(57)【要約】【課題】監視対象となるＬＳＩが故障しても、或いは当該ＬＳＩに印加される電源電圧が異常となっても、当該ＬＳＩの異常として検出できるようにする。【解決手段】モータ駆動ＩＣ１９内の負電圧レギュレータ１９４は、装置電源Ｖ５からの装置電源電圧に基づいて第１の電源電圧を生成し、被監視デバイス７１に印加する。監視デバイス７３内の電流モニタ・判定モジュール１９７は、装置電源Ｖ１２からの装置電源電圧で動作して被監視デバイス７１と負電圧レギュレータ１９４との間を流れる電流を監視し、その電流監視結果に基づいて被監視デバイス７１の異常を判定して異常信号ＦＡＵＬＴｎを監視デバイス７４に送出する。監視デバイス７４は、モータ駆動ＩＣ１９内の正電圧レギュレータ１９６から印加される第２の電源電圧で動作し、上記異常信号ＦＡＵＬＴｎに基づいて動作を停止して、その旨を上位システムに通知する。【選択図】      図７
2011129216.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の電源電圧で動作し、負荷に電流を供給することにより当該負荷を駆動する第１のＬＳＩと、
装置電源から供給される装置電源電圧に基づいて前記第１の電源電圧を生成する第１の電圧レギュレータ及び前記装置電源から供給される装置電源電圧に基づいて第２の電源電圧を生成する第２の電圧レギュレータを備えた第２のＬＳＩと、
前記第２の電源電圧で動作して前記第１のＬＳＩを制御するコントローラであって、前記第１のＬＳＩの異常を示す異常信号を受け取ることにより動作を停止して、その旨を上位システムに通知するコントローラと、
前記第１のＬＳＩ及び前記コントローラの外部に設けられ、前記装置電源から供給される装置電源電圧で動作して前記第１のＬＳＩと前記第１の電圧レギュレータとの間を流れる電流を監視し、その電流監視結果に基づいて前記第１のＬＳＩの異常を判定して前記異常信号を前記コントローラに送出する電流モニタ・判定モジュールと
を具備することを特徴とする監視システム。
【請求項２】
前記負荷は、磁気ディスク装置におけるヘッドであり、
前記第１のＬＳＩは、ライト状態において前記ヘッドに電流を供給する、前記磁気ディスク装置におけるリード／ライトアンプＩＣであり、
前記第２のＬＳＩは、スピンドルモータ及びボイスコイルモータを駆動する、前記磁気ディスク装置におけるモータ駆動ＩＣであり、
前記電流モニタ・判定モジュールは、前記磁気ディスク装置の筐体内に備えられる
ことを特徴とする請求項１記載の監視システム。
【請求項３】
前記電流モニタ・判定モジュールは、前記ライト状態における電流監視結果とリード状態における電流監視結果との相対比較により、前記リード／ライトアンプＩＣの異常を判定することを特徴とする請求項２記載の監視システム。
【請求項４】
前記電流モニタ・判定モジュールは、前記ライト状態において前記リード／ライトアンプＩＣと前記第１の電圧レギュレータとの間を流れる電流の平均値である第１の平均電流を前記ライト状態における電流監視結果として検出し、前記リード状態において前記リード／ライトアンプＩＣと前記第１の電圧レギュレータとの間を流れる電流の平均値である第２の平均電流を前記リード状態における電流監視結果として検出する平均電流検出モジュールを備えている
ことを特徴とする請求項３記載の監視システム。
【請求項５】
前記電流モニタ・判定モジュールは、前記第１の平均電流及び前記第２の平均電流の差分に相当する値を前記コントローラによって設定された閾値と比較することにより前記リード／ライトアンプＩＣの異常を判定する比較器を備えている
ことを特徴とする請求項４記載の監視システム。
【請求項６】
前記電流モニタ・判定モジュールは、
ライトモードの開始時点から前記コントローラによって設定される一定時間後における前記第１の平均電流を第１のデジタル値に変換し、前記リード状態における前記第２の平均電流を第２のデジタル値に変換するアナログ／デジタル変換器と、
前記第１のデジタル値及び前記第２のデジタル値を保持するレジスタ手段とを備えており、
前記比較器は、前記第１のデジタル値及び前記第２のデジタル値の差分を、前記第１の平均電流及び前記第２の平均電流の差分に相当する値として用いる
ことを特徴とする請求項５記載の監視システム。
【請求項７】
前記モータ駆動ＩＣは前記電流モニタ・判定モジュールを備えている
ことを特徴とする請求項２記載の監視システム。
【請求項８】
前記リード／ライトアンプＩＣは前記第１の電源電圧及び第３の電源電圧で動作し、
前記第１の電源電圧は負電圧で、前記第３の電源電圧は正電圧であり、
前記モータ駆動ＩＣは、前記装置電源から供給される装置電源電圧に基づいて前記第３の電源電圧を生成する第３の電圧レギュレータを更に備え、
前記電流モニタ・判定モジュールは、
前記リード／ライトアンプＩＣと前記第１の電圧レギュレータとの間を流れる電流を第１の電流として監視し、前記ライト状態における前記第１の電流の監視結果に基づいて前記リード／ライトアンプＩＣの異常を判定する第１の電流モニタ・判定モジュールと、
前記リード／ライトアンプＩＣと前記第３の電圧レギュレータとの間を流れる電流を第２の電流として監視し、前記ライト状態における前記第２の電流の監視結果に基づいて前記リード／ライトアンプＩＣの異常を判定する第２の電流モニタ・判定モジュールとから構成される
ことを特徴とする請求項２記載の監視システム。
【請求項９】
前記第１の電流モニタ・判定モジュールは、前記ライト状態における前記第１の電流の監視結果とリード状態における前記第１の電流の監視結果との相対比較により、前記リード／ライトアンプＩＣの異常を判定し、
前記第２の電流モニタ・判定モジュールは、前記ライト状態における前記第２の電流の監視結果とリード状態における前記第２の電流の監視結果との相対比較により、前記リード／ライトアンプＩＣの異常を判定する
ことを特徴とする請求項８記載の監視システム。
【請求項１０】
前記第１の電流モニタ・判定モジュールは、前記ライト状態において前記リード／ライトアンプＩＣと前記第１の電圧レギュレータとの間を流れる第１の電流の平均値である第１の平均電流を前記ライト状態における第１の電流の監視結果として検出し、前記リード状態において前記リード／ライトアンプＩＣと前記第１の電圧レギュレータとの間を流れる第１の電流の平均値である第２の平均電流を前記リード状態における第１の電流の監視結果として検出する第１の平均電流検出モジュールを備え、
前記第２の電流モニタ・判定モジュールは、前記ライト状態において前記リード／ライトアンプＩＣと前記第３の電圧レギュレータとの間を流れる第２の電流の平均値である第３の平均電流を前記ライト状態における第２の電流の監視結果として検出し、前記リード状態において前記リード／ライトアンプＩＣと前記第３の電圧レギュレータとの間を流れる第２の電流の平均値である第４の平均電流を前記リード状態における第２の電流の監視結果として検出する第２の平均電流検出モジュールを備えている
ことを特徴とする請求項９記載の監視システム。
【請求項１１】
前記第１の電流モニタ・判定モジュールは、前記第１の平均電流及び前記第２の平均電流の差分に相当する値を前記コントローラによって設定された第１の閾値と比較することにより前記リード／ライトアンプＩＣの異常を判定する第１の比較器とを備え、
前記第２の電流モニタ・判定モジュールは、前記第３の平均電流及び前記第４の平均電流の差分に相当する値を前記コントローラによって設定された第２の閾値と比較することにより前記リード／ライトアンプＩＣの異常を判定する第２の比較器とを備えている
ことを特徴とする請求項１０記載の監視システム。
【請求項１２】
前記第１の電流モニタ・判定モジュールは、
ライトモードの開始時点から前記コントローラによって設定される一定時間後における前記第１の平均電流を第１のデジタル値に変換し、前記リード状態における前記第２の平均電流を第２のデジタル値に変換する第１のアナログ／デジタル変換器と、
前記第１のデジタル値及び前記第２のデジタル値を保持する第１のレジスタ手段とを備え、
前記第２の電流モニタ・判定モジュールは、
ライトモードの開始時点から前記コントローラによって設定される一定時間後における前記第３の平均電流を第３のデジタル値に変換し、前記リード状態における前記第４の平均電流を第４のデジタル値に変換する第２のアナログ／デジタル変換器と、
前記第３のデジタル値及び前記第４のデジタル値を保持する第２のレジスタ手段とを備えており、
前記第１の比較器は、前記第１のデジタル値及び前記第２のデジタル値の差分を、前記第１の平均電流及び前記第２の平均電流の差分に相当する値として用いる
前記第２の比較器は、前記第３のデジタル値及び前記第４のデジタル値の差分を、前記第３の平均電流及び前記第４の平均電流の差分に相当する値として用いる
ことを特徴とする請求項１１記載の監視システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、負荷に電流を供給することにより当該負荷を駆動するＬＳＩを監視する監視システムに係り、特に当該ＬＳＩが、ヘッドに電流を供給する、磁気ディスク装置におけるリード／ライトアンプＩＣである場合に好適な監視システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置は、ヘッドによるデータのリード／ライトのために、当該ヘッドに電流を供給するリード／ライトアンプＩＣ（いわゆるヘッドＩＣ）を備えている。特許文献１は、リード／ライトアンプＩＣ内に設けられた、ヘッドに供給される書き込み電流の異常を検出する手段を開示している。特許文献２は、リード／ライトアンプＩＣに供給される全ての電源電圧とリード／ライトアンプＩＣから磁気ヘッドに供給される書き込み電流のそれぞれの異常を検出する手段をリード／ライトアンプＩＣ内に設けることで、ライト異常を迅速に検出することを開示している。
【０００３】
一方、特許文献３は、ＬＳＩのような電子回路の異常動作を検出するシステムを開示している。更に詳細に述べるならば、特許文献３は、ステートマシンの構成を有する被監視デバイスと別の場所で、監視回路が電流検出回路を用いて状態毎の消費電流と時間を検出し、検出結果が、例えば外付けの不揮発性メモリに予め設定された情報の示す期待値の範囲から外れている場合は当該被監視デバイスを異常と判定し、異常を被監視デバイスにリセット信号により報告する技術を開示している。但し、被監視デバイスの状態を表す状態番号は、当該被監視デバイス自身が監視回路に通知する。
【０００４】
特許文献４は、ＣＰＵと当該ＣＰＵの周辺回路を構成するＩＣとを含む電子制御回路の消費電流を当該電子制御回路内の消費電流検出手段が検出すると共に、当該電子制御回路の消費電流を当該電子制御回路内の推定手段（ＣＰＵ）が推定し、検出された消費電流と推定された消費電流とに基づいて電子制御回路の故障を当該電子制御回路内の故障検出手段（ＣＰＵ）が検出し、異常をユーザ（運転者）に報告する技術を開示している。このように特許文献４に記載の技術では、電子制御回路が被監視デバイスとなり、当該電子制御回路全体の消費電流が検出される。この消費電流の一部が流れるＣＰＵ、つまり被監視デバイスに内蔵されるＣＰＵが、監視デバイスとして用いられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開昭６４−０１３２０４号公報
【特許文献２】特開平２−２６７７０６号公報
【特許文献３】特開２００６−２７５７００号公報
【特許文献４】特開平２−２１９１０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１及び２に記載されている従来技術は、いずれもリード／ライトアンプＩＣからヘッドに供給される書き込み電流の異常を、当該リード／ライトアンプＩＣに内蔵される異常検出回路により検出することを特徴とする。現在市販されている磁気ディスク装置においても、このような異常検出回路は、リード／ライトアンプＩＣ内に内蔵されるのが一般的である。
【０００７】
リード／ライトアンプＩＣにクラックが生じるといった要因で当該リード／ライトアンプＩＣ自体が故障している場合、当該リード／ライトアンプＩＣを構成するＩＣチップに形成された異常検出回路も故障している可能性が高い。このような場合、従来の構成では、書き込み動作を上位から行っても、実際のライトヘッドに書き込み電流が流れずに、媒体上のデータパターンは書き込み動作前と同じで変わっていないため、単なるリード動作では、ＥＣＣ等のエラーチェック処理はエラー無しで正常終了してしまう可能性がある。書き込み動作後に書き込み箇所をリードしてリードデータをライトデータとコンベアする検査でしか、書き込み異常を検出できない可能性がある。即ち、書き込み電流の異常を書き込み直後に正しく検出できない可能性がある。
【０００８】
一方、特許文献３に記載の技術では、監視されるべき被監視デバイスの状態が、当該被監視デバイス自身によって監視デバイスに通知される。監視デバイスは、電流検出回路によって検出される電流を、被監視デバイスから通知された状態に対応する期待値の範囲と比較することで、当該被監視デバイスの異常を判定する。このため特許文献３に記載の技術では、被監視デバイスが故障して、当該被監視デバイスの状態が正しく監視デバイスに通知されない場合、正しい判定が困難となる。
【０００９】
特許文献４に記載の技術では、被監視デバイスの異常を判定する監視デバイス（ＣＰＵ）及び消費電流検出手段が、いずれも当該被監視デバイス内に設けられている。このため特許文献４に記載の技術では、被監視デバイスが故障すると正しい判定が困難となる。
【００１０】
また、特許文献１乃至４に記載の技術では、被監視デバイスと監視デバイスの電源について特に考慮されていない。
【００１１】
本発明は上記事情を考慮してなされたものでその目的は、監視対象となるＬＳＩが故障しても、或いは当該ＬＳＩに印加される電源電圧が異常となっても、当該ＬＳＩの異常として検出できる監視システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の１つの態様によれば、監視システムが提供される。この監視システムは、第１の電源電圧で動作し、負荷に電流を供給することにより当該負荷を駆動する第１のＬＳＩと、装置電源から供給される装置電源電圧に基づいて前記第１の電源電圧を生成する第１の電圧レギュレータ及び前記装置電源から供給される装置電源電圧に基づいて第２の電源電圧を生成する第２の電圧レギュレータを備えた第２のＬＳＩと、前記第２の電源電圧で動作して前記第１のＬＳＩを制御するコントローラであって、前記第１のＬＳＩの異常を示す異常信号を受け取ることにより動作を停止して、その旨を上位システムに通知するコントローラと、前記第１のＬＳＩ及び前記コントローラの外部に設けられ、前記装置電源から供給される装置電源電圧で動作して前記第１のＬＳＩと前記第１の電圧レギュレータとの間を流れる電流を監視し、その電流監視結果に基づいて前記第１のＬＳＩの異常を判定して前記異常信号を前記コントローラに送出する電流モニタ・判定モジュールとを具備する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、被監視デバイスとしての第１のＬＳＩの外部に設けられた、監視デバイスとしての電流モニタ・判定モジュールによって、当該被監視デバイス（第１のＬＳＩ）の異常が検出される。監視デバイス（電流モニタ・判定モジュール）は、被監視デバイス（第１のＬＳＩ）に対してだけでなく、被監視デバイス（Ｒ／ＷアンプＩＣ１７）の異常を上位システムに通知する別の監視デバイスとしてのコントローラ１８に対しても、その外部に設けられている。しかも、被監視デバイス、及び２つの監視デバイスには、それぞれ異なる電源から電源電圧が印加される。
【００１４】
このため本発明によれば、被監視デバイス（第１のＬＳＩ）が故障しても、或いは当該被監視デバイスに印加される電源電圧が異常となっても、当該被監視デバイスの異常として正しく検出でき、被監視デバイスの異常検出の信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置の回路構成を示す図。
【図２】同実施形態における磁気ディスク装置の主要な機構部分の構成を示すブロック図。
【図３】同実施形態におけるリード／ライトアンプＩＣの構成を示す図。
【図４】同実施形態における負電圧レギュレータ及び第１の電流モニタ・判定モジュールの構成を示す図。
【図５】同実施形態において第１の電流モニタ・判定モジュールによってリード／ライトアンプＩＣが異常であると検出される場合のタイミングチャートを示す図。
【図６】同実施形態において第１の電流モニタ・判定モジュールによってリード／ライトアンプＩＣが正常であると検出される場合のタイミングチャートを示す図。
【図７】同実施形態で適用される磁気ディスク装置における監視システムの構成を、当該磁気ディスク装置内の構成要素と関連付けて示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。  
図１は本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置（以下、ＨＤＤと称する）の回路構成を示し、図２はＨＤＤの主要な機構部分の構成を示す。
【００１７】
ＨＤＤにおいて、ヘッド（磁気ヘッド）１１は、スピンドルモータ（ＳＰＭ）１２によってディスク（磁気ディスク）１３が高速に回転させられることににより、当該ディスク１３上を浮上する。本実施形態では、図２に示されるように、ディスク１３を含む複数のディスクが積層配置されたＨＤＤが適用される。この場合、各ディスクの両面に対応してそれぞれヘッドが配置される。しかし、説明の簡略化のために、ＨＤＤが単一のヘッド１１を有しているものとする。
【００１８】
ヘッド１１は、アクチュエータ１４の先端に取り付けられている。アクチュエータ１４は、当該アクチュエータ１４の駆動源となるボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１５を有している。アクチュエータ１４は、ＶＣＭ１５により駆動されて、ヘッド１１をディスク１３の半径方向に移動する。このアクチュエータ１４の動作により、ヘッド１１は、ディスク１３の目標トラック上に位置付けられる。ディスク１１の記録面から外れた位置、例えばディスク１３の外周に近接する位置には、ランプ１６が配置されている。ランプ１６は、ヘッド１１を必要に応じて退避させておくためのパーキング部を提供する。
【００１９】
ヘッド１１はリード／ライトアンプＩＣ（以下、Ｒ／ＷアンプＩＣと称する）１７と接続されている。Ｒ／ＷアンプＩＣ１７は単一チップのＬＳＩ（第１のＬＳＩ）であり、例えばＩＣチップの状態でアクチュエータ１４上に実装される。Ｒ／ＷアンプＩＣ１７は、コントローラ１８と接続されている。
【００２０】
コントローラ１８は、例えば、ＨＤＤにおける周知の回路であるリード／ライトチャネル、ディスクコントローラ、フラッシュＲＯＭ、ＲＡＭ及びＣＰＵが単一チップに集積されたＳＯＣ（System on Chip）と呼ばれるシステムＬＳＩによって構成されている。フラッシュＲＯＭには、ＣＰＵによって実行される制御プログラム（ファームウェア）が格納されている。
【００２１】
コントローラ１８は、上位システムと接続されている。上位システムは、ＨＤＤを当該上位システムの記憶装置として利用するホストシステムである。上位システム及びＨＤＤは、例えば、パーソナルコンピュータ、ビデオカメラ、音楽プレーヤー、携帯端末、或いは携帯電話機のような電子機器を構成する。
【００２２】
コントローラ１８はシリアルインタフェース入出力ポートＳＩＯを介してモータ駆動ＩＣ１９と接続されている。モータ駆動ＩＣ１９は、ＳＰＭ１２及びＶＣＭ１５と接続されている。モータ駆動ＩＣ１９は、コントロールレジスタ部１９１、ＳＰＭドライバ１９２、ＶＣＭドライバ１９３、負電圧レギュレータ（第１の電圧レギュレータ）１９４、正電圧レギュレータ（第３の電圧レギュレータ）１９５及び正電圧レギュレータ（第２の電圧レギュレータ）１９６を有する単一チップのＬＳＩ（第２のＬＳＩ）である。
【００２３】
コントロールレジスタ部１９１は、コントローラ１８によってシリアルインタフェース入出力ポートＳＩＯを介して設定される制御パラメータ等を保持するのに用いられる。ＳＰＭドライバ１９２及びＶＣＭドライバ１９３は、コントロールレジスタ部１９１に設定されている、それぞれＳＰＭ１２及びＶＣＭ１５の駆動のための制御パラメータによって指定される駆動電流（ＳＰＭ電流及びＶＣＭ電流）を、当該ＳＰＭ１２及びＶＣＭ１５に供給する。
【００２４】
本実施形態では、ＨＤＤのための装置電源として、＋１２Ｖの装置電源Ｖ１２及び＋５Ｖの装置電源Ｖ５が用いられる。負電圧レギュレータ１９４は、装置電源Ｖ５から供給される＋５Ｖの電源電圧で動作する、例えばスイッチングレギュレータである。負電圧レギュレータ１９４は、＋５Ｖの電源電圧から例えば−５Ｖの負電圧ＶＮＥＧを生成するのに必要な正電圧ＮＥＧＤＲＶ（図４参照）を生成する。正電圧ＮＥＧＤＲＶは、負電圧レギュレータ１９４に外付けされた平滑・安定化回路２０に印加される。平滑・安定化回路２０の詳細な構成は図４に示されている。
【００２５】
平滑・安定化回路２０は、コイルＬ１とダイオードＤ１とから構成される極性反転回路を含んでおり、正電圧ＮＥＧＤＲＶを安定した−５Ｖの負電圧ＶＮＥＧに変換する。この−５Ｖの負電圧ＶＮＥＧが、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７に印加される。このため、平滑・安定化回路２０は負電圧レギュレータ１９４の一部と見なすことができる。そこで以下の説明では、負電圧レギュレータ１９４が平滑・安定化回路２０を含んでおり、当該負電圧レギュレータ１９４が、＋５Ｖの電源電圧から例えば−５Ｖの負電圧ＶＮＥＧを生成するものとする。つまり負電圧レギュレータ１９４は、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７のための−５Ｖの負電源ＶＮＥＧを提供する。なお、平滑・安定化回路２０が、負電圧レギュレータ１９４に内蔵されていても構わない。
【００２６】
正電圧レギュレータ１９５は、装置電源Ｖ１２から供給される＋１２Ｖの電源電圧で動作する、例えばスイッチングレギュレータである。正電圧レギュレータ１９５は＋１２Ｖの電源電圧を例えば＋５Ｖに降圧し、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７に対し、当該正電圧レギュレータ１９５に外付けされた、コイルＬ２及びコンデンサＣ２から構成される平滑回路２１を介して、当該＋５Ｖの電圧（正電圧）を印加する。このため、平滑回路２１は正電圧レギュレータ１９５の一部と見なすことができる。そこで以下の説明では、正電圧レギュレータ１９５が平滑回路２１を含んでいるものとする。つまり正電圧レギュレータ１９５は、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７のための＋５Ｖの正電源を提供する。
【００２７】
正電圧レギュレータ１９５によって提供される＋５Ｖの正電源が、装置電源Ｖ５に代えて負電圧レギュレータ１９４の電源として用いられても構わない。一方、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７のための＋５Ｖの正電源に、装置電源Ｖ５を用いることも可能である。なお、平滑回路２１が、正電圧レギュレータ１９５に内蔵されていても構わない。
【００２８】
正電圧レギュレータ１９６は、装置電源Ｖ５から供給される＋５Ｖの電源電圧で動作する。正電圧レギュレータ１９６は＋１２Ｖの電源電圧を複数の電源電圧、例えば＋２．５Ｖ、＋１．８Ｖ及び＋１．０Ｖにそれぞれ降圧し、それぞれの電源電圧をコントローラ１８に印加する。ここでは、＋２．５Ｖ、＋１．８Ｖ及び＋１．０Ｖは、それぞれ、コントローラ１８内のリード／ライトチャネル、ＲＡＭ及びＣＰＵの電源電圧として用いられる。
【００２９】
モータ駆動ＩＣ１９は、電流モニタ・判定モジュール１９７を更に備えている。電流モニタ・判定モジュール１９７は、装置電源Ｖ１２から供給される＋１２Ｖの電源電圧で動作するものとする。電流モニタ・判定モジュール１９７は、負電圧レギュレータ１９４に対応して設けられた第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎと、正電圧レギュレータ１９５に対応して設けられた第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐとから構成される。
【００３０】
第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎは、負電圧レギュレータ１９４とＲ／ＷアンプＩＣ１７との間を流れる電流（つまりコイルＬ１を流れるコイル電流）ＩＬｎを時間平均した電流（平均電流）ＩＬａｖｅｎを監視する。電流ＩＬｎは、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の負電源（−５Ｖの電源ＶＮＥＧ）の負荷電流（負電源電流）に比例する。
【００３１】
第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎは、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７がライト動作のための状態（つまりライト状態）にあるときの平均電流ＩＬａｖｅｎ（第１の平均電流）とＲ／ＷアンプＩＣ１７がリード動作のための状態（つまりリード状態）にあるときの平均電流ＩＬａｖｅｎ（第２の平均電流）とを相対比較することにより、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７が異常であるかを判定する。ここでは、第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎは、上記両平均電流ＩＬａｖｅｎの差分をコントロールレジスタ部１９１に設定されている第１の閾値ＩＴＨＮＥＧと比較して、当該差分に異常があるかを判定することにより、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７（より詳細にはＲ／ＷアンプＩＣ１７によってヘッド１１のライト素子１１ｗに供給されるライト電流）が異常であるかを判定する。第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎは、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の異常を判定した場合、その旨を示す、例えば高レベルのフォルト信号ＦＡＵＬＴｎをコントローラ１８に送出する。
【００３２】
第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐは、正電圧レギュレータ１９５とＲ／ＷアンプＩＣ１７との間を流れる電流（つまりコイルＬ２を流れるコイル電流）ＩＬｐを時間平均した電流（平均電流）ＩＬａｖｅｐを監視する。電流ＩＬｐは、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の正電源（＋５Ｖの電源）の負荷電流（正電源電流）に比例する。
【００３３】
第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐは、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７がライト状態にあるときの平均電流ＩＬａｖｅｐ（第３の平均電流）とＲ／ＷアンプＩＣ１７がリード状態にあるときの平均電流ＩＬａｖｅｐ（第４の平均電流）とを相対比較することにより、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７が異常であるかを判定する。ここでは、第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐは、上記両平均電流ＩＬａｖｅｐの差分をコントロールレジスタ部１９１に設定されている第２の閾値ＩＴＨＰＯＳと比較して、当該差分に異常があるかを判定することにより、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７が異常であるかを判定する。第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐは、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の異常を判定した場合、その旨を示す、例えば高レベルのフォルト信号ＦＡＵＬＴｐをコントローラ１８に送出する。
【００３４】
本実施形態において、第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎからのフォルト信号ＦＡＵＬＴｎと第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐからのフォルト信号ＦＡＵＬＴｐとは、例えばコントローラ１８内で論理オアされる。この論理オアされた信号は、フォルト信号ＦＡＵＬＴとして用いられる。コントローラ１８は、フォルト信号ＦＡＵＬＴを受信すると、つまりフォルト信号ＦＡＵＬＴｎまたはフォルト信号ＦＡＵＬＴｐを受信すると、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の異常が検出されたと判定する。この場合、コントローラ１８はライト動作を停止して、その旨を上位システムに通知する。
【００３５】
上述の説明から明らかなように、図１に示されるＨＤＤ内の、コントローラ１８、モータ駆動ＩＣ１９（より詳細には、モータ駆動ＩＣ１９内の電流モニタ・判定モジュール１９７）及びＲ／ＷアンプＩＣ１７は、当該ＨＤＤにおける監視システムを構成する。この監視システムにおいて、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７は監視の対象となる被監視デバイスであり、コントローラ１８及びモータ駆動ＩＣ１９は、それぞれＲ／ＷアンプＩＣ１７（被監視デバイス）を、分担して監視する監視デバイスであると見なすことができる。
【００３６】
このように本実施形態においては、被監視デバイスとしてのＲ／ＷアンプＩＣ１７の外部に設けられた、監視デバイスとしてのモータ駆動ＩＣ１９（より詳細にはモータ駆動ＩＣ１９内の電流モニタ・判定モジュール１９７）によって、当該被監視デバイス（Ｒ／ＷアンプＩＣ１７）の異常が検出される。また、監視デバイス（電流モニタ・判定モジュール１９７）は、被監視デバイス（Ｒ／ＷアンプＩＣ１７）に対してだけでなく、当該被監視デバイス（Ｒ／ＷアンプＩＣ１７）の異常を上位システムに通知する別の監視デバイスとしてのコントローラ１８に対しても、その外部に設けられている。しかも、被監視デバイス、及び２つの監視デバイスには、それぞれ異なる電源から電源電圧が印加される。このため本実施形態で適用される監視システムによれば、被監視デバイス（Ｒ／ＷアンプＩＣ１７）が故障しても、或いは当該被監視デバイスに供給される電源電圧が異常となっても、電流モニタ・判定モジュール１９７で検出される負荷電流が異常となることによって、当該被監視デバイスの異常として正しく検出でき、被監視デバイスの異常検出の信頼性を高めることができる。
【００３７】
上記実施形態では、電流モニタ・判定モジュール１９７は、負電圧レギュレータ１９４に対応する平均電流ＩＬａｖｅｎと正電圧レギュレータ１９５に対応する平均電流ＩＬａｖｅｐとを監視する。しかし電流モニタ・判定モジュール１９７が、平均電流ＩＬａｖｅｎ及びＩＬａｖｅｐのいずれか一方、例えば平均電流ＩＬａｖｅｎのみを監視する構成であっても良い。この場合、第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐは不要となる。
【００３８】
図３は、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の構成を示すブロック図である。Ｒ／ＷアンプＩＣ１７は、ライトドライバ１７１、リードアンプ（リードアンプリファイア）１７２、制御モジュール１７３及び異常検出器１７４の周知の構成を備えている。ライトドライバ１７１及びリードアンプ１７２は共に、正電圧レギュレータ１９５によって印加される＋５Ｖの電源電圧と負電圧レギュレータ１９４によって印加される−５Ｖの電源電圧ＶＮＥＧで動作する。
【００３９】
ライトドライバ１７１は、ライトデータに対応するライト電流をヘッド１１のライト素子１１ｗに供給するライトドライバ回路及び当該ライト素子１１ｗにバイアス電流を供給するライト素子バイアス回路を内蔵する。リードアンプ１７２は、ヘッド１１のリード素子１１ｒによって再生されたリード信号を増幅するリード信号増幅器と、当該リード素子１１ｒにバイアス電流を供給するリード素子バイアス回路を内蔵する。
【００４０】
Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の制御モジュール１７３は、コントローラ１８からシリアルインタフェース入出力ポートＳＩＯを介して与えられるコマンドがライト動作を指定している場合、当該コントローラ１８から送られるライトデータに対応するライト電流を、当該コントローラ１８から送られるライトゲート信号ＷＧＡＴＥの示すライト状態の期間、ライトドライバ１７１によってヘッド１１のライト素子１１ｗに供給する。ライトゲート信号ＷＧＡＴＥは、データライトの対象となるディスク１３上のデータセクタに対応する期間だけ、ライト状態を示すように高レベルとなり、他の期間は非ライト状態を示すように低レベルとなる。上記他の期間は、データライトの対象となるデータセクタ間の境界部（ギャップ部）とサーボデータリードの対象となるサーボ領域（データライトが禁止されるサーボ領域）とにそれぞれ対応する期間（以下、ライト休止期間と称する）を含む。
【００４１】
同様に制御モジュール１７３は、コントローラ１８から与えられるコマンドがリード動作を指定している場合、当該コントローラ１８から送られるライトゲート信号ＷＧＡＴＥの示すリード状態の期間、ディスク１３に磁気記録されているデータ（磁化パターン）をヘッド１１のリード素子（例えば磁気抵抗（ＭＲ）素子）１１ｒを使って電気信号に変換する。制御モジュール１７３は、変換された電気信号（リード信号）をリードアンプ１７２によって増幅してコントローラ１８に送出する。
【００４２】
Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の異常検出器１７４は、当該Ｒ／ＷアンプＩＣ１７（より詳細には、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７内のライトドライバ１７１及びリードアンプ１７２等の電源電圧）を監視する機能と、ヘッド１１の書き込み素子が短絡状態または開放状態になっている異常を検出する機能と、ライトデータの周波数異常及びＲ／ＷアンプＩＣ１７の環境温度の異常を検出する機能とを有する。
【００４３】
Ｒ／ＷアンプＩＣ１７はヒータドライバ（図示せず）を更に備えている。このヒータドライバは、ヒータ素子（例えば、抵抗性発熱素子）に電力を供給する。このヒータ素子は、ヘッド内に組み込まれ熱膨張させることにより、ヘッド１１内のリード素子とライト素子を突き出させ、リード素子とライト素子とディスク１３との距離（スペーシング)を調整するのに用いられる。
【００４４】
次に、負電圧レギュレータ１９４及び第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎの構成と、第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎを中心とする動作とについて、図４乃至図６を参照して説明する。図４は、モータ駆動ＩＣ１９内の負電圧レギュレータ１９４及び第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎの構成を示す。図５は、第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎによってＲ／ＷアンプＩＣ１７が異常であると検出される場合のタイミングチャートの一例を示し、図６は、第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎによってＲ／ＷアンプＩＣ１７が異常であると検出される場合のタイミングチャートの一例を示す。
【００４５】
図４に示されるように、負電圧レギュレータ１９４は、平滑・安定化回路２０を介して−５Ｖの負電圧ＶＮＥＧを印加するためのパワーＭＯＳＦＥＴ Ｍ１を備えている。第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎは、サンプルホールド回路４１を備えている。
【００４６】
サンプルホールド回路（第１の平均電流検出モジュール）４１は、平滑・安定化回路２０内のコイルＬ１に流れる電流ＩＬｎの時間ｔｗｒｉｔｅにおける平均電流ＩＬａｖｅｎを検出するのに用いられる。電流ＩＬｎは、負電圧レギュレータ１９４内のパワーＭＯＳＦＥＴ Ｍ１が信号４２によってオン状態にある期間に、当該パワーＭＯＳＦＥＴ Ｍ１のドレイン−ソース間の電圧Ｖｄｓに基づいてコイルＬ１に流れる。
【００４７】
サンプルホールド回路４１は、スイッチとして用いられるＭＯＳＦＥＴ Ｍ２と、当該ＭＯＳＦＥＴ Ｍ２を制御するタイミングコントローラ４１０と、キャパシタＣ４とを備えている。タイミングコントローラ４１０は、信号４２及び信号ＣＤＨに基づき、信号４２が高レベルで且つ信号ＣＤＨが低レベルである期間だけ、ＭＯＳＦＥＴ Ｍ２をオンする。信号ＣＤＨは、ライトゲート信号ＷＧＡＴＥがライト状態を示す高レベルである期間低レベルとなり、ライトゲート信号ＷＧＡＴＥがライト休止期間（リード状態）を示す低レベルである期間高レベルとなる。つまりＭＯＳＦＥＴ Ｍ２は、パワーＭＯＳＦＥＴ Ｍ１がオンしている場合、各ライト状態の期間だけオンする。
【００４８】
ＭＯＳＦＥＴ Ｍ２のドレインは、パワーＭＯＳＦＥＴ Ｍ１のソースに接続されている。ＭＯＳＦＥＴ Ｍ２のソースとパワーＭＯＳＦＥＴ Ｍ１のドレインとの間にはキャパシタＣ４が接続されている。これによりＭＯＳＦＥＴ Ｍ２がオンしている期間、電流ＩＬｎによって電荷がキャパシタＣ４に蓄積される。
【００４９】
このように本実施形態では、ＭＯＳＦＥＴ Ｍ２がオンしている期間、電流ＩＬｎが積算されて、その積算値が平均電流ＩＬａｖｅｎ（図５及び図６参照）としてサンプルホールド回路４１に保持される。つまり、パワーＭＯＳＦＥＴ Ｍ１がオンしている状態において、ライトゲート信号ＷＧＡＴＥがライト状態を示して期間、電流ＩＬｎが積算される。このことは、信号ＣＤＨが高レベルの期間は、断続的に発生するライト状態の間の短いライト休止期間であっても、電流ＩＬｎが積算されるのが抑止されることを意味する。これにより、ライト休止期間、ライト状態から一時的にリード状態に遷移することによって生じる電流ＩＬｎの変動が、サンプルホールド回路４１においてマスクされる。
【００５０】
第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎは更に、タイマモジュール４３、アナログ／デジタル変換器（ＡＤＣ）４４、デマルチプレクサ４５、レジスタ４６ｗ，４６ｒ、減算器４７及び比較器４８を備えている。
【００５１】
タイマモジュール４３は、ライトゲート信号ＷＧＡＴＥに応じて、信号ＡＤＣＥＮＢＬ、信号ＣＤＨ及び信号ＷＧＳＴＡＴＵＳの３つの制御信号（図５及び図６参照）を出力する。タイマモジュール４３は、第１及び第２のタイマを有している。
【００５２】
第１のタイマは、ライトゲート信号ＷＧＡＴＥが低レベルに遷移する毎に、当該低レベルの期間（ライト休止期間）をカウントする。第１のタイマのカウント値Ｔ１ＣＯＵＮＴは、ライトゲート信号ＷＧＡＴＥの低レベルから高レベルへの遷移に応じて“０”にリセットされる。本実施形態において、第１のタイマのカウント値Ｔ１ＣＯＵＮＴには上限があり、低レベルの期間が例えばコントローラ１８によって予め設定された期間を超えても、上限を超えて増加しない。
【００５３】
タイマモジュール４３は、第１のタイマのカウント値Ｔ１ＣＯＵＮＴが上限値未満の期間、ライトモードを示す高レベルの信号ＷＧＳＴＡＴＵＳを出力する。ライトモードとは、ライト状態が、短いライト休止期間を挟んで断続的に発生している状態を指す。つまり、ライトモードの期間、一連のライト動作が断続的に行われる。上記短いライト休止期間とは、予め設定された期間よりも短い期間であり、第１のタイマのカウント値Ｔ１ＣＯＵＮＴが０より大きく且つ上限値未満の期間を指す。より具体的には、上記短いライト休止期間は、ライトゲート信号ＷＧＡＴＥが低レベルとなる期間のうち、ヘッド１１が、データセクタ間のギャップ部、またはサーボ領域上を通過する期間である。つまり、第１のタイマは、このライト状態の間の短いライト休止期間を検出してマスクするために、ライトゲート信号ＷＧＡＴＥが低レベルの期間（ライト休止期間）をカウントするのに用いられる。
【００５４】
第２のタイマは、信号ＷＧＳＴＡＴＵＳの低レベルから高レベルへの遷移時（つまりライトモードの開始時）から、コントローラ１８によってコントロールロジックレジスタ部１９１に予め設定された（例えばＨＤＤの起動直後で最初のライト前に設定された）期間ｔｗｒｉｔｅをカウントし、その期間ｔｗｒｉｔｅだけ高レベルの信号Ｔ２ＯＵＴ（図５及び図６参照）を出力する。タイマモジュール４３は、信号Ｔ２ＯＵＴの低レベルへの遷移時から、コントローラ１８によってコントロールロジックレジスタ部１９１に予め設定された（例えばＨＤＤの起動直後で最初のライト前に設定された）期間ｔａｄｃだけ、高レベルの信号ＡＤＣＥＮＢＬを出力する。タイマモジュール４３はまた、例えばコントローラ１８によって予め定められたリード状態（リードモード）の開始時から期間ｔａｄｃだけ、信号ＡＤＣＥＮＢＬを高レベルに設定する。
【００５５】
つまり、信号ＡＤＣＥＮＢＬは、ライトモードの開始時から期間ｔｗｒｉｔｅが経過した時点から期間ｔａｄｃの間と、予め定められたリードモードの開始時から期間ｔａｄｃの間、高レベルに設定される。期間ｔａｄｃは、ＡＤＣ４４がサンプルホールド回路４１に保持されている平均電流ＩＬａｖｅｎをデジタル値に変換するのに必要な時間である。
【００５６】
なお、予め定められたリードモードとは、例えば、ＨＤＤの電源が投入された後に、ディスク１３上のシステム領域と呼ばれる所定の領域に保存されている代替セクタ（または代替トラック）管理テーブルを読み出すためのリードモードである。この管理テーブルは、周知のように不良セクタ（または不良トラック）と当該不良セクタ（または不良トラック）に代えて用いられる代替セクタ（または代替トラック）との対応関係を示す。読み出された管理テーブルは、当該管理テーブルへの高速アクセスのために、コントローラ１８内のＲＡＭに格納して用いられる。なお、予め定められたリードモードが、管理テーブルを読み出すためのリードモード以外であっても構わない。また、ライトモードに先行するリードモードであっても構わない。
【００５７】
タイマモジュール４３は更に、ライトゲート信号ＷＧＡＴＥの低レベルの期間だけ高レベルとなる信号ＣＤＨを出力する。信号ＣＤＨはタイミングコントローラ４１０に入力される。
【００５８】
ＡＤＣ４４は、サンプルホールド回路４１に保持されている平均電流ＩＬａｖｅｎを信号ＡＤＣＥＮＢＬの高レベルへの遷移に応じて読み込む。信号ＷＧＳＴＡＴＵＳが高レベルである期間（つまりライトモード）において信号ＡＤＣＥＮＢＬが高レベルに遷移するタイミングは、上述のように、ライトモードの開始時から期間ｔｗｒｉｔｅが経過した時点である。
【００５９】
このように本実施形態では、ライトモードにおいて、サンプルホールド回路４１に保持されている平均電流ＩＬａｖｅｎをＡＤＣ４４が読み込むタイミングを、当該ライトモードの開始時から期間ｔｗｒｉｔｅだけ遅延させている。その理由は、ライトモードの開始直後（つまりライトモードへの切り替え直後）は、負電源の応答遅れにより、電流ＩＬｎの平均電流ＩＬａｖｅｎの増加減（ここでは増加）に、図５及び図６に示されるように遅延が生じることを考慮したためである。そこで、ＡＤＣ４４によってデジタル値に変換される平均電流ＩＬａｖｅｎを検出する際の、負電源の応答遅れに起因する誤差を低減するために、タイマモジュール４３は第２のタイマによって、ライトモードの開始時から期間ｔｗｒｉｔｅだけＡＤＣ４４の動作開始を遅らせている。
【００６０】
ＡＤＣ４４は、読み込んだ平均電流（第１の平均電流）ＩＬａｖｅｎをデジタル値に変換して、当該デジタル値を出力する。ＡＤＣ４４から出力されるデジタル値は、デマルチプレクサ４５によってレジスタ４６ｗまたは４６ｒに、信号ＷＧＳＴＡＴＵＳに応じて選択的に出力される。本実施形態では、信号ＷＧＳＴＡＴＵＳが高レベルである期間（つまりライトモード）においてＡＤＣ４４によって変換出力されるデジタル値は、デジタル値（第１のデジタル値）ＷＧＩＮＥＧ（図５及び図６参照）としてレジスタ４６ｗに出力されて、当該レジスタ４６ｗに保持される。一方、信号ＷＧＳＴＡＴＵＳが低レベルである期間（ここではリードモードの期間）においてＡＤＣ４４によって変換出力されるデジタル値は、デジタル値（第２のデジタル値）ＲＧＩＮＥＧ（図５及び図６参照）としてレジスタ４６ｒに出力されて、当該レジスタ４６ｒに保持される。
【００６１】
減算器４７は、レジスタ４６ｗに保持されているデジタル値ＷＧＩＮＥＧとレジスタ４６ｒに保持されているデジタル値ＲＧＩＮＥＧとの差分ΔＩＮＥＧ（図５及び図６参照）を算出する。比較器４８は、この差分ΔＩＮＥＧを、例えばコントローラ１８によってコントロールロジックレジスタ部１９１に予め設定されている（例えばＨＤＤの起動直後で最初のライト前に設定された）閾値（第１の閾値）ＩＴＨＮＥＧと比較する。
【００６２】
比較器４８は、差分ΔＩＮＥＧが閾値ＩＴＨＮＥＧ未満であれば（図５参照）、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７は異常であると判定する。この場合、比較器４８は、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７が異常であることを示す高レベルのフォルト信号ＦＡＵＬＴｎ（図５参照）をコントローラ１８に送出する。
【００６３】
これに対し、差分ΔＩＮＥＧが閾値ＩＴＨＮＥＧ以上であるならば（図６参照）、比較器４８はＲ／ＷアンプＩＣ１７は正常であると判定する。この場合、比較器４８は、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７が正常であることを示すために、フォルト信号ＦＡＵＬＴｎを低レベルに維持する（図６参照）。
【００６４】
ここで、ライト状態及びリード状態の各々における電流ＩＬｎ（より詳細には、電流ＩＬｎの平均電流ＩＬａｖｅｎのデジタル値ＷＧＩＮＥＧ）の差分を閾値ＩＴＨＮＥＧと比較する理由について説明する。
【００６５】
ライト状態では、主としてライトドライバ１７１内のライトドライバ回路及びライト素子バイアス回路と、リードアンプ１７２内のリード信号増幅回路及びリード素子バイアス回路とで電力が消費される。つまり、ライト状態では、ライトドライバ回路、ライト素子バイアス回路、リード信号増幅回路及びリード素子バイアス回路を消費電流が流れる。ここで、ライトドライバ回路を流れる消費電流が、ヘッド１１のライト素子１１ｗに流れるライト電流に対応する。
【００６６】
一方、リード状態では、主としてリードアンプ１７２内のリード信号増幅回路及びリード素子バイアス回路で電力が消費される。つまり、リード状態では、リード信号増幅回路及びリード素子バイアス回路を消費電流が流れる。
【００６７】
ここで、ライトドライバ回路及びリード信号増幅回路は、それぞれ、ライト素子１１ｗ及びリード素子１１ｒの特性のばらつきの影響を大きく受けることが知られている。これに対し、ライト素子バイアス回路及びリード素子バイアス回路は、それぞれ、ライト素子１１ｗ及びリード素子１１ｒの特性のばらつきの影響を余り受けないか、受けても絶対値が小さいことが知られている。このため、ライト素子バイアス回路及びリード素子バイアス回路を流れる電流は、電流モニタ・判定モジュール１９７で検出される電流ＩＬｎ，ＩＬｐにさほど影響しない。
【００６８】
次に、リード状態では、ライトドライバ回路及びライト素子バイアス回路（つまりライトドライバ１７１）の電源はオフされる。これに対してライト状態では、リード信号増幅回路及びリード素子バイアス回路（つまりリードアンプ１７２）の電源は、ライト後の出力信号の過渡的変動を小さくするため、オン（Active）状態に保たれる。
【００６９】
ここで電流モニタ・判定モジュール１９７が、本実施形態と異なり、上述のような差分を用いずに、例えばライト状態において検出される電流のみで、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の異常、特にヘッド１１のライト素子１１ｗに流れるライト電流の異常を判定することを想定する。電流モニタ・判定モジュール１９７は、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７の外部に設けられているため、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７に内蔵の異常検出器１７４と異なり、ライト電流を直接検出できない。そのため電流モニタ・判定モジュール１９７は、ライト電流を検出する代わりに、Ｒ／ＷアンプＩＣ１７のための負電源の負荷電流、つまり負電源電流（より詳細には、負電源電流に比例するコイル電流）を検出する。
【００７０】
ところが、ライト状態における負荷電流は、ライト電流（ライトドライバを流れる消費電流）だけでなく、リード信号増幅回路及びリード素子バイアス回路を流れる消費電流を含む。しかも、リード信号増幅回路及びリード素子バイアス回路を流れる消費電流が、ライト電流と同程度かライト電流を超える場合もある。このような場合、ライト状態において検出される負荷電流は、必ずしもライト電流の状態を反映しているとは限らない。このため、ライト状態に検出される負荷電流のみに基づいてライト電流の異常を判定しても、精度の高い判定結果は期待できない。
【００７１】
これに対し、本実施形態のようにライト状態における負荷電流とリード状態における負荷電流との差分をとるならば、つまり、ライト状態における負荷電流とリード状態における負荷電流とを相対比較するならば、リード信号増幅回路及びリード素子バイアス回路を流れる消費電流をほぼ相殺することが可能となる。このため上記差分は、ライト電流の状態を十分に反映したものとなる。よって本実施形態のように、上記差分に基づいてライト電流の異常を判定するならば、精度の高い判定結果を得ることができる。
【００７２】
第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐも第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎと同様の構成を有している。このため第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐの構成と動作についての説明を省略する。必要ならば、第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎに関する説明において、第１の電流モニタ・判定モジュール１９７ｎを第２の電流モニタ・判定モジュール１９７ｐに、負電圧レギュレータ１９４を正電圧レギュレータ１９５に、負電源を正電源に、負電圧を正電圧に、電流ＩＬｎを電流ＩＬｐに、平均電流ＩＬａｖｅｎを平均電流ＩＬａｖｅｐに、サンプルホールド回路４１（第１の平均電流検出モジュール）を第２の平均電流検出モジュールに、ＡＤＣ４４（第１のアナログ／デジタル変換器）を第２のアナログ／デジタル変換器に、比較器４８（第１の比較器）を第２の比較器に、デジタル値ＷＧＩＮＥＧ，ＲＧＩＮＥＧをデジタル値ＷＧＩＰＯＳ，ＲＧＩＰＯＳに、差分ΔＩＮＥＧを差分ΔＩＰＯＳに、第１の閾値ＩＴＨＮＥＧを第２の閾値ＩＴＨＰＯＳに、そしてフォルト信号ＦＡＵＬＴｎをフォルト信号ＦＡＵＬＴｐに、それぞれ読み替えられたい。
【００７３】
図７は上述のＨＤＤにおける監視システムの構成を、当該ＨＤＤ内の構成要素と関連付けて示すブロック図である。図７において、被監視デバイス７１は、ＨＤＤ内のＲ／ＷアンプＩＣ１７から構成される第１のＬＳＩである。被監視デバイス７１の負荷７２は、ＨＤＤ内のヘッド１１から構成される。監視デバイス７３は、ＨＤＤ内の例えば負電圧レギュレータ１９４及び電流モニタ・判定モジュール１９７を含む、第２のＬＳＩとしてのモータ駆動ＩＣ１９から構成される。監視デバイス７４は、ＨＤＤ内のコントローラ（ＳＯＣ）１８から構成される。なお、電流モニタ・判定モジュール１９７が、モータ駆動ＩＣ１９の外部に設けられ、監視デバイス７３が当該電流モニタ・判定モジュール１９７から構成されていても構わない。
【００７４】
上記実施形態では、監視システムがＨＤＤ内に構築されている場合を想定している。しかし、この監視システムは、図７の構成から明らかなように、ＨＤＤ以外にも適用可能である。
【００７５】
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。
【符号の説明】
【００７６】
１１…ヘッド（負荷）、１３…ディスク、１７…Ｒ／ＷアンプＩＣ（リード／ライトアンプＩＣ、第１のＬＳＩ）、１８…コントローラ、１９…モータ駆動ＩＣ（第２のＬＳＩ）、４１…サンプルホールド回路（第１の平均電流検出モジュール）、４３…タイマモジュール、４４…ＡＤＣ（アナログ／デジタル変換器）、４５…デマルチプレクサ、４７…減算器、４８…比較器、１９１…コントロールレジスタ部、１９４…負電圧レギュレータ（第１の電圧レギュレータ）、１９５…正電圧レギュレータ（第３の電圧レギュレータ）、１９６…正電圧レギュレータ（第２の電圧レギュレータ）、１９７…電流モニタ・判定モジュール、１９７ｎ…第１の電流モニタ・判定モジュール、１９７ｐ…第２の電流モニタ・判定モジュール。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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