(57)【要約】【課題】テスト対象の論理回路に対してテストポイントを効果的に挿入すること【解決手段】論理回路試験装置１０は、論理回路の設計データから得た配線条件により信号線の故障推定度を推定する故障推定部１１０を備える。また、論理回路試験装置１０は故障推定度に基づいてテストポイントを挿入する挿入部１３０を備える。論理回路試験装置１０は、挿入部１３０によってテストポイントの挿入された論理回路に対してテストの実行を行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
論理回路の設計データから得た配線条件により信号線の故障推定度を推定し、前記故障推定度に基づいてテストポイントを挿入する論理回路用テストポイント挿入方法。
【請求項２】
前記故障推定度が相対的に高い信号線を優先して前記テストポイントを挿入することを特徴とする請求項１に記載の論理回路用テストポイント挿入方法。
【請求項３】
前記故障推定度をソートし、ソートされた故障推定度に基づいて、前記故障推定度が相対的に高い信号線を優先して前記テストポイントを挿入することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の論理回路用テストポイント挿入方法。
【請求項４】
前記テストポイントを挿入するか否かを判断するための閾値を予め設定しておき、前記閾値よりも前記故障推定度が大きい信号線に前記テストポイントを挿入することを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の論理回路用テストポイント挿入方法。
【請求項５】
論理回路の設計データから得た配線条件により信号線の故障推定度を推定する故障推定部と、
前記故障推定度に基づいてテストポイントを挿入する挿入部と、を備える論理回路試験装置。
【請求項６】
前記挿入部は、前記故障推定度が相対的に高い信号線を優先して前記テストポイントを挿入する請求項５に記載の論理回路試験装置。
【請求項７】
前記論理回路試験装置は、前記故障推定度をソートするソート部を備え、
前記挿入部は、前記ソート部によりソートされた前記故障推定度が相対的に高い信号線を優先して前記テストポイントを挿入することを特徴とする請求項５または請求項６に記載の論理回路試験装置。
【請求項８】
前記挿入部は、前記テストポイントを挿入するか否かを判断するための閾値を記憶しておき、前記閾値よりも前記故障推定度が大きい信号線に前記テストポイントを挿入することを特徴とする請求項５乃至請求項７のいずれか一項に記載の論理回路試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は論理回路用テストポイント挿入方法、論理回路試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＳＯＣ（System-on-a-chip）等の論理集積回路が複雑化、及び大規模化してきている。そのため、論理集積回路内に存在する縮退故障をいかに検出するかが大きな問題となっている。一般に、論理集積回路の縮退故障の検出には、回路をテストするための入力信号（テストパターン）を入力し、所望の出力パターンが得られるか否かにより行われる。論理集積回路に対してテストパターンを効率よく入力して、迅速に論理集積回路の縮退故障を検出することが望ましい。
【０００３】
特許文献１には、論理集積回路の出来上がりを待たずに試験効率のよいテストパターンを作成することが可能な論理集積回路用テストパターン作成方法が開示されている。以下に、特許文献１に記載の論理集積回路用テストパターン作成方法について記載する。
【０００４】
論理集積回路が出来上がる前に設計データを用いて、配線条件による信号線の故障度を推定し、推定故障度順に入力パターンと、期待値パターンとの組であるテストパターンを作成する。故障度の推定は、信号線と、異なる配線層の電源供給先及びグランド線と、の交差回数、信号線の長さ、信号線の配線交替数、及び配線密度に基づいて定められる。以下の説明では、信号線の長さについての故障度の推定について説明する。図６は、テスト対象となる論理集積回路を示すブロック図である。また、図３は図６に示した論理集積回路の設計データから求められる各信号線の長さを示す。図５は、特許文献１に記載の論理集積回路用テストパターン作成方法の処理の流れを示すフローチャートである。
【０００５】
はじめに、信号線の故障発生度の推定処理を行う（Ｓ１１）。ここでは、設計データから算出された図３の信号線の長さを参照する。続いて、算出された故障発生度に基づいて信号線のソートを行う（Ｓ１２）。ソートは、故障発生度が降順に並ぶように行う。図３の例では、信号線をＣ（１０）、Ｄ（７）、Ａ（５）、Ｂ（４）、Ｅ（３）という順序に並び変える。続いて、故障発生度上位の信号線から故障を仮定し、仮定した故障を検出するための入力パターン（例えば、"００１０"のようなデータ列である。）と、当該入力パターンを入力した際に期待される期待値パターンと、の組であるテストパターンを生成する（Ｓ１３）。ここで、故障発生度上位の信号線からテストパターンを生成しているため、効率的に故障を発見できる順序にテストパターンが並ぶことになる。生成されテストパターンを用いて、試験装置は、製造された論理集積回路のテストを行う（Ｓ１４）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平８−１１４６５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１に記載の論理集積回路用テストパターン作成方法によっては、テストポイントの挿入について考慮されておらず、十分なテスト実行が困難であるという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明にかかる論理回路用テストポイント挿入方法は、論理回路の設計データから得た配線条件により信号線の故障推定度を推定し、前記故障推定度に基づいてテストポイントを挿入するものである。
【０００９】
本発明においては、配線条件に基づいて各信号線の故障推定度を推定する。この故障推定度に基づいて論理回路に対してテストポイントを挿入する。これにより、効果的にテストポイントを挿入することができる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、テスト対象の論理回路に対してテストポイントを効果的に挿入することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施の形態１にかかる論理回路試験装置のブロック図である。
【図２】実施の形態１にかかる論理回路試験装置がテスト対象とする論理回路のブロック図である。
【図３】実施の形態１にかかる論理回路試験装置がテスト対象とする論理回路の設計データを示す図である。
【図４】実施の形態１にかかる論理回路試験装置の処理を示すフローチャートである。
【図５】従来の論理回路試験装置の処理を示すフローチャートである。
【図６】従来の論理回路試験装置がテスト対象とする論理回路のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
実施の形態１
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図１を参照して、本実施の形態にかかる論理回路試験装置の基本構成について説明する。論理回路試験装置１０は、故障推定部１１０と、ソート部１２０と、挿入部１３０と、テストパターン生成部１４０と、試験実行部１５０と、を備える。論理回路試験装置１０は、論理回路２０を試験する装置である。本例での試験対象となる論理回路２０を図２に示す。また、論理回路２０の信号線の設計データを図３に示す。論理回路２０は、論理ゲート２１０、２２０、２３０、及び２４０と、信号線Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅを備える構成である（図２）。
【００１３】
故障推定部１１０には、論理回路試験装置１０の外部から論理回路２０の設計データが入力される。故障推定部１１０は、入力された設計データに基づいて各信号線の故障発生度を推定する。本例では、配線長の長い信号線は故障発生度が高い、と故障推定部１１０は推定する。
【００１４】
なお、故障推定部１１０は、他の設計データを用いて各信号線の故障発生度を推定してもよい。たとえば、故障推定部１１０は、配線交替数が多い信号線の故障発生度が高いと推定してもよい。また、故障推定部１１０は、配線密度が高い信号線の故障発生度が高いと推定することも可能である。故障推定部１１０は、配線層の他の信号配線との交差数が多い信号線の故障発生度が高いと推定してもよい。さらに、故障推定部１１０は、各信号線の配線長、配線交替数、配線密度、及び配線層の他の信号配線との交差数を全て考慮して各信号線の故障発生度を推定してもよい。
【００１５】
故障推定部１１０は、設計データに基づいて算出した各信号線の故障発生度をソート部１２０に出力する。
【００１６】
ソート部１２０は、故障推定部１１０が算出した各信号線の故障発生度が降順になるように信号線の情報をソートする。本例では、ソート部１２０は、信号線の情報をＣ（１０）、Ｄ（７）、Ａ（５）、Ｂ（４）、Ｅ（３）という順序に並び変える（括弧内の数字は信号線の配線長を示す。）。ソート部１２０は、並び変えた信号線の情報を挿入部１３０と、テストパターン生成部１４０とに出力する。
【００１７】
挿入部１３０には、ソート部１２０によりソートされた信号線の情報が入力される。挿入部１３０は、ソート部１２０によりソートされた信号線の情報の順序を利用して、各論理回路２０に対してテストポイントを挿入する。たとえば、挿入部１３０は、上位の信号線の２つ（Ｎ＝２）に対してテストポイントを挿入する。本例では故障発生度が上位の信号線Ｃと信号線Ｄに対してテストポイント３１０、３２０を挿入している（図２）。テストポイントの挿入数（Ｎ）は、任意に変更することが可能である。
【００１８】
なお、挿入部１３０は、故障発生度が上位の信号線に対してテストポイントを挿入する方式に限られず、他の方法でテストポイントを挿入してもよい。たとえば、挿入部１３０は、故障発生度の閾値（例えば、信号線の配線長が"５"以上）を予め保持し、当該閾値を超える故障発生度を持つ信号線に対してテストポイントを挿入してもよい。
【００１９】
テストパターン生成部１４０には、ソート部１２０によりソートされた信号線の情報が入力される。テストパターン生成部１４０は、ソート部１２０によりソートされた信号線の順序でテストを実行できるようにテストパターンを生成する。本例では、信号線Ｃの断線または短絡故障等を検出できる入力パターン（ex.００１０）と、その出力として期待される出力値（ex. ００００）を生成する。続いて、信号線Ｄの断線または短絡故障等を検出できる入力パターン（ex.０１１０）と、その出力として期待される出力値（ex. １１１０）を生成する。生成された入力パターンは、故障発生度が高い信号線の異常を検出できる順序に並べられた状態で論理回路２０に入力される。テストパターン生成部１４０は、生成したテストパターン（入力パターン、期待される出力値）を試験実行部１５０に出力する。
【００２０】
試験実行部１５０は、テストパターン生成部１４０から入力されたテストパターンを用いて各論理回路２０に対してテスト実行を行う。ここで、テストパターン生成部１４０から入力されたテストパターンは、故障発生度の高い信号線の異常を検出できる順序でソートされている。試験実行部１５０は、テストパターンを実行し、入力パターンと、期待される出力値と、が不一致の時点で試験を打ち切り、次の論理回路２０の試験の実行に移る。また、試験実行部１５０は、挿入部１３０により挿入されたテストポイントを用いた検査も実施する。
【００２１】
次に、本実施の形態にかかる論理回路試験装置１０の処理の流れを図４のフローチャートを用いて説明する。はじめに、外部から論理回路２０の設計データが故障推定部１１０に入力される。故障推定部１１０は、信号線の故障発生度の推定処理を行う（Ｓ２１）。続いて、ソート部１２０は、故障推定部１１０が算出した故障発生度に基づいて信号線の情報のソートを行う（Ｓ２２）。
【００２２】
挿入部１３０は、ソート部１２０によりソートされた故障発生度の順序に従ってテストポイントを論理回路２０に挿入する。すなわち、挿入部１３０は、故障発生度の高い信号線を優先してテストポイントを論理回路２０に挿入する（Ｓ２３）。
【００２３】
テストパターン生成部１４０は、ソート部１２０によりソートされた故障発生度の順序に従ってテストパターンを生成する（Ｓ２４）。試験実行部１５０は、生成されたテストパターンを用いて、テストポイントの挿入された論理回路２０のテストの実行を行う（Ｓ２５）。
【００２４】
続いて、上述の論理回路試験装置による効果について説明する。上記一連の処理により、論理回路試験装置１０は、試験実行前であっても設計データを用いることにより効果的なテストポイントの挿入をすることができる。
【００２５】
また、論理回路試験装置１０は、故障発生度の高い信号線から順に論理回路２０に対してテストポイントを挿入できる。これにより、一般に処理コストの高いテストポイントの挿入処理を効率的に実現することができる。
【００２６】
また、上述の論理回路試験装置１０によれば、論理回路のスキャンパス・テスト実行時に有利な効果を得ることができる。この点について以下に説明を行う。
【００２７】
一般に論理回路に対するスキャンパス・テストにおいては、テスト対象の論理回路の一定箇所について端子固定等を行うことで一定の値を出力するようにする必要がある。当該固定箇所はスキャンパス・テスト時にテスト対象の範囲外となる。ここで、この固定箇所は動作頻度の低い箇所を選択することにより、論理回路の通常実行時の異常発生度を低く抑えることができる。しかし、動作頻度の高い箇所は処理速度が速いことが望まれる一方で、動作頻度の低い箇所では処理速度が速いことがそれほど要求されない。すなわち、動作頻度の低い箇所では処理のタイミングがそれほど厳しくない。そのため、動作頻度の低い箇所では、信号線の配線長が長くなる傾向が強い。また、信号線の配線長が長くなることに伴って信号線の交差数等も増加する。そのため、動作頻度の低い箇所は、信号線が長い等の理由で故障可能性が高いにも関わらずスキャンパス・テスト時にテスト実行が行われないという問題があった。
【００２８】
しかし、論理回路試験装置１０によれば、設計データに基づいて信号線の長い箇所等にテストポイントを挿入することにより上述の問題点を解消することができる。すなわち、スキャンパス・テストによっては、テスト実行が困難であった箇所についてもテストポイントの挿入によりテスト実行をすることができ、論理回路の品質改善につながる。
【００２９】
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。
【符号の説明】
【００３０】
１０    論理回路試験装置
１１０  故障推定部
１２０  ソート部
１３０  挿入部
１４０  テストパターン生成部
１５０  試験実行部
２０    論理回路
２１０、２２０、２３０、２４０  論理ゲート
３１０、３２０  テストポイント
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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