(57)【要約】【課題】  撮影画像に現れる欠陥画素などの特異画素について、補正処理のされ方を正確に確認することができる仕組みを提供する。【解決手段】  補正後画像取得部１０６は補正後の画像から指定された欠陥画素を補正した画像を取得する。部分画像領域決定部１０７は欠陥画素の位置に基づき、指定された欠陥画素とその補正に用いる画素を含む部分画像の領域を決定する。表示制御部１０８はその部分画像の領域と、補正後画像における部分画像に対応する領域を並べて表示部１０５に表示させる。【選択図】  図１
2011048759.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の画像の特異画素を補正した画素を含む補正後画像を取得する取得手段と、
前記所定の画像における特異画素に基づき、前記所定の画像の前記特異画素とその補正に用いた画素を含む部分画像の領域を決定する決定手段と、
前記決定された部分画像の領域と、前記取得した補正後画像の前記部分画像に対応する領域とを並べて表示部に表示させる表示制御手段とを有することを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
前記決定手段は前記所定の画像の異常陰影領域に応じて前記部分画像の領域を決定することを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記決定手段は前記特異画素の周辺の画素における画素値のばらつき度合いに応じて前記部分画像の領域を決定することを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記表示制御手段は所定の条件に該当する特異画素を表示させることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記所定の条件とは、
前記特異画素が複数連続している群を形成しているという条件か、
前記特異画素が前記所定の画像の異常陰影内にあるという条件のいずれかであることを特徴とする請求項４に記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記表示制御手段は、前記部分画像と対応する領域に前記部分画像と対応することを示す表示をさせることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記表示制御手段は、前記補正後画像と前記部分画像を重畳して表示させる場合に、前記部分画像を半透明にして表示させることを特徴とする請求項６に記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記表示制御手段は、前記特異画素が複数連続している特異画素の群の面積に応じて前記部分画像を表示させる画面領域の大きさを変更することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項９】
前記表示制御手段が前記部分画像の領域を表示させるか否かを設定する設定手段を有することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記決定手段は、前記所定の画像における特異画素の位置に基づいて前期領域を決定することを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項１１】
前記特異画素は欠陥画素であることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項１２】
所定の画像の特異画素を補正した画像から、前記特異画素を補正した画素の位置に基づいて、前記特異画素を補正した画素とその補正に用いた画素を含む部分画像の領域を決定する決定手段と、
前記決定された部分画像の領域と、前記所定の画像の前記部分画像と対応する領域とを並べて表示部に表示させる表示制御手段とを有することを特徴とする情報処理装置。
【請求項１３】
所定の画像の特異画素を補正した画素を含む補正後画像を取得するステップと、
前記所定の画像における特異画素に基づき、前記所定の画像の前記特異画素とその補正に用いた画素を含む部分画像の領域を決定するステップと、
前記決定された部分画像の領域と、前記取得した補正後画像の前記部分画像に対応する領域とを並べて表示部に表示させるステップとを有することを特徴とする情報処理方法。
【請求項１４】
所定の画像の特異画素を補正した画素を含む補正後画像を取得するステップと、
前記所定の画像における特異画素に基づき、前記所定の画像の前記特異画素とその補正に用いた画素を含む部分画像の領域を決定するステップと、
前記決定された部分画像の領域と、前記取得した補正後画像の前記部分画像に対応する領域とを並べて表示部に表示させるステップとを有することを特徴とする情報処理方法をコンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１５】
被写体を撮像して画像を得る撮像手段と、
前記得られた画像から特異画素の位置を抽出する抽出手段と、
前記得られた画像の前記抽出された特異画素を補正した画素を含む補正後画像を得る取得手段と、
前記得られた画像の特異画素に基づき、前記得られた画像の前記特異画素とその補正に用いた画素を含む部分画像の領域を決定する決定手段と、
前記決定された部分画像の領域と、前記取得した補正後画像の前記部分画像に対応する領域とを並べて表示部に表示させる表示制御手段とを有することを特徴とする情報処理システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置により得られた画像の特異画素を表示させる情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び当該情報処理方法をコンピュータに実行させるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタル撮像装置で撮像した画像は色や濃淡を表す画素が複数集まって構成されるが、この複数の画素の中には特異画素と呼ばれる画素が存在する。特異画素とは、撮像装置中の回路や素子の異常等により、所定の入力に対して予め定められた出力範囲を外れた値を示す欠陥画素や、その他の異常または不良の値を示す画素をいう。特異画素は撮影画像の画質に影響を与えるため、その周辺画素の平均画素値等を用いて置換する等の方法により補正され、その補正後の画像がユーザに提供される。
【０００３】
この補正処理は多くの場合自動的に行われ、不自然な処理となる場合があるため、補正の適切性を確認するための技術が必要となる。特許文献１には補正前画像の全体と補正後画像の全体を画面上の異なる位置に並べて表示し、補正の適切性の確認をしやすくする技術が開示されている。また特許文献２には補正後画像のうちユーザに指定された画像領域を補正前画像に切り換えて表示する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−８９２８号公報
【特許文献２】特開２０００−１２６１６２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特異画素の補正は局所的な領域において行われるためその画質に与える影響も局所的なものである。その上補正の適切性を確認する際に補正前後の画像全体で比較すると全体の画像情報に影響されかえって見誤ることがある。このため比較の際には適切な局所領域を決めて、その特徴を把握しつつ見比べることが必要である。
【０００６】
しかしながら、特許文献１では補正前後画像の全体を夫々表示するため、局所領域を比較することができない。特許文献２では補正前後の画像のどちらかしか表示することができず、夫々の画像の特徴を把握しつつ見比べることには向かない。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明はかかる課題を解決するためになされたものであり、所定の画像の特異画素を補正した画素を含む補正後画像を取得する取得手段と、前記所定の画像における特異画素に基づき、前記所定の画像の前記特異画素とその補正に用いた画素を含む部分画像の領域を決定する決定手段と、前記決定された部分画像の領域と、前記取得した補正後画像の前記部分画像に対応する領域とを並べて表示部に表示させる表示制御手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
このような構成を備えた本発明によれば、特異画素とその補正に用いた画素を含む部分画像と、補正後の画像を並べて表示するため、局所領域で見比べることができ、特異画素の補正のされ方を正確に確認することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第１の実施例に係る情報処理装置の構成図である。
【図２】情報処理装置が実行する処理の流れを示す図である。
【図３】情報処理装置が表示させる画面の表示例を示す図である。
【図４】その他の画面表示例を示す図である。
【図５】その他の画面表示例を示す図である。
【図６】補正前の部分画像と補正後画像の表示態様を示す図である。
【図７】第２の実施例に係るＸ線撮像システムの構成図である。
【図８】Ｘ線撮像システムが実行する処理の流れを示す図である。
【図９】Ｘ線撮像システムが表示する画面の表示例を示す図である。
【図１０】その他の画面表示例を示す図である。
【図１１】その他の画面表示例を示す図である。
【図１２】その他の実施例に係る画面表示例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態を実施例１及び２に従って説明する。なお本発明において特異画素とは異常または出力不良の画素のことであり、その周囲の画素の画素値から大きく外れた画素である。例えば画像を所定領域ごとに区切り、その区切られた各領域における画素の平均画素値から標準偏差値の８倍以上外れた画素を特異画素として定義する方法がある。以下の実施例においては、この特異画素のうち素子や回路等の異常により発生する欠陥画素を特異画素の例として説明する。
【実施例１】
【００１１】
以下、実施例１について図１乃至６を用いて説明する。本実施例は、補正後画像から補正された画素を含む画像を取得し、補正前画像から欠陥画素の周囲の部分画像を取得してこれらを並べて表示させる情報処理装置に係るものである。ここで図１は情報処理装置の構成を示す図である。図２はこの情報処理装置が実行する処理の流れを示すフローチャートである。図３乃至６は、図１の構成を有する装置が図２の処理を行うことにより表示部に表示される表示画面の例である。
図１に示される情報処理装置の構成について説明する。情報処理装置１０１は、撮像部１０２で撮像された画像の欠陥画素を欠陥画素抽出部１０３で抽出する。ここで欠陥画素の抽出方法は、例えば特異画素の定義例を用いて、所定領域内の画素平均値から標準偏差値の８倍以上離れた画素を欠陥画素とする方法を用いる。この方法で抽出される画素は欠陥画素以外の特異画素も含み得る。
【００１２】
この欠陥画素として抽出された画素を欠陥画素補正部１０４にて補正した補正後画像を取得する。また、欠陥画素の補正がされていない補正前画像を取得する。補正後画像と、補正前画像の部分画像を並べて表示部１０５に表示させる。
【００１３】
情報処理装置１０１の補正後画像取得部１０６は、外部から欠陥画素を補正した補正後画像を取得し、欠陥画素を補正した画素を含む画像を取得する。この補正後画像は、画像全体であっても、指定された欠陥画素の周囲の画像であっても、欠陥画素を補正した画素のみからなる画像であってもよい。
【００１４】
部分画像領域決定部１０７は、外部から得た欠陥画素を補正する前の画像における欠陥画素の位置に基づいて、欠陥画素とその補正に用いる画素とを少なくとも含む画像領域を決定する。この決定された領域を部分画像として取得する。
【００１５】
表示制御部１０８は、部分画像領域決定部１０７により決定された欠陥画素を有する部分画像の領域と、補正後画像取得部１０６が取得した補正後画像における部分画像に対応する領域を並べて表示させる。この表示をするための表示用の画像データを作成し、表示部１０５に表示させる制御を行う。ここでいう並べて表示するとは、領域同士を比較することができるように互いを近くに配置することをいう。
【００１６】
欠陥画素指定部１０９は、表示対象とする欠陥画素を指定するものであり、入力部１１０の入力に応じて欠陥画素を指定し、その欠陥画素の位置を補正後画像取得部１０６及び部分画像領域決定部１０７に対して通知する。この情報に基づき部分画像領域決定部１０７は部分画像として取得する画像領域を決定する。
【００１７】
欠陥画素指定部１０９による欠陥画素の指定や、欠陥画素補正部１０４による補正には、欠陥画素抽出部１０３で抽出した欠陥画素のデータである欠陥画素マップを用いる。欠陥画素マップとは、画像全体における欠陥画素の位置を表すデータであり、例えば欠陥画素である画素を１とし、正常画素である画素を０としたビットマップ形式のデータである。この欠陥画素マップを欠陥画素抽出部１０３から取得し、情報処理装置１０１内の不図示のメモリに格納しておく。
【００１８】
上記の情報処理装置による処理の流れを図２に沿って説明する。まず、補正後画像取得部１０６は、欠陥画素を補正した後の画像を外部の欠陥画素補正部１０４から取得する（ステップ２０１）。また部分画像領域決定部１０７は、欠陥画素を補正する前の画像を外部の撮像部１０２から取得する。（ステップ２０２）。
【００１９】
次に、欠陥画素指定部１０９は、抽出された欠陥画素の位置を取得する（ステップ２０３）。この欠陥画素を表示部１０５に表示させ、例えば入力部１１０によりユーザが指定できるようにする。情報処理装置１０１は入力部１１０からの入力を受け付け、（ステップ２０４）、欠陥画素を指定する情報の入力があるまで待機する（ステップ２０５）。入力があったときは（ステップ２０５にてＹＥＳ）、この入力に基づいて欠陥画素指定部１０９が欠陥画素を指定する（ステップ２０６）。
【００２０】
次に部分画像領域決定部１０７は指定された欠陥画素の位置に基づき、指定された欠陥画素とその補正に用いる画素を少なくとも含む画像領域を決定する（ステップ２０７）。また、この画像領域をステップ２０１にて取得した補正前の画像全体から抜き出し、部分画像として取得する（ステップ２０８）。表示制御部１０８はこの部分画像の領域と、部分画像に対応する補正後画像の領域を並べて表示させる表示用画像データを作成する。そしてこの表示用の画像データを表示部に表示させる制御を行う（ステップ２０９）。また表示制御部１０８が作成する表示用の画像データとしては、ここで補正後画像取得部１０６は、部分的な画像を表示させる場合には、欠陥画素指定部１０９にて指定された欠陥画素を補正した画素の周囲の画像領域を抜き出して用いる。また、後述する補助的な画像情報をも含めることもできる。更にこの画像データをユーザの指示に応じたタイミングで表示させる。詳細については画面表示の例と共に後述する。
【００２１】
その後確認ボタンを押下することにより終了処理が行われれば画面表示は終了し、終了するまではユーザの入力を受け付けて別の欠陥画素についての画像を表示させる（ステップ２１０）。
【００２２】
図３は、上記ステップ２０９により情報処理装置１０１が表示部１０５に表示させる画面の例を示した図である。図３（ａ）に示す画面表示の例では、表示制御部１０８が画像全体における欠陥画素の位置の概略を示す図と、欠陥画素の位置に番号を付した画像データを作成して表示させる。欠陥画素の位置の概略を示す図は、欠陥画素抽出部１０３より得た欠陥画素マップを用いて、画像全体における欠陥画素の位置を特定することにより作成できる。表示された番号にマウスポインタが置かれると、同じく欠陥画素の周囲の画像領域を表示させる。ここで、欠陥画素を補正した画素を有する画像は、補正前の部分画像と対応する位置及び大きさの画像としている。これにより補正前後の比較が容易になる。また欠陥画素付近の局所的な画像領域の特徴を把握しつつ見比べることにより、補正の適切性を確認することができる。また別の効果として、部分的な画像を表示することとしているため少ない画面領域で表示させることができる。欠陥画素は画像全体のうちごく一部の画素であり、欠陥画素を確認するためだけのために補正前後の画像全体を表示するという無駄を低減できる。
【００２３】
図３（ｂ）では画面上に欠陥画素マップを表示し、ユーザが画面上で欠陥画素の位置を指示する情報に基づいて、その欠陥画素の位置に対応する補正前の部分画像と、欠陥画素を補正した画素を有する画像を抜き出し同時に並べて表示させる。これは、欠陥画素マップを欠陥画素抽出部１０３から取得し、それを表示制御部１０８が表示用画像データに含めることで実現できる。
【００２４】
図４（ａ）は、異常陰影領域内にある欠陥画素を表示する画面の例を示す図である。ここで、異常陰影とは、例えば放射線撮像装置により撮像された肺野の画像上に存在する、腫瘍陰影や微小石灰化陰影である。これらの異常陰影の有無で疾病の有無やその進行状況を判断する。この異常陰影は、ＣＡＤ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ａｉｄｅｄ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）システムにて用いられる陰影検出のアルゴリズムを用いて画像から検出できる。腫瘍陰影の検出にはアイリスフィルタ処理が、微小石灰化陰影の検出にはモフォロジーフィルタ処理が例えば用いられる。アイリスフィルタ処理は、画像信号の濃度勾配の集中度の最大値を表すアイリスフィルタ出力値と所定の閾値とを比較する処理である。モフォロジーフィルタ処理は、画像信号に対して、検出しようとする微小石灰化陰影よりも大きいサイズの構造要素を用いたモフォロジー演算処理の出力値と所定の閾値とを比較する処理である。図４（ｂ）は、異常陰影の検出結果と欠陥画素との位置関係を示す図である。
【００２５】
ユーザが図４（ａ）の画面上でカーソルを動かして異常陰影を指定すると、その指定された異常陰影の領域と欠陥画素マップを比較する。比較の結果、欠陥画素マップに示される欠陥位置と異常陰影領域として判定された領域とに重なりがある場合、その重複部分の補正前画像を表示する。カーソルの位置が欠陥かつ異常陰影内ではない場合、補正前画素は表示しない。領域内に複数の欠陥が存在すれば、複数表示する。これにより、診断上重要な異常陰影内にある欠陥画素の補正のされ方を優先的に確認できる。
【００２６】
図５（ａ）は、その他の画面表示例を示した図である。ユーザが補正後画像において領域を指定する情報に基づき、領域内に欠陥画素を補正した画素が含まれる場合には、その欠陥画素を有する部分画像を表示する。これは、補正後画像を表示する為の表示用画像データと、干せ補正前の部分画像を表示する為の画像データとを別々に作成しておき、ユーザの指定に応じたタイミングで表示させることにより実現できる。図５（ｂ）は、この例における欠陥画素の位置を示した図である。また図５（ａ）では、欠陥画素を有する画像領域として抜き出される部分画像の大きさを、欠陥画素の周辺の画素値における分散値に基づいて変える処理を行う。分散値は画素値のばらつき度合いを示している。このばらつき度合いを示す分散値は、補正前画像上の欠陥画素を中心としたＮ×Ｍの領域（Ｎ、Ｍは３以上）を設定して式（１）のように計算する。
【００２７】
【数１】
2011048759.tif 000003
…式（１）
【００２８】
ｋ’はＮ×ｍ領域内の正常画素数、座標（ｘ，ｙ）は補正前画像における欠陥画素の位置であり、欠陥画素が複数連続している欠陥画素群の場合は欠陥画素群の中心や重心とする。Ｃ（ｘ＋ｎ，ｙ＋ｍ）は欠陥画素の周囲の座標における画素値を、係数αはＣ（ｘ＋ｎ，ｙ＋ｍ）の画素が欠陥画素でないときに１、欠陥画素であるとき０となる係数とする。図５（ｂ）に示す欠陥画素５０１を中心とした領域での計算結果Ｖａｒは小さい。つまり画素値のばらつき度合いが小さいので、周辺画素の表示領域を狭めて表示する。これにより効率的な画面表示を行うことができる。一方欠陥画素５０２を中心とした領域での計算結果Ｖａｒは大きい。つまり画素値のばらつき度合いが大きいため、隣接画素や補正に用いた画素だけでは局所的な傾向が捉えられず、補正の適切性を判断できない場合がある。この場合は周辺画素の表示領域を広げることにより、欠陥画素周辺の画像の特徴を把握できるようにし、補正の適切性を確認しやすくすることができる。
【００２９】
その他図５（ａ）では、このように補正後画像が部分画像と対応する画像領域以外の領域を含む場合に、画面上に表示される補正前の部分画像に対応する補正後画像の一部を図のように点線の枠で囲うことで対応関係を明示し、対応する領域を並べて表示する。これにより局所領域同士の比較を容易にし、欠陥画素の補正に関係がない部分の画像に影響されて見誤るのをより防ぐことができる。また、補正前後の画像全体を並べて表示するよりも、表示画面の利用効率を上げることができる。更に、補正後画像の全面を表示した上に補正前の部分画像を重畳させる場合には、この補正前後の画像領域を半透明にして表示させる。これにより重畳により補正後画像を隠すことなく、補正後画像全体における位置を把握させつつ他の画素を見やすくできる。
【００３０】
図６は、補正前後における欠陥画素の周辺の画像領域を示した図である。図６（ａ）から図６（ｈ）まで、欠陥画素を有する部分画像と、欠陥画素を補正した画素を有する画像の表示態様が示されている。これらの表示態様は、ユーザの設定により又は予め定められた設定に応じて決定され、これら設定に応じて補正後画像取得部１０６または部分画像領域決定部１０７が画像の切り出し範囲を変えることにより実現される。例えば図６（ａ）では、補正前画像の部分画像として欠陥画素及びその補正に用いる画素からなる画像を、補正後画像として欠陥画素を補正した画素のみからなる画像を表示する設定がなされている場合である。補正後の効果が端的に理解できる。
【００３１】
図６（ｂ）は、欠陥画素を補正する際に利用した周辺画素を表示する態様を示す図である。補正に利用した画素が適切であるか、周辺画素と比較して確認できる。また、補正に用いた画素に○印を付して強調表示する。これにより補正に用いた画素がどの画素なのかを確認することができるため、補正の適切性をより正確に確認できる。図６（ｃ）は、欠陥画素が複数連続している欠陥画素群またはブロック欠陥であり、指定された欠陥を中心に周辺画素を表示する方法である。指示された欠陥の情報が明確になる。
【００３２】
図６（ｄ）及び図６（ｅ）では、同様に複数連続している欠陥画素群であってラインとなっている欠陥であり、指示された欠陥を中心に周辺画素を表示する。ここで、一度に表示するブロックのサイズには上限があり、画素数または面積が閾値を超えるまでは欠陥画素群を全体表示するが、面積が閾値を超えると指定された画素を中心にある固定領域分の周辺画素のみを表示する。このように一度に確認する領域を区切ることで、表示部の利用効率を上げることができる。
【００３３】
更に図６（ｅ）では、スクロールバーを動かすことにより広い範囲の画素を確認することができる。一連の欠陥としての情報がより明確となる上、表示部の表示領域の利用効率を上げることができる。また、補正前画像を実際の画素サイズ以上に拡大して表示させることにより、確認を容易にすることができる。
【００３４】
図６（ｆ）は欠陥画素が画像に現れる異常陰影内に存在する場合の表示例である。この場合、異常陰影の大きさに応じて補正前の部分画像として取得する画像領域を決定する。異常陰影領域が８×８の領域とした場合、補正前画素の表示領域として異常陰影領域を全て表示する。これにより異常陰影とその異常陰影内にある欠陥画素の比較ができる。また、欠陥画素が異常陰影のエッジに存在する場合に、表示領域として異常陰影領域全てと欠陥補正に使用した領域とを含む領域とする。これにより欠陥補正の適切性をより正確に確認できる。
【実施例２】
【００３５】
以下、実施例２を、図７乃至１１を用いて説明する。本実施例に係るＸ線撮像システムは、所定の条件に該当する欠陥画素についての補正前の部分画像と補正後画像とを表示させる情報処理システムとして機能する。ここで図７はＸ線撮像システムの構成を示す図である。図８はこのＸ線撮像システムが実行する処理の流れを示すフローチャートである。図９乃至１１は、図７の構成を有するシステムが図８の処理を行うことにより表示部に表示される表示画面の例である。
【００３６】
以下、図７に示されるＸ線撮像システムの構成について説明する。Ｘ線発生装置７１０は発生したＸ線を被写体に対して照射し、これと同期した検出器７０２がＸ線を検出する。検出器７０２は検出したＸ線を電荷に変換して蓄積し、これを電気信号として読み出し、所定の処理により被写体画像を形成する。この検出器７０２は本システムにおいて撮像部として機能する。この被写体画像をコントロールＰＣ７０１が信号線である光ファイバー７１１を介して取得し、ＨＤＤ７０８の記憶領域に格納すると共に、液晶ディスプレイ７０７に表示する。
【００３７】
コントロールＰＣ７０１は、ＣＰＵ７０３、ＲＡＭ７０４、ＲＯＭ７０５、マウス７０６や、液晶ディスプレイ７０７、ＨＤＤ７０８を有しており、これらがバス７０９を介して接続されている。マウス７０６は、補正前の部分画像を表示させるか否かの設定、及び補正前の部分画像を一覧表示させるか否かなどの設定を入力するために用いられる入力部である。入力された設定はＨＤＤ７０８に記憶され、後述する処理において利用される。液晶ディスプレイ７０７は表示制御部として機能するＣＰＵ７０３の制御に応じて、作成された表示データを表示する表示部である。ＨＤＤ７０８には欠陥画素の位置や補正前後の画像など、必要な情報を格納する。また、ＨＤＤ７０８には後述する図８に示される処理を行うためのコンピュータプログラムがＨＤＤ７０８に格納されており、これがＲＡＭ７０４に読み込まれ、ＣＰＵ７０３により実行される。これによって、コントロールＰＣ７０１のハードウェア資源とコンピュータプログラムが協働して図８の欠陥画素の表示処理が実現される。
【００３８】
上記Ｘ線撮像システムによる処理の流れを図８に沿って説明する。なお、特に断らない限り処理の主体及び処理の指示を行う主体はＣＰＵ７０３である。なお、実施例１と同様の処理を実行するステップについては説明を省略する。
【００３９】
まず、検出器７０２にて撮像された補正前画像を取得する（ステップ８０１）。次にＨＤＤ７０８から既存の欠陥画素マップをロードする。次にステップ８０１にて取得した補正前画像から周知の方法により欠陥画素の抽出を行う（ステップ８０２）。この抽出結果において、欠陥画素が増加していた場合、新たな欠陥画素として欠陥画素マップへ追記し、欠陥画素マップを更新する。更新された欠陥マップは、ＨＤＤ７０８へと保存する。補正前画像は更新された欠陥マップにて欠陥補正を行い、補正後画像を取得する（ステップ８０３）。
【００４０】
次に、補正前の画像を表示する設定となっている否かをＨＤＤ７０８の設定情報により検出する。（ステップ８０４）。この設定は、マウス７０６によりユーザが行っても、予め設定されていてもよい。表示しない設定となっている場合は、従来の表示方法と同様に、補正後画像を表示する（ステップ８１２）。これは、予め欠陥画素を確認してある場合であって補正後画像の全面を表示させるときには、必ずしも補正処理を確認する必要はない。このときに、補正後画像と共に常に補正前画像の部分画像を一覧表示させるのは煩雑である。この問題に対して、補正前画像の部分画像を表示させるか否かの設定に基づいてステップ８１３の処理を行うことにより、補正前の部分画像を補正後画像の閲覧のたびに表示させてしまう煩雑さを避けることができる。
【００４１】
一方、補正前画像を表示させる設定の場合には、欠陥画素の補正前後の画像を一覧表示する設定となっているか否かを検出する（ステップ８０５）。この設定は、マウス７０６によりユーザが行っても、予め一覧表示する設定となっていてもよい。
【００４２】
一覧表示する設定となっている場合には、表示対象の欠陥画素として所定の条件に該当する欠陥画素か否かを判定する（ステップ８０６）。所定の条件としては、まず全ての欠陥画素を条件とする場合がある。また、欠陥画素が複数連続している欠陥画素群であるという条件に該当するか否かを判定することが考えられる。また別の例としては、画像が被写体の肺野の画像である場合には、画像中に現れた病変など異常陰影内にある欠陥画素であるという条件に該当するか否かを判定することが考えられる。これらについては後述する。または、ユーザが予め定めた条件に該当する欠陥画素を表示させてもよい。これら条件により選定された欠陥画素について、補正後画像または補正前の部分画像を取得し、表示用画像データを作成する。なお、ステップ８０７乃至１３については実施例１のステップ２０４乃至ステップ２１０と同様の処理であるため説明を省略する。
【００４３】
図９は、上記処理によりＸ線撮像システムの液晶ディスプレイ７０７が表示する画面の例を示した図であり、全ての欠陥画素について一覧表示させる表示例である。これは、欠陥画素マップから全ての欠陥画素の位置を取得することにより実現できる。図９（ａ）では欠陥画素を有する部分画像と、欠陥画素を補正した画像とが夫々の欠陥画素について表示される。画面の右側にはこの抜き出した部分画像の全体画像における位置を示す表示がされる。このように抜き出した補正前後の画像を一覧表示させることにより、画面の表示領域を効率的に利用しつつ、欠陥画素の補正のされ方を確認することができる。図９（ｂ）はその他の一覧表示の画面例であり、各欠陥画素情報の位置が明確にわかるよう、画像上にオーバーレイ表示する。また図９（ｃ）では、画像全体の確認をするために、対応する欠陥位置の確認をより容易にしている。これは、欠陥画素の位置を指示する情報に応じて、画像上で対応する位置の欠陥を修飾する枠で囲む表示や色の変更等により対応関係を明示する表示を付加した画像データに変更し、これを表示部に表示させることにより実現される。
【００４４】
図１０（ａ）は、その他の一覧表示の画面例であり、欠陥画素のうち欠陥画素群を形成しているか否かを判定し、欠陥画素群と判定されたものを一覧表示させる。これは、欠陥画素マップを参照して隣接した２画素以上が欠陥画素となっているものを検出することにより実現できる。図１０（ｂ）は、この例における欠陥画素の位置を示す図である。図１０（ａ）では、欠陥画素の周囲の画像領域と補正後画像が表示され、表示された欠陥画素の周囲の画像領域に対応する領域が点線で示されている。このような表示がなされることにより、画像への影響が大きい欠陥画素群を確認することができる。また、画質への影響が比較的小さい孤立欠陥の表示を省き、欠陥画素の確認に要する時間効率を上げると共に、画面利用効率を上げる。
【００４５】
図１１（ａ）は、その他の一覧表示の画面例であり、欠陥画素のうち異常陰影領域内にあるものを表示する画面の例を示す図である。これは、欠陥画素マップと異常陰影抽出アルゴリズムにより抽出された異常陰影の位置情報とを比較することにより実現できる。図１１（ｂ）は、異常陰影検出の検出結果と欠陥画素との位置関係を示す図である。図１１（ａ）では、異常陰影領域と欠陥マップを比較し、欠陥マップに示される欠陥位置と異常陰影領域として領域とに重なりがあると判定された欠陥画素について、その欠陥画素を含む部分画像を表示する。領域内に複数の欠陥が存在すれば、複数表示する。これにより、画像に現れる欠陥画素のうち異常陰影内にあるものを一覧表示させることができるため、診断上影響の大きい欠陥画素の補正処理を確認することができる。
【００４６】
以上、特異画素の例として欠陥画素を取り上げ、欠陥画素についての適用例を説明してきたが、本発明の適用例はこれに限らず、欠陥画素以外の特異画素を対象としてもよい。
【００４７】
なお、上述の実施例１の図４及び５、実施例２の図１０及び１１に示した画面表示の例では、補正後画像の全体と共に補正前画像の部分画像を重畳して表示するが、補正前画像の全体と共に補正後画像の部分画像を重畳表示してもよい。この場合の画面表示例を図１２に示す。これにより、補正前の画像に対して欠陥画素補正を施した場合にどのような画像が得られるかを、欠陥画素の周囲の領域ごとに比較できる。
【００４８】
その他、実施例１に係る情報処理装置を用いて、実施例２に係る画面表示を行うようにしてもよい。また同様に、実施例２に係るＸ線撮像システムを用いて、実施例１に係る画面表示を行うようにしてもよい。この場合には、ＨＤＤ７０８に実施例１の図２に示す処理を実行するためのプログラムを格納し、係るプログラムをＣＰＵ７０３が実行することにより画面表示が実現する。
【００４９】
更に上述した実施形態の機能を実現するプログラムを、ネットワークまたは記憶媒体を介して情報処理装置又はシステムに供給してもよい。この際には、供給されたプログラムを格納してこれを読み出し実行する装置若しくはシステム、又はこのプログラム若しくは記憶媒体自体が本発明を構成することは言うまでもない。
【符号の説明】
【００５０】
１０１  情報処理装置
１０６  補正後画像取得部
１０７  部分画像領域決定部
１０８  表示制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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