(57)【要約】      （修正有）【課題】複数の測定光の走査領域で取得された画像どうしを短時間あるいは高精度につなぎ合わせることが好ましい。【解決手段】被検眼における複数の測定光の走査領域のうち、互いに重複あるいは近接している領域に対して、該複数の測定光を所定の時間内で照射するように構成し、複数の測定光で取得した画像における重複あるいは近接箇所は、固視微動や瞬きの影響による位置ずれの小さい画像なので、高い類似性を持っており、これらの画像どうしを短時間あるいは高精度につなぎ合わせることができるようにした。【選択図】図２
2011212202.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物に照射される第１及び第２の測定光を走査する走査手段と、
前記第１及び第２の測定光の前記被検査物における第１及び第２の走査領域のうち互いに重複する重複領域あるいは互いに近接する近接領域に照射される前記第１及び第２の測定光を所定の時間内に走査するように前記走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記被検査物が被検眼であり、
前記所定の時間内が、前記被検眼が所定の距離以下で固視微動している時間内であり、
前記第１及び第２の走査領域が、主走査方向に対して略垂直の方向に並んでいることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記第１及び第２の走査領域の上側領域を主走査した後に下側領域を主走査、あるいは該下側領域を主走査した後に該上側領域を主走査することを特徴とする請求項１あるいは２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記第１及び第２の走査領域の上側領域と下側領域とを略交互に走査することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記第１及び第２の走査領域の上側領域及び下側領域から略中心に向かうように、あるいは該略中心から該上側領域及び該下側領域に向かうように副走査することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
副走査の後の主走査方向と、副走査の前の主走査方向とが逆であることを特徴とする請求項３乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記走査手段が、前記第１の測定光を走査する第１の走査手段と、前記第２の測定光を走査する第２の走査手段と、を有し、
前記制御手段が、前記第１の走査領域における前記第１の測定光の副走査方向と、前記第２の走査領域における前記第２の測定光の副走査方向とが逆になるように前記第１及び第２の走査手段を制御することを特徴とする請求項１あるいは２に記載の撮像装置。
【請求項８】
第１及び第２の測定光の被検査物における第１及び第２の走査領域をそれぞれ設定する工程と、
前記第１及び第２の走査領域のうち互いに重複する重複領域あるいは互いに近接する近接領域に照射される前記第１及び第２の測定光を所定の時間内に走査する工程と、
を含むことを特徴とする撮像方法。
【請求項９】
前記被検査物が被検眼であり、
前記所定の時間内が、前記被検眼が所定の距離以下で固視微動している時間内であり、
前記第１及び第２の走査領域が、主走査方向に対して略垂直の方向に並んでいることを特徴とする請求項８に記載の撮像方法。
【請求項１０】
請求項８あるいは９に記載の撮像方法をコンピュータに実行するプログラム。
【請求項１１】
被検査物に照射される第１の測定光を走査する第１の走査手段と、
前記被検査物に照射される第２の測定光を走査する第２の走査手段と、
前記第１の測定光の副走査方向と前記第２の測定光の副走査方向とが逆になるように前記第１及び第２の走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置及び撮像方法に関し、特に、複数の測定光を用いて被検査物を撮像する撮像装置及び撮像方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、眼科装置として、共焦点レーザー走査検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ、以下ＳＬＯと呼ぶ。）や、光干渉断層法（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ、以下ＯＣＴと呼ぶ。）を用いて被検眼（瞳や眼底）の断層画像を高解像度に得る装置が知られている。ＯＣＴ装置は、特に眼底における黄斑の変性といった網膜の病変を診断するのに有効である。
【０００３】
ここで、眼の界面の三次元構造を迅速に取得するために、複数の低コヒーレンス光を瞳の複数箇所に照射されるＯＣＴ装置が、特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特表２００８−５０８０６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１には、被検眼における複数の測定光の走査領域についての開示はない。
【０００６】
ところで、被検眼を撮像しているとき、一般的に被検眼の固視微動や瞬きにより、取得した画像に歪みが生じる場合がある。
【０００７】
ここで、複数の測定光により撮像した３次元画像どうしをつなぎ合わせて、単一の３次元画像を取得する場合を考える。このとき、つなぎ合わせる画像それぞれが、固視微動や瞬きの前後で取得された画像である場合、つなぎ合わせる画像どうしの類似度は低くなる。これにより、上記つなぎ合わせの処理に時間がかかる、あるいは上記つなぎ合わせの精度が悪くなる、といった問題が生じることがある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る撮像装置は、
被検査物に照射される第１及び第２の測定光を走査する走査手段と、
前記第１及び第２の測定光の前記被検査物における第１及び第２の走査領域のうち互いに重複する重複領域あるいは互いに近接する近接領域に照射される前記第１及び第２の測定光を所定の時間内に走査するように前記走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする。
【０００９】
また、別の本発明に係る撮像装置は、
被検査物に照射される第１の測定光を走査する第１の走査手段と、
前記被検査物に照射される第２の測定光を走査する第２の走査手段と、
前記第１の測定光の副走査方向と前記第２の測定光の副走査方向とが逆になるように前記第１及び第２の走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする。
【００１０】
また、別の本発明に係る撮像方法は、
第１及び第２の測定光の被検査物における第１及び第２の走査領域をそれぞれ設定する工程と、
前記第１及び第２の走査領域のうち互いに重複する重複領域あるいは互いに近接する近接領域に照射される前記第１及び第２の測定光を所定の時間内に走査する工程と、
を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
上述したように、本発明に係る撮像装置は、被検眼における複数の測定光の走査領域のうち、互いに重複あるいは近接している領域に対して、該複数の測定光を所定の時間内で照射するように構成されることを特徴とする。
【００１２】
これにより、複数の測定光で取得した画像における重複あるいは近接箇所は、固視微動や瞬きの影響による位置ずれの小さい画像なので、高い類似性を持っている。そのため、これらの画像どうしを短時間あるいは高精度につなぎ合わせることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】第１の実施形態のＯＣＴ装置を説明するための図。
【図２】第１の実施形態の走査について説明するための図。
【図３】第２の実施形態の走査について説明するための図。
【図４】第３の実施形態の走査について説明するための図。
【図５】第４の実施形態の走査について説明するための図。
【図６】断層画像どうしの類似度の高い場合と低い場合のマッチングの検索範囲について説明するための図。
【図７】第１の実施形態のＯＣＴ装置の撮像領域について説明するための図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明を実施するための形態について、図面を用いて詳細に説明する。
【００１５】
（第１の実施形態）
本実施形態のＯＣＴ装置（光干渉断層法を用いて被検眼を撮像するための撮像装置とも呼ぶ。）は、複数の測定光の被検眼における走査領域のうち、互いに重複あるいは近接している領域に対して、該複数の測定光を所定の時間内で照射するように構成される。なお、所定の時間内とは、被検眼が所定の距離以下で固視微動している時間内であることが好ましい。これにより、複数の測定光で取得した画像における重複あるいは近接箇所は、固視微動や瞬きの影響による位置ずれのない画像なので、高い類似性を持っている。そのため、これらの画像どうしを短時間あるいは高精度につなぎ合わせることができる。また、本実施形態のＯＣＴ装置は、第１及び第２の測定光の被検査物における第１及び第２の走査領域をそれぞれ設定する走査領域設定手段を有することが好ましい。
【００１６】
なお、本発明はＯＣＴ装置に限定されるものではなく、ＳＬＯ装置やＯＣＴとＳＬＯの機能を両方備えた装置など、被検眼を撮像する眼科装置であれば適用可能である。
【００１７】
本実施形態のＯＣＴ装置の全体構成について図１を用いて説明する。図１（ａ）は、本実施形態に係るＯＣＴ装置の構成について説明するための図である。なお、図１（ａ）は、マイケルソン干渉計で構成されているが、マッハツェンダー干渉計で構成しても本実施形態に適用可能である。ここで、マイケルソン干渉計とは、光源からの光を測定光と参照光とに分割する分割部と、被検眼からの戻り光と参照光とを合成する合成部とが共用されている干渉計のことである。また、マッハツェンダー干渉計とは、分割部と合成部とが別々に設けられている干渉計のことである。マッハツェンダー干渉計は、マイケルソン干渉計に比べて、ビームスプリッターやカプラーなどの部品点数を多く設ける必要があるが、光の損失を少なく構成することができる。
【００１８】
まず、光源１０１（低コヒーレンス光源とも呼ぶ。）から出射された光は、ファイバビームスプリッタ１０２により、複数の光に分割される。なお、光源１０１には、ＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）を適用することができる。また、光源１０１には、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）も適用することができる。また、光源１０１には、チタンサファイアレーザなどの超短パルスレーザも適用することができる。このように、光源１０１は、低コヒーレンス光を発生させることの出来るものなら何でも良い。さらに、光源１０１から発生される光の波長は、特に制限されるものではないが、４００ｎｍから２μｍの範囲である。なお、波長の帯域は広いほど縦分解能がよくなる。一般的に中心波長が８５０ｎｍの場合、空気中において、５０ｎｍの帯域では、６μｍの分解能、１００ｎｍの帯域では、３μｍの分解能である。
【００１９】
次に、複数に分割された光はそれぞれ、ファイバカプラ１０３（分割部）により、測定光と参照光とに分割される。また、複数の測定光（第１及び第２の光とも呼ぶ。）はそれぞれ、特定の間隔で配置されたファイバコリメータ１０４と走査部１０５（走査光学部とも呼ぶ。）と対物レンズ１０６（照射光学部とも呼ぶ。）を通って被検眼１２０に導かれる。また、走査部１０５を制御するための制御部１１２を備えていても良い。
【００２０】
ここで、走査部１０５は、被検眼１２０に照射する複数の測定光を、それぞれ被検眼１２０における複数の走査領域（第１及び第２の走査領域とも呼ぶ。）で走査する。このとき、走査部１０５は、複数の走査領域が互いに重複あるいは近接するように走査する。そして、測定光路は、上記重複あるいは近接している領域に対して、複数の測定光を所定の時間内で照射するように構成される。
【００２１】
また、複数の参照光は、ファイバコリメータ１０７より出射され、参照ミラー１０９に導かれる。なお、参照光ごとの波長分散量を補償するための分散補償用ガラス１０８を、参照光路に設けても良い。また、図１では、参照ミラー１０９を一つのミラーとしているが、参照光ごとにミラーを設けても良い。
【００２２】
また、複数の測定光は、被検眼１２０によって反射あるいは散乱された戻り光として、走査部１０５などを通り、ファイバカプラ１０３に戻される。また、複数の参照光は、参照ミラー１０９によって反射されて、ファイバカプラ１０３に戻される。
【００２３】
また、複数の戻り光と複数の参照光とはそれぞれ、ファイバカプラ１０３により合成される。そして、この合成された光である複数の合成光（干渉光とも呼ぶ。）はそれぞれ、検出部１１０によって検出される。
【００２４】
ここで、ＦＤ−ＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ：フーリエドメイン法。）の一つであるＳＤ−ＯＣＴ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ：スペクトラルドメイン法、後分光。）の場合、検出部１１０（分光器）は、前記合成光を分光するための分光素子を有する。このとき、分光素子には、回折格子やプリズムなどを適用することができる。また、検出部１１０は、分光素子により分光された光を検出するためのセンサを有する。センサには、ラインセンサーや２次元センサなどを適用することができる。
【００２５】
また、ＦＤ−ＯＣＴの一つであるＳＳ−ＯＣＴ（Ｓｏｕｒｃｅ  Ｓｗｅｐｔ−ＯＣＴ、先分光。）の場合、異なる波長の光を異なる時間で発生させる光源を用いるので、それぞれの光による合成光を、フォトダイオードなどのセンサにより検出することができる。このとき、スペクトル情報を取得するために前記分光素子を用いる必要はない。また、ＦＤ−ＯＣＴとは別の方式であるＴＤ−ＯＣＴ（Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ：タイムドメイン法）のとき、ＳＳ−ＯＣＴと同様に、検出部１１０をセンサにより構成することができる。
【００２６】
また、処理部１１１により、各合成光を波数（波長の逆数）でフーリエ変換する。これにより、各走査領域に対応する被検眼１２０の複数の断層画像を取得することができる。そして、複数の走査領域の互いに重複あるいは近接している領域に対応する被検眼１２０の断層画像どうしを用いて、各断層画像をつなぎ合わせる。このとき、この互いに重複あるいは近接している領域に対して、複数の測定光を所定の時間内で照射するように構成される。
【００２７】
なお、被検眼における撮像位置をリアルタイムにモニタするために、ＳＬＯあるいは赤外光を用いて２次元で一括して撮像する眼底カメラなども備えることが好ましい。また、固視標（あるいは固視灯とも呼ぶ。）を光軸上に配置することが好ましい。これは、被験者に固視標を凝視させることで、測定光を被験者の眼底で走査する際、診断の注目領域の一つである黄斑を走査領域の中心として走査することが出来る。以上のＯＣＴ装置において、走査光学系１０５を動かさずに測定を行うと、Ａスキャン１本分のデータが得られる。
【００２８】
１つのＡスキャン終了ごとに、走査光学系１０５内をＸ方向に解像度分動かすことを続けると、Ｂスキャン画像を得る事ができる。同様にＢスキャン終了ごとにＹ方向にスキャンを行うと網膜の３次元像を得る事ができる。そして、各測定光のスキャンにより得られたＢスキャン画像は、情報処理部１１１において、公知のテンプレートマッチング処理等を用いることにより位置合わせを行って合成され、１つの３次元の断層画像となる。
【００２９】
本実施形態のＯＣＴ装置は、複数の測定光をそれぞれの走査領域の上側領域と下側領域とから略中心に向かって走査する。また、上側領域の主走査と下側領域の主走査とを略交互に行う。ここでは、３つの測定光の走査領域が主走査方向に対して略垂直の方向に３分割されている。この３つの測定光を用いて被検査物の３次元断層画像を取得する。
【００３０】
１つの測定光は、割り当てられた走査領域をｎ本のラスタスキャンを行う。図２（ａ）のように１本目のラスタ、ｎ本目のラスタ、２本目のラスタ、ｎ−１本目のラスタというように、上端と下端とから中央に向かいスキャンする。本実施形態のＯＣＴ装置は、３つの測定光をそれぞれの走査領域を同様に走査し、また同時に走査させることができる。
【００３１】
ここで、複数の測定光を用いて被検査物を撮像する撮像装置において、測定光の走査する際、走査領域の上端から下端に向けて、一様にラスタスキャンすることが考えられる。このとき、測定光Ａの走査領域と測定光Ｂの走査領域との近接領域あるいは重複領域における断層画像は、それぞれ撮像開始時と撮像終了時に取得したものである。
【００３２】
ところで、ＯＣＴ装置で被検眼を撮像する場合、固視微動などにより被検眼が撮像中に動いてしまうことがある。このため、上記近接領域あるいは重複領域で取得された断層画像は、類似性の低いものとなる可能性が高い。この類似性が低い場合、互いの断層画像をつなぎ合わる際の処理時間が長くなる。例えば、断層画像が互いに対応する箇所を探すマッチングの場合、一方の断層画像の一部の箇所をテンプレートとして、他方の断層画像上で様々な方向に動かして類似性の高い箇所を探すことになる。
【００３３】
上記近接領域あるいは重複領域の撮像時刻が近接しているため、断層画像の類似性が高い場合には、図６（ａ）のようになる。このとき、テンプレートの探索範囲は狭くて良いため、上記マッチングの時間を短縮することができる。一方、上記撮像時刻が離れており類似した画像が想定できない場合には、図６（ｂ）のように、テンプレートの探索範囲が広くなるため、探索に必要な計算量（探索範囲の２乗のオーダー）が増加し、探索に時間がかかる。
【００３４】
また、走査領域どうしが副走査方向に近接あるいは重複する場合を考えてきたが、走査主走査方向に近接あるいは重複していたとしても、互いの撮像時刻が大きく離れてしまうと、各測定光により撮像した画像同士の位置ずれは大きくなる。そのため、これらの画像同士をつなぎ合わせる処理が難しくなってしまう。
【００３５】
本実施形態は、近接あるいは重複した領域をそれぞれ別の測定光により所定の時間内（固視微動が所定の距離内で生じる時間内）に主走査する。これにより、各測定光により撮像した画像同士は、位置ずれのほとんど生じていない画像であるため、つなぎ合わせを容易に行うことができる。
【００３６】
次に本実施例における走査部（走査光学系）１０５の制御について、図１（ｂ）と図１（ｃ）を用いて説明する。図１（ｂ）のように、走査部１０５は、眼底において測定光をＸ方向に走査するためのＸ軸ミラー１１５と、Ｙ方向に走査するためのＹ軸ミラー１１６を持つ。複数の測定光は、眼底において一つの走査光学系１０５により走査されるが、本発明は、測定光ごとに別々の走査部で構成しても良い。複数の測定光は、眼底において副走査方向に分割された別々の領域を走査する。このとき、図１（ｂ）のように、各走査領域の一部が重複するように走査部１０５が制御されていも良い。重複領域を走査する測定光同士が、近接する時間内に主走査されることにより、各測定光により撮像された画像同士のつなぎ合わせの際に、位置合わせを容易に行うことができる。
【００３７】
Ｘ軸ミラー１１５とＹ軸ミラー１１６は、制御部１１２により制御される。制御部１１２は計算部を備え、Ｘ軸ミラー１１５、Ｙ軸ミラー１１６を制御する制御プログラムにより走査部を制御する。
【００３８】
制御部１１２の制御プログラムのフローチャートについて、図２（ｂ）を用いて説明する。図中ｎは、一つの測定光あたりのラスタ数を示しているが、ここでは説明を簡単にするためｎは偶数であるとする。
【００３９】
まず、制御部１１２が、変数ｋを１に初期化するように指令を送る（Ｓ１００）。次に、制御部１１２が、走査領域における上端からｋ番目の主走査を実行するように走査部１０５に指令を送る（Ｓ１０１）。これは走査領域の上端から中央に向けて順番に主走査することに相当する。また、（ｎ−ｋ＋１）番目の主走査を実行するように走査部１０５に指令を送る（Ｓ１０２）。これは領域の下端から中央に向けて順次スキャンして行くことに相当する。また、ｋを１増やす（Ｓ１０３）。また、ｋが（ｎ／２）より大きいかどうか判断し、もし大きければ終了する。もし小さいか等しければＳ１０１に戻りスキャンを続ける（Ｓ１０４）。以上の手順により、各領域を各測定光で上下から中央に向けて順次スキャンすることができる。本実施形態は３ビームによるＯＣＴ装置であるが、これは本発明を制限するものではなく、任意の本数の測定光を用いたＯＣＴ装置に適用することができる。また、本実施形態では各測定光がスキャンする各領域に重複部分を設けたが、これは本発明を制限するものではなく、各領域は重なりを持たず近接していても良い。各測定光がこのようにスキャンを行うことにより、各測定光のスキャン領域の境界部分を各測定光が近接した時間にスキャンすることが可能となる。その結果、各測定光によりスキャンした３次元画像のつなぎ合わせが容易になる。また、本実施形態では、重ね合わせを容易にするために、各測定光がスキャンする各領域に重複部分を設けた。本発明により重ねあわせが容易になるため、従来よりも各領域の重複部分を減少させることが可能である。その結果、スキャン時間を短縮することができる。
【００４０】
（第２の実施形態）
本実施形態のＯＣＴ装置は、複数の測定光をそれぞれ走査領域の略中心から上側領域と下側領域に向かって走査する。また、上側領域の主走査と下側領域の主走査とを略交互に行う。なお、ここでは、第１の実施形態と異なる部分である制御部１１２の制御プログラムについて説明する。
【００４１】
１つの測定光はその測定光に割り当てられた領域を、ｎ本のラスタに分けてラスタスキャンする。図３（ａ）のように、（ｎ／２）本目のラスタ、（ｎ／２＋１）本目のラスタ、（ｎ／２−１）本目のラスタ、（ｎ／２＋２）本目のラスタ、というように、中央から上下に向かい走査する。
【００４２】
本実施形態の制御部１１２の制御プログラムのフロー部を図３（ｂ）に示す。図中ｎは、一つの測定光あたりのラスタ数を示しているが、ここでは説明を簡単にするためｎは偶数であるとする。
【００４３】
まず、制御部１１２は、内部変数ｋを１に初期化する（Ｓ２００）。次に、（ｎ／２−ｋ＋１）ラスタ目をスキャンする（Ｓ２０１）。これは領域の中央から上端に向けて順次スキャンしてゆくことに相当する。また、（ｎ／２＋ｋ）ラスタ目をスキャンする（Ｓ２０２）。これは領域の中央から下端に向けて順次スキャンして行くことに相当する。また、ｋを１増やす（Ｓ２０３）。また、ｋが（ｎ／２）より大きいかどうか判断し、もし大きければ終了する。もし小さいか等しければＳ２０１に戻りスキャンを続ける（Ｓ２０４）。以上の手順により、各領域を各測定光で中央から最上部、最下部に向けて順次スキャンすることができる。各測定光がこのようにスキャンを行うことにより、各測定光のスキャン領域の境界部分を各測定光が近接した時間にスキャンすることが可能となる。その結果、各測定光によりスキャンした３次元画像の重ねあわせが容易になり、利用者によりよい重ね合わせ画像を提供することができる。
【００４４】
（第３の実施形態）
本実施形態のＯＣＴ装置は、複数の測定光をそれぞれの走査領域の上側領域と下側領域とから中心に向かってスパイラル状に走査する。なお、ここでは、第１の実施形態と異なる部分である制御部１１２の制御プログラムを中心に説明する。
【００４５】
１つの測定光はその測定光に割り当てられた領域を、ｎ本のラスタに分けてラスタスキャンする。図４（ａ）のように１本目のラスタを左から右へ、ｎ本目のラスタを右から左へ、２本目のラスタを左から右へ、（ｎ−１）本目のラスタを右から左へ、というように、上端、下端から中央に向かいスパイラル状にスキャンしてゆく。スパイラル状にスキャンすることで、第１の実施形態と比較し、Ｘ軸ミラーの動きを減少させることができる。そのため、Ｘ軸ミラーの動作特性によっては、スキャン速度を向上させることが出来る。
【００４６】
本実施形態の制御部１１２の制御プログラムのフローチャートを図４（ｂ）に示す。図中ｎは、一つの測定光あたりのラスタ数を示しているが、ここでは説明を簡単にするためｎは偶数であるとする。
【００４７】
まず、制御部１１２は、内部変数ｋを１に初期化する（Ｓ３００）。次に、ｋラスタ目を左から右にスキャンする（Ｓ３０１）。これは、走査領域の上端から中央に向けて順次スキャンしてゆくことに相当する。また、（ｎ−ｋ＋１）ラスタ目を右から左にスキャンする（Ｓ３０２）。これは領域の下端から中央に向けて順次スキャンして行くことに相当する。また、ｋを１増やす（Ｓ３０３）。また、ｋが（ｎ／２）より大きいかどうか判断し、もし大きければ終了する。もし小さいか等しければＳ３０１に戻りスキャンを続ける（Ｓ３０４）。以上の手順により、各領域を各測定光で上端、下端から中央に向けて順次スパイラル状にスキャンすることができる。各測定光がこのようにスキャンを行うことにより、各測定光のスキャン領域の境界部分を各測定光が近接した時間にスキャンすることが可能となる。その結果、各測定光によりスキャンした３次元画像の重ねあわせが容易になり、利用者によりよい重ね合わせ画像を提供することができる。
【００４８】
本実施形態では、走査領域の上側領域と下側領域とから中央に向けてスパイラル状に走査しているが、走査領域の中央から上側領域と下側領域に向けてスパイラル状にスキャンすることも可能である。
【００４９】
（第４の実施形態）
本実施形態のＯＣＴ装置は、光学的な仕組みにより、第１の測定光（測定光Ａ）を第１の走査領域の上側領域から下側領域に走査し、第２の測定光（測定光Ｂ）を第２の走査領域の下側領域から上側領域に走査する。なお、ここでは、第１の実施形態と異なる箇所である走査部１０５を中心に説明する。
【００５０】
１つの測定光はその測定光に割り当てられた領域を、ｎ本のラスタに分けてラスタスキャンする。図５（ａ）のように、１本目のラスタとｎ本目のラスタを別の測定光で同時にスキャン、２本目のラスタと（ｎ−１）本目のラスタを別の測定光で同時にスキャン、というように、隣り合う領域で異なった方向からスキャンしてゆく。
【００５１】
本実施形態の走査部２０５を、図５（ｂ）に示す。光学部２０５は、第１のＹ軸ミラー２０７（第１の走査手段とも呼ぶ。）と第２のＹ軸ミラー２０８（第２の走査手段とも呼ぶ。）を有する。第１のＹ軸ミラー２０７により走査された第１の測定光の走査方向（副走査方向とも呼ぶ。）と、第２のミラー２０８により走査された第２の測定光の走査方向とが逆になるように第１及び第２の走査手段を制御する。
【００５２】
本実施形態では、３本の測定光の場合を示したが、これは本発明を制限するものではない。奇数本目の測定光を第１のＹ軸ミラー２０７に、偶数本目の測定光を第２のＹ軸ミラー２０８で走査することで、任意の本数の測定光について本発明を適用することが出来る。
【００５３】
（その他の実施例）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【符号の説明】
【００５４】
１０１  光源
１０５  走査部
１１０  検出部
１１２  走査部
１２０  被検査物
【図１】
2011212202.tif 000003
【図２】
2011212202.tif 000004
【図３】
2011212202.tif 000005
【図４】
2011212202.tif 000006
【図５】
2011212202.tif 000007
【図６】
2011212202.tif 000008
【図７】
2011212202.tif 000009