
３  絶縁層
４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄ  メッシュ状導電層の露出部
５  画像表示領域
６  絶縁層の残留物
７、１４  導電性部材
１１  測定端子
１２  測定端子固定台
１３  支柱
１４  導電性部材取り付け部材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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