(57)【要約】【課題】限定されない極力多くの記録パルスパターンを使用することで、記録パルス間の熱干渉の影響を考慮したライトストラテジ調整行い、使用する光ディスクに対してベースライトストラテジが大きくずれた状態においてもより安定したライトストラテジ調整ができ、記録品質の良好な光ディスク記録装置を提供する。【解決手段】本発明の光ディスク装置２００は、記録パルスに従ってパルスレーザ光を光ディスクに照射し、前記光ディスクにマークおよびスペースの並びを形成して記録情報を記録し、前記記録した記録情報を再生し、ロックズレ測定手段７０と、ライトストラテジ演算手段９０と、記録パルス調整手段１４０と、所定のマーク長を有するマークに対してそのマークの長さの前後の長さを有するマークを除いた特殊記録パルスパターンを記録情報から変換し形成する特殊パターンエンコーダ１３５と、を有し、最適なライトストラテジを演算する。【選択図】図１
2011134426.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録パルスに従ってパルスレーザ光を光ディスクに照射し、前記光ディスクにマークおよびスペースの並びを形成して記録情報を記録し、前記記録した記録情報を再生する光ディスク記録装置であって、
前記マークおよびスペースを再生し、前記再生されたマークの立ち上がりまたは立ち下がりのタイミングと基準クロックとの差であるマークズレ量を測定するクロックズレ測定手段と、
長さによって複数の種類に分類される前記マークおよびスペースを組み合わせた列情報を含んだ記録パルスパターンを、前記記録情報から変換して、形成するエンコーダと、
前記記録パルスパターンにおける前記マークまたはスペースを形成するためのパルスの立ち上がりまたは立下りのタイミングと、前記立ち上がりから立ち下がりまでのパルス幅と、を前記測定したマークズレ量に及ぼす影響を考慮し、前記基準クロックパルスを基準にして前記タイミングおよびパルス幅を調整するための情報を含んだライトストラテジを、前記複数の種類のマーク毎およびマークとスペースの組み合わせ毎に演算するライトストラテジ演算手段と、
前記ライトストラテジに従い、前記変換された記録パルスパターンを調整して前記記録パルスを形成する記録パルス調整手段と、
を有し、
前記エンコーダは、所定のマーク長を有する第１マークに対して前記第１マークの長さの前後の長さを有するマークを除いた複数の種類のマークと全種類のスペースとを組み合わせた列情報を含んだ特殊記録パルスパターンを、前記記録情報から変換し形成する特殊パターンエンコーダを含み、
前記特殊記録パルスパターンに従い調整した記録パターンで形成したマークの立ち上がりまたは立下りのタイミングと基準クロックのタイミングとの差であるマークズレ量が規定値内を満足するまで前記ライトストラテジの演算を繰り返す、または、前記ライトストラテジの演算を所定の回数まで繰り返すことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
前記クロックズレ測定手段は、前記特殊記録パルスパターンで形成された前記第１マークにおける前記第１マークの立ち上がりまたは立ち下がりのタイミングと前記基準クロックとの差である第１マークズレ量を測定し、
前記ライトストラテジ演算手段は、前記第１マークズレ量に基づいて前記第１マークのための第１ライトストラテジを演算し、
前記記録パルス調整手段は、前記第１ライトストラテジに従い、前記特殊記録パルスパターンを調整して前記記録パルスを形成することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置。
【請求項３】
前記第１マークの長さは、前記複数の種類のマークが有する長さの内最小の長さであることを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク記録装置。
【請求項４】
前記エンコーダは、全種類のマークと前記全種類のスペースとを組み合わせた列情報を含んだランダム記録パルスパターンを、前記記録情報から変換し形成するノーマルエンコーダを含み、
前記記録パルス調整手段は、前記第１ライトストラテジに従い、前記ランダム記録パルスパターンを調整して前記記録パルスを形成することを特徴とする請求項３に記載の光ディスク記録装置。
【請求項５】
記録パルスに従ってパルスレーザ光を光ディスクに照射し、前記光ディスクにマークおよびスペースの並びを形成して記録情報を記録し、前記記録した記録情報を再生する光ディスク記録方法であって、
前記光ディスクから記録されたマークおよびスペースを再生し、前記再生されたマークの立ち上がりまたは立ち下がりのタイミングと基準クロックとの差であるマークズレ量を測定するクロックズレ測定工程と、
長さによって複数の種類に分類される前記マークおよびスペースを組み合わせた列情報を含んだ記録パルスパターンを、前記記録情報から変換して、形成するエンコード工程と、
前記記録パルスパターンにおける前記マークまたはスペースを形成するためのパルスの立ち上がりまたは立下りのタイミングと、前記立ち上がりから立ち下がりまでのパルス幅と、を前記測定したマークズレ量に及ぼす影響を考慮し、前記基準クロックパルスを基準にして前記タイミングおよびパルス幅を調整するための情報を含んだライトストラテジを、前記複数の種類のマーク毎およびマークとスペースの組み合わせ毎に演算するライトストラテジ演算工程と、
前記ライトストラテジに従い、前記変換された記録パルスパターンを調整して前記記録パルスを形成する記録パルス調整工程と、
を有し、
前記エンコード工程は、所定のマーク長を有する第１マークに対して前記第１マークの長さの前後の長さを有するマークを除いた複数の種類のマークと前記全の種類のスペースとを組み合わせた列情報を含んだ特殊記録パルスパターンを、前記記録情報から変換し、
前記特殊記録パルスパターンに従い調整した記録パターンで形成したマークの立ち上がりまたは立下りのタイミングと基準クロックのタイミングとの差であるマークズレ量が規定値内を満足するまで前記ライトストラテジの演算を繰り返す、または、前記ライトストラテジの演算を所定の回数まで繰り返すことを特徴とする光ディスク記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
近年、マルチメディア技術の進歩に伴い、情報を大量かつ高速に記録することができる光ディスク記録装置に対する需要が高まっている。光ディスクへのデータ（記録情報）の記録は、複数のパルスによるマークエッジ記録方式を用い、データをマークとスペースの長さ情報として光ディスクに記録する。光ディスク記録装置の記録動作は、記録パルス波形の形状を変化させることで、半導体レーザの出力レベルとレーザによる加熱に要する加熱時間とを調整し、光ディスクの記録層に加える熱量のコントロールで行っている。光ディスクは、記録層の記録条件（組成、蓄熱、冷却速度の違い等）の個体差があるため、個別に最適化された記録パラメータ（照射パワーおよびライトストラテジ）を使用して情報が記録される。記録パラメータのライトストラテジの調整方法では、記録パルスと基準クロックとを比較して、マークやスペースのエッジと基準クロックのエッジとが一致するような調整が繰り返し行われる。種々の記録条件に応じてライトストラテジが調整されることにより、光ディスク記録装置は良好な記録品質を維持している。ライトストラテジの調整技術としては、下記特許文献１、２が知られている。
【０００２】
特許文献１の光ディスク記録装置は、基準クロック周期Ｔのｎ倍（たとえば、ｎ＝自然数、２〜１４）全ての記録パターンのうちＴの偶数倍のマークを記録するための記録パルス（２Ｔ、４Ｔ、６Ｔ、・・・）だけを用いた偶数パターン調整と、同様にＴの奇数倍のマークを記録するため記録パルス（３Ｔ、５Ｔ、７Ｔ、・・・）だけを用いた奇数パターン調整と、２つに分類した記録によるライトストラテジ調整を行っている。
【０００３】
特許文献２の光ディスク記録装置は、記録したマークの前後のエッジを基準クロックのエッジに一致するように記録パルスを調整する２エッジ法と、マークの前後のエッジとスペースを介して隣接する次のマークの前方のエッジとを基準クロックのエッジに一致するように記録パルスを調整する３エッジ法と、２つの方法を組み合わせたライトストラテジ調整を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−４０４９３号公報
【特許文献２】特開２００７−２１３７３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記特許文献１の光ディスク記録装置では、基準クロック周期Ｔの偶数倍の記録パターンのみと奇数倍の記録パターンのみとによるごく限られた記録パルスの種類だけで調整を行っているので、本来発生するはずの記録パルス間の熱干渉が妨げられ、スペースを介したマークの影響が偏ってしまい、必ずしも正しいライトストラテジの調整とはならない危険性があり、良好な記録品質を維持することができないという問題がある。
【０００６】
また、上記特許文献２の光ディスク記録装置では、ライトストラテジ調整において、光ディスク記録装置に予め記録されたベースライトストラテジ（初期基準ライトストラテジ）を使用して記録し、その記録したデータの記録品質が非常に悪い場合、ライトストラテジの調整時間、調整回数、調整精度が悪化する恐れがある。
【０００７】
本発明は、上述した問題を解決するために成されたものである。したがって、本発明の目的は、限定されない極力多くの記録パルスパターンを使用することで、記録パルス間の熱干渉の影響を考慮したライトストラテジ調整行い、使用する光ディスクに対してベースライトストラテジが大きくずれた状態においてもより安定したライトストラテジ調整ができ、記録品質の良好な光ディスク記録装置を提供することである。
【０００８】
また、本発明の他の目的は、上記光ディスク記録装置を用いた光ディスクの記録方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するための本発明の一様相は、記録パルスに従ってパルスレーザ光を光ディスクに照射し、前記光ディスクにマークおよびスペースの並びを形成して記録情報を記録し、前記記録した記録情報を再生する光ディスク記録装置である。前記光ディスク記録装置は、前記マークおよびスペースを再生し、前記再生されたマークの立ち上がりまたは立ち下がりのタイミングと基準クロックとの差であるＤ２Ｃデビエーション（Ｄａｔａ  ｔｏ  Ｃｌｏｃｋ  Ｄｅｖｉａｔｉｏｎ）の測定手段と、長さによって複数の種類に分類される前記マークおよびスペースを組み合わせた列情報を含んだ記録パルスパターンを、前記記録情報から変換して、形成するエンコーダと、前記記録パルスパターンにおける前記マークまたはスペースを形成するためのパルスの立ち上がりまたは立下りのタイミングと、前記立ち上がりから立ち下がりまでのパルス幅と、を前記測定したＤ２Ｃデビエーションに及ぼす影響を考慮し、前記基準クロックパルスを基準にして前記タイミングおよびパルス幅を調整するための情報を含んだライトストラテジを、前記複数の種類のマーク毎およびマークとスペースの組み合わせ毎に演算するライトストラテジ演算手段と、前記ライトストラテジに従い、前記変換された記録パルスパターンを調整して前記記録パルスを形成する記録パルス調整手段と、を有する。前記エンコーダは、所定のマーク長を有する第１マークに対して前記第１マークの長さの前後の長さを有するマークを除いた複数の種類のマークと前記複数の種類のスペースとを組み合わせた列情報を含んだ特殊記録パルスパターンを、前記記録情報から変換し形成する特殊パターンエンコーダを含む。前記光ディスク記録装置は、前記特殊記録パルスパターンに従い調整した記録パターンで形成したマークの立ち上がりまたは立下りのタイミングと基準クロックのタイミングとの差であるＤ２Ｃデビエーションが規定値内を満足するまで前記ライトストラテジの演算を繰り返す、または、前記ライトストラテジの演算を所定の回数まで繰り返す。この結果、第１マークの長さの前後の長さを有するマークを除いた複数の種類のマークと前記複数の種類のスペースとを組み合わせた列情報を含んだ特殊記録パルスパターンを形成するので、第１マークに対して最適なライトストラテジを算出することができ、そのライトストラテジに基づいて情報を記録するためのライトストラテジを繰り返し演算し、安定したライトストラテジ調整をすることができる。
【００１０】
上記目的を達成するための本発明の別の一様相は、記録パルスに従ってパルスレーザ光を光ディスクに照射し、前記光ディスクにマークおよびスペースの並びを形成して記録情報を記録し、前記記録した記録情報を再生する光ディスク記録方法である。前記光ディスク記録方法は、前記光ディスクから記録されたマークおよびスペースを再生し、前記再生されたマークの立ち上がりまたは立ち下がりのタイミングと基準クロックとの差であるＤ２Ｃデビエーションを測定するクロックズレ測定工程と、長さによって複数の種類に分類される前記マークおよびスペースを組み合わせた列情報を含んだ記録パルスパターンを、前記記録情報から変換して、形成するエンコード工程と、前記記録パルスパターンにおける前記マークまたはスペースを形成するためのパルスの立ち上がりまたは立下りのタイミングと、前記立ち上がりから立ち下がりまでのパルス幅と、を前記測定したＤ２Ｃデビエーションに及ぼす影響を考慮し、前記基準クロックパルスを基準にして前記タイミングおよびパルス幅を調整するための情報を含んだライトストラテジを、前記複数の種類のマーク毎およびマークとスペースの組み合わせ毎に演算するライトストラテジ演算工程と、前記ライトストラテジに従い、前記変換された記録パルスパターンを調整して前記記録パルスを形成する記録パルス調整工程と、を有する。前記エンコード工程は、所定のマーク長を有する第１マークに対して前記第１マークの長さの前後の長さを有するマークを除いた複数の種類のマークと前記複数の種類のスペースとを組み合わせた列情報を含んだ特殊記録パルスパターンを、前記記録情報から変換する。前記光ディスク記録方法は、前記特殊記録パルスパターンに従い調整した記録パターンで形成したマークの立ち上がりまたは立下りのタイミングと基準クロックのタイミングとの差であるＤ２Ｃデビエーションが規定値内を満足するまで前記ライトストラテジの演算を繰り返す、または、前記ライトストラテジの演算を所定の回数まで繰り返す。この結果、第１マークの長さの前後の長さを有するマークを除いた複数の種類のマークと前記複数の種類のスペースとを組み合わせた列情報を含んだ特殊記録パルスパターンを形成するので、第１マークに対して最適なライトストラテジを算出することができ、そのライトストラテジに基づいて情報を記録するためのライトストラテジを繰り返し演算し、安定したライトストラテジ調整をすることができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の光ディスク記録装置および光ディスクの記録方法によれば、記録パルス間の干渉の影響を考慮したライトストラテジ調整、および、使用する光ディスクに対してベースライトストラテジが大きくずれた状態においても安定したライトストラテジ調整をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の実施形態における光ディスク記録装置のブロック図である。
【図２】図１に示される光ディスクの構造を説明するため図である。
【図３】本実施形態の光ディスクに記録されるマークとスペースとの関係を説明するための図である
【図４】ライトストラテジ調整を説明するための説明図である。
【図５】ライトストラテジ調整を説明するためのマークエッジのＤ２Ｃデビエーション分布図である。
【図６】ライトストラテジ調整を説明するためのマークエッジのＤ２Ｃデビエーション分布図である。
【図７】ライトストラテジ調整を説明するためのマークエッジのＤ２Ｃデビエーション分布図である。
【図８】ライトストラテジ調整を説明するためのマークエッジのＤ２Ｃデビエーション分布図である。
【図９】本実施形態におけるライトストラテジを決定する手順を説明するフローチャート図である。
【図１０】特殊パターンによるエッジ調整の手順を示すフローチャート図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、添付した図面を参照して本発明の光ディスク記録装置の実施の形態を説明する。なお、図中、同一の部材には同一の符号を用いた。また、図面の寸法比率は、説明の都合上誇張されており、実際の比率とは異なる場合がある。以下の実施形態では、光ディスクとしてＤＶＤ＋Ｒを例示して説明する。
【００１４】
図１は、本発明の実施形態における光ディスク記録装置のブロック図、図２は、図１に示される光ディスクの構造を説明するための平面図である。図１に示すとおり、本実施形態の光ディスク記録装置２００は、光ディスク１に半導体レーザにより情報を記録したり、記憶された情報を再生したりするために使用され、光ピックアップ１０、スピンドルモータ２０、ヘッドアンプ３０、二値化回路４０、デコーダ５０、記録／未記録判定部６０、クロックズレ測定部７０、ＲＡＭ８０、データ弁別演算部９０、ライトストラテジ演算部１００、ベースライトストラテジ保存部１１０、設定ライトストラテジ保存部１２０、ノーマルエンコーダ１３０、特殊パターンエンコーダ１３５、記録パルス調整部１４０、レーザ駆動部１５０、および制御部１６０を有する。
【００１５】
図２に示すとおり、光ディスク１は、データ（記録情報）を書き込むための記録領域１ａと、内周に沿って配置された内側テスト領域１ｂと、外周に沿って配置された外側テスト領域１ｃとを有する。データは、たとえば８/１６変調信号などの記録パルスに変換され、光ディスク１に記録パルスに従って半導体レーザが照射され、照射されることで形成されるマークとレーザが照射されないことで形成されるスペースとの組み合わせとして光ディスクに記録される。マークは基準クロックＴの自然数ｎ倍の長さ（ＤＶＤ＋Ｒの場合：３Ｔ〜１４Ｔ）を有する複数の種類のマークからなり、スペースも同様に基準クロックＴの自然数ｎ倍の長さ（ＤＶＤ＋Ｒの場合３Ｔ〜１４Ｔ）を有する複数の種類のスペースからなる。光ディスク１の記録領域１ａには正確な長さを有するマークおよびスペースが記録される必要がある。しかし、光ディスク１は、記録層の記録条件（組成、蓄熱、冷却速度の違い等）の個体差があるため、個別に最適化された記録パラメータでデータを記録領域１ａに記録する必要がある。そこで、テスト領域１ｂおよび１ｃは、記録領域１ａに情報を記録するための記録パラメータを調整するために利用される。
【００１６】
記録パラメータは、例えば、半導体レーザから照射するレーザのパワーを調整するためのパラメータである照射パワー、記録パルス波形の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングと、立ち上がりエッジから立ち下がりエッジまでの信号幅を規定するライトストラテジなどである。また、光ディスク１には、光ディスク１の製造メーカ、型番などの固有情報などが予め記録されている。
【００１７】
光ディスク１の種類としては、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ブルーレイなどが挙げられる。また、光ディスク１の記録材料としては、ＤＶＤ＋Ｒの場合、例えばシアニン系、アゾ系などの有機色素材料が使用される。
【００１８】
光ピックアップ１０は、光ディスク１にパルス光を照射するとともに、光ディスク１からの反射光を受光するためのものである。より具体的には、光ピックアップ１０は、レーザ光源、光学部品および受光部を有し、スピンドルモータ２０により回転された光ディスク１にレーザパルス光を照射するとともに、光ディスク１の記録面で反射された反射光を受光する。レーザ光源としては、レーザダイオードなどの発光素子が用いられる。光学部品は、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等である。受光部は、光ディスク１の記録面で反射されたレーザ光を受光して電気信号に変換する複数の受光素子を有する。
【００１９】
ヘッドアンプ３０は、ＲＦ信号（データ信号)、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を生成するために使用される。ＲＦ信号は、光検出器の各分割領域への反射光量の総和を示す信号であり、光ディスク１からの反射光を検出し、当該反射光に基づいて反射光量を演算することで生成される。フォーカスエラー信号は、光ピックアップ１０の照射レーザの焦点ズレを検出する信号であり、例えば、非点収差法によって生成される。トラッキングエラー信号は、光ピックアップ１０の照射レーザのトラックズレを検出する信号であり、例えば、プッシュプル法によって生成される。
【００２０】
二値化回路４０は、ヘッドアンプ３０により生成されたＲＦ信号をハイまたはローの二値化信号に変換するものである。つまり、記録情報のマークおよびスペースに応じた２値のデジタル信号を生成する再生信号生成回路である。例えば、二値化回路１０６は、ヘッドアンプ１０４から出力される３Ｔ，４Ｔ，５Ｔ，．．．のアナログ信号を、２値化された方形波に変更すための閾値を、常に調節している。
【００２１】
デコーダ５０は、二値化回路４０により生成された二値化信号を所定形式で復号化し再生信号として出力するものである。また、デコーダ５０は、再生信号から基準クロック信号を抽出する。
【００２２】
以上のとおり、光ピックアップ１０から照射されたレーザ光は、光ディスク１の記録面で反射され、反射光は光ピックアップ１０に内蔵された受光部によって取り込まれたのち電気信号に変換される。受光部から出力された電気信号は、ヘッドアンプ３０により演算および増幅されたのち二値化回路４０に伝達され、デコーダ５０を介して再生信号として出力される。
【００２３】
次に、ヘッドアンプ３０および二値化回路４０から出力された信号を処理し、記録パラメータ（照射パワー、ライトストラテジ）を設定する構成について説明する。
【００２４】
記録／未記録判定部６０は、記録パラメータ調整のために使用されるテスト領域１ｂおよび１ｃにおいて、マークやスペースを記録することができる領域つまり未使用の未記録領域または既に記憶が行われた記憶領域を検出し判定するものである。記録パラメータ調整に要する十分な領域がない場合は、記録パラメータ調整が不要であると判断する。
【００２５】
クロックズレ測定部７０は、記録されたものを読み出した再生信号とクロックエッジからのズレを測定するためのものである。より具体的には、クロックズレ測定部７０は、二値化回路４０により生成された二値化信号と、デコーダ５０で抽出された基準クロックとに基づいて、それぞれに対応するエッジのズレをクロックエッジズレとして測定する。たとえば、スペースパルスに対応するハイ値からマークパルスに対応するロー値になる立ち下がりのエッジと基準クロックの対応するエッジとのズレを測定する。同様に、ロー値（マークパルス）からハイ値（スペースパルス）になる立ち上がりのエッジと基準クロックの対応するエッジのズレを測定する。
【００２６】
測定値記憶部８０は、例えば、高速のランダムアクセス記憶装置（ＲＡＭ）からなり、クロックズレ測定部７０によって測定されたクロックエッジのズレに関するデータを一時的に記憶するために使用される。より具体的には、記憶されるデータは、各記録パルスまたはマーク長やスペース長別およびマークとスペースの組み合わせ別に分類されたクロックエッジズレなどである。
【００２７】
データ弁別演算部９０は、測定値記憶部８０に格納されたクロックエッジズレのデータを記録パルスまたはマーク長やマークとスペースの組み合わせ別に弁別し、各種演算を実行するために使用するものである。より具体的には、データ弁別演算部９０は、まず、測定値記憶部８０に格納されたクロックエッジズレのデータから必要に応じたデータを弁別する。次に、演算において、各種信号のサンプル数比に基づくズレ、各信号分布の理論中心値からのズレ量（デビエーション）、時間差ジッタ（Ｄａｔａ−Ｃｌｏｃｋジッタ）、マークエッジ変化量に基づく相関関数、熱干渉効果による隣接エッジの影響などが演算される。
【００２８】
設定ライトストラテジ保存部１００、ベースライトストラテジ保存部１１０、およびライトストラテジ演算部１２０は、一体として、光ディスク１に情報を記録するための照射パワーおよびライトストラテジを含んでいる記録パラメータを設定するする設定手段を構成する。
【００２９】
設定ライトストラテジ保存部１００は、例えば、ＥＥＰＲＯＭ（電気的に消去可能なＰＲＯＭ，Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  ＰＲＯＭ）からなり、ライトストラテジ演算部１２０において計算されたライトストラテジを一時的に記憶するために使用される。
【００３０】
ベースライトストラテジ保存部１１０は、例えば、読取り専用の不揮発性記憶装置（ＲＯＭ）からなり、ライトストラテジ演算部１２０において利用されるベースライトストラテジが記憶されている。ベースライトストラテジは、設計者によって予め計算されて用意され、光ディスク１の固有情報に関連付けられた既定のライトストラテジである。
【００３１】
ライトストラテジ演算部１２０は、データ弁別演算部９０で弁別されたデータに基づいてライトストラテジを演算し、算出されたライトストラテジを記録パルス調整部に出力するものである。ライトストラテジは、特定の記録条件下において、基準クロックパルスを基準にして、記録パルス波形の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングと、立ち上がりエッジから立ち下がりエッジまでの信号幅とを規定するものであり、特定の記録条件下において、記録パルスで形成されるマークのズレ量を補正するために演算される。演算されたライトストラテジは、新たなライトストラテジとして設定され記録パルス調整部１４０に出力されると同時に、設定ライトストラテジ保存部１００に出力され保存される。ズレ量などのデータがない初回のライトストラテジ演算においては、ベースライトストラテジ保存部１１０からベースライトストラテジが読み出され、新たなライトストラテジとして記録パルス調整部１４０および設定ライトストラテジ保存部１００に出力される。ライトストラテジの演算については、下記でフローチャートを参照しつつ説明する。
【００３２】
次に、記録情報および記録パラメータ（照射パワー、ライトストラテジ）に従って、半導体レーザを駆動するための記録パルスを処理する構成について説明する。光ディスク記録装置２００は、記録情報であるデータの記録信号が入力されると、ノーマルエンコーダ１３０または特殊パターンエンコーダ１３５、記録パルス調整部１４０を介して記録パルスを形成し、その記録パルスをレーザ駆動部１５０に入力することで光ディスクにパルスレーザを照射しマークおよびスペースの列情報を形成しデータを記録する。
【００３３】
ノーマルエンコーダ１３０は、記録信号を８/１６変調信号に変換して、記録パルス調整部１４０に出力する回路である。８/１６変調信号は、ＤＶＤ＋Ｒの場合、３Ｔ〜１４Ｔまでの物理的な長さと、３Ｔ〜１４Ｔまでのスペースとからなる。
【００３４】
特殊パターンエンコーダ１３５は、記録信号を８/１６変調信号に変換し、８/１６変調信号中の所定の長さのマークを除いた信号を生成し、記録パルス調整部１２６に出力する回路である。また、マークに限らずに所定の長さのスペースを除いた信号を生成してもよい。
【００３５】
記録パルス調整部１４０は、入力された８/１６変調信号から記録パルスを形成する際に、設定された記録パラメータ（照射パワー、ライトストラテジ演算部１００で規定されたライトストラテジ）を利用して記録パルスを調整し、レーザ駆動部１５０に出力するために使用される。
【００３６】
レーザ駆動部１５０は、光ピックアップ１０のレーザを駆動するものである。より具体的には、レーザ駆動部１５０は、記録パルス調整部１４０で生成された記録パルスを光ピックアップ１０のレーザダイオードに供給することによりレーザダイオードを駆動する。
【００３７】
以上のとおり、エンコーダ１３０、１３５に入力された記録信号は、８/１６変調信号などのようなマークパルスとスペースパルスを含んだパルスパターン化されたのち、記録パルス調整部１４０に出力される。記録パルス調整部１４０では、ライトストラテジ演算部１００で設定されたライトストラテジに従ってパルスパターンを調整した記録パルスが生成され、レーザ駆動部１５０に供給される。そして、記録パルスに従ってレーザ駆動部１５０が駆動され、照射されたパルスレーザにより光ディスク１の記録面に情報が記録される。
【００３８】
制御部１６０は、光ディスク装置２００の記録動作および再生動作を制御するものである。より具体的には、制御部１６０は、通常の記録動作および再生動作に関する制御機能に加え、記録パルスの照射パワーおよびライトストラテジ調整に関する制御機能も有する。
【００３９】
以上のとおり、本実施の形態の光ディスク装置の記録系および再生系における信号処理の概略を説明した。本実施の形態の光ディスク装置の他の構成要素については、従来の光ディスク装置と同様であるので説明を省略する。
【００４０】
次に、図を参照して、光ディスクに記録されるマークおよびスペースについて説明する。
【００４１】
図３は、本実施形態の光ディスクに記録されるマークとスペースとの関係を説明するための図である。図３に示すとおり、記録パルスは、第１のマークと第２のマークとの間にスペースを有する。基準クロックｍ周期分のマーク（ｍＴマーク）に基準クロックｎ周期分スペース（ｎＴスペース）が続いた場合、記録パルス変化量Ｘｍ，ｎに対して第１のマークの前エッジはΔＴＦ１（ｍ，ｎ）だけずれ、後エッジはΔＴＲ（ｍ，ｎ）だけずれる。さらに、第１のマークと第２のマークとの間に熱干渉がある場合は、記録パルス変化量Ｘｍ，ｎに対して第２のマークの前エッジもΔＴＦ２（ｍ，ｎ）だけずれる。
【００４２】
マークエッジのズレ量からライトストラテジを設定する手法について説明する。ライトストラテジの設定は、再生信号から抽出されるクロックパルスを用いて、記録されたマークに対応する再生パルスとクロックパルスとのズレ量を検出し、すべてのマークおよびスペースのエッジのタイミングがクロックのエッジに一致するような調整が行われる。たとえば、マークのエッジに注目したマークエッジ調整（２エッジ法）や、マークとスペースの組み合わせ調整（３エッジ法）が知られている。図４は、ライトストラテジ調整を説明するための説明図である。
【００４３】
図４（Ａ）に示すように、ライトストラテジ調整における２エッジ法は、１種類のマークに着目し、その前後のマークエッジがクロックエッジに一致するように記録パルスを調整する方法である。この調整において、マークの前方エッジの変化が後方エッジに、後方エッジの変化が前方エッジに影響することを考慮して、同時に２つのエッジがクロックエッジに一致するように調整が行われる。
【００４４】
図４（Ｂ）に示すように、ライトストラテジ調整における３エッジ法は、１種類のマークおよびそのマーク後方のスペースに着目し、着目するマークの前後のマークエッジと着目するスペースの後方のエッジとが、クロックエッジに一致するように記録パルスを調整する方法である。この調整において、着目するマークの後方エッジの変化が、その隣接するエッジであるマークの前方エッジとスペース後方のエッジに影響することを考慮して調整が行われる。当然この逆のパターンである、１種類のスペースおよびそのスペース後方のマークにおいても同様の調整がなされる。
【００４５】
図５〜８は、ライトストラテジ調整を説明するためのマークエッジのＤ２Ｃデビエーション分布図である。
【００４６】
図５は、ライトストラテジ調整を行う前後の記録パルスによるマークの後エッジのＤ２Ｃデビエーション分布図の一例である。図５は、横軸にマーク長を縦軸にその頻度をとったものであり、そのマーク長により３Ｔ，４Ｔ，５Ｔ，．．．と弁別される。Ｔは基準クロック長さを示す。図５（Ａ）はライトストラテジ調整を行う前の記録パルスによるマークエッジのＤ２Ｃデビエーション分布であり、図５（Ｂ）はライトストラテジ調整を行った後の記録パルスによるマークエッジのＤ２Ｃデビエーション分布である。
【００４７】
図５（Ａ）に示すように、たとえば、ベースライトストラテジで記録したマークを再生すると、各マークは、ウィンドウ内に収まりきらずにはみ出して存在することがある。より具体的には、４Ｔのマークを記録したものが３Ｔのマークとして再生されることがある。これは、記録パルスを調整したベースライトストラテジが間違っていたり、誤った照射パワーで記録したりした場合におこる。
【００４８】
図５（Ｂ）に示すように、ライトストラテジ調整を行うことで、各マーク長の頻度分布はそれぞれのウィンドウ内に収まる。これは、マークおよびスペースの全ての組み合わせにおいて、それぞれのエッジとクロックエッジとを一致させるようにライトストラテジを演算し、そのライトストラテジ用いて記録パルスの調整を行ったからである。
【００４９】
したがって、図５（Ａ）のように規定ウィンドウから各マーク長の分布がはみ出した場合、全てのマークおよびスペースにおけるエッジとクロックエッジとのズレ量を一致させるようにライトストラテジを演算し、そのライトストラテジを用いて記録パルスを調整する必要がある。
【００５０】
しかしながら、使用する光ディスクに対しベースライトストラテジが大きくずれたものを使用し記録パルスを調整した場合は、従来の方法でライトストラテジを求め記録パルスを調整することは困難である。より具体的には、図６に例示するＤ２Ｃデビエーション分布のように、４Ｔマーク長のマークエッジズレからライトストラテジを求める際に、単純に４Ｔウィンドウ内の分布の平均を求めても、この４Ｔウィンドウには３Ｔおよび５Ｔのマーク長の分布がはみ出し入り込んでいるため、単純平均では正しく４Ｔマークのエッジズレ量を求めることにはならないからである。
【００５１】
そこで、本実施形態では、所定のマーク長を有するマークに対してそのマークの長さの前後の長さを有するマークパルスを除いた特殊記録パルスパターンにより記録し、記録したものを再生し、エッジズレを測定することでその所定のマーク長を有するマークのライトストラテジを算出する。この特殊記録パルスパターンでは、所定のマークの前後のマークのパルスが無いため、そのマーク長の単純平均をランダムパターンの場合より正確に求めることができる。たとえば、マーク長が４Ｔのライトストラテジを求める際に、予め記録パルスにおいてマーク長が４Ｔの前後のマークのパルス（３Ｔおよび５Ｔ）を除いた記録パルスパターンでテスト記録を行い、テスト記録を再生してＤ２Ｃデビエーション分布（図７（Ａ））を作成することで、正確なエッジズレ量の平均値を求めることができ、４Ｔのライトストラテジを算出することができる。ライトストラテジ調整を複数回行うことで最適なライトストラテジを決定し、決定したライトストラテジを用いて調整した記録パルスによるマークを再生すると、たとえば、図７（Ｂ）に示すように、４Ｔのマークが４Ｔウィンドウ内に分布させることができる。
【００５２】
このように、ｎＴパルス（ｎ：自然数）のエッジ調整を行いたい場合は、その着目するｎＴパルスの前後のパルス（（ｎ−１）Ｔパルス、（ｎ＋１）Ｔパルス）を除いた特殊パルスパターンで記録を行い、その着目するｎＴパルスについてライトストラテジを求め、記録パルスの調整を行えばよい。つまり、着目するパルスを３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ・・・と全てのパルスについて行えば、各マークエッジまたは各スペースエッジの調整は可能となる。
【００５３】
しかしながら、全てのマークパルスのライトストラテジを行えば、そのライトストラテジを求め、記録パルスを調整する回数が膨大となり、その結果、調整時間が大きくかかってしまうことも考えられる。
【００５４】
そこで、特に隣接パルスからの分布の漏れこみによりエッジ調整が難しい最短Ｔについて（ＣＤＲやＤＶＤ±Ｒならば３Ｔ、Ｂｌｕ−ｒａｙならば２Ｔ）調整で最短のＴの調整を行い、そのライトストラテジ決定後その他のＴについて特殊記録パルスパターンではない、全ての長さのパルスを含んだランダムパターンを使用する方法が考えられる。
【００５５】
たとえば、図８（Ａ）に示すように、最短長のマークパルスである３Ｔのマークパルスに注目し、（ｎ＋１）Ｔに当たる４Ｔを除いた特殊記録パルスパターンで記録を行い、３Ｔのみについてマークエッジの最適化を行い、３Ｔストラテジを固定した後（図８（Ｂ））、４Ｔ以上のパルスについて別記録で調整を行えばよい。
【００５６】
特殊記録パルスパターンで記録したマークエッジからライトストラテジを求める際に、上記で説明した２エッジ法や３エッジ法、もしくはそれ以外の方法を用いることができる。また、特に、特殊記録パルスパターンを使用するものは２エッジ法を用いるのが望ましく、特殊記録パルスで所定の長さのパルスを決定した後のランダムパルスパターンを使用するものは３エッジ法を用いるのが望ましい。
【００５７】
図９は、本実施形態におけるライトストラテジを決定する手順を説明するフローチャート図である。
【００５８】
前提として、すべての処理の動作は制御部１６０が各部へ指示を出力することで行われる。
【００５９】
まず、複数の異なる記録パワーで光ディスクに記録を行い、記録後β（アシンメトリ）を測定し、目標のβに一致する記録パワーを決定する（ステップＳ１０１）。
【００６０】
次に、特殊パターンによるエッジ調整を行う（ステップＳ１０２）。図１０は、特殊パターンによるエッジ調整の手順を示すフローチャート図である。特殊パターンによるエッジ調整は、注目するマークのライトストラテジが設定されるまで、もしくは、所定回数エッジ調整が行われるまで繰り返し行われる。
【００６１】
まず、注目するマークを決定する（ステップＳ２０１）。注目するマークは、たとえば、ＤＶＤ＋Ｒの場合３Ｔ〜１４Ｔの長さのマークがあるので、その中から１つのｎＴマークを選択し決定すればよい。好ましくは最短Ｔのマークである３Ｔマークを選択するのがよい。
【００６２】
次に、特殊パターンを設定する（ステップＳ２０２）。特殊パターンは特殊パターンエンコーダ１３５により記録情報を８/１６変調信号に変換し、さらに、８/１６変調信号の中のステップＳ２０２で決定した注目するｎＴマークの前後のマーク（（ｎ−１）Ｔマーク、（ｎ＋１）Ｔマーク）に関するパルスを除いた特殊記録パルスパターンを設定する。たとえば、３ＴマークがステップＳ２０１で注目するマークとして選択されていた場合、本来８/１６変調信号において４Ｔマークのパルスが除かれた記録パターンが特殊記録パルスパターンとして設定される。
【００６３】
次に、記録パルスの調整が行われる（ステップＳ２０３）。記録パルスの調整は、パルス調整部１４０において、入力された特殊記録パルスパターンを記録パラメータの照射パワーおよびライトストラテジの設定に基づいて調整し、記録パルスを生成する。ここで、記録パルスをライトストラテジの設定で調整する際、初回の調整には光ディスク記録装置にあらかじめ格納されているベースストラテジを用いて行われ、次回以降の調整には新たに設定されたライトストラテジを用いて行われる。
【００６４】
次に、記録パルスに基づいて情報の記録が行われる（ステップＳ２０４）。より具体的には、記録パルスをレーザ駆動部１５０に入力することで、光ピックアップ１０から光ディスク１にパルス光が照射され、光ディスク１のテスト領域１ｂまたは１ｃにマークおよびスペースを組み合わせた列情報が形成されること情報が記録される。
【００６５】
次に、記録した情報を再生する（ステップＳ２０５）。より具体的には、光ディスク１に記録されたマークおよびスペースの列情報を再生する。
【００６６】
次に、再生した情報を解析する（ステップＳ２０６）。より具体的には、再生したマークの中で注目しているｎＴマークにおいて、２エッジ法によりｎＴマークのエッジがクロックエッジに一致するようにライトストラテジを演算する。つまり、再生した信号を二値化回路、クロックズレ測定部、ＲＡＭ、ライトストラテジ演算部を介してＤ２Ｃデビエーション分布を作成し、作成したＤ２Ｃデビエーション分布においてｎＴマークのエッジズレの平均を求め、ｎＴマークウィンドウに入るようにライトストラテジを求める。たとえば、注目するマークが３Ｔマークであった場合、３Ｔウィンドウの中に３ＴマークのＤ２Ｃデビエーション分布が入るように、そしてその分布の平均がウィンドウの中心に来るような設定となるライトストラテジを算出する。
【００６７】
次に、ステップＳ２０６において作成したＤ２Ｃデビエーション分布で、注目するｎＴマークの分布が所定の記録品位条件を満たしているか否かを判定する（ステップＳ２０７）。たとえば、注目するｎＴマークの分布の標準偏差が所定の数値以内であれば記録品位を満たしている（ＹＥＳ）であると判定し、反対に、所定の数値以上であれば記録品位に達していない（ＮＯ）と判定する。
【００６８】
記録品位条件を満たしている（ステップＳ２０７におけるＹｅｓ）と判定された場合、前回設定したｎＴマークのライトストラテジによる記録パルスで記録された注目するｎＴマークパルスは正常に記録されていることを意味するため、注目するｎＴマークのライトストラテジの設定を終了する。終了の際に、ｎＴマークのライトストラテジとして、新たに算出したライトストラテジを設定する。
【００６９】
記録品位条件を満たしていない（ステップＳ２０７におけるＮＯ）と判定された場合、ライトストラテジの設定が所定回数以内であるか否かを判定する（ステップＳ２０８）。つまり、ステップＳ２０６において設定されたライトストラテジを用いて、ステップＳ２０３における記録パルスが調整される回数が、所定回数以内であるか否かを判定する。所定回数以内であれば（Ｙｅｓ）、再度ステップＳ２０３において記録パルスを調整しライトストラテジを設定する。所定回数以上であれば（Ｎｏ）、たとえ設定したライトストラテジによる調整が不十分な記録パルスであっても（記録品位を満たさなくても）、注目するｎＴマークパルスのライトストラテジの設定を終了する。
【００７０】
次に、注目するマークを変更して特殊パターンにより再度ライトストラテジを設定するか否かを判断する（ステップＳ２０９）。つまり、注目するｎＴマークのライトストラテジの設定が終了した場合、特殊記録パルスパターンでｎＴマーク以外のマークについてライトストラテジ調整を行うか否かを判断する。特殊記録パルスパターンでライトストラテジ調整を行う場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ２００に戻り注目するマークを決定し、そのライトストラテジを算出する工程を繰り返す（Ｓ２００〜Ｓ２０９）。特殊記録パルスパターンによるライトストラテジ調整を終了する場合（Ｎｏ）、特殊パターンによるエッジ調整（Ｓ１０２）を終了し、ランダムパターンによるエッジ調整（Ｓ１０３）を行う。
【００７１】
より具体的には、３Ｔマークのライトストラテジの設定が終了し、次にその他のマーク、たとえば、４Ｔマークのライトストラテジの設定を特殊パターンで行うと判断した場合（Ｓ２０９におけるＹｅｓ）は、再度Ｓ２０１〜Ｓ２０９の処理を繰り返す。つまり、４Ｔマークを注目するマークと決定し（Ｓ２０１）、ライトストラテジを算出する際には、再度３Ｔマークパルスと５Ｔマークパルスを除いた特殊記録パルスパターンを設定し（Ｓ２０２）、３Ｔマークの調整で最終的に設定したライトストラテジをベースライトストラテジとして用いて記録パルスを調整し（Ｓ２０３）、その記録パルスで記録を行い（Ｓ２０４）、記録を再生し４Ｔマークのライトストラテジの設定を行う（Ｓ２０５，Ｓ２０６）。そして、所定の記録品位条件を満たしているか否か（Ｓ２０７）、調整が所定回数以内であるか否か（Ｓ２０８）、さらにその他のマークによりライトストラテジを行うか否か（Ｓ２０９）の判断を行う。
【００７２】
特殊パターンによるエッジ調整（ステップＳ１０２）を終了してから、ランダムパターンによるエッジ調整を行う（ステップＳ１０３）。ランダムパターンは、ノーマルエンコーダ１３５で形成され、特殊パターンのように注目するマークの前後のマークパルスを除いたパルスではなく、全ての種類のマークを含んだパターンである。ランダムパターンによるエッジ調整は、ステップＳ１０２の特殊パターンによるエッジ調整と同様に、まず、ランダムパターンから記録パルスを作成する。記録パルスの作成には、特殊パターンによるエッジ調整で設定したライトストラテジをベースストラテジとして作成する。次に、作成した記録パルスで光ディスク１に記録を行い、記録したものを再生し、再生した情報を解析しマークエッジが基準クロックエッジと一致するようなライトストラテジを算出する。ライトストラテジの算出の際には、２エッジ法や３エッジ法などを用いて算出することができ、特に３エッジ法を用いるのが好ましい。ランダムパターンによるエッジ調整は、記録品位が満たされるまで繰り返され、全てのマークやスペースのエッジが基準クロックと一致するようにライトストラテジが設定される。また、ランダムパターンによるエッジ調整が所定回数以内において記録品位が満たされない場合でも、ライトストラテジを設定し、エッジ調整を終了してもよい。
【００７３】
最後に、特殊パターンおよびランダムパターンを介して最終的に設定されたライトストラテジを光ディスク１の記録領域１ａに使用するためのライトストラテジとして決定する（ステップＳ１０４）。
【００７４】
ここで、ランダムパターンによるエッジ調整（Ｓ１０３）は、特殊パターンによるエッジ調整後（Ｓ１０２）、必ず行う必要はない。なぜなら、Ｓ１０３を行うのは、特殊パターンによるエッジ調整で全てのマークやスペースのエッジを基準クロックに一致させることができる設定のライトストラテジを決定するのは調整回数が膨大になる恐れがあるからであり、調整回数や調整時間に余裕があるなら、ランダムパターンによるエッジ調整を行わずに、特殊パターンだけでエッジ調整を行い、ライトストラテジを決定することもできる。
【００７５】
また、特殊パターンによるエッジ調整（Ｓ１０２）とランダムパターンによるエッジ調整（Ｓ１０３）を入れ替えてライトストラテジを決定してよく、さらには、自由に切り替えてもよい。たとえば、ランダムパターンによるエッジ調整後、特殊パターンによるエッジ調整を行い、再度ランダムパターンによるエッジ調整を行い、ライトストラテジを決定しても良い。
【００７６】
以上のように、本実施形態に係る光ディスク記録装置および光ディスクの記録方法においては、注目するｎＴマークの前後のマークパルス（（ｎ−１）Ｔマークパルス、（ｎ＋１）Ｔマークパルス）を除いた特殊パルスパターンから記録パルスを形成し、ライトストラテジを設定するため、記録パルス間の干渉の影響を考慮したライトストラテジ調整、および、使用する光ディスクに対してベースライトストラテジが大きくずれた状態においても安定したライトストラテジ調整をすることができる。
【符号の説明】
【００７７】
１  光ディスク、
１０  光ピックアップ、
２０  スピンドルモータ、
３０  ヘッドアンプ、
４０  二値化回路、
５０  デコーダ、
６０  記録／未記録判定部、
７０  クロックズレ測定部、
８０  測定値記憶部
９０  データ弁別演算部、
１００  設定ライトストラテジ保存部、
１１０  ベースライトストラテジ保存部、
１２０  ライトストラテジ演算部、
１３０  ノーマルエンコーダ、
１３５  特殊パターンエンコーダ、
１４０  記録パルス調整部、
１５０  レーザ駆動部、
１６０  制御部、
２００  光ディスク記録装置。
【図１】
2011134426.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2011134426.tif 000008
【図８】
2011134426.tif 000009
【図９】
2011134426.tif 000010
【図１０】
2011134426.tif 000011
【図４】
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