(57)【要約】      （修正有）【課題】バルク層と、位置案内子（ピット列）が形成された基準面とを有する光ディスク記録媒体に対し、バルク層への記録を行うための第１の光と、位置制御を行うための第２の光とを照射して、第１の光と第２の光のスポット位置ずれを補正する場合に、該スポット位置ずれの補正精度の向上を図る。【解決手段】バルク層内における基準面の所定のピット列と同一半径位置となる位置に基準トラックを形成しておく。その上で、第１の光で上記基準トラックにトラッキングサーボをかけた状態で、第２の光の基準トラックからのずれ量とずれ要因事象発生量とを検出し、それらの検出結果から適正とされる補正係数を逆算する。このような補正係数についてのキャリブレーションを行うことで、実際に記録を行う層位置やドライブ装置（光学系）、ディスクの違いに応じて適正とされる補正係数を求めることができ、第１の光による情報記録位置のずれをより高精度に補正できる。【選択図】図１６
2011198423.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピット列が形成された反射膜を有する基準面と、光照射に応じたマーク形成により情報記録が行われる記録層とを有し、上記基準面において、１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が所定の第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成されていると共に、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされていると共に、上記記録層内において、上記基準面上の所定のピット列と同一半径位置に対して基準トラックが形成された光ディスク記録媒体についての少なくとも記録を行う光学ドライブ装置であって、
上記記録層に対する情報記録を行うための第１の光と、上記基準面に形成された上記ピット列に基づく位置制御を行うための第２の光とが入射され、これら第１の光と第２の光の双方を上記光ディスク記録媒体に対して照射する対物レンズと、
上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構と、
上記第１の光の上記光ディスク記録媒体からの反射光を受光した結果に基づき第１のトラッキング誤差信号を生成する第１のトラッキング誤差信号生成部と、
上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光した結果に基づき、上記基準面上の対象とするピット列に対する上記第２の光のスポット位置の上記半径方向における位置誤差を表す第２のトラッキング誤差信号を生成する第２のトラッキング誤差信号生成部と、
上記第１又は上記第２のトラッキング誤差信号に基づいて上記トラッキング機構を駆動することで、上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部と、
上記第１の光の上記第２の光に対するスポット位置ずれの要因となる事象の発生量を検出するずれ要因事象発生量検出部と、
上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されたスポット位置ずれ要因事象発生量と、所定の補正係数とに基づく演算を行って、上記第１の光のスポット位置ずれを補正するための補正量を計算すると共に、計算した補正量に基づき、上記トラッキングサーボ制御部が上記第２のトラッキング誤差信号に基づき行う上記第２の光についてのトラッキングサーボ制御の目標値をオフセットさせることで、上記第１の光のスポット位置ずれを補正するスポット位置ずれ補正部と、
制御・演算部とを備えると共に、
上記制御・演算部は、
上記トラッキングサーボ制御部により上記第１のトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を実行させて上記第１の光のスポット位置を上記基準トラックに追従させた状態において、上記第２の光のスポット位置の上記基準トラックからのずれ量と、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されるスポット位置ずれ要因事象発生量とを所定複数回取得すると共に、それら取得した上記第２の光の上記基準トラックからのずれ量と上記スポット位置ずれ要因事象発生量との関係から、上記補正係数を逆算する
光学ドライブ装置。
【請求項２】
上記ずれ要因事象発生量検出部は、
ｓｋｅｗを検出するｓｋｅｗ検出部、又は上記対物レンズのレンズシフト量を検出するレンズシフト検出部の何れかとされる
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項３】
上記ずれ要因事象発生量検出部は、
上記ｓｋｅｗ検出部と上記レンズシフト検出部の双方を有して成り、
上記スポット位置ずれ補正部は、
上記ｓｋｅｗ検出部により検出されたｓｋｅｗ量と所定の補正係数とに基づき計算されるｓｋｅｗ分補正量と、上記レンズシフト検出部により検出されたレンズシフト量と所定の補正係数とに基づき計算されるレンズシフト分補正量とに基づき、上記トラッキングサーボ制御の目標値をオフセットさせて上記第１の光のスポット位置ずれを補正する
請求項２に記載の光学ドライブ装置。
【請求項４】
上記スポット位置ずれ補正部は、
上記ｓｋｅｗ検出部により検出されたｓｋｅｗ量をＤ_SKとしたとき、上記ｓｋｅｗ分補正量を、補正係数ｏｆｓ_SK及び補正係数ｇａｉｎ_SKを用いて、
（Ｄ_SK−ｏｆｓ_SK）×ｇａｉｎ_SK
により計算すると共に、
上記レンズシフト検出部により検出されたレンズシフト量をＤ_SHとしたとき、上記レンズシフト分補正量を、補正係数ｏｆｓ_SH及び補正係数ｇａｉｎ_SHを用いて、
（Ｄ_SH−ｏｆｓ_SH）×ｇａｉｎ_SH
により計算する
請求項３に記載の光学ドライブ装置。
【請求項５】
上記スポット位置ずれ補正部は、
上記第１の光と上記第２の光の光軸位置のアライメントずれを表す補正係数Ｄ_almを用いて、
（Ｄ_SK−ｏｆｓ_SK）×ｇａｉｎ_SK＋（Ｄ_SH−ｏｆｓ_SH）×ｇａｉｎ_SH＋Ｄ_alm
により計算した補正量に基づいて上記トラッキングサーボ制御の目標値をオフセットさせることで、上記第１の光のスポット位置ずれを補正する
請求項４に記載の光学ドライブ装置。
【請求項６】
上記光ディスク記録媒体において、上記基準トラックは、上記記録層内における複数の層位置に形成されており、
上記制御・演算部は、上記補正係数の逆算を、上記複数の層位置に形成された基準トラックに基づき上記層位置ごとに行う
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項７】
上記記録層には、マーク記録を行うべき層位置として３以上の層位置が設定されており、且つ、上記基準トラックは、少なくとも最上層と最下層の２つの層位置に対して形成されており、
上記制御・演算部は、
少なくとも上記最上層と上記最下層の２つの層位置に対して形成された上記基準トラックに基づいて上記補正係数の逆算を行うと共に、それらの層位置で求めた上記補正係数を線形補間して生成した補正係数を用いて、上記基準トラックが非形成とされる層位置におけるスポット位置ずれ補正が実行されるように制御を行う
請求項６に記載の光学ドライブ装置。
【請求項８】
上記記録層には、マーク記録を行うべき層位置として３以上の層位置が設定されており、且つ、それらの各層位置に対して上記基準トラックが形成されており、
上記制御・演算部は、
上記補正係数の逆算を、それぞれの上記層位置に形成された基準トラックに基づき上記層位置ごとに行う
請求項６に記載の光学ドライブ装置。
【請求項９】
上記光ディスク記録媒体において、上記基準トラックは、上記記録層内における複数の半径位置に形成されており、
上記制御・演算部は、上記補正係数の逆算を、上記複数の半径位置に形成された基準トラックに基づき上記複数の半径位置ごとに行う
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１０】
上記第２のトラッキング誤差信号生成部は、
上記第２の光の上記基準面からの反射光を複数の受光素子で受光した結果得られる複数の受光信号に基づく演算により原トラッキング誤差信号を生成する原トラッキング誤差信号演算部と、
上記基準面からの上記第２の光の反射光を受光した結果に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成部と、
上記クロック生成部により生成されたクロックに基づき、上記基準面に形成されたそれぞれ異なるピット列位相を有する複数のピット列における上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成部と、
上記複数のタイミング選択信号から、指示された１のタイミング選択信号を選択する第１のタイミング選択信号選択部と、
上記第１のタイミング選択信号選択部によって選択された上記タイミング選択信号が表すタイミングに従って、上記原トラッキング誤差信号の値をサンプルホールドするサンプルホールド部とを有して構成される
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１１】
上記原トラッキング誤差信号生成部は上記原トラッキング誤差信号としてプッシュプル信号を演算する
請求項１０に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１２】
上記第２のトラッキング誤差信号生成部は、
上記基準面からの上記第２の光の反射光を受光した結果に基づき、上記基準面に形成されるピットの有無を反映したピット有無反映信号を生成するピット有無反映信号生成部と、
上記基準面からの上記第２の光の反射光を受光した結果に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成部と、
上記クロック生成部により生成されたクロックに基づき、上記基準面に形成されたそれぞれ異なるピット列位相を有する複数のピット列における上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成部と、
上記複数のタイミング選択信号から、指示されたタイミング選択信号に対する位相差が等しい２つのタイミング選択信号を選択する第２のタイミング選択信号選択部と、
上記第２のタイミング選択信号選択部によって選択された上記タイミング選択信号が表すそれぞれのタイミングにおいて、上記ピット有無反映信号生成部により生成された上記ピット有無反映信号の値をサンプリングするピット有無反映信号値サンプリング部と、
上記ピット有無反映信号値サンプリング部によりサンプリングされたそれぞれのピット有無反映信号値の差分を計算する差分計算部とを有して構成される
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１３】
上記第２のトラッキング誤差信号生成部は、
上記基準面からの上記第２の光の反射光を受光した結果に基づきプッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成部と、
上記基準面からの上記第２の光の反射光を受光した結果に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成部と、
上記クロック生成部により生成されたクロックに基づき、上記基準面に形成されたそれぞれ異なるピット列位相を有する複数のピット列における上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成部と、
上記複数のタイミング選択信号から、指示された１のタイミング選択信号を選択する第１のタイミング選択信号選択部と、
上記第１のタイミング選択信号選択部によって選択された上記タイミング選択信号が表すタイミングにおいて、上記プッシュプル信号生成部により生成された上記プッシュプル信号の値をサンプリングするピット部信号値サンプリング部と、
上記クロック生成部により生成されたクロックに基づき、上記基準面における上記ピットの形成可能位置以外の部分であるミラー部分に対応したタイミングで、上記プッシュプル信号生成部により生成された上記プッシュプル信号の値をサンプリングするミラー部信号値サンプリング部と
上記ピット部信号値サンプリング部によりサンプリングされたピット部プッシュプル信号値から、上記ミラー部信号値サンプリング部によりサンプリングされたミラー部プッシュプル信号値を減算する減算部とを有して構成される
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１４】
上記スポット位置ずれ補正部は、
上記計算した補正量の値を上記基準面におけるピット列の形成ピッチの値で除算した結果に基づき、補正のためにサーボ対象として選択すべきピット列を特定し、該特定したピット列に対応する上記タイミング選択信号を上記第１又は上記第２のタイミング選択信号選択部に指示することで、上記トラッキングサーボ制御部が行う上記第２の光についてのトラッキングサーボ制御の目標値をオフセットさせる
請求項１０又は請求項１２又は請求項１３に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１５】
上記第２のトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボのループ内に対するオフセット値の付与を行う加算部をさらに備えると共に、
上記スポット位置ずれ補正部は、
上記計算した補正量の値を上記基準面におけるピット列の形成ピッチの値で除算した結果に基づき、上記補正のためにサーボ対象として選択すべきピット列を特定とすると共に、上記除算による余りの値を取得し、上記特定したピット列に対応する上記タイミング選択信号を上記第１又は上記第２のタイミング選択信号選択部に指示し、且つ上記除算による余りの値に基づくオフセット値を上記加算部によって上記トラッキングサーボのループ内に加算させることで、上記トラッキングサーボ制御部が行う上記第２の光についてのトラッキングサーボ制御の目標値をオフセットさせる
請求項１４に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１６】
上記基準面における上記ピット列はアドレス情報の記録に伴って形成されており、
上記制御・演算部は、
上記トラッキングサーボ制御部により上記第１のトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を実行させて上記第１の光のスポット位置を上記基準トラックに追従させた状態において、
上記複数のタイミング選択信号を逐次上記第１又は上記第２のタイミング選択信号選択部に指示して得られる複数の上記第２のトラッキング誤差信号の振幅値をそれぞれ取得し、そのうちで振幅値が最もゼロに近い上記第２のトラッキング誤差信号が得られていたときにサーボ対象として選択されていたピット列を特定し、該特定したピット列に対応するタイミング選択信号を上記第１又は上記第２のタイミング選択信号選択部に指示して得られる上記第２のトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御が行われた状態で得られるアドレス情報を取得した結果に基づき、上記第２の光のスポット位置に最寄りのピット列を特定し、且つ、上記振幅値が最もゼロに近い上記第２のトラッキング誤差信号の値のゼロからの誤差を取得した上で、
上記基準トラックから上記最寄りのピット列までの上記半径方向における離間距離と、上記ゼロからの誤差とにより、上記第２の光のスポット位置の上記基準トラックからのずれ量を取得する
請求項１４に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１７】
反射膜を有さず深さ方向の所要の層位置に対して選択的にマーク記録が行われるバルク状の上記記録層を有する上記光ディスク記録媒体を対象として記録を行う
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１８】
ピット列が形成された反射膜を有する基準面と、光照射に応じたマーク形成により情報記録が行われる記録層とを有し、上記基準面において、１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が所定の第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成されていると共に、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされていると共に、上記記録層内において、上記基準面上の所定のピット列と同一半径位置に対して基準トラックが形成された光ディスク記録媒体についての少なくとも記録を行う光学ドライブ装置であり、上記記録層に対する情報記録を行うための第１の光と、上記基準面に形成された上記ピット列に基づく位置制御を行うための第２の光とが入射され、これら第１の光と第２の光の双方を上記光ディスク記録媒体に対して照射する対物レンズと、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構と、上記第１の光の上記光ディスク記録媒体からの反射光を受光した結果に基づき第１のトラッキング誤差信号を生成する第１のトラッキング誤差信号生成部と、上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光した結果に基づき、上記基準面上の対象とするピット列に対する上記第２の光のスポット位置の上記半径方向における位置誤差を表す第２のトラッキング誤差信号を生成する第２のトラッキング誤差信号生成部と、上記第１又は上記第２のトラッキング誤差信号に基づいて上記トラッキング機構を駆動することで、上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部と、上記第１の光の上記第２の光に対するスポット位置ずれの要因となる事象の発生量を検出するずれ要因事象発生量検出部と、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されたスポット位置ずれ要因事象発生量と、所定の補正係数とに基づく演算を行って、上記第１の光のスポット位置ずれを補正するための補正量を計算すると共に、計算した補正量に基づき、上記トラッキングサーボ制御部が上記第２のトラッキング誤差信号に基づき行う上記第２の光についてのトラッキングサーボ制御の目標値をオフセットさせることで、上記第１の光のスポット位置ずれを補正するスポット位置ずれ補正部とを備える光学ドライブ装置におけるスポット位置ずれ補正方法であって、
上記トラッキングサーボ制御部により上記第１のトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を実行させて上記第１の光のスポット位置を上記基準トラックに追従させた状態において、上記第２の光のスポット位置の上記基準トラックからのずれ量と、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されるスポット位置ずれ要因事象発生量とを所定複数回取得すると共に、それら取得した上記第２の光の上記基準トラックからのずれ量と上記スポット位置ずれ要因事象発生量との関係から、上記補正係数を逆算する
スポット位置ずれ補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録媒体についての少なくとも記録を行う光学ドライブ装置とそのスポット位置ずれ補正方法とに関するものであり、特に、マーク記録を行うための第１の光と、上記光ディスク記録媒体に形成された位置案内子に基づき位置制御を行うための第２の光とを共通の対物レンズを介して照射するように構成された光学ドライブ装置に適用して好適なものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−１３５１４４号公報
【特許文献２】特開２００８−１７６９０２号公報
【特許文献３】特開２００９−９６３５号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。
【０００４】
これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなど現状において普及している光記録媒体の次世代を担うべき光記録媒体に関して、先に本出願人は、上記特許文献１や上記特許文献２に記載されるようないわゆるバルク記録型の光記録媒体を提案している。
【０００５】
ここで、バルク記録とは、例えば図２７に示すようにして少なくともカバー層１０１とバルク層（記録層）１０２とを有する光記録媒体（バルク型記録媒体１００）に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層１０２内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。
【０００６】
このようなバルク記録に関して、上記特許文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。
マイクロホログラム方式は、次の図２８に示されるように、ポジ型マイクロホログラム方式とネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
マイクロホログラム方式では、バルク層１０２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。
【０００７】
ポジ型マイクロホログラム方式は、図２８（ａ）に示すように、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
【０００８】
また、図２８（ｂ）に示すネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。
【０００９】
図２９は、ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である、
ネガ型マイクロホログラム方式では、記録動作を行う前に、図２９（ａ）に示されるようにして予めバルク層１０２に対して干渉縞を形成するための初期化処理を行うことになる。具体的には、図中に示すように平行光による光束Ｃ，Ｄを対向して照射し、それらの干渉縞をバルク層１０２の全体に形成しておく。
このように初期化処理により予め干渉縞を形成しておいた上で、図２９（ｂ）に示されるようにして消去マークの形成による情報記録を行う。具体的には、任意の層位置にフォーカスを合わせた状態で記録情報に応じたレーザ光照射を行うことで、消去マークによる情報記録を行うものである。
【００１０】
また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば特許文献２に開示されるようなボイド（空孔）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層１０２に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層１０２内に空孔（ボイド）を記録する手法である。特許文献２に記載されるように、このように形成された空孔部分は、バルク層１０２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空孔部分は記録マークとして機能し、これによって空孔マークの形成による情報記録が実現される。
【００１１】
このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないので、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、ポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、特許文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。
【００１２】
ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク記録型（単にバルク型とも称する）の光ディスク記録媒体であるが、このようなバルク型の光ディスク記録媒体の記録層（バルク層）は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層１０２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていない。
従って、先の図２７に示したバルク型記録媒体１００の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができないことになる。
【００１３】
このため実際において、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図３０に示すような案内溝を有する基準となる反射面（基準面）を設けるようにされている。
具体的には、カバー層１０１の下面側に例えばピットやグルーブの形成による案内溝（位置案内子）がスパイラル状又は同心円状に形成され、そこに選択反射膜１０３が成膜される。そして、このように選択反射膜１０３が成膜されたカバー層１０２の下層側に対し、図中の中間層１０４としての、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料を介してバルク層１０２が積層される。
ここで、上記のようなピットやグルーブ等による案内溝の形成により、例えば半径位置情報や回転角度情報などの絶対位置情報（アドレス情報）の記録が行われている。以下の説明では、このような案内溝が形成され絶対位置情報の記録が行われた面（この場合は上記選択反射膜１０３の形成面）のことを、「基準面Ｒｅｆ」と称する。
【００１４】
また、上記のような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図３１に示されるようにマークの記録（又は再生）のためのレーザ光（以下、録再用レーザ光、或いは単に録再光とも称する）とは別途に、位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光（単にサーボ光とも称する）を照射するようにされる。
図示するようにこれら録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１００に照射される。
【００１５】
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層１０２に到達してしまうと、当該バルク層１０２内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、上記サーボ用レーザ光として、録再用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、基準面Ｒｅｆに形成される反射膜としては、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという波長選択性を有する選択反射膜１０３を設けるものとしている。
【００１６】
以上の前提を踏まえた上で、図３１を参照し、バルク型記録媒体１００に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層１０２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層１０２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる。図中では、バルク層１０２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜１０３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
【００１７】
マークが未だ形成されていない記録時においては、録再用レーザ光の反射光に基づいてバルク層１０２内の各層位置を対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆにおいて案内溝に追従するようにして行うことになる。
【００１８】
但し、上記録再用レーザ光は、マーク記録のために基準面Ｒｅｆよりも下層側に形成されたバルク層１０２に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための録再光用フォーカス機構が設けられることになる。
【００１９】
ここで、このような録再光用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構を含めた、バルク型記録媒体１００の記録再生を行うための光学系の概要を図３２に示しておく。
図３２において、図３１にも示した対物レンズは、図示するように２軸アクチュエータによりバルク型記録媒体１００の半径方向（トラッキング方向）、及びバルク型記録媒体１００に接離する方向（フォーカス方向）に変位可能とされている。
【００２０】
この図３２において、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構は、図中のフォーカス機構（エキスパンダ）が該当する。具体的に、このエキスパンダとしてのフォーカス機構は、固定レンズと、レンズ駆動部により録再用レーザ光の光軸に平行な方向に変位可能に保持された可動レンズとを備えて構成されており、上記レンズ駆動部により上記可動レンズが駆動されることで、図中の対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーションが変化し、それにより録再用レーザ光の合焦位置がサーボ用レーザ光とは独立して調整されるようになっている。
【００２１】
また、上述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯が異なるものとされているので、これに対応しこの場合の光学系では、図中のダイクロイックプリズムにより、録再用レーザ光、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１００からの反射光がそれぞれの系に分離されるように（つまりそれぞれの反射光検出を独立して行えるように）している。
また、往路光で考えた場合、上記ダイクロイックプリズムは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とを同一軸上に合成して対物レンズに入射させる機能を有する。具体的にこの場合、録再用レーザ光は、図示するように上記エキスパンダを介しミラーで反射された後、上記ダイクロイックプリズムの選択反射面で反射されて対物レンズに対して入射する。一方、サーボ用レーザ光は、上記ダイクロイックプリズムの選択反射面を透過して対物レンズに対して入射する。
【００２２】
図３３は、バルク型記録媒体１００の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体１００について再生を行う際は、記録時のように対物レンズの位置をサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要性はない。すなわち、再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌ（再生時については情報記録層Ｌとも称する）に形成されたマーク列を対象として、録再用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行えばよい。
【００２３】
上記のようにしてバルク記録方式においては、バルク型記録媒体１００に対し、マーク記録／再生を行うための録再用レーザ光と位置制御用光としてのサーボ光とを共通の対物レンズを介して（同一光軸上に合成して）照射するようにした上で、記録時においては、サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆの位置案内子に追従するように対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行い且つ、録再光用フォーカス機構により録再用レーザ光の合焦位置を別途調整することによって、バルク層１０２内に案内溝が形成されていなくとも、バルク層１０２内の所要の位置（深さ方向及びトラッキング方向）に対してマーク記録ができるように図られている。
また、再生時には、既に記録されたマーク列に録再用レーザ光の焦点位置が追従するようにして当該録再用レーザ光の反射光に基づく対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行うことで、バルク層１０２内に記録されたマークの再生を行うことができる。
【００２４】
ここで、上記により説明してきたようなバルク記録方式を採用する場合には、いわゆるｓｋｅｗ（チルト）の発生や、ディスク偏芯に伴う対物レンズのレンズシフトの発生に伴い、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とに、記録面内方向におけるスポット位置ずれが生じることが知られている。
【００２５】
図３４は、ｓｋｅｗの発生に伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図３４（ａ）に示すｓｋｅｗ無しの状態では、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置は記録面内方向において一致している。これに対し、図３４（ｂ）に示すようなｓｋｅｗの発生に応じては、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光とに光軸のずれが生じ、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じてしまう。
【００２６】
また図３５は、レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図３５（ａ）に示すレンズシフト無しの状態では、対物レンズが基準位置にあり、対物レンズの中心と該対物レンズに入射する各レーザ光の光軸ｃとが一致している。光学系は、このように対物レンズが基準位置にある状態において、各レーザ光の記録面内方向におけるスポット位置が一致するように設計されている。
【００２７】
これに対し、トラッキングサーボ制御により図３５（ｂ）に示すようにディスク偏芯に追従するようにして対物レンズが基準位置からシフトしてしまった場合（この場合は紙面左方向へのシフトとしている）には、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じる。
このようなレンズシフト起因のスポット位置ずれは、対物レンズに対するサーボ用レーザ光と録再用レーザ光の入射態様の差によって生じるものとなる。具体的には、サーボ用レーザ光は対物レンズに対して略平行光により入射するのに対し、録再用レーザ光は非平行光により入射することに起因するものである。
【００２８】
このようなｓｋｅｗやレンズシフトに起因したサーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置ずれが生じることによっては、バルク層１０２内における情報記録位置のずれが生じてしまう。つまり、先の説明からも理解されるように、記録時における録再用レーザ光のスポット位置は、サーボ用レーザ光の反射光に基づく対物レンズのトラッキングサーボ制御が行われることで制御されるので、上記のようなスポット位置ずれの発生に応じては、バルク層１０２内の意図した位置に記録を行うことができなくなってしまうものである。
【００２９】
このとき、ｓｋｅｗ・偏芯の発生量やトラックピッチ（位置案内子の形成間隔）の設定によっては、隣接するトラック間で情報記録位置が重なってしまう虞がある。具体的にディスクの偏芯やｓｋｅｗは、スピンドルモータへのディスクのクランプのされかたなどにより、ディスクが装填されるごとに異なる態様で発生することがあるので、例えば或るディスクについてディスク付け替えを伴う追記を行ったとき、前回の記録時に生じていたｓｋｅｗ・偏芯の態様と追記時に生じるｓｋｅｗ・偏芯の態様とが異なることに起因して、既記録部分のマーク列と追記部分のマーク列とに重なりが生じたり、場合によっては交差してしまうという問題が生じるものである。
このようであると、正しく記録信号を再生することはできなくなる。
【００３０】
このようなマーク列の重なりや交差の発生を防止するための一つの手法として、基準面Ｒｅｆにおけるトラックピッチを広めに設定しておくということを挙げることができる。
しかしながら、このように基準面Ｒｅｆのトラックピッチを広げた場合には、当然のことながらバルク層１０２における記録容量の縮小化を招くものとなってしまう。
【００３１】
そこで、情報記録位置のずれ自体を防止するために、ｓｋｅｗやレンズシフトを検出した結果から、録再用レーザ光のスポット位置ずれを補正するということが考えられる。
具体的に、図３４や図３５を参照して理解されるようにｓｋｅｗの発生量とスポット位置ずれ量、及びレンズシフト量とスポット位置ずれ量とは比例関係となるので、ｓｋｅｗ量の検出結果からｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれ補正量を求め、またレンズシフト量の検出結果からレンズシフト起因分のスポット位置ずれ補正量を求めた上で、それらの和をｓｋｅｗとレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量として算出する。
このように算出した補正量に基づき、例えば録再用レーザ光の光軸を平行移動させるなどして、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光との間のスポット位置ずれを補正する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００３２】
ここで、上記のようにｓｋｅｗやレンズシフトの検出量に応じて情報記録位置の補正を行うとした場合には、検出したｓｋｅｗ量やレンズシフト量を正規化することになる。具体的には、検出感度の差やオフセットが生じることを加味して、検出したｓｋｅｗ量やレンズシフト量に対してゲインやオフセットなどとしての補正係数を与えるというものである。
【００３３】
しかしながら、このような正規化のための補正係数には、光学的、電気的なずれは必ず発生するものとなる。
また、先の図３４や図３５を参照すると、スポット位置ずれは、ｓｋｅｗ量やレンズシフト量に応じて変化するのみでなく、記録対象とする層位置に応じても変化するものであることが分かる。
これらの点からも理解されるように、補正係数として、予め定められた固定値を使用する場合には、適正に情報記録位置を補正することができない虞がある。
【００３４】
また、スポット位置ずれは、光学倍率によっても変化する。例えば、ドライブ装置の個体ごとに光学倍率にバラツキがある場合などには、個々で最適とされる補正係数が異なるものとなり、従ってこの点でも固定値による補正係数を使用した場合には、情報記録位置の補正を適正に行うことができない虞がある。
【課題を解決するための手段】
【００３５】
上記のような問題点に鑑み、本発明では光学ドライブ装置として以下のように構成することとした。
すなわち、本発明の光学ドライブ装置は、ピット列が形成された反射膜を有する基準面と、光照射に応じたマーク形成により情報記録が行われる記録層とを有し、上記基準面において、１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が所定の第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成されていると共に、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされていると共に、上記記録層内において、上記基準面上の所定のピット列と同一半径位置に対して基準トラックが形成された光ディスク記録媒体についての少なくとも記録を行う光学ドライブ装置であって、上記記録層に対する情報記録を行うための第１の光と、上記基準面に形成された上記ピット列に基づく位置制御を行うための第２の光とが入射され、これら第１の光と第２の光の双方を上記光ディスク記録媒体に対して照射する対物レンズを備える。
また、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構を備える。
また、上記第１の光の上記光ディスク記録媒体からの反射光を受光した結果に基づき第１のトラッキング誤差信号を生成する第１のトラッキング誤差信号生成部を備える。
また、上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光した結果に基づき、上記基準面上の対象とするピット列に対する上記第２の光のスポット位置の上記半径方向における位置誤差を表す第２のトラッキング誤差信号を生成する第２のトラッキング誤差信号生成部を備える。
また、上記第１又は上記第２のトラッキング誤差信号に基づいて上記トラッキング機構を駆動することで、上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部を備える。
また、上記第１の光の上記第２の光に対するスポット位置ずれの要因となる事象の発生量を検出するずれ要因事象発生量検出部を備える。
また、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されたスポット位置ずれ要因事象発生量と、所定の補正係数とに基づく演算を行って、上記第１の光のスポット位置ずれを補正するための補正量を計算すると共に、計算した補正量に基づき、上記トラッキングサーボ制御部が上記第２のトラッキング誤差信号に基づき行う上記第２の光についてのトラッキングサーボ制御の目標値をオフセットさせることで、上記第１の光のスポット位置ずれを補正するスポット位置ずれ補正部を備える。
また、上記トラッキングサーボ制御部により上記第１のトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を実行させて上記第１の光のスポット位置を上記基準トラックに追従させた状態において、上記第２の光のスポット位置の上記基準トラックからのずれ量と、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されるスポット位置ずれ要因事象発生量とを所定複数回取得すると共に、それら取得した上記第２の光の上記基準トラックからのずれ量と上記スポット位置ずれ要因事象発生量との関係から、上記補正係数を逆算する制御・演算部を備えるものである。
【００３６】
上記のように本発明では、第１の光のスポット位置ずれの補正は、第２の光についてのトラッキングサーボ制御が行われる下で、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出したずれ要因事象発生量と所定の補正係数とから計算した補正量に基づき、上記トラッキングサーボ制御の目標値をオフセットさせることで行うものとしている。
その上で本発明では、上記トラッキングサーボ制御部により上記第１のトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を実行させて上記第１の光のスポット位置を上記基準トラックに追従させた状態において、上記第２の光のスポット位置の上記基準トラックからのずれ量と、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されるスポット位置ずれ要因事象発生量とを所定複数回取得した結果から、上記補正係数を逆算するものとしている。
ここで、本発明のように第２の光についてのトラッキングサーボ制御の目標値をオフセットさせて第１の光のスポット位置ずれを補正する場合において、上記のように第１のトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を実行させた状態で取得される上記第２の光のスポット位置の上記基準トラックからのずれ量は、そのとき生じているずれ発生要因事象発生量に応じて計算されるべき補正量を表すものとなる。従って、上記のように第１のトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を実行させて第１の光のスポット位置を基準トラックに追従させた状態において上記第２の光のスポット位置の基準トラックからのずれ量と、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されるスポット位置ずれ要因事象発生量とを所定複数回取得するものとすれば、それら取得したずれ量（上記補正量）とスポット位置ずれ要因事象発生量との関係から、実際の条件に応じた適正とされる上記補正係数を逆算して求めることができる。
【００３７】
このようにして本発明では、上記基準トラックを用いた上記補正係数についてのキャリブレーションを行うものとしている。このような補正係数についてのキャリブレーションを行うことで、実際に記録を行う層位置やドライブ装置（光学系）、ディスクの違いなどの実際の条件に応じた適正とされる補正係数を求めることができ、該適正な補正係数に基づき上記スポット位置ずれ補正部による補正を行うことができる。この結果、第１の光による情報記録位置のずれをより高精度に補正できる。
【００３８】
また、本発明において、光ディスク記録媒体としては、その基準面において「１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が所定の第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成されていると共に、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされている」ものを用いるようにしているが、後述もするようにこのような光ディスク記録媒体を用いることで、トラッキングサーボ制御の目標値の調整幅をより細かくすることができ、スポット位置ずれ補正の精度を向上できる。
【発明の効果】
【００３９】
上記のようにして本発明によれば、補正係数についてのキャリブレーションを行うことで、第１の光による情報記録位置の補正をより高精度に行うことができる。
情報記録位置の補正を高精度に行うことができれば、その分、マーク列の形成ピッチは狭めることができ、その結果、記録容量の増大化が図られる。
【００４０】
また、マーク列の形成ピッチを狭めることができれば、その分、アクセス時間の短縮化も図られる。つまり、マーク列の形成ピッチが広い場合は、記録したデータ列の探索に多くの時間を要するものとなるが、本発明ではこれが緩和され、アクセス時間の短縮化が図られる。
【００４１】
また、本発明では、スポット位置ずれの補正は第１の光の光軸を直接的に補正するものとはせず、第２の光のスポット位置をオフセットさせることで行うものとしている。これにより、この場合の補正動作は、第２の光に基づき対物レンズの位置を制御するために設けられている既存のトラッキング機構を用いて行うことができ、例えば第１の光の光軸位置を調整するためのアクチュエータを設けるなどの、別途の光軸調整部の追加は不要とすることができる。
【００４２】
また、本発明では、基準面におけるピット列の形成態様を工夫したことで、第２の光についてのトラッキングサーボ制御の目標値の調整幅をより細かくすることができ、それによってスポット位置ずれ補正の精度を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】実施の形態で記録／再生対象とする光ディスク記録媒体の断面構造図である。
【図２】実施の形態としての光学ドライブ装置が備える光学系の構成を主に示した図である。
【図３】実施の形態の光ディスク記録媒体の基準面の表面を一部拡大して示した平面図である。
【図４】基準面全体におけるピットの形成態様について説明するための図である。
【図５】アドレス情報のフォーマットについて説明するための図である。
【図６】記録媒体の回転駆動に伴い基準面上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びＰＰ（プッシュプル）信号の波形との関係を模式的に示した図である。
【図７】クロックの生成にあたってｓｕｍ微分信号とｓｕｍ信号とに基づき生成されるタイミング信号について説明するための図である。
【図８】タイミング信号から生成されたクロックと、該クロックに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。
【図９】実施の形態としてのスポット位置ずれ補正の具体的な手法について説明するための図である。
【図１０】実施の形態としての記録再生装置全体の内部構成を示したブロック図である。
【図１１】selector信号生成・選択部の内部構成を示した図である。
【図１２】クロック生成回路の内部構成を示した図である。
【図１３】実施の形態としての光学ドライブ装置が備える制御・演算部が有する機能のうち補正動作に係る機能のみをブロック化して表した図である。
【図１４】実施の形態としての補正動作を実現するための具体的な処理手順を示したフローチャートである。
【図１５】光ディスク記録媒体に形成される基準トラックについて説明するための図である。
【図１６】実施の形態としてのキャリブレーション動作を実現するための具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図１７】キャリブレーション時における補正量の取得処理について説明するための図である。
【図１８】基準トラックを複数の層位置に設ける変形例についての説明図である。
【図１９】基準トラックを複数の半径位置に設ける変形例についての説明図である。
【図２０】ｓｋｅｗやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図である。
【図２１】トラッキング誤差信号の生成手法についての変形例のうちの第１の手法について説明するための図である。
【図２２】第１の手法を実現するための構成について説明するための図である。
【図２３】ミラー部の検出手法について説明するための図である。
【図２４】トラッキング誤差信号の生成手法についての変形例のうちの第２の手法を実現するための構成について説明するための図である。
【図２５】ｓｋｅｗ検出についての変形例を実現するための構成について説明するための図である。
【図２６】多層記録媒体の断面構造図である。
【図２７】バルク記録方式について説明するための図である。
【図２８】マイクロホログラム方式について説明するための図である。
【図２９】ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である。
【図３０】基準面を備える実際のバルク型記録媒体の断面構造を例示した図である。
【図３１】バルク型記録媒体に対するマーク記録時の動作について説明するための図である。
【図３２】バルク型記録媒体の記録再生を行うための光学系の概要を示した図である。
【図３３】バルク型記録媒体の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
【図３４】ｓｋｅｗに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。
【図３５】レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００４４】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．記録媒体及び光学系＞
［1-1．実施の形態で記録／再生対象とする記録媒体の断面構造］
［1-2．光学系の構成］
＜２．従来限界トラックピッチを超える精度での微調整＞
［2-1．基準面の構造］
［2-2．アドレス情報について］
［2-3．トラッキングサーボの具体的な手法］
［2-4．具体的なスポット位置ずれ補正手法］
［2-5．光学ドライブ装置の全体的な内部構成］
＜３．実施の形態としてのキャリブレーション動作例＞
＜４．処理手順＞
＜５．まとめ＞
＜６．変形例＞
［6-1．複数層位置でのキャリブレーション］
［6-2．複数半径位置でのキャリブレーション］
［6-3．トラッキングエラー信号に関する変形例］
［6-4．その他の変形例］
【００４５】
＜１．記録媒体及び光学系＞
［1-1．実施の形態で記録／再生対象とする記録媒体の断面構造］
図１は、実施の形態で記録／再生対象とする光ディスク記録媒体の断面構造図を示している。
実施の形態で記録／再生対象とする光ディスク記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
バルク型記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされ、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対するレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）が行われる。また、記録情報の再生としても、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対してレーザ光を照射して行われる。
なお光記録媒体とは、光の照射により情報の記録／再生が行われる記録媒体を総称したものである。
【００４６】
図１に示されるように、バルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する実施の形態としての光学ドライブ装置（記録再生装置１０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。
【００４７】
また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向と一致する方向（すなわち光学ドライブ装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。
【００４８】
バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録／再生位置を案内するための位置案内子として後述するピット列が形成されていることで、凹凸の断面形状が与えられている。カバー層２は、後述するピット列が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
なお、本実施の形態としてのバルク型記録媒体１における上記ピット列の具体的な形成態様については後述する。
【００４９】
また、上記ピット列が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
ここで、前述もした通りバルク記録方式では、記録層としてのバルク層５に対してマーク記録／再生を行うための光（録再用レーザ光）とは別に、上記のようなピット列などの位置案内子に基づきトラッキングやフォーカスのエラー信号を得るための光（サーボ用レーザ光）を別途に照射するものとされている。
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという選択性を有する反射膜が必要とされている。
従来よりバルク記録方式では、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いるようにされており、これに対応すべく、上記選択反射膜３としては、サーボ用レーザ光と同一の波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するという、波長選択性を有する選択反射膜が用いられる。
【００５０】
上記選択反射膜３の下層側には、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料で構成された中間層４を介して、記録層としてのバルク層５が積層（接着）されている。
バルク層５の形成材料（記録材料)としては、例えば先に説明したポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式、ボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
なお、本発明で対象とする光ディスク記録媒体に対するマーク記録方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。以下の説明においては一例として、ボイド記録方式が採用される場合を例示する。
【００５１】
ここで、上記のような断面構造を有するバルク型記録媒体１において、位置案内子が形成された選択反射膜３は、後述もするようにサーボ用レーザ光に基づく録再用レーザ光の位置制御を行うにあたっての基準となる反射面となる。この意味で、選択反射膜３が形成された面を以下、基準面Ｒｅｆと称する。
【００５２】
先の図３１においても説明したように、バルク型の光記録媒体においては、バルク層内に多層記録を行うために、予め情報記録を行うべき各層位置（情報記録層位置Ｌ）が設定される。バルク型記録媒体１においても、情報記録層位置Ｌについては、先の図３１の場合と同様に、基準面Ｒｅｆからそれぞれ深さ方向に第１オフセットｏｆ-L1、第２オフセットｏｆ-L2、第３オフセットｏｆ-L3、第４オフセットｏｆ-L4、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した第１情報記録層位置Ｌ、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５が設定されているとする。
基準面Ｒｅｆからの各層位置Ｌへのオフセットｏｆ-Lの情報は、後述する記録再生装置１０におけるコントローラ４０に対して設定される。
【００５３】
［1-2．光学系の構成］
図２は、図１に示したような断面構造を有するバルク型記録媒体１に対する記録／再生を行う実施の形態としての光学ドライブ装置（記録再生装置１０と称する）が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、実施の形態の記録再生装置１０が備える光学ピックアップＯＰの内部構成を主に示している。
【００５４】
図２において、記録再生装置１０に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録再生装置１０における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、図示は省略したスピンドルモータによる回転駆動が可能な状態に保持される。
光学ピックアップＯＰは、上記スピンドルモータにより回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光、サーボ用レーザ光を照射するために設けられる。
【００５５】
光学ピックアップＯＰ内には、マークによる情報記録、及びマークにより記録された情報の再生を行うための録再用レーザ光の光源である録再用レーザ１１と、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子を利用した位置制御を行うための光であるサーボ用レーザ光の光源であるサーボ用レーザ２４とが設けられる。
ここで、前述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長が異なる。本例の場合、録再用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、サーボ用レーザ光の波長はおよそ６５０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされる。
【００５６】
また、光学ピックアップＯＰ内には、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１への出力端となる対物レンズ２０が設けられる。  
さらには、上記録再用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための録再光用受光部２３と、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するためのサーボ光用受光部２９とが設けられる。
【００５７】
その上で、光学ピックアップＯＰ内においては、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光を上記対物レンズ２０に導くと共に、上記対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からの録再用レーザ光の反射光を上記録再光用受光部２３に導くための光学系が形成される。
【００５８】
具体的に、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光は、コリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように録再用レーザ１１側から入射した録再用レーザ光については透過するように構成されている。
【００５９】
上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した録再用レーザ光は、固定レンズ１４、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、光源である録再用レーザ１１に近い側が固定レンズ１４とされ、録再用レーザ１１に遠い側に可動レンズ１５が配置され、レンズ駆動部１６によって上記可動レンズ１５が録再用レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、録再用レーザ光について独立したフォーカス制御を行う。このエキスパンダは、前述した録再光用フォーカス機構に相当するものである（図３２を参照）。
後述もするように、当該録再光用フォーカス機構におけるレンズ駆動部１６は、図１０に示すコントローラ４０によって、対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に応じて駆動される。
【００６０】
上記録再光用フォーカス機構を形成する固定レンズ１４及び可動レンズ１５を介した録再用レーザ光は、図のようにミラー１７にて反射された後、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した録再用レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
【００６１】
上記ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２１が設けられる。
２軸アクチュエータ２１には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００６２】
ここで、再生時においては、上記のようにしてバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光が照射されることに応じて、バルク型記録媒体１（バルク層５内の再生対象の情報記録層Ｌに記録されたマーク列）より上記録再用レーザ光の反射光が得られる。このように得られた録再用レーザ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光の反射光は、１／４波長板１８→ミラー１７→録再光用フォーカス機構（可動レンズ１５→固定レンズ１４）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００６３】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する録再用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、録再用レーザ光１１側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した録再用レーザ光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射した録再用レーザ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。
【００６４】
このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射された録再用レーザ光の反射光は、集光レンズ２２を介して録再光用受光部２３の受光面上に集光する。
【００６５】
また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した録再用レーザ光についての光学系の構成に加えて、サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からのサーボ用レーザ光の反射光をサーボ光用受光部２９に導くための光学系が形成される。
図示するように上記サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このようにサーボ用レーザ２４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。
【００６６】
上記偏光ビームスプリッタ２６を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。
【００６７】
また、このようにバルク型記録媒体１にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先の録再用レーザ光の場合と同様にして、このようにバルク型記録媒体１側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としてのサーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。
【００６８】
偏光ビームスプリッタ２６にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ２８を介してサーボ光用受光部２９の受光面上に集光する。
【００６９】
ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録再生装置１０には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。
【００７０】
また、この場合の光学ピックアップＯＰ内においては、位置センサ３０が設けられている。
位置センサ３０は、対物レンズ２０の近傍に設けられ、当該対物レンズ２０のトラッキング方向における位置（基準位置からの変位量）を検出する。すなわち、対物レンズ２０のレンズシフト量を検出するものである。
位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olは、後述するコントローラ４０に供給される。
【００７１】
また、記録再生装置１０には、ｓｋｅｗセンサ３１が設けられる。
ｓｋｅｗセンサ３１は、バルク型記録媒体１の傾き（ｓｋｅｗ）を検出する。例えばこの場合のｓｋｅｗセンサ３１は、バルク型記録媒体１に対して所定角度で光を照射する光照射部と、該光照射部により照射した光についてのバルク型記録媒体１からの反射光を受光する受光部とを備え、該受光部による上記反射光の受光位置のずれ量を検出することでバルク型記録媒体１の傾き量を検出する。
ｓｋｅｗセンサ３１による検出信号（ｓｋｅｗ検出信号ｓｋとする）は、コントローラ４０に供給される。
【００７２】
＜２．従来限界トラックピッチを超える精度での微調整＞
上記による説明からも理解されるように、本実施の形態の記録再生装置１０としても、位置案内子が形成された反射膜を有する基準面と、光照射に応じたマーク形成により情報記録が行われる記録層とを有する光ディスク記録媒体について記録を行う場合において、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とを共通の対物レンズを介して光ディスク記録媒体に照射する共に、上記録再用レーザ光による情報記録位置を、上記基準面に形成された位置案内子を対象とした上記サーボ用レーザ光による対物レンズのトラッキングサーボ制御を行うことによって制御するようにされている。
このような構成が採られる場合には、先の図３４や図３５にて説明したように、ｓｋｅｗや対物レンズのレンズシフトに起因して、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光とのスポット位置ずれ（つまり情報記録位置のずれ）が生じるものとなる。
本実施の形態は、このような情報記録位置のずれを、ｓｋｅｗやレンズシフトの発生量を検出した結果に基づき補正する。
【００７３】
具体的に本実施の形態では、情報記録位置のずれの補正は、上述のようなサーボ用レーザ光による位置案内子に従った対物レンズのトラッキングサーボ制御を行う前提の下で、トラッキングサーボの対象位置を、本来の対象とすべき位置（つまり記録したいトラック位置）からオフセットさせることで行うものとする。換言すれば、サーボ用レーザ光によるトラッキングサーボ制御の目標値を、本来の目標値からオフセットさせるものである。
このことで、同じ対物レンズを介して照射される録再用レーザ光のスポット位置（情報記録位置）を記録したいトラック位置に合わせ込むことができる。すなわち、これによって情報記録位置のずれが補正されたことになる。
【００７４】
本実施の形態では、このようなサーボ用レーザ光によるトラッキングサーボの対象位置をオフセットさせることによる情報記録位置の補正を行うことを前提とした場合において、以下で説明するような手法を採ることで、最小補正幅の縮小化を図り、スポット位置ずれ補正の精度向上を図る。
【００７５】
［2-1．基準面の構造］
図３は、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）の表面を一部拡大した平面図である。
この図３においては、紙面の左側から右側に向かう方向をピット列の形成方向、つまりはトラックの形成方向としている。この場合、サーボ用レーザ光のスポットは、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い、紙面の左側から右側に移動するものとする。
また、ピット列の形成方向と直交する方向（紙面の縦方向）は、バルク型記録媒体１の半径方向である。
【００７６】
また図３において、図中の白丸で示すＡ〜Ｆは、ピットの形成可能位置を表す。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、当該ピットの形成可能位置においてのみ形成されるものであって、ピットの形成可能位置以外にはピットの形成が行われない。
また、図中のＡ〜Ｆの符号の別はピット列の別（半径方向において配列されるピット列の別）を表し、これらＡ〜Ｆの符号に付される数字はピット列上におけるピットの形成可能位置の別を表す。
【００７７】
ここで、図中の黒太線で表す間隔は、従来のバルク型記録媒体１において実現可能な最小トラックピッチ（従来限界トラックピッチ）を表している。このことからも理解されるように、本実施の形態のバルク型記録媒体１では、Ａ〜Ｆの計６本のピット列が、半径方向において、従来限界の１トラック幅内に配列されていることになる。
【００７８】
但し、従来限界の１トラック幅内にこれら複数のピット列を単純に配列したのみでは、ピット列形成方向においてピットの形成位置が重なってしまう虞があり、つまりはピット列形成方向におけるピットの間隔が光学限界を超えてしまう虞がある。
【００７９】
そこで、本実施の形態においては、従来限界の１トラック幅内に配列される上記Ａ〜Ｆの複数のピット列間で、ピット列形成方向におけるピット同士の間隔が光学限界を超えないようにするべく、以下のような条件を定めている。
すなわち、
１）Ａ〜Ｆの各ピット列において、ピットの形成可能位置の間隔を所定の第１の間隔に制限する。
２）このようにピットの形成可能位置の間隔が制限されたＡ〜Ｆの各ピット列を、それぞれのピットの形成可能位置がピット列形成方向において所定の第２の間隔ずつずれたものとなるようにして配列する（つまり上記第２の間隔で各ピット列の位相をずらす）。
というものである。
【００８０】
ここで、半径方向に配列されるＡ〜Ｆのピット列におけるそれぞれのピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔（上記第２の間隔）をｎとおく。このとき、上記２）の条件が満たされるようにＡ〜Ｆの各ピット列が配列されることで、ピット列Ａ−Ｂ、ピット列Ｂ−Ｃ、ピット列Ｃ−Ｄ、ピット列Ｄ−Ｅ、ピット列Ｅ−Ｆ、及びピット列Ｆ−Ａの各ピット形成可能位置間の間隔は、図示するように全てｎとなる。
また、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の間隔（上記第１の間隔）は、この場合はＡ〜Ｆまでの計６つのピット列位相を実現するものとしているので、６ｎとなる。
【００８１】
本実施の形態において、基準面Ｒｅｆにおけるサーボ用レーザ光による情報再生は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）の場合と同様の波長λ＝６５０、開口数ＮＡ＝０．６５の条件で行うものとしている。このことに対応して本実施の形態では、各ピット形成可能位置の区間長はＤＶＤにおける最短マークと同じ３Ｔ分の区間長とし、またピット列形成方向におけるＡ〜Ｆの各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も、同様の３Ｔ分の長さに設定している。
この結果、上記１）２）の条件が満たされるものとなっている。
【００８２】
ここで、基準面Ｒｅｆ全体におけるピットの形成態様について理解するために、次の図４を参照してより具体的なピット列の形成手法について説明する。
なお図４では、基準面Ｒｅｆにて形成されるピット列の一部（７本分）を模式的に示している。図中において、黒丸はピット形成可能位置を表す。
【００８３】
この図４を参照して分かるように、本実施の形態のバルク型記録媒体１においては、基準面Ｒｅｆにてピット列をスパイラル状に形成するものとしている。
そして、本実施の形態では、ピット列の１周ごとに、ピット列位相が上記第２の間隔（「ｎ」）の分だけずらされるようにしてピット形成可能位置を定めることで、半径方向に配列されるピット列に関して、先に挙げた１）及び２）の条件が満たされるようにしている。
例えば、図４に示す例では、ピット列の１周目ではピット列Ｆとしてのピット列位相が得られるようにピット形成可能位置が定められており、図中の１周開始位置（所定の角度位置）を基準としたピット列の２周目には、ピット列Ｅとしてのピット列位相が得られるようにピット形成可能位置が定められている。以降も同様に、３周目にはピット列Ｄとしてのピット列位相が得られるようにピット形成可能位置が定められ、４周目にはピット列Ｃ、５周目にはピット列Ｂ、６周目にはピット列Ａ、７周目には再びピット列Ｆといったように、ピット列の１周ごとに、ピット列位相が第２の間隔ｎの分だけずらされるように、ピット列の各周におけるピット形成可能位置が定められている。
【００８４】
［2-2．アドレス情報について］
続いて、図５により、基準面Ｒｅｆに記録されるアドレス情報のフォーマットの一例について説明する。
図５において、先ず図５（ａ）は、それぞれ異なるピット列位相を有するようにされた各ピット列（Ａ〜Ｆ）のピット形成可能位置の関係を模式化して示している。なお図５（ａ）においては「＊」マークによりピット形成可能位置を表している。
【００８５】
ここで、後に説明するように、本実施の形態の記録再生装置１０は、これらＡ〜Ｆのピット列のうちから１つのピット列を選択し、該選択した１つのピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにされている。
但し、このとき問題となるのは、Ａ〜Ｆの各ピット列は半径方向において従来の光学限界を超えた間隔で配列されているという点である。すなわち、この場合においてビームスポットがトラック上を移動（走査）して得られるトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）としては、Ａ〜Ｆの全てのピットを反映したものとなってしまうので、該トラッキングエラー信号に基づきトラッキングサーボをかけたとしても、選択した１つのピット列を追従することはできなくなる。
このために本実施の形態の記録再生装置１０は、後述するように、選択したピット列におけるピット形成可能位置の区間のトラッキングエラー信号を抽出し、該抽出したトラッキングエラー信号に基づいて（いわば間欠的に）トラッキングサーボをかけるようにしている。
【００８６】
そして、これと同様に、アドレス情報を読む場合にも、選択したピット列に記録される情報のみが選択的に読み出されるように、該選択したピット列のピット形成可能位置の区間の和信号（後述のｓｕｍ信号）を抽出し、該抽出した和信号に基づきアドレス情報を検出するという手法が採られる。
【００８７】
このような情報検出の手法に対応するために、本実施の形態では、ピット形成可能位置におけるピットの形成有無により、チャネルデータの「０」「１」を表現するフォーマットを採用するものとしている。すなわち、１つのピット形成可能位置が、１チャネルビット分の情報を担うものである。
【００８８】
その上で本実施の形態では、このようなチャネルビットの複数個による「０」「１」のデータパターンにより、データビットの１ビットを表現するものとしている。
具体的に本例では、図５（ｂ）に示されるように、チャネルビット４つ分でデータビットの「０」「１」を表現するものとし、例えば４チャネルビットのパターン「１０１１」がデータビット「０」、４チャネルビットのパターン「１１０１」がデータビット「１」を表すものとしている。
【００８９】
このとき重要であるのは、チャネルビット「０」が連続しないという点である。つまり、チャネルビット「０」が連続してしまうということは、上述のようにトラッキングエラー信号を間欠的に用いてサーボを行うとしたときに、エラー信号が得られない期間が連続してしまうということ意味するので、これに伴い、トラッキングサーボの精度を確保することが非常に困難となってしまうためである。
このため本実施の形態では、例えば上記のようなデータビットの定義により、チャネルビット「０」が連続しないという条件が満たされるようにしている。すなわち上記のようなデータビットの定義により、トラッキングサーボの精度低下が最小限に抑えられるようにしているものである。
【００９０】
図５（ｃ）は、シンクパターンの一例を示している。
例えばシンクパターンについては、図示するように１２チャネルビットで表現するものとし、前半の８ビットを上記データビットの定義に当てはまらないチャネルビットパターン「１１１１１１１１」とし、その後の４チャネルビットのパターンでシンクの別（種類）を表すものとしている。具体的に、上記８ビットに続く４チャネルビットのパターンが「１０１１」であればＳｙｎｃ１、「１１０１」であればＳｙｎｃ２としている。
【００９１】
本実施の形態のバルク型記録媒体１においては、アドレス情報が、上記のようなシンクの後に続けて記録されているものとする。
ここでアドレス情報としては、少なくとも絶対位置情報（半径位置の情報、及び回転角度位置の情報）を記録する。
なお確認のために述べておくと、本例では従来限界の１トラック幅内にＡ〜Ｆの複数本のピット列を配列するものとしているが、アドレス情報の記録は、各ピット列の半径位置が個別に表されるように（各ピット列の識別が可能となるように）、ピット列ごとに個別の情報が割り振られるようにして行う。すなわち、従来限界の１トラック幅内に配列されるＡ〜Ｆの各ピット列に対し同じアドレス情報を記録するものではない。
【００９２】
［2-3．トラッキングサーボの具体的な手法］
上記のように従来の１トラック幅内に複数配列されるようにして形成されたピット列うちから、任意のピット例を対象としてトラッキングサーボをかけるための手法は、具体的には以下で説明するものとなる。
【００９３】
図６は、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い基準面Ｒｅｆ上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びプッシュプル信号ＰＰ（ＰＰ信号とも表記する）の波形との関係を模式的に示している。
上記ｓｕｍ信号は、図２に示したサーボ光用受光部２９としての複数の受光素子で得られた受光信号ＤＴ-svの和信号であり、上記ｓｕｍ微分信号はｓｕｍ信号を微分して得られる信号である。
ここで、この図では説明の便宜上、図中の各ピット形成可能位置の全てにピットが形成されているものとする。
【００９４】
図示するようにして、バルク型記録媒体１の回転に伴いサーボ用レーザ光のビームスポットが移動することに伴っては、ｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における配置間隔に応じた周期でその信号レベルがピークを迎えることになる。つまりこのｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における間隔（形成周期）を表していることになる。
【００９５】
ここで、この図の例ではサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ａ上に沿って移動するものとしているので、上記ｓｕｍ信号は、ピット列形成方向におけるピットＡの形成位置の通過時にピーク値が最大となり、またピットＢ〜ピットＤの各形成位置にかけて徐々にピーク値が減少していく傾向となる。そしてその後、ピットＥの形成位置→ピットＦの形成位置の順でピーク値は上昇傾向に転じ、再びピットＡの形成位置に至ることでピーク値が最大となる。すなわち、ピット列形成方向における上記ピットＥ、Ｆの形成位置においては、外周側に隣接するピット列Ｅ、Ｆにおけるピットの影響を受けるので、ｓｕｍ信号のピーク値はピットＥ、Ｆの形成位置ごとで順に上昇することになる。
【００９６】
また、上記ｓｕｍ信号を微分して生成されるｓｕｍ微分信号、及びトラッキング誤差信号としてのＰＰ信号としては、それぞれ図示するような波形が得られる。
上記ｓｕｍ微分信号は、以下で説明するようにして各ピット列Ａ〜Ｆのピット形成位置（厳密にはピット形成可能位置である）のピット列形成方向における間隔に応じたクロックＣＬＫを生成するために用いられることになる。
【００９７】
図７は、上記クロックＣＬＫの生成にあたって上記ｓｕｍ微分信号と上記ｓｕｍ信号とに基づき生成されるタイミング信号について説明するための図である。
本実施の形態では、クロックＣＬＫとして、各ピットのセンター位置（ピークポジション）に相当する位置（タイミング）を立ち上がり位置（タイミング）とする信号を生成するものとしている。具体的には、先の図６にも示した所定の閾値Ｔｈ１でｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号をスライスした信号とを生成し、これらのＡＮＤをとることで上記ピークポジションに相当する立ち上がりタイミングを有するタイミング信号を生成する。
【００９８】
図８は、上記手順により生成したタイミング信号から生成されたクロックＣＬＫと、該クロックＣＬＫに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。
この図に示すように、クロックＣＬＫとしては、各ピット（ピット形成可能位置）のピークポジションに対応したタイミングで立ち上がり、且つ各立ち上がり位置間の中間点が立ち下がり位置とされた信号となる。
このようなクロックＣＬＫは、上記のように生成されたタイミング信号を入力信号（基準信号）としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行って生成する。
【００９９】
そして、本実施の形態では、このようにしてピットＡ〜Ｆの形成間隔に応じた周期を有するクロックＣＬＫから、Ａ〜Ｆの個々のピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にこれらselector信号としては、それぞれ上記クロックＣＬＫを１／６に分周して生成されたものとなっており、且つそれぞれの位相が１／６周期ずつずらされたものとなっている。換言すれば、これら各selector信号は、それぞれの立ち上がりタイミングが１／６周期ずつずれたものとなるように、クロックＣＬＫをそれぞれのタイミングで１／６に分周して生成されるものである。
【０１００】
これらselector信号は、それぞれ、Ａ〜Ｆの対応するピット列のピット形成可能位置のタイミングを表す信号となる。本実施の形態では、これらselector信号を生成した上で、任意のselector信号を選択し、該選択したselector信号が表す期間内におけるトラッキング誤差信号に従ってトラッキングサーボ制御を行うことで、Ａ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列上にサーボ用レーザ光のビームスポットをトレースさせる。つまりこのようにすることで、サーボ用レーザ光のビームスポット位置をＡ〜Ｆのうちの任意のピット列上にトレースさせることができるものである。
【０１０１】
このようにＡ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が可能となることで、録再用レーザ光による情報記録位置のずれの補正にあたって行われるべきサーボ用レーザ光のスポット位置のオフセットは、これらＡ〜Ｆの各ピット列の間隔を最小単位として行うことができる。つまりこれにより、録再用レーザ光による情報記録位置を従来の１トラック幅よりも狭い間隔で微調整することができる。具体的にこの場合は、従来の１トラック幅を６分割した精度により情報記録位置を補正することができる。
【０１０２】
［2-4．具体的なスポット位置ずれ補正手法］
本実施の形態では、上記のようなピット列の選択による１／６トラック幅の精度による情報記録位置の補正を可能とした上で、さらに細かな精度による補正も可能とする。具体的には、選択したピット列についてのトラッキング誤差信号に対してオフセットを与えるなど、トラッキングサーボループ内にオフセットを付与することで、１／６トラック幅を超えるさらなる微調整を可能とするものである。
【０１０３】
このようなトラッキングサーボループに対するオフセット付与による補正も含めた、本実施の形態としてのスポット位置ずれ補正の具体的な手法について、次の図９を参照して説明しておく。
図９において、図９（ａ），図９（ｂ）ではそれぞれ基準面Ｒｅｆ上の半径方向に配列されたピット列とサーボ用レーザ光、録再用レーザ光のそれぞれのスポットを示しており、図９（ａ）は無補正の状態、図９（ｂ）は補正後の状態を示している。
【０１０４】
先ず図９（ａ）において、無補正の状態では、サーボ用レーザ光の反射光に基づくトラッキングサーボ制御が行われることに伴い、サーボ用レーザ光のスポット位置は記録したいトラック（ピット列）上にあることになる。
そして、ｓｋｅｗやレンズシフトの発生に伴い、録再用レーザ光のスポット位置は、図のように上記記録したいトラックからずれた位置にあることになる。具体的にこの図においては、録再用レーザ光のスポット位置ずれがピット列８．５本分生じている場合を例示している。
【０１０５】
このような録再用レーザ光のスポット位置のずれ量は、先の図２に示した位置センサ３０とｓｋｅｗセンサ３１とにより検出することができる。つまり換言すれば、このように生じる録再用レーザ光のスポット位置のずれを補正するための補正量の値（図９（ｂ））は、これら位置センサ３０とｓｋｅｗセンサ３１の検出結果に基づいて算出するものである。
【０１０６】
このとき、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値そのものは、図９（ｂ）に示されているような補正量の値を直接的に表すものではなく、当然のことながらこれら位置検出信号ｐｓ-olの値やｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値を正規化して、トラッキングサーボ対象位置のオフセット量としての補正量の値を算出することになる。
具体的に、本例においては、以下のような考え方に基づき、ｓｋｅｗ及びレンズシフトに起因するスポット位置ずれを補正するための補正量（トラッキングサーボ対象位置のオフセット量）AD_OFSを計算するものとしている。
先ず、ｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SKと、レンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SHとを個別に考え、
AD_SK＝（ｓｋ−offset_SK）×gain_SK  ・・・［式１］
AD_SH＝（ｐｓ-ol−offset_SH）×gain_SH  ・・・［式２］
とする。ここで［式１］において、offset_SK、gain_SKは、ｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値に基づきｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SKを求めるにたって設定された補正係数である。
同様に［式２］において、offset_SH、gain_SHは、位置検出信号ｐｓ-olの値に基づきレンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SHを求めるにたって設定された補正係数である。
このようにｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれについての補正量AD_SKとレンズシフト起因分のスポット位置ずれについての補正量AD_SHとを個別に扱うものとした上で、ｓｋｅｗ及びレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量AD_OFSを、次の［式３］により計算する。
AD_OFS＝AD_SK＋AD_SH＋Ｄ_alm  ・・・［式３］
但し［式３］において、Ｄ_almは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の光軸位置のアライメントずれを表す補正係数である。
【０１０７】
上記のような［式１］〜［式３］の演算により、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値とから、正規化された補正量AD_OFSを算出する。
【０１０８】
ここで、上記のように求めた補正量AD_OFSは、距離の情報となる。本実施の形態の場合、スポット位置ずれの補正は、前述のようにトラッキングサーボの対象とするピット列の選択を伴うものとなるので、上記のようにして求まった補正量AD_OFSの値から、トラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定する処理を行う必要がある。具体的には、補正量AD_OFSの値をピット列の形成ピッチの値によって除算することで、図９（ａ）の記録したいトラックからオフセットさせるべきピット列の本数が求まり、その結果から、トラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定するものである。
【０１０９】
また、上記除算を行った結果得られる余りの値は、補正のためにトラッキングサーボループに対して与えるべきオフセットの値を表すものであり、この値も取得しておく。具体的に図９の例では、ピット列の形成ピッチの１／２の値が当該オフセットの値となる。
【０１１０】
ここで、このように補正量AD_OFSの値からトラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定する過程で得られるオフセットの値（補正のためにトラッキングサーボループに付与すべきオフセットの値）については、オフセットｏｆｓと称する。
また、上記のようにして補正量AD_OFSの値から特定したピット列（補正のためにトラッキングサーボの対象とすべきピット列）については、補正用対象ピット列と称する。
【０１１１】
上記のようにして補正量AD_OFSの値に基づき補正用対象ピット列の特定、及びオフセットｏｆｓの取得を行った上で、これらの情報に基づき、サーボ用レーザ光によるトラッキングサーボ対象位置をオフセットさせる。具体的には、上記補正用対象ピット列のピット形成可能位置のタイミングを表すselector信号を選択し、該選択したselector信号が表すタイミングでプッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドして得られるトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を行うことで、上記補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が行われるようにすると共に、その状態においてトラッキングサーボループ内に上記取得したオフセットｏｆｓを与えることで、トラッキングサーボの対象位置を上記補正量AD_OFSに応じた分だけオフセットさせる。
このような補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボ制御とトラッキングサーボループ内へのオフセットｏｆｓの付与とを行うことで、サーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御の目標値が、計算した補正量AD_OFSの値に応じた分だけオフセットされたことになる。従ってこのことで、サーボ用レーザ光のスポット位置は、図９（ｂ）に示されるように記録したいトラック位置から補正量AD_OFSの分だけオフセットされるものとなり、これに伴い、録再用レーザ光のスポット位置が、記録したいトラックに合わせ込まれることになる。つまりこの結果、情報記録位置のずれが補正されるものである。
確認のために述べておくと、上記のようにトラッキングサーボループ内に補正量AD_OFSから算出されたオフセットｏｆｓを与えることで、ピット列の形成間隔を超える精度での補正が実現されるものとなる。
【０１１２】
なおこのとき、図９の例のように補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上の値となる（つまりこの場合はピット列３本分以上の値となる）場合は、ジャンプパルスを与えて、サーボ用レーザ光のスポット位置を補正用対象ピット列の方向に移動させることで、selector信号の選択切り替えによるトラッキングサーボ対象のピット列の選択切り替えが可能な状態となるようにする。
先の図６や図８を参照して理解されるように、或るピット列を対象としてトラッキングサーボをかけた状態において、selector信号の選択切り替えによりトラッキングサーボの対象として選択切り替え可能なピット列は、サーボ対象としているピット列を中心としてそれぞれ従来限界トラックの半本分（ピット列３本分）未満の距離内に位置するピット列までとなる。つまり図９（ａ）のように補正前のサーボ対象のピット列がピット列Ａとされている状態では、selector信号の選択切り替えによりトラッキングサーボの対象として選択切り替え可能なピット列は、ピット列Ｃ、ピット列Ｂ、ピット列Ｆ、ピット列Ｅとなる。従って、図９に示す例のように補正用対象ピット列が現在トラッキングサーボの対象としているピット列から従来限界トラックの半本分以上離れた位置にある場合には、トラッキングサーボを一瞬オフとした上で、上記補正対象ピット列の方向へのジャンプパルスを与えて、サーボ用レーザ光のスポット位置を補正用対象ピット列方向に移動させる。このとき与えるジャンプパルスの大きさは、現在トラッキングサーボの対象としているピット列から補正用対象ピット列までの距離に応じて変化させる。そして、該ジャンプパルスの付与を行った上で、補正用対象ピット列のselector信号を選択して該補正用対象ピット列についてのトラッキング誤差信号を得るものとし、該トラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボが行われるようにする。
このようにすることで、補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上となる場合にも、トラッキングサーボの対象ピット列を上記補正用対象ピット列に切り替えることができる。
【０１１３】
なお、計算した補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上である場合に補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボを行うための手法は、上記手法に限定されるべきものではなく、例えばトラッキングサーボの対象とするピット列を隣接するピット列に順次切り替えていって補正用対象ピット列に到達させるなど、他の手法を採ることもできる。
何れにしても、この場合のスポット位置ずれ補正の実現にあたっては、計算した補正量AD_OFSから特定した補正用対象ピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにすることに変わりはない。
【０１１４】
［2-5．光学ドライブ装置の全体的な内部構成］
図１０は、上記により説明したスポット位置ずれ補正を行う記録再生装置１０の全体的な内部構成を示している。
なお図１０において、光学ピックアップＯＰの内部構成については、先の図２に示した構成のうち録再用レーザ１１、レンズ駆動部、２軸アクチュエータ２１、及び位置センサ３０のみを抽出して示している。
【０１１５】
図１０において、記録再生装置１０には、バルク層５を対象とした記録／再生や、記録マークの再生時における対物レンズ２０のフォーカス／トラッキング制御（つまり録再用レーザ光の反射光に基づく位置制御）を行うための信号処理系の構成として、図中の記録処理部３２、録再光用マトリクス回路３３、再生処理部３４が設けられている。
【０１１６】
記録処理部３２には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３２は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
記録処理部３２は、このように生成した記録変調データ列に基づく記録パルスＲＣＰにより、光学ピックアップＯＰ内の録再用レーザ１１の発光駆動を行う。
【０１１７】
録再光用マトリクス回路３３は、図２に示した録再光用受光部２３としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-rp（出力電流）に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
具体的には、上述した記録変調データ列を再生した再生信号に相当する高周波信号（以降、再生信号ＲＦと称する）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-rpを生成する。
【０１１８】
録再光用マトリクス回路３３にて生成された上記再生信号ＲＦは、再生処理部３４に供給される。
また、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-rp、上記トラッキングエラー信号ＴＥ-rpは、録再光用サーボ回路３５に対して供給される。
【０１１９】
再生処理部３４は、上記再生信号ＲＦについて、２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
【０１２０】
また、録再光用サーボ回路３５は、マトリクス回路３３から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づきフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpをそれぞれ生成し、これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づくフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpに基づき、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
先の説明からも理解されるように、このような録再用レーザ光の反射光に基づく２軸アクチュエータ２１（対物レンズ２０）のサーボ制御は、再生時において行われるものである。
【０１２１】
また、録再光用サーボ回路３５は、再生時に対応してコントローラ４０から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして上記トラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。
【０１２２】
なお、録再光用サーボ回路３５は、コントローラ４０からの指示に応じ、後述するキャリブレーション動作時にも上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御を行うことになるが、これについては後述する。
【０１２３】
また、記録再生装置１０においては、サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系として、サーボ光用マトリクス回路３６、アドレス検出回路３７、サーボ光用サーボ回路３８、selector信号生成・選択回路３９、サンプルホールド回路ＳＨ１、及び加算器４１が設けられる。
【０１２４】
サーボ光用マトリクス回路３６は、図２に示したサーボ光用受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的にこの場合のサーボ光用マトリクス回路３６は、プッシュプル信号ＰＰ、ｓｕｍ信号（和信号）、及びフォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-svを生成する。
図示するようにプッシュプル信号ＰＰはサンプルホールド回路ＳＨ１に対して供給される。またフォーカスエラー信号ＦＥ-svはサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。
またｓｕｍ信号はアドレス検出回路３７及びselector信号生成・選択部３９に対して供給される。
【０１２５】
アドレス検出回路３７は、selector信号生成・選択部３９により後述するようにして生成・選択されたselector信号を入力し、該selector信号が表すピット形成可能位置のタイミング（この場合はselector信号がＨレベルの区間）で上記サーボ光用マトリクス回路３６からのｓｕｍ信号の値をサンプリングした結果に基づき、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報（少なくとも半径位置情報や回転角度位置情報を含む絶対位置情報）を検出する。
ここで、先の図５を参照して説明したように、本実施の形態の場合、各ピット列のアドレス情報は、そのピット列におけるピット形成可能位置でのピット形成有無を１チャネルビットの情報として記録されるものである。これに応じアドレス検出回路３７は、上記selector信号の立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値を識別することで、１チャネルビットの「０」「１」のデータ識別を行い、その結果に基づき、先の図５で説明したフォーマットに従ったアドレスデコード処理を行うことで、記録されたアドレス情報の検出（再生）を行う。
アドレス検出回路３７で検出されたアドレス情報は、コントローラ４０に対して供給される。
【０１２６】
selector信号生成・選択部３９は、ｓｕｍ信号に基づくクロックＣＬＫの生成、クロックＣＬＫに基づく各selector信号の生成、及び生成したselector信号のうちの指示されたselector信号の選択出力を行う。
【０１２７】
図１１は、selector信号生成・選択部３９の内部構成を示している。
図示するようにselector信号生成・選択部３９には、クロック生成回路４５、selector信号生成回路４６、及びselector信号選択回路４７が設けられる。
サーボ光用マトリクス回路３６からのｓｕｍ信号は、クロック生成回路４５に対して入力される。クロック生成回路４５は、先に説明した手順に従ってクロックＣＬＫを生成する。
【０１２８】
ここで、クロック生成回路４５の内部構成は、図１２に示すものとなる。
図１２において、クロック生成回路４５内にはスライス回路４５Ａ、ｓｕｍ微分回路４５Ｂ、スライス回路４５Ｃ、ＡＮＤゲート回路４５Ｄ、及びＰＬＬ回路４５Ｅが設けられる。
ｓｕｍ信号は、図示するようにスライス回路４５Ａとｓｕｍ微分回路４５Ａとに入力される。スライス回路４５Ａは、設定された閾値Ｔｈ１に基づき上記ｓｕｍ信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路４５Ｄに出力する。
上記ｓｕｍ微分回路４５Ｂは、ｓｕｍ信号を微分して先に説明したｓｕｍ微分信号を生成する。上記スライス回路４５Ｃは、設定された閾値Ｔｈ２に基づき、上記ｓｕｍ微分回路４５Ｂにより生成されたｓｕｍ微分信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路４５Ｄに出力する。
ＡＮＤゲート回路４５Ｄは、上記スライス回路４５Ａからの出力と上記スライス回路４５Ｃからの出力とのＡＮＤをとり、これによって先に説明したタイミング信号を生成する。
ＰＬＬ回路４５Ｅは、このようにＡＮＤゲート回路４５Ｄで得られたタイミング信号を入力信号としてＰＬＬ処理を行って、クロックＣＬＫを生成する。
【０１２９】
図１１に戻り、クロック生成回路４５により生成された上記クロックＣＬＫは、selector信号生成回路４６に供給される。
selector信号生成回路４６は、クロックＣＬＫに基づき、Ａ〜Ｆの各ピット列のそれぞれのピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にselector信号生成回路４６は、クロックＣＬＫを１／６に分周した信号として、それぞれ位相が１／６周期ずつずれた信号を生成することで、上記６種のselector信号を得る。
これら６種のselector信号はselector信号選択回路４７に対して供給される。
【０１３０】
selector信号選択回路４７は、入力した６種のselector信号のうちから、コントローラ４０より供給される選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号を選択・出力する。
【０１３１】
説明を図１０に戻す。
selector信号選択回路４７より出力されたselector信号は、前述したアドレス検出回路３７に供給されると共に、図のようにサンプルホールド回路ＳＨ１に対しても供給される。
【０１３２】
サンプルホールド回路ＳＨ１は、Ａ／Ｄ変換器を備え、サーボ光用マトリクス回路３６から供給されるプッシュプル信号ＰＰを上記selector信号の立ち上がりエッジでサンプルホールドする。
このようにしてサンプルホールド回路ＳＨ１によりselector信号に従ってプッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドして得られるトラッキング誤差信号については、以下、トラッキングエラー信号ＴＥ-svと称する。
【０１３３】
図示するようにサンプルホールド回路ＳＨ１により得られたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、加算器４１を介してサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。
またトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、コントローラ４０に対しても供給される。
【０１３４】
サーボ光用サーボ回路３８は、フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、及び加算器４１を介したトラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づき、それぞれフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
そして、記録時には、コントローラ４０からの指示に応じて、上記フォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svに基づいて、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動することで、サーボ用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、及び所要のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実現する。
【０１３５】
また、サーボ光用サーボ回路３８は、記録時に対応してコントローラ４０から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして２軸アクチュエータ２１のトラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作（ピット列間のジャンプ動作）を実現する。
【０１３６】
コントローラ４０は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
例えばコントローラ４０は、前述したように予め各層位置に対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、録再用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光学ピックアップＯＰ内のレンズ駆動部１６を駆動することで、深さ方向における記録位置の選択を行う。
【０１３７】
また、コントローラ４０は、先の図３１〜図３３にて説明したような記録／再生時の対物レンズ２０のサーボ制御切り替えを実現するための制御も行う。具体的にコントローラ４０は、記録時には、サーボ光用サーボ回路３８に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を指示し、また録再光用サーボ回路３５にはフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を停止するように指示を行う。
一方、再生時には、録再光用サーボ回路３５に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を指示し、サーボ光用サーボ回路３８に対しては、フォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を停止するように指示を行う。
【０１３８】
またコントローラ４０は、サーボ光用サーボ回路３８に対するシーク動作制御も行う。すなわち、サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上における所定の目標アドレスに移動させるようにサーボ回路３８に対する指示、及びselector信号生成・選択部３９（selector信号選択回路４７）に対する選択信号SLCTによるselector信号の選択指示を行う。
【０１３９】
ここで、この場合におけるシーク動作制御は、大まかには例えば以下のような手順で行われることになる。
１）前述のスライド駆動部を利用した光学ピックアップＯＰ全体の移動による目標アドレス付近への移動
２）サーボ用レーザ光のフォーカスサーボＯＮ
３）ｓｕｍ信号に基づくクロックＣＬＫの生成＆各selector信号の生成
４）任意に選択したselector信号に基づき、任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実行
５）上記４）にてトラッキングサーボがかかることで、アドレス情報（ピット列を識別するための情報）が読めるので、そのアドレスから目標アドレスまでのピット列ジャンプを行う
コントローラ４０は、上記１）２）の動作が実行されるように、サーボ回路３８に対する指示を行う。またコントローラ４０は、上記４）における任意のselector信号の選択のために、選択信号SLCTにより、selector信号生成・選択部３９に対し予め定められた位相によるselector信号の選択指示を行う。
またコントローラ４０は、上記５）の動作の実現のために、上記４）によるトラッキングサーボがかかることに応じてアドレス検出回路３７により検出されるアドレス情報を入力し、該アドレス情報に基づき、目標アドレスまでに要するピット列のジャンプ本数を計算し、該ジャンプ本数分だけピット列ジャンプ動作を実行させるための指示をサーボ回路３８に対して行う。
【０１４０】
またこの場合のコントローラ４０は、録再用レーザ光による情報記録が所要のトラックピッチで行われるようにするための制御も行う。
ここで、本実施の形態のバルク型記録媒体１においては、ピット列の半径方向におけるピッチが従来限界のトラックピッチよりも狭いものとされているので、仮に、１本のピット列に沿って何周にもわたって情報記録を行ったのでは、マーク列の記録ピッチが過剰に狭くなってしまい、適正な記録／再生を行うことができなくなってしまう。このため、本実施の形態の場合におけるマーク記録は、１本のピット列を何周にもわたってトレースし続けて行うのではなく、適正な半径方向ピッチが得られるようにして行うことになる。
例えば、マーク列の半径方向における適正な形成ピッチが従来限界トラックピッチ（ピット列６本分）である場合、マーク列の記録は、ピット列１周の記録を完了した後に、順次６本のピット列をジャンプしながら行うといった手法を挙げることができる。すなわち、或るピット列を１周記録→６本のピット列ジャンプ→ジャンプ先のピット列を１周記録→６本のピット列ジャンプ・・・を繰り返して、いわば同心円状記録に近いかたちでマーク列の記録を行うものである。
【０１４１】
或いは、マーク列の半径方向における適正な形成ピッチが得られるようにするための手法としては、ピット列を徐々にわたっていくことによるスパイラル記録の手法を挙げることもできる。具体的に該スパイラル記録は、以下のようにして行う。
先ず、スパイラル記録の実現にあたっては、或るピット列を対象としたトラッキングサーボの実行中に、サーボ対象のピット列の外周側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号が並行して得られるようにしておく。つまりこの場合は、selector信号に応じたタイミングでプッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドしてトラッキングエラー信号ＴＥ-svを得るためのサンプルホールド回路を、少なくとも２つ設けるものとし、それらのうち何れか一方の出力を加算器４１に選択出力できるようにしておく。
その上で、或るピット列についてのトラッキングサーボ実行中に、サーボループ内にその値が徐々に大となるオフセットを与える。このようなオフセットの付与により、スポット位置は徐々に外周側にシフトしていく。
上記オフセットの付与によりスポット位置が対象ピット列とその外周隣接ピット列との間の適当な位置（例えば中間位置）に到達したことに応じ、サーボ対象ピット列を外周隣接ピット列に切り替えると共に、サーボループ内に与えるオフセットの極性を反転させる。
オフセットの極性反転後は、オフセットの値が徐々に大となる（絶対値としては徐々に小となる）ことで、スポット位置は切り替え後の対象ピット列に徐々に近づいていくことになる（切り替え後のピット列からみるとスポット位置は内周側にずれた位置にあるため）。そして、その後もオフセットが与えられ続けると、スポット位置は切り替え後の対象ピット列を通過し（このときオフセットはゼロである）、その後、さらに外周側に隣接するピット列との間の適当な位置に到達する。このように外周隣接ピット列との間の適当な位置に到達したことに応じて、上記と同様にサーボ対象とするピット列を外周隣接ピット列に切り替えると共にオフセットの極性を反転させる。
このように、オフセットの付与と外周隣接ピット列へのサーボ対象ピット列の切り替えとによるいわば「ピット列わたり」を繰り返していくことで、上記オフセットの傾き（値の上昇率）に応じた任意ピッチによるスパイラル記録を実現できる。
【０１４２】
なお、何れにしても、本実施の形態のバルク型記録媒体１を用いる場合は、１本のピット列に沿い続けた記録を行ったのではマーク列の半径方向ピッチが過剰に狭まってしまうので、マーク記録は、半径方向におけるマーク列形成ピッチが適正ピッチとされるようにして行うことになる。
以下においては、マーク列形成ピッチの適正化を図るための手法として前者の手法、すなわちピット列を１周記録するごとに所定本数のピット列ジャンプを行う手法（略同心円状記録の手法とする）が採られているものとして説明を続ける。
【０１４３】
ここで、上記のような略同心円状記録の手法が採られる場合には、記録したマーク列の１周分の再生ごとにトラックジャンプを行うことになる。
具体的にこの場合のコントローラ４０は、マーク列の再生時においては、上述したような目標アドレスへのシーク動作制御を行った後、１周分の再生完了ごとに所定本数のトラックジャンプが行われるように録再光用サーボ回路３５に対する制御を行う。
【０１４４】
また、コントローラ４０は、上記で説明した各種の制御処理と共に、先に説明した実施の形態としてのスポット位置ずれ補正動作に係る制御処理として、以下のような処理も実行するものとされる。
【０１４５】
図１３は、コントローラ４０が有する機能のうち、実施の形態としてのスポット位置ずれ補正動作に係る機能のみをブロック化して表している。
図のようにコントローラ４０が有するスポット位置ずれ補正動作に係る機能に関しては、ずれ補正制御機能部４０Ａ、アドレス補正機能部４０Ｂ、キャリブレーション実行制御・補正係数計算機能部４０Ｃとしての機能を挙げることができる。
【０１４６】
ずれ補正制御機能部４０Ａは、先に説明したスポット位置ずれ補正動作を実現するための機能部である。
【０１４７】
また、アドレス補正機能部４０Ｂは、スポット位置ずれ補正動作に伴いサーボ用レーザ光のスポット位置が本来対象とすべきピット列上からオフセットさせることに伴い生じるアドレス情報の誤差を補正するための機能部となる。具体的には、スポット位置ずれ補正動作の実行中においてアドレス検出回路３７から取得されるアドレス情報を、サーボ用レーザ光スポット位置のオフセット量（記録したいトラックから実際にサーボ対象としているピット列までのピット列本数）に応じて補正するものである。
【０１４８】
また、キャリブレーション実行制御・補正係数計算機能部４０Ｃは、後述する実施の形態としてのキャリブレーション動作を実現するための機能部となるが、これについては後述する。
【０１４９】
図１４は、図１３におけるずれ補正制御機能部４０Ａとしてコントローラ４０が実行すべき具体的な処理手順を示したフローチャートである。すなわち、実施の形態としてのスポット位置ずれ補正動作を実現するための具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【０１５０】
図１４において、先ずステップＳ１０１では、記録を開始すべき状態となるまで待機する。
そして、記録を開始すべき状態となった場合には、ステップＳ１０２においてｓｋｅｗ量、レンズシフト量、補正係数に基づき補正量を計算する。すなわち、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値とを取得すると共に、これらｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と位置検出信号ｐｓ-olの値と、補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almとを用いた先の［式１］〜［式３］の演算を行うことで、補正量AD_OFSを計算する。
【０１５１】
続くステップＳ１０３においては、計算した補正量分の補正を行うために選択すべきピット列の特定、及びトラッキングエラー信号ＴＥ-svに与えるべきオフセット値の取得を行う。つまり先に説明したように、計算した補正量AD_OFSの値をピット列の形成ピッチの値により除算した結果に基づき、補正量AD_OFS分の補正を行うために選択すべき補正用対象ピット列を特定すると共に、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに与えるべきオフセットｏｆｓの値を取得する。
【０１５２】
次のステップＳ１０４では、特定したピット列に対応するselector信号の選択指示を行うと共に、取得したオフセット値を加算器４１に出力する処理を実行する。
すなわち、特定した補正用対象ピット列のピット形成可能位置のタイミングを表すselector信号の選択を、選択信号SLCTによってselector信号生成・選択部３９に指示すると共に、取得したオフセットｏｆｓの値を加算器４１に出力してトラッキングエラー信号ＴＥ-svに対するオフセットｏｆｓの付与を実行させる。
なお、先に説明したように、計算した補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本以上となる場合は、サーボ光用サーボ回路３８に補正用対象ピット列が形成される方向へのジャンプパルスを与えることになる。
【０１５３】
続くステップＳ１０５では、記録を終了すべき状態となったか否かを判別する。
ステップＳ１０５において、記録を終了すべき状態となってはいないとして否定結果が得られた場合は、図のようにステップＳ１０２に戻る。つまりこれにより、記録終了までスポット位置ずれ補正動作が連続して行われるようになっている。
【０１５４】
またステップＳ１０５において、記録を終了すべき状態となったとして肯定結果が得られた場合は、この図に示す一連の処理動作を終了する。
【０１５５】
なお確認のために述べておくと、本例のようにマーク記録を前述した略同心円状記録により行う場合には、ステップＳ１０１における記録開始は、ピット列１周分の記録開始を指すものとなり、またステップＳ１０５における記録終了としてもピット列１周分の記録終了を指すものとなる。
【０１５６】
或いは、前述のスパイラル記録を行う場合には、ステップＳ１０１における記録開始は記録を行うべき一連のデータの記録対象区間についての記録開始を指すものとなり、ステップＳ１０５における記録終了としても上記記録対象区間についての記録終了を指すものとなる。
【０１５７】
ここで、前述のスパイラル記録を行う場合における補正動作としては、先に説明したような任意スパイラルピッチを実現するためのオフセットの加算器４１への付与及び外周隣接ピット列へのサーボ対象ピット列の切り替えを行ってスポット位置の制御を行いつつ、その制御位置から補正量AD_OFSに基づく距離だけのサーボ対象ピット列のオフセット及び加算器４１へのオフセットｏｆｓの付与を行うものとすればよい。
つまりスポット位置ずれ補正の手法自体としては、スパイラル記録を行う場合も略同心円状記録を行う場合も、サーボ用レーザ光のスポット位置を記録を行うべき位置から補正量AD_OFSに応じた分だけオフセットさせるという点に変わりはない。
【０１５８】
＜３．実施の形態としてのキャリブレーション動作例＞
上記により説明してきたように、本実施の形態の記録再生装置１０では、ｓｋｅｗ及びレンズシフトに起因して生じる録再用レーザ光のスポット位置ずれを、実際にｓｋｅｗ量・レンズシフト量を検出し、それらに所定の補正係数を与えて算出した補正量AD_OFSに基づき補正するものとしている。
【０１５９】
しかしながら、前述もしたように正規化のための補正係数には、光学的、電気的なずれは必ず生じるものであり、従って補正係数として予め定められた固定値を使用する場合には、適正に情報記録位置を補正することができない虞がある。
また、スポット位置ずれは記録対象とする層位置に応じても変化し、また光学倍率によっても変化するので、これらの点からも固定値による補正係数を用いた補正とした場合には、情報記録位置のずれを適正に補正することができない虞がある。
【０１６０】
そこで本実施の形態では、以下で説明するようにして補正係数についてのキャリブレーションを行うものとし、実際の条件に応じて校正した適正な補正係数を用いたより高精度なスポット位置ずれ補正の実現化を図る。
【０１６１】
先ず、補正係数についてのキャリブレーションを行うにあたっては、バルク層５内に次の図１５に示すような基準トラック（バルク層内基準トラック）ＴＲ-blを形成しておく。
このようなバルク層５内における基準トラックＴＲ-blは、基準面Ｒｅｆにおいて形成されたピット列のうちから選出した或る１本のピット列（以下、基準面上基準トラックＴＲ-rf、或いは単に基準トラックＴＲ-rfとも表記する）と同一半径位置となるように形成されている。
一例として、本例の場合における基準トラックＴＲ-blは、図のように基準面Ｒｅｆから深さ方向にオフセットｏｆ-L3分だけ離間した位置に形成されているとする。すなわちこの場合における基準トラックＴＲ-blは情報記録層位置Ｌ３に形成されている。
【０１６２】
基準トラックＴＲ-blの形成は、例えば高精度に調整されたライターを用いてマーク列を形成することで行うことができる。具体的には、ｓｋｅｗやレンズシフトに起因した録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のスポット位置ずれをほぼ完全に補正することができるように高精度に調整されたライターを用いるものである。
なお、基準トラックＴＲ-blを基準面Ｒｅｆにおける基準トラックＴＲ-rfと同一半径位置となるように正確に形成するための手法については上記手法以外にも種々考えられ、ここで特に限定されるべきものではない。
また、基準トラックＴＲ-blはマーク列（断続的に形成されたマーク）ではなくＤＣマーク（連続的に形成されたマーク）により形成することもできる。
【０１６３】
補正係数のキャリブレーションは、上記のようにバルク層５内に形成された基準トラックＴＲ-blを用いて行う。具体的には、録再用レーザ光のスポット位置を上記基準トラックＴＲ-blに一致させた状態で、そのときのサーボ用レーザ光の基準面上基準トラックＴＲ-rfからのずれ量を観測することで行うものである。
【０１６４】
キャリブレーションの具体的手順としては、先ず、サーボ用レーザ光で基準トラックＴＲ-rf付近にシークを行う。すなわち、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報に基づき、基準トラックＴＲ-rf付近へのシークを行う。
その上で、録再用レーザ光でバルク層内基準トラックＴＲ-blにトラッキングサーボをかける。つまり、上記のように基準トラックＴＲ-rf付近にシークした状態において、対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御を、サーボ用レーザ光の反射光（トラッキングエラー信号ＴＥ-sv）に基づく制御から録再用レーザ光の反射光（トラッキングエラー信号ＴＥ-rp）に基づく制御に切り替えることで、録再用レーザ光の基準トラックＴＲ-blへのトラッキングサーボ引き込みを行い、録再用レーザ光で基準トラックＴＲ-blにトラッキングサーボをかけるものである。
【０１６５】
ここで、基準トラックＴＲ-rfが図９に示した記録したいトラックであると仮定すると、上記のように録再用レーザ光で基準トラックＴＲ-blにトラッキングサーボがかけられた状態は、図９（ｂ）に示されるように録再用レーザ光のスポット位置ずれが補正された状態に等しいことが分かる。このことからも理解されるように、上記のように録再用レーザ光で基準トラックＴＲ-blにトラッキングサーボをかけた状態で得られるサーボ用レーザ光の上記記録したいトラック（基準トラックＴＲ-rf）からのずれ量は、スポット位置ずれを補正するために必要な補正量AD_OFSそのものを表していることになる。
【０１６６】
この前提を踏まえた上で、本実施の形態では、上記のように録再用レーザ光でトラッキングサーボをかけた状態において、サーボ用レーザ光のスポット位置の基準トラックＴＲ-rfからのずれ量（補正量AD_OFS）と、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値とを所定複数回サンプリングする。そして、これらサンプリングした値と、先の［式１］〜［式３］とに基づき、実際の条件に応じた適正とされる補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almを逆算する。すなわち、サンプリングした補正量AD_OFS、ｓｋｅｗ検出信号ｓｋ、位置検出信号ｐｓ-olの各値を代入して得られる各式（つまり補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almを未知数とした各式）についての連立方程式を解くことで、補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almを逆算するものである。
なお確認のために述べておくと、上記各値のサンプリング回数は、少なくとも上記補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almとしての５つの未知数の逆算に必要な回数が設定されればよいものである。
【０１６７】
このようなキャリブレーション動作により、例えば実際に記録を行う層位置や光学系の倍率などの実際の条件に応じて校正された、適正とされる補正係数を得ることができる。
【０１６８】
コントローラ４０は、このようにしてキャリブレーションにより求まった補正係数を用いて、先に説明したスポット位置ずれの補正のための処理（図１４）を実行する。これにより、この場合の補正動作は、実際にキャリブレーションを行って求めた適正とされる補正係数に基づき行われるものとなり、その結果、録再用レーザ光による情報記録位置の補正をより高精度に行うことができる。
【０１６９】
なお、上記のような補正係数についてのキャリブレーション動作を行うタイミングとしては、例えばディスク装填後のスタートアップ動作時や、記録動作開始の直前などを挙げることができる。或いは、所定時間おきに実行するといったことも考えられる。
【０１７０】
＜４．処理手順＞
図１６は、上記により説明した実施の形態としてのキャリブレーション動作を実現するための具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
確認のため述べておくと、この図１６に示す処理手順は、コントローラ４０が先の図１３に示したキャリブレーション実行制御・補正係数計算機能部４０としての実行する処理の手順を示したものとなる。
【０１７１】
先ず、ステップＳ２０１においては、サーボ用レーザ光で基準トラックＴＲ-rf付近にシークするための処理を実行する。すなわち、サーボ光用サーボ回路３８に対するシーク動作制御として、基準面Ｒｅｆにおける予め定められた基準トラックＴＲ-rf付近のアドレスを目標としたシーク動作制御を行うものである。
【０１７２】
続くステップＳ２０２では、録再用レーザ光で基準トラックＴＲ-blにトラッキングサーボをかけるための処理を行う。つまり、サーボ光用サーボ回路３８に対する指示を行ってトラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボをオフとさせると共に、録再光用サーボ回路３５に対する指示により、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpを２軸アクチュエータ２１に対して出力させてトラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御がオンされるようにすることで、録再用レーザ光の基準トラックＴＲ-blへのトラッキングサーボ引き込みを行わせて、録再用レーザ光で基準トラックＴＲ-blにトラッキングサーボがかけられた状態が得られるようにするものである。
【０１７３】
次のステップＳ２０３では、サーボ用レーザ光の基準トラックＴＲ-rfからのずれ量（補正量AD_OFS）、ｓｋｅｗ量、レンズシフト量を所定複数回サンプリングする。すなわち、補正量AD_OFSと、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olと、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの各値のサンプリングを、所定複数回行うものである。
【０１７４】
ここで、上記ステップＳ２０３において、補正量AD_OFSのサンプリング（取得）は、例えば次の図１７に示されるような手法で行う。
先ず、補正量AD_OFSを取得するにあたっては、ステップＳ３０１において、個々のselector信号をそれぞれ選択させたときのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの振幅値を取得する。すなわち、selector信号生成・選択部３９に６種のselector信号を逐次選択させ、個々のselector信号の選択状態でサンプルホールド回路ＳＨ１により得られるそれぞれのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの振幅値を取得するものである。
【０１７５】
そして、続くステップＳ３０２において、トラッキングエラー信号ＴＥ-svの振幅値が最も０に近いピット列を最寄ピット列として特定すると共に、トラッキングエラー信号ＴＥ-svの値の０からの誤差をオフセットｏｆｓとして取得する。
【０１７６】
さらに、次のステップＳ３０３においては、上記最寄ピット列のアドレスを読むための処理を行う。具体的には、上記最寄ピット列のピット形成可能位置のタイミングを表すselector信号をselector信号生成・選択部３９に選択させ、その状態にてアドレス検出回路３７により検出されるアドレス情報を取得するものである。
【０１７７】
その上で、続くステップＳ３０４では、最寄ピット列の基準トラックＴＲ-rfからの距離を計算し、さらに次のステップＳ３０５において、計算した距離＋オフセットｏｆｓを補正量AD_OFSとして算出する。
【０１７８】
例えばこのような一連の処理により、録再用レーザ光で基準トラックＴＲ-blにサーボをかけた状態におけるサーボ用レーザ光の基準トラックＴＲ-rfからのずれ量、すなわち補正量AD_OFSの実測値を得ることができる。
【０１７９】
説明を図１６に戻す。
先のステップＳ２０３により補正量AD_OFS、ｓｋｅｗ量、レンズシフト量を所定複数回サンプリングした後は、ステップＳ２０４において、取得した補正量AD_OFS、ｓｋｅｗ量、レンズシフト量から補正係数を逆算する処理を実行する。
つまり先に述べたようにして、複数回サンプリングした各補正量AD_OFSの値と、各ｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、各位置検出信号ｐｓ-olの値と、先の［式１］〜［式３］とに基づき、適正とされる補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almを逆算して求めるものである。
【０１８０】
上記ステップＳ２０４の処理の実行を以て、この図に示されるキャリブレーション動作のための一連の処理は終了となる。
【０１８１】
＜５．まとめ＞
上記により説明したように、本実施の形態によれば、録再用レーザ光のスポット位置ずれの要因となるｓｋｅｗ及びレンズシフトを検出し、それらの検出結果に対し所定の補正係数を与えて正規化した補正量に基づきスポット位置ずれを補正する構成を採る場合において、バルク型記録媒体１に形成されたバルク層内基準トラックＴＲ-blに録再用レーザ光でトラッキングサーボをかけた状態にてｓｋｅｗ・レンズシフト量とそのときの補正量AD_OFS（サーボ用レーザ光の基準トラックからのずれ量）とをサンプリングし、それらのサンプリング結果から適正とされる補正係数を逆算するものとしている。すなわち、基準トラックＴＲ-blを利用して、補正係数についてのキャリブレーションを行うものとしている。
このようなキャリブレーションを行うことで、実際に記録を行う層位置やドライブ装置（光学系）、ディスクの違い等の実際の条件に応じて適正とされる補正係数を求めることができる。つまり、このように適正な補正係数に基づきスポット位置ずれを補正する本実施の形態によれば、録再用レーザ光による情報記録位置のずれをより高精度に補正することができる。
【０１８２】
録再用レーザ光による情報記録位置の補正をより高精度に行うことができれば、その分、マーク列の形成ピッチは狭めることができ、その結果、記録容量の増大化が図られる。
【０１８３】
また、マーク列の形成ピッチを狭めることができれば、その分、アクセス時間の短縮化も図られる。つまり、マーク列の形成ピッチが広い場合は、記録したデータ列の探索に多くの時間を要するものとなるが、本実施の形態によればこれが緩和され、アクセス時間の短縮化が図られる。
【０１８４】
また、本実施の形態では、スポット位置ずれの補正にあたっては、録再用レーザ光の光軸を直接的に補正するものとはせず、サーボ用レーザ光のスポット位置をオフセットさせることで行うものとしている。
これによりこの場合の補正動作は、対物レンズ２０の位置制御のために設けられている既存のトラッキング機構（２軸アクチュエータ２１）を用いて行うことができ、例えば録再用レーザ光の光軸位置を調整するためのアクチュエータを設けるなどの、別途の光軸調整部の追加は不要とすることができる。
【０１８５】
また、本実施の形態では、基準面Ｒｅｆにおいて先の図３や図４で説明したようなピット列を形成し、それに対応したトラッキングサーボ制御手法を採っていることで、トラッキングサーボ制御の目標値の調整幅を従来限界の１トラック幅よりも細かくすることができ、それにより録再用レーザ光のスポット位置ずれの補正をより高精度に行うことができる。
【０１８６】
さらには、このようなピット列の選択によるサーボ用レーザ光のスポット位置のオフセットに加えて、トラッキングサーボループ内へのオフセットｏｆｓの付与によるスポット位置のオフセットも可能としていることで、スポット位置ずれの補正精度をさらに向上できる。
【０１８７】
＜６．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
以下、本発明に基づき実現可能な各種の変形例について述べる。
【０１８８】
［6-1．複数層位置でのキャリブレーション］
これまでの説明では、バルク層５内における基準トラックＴＲ-blが１つの層位置に対してのみ形成される場合を例示したが、次の図１８に示されるように、基準トラックＴＲ-blは複数の層位置に対して設けることもできる。
この図１８の例では、基準トラックＴＲ-blは各情報記録層位置Ｌごとに設けるものとしている。図のように情報記録層位置Ｌ１に形成される基準トラックＴＲ-blは基準トラックＴＲ-bl_L1としている。他の基準トラックＴＲ-blについても同様に、形成される層位置Ｌに応じて基準トラックＴＲ-bl_L2、基準トラックＴＲ-bl_L3、基準トラックＴＲ-bl_L4、基準トラックＴＲ-bl_L5とする。
【０１８９】
この場合、キャリブレーション動作としては、各情報記録層位置Ｌごとに行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌｎに形成された基準トラックＴＲ-bl_Lnを用いて、先の図１６に示したものと同様の処理を行うことで、各層位置Ｌごとの補正係数のキャリブレーション動作を行う。
これにより、バルク層５への多層記録を行う場合において、各情報記録層位置Ｌに応じた適正な補正係数を用いた情報記録位置の補正を行うことができる。
【０１９０】
なお、このように各情報記録層位置Ｌに応じた適正な補正係数を用いた情報記録位置の補正を行うにあたっては、必ずしも各情報記録層Ｌに基準トラックＴＲ-blを設けておく必要性はない。例えばバルク層５に対し３層以上の多層記録を行う場合において、少なくとも最上層となる情報記録層位置（Ｌ１）と最下層となる情報記録層位置（Ｌ５）に対してのみ基準トラックＴＲ-blを形成しておいた上で、上記最上層でのキャリブレーションで求めた補正係数と上記最下層でのキャリブレーションで求めた補正係数とを線形補間して残りの各情報記録層位置Ｌで使用する補正係数を求めるといった手法を採ることもできる。つまりこの場合、基準トラックＴＲ-blが非形成とされる情報記録層位置Ｌへの記録時には、このように線形補間により求めた補正係数を用いてスポット位置ずれの補正を行うものである。
【０１９１】
或いは、バルク層５を、深さ方向において複数の情報記録層位置Ｌごとのエリア（層方向エリアとする）に分割し、各層方向エリア内の所定の情報記録層位置Ｌに対してのみ基準トラックＴＲ-blを形成しておくといった手法を採ることもできる。つまり、或る層方向エリア内の所定の情報記録層位置Ｌに形成された基準トラックＴＲ-blを用いたキャリブレーションで求めた補正係数を、その層方向エリア内の他の情報記録層位置Ｌにおいて共用するというものである。
【０１９２】
［6-2．複数半径位置でのキャリブレーション］
また、基準トラックＴＲ-blは、図１９に示されるようにして半径方向に複数設けることもできる。
この図１９では、内周、中周、外周の３箇所に基準トラックＴＲ-blを形成（基準トラックＴＲ-rfを設定）した場合を例示している。図のように内周側から順に基準トラックＴＲ-bl1（ＴＲ-rf1）、基準トラックＴＲ-bl2（ＴＲ-rf2）、基準トラックＴＲ-bl3（ＴＲ-rf3）とする。
ここで、半径位置が異なると、最適とされる補正係数（offset，gain）が異なる場合がある。そこで、半径方向のエリアごとにキャリブレーションを行うものとすれば、このように半径位置に応じて最適とされる補正係数が異なる場合にも、エリアごとに最適とされる補正係数を用いたスポット位置ずれ補正を実現することができ、補正精度を向上できる。
具体的な手法としては、この場合も図１８にて説明した深さ方向の場合と同様の考え方に基づき、１つの半径方向エリアにつき１つの基準トラックＴＲ-blが含まれるように半径方向エリアを分割し、各半径方向エリアごとに、そのエリア内の基準トラックＴＲ-blを用いたキャリブレーションで求めた補正係数を使用するといった手法を採ることができる。
或いは、例えば最内周位置と最外周位置など内周側の所定半径位置と外周側の所定半径位置との２箇所のみに基準トラックＴＲ-blを形成しておき、それら２箇所でのキャリブレーションを行って求めた補正係数を線形補間して各半径位置での補正係数を算出・使用するといった手法を採ることもできる。
【０１９３】
［6-3．トラッキングエラー信号に関する変形例］
また、これまでの説明では、サーボ用レーザ光についてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成にあたり用いるトラッキング誤差信号（原トラッキング誤差信号）として、プッシュプル信号ＰＰを使用する場合を例示したが、周知のようにプッシュプル信号ＰＰには、ｓｋｅｗやレンズシフトの成分が重畳してしまうことが知られている。
図２０は、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図であり、図２０（ａ）はｓｋｅｗ・レンズシフトが生じていない理想状態におけるサーボ光用受光部２９の受光面上の受光スポットを示し、図２０（ｂ）はｓｋｅｗ・レンズシフトが生じた場合におけるサーボ光用受光部２９の受光面上の受光スポットを示している。
なおこれら図２０（ａ）（ｂ）において、受光スポット内に示した斜線部は、ディスク上に形成されたピットからの一次回折光成分の重畳領域（プッシュプル信号成分重畳領域）を表している。
【０１９４】
先ず、確認のために述べておくと、プッシュプル信号ＰＰは、図中の受光素子Ａ，Ｂの組及び受光素子Ｃ，Ｄの組みがそれぞれディスクの半径方向に対応する方向に隣接する組であるとした場合、
ＰＰ＝（Ａi＋Ｂi）−（Ｃi＋Ｄi）  ・・・［式４］
により計算されるものである。但し［式４］において、Ａi，Ｂi，Ｃi，Ｄiはそれぞれ受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの受光信号である。
【０１９５】
ここで、サーボ用レーザ光のビームスポットは、対象とするピット列上を正確にトレースしていると仮定する。その場合において、ｓｋｅｗ・レンズシフトが生じていない図２０（ａ）の理想状態であれば、上記[式４]に従って計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は「０」となる。
これに対し、図２０（ｂ）に示すようなｓｋｅｗ・レンズシフトに伴う受光スポット位置ずれが生じている場合、[式４]により計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は、本来得られるべき「０」とは異なる値となってしまい、誤差が生じるものとなる。
【０１９６】
このことからも理解されるように、プッシュプル信号ＰＰにはｓｋｅｗやレンズシフトに伴うオフセットが生じる。
このようなｓｋｅｗやレンズシフトに伴うオフセット成分が無視できる程度であれば、実施の形態にて説明したトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成手法は有効であるが、さらなるトラッキングサーボ制御の精度向上や安定性向上を図るとした場合には、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴うオフセットが重畳しないより精度の高いトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成できることが望ましい。
【０１９７】
ｓｋｅｗやレンズシフトに伴うオフセットの生じないトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成手法として、以下、第１の手法と第２の手法とを例示する。
【０１９８】
図２１は、第１の手法としてのトラッキングエラー信号生成手法について説明するための図である。
なおこの図２１では、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列Ａ〜Ｆと、そのうちのピット列Ｄ上をトレースするようにトラッキングサーボがかけられている状態でのサーボ用レーザ光のスポット位置の移動軌跡（斜線部）と、該サーボ用レーザ光の移動に伴い得られるｓｕｍ信号の波形とを示している。
【０１９９】
例えばこの図２１に示されるようにサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上を正確にトレースしている場合、ｓｕｍ信号の値としては、ピット列Ｄ上のピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ）において最小値をとり、該ピット列Ｄに対する位相差が大となるピット列ほどそのピット形成位置での値が徐々に大となる傾向となる。
このとき、ｓｕｍ信号の値は、ピット列Ｄに対しそれぞれ隣接する（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｃ、ピット列Ｅのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−１、ｎ＋１）にて同じ値をとり、また、ピット列Ｄに対しそれぞれ同じ位相差を有するピット列Ｂ、ピット列Ｆのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−２、ｎ＋２）にて同じ値をとることになる。
【０２００】
ここで、図中に示す状態とは異なり、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上から半径方向にずれた位置をトレースしたとすると、上記ピット列Ｄに対する位相差が等しいそれぞれのピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値には、ずれが生じることが分かる。
つまりこのことからも理解されるように、トラッキングサーボの対象とするピット列に対する位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号（和信号）の値は、上記トラッキングサーボの対象とするピット列に対するトラッキング方向の誤差を反映していることになる。具体的に、トラッキング誤差情報は、上記位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値の差分を計算することで得ることができる。
【０２０１】
以上の点を踏まえ、第１の手法では、具体的に以下のようにしてｓｕｍ信号に基づくトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成を行う。
すなわち、先ずは、トラッキングサーボの対象とするピット列に対し位相差が等しい２つのピット列を選出する。具体的に本例では、トラッキングサーボの対象とするピット列にそれぞれ隣接するピット列を選出するものとする。
その上で、これら選出した各ピット列のピット形成可能位置に対応するタイミング（図２１におけるｎ−１とｎ＋１が該当）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングし、それらサンプリングしたｓｕｍ信号の値の差分を計算する。該計算結果が、トラッキングエラー信号ＴＥ-svとなる。
【０２０２】
図２２は、上記により説明した第１の手法としてのトラッキングエラー信号生成手法を実現するための構成について説明するための図である。
なおこの図２２をはじめとして以下で説明する各図において、既に説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
【０２０３】
この図２２と先の図１０（及び図１１）と比較して分かるように、この場合の記録再生装置においては、サーボ光用マトリクス回路３６に代えてサーボ光用マトリクス回路５０が設けられ、またselector信号生成・選択部３９に代えてselector信号生成・選択部５１が設けられる。
またこの場合は、サンプルホールド回路ＳＨ１に代えて、サンプルホールド回路ＳＨ２とサンプルホールド回路ＳＨ３とが設けられ、さらに減算器５３が追加される。
【０２０４】
サーボ光用マトリクス回路５０は、サーボ光用受光部２９としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-sv（図２０に示した受光素子Ａ〜Ｄからの受光信号Ａｉ〜Ｄｉ）に基づき、フォーカスエラー信号ＦＥ-svとｓｕｍ信号とを生成する。図示するようにフォーカスエラー信号ＦＥ-svはサーボ光用サーボ回路３８に供給され、ｓｕｍ信号はアドレス検出回路３７、selector信号生成・選択部５１、サンプルホールド回路ＳＨ２、及びサンプルホールド回路ＳＨ３に対してそれぞれ供給される。
【０２０５】
selector信号生成・選択部５０は、その内部において、selector信号選択回路４７に代えてselector信号選択回路５２が設けられる点が先のselector信号生成・選択部３９と異なる。
selector信号選択回路５２は、selector信号生成回路４６から供給される各selector信号のうちから、コントローラ４０からの選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号を選択・出力する共に、該選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号に対応するピット列に対する位相差が等しい２つのピット列にそれぞれ対応するselector信号を選択・出力する。具体的に本例の場合は、選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号と共に、該選択信号SLCTで指示されたselector信号に対応するピット列に対しそれぞれ隣接するピット列に対応する２つのselector信号を選択・出力する。
ここで、このようにselector信号選択回路５２より選択出力されるselector信号のうち、選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号については、単にselector信号と表記する。また、選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号に対応するピット列に対する位相差が等しい２つのピット列にそれぞれ対応するselector信号については、それぞれselector_fw信号、selector_bw信号と表記する。
【０２０６】
selector信号選択回路５２より出力されたselector信号は、アドレス検出回路３７に供給される。また、selector信号選択回路５２より出力されたselector_fw信号は、サンプルホールド回路ＳＨ２に供給され、selector_bw信号はサンプルホールド回路ＳＨ３に対して供給される。
【０２０７】
サンプルホールド回路ＳＨ２は、上記selector_fw信号により示されるタイミングで、マトリクス回路５０から供給されるｓｕｍ信号の値をサンプルホールドし、その結果を減算器５３に出力する。
サンプルホールド回路ＳＨ３は、上記selector_bw信号により示されるタイミングで、マトリクス回路５０から供給されるｓｕｍ信号の値をサンプルホールドし、その結果を減算器５３に出力する。
【０２０８】
減算器５３は、上記サンプルホールド回路ＳＨ２によるサンプルホールド出力値から、上記サンプルホールド回路ＳＨ３によるサンプルホールド出力値を減算し、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを得る。該トラッキングエラー信号ＴＥ-svは、図示するように加算器４１を介してサーボ回路３８に供給される。
【０２０９】
上記により説明した第１の手法により、ｓｋｅｗやレンズシフトに起因するオフセット成分による影響を回避して、トラッキングサーボ制御のさらなる安定性の向上及び精度向上を図ることができる。
【０２１０】
続いて、第２の手法について説明する。
第２の手法は、ピット部分におけるプッシュプル信号ＰＰから、ミラー部分におけるプッシュプル信号ＰＰを減算することで、ｓｋｅｗやレンズシフトによる影響が排除された良好なトラッキングエラー信号ＴＥ-svが得られるようにするものである。
【０２１１】
ここで、先の図２０の説明からも理解されるように、ピット部分で得られるプッシュプル信号ＰＰには、照射ビームスポットの対象ピット列に対する半径方向の位置誤差の成分と共に、ｓｋｅｗとレンズシフトの成分が含まれるものとなる。
これに対し、ミラー部分でのプッシュプル信号ＰＰには、ピットからの回折光成分が含まれないこととなるので、該ミラー部分でのプッシュプル信号ＰＰは純粋にｓｋｅｗとレンズシフトの成分のみを表すものとなる。従って、上記のようにピット部分におけるプッシュプル信号ＰＰからミラー部におけるプッシュプル信号ＰＰを減算すれば、チルトやレンズシフトによる影響が排除された良好なトラッキングエラー信号を得ることができる。
【０２１２】
ここで、図２３を参照して分かるように、ミラー部におけるプッシュプル信号ＰＰの値を得るためには、クロックＣＬＫの立ち下がりタイミングでサンプリングを行うものとすればよい。
【０２１３】
図２４は、第２の手法としてのトラッキングエラー信号生成手法を実現するための構成について説明するための図である。
この図２４と先の図１０とを比較して分かるように、この場合の記録再生装置は、記録再生装置１０と比較して、サンプルホールド回路ＳＨ４と、減算器５４とが追加された点が異なる。
【０２１４】
図示するようにサーボ光用マトリクス回路３６より出力されたプッシュプル信号ＰＰは、サンプルホールド回路ＳＨ１に対して供給されると共に、サンプルホールド回路ＳＨ４に対しても供給される。
サンプルホールド回路ＳＨ４には、クロック生成回路４５からのクロックＣＬＫが入力される。サンプルホールド回路ＳＨ４は、上記クロックＣＬＫの立ち下がりタイミングにて、プッシュプル信号ＰＰの値をサンプルホールドする。これにより、ミラー部におけるプッシュプル信号ＰＰの値（ｓｋｅｗ＋レンズシフトの成分）がサンプリングされる。
【０２１５】
減算器５４には、上記サンプルホールド回路ＳＨ４によるサンプルホールド値と、サンプルホールド回路ＳＨ１によるサンプルホールド値（ピット部分でのプッシュプル信号ＰＰの値：トラッキング誤差＋ｓｋｅｗ＋レンズシフトの成分）とが入力される。減算器５４は、サンプルホールド回路ＳＨ１によるサンプルホールド値からサンプルホールド回路ＳＨ４によるサンプルホールド値を減算し、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを得る。
この場合もトラッキングエラー信号ＴＥ-svは加算器４１を介してサーボ回路３８に供給される。
【０２１６】
このような第２の手法によっても、ｓｋｅｗやレンズシフトによるトラッキングサーボ性能の低下を防止できる。
【０２１７】
なお、ｓｋｅｗやレンズシフトによるトラッキングサーボ性能の低下の防止を図るためのトラッキングエラー信号生成手法としては、上記に限定されるべきものではない。例えば先の図６〜図８を参照して説明した実施の形態としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成手法において、プッシュプル信号ＰＰに代えて、例えばＤＰＤ（Differential Phase Detection）トラッキング信号（位相差トラッキング信号）を用いることでｓｋｅｗやレンズシフトによる影響を排除するようにもできる。
【０２１８】
ところで、上記により説明した第２の手法を採る場合には、ミラー部分でのプッシュプル信号ＰＰの値を利用して、ｓｋｅｗ検出を行うことができる。すなわち、上述のようにミラー部分でのプッシュプル信号ＰＰの値はｓｋｅｗ＋レンズシフトの成分を表すものであるので、位置センサ３０により検出したレンズシフト量の値を、上記ミラー部分でのプッシュプル信号ＰＰの値から減算することで、ｓｋｅｗ検出を行うことができる。
【０２１９】
図２５は、ミラー部分でのプッシュプル信号ＰＰの値を利用したｓｋｅｗ検出を実現するための構成について説明するための図である。
先の図２４（及び図１０）と比較して分かるように、この場合の記録再生装置には、第２の手法の記録再生装置に対し減算器５６と正規化部５５とが追加される。
正規化部５５は、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olに対して例えばゲインやオフセットなどの所定の係数を与えて、正規化されたレンズシフト量の値を得る。
減算器５６は、ミラー部分でのプッシュプル信号ＰＰの値としての、サンプルホールド回路ＳＨ４によるサンプルホールド出力値から、上記正規化部５５により得られたレンズシフト量の値を減算する。該減算器５６による減算結果が、ｓｋｅｗ検出結果となる。    
【０２２０】
このような構成とすることで、図１０に示したｓｋｅｗセンサ３１は省略することができる。
【０２２１】
［6-4．その他の変形例］
また、これまでの説明では特に言及しなかったが、補正係数の逆算にあたっては、キャリブレーション時に有効なサンプリング値が得られるようにするために、敢えてｓｋｅｗやレンズシフトを与えるようにすることもできる。すなわち、仮に、キャリブレーション時においてｓｋｅｗやレンズシフトの発生量がゼロであった場合には補正係数の逆算のための有効なサンプリング値を得ることができなくなる虞があるため、その防止を図るべく、意図的にｓｋｅｗやレンズシフトを発生させるというものである。
意図的にｓｋｅｗを発生させる手法としては、例えば所要のアクチュエータを設けてディスクを傾ける、或いは光学ピックアップＯＰ全体を傾けるなどの手法を挙げることができる。
またレンズシフトに関しては、前述したスライド駆動部を利用したスライドサーボ制御が行われる下で、スライドサーボ制御ループ内に意図的にオフセットを与えるなどの手法を挙げることができる。
【０２２２】
また、これまでの説明では、補正係数の具体例としてオフセットとゲイン、及び各ビームのアライメントずれを例示したが、もちろん補正係数としてはこれらに限定されるべきものではなく、多様に考えることができる。
また、これまでの説明では、ｓｋｅｗやレンズシフトなどのスポット位置ずれの発生要因となる事象（ずれ要因事象）の発生量と必要とされる補正量との関係が線形であるものとして一次関数を用いて補正量を求める場合を例示したが、正規化のための関数は一次関数に限定されるべきものではなく二次関数など他の関数を設定することもできる。
【０２２３】
また、これまでの説明では、ｓｋｅｗ及びレンズシフトの双方に応じたスポット位置ずれ補正を行うものとしたが、何れか一方のみに基づく補正や、他のずれ要因事象発生量に基づく補正とすることもできる。
【０２２４】
また、これまでの説明では、位置センサ３０により対物レンズ２０のレンズシフト量の検出を行うものとしたが、レンズシフト量の検出手法としては、例えばトラッキングコイルの駆動信号に基づき検出する手法など他にも多様に考えられる。
【０２２５】
また、ｓｋｅｗの検出手法についても多様に考えられ、特に１つの手法に限定されるべきものではない。
【０２２６】
また、これまでの説明では、バルク型記録媒体１を対象として情報記録を行う場合に本発明を適用する場合を例示したが、本発明は、図２６に示されるような多層記録媒体６０に対する記録を行う場合にも好適に適用することができる。
図２６において、多層記録媒体６０は、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、及び中間層４が形成される点は図１に示したバルク型記録媒体１と同様となるが、この場合はバルク層５に代えて、図のように半透明記録膜６１と中間層４とが所定回数繰り返し積層された層構造を有する記録層が積層される。図のように最下層に形成された半透明記録膜６１は、基板６２上に積層されている。なお、最下層に形成される記録膜については全反射記録膜を用いることができる。
ここで、注意すべきは、上記半透明記録膜６１には、ピット列やグルーブなどによる位置案内子が形成されていないという点である。つまりこの多層記録媒体６０としても、先の図３や図４に示したような位置案内子は基準面Ｒｅｆとしての１つの層位置に対してのみ形成されているものである。
そこでこの場合には、記録層内の所要の半透明記録膜６１に対し、基準面Ｒｅｆ上に設定した所定のトラック（ピット列）と同一半径位置となる位置においてマーク形成による基準トラックを予め形成しておき、該基準トラックを用いて、補正係数のキャリブレーションを行うことになる。
【０２２７】
なお、このような多層記録媒体６０の記録層においては、反射膜として機能する半透明記録膜６１が形成されているため、記録時においても録再用レーザ光の反射光を用いたフォーカス制御を行うことができる。
すなわち、この場合の記録時において、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御は、当該録再光用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズ２０を駆動することで、記録対象とする半透明記録膜６１に合焦させるようにして行うことになる。
一方、記録時における録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御に関しては、この場合もサーボ用レーザ光を用いて行うことになる。すなわち、この場合としても、記録時におけるトラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の基準面Ｒｅｆからの反射光に基づき対物レンズ２０を駆動することで行う。
【０２２８】
また、再生時には、この場合も既に記録されたマーク列に基づいて録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御を行うことができる。また、上記説明からも理解されるように、再生時においても、録再用レーザ光のフォーカスサーボ制御は、対象とする半透明記録膜６１（情報記録層Ｌ）からの反射光を利用して行うことができる。
つまりこの場合、再生時におけるサーボ制御は、実施の形態の場合と同様の手法で行うことになる。すなわち、再生時における録再用レーザ光のフォーカスサーボ制御は、録再用レーザ光の反射光に基づき、当該録再光用サーボ光が対象とする情報記録層Ｌに合焦するように対物レンズ２０を駆動することで行い、また録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御は、録再用レーザ光の反射光に基づき、当該録再光用サーボ光の焦点位置が記録済みマーク列を追従するように対物レンズ２０を駆動することで行う。
【０２２９】
なお確認のために述べておくと、このような多層記録媒体６０を対象とする場合も、スポット位置ずれの補正手法や補正係数のキャリブレーション手法自体はこれまでで説明したものと同様となる。
【０２３０】
またこれまでの説明では、基準面Ｒｅｆが記録層よりも上層側に形成される場合を例示したが、基準面Ｒｅｆが記録層よりも下層側に形成される場合にも本発明は好適に適用できる。
【０２３１】
また、これまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列として、Ａ〜Ｆの計６つを設定するものとし、半径方向においてはこれら６つのパターン（ピット列位相）によるピット列が繰り返し形成されるものとしたが、上記複数のピット列の数は６つに限定されるべきものではなく、より多くの本数、或いはより少ない本数とすることもできる。
【０２３２】
また、これまでの説明では、ピット列における各ピット形成可能位置の区間長は３Ｔ分の区間長とし、またピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も同様の３Ｔ分の長さに設定する場合を例示したが、これらはあくまで一例を示したものに過ぎない。これら各ピット形成可能位置の区間長、及びピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔については、先に挙げた１）２）の条件が満たされるようにして設定されればよいものである。
【０２３３】
またこれまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列に関して、外周側ほどピット列位相が進み内周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列したが、例えば逆に内周側ほどピット列位相が進み外周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列するなど、上記複数のピット列の配列パターンは、ピット列形成方向において光学限界を超えないという条件の下で様々なパターンの設定が可能である。
【０２３４】
また、これまでの説明では、ピット列がスパイラル状に形成される場合を例示したが、ピット列を同心円状に形成することもできる。
【０２３５】
また、これまでの説明では、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のそれぞれの反射光を装置側で独立して受光するにあたり、ダイクロイックプリズム１９を設けて、それぞれの光の波長の違いを利用して分光を行う手法を例示したが、これに代えて、例えばｐ偏光／ｓ偏光などの偏光方向の違いを利用した分光を行う構成を採るなど、他の手法により分光を行うようにすることもできる。
【０２３６】
またこれまでの説明では、本発明が光ディスク記録媒体に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光ディスク記録媒体に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる。
【０２３７】
またこれまでの説明では、本発明がバルク記録再生方式に適用される場合を例示したが、本発明としては、第１の光の照射により情報の再生（及び記録）を行うと共に、第２の光を照射した結果に基づき上記第１の光による情報の再生（及び記録）位置を制御するように構成されるものであれば、他の装置にも好適に適用できる。
【符号の説明】
【０２３８】
１  バルク型記録媒体、２  カバー層、３  選択反射膜、Ｒｅｆ  基準面、４  中間層、５  バルク層、Ｌ  マーク形成層位置（情報記録層位置）、ＴＲ-rf  基準面上基準トラック、ＴＲ-bl  バルク層内基準トラック、１０  記録再生装置、１１  録再用レーザ、１２,２５  コリメーションレンズ、１３,２６  偏光ビームスプリッタ、１４  固定レンズ、１５  可動レンズ、１６  レンズ駆動部、１７  ミラー、１８,２７  １／４波長板、１９  ダイクロイックプリズム、２０  対物レンズ、２１  ２軸アクチュエータ、２２,２８  集光レンズ、２３  録再光用受光部、２４  サーボ用レーザ、２９  サーボ光用受光部、３０  位置センサ、３１  ｓｋｅｗセンサ、３２  記録処理部、３３  録再光用マトリクス回路、３４  再生処理部、３５  録再光用サーボ回路、３６,５０  サーボ光用マトリクス回路、３７  アドレス検出回路、３８  サーボ光用サーボ回路、３９,５１  selector信号生成・選択部、４０  コントローラ、４１  加算器、ＳＨ１〜ＳＨ４  サンプルホールド回路、４５  クロック生成回路、４５Ａ,４５Ｃ  スライス回路、４５Ｂ  ｓｕｍ微分回路、４５Ｄ  ＡＮＤゲート回路、４５Ｅ  ＰＬＬ回路、４６  selector信号生成回路、４７,５２  selector信号選択回路、５３,５４,５６  減算器、５５  正規化部、６０  多層記録媒体、６１  半透明記録膜、６２  基板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図２８】
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