(57)【要約】【課題】小さなサージ電流によって発生した磁界を検出することができ、かつ、磁気カードを大型化することなく大きなサージ電流によって発生した磁界を検出することができるように測定範囲を広げたサージ記録カードを提供する。【解決手段】導線に接するように設置されたカード型の媒体に備えた磁性体材料が磁化することによって、導線に流れたサージ電流によって発生した磁界の大きさを記録するサージ記録カードにおいて、異なる透磁率をもつ複数の前記磁性体材料を前記カード型の媒体に備える。【選択図】図２
2011153986.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導線に接するように設置されたカード型の媒体に備えた磁性体材料が磁化することによって、導線に流れたサージ電流によって発生した磁界の大きさを記録するサージ記録カードにおいて、
異なる透磁率をもつ複数の前記磁性体材料を前記カード型の媒体に備える、
ことを特徴とするサージ記録カード。
【請求項２】
前記カード型の媒体は、
該カード型の媒体を前記導線に設置する際に、前記導線と接する第１の辺と、前記第１の辺と直交する第２の辺を有し、
前記導線に予め定められた第１の辺が接するように設置され、
前記カード型の媒体の面は、前記カード型の媒体の第１の辺の長さよりも短い長さの幅で、前記導線と直交する前記カード型の媒体の第２の辺と平行に複数の磁性体材料領域に分割され、
前記磁性体材料領域毎に異なる透磁率をもつ前記磁性体材料を備える、
ことを特徴とする請求項１に記載のサージ記録カード。
【請求項３】
前記カード型の媒体は、
該カード型の媒体を前記導線に設置する際に、前記導線と接する第１の辺と、前記第１の辺と直交する第２の辺を有し、
前記導線に予め定められた第１の辺が接するように設置され、
前記カード型の媒体の面は、前記導線と直交する前記カード型の媒体の第２の辺の長さよりも短い長さの幅で、前記カード型の媒体の第１の辺と平行に複数の磁性体材料領域に分割され、
前記磁性体材料領域毎に異なる透磁率をもつ前記磁性体材料を備え、
前記磁性体材料は、
前記導線に接する前記カード型の媒体の第１の辺から離れていくに従って、前記透磁率が低くなるように備えられる、
ことを特徴とする請求項１に記載のサージ記録カード。
【請求項４】
前記カード型の媒体は、
該カード型の媒体の両面がそれぞれ複数の前記磁性体材料領域に分割され、
該カード型の媒体の両面の前記磁性体材料領域毎に異なる透磁率をもつ前記磁性体材料を備える、
ことを特徴とする請求項２または請求項３に記載のサージ記録カード。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サージ電流による磁界を検出するサージ記録カードに関する。
【背景技術】
【０００２】
電気機器を導入している設備において、例えば、ＳＰＤ（Ｓｕｒｇｅ  Ｐｒｏｔｅｃｔｉｖｅ  Ｄｅｖｉｃｅ）などのサージ防護デバイスを使用した雷害対策が進んでいる。サージ防護デバイスは、保護対象の電気機器の入力側の導線に取り付けられ、落雷によって発生した雷サージを電気機器の絶縁レベル以下に制御することによって、電気機器の絶縁破壊を防止する機器である。
【０００３】
サージ防護デバイスは、雷サージ電流が流れることによって徐々に劣化する。また、サージ防護デバイスは、雷サージ電流が流れたことによって故障することもある。サージ防護デバイスが劣化または故障していると、電気機器の絶縁破壊を防止することができなくなるため、サージ防護デバイスが常に正常に動作するように保守、管理することが必要である。サージ防護デバイスの保守、管理においては、サージ防護デバイスに流れた雷サージ電流を計測することによって、サージ防護デバイスの故障や劣化の状態を推測することが行われている。
【０００４】
サージ防護デバイスに流れた雷サージ電流を測定する方法には、例えば、ロゴスキーコイルで検出した雷サージを記録するサージ波形記録装置や、カレントトランス（ＣＴ）によって雷サージ電流を計測する方法がある。また、磁界の変化を検出する磁気カードを導線に接するように設置し、雷サージ電流に応じて発生した導線の周囲の磁界によって磁気カードが磁化された範囲から、雷によって発生した雷サージ電流を推定する方法などがある（例えば、非特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】森田敏弘、片出基文、岡坂信宏、工藤剛史、“雷電流記録カード，カードホルダ，カード読取装置の開発”、２００９年電気設備学会全国大会  Ｄ−５、ｐｐ．１９５〜１９６、２００９年８月２７日
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
サージ波形記録装置やカレントトランス（ＣＴ）による雷サージ電流の計測では、高い精度で雷サージ電流を測定することが可能であるが、計測機器が高価であり、さらに、計測に必要な電源を計測機器に常時供給しておく必要がある。これにより、設備への導入はなかなか進んでいない。
【０００７】
それに対して、非特許文献１のような磁気カードを用いて雷サージ電流を推定する方法は、非常に安価に雷サージ電流を推定することができる。磁気カードを用いた雷サージ電流の推定においては、アンペアの法則が応用されている。アンペアの法則では、直線導体を流れる電流Ｉによって生じる磁界の磁束密度Ｂを、下式（１）のように求めることができる。
【０００８】
【数１】
2011153986.tif 000003
【０００９】
上式（１）において、μは磁気カードに備えた（例えば、貼付または塗布された）磁性体材料の透磁率、ｒは導体からの距離を示す。すなわち、磁束密度Ｂは、直線導体から距離ｒだけ離れた場所の直線導体を流れる電流Ｉによって生じる磁束密度を表している。
【００１０】
磁気カードを用いた雷サージ電流の推定においては、磁化するのに必要な固有の磁束密度Ｂ’が加わることによって磁化される磁性体材料を貼付または塗布した磁気カードを、導線の鉛直方向へ取り付ける。そして、落雷があった後に、磁気カードに貼付または塗布した磁性体材料が、雷サージ電流に応じて発生した磁界によって磁化された範囲を計測することによって、雷サージ電流を推定する。より具体的には、磁気カードに貼付または塗布した磁性体材料が雷サージ電流Ｉ’に応じて発生した磁界によって磁化された範囲から、上式（１）から求められる下式（２）のような関係式を用いて雷サージ電流Ｉ’の大きさを推定する。
【００１１】
【数２】
2011153986.tif 000004
【００１２】
上式（２）において、ｒ’は導線に流れた雷サージ電流Ｉ’に応じて発生した磁界によって磁性体材料が磁化された範囲の距離、すなわち、導線から磁化された範囲の境界までの距離を示す。
このように、磁気カードに貼付または塗布した磁性体材料が磁化した範囲を計測することによって、上式（２）に基づいて雷サージ電流を推定することができる。
【００１３】
ここで、磁気カードに貼付または塗布した磁性体材料の磁化されやすさを表す透磁率μは、貼付または塗布された磁性体材料によって予め決まっている値である。従って、磁気カードが検出することができる雷サージ電流Ｉ’の大きさは、透磁率μと磁性体材料が磁化された範囲の距離ｒとによって決まる。この距離ｒは、磁気カードの大きさに制約される値である。例えば、落雷によって大きな雷サージ電流が発生し、この雷サージ電流に応じて発生した磁界によって磁気カードに貼付または塗布された磁性体材料の全ての範囲が磁化されてしまった場合には、磁性体材料が磁化した範囲から距離ｒを計測することができないため、雷サージ電流の推定を行うことができない。すなわち、この場合の雷サージ電流の推定は失敗である。
【００１４】
そこで、大きな雷サージ電流Ｉ’を推定するため、磁気カードを大型化して、磁気カードに貼付または塗布される磁性体材料の面積を大きくすることが考えられる。しかしながら、磁気カードを大型化すると、雷サージ電流Ｉ’に応じて発生した磁界を検出することができる測定範囲を広くすることができるが、導線に磁気カードを設置する際の施工性が悪くなってしまう。
【００１５】
また、大きな雷サージ電流Ｉ’を推定するため、磁気カードに貼付または塗布する磁性体材料の透磁率μを低くすることによって、より大きな雷サージ電流に応じて発生した磁界によって磁気カードが磁化されるようにすることが考えられる。しかしながら、磁気カードに貼付または塗布する磁性体材料の透磁率μを低くすると、大きな雷サージ電流Ｉ’に応じて発生した磁界を検出することができるが、小さな雷サージ電流Ｉ’によって発生した磁界では磁気カードに備えた磁性体材料が磁化されないこととなる。この場合、小さな雷サージ電流の推定に失敗してしまうこととなる。
【００１６】
このように、磁気カードを用いて雷サージ電流を推定する方法においては、磁気カードに貼付または塗布する磁性体材料の透磁率μと磁性体材料が磁化された範囲の距離ｒとによって、測定することができる雷サージ電流の大きさ（測定範囲）が限られてしまうという問題がある。そして、導線に設置した磁気カードの測定範囲が雷サージ電流の大きさに合っていない場合には、雷サージ電流Ｉ’に応じて発生した磁界の検出自体を失敗してしまうこととなる。また、落雷は自然現象であるため、同じ雷サージ電流の測定を再度行うことができない。
【００１７】
本発明は、上記の課題認識に基づいてなされたものであり、小さなサージ電流によって発生した磁界を検出することができ、かつ、磁気カードを大型化することなく大きなサージ電流によって発生した磁界を検出することができるように測定範囲を広げたサージ記録カードを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上記の課題を解決するため、本発明のサージ記録カードは、導線に接するように設置されたカード型の媒体に備えた磁性体材料が磁化することによって、導線に流れたサージ電流によって発生した磁界の大きさを記録するサージ記録カードにおいて、異なる透磁率をもつ複数の前記磁性体材料を前記カード型の媒体に備える、ことを特徴とする。
【００１９】
また、本発明のサージ記録カードは、前記カード型の媒体を前記導線に設置する際に、前記導線と接する第１の辺と、前記第１の辺と直交する第２の辺を有し、前記導線に予め定められた第１の辺が接するように設置され、前記カード型の媒体の面は、前記カード型の媒体の第１の辺の長さよりも短い長さの幅で、前記導線と直交する前記カード型の媒体の第２の辺と平行に複数の磁性体材料領域に分割され、前記磁性体材料領域毎に異なる透磁率をもつ前記磁性体材料を備える、ことを特徴とする。
【００２０】
また、本発明のサージ記録カードは、前記カード型の媒体を前記導線に設置する際に、前記導線と接する第１の辺と、前記第１の辺と直交する第２の辺を有し、前記導線に予め定められた第１の辺が接するように設置され、前記カード型の媒体の面は、前記導線と直交する前記カード型の媒体の第２の辺の長さよりも短い長さの幅で、前記カード型の媒体の第１の辺と平行に複数の磁性体材料領域に分割され、前記磁性体材料領域毎に異なる透磁率をもつ前記磁性体材料を備え、前記磁性体材料は、前記導線に接する前記カード型の媒体の第１の辺から離れていくに従って、前記透磁率が低くなるように備えられる、ことを特徴とする。
【００２１】
また、本発明のサージ記録カードは、前記カード型の媒体の両面がそれぞれ複数の前記磁性体材料領域に分割され、該カード型の媒体の両面の前記磁性体材料領域毎に異なる透磁率をもつ前記磁性体材料を備える、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、小さなサージ電流の測定をすることができ、かつ、磁気カードを大型化することなく大きなサージ電流を測定することができるようにサージ記録カードの測定範囲を広げることができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の第１の実施形態によるサージ記録カードの設置方法の一例を示した図である。
【図２】本発明の第１の実施形態によるサージ記録カードの構成の一例を示した図である。
【図３】本発明の第１の実施形態によるサージ記録カードに備えた磁性体材料の特性および測定結果の一例を示した図である。
【図４】本発明の第２の実施形態によるサージ記録カードの構成の一例を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
＜第１の実施形態＞
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。図１は、本第１の実施形態によるサージ記録カードの設置方法の一例を示した図である。図１においてサージ記録カード１００は、サージ記録カード１００の一辺（図１においては、短辺）が、被覆導線１０に接するように設置される。そして、落雷Ｔによって雷サージ電流Ｉが被覆導線１０に流れたとき、サージ記録カード１００に備えた磁性体材料は、雷サージ電流Ｉに応じて発生した磁界Ｍによって磁化される。
【００２５】
図２は、本第１の実施形態によるサージ記録カードの構成の一例を示した図である。なお、図２（ａ）は、サージ記録カード１００の表面を示し、図２（ｂ）は、サージ記録カード１００の裏面を示した図である。また、図２（ａ）は、導線１１が被覆１２によって覆われている被覆導線１０にサージ記録カード１００が設置された状態を示している。
【００２６】
図２においてサージ記録カード１００は、自サージ記録カード１００の両面の短辺方向が、それぞれ２分割されている。そして、図２（ａ）に示すように、サージ記録カード１００の表面の磁性体材料領域１０１に磁性体Ａを備え、磁性体材料領域１０２に磁性体Ｂを備えている。また、図２（ｂ）に示すように、サージ記録カード１００の裏面の磁性体材料領域１０３に磁性体Ｃを備え、磁性体材料領域１０４に磁性体Ｄを備えている。なお、磁性体Ａ〜磁性体Ｄは、それぞれ異なる透磁率μをもつ磁性体材料である。
【００２７】
なお、図２（ａ）および図２（ｂ）の磁性体材料領域１０１〜磁性体材料領域１０４において、白抜きの丸の中に示した“Ｎ”および“Ｓ”は、雷サージ電流Ｉに応じて発生した磁界Ｍによって、磁性体Ａ〜磁性体Ｄがそれぞれ、Ｎ極またはＳ極に磁化された状態を形式的に表したものである。また、磁性体Ａ〜磁性体Ｄが磁界Ｍによって磁化された範囲の境界までの距離Ｒを、距離ＲＡ〜ＲＤとして表している。また、被覆導線１０の太さの半径を半径ｒとしている。
【００２８】
ここで、サージ記録カード１００における雷サージ電流の算出方法について説明する。図３は、図２に示したサージ記録カード１００に備えた磁性体材料（磁性体Ａ〜磁性体Ｄ）の特性および測定結果（磁化した長さ）の一例を示した図である。なお、透磁率μ、磁化するのに必要な固有の磁束密度Ｂ’、磁化した距離Ｒは、それぞれ磁性体の符号（Ａ〜Ｄ）を付与することによって各磁性体の特性および測定結果を区別して表す。
【００２９】
磁性体Ａ〜磁性体Ｄが磁化した距離ＲＡ〜ＲＤに基づいて推定される雷サージ電流Ｉは、上式（２）より、下式（３）のようにそれぞれ算出することができる。
【００３０】
【数３】
2011153986.tif 000005
【００３１】
上式（３）において、ｒは図２に示した被覆導線１０の太さの半径ｒを示すが、同時に上式（２）における磁性体材料が磁化された範囲の距離ｒ’の値の一部を構成する値でもある。
例えば、磁性体Ａが磁化した距離ｒ’Ａは、半径ｒと距離ＲＡとを合計した値（ｒ＋ＲＡ）となる。同様に磁性体Ｂが磁化した距離ｒ’Ｂの値は（ｒ＋ＲＢ）となり、磁性体Ｃが磁化した距離ｒ’Ｃの値は（ｒ＋ＲＣ）となり、磁性体Ｄが磁化した距離ｒ’Ｄの値は（ｒ＋ＲＤ）となる。
【００３２】
上記に述べたとおり、本第１の実施形態のサージ記録カード１００によれば、磁性体Ａ〜磁性体Ｄが磁化した距離ＲＡ〜ＲＤに基づいて、被覆導線１０に流れた雷サージ電流Ｉをそれぞれ算出することができるため、雷サージ電流Ｉの推定精度を向上することができる。
【００３３】
また、本第１の実施形態のサージ記録カード１００によれば、異なる透磁率μを持った複数の磁性体材料を用いて雷サージ電流Ｉを算出することができるため、サージ記録カード１００を大型化することなく、雷サージ電流Ｉによって発生した磁界Ｍを測定する測定範囲を広げることができる。
【００３４】
なお、図２に示したように、距離ＲＡ〜ＲＤをそれぞれ計測することができた場合、算出したそれぞれの雷サージ電流Ｉ（本第１の実施形態では、４個の雷サージ電流Ｉの値）は、全て同じ値である。しかし、距離ＲＡ〜ＲＤを計測したときの計測誤差によって、全ての雷サージ電流Ｉの値が同じにならないこともある。このようなときには、透磁率μが最も高い磁性体材料が磁化した距離Ｒに基づいて算出された雷サージ電流Ｉの値を、最終的な雷サージ電流Ｉの値とすることができる。また、全ての雷サージ電流Ｉの値を加算平均した値を最終的な雷サージ電流Ｉの値とすることもできる。
【００３５】
なお、本第１の実施形態のサージ記録カード１００と同様の磁界Ｍの測定を、異なる透磁率μを持った従来のサージ記録カードを４枚用いて行うことも考えることができる。しかし、サージ記録カードを被覆導線１０に設置するときの取り付け状態（例えば、被覆導線１０とサージ記録カードとの間の隙間）によって算出される雷サージ電流Ｉに大きな誤差が生じてしまう。上式（２）からもわかるように、磁性体材料が磁化された範囲の距離ｒ’は、算出する雷サージ電流Ｉに大きく影響する計測値であるため、高い精度で計測する必要がある。従って、異なる透磁率μを持った４枚のサージ記録カードを用いてサージ記録カード１００と同様の結果を得るためには、４枚のサージ記録カードを上式（３）において半径ｒの値を一定となるような高精度で被覆導線１０に設置することが必要となる。これに対して本第１の実施形態のサージ記録カード１００は、１枚のサージ記録カード１００内に異なる透磁率μを持った４種類の磁性体材料（磁性体Ａ〜磁性体Ｄ）を備えている。これにより、サージ記録カード１００を、半径ｒの値を一定にする目的のために高精度で被覆導線１０に設置する必要がないため、異なる透磁率μを持った４枚のサージ記録カードを用いるよりも非常に有利である。
【００３６】
また、従来のサージ記録カードを用いて雷サージ電流Ｉの大きさを算出する際には、測定する被覆導線１０の規格を確認するなどして、事前に被覆導線１０の半径ｒの値が予めわかっている必要がある。本第１の実施形態のサージ記録カード１００では、被覆導線１０の半径ｒの値が不明であった場合でも雷サージ電流Ｉの大きさを算出することができるため、非常に有利である。これは、本第１の実施形態のサージ記録カード１００に備えた異なる透磁率μを持った４種類の磁性体材料（磁性体Ａ〜磁性体Ｄ）の内、いずれか２つの磁性体材料が磁化した距離Ｒを計測することができれば、雷サージ電流Ｉの大きさは同じ値であることを利用して、距離Ｒを計測することができた上式（３）のいずれか２つの式から被覆導線１０の半径ｒを逆算することができるからである。
【００３７】
また、従来のサージ記録カードの被覆導線１０への設置方法において、例えば、被覆導線１０の太さが細いなどの理由により、図１および図２に示すような設置方法でサージ記録カードを被覆導線１０に設置することができないときがある。このようなときには、サージ記録カードの２つの長辺の中心を結ぶ線が被覆導線１０と重なるように設置するというような設置方法で、サージ記録カードが被覆導線１０に取り付けられる。この場合、従来のサージ記録カードでは、サージ記録カードの面において雷サージ電流Ｉに応じて発生した磁界Ｍによって磁化される範囲の境界を表すことができる距離Ｒの長さが、サージ記録カードの長辺の半分になってしまう。これにより、磁性体材料の全ての範囲が磁化されてしまう可能性が高くなる。本第１の実施形態のサージ記録カード１００では、このような設置方法の場合においても、透磁率μの低い磁性体材料によって磁界Ｍによって磁化される範囲の境界までの距離Ｒを測定することができるため、従来のサージ記録カードよりも雷サージ電流Ｉを測定する測定範囲を広げることができる。
【００３８】
＜第２の実施形態＞
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。図４は、本第２の実施形態によるサージ記録カードの構成の一例を示した図である。なお、図４は、サージ記録カード２００の表面を示した図である。また、図４は、導線１１が被覆１２によって覆われている被覆導線１０にサージ記録カード２００が設置された状態を示している。なお、サージ記録カード２００の被覆導線１０への設置方法は、図１に示したサージ記録カード１００と同様であるため、説明を省略する。
【００３９】
図４においてサージ記録カード２００は、自サージ記録カード２００の表面の長辺方向が５分割されている。そして、図４に示すように、サージ記録カード２００の表面の磁性体材料領域２０１に磁性体Ａを備え、磁性体材料領域２０２に磁性体Ｂを備え、磁性体材料領域２０３に磁性体Ｃを備え、磁性体材料領域２０４に磁性体Ｄを備え、磁性体材料領域２０５に磁性体Ｅを備えている。なお、磁性体Ａ〜磁性体Ｅは、それぞれ異なる透磁率μをもつ磁性体材料である。また、磁性体Ａ〜磁性体Ｅの透磁率μは、磁界Ｍによって磁化される範囲が対数で表される特性である。
【００４０】
なお、図４の磁性体材料領域２０１〜磁性体材料領域２０３において、白抜きの丸の中に示した“Ｎ”は、雷サージ電流Ｉに応じて発生した磁界Ｍによって、磁性体Ａ〜磁性体Ｃがそれぞれ、Ｎ極に磁化された状態を形式的に表したものである。また、磁界Ｍによって磁化された範囲の境界までの距離Ｒを表している。また、被覆導線１０の太さの半径を半径ｒとしている。
【００４１】
ここで、サージ記録カード２００における雷サージ電流の算出方法について説明する。サージ記録カード２００による雷サージ電流Ｉは、磁化した距離Ｒが含まれる磁性体材料領域（図４では磁性体材料領域２０３）に備えた磁性体材料（図４では磁性体Ｃ）の透磁率μと、磁化するのに必要な固有の磁束密度Ｂ’と、被覆導線１０の太さの半径ｒと、磁化した距離Ｒとに基づいて、上式（３）のいずれか１つと同様に算出することができる。
【００４２】
なお、被覆導線１０の太さの半径ｒは、図２に示したサージ記録カード１００と同様に、上式（２）における磁性体材料が磁化された範囲の距離ｒ’の値の一部を構成する値でもある。従って、図４において磁性体Ｃが磁化した距離ｒ’Ｃは、半径ｒと距離Ｒとを合計した値（ｒ＋Ｒ）となる。
【００４３】
また、図４に示したサージ記録カード２００において、分割された磁性体材料領域２０１〜磁性体材料領域２０５の長辺方向の長さ（幅）は、上式（３）のいずれか１つを用いて算出する。例えば、上式（３）の磁性体Ａにおける算出式を用いて、雷サージ電流Ｉ＝１０の大きさを表す距離ＲＡを算出し、この算出した距離ＲＡの長さを磁性体材料領域２０１の幅とする。また、上式（３）の磁性体Ｂにおける算出式を用いて、雷サージ電流Ｉ＝１００の大きさを表す距離ＲＢを算出し、この算出した距離ＲＢの長さから先に算出した距離ＲＡの長さ（磁性体材料領域２０１の幅）を減算した長さを磁性体材料領域２０２の幅とする。同様に磁性体材料領域２０３〜磁性体材料領域２０５の幅を算出し、各磁性体材料領域に磁性体Ａ〜磁性体Ｅを配置する。このように磁性体Ａ〜磁性体Ｅを配置することによって、雷サージ電流Ｉに応じて発生した磁界Ｍによって磁化される範囲、すなわち、雷サージ電流Ｉの大きさを対数で表すことができる。
【００４４】
上記に述べたとおり、本第２の実施形態のサージ記録カード２００によれば、異なる透磁率μを持った複数の磁性体材料を用いて、磁界Ｍによって磁性体材料が磁化される範囲を対数で表すように複数の磁性体材料を配置することによって、サージ記録カード２００を大型化することなく、雷サージ電流Ｉによって発生した磁界Ｍを測定する測定範囲を広げることができる。
【００４５】
また、本第２の実施形態のサージ記録カード２００によれば、磁性体Ａ〜磁性体Ｅのどこまで磁化したかを表す距離Ｒに基づいて、被覆導線１０に流れた雷サージ電流Ｉをそれぞれ算出することができるため、雷サージ電流Ｉの算出精度を向上することができる。すなわち、透磁率の高い磁性体材料（例えば、磁性体Ａ）によって小さな雷サージ電流Ｉによる磁界Ｍを精度よく測定でき、透磁率の低い磁性体材料（例えば、磁性体Ｅ）によって大きな雷サージ電流Ｉによる磁界Ｍを精度よく測定することができる。
【００４６】
上記に述べたとおり、本発明を実施するための形態によれば、１枚の磁気カードにおける磁性体材料の領域を分割し、それぞれ異なる透磁率μをもつ磁性体材料を備えることによって、磁気カードを大型化することなく大きな雷サージ電流によって発生した磁界を測定することができ、かつ、小さな雷サージ電流によって発生した磁界の測定も行えるようにサージ記録カードの測定範囲を広げることができる。これにより、従来の磁気カードと同様のカード面積であっても、雷サージ電流によって発生した磁界の測定範囲を広げることができる。
【００４７】
また、本発明を実施するための形態によれば、異なる透磁率μをもつ磁性体材料を用いて雷サージ電流Ｉによって発生した磁界Ｍを測定することができるため、様々な大きさの雷サージ電流を高い精度で推定することができる。
【００４８】
なお、図４に示した第２の実施形態のサージ記録カード２００の一例では、サージ記録カード２００の片面（表面）のみに磁性体Ａ〜磁性体Ｅを備えた場合について説明したが、サージ記録カード２００のもう一方の面（裏面）に磁性体Ａ〜磁性体Ｅまたは異なる透磁率μを持った磁性体材料を備えた構成とすることもできることもできる。例えば、サージ記録カード２００の裏面の磁性体材料領域の分割方法を第１の実施形態のサージ記録カード１００と同様にすることによって、サージ記録カード１００における被覆導線１０に設置する際の優位性を兼ね備えた構成とすることもできる。
【００４９】
なお、本第１の実施形態においては、サージ記録カード１００の両面をそれぞれ２分割し、本第２の実施形態においては、サージ記録カード２００の表面を５分割した場合について説明したが、サージ記録カード１００およびサージ記録カード２００の磁性体材料領域の分割数は、本発明を実施するための形態に限定されるものではなく、例えば、さらに細かく分割することによって、さらに高精度で雷サージ電流Ｉによる磁界Ｍを測定できるような構成としてもよい。
【００５０】
また、本発明を実施するための形態においては、サージ記録カード１００およびサージ記録カード２００の形状を長方形とした場合について説明したが、サージ記録カード１００およびサージ記録カード２００の形状は、本発明を実施するための形態に限定されるものではなく、上述したサージ記録カード１００およびサージ記録カード２００の機能を実現するものであればよい。
【００５１】
以上、本発明の一実施形態について、図面を参照して説明してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲においての種々の変更も含まれる。
【符号の説明】
【００５２】
１０・・・被覆導線
１１・・・導線
１２・・・被覆
１００，２００・・・サージ記録カード
１０１，１０２，１０３，１０４，２０１，２０２，２０３，２０４，２０５・・・磁性体材料領域
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ・・・磁性体
Ｔ・・・落雷
Ｉ・・・雷サージ電流
Ｍ・・・磁界
【図１】
2011153986.tif 000006
【図２】
2011153986.tif 000007
【図３】
2011153986.tif 000008
【図４】
2011153986.tif 000009