(57)【要約】【課題】温度センサーの経年劣化に伴って発生する故障を的確に検出し、温度センサーの故障による誘導加熱調理器の二次故障の発生を未然に防止する誘導加熱調理器を提供する。【解決手段】制御手段３１は、発熱手段であるラジエントヒーター５を駆動し、接触式温度センサー２１の出力をメモリー３２に記録するテストを調理していない時間帯に設定し、このテストにおいて、記録された温度センサーの出力を初期のテストにおけるそれと比較し、所定値以上の差異が生じた場合には非接触式温度センサー２１の異常と判定し、その旨を報知手段を用いて報知する。この報知によりユーザーを喚起することで、対処することが可能になり、ひいては温度センサーの故障による誘導加熱調理器の二次故障の発生を未然に防止することが可能になる。【選択図】図５
2011071040.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被加熱物を載置するトッププレートと、
このトッププレートの下方に設置され、前記被加熱物を誘導加熱する誘導加熱コイルと、
この誘導加熱コイルに高周波電力を供給するインバーターと、
このインバーターを制御する制御手段と、
前記トッププレートを加熱する発熱手段と、
温度を検知する温度センサーと、
ユーザーに表示または音声で報知する報知手段と、を備え、
前記制御手段は、前記インバーターを制御して前記誘導加熱コイルへの高周波電力の供給を停止するとともに、前記発熱手段を駆動し、前記温度センサーの出力状態を試験するテストを調理していない時間帯に実行し、前記テストにおいて、前記温度センサーの出力が所定の条件にある場合には前記温度センサーの異常と判定し、前記報知手段にその旨を示す情報を出力することを特徴とする誘導加熱調理器。
【請求項２】
前記温度センサーは、前記誘導加熱コイルの設置位置に対応する前記トッププレートの裏面に接触して取付けられる接触式温度センサーであることを特徴とする請求項１記載の誘導加熱調理器。
【請求項３】
前記温度センサーは、前記被加熱物の表面から放射される赤外線を非接触で検出する赤外線センサーであることを特徴とする請求項１記載の誘導加熱調理器。
【請求項４】
前記発熱手段は発熱抵抗体で構成されたラジエントヒーターであることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項５】
魚などを焼くグリルを備え、
前記発熱手段は前記グリルに具備され、発熱抵抗体で構成されたヒーターであることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項６】
記憶手段を備え、
前記制御手段は、前記温度センサーの初期の出力を初期特性として前記記憶手段に記録しておき、前記テストにおいて、前記温度センサーの出力と前記記憶手段に記録された初期特性との差分が所定値を超えると前記温度センサーの異常と判定することを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項７】
前記温度センサーは、前記誘導加熱コイルの設置位置に対応する前記トッププレートの裏面に接触して取り付けられた接触式温度センサーと、前記被加熱物の表面から放射される赤外線を非接触で検出する非接触式温度センサーと、を備え、
前記制御手段は、前記テストにおいて、前記接触式温度センサーの出力と前記非接触式温度センサーの出力との差分を算出し、この差分を初期のテストにおけるそれと比較し、比較の結果、前記差分が所定値を超えた場合には前記温度センサーの異常と判定することを特徴とする請求項１記載の誘導加熱調理器。
【請求項８】
少なくとも３つの同一種類の温度センサーを備え、
前記制御手段は、前記温度センサー出力同士を比較して、いずれか１つの出力が所定値を超え、残りの出力が所定値以下ならば、所定値を超えた温度センサーの異常と判定することを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項９】
少なくとも３つの同一種類の温度センサーを備え、
前記制御手段は、前記温度センサーの内、予め設定した下限値よりも低い温度を検知した温度センサーを異常と判定することを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項１０】
記憶手段を備え、
周囲の空気を吸入するファンと、
このファンによって吸入された周囲の室温を検出する室温センサーと、を備え、
前記制御手段は、前記室温センサーの初期出力と前記温度センサーの初期出力とを複数の室温毎に対応させて前記記憶手段に記録しておき、前記テストにおいて、前記室温センサーの出力に対応する前記記憶手段に記録された温度センサーの初期出力と、前記温度センサーの出力との差分が所定値を超えたら前記温度センサーの異常と判定することを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項１１】
周囲の空気を吸入するファンと、
このファンによって吸入された周囲の空気温度を検出する室温センサーと、を備え、
前記制御手段は、前記テストにおいて、前記温度センサーの出力と前記室温センサーの出力との差分が所定値以下であるとき、前記温度センサー脱落の異常と判定することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の誘導加熱調理器。
【請求項１２】
記憶手段を備え、
前記制御手段は、定期的にテストを動作させて前記温度センサーの出力を前記記憶手段に記録し、前記温度センサーの出力と前記記憶手段に記録された前回の出力との差分を変化として記録し、初期特性と前記記録した差分に基づいて次回の検出値を予測し、この予測値と前記初期特性との差分が所定値を超えると、前記温度センサーの異常と判定することを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項１３】
記憶手段を備え、
前記制御手段は、据え付け時にテストを動作させて前記温度センサーの出力を初期特性として前記記憶手段に記録しておき、定期的にテストを動作させて前記温度センサーの出力を取得し、取得した前記温度センサーの出力と前記記憶手段に記憶された前記温度センサーの初期特性とに基づいて前記温度センサーが異常か否かを判定することを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項１４】
前記制御手段は、前記温度センサーの出力が所定の温度範囲内にある場合にはテストの実行を可能とし、前記テストを実行するときには、テスト中である旨を示す情報を前記報知手段に出力することを特徴とする請求項１〜１３のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項１５】
前記制御手段は、テストを実行する際には、すべての加熱コイルおよびラジエントヒーターを駆動しない時間が所定時間を経過した後でテストの実行を開始することを特徴とする請求項１〜１４のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項１６】
記憶手段を備え、
前記制御手段は、常時または所定の周期で前記温度センサーによって検出された前記トッププレートの温度を取得して前記記憶手段に記録し、テスト開始前一定時間温度センサーの出力値の変化が所定値以内にあって安定していることを確認してからテストの実施を開始することを特徴とする請求項１〜１４のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項１７】
前記制御手段は、最終調理後、所定の時間を経過していない場合には、テストの実行ができない旨を示す情報を前記報知手段に出力することを特徴とする請求項１〜１６のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項１８】
前記制御手段は、前記温度検出手段によって検出された前記トッププレートの温度が、テスト用として予め定められた温度範囲を超えている場合には、テストの実行ができない旨を示す情報を前記報知手段に出力することを特徴とする請求項１〜１７のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項１９】
前記制御手段は、特定の操作スイッチが操作されたときに前記テストを実行することを特徴とする請求項１７または請求項１８記載の誘導加熱調理器。
【請求項２０】
タイマーを備え、
前記制御手段は、前記タイマーの出力が予め設定された非調理時間帯であると判定したときに前記通常テストを実行することを特徴とする請求項１〜１６のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項２１】
前記制御手段は、前記タイマーの出力に基づいて調理をした履歴を動作履歴として作成し、この動作履歴に基づいて、前記非調理時間帯を学習することを特徴とする請求項２０記載の誘導加熱調理器。
【請求項２２】
前記被加熱物の載置を検出する鍋検出手段を備え、
前記加熱制御手段は、前記鍋検出手段の出力に基づいて前記被加熱物が前記トッププレートに載置されていないと判定したときに前記テストを実行することを特徴とする請求項１〜１４のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【請求項２３】
前記鍋検出手段は、前記トッププレートの前面側または背面側の前記被加熱物の載置位置に対向して配置された光センサーであることを特徴とする請求項２２に記載の誘導加熱調理器。
【請求項２４】
前記制御手段は、前記発熱手段によって加熱されたトッププレートの温度が安定する時間を含む所定の時間経過後に前記温度センサーの異常判定を行うことを特徴とする請求項１〜２３のいずれかに記載の誘導加熱調理器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、複数の誘導加熱コイルを有する誘導加熱調理器に関するものであり、特に長期使用に伴う誘導加熱調理器の温度センサーの劣化防止に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の誘導加熱調理器の安全性を向上させるため、赤外線センサーの検知部に赤外線が届くように配置した発光手段を備え、加熱制御手段は発光手段が発光したときに赤外線センサーが受光するエネルギーを基準値として、赤外線センサーの受光したエネルギーと基準値とを比較し、赤外線センサーの受光したエネルギーが基準値以下の場合には、赤外線センサーが故障であると判定して調理容器の加熱を停止または加熱電力量を抑制するように制御して調理容器が過度に高温となるのを未然に防止する技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２１３８９４号公報（第５頁〜第７頁、図１）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に示された従来の誘導加熱調理器では、発光手段が必要となるため、部品コスト・組立てコストが増え製品コストが上昇するという問題がある。また、赤外線センサーの故障検出は可能であるが、接触式の温度センサーの故障検知については考慮していないため、この接触式の温度センサーの故障検知ができないという課題があった。
【０００５】
本発明は、上記の課題を解決するために為されたものであり、接触式の温度センサー、非接触式の温度センサーのいずれについてもその経年劣化に伴って発生する故障を的確に検出し、温度センサーの故障による誘導加熱調理器の二次故障の発生を未然に防止できる誘導加熱調理器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る誘導加熱調理器は、被加熱物を載置するトッププレートと、トッププレートの下方に設置され、被加熱物を誘導加熱する誘導加熱コイルと、誘導加熱コイルに高周波電力を供給するインバーターと、インバーターを制御する制御手段と、トッププレートの所定位置を加熱する発熱手段と、発熱手段によって加熱されたトッププレートの温度を検知する温度センサーと、ユーザーに表示または音声で報知する報知手段と、を備え、制御手段は、インバーターを制御して誘導加熱コイルへの高周波電力の供給を停止するとともに、発熱手段を駆動し、温度センサーの出力状態を試験するテストを調理していない時間帯に実行し、テストにおいて、温度センサーの出力が所定の条件にある場合には温度センサーの異常と判定し、報知手段にその旨を示す情報を出力するものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、制御手段は、調理していない時間帯のテストにおいて、発熱手段を駆動し、温度センサーの出力が所定の条件にある場合（例えば温度センサーの出力を初期の出力と比較し、比較の結果所定値以上の差異が生じた場合）には、温度センサーの異常と判定し、その旨を報知手段に出力するので、温度センサーの経年劣化に伴って発生する故障を的確に検出でき、ユーザーが対処することで温度センサーの故障による誘導加熱調理器の二次故障の発生を未然に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明に係る誘導加熱調理器の外観を示す斜視図である。
【図２】トッププレートを取り外した状態の誘導加熱調理器の外観を示す斜視図である。
【図３】図１に示す誘導加熱調理器１００のトッププレート３を取り外した状態を示す平面図である。
【図４】発熱手段を駆動及び停止したときの温度センサーの時間特性を示すグラフである。
【図５】本発明の実施の形態１、４における誘導加熱調理器の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の実施の形態１におけるスケジューリングにおける制御部３１の動作を示すフローチャートである。
【図７】本発明の実施の形態１における制御部３１の初期値設定の動作を示すフローチャートである。
【図８】本発明の実施の形態１における制御部３１の初期テスト完了後の通常時における定期的なテスト（通常テスト）の動作を示すフローチャートである。
【図９】本発明の実施の形態２における誘導加熱調理器の構成を示すブロック図である。
【図１０】本発明の実施の形態２における制御部３１の初期値設定の動作を示すフローチャートである。
【図１１】本発明の実施の形態２における制御部３１の初期以外のテスト時の動作を示すフローチャートである。
【図１２】本発明の実施の形態３における誘導加熱調理器の構成を示すブロック図である。
【図１３】本発明の実施の形態３における制御部３１のテスト時の動作を示すフローチャート（その１）である。
【図１４】本発明の実施の形態３における制御部３１のテスト時の動作を示すフローチャート（その２）である。
【図１５】本発明の実施の形態４における制御部３１の初期値設定の動作を示すフローチャートである。
【図１６】本発明の実施の形態４における制御部３１の初期以外のテスト時の動作を示すフローチャートである。
【図１７】本発明の実施の形態５における制御部３１の初期以外のテスト時の動作を示すフローチャートである。
【図１８】本発明の実施の形態６における制御部３１のテスト時の動作を示すフローチャートである。
【図１９】本発明の実施の形態７における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
【図２０】本発明の実施の形態８における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
【図２１】本発明の実施の形態９における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
【図２２】本発明の実施の形態１０における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
【図２３】本発明の実施の形態１１におけるトッププレートを取り外した状態の誘導加熱調理器の外観を示す斜視図である。
【図２４】図２３の誘導加熱調理器の側面断面図である。
【図２５】図１に示す誘導加熱調理器１００のトッププレート３を取り外した状態を示す平面図である。
【図２６】本発明の実施の形態１１における誘導加熱調理器の構成を示すブロック図である。
【図２７】本発明の実施の形態１１における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
【図２８】本発明の実施の形態１１における制御部３１のテスト時の動作を示すフローチャートである。
【図２９】本発明の実施の形態１２における制御部３１の初期特性設定の動作を示すフローチャートである。
【図３０】本発明の実施の形態１２における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
【図３１】本発明の実施の形態１３における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
【図３２】本実施の形態１４における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
【図３３】本実施の形態１５における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
実施の形態１．
図１は本発明に係る誘導加熱調理器の外観を示す斜視図である。また、図２はトッププレートを取り外した状態の誘導加熱調理器の外観を示す斜視図である。また、図３は図１に示す誘導加熱調理器１００のトッププレート３を取り外した状態を示す平面図である。
図１及び図２に示すように誘導加熱調理器１００は、誘導加熱調理器の本体１と、本体１の外枠を構成する筐体２によって支持され、本体１の上面を形成し鍋などの被加熱物を載置する耐熱ガラス製のトッププレート３とから構成される。また、トッププレート３の下方には被加熱物（調理容器）を誘導加熱する２つの誘導加熱コイル４（左側の誘導加熱コイル４ａと右側の誘導加熱コイル４ｂ）が配置され、誘導加熱コイル４ａ、４ｂの後方のほぼ中央部には発熱抵抗体で構成されたラジエントヒーター５が配置されている。また、本体１の内部には誘導加熱コイル４ａ、４ｂに高周波電力を供給するインバーター（図示せず）や制御部（図示せず）を搭載するプリント回路基板（図示せず）が基板ケース６内に収容された状態で取付けられている。このプリント回路基板の設置場所については、発熱個所から遠く、冷却可能な風路中であれば、どこでもよいが、冷却効率の観点から、誘導加熱コイル４よりも上流に配置するのがよい。冷却ファン７は本体１の下部後方の両側に設置され、筐体２の外部から吸気口１２を介して空気を吸入し、プリント回路基板（図示せず）及び誘導加熱コイル４に冷却風を送ってこれらを冷却した後、後方に進んで筐体２の後方に形成された排気口１３を介して調理器本体１の外へ排気する。なお、本体１の下部にはグリル８が引き出し自在に設けられており、魚などの焼き物料理等の調理が可能となっている。グリル８の後方には、グリル８で調理した結果発生する煙を排気するグリル排気ダクト１６が設けられている。
【００１０】
更に、本体１の下部手前の左右両側には操作手段としての操作部９が設けられており、ここでの操作により、加熱出力の調整や調理器への設定などの操作・設定情報が入力可能である。さらに本実施の形態１においては本体１の手前側上面にも操作手段としての操作部１０が設けられており、この操作部１０での操作も加熱出力の調整や調理器への設定などの操作・設定情報が操作部９と同様に入力可能である。なお、操作部１０には、グリル８の操作部も含まれている。また、図１及び図２に示すように本体１の後方には赤外線センサー窓１１が設けられており、後述の赤外線センサーはこの赤外線センサー窓１１を通して被加熱物から発生する赤外線を検知する。
また、２つの誘導加熱コイル４ａ、４ｂと後方の１つのラジエントヒーター５は所謂３口型の加熱部を構成している。
また、誘導加熱コイル４ａ、４ｂには、接触式温度センサー２１が誘導加熱コイル４ａ、４ｂそれぞれの内コイルと外コイルの間に設けられた支持部材によって支持された状態でトッププレート３の裏面に接触した形で取り付けられている。
【００１１】
また、図４は発熱手段を駆動及び停止したときの温度センサーの時間特性を示すグラフであり、同時に温度センサーの初期の時間特性と経年劣化した温度センサーの時間特性を対比して示している。図４において、実線は初期の温度センサーの室温からの出力変化の時間特性を示しており、破線は経年劣化した後の温度センサーの室温からの出力変化の時間特性を示しており、初期の温度センサーの室温からの出力変化が最大となる出力と経年劣化した温度センサーの室温からの出力変化が最大となる出力との差は、温度センサーの劣化が進むに連れて大きくなってくる。そこで、この差が所定値より大きくなったとき、温度センサーに異常が発生したと判定できる。このような劣化特性は接触式温度センサーに限らず赤外線センサー（非接触式温度センサー）でも同じである。
【００１２】
図５は本実施の形態１における接触式温度センサーと制御系の構成を示すブロック図である。図５に示すように誘導加熱調理器は演算制御を行う制御部３１と各種データ類を一時記憶するメモリー３２と制御用プログラムや各種固定テーブル類を格納するＲＯＭ３３と、これらを接続し、これらの間でデータ信号や制御信号が相互に乗り合う入出力バス３４と、発熱手段であるラジエントヒーター５と、このラジエントヒーター５への電源の供給をＯＮ／ＯＦＦで制御するリレー５１と、被加熱物の温度を検知する接触式温度センサー２１及びこの接触式温度センサー２１の出力信号を制御部３１（制御手段を構成する）が処理できるディジタル信号に変換する温度検出部２１１と、室温を検知する室温センサー２２及びこの室温センサー２２の出力信号を制御部３１（制御手段を構成する）が処理できるディジタル信号に変換する室温検出部２２１と、誘導加熱コイル４及び制御部３１の制御の下に誘導加熱コイル４を駆動するインバーター４１と、冷却ファン７、冷却ファン７を制御部３１の制御の下に駆動する冷却ファン駆動手段７１と、を備えている。
なお、制御部３１は制御手段を構成し、メモリー３２は記憶手段を構成する。
【００１３】
次に、本実施の形態１の動作概要を説明する。
制御部３１は、通常テストを備えており、通常テストにおいては調理を行っていない状態で、ラジエントヒーター５などの発熱手段を駆動あるいは駆動停止を行いながらトッププレート３を加熱し、トッププレート３裏面の接触式温度センサー２１の出力を取得する。
次に、制御部３１は室温センサー２２によって検知された室温を取得し、接触式温度センサー２１の出力から差し引いて、その結果を記録する。このように室温センサー２２の検知結果を差し引くことにより、室温変化の影響を受けないより精度の高い温度検知が可能となる。
誘導加熱調理器の据え付け時に初期テストを起動して接触式温度センサー２１の検出結果から室温センサー２２の検知結果を差し引いたものを初期検出値としてメモリー３２に記録しておく。そして、初期以外の通常時では、通常テストをほぼ所定の周期で（例えば、１日１回あるいは１月に１回あるいは半年に１回、１年に１回など）定期的に起動する。そして、制御部３１は発熱手段の温度を検知する接触式温度センサー２１の出力と初期の接触式温度センサー２１の出力との温度差が所定値以上になった場合には、経年劣化などにより接触式温度センサー２１が故障したと判定してその旨の警報を報知する。
【００１４】
図６は本実施の形態１における制御部３１の、スケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。また、図７は本実施の形態１における制御部３１の初期値設定の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態１における制御部３１の動作を図１〜図７を用いて説明する。
制御部３１は、まずスケジューリング処理において、誘導加熱調理器の据え付け時（ステップＳ６０１でＮｏかつステップＳ６０２でＹｅｓ）には、テストモードを設定した（ステップＳ６０３）後、初期テストを起動して発熱手段であるラジエントヒーター５が正常か否かのテストを実行する（ステップＳ６０４）。全ての調理用ソフトウェアは調理を開始する直前にテストモードを参照して、テストモードが設定されていれば、調理を開始しない。従って、テストモードが設定されている間、他の調理用ソフトウェアによって割り込まれるのを防止することができる。ここで、誘導加熱調理器の出荷時には予め初期フラグが設定されていることを前提としており、制御部３１がこの初期フラグを参照することで初期か否かを判定する。例えば、初期フラグが設定されていれば、制御部３１は初期と判定し、初期フラグがリセットされていれば初期ではないと判定する。そして、初期テストが完了したら、テストモードを解除し（ステップＳ６０５）、さらに初期フラグをリセットした（ステップＳ６０６）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを開始する（ステップＳ６１１）。
初期テスト完了後、周期のカウント値が所定値になるまでの間、即ち所定の時間が経過するまでの間（ステップＳ６０１でＮｏかつステップＳ６０２でＮｏ）は、制御部３１は図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップ（ステップＳ６１１）のみを続行する。
一方、初期テスト完了後の通常時において、制御部３１は、上記所定の周期で定期的にテスト（以下、通常テストと呼ぶ）を実行する。即ち、周期のカウント値が所定の値に達する（即ち、所定の時間が経過する）（ステップＳ６０１でＹｅｓ）都度、制御部３１は、テストモードを設定し（ステップＳ６０７）、通常テストを起動して発熱手段であるラジエントヒーター５が正常か否かのテストを実行する（ステップＳ６０８）。通常テストが終了したら、制御部３１はテストモードを解除した（ステップＳ６０９）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを再開する（ステップＳ６１１）。
【００１５】
一方、初期テストが起動されると、図７に示すように制御部３１は内部に保有している初期値、基準値のメモリー３２への設定や周期カウンタを除く各種カウンタ類のクリアなどの初期処理を行った（ステップＳ７０１）後、被加熱物がトッププレート３上に載置されているか否かを調べる（ステップＳ７０２）。被加熱物がトッププレート３上に載置されていると、テストが困難になるかあるいはセンサーの検出精度が著しく低下するため、テストができない。そこで、被加熱物がトッププレート３上に載置されている場合にはその旨の警報メッセージを表示手段（図示せず）や音声出力手段（図示せず）に送って報知出力させた（ステップＳ７０３）上でスケジューリング処理に復帰する。
ステップＳ７０２において、被加熱物がトッププレート３に載置されていない場合、テストを実行可能であるから制御部３１はリレー５１を駆動して、発熱手段であるラジエントヒーター５に電源を供給して起動する（ステップＳ７０４）。なお、被加熱物の有無の判定は光センサーなどのセンサーを用いて行うことができる。
次に、制御部３１は発熱手段であるラジエントヒーター５の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間が経過した後、接触式温度センサー２１によって検出され、温度検出部２１１から送られた第１の検出温度を読み取る（ステップＳ７０５）。（なお、発熱手段の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間には、接触式温度センサー２１の出力が安定する時間も含まれているものとする。この安定になるまでの十分な時間を短縮したい場合には接触式温度センサー２１の出力を調べて複数回連続してほぼ同じ結果が得られれば安定したと判定することも可能である。）次に、制御部３１は室温センサー２２によって検出され、室温検出部２２１から送られた第２の検出温度を読み取る（ステップＳ７０６）。次に、制御部３１は読み取った接触式温度センサー２１の検出温度から、読み取った室温センサー２２の検出温度を差し引く（ステップＳ７０７）。そして制御部３１は差し引いた結果の温度差を初期値としてメモリー３２に書き込む（ステップＳ７０８）。次に制御部３１は処理を終了させるためにラジエントヒーター５の駆動を停止した（ステップＳ７０９）上でスケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、図６に示すように制御部３１はテストモードを解除し（ステップＳ６０５）、さらに初期フラグをリセットした（ステップＳ６０６）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを開始する（ステップＳ６１１）。
【００１６】
また、図８は本発明の実施の形態１における制御部３１の初期テスト完了後の通常時における定期的なテスト（通常テスト）の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態１における制御部３１の通常テストの動作について図１〜図６及び図８を用いて説明する。
制御部３１は、まず定期的にテストを起動する。即ち、図６において、所定の時間が経過したか否かを判断し（ステップＳ６０１）、周期のカウント値が所定の値に到達する（即ち、所定の時間が経過する）（ステップＳ６０１においてＹｅｓ）都度、テストモードを設定して（ステップＳ６０７）通常テストを起動する（ステップＳ６０８）。通常テストが起動されると、図８に示すように制御部３１はまず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０７と同じ動作を実行する。次に、制御部３１はメモリー３２から接触式温度センサー２１の検出温度と室温センサー２２の検出温度との温度差の初期値を読み込む（ステップＳ８０１）。次に、制御部３１は今回検出した接触式温度センサー２１の検出温度から室温の変動成分を排除するために室温センサー２２によって検知された室温を差し引いて求めた温度差と、ステップＳ８０１でメモリー３２から読み込んだ初期の温度差との差分を計算する（ステップＳ８０２）。次に制御部３１は計算によって得られた差分を予め設定しておいた基準値と比較する（ステップＳ８０３）。比較の結果、温度差が基準値よりも小さければ、正常と判定して処理を終了させるためにリレー５１を制御してラジエントヒーター５への電力供給を停止して（ステップＳ８０５）スケジューリング処理に復帰する。ステップＳ８０３の比較の結果、差分が基準値以上の場合には、温度センサーが経年劣化による故障のため使用できないと判定して図示しない表示部および音声出力部にその旨の警報を報知出力し、ラジエントヒーター５の駆動を停止して（ステップＳ８０４〜Ｓ８０５）スケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、制御部３１はテストモードを解除した（ステップＳ６０９）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを再開する（ステップＳ６１１）。
【００１７】
本実施の形態１によれば、初期値との差違が所定値よりも大きくなったら異常が発生したと判定して、その旨を報知出力するので、ユーザーがこれに対応して処置することにより、二次故障の発生を未然に防止することができる。
なお、本実施の形態では、温度センサーの検出した温度と初期値との差分が１回でも所定値以内ならば異常と判定したが、連続して複数回異常のときに異常と判定するように構成してもよい。この構成により異常判定の精度が向上する。
【００１８】
実施の形態２．
実施の形態１では、接触式温度センサー２１の異常判定について説明したが、本実施の形態２では非接触温度センサーである赤外線センサー２３と接触式温度センサー２１の組合せに基づいてこれらのセンサーの異常判定について説明する。
赤外線センサーの場合には、接触式温度センサーと異なり、発熱手段から放射される熱エネルギーを非接触方式で受光する
図１〜図４および図６は本実施の形態２でも用いられる。
図３に示すように赤外線センサー２３は本体１の前面側と背面側の対向する位置に３口型の加熱部に対応してそれぞれ３つずつ設けられている。つまり、本体１の前面側に設けられた赤外線センサー２３ａ〜２３ｃは被加熱物の前面側の赤外線を検出し、後端に設けられた赤外線センサー２３ｄ〜２３ｆは被加熱物の前背面側からの赤外線を検出するように互いに反対方向に向いている。左側の誘導加熱コイル４ａによって誘導加熱された被加熱物の表面から発する赤外線は本体１の前後両側にそれぞれ設けられた赤外線センサー２３ａと２３ｄによって検出され、右側の誘導加熱コイル４ｂによって誘導加熱された被加熱物の表面から発する赤外線は本体１の前後両側にそれぞれ設けられた赤外線センサー２３ｃと２３ｆによって検出され、ラジエントヒーター５によって加熱された被加熱物の表面から発する赤外線は本体１の前後両側にそれぞれ設けられた赤外線センサー２３ｂと２３ｅによって検出される。なお、赤外線センサー２３ａ〜２３ｆはテストモードにおいては、ラジエントヒーター５により加熱されたトッププレート３の温度を検出し、この検出結果を予め設定された基準値と比較することで、これらの赤外線センサーが正常か否かを確認する。
本実施の形態２では、説明を簡単にするために、赤外線センサー１台でラジエントヒーター５によって加熱されたトッププレート３の熱を検知する場合について説明する。
図９は、本発明の実施の形態２における誘導加熱調理器の構成を示すブロック図であり、図中、図５と同符号は同一または相当部分を示す。図において、赤外線センサー２３及び温度検出部２３１を追加し、室温センサー２２及び室温検出部２２１を削除した以外は図５と同じ構成である。
【００１９】
次に、本実施の形態２の動作概要を説明する。
制御部３１は据え付け時やメンテナンス時などの初期には初期テストを起動させ、発熱手段であるラジエントヒーター５を駆動してトッププレート３を加熱し、接触式温度センサー２１と非接触式温度センサーである赤外線センサー２３の両方を用いて発熱手段５により加熱されたトッププレート３の温度を測定し、得られた２つの検出温度の温度差を計算して初期の温度差としてメモリー３２に記録しておく。
このように、温度差を算出することにより、室温に変動があってもその影響を受けることがなくなる。
そして、初期以外の通常時では、所定の周期で定期的に通常テストを起動させ、各通常テストにおいて、発熱手段であるラジエントヒーター５を駆動してトッププレート３を加熱し、接触式温度センサー２１と赤外線センサー２３の両方を用いて発熱手段５により加熱されたトッププレート３の温度を測定し、得られた２つの検出温度の温度差を計算する。次に制御部３１はメモリー３２に記録していた初期の温度差を読み込んで、この初期の温度差と今回のテストで算出した温度差とを比較し、差分が所定値よりも大きければ赤外線センサー２３が経年劣化により故障して使用できなくなったと判定し、その旨を報知出力する。この報知出力により、ユーザーは接触式温度センサー２１か赤外線センサー２３のいずれかに異常があることを知ることができ、どちらかの異常かを実施の形態１で記述した内容を実行して判定した後、対処することができる。
【００２０】
図１０は本発明の実施の形態２における制御部３１の初期値設定の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態２における制御部３１の初期値設定の動作について図１〜図４、図６、図９及び図１０を用いて説明する。ここでは、実施の形態１と異なる部分を中心に説明する。
制御部３１は、誘導加熱調理器の据え付け時やメンテナンス時には、まず図６と同様にしてテストモードを設定して初期テストを起動する（ステップＳ６０１〜Ｓ６０４）。初期テストが起動されると、図１０に示すように制御部３１は、まず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０４と同じ動作を実行する。
次に、制御部３１は発熱手段であるラジエントヒーター５の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間が経過した後、接触式温度センサー２１によって検出され、温度検出部２１１から送られた第１の検出温度を読み取る（ステップＳ１００１）。次に制御部３１は赤外線センサー２３によって検出され、温度検出部２３１から送られた第２の検出温度を読み取る（ステップＳ１００２）。次に、制御部３１は第１の検出温度（接触式温度センサー２１の検出した温度）と第２の検出温度（赤外線センサー２３の検出した温度）との温度差を計算する（ステップＳ１００３）。次に、制御部３１は計算によって得られた温度差を初期の温度差としてメモリー３２に書き込む（ステップＳ１００４）。次に、制御部３１は初期処理を終了させるために図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、図６に示すように制御部３１はテストモードを解除し（ステップＳ６０５）、さらに初期フラグをリセットした（ステップＳ６０６）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを開始する（ステップＳ６１１）。
【００２１】
図１１は本発明の実施の形態２における制御部３１の初期時以外のテスト時の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態２における制御部３１のテスト時の動作について図１〜図４、図６、図９及び図１１を用いて説明する。
制御部３１は、まず定期的に通常テストを起動する。即ち、図６において、所定の時間が経過したか否かを判断し（ステップＳ６０１）、周期のカウント値が所定の値に到達する（即ち、所定の時間が経過する）（ステップＳ６０１においてＹｅｓ）都度、テストモードを設定して（ステップＳ６０７）通常テストを起動する（ステップＳ６０８）。通常テストが起動されると、図１１に示すように制御部３１はまず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０４と同じ動作を実行する。
次に、制御部３１は発熱手段であるラジエントヒーター５の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間が経過した後、接触式温度センサー２１によって検出され、温度検出部２１１から送られた第１の検出温度を読み取る（ステップＳ１１０１）。次に制御部３１は赤外線センサー２３によって検出され、温度検出部２３１から送られた第２の検出温度を読み取る（ステップＳ１１０２）。次に、制御部３１は第１の検出温度（接触式温度センサー２１の検出した温度）と第２の検出温度（赤外線センサー２３の検出した温度）との温度差を計算する（ステップＳ１１０３）。次に、制御部３１はメモリー３２から初期の温度差を読み込む（ステップＳ１１０４）。次に、制御部３１は今回算出した温度差とメモリー３２から読み込んだ初期の温度差との差分を計算する（ステップＳ１１０５）。次に制御部３１は図８のステップＳ８０３〜Ｓ８０５と同じ動作を実行した後、スケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、制御部３１はテストモードを解除した（ステップＳ６０９）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを再開する（ステップＳ６１１）。
【００２２】
本実施の形態２によれば、接触式温度センサーの検出温度と非接触温度センサーの検出温度との温度差を、初期の温度差と比較し、得られた差分が所定値よりも大きくなったら少なくともいずれか一方の温度センサーに異常が発生したと判定して、その旨を報知出力するので、この報知出力により、ユーザーは接触式温度センサーか赤外線温度センサーのいずれかに異常があることを知ることができる。そこで、どちらかの異常かを別の方法（例えば実施の形態１を動作させること）で判定した後、対応処置を施すことにより実施の形態１と同様の効果を奏する。
なお、赤外線センサーを複数用い、平均をとることで、測定精度が向上するだけでなく、１つが故障しても残りの赤外線センサーによって検知することができるため、故障率を少なくすることが可能である。
なお、赤外線センサーを前後いずれか一方の側に３つ設けても良く、効果も上記と同様である。
また、赤外線センサーを天板下に設け、天板を透過した赤外線を検出するようにしても良い。
【００２３】
実施の形態３．
実施の形態２では、異なる種類の温度センサーの検出温度の温度差を初期値と比較して差分が所定置よりも大きい場合に制御部３１が温度センサーの異常と判定する場合について説明した。
本実施の形態３では、同一種類の複数の温度センサーの検出温度に基づいて異常判定を行う場合について説明する。具体的には接触式温度センサーが３個以上設けられている場合にこれらの内のいずれか１つが故障した場合の制御部３１の異常判定について説明する。
図３に示すように発熱手段であるラジエントヒーター５を中心としてほぼ等距離に接触式温度センサー２１が複数個（４個）配置されている。従って、各温度センサー２１によって検出される発熱手段（ラジエントヒーター５）の検出温度はほぼ同じである。
なお、図３では、接触式温度センサーは４個設けられているが、以下では説明を簡単にするために、３個設けられていることを前提として説明する。
図１〜図４および図６は本実施の形態３でも用いられる。
図１２は本発明の実施の形態３における誘導加熱調理器の構成を示すブロック図であり、図中、図５と同符号は同一または相当部分を示す。
接触式温度センサー２１及び温度検出部２１１に代えて、３個の接触式温度センサー２１ａ〜２１ｃ及び温度検出部２１１ａ〜２１１ｃを設けた点以外は図５と同じ構成である。
【００２４】
次に、本実施の形態３の動作概要を説明する。
なお、室温の変動の影響については実施の形態１と同様に通常は処理が必要であるが、本実施の形態３では複数の温度センサーによる測定値の差分（温度差）を用いるため、室温の影響を考慮する必要が無い。以降の各実施の形態でも同様である。
ここでは、初期テストは完了していることを前提とする。
制御部３１は初期テスト完了後、所定の周期で定期的に通常テストを起動させ、各通常テストにおいて、発熱手段であるラジエントヒーター５を駆動してトッププレート３を加熱し、複数の接触式温度センサー２１を用いて温度を測定する。そして、いずれか１つの接触式温度センサー２１の測定差分が大きくなると、この接触式温度センサー２１が経年劣化により故障して使用できなくなったと判定し、その旨を報知出力する。
【００２５】
図１３は本発明の実施の形態３における制御部３１の初期以外のテスト時の動作を示すフローチャートである。図１３において、「Ｙ」はＹｅｓを表し、「Ｎ」はＮｏを表す。
次に、本実施の形態３における制御部３１の初期以外のテスト（通常テスト）の動作について図１〜図４、図６、図１２及び図１３を用いて説明する。但し、同時に２個以上、センサーが異常にはならないものとする。
制御部３１は、まず図６と同様にして通常テストを起動する（ステップＳ６０１〜Ｓ６０３）。テストモードが起動されると、図１３に示すように制御部３１はまず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０４と同じ動作を実行する。
次に、制御部３１は発熱手段であるラジエントヒーター５の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間が経過した後、接触式の温度センサー２１ａ（以下、第１の接触式温度センサー２１ａと呼ぶこともある）によって検出され、温度検出部２１１ａから送られた第１の検出温度を読み取る（ステップＳ１３０１）。次に、制御部３１は接触式の温度センサー２１ｂ（以下、第２の接触式温度センサー２１ｂと呼ぶこともある）によって検出され、温度検出部２１１ｂから送られた第２の検出温度を読み取る（ステップＳ１３０２）。次に、制御部３１は接触式の温度センサー２１ｃ（以下、第３の接触式温度センサー２１ｃと呼ぶこともある）によって検出され、温度検出部２１１ｃから送られた第３の検出温度を読み取る（ステップＳ１３０３）。
次に、制御部３１は、第１の検出温度（第１の接触式温度センサー２１ａによって検出された温度）と第２の検出温度（第２の接触式温度センサー２１ｂによって検出された温度）との温度差（以下、第１の温度差という）を計算する（ステップＳ１３０４）。次に、制御部３１は、第２の検出温度（第２の接触式温度センサー２１ｂによって検出された温度）と第３の検出温度（第３の接触式温度センサー２１ｃによって検出された温度）との温度差（以下、第２の温度差という）を計算する（ステップＳ１３０５）。次に、制御部３１は、第３の検出温度（第３の接触式温度センサー２１ｃによって検出された温度）と第１の検出温度（第１の接触式温度センサー２１ａによって検出された温度）との温度差（以下、第３の温度差という）を計算する（ステップＳ１３０６）。
次に制御部３１は計算によって得られた第１の温度差と第２の温度差と第３の温度差を予め初期処理で設定しておいた基準値と比較する（ステップＳ１３０７〜Ｓ１３０９）。比較の結果、第１の温度差と第２の温度差が全て基準値よりも小さい（ステップＳ１３０７でＹｅｓ且つＳ１３０８でＹｅｓ）場合には、制御部３１は第１〜第３の接触式温度センサー２１ａ〜２１ｃの全てが正常と判定して処理を終了させるために図８のステップＳ８０５と同じようにラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
また、比較の結果、第１の温度差が基準値以上で且つ第２の温度差が基準値よりも小さい（ステップＳ１３０７でＮｏ且つＳ１３０９でＹｅｓ）場合には、制御部３１は第１の接触式温度センサー２１ａにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出力させ（ステップＳ１３１０）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
また、比較の結果、第１の温度差が基準値以上で且つ第２の温度差が基準値以上である（ステップＳ１３０７でＮｏ且つＳ１３０９でＮｏ）場合には、制御部３１は第２の接触式温度センサー２１ｂにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出力させ（ステップＳ１３１２）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
また、比較の結果、第１の温度差が基準値より小さく且つ第２の温度差が基準値以上である（ステップＳ１３０７でＹｅｓ且つＳ１３０８でＮｏ）場合には、制御部３１は第３の接触式温度センサー２１ｃにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出力させ（ステップＳ１３１２）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、制御部３１はテストモードを解除した（ステップＳ６０９）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを再開する（ステップＳ６１１）。
【００２６】
本実施の形態３によれば、このように複数の温度センサーの検出した温度同士を比較し、差が所定値よりも大きいものがあれば、差分が大きいものを異常であると判定して、その旨を報知出力するので、実施の形態１と同様の効果を奏する。
【００２７】
上記の例では、複数の温度センサーが同時に異常にならない場合について説明した。
次に、複数の温度センサーが同時に異常になることがある場合の態様について説明する。
図１４は複数の温度センサーが同時に異常になることがある場合の制御部３１のテスト時の動作を示すフローチャートである。図１４において、「Ｙ」はＹｅｓを表し、「Ｎ」はＮｏを表す。
次に、本実施の形態３における複数の温度センサーが同時に異常になることがある場合の制御部３１のテスト動作について図１〜図４、図６、図１２及び図１４を用いて説明する。
制御部３１は、まず図６と同様にしてテストモードを起動する（ステップＳ６０１〜Ｓ６０３）。テストモードが起動されると、図１４に示すように制御部３１はまず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０４と同じ動作を実行し、次に図１３のステップＳ１３０１〜Ｓ１３０６と同じ動作を実行する。
【００２８】
次に制御部３１は計算によって得られた第１の温度差を予め初期処理で設定しておいた基準値と比較する（ステップＳ１３０７）。ステップＳ１３０７での比較の結果、第１の温度差が第１の基準値よりも小さくない（ステップＳ１３０７でＮｏ）場合には、制御部３１は計算によって得られた第２の温度差を上記基準値と比較する（ステップＳ１３２１）。ステップＳ１３２１での比較の結果、第２の温度差が第２の基準値よりも小さくない（ステップＳ１３２１でＮｏ）場合には、制御部３１は計算によって得られた第３の温度差を上記基準値と比較する（ステップＳ１３２２）。ステップＳ１３２２での比較の結果、第３の温度差が基準値よりも小さくない（ステップＳ１３２２でＮｏ）場合には、制御部３１は測定エラーが発生したと判定して（ステップＳ１３２３）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
ステップＳ１３２２での比較の結果、第３の温度差が基準値よりも小さい（ステップＳ１３２２でＹｅｓ）場合には、制御部３１は第１の接触式温度センサー２１ａの測定値及び第３の接触式温度センサー２１ｃの測定値を予め初期処理で設定しておいた下限値と比較する（ステップＳ１３２４）。ステップＳ１３２４での比較の結果、第１の接触式温度センサー２１ａの測定値及び第３の接触式温度センサー２１ｃの測定値が上記下限値よりも大きくない（ステップＳ１３２４でＮｏ）場合には、制御部３１は第１の接触式温度センサー２１ａ及び第３の接触式温度センサー２１ｃにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出力させ（ステップＳ１３２５）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
ステップＳ１３２４での比較の結果、第１の接触式温度センサー２１ａの測定値及び第３の接触式温度センサー２１ｃの測定値が上記下限値よりも大きい（ステップＳ１３２４でＹｅｓ）場合には、制御部３１は第２の接触式温度センサー２１ｂにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出力させ（ステップＳ１３２６）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
【００２９】
ステップＳ１３２１での比較の結果、第２の温度差が第２の基準値よりも小さい（ステップＳ１３２１でＹｅｓ）場合には、制御部３１は第２の接触式温度センサー２１ｂの測定値及び第３の接触式温度センサー２１ｃの測定値を上記下限値と比較する（ステップＳ１３２７）。ステップＳ１３２７での比較の結果、第２の接触式温度センサー２１ｂの測定値及び第３の接触式温度センサー２１ｃの測定値が上記下限値よりも大きくない（ステップＳ１３２７でＮｏ）場合には、制御部３１は第２の接触式温度センサー２１ｂ及び第３の接触式温度センサー２１ｃにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出力させ（ステップＳ１３２５）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
ステップＳ１３２７での比較の結果、第２の接触式温度センサー２１ｂの測定値及び第３の接触式温度センサー２１ｃの測定値が上記下限値よりも大きい（ステップＳ１３２７でＹｅｓ）場合には、制御部３１は第１の接触式温度センサー２１ａにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出力させ（ステップＳ１３２９）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
【００３０】
ステップＳ１３０７での比較の結果、第１の温度差が第１の基準値よりも小さい（ステップＳ１３０７でＹｅｓ）場合には、制御部３１は第１の接触式温度センサー２１ａの測定値及び第２の接触式温度センサー２１ｂの測定値を上記下限値と比較する（ステップＳ１３３１）。ステップＳ１３３１での比較の結果、第１の接触式温度センサー２１ａの測定値及び第２の接触式温度センサー２１ｂの測定値が上記下限値よりも大きくない（ステップＳ１３３１でＮｏ）場合には、制御部３１は計算によって得られた第２の温度差を基準値と比較する（ステップＳ１３３２）。ステップＳ１３３２での比較の結果、第２の温度差が基準値よりも小さくない（ステップＳ１３３２でＮｏ）場合には、制御部３１は第１の接触式温度センサー２１ａ及び第２の接触式温度センサー２１ｂにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出力させ（ステップＳ１３３３）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
ステップＳ１３３２での比較の結果、第２の温度差が基準値よりも小さい（ステップＳ１３３２でＹｅｓ）場合には、制御部３１は第１の接触式温度センサー２１ａ、第２の接触式温度センサー２１ｂ及び第３の接触式温度センサー２１ｃにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出力させ（ステップＳ１３３３）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
【００３１】
ステップＳ１３３１での比較の結果、第１の接触式温度センサー２１ａの測定値及び第３の接触式温度センサー２１ｃの測定値が上記下限値よりも大きい（ステップＳ１３３１でＹｅｓ）場合には、制御部３１は計算によって得られた第２の温度差を基準値と比較する（ステップＳ１３３５）。ステップＳ１３３５での比較の結果、第２の温度差が基準値よりも小さくない（ステップＳ１３３５でＮｏ）場合には、制御部３１は第３の接触式温度センサー２１ｃにおいて経年劣化による故障が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出して報知出させ（ステップＳ１３３６）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
ステップＳ１３３５での比較の結果、第２の温度差が基準値よりも小さい（ステップＳ１３３５でＹｅｓ）場合には、制御部３１は第１の接触式温度センサー２１ａ、第２の接触式温度センサー２１ｂ及び第３の接触式温度センサー２１ｃはいずれも正常であったと判定して、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、制御部３１はテストモードを解除した（ステップＳ６０９）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを再開する（ステップＳ６１１）。
【００３２】
本実施の形態３によれば、このように複数の温度センサーの検出した温度同士を比較し、差が所定値よりも大きいものがあれば、差分が大きいものを異常であると判定して、その旨を報知出力するので、実施の形態１と同様の効果を奏する。
また、下限値よりも小さいものがあれば、それを異常であると判定して、その旨を報知出力するので、実施の形態１と同様の効果を奏する。
さらに、本実施の形態３によれば、複数の温度センサーの異常も判定できるので、異常検知精度が向上する。
【００３３】
実施の形態４．
実施の形態１〜３では、少なくとも１つの温度センサーによって検出された温度に基づいて、この温度センサーの異常の有無を判定する場合について説明した。
本実施の形態４では、温度センサーの異常の有無の判定に室温を加味する場合について説明する。
図１〜図６は実施の形態４でも用いられる。
【００３４】
次に、本実施の形態４の動作概要を説明する。
制御部３１は据え付けやメンテナンスを行う年について、温度の変わる時節（例えば春夏秋冬毎）に初期テストを起動させ、各初期テストモードにおいて、室温センサー２２を用いて室温を測定すると共に、発熱手段（ラジエントヒーター５）を駆動し、接触式温度センサー２１を用いて発熱手段によって加熱されたトッププレート３の温度を測定し、室温とトッププレート３の温度を対応させて初期値としてメモリー３２内のテーブルに記録しておく。
そして、初期以外の通常時では、制御部３１は初期テストを実行した時とほぼ同じ周期で定期的に通常テストを起動させ、各通常テストにおいて、室温センサー２２を用いて室温を測定すると共に、発熱手段（ラジエントヒーター５）を駆動し、接触式温度センサー２１を用いてトッププレート３の温度を測定する。さらに、制御部３１は室温を検索キーとしてメモリー３２内のテーブルを参照して室温に対応するトッププレート３の初期の検出温度を取り出して、この初期の検出温度と今回の通常テストで接触式温度センサー２１が検出した温度とを比較し、温度差が所定値よりも大きければ接触式温度センサー２１が経年劣化により故障して使用できなくなったと判定し、その旨を報知出力する。
【００３５】
図１５は本発明の実施の形態４における制御部３１の初期値設定動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態４における制御部３１の初期値設定の動作について図１〜図６及び図１５を用いて説明する。ここでは、実施の形態１と異なる部分を中心に説明する。
制御部３１は、誘導加熱調理器１００の据え付け時やメンテナンス時には、まず図６と同様にして所定の時期には、テストモードを設定した上で、初期テストを起動する（ステップＳ６０１〜Ｓ６０５）。初期テストが起動されると、制御部３１は図１５に示すようにまず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０４と同じ動作を実行する。
次に、制御部３１は発熱手段であるラジエントヒーター５の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間が経過した後、接触式の温度センサー２１によって検出され、温度検出部２１１から送られた第１の検出温度値を読み取る（ステップＳ１５０１）。次に、制御部３１は室温センサー２２によって検出され、室温検出部２２１から送られた第２の検出温度を読み取る（ステップＳ１５０２）。次に、制御部３１は第２の検出温度（室温センサー２２の検出した温度）に対応させて、第１の検出温度（接触式温度センサー２１の検出した温度）をメモリー３２の初期値用テーブルに書き込む（ステップＳ１５０３）。次に、制御部３１は初期処理を終了させるために図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、図６に示すように制御部３１はテストモードを解除し（ステップＳ６０５）、さらに初期フラグをリセットした（ステップＳ６０６）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを開始する（ステップＳ６１１）。
【００３６】
図１６は本発明の実施の形態４における制御部３１の初期以外のテスト時の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態４における制御部３１の初期以外のテスト時の動作について図１〜図４、図６、図１５及び図１６を用いて説明する。
制御部３１は、まず定期的に通常テストを起動する。即ち、図６において、所定の時間が経過したか否かを判断し（ステップＳ６０１）、周期のカウント値が所定の値に到達する（即ち、所定の時間が経過する）（ステップＳ６０１においてＹｅｓ）都度、テストモードを設定して（ステップＳ６０７）通常テストを起動する（ステップＳ６０８）。通常テストが起動されると、図１６に示すように制御部３１はまず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０４と同じ動作を実行する。
次に、制御部３１は発熱手段であるラジエントヒーター５の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間が経過した後、接触式の温度センサー２１によって検出され、温度検出部２１１から送られた第１の検出温度を読み取る（ステップＳ１６０１）。次に、制御部３１は室温センサー２２によって検出され、室温検出部２２１から送られた第２の検出温度（室温）を読み取る（ステップＳ１６０２）。次に、制御部３１は第２の検出温度（室温）を検索キーとしてメモリー３２の初期値用テーブルを検索し、室温に対応する第１の検出温度（発熱手段５によって加熱されたトッププレート３の温度）の初期値を読み込む（ステップＳ１６０３）。次に、制御部３１は今回検出した第１の検出温度とメモリー３２から読み込んだ初期の第１の検出温度との温度差を計算する（ステップＳ１６０４）。次に制御部３１は計算によって得られた温度差を予めメモリー３２に格納しておいた基準値と比較する（ステップＳ１６０５）。比較の結果、温度差が基準値よりも小さい場合には、正常と判定して処理を終了させるために図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
ステップＳ１６０５の比較の結果、温度差が基準値よりも大きい場合には、温度センサーに異常が発生したと判定して、表示部および音声出力部にその旨の警報を報知出力し（ステップＳ８０４）、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、制御部３１はテストモードを解除した（ステップＳ６０９）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを再開する（ステップＳ６１１）。
【００３７】
本実施の形態４によれば、初期値との差違が所定値よりも大きくなったら異常が発生したと判定して、その旨を報知出力するので、実施の形態１と同様の効果を奏する。
なお、上記の例では、春夏秋冬をテストの実行周期としたがこれに限る必要はなく、気温が１０度変わる毎にテストモードを起動してもよいし、設置される地域により、テストモードの実行周期を適宜変更してもよい。
【００３８】
実施の形態５．
接触式温度センサー２１が落下や剥がれなどトッププレート３から離れている場合には、正しい温度が得られない。そこで、このような場合には温度センサーの異常と判定する必要がある。本実施の形態５では、このような態様について説明する。
図１〜図６は実施の形態５でも用いられる。
【００３９】
次に、本実施の形態５の動作概要を説明する。
制御部３１は所定の周期で定期的に通常テストを起動させ、各通常テストにおいて、発熱手段であるラジエントヒーター５を駆動してトッププレート３を加熱し、接触式温度センサー２１を用いて温度を測定する。同時に室温センサー２２を用いて室温を測定する。そして、接触式温度センサー２１の出力と室温センサー２２の出力との温度差が所定値より小さくなった場合、即ち、発熱手段の温度が気温とほぼ同じになった場合には、明らかに異常であり、経年劣化などにより温度センサー２１が故障したか、落下など温度センサーがトッププレートの裏面に接触していないなどの異常が発生したと判定してその旨の警報を報知する。
【００４０】
図１７は本発明の実施の形態５における通常テストでの制御部３１の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態５における制御部３１の動作を図１〜図６及び図１７を用いて説明する。
制御部３１は、通常時において、所定の周期で周期的（ステップＳ６０１でＹｅｓ）にテストモードを設定し（ステップＳ６０７）、通常テストを起動する（ステップＳ６０８）。
通常テストが起動されると、図１７に示すように制御部３１はまず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０４と同じ動作を実行する。
次に、制御部３１は発熱手段であるラジエントヒーター５の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間が経過した後、接触式の温度センサー２１によって検出され、温度検出部２１１から送られた第１の検出温度を読み取る（ステップＳ１７０１）。次に、制御部３１は室温センサー２２によって検出され、室温検出部２２１から送られた第２の検出温度を読み取る（ステップＳ１７０２）。次に、制御部３１は読み取った第１の検出温度と第２の検出温度の温度差を計算する（ステップＳ１７０３）。次に制御部３１は計算によって得られた温度差を予めメモリー３２に格納しておいた基準値（この基準値は実施の形態４で用いられた基準値よりは十分小さい値である）と比較する（ステップＳ１７０４）。比較の結果、温度差が基準値よりも大きい場合には、正常と判定して処理を終了させるために図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
ステップＳ１７０４の比較の結果、温度差が基準値よりも小さい場合には、制御部３１は温度センサーがトッププレートから落下などにより離れたなどの異常が発生したと判定して、その旨の警報メッセージを表示部および音声出力部に送出し、報知出力させた（ステップＳ８０４）上で、図８のステップＳ８０５と同様にラジエントヒーター５の駆動を停止してスケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、制御部３１はテストモードを解除した（ステップＳ６０９）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを再開する（ステップＳ６１１）。
【００４１】
本実施の形態５によれば、発熱手段によって加熱されるトッププレートの温度を検知する接触式温度センサーの検出温度が室温とほぼ同じ温度の場合には接触式温度センサーが落下など異常な位置にあり、使用できない状態にあると判定し、その旨を表示部や音声出力手段により報知するので、ユーザーがこれに対応して処置することにより、二次故障の発生を未然に防止することができる。
【００４２】
実施の形態６．
実施の形態５では、接触式温度センサーの異常判定を初期値との比較に基づいて行う場合について説明したが、赤外線センサーの異常を過去の履歴情報に基づいて予想することも可能である。
本実施の形態６では、このように赤外線センサーの異常を過去の履歴情報に基づいて予想する場合の態様について説明する。
図１〜図４、図６及び図９は本実施の形態６でも用いられる。
【００４３】
次に、本実施の形態６の動作概要を説明する。
制御部３１は初期及び通常時において、定期的にテストモードを設定し、テストを起動させ、各テストにおいて、発熱手段であるラジエントヒーター５を駆動し、非接触式温度センサーである赤外線センサー２３を用いて発熱手段５によって加熱されたトッププレート３の温度を測定してメモリー３２に記録しておく。次に制御部３１はメモリー３２に記録していた前回の検出温度を取り出して、この前回の検出温度と今回のテストで検出した温度とを比較し、温度差を算出しメモリー３２に記録しておく。こうして得られた任意の時点の検出温度とその１つ前の検出温度との温度差を過去複数回分メモリー３２に保存し、この過去複数回分の温度差データをテスト時に読み出してその温度差の変化に基づいて次回の温度を予想し、この予想した温度が所定値よりも大きければ赤外線センサー２３が経年劣化により故障して使用できなくなる虞があると判定し、その旨を報知出力する。
【００４４】
図１８は本発明の実施の形態６における制御部３１のテスト時の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態６における制御部３１のテストの動作について図１〜図４、図６、図９、及び図１８を用いて説明する。ここでは、説明を簡単にするために、過去の温度差データを前回分だけ記録しておくこととする。また、図６において、初期テストは処理済みであることを前提とする。
制御部３１は、まず図６と同様にして所定の周期で定期的に（ステップＳ６０１でＹｅｓ）テストモードを設定した上で（ステップＳ６０７）、テストを起動する（ステップＳ６０５）。テストが起動されると、図１８に示すように制御部３１はまず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０４と同じ動作を実行する。
次に、制御部３１は発熱手段であるラジエントヒーター５の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間が経過した後、赤外線センサー２３によって検出され、温度検出部２３１から送られた検出温度を読み取る（ステップＳ１８０１）。次に、制御部３１は読み取った検出温度をメモリー３２に記録する（ステップＳ１８０２）。次に、制御部３１はメモリー３２から前回の赤外線センサー２３の検出温度を読み込む（ステップＳ１８０３）。次に、制御部３１は今回検出した温度（赤外線センサー２３によって検出された温度）と前回の検出温度（メモリー３２から読み込んだ温度）との温度差を計算する（ステップＳ１８０４）。次に、制御部３１は、算出した温度差をメモリー３２に記録する（ステップＳ１８０５）。次に制御部３１は、メモリー３２から前回の温度差を読み込む（ステップＳ１８０６）。次に制御部３１は今回算出した温度差とメモリー３２から読み込んだ前回の温度差とに基づいて次回分の温度差を推定する。次に制御部３１は、今回の検出温度に次回分の温度差を加算して次回の温度を予測する。さらに制御部３１は、次回の予測温度と初期の検出温度との温度差を計算する。（ステップＳ１８０７）。
次に制御部３１は図１６のステップＳ１６０５と図８のステップＳ８０４〜Ｓ８０５と同じ動作を実行した後、スケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、制御部３１はテストモードを解除した（ステップＳ６０９）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを再開する（ステップＳ６１１）。
【００４５】
本実施の形態６によれば、赤外線センサーの検出した温度を記録しておき、過去の履歴に基づいて次回に検出される温度を予測し、次回の検出温度と初期の温度との差分が所定値以上であれば、異常であると判定して、その旨を報知出力するので、実施の形態１の効果に加えて予測できるので、対処がより早めにできる。
【００４６】
実施の形態７．
実施の形態１〜６では、トッププレート３上に被加熱物（鍋）が載置されていない時にテストを行うようにしていたが、深夜時間帯にテストしても良い、本実施の形態７では、このような態様について説明する。
なお、ここでは、初期テストは完了していることを前提とする。
図１９は本実施の形態７における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態７における制御部３１の動作を図１９を用いて説明する。
制御部３１は内蔵するタイマーを調べ（ステップＳ１９０１）、深夜時間帯例えば０時であれば、図６のステップＳ６０７〜Ｓ６０８を実行してテストを開始する。これ以降の制御部３１のテストの動作は実施の形態１〜６と同様であるため説明を省略する。テストの実行が終了したら、制御部３１はテストモードを解除して処理を終了する（ステップＳ６０９）。
本実施の形態７によれば、深夜にテストを実行できるので、効率の良いテストができる。
【００４７】
実施の形態８．
実施の形態７では、深夜時間帯にテストするようにしたが、過去の調理履歴から非操作時間帯を学習してこの時間帯にテストするようにしても良い、本実施の形態８では、このような態様について説明する。
なお、ここでは、初期テストは完了していることを前提とする。
図２０は本実施の形態８における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態８における制御部３１の動作を図２０を用いて説明する。
制御部３１はメモリー３２から複数の操作履歴を読み込む（ステップＳ２００１）。次に制御部３１は過去の操作履歴から非操作時間帯を抽出する（ステップＳ２００２）。次に制御部３１は内蔵するタイマーを調べ、現在が非操作時間帯か否かを調べる（ステップＳ２００３）。現在が非操作時間帯でなければ、処理を終了する。現在が非操作時間帯であれば、図６のステップＳ６０７〜Ｓ６０８を実行してテストを開始する。これ以降の制御部３１のテストの動作は実施の形態１〜６と同様であるため説明を省略する。テストの実行が終了したら、制御部３１はテストモードを解除して処理を終了する（ステップＳ６０９）。
本実施の形態８によれば、過去の履歴に基づいて自動的にテスト可能な時間帯を学習し、自動的にテストを実行するので、より確実にかつ効率の良いテストができる。
【００４８】
実施の形態９．
ユーザーが手動でテストモードを行う際に、最終調理後、所定の時間が経過していない間は、テストモードの実行ができないようにし、所定の時間経過したらテストモードを実行可能なように構成しても良い。本実施の形態９では、このような態様について説明する。
図２１は本発明の実施の形態９における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態９における制御部３１の動作を図２１を用いて説明する。
加熱制御手段である制御部３１は、初期処理実行後（ステップＳ２１０１）、最終調理終了か否かを判定する（ステップＳ２１０２）。この判定基準は例えば、ユーザーが終了スイッチを操作したか否かを調べてもよいし、所定時間以上誘導加熱コイルの出力電流が流れなくなったか否かを調べてもよい。最終調理終了でない場合には、ステップＳ２１０２へ戻り、再び最終調理終了か否かを判定する。ステップＳ２１０２の判定において、最終調理終了の場合には、制御部３１はタイマーを用いて経過時間（初期値は０）を累積カウントし（ステップＳ２１０３）、所定時間を経過したか否かを調べ（ステップＳ２１０４）、所定時間を経過しない間はテスト不可能の旨の報知出力を行い（ステップＳ２１０５）、ステップＳ２１０３へ戻る。ステップＳ２１０４の判定において、経過時間の累積カウント値が所定時間を経過したとき、制御部３１はテスト可能の旨の報知出力を行い（ステップＳ２１０６）、ユーザーからのテスト開始指示待ちの状態となる（ステップＳ２１０７）。ユーザーが操作スイッチの操作によりテスト開始指示を行うと、制御部３１はテストモードを設定した上で、テストを実行する（ステップＳ６０７〜Ｓ６０８）。これ以降の制御部３１のテストの動作は実施の形態１〜６と同様であるため説明を省略する。テストの実行が終了したら、制御部３１はテストモードを解除して処理を終了する（ステップＳ６０９）。
本実施の形態９によれば、最終調理後、所定の時間が経過していない間は、テストの実行ができないように構成したので、トッププレート３の温度が十分に冷えるため安全にテストを実行することができる。
【００４９】
実施の形態１０．
ユーザーが手動でテストを行う際に、最終調理終了後、トッププレート３の温度がテストに適切な温度でない間は、テストの実行ができないようにし、トッププレート３の温度がテストに適切な温度となった場合にはテストを実行可能なように構成しても良い。本実施の形態１０では、このような態様について説明する。
図２２は本実施の形態１０における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態１０における制御部３１の動作を図２２を用いて説明する。
加熱制御手段である制御部３１は、ステップＳ２１０１〜Ｓ２１０２は図２１のそれと同様に動作する。次に、制御部３１は、最終調理後、温度センサー（接触式温度センサーあるいは非接触式温度センサーのいずれでも良い）の検出した温度情報を温度検出部経由で読み取り（ステップＳ２２０１）、この温度が所定の範囲内にあるか（即ち適切な温度であるか）否かを判定する（ステップＳ２２０２）。温度が所定の範囲内になければ、制御部３１はテスト不可能の旨の報知出力を行い（ステップＳ２１０５）、ステップＳ２２０１へ戻る。ステップＳ２２０２の判定において、温度が所定の範囲内にあれば、制御部３１は図２１のステップＳ２１０６〜Ｓ２１０７と同様に動作し、その後は図６のステップＳ６０７〜Ｓ６０９と同様に実行する。
本実施の形態１０によれば、最終調理後、トッププレート３の温度が所定の範囲内まで下がらない間は、テストの実行ができないように構成したので、トッププレート３の温度が十分に冷えてからテストを実行することにより安全にテストを実行することができる。
【００５０】
実施の形態１１．
実施の形態１〜８では発熱手段にラジエントヒーターを用いた場合について説明したが、ラジエントヒーターが無い誘導加熱調理器の場合には発熱手段としてラジエントヒーターを使用できない。このような場合には発熱手段として脱臭用触媒ヒーターを用いることができる。
本実施の形態１１では、このような場合について説明する。
【００５１】
図１及び図４は本実施の形態１１でも用いられる。
図２３は本発明の実施の形態１１における誘導加熱調理器のトッププレート３を取り外した状態の外観を示す斜視図である。図２３において、図２と同符号は同一または相当部分を示す。ラジエントヒーター５に代えて誘導加熱コイル４ｃが設けられていること、熱伝導手段１４が追加されていること以外は図２の構成と同じである。また、図３と同様、３つの加熱口に対応して前端と後端に３対の赤外線センサー２３が配置されている。
また、図２４は図２３のトッププレート３を含む誘導加熱調理器の側面断面図である。図２４において、図２３と同符号は同一または相当部分を示す。グリル８の後方のグリル排気ダクト１６にグリル８から排出される排煙を脱臭する触媒を活性化する脱臭用触媒ヒーター１５が取り付けられている。この脱臭用触媒ヒーター１５は発熱抵抗体で構成されている。本実施の形態１１では、ラジエントヒーター５が無いので、この脱臭用触媒ヒーター１５を発熱手段として用いる。脱臭用触媒ヒーター１５には、トッププレート３まで延設された金属などの熱伝導性の高い材料で構成された熱伝導手段１４が接続されており、脱臭用触媒ヒーター１５からの熱がこの熱伝導手段１４によって真上のトッププレート３に伝達される。このように構成することにより、テストにおいて、脱臭用触媒ヒーター１５を駆動し、脱臭用触媒ヒーター１５から発せられた熱は熱伝導手段１４を介して真上のトッププレート３に伝達され、トッププレート３の当該個所を加熱する。この温度を非接触式の温度センサーである赤外線センサー２３で検知するようにすれば、テストで赤外線センサー２３の異常状態を調べることができる。
【００５２】
また、図２５は図１に示す誘導加熱調理器１００のトッププレート３を取り外した状態を示す平面図である。図２５に示すように、誘導加熱調理器本体１の前面側および背面側に赤外線センサー２３とほぼ同一の位置に鍋の載置状況を監視する非接触式の鍋センサー２４が設けられている。この鍋センサー２４は、前面側から光を発光する発光手段を設け、背面側の対向する位置にこの光を受光する受光素子を設けるかあるいは背面側から光を発光し、前面側で受光するように構成する。これにより、トッププレート３上に鍋が載置されているか否かを検知するものである。
また、誘導加熱コイル４ｃの中心には接触式温度センサー２１が設けられている。
また、図２６は本発明の実施の形態１１における誘導加熱調理器の構成を示すブロック図であり、図中、図９と同符号は同一または相当部分を示す。
非接触式鍋センサー２４及び鍋載置検出部２４１が追加されている点、ラジエントヒーター５及びリレー５１に代えて、脱臭用触媒ヒーター１５及び脱臭用触媒ヒーター１５に電力を供給するためのリレー１５１が設けられている点以外は図９と同じ構成である。
【００５３】
次に、本実施の形態１１の動作概要を説明する。
制御部３１の動作は発熱手段がラジエントヒーター５に代えて脱臭用触媒ヒーター１５である以外は実施の形態２と同様である。
【００５４】
図２７は本発明の実施の形態１１における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
図２８は本発明の実施の形態１１における制御部３１のテスト時の動作を示すフローチャートである。
制御部３１は、まず図２７に示すように鍋センサー２４の出力に基づいて、トッププレート３上に鍋が載置されたか否かを調べる（ステップＳ２７０１）。もし鍋が載置されていたら、その旨のメッセージを表示手段または音声出力手段などの報知手段に出力して（ステップＳ２７０２）処理を終了する。ステップＳ２７０２の判定において、鍋が載置されていない場合には、図６と同様にしてテストモードを設定した上でテストを起動する（ステップＳ６０７〜Ｓ６０９）。テストが起動されると、図２８に示すように制御部３１はまず図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０３と同じ動作を実行する。
次に、制御部３１は発熱手段である脱臭用触媒ヒーター１５を起動する（ステップＳ２８０１）。次に、制御部３１は発熱手段である脱臭用触媒ヒーター１５の出力が安定するまでの時間を含む十分な時間が経過した後、図１１のステップＳ１１０１〜Ｓ１１０５と同様に動作する。そして今回検出した温度と初期の検出温度との温度差を基準値を比較して温度差が基準値より小さいか否かを判定する（ステップＳ８０３）。温度差が基準値より小さければ（ステップＳ８０３でＹｅｓ）、制御部３１は赤外線センサー２３が正常であると判定して、脱臭用触媒ヒーター１５の駆動を停止して（ステップＳ２８０２）スケジューリング処理に復帰する。
一方、ステップＳ８０３の判定において、今回検出した温度と初期の検出温度との温度差が基準値以上であれば、制御部３１は赤外線センサー２３において経年劣化による故障が発生したと判定して、図８のステップＳ８０５と同様に表示部および音声出力部にその旨の警報を報知出力した（ステップＳ８０４）後、脱臭用触媒ヒーター１５の駆動を停止して（ステップＳ２８０２）スケジューリング処理に復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、制御部３１はテストモードを解除して（ステップＳ６０９）処理を終了する。
【００５５】
本実施の形態１１によれば、実施の形態２と同様の効果を奏する。
なお、鍋センサー２４と鍋載置検出部２４１は鍋検出手段を構成する。
また、上記の例では鍋センサー２４として光学式のセンサーを用いたが、これに限る必要はない。例えば、トッププレート３の裏面の被加熱物の載置位置にコンデンサ容量式のセンサーを取付け、これを鍋センサー２４として用いても良い。また、トッププレート３の上面の被加熱物の載置位置に重量センサーを配置し、これを鍋センサー２４として用いても良い。また、トッププレート３の裏面の被加熱物の載置位置に電磁石によるスイッチ手段を取付け、これを鍋センサー２４として用いても良い。
【００５６】
なお、発熱手段及びトッププレートのテストモードの温度は人が触れても安全な温度で行う（４０℃位）ように構成してもよい。これにより、安全なテストが可能になる。
また、本実施の形態１１においては、脱臭用触媒ヒーターを発熱体としてトッププレートを加熱してテストを行なっているが、グリルに備えられた調理用のヒーターを発熱体として用いても良い。この場合も脱臭用触媒ヒーターを発熱体としてトッププレートを加熱してテストを行う場合と同様の効果が得られる。
【００５７】
実施の形態１２．
定期的にテストを実行して得られた温度センサーの出力と温度センサーの初期特性とに基づいてこの温度センサーが異常か否かを判定するように構成しても良い。本実施の形態１２では、このような態様について説明する。
図５、及び図６は本実施の形態１２でも用いられる。
図２９は本発明の実施の形態１２における制御部３１の初期特性設定の動作を示すフローチャートである。図２９において、ステップＳ２９０１〜Ｓ２９０２が追加されている以外は図７のフローと同じである。
次に、本実施の形態１２における制御部３１の初期特性設定の動作を図５〜図６及び図２９を用いて説明する。
制御部３１は、まずスケジューリング処理において、誘導加熱調理器の据え付け時に図６のステップＳ６０１〜Ｓ６０５を実行して、初期テストを起動する。初期テストは図２９のステップＳ７０１〜Ｓ７０４を実行した後、さらに図２９のステップＳ７０５〜Ｓ７０８をテストの終了条件（ステップＳ２９０１）が満足されるまで所定のディレイ時間（数百ｍ秒〜数秒のオーダー）を周期として（ステップＳ２９０２）繰り返し実行することで初期テストを行う。この初期テストにおいて、制御部３１はラジエントヒーター５による加熱の経過時間が長くなるに連れてトッププレート３の温度が上昇していくので、各経過時間において接触式温度センサー２１によって検出された温度を次々と取得しては室温センサー２２の検出した室内温度を差し引いていくことで室温の変動成分の影響を受けない温度を算出し、これをメモリー３２に記録していく。これにより、接触式温度センサー２１の初期特性が作成される。初期テストが終了条件を満足したら、制御部３１はラジエントヒーター５を停止して（ステップＳ７０９）復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、図６に示すように制御部３１はテストモードを解除し（ステップＳ６０５）、さらに初期フラグをリセットした（ステップＳ６０６）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを開始する（ステップＳ６１１）。
【００５８】
また、図３０は本発明の実施の形態１２における制御部３１の初期以外のテスト時の動作を示すフローチャートである。図３０において、ステップＳ３００１〜Ｓ３００２が追加されている以外は図８のフローと同じである。
次に、本実施の形態１２における制御部３１のテスト時の動作について図１〜図８及び図３０を用いて説明する。
制御部３１は、初期テスト完了後の通常時において、所定の周期（数日、数ヶ月、数年のオーダー）で定期的に通常テストを実行する。即ち、制御部３１は定期的に図６のステップＳ６０１、Ｓ６０７〜Ｓ６０８を実行して通常テストを起動する。通常テストが起動されると、制御部３１は図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０７及び図８のステップＳ８０１を実行することで接触式温度センサー２１の出力を取得し、さらに室温センサー２２の検出した室温を差し引くことで室温の変動成分の影響を受けない温度を算出する。次に、制御部３１はメモリー３２に記憶された接触式温度センサー２１の初期特性を構成する複数の温度データの内、今回のテストを実施したテスト開始からの経過時間を検索キーとして対応する温度を抽出し、検索して得られた温度と今回のテストで算出した温度との差分を計算する（ステップＳ８０２）。そして、制御部３１は得られた差分が基準値よりも小さいか否かに基づいて接触式温度センサー２１が異常か否かを判定する（ステップＳ８０３）。差分が基準値以上の場合には、接触式温度センサー２１が経年劣化による故障のため使用できないと判定して図示しない表示部および音声出力部にその旨の警報を報知出力し、ラジエントヒーター５の駆動を停止して（ステップＳ８０４〜Ｓ８０５）スケジューリング処理に復帰する。
ステップＳ８０３における判定の結果、差分が基準値よりも小さければ、制御部３１は接触式温度センサー２１が正常であると判定し、通常テストが終了条件を満足するまで、図２９のディレイ時間と同じディレイ時間（数百ｍ秒〜数秒のオーダー）を周期として（ステップＳ３００２）、ステップＳ７０１〜Ｓ７０７及びステップＳ８０１〜Ｓ８０２を繰り返し実行することで本実施の形態１２の通常テストが行われる。
通常テストが終了条件を満足したら、制御部３１はラジエントヒーター５を停止して（ステップＳ８０５）復帰する。
スケジューリング処理に復帰後、制御部３１はテストモードを解除した（ステップＳ６０９）後、周期を一旦０にクリアした（ステップＳ６１０）上で図示しないタイマーを用いて周期のカウントアップを再開する（ステップＳ６１１）。
【００５９】
なお、テスト終了条件としては、例えば、ラジエントヒーター５の起動後、所定の時間が経過したこと、あるいはトッププレートの温度が所定値を超えたことが一例として挙げられる。
本実施の形態１２によれば、上記のように誘導加熱調理器の据え付け時に初期テストを動作させて温度センサーの初期特性を記録し、この初期特性を温度センサーの異常判定に用いることにより、製品の個体差による発熱体、温度センサー等の特性の違いや、設置環境によるトッププレートの放熱特性や温度センサーへの外乱等の影響が学習され判定に勘案されるので、温度センサーの異常検知の精度が高まり、誘導加熱調理器の安全性・信頼性が向上する。
【００６０】
実施の形態１３．
温度センサーの出力が、人がトッププレート３に触れても安全な温度範囲内にある場合にテストを実行できるようにし、テストを実行するときには、テスト中である旨の報知出力を行うように構成しても良い。本実施の形態１３では、このような態様について説明する。
図５及び図８は本実施の形態１３でも用いられる。図３１は本発明の実施の形態１３における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。図３１において、ステップＳ３１０１が追加されている以外は図２２のフローと同じである。
次に、本実施の形態１３における制御部３１の動作を図３１を用いて説明する。
制御部３１は、図２１のステップＳ２１０１〜Ｓ２１０７（図２２のＳ２２０１〜Ｓ２２０２を含む）と同様に動作してトッププレート３の温度を検知する接触式温度センサー２１の出力を読み取り、読み取った温度が予め設定された温度範囲を超えている場合はテスト不可能の旨の報知出力を行ってテストの実行を禁止し、読み取った温度が予め設定された温度範囲内にある場合にはテストの実行が可能である旨の報知出力を行う。また、テストを実行するときには、テストモードを設定した（ステップＳ６０７）後、テスト中である旨の報知出力を行って（ステップＳ３１０１）、テストを起動する（ステップＳ６０８）。これ以降の制御部３１のテストの動作は実施の形態１〜６と同様であるため説明を省略する。テストの実行が終了したら、制御部３１はテストモードを解除して処理を終了する（ステップＳ６０９）。
本実施の形態１３によれば、トッププレートの温度が人が触れても火傷等の問題が発生しない十分に安全な温度であるときにテストモードの実行を可能とし、テストモード実行中はその旨の報知出力を行なってユーザーの注意を喚起するので、ユーザーがトッププレートへの接触を回避することで、安全性を高めることができる。
【００６１】
実施の形態１４．
実施の形態７では、深夜時間帯にテストを行うようにしていたが、一定時間以上調理が行われない場合にテストするように構成しても良い、本実施の形態１４では、このような態様について説明する。
図３２は本実施の形態１４における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態１４における制御部３１の動作を図３２を用いて説明する。
加熱手段（左右の誘導加熱コイル４及びラジエントヒーター５）の駆動制御は制御部３１自身が図示しないインバーター４１を制御して行うので、制御部３１が把握できる。
そこで、制御部３１は全ての加熱手段、即ち、左右の誘導加熱コイル４及びラジエントヒーター５のいずれも駆動されているか否かを調べる（ステップＳ３２０１）。その結果、いずれかの加熱手段を駆動制御しており調理中であれば（ステップＳ３２０１でＹｅｓ）、処理を終了する。ステップＳ３２０１の判定において、全ての加熱手段を駆動していない場合には（ステップＳ３２０１でＮｏ）、図示しない内蔵タイマーをカウントして、所定時間経過するのを待つ（ステップＳ３２０２）。所定時間が経過したら、制御部３１は再度全ての加熱手段即ち、左右の誘導加熱コイル４及びラジエントヒーター５のいずれも駆動されているか否かを調べる（ステップＳ３２０３）。その結果、いずれかの加熱手段を駆動制御しており調理中であれば（ステップＳ３２０３でＹｅｓ）、処理を終了する。ステップＳ３２０３の判定において、全ての加熱手段を駆動していない場合には（ステップＳ３２０３でＮｏ）、制御部３１は図６のステップＳ６０７〜Ｓ６０８を実行してテストを起動する。これ以降の制御部３１の動作は実施の形態１〜６と同様であるため説明を省略する。テストの実行が終了したら、制御部３１はテストモードを解除して処理を終了する（ステップＳ６０９）。
本実施の形態１４によれば、一定時間、すべての調理動作を実施していないことを確認してからテストを開始するので、テストを開始する頃にはトッププレートに調理の余熱が消え去っており、発熱体によるトッププレートの加熱に基づく温度変化への影響が軽減され、温度センサーの異常検知の精度が高まり、テストの安全性及び信頼性が向上する。
【００６２】
実施の形態１５．
実施の形態１４では、一定時間以上調理が行われない場合にテストを行うようにしていたが、テスト開始前一定時間温度センサーの出力値の変化が所定値以内にあって安定していることを確認してからテストしても良い、本実施の形態１５では、このような態様について説明する。
図３３は本実施の形態１５における制御部３１のテスト時のスケジューリング処理の動作を示すフローチャートである。
次に、本実施の形態１５における制御部３１の動作を図３３を用いて説明する。
制御部３１は、初期処理においてフラグを０に設定する（ステップＳ３３０１）。次に、制御部３１は接触式温度センサー２１が検知したトッププレート３の温度を読み取る（ステップＳ３３０２）。次に、制御部３１はメモリー３２から前回検出した温度を読み込み（ステップＳ３３０３）、今回取得した温度との差分を算出して（ステップＳ３３０４）、温度の変化が所定値以内か否かを調べる（ステップＳ３３０５）。温度変化が所定値以上あれば、制御部３１は温度は安定していないと判定してフラグをリセットした（ステップＳ３３１０）上で処理を終了する。ステップＳ３３０５の比較において、温度の変化が所定値以内であれば、制御部３１は温度が本当に安定しているか否かを調べるために、フラグを１つインクリメントする（この場合、フラグは１となる）（ステップＳ３３０６）。次に、フラグの値が２であるか否かを調べる（ステップＳ３３０７）。ステップＳ３３０７の比較において、フラグは２でないから、制御部３１は接触式温度センサー２１から取得した温度情報を前回値としてメモリー３２に記録した（ステップＳ３３０８）上で、経過時間をカウントして所定の時間が経過するのを待つ（ステップＳ３３０９）。所定の時間が経過したら、制御部３１はステップＳ３３０２へ戻り、再びステップＳ３３０２〜Ｓ３３０４を実行して新たな温度変化が所定値以内にあって安定しているか否かを判定する。その結果、温度変化が所定値よりも大きくて安定していないと判定すると、フラグをリセットした（ステップＳ３３１０）上で処理を終了する。また、ステップＳ３３０５において、温度変化が所定値以内で安定していると判定したら、制御部３１はフラグを１つインクリメントする（この場合、フラグは２となる）（ステップＳ３３０６）。次に、制御部３１はフラグの値が２であるか否かを調べる（ステップＳ３３０７）。ステップＳ３３０７の比較において、フラグは２であるから、制御部３１はステップＳ６０７〜Ｓ６０８を実行してテストを起動する。
これ以降の制御部３１の動作は実施の形態１〜６と同様であるため説明を省略する。テストの実行が終了したら、制御部３１はテストモードを解除し（ステップＳ６０９）、さらにフラグをリセットして（ステップＳ３３１０）処理を終了する。
本実施の形態１５によれば、制御部３１はテスト開始前に一定時間温度センサーの出力値の変化が所定値以内にあって安定していることを確認してからテストモードの実施を開始するので、トッププレートの温度が安定した状態よりテストを開始できる。従って、発熱体によるトッププレートの温度上昇が軽減され、温度センサーの異常検知の精度が高まり、安全性及び信頼性が向上する。
【符号の説明】
【００６３】
１  本体、２  筐体、３  トッププレート、４、４ａ〜４ｃ  誘導加熱コイル、５  ラジエントヒーター（発熱手段）、６  基板ケース、７  冷却ファン、８  グリル、９  操作部、１０  操作部、１１  赤外線センサー窓、１２  吸気口、１３  排気口、１４  熱伝導手段、１５  脱臭用触媒ヒーター、１６  グリル排気ダクト、２１  接触式温度センサー、２２  室温センサー、２３、２３ａ〜２３ｅ  赤外線センサー、２４  非接触式鍋センサー、３１  制御部、３２  メモリー、３３  ＲＯＭ、３４  入出力バス、４１  インバーター、５１  リレー、７１  冷却ファン駆動手段、１００  誘導加熱調理器、１５１  リレー、２１１  温度検出部、２２１  室温検出部、２３１  温度検出部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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