(57)【要約】【課題】  試験端子とメガーによる絶縁抵抗の計測の対象となるケーブルが複数ある場合には、確認等にかなりの労力と時間を要するといった問題があった。また、複数のケーブルが混在している端子台で接地線を取り外す場合には、誤認により充電中の接地線を取り外すおそれがあるといった問題もあった。【解決手段】  試験端子本体に接地線を接続するとともに、試験端子用プラグ側に接地線の接続切り替えを行う機構を備えるようにすることで、複数のケーブルが混在している端子台で接地線を取り外すような場合でも、誤認により充電中の接地線を取り外すおそれがない試験端子を提供する。【選択図】      図８
2011257249.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
三相交流の送電線に取り付けられた変流器と継電器の間にあって、三相の各導線と、前記継電器側で該三相の各導線と中性点接続されて前記変流器に帰還する中性相の導線と、により接続された試験端子本体と、
前記試験端子本体の開口部に挿入して、変流器側と継電器側との電気的な接続を活殺する試験端子用プラグと、
からなる試験端子であって、
前記試験端子本体は、
変流器側の各相の導線と夫々接続する各相の変流器側導体と、
継電器側の各相の導線と夫々接続する各相の継電器側導体と、
前記開口部に前記試験端子用プラグが挿入されていない場合に、各相ごとの前記変流器側導体と前記継電器側導体とを夫々接触した状態とし、前記試験端子用プラグが挿入された場合に、各相ごとの前記変流器側導体と前記継電器側導体とを夫々接触しない状態とする接触切り替え手段と、
前記各相の変流器側導体のうち、前記中性相の変流器側導体と前記接地線とを電気的に接続する接地回路と、
を備え、
前記試験端子用プラグには、
前記試験端子本体に挿入した場合に、該試験端子本体が備える各相の前記変流器側導体と夫々接触する各相の変流器側接触子と、該試験端子本体が備える各相の前記継電器側導体と夫々接触する各相の継電器側接触子と、
各相ごとの前記変流器側接触子と各相ごとの前記継電器側接触子とに夫々接続する各相ごとの端子塔と、
前記試験端子用プラグの前記試験端子本体への挿入方向と反対の方向に、前記端子塔が突出するように配設された器体と、
前記試験端子本体が備える前記接地回路において、前記中性相の変流器側導体と前記接地線との導通・非導通を切り替える接地切り替え手段と、
を備えることを特徴とする試験端子。
【請求項２】
前記試験端子本体には、前記接地線と接続する前記接地側導体を具備し、
前記接地回路は、前記中性相の変流器側導体と前記接地側導体とが接触することで導通し、
前記試験端子用プラグには、
該試験端子用プラグが前記試験端子本体に挿入された状態において、一端は挿入方向と反対の方向に前記器体から摺動可能に突出し、他の一端は前記試験端子本体が備える前記接地回路に至る動力伝達部と、
前記動力伝達部と係合して動作する絶縁面を持つ遮蔽板と、
を具備し、
前記接地切り替え手段は、前記試験端子本体が備える前記中性相の変流器側導体と前記接地側導体との間に、前記動力伝達部の操作により前記遮蔽板を介挿して、前記接地回路の導通を遮断することを特徴とする請求項１記載の試験端子。
【請求項３】
前記動力伝達部と、前記遮蔽板のうち前記接地側導体に接触する面とは、導体であって相互に接触し、
前記器体に突出した前記動力伝達部の一端は、前記接地回路に導通する端子であることを特徴とする請求項２記載の試験端子。
【請求項４】
前記試験端子本体が具備する前記接地回路は、前記接地側導体と、該接地側導体に当接する板状導体と、前記中性相の変流器側導体と、該板状導体と該中性相の変流器側導体の間にあって圧縮されたばね状導体と、を含み、
前記試験端子用プラグが具備する前記遮蔽板は、支軸により前記変流器側接触子又は前記継電器側接触子に軸止され、
前記動力伝達部は該遮蔽板の縁部と掛着し、
前記接地切り替え手段は、前記動力伝達部の押引操作により前記支軸を中心に前記遮蔽板を回動させて、前記試験端子本体が備える前記中性相の変流器側導体と前記板状導体との間に前記遮蔽板を介挿して、前記接地回路の導通を遮断することを特徴とする請求項２又は３記載の試験端子。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は試験端子本体と試験端子用プラグとからなる試験端子に関し、特に絶縁抵抗の測定等に際して必要な接地の付け外しを行う技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１０（ａ）は、従来の試験端子１の通常時における接続状態を示す回路図である。三相交流の送電線６に取り付けられた変流器４と継電器５等は電流検出回路７により接続する。電流検出回路７には破線で示す試験端子本体１０が設けられている。試験端子本体１０の内部では常時閉路である主接触による接点が２重化されている。
【０００３】
図１０（ｂ）は、従来における試験端子本体１０の内部の構成を右側面から示す図である。上部端子Ａは継電器側のケーブルに、下部端子Ａ’は変流器側のケーブルにそれぞれ接続している。また、上部端子Ａは上部接触板Ｂに、上部接触板Ｂは上部可動接触板Ｃにそれぞれ導通している。さらに、下部端子Ａ’は下部接触板Ｂ’に、下部接触板Ｂ’は下部可動接触板Ｃ’にそれぞれ導通している。
【０００４】
なお、上部接触板Ｂは上部接点連絡板Ｄの内部に備える導線により主接触と導通する。下部接触板Ｂ’は下部接点連絡板Ｄ’の内部に備える導線により主接触と導通する。上部接点連絡板Ｄと下部接点連絡板Ｄ’とは、図面上は重なり合うが導通していない。
【０００５】
次に、上部可動接触板Ｃと上部接触板Ｂの間と、下部可動接触板Ｃ’と下部接触板Ｂ’の間には、それぞれ圧縮コイルばねが設けられている。これにより、上部可動接触板Ｃに備える接点は下方向に押し下げられて、下部接触板Ｂ’につながる下部接点連絡板Ｄ’の接点と接触する。また、下部可動接触板Ｃ’に備える接点は上方向に押し上げられて、上部接触板Ｂにつながる下部接点連絡板Ｄ’の接点と接触する。
【０００６】
図１０（ｂ）の状態では、開口部１５に試験端子用プラグ２は挿入されていないため、上部可動接触板Ｃと上部接触板Ｂの間のばね、及び、下部可動接触板Ｃ’と下部接触板Ｂ’の間のばねは、伸張した状態にあり、２重化された主接触接点において導通している。ここで導通経路は、一つが「Ａ→Ｂ→Ｃ→主接触→Ｂ’→Ａ’」であり、もう一つが「Ａ→Ｂ→Ｃ→主接触→Ｃ’→Ｂ’→Ａ’」となる。
【０００７】
なお、これらの構造は各相ごとに設けられており、本図ではいずれか１相について説明している。また、以後の説明において、上部端子Ａ，上部接触板Ｂ，上部可動接触板Ｃは、一括して「継電器側導体」と、下部端子Ａ’，下部接触板Ｂ’，下部可動接触板Ｃ’は、一括して「変流器側導体」と記載する場合もある
【０００８】
次に、試験端子用プラグ２が試験端子本体１０に挿入された場合を、図１１（ａ）に基づいて説明する。先述の図１０（ａ）と同様に、電流検出回路７には破線で示す試験端子本体１０が設けられている。ここでは、試験端子用プラグ２の挿入により、先述の２重化された主接触接点は開き、継電器側のケーブルからの導通は端子塔２５の前部端子に、変流器側のケーブルからの導通は端子塔２５の後部端子に、それぞれ引き出されている。
【０００９】
図１１（ｂ）は、試験端子用プラグ２が挿入された状態における試験端子本体１０の内部の構成を右側面から示す図である。試験端子本体１０の構造は先述の図１０（ｂ）と同様であり、試験端子用プラグ２が挿入されたことで、上部可動接触板Ｃと上部接触板Ｂの間のばねと、下部可動接触板Ｃ’と下部接触板Ｂ’の間のばねは、それぞれ上部接触板Ｂ，下部接触板Ｂ’の方向に押縮されて、２重化された主接触接点がいずれも開いて非導通となる。
【００１０】
かかる状態では、上部端子Ａからの導通経路は、上部接触板Ｂから上部可動接触板Ｃを経て、試験端子用プラグ２の継電器側接触子２２から端子塔２５の前部端子に引き出される。下部端子Ａ’からの導通経路は、下部接触板Ｂ’から下部可動接触板Ｃ’を経て、試験端子用プラグ２の変流器側接触子２１から端子塔２５の後部端子に引き出される。なお、上記の各部材はいずれも導体であるが、上部接触板Ｂと主接触を結ぶ上部接点連絡板Ｄと、下部接触板Ｂ’と主接点を結ぶ下部接点連絡板Ｄ’とは、図面上は重なり合うが導通していない。
【００１１】
ここで、絶縁抵抗計（以下「メガー」ともいう。）を用いて各相のケーブルの絶縁抵抗を測定する手順としては、（１）メガー測定箇所に試験端子用プラグ２を挿入して変流器側のケーブルを短絡させる。（２）端子台の現場において絶縁抵抗を測定するケーブルを図面と照合する。（３）クランプメーター等で該当するケーブルに電流がないことを確認する。（４）試験端子用プラグ２側で接地中であることを確認する。（５）端子台において接地線３を切り離す。（６）試験端子用プラグ２側で接地がないことを確認する。（７）メガーにより絶縁抵抗を測定する。（８）端子台において接地線を接続する。（９）試験端子用プラグ２側において接地を確認する。（１０）試験端子用プラグ２を引き抜く。
【００１２】
図１２には、従来における回路の接地の状態を示す。本図では中性点から引き出された中性相に接地線３が接続している。図１３は、試験端子用プラグ２が挿入された状態における試験端子本体１０の内部の構成を右側面から示す図である。本図に示すように、試験端子用プラグ２の端子塔２５の後部端子に短絡バーを挿入して、変流器側のすべての相のケーブルを短絡させた後、ネジ等で取り付けられた端子台の接地線３を物理的に切り離して絶縁抵抗を測定することになる。
【００１３】
したがって、メガーによる計測の対象となるケーブルが複数ある場合には、上記の作業にかなりの労力と時間を要するといった問題があった。また、複数のケーブルが混在している端子台で接地線３を取り外す場合には、誤認により充電中の接地線３を取り外すおそれがあるといった問題もあった。さらに、接地線３の取り外しに人員が必要であることから、測定作業を２人で行うことになり、効率的ではないという問題もあった。
【００１４】
そのため、低圧回路において負荷に電源を供給したままの状態で、簡単に電路における絶縁抵抗の測定を可能にする電路の絶縁抵抗の測定方法に関する技術が提案されている。（例えば特許文献１を参照）。また、試験回路への接続を簡単かつ短時間に行うことができ、小型化を図ることを可能にした差込式試験端子用プラグに関する技術等が提案されている。（例えば特許文献２を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１５】
【特許文献１】特開平０６−３３１６６７号公報
【特許文献２】特開平０８−２４０６１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
上記の特許文献１は電源回路に関する技術であって、変流器を用いた電流回路には利用できないという問題があった。また、たとえば電力系統においては、低圧回路で負荷を停止できない箇所は稀であり、一般に停電をさせたうえで絶縁抵抗の計測を行うため、汎用性が乏しく実用的ではないという問題もあった。
【００１７】
さらに、上記の特許文献２の技術では、差込式試験端子用プラグの小型化を図るとともに、試験回路の接続作業の作業性を高めることとするが、絶縁抵抗計による測定の場合は従来の測定方法と変わらず、問題の解決にはならない。
【００１８】
そこで、本発明では、試験端子本体に接地線を接続するとともに、試験端子用プラグ側に接続を切り替える機構を設けることで、接地線の接続切り替えを容易かつ確実に行うことができる試験端子を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
上記の目的を達成するため、本発明の試験端子は、三相交流の送電線に取り付けられた変流器と継電器の間にあって、三相の各導線と、前記継電器側で該三相の各導線と中性点接続されて前記変流器に帰還する中性相の導線と、により接続された試験端子本体と、前記試験端子本体の開口部に挿入して、変流器側と継電器側との電気的な接続を活殺する試験端子用プラグと、からなる試験端子であって、前記試験端子本体は、変流器側の各相の導線と夫々接続する各相の変流器側導体と、継電器側の各相の導線と夫々接続する各相の継電器側導体と、前記開口部に前記試験端子用プラグが挿入されていない場合に、各相ごとの前記変流器側導体と前記継電器側導体とを夫々接触した状態とし、前記試験端子用プラグが挿入された場合に、各相ごとの前記変流器側導体と前記継電器側導体とを夫々接触しない状態とする接触切り替え手段と、前記各相の変流器側導体のうち、前記中性相の変流器側導体と前記接地線とを電気的に接続する接地回路と、を備え、前記試験端子用プラグには、前記試験端子本体に挿入した場合に、該試験端子本体が備える各相の前記変流器側導体と夫々接触する各相の変流器側接触子と、該試験端子本体が備える各相の前記継電器側導体と夫々接触する各相の継電器側接触子と、各相ごとの前記変流器側接触子と各相ごとの前記継電器側接触子とに夫々接続する各相ごとの端子塔と、前記試験端子用プラグの前記試験端子本体への挿入方向と反対の方向に、前記端子塔が突出するように配設された器体と、前記試験端子本体が備える前記接地回路において、前記中性相の変流器側導体と前記接地線との導通・非導通を切り替える接地切り替え手段と、を備えることを特徴とする。
【００２０】
ここで「試験端子本体」には「テストターミナル」等の機器を含み、「試験端子用プラグ」には「テストプラグ」等の機器を含む。
【００２１】
試験端子本体が備える「接触切り替え手段」は、たとえば試験端子用プラグが挿入された際に、板バネやスプリング等を用いて接点を開閉する等の機構で構成される。試験端子用プラグが備える「接地切り替え手段」とは、試験端子用プラグ側から試験端子本体が備える接地回路を物理的に遮断または接続する手段を意味する。
【００２２】
本発明によれば、接地回路と接地切り替え手段を備えることで、試験端子用プラグから接地線の接続を切り替えることができるので、これまでのように端子台において該当する接地線を外す作業を回避することができる。
【００２３】
また、本発明の試験端子において、前記試験端子本体には、前記接地線と接続する前記接地側導体を具備し、前記接地回路は、前記中性相の変流器側導体と前記接地側導体とが接触することで導通し、前記試験端子用プラグには、該試験端子用プラグが前記試験端子本体に挿入された状態において、一端は挿入方向と反対の方向に前記器体から摺動可能に突出し、他の一端は前記試験端子本体が備える前記接地回路に至る動力伝達部と、前記動力伝達部と係合して動作する絶縁面を持つ遮蔽板と、を具備し、前記接地切り替え手段は、前記試験端子本体が備える前記中性相の変流器側導体と前記接地側導体との間に、前記動力伝達部の操作により前記遮蔽板を介挿して、前記接地回路の導通を遮断することを特徴とする。
【００２４】
ここで「動力伝達部」とは、たとえば本実施形態の図４・図９に示す接地切離しバー２３１および取っ手部２５３等の部材であって、接地切離しバー２３１は支軸２３３により遮蔽板２３２を軸止する（図５）。さらに、遮蔽板２３２は支軸２３４により変流器側接触子（中性相）２１２に軸止されているので（図５）、試験端子用プラグ２の器体２４から突出した取っ手部２５３（動力伝達部の一部）を押引することで、支軸２３４を中心としたカム動作により遮蔽板２３２が位置を変更する。これにより、試験端子本体１０が備える接地回路は、接地側導体（上部）１３１と接地側導体（中間部）１３３の間に、遮蔽板２３２が介挿されることで「非導通」となり、遮蔽板２３２が撤去されることで「導通」となる（図９）。
【００２５】
本発明によれば、器体に摺接された動力伝達部により接地線の接続を切り替えることができるので、作業担当者は接地線の接続切り替え操作を、試験端子用プラグの操作面から容易に行うことができる。
【００２６】
さらに、本発明の試験端子において、前記動力伝達部と、前記遮蔽板の前記接地側導体に接触する面とは、導体であって相互に接触し、前記器体に突出した前記動力伝達部の一端は、前記接地回路に導通する端子であることを特徴とする。
【００２７】
すなわち「動力伝達部」は、「遮蔽板」の位置を操作する役割とともに、器体の操作面において接地回路の端子としての役割も果たす。
本発明によれば、試験端子用プラグの器体の操作面に接地回路を引き出した端子を備えることで、作業担当者はアース間のメガー測定等を容易に行うことができる。
【００２８】
なお、本発明の試験端子において、前記試験端子本体が具備する前記接地回路は、前記接地側導体と、該接地側導体に当接する板状導体と、前記中性相の変流器側導体と、該板状導体と該中性相の変流器側導体の間にあって圧縮されたばね状導体と、を含み、前記試験端子用プラグが具備する前記遮蔽板は、支軸により前記変流器側接触子又は前記継電器側接触子に軸止され、前記動力伝達部は該遮蔽板の縁部と掛着し、前記接地切り替え手段は、前記動力伝達部の押引操作により前記支軸を中心に前記遮蔽板を回動させて、前記試験端子本体が備える前記中性相の変流器側導体と前記板状導体との間に前記遮蔽板を介挿して、前記接地回路の導通を遮断することを特徴とする。
【００２９】
ここで「接地側導体」は、本実施形態の図２・図９（ｂ）に示す接地側導体（上部）１３１に対応し、「板状導体」は、接地側導体（中間部）１３３に対応し、「ばね状導体」は、スプリング１３４，接地側導体（下部）１３２等に対応する。なお、ばね状導体（スプリング１３４）は「圧縮された」状態にあるので、伸張する力により板状導体（接地側導体（中間部）１３３）と接地側導体（接地側導体（上部）１３１）は、通常において接触した状態となる。
【００３０】
また「支軸により前記変流器側接触子又は前記継電器側接触子に軸止され」るとは、本実施形態の図５に示すように、支軸２３４により遮蔽板２３２が変流器側接触子（中性相）２１２に軸止されるような状態を意味する。「動力伝達部は該遮蔽板の縁部と掛着」するについては、図５では支軸２３３により接地切離しバー２３１（動力伝達部の一部）と遮蔽板２３２とを軸止することとしているが、なんらかの方法で遮蔽板の縁部に動力が伝達できれば足りる。
【００３１】
「動力伝達部の押引操作」とは、たとえば本実施形態の図４・図８に示すように、接地切離しバー２３１は器体２４に摺接しており、器体２４から突出した取っ手部２５３（動力伝達部の一部）を押引するような動作を意味する。これにより、本実施形態の図５・図９に示すように、縁部で接地切離しバー２３１と掛着した遮蔽板２３２の位置も変動するので、遮蔽板２３２自体が支軸２３４を中心に回動することになる。回動した遮蔽板２３２の一部は、スプリング１３４の圧により接触していた接地側導体（中間部）１３３と接地側導体（上部）１３１の間に介挿されて、前記接地回路の導通が遮断される。
【００３２】
なお、接地側導体（中間部）１３３と接地側導体（上部）１３１の間（以下「接地回路の切り替え点」という。）に遮蔽板２３２を正確に介挿させるのに際して、接地切離しバー２３１，取っ手部２５３等を、以下の機構とすることが好ましい。
【００３３】
すなわち、取っ手部２５３を押入した状態で、接地切離しバー２３１および支軸２３３は奥行方向に位置し、遮蔽板２３２において接地回路の切り替え点を遮蔽する部分は、支軸２３４により手前方向に閉じた状態とする。ここでは、遮蔽板２３２の該当部分が手前方向に十分に閉じた状態のときに、取っ手部２５３を器体２４に当接するまで押し込んだ状態になるように接地切離しバー２３１の長さを調整することで、確実に接地回路の切り替え点が遮蔽されないようにすることができる。
【００３４】
一方、取っ手部２５３を手前に引き出した状態で、接地切離しバー２３１および支軸２３３は手前方向に位置し、遮蔽板２３２において接地回路の切り替え点を遮蔽する部分は、支軸２３４を中心に開いた状態となり（図５）、接地回路の切り替え点を遮蔽する。ここで正確に接地回路の切り替え点を遮蔽する位置を決められるようにするためには、たとえば、遮蔽板２３２の該当部分が接地回路の切り替え点を適切に遮蔽する状態のときに、取っ手部２５３がそれ以上は引き出せない状態になるように調整することで、確実に接地回路の切り替え点が遮蔽されるようにすることができる。より具体的には、たとえば、接地切離しバー２３１の奥行部分に突起を設けることで、取っ手部２５３を所定の箇所まで引き出した時点で、器体２４を貫通する孔部に突起が引っかかるようにする。
【００３５】
これにより、器体に突出した動力伝達部である取っ手部２５３が押入された状態を、通常において接地された状態とすることで、作業担当者が操作中に誤って取っ手部２５３に接触してしまったような場合でも、接続切り替えが動作して接地が取り外されるような危険を回避することができる。また、取っ手部２５３が十分に押し込まれた状態において、止め具等を設けて動かないように固定するようにしてもよい。
【発明の効果】
【００３６】
本発明によれば、試験端子本体に接地線を接続するとともに、試験端子用プラグにおいて接地線の接続切り替えを行えるようにすることで、複数のケーブルが混在している端子台で接地線を取り外すような場合でも、誤認のおそれがない試験端子を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本実施形態の試験端子１において、試験端子用プラグ２を装着していない状態の試験端子本体１０の概略を示した回路図である。
【図２】本実施形態の試験端子１において、試験端子本体１０の構造を説明する斜視図である。
【図３】本実施形態の試験端子１において、試験端子本体１０が備える支持体１４の裏面側を示す図である。
【図４】本実施形態の試験端子１において、試験端子用プラグ２の構造を説明する斜視図である。
【図５】本実施形態の試験端子１において、試験端子用プラグ２が備える接地切離しバー２３１，遮蔽板２３２，変流器側接触子（中性相）２１２の関係について示す図である。
【図６】本実施形態の試験端子１において、試験端子用プラグ２の右側面図である。
【図７】本実施形態の試験端子１を設置した電源検出回路７の回路図である。
【図８】本実施形態の試験端子１において、試験端子本体１０に試験端子用プラグ２を挿入した状態を示す斜視図である。
【図９】（ａ）は、本実施形態の試験端子１において、試験端子用プラグ２が備える接地切り替え手段を示す斜視図である。（ｂ）は、試験端子用プラグ２が備える接地切り替え手段が試験端子本体１０に作用する状態を説明する斜視図である。
【図１０】（ａ）は従来における試験端子本体１０に試験端子用プラグ２が挿入されていない状態を示す回路図である。（ｂ）は従来における試験端子本体１０の内部の構成を右側面から示す図である。
【図１１】（ａ）は従来における試験端子本体１０に試験端子用プラグ２が挿入された状態を示す回路図である。（ｂ）は試験端子用プラグ２が挿入された状態における試験端子本体１０の内部の構成を右側面から示す図である。
【図１２】従来における試験端子１が設置された電源検出回路７の接地の状態を示す回路図である。
【図１３】従来において試験端子用プラグ２の端子塔２５に短絡バーを挿入して変流器側のケーブルを短絡させることを説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００３８】
以下、本発明の試験端子１における一実施形態について説明する。
図１は、本実施形態の試験端子本体１０を三相交流の送電線６に取り付けた変流器４と継電器５の間に設置した場合において、試験端子用プラグ２を装着していない状態の試験端子本体１０の概略を示した回路図である。従来は端子台に設けていた接地線３を、本実施形態の試験端子１では試験端子本体１０に接続する。
【００３９】
図２は、本実施形態の試験端子１における試験端子本体１０の構造を説明する斜視図である。試験端子本体１０の支持体１４は端子台等の背面に固定されており、その前面が試験端子用プラグ２を挿入する開口部１５となる。ここで開口部１５は、継電器側導体１２１，１２２と変流器側導体１１１，１１２との間の空間を意味する。継電器側導体１２１，１２２及び変流器側導体１１１，１１２は、三相及び中性相の各相ごとに設けられており、支持体１４の裏面側でそれぞれのケーブルに接続されている。
【００４０】
なお、本実施形態における説明では、従来の技術を示す図１０（ｂ），図１１（ｂ），図１３等で記載した「上部端子Ａ，上部接触板Ｂ，上部可動接触板Ｃ」を、一括して「継電器側導体」と記載する。また「下部端子Ａ’，下部接触板Ｂ’，下部可動接触板Ｃ’」を、一括して「変流器側導体」と記載する。
【００４１】
図２に戻り試験端子本体１０の構造を説明する。本実施形態の試験端子本体１０では、継電器側導体（中性相）１２２及び変流器側導体（中性相）１１２に隣接して接地側導体１３１，１３２，１３３，スプリング１３４等を備える。接地側導体（上部）１３１は、支持体１４の裏面側で接地線３に接続している。接地側導体（上部）１３１は、継電器側導体（中性相）１２２に隣接しているが、接地側導体（上部）１３１の継電器側導体（中性相）１２２に面した部分に絶縁材料を用いることで、導通させないようにしている。
【００４２】
一方、接地側導体（中間部）１３３，接地側導体（下部）１３２，スプリング１３４及び接地側導体（上部）１３１の接地側導体（中間部）１３２側は、いずれも導体であって、スプリング圧で常時接地回路が形成されることになる。これにより、通常において変流器側導体（中性相）１１２と接地線３は電気的に接続した状態になる。
【００４３】
図３は、本実施形態の試験端子本体１０における支持体１４の裏面側を示す図である。接地回路が増設されて接地側導体（上部）１３１と接地線３が接続されている。
【００４４】
図４は、本実施形態の試験端子１における試験端子用プラグ２の構造を説明する斜視図である。試験端子用プラグ２は試験端子本体１０の開口部１５に挿入して使用する。試験端子本体１０に挿入した状態の器体２４は、試験端子１が取り付けられた配電盤等において、試験端子用プラグ２の操作面となり、作業担当者は器体２４に突出した端子塔２５１，２５２等に対して各種測定等を行うことができる。
【００４５】
また、器体２４は、継電器側接触子２２１，２２２及び変流器側接触子２１１，２１２を支持する。なお、本図の記載において、変流器側接触子（三相）２１１は継電器側接触子２２１，２２２の陰にあるために表示されていないが、継電器側接触子（三相）２２１に対応する形態を備える。
【００４６】
試験端子用プラグ２を試験端子本体１０の開口部１５に挿入した状態において、継電器側接触子２２１，２２２及び変流器側接触子２１１，２１２は、各相に対応する継電器側導体１２１，１２２と変流器側導体１１１，１１２とに接触する。これにより、回路の各相の接続が端子塔２５１，２５２に引き出されて絶縁抵抗の測定等が可能になる。一方、従来の技術を示す図１０に示すように、試験端子本体１０において２重化された主接触接点は、試験端子用プラグ２が挿入されていない状態では閉路であるが、試験端子用プラグ２が挿入されることで開くことになる。
【００４７】
次に、本実施形態の試験端子用プラグ２が備える接地切離しバー２３１，遮蔽板２３２の機能について説明する。接地切離しバー２３１は、試験端子用プラグ２の器体２４を貫通する形で設置されている。遮蔽板２３２は、試験端子本体１０の開口部１５に挿入した状態において、接地側導体（中間部）１３３に対応する位置に設けられている。
【００４８】
図５には、本実施形態における接地切離しバー２３１，遮蔽板２３２，変流器側接触子（中性相）２１２の関係について示す。図４に示すように、接地切離しバー２３１は器体２４に設けられた孔部を貫通し、器体２４の表面に突出した取っ手部２５３を前後に摺動させる動作を行うことができる。図５において、接地切離しバー２３１は支軸２３３により遮蔽板２３２を軸止している。また、遮蔽板２３２は支軸２３４により変流器側接触子（中性相）２１２に軸止されている。これにより、接地切離しバー２３１の前後の動作は遮蔽板２３２に伝達される。
【００４９】
具体的には、試験端子本体１０に試験端子用プラグ２が挿入された状態において、器体２４の表面に突出した取っ手部２５３は押入された状態にある。したがって、取っ手部２５３に連動する接地切離しバー２３１および支軸２３３は奥行方向に位置し、遮蔽板２３２において設置回路を遮蔽する部分は、支軸２３４により手前方向に閉じた状態にある。そのため、試験端子本体１０が備える接地側導体（中間部）１３３は、スプリング１３４により押し上げられて、遮蔽板２３２に遮蔽されることなく接地側導体（上部）１３１と接触した状態が維持される。
【００５０】
次に、押入された状態の取っ手部２５３を、手前方向に引く動作を行うと、連動する接地切離しバー２３１および支軸２３３は手前方向に移動し、遮蔽板２３２において設置回路を遮蔽する部分は、支軸２３４により奥行方向に開いた状態に変化する。そのため、接地側導体（中間部）１３３と接地側導体（上部）１３１の間に、遮蔽板２３２が介挿されることになる。遮蔽板２３２の下部は絶縁材料となっているので、接地回路から変流器側導体（中性相）１１２への導通は遮断される。
【００５１】
さらに、引き出された状態の取っ手部２５３を、奥行方向に押入する動作を行うと、連動する接地切離しバー２３１および支軸２３３は奥行方向に移動し、遮蔽板２３２において設置回路を遮蔽する部分は、支軸２３４により手前方向に閉じた状態に変化する。そのため、接地側導体（中間部）１３３と接地側導体（上部）１３１の間に介挿されていた遮蔽板２３２は撤去されることになる。これにより、接地側導体（中間部）１３３は、スプリング１３４により押し上げられて、接地側導体（上部）１３１と接触し、接地回路から変流器側導体（中性相）１１２への導通が開始する。
なお、変流器側接触子（中性相）２１２における接地切離しバー２３１と遮蔽板２３２に接触する面には、絶縁部材が使用されており導通しない。
【００５２】
図６は、本実施形態の試験端子用プラグ２の右側面図である。ここでは、遮蔽板２３２等の表示は省略している。
図７は、本実施形態の試験端子１を設置した回路図である。電流検出回路７の変流器側の中性点に接地線３が接続されている。
【００５３】
図８は、試験端子本体１０に試験端子用プラグ２を挿入した状態を示す斜視図である。継電器側接触子２２１，２２２及び変流器側接触子２１１，２１２は、各相に対応する継電器側導体１２１，１２２及び変流器側導体１１１，１１２に接触する。
【００５４】
本図に示す状態では、変流器側導体（中性相）１１２と接地側導体１３１〜１３３は接触しているので、変流器側の中性相が接地中であることを示している。ここで接地を切り離す場合には、取っ手部２５３を手前に引く動作を行う。
【００５５】
図９は接地を切り離す動作を説明する斜視図である。図９（ａ）では、試験端子用プラグ２側における動作を説明する。取っ手部２５３を手前に引く動作により、接地切離しバー２３１に伝達されて、遮蔽板２３２が外部に開くことになる。なお、遮蔽板２３２の下部には絶縁材料が用いられている。
【００５６】
図９（ｂ）では、試験端子用プラグ２と試験端子本体１０の関わりについて説明する。上記（ａ）の動作により遮蔽板２３２が外部に開き、試験端子本体１０が備える接地側導体（上部）１３１と接地側導体（中間部）１３３の間に介挿される。遮蔽板２３２の下部は絶縁材料となっているので、接地回路から変流器側導体（中性相）１１２への導通は遮断されて、電流検出回路７の変流器側の接地が引き外される。
【００５７】
なお、引き外された接地は、取っ手部２５３を奥に戻す動作により、接地切離しバー２３１に伝達されて遮蔽板２３２が元の位置に戻る。すなわち、試験端子本体１０が備える接地側導体（上部）１３１と接地側導体（中間部）１３３の間に介挿されていた遮蔽板２３２が撤去されるので、再び接地回路が成立する。
【００５８】
ここで、本実施形態の試験端子及び試験端子用プラグ２における絶縁抵抗をメガー測定する手順は、（１）メガー測定箇所に試験端子用プラグ２を挿入してケーブル側を短絡させる。（２）取っ手部２５３を手前に引くことで接地線３を引き外した後、メガーにより絶縁抵抗を測定する。（３）取っ手部２５３を奥に戻すことで接地を戻すとともに確認する。（４）試験端子用プラグ２を引き抜く。
【００５９】
また、試験端子本体１０の接地側導体（上部）１３１と接地側導体（中間部）１３３の間に、試験端子用プラグ２の遮蔽板２３２が介挿された状態において、接地線３と接続する接地側導体（上部）１３１と、導体である遮蔽板２３２の上部が接触し、さらに遮蔽板２３２の上部は、導体である接地切離しバー２３１と接触するので、接地回路は取っ手部２５３に引き出されることになる。これにより、取っ手部２５３をアース間のメガー測定等に活用することができる。なお、取っ手部２５３のツマミ部分には絶縁材料が取り付けられている。
【００６０】
以上の通り、本実施形態の試験端子１によれば、試験端子用プラグ２の器体２４に設けられた取っ手部２５３の操作のみで接地の付け外しが可能となるので、測定担当者は、狭い端子台の盤裏等で作業を行う必要がなくなり、絶縁抵抗の測定時間を短縮できる。また、従来は２人で行っていた測定担当者の人員を１人に減員することができる。
【００６１】
さらに、端子台において複数の線路が混在しているような場合であっても、誤認して充電中の接地線を外すような事態を回避することができる。
他にも、取っ手部２５３は接地回路の端子にもなるので、アース間のメガー測定等にも活用することができる。
【符号の説明】
【００６２】
１  試験端子
２  試験端子用プラグ
３  接地線
４  変流器
５  継電器
６  送電線
７  電流検出回路
１０  試験端子本体
１４  支持体
１５  開口部
２１  変流器側接触子
２２  継電器側接触子
２４  器体
２５  端子塔
１１１  変流器側導体（三相）
１１２  変流器側導体（中性相）
１２１  継電器側導体（三相）
１２２  継電器側導体（中性相）
１３１  接地側導体（上部）
１３２  接地側導体（下部）
１３３  接地側導体（中間部）
１３４  スプリング
２１１  変流器側接触子（三相）
２１２  変流器側接触子（中性相）
２２１  継電器側接触子（三相）
２２２  継電器側接触子（中性相）
２３１  設置切離しバー
２３２  遮蔽板
２３３，２３４  支軸
２５１  端子塔（三相）
２５２  端子塔（中性相）
２５３  取っ手部
Ａ  上部端子
Ａ’  下部端子
Ｂ  上部接触板
Ｂ’  下部接触板
Ｃ  上部可動接触板
Ｃ’  下部可動接触板
Ｄ  上部接点連絡板
Ｄ’  下部接点連絡板
【図１】
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【図３】
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【図７】
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【図１２】
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【図２】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１３】
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