(57)【要約】【課題】基板に設けられたテストパターンを傷つけたり、プローブの位置ずれが生じたりするのを防止でき、かつ、小型化を実現可能な基板設置用テスト端子、及びテスト端子付き基板を提供する。【解決手段】本発明に係る基板設置用テスト端子１０は、基板１に設置され、基板１に形成されたテストパターン２の電気試験を行うための基板設置用テスト端子１０であって、プローブ２０の先端を挿入するための孔部１１と、孔部１１において、挿入されたプローブ２０の先端を挟持して保持するように孔部１１の方向に付勢力を有し、かつ、テストパターン２とプローブ２０とを電気的に接続可能な導電弾性部１３と、を備える。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板に設置され、当該基板に形成されたテストパターンの電気試験を行うための基板設置用テスト端子であって、
プローブの先端を挿入するための孔部と、
前記孔部において、挿入された前記プローブの先端を挟持して保持するように当該孔部の方向に付勢力を有し、かつ、前記テストパターンと前記プローブとを電気的に接続可能な導電弾性部と、を備える基板設置用テスト端子。
【請求項２】
前記導電弾性部は、ばね部材であることを特徴とする請求項１に記載の基板設置用テスト端子。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の基板設置用テスト端子において、
前記孔部が設けられた前記導電弾性部のみによって構成されていることを特徴とする基板設置用テスト端子。
【請求項４】
テストパターンが形成された基板と、
前記基板に設置され、前記テストパターンと電気的に接続可能な基板設置用テスト端子とを備え、
前記基板設置用テスト端子は、
プローブの先端を挿入するための孔部と、
前記孔部において、挿入された前記プローブの先端を挟持して保持するように当該孔部の方向に付勢力を有し、かつ、前記テストパターンと前記プローブとを電気的に接続可能な導電弾性部と、を具備するテスト端子付き基板。
【請求項５】
前記導電弾性部は、ばね部材であることを特徴とする請求項４に記載のテスト端子付き基板。
【請求項６】
請求項４又は５に記載のテスト端子付き基板において、
前記テスト端子は、前記孔部が設けられた前記導電弾性部のみによって構成されていることを特徴とする基板設置用テスト端子。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板設置用テスト端子、及びテスト端子付き基板に関する。
【背景技術】
【０００２】
プリント基板の試験方法として、テストパターンにプローブ先端を当接させて試験する方法が知られている。プロープを人の手により保持しつつ、プローブの先端をテストパターンに当接させる方法は、位置ずれが生じやすい、テストパターンが傷つきやすい等の問題があった。そこで、特許文献１、２などの方法が提案されている。
【０００３】
図９に、特許文献１に開示されたプリント基板の試験方法を説明するための斜視図を示す。このプリント基板は、図９に示すように、プリント基板１０１の第１面１０１Ａ上に複数のテストパターン１０２が形成されている。そして、テストパターン１０２に沿ってプローブ差し入れ用の長孔１０３が穿設されている。また、プリント基板１０１の第２面１０１Ｂ上であって長孔１０３の近傍には、立ち基板１０４がランド用の半田付け１０５によって立設状態で取り付け固定されている。立ち基板１０４には、テストパターン１０２と対応した個所に、プローブ固定用の凹溝１０６が設けられている。また、長孔１０３には、テストパターン１０２に対応する壁面にプローブ固定用の縦溝１０７が複数設けられている。
【０００４】
プローブ１０８の長手方向中途部は、立ち基板１０４の凹溝１０６に嵌め込まれ、プローブ１０８の先端近傍部分は、長孔１０３の縦溝１０７に嵌め込まれて保持される。この保持状態において、長孔１０３にプローブ１０８の先端部が差し込まれ、長孔１０３の孔壁に押しあてられる。そして、テストピン１０９がプローブ１０８の先端から突出されてテストパターン１０２に接続される。また、プローブ１０８の本体部１０８ａから延設されたグランド線１１０の先端に設けられたワニ口１１１で立ち基板１０４を挟んでグランドを取っている。
【０００５】
図１０Ａに、特許文献２に開示されたテスト端子装置の一部断正面図を、図１０Ｂに、同断側面図を示す。これらの図に示すように、プリント基板２０１に設けた透孔２０２に金属製のピン２０３を挿入し、プリント基板２０１の裏面に設けたアース回路を構成するアース箔２０４に半田付けにより取り付ける。ピン２０３は、ほぼ円筒状をしており、上端よりテスター棒２０６を挿入可能なように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】登録実用新案３０９０７０８号公報
【特許文献２】実開昭５８−４７７８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記特許文献１の方法によれば、テストパターン１０２とテストピン１０９が接触した状態を保持する必要があるため、テストパターン１０２を傷つけてしまったり、テストピン１０９の位置がずれてしまったりする恐れがあった。
【０００８】
上記特許文献２の方法によれば、テスト棒２０６とアース拍２０４を直接当接させないので、上記問題を解決することができる。しかしながら、昨今の装置の軽薄短小化の要求に応じて、テスト端子の一層の小型化が望まれている。
【０００９】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、基板に設けられたテストパターンを傷つけたり、プローブの位置ずれが生じたりするのを防止でき、かつ、小型化を実現可能な基板設置用テスト端子、及びテスト端子付き基板を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る基板設置用テスト端子は、基板に設置され、当該基板に形成されたテストパターンの電気試験を行うための基板設置用テスト端子であって、プローブの先端を挿入するための孔部と、前記孔部において、挿入された前記プローブの先端を挟持して保持するように当該孔部の方向に付勢力を有し、かつ、前記テストパターンと前記プローブとを電気的に接続可能な導電弾性部と、を備えるものである。
【００１１】
本発明に係るテスト端子付き基板は、テストパターンが形成された基板と、前記基板に設置され、前記テストパターンと電気的に接続可能な基板設置用テスト端子とを備え、前記基板設置用テスト端子は、プローブの先端を挿入するための孔部と、前記孔部において、挿入された前記プローブの先端を挟持して保持するように当該孔部の方向に付勢力を有し、かつ、前記テストパターンと前記プローブとを電気的に接続可能な導電弾性部と、を具備するものである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、基板に設けられたテストパターンを傷つけたり、プローブの位置ずれが生じたりするのを防止でき、かつ、小型化を実現可能な基板設置用テスト端子、及びテスト端子付き基板を提供することができるという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１Ａ】実施形態１に係る基板設置用テスト端子の正面図。
【図１Ｂ】実施形態１に係る基板設置用テスト端子の上面図。
【図１Ｃ】図１ＢのＩＣ−ＩＣ切断部断面図。
【図２】実施形態１に係るテスト端子付き基板を示す部分分解斜視図。
【図３】実施形態１に係るテスト端子付き基板の一部上面図。
【図４】図３のＩＶ−ＩＶ切断部断面図。
【図５】実施形態１に係る基板設置用テスト端子を用いたプリント基板の試験方法を示す説明図。
【図６Ａ】変形例に係る基板設置用テスト端子の切断部断面図。
【図６Ｂ】変形例に係る基板設置用テスト端子の切断部断面図。
【図６Ｃ】変形例に係る基板設置用テスト端子の切断部断面図。
【図６Ｄ】変形例に係る基板設置用テスト端子の切断部断面図。
【図７】実施形態２に係る基板設置用テスト端子を用いたプリント基板の試験方法を示す説明図。
【図８】実施形態３に係る基板設置用テスト端子を用いたプリント基板の試験方法を示す説明図。
【図９】特許文献１に記載のプリント基板のプリント基板の試験方法を説明するための斜視図。
【図１０Ａ】特許文献２に記載のテスト端子装置の一部断正面図。
【図１０Ｂ】特許文献２に記載のテスト端子装置の一部側面図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明を適用した実施形態の一例について説明する。なお、以降の図における各部材のサイズや比率は、説明の便宜上のものであり、実際のものとは必ずしも一致しない。
【００１５】
［実施形態１］
図１Ａは、本実施形態１に係る基板設置用テスト端子の正面図であり、図１Ｂは、同上面図、図１Ｃは、図１ＢのＩＣ−ＩＣ切断部断面図である。これらの図に示すように、基板設置用テスト端子１０は、孔部１１、筺体１２、導電弾性部１３を備えている。
【００１６】
基板設置用テスト端子１０は、基板に設置して用いられるものであり、基板に形成されたテストパターンと電気的に接続し、テストパターンの試験に利用されるものである。本実施形態１に係る基板設置用テスト端子１１は、円筒状の筺体１２により外形が構成されている。
【００１７】
孔部１１は、テストパターンを試験するためのプローブの先端を挿入するために設けられている。導電弾性部１３は、外形を構成する筺体１２と孔部１１の間に設けられている。導電弾性部１３は、孔部１１に挿入されたプローブ（不図示）の先端を挟持して保持するように、孔部１１の方向に付勢力を有し、テストパターンとプローブとを電気的に接続させる役割を担う。
【００１８】
導電弾性部１３の形状は、プローブを挟持して保持可能なように孔部１１の方向に付勢力を有するものであれば特に限定されない。本実施形態１においては、図１Ｃに示すように、断面形状がアーチ形状の導電弾性部１３により構成した。
【００１９】
導電弾性部１３の部材は、プローブを挟持して保持可能な押圧特性を備え、かつ導電性を兼ね備えていれば特に限定されないが、好ましい部材としては、ばね性を有する部材を挙げることができる。ばね部材の形状は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において特に限定されないが、例えば、板状ばね部材などを好適に適用することができる。ばね部材とすることにより、簡易な構成で基板設置用テスト端子１１の小型化を実現することができる。
【００２０】
導電弾性部１３の材料は、少なくとも表面が導電性を備え、テストパターンとプローブとを電気的に接続させる役割を担うことが可能であればよく、特に限定されないが、好ましい材料としては、金属系材料を挙げることができる。筺体１２も金属系材料等の導電材料で形成し、基板設置用テスト端子１０全体を導電製部材により構成することも可能である。このように構成すれば、テストパターンを基板設置用テスト端子１０のいずれかに電気的に接続可能なように構成すればよいので、設計自由度を高めることができる。なお、テストパターンとプローブとを基板用テスト端子１０を介して電気的に接続可能であればよく、筺体１２は、樹脂などにより構成することも可能である。
【００２１】
図２に、本実施形態１に係るテスト端子付き基板１００の部分分解斜視図を、図３に、本実施形態１に係るテスト端子付き基板１００の上面図を示す。また、図４に、図３のＩＶ−ＩＶ切断部断面図を示す。テスト端子付き基板１００は、これらの図に示すように、プリント基板１、テストパターン２、基板設置用テスト端子１０を備える。
【００２２】
テスト端子付き基板１００は、図２に示すように、テストパターン２のテストポイント２Ａ上に載置されている。テストパターン２とプローブピンが、基板設置用テスト端子１０を介して電気的に接続可能であればよく、基板設置用テスト端子１０の配置位置は問わない。なお、テストパターン２は、公知の方法を用いて形成することが可能であり、材料としては、銅箔などにより構成することができる。
【００２３】
図５に、本実施形態１に係る基板設置用テスト端子を用いたプリント基板の試験方法を示す説明図を示す。プローブ２０は、プローブ先端２１、プローブ先端を支持する支持部２２等を備える。
【００２４】
図５に示すように、プローブ先端２１は、導電弾性部１３に挟持され、かつ保持されている。また、プローブ先端２１は、基板設置用テスト端子１０を介してテストパターン２と接続されている。このように構成することにより、プリント基板１に設けられたテストパターン２に印加される電気信号を基板設置用テスト端子１０経由でプローブ２０に伝達することができる。これにより、プリント基板１に設けられたテストパターンの電気試験を実施することができる。
【００２５】
従来例のように直接プローブをテストパターンに接触させる方法の場合、プローブ先端をテストパターンに接触させた状態で保持しなくてはならない。しかしながら、実際には、プローブの先端がずれたり、テストパターンを傷つけてしまったりする場合があった。
【００２６】
本実施形態１に係る基板設置用テスト端子１０は、プローブ先端を挟持して保持する手段を設けているので、プローブ２０を手によって保持する必要がない。これによって、テストパターンに直接プローブを接触させる方式に比して、安定して試験を実施することができる。しかも、基板設置用テスト端子１０を介してプローブ先端２１とテストパターン２を電気的に接続させるようにしているので、プローブ２０によってテストパターンを傷つけたりする恐れがない。さらに、本実施形態１に係る基板設置用テスト端子１０は、プローブ先端を挟持して保持する手段を有しているので、上記特許文献２に比して、プローブを安定して保持するための基板設置用テスト端子１０の設置高さを低くすることができる。
【００２７】
また、本実施形態１によれば、プローブ先端２１を挟持させて保持させる機構をテスト端子に設けているので、プローブ先端２１やその近傍にプローブの侵入を規制するアジャスタ等を設ける必要がない。従って、基板設置用テスト端子１０の小型化を実現し、プリント基板への実装面積を小さくすることができる。
【００２８】
図６Ａ〜図６Ｄに、基板設置用テスト端子の変形例の一例を示す。図６Ａに示す基板設置用テスト端子１０ａは、すり鉢状部１５及び微小孔１６により構成される孔部１１ａを形成する導電弾性部１３ａを有する。図６Ｂに示す基板設置用テスト端子１０ｂは、すり鉢状部１５ｂ及び微小孔１６ｂにより構成される孔部１１ｂを形成する導電弾性部１３ｂを有する。
【００２９】
図６Ｃに示す基板設置用テスト端子１０ｃは、筺体を用いずに、導電弾性部１３ｃのみを構成部材とする例である。図６Ｃの例においては、より効果的に基板設置用テスト端子の小型化を実現することができる。また、構成部品を減らすことにより製造コストの削減効果も得られる。図６Ｄに示す基板設置用テスト端子１０ｄは、図６Ｃの基板設置用テスト端子１０ｃの底面に導電板１４を追加したものである。
【００３０】
なお、上記例は一例であって、本発明に係る基板設置用テスト端子は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変形が可能である。
【００３１】
[実施形態２]
次に、上記実施形態とは異なる構造のテスト端子付き基板の一例について説明する。なお、以降の説明において、上記実施形態と同一の要素部材は同一の符号を付し、適宜その説明を省略する。
【００３２】
図７に、本実施形態２に係る基板設置用テスト端子を用いたプリント基板の試験方法を示す説明図を示す。本実施形態２に係るテスト端子付き基板１００ｄは、テスト端子１０が設けられている側とは反対側の主面にテストパターン２ｄが設けられている。プリント基板１ｄには、テストパターン２ｄと電気的に接続されたスルーホール３が設けられている。
【００３３】
スルーホール３は、基板設置用テスト端子１０とテストパターン２ｄを電気的に接続する役割を担う。プローブ先端２１は、図７に示すように、導電弾性部１３に挟持され、かつ保持されている。また、プローブ先端２１は、基板設置用テスト端子１０の導電弾性部１３及びスルーホール３を介してテストパターン２ｄと接続されている。従って、プローブ先端２１を導電弾性部１３に接触させることにより、テストパターンの試験を実施することができる。なお、筺体１２も導電部材により構成されている場合には、スルーホール３と筺体１２を接続させ、テストパターン２ｄとプローブ先端２１とを、筺体１２及び導電弾性部１３を介して電気的に接続するようにしてもよい。
【００３４】
本実施形態２に係るテスト端子付き基板１００ｄによれば、テスト端子が設置されているプリント基板面とは反対側のテストパターンについても簡便な構成で試験を行うことができる。また、上記実施形態１と同様のテスト端子を用いているので、上記実施形態１と同様の効果を得ることができる。
【００３５】
[実施形態３]
次に、上記実施形態１及び２とは異なる構造のテスト端子付き基板の一例について説明する。図８に、本実施形態３に係る基板設置用テスト端子を用いたプリント基板の試験方法を示す説明図を示す。本実施形態３に係るテスト端子付き基板１００ｅは、テストパターン２ｅがプリント基板１ｅ内に埋設されている。プリント基板１ｅには、テストパターン２ｅと電気的に接続されたスルーホール３が設けられている。
【００３６】
スルーホール３は、基板設置用テスト端子１０とテストパターン２ｅを電気的に接続する役割を担う。プローブ先端２１は、図８に示すように、導電弾性部１３に挟持され、かつ保持されている。また、プローブ先端２１は、基板設置用テスト端子１０の導電弾性部１３及びスルーホール３を介してテストパターン２ｅと接続されている。従って、プローブ先端２１を導電弾性部１３に接触させることにより、プリント基板の試験を実施することができる。
【００３７】
本実施形態３に係るテスト端子付き基板１００ｅによれば、プリント基板内に埋設されているテストパターンについても簡便な構成で試験を行うことができる。また、上記実施形態１と同様の基板設置用テスト端子を用いているので、上記実施形態１と同様の効果を得ることができる。
【００３８】
上記実施形態１〜３は、任意に組み合わせて適用することができる。なお、本発明の趣旨に合致する限り、他の実施形態も本発明の範疇に属し得ることは言うまでもない。例えば、上記実施形態１〜３の例においては、テスト端子を設置する基板としてプリント基板を適用する例について述べたが、プリント基板に限定されるものではなく、テストパターンを試験する基板全般に広く本発明を適用することができる。また、基板設置用テスト端子の構成は、上記構成要素に限定されるものではなく、適宜、他の要素部材を有していてもよい。また、孔部の形状、導電弾性部の形状や材料等は一例であって、種々の変形が可能である。また、導電弾性部として、ばね性を有する部材に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において他の部材を制限なく適用することができる。
【符号の説明】
【００３９】
１      プリント基板
２      テストパターン
３      スルーホール
１０    基板設置用テスト端子
１１    孔部
１２    筺体
１３    導電弾性部
２０    プローブ
２１    プローブ先端
２２    プローブ先端支持部
１００  テスト端子付き基板
【図１Ａ】
2011129558.tif 000003
【図１Ｂ】
2011129558.tif 000004
【図１Ｃ】
2011129558.tif 000005
【図２】
2011129558.tif 000006
【図３】
2011129558.tif 000007
【図４】
2011129558.tif 000008
【図５】
2011129558.tif 000009
【図６Ａ】
2011129558.tif 000010
【図６Ｂ】
2011129558.tif 000011
【図６Ｃ】
2011129558.tif 000012
【図６Ｄ】
2011129558.tif 000013
【図７】
2011129558.tif 000014
【図８】
2011129558.tif 000015
【図９】
2011129558.tif 000016
【図１０Ａ】
2011129558.tif 000017
【図１０Ｂ】
2011129558.tif 000018