(57)【要約】【課題】  広い設置面積を必要とすることなく、多量の試験片を正確に供給位置まで移動させて供給することができ、さらには、試験片を確実にチャックに保持させて搬送することが可能な試験片供給装置を提供することを目的とする。【解決手段】  試験片供給装置は、第１スプロケット１１と、第２スプロケット１２と、これらの第１スプロケット１１および第２スプロケット１２に巻回された無端状のチェーン１３と、このチェーン１３に一定ピッチで付設された試験片支持部材１５とから成る搬送機構を備える。試験片支持部材１５が第１スプロケット１１の上方において鉛直方向を向く前には、試験片１００は倒れ防止部材により試験片支持部材１５との間で挟持される。【選択図】        図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
材料試験機に試験片を搬送するチャックに対して試験片を供給するための試験片供給装置であって、
その外形が円形をなす第１の巻回部材と、
前記第１の巻回部材の下方に配置され、その外形が円形をなす第２の巻回部材と、
前記第１の巻回部材および前記第２の巻回部材の外周部に巻回された無端状の索体と、
前記第１の巻回部材および前記第２の巻回部材の少なくとも一方を回転駆動する駆動機構と、
前記索体に対して一定ピッチで配設された試験片支持部材と、
前記索体とともに移動した試験片支持部材が前記第１の巻回部材の上方において鉛直方向を向く、前記チャックに対する試験片の供給位置付近において、当該試験片支持部材との間で試験片を挟持する倒れ防止部材と、
を備えたことを特徴とする試験片供給装置。
【請求項２】
請求項１に記載の試験片供給装置において、
前記索体に対する前記試験片支持部材の配設ピッチをＰとし、前記第１の巻回部材の半径をＲとしたときに、Ｐは、［π・Ｒ／４］以上、［π・Ｒ／２］以下である試験片供給装置。
【請求項３】
請求項２に記載の試験片供給装置において、
前記倒れ防止部材は、
支軸を中心に揺動可能なアーム部材と、
前記アーム部材の先端に付設された当接部材とを備え、
当該当接部材と前記試験片支持部材との間に試験片を挟持する試験片供給装置。
【請求項４】
請求項３に記載の試験片供給装置において、
前記アーム部材の角度位置に基づいて、前記試験片が前記チャックに対する試験片の供給位置に配置されたことを検出するセンサを備えた試験片供給装置。
【請求項５】
請求項４に記載の試験片供給装置において、
前記試験片支持部材に支持された試験片の側方に近接して配置された第１のガイド部材と、
前記試験片支持部材に支持された試験片に対して前記第１のガイド部材とは逆側の側方に近接するガイド位置と、当該ガイド位置から離隔した退避位置との間を移動可能な第２のガイド部材と、
を備える試験片供給装置。
【請求項６】
請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の試験片供給装置において、
前記索体はチェーンであり、前記第１、第２の巻回部材はスプロケットである試験片供給装置。
【請求項７】
請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の試験片供給装置において、
前記索体は同期ベルトであり、前記第１、第２の巻回部材は同期プーリである試験片供給装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、材料試験機に試験片を搬送するチャックに対して試験片を供給するための試験片供給装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
材料試験機に試験片を供給するための試験片供給装置としては、試験片を平積みしておき、その最上部の試験片を吸着保持して材料試験機まで搬送する平積み方式の試験片供給装置が提案されている。また、試験片をベルトコンベアにより搬送して供給するコンベア方式の試験片供給装置や、固定式の棚に試験片をストックする試験片供給装置、あるいは、パレット内に試験片をストックする試験片供給装置も提案されている。
【０００３】
また、特許文献１には、円筒状のワークマガジンの円周面にスリット状の試験片保持部を放射状に形成するとともに、この試験片保持部内に板バネを配設し、この板バネの作用により、試験片を挟み込んで保持するようにした試験片の供給装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平４−１２５４４５公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述した試験片を吸着保持して搬送する平積み方式の試験片供給装置においては、試験片として薄板状のものを採用した場合に、試験片の隙間に油等が入り込み試験片同士が張り付いて、複数枚の試験片を同時に供給してしまう場合がある。また、試験片自身に曲がりやねじれがある場合には、試験片を重畳して配置したときに試験片が傾いて荷崩れを起こす場合がある。また、比較的重量の大きい試験片を供給するときには、試験片の表面にスケール等が刻設されている場合のように、試験片の表面が平滑化されていない場合には、試験片の搬送中に試験片が落下してしまう場合がある。
【０００６】
上述したコンベア方式の試験片供給装置の場合には、広い設置面積を必要とすることから、ストックできる試験片の数に比較的厳しい制限が生ずる。また、上述した固定式の棚に試験片をストックする試験片供給装置においては、試験片の取り出し位置が試験片毎に異なることから、試験片を搬送する搬送機構が複雑となる。さらに、上述したパレット内に試験片をストックする試験片供給装置においては、特に試験片が大型化した場合に、パレット自身も大きくなり、取扱いが難しいという問題を生ずる。
【０００７】
一方、上述した特許文献１に記載の試験片供給装置の場合には、板バネの作用により試験片を挟み込んで保持する方式であることから、試験片の厚みが変更された場合には、試験片を適切に保持することが困難となる。さらに、試験片をチャックにより挟持して搬送するためには、試験片を保持するためのスリット状の試験片保持部間の距離を大きくする必要があることから、円筒状のワークマガジンの円周面に形成可能な試験片保持部の数が限定され、多数の試験片を供給することは困難であるという問題も生ずる。
【０００８】
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、広い設置面積を必要とすることなく、多量の試験片を正確に供給位置まで移動させて供給することができ、さらには、試験片を確実にチャックに保持させて搬送することが可能な試験片供給装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
請求項１に記載の発明は、材料試験機に試験片を搬送するチャックに対して試験片を供給するための試験片供給装置であって、その外形が円形をなす第１の巻回部材と、前記第１の巻回部材の下方に配置され、その外形が円形をなす第２の巻回部材と、前記第１の巻回部材および前記第２の巻回部材の外周部に巻回された無端状の索体と、前記第１の巻回部材および前記第２の巻回部材の少なくとも一方を回転駆動する駆動機構と、前記索体に対して一定ピッチで配設された試験片支持部材と、前記索体とともに移動した試験片支持部材が前記第１の巻回部材の上方において鉛直方向を向く、前記チャックに対する試験片の供給位置付近において、当該試験片支持部材との間で試験片を挟持する倒れ防止部材とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記索体に対する前記試験片支持部材の配設ピッチをＰとし、前記第１の巻回部材の半径をＲとしたときに、Ｐは、［π・Ｒ／４］以上、［π・Ｒ／２］以下である。
【００１１】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、前記倒れ防止部材は、支軸を中心に揺動可能なアーム部材と、前記アーム部材の先端に付設された当接部材とを備え、当該当接部材と前記試験片支持部材との間に試験片を挟持する。
【００１２】
請求項４に記載の発明は、請求項３に記載の発明において、前記アーム部材の角度位置に基づいて、前記試験片が前記チャックに対する試験片の供給位置に配置されたことを検出するセンサを備える。
【００１３】
請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の発明において、前記試験片支持部材に支持された試験片の側方に近接して配置された第１のガイド部材と、前記試験片支持部材に支持された試験片に対して前記第１のガイド部材とは逆側の側方に近接するガイド位置と、当該ガイド位置から離隔した退避位置との間を移動可能な第２のガイド部材とを備える。
【００１４】
請求項６に記載の発明は、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の発明において、前記索体はチェーンであり、前記第１、第２の巻回部材はスプロケットである。
【００１５】
請求項７に記載の発明は、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の発明において、前記索体は同期ベルトであり、前記第１、第２の巻回部材は同期プーリである。
【発明の効果】
【００１６】
請求項１に記載の発明によれば、広い設置面積を必要とすることなく、多量の試験片を正確に供給位置まで移動させて供給することができるとともに、各試験片を供給位置において確実にチャックに保持させて搬送することが可能となる。
【００１７】
請求項２に記載の発明によれば、索体に対する試験片支持部材の配設ピッチＰと第１の巻回部材の半径Ｒとの関係を適切に維持することにより、多量の試験片を供給可能としながら、チャックと近接する他の試験片や試験片支持部材との干渉を防止して、試験片の供給位置に移動した試験片をチャックにより容易に保持することが可能となる。
【００１８】
請求項３に記載の発明によれば、アーム部材と当接部材からなる倒れ防止部材の作用により、試験片を供給位置において確実に固定することが可能となる。
【００１９】
請求項４に記載の発明によれば、アーム部材の角度位置に基づいて試験片がチャックに対する試験片の供給位置に配置されたことを検出することができることから、倒れ防止部材を利用して試験片の供給位置への移動を認識することが可能となる。
【００２０】
請求項５に記載の発明によれば、試験片の側方に近接して配置された第１のガイド部材と、試験片に対して第１のガイド部材とは逆側の側方に近接するガイド位置に移動可能な第２のガイド部材とにより、試験片の位置ずれを防止することが可能となる。
【００２１】
請求項６および請求項７に記載の発明によれば、チェーンまたは同期ベルトからなる索体の位置を正確に制御することができることから、試験片を支持する試験片支持部材を正確に移動させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】この発明の第１実施形態に係る試験片供給装置の正面扉２３を閉止してみた正面図である。
【図２】この発明の第１実施形態に係る試験片供給装置の正面扉２３を開放してみた正面図である。
【図３】この発明の第１実施形態に係る試験片供給装置の側面概要図である。
【図４】この発明の第１実施形態に係る試験片供給装置における第１スプロケット１１付近の拡大図である。
【図５】試験片支持部材１５上に試験片１００を載置した状態を示す平面図である。
【図６】第１スプロケット１１の半径Ｒと、チェーン１３に付設された試験片支持部材１５のピッチＰとの関係を示す説明図である。
【図７】この発明の第２実施形態に係る試験片供給装置における第１スプロケット１１付近の拡大図である。
【図８】第１スプロケット１１、１１１および第２スプロケット１２、１１２とチェーン１３との配置関係を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、この発明の第１実施形態に係る試験片供給装置の正面扉２３を閉止してみた正面図であり、図２は、この発明の第１実施形態に係る試験片供給装置の正面扉２３を開放してみた正面図である。また、図３は、この発明の第１実施形態に係る試験片供給装置の側面概要図である。
【００２４】
この試験片供給装置は、材料試験機に試験片１００を搬送するチャック４１に対して試験片１００を供給するためのものである。この試験片供給装置は、第１の巻回部材としての第１スプロケット１１と、第２の巻回部材としての第２スプロケット１２と、これらの第１スプロケット１１および第２スプロケット１２に巻回された索体としての無端状のチェーン１３と、このチェーン１３に一定ピッチで付設された試験片支持部材１５とから成る搬送機構が、フレーム２５内に左右一対、収納された構成を有する。試験片１００は、左右一対の試験片支持部材１５によりその下面を支持されて搬送される。
【００２５】
各第２スプロケット１２は、図２に示す駆動軸３７と連結されている。この駆動軸３７は、スプロケット３６、チェーン３５およびスプロケット３４を介して、減速器３２の回転軸３３に連結されており、この減速器３２の回転軸３３はモータ３１の駆動により回転する。このため、第１スプロケット１１および第２スプロケット１２に各々巻回された一対のチェーン１３は、第１スプロケット１１および第２スプロケット１２の回転に伴って互いに同期して移動し、これにより、チェーン１３に付設された試験片支持部材１５も、互いに同期して移動する。このため、試験片１００は、左右一対の試験片支持部材１５にその左右両端の下面を支持された状態で搬送される。
【００２６】
図４は、この発明の第１実施形態に係る試験片供給装置における第１スプロケット１１付近の拡大図である。
【００２７】
上述したチェーン１３はいわゆるローラチェーンであり、チェーン１３の各コマを構成する外側プレート１４に対して、その断面が略Ｌ字状の試験片支持部材１５が付設されている。なお、試験片支持部材１５は、各コマを構成する外側プレート１４に対して一つおきに付設されている。
【００２８】
各チェーン１３に付設された一対の試験片支持部材１５が試験片１００の両端を支持した状態でチェーン１３とともに移動し、この試験片支持部材１５が第１スプロケット１１の上方において鉛直方向を向く前には、この試験片１００は、倒れ防止部材により試験片支持部材１５との間で挟持される。なお、試験片支持部材１５が第１スプロケット１１の上方において鉛直方向を向く位置は、試験片１００をチャック４１に対して供給する試験片１００の供給位置となる。
【００２９】
前記倒れ防止部材は、レバー５２と、このレバー５２の先端に配設された支持杆５３と、レバー５２に付設されたドッグ５６とから構成され、支軸５１を中心に揺動するアーム部材５４を備える。このアーム部材５４における支持杆５３の先端には、ベアリングからなる当接部材５５が配設されている。また、このアーム部材５４は、ばね５８の作用により、支軸５１を中心に図４における時計方向を向く付勢力を付与されている。そして、このアーム部材５４は、図４において仮想線で示すように、そのレバー５２の下端部がストッパ５９と当接する位置で停止する。
【００３０】
図４において仮想線で示すように、倒れ防止部材は、ばね５８の作用により、通常の状態においてはアーム部材５４におけるレバー５２の下端部がストッパ５９と当接する位置で停止している。この状態において、その下面両端部を試験片支持部材１５により支持された試験片１００がチェーン１３とともに上昇し、試験片支持部材１５が第１スプロケット１１の外径に対応して傾斜することにより、試験片１００が水平方向に対して略４５度程度の角度となったときに、この試験片１００は、倒れ防止部材における当接部材５５と当接する。
【００３１】
この状態において、さらに試験片１００を支持した試験片支持部材１５がチェーン１３とともに移動した場合には、アーム部材５４はばね５８の付勢力に抗して図４における反時計方向に回動する。そして、さらに試験片１００を支持した試験片支持部材１５の傾斜角度が大きくなり、試験片１００がほぼ鉛直方向を向いたときには、図４において実線で示すように、アーム部材５４におけるドッグ５６が近接スイッチ５７と対向する位置に移動し、この近接スイッチ５７がドッグ５６を検出する。
【００３２】
すなわち、この試験片供給装置においては、倒れ防止部材におけるアーム部材５４の角度位置に基づいて、試験片１００が垂直方向を向く、チャック４１に対する試験片１００の供給位置に配置されたことを近接スイッチ５７により検出している。このため、倒れ防止部材を利用して試験片１００の供給位置への移動を認識することが可能となる。
【００３３】
そして、試験片１００がチャック４１に対する供給位置に移動した状態においては、この試験片１００は第１スプロケット１１の作用により、他の試験片１００や試験片支持部材１５とは離隔した起立状体となる。このため、チャック４１における一対の挟持部４２がこの試験片１００の後段の他の試験片１００や試験片支持部材１５と干渉することなく、この試験片１００を一対の挟持部４２により挟持することが可能となる。
【００３４】
以上のような構成を有する試験片供給装置を使用して材料試験機に試験片１００を供給するときには、図１に示す正面扉２３を開放し、一対のチェーン１３を停止させた状態で、各試験片支持部材１５上に試験片１００を載置して、試験片１００の両端部下面を各試験片支持部材１５により支持する。このとき、各試験片１００は、チェーン１３に付設された試験片支持部材１５のうち、チェーン１３の上昇側にある試験片支持部材１５上に載置される。すなわち、チェーン１３に付設された試験片支持部材１５のうち、図１に示す正面扉２３側に配置された試験片支持部材１５上に試験片１００が載置される。しかる後、再度正面扉２３を閉止する。
【００３５】
図５は、試験片支持部材１５上に試験片１００を載置した状態を示す平面図である。
【００３６】
試験片１００の下面両端部は、各々チェーン１３に付設された一対の試験片支持部材１５により支持されている。そして、一対の試験片支持部材１５により支持された試験片１００の側方には、一対の固定ガイド部材２１が配設されている。この固定ガイド部材２１は、図５に示すように、平面視において、試験片１００の外径と対応した形状を有する。また、この固定ガイド部材２１は、図２に示すように、一対のチェーン１３と平行に配置された長尺状の形状を有する。
【００３７】
一方、図５に示すように、一対の試験片支持部材１５により支持された試験片１００に対して、一対の固定ガイド部材２１とは逆側の側方には、一対の移動ガイド部材２２が配設されている。この移動ガイド部材２２は、正面扉２３の裏面側に付設されており、この正面扉２３を開閉することにより、試験片１００の側方に近接するガイド位置と、当該ガイド位置から離隔した退避位置との間を移動可能となっている。すなわち、上述したように、試験片１００を試験片支持部材１５上に載置して正面扉２３を閉止した場合には、移動ガイド部材２２が正面扉２３とともに移動して、図５に示すガイド位置にセットされる。
【００３８】
以上のようにして複数の試験片１００を試験片供給装置に収納した後に、試験片の供給を開始する。このときには、モータ３１の駆動により第２スプロケット１２が回転し、そこに巻回されたチェーン１３が移動することにより、試験片１００が、固定ガイド２１および移動ガイド２２により案内されて搬送される。そして、図４に示すように、試験片１００が第１スプロケット１１の外周部に到達すれば、倒れ防止部材の作用により、この試験片１００は当接部材５５と試験片支持部材１５との間に挟持され、第１スプロケット１１の上端部で鉛直方向を向くチャック４１への供給姿勢となる。
【００３９】
試験片１００がこのような試験片１００の供給位置に到達したことは、近接スイッチ５７により検出される。そして、近接スイッチ５７からの信号により、チェーン１３の移動が停止される。そして、試験片１００は、チャック４１における一対の挟持部４２により挟持され、後段の材料試験機まで搬送される。このときには、図４に示すように、供給位置に到達した試験片１００の両側には、他の試験片１００や試験片支持部材１５は存在しない。このため、他の試験片１００や試験片支持部材１５とチャック４１とが干渉することを防止して、各試験片１００を供給位置において確実にチャック４１に保持させて搬送することが可能となる。
【００４０】
図６は、第１スプロケット１１の半径Ｒと、チェーン１３に付設された試験片支持部材１５のピッチＰとの関係を示す説明図である。なお、ここで述べる第１スプロケット１１の半径Ｒとは、そのピッチ円の半径をさす。
【００４１】
図６（ａ）に示す実施形態においては、第１スプロケット１１の外周部に対して、９０度の角度毎に試験片支持部材１５が配置される場合を示している。この場合には、第１スプロケット１１の円周（ピッチ円の円周）が試験片支持部材１５のピッチの４倍となることから、
【００４２】
２πＲ＝４Ｐ
となり、
Ｐ＝π・Ｒ／２となる。
ここで、πは円周率である。
【００４３】
このような関係となったときには、第１スプロケット１１の上端部で鉛直方向を向いた試験片１００の両側には他の試験片１００や試験片支持部材１５が全く存在しないことになり、他の試験片１００や試験片支持部材１５とチャック４１とが干渉することを防止して、各試験片１００を供給位置において確実にチャック４１に保持させて搬送することが可能となる。
【００４４】
一方、図６（ｂ）に示す実施形態においては、第１スプロケット１１の外周部に対して、４５度の角度毎に試験片支持部材１５が配置される場合を示している。この場合には、第１スプロケット１１の円周（ピッチ円の円周）が試験片支持部材１５のピッチの８倍となることから、
【００４５】
２πＲ＝８Ｐ
となり、
Ｐ＝π・Ｒ／４となる。
【００４６】
このような関係となったときには、第１スプロケット１１の上端部で鉛直方向を向いた試験片１００の両側から離隔した位置に他の試験片１００や試験片支持部材１５が配置されることから、図６（ａ）に示す実施形態と同様、他の試験片１００や試験片支持部材１５とチャック４１とが干渉することを防止して、各試験片１００を供給位置において確実にチャック４１に保持させて搬送することが可能となる。
【００４７】
ここで、Ｐが［π・Ｒ／２］より大きくなった場合には、試験片支持部材１５のピッチＰが必要以上に大きく設定されたことになり、この試験片供給装置により供給しうる試験片１００の数量が少なくなってしまう。これに対して、Ｐが［π・Ｒ／４］より小さくなったときには、チャック４１により試験片１００を搬送するときに、他の試験片１００や試験片支持部材１５とチャック４１とが干渉する可能性がある。この発明においては、試験片支持部材１５のピッチＰを、［π・Ｒ／４］以上、［π・Ｒ／２］以下とすることにより、多量の試験片１００を供給可能としながら、チャック４１と近接する他の試験片１００や試験片支持部材１５との干渉を防止して、試験片１００の供給位置に移動した試験片１００をチャック４１により容易に保持することを可能としている。
【００４８】
次に、この発明の他の実施形態について説明する。図７は、この発明の第２実施形態に係る試験片供給装置における第１スプロケット１１付近の拡大図である。なお、上述した第１実施形態と同様の部材については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
【００４９】
上述した第１実施形態においては、チェーン１３の各コマを構成する外側プレート１４に対して、一つおきに試験片支持部材１５を付設している。これに対して、この第２実施形態においては、チェーン１３の各コマ毎の外側プレート１４に対して、試験片支持部材１５を付設している。
【００５０】
また、この第２実施形態における倒れ防止部材は、支軸６１を中心に揺動するアーム部材６４を備える。このアーム部材６４の先端には、当接部材６５が配設されている。また、このアーム部材６４は、ばね６８の作用により、支軸６１を中心に図７における時計方向を向く付勢力を付与されている。試験片１００を支持した試験片支持部材１５がチェーン１３とともに移動した場合には、アーム部材６４はばね６８の付勢力に抗して図７における反時計方向に回動する。そして、さらに試験片１００を支持した試験片支持部材１５の傾斜角度が大きくなり、試験片１００がほぼ鉛直方向を向いたときには、アーム部材６４がマイクロスイッチ６７を押圧し、これにより、試験片１００が垂直方向が、チャック４１に対する試験片１００の供給位置に配置されたことが検出される。
【００５１】
図８は、第１スプロケット１１、１１１および第２スプロケット１２、１１２とチェーン１３との配置関係を示す説明図である。
【００５２】
上述した第１、第２実施形態においては、いずれも、図８（ａ）に示すように、第１スプロケット１１の下方に第２スプロケット１２を配置し、これらの第１スプロケット１１および第２スプロケット１２に対して、チェーン１３を巻回している。しかしながら、図８（ｂ）に示すように、第１スプロケット１１１および第２スプロケット１１２以外に、第３スプロケット１１３をも配設し、これら３個のスプロケットに対してチェーン１３を巻回するようにしてもよい。
【００５３】
これらの場合において、第２スプロケット１２、１１２は、第１スプロケット１１、１１１の略下方位置に配置されればよい。また、試験片１００は、第２スプロケット１２、１１２から第１スプロケット１１、１１１に向かって上昇するチェーン１３の領域に配置された試験片支持部材１５上に載置されればよい。
【００５４】
また、上述した実施形態においては、この発明に係る索体としてチェーンを使用するとともに、第１、第２の巻回部材としてスプロケットを使用している。しかしながら、この発明に係る索体として同期ベルトを使用するとともに、第１、第２の巻回部材として同期プーリを使用してもよい。このときには、第１の巻回部材の半径は、同期プーリのピッチ円の半径となる。
【符号の説明】
【００５５】
１１      第１スプロケット
１２      第２スプロケット
１３      チェーン
１４      外側プレート
１５      試験片支持部材
２１      固定ガイド部材
２２      移動ガイド部材
２３      正面扉
３１      モータ
３２      減速器
３７      駆動軸
４１      チャック
４２      挟持部
５１      支軸
５２      レバー
５３      支持杆
５４      アーム部材
５６      ドッグ
５７      近接スイッチ
５８      ばね
６１      支軸
６４      アーム部材
６７      マイクロスイッチ
６８      ばね
１００    試験片
【図１】
2011112586.tif 000003
【図２】
2011112586.tif 000004
【図３】
2011112586.tif 000005
【図４】
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【図５】
2011112586.tif 000007
【図６】
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【図７】
2011112586.tif 000009
【図８】
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