(57)【要約】【課題】安価に、主走査方向でのビーム照射位置のずれを、正確、高精度に把握し、主走査方向における書込での各ビームの位置ずれを高精度に補正する。【解決手段】露光装置は、発光部を複数有する半導体レーザ装置と、ポリゴンモータにより回転されるポリゴンミラーと、受光量によって出力が変化する受光部と、受光部の出力に基づき、計時を行う計時部と、発光部での各ビームの点消灯を制御する制御部と、を有し、制御部は、第１ビームと、第１ビームを発する発光部と異なる発光部が発するビームである第２ビームとの受光部への入射におけるずれ時間を、受光部がビームを受光する周期、及び／又は、受光部がビームの受光状態にある時間に基づき把握し、ずれ時間に基づき、第１ビームと第２ビームの主走査方向でのビーム照射位置の差が無くなるように発光部の点消灯タイミングを補正する。【選択図】図８
2011131552.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ビームを発する発光部を複数有する半導体レーザ装置と、
露光対象を走査して露光するため、前記発光部からのビームを反射し、ポリゴンモータにより回転されるポリゴンミラーと、
前記ポリゴンミラーで反射されたビームを受光し、受光量によって出力が変化する受光部と、
前記受光部の出力に基づき、計時を行う計時部と、
画像データにあわせて前記発光部での各ビームの点消灯を制御する制御部と、を有し、
前記制御部は、前記発光部が発するビームの内の１本である第１ビームと、前記第１ビームを発する前記発光部と異なる前記発光部が発するビームである第２ビームとの前記受光部への入射におけるずれ時間を、前記受光部がビームを受光する周期、及び／又は、前記受光部がビームの受光状態にある時間に基づき把握し、前記ずれ時間に基づき、前記第１ビームと前記第２ビームの主走査方向でのビーム照射位置の差が無くなるように前記発光部の点消灯タイミングを補正することを特徴とする露光装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記第１ビームを点灯させた際の前記受光部がビームを受光する第１周期と、前記第１ビームを点灯させて前記受光部で受光させた後、前記第２ビームを点灯させて前記受光部で受光されるまでの第２周期との差を前記ずれ時間として把握することを特徴とする請求項１記載の露光装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記第１ビームを点灯させた際、前記受光部のビーム受光状態の期間である第１期間と、前記第１ビームと前記第２ビームを点灯させた際、前記受光部のビーム受光状態の期間である第２期間との差を前記ずれ時間として把握することを特徴とする請求項１又は２に記載の露光装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記ずれ時間を複数回取得し、取得された前記ずれ時間の平均値を、各ビームの点消灯タイミング補正に用いることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の露光装置。
【請求項５】
前記ポリゴンモータは、少なくとも回転速度が複数段階に切替可能であり、
前記制御部は、前記ポリゴンモータの回転速度の段階ごとに、前記ずれ時間を把握し、露光対象を走査、露光するときの走査速度に基づき、段階ごとの前記ずれ時間から露光対象を走査、露光するときの前記ずれ時間を演算により求め、演算にて求めた前記ずれ時間を、各ビームの点消灯タイミング補正に用いることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の露光装置。
【請求項６】
前記制御部は、各段階で前記ずれ時間を複数回取得し、各段階で前記ずれ時間の平均値を求めることを特徴とする請求項５に記載の露光装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記ずれ時間分だけ、いずれかの発光部の点消灯タイミングを早めて各ビームの点消灯タイミングを補正することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の露光装置。
【請求項８】
前記制御部は、前記ずれ時間分だけ、いずれかの発光部のビームの点消灯タイミングを遅らせて各ビームの点消灯タイミングを補正することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の露光装置。
【請求項９】
請求項１乃至請求項８の何れか１項に記載の露光装置を含むことを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、感光体ドラム等の露光対象の走査、露光を行う露光装置、及び、この露光装置を備えた複合機、複写機、プリンタ、ファクシミリ等の画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、半導体レーザ装置を用い、画像データに基づきレーザビームの点消灯を行い、感光体ドラムに対し走査、露光を行って、静電潜像を形成する露光装置がある。画像形成速度の向上や、画像データの解像度向上の要請に応えるため、レーザビームを偏光させるポリゴンミラーの回転速度を高め、走査速度を向上させることも行われる。しかし、ポリゴンミラーの回転速度向上には限界がある。そこで、例えば、１色あたり、１回の走査で複数ライン分のレーザビームを感光体ドラムに照射することがある。このマルチビーム方式の場合、主走査方向等の走査方向の各レーザビームの間隔を考慮せず、同じタイミングで露光を行えば、例えば、書き出し位置のずれなどが生じ、画像の品質が低下する。そこで、ビームピッチを検出することがある。
【０００３】
例えば、特許文献１にビームピッチを検出する手法が示されている。具体的に、特許文献１には、半導体レーザからのマルチビームを光源として像担持体上に潜像を形成し、ビーム数と同数以上ある複数の受光部を備え、複数の受光部は相互に重なることなく、副走査方向に所定間隔ずらして配置され、受光部の形状は主走査方向始端側の端縁が相互に平行であり且つ主走査方向終端側の端縁が相互に平行であり且つ主走査方向始端側の端縁と終端側の端縁が平行でない光学走査装置が記載されている。この構成により、受光センサ（走査位置検出センサ）の取り付け位置精度によらず、精度良く複数のレーザビーム間の走査位置間隔を検出しようとする（特許文献１：請求項１、段落［００３１］等参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−０５８３１３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
例えば、露光装置には、１つの半導体レーザ装置から複数本（例えば、２本、４本、８本等）のレーザビームを発する半導体レーザ装置（例えば、モノリシックレーザダイオード（モノリシックＬＤ））が搭載されることがある。例えば、２本のレーザビームを発するモノリシックＬＤの場合、並列に並べられた２本のビーム間のビームピッチは、例えば１００μｍ以上であり、１画素分の間隔（１ドットの大きさ）と同じではない。（例えば、６００ｄｐｉの解像度であれば、１ドット≒４２．３μｍ、１２００ｄｐｉの解像度であれば、１ドット≒２１．２μｍ）。
【０００６】
そこで、まず、治具等を用いて、例えば、モノリシックＬＤを回転させて副走査方向のドットのピッチにあわせ、モノリシックＬＤが調整、設置される。これにより、２本のレーザビームの位置は、主走査方向と垂直な方向（副走査方向）に１列に並んだ状態とはならず（図５参照）、主走査方向のビームピッチは、主走査方向における書込でのずれとなり、レーザビームの点消灯タイミングの補正が必要となる。そこで、主走査方向のビームピッチの測定が行われる。しかし、モノリシックＬＤのビームピッチは狭い等、マルチビーム方式の場合、正確、高精度なビームピッチの測定が困難であるという問題がある。
【０００７】
尚、特許文献１記載の発明は、ビームピッチを測定するためのものであり、この構成により、ビームピッチが所望する間隔であるか確認することができる場合がある。しかし、特許文献１記載の発明では、２つの受光部（受光素子）を要し、しかも、その２つの受光部の配置、形状、位置関係には、厳しい条件が課される（例えば、特許文献１：段落［００１７］参照）。測定は、受光センサ（走査位置検出センサ）の取り付け位置精度に依存しにくいものの、反対に大きく受光部の製造精度に依存し、正確、高精度な測定を容易には行えない場合があるという問題がある。しかも、受光部は、大量生産される光学走査装置にそれぞれ搭載され、要求を満たす受光部のみを搭載するので、受光部の歩留まり等の観点から見て、光学走査装置の製造コストが増大する畏れもある。
【０００８】
本発明は、上記問題点を鑑み、安価に、主走査方向におけるビームピッチに起因する主走査方向でのビーム照射位置のずれを、正確、高精度に把握し、主走査方向における書込での各ビームの位置ずれを高精度に補正することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために請求項１に係る露光装置は、ビームを発する発光部を複数有する半導体レーザ装置と、露光対象を走査して露光するため、前記発光部からのビームを反射し、ポリゴンモータにより回転されるポリゴンミラーと、前記ポリゴンミラーで反射されたビームを受光し、受光量によって出力が変化する受光部と、前記受光部の出力に基づき、計時を行う計時部と、画像データにあわせて前記発光部での各ビームの点消灯を制御する制御部と、を有し、前記制御部は、前記発光部が発するビームの内の１本である第１ビームと、前記第１ビームを発する前記発光部と異なる前記発光部が発するビームである第２ビームとの前記受光部への入射におけるずれ時間を、前記受光部がビームを受光する周期、及び／又は、前記受光部がビームの受光状態にある時間に基づき把握し、前記ずれ時間に基づき、前記第１ビームと前記第２ビームの主走査方向でのビーム照射位置の差が無くなるように前記発光部の点消灯タイミングを補正することとした。
【００１０】
この構成によれば、制御部は、受光部がビームを受光する周期、及び／又は、受光部がビームの受光状態にある時間に基づき、ずれ時間を把握し、ずれ時間に基づき、ビームピッチの差が無くなるように各ビームの点消灯タイミングを補正する。これにより、受光部は１つで済むにもかかわらず、主走査方向でのビーム照射位置のずれを、ずれ時間として精度良く把握することができる。そして、ずれ時間分だけビームの点消灯タイミングをずらす等により、ビームピッチに起因し、同じタイミングで２本のビームを点消灯させた際に生ずる２本のビームの書込位置（照射位置）のずれを補正することができる。
【００１１】
又、請求項２に係る発明は、請求項１の発明において、前記制御部は、前記第１ビームを点灯させた際の前記受光部がビームを受光する第１周期と、前記第１ビームを点灯させて前記受光部で受光させた後、前記第２ビームを点灯させて前記受光部で受光されるまでの第２周期との差を前記ずれ時間として把握することとした。
【００１２】
この構成によれば、制御部は、第１周期と第２周期との差をずれ時間として把握する。これにより、１つの受光部を設けるだけで、主走査方向でのビーム照射位置のずれを精度良くずれ時間として把握することができる。
【００１３】
又、請求項３に係る発明は、請求項１又は２の発明において、前記制御部は、前記第１ビームを点灯させた際、前記受光部のビーム受光状態の期間である第１期間と、前記第１ビームと前記第２ビームを点灯させた際、前記受光部のビーム受光状態の期間である第２期間との差を前記ずれ時間として把握することとした。
【００１４】
この構成によれば、制御部は、第１期間と第２期間との差をずれ時間として把握する。これにより、１つの受光部を設けるだけで、主走査方向でのビーム照射位置のずれを精度良くずれ時間として把握することができる。
【００１５】
又、請求項４に係る発明は、請求項１乃至３の発明において、前記制御部は、前記ずれ時間を複数回取得し、取得された前記ずれ時間の平均値を、各ビームの点消灯タイミング補正に用いることをとした。
【００１６】
ポリゴンモータの回転速度や半導体レーザ装置や受光部の特性等によって、把握されるずれ時間は、測定ごとにばらつきが生じ得るところ、この構成によれば、制御部は、複数回取得されたずれ時間の平均値を、各ビームの点消灯タイミング補正に用いる。これにより、主走査方向でのビーム照射位置のずれを精度良く、正確にずれ時間の平均値として把握することができる。又、高精度なずれ時間の平均値に基づき、２本のビームの書込位置（露光位置）のずれを高精度に補正することができる。
【００１７】
又、請求項５に係る発明は、請求項１乃至３の発明において、前記ポリゴンモータは、少なくとも回転速度が複数段階に切替可能であり、前記制御部は、前記ポリゴンモータの回転速度の段階ごとに、前記ずれ時間を把握し、露光対象を走査、露光するときの走査速度に基づき、段階ごとの前記ずれ時間から露光対象を走査、露光するときの前記ずれ時間を演算により求め、演算にて求めた前記ずれ時間を、各ビームの点消灯タイミング補正に用いることとした。
【００１８】
ポリゴンモータの回転速度が速くなるほど、走査速度が速くなり、受光部へのレーザビームの入射時間も短くなり、ずれ時間の測定精度が悪くなる場合があるところ、この構成によれば、制御部は、ポリゴンモータの回転速度の段階ごとに、ずれ時間を把握する。そして、露光対象を走査、露光するときのずれ時間を演算により求める（換算する）。これにより、高精度に測定されたずれ時間に基づき、２本のビームの書込位置（露光位置）のずれを高精度に補正することができる。
【００１９】
又、請求項６に係る発明は、請求項５の発明において、前記制御部は、各段階で前記ずれ時間を複数回取得し、各段階で前記ずれ時間の平均値を求めることとした。
【００２０】
この構成によれば、制御部は、段階ごとにずれ時間を複数回取得し、取得されたずれ時間の平均値が求められる。これにより、各段階のずれ時間は、測定ごとにばらつきがあっても、平均が取られた上で把握される。各段階で高精度に把握されたずれ時間に基づき、露光対象を走査、露光するときのずれ時間が演算により求められる（換算される）。従って、より高精度に２本のビームの書込位置（露光位置）のずれを高精度に補正することができる。
【００２１】
又、請求項７に係る発明は、請求項１乃至６の発明において、前記制御部は、前記ずれ時間分だけ、いずれかの発光部の点消灯タイミングを早めて各ビームの点消灯タイミングを補正することとした。
【００２２】
又、請求項８に係る発明は、請求項１乃至６の発明において、前記制御部は、前記ずれ時間分だけ、いずれかの発光部のビームの点消灯タイミングを遅らせて各ビームの点消灯タイミングを補正することとした。
【００２３】
これらの請求項７及び請求項８の構成によれば、制御部は、何れかのビームの点消灯タイミングを制御する。これにより、２本のビームの書込位置（露光位置）のずれを高精度に補正することができる。
【００２４】
又、請求項９に係る画像形成装置は、請求項１乃至請求項８の何れか１項に記載の露光装置を含むこととした。
【００２５】
この構成によれば、主走査方向でのビーム照射位置の差が無くなるように各ビームの点消灯タイミングが補正され、露光がなされる。これにより、各ラインにおいて、主走査方向でドットの書込位置（書込開始位置）にずれのない高画質の画像を形成する画像形成装置を提供することができる。又、特別な装置、治具等は不要で、半導体レーザ装置や受光部は、露光装置に取り付けた状態で、簡易に測定を行うことができる。又、受光部は、１色につき、１つで済み、露光装置、画像形成装置の製造コストの上昇を招くことがない。
【発明の効果】
【００２６】
本発明の露光装置によれば、安価に、主走査方向におけるビームピッチに起因する主走査方向でのビーム照射位置のずれを、正確、高精度に把握することができる。又、主走査方向における書込での各ビームの位置ずれを高精度に補正することができ、高品質の画像を形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】第１の実施形態に係るプリンタの概略構成を示す断面図である。
【図２】第１の実施形態に係る各画像形成部の拡大断面図である。
【図３】第１の実施形態に係る露光装置の一例を示す模式図である。
【図４】第１の実施形態に係るプリンタのハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図５】（ａ）は第１の実施形態に係る半導体レーザ装置の出射面の一例を示す概念図であり、（ｂ）は第１の実施形態に係る半導体レーザ装置による走査の概念図である。
【図６】第１の実施形態に係る半導体レーザ装置を発光させた際の受光部の出力の一例を示すタイミングチャートである。
【図７】第１の実施形態に係る各発光部での露光のずれの測定の一例を説明するためのタイミングチャートである。
【図８】第１の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。
【図９】第１の実施形態に係るレーザビームの主走査方向における露光位置のずれ補正制御の一例を示すフローチャートである。
【図１０】第２の実施形態に係る各発光部での露光のずれの測定の一例を説明するためのタイミングチャートである。
【図１１】第２の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。
【図１２】第３の実施形態に係る各発光部での露光のずれの測定の一例を説明するためのタイミングチャートである。
【図１３】第３の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。
【図１４】第４の実施形態に係る各発光部での露光のずれの測定の一例を説明するためのタイミングチャートである。
【図１５】第４の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。
【図１６】第５の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、本発明の第１の実施形態を図１乃至９に基づき説明する。本発明は、複合機、複写機、ＦＡＸ装置等、他の画像形成装置にも適用できるが、本説明では、電子写真方式でタンデム型のカラーのプリンタ１００（画像形成装置に相当）を例に挙げ説明する。但し、本実施形態に記載されている構成、配置等の各要素は、発明の範囲を限定するものではなく単なる説明例にすぎない。
【００２９】
（画像形成装置の概略構成）
まず、図１、図２を用いて、本発明の第１の実施形態に係るプリンタ１００の概略を説明する。図１は、本発明の第１の実施形態に係るプリンタ１００の概略構成を示す断面図である。図２は、本発明の第１の実施形態に係る各画像形成部３の拡大断面図である。そして、本実施形態にかかるプリンタ１００は、図１に示すように、本体内に、給紙部１、搬送路２、画像形成部３、露光装置４、中間転写部６、定着部７等が設けられる。
【００３０】
給紙部１は、例えば、コピー用紙、ＯＨＰシート、ラベル用紙等の各種シートを収容し、モータ等の駆動機構（不図示）により回転する給紙ローラ１１により搬送路２に送り出す。そして、搬送路２は、プリンタ１００内でシートを搬送し、給紙部１から供給されたシートを、中間転写部６、定着部７を経て排出トレイ２２まで導く。搬送路２には、搬送ローラ対２３やガイド２４及び搬送されてくるシートを中間転写部６の手前で待機させ、タイミングをあわせて送り出すレジストローラ対２５等が設けられる。
【００３１】
図１及び図２に示すように、プリンタ１００は、形成すべき画像の画像データに基づき、トナー像を形成する部分として画像形成部３を有する。画像形成部３は、４色分の画像形成ユニット３０を含む。具体的に、プリンタ１００は、ブラックの画像を形成する画像形成ユニット３０Ｂｋと、イエローの画像を形成する画像形成ユニット３０Ｙと、シアンの画像を形成する画像形成ユニット３０Ｃと、マゼンタの画像を形成する画像形成ユニット３０Ｍと、を備える。
【００３２】
ここで、図２に基づき、各画像形成ユニット３０Ｂｋ〜３０Ｍを詳述する。尚、各画像形成ユニット３０Ｂｋ〜Ｍは、形成するトナー像の色が異なるだけで、いずれも基本的に同様の構成である。そこで、下の説明では、各画像形成ユニット３０内のＢｋ、Ｙ、Ｃ、Ｍの符号は、特に説明する場合を除き省略する。
【００３３】
各感光体ドラム３１（露光対象に相当）は、周面にトナー像を担持し、外周面上に感光層を有し、駆動装置（不図示）によって所定のプロセススピードで回転駆動される。各帯電装置３２は、感光体ドラム３１を一定の電位で帯電させる。各現像装置３３は、対応する色の現像剤を収納する。そして、各現像装置３３は、感光体ドラム３１の静電潜像にトナーを供給し、現像する。各清掃装置３４は、感光体ドラム３１の清掃を行う。画像形成部３の下方の露光装置４は、入力されるカラー色分解された画像信号を光信号にそれぞれ変換し、変換された光信号であるレーザビーム（破線で図示）を出力し、帯電後の感光体ドラム３１の走査露光を行って、静電潜像を形成する。
【００３４】
図１に戻り、中間転写部６は、感光体ドラム３１からトナー像の１次転写を受けて、シートに２次転写を行う。中間転写部６は、各１次転写ローラ６１Ｂｋ〜６１Ｍ、中間転写ベルト６２、駆動ローラ６３、従動ローラ６４〜６６、２次転写ローラ６７、ベルト清掃装置６８等で構成される。各１次転写ローラ６１Ｂｋ〜６１Ｍは、対応する感光体ドラム３１と無端状の中間転写ベルト６２を挟み込む。各１次転写ローラ６１Ｂｋ〜６１Ｍには、転写用電圧が印加され、トナー像は中間転写ベルト６２に転写される。
【００３５】
中間転写ベルト６２は、駆動ローラ６３等に張架され、モータ等の駆動機構（不図示）に接続される駆動ローラ６３の回転駆動により周回する。中間転写ベルト６２は、又、駆動ローラ６３は、２次転写ローラ６７とで中間転写ベルト６２を挟み込む。各画像形成ユニット３０で形成されたトナー像（ブラック、イエロー、シアン、マゼンタの各色）は、順次、ずれなく重畳して中間転写ベルト６２に１次転写された後、所定の電圧を印加された２次転写ローラ６７により、シートに転写される。
【００３６】
定着部７は、２次転写部の転写材搬送方向の下流側に配され、シートに２次転写されたトナー像を加熱・加圧して定着させる。そして、定着部７は主として、発熱源を内蔵する定着ローラ７１と、これに圧接される加圧ローラ７２とで構成され、ニップが形成される。そして、トナー像の転写されたシートは、ニップを通過すると加熱・加圧され、その結果、トナー像がシートに定着する。尚、定着後のシートは、排出トレイ２２に排出され画像形成処理が完了する。
【００３７】
（露光装置４の構成）
次に、図３を用いて、本発明の第１の実施形態に係る露光装置４の一例を説明する。図３は、本発明の第１の実施形態に係る露光装置４の一例を示す模式図である。
【００３８】
図３に示すように、露光装置４には、半導体レーザ装置４１（レーザダイオード）、半導体レーザ装置４１とポリゴンミラー４２間に設けられるレンズ４１ａ、レーザ光を反射させる平面反射面を複数持ち高速回転するポリゴンミラー４２（ポリゴンモータ４３により回転）と、レーザビームの感光体ドラム３１での走査速度を一定とするｆθレンズ４４、レーザ光を適宜、各感光体ドラム３１に向けて反射させるミラー４５等が設けられる。尚、図３では１色分の構成のみを図示している。例えば、４色の場合、ポリゴンミラー４２は共有され、その他の半導体レーザ装置４１、ｆθレンズ４４、ミラー４５等は各色分備えられる。この構成で、レーザ光が露光装置４から各感光体ドラム３１に照射され画像データに併せた静電潜像が感光体ドラム３１上に形成される。
【００３９】
そして、露光装置４には、ポリゴンモータ４３によるレーザ光の照射範囲内（走査範囲内）、かつ、感光体ドラム３１への照射範囲外に、受光部５が設けられる。この受光部５は、レーザ光が照射されると、出力電流（出力電圧）が変化する。例えば、受光部５は、フォトダイオード等を含む回路として構成される。そして、受光部５の出力に基づき、感光体ドラム３１への露光（書込）のタイミングが取られる。尚、図３では、受光部５を１色分のみ示すが、例えば、４色（４本の感光体ドラム３１の露光）の場合、受光部５は、１色ごとに、１つ設けることができる。
【００４０】
（プリンタ１００のハードウェア構成）
次に、図４に基づき、本発明の第１の実施形態に係るプリンタ１００のハードウェア構成を説明する。図４は、本発明の第１の実施形態に係るプリンタ１００のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【００４１】
図４に示すように、本実施形態に係るプリンタ１００は、内部に本体制御部８（制御部に相当）を有する。本体制御部８は、プリンタ１００の各部を制御する。例えば、本体制御部８は、ＣＰＵ８１、記憶部８２、画像処理部８３、計時部８４等で構成される。尚、本体制御部８は、全体制御を行う部分や、画像処理を行う部分や、画像形成や各種回転体を回転させるモータ等のＯＮ／ＯＦＦ等を行う部分等、機能ごとに分割して複数種設けられてもよいが、図４では、これらの制御部をまとめた形態を示している。
【００４２】
ＣＰＵ８１は、中央演算処理装置であり、記憶部８２に格納され、展開される制御プログラムに基づきプリンタ１００の各部の制御や演算を行う。記憶部８２は、ＲＯＭ、ＲＡＭ、フラッシュＲＯＭ等の不揮発性と揮発性の記憶装置の組み合わせで構成される。例えば、記憶部８２は、プリンタ１００の制御プログラム、制御データ等を記憶する。計時部８４はクロックをカウントする等により、制御に用いる各種時間の計時を行う。
【００４３】
本体制御部８には、印刷を行う画像データや印刷における設定データを含む印刷データの送信元となるコンピュータ２００（例えば、パーソナルコンピュータ等）等がネットワークやケーブルを介して接続される。画像処理部８３は、コンピュータ２００からの画像データに対し、設定に合わせ、拡大、縮小、濃度変換、データ形式変換等、各種画像処理を施す。そして、画像処理部８３は、露光装置４に画像処理後の画像データを送る。露光装置４は、この画像データを受けて走査、露光を行う（画像データの流れの一例を白抜矢印で図示）。
【００４４】
そして、本体制御部８は、給紙部１、搬送路２、画像形成部３、露光装置４、中間転写部６、定着部７、操作パネル１０１等と接続され、記憶部８２の制御プログラムやデータに基づき、適切に画像形成が行われるように各部の動作を制御する。
【００４５】
又、画像処理部８３は、受信した画像データを画像処理し、露光装置４に送信し、露光装置４はその画像データに基づき、感光体ドラム３１に静電潜像を形成する。操作パネル１０１は、例えば、プリンタ１００の正面上方に設けられ、液晶画面を有し、種々の設定情報、警告等を表示する。
【００４６】
そして、図４に示すように、露光装置４は、プリンタ１００内に含まれる。又、露光装置４には、例えば、露光制御部９（制御部に相当）が設けられる。露光制御部９は、画像データに基づき、各色の半導体レーザ装置４１の点消灯を制御する（図４での半導体レーザ装置４１Ｂｋはブラック用、半導体レーザ装置４１Ｙはイエロー用、半導体レーザ装置４１Ｃはシアン用、半導体レーザ装置４１Ｍはマゼンタ用）。例えば、露光制御部９と各半導体レーザ装置４１の間に、実際に各半導体レーザ装置４１の点消灯を制御する発光制御回路９１を設け、露光制御部９は、発光制御回路９１に指示を与えることで、各半導体レーザ装置４１の点消灯を制御してもよい。又、露光制御部９が、直接、各半導体レーザ装置４１の点消灯を制御してもよい（この場合、発光制御回路９１は不要）。
【００４７】
又、露光制御部９には、各受光部５の出力が入力される（図４での受光部５Ｂｋはブラック用、受光部５Ｙはイエロー用、受光部５Ｃはシアン用、受光部５Ｍはマゼンタ用）。例えば、露光制御部９は、各受光部５の出力に基づき、一定時間経過後（例えば、計時部９２が計時）、各半導体レーザ装置４１でのラインでの書き出しタイミングを定める。このように、各受光部５での出力変化を同期用の信号として用いることで、各ラインの書き出し位置を一致させることができる。
【００４８】
又、各受光部５の出力は、本体制御部８に入力してもよい。例えば、本体制御部８は、各受光部５の出力変化後、一定時間経過後（例えば、計時部８４が計時）、レジストローラ対２５からの用紙搬送開始タイミングを定める。これにより、各受光部５での出力変化を基準とし、各ページでの１ライン目の位置を一定の基準の下、定めることができる。
【００４９】
又、露光制御部９は、例えば、ポリゴンモータ４３のＯＮ／ＯＦＦや回転速度の切替等の制御を行える。例えば、走査、露光中、ポリゴンミラー４２の回転速度が一定で保たれるように、露光制御部９は、ポリゴンモータ４３の回転を制御する。又、計時部９２は、走査、露光に関する各種時間を計時する。計時部９２は、露光制御部駆動用のクロックをカウントする等により、各種時間の計時を行う。
【００５０】
尚、本実施形態では、露光制御部９を設ける例を説明するが、露光制御部９ではなく、本体制御部８に、露光制御部９が果たす役割を行わせてもよい（この場合、露光制御部９は設けなくてよい）。従って、本実施形態のプリンタ１００では、露光制御部９や本体制御部８を露光装置４の制御部として機能させることができる。
【００５１】
（半導体レーザ装置４１の構成）
次に、図５を用いて、本発明の第１の実施形態に係る半導体レーザ装置４１の一例を説明する。図５（ａ）は、本発明の第１の実施形態に係る半導体レーザ装置４１の出射面の一例を示す概念図であり、（ｂ）は、本発明の第１の実施形態に係る半導体レーザ装置４１による走査の概念図である。
【００５２】
まず、図５（ａ）に基づき、半導体レーザ装置４１を説明する。本実施形態での半導体レーザ装置４１は、例えば、モノリシックＬＤで、１つの半導体レーザ装置４１中に２つの発光部ＬＤ（発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２）を有する。そのため、半導体レーザ装置４１は、２本のレーザビームを発することができる。尚、本実施形態の半導体レーザ装置４１として更に、複数本（例えば、４本、８本）のレーザビームを発するものを用いることもできるが、本説明では、２つの発光部ＬＤを有する半導体レーザ装置４１を例に挙げて説明する。
【００５３】
本実施形態の半導体レーザ装置４１を用いて、露光装置４が感光体ドラム３１の走査、露光を行うと、図５（ｂ）に示すように、１回の走査で２ライン分の走査、露光を行うことができる。これにより、１つの半導体レーザ装置４１で１本のレーザビームを発する場合に比べ、ポリゴンモータ４３の回転数を１／２にすることができ、高解像度の画像を容易に形成することができる。
【００５４】
図５（ａ）の左側に示すように、通常、複数本のビームを発する半導体レーザ装置４１では、ビームの出射部分（発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２）は、平行に並べられる。そして、平行に並べられた状態でのビームピッチＬ０は、例えば、１００μｍ程度であり、半導体レーザ装置４１によって異なる。一方、プリンタ１００の仕様によって、１ドット当たりの大きさは決まっている。例えば、６００ｄｐｉの場合、１インチ＝２５．４ｍｍとすると、２５．４÷６００≒４２．３μｍとなる。
【００５５】
そこで、本実施形態では、図５（ａ）の右側に示すように、半導体レーザ装置４１は、回転され、副走査方向におけるビームピッチと、１ドットの間隔Ｌ１をあわせて、露光装置４に取り付けられる。例えば、６００ｄｐｉの場合、副走査方向におけるビームピッチ（間隔Ｌ１）が４２．３μｍとなるように、治具や測定装置等を用いて、調整されつつ、半導体レーザ装置４１は、露光装置４に取り付けられる。これにより、副走査方向において、露光装置４における走査の１ラインの幅と、ビームピッチが一致し、副走査方向における１ドットの再現性が確保される。
【００５６】
一方で、半導体レーザ装置４１を回転させて取り付けるので、主走査方向においては、２つの発光部ＬＤに位置的なずれがある（図５（ａ）におけるビームピッチＬ２）。このビームピッチＬ２は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２とで同じタイミングで走査、露光を行ったときの感光体ドラム３１での露光の位置の主走査方向でのずれとして現れる。例えば、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２とで同じタイミングで、点消灯を行うと、発光部ＬＤ１の露光位置と、発光部ＬＤ２の露光位置は、ビームピッチＬ２分ずれる。このずれは、最終的に、形成される画像でのずれと認識される。そこで、本実施形態では、ビームピッチＬ２を測定し、ビームピッチＬ２だけ、発光部ＬＤ２の点消灯タイミングを早める補正を行って、形成画像でのずれを防ぐ。
【００５７】
尚、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２は、異なるデータに基づきラインを描くので、露光制御部９や発光制御回路９１は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２の点消灯をそれぞれ制御する。例えば、露光制御部９や発光制御回路９１は、発光部ＬＤ２を消灯状態で発光部ＬＤ１を点灯状態とすることや、発光部ＬＤ１を消灯状態で発光部ＬＤ２を点灯状態とすることや、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２のいずれも点灯状態とすることや、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２のいずれも消灯状態とできる。
【００５８】
更に、感光体ドラム３１の走査では、例えば、１画素分の走査時間を単位として、半導体レーザ装置４１の点灯と消灯が切り替わる。しかし、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２では、主走査方向で露光位置にずれがある。そこで、露光制御部９や発光制御回路９１は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２の点消灯を行う１画素分の走査での位相をずらして、別々に制御することができる。
【００５９】
（半導体レーザ装置４１を発光させた時の受光部５の出力）
次に、図６に基づき、本発明の第１の実施形態に係る半導体レーザ装置４１を発光させた際の受光部５の出力の一例を説明する。図６は本発明の第１の実施形態に係る半導体レーザ装置４１を発光させた際の受光部５の出力の一例を示すタイミングチャートである。
【００６０】
尚、本実施形態の説明では、各色において同様の構成なので、露光装置４内の１色分の走査、露光を説明する（例えば、ブラック用の半導体レーザ装置４１Ｂｋと、受光部５Ｂｋの組み合わせ、以下、同様）。又、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２を継続的に点灯させた場合、半導体レーザ装置４１のうち、発光部ＬＤ１のレーザビームの方が、発光部ＬＤ２よりも受光部５に入射し、感光体ドラム３１の露光を開始する例を説明する。言い換えると、発光部ＬＤ１の方が発光部ＬＤ２よりも主走査方向で前側に位置する。
【００６１】
まず、図６の最上段の「発光部ＬＤ１」のチャートは、半導体レーザ装置４１中の一方の発光部ＬＤ１の点灯を示す。２段目の「発光部ＬＤ２」のチャートは、半導体レーザ装置４１中の他方の発光部ＬＤ２の点灯を示す。３段目の「受光部出力」のチャートは、受光部５の出力変化を示す。４段目の「発光部ＬＤ１検知区間」は、受光部５の出力のうち、発光部ＬＤ１による成分を示す。５段目の「発光部ＬＤ２検知区間」は、受光部５の出力のうち、発光部ＬＤ２による成分を示す。
【００６２】
図６に示すように、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２を点灯させた状態で、ポリゴンミラー４２を回転させると、受光部５の出力は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２の間隔は狭いため３段目の「受光部出力」のチャートのようになる。尚、本実施形態の受光部５は、レーザビームが入射されると、出力がＬｏｗとなり、レーザビームが入射されない状態では、出力がＨｉｇｈとなる（レーザビームが入射されると、出力がＨｉｇｈになり、レーザビームが入射されない状態では、出力がＬｏｗとなる受光部５を用いてもよい。）。
【００６３】
このように、本実施形態の半導体レーザ装置４１は、複数本のレーザビームを発するが、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２を同時に点灯させた状態では、受光部５の出力波形は１つにつながった（１回の立ち下がりと立ち上がりの）波形となる。しかし、実際には、３段目の「受光部出力」に示す信号波形は、４段目の「発光部ＬＤ１検知区間」として示す発光部ＬＤ１による成分と、５段目の「発光部ＬＤ２検知区間」として示す発光部ＬＤ２による成分が合成された波形である。
【００６４】
ここで、４段目の「発光部ＬＤ１検知区間」のチャートにおける信号の立ち下がりと、５段目の「発光部ＬＤ２検知区間」のチャートにおける信号の立ち下がりの間の区間ΔＴ０１は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２との主走査方向における露光位置のずれに対応する時間である。又、４段目の「発光部ＬＤ１検知区間」のチャートにおける信号の立ち上がりと、５段目の「発光部ＬＤ２検知区間」のチャートにおける信号の立ち上がりの間の区間ΔＴ０２も、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２との露光位置のずれに対応する時間である。そこで、本実施形態では、以下の図７に示す方法で、区間ΔＴ０１を求め、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２との露光位置のずれ（発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２の主走査方向におけるビームピッチ）を時間として把握する。
【００６５】
（ずれ時間ΔＴ１の測定の概要）
次に、図７に基づき、本発明の第１の実施形態に係る発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２との露光位置のずれの測定の概要を説明する。図７は、本発明の第１の実施形態に係る各発光部ＬＤでの露光のずれの測定の一例を説明するためのタイミングチャートである。
【００６６】
まず、図７の上段の「発光部ＬＤ１のみ」のチャートは、半導体レーザ装置４１中の発光部ＬＤ１のみを点灯したときの受光部５の出力変化を示す。下段の「発光部ＬＤ１→発光部ＬＤ２」のチャートは、発光部ＬＤ１を点灯させて受光部５に受光させた後、次に発光部ＬＤ１のレーザビームが受光部５に入射される前に、発光部ＬＤ１を消灯し、発光部ＬＤ２を点灯させてレーザビームを受光部５に入射させたときの受光部５の出力変化を示す。
【００６７】
まず、図７の上段のチャートとして示すように、露光制御部９は、発光部ＬＤ１を点灯させ、発光部ＬＤ１の出力が立ち下がってから、次に発光部ＬＤ１のレーザビームを受光部５が受光して出力が再び立ち下がるまでの時間である計測時間Ｔ１（第１周期に相当）を計時部９２に計時させる。これにより、発光部ＬＤ１のレーザビームが受光部５で受光される周期を計測することができる。
【００６８】
そして、図７の下段の「発光部ＬＤ１→発光部ＬＤ２」のチャートは、具体的に、発光部ＬＤ１を点灯させて受光させた後、次に発光部ＬＤ１のレーザビームが受光部５に入射される前に、発光部ＬＤ１を消灯し、発光部ＬＤ２を点灯させてレーザビームを受光部５に入射させたときの受光部５の出力変化を示す。従って、露光制御部９は、発光部ＬＤ１を点灯させ、発光部ＬＤ１の出力が立ち下がってから、次に発光部ＬＤ２のレーザビームを受光部５が受光して出力が再び立ち下がるまでの時間である計測時間Ｔ１’（第２周期に相当）を計時部９２に計時させる。
【００６９】
そして、露光制御部９は、計測時間Ｔ１と計測時間Ｔ１’のずれ時間ΔＴ１を演算する（ずれ時間ΔＴ１＝計測時間Ｔ１’−計測時間Ｔ１）。ずれ時間ΔＴ１は、受光部５の出力の立ち下がり時間の差であり、図６に示す、区間ΔＴ０１に相当する。これにより、発光部ＬＤ１の露光位置と発光部ＬＤ２の露光位置の主走査方向におけるずれ（主走査方向におけるビームピッチ）を、時間（ずれ時間ΔＴ）として得ることができる。
【００７０】
又、受光部５によっては、波形のなまり等によって、出力の立ち下がりの方が、立ち上がりよりも短時間で済むものもある（例えば、オープンコレクタ方式の受光部５）。このような受光部５を用いる場合、本実施形態では、受光部５の出力の立ち下がりのみに着目して、ずれ時間ΔＴ１を計測するので、正確に、ずれ時間ΔＴを計測することができる。
【００７１】
（ずれ時間ΔＴ１の測定制御）
次に、図８に基づき、本発明の第１の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を説明する。図８は、本発明の第１の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。具体的には、ずれ時間ΔＴ１の測定制御の一例である。尚、ずれ時間ΔＴ１の測定は、各色の半導体レーザ装置４１と受光部５の組み合わせごとに測定される。
【００７２】
まず、図８のスタートは、例えば、製造過程等の検査時に、検査や調整の担当者が操作パネル１０１に行う等によって、ずれ時間ΔＴの測定制御の開始する時点である。又、例えば、主電源投入時等に、自動的にずれ時間ΔＴ１の測定が行われてもよく、ずれ時間ΔＴ１の測定時期は、適宜設定すればよい。
【００７３】
次に、露光制御部９は、ポリゴンモータ４３を測定における回転速度まで回転させる（ステップ♯１１）。例えば、測定における回転速度は、画像形成時のポリゴンモータ４３の回転速度とすればよい。露光制御部９は、発光部ＬＤ１を点灯させ、受光部５の出力を確認し、発光部ＬＤ１のレーザビームの受光部５での受光周期（計測時間Ｔ１）を計時部９２に計測させる（ステップ♯１２）。
【００７４】
更に、露光制御部９は、発光部ＬＤ１を点灯させ、受光部５で受光させてから、発光部ＬＤ１を消灯し、発光部ＬＤ２を点灯させ受光部５で受光されるまでの時間（計測時間Ｔ１’）を計時部９２に計測させる（ステップ♯１３）。そして、露光制御部９は、ステップ♯１２とステップ♯１３で測定した時間の差をとり、ずれ時間ΔＴ１を演算にて求める（ステップ♯１４）。例えば、ずれ時間ΔＴは、露光装置４内のメモリ９４に記憶される。即ち、露光制御部９は、第１ビーム（本実施形態では、発光部ＬＤ１のビーム）を点灯させた際の受光部５がビームを受光する第１周期（計測時間Ｔ１）と、第１ビームを点灯させて受光部５で受光させた後、第２ビーム（本実施形態では、発光部ＬＤ２のビーム）を点灯させて受光部５で受光されるまでの第２周期（計測時間Ｔ１’）との差をずれ時間ΔＴ１として把握する。従って、１つの受光部５を設けるだけで、主走査方向でのビーム照射位置のずれを精度良くずれ時間ΔＴ１として把握することができる。
【００７５】
そして、露光制御部９は、ずれ時間ΔＴ１の演算回数が所定回数に達したかを確認する（ステップ♯１５）。尚、所定回数は、例えば、数十回とすることができる（例えば、５０回）が、５０回以下でもよいし（例えば、数回〜十数回）、５０回以上（例えば、数百回）でもよい。もし、所定回数に達していなければ（ステップ♯１５のＮｏ）、ステップ♯１２に戻る。一方、所定回数に達していれば、露光制御部９は、各測定で計測されたずれ時間ΔＴ１の平均を取る（ステップ♯１６）。そして、平均値は、露光装置４内のメモリ９４や記憶部８２に記憶される（ステップ♯１７→エンド）。
【００７６】
測定におけるずれ時間ΔＴ１は、ポリゴンモータ４３の回転速度のぶれやポリゴンミラー４２の精度等の各種要因によって、常に一定の値が得られるとは限らず、若干のばらつきがあり得る。そこで、ずれ時間ΔＴ１の測定を複数回行い、平均を取ることで、測定の精度を高めることができる。
【００７７】
（印刷での露光補正制御）
次に、図９に基づき、本発明の第１の実施形態に係るレーザビームの主走査方向における露光位置のずれ補正制御の一例を説明する。図９は、本発明の第１の実施形態に係るレーザビームの主走査方向における露光位置のずれ補正制御の一例を示すフローチャートである。本発明の第１の実施形態に係るレーザビームの主走査方向における露光位置のずれの補正制御の一例を示すフローチャートである。尚、ずれの補正制御は、各色の半導体レーザ装置４１ごとに別個に行われる。又、図９では、１ページ分の露光を説明する。
【００７８】
まず、図９におけるスタートは、画像形成の開始時点である。そして、本体制御部８は、露光装置４に指示して、画像形成用の回転速度となるようにポリゴンモータ４３を回転させる（ステップ♯２１）。このとき、例えば、発光部ＬＤ１若しくは発光部ＬＤ２を少なくとも受光部５に受光されるタイミングで点灯させる。そして、例えば、本体制御部８からの指示等や計時部９２の計時等により、露光装置４による感光体ドラム３１の走査、露光が開始される（ステップ♯２２）。このとき、画像処理部８３から順次、露光装置４に画像データが送信される。
【００７９】
そして、露光制御部９は、計時部９２の計時等により、先の受光部５の出力変化から一定時間が経過したかを確認し続ける（ステップ♯２３）。この一定時間は、各ラインの書込開始位置（露光開始位置）を揃えるための時間である。もし、一定時間が経過すれば（ステップ♯２３のＹｅｓ）、露光制御部９は、発光制御回路９１に指示して、各発光部ＬＤの点消灯タイミングをずれ時間ΔＴ１分だけ補正して１回の（本実施形態では２ライン分の）走査、露光を行う（ステップ♯２４）。
【００８０】
例えば、測定で基準となった発光部ＬＤ１のレーザビームによる露光位置に、発光部ＬＤ２のレーザビームの露光位置をあわせるため、発光部ＬＤ２の点消灯タイミングをずれ時間ΔＴ１分だけ早める。或いは、発光部ＬＤ１の点消灯タイミングをずれ時間ΔＴ１分だけ遅くしてもよい。発光部ＬＤ１の点消灯タイミングを遅らせるか、発光部ＬＤ２の点消灯タイミングを早めるかは、適宜設定できる。例えば、発光部ＬＤ１や発光部ＬＤ２や受光部５の回路構成に基づく特性等を考慮して、予めの実験で、よりよく補正される傾向を確認しておき、その傾向に基づき定めてもよい。これにより、２ライン分の画素でずれなく走査、露光が行われる。
【００８１】
そして、露光制御部９は、全ライン分の走査、露光が完了したかを確認する（ステップ♯２５）。例えば、露光制御部９は、まだ走査、露光を行っていない画像データの有無を確認して、全ライン分の走査、露光が完了したかを確認する。もし、全ライン分の走査、露光が行われていなければ（ステップ♯２５のＮｏ）、ステップ♯２３に戻る。一方、全ライン分の走査、露光が完了すれば（ステップ♯２５のＹｅｓ）、露光装置４による走査、露光は終了する（エンド）。
【００８２】
（第２実施形態）
次に、図６、図１０、図１１を用いて、本発明の第２の実施形態を説明する。図１０は、図１０は、本発明の第２の実施形態に係る各発光部ＬＤでの露光のずれの測定の一例を説明するためのタイミングチャートである。図１１は、本発明の第２の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。
【００８３】
本実施形態は、第１の実施形態と基本的な概念は同じであるが、図６に示したずれ時間ΔＴ１ではなく、区間ΔＴ０２をずれ時間ΔＴ２として測定し、露光装置４での点消灯タイミングの補正を行う点で異なる。又、その他の点は、第１の実施形態と同様でよく、同じ部材、構成には、共通の符号を付して説明し、共通する部分については、説明を省略する。
【００８４】
まず、図６、図１０に基づき、第２の実施形態に係る発光部ＬＤ２と発光部ＬＤ１との露光位置のずれの測定の概要を説明する。図１０の上段の「発光部ＬＤ２のみ」のチャートは、半導体レーザ装置４１中の発光部ＬＤ２のみを点灯したときの受光部５の出力変化を示す。下段の「発光部ＬＤ２→発光部ＬＤ１」のチャートは、発光部ＬＤ２を点灯させて受光部５に受光させた後、発光部ＬＤ１を消灯し、次に発光部ＬＤ２のレーザビームが受光部５に入射される前に、発光部ＬＤ２を消灯し、発光部ＬＤ１を点灯させてレーザビームを受光部５に入射させたときの受光部５の出力変化を示す。
【００８５】
まず、図１０の上段のチャートとして示すように、露光制御部９は、発光部ＬＤ２を点灯させ、受光部５の出力が立ち下がってから、次に発光部ＬＤ２のレーザビームを受光部５が受光して出力が再び立ち下がるまでの時間である計測時間Ｔ２（第１周期に相当）を計時部９２に計時させる。これにより、発光部ＬＤ２のレーザビームが受光部５で受光される周期を計測することができる。
【００８６】
そして、図１０の下段の「発光部ＬＤ２→発光部ＬＤ１」のチャートは、具体的に、発光部ＬＤ２を点灯させて受光させた後、次に発光部ＬＤ２のレーザビームが受光部５に入射される前に、発光部ＬＤ２を消灯し、発光部ＬＤ１を点灯させてレーザビームを受光部５に入射させたときの受光部５の出力変化を示す。従って、露光制御部９は、発光部ＬＤ２を点灯させ、受光部５の出力が立ち下がってから、次に発光部ＬＤ１のレーザビームを受光部５が受光して出力が再び立ち下がるまでの時間である計測時間Ｔ２’（第２周期に相当）を計時部９２に計時させる。
【００８７】
そして、露光制御部９は、計測時間Ｔ２と計測時間Ｔ２’のずれ時間ΔＴ２を演算する（ずれ時間ΔＴ２＝計測時間Ｔ２−計測時間Ｔ２’）。求められたずれ時間ΔＴ２は受光部５の出力の立ち上がり時間の差であり、図６に示す、区間ΔＴ０２に相当する。これにより、発光部ＬＤ１の露光位置と発光部ＬＤ２の露光位置の主走査方向におけるずれ（主走査方向におけるビームピッチ）を、時間（ずれ時間ΔＴ）として得ることができる。
【００８８】
次に、図１１に基づき、本発明の第２の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を説明する。具体的には、ずれ時間ΔＴ２の測定制御の一例である。尚、ずれ時間ΔＴ２の測定は、各色の半導体レーザ装置４１と受光部５の組み合わせごとに測定される。
【００８９】
尚、図１１におけるスタート、及び、ステップ♯３１は、第１の実施形態でのスタート、ステップ♯１１と同様であるので説明を省略する。そして、露光制御部９は、発光部ＬＤ２を点灯させ、受光部５の出力を確認し、発光部ＬＤ２のレーザビームの受光部５での受光周期（計測時間Ｔ２）を計時部９２に計測させる（ステップ♯３２）。
【００９０】
更に、露光制御部９は、発光部ＬＤ２を点灯させ、受光部５で受光させてから、発光部ＬＤ２を消灯し、発光部ＬＤ１を点灯させ受光部５で受光されるまでの時間（計測時間Ｔ２’）を計時部９２に計測させる（ステップ♯３３）。そして、露光制御部９は、ステップ♯３２とステップ♯３３で測定した時間の差をとり、ずれ時間ΔＴ２を演算にて求める（ステップ♯３４）。例えば、ずれ時間ΔＴは、露光装置４内のメモリ９４に記憶される。即ち、露光制御部９は、第１ビーム（本実施形態では、発光部ＬＤ２のビーム）を点灯させた際の受光部５がビームを受光する第１周期（計測時間Ｔ２）と、第１ビームを点灯させて受光部５で受光させた後、第２ビーム（本実施形態では、発光部ＬＤ１のビーム）を点灯させて受光部５で受光されるまでの第２周期（計測時間Ｔ２’）との差をずれ時間ΔＴとして把握する。従って、１つの受光部５を設けるだけで、主走査方向でのビーム照射位置のずれを精度良くずれ時間ΔＴとして把握される。
【００９１】
尚、ずれ時間ΔＴ２の演算を複数行って、平均をとり、平均値を記憶する点については（ステップ♯３５〜ステップ♯３７）、第１の実施形態のステップ♯１５〜ステップ♯１７と同様でよく、準用するものとして、説明を省略する。
【００９２】
そして、求められたずれ時間ΔＴ２を利用して、第１の実施形態の図９と同様に（ずれ時間ΔＴ１に変えてずれ時間ΔＴ２を利用して）レーザビームの主走査方向における露光位置のずれ補正する。
【００９３】
（第３の実施形態）
次に、図６、図１２、図１３を用いて、本発明の第３の実施形態を説明する。図１２は、本発明の第３の実施形態に係る各発光部ＬＤでの露光のずれの測定の一例を説明するためのタイミングチャートである。図１３は、本発明の第３の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。
【００９４】
本実施形態は、第２の実施形態と同様に、図６に示した区間ΔＴ０２をずれ時間ΔＴ３として計測するが、その計測方法の点で、第２の実施形態と異なる。又、その他の点は、第１の実施形態や第２の実施形態と同様でよく、同じ部材、構成には、共通の符号を付して説明し、共通する部分については、説明を省略する。
【００９５】
まず、図６、図１２に基づき、第３の実施形態に係る発光部ＬＤ２と発光部ＬＤ１との露光位置のずれの測定の概要を説明する。図１２の上段の「発光部ＬＤ１のみ」のチャートは、半導体レーザ装置４１中の発光部ＬＤ１のみを点灯したときの受光部５の出力状態を示す。下段の「発光部ＬＤ１＋発光部ＬＤ２」のチャートは、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２を同時に点灯させて受光部５に受光させた場合の受光部５の出力状態を示す。尚、「発光部ＬＤ１＋発光部ＬＤ２」のチャートは、図６における「受光部出力」のチャートと同じである。
【００９６】
まず、図１２の上段のチャートとして示すように、露光制御部９は、発光部ＬＤ１を点灯状態で保ち、計時部９２に受光部５が受光している時間である受光期間Ｔ３（第１期間に相当）を計測させる。これにより、発光部ＬＤ１のレーザビームが受光部５で受光される時間を計測することができる。
【００９７】
そして、図１２の下段の「発光部ＬＤ１＋発光部ＬＤ２」として示すように、露光制御部９は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２を点灯状態で保ち、受光部５が受光している時間である受光期間Ｔ３’（第２期間に相当）を計測させる。そして、露光制御部９は、受光期間Ｔ３と受光期間Ｔ３’のずれ時間ΔＴ３を演算する（ずれ時間ΔＴ３＝受光期間Ｔ３’−受光期間Ｔ３）。求められたずれ時間ΔＴ３は、受光部５の出力の立ち上がり時間の差であり、図６に示す、区間ΔＴ０２に相当する。これにより、発光部ＬＤ１の露光位置と発光部ＬＤ２の露光位置の主走査方向におけるずれ（主走査方向におけるビームピッチ）を、時間（ずれ時間ΔＴ）として得ることができる。
【００９８】
次に、図１３に基づき、本発明の第３の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を説明する。具体的には、ずれ時間ΔＴ３の測定制御の一例である。尚、ずれ時間ΔＴ３の測定は、各色の半導体レーザ装置４１と受光部５の組み合わせごとに測定される。
【００９９】
尚、図１３におけるスタート、及び、ステップ♯４１は、図８に示す第１の実施形態でのスタート、ステップ♯１１と同様であるので説明を省略する。そして、露光制御部９は、発光部ＬＤ１を点灯させた状態で保ち、受光部５の出力を確認し、発光部ＬＤ１のレーザビームが受光部５で受光される時間（受光期間Ｔ３）を計時部９２に計測させる（ステップ♯４２）。
【０１００】
次に、露光制御部９は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２を点灯させた状態で保ち、受光部５の出力を確認し、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２のレーザビームの両方が受光部５で受光される時間（受光期間Ｔ３’）を計時部９２に計測させる（ステップ♯４３）。そして、露光制御部９は、ステップ♯４２とステップ♯４３で測定した時間の差をとり、ずれ時間ΔＴ３を演算にて求める（ステップ♯４４）。例えば、ずれ時間ΔＴ３は、露光制御部９と接続されるメモリ９４に記憶される。即ち、露光制御部９は、第１ビーム（本実施形態では、発光部ＬＤ１のビーム）を点灯させた際、受光部５のビーム受光状態の期間である第１期間（受光期間Ｔ３）と、第１ビームと第２ビーム（本実施形態では、発光部ＬＤ２のビーム）を点灯させた際、受光部５のビーム受光状態の期間である第２期間（受光期間Ｔ３’）との差をずれ時間ΔＴとして把握する。これにより、１つの受光部５を設けるだけで、主走査方向でのビーム照射位置のずれを精度良くずれ時間ΔＴとして把握することができる。
【０１０１】
尚、ずれ時間ΔＴ３の演算を複数行って、平均をとり、平均値を記憶する点については（ステップ♯４５〜ステップ♯４７）、第１の実施形態のステップ♯１５〜ステップ♯１７と同様でよく、準用するものとして、説明を省略する。
【０１０２】
そして、求められたずれ時間ΔＴ３を利用して、第１の実施形態の図９と同様に（ずれ時間ΔＴ１に変えてずれ時間ΔＴ３を利用して）レーザビームの主走査方向における露光位置のずれ補正する。
【０１０３】
（第４の実施形態）
次に、図６、図１４、図１５を用いて、本発明の第４の実施形態を説明する。図１４は、本発明の第４の実施形態に係る各発光部ＬＤでの露光のずれの測定の一例を説明するためのタイミングチャートである。図１５は、本発明の第４の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。
【０１０４】
本実施形態は、第１の実施形態と同様に、図６に示した区間ΔＴ０１を計測するが、その計測方法の点で、第１の実施形態と異なる。又、その他の点は、第１の実施形態〜第３の実施形態と同様でよく、同じ部材、構成には、共通の符号を付して説明し、共通する部分については、説明を省略する。
【０１０５】
まず、図６、図１４に基づき、第４の実施形態に係る発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２との露光位置のずれの測定の概要を説明する。図１４の上段の「発光部ＬＤ２のみ」のチャートは、半導体レーザ装置４１中の発光部ＬＤ２のみを点灯状態で保ったときの受光部５の出力状態を示す。下段の「発光部ＬＤ１＋発光部ＬＤ２」のチャートは、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２を同時に点灯させて受光部５に受光させた場合の受光部５の出力状態を示す。尚、「発光部ＬＤ１＋発光部ＬＤ２」のチャートは、図６における「受光部出力」のチャートと同じである。
【０１０６】
まず、図１４の上段のチャートとして示すように、露光制御部９は、発光部ＬＤ２を点灯状態で保ち、計時部９２に受光部５が受光している時間である受光期間Ｔ４（第１期間に相当）を計測させる。これにより、発光部ＬＤ２のレーザビームが受光部５で受光される時間を計測することができる。
【０１０７】
そして、図１４の下段の「発光部ＬＤ１＋発光部ＬＤ２」として示すように、露光制御部９は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２を点灯状態で保ち、受光部５が受光している時間である受光期間Ｔ４’（第２期間に相当）を計測させる。そして、露光制御部９は、受光期間Ｔ４と受光期間Ｔ４’のずれ時間ΔＴ４を演算する（ずれ時間ΔＴ４＝受光期間Ｔ４’−受光期間Ｔ４）。求められたずれ時間ΔＴ４は、受光部５の出力の立ち上がり時間の差であり、図６に示す、区間ΔＴ０１に相当する。これにより、発光部ＬＤ１の露光位置と発光部ＬＤ２の露光位置の主走査方向におけるずれ（主走査方向におけるビームピッチ）を、時間（ずれ時間ΔＴ）として得ることができる。
【０１０８】
次に、図１５に基づき、本発明の第４の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を説明する。具体的には、ずれ時間ΔＴ４の測定制御の一例である。尚、ずれ時間ΔＴ４の測定は、各色の半導体レーザ装置４１と受光部５の組み合わせごとに測定される。
【０１０９】
尚、図１５におけるスタート、及び、ステップ♯５１は、図８に示す第１の実施形態でのスタート、ステップ♯１１と同様であるので説明を省略する。そして、露光制御部９は、発光部ＬＤ２を点灯させた状態で保ち、受光部５の出力を確認し、発光部ＬＤ２のレーザビームが受光部５で受光される時間（受光期間Ｔ４）を計時部９２に計測させる（ステップ♯７２）。
【０１１０】
次に、露光制御部９は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２を点灯させた状態で保ち、受光部５の出力を確認し、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２のレーザビームの両方が受光部５で受光される時間（受光期間Ｔ４）を計時部９２に計測させる（ステップ♯５３）。そして、露光制御部９は、ステップ♯５２とステップ♯５３で測定した時間の差をとり、ずれ時間ΔＴ４を演算にて求める（ステップ♯５４）。例えば、ずれ時間ΔＴ４は、露光制御部９とつながるメモリ９４に記憶される。即ち、露光制御部９は、第１ビーム（本実施形態では、発光部ＬＤ２のビーム）を点灯させた際、受光部５のビーム受光状態の期間である第１期間（受光期間Ｔ４）と、第１ビームと第２ビーム（本実施形態では、発光部ＬＤ１のビーム）を点灯させた際、受光部５のビーム受光状態の期間である第２期間（受光期間Ｔ４’）との差をずれ時間ΔＴとして把握する。これにより、１つの受光部５を設けるだけで、主走査方向でのビーム照射位置のずれを精度良くずれ時間ΔＴとして把握することができる。
【０１１１】
尚、ずれ時間ΔＴ４の演算を複数行って、平均をとり、平均値を記憶する点については（ステップ♯５５〜ステップ♯５７）、第１の実施形態のステップ♯１５〜ステップ♯１７と同様でよく、準用するものとして、説明を省略する。
【０１１２】
そして、求められたずれ時間ΔＴ４を利用して、第１の実施形態の図９と同様に（ずれ時間ΔＴ１に変えてずれ時間ΔＴ４を利用して）レーザビームの主走査方向における露光位置のずれ補正する。
【０１１３】
（第５の実施形態）
次に、図１６に基づき、本発明の第５の実施形態を説明する。図１６は、本発明の第５の実施形態に係る各レーザビームのずれ時間測定制御の一例を示すフローチャートである。
【０１１４】
まず、上記の第１の実施形態から第４の実施形態で示したように、本発明では、受光部５に入射される各レーザビームのずれ時間ΔＴを測定する（ずれ時間ΔＴ１〜ずれ時間ΔＴ４）。しかし、ポリゴンモータ４３の回転速度が速ければ速いほど、計測する時間が短くなり、測定の精度の確保が難しくなる。そこで、本実施形態では、ポリゴンモータ４３の回転速度を段階的に変化させ、各段階でずれ時間ΔＴを計測する。そして、各段階で得られたずれ時間ΔＴに基づき、発光部ＬＤ１又は発光部ＬＤ２の点消灯タイミングを変化させる。
【０１１５】
そこで、図１６を用いて、第５の実施形態におけるずれ時間ΔＴの測定を説明する。又、測定するずれ時間ΔＴは、第１の実施形態〜第４の実施形態で測定するずれ時間ΔＴのうち（ずれ時間ΔＴ１〜ずれ時間ΔＴ４のうち）、いずれでもよいが、第１の実施形態でのずれ時間ΔＴ１を測定する場合を説明する。尚、ずれ時間ΔＴ１の測定は、各色の半導体レーザ装置４１と受光部５の組み合わせごとに測定される。
【０１１６】
まず、本実施形態でずれ時間ΔＴ１を測定が開始されると、まず、ポリゴンモータ４３を回転させる。しかし、本実施形態では、段階的にポリゴンモータ４３の回転速度を変化させ、各回転速度でずれ時間ΔＴ１を測定する。そこで、ずれ時間ΔＴ１の測定開始当初では、最初に測定を行う段階の回転速度でポリゴンモータ４３を回転させる（ステップ♯６１）。
【０１１７】
例えば、変化させる段階は、適宜設定できるが、数段階でも十分にずれ時間ΔＴ１の測定での効果を得ることができる。例えば、トナー像形成時のポリゴンモータ４３の回転速度が、５万回転／分（ｒｐｍ）であり、５段階設けるならば、１万回転／分、２万回転／分、３万回転／分、４万回転／分、５万回転／分の各段階でずれ時間ΔＴ１を測定する。尚、段階数は、５段階よりも多くてもよく、少なくてもよい。
【０１１８】
そして、露光制御部９は、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２の点消灯を行って、受光部５の出力に基づき、ずれ時間ΔＴ１を求める（ステップ♯６２）。尚、ずれ時間ΔＴ１の求め方は、上記で説明した例と同様でよい。更に、平均値をとり、各段階での測定の精度を上げるため、ずれ時間ΔＴ１を求めた回数が所定回数に達したかを確認する（ステップ♯６３）。
【０１１９】
もし、所定回数に達していなければ、ステップ♯６２に戻る。一方、所定回数に達していれば、露光制御部９は、測定しているポリゴンモータ４３の現段階でのずれ時間ΔＴ１の平均値を求める（ステップ♯６４）。そして、露光制御部９は、求めた平均値を記憶する（ステップ♯６５）。
【０１２０】
次に、露光制御部９は、全ての段階でのずれ時間ΔＴ１の測定が完了したかを確認する（ステップ♯６６）。もし、全ての段階でのずれ時間ΔＴ１の計測が終わっていなければ（ステップ♯６６のＮｏ）、露光制御部９は、次の段階にポリゴンモータ４３の回転速度に変える（例えば、回転速度を上げる。ステップ♯６７）。その後、ステップ♯６２に戻る。一方、全ての段階でのずれ時間ΔＴ１の計測が終われば（ステップ♯６６のＹｅｓ）、各段階でのずれ時間ΔＴ１の平均値を利用して、トナー像形成時（画像形成時）で、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２との露光位置のずれを修正するための補正時間を演算にて求める（ステップ♯６８）。
【０１２１】
補正時間の演算方法は多様である。例えば、露光制御部９は、各段階に付き、各段階での走査速度（感光体ドラム３１でのレーザビームの移動速度、例えば、予め測定してメモリ９４に記憶させておく）と、トナー像形成時（画像形成時）の速度の比で、対応する段階でのずれ時間ΔＴ１の平均値を割り、求められたそれぞれの値の平均値を算出して、補正時間を求めてもよい。
【０１２２】
又、例えば、予め実験等を行ってデータを取得しておき、メモリ９４が、各段階でのずれ時間ΔＴ１の平均値をトナー像形成時（画像形成時）のずれ時間ΔＴ１に換算するためのデータテーブルを記憶しておく。そして、露光制御部９は、データテーブルを参照し、各段階でのずれ時間ΔＴ１をトナー像形成時（画像形成時）のずれ時間ΔＴ１に換算し、換算された値の平均値を演算して、補正時間を求めてもよい。
【０１２３】
又、露光制御部９は、各段階で測定されたずれ時間ΔＴ１と、各段階での走査速度を乗じて、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２のビームピッチを求める。そして、露光制御部９は、各段階で求められたビームピッチの平均値を求める。そして、求められたビームピッチの平均値を、トナー像形成時（画像形成時）の走査速度で除して、補正時間を求めてもよい。
【０１２４】
そして、求められた補正時間を利用して、第１の実施形態の図９と同様に（ずれ時間ΔＴ１に変えて補正時間を利用して）レーザビームの主走査方向における露光位置のずれ補正する。このように、本実施形態では、露光装置４は、ポリゴンモータ４３は、少なくとも回転速度が複数段階に切替可能であり、露光制御部９は、ポリゴンモータ４３の回転速度の段階ごとに、ずれ時間ΔＴを把握し、露光対象を走査、露光するときの走査速度に基づき、段階ごとのずれ時間ΔＴから露光対象を走査、露光するときのずれ時間ΔＴを演算により求め（換算し）、演算にて求めたずれ時間ΔＴ（補正時間）を、各ビームの点消灯タイミング補正に用いる。
【０１２５】
ポリゴンモータ４３の回転速度が速くなるほど、走査速度が速くなり、受光部５へのレーザビームの入射時間も短くなり、ずれ時間ΔＴの測定精度が悪くなる場合があるところ、露光制御部９は、ポリゴンモータ４３の回転速度の段階ごとに、ずれ時間ΔＴを把握する。そして、露光対象を走査、露光するときのずれ時間ΔＴを演算により求める（換算する）。これにより、高精度に測定されたずれ時間ΔＴに基づき、２本のビームの書込位置（露光位置）のずれを高精度に補正することができる。
【０１２６】
更に、露光制御部９は、各段階でずれ時間ΔＴを複数回取得し、各段階でずれ時間ΔＴの平均値を求める。これにより、各段階のずれ時間ΔＴは、測定ごとにばらつきがあっても、平均が取られた上で把握される。各段階で高精度に把握されたずれ時間ΔＴに基づき、露光対象を走査、露光するときのずれ時間ΔＴが演算により求められる。従って、より高精度に２本のビームの書込位置（露光位置）のずれを高精度に補正することができる。
【０１２７】
このようにして、第１〜第５の実施形態として示した、本発明に係る露光装置４は、ビームを発する発光部ＬＤを複数有する半導体レーザ装置４１と、露光対象を走査して露光するため、発光部ＬＤからのビームを反射し、ポリゴンモータ４３により回転されるポリゴンミラー４２と、ポリゴンミラー４２で反射されたビームを受光し、受光量によって出力が変化する受光部５と、受光部５の出力に基づき、計時を行う計時部９２と、画像データにあわせて発光部ＬＤでの各ビームの点消灯を制御する制御部と、を有し、制御部は、発光部ＬＤが発するビームの内の１本である第１ビームと、第１ビームを発する発光部ＬＤと異なる発光部ＬＤが発するビームである第２ビームとの受光部５への入射におけるずれ時間ΔＴを、受光部５がビームを受光する周期、及び／又は、受光部５がビームの受光状態にある時間に基づき把握し、ずれ時間ΔＴに基づき、第１ビームと第２ビームの主走査方向でのビーム照射位置の差が無くなるように発光部ＬＤの点消灯タイミングを補正する。これにより、受光部５は１つで済むにもかかわらず、主走査方向でのビーム照射位置のずれを、ずれ時間ΔＴとして精度良く把握することができる。そして、ずれ時間ΔＴ分だけビームの点消灯タイミングをずらす等により、ビームピッチに起因し、同じタイミングで２本のビームを点消灯させた際に生ずる２本のビームの書込位置（照射位置）のずれを補正することができる。
【０１２８】
又、露光制御部９は、各種ずれ時間ΔＴを複数回取得し、取得されたずれ時間ΔＴの平均値を、各ビームの点消灯タイミング補正に用いる。ポリゴンモータ４３の回転速度や半導体レーザ装置４１や受光部５の特性等によって、把握されるずれ時間ΔＴは、測定ごとにばらつきが生じ得るところ、露光制御部９は、複数回取得されたずれ時間ΔＴの平均値を、各ビームの点消灯タイミング補正に用いる。これにより、主走査方向でのビーム照射位置のずれを精度良く、正確にずれ時間ΔＴの平均値として把握することができる。又、高精度なずれ時間ΔＴの平均値に基づき、２本のビームの書込位置（露光位置）のずれを高精度に補正することができる。
【０１２９】
又、露光制御部９は、ずれ時間ΔＴ分だけ、いずれかの発光部ＬＤの点消灯タイミングを早めて各ビームの点消灯タイミングを補正する。又は、露光制御部９は、ずれ時間ΔＴ分だけ、何れかの発光部ＬＤの点消灯タイミングを遅らせて各ビームの点消灯タイミングを補正する。露光制御部９は、点消灯タイミングを制御し、２本のビームの書込位置（露光位置）のずれを高精度に補正できる。
【０１３０】
又、プリンタ１００では、主走査方向でのビーム照射位置の差が無くなるように各ビームの点消灯タイミングが補正され、露光がなされる。これにより、主走査方向でのラインでずれのない高画質の画像を形成する画像形成装置を提供することができる。又、特別な装置、治具等は不要で、半導体レーザ装置４１や受光部５は、露光装置４に取り付けた状態で、簡易に測定を行うことができる。又、受光部５は、１色につき、１つで済み、露光装置４、画像形成装置の製造コストの上昇を招くことがない。
【０１３１】
次に、他の実施形態を説明する。上記の実施形態では、露光装置４に露光制御部９を設け、露光制御部９が、発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２の点消灯制御を行い、計時部９２がずれ時間ΔＴ計測のための計時を行う例を説明したが、本体制御部８に発光部ＬＤ１と発光部ＬＤ２の点消灯制御を行わせ、本体制御部８の計時部８４にずれ時間ΔＴ計測のための計時を行わせてもよい。又、計測結果→平均値は、露光装置４内のメモリ９４に変えて、記憶部８２に随時記憶させてもよい。
【０１３２】
又、上記の実施形態では、半導体レーザ装置４１が２本のレーザビームを発する例を説明したが、２本以上のレーザビームを発する半導体レーザ装置４１を用いても構わない。そして、上記で説明したいずれかの実施形態を用いれば、どのようなレーザビームの組み合わせでも、レーザビーム間の主走査方向での位置ずれ（ビームピッチ）をずれ時間ΔＴとして把握することができる。そして、把握されたずれ時間ΔＴに基づき、各発光部ＬＤでの点消灯タイミングを補正すればよい。例えば、半導体レーザ装置４１が４本のレーザビームを発する場合、例えば、主走査方向側で最も先頭に位置する発光部ＬＤを基準として、他の３つの発光部ＬＤとのずれ時間ΔＴを求めれば、主走査方向側で最も先頭に位置する発光部ＬＤを基準として、ずれを修正できる。
【０１３３】
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実施することができる。
【産業上の利用可能性】
【０１３４】
本発明は、レーザビームで露光を行う露光装置４や画像形成装置に利用可能である。
【符号の説明】
【０１３５】
３１    感光体ドラム（露光対象）        ４      露光装置
４１    半導体レーザ装置                ４２    ポリゴンミラー
４３    ポリゴンモータ                  ５      受光部
８      本体制御部（制御部）            ８４    計時部
９      露光制御部（制御部）            ９２    計時部
１００  プリンタ（画像形成装置）        ＬＤ１  発光部
ＬＤ２  発光部                          Ｔ１    計測時間（第１周期）
Ｔ１’  計測時間（第２周期）            Ｔ２    計測時間（第１周期）
Ｔ２’  計測時間（第２周期）            Ｔ３    受光期間（第１期間）
Ｔ３’  受光期間（第２期間）            Ｔ４    受光期間（第１期間）
Ｔ４’  受光期間（第２期間）
【図１】
2011131552.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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