(57)【要約】【課題】複数回のＯＰＣから最適記録パワーを求める際に、その中に最適パワーから大きく外れた値が含まれていてもその影響を受けにくくすること。また、ＯＰＣ実施場所にごみや汚れが存在しても、その影響を受けにくくすること。【解決手段】コントローラ（制御部）５は、信号処理部４を制御して試し記録を実行し最適記録パワーを求める。コントローラ５は、光ディスク１に対し複数回数のＯＰＣ（試し記録）を行い、それぞれのＯＰＣで得られた複数の最適記録パワーの中央値を求めて最終的な最適記録パワーとして決定する。さらに複数回数のＯＰＣを、それぞれ、光ディスク上で互いに連続しない複数の飛び領域にて実行する。【選択図】図６
2011159370.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクへの記録開始前に試し記録を行って最適記録パワーを求める光ディスク記録装置において、
上記光ディスクを回転駆動するスピンドルモータと、
上記光ディスクに記録／再生用のレーザ光ビームを照射する光ピックアップと、
該光ピックアップに記録信号を出力し該光ピックアップから再生信号が入力される信号処理部と、
該信号処理部を制御して試し記録を実行し最適記録パワーを求める制御部とを備え、
該制御部は、上記光ディスクに対し複数回数の試し記録を行い、それぞれの試し記録で得られた複数の最適記録パワーの中央値を求めて最終的な最適記録パワーとして決定することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク記録装置において、
前記複数回数の試し記録を、それぞれ、前記光ディスク上で互いに連続しない複数の飛び領域にて実行することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
請求項２記載の光ディスク記録装置において、
前記試し記録を実行する複数の飛び領域を、１回の試し記録で使用される領域を単位としてその整数倍の間隙を隔てて設定することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項４】
光ディスクへの記録開始前に試し記録を行って最適記録パワーを求める最適記録パワー決定方法において、
試し記録を開始する上記光ディスク上の開始アドレスを設定し、
試し記録に用いるテスト信号の記録パワーの走査範囲を設定し、
上記光ディスクに記録パワーを段階的に変化させた上記テスト信号を記録し、
上記光ディスクから上記テスト信号を再生して再生信号の性能を解析し、
該解析結果から目標性能を得るための最適記録パワーを算出するものであって、
上記試し記録を複数回実行することで複数個の最適記録パワーを取得し、
該取得した複数の最適記録パワーの中央値を求めて最終的な最適記録パワーとして決定することを特徴とする最適記録パワー決定方法。
【請求項５】
請求項４記載の最適記録パワー決定方法において、
前記光ディスク上に試し記録を開始する開始アドレスを設定するとき、
前記複数回数の試し記録の領域を、それぞれ、前記光ディスク上で互いに連続しない複数の飛び領域に設定することを特徴とする最適記録パワー決定方法。
【請求項６】
請求項５記載の最適記録パワー決定方法において、
前記試し記録を実行する複数の飛び領域を、１回の試し記録で使用される領域を単位としてその整数倍の間隙を隔てて設定することを特徴とする最適記録パワー決定方法。
【請求項７】
請求項４ないし６のいずれか１項に記載の最適記録パワー決定方法において、
前記試し記録により算出した最適記録パワーが所定範囲内に含まれるかどうかで試し記録の成功／失敗を判定し、
判定の結果試し記録が失敗した場合、前記テスト信号の記録パワーの走査範囲を変更して試し記録のリトライ処理を行い、
該リトライ処理による試し記録が成功したら、次回の試し記録に用いるテスト信号の記録パワーの走査範囲を、上記成功したリトライ処理にて用いた走査範囲に変更することを特徴とする最適記録パワー決定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録装置において、安定した記録品質を実現するための最適記録パワー決定技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
記録型光ディスクにおいて、良好な記録品質を得るためには常に最適な記録パワーで記録することが必要である。光ディスク記録装置においては、各ディスクに対して最適な記録パワーをあらかじめ決めており、ディスクの識別コードと一致した記録パワーを用いて記録を行う。あるいは、光ディスクにその製造者が最適パワーをデータとして記録しておき、記録装置がそのパワー値を読み取って記録を行うという方法もとられている。しかしながら、いずれの場合でも、あらかじめ決めておいた記録パワーは標準条件における平均的な記録パワーであり、実際の記録条件では、温度変化・ディスクの機械的変形・ドライブ装置の部品性能ばらつき・性能の経時変化等があり、前記平均的な記録パワーでは良好な品質で記録できない。そこで、当該記録装置と当該ディスクを用いて記録前に試し記録を行い、最適記録パワーを算出するＯＰＣ（Optimum Power Control）と呼ばれる手法が採用されている。
【０００３】
ＯＰＣは、ディスク上に設けられた領域ＰＣＡ（Power Calibration Area）において、記録パワーを変化させながら記録を行い、再生信号レベルを処理して最適パワーを得る。このようなＯＰＣを実施することにより、記録条件に適合した最適記録パワーを求めるわけであるが、実際には、ＯＰＣ実施時のさまざまな要因により算出パワーに誤差が発生する。誤差の要因の例として、ＯＰＣ実施場所にごみや汚れの付着や、ディスク欠陥が存在した場合、正しい再生信号振幅が得られないため、最適記録パワーを決定するための性能指標（後述するβやγ）が正しく求められないため、最適記録パワーに誤差を生じる。また、ＰＣＡ領域に感度ムラなどがあると、使用場所によって再生信号振幅に差が発生し、最適記録パワーの誤差になる。また、ディスクの偏芯により記録レーザスポットが正しくトラックの中心に位置しない場合も再生信号振幅に誤差が生じ、最適記録パワーに誤差が発生する。加えて、ＲＷ系ディスクにおいては、同じ場所を複数回使用するため、これによる性能変化や、以前に強いパワーで記録されたことによる記録膜の破壊や劣化が発生することがある。
【０００４】
これらの誤差を低減するために、複数回ＯＰＣを行う方法が提案されている。例えば特許文献１には、ＯＰＣのためのテストパターン記録時に、開始パワーをテスト別に異ならせて設定することによって、さらに正確な最適記録パワーを導出することが開示されている。また特許文献２には、試験的なデータの記録を光ディスクの連続した３つの領域のそれぞれに対して連続して行い、これから得られる３つの第１次最適記録パワーを平均化することによって最適記録パワーを決定することが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−１４１４３８号公報
【特許文献２】特開２００８−１０８３４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、ＯＰＣを複数回行って平均値を求める方式では、各ＯＰＣの結果が最適記録パワーを中心とした範囲に収まっている場合でしか有効でなく、いずれかのＯＰＣ結果が最適パワーより大きく外れた値であった場合には、平均値もその外れ値の影響により真の最適記録パワーからずれた値になってしまうという問題がある。また、記録領域として連続する隣接した領域を使用するため、各ＯＰＣがごみや汚れの影響を受けてしまい、平均化したとしても最適パワーからずれてしまうという問題も残されている。その結果、算出した最適記録パワーに誤差が伴うことが避けられなかった。
【０００７】
本発明は上記課題を鑑み、複数回のＯＰＣから最適記録パワーを求める際に、その中に最適パワーから大きく外れた値が含まれていてもその影響を受けにくくすることを目的とする。また、ＯＰＣ実施場所にごみや汚れが存在しても、その影響を受けにくくすることで、最適記録パワーの算出値の誤差を低減することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、光ディスクへの記録開始前に試し記録を行って最適記録パワーを求める光ディスク記録装置において、上記光ディスクを回転駆動するスピンドルモータと、上記光ディスクに記録／再生用のレーザ光ビームを照射する光ピックアップと、該光ピックアップに記録信号を出力し該光ピックアップから再生信号が入力される信号処理部と、該信号処理部を制御して試し記録を実行し最適記録パワーを求める制御部とを備え、該制御部は、上記光ディスクに対し複数回数の試し記録を行い、それぞれの試し記録で得られた複数の最適記録パワーの中央値を求めて最終的な最適記録パワーとして決定する。
【０００９】
本発明は、光ディスクへの記録開始前に試し記録を行って最適記録パワーを求める最適記録パワー決定方法において、試し記録を開始する上記光ディスク上の開始アドレスを設定し、試し記録に用いるテスト信号の記録パワーの走査範囲を設定し、上記光ディスクに記録パワーを段階的に変化させた上記テスト信号を記録し、上記光ディスクから上記テスト信号を再生して再生信号の性能を解析し、該解析結果から目標性能を得るための最適記録パワーを算出するものであって、上記試し記録を複数回実行することで複数個の最適記録パワーを取得し、該取得した複数の最適記録パワーの中央値を求めて最終的な最適記録パワーとして決定する。
【００１０】
さらに、前記複数回数の試し記録を、それぞれ、前記光ディスク上で互いに連続しない複数の飛び領域にて実行する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、複数回のＯＰＣから最適記録パワーを求める際に、その中に最適パワーから大きく外れた値が含まれていてもその影響を受けにくくなる。また、ＯＰＣ実施場所にごみや汚れが存在しても、その影響を受けにくくなる。その結果、安定した記録品質を実現する光ディスク記録装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明による光ディスク記録装置の一実施形態を示す装置構成図。
【図２】ＯＰＣ用のテスト記録信号を模式的に示す図。
【図３】テスト信号の再生信号の例を示す図。
【図４】最適パワーの算出法（β法）の説明図。
【図５】最適パワーの算出法（γ法）の説明図。
【図６】複数個の最適記録パワーから代表値を決定する方法を説明する図。
【図７】複数回のＯＰＣを実行するテスト領域の設定方法を説明する図。
【図８】本発明による最適記録パワーの決定方法の第１の実施例を示すフローチャート。
【図９】本発明による最適記録パワーの決定方法の第２の実施例を示すフローチャート。
【図１０】本発明による最適記録パワーの決定方法の第３の実施例を示すフローチャート。
【図１１】本発明による最適記録パワーの決定方法の第４の実施例を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
図１は、本発明による光ディスク記録装置の一実施形態を示す装置構成図である。
光ディスク記録装置は、光ディスク１を回転駆動するスピンドルモータ２と、光ディスク１に記録／再生用のレーザ光ビームを照射する光ピックアップ３と、光ピックアップ３に記録信号を出力し、また光ピックアップ３から再生信号が入力される信号処理部４と、これらの動作を制御する制御部（コントローラ）５とを有する。ここに信号処理部４は、搭載された光ディスクごとに最適記録パワーを算出するための試し記録（ＯＰＣ）を実行するために、記録パワーを段階的に変化させたテスト信号を生成して光ピックアップ３に供給し、また光ピックアップ３から再生されたテスト信号を解析して後述する性能指標値（β値やγ値）を求める。その際のディスク上のテスト領域ＰＣＡについても、順次アドレスを指定する。制御部５は、所定の手順に沿ってＯＰＣ処理を実行し、テスト結果の各値を演算して最適記録パワーを決定する。また、各テスト結果を評価して成功／失敗を判定し、必要に応じてリトライ（再テスト）を実行する。
【００１４】
最適記録パワーが決定されると、それに従い記録条件を設定してデータの記録再生を行う。信号処理部４は、インターフェイス４３を介して外部に接続されたホストＰＣ１１との間で記録・再生データの転送を行う。光ピックアップ３からの再生信号は、ＲＦ信号増幅・波形等化部１２にて波形整形し、復調部４１と誤り訂正部４２にて誤り訂正を行い再生データ信号となる。記録データについては、訂正符号生成部４４で誤り訂正符号を付加し変調部４５で記録用変調信号とする。記録用変調信号に従い、レーザ駆動部１３は光ピックアップ３のレーザ光源を駆動し、光ディスク１にデータを記録する。サーボ信号増幅部１４は、光ピックアップ３から得られる記録再生中のフォーカス・トラッキング信号を増幅し、サーボ演算部４６は、これを基にフォーカス・トラッキング駆動部１５、移動モータ駆動部１６、スピンドルモータ駆動部１７を制御する。
【００１５】
ここでＯＰＣ処理の概要を図２〜図５を用いて説明する。
図２は、ＯＰＣ用のテスト記録信号を模式的に示す図である。記録パワーを順次変更しながらパワー走査記録を行うものであり、図２においては１６段階の記録パワーを１セクタごとに切替えて記録する例を示している。ここでのパワー走査範囲（開始パワーおよびパワー変化幅）は、各テスト開始時に予め初期値として設定されているが、必要に応じて変更する。なお、図２は高パワーから低パワーに変化させて記録する例であるが、逆に、低パワーから高パワーに変化させるものでもよい。
【００１６】
図３は、テスト信号の再生信号の例を示す図である。再生信号の振幅は、記録パワーの大きさに応じて変化する。なお、図３の縦軸は、上側のレベルが直流消去レベルであり、下側にレベルが記録の深さを示すものであるが、これは信号検出回路の構成に依存するもので、この例に限定されるものではない。信号解析では、図３に示されたような再生信号の上側レベルと下側レベルとを各記録パワー毎に測定する。
【００１７】
次に、最適パワーの算出について説明する。一般に、最適パワー算出のための性能指標として、Ｒ系（１回記録）ディスクではβ（ベータ）法が、ＲＷ系（書き換え）ディスクではγ（ガンマ）法が用いられる。β法やγ法による評価法は規格で定義されており、簡単に説明する。
【００１８】
図４は、最適パワーの算出法（β法）の説明図である。図３の再生信号から直流成分を除去した後の再生信号の波形を模式的に示す。ＡＣ成分の振幅中心をゼロレベルとし、長波長成分の正側信号レベルＡと負側振幅レベルＢを求め、（１）式によりβを算出する。ここにβは、振幅の非対称性を示すもので、β＝０が目標とする記録状態(targetβ)であり、そのときの記録パワーが最適記録パワーＰｏｐｔとなる。あるいは、targetβとして０からずれた値を設定し、これに対応する記録パワーを最適記録パワーとして決定しても良い。
β＝（Ａ＋Ｂ）/（Ａ−Ｂ）      （１）
（Ａ＋Ｂ）：the difference between the peak levels of the HF signal
（Ａ−Ｂ）：the peak-to-peak value of the HF signal
【００１９】
次に図５は、最適パワーの算出法（γ法）の説明図である。まず、図３の再生信号からその変調度ｍ（modulation）を求め、（２）式によりγを計算する。
γ＝（ｄｍ/ｄＰｗ）・（Ｐｗ/ｍ）      （２）
ｍ：the modulation amplitude of the HF signal
Ｐｗ: Write power
【００２０】
図５には、γ値の記録パワーに対する変化の概略傾向を示す。計算したγ値が予め決められている目標値targetγとなるような記録パワーＰｗを求め、さらにＰｗに予め決められている係数(ρ)を積算し、最適記録パワーＰｏｐｔを決定する。
【００２１】
なお、β法でもγ法でも、ＯＰＣにおける記録パワー変化範囲は、目標とするβ（targetβ）およびγ（targetγ）が得られる範囲に設定する必要がある。もし目標値が得られない場合には、記録パワーの範囲を変更してリトライ（再テスト）を実行する。
【００２２】
次に、本実施例における最適記録パワーの代表値の決定法と、テスト領域の設定方法について説明する。
図６は、複数個の最適記録パワーから代表値を決定する方法を説明する図である。
例えば、試行回数Ｎ＝４回のＯＰＣを行った結果、それぞれＯＰＣ１〜ＯＰＣ４の最適記録パワーが得られたとする。このうち、例えばＮ＝１回目の最適記録パワーＯＰＣ１が本来の最適パワーＰｏから大きく外れたとする。従来の平均化法によれば、これらの単純平均値Ｐａから代表値を決定するものであった。その結果、外れた最適記録パワーＯＰＣ１の影響を受け、平均値Ｐａは最適パワーＰｏから大きくずれた値となり、誤差が大きくなる。
【００２３】
これに対し本実施例の方法は、各最適記録パワーの中央値を採用するようにした。すなわちこの例では、最も中央に位置する２つの値、ＯＰＣ２とＯＰＣ４の平均値を代表値とする。その結果、中央値Ｐｃは最適パワーＰｏにより接近した値となり、誤差は極めて小さなものとなる。なお、試行回数Ｎが奇数の時は、最も中央に位置するのは１つの値となるので、その値を採用すればよい。
【００２４】
従来の平均化法においても、試行回数Ｎを増加すれば誤差は徐々に少なくなることが期待されるが、ＯＰＣの処理時間が増大し実用的ではない。これに対し、本実施例の中央値を採用する方法によれば、記録パワーの頻度分布の外側のデータを除去するものであるから、少ない試行回数であっても最適パワーＰｏに近い値を容易に取得することができる。
【００２５】
図７は、複数回のＯＰＣを実行するテスト領域の設定方法を説明する図である。
１回のＯＰＣでは、パワー調整領域ＰＣＡ内の１６セクタからなる領域を外周側から内周側に向かって使用するものとする。１パワー段階をアドレスの１セクタに割り当て、パワー変化が１６段階であれば、１６セクタを使用する。
【００２６】
従来方式では、各ＯＰＣのテスト領域は連続するものであった。例えば、試行回数Ｎ＝１回目を開始アドレスＫから行った場合、Ｎ＝２回目は開始アドレスＫ−１６から、Ｎ＝３回目は開始アドレスＫ−３２から、というように各ＯＰＣでのテスト領域は連続していた。ここでアドレス値を１６だけ減算するのは、テスト領域の走査方向（外周側から内周側）はアドレス値が減じる方向となっているからである。この場合、テスト領域にディスクの汚れや異物の付着、ディスクの欠陥など（符号７０で示す）が存在すると、Ｎ＝１、Ｎ＝２回目のＯＰＣテストが失敗し、あるいは得られる結果には大きな誤差が含まれることになる。これは、欠陥部７０の大きさが小さければ被害は１回のテストだけに限られるが、一般には、複数の領域にまたがり、複数回のテストが連続して被害を受けることが多い。
【００２７】
これに対し本実施例では、各ＯＰＣのテスト領域を互いに不連続の領域（以下、飛び領域と呼ぶ）で行うようにした。例えば、試行回数Ｎ＝１回目を開始アドレスＫから行った場合、Ｎ＝２回目は開始アドレスＫ−３２から、Ｎ＝３回目は開始アドレスＫ−６４から、というように、１回分のＯＰＣ領域（１６セクタ）の間隙Ｇを隔ててこれを飛び越して行うようにした。これにより、テスト領域に欠陥７０が存在しても、Ｎ＝１回目のテストは失敗するものの、Ｎ＝２回目以降のテストには影響しなくなり、ＯＰＣが連続して失敗することがなくなる。間隙の大きさＧは、欠陥７０の大きさに応じて決めればよく、欠陥のサイズが大きいときには、間隙Ｇを２回分以上のＯＰＣ領域を割り当てるようにすればよい。あるいはこの間隙Ｇは、ＯＰＣ領域のサイズ（１６セクタ）の整数倍だけでなく実数倍に設定しても良く、さらには各間隙Ｇを固定長ではなく可変長とすることもできる。これにより、複数回のＯＰＣを実行するときの失敗回数を最小限とすることができ、前記した中央値の採用と組み合わせることで、少ない試行回数で最適パワーＰｏに近い値を容易に取得することができるようになる。
【００２８】
ＯＰＣを実施するパワー調整領域ＰＣＡは、通常内周部に設定されているが、これに加えて外周部に設置されている場合もある。ＯＰＣは実際の記録速度で行う方が精度が高くなる。内周から外周まで一定の記録速度で記録を行うＣＬＶ（Constant Linear Velocity）記録方式であれば内周領域のＯＰＣだけでもよいが、ディスクの回転を一定にして、外周に向かうほど記録速度が速くなるＣＡＶ（Constant Angular Velocity）記録方式を行う場合には内周の記録速度と外周の記録速度が異なるため、内周だけでなく外周でもＯＰＣを行う必要性が生じる。また、光ディスクを半径方向に複数の領域に分け、各領域内は一定記録速度のＣＬＶ記録方式で記録を行い、かつ外周側の領域の記録速度を高くするＺＣＬＶ（Zone CLV）記録方式においても外周でＯＰＣを行う必要性が生じている。その他、前記複数の領域それぞれにパワー調整領域を設ける方法なども提案されている。本実施例は、これらパワー調整領域の位置や記録方式を限定するものではなく、いずれにも対応できる。
【００２９】
以下、本発明による最適記録パワーの決定方法を実施例１〜４に分けて説明する。
【実施例１】
【００３０】
図８は、本発明による最適記録パワーの決定方法の第１の実施例を示すフローチャートである。対象はＲＷ系（繰り返し記録）ディスクであり、複数回のＯＰＣからγ法にて最適記録パワーを求め、前記図６に示したように複数の最適記録パワーの中央値から代表値を決定するものである。
【００３１】
ＯＰＣ開始時には、まずＯＰＣ開始アドレスＫを決定する（ステップＳ１０１）。ＣＤ−Ｒ／ＲＷやＤＶＤ−Ｒ／ＲＷにおいてはパワー調整領域ＰＣＡの外周側から内周に向かって使用していくように定められている。また、ＤＶＤ＋ＲＷにおいてはランダムに実施場所を選択するように定められている。次にカウンタ初期化として、成功数Ｓおよびエラー数Ｅのカウンタを０に初期化する（ステップＳ１０２）。ここに成功数Ｓとは各ＯＰＣの結果が所定の範囲内にある場合をカウントし、エラー数ＥとはＯＰＣの結果が所定の範囲内になく、かつリトライしても成功しなかった場合をカウントする。
【００３２】
パワー設定初期化として、記録開始パワーと記録パワー変化幅を設定する（ステップＳ１０３）。これらの値は、各記録ディスクに対応して装置内のメモリに予め保持しているデータを読み出してセットする。次に、リトライ数初期化として、リトライ数Ｒを０に初期化する（ステップＳ１０４）。ここでリトライとは、何らかの要因で後述するＯＰＣの結果が所定の範囲内になかった場合に、記録パワーを変更するなどして再度ＯＰＣを実行することである。リトライ動作は、リトライ数Ｒがリトライ上限値Ｒｍａｘに達するまで行うことができる。直流消去処理では、ＯＰＣ実施場所を予め直流消去する（ステップＳ１０５）。これは、ＯＰＣ実施場所は必ずしも未使用の領域とは限らないため、消去して初期化を行うものである。
【００３３】
パワー走査記録では、図２に示すように記録パワーを順次変化させたテスト信号を記録する（ステップＳ１０６）。記録開始パワーおよびパワー変化幅は、前記ステップＳ１０３で設定したものである。次に、このテスト記録を行った領域を再生して、図３に示されるような再生信号を得る。そして、再生信号の振幅（上側レベルと下側レベル）を測定し、各記録パワー毎に変調度ｍを求める（ステップＳ１０７）。引き続き最適パワー計算では、前記変調度ｍのデータを用いて、前記式（２）によりγを計算する。そして、図５に示すように目標のγ（targetγ）となるＰｗを求め、さらにＰｗに係数ρを積算し、最適記録パワーＰｏｐｔを算出する（ステップＳ１０８）。
【００３４】
次に、算出した最適記録パワーＰｏｐｔが妥当なものであるかを判定する（ステップＳ１０９）。当然ながら、正しくtargetγを求めるためには、パワー走査範囲がtargetγを含む範囲に設定されていなければならず、またその正確さを得るためには、Ｐｗがパワー走査範囲の適切な位置にある必要がある。しかしながら、装置が予め保持している記録開始パワーや記録パワー変化幅は標準環境で標準ドライブにより決定されたものであるから、実際のＯＰＣ実行時の温度やドライブの性能ばらつきにより、必ずしも正しいパワー走査範囲にならないことがある。そこで、算出した最適記録パワーＰｏｐｔ（あるいはtargetγに対応するＰｗ値）が所定範囲内かどうかを判定する。判定の結果、所定の範囲内であれば今回のＯＰＣは成功と判断して、カウンタの成功数Ｓに１を加算する（ステップＳ１１０）。判定の結果、所定の範囲内になければ失敗と判断してリトライ動作に進む。
【００３５】
リトライ動作では、記録開始パワーやパワー変化幅などのパワー走査範囲を変更する（ステップＳ１１１）。そしてカウンタのリトライ数Ｒに１を加算して（ステップＳ１１２）、リトライ数Ｒをリトライ上限値Ｒｍａｘと比較する（ステップＳ１１３）。リトライ数Ｒがその上限値Ｒｍａｘを超えていなければ、ステップＳ１０５へ進み再度ＯＰＣを実行する。リトライＯＰＣの結果をステップＳ１０９で判定し、成功すればステップＳ１１０へ進む。失敗すればステップＳ１１１へ進み、再度パワー設定条件を変更してリトライＯＰＣを繰り返す。ステップＳ１１３の判定で、リトライ数Ｒがその上限値Ｒｍａｘを超えた場合には、今回のＯＰＣはエラーと判断し、カウンタのエラー数Ｅに１を加算する（ステップＳ１１４）。なお、リトライ動作の繰り返しは試行回数にはカウントせず、リトライ終了時に試行回数に１を加算する。
【００３６】
１回分のＯＰＣを終了し、成功またはエラーの結果が判明すると、カウンタの成功数Ｓとエラー数Ｅの合算値（Ｓ＋Ｅ）、すなわちＯＰＣ試行回数を、予め定めた試行回数上限値Ｎｍａｘと比較する（ステップＳ１１５）。ＯＰＣ試行回数（Ｓ＋Ｅ）が上限値Ｎｍａｘを超えていなければ、次のＯＰＣの試行に進む。次のＯＰＣでは、テスト領域を移動させるために新たな開始アドレスを設定する（ステップＳ１１６）。具体的には、前回の開始アドレスＫから１６を減算し、これを新たな開始アドレスとすることで、前記図７に示される連続する領域に設定する。ここで１６を減算したのは、パワー調整領域の外周側から内周側に向かって１６セクタ（ＯＰＣ１回分の使用領域）だけ移動させるためである。そして、ステップＳ１０３に進みパワー設定の初期化を行い、次のＯＰＣを実施する。
【００３７】
複数回のＯＰＣを終了し、ＯＰＣ試行回数（Ｓ＋Ｅ）が上限値Ｎｍａｘを超えた場合には、カウンタの成功数Ｓを成功数下限値Ｓｍｉｎと比較する（ステップＳ１１７）。成功数Ｓがその下限値Ｓｍｉｎを超えていれば、ステップＳ１０８で算出した成功数分の最適記録パワーＰｏｐｔから、前記図６に示すようにその中央値Ｐｃを求め、最終的な最適記録パワー（代表値）を決定する（ステップＳ１１８）。成功数Ｓがその下限値Ｓｍｉｎを下回った場合には、一連のＯＰＣ処理はエラーと判定して終了する（ステップＳ１１９）。
【００３８】
このように実施例１の方法によれば、ステップＳ１１８にて、複数個の最適記録パワーＰｏｐｔの中央値Ｐｃを求め、これを最終的な最適記録パワーとして決定する。よって、複数個の最適記録パワーの中に真の最適パワーから大きく外れた値が含まれていてもその影響を受けにくくなり、真の最適パワーにより近い値を取得することが可能となる。
【実施例２】
【００３９】
図９は、本発明による最適記録パワーの決定方法の第２の実施例を示すフローチャートである。前記実施例１（図８）と同様に、対象はＲＷ系ディスクであり、複数回のＯＰＣからγ法にて最適記録パワーを求め、その中央値から最適記録パワー代表値を決定する。さらに本実施例２では、ある試行回数においてリトライ処理を実行した場合には、リトライ処理で用いたパワー設定変更条件を、次回の試行においても適用するようにした。図９では、図８と同一のステップには同一の符号を付している。以下、図８と相違する箇所について説明する。
【００４０】
ステップＳ１１５にて、ＯＰＣ試行回数（Ｓ＋Ｅ）が上限値Ｎｍａｘを超えていなければ、次のＯＰＣの試行に進む。そのとき、現在のリトライ数Ｒが０か否かを判定する（ステップＳ１２１）。Ｒ＝０であれば、前回の試行はリトライなしに行われたものであり、Ｒ≠０であれば、前回の試行はリトライを含んで行われたものであることを示す。判定の結果、Ｒ≠０であれば、リトライ時のパワー設定変更値（ステップＳ１１１にて設定した最新の値）を読み出し、次のＯＰＣのパワー設定の初期値を変更する（ステップＳ１２２）。そして、開始アドレス設定（ステップＳ１１６）と、リトライ数Ｒの初期化（ステップＳ１０４）の後、次のＯＰＣを開始する。
【００４１】
前述したように、パワー設定を変更する原因は温度やドライブ性能の変動によることが多い。従って、実施例１のように各ＯＰＣにおいてパワー設定の初期値を予め保持している値に戻す（ステップＳ１０３）と、毎回同じリトライが実施される可能性が高く、ＯＰＣ時間の増大につながる。そこで本実施例のように、前回のリトライＯＰＣでパワー設定変更が行われた場合（ステップＳ１１１）にはその値でパワー初期値を変更することにより、ＯＰＣが一発で成功する可能性が高く、無駄なリトライ処理が行われることを防止してＯＰＣ時間の短縮を図ることができる。
【実施例３】
【００４２】
図１０は、本発明による最適記録パワーの決定方法の第３の実施例を示すフローチャートである。前記実施例１（図８）と同様に、対象はＲＷ系ディスクであり、複数回のＯＰＣからγ法にて最適記録パワーを求め、その中央値から最適記録パワー代表値を決定する。さらに本実施例３では、各ＯＰＣのテスト領域を、前記図７に示したように互いに不連続の領域（飛び領域）に設定するようにしたものである。図１０では、図８と同一のステップには同一の符号を付している。以下、図８と相違する箇所について説明する。
【００４３】
ステップＳ１１５にて、ＯＰＣ試行回数（Ｓ＋Ｅ）が上限値Ｎｍａｘを超えていなければ、次のＯＰＣの試行に進む。そして、次回の開始アドレスの設定では、前回の開始アドレスから１６×ｉ（ｉは２以上の整数）だけ減算した値に設定している（ステップＳ１３１）。これにより、次回のＯＰＣを不連続の領域（飛び領域）で実行させる。
【００４４】
ちなみに実施例１（図８）では、前回の開始アドレスＫから１６を減算し、前記図７に示される連続する領域に設定していた（ステップＳ１１６）が、ディスクの汚れや異物の付着、ディスクの欠陥などが存在すると、ＯＰＣテストが連続して失敗したり、連続して大きな誤差が含まれる恐れがある。これに対し本実施例では、各テスト領域が飛び領域となっているので、ディスク上に大きな欠陥が存在しても、ＯＰＣテストが連続して失敗したり、連続して大きな誤差が含まれることがなくなる。
【実施例４】
【００４５】
図１１は、本発明による最適記録パワーの決定方法の第４の実施例を示すフローチャートである。対象はＲ系（１回記録）ディスクであり、複数回のＯＰＣからβ法にて最適記録パワーを求め、前記図６に示したように複数の最適記録パワーの中央値から代表値を決定するものである。図１１では、実施例１（図８）と同一のステップには同一の符号を付している。以下、図８と相違する箇所について説明する。
【００４６】
Ｒ系ディスクにおいては、同じ領域に重ねて記録することができないため、実施例１（図８）における直流消去（ステップＳ１０５）を排除している。また、リトライ時においても毎回異なる領域を使用する必要があるので、次の開始アドレスを設定して連続する領域に移動させるようにした（ステップＳ１４１）。
【００４７】
実施例４においても、ステップＳ１１８にて、複数個の最適記録パワーＰｏｐｔの中央値Ｐｃを求め、これを最終的な最適記録パワーとして決定する。よって、複数個の最適記録パワーの中に真の最適パワーから大きく外れた値が含まれていてもその影響を受けにくくなり、真の最適パワーにより近い値を取得することが可能となる。
【００４８】
以上、本発明による最適記録パワーの決定方法の各実施例を説明したが、各実施例の技術を適宜組み合わせることも可能である。例えば、実施例２（図９）におけるパワー設定初期値変更のステップ（ステップＳ１２２）を実施例３（図１０）や実施例４（図１１）に導入すれば、各実施例の効果が複合化され、より優れた最適記録パワー決定技術を提供できる。
【符号の説明】
【００４９】
１…光ディスク、
２…スピンドルモータ、
３…光ピックアップ、
４…信号処理部、
５…制御部（コントローラ）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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