(57)【要約】【課題】実使用環境の電源ノイズを考慮した高精度な検証を実現すること。【解決手段】検証支援装置１００は、まず、デバイス検証環境１１０にて検証対象となるＰＫＧのシミュレーションを実行する（ステップＳ１０１）。検証支援装置１００では、同時に実使用環境１２０を利用して、ＰＫＧを実使用環境１２０にて動作させた場合の特性情報を取得する（ステップＳ１０２）。その後検証支援装置１００は、ステップ１０１のシミュレーションによって得られた動作結果にステップＳ１０２によって得られた特性情報を用いて補正を施すことによって、実使用環境１２０応じたシミュレーション結果を作成することができる（ステップＳ１０３）。【選択図】図１
2011022694.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検証対象回路のシミュレーションを制御するコンピュータを、
前記検証対象回路の設計情報から前記検証対象回路内のデバイスと電源との間に発生する電源ノイズの値を取得する取得手段、
電源ノイズの値に応じた動作特性が格納されたデータベースの中から前記取得手段によって取得された電源ノイズの値に応じた動作特性を特定する特定手段、
前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を、前記特定手段によって特定された動作特性に応じて補正する補正手段、
前記補正手段によって補正された動作結果を出力する出力手段、
として機能させることを特徴とする検証支援プログラム。
【請求項２】
前記コンピュータを、さらに、
前記出力手段によって出力された補正後の動作結果が、前記検証対象回路に要求される動作スペックを満たすか否かを判定する判定手段として機能させ、
前記出力手段は、前記判定手段による判定結果を出力することを特徴とする請求項１に記載の検証支援プログラム。
【請求項３】
前記特定手段は、前記電源ノイズの値による動作特性として前記検証対象回路における動作の遅延時間を特定し、
前記補正手段は、前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を前記特定手段によって特定された遅延時間分の遅延を起こす動作結果に補正することを特徴とする請求項１または２に記載の検証支援プログラム。
【請求項４】
検証対象回路のシミュレーションを制御する実行手段と、
前記検証対象回路の設計情報から前記検証対象回路内のデバイスと電源との間に発生する電源ノイズの値を取得する取得手段と、
前記検証対象回路において発生する電源ノイズの値に応じた動作特性が格納されたデータベースの中から前記取得手段によって取得された電源ノイズの値に応じた動作特性を特定する特定手段と、
前記実行手段による前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を、前記特定手段によって特定された動作特性に応じて補正する補正手段と、
前記補正手段によって補正された動作結果を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする検証支援装置。
【請求項５】
検証対象回路のシミュレーションを制御するコンピュータが、
前記検証対象回路の設計情報から前記検証対象回路内のデバイスと電源との間に発生する電源ノイズの値を取得する取得工程と、
前記検証対象回路において発生する電源ノイズの値に応じた動作特性が格納されたデータベースの中から前記取得手段によって取得された電源ノイズの値に応じた動作特性を特定する特定工程と、
前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を、前記特定工程によって特定された動作特性に応じて補正する補正工程と、
前記補正工程によって補正された動作結果を出力する出力工程と、
を実行することを特徴とする検証支援方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示技術は、電源ノイズを考慮した性能検証を可能にする検証支援プログラム、検証支援装置および検証支援方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、回路製造工程では実際の製造を開始する前段階の処理として、設計された回路が設計者の要求するスペックを満たすかを検証する検証工程が必須となる。所定の機能を実現するように設計された半導体集積回路が実デバイスでの特性評価の結果、所定の規格を満たさなかった場合、設計変更には多大な費用と時間がかかってしまう。そこで、特に近年では、設計段階において、チップのみでなく、パッケージ（以下、「ＰＫＧ」とよぶ）やＰＣＢの配線を加味した検証を行わないと所定の機能が実現できなくなってきている。したがって、検証工程において、より高精度な検証を可能にする検証支援技術が求められている。
【０００３】
図９は、従来の検証支援処理の手順を示すフローチャートである。図９のように、従来の検証支援処理では、まず、検証対象となるＰＫＧ配線設計をおこなう（ステップＳ９０１）。その後、ＰＫＧの配線情報からＰＫＧ内のＬＣＲ（Ｌ：電磁誘導値、Ｃ：静電容量値、Ｒ：抵抗値）を抽出して（ステップＳ９０２）、ＰＫＧの動作を検証するためにシミュレーションを実行する（ステップＳ９０３）。
【０００４】
その後、ステップＳ９０３におけるシミュレーションの動作結果が設計者の要求するスペックを満たしているか否かの判定をおこなう（ステップＳ９０４）。要求するスペックを満たさない場合には（ステップＳ９０４：Ｎｏ）、ステップＳ９０１に戻り、ＰＫＧ配線を再検討する。そして、ステップＳ９０４の判定がＯＫとなった場合（ステップＳ９０４：Ｙｅｓ）、ＰＫＧが要求するスペックを満たすとして一連の検証支援処理を終了する。
【０００５】
ＰＫＧのシミュレーションの際には、チップ内部でコア電源（ＶＤＤ＝１．８Ｖ）とＩ／Ｏ電源ＶＤＤＱ（ＶＤＤ＝１．８Ｖ）を分けて、双方にノイズ伝播を防いだ理想環境が利用される。また、メモリ評価ボードでも、ＶＤＤとＶＤＤＱに別電源（つまり１．８Ｖで２ｃｈ）の電源を割り当てて完全に電源分離している（たとえば、下記特許文献１参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００１−２０１５４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来技術は、上述のように電源ノイズの発生を考慮しない理想的な電源環境によって検証対象回路の動作に関するデータが採取される。実使用環境にてデバイスを動作させると、デバイスと電源との配線に応じて、理想的な電源環境では発生しなかった電源ノイズが発生するため、動作特性に誤差が生じてしまう。したがって、デバイスに要求するスペックとシミュレーションによる動作結果とのデバイスのスペックに基づいて設計した場合に、電源ノイズによる特性悪化により、動作マージンが削減されたり、不良箇所が発生する恐れがあるといった問題があった。
【０００８】
そこで、望ましくは検証対象回路を検証する際には、実使用環境に合わせた電源環境を再現して特性情報を取得したい。しかしながら、実使用環境の形態は多種多様であり、予測不可能である。たとえ予測できたとしても、これら複数の実使用環境を再現するには、複数のテスタ構成や評価ボードの準備が必要となり、電源環境の構築に多大な手間がかかってしまうという問題があった。
【０００９】
本開示技術は、上述した従来技術による問題点を解消するため、実使用環境の電源ノイズを考慮した高精度な検証を実現する検証支援プログラム、検証支援装置および検証支援方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、本開示技術は、検証対象回路のシミュレーションを制御するコンピュータにおいて、前記検証対象回路の設計情報から前記検証対象回路内の電源に発生するＬＣＲを取得する処理と、前記検証対象回路において発生するＬＣＲに応じた動作特性が格納されたデータベースの中から取得された電源ノイズによる動作特性を特定する処理と、前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を、特定された動作特性に応じて補正する処理と、補正された動作結果を出力する処理と、を含むことを要件とする。
【発明の効果】
【００１１】
本検証支援プログラム、検証支援装置および検証支援方法によれば、実使用環境の電源ノイズを考慮した高精度な検証を実現することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本実施の形態にかかる検証支援処理の一例を示す説明図である。
【図２】検証支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図３】検証支援装置の機能的構成を示すブロック図である。
【図４】検証支援処理の手順を示すフローチャートである。
【図５−１】補正処理の手順を示す説明図である。
【図５−２】ＳＴＡスペックＤＢの格納例を示すデータテーブルである。
【図６】実使用環境例を示す説明図である。
【図７】特性情報取得システムの構成例を示す説明図である。
【図８】差分特性の格納例を示すデータテーブルである。
【図９】従来の検証支援処理の手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる検証支援プログラム、検証支援装置および検証支援方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。
【００１４】
（実施の形態の一例）
図１は、本実施の形態にかかる検証支援処理の一例を示す説明図である。図１のように、本実施の形態では、検証支援装置１００を利用して電源ノイズが発生しない理想環境、すなわちデバイス検証環境１１０と、実使用環境１２０とによって得た情報を利用して高精度なデバイス検証を支援する。
【００１５】
具体的には、まず、デバイス検証環境１１０では、従来の検証支援処理と同様に検証対象となるデバイスのシミュレーションを実行する（ステップＳ１０１）。シミュレーションは理想環境で取得されたデバイス特性に基づいておこなわれる。デバイス検証環境１１０は、ノイズの発生を極力抑え、コア電源（ＶＤＤ、ＶＳＳ）とＩ／Ｏ電源（ＶＤＤＱ、ＶＳＳＱ）は完全に分離させてノイズ発生による特性悪化を防ぐような構成になっている。
【００１６】
その一方で検証支援装置１００は、実使用環境１２０を利用して、デバイスを実使用環境１２０にて動作させた場合の特性情報を取得する（ステップＳ１０２）。実使用環境１２０は、ＰＫＧごとに一品一様な構成となっている。したがって、コア電源（ＶＤＤ、ＶＳＳ）とＩ／Ｏ電源（ＶＤＤＱ、ＶＳＳＱ）とがそれぞれ異なる系統から供給されているとは限らない。場合によっては同一の系統から電源が供給されていることもあり、相互にノイズが伝わることもある。また、電源供給ラインのＬＣＲもＰＫＧによって一様ではない。
【００１７】
したがって、検証支援装置１００では、ステップＳ１０１によって得られた動作結果とステップＳ１０２によって得られた特性情報とを用いて実使用環境１２０に応じた動作結果を作成する（ステップＳ１０３）。具体的には、ステップＳ１０３では、デバイス検証環境１１０における動作結果に対して実使用環境１２０における特性情報に応じた補正を施している。
【００１８】
ステップＳ１０３によって作成された動作結果を利用してデバイスの機能を検証すれば、実使用環境１２０において電源ノイズが発生して動作特性に誤差が生じた場合であっても、あらかじめ誤差を見越した検証が可能となる。したがって、デバイス検証環境１１０では要求するスペックにて正しく動作したが、実使用環境１２０では、要求するスペックでは動作しないといった問題を防ぐことができる。
【００１９】
つぎに、上述した検証支援処理を実現するための具体的な構成について説明する。
【００２０】
（検証支援装置のハードウェア構成）
図２は、実施の形態にかかる検証支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。図２において、検証支援装置１００は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）２０１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ‐Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０３と、磁気ディスクドライブ２０４と、磁気ディスク２０５と、光ディスクドライブ２０６と、光ディスク２０７と、ディスプレイ２０８と、Ｉ／Ｆ（Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）２０９と、キーボード２１０と、マウス２１１と、スキャナ２１２と、プリンタ２１３と、を備えている。また、各構成部はバス２００によってそれぞれ接続されている。
【００２１】
ここで、ＣＰＵ２０１は、検証支援装置１００の全体の制御を司る。ＲＯＭ２０２は、ブートプログラムや検証支援処理を実現するための検証支援プログラムなどの各種プログラムを記憶している。ＲＡＭ２０３は、ＣＰＵ２０１のワークエリアとして使用される。磁気ディスクドライブ２０４は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがって磁気ディスク２０５に対するデータのリード／ライトを制御する。磁気ディスク２０５は、磁気ディスクドライブ２０４の制御で書き込まれたデータを記憶する。
【００２２】
光ディスクドライブ２０６は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがって光ディスク２０７に対するデータのリード／ライトを制御する。光ディスク２０７は、光ディスクドライブ２０６の制御で書き込まれたデータを記憶したり、光ディスク２０７に記憶されたデータをコンピュータに読み取らせたりする。
【００２３】
ディスプレイ２０８は、カーソル、アイコンあるいはツールボックスをはじめ、文書、画像、機能情報などのデータを表示する。ディスプレイ２０８は、たとえば、ＣＲＴ、ＴＦＴ液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどを採用することができる。
【００２４】
インターフェース（以下、「Ｉ／Ｆ」と略する。）２０９は、通信回線を通じてＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ＷＡＮ（Ｗｉｄｅ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、インターネットなどのネットワーク２１４に接続され、ネットワーク２１４を介して他の装置に接続される。そして、Ｉ／Ｆ２０９は、ネットワーク２１４と内部のインターフェースを司り、外部装置からのデータの入出力を制御する。Ｉ／Ｆ２０９には、たとえばモデムやＬＡＮアダプタなどを採用することができる。
【００２５】
キーボード２１０は、文字、数字、各種指示などの入力のためのキーを備え、データの入力をおこなう。また、タッチパネル式の入力パッドやテンキーなどであってもよい。マウス２１１は、カーソルの移動や範囲選択、あるいはウィンドウの移動やサイズの変更などをおこなう。ポインティングデバイスとして同様に機能を備えるものであれば、トラックボールやジョイスティックなどであってもよい。
【００２６】
スキャナ２１２は、画像を光学的に読み取り、検証支援装置１００内に検証対象回路に関連する画像データを取り込む。なお、スキャナ２１２は、ＯＣＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｈａｒａｃｔｅｒ  Ｒｅａｄｅｒ）機能を持たせてもよい。また、プリンタ２１３は、検証結果や検証対象回路に関する画像データや文書データを印刷する。プリンタ２１３には、たとえば、レーザプリンタやインクジェットプリンタを採用することができる。
【００２７】
（検証支援装置の機能的構成）
図３は、検証支援装置の機能的構成を示すブロック図である。検証支援装置１００は、検証対象回路のシミュレーションを制御するシミュレーション実行部３００を備えている。さらに、検証支援装置１００は、本実施の形態にかかる検証支援処理を実現するための機能部として、取得部３０１と、特定部３０２と、補正部３０３と、出力部３０４と、判定部３０５と、を含む構成になっている。
【００２８】
なお、検証支援装置１００の制御部となる機能（シミュレーション実行部３００〜判定部３０５）は、具体的には、たとえば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶された検証支援プログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、または、Ｉ／Ｆ２０９により、検証支援処理に関する機能を実現する。
【００２９】
シミュレーション実行部３００は、検証対象回路のシミュレーションを実行する機能を有する。シミュレーション実行部３００は、入力された回路設計情報３１０を利用して、検証対象回路の動作をシミュレーションする。なお、シミュレーションは公知の技術を用いればよく、特に制限はない。本実施の形態では、一例としてＳＴＡ（Ｓｔａｔｉｃ  Ｔｉｍｉｎｇ  Ａｎａｌｙｚｅ）のツールを利用する。
【００３０】
取得部３０１は、評価対象回路内で生じる電源ノイズを取得する機能を有する。具体的には、取得部３０１は、外部から入力された評価対象回路の回路設計情報３１０から評価対象回路内のデバイスと電源との間に発生する電源ノイズを取得する。
【００３１】
また、一般的に検証対象回路となるＰＫＧ内のＬＣＲの値を特定することによって電源ノイズを特定することができる。したがって、取得部３０１は、回路設計情報３１０から検証対象回路におけるＬＣＲの各値を取得する構成であってもよい。ＬＣＲは、上述した回路設計情報３１０を参照して各種公知の解析ツール（一例としては、たとえばアンソフト・ジャパン株式会社の３次元磁界解析ツール「ＴＰＡ」などの専用ツールがある）を利用することにより取得することができる。なお、取得部３０１によって取得されたデータは、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。
【００３２】
特定部３０２は、検証対象回路に応じた動作特性を特定する機能を有する。検証支援装置１００の特定部３０２は、あらかじめ、検証対象回路にて発生したＬＣＲや電源ノイズに応じた動作特性が格納されたデータベースにアクセス可能になっている。したがって、取得部３０１によって検証対象回路内で発生するＬＣＲや電源ノイズの値が取得されると、データベースの中から取得されたＬＣＲや電源ノイズの値に応じた動作特性を特定することができる。
【００３３】
なお、特定された特性情報はＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。また、データベースは、検証支援装置１００内のＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に用意されていてもよいし、検証支援装置１００から接続可能な外部の記憶領域に用意されていてもよい。
【００３４】
補正部３０３は、シミュレーション実行部３００によって得られた動作結果を、特定部３０２によって特定された動作特性に応じて補正する機能を有する。具体的には、補正部３０３は、動作結果として出力された値に対して、特性情報に応じた動作誤差が生じた場合を考慮した値となるように補正を施す。
【００３５】
たとえば、特性情報として、ＣＰＵ・メモリ間のアクセス時間が所定値または所定の割合で遅延を表す情報が与えられているとする。したがって、補正部３０３は、シミュレーション実行部３００から出力された動作結果を、特性情報に応じた遅延が生じた値に補正する。なお、補正部３０３によって補正された動作結果３２０は、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。
【００３６】
出力部３０４は、補正部３０３によって補正された動作結果３２０を出力する機能を有する。動作結果３２０として出力される情報としては、たとえば、シミュレーション時の処理結果や処理時間、さらには要求スペックとの比較結果などがある。なお、出力形式としては、たとえば、ディスプレイ２０８への表示、プリンタ２１３への印刷出力、Ｉ／Ｆ２０９による外部装置への送信がある。また、出力部３０４からの出力情報は、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶することとしてもよい。
【００３７】
判定部３０５は、補正後の動作結果３２０が、検証対象回路に要求される動作スペック（要求スペック３３０）を満たすか否かを判定する機能を有する。なお、要求スペック３３０は、検証支援装置１００の利用者によって任意に設定可能な値である。したがって、デバイスの用途に応じて適宜、要求スペック３３０を用意すればよい。なお、判定部３０５による判定結果は、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶することとしてもよい。また、判定部３０５によって補正後の動作結果３２０が要求スペック３３０を満たすか否かの判定を下した場合、判定結果は出力部３０４から出力される。
【００３８】
（検証支援処理の手順）
図４は、検証支援処理の手順を示すフローチャートである。図４に示す各ステップは、検証支援装置１００による検証支援処理の一例として、要求スペックを満たすＰＫＧを自動選別するための手順を表している。図４のフローチャートの処理を実行することによって、実使用環境を考慮した動作を基準としたスペック判定が可能となる。
【００３９】
まず、図４において、検証支援装置１００は、検証対象回路のＰＫＧ配線設計をおこなう（ステップＳ４０１）。なお、ステップＳ４０１の処理に代わり、すでに設計済みのＰＫＧの回路設計情報３１０を取得してもよい。つぎに、設計もしくは取得したＰＫＧの回路設計情報３１０からＰＫＧのＬＣＲを抽出する（ステップＳ４０２）。そして、抽出されたＬＣＲを利用して検証対象回路のシミュレーションを実行する（ステップＳ４０３）。
【００４０】
また、検証支援装置１００は、ステップＳ４０３の処理と並行して、ステップＳ４０２によって抽出したＬＣＲを利用してＰＫＧにて発生する電源ノイズを特定する（ステップＳ４０４）。そして、特定された電源ノイズを利用して、データベースを検索して実使用環境１２０における特性情報を特定する（ステップＳ４０５）。
【００４１】
ステップＳ４０３のシミュレーションと、ステップＳ４０５の特性情報の特定とが終了すると、特性情報を利用してシミュレーションの動作結果の補正処理をおこなう（ステップＳ４０６）。なお、ステップＳ４０６の補正処理については詳しく後述する。
【００４２】
そして、検証支援装置１００では、判定部３０５によって補正された動作結果３２０が要求スペック３３０を満たすか否かの判定をおこなう（ステップＳ４０７）。ステップＳ４０７において、動作結果３２０が要求スペック３３０を満たさない場合には（ステップＳ４０７：Ｎｏ）、ステップＳ４０１に戻り、ＰＫＧ配線設計を再検討する。そして、ステップＳ４０７の判定がＯＫとなった場合（ステップＳ４０７：Ｙｅｓ）、要求スペック３３０を満たす動作結果３２０が得られたとして一連の検証支援処理を終了する。
【００４３】
（補正処理の手順）
図５−１は、補正処理の手順を示す説明図である。図５では、図４にて説明したステップＳ４０６の処理を詳細に表している。補正処理では、ステップＳ４０３によって得られたシミュレーションの動作結果と、ステップＳ４０５によって得られた特性情報を用いて実使用環境で動作させた場合の動作結果（補正後の動作結果３２０）を作成する。
【００４４】
図５−２は、ＳＴＡスペックＤＢの格納例を示すデータテーブルである。本実施の形態では、上述したようＳＴＡを利用している。したがって、ステップＳ４０３のシミュレーションの動作結果は図５−２のデータテーブル５２０のように所定の項目の動作値がＳＴＡスペックＤＢ５０１に格納される。また、特性情報を特定するために、ステップＳ４０２によって抽出されたＰＫＧのＬＣＲから特定差分ＤＢ５０２が検索される。特性差分ＤＢ５０２には、ステップＳ４０３によるシミュレーションの動作結果を補正するための特性情報として、デバイス検証環境１１０における動作と実使用環境１２０における動作との特性差分がＬＣＲの値ごとに格納されている。
【００４５】
したがって、ＳＴＡスペックＤＢ５０１に格納された動作結果に対して、特定差分ＤＢ５０２の中から検索された特性情報を利用して補正を施すことにより、実使用環境１２０に適した動作結果を作成する。作成された動作結果は補正ＳＴＡスペックＤＢ５０３に格納される。ステップ４０７の判定処理では、補正ＳＴＡスペックＤＢ５０３に格納された動作結果を利用して要求スペック３３０を満たすか否かの判定がおこなわれる。
【００４６】
（データベース作成処理）
図３の特定部３０２にて説明したように、検証支援装置１００では、あらかじめ用意されたデータベースの中から実使用環境１２０によって生じる電源ノイズに応じた動作を表す特性情報を特定する。したがって、つぎに、データベース作成処理の一例について説明する。
【００４７】
図６は、実使用環境例を示す説明図である。本実施の形態では、電源評価用チップ（実機）を用いて、シリコン基板上で柔軟性のある電源ノイズ環境を実現する。具体的な実使用環境１２０としては、たとえば、図６のような電源環境が挙げられる。電源評価用チップは、ＣｏＣ（Ｃｈｉｐ  ｏｎ  Ｃｈｉｐ）やＳｉ貫通ビアなど寄生容量の小さい接続形態の再現が可能な構成になっている。
【００４８】
図６のような様々な電源ノイズ環境（ＬＣＲ）における動作データを取得する。そして、これらのデバイス検証環境１１０と実使用環境１２０とにおけるそれぞれの動作データの差分を求めることにより、電源ノイズごとの特性情報を得ることができる。なお、電源評価用チップの電源環境は、図６に例示したようなシリコン基板上で形成する構成に限らず、シリコン基板内に受動部品を配置するような構成を組み合わせてもよい。
【００４９】
図７は、特性情報取得システムの構成例を示す説明図である。データベースを作成するには、ＰＫＧに搭載するメモリチップ７００と電源評価用チップ７１０とにテスタ７２０を接続した特性情報取得システムを構成する。図７では、電源評価用チップ７１０内の可変パラメータによって、ＰＫＧ内のＶＤＤ−ＶＤＤＱ間の抵抗値を検出する構成になっている。
【００５０】
また、図７には図示していないが、同様に、可変抵抗を設けることによって下記の各値を検出することができる。
【００５１】
・ＶＤＤ−ＶＤＤＱ間の容量値
・ＶＤＤ−ＶＤＤＱ間の誘導値
・ＶＤＤ（ＶＤＤＱ）の抵抗
・ＶＳＳ（ＶＳＳＱ）の抵抗（電流経路）
・ＳｏＣの電源とのノイズ伝達
【００５２】
なお、各スイッチ（ＳＷ１〜Ｎ）のＯＮ／ＯＦＦ設定は、外部端子（ＳＷ）からシリアルに入力し各レジスタ（Ｒｅｇ１〜Ｎ）の設定により制御することができる。また、ＳＷ／ＣＬＫはメモリのＡｄｄ／Ｃｎｔ／ＤＱなどの信号線と同様にテスタから供給する。
【００５３】
図８は、差分特性の格納例を示すデータテーブルである。特性情報取得システムによって測定された値は、差分特性としてデータベースに格納される。具体的には、図８のデータテーブル８００のように、ＶＤＤ−ＶＤＤＱ間の容量値とＶＤＤ−ＶＤＤＱ間の抵抗値とに応じた処理時間の遅延時間（１０ｐｓ単位）が特性情報として格納される。データテーブル８００は、ＶＤＤ−ＶＤＤＱ間の誘導値ごとに用意されているため、ＬＣＲの各値が抽出されるとデータベースの中から対応する特性情報が特定される。
【００５４】
なお、実使用環境１２０では、デバイスと電源の間にＬＣＲのすべての値が発生するとは限らない。すなわち、Ｌ，Ｃ，Ｒそれぞれ単独の場合（ＬＣが相殺されている場合も含む）、または、ＬＣＲのうちの２つの値のみ発生する場合もある。したがって、データベースには、Ｌ＝０，Ｃ＝０，Ｒ＝０の場合を含んだ特性情報を用意しておく。
【００５５】
以上説明したように、本実施の形態にかかる検証支援プログラム、検証支援装置および検証支援方法によれば、検証対象回路の設計情報を用いてシミュレーションを実行するとともに、設計情報から検証対象回路内で発生する電源ノイズの値に関する情報を取得する。取得された情報は、検証対象回路の実使用環境における動作特性を特定する。そして、特定された動作特性を利用して検証対象回路のシミュレーションから得た動作結果を補正することができる。したがって、実使用環境を考慮した高精度な検証が可能となる。
【００５６】
また、上記の技術では、さらに要求スペックと補正後の動作結果とを比較する機能部を設けることによって、実使用環境における動作が要求されるスペックを満たすか否かを自動的に判定することができる。したがって、要求するスペックを満たした回路を自動的に選別することができる。また、要求するスペックに満たない場合には、所定のメッセージを出力させたり、設計用ツールを起動させるなどして、設計者に回路の設計変更を促すように設定してもよい。
【００５７】
また、上記の技術では、さらに、検証対象回路において発生する可能性のある電源ノイズに応じたそれぞれの特性情報と、理想環境における特性情報との差分情報をデータベースに格納しておいてもよい。そして、データベースの中から検証対象回路によって取得された電源ノイズによる動作特性と、理想環境における動作特性との差分情報が特定される。したがって、差分情報を理想環境におけるシミュレーションの動作結果に加えることによって容易な演算処理のみで実使用環境を考慮した動作結果を得ることができる。
【００５８】
また、上記の技術では、電源ノイズの値による動作特性として検証対象回路における動作の遅延時間を特定する構成でもよい。補正処理の際には、シミュレーションの実行によって得られた動作結果を特定された遅延時間分遅延するように補正する。したがって、検証対象回路の動作結果として実使用環境を考慮した正確な処理時間を得ることができる。
【００５９】
また、上記の技術では、さらに特性情報として、検証対象回路内の電源とデバイス間に発生する抵抗値、静電容量値および電磁誘導値ごとの値をそれぞれ格納してもよい。検証対象回路の設計情報から検証対象回路内の電源とデバイス間に発生する抵抗値、静電容量値および電磁誘導値を取得すれば、これらの値から検証対象回路を実環境で動作させた際の特性情報を特定することができる。すなわち、電源ノイズの値を個別に取得せずに、実使用環境を考慮した動作結果を得ることができる。
【００６０】
なお、本実施の形態で説明した検証支援方法は、あらかじめ用意されたプログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することにより実現することができる。本検証支援プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また本検証支援プログラムは、インターネットなどのネットワークを介して配布してもよい。
【００６１】
また、本実施の形態で説明した検証支援装置１００は、スタンダードセルやストラクチャードＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）などの特定用途向けＩＣ（以下、単に「ＡＳＩＣ」と称す。）やＦＰＧＡなどのＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｄｅｖｉｃｅ）によっても実現することができる。具体的には、たとえば、上述した検証支援装置１００の機能（取得部３０１〜判定部３０５）をＨＤＬ記述によって機能定義し、そのＨＤＬ記述を論理合成してＡＳＩＣやＰＬＤに与えることにより、検証支援装置１００を製造することができる。
【００６２】
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【００６３】
（付記１）検証対象回路のシミュレーションを制御するコンピュータを、
前記検証対象回路の設計情報から前記検証対象回路内のデバイスと電源との間に発生する電源ノイズの値を取得する取得手段、
電源ノイズの値に応じた動作特性が格納されたデータベースの中から前記取得手段によって取得された電源ノイズの値に応じた動作特性を特定する特定手段、
前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を、前記特定手段によって特定された動作特性に応じて補正する補正手段、
前記補正手段によって補正された動作結果を出力する出力手段、
として機能させることを特徴とする検証支援プログラム。
【００６４】
（付記２）前記コンピュータを、さらに、
前記出力手段によって出力された補正後の動作結果が、前記検証対象回路に要求される動作スペックを満たすか否かを判定する判定手段として機能させ、
前記出力手段は、前記判定手段による判定結果を出力することを特徴とする付記１に記載の検証支援プログラム。
【００６５】
（付記３）前記データベースには、前記検証対象回路において発生する可能性のある電源ノイズの値に応じたそれぞれの特性情報と、理想環境における特性情報との差分情報が格納されており、
前記特定手段は、前記データベースの中から前記取得手段によって取得された電源ノイズの値による動作特性と、理想環境における動作特性との差分情報を特定し、
前記補正手段は、前記特定手段によって特定された差分情報を用いて前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を補正することを特徴とする付記１または２に記載の検証支援プログラム。
【００６６】
（付記４）前記特定手段は、前記電源ノイズの値による動作特性として前記検証対象回路における動作の遅延時間を特定し、
前記補正手段は、前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を前記特定手段によって特定された遅延時間分の遅延を起こす動作結果に補正することを特徴とする付記１〜３のいずれか１つに記載の検証支援プログラム。
【００６７】
（付記５）前記データベースには、抵抗値、静電容量値および電磁誘導値ごとに発生する電源ノイズの値に応じた特性情報が格納されており、
前記取得手段は、前記検証対象回路の設計情報から前記検証対象回路内のデバイスと前記電源との間に発生する抵抗値、静電容量値および電磁誘導値を取得し、
前記特定手段は、前記データベースの中から前記取得手段によって取得された抵抗値、静電容量値および電磁誘導値によって発生する電源ノイズの値に応じた動作特性を特定することを特徴とする付記１〜４のいずれか一つに記載の検証支援プログラム。
【００６８】
（付記６）検証対象回路のシミュレーションを制御する実行手段と、
前記検証対象回路の設計情報から前記検証対象回路内のデバイスと電源との間に発生する電源ノイズの値を取得する取得手段と、
前記検証対象回路において発生する電源ノイズの値に応じた動作特性が格納されたデータベースの中から前記取得手段によって取得された電源ノイズの値に応じた動作特性を特定する特定手段と、
前記実行手段による前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を、前記特定手段によって特定された動作特性に応じて補正する補正手段と、
前記補正手段によって補正された動作結果を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする検証支援装置。
【００６９】
（付記７）検証対象回路のシミュレーションを制御するコンピュータが、
前記検証対象回路の設計情報から前記検証対象回路内のデバイスと電源との間に発生する電源ノイズの値を取得する取得工程と、
前記検証対象回路において発生する電源ノイズの値に応じた動作特性が格納されたデータベースの中から前記取得手段によって取得された電源ノイズの値に応じた動作特性を特定する特定工程と、
前記検証対象回路のシミュレーションによって得られた動作結果を、前記特定工程によって特定された動作特性に応じて補正する補正工程と、
前記補正工程によって補正された動作結果を出力する出力工程と、
を実行することを特徴とする検証支援方法。
【符号の説明】
【００７０】
１００  検証支援装置
１１０  デバイス検証環境
１２０  実使用環境
３００  シミュレーション実行部
３０１  取得部
３０２  特定部
３０３  補正部
３０４  出力部
３０５  判定部
３１０  回路設計情報
３２０  動作結果
３３０  要求スペック
５０１  ＳＴＡスペックＤＢ（データベース）
５０２  特定差分ＤＢ（データベース）
５０３  補正ＳＴＡスペックＤＢ（データベース）
７００  メモリチップ
７１０  電源評価チップ
７２０  テスタ
【図１】
2011022694.tif 000003
【図２】
2011022694.tif 000004
【図３】
2011022694.tif 000005
【図４】
2011022694.tif 000006
【図５−１】
2011022694.tif 000007
【図５−２】
2011022694.tif 000008
【図６】
2011022694.tif 000009
【図７】
2011022694.tif 000010
【図８】
2011022694.tif 000011
【図９】
2011022694.tif 000012