(57)【要約】【課題】試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる波形表示装置および波形表示方法を提供する。【解決手段】操作受付手段１４は、表示画面２に対するスクロール操作および拡大表示、縮小表示のための操作を受け付ける。代表データ値付与手段１５は、試験条件ごとの代表データ値を与える。表示位置算出手段１６は、代表データ値付与手段１５により与えられた代表データ値が、常に表示画面２上に表示されるように、表示画面２における縦方向についての上記波形の表示位置を算出する。表示位置制御手段１７は、表示位置算出手段１６による算出結果に基づいて、表示画面における上記波形の表示位置を制御する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示装置において、
前記表示画面について前記データ値を示す軸と直交する方向へのスクロール操作を受け付け、前記表示画面に反映させる操作受付手段と、
前記試験条件ごとに定められた代表データ値を与える代表データ値付与手段と、
前記代表データ値付与手段により与えられた前記代表データ値が、常に前記表示画面上に表示されるように、前記表示画面における前記データ値を示す軸方向について前記波形の表示位置を算出する表示位置算出手段と、
前記表示位置算出手段による算出結果に基づいて、前記表示画面における前記波形の表示位置を制御する表示位置制御手段と、
を備えることを特徴とする波形表示装置。
【請求項２】
前記代表データ値は前記試験条件ごとの前記データの平均値であることを特徴とする請求項１に記載の波形表示装置。
【請求項３】
前記代表データ値は前記試験条件ごとの規格値であることを特徴とする請求項１に記載の波形表示装置。
【請求項４】
前記操作受付手段は、前記画面表示の拡大操作および縮小操作を受け付け、前記表示画面に反映させることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の波形表示装置。
【請求項５】
前記表示位置算出手段は、前記代表データ値が、常に前記表示画面中央に表示されるように、前記波形の表示位置を算出することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の波形表示装置。
【請求項６】
半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示方法において、
前記表示画面について前記データ値を示す軸と直交する方向へのスクロール操作を受け付け、前記表示画面に反映させるステップと、
前記試験条件ごとに定められた代表データ値を与えるステップと、
前記代表データ値が、常に前記表示画面上に表示されるように、前記表示画面における前記データ値を示す軸方向について前記波形の表示位置を算出するステップと、
前記表示位置を算出するステップによる算出結果に基づいて、前記表示画面における前記波形の表示位置を制御するステップと、
を備えることを特徴とする波形表示方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示装置および波形表示方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体試験ではテスト対象デバイスに所定の試験条件を順次与え、テスト対象デバイスの出力値を当該試験条件と対応付けて保存している。試験結果は専用の波形表示ツールにより、出力値を縦軸に、試験条件を横軸にとった波形として画面表示することができる。テスト対象デバイスがＬＣＤドライバの場合には、試験条件である表示階調を段階的に変えていくため、出力値を示す波形は階段状となる。この場合、デバイスの良否の判定のための規格値を、出力値を示す波形に重ねて画面表示することにより、出力性能の良否を視覚的に把握することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−１９６９７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
波形により試験結果を確認するための機能として、波形表示ツールには拡大表示機能および表示スクロール機能が備えられている。スクロール機能は横方向および縦方向のスクロールにそれぞれ対応している。デバイスの出力値が規格の範囲にどの程度収まっているかを確認するためには、拡大表示機能で波形を拡大する必要がある。拡大表示を行うと波形の一部分しかツール画面上に表示されなくなるため、画面内に波形が表示されるように表示スクロール機能を用いた操作が必要となる。波形全体について確認するためには、ユーザは横方向および縦方向の両者についてスクロール操作を繰り返し行わなければならない。また、波形の全体像を確認しつつ拡大表示を得るためには、縮小表示、スクロール、拡大表示のための操作を繰り返す必要がある。このため、波形データの確認に時間がかかり作業効率を低下させる原因になる。
【０００５】
本発明の目的は、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる波形表示装置および波形表示方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の波形表示装置は、半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示装置において、前記表示画面について前記データ値を示す軸と直交する方向へのスクロール操作を受け付け、前記表示画面に反映させる操作受付手段と、前記試験条件ごとの代表データ値を与える代表データ値付与手段と、前記代表データ値付与手段により与えられた前記代表データ値が、常に前記表示画面上に表示されるように、前記表示画面における前記データ値を示す軸方向について前記波形の表示位置を算出する表示位置算出手段と、前記表示位置算出手段による算出結果に基づいて、前記表示画面における前記波形の表示位置を制御する表示位置制御手段と、を備えることを特徴とする。
この波形表示装置によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。
【０００７】
前記代表データ値は前記試験条件ごとの前記データの平均値であってもよい。
【０００８】
前記代表データ値は前記試験条件ごとの規格値であってもよい。
【０００９】
前記操作受付手段は、前記画面表示の拡大操作および縮小操作を受け付け、前記表示画面に反映させてもよい。
【００１０】
前記表示位置算出手段は、前記代表データ値が、常に前記表示画面中央に表示されるように、前記波形の表示位置を算出してもよい。
【００１１】
本発明の波形表示方法は、半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示方法において、前記表示画面について前記データ値を示す軸と直交する方向へのスクロール操作を受け付け、前記表示画面に反映させるステップと、前記試験条件ごとに前記データの代表データ値を与えるステップと、前記代表データ値が、常に前記表示画面上に表示されるように、前記表示画面における前記データ値を示す軸方向について前記波形の表示位置を算出するステップと、前記表示位置を算出するステップによる算出結果に基づいて、前記表示画面における前記波形の表示位置を制御するステップと、を備えることを特徴とする。
この波形表示方法によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の波形表示装置によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。
【００１３】
本発明の波形表示方法によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本実施形態の波形表示装置の構成を示すブロック図。
【図２】表示画面の表示例を示す図であり、（ａ）はテスト対象デバイスがＬＣＤドライバの場合の表示を示す図、（ｂ）は横方向にスクロールした後の表示を示す図。
【図３】縦方向の自動スクロール動作を停止した場合における表示画面の表示例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明による波形表示装置の実施形態について説明する。
【００１６】
図１は、本実施形態の波形表示装置の構成を示すブロック図である。
【００１７】
図１に示すように、本実施形態の波形表示装置１は、半導体試験により得られる出力値のデータを試験条件と対応付けた形態で格納するデータ格納部１１と、データ格納部１１に格納されたデータを波形として表示画面２に表示する表示制御部１２と、を備える。
【００１８】
また波形表示装置１は、表示画面２に対するスクロール操作および拡大表示、縮小表示のための操作を受け付ける操作受付手段１４と、試験条件ごとの代表データ値を与える代表データ値付与手段１５と、代表データ値付与手段１５により与えられた代表データ値が、常に表示画面２上に表示されるように、表示画面２における縦方向についての上記波形の表示位置を算出する表示位置算出手段１６と、表示位置算出手段１６による算出結果に基づいて、表示画面における上記波形の表示位置を制御する表示位置制御手段１７と、を構成する。
【００１９】
次に、波形表示装置１の動作について説明する。
【００２０】
図２（ａ）は表示画面２における表示例を示す図である。横軸方向に試験条件を、縦軸方向に出力値をとった波形として試験結果が示される。図２（ａ）はテスト対象デバイスがＬＣＤドライバの場合を示しており、試験条件である表示階調を段階的に変えていくため、出力値を示す波形は階段状となる。また、表示画面２には、デバイスの良否の判定のための規格値（上限値２１および下限値２２）が波形と重ねて表示されている。これにより、出力性能の良否を視覚的に把握することができる。なお、規格値は出力値と同様、試験結果に対応付けられてデータ格納部１１に格納され、表示制御部１２がデータ格納部１１にアクセスすることで、上限値２１および下限値２２が画面表示される。
【００２１】
表示画面２の波形は、操作受付手段１４への操作によって横方向に任意の位置にスクロールすることができる。しかし、本実施形態の波形表示装置１では、以下の手順に従って、表示画面２の中央に常に波形が表示されるように自動的に縦方向のスクロールが実行される。
【００２２】
代表データ値付与手段１５は、データ格納部１１に格納されたデータに基づき、試験条件ごとのデータ値（出力値）の平均を算出する。図２（ａ）に示す階段状の波形を構成する１つのステップは１つの試験条件で得られるデータ群を示している。例えば、図２（ａ）におけるデータ群２３ａは、同一の試験条件で得られるデータ群（同一試験条件で得られる複数の出力端子における出力値の集合）であり、代表データ値付与手段１５は、データ群２３ａの平均値を算出し、この平均値を当該試験条件の代表データ値として表示位置算出手段１６に与える。代表データ値付与手段１５は、適時、各試験条件について代表データ値（出力値の平均）を算出し、その値を保持する。代表データ値付与手段１５は、画像表示の要求に応じて当該試験条件の代表データ値を随時、算出することができるが、画面表示に先だって、当該試験条件について代表データ値を予め算出、保持することもできる。
【００２３】
表示位置算出手段１６は、図２（ａ）に示す表示画面２の指標線２４に位置付けられる試験条件に対応する代表データ値を代表データ値付与手段１５から取得し、代表データ値が表示画面２の中央に位置付けられるように、縦方向についての波形の表示位置（縦スクロール幅）を算出する。なお、指標線２４の画面表示の有無は任意である。
【００２４】
表示位置制御手段１７は、表示位置算出手段１６で得られた表示位置（縦方向のスクロール幅）を表示制御部１２に指示する。表示制御部１２は、表示位置制御手段１７からの指示に従った画面表示を実行する。
【００２５】
このような手順により、図２（ａ）に示すように、表示画面２の指標線２４に対応する試験条件のデータ群が、表示画面２の中央付近に常に位置付けられることになる。
【００２６】
図２（ｂ）は、図２（ａ）の状態から、操作受付手段１４への操作により表示画面２の横方向のスクロールを実行した後の状態を示す図である。
【００２７】
図２（ｂ）に示すように、指標線２が示す横方向の位置には、波形を構成する１つのステップに対応するデータ群２３ｂが位置付けられるため、データ群２３ｂのデータ値の平均値（代表データ値）が表示画面２の中央に位置付けられるように、波形の縦方向の表示位置が制御される。
【００２８】
このように、本実施形態の波形表示装置によれば、常に、画面上に波形が表示されるように自動的に縦方向のスクロールが行われる。このため、ユーザは横方向のスクロール操作をするだけで、波形全体について拡大表示画面による確認を行うことができる。
【００２９】
本実施形態の波形表示装置では、ユーザの動作モード選択により、自動的な縦方向のスクロール動作を停止させることもできる。
【００３０】
図３は、縦方向のスクロール動作を停止させたモードで、図２（ａ）の状態から、操作受付手段１４への操作により表示画面の横スクロールを実行した後の状態を示す図である。
【００３１】
この場合には、横方向へのスクロールとともに画面上の波形が表示画面２の下方に移動し、波形が表示画面２から外れることになる。したがって、ユーザは手動操作により縦方向のスクロールを行い、波形を表示画面２上に表示させることが必要となる。大きなスクロール幅が必要な場合や、波形の位置が容易に予測できない場合には、画面の縮小操作を行って予め波形の全体像を確認し、さらに、縦方向のスクロール、拡大表示のための操作を順次行わなければならない。
【００３２】
上記実施形態では、試験条件ごとのデータ値の平均を、当該試験条件の代表データ値としているが、代表データ値の決め方は任意である。例えば、試験条件ごとのデータ値の中間値を、当該試験条件の代表データ値としてもよい。また、試験条件ごとの規格値を用いて当該代表データ値を定めてもよい。例えば、図２（ａ）における上限値２１および下限値２２の平均（理想規格値）を、当該試験条件の代表データ値としてもよい。この場合、代表データ値付与手段１５は、データ格納部１１に格納された規格値等に基づいて代表データ値を獲得することができる。
【００３３】
以上説明したように、本発明の波形表示装置によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。
【００３４】
本発明の適用範囲は上記実施形態に限定されることはない。本発明は、半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示装置および波形表示方法に対し、広く適用することができる。
【符号の説明】
【００３５】
１４    操作受付手段
１５    代表データ値付与手段
１６    表示位置算出手段
１７    表示位置制御手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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