(57)【要約】【課題】サーマルアスペリティまたは媒体欠陥に対応する、ハードディスクドライブのハードディスク上の欠陥領域を検出するための技法を提供すること。【解決手段】ハードディスクドライブ内で、ハードディスク上の欠陥領域は、信号値（例えば、ｘ［ｎ］またはｙ［ｎ］）と、それらの信号値に対応するソフト決定値（例えば、Ｌ［ｎ］）とに基づいて、２つの統計的測度（例えば、β１（ｋ）およびβ２（ｋ））を生成することによって検出される。これらの測度は、ハードドライブの欠陥領域の位置を検出するために比較される。これらのソフト決定値を使用することは、ソフト決定値に基づかない統計的測度から形成される比率と比較して、それらの統計的測度の比率内の変動を減らし、結果として、欠陥領域を検出するためのより確実なテストをもたらす。【選択図】図１
2011204348.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ハードドライブ上の欠陥領域を検出するための機械実装方法であって、
（ａ）前記機械が、信号値（例えば、ｘ［ｎ］またはｙ［ｎ］）と、前記信号値に対応するソフト決定値（例えば、Ｌ［ｎ］）とに基づいて、第１の測度（例えば、β１（ｋ））を生成することと、
（ｂ）前記機械が、前記信号値と前記ソフト決定値とに基づいて、第２の測度（例えば、β２（ｋ））を生成することと、
（ｃ）前記機械が、前記第１の測度と前記第２の測度を比較することと、
（ｄ）前記機械が、ステップ（ｃ）の前記比較に基づいて、前記欠陥領域を検出することとを備える方法。
【請求項２】
前記機械が、前記信号値と、前記信号値に対応する期待値
【数１】
2011204348.tif 000014
と、前記ソフト決定値とに基づいて、前記第１の測度を生成し、
前記機械が、前記期待値と、前記ハードドライブの欠陥のない領域だけに対応する欠陥のないソフト決定値とに基づいて、前記第２の測度を生成する
請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記第１の測度が、（ｉ）前記信号値、（ｉｉ）前記期待信号値、および（ｉｉｉ）前記ソフト決定値の大きさの積の移動平均に基づき、
前記第２の測度が、（ｉ）前記期待信号値の二乗、および（ｉｉ）前記欠陥のないソフト決定値の前記大きさの期待値の積の移動平均に基づく、
請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記第１の測度β１（ｋ）が
【数２】
2011204348.tif 000015
によって提示され、
前記第２の測度β２（ｋ）が
【数３】
2011204348.tif 000016
によって提示され、
ｙ［ｋ−ｉ］が、第（ｋ−ｉ）番目の信号値であり、
【数４】
2011204348.tif 000017
が、前記第（ｋ−ｉ）番目の信号値の前記期待値であり、
Ｌ［ｋ−ｉ］が、前記第（ｋ−ｉ）番目の信号値に関する前記ソフト決定値であり、
Ｅ（ａｂｓ（Ｌ））が、前記欠陥のないソフト決定値の絶対値に適用される期待関数を表し、
Ｍが、指定された正の整数である
請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記欠陥領域がサーマルアスペリティ（ＴＡ）または媒体欠陥（ＭＤ）と関連付けられ、
前記信号値が、（ｉ）アナログデジタル変換装置（ＡＤＣ）出力値（例えば、ｘ［ｎ］）、もしくは（ｉｉ）等化器入力値（例えば、ｘ［ｎ］）、または（ｉｉｉ）等化器出力値（例えば、ｙ［ｎ］）である
請求項１に記載の方法。
【請求項６】
（ｉ）前記比較が、前記第１の測度が、１未満の、前記第２の測度の指定された比率（例えば、Ｃ）未満であるかどうかを決定するか、または（ｉｉ）前記比較が、前記第１の測度および前記第２の測度の比率を指定されたしきい値（例えば、Ｃ）と比較する、
請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記期待信号値が、前記信号値の平均値であり、前記平均値が、前記信号値および１つまたは複数の隣接信号値に関連するビットパターンの関数である、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記期待信号値が、前記信号値に対応するハード決定値から再構成され、前記期待信号値が、ターゲット多項式を用いて前記ハード決定値を畳み込むことによって再構成される、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
ハードドライブ上の欠陥領域を検出するための装置であって、
（ａ）信号値（例えば、ｘ［ｎ］またはｙ［ｎ］）と、前記信号値に対応するソフト決定値（例えば、Ｌ［ｎ］）とに基づいて、第１の測度（例えば、β１（ｋ））を生成するための手段と、
（ｂ）前記信号値と前記ソフト決定値とに基づいて、第２の測度（例えば、β２（ｋ））を生成するための手段と
（ｃ）前記第１の測度と前記第２の測度を比較するための手段と、
（ｄ）手段（ｃ）の前記比較に基づいて、前記欠陥領域を検出するための手段とを備える装置。
【請求項１０】
前記装置が、（ｉ）デジタル信号プロセッサであるか、または（ｉｉ）ハードディスクドライブである、請求項９に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
関連出願の相互参照
本出願の本主題は、そのすべての教示の全体が参照により本明細書に組み込まれている２００５年１２月２８日に出願された米国特許出願第１１／３１９，３１９号、２００８年４月２９日に出願された米国特許出願第１２／１１１，２５５号、および２０１０年２月１８日に出願された米国特許出願第１２／７０７，８２０号の主題に関する。
【０００２】
本発明は、ハードディスクドライブに関し、詳細には、サーマルアスペリティ（ｔｈｅｒｍａｌ  ａｓｐｅｒｉｔｙ：ＴＡ）または媒体欠陥に対応する、ハードディスクドライブのハードディスク上の欠陥領域を検出するための技法に関する。
【背景技術】
【０００３】
本項は、本発明のよりよい理解を促すのに有用であり得る態様を紹介する。したがって、本項の記述は、これに照らして読まれるべきであり、何が先行技術であるか、または何が先行技術でないかについての承認として理解されるべきではない。
【０００４】
ハードディスクドライブの理想的なハードディスクは、完全に平坦であり、完全に均一な材料組成のものであるデータ記憶面を有する。しかし、実際には、ハードディスクは完全に平坦ではなく、変化する材料組成を有する。この結果、ならびに製造理由により、様々なタイプの欠陥がハードディスク上に存在し得る。欠陥領域から読み取られたデータを回復することは困難な場合があり、問題の程度は欠陥のタイプに左右される。ドロップアウトタイプの欠陥領域では、アナログ読取ヘッド出力信号の振幅は、比較的に平坦で、比較的に均一の材料組成のものである正常な領域に関する読取ヘッド出力信号振幅よりもかなり低い。かかる欠陥領域上に書き込まれたデータは、読取ヘッド出力信号が、その読取ヘッド出力信号を処理する電子装置によって適切に増幅されて、調整された場合、回復され得る。本書では、発明者はかかるドロップアウトタイプの欠陥を「媒体欠陥」（ＭＤ）と呼ぶ。データを正確に回復するために、ハードディスク上のＭＤ領域から読み取られた信号が適切に処理され得るように、それらのＭＤ領域の位置を決定することが望ましい。
【０００５】
時には、ハードディスク領域のトポグラフィは非常に多様であり、その結果、読取ヘッドが回転しているハードディスクのある領域上に配置されるとき、そのディスク上に存在するアスペリティにより、読取ヘッドはそれらの領域と物理的に接触することになる。かかる領域は、読取ヘッドと変化のあるハードディスクとの間の物理的接触から生じる摩擦熱により、サーマルアスペリティ（ＴＡ）領域と呼ばれる。読取ヘッドに対する破損を防ぐために、データ書込動作中とデータ読取動作中の両方でハードディスク上のＴＡ領域が回避され得るように、それらの領域の位置を決定することが望ましい。
【０００６】
今までのハードディスクドライブは、ＭＲ（磁気抵抗）読取ヘッドまたはＧＭＲ（巨大ＭＲ）読取ヘッドを用いた。そのような読取ヘッドの場合、ＭＤ領域に対応する読取ヘッド出力信号は、正常な領域の信号振幅よりもかなり小さな振幅を有し、一方、ＴＡ領域に対応する読取ヘッド出力信号は、ＴＡ効果から生じるベースライン内のシフトにより、正常な領域信号振幅よりもかなり大きな振幅を有する。したがって、ＭＲ読取ヘッド／ＧＭＲ読取ヘッドを用いるハードディスクドライブのハードディスク上のＭＤ領域の位置は、正常な信号振幅領域よりも低い信号振幅領域を探索することによって突き止めることが可能であり、一方、ハードディスク上のＴＡ領域の位置は、正常な信号振幅領域と比較した信号ベースライン内の著しい増大を探索することによって、突き止めることが可能である。
【０００７】
より新しいハードディスクドライブは、ＴＭＲ（トンネリングＭＲ）読取ヘッドを用いる。ＴＭＲ読取ヘッドの場合、ＭＤ領域に対応する読取ヘッド出力信号とＴＡ領域に対応する読取ヘッド出力信号は両方とも、正常な領域の信号振幅よりもかなり小さな振幅を有するため、ＴＡ領域はＭＤ領域と間違われる場合がある。したがって、ＭＲ読取ヘッド／ＧＭＲ読取ヘッドを用いるハードディスクドライブに関するＭＤ領域およびＴＡ領域を検出するために使用される通常の信号処理技法は、ＴＭＲ読取ヘッドを用いるハードディスクドライブに関するＭＤ領域およびＴＡ領域を検出するために使用できない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】米国特許出願第１１／３１９，３１９号
【特許文献２】米国特許出願第１２／１１１，２５５号
【特許文献３】米国特許出願第１２／７０７，８２０号
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００９】
一実施形態では、本発明は、ハードディスクドライブ上の欠陥領域を検出するための機械実装方法である。この機械は、第１の測度と第２の測度とを生成して、信号値と、それらの信号値に対応するソフト決定値とに基づいて、これらの測度を比較して、その比較に基づいて、欠陥領域を検出する。
【００１０】
本発明のその他の態様、特徴、および利点は、以下の詳細な説明、添付の特許請求の範囲、ならびに類似の参照番号が類似の要素または同一要素を識別する添付の図面からより十分に明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の一実施形態による、トンネリング磁気抵抗（ＴＭＲ）読取ヘッドを用いるハードディスクドライブに関する読取チャネルのハイレベルブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態による、欠陥検出の特性を表すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
図１は、本発明の一実施形態による、トンネリング磁気抵抗（ＴＭＲ）読取ヘッドを用いるハードディスクドライブに関する読取チャネル１００のハイレベルブロック図を示す。読取チャネル１００の（通常の）主信号処理経路は、アナログ読取ヘッド出力信号１０５をＴＭＲ読取ヘッド（図示せず）から受信して、バイナリ（ハード決定）出力データ信号１４５を出力する。
【００１３】
図１に示すように、読取チャネル１００は、前置増幅器１１０と、アナログフロントエンド（ＡＦＥ）１２０と、アナログデジタル変換装置（ＡＤＣ）１３０と、デジタルバックエンド（ＤＢＥ）１４０とを含む。前置増幅器１１０は、信号振幅成分および周波数成分がＡＦＥ１２０による処理に関して指定された範囲内にあることを確実にするために、読取ヘッド出力信号１０５を増幅して、調整し、ＡＦＥ１２０は、前置増幅器１１０からの前置増幅された信号１１５をさらに増幅して、調整する。ＡＤＣ１３０は、バイナリ出力データ信号１４５を生成するＤＢＥ１４０によるデジタル信号処理のためのマルチビットデジタル信号Ｘを生み出すために、ＡＦＥ出力信号１２９をデジタル化する。デジタル信号Ｘは、本明細書で等化器入力サンプルｘ［ｎ］とも呼ばれるＡＤＣ出力サンプルｘ［ｎ］からなる。
【００１４】
図１に表すように、ＡＦＥ１２０は、高域通過フィルタ１２２と、可変利得増幅器１２４と、磁気抵抗非対称性（ＭＲＡ）補償モジュール１２６と、連続時間低域通過フィルタ１２８とを含み、一方、ＤＢＥ１４０は、部分応答（ＰＲ）等化器１４２と、ソフト（例えば、ビタビ）検出器１４４とを含む。本発明にとって特に重要なことに、ＰＲ等化器１４２は、デジタル化されたＡＤＣ出力信号ＸをＡＤＣ１３０から受信して、１ビットのバイナリ（すなわち、ハード決定）出力データ信号１４５を生成するためにソフト検出器１４４が処理する（等化器出力サンプルｙ［ｎ］からなる）マルチビット等化信号Ｙを生成する。ハード決定データ１４５を生成することに加えて、ソフト検出器１４４は、その処理の一環として、対数尤度比（ＬＬＲ）データなど、マルチビットソフト決定データも生成する。ＰＲ等化器１４２は、デジタル有限インパルス応答（ＤＦＩＲ）フィルタとして実装され得るが、そうでなくてもよい。
【００１５】
加えて、ＴＭＲ読取チャネル１００は、ＤＢＥ１４０から信号１４７を受信して、その情報が信号１５５内で表される、ハードディスク上の欠陥領域の位置を検出するために信号１４７を処理する欠陥検出器１５０を含む。一実装形態では、信号１４７は、ＡＤＣ１３０によって生成されたＡＤＣ出力信号Ｘ、ならびにソフト検出器１４４によって生成されたソフト決定データを含む。もう１つの実装形態では、信号１４７は、ＰＲ等化器１４２によって生成された等化信号Ｙ、ならびにソフト検出器１４４によって生成されたソフト決定データを含む。
【００１６】
理論上、ハードディスク上の欠陥領域は、以下のように、方程式（１）ならびに（２）に従って画定された２つの統計的測度α１（ｋ）およびα２（ｋ）を生成して、これらの測度を比較することによって検出され得る。
【数１】
2011204348.tif 000003
式中、ｙ［ｋ−ｉ］は、第（ｋ−ｉ）番目の等化器出力サンプルであり、
【数２】
2011204348.tif 000004
は、その第（ｋ−ｉ）番目の等化器出力サンプルの対応する期待値である。１つの可能な実装形態によれば、式中、Ｃが１未満の指定された比率（例えば、０．５〜０．７）である、α１（ｋ）＜Ｃα２（ｋ）の場合、その第ｋ番目のサンプルは欠陥領域に対応すると考えられる。
【００１７】
本発明の一実施形態では、欠陥検出器１５０は、下記のように、方程式（３）ならびに（４）に従って画定された２つの統計的測度β１（ｋ）およびβ２（ｋ）を生成して、これらの測度を比較することによって、ハードディスク上の欠陥領域を検出する。
【数３】
2011204348.tif 000005
式中、ｙ［ｋ−ｉ］は、図１の等化器１４２によって生成された第（ｋ−ｉ）番目の等化器出力サンプルであり、
【数４】
2011204348.tif 000006
は、その第（ｋ−ｉ）番目の等化出力サンプルの対応する期待値であり、Ｌ［ｋ−ｉ］は、その（ｋ−ｉ）番目の等化出力サンプルに関して、図１のソフト検出器１４４によって生成された、対応するマルチビットソフト決定値であり、Ｅ（ａｂｓ（Ｌ））は、期待関数Ｅを、欠陥のない領域に対応するソフト決定値Ｌ［ｎ］の絶対値に適用した結果であり、その結果は、最小平均二乗（ＬＭＳ）またはその他の適切なアルゴリズムを使用して取得され得る。
【数５】
2011204348.tif 000007
に関するＬＭＳ推定量は、以下のように取得され得る：
【数６】
2011204348.tif 000008
式中、μの値は、ＬＭＳ推定量に関する適応利得値であり、この値は、通常小さい。Ｍの典型的な値は３２であり、これは第１の統計的測度β１（ｋ）と第２の統計的測度β２（ｋ）が両方とも移動平均であることを意味する。
【００１８】
特定の実装形態に応じて、期待サンプル値
【数７】
2011204348.tif 000009
は、いくつかの異なる様式で生成され得る。１つの様式は、適切なターゲット多項式を用いて、ソフト検出器１４４によって生成された出力信号１４５の（１および−１によって表される）ハード決定ビットを畳み込むことによって
【数８】
2011204348.tif 000010
を構築することである。
【００１９】
もう１つの様式は、様々な短期ビットパターンに関して等化器出力サンプルｙ［ｎ］の長期平均値を生成することである。例えば、ハードディスクに書き込まれたテストデータが、２Ｔシーケンス（すなわち、１１００１１００．．．）に従った場合、様々なローカルビットパターンの中央のビット値に関して、様々な長期平均値が生成され得る。詳細には、ローカル３ビットパターン「１１０」の中央のビットに関してある長期平均値が、「１００」に関して別の長期平均値が、「００１」に関して別の長期平均値が、さらに「０１１」に関して別の長期平均値が生成され得る。例えば、ルックアップテーブル内に格納された適切な長期平均は、次いで、方程式（１）内および（２）内の期待サンプル値
【数９】
2011204348.tif 000011
に関して使用され得る。期待サンプル値
【数１０】
2011204348.tif 000012
は、正常な領域（すなわち、ＭＤまたはＴＡに関連しない領域）内に格納されたデータに関して生成される点に留意されたい。当業者は、期待サンプル値
【数１１】
2011204348.tif 000013
を生成するためのその他の様式が存在し得る点を理解されよう。
【００２０】
図２は、２つの比率をグラフで表す。すなわち、任意のソフト決定（すなわち、ＬＬＲ）値に依存しない、方程式（１）および（２）の統計的測度を使用して生成された第１の比率α１（ｋ）／α２（ｋ）、ならびにソフト決定値に依存する、方程式（３）および（４）の統計的測度を使用して生成された第２の比率β１（ｋ）／β２（ｋ）である。図２では、欠陥領域は、その欠陥領域の前に正常な（すなわち、欠陥のない）領域が存在し、その欠陥領域の後に別の正常な領域が存在する状態で、サンプル番号１１００あたりからサンプル番号１２００あたりに及ぶ。図２で明らかなように、２つの正常な領域に関して、第１の比率と第２の比率は両方とも、相対的に１．０に近い値を有し、一方、欠陥領域に関して、第１の比率と第２の比率は両方とも、１．０よりもかなり小さな値を有する。
【００２１】
やはり図２で明らかなように、第２の比率は、第１の比率よりも、欠陥領域内の変動がかなり少ない点に留意されたい。この特性は、欠陥領域を検出するためにソフト決定ベースの統計的測度β１（ｋ）およびβ２（ｋ）を使用することは、ソフト決定値と無関係な統計的測度α１（ｋ）およびα２（ｋ）を使用するよりもより確実であり得ることを示す。詳細には、ソフト決定ベースの統計的測度β１（ｋ）およびβ２（ｋ）を使用することは、結果として、欠陥領域のより少ない偽陰性検出をもたらす可能性がある。偽検出の可能性と間違い検出の可能性の両方を最小限に抑えるために、良好なしきい値が選ばれる。
【００２２】
本発明の一実装形態によれば、第ｋ番目のサンプルが欠陥領域に対応するか否かを決定するために、統計的測度β１（ｋ）は統計的測度β２（ｋ）の指定された陽性率（すなわち、Ｃ）と比較される。詳細には、以下の式（６）の不等式が満たされる場合、
β１（ｋ）＜Ｃβ２（ｋ）、（６）
第ｋ番目のサンプルは、欠陥領域に対応すると考えられる。Ｃの典型的な値は約０．５〜０．７である。
【００２３】
β１（ｋ）およびβ２（ｋ）の比較を実装するためのもう１つの様式は、β２（ｋ）に対するβ１（ｋ）の比率を、例えば、同じ指定された比率Ｃに等しいしきい値と比較することである。その比率がそのしきい値よりも低い場合、第ｋ番目のサンプルは欠陥領域に対応する。
【００２４】
通常、マルチビットＬＬＲソフト決定値の大きさは、ソフト検出器１４４の検出処理の信頼性を示す。したがって、正常な領域において、これらのソフト決定値の大きさは、通常、欠陥領域内のソフト決定値よりもより大きい。これは、統計的測度β１（ｋ）およびβ２（ｋ）の第２の比率の変動が、なぜ統計的測度α１（ｋ）およびα２（ｋ）の第１の比率よりも少ないかを説明するのに役立つ。欠陥領域の検出を示す方程式（６）の不等式が満たされたとき、第２の統計的測度β２（ｋ）は正常な領域に関するソフト決定値に基づき、一方、第１の統計的測度β１（ｋ）の大きさは、通常、正常な領域に関するソフト決定値よりもより小さく、その検出された欠陥領域に関するソフト決定値に基づくことに留意されたい。結果として、第２の比率における変動は、第１の統計的測度β１（ｋ）内のソフト決定値のそのより小さな大きさだけ減じられる。
【００２５】
方程式（３）ならびに（４）は、Ｍ個のサンプルのウィンドウの全域で統計的測度β１（ｋ）およびβ２（ｋ）を生成するため、不等式β１（ｋ）＜Ｃβ２（ｋ）が満たされるとき、その欠陥領域は、第ｋ番目のサンプル前の指定されたサンプル数（例えば、Ｍ／２）のところで開始するという決定が下され得る点に留意されたい。さらに、欠陥領域の偽陽性検出を回避するために、この不等式は、欠陥領域が検出されているという決定の前に、指定された数の連続サンプル（または、所与の連続的サンプルセット内の指定された数のサンプル（例えば、最後の１０個のサンプルのうちの７個））に関して満たされることが必要とされる場合がある。
【００２６】
本発明は、それぞれ、方程式（３）ならびに（４）の２つの統計的測度β１（ｋ）およびβ２（ｋ）の関連で説明されているが、本発明は、あるいは、ソフト決定値に基づくその他の適切な統計的測度を使用して実装されることが可能である。さらに、これらの統計的測度のうちの１つだけがソフト決定値に依存する実施形態が存在し得る。
【００２７】
欠陥検出器１５０の１つの可能な実装形態では、１つの欠陥領域の終わりと次の欠陥領域の始まりの間のギャップが指定された隔離距離未満であるとき、それらの２つの欠陥領域と介在する正常な領域とは、融合されて１つの組み合わされた欠陥領域になり、この場合、この組み合わされた欠陥領域は、第１の欠陥領域の始まりから第２の欠陥領域の終わりまで及ぶ。
【００２８】
本発明は、ＴＭＲ（トンネリング磁気抵抗）読取ヘッドに関する読取チャネルの関連で説明されているが、当業者は、本発明が、ＭＲ（磁気抵抗）読取ヘッドまたはＧＭＲ（巨大ＭＲ）読取ヘッドを含むが、これらに限定されないその他のタイプの読取ヘッドの関連で実装されることも可能である点を理解されよう。
【００２９】
本発明は、（ＡＳＩＣ、もしくはＦＰＧＡなど）単一の集積回路、マルチチップモジュール、シングルカード、またはマルチカード回路パックなど、可能な実装形態を含めて（アナログ、デジタル、またはアナログとデジタルの混成）回路ベースのプロセスとして実装され得る。当業者にとって明らかであるように、回路要素の様々な機能は、ソフトウェアプログラム内の処理ブロックとして実装されることも可能である。かかるソフトウェアは、例えば、デジタル信号プロセッサ内、マイクロコントローラ内、または汎用コンピュータ内で用いられることが可能である。
【００３０】
本発明は、方法、およびそれらの方法を実施するための装置の形で実装され得る。本発明は、磁気記録媒体、光記録媒体、固体メモリ、フロッピーディスケット、ＣＤ−ＲＯＭ、ハードドライブ、または任意のその他の機械可読記憶媒体など、有形媒体内で実装されるプログラムコードの形で実装されることも可能であり、そのプログラムコードがコンピュータなどの機械内にロードされて、その機械によって実行されるとき、その機械は本発明を実施するための装置になる。本発明は、例えば、記憶媒体内に格納されるか、または機械内にロードされ、かつ／もしくは機械によって実行されるかにかかわらず、プログラムコードの形で実施されることも可能であり、そのプログラムコードがコンピュータなどの機械内にロードされて、その機械によって実行されるとき、その機械は、本発明を実施するための装置になる。汎用プロセッサ上で実装されたとき、そのプログラムコード区分はプロセッサと結合して、特定の論理回路と同じように動作する独自のデバイスを提供する。
【００３１】
明示的にその他の指定がない限り、それぞれの数値および範囲は、「約」または「およそ」という語がその値または範囲に優先した場合と同様に、概算であるとして解釈されるべきである。
【００３２】
本発明の性質を説明する目的で説明され、例示されている部分の詳細、材料、および構成における様々な変更は、以下の特許請求の範囲で表現される本発明の範囲から逸脱せずに、当業者によって行われ得る点をさらに理解されよう。
【００３３】
請求項における図面番号および／または図面参照ラベルの使用は、請求項の解釈を促す目的で、特許請求される範囲の主題の１つまたは複数の可能な実施形態を識別するためである。かかる使用は、それらの請求項の範囲を対応する図面内で示される実施形態に必ずしも限定すると解釈されるべきでない。
【００３４】
本明細書に記載された例示的な方法のステップは、説明された順序で実行されることが必ずしも必要とされず、かかる方法のステップの順序は、単に例示的であると理解されるべきである点を理解されたい。同様に、かかる方法に追加のステップが含まれてよく、いくつかのステップが省略されてよく、またはいくつかのステップが本発明の様々な実施形態と一致した方法内で組み合わされてもよい。
【００３５】
以下の方法クレームの要素は、あるとしても、対応するラベル付けを用いた特定の順序で列挙されるが、それらの請求項の列挙が、それとも、それらの要素のいくつかまたはすべてを実装するための特定の順序を意味する場合を除いて、それらの要素は、その特定の順序で実装されることに必ずしも限定されない。
【００３６】
本明細書における「一実施形態」または「ある実施形態」の参照は、実施形態に関して説明された特定の特徴、構造、もしくは特性が本発明の少なくとも１つの実施形態内に含まれ得ることを意味する。明細書内の様々な箇所における「一実施形態において」という語句の出現は、すべて同じ実施形態を指すとは限らず、または個別の実施形態もしくは代替の実施形態は、その他の実施形態と相互排他的であるとは限らない。同じことが「実装形態」という語にも当てはまる。
【図１】
2011204348.tif 000018
【図２】
2011204348.tif 000019