(57)【要約】【課題】メダル識別性能を高めた高検知性能の検知手段を設けることにより、不正行為を無効にして誤カウントを実行させないようにした不正対策に優れた投入メダル検知方法、投入メダル検知装置、投入メダル選別装置及び遊技機を提供する。【解決手段】入口から投入されたメダルを自重により１枚ずつ転動させて内方に導くメダル通路３３を設け、該メダル通路３３には下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域Ａ２と、前記メダル通路３３のうち該端側通路領域Ａ２を除く広幅の中央通路領域Ａ１とを有し、前記中央通路領域Ａ１と前記端側通路領域Ａ２のメダル通過を同一の第１センサ部Ｓ１で検知する。【選択図】図１４
2011056048.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入口から投入されたメダルを自重により１枚ずつ転動させて内方に導くメダル通路を設け、
該メダル通路には下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域と、
前記メダル通路のうち該端側通路領域を除く広幅の中央通路領域とを有し、
前記中央通路領域と前記端側通路領域のメダル通過を同一の検知手段で検知する
投入メダル検知方法。
【請求項２】
前記端側通路領域に位置し、前記メダル通路に出没自在に付勢突出する端側検知片と、
前記中央通路領域に位置し、前記メダル通路に出没自在に付勢突出する中央検知片とを設け、
前記端側検知片と前記中央検知片の両方の出没動作を同一の検知手段で検知する
請求項１に記載の投入メダル検知方法。
【請求項３】
入口から投入されたメダルを自重により１枚ずつ転動させて内方に導くメダル通路を設け、
該メダル通路には下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域と、
前記メダル通路のうち該端側通路領域を除く広幅の中央通路領域とを有し、
前記端側通路領域に位置し、前記メダル通路に出没自在に付勢突出する端側検知片と、
前記中央通路領域に位置し、前記メダル通路に出没自在に付勢突出する中央検知片とを設け、
前記端側検知片と前記中央検知片の両方の出没動作を検知する単一の検知手段を設けた
投入メダル検知装置。
【請求項４】
立姿で対向する基板と開閉板との対向面間に、メダルを自重により転動させて通過させるメダル通路を設け、該メダル通路を通過する適正なメダルは受入れ、不適正なメダルは通過途中で排除する投入メダル選別装置であって、
該メダル通路には下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域と、前記メダル通路のうち該端側通路領域を除く広幅の中央通路領域とを有し、
前記端側通路領域に位置し、前記基板の一側から前記メダル通路側に出没自在に付勢突出する端側検知片と、
前記中央通路領域に位置し、前記基板の一側から前記メダル通路側に出没自在に付勢突出する中央検知片とを設け、
前記端側検知片と前記中央検知片の両方の出没動作を検知する単一の第１の検知手段と、
該第１の検知手段より下流のメダル通路位置にメダルの通過を計数する第２の検知手段とを備えた
投入メダル選別装置。
【請求項５】
前記端側検知片の突出量と、
前記中央検知片の突出量とを異ならせて前記メダル通路に突出させた
請求項４に記載の投入メダル選別装置。
【請求項６】
前記中央検知片の突出量は、
前記端側検知片の突出量よりも前記メダル通路に突出させた
請求項４に記載の投入メダル選別装置。
【請求項７】
前記端側検知片を前記メダル通路の下側に配設した
請求項４〜６の何れか１つに記載の投入メダル選別装置。
【請求項８】
前記開閉板であって、前記中央検知片と対向する前記メダル通路の対向壁面にメダル通路よりも凹ませた凹壁部を設け、
該凹壁部には、前記メダル通路に沿って前記メダル通路方向に掛け渡したメダル通過ガイド片を設けた
請求項４〜７の何れか１つに記載の投入メダル選別装置。
【請求項９】
前記中央検知片には前記凹壁部に設けた前記メダル通過ガイド片を回避する回避溝を形成した
請求項８に記載の投入メダル選別装置。
【請求項１０】
前記第１の検知手段が検知した検知タイミング及び／または検知時間と第２の検知手段が検知した検知タイミングとから不正なメダル通過を判定する判定手段とを備えた
請求項４〜９の何れか１つに記載の投入メダル選別装置。
【請求項１１】
請求項３のメダル検知装置または請求項４〜１０の何れか１つに記載の投入メダル選別装置を備えた遊技機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えばスロットマシンなどの遊技機に使用されるような不正計数を防止する投入メダル検知方法に関し、さらに詳しくはメダル通路内での不正防止機能を高めた投入メダル検知方法、投入メダル検知装置、投入メダル選別装置及び遊技機に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、回胴式遊技機（スロットマシン）の投入口内方のメダル通路にはメダルの真偽選別と投入枚数を計数するメダル選別装置(メダルセレクタ)が内蔵されている。この種のメダル選別装置に対しては外部から様々な不正行為が行われている。例えば、「糸つり」と呼ばれる、糸をつけたメダルをメダル検知センサ上で往復運動させることによりメダル計数値(メダルカウント)を増加させるという不正行為が知られている。また、「セル」と呼ばれる特殊な先端形状を有する樹脂製の細長いセル板を投入口から挿入し、そのセル板をメダルが上流側から下流側へと通過されたかの如く動かしてメダル通路に配置されたメダル検知センサの光軸を遮光させ、続いて光軸から外れた遮光しない位置に移動させてからセル板を引き戻す回転運動を行わせることによりセンサ出力を模倣し、メダルの投入を行わずにメダルカウントを増加させる不正行為が問題になっている。
【０００３】
また、セルの先端部に赤外線ＬＥＤを設置し、そのＬＥＤの点灯・消灯を周期的に繰り返すことにより、メダル検知センサを誤検知させるという不正機能を持たせた不正装置も登場している。この不正装置は、不正の実施に熟練を必要とせず、短時間にメダルカウントが増加するため大きな問題となっている。
【０００４】
このような不正行為を防止する一例として、特許文献１に開示されているように、メダル通路に向けて先端部を出没させる突起部材を設置し、その動きを検出することでメダルの投入かセル板等の異物の挿入かを検知する検知機構が提案されている。これは、メダルまたは異物が長い時間検出されたとき不正行為などの異常が発生していると判定している。例えば、メダルまたは異物によって検知部材が一定時間(例えば１０秒程度)以上連続して「没」の状態にあることを検出した場合に不正を検出し、直ちに不正行為を防止するようにしている。
【０００５】
しかし、メダルが連続して投入された場合、その前後のメダル間の隙間がなくなり、メダルに押されて退避移動した突起部材（レバー）が元の位置に戻ることができなくなる。このため、突起部材は退避移動したままとなり、メダル１枚ごとの追従ができず、フォトセンサから検出信号が出力され続けてメダル１枚ごとの検出ができなくなる。このようなメダルの連続投入に伴う検出信号が出力され続けることを考慮した場合、制御側がエラーとして判断するまでの検出時間を長めに設定する必要が生じる。この結果、不正行為に対しても時間的な余裕を与えてしまう。つまり、連続するメダルを１枚ずつ検出することが困難なため、メダルを１枚ずつ正確に区別して検出する精度の高い読取ができなかった。
【０００６】
さらに、先行出願（例えば特許文献２参照）の一例として、独立して可動する２つの検出レバーを通路幅方向の両側に配置し、メダルが通過した場合にのみ両検出レバーが共に動作し、メダルの通過を検出する構成である。このため、不正行為を実行するには、メダルと同等幅の大きな異物を挿入させて２つの検出レバーを誤動作させることが必要となり、不正の実行をより困難としている。
【０００７】
しかし、検出レバーが通路幅方向の両側にしか配置されていないため、検出レバーが検出できない検出領域に幅（メダル径方向）の細い不正装置が挿入された場合、不正装置を検出できないおそれがあった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開平８−２４４３４号公報
【特許文献２】特開２００６−７２６８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
そこでこの発明は、上述の問題に鑑み、メダル通路のメダル検知位置における不正の余地を無くすことができる高検知性能の投入メダル検知方法、投入メダル検知装置、投入メダル選別装置及び遊技機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
この発明は、入口から投入されたメダルを自重により１枚ずつ転動させて内方に導くメダル通路を設け、該メダル通路には下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域と、前記メダル通路のうち該端側通路領域を除く広幅の中央通路領域とを有し、前記中央通路領域と前記端側通路領域のメダル通過を同一の検知手段で検知する投入メダル検知方法であることを特徴とする。
【００１１】
この発明によれば、メダル通路の通路方向と直交する通路幅方向（メダル径方向）の検知位置における中央通路領域と端側通路領域とを検知した場合、メダル通路を通過するメダルは円形状の中央部が最も先に中央通路領域の検知位置上を通過し、その後にメダルの端側が若干遅れて端側通路領域の検知位置上を通過することになる。このため、同じメダルの中央と端側を、時間差をつけて検知することができる。したがって、メダル通路の中央通路領域と端側通路領域を検知領域に設定して１つのメダルから複数の通過出力を取得できるように検知することができる。
【００１２】
ここに用いられる同一の検知手段は、メダル通路を通過した物体がメダルであることを特定する検知手段として設けられ、円形状のメダルが転動してメダル通路を通過すること、さらにメダル通路の検知位置を中央通路領域と端側通路領域とに分けて検知すれば、同じメダルであっても検知時間差がつくため、メダルであることを正確に特定することができる。このように同一の検知手段は複合的な検知機能を持たせて構成している。
【００１３】
またこの発明は、前記端側通路領域に位置し、前記メダル通路に出没自在に付勢突出する端側検知片と、前記中央通路領域に位置し、前記メダル通路に出没自在に付勢突出する中央検知片とを設け、前記端側検知片と前記中央検知片の両方の出没動作を同一の検知手段で検知する投入メダル検知方法である。
【００１４】
この発明によれば、転動してきたメダルを検知する場合に、そのメダルの検知すべき箇所を複数の検知手段で検知するのではなく、メダルの通過位置に応じて動作する中央検知片と端側検知片の各々の動きを同じ検知領域に導くように構成して、単一の検知手段で転動する１つの同じメダルの複数の箇所を検知することができる。
【００１５】
さらにこの発明は、入口から投入されたメダルを自重により１枚ずつ転動させて内方に導くメダル通路を設け、該メダル通路には下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域と、前記メダル通路のうち該端側通路領域を除く広幅の中央通路領域とを有し、前記端側通路領域に位置し、前記メダル通路に出没自在に付勢突出する端側検知片と、前記中央通路領域に位置し、前記メダル通路に出没自在に付勢突出する中央検知片とを設け、前記端側検知片と前記中央検知片の両方の出没動作を検知する単一の検知手段を設けた投入メダル検知装置であることを特徴とする。
【００１６】
前記端側検知片と中央検知片との動きに基づいて１つのメダルの異なる位置を検知する構成のため検知性能を高めることができ、メダルと異物の区別が正確になる。さらに、これらの検知部分においては、単一の検知手段で構築できるため部品点数の削減による低コスト化が図れるだけでなく、配置スペースの縮小化を図ることができる。
【００１７】
またこの発明は、立姿で対向する基板と開閉板との対向面間に、メダルを自重により転動させて通過させるメダル通路を設け、該メダル通路を通過する適正なメダルは受入れ、不適正なメダルは通過途中で排除する投入メダル選別装置であって、該メダル通路には下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域と、前記メダル通路のうち該端側通路領域を除く広幅の中央通路領域とを有し、前記端側通路領域に位置し、前記基板の一側から前記メダル通路側に出没自在に付勢突出する端側検知片と、前記中央通路領域に位置し、前記基板の一側から前記メダル通路側に出没自在に付勢突出する中央検知片とを設け、前記端側検知片と前記中央検知片の両方の出没動作を検知する単一の第１の検知手段と、該第１の検知手段より下流のメダル通路位置にメダルの通過を計数する第２の検知手段とを備えて構成することができる。
【００１８】
この発明によると、第１の検知手段が検知するメダル通路の前段の検知情報と第２の検知手段が検知する後段の検知情報の有無及び第１の検知手段の検知位置から第２の検知手段の検知位置までの通路長さに応じた通過時間を監視することにより、正確にメダルの通過か異物の挿入かを判定することができる。
【００１９】
このように、第１の検知手段の検知情報に加えて、第２の検知手段の検知情報を加えることによってメダルの通過か、不正装置の挿入かを高精度に区別することができる。さらに、様々な不正行為が試みられても、その不正行為を防止してメダルカウント数の誤検知を解消した信頼性の高い不正防止対策となる。
【００２０】
他の実施態様として、前記端側検知片の突出量と、前記中央検知片の突出量とを異ならせて前記メダル通路に突出させて構成することができる。
【００２１】
これにより、メダル通路内での端側検知片と中央検知片との突出量に応じて出没量が異なり、この出没量に応じて両検知片の各検知タイミングを任意に設定し易くなる。例えば、一方をＯＮ／ＯＦＦするタイミング、他方をＯＮ／ＯＦＦするタイミングを容易に異ならせて、１つのメダル検知手段から両検知片の各検知出力を容易に取得できるように設定することができる。
【００２２】
他の実施態様として、前記中央検知片の突出量は、前記端側検知片の突出量よりも前記メダル通路に突出させて構成することができる。
【００２３】
これにより、中央検知片をメダル通路内に突出させたとき、対向壁面に至るまで突出させることができ、該中央検知片を異物検知用に配置すれば、メダル通路内での異物検知片としての役割が増し、メダル通路内での隙間を制限して異物の挿入防止に効果的である。
【００２４】
他の実施態様として、前記端側検知片を前記メダル通路の下側に配設して構成することができる。
【００２５】
前記メダルは重力が下方に掛かり、メダル通路の下部側が主ガイド部となってメダルは転動し、該下部側を通路基準として通過することになる。このため、端側検知片をメダル通路の通路下部側に配設することにより、メダルの上部側に比べて変動の少ないメダルの下部側との接触となり、メダル通過時には端側検知片がメダルの下部側と安定して接触対応し、確実に検知動作することができる。
【００２６】
他の実施態様として、前記開閉板であって、前記中央検知片と対向する前記メダル通路の対向壁面にメダル通路よりも凹ませた凹壁部を設け、該凹壁部には、前記メダル通路に沿って前記メダル通路方向に掛け渡したメダル通過ガイド片を設けることができる。
【００２７】
前記凹壁部を設けることにより、メダル通路を越えて中央検知片を該凹壁部内に臨ませることができる。これにより、メダル非通過時では中央検知片がメダル通路を閉鎖した状態に介在する。この際、中央検知片を異物検知用としてメダル通路に介在させると、メダル通路の検知位置では隙間がなく、該中央検知片を動かさずにセル等の異物を挿入させることができなくなり、不正装置の挿入をより困難にすることができる。
【００２８】
また、前記メダル通過ガイド片を設けることにより、中央検知片がメダル通路より没入動作して凹壁部が開放された状態でも、該メダル通路ガイド片がメダル通路に沿ってメダル通路方向に掛け渡した状態に配設されているため、メダルの先端が凹壁部に引っ掛かるおそれがなく、メダルを滑らかに通過させることができる。
【００２９】
他の実施態様として、前記中央検知片には前記凹壁部に設けた前記メダル通過ガイド片を回避する回避溝を形成して構成することができる。
【００３０】
さらに、中央検知片にメダル通過ガイド片を回避する回避溝を設けることにより、中央検知片をメダル通路より突出及び没入させても、メダル通過ガイド片とは当接せず、該中央検知片を円滑にメダル通路面より出没動作させることができる。
【００３１】
さらにこの発明は、前記第１の検知手段が検知した検知タイミング及び／または検知時間と第２の検知手段が検知した検知タイミングとから不正なメダル通過を判定する判定手段とを備えて構成することができる。
【００３２】
これにより、第１の検知手段が両検知片の検知情報を取得したとき、中央検知片、端側検知片の順で検知開始し、その後、端側検知片、中央検知片の順で検知終了する。このため、第１の検知手段での１つのメダルに対する検知開始タイミングと検知終了タイミング及び／または検知時間との検知情報からメダルか否かを正確に判定できる。さらに、中央検知片ではメダルの直径長さ分の通過時間を検知し、端側検知片ではメダルの端側の短い通過時間を検知する。このため、検知時間長さが適正であるか否か、またその検知時間別の検知順序が適正であるか否かを判定することができる。
【００３３】
第２の検知手段では、メダルを検知した検知タイミングが分かり、上流側の第１の検知手段での検知情報に加えて、下流側の第２の検知手段の検知タイミングを加えることによって、メダルごとの通過タイミングや通過時間を判定でき、判定手段がメダルの通過か、不正装置の挿入かを精度よく判定することができる。
【００３４】
このように構成された投入メダル検知装置を備えた投入メダル選別装置を用いれば、メダルと不正装置とを明確に識別できる不正防止に優れた投入メダル選別装置として利用することができる。
【００３５】
さらに、このような投入メダル選別装置を備えた遊技機を用いれば、メダルと不正装置とを明確に識別できる不正防止に優れた遊技機として利用することができる。
【発明の効果】
【００３６】
この発明によると、円形状の同じメダルの複数の箇所を、時間差をつけて検知することができる。これにより、メダルの通過であることを正確に特定できるため不正装置との識別が明瞭になる。ことに、１つの検知手段で個々のメダルを正確に検知できる構成のため、複数の検知手段を要しなくなり、部品点数の削減により低コスト化及び制御の容易化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】スロットマシンを示す正面図。
【図２】スロットマシンの前面扉を開けた内部の状態を示す斜視図。
【図３】メダルセレクタの正面側の外観斜視図。
【図４】メダルセレクタの背面側の外観斜視図。
【図５】メダルセレクタの正面側の分解斜視図。
【図６】メダルセレクタの背面側の分解斜視図。
【図７】メダルセレクタの開閉板の外面側を分解して示す斜視図。
【図８】（Ａ）はメダルセレクタのカバーを外した開閉板の外面側を示す正面図、（Ｂ）は同図（Ａ）のＡ−Ａ線矢視断面図、（Ｃ）は同図（Ａ）のＢ−Ｂ線矢視断面図。
【図９】（Ａ）はメダルの排出状態を表わす開閉板の外面側を示す正面図、（Ｂ）は同図（Ａ）のＡ−Ａ線矢視断面図、（Ｃ）は同図（Ａ）のＢ−Ｂ線矢視断面図。
【図１０】（Ａ）は小径メダルの排出状態を表わす開閉板の外面側を示す正面図、（Ｂ）は同図（Ａ）のＡ−Ａ線矢視断面図、（Ｃ）は同図（Ａ）のＢ−Ｂ線矢視断面図。
【図１１】メダルの減速通過状態を表わす基板の内面側を示す背面図。
【図１２】（Ａ）はメダルセレクタの正面図、（Ｂ）は同図（Ａ）のＡ−Ａ線矢視断面図。
【図１３】（Ａ）は基板と第１センサ部との取付対応状態を示す斜視図、（Ｂ）は第１センサ部の分解斜視図。
【図１４】（Ａ）は第１センサ部の拡大斜視図、（Ｂ）は通路検知構造を示す要部拡大斜視図。
【図１５】（Ａ）はメダルの検知領域の異なる２つのレバーの検知長さを示す説明図、（Ｂ）は２つのレバーの検知開始タイミングを示す説明図、（Ｃ）は２つのレバーの検知終了タイミングを示す説明図、（Ｄ）は２つのレバーのメダルの連続検知状態を示す説明図。
【図１６】（Ａ）〜（Ｅ）はメダルの通過状態を示す説明図。
【図１７】（Ａ）〜（Ｅ）は端側検知片の動作状態を示す説明図、（Ｆ）〜（Ｊ）は中央検知片の動作状態を示す説明図。
【図１８】第１センサ部のメダル検知状態を示すタイムチャート。
【図１９】第１センサ部と第２センサ部のメダル検知状態を示すタイムチャート。
【図２０】（Ａ）は中央出没レバーと端側出没レバーとによるメダル非検知状態を示す要部拡大横断面図、（Ｂ）は中央出没レバーと端側出没レバーとによるメダル検知状態を示す要部拡大横断面図。
【図２１】（Ａ）は図６における凹壁部とメダル通過ガイド片とを示す要部拡大斜視図、（Ｂ）は図１３（Ａ）における受渡し突片を示す要部拡大斜視図。
【図２２】メダルセレクタの制御回路ブロック図。
【図２３】メダルセレクタのメダルの検知動作を示すフローチャート。
【図２４】メダルセレクタのメダルの検知動作を示すタイムチャート。
【発明を実施するための形態】
【００３８】
この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図面はメダル検知性能を高めた投入メダル検知装置の実施形態を示す。
【実施例】
【００３９】
この発明の一実施例を以下図面に基づいて説明する。  
図１は遊技機の一例として遊技ホールに設置されるスロットマシンを示し、このスロットマシン１１は接客面としての前面上部にパネル１２とリール部１３を有し、前面中央の幅方向に３個の並列するストップボタン１４を有し、その左側にスタートレバー１５と掛け数設定ボタン１６を、右側に清算ボタン１７とメダル(メダル)Ｍを１枚ずつ投入するための投入口１８とを有し、前面下部には下皿２０を有している。
【００４０】
そして、遊技者がスロットマシン１１を遊技利用するときに、前記投入口１８にメダルＭが１枚ずつ投入される。投入されたメダルＭは内部で選別され、有効と選別された正規のメダルＭは内部に取込まれ、無効と選別された不適合の大きさのメダル類は払出シュート(図２参照)２６を介して下皿２０へと返却させる選別機能を有している。また、遊技者が遊技を中止するために清算ボタン１７を押下操作した場合もメダルＭは下皿２０へと返却される。
【００４１】
図２はスロットマシン１１の前面扉１１ａを片開き式に開口した扉の内部構造を示し、この開口されたスロットマシン本体１１ｂ側には、回転されるリール外周面の絵柄の位置を回転・停止させて遊技利用を行う。例えば、３列のリール部１３を上部に設置し、下部中央にメダルの取込み、及び払い出し用のメダル払出装置２１を設置し、その左側に電源装置２２を設置し、右側にオーバフロータンク２３を設置している。
【００４２】
一方、前面扉１１ａ側には、内面上部より下部にかけてリールカバー２４と、メダルの適否を選別する投入メダル選別装置(メダルセレクタ)２５と、払出シュート２６と、返却口２７とをこの順に有している。
【００４３】
上述のメダルセレクタ２５は、図３〜図６に示すように、基板２８と、開閉板２９と、カバー２９Ａとから構成される。基板２８と開閉板２９とは横長の長方形状を有して平面対接される。そして、開閉板２９の一側部に垂直に軸支した支軸３０を、基板２８の一側部に形成されている軸受部３１に軸支させると共に、バネ３２により開閉板２９を常時基板２８側に付勢し、これら基板２８と開閉板２９とでメダル通路３３を形成し、また開閉板２９の外面をカバー２９Ａで覆っている。
【００４４】
前記メダル通路３３は、図３及び図５に示すように、前述の投入口１８の略真下に対応して接続される入口３４と下方の出口３５とを有する略Ｌ字状に形成され、入口３４から下方に延びる縦辺部Ｌ１と、斜め下方に延びて出口３５に至る横辺部Ｌ２と、これら両辺部Ｌ１，Ｌ２を湾曲状に連通させて接続した湾曲部Ｌ３とを備えている。
【００４５】
また、図４〜図６に示すように、横辺部Ｌ２の上流側に位置する基板２８の内面には、減速ガイドレバー３６と小径メダル排除レバー３７とが備えられている。
【００４６】
減速ガイドレバー３６は、基板２８の外面に通路の上下方向に回動自由に軸支された減速支持レバー３９の先端に取り付けられており、通常は、減速ガイドレバー３６の自重により長孔３８の下側に位置している。この減速ガイドレバー３６は、基板２８の外面より長孔３８を介して内面に臨ませ、その内面のメダル通路３３の通路上部に向けて突出させている。
【００４７】
そして、図１１に示すように、メダルＭが図３で示す入口３４より投入されメダル通路３３を転動してきた時、該メダルＭの上端が減速ガイドレバー３６に接触する。この接触によりメダルＭは、減速ガイドレバー３６の自重により重力方向に負荷を受け、強制的にメダルＭの移動速度を減速し、メダルＭの取り込みに適した通過速度に減速する減速構造を有している。
【００４８】
前記小径メダル排除レバー３７は、基板２８の外面側より長孔４０を介して、メダル通路３３の通路上部に向けて付勢突出させている。通常、基板２８の外面に軸支された支軸４１を回動支点に回動する小径メダル排除用の支持レバー４２の基端に取り付けられたコイルバネ４３で内面側の小径メダル排除レバー３７を常時メダル通路３３に向けて出没可能に付勢突出させている。
【００４９】
そして、メダル通路３３を転動してきたメダルが小径メダルＭ１のときは、該小径メダルＭ１の上端が後述する上ガイドプレート４５に接しないので小径メダル排除レバー３７により、小径メダルＭ１の平面部が押されて、その平面方向に対向する開閉板２９に開口されている小径メダル排除用の開口部４４より排除される。排除された小径メダルＭ１は開閉板２９とカバー２９Ａにより払出シュート２６の受口まで案内され、返却される。
【００５０】
メダル通路３３の上面と下面は、開閉板側に固定設置されている上ガイドプレート４５と下ガイドプレート４６とで転動するメダルＭの上下面を搬送ガイドする。
【００５１】
前記カバー２９Ａは、小径メダルの飛び出し防止カバーとしての役目を有しており、左右両側より外側に向けて突出形成した係止片２９ａを該係止片２９ａと対応する開閉板２９の左右両側に設けられている係止凹部２９ｂに係止させることで、カバー２９Ａを開閉板２９に一体に連結している。これにより、開閉板２９の開口部４４の外面はカバー２９Ａによって覆われている。
【００５２】
前記 横辺部Ｌ２の中間部には、下部開閉プレート４８と、第１センサ部Ｓ１とが備えられている。また、基板２８の外面にはソレノイド４７と可動板４９と取り付けられており、該ソレノイド４７によって駆動される可動板４９の先端部を可動板復帰用のバネ４７ａで付勢されたリンク５０に対設させている。
【００５３】
リンク５０は、内面側に設けられたリンク軸５１が基板２８の外面側よりメダル通路３３に向けて突出し、この突出したリンク軸５１が後述する下部開閉プレート４８を押下する。
【００５４】
上述の下部開閉プレート４８は、図７に示すように、開閉板２９の外面中央部に平面対接して取り付けられ、該下部開閉プレート４８の中央部に形成されている軸支孔４８ａが、通路方向に沿って開閉板２９の外面に形成されている軸受け５２ａに軸支された支軸５２に軸支されて図中の上下方向に回動可能となっている。
【００５５】
さらに、下部開閉プレート４８の上部内面に対しては、開閉板２９に開口されている軸挿通孔５３が対向し、この軸挿通孔５３に前記基板２８の外面から内面に向けて突出させた前記リンク軸５１を挿通させ、その先端が該下部開閉プレート４８の上部内面に押下可能に対向する。また、下部開閉プレート４８の下部内面と開閉板２９の外面との間には両端が各バネ座５４ａ，５４ｂに支持されたコイルバネ５４を圧縮状態に介在させている。これにより、下部開閉プレート４８はコイルバネ５４により下部が外面側に付勢され、上部が内面側に付勢され、この上部内面が前記リンク軸５１に押されたとき、コイルバネ５４の付勢力に抗して回動する。
【００５６】
さらに、下部開閉プレート４８の下端には、メダル通路３３の通路底面を形成する断面略Ｌ形状の横長に形成されたプレート５５を有しており、該プレート５５を開閉板２９に開口された下部開口部５６を介してメダル通路３３の通路領域下部に向けて出没自由に突出させている。通常は、コイルバネ５４の付勢力を受けてメダル通路３３より退避し、メダル通路３３の下部をメダル排除用に部分的に開口された状態にある。これに対し、ソレノイド４７を駆動してリンク軸５１からの押圧力を下部開閉プレート４８が受けると回動し、その下部のプレート５５がメダル通路３３の下部に突出してメダル通路３３の底面を形成し、メダルＭの通過を可能にしている。
【００５７】
そして、ソレノイド４７が非励磁状態（電源ＯＦＦ）の時は、メダル通路底面の一部を開放させている。したがって、排除すべきメダルＭを下部開閉プレート４８の開放部分より排除することができる（図９参照）。
【００５８】
さらに、開閉板２９の外面には、前記下部開閉プレート４８より下部に位置して開閉板２９の外面に平面対接されたリンクブロッカ５７が取り付けられている。このリンクブロッカ５７は開閉板２９の外面に形成されている軸受け５８ａに軸支されている支軸５８に、中央部の軸孔５９が軸支されて該リンクブロッカ５７は図中の左右方向に回動自由となっている。
【００５９】
そして、該リンクブロッカ５７の一端には開閉板２９の外面より内面側に向けて折曲したブロッカ部５７ａを有しており、このブロッカ部５７ａがメダル通路３３の終端側に開口されている開閉板２９のブロッカ出没口６０にメダル通路３３に向けて出没自由に設けられている。
【００６０】
さらに、該リンクブロッカ５７の他端内面と開閉板２９の外面との間には両端が各バネ座６１ａ，６１ｂに支持されたコイルバネ６１を圧縮状態に介在させている。これにより、リンクブロッカ５７はコイルバネ６１によりブロッカ部５７ａがメダル通路３３の内面側に付勢されてメダル通路３３に突出している。
【００６１】
また、バネ座６１ａの上部には駆動力受圧用のブロッカ対応片６１ｃを有し、このブロッカ対応片６１ｃと対応する下部開閉プレート４８の下面には駆動力伝達用のプレート対応片４８ｂを有しており、リンクブロッカ５７は下部開閉プレート４８の動きに連動するように構成されている。つまり、下部開閉プレート４８が図中の上下方向に回動すると、連動してリンクブロッカ５７は図中の左右方向に回動する。
【００６２】
そして、ソレノイド４７を駆動（電源ＯＮ）してメダルＭを適正に取込処理しているメダル受付許可状態を図８（Ａ）〜（Ｃ）に示している。さらに、ソレノイド４７の駆動を停止（電源ＯＦＦ）してメダルを排除処理するメダル受付拒否状態を図９（Ａ）〜（Ｃ）に示している。また、小径メダルＭ１が投入された場合の小径メダルＭ１の排除動作を図１０（Ａ）〜（Ｃ）に示している。
【００６３】
前記第１センサ部Ｓ１は、図１１〜図１３に示すように、フォトセンサＰＳと、中央検知片７０と、端側検知片８０と、中央コイルバネ７１と、端側コイルバネ８１と、これらを収納保持するセンサケース９０とから構成される。
【００６４】
フォトセンサＰＳは透過型の検知センサであり、該フォトセンサＰＳの一側に設けた係止爪６２をセンサケース９０に開口して設けた係止口９１に抜け止め係止させて該フォトセンサＰＳをセンサケース９０内に固定している。光電検知に際しては、投光素子Ｐ１と受光素子Ｐ２との間の光軸Ｐ0（図１３（Ｂ）及び図１４（Ａ）に斜線にて示す）に、後述する中央検知片７０と端側検知片８０の一部を介在させて両検知片７０，８０の動きを検知するようにしている。
【００６５】
前記中央検知片７０は、上下面に支軸７２を突設し、該支軸７２が前記センサケース９０の上下内面の軸支孔９２に軸支されているため、該中央検知片７０は回動自由となっている。また、中央検知片７０は軸支部分を回動中心として、これよりフォトセンサＰＳ側に延出する中央遮光板７３と、該中央遮光板７３とは略直角の向きでセンサケース９０に開口されたセンサケース取付面側に向けて略Ｌ形状に延出するメダル接触用の中央出没レバー７４と、該中央検知片７０の中央に形成されたバネ係止部７５とが備えられている。
【００６６】
そして、図１３（Ｂ）及び図１４（Ａ）に示すように、このバネ係止部７５とセンサケース９０の一壁面に形成されているバネ係止孔９３との間に中央コイルバネ７１が張設されている。このため、中央出没レバー７４は通常、中央コイルバネ７１の付勢力を受けてメダル通路３３に突出している。
【００６７】
中央遮光板７３はセンサケース９０内に位置して支軸７２を支点に回動し、該中央遮光板７３がフォトセンサＰＳの光軸Ｐ0を透光、遮光するように設定している。
【００６８】
端側検知片８０は、上下面に支軸８２を突設し、該支軸８２が前記センサケース９０の上下内面の軸支孔９４に軸支されているため、該端側検知片８０は回動自由となっている。また、端側検知片８０は軸支部分を回動中心として、これよりフォトセンサＰＳ側に延出する端側遮光板８３と、該端側遮光板８３とは略直角の向きでセンサケース９０に開口されたセンサケース取付面側に向けて略Ｌ形状に延出するメダル接触用の端側出没レバー８４と、該端側検知片８０の中央に形成されたバネ係止部８５とが備えられている。
【００６９】
そして、図１３（Ｂ）及び図１４（Ａ）に示すように、このバネ係止部８５とセンサケース９０の一壁面に形成されているバネ係止孔９５との間に端側コイルバネ８１が張設されている。このため、端側出没レバー８４は通常、端側コイルバネ８１の付勢力を受けてメダル通路３３に突出している。
【００７０】
端側遮光板８３はセンサケース９０内に位置して支軸８２を支点に回動し、該端側遮光板８３がフォトセンサＰＳの光軸Ｐ0を透光、遮光するように設定している。
【００７１】
センサケース９０は取付面側を開口した箱形状を有し、前記フォトセンサＰＳ、中央検知片７０、端側検知片８０、中央コイルバネ７１、端側コイルバネ８１との検知構成部材を内部構成して、ビス９６により基板２８の外面に固定するように構成している。
【００７２】
前記中央出没レバー７４と端側出没レバー８４との配置は、メダル通路３３の横辺部Ｌ２の高さに対応させて配置するものであり、端側出没レバー８４をメダル通路３３の下側に狭幅に配置し、中央出没レバー７４をその上側に広幅に配置して構成している。
【００７３】
端側出没レバー８４は、図１４（Ｂ）に示すように、前記メダル通路３３の下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域に、前記メダル通路３３に向けて基板２８の外面より出没自在に付勢突出されている。また、この端側出没レバー８４は回動自由に独立してセンサケース９０に軸支されている。
【００７４】
中央出没レバー７４は、前記メダル通路３３のうち該端側通路領域を除く広幅の中央通路領域に、前記メダル通路３３に向けて基板２８の外面より出没自在に付勢突出されている。また、この中央出没レバー７４は回動自由に独立してセンサケース９０に軸支されている。
【００７５】
そして、メダル通路３３に対する中央出没レバー７４と端側出没レバー８４の出没動作を単一のフォトセンサＰＳの同じ光軸Ｐ0上で検知するように配置している。
【００７６】
メダル通路３３の下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域Ａ２と前記メダル通路３３のうち該端側通路領域を除く広幅の中央通路領域Ａ1とを、端側出没レバー８４と中央出没レバー７４で検知した場合、メダルは円形状の中央が最も先に中央通路領域Ａ1を通過し、その後にメダルの下端側が若干遅れて端側通路領域Ａ２を通過することになる。このため、端側通路領域Ａ２と中央通路領域Ａ1を通過する位置にフォトセンサＰＳを備えることにより、該フォトセンサＰＳは同じメダルの上下の位置を、時間差をつけて検知することができる。
【００７７】
したがって、メダル通路３３の中央通路領域Ａ１と下部の端側通路領域Ａ２を上下の検知領域に設定して１つのメダルから２つの通過出力を取得できるように検知している。
【００７８】
特に、メダル通路３３の横辺部Ｌ２を転動してきたメダルを検知する場合に、そのメダルの検知すべき箇所を複数のフォトセンサＰＳで検知するのではなく、メダルの通過及びその通過位置に応じて動作する中央出没レバー７４と端側出没レバー８４の各々の回動する動きを同じ光軸Ｐ0上に導くように構成して、単一のフォトセンサＰＳで転動する１つの同じメダルの２つの箇所を検知する。
【００７９】
具体的には、フォトセンサＰＳが両検知片７０，８０の両出没レバー７４，８４の動きにより検知出力が得られたとき、中央検知片７０、端側検知片８０の順で検知を開始する。その後、端側検知片８０、中央検知片７０の順で検知を終了する。これらの検知出力から１つのメダルが転動して通過する状態を正確に検知できる。このため、１つのメダルに対する検知開始タイミングと検知終了タイミングが明確になり、メダルと異物との挿入を明確に区別することができる。さらに、中央検知片７０ではメダルの中央部分を検知することになり、該メダルの直径長さの通過時間を検知するのに対し、端側検知片８０ではメダル下部の端側の短い通過時間を検知する。このため、１つのメダルが通過する検知時間長さが適正であるか否か、またその検知時間別の検知順序が適正であるか否かを判定することで、より一層メダルと異物とを明確に区別することができる。
【００８０】
さらに、メダル通路３３に配設される中央出没レバー７４と端側出没レバー８４とを、該メダル通路３３の下流で且つ通路端側に位置する端側通路領域Ａ２と前記メダル通路３３のうち該端側通路領域Ａ２を除く広幅の中央通路領域Ａ1に配設することにより、該メダル通路３３の両通路領域Ａ１，Ａ２を全検知領域として検知することができる。このため、この全検知領域に渡って通過するメダルの通過か、部分的に検知領域を通過する不正装置の挿入かを区別することができる。よって、実際のメダルが投入されたことを正確に検知することができる。
【００８１】
また、端側出没レバー８４を、メダル通路の横辺部Ｌ２における通路下部の端側通路領域Ａ２に配設することにより、メダルは重力が下方に掛かり、メダル通路３３の下部側が主ガイド部となってメダルは転動し、該メダル通路３３の下部側を通路基準として通過することになる。このため、端側出没レバー８４をメダル通路３３の通路下部側に配設することにより、メダル通過時には端側出没レバー８４がメダルと接触対応し、メダルを確実に検知動作することができる。
【００８２】
図１５は１つのメダルＭに対する上下２つの検知位置での検知タイミングと検知時間長さを示している。  
まず、図１５（Ａ）は２つの検知時間長さを表わしたものであり、メダルＭが円形状を有しているため、該メダルＭが転動して中央出没レバー７４と端側出没レバー８４との検知位置を通過したとき、両出没レバー７４，８４が検知する位置はメダルＭの下部端側とそれより上側なので検知位置が異なり、両出没レバー７４，８４での検知時間長さＴ１，Ｔ２が異なる。
【００８３】
図１５（Ｂ）は１つのメダルＭに対する上下２つの検知位置での検知開始タイミングを表わしたものであり、同じく両出没レバー７４，８４が検知する位置はメダルＭの下部端側とそれより上側なので検知位置が異なり、双方の検知片７０，８０の検知開始タイミングＴ１１，Ｔ１２が異なる。
【００８４】
図１５（Ｃ）は１つのメダルＭに対する上下２つの検知位置での検知終了タイミングを表わしたものであり、同じく両出没レバー７４，８４が検知する位置はメダルＭの下部端側とそれより上側なので検知位置が異なり、双方の検知片７０，８０の検知終了タイミングＴ２１，Ｔ２２が異なる。
【００８５】
図１５（Ｄ）はメダルＭの連続検知時における各メダルを区別して検知することができる検知信号の取得状態を表わしたものであり、同じく両出没レバー７４，８４が検知する位置はメダルＭの下部端側とそれより上側なので検知位置が異なり、メダルの連続通過時に中央検知片７０による連続検知信号Ｔ３１が得られることに加えて、端側検知片８０によって前後のメダル間の隙間をメダルごとに検知可能に区別できる非検知信号Ｔ０が得られる。
【００８６】
図１６は第１センサ部Ｓ１を通過するメダルＭの通過状態を表わしている。また、図１７はそのメダルＭの通過位置に応じた中央検知片７０と端側検知片８０での検知動作を個々の断面に分けて示している。
【００８７】
通常、第１センサ部Ｓ１がメダルＭを検知しない待機状態では、端側検知片８０の端側出没レバー８４はフォトセンサＰＳの光軸Ｐ0を透光させ、中央検知片７０の中央出没レバー７４はフォトセンサＰＳの光軸Ｐ0を遮光させた状態にある。
【００８８】
そして、中央出没レバー７４がメダル通路３３より没入すると、中央遮光板７３が光軸Ｐ0を透光させる位置に回動する。また、メダル通路３３の横辺部Ｌ２にメダルＭが転動し、端側出没レバー８４がメダル通路３３より没入すると、端側遮光板８３が光軸Ｐ0を遮光する位置に回動する。
【００８９】
したがって、端側出没レバー８４と中央出没レバー７４が共にメダル通路から突出または没入した場合は、何れか一方のレバーによりフォトセンサＰＳの光軸Ｐ0が遮光される。フォトセンサＰＳが透光状態となる場合は、中央出没レバー７４の一方のみがメダル通路３３より没入した場合である。
【００９０】
図１６（Ａ）に示すメダル未検知状態での第１センサ部Ｓ１は、端側コイルバネ８１と中央コイルバネ７１とによって端側出没レバー８４と中央出没レバー７４は各々メダル通路３３に突出するように付勢支持されている。これにより、端側出没レバー８４は図１７（Ａ）に示すように、光軸Ｐ0を回避した透光状態（Ｌｏ）となり、中央出没レバー７４は図１７（Ｆ）に示すように、光軸Ｐ0を遮光した遮光状態（Ｈｉ）となっている。
【００９１】
次に、図１６（Ｂ）のようにメダルＭが転動し、中央出没レバー７４上にメダルＭがきた場合は、該中央出没レバー７４はメダル通路３３に突出した状態から没入するように回動する。該中央出没レバー７４の回動に連動して中央遮光板７３も回動するため、図１７（Ｇ）に示すように、フォトセンサＰＳは遮光（Ｈｉ）から透光（Ｌｏ）状態に変化する。
【００９２】
続いて、図１６（Ｃ）のようにメダルＭが転動し、端側出没レバー８４上にメダルＭがきた場合は、該端側出没レバー８４はメダル通路３３に突出した状態から没入するように回動する。これに連動して端側遮光板８３も回動し、図１７（Ｃ）に示すように、フォトセンサＰＳは透光（Ｌｏ）から遮光（Ｈｉ）状態に変化する。
【００９３】
さらに、図１６（Ｄ）のようにメダルＭが転動し、該メダルＭが端側出没レバー８４上を通過完了すると、メダルＭの押圧力から解放されて回動復帰し、該端側出没レバー８４は再びメダル通路３３に突出するように回動する。これに伴い、端側遮光板８３も回動するため、図１７（Ｄ）に示すように、フォトセンサＰＳは遮光（Ｈｉ）から透光（Ｌｏ）状態に変化する。
【００９４】
最後に、図１６（Ｅ）のようにメダルＭが転動し、該メダルＭが中央出没レバー７４上を通過完了すると、メダルＭの押圧力から解放されて回動復帰し、該中央出没レバー７４は再びメダル通路３３に突出するように回動する。これにより、図１７（Ｊ）に示すように、フォトセンサＰＳは透光（Ｌｏ）から遮光（Ｈｉ）状態に変化する。
【００９５】
このように、第１センサ部Ｓ１を前記のような構成とすることにより端側出没レバー８４と中央出没レバー７４との両レバー８４，７４の出力を１つのフォトセンサＰＳによって検知することができる。
【００９６】
図１８はフォトセンサＰＳにおける中央検知片７０のみの出力と、端側検知片８０のみの出力と、これらの２つの検知片７０，８０の合成出力を示している。これにより、１枚のメダルＭが通過していることを表わす長い出力と、その間に別の短い出力が表れるため、これらの合成出力によりメダルＭが１枚導かれたことの確認を明確にとることができる。
【００９７】
図１９は２枚連続してメダルＭを検知した際の合成出力を示し、中央検知片７０と端側検知片８０との検知動作により、メダルごとの出力が得られていることが分かる。ここで得られた検知信号は、後述する第２センサ部Ｓ２の出力と対応して得られる。
【００９８】
上述の第２センサ部Ｓ２はメダル通路３３の出口３５の直前に備えられる。この第２センサ部Ｓ２はメダル通路３３を形成する基板２８の外面から内面に臨ませて配置され、メダル通路３３の横辺部Ｌ２の終端部を通過するメダルＭを検知する図示しない第１検知部と第２検知部を通路方向に順に有している。
【００９９】
これらの検知部は投受光してメダルＭの通過を検知する光学式検知センサで構成することができ、メダルＭがメダル通路３３に沿って下流側に移動し、このメダルＭが両検知部の光軸Ｐ0をこの順に遮ることで、メダルＭの通過を検知する。具体的には、メダルの進行方向を検知すると共に、センサ出力時間、位相差、出力順位などを検知する。
【０１００】
次に、第１センサ部Ｓ１での異物検知動作について説明する。  
異物がスロットマシン１１の投入口１８より挿入され、メダルＭの通過と同じように中央出没レバー７４と端側出没レバー８４を共にメダル通路３３より没入するように動作させた場合、まず、中央出没レバー７４の回動に伴い中央遮光板７３がフォトセンサＰＳの光軸Ｐ0を遮光する状態から透光する状態へと回動する。続いて、端側出没レバー８４の回動に伴い端側遮光板８３がフォトセンサＰＳの光軸Ｐ0を遮光するように動作する。このとき、フォトセンサＰＳは異物により遮光（Ｈｉ）状態が継続することとなり、スロットマシン１１の遊技機側が異常として検出できる。
【０１０１】
また、異物がスロットマシン１１の投入口１８より挿入され、端側出没レバー８４のみをメダル通路より没入するように動作させた場合は、端側出没レバー８４の端側遮光板８３と中央出没レバー７４の中央遮光板７３が共にフォトセンサＰＳの光軸Ｐ0を遮光（Ｈｉ）する状態が継続することとなり、この状態で第２センサ部Ｓ２にて出力があった場合、スロットマシン１１の遊技機側が異常として検出できる。
【０１０２】
また、異物がスロットマシン１１の投入口１８より挿入され、中央出没レバー７４のみをメダル通路より没入するように動作させた場合は、中央出没レバー７４の回動に伴い遮る遮光板はなくなり、フォトセンサＰＳの光軸Ｐ0は透光（Ｌｏ）状態のままとなるため、スロットマシン１１の遊技機側が異常として検出できる。
【０１０３】
前記のように端側出没レバー８４と中央出没レバー７４は、それぞれが独立した構造となっているため、片側のみを動作させてフォトセンサＰＳを出力させるようにした場合、スロットマシン１１の遊技機側が異常として検出できる制御が可能になる。
【０１０４】
さらに、図１４及び図２０と図２１に示すように、第１センサ部Ｓ１において、中央出没レバー７４と対向する前記メダル通路３３の対向壁面にはメダル通路３３より凹ませた凹壁部１００を設けている。また、該凹壁部１００のメダル通路３３に沿ってメダル通路方向に掛け渡したメダル通過ガイド片１０１を設けている。さらに、メダル通過ガイド片１０１と対向する前記中央出没レバー７４の対向部位に該中央出没レバー７４がメダル通路３３より退避した位置で前記メダル通過ガイド片１０１との当接を回避する回避溝１０２を設けている。
【０１０５】
前記凹壁部１００を設けることにより、中央出没レバー７４を、メダル通路３３を越えて該凹壁部１００内に臨ませることができる。これにより、メダル非通過時では中央出没レバー７４がメダル通路３３を閉鎖した状態に介在することになり、図２０（Ａ）に示すように、不正装置１０３の挿入を妨げる不正防止効果があり、不正行為をより困難にすることができる。
【０１０６】
前記メダル通路３３において、検知動作部分での不正対策を考察してみた場合、例えば凹壁部１００をなくして対向壁面を平坦にし、平坦にした対向壁面と出没レバー７４，８４の先端との隙間をできるだけ狭くしてセル等の異物を通り難くすれば、凹壁部１００のない平坦な通路構造でも不正防止対策を備えた検知動作ができる。この場合は、隙間がセル等の厚さ未満になるように構成する必要があり、隙間をできるだけ狭くする配慮が望まれる。
【０１０７】
このような不正防止対策において、前記凹壁部１００を備えた構成にした場合は、図２０（Ａ）のように、中央出没レバー７４がメダル通路３３を越えて凹壁部１００内へと至り、該中央出没レバー７４がメダル通路３３を遮断した状態となる。このため、通路厚さ方向の隙間を完全に無くし、不正の余地となる隙間を完全に解消した配置構成が可能となる。この結果、不正防止機能をさらに高めた構成となっている。
【０１０８】
また、前記メダル通過ガイド片１０１を設けることにより、中央出没レバー７４がメダル通路３３より没入した状態でも、該メダル通路ガイド片１０１がメダル通路３３に沿ってメダル通路方向に掛け渡した状態に配設されているため、メダルＭの先端が凹壁部１００に引っ掛かるおそれがなく、メダルを滑らかに通過させることができる。
【０１０９】
さらに、回避溝１０２を設けることにより、中央出没レバー７４をメダル通路３３より突出させても、メダル通過ガイド片１０１とは当接せず、該中央出没レバー７４を円滑にメダル通路３３より突出動作させることができる。
【０１１０】
また、前記中央出没レバー７４が配置された側のメダル通路３３に前記回避溝１０２に凹凸対応する受渡し突片１０４を備えている。該受渡し突片１０４を備えることにより、前記中央出没レバー７４がメダル通路３３より退避して該中央出没レバー７４がメダル通路３３に沿ったとき、該中央出没レバー７４の回避溝１０２に受渡し突片１０４がメダル通路上でつなぐように配置されるので、凹壁部１００と中央出没レバー７４との間に生じる凹み部分による段差を無くしてメダルＭを安定して通過ガイドさせることができる。
【０１１１】
さらに、前記受渡し突片１０４とは中央出没レバー７４をメダル通路方向に挟んだ反対側の位置に、前記中央出没レバー７４の突出時に該中央出没レバー７４と前記凹壁部１００との間に生じる凹み部分を、別の受渡し突片１０５で同じく凹凸対応させてメダル通路上でつなぐように配置して構成することもできる。この場合は、メダル通路上での段差が無くなり、メダルが自重により流下するときの通過をより一層円滑にすることができる。
【０１１２】
図２２はメダルセレクタ２５の制御回路ブロック図を示し、制御部２２０には第１センサ部Ｓ１のフォトセンサＰＳと、第２センサ部Ｓ２の第１検知部ｋ１と第２検知部ｋ２が接続される。  
前記制御部２２０は、中央検知片７０の中央出没レバー７４と端側検知片８０の端側出没レバー８４がメダル通路３３に出没動作したことを検知する両出没レバー７４，８４の検知タイミング及び／又は制御部２２０のタイマＴにより計測した両出没レバー７４，８４の検知時間長さとからメダル通過の適否と不正行為の有無を判定する判定機能を有している。
【０１１３】
これにより、制御部２２０では１つのメダルに対する２つの検知開始タイミングと検知終了タイミングが得られる。この結果、メダルＭと異物との挿入を明確に区別することができる。さらに、１つのメダルＭに対する２つの検知時間長さの異なる検知出力が得られるため、１つのメダルＭが通過する検知時間長さが適正であるか否か、またその検知時間別の検知順序が適正であるか否か等を判定することで、より一層メダルと異物とを明確に区別することができる。
【０１１４】
このように構成されたメダルセレクタ２５のメダルの選別動作と共に実行されるメダルの計数処理及び制御動作を図２３のフローチャート及び図２４のタイムチャートを参照して説明する。  
遊技者がスロットマシン１１の投入口１８にメダルＭを投入すると、投入されたメダルＭは下方のメダルセレクタ２５へと導かれる(ステップｎ１)。
【０１１５】
メダルセレクタ２５へ導かれたメダルＭは、基板２８と開閉板２９との間のメダル通路３３を通り、内方へと転動して導かれる。このとき、メダルＭはメダル通路３３の小径メダル排除用に設けられた横辺部Ｌ２の上下に対設される上ガイドプレート４５と下ガイドプレート４６との上下の対向間隔によりガイドされながら通過する。ここで直径の小さなメダルＭ１は、上ガイドプレート４５にガイドされないため小径メダル排除レバー３７に押されて開閉板２９の開口部４４より排除されるという外形選別が実施される。
【０１１６】
そして、正規の大きさのメダルのみが取込み方向へと通過し、第１センサ部Ｓ１の位置へと導かれる。この第１センサ部Ｓ１の位置にメダルＭがくると（ステップｎ２）、メダル通路３３の検知位置に突出している中央出没レバー７４と端側出没レバー８４は、メダルＭに押されてメダル通路３３から没入する方向に回動する。このとき、フォトセンサＰＳが検知して出力すれば（出力の立下り）、制御部２２０は検出時間タイマＴβをスタートし（ステップｎ３）、中央出没レバー７４の回動に基づく中央検知片７０の検知から、端側出没レバー８４の回動に基づく端側検知片８０による、検出時間の規定時間β（例えば１００ｍｓ）以内の検知が得られたか否かを判定する（ステップｎ４）。
【０１１７】
この検出時間の規定時間β（例えば１００ｍｓ）は、フォトセンサＰＳが１枚のメダルＭを検知開始してから検知終了するまでの物理的な距離と、転動しながら流下するメダルＭの速度から経験的に求められる時間であり、真正なメダルＭの適切な流下が行われていることを、この検出時間の規定時間β（例えば１００ｍｓ）以内のメダルＭの通過の検知によって判定する。
【０１１８】
もし、フォトセンサＰＳの出力の立下りを検知することなく、第１センサ部Ｓ１よりもメダル通路３３において下流に配置されている第２センサ部Ｓ２の出力の立下りが検出されたときは（ステップｎ１３）、異常発生のため制御部２２０は不正行為等の発生と判定してエラー処理をする（ステップｎ１４）。
【０１１９】
検出時間の規定時間β内にフォトセンサＰＳの出力の立上りが得られれば（ステップｎ５）、この遮光状態がメダルの通過によるものか、若しくは、メダルが無い状態によるものかを判断するステップに移る。
【０１２０】
もし、検出時間の規定時間β（例えば１００ｍｓ）以内にフォトセンサＰＳの出力の立上りが得られなかったときは、中央出没レバー７４の回動に基づく中央検知片７０の検知、つまり、異物検知用のレバーが操作されている状態が異常に長く続いている状態と認識でき、制御部２２０は不正行為などの発生と判定してエラー処理する（ステップｎ１５）。
【０１２１】
制御部２２０はフォトセンサＰＳの出力の立上りから検出時間タイマＴγを計時させ（ステップｎ６）、検出時間の規定時間γ１（例えば１０ｍｓ）以内に、図２４に示すγ１の検出時間がフォトセンサＰＳの出力が立下るか否かを判定する（ステップｎ７，ステップｎ８）。
【０１２２】
この検出時間の規定時間γ１（例えば１０ｍｓ）は、フォトセンサＰＳの端側出没レバー８４が１枚のメダルＭの検知開始から検知終了するまでの物理的な距離と、転動しながら流下するメダルＭの速度から経験的に求められる時間であり、真正なメダルＭの適切な流下が行われていることを、この検出時間の規定時間γ１（例えば１０ｍｓ）以内のメダルＭの通過の検知によって判定する（ステップｎ８）。
【０１２３】
制御部２２０は、検出時間の規定時間γ１（例えば１０ｍｓ）以内にフォトセンサＰＳの出力が立下ることを確認できれば（ステップｎ８）、該第１センサ部Ｓ１では適切なメダルＭの通過と判定し、メダルＭの通過完了を待つ。
【０１２４】
一方、検出時間の規定時間γ１（例えば１０ｍｓ）以内にフォトセンサＰＳの出力が立下らなければ、メダルＭ（若しくは一連のメダルＭ群）が通過し終わったものと判定して、次のメダルＭ（若しくは一連のメダルＭ群）の検知に備える（ステップｎ２へ）。
【０１２５】
このステップｎ８でのフォトセンサＰＳの出力の立下りは、メダルＭの通過検知のため、若しくは、連なった次のメダル検知のために、検出時間タイマＴβを計時させておく（ステップｎ９）。
【０１２６】
次に、先のステップｎ５のフォトセンサＰＳの出力の立上りか検出によるタイマの計時（ステップｎ６）から、検出時間の規定時間γ２（例えば３０ｍｓ）以内に第２センサ部Ｓ２の第１検知部が、出力の立下り検知によるメダルＭの通過を検知するか否かを判定する（ステップｎ１０，ステップｎ１１）。
【０１２７】
この検出時間の規定時間γ２（例えば３０ｍｓ）は、フォトセンサＰＳから第２センサ部Ｓ２までの物理的な距離と転動しながら流下するメダルＭの速度から経験的に求められる時間であり、真正なメダルＭの適切な流下が行われていることを、この検出時間の規定時間γ２（例えば３０ｍｓ）以内のメダルＭの通過の検知によって判定する（ステップｎ１１）。
【０１２８】
もし、この検出時間の規定時間γ２（例えば３０ｍｓ）以内に第２センサ部Ｓ２が出力の立下りを検知しなかったときは、フォトセンサＰＳがメダルＭと思しき物体の流下を認識しているにも拘らず、その直ぐ後段に配置されている第２センサ部Ｓ２がメダルを検知できない状況となり、真正なメダルＭの適切な流下が行われていないことを示す。よって、何らかの不具合発生としてエラー処理する（ステップ１６）。
【０１２９】
ステップｎ１１で、第１センサ部Ｓ１でのメダルＭ検知から、検出時間の規定時間γ２（例えば３０ｍｓ）以内での第１センサ部Ｓ２でのメダルＭ検知が行われたとき、各センサで検知している対象物は真正な１枚のメダルＭの流下である可能性が高いため、制御部２２０は適正なメダルＭを１枚取り込んだと判定してメダルカウント数を１枚計数し（ステップｎ１２）、次に導かれるメダルＭの計数に備える（ステップｎ４へ）。
【０１３０】
ステップｎ４に戻った処理では、上述と同様に、フォトセンサＰＳの出力の立下りから、検出時間の規定時間β（例えば１００ｍｓ）以内にフォトセンサＰＳの出力が立上るか否かを判定するが、メダルＭの動作上は、端側出没レバー８４の回動完了に基づく端側検知片８０の透光検知から、検出時間の規定時間β（例えば１００ｍｓ）以内に中央出没レバー７４の回動完了に基づく中央検知片７０の遮光検知が得られたか否か、若しくは、端側出没レバー８４の回動完了に基づく端側検知片８０の透光検知から、中央出没レバー７４の回動状態が継続したまま、連なったメダルＭ群のうち次のメダルＭによる端側出没レバー８４の回動に基づく端側検知片８０の遮光検知が、検出時間の規定時間β（例えば１００ｍｓ）以内に得られたか否かを判定している。
【０１３１】
制御部２２０が異常発生と判断した場合は、警報ランプ、アラーム、エラー表示などの出力手段により報知し、エラーとして処理される。
【０１３２】
上述のように、メダルが連続して投入された場合であっても、中央出没レバーの回動により物体を検知するセンサ出力だけでなく、連続したメダルの識別が可能となる端側出没レバーの回動によるセンサ出力を利用することにより、その出力が連続せず、１枚ずつ区別して検出することができる。また、２つの検知タイミング差や検知時間差から精度の高い読取制御ができる。さらに、この第１センサ部の検知部分においては、単一のフォトセンサＰＳで構築できるため部品点数の削減による低コスト化が図れるだけでなく、配置スペースが少なくてよいため投入メダル検知装置が大型化することもない。また、この第１センサ部と後段の第２センサ部での検知出力を組み合わせることで、判定精度がさらに高まる。
【０１３３】
この発明の構成と、上述の実施例の構成との対応において、
この発明の検知手段は、実施例のフォトセンサＰＳに対応し、
以下同様に、
判定手段は、制御部２２０に対応し、
第１の検知手段は、第１センサ部Ｓ１に対応し、
第２の検知手段は、第２センサ部Ｓ２に対応し、
投入メダル選別装置は、メダルセレクタ２５に対応し、
遊技機は、スロットマシン１１に対応するも、この発明は請求項に記載される技術思想に基づいて応用することができ、上述の実施例の構成のみに限定されるものではなく、多くの実施の形態を得ることができる。
【０１３４】
例えば、上述の実施例ではメダル通路３３の横辺部Ｌ２の上下位置に各出没レバー７４，８４を備えた例を示したが、これに限らず縦辺部Ｌ１の左右に両出没レバーを配置して構成することもできる。また、メダル通路３３は略Ｌ形状の通路を示したが、垂直通路、傾斜通路、屈曲通路など様々な通路に適用することができる。さらに、検知センサの一例としてフォトセンサＰＳを用いた例を示したが、磁気センサ等の他のセンサを用いても構成することができる。
【産業上の利用可能性】
【０１３５】
メダル、コイン、硬貨等を扱う機器全般に利用することができる。
【符号の説明】
【０１３６】
１１…スロットマシン
１８…投入口
２５…メダルセレクタ
３３…メダル通路
７０…中央検知片
８０…端側検知片
７４…中央出没レバー
８４…端側出没レバー
１００…凹壁部
１０１…メダル通過ガイド片
１０２…回避溝
Ａ１…中央通路領域
Ａ２…端側通路領域
Ｓ１…第１センサ部
ＰＳ…フォトセンサ
Ｓ２…第２センサ部
Ｍ…メダル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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