(57)【要約】【課題】サイドスポットのフォーカスエラー信号の比較によりチルト検出を行う場合において、検出感度や検出精度の向上、受光部のサイズ小型化が図られるようにする。【解決手段】第１及び第２のチルト検出用光の反射光をそれぞれ回折してそれらの一次回折光を受光した結果に基づき、第１及び第２のチルト検出用フォーカスエラー信号を生成する。これにより、受光面上での第１及び第２のチルト検出用光の反射光のスポット間隔はディスク上での間隔に左右されずに任意に設定することができ、結果、光記録媒体上での各スポットの間隔を広げてチルト検出感度を向上させたとしても、受光部サイズの小型化が図られるようにできる。【選択図】図７
2011146091.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源より出射されたレーザ光を回折して、光記録媒体の面内方向におけるそれぞれ異なる位置に第１のチルト検出用光と第２のチルト検出用光とを集光し且つ、
上記第１のチルト検出用光の反射光と上記第２のチルト検出用光の反射光を回折して、受光部に対して上記第１のチルト検出用光の反射光の一次回折光と上記第２のチルト検出用光の反射光の一次回折光とを集光させるように構成された光学系と、
上記受光部により上記第１のチルト検出用光の反射光の一次回折光と上記第２のチルト検出用光の反射光の一次回折光とを個別に受光した結果から、第１のチルト検出用フォーカスエラー信号と第２のチルト検出用フォーカスエラー信号とを生成する信号生成部と、
上記第１のチルト検出用フォーカスエラー信号と上記第２のチルト検出用フォーカスエラー信号との差分を計算してチルト量を検出するチルト検出部と
を備える光学ドライブ装置。
【請求項２】
上記第１及び第２のチルト検出用光の反射光を回折する受光部側回折素子の回折角は、
当該受光側回折素子による上記第１及び第２のチルト検出用光の反射光についての一次回折光の上記受光部上での集光位置が、上記第１及び第２のチルト検出用光を回折する光源側回折素子の０次光として出力されるメインビーム光の上記受光部上での集光位置を中心とし且つ該中心から上記第１又は第２のチルト検出用光の反射光の上記受光側回折素子による０次光の上記受光部上での集光位置までの間の距離を半径とする円状の範囲よりも内側に得られ且つ、上記受光側回折素子より出力される上記第１及び第２のチルト検出用光の反射光以外の光の０次光及び回折光の集光位置に対して重ならない位置となるようにして設定されている
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項３】
上記受光部側回折素子の回折角は、
上記光源側回折素子の回折角を１としたとき、１よりも小さく且つ１／２以外となるように設定されている
請求項２に記載の光学ドライブ装置。
【請求項４】
上記光学系は、
上記第１及び第２のチルト検出用光の反射光にそれぞれ含まれるものとなるプッシュプル信号成分を回折により除去するように構成されている
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項５】
上記光学系は、
上記光源より出射され上記対物レンズを介して上記光記録媒体に照射されるレーザ光を往路光としたとき、上記光記録媒体から発せられ上記対物レンズを介して入射する上記レーザ光の反射光を所定の分光面にて上記往路光の光路から分光して上記受光部に集光するように構成されていると共に、
上記光源から上記分光面までの間に挿入された光源側回折素子と、
上記分光面から上記受光部までの間に挿入された受光側回折素子とを有しており、
上記光源側回折素子は、
入射ビームを一様に回折するように構成されていることで、上記第１のチルト検出用光と上記第２のチルト検出用光とを生成し、
上記受光側回折素子は、
入射ビーム内におけるプッシュプル信号成分重畳領域の光が入射する領域とそれ以外の領域とで、それぞれ異なる方向に回折光を出力するように構成されていることで、上記プッシュプル信号成分重畳領域の光を回折により除去し且つ、上記受光部に対して上記第１のチルト検出用光の反射光の一次回折光と上記第２のチルト検出用光の反射光の一次回折光とを集光させる
請求項４に記載の光学ドライブ装置。
【請求項６】
上記受光部側回折素子における上記プッシュプル信号成分重畳領域の光が入射する領域以外の領域における回折角は、
上記受光側回折素子による上記第１及び第２のチルト検出用光の反射光についての一次回折光の上記受光部上での集光位置が、上記光源側回折素子の０次光として出力されるメインビーム光の上記受光部上での集光位置を中心とし且つ該中心から上記第１又は第２のチルト検出用光の反射光の上記受光側回折素子による０次光の上記受光部上での集光位置までの間の距離を半径とする円状の範囲よりも内側に得られ且つ、上記受光側回折素子より出力される上記第１及び第２のチルト検出用光の反射光以外の光の０次光及び回折光の集光位置に対して重ならない位置となるようにして設定されている
請求項５に記載の光学ドライブ装置。
【請求項７】
上記受光部側回折素子における上記プッシュプル信号成分重畳領域の光が入射する領域以外の領域における回折角は、
上記光源側回折素子の回折角を１としたとき、１よりも小さく且つ１／２以外となるように設定されている
請求項６に記載の光学ドライブ装置。
【請求項８】
上記光学系は、
上記光源より出射され上記対物レンズを介して上記光記録媒体に照射されるレーザ光を往路光としたとき、上記光記録媒体から発せられ上記対物レンズを介して入射する上記レーザ光の反射光を所定の分光面にて上記往路光の光路から分光して上記受光部に集光するように構成されていると共に、
上記光源から上記分光面までの間に挿入された光源側回折素子と、
上記分光面から上記受光部までの間に挿入された受光側回折素子とを有しており、
上記光源側回折素子は、
入射ビーム内におけるプッシュプル信号成分重畳領域の光が入射する領域とそれ以外の領域とで、それぞれ異なる方向に回折光を出力するように構成されていることで、上記第１のチルト検出用光と上記第２のチルト検出用光とを生成し且つ、上記プッシュプル信号成分重畳領域の光を回折により除去し、
上記受光側回折素子は、
入射ビームを一様に回折するように構成されていることで、上記受光部に対して上記第１のチルト検出用光の反射光の一次回折光と上記第２のチルト検出用光の反射光の一次回折光とを集光させる
請求項４に記載の光学ドライブ装置。
【請求項９】
上記受光部側回折素子の回折角は、
上記受光側回折素子による上記第１及び第２のチルト検出用光の反射光についての一次回折光の上記受光部上での集光位置が、上記光源側回折素子の０次光として出力されるメインビーム光の上記受光部上での集光位置を中心とし且つ該中心から上記第１又は第２のチルト検出用光の反射光の上記受光側回折素子による０次光の上記受光部上での集光位置までの間の距離を半径とする円状の範囲よりも内側に得られ且つ、上記受光側回折素子より出力される上記第１及び第２のチルト検出用光の反射光以外の光の０次光及び回折光の集光位置に対して重ならない位置となるようにして設定されている
請求項８に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１０】
上記受光部側回折素子の回折角は、
上記光源側回折素子における上記プッシュプル信号成分重畳領域の光が入射する領域以外の領域における回折角を１としたとき、１よりも小さく且つ１／２以外となるように設定されている
請求項９に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１１】
光源より出射されたレーザ光を回折して、光記録媒体の面内方向におけるそれぞれ異なる位置に第１のチルト検出用光と第２のチルト検出用光とを集光し且つ、
上記第１のチルト検出用光の反射光と上記第２のチルト検出用光の反射光を回折して、受光部に対して上記第１のチルト検出用光の反射光の一次回折光と上記第２のチルト検出用光の反射光の一次回折光とを集光させると共に、
上記受光部により上記第１のチルト検出用光の反射光の一次回折光と上記第２のチルト検出用光の反射光の一次回折光とを個別に受光した結果から、第１のチルト検出用フォーカスエラー信号と第２のチルト検出用フォーカスエラー信号とを生成し、
上記第１のチルト検出用フォーカスエラー信号と上記第２のチルト検出用フォーカスエラー信号との差分を計算してチルト量を検出する
チルト検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体についての記録及び／又は再生を行う光学ドライブ装置として、特にサイドスポットのフォーカスエラー信号の差分を計算してチルト検出を行う光学ドライブ装置とチルト検出方法とに関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−７１４３５号公報
【背景技術】
【０００３】
例えばＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などといった各種の光ディスク記録媒体が広く普及している。
これら光ディスク記録媒体に対しては、光ビームを照射してその反射光を読み取ることで情報を再生するようにされる。また、光ビームの照射により局所的に反射率等を変化させて情報の記録を行うこともできる。
【０００４】
周知のように光ディスク記録媒体に対して記録又は再生を行う際には、例えばディスクの面ブレ等に起因して、光ビームの光軸と光ディスク記録媒体の記録面（反射面）とが直交している理想的な状態が損なわれて、傾きを生じることがある。いわゆる「チルト（ｔｉｌｔ）」と呼ばれる現象である。
【０００５】
このようなチルトは記録／再生信号の品質低下を招くため、従来よりこれを補正する種々の手法が提案されている。
また、チルト補正を行うためにはチルト検出を行う必要があり、そのための手法についても従来より種々提案されている。
【０００６】
チルト検出のための具体的な手法として、先に本出願人は、上記の特許文献１において次のような手法を提案している。
すなわち、いわゆる３ビーム法において、それぞれのサイドスポットのフォーカスエラー信号を検出し、それらエラー信号を比較することでチルト検出を行うという手法である。
【０００７】
図１４は、このようにサイドスポットのフォーカスエラー信号の比較によりチルト検出を行う従来例としてのチルト検出手法について説明するための図である。
この図１４に示されるように従来例においては、光源であるレーザダイオードから出射されコリメーションレンズを介して平行光となるようにされたレーザ光を、回折素子により回折してメインビーム、内周側サイドビーム、外周側サイドビームの計３ビームを生成するようにされる。
【０００８】
図示するようにこれら各ビームは、偏光ビームスプリッタを透過し、１／４波長板を介した後、対物レンズを介して光ディスクに集光する。
そして、光ディスクからの各ビームの反射光は、対物レンズ→１／４波長板を介した後、偏光ビームスプリッタにて反射される。偏光ビームスプリッタで反射された光ディスクからの各ビームの反射光は、図示するように集光レンズ→シリンドリカルレンズを介して、受光部の受光面上に集光する。
【０００９】
上記受光部には、メインビーム、内周側サイドビーム、外周側サイドビームの各ビームに対応して、メインスポット用ディテクタ、内周側スポット用ディテクタ、外周側スポット用ディテクタがそれぞれ設けられている。
メインビームの反射光を受光するメインスポット用ディテクタの受光信号からは、対物レンズのフォーカス制御を行うためのフォーカスエラー信号ＦＥ_Mなどを生成する。
また、内周側サイドビームの反射光を受光する内周側スポット用ディテクタの受光信号、外周側サイドビームの反射光を受光する外周側スポット用ディテクタの受光信号からは、それぞれチルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_ti、チルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_toを生成する。
ここでは非点収差法を採用するため、ディテクタとしては４分割ディテクタが採用され、各フォーカスエラー信号は、対角関係にある２つの受光素子の検出信号のそれぞれの和の差を計算することで生成される。
【００１０】
この場合、チルト（Ｔｉｌｔ）は、図のように内周側サイドビームについて生成したチルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_tiと外周側サイドビームについて生成したチルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_toとの差分を計算して求めることになる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
ここで、特許文献１に記載されるチルト検出手法としては、サイドビームスポットのディスク上での間隔を拡大するほど、チルト検出感度を高くすることができる。従ってこの点に鑑みると、サイドビーム生成用の回折素子の回折角は大とすることが好ましいものとなる。
【００１２】
しかしながら、このようにサイドビーム生成用の回折素子の回折角を大としてしまうと、受光面上における各サイドビームスポットの間隔も広がってしまい、結果、受光部のサイズ拡大化を招いてしまう。つまりこの点からも理解されるように、特許文献１に記載のチルト検出手法は、検出感度の向上と受光部サイズの小型化とがトレードオフの関係となってしまうものであり、チルト検出感度の低下、受光部サイズの大型化の何れかを強いられるものであった。
【００１３】
本発明は上記の問題点に鑑み為されたもので、サイドビームスポットについてのフォーカスエラー信号をそれぞれ生成しその差分を計算してチルト検出を行うという構成を採る場合において、各サイドビームスポットの記録媒体上での間隔を空けることによるチルト検出感度の向上を図りつつ、受光部のサイズ拡大化の防止が図られるようにすることをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記課題の解決のため、本発明では光学ドライブ装置として以下のように構成することとした。
すなわち、光源より出射されたレーザ光を回折して、光記録媒体の面内方向におけるそれぞれ異なる位置に第１のチルト検出用光と第２のチルト検出用光とを集光し且つ、
上記第１のチルト検出用光の反射光と上記第２のチルト検出用光の反射光を回折して、受光部に対して上記第１のチルト検出用光の反射光の一次回折光と上記第２のチルト検出用光の反射光の一次回折光とを集光させるように構成された光学系を備える。
また、上記受光部により上記第１のチルト検出用光の反射光の一次回折光と上記第２のチルト検出用光の反射光の一次回折光とを個別に受光した結果から、第１のチルト検出用フォーカスエラー信号と第２のチルト検出用フォーカスエラー信号とを生成する信号生成部を備える。
その上で、上記第１のチルト検出用フォーカスエラー信号と上記第２のチルト検出用フォーカスエラー信号との差分を計算してチルト量を検出するチルト検出部を備えるようにした。
【００１５】
上記のように本発明では、第１及び第２のチルト検出用フォーカスエラー信号を、第１及び第２のチルト検出用光の反射光をそれぞれ回折してそれらの一次回折光を受光した結果に基づき生成するものとしている。
従来においては、第１及び第２のチルト検出用光の反射光を回折させずそのまま検出（受光）していたので、それらの受光面内でのスポット間隔は、ディスク上での間隔に応じたものとなっていたが、上記のように第１及び第２のチルト検出用光の反射光についての回折光を受光対象とする本発明によれば、受光面上でのそれらのスポット間隔はディスク上での間隔に左右されずに任意に設定することができ、その結果、光記録媒体上での各スポットの間隔を広げたとしても、受光部サイズの小型化が図られるようにできる。
【発明の効果】
【００１６】
上記のようにして本発明によれば、第１及び第２のチルト検出用フォーカスエラー信号を、第１及び第２のチルト検出用光の反射光をそれぞれ回折してそれらの一次回折光を受光した結果に基づき生成するものとしたことで、光記録媒体上での各スポットの間隔を広げたとしても、受光部サイズの小型化が図られるようにできる。すなわち、チルト検出感度の向上を図りつつ、受光部サイズの小型化が図られるようにできる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】第１の実施の形態の光学ドライブ装置の内部構成例を示した図である。
【図２】光源側に配置された各回折素子による作用について説明するための図である。
【図３】第１の実施の形態の光学ドライブ装置が備える受光側回折素子の構造例を示した図である。
【図４】プッシュプル信号成分を遮光により除去する遮光マスクの構造を示した図である。
【図５】プッシュプル信号成分を除去することで得られる効果について説明するための図である。
【図６】第１の実施の形態の光学ドライブ装置が備える受光側回折素子による作用について説明するための図である。
【図７】受光部に備えられる各フォトディテクタの配置位置について説明するための図である。
【図８】信号生成回路の内部構成例を示した図である。
【図９】第２の実施の形態の光学ドライブ装置の内部構成例（主に光学系のみ）を示した図である。
【図１０】第２の実施の形態の光学ドライブ装置が備える光源側回折素子と受光側回折素子の構造例を示した図である。
【図１１】変形例１について説明するための図である。
【図１２】変形例２について説明するための図である。
【図１３】受光側回折素子の条件について説明するための図である。
【図１４】各サイドスポットのフォーカスエラー信号の比較によりチルト検出を行う従来例としてのチルト検出手法について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施の形態について説明する。ここでは本発明の光学ドライブ装置の例として再生専用型（ＲＯＭ型）の光ディスク記録媒体についての再生や、記録可能型の光ディスク記録媒体についての記録及び再生を行うことが可能な記録再生装置を例に挙げる。
なお、説明は次の順序で行うものとする。
＜１．第１の実施の形態＞
［1-1．光学ドライブ装置の全体構成］
［1-2．実施の形態としてのチルト検出手法］
＜２．第２の実施の形態＞
＜３．変形例＞
［3-1．変形例１］
［3-2．変形例２］
［3-3．その他の変形例］
【００１９】
＜１．第１の実施の形態＞
［1-1．光学ドライブ装置の全体構成］
図１は、本発明の光学ドライブ装置の一実施形態としての、記録再生装置１の内部構成を示した図である。
図１において、光ディスクＤは、例えばＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）など、光の照射により情報の記録や再生の行われる光ディスク記録媒体とされる。
光ディスクＤには、その情報記録面において案内溝としてのトラックが形成される。具体的に、光ディスクＤが記録可能型ディスクであれば、例えばウォブリングされたグルーブ（連続溝）によるトラックが形成され、また再生専用型ディスクであればピット列（断続溝）によるトラックが形成されている。
【００２０】
光ディスクＤは、記録再生装置１に装填されると図示しないターンテーブルに積載され、記録／再生動作時においてスピンドルモータ２によって一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。
そして再生時には光ピックアップ（光ヘッド部）ＯＰによって光ディスクＤ上に記録された情報の再生が行われる。
また光ディスクＤに対するデータ記録時には、光ピックアップＯＰによって光ディスクＤ上のトラックに、ユーザーデータがフェイズチェンジマークや色素変化マークとして記録される。
【００２１】
光ピックアップＯＰ内には、レーザ光源となるレーザダイオード２や、反射光を検出するための受光部１４、レーザ光の光ディスクＤに対する出力端となる対物レンズ９、対物レンズ９を介してディスク記録面にレーザ光を照射し、またその反射光を受光部１４に導くための光学系等が形成される。
【００２２】
具体的に光ピックアップＯＰ内において、レーザダイオード２から出射されたレーザ光は、コリメーションレンズ３を介して平行光となるようにされた後、ＤＰＰ（Differential Push-Pull）用回折素子４及び光源側回折素子５を介して、偏光ビームスプリッタ６に入射する。
なお、上記ＤＰＰ用回折素子４及び光源側回折素子５による作用については後述する。
【００２３】
偏光ビームスプリッタ６は、上記のように光源側から入射したレーザ光（往路光）を透過し、該偏光ビームスプリッタ６を透過したレーザ光は、球面収差などの各種収差補正のための液晶素子７を介した後、１／４波長板８を介して対物レンズ９に入射する。
【００２４】
対物レンズ９は、２軸アクチュエータ１０によりトラッキング方向（光ディスクＤの半径方向）及びフォーカス方向（光ディスクＤに接離する方向：上記半径方向に直交する方向）に変位可能に保持されている。
この場合、２軸アクチュエータ１０は、トラッキングコイル及びフォーカスコイルを備えており、これらトラッキングコイル、フォーカスコイルにそれぞれ駆動信号（駆動電流）が与えられることで、対物レンズ９をトラッキング方向、フォーカス方向にそれぞれ駆動する。
【００２５】
対物レンズ９を介して光ディスクＤにレーザ光が照射されることに応じては、光ディスクＤの記録面（反射面）からの反射光が得られる。このようにして得られる反射光は、対物レンズ９→１／４波長板８→液晶素子７を介して、偏光ビームスプリッタ６に入射する。
偏光ビームスプリッタ６に入射した反射光は、上記１／４波長板８による作用と光ディスクＤの反射面上での光反射時の作用とにより、その偏光方向が往路光に対して直交するものとなり、その結果偏光ビームスプリッタ６は上記反射光を反射することとなる。
【００２６】
偏光ビームスプリッタ６にて反射された反射光は、図のように集光レンズ１１→受光側回折素子１２→シリンドリカルレンズ１３を介して、受光部１４における受光面上に集光するようにされる。
なお、受光側回折素子１２の構造やそれにより得られる作用については後に改めて説明する。
【００２７】
ここで図示による説明は省略するが、実際には、光ピックアップＯＰ全体はスレッド機構によりディスク半径方向に移動可能とされている。上記スレッド機構の駆動制御は、サーボ回路１８からの制御に基づき行われる。
【００２８】
受光部１４は、上記シリンドリカルレンズ１３を介して集光した反射光を検出し、受光光量に応じた電気信号を光ピックアップＯＰ外部に設けられた信号生成回路１５に出力する。
ここで、受光部１４は、前述のＤＰＰ用回折素子４より出力されるメインビーム及び各サイドビームのそれぞれを個別に受光するための複数のフォトディテクタを有する。
またこの場合の受光部１４には、上記ＤＰＰ用回折素子４によるメインビームを前述の光源側回折素子５により回折して得られる各サイドビーム（チルト検出用ビーム）についての受光信号を得るためのそれぞれのフォトディテクタも設けられる。
なお、受光部１４における各フォトディテクタの詳細やその配置関係等の具体的な説明は後に改めて行う。
【００２９】
信号生成回路１５は、上記受光部１４による受光信号に基づき、必要な各種の信号を生成する。具体的には、上記メインビームについての受光信号に基づき、光ディスクＤに記録された信号についての再生信号（和信号）ＲＦと、対物レンズ９についてのフォーカスサーボを行うためのフォーカスエラー信号ＦＥ_M（非点収差法による）を生成する。
また、上記メインビームについての受光信号やＤＰＰ用回折素子４による各サイドビームについての受光信号に基づき、対物レンズ９についてのトラッキングサーボを行うためのトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
ここで後述もするように、トラッキングエラー信号ＴＥについては、光ディスクＤがウォブリンググルーブの形成された記録可能型ディスクである場合はＤＰＰ法により生成し、ピット列による情報記録の行われた再生専用型ディスクである場合はＤＰＤ（Differential Phase Detection）法により生成することとなる。
【００３０】
また特に本例の場合、信号生成回路１５は、上記光源側回折素子５による各サイドビームとしての各チルト検出用ビームについての受光信号に基づき、チルト検出用のフォーカスエラー信号であるフォーカスエラー信号ＦＥ_ti、フォーカスエラー信号ＦＥ_toをそれぞれ生成する（非点収差法による）。
なお、図示は省略したが、信号生成回路１５は、ウォブリンググルーブによりアドレス情報の記録される記録可能型ディスクに対応しては、プッシュプル信号も生成する。当該プッシュプル信号に基づき、上記記録可能型ディスクについてのアドレス情報の再生を行うことができる。
この信号生成回路１５の内部構成についても後述する。
【００３１】
信号生成回路１５により生成されたフォーカスエラー信号ＦＥ_ti、フォーカスエラー信号ＦＥ_toは、チルト検出部１６に供給される。
チルト検出部１６は、これらフォーカスエラー信号ＦＥ_ti、ＦＥ_toの差分を計算してチルト検出信号ｓｔｉを得る。例えば、「ＦＥ_ti−ＦＥ_to」に基づく計算を行って、チルト検出信号ｓｔｉを得る。
このようなチルト検出信号ｓｔｉは、その極性がチルトの発生方向を表し且つその絶対値によりチルトの発生量を表すものとなる。
なお、本例の場合におけるチルト検出信号ｓｔｉの具体的な計算手法については後述する。
【００３２】
ここで本例において、チルトの検出は、ラジアル方向についてのみ行うものとしており、後述もするようにチルト検出用ビームとしてはメインビームを挟んで光ディスクＤの内周側と外周側とにそれぞれ生成するようにされる。
【００３３】
また、信号生成回路１５にて生成された再生信号ＲＦは、再生処理部１７に対して供給される。
再生処理部１７は、上記再生信号ＲＦについての２値化処理や記録変調符号の復号化、エラー訂正処理などの所定の再生処理を施し、再生データを得る。
【００３４】
また、信号生成回路１５にて生成されたフォーカスエラー信号ＦＥ_M、トラッキングエラー信号ＴＥは、サーボ回路１８に供給される。
サーボ回路１８は、フォーカスエラー信号ＦＥ_Mに基づくフォーカスサーボ信号ＦＳ、及びトラッキングエラー信号ＴＥに基づくトラッキングサーボ信号ＴＳを生成する。そして、これらフォーカスサーボ信号ＦＳ、トラッキングサーボ信号ＴＳを、それぞれフォーカスドライバ１９、トラッキングドライバ２０に対して出力する。
またサーボ回路１８は、システムコントローラ２３からのトラックジャンプ指令に応じてトラッキングサーボループをオフとし、トラッキンドライバ２０にジャンプパルスを出力することで、トラックジャンプ動作を実行させたり、またシステムコントローラ２３からの指示に応じてフォーカスサーボループをオフとし、フォーカスドライバ１９にフォーカスサーチ信号を出力することでフォーカスサーチ動作を実行させたりもする。
【００３５】
フォーカスドライバ１９、トラッキングドライバ２０は、上記サーボ回路１８からのフォーカスサーボ信号ＦＳ、トラッキングサーボ信号ＴＳに基づき、２軸アクチュエータ１０のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動する。
これにより、これらフォーカスドライバ１９、トラッキングドライバ２０と、２軸アクチュエータ１０、受光部１４、信号生成回路１５、サーボ回路１８、二軸ドライバ１８とによるフォーカスサーボループ及びトラッキングサーボループがそれぞれ形成される。
【００３６】
また、図中の記録処理部２１には、光ディスクに対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部２１は、このように入力される記録データに対してエラー訂正符号の付加やランレングスリミテッドコード変調（記録変調符号化）などの所定の記録処理を施す。そして、このような記録処理により生成した記録信号に基づく記録パルスをレーザドライバ２２に与えて、レーザダイオード２を発光駆動させる。
これにより、光ディスクＤに対する上記記録データに応じた信号記録が実現される。
【００３７】
システムコントローラ２３は、例えばＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access  Memory）、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を備えたマイクロコンピュータで構成され、記録再生装置１の全体制御を行う。
例えば、上述したサーボ回路１８に対する指示を行って光ディスクＤ上の所要位置に対するアクセス動作を実行させたり、またレーザドライバ２２に対するレーザパワーなどの各種パラメータの指示なども行う。
また、図中の収差補正部２４に対する指示を行って前述の液晶素子７を駆動させることで、レーザ光についての収差補正を実行させる。
【００３８】
［1-2．実施の形態としてのチルト検出手法］
図２は、図１に示したＤＰＰ用回折素子４による作用（図２（ａ））と光源側回折素子５による作用（図２（ｂ））とを示している。
なお図２において、紙面の横方向は光ディスクＤの半径方向を表し、紙面の縦方向は線方向（トラック形成方向：周方向）を表す。
【００３９】
図１に示したＤＰＰ用回折素子４は、一般的なグレーティング（回折格子）として用いられる回折素子であり、レーザダイオード２→コリメーションレンズ３を介して入射したレーザビームを回折して、図２（ａ）に示すようなメインビームＭ（０次光）、内周側サイドビームＳｉ（−１次光）、外周側サイドビームＳｏ（＋１次光）を出力する。
周知のように、ＤＰＰ法では、内周側サイドビームＳｉ、外周側サイドビームＳｏを、メインビームＭに対して半径方向にトラック間隔の半分だけオフセットさせて配置させることになる。
【００４０】
また、光源側回折素子５としても、ＤＰＰ用回折素子４と同様に回折格子で構成され、ＤＰＰ用回折素子４より出力される各ビームについての０次光及び回折光を出力する。
図２（ｂ）においては光源側回折素子５から出力される各ビームのうち、１次光成分までを示している。これら光源側回折素子５から出力されるビームのうち、メインビームＭについての±１次光をチルト検出用ビームとして用いる。
このようにメインビームＭについて光源側回折素子５により生成された１次回折光のうち、−１次光（内周側に得られる１次回折光）については内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inと表記し、＋１次光（外周側に得られる１次回折光）については外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outと表記する。
【００４１】
この場合の光源側回折素子５は、ＤＰＰ用回折素子４とは異なり、回折光を半径方向に平行な方向に対して生成・出力するようにその構造が設計されている、或いはその取り付け角度が調整されている。
【００４２】
なお、光源側回折素子５によっては、上記内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-in及び外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-out（メインビームＭについての一次回折光）と共に、内周側サイドビームＳｉの一次回折光と外周側サイドビームＳｏの一次回折光（図中の破線で示す４つのビーム）も得られるものとなるが、実施の形態において、これら内周側サイドビームＳｉと外周側サイドビームＳｏの一次回折光については特に情報検出には用いないものとしている。従って、以下の説明において、特段の注意が無い限りは、往路光としては図２（ｂ）に実線で示すメインビームＭ、内周側サイドビームＳｉ、外周側サイドビームＳｏ、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-in、外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outが光ディスクＤに対して照射されるものとする。
【００４３】
図３は、図１に示した受光側回折素子１２の構造例を示している。
なおこの図３においても紙面の横方向が半径方向、縦方向が線方向であるものとしている。
先ず前提として、本例において、受光側回折素子１２としては、集光レンズ１１側から入射するメインビームＭの反射光の光軸とその中心とが一致するように配置位置が調整されている。
図３において破線により示す「反射光ビーム」は、集光レンズ１１側から受光側回折素子１２に対して少なくともメインビームＭ、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-in、外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの各ビームの反射光が入射したときに、当該受光側回折素子１２上に形成される上記各ビームのスポットを模式的に表している。
【００４４】
ここで、本実施の形態は、受光側回折素子１２を挿入することで、各チルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光の受光面上での間隔が、ディスク面上での各チルト検出用ビームＴｉｌｔの間隔に依存したものとならないようにすることを主眼とするものであるが、本例のようにチルト検出にあたり非点収差法によるフォーカスエラー信号ＦＥを生成する場合には、以下で説明するようなプッシュプル信号成分による問題が生じるため、本例においては受光側回折素子１２に関して、その構造に工夫を凝らすものとしている。
【００４５】
既に知られているように、非点収差法によりフォーカスエラー信号を検出する場合には、フォーカスエラー信号へのプッシュプル信号成分の漏れ込みが、Ｓ／Ｎの低下、ひいてはエラー検出精度の低下を招くものとなる。
確認のために述べておくと、プッシュプル信号成分（プッシュプル成分とも呼ぶ）とは、ディスク上に形成された溝又はマークによる一次回折光の成分を指すものである。周知のようにディスクからの一次回折光成分は、上記溝やマークに対するビームスポット位置の半径方向におけるずれに伴ってその光強度が変動することとなる。
【００４６】
ここで、このようなフォーカスエラー信号へのプッシュプル信号成分の漏れ込みについて対策する技術として、下記の参考文献１には、光ビーム内においてプッシュプル信号成分が重畳する部分の光を遮光する遮光マスクを設ける手法が開示されている。
具体的にこの参考文献１においては、例えば次の図４に示すように、入射する光ビーム内におけるプッシュプル信号成分が重畳する領域を遮光する遮光部の形成された遮光マスクを用いるようにされている。
参考文献１・・・特許２７１２３１４号公報
【００４７】
図５は、このような遮光マスクにより入射ビームのプッシュプル信号成分重畳領域をマスクした際の効果について説明するための図であり、遮光マスク有りの場合のフォーカスエラー信号と遮光マスク無しの場合のフォーカスエラー信号の波形を対比して示している。図５（ａ）は、フォーカスサーチ時におけるいわゆるＳ字波形を対比したものであり、図５（ｂ）はフォーカスサーボがオン状態での波形を対比したものである。
この図５を参照して明らかなように、プッシュプル信号成分の重畳領域をマスクすることによっては、マスク無しの場合と比較して、フォーカスエラー信号のＳ／Ｎが向上するものとなる。
【００４８】
ここで、本例のようにサイドスポットのフォーカスエラー信号比較によりチルト検出を行う場合においても、上記参考文献１に記載のような遮光マスクによってプッシュプル信号成分の重畳によるフォーカスエラー信号のＳ／Ｎ低下の防止を図る（つまりチルト検出精度の低下の防止を図る）ということが考えられる。
【００４９】
しかしながら、上記遮光マスクを設けた場合には、メインビームについても遮光が行われてしまうものとなる。すなわち、メインビームの一部が欠損される結果、光学特性の低下や検出光量の低下によるＳ／Ｎの低下を招き、ひいては信号品質の劣化を招くことが問題となる。
【００５０】
そこで本実施の形態では、図３に示す構造による受光側回折素子１２を設けることで、各チルト検出用ビームＴｉｌｔの受光面上での間隔がディスク面上での間隔に依存しないようにすると共に、上記のようなプッシュプル信号成分の除去を図る上でのメインビームＭの欠損の防止（つまり信号品質の劣化の防止）が図られるようにする。
【００５１】
説明を図３に戻す。
図３において、受光側回折素子１２は、ホログラム素子で構成され、図中の領域Ｘ、領域Ｙ、領域Ｚの３つの領域にそれぞれ独立した回折格子が形成されている。
これら各領域のうち、上記領域Ｘと領域Ｙは、上記のように受光側回折素子１２に形成される反射光スポットのうち、プッシュプル信号成分が重畳する部分を覆うことができるようにしてその形成位置及び形状が設定されている。具体的に、領域Ｘは、上記反射光スポットにおけるプッシュプル信号成分重畳領域のうち一方のプッシュプル信号成分重畳領域を覆うことができるようにその形成位置及び形状が設定され、また領域Ｙは、上記反射光スポットにおけるプッシュプル信号成分重畳領域のうち他方のプッシュプル信号成分重畳領域を覆うことができるようにその形成位置及び形状が設定されている。
また、領域Ｚは、図からも明らかなように、受光側回折素子１２における上記領域Ｘ及び領域Ｙを除いた部分の領域となる。
【００５２】
受光側回折素子１２においては、上記領域Ｘ及び領域Ｙに形成された回折格子と、上記領域Ｚに形成された回折格子とが、それぞれ異なる方向に回折光を出力するように構成されている。
具体的に本例の場合、領域Ｚに形成された回折格子は半径方向に回折光を出力するように構成されているのに対し、領域Ｘ及び領域Ｙに形成された回折格子は、線方向に回折光を出力するように構成されている。
【００５３】
図６は、受光側回折素子１２による作用について説明するための図である。
なおこの図６では、各反射光ビームが受光側回折素子１２→シリンドリカルレンズ１３を介して受光部１４に対して集光したときに、当該受光部１４の受光面内に形成される各反射光ビームのスポットの位置とその形状とを模式的に示している。
確認のため述べておくと、この図６（及び後述する図７も同様）では、シリンドリカルレンズ１３の作用によって各反射光ビームがその光軸を中心に９０度回転されることを考慮して各反射光ビームのスポット形状を表している。
またこの図においても紙面横方向が半径方向、紙面縦方向が線方向を表す。
【００５４】
この図６に示されるように、この場合の受光面上では、メインビームＭ、内周側サイドビームＳｉ、外周側サイドビームＳｏの各反射光についての受光側回折素子１２による０次光のスポットであるスポットＭ_0、スポットＳｉ_0、スポットＳｏ_0が形成される。また、受光側回折素子１２による０次光のスポットとしては、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inの反射光のスポットＴｉｌｔ-in_0、外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの反射光のスポットＴｉｌｔ-out_0も形成される。
確認のために述べておくと、これら０次光の各スポットＭ_0、Ｓｉ_0、Ｓｏ_0、Ｔｉｌｔ-in_0、Ｔｉｌｔ-out_0に関しては、受光側回折素子１２が設けられない場合においても図中に示す位置に得られるものである。換言すれば、これら０次光の各スポットは、光源側回折素子５の回折角に依存（Ｓｉ_0、Ｓｏ_0についてはＤＰＰ用回折素子４の回折角にも依存）して定まっているものである。
【００５５】
この場合は、図３に示した領域Ｘ、領域Ｙの作用により、受光側回折素子１２による回折光（特に一次回折光）に関して、そのうちのプッシュプル信号成分を含む部分の光が線方向側に飛ばされるようにして除去されることにとなる。
図中では、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inの反射光についての領域Ｘ、領域Ｙによるそれぞれの±１次光のスポットをスポットＴｉｌｔ-in_+1X、Ｔｉｌｔ-in_-1X、スポットＴｉｌｔ-in_+1Y、Ｔｉｌｔ-in_-1Yと示している。
また、外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの反射光についての領域Ｘ、領域Ｙによるそれぞれの±１次光のスポットをスポットＴｉｌｔ-out_+1X、Ｔｉｌｔ-out_-1X、スポットＴｉｌｔ-out_+1Y、Ｔｉｌｔ-out_-1Yと示している。
また図中では、メインビームＭの反射光についての領域Ｘ、領域Ｙによるそれぞれの±１次光のスポット（Ｍ_+1X、Ｍ_-1X、M_+1Y、Ｍ_-1Y）も示している。
【００５６】
なお、図６では図示の都合上、内周側サイドビームＳｉ、外周側サイドビームＳｏの反射光についての領域Ｘ，Ｙのぞれぞれの±１次光のスポットや、二次以上の回折光のスポットについては図示を省略している。
【００５７】
そして、図３に示した領域Ｚの作用によっては、プッシュプル信号成分が除去された回折光を、０次光スポットに対し半径方向にずれた位置に得ることができる。
図中では、メインビームＭ、内周側サイドビームＳｉ、外周側サイドビームＳｏの各反射光の領域Ｚによる±１次光のスポット（Ｍ_+1Z、Ｍ_-1Z、Ｓｉ_+1Z、Ｓｉ_-1Z、Ｓｏ_+1Z、Ｓｏ_-1Z、）を示すと共に、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inの反射光の領域Ｚによる−１次光のスポットＴｉｌｔ-in_-1Zと、外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの反射光の領域Ｚによる＋１次光のスポットＴｉｌｔ-out_+1Zとを示している。
【００５８】
ここで、上記説明からも理解されるように、受光側回折素子１２によっては、各チルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光からプッシュプル信号成分を除去した成分を、領域Ｚによる一次回折光として得ることができる（スポットＴｉｌｔ-in_-1ZやスポットＴｉｌｔ-out_+1Z）。
そこで本実施の形態では、チルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光については、このようにプッシュプル信号成分の除去された一次回折光を受光するものとし、その受光結果からチルト検出用のフォーカスエラー信号ＦＥ_ti、ＦＥ_toをそれぞれ生成する。これにより、プッシュプル信号成分の重畳により引き起こされるフォーカスエラー信号のＳ／Ｎの悪化を防止することができ、チルト検出精度の低下の防止を図ることができる。
【００５９】
図７は、受光部１４に備えられる各フォトディテクタの配置位置について説明するための図であり、図６に示した各スポット（領域Ｘ，領域Ｙの回折光は除く）も併せて示している。
なおこの図においても紙面横方向＝半径方向、紙面縦方向＝線方向である。
【００６０】
この図７に示されるように、受光部１４には、メインフォトディテクタ１４Ｍとしての、メインビームＭの反射光についての受光側回折素子１２による０次光を受光する４分割フォトディテクタと、ＤＰＰ法によるトラッキングエラー信号ＴＥの生成のために内周側サイドビームＳｉの反射光についての受光側回折素子１２による０次光を受光する２分割フォトディテクタ１４ｐｉと、同じくトラッキングエラー信号ＴＥ生成のために外周側サイドビームＳｏの反射光についての受光側回折素子１２による０次光を受光する２分割フォトディテクタ１４ｐｏとが設けられる。
さらに受光部１４には、チルト検出用のフォトディテクタ（この場合は非点収差法によるエラー信号生成のための４分割フォトディテクタとなる）として、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inの反射光を受光する内周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｉと、外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの反射光を受光する外周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｏとが設けられる。
【００６１】
この図７を参照して分かるように、本実施の形態では、従来はチルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光の０次光（Ｔｉｌｔ-in_0、Ｔｉｌｔ-out_0）を受光するようにその配置位置が設定されていた内周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｉ、外周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｏを、それぞれチルト検出用ビームの領域Ｚによる一次回折光を受光する位置に配置することになる。具体的に、内周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｉに関しては、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inの反射光の領域Ｚによる−１次光（Ｔｉｌｔ-in_-1Z）を受光する位置に配置し、また、外周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｏについては、外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの反射光の領域Ｚによる＋１次光（Ｔｉｌｔ-out_+1Z）を受光する位置に配置するものとしている。
【００６２】
ここで、これまでの説明からも理解されるように、本実施の形態では、偏光ビームスプリッタ６の選択反射面（分光面）から受光部１４までの間の光路中（往路光の光路から分光された反射光の光路）に対し受光側回折素子１２を設けて、当該受光側回折素子１２により各チルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光を回折させ、その回折光（一次回折光）を受光するものとしている。
このように受光側回折素子１２を設けて、０次光でなく回折光を受光するものとすれば、図７に示されているように、各チルト検出用フォトディテクタ１４ｔの配置位置は、メインフォトディテクタ１４Ｍにより近い位置とすることができる。つまりこのことで、受光部１４のサイズは、従来よりも小型化することができるものである。
【００６３】
このとき、受光部１４のサイズを決定付けるのは、各チルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光の領域Ｚによる一次回折光のスポット位置であり、ひいては領域Ｚの回折角となる。
ここで、従来よりも受光部１４のサイズの小型化を図るためには、図７におけるスポットＴｉｌｔ-in_-1ZとスポットＴｉｌｔ-out_+1Zが、それぞれスポットＴｉｌｔ-in_0、スポットＴｉｌｔ-out_0よりもメインビームスポットＭ_0側に得られるようにすればよいが、このとき、注意すべきであるのは、上記スポットＴｉｌｔ-in_-1Z、Ｔｉｌｔ-out_+1Zの位置が、他のスポットに対して重ならないようにすべきであるという点である。
図７に示す各０次光のスポットＭ_0、Ｔｉｌｔ-in_0、Ｔｉｌｔ-out_0の間隔は、往路側に設けた光源側回折素子５による回折角によって定まるものであるので、この点を考慮すると、仮に、受光側回折素子１２（領域Ｚ）の回折角を光源側回折素子５の回折角と等しくなるようにした場合には、各チルト検出用のスポットＴｉｌｔ-in_-1Z、Ｔｉｌｔ-out_+1Zの位置は、メインビームスポットＭ_0に対して重なってしまうこととなる。
この点からも理解されるように、受光側回折素子１２の領域Ｚの回折角としては、光源側回折素子５による回折角とは異なるものとなるように設定する必要がある。
【００６４】
また上記の説明を踏まえると、仮に、領域Ｚの回折角を光源側回折素子５の回折角の１／２となるように設定した場合には、各チルト検出用のスポットＴｉｌｔ-in_-1Z、Ｔｉｌｔ-out_+1Zの位置は、メインビームＭの反射光についての領域Ｚによる一次回折光の各スポットＭ_+1Z、Ｍ_-1Zとそれぞれ重なってしまうことになる。
従って領域Ｚの回折角は、光源側回折素子５による回折角の１／２以外とするという条件も必要となる。
【００６５】
以上の点を踏まえると、本例のようにメインビームＭの反射光スポットと各チルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光スポットとが半径方向に一直線上に配置されるという条件の下では、受光部１４のサイズを従来よりも小とするにあたり、領域Ｚの回折角を光源側回折素子５による回折角の１／２以外で且つ光源側回折素子５による回折角よりも小となるように設定すればよいものとなる。
【００６６】
図８は、図１に示した信号生成回路１５の内部構成例を示した図である。
なおこの図８においては、受光部１４の内部構成も併せて示している。
前述もしたように、受光部１４には、メインフォトディテクタ１４Ｍ、及びＤＰＰ法によるトラッキングエラー信号ＴＥ生成のための２分割フォトディテクタ１４ｐｉと２分割フォトディテクタ１４ｐｏと共に、内周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｉと外周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｏが設けられる。
【００６７】
メインフォトディテクタ１４Ｍは４分割ディテクタであり、図のように受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを有している。
また２分割フォトディテクタ１４ｐｉは受光素子ｐｉＡ，ｐｉＢを有し、２分割フォトディテクタ１４ｐｏは受光素子ｐｏＡ，ｐｏＢを有する。
また、内周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｉは受光素子Ａｉ，Ｂｉ，Ｃｉ，Ｄｉを有し、外周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｏは受光素子Ａｏ，Ｂｏ，Ｃｏ，Ｄｏを有している。
なお、これら各受光素子の配置と受光面上に形成される各反射光スポットとの関係は図７に示した通りである。
【００６８】
また、信号生成回路１５には、トラッキングエラー信号生成回路１５Ａ、メインフォーカスエラー信号生成回路１５Ｂ、再生信号生成回路１５Ｃと共に、外周側フォーカスエラー信号生成回路１５Ｄ、内周側フォーカスエラー信号生成回路１５Ｅが設けられている。
【００６９】
トラッキングエラー信号生成回路１５Ａは、メインフォトディテクタ１４Ｍの受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによる受光信号と共に、２分割フォトディテクタ１４ｐｉの受光素子ｐｉＡ，ｐｉＢによる受光信号及び２分割フォトディテクタ１４ｐｏの受光素子ｐｏＡ，ｐｏＢによる受光信号を入力し、ＤＰＰ法又はＤＰＤ法によるトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
具体的に、トラッキングエラー信号生成回路１５は、光ディスクＤがウォブリンググルーブの形成された記録可能型ディスクである場合に対応しては、上記受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ、及び受光素子ｐｉＡ，ｐｉＢ，ｐｏＡ，ｐｏＢによる受光信号に関して、先ずは次の［式１］［式２］による計算を行ってメインプッシュプル信号ＭＰＰ、及びサイドプッシュプル信号ＳＰＰを生成する。
ＭＰＰ＝｛（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）｝  ・・・［式１］
ＳＰＰ＝｛（ｐｉＡ−ｐｉＢ）＋（ｐｏＡ−ｐｏＢ）｝  ・・・［式２］
その上でトラッキングエラー信号生成回路１５Ａは、下記の［式３］によりＤＰＰ法によるトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
ＴＥ（ＤＰＰ）＝ＭＰＰ−α×ＳＰＰ  ・・・［式３］
但し［式３］において、αは所定の係数を表す。
【００７０】
またトラッキングエラー信号生成回路１５Ａは、光ディスクＤがピット列による情報記録の行われた再生専用型ディスクである場合に対応しては、メインフォトディテクタ１４Ｍの受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによる受光信号に基づき、下記［式４］によりＤＰＤ法によるトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
ＴＥ（ＤＰＤ）＝φＡ＋φＣ−（φＢ＋φＤ）  ・・・［式４］
但し［式４］において、演算子φは信号位相を表し、式全体としては位相差を表している。
【００７１】
また、メインフォーカスエラー信号生成回路１５Ｂは、メインフォトディテクタ１４Ｍの受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによる受光信号に基づき、下記［式５］による計算を行ってフォーカスエラー信号ＦＥ_Mを生成する。
ＦＥ_M＝Ａ＋Ｃ−（Ｂ＋Ｄ）  ・・・［式５］
【００７２】
また、再生信号生成回路１５Ｃは、メインフォトディテクタ１４Ｍの受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによる受光信号に基づき、下記［式６］による計算を行って再生信号ＲＦを生成する。
ＲＦ＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ  ・・・［式６］
【００７３】
また、外周側フォーカスエラー信号生成回路１５Ｄ、内周側フォーカスエラー信号生成回路１５Ｅは、それぞれ外周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｏの受光素子Ａｏ，Ｂｏ，Ｃｏ，Ｄｏによる受光信号、内周側チルト検出用ディテクタ１４ｔｉの受光素子Ａｉ，Ｂｉ，Ｃｉ，Ｄｉによる受光信号に基づいて、下記の［式７］、［式８］によりそれぞれチルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_to、チルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_tiを生成する。
ＦＥ_to＝Ａｏ＋Ｃｏ−（Ｂｏ＋Ｄｏ）  ・・・［式７］
ＦＥ_ti＝Ａｉ＋Ｃｉ−（Ｂｉ＋Ｄｉ）  ・・・［式８］
【００７４】
先の図１においても説明したように、チルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_to、ＦＥ_tiは、チルト検出部１６に対して供給され、該チルト検出部１６は、これらチルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_to、ＦＥ_tiに基づき、チルト検出信号ｓｔｉを計算により求める。
具体的に、この場合のチルト検出部１６は、チルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_to、ＦＥ_tiに基づき、下記［式９］によりチルト検出信号ｓｔｉを求める。
ｓｔｉ＝ＦＥ_ti−ｋ×ＦＥ_to
但し［式９］において、ｋは予め定められた係数であり、例えば光学系のばらつき成分が補正されるようにして予め実験的に求めておく。
【００７５】
以上で説明してきたように、本実施の形態では、各チルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光を、受光側回折素子１２（領域Ｚ）により回折してその一次回折光を受光するものとしている。これにより、受光面上における各チルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光のスポット間隔は、上記領域Ｚの回折角の設定により任意に設定することができ、結果、往路側の光源側回折素子５により各チルト検出用ビームＴｉｌｔのスポット間隔を広げてチルト検出感度の向上を図ったとしても、受光部１４のサイズ拡大化が防止されるようにできる。
【００７６】
また本実施の形態では、各チルト検出用ビームＴｉｌｔの反射光に関して、それらに重畳するプッシュプル信号成分を、受光側回折素子１２（領域Ｘ、Ｙ）を設けて回折により除去するものとしている。このようにプッシュプル信号成分の除去を回折により行うことで、従来の遮光マスクを用いる場合のようにメインビームＭの一部が遮光されてしまうことの防止が図られ、これによりメインビームＭの受光結果から生成される信号の品質劣化の防止を図ることができる。
【００７７】
以上より、本実施の形態によれば、チルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_tiとチルト検出用フォーカスエラー信号ＦＥ_toとの差分を計算してチルト検出を行う構成を採る場合において、各チルト検出用ビームの光ディスクＤ上での間隔を広げることによるチルト検出感度の向上を図りつつ、受光部１４のサイズ拡大化の防止を図ることができると共に、プッシュプル信号成分の重畳に伴うエラー信号ＦＥ_ti、ＦＥ_toの劣化を防止してチルト検出精度の低下の防止を図りつつメインビームスポットの光量低下による信号品質劣化の防止を図ることができる。
【００７８】
＜２．第２の実施の形態＞
図９は、第２の実施の形態の光学ドライブ装置（記録再生装置）の内部構成について説明するための図であり、特に光ピックアップＯＰの内部構成を抽出して示している。
なお、第２の実施の形態の記録再生装置における光ピックアップＯＰを除く部分の構成は、図１に示した記録再生装置１の場合と同様となることから、図示による説明は省略する。
また図９において、既に図１において説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
【００７９】
第２の実施の形態は、先の第１の実施の形態においては分光面（偏光ビームスプリッタ６の選択反射面）から受光部１４までの間に挿入された受光側回折素子によりプッシュプル信号成分の除去を行うようにしていたものを、上記分光面から光源（レーザダイオード２）の間に挿入される光源側回折素子によりプッシュプル信号成分の除去を行うようにしたものである。
具体的に、第２の実施の形態の記録再生装置においては、図１に示した光源側回折素子５に代えて、光源側回折素子３０が設けられる。
また受光側回折素子１２に代えて受光側回折素子３１が設けられる。
【００８０】
図１０は、図９に示す光源側回折素子３０の構造例（図１０（ａ））と受光側回折素子３１の構造例（図１０（ｂ））とを示している。
なお図１０においても紙面横方向が半径方向、紙面縦方向が線方向である。
これら図１０（ａ）（ｂ）を参照して分かるように、この場合は光源側回折素子３０に領域Ｘ，Ｙ，Ｚによる領域分けが施され、受光側回折素子３１は、領域分けの施されていない回折格子、すなわち入射ビームを一様に回折する単純な回折格子で構成されることとなる。
【００８１】
図１０（ａ）においては、ＤＰＰ用回折素子４より出力されたメインビームＭが光源側回折素子３０に入射したときのスポット形状を破線により示している。光源側回折素子３０は、このようにＤＰＰ用回折素子４より入射したメインビームＭのスポット内におけるプッシュプル信号成分の重畳領域を覆うことができるように領域Ｘ、領域Ｙの形成位置及び形状が設定されている。
そしてこの場合も、領域Ｘ、領域Ｙに形成される回折格子としては、線方向に回折光を出力するように構成され、これら領域Ｘ，Ｙを除いた領域である領域Ｚに形成される回折格子としては、半径方向に回折光を出力するように構成される。
【００８２】
このような構成により、第２の実施の形態においては、往路光の段階でプッシュプル信号成分が回折により除去されるようにできる。
【００８３】
この場合、受光側回折素子３１としては、回折光を半径方向に出力するように構成された回折格子で構成する。
確認のために述べておくと、このような受光側回折素子３１としても、その回折角の条件については第１の実施の形態の場合と同様に設定すればよく（但し第２の実施の形態の場合は光源側回折素子３１の領域Ｚの回折角を基準とする）、そのことで、この場合もディスクＤ上での各チルト検出用ビームＴｉｌｔのスポット間隔を広げることによるチルト検出感度の向上と受光部１４のサイズ拡大化の防止との両立が図られる。
【００８４】
＜３．変形例＞
［3-1．変形例１］
以上、本発明の各実施の形態について説明してきたが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、受光面上においてメインビームＭの０次光スポットと各チルト検出用ビームＴｉｌｔの１次光スポットとが一直線上に並ぶように配列される場合を例示したが、例えば光源側回折素子の回折方向（第２の実施の形態の場合は領域Ｚの回折方向）と受光側回折素子の回折方向（第１の実施の形態の場合は領域Ｚの回折方向）の設定等により、次の図１１に示すようにして、受光面上におけるそれら各スポットの位置が一直線上に並ばないように設定することもできる（変形例１とする）。
【００８５】
図１１（ａ）は、変形例１の場合における光源側回折素子による作用について説明するための図である。なおこの図１１においては、第１の実施の形態と同様に、光源側回折素子でなく受光側回折素子にプッシュプル信号成分の除去機能が与えられているものとする。
この図１１（ａ）に示すように、光源側回折素子により、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ_inと外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ_outとを、半径方向及び線方向の双方に対し非平行となる方向において生成したとする。
一方で、受光側の回折素子（領域Ｚ）としては、この場合もその回折方向が半径方向に設定されているとする。
【００８６】
このような各回折素子の回折方向の設定によると、この場合において受光面上で得られるメインビームＭの反射光の０次光スポットＭ_0、一次光スポットＭ_+1Z，Ｍ_-1Z、及び各チルト検出用ビームＴｉｌｔの０次光スポットＴｉｌｔ-in_0，Ｔｉｌｔ-out_0、一次光スポットＴｉｌｔ-in_-1Z，Ｔｉｌｔ-out_+1Zの位置関係は、図１１（ｂ）に示すようになる。
【００８７】
このようにして例えば光源側と受光側の回折素子の回折方向の設定等によって、メインビームＭの反射光の０次光スポットＭ_0、一次光スポットＭ_+1Z，Ｍ_-1Zに対して、各チルト検出用ビームＴｉｌｔの０次光スポットＴｉｌｔ-in_0，Ｔｉｌｔ-out_0、一次光スポットＴｉｌｔ-in_-1Z，Ｔｉｌｔ-out_+1Zが一直線上に並ばないようにすることができる。
【００８８】
ここで、この変形例１のようにメインビームＭの反射光の０次光スポットＭ_0、一次光スポットＭ_+1Z，Ｍ_-1Zに対して、各チルト検出用ビームＴｉｌｔの０次光スポットＴｉｌｔ-in_0，Ｔｉｌｔ-out_0、一次光スポットＴｉｌｔ-in_-1Z，Ｔｉｌｔ-out_+1Zが一直線上に並ばないように光学系が設計されているという条件の下では、受光側回折素子（第１の実施の形態の場合は領域Ｚ）の回折角は、光源側回折素子の回折角のちょうど１／２に設定しても、受光面上で各チルト検出用ビームＴｉｌｔに基づくスポットがメインビームＭに基づくスポットに対して重なることがないようにできる。つまりこのことで、先に述べた各実施の形態の場合における回折角の条件のうちの、「受光側回折素子の回折角を光源側回折素子の回折角の１／２以外に設定する」という条件は除外することができる。
【００８９】
［3-2．変形例２］
また、これまでの説明では、あくまで受光側の回折素子の回折角を光源側の回折素子の回折角よりも小とする場合を前提としたので、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inの−１次光スポット（図７ではＴｉｌｔ-in_-1Z）が当該内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inの０次光スポットとメインビームＭの０次光スポットとの間に得られ、また外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの＋１次光スポット（図７ではＴｉｌｔ-out_+1Z）が当該外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの０次光スポットとメインビームＭの０次光スポットとの間に得られる場合を例示した。しかしながら逆に、受光側の回折素子の回折角を光源側の回折素子の回折角よりも大とすることで、次の図１２に示されるようにして、内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inの−１次光スポット（図１２ではＴｉｌｔ-in_-1Zとしている）が外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの０次光スポットとメインビームＭの０次光スポットとの間に得られ、また外周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-outの＋１次光スポット（図１２ではＴｉｌｔ-out_+1Zとしている）が内周側チルト検出用ビームＴｉｌｔ-inの０次光スポットとメインビームＭの０次光スポットとの間に得られるようにすることもできる（変形例２とする）。
【００９０】
このような変形例２によっても、チルト検出用の各ディテクタの配置位置は従来よりもメインビームＭの０次光スポット（メインフォトディテクタ１４Ｍ）に近づけることができ、従って受光部１４の拡大化防止が図られることに変わりはない。
【００９１】
但しここで注意すべき点は、回折素子の性質として、回折角を大とした場合には、温度変化等によるレーザ光の波長変動に対する回折角の変化量がより大となってしまうという点である。つまりは、上記のように受光側で回折素子の回折角を大としたときには、波長変動に伴いチルト検出用ビームＴｉｌｔのスポット位置の変動がより大となってしまい、チルト検出の安定性が損なわれてしまう虞があるものである。
例えば使用するレーザ光の波長帯等により波長変動に対する回折角の変化量が無視できる程度のものであれば、受光側の回折素子の回折角を光源側の回折素子の回折角よりも大とする変形例２は有効である。
【００９２】
なお確認のために述べておくと、先に説明した各実施の形態は、受光側の回折素子の回折角を光源側の回折素子の回折角よりも小とすることによって、チルト検出の安定性向上が図られるという効果も奏するものである。
【００９３】
ここで、以上の変形例１及び変形例２を踏まえた上で、あくまで受光部１４の拡大化の防止を図るという点のみを考慮するのであれば、チルト検出用ビームＴｉｌｔの受光側回折素子による一次回折光スポットは、受光面上において、次の図１３に示される円状の範囲内に得られるようにすればよいということになる。すなわち、この図１３に示されているように、メインビームＭの０次光スポットＭ_0を中心とし且つ当該０次光スポットＭ_0からチルト検出用ビームＴｉｌｔの０次光スポット（Ｔｉｌｔ-in_0又はＴｉｌｔ-out_0）までの間の距離を半径とする円状の範囲内に得られるようにすればよい。
これを換言すれば、受光部１４の拡大化の防止が図られるようにするにあたり受光側回折素子としては、その回折角や回折方向（或いは取り付け角度）が、当該受光側回折素子による各チルト検出用ビームＴｉｌｔの一次回折光スポットが受光面上で上記の円状範囲内に得られるように設定されたものであればよい。
このとき、受光側回折素子の回折角や回折方向は、受光対象とするチルト検出用ビームＴｉｌｔの一次回折光のスポットが当該受光側回折素子による０次光や他の回折光に重ならないようにするという点も考慮して設定されるべきであるということについては言うまでもない。
【００９４】
［3-3．その他の変形例］
またこれまでの説明では、チルト検出はラジアル方向のみについて行う場合を例示したが、タンジェンシャル方向において行う場合にも本発明は好適に適用できる。
【００９５】
またこれまでの説明では、チルト検出に用いるフォーカスエラー信号ＦＥ_ti、ＦＥ_toとして、非点収差法によるフォーカスエラー信号を生成する場合を例示したが、例えばナイフエッジ法やスポットサイズ法などの他の手法によるフォーカスエラー信号を生成する場合にも、本発明は好適に適用することができる。
【００９６】
またこれまでの説明では、トラッキングエラー信号ＴＥの生成手法としてＤＰＰ法を採用する場合を例示したが、例えば１ビームプッシュプル方式（下記参考文献２を参照）などの他の手法を採用することもできる。
例えば１ビームプッシュプル方式を採用する場合、ＤＰＰ法で必要とされていたＤＰＰ用回折素子４は省略することができる。その代わりにこの場合は、復路の分光面（図１においては偏光ビームスプリッタ６の選択反射面）から受光部１４までの間に、１ビームプッシュプル用の回折素子を挿入することになる。
なお、このような１ビームプッシュプル用の回折素子に、受光側回折素子１２や受光側回折素子３１としての機能を持たせることも可能である。
参考文献２・・・特願２００８−１８４０６１
【００９７】
また、これまでの説明では、本発明が光ディスク記録媒体についての記録と再生の双方が可能な記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は、光ディスク記録媒体についての再生機能のみを有する再生専用装置（再生装置）や、記録機能のみを有する記録専用装置（記録装置）に対しても好適に適用することができる。
【符号の説明】
【００９８】
１  記録再生装置、２  レーザダイオード、３  コリメーションレンズ、４  ＤＰＰ用回折素子、５,３０  光源側回折素子、６  偏光ビームスプリッタ、７  液晶素子、８  １／４波長板、９  対物レンズ、１０  ２軸アクチュエータ、１１  集光レンズ、１２,３１  受光側回折素子、１３  シリンドリカルレンズ、１４  受光部、１４Ｍ  メインフォトディテクタ、１４ｐｉ,１４ｐｏ  ２分割フォトディテクタ、１４ｔｉ  内周側チルト検出用ディテクタ、１４ｔｏ  外周側チルト検出用ディテクタ、１５  信号生成回路、１５Ａ  トラッキングエラー信号生成回路、１５Ｂ  メインフォーカスエラー信号生成回路、１５Ｃ  再生信号生成回路、１５Ｄ  外周側フォーカスエラー信号生成回路、１５Ｅ  内周側フォーカスエラー信号生成回路、１６  チルト検出部、１７  再生処理部、１８  サーボ回路、１９  フォーカスドライバ、２０  トラッキングドライバ、２１  記録処理部、２２  レーザドライバ、２３  システムコントローラ、２４  収差補正部、ＯＰ  光ピックアップ、Ｄ  光ディスク
【図１】
2011146091.tif 000003
【図２】
2011146091.tif 000004
【図３】
2011146091.tif 000005
【図４】
2011146091.tif 000006
【図５】
2011146091.tif 000007
【図６】
2011146091.tif 000008
【図７】
2011146091.tif 000009
【図８】
2011146091.tif 000010
【図９】
2011146091.tif 000011
【図１０】
2011146091.tif 000012
【図１１】
2011146091.tif 000013
【図１２】
2011146091.tif 000014
【図１３】
2011146091.tif 000015
【図１４】
2011146091.tif 000016