(57)【要約】【課題】  塗布対象物に押し付ける塗布面に印刷パターンがない場合でも、塗布面の撮像結果を用いた塗布状態の検査を可能とした塗布装置を提供する。【解決手段】  塗布剤Ｊを吸湿保持するフェルト材Ｆと、フェルト材Ｆと塗布対象物Ｗとのうち少なくとも一方を移動させて、フェルト材Ｆの塗布面と塗布対象物Ｗの端面とを互いに当接させ、当該当接した両面間に押圧力を付与するワーク駆動部２２と、フェルト材Ｆの塗布面と塗布対象物Ｗの端面との間に押圧力が付与された後、塗布面を撮像して濃淡画像を出力するカメラＣと、塗布面に残った塗布痕の状態を検出するために、カメラＣからの濃淡画像を濃淡値に基づいて二値化する二値化処理部６０ａと、前記二値化した結果を予め設定された閾値と比較して塗布剤Ｊの塗布状態を判断する塗布状態判断部６０ｃとを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
塗布対象物の端部に塗布剤を塗布する塗布装置であって、
塗布剤を吸湿保持する塗布剤保持手段と、
塗布剤保持手段と塗布対象物とのうち少なくとも一方を移動させて、塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面とを互いに当接させ、当該当接した両面間に押圧力を付与する押圧駆動手段と、
塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面との間に押圧力が付与された後、塗布面を撮像して濃淡画像を出力する撮像手段と、
塗布面に残った塗布対象物の端部の痕跡である塗布痕の状態を検出するために、撮像手段からの濃淡画像を濃淡値に基づいて二値化する二値化処理部と、
前記二値化した結果を予め設定された閾値と比較して塗布剤の塗布状態を判断する塗布状態判断部と、
を備えることを特徴とする塗布装置。
【請求項２】
前記塗布状態判断部は、前記撮像手段の撮像領域内を複数の小領域に分割し、小領域毎に前記二値化した結果を予め設定された閾値と比較して塗布剤の塗布状態を判断することを特徴とする請求項１記載の塗布装置。
【請求項３】
前記塗布剤保持手段は、弾性を有する多孔質材料で形成されることを特徴とする請求項１または２記載の塗布装置。
【請求項４】
塗布剤を貯蔵する塗布剤貯蔵部と、
前記塗布剤保持手段の少なくとも一部が塗布剤貯蔵部内の塗布剤に浸漬する第１の位置と、前記押圧駆動手段が塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面との間に押圧力を付与する第２の位置との間で、前記塗布剤保持手段を移動させる塗布剤保持部駆動手段と
を備えることを特徴とする請求項１乃至３いずれか記載の塗布装置。
【請求項５】
前記塗布剤保持部駆動手段が前記塗布剤保持手段を前記第１の位置から第２の位置へ移動させる際に、塗布剤保持手段を移動可能に挟持する挟持手段を備えることを特徴とする請求項４記載の塗布装置。
【請求項６】
前記撮像手段は、前記押圧駆動手段が前記塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面との間に押圧力を付与する前の第１の塗布面、押圧駆動手段が塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面との間に押圧力を付与した後の第２の塗布面を各々撮像して、第１、第２の濃淡画像を出力し、
第１、第２の濃淡画像の各濃淡値の差を表す差分画像を生成する差分画像生成部を備え、
前記二値化処理部は、前記塗布痕の状態を検出するために、差分画像を濃淡値に基づいて二値化する
ことを特徴とする請求項１乃至５いずれか記載の塗布装置。
【請求項７】
基準状態の塗布痕が存在する前記塗布面を示す基準画像と前記撮像手段からの濃淡画像との各濃淡値の差を表す差分画像を生成する差分画像生成部を備え、
前記二値化処理部は、前記塗布痕の状態を検出するために、差分画像を濃淡値に基づいて二値化する
ことを特徴とする請求項１乃至５いずれか記載の塗布装置。
【請求項８】
前記撮像手段からの濃淡画像を微分処理して塗布痕の輪郭を抽出した微分画像を生成する微分画像生成部を備え、
前記二値化処理部は、前記塗布痕の状態を検出するために、微分画像を濃淡値に基づいて二値化する
ことを特徴とする請求項１乃至５いずれか記載の塗布装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液体またはゲル状の塗布剤を塗布する塗布装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、液体またはゲル状の塗布剤を塗布する塗布装置において、塗布対象物（筒状、筐体状、函体状等）の端部に液体またはゲル状の塗布剤を塗布する工程があり、例えば塗布剤を含んだパッド等の塗布剤保持手段を塗布対象物の端部に押し付けることによって行われる。そして、この塗布対象物の塗布状態を検査するために、塗布剤保持手段の塗布面近傍に設置した非接触式のセンサ（近接センサ、赤外線センサ等）によって塗布対象物の有無を検知し、塗布剤保持手段が塗布対象物に押し当てられたか否かを判定することによって、塗布状態を検査するものがあった。また、塗布後の塗布対象物の端部表面をカメラで撮像し、撮像した画像データに画像処理を施すことで抽出した特徴をもとに塗布状態を検査する装置もあった。
【０００３】
しかし、非接触式のセンサを用いて塗布対象物の有無を検知する上記構成では、塗布対象物の一部を検知すると正常に塗布されたものと判定するため、塗布対象物の端部表面の全領域に塗布剤が正常に塗布されているか否かを判定することはできず、部分的な塗布不良を検出できない虞があり、誤判定によって検査結果の精度が低下するという問題があった。
【０００４】
また、塗布後の塗布対象物の端部表面の画像データに基づく上記構成でも、塗布剤が透明または半透明の場合に、塗布剤や塗布対象物表面の光の透過性および反射性の影響によって、正常に塗布された部分と未塗布部分との違いを検出することが困難であり、誤判定によって検査結果の精度が低下するという問題があった。
【０００５】
そこで、塗布剤保持手段の塗布面を塗布対象物の端部に押し付ける前後において当該塗布面を撮像し、この塗布面を撮像した画像データに画像処理を施すことで抽出した特徴をもとに塗布状態を検査する装置が提案された（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−２２５２３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記特許文献１の構成では、塗布剤保持手段の塗布面には文字や図形等の印刷パターンが印字され、この塗布面の印刷パターンを塗布対象物に押し付けることによって、塗布対象物に印字するものであり、塗布状態の検査も塗布面の印刷パターンを画像処理で認識することによって行われる。
【０００８】
しかし、塗布面に印刷パターンを印字することなく、塗布面の全体にインクや接着剤等の塗布物を吸湿保持させ、この塗布面に塗布対象物を押し付けることによって、塗布対象物に塗布物を塗布する場合は、塗布面に認識可能な印刷パターンがないため、特許文献１のように印刷パターンを用いた画像処理を行うことができず、塗布状態の検査ができなかった。
【０００９】
本発明は、上記事由に鑑みてなされたものであり、その目的は、塗布対象物に押し付ける塗布面に印刷パターンがない場合でも、塗布面の撮像結果を用いた塗布状態の検査を可能とした塗布装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
請求項１の発明は、塗布対象物の端部に塗布剤を塗布する塗布装置であって、塗布剤を吸湿保持する塗布剤保持手段と、塗布剤保持手段と塗布対象物とのうち少なくとも一方を移動させて、塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面とを互いに当接させ、当該当接した両面間に押圧力を付与する押圧駆動手段と、塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面との間に押圧力が付与された後、塗布面を撮像して濃淡画像を出力する撮像手段と、塗布面に残った塗布対象物の端部の痕跡である塗布痕の状態を検出するために、撮像手段からの濃淡画像を濃淡値に基づいて二値化する二値化処理部と、前記二値化した結果を予め設定された閾値と比較して塗布剤の塗布状態を判断する塗布状態判断部とを備えることを特徴とする。
【００１１】
この発明によれば、塗布対象物の端部を押し付けた後のフェルト材等の塗布剤保持手段の塗布面に残る塗布痕の状態を画像処理で検出し、この塗布痕の状態によって塗布対象物における塗布状態の検査を行うので、塗布面に印刷パターンがない場合でも、塗布面の撮像結果を用いた塗布状態の検査が可能となる。
【００１２】
請求項２の発明は、請求項１において、前記塗布状態判断部は、前記撮像手段の撮像領域内を複数の小領域に分割し、小領域毎に前記二値化した結果を予め設定された閾値と比較して塗布剤の塗布状態を判断することを特徴とする。
【００１３】
この発明によれば、小領域毎に塗布状態の良否を判定するので、塗布状態の検査だけでなく、不良発生時に不良発生箇所を併せてユーザに知らせることができる。
【００１４】
請求項３の発明は、請求項１または２において、前記塗布剤保持手段は、弾性を有する多孔質材料で形成されることを特徴とする。
【００１５】
この発明によれば、塗布剤を適量保持でき、さらには塗布対象物に押圧して塗布剤を塗布対象物に塗布した後に、塗布面に塗布痕が残りやすいので、塗布対象物への塗布処理、および塗布痕の状態による塗布状態検査に適している。
【００１６】
請求項４の発明は、請求項１乃至３いずれかにおいて、塗布剤を貯蔵する塗布剤貯蔵部と、前記塗布剤保持手段の少なくとも一部が塗布剤貯蔵部内の塗布剤に浸漬する第１の位置と、前記押圧駆動手段が塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面との間に押圧力を付与する第２の位置との間で、前記塗布剤保持手段を移動させる塗布剤保持部駆動手段とを備えることを特徴とする。
【００１７】
この発明によれば、塗布対象物に塗布剤を塗布する前に、塗布剤保持手段を塗布剤貯蔵部内の塗布剤に浸漬することによって、必要な塗布剤を塗布毎に塗布剤保持手段に供給することができ、さらには塗布面の塗布痕を消すことができるので、連続塗布および連続検査が可能となる。
【００１８】
請求項５の発明は、請求項４において、前記塗布剤保持部駆動手段が前記塗布剤保持手段を前記第１の位置から第２の位置へ移動させる際に、塗布剤保持手段を移動可能に挟持する挟持手段を備えることを特徴とする。
【００１９】
この発明によれば、塗布剤保持手段が保持する塗布剤の量を適正に制御することによって、塗布剤保持手段の塗布面の塗布痕を安定して発生させることができる。
【００２０】
請求項６の発明は、請求項１乃至５いずれかにおいて、前記撮像手段は、前記押圧駆動手段が前記塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面との間に押圧力を付与する前の第１の塗布面、押圧駆動手段が塗布剤保持手段の塗布面と塗布対象物の端面との間に押圧力を付与した後の第２の塗布面を各々撮像して、第１、第２の濃淡画像を出力し、第１、第２の濃淡画像の各濃淡値の差を表す差分画像を生成する差分画像生成部を備え、前記二値化処理部は、前記塗布痕の状態を検出するために、差分画像を濃淡値に基づいて二値化することを特徴とする。
【００２１】
この発明によれば、押圧前後の各濃淡画像から差分画像を生成し、この差分画像を用いて塗布状態の検査を行うので、画像データに含まれるノイズを除去することが可能となり、良品を不良品とする誤判定を低減させる効果がある。
【００２２】
請求項７の発明は、請求項１乃至５いずれかにおいて、基準状態の塗布痕が存在する前記塗布面を示す基準画像と前記撮像手段からの濃淡画像との各濃淡値の差を表す差分画像を生成する差分画像生成部を備え、前記二値化処理部は、前記塗布痕の状態を検出するために、差分画像を濃淡値に基づいて二値化することを特徴とする。
【００２３】
この発明によれば、押圧後の濃淡画像および基準画像から差分画像を生成し、この差分画像を用いて塗布状態の検査を行うことによって、ノイズを除去することが可能になる。さらには押圧前に塗布面を撮像する必要はなく、押圧後にのみ塗布面を撮像すればよいので、撮像回数が１回でよく、装置制御が容易となり、検査時間も短縮できる。
【００２４】
請求項８の発明は、請求項１乃至５いずれかにおいて、前記撮像手段からの濃淡画像を微分処理して塗布痕の輪郭を抽出した微分画像を生成する微分画像生成部を備え、前記二値化処理部は、前記塗布痕の状態を検出するために、微分画像を濃淡値に基づいて二値化することを特徴とする。
【００２５】
この発明によれば、微分画像によって、塗布痕の輪郭情報のみを用いて塗布状態検査を行うことによって、塗布面の特徴が単純化されるので、余分な情報が除外されて検査処理が単純化され、検査処理負荷が低減される。
【発明の効果】
【００２６】
以上説明したように、本発明では、塗布対象物に押し付ける塗布面に印刷パターンがない場合でも、塗布面の撮像結果を用いた塗布状態の検査が可能になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】実施形態１の塗布装置の構成を示す図である。
【図２】（ａ）〜（ｃ）同上のフェルト材の塗布剤供給動作を示す図である。
【図３】（ａ）〜（ｃ）同上のフェルト材と塗布対象物との押圧動作を示す図である。
【図４】（ａ）（ｂ）同上の塗布対象物の端面および塗布痕を示す図である。
【図５】同上の二値化処理を示す図である。
【図６】（ａ）（ｂ）同上の塗布痕の状態を示す図である。
【図７】同上の塗布状態判断処理を示す図である。
【図８】（ａ）〜（ｄ）実施形態２の塗布状態の検査処理を示す図である。
【図９】実施形態３の画像処理部の構成を示す図である。
【図１０】（ａ）〜（ｃ）同上の差分画像生成処理を示す図である。
【図１１】（ａ）〜（ｃ）実施形態４の差分画像生成処理を示す図である。
【図１２】実施形態５の画像処理部の構成を示す図である。
【図１３】同上の各画素の濃淡値を示す図である。
【図１４】（ａ）（ｂ）同上の微分画像生成処理を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００２９】
（実施形態１）
図１は、本実施形態の塗布装置の構成を示しており、液体状またはゲル状の塗布剤Ｊを吸湿保持させたシート状のフェルト材Ｆ（塗布剤保持手段）に、塗布対象物Ｗ（筒状、筐体状、函体状等）の端部を押し付けることで、塗布対象物Ｗの端部近傍（少なくとも端面）に塗布剤Ｊを塗布する。なお本実施形態では、固定したフェルト材Ｆに塗布対象物Ｗの端部を押し付けるが、固定した塗布対象物Ｗの端部にフェルト材Ｆを押し付ける構成でもよい。
【００３０】
フェルト材Ｆは、シート状に形成されており、その上端を支持アーム１１によって保持固定されている。支持アーム１１は、フェルト駆動部１２によって上下方向に移動自在に構成されており、フェルト駆動部１２は、モータ等によって支持アーム１１を上下方向に駆動することによって、フェルト材Ｆの上下方向の位置を、上方の塗布位置Ｐ１１または下方の補充位置Ｐ１２に制御している（塗布剤保持部駆動手段）。
【００３１】
塗布対象物Ｗは、支持アーム２１によって保持固定されている。支持アーム２１は、ワーク駆動部２２によって水平方向に移動自在に構成されており、ワーク駆動部２２は、モータ等によって支持アーム２１を水平方向に駆動することによって、塗布対象物Ｗの水平方向の位置を、フェルト材Ｆから離れる方向の待機位置Ｐ２１、または塗布対象物Ｗの端部をフェルト材Ｆの塗布面に当接させて押し付け、当該当接した両面間に押圧力を付与する塗布位置Ｐ２２に制御している（押圧駆動手段）。
【００３２】
フェルト材Ｆの下方には、上面を開口した函体の塗布剤貯蔵部３０が配置されており、塗布剤貯蔵部３０内には、透明または半透明の塗布剤Ｊが入っている。また、塗布剤貯蔵部３０の開口付近に水平方向に並設された一対のローラ３０ａは互いの間隔を調整可能に構成され、一対のローラ３０ａの間隔は貯蔵駆動部４０によって調整される（挟持手段）。
【００３３】
さらに、塗布位置Ｐ１１のフェルト材１１の塗布面を撮像するＣＣＤカメラＣ（以降、カメラＣと称す）を備え、カメラＣが撮像した濃淡画像データは画像処理部６０に出力される（撮像手段）。
【００３４】
画像処理部６０は、二値化処理部６０ａ、記憶部６０ｂ、塗布状態判断部６０ｃで構成されており、カメラＣが撮像した濃淡画像データに基づいて、塗布対象物Ｗにおける塗布剤Ｊの塗布状態を検査し、その検査結果を表示装置７０へ出力し、表示装置７０はその検査結果を表示する。
【００３５】
上記フェルト駆動部１２、ワーク駆動部２２、貯蔵駆動部４０、画像処理部６０は、塗布集中制御部５０によってその動作が集中制御されている。
【００３６】
以下、塗布集中制御部５０による塗布装置の制御について詳細に説明する。
【００３７】
初期状態として、フェルト材Ｆは塗布位置Ｐ１１に位置し、塗布対象物Ｗは待機位置Ｐ２１に位置している。まずフェルト駆動部１２は、フェルト材Ｆを塗布位置Ｐ１１から補充位置Ｐ１２に向けて移動させ（図２（ａ））、フェルト材Ｆが補充位置Ｐ１２に到着すると、フェルト材Ｆの一部が塗布剤貯蔵部３０内の塗布剤Ｊに浸漬し、フェルト材Ｆに塗布剤Ｊを含有させる（図２（ｂ））。その後、フェルト駆動部１２がフェルト材Ｆを塗布位置Ｐ１１に移動させるときは、貯蔵駆動部４０が一対のローラ３０ａの間隔を狭くして、ローラ３０ａ間にフェルト材Ｆを挟持し、この状態でローラ３０ａが回転しながらフェルト材Ｆが上方に移動する（図２（ｃ））。すなわち、フェルト材Ｆがローラ３０ａ間を通過することによって、フェルト材Ｆに含有している余分な塗布剤Ｊを絞って、フェルト材Ｆが含有する塗布剤Ｊの量を適正に制御している。
【００３８】
ここで本実施形態では、塗布剤Ｊを吸湿保持する塗布剤保持手段としてフェルト材Ｆを用いている。塗布剤保持手段としては、塗布剤Ｊを適量保持でき、さらには塗布対象物Ｗに押圧して塗布剤Ｊを塗布対象物Ｗに塗布した後に、塗布面に後述の塗布対象物Ｗの端部痕（以降、塗布痕と称す）が残りやすいものが、塗布対象物Ｗへの塗布処理、および塗布痕の状態による塗布状態検査に適している。すなわち、多孔質で弾性を有する材料が塗布剤保持手段には適しており、このような理由から本実施形態ではフェルト材Ｆを用いている。また、上記のようにローラ３０ａによってフェルト材Ｆが保持する塗布剤Ｊの量を適正に制御することによって、フェルト材Ｆの塗布面の塗布痕を安定して発生させることができる。
【００３９】
塗布剤Ｊを吸湿保持したフェルト材Ｆが塗布位置Ｐ１１に復帰すると、ワーク駆動部２２は、塗布対象物Ｗを待機位置Ｐ２１から塗布位置Ｐ２２に向けて移動させ（図３（ａ））、塗布対象物Ｗの端部をフェルト材Ｆの塗布面に押圧し、塗布対象物Ｗの端部近傍（少なくとも端面）に塗布剤Ｊを塗布する（図３（ｂ））。そして、ワーク駆動部２２が塗布対象物Ｗを待機位置Ｐ２１に復帰させる（図３（ｃ））。
【００４０】
ここで、塗布対象物Ｗは棒体状に形成され、その端面は図４（ａ）に示すように断面が略コの字に形成されている。したがって、塗布対象物Ｗの端部をフェルト材Ｆの塗布面に押圧した直後には、フェルト材Ｆの塗布面に図４（ｂ）に示すようなコの字状の塗布痕Ｋが残る。この塗布痕Ｋは、フェルト材Ｆの塗布面が塗布対象物Ｗの端面で圧縮されることによる塗布面の状態変化等によって生じた塗布対象物Ｗの端部の痕跡であり、塗布痕Ｋの領域と塗布痕Ｋ以外の領域とでは互いの濃淡値が異なる。
【００４１】
次に、塗布対象物Ｗが待機位置Ｐ２１に復帰すると、フェルト材Ｆの塗布面に塗布痕Ｋが残っている間で、塗布面の復元によって塗布痕Ｋが消える前に、画像処理部６０は、フェルト材１１の塗布面を照射する照明器具Ｌａを始動させた後に、塗布位置Ｐ１１のフェルト材１１の塗布面をカメラＣによって撮像し、カメラＣが撮像した濃淡画像データを取得する。
【００４２】
画像処理部６０では、上記取得した濃淡画像データに基づいて、塗布対象物Ｗの端部における塗布剤Ｊの塗布状態を判断する。まず、記憶部６０ｂには二値化閾値が予め記憶されており、二値化処理部６０ａは、濃淡画像データの各画素の濃淡値（明度等）をこの二値化閾値と比較することで二値化する。そして、記憶部６０ｂには、各画素に対応した二値化フラグが予め作成されており、二値化結果に基づいて各二値化フラグを「１」または「０」にセットすることで、各画素を塗布痕の画素と塗布痕以外の画素とに分ける。濃淡画像データ内の任意の画素ｓの濃淡値をＧ（ｓ）、二値化閾値をＧｔとすると、「Ｇ（ｓ）＞Ｇｔ」のときには、画素ｓを塗布痕上の画素であると判定し、当該画素ｓの二値化フラグを「１」にセットする。一方、「Ｇ（ｓ）≦Ｇｔ」のときには、画素ｓを塗布痕上の画素でないと判定し、当該画素ｓの二値化フラグを「０」にセットする。例えば、図５に示すように、画素ｓ１の濃淡値Ｇ（ｓ１）が二値化閾値Ｇｔ以下であるので、画素ｓ１は塗布痕上の画素でないと判定し、画素ｓ２の濃淡値Ｇ（ｓ２）が二値化閾値Ｇｔを超えているので、画素ｓ２は塗布痕上の画素であると判定する。すなわち、図４（ｂ）のコの字状の塗布痕Ｋに対応する画素は二値化フラグが「１」にセットされ、塗布痕Ｋに対応しない画素は二値化フラグが「０」にセットされる。
【００４３】
次に、塗布状態判断部６０ｃは、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａを、記憶部６０ｂに予め記憶されたフラグ閾値Ｎｔと比較し、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａがフラグ閾値Ｎｔ以上であれば、塗布痕Ｋに相当する画素が十分に存在しており、塗布対象物Ｗにおける塗布剤Ｊの塗布状態が良好であると判定する（すなわち、塗布対象物Ｗが良品である）。一方、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａがフラグ閾値Ｎｔ未満であれば、塗布痕Ｋに相当する画素が少なく、塗布対象物Ｗにおける塗布剤Ｊの塗布状態が悪いと判定する（すなわち、塗布対象物Ｗが不良品である）。
【００４４】
例えば、図６（ａ）に示す略完全なコの字状の塗布痕Ｋ１であれば、塗布痕Ｋに相当する画素が十分に存在しており、図７の画像１（横軸）に示すように、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａ１がフラグ閾値Ｎｔ以上となって、塗布状態が良好であると判定される。しかし、図６（ｂ）に示す不完全な塗布痕Ｋ２であれば、領域Ｒａの塗布痕が存在せず、図７の画像２（横軸）に示すように、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａ２が領域Ｒａ内の画素分だけ少なくなり、フラグ閾値Ｎｔ未満となって、塗布状態が悪いと判定される。
【００４５】
そして、塗布状態判断部６０ｃは、上記塗布状態の判定結果を表示装置７０のモニタ画面に表示させる。
【００４６】
このように、本実施形態では、塗布対象物Ｗの端部を押し付けた後のフェルト材Ｆの塗布面に残る塗布痕Ｋの状態を画像処理で検出し、この塗布痕Ｋの状態によって塗布対象物Ｗにおける塗布状態の検査を行うので、塗布面に印刷パターンがない場合でも、塗布面の撮像結果を用いた塗布状態の検査が可能となる。
【００４７】
また、塗布対象物Ｗの端部をフェルト材Ｆに押圧した後に、フェルト材Ｆの塗布面の塗布痕Ｋの全領域に基づいて塗布状態の良否を判定するので、塗布対象物Ｗの端部全体の塗布状態を検査でき、さらには部分的な塗布不良であっても検出できる。また、透明または半透明の塗布剤Ｊを用いても、塗布痕Ｋをもとに塗布状態の良否を判定するので、塗布剤Ｊや塗布対象物Ｗ表面の光の透過性および反射性の影響を受けることなく、塗布状態を検査できる。すなわち、塗布状態の誤判定を防止して、検査結果の精度を向上させることが可能となる。
【００４８】
また、次の塗布対象物Ｗに塗布剤Ｊを塗布する前に、フェルト材Ｆを塗布剤貯蔵部３０内の塗布剤Ｊに再度浸漬することによって、必要な塗布剤Ｊを塗布毎にフェルト材Ｆに供給することができ、さらにはフェルト材Ｆが膨張して前回検査時の塗布痕Ｋを消すことができる。すなわち、フェルト材Ｆが塗布剤Ｊを再度吸湿することによって膨張し、塗布面が元の状態に復元して塗布痕Ｋが消え、連続塗布および連続検査が可能となる。
【００４９】
（実施形態２）
本実施形態の塗布装置は、塗布状態判断部６０ｃの判断動作が実施形態１と異なるものであって、実施形態１と同様の構成には同一の符号を付して説明は省略する。
【００５０】
まず、塗布対象物Ｗの端部をフェルト材Ｆの塗布面に押圧した直後には、フェルト材Ｆの塗布面に図８（ａ）に示すようなコの字状の塗布痕Ｋが残る。塗布痕Ｋは、コの字状であって、複数の線分と、線分間の角部とで形成されている。すなわち、塗布痕Ｋは、線分や角部を含む複数の小領域で構成され、小領域毎に特徴を有している。そこで、本実施形態の塗布状態判断部６０ｃは、図８（ｂ）の破線に示すコの字状の検査領域Ｋ’を、図８（ｃ）に示すような小領域Ｒ１〜Ｒ７に分割し、小領域Ｒ１〜Ｒ７毎に塗布状態を個別に判断することによって、塗布状態を検査する。図８（ｃ）に示すコの字状の検査領域Ｋ’の小領域Ｒ１〜Ｒ７は、検査領域Ｋ’の左下端部：Ｒ１、左側線分：Ｒ２、左角部：Ｒ３、上線分：Ｒ４、右角部：Ｒ５、右側線分：Ｒ６、右下端部Ｒ７に分割されている。
【００５１】
まず、画像処理部６０では、二値化処理部６０ａが実施形態１と同様に、濃淡画像データの各画素の濃淡値を二値化閾値と比較することで二値化し、濃淡画像データの各画素に対応した二値化フラグを「１」または「０」にセットすることで、各画素を塗布痕の画素と塗布痕以外の画素とに分ける。さらに、小領域Ｒ１〜Ｒ７毎に、塗布痕の画素と判定されて「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａ１〜Ｎａ７を導出する。
【００５２】
次に、記憶部６０ｂは、小領域Ｒ１〜Ｒ７毎にフラグ閾値Ｎｔ１〜Ｎｔ７を記憶しており、塗布状態判断部６０ｃは、小領域Ｒ１〜Ｒ７毎に「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａ１〜Ｎａ７を、記憶部６０ｂに予め記憶されたフラグ閾値Ｎｔ１〜Ｎｔ７と各々比較し、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａ１〜Ｎａ７がフラグ閾値Ｎｔ１〜Ｎｔ７以上であれば、各小領域Ｒ１〜Ｒ７において塗布痕Ｋに相当する画素が十分に存在しており、塗布対象物Ｗにおける塗布剤Ｊの塗布状態が良好であると判定する（すなわち、塗布対象物Ｗが良品である）。一方、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａ１〜Ｎａ７がフラグ閾値Ｎｔ１〜Ｎｔ７未満であれば、各小領域Ｒ１〜Ｒ７において塗布痕Ｋに相当する画素が少なく、塗布対象物Ｗにおける塗布剤Ｊの塗布状態が悪いと判定する（すなわち、塗布対象物Ｗが不良品である）。
【００５３】
例えば、図８（ｄ）に示すように、塗布痕Ｋ３のコの字の左側および中央の塗布状態が良いが、塗布痕Ｋ３のコの字の右側の塗布状態が悪い場合、塗布状態判断部６０ｃは、小領域Ｒ１〜Ｒ５の塗布状態は良好であると判断し、小領域Ｒ６，Ｒ７の塗布状態は不良であると判断する。
【００５４】
そして、塗布状態判断部６０ｃは、小領域Ｒ６，Ｒ７の塗布状態が不良であること、および塗布対象物Ｗの端部形状の局所的な形状不良や押圧時の圧力の不均一性等が不良発生要因として考えられることを、表示装置７０のモニタ画面に表示させる。
【００５５】
このように、検査領域Ｋ’を複数の小領域Ｒ１〜Ｒ７に分割し、小領域Ｒ１〜Ｒ７毎に塗布状態の良否を判定するので、塗布状態の検査だけでなく、不良発生時に不良発生箇所を併せてユーザに知らせることができる。
【００５６】
（実施形態３）
本実施形態の塗布装置は、図９に示すように、画像処理部６０に差分画像生成部６０ｄを設けた点が実施形態１、２と異なるものであって、実施形態１、２と同様の構成には同一の符号を付して説明は省略する。
【００５７】
まず、塗布対象物Ｗの端部をフェルト材Ｆの塗布面に押圧する前後において、画像処理部６０は、フェルト材１１の塗布面を照射する照明器具Ｌａを始動させた後に、塗布位置Ｐ１１のフェルト材１１の塗布面をカメラＣによって撮像し、カメラＣが撮像した濃淡画像データを取得し、取得した濃淡画像データは記憶部６０ｂに記憶される。すなわち、塗布対象物Ｗの端部をフェルト材Ｆの塗布面に押圧した後だけでなく、押圧前においてもカメラＣがフェルト材Ｆの塗布面を撮像し、画像処理部６０は、押圧前後の各濃淡画像データに基づいて塗布状態を検査する。
【００５８】
例えば、図１０（ａ）に示す押圧前の濃淡画像データには、塗布痕Ｋはまだ存在しないが、塗布痕Ｋとは異なる模様（ノイズＱ）が存在している。さらに、図１０（ｂ）に示す押圧後の濃淡画像データには、塗布痕ＫとノイズＱとの両方が存在しており、塗布痕ＫとノイズＱとの重複部分の濃淡値は、塗布痕Ｋの濃淡値とノイズＱの濃淡値との和となる。このように、フェルト材Ｆの塗布面には、塗布剤Ｊの部分的な量の違いや、塗布を繰り返すことによる表面状態の変化等によって、ノイズＱが発生することがある。そして、押圧後の濃淡画像データのみを用いて画像処理を施し、塗布状態の検査を行うと、ノイズＱを塗布痕Ｋの一部として検出する虞がある。
【００５９】
そこで、差分画像生成部６０ｄは、図１０（ａ）（ｂ）の両濃淡画像データ（押圧前後の各濃淡画像データ）から、押圧前後における各画素の濃淡値の差の絶対値を導出し、当該導出した濃淡値の差を各画素が有する差分画像を生成する。差分画像は、図１０（ｃ）に示すように、ノイズＱが打ち消されて、塗布痕Ｋのみが残る。以降、画像処理部６０は差分画像を用いて、二値化処理部６０ａ、記憶部６０ｂ、塗布状態判断部６０ｃによる二値化処理、塗布状態判断処理を実施形態１または２と同様に行う。
【００６０】
このように、押圧前後の各濃淡画像データから差分画像を生成し、この差分画像を用いて塗布状態の検査を行うので、画像データに含まれるノイズＱを除去することが可能となり、良品を不良品とする誤判定を低減させる効果がある。。
【００６１】
（実施形態４）
本実施形態の塗布装置は、画像処理部６０の記憶部６０ｂに基準画像データを予め記憶している。そして、実施形態３と同様に画像処理部６０に差分画像生成部６０ｄを設けており、差分画像生成部６０ｄが、押圧後の濃淡画像データおよび基準画像データから、各画素の濃淡値の差の絶対値を導出し、各画素が当該導出した濃淡値の差を有する差分画像を生成する。なお、実施形態３と同様の構成には同一の符号を付して説明は省略する。
【００６２】
例えば、図１１（ａ）に示す基準画像データは、良好な塗布痕Ｋ４が存在するフェルト材Ｆの塗布面（典型的な良品の塗布面）であり、図１１（ｂ）に示す押圧後の濃淡画像データは、塗布痕Ｋ５のコの字の右側の塗布状態が悪いフェルト材Ｆの塗布面である。そして、差分画像生成部６０ｄは、図１１（ａ）（ｂ）の両画像データから、各画素の濃淡値の差の絶対値を導出し、各画素が当該導出した濃淡値の差を有する差分画像を生成する。差分画像は、図１１（ｃ）に示すように、押圧後の濃淡画像データが基準画像データに対して異なる差異部分Ｋ６のみが抽出されている。
【００６３】
そして、二値化処理部６０ａは、図１１（ｃ）に示す差分画像の各画素の濃淡値を二値化閾値と比較することによって二値化処理を施す。すなわち、図１１（ｃ）の差異部分Ｋ６に対応する画素は二値化フラグが「１」にセットされ、差異部分Ｋ６に対応しない画素は二値化フラグが「０」にセットされる。
【００６４】
次に、塗布状態判断部６０ｃは、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎｂを、記憶部６０ｂに予め記憶されたフラグ閾値Ｎｓと比較し、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎｂがフラグ閾値Ｎｓ未満であれば、押圧後の濃淡画像データが基準画像データに略一致しており、塗布対象物Ｗにおける塗布剤Ｊの塗布状態が良好であると判定する（すなわち、塗布対象物Ｗが良品である）。一方、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎｂがフラグ閾値Ｎｓ以上であれば、押圧後の濃淡画像データが基準画像データに一致しておらず、塗布対象物Ｗにおける塗布剤Ｊの塗布状態が悪いと判定する（すなわち、塗布対象物Ｗが不良品である）。
【００６５】
このように、押圧後の濃淡画像データおよび基準画像データから差分画像を生成し、この差分画像を用いて塗布状態の検査を行うことによって、本実施形態においてもノイズ除去効果がある。さらにカメラＣは押圧前にフェルト材Ｆの塗布面を撮像する必要はなく、押圧後にのみ塗布面を撮像すればよいので、撮像回数が１回でよく、装置制御が容易となり、検査時間も短縮できる。
【００６６】
（実施形態５）
本実施形態の塗布装置は、図１２に示すように、画像処理部６０に微分画像生成部６０ｅを設けた点が実施形態１乃至３と異なるものであって、実施形態１乃至３と同様の構成には同一の符号を付して説明は省略する。
【００６７】
そして、本実施形態の塗布装置では、画像処理部６０が、実施形態１，２の押圧後の濃淡画像データ、または実施形態３の差分画像データに基づいて、以下のように塗布状態の検査を行う。
【００６８】
まず、微分画像生成部６０ｅは、画像データの各画素の微分絶対値を算出し、微分画像を作成する。例えば、画像データ内において、図１３に示す３×３の計９個の画素の各濃淡値をＧ１，Ｇ２，．．．Ｇ９とすると、中央の画素の微分絶対値Ｄ（Ｇ５）は、次式のように算出される。
Ｄ（Ｇ５）＝√｛（ΔＨ）２＋（ΔＶ）２｝
ΔＨ＝（Ｇ３−Ｇ１）＋（Ｇ６−Ｇ４）＋（Ｇ９−Ｇ７）
ΔＶ＝（Ｇ７−Ｇ１）＋（Ｇ８−Ｇ２）＋（Ｇ９−Ｇ３）
実施形態１，２の押圧後の濃淡画像データまたは実施形態３の差分画像データに塗布痕Ｋ７ａが存在している場合（図１４（ａ））、上記のように画像データの各画素の微分絶対値を算出して作成した微分画像には、塗布痕Ｋ７ａの輪郭を抽出した輪郭線Ｋ７ｂが存在する（図１４（ｂ））。
【００６９】
そして、二値化処理部６０ａは、図１４（ｂ）に示す微分画像の各画素の濃淡値を二値化閾値と比較することによって二値化処理を施す。すなわち、図１４（ｂ）の輪郭線Ｋ７ｂが存在する画素は二値化フラグが「１」にセットされ、輪郭線Ｋ７ｂが存在しない画素は二値化フラグが「０」にセットされる。
【００７０】
次に、塗布状態判断部６０ｃは、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａを、記憶部６０ｂに予め記憶されたフラグ閾値Ｎｔと比較し、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎｂがフラグ閾値Ｎｔ以上であれば、塗布痕Ｋの輪郭が十分に存在しており、塗布対象物Ｗにおける塗布剤Ｊの塗布状態が良好であると判定する（すなわち、塗布対象物Ｗが良品である）。一方、「１」にセットされた二値化フラグの数Ｎａがフラグ閾値Ｎｔ未満であれば、塗布痕Ｋの輪郭が少なく、塗布対象物Ｗにおける塗布剤Ｊの塗布状態が悪いと判定する（すなわち、塗布対象物Ｗが不良品である）。
【００７１】
このように、塗布痕Ｋの輪郭情報のみを用いて塗布状態検査を行うことによって、塗布面の特徴が単純化されるので、余分な情報が除外されて検査処理が単純化され、検査処理負荷が低減される。
【符号の説明】
【００７２】
Ｃ  カメラ
Ｆ  フェルト材
Ｊ  塗布剤
Ｗ  塗布対象物
２２  ワーク駆動部
３０  塗布剤貯蔵部
６０  画像処理部
６０ａ  二値化処理部
６０ｂ  記憶部
６０ｃ  塗布状態判断部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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