(57)【要約】【課題】ＤＵＴに外部から温度などの条件変化を与えて電気特性を測定しモデル化するのにあたり、条件が変化したときでも等価回路における素子の同一性を保つことができる電気特性解析装置を提供すること【解決手段】等価回路における素子の種類と接続が等しい複数個の回路ブロックが直列接続された測定対象に外部から条件変化を与えて電気特性を測定し前記各回路ブロックの最適回路定数を求めるように構成された電気特性解析装置において、  前記条件が変化しても前記最適回路定数の同一性を維持する維持手段を設けたことを特徴とするもの。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
等価回路における素子の種類と接続が等しい複数個の回路ブロックが直列接続された測定対象に外部から条件変化を与えて電気特性を測定し前記各回路ブロックの最適回路定数を求めるように構成された電気特性解析装置において、
前記条件が変化しても前記最適回路定数の同一性を維持する維持手段を設けたことを特徴とする電気特性解析装置。
【請求項２】
前記維持手段は、前記測定データを条件変化値に基づいて並べ替える手段を含むことを特徴とする請求項１に記載の電気特性解析装置。
【請求項３】
前記維持手段は、前記各回路ブロックの最適回路定数を、前記各回路ブロックの時定数に基づいて並べ替える手段を含むことを特徴とする請求項１に記載の電気特性解析装置。
【請求項４】
前記維持手段は、前記各回路ブロックの時定数を所定の範囲に制限する手段を含むことを特徴とする請求項３に記載の電気特性解析装置。
【請求項５】
前記測定対象は、電池であることを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載の電気特性解析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気特性解析装置に関し、詳しくは、測定対象（以下、ＤＵＴという）に外部から温度などの条件変化を与えてインピーダンスなどの電気特性に基づく等価回路の作成や作成された等価回路における回路定数の処理に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図１５は、電気特性測定システムの一例を示す概念構成図である。ＤＵＴ１は、たとえば充電可能な二次電池であり、ＤＵＴ１に外部から温度変化を与えて電気特性を測定するためのヒータ２が設けられている。電気特性測定装置３は、ＤＵＴ１の温度変化に伴う電気特性を評価するためにたとえば電流および電圧を測定するものであり、ＤＵＴ１と直列に図示しない負荷と電流計が接続されるとともに、ＤＵＴ１と並列に図示しない電圧計が接続されている。
【０００３】
電気特性解析装置４は、電気特性測定部３の測定データに基づいてＤＵＴ１の等価回路を生成するものであり、４点の温度Ｔ１〜Ｔ４における測定データに基づく従来の一例を図１６のブロック図に示している。
【０００４】
図１６において、入力部４１は、電気特性解析装置４の各部に、ＤＵＴ１の等価回路モデルのパラメータ、回路定数の初期値、各温度データＴ１〜Ｔ４、各温度Ｔ１〜Ｔ４に対応する電気特性測定装置３によるＤＵＴ１の測定データＭ１〜Ｍ４などを入力する。
【０００５】
回路定数最適化部４２１は、入力部４１から入力される回路定数初期値および等価回路モデルと測定データＭ１に基づいて温度Ｔ１に対応した最適な定数の探索を行って最適値ＯＶ１を求め、最適値ＯＶ１を出力部４３に入力するとともに後段の回路定数最適化部４２２に初期値として入力する。
【０００６】
回路定数最適化部４２２は、前段の回路定数最適化部４２１から回路定数初期値として入力される最適値ＯＶ１と入力部４１から入力される等価回路モデルと測定データＭ２に基づいて温度Ｔ２に対応した最適な定数の探索を行って最適値ＯＶ２を求め、最適値ＯＶ２を出力部４３に入力するとともに後段の回路定数最適化部４２３に初期値として入力する。
【０００７】
回路定数最適化部４２３は、前段の回路定数最適化部４２２から回路定数初期値として入力される最適値ＯＶ２と入力部４１から入力される等価回路モデルと測定データＭ３に基づいて温度Ｔ３に対応した最適な定数の探索を行って最適値ＯＶ３を求め、最適値ＯＶ３を出力部４３に入力するとともに後段の回路定数最適化部４２４に初期値として入力する。
【０００８】
回路定数最適化部４２４は、前段の回路定数最適化部４２３から回路定数初期値として入力される最適値ＯＶ３と入力部４１から入力される等価回路モデルと測定データＭ４に基づいて温度Ｔ４に対応した最適な定数の探索を行って最適値ＯＶ４を求め、出力部４３に入力する。
【０００９】
すなわち、これら回路定数最適化部４２１〜４２４は、ＤＵＴ１の各温度Ｔ１〜Ｔ４に対応した測定データＭ１〜Ｍ４に対する現在の回路定数の評価値（平均２乗誤差など）を計算し、その評価値が小さくなる方向へ回路定数を変化させることによって各温度Ｔ１〜Ｔ４に対応した最適な定数の探索を行い、それぞれの最適値ＯＶ１〜ＯＶ４を出力部４３に出力する。
【００１０】
なお、図１５のような環境で温度を変えながらＤＵＴ１の電気特性を測定する方法としては、特許文献１に記載されている（Ａ）電流遮断法や（Ｂ）交流法などがある。
【００１１】
図１７は、定数の組み合わせにおける評価値の等高線例図であり、等価回路の素子が素子Ａと素子Ｂの２つだけの例を示している。図１７の場合には、定数の探索を初期値ＩＶから開始し、より評価値の小さくなる方向へ定数を変化させることにより最適値ＯＶへ収束させる。ある設定温度で最適化された定数ＯＶは、次に最適化する設定温度における回路定数の初期値ＩＶとして適用される。
【００１２】
図１８は、このようにして求められる各温度設定に対応する回路定数最適値の出力テーブル例である。（Ａ）に示す等価回路は、抵抗Ｒ１とコンデンサＣ１の並列回路と抵抗Ｒ２とコンデンサＣ２の並列回路と抵抗Ｒ３とが直列接続されている。これら等価回路の各素子Ｒ１、Ｃ１、Ｒ２、Ｃ２、Ｒ３の各温度設定に対応する回路定数最適値が、（Ｂ）に示すような形式のテーブルとして出力される。
【００１３】
このようなテーブル出力は、ＤＵＴ１の統計処理、状態の診断、電気特性のシミュレーションなどに使うことができる。
【００１４】
特許文献１には、電池の内部インピーダンスを測定する方法および装置の構成が記載されている。
【００１５】
【特許文献１】特開２００３−４７８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
ところで、等価回路モデルによっては、あるひとつの電気特性に最適化される回路定数の組み合わせが複数になるときがある。たとえば図１９に示すような等価回路モデルにおいて、ＤＵＴのインピーダンス特性を示す回路定数最適値のあるひとつの組み合わせが、
Ｒ１＝０．１,Ｃ１＝０．２，Ｒ２＝０．３，Ｃ２＝０．４，Ｒ３＝０．５
であるとき、
Ｒ１＝０．３,Ｃ１＝０．４，Ｒ２＝０．１，Ｃ２＝０．２，Ｒ３＝０．５
もまた最適である。
【００１７】
すなわち、回路定数に対する評価値に複数の極があるとき、回路定数を初期値からより最適な方向へ更新して最適化するアルゴリズムでは、初期値により収束する極が決まる。各温度設定に対し最適化された回路定数は、温度変化により移動する極を追従するとは限らない。
【００１８】
図２０は、回路定数が不連続の極に収束する例の説明図であり、３０℃、１０℃、４０℃、２０℃それぞれの温度における回路定数の最適値をこの温度順に求めたとき、３０℃および１０℃では「○」で表した極１に収束し、４０℃および２０℃では極１には連続しない「◇」で表した極２に収束する例を示している。なお、図２０では、本来複数次元である回路定数のベクトルを、簡単のためにスカラ（横軸）で表している。
【００１９】
等価回路のブロックの組み合わせが複数あると、素子の同一性が保てなくなる。図２１は、収束する極が不連続のときの回路定数の変化例図であり、図１９の等価回路の例を示している。図２１の例では、定数の組み合わせパターンが１点鎖線で示すパターン１と破線で示すパターン２の２通りあるときに、低い温度設定ではパターン１に収束し、高い温度設定ではパターン２の最適値に収束している。たとえばＤＵＴ１が図１９に示すような電池の場合、低い温度ではＲ１とＣ１のブロックは正極の特性が現れてＲ２とＣ２は負極の特性が現れているとき、高温では電池の正極と負極が入れ替わってしまうことになり、解析として好ましくない。
【００２０】
また、図１８に示したように出力される回路定数最適値テーブルを用いて電池特性の模擬を行うのにあたり、素子の同一性が保たれていないと、図２２の回路定数変化例図に示すように、誤差の大きな温度区間が出てしまう。なぜなら、模擬装置は、現在の温度における回路定数を、回路定数テーブルを補間して求めているからである。この結果、素子の同一性が入れ替わる区間においては、回路定数は真値から外れることになる。
【００２１】
本発明は、このような問題を解決するものであり、その目的は、ＤＵＴに外部から温度などの条件変化を与えて電気特性を測定しモデル化するのにあたり、条件が変化したときでも等価回路における素子の同一性を保つことができる電気特性解析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
等価回路における素子の種類と接続が等しい複数個の回路ブロックが直列接続された測定対象に外部から条件変化を与えて電気特性を測定し前記各回路ブロックの最適回路定数を求めるように構成された電気特性解析装置において、
前記条件が変化しても前記最適回路定数の同一性を維持する維持手段を設けたことを特徴とする。
【００２３】
請求項２記載の発明は、請求項１に記載の電気特性解析装置において、
前記維持手段は、前記測定データを条件変化値に基づいて並べ替える手段を含むことを特徴とする。
【００２４】
請求項３記載の発明は、請求項１に記載の電気特性解析装置において、
前記維持手段は、前記各回路ブロックの最適回路定数を、前記各回路ブロックの時定数に基づいて並べ替える手段を含むことを特徴とする。
【００２５】
請求項４記載の発明は、請求項３に記載の電気特性解析装置において、
前記維持手段は、前記各回路ブロックの時定数を所定の範囲に制限する手段を含むことを特徴とする。
【００２６】
請求項５記載の発明は、請求項１から請求項４のいずれかに記載の電気特性解析装置において、
前記測定対象は、電池であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２７】
本発明の電気特性解析装置によれば、条件が変化したときでも等価回路における素子の同一性を保つことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１の動作説明図である。
【図３】図１の動作説明図である。
【図４】図１の動作説明図である。
【図５】図１の動作説明図である。
【図６】本発明の他の実施例を示すブロック図である。
【図７】図６の動作説明図である。
【図８】図６の動作説明図である。
【図９】図６の動作説明図である。
【図１０】図６の動作説明図である。
【図１１】本発明の他の実施例を示すブロック図である。
【図１２】図１１の動作説明図である。
【図１３】図１１の動作説明図である。
【図１４】本発明の他の実施例を示すブロック図である。
【図１５】電気特性測定システムの一例を示す概念構成図である。
【図１６】電気特性解析装置４の従来の一例を示すブロック図である。
【図１７】定数の組み合わせにおける評価値の等高線例図である
【図１８】各温度設定に対応する回路定数最適値の出力テーブル例である。
【図１９】等価回路モデル例図である。
【図２０】回路定数が不連続の極に収束する例の説明図である。
【図２１】収束する極が不連続のときの回路定数の変化例図である。
【図２２】誤差の大きい温度区間がある場合の回路定数変化例図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、本発明について、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図であり、図１６と共通する部分には同一の符号を付けている。図１と図１６の相違点は、図１には温度と測定データの対を温度の小さい順に並べ替えるための測定データソート部４４が設けられていることである。
【００３０】
図１において、測定データソート部４４には、入力部４１から、各温度Ｔ１〜Ｔ４と各温度Ｔ１〜Ｔ４に対応した測定データＭ１〜Ｍ４が入力されている。
【００３１】
測定データソート部４４は、入力部４１から入力されるこれら各温度Ｔ１〜Ｔ４を小さい順に温度Ｔａ〜温度Ｔｄ（温度Ｔａ＜温度Ｔｂ＜温度Ｔｃ＜温度Ｔｄ）に並べ替えて出力部４３に入力し、各温度Ｔ１〜Ｔ４に対応した測定データＭ１〜Ｍ４を温度Ｔａ〜温度Ｔｄに対応した測定データＭａ〜Ｍｄに並べ替えて各回路定数最適化部４２１〜４２４に入力する。
【００３２】
回路定数最適化部４２１は、入力部４１から入力される回路定数初期値および等価回路モデルと測定データソート部４４から入力される測定データＭａに基づいて温度Ｔａに対応した最適な定数の探索を行って最適値ＯＶａを求め、最適値ＯＶａを出力部４３に入力するとともに後段の回路定数最適化部４２２に初期値として入力する。
【００３３】
回路定数最適化部４２２は、前段の回路定数最適化部４２１から回路定数初期値として入力される最適値ＯＶａと入力部４１から入力される等価回路モデルと測定データソート部４４から入力される測定データＭｂに基づいて温度Ｔｂに対応した最適な定数の探索を行って最適値ＯＶｂを求め、最適値ＯＶｂを出力部４３に入力するとともに後段の回路定数最適化部４２３に初期値として入力する。
【００３４】
回路定数最適化部４２３は、前段の回路定数最適化部４２２から回路定数初期値として入力される最適値ＯＶｂと入力部４１から入力される等価回路モデルと測定データソート部４４から入力される測定データＭｃに基づいて温度Ｔｃに対応した最適な定数の探索を行って最適値ＯＶｃを求め、最適値ＯＶｃを出力部４３に入力するとともに後段の回路定数最適化部４２４に初期値として入力する。
【００３５】
回路定数最適化部４２４は、前段の回路定数最適化部４２２から回路定数初期値として入力される最適値ＯＶｃと入力部４１から入力される等価回路モデルと測定データソート部４４から入力される測定データｄに基づいて温度Ｔｃに対応した最適な定数の探索を行って最適値ＯＶｄを求め、最適値ＯＶｄを出力部４３に入力する。
【００３６】
すなわち、図１の構成によれば、温度でソートされた順に回路定数が最適化されるとともに、各温度における回路定数の収束値は次の温度における回路定数を決めるための初期値になる。
【００３７】
ここで、各温度における回路定数を決める初期値は、前の温度で収束した極と連続した現在の極に近くなり、各温度の間隔が十分に狭い場合には、図２に示すように最初の温度１０℃で収束した「○」で表した極１に連続して収束することになる。
【００３８】
各温度で連続した極（「○」で表した極１）に収束することで、回路定数の変化は図３に示すように連続的になり、その出力を電気特性の解析や診断に用いることができる。なお、図３の例では、定数の組み合わせパターンとして１点鎖線で示すパターン１と破線で示すパターン２の２通りがあるが、パターン１の最適値のみに収束している。
【００３９】
なお、上記実施例では、温度の小さい順に並べ替える例について説明したが、温度の大きい順に回路定数の最適化を行ってもよい。
【００４０】
また、特性を変化させる条件は、温度に限らない。たとえば、ＤＵＴが電池であれば充電状態ＳｏＣ（State of Charge）を条件にしてもよい。
【００４１】
また、特性を変化させる条件は１つに限るものではなく、複数の条件を変化させたときの電気特性の変化をモデル化してもよい。そのときの回路定数最適化の順序としては、たとえば図４や図５のような例が挙げられる。
【００４２】
図４は、条件が条件１と条件２の２つで、条件２を優先的に変化させる。
【００４３】
図５は、条件が条件１と条件２の２つで、条件１と条件２をどちらも１つ刻みで変化させる。
【００４４】
図６は、本発明の他の実施例を示すブロック図であり、図１６と共通する部分には同一の符号を付けている。図６と図１６の相違点は、図６には回路定数最適化部４２１〜４２４と出力部４３の間に回路定数ソート部４５１〜４５４が設けられていることである。
【００４５】
図６において、各回路定数ソート部４５１〜４５４は、等価回路として素子の種類と接続方法が同一のブロックが直列に接続されている場合に、それらのブロックの定数をブロックの時定数の小さい順にブロック単位で並べ替えてソートされた回路定数最適値を出力する。
【００４６】
回路定数ソート部４５１は、入力部４１から入力される等価回路モデルと回路定数最適化部４２１から入力される回路定数最適値ＯＶ１に基づき、ブロックの時定数に応じて並べ替えられたソート済回路定数最適値ＳＯＶ１を出力部４３に入力する。
【００４７】
回路定数ソート部４５２は、入力部４１から入力される等価回路モデルと回路定数最適化部４２２から入力される回路定数最適値ＯＶ２に基づき、ブロックの時定数に応じて並べ替えられたソート済回路定数最適値ＳＯＶ２を出力部４３に入力する。
【００４８】
回路定数ソート部４５３は、入力部４１から入力される等価回路モデルと回路定数最適化部４２３から入力される回路定数最適値ＯＶ３に基づき、ブロックの時定数に応じて並べ替えられたソート済回路定数最適値ＳＯＶ３を出力部４３に入力する。
【００４９】
回路定数ソート部４５４は、入力部４１から入力される等価回路モデルと回路定数最適化部４２４から入力される回路定数最適値ＯＶ４に基づき、ブロックの時定数に応じて並べ替えられたソート済回路定数最適値ＳＯＶ４を出力部４３に入力する。
【００５０】
たとえば等価回路として、前述の図１８および図１９に示すように、抵抗Ｒ１とコンデンサＣ１の並列回路と抵抗Ｒ２とコンデンサＣ２の並列回路と抵抗Ｒ３とが直列接続されているものとすると、等価回路には素子の種類と接続方法が同じである抵抗とコンデンサの２つの並列回路ブロックが含まれていることになる。
【００５１】
これら２つの並列回路ブロックのうちの一方の並列回路ブロックｓに回路定数Ａを割り当てて、他方の並列回路ブロックｔに回路定数Ｂを割り当てると、パターンＡＢとパターンＢＡの組み合わせが存在することになる。ここで、これら回路定数Ａ、Ｂが最適であるときには、それぞれの回路定数を入れ替えても同様に最適である。回路定数Ａを割り当てたブロックの時定数をτＡ、回路定数Ｂを割り当てたブロックの時定数をτＢとする。
【００５２】
図７は、連続した極に収束する場合の時定数特性例図であり、測定された全温度でτＡ＜τＢになっている。この状況で回路定数Ａと回路定数Ｂが入れ替わると、時定数の大小関係が入れ替わることになる。
【００５３】
図６の構成において、回路定数最適化部４２１〜４２４による最適化の結果、温度によって回路定数ＡとＢの割り当てが入れ違いになることがある。この場合には、回路定数ソート部４５１〜４５４により、並列回路ブロックｓとｔの時定数の大小関係が統一されるように並列回路ブロックｓとｔの回路定数がブロック単位でソートされる。これにより、回路定数ＡとＢの割り当ては統一される。
【００５４】
図７では、素子の種類と接続が同一のブロックが２つの場合の動作を説明したが、素子の種類と接続が同一のブロックが３つ以上でも同様である。回路定数ソート部により、複数ある回路定数のブロックへの割り当てパターンが、全温度にわたって統一される。
【００５５】
このように、素子の種類と接続が同一のブロックに対する回路定数の割り当てパターンが各温度で一致することによって回路定数の変化は連続になり、出力を電気特性の解析や診断に用いることができる。図８は、収束する極が連続のときの回路定数の変化例図であり、図１９の等価回路の例を示している。定数の組み合わせパターンとして１点鎖線で示すパターン１と破線で示すパターン２の２通りあるが、図８では組み合わせパターン２の最適値のみに収束している。
【００５６】
回路定数最適化部４２１〜４２４における最適化の手法は、回路定数の評価値を計算しながら、評価値のよい方向へ回路定数を変化させていく方法以外も適用できる。たとえば回路定数に最大値と最小値を設け、乱数から生成した回路定数の中から評価値のよい回路定数を見つけるような方法においても、本発明は有効に機能する。
【００５７】
図９に示すように、素子の種類と接続方法が同じ２つのブロックが等価回路に含まれていて、一方のブロックｓに回路定数Ａを割り当て、他方のブロックｔに回路定数Ｂを割り当てると最適であるとする。回路定数Ａを割り当てたブロックｓの時定数をτＡ、回路定数Ｂを割り当てたブロックの時定数をτＢとする。このとき、本来測定された全温度のうち、一部の温度の範囲ではτＡ＜τＢであり、それ以外の温度ではτＡ≧τＢであるとする。
【００５８】
このような場合、回路定数最適化部４２１〜４２４によってブロックｓとｔの回路定数Ａ、Ｂが並べ替えられても、図１０に示すようにすべての温度においてブロックｓに回路定数Ａが割り当てられるわけではない。つまり、温度変化に対するブロックの同一性が保たれないことになる。
【００５９】
図１１は、このような不都合を解決する本発明の他の実施例を示すブロック図であり、図６と共通する部分には同一の符号を付けている。図１１と図６の相違点は、図１１では図６の温度Ｔ１〜Ｔ４の代わりに温度Ｔａ〜Ｔｄが入力されるとともに、測定データＭ１〜Ｍ４の代わりに温度Ｔａ〜Ｔｄに対応した測定データＭａ〜Ｍｄとして入力される。なお、これら温度Ｔａ〜Ｔｄは温度の小さい順（または大きい順）にソートされている。
【００６０】
回路定数ソート部４５２には、電気特性解析装置４の内部に初期値パラメータとして保持されている時定数並び順ＴＣ２も入力されている。
【００６１】
また、時定数交差検出部４６１と４６２が設けられている。
【００６２】
時定数交差検出部４６１には入力部４１から出力される等価回路モデルと内部に初期値パラメータとして保持されている時定数並び順ＴＣ２と回路定数最適化部４２２から出力される回路定数最適値ＯＶ２と回路定数最適化部４２３から出力される回路定数最適値ＯＶ３が入力されて、時定数並び順ＴＣ３が回路定数ソート部４５３に出力される。
【００６３】
時定数交差検出部４６２には入力部４１から出力される等価回路モデルと時定数交差検出部４６１から出力される時定数並び順ＴＣ３と回路定数最適化部４２３から出力される回路定数最適値ＯＶ３と回路定数最適化部４２４から出力される回路定数最適値ＯＶ４が入力されて、時定数並び順ＴＣ４が回路定数ソート部４５４に出力される。
【００６４】
このような構成において、回路定数の最適化は、温度Ｔａ→温度Ｔｂ→温度Ｔｃ→温度Ｔｄの順に行われる。
【００６５】
温度Ｔｂ以降の回路定数を最適化する回路定数ソート部４５２〜４５４は、並び順を考慮するように構成されている。これは、時定数を決められた順番（小さい順）で並び替えるのではなく、別途入力される並び順通りに並び替える。
【００６６】
時定数の並び順は、時定数交差検出部４６１と４６２により決定される。これら時定数交差検出部４６１と４６２は、それより前の温度で最適化された回路定数からブロックごとの時定数の変化率を求め、これから計算される温度において時定数の大小関係の入れ替わりが起こるかどうかを判断する。時定数の大小関係が入れ替わるならば、図１２に示すように時定数の並び順の該当部分も並べ替える。なお、図１２において、破線はブロックｓの時定数を示し、２点鎖線はブロックｔの時定数を示している。
【００６７】
図１１のように構成することにより、時定数の大小関係が温度により変化しても、図１３に示すようにブロックの同一性を保つことができる。図１３は時定数の変化率を考慮した動作説明図であり、破線はブロックｓの時定数を示し、２点鎖線はブロックｔの時定数を示している。
【００６８】
なお、回路定数最適化部は、ブロックの時定数だけではなく、そのブロックの特性を示す代表的なパラメータによって並べ替えを行うこともできる。たとえば電池の電気特性の模擬においては、ワールブルグインピーダンスを素子として組み込むことも考えられる。そのとき、ワールブルグインピーダンスの素子が接続されたブロックに対しては、物質の拡散によるインピーダンス変化の強度が小さい順に、並べ替えを行ってもよい。
【００６９】
図１４も本発明の他の実施例を示すブロック図であり、図１６と共通する部分には同一の符号を付けている。図１４と図１６の相違点は、図１４には時定数範囲計算部４７が設けられていることである。
【００７０】
図１４において、時定数範囲計算部４７は、入力部４１から入力される等価回路モデルと回路定数最適化部４２１から入力される回路定数最適値ＯＶ１に基づいて時定数範囲ＴＣを計算し、計算結果を後段の回路定数最適化部４２２〜４２４に入力する。
【００７１】
これら後段の回路定数最適化部４２２〜４２４は、時定数範囲計算部４７が計算したブロックの時定数の範囲を超えないように、それぞれの回路定数を最適化する
【００７２】
なお、図１４の時定数範囲計算部４７は、時定数だけではなく、ブロックの代表的な特性を示すパラメータで制限を行ってもよい。その場合、後段の回路定数最適化部４２２〜４２４は、ブロックの代表的な特性を示すパラメータが制限された範囲内に収まるように回路定数の最適化を行う。
【００７３】
また、図１４の構成においても、特性を変化させる条件は温度に限るものではなく、たとえばＤＵＴが電池であれば充電状態ＳｏＣ（State of Charge）を条件にしてもよい。
【００７４】
また、上記実施例では、ＤＵＴが二次電池の例について説明したが、二次電池に限るものではなく、本発明は、各種の電気機器や電気部品、電子機器や電子部品などの電気特性の解析に適用できるものである。
【００７５】
以上説明したように、本発明によれば、ＤＵＴに外部から温度などの条件変化を与えて電気特性を測定しモデル化するのにあたり、条件が変化したときでも等価回路における素子の同一性を保つことができる電気特性解析装置が実現でき、たとえば電池の各種パラメータの効率的な解析に好適である。
【符号の説明】
【００７６】
４  電気特性解析装置
４１  入力部
４２１〜４２４  回路定数最適化部
４３  出力部
４４  測定データソート部
４５１〜４５４  回路定数ソート部
４６１、４６２  時定数交差検出部
４７  時定数範囲計算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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