(57)【要約】【課題】従来よりも容易にデジタル信号波形を鈍らせる技術を提供する。【解決手段】Ｄ／Ａ変換器１４０を用いてアナログ信号波形を出力するＤ／Ａ変換ステップと、アナログ信号波形の出力に基づいて発生する電磁波の強度を測定する測定ステップと、出力されたアナログ信号波形がパルス信号としての所定規格を満たしているか否か判定する波形規格判定ステップと、測定ステップで測定された電磁波の強度が所定規格を満たしているか否か判定する電磁波規格判定ステップと、Ｄ／Ａ変換器１４０に入力されるデジタル波形データを修正することによって、波形規格判定ステップでパルス信号としての所定規格を満たしていると判定され、かつ、電磁波規格判定ステップで所定規格を満たしていると判定されるデジタル波形データを生成する波形データ生成ステップと、を行う。【選択図】図１
2011082844.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号波形生成方法であって、
アナログ信号波形を生成するためのデジタル波形データを格納する格納ステップと、
前記デジタル波形データをＤ／Ａ変換器に入力することによりアナログ信号に変換してアナログ信号波形を生成し、出力するＤ／Ａ変換ステップと、
前記Ｄ／Ａ変換ステップにおけるアナログ信号波形の出力に基づいて発生する電磁波の強度を測定する測定ステップと、
前記Ｄ／Ａ変換ステップで出力されたアナログ信号波形がパルス信号としての所定規格を満たしているか否か判定する波形規格判定ステップと、
前記測定ステップで測定された電磁波の強度が所定規格を満たしているか否か判定する電磁波規格判定ステップと、
前記Ｄ／Ａ変換器に入力されるデジタル波形データを修正することによって、前記波形規格判定ステップでパルス信号としての所定規格を満たしていると判定され、かつ、前記電磁波規格判定ステップで所定規格を満たしていると判定されるデジタル波形データを生成する波形データ生成ステップと、
を行うことを特徴とする信号波形生成方法。
【請求項２】
請求項１に記載の信号波形生成方法であって、
前記波形データ生成ステップでは、
前記波形規格判定ステップでパルス信号としての所定規格を満たしていると判定され、前記電磁波規格判定ステップで所定規格を満たしていると判定され、かつ、発生する電磁波の強度が最小となるデジタル波形データを生成する、
ことを特徴とする信号波形生成方法。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の信号波形生成方法であって、
前記波形データ生成ステップで生成されたデジタル波形データを前記Ｄ／Ａ変換器に入力することによりアナログ信号に変換してアナログ信号波形を生成し、出力するステップ、をさらに行う、
ことを特徴とする信号波形生成方法。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか１項に記載の信号波形生成方法であって、
前記波形データ生成ステップでは、
前記波形規格判定ステップにおいてパルス信号としての所定規格を満たしていないと判定された場合には、前記Ｄ／Ａ変換器に入力されるデジタル波形データを、矩形の波形に近づけ、
前記電磁波規格判定ステップにおいて所定規格を満たしていないと判定された場合には、前記Ｄ／Ａ変換器に入力されるデジタル波形データを、正弦波の波形に近づける、
ことを特徴とする信号波形生成方法。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項に記載の信号波形生成方法であって、
前記波形データ生成ステップでは、
デジタル波形データを構成する座標データを変更することによって、前記Ｄ／Ａ変換器に入力されるデジタル波形データを修正する、
ことを特徴とする信号波形生成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、信号波形生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
信号線を介して伝送されるデジタル信号は、高周波成分をもっており、ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference）試験でそのレベルが問題となる場合がある。
【０００３】
その対策として、デジタル信号波形を鈍らせることが一般的に行われている。例えば、信号線に各種アナログフィルタを装着することによって、デジタル信号波形を鈍らせることができる（特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−１４２０７５号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、アナログフィルタを用いてデジタル信号波形を鈍らせようとすると、アナログフィルタの設定値を決定する（アナログフィルタ定数の設計）作業が、ユーザーにとって大変な負担となる。
【０００６】
本発明は、従来よりも容易にデジタル信号波形を鈍らせる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するための本願発明は、信号波形生成方法であって、アナログ信号波形を生成するためのデジタル波形データを格納する格納ステップと、前記デジタル波形データをＤ／Ａ変換器に入力することによりアナログ信号に変換してアナログ信号波形を生成し、出力するＤ／Ａ変換ステップと、前記Ｄ／Ａ変換ステップにおけるアナログ信号波形の出力に基づいて発生する電磁波の強度を測定する測定ステップと、前記Ｄ／Ａ変換ステップで出力されたアナログ信号波形がパルス信号としての所定規格を満たしているか否か判定する波形規格判定ステップと、前記測定ステップで測定された電磁波の強度が所定規格を満たしているか否か判定する電磁波規格判定ステップと、前記Ｄ／Ａ変換器に入力されるデジタル波形データを修正することによって、前記波形規格判定ステップでパルス信号としての所定規格を満たしていると判定され、かつ、前記電磁波規格判定ステップで所定規格を満たしていると判定されるデジタル波形データを生成する波形データ生成ステップと、を行う。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の実施形態に係る波形データ生成システムの概略構成図である。
【図２】補間演算方法についての説明図である。
【図３】波形データ生成装置の機能構成図である。
【図４】（Ａ）ＥＭＩ規格、波形規格をともに満たす出力波形データの例を示す図である。（Ｂ）ＥＭＩ規格を満たさない出力波形データの例を示す図である。（Ｃ）波形規格を満たさない出力波形データの例を示す図である。
【図５】波形データ生成処理を説明するためのフローチャートである。
【図６】波形データの修正方法についての説明図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態の一例を図面を参照して説明する。
【００１０】
図１は、本発明の実施形態が適用された波形データ生成システム５０の概略構成図を示す。
【００１１】
波形データ生成システム５０は、印刷装置等の電子機器と、ＥＭＩエミュレーションシステム（点線枠）と、を備える。
【００１２】
電子機器は、図示するように、波形データメモリー１１０と、波形データＲＡＭ１２０と、補間演算装置１３０と、ＤＡＣ(Digital-to-Analog Converter)１４０と、受信側ＩＣ１５０と、を備える。
【００１３】
波形データメモリー１１０は、ＦｌａｓｈＲＯＭ等の記憶媒体であり、電子機器内で用いられる理想的なデジタル波形データを格納する。ここで、理想的なデジタル波形データとは、［１：ＥＭＩ規格］伝送時に発生する電磁波の強度が所定の規格（例えば、電磁波の強度が全周波数帯域において所定値未満）を満たし、かつ、［２：波形規格］パルス信号としての所定規格（例えば、ハイ、ローの持続時間が所定値以上）を満たすアナログ波形データを生成するための元データ（座標データ）を指す。
【００１４】
図２は、波形データメモリー１１０に格納されるデジタル波形データの一例を示す。波形データ記憶メモリー１１０に格納されるデジタル波形データは、所定数の離散点で与えられ、例えば、原点Ｏを基準とする、図示する黒丸（点Ａ、点Ｂ、点Ｃ）の座標データ（ｎ、ｙ０）、（ｍ、ｙ０）、（ｋ、０）である。
【００１５】
図１に戻り、波形データＲＡＭ１２０は、ＲＡＭ等の書き換え可能な記憶媒体であり、補間演算装置１３０に入力するデジタル波形データ（座標データ）を一時的に格納する。
【００１６】
補間演算装置１３０は、波形データＲＡＭ１２０に格納されているデジタル波形データ（座標データ）の各離散点の間に、座標データを補間（線形補間）する。
【００１７】
具体的には、補間演算装置１３０は、波形データＲＡＭ１２０からデジタル波形データを読み出し、立ち上がり部分（図２に示すＯからＡの区間）に座標データ（白丸）を補うとともに、立ち下がり部分（図２に示すＢからＣの区間）に座標データ（白丸）を補う。例えば、補間演算装置１３０は、図２の例で示ように、立ち上がり部分ではＯ点とＡ点とを結ぶ直線上に均等な間隔で並ぶ座標データを補間する。また、立ち下がり部分ではＢ点とＣ点を結ぶ直線上に均等な間隔で並ぶ座標データを補間する。なお、図２には示していないが、補間演算装置１３０は、ＡからＢの区間にも同様に座標データを補う。また、本発明の補間演算は、この方法に限定されない。
【００１８】
そして、補間演算装置１３０は、補間演算により座標データが補間されたデジタル波形データを、ＤＡＣ１４０に入力する。
【００１９】
ＤＡＣ１４０は、補間演算装置１３０から出力されたデジタルデータ（座標データ）を、アナログデータ（アナログ信号）に変換して出力する。
【００２０】
ＦＦＣ(Flexible Flat Cable)１４５は、所定長（例えば、１ｍ）の伝送ケーブルであり、ＤＡＣ１４０から出力されたアナログ波形データを受信側ＩＣ１５０まで伝送する。
【００２１】
ここで、ＦＦＣ１４５を介してアナログ波形データが伝送されると、電磁波（放射ノイズ）が発生する。ＦＦＣ１４５から発生する電磁波の強度は、伝送される波形データ（パルス信号）の立ち上がり時間、立ち下がり時間が短い（すなわち、矩形に近いパルス信号）ほど、高くなることが知られている。そのため、ＦＦＣ１４５から発生する電磁波の強度を低く抑える（上記の「ＥＭＩ規格」を満たす）ためには、正弦波に近い（本実施形態では、立ち上がり時間、立ち下がり時間が長い波形データ、すなわち、斜辺が緩やかな台形に近いパルス信号）を伝送するとよい。
【００２２】
受信側ＩＣ１５０は、ＦＦＣ１４５を介して供給されるアナログ波形データを受信する。しかし、受信側ＩＣ１５０は、受信したアナログ波形データのハイ、ローの持続時間が短いと、アナログ波形データをパルス信号として特定できない。そのため、受信側ＩＣ１５０で受信するアナログ波形データは、ハイ、ローの持続時間が所定値以上である（上記の「波形規格」を満たす）必要がある。
【００２３】
本実施形態が適用された電子機器は、以上のような構成からなる。ただし、電子機器の構成はこれに限定されない。例えば、電子機器は、さらに印刷エンジンを備える印刷装置、さらにスキャナーエンジンを備えるスキャナー装置などであってもよい。
【００２４】
また、上記した各構成要素は、電子機器の構成を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分類したものである。構成要素の分類の仕方や名称によって、本願発明が制限されることはない。電子機器の構成は、処理内容に応じて、さらに多くの構成要素に分類することもできる。また、１つの構成要素がさらに多くの処理を実行するように分類することもできる。また、各構成要素の処理は、１つのハードウェアで実行されてもよいし、複数のハードウェアで実行されてもよい。
【００２５】
ところで、波形データメモリー１１０に格納されるデジタル波形データは、ＥＭＩエミュレーションシステムによって生成される。デジタル波形データを生成するＥＭＩエミュレーションシステムは、図１に示すように、製造時に電子機器に接続される。そして、ＥＭＩエミュレーションシステムは、電子機器のＦＦＣ１４５から発生する電磁波の強度を測定し、接続している電子機器において理想的なデジタル波形データを生成する。従って、ＥＭＩエミュレーションシステムは、個々の電子機器に対して、理想的なデジタル波形データを波形データメモリー１１０に格納することができる。
【００２６】
ＥＭＩエミュレーションシステムは、図示するように、波形データ生成装置（ＰＣ）１００と、ＥＭＩ測定装置１６０と、を備える。
【００２７】
ＥＭＩ測定装置１６０は、電子機器のＦＦＣ１４５から発生する電磁波の電界強度を測定する。具体的には、ＥＭＩ測定装置１６０は、電磁波の各周波数帯域に対応したアンテナにて電磁波を受信し、受信した電磁波の電界強度を測定する。そして、ＥＭＩ測定装置１６０は、測定した電界強度（アナログ信号）を、波形データ生成装置１００に出力する。
【００２８】
波形データ生成装置１００は、ＥＭＩエミュレーションシステムに接続している電子機器における理想的なデジタル波形データを生成する。
【００２９】
図３は、波形データ生成装置１００の機能構成図である。図示するように、波形データ生成装置１００は、データ取得部２０１と、波形データ生成部２０２と、を有する。
【００３０】
データ取得部２０１は、ＥＭＩ測定装置１６０で測定された電界強度（測定データ）と、ＦＦＣ１４５を伝送しているアナログ波形データ（波形データ）と、を取得する。
【００３１】
波形データ生成部２０２は、データ取得部２０１で取得された測定データと、波形データと、に基づいて、ＥＭＩエミュレーションシステムに接続している電子機器における理想的なデジタル波形データを生成する。
【００３２】
具体的には、波形データ生成部２０２は、デジタル波形データの初期データ（例えば、矩形）を波形データＲＡＭ１２０にセット（格納）する。そして、波形データＲＡＭ１２０にセットされたデジタル波形データは、電子機器の補間演算装置１３０、ＤＡＣ１４０を経てアナログ波形データに変換され、ＦＦＣ１４５に出力される。このとき、波形データ生成部２０２は、データ取得部２０１で取得された測定データと波形データを用いて、ＦＦＣ１４５に出力されたアナログ波形データが「ＥＭＩ規格」及び「波形規格」を満たしているか否か判別する。
【００３３】
なお、図４（Ａ）は、ＥＭＩ規格、波形規格をともに満たすアナログ波形データの例を示す図である。図４（Ｂ）は、ＥＭＩ規格を満たさないアナログ波形データの例を示す図である。図４（Ｃ）波形規格を満たさないアナログ波形データの例を示す図である。
【００３４】
そして、波形データ生成部２０２は、少なくともいずれかの規格を満たしていない場合（図４（Ｂ）や（Ｃ）に示す波形の場合）には、上記した初期データを所定の規則に従って修正し、修正後のデジタル波形データを波形データＲＡＭ１２０にセット（格納）し直す。そうして、初期データの場合と同様に、波形データ生成部２０２は、データ取得部２０１で取得された測定データと、波形データを用いて、ＦＦＣ１４５に出力されたアナログ波形データが「ＥＭＩ規格」及び「波形規格」を満たしているか否か判別する。
【００３５】
波形データ生成部２０２は、ＦＦＣ１４５に出力されたアナログ波形データが「ＥＭＩ規格」及び「波形規格」を満たす（例えば、図４（Ａ）に示す波形となる）まで、以上の処理（デジタル波形データの修正、両規格を満たしているか否かの判別）を繰り返し実行し、電子機器における理想的なデジタル波形データを生成する。そして、波形データ生成部２０２は、生成した理想的なデジタル波形データを、波形データメモリー１１０に格納する。
【００３６】
こうして、理想的なデジタル波形データが格納された電子機器は、ＥＭＩエミュレーションシステムから切り離されて、出荷される。
【００３７】
本実施形態が適用された波形データ生成装置１００は、以上のような構成からなる。ただし、波形データ生成装置１００の構成はこれに限定されない。
【００３８】
そして、波形データ生成装置１００の各構成要素は、主制御装置であるＣＰＵと、プログラム等が記憶されたＲＯＭと、メインメモリーとしてデータ等を一時的に格納するＲＡＭと、電子機器等との入出力を制御するインターフェイスと、ユーザーからの指示を受け付ける入力装置（キーボード、マウス等）と、各種画面を表示する出力装置（ディスプレイ等）と、各構成要素間の通信経路となるシステムバスと、を備えた一般的なコンピューターにより達成することができる。なお、各処理を専用に行うように設計されたＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）で構成されていてもよい。
【００３９】
また、本実施形態が適用されたＥＭＩエミュレーションシステムは、以上のような構成からなる。ただし、ＥＭＩエミュレーションシステムの構成はこれに限定されない。
【００４０】
そして、上記した各構成要素は、ＥＭＩエミュレーションシステムの構成を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分類したものである。構成要素の分類の仕方や名称によって、本願発明が制限されることはない。ＥＭＩエミュレーションシステムの構成は、処理内容に応じて、さらに多くの構成要素に分類することもできる。また、１つの構成要素がさらに多くの処理を実行するように分類することもできる。また、各構成要素の処理は、１つのハードウェアで実行されてもよいし、複数のハードウェアで実行されてもよい。
【００４１】
次に、上記構成からなる波形データ生成システム５０の特徴的な動作について説明する。図５は、本実施形態の波形データ生成システム５０が実行する波形データ生成処理を説明するためのフローチャートである。
【００４２】
波形データ生成装置１００の波形データ生成部２０２は、例えば、ＥＭＩエミュレーションシステムに電子機器が接続されたタイミング、或いは、デジタル波形データの生成を行うためのソフトウェアを起動するタイミングで、本フローを開始する。
【００４３】
本フローを開始すると、波形データ生成部２０２は、デジタル波形データの初期データ（例えば、矩形）を波形データＲＡＭ１２０にセットする（ステップＳ１０１）。具体的には、波形データ生成部２０２は、波形データ生成装置１００のＲＯＭ等に予め格納されている初期データを読み出し、電子機器の波形データＲＡＭ１２０に格納する。
【００４４】
なお、後述するステップＳ１１１から処理が移行してきた場合には、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０９又はステップＳ１１０で修正されたデジタル波形データを波形データＲＡＭ１２０にセットする。
【００４５】
次に、補間演算装置１３０は、波形データＲＡＭ１２０にセットされたデジタル波形データに対して補間演算を行う（ステップＳ１０２）。具体的には、補間演算装置１３０は、波形データ生成部２０２からの指示に基づき、波形データＲＡＭ１２０に格納されているデジタル波形データ（図２に黒丸で示す座標データ）を読み出す。そして、補間演算装置１３０は、読み出したデジタル波形データの立ち上がり部分（図２に示すＯからＡの区間）に座標データ（白丸）を補うとともに、立ち下がり部分（図２に示すＢからＣの区間）に座標データ（白丸）を補う。その後、補間演算装置１３０は、補間演算されたデジタル波形データ（黒丸と白丸の座標データ）を、Ｘ座標の昇順（或いは降順）でＤＡＣ１４０に入力する。
【００４６】
ＤＡＣ１４０は、補間演算装置１３０から入力されたデジタル波形データを、アナログ波形データ（アナログ信号）に変換して出力する（ステップＳ１０３）。具体的には、ＤＡＣ１４０は、入力される座標データごとに、その座標データのＹ座標に対応する（比例する）電圧値のアナログ信号を生成し、連続的にＦＦＣ１４５に出力する。こうすることにより、ＤＡＣ１４０は、入力されるデジタル波形データの形状（例えば、矩形）が保持されたアナログ波形データをＦＦＣ１４５に出力することができる。
【００４７】
そして、データ取得部２０１は、ＥＭＩ測定装置１６０を駆動して、ＦＦＣ１４５から発生する電磁波の電界強度を測定させる。
【００４８】
それから、データ取得部２０１は、ＥＭＩ測定装置１６０で測定された電界強度（測定データ）と、ＦＦＣ１４５を伝送しているアナログ波形データ（波形データ）と、を取得する（ステップＳ１０４）。具体的には、データ取得部２０１は、ＥＭＩ測定装置１６０から出力される電界強度（アナログ信号）を、Ａ／Ｄ変換して測定データ（デジタルデータ）を生成する。また、同様に、データ取得部２０１は、ＦＦＣ１４５を伝送しているアナログ波形データ（アナログ信号）をＡ／Ｄ変換して波形データ（デジタルデータ）を生成する。ただし、測定データについては、ＥＭＩ測定装置１６０において生成しておいてもよい。
【００４９】
その後、データ取得部２０１は、取得した測定データと波形データを保存する（ステップＳ１０５）。具体的には、データ取得部２０１は、取得した測定データと波形データを関連付けて、ＲＡＭ等のメモリーに格納する。
【００５０】
次に、波形データ生成部２０２は、ＦＦＣ１４５に伝送されているアナログ波形データが「波形規格」を満たしているか否か判別する（ステップＳ１０６）。具体的には、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０４でＦＦＣ１４５から取得した波形データを、メモリーから読み出す。そして、波形データ生成部２０２は、読み出した波形データについて、ハイ状態「Ｈ」の持続時間（例えば、図２に示すＡ−Ｂ間の距離）と、ロー状態「Ｌ」の持続時間（例えば、図２に示すＣ点から、後続する波形データのＯ’点（不図示）までの距離）を特定する。ここで、波形データ生成部２０２は、特定したハイ状態「Ｈ」の持続時間と、特定したロー状態「Ｌ」の持続時間と、がともに所定値以上である場合には、アナログ波形データが「波形規格」を満たしていると判定する。一方、波形データ生成部２０２は、特定したハイ状態「Ｈ」の持続時間と、特定したロー状態「Ｌ」の持続時間と、の少なくともいずれかが所定値未満である場合には、アナログ波形データが「波形規格」を満たしていないと判定する。
【００５１】
波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０６において、ＦＦＣ１４５に伝送されているアナログ波形データが「波形規格」を満たしていると判定した場合には（ステップＳ１０６；Ｙｅｓ）、処理をステップＳ１０７に移行する。
【００５２】
処理がステップＳ１０７に移行すると、波形データ生成部２０２は、ＦＦＣ１４５に伝送されているアナログ波形データが「ＥＭＩ規格」を満たしているか否か判別する（ステップＳ１０７）。具体的には、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０４でＦＦＣ１４５から取得した波形データに関連付けられている測定データを、メモリーから読み出す。そして、波形データ生成部２０２は、読み出した測定データについて、周波数帯域ごとの電磁波の電界強度を特定する。ここで、波形データ生成部２０２は、特定した電界強度が、全周波数帯域において所定値未満である場合には、アナログ波形データが「ＥＭＩ規格」を満たしていると判定する。一方、波形データ生成部２０２は、特定した電界強度が、ハ少なくともいずれかの周波数帯域において所定値以上である場合には、アナログ波形データが「ＥＭＩ規格」を満たしていないと判定する。なお、「ＥＭＩ規格」を満たすか否かの判断基準に用いられる所定値は、周波数帯域ごとに異なる値であってもよい。
【００５３】
波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０７において、ＦＦＣ１４５に伝送されているアナログ波形データが「ＥＭＩ規格」を満たしていると判定した場合には（ステップＳ１０７；Ｙｅｓ）、処理をステップＳ１０８に移行する。
【００５４】
処理がステップＳ１０８に移行すると、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データから生成されるアナログ波形データは、「波形規格」および「ＥＭＩ規格」の両規格を満たしていることになる。すなわち、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データは、ＥＭＩエミュレーションシステムに接続された電子機器にとって理想的な波形データと判断される。
【００５５】
そこで、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データを、波形データメモリー１１０に保存する（ステップＳ１０８）。具体的には、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データをＲＡＭ等のメモリーから読み出し、波形データメモリー１１０に格納する。
【００５６】
ステップＳ１０８において理想的なデジタル波形データを波形データメモリー１１０に保存後、波形データ生成部２０２は、本フローを終了する。
【００５７】
ところで、上記のステップＳ１０６において、波形データ生成部２０２は、ＦＦＣ１４５に伝送されているアナログ波形データが「波形規格」を満たしていないと判定した場合には（ステップＳ１０６；Ｎｏ）、処理をステップＳ１０９に移行する。
【００５８】
処理がステップＳ１０９に移行すると、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データは、ＥＭＩエミュレーションシステムに接続された電子機器にとって理想的ではない波形データと判断されたことになる。
【００５９】
そこで、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データを、修正する。
【００６０】
具体的には、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データに対して、矩形に近づける（斜辺を急にして波形を立たせる）修正を行う（ステップＳ１０９）。
【００６１】
図６は、波形データの修正方法についての説明図である。なお、図中に含まれるｎ、ｍ、ｋ、ｈは有限値の整数を表す。
【００６２】
ステップＳ１０９における修正を、図示する例で説明すると、波形データ生成部２０２は、点ＡのＸ座標ｎと、点ＣのＸ座標ｋをディクリメントする。すなわち、修正後のデジタル波形データに含まれる点Ａの座標ｎ’は「ｎ−１」となり、点Ｃの座標ｋ’は「ｋ−１」となる。
【００６３】
そして、波形データ生成部２０２は、修正したデジタル波形データを、波形データ生成装置１００に備わるメモリー（例えば、ＲＡＭ）に格納する。
【００６４】
また、上記のステップＳ１０７において、波形データ生成部２０２は、ＦＦＣ１４５に伝送されているアナログ波形データが「ＥＭＩ規格」を満たしていないと判定した場合には（ステップＳ１０７；Ｎｏ）、処理をステップＳ１１０に移行する。
【００６５】
処理がステップＳ１１０に移行すると、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データは、ＥＭＩエミュレーションシステムに接続された電子機器にとって理想的ではない波形データと判断されたことになる。
【００６６】
そこで、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データを、修正する。
【００６７】
具体的には、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データに対して、正弦波（台形も含む）に近づける（斜辺を緩やかにして波形を寝かせる）修正を行う（ステップＳ１１０）。
【００６８】
ステップＳ１１０における修正を、図６に示す例で説明すると、波形データ生成部２０２は、点ＡのＸ座標ｎと、点ＣのＸ座標ｋをインクリメントする。すなわち、修正後のデジタル波形データに含まれる点ＡのＸ座標ｎ’は「ｎ＋１」となり、点ＣのＸ座標ｋ’は「ｋ＋１」となる。
【００６９】
そして、波形データ生成部２０２は、修正したデジタル波形データを、波形データ生成装置１００に備わるメモリー（例えば、ＲＡＭ）に格納する。
【００７０】
上記のステップＳ１０９、又は、ステップＳ１１０の処理を完了すると、波形データ生成部２０２は、処理をステップＳ１１１に移行する。
【００７１】
ここで、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０９、又は、ステップＳ１１０で修正されたデジタル波形データが、本システムにおいて生成可能なデータであるか否か判別する（ステップＳ１１１）。具体的には、波形データ生成部２０２は、（修正後の点ＡのＸ座標ｎ’）＜（点ＢのＸ座標ｍ）＜（修正後の点ＣのＸ座標ｋ’）が成立し、かつ、デジタル波形データがレンジ内（すなわち、修正後の点ＡのＸ座標ｎ’＞０、かつ、修正後の点ＡのＸ座標ｎ’＜上限となるＸ座標ｈ）である場合には、本システムにおいて生成可能なデータと判定する。一方、波形データ生成部２０２は、ｎ’＜ｍ＜ｋ’、ｎ’＞０、ｋ’＜ｈ、のうち少なくともいずれかの条件が成立しない場合には、本システムにおいて生成不可能なデータと判定する。
【００７２】
ステップＳ１１１において、波形データ生成部２０２は、修正されたデジタル波形データが、本システムにおいて生成不可能なデータであると判定した場合（ステップＳ１１１；Ｎｏ）、処理をステップＳ１１２に移行する。
【００７３】
処理がステップＳ１１２に移行すると、波形データ生成部２０２は、ステップＳ１０１で波形データＲＡＭ１２０にセットしたデジタル波形データについては調整不能とし、エラー通知を行う（ステップＳ１１２）。具体的には、波形データ生成部２０２は、出力装置（例えば、ディスプレイ）にエラー通知のためのメッセージを表示する。
【００７４】
その後、波形データ生成部２０２は、本フローを終了する。
【００７５】
一方、ステップＳ１１１において、波形データ生成部２０２は、修正されたデジタル波形データが、本システムにおいて生成可能なデータであると判定した場合（ステップＳ１１１；Ｙｅｓ）、処理をステップＳ１０１に戻す。
【００７６】
そして、波形データ生成システム５０は、ＦＦＣ１４５に出力されるアナログ波形データが「ＥＭＩ規格」及び「波形規格」を満たすまで、ステップＳ１０１〜Ｓ１０６、Ｓ１０９、Ｓ１１１、或いは、ステップＳ１０１〜Ｓ１０７、Ｓ１１０、Ｓ１１１の一連の処理を繰り返し実行する。これにより、最終的には、波形データ生成部２０２は、ＥＭＩエミュレーションシステムに接続された電子機器にとって理想的なデジタル波形データを、波形データメモリー１１０に格納することができる。
【００７７】
以上の波形データ生成処理を波形データ生成システム５０で行うことにより、従来と比較して、容易にデジタル波形データを鈍らせることができる。また、デジタル波形データを鈍らせ方法は、プログラムによって自由自在に変更できるため、本システムで生成されるデジタル波形データの自由度は従来と比較して高い。さらに、本システムが適用される電子機器の種類や使用方法などに応じて、波形データ生成システム５０を構成する各回路の設計変更なども必要なく、低コストで本システムを製造できる。
【００７８】
なお、上記したフローの各処理単位は、波形データ生成システム５０を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分割したものである。処理ステップの分類の仕方やその名称によって、本願発明が制限されることはない。波形データ生成システム５０が行う処理は、さらに多くの処理ステップに分割することもできる。また、１つの処理ステップが、さらに多くの処理を実行してもよい。
【００７９】
また、本発明は、上記の実施形態に限定されず、種々の変形、応用が可能である。
【００８０】
例えば、上記実施形態では、波形データ生成部２０２は、ハイ状態「Ｈ」の持続時間と、ロー状態「Ｌ」の持続時間と、がともに所定値以上である場合に、アナログ波形データが「波形規格」を満たしていると判定している。しかし、本発明は、これに限定されない。例えば、波形データ生成部２０２は、立ち上がり時間や立ち下がり時間を用いて、アナログ波形データが「波形規格」を満たしているか否か判別してもよい。具体的には、波形データ生成部２０２は、立ち上がり時間（或いは、立ち上がり時間と立ち下がり時間）が、所定値以上である場合に、アナログ波形データが「波形規格」を満たしていると判定する。
【００８１】
また、波形データ生成部２０２は、立ち上がり時における電圧の時間変位（ｄＶ／ｄＴ）や立ち下がり時における電圧の時間変位（ｄＶ／ｄＴ）を用いて、アナログ波形データが「波形規格」を満たしているか否か判別してもよい。具体的には、波形データ生成部２０２は、立ち上がり時における電圧の時間変位（或いは、立ち上がり時における電圧の時間変位と立ち下がり時における電圧の時間変位）が所定値以上である場合に、アナログ波形データが「波形規格」を満たしていると判定する。
【００８２】
また、上記実施形態では、「ＥＭＩ規格」と「波形規格」の両規格を満たしていれば、ＦＦＣ１４５から発生する電磁波の電界強度の値によらず、電子機器の波形データメモリー１１０に格納している。しかし、本発明は、これに限定されない。例えば、波形データ生成部２０２は、「ＥＭＩ規格」と「波形規格」の両規格を満たしたうえで、ＦＦＣ１４５から発生する電磁波の電界強度が最小となるデジタル波形データを生成するようにしてもよい。この場合、波形データ生成部２０２は、上記のステップＳ１０７で「ＥＭＩ規格」を満たす場合にも（ステップＳ１０７；Ｙｅｓ）、処理をステップＳ１１０に移行する。そして、ステップＳ１０６で「波形規格」を満たさなくなるまで、繰り返しステップＳ１０１〜Ｓ１０７、Ｓ１１０、Ｓ１１１を実行する。或いは、ステップＳ１０７で「ＥＭＩ規格」を満たさなくなるまで、繰り返しステップＳ１０１〜Ｓ１０６、Ｓ１０９、Ｓ１１１を実行する。そうすることにより、最終的には、「ＥＭＩ規格」と「波形規格」の両規格を満たし、かつ、ＦＦＣ１４５から発生する電磁波の電界強度が最小となるデジタル波形データを生成できる。
【００８３】
また、上記実施形態では、補間演算装置１３０は、入力されたデジタル波形データ（座標データ）に対して、線形補間を行っている。しかし、本発明は、これに限定されない。例えば、補間演算装置１３０は、さらにアナログ素子（フィルタ）を備え、ＤＡＣ１４０で生成されるアナログ波形データが正弦波に近づくように補間処理を行うようにしてもよい。
【００８４】
また、本発明は、波形データ生成装置１００が生成するデジタル波形データを、４点（Ｏ、Ａ、Ｂ、Ｃ）の座標データ（黒丸）に限定しない。例えば、Ｏ−Ａ間、Ａ−Ｂ間、Ｂ−Ｃ間にさらに多くの座標データを挿入してもよい。この場合、上記のステップＳ１０９、ステップＳ１１０における修正は、挿入した各点（Ｘ座標およびＹ座標）に対しても行う。
【符号の説明】
【００８５】
５０・・・波形データ生成システム、１００・・・波形データ生成装置、１１０・・・波形データメモリー、１２０・・・波形データＲＡＭ、１３０・・・補間演算装置、１４０・・・ＤＡＣ、１４５・・・ＦＦＣ、１５０・・・受信側ＩＣ、１６０・・・ＥＭＩ測定装置、２０１・・・データ取得部、２０２・・・波形データ生成部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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