(57)【要約】      （修正有）【課題】高精度、安定的かつ迅速にシークを行なわせる。【解決手段】スピンドルモータ１５の回転位置と光ディスク１０の偏芯量との関係から光ピックアップ５５に対して偏芯量が最大となるスピンドルモータ１５の２箇所の回転位置と偏芯量とを学習する偏芯学習部９０と、光ビームの反射光から生成されるレンズセンターからのレンズシフト量を表す検出信号と実際のレンズ２０シフト量との関係を学習するレンズシフト学習部８０と、ロングシークを用いて現在の記録トラックから目標の記録トラックまで光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの光ピックアップ５５の移動距離を、スレッド移動前の検出信号における実際のレンズシフト量と、偏芯量が最大となる回転位置における光ディスクの偏芯量とで補正し、偏芯量が最大となる回転位置で光ビームをトラックＯＮさせる制御部とを有する。【選択図】図１
2011134425.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを回転させるスピンドルモータと、
前記光ディスクの記録トラックに光ビームを照射すべくアクチュエータに支持されるレンズと、
前記レンズを支持する光ピックアップを前記記録トラックと交差する方向に移動させるスレッドと、
前記スピンドルモータの回転位置と前記光ディスクの偏芯量との関係から前記光ピックアップに対して前記偏芯量が最大となる前記スピンドルモータの２箇所の回転位置と偏芯量とを学習する偏芯学習部と、
前記光ビームの反射光から生成されるレンズセンターからのレンズシフト量を表す検出信号と実際のレンズシフト量との関係を学習するレンズシフト学習部と、
ロングシークを用いて現在の記録トラックから目標の記録トラックまで光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの光ピックアップの移動距離を、学習した検出信号とレンズシフト量との関係から算出されるスレッド移動前の検出信号における実際のレンズシフト量と、偏芯量が最大となる回転位置における光ディスクの偏芯量とで補正し、光ピックアップを補正した移動距離移動させ偏芯量が最大となる回転位置で前記光ビームをトラックＯＮさせる制御部と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記学習部に代えて、前記光ビームの反射光から生成される検出信号と前記レンズシフト量との関係を記憶するレンズシフト記憶部を有することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御部は、
前記目標の記録トラックの位置が前記光ディスクの記録方式の異なる領域の境界から一定の距離以上離れている位置にあるときには、前記偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、スレッド移動後に最初に到達するいずれかの回転位置で前記光ビームをトラックＯＮさせることを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御部は、
前記目標の記録トラックの位置が前記光ディスクの記録方式の異なる領域の境界から一定の距離以上離れていない位置にあるときには、前記偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、記録方式の異なる領域の境界からスレッド位置がより離れる回転位置で前記光ビームをトラックＯＮさせることを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
光ディスクを回転させるスピンドルモータと前記光ディスクの記録トラックに光ビームを照射すべくアクチュエータに支持されるレンズと前記レンズを支持する光ピックアップを前記記録トラックと交差する方向に移動させるスレッドとを備えた光ディスク装置のシーク制御方法であって、
前記スピンドルモータの回転位置と前記光ディスクの偏芯量との関係から前記光ピックアップに対して前記偏芯量が最大となる前記スピンドルモータの２箇所の回転位置と偏芯量とを学習する偏芯学習段階と、
前記光ビームの反射光から生成されるレンズセンターからのレンズシフト量を表す検出信号と実際のレンズシフト量との関係を学習するレンズシフト学習段階と、
ロングシークを用いて現在の記録トラックから目標の記録トラックまで光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの光ピックアップの移動距離を、学習した検出信号とレンズシフト量との関係から算出されるスレッド移動前の検出信号における実際のレンズシフト量と、偏芯量が最大となる回転位置における光ディスクの偏芯量とで補正する移動距離補正段階と、
前記光ピックアップを補正した移動距離移動させ前記偏芯量が最大となる回転位置で前記光ビームをトラックＯＮさせる追従段階と、
を含むことを特徴とする光ディスク装置のシーク制御方法。
【請求項６】
光ディスクを回転させるスピンドルモータと前記光ディスクの記録トラックに光ビームを照射すべくアクチュエータに支持されるレンズと前記レンズを支持する光ピックアップを前記記録トラックと交差する方向に移動させるスレッドとを備えた光ディスク装置のシーク制御方法であって、
前記スピンドルモータの回転位置と前記光ディスクの偏芯量との関係から前記光ピックアップに対して前記偏芯量が最大となる前記スピンドルモータの２箇所の回転位置と偏芯量とを学習する偏芯学習段階と、
前記光ビームの反射光から生成されるレンズセンターからのレンズシフト量を表す検出信号と実際のレンズシフト量との関係を学習するレンズシフト学習段階と、
ロングシークを用いて現在の記録トラックから目標の記録トラックまで光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの光ピックアップの移動距離を、学習した検出信号とレンズシフト量との関係から算出されるスレッド移動前の検出信号における実際のレンズシフト量と、偏芯量が最大となる回転位置における光ディスクの偏芯量とで補正する移動距離補正段階と、
前記目標の記録トラックの位置が前記光ディスクの記録方式の異なる領域の境界から一定の距離以上離れている位置にあるときには、前記偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、スレッド移動後に最初に到達するいずれかの回転位置で前記光ビームをトラックＯＮさせる追従段階と、
を含むことを特徴とする光ディスク装置のシーク制御方法。
【請求項７】
光ディスクを回転させるスピンドルモータと前記光ディスクの記録トラックに光ビームを照射すべくアクチュエータに支持されるレンズと前記レンズを支持する光ピックアップを前記記録トラックと交差する方向に移動させるスレッドとを備えた光ディスク装置のシーク制御方法であって、
前記スピンドルモータの回転位置と前記光ディスクの偏芯量との関係から前記光ピックアップに対して前記偏芯量が最大となる前記スピンドルモータの２箇所の回転位置と偏芯量とを学習する偏芯学習段階と、
前記光ビームの反射光から生成されるレンズセンターからのレンズシフト量を表す検出信号と実際のレンズシフト量との関係を学習するレンズシフト学習段階と、
ロングシークを用いて現在の記録トラックから目標の記録トラックまで光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの光ピックアップの移動距離を、学習した検出信号とレンズシフト量との関係から算出されるスレッド移動前の検出信号における実際のレンズシフト量と、偏芯量が最大となる回転位置における光ディスクの偏芯量とで補正する移動距離補正段階と、
目標の記録トラックの位置が前記光ディスクの記録方式の異なる領域の境界から一定の距離以上離れていない位置にあるときには、前記偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、記録方式の異なる領域の境界からスレッド位置がより離れる回転位置で前記光ビームをトラックＯＮさせる追従段階と、
を含むことを特徴とする光ディスク装置のシーク制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高精度、安定的かつ迅速にシークを行なうことができる光ディスク装置および光ディスク装置のシーク制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクは、同心円状または渦巻状に配列された記録トラックを有している。光ディスク装置は、光ディスクを回転させて、光ピックアップから照射された光ビームを常に目標の記録トラックに追従させるために、光ピックアップのトラッキングを制御する。
【０００３】
目的の記録トラックに移動させる場合、光ディスク装置は、光ピックアップ自体を、光ディスクの半径方向に移動させるスレッドを用いて移動させるロングシークと、光ピックアップの対物レンズを、アクチュエータを用いて半径方向に移動させるショートシークの２種類のシークを用いて目的のトラックに到達させる。ロングシークは現在のトラックと目的のトラックとの距離が大きい場合に用いられ、トラッキング制御をオフした状態でスレッドを移動させることで、高速に目的位置近くに移動することができる。ただし、トラック１本単位での移動は出来ないため、ショートシークを用いてトラック数をカウントし、目的のトラックに移動する。
【０００４】
トラッキングの制御は、光ビームを目標の記録トラックに追従させる制御であり、光ディスクをドライブ装置に固定するときに生じる機械的な回転中心のずれ、および、光ディスク自体の回転中心のずれによって発生する光ディスクの偏芯成分を補償することができる。
【０００５】
しかし、ロングシークを必要とする長い距離(たとえば２ｃｍ）光ビームを移動させる時には、偏芯成分がシークの動作に悪影響を与え、光ビームを目標とする記録トラックまで高精度、安定的かつ迅速に移動させることができない場合がある。
【０００６】
そこで、従来、偏芯成分があってもシークの動作を正確に行なえるようにするために、下記の特許文献に記載されているような様々な技術が提案されている。
【０００７】
引用文献１に記載されている技術では、光ディスクの偏芯成分を学習しておき、シーク時に、学習した偏芯成分をジャンプ信号に加算して駆動信号を生成し、その駆動信号でドライブ装置を駆動させている(段落００３９の記載を参照)。
【０００８】
引用文献２に記載されている技術では、光ディスクの偏芯成分を学習しておき、駆動信号の電圧値が基準電圧の付近(偏芯成分が０となる付近：図４参照)で光ビームを記録トラックに引き込んで追従(以下、トラックＯＮという)させている(段落００３２、００３３参照)。
【０００９】
引用文献３に記載されている技術では、シークするときに、光ピックアップを移動させる前の光ディスクの偏芯量と移動させた直後の偏芯量とを予測して、光ピックアップの移動距離を補正している(段落００４６の記載を参照)。
【００１０】
引用文献４に記載されている技術では、光ディスクに記録トラックが存在しないミラー領域付近にシークをさせる場合には、光ピックアップがミラー領域内に移動してしまうリスクを回避するために、実際に算出された光ピックアップの移動量から一定の移動量を減算して、ミラー領域から外れた領域に光ピックアップを移動させ、ミラー領域以外の領域でトラックＯＮさせている(段落００３２の記載を参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２０００−２０９６７号公報
【特許文献２】特開２００３−２７２１８５号公報
【特許文献３】特開２００４−３９０２６号公報
【特許文献４】特開２０００−３３９７１０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、これらの従来技術では、高精度、安定的かつ迅速にシークを行なわせるにはまだ改善の余地がある。
【００１３】
特許文献１では、偏芯成分をジャンプ信号に加算して駆動信号を生成している。しかし、偏芯成分が大きい程、シーク後のトラックＯＮ時の駆動信号の電圧が中心からずれてしまう。このために、トラックＯＮ時のマージンが減少してしまい、安定的なシークという点で改善の余地がある。
【００１４】
特許文献２では、駆動信号の電圧値が基準電圧となる付近、すなわち偏芯成分が０となる付近でトラックＯＮすることによって、偏芯成分の影響を低減している。しかし、基準電圧付近は光ピックアップのレンズと記録トラックとの相対位置変化が最も早く、このためトラックＯＮさせることが難しい。したがって、引用文献１と同様に、安定的なシークという点で改善の余地がある。
【００１５】
特許文献３では、光ピックアップを移動させる前の光ディスクの偏芯量と移動させた直後の偏芯量とを予測して、光ピックアップの移動距離を補正している。しかし、補正した移動距離は、偏芯量は考慮されているものの、光ピックアップのレンズのシフト量は反映されていない。また、トラックＯＮのタイミングも考慮されていないため、光ビームを記録トラックに安定させて追従させることが難しい。したがって、引用文献１および２と同様に、安定的なシークという点で改善の余地がある。
【００１６】
特許文献４では、光ディスクの外周部及び内周部に設けられているミラー領域近くでは、偏芯成分の影響によるミラー領域内へのシークを避けるため、光ピックアップの移動量から、安全を見て、一定距離を減じて光ピックアップを移動させている。そのため、目標とする記録トラックにトラックＯＮさせるまでのシーク回数が増加し、シークタイムが増加する。したがって、シークを高精度かつ迅速に行なうという点で改善の余地がある。
【００１７】
本発明は、このような従来の技術の改善点に着目し、高精度、安定的かつ迅速にシークを行なうことができる光ディスク装置および光ディスク装置のシーク制御方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上記目的を達成するための本発明に係る光ディスク装置は、スピンドルモータ、レンズ、スレッド、偏芯学習部、レンズシフト学習部、制御部を有する。
【００１９】
スピンドルモータは光ディスクを回転させる。レンズは、光ディスクの記録トラックに光ビームを照射すべくアクチュエータに支持される。スレッドは、光ピックアップを記録トラックと交差する方向に移動させる。偏芯学習部は、スピンドルモータの回転位置と光ディスクの偏芯量との関係から光ピックアップに対して偏芯量が最大となるスピンドルモータの２箇所の回転位置と偏芯量とを学習する。レンズシフト学習部は、光ビームの反射光から生成されるレンズセンターからのシフト量を表す検出信号（ＣＥ信号)と実際のレンズシフト量との関係を学習する。制御部は、ロングシークを用いて現在の記録トラックから目標の記録トラックまで光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの光ピックアップの移動距離を、学習したＣＥ信号とレンズシフト量との関係から算出されるスレッド移動前のＣＥ信号における実際のレンズシフト量と、偏芯量が最大となる回転位置における光ディスクの偏芯量とで補正し、光ピックアップを補正した移動距離移動させ偏芯量が最大となる回転位置で光ビームをトラックＯＮさせる。その後ショートシークを用いて目標のトラックに到達させる。
【００２０】
また、上記目的を達成するための本発明に係る光ディスク装置のシーク制御方法は、光ディスクを回転させるスピンドルモータと光ディスクの記録トラックに光ビームを照射すべくレンズを駆動するアクチュエータと光ピックアップを記録トラックと交差する方向に移動させるスレッドとを備えた光ディスク装置のシーク制御方法であって、前記スピンドルモータの回転位置と前記光ディスクの偏芯量との関係から前記光ピックアップに対して前記偏芯量が最大となる前記スピンドルモータの２箇所の回転位置と偏芯量とを学習し、前記光ビームの反射光から生成されるレンズセンターからのシフト量を表す検出信号(ＣＥ信号)と実際のレンズシフト量との関係を学習し、スレッドによって現在の記録トラックから目標の記録トラックまで前記光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの前記光ピックアップの移動距離を、学習した前記ＣＥ信号とレンズシフト量との関係から算出されるスレッド移動前のＣＥ信号における実際のレンズシフト量と、偏芯量が最大となる回転位置における前記光ディスクの偏芯量とで補正し、前記光ピックアップを補正した移動距離移動させ前記偏芯量が最大となる回転位置で前記光ビームをトラックＯＮさせる。
【００２１】
さらに、上記目的を達成するための本発明に係る光ディスク装置のシーク制御方法は、光ディスクを回転させるスピンドルモータと光ディスクの記録トラックに光ビームを照射すべくアクチュエータに支持されるレンズとレンズを支持する光ピックアップを記録トラックと交差する方向に移動させるスレッドとを備えた光ディスク装置のシーク制御方法であって、スピンドルモータの回転位置と光ディスクの偏芯量との関係から光ピックアップに対して偏芯量が最大となるスピンドルモータの２箇所の回転位置と偏芯量とを学習する偏芯学習段階と、光ビームの反射光から生成されるレンズセンターからのレンズシフト量を表す検出信号(ＣＥ信号)と実際のレンズシフト量との関係を学習するレンズシフト学習段階と、ロングシークを用いて現在の記録トラックから目標の記録トラックまで光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの光ピックアップの移動距離を、学習したＣＥ信号とレンズシフト量との関係から算出されるスレッド移動前のＣＥ信号における実際のレンズシフト量と、偏芯量が最大となる回転位置における光ディスクの偏芯量とで補正する移動距離補正段階と、目標の記録トラックの位置が前記光ディスクの記録方式の異なる領域の境界から一定の距離以上離れている位置にあるときには、偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、スレッド移動後に最初に到達するいずれかの回転位置で光ビームをトラックＯＮさせる追従段階と、を含むことを特徴とする。
【００２２】
さらに、上記目的を達成するための本発明に係る光ディスク装置のシーク制御方法は、光ディスクを回転させるスピンドルモータと光ディスクの記録トラックに光ビームを照射すべくアクチュエータに支持されるレンズとレンズを支持する光ピックアップを記録トラックと交差する方向に移動させるスレッドとを備えた光ディスク装置のシーク制御方法であって、スピンドルモータの回転位置と光ディスクの偏芯量との関係から光ピックアップに対して偏芯量が最大となるスピンドルモータの２箇所の回転位置と偏芯量とを学習する偏芯学習段階と、光ビームの反射光から生成されるレンズセンターからのレンズシフト量を表すＣＥ信号と実際のレンズシフト量との関係を学習するレンズシフト学習段階と、ロングシークを用いて現在の記録トラックから目標の記録トラックまで光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの光ピックアップの移動距離を、学習したＣＥ信号とレンズシフト量との関係から算出されるスレッド移動前ＣＥ信号における実際のレンズシフト量と、偏芯量が最大となる回転位置における光ディスクの偏芯量とで補正する移動距離補正段階と、目標の記録トラックの位置が前記光ディスクの記録方式の異なる領域の境界から一定の距離以上離れていない位置にあるときには、前記偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、記録方式の異なる領域の境界からスレッド位置がより離れる回転位置で前記光ビームをトラックＯＮさせる追従段階と、を含む。
【発明の効果】
【００２３】
本発明に係る光ディスク装置および光ディスク装置のシーク制御方法によれば、光ピックアップ移動前のレンズのシフト量と光ディスクの最大の偏芯量とを考慮して目標のトラックまでの光ピックアップの移動距離を補正し、さらに、偏芯量が最大となる回転位置で光ビームを目標のトラックに追従させている。この結果、高精度、安定的かつ迅速なシークが可能となる。
【００２４】
また、目標の記録トラックの位置が光ディスクの記録方式の異なる領域の境界から一定の距離以上離れている位置にあるときには、偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、スレッド移動後に最初に到達するいずれかの回転位置で光ビームを目標の記録トラックに追従させている。この結果、安定的かつ迅速なシークが可能となる。
【００２５】
さらに、目標の記録トラックの位置が光ディスクの記録方式の異なる領域の境界から一定の距離以上離れていない位置にあるときには、偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、記録方式の異なる領域の境界からスレッド位置がより離れる回転位置で前記光ビームを前記目標のトラックに追従させる。この結果、安定的かつ迅速なシークが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本実施形態に係る光ディスク装置のブロック図である。
【図２】本実施形態に係る光ディスク装置の動作フローチャートである。
【図３】本実施形態に係る光ディスク装置の動作フローチャートである。
【図４】本実施形態に係る光ディスク装置の動作フローチャートである。
【図５】偏芯の説明に供する図である。
【図６】光ディスクの記録トラックに対するセンターエラー（ＣＥ）信号とレンズの原位置からのシフト量との関係の説明に供する図である。
【図７】アナログ信号処理回路から実際に出力されるトラッキングエラー（ＴＥ）信号を示す図である。
【図８】アナログ信号処理回路から実際に出力されるセンターエラー（ＣＥ）信号を示す図である。
【図９】シークを行なったときのトラッキングエラー（ＴＥ）信号、センターエラー（ＣＥ）信号を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下に、添付した図面を参照しながら、本発明に係る光ディスク装置および光ディスク装置のシーク制御方法の実施形態を説明する。
【００２８】
なお、以下に記載する実施形態は、本発明に係る光ディスク装置および光ディスク装置のシーク制御方法の技術的思想をわかりやすく説明するために例示的に示したものである。したがって、本発明に係る光ディスク装置および光ディスク装置のシーク制御方法の技術的範囲は特許請求の範囲の記載に基づいて定められるべきである。
【００２９】
本実施形態における光ディスク装置および光ディスク装置のシーク制御方法では、ロングシーク時、光ピックアップ移動前のレンズのシフト量と光ディスクの最大の偏芯量とを考慮して目標のトラックまでの光ピックアップの移動距離を補正し、偏芯量が最大となる回転位置で光ビームをトラックＯＮさせることで、高精度なロングシークを可能としている。
【００３０】
また、記録トラックの存在しないミラー領域付近(たとえば、ミラー領域から５００μｍ未満)にある記録トラックにシークさせるときには、偏芯量が最大となる２箇所の回転位置の内、スレッド位置がよりディスク中心側となる回転位置を選び、光ビームをトラックＯＮさせている。これにより、トラックＯＮ時にフォーカス外れやトラックＯＮが失敗した場合でもミラー領域に突入する危険性を大きく減らすことができる。したがって、目標のトラックがミラー領域付近にあったとしても、安定的なシークが可能になる。
【００３１】
さらに、ミラー領域から離れた位置(たとえば５００μｍ以上)にある記録トラックにシークさせるときには、偏芯量が最大となる２箇所の回転位置の内、スレッド移動後に最初に到達するいずれかの回転位置で光ビームをトラックＯＮさせている。したがって、より迅速なシークが可能になる。
【００３２】
なお、本実施形態では、記録方式の異なる領域の境界としてユーザー領域とミラー領域との境界を例示して説明するが、これに限られず、その領域を境に記録方式が変わるものについても、本発明の適用が可能である。
【００３３】
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置のブロック図である。
【００３４】
光ディスク装置１００は、スピンドルモータ１５、レンズ２０、レンズアクチュエータ２５、レーザーダイオード３０、ハーフミラー３５、光検出回路４０、アナログ信号処理回路４５、レンズアクチュエータドライバ５０、光ピックアップ５５、スレッド６０、スレッドドライバ６５、スピンドルモータドライバ７０、トラックカウント部７５、レンズシフト学習部８０、回転位置検出部８５、偏芯学習部９０、制御部９５を備えている。なお、トラックカウント部７５、レンズシフト学習部８０、回転位置検出部８５、偏芯学習部９０、制御部９５は、システムマイコン内に設けられている。
【００３５】
スピンドルモータ１５は、光ディスク１０の回転孔を回転軸に保持させた状態で光ディスク１０を回転する。スピンドルモータ１５は、１回転について決まった数（例えば１８パルスまたは３６パルス）のＦＧパルス信号を出力する。ＦＧパルス信号は、スピンドルモータ１５の基準回転位置からどの程度の角度回転したのかを把握するために用いられる。つまりＦＧパルス信号のパルスの数をカウントすることによってスピンドルモータ１５の回転位置が分かる。
【００３６】
レンズ２０は、光ディスク１０の記録トラックに光ビームを照射すべくアクチュエータに支持される。レンズ２０は、光ビームの焦点を記録トラックに合わせるとともに、光ビームを記録トラックに追従させる。本実施形態では、光ディスク１０としてＤＶＤを例示する。
【００３７】
レンズアクチュエータ２５は、レンズ２０を通過した光ビームを記録トラックに追従させるためにレンズ２０を駆動する。
【００３８】
レーザーダイオード３０は、光ディスク１０の記録トラックに照射する光ビームをレンズ２０に向けて出力する。
【００３９】
ハーフミラー３５は、レーザーダイオード３０が出力する光ビームの一部を透過させてレンズ２０に向けて出力する。ハーフミラー３５を透過した光ビームはレンズ２０で焦点が絞られて光ディスク１０の記録トラックに照射される。
【００４０】
光検出回路４０は、光ディスク１０の記録トラックに照射した光ビームの反射光を、ハーフミラー３５を介して入力し光電変換して検出信号を出力する。検出信号はアナログの電気信号である。なお、ハーフミラー３５は、上記のように光ビームを透過させる機能の他に、記録トラックに照射された光ビームの反射光を光検出回路４０に向けて反射する機能も有している。
【００４１】
アナログ信号処理回路４５は、光検出回路４０から出力されるアナログの電気信号である検出信号を加工して、ディジタルの電気信号であるトラッキングエラー(ＴＥ）信号およびセンターエラー(ＣＥ）信号を出力する。トラッキングエラー信号は光ビームが記録トラックを横切ったことを検出できる。センターエラー信号は記録トラックに光ビームが追従するときのレンズ２０の振れを検出できる。したがって、本実施形態では、トラッキングエラー信号は光ディスクの偏芯量を測定するために用い、センターエラー信号はレンズ２０のシフト量を測定するために用いる。
【００４２】
レンズアクチュエータドライバ５０は、レンズアクチュエータ２５に駆動信号を出力し、光ビームを記録トラックに沿って照射させるためにレンズ２０を移動させる。したがって、光ディスク１０が偏芯して回転しているときには、記録トラックが楕円状の軌跡を描いて回転するので、レンズアクチュエータドライバ５０は、レンズアクチュエータ２５にレンズ２０を往復移動させる駆動信号を出力することになる。また、ショートシーク時は、トラッキング制御をＯＦＦした状態でレンズアクチュエータ２５を用いてレンズを指定方向に移動させ、サイン波状のＴＥ信号の数を計測し、目標のトラックに近づけていく。
【００４３】
光ピックアップ５５は、レンズ２０、レンズアクチュエータ２５、レーザーダイオード３０、ハーフミラー３５、光検出回路４０を備える。
【００４４】
スレッド６０は、螺旋状に溝が切られたリードスクリューをスレッドモータにより正逆回転させ光ピックアップ５５を光ディスク１０の半径方向に移動させる。スレッド６０が作動するときは、ロングシーク時、光ピックアップ５５を移動させる場合と、トラック追従によりレンズがセンターからずれた分移動し、常にレンズがセンターになる様に制御する場合である。
【００４５】
スレッドドライバ６５は、制御部９５からのスレッド制御信号を元にスレッド６０に駆動信号を出力する。スレッド６０は、駆動信号に基づいてスレッドモータを回転させ光ピックアップ５５を移動させる。
【００４６】
スピンドルモータドライバ７０は、スピンドルモータ１５の回転を制御するための信号をスピンドルモータ１５に出力する。スピンドルモータドライバ７０は、記録方式がＣＬＶ方式であるときには、光ビームの照射位置が光ディスク１０の内周から外周に向かうに連れて光ディスク１０の回転速度を低下させる。また、記録方式がＣＡＶ方式であるときには、光ビームの照射位置が光ディスク１０のどこにあっても一定の回転速度で光ディスク１０を回転させる。
【００４７】
レンズシフト学習部８０は、スレッド６０によって光ピックアップ５５を移動させ光ビームの反射光から生成される検出信号とレンズ２０のシフト量との関係を学習する。レンズシフト学習部８０の詳細な処理は、図３の動作フローチャートで説明される。
【００４８】
回転位置検出部８５は、スピンドルモータ１５から出力されるＦＧパルス信号のパルスの数をカウントしてスピンドルモータ１５の基準位置からの回転位置を検出する。
【００４９】
偏芯学習部９０は、回転位置検出部８５によって検出したスピンドルモータ１５の回転位置と光ディスク１０の偏芯量との関係から光ピックアップ５５に対して偏芯量が最大となるスピンドルモータ１５の２箇所の回転位置を学習する。光ディスク１０がある偏芯成分を持って回転している場合、光ピックアップ５５から見ると、光ディスク１０が１／２回転する度に偏芯量が最大となる回転位置かある。偏芯学習部９０は、光ディスク１０が１回転する度に偏芯量が最大となる２箇所の回転位置(ＦＧパルス信号のパルスの数から算出)とその２箇所の回転位置の偏芯量(トラッキングエラー信号から算出)を学習する。
【００５０】
制御部９５は、スレッド６０によって現在の記録トラックから目標の記録トラックまで光ビームをシークさせるとき、現在の記録トラックから目標の記録トラックまでの光ピックアップ５０の移動距離を、レンズシフト学習部８０が学習した検出信号とレンズのシフト量との関係から算出される現在の検出信号におけるレンズのシフト量と、偏芯学習部９０が学習した偏芯量が最大となる回転位置における光ディスク１０の偏芯量とで補正し、光ピックアップ５５を補正した移動距離移動させ偏芯量が最大となる回転位置で光ビームを前記目標のトラックに追従させるための制御を行なう。
【００５１】
また、制御部９５は、目標の記録トラックの位置が光ディスク１０のミラー領域から一定の距離以上(たとえばミラー領域から５００μｍ以上)離れている位置にあるときには、偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、スレッド移動後に最初に到達するいずれかの回転位置で光ビームを目標のトラックに追従させるための制御を行なう。
【００５２】
さらに、制御部９５は、目標の記録トラックの位置が光ディスク１０のミラー領域から一定の距離以上離れていない位置にあるときには、偏芯量が最大となる２箇所の回転位置のうち、スレッド位置がよりディスク内周側となる回転位置を選びスレッド移動距離の計算を行う。
【００５３】
なお、本実施形態では、レンズシフト学習部８０を設けて検出信号とレンズ２０のシフト量との関係を学習させる場合を例示したが、検出信号とレンズ２０のシフト量との関係があらかじめ分かっている場合には、レンズシフト学習部８０に代えて、検出信号とレンズ２０のシフト量との関係を記憶させたレンズシフト記憶部を備えても良い。
【００５４】
次に、本実施形態に係る光ディスク装置の動作を図２から図４の動作フローチャートおよび図５から図９の図面を参照しながら説明する。なお、図２から図４の動作フローチャートの処理手順は、本実施形態に係る光ディスク装置のシーク制御方法の処理手順にも該当する。
【００５５】
図２は、本実施形態に係る光ディスク装置の動作フローチャートであり、この動作フローチャートは、光ディスク１０の偏芯量が最大となる回転位置と偏芯量および検出信号とレンズ２０のシフト量との関係を学習するための処理を行なうものである。
【００５６】
光ディスク１０が偏芯して回転している場合の偏芯量の測定と、偏芯量が最大となる回転位置とその回転位置における偏芯量との学習は、図１に示した偏芯学習部９０が行なう処理であり、検出信号とレンズ２０のシフト量との関係の学習は、同図に示したレンズシフト学習部８０が行う処理である。
【００５７】
図２から図４の動作フローチャートを説明する前に、光ディスク１０の偏芯とレンズ２０のセンターエラー(シフト量)について説明する。
【００５８】
図５は偏芯の説明に供する図であり、図７はアナログ信号処理回路４５から実際に出力されるトラッキングエラー（ＴＥ）信号を示す図である。
【００５９】
図示するように、偏芯とは、光ディスク１０の回転中心Ｃａとスピンドルモータ１５の回転中心Ｃｂとがずれている状態を言う。偏芯があると、光ピックアップ５５から照射される光ビームの軌跡と光ディスク１０の記録トラックとの位置関係が、光ディスク１０の回転位置によって変化する。したがって、光ビームに対して記録トラックが偏芯量分横断するという現象が生じる。
【００６０】
偏芯が生じる原因は、光ディスク１０をスピンドルモータ１５の回転軸に保持させるときに生じる位置ずれや、光ディスク１０の製造時に生じる回転孔の位置ずれである。偏芯が生じているときに、光ビームに対して記録トラックが偏芯量分横断する様子は、図７に示すように、アナログ信号処理回路４５から出力されるトラッキングエラー（ＴＥ）信号のＨＩ、ＬＯＷの変化状態によって捉えることができる。図７に示したトラッキングエラー（ＴＥ）信号のＨＩ、ＬＯＷの変化状態において、ＨＩ、ＬＯＷの変化周期が最も少なくなる位置は、図５に示す偏芯量が最大となるＡ位置およびＢ位置の２箇所である。これらの位置を本明細書では極と称する。この２箇所の極となる位置では、光ビームを記録トラックに引き込んで追従させ易くなる。換言すれば、光ビームを記録トラックにトラックＯＮさせ易くなる。本実施形態では、光ピックアップ５５を現在の記録トラックから目的のトラックまで２センチも移動させるようなシークを行なわせるときには、これらの極の内のいずれかの極が来たときに、光ビームを目標のトラックに引き込んで追従させる。
【００６１】
ロングシークを行なわせるときには、光ピックアップ５５をスレッド移動させる前後で偏芯状態が異なるため、光ピックアップ５５の位置が目標の記録トラックの位置に対して誤差を生じる。本実施形態では、この誤差を解消するために、偏芯量が最大となる回転位置と偏芯量の学習を行なっている。
【００６２】
図６は光ディスクの記録トラックに対するセンターエラーの検出信号とレンズの原位置からのシフト量との関係の説明に供する図であり、図８は偏芯量が５０μｍのディスクにトラックＯＮした時のアナログ信号処理回路から実際に出力されるセンターエラー（ＣＥ）信号を示す図であり、図９はシークを行なったときのトラッキングエラー（ＴＥ）信号、センターエラー（ＣＥ）信号を示す図である。
【００６３】
偏芯した状態で回転している光ディスク１０の記録トラックにレンズ２０を追従させているときには、検出信号として、図８に示すようなセンターエラー信号が出力される。センターエラー信号は、レンズ２０の径方向へのシフト量に比例した電圧値として出力される信号である。センターエラー信号の現在の電圧値は、レンズ２０の原位置からのシフト量を表している。簡単に言えば、レンズ２０の現在位置を表している。
【００６４】
光ビームが記録トラックを追従している状態では、レンズアクチュエータ２５は偏芯による記録トラックの振れに合わせてレンズ２０を移動させる。トラックＯＮした後の安定した状態では、図８に示すように、センターエラー信号は光ディスク１０の回転に合わせてＳｉｎ波形を描く。なお、Ｓｉｎ波形状のセンターエラー信号の中心（ＤＣ成分)は、往復移動しているレンズ２０の移動中心位置である。
【００６５】
ところが、ロングシークしたときには、シークする距離の相違やトラックＯＮした時の状態によって、図９に示すように、センターエラー信号の中心が大きくばらついて、その中心にオフセットを生じることがある。この場合のレンズ２０のシフト量は、光ディスク１０の偏芯量とオフセット量との和になる。レンズ２０がシフトしている状態でロングシークしたときには、シーク前のオフセット量がそのままシーク誤差として生じてしまうという問題がある。このシーク誤差は、偏芯量の補正をしただけでは解決できない。センターエラー信号の中心のオフセット分が補正されずに誤差として残ってしまうからである。
【００６６】
この問題を解決するために、本実施形態では、図６に示すように、光ディスク１０の記録トラックに対するセンターエラーの検出信号とレンズ２０のシフト量との関係をあらかじめ学習し、ロングシークしたときに、センターエラー信号からレンズ２０のシフト量を算出し、光ピックアップ５５の移動距離を補正している。なお、図９のＪｕｍｐＦｌａｇがＨＩになっているときは、ショートシークもしくはロングシーク中を示している。
【００６７】
以上が光ディスク１０の偏芯とレンズ２０のセンターエラーの説明である。
【００６８】
次に、図２の動作フローチャートの処理について説明する。この動作フローチャートは、光ディスク１０がローディングされた直後の初期起動時に実行される。
【００６９】
まず、偏芯学習部９０は偏芯量測定を行なう。偏芯量測定は、回転位置検出部８５がスピンドルモータ１５から出力されるＦＧパルス信号からスピンドルモータ１５の回転位置を検出し、偏芯学習部９０がＦＧパルス信号の出力の度に光ディスク１０の偏芯量を求めることによって行なわれる。ＦＧパルス信号はスピンドルモータ１５が１回転に対し決まった数（たとえば１８パルスまたは３６パルス）出力される。したがって、スピンドルモータ１５の回転位置(２０°または１０°ごと）に応じて光ディスク１０の偏芯量を求めることができる(ステップＳ１０）。ＦＧパルス毎の偏芯量は、トラックＯＦＦ状態でＴＥ信号の数を計測することで求めることができる。
【００７０】
次に、偏芯学習部９０は、ステップＳ１０で行った偏芯量測定の結果から、偏芯量が最大となる回転位置とその偏芯量を学習する。偏芯量が最大となる回転位置ではレンズの移動速度が最も遅くなるため、ＦＧパルス間のＴＥ信号の数が最も少なくなり、そのＦＧパルス番号が極の位置となる。偏芯量が最大となる極の位置は、図５に示したようにＡ点とＢ点の２箇所となり、極と極の間のＴＥ信号の総数が偏芯量となる。偏芯学習部９０は、光ピックアップ５５から出力される光ビームが２箇所の極の位置に達したときの偏芯量を学習する（ステップＳ２０）。
【００７１】
なお、本実施形態の光ディスク装置のシーク制御方法にあっては、ステップＳ１０およびステップＳ２０の処理が偏芯学習段階に相当する。
【００７２】
そして、レンズシフト学習部８０は検出信号とシフト量との関係を学習する(ステップＳ３０）。このステップの詳細な手順は、図３の動作フローチャートに基づいて説明する。
【００７３】
図３は、図２に示したステップＳ３０の詳細な手順を示すサブルーチンフローチャートである。このフローチャートは、レンズ２０のシフト量を示すセンターエラー信号と実際のレンズシフト量との関係を求めるものであって、レンズシフト学習部８０によって実行される。
【００７４】
まず、レンズ２０を光ディスク１０の表面に対して近接離間する方向に駆動し、光ビームの焦点を記録層に合わせ、フォーカスＯＮの状態にする(ステップＳ３１)。次に、図８に示したようなセンターエラー信号を測定し、レンズ２０のセンターエラーの初期値を光ディスク１０の１回転分について測定する。センターエラーの初期値は測定されたセンターエラーの平均値である(ステップＳ３２）。この初期値がレンズのセンター位置を示す値となる。
【００７５】
そして、光ビームを記録トラックに引き込んで追従させ、トラックＯＮの状態にする(ステップＳ３３）。再度センターエラー信号を測定し、レンズ２０のセンターエラーを光ディスク１０の１回転分について測定する。このときのセンターエラーも測定されたセンターエラーの平均値である(ステップＳ３４)。
【００７６】
次に、トラックＯＮの状態のまま、光ピックアップ５５を一定距離、たとえば１０μｍ移動させ(ステップＳ３５）、ステップＳ３４に戻って(ステップＳ３６）、再度センターエラー信号を測定し、センターエラーを光ディスク１０の１回転分について測定する。このときのセンターエラーも測定されたセンターエラーの平均値である(ステップＳ３４〜３６)。
【００７７】
ステップＳ３４およびステップＳ３５の処理を、あらかじめ定められた回数(たとえば１０回)繰り返して行い(ステップＳ３６）、光ピックアップ５５を一定距離ずつ移動させたときのセンターエラーの平均をプロットして、図６に示すような、レンズシフト量の感度（レンズシフト量に対するセンターエラー信号の値を示す直線の傾き)を作成する。または、図５のような直線の感度を求めるのではなく、光ピックアップ５５を一定距離ずつ移動させたときに得られたセンターエラーの平均を、センターエラー−Δ距離テーブルとして持っても良い(ステップＳ３７）。
【００７８】
なお、本実施形態の光ディスク装置のシーク制御方法にあっては、図３のフローチャートの処理がレンズシフト学習段階に相当する。
【００７９】
本実施形態では、以上のように、検出信号とシフト量との関係を学習する処理を行っているが、検出信号とシフト量との関係があらかじめ分かっている場合には、この関係を記憶した記憶装置を光ディスク装置が備えていれば良く、図２のステップＳ３０の処理と図３のフローチャートの処理は省略することができる。
【００８０】
次に、図４に示した動作フローチャートに基づいて、本実施の形態に係る光ディスク装置がロングシークを行なうときの処理を詳細に説明する。
【００８１】
まず、光ピックアップ５５から出力されている光ビームを現在の記録トラックから目的の記録トラックにシークさせるために、光ピックアップ５５の移動距離を算出する。この移動距離は、現在の記録トラックから目的の記録トラックに移動するまで、何本の記録トラックを飛び越すかを計算し、計算した飛び越す記録トラックの数にあらかじめ分かっている記録トラック間の距離を掛け合わせることによって算出する(ステップＳ４０)。次に、レンズシフト学習部８０が学習した図６に示すようなレンズシフト量の感度を参照して、検出信号に相当するセンターエラー信号からレンズ２０の現在のシフト量を算出する(ステップＳ４１)。算出された現在のレンズ２０のシフト量を光ピックアップ５５の移動距離に加えて、光ピックアップ５５の移動距離を補正する(ステップＳ４２)。
【００８２】
次に、目標の記録トラックの位置が、記録トラックの存在しないミラー領域の近くであるか否かを判断する。目標の記録トラックの位置がミラー領域の近くかであるか否かは、目標トラックがミラー領域からたとえば５００μｍ未満の距離内にあるか否かによって判断する(ステップＳ４３）。目標のトラックがミラー領域の近くである場合には(ステップＳ４３：Ｙｅｓ）、ミラー領域から離れた位置で目標トラックに光ビームを引き込んでトラックＯＮさせるために、学習した偏芯量が最大となるＦＧパルス信号の番号のうち、光ビームがミラー領域に引き込まれる可能性の少ない方のＦＧパルス信号の番号、すなわち安全な方の回転位置を選択する。たとえば、図５の場合、光ピックアップ５５が光ディスク２０の中心側の位置になるＢ点の極を選択する。このような選択をしておけば、トラックＯＮ時にフォーカスドロップやトラックＯＮ失敗などの何らかの異常があったときに、光ビームがミラー領域に突入する可能性を低くすることができる(ステップＳ４４）。
【００８３】
目標のトラックがミラー領域の近くでない場合には(ステップＳ４３：Ｎｏ）、少しでも早く目標トラックに光ビームを引き込んでトラックＯＮさせるために、学習した偏芯量が最大となるＦＧパルス信号の番号のうち、ディスクの回転速度及びロングシーク時間から、スレッド移動後に最初に到達できる方のＦＧパルス信号の番号、すなわち回転位置を選択する。たとえば、図５の場合、光ピックアップ５５がＡ点の極に早く到達できる場合には、時間短縮が可能なＡ点を選択する(ステップＳ４５）。
【００８４】
そして、トラックＯＮさせる極が決まったら、選択した極のＦＧパルス信号の番号に対応した偏芯量で、光ピックアップ５５の移動量をさらに補正する。ステップＳ４２とステップＳ４６の補正によって、レンズ２０のシフト量と光ディスク１０の偏芯量の補正が終了し、正確に光ビームを目標の記録トラックにトラックＯＮさせることができるようになる(ステップＳ４６）。
【００８５】
そして、補正後の距離だけ光ピックアップ５５を移動させ(ステップＳ４７）、偏芯量が最大となる選択した極に対応するＦＧパルス信号の番号に達するのを待って(ステップＳ４８）、光ビームを目標の記録トラックにトラックＯＮさせる(ステップＳ４９）。
【００８６】
なお、本実施形態の光ディスク装置のシーク制御方法にあっては、図４のフローチャートの処理のうち、ステップＳ４２とステップＳ４６の処理が移動距離補正段階に相当し、ステップＳ４７からステップＳ４９の処理が追従段階に相当する。
【００８７】
以上のように、本実施形態の光ディスク装置および光ディスク装置のシーク制御方法によれば、光ピックアップ移動前のレンズのシフト量と光ディスクの最大の偏芯量とを考慮して目標のトラックまでの光ピックアップの移動距離を補正し、偏芯量が最大となる回転位置で光ビームを目標のトラックに追従させることで、従来、偏芯量の大きい光ディスクに対して長い距離のシークを行なう時に発生していたシーク誤差を解消することができる。したがって、高精度のシークを行なわせることができる。
【００８８】
また、光ディスクの内外に設けてあるミラー領域の近くにシークさせる場合であっても、ミラー領域から離れている方の極でトラックＯＮさせるので、高精度でかつ安全なシークが可能となる。したがって、高精度かつ安定的なシークを行なわせることができる。
【００８９】
さらに、偏芯量が最大となる２箇所の回転位置の内、光ビームに早く到達するいずれかの回転位置で光ビームを目標のトラックにトラックＯＮさせるので、シークに要する時間を短縮することができる。したがって、より迅速なシークを行なわせることができる。
【００９０】
以上のとおり、実施形態において、本発明に係る光ディス装置および光ディスク装置のシーク制御方法を説明した。しかしながら、本発明は、その技術思想の範囲内において当業者が適宜に追加、変形、および省略することができることはいうまでもない。
【００９１】
また、本実施形態では、光ディスクとしてＤＶＤを例示して説明したが、そのほかの光ディスクとして、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＢＤ−ＲＯＭ、ＢＤ−Ｒ、ＢＤ−ＲＥなどはもちろん、ＭＯなどの光磁気ディスクに対しても適用することができる。
【符号の説明】
【００９２】
１０  光ディスク、
１５  スピンドルモータ、
２０  レンズ、
２５  レンズアクチュエータ、
３０  レーザーダイオード、
３５  ハーフミラー、
４０  光検出回路、
４５  アナログ信号処理回路、
５０  レンズアクチュエータドライバ、
５５  光ピックアップ、
６０  スレッド、
６５  スレッドドライバ、
７０  スピンドルモータドライバ、
７５  トラックカウント部、
８０  レンズシフト学習部、
８５  回転位置検出部、
９０  偏芯学習部、
９５  制御部、
１００  光ディスク装置。
【図１】
2011134425.tif 000003
【図２】
2011134425.tif 000004
【図３】
2011134425.tif 000005
【図４】
2011134425.tif 000006
【図５】
2011134425.tif 000007
【図６】
2011134425.tif 000008
【図７】
2011134425.tif 000009
【図８】
2011134425.tif 000010
【図９】
2011134425.tif 000011