(57)【要約】      （修正有）【課題】光ＴＸから光リンクの光導波路に中に送信される光波形が望ましい波形形状を有するようにする。【解決手段】光ＴＸのレーザから出力された光信号のインパルス応答を、少なくとも１つのモニタ用フォトダイオードによって検出された光フィードバックに基づいて適応調整するための閉ループ式の装置及び方法が提供される。このようにレーザから出力される光信号のインパルス応答を適用性良く調整することにより、性能の低下やその結果生じる製品収量の減少、試験時間の増加や試験の複雑性の増加、及びより高いコストを一般にもたらす広範囲の要素に対して、光ＴＸは動的に適応及び補償できるようにされる。このことは、今度は、製造公差や位置合わせ公差を緩和することができ、試験時間や試験の複雑性を減らすことができ、全体的な製造及び試験に関する費用を低減させることができる。【選択図】図２
2011010286.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光送信機（ＴＸ）の少なくとも１つのレーザにより発生した光信号のインパルス応答を制御するために、光送信機（ＴＸ）の中で使用する装置であって、
電気入力データ信号を受け取り、電気送信（ＴＸ）信号を出力する入力バッファと、
電気ＴＸ信号を受け取り、前記電気ＴＸ信号に特別なインパルス応答波形を与え、複数のタップと調整可能な複数の個々のタップ重みを有する適応フィルタ回路である第１のフィルタ回路と、
特別なインパルス応答波形を有する電気ＴＸ信号を受け取り、特別なインパルス応答波形を有する電気駆動信号を発生するレーザ駆動回路と、
前記電気駆動信号を受け取り、前記電気駆動信号に応答して特別なインパルス応答波形を有する光信号を発生するレーザダイオードと、
前記レーザダイオードが発生した前記光信号の少なくとも一部を検出して、電気検出信号を発生するモニタ用フォトダイオードと、
前記電気検出信号を受け取り、ＨＳ電気出力信号を発生するＴＸ用高速（ＨＳ）増幅器と、
前記ＨＳ電気出力信号を受け取り、前記ＨＳ電気出力信号のインパルス応答を測定し、複数のタップと複数の個々のタップ重みを有する第２のフィルタ回路と、
前記測定されたインパルス応答を受け取り、エラー関数を実行して、前記測定されたインパルス応答とあらかじめ選択されたインパルス応答との間の差に対応するエラー値を発生するエラー関数ブロックと、
適応インパルス応答アルゴリズムを実行して、前記エラー関数ブロックが発生したエラー値に基づいて前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みを調整し、前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みを調整することにより、前記調整されたレーザダイオードが発生した光信号のインパルス応答を生じさせるアルゴリズム及び制御論理ブロック（ＡＣＢ）と
を含んでなる装置。
【請求項２】
前記エラー関数ブロックが発生したエラー値が所定のエラー値に減少されるまで、前記ＡＣＢが前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みを反復調整する請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記所定の値がエラー値に対する最小値である請求項２に記載の装置。
【請求項４】
前記第１及び第２のフィルタ回路が、それぞれ第１及び第２の有限インパルス応答（ＦＩＲ）フィルタである請求項１に記載の装置。
【請求項５】
前記第１及び第２のフィルタのタップ重み及び前記エラー関数ブロックのエラー関数の係数を初期化するための設定値を記憶する不揮発性メモリ（ＮＶＭ）素子を有するマイクロコントローラをさらに備える請求項１に記載の装置。
【請求項６】
前記モニタ用フォトダイオードが発生した電気検出信号を受け取り、前記レーザダイオードが発生した光信号の光電力の平均に対応する平均電気信号を発生するように構成された比較的低速の光電力検出器（ＯＰＤ）をさらに備え、前記ＯＰＤが発生した前記平均電気信号に基づいて、前記レーザ駆動回路が発生した電気駆動信号の変調電流及びバイアス電流の少なくとも１つを調整する平均電力制御用アルゴリズムを、前記ＡＣＢが実行する請求項１に記載の装置。
【請求項７】
前記光ＴＸが光トランシーバの一部であり、前記光トランシーバが、
受信機（ＲＸ）チャネルをさらに含み、前記ＲＸチャネルが、
光導波路上を前記光トランシーバに送信された光データ信号を受信して、前記受信された光データ信号を受信された電気データ信号に変換するように構成された受信機用フォトダイオードと、
前記受信された電気データ信号を受け取り、ＨＳ電気受信信号を発生するように構成されたＲＸ ＨＳ増幅器と、
前記ＲＸ ＨＳ増幅器が発生した電気受信データ信号を第１の入力部で受け取り、ＴＸ ＨＳ増幅器が発生したＨＳ電気出力信号を第２の入力部で受け取るように構成されたマルチプレクサ（ＭＵＸ）回路と、
前記ＭＵＸ回路の出力部上で電気信号を受け取るように構成されたＲＸ出力バッファと
を含んでおり、
前記ＭＵＸ回路は選択信号（ＳＥＬ）を受け取り、ＳＥＬがアサートの場合、前記ＭＵＸ回路の第１の入力部を選択し、ＳＥＬがアサート停止の場合は前記ＭＵＸ回路の第２の入力部を選択し、また前記ＭＵＸ回路は、ＳＥＬがアサートの場合、前記ＲＸ ＨＳ増幅器が発生した電気受信データ信号を出力し、ＳＥＬがアサート停止の場合は、ＴＸ ＨＳ増幅器が出力したＨＳ電気出力信号を出力する出力部を有し、
ＳＥＬがアサートの場合、前記ＲＸ出力バッファは前記ＲＸ ＨＳ増幅器が発生した電気受信データ信号を受け取り、前記ＲＸ出力バッファの出力部で前記電気受信データ信号を出力し、
前記ＭＵＸ回路の出力部は前記第２のフィルタ回路に電気的に接続され、ＳＥＬがアサート停止の場合、前記第２のフィルタ回路はＨＳ電気出力信号を受け取り、前記エラー関数ブロックで受信された測定されたインパルス応答を発生する請求項６に記載の装置。
【請求項８】
前記光トランシーバに電源が投入されるとき、ＳＥＬはアサート停止にされ、前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みが調整された後で、ＳＥＬがアサートされる請求項７に記載の装置。
【請求項９】
ＳＥＬがアサートされた後で、前記ＡＣＢが前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みを調整する請求項８に記載の装置。
【請求項１０】
光送信機（ＴＸ）の少なくとも１つのレーザダイオードにより発生した光信号のインパルス応答を調整するための方法であって、
前記光ＴＸの入力バッファにおいて電気入力データ信号を受け取り、前記入力バッファから電気送信（ＴＸ）信号を出力するステップと、
前記光ＴＸの第１のフィルタ回路において、前記電気ＴＸ信号を受け取り、前記電気ＴＸ信号に特別なインパルス応答波形を与えるステップと、
前記光ＴＸのレーザ駆動回路において、前記特別なインパルス応答波形を有する電気ＴＸ信号を受け取り、前記特別なインパルス応答波形を有する電気駆動信号を発生するステップと、
前記光ＴＸの少なくとも１つのレーザダイオードにおいて、前記電気駆動信号受け取り、前記電気駆動信号に応答して特別なインパルス応答波形を有する光信号を発生するステップと、
前記光ＴＸのモニタ用フォトダイオードにおいて、前記レーザダイオードが発生した光信号の少なくとも一部を検出して、電気検出信号を発生するステップと、
前記光ＴＸのＴＸ高速（ＨＳ）増幅器において、前記電気検出信号を受け取り、ＨＳ電気出力信号を発生するステップと、
前記光ＴＸの第２のフィルタ回路において、前記ＨＳ電気出力信号を受け取り、前記ＨＳ電気出力信号のインパルス応答を測定するステップと、
前記光ＴＸのエラー関数ブロックにおいて、前記測定されたインパルス応答を受け取り、エラー関数を実行して、前記測定されたインパルス応答とあらかじめ選択されたインパルス応答との間の差に対応するエラー値を発生するステップと、
前記光ＴＸのアルゴリズム及び制御論理ブロックにおいて、前記エラー関数ブロックが発生した前記エラー値に基づいて、前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みを調整する適応インパルス応答用アルゴリズムを実行するステップと
を含んでなり、
前記第１のフィルタは、調整可能な複数のタップと複数の個々のタップ重みを有する適応フィルタ回路であり、
前記第２のフィルタ回路は、複数のタップと複数の個々のタップ重みを有し、
前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みを調整することにより、前記レーザダイオードが発生した光信号のインパルス応答が調整される方法。
【請求項１１】
前記エラー関数ブロックが発生したエラー値が所定のエラー値に減少されるまで、前記ＡＣＢが前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みを反復調整する請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記所定の値がエラー値に対する最小値である請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記第１及び第２のフィルタ回路が、それぞれ第１及び第２の有限インパルス応答（ＦＩＲ）フィルタである請求項１０に記載の方法。
【請求項１４】
前記ＡＣＢで前記適応インパルス応答用アルゴリズムを実行する前に、前記光ＴＸのマイクロコントローラの中で、前記第１及び第２のフィルタのタップ重み及び前記エラー関数ブロック内のエラー関数の係数に対してメモリ素子から初期の設定値を取り出して、前記第１及び第２のフィルタ回路のタップ重み及び前記エラー関数の係数に対してそれぞれ前記初期の設定値を設定するステップをさらに含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１５】
前記光ＴＸの比較的低速の光電力検出器（ＯＰＤ）の中で、前記モニタ用フォトダイオードが発生した電気検出信号を検出して、前記レーザダイオードが発生した光信号の平均光電流に対応する平均電気信号を発生するステップと、
前記光ＴＸの前記ＡＣＢにおいて、前記ＯＰＤが発生した平均電気信号に基づいて、前記レーザ駆動回路が発生した電気駆動信号の変調電流及びバイアス電流の少なくとも１つを調整する平均電力制御用アルゴリズムを実行するステップと
をさらに含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１６】
前記光ＴＸが光トランシーバの一部であり、前記方法が、
前記光トランシーバの受信機（ＲＸ）チャネルの受信機用フォトダイオードにおいて、光導波路上を前記光トランシーバに送信された光データ信号を受信して、前記受信された光データ信号を受信された電気データ信号に変換するステップと、
前記光トランシーバのＲＸチャネルのＲＸ ＨＳ増幅器において、前記受信された電気データ信号を受け取り、ＨＳ電気受信信号を発生するステップと、
前記光トランシーバのＲＸチャネルのマルチプレクサ（ＭＵＸ）回路において、前記ＲＸ ＨＳ増幅器が発生した電気受信データ信号を前記ＭＵＸ回路の第１の入力部で受け取り、前記ＴＸ ＨＳ増幅器が発生したＨＳ電気出力信号を前記ＭＵＸ回路の第２の入力部で受け取るステップと、
前記ＭＵＸ回路において、選択信号（ＳＥＬ）を受け取るステップと、
前記光トランシーバのＲＸチャネルのＲＸ出力バッファにおいて、前記ＭＵＸ回路の出力部上で電気信号を受け取るステップと
をさらに含んでおり、
ＳＥＬがアサートの場合、前記ＭＵＸ回路は、前記ＭＵＸ回路の第１の入力部を選択し、ＳＥＬがアサート停止の場合は前記ＭＵＸ回路の第２の入力部を選択し、前記ＭＵＸ回路は、ＳＥＬがアサートの場合、前記ＲＸ ＨＳ増幅器が発生した電気受信データ信号を出力し、ＳＥＬがアサート停止の場合は、ＴＸ ＨＳ増幅器が出力したＨＳ電気出力信号を出力する出力部を有し、
ＳＥＬがアサートの場合、前記ＲＸ出力バッファは前記ＲＸ ＨＳ増幅器が発生した電気受信データ信号を受け取り、そして前記ＲＸ出力バッファの出力部で前記電気受信データ信号を出力し、
前記光トランシーバの第２のフィルタ回路において、ＳＥＬがアサート停止の場合、前記第２のフィルタ回路はＨＳ電気出力信号を受け取り、前記エラー関数ブロックで受信された測定されたインパルス応答を発生する請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記光トランシーバに電源が投入されるとき、ＳＥＬはアサート停止され、前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みが調整された後で、ＳＥＬがアサートされる請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
ＳＥＬがアサートされた後で、前記ＡＣＢが前記第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みを調整するステップを停止する請求項１７に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光通信装置に関する。より詳細には、本発明は、光送信機又は光受信機のレーザから出力された光信号のインパルス応答を自動的に調整するための装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光トランシーバ・モジュールは、光通信ネットワークの光導波路（例えば、光ファイバー）上で光データ信号を送信及び受信するために使用される光通信装置である。この光トランシーバ・モジュールは、送信機（ＴＸ）部分と受信機（ＲＸ）部分を備えている。光トランシーバ・モジュールのＴＸ部分は、入力回路、レーザ駆動回路、少なくとも１つのレーザダイオード、及び光学系を備えている。入力回路は一般に、入力データ信号を処理するためにバッファや増幅器を備えており、この入力信号は次にレーザ駆動回路に送られる。このレーザ駆動回路は、処理された入力データ信号を受け取り、電気変調電流及びバイアス電流信号を発生する。この信号はレーザダイオードに送られて、入力データ信号に含まれた電気ビットに対応する論理１及び論理０の輝度レベルを有する光データ信号を発生させる。この光データ信号は次に、ＴＸ部分の光学系によって、光トランシーバ・モジュールと接続するコネクタ内に保持された送信用光ファイバーのそれぞれの端部に向けられる。
【０００３】
光トランシーバ・モジュールの光ＴＸモジュールすなわちＴＸ部分は一般に、開ループ又は閉ループの光出力電力制御システムも備えている。この光出力電力制御システムは、レーザダイオードの平均光出力電力レベルがほぼ一定のレベルに維持されるように、レーザダイオードの変調電流及び／又はバイアス電流をモニタ及び制御する。開ループ式光出力電力制御システムは、レーザダイオードの光出力電力レベルを直接測定するのではなく、平均光出力電力レベルをほぼ一定に維持するために、レーザダイオードのバイアス及び／又は変調電流に対して行う必要がある調整を決定するための温度、経年変化及び／又は他のパラメータに依存する。閉ループ式光出力電力制御システムは、ＴＸ部分のモニタ用フォトダイオードを使用してレーザダイオードとフィードバック回路の出力電力レベルをモニタして制御信号を発生する。これらの制御信号は次に、レーザダイオードの変調及び／又はバイアス電流を調整するために使用されて、平均光出力電力レベルがほぼ一定のレベルに維持される。この閉ループ式光出力電力制御システムは一般に、閉ループ式システムがリアルタイムの測定に基づいてリアルタイムに反応して、レーザダイオードの変調及び／又はバイアス電流に対する必要な調整を行うという事実のため、開ループ式光出力電力制御システムよりも正確である。
【０００４】
図１は、閉ループ式光出力電力制御システムを備える光送信機すなわちトランシーバ・モジュールの典型的なＴＸ部分２１のブロック図を例示している。このＴＸ部分２１は、バッファ３１、プリドライブ・アンプ（pre-drive amplifier）３２、レーザ駆動回路３３、及びレーザダイオード３４を備えている。このＴＸ部分２１は一般に、レーザダイオード３４が発生した光を送信用光ファイバー（図示せず）の端部に向ける光学系（図示せず）も備えている。例示を容易にするために、ＴＸ部分２１の光学系は、図１には示されていない。バッファ３１はその入力部で入力データ信号を受け取り、ある程度の利得をこの入力データ信号に加える。プリドライブ・アンプ３２は、いくらかの付加的な利得を入力データ信号に加えて、この出力信号をレーザ駆動回路３３に与える。このレーザ駆動回路３３は、プリドライブ・アンプ３３からの増幅された入力データ信号の出力に基づいて、変調電流とバイアス電流をレーザダイオード３４に与える。この出力信号によりレーザダイオード３４は、それぞれ入力データ信号に含まれる論理０と論理１の電気ビットを表す論理０と論理１の電力レベルを有する光出力信号を発生する。
【０００５】
ＴＸ部分２１の閉ループ式光出力電力制御システムは、モニタ用フォトダイオード２２、トランスインピーダンス・アンプ（ＴＩＡ）２３、ローパス・フィルタ（ＬＰＦ）２４、電力モニタ回路（ＰＭＣ）２５、アナログ−ディジタル変換器（ＡＤＣ）２６、及びコントローラ装置２７から構成する光出力電力フィードバック・ループを備えている。モニタ用フォトダイオード２２はレーザダイオード３４が発生した光データ信号を検出し、そして対応する電流信号を発生する。ＴＩＡ２３はフォトダイオード２２が発生した電流信号を検出して、出力電圧信号を発生する。この電圧信号はＬＰＦ２４によって取り込まれて、平均電圧レベルが発生される。ＰＣＭ２５はＬＰＦ２４が発生した平均電力レベルを受け取り、レーザダイオード３４の平均光出力電力レベルを示すアナログ電圧レベル値を発生する。このアナログ電力レベル値はＡＤＣ２６に対する入力であり、このＡＤＣ２６はアナログ値をディジタル値に変換して、コントローラ装置２７にディジタル値を提供する。
【０００６】
コントローラ装置２７はＴＸ部分２１を制御するために種々のアルゴリズムを実行するように構成される。これらのアルゴリズムの１つは、レーザダイオード３４の平均光出力電力レベルを表すディジタル値を使用して、１つ以上のレーザ制御信号を発生する。このレーザ制御信号はレーザ駆動回路３３に送られる。レーザ制御信号は、コントローラ装置２７がＡＤＣ２６から受け取った検出された平均光出力電力レベル値に対応するディジタル値に基づいて、コントローラ装置２７によって調整される。これらの調整工程で、レーザ駆動回路３３はレーザダイオード３４のバイアス及び／又は変調電流を調整するため、レーザダイオード３４の平均光出力電力レベルがほぼ一定のレベルに維持される。コントローラ装置２７は、制御アルゴリズム、外部信号、又はフォールト・モニタリング回路（fault monitoring circuit）（図示せず）に基づいて、レーザダイオード３４を有効（イネーブル）または無効（ディスエーブル）にするために使用できるイネーブル信号を発生することもできる。
【０００７】
図１を参照して前述したものと同様の閉ループ向けアルゴリズムは、例えばレーザの減衰率などのＴＸレーザの他の特性を制御するため、及び温度や経年変化を補償するために使用することもできる。これらの種類の閉ループ向けアルゴリズムに加えて、開ループ用前置歪み（pre-distortion）回路又は前置均一化（pre-equalization）回路を使用して、レーザダイオード３４に対する入力電流信号を成形することもある。そのような開ループ用前置歪み又は前置均一化回路は、レーザダイオード３４の入力部に送られた電流信号の振幅を強調する又は強調しないように、モニタ用フォトダイオード２２からのフィードバックを使用していない。そのようにレーザダイオード３４に送られた電気信号の振幅を強調すること又は強調しないことは、多くの場合、「レーザ・ピーキング」と呼ばれ、また電気信号の立上り及び／又は立下りに電流を加える又はそこから電流を引き去るためにパルスを使用する。その目的は、光信号のアイ・オープニング（eye opening）を改善するために、信号の立上り／立下り時間のバランスを取ることである。場合によっては、情報は光ＲＸ又は光リンクの反対端のトランシーバから得られて、レーザダイオードに送られる電気信号が前置歪み又は前置均一化回路によって強調される又は強調されない程度を調整するために使用される。
【発明の概要】
【０００８】
本発明は、光ＴＸの少なくとも１つのレーザが発生した光信号のインパルス応答を制御するために、光ＴＸの中で使用するための方法及び装置に関する。この光ＴＸは、入力バッファ、第１のフィルタ回路、レーザ駆動回路、少なくとも１つのレーザダイオード、モニタ用フォトダイオード、ＴＸ用高速（ＨＳ）増幅器、第２のフィルタ回路、エラー関数ブロック、及びアルゴリズム及び制御論理ブロック（ＡＣＢ）を備えている。入力バッファは電気入力データ信号を受け取り、そして電気送信（ＴＸ）信号を出力する。第１のフィルタ回路は電気ＴＸ信号を受け取り、この電気ＴＸ信号に特別なインパルス応答波形を与える。第１のフィルタは適応フィルタ回路であり、複数のタップと調整可能な複数の個々のタップ重みを有している。レーザ駆動回路は、特別なインパルス応答波形を有する電気ＴＸ信号を受け取り、特別なインパルス応答波形を有する電気駆動信号を発生する。レーザダイオードは電気駆動信号を受け取り、特別なインパルス応答波形を有する光信号を発生する。モニタ用フォトダイオードは、レーザダイオードが発生した光信号の少なくとも一部を検出して、電気検出信号を発生する。ＴＸ用ＨＳ増幅器は電気検出信号を受け取り、ＨＳ電気出力信号を発生する。第２のフィルタ回路はＨＳ電気出力信号を受け取り、そしてこのＨＳ電気出力信号のインパルス応答を測定する。この第２のフィルタ回路は、複数のタップと複数の個々のタップ重みを有している。エラー関数ブロックは測定されたインパルス応答を受け取り、エラー関数を実行して、測定されたインパルス応答とあらかじめ選択されたインパルス応答との間の差に対応するエラー値を発生する。ＡＣＢは適応インパルス応答アルゴリズムを実行してエラー関数ブロックが発生したエラー値に基づいて第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みを調整し、結果として調整されたレーザダイオードが発生した光信号の望ましいインパルス応答が生じる。
【０００９】
この方法は、下記のステップを含んでいる。入力バッファでは、電気入力データ信号が受け取られて、電気ＴＸ信号が出力される。第１のフィルタ回路では、電気ＴＸ信号が受け取られて、この電気ＴＸ信号に特別なインパルス応答波形が与えられる。レーザ駆動回路では、特別なインパルス応答波形を有する電気ＴＸ信号が受け取られて、特別なインパルス応答波形を有する光信号が発生される。モニタ用フォトダイオードでは、レーザダイオードが発生した光信号の少なくとも一部が検出されて、電気検出信号が発生される。ＴＸ用ＨＳ増幅器では、電気検出信号が受け取られて、ＨＳ電気出力信号が発生される。第２のフィルタ回路では、ＨＳ電気出力信号が受け取られて、このＨＳ電気出力信号のインパルス応答が測定される。エラー関数ブロックでは、測定されたインパルス応答が受け取られて、エラー関数が実行され、測定されたインパルス応答とあらかじめ選択されたインパルス応答との間の差に対応するエラー値が発生される。アルゴリズム及び制御ブロック（ＡＣＢ）では、適応インパルス応答アルゴリズムが実行されてエラー関数ブロックが発生したエラー値に基づいて第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みが調整される。第１のフィルタ回路の１つ以上のタップ重みが調整されて、結果として調整されたレーザダイオードが発生した光信号の望ましいインパルス応答が生成される。
【００１０】
本発明のこれらの及びその他の特徴や利点は、以下の説明、図面及び特許請求の範囲から明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】ＴＸのレーザからの光フィードバックを使用して、レーザの平均光出力電力を制御する周知の光ＴＸのブロック図を例示する図である。
【図２】光ＴＸのレーザから出力された光信号のインパルス応答を適応調整するための装置を有する、本発明の実施形態による光ＴＸのブロック図を例示する図である。
【図３】光トランシーバのレーザから出力された光信号のインパルス応答を適応調整するための装置を有する、本発明の実施形態による光トランシーバのブロック図を例示する図である。
【図４】図２に示されたような光ＴＸのレーザから出力された光信号のインパルス応答を適応調整するための実施形態を示すフローチャートを例示する図である。
【図５】図３に示されたような光トランシーバのレーザから出力された光信号のインパルス応答を適応調整するための実施形態を示すフローチャートを例示する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本発明によれば、光ＴＸのレーザから出力された光信号のインパルス応答を、少なくとも１つのモニタ用フォトダイオードによって検出された光フィードバックに基づいて適応調整するための閉ループ式の装置及び方法が提供される。このモニタ用フォトダイオードは、光ＴＸのレーザが発生した光出力信号をモニタする。この光ＴＸは、独立型の光ＴＸ又は光トランシーバのＴＸ部分とすることができる。光トランシーバ又は独立型の光ＴＸは、１つのレーザを使用して光データ信号を発生しまた１つのモニタ用フォトダイオードを使用してレーザダイオードの光出力電力レベルモニタする１つのＴＸチャネルを有している。別の方法では、光トランシーバ又は独立型の光ＴＸは、複数のＴＸチャネルを有している。これらの複数のＴＸチャネルは、複数のレーザダイオードを使用して複数の光データ信号を発生し、また個々のレーザが発生した個々の光出力信号をモニタする複数のモニタ用フォトダイオードを使用する。このため、「光ＴＸ」という用語は、本願で使用される場合は、装置及び方法を実現する独立型の光ＴＸ又は装置及び方法を実現する光トランシーバのどちらかを示すことを意図しており、そのどちらも、１つのレーザダイオードと１つのモニタ用フォトダイオード又は複数のレーザダイオードと複数のモニタ用フォトダイオードを有することができる。
【００１３】
図２〜図５を参照して以下に詳細に説明されるように、本発明の装置及び方法により、光ＴＸから光リンクの光導波路に中に送信される光波形が望ましい波形形状を確実に有するような方法で、光ＴＸのレーザの光出力のインパルス応答を調整できるようにされる。この望ましい波形形状により、温度、電源、レーザ処理分野、ＩＣ処理分野、部品の経年変化、機械製造上の公差、及び部品位置合わせ公差における変動の全体にわたって光リンクの性能が向上又は最適化される。このようにレーザから出力された光信号のインパルス応答を適用性良く調整することにより、性能の低下やその結果生じる製品収量の減少、試験時間の増加や試験の複雑性の増加、及びより高いコストを一般にもたらす広範囲の要素に対して、光ＴＸは動的に適応及び補償できるようにされる。このような方法で、本発明は製造公差や位置合わせ公差を緩和することができ、試験時間や試験の複雑性を減らすことができ、そして全体的な製造及び試験に関する費用を低減させることができる。さらに、本発明の方法及び装置により、ＴＸから出力された光波形は、光ファイバー効果や光ＲＸの制約などの他のリンク要素を補償する望ましい形状を有するように適用性良く成形されることができ、このことは今度は、光リンクの長さを増加させることができる。
【００１４】
図２は、光ＴＸ１００のモニタ用フォトダイオード１１２が検出した光フィードバックに基づいて、光ＴＸのレーザダイオード１０４から出力された光信号をモニタするため、またレーザダイオード１０４から出力された光信号のインパルス応答を適応調整するための実施形態の光ＴＸ１００のブロック図を例示している。この光ＴＸ１００は、バッファ１０１、複数タップ式適応フィルタ１１０、レーザ駆動回路１０３、及びレーザダイオード１０４を備えている。この光ＴＸ１００は一般に、レーザダイオード１０４が発生した光を送信用光ファイバー（図示せず）の端部に向けるための光学系（図示せず）も備えている。例示を容易にするために、光ＴＸ１００の光学系と光ファイバーは図２には示されていない。
【００１５】
光ＴＸ１００は、モニタ用フォトダイオード１１２、光電力検出器（ＯＰＤ）１１３、アナログ−ディジタル変換器（ＡＤＣ）１１４、高速（ＨＳ）増幅器１２０、設定可能なフィルタ１３０、エラー関数ブロック１４０、アルゴリズム及び制御ブロック（ＡＣＢ）１５０、及び不揮発性メモリ（ＮＶＭ）付のマイクロコントローラ１６０も備えている。光フィードバックに基づいてレーザダイオード１０４から出力された光信号のインパルス応答を適応調整するための光ＴＸ１００の装置は、モニタ用フォトダイオード１１２、ＨＳ増幅器１２０、設定可能なフィルタ１３０、エラー関数ブロック１４０、ＡＤＣ１１４、ＡＣＢ１５０、及び適応フィルタ１１０を備えている。設定可能なフィルタ１３０は、設定可能な又は調整可能なタップ重みを有する複数タップ式フィルタである。ＨＳ増幅器１２０は、レーザ駆動回路１０３の入力部で受信された電気データ信号の周波数と少なくとも同じぐらい高速な周波数を有する光信号を検出することができる増幅器である。このＨＳ増幅器１２０として使用できる適当な増幅器は、トランスインピーダンス増幅器（transimpedance amplifier）（ＴＩＡ）である。
【００１６】
光ＴＸ１００がモニタ用フォトダイオード１１２によって検出された光フィードバックに基づいて、レーザダイオード１０４から出力された光信号のインパルス応答を適応調整する方法が、ここで説明される。光ＴＸ１００に電源が投入されると、マイクロコントローラ１６０は、自身のＮＶＭに記憶された値を使用するファームウェアを実行して、フィルタ１１０と１３０のタップ重みをあらかじめ選択された値に設定し、エラー関数ブロック１４０のエラー関数の係数をあらかじめ選択された値に設定する。タップ重みに対するあらかじめ選択された値は、フィルタ１１０及び１３０がそこに入力された信号に特定の望ましいインパルス応答を有する波形を与えるようにすることを意図されている。設定可能フィルタ１３０に対するタップの数とタップ間隔はあらかじめ選択されて、信号のデータ転送速度に対する値、インパルス応答の望ましい幅と形状、及び望ましい解像度を最適にする。適応フィルタ及び設定可能フィルタ１１０及び１３０は、それぞれ、例えば、有限インパルス応答（ＦＩＲ）フィルタとすることができるが、他の種類のフィルタもこの目的のために使用できる。前述されたように、ピーキング回路／フィルタが従来はレーザ駆動回路とレーザダイオードとの間の信号経路の中で使用されてレーザ・ピーキングが行われてきたが、その目的に使用されるフィルタは一般に単一タップ式フィルタであり、電気信号の立上り及び／又は立下りにある量の電流を加えて、光アイ・オープニングを改善する。そのようなフィルタは、閉ループ式フィードバック・システムでは使用されない。この閉ループ式フィードバック・システムでは、レーザダイオードが発生しモニタ用フォトダイオードが検出した光信号に基づいて、フィルタのタップ重みが適合される。
【００１７】
光ＴＸ１００がデータ転送を開始すると、バッファ１０１は若干のゲインを入力データ信号Data Inに加算し、適応フィルタ１１０はバッファ１０１から受信した信号を、適応フィルタ１１０のタップ重みに基づいて、特定のインパルス応答を有するように成形する。レーザ駆動回路１０３はその入力部で成形された波形を有する電気データ信号を受け取り、レーザダイオード１０４が対応する光データ信号を発生するようにそれを変調する。ＡＣＢ１５０は、レーザ駆動回路１０３を介して、レーザダイオード１０４の変調及びバイアス電流を設定する。モニタ用フォトダイオード１１２は、レーザダイオード１０４から出力された光データ信号を検出し、対応する電気信号を発生する。モニタ用フォトダイオード１１２が発生した電気信号は、ＨＳ増幅器１２０の入力部で受信される。このＨＳ増幅器１２０はその入力部で受信した電気信号を増幅し、増幅された電気信号を出力する。この増幅された電気信号は次に、設定可能なフィルタ１３０に入力される。
【００１８】
設定可能フィルタ１３０は、そこに入力された電気信号の波形をフィルタ処理し、そしてフィルタ１３０のタップ重みとフィルタ１３０の入力部で受け取られた電気信号の波形に基づいた特別なインパルス応答波形を有する電気信号を出力する。設定可能フィルタ１３０から出力されたフィルタ処理された信号は、エラー関数ブロック１４０に入力される。このエラー関数ブロック１４０はフィルタ処理された信号を受け取り、このフィルタ処理された信号の波形とエラー関数の波形との間の差に等しいアナログのエラー値を発生する。このアナログ・エラー値は、次にＡＤＣ１１４に入力される。このＡＤＣ１１４は、アナログ・エラー値をディジタルのエラー値に変換する。ディジタル・エラー値は、次にＡＣＢ１５０に入力される。
【００１９】
このＡＣＢ１５０は、光ＴＸ１００の種々の動作を制御するアルゴリズムを実行するように構成されたディジタル論理ゲートの組合せから成る状態マシンである。この種の制御ブロックは、光送信機やトランシーバで使用されることが多い。しかしながら、制御ブロックによって一般に実行されるアルゴリズムに加えて、このＡＣＢ１５０は、インパルス応答適応アルゴリズムも実行する。このアルゴリズムは、ＡＤＣ１１４からＡＣＢ１５０で受信されたディジタル・エラー値に基づいて、リアルタイムで適応フィルタ１１０のタップ重みを調整する。特に、ＡＤＣ１１４から出力されＡＣＢ１５０に入力されたディジタル・エラー値が最小にされる又は少なくとも減少されるように、ＡＣＢ１５０は、適応フィルタ１１０のタップ重みを調整する。適応フィルタ１１０から出力された信号の波形と設定可能フィルタ１３０に入力された信号の波形との間の差は、レーザダイオード１０４の特性とその動作状態に依存する。適応フィルタ１１０のタップ重みが、ＡＤＣ１１４から出力されたディジタル・エラー値に基づいてＡＣＢ１５０によって調整されるため、適応フィルタ１１０から出力されたインパルス応答波形と設定可能フィルタ１３０から出力されたインパルス応答波形との間の差が減少される。このように、ＡＣＢ１５０は、適応フィルタ１１０のタップ重みを、ディジタル・エラー値が最小に又は減少される方向に調整する。
【００２０】
前述したように、本発明の方法及び装置によって提供された１つの利点は、製造する間に必要な試験時間が減少されることである。例えば、製品試験の間に通常実施されるジッタ及びマスク・マージン試験は必要とされない。その理由は、光ＴＸ１００がそれ自身のインパルス応答を測定し、またフィルタ１１０及び１３０が、光ＴＸ１００の計画された寿命にわたって経年変化や環境変化を補償する満足な性能を提供するための十分な範囲を有しているかどうかを判断するからである。本発明の方法及び装置によって提供される有効でリアルタイムな制御により、周知のレーザ制御システムによって一般に提供されるものよりも大きな適用範囲が提供される。その結果、ＴＸ１００を用いるとより大きな補償が達成でき、このことは結果として生産高が増加され、同時にまたＴＸ１００の現場での剛性や信頼性が向上される。
【００２１】
ＯＰＤ１１３は低速回路であり、レーザダイオード１０４の平均光出力電力を測定し、レーザダイオード１０４の平均光出力電力を示す電気信号をその出力部に発生する。ＡＤＣ１１４はこのアナログ平均値をディジタルの平均値に変換し、このディジタル平均値は次にＡＣＢ１５０に入力される。このＡＣＢ１５０は、光出力電力制御アルゴリズムを実行する。このアルゴリズムは、レーザダイオード１０４の光出力電力レベルがほぼ一定のレベルに維持されるように、レーザ駆動回路１０３の変調及び／又はバイアス電流を調整する。この目的に対して適当な閉ループ式光出力電力制御アルゴリズムは、技術的に周知である。別の方法では、開ループ式光出力電力制御アルゴリズムをこの目的に使用することができるが、閉ループ式アルゴリズムはより高い性能を実現する傾向があるため、閉ループ式アルゴリズムが好ましい。適当な光出力電力制御アルゴリズムと組み合わせて、本発明の適応インパルス応答用アルゴリズムを使用することは、レーザダイオード１０４から出力された光信号が、光ＴＸ１００や光ＴＸ１００が使用されている光リンクの性能を最適化する望ましい波形を確実に有するために有用である。しかしながら、本発明は、使用される電力制御アルゴリズムに関して、又は電力制御信号が少しでも使用されているかどうかに関して限定されないことに注意されたい。
【００２２】
光ＴＸ１００が初期化されて、適応フィルタ１１０のタップ重みに対して初期の適用が行われると、それは一般にＡＣＢ１５０が適応フィルタ１１０のタップ重みに対して多数の変更を行う必要はない。この理由は、レーザダイオード１０４から出力された波形を変化させる要素は一般に極めて遅い速度で生じるためである。このため、適応インパルス応答用アルゴリズムを実行することに関連した回路は、大体の場合、電源をオフにすることができる。固定した又は可変の計画上のこれらの回路の電力サイクリングにより、これらの回路に関連した付加的な電力消費を無視できるレベルまで減らすことができる。
【００２３】
図３は、適応インパルス応答用アルゴリズムがトランシーバ２００のＲＸで部分的にまたトランシーバ２００のＴＸで部分的に実行される実施形態による、光トランシーバ２００のブロック図を例示している。図２と同じ参照番号を有する図３の構成要素は、図２を参照して説明されたものと同じ機能を行う。トランシーバ２００のＲＸは、受信機用フォトダイオード２０１、ＨＳ増幅器２０２、マルチプレクサ（ＭＵＸ）２０３、図２に関連して前述された設定可能フィルタ１３０、図２に関連して前述されたエラー関数ブロック１４０、及び出力バッファ２０４を備えている。受信機用フォトダイオード２０１とＨＳ増幅器２０２は、それぞれ図２に関連して前述されたモニタ用フォトダイオード１１２及びＨＳ増幅器１２０と同様である。
【００２４】
図３で示された実施形態によれば、適応インパルス応答用アルゴリズムは、トランシーバ２００に電源が投入され、トランシーバ２００がディスエーブルの後で再イネーブルにされた後だけに実行される。この理由は、適応インパルス応答用アルゴリズムが実行されている間は、受信チャネルは実際のデータを受信するために使用できないためである。トランシーバ２００が最初に電源を投入されるか又はディスエーブルされた後で再イネーブルされると、ＡＣＢ１５０はＭＵＸ２０３に与えられた選択信号ＳＥＬをアサート停止（deassert）にする。ＳＥＬのアサート停止により、ＭＵＸ２０３はＨＳ増幅器１２０の出力を選択してＭＵＸ２０３から出力されるようにする。設定可能フィルタ１３０、エラー制御ブロック１４０、ＡＣＢ１５０、及び適応フィルタ１１０は次に図２に関連して前述されたアルゴリズムを実行して、モニタ用フォトダイオード１１２によって検出された光信号に基づいて、レーザダイオード１０４の出力のインパルス応答を適応させる。適応インパルス応答用アルゴリズムが光トランシーバ２００で実行された後で、ＡＣＢ１５０はＳＥＬをアサート（assert：有効な状態に）する。ＳＥＬをアサートすることにより、ＭＵＸ２０３はＨＳ増幅器２０２の出力を選択してＭＵＸ２０３から出力されるようにする。この信号は次に出力バッファ２０４の入力部で受信される。この出力バッファ２０４は、出力データ信号としてデータ出力端子において信号を出力する前に、いくらかのゲインを信号に加える。受信機用フォトダイオード２０１、受信機用ＨＳ増幅器２０２、及び出力バッファ２０４が実行する動作は、光トランシーバのＲＸ部分で実行される代表的な受信機の動作である。
【００２５】
この光トランシーバ２００は、図２で示された光ＴＸ１００に関連して前述されたものと同じ利点を有している。光トランシーバ２００内で適応インパルス応答用アルゴリズムを実行することにより、温度、電源、レーザ処理分野、ＩＣ処理分野、部品の経年変化、機械製造上の公差、及び部品位置合わせ公差における変動の全体にわたって光リンクの性能が向上又は最適化される。このようにレーザダイオード１０４から出力された光信号のインパルス応答を適応調整することにより、性能の低下やその結果生じる製品収量の減少、試験時間の増加及び試験の複雑性の増加、及びより高いコストを一般にもたらす広範囲の要素に対して、光トランシーバ２００は動的に適応及び補償できるようにされる。ことにより、製造公差や位置合わせ公差を緩和することができ、試験時間や試験の複雑性を減らすことができ、そして全体的な製造及び試験に関する費用を低減させることができる。さらに、入力されたデータ信号を光トランシーバ２００に対して適応成形することにより、入力データ信号が、光ファイバー効果や光リンクの他の端部に対する光ＲＸの制約などの他のリンク要素を補償する望ましい形状を有することができるようにされ、このことは今度は、光リンクの長さを増加させることができる。
【００２６】
図４は、図２に示されているような、光ＴＸのレーザダイオードが発生した光信号のインパルス応答を、レーザダイオードが発生した光信号が望ましいインパルス応答を有するまで適用性良く変化させる実施形態による方法を示すフローチャートを例示している。例示する目的のために、この方法は図２に示されている光ＴＸ１００を参照して説明される。光ＴＸ１００に電源が投入されると、適応フィルタと設定可能フィルタ１１０と１３０のタップ重み及びエラー関数ブロック１４０の係数が、ブロック３０１で示されるように、初期値に設定される。電源が投入された後、ブロック３０３で示されるように、入力データ信号が適応フィルタ１１０の入力部で受信されると、適応フィルタ１１０は、適応フィルタ１１０のタップ重みに基づいたインパルス応答波形をこの入力データ信号に与える。レーザ駆動回路１０３は、ブロック３０５で示されるように、適応フィルタ１１０が発生したインパルス応答波形を受け取り、特別なインパルス応答波形を有する駆動信号を用いてレーザダイオード１０４を駆動する。レーザダイオード１０４は、ブロック３０６で示されるように、レーザダイオード１０４を駆動するために、レーザ駆動回路１０３が使用する信号のインパルス応答に基づいたインパルス応答を有する光信号をその出力部で発生する。
【００２７】
モニタ用フォトダイオード１１２は、レーザダイオード１０４が発生した光信号の少なくとも一部を検出して、ブロック３０７で示されているように、出力する電気信号を発生する。ＨＳ増幅器１２０はモニタ用フォトダイオード１１２が発生した電気信号を検出して、ブロック３０８で示されているように、増幅された電気信号を発生する。設定可能フィルタ１３０が増幅された電気信号を受け取り、ブロック３０９で示されているように、この増幅された電気信号のインパルス応答を測定する。エラー関数ブロック１４０は設定可能フィルタ１３０から測定されたインパルス応答を受け取り、ブロック３１１で示されているように、測定されたインパルス応答とエラー関数によって画定されたインパルス応答との間の差に対応するエラー値を得る。エラー値は適応インパルス応答用アルゴリズムによって処理され、ブロック３１２に示されているように、適応フィルタ１１０のタップ重みに対して作られた調整値が計算されて、これにより適応フィルタ１１０のタップ重みが調整される。次に、判断ブロック３１４で、エラー関数ブロック１４０が発生したエラー値が十分小さい値にすなわち最小値に減少されているかどうかに関する判断が行われる。
【００２８】
エラー値が十分に減少される又は最小にされる場合、適応フィルタ１１０のタップ重みは一般に、適応インパルス応答用アルゴリズムが実行される方法によるが（すなわち、アルゴリズムが最小のエラー値を得ることであろうと、又は最小のエラー値に近いエラー値を得ることであろうと）、設定可能フィルタ１３０によって測定されたインパルス応答の逆数を示す。適応インパルス応答用アルゴリズムの目標は、設定可能フィルタ１３０によって得られた測定されたインパルス応答が、レーザダイオード１０４が発生した光信号の望ましいインパルス応答にできるだけ密接に一致することである。このアルゴリズムは、エラー値が十分小さい値又は所定の値に減少するまで、適応フィルタ１１０のタップ重みを反復調整することによって、この目標を達成する。このため、ブロック３１４によってなされた決定が肯定応答である場合、適応アルゴリズムは終了する。そうでない場合は、アルゴリズムはブロック３１２に戻り、ブロック３１４でなされる決定が肯定応答になるまで、処理が反復される。
【００２９】
図５は、図３に示されているような、光トランシーバのＴＸ部分のレーザダイオードが発生した光信号のインパルス応答を適用性良く変化させるための実施形態による方法を示すフローチャートを例示している。例示する目的のために、この方法は図３に示されている光トランシーバ２００を参照して説明される。光トランシーバ２００に電源が投入されると、トランシーバ２００のＲＸチャネルがディスエーブルにされ（ＳＥＬがアサート停止にされる）、また適応フィルタと設定可能フィルタ１１０と１３０のタップ重み及びエラー関数ブロック１４０の係数が、ブロック４０１で示されるように、初期値に設定される。入力データ信号は適応フィルタ１１０の入力部で受信される。ブロック４０３で示されるように、適応フィルタ１１０は、適応フィルタ１１０のタップ重みに基づいたインパルス応答波形をこの入力データ信号に与える。レーザ駆動回路１０３は、ブロック４０５で示されるように、適応フィルタ１１０が発生したインパルス応答波形を受け取り、インパルス応答波形を用いてレーザダイオード１０４を駆動する。レーザダイオード１０４は、ブロック４０６で示されるように、レーザダイオード１０４を駆動するために、レーザ駆動回路１０３が使用する信号のインパルス応答に基づいたインパルス応答を有する光信号をその出力部で発生する。
【００３０】
モニタ用フォトダイオード１１２は、レーザダイオード１０４が発生した光信号の少なくとも一部を検出して、ブロック４０７で示されているように、出力する電気信号を発生する。ＨＳ増幅器１２０はモニタ用フォトダイオード１１２が発生した電気信号を検出して、ブロック４０８で示されているように、増幅された電気信号を発生する。設定可能フィルタ１３０が増幅された電気信号を受け取り、ブロック４０９で示されているように、この増幅された電気信号のインパルス応答を測定する。エラー関数ブロック１４０は設定可能フィルタ１３０から測定されたインパルス応答を受け取り、ブロック４１１で示されているように、測定されたインパルス応答とエラー関数によって画定されたインパルス応答との間の差に対応するエラー値を得る。エラー値は適応インパルス応答用アルゴリズム（ＡＣＢ１５０）によって処理され、ブロック４１２に示されているように、調整を適応フィルタ１１０のタップ重みに対して行う必要があるかどうかが判断され、これにより適応フィルタ１１０のタップ重みが調整される。次に、判断ブロック３１４で、エラー関数ブロック１４０が発生したエラー値が十分小さい値にすなわち最小値に減少されているかどうかに関する判断が行われる。
【００３１】
図４に関連して前述されたように、エラー値が十分に減少される又は最小にされる場合、適応フィルタ１１０のタップ重みに対応するインパルス応答は一般に、適応インパルス応答用アルゴリズムが実行される方法によるが、設定可能フィルタ１３０によって測定されたインパルス応答の逆数を示す。適応インパルス応答用アルゴリズムの目標は、設定可能フィルタ１３０によって得られた測定されたインパルス応答が、レーザダイオード１０４が発生した光信号の望ましいインパルス応答にできるだけ密接に一致することである。このアルゴリズムは、エラー値が十分小さい値又は最小値に減少するまで、適応フィルタ１１０のタップ重みを反復調整することによって、この目標を達成する。ブロック４１４でなされた決定が肯定応答である場合、アルゴリズムはブロック４１５に進む。このブロック４１５では、ＲＸチャネルはイネーブルにされ（ＳＥＬはアサートされる）、適応インパルス応答用フィードバック・ループはディスエーブルにされる。適応インパルス応答用フィードバック・ループをディスエーブルにすることにより、ＡＣＢ１５０が適応フィルタ１１０のタップ重みを更新できないようにされる。適応インパルス応答用フィードバック・ループがディスエーブルにされた後でも、光電力制御ループ（構成要素１１２、１１３、１１４、及び１５０）は一般に動作を続けて、ＡＣＢ１５０がレーザ駆動回路１０３の変調及び／又はバイアス電流を調整して、レーザダイオード１０４の平均光出力電力をほぼ一定レベルに維持する。
【００３２】
適応インパルス応答用フィードバック・ループがディスエーブルにされ、ＲＸチャネルがイネーブルにされた後で、処理が終了する。ブロック４１４でなされた決定が肯定応答でない場合は、アルゴリズムはブロック４１２に戻り、処理はブロック４１４で行われる決定が肯定応答になるまで反復される。肯定応答になると、処理はブロック４１５に進み、ここでＲＸチャネルはイネーブルにされ、また適応インパルス応答用フィードバック・ループがディスエーブルにされる。
【００３３】
本発明の目的を実現する図４及び図５のフローチャートで示されたアルゴリズムに対して、多くの変更を加えることができることに注意されたい。例えば、設定可能フィルタ１３０とエラー関数ブロック１４０を電源投入時にマイクロコントローラ１６０のＮＶＭに記憶された値を用いて設定するのではなく、望ましい結果を実現するためにあらかじめ選択された固定した設定値を用いて、これらの構成要素を事前設定することができる。しかしながら、マイクロコントローラ１６０のＮＶＭに記憶された値でこれらの構成要素を設定するためにファームウェアを用いることによって、マイクロコントローラ１６０のＮＶＭに記憶された値を単に変更することによって一層優れた動作を実現するように、適応インパルス応答用アルゴリズムが実行される方法を容易に変えることができる。さらに、図２及び図３は、適応インパルス応答用アルゴリズムを実行するために複数の別個の構成部品を示しているが、これらの構成部品は１つのＩＣ又は複数のＩＣの中に一体化される、及び／又は１つ以上の別個の装置によって実行されることができる。さらに、適応インパルス応答用アルゴリズムを実行するＡＣＢ１５０は一般に状態マシンであるが、このアルゴリズムは代わりにソフトウェアで実行されるか、又はマイクロコントローラ１６０などの処理装置又は、例えば、マイクロプロセッサ（図示せず）などの別の処理装置によって実行されるソフトウェアとファームウェアの組合せで実行される。このアルゴリズムがソフトウェアで、又はソフトウェアとファームウェアの組合せで実行される場合、対応するコンピュータ・コードが、例えば、半導体メモリ装置などのある種のコンピュータが読取り可能な媒体の中に記憶される。
【００３４】
本発明の原理及び概念を説明するために、本発明を例証となる実施形態に関連して説明したことに注意されたい。本発明は、これらの実施形態に限定されることはない。例えば、特定の光ＴＸ又はトランシーバ構成を用いることに関連して本発明を説明してきたが、本発明はこれらの特定の構成に限定されない。例えば、信号をさらに調整するために、入力バッファ１０１の出力部とレーザ駆動回路１０３の入力部との間の信号経路に適応フィルタ１１０以外の付加的な構成要素を配置できる。同様に、適応インパルス応答及び電力モニタリング用フィードバック・ループに示されたもの以外の付加的な構成要素が存在することができる。本願でなされた説明に鑑みて当業者は理解されるように、本願で説明された実施形態に対して本発明の目的から逸脱することなく、上記の及び他の修正を行うことができ、また全てのそのような修正例は本発明の範囲に入るものとする。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【外国語明細書】
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