(57)【要約】【課題】記録の深さを維持しつつ、記録パルスの照射パワーおよび記録パルス波形を補正する光ディスク装置を提供する。【解決手段】本発明の光ディスク装置２００は、ベータ測定部６０と、マークエッジずれ測定部７０と、ライトストラテジ演算部１００と、補正パワー演算部１２０と、を有する。ベータ測定部６０は、光ディスク１からの反射光レベルに基づいてこの光ディスクにおける記録の深さβを測定する。マークエッジずれ測定部７０は、基準クロックエッジとマークエッジとの間のマークエッジずれを測定する。ライトストラテジ演算部１００は、測定されたマークエッジのずれに基づいて記録パルス波形の補正量を算出する。補正パワー演算部１２０は、記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さβに及ぼす影響を算出し、測定された記録の深さβにこの影響を加算することにより、記録パルスの照射パワーの補正量を算出する。【選択図】図１
2011134397.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録パルス光を照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスク装置であって、
前記光ディスクからの反射光レベルに基づいて当該光ディスクにおける記録の深さを測定する記録品質測定手段と、
基準クロックエッジとマークエッジとの間のマークエッジずれを測定するマークエッジずれ測定手段と、
測定された前記マークエッジずれに基づいて記録パルス波形の補正量を算出する補正パルス算出手段と、
前記記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さに及ぼす影響を算出し、測定された前記記録の深さに当該影響を加算することにより、前記記録パルスの照射パワーの補正量を算出する補正パワー算出手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記記録パルスの照射パワーの補正量を算出すると同時に、前記記録パルスの照射パワーの変化がマークエッジずれを変化させることによる前記記録パルス波形に及ぼす影響を算出し、前記記録パルス波形の補正量に当該影響を加算することにより、前記記録パルス波形の補正量を算出することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記記録の深さが規定値に達するまで、前記記録パルスの照射パワーを補正することを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記補正パワー算出手段は、前記記録パルス波形の幅の変化量と前記記録の深さの変化量との比に相当するβ影響係数のテーブルを保持しており、前記記録の深さに及ぼす影響は、当該β影響係数に基づいて算出されることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記β影響係数は、前記光ディスクの種類、記録速度、および記録材料のうちの少なくとも１つについて分類されて格納されることを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記光ディスクのテスト領域を用いて記録および再生したのち、前記β影響係数が算出され前記テーブルに格納されることを特徴とする請求項４または５に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
記録パルス光を光ディスクに照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスクの記録方法であって、
前記光ディスクからの反射光レベルに基づいて当該光ディスクにおける記録の深さを測定する段階と、
基準クロックエッジとマークエッジとの間のマークエッジずれを測定する段階と、
前記記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さに及ぼす影響を算出し、測定された前記記録の深さに当該影響を加算することにより、前記記録パルスの照射パワーの補正量を算出する段階と、
を有することを特徴とする光ディスクの記録方法。
【請求項８】
記録パルス光を光ディスクに照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスクの記録方法であって、
前記光ディスクからの反射光レベルに基づいて当該光ディスクにおける記録の深さを測定する段階と、
基準クロックエッジとマークエッジとの間のマークエッジずれを測定する段階と、
前記記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さに及ぼす影響を算出し、測定された前記記録の深さに当該影響を加算することにより、前記記録パルスの照射パワーの補正量を算出すると同時に、前記記録パルスの照射パワーの変化がマークエッジずれを変化させて前記記録パルス波形に及ぼす影響を算出し、前記記録パルス波形の補正量に当該影響を加算することにより、前記記録パルス波形の補正量を算出する段階と、
を有することを特徴とする光ディスクの記録方法。
【請求項９】
前記記録の深さが規定値に達するまで、前記記録パルスの照射パワーの補正量の算出が繰り返されることを特徴とする請求項７または８に記載の光ディスクの記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置およびその記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、マルチメディア技術の進歩に伴い、情報を大量かつ高速に記録することができる光ディスク装置に対する需要が高まっている。光ディスク装置の記録時間の短縮には、種々の記録条件に応じて記録パルス波形および記録パルスの照射パワーを調整する時の調整時間の削減が重要である。光ディスク装置の記録時間を短縮する技術としては、下記特許文献１が知られている。
【０００３】
特許文献１の光情報記録装置は、記録パルスの照射パワーの変化によるマークエッジずれを予め求めておくことにより、記録パルスの照射パワーおよびマークエッジずれを同時に補正して記録時間を短縮している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−２７７８３２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記特許文献１の光情報記録装置では、記録パルスの照射パワーおよびマークエッジずれが同時に補正されるものの、記録品質を示す記録の深さが補正後において維持されないという問題がある。
【０００６】
本発明は、上述した問題を解決するためになされたものである。したがって、本発明の目的は、記録の深さを維持しつつ、記録パルスの照射パワーおよび記録パルス波形を補正する光ディスク装置を提供することである。
【０００７】
また、本発明の他の目的は、上記光ディスク装置を用いた光ディスクの記録方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の上記目的は、下記の手段によって達成される。
【０００９】
本発明の光ディスク装置は、記録品質測定手段と、マークエッジずれ測定手段と、補正パルス算出手段と、補正パワー算出手段と、を有する。記録品質測定手段は、光ディスクからの反射光レベルに基づいて光ディスクにおける記録の深さを測定する。マークエッジずれ測定手段は、基準クロックエッジとマークエッジとの間のずれを測定する。補正パルス算出手段は、測定されたマークエッジずれに基づいて記録パルス波形の補正量を算出する。補正パワー算出手段は、記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さに及ぼす影響を算出し、測定された記録の深さにこの影響を加算することにより、記録パルスの照射パワーの補正量を算出する。
【００１０】
本発明の光ディスクの記録方法は、光ディスクからの反射光レベルに基づいて光ディスクにおける記録の深さを測定する段階と、基準クロックエッジとマークエッジとの間のマークエッジずれを測定する段階と、記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さに及ぼす影響を算出し、測定された記録の深さにこの影響を加算することにより、記録パルスの照射パワーの補正量を算出する段階と、を有する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の光ディスク装置およびその記録方法によれば、記録の深さを維持しつつ、記録パルスの照射パワーおよび記録パルス波形を補正するため、記録の深さを維持したまま記録時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１の実施の形態における光ディスク装置のブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態におけるβを説明するためのＲＦ信号波形を示す図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態における光ディスクの上面図である。
【図４】本発明の第１の実施の形態における光ディスクに記録されるマークとスペースとの関係を説明するための図である。
【図５】図１に示す光ディスク装置の補正パワー演算部の構成を説明するためのブロック図である。
【図６】本発明の第１の実施の形態における光ディスクに記録されるマークを説明するための図である。
【図７】本発明の第１の実施の形態における記録パルスの変化量と記録の深さβとの関係を説明するための図である。
【図８】本発明の第１の実施の形態における記録パルスの照射パワーと記録の深さβとの関係を説明するための図である。
【図９】本発明の第１の実施の形態における光ディスクの記録方法を説明するフローチャートである。
【図１０】本発明の第２の実施の形態における光ディスクの記録方法を説明するフローチャートである。
【図１１】本発明の第３の実施の形態における光ディスクの記録方法を説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、添付した図面を参照して本発明の光ディスク装置の実施の形態を説明する。なお、図中、同一の部材には同一の符号を用いた。また、図面の寸法比率は、説明の都合上誇張されており、実際の比率とは異なる場合がある。以下の各実施の形態では、光ディスクとしてＤＶＤ＋Ｒを例示して説明する。
【００１４】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の第１の実施の形態における光ディスク装置のブロック図である。本実施の形態の光ディスク装置は、記録の深さを維持しつつ、記録パルスの照射パワーおよび記録パルス波形を補正するものである。図１に示すとおり、本実施の形態の光ディスク装置２００は、光ピックアップ１０、スピンドルモータ２０、ヘッドアンプ３０、二値化回路４０、デコーダ５０、ベータ測定部６０、マークエッジずれ測定部７０、ＲＡＭ８０、データ弁別演算部９０、ライトストラテジ演算部１００、ジッタ演算部１１０、補正パワー演算部１２０、エンコーダ１３０、記録パルス調整部１４０、レーザ駆動部１５０、および制御部１６０を有する。なお、本実施の形態では、記録速度が光ディスクの内側と外側とで変化するＣＡＶ記録方式を採用している光ディスク装置を例示して説明する。
【００１５】
光ピックアップ１０は、光ディスク１にパルス光を照射するとともに、光ディスク１からの反射光を受光するためのものである。より具体的には、光ピックアップ１０は、レーザ光源および受光部を有し、スピンドルモータ２０により回転された光ディスク１にレーザパルス光を照射するとともに、光ディスク１の記録面で反射された反射光を受光する。レーザ光源としては、レーザダイオードなどの発光素子が用いられる。受光部は、光ディスクの記録面で反射されたレーザ光を受光して電気信号に変換する複数の受光素子を有する。
【００１６】
ヘッドアンプ３０は、光ピックアップ１０により読み込まれた光ディスクの記録情報からＲＦ信号を生成するものである。より具体的には、ヘッドアンプ３０は、光ピックアップ１０の受光部からの信号を演算および増幅して、読み込まれた光ディスク１の記録情報からＲＦ信号を生成する。
【００１７】
二値化回路４０は、ヘッドアンプ３０により生成されたＲＦ信号をハイまたはローの二値化信号に変換するものである。
【００１８】
デコーダ５０は、二値化回路４０により生成された二値化信号を復号化し再生信号として出力するものである。また、デコーダ５０は、再生信号から基準クロック信号を抽出する。
【００１９】
以上のとおり、光ピックアップ１０から照射されたレーザ光は、光ディスク１の記録面で反射され、反射光は光ピックアップ１０に内蔵された受光部によって取り込まれたのち電気信号に変換される。受光部から出力された電気信号は、ヘッドアンプ３０により演算および増幅されたのち二値化回路に伝達され、デコーダ５０を介して再生信号として出力される。
【００２０】
ベータ測定部６０は、ヘッドアンプ３０で生成されたＲＦ信号から光ディスク１の記録の深さを算出するものである。本実施の形態では、記録の深さとしてベータ値（以下、β値と称する）が用いられる。β値は、図２に示すように、ＲＦ信号をＡＣカップリングにおいてグランド基準から測定した時、上振幅をＡ１、下振幅をＡ２とすれば、次式で定義される。
【００２１】
【数１】
2011134397.tif 000003
【００２２】
β値は、光ディスクの記録品質を示す指標として用いられ、理想的には０％であるが、使用するディスクや記録速度により異なる値をとる。
【００２３】
マークエッジずれ測定部７０は、マークエッジずれを測定するためのものである。より具体的には、マークエッジずれ測定部７０は、二値化回路４０により生成された二値化信号と、デコーダ５０で抽出された基準クロックとに基づいてマークエッジずれを測定する。
【００２４】
ＲＡＭ８０は、マークエッジずれ測定部７０で測定されたマークエッジずれに関するデータを格納するためのものである。より具体的には、ＲＡＭ８０は、例えば、マーク長およびスペース長別に分類されたマークエッジずれデータとそのサンプル数などを格納する。
【００２５】
データ弁別演算部９０は、ＲＡＭ８０に格納されたマークエッジずれのデータを弁別するためのものである。より具体的には、データ弁別演算部９０は、ＲＡＭ８０に格納されたマークエッジずれのデータから必要に応じてデータを弁別して出力する。
【００２６】
ライトストラテジ演算部１００は、データ弁別演算部９０で弁別されたデータに基づいてライトストラテジを演算するものである。本実施の形態においては、ライトストラテジは、特定の記録条件下において、記録パルス波形の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングと、立ち上がりエッジから立ち下がりエッジまでの信号幅を規定するものである。
【００２７】
ライトストラテジ演算部１００は、デフォルトのライトストラテジを格納するためのＲＯＭと、演算により求められたライトストラテジを一時的に記憶するためのＲＡＭを有する。本実施の形態では、光ディスク装置２００はＣＡＶ記録方式を採用しているので、記録速度が光ディスクの内側と外側とで異なる。ライトストラテジ演算部１００は、記録速度に応じてライトストラテジをどのように変化させるかを規定する情報をＲＯＭに保持しており、記録速度に応じてライトストラテジを適宜変更する。より具体的には、ライトストラテジ演算部１００は、例えば、光ディスクの記録速度が所定量変化した位置などにおいて記録動作を一時的に中断し、直前の記録情報を再生してβずれおよびマークエッジずれを測定して、照射パワーおよびライトストラテジを最適な値に変更する。
【００２８】
ジッタ演算部１１０は、データ弁別演算部９０で弁別されたデータに基づいてジッタ値を算出するものである。より具体的には、ジッタ演算部１１０は、例えば、記録パルス波形別またはマーク長別のマークエッジずれデータの標準偏差を計算することによりジッタ値を算出する。本実施の形態では、ジッタ値が、例えば９％以下の範囲に維持される。
【００２９】
補正パワー演算部１２０は、記録パルスの照射パワーの補正量を演算するためのものである。より具体的には、補正パワー演算部１２０は、記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さβに及ぼす影響を算出し、測定された記録の深さβにこの影響を加算することにより、記録パルスの照射パワーの補正量を算出するためのものである。なお、本明細書では、記録パルス波形の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングと、立ち上がりエッジから立ち下がりエッジまでの信号幅とを補正することを記録パルス波形の補正と称する。
【００３０】
エンコーダ１３０は、入力された記録信号を符号化された所定の信号に変換するものである。より具体的には、エンコーダ１３０は、例えば、記録信号を８／１６変調で符号化する。
【００３１】
記録パルス調整部１４０は、記録パルスを生成するものである。より具体的には、記録パルス調整部１４０は、エンコーダ１３０で符号化された信号とライトストラテジ演算部１００で規定されたライトストラテジとに基づいて記録パルスを生成する。
【００３２】
レーザ駆動部１５０は、光ピックアップ１０のレーザを駆動するものである。より具体的には、レーザ駆動部１５０は、記録パルス調整部１４０で生成された記録パルスを光ピックアップ１０のレーザダイオードに供給することによりレーザダイオードを駆動する。
【００３３】
以上のとおり、エンコーダ１３０に入力された記録信号は、符号化されたのち、記録パルス調整部１４０に入力される。記録パルス調整部１４０では、ライトストラテジ演算部１００で規定されたライトストラテジに基づいて記録パルスが生成され、レーザ駆動部１５０に供給される。そして、補正パワー演算部１２０により算出された補正量に基づいたパワーでレーザ駆動部１５０が駆動され、照射された記録パルス光により光ディスク１の記録面に情報が記録される。
【００３４】
制御部１６０は、光ディスク装置２００の記録動作および再生動作を制御するものである。より具体的には、制御部１６０は、通常の記録動作および再生動作に関する制御機能に加え、記録パルスの照射パワー補正およびライトストラテジ補正に関する制御機能も有する。
【００３５】
以上のとおり、本実施の形態の光ディスク装置の記録系および再生系における信号処理の概略を説明した。本実施の形態の光ディスク装置の他の構成要素については、従来の光ディスク装置と同様であるので説明を省略する。
【００３６】
次に、図３〜図５を参照して、本実施の形態の光ディスクと、光ディスクに記録されるマークおよびスペースついて説明する。
【００３７】
図３は、本実施の形態における光ディスク１の上面図である。光ディスク１は、記録情報を書き込むための記録領域１ａと、内周に沿って配置された内側テスト領域１ｂと、外周に沿って配置された外側テスト領域１ｃとを有する。また、光ディスク１には、光ディスク１の製造メーカ、型番などの固有情報などが予め記録されている。
【００３８】
光ディスク１の種類としては、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ブルーレイなどが挙げられる。本実施の形態では、光ディスク１としてＤＶＤ＋Ｒディスクの場合を例示して説明する。また、光ディスク１の記録材料としては、ＤＶＤ＋Ｒの場合、例えばシアニン系、アゾ系などの有機色素材料が使用される。
【００３９】
図４は、本実施の形態の光ディスクに記録されるマークとスペースとの関係を説明するための図である。図４に示すとおり、記録パルスは、第１のマークと第２のマークとの間にスペースを有する。基準クロックｍ周期分のマーク（ｍＴマーク）に基準クロックｎ周期分スペース（ｎＴスペース）が続いた場合、記録パルス変化量Ｘｍ，ｎに対して第１のマークの前エッジはΔＴＦ１（ｍ，ｎ）だけずれ、後エッジはΔＴＲ（ｍ，ｎ）だけずれる。さらに、第１のマークと第２のマークとの間に熱干渉がある場合は、記録パルス変化量Ｘｍ，ｎに対して第２のマークの前エッジもΔＴＦ２（ｍ，ｎ）だけずれる。この△ＴＲ、△ＴＦ１、△ＴＦ２など生成マークエッジの基準クロックからのずれは、Ｄ２Ｃデビエーション（Ｄａｔａ  Ｔｏ  Ｃｌｏｃｋ  Ｄｅｖｉａｔｉｏｎ）と呼ばれる。
【００４０】
マークエッジのずれ量からライトストラテジを設定する手法はすでに提案されている。例えば、再生信号から抽出されるクロック信号を用いて、記録されたマークに対応する再生パルス信号とクロック信号とのずれ量を検出し、すべてのマークおよびスペースのエッジのタイミングがクロックに対して、同じだけずれた状態になるように全体をシフトさせて調整する手法が知られている。本実施の形態では、このライトストラテジを設定する手法を採用することができる。しかしながら、ライトストラテジを設定する手法は、これに限定されない。
【００４１】
次に、図５〜図８を参照して本実施の形態の記録パルスの照射パワー補正について説明する。図５は、本実施の形態の補正パワー演算部の構成を説明するためのブロック図である。補正パワー演算部１２０は、記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さβに及ぼす影響を算出し、測定された記録の深さβにこの影響を加算することにより、記録パルスの照射パワーの補正量を算出する。
【００４２】
図５に示すとおり、補正パワー演算部１２０は、テーブル群１２１と、加算部１２２と、パワー補正量算出部１２３とを有する。補正パワー演算部１２０は、記録パルス波形の幅の変化量と記録の深さβの変化量との比に相当するβ影響係数Ｋが格納されたテーブルを保持しており、記録の深さβに及ぼす影響はこのβ影響係数Ｋに基づいて算出される。
【００４３】
テーブル群１２１は、光ディスク１の種類ごとにβ影響係数Ｋが格納されたテーブル１、記録速度ごとにβ影響係数Ｋが格納されたテーブル２、記録材料ごとにβ影響係数Ｋが格納されたテーブル３のうちの少なくとも１つを有する。すなわち、β影響係数Ｋは、光ディスクの種類、記録速度、および記録材料のうちの少なくとも１つについて分類されて格納されている。テーブル群１２１は、ライトストラテジ演算部１００で規定されたライトストラテジに応じて適切なテーブルを選択し、β影響係数Ｋを出力する。
【００４４】
積算部１２２は、β影響係数Ｋと記録パルス変化量Ｘとの積の総和βｗｓｔを算出するものである。
【００４５】
図６は、記録パルス変化に対する生成マークの変化を示すものである。３Ｔ、４Ｔ、５Ｔパルスの後端エッジをＸだけ遅延させるとき、生成マークの後エッジも△Ｔだけ遅延する事を示している。
【００４６】
図７は、図６における記録パルスの変化量Ｘと記録の深さβとの関係を説明するための図である。図７は、記録パルスの照射パワーを一定にして４倍速でＤＶＤ＋Ｒに記録したときの記録パルス変化量Ｘと記録の深さβとの関係を測定した結果の一例である。図７において、実線はマーク長が３Ｔの場合、破線はマーク長が４Ｔ場合、一点鎖線はマーク長が５Ｔの場合をそれぞれ示す。図７に示すとおり、記録の深さβは、記録パルス変化量Ｘに対して傾きＫで直線的に変化する。傾きＫは、そのマーク長におけるβ影響係数に相当し、一般にマーク長ごとに異なる。傾きＫがマーク長ごとに異なるのは、各々のマークの存在確率の違いと、β影響係数の違いとによる。また、傾きＫは、マーク長に加えてスペース長によっても影響を受ける。
【００４７】
光ディスクに形成された任意のマークｉＴおよびスペースｊＴの組合せについての傾きをＫｉ，ｊと表記すれば、マークおよびスペースの全組合せによる記録の深さβへの影響は、記録パルス変化量Ｘｉ，ｊにＫｉ，ｊを乗じて、ｉおよびｊについて総和をとることによって算出される。すなわち、次の数式２のとおり、記録パルス波形の変化による記録の深さβの変化量βｗｓｔを見積ることができる。ここで、ｉおよびｊの範囲は、光ディスクの種類により異なる。本実施の形態では、光ディスクとしてＤＶＤ＋Ｒが使用され、そのマーク長およびスペース長はともに３Ｔ〜１４Ｔの範囲にあるので、ｉおよびｊの範囲は３〜１４となる。
【００４８】
【数２】
2011134397.tif 000004
【００４９】
図８は、本実施の形態における記録パルスの照射パワーと記録の深さβとの関係を説明するための図である。図８は、４倍速で記録したときの記録パルスの照射パワーと記録の深さβとの関係を測定した結果の一例である。図８に示すとおり、記録の深さβは記録パルスの照射パワーに対して直線的に変化する。直線の傾きβｓは、記録パルスの照射パワーを１ｍＶ変化させたときの記録の深さβの変化量に相当するものでβ感度と呼ばれる。
【００５０】
数式２で算出された記録の深さβの変化量βｗｓｔおよびβ感度βｓを用いて、次の数式３のとおり、記録パルスの照射パワーの変化量ΔＰｗを見積ることができる。
【００５１】
【数３】
2011134397.tif 000005
【００５２】
パワー補正量算出部１２３は、積算部１２２で得られた総和βｗｓｔと、ベータ測定部６０で測定されたβ値と、β感度βｓと、βｔとに基づいて記録パルスのパワー補正量ΔＰｗを算出する。ここで、βｔは、記録時の目標β値である。
【００５３】
したがって、補正パワー演算部１２０の構成によれば、記録パルス波形の補正が記録の深さβに及ぼす影響を予め見込んで記録パルスの照射パワーの補正量を算出するので、記録の深さβが記録パルス波形の補正によって変化することが防止される。
【００５４】
以上のとおり構成される本実施の形態の光ディスク装置では、記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さβに及ぼす影響を算出し、測定されたβ値にこの影響を加算することにより、記録パルスの照射パワーの補正量が算出される。したがって、本実施の形態の光ディスク装置によれば、記録の深さβを維持しつつ、記録パルスの照射パワーおよび記録パルス波形を補正するため、記録の深さβを維持したまま記録時間を短縮することができる。
【００５５】
次に、図９を参照して、本実施の形態における光ディスクの記録方法について説明する。図９は、本実施の形態における光ディスクの記録方法を説明するフローチャートである。
【００５６】
まず、通常の記録動作を中断し、中断直前の記録情報を再生する（ステップＳ１０１）。より具体的には、通常の記録動作が実行されている状態において記録を中断したのち、中断直後に再生動作を開始するように制御部１６０が各部へ指示を出力する。
【００５７】
次に、中断直前の記録情報が再生され、記録の深さβおよびジッタが測定される（ステップＳ１０２）。より具体的には、ベータ測定部６０が、光ディスクからの反射光レベルに基づいて光ディスクにおける記録の深さを測定する。このとき、ベータ測定部６０が記録の深さβを測定するように、制御部１６０がベータ測定部６０に対して指示を出力する。また、マークエッジずれ測定部７０が、基準クロックエッジとマークエッジとの間のマークエッジずれを測定し、測定されたマークエッジずれに基づき、ジッタ演算部１１０がジッタ値を算出する。このとき、制御部１６０がマークエッジずれ測定部７０、ＲＡＭ８０、データ弁別演算部９０、およびジッタ演算部１１０に対してそれぞれ指示を出力する。
【００５８】
次に、目標β値と測定されたβ値との差Δβの絶対値が、規定値よりも小さいか否かが判断される（ステップＳ１０３）。より具体的には、目標β値と測定されたβ値との差であるΔβの絶対値と所定のβ値（限界β偏差と称する）とが比較される。
【００５９】
Δβの絶対値が限界β偏差以上の場合（ステップＳ１０３：ＮＯ）は、記録パルスの照射パワー補正を実行する（ステップＳ１０９）。ここで、Δβの絶対値が限界β偏差以上の場合は、目標とする記録品質と現状の記録品質との間に大きな差があるものと判断し、ライトストラテジ補正は実行せずに記録パルスの照射パワー補正のみを実行することにより、記録の深さβを目標β値に迅速に収束させる。すなわち、Δβの絶対値が限界β偏差以上の場合は、先に記録パルスの照射パワー補正のみを実行し、記録の深さβが所定の範囲に収まったならば、記録の深さβを維持しつつ記録パルスの照射パワー補正を実行する。
【００６０】
次に、微小エリア記録を実行する（ステップＳ１１０）。より具体的には、１０００ｈ（Ｓｅｃｔｏｒ）程度の微小エリアの記録を実行する。微小エリア記録が終了したのち、再びステップＳ１０２に処理が移される。
【００６１】
一方、Δβの絶対値が限界β偏差よりも小さい場合（ステップＳ１０３：ＹＥＳ）は、算出されたジッタ値と所定のジッタ値（ジッタリミット値と称する）とが比較される（ステップＳ１０４）。本実施の形態では、ジッタリミット値は例えば７〜９％の範囲に設定される。
【００６２】
算出されたジッタがジッタリミット値よりも大きい場合（ステップＳ１０４：ＹＥＳ）は、ライトストラテジ補正を実行する（ステップＳ１０５）。ライトストラテジ補正は、記録パルス波形の変化量とマークエッジずれとの間の相関関係から記録パルス波形を最適な波形に補正することである。算出されたジッタ値がジッタリミット値よりも大きい場合は、記録パルスのマークエッジずれが許容される範囲にはないものと判断し、ライトストラテジ補正を実行する。また、ライトストラテジ補正による記録パルス波形の変化に伴う記録の深さβの変化量βｗｓｔが、数式２を用いて算出される。一方、算出されたジッタ値がジッタリミット値以下の場合（ステップＳ１０４：ＮＯ）は、ライトストラテジ補正は実行されない。したがって、βｗｓｔ＝０である。
【００６３】
次に、記録パルスの照射パワー補正を実行する（ステップＳ１０６）。より具体的には、数式３を用いて、測定されたβ値およびβｗｓｔに基づいて記録パルスの照射パワー補正量ΔＰｗが算出される。
【００６４】
次に、ライトストラテジ補正量が規定値と比較される（ステップＳ１０７）。ライトストラテジ補正量が規定値以上の場合（ステップＳ１０７：ＮＯ）は、ライトストラテジ補正量が信頼できる範囲にないものと判断し、ステップＳ１１０の微小エリア記録を実行する。
【００６５】
一方、ライトストラテジ補正量が規定値より小さい場合（ステップＳ１０７：ＹＥＳ）は、通常の記録を再開する（ステップＳ１０８）。
【００６６】
以上のとおり本実施の形態の光ディスクの記録方法では、記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さβに及ぼす影響を算出し、測定されたβ値にこの影響を加算することにより、記録パルスの照射パワーの補正量が算出される。したがって、本実施の形態の光ディスクの記録方法によれば、記録の深さβを維持しつつ、記録パルスの照射パワーおよび記録パルス波形を補正するため、記録の深さβを維持したまま記録時間を短縮することができる。
【００６７】
また、本実施の形態の光ディスク装置では、補正パワー演算部は、β影響係数のテーブルを保持しており、記録の深さβに及ぼす影響は、このβ影響係数に基づいて算出される。したがって、β影響係数はテーブルから直ちに取得されるので、記録パルスの照射パワーの補正量を高速に算出することができる。
【００６８】
また、本実施の形態の光ディスク装置では、β影響係数は、光ディスクの種類、記録速度、および記録材料のうちの少なくとも１つについて分類されて格納される。したがって、種々の光ディスク、異なる記録速度、または記録材料が異なる場合について記録パルスの照射パワーの補正量をより正確に算出することができる。
【００６９】
（第２の実施の形態）
第１の実施の形態では、記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さβに及ぼす影響を算出し、測定されたβ値にこの影響を加算することにより、記録パルスの照射パワーの補正量が算出される場合について述べた。第２の実施の形態では、記録パルスの照射パワーの補正量を算出すると同時に、記録パルスの照射パワーの変化がマークエッジずれを変化させることによる記録パルス波形に及ぼす影響を算出し、記録パルス波形の補正量にこの影響を加算することにより、記録パルス波形の補正量を算出する場合について述べる。
【００７０】
図１０は、本実施の形態における光ディスクの記録方法を説明するためのフローチャートである。本実施の形態は、記録パルスの照射パワーの変化がマークエッジずれを変化させることによる記録パルス波形に及ぼす影響を算出し、記録パルス波形の補正量にこの影響を加算することを除いて第１の実施の形態と同様であるため、光ディスク装置の構成についての詳細な説明は省略する。
【００７１】
図１０に示すとおり、まず、通常の記録動作を中断し、中断直前の記録情報を再生する（ステップＳ２０１）。より具体的には、通常の記録動作が実行されている状態において記録を中断したのち、中断直前から再生動作を開始するように制御部１６０が各部へ指示を出力する。
【００７２】
次に、中断直前の記録情報が再生され、記録の深さβおよびジッタが測定される（ステップＳ２０２）。より具体的には、ベータ測定部６０が、光ディスクからの反射光レベルに基づいて光ディスクにおける記録の深さを測定する。このとき、ベータ測定部６０が記録の深さβを測定するように、制御部１６０がベータ測定部６０に対して指示を出力する。また、マークエッジずれ測定部７０が、基準クロックエッジとマークエッジとの間のマークエッジずれを測定し、測定されたマークエッジずれに基づき、ジッタ演算部１１０がジッタ値を算出する。このとき、制御部１６０がマークエッジずれ測定部７０、ＲＡＭ８０、データ弁別演算部９０、およびジッタ演算部１１０に対してそれぞれ指示を出力する。
【００７３】
次に、目標β値と測定されたβ値との差Δβの絶対値が規定値よりも小さいか否かが判断される（ステップＳ２０３）。より具体的には、目標β値と測定されたβ値との差であるΔβの絶対値と所定のβ値（限界β偏差と称する）とが比較される。
【００７４】
Δβの絶対値が限界β偏差以上の場合（ステップＳ２０３：ＮＯ）は、記録パルスの照射パワー補正を実行する（ステップＳ２０９）。ここで、Δβの絶対値が限界β偏差以上の場合は、目標とする記録品質と現状の記録品質との間に大きな差があるものと判断し、ライトストラテジ補正は実行せずに記録パルスの照射パワー補正のみを実行することにより、記録の深さβを目標β値に迅速に収束させる。すなわち、Δβの絶対値が限界β偏差以上の場合は、先に記録パルスの照射パワー補正のみを実行し、記録の深さβが所定の範囲に収まったならば、記録の深さβを維持しつつ記録パルスの照射パワー補正を実行する。
【００７５】
次に、微小エリア記録を実行する（ステップＳ２１０）。より具体的には、１０００ｈ（Ｓｅｃｔｏｒ）程度の微小エリアの記録を実行する。微小エリア記録が終了したのち、再びステップＳ２０２に処理が移される。
【００７６】
一方、Δβの絶対値が限界β偏差よりも小さい場合は（ステップＳ２０３：ＹＥＳ）、算出されたジッタ値と所定のジッタ値（ジッタリミット値と称する）とが比較される（ステップＳ２０４）。本実施の形態では、ジッタリミット値は例えば７〜９％の範囲に設定される。
【００７７】
算出されたジッタ値がジッタリミット値以下の場合（ステップＳ２０４：ＮＯ）は、記録パルスの照射パワー補正のみを実行する（ステップＳ２０５）。
【００７８】
一方、算出されたジッタ値がジッタリミット値より大きい場合（ステップＳ２０４：ＹＥＳ）は、ライトストラテジ補正と記録パルスの照射パワー補正とを同時に実行する。より具体的には、記録パルス波形の補正によるマークおよびスペースの形成が記録の深さβに及ぼす影響を算出し、測定された記録の深さβにこの影響を加算することにより、記録パルスの照射パワーの補正量を算出すると同時に、記録パルスの照射パワーの変化がマークエッジずれを変化させて記録パルス波形に及ぼす影響を算出し、記録パルス波形の補正量にこの影響を加算することにより、記録パルス波形の補正量を算出する。
【００７９】
記録パルスの照射パワーの変化が記録パルス波形に及ぼす影響は、記録パルスの照射パワーの変化とマークエッジずれとの間の相関関係を求めて、この関係をストラテジ補正に適用することにより得られる。したがって、記録パルス波形の補正量ΔＸｗは、記録パルスの照射パワーの変化量（補正量）ΔＰｗの関数で表わされる。
【００８０】
一方、記録パルスの照射パワー補正量ΔＰｗは、記録パルス波形の変化量（補正量）ΔＸｗの関数で表わされるので、以上の２つの関係を連立させることにより、２つの解ΔＸｗとΔＰｗとを同時に求めることができる。すなわち、次の連立方程式
【００８１】
【数４】
2011134397.tif 000006
【００８２】
を解くことにより、記録パルス波形の補正量ΔＸｗと記録パルスの照射パワー補正量ΔＰｗとが同時に決定される。
【００８３】
次に、ライトストラテジ補正量が規定値と比較される（ステップＳ２０７）。ライトストラテジ補正量が規定値以上の場合（ステップＳ２０７：ＮＯ）は、ライトストラテジ補正量が信頼できる範囲にないものと判断し、Ｓ２１０の微小エリア記録を実行する。
【００８４】
一方、ライトストラテジ補正量が規定値より小さい場合（ステップＳ２０７：ＹＥＳ）は、通常の記録を再開する（ステップＳ２０８）。
【００８５】
以上のとおり、説明した本実施の形態は、第１の実施の形態における効果に加えて、以下の効果を奏する。
【００８６】
本実施の形態の光ディスク装置およびその記録方法では、記録パルスの照射パワーの補正量を算出すると同時に、記録パルスの照射パワーの変化がマークエッジずれを変化させることによる記録パルス波形に及ぼす影響を算出し、記録パルス波形の補正量にこの影響を加算することにより、記録パルス波形の補正量を算出する。したがって、本実施の形態の光ディスク装置およびその記録方法によれば、記録の深さβを維持しつつ、記録パルスの照射パワーおよび記録パルス波形を同時に補正するため、記録の深さβを維持したまま記録時間を短縮することができる。
【００８７】
（第３の実施の形態）
第１および第２の実施の形態では、β影響係数Ｋが補正パワー演算部１２０のテーブル群１２１に予め格納されている場合について述べた。第３の実施の形態では、光ディスクのテスト領域を用いて記録および再生したのち、β影響係数Ｋが算出されてテーブルに格納される。
【００８８】
図１１は、本実施の形態における光ディスクの記録方法を説明するためのフローチャートである。なお、本実施の形態では、光ディスクのテスト領域を用いて記録および再生したのち、β影響係数が算出されてテーブルに格納されることを除いて第２の実施の形態と同様であるため、光ディスク装置の構成についての詳細な説明は省略する。
【００８９】
まず、通常のデータ記録の前に光ディスク１の内側および外側のテスト領域１ｂ，１ｃを使用してパワーおよびライトストラテジの調整を行う（ステップＳ３０１）。次に、図６に示したように特定のパルスエッジを変えた記録を行い、そのときのβの変化を測定する事でパルス別のβ影響係数Ｋを算出する（ステップＳ３０２）。次に、通常のデータ記録を継続する（ステップＳ３０３）。
【００９０】
以上のとおり、説明した本実施の形態は、第１および第２の実施の形態における効果に加えて、以下の効果を奏する。
【００９１】
本実施の形態の光ディスク装置およびその記録方法では、光ディスクのテスト領域を用いて記録および再生したのち、β影響係数Ｋが算出されてテーブルに格納される。したがって、本実施の形態の光ディスク装置およびその記録方法によれば、記録対象とする光ディスクのβ影響係数Ｋを予め有していない場合であっても、適切なβ影響係数Ｋを得ることができる。
【００９２】
その結果、記録条件についての情報を保持していない新規のディスクまたはロットばらつきが大きい光ディスクなどに対しても、記録の深さβを維持しつつ、記録パルスの照射パワーおよび記録パルス波形を補正するため、記録の深さβを維持したまま記録時間を短縮することができる。
【００９３】
以上のとおり、第１〜第３の実施の形態において、本発明の光ディス装置およびその記録方法を説明した。しかしながら、本発明は、その技術思想の範囲内において当業者が適宜に追加、変形、および省略することができることはいうまでもない。
【００９４】
例えば、第１〜第３の実施の形態では、記録の深さとしてβを使用する場合を説明した。しかしながら、記録の深さはβに限定されるものではなくアシンメトリ（Ａｓｙｍｍｅｔｒｙ）などを使用してもよい。
【００９５】
また、第１〜第３の実施の形態では、ＣＡＶ記録方式の光ディスクの場合について述べた。しかしながら、記録方式はＣＡＶに限定されるものではなく、ＣＬＶ記録方式などの他の記録方式にも適用することができる。
【符号の説明】
【００９６】
１  光ディスク、
１０  光ピックアップ、
２０  スピンドルモータ、
３０  ヘッドアンプ、
４０  二値化回路、
５０  デコーダ、
６０  ベータ測定部（記録品質測定手段）、
７０  マークエッジずれ測定部（マークエッジずれ測定手段）、
８０  ＲＡＭ、
９０  データ弁別演算部、
１００  ライトストラテジ演算部（補正パルス算出手段）、
１１０  ジッタ演算部、
１２０  補正パワー演算部（補正パワー算出手段）、
１３０  エンコーダ、
１４０  記録パルス調整部、
１５０  レーザ駆動部、
１６０  制御部、
２００  光ディスク装置。
【図１】
2011134397.tif 000007
【図３】
2011134397.tif 000008
【図４】
2011134397.tif 000009
【図５】
2011134397.tif 000010
【図６】
2011134397.tif 000011
【図７】
2011134397.tif 000012
【図８】
2011134397.tif 000013
【図９】
2011134397.tif 000014
【図１０】
2011134397.tif 000015
【図１１】
2011134397.tif 000016
【図２】
2011134397.tif 000017