(57)【要約】【課題】記録テストの回数を低減しつつ、適切な記録パラメータを決定できる光ディスク記録装置を提供する。【解決手段】光ディスク記録装置は、記録テスト用のテスト領域を内周および外周のそれぞれに有する光ディスクに、マークおよびスペースを形成して情報の記録を行う光ディスク記録装置において、光ディスクのテスト領域に、多段階の記録速度のうち少なくとも１段階の記録速度により、記録テストを実行する記録テスト部１３０と、記録テスト部による記録テスト結果に基づいて、記録パラメータを決定するパラメータ決定部１１８と、決定された記録パラメータを基準として、前記記録テストが行われていない記録速度により記録を行う際の記録パラメータを算出するパラメータ算出部１１８と、を有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録テスト用のテスト領域を内周および外周のそれぞれに有する光ディスクに、マークおよびスペースを形成して情報の記録を行う光ディスク記録装置において、
前記光ディスクのテスト領域に、多段階の記録速度のうち少なくとも１段階の記録速度により、記録テストを実行する記録テスト部と、
前記記録テスト部による記録テスト結果に基づいて、記録パラメータを決定するパラメータ決定部と、
決定された記録パラメータを基準として、前記記録テストが行われていない記録速度により記録を行う際の記録パラメータを算出するパラメータ算出部と、
を有する光ディスク記録装置。
【請求項２】
前記パラメータ決定部は、２段階以上の記録速度により実行された記録テストに基づいて、当該記録速度毎に記録パラメータを決定し、
前記パラメータ算出部は、前記記録パラメータにより決定された記録パラメータと対応する記録速度とから、記録速度に対する記録パラメータの関数式を算出し、当該関数式に前記記録テストが行われていない記録速度を代入して、記録パラメータを算出する請求項１記載の光ディスク記録装置。
【請求項３】
記録速度に対する記録パラメータの基準関数式を予め記憶している記憶部をさらに有し、
前記パラメータ算出部は、前記パラメータ決定部により決定された記録パラメータと対応する記録速度とに基づいて前記基準関数式を補正し、補正された基準関数式に記録テストが行われていない記録速度を代入して、記録パラメータを算出する請求項１記載の光ディスク記録装置。
【請求項４】
前記記録テスト部は、２段階の記録速度により記録テストを実行し、
前記パラメータ算出部は、２組の決定された記録パラメータと対応する記録速度との組から、前記基準関数式を比例補正する請求項３記載の光ディスク記録装置。
【請求項５】
前記記録テスト部は、１段階の記録速度により記録テストを実行し、
前記パラメータ算出部は、決定された記録パラメータと、前記基準関数式から求められる前記１段階の記録速度のときの記録パラメータとの差分を算出し、当該差分によって前記基準関数式の全体を補正する請求項３記載の光ディスク記録装置。
【請求項６】
２段階以上の記録速度による記録テストにおける記録品質が所定条件を満たしているか否かを検査する品質検査部と、
前記品質検査部によって品質が所定条件を満たしていることが確認されており、最も早い記録速度による記録を、最大記録速度として決定する最大記録速度決定部と、
をさらに有する請求項２記載の光ディスク記録装置。
【請求項７】
前記光ディスクのデータ領域への記録中に記録パラメータを変更する際、記録を一時停止して、停止前の記録速度による記録結果に基づいて、前記記録パラメータを調整するパラメータ調整部と、
前記停止前の記録速度および調整したパラメータと、前記パラメータ決定部によって記録パラメータが決定された記録速度と当該記録パラメータとから、前記関数式を補正する関数式補正部と、
をさらに有する請求項２記載の光ディスク記録装置。
【請求項８】
パラメータ算出部は、前記記録テストを行った中で最高速度の記録速度よりも速い記録速度で前記光ディスクのデータ領域に記録を行う場合、記録中に所定のタイミングで記録を中断し、中断直前に記録した情報のデビエーションに基づいて、中断後の記録速度における記録パラメータを算出する請求項２または請求項４に記載の光ディスク記録装置。
【請求項９】
前記記録パラメータは、ライトストラテジまたは書込みパワーの少なくとも一方を含む請求項１〜８のいずれか一項に記載の光ディスク記録装置。
【請求項１０】
光ディスク記録装置によって、記録テスト用のテスト領域を内周および外周のそれぞれに有する光ディスクに、マークおよびスペースを形成して情報の記録を行う追記型光ディスクの記録方法において、
前記光ディスクのテスト領域に、多段階の記録速度のうち少なくとも１段階の任意の記録速度により、記録テストを実行する段階と、
前記記録テスト結果に基づいて、記録パラメータを決定する段階と、
決定された記録パラメータを基準として、前記記録テストが行われていない記録速度により記録を行う際の記録パラメータを算出する段階と、
を有する追記型光ディスクの記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録パラメータを決定できる光ディスク記録装置および追記型光ディスクの記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
データの書込み可能な光ディスクとしては、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭや、ブルーレイディスク、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ等が知られている。
【０００３】
これらの光ディスクは、レーザダイオードによりマークおよびスペースが形成されることによって情報を記録する。しかし、光ディスクそれぞれの特性の違い等から、記録の際の適切な記録パラメータ、例えば、ライトストラテジ（以下、ＷＳＴと称す）や記録パワーも変更する必要がある。市場によく流通している一般的な光ディスクについては、事前に適切なライトストラテジや記録パワーを求めて、予め光ディスク記録装置に記憶している。事前に記憶されているライトストラテジや記録パワーは、記録時に光ディスクの種類に応じて適宜設定され、最適な記録処理が行われている。
【０００４】
しかし、市場には事前調整が行われるような大手メーカの光ディスクの他にも数多くの光ディスクが存在しており、さらに、光ディスク記録装置の販売後にも市場には新たな種類の光ディスクが投入されている。したがって、事前に全ての光ディスクについて適切な記録パラメータを特定し、光ディスク記録装置に記憶しておくことはできない。
【０００５】
そこで、適切な記録パラメータが設定されていない未知の光ディスクに記録する場合、先に、光ディスクに設けられたテスト領域に記録テストを行い、適切な記録パラメータを設定する技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。とりわけ、特許文献１記載の発明では、記録速度（線速度）を２倍、４倍、８倍…と上げる場合に、光ディスクの外周に設けられたテスト領域を用いて、適切な記録パラメータを決定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００４−１９９８４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１記載の発明では、全ての記録速度について、テスト領域に記録テストを行い、適切な記録パラメータを決定している。これでは、記録速度の段階が増えるにつれて、適切な記録パラメータを決定できなくなってしまう。テスト領域の容量は限られており、書込みテストできる回数も限られているからである。
【０００８】
加えて、全ての記録速度で適切な記録パラメータを決定したのでは、その決定に要する時間が多大になってしまう。これでは、記録時間の短縮というユーザの一般的な要望にそぐわない。
【０００９】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、記録テストの回数を低減しつつ、適切な記録パラメータを決定できる光ディスク記録装置および追記型光ディスクの記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の光ディスク記録装置は、記録テスト用のテスト領域を内周および外周のそれぞれに有する光ディスクに、マークおよびスペースを形成して情報の記録を行う。当該光ディスク記録装置は、記録テスト部と、パラメータ決定部と、パラメータ算出部とを有する。記録テスト部は、光ディスクのテスト領域に、多段階の記録速度のうち少なくとも１段階の記録速度により、記録テストを実行する。パラメータ決定部は、記録テスト部による記録テスト結果に基づいて、記録パラメータを決定する。パラメータ算出部は、決定された記録パラメータを基準として、記録テストが行われていない記録速度により記録を行う際の記録パラメータを算出する。
【００１１】
上記の光ディスク記録装置は、任意の記録速度により実行された記録テストから最適な記録パラメータを決定し、さらに、決定した記録パラメータを用いて、記録テストを行っていない記録速度で記録を行う際の記録パラメータを決定する。
【発明の効果】
【００１２】
全ての記録速度で記録テストを行わなくても、既存のテスト領域の容量の範囲内で、全ての記録速度での最適な記録パラメータを決定できる。全ての記録速度で記録テストを行わないので、記録テスト回数を低減でき、結果として、記録の合計時間を低減できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置を説明するためのブロック図である。
【図２】図１に示される追記型光ディスクの構造を説明するための平面図である。
【図３】第１実施形態に係る光ディスク記録装置１００の動作の流れを示すフローチャートである。
【図４】ライトストラテジと記録速度の関係を示すグラフである。
【図５】基準パルスに対するストラテジ変換後のパルスを示す図である。
【図６】第２実施形態に係る光ディスク記録装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【図７】基準ＷＳＴ関数式の補正量の計算を示す図である。
【図８】基準ＷＳＴ関数式を補正する概念を示す図である。
【図９】第３実施形態に係る光ディスク記録装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【図１０】基準ＷＳＴ関数式を補正する概念を示す図である。
【図１１】第４実施形態係る光ディスク記録装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【図１２】第５実施形態係る光ディスク記録装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【図１３】データエリアへの記録中に記録パラメータを調整する概念を示す図である。
【図１４】記録テストを行った記録速度よりも高い記録速度における記録パラメータを設定する概念を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、添付した図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。また、図面の寸法比率は、説明の都合上誇張されており、実際の比率とは異なる場合がある。
【００１５】
図１は、本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置を説明するためのブロック図、図２は、図１に示される追記型光ディスクの構造を説明するための平面図である。
【００１６】
本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置１００は、光ディスク１０に半導体レーザにより情報を記録したり、記録された情報を再生したりするために使用され、図１に示されるように、光ピックアップ１０２、ヘッドアンプ１０４、二値化回路１０６、クロックズレ測定部１０８、測定値記憶部１１０、データ弁別／演算部１１２、ＷＳＴ（ライトストラテジ）記憶部１１４、ベースＷＳＴ記憶部１１６、ＷＳＴ演算部１１８、デコーダ１２０、エンコーダ１２２、記録パルス調整部１２４、レーザ駆動部１２６および制御部１３０を有する。
【００１７】
光ディスク１０は、ＤＶＤ＋Ｒ等の追記型であり、図２に示されるように、内側テストエリア１２、データエリア１４および外側テストエリア１６を有する。データエリア１４は、ＣＡＶ（角速度一定）によって情報が記録される領域である。内側および外側テストエリア１２，１６は、データエリア１４に情報を記録するための記録パラメータを調整するために利用される領域である。例えば、内側テストエリア１２は、リードインエリアの内側に位置するＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）領域に配置され、外側テストエリア１６は、リードアウトエリアの外側に位置するＰＣＡ領域に配置される。記録パラメータは、例えば、記録パワーおよびライトストラテジ（ＷＳＴ）である。なお、光ディスク１０には、自己の固有情報が記憶されている。固有情報は、例えば、ディスクＩＤであり、光ディスク１０の製造メーカや型番を特定することが可能である。
【００１８】
光ピックアップ１０２は、データエリア１４にＣＡＶによって情報を記録する記録手段であり、レーザ光源、光学部品および光検出器を有する。レーザ光源は、例えば、レーザダイオードである。光学部品は、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等である。光検出器は、４つの領域に分割され、光を電気信号に変換するために使用される。光ピックアップ１０２は、記録再生時のレーザ出力をモニタするフロントモニタダイオードを有することも可能である。
【００１９】
ヘッドアンプ１０４は、ＲＦ信号（データ信号)、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を生成するために使用される。ＲＦ信号は、光検出器の各分割領域への反射光量の総和を示す信号であり、光ディスク１０からの反射光を検出し、当該反射光に基づいて反射光量を演算することで生成される。フォーカスエラー信号は、光ピックアップ１０２の照射レーザの焦点ずれを検出する信号であり、例えば、非点収差法によって生成される。トラッキングエラー信号は、光ピックアップ１０２の照射レーザのトラックずれを検出する信号であり、例えば、プッシュプル法によって生成される。
【００２０】
二値化回路１０６は、ヘッドアンプ１０４からの検出信号を成形し、マークおよびスペースに応じた２値のデジタル信号を生成する再生信号生成回路である。例えば、二値化回路１０６は、ヘッドアンプ１０４から出力される３Ｔ，４Ｔ，５Ｔ，．．．のアナログ信号を、２値化された方形波に変更すための閾値を、常に調節している。
【００２１】
クロックズレ測定部１０８は、二値化回路１０６で生成されたデジタル信号とデコーダ１２０で生成された基準クロックとのエッジずれ（ｄＴ）を測定するために使用される。
【００２２】
更にクロックズレ測定部１０８は、判断パラメータおよびマークエッジ変化量を算出するためにも使用される。判断パラメータは、二値化回路１０６から取得される検出信号（２値のデジタルデータ）のエッジとクロックエッジとのズレにより定義され、基準となるライトストラテジ（ベースＷＳＴと称す。）を変更するか否かを調整するために使用される。マークエッジ変化量は、異なるＷＳＴで記録された再生信号に関し、規定量（ΔＴ）動かしたときに実測されるマークエッジの変化量である。異なるＷＳＴは、例えば、テストエリアで試し書きをする際のベースＷＳＴと、ベースＷＳＴ＋αである。
【００２３】
測定値記憶部１１０は、例えば、高速のランダムアクセス記憶装置（ＲＡＭ）からなり、クロックズレ測定部１０８によって測定されたデータを一時的に記憶するために使用される。記憶されるデータは、各種信号のクロックズレ量およびその信号種類別である。
【００２４】
データ弁別／演算部１１２は、測定値記憶部１１０に記憶されたデータ（クロックズレ測定部１０８における測定データ）を信号別に弁別し、各種演算を実行するために使用される。演算の対象は、各種信号のサンプル数比に基づくズレ、各信号分布の理論中心値からのズレ量（デビエーション）、時間差ジッタ（Ｄａｔａ−Ｃｌｏｃｋジッタ）、マークエッジ変化量に基づく相関関数、熱干渉効果による隣接エッジの影響である。
【００２５】
ＷＳＴ記憶部１１４は、例えば、ＥＥＰＲＯＭ（電気的に消去可能なＰＲＯＭ，Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  ＰＲＯＭ）からなり、ＷＳＴ演算部１１８において算出されたＷＳＴを一時的に記憶するために使用される。ＷＳＴ記憶部１１４は、ＷＳＴだけでなく、ＷＳＴ演算部１１８において算出された記録パワーについても一時的に記憶するために使用される。
【００２６】
ベースＷＳＴ記憶部１１６は、例えば、読取り専用の不揮発性記憶装置（ＲＯＭ）からなり、ＷＳＴ演算部１１８において利用される基準記録パラメータ、例えば、ベースＷＳＴ、ベース記録パワーが記憶されている。ベースＷＳＴ、ベース記録パワーは、ストラテジ設計者によって予め計算されて用意され、光ディスク１０の固有情報に関連付けられた既定のＷＳＴおよび記録パワーである。
【００２７】
ＷＳＴ演算部１１８は、パラメータ決定部として、記録テストの結果に基づいて、最適な記録パラメータを決定する。さらに、ＷＳＴ演算部１１８は、パラメータ算出部として、決定した記録パラメータを基準として、記録テストが行われていない記録速度により記録を行う際の最適な記録パラメータを算出する。ＷＳＴ演算部１１８の詳細な動作については後述する。
【００２８】
デコーダ１２０は、二値化回路１０６において生成された二値化信号を、所定形式の再生信号に変換して出力する回路である。エンコーダ１２２は、記録信号を例えばＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）信号に変換して、記録パルス調整部１２４に出力する回路である。
【００２９】
記録パルス調整部１２４は、ＷＳＴ演算部１１８において設定された最適な記録パラメータに基づき、記録パルス列を形成し、レーザ駆動部１２６に出力するために使用される。
【００３０】
レーザ駆動部１２６は、記録パルス調整部１２４からの記録パルス列に応じ、光ピックアップ１０２のレーザ光源（例えば、レーザダイオード）を駆動するためのパルス信号を生成し、光ピックアップ１０２に出力する。
【００３１】
制御部１３０は、光ディスク装置１００の記録動作および再生動作を制御するものである。より具体的には制御部１３０は、通常の記録動作および再生動作に加え、ＷＳＴテスト結果から最高記録速度の判断機能も有する。また、記録テスト部として、光ディスク記録装置１００の各構成を制御して、多段階の記録速度のうち少なくとも１段階の任意の記録速度により、光ディスク１０のテスト領域に記録テストを実行する。
【００３２】
本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置１００は、多段階ある記録速度（光ディスク１０の角速度）の全てについて書込みテストをしなくても、各記録速度における記録パラメータを決定できる。
【００３３】
以下に、光ディスク記録装置１００の作用の実施形態について説明する。
【００３４】
（第１実施形態）
図３は第１実施形態に係る光ディスク記録装置１００の動作の流れを示すフローチャート、図４はライトストラテジと記録速度の関係を示すグラフ、図５は基準パルスに対するストラテジ変換後のパルスを示す図である。図４において、横軸は光ディスク１０への記録速度、縦軸はＷＳＴを示す。
【００３５】
光ディスク記録装置１００は、光ディスク１０への多段階の記録速度のうち、２以上の数段階の記録速度について、テスト領域への記録テストを実行する（ステップＳ１）。ここで、本実施形態では、記録速度Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４について、光ディスク１０への記録テストが実行される。例えば、内側テストエリア１２において、６倍速の記録テストが実行され、外側テストエリア１６において、８、１２、１６倍速の記録テストが実行される。
【００３６】
続けて、光ディスク記録装置１００は、記録テストの結果に基づいて、記録速度Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４における最適な記録パラメータ（ＷＳＴ）を決定する（ステップＳ２）。なお、最適な記録パラメータの決定は、特に限定されず、例えば、ベースＷＳＴを設定し、設定されたベースＷＳＴに基づいて、仮最適ＷＳＴを算出し、仮最適ＷＳＴでテスト記録（試し書き）後、その品質を測定して評価項目の規定値と比較し、規定値を満たさない場合には、ＷＳＴを見直し、再度ベースＷＳＴの設定を行うことを、繰返すことによって実施可能である。記録品質の評価項目は、例えば、データ弁別／演算部１１２において処理される各種信号のサンプル数比に基づくズレ、各信号分布の理論中心値からのズレ量（デビエーション）、時間差ジッタ（Ｄａｔａ−Ｃｌｏｃｋジッタ）、マークエッジ変化量に基づく相関関数、熱干渉効果による隣接エッジの影響である。
【００３７】
光ディスク記録装置１００は、各記録速度Ｖ１〜Ｖ４とそのときの最適なＷＳＴ１〜４を、座標として図４に大きな白丸で示すようにプロットし、これらの座標を結ぶように、ＷＳＴを記録速度の関数とする関数式を作成する（ステップＳ３）。
【００３８】
さらに、光ディスク記録装置１００は、作成した関数式に、記録テストをしていない記録速度Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃを代入し、記録速度Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃに対して最適なＷＳＴを算出する（ステップＳ４）。ここで、記録速度Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃは、記録速度の分解能（例えば０．５倍）に従ってＶ１，Ｖ２間に設定されている記録速度である。図示していないが、Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４のそれぞれの間においても所定の分解能によって設定されている記録速度があってもよい。
【００３９】
なお、ＷＳＴは、様々なパラメータのテーブルの集合として記憶されている。テーブルを構成するパラメータの一つとして、ＷＳＴは、例えば、３Ｔ〜１１Ｔマークおよび１４Ｔマークの各々についての基準パルスタイミングに対する遅延量についてのテーブルを含む。図５を例にして３Ｔパルスの遅延量について説明する。ＷＳＴにおける各パルスの立ち上がり、立ち下がりのタイミングは図５に示すように、基準パルス（Ｒｅｆ  Ｐｕｌｓｅ）からの遅延量（ＤＬ、ＤＴ）で定められる。この基準パルスに対する３Ｔパルス立ち上がりエッジの遅延量（ＤＬ）が、ＷＳＴ１からＷＳＴ２へ、ＷＳＴ２からＷＳＴ３へ、ＷＳＴ３からＷＳＴ４へと次第に変化していくように、関数式が作成されている。このように、図４の縦軸に表されるＷＳＴは、ＷＳＴを構成するテーブルの数値（パルス遅延量等のパラメータ）の変化量として表されているとも言える。したがって、図４に点線で示す関数に、記録速度Ｖａを代入すれば、ＷＳＴ１よりも遅延量がＷＳＴ２に少し近づいたＷＳＴ１’が算出される。
【００４０】
以上のように、第１実施形態においては、記録速度Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４の４段階で最適なＷＳＴ１〜４を決定し、さらに、決定したＷＳＴ１〜４を用いて、記録テストを行っていない記録速度ａ，ｂ，ｃで記録を行う際のＷＳＴを決定する。したがって、全ての記録速度で記録テストを行わなくても、実際の記録テストの結果が反映された最適な記録パラメータを決定できる。また、記録テスト回数を低減できるので、既存の内側テストエリア１２および外側テストエリア１６の容量でも十分に全ての記録速度での最適なＷＳＴを決定できる。加えて、全ての記録速度で記録テストを行わないので、記録テスト回数を低減でき、結果として、記録の合計時間を低減できる。
【００４１】
なお、上記実施形態では、記録パラメータとしてＷＳＴを変更する例のみを示しているが、本発明はこれに限定されない。記録パラメータとして、記録パワーを調整することもできる。この場合、記録速度Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４の４段階で最適な記録パワーを算出し、それらをプロットして関数式を算出し、当該関数式を用いて、他の速度における最適な記録パワーも算出する。
【００４２】
また、上記実施形態では、記録速度Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４について、記録テストを行っているが、これに限定されない。他の任意の記録速度について、記録テストを実行してもよい。４段階ではなく、２段階以上のいかなる段階の記録速度で記録テストを行ってもよい。ただし、全ての段階の記録速度で記録テストを実行するのでは、記録時間を短縮できないので、全段階について記録テストは行わない。記録テストは、外側テストエリア１６だけで行ってもよい。
【００４３】
（第２実施形態）
第１実施形態では、２段階以上の記録速度で記録テストを行い、記録テスト結果から（記録速度、記録パラメータ）座標を結ぶ関数式を算出し、当該関数式を用いて記録テストをしていない記録速度の記録パラメータを算出していた。しかし、第２実施形態では、２段階の記録速度のみで記録テストを行い、記録テストしていない記録速度の記録パラメータを算出する。
【００４４】
図６は第２実施形態に係る光ディスク記録装置の動作の流れを示すフローチャート、図７は基準ＷＳＴ関数式の補正量の計算を示す図、図８は基準ＷＳＴ関数式を補正する概念を示す図である。
【００４５】
先に、記録パラメータとしてＷＳＴを算出する場合について説明する。
【００４６】
光ディスク記録装置１００は、光ディスク１０への記録速度のうち、２段階の記録速度について、テスト領域への記録テストを実行する（ステップＳ１１）。なお、以下では、最低の記録速度Ｖｍｉｎおよび最高の記録速度Ｖｍａｘの２段階で記録テストが実行される場合について説明する。
【００４７】
続けて、光ディスク記録装置１００は、記録テストの結果に基づいて、記録速度Ｖｍｉｎ，ｍａｘにおける最適な記録パラメータ（ＷＳＴ）を決定する（ステップＳ１２）。記録テストに基づく最適な記録パラメータの決定は、第１実施形態と同様である。
【００４８】
光ディスク記録装置１００は、記録速度Ｖｍｉｎ，ｍａｘとそのときの最適なＷＳＴを座標として、図７に大きな黒丸で示すようにプロットする（ステップＳ１３）。
【００４９】
続けて、光ディスク記録装置１００は、プロットした（記録速度，ＷＳＴ）座標に基づいて、予めベースＷＳＴ記憶部１１６に記憶されているベースＷＳＴ関数式（基準関数式）を、比例補正する（ステップＳ１４）。比例補正とは、ベースＷＳＴ関数式のＶｍｉｎ，ＶｍａｘにおけるＷＳＴが、プロットしたＶｍｉｎ，ＶｍａｘにおけるＷＳＴとなるように、ベースＷＳＴ関数式のＶｍｉｎ，Ｖｍａｘ間も補正することである。図７では、ベースＷＳＴと補正ＷＳＴをＶｍｉｎおよびＶｍａｘについて直線で結び、その間にあるＶ１，Ｖ２，Ｖ３についてＷＳＴの補正量を算出するものである。
【００５０】
光ディスク記録装置１００は、図８に示すように、ベースＷＳＴに図７で算出したＷＳＴ補正量（△ＷＳＴ１）を加えることで、Ｖ１における補正ストラテジを決定する。Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４についても同様に、図７で求めた補正量をベースストラテジに加算して、それぞれの速度における最適なＷＳＴを決定する。（ステップＳ１５）。
【００５１】
以上では、ＷＳＴを算出する例について説明しているが、他の記録パラメータである記録パワーについても同様に算出できる。図７、図８のグラフの縦軸を記録パワーに変更し、ＷＳＴ補正と同じ計算を行えばよい。
【００５２】
以上のように、第２実施形態においては、２段階の記録速度においてのみ記録テストを行い、他の記録速度については補正したベース記録パラメータ関数式に代入して、記録パラメータを算出するので、記録時間を短縮できる。また、ベースＷＳＴ関数式やベース記録パワー関数式の既存の基準関数式を用いる点でも、記録時間の短縮に資する。
【００５３】
なお、ステップＳ１１では、最低の記録速度Ｖｍｉｎおよび最高の記録速度Ｖｍａｘの２段階で記録テストを実行した。しかし、これに限定されない。他の２段階の記録速度について記録テストが実行されてもよい。
【００５４】
（第３実施形態）
第１実施形態では、２段階以上の記録速度で記録テストを行って、他の記録速度の記録パラメータも算出していた。しかし、第３実施形態では、１段階の記録速度だけで記録テストを行い、記録テストしていない記録速度の記録パラメータを算出する。
【００５５】
図９は第３実施形態に係る光ディスク記録装置の動作の流れを示すフローチャート、図１０は基準ＷＳＴ関数式を補正する概念を示す図である。
【００５６】
光ディスク記録装置１００は、光ディスク１０への記録速度のうち、任意の１段階の記録速度について、テスト領域への記録テストを実行する（ステップＳ２１）。
【００５７】
続けて、光ディスク記録装置１００は、記録テストの結果に基づいて、任意の１段階の記録速度における最適な記録パラメータ（ＷＳＴ、記録パワー）を決定する（ステップＳ２２）。
【００５８】
光ディスク記録装置１００は、記録テストをした記録速度について、決定した記録パラメータ（ＷＳＴ、記録パワー）と、基準関数式（ベースＷＳＴ関係式、ベース記録パワー関係式）における記録パラメータとを比較し、それらが一致するように、基準関係式を平行補正する（ステップＳ２３）。すなわち、図１０に示されるように、大きな白丸が大きな黒丸と重なるように、基準関係式を平行移動する。こうすることによって、ベースストラテジ、ベース記録パワーの小さな白丸が補正後ストラテジ、補正後記録パワーの小さな白三角の位置に移動する。
【００５９】
光ディスク記録装置１００は、平行補正した基準関係式に、記録テストしていない記録速度を代入して、それぞれに最適なＷＳＴを算出する（ステップＳ１５）。図１０の白三角の座標により、記録テストを実行していない記録速度についての最適な記録パラメータがわかる。
【００６０】
このように、第３実施形態では、１段階の記録速度だけで記録テストを行って、その結果を基準関数式に反映させる。したがって、より少ない計算量、計算時間で、適切な記録パラメータを算出できる。
【００６１】
なお、図１０では、記録速度Ｖｍｉｎで記録テストを実行して、その結果を基準関数式に反映させているが、これに限定されない。記録速度Ｖｍａｘなど他のいかなる記録速度において記録テストを実行して、基準関数式の補正に利用してもよい。
【００６２】
（第４実施形態）
第４実施形態では、上記第１実施形態において複数段階の記録速度でテスト記録した場合に、テスト記録の記録品質を評価する。
【００６３】
第４実施形態では、ＷＳＴ演算部１１８は、品質検査部の役割を、そして制御部１３０は最大記録速度決定部の役割を果たす。
【００６４】
図１１は、第４実施形態係る光ディスク記録装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【００６５】
まず、変数ｘが１からｍａｘであることが定義される（ステップＳ３１）。ここで、ｍａｘは、任意の整数であり、テスト記録する記録速度の段階の数である。例えば、第１実施形態の例では、４段階の記録速度Ｖ１〜４でテスト記録されているので、ｍａｘ＝４である。
【００６６】
光ディスク記録装置１００は、記録速度Ｖ１で記録テストを実行する（ステップＳ３２）。光ディスク記録装置１００は、記録品質が所定条件を満たすか否かを判断する（ステップＳ３３）。所定条件を満たすか否かは、例えば、データ弁別／演算部１１２において処理される各種信号のサンプル数比に基づくズレ、各信号分布の理論中心値からのズレ量（デビエーション）、時間差ジッタ（Ｄａｔａ−Ｃｌｏｃｋジッタ）、マークエッジ変化量に基づく相関関数、熱干渉効果による隣接エッジの影響に基づいて判断される。
【００６７】
記録品質が所定条件を満たさない場合（ステップＳ３３：ＮＯ）、これ以上低い記録速度では記録テストを実行していないので、品質保証ができない。したがって、光ディスク記録装置１００は、記録エラーとして、ユーザに通知する（ステップＳ３４）。
【００６８】
記録品質が所定条件を満たす場合（ステップＳ３３：ＹＥＳ）、光ディスク記録装置１００は、変数ｘを１だけインクリメントする（ステップＳ３５）。続けて、光ディスク記録装置１００は、記録速度Ｖｘ（最初に実行される場合はＶ２）によって、記録テストを実行する（ステップＳ３６）。
【００６９】
さらに、光ディスク記録装置１００は、今回の記録テストについて記録品質が所定条件を満たすか否かを判断する（ステップＳ３７）。記録品質が所定条件を満たさない場合（ステップＳ３７：ＮＯ）、光ディスク記録装置１００は、当該記録速度以上では記録品質を保証できないので、記録速度Ｖ（ｘ−１）を最高記録速度に設定する（ステップＳ３８）。
【００７０】
記録品質が所定条件を満たす場合（ステップＳ３７：ＹＥＳ）、光ディスク記録装置１００は、変数ｘ＝ｍａｘか、すなわち、本実施形態の例では、ｘ＝４か否かを判断する（ステップＳ３９）。変数ｘ＝ｍａｘでない場合（ステップＳ３９：ＮＯ）、ステップＳ３５の処理に戻り、変数ｘのインクリメントを実行する。一方、変数ｘ＝ｍａｘである場合（ステップＳ３９：ＹＥＳ）、光ディスク記録装置１００は、これ以上速い記録速度で記録テストは行わないので、現在の記録速度Ｖｘ（Ｖ４）を最大記録速度に設定する（ステップＳ４０）。
【００７１】
以上のように、第４実施形態では、書込みテスト時に、記録品質の評価も行い、所定の品質が保証されている記録速度を最大記録速度とするので、最大の記録速度で安定した品質が得られる。
【００７２】
（第５実施形態）
第１実施形態では、データエリアへの記録前に記録パラメータを調整している。第５実施形態では、第１実施形態において複数段階の記録速度でテスト記録して記録パラメータを算出していることを前提として、データエリアへの記録中にも記録パラメータを調整する。
【００７３】
第５実施形態では、ＷＳＴ演算部１１８は、パラメータ調整部および関数式補正部の役割も果たす。
【００７４】
図１２は第５実施形態係る光ディスク記録装置の動作の流れを示すフローチャート、図１３はデータエリアへの記録中に記録パラメータを調整する概念を示す図である。
【００７５】
第１実施形態の手法で、記録速度Ｖ１〜４について、記録テストが実行され、それぞれ、最適な記録パラメータとしてＷＳＴ１〜４が算出されているものとする。加えて、記録速度Ｖ１，Ｖ２間において、さらに、記録速度Ｖａ，Ｖｂ，ＶｃについてのＷＳＴが算出されているものとし、更に記録速度ＶｚがＷＳＴの見直し速度として、ＶａとＶｂ間に設定されているものとする。なお、記録見直し速度（Ｖｚ）は、必ずしも記録速度変更（Ｖａ，Ｖｂ・・）とは一致しない。
【００７６】
光ディスク記録装置１００は、記録中（ステップＳ４１）に、現在の記録速度がＷＳＴ見直し速度Ｖｚであるか否か判断する（ステップＳ４２）。記録速度がＷＳＴ見直し速度でない場合（ステップＳ４２：ＮＯ）、そのまま記録を継続する。記録速度がＷＳＴ見直し速度である場合（ステップＳ４２：ＹＥＳ）、記録を一時停止する（ステップＳ４３）。
【００７７】
引き続き光ディスク記録装置１００は、記録最終部分を再生してデータエリアに最後に記録された記録結果を評価する（ステップＳ４４）。
【００７８】
光ディスク記録装置１００は、記録結果の評価に従って、記録パラメータを補正する（ステップＳ４５）。すなわち、図１３の記録速度Ｖｚのように、小さな白丸で示される記録パラメータ（ＷＳＴ／記録パワー）から、下の小さな黒丸で示される記録パラメータに調整される。
【００７９】
続けて、光ディスク記録装置１００は、小さな黒丸で示される（記録速度、記録パラメータ）の座標と、既に第１実施形態で決定した（記録速度Ｖ２、記録パラメータＷＳＴ２）の座標とを結んで、関数式（点線）を補正し、ＶｚとＶ２間のＷＳＴ切り替え速度Ｖｂ、ＶｃのＷＳＴを補正する（ステップＳ４７）。
【００８０】
以上のように、第５実施形態では、データエリアへの記録中においても記録パラメータを調整して、調整したパラメータに基づいて関数式を補正するので、ディスク１０表面のうねり等によってディスク全面の状態が均一でない場合においても、記録中に記録パラメータを修正できる。したがって、記録テストが少なくても、より高い記録品質を得ることができる。
【００８１】
（第６実施形態）
第１実施形態では、全ての段階ではない複数の段階の記録速度で記録テストを行っている。必ずしも最高の記録速度について記録テストを行っているわけではない。第６実施形態では、第１実施形態により記録パラメータを決定した後、より高い記録速度で記録する場合に、記録パラメータを調整する。
【００８２】
図１４は、記録テストを行った記録速度よりも高い記録速度における記録パラメータを設定する概念を示す図である。
【００８３】
記録速度Ｖ１〜４については、第１実施形態の手法に従って記録テストが終了されているものとする。
【００８４】
光ディスク記録装置１００は、記録速度Ｖ４からＶ５の間は、Ｖ４を始点とするＷＳＴとして、記録テストで設定されたＷＳＴ４を固定使用し、記録速度がＶ５に切り替わる点で、記録を一時停止し、切り換え位置直前を再生してデビエーションを取得して、記録パラメータを補正し、ＷＳＴ５を算出する。詳細には、ＷＳＴ演算部１１８は、このデビエーションが０となるように２エッジ法または３エッジ法を用いてＷＳＴを補正する。ここで決定されたＷＳＴ５を用いて、Ｖ５からＶｍａｘ間の記録を行う。
【００８５】
このように、記録速度を変化する際に、切り換え位置直前の記録品質に基づいて、切り換え前の記録パラメータを補正し次の速度における記録パラメータとする。したがって、記録テストを行っていない高速の記録速度により記憶する場合においても、適切な記録パラメータにより記憶できる。
【００８６】
なお、第１〜第４の実施の形態はＣＡＶ記録方式の光ディスクの場合について述べた。しかしながら記録方式はＣＡＶに限定されるものではなく、Ｚ-ＣＬＶ（Ｚｏｎｅ  ＣＬＶ）記録方式などの他の記録方式にも適用する事ができる。
【符号の説明】
【００８７】
１０  光ディスク、
１２  内側テストエリア、
１４  データエリア、
１６  外側テストエリア、
１００  光ディスク記録装置、
１０２  光ピックアップ、
１０４  ヘッドアンプ、
１０６  二値化回路、
１０８  クロックズレ測定部、
１１０  測定値記憶部、
１１２  データ弁別／演算部１１２、
１１４  ＷＳＴ記憶部、
１１６  ベースＷＳＴ記憶部、
１１８  ＷＳＴ演算部、
１２０  デコーダ、
１２２  エンコーダ、
１２４  記録パルス調整部、
１２６  レーザ駆動部、
１３０  制御部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図５】
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【図６】
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【図９】
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【図１１】
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【図１２】
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【図４】
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【図７】
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【図８】
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【図１０】
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【図１３】
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【図１４】
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