(57)【要約】【課題】複数のソフトウェア部品で構成されているソフトウェアに対して、ソフトウェア部品が組み合わされた状態で実施されるシステムテスト仕様を生成する。【解決手段】システムテスト仕様生成装置は、ソフトウェア１と、仕様分析部２と、システムテスト仕様データベース３と、システムテスト仕様設定部４と、システムテスト仕様出力部５で構成される。ソフトウェア１はソフトウェア部品１１、１２、１３で構成される。仕様分析部２はソフトウェア部品毎に対応するソフトウェア部品仕様抽出部２１、２２、２３と、ソフトウェア部品仕様を統合してシステム仕様を生成するシステム仕様統合部で構成される。システム仕様設定部４は、システム仕様統合部２４からのシステム仕様に基づいて、システムテスト使用データベース３に格納されているからシステムテスト仕様を再利用し、ソフトウェア部品が組み合わされた状態で実施されるシステムテスト仕様を生成し、システムテスト仕様出力部５に出力する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
機器に組み込まれて動作する組込みソフトウェアの機能仕様に基づいて、前記組込みソフトウェアの動作検証を行うためのシステムテスト仕様を生成するシステムテスト仕様生成装置であって、
前記組込みソフトウェアは複数のソフトウェア部品で構成されるとともに、
前記ソフトウェア部品毎に対応してソフトウェア部品仕様情報を抽出する複数のソフトウェア部品仕様抽出部と、
前記ソフトウェア部品仕様情報を統合してシステム仕様を生成するシステム仕様統合部とで構成される仕様情報分析部と、
前記組込みソフトウェアに対し、再利用可能なシステムテスト仕様として、テストパターンを定義する複数個のシステムテスト仕様部品と、前記システムテスト仕様部品の実行タイミングを定義するシステムテスト仕様フレームワークとを保存するシステムテスト仕様データベースと、
前記仕様情報分析部からのシステム仕様と対応して、前記複数個のシステムテスト仕様部品から前記ソフトウェア部品毎に対応するテスト仕様を、前記システムテスト仕様フレームワークの実行により取り出し、システムテスト仕様を構成するシステムテスト仕様設定部と、
前記システムテスト仕様を出力するシステムテスト仕様出力部と、
から構成されることを特徴とするシステムテスト仕様生成装置。
【請求項２】
前記ソフトウェア部品仕様抽出部は、前記ソフトウェア部品のバリエーションを識別するソフトウェア部品の固有情報と、前記ソフトウェア部品を個別製品向けに設定するためのソフトウェア部品のパラメータとを抽出することを特徴とする請求項１に記載のシステムテスト仕様生成装置。
【請求項３】
前記システム仕様統合部は、少なくとも前記ソフトウェア部品の固有情報または前記ソフトウェア部品のパラメータとのいずれか一つとシステム仕様との対応付けを行うことを特徴とする請求項２に記載のシステムテスト仕様生成装置。
【請求項４】
前記システムテスト仕様部品は、前記ソフトウェアへの入力となるシステムテスト仕様入力部品と、前記ソフトウェアの規範出力となるシステムテスト仕様評価部品とで構成されていることを特徴とする請求項３に記載のシステムテスト仕様生成装置。
【請求項５】
前記システムテスト仕様設定部は、前記システムテスト仕様フレームワークから実行されるシステムテスト仕様部品のバリエーションを、前記システム仕様に基づいて選択する判定処理を行うことを特徴とする請求項４に記載のシステムテスト仕様生成装置。
【請求項６】
前記システムテスト仕様設定部は、前記システムテスト仕様部品のバリエーションに共通して設定されるパラメータと前記ソフトウェア部品のパラメータとの対応関係を前記システム仕様に基づいて選択する判定処理を行うことを特徴とする請求項４に記載のシステムテスト仕様生成装置。
【請求項７】
前記システムテスト仕様データベースに保存されたシステムテスト仕様は、前記機器の入出力デバイスの動作パターンであることを特徴とする請求項１に記載のシステムテスト仕様生成装置。
【請求項８】
前記組込みソフトウェアは、特に前記機器の入出力デバイスを操作するための基本ソフトウェアであって、前記システムテスト仕様データベースに保存されたシステムテスト仕様は、前記機器の入出力デバイス動作パターンと、基本ソフトウェアの実行を行うサンプルアプリケーションとの組合せであることを特徴とする請求項１に記載のシステムテスト仕様生成装置。
【請求項９】
センサおよびアクチュエータを有する機器に組み込まれて動作する組込みソフトウェアの機能仕様に基づいて、前記組込みソフトウェアの動作検証を行うためのシステムテスト仕様を生成するシステムテスト仕様生成装置であって、
前記組込みソフトウェアは複数のソフトウェア部品で構成されるとともに、前記ソフトウェア部品のバリエーションを識別するソフトウェア部品の固有情報と、前記ソフトウェア部品を個別製品向けに設定するためのソフトウェア部品のパラメータとを有し、
前記ソフトウェア部品毎に対応してソフトウェア部品仕様情報を抽出する複数のソフトウェア部品仕様抽出部と、少なくとも前記ソフトウェア部品の固有情報または前記ソフトウェア部品のパラメータのいずれか一つとシステム仕様との対応付けを行い、前記ソフトウェア部品仕様情報を統合してシステム仕様を生成するシステム仕様統合部とで構成される仕様情報分析部と、
再利用可能なシステムテスト仕様として、テストパターンを定義する複数個のシステムテスト仕様部品と、前記システムテスト仕様部品の実行タイミングを定義するシステムテスト仕様フレームワークとを保存し、前記システムテスト仕様部品は前記組込みソフトウェアへの入力となるシステムテスト仕様入力部品と、前記ソフトウェアの規範出力となるシステムテスト仕様評価部品とで構成するシステムテスト仕様データベースと、
前記システムテスト仕様フレームワークからの実行により、前記複数個のシステムテスト仕様部品からテスト仕様を取り出し、システムテスト仕様部品のバリエーションは前記システム仕様に基づいてソフトウェア部品毎に選択し、前記システムテスト仕様部品のバリエーションに共通して設定されるパラメータと前記ソフトウェア部品のパラメータとの対応関係を前記システム仕様に基づいて選択する判定処理を行ってシステムテスト仕様を構成するシステムテスト仕様設定部と、
前記システムテスト仕様を出力するシステムテスト仕様出力部と、
から構成されることを特徴とするシステムテスト仕様生成装置。
【請求項１０】
ソフトウェアが組み込まれる電子制御装置と、システムテスト仕様が実行される実時間テスト装置で構成され、請求項１に記載のシステムテスト仕様生成装置で生成されたテスト仕様を実機である前記電子制御装置に与えて動作検証を行うための試験装置であって、
前記電子制御装置は、テスト対象である組込みソフトウェアと、該組込みソフトウェアを実行するとともに外部との入出力端子が接続されるＣＰＵとで構成され、
前記実時間テスト装置は、請求項１に記載の前記システムテスト仕様データベースと、判定装置とを含んで構成され、前記システムテストフレームワーク上で実行されるシステムテスト仕様として請求項１に記載のシステムテスト仕様生成装置で生成されたシステム仕様が設定され、前記システムテストフレームワークが実行されると、システム仕様入力部品からテスト入力パターンを演算するとともに、前記入力パターンを前記電子制御装置に対して電圧、電流等の入力として与え、
前記電子制御装置は、前記入力パターンに基づいて前記組込みソフトウェアが演算して出力信号を発生し、
前記実時間テスト装置のシステムテストフレームワークは、所定のタイミングにおいてシステムテスト仕様評価部品を実行してテスト出力パターンを演算し、
前記判定装置は、前記電子制御装置の出力信号と前記テスト出力パターンを比較して、該出力信号が所定の誤差内に収まっているか否かを判定し、前記組込みソフトウェアが要求機能通りの動作をしているかを確認することを特徴とする試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ソフトウェアのテスト仕様生成装置に関し、特に複数のソフトウェア部品を組み合わせて構成されるソフトウェアが機能仕様を満足するか否かを判定するためのシステムテスト仕様を作成するシステムテスト仕様生成装置と、生成されたテスト仕様による実機ソフトウェアの試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ソフトウェア技術の適用対象として、自動車、携帯電話等の機器に組み込んで対象を制御する、いわゆる組み込みソフトウェアがある。このような組込みソフトウェアによる制御は、従来の機械的機構や電気回路による方式に比べて柔軟かつ高度な制御が実現できること、ソフトウェアの部分的な変更によって多くの派生製品を開発できることが利点として挙げられる。
【０００３】
ソフトウェアのテスト仕様生成装置に関し、特許文献１には、ソフトウェアのテスト仕様生成装置として、分析対象であるソフトウェアの機能仕様を表形式で記述することによって、個別製品向けのテスト仕様を新規に生成する技術が開示されている。
【０００４】
また、特許文献２には、再利用ソフトウェア部品のテスト仕様生成装置として、ソフトウェア部品毎に標準的なテスト仕様を用意し、そのソフトウェア部品が製品に使われた際の設定情報に基づいて標準検査仕様をカスタマイズし、個別機種向けのテスト仕様を生成する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１１−３０６０４６号広報
【特許文献２】特開２００５−２５０５９０号広報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１のテスト仕様生成装置では、テスト仕様を新規に生成した場合に、そのテスト仕様そのものの妥当性を検証するために十分なレビューをしなければならない。また、特許文献２の技術によって、ソフトウェ部品の単体テストの再利用が可能になる一方で、複数のソフトウェア部品で構成されるソフトウェアに対するシステムテストについて製品ごとにか開発しなければならないという問題がある。
【０００７】
ソフトウェアの一例として、自動車用エンジン制御システムがある。エンジンには、気筒数、排気量、燃料噴射方式、吸気制御方式等の機械的要求や、仕向地、対応排気規制等の要求に対応する製品仕様が数多く存在する。また、それぞれの製品仕様について、例えば気筒数に関しては４気筒、６気筒、８気筒等、多くの選択肢がある。自動車用エンジン制御システムでは、これらの製品仕様に対応するようにソフトウェア部品を設けると共に、個別製品向けにソフトウェア部品を設定し、ソフトウェア部品を組み合わせてソフトウェア全体を構築するという、ソフトウェア部品再利用型開発が主流となっている。
【０００８】
従来は対象製品ごとにソフトウェアを開発したり、類似の製品に基づいて差分を開発したりしていた。しかし、組込みソフトウェアの適用範囲拡大に伴い、派生製品数およびソフトウェアの規模が増大したため、開発効率の大幅な向上が要求されている。特に、派生製品開発における再利用型開発の効率化が求められている。ソフトウェアの開発工程には、大きく分類して要求分析工程、設計工程、実装工程そして検証工程があり、本発明は特に検証工程の効率化に関する。
【０００９】
このようなソフトウェア部品再利用型開発において、部品を組み合わせたシステムが所望どおりの動作を行うか否かと言う検証を行うためにシステムテスト仕様が必要となる。特に、システムテスト仕様の妥当性を保証する為に、既に過去の製品で実績のあるシステムテスト仕様そのものを再利用したいという課題がある。
【００１０】
本発明の目的は、前記課題に鑑みてなされたものであって、再利用されるソフトウェア部品情報を統合することによって、部品化されたシステムテスト仕様との対応付けを行いシステムテスト仕様を生成し、ソフトウェア検証作業における生産性の向上を図るシステムテスト仕様生成装置およびその試験装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明のシステムテスト仕様生成装置は、センサおよびアクチュエータを有する機器に組み込まれて動作するソフトウェアに関して、前記ソフトウェアの機能仕様に基づいて、前記ソフトウェアの動作検証を行うためのシステムテスト仕様を生成するシステムテスト仕様生成装置であって、前記ソフトウェアは複数のソフトウェア部品で構成されるとともに、前記ソフトウェア部品毎に対応してソフトウェア部品仕様情報を抽出する複数のソフトウェア部品仕様抽出部と、前記ソフトウェア部品仕様情報を統合してシステム仕様を生成するシステム仕様統合部とで構成される仕様情報分析部と、前記ソフトウェアに対する再利用可能なシステムテスト仕様を保存するシステムテスト仕様データベースと、前記システム仕様に基づいて前記システムテスト仕様データベースからシステムテスト仕様を構成するシステムテスト仕様設定部と、前記システムテスト仕様を出力するシステムテスト仕様出力部とで構成されることを特徴とする。
前記ソフトウェア部品仕様抽出部は少なくとも、前記ソフトウェア部品を識別するソフトウェア部品固有情報と、前記ソフトウェア部品を個別製品向けに設定するためのソフトウェア部品パラメータのソフトウェア部品パラメータ設定情報とを抽出することを特徴とする。
前記システム仕様統合部は、少なくとも前記ソフトウェア部品固有情報または前記ソフトウェア部品パラメータとのいずれか一つとシステム仕様との対応付けを行うシステム仕様変換部を有することを特徴とする。
【００１２】
前記システムテスト仕様データベースに保存されるシステムテスト仕様は、テストパターンを定義する複数個のシステムテスト仕様部品と、前記システムテスト仕様部品の実行タイミングを定義するシステムテスト仕様フレームワークとで構成されることを特徴とする。
【００１３】
前記システムテスト仕様部品は、前記ソフトウェアへの入力となるシステムテスト仕様入力部品と、前記ソフトウェアの規範出力となるシステムテスト仕様評価部品とで構成されていることを特徴とする。
前記システムテスト仕様設定部は、前記システム仕様に対応して、前記システムテスト仕様フレームワークから実行されるシステムテスト仕様部品を変更することを特徴とする。
前記システムテスト仕様設定部は、前記システム仕様に対応して、前記システムテスト仕様部品のパラメータを変更することを特徴とする。
前記システムテスト仕様データベースに保存されたシステムテスト仕様は、前記機器の入出力デバイス動作パターンであることを特徴とする。
前記ソフトウェアは機器に組み込まれて動作する組込みソフトウェアのうち特に前記機器の入出力デバイスを操作するための基本ソフトウェアであって、前記システムテスト仕様データベースに保存されたシステムテスト仕様は、前記機器の入出力デバイス動作パターンと、基本ソフトウェアの実行を行うサンプルアプリケーションとの組合せであることを特徴とする。
【００１４】
また、本発明は、ソフトウェアが組み込まれる電子制御装置と、システムテスト仕様が実行される実時間テスト装置で構成され、生成されたシステムテスト仕様を前記電子制御装置に与えて動作試験を行う装置であって、前記電子制御装置は、テスト対象である組込みソフトウェアと、該組込みソフトウェアを実行するとともに外部との入出力端子が接続されるＣＰＵとで構成され、前記実時間テスト装置は、請求項１に記載のシステムテスト仕様データベースを含んで構成され、その上で前記システムテストフレームワークが実行されて、システム仕様入力部品からテスト入力パターンを演算するとともに、前記入力パターンを前記電子制御装置に対して電圧、電流等の入力として与え、前記電子制御装置は、前記入力パターンに基づいて前記組込みソフトウェアが演算して出力信号を発生し、前記実時間テスト装置のシステムテストフレームワークは、所定のタイミングにおいてシステムテスト仕様評価部品を実行してテスト出力パターンを演算し、前記電子制御装置の出力信号と比較して、該出力信号が所定の誤差内に収まっているか否かを判定し、前記組込みソフトウェアが要求機能通りの動作をしているかを試験することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、再利用したソフトウェア部品と、ソフトウェア部品の設定情報とに基づいて、新規に開発したソフトウェアに対するシステムテスト仕様を生成することが可能になる。これにより、ソフトウェア検証作業における生産性の向上を図ることが可能になる。 
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態によるシステムテスト仕様生成装置の構成図である。
【図２】エンジン制御用ソフトウェアの構成図である。
【図３】ソフトウェア部品の設定パラメータを示す説明図である。
【図４】ソフトウェア部品仕様とシステム仕様との対応を示す説明図である。
【図５】システムテスト仕様データベースの構成図である。
【図６】システムテスト部品の属性を示す図である。
【図７】システム仕様とシステムテスト部品Ａとの対応を示す説明図である。
【図８】システムテスト部品Ａ１の波形パターンを示す図である。
【図９】システムテスト部品Ａ２の波形パターンを示す図である。
【図１０】システムテスト部品Ａ３の波形パターンを示す図である。
【図１１】システムテスト仕様設定部のうち、システムテスト部品Ａに関するパラメータ設定部を示す図である。
【図１２】システム仕様とシステムテスト部品Ｂとの対応を示す図である。
【図１３】システム仕様とシステムテスト部品Ｃとの対応を示す図である。
【図１４】システムテスト仕様を示し、テスト部品Ａ２、テスト部品Ｂ、テスト部品Ｃ２の各入力波形と、テスト部品Ｄ１の出力波形（規範出力）を示す図である。
【図１５】システムテスト仕様を用いた組込みソフトウェアのテスト環境を示す試験装置の構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下に、本発明の一実施形態によるシステムテスト仕様生成装置について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１８】
図１は、本発明の一実施例によるシステムテスト仕様生成装置の概要を示す構成図である。システムテスト仕様生成装置は、センサおよびアクチュエータを有する機器に組み込まれて動作するソフトウェアに関して、前記ソフトウェアの機能仕様に基づいて、前記ソフトウェアの動作検証を行うためのシステムテスト仕様を生成する。
【００１９】
システムテスト仕様生成装置は、テスト対象であるソフトウェア１と、ソフトウェアの仕様を分析するための仕様分析部２と、テスト対象のソフトウェア１に対する再利用可能なシステムテスト仕様を格納するシステムテスト仕様データベース３と、仕様分析部２からの対象のソフトウェア仕様とシステムテスト仕様データベース３に基づいてシステムテスト仕様を設定するシステムテスト仕様設定部４と、システムテスト仕様を外部記憶装置やテスト環境へ出力するシステムテスト仕様出力部５とで構成される。
【００２０】
ソフトウェア１は、ソフトウェア部品Ａ １１、ソフトウェア部品Ｂ １２、ソフトウェア部品Ｃ １３という複数個の組込み状態のソフトウェア部品で構成される。
【００２１】
仕様分析部２は、ソフトウェア１を構成しているソフトウェア部品に対応して設けられ、ソフトウェア部品の仕様を抽出するソフトウェア部品仕様抽出部２１、２２、２３と、複数個のソフトウェア部品１１、１２、１３のソフトウェア部品仕様を統合してシステム仕様への変換を行うシステム仕様統合部２４とで構成される。
【００２２】
以上の構成を取ることによって、ソフトウェアを構成している複数個のソフトウェア部品仕様に基づいて、ソフトウェア全体のシステム仕様を統合し、このシステム仕様に対応してシステムテスト仕様を再利用することが出来る。
【００２３】
図２は、システムテスト仕様生成装置が適用されるソフトウェア１の具体例の一つである自動車用エンジン制御ソフトウェア６を示す構成図である。
エンジン制御ソフト６は、制御アプリケーションソフト６１と、基本ソフト６２と、アプリケーションプログラムインタフェース（ＡＰＩ）６３とで構成される。制御アプリケーションソフト６１は、燃料制御ソフト部品６１１と、点火制御ソフト部品６１２と、故障診断ソフト部品６１３と、変速機制御ソフト部品６１４とで構成される。基本ソフト６２は、マイコン用ソフト部品６２１と、通信用ソフト部品６２２と、入出力用ソフト部品６２３と、クランクセンサ用ソフト部品６２４とで構成される。
【００２４】
ここで、エンジン制御ソフト６の構造を用いて新規製品を開発する場合を説明する。燃料制御ソフト部品６１１には、そのバリエーションとして燃料制御ソフト部品６１１１と、燃料制御ソフト部品６１１２とが存在し、それぞれに固有の識別情報（ＩＤ）としてＦ００１とＦ００２とが与えられている。製品を開発する際には、システム仕様や製品個別の制御仕様に基づいて、燃料制御ソフト部品６１１１あるいは６１１２のいずれかを選択し、エンジン制御ソフトウェア６を構成する。
ソフトウェア部品仕様抽出部（例えば２１）は、ソフトウェア部品の仕様として、複数のバリエーションが存在するソフトウェア部品においてどのソフトウェア部品が実装されたかの情報としてソフトウェア部品ＩＤを抽出する。ソフトウェア部品仕様抽出部２１は、ソフとウェア部品を識別するソフトウェア部品固有情報（ＩＤ）と、ソフトウェア部品を個別製品向けに設定するためのソフトウェア部品パラメータ設定情報である設定パラメータを抽出する。
【００２５】
図３は、本実施例におけるエンジン制御ソフトウェア６における燃料制御ソフトウェア部品に共通して設けられている設定パラメータである気筒数６１１０１と排気量６１１０２を示す説明図である。図２に示したように燃料制御ソフトウェア部品６１１は複数のソフトウェア部品バリエーションとして燃料制御ソフトウェア部品６１１１および６１１２を有しているが、ソフトウェアが制御対象とするシステム（エンジン）に対応する設定パラメータとして、気筒数６１１０１と排気量６１１０２を共有している。
ソフトウェア部品仕様抽出部２１は、前記ソフトウェア部品の仕様として、ソフトウェア部品の設定パラメータをソフトウェア部品仕様として抽出する。
図４は、システム仕様統合部２４におけるソフトウェア部品ＩＤとシステム仕様との対応付けを行うソフトウェア部品ＩＤ−システム仕様対応データベースを示す図である。
ソフトウェア部品ＩＤ−システム仕様対応データベース（例えば２４１）において、表左側はソフトウェア部品ＩＤを示し、表右側は対応するシステム仕様を示している。例えば、テスト対象となるソフトウェアがソフトウェア部品ＩＤＦ００１を有するソフトウェア部品を採用していた場合には、システム仕様として燃料噴射系仕様は“ＭＰＩ（マルチポート噴射）”であることを示している。また、ソフトウェア部品ＩＤＦ００２を有するソフトウェア部品を採用していた場合には、システム仕様として燃料噴射系仕様は“ＤＩ（ダイレクト噴射）”であることを示している。
システム仕様統合部２４は、少なくともソフトウェア部品固有情報（ＩＤ）または設定パラメータとのいずれかとシステム仕様（例えば、燃料噴射系：ＭＰＩ）の対応付けを行うシステム仕様変換部を有している。
【００２６】
図５は、システムテスト仕様データベースの一例を示す構成図である。システムテスト仕様データベース３に保存されるシステムテスト仕様は、テストパターンを定義する複数個のシステムテスト仕様部品と、その実行タイミングを定義するシステムテスト仕様フレームワークを有している。具体的には、システムテストの入出力情報を部品として保存するシステムテスト部品データベース３０と、システムテスト部品の実行順序及び実行タイミングを管理するシステムテストフレームワーク３５と、システムテスト部品の属性情報を保存する部品属性データベース３６で構成される。
【００２７】
システムテスト部品データベース３０は、大きく４種類の部品群で構成されており、ソフトウェア部品Ａに対応するテストパターンＡに関するシステムテスト部品３１１、３１２、３１３と、ソフトウェア部品Ｂに対応するテストパターンＢに関するシステムテスト部品３２１と、ソフトウェア部品Ｃに対応するテストパターンＣに関するシステムテスト部品３３１、３３２、３３３と、組合せソフトウェアの規範出力（望ましい出力）となるテストパターンＤに関するシステムテスト部品３４１、３４２とで構成されている。それぞれのシステムテスト部品は、波形や、メッセージなど、ソフトウェアへの入出力情報で構成されている。
【００２８】
図６は、システムテスト部品属性データベースを示す説明図である。システムテスト部品Ａ３１、Ｂ３２、Ｃ３３、Ｄ３４等に関する部品属性データベース（例えば３６１）は、表中左側にシステムテスト部品を、右側に対応するシステムテスト部品の属性として、ソフトウェアに対する入力か出力かを示している。システムテスト部品Ａ、Ｂ、Ｃは入力パターンであり、システムテスト部品Ｄは規範出力パターンである。
【００２９】
システムテスト仕様設定部４は、システム仕様統合部２４からのシステム仕様に対応して、システムテストフレームワーク３５の基でシステムテスト実行部品３０を実行し、そのシステムテスト仕様部品を変更し、設定する。
【００３０】
図７は、システムテスト仕様設定部４のうち、システムテスト部品Ａに関するシステムテスト部品Ａ設定部４１を示す説明図である。表の１列目は燃料噴射系に関するシステム仕様の項目を、表の２列目は吸気系に関するシステム仕様の項目を示している。例えば、燃料噴射系仕様が“ＭＰＩ”で、吸気系仕様が“ノーマル”だった場合には、システムテスト部品Ａはシステムテスト部品Ａ１（３１１）が選択されることを示している。また、燃料噴射系仕様が“ＤＩ”で、吸気系仕様が“ＶＴＣ”だった場合には、システムテスト部品Ａとしてシステムテスト部品Ａ３（３１３）が採用されることを示している。
【００３１】
図５で示したように、システムテスト部品Ａはバリエーションとしてシステムテスト部品Ａ３１１、３１２、３１３の３種類で構成されており、システムテスト部品Ａを採用するか否かを決定すると共に、部品Ａを採用する場合にはいずれか一つを選択する必要がある。ここで、システムテスト部品Ａ設定部４１では、ソフトウェア部品ＩＤ−システム仕様対応データベース２４１で得られたシステム仕様に基づいて、システムテスト部品Ａのどのバリエーションを選択するかの判定処理を行う。
【００３２】
図８はシステムテスト部品Ａ１の一例で、波形パターンを示す図である。システムテスト部品Ａ１の波形パターン４１１は、ステップ入力である。
【００３３】
図９はシステムテスト部品Ａ２の一例で、波形パターンを示す図である。システムテスト部品Ａ２の波形パターン４１２は、ランプ入力である。
【００３４】
図１０はシステムテスト部品Ａ３の一例で、波形パターンを示す図である。システムテスト部品Ａ３の波形パターン４１３は、インパルス入力（矩形波入力）である。
【００３５】
図１１は、システムテスト仕様設定部４のうち、システムテスト部品Ａに関するシステムテスト部品Ａパラメータ設定部を示す図である。設定部４２の表左側は、システムテスト部品Ａ（３１１、３１２、３１３）が共通して使用している設定パラメータ（ｋ１、ｋ２）であり、表右側はソフトウェア部品Ａ（６１１）のパラメータ６１１０１、６１１０２との対応関係を示す計算式である。設定パラメータｋ１およびｋ２の計算式を用いて、波形パターン４１１、４１２、４１３の最大値および波形パターン４１２のランプ入力の傾きを設定する。
【００３６】
一例として、図１０の矩形波入力（Ａ３）の波形パターンのパラメータを求める場合を説明する。矩形波入力の高さを図１１におけるＫ２（１．５×排気量）とし、幅（時間）を図１１におけるＫ１（＝１０００／気筒数）[ｔ]とすることにより、ソフトウェア部品の設定パラメータを用いて、システムテスト部品のパラメータを求める。
【００３７】
図１２は、システムテスト仕様設定部４のうち、システムテスト部品Ｂ３２１に関するシステムテスト部品Ｂ設定部４３を示す図である。システムテスト部品Ｂ３２１はバリエーションを持たないため、システム仕様との対応関係を求める必要は無く、自動的にシステムテスト部品Ｂ３２１が選択される。
【００３８】
図１３は、システムテスト仕様設定部４のうち、システムテスト部品Ｃに関するシステムテスト部品Ａ設定部４４を示す図である。表１列目は燃料噴射系に関するシステム仕様の項目を、表２列目は仕向地に関するシステム仕様の項目を示している。例えば、燃料噴射系仕様が“ＭＰＩ”で、仕向地が“日本”だった場合には、システムテスト部品Ｃはシステムテスト部品Ｃ１（３３１）が選択されることを示している。また、燃料噴射系仕様が“ＤＩ”で、仕向地が“欧州”だった場合には、システムテスト部品Ｃとしてシステムテスト部品Ｃ３（３３３）が採用されることを示している。
【００３９】
図５で示したように、システムテスト部品Ａはバリエーションとしてシステムテスト部品Ｃ（３３１、３３２、３３３）の３種類で構成されており、システムテスト部品Ｃを採用するか否かを決定すると共に、採用する場合にはいずれか一つを選択する必要がある。ここで、システムテスト部品Ｃ設定部４４では、ソフトウェア部品ＩＤ−システム仕様対応データベース２４１で得られたシステム仕様に基づいて、システムテスト部品Ｃのどのバリエーションを選択するかの判定処理を行う。
【００４０】
図１４は、システム仕様設定部で設定されたシステムテスト仕様を示す説明図である。システムテスト仕様４５は、システムテスト部品Ａ２（入力）３１２の波形パターン４１２と、システムテスト部品Ｂ（入力）３２１の波形パターン４２１と、システムテスト部品Ｃ１（入力）３３１の波形パターン４３２と、システムテスト部品Ｄ１（規範出力）３４１の波形パターン４４１とで構成されている。
【００４１】
以上の構成を取ることによって、テスト対象であるソフトウェアを構成するソフトウェア部品の設定情報に基づいて、システムテストワークを実行し、対応するシステムテスト部品を選択して、仕様システムテスト仕様を生成することが出来る。
【００４２】
図１５は、本実施例により生成したシステムテスト仕様を用いた組込みソフトウェア向けのテスト環境を示す構成図である。本テスト環境は、ソフトウェアが組み込まれる電子制御装置（ＥＣＵ）７と、システムテスト仕様が実行される実時間テスト装置（Ｈａｒｄｗａｒｅ−Ｉｎ−ｔｈｅ−Ｌｏｏｐ  Ｓｉｍｕｌａｔｏｒ：ＨＩＬＳ）８とで構成されている。
ＥＣＵ７は、テスト対象であるソフトウェア７１と、ソフトウェア７１を実行するとともにＥＣＵ７外部との入出力端子が接続されるＣＰＵ７２とで構成されている。ソフトウェア７１は、ＣＰＵ７２における入出力処理などを行う基本ソフトウェア７１２と、フィードバック制御、シーケンス制御などの制御処理を行うアプリケーションソフトウェア７１１とで構成されている。
ＨＩＬＳ８は、システムテストフレームワーク３５と、その上で実行されるシステムテスト部品としてシステムテスト部品Ａ−１（３１１）、システムテスト部品Ｂ（３２１）およびシステムテスト部品Ｄ−２（３４２）とで構成されている。図１５の例では、システムテスト部品Ｃは入力パターンとして採用されていない。
システムテストフレームワーク３５は、所定のタイミングにおいてシステムテスト部品Ａ−１（３１１）およびシステムテスト部品Ｂ（３２１）を実行する。システムテスト部品Ａ−１（３１１）およびシステムテスト部品Ｂ（３２１）はテスト入力パターンを演算すると共に、ＨＩＬＳ８の出力機能を用いてＥＣＵ７に対して電圧、電流等の入力９１、９２を発生させる。
ソフトウェア７１は入力パターン９１、９２に基づいて演算を行い、ＣＰＵ７２を用いて出力９３を発生させる。
システムテストフレームワーク３５は、所定のタイミングにおいてシステムテスト部品Ｄ２（３４２）を実行し、システムテスト部品Ｄ２（３４２）は規範出力であるテスト出力パターンを演算する。
判定装置７１は、テスト出力とＣＰＵ７２からの出力９３を比較して、所定の誤差の範囲内に収まっているか否かを判定する。これによって、ソフトウェア７１が要求機能どおりの動作をしているか否かを判定する。判定結果が良好であれば、ソフトウェア７１が要求機能を満たし、実機の動作検証が確認されたことになる。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
本発明は、複数のソフトウェア部品で構成されるソフトウェアのシステムテストに利用できる。
【符号の説明】
【００４４】
１…ソフトウェア、１１…ソフトウェア部品Ａ、１２…ソフトウェア部品Ｂ、１３…ソフトウェア部品Ｃ、２…仕様分析部、２１…ソフトウェア部品仕様抽出部Ａ、２２…ソフトウェア部品仕様抽出部Ｂ、２３…ソフトウェア部品仕様抽出部Ｃ、２４…システム仕様統合部、２４１…ソフトウェア部品ＩＤ−システム仕様対応データベース、３…システムテスト仕様データベース、３０…システムテスト部品データベース、３５…システムテストフレームワーク、３６…部品属性、３６１…システムテスト部品属性データベース、４…システムテスト仕様設定部、４１…システムテスト部品Ａ設定部、４２…システムテスト部品Ａパラメータ設定部、４３…システムテスト部品Ｂ設定部、４４…システムテスト部品Ｃに関するシステムテスト部品Ａ設定部、５…システムテスト仕様出力部、７…電子制御装置（ＥＣＵ）、７１…ソフトウェア、７２…ＣＰＵ、８…実時間テスト装置（ＨＩＬＳ）、８１…判定装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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