(57)【要約】【課題】プラズマディスプレイパネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させる。【解決手段】平均輝度レベルを算出し、平均輝度レベルのフィールド間の変化量の絶対値と画像急変比較値とを比較してその比較結果を画像急変検出結果とし、プラズマディスプレイパネルの表示領域を複数の領域に分け、各画素の輝度の階調値にもとづき領域毎に残像度数上限値を算出するとともに、輝度の階調値と画像急変検出結果と残像度数上限値とにもとづき領域毎の残像度数を算出し、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、残像度数にもとづき最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出し、最大階調値に対する補正後最大階調値の大きさの比率を求め、その比率にもとづき最大階調値を除く２つの階調値に補正を加える。【選択図】図７
2011257515.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、赤、緑、青の各色に発光する３つの放電セルで１つの画素を構成したプラズマディスプレイパネルを、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動し、前記３つの放電セルのそれぞれを、画像信号にもとづく赤、緑、青の各階調値の大きさに応じた明るさで発光して階調表示するプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、
画像信号の平均輝度レベルをフィールド毎に算出するとともに前記平均輝度レベルのフィールド間の変化量の絶対値を算出し、前記絶対値とあらかじめ設定した画像急変比較値とを比較してその比較結果を画像急変検出結果とし、
前記プラズマディスプレイパネルの表示領域を複数の領域に分け、
画像信号にもとづく各画素の輝度の階調値にもとづき前記領域毎に残像度数上限値を算出するとともに、前記輝度の階調値と前記画像急変検出結果と前記残像度数上限値とにもとづき前記領域毎の残像度数を算出し、前記領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、
赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、
画素毎に、前記残像度数にもとづき前記最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出するとともに、前記最大階調値に対する前記補正後最大階調値の大きさの比率を求め、前記比率にもとづき、前記最大階調値を除く２つの階調値に補正を加える
ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項２】
現フィールドと前記現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、前記フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第１の計数値とし、
隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第２の計数値とし、
前記第１の計数値および前記第２の計数値にもとづき、前記領域毎の残像度数および前記残像度数上限値を算出することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項３】
前記残像度数上限値を更新する際には、
前記第１の計数値が第１のしきい値以上であり、前記第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、前記残像度数上限値に第１の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第１のしきい値未満かつ前記第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記残像度数上限値に第２の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記残像度数上限値に第３の設定値を加算し、
前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記残像度数上限値に第４の設定値を加算し、
前記領域毎の残像度数を更新する際には、
前記第１の計数値が前記第１のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数が第４のしきい値未満のときには前記領域毎の残像度数に第１１の設定値を加算し、前記領域毎の残像度数が前記第４のしきい値以上かつ前記残像度数上限値未満のときには前記領域毎の残像度数に前記第１１の設定値よりも数値の大きい第１２の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第１のしきい値未満かつ前記第２のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に前記第２の設定値を加算し、
前記平均輝度レベルのフィールド間の変化量の絶対値が前記画像急変比較値未満のときには、
前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に前記第３の設定値を加算し、前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記領域毎の残像度数に前記第４の設定値を加算し、
前記平均輝度レベルのフィールド間の変化量の絶対値が前記画像急変比較値以上になったときには、
前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満か、または前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記領域毎の残像度数があらかじめ設定された下限値に到達するまで、負の数値に設定された第５の設定値を前記領域毎の残像度数に加算し続ける
ことを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項４】
前記第１の設定値を正の数値に設定するとともに前記第１の設定値と前記第１１の設定値とを互いに等しい数値に設定し、前記第２の設定値を「０」に設定し、前記第３の設定値および前記第４の設定値を負の数値に設定し、前記第５の設定値の絶対値を前記第３の設定値および前記第４の設定値の絶対値よりも大きい数値に設定し、前記下限値を前記第４のしきい値よりも小さい数値に設定する
ことを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項５】
更新後の前記残像度数から所定の定数を減算することを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項６】
サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを前記維持期間に発生するとともに、
前記輝度倍率の大きさに応じて前記第１の設定値および前記第１１の設定値の大きさを変更することを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項７】
前記輝度倍率が第５のしきい値以上のときには前記第１の設定値および前記第１１の設定値を正の数値とし、
前記輝度倍率が第５のしきい値未満のときには前記第１の設定値および前記第１１の設定値を「０」とすることを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項８】
前記残像度数上限値を所定の上限値以下に制限することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項９】
それぞれの前記領域において、前記領域毎の残像度数を前記領域の中央に位置する中央画素の残像度数とし、
前記中央画素以外の画素に関しては、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の前記中央画素との距離、および前記中央画素の残像度数にもとづいて前記画素毎の残像度数を算出することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１０】
前記画素毎の残像度数を所定の基準値から減算し、その減算結果を前記基準値で除算した結果にもとづき各画素の最大階調値に補正を加える
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１１】
前記平均輝度レベルが大きいときには、前記平均輝度レベルが小さいときよりも残像度数が小さくなるように、前記平均輝度レベルにもとづき前記画素毎の残像度数を変更することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１２】
サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを前記維持期間に発生するとともに、
前記輝度倍率が小さいときには、前記輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、前記輝度倍率にもとづき前記画素毎の残像度数を変更することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１３】
あらかじめ設定した高階調値しきい値よりも前記最大階調値の方が大きいときには、前記最大階調値から前記高階調値しきい値を減算し、前記減算の結果に対して前記残像度数にもとづく補正を加え、前記補正の結果に前記高階調値しきい値を加算した結果を前記補正後最大階調値とする
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１４】
残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも階調値が平滑化されるように、前記画素毎の残像度数にもとづき各画素の各階調値を平滑化することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１５】
画素数が互いに等しくなるように、前記表示電極対が延伸する方向に複数の境界を設けるとともに前記データ電極が延伸する方向に複数の境界を設けて前記領域を設定することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１６】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、赤、緑、青の各色に発光する３つの放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設け、前記３つの放電セルのそれぞれを、画像信号にもとづく赤、緑、青の各階調値の大きさに応じた明るさで発光して階調表示するプラズマディスプレイパネルと、
画像信号に応じて各画素の３つの放電セルのそれぞれに赤、緑、青の各階調値を設定し、前記階調値の大きさに応じて、前記放電セルにおける前記サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路とを備え、
前記画像信号処理回路は、
画像信号の平均輝度レベルをフィールド毎に算出するとともに前記平均輝度レベルのフィールド間の変化量の絶対値を算出し、前記絶対値とあらかじめ設定した画像急変比較値とを比較してその比較結果を画像急変検出結果として出力する画像急変検出回路を有し、
前記プラズマディスプレイパネルの表示領域を複数の領域に分け、
画像信号にもとづく各画素の輝度の階調値にもとづき前記領域毎に残像度数上限値を算出するとともに、前記輝度の階調値と前記画像急変検出結果と前記残像度数上限値とにもとづき前記領域毎の残像度数を算出し、前記領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、
赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、
画素毎に、前記残像度数にもとづき前記最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出するとともに、前記最大階調値に対する前記補正後最大階調値の大きさの比率を求め、前記比率にもとづき、前記最大階調値を除く２つの階調値に補正を加えるＲＧＢ補正回路を有する
ことを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項１７】
前記画像信号処理回路は、
現フィールドと前記現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、前記フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第１の計数値とし、
隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第２の計数値とし、
前記残像度数上限値を更新する際には、
前記第１の計数値が第１のしきい値以上であり、前記第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、前記残像度数上限値に第１の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第１のしきい値未満かつ前記第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記残像度数上限値に第２の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記残像度数上限値に第３の設定値を加算し、
前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記残像度数上限値に第４の設定値を加算し、
前記領域毎の残像度数を更新する際には、
前記第１の計数値が前記第１のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数が第４のしきい値未満のときには前記領域毎の残像度数に第１１の設定値を加算し、前記領域毎の残像度数が前記第４のしきい値以上かつ前記残像度数上限値未満のときには前記領域毎の残像度数に前記第１１の設定値よりも数値の大きい第１２の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第１のしきい値未満かつ前記第２のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に前記第２の設定値を加算し、
前記画像急変検出回路において前記絶対値が前記画像急変比較値未満であると判定されたときには、
前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に前記第３の設定値を加算し、前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記領域毎の残像度数に前記第４の設定値を加算し、
前記画像急変検出回路において前記絶対値が前記画像急変比較値以上であると判定されたときには、
前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満か、または前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記領域毎の残像度数があらかじめ設定された下限値に到達するまで、負の数値に設定された第５の設定値を前記領域毎の残像度数に加算し続ける
ことを特徴とする請求項１６に記載のプラズマディスプレイ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、壁掛けテレビや大型モニターに用いられるプラズマディスプレイパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
プラズマディスプレイパネル（以下、「パネル」と略記する）として代表的な交流面放電型パネルは、対向配置された前面板と背面板との間に多数の放電セルが形成されている。前面板は、１対の走査電極と維持電極とからなる表示電極対が前面ガラス基板上に互いに平行に複数対形成されている。そして、それら表示電極対を覆うように誘電体層および保護層が形成されている。背面板は、背面ガラス基板上に複数の平行なデータ電極が形成され、それらデータ電極を覆うように誘電体層が形成され、さらにその上にデータ電極と平行に複数の隔壁が形成されている。そして、誘電体層の表面と隔壁の側面とに蛍光体層が形成されている。そして、表示電極対とデータ電極とが立体交差するように前面板と背面板とが対向配置されて密封されている。密封された内部の放電空間には、例えば分圧比で５％のキセノンを含む放電ガスが封入され、表示電極対とデータ電極とが対向する部分に放電セルが形成される。このような構成のパネルにおいて、各放電セル内でガス放電により紫外線を発生させ、この紫外線で赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）および青色（Ｂ）の各色の蛍光体を励起発光させてカラー表示を行っている。
【０００３】
パネルを駆動する方法としては一般にサブフィールド法が用いられている。サブフィールド法では、１フィールドを複数のサブフィールドに分割し、それぞれのサブフィールドで各放電セルを発光または非発光させることにより階調表示を行う。各サブフィールドは、初期化期間、書込み期間および維持期間を有する。
【０００４】
初期化期間では、各走査電極に初期化波形を印加し、各放電セルで初期化放電を発生させる。それにより、各放電セルにおいて、続く書込み動作のために必要な壁電荷を形成するとともに、書込み放電を安定して発生させるためのプライミング粒子（書込み放電を発生させるための励起粒子）を発生させる。
【０００５】
書込み期間では、走査電極に走査パルスを印加するとともに、データ電極には表示すべき画像信号にもとづき書込みパルスを印加して表示を行うべき放電セルに書込み放電を発生させ壁電荷を形成する（以下、この動作を「書込み」とも記す）。
【０００６】
維持期間では、サブフィールド毎に定められた数の維持パルスを走査電極と維持電極とからなる表示電極対に交互に印加する。それにより、書込み放電を起こした放電セルで維持放電を発生させ、その放電セルの蛍光体層を発光させる。これにより、各放電セルを、サブフィールド毎に定められた輝度重みに応じた輝度で発光させる。このようにしてパネルの各放電セルを画像信号の階調値に応じた輝度で発光させて画像表示を行う。
【０００７】
また、サブフィールド法の１つとして、緩やかに変化する電圧波形を用いて初期化放電を行い、さらに維持放電を行った放電セルに対して選択的に初期化放電を行うことで、階調表示に関係しない発光を極力減らしコントラスト比を向上させた駆動方法が開示されている。
【０００８】
具体的には、複数のサブフィールドのうち、１つのサブフィールドの初期化期間においては全ての放電セルに初期化放電を発生させる全セル初期化動作を行い、他のサブフィールドの初期化期間においては直前の維持期間で維持放電を行った放電セルにのみ初期化放電を発生させる選択初期化動作を行う。このように駆動することにより、画像の表示に関係のない発光によって変化する黒表示領域の輝度（以下、「黒輝度」と略記する）は全セル初期化動作における微弱発光だけとなり、コントラストの高い画像表示が可能となる（例えば、特許文献１参照）。
【０００９】
一方、近年のパネルの高精細化、大画面化にともない、パネルの発光効率を向上させ、輝度を向上させるための様々な取り組みがなされている。例えば、放電セル内に充填する放電ガスのキセノン分圧を高めて発光効率を高める検討が進められている。しかし、放電ガスのキセノン分圧を高めると放電の発生するタイミングのばらつきが大きくなり、放電セル毎の発光強度にばらつきを生じて表示輝度が不均一になることがあった。この輝度の不均一を改善するために、例えば、複数回に１回の割合で立ち上がりの急峻な維持パルスを挿入して維持放電のタイミングを揃え、表示輝度を均一化する駆動方法が開示されている（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２０００−２４２２２４号公報
【特許文献２】特開２００５−３３８１２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、発光効率を高めるために放電ガスのキセノン分圧を高めると、静止画像を長時間表示させたときに、その静止画像が残像として認識される、いわゆる残像現象が発生しやすくなり、画像表示品質を損なうことがある。
【００１２】
本発明はこのような課題に鑑みなされたものであり、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることができるパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明のパネルの駆動方法は、走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、赤、緑、青の各色に発光する３つの放電セルで１つの画素を構成したパネルを、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動し、３つの放電セルのそれぞれを、画像信号にもとづく赤、緑、青の各階調値の大きさに応じた明るさで発光して階調表示するパネルの駆動方法であって、画像信号の平均輝度レベルをフィールド毎に算出するとともに平均輝度レベルのフィールド間の変化量の絶対値を算出し、算出した絶対値とあらかじめ設定した画像急変比較値とを比較してその比較結果を画像急変検出結果とし、パネルの表示領域を複数の領域に分け、画像信号にもとづく各画素の輝度の階調値にもとづき領域毎に残像度数上限値を算出するとともに、輝度の階調値と画像急変検出結果と残像度数上限値とにもとづき領域毎の残像度数を算出し、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、画素毎に、残像度数にもとづき最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出するとともに、最大階調値に対する補正後最大階調値の大きさの比率を求め、その比率にもとづき、最大階調値を除く２つの階調値に補正を加えることを特徴とする。
【００１４】
これにより、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の階調値を補正することで、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上することが可能となる。
【００１５】
また、このパネルの駆動方法においては、現フィールドと現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第１の計数値とし、隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第２の計数値とし、第１の計数値および第２の計数値にもとづき、領域毎の残像度数および残像度数上限値を算出してもよい。これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる図柄を有する画像、例えば、エッジの数が多く静止領域が継続して表示される図柄等を画像信号にもとづき検出し、その検出結果にもとづき残像度数を算出することができる。
【００１６】
また、このパネルの駆動方法においては、残像度数上限値を更新する際には、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数上限値に第１の設定値を加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数上限値に第２の設定値を加算し、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数上限値に第３の設定値を加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、残像度数上限値に第４の設定値を加算し、領域毎の残像度数を更新する際には、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数が第４のしきい値未満のときには領域毎の残像度数に第１１の設定値を加算し、領域毎の残像度数が第４のしきい値以上かつ残像度数上限値未満のときには領域毎の残像度数に第１１の設定値よりも数値の大きい第１２の設定値を加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を加算し、平均輝度レベルのフィールド間の変化量の絶対値が画像急変比較値未満のときには、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を加算し、平均輝度レベルのフィールド間の変化量の絶対値が画像急変比較値以上になったときには、第１の計数値が第２のしきい値未満か、または第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数があらかじめ設定された下限値に到達するまで、負の数値に設定された第５の設定値を領域毎の残像度数に加算し続けてもよい。これにより、画像の特徴に応じて、領域毎の残像度数をフィールド毎に更新することができる。
【００１７】
また、このパネルの駆動方法においては、第１の設定値を正の数値に設定するとともに第１の設定値と第１１の設定値とを互いに等しい数値に設定し、第２の設定値を「０」に設定し、第３の設定値および第４の設定値を負の数値に設定し、第５の設定値の絶対値を第３の設定値および第４の設定値の絶対値よりも大きい数値に設定し、上述の下限値を第４のしきい値よりも小さい数値に設定してもよい。これにより、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが増加した領域として残像度数を増加させ、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域、および、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域は、残像現象の発生しやすさが減少した領域として残像度数を減少させ、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが維持された領域として残像度数を維持する、というように、画像の特徴に応じて残像度数を増加または減少することができる。
【００１８】
また、このパネルの駆動方法においては、更新後の残像度数から所定の定数を減算してもよい。これにより、残像度数にもとづき階調値へ補正を開始するタイミングを制御することが可能になる。
【００１９】
また、このパネルの駆動方法においては、サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを維持期間に発生するとともに、輝度倍率の大きさに応じて第１の設定値および第１１の設定値の大きさを変更してもよい。これにより、残像度数が増加するときにどの程度増加させるかを輝度倍率に応じて変更することが可能となる。
【００２０】
また、このパネルの駆動方法においては、輝度倍率が第５のしきい値以上のときには第１の設定値および第１１の設定値を正の数値とし、輝度倍率が第５のしきい値未満のときには第１の設定値および第１１の設定値を「０」としてもよい。これにより、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【００２１】
また、このパネルの駆動方法においては、残像度数上限値を所定の上限値以下に制限してもよい。これにより、残像度数による階調値への過補正を防止することが可能になる。
【００２２】
また、このパネルの駆動方法においては、それぞれの領域において、領域毎の残像度数を領域の中央に位置する中央画素の残像度数とし、中央画素以外の画素に関しては、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離、および中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出してもよい。これにより、領域毎の残像度数にもとづく画素毎の残像度数の算出を適切に行うことが可能となる。
【００２３】
また、このパネルの駆動方法においては、画素毎の残像度数を所定の基準値から減算し、その減算結果をその基準値で除算した結果にもとづき各画素の最大階調値に補正を加えてもよい。これにより、残像度数にもとづく階調値への補正を適切に行うことが可能となる。
【００２４】
また、このパネルの駆動方法においては、平均輝度レベルが大きいときには、平均輝度レベルが小さいときよりも残像度数が小さくなるように、平均輝度レベルにもとづき画素毎の残像度数を変更してもよい。これにより、検出した平均輝度レベルにもとづき残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の階調値を補正することができる。したがって、残像現象が比較的発生しにくいと考えられる平均輝度レベルが高い画像では、平均輝度レベルが低い画像と比較して残像度数の大きさを小さくすることができ、例えば、平均輝度レベルが高い画像における表示画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【００２５】
また、このパネルの駆動方法においては、サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを維持期間に発生するとともに、輝度倍率が小さいときには、輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率にもとづき画素毎の残像度数を変更してもよい。これにより、輝度倍率にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の階調値を補正することができる。したがって、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【００２６】
また、このパネルの駆動方法においては、あらかじめ設定した高階調値しきい値よりも最大階調値の方が大きいときには、最大階調値から高階調値しきい値を減算し、その減算の結果に対して残像度数にもとづく補正を加え、その補正の結果に高階調値しきい値を加算した結果を補正後最大階調値としてもよい。これにより、発光輝度が高く残像現象が発生したときに認識されやすいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えた階調値で赤、緑、青の各放電セルを発光させ、発光輝度が低く残像現象が発生しても認識されにくいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えない階調値で赤、緑、青の各放電セルを発光させることができるので、表示画像における発光輝度の低下を最小限に抑えることができる。
【００２７】
また、このパネルの駆動方法においては、残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも階調値が平滑化されるように、画素毎の残像度数にもとづき各画素の各階調値を平滑化してもよい。
【００２８】
また、このパネルの駆動方法においては、画素数が互いに等しくなるように、表示電極対が延伸する方向に複数の境界を設けるとともにデータ電極が延伸する方向に複数の境界を設けて領域を設定してもよい。
【００２９】
また、本発明のプラズマディスプレイ装置は、走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、赤、緑、青の各色に発光する３つの放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設け、３つの放電セルのそれぞれを、画像信号にもとづく赤、緑、青の各階調値の大きさに応じた明るさで発光して階調表示するパネルと、画像信号に応じて各画素の３つの放電セルのそれぞれに赤、緑、青の各階調値を設定し、階調値の大きさに応じて、放電セルにおけるサブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路とを備え、画像信号処理回路は、画像信号の平均輝度レベルをフィールド毎に算出するとともに平均輝度レベルのフィールド間の変化量の絶対値を算出し、算出した絶対値とあらかじめ設定した画像急変比較値とを比較してその比較結果を画像急変検出結果として出力する画像急変検出回路を有し、パネルの表示領域を複数の領域に分け、画像信号にもとづく各画素の輝度の階調値にもとづき領域毎に残像度数上限値を算出するとともに、輝度の階調値と画像急変検出結果と残像度数上限値とにもとづき領域毎の残像度数を算出し、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、赤、緑、青の３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択し、画素毎に、残像度数にもとづき最大階調値に補正を加えて補正後最大階調値を算出するとともに、最大階調値に対する補正後最大階調値の大きさの比率を求め、その比率にもとづき、最大階調値を除く２つの階調値に補正を加えるＲＧＢ補正回路を有することを特徴とする。
【００３０】
これにより、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の階調値を補正することで、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上することが可能となる。
【００３１】
また、このプラズマディスプレイ装置における画像信号処理回路は、現フィールドと現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第１の計数値とし、隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第２の計数値とし、残像度数上限値を更新する際には、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数上限値に第１の設定値を加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数上限値に第２の設定値を加算し、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数上限値に第３の設定値を加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、残像度数上限値に第４の設定値を加算し、領域毎の残像度数を更新する際には、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数が第４のしきい値未満のときには領域毎の残像度数に第１１の設定値を加算し、領域毎の残像度数が第４のしきい値以上かつ残像度数上限値未満のときには領域毎の残像度数に第１１の設定値よりも数値の大きい第１２の設定値を加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を加算し、画像急変検出回路において算出した絶対値が画像急変比較値未満であると判定されたときには、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を加算し、画像急変検出回路において算出した絶対値が画像急変比較値以上であると判定されたときには、第１の計数値が第２のしきい値未満か、または第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数があらかじめ設定された下限値に到達するまで、負の数値に設定された第５の設定値を領域毎の残像度数に加算し続ける構成であってもよい。これにより、画像の特徴に応じて、領域毎の残像度数をフィールド毎に更新することができる。
【発明の効果】
【００３２】
本発明によれば、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることができるパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の実施の形態１におけるパネルの構造を示す分解斜視図である。
【図２】本発明の実施の形態１におけるパネルの電極配列図である。
【図３】本発明の実施の形態１におけるパネルの各電極に印加する駆動電圧波形の一例を示す波形図である。
【図４】本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイ装置の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図５】本発明の実施の形態１におけるパネルの表示領域に設けた複数の領域の一例を概略的に示す図である。
【図６】本発明の実施の形態１における画像信号処理回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図７】本発明の実施の形態１におけるＲＧＢ補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図８】本発明の実施の形態１における画像急変検出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図９】本発明の実施の形態１における残像度数算出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１０】本発明の実施の形態１における残像度数上限値算出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１１】本発明の実施の形態１における残像度数演算回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１２】本発明の実施の形態１における残像度数補間回路において行う演算を概略的に示す図である。
【図１３】本発明の実施の形態１における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１４】本発明の実施の形態１における残像度数算出回路の一動作例を示す概略図である。
【図１５】本発明の実施の形態２における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１６】本発明の実施の形態３における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１７】本発明の実施の形態４における残像度数上限値算出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１８】本発明の実施の形態４における残像度数算出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１９】本発明の実施の形態５における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００３４】
以下、本発明の実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置について、図面を用いて説明する。
【００３５】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の構造を示す分解斜視図である。ガラス製の前面板２１上には、走査電極２２と維持電極２３とからなる表示電極対２４が複数形成されている。そして走査電極２２と維持電極２３とを覆うように誘電体層２５が形成され、その誘電体層２５上に保護層２６が形成されている。また、保護層２６は、酸化マグネシウム（ＭｇＯ）を主成分とする材料から形成されている。
【００３６】
背面板３１上にはデータ電極３２が複数形成され、データ電極３２を覆うように誘電体層３３が形成され、さらにその上に井桁状の隔壁３４が形成されている。そして、隔壁３４の側面および誘電体層３３上には赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）および青色（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層３５が設けられている。
【００３７】
これら前面板２１と背面板３１とは、微小な放電空間を挟んで表示電極対２４とデータ電極３２とが交差するように対向配置されている。そして、その外周部はガラスフリット等の封着材によって封着されている。そして、その内部の放電空間には、ネオンとキセノンの混合ガスが放電ガスとして封入されている。なお、本実施の形態では、発光効率を向上させるためにキセノン分圧を約１０％とした放電ガスを用いている。放電空間は隔壁３４によって複数の区画に仕切られており、表示電極対２４とデータ電極３２とが交差する部分に放電セルが形成されている。そしてこれらの放電セルが放電、発光することにより画像が表示される。
【００３８】
なお、パネル１０においては、表示電極対２４が延伸する方向に配列された連続する３つの放電セルで１つの画素が構成される。この３つの放電セルとは、赤色（Ｒ）に発光する放電セル（以下、「Ｒ放電セル」と記す）、緑色（Ｇ）に発光する放電セル（以下、「Ｇ放電セル」と記す）、青色（Ｂ）に発光する放電セル（以下、「Ｂ放電セル」と記す）のことである。
【００３９】
なお、パネル１０の構造は上述したものに限られるわけではなく、例えば、ストライプ状の隔壁を備えたものであってもよい。また、放電ガスの混合比率も上述した数値に限られるわけではなく、その他の混合比率であってもよい。
【００４０】
図２は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の電極配列図である。パネル１０には、行方向に長いｎ本の走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ（図１の走査電極２２）およびｎ本の維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ（図１の維持電極２３）が配列されており、列方向に長いｍ本のデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ（図１のデータ電極３２）が配列されている。そして、１対の走査電極ＳＣｉ（ｉ＝１〜ｎ）および維持電極ＳＵｉと１つのデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）とが交差した部分に放電セルが形成されている。したがって、放電セルは放電空間内にｍ×ｎ個形成されている。そして、ｍ×ｎ個の放電セルが形成された領域がパネル１０の表示領域となる。例えば、画素数が１９２０×１０８０個のパネルでは、ｍ＝１９２０×３となり、ｎ＝１０８０となる。
【００４１】
次に、パネル１０を駆動するための駆動電圧波形とその動作の概要について説明する。なお、本実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置は、サブフィールド法によってパネル１０に階調を表示するものとする。このサブフィールド法では、１フィールドを時間軸上で複数のサブフィールドに分割し、各サブフィールドに輝度重みをそれぞれ設定する。各サブフィールドの維持期間においては、それぞれのサブフィールドの輝度重みに所定の輝度倍率を乗じた数の維持パルスを表示電極対２４のそれぞれに印加する。そして、各サブフィールドの書込み期間では、発光すべき放電セルに書込み放電を発生させることで、サブフィールド毎に各放電セルの発光・非発光を制御する。すなわち、Ｒ放電セルを画像信号にもとづくＲの階調値の大きさに応じた明るさで発光させ、Ｇ放電セルを画像信号にもとづくＧの階調値の大きさに応じた明るさで発光させ、Ｂ放電セルを画像信号にもとづくＢの階調値の大きさに応じた明るさで発光させて、各放電セルに階調を表示する。このようにパネル１０を駆動することによってパネル１０にカラーの画像を表示する。
【００４２】
また、本実施の形態では、初期化期間において２つの異なる初期化動作、すなわち、「全セル初期化動作」と「選択初期化動作」とのいずれかの初期化動作を行うものとする。全セル初期化動作とは、直前のサブフィールドの動作にかかわらず全ての放電セルに初期化放電を発生させる初期化動作のことである。また、選択初期化動作とは、直前のサブフィールドの維持期間に維持放電を発生した放電セルだけに初期化放電を発生する初期化動作のことである。
【００４３】
そして、本実施の形態では、１フィールドの先頭サブフィールド（第１ＳＦ）の初期化期間では全セル初期化動作を行い、他のサブフィールドの初期化期間では選択初期化動作を行うものとする。これにより、画像の表示に関係のない発光は第１ＳＦにおける全セル初期化動作の放電にともなう発光のみとなり、表示画像における黒輝度を低減したコントラストの高い画像表示が可能となる。
【００４４】
なお、本実施の形態では、１フィールドを第１サブフィールド（第１ＳＦ）から第８サブフィールド（第８ＳＦ）までの８つのサブフィールドで構成し、各サブフィールドにはそれぞれ（１、２、４、８、１６、３２、６４、１２８）の輝度重みを設定するものとして以下の説明を行う。また、第１ＳＦを全セル初期化動作を行う全セル初期化サブフィールドとし、第２ＳＦ〜第８ＳＦを選択初期化動作を行う選択初期化サブフィールドとする。また、各サブフィールドの維持期間においては、それぞれのサブフィールドの輝度重みに所定の輝度倍率を乗じた数の維持パルスを表示電極対２４のそれぞれに印加する。例えば、上述したサブフィールド構成において、輝度倍率が２倍であれば、各サブフィールドの維持期間に発生する維持パルス数は、それぞれ（２、４、８、１６、３２、６４、１２８、２５６）となり、輝度倍率が３倍であれば、それぞれ（３、６、１２、２４、４８、９６、１９２、３８４）となる。
【００４５】
しかし、本実施の形態は、サブフィールド数や各サブフィールドの輝度重みが上記の値に限定されるものではなく、また、画像信号等にもとづいてサブフィールド構成を切換える構成であってもよい。
【００４６】
図３は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の各電極に印加する駆動電圧波形の一例を示す波形図である。図３には、書込み期間において最初に書込み動作を行う走査電極ＳＣ１、書込み期間において最後に書込み動作を行う走査電極ＳＣｎ（例えば、走査電極ＳＣ１０８０）、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ、およびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍの駆動電圧波形を示す。
【００４７】
また、図３には、２つのサブフィールドの駆動電圧波形を示す。すなわち、全セル初期化サブフィールドである第１ＳＦと、選択初期化サブフィールドである第２ＳＦの前半部とを示す。なお、第２ＳＦの後半部以降は図示していないが、第１ＳＦを除くサブフィールドは選択初期化サブフィールドであり、各サブフィールドにおける駆動電圧波形は、維持期間における維持パルスの発生数を除き、各期間ではほぼ同様の駆動電圧波形を発生する。
【００４８】
また、以下における走査電極ＳＣｉ、維持電極ＳＵｉ、データ電極Ｄｋは、各電極の中から画像データ（サブフィールド毎の発光・非発光を示すデータ）にもとづき選択された電極を表す。
【００４９】
まず、全セル初期化サブフィールドである第１ＳＦについて説明する。
【００５０】
第１ＳＦの初期化期間前半部では、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍおよび維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに０（Ｖ）を印加する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには、電圧Ｖｉ１を印加し、電圧Ｖｉ１から電圧Ｖｉ２に向かって緩やかに（例えば、約１．３Ｖ／μｓｅｃの勾配で）上昇する傾斜電圧（以下、「上りランプ電圧Ｌ１」と呼称する）を印加する。このとき、電圧Ｖｉ１は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧未満の電圧にし、電圧Ｖｉ２は維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧を超える電圧にする。
【００５１】
この上りランプ電圧Ｌ１が上昇する間に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとの間、および走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎとデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍとの間でそれぞれ微弱な初期化放電が持続して起こる。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上部に負の壁電圧が蓄積されるとともに、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ上部および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上部には正の壁電圧が蓄積される。この電極上部の壁電圧とは、電極を覆う誘電体層上、保護層上、蛍光体層上等に蓄積された壁電荷により生じる電圧を表す。
【００５２】
初期化期間後半部では、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの印加電圧を電圧Ｖｉ２から電圧Ｖｉ２よりも低い電圧Ｖｉ３に下げ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには正の電圧Ｖｅを印加し、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍには０（Ｖ）を印加する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに、電圧Ｖｉ３から負の電圧Ｖｉ４に向かって緩やかに（例えば、約−２．５Ｖ／μｓｅｃの勾配で）下降する傾斜電圧（以下、「下りランプ電圧Ｌ２」と呼称する）を印加する。このとき、電圧Ｖｉ３は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧未満の電圧にし、電圧Ｖｉ４は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧を超える電圧にする。
【００５３】
この間に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとの間、および走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎとデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍとの間でそれぞれ微弱な初期化放電が起こる。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上部の負の壁電圧および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上部の正の壁電圧が弱められ、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ上部の正の壁電圧は書込み動作に適した値に調整される。以上により、全ての放電セルに対して初期化放電を行う全セル初期化動作が終了する。
【００５４】
続く書込み期間では、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅを印加し、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに電圧Ｖｃｃ（例えば、電圧Ｖｃｃ＝電圧Ｖａ＋電圧Ｖｓｃ）を印加する。そして、配置的に見て上から１番目（１行目）の走査電極ＳＣ１に負の走査パルス電圧Ｖａを印加するとともに、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍのうち１行目に発光させるべき放電セルのデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）に正の書込みパルス電圧Ｖｄを印加する。これにより、データ電極Ｄｋと走査電極ＳＣ１との間に放電が発生し、データ電極Ｄｋと交差する領域にある維持電極ＳＵ１と走査電極ＳＣ１との間に放電が発生する。こうして、発光させるべき放電セルに書込み放電が起こり、走査電極ＳＣ１上に正の壁電圧が蓄積され、維持電極ＳＵ１上に負の壁電圧が蓄積され、データ電極Ｄｋ上にも負の壁電圧が蓄積される。一方、書込みパルス電圧Ｖｄを印加しなかったデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍと走査電極ＳＣ１との交差部の電圧は放電開始電圧を超えないので、書込み放電は発生しない。書込み期間では、このようにして、各放電セルに選択的に書込み放電を発生する。以上の書込み動作を１行目の放電セルからｎ行目の放電セルに至るまで順次行い、書込み期間が終了する。
【００５５】
続く維持期間では、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに正の維持パルス電圧Ｖｓを印加するとともに維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎにベース電位となる０（Ｖ）を印加する。書込み放電を起こした放電セルでは、走査電極ＳＣｉと維持電極ＳＵｉとの間の電圧差が放電開始電圧を超え、走査電極ＳＣｉと維持電極ＳＵｉとの間に維持放電が起こる。そして、このとき発生した紫外線により蛍光体層３５が発光する。また、この放電により、走査電極ＳＣｉ上に負の壁電圧が蓄積され、維持電極ＳＵｉ上に正の壁電圧が蓄積される。さらにデータ電極Ｄｋ上にも正の壁電圧が蓄積される。なお、書込み期間において書込み放電が起きなかった放電セルでは維持放電は発生しない。
【００５６】
続いて、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには０（Ｖ）を、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには維持パルス電圧Ｖｓをそれぞれ印加する。維持放電を起こした放電セルでは、維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの電圧差が放電開始電圧を超えるので、再び維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間に維持放電が起こり、維持電極ＳＵｉ上に負の壁電圧が蓄積され、走査電極ＳＣｉ上に正の壁電圧が蓄積される。以降同様に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとに、輝度重みに所定の輝度倍率を乗じた数の維持パルスを交互に印加し、書込み期間において書込み放電を起こした放電セルで維持放電を継続して発生する。
【００５７】
そして、維持期間における維持パルスの発生後に、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに０（Ｖ）を印加したまま、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに、０（Ｖ）から電圧Ｖｅｒｓまで緩やかに（例えば、約１０Ｖ／μｓｅｃの勾配で）上昇する傾斜電圧（以下、「消去ランプ電圧Ｌ３」と呼称する）を印加する。電圧Ｖｅｒｓを放電開始電圧を超える電圧に設定することで、維持放電を起こした放電セルの維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間に微弱な放電が発生する。この微弱な放電は、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎへの印加電圧が上昇する期間、持続して発生する。そして、この微弱な放電で発生した荷電粒子は、維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間の電圧差を緩和するように、維持電極ＳＵｉ上および走査電極ＳＣｉ上に壁電荷となって蓄積されていく。これにより、維持放電が発生した放電セルにおいて、データ電極Ｄｋ上の正の壁電荷を残したまま、走査電極ＳＣｉ上の壁電圧および維持電極ＳＵｉ上の壁電圧は、走査電極ＳＣｉに印加した電圧と放電開始電圧の差、例えば（電圧Ｖｅｒｓ−放電開始電圧）の程度まで弱められる。以下、この放電を「消去放電」と記す。すなわち、消去ランプ電圧Ｌ３によって発生する放電は、維持放電が発生した放電セル内に蓄積された不要な壁電荷を消去する「消去放電」として働く。
【００５８】
上昇する電圧があらかじめ定めた電圧Ｖｅｒｓに到達したら、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する電圧を０（Ｖ）に戻し、維持期間における維持動作が終了する。
【００５９】
第２ＳＦの初期化期間では、選択初期化波形を走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する。この選択初期化波形は、第１ＳＦにおける初期化期間の前半部を省略した駆動電圧波形である。具体的には、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅを、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに０（Ｖ）をそれぞれ印加する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには放電開始電圧未満となる電圧（例えば、０（Ｖ））から負の電圧Ｖｉ４に向かって、下りランプ電圧Ｌ２と同じ勾配で下降する下りランプ電圧Ｌ４を印加する。
【００６０】
これにより直前のサブフィールド（図３では、第１ＳＦ）の維持期間で維持放電を起こした放電セルでは微弱な初期化放電が発生し、走査電極ＳＣｉ上部および維持電極ＳＵｉ上部の壁電圧が弱められる。また、データ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）上部の壁電圧も書込み動作に適した値に調整される。一方、直前のサブフィールドの維持期間で維持放電を起こさなかった放電セルでは初期化放電は発生しない。
【００６１】
以上により、選択初期化サブフィールドの初期化期間における選択初期化動作が終了する。
【００６２】
第２ＳＦの書込み期間では、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対して第１ＳＦの書込み期間と同様の駆動電圧波形を印加する。また、第２ＳＦの維持期間では、第１ＳＦの維持期間と同様に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとにあらかじめ定められた数の維持パルスを交互に印加する。
【００６３】
また、第３ＳＦ以降のサブフィールドでは、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対して、維持期間における維持パルスの発生数が異なる以外は第２ＳＦと同様の駆動電圧波形を印加する。
【００６４】
以上が、パネル１０の各電極に印加する駆動電圧波形の概要である。
【００６５】
なお、本実施の形態において各電極に印加する電圧値は、例えば、電圧Ｖｉ１＝１４７（Ｖ）、電圧Ｖｉ２＝３５７（Ｖ）、電圧Ｖｉ３＝２１０（Ｖ）、電圧Ｖｉ４＝−１６０（Ｖ）、電圧Ｖｅ＝１２５（Ｖ）、電圧Ｖｅｒｓ＝２１０（Ｖ）、電圧Ｖｓ＝２１０（Ｖ）、電圧Ｖａ＝−１８５（Ｖ）、電圧Ｖｄ＝６０（Ｖ）である。また電圧Ｖｃｃは負の電圧Ｖａ＝−１８５（Ｖ）に正の電圧Ｖｓｃ＝１４７（Ｖ）を重畳する（Ｖｃｃ＝Ｖａ＋Ｖｓｃ）ことで発生することができ、その場合、電圧Ｖｃｃ＝−３８（Ｖ）となる。
【００６６】
なお、これらの電圧値は単に一例を挙げただけに過ぎない。各電圧値は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に合わせて、適宜最適な値に設定することが望ましい。
【００６７】
次に、本実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置の構成について説明する。図４は、本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイ装置１の一構成例を示す回路ブロック図である。プラズマディスプレイ装置１は、パネル１０、画像信号処理回路４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３、維持電極駆動回路４４、タイミング発生回路４５および各回路ブロックに必要な電源を供給する電源回路（図示せず）を備えている。
【００６８】
画像信号処理回路４１は、画像信号処理回路４１に入力される画像信号ｓｉｇを、パネル１０の画素数に応じて、各放電セルにおけるサブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データに変換する。
【００６９】
本実施の形態において、画像信号ｓｉｇはＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号を含んでおり、画像信号処理回路４１は、そのＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづき、Ｒ、Ｇ、Ｂの各放電セルにＲの階調値、Ｇの階調値、Ｂの階調値（以下、Ｒ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値と記す）をそれぞれ割り当てる。なお、この階調値とは、１フィールドで表現される階調値のことである。そして、各放電セルに割り当てたＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を、サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データに変換する。
【００７０】
なお、画像信号処理回路４１では、「残像度数」と呼称する数値を画素毎に算出する。この残像度数とは、画像信号ｓｉｇにもとづく各画素の輝度（Ｙ）の階調値にもとづいて算出する数値であり、残像現象の発生の目安となる数値である。そして、画像信号処理回路４１は、Ｒ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづくＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を、算出した画素毎の残像度数にもとづき補正し、補正後のＲ、Ｇ、Ｂの各階調値（以下、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値と記す）を画像データに変換する。この補正動作の詳細については後述する。
【００７１】
なお、画像信号処理回路４１は、Ｒ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづき、各画素の輝度（Ｙ）の階調値を算出し、算出した輝度（Ｙ）の階調値にもとづき残像度数を算出するものとする。ただし、画像信号ｓｉｇが輝度信号（Ｙ信号）および彩度信号（Ｃ信号、またはＲ−Ｙ信号およびＢ−Ｙ信号、またはｕ信号およびｖ信号等）を含むときには、その輝度信号にもとづき残像度数を算出するとともに、その輝度信号および彩度信号にもとづきＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値を算出し、算出後のＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値に対して、残像度数にもとづく補正を加える構成であってもよい。
【００７２】
タイミング発生回路４５は、水平同期信号Ｈおよび垂直同期信号Ｖにもとづき各回路ブロックの動作を制御する各種のタイミング信号を発生し、それぞれの回路ブロック（画像信号処理回路４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３および維持電極駆動回路４４）へ供給する。
【００７３】
データ電極駆動回路４２は、画像データを構成するサブフィールド毎のデータを各データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対応する信号に変換し、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて各データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍを駆動する。
【００７４】
走査電極駆動回路４３は、初期化期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する初期化波形を発生する初期化波形発生回路、維持期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する維持パルスを発生する維持パルス発生回路、複数の走査電極駆動ＩＣ（以下、「走査ＩＣ」と略記する）を備え書込み期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する走査パルスを発生する走査パルス発生回路を有する。そして、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて各走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎをそれぞれ駆動する。
【００７５】
維持電極駆動回路４４は、維持パルス発生回路および電圧Ｖｅを発生する回路（図示せず）を備え、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを駆動する。
【００７６】
なお、パネルにおける発光効率を高めるために、放電セル内に充填する放電ガスのキセノン分圧を高めたパネル１０では、静止画像を長時間表示させたときに、その静止画像が残像として認識される、いわゆる残像現象が発生しやすくなる。これは次のような理由によると思われる。
【００７７】
静止画が連続してパネル１０に表示されると、単位時間（例えば、１フィールド）の点灯回数が比較的多い放電セル（点灯状態が連続する放電セル）と、単位時間の点灯回数が比較的少ない放電セル（非点灯状態が連続する放電セル）とが生じやすい。それらの放電セル間には、放電ガスの成分濃度に偏り（例えば、水蒸気を含む不純ガス等の濃度の偏り）が生じて、放電開始電圧に差が生じる。また、点灯状態が連続する放電セルと非点灯状態が連続する放電セルとでは放電セル内の温度に差が生じ、この温度差も放電開始電圧に差を生じさせる一因となる。そして、これらの放電セル間には、放電開始電圧に差が生じることで放電の発生するタイミングに差が生じる。これにより、点灯状態が連続する放電セルと非点灯状態が連続する放電セルとの間に発光強度に差が生じ、輝度差が生じる。これが、残像現象が発生する理由と考えられる。
【００７８】
そこで、本実施の形態では、静止領域が多く、かつ隣接する画素間で輝度変化が大きい領域が多い画像かどうか、すなわち、残像現象が発生しやすい画像かどうかを判定し、その結果にもとづきＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値に補正を加えるものとする。具体的には、画像信号処理回路４１において、残像現象の発生の目安となる「残像度数」を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素のＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値を補正する。次に、この詳細について説明する。
【００７９】
まず、本実施の形態における残像度数の検出について説明する。本実施の形態では、パネル１０の表示領域を複数の領域に分け、領域毎の残像度数を算出し、算出した領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出する構成としている。この領域の一例を、図５に示す。
【００８０】
図５は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の表示領域に設けた複数の領域の一例を概略的に示す図である。なお、図５では、各領域を「ブロック（ｘ，ｙ）」（ｘ、ｙは自然数）と記し、以下の説明では、領域を「ブロック」とも呼称する。また、図５において、パネル１０の表示領域内に示す線は、各領域を区別しやすいように補助的に示したものであり、この線が実際にパネル１０に表示されるわけではない。
【００８１】
本実施の形態では、図５に示すように、パネル１０の表示領域を、表示電極対２４が延伸する方向に複数の境界を設けるとともにデータ電極３２が延伸する方向に複数の境界を設け、画素数が互いに等しくなるように分割して、各領域を設定する。なお、本発明は、各領域の画素数が互いに等しい構成に限定されるものではない。各領域の画素数は、パネル１０上における領域の位置等によって、互いに異なっていてもかまわない。
【００８２】
図５には、パネル１０を、表示電極対２４が延伸する方向にＮ分割し、データ電極３２が延伸する方向にＭ分割（Ｎ、Ｍは自然数）して、各領域を設定する例を示す。この場合、パネル１０には、ブロック（１，１）からブロック（Ｍ，Ｎ）までのＭ×Ｎ個の領域が設定される。
【００８３】
例えば、パネル１０の画素数が１９２０×１０８０であり、１つの領域の画素数を６０×６０個に設定する構成では、Ｎは３２となり、Ｍは１８となる。
【００８４】
そして、本実施の形態では、ブロック（１，１）からブロック（Ｍ，Ｎ）までのＭ×Ｎ個の各領域について、領域毎に残像度数を算出する。そして、算出した領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出する。
【００８５】
次に、画像信号処理回路４１の詳細について説明する。図６は、本発明の実施の形態１における画像信号処理回路４１の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図６には、残像度数の算出、および残像度数にもとづくＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値への補正に関する回路ブロックのみを示し、その他の回路ブロックは省略する。
【００８６】
画像信号処理回路４１は、輝度階調値算出回路５１、遅延回路５５、ＲＧＢ補正回路５６を有する。
【００８７】
輝度階調値算出回路５１は、所定の計算式にもとづき、Ｒ階調値（Ｒ）、Ｇ階調値（Ｇ）、Ｂ階調値（Ｇ）から輝度（Ｙ）の階調値を算出する。この所定の計算式の一例として、例えば、次のような計算式を挙げることができる。
【００８８】
Ｙ＝０．２９９×Ｒ＋０．５８７×Ｇ＋０．１１４×Ｂ
なお、この計算式はＲ、Ｇ、Ｂの各階調値から輝度（Ｙ）の階調値を算出する際に用いる計算式の一例を示したものに過ぎず、輝度階調値算出回路５１において用いる計算式が何らこの計算式に限定されるものではない。輝度（Ｙ）の階調値の算出には、プラズマディスプレイ装置１の仕様に応じた最適な計算式を用いることが望ましい。
【００８９】
遅延回路５５は、Ｒ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値を、後段のＲＧＢ補正回路５６において他の信号とタイミングが合うように、適切に遅延する。以下、遅延回路５５において遅延されたＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値を、それぞれ「遅延後Ｒ階調値」、「遅延後Ｇ階調値」、「遅延後Ｂ階調値」と記す（図６には、「遅延後Ｒ」、「遅延後Ｇ」、「遅延後Ｂ」と記す）。
【００９０】
ＲＧＢ補正回路５６は、輝度（Ｙ）の階調値にもとづき画素毎の残像度数を算出し、算出した残像度数にもとづき遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値に補正を加え、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する（図６には、「補正後Ｒ」、「補正後Ｇ」、「補正後Ｂ」と記す）。
【００９１】
次に、ＲＧＢ補正回路５６の詳細について説明する。図７は、本発明の実施の形態１におけるＲＧＢ補正回路５６の一構成例を示す回路ブロック図である。
【００９２】
ＲＧＢ補正回路５６は、１フィールド遅延回路７０、減算回路７１、比較回路７２、１画素遅延回路７３、減算回路７４、比較回路７５、ブロックタイミング発生回路７６、計数回路７７（１，１）〜計数回路７７（Ｍ，Ｎ）、計数回路７８（１，１）〜計数回路７８（Ｍ，Ｎ）、残像度数算出回路７９（１，１）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）、残像度数補間回路８０、補正回路８２、画像急変検出回路１１０を有する。
【００９３】
１フィールド遅延回路７０は、各画素の輝度（Ｙ）の階調値を１フィールドに相当する時間だけ遅延する。
【００９４】
減算回路７１は、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、１フィールド遅延回路７０から出力される１フィールド前の各画素の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行い、その減算結果の絶対値を「フィールド間輝度差」として出力する。すなわち、減算回路７１は、現フィールドと現フィールドの直前のフィールドとの輝度（Ｙ）の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出する。
【００９５】
比較回路７２は、減算回路７１から出力されるフィールド間輝度差と、あらかじめ設定された輝度比較値とを比較し、フィールド間輝度差が輝度比較値未満のときに「１」を出力し、フィールド間輝度差が輝度比較値以上のときに「０」を出力する。
【００９６】
計数回路７７は、各領域において、比較回路７２から出力される「１」の数を計数し、その計数結果を、それぞれの領域における「第１の計数値」として出力する。例えば、計数回路７７（１，１）は、比較回路７２から出力される「１」の数をブロック（１，１）において計数し、その計数結果をブロック（１，１）における第１の計数値として出力する。計数回路７７（Ｍ，Ｎ）は、比較回路７２から出力される「１」の数をブロック（Ｍ，Ｎ）において計数し、その計数結果をブロック（Ｍ，Ｎ）における第１の計数値として出力する。
【００９７】
すなわち、計数回路７７は、フィールド間輝度差が輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数し、その計数結果をそれぞれの領域における第１の計数値として出力する。
【００９８】
１画素遅延回路７３は、各画素の輝度（Ｙ）の階調値を１画素に相当する時間だけ遅延する。
【００９９】
減算回路７４は、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、１画素遅延回路７３から出力される１画素前の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行い、その減算結果の絶対値を「隣接画素間輝度差」として出力する。
【０１００】
比較回路７５は、減算回路７４から出力される隣接画素間輝度差と、あらかじめ設定されたエッジ比較値とを比較し、隣接画素間輝度差がエッジ比較値よりも大きいときに「１」を出力し、隣接画素間輝度差がエッジ比較値以下のときに「０」を出力する。
【０１０１】
計数回路７８は、各領域において、比較回路７５から出力される「１」の数を計数し、その計数結果を、それぞれの領域における「第２の計数値」として出力する。例えば、計数回路７８（１，１）は、比較回路７５から出力される「１」の数をブロック（１，１）において計数し、その計数結果をブロック（１，１）における第２の計数値として出力する。計数回路７８（Ｍ，Ｎ）は、比較回路７５から出力される「１」の数をブロック（Ｍ，Ｎ）において計数し、その計数結果をブロック（Ｍ，Ｎ）における第２の計数値として出力する。
【０１０２】
すなわち、計数回路７８は、隣接する画素間の輝度（Ｙ）の階調値の差がエッジ比較値以上となる画素の数を「エッジ」の数として領域毎に計数し、その計数結果をそれぞれの領域における第２の計数値として出力する。
【０１０３】
ブロックタイミング発生回路７６は、タイミング発生回路４５から供給される水平同期信号Ｈおよび垂直同期信号Ｖにもとづき、各領域を識別するためのブロックタイミング信号を発生し、各計数回路７７、計数回路７８に供給する。例えば、計数回路７７（１，１）および計数回路７８（１，１）には、ブロック（１，１）の期間だけ「Ｈｉ」になるブロック（１，１）タイミング信号を供給し、計数回路７７（Ｍ，Ｎ）および計数回路７８（Ｎ，Ｎ）には、ブロック（Ｍ，Ｎ）の期間だけ「Ｈｉ」になるブロック（Ｍ，Ｎ）タイミング信号を供給する。
【０１０４】
画像急変検出回路１１０は、表示画像の明るさに急峻な変化が生じるかどうかをフィールド毎に検出し、その検出結果である画像急変検出結果を後段の残像度数算出回路７９に出力する。画像急変検出回路１１０の詳細は後述する。
【０１０５】
残像度数算出回路７９は、第１の計数値、第２の計数値および画像急変検出結果にもとづき、領域毎の残像度数を算出する。例えば、残像度数算出回路７９（１，１）は、ブロック（１，１）における第１の計数値および第２の計数値と画像急変検出結果とにもとづきブロック（１，１）の残像度数を算出し、残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）は、ブロック（Ｍ，Ｎ）における第１の計数値および第２の計数値と画像急変検出結果とにもとづきブロック（Ｍ，Ｎ）の残像度数を算出する。なお、第１の計数値および第２の計数値は領域毎に変化する数値であり、画像急変検出結果はフィールド単位で変化する数値である。残像度数算出回路７９の詳細は後述する。
【０１０６】
そして、本実施の形態では、領域毎の残像度数を、各領域における領域の中央に位置する画素（以下、「中央画素」と呼称する）の残像度数としている。「中央画素」を除く画素については、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出している。
【０１０７】
残像度数補間回路８０は、「中央画素」を除く画素について、画素毎の残像度数を算出する。具体的には、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離、および中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出する。この詳細は後述する。
【０１０８】
そして、補正回路８２は、遅延回路５５において適切に遅延された各画素の遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値を、残像度数補間回路８０において算出された画素毎の残像度数にもとづいて補正し、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する（図７には、補正後Ｒ、補正後Ｇ、補正後Ｂと記す）。補正回路８２の詳細は後述する。
【０１０９】
なお、上述した輝度比較値、エッジ比較値の具体的な数値としては、例えば、１つの領域の画素数の５０％に相当する数値を挙げることができる。例えば、１つの領域を６０×６０画素としたときには、１つの領域の画素数は３６００になるので、その５０％に相当する数値は１８００となる。しかし、本発明は何らこの数値に限定されるものではなく、各数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１１０】
図８は、本発明の実施の形態１における画像急変検出回路１１０の一構成例を示す回路ブロック図である。
【０１１１】
画像急変検出回路１１０は、ＡＰＬ算出回路１１１、１フィールド遅延回路１１２、減算回路１１３、比較回路１１４を有する。
【０１１２】
ＡＰＬ算出回路１１１は、全画素の輝度（Ｙ）の階調値の総和を算出する等の一般に知られた手法を用いることによって画像信号の平均輝度レベル（Ａｖｅｒａｇｅ  Ｐｉｃｔｕｒｅ  Ｌｅｖｅｌ、以下、「ＡＰＬ」と略記する）をフィールド毎に算出する。
【０１１３】
１フィールド遅延回路１１２は、ＡＰＬ算出回路１１１において算出したＡＰＬを１フィールドに相当する時間だけ遅延する。
【０１１４】
減算回路１１３は、ＡＰＬ算出回路１１１から出力されるＡＰＬと、１フィールド遅延回路１１２から出力される１フィールド前のＡＰＬとの減算を行い、その減算結果の絶対値を出力する。したがって、減算回路１１３の出力は、連続する２つのフィールド間でのＡＰＬの変化量（絶対値）を表す数値となる。
【０１１５】
比較回路１１４は、減算回路１１３の出力と、あらかじめ設定した画像急変比較値とを比較し、ＡＰＬの変化量が画像急変比較値以上かどうかを検出する。そして、減算回路１１３の出力が画像急変比較値以上のときには「１」を出力し、減算回路１１３の出力が画像急変比較値未満のときには「０」を出力する。この出力値が画像急変検出結果となる。
【０１１６】
このように、画像急変検出回路１１０は、連続する２つのフィールド間のＡＰＬの変化量（絶対値）を算出し、ＡＰＬの変化量が画像急変比較値以上かどうかを検出することで、表示画像の明るさに急峻な変化が生じるかどうかを検出して、この検出結果を画像急変検出結果として後段に出力する。
【０１１７】
図９は、本発明の実施の形態１における残像度数算出回路７９の一構成例を示す回路ブロック図である。図９に示すように、本実施の形態における残像度数算出回路７９は、残像度数上限値算出回路１７９と、残像度数演算回路２７９とを有する。なお、図９には、ブロック（１，１）の残像度数を算出する残像度数算出回路７９（１，１）を例に挙げて示しているが、その他のブロック（１，２）〜ブロック（Ｍ，Ｎ）における残像度数を算出する残像度数算出回路７９（１，２）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）も図９と同様の構成である。
【０１１８】
図１０は、本発明の実施の形態１における残像度数上限値算出回路１７９の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図１０には、ブロック（１，１）の残像度数上限値を算出する残像度数上限値算出回路１７９（１，１）を例に挙げて示しているが、その他のブロック（１，２）〜ブロック（Ｍ，Ｎ）の残像度数上限値を算出する残像度数上限値算出回路１７９（１，２）〜残像度数上限値算出回路１７９（Ｍ，Ｎ）も図１０と同様の構成である。
【０１１９】
残像度数上限値算出回路１７９は、比較回路６３、比較回路６４、比較回路６５、セレクター６６、セレクター６７、セレクター６８、累積加算回路８９、減算回路９０、制限回路９１を有する。
【０１２０】
比較回路６３は、計数回路７７から出力される第１の計数値（図１０に示す例では、計数回路７７（１，１）から出力されるブロック（１，１）の第１の計数値）と、あらかじめ設定された第１のしきい値とを比較し、第１の計数値が第１のしきい値以上のときには「１」を出力し、第１の計数値が第１のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１２１】
比較回路６４は、第１の計数値（図１０に示す例では、ブロック（１，１）の第１の計数値）と、第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値とを比較し、第１の計数値が第２のしきい値以上のときには「１」を出力し、第１の計数値が第２のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１２２】
比較回路６５は、計数回路７８から出力される第２の計数値（図１０に示す例では、計数回路７８（１，１）から出力されるブロック（１，１）の第２の計数値）と、あらかじめ設定された第３のしきい値とを比較し、第２の計数値が第３のしきい値以上のときには「１」を出力し、第２の計数値が第３のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１２３】
セレクター６６は、比較回路６３の出力が「１」のときには第１の設定値（例えば、「＋１」）を、比較回路６３の出力が「０」のときには第２の設定値（例えば、「０」）を、後段のセレクター６７に出力する。
【０１２４】
セレクター６７は、比較回路６４の出力が「１」のときにはセレクター６６の出力を、比較回路６４の出力が「０」のときには第３の設定値（例えば、「−４」）を、後段のセレクター６８に出力する。
【０１２５】
セレクター６８は、比較回路６５の出力が「１」のときにはセレクター６７の出力を、比較回路６５の出力が「０」のときには第４の設定値（例えば、「−４」）を、後段の累積加算回路８９に出力する。
【０１２６】
累積加算回路８９は、セレクター６８から出力される数値を累積加算して出力する。例えば、あるフィールドにおいて、ブロック（１，１）における累積加算回路８９の累積加算結果が「１０」であれば、続くフィールドでは、その「１０」に対して、セレクター６８から出力される数値を累積加算し、その結果を新たな累積加算結果として出力する。
【０１２７】
すなわち、セレクター６６、セレクター６７、セレクター６８、累積加算回路８９によって構成される回路は、以下のような動作となる。第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数上限値に第１の設定値を累積加算する。第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数上限値に第２の設定値を累積加算する。第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数上限値に第３の設定値を累積加算する。第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、残像度数上限値に第４の設定値を累積加算する。こうして、領域毎の残像度数上限値をフィールド毎に更新する。
【０１２８】
なお、本実施の形態では、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが増加した領域として、第１の設定値を正の数（例えば、「＋１」）に設定し、残像度数上限値を増加させている。また、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域、および、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域は、残像現象の発生しやすさが減少した領域として、第３の設定値および第４の設定値を負の数（例えば、「−４」）に設定し、残像度数上限値を減少させている。また、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが維持された領域として、第２の設定値を「０」に設定し、残像度数上限値が維持されるようにしている。
【０１２９】
減算回路９０は、累積加算回路８９の出力から所定の定数（例えば、「５０」）を減算する。これは、残像現象が発生しやすい画像が表示されても、すぐに残像が発生するわけではなく、残像現象が発生しやすい画像がある程度継続して表示されることで残像が発生しやすくなる、という現象に対応できるようにするためである。なお、減算回路９０は、減算結果が負の数値になったときには「０」を出力するものとする。
【０１３０】
制限回路９１は、減算回路９０の出力とあらかじめ設定された所定の上限値（例えば、「１００」）とを比較し、減算回路９０の出力がこの上限値以下のときには減算回路９０の出力をそのまま出力し、減算回路９０の出力がこの上限値を超えたときにはこの上限値を出力する。すなわち、この上限値が、残像度数上限値の最も大きい値となる。こうして所定の上限値以下となるように制限された制限回路９１の出力が、残像度数上限値算出回路１７９から出力される残像度数上限値（図１０に示す例では、ブロック（１，１）の残像度数上限値）となる。
【０１３１】
図１１は、本発明の実施の形態１における残像度数演算回路２７９の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図１１には、ブロック（１，１）の残像度数を算出する残像度数演算回路２７９（１，１）を例に挙げて示しているが、その他のブロック（１，２）〜ブロック（Ｍ，Ｎ）の残像度数を算出する残像度数演算回路２７９（１，２）〜残像度数演算回路２７９（Ｍ，Ｎ）も図１１と同様の構成である。
【０１３２】
残像度数演算回路２７９は、比較回路２６３、比較回路２６４、比較回路２６５、セレクター２６２、セレクター２６６、セレクター２６７、セレクター２６８、セレクター２６９、累積加算回路２８９、減算回路２９０、制限回路２９１、比較回路２６０、比較回路２６１、アンドゲート２７８、インバータ２７３、インバータ２７４、オアゲート２７５、アンドゲート２７６、オアゲート２７７、比較回路２７０、セレクター２７１、遅延回路２７２を有する。
【０１３３】
比較回路２６３は、残像度数上限値算出回路１７９における比較回路６３と同様の動作を行い、比較回路２６３の出力はセレクター２６６に入力される。
【０１３４】
比較回路２６４は、残像度数上限値算出回路１７９における比較回路６４と同様の動作を行い、比較回路２６４の出力はセレクター２６７に入力される。
【０１３５】
比較回路２６５は、残像度数上限値算出回路１７９における比較回路６５と同様の動作を行い、比較回路２６５の出力はセレクター２６８に入力される。
【０１３６】
セレクター２６２は、アンドゲート２７８の出力が「０」のときには第１１の設定値（例えば、「＋１」）を、アンドゲート２７８の出力が「１」のときには第１２の設定値（例えば、「＋１０」）を、後段のセレクター２６６に出力する。なお、この第１１の設定値は、残像度数上限値算出回路１７９における第１の設定値に等しい値に設定するものとする。
【０１３７】
セレクター２６６は、比較回路２６３における比較結果にもとづき、残像度数上限値算出回路１７９におけるセレクター６６と同様の動作を行う。ただし、第１の設定値に代えて、セレクター２６２の出力がセレクター２６６に入力される点がセレクター６６とは異なる。
【０１３８】
セレクター２６７は、比較回路２６４における比較結果にもとづき、残像度数上限値算出回路１７９におけるセレクター６７と同様の動作を行う。
【０１３９】
セレクター２６８は、比較回路２６５における比較結果にもとづき、残像度数上限値算出回路１７９におけるセレクター６８と同様の動作を行う。ただし、セレクター２６８の出力がセレクター２６９に入力される点がセレクター６８とは異なる。
【０１４０】
セレクター２６９は、オアゲート２７７の出力が「０」のときにはセレクター２６８の出力を、オアゲート２７７の出力が「１」のときには第５の設定値（例えば、「−１０」）を、後段の累積加算回路２８９に出力する。なお、本実施の形態では、第３の設定値、第４の設定値、第５の設定値をそれぞれ負の数値に設定するとともに、第５の設定値の絶対値を、第３の設定値および第４の設定値の絶対値よりも大きい数値に設定する（第５の設定値を、第３の設定値および第４の設定値よりも負の方向に大きい数値に設定する）ものとする。
【０１４１】
累積加算回路２８９は、残像度数上限値算出回路１７９における累積加算回路８９と同様の動作を行う。ただし、セレクター２６９の出力を累積加算する点が累積加算回路８９とは異なる。
【０１４２】
減算回路２９０は、残像度数上限値算出回路１７９における減算回路９０と同様の動作を行い、減算結果が負の数値になったときには「０」を出力する。
【０１４３】
制限回路２９１は、減算回路２９０の出力と残像度数上限値算出回路１７９から出力される残像度数上限値とを比較し、減算回路２９０の出力が残像度数上限値以下のときには減算回路２９０の出力をそのまま出力し、減算回路２９０の出力が残像度数上限値を超えたときには残像度数上限値を出力する。こうして制限回路２９１において残像度数上限値以下に制限された減算回路２９０の出力が、残像度数演算回路２７９から出力される残像度数（図１１に示す例では、ブロック（１，１）の残像度数）となる。なお、残像度数を残像度数上限値以下に制限することで、残像度数の最大値は、図１０に示した所定の上限値になる。このように、残像度数の最大値を所定の上限値で制限しているのは、補正回路８２において各階調値が過補正されるのを防止するためである。
【０１４４】
インバータ２７３は、比較回路２６４の出力を論理反転して出力する。すなわち、インバータ２７３は、比較回路２６４の出力が「１」のときには「０」を、「０」のときには「１」を出力する。
【０１４５】
インバータ２７４は、比較回路２６５の出力を論理反転して出力する。すなわち、インバータ２７４は、比較回路２６５の出力が「１」のときには「０」を、「０」のときには「１」を出力する。
【０１４６】
オアゲート２７５は、インバータ２７３の出力とインバータ２７４の出力との論理和演算（ＯＲ演算）をする。すなわち、オアゲート２７５は、インバータ２７３の出力とインバータ２７４の出力とがともに「０」のときのみ「０」を出力し、それ以外では「１」を出力する。言い換えると、第１の計数値が第２のしきい値以上で、かつ、第２の計数値が第３のしきい値以上のとき、すなわち、セレクター２６８の出力に第１１の設定値または第１２の設定値または第２の設定値が選択されているとき（残像度数が増加するかまたは変化していないとき）にオアゲート２７５の出力は「０」となり、それ以外のとき、すなわち、セレクター２６８の出力に第３の設定値または第４の設定値が選択されているとき（残像度数が減少するとき）にオアゲート２７５の出力は「１」となる。
【０１４７】
アンドゲート２７６は、オアゲート２７５の出力と画像急変検出結果との論理積演算（ＡＮＤ演算）をする。すなわち、アンドゲート２７６は、オアゲート２７５の出力と画像急変検出結果とがともに「１」のときのみ「１」を出力し、それ以外では「０」を出力する。言い換えると、セレクター２６８の出力に第３の設定値または第４の設定値が選択されて（残像度数が減少して）おり、かつ、表示画像の明るさに急峻な変化が生じるときにアンドゲート２７６の出力は「１」となり、それ以外のとき、すなわち、セレクター２６８の出力に第１１の設定値または第１２の設定値または第２の設定値が選択されている（残像度数が減少していない）か、または、表示画像の明るさに急峻な変化が生じないときにはアンドゲート２７６の出力は「０」となる。
【０１４８】
オアゲート２７７は、アンドゲート２７６の出力と遅延回路２７２の出力との論理和演算（ＯＲ演算）をする。すなわち、オアゲート２７７は、アンドゲート２７６の出力と遅延回路２７２の出力とがともに「０」のときのみ「０」を出力し、それ以外では「１」を出力する。
【０１４９】
比較回路２７０は、制限回路２９１から出力される残像度数と、あらかじめ設定された所定の下限値（例えば、「０」）とを比較し、残像度数がこの下限値よりも大きいときには「１」を出力し、残像度数がこの下限値以下となったときに「０」を出力する。
【０１５０】
セレクター２７１は、比較回路２７０の出力が「１」のときにはオアゲート２７７の出力を、比較回路２７０の出力が「０」のときには「０」を、後段の遅延回路２７２に出力する。
【０１５１】
遅延回路２７２は、セレクター２７１の出力を１フィールドに相当する時間だけ遅延する。そして、遅延回路２７２の出力は、オアゲート２７７に入力されてアンドゲート２７６の出力と論理和演算（ＯＲ演算）される。
【０１５２】
したがって、オアゲート２７７、比較回路２７０、セレクター２７１、遅延回路２７２によって構成される回路は、アンドゲート２７６の出力が一旦「１」になったら、残像度数が所定の下限値よりも大きい期間は継続してオアゲート２７７から「１」を出力し、アンドゲート２７６の出力が「０」で、かつ残像度数が所定の下限値以下となったときにオアゲート２７７から「０」を出力する、という動作をする。そして、累積加算回路２８９では、オアゲート２７７の出力が「１」のときには、第５の設定値（例えば、「−１０」）が累積加算され、これにより残像度数は急峻に減少し、オアゲート２７７の出力が「０」のときには、セレクター２６８の出力が残像度数に累積加算される。
【０１５３】
これを言い換えると、残像度数演算回路２７９においては、セレクター２６８の出力に第３の設定値または第４の設定値が選択されて残像度数が減少するときに表示画像の明るさに急峻な変化が生じると、残像度数は第５の設定値にもとづく大きさで急峻に減少し始め、その急峻な減少は、残像度数が所定の下限値に到達するまで継続する、という動作を行う。
【０１５４】
比較回路２６０は、残像度数上限値算出回路１７９から出力される残像度数上限値と、制限回路２９１から出力される残像度数とを比較し、残像度数が残像度数上限値未満のときには「１」を出力し、残像度数が残像度数上限値に等しいときには「０」を出力する。
【０１５５】
比較回路２６１は、制限回路２９１から出力される残像度数と、あらかじめ設定された第４のしきい値とを比較し、残像度数が第４のしきい値以上のときには「１」を出力し、残像度数が第４のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１５６】
アンドゲート２７８は、比較回路２６０の出力と比較回路２６１の出力との論理積演算（ＡＮＤ演算）をする。したがって、アンドゲート２７８は、比較回路２６０の出力と比較回路２６１の出力とがともに「１」のとき、すなわち、残像度数が第４のしきい値以上、かつ残像度数上限値未満のときに「１」を出力し、それ以外、すなわち、残像度数が第４のしきい値未満か、または残像度数が残像度数上限値に等しいときに「０」を出力する。
【０１５７】
アンドゲート２７８の出力はセレクター２６２に入力され、セレクター２６２から出力される信号は、アンドゲート２７８の出力が「０」のときには、残像度数上限値算出回路１７９における第１の設定値と同じ数値である第１１の設定値（例えば、「＋１」）となり、アンドゲート２７８の出力が「１」のときには、第１１の設定値よりも大きい第１２の設定値（例えば、「＋１０」）となる。
【０１５８】
したがって、残像度数演算回路２７９においては、セレクター２６２から出力される信号が累積加算回路２８９において残像度数に累積加算されているとき、残像度数が第４のしきい値に到達するまでは、残像度数には第１１の設定値が加算されて残像度数は比較的緩やかに増加し、残像度数が第４のしきい値以上となってから残像度数上限値に到達するまでは、残像度数には第１２の設定値が加算されて残像度数は比較的急峻に増加し、残像度数が残像度数上限値に到達した後は、残像度数には再び第１１の設定値が加算される、という動作を行う。
【０１５９】
これらの動作をまとめると、残像度数演算回路２７９における動作は、以下のようになる。第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数に第１１の設定値または第１２の設定値を累積加算する。また、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数に第２の設定値を累積加算する。また、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、残像度数に第３の設定値を累積加算する。そして、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、残像度数に第４の設定値を累積加算する。
【０１６０】
ただし、残像度数に第１１の設定値または第１２の設定値を累積加算する際に、残像度数が第４のしきい値以上かつ残像度数上限値未満のときには、第１１の設定値よりも大きい第１２の設定値を残像度数に累積加算して残像度数を急峻に増加させ、残像度数が第４のしきい値未満か、または残像度数上限値に等しいときには、第１１の設定値を残像度数に累積加算して、残像度数を緩やかに増加させる（なお、第１１の設定値は残像度数上限値算出回路１７９における第１の設定値に等しい値に設定するものとする）。
【０１６１】
また、残像度数に累積加算する数値として第３の設定値、または第４の設定値を選択しているときに、表示画像の明るさに急峻な変化が生じたということが画像急変検出回路１１０において検出されたときには、第３の設定値および第４の設定値よりも負の方向に大きい第５の設定値を残像度数に累積加算し続けて、残像度数を所定の下限値に到達するまで急峻に減少させる。
【０１６２】
本実施の形態では、このようにして、残像度数算出回路７９において残像度数を算出し、それをフィールド毎に更新して出力する。
【０１６３】
なお、上述したように、制限回路２９１の動作により、残像度数が残像度数上限値を超えて大きくなることはない。
【０１６４】
なお、第１のしきい値の具体的な数値としては、例えば、１つのブロックにおいて第１の計数値として取りうる最も大きい値の５０％に相当する数値を挙げることができる。また、第２のしきい値の具体的な数値としては、例えば、１つのブロックにおいて第１の計数値として取りうる最も大きい値の３０％に相当する数値を挙げることができる。また、第３のしきい値の具体的な数値としては、例えば、１つのブロックにおいて第２の計数値として取りうる最も大きい値の５０％に相当する数値を挙げることができる。また、第４のしきい値の具体的な数値としては、例えば、残像度数として取りうる最も大きい値（図１０に示した所定の上限値）の２０％に相当する数値を挙げることができる。しかし、本発明における各しきい値は何らここに挙げた数値に限定されるものではない。また、第１の設定値、第１１の設定値、第１２の設定値、第２の設定値、第３の設定値、第４の設定値、第５の設定値、所定の下限値として示した具体的な各数値も、単なる一実施例を示したものに過ぎず、本発明における各設定値は何ら本実施の形態に示した数値に限定されるものではない。各しきい値、および各設定値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて、あるいは、表示画像における残像現象の目視実験等を行って、適切に設定することが望ましい。ただし、本実施の形態において、第１２の設定値は第１１の設定値よりも大きい数値に設定するものとする。これは、残像度数が残像度数上限値未満で、かつ第４のしきい値以上のときに、残像度数を急峻に増加させるためである。また、所定の下限値は第４のしきい値よりも小さい数値に設定するものとする。また、第５の設定値は第３の設定値および第４の設定値よりも小さい数値（負の方向に大きい数値）に設定するものとする。これは、残像度数を減少させるためにセレクター２６８の出力に第３の設定値または第４の設定値を選択しているときに、表示画像の明るさに急峻な変化が生じたとき、残像度数を急峻に減少させるためである。
【０１６５】
図１２は、本発明の実施の形態１における残像度数補間回路８０において行う演算を概略的に示す図である。図１２には、パネル１０の一部を拡大して示しており、破線は各領域の境界を示し、白抜きの丸印は各領域において中央に位置する画素（中央画素）を示す。また、図１２では、中央画素同士を結ぶ線を一点鎖線で示す。また、図１２には、残像度数の算出対象となる画素として、画素Ａ１２と画素Ａ３４とを黒の丸印で示す。なお、図１２に示す破線等は、各領域等を区別しやすいように補助的に示したものであり、この線が実際にパネル１０に表示されるわけではない。
【０１６６】
本実施の形態では、領域毎に算出する残像度数は、各領域の中央に位置する中央画素の残像度数とする。例えば、残像度数算出回路７９（１，１）において算出するブロック（１，１）の残像度数は、ブロック（１，１）の中央画素の残像度数とする。そして「中央画素」を除く各画素の残像度数は、中央画素の残像度数にもとづき算出する。
【０１６７】
具体的には、次のような手順で各画素の残像度数を算出する。
【０１６８】
まず、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離を算出する。例えば、残像度数の算出対象となる画素を画素Ａ３４とすると、画素Ａ３４の周囲の４つの中央画素と画素Ａ３４との距離を算出する。
【０１６９】
図１２には、画素Ａ３４の周囲の中央画素を画素Ａ１、画素Ａ２、画素Ａ３、画素Ａ４と示し、画素Ａ３４と画素Ａ１との距離をＬ１、画素Ａ３４と画素Ａ２との距離をＬ２、画素Ａ３４と画素Ａ３との距離をＬ３、画素Ａ３４と画素Ａ４との距離をＬ４と示す。
【０１７０】
そして、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離に応じた割合で、各中央画素の残像度数を加算する。
【０１７１】
例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ１の残像度数をａ１、画素Ａ２の残像度数をａ２、画素Ａ３の残像度数をａ３、画素Ａ４の残像度数をａ４とすると、残像度数ａ３４は以下の式で表される。
【０１７２】
ａ３４＝（ａ１×（Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ２×（Ｌ１＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ４）＋ａ４×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３）／（３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４））
なお、中央画素同士を結ぶ線上に位置する画素に関しては、その画素を挟む２つの中央画素にもとづき残像度数を算出する。例えば、残像度数の算出対象となる画素を画素Ａ１２とし、画素Ａ１２が画素Ａ１と画素Ａ２とを結ぶ線上にある画素であれば、画素Ａ１２の残像度数は、画素Ａ１および画素Ａ２の残像度数にもとづき算出する。
【０１７３】
例えば、画素Ａ１２と画素Ａ１との距離をＬ５、画素Ａ１２と画素Ａ２との距離をＬ６とし、画素Ａ１２の残像度数をａ１２とすると、残像度数ａ１２は以下の式で表される。
【０１７４】
ａ１２＝（ａ１×Ｌ６＋ａ２×Ｌ５）／（Ｌ５＋Ｌ６）
これらの演算を残像度数補間回路８０において画素毎に行い、各画素の残像度数を算出する。
【０１７５】
図１３は、本発明の実施の形態１における補正回路８２の一構成例を示す回路ブロック図である。
【０１７６】
補正回路８２は、乗算係数算出回路９２と、最大値選択回路５２と、減算回路５３と、乗算回路５４と、加算回路５７と、乗算比率算出回路５８と、乗算回路９３と、スイッチ回路５９とを有する。そして、各画素の遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値を残像度数にもとづいて補正し、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する（図１３には、補正後Ｒ、補正後Ｇ、補正後Ｂと記す）。
【０１７７】
乗算係数算出回路９２は、画素毎の残像度数から、後段の乗算回路５４で用いる乗算係数を算出する。具体的には、乗算係数算出回路９２は、画素毎の残像度数を所定の基準値（例えば、「２５５」）から減算し、その減算結果をその基準値（例えば、「２５５」）で除算する演算を行う。このようにして算出した結果を乗算係数として出力し、後段の乗算回路５４において階調値の補正に用いる。
【０１７８】
最大値選択回路５２は、画素毎に遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値の３つの階調値の大きさを互いに比較し、そのうちの最も大きい階調値（以下、「最大階調値」と記す）を選択する。すなわち、１画素を構成するＲ、Ｇ、Ｂの３つの階調値のうちの最大階調値を画素毎に選択する。そして、最大階調値を後段の減算回路５３および乗算比率算出回路５８に出力し、他の２つの階調値を後段の乗算回路９３に出力する。例えば、Ｒ階調値が「２００」、Ｇ階調値が「１００」、Ｂ階調値が「８０」であれば、Ｒ階調値を最大階調値として減算回路５３および乗算比率算出回路５８に出力し、Ｇ階調値およびＢ階調値を乗算回路９３に出力する。
【０１７９】
減算回路５３は、最大値選択回路５２から出力される最大階調値から、あらかじめ設定された高階調値しきい値を減算する。この高階調値しきい値の一例としては、例えば、階調値の取りうる最も大きな値に対して約６０％となる数値（例えば、階調値の取りうる最も大きな値が「２５５」のときに、高階調値しきい値を「１５０」とする）を挙げることができる。例えば、最大階調値が「２００」であり、高階調値しきい値が「１５０」であれば、減算回路５３から出力される数値は「５０」となる。
【０１８０】
なお、本発明において高階調値しきい値は何らこの数値に限定されるものではない。高階調値しきい値は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１８１】
なお、減算回路５３は、最大階調値が高階調しきい値以下のときには「０」を出力するものとする。
【０１８２】
乗算回路５４は、乗算係数算出回路９２において算出した乗算係数を、減算回路５３から出力される数値に乗算する。例えば、最大階調値が「２００」であり、高階調値しきい値が「１５０」であり、乗算係数算出回路９２から出力される数値が「０．６」であれば、乗算回路５４は、減算回路５３から出力される「５０」に「０．６」を乗算した「３０」を出力する。
【０１８３】
加算回路５７は、乗算回路５４からの出力と、高階調値しきい値とを加算する。例えば、高階調値しきい値が「１５０」であり、乗算回路５４から出力される数値が「３０」であれば、加算回路５７は、「１５０」に「３０」を加算した「１８０」を出力する。このように、加算回路５７から出力される数値は、最大階調値のうち高階調値しきい値を超えた分に対して、残像度数にもとづく補正を加えた階調値（以下、「補正後最大階調値」と記す）となる。
【０１８４】
すなわち、減算回路５３、乗算係数算出回路９２、乗算回路５４、加算回路５７において実行される演算は、以下の計算式のようになる。
【０１８５】
補正後最大階調値＝（（所定の基準値−残像度数）／所定の基準値）×（最大階調値−高階調値しきい値）＋高階調値しきい値
例えば、図１２に示した画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ３４の最大階調値をＭ３４、所定の基準値を「２５５」、高輝度しきい値を「１５０」とすると、画素Ａ３４に関して加算回路５７から出力される補正後最大階調値Ｍ３４’は以下の式で表される。
【０１８６】
Ｍ３４’＝（（２５５−ａ３４）／２５５）×（Ｍ３４−１５０）＋１５０
ただし、後述するように、この計算式は、最大階調値が高輝度しきい値よりも大きい画素に関してのみ有効となる。
【０１８７】
乗算比率算出回路５８は、補正後最大階調値を最大階調値で除算する。すなわち、乗算比率算出回路５８の出力は、最大階調値に対する補正後最大階調値の大きさの比率を表す数値となる。例えば、最大階調値が「２００」であり、補正後最大階調値が「１８０」であれば、乗算比率算出回路５８の出力は「０．９」となる。
【０１８８】
乗算回路９３は、最大値選択回路５２において最大値ではないと判断された２つの階調値に、乗算比率算出回路５８の出力を乗算する。そして、その乗算結果を補正後階調値として出力する。例えば、残像度数にもとづく上述の演算により補正後最大階調値が最大階調値の９０％の大きさに補正されたとき（例えば、Ｒ階調値とする）には、同画素の残りの２つの階調値（例えば、Ｇ階調値、Ｂ階調値とする）も９０％の大きさに補正する。これにより、補正前のＲ階調値（遅延後Ｒ階調値）に対する補正後Ｒ階調値の大きさと、補正前のＧ階調値（遅延後Ｇ階調値）に対する補正後Ｇ階調値の大きさと、補正前のＢ階調値（遅延後Ｂ階調値）に対する補正後Ｂ階調値の大きさとを互いに等しくすることができる。
【０１８９】
スイッチ回路５９には、加算回路５７の出力、すなわち、残像度数にもとづく補正が加えられた補正後最大階調値と、乗算回路９３の出力、すなわち、補正後最大階調値に合わせて補正が加えられた２つの補正後階調値と、何も補正が加えられていない遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値と、減算回路５３の出力とを入力する。
【０１９０】
そして、スイッチ回路５９は、減算回路５３の出力が正のとき、すなわち、最大階調値が高輝度しきい値よりも大きいときには、加算回路５７から出力される補正後最大階調値および乗算回路９３から出力される補正後階調値を、補正後Ｒ階調値の出力端子からはＲの階調値が、補正後Ｇ階調値の出力端子からはＧの階調値が、補正後Ｂ階調値の出力端子からはＢの階調値がそれぞれ出力されるように内部で適切に信号経路のスイッチング処理を行い、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する。このとき、後段の回路において他の信号とタイミングが合うように、各階調値を適切に遅延して出力する。
【０１９１】
また、スイッチ回路５９は、減算回路５３の出力が「０」のとき、すなわち、最大階調値が高輝度しきい値以下のときには、遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値を、後段の回路においてに他の信号とタイミングが合うように適切に遅延して、補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値として出力する。
【０１９２】
これにより、スイッチ回路５９から出力される信号、すなわち、補正回路８２から出力される補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値は、最大階調値が高階調値しきい値よりも大きい画素に関しては、遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値に残像度数にもとづく補正を加えた階調値となり、最大階調値が高階調値しきい値以下となる画素に関しては、遅延後Ｒ階調値、遅延後Ｇ階調値、遅延後Ｂ階調値に何も補正を加えていない階調値となる。
【０１９３】
したがって、発光輝度が高く残像現象が発生したときに認識されやすいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えた階調値でＲ、Ｇ、Ｂの各放電セルを発光させ、発光輝度が低く残像現象が発生しても認識されにくいと考えられる画素は残像度数にもとづく補正を加えない階調値でＲ、Ｇ、Ｂの各放電セルを発光させることができる。
【０１９４】
このように、補正回路８２では、最大階調値には残像度数にもとづく補正を加え、残りの２つの階調値には最大階調値に対する補正後最大階調値の比率に応じた補正を加えるので、補正前のＲ階調値（遅延後Ｒ階調値）に対する補正後Ｒ階調値の大きさと、補正前のＧ階調値（遅延後Ｇ階調値）に対する補正後Ｇ階調値の大きさと、補正前のＢ階調値（遅延後Ｂ階調値）に対する補正後Ｂ階調値の大きさとを互いに等しくすることができる。これにより、残像度数にもとづく補正を加える画素に色相の変化が生じるのを防止しつつ、隣接画素との輝度差を小さくして残像現象の発生を低減することができる。
【０１９５】
また、補正回路８２では、最大階調値が高階調しきい値よりも大きい画素に対してのみ残像度数にもとづく補正を加えるので、表示画像の明るさが不要に低下することを防止することができる。
【０１９６】
なお、上述した所定の基準値は、階調値の取りうる最も大きい値を「２５５」としたときに設定する数値の一例を示したものである。しかし、本発明は所定の基準値が何らこの数値に限定されるものではない。所定の基準値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１９７】
次に、ある領域における残像度数算出回路７９の動作を具体的な一例を挙げて再度説明する。図１４は、本発明の実施の形態１における残像度数算出回路７９の一動作例を示す概略図である。なお、図１４において、縦軸は残像度数を、横軸は時間を表し、実線は残像度数演算回路２７９から出力される残像度数を、破線は残像度数上限値算出回路１７９から出力される残像度数を表す。また、残像度数上限値算出回路１７９、残像度数演算回路２７９において、所定の定数は「０」に設定されているものとする。また、下限値も「０」に設定されているものとする。また、時刻ｔ０では、残像度数上限値、残像度数ともに、「０」であるものとする。
【０１９８】
時刻ｔ０で、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上であるとすると、残像度数上限値には第１の設定値（例えば、「＋１」）が累積加算され、残像度数上限値は１フィールドに「＋１」の割合で増加し始める。また、残像度数演算回路２７９において残像度数には第１１の設定値または残像度数Ｂが加算され、残像度数も増加し始める。しかし、残像度数は制限回路２９１によって残像度数上限値に制限されるので、残像度数上限値と同じ割合での増加となる。
【０１９９】
例えば、時刻ｔ１で表示画像の明るさに急峻な変化が生じたということが画像急変検出回路１１０において検出され、画像急変検出結果が「０」から「１」に変わったとしても、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上であれば、残像度数上限値算出回路１７９、残像度数演算回路２７９における動作に変化は起きず、残像度数はそれまでと同様の増加を続ける。
【０２００】
時刻ｔ２で、第１の計数値が第２のしきい値未満となるか、または、第２の計数値が第３のしきい値未満になると、残像度数上限値には第３の設定値（例えば、「−４」）、または第４の設定値（例えば、「−４」）が累積加算され、残像度数上限値は１フィールドに「−４」の割合で減少し始める。このとき、表示画像の明るさに急峻な変化が生じたということが画像急変検出回路１１０において検出され、画像急変検出結果が「０」から「１」に変わると、残像度数には第５の設定値（例えば、「−１０」）が累積加算され、残像度数は、残像度数上限値よりも急峻に（１フィールドに−１０の割合で）減少し始める。
【０２０１】
残像度数の急峻な減少が一旦始まると、第１の計数値または第２の計数値に変化が生じて残像度数上限値が増加に転じたとしても、残像度数が下限値（例えば、「０」）に到達する時刻ｔ３まで残像度数の急峻な減少は継続される。
【０２０２】
そして、残像度数が下限値に到達した後の時刻ｔ４で、第１の計数値が第１のしきい値以上となり、第２の計数値が第３のしきい値以上となって、残像度数上限値に第１の設定値が累積加算され、残像度数上限値が１フィールドに「＋１」の割合で増加し始めると、残像度数にも第１１の設定値が累積加算され、残像度数は増加し始める。このとき、残像度数演算回路２７９では、残像度数が第４のしきい値に到達する時刻ｔ５までは、セレクター２６２において第１１の設定値が選択されているので、残像度数は、１フィールドに「＋１」の割合で増加する。
【０２０３】
時刻ｔ５で残像度数が第４のしきい値に到達すると、残像度数演算回路２７９では、セレクター２６２において第１２の設定値が選択され、残像度数は、１フィールドに「＋１０」の割合で急峻に増加する。
【０２０４】
そして、残像度数が残像度数上限値に到達する時刻ｔ６以降は、残像度数は残像度数上限値に等しい値となる。
【０２０５】
本実施の形態における残像度数演算回路２７９において、残像度数をこのようにして算出しているのは、次のような理由による。
【０２０６】
例えば、暗い背景に静止した白い文字が表示された画像がパネル１０に継続して表示されると、その図柄から別の図柄に画像が変化したとき、白い文字が表示されていた領域に、その白い文字の残像が生じることがある。そして、その領域の残像は、白い文字が継続して表示されていた時間（以下、「表示継続時間」と記す）が長くなるほど強く生じる。
【０２０７】
本実施の形態における残像補正（本文中に記した「補正」のこと）は、残像の生じやすさを残像度数として画素毎に検出し、残像度数の大きさに応じて発光輝度を下げる補正を画像信号に加えるというものである。これにより、残像が生じやすい領域の発光輝度を下げ、残像が生じやすい図柄がパネル１０に焼き付くのを防止し、残像現象を低減している。そして、残像が生じやすい図柄の表示継続時間が長くなるほど発光輝度をより大きく低減できるように、残像が生じやすい図柄の表示継続時間に応じて徐々に残像度数を増加する構成としている。このようにして、残像の生じやすさに応じて補正の強さを変えている。
【０２０８】
一方、表示画像の図柄が、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄（例えば、全面白の画像、等）に変化したとき、残像が生じやすい図柄が表示されていた領域に補正を加えたままにしていると、その領域の発光輝度が下がり、不自然な画像が表示されることになる。例えば、表示画像が、暗い背景に静止した白い文字が表示された画像から全面白の画像に変化したとき、白い文字が表示されていた領域に補正を加えたままにしていると、全面白の画像において、その領域の輝度が下がったままとなり、不自然な画像が表示されることになる。
【０２０９】
そのような不自然な画像が表示されることを防止するためには、表示画像が大きく変化したときに、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化した領域において、その領域の残像度数をできるだけ速やかに小さくして補正を弱めることが望ましい。
【０２１０】
そこで、本実施の形態では、表示画像が急変するかどうかを検出するとともに、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化するかどうかを検出し、その検出結果にもとづき、残像度数を急峻に減少させ、補正を弱めるものとする。
【０２１１】
本実施の形態では、図８に示したように、画像急変検出回路１１０においてＡＰＬのフィールド間の変化量を画像急変比較値と比較し、表示画像の明るさに急峻な変化が生じるかどうかを検出することで、表示画像が急変するかどうかを判断している。また、図１１に示したように、残像度数演算回路２７９において、第１の計数値が第２のしきい値未満となるか、または、第２の計数値が第３のしきい値未満となるかどうかを検出することによって、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化するかどうかを判断している。
【０２１２】
そして、画像急変検出回路１１０において表示画像の急変が検出され（図８に示す例では、画像急変検出結果が「１」となり）、かつ、残像度数演算回路２７９において、第１の計数値が第２のしきい値未満となるか、または、第２の計数値が第３のしきい値未満となることが検出された（図１１に示す例では、比較回路２６４の比較結果が「０」となるか、または、比較回路２６５の比較結果が「０」となる）ときには、セレクター２６９において第５の設定値（図１１に示す例では、「−１０」）を選択し、累積加算回路２８９において第５の設定値を残像度数に加算して、その領域の残像度数を下限値に到達するまで急峻に減少させるものとする。
【０２１３】
これにより、本実施の形態では、表示画像が大きく変化したときに、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化した領域において、その領域の残像度数を急峻に減少させて補正を弱め、その領域の輝度の低下を抑制して、不自然な画像が表示されるのを防止することができる。
【０２１４】
なお、残像度数が下限値に到達するまで残像度数を急峻に減少させ続けるのは、残像度数に比例して画像信号の大きさ（階調値）を低減する処理を行なっているので、表示画像が大きく変化したときに速やかに画像信号の大きさ（階調値）を回復する必要がある、という理由による。
【０２１５】
なお、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化はするが表示画像の明るさに大きな変化は無いとき（第１の計数値が第２のしきい値未満となるか、または、第２の計数値が第３のしきい値未満となるが、画像急変検出結果は「０」となるとき）には、図柄が移動または変化しただけであって、その領域の残像度数を急峻に減少させる必要は無いと判断できる。したがって、そのときには、セレクター２６９において第３の設定値または第４の設定値（図１１に示す例では、「−４」）を選択し、累積加算回路２８９において残像度数に第３の設定値または第４の設定値を加算して、その領域の残像度数を比較的緩やかに減少させるものとする。
【０２１６】
次に、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化した後、再度、元の残像が生じやすい図柄に変化したときについて説明する。このようなときには、残像が生じにくい図柄が表示されていた時間にもよるが、元の画像において残像が生じやすい図柄が表示されていた領域は、他の領域と比較して、焼き付きが発生しやすく残像が生じやすいと考えられる。
【０２１７】
そのため、残像が生じにくい図柄から残像が生じやすい図柄に変化したときには、その領域の残像度数をできるだけ速やかに大きくし、補正を強めることが望ましい。そこで、本実施の形態では、残像が生じにくい図柄から残像が生じやすい図柄に変化するときには、その領域の残像度数を急峻に増加させ、補正を強めるものとする。
【０２１８】
すなわち、第１の計数値が第１のしきい値以上となり、第２の計数値が第３のしきい値以上となるとともに、残像度数が第４のしきい値以上かつ残像度数上限値未満であることが残像度数演算回路２７９において検出された（図１１に示す例では、比較回路２６３および比較回路２６４の比較結果が「１」となり、比較回路２６５の比較結果が「１」となり、かつ、比較回路２６０および比較回路２６１の比較結果が「１」となる）ときには、セレクター２６２において第１２の設定値（図１１に示す例では、「＋１０」）を選択し、累積加算回路２８９において第１２の設定値を残像度数に加算して、その領域の残像度数を残像度数上限値に到達するまで急峻に増加させるものとする。
【０２１９】
これにより、本実施の形態では、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化した後、再度、残像が生じやすい図柄に変化したときに、その領域における残像度数を急峻に増加させ、その領域の補正を速やかに強めることができる。
【０２２０】
なお、残像が生じにくい図柄が表示されていた時間が長くなると、焼き付きの生じやすさも低下する。そのため、過度に残像度数を増加させると、不要に補正が強まって残像補正が過補正になるおそれがある。しかし、本実施の形態では、残像度数を残像度数上限値で制限しており、残像度数上限値は残像が生じにくい図柄が表示されていた時間に応じて減少するので、過度に残像度数が増加するのを防止して過補正を防止することができる。
【０２２１】
なお、本実施の形態では、残像度数演算回路２７９において、残像度数を増加させる際に、残像度数が第４のしきい値に到達するまでは第１１の設定値を用いて比較的緩やかに残像度数を増加させ、残像度数が第４のしきい値に到達した後は第１２の設定値を用いて比較的急峻に残像度数を増加させているが、これは次のような理由による。
【０２２２】
残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化した後、再度、元の残像が生じやすい図柄に表示画像が変化したとき、その残像が生じやすい図柄の表示時間が短く、またすぐに残像が生じにくい図柄に変化することがありうる。そのようなときには、できるだけ短時間のうちに残像度数を減少させることが望ましい。一方、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化した後、再度、元の残像が生じやすい図柄に表示画像が変化したときに、その残像が生じやすい図柄の表示時間が長くなるときには、上述したように、できるだけ急峻に残像度数を増加させることが望ましい。
【０２２３】
そこで、本実施の形態では、これらのことに対応するために、残像度数が第４のしきい値に到達するまでの時間を基準にしてセレクター２６２の出力を変更するものとする。すなわち、残像度数が第４のしきい値に到達するまでの間は、残像が生じやすい図柄の表示時間は短いものとし、セレクター２６２の出力を第１１の設定値にして、残像度数を比較的緩やかに増加させる。残像度数が第４のしきい値に到達した後は、残像が生じやすい図柄の表示時間は長いものとし、セレクター２６２の出力を第１１の設定値よりも大きい第１２の設定値にして、残像度数を比較的急峻に増加させる。
【０２２４】
これにより、残像度数が第４のしきい値に到達するまでに残像が生じにくい図柄に変化したときには、その領域において、残像度数の増加を比較的少なくできるので、その後、残像度数を速やかに減少させることができる。また、残像度数が第４のしきい値に到達した後も、引き続き残像が生じやすい図柄が表示されたままのときには、その領域における残像度数を比較的急峻に増加させることができる。
【０２２５】
以上が、残像度数演算回路２７９において、残像度数が第４のしきい値に到達するまでと到達した後とで、セレクター２６２の出力を変更する理由である。
【０２２６】
以上示したように、本実施の形態においては、輝度（Ｙ）の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる「残像度数」を画素毎に算出し、算出した残像度数および最大階調値の大きさにもとづき、各画素のＲ階調値、Ｇ階調値、Ｂ階調値に補正を加えるものとする。これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる画像、すなわち、隣接画素との輝度差が大きいエッジの数が多く静止領域が継続して表示される図柄を有する画像において、隣接画素との輝度差を小さくして、残像現象の発生を低減することが可能となる。このとき、Ｒ、Ｇ、Ｂの各階調値の大きさの比率を、補正前と補正後とで同じにすることができるので、この補正を加える画素に色相の変化が生じるのを防止することができる。また、最大階調値と高階調しきい値との比較にもとづき補正を加える構成としているので、表示画像の明るさが不要に低下することを防止することができる。
【０２２７】
また、本実施の形態においては、表示画像が大きく変化したときに、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化した領域において、その領域の残像度数を急峻に減少させて補正を弱めるものとする。これにより、残像が生じやすい図柄から残像が生じにくい図柄に変化したときに、その領域の輝度の低下を抑制して、不自然な画像が表示されるのを防止することが可能となる。
【０２２８】
また、本実施の形態においては、残像度数演算回路２７９において、残像度数が第４のしきい値に到達するまでの時間を基準にしてセレクター２６２の出力を変更し、残像度数が第４のしきい値に到達するまでの間はセレクター２６２の出力を第１１の設定値にし、残像度数が第４のしきい値に到達した後は、セレクター２６２の出力を第１１の設定値よりも大きい第１２の設定値にするものとする。これにより、残像度数が第４のしきい値に到達するまでに残像が生じにくい図柄に変化したときには、その領域における残像度数の増加を比較的少なくし、その後、残像度数を速やかに減少させることができる。また、残像度数が第４のしきい値に到達した後も引き続き残像が生じやすい図柄が表示されたままのときには、その領域における残像度数を比較的急峻に増加させることができる。
【０２２９】
（実施の形態２）
表示画像の平均輝度レベル（ＡＰＬ）が高い画像は、全体的に輝度が高く、その分、隣接する画素間の発光輝度の変化が少なく、エッジの数も少なくなると考えられる。すなわち、ＡＰＬが低い画像と比較して残像現象が発生しにくいと考えられる。そこで、画像信号からＡＰＬを算出し、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるようにＡＰＬに応じて残像度数を変更する構成としてもよい。
【０２３０】
図１５は、本発明の実施の形態２における補正回路８４の一構成例を示す回路ブロック図である。
【０２３１】
補正回路８４は、ＡＰＬ算出回路９７と、残像度数補正回路９６と、乗算係数算出回路９２と、最大値選択回路５２と、減算回路５３と、乗算回路５４と、加算回路５７と、乗算比率算出回路５８と、乗算回路９３と、スイッチ回路５９とを有する。なお、補正回路８４において、乗算係数算出回路９２以降の動作は、実施の形態１に示した補正回路８２における乗算係数算出回路９２以降の動作と同様であるので、本実施の形態では、補正回路８２と同様の動作を行う回路ブロックには図１３で示した符号と同じ符号を付与して説明を省略し、実施の形態１と構成が異なる箇所についてのみ説明する。
【０２３２】
ＡＰＬ算出回路９７は、全画素の輝度（Ｙ）の階調値の総和を算出する等の一般に知られた手法を用いることによってＡＰＬを算出する。
【０２３３】
残像度数補正回路９６は、ＡＰＬ算出回路９７において算出されたＡＰＬに応じて残像度数を変更する。このとき、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるように残像度数を変更する。
【０２３４】
残像度数補正回路９６は、ＡＰＬ算出回路９７において算出されたＡＰＬの値をａｐｌとすると、例えば、以下の計算式で得られる数値を残像度数に乗算して、残像度数を変更する。
【０２３５】
１００％−（ａｐｌ−４０％）
（ただし、ａｐｌ−４０％が０以下になったときはａｐｌ−４０％＝０とする）
乗算係数算出回路９２およびそれ以降の回路は、実施の形態１と同様の動作を行う。こうして、補正回路８４から補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する。
【０２３６】
これにより、補正回路８４においては、ＡＰＬ算出回路９７において算出したＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるようにＡＰＬの大きさに応じて残像度数を変更することができ、変更後の残像度数の大きさに応じて各階調値に補正を加えることができる。
【０２３７】
なお、上述したＡＰＬから減算する「４０％」という数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。この数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０２３８】
以上示したように、本実施の形態では、画像信号からＡＰＬを算出し、算出したＡＰＬにもとづき残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき各階調値に補正を加え、各階調値を変更する。これにより、残像現象が比較的発生しにくいと考えられるＡＰＬが高い画像では、ＡＰＬが低い画像と比較して残像度数の大きさを小さくすることができるので、例えば、ＡＰＬが高い画像における表示画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０２３９】
（実施の形態３）
輝度倍率に応じて維持パルスの発生数は変化し、輝度倍率が下がるほど、維持パルスの発生数が減少して表示画像の輝度が下がり、コントラスト比も低くなる。すなわち、輝度倍率が小さいときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像現象が発生しにくいと考えられる。そこで、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率に応じて残像度数を変更する構成としてもよい。
【０２４０】
図１６は、本発明の実施の形態３における補正回路８７の一構成例を示す回路ブロック図である。
【０２４１】
補正回路８７は、残像度数補正回路１０１と、乗算係数算出回路９２と、最大値選択回路５２と、減算回路５３と、乗算回路５４と、加算回路５７と、乗算比率算出回路５８と、乗算回路９３と、スイッチ回路５９とを有する。なお、補正回路８７において、乗算係数算出回路９２以降の動作は、実施の形態１に示した補正回路８２における乗算係数算出回路９２以降の動作と同様であるので、本実施の形態では、補正回路８２と同様の動作を行う回路ブロックには図１３で示した符号と同じ符号を付与して説明を省略し、実施の形態１と構成が異なる箇所についてのみ説明する。
【０２４２】
残像度数補正回路１０１は、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率の大きさに応じて残像度数を変更する。
【０２４３】
残像度数補正回路１０１は、例えば、輝度倍率が１倍のときには０．５を、輝度倍率が２倍のときには０．７を、輝度倍率が３倍のときには０．９を、輝度倍率が４倍のときには１．０を、といったように、輝度倍率が大きくなるにつれて増加する数値を残像度数に乗算して、残像度数を変更する。
【０２４４】
乗算係数算出回路９２およびそれ以降の回路は、実施の形態１と同様の動作を行う。こうして、補正回路８７から補正後Ｒ階調値、補正後Ｇ階調値、補正後Ｂ階調値を出力する。
【０２４５】
これにより、補正回路８７においては、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように輝度倍率の大きさに応じて残像度数を変更することができ、変更後の残像度数の大きさに応じて各階調値に補正を加えることができる。
【０２４６】
なお、上述した輝度倍率に応じて変化する数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。この数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０２４７】
以上示したように、本実施の形態では、輝度倍率にもとづき残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各階調値を変更する。これにより、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０２４８】
（実施の形態４）
実施の形態３では、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率の大きさに応じて残像度数を変更する実施例を説明した。そして、その具体的な一構成例として補正回路８７を示し、補正回路８７に、残像度数補間回路８０で算出した残像度数に、輝度倍率の大きさに応じて変化する数値を乗算する残像度数補正回路１０１を設ける構成を示した。しかし、本発明は何らこの構成に限定されるものではなく、その他の構成を用いて同様の効果を得ることも可能である。
【０２４９】
図１７は、本発明の実施の形態４における残像度数上限値算出回路１８１の一構成例を示す回路ブロック図である。また、図１８は、本発明の実施の形態４における残像度数演算回路２８１の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図１７には、ブロック（１，１）の残像度数上限値を算出する残像度数上限値算出回路１８１（１，１）を例に挙げて示しているが、その他のブロック（１，１）〜ブロック（Ｍ，Ｎ）における残像度数上限値を算出する残像度数上限値算出回路１８１（１，２）〜残像度数上限値算出回路１８１（Ｍ，Ｎ）も図１７と同様の構成である。また、図１８には、ブロック（１，１）の残像度数を算出する残像度数演算回路２８１（１，１）を例に挙げて示しているが、その他のブロック（１，１）〜ブロック（Ｍ，Ｎ）における残像度数を算出する残像度数演算回路２８１（１，２）〜残像度数演算回路２８１（Ｍ，Ｎ）も図１８と同様の構成である。
【０２５０】
本実施の形態において、図１７に示す残像度数上限値算出回路１８１が図１０に示した残像度数上限値算出回路１７９と異なる点は、輝度倍率の大きさに応じて第１の設定値を変更できるように構成した点である。また、図１８に示す残像度数演算回路２８１が図１１に示した残像度数演算回路２７９と異なる点は、輝度倍率の大きさに応じて第１１の設定値を変更できるように構成した点である。
【０２５１】
そのために、残像度数上限値算出回路１８１は、図１０に示した残像度数上限値算出回路１７９の構成に、さらにセレクター８８および比較回路６９を備えた構成としている。また、残像度数演算回路２８１は、図１１に示した残像度数演算回路２７９の構成に、さらにセレクター２８３および比較回路２８２を備えた構成としている。
【０２５２】
なお、残像度数上限値算出回路１８１においてセレクター８８および比較回路６９を除く回路構成および各回路ブロックの動作は残像度数上限値算出回路１７９に示したものと同様である。また、残像度数演算回路２８１においてセレクター２８３および比較回路２８２を除く回路構成および各回路ブロックの動作は残像度数演算回路２７９に示したものと同様である。したがって、本実施の形態では、残像度数上限値算出回路１８１において、残像度数上限値算出回路１７９と同様の動作を行う回路ブロックには図１０で示した符号と同じ符号を付与し、残像度数演算回路２８１において、残像度数演算回路２７９と同様の動作を行う回路ブロックには図１１で示した符号と同じ符号を付与して、説明を省略する。
【０２５３】
残像度数上限値算出回路１８１において、比較回路６９は、輝度倍率と、あらかじめ設定された第５のしきい値とを比較し、輝度倍率が第５のしきい値以上のときには「１」を出力し、輝度倍率が第５のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０２５４】
セレクター８８は、比較回路６９の出力が「１」のときには、正の数値、例えば「＋１」を出力し、比較回路６３の出力が「０」のときには、例えば「０」を出力する。
【０２５５】
この、セレクター８８から出力される数値が、第１の設定値として後段のセレクター６６に入力される。例えば、第５のしきい値が「３」であれば、輝度倍率が３倍以上のときには第１の設定値として「＋１」がセレクター６６に入力され、輝度倍率が３倍未満のときには第１の設定値として「０」がセレクター６６に入力される。
【０２５６】
残像度数演算回路２８１において、比較回路２８２は、輝度倍率と第５のしきい値とを比較し、輝度倍率が第５のしきい値以上のときには「１」を出力し、輝度倍率が第５のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０２５７】
セレクター２８３は、比較回路２８２の出力が「１」のときには、正の数値、例えば「＋１」を出力し、比較回路２８２の出力が「０」のときには、例えば「０」を出力する。
【０２５８】
この、セレクター２８３から出力される数値が、第１１の設定値として後段のセレクター２６２に入力される。例えば、第５のしきい値が「３」であれば、輝度倍率が３倍以上のときには第１１の設定値として「＋１」がセレクター２６２に入力され、輝度倍率が３倍未満のときには第１１の設定値として「０」がセレクター２６２に入力される。
【０２５９】
このように、本実施の形態に示す残像度数上限値算出回路１８１においては、第１の設定値の大きさを輝度倍率の大きさに応じて変更することができ、残像度数演算回路２８１においては、第１１の設定値の大きさを輝度倍率の大きさに応じて変更することができる。したがって、輝度倍率が大きく発光輝度が比較的高いときと、輝度倍率が小さく発光輝度が比較的低いときとで、算出する残像度数を変更することが可能となる。
【０２６０】
これにより、残像度数上限値算出回路１８１および残像度数演算回路２８１を、例えば、輝度倍率が第５のしきい値以上のときには図１０に示した残像度数上限値算出回路１７９および図１１に示した残像度数演算回路２７９と同様に動作させ、輝度倍率が第５のしきい値未満のときには表示画像の図柄にかかわらず残像度数が増加しないように動作させることが可能となる。
【０２６１】
なお、セレクター８８およびセレクター２８３において選択される上述した数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。各数値は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。また、セレクター８８およびセレクター２８３は何ら２入力１出力の選択回路に限定されるものではない。例えば、比較回路６９および比較回路２８２において２つ以上のしきい値と輝度倍率とを比較し、セレクター８８およびセレクター２８３を３入力１出力、あるいはそれ以上の選択ができる選択回路とする構成としてもかまわない。
【０２６２】
以上示したように、本実施の形態では、輝度倍率と第５のしきい値とを比較し、その比較結果にもとづき残像度数上限値算出回路１８１における第１の設定値および残像度数演算回路２８１における第１１の設定値を変更する。これにより、輝度倍率が第５のしきい値以上のとき、すなわち、発光輝度が比較的高く残像現象が比較的発生しやすいと考えられるときには、例えば、残像度数上限値算出回路１７９および残像度数演算回路２７９と同様の動作によって残像度数を算出し、輝度倍率が第５のしきい値よりも小さいとき、すなわち、発光輝度が比較的低く残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、例えば、残像度数が表示画像の図柄にかかわらず増加しないようにすることができる。したがって、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０２６３】
（実施の形態５）
プラズマディスプレイ装置１においては、例えば、各階調値を平滑化することで、隣接する画素間の発光輝度の変化を低減し、残像現象の発生をさらに低減することができる。そこで、本実施の形態では、補正後の各階調値に対して残像度数に応じた平滑化をかける構成について説明する。
【０２６４】
図１９は、本発明の実施の形態５における補正回路８５の一構成例を示す回路ブロック図である。
【０２６５】
補正回路８５は、乗算係数算出回路９２と、最大値選択回路５２と、減算回路５３と、乗算回路５４と、加算回路５７と、乗算比率算出回路５８と、乗算回路９３と、スイッチ回路５９と、遅延回路９９と、平滑化回路９８とを有する。なお、補正回路８５において、平滑化回路９８および遅延回路９９を除く各回路ブロックの動作は、実施の形態１に示した補正回路８２における各回路ブロックの動作と同様であるので、本実施の形態では、補正回路８２と同様の動作を行う回路ブロックには図１３で示した符号と同じ符号を付与して説明を省略し、実施の形態１と構成が異なる箇所についてのみ説明する。
【０２６６】
遅延回路９９は、平滑化回路９８においてＲ、Ｇ、Ｂの各階調値と残像度数とのタイミングが合うように、残像度数を適切に遅延する。
【０２６７】
平滑化回路９８は、スイッチ回路５９から出力されるＲ、Ｇ、Ｂの各階調値に対して、他の画素の同色の階調値間で、すなわち、Ｒの階調値に対しては、他の画素のＲの階調値との間で、Ｇの階調値に対しては、他の画素のＧの階調値との間で、Ｂの階調値に対しては、他の画素のＢの階調値との間で、それぞれ残像度数に応じた平滑化をかける。平滑化の手段としては、例えば、一般に知られたメディアンフィルタを挙げることができる。そして、残像度数が小さいときには平滑化を軽くし、残像度数が大きくなるにつれて平滑化を重くしていく。例えば、残像度数が小さいときにはメディアンフィルタの領域を１画素×１画素とし、残像度数が大きくなるにつれて、メディアンフィルタの領域を、２画素×２画素、３画素×３画素、４画素×４画素、５画素×５画素と広げていく。
【０２６８】
これにより、残像度数に応じた重さの平滑化を各階調値にかけ、隣接する画素間の発光輝度の変化をこの平滑化によって低減し、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。
【０２６９】
なお、平滑化回路９８における平滑化の手段は、何らメディアンフィルタに限定されるものではなく、一般に知られた他の画像用２次元フィルタ、例えば、移動平均フィルタ、ガウシアンフィルタ、平均値フィルタ等、残像度数の大きさに応じて平滑化の重さを変更できるフィルタであればどのようなものであってもよい。ただし、平滑化回路９８における平滑化の手段は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様、平滑化後の表示画像の品質等に応じて最適なものに設定することが望ましい。
【０２７０】
以上示したように、本実施の形態では、残像度数にもとづく補正後の各階調値に対して、残像度数に応じた平滑化をかける。これにより、残像度数の大きさに応じて補正後の各階調値を平滑化することができる。したがって、隣接する画素間の発光輝度の変化をさらに低減し、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。
【０２７１】
なお、本発明においては、実施の形態１から実施の形態５に示した各構成を組み合わせて用いてもよい。
【０２７２】
なお、本発明における実施の形態に示した各回路ブロックは、実施の形態に示した各動作を行う電気回路として構成されてもよく、あるいは、同様の動作をするようにプログラミングされたマイクロコンピュータ等を用いて構成されてもよい。
【０２７３】
なお、本発明の実施の形態１では、減算回路７４において、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、１画素遅延回路７３から出力される１画素前の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行って、表示電極対２４が延伸する方向に隣接する２つの画素（水平隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成を説明した。しかし、本発明は何らこの構成に限定されるものではない。例えば、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、１水平期間前の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行って、データ電極３２が延伸する方向に隣接する２つの画素（垂直隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、各画素の輝度（Ｙ）の階調値と、（１水平期間＋１画素）前の輝度（Ｙ）の階調値との減算、および（１水平期間−１画素）前の輝度（Ｙ）の階調値との減算を行って、パネル１０において斜め方向に隣接する２つの画素間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、水平隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、垂直隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、および斜め方向の隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差のうちの最大値を用いる構成であってもよい。
【０２７４】
なお、本発明の実施の形態１では、輝度比較値およびエッジ比較値を変更する構成については特に言及していないが、例えば、輝度比較値およびエッジ比較値のいずれか一方、または双方を、パネル１０の場所によって変更する構成としてもよい。一定時間静止して表示される図柄の代表的な例として、字幕による文字や現在時刻等があるが、それらは、一般的にはパネル１０の周辺部に表示されることが多い。そこで、輝度比較値、エッジ比較値の設定値をパネル１０の中央部よりも周辺部の方で小さくし、パネル１０の中央部よりも周辺部で残像度数が大きくなりやすくなるような構成としてもよい。それと同様に、第１の設定値、第１１の設定値、第１２の設定値、第２の設定値、第３の設定値、第４の設定値、第５の設定値、第１のしきい値、第２のしきい値、第３のしきい値の各設定値を、パネル１０の場所によって変更する構成としてもよい。
【０２７５】
なお、図３に示した駆動電圧波形は実施の形態における一例を示したものに過ぎず、本発明は、何らこれらの駆動電圧波形に限定されるものではない。
【０２７６】
また、本発明における実施の形態は、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを第１の走査電極群と第２の走査電極群とに分割し、書込み期間を、第１の走査電極群に属する走査電極のそれぞれに走査パルスを印加する第１の書込み期間と、第２の走査電極群に属する走査電極のそれぞれに走査パルスを印加する第２の書込み期間とで構成する、いわゆる２相駆動によるパネルの駆動方法にも適用させることができ、上述と同様の効果を得ることができる。
【０２７７】
なお、本発明における実施の形態は、走査電極と走査電極とが隣り合い、維持電極と維持電極とが隣り合う電極構造、すなわち、前面板に設けられる電極の配列が、「・・・、走査電極、走査電極、維持電極、維持電極、走査電極、走査電極、・・・」となる電極構造のパネルにおいても有効である。
【０２７８】
なお、本発明における実施の形態において示した具体的な各数値は、表示電極対数１０８０の５０インチのパネルの特性にもとづき設定したものであって、単に実施の形態の一例を示したものに過ぎない。本発明はこれらの数値に何ら限定されるものではなく、パネルの特性やプラズマディスプレイ装置の仕様等に合わせて最適に設定することが望ましい。また、これらの各数値は、上述した効果を得られる範囲でのばらつきを許容するものとする。
【産業上の利用可能性】
【０２７９】
本発明は、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることができるので、パネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置として有用である。
【符号の説明】
【０２８０】
１    プラズマディスプレイ装置
１０    パネル
２１    前面板
２２    走査電極
２３    維持電極
２４    表示電極対
２５，３３    誘電体層
２６    保護層
３１    背面板
３２    データ電極
３４    隔壁
３５    蛍光体層
４１    画像信号処理回路
４２    データ電極駆動回路
４３    走査電極駆動回路
４４    維持電極駆動回路
４５    タイミング発生回路
５１    輝度階調値算出回路
５２    最大値選択回路
５３，７１，７４，９０，１１３，２９０    減算回路
５４，９３    乗算回路
５５，９９，２７２    遅延回路
５６    ＲＧＢ補正回路
５７    加算回路
５８    乗算比率算出回路
５９    スイッチ回路
６３，６４，６５，６９，７２，７５，１１４，２６０，２６１，２６３，２６４，２６５，２７０，２８２    比較回路
６６，６７，６８，８８，２６２，２６６，２６７，２６８，２６９，２７１，２８３    セレクター
７０，１１２    １フィールド遅延回路
７３    １画素遅延回路
７６    ブロックタイミング発生回路
７７，７８    計数回路
７９    残像度数算出回路
８０    残像度数補間回路
８２，８４，８５，８７    補正回路
８９，２８９    累積加算回路
９１，２９１    制限回路
９２    乗算係数算出回路
９６，１０１    残像度数補正回路
９７，１１１    ＡＰＬ算出回路
９８    平滑化回路
１１０    画像急変検出回路
１７９，１８１    残像度数上限値算出回路
２７９，２８１    残像度数演算回路
２７３，２７４    インバータ
２７５，２７７    オアゲート
２７６，２７８    アンドゲート
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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