(57)【要約】【課題】検査時間を短くするための表示装置検査方法を提供する。【解決手段】撮像素子３、レンズ５及び絞り６を有するカメラ２により表示装置８の表示を撮像し、画像データとして入力する工程と、表示装置８のカラー画素について、全点灯とフィルタ色毎の点灯のそれぞれにおける輝度を測定する工程と、輝度に基づいて、全点灯と前記フィルタ色毎の点灯のそれぞれの点灯時において表示の欠点の有無を判断する工程と、全点灯とフィルタ色毎の点灯のそれぞれの表示において、フィルタ色の全ての色の連続欠点を同一領域で検出することにより、欠点は表示装置上の異物付着か表示装置内の連続素子欠陥のいずれかに起因すると判断し、それ以外の欠点は表示装置内の素子欠陥に起因すると判断する工程とを有する。【選択図】図３
2011038938.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子、レンズ及び絞りを有するカメラにより表示装置の表示を撮像し、画像データとして入力する工程と、
前記表示装置のカラー画素について、全点灯とフィルタ色毎の点灯のそれぞれにおける輝度を測定する工程と、
前記輝度に基づいて、前記全点灯と前記フィルタ色毎の点灯のそれぞれの点灯時において前記表示の欠点の有無を判断する工程と、
前記全点灯と前記フィルタ色毎の点灯のそれぞれの前記表示において、前記フィルタ色の全ての色の連続欠点を同一領域で検出することにより、前記欠点は前記表示装置上の異物付着か前記表示装置内の連続素子欠陥のいずれかに起因すると判断し、それ以外の前記欠点は前記表示装置内の素子欠陥に起因すると判断する工程と、
を有することを特徴とする表示装置検査方法。
【請求項２】
前記絞りを調整することにより、前記表示装置の内部とその上方領域を含む範囲にピントが合う第１の被写界深度を設定する工程と、
前記絞りを調整することにより、前記表示装置の内部にピントが合うとともに前記表示装置の外側でピントが外れる第２の被写界深度に設定する工程と、
前記全点灯時、前記フィルタ色毎の点灯時のいずれかの前記輝度に基づいて、前記第１の被写界深度における前記欠点とその周辺領域との第１のコントラストを求める工程と、
前記第２の被写界深度における前記欠点とその周辺領域との第２のコントラストを求める工程と、
前記第１のコントラストと前記第２のコントラストの差が許容範囲内である場合には前記表示装置内の前記連続素子欠陥と判断し、前記第１のコントラストの前記第２のコントラストに対する差が前記許容範囲を超えている場合には前記表示装置上での前記異物付着であると判断する工程と、
を有することを特徴とする請求項１に記載の表示装置検査方法。
【請求項３】
前記フィルタ色は、赤、緑、青を含むことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の表示装置検査方法。
【請求項４】
撮像素子、レンズ及び絞りを有するカメラと、
表示装置の表示を制御する表示駆動回路と、
前記表示装置の前記表示の輝度を測定する画像入力回路と、
前記輝度に基づいて、前記表示装置のカラー画素について全点灯とフィルタ色毎の点灯のそれぞれの前記表示時に欠点の有無を判断する欠点検出回路と、
前記絞りを調整することにより、前記表示装置の内部とその上方領域を含む範囲にピントが合う第１の被写界深度と、前記表示装置の内部にピントが合うとともに前記表示装置の外側でピントが外れる第２の被写界深度に設定する絞り調整回路と、
前記全点灯時、前記フィルタ色毎の点灯時のいずれかの前記輝度に基づいて、前記第１の被写界深度における前記欠点とその周辺領域との第１のコントラストを求め、さらに、前記第２の被写界深度における前記欠点とその周辺領域との第２のコントラストを求め、前記第１のコントラストと前記第２のコントラストの差が許容範囲内である場合には前記表示装置の素子欠陥と判断し、前記第１のコントラストの前記第２のコントラストに対する差が前記許容範囲を超えている場合には前記表示装置に異物が付着していると判断する制御回路と、
を有することを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項５】
前記撮像素子は、前記表示装置の前記フィルタ色の全て色の画素が連続する１組の領域の面積以下の領域を解像する画素を有することを特徴とする請求項４に記載の表示装置の
検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置の検査方法及び検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置に代表される平面型表示装置は、携帯電話、ノートパソコンなど、多くの電子機器の表示部として使用されている。そのような平面型表示装置では、多数のドット状の画素がマトリクス状に配置されている。
【０００３】
平面型表示装置の表示欠陥検査方法として、例えば、平面型表示装置の表示パネルに欠陥検査用のテスト信号を印加して表示状態を目視により検査し、或いはＴＶカメラを介して目視により検出する方法がある。
【０００４】
その他の検査方法として、Ｘ方向に撮像用画素が配列されている画像検出センサを表示装置上でＹ方向に連続移動して表示画像を検出する方法がある。この方法では、画像検出センサの画素のサイズを検査パネルの画素の１／１０程度にするか、或いは検査パネルの画素間隔の０．５〜１倍程度の大きさとしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−９８６５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、そのような方法では、撮像素子により表示装置の表示面を高分解能で撮像し、視野を移動しながら表示面の全体を検査することになり、表示装置全面を検査するには多くの時間と検査コストを費やすことになる。
【０００７】
ところで、表示装置の画像欠陥のうちのドット状の欠陥、即ち点欠陥は、表示装置内の素子の欠陥に起因するものと、表示装置を製品に組み込む過程で付着する異物（ゴミ）に起因するものがある。
【０００８】
従って、表示装置の表示検査は、表示装置メーカーだけでなく、表示装置を電子機器に組み込む電子機器メーカーの双方において行われる。例えば、携帯電話に使用される液晶パネルの点欠陥の検査は、液晶表示装置の製造工程で行われるだけでなく、携帯電話に組み込んだ状態でも行われる。
しかし、従来の表示装置の検査方法によれば、点欠陥の原因が表示装置内に起因するのか或いは異物付着によるものなのかを見分けることが難しい。
【０００９】
本発明の目的は、検査時間を短くするための表示装置の検査方法及び検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
１つの観点によれば、撮像素子、レンズ及び絞りを有するカメラにより表示装置の表示を撮像し、画像データとして入力する工程と、前記表示装置のカラー画素について、全点灯とフィルタ色毎の点灯のそれぞれにおける輝度を測定する工程と、前記輝度に基づいて、前記全点灯と前記フィルタ色毎の点灯のそれぞれの点灯時において前記表示の欠点の有無を判断する工程と、前記全点灯と前記フィルタ色毎の点灯のそれぞれの前記表示におい
て、前記フィルタ色の全ての色の連続欠点を同一領域で検出することにより、前記欠点は前記表示装置上の異物付着か前記表示装置内の連続素子欠陥のいずれかに起因すると判断し、それ以外の前記欠点は前記表示装置内の素子欠陥に起因すると判断する工程と、を有することを特徴とする表示装置検査方法が提供される。
他の観点によれば、撮像素子、レンズ及び絞りを有するカメラと、表示装置の表示を制御する表示駆動回路と、前記表示装置の前記表示の輝度を測定する画像入力回路と、前記輝度に基づいて、前記表示装置のカラー画素について全点灯とフィルタ色毎の点灯のそれぞれの前記表示時に欠点の有無を判断する欠点検出回路と、前記絞りを調整することにより、前記表示装置の内部とその上方領域を含む範囲にピントが合う第１の被写界深度と、前記表示装置の内部にピントが合うとともに前記表示装置の外側でピントが外れる第２の被写界深度に設定する絞り調整回路と、前記全点灯時、前記フィルタ色毎の点灯時のいずれかの前記輝度に基づいて、前記第１の被写界深度における前記欠点とその周辺領域との第１のコントラストを求め、さらに、前記第２の被写界深度における前記欠点とその周辺領域との第２のコントラストを求め、前記第１のコントラストと前記第２のコントラストの差が許容範囲内である場合には前記表示装置の素子欠陥と判断し、前記第１のコントラストの前記第２のコントラストに対する差が前記許容範囲を超えている場合には前記表示装置に異物が付着していると判断する制御回路と、を有することを特徴とする表示装置の検査装置が提供される。
【発明の効果】
【００１１】
表示装置のカラー画素について全点灯とフィルタ色の色毎、例えばＲ、Ｇ、Ｂ毎の点灯のそれぞれの表示時に欠点の有無を判断し、ＲＧＢの連続欠点が同一領域で存在する場合には、表示装置上の異物付着又は表示装置内のＲＧＢの連続画素欠陥が発生すると判断している。また、カメラの絞りを変え、欠点とその周辺領域のコントラストの変化を測定し、コントラストの変化が大きい場合には、欠点の原因が異物付着であると判断する一方、その変化が無いか或いは許容範囲内である場合には、欠点の原因が内部の素子欠陥であると判断する。
これにより、ＲＧＢが隣接する領域毎に欠点の有無を判断すればよいので、カメラの視野に表示装置の広い画面を入れて欠陥の有無を検査することができ、検査時間を大幅に削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】図１は、本発明の実施形態に係る表示検査装置を示すブロック構成図である。
【図２】図２（ａ）は、本発明の実施形態に係る表示検査装置の検査対象の一例である携帯電話を示す上面図、図２（ｂ）は、図２（ａ）に示す携帯電話の表示装置の断面図、図２（ｃ）は、図２（ａ）に示す携帯電話の表示装置の画素領域を示す平面図である。
【図３】図３は、本発明の実施形態に係る表示検査方法のフローチャートである。
【図４】図４（ａ）〜（ｄ）は、本発明の実施形態に係る表示検査装置及び検査方法の検査対象である表示装置の全灯、Ｒ点灯、Ｇ点灯、Ｂ点灯の各状態の第１例を示す平面図である。
【図５】図５（ａ）〜（ｄ）は、本発明の実施形態に係る表示検査装置及び検査方法の検査対象である表示装置の全灯、Ｒ点灯、Ｇ点灯、Ｂ点灯の各状態の第２例を示す平面図である。
【図６】図６（ａ）は、本発明の実施形態に係る表示検査装置及び検査方法の検査対象である表示装置の全灯状態における欠陥の一例を示す断面図、図６（ｂ）は、図６（ａ）に示す表示装置の画素を示す平面図である。
【図７】図７（ａ）は、本発明の実施形態に係る表示検査装置及び検査方法の検査対象である表示装置の全灯状態における異物付着の一例を示す断面図、図７（ｂ）、（ｃ）は、図７（ａ）に示す表示装置のコントラストをカメラの絞りの違いで示す平面図である。
【図８】図８は、本発明の実施形態に係る表示検査方法の他の例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
発明の目的および利点は、請求の範囲に具体的に記載された構成要素および組み合わせによって実現され達成される。前述の一般的な説明および以下の詳細な説明は、典型例および説明のためのものであって、本発明を限定するためのものではない、と理解すべきである。
【００１４】
以下に、図面を参照して本発明の好ましい実施形態を説明する。図面において、同様の構成要素には同じ参照番号が付されている。
図１は、本発明の実施形態に係る表示装置の表示検査装置を示すブロック図である。
表示検査装置１は、携帯電話、ＰＤＡ、ゲーム機、テレビジョン等に取り付けられる表示装置の画面を撮像するためのカメラ２を有している。カメラ２は、ＣＣＤ、ＣＭＯＳセンサ等の撮像素子３を備えた撮像回路４と、撮像素子３に画像を結像するレンズ５と、絞り部６とを有している。
【００１５】
表示検査装置１により検査対象となる表示装置は、例えば図２（ａ）に示す携帯電話９の表示装置８であり、載置台１０に載置され、その上で支持部１０ａ、１０ｂにより支持される。
【００１６】
カメラ２内の撮像素子３は、図２（ｃ）に示すように、少なくとも検査対象となる表示装置８の絵素８ｕを１対１で撮像できる大きさの画素か、或いは絵素８ｕよりも小さい領域を撮像できる高密度の画素を有し、カラー用、モノクロ用のいずれでもよい。絵素８ｕは、後述するカラーフィルタ層８ｉの各色、例えばＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の３色の画素８ｒ、８ｇ、８ｂが連続した領域であり、マトリクス状に配置されている。例えば、ＶＧＡの表示装置８においては、少なくとも、６４０×４８０の絵素、即ち、６４０×４８０×３のＲＧＢの画素を有している。
【００１７】
カメラ２の絞り部６は、例えば移動可能な複数の絞り羽根を有し、レンズ５の前又は後ろ、或いはレンズ５が複数枚で構成されている場合にはレンズ５の間に配置される。絞り部６の開閉の度合いは絞り調整回路７により制御され、これによりカメラ２の被写界深度が調整される。
【００１８】
撮像回路４には、画像入力回路１１を介して画像座標変換回路１２が接続される。画像入力回路１１では、撮像回路４から表示装置８の撮像データを取り込むとともに、表示装置８の画素８ｒ、８ｇ、８ｂ又は絵素８ｕの輝度を測定する。画像座標変換回路１２では、撮像素子３に結像した画像の画素８ｒ、８ｇ、８ｂ又は絵素８ｕを例えばＸＹ座標で表す。
【００１９】
画像座標変換回路１２には欠点検出回路１３が接続されていて、画像データ及び輝度に基づいて表示装置８の画素に欠点が有るか無いかが判断される。画素の欠点は、例えば、本来的に点灯する座標位置に黒点が生じる現象である。
【００２０】
表示装置８は、携帯電話９の接続端子を介して表示検査装置１の表示駆動回路１６に接続され、表示駆動回路１６からの信号により例えば全点灯、Ｒ点灯、Ｇ点灯、Ｂ点灯、消灯のいずれが選択される。また、表示装置８とカメラ２の相対的位置は、ステージ位置調整回路１７により載置台１０を移動させることにより調整される。
【００２１】
画像入力回路１１、画像座標変換回路１２、欠点検出回路１３、表示部１４、絞り駆動回路７、表示駆動回路１６及びステージ位置調整回路１７は、それぞれ制御回路２０によ
って制御され、表示装置８の点灯異常の有無を判定する。
【００２２】
検査対象として、例えば図２（ａ）に示す携帯電話９の表示装置８を対象とする。携帯電話９は、表示装置８の他に操作部９ｃを有し、操作部９ｃにはテンキー９ｂ等が取り付けられている。
【００２３】
表示装置８は、例えば図２（ｂ）に示すような液晶表示装置で、ガラス基板８ａ上に形成される配線、画素電極、ＴＦＴ等を含むマトリクス駆動層８ｂと、マトリクス駆動層８ｃ上に形成された下側配向膜８ｄとを有している。さらに、下側配向膜８ｄとその上の上側配向膜８ｆの間には液晶８ｅが封止されている。上側配向膜８ｆの上には、透明電極８ｈ、カラーフィルタ層８ｉ、ガラス板８ｊ及び上部偏光板８ｋが順に重ねられている。
【００２４】
カラーフィルタ層８ｉには、Ｒ画素８ｒ、Ｇ画素８ｇ、Ｂ画素８ｂに対応してＲ、Ｇ、Ｂのフィルタが形成されている。
なお、ガラス基板８ａの底面には下部偏光板８ｍが取り付けられ、さらにその下方にはバックライト（不図示）が配置されている。
【００２５】
そのような要素を有する表示装置８は、ガラス板８ｊ、上部偏光板８ｋを透明カバー９ａで覆った状態で携帯電話９の筐体内に装着される。
携帯電話９に装着された表示装置８の表示の点灯異常の有無は次のフローを実行することにより、表示検査装置１により検出される。
【００２６】
まず、図１に示すように携帯電話９を載置台１０上に載せ、携帯電話９の端子に表示駆動回路１６を接続する。この場合、ステージ位置調整回路１７により載置台１０の位置を調整することにより、表示装置８の表示面全体をカメラ２の視野に入る状態に配置する。その後、制御回路２０は、表示駆動回路１６を介して、表示装置８のバックライトを点灯する。
【００２７】
次に、図３のａに示すように、制御回路２０は、絞り調整回路７を介してカメラ２の絞り６の開口面積を調整し、これにより被写界深度Ｌを調整して液晶８ｅから透明カバー９ａまでを含む広い範囲にピントを合わせる。
続いて、制御回路２０は、表示駆動回路１６を制御して表示装置６内のマトリクス駆動層８ｃを制御し、表示装置８の全領域の液晶８ｅを光透過状態にする。これにより、表示装置８はＲ画素８ｒ、Ｇ画素８ｇ、Ｂ画素８ｂが全点灯する状態、即ち白色表示になる。
【００２８】
続いて、図３のｂに示すように、全点灯状態の表示装置８をカメラ２で撮像し、これを画像入力回路１１及び画像座標変換回路１２により座標データとして記憶し、さらに表示部１４により画像表示する。さらに、画像入力回路１１は、表示装置８の輝度を画素８ｒ、８ｇ、８ｂ毎又は絵素８ｕ毎に測定する。
【００２９】
次に、制御回路２０は、図３のｃに示すように、表示駆動回路１６を制御して表示装置８内のマトリクス駆動層８ｃを駆動する。まず、Ｒ画素８ｒの下の液晶８ｅを光透過状態にし、その他の領域の液晶８ｅを遮光状態にし、表示装置８を赤色表示にする。続いて、Ｇ画素８ｇの下の液晶８ｅを光透過状態にし、その他の領域の液晶８ｅを遮光状態にすることにより、表示装置８を緑色表示に変える。ついで、Ｂ画素８ｂの下の液晶８ｅを光透過状態にし、その他の領域の液晶８ｅを遮光状態にすることにより、表示装置８を青色表示に変える。
【００３０】
そのように表示装置８の表示色を変える毎に、表示装置８をカメラ２で撮像し、これを画像入力回路１１及び画像座標変換回路１２により座標データとして記憶し、さらに表示
部１４により画像表示する。また、表示装置８の表示色を変える毎に、画像入力回路１１は表示装置８の輝度を画素８ｒ、８ｇ、８ｂ毎又は絵素８ｕ毎に測定する。
【００３１】
次に、図３のｄ、ｅに示すように、画像欠点検出回路１３は、表示装置６の上記４種類の表示におけるカラー画素の欠点の有無を検出する。欠点は、画素８ｒ、８ｇ、８ｂ毎又は絵素８ｕ毎の輝度の差異に基づいて求められ、輝度の差が予め定めた値よりも小さい画素８ｒ、８ｇ、８ｂ又は絵素８ｕがあれば、その位置に欠点が生じているとする。
【００３２】
そして、画素８ｒ、８ｇ、８ｂ又は絵素８ｕに欠点が無い場合には、図３のｆに示すように、表示装置８は良品であると判断して検査を終了する。また、図４（ａ）〜（ｄ）に示すように、４種類の表示の一部に欠点が存在する場合には、図３のｇ、ｈに示すように、異物付着ではなく、表示装置８の内部に欠陥があると判断し、検査を終了する。
【００３３】
一方、図５（ａ）〜（ｄ）に示すように、４種類の表示の全てに欠点が存在し、かつ、それらの４種類の全ての欠点が同一位置、即ち同一の絵素８ｕに存在する場合には、図３のｉに示すように、表示装置６の絵素８ｕ内のＲ画素８ｒ、Ｇ画素８ｇ、Ｂ画素８ｂに連続欠点があるか、又は、絵素８ｕの上方に異物が存在することになる。
【００３４】
Ｒ画素８ｒ、Ｇ画素８ｇ、Ｂ画素８ｂの連続欠点は、例えば、図６（ａ）に示すように、マトリクス駆動層８ｃの一部に画素欠陥があって、その上の液晶８ｅの配向が制御できない場合がある。この場合には、図６（ｂ）に示すように、Ｒ画素８ｒ、Ｇ画素８ｇ、Ｂ画素８ｂのフィルタ層８ｉでは遮光状態となり、その絵素８ｕは図６（ｂ）に示すように黒色となる。
異物付着による欠点は、図７（ａ）に示すように表示装置８のガラス板８ｊと透明カバー９ａの間に異物９ｘが挟まっているか、或いは、透明カバー９ａの上に異物が付着しているかのいずれかにより生じる。
【００３５】
異物付着かＲＧＢ連続欠点かの判断は次のような方法で行われる。
まず、制御回路２０は、４種類の表示の全ての欠点が同一位置に存在する場合には、図３のｊに示すように、表示駆動回路１６を介して表示装置８を全点灯状態にする。続いて、絞り６を調整して液晶８ｅから透明カバー９ａまでを含む広い範囲にピントを合わせた状態にする。
【００３６】
その後に、図３のｋ、ｌに示すように、その絞り状態における欠点位置の輝度Ｂｅ１とその周辺領域の輝度Ｂｐ１を画像入力回路１１により測定し、さらに式（１）に基づき、制御回路２０は欠点位置とその周辺領域との第１のコントラストＣ１を求める。
Ｃ１＝Ｂｐ１／Ｂｅ１          （１）
この場合、欠点の原因がＲ画素８ｒ、Ｇ画素８ｇ、Ｂ画素８ｂの連続欠点であっても、異物９ｘの付着によるものであってもピントがあっているので、図６（ｂ）、図７（ｂ）に示すように、第１のコントラストＣ１の値は実質的に同じである。
【００３７】
次に、制御回路２０は、図３のｍに示すように絞り調整回路７を制御して絞り６を開いて、図６（ａ）、図７（ａ）に示すようにガラス板８ｊの途中からガラス基板８ａ寄りの範囲に被写界深度Ｌを合わせるとともに、ガラス板８ｊの途中からその上方の透明カバー９ａを含む範囲をピントから外してぼかす。
ここで、図３のｎに示すように、表示装置８を全点灯状態に維持し、カメラ２により撮像した画像を画像入力回路１１及び画像座標変換回路１２に入力して座標化するとともに輝度を測定する。
【００３８】
続いて、そのような被写界深度Ｌの状態で、図３のｏ、ｐに示すように、欠点位置の輝
度Ｂｅ２とその周辺の輝度Ｂｐ２を画像入力回路１１により測定した後に、制御回路２０は式（２）に基づき、欠点位置とその周辺領域の第２のコントラストＣ２を演算する。
Ｃ２＝Ｂｐ２／Ｂｅ２          （２）
【００３９】
次に、制御回路２０は、図３のｑ、ｒに示すように、絞り６を絞った状態の第１のコントラストＣ１と開いた状態の第２のコントラストＣ２を比較する。
そして、第１のコントラストＣ１が、第２のコントラストＣ２よりも大きい場合、即ちＣ１＞Ｃ２＋αの場合には、制御回路２０は、透明カバー９ａの上面又は下面に異物９ｘが付着していると判断する。なお、αは、許容範囲であって０を含む数である。
【００４０】
例えば、透明カバー９ａとガラス板８ｎの間に異物９ｘが付着している状態で絞り６を開くと、図７（ｂ）の状態から図７（ｃ）のように変化し、異物９ｘの画像がぼける。これによりＣ２の値は小さくなり、Ｃ１＞Ｃ２＋αの関係が成立する。
【００４１】
これに対し、絞り６の変化の前後で第１、第２のコントラストＣ１、Ｃ２が実質的に変わらない場合、即ちＣ１＝Ｃ２＋αの場合には、図６（ｂ）に示すように表示装置６内の素子欠陥に起因してＲＧＢ画素８ｒ、８ｇ、８ｂの連続欠点が発生していることになる。
【００４２】
以上のような検査結果において、表示装置８内の素子に起因してＲ、Ｇ、Ｂ画素８ｒ、８ｇ、８ｂの少なくとも１つに欠点が発生している場合には、表示装置８自体の素子欠陥である。その対策として、例えば携帯電話９内の表示装置８を交換する。
また、表示装置８の外からの異物付着９ｘ付着により欠点が発生している場合には、その対策として、例えば携帯電話９を分解し、ガラス板８ｊの露出面を清浄にし、或いは、透明カバー９ａの表裏面を清浄にし、その後に組み立て直す。
【００４３】
上記の表示検査方法によれば、全ての絵素８Ｕにおける欠点の有無を検査し、全点灯、Ｒ点灯、Ｇ点灯、Ｂ点灯の全てに欠点があり、それらが同じ絵素８ｕに存在する場合に、絞り６を調整している。そして、絞り６の開放状態と絞り状態を比較すると、欠点位置とその周辺領域のコントラストに大きな差が生じる場合には、異物付着が原因と判断する。また、その差が同一又は許容範囲内である場合には表示装置８内の素子欠陥に原因があると判断する。
【００４４】
これにより、表示装置８の欠点の発生原因を特定することができ、表示装置８の処理、例えばパネル交換か或いは清掃作業かを容易に判断することができる。
また、上記実施形態によれば、Ｒ、Ｇ、Ｂ画素８ｒ、８ｇ、８ｂのそれぞれに個別に対応する画素数の高分解能のカメラ２を使用しなくてもよい。例えば、フィルタ色の全て色のＲ、Ｇ、Ｂ画素８ｒ、８ｇ、８ｂが連続して隣接する領域、即ち絵素８ｕの面積以下の領域を解像できる程度の分解能の画素を有するカメラ２があればよい。これにより、欠点検出処理が速くなり、検査効率が向上し、また、カメラ２に高分解能が要求されない。
【００４５】
なお、異物９ｘが透明カバー９ａに付着する場合には、異物９ｘは複数の絵素８ｕを跨ぐ大きさが殆どであり、１つの絵素８ｕよりも小さい異物９ｘによる滅点はまれである。従って、絵素８ｕ単位で上記コントラストの比較を行えばよいが、画素８ｒ、８ｇ、８ｂ単位で上記コントラストの比較を行ってもよい。
【００４６】
ところで、上記した実施形態では、全点灯、Ｒ点灯、Ｇ点灯、Ｂ点灯の４種類について画像を入力し、その後に欠点の有無、欠点の位置を検出しているが、次のような方法を採用してもよい。
【００４７】
まず、図８のｓに示すように、表示駆動回路１６により表示装置８を全点灯する。その
後に、図８のｔ、ｕに示すように、絞り６を調整して液晶８ｅからカバー板９ａを含む範囲にピントを合わせ、画像入力回路１１、画像座標変換回路１２を介して表示装置８を入力するとともに、表示装置８の画素８ｒ、８ｇ、８ｂ又は絵素８ｕの輝度を測定する。
【００４８】
そのような全点灯状態で画像に欠点が無い場合、即ち所定の輝度差が生じる点が無い場合には、図８のｖ、ｗに示すように、表示装置８は良品と判断して検査を終了する。
これにより、Ｒ点灯、Ｇ点灯、Ｂ点灯のそれぞれの検査をする必要がないので、欠点検出処理がより速くなり、検査効率がより向上する。
【００４９】
また、欠点がある場合には、図８のｘ、ｙに示すように、Ｒ点灯、Ｇ点灯、Ｂ点灯の画像を入力し、座標化し、輝度を測定し、それらの表示装置８の画素８ｒ、８ｇ、８ｂ又は絵素８ｕの輝度に基づいて欠点の有無を検出する。
その後に、図３のｅに示すフローに移り、欠点が無い場合には表示装置８は良品と判断し、また、欠点がある場合には、図３のｇ以降のフローを実行する。
そのような方法によれば、良品の表示装置８についてＲ、Ｇ、Ｂ画素８ｒ、８ｇ、８ｂの欠点の有無を判断する回数は少なくなり、欠点検出処理をさらに短時間で行うことができる。
【００５０】
ところで、上記の実施形態ではコントラストの比較を全点灯時の輝度に基づいて行ったが、Ｒ点灯、Ｇ点灯、Ｂ点灯のいずれかの輝度に基づいて行ってもよい。また、画素のフィルタの点灯色としては、Ｒ、Ｇ、Ｂに限定されるものではなく、その他の色の場合には、それらの画素の色毎に点灯の欠点を上記と同様に検出する。
なお、上記実施形態では、表示装置８として液晶パネルを例にして説明したが、有機ＥＬ、その他のデバイスであってもよい。
【００５１】
ここで挙げた全ての例および条件的表現は、発明者が技術促進に貢献した発明および概念を読者が理解するのを助けるためのものであり、ここで具体的に挙げたそのような例および条件に限定することなく解釈すべきであり、た、明細書におけるそのような例の編成は本発明の優劣を示すこととは関係ない。本発明の実施形態を詳細に説明したが、本発明の精神および範囲から逸脱することなく、それに対して種々の変更、置換および変形を施すことができると理解すべきである。
【符号の説明】
【００５２】
１  表示検査装置
２  カメラ
６  絞り
７  絞り調整回路
８  表示装置
８ｒ  赤画素
８ｇ  緑画素
８ｂ  青画素
８ｕ  絵素
１０  載置台
１１  画像入力回路
１２  画像座標変換回路
１３  欠点検出回路
１５  表示駆動回路
２０  制御回路
【図１】
2011038938.tif 000003
【図２】
2011038938.tif 000004
【図３】
2011038938.tif 000005
【図４】
2011038938.tif 000006
【図５】
2011038938.tif 000007
【図６】
2011038938.tif 000008
【図７】
2011038938.tif 000009
【図８】
2011038938.tif 000010