(57)【要約】【課題】部品装着前にリード浮き検査装置によりリード浮き検査を実施するも、生産性低下を抑えながら融通性のある検査モードの環境設定ができる電子部品装着装置を提供すること。【解決手段】  ＣＲＴ６４の「リード浮き検査間隔設定」画面上で「検査実行モード指定」として「モード２」を選択入力し、「新ロット内初回強制実行指定」として「実施する」とし、「連続実行回数」を「６」とし、また「検査インターバル１」を「１／２」として、所定の電子部品について設定すると、６回連続して検査を進める過程で、リード浮き検査ユニット５０による検査の結果、異常が発生すると、連続検査がふりだし処理される。【選択図】図１４
2011119777.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
部品供給装置から供給される電子部品を取出した吸着ノズルがプリント基板上に該電子部品を装着する前に、リード浮き検査装置によりリード浮きを検査し、良品のみ装着するようにした電子部品装着装置において、前記電子部品の種類毎に前記リード浮き検査装置による検査を所定取出し回数毎に行なうように設定するための第１の設定装置と、前記電子部品の種類毎に前記リード浮き検査装置による検査を所定回数連続して行なうように設定するための第２の設定装置と、通常は前記第１の設定装置で設定された所定取出し回数毎に前記リード浮き検査装置による検査を行うも、その検査結果が不良と判定されたときには前記第２の設定装置で設定された所定回数連続して検査を行なうように制御すると共に、連続して前記検査を行なっているとき前記第２の設定装置で設定された所定回数に達する前の前記検査により検査結果が不良と判定されたときにはその時点から前記所定回数連続して検査を行なうように制御する制御装置を設けたことを特徴とする電子部品装着装置。
【請求項２】
新ロットに切換わった前記電子部品を初めて取り出す場合には、強制的に該電子部品について前記リード浮き検査装置により検査するように制御する第２の制御装置を設けたことを特徴とする請求項１に記載の電子部品装着装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、移動可能な装着ヘッドを設け、該装着ヘッドに電子部品を吸着してプリント基板上に装着する吸着ノズルが設けられた電子部品装着装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の電子部品装着装置で、例えば特許文献１などに多ピンリード゛付き部品のリフロー工程での半田付け不良(いわゆるリード浮きで、足の上下曲りに起因)の発生を防止するため、部品実装前にリード浮き検査を実施して、曲りの許容値を超えるものは装着しないように電子部品装着装置にリード浮き検査ユニットを設ける技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−１０２７９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来、前記検査の実施の有無は、部品種毎に「実施する／しない」設定をしており、実施対象となった部品は、全数検査が実施される。そのため、装着前のリード浮き検査であるがゆえに、その検査処理時間がスループットに影響を与え、生産性低下につながっていた。しかしながら実際のところ、リード浮き不良の発生には部品のロット的な背景もあり、必ずしも全数検査を必要ではない等の考えもあり、もっと融通性のある検査モードの環境設定が望まれている。
【０００５】
そこで本発明は、部品装着前にリード浮き検査装置によりリード浮き検査を実施するとき、生産性低下を抑えながら融通性のある検査モードの環境設定ができる電子部品装着装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
このため第１の発明は、部品供給装置から供給される電子部品を取出した吸着ノズルがプリント基板上に該電子部品を装着する前に、リード浮き検査装置によりリード浮きを検査し、良品のみ装着するようにした電子部品装着装置において、前記電子部品の種類毎に前記リード浮き検査装置による検査を所定取出し回数毎に行なうように設定するための第１の設定装置と、前記電子部品の種類毎に前記リード浮き検査装置による検査を所定回数連続して行なうように設定するための第２の設定装置と、通常は前記第１の設定装置で設定された所定取出し回数毎に前記リード浮き検査装置による検査を行うも、その検査結果が不良と判定されたときには前記第２の設定装置で設定された所定回数連続して検査を行なうように制御すると共に、連続して前記検査を行なっているとき前記第２の設定装置で設定された所定回数に達する前の前記検査により検査結果が不良と判定されたときにはその時点から前記所定回数連続して検査を行なうように制御する制御装置を設けたことを特徴とする。
【０００７】
第２の発明は、新ロットに切換わった前記電子部品を初めて取り出す場合には、強制的に該電子部品について前記リード浮き検査装置により検査するように制御する第２の制御装置を設けたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、部品装着前にリード浮き検査装置によりリード浮き検査を実施するも、生産性低下を抑えながら融通性のある検査モードの環境設定ができる電子部品装着装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】電子部品装着装置の平面図である。
【図２】電子部品装着装置の右側面図である。
【図３】第２部品供給装置の正面図である。
【図４】リード浮き検査ユニットの検査原理を示す側面図である。
【図５】リード浮き検査ユニットの側面図である。
【図６】制御ブロック図である。
【図７】部品ライブラリ制御データ画面を示す図である。
【図８】リード浮き検査間隔設定画面を示す図である。
【図９】主としてモード１のフローチャートを示す図である。
【図１０】ルーチンＢを示す図である。
【図１１】ルーチンＸを示す図である。
【図１２】ルーチンＹを示す図である。
【図１３】ルーチンＤを示す図である。
【図１４】モード２のフローチャートを示す図である。
【図１５】ルーチンＺを示す図である。
【図１６】ルーチンＦを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下図面に基づいて、本発明の実施形態を説明する。図１は電子部品装着装置の平面図であり、図２は電子部品装着装置の右側面図であり、この電子部品装着装置１は、電子部品をプリント基板９に装着する装置本体２と、この装置本体２に比較的小さな電子部品を供給する第１部品供給装置３と、装置本体２に多リード部品など大きな電子部品を供給する第２部品供給装置４、４とを備えている。
【００１１】
そして、対向する前記第１部品供給装置３と第２部品供給装置４、４間には、基板搬送機構５を構成する供給コンベア６、位置決め部７及び排出コンベア８が設けられている。供給コンベア６は上流側装置より受けたプリント基板９を前記位置決め部７に搬送し、位置決め部７で図示しない位置決め機構により位置決めされた該基板９上に電子部品が装着された後、排出コンベア８に搬送される。
【００１２】
前記装置本体２は、基台１０と、該基台１０の前後の中央部に設けられる前記基板搬送機構５と、１つの装着ヘッド１１と基板認識カメラ（図示せず）とを搭載したヘッドユニット１２と、該ヘッドユニット１２をＸＹ方向に移動させるＸＹステージ１３とを備えている。そして、前記ＸＹステージ１３の作動により、装着ヘッド１１が第１部品供給装置３又は第２部品供給装置４、４に臨んで電子部品をピックアップし、この電子部品を位置決め部７上のプリント基板９上に装着する。
【００１３】
前記第１の部品供給装置３は、部品供給側の先端部がプリント基板９の搬送路に平行な基台１０の一の辺に平行の辺に臨むように該基台１０に連結具１４を介して着脱可能に配設され、連結具１４を解除して回動させた把手１５を引くとキャスタ１６により移動できる構成である。そして、前記第１部品供給装置３はカセット形式のテープフィーダ１７を多数並設したものであり、部品供給側の先端部が装着ヘッド１１をピックアップ領域に臨むように配設されており、各テープフィーダ１７はキャリアテープ（図示せず）に装填された電子部品を先端から１つずつ供給する。
【００１４】
尚、前記第１の部品供給装置３は、カセット形式のテープフィーダ１７を多数並設したものに限らず、スティック形式の供給装置やバルク形式の供給装置を使用してもよい。
【００１５】
そして、第２部品供給装置４、４は、前記第1部品供給装置３が臨む前記基台１０の一の辺に直角に交わる他の一の辺に臨むように配設される。この第２部品供給装置４、４では、多数個の電子部品をトレイＴの上に整列配置し、更にこのトレイＴを１個又は複数個、パレットＰに搭載し、このパレットＰをピックアップ領域に臨ませることで、電子部品を装置本体２に供給する。
【００１６】
次に、前記ヘッドユニット１２をＸＹ方向に移動させるＸＹステージ１３について、説明する。即ち、Ｘ方向に長いビーム２０がＹ軸モータの駆動によりネジ軸（図示せず）を回転させ、左右一対のガイド２１に沿ってＹ方向に移動し、該ビーム２０に対して装着ヘッド１１はＸ軸モータによりＸ方向に移動することとなる。
【００１７】
尚、前記装着ヘッド１１には４本の吸着ノズル２２を上下動させるための上下軸モータが搭載され、また鉛直軸周りに回転させるためのθ軸モータが搭載されている。したがって、前記装着ヘッド１１の各吸着ノズル２２はＸ方向及びＹ方向に移動可能であり、垂直線回りに回転可能で、かつ上下動可能となっている。
【００１８】
また、前記装着ヘッド１１には、電子部品を吸着する吸着ノズル２２が着脱自在に装着されている。ノズルストッカ２３には、交換のための吸着ノズル２２が電子部品の種類に応じて複数個備えられている。
【００１９】
前記ノズルストッカ２３の近傍には、吸着ノズル２２に吸着された電子部品の位置認識を行う部品認識カメラ２４が配設されている。即ち、吸着ノズル２２の軸心に対するずれ量が検出されて、その検出結果に基づきそのずれ量分だけ吸着ノズル２２を前記θ軸モータ、ＸＹステージ１３を駆動するＸ軸モータ及びＹ駆動モータにより補正移動させる。
【００２０】
次に、前記第２部品供給装置４について、図３に基づき以下詳述する。該第２部品供給装置４は、多数のパレットＰをストックすると共に、パレットＰを所定の移動レベル位置である引き出しレベル位置、即ちシュート３０の位置まで鉛直方向に搬送するエレベータ機構３１と、パレットＰをエレベータ機構３１から装置本体２のピックアップ領域まで水平方向に搬送するパレット導入機構３２とで構成されている。
【００２１】
前記エレベータ機構３１は、多数のパレットＰを上下方向に多数収容するパレットストッカ３３と、このパレットストッカ３３を介して各パレットＰを昇降させる昇降機構３４とで構成されている。このパレットストッカ３３は内部にパレットＰを載置する棚部材２９を上下方向に多数段配設して構成され、内側は開口され、この開口からパレットＰが装置本体２側に引き出される。
【００２２】
前記昇降機構３４は、パレットストッカ３３を保持する図外のフレームと、このフレームの一部に螺合してこれを昇降させるボールネジ３５と、このボールネジ３５の両側に配設された前記フレームのガイドレール３６と、前記ボールネジ３５を回転させる昇降モータ３７とで構成される。この昇降モータ３７を介してボールネジ３５が正逆回転することにより、フレームがガイドレール３６に案内されて昇降し、パレットストッカ３３が昇降するものである。
【００２３】
このように構成されたエレベータ機構３１による昇降動作では、パレットストッカ３３の所望の棚部材２９のレベル位置と、パレット導入機構３２のシュート３０のレベル位置とを合致させる。
【００２４】
パレット導入機構３２は、装置本体２の基台１０上に配設したシュート３０と、このシュート３０に沿って進退する係止アーム４２と、該係止アーム４２を進退させる駆動機構４３とで構成される。そして、係止アーム４２の先端には、パレットＰに係脱するフック４４が設けられており、駆動機構４３により係止アーム４２を前進させて、このフック４４をエレベータ機構３１に収容したパレットＰの先端に係止し、次に係止アーム４２を後退させて、パレットＰをシュート３０に沿ってピックアップ領域に導入する。
【００２５】
また、前記基台１０上にはリード浮き検査ユニット５０が設置されており、電子部品５１から突出するリード端子（以下、リードという）５２の浮き（上下方向への曲り）量が測定される。以下、リード浮き検査ユニット５０について詳述する。
【００２６】
部品供給装置４、４が供給する電子部品５１には図４に示すようにリード５２が突出されているタイプ（ＱＦＰ等と呼ばれているものである。）があるが、このリード５２の下端面は同一平面上になければならない。同一平面上になければ、プリント基板９に装着された場合に基板面から離れて浮いてしまうリード５２が発生し、そのような浮いたリード５２は基板９のランドと半田接合されないこととなってしまうからである。図４の場合は丸４のリード５２が他のリード５２よりも上方に曲っている。
【００２７】
図５に示すリード浮き検査ユニット５０はこのリード５２の浮きの程度を検出するものであり、一対のラインＣＣＤ５５が同一直線上に配設されている。図５に示すように、このユニット５５にはＬＥＤ等の光源５６が設けられ、この光源から発せられた光がラインＣＣＤ５５と同一方向に並ぶ1列のリード群に二方向から照射され、各リード５２から反射された光がレンズ５７を介してラインＣＣＤ５５上に照射され、各リード５２について一対のラインＣＣＤ５５に検出された投影位置の差がリード５２の浮き量として現れる。即ち、丸４のリード５２のみが上方に曲ってその下端位置が他のリード５２より上にある場合、その下端位置が他のリード５２の下端位置が形成する基準となる平面よりどれくらい離れているかが、浮き量として検出されるものである。左側ラインＣＣＤ５５では丸４のリード５２は左に寄って映り、右側ラインＣＣＤ５５では反対に寄って映り、浮き量とラインＣＣＤ５５の投影位置は、比例の関係にあるので浮き量が算出できるのである。
【００２８】
本実施形態では、基準となる平面より上方への曲りによる浮き量をプラスとして、下方への曲りによる浮き量をマイナスとして、算出している。このようにして算出された１個の電子部品５１における最大の浮き量と最小の浮き量の差を算出し、所定の許容値を超えないものを良品（ＯＫ）としている。どちらかの値が許容値を超える場合には、ＮＧと判定してプリント基板９には装着しないようにしている。
【００２９】
この算出及びＯＫ／ＮＧの判断はリード浮き検査ユニット５０及び後述するＣＰＵ６０の両者が協動して行っており、リード浮き検査ユニット５０は電子部品に関する数値情報を検出する検出手段としての役割を果たしている。
【００３０】
次に、電子部品装着装置１の制御系の構成について、図６に基づき説明する。電子部品装着装置１の各要素はＣＰＵ６０が統括制御しており、制御上のプログラムを格納するＲＯＭ６１及び各種プログラム及び各種データを格納するＲＡＭ６２がバスライン６３を介して接続されている。
【００３１】
また、ＣＰＵ６０には操作画面等を表示するＣＲＴ６４及び該ＣＲＴ６４の表示画面に形成された入力手段としてタッチパネル６５がインターフェース６６を介して接続されている。タッチパネル６５はＣＲＴ６４の画面上に任意にスイッチを表示する。また、浮き量検査ユニット５０及び部品認識カメラ２４がインターフェース６６を介してＣＰＵ６０に接続されている。
【００３２】
そして、管理者がＣＲＴ６４の画面上でタッチパネル６５を押圧して図７に示す電子部品の種類毎に部品ライブラリ制御データ画面を表示して、リード浮き検出を「実施する」とし、また許容値を「０．０５ｍｍ」として「リード浮き検査間隔指定データ編集」キースイッチを押圧すると、図８に示す「リード浮き検査間隔設定」画面が表示され、「検査実行モード指定」として「モード１」を選択入力すると、「検査インターバル１」で設定された間隔で、該当部品のリード浮き検査を実行するモードとなる。本モードは、部品供給メーカーの部品品質に対し、過去の実績から信頼性が見込めるような場合の適用で、全数チェックは過剰との判断に基づく運用スタンスである。
【００３３】
ここで、「検査インターバル１」の設定例について説明する。「１／１」と設定した場合は、装着前に全数検査（毎回検査）が実施される。また、抜き取り検査としたい場合には、１／３（３回に１回検査実行）、１／４（４回に１回検査実行）のように設定すればよい。本画面例では、１／４（４回に１回検査実行）と設定される。
【００３４】
そして、全数検査設定（１／１）でない場合、次のように検査環境のダイナミック変更指定が行える。即ち、所定間隔での抜き取り検査実行時に、リード浮き異常が検出された場合、その後の検査運用パターンをアレンジできるようにしている。すなわち、ＣＰＵ６０がそれまでの検査間隔より監視を強化するべく、検査間隔頻度を上げられるよう第二の設定である「検査インターバル２」に自動移行させるものである。これは、部品のロット的要因で発生したとの見地から、検査頻度を上げて、ＮＧ部品（検査不良部品）の発見と、製品への不良部品実装を食止めることを主目的とした展開である。
【００３５】
この場合の自動アレンジ動作を説明する。検査間隔を切替える前に、集中的に連続検査を所定回数義務付ける「連続実行回数」データもここで作用してくる。このデータ値に従い、次の検査パターンになる。即ち、連続実行回数が「１」の場合（設定データ範囲は１から９９９まで可能）には異常検出された直後の同部品のリード浮き検査を実行し、ＯＫの場合には、それ以降の検査間隔を「検査インターバル２」に切替えて実行していく。異常検出された場合は、管理を初期化して連続検査を繰返す。
【００３６】
そして、連続実行回数に「２以上」の値が設定されている場合には、その後の同部品吸着毎にリード浮き検査を指定回数継続して実行する。その間に異常検出された場合は、それまでの検査回数を初期化して、再度指定されている連続実行回数分の連続継続検査を行う。指定回数分の連続検査が全てＯＫとなった場合は、それ以降の検査間隔を「検査インターバル２」に切替えて実行する。
【００３７】
ここで、「検査インターバル１」と「検査インターバル２」の関係であるが、後者の設定頻度の方を高くして運用する。異常発生が起きた時点で、スポット的に集中検査を義務付け、それ以降は抜き取り検査頻度を上げて、処方する運用スタイルである。連続実行回数が「１」や「２以上」の値が設定されている場合、ともに「検査インターバル２」に従う検査間隔に移行した後に、その抜き取り検査で異常になった場合は、同様に連続実行回数指定に基づく前述した例外検査が行われる。スポット集中検査で異常があれば、ふりだしからの連続検査が義務付けられ、その後所定の検査回数に達するまで正常判定された場合には、再度「検査インターバル２」による抜き取り検査に戻るものである。
【００３８】
次に、「検査実行モード指定」が「モード２」の場合について、以下説明する。この「モード２」は、全数検査実行モードで、良品検出が安定して継続するようなら、検査間隔を間引いていくスタイルであり、「モード１」とは逆のスタンスでの検査モードである。初めて使用する部品や、部品メーカーに対し、部品品質に対する経験値を持っていないような場合に適用される運用パターンである。検査のインターバル設定データは、「モード１」と同じデータを使用するが、その運用形態は少し異なる。
【００３９】
先ず最初の検査手順は、「連続実行回数」で設定された回数に従い、該当部品のリード浮き検査を連続して実施する検査運用が義務付けられる。連続検査回数の設定値に到達する前に、リード浮き異常が発生した場合には、それまで検査してきた回数をふりだしに戻して（初期化して）、再度初めから連続検査回数に到達するまで、連続検査を実行していくものである。
【００４０】
そして、連続検査回数に到達するまで、継続して該当部品が良品判定された場合に、全数検査から、抜き取り検査に移行させてもよいとする場合には「検査インターバル１」にて、その後の間引き検査頻度を指定する。
【００４１】
ここで、「検査インターバル１」の設定例について説明すると、全数検査を常に継続実施したい場合には、１／１設定にする。２回に１回の検査に間引きたい場合は１／２、５回に１回に間引きたい場合は１／５のように「検査インターバル１」を設定する。抜き取り検査に移行後、異常検出された場合は、直ちに最初の全数検査に戻し、同様の検査パターンを繰返していくものである。
【００４２】
次に、「新ロット内初回強制実行指定」について説明するが、「実施する／実施しない」のいずれかを指定するものである。これは、検査インターバル設定に基づいて行われる抜き取り検査において、トレイ供給部品のように、同一トレイＴ内の部品を全て吸着後、自動的に他の同一品種スペアである新しいトレイＴへ切替えて、自動運転を継続していく際に、検査インターバル設定の間隔設定に関係なく、新ロット内の初部品ということで、強制的にこの最初の部品検査を義務付けるか否かを指定するデータである。また、テープフィーダ１７で供給する場合には、同一種類の電子部品を収納供給する他のテープフィーダ１７に切替えるときに、新ロット内の初部品という扱いをすることとなる。
【００４３】
「実施する」に設定された場合には、前述した処理が実行されるが、この場合、それまで管理されてきた検査間隔決定のための制御内部データは強制的に初期化され、インターバル管理はふりだしに戻される。「実施しない」設定の場合には、それまでのトレイＴ内の全ての電子部品を取出しに至るまでに管理されてきた検査間隔決定用の内部データをそのまま継続して、抜き取り検査を繰返していく。このデータの設定は、「モード１」／「モード２」設定に関わらず、双方に反映される。
【００４４】
以上の構成により、以下動作について説明するが、管理者がＣＲＴ６４の画面上でタッチパネル６５を押圧して図７に示す電子部品の種類毎に部品ライブラリ制御データ画面を表示し、リード浮き検出を「実施する」とし、また許容値を「０．０５ｍｍ」として「リード浮き検査間隔指定データ編集」キースイッチを押圧すると、図８に示す「リード浮き検査間隔設定」画面が表示される。この画面上で「検査実行モード指定」として「モード１」を選択入力し、「新ロット内初回強制実行指定」として「実施する」とし、「連続実行回数」を「２」とし、また「検査インターバル１」を「１／４」とし、「検査インターバル２」を「１／２」として、所定の電子部品について設定したものとして図９〜図１３のフローチャート（電子部品毎に管理される）に基づき説明する。この設定は電子部品の種類毎に行なわれるが、便宜上一種類の電子部品の設定についてのみ示す。
【００４５】
先ず、ＣＰＵ６０はＲＡＭ６２に格納された装着データに従い、取出し装着すべき電子部品についての「検査実行モード指定」が「モード１」か否かが判断され、「モード１」なので初期化処理をしてモードを「検査インターバル１」モードとすると共に仕掛かり管理用フラグをオフにする。そして、管理用フラグがオフなのか否かが判断され、オフなのでオンして、「検査インターバル１」の設定データ値である「１／４」を代入すると共に内部管理用カウンタＣＴ１を「０」とする。
【００４６】
一方、プリント基板９が図示しない上流側装置より供給コンベア６を介して位置決め部７に搬送され、位置決め機構により位置決め固定され、部品取出し動作及び装着動作となる。即ち、装着ヘッド１１が装着すべき電子部品を取出すべく移動するが、Ｘ軸モータ及びＹ軸モータが駆動してＸＹステージ１３を移動させて装着ヘッド１１を移動させ、上下モータを駆動させて吸着ノズル２２を下降させて前記第２部品供給装置４から電子部品を取出す。
【００４７】
このとき、エレベータ機構３１の昇降動作が制御されて、取出すべき電子部品を収納しているパレットストッカ３３の棚部材２９のレベル位置と、パレット導入機構３２の既に上昇したシュート３０のレベル位置とが合致されて、駆動機構４３により係止アーム４２を前進させて、フック４４をエレベータ機構３１に収容したパレットＰの先端に係止し、次に係止アーム４２を後退させて、パレットＰをシュート３０に沿ってピックアップ領域に導入し、前記吸着ノズル２２により電子部品を吸着して取出すものである。
【００４８】
次に、部品認識カメラ２４上に搬送され、該カメラ２４が該電子部品５１を撮像し、その像に基づき電子部品５１の装着ヘッド１１に対する位置ずれ及び各リード５２の水平面内での曲りが認識処理される。
【００４９】
そして、シーケンスがリード浮き検査実行プロセスタイミングになると、検査モードを判定し、「モード１」の「連続検査実行モード」ではなく「抜き取り検査実行モード」なので、また「検査インターバル２」ではなく「検査インターバル１」であり、ＲＡＭ６２内に設けられたカウンタＣＴ１が「０」なのでカウンタＣＴ１を１インクリメントして「１」とし、リード浮き検査を実行する。
【００５０】
即ち、装着ヘッド１１は該電子部品５１をリード浮き検査ユニット５０上に搬送し、該ユニット５０は、各辺のリード列についてそのリード浮き量を前述するようにして検出する。ＣＰＵ６０は、この１個の部品５１の中で最大の浮き量と最小の浮き量の差を算出する。即ち、最大の浮き量がプラスの値で最小の浮き量がマイナスであれば、両者の絶対値の和が差分値として算出される。
【００５１】
次に、ＣＰＵ６０はこの浮き量の差の値に該当する電子部品の種類（部品ＩＤで示される。）及び浮き量差分値の区間毎にＲＡＭ６２内に設けられたカウンタを１加算する。即ち、ＲＡＭ６２内には部品ＩＤ毎に０．０１ｍｍの幅で浮き量差分値の区間毎の度数をカウントするカウンタが設けられており、このカウンタを加算していくことで、浮き量差分値が部品種及び区間毎に集計されるのである。
【００５２】
次に、浮き量の差分値が許容値（０．０５ｍｍ）内であった場合、即ち検査判定結果が良品（ＯＫ）であった場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返し、装着ヘッド１１は電子部品５１をプリント基板９上に搬送する。そして、その装着すべき位置に装着すべき角度で位置決めされるよう、算出された装着ヘッド１１に対する位置ずれ量が補正された後装着される。即ち、ＸＹ方向の位置決めはＸＹテーブル１３のヘッド１１の移動により位置ずれが補正されてなされ、角度位置決めは装着ヘッド自体が鉛直軸線まわりに補正量を加味して回転してなされる。
【００５３】
そして、順次装着して次の（２回目）同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、図９に示すルーチンＡに移行してリード浮き検査実行プロセスタイミングか否かの判断がなされて、検査モードの判定等をし、カウンタＣＴ１の内容が「０」でなく「１」なので、次に検査インターバル１の抜き取り検査回数プラス１回の５回目に達していないので、カウンタＣＴ１を１インクリメントして「２」とし、図１０に示すルーチンＢに移行する。
【００５４】
即ち、リード浮き検査を実行せずに、吸着部品が新しいトレイＴ内における初回取出しでなければ、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返し、装着ヘッド１１は電子部品５１をプリント基板９上に搬送し装着する。尚、このルーチンＢを進める過程で、吸着部品が新しいトレイＴ内における初回取出しであれば、「新ロット内初回強制実行指定」について「実施する」の設定がなされているかが判断され、設定されていれば、次に「検査インターバル１」か否かの判断がなされ、「検査インターバル１」であれば前記カウンタＣＴ１の内容を「０」にクリアし前述の動作を繰り返す。即ち、「実施する」に設定された場合には、それまで管理されてきた検査間隔決定のための制御内部データは強制的に初期化され、インターバル管理はふりだしに戻されることとなる。
【００５５】
そして、次の（３回目）同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、図９に示すルーチンＡに移行し前述したようにカウンタＣＴ１を１インクリメントして「３」とし、図１０に示すルーチンＢに移行するが、このように順次装着処理して、カウンタＣＴ１の内容が「４」になると、このカウンタＣＴ１の「検査インターバル１」の抜き取り検査回数の４以上となるのでカウンタＣＴ１の内容を「１」とし、５回目に取出された電子部品のリード浮き検査を実行する。そして、良品と判定されれば、装着ヘッド１１がプリント基板９上に搬送し装着する。
【００５６】
しかし、前記５回目に取出された電子部品のリード浮き検査の結果が異常と判定されると、即ち検出された浮き量差分値が許容値を超えて異常が発生した場合には、この電子部品５１はプリント基板９に装着されることなく図示しない所定の廃棄ステーションで廃棄される。そして、ＣＰＵ６０は、「連続実行回数」の設定値を判断し、その設定値が「２」であり「１」ではないので、検査モードを「連続検査モード」に切替え連続実行回数値「２」を代入すると共に内部管理用カウンタＣＴ１、ＣＴ２およびＣＴ３をクリアし「０」とし、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返す。そして、順次装着して次の（６回目）同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行してリード浮き検査実行プロセスタイミングか否かの判断がなされて、検査モードの判定をし、前述の如く「連続検査モード」に切替えられたため、図１１に示すルーチンＸに移行する。
【００５７】
即ち、ＣＰＵ６０はカウンタＣＴ３が連続実行回数値「２」より少ないので、このカウンタＣＴ３の内容を「１」インクリメントとして「１」とし、リード浮き検査を実行し、浮き量の差分値が許容値内であった場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返す。そして、順次装着して次の（７回目）同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、図９に示すルーチンＡに移行して前記検査モードの判定をし、図１１に示すルーチンＸに移行し、カウンタＣＴ３の内容を「１」インクリメントとして「２」とし、リード浮き検査を実行し、浮き量の差分値が許容値内であった場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返し、順次装着して次の（８回目）同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行して前記検査モードの判定をし、ルーチンＸに移行する。
【００５８】
このとき、カウンタＣＴ３の内容「２」が連続実行回数の「２」より大きくはないので、カウンタＣＴ３の内容を「１」インクリメントとして「３」とし、リード浮き検査を実行し、浮き量の差分値が許容値内であった場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返す。そして順次装着して次の（９回目）同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、カウンタＣＴ３の内容「３」が連続実行回数の「２」より大きいので、ＣＰＵ６０は検査間隔を「検査インターバル２」に切替え設定データ値「１／２」を代入し各カウンタＣＴ１、ＣＴ２及びＣＴ３を「０」にクリアし、検査を実行することなくプリント基板９に電子部品を装着し、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返す。
【００５９】
尚、前記カウンタＣＴ３の内容が「３」になる前に、リード浮き検査が実行されてその判定結果がＮＧ、即ち浮き量の差分値が許容値外であった場合にはカウンタＣＴ３を「０」にクリアし、カウンタＣＴ３の内容が連続実行回数の「２」より大きくなるまで、前述の検査を繰り返すこととなる。
【００６０】
そして、順次装着して次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行してリード浮き検査実行プロセスタイミングか否かの判断がなされて、検査モードの判定をし、「連続検査モード」ではなく、また「検査インターバル２」であるので図１２に示すルーチンＹに移行する。
【００６１】
即ち、前記カウンタＣＴ２の内容が「０」かどうかが判断され、「０」であるので、カウンタＣＴ２の内容を「１」インクリメントとして「１」とし、リード浮き検査を実行し、浮き量の差分値が許容値内であった場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返す。そして、順次装着して次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、図９に示すルーチンＡに移行して前記検査モードの判定をし、再び図１２に示すルーチンＹに移行し、カウンタＣＴ２の内容が「１」なので、次に「２以上」に達していないので、カウンタＣＴ２を１インクリメントして「２」とし、図１３に示すルーチンＤに移行する。
【００６２】
即ち、リード浮き検査を実行せずに、吸着部品が新しいトレイＴ内における初回取出しでなければ、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返し、装着ヘッド１１は電子部品５１をプリント基板９上に搬送し装着する。
【００６３】
そして、順次装着して次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行して前記検査モードの判定をし、再び図１２に示すルーチンＹに移行し、カウンタＣＴ２の内容が「２」なので、次に「検査インターバル２」の抜き取り検査回数２回目以上に達したので、カウンタＣＴ２の内容を「１」とした後、今度はリード浮き検査を実行し、浮き量の差分値が許容値内であった場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返す。そして、順次装着して次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行して前記検査モードの判定をし、再びルーチンＹに移行し、カウンタＣＴ２の内容が「１」なので、次にリード浮き検査を実行せずにカウンタＣＴ２を１インクリメントして［２］とし、ルーチンＤに移行するというように、１回置きに検査を実行することとなる。
【００６４】
尚、前記ルーチンＤを進める過程で、吸着部品が新しいトレイＴ内における初回取出しであれば、「新ロット内初回強制実行指定」について「実施する」の設定がなされているかが判断され、設定されていれば、次に「検査インターバル２」か否かの判断がなされ、「検査インターバル２」であれば前記カウンタＣＴ２の内容を「０」にクリアし前述の動作を繰り返す。即ち、「実施する」に設定された場合には、それまで管理されてきた検査間隔決定のための制御内部データは強制的に初期化され、インターバル管理はふりだしに戻されることとなり、最初からのルーチンＹに戻るものである。
【００６５】
以上のように、「検査インターバル１」（４回に１回検査）を進める過程で、検査の異常が発生すると、次に連続実行回数（２回）だけ連続して検査を実行し、次いで「検査インターバル２」（２回に１回検査）に移行するものである。
【００６６】
尚、前記「検査インターバル２」を進める過程で、前記ルーチンＹにおけるリード浮き検査を実行した結果がＮＧの場合には、連続実行回数の設定値を判断し、連続実行回数設定値が「０」でなく「２」なので検査モードを「連続検査モード」に切替え設定データ値「２」を代入すると共にカウンタＣＴ１、ＣＴ２及びＣＴ２をクリアして「０」とし、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返して、順次装着して次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行し、リード浮き検査を結果がＯＫでも連続して２回実行することとなる。尚、前記連続実行回数設定値が「０」であれば、「検査インターバル２」を維持し、その設定データ値を代入すると共にカウンタＣＴ１、ＣＴ２及びＣＴ３を「０」にクリアする。
【００６７】
次に、管理者がある電子部品５１については、ＣＲＴ６４の画面上で「検査実行モード指定」として全数検査型の「モード２」を選択入力し、「新ロット内初回強制実行指定」として「実施する」とし、また許容値を「０．０５ｍｍ」として「連続実行回数」を「６」とし、また「検査インターバル１」を「１／２」と設定したものとして、図９、図１４乃至図１６のフローチャートに基づき説明する。
【００６８】
先ず、ＣＰＵ６０は、「検査実行モード指定」が「モード１」か否かを判断し、「モード２」なので、図１４に示す「モード２」のルーチンに移行する。そして、初期化処理をしてモードを「連続検査モード」としてカウンタＣＴ３を「０」とすると共に連続実行回数「６」を代入する。
【００６９】
そして、リード浮き検査実行プロセスタイミングとなると、検査モードの判定をし、「連続検査」モードであるので、次にカウンタＣＴ３の内容「０」が連続実行回数の「６」より小さいので、該カウンタＣＴ３を１インクリメントして「１」とし、リード浮き検査を実行する。この実行結果がＮＧであればカウンタＣＴ３を「０」として連続検査の振り出し処置がなされるが、ＯＫであれば装着ヘッド１１は電子部品５１をプリント基板９上に搬送し装着すると共に同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行したかの判断が繰り返される。
【００７０】
そして、移行したならばその吸着部品は新ロット内の初回取出しか否かの判断がなされ、初回取出しでなければ、リード浮き検査実行プロセスタイミングか否かの判断の戻り、前述したような動作をするが前記カウンタＣＴ３を１インクリメントして「２」とし、リード浮き検査を実行するというようにカウンタＣＴ３の内容が連続実行回数の「６」プラス１の「７」となるまで繰り返す。尚、この「モード２」の連続検査を進める過程で、吸着部品が新しいトレイＴ内における初回取出しであれば、「新ロット内初回強制実行指定」について「実施する」の設定がなされているかが判断され、設定されていれば、次に「検査インターバル１」か否かの判断がなされ、「検査インターバル１」であれば前記カウンタＣＴ１の内容を「０」にクリアし前述の動作を繰り返す。即ち、「実施する」に設定された場合には、それまで管理されてきた検査間隔決定のための制御内部データは強制的に初期化され、インターバル管理はふりだしに戻されることとなる。
【００７１】
そして、カウンタＣＴ３の内容が「７」となり、リード浮き検査実行タイミングが８回目になるとリード浮き検査を実行せずに検査間隔を「検査インターバル１」に切替えると共にカウンタＣＴ１、ＣＴ２及びＣＴ３を「０」にクリアする。従って、９回目のリード浮き検査実行タイミングとなり、検査モードを判定し、モードが「連続検査モード」ではなく「検査インターバル１」であるので、図１５に示すルーチンＺに移行する。
【００７２】
即ち、カウンタＣＴ１が「０」であるので、１インクリメントして「１」とし、リード浮き検査を実行し、その結果がＯＫであれば次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返して、順次装着して次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると図１４に示すルーチンＥに移行する。そして、１０回目のリード浮き検査実行タイミングとなって、検査モードを判定し、モードが「検査インターバル１」であるので、前記ルーチンＺに移行するが、カウンタＣＴ１の内容が「０」でなく「１」なので、次にカウンタＣＴ１の内容が「２」以上か否かの判断がされ、「１」なので１インクリメントされて「２」としてリード浮き検査を実行せずに図１６に示すルーチンＦに移行する。
【００７３】
従って、吸着部品はトレイＴの新ロット内の初回取出しか否かの判断をして、初回取出しでなければ次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り返して、順次装着して次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると図１４に示すルーチンＥに移行する。尚、このルーチンＦを進める過程で、吸着部品が新しいトレイＴ内における初回取出しであれば、「新ロット内初回強制実行指定」について「実施する」の設定がなされているかが判断され、設定されていれば、次に「検査インターバル１」か否かの判断がなされ、「検査インターバル１」であれば前記カウンタＣＴ１の内容を「０」にクリアし前述の動作を繰り返す。即ち、「実施する」に設定された場合には、それまで管理されてきた検査間隔決定のための制御内部データは強制的に初期化され、インターバル管理はふりだしに戻されることとなる。
【００７４】
そして、１１回目のリード浮き検査実行タイミングとなって、検査モードを判定し、モードが「検査インターバル１」であるので、前記ルーチンＺに移行するが、カウンタＣＴ１の内容が「０」でなく「２」なので、次にカウンタＣＴ１の内容が「２」以上か否かの判断がされ、「２」なのでカウンタＣＴ１の内容を「１」としてリード浮き検査を実行する。この実行結果がＯＫであれば、１２回目のリード浮き検査実行タイミングでは検査を実行せず、次の１３回目では実行するというように１回置きに検査を実行することとなる。
【００７５】
しかしながら、図１５に示すように、この「検査インターバル１」での１回置きに検査を実行する過程で、検査がＮＧとなると、検査モードを「連続検査モード」に切替え連続実行回数の設定値データの「６」を代入すると共にカウンタＣＴ１、ＣＴ２及びＣＴ３を「０」にクリアする。
【００７６】
従って、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するとルーチンＥに移行し、次のリード浮き検査実行プロセスタイミングか否かの判断がなされて、検査モードの判定をし、「連続検査モード」であるので、次にカウンタＣＴ３の内容「０」が連続実行回数の「６」より小さいので、該カウンタＣＴ３を１インクリメントして「１」とし、リード浮き検査を実行するというように、前述したように以後連続して６回リード浮き検査を実行することとなる。
【００７７】
また、この連続して６回リード浮き検査を実行する過程で、検査実行結果がＮＧとなると、カウンタＣＴ３が「０」にクリアされ連続検査がふりだし処置されることとなり、連続して６回ＯＫとなるまで「検査インターバル１」には移行しない。
【００７８】
以上のようにして、電子部品５１がプリント基板９に装着され、１枚のプリント基板９が完成する毎に排出コンベア８に搬送され、次の基板９も同様にして電子部品５１の装着が続行される。
【００７９】
以上本発明の実施態様について説明したが、上述の説明に基づいて当業者にとって種々の代替例、修正又は変形が可能であり、本発明はその趣旨を逸脱しない範囲で前述の種々の代替例、修正又は変形を包含するものである。
【符号の説明】
【００８０】
１            電子部品装着装置
２            装置本体
３            第１部品供給装置
４            第２部品供給装置
１１          装着ヘッド
２２          吸着ノズル
５０          リード浮き検査ユニット
６０          ＣＰＵ
６１          ＲＯＭ
６２          ＲＡＭ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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