(57)【要約】【課題】  従来の接触抵抗回復装置は、被監視装置に備えられた開閉装置に接点投入がある度、所定の時間、数十ｍＡの高電流を開閉装置に供給するので、電力消費が大きかった。【解決手段】  開閉装置に電圧を印加して電流を供給する電源と、前記電流を調整する第１の抵抗を備えた主経路と、さらに前記電流値を調整する第２の抵抗およびこの第２の抵抗に流れる電流を遮断するスイッチを備えたバイパス経路と、前記主経路に流れる電流を測定する電流計と、この電流計で測定される電流の変化から前記スイッチの開閉を制御する制御回路とを備え、電流計で測定される主経路の電流の変化から接点に供給する電流を調整するようにしたので、不要な電力消費を抑制できるようになる。【選択図】        図１
2011193224.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被監視装置に備えられた接点を有する開閉装置に接続され、この開閉装置に電圧を印加して電流を供給する電源と、前記電流を調整する第１抵抗を備えた主経路と、さらに前記電流を調整する第２抵抗およびこの第２抵抗に流れる電流を遮断するスイッチを備えたバイパス経路と、前記主経路に流れる電流を測定する電流計と、この電流計で測定される電流の変化から前記スイッチの開閉を制御する制御回路とを備え、前記接点の接触抵抗を低下させる接触抵抗回復装置。
【請求項２】
バイパス経路のスイッチが閉じた状態時の主経路に流れる電流の変化から接触抵抗の回復完了を判断し、この判断により前記スイッチを開くよう制御する制御回路を備えた請求項１に記載の接触抵抗回復装置。
【請求項３】
接触抵抗の回復完了の判断を、接触抵抗が無視できるレベルになる前に行うようにしたことを特徴とする請求項２に記載の接触抵抗回復装置。
【請求項４】
バイパス経路のスイッチが開いた状態時の主経路に流れる電流の増加が所定の値より低いと判断し、この判断により前記スイッチを閉じるよう制御する制御回路を備えた請求項１に記載の接触抵抗回復装置。
【請求項５】
被監視装置に備えられた接点を有する開閉装置に接続され、この開閉装置に電圧を印加して電流を供給する電源と、前記電流を調整する第１抵抗を備えた主経路と、さらに前記電流を調整する第２抵抗およびこの第２抵抗に流れる電流を遮断するスイッチを備えたバイパス経路と、前記主経路に流れる電流を測定する電流計と、この電流計で測定される電流から前記開閉装置の接点の開閉を確認し、その接点が開かれた時点より所定の時間が経過した後に前記スイッチを閉じるように制御する制御回路とを備え、前記接点の接触抵抗を低下させる接触抵抗回復装置。
【請求項６】
請求項１ないし請求項５の何れかに記載の接触抵抗回復装置であって、電流計にフォトカプラが用いられている接触抵抗回復装置。
【請求項７】
請求項１ないし請求項６の何れかに記載の接触抵抗回復装置を備え、接触抵抗回復装置の電流計で測定される電流の変化から被監視装置の状態を監視する監視装置。
【請求項８】
接点を有する開閉装置を備えた被監視装置と請求項７に記載の監視装置とからなる監視装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、接点を有した開閉装置の接触抵抗を低下させる接触抵抗回復装置ならびにこの接触抵抗回復装置を備えた監視装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
監視装置は、被監視装置に備えられた例えば電磁リレ−や機械スイッチ等の接点を有した開閉装置の接点投入に伴って流れる電気信号を取り込み、この取り込んだ電気信号に基づいて、前記被監視装置の状態を監視するようになっている。被監視装置に備えられた電磁リレ−や機械スイッチ等の接点表面は時間と共に酸化されたり大気中の不純物で汚染されたりして絶縁皮膜を形成し、その接触抵抗を増加させる。そのため、被監視装置は経年劣化に伴う接触不良が発生し、監視装置に電気信号が送れないと言う課題がある。
【０００３】
従来の監視装置の中には接触抵抗回復装置を備えたものがある。接触抵抗回復装置は、被監視装置の電磁リレ−や機械スイッチに接点投入がある度に、所定の時間、数十ｍＡの高電流を接点間に通電し、絶縁皮膜を実質的に除去することで、接触抵抗を回復させていた（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開昭６０−１３８６０８号公報（第４頁、第４図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の接触抵抗回復装置は、開閉装置の接点投入の度に、所定の時間、数十ｍＡの高電流を通電し続けているので、電力消費が大きいという言う課題がある。
【０００６】
この発明は上記のような課題を解決し、電力消費を抑止する接触抵抗回復装置および監視装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の接触抵抗回復装置は、被監視装置に備えられた接点を有する開閉装置に接続され、この開閉装置に電圧を印加して電流を供給する電源と、前記電流を調整する第１抵抗を備えた主経路と、さらに前記電流を調整する第２抵抗およびこの第２抵抗に流れる電流を遮断するスイッチを備えたバイパス経路と、前記主経路に流れる電流を測定する電流計と、この電流計で測定される電流の変化から前記スイッチの開閉を制御する制御回路とを備え、前記接点の接触抵抗を低下させる点を特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００８】
上記のように構成された接触抵抗回復装置は、電流計で測定される主経路の電流の変化から接点に供給する電流を調整するため、電力消費を抑止したものになる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施の形態１の接触抵抗回復装置に被監視装置を接続した構成図である。
【図２】本発明の実施の形態２の接触抵抗回復装置に被監視装置を接続した構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
実施の形態１．
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態１について詳細に説明する。図１は、この発明の実施の形態１の接触抵抗回復装置に被監視装置を接続した構成図である。
【００１１】
図１に示すように接触抵抗回復装置１０の装置筐体１１には、入力端子１２Ａ、１２Ｂが設けられ、これに被監視装置２０の被装置筐体２１に設けられた出力端子２２Ａ、２２Ｂが接続されている。入力端子１２Ａは装置筐体１１内部の第１抵抗１３、フォトカプラ１４の発光ダイオ−ド１４Ａ、直流電源１５を経由して入力端子１２Ｂにつながり、主経路Ｐ１を形成している。この主経路Ｐ１の入力端子１２Ａと直流電源（陰極側）１５との間には、すなわち、第１抵抗１３、フォトカプラ１４と並列に、第２抵抗１６、スイッチ１７からなるバイパス経路Ｐ２が設けられている。なお、スイッチ１７は、接点を有する電磁リレ−であっても良いし、接点を有しない半導体デバイス等からなる電子スイッチであっても良い。
【００１２】
フォトカプラ１４の発光ダイオ−ド１４Ａは、上記主経路Ｐ１を流れる信号電流Ｉｓの電流値に依存して発光し、フォトカプラ１４のフォトトランジスタ１４Ｂによって受光され、上記主経路Ｐ１を流れる信号電流Ｉｓに依存した電流値の検出電流Ｉｄを主回路１８に供給する。主回路１８は、フォトカプラ１４から供給された検出電流Ｉｄの電流値を制御装置１９に知らせる。このとき、フォトカプラ１４と主回路１８は、前記主経路Ｐ１に流れる電流を測定する電流計として動作している。制御装置１９は、後述詳細に述べる検出電流Ｉｄの電流値を参照した判定手段により、上記バイパス経路Ｐ２に流れるバイパス電流Ｉｂの供給を制限するためのスイッチ１７の開閉を制御する。
【００１３】
なお、前記主回路１８が、検出電流Ｉｄの電流値から被監視装置２０の状態を判断できるようにした場合、上記接触抵抗回復装置１０は、接触抵抗回復装置を備えた監視装置３０になる。この監視装置３０の判断は、被監視装置２０の電磁リレ−２３の開閉状態の判断であっても良いし、被監視装置２０の被監視回路２４から送られる電気信号を付加した信号電流Ｉｓを反映させた判断であっても良い。その場合、フォトカプラ１４は、電磁リレ−の接触抵抗を回復させるために比較的高い電圧値と電流値を印加する主経路Ｐ１から、高い電圧値と電流値の悪影響を受けやすい集積回路等で構成される監視装置３０の主回路１８を確実に守れるため、特に好適である。
【００１４】
接触抵抗回復装置１０の入力端子１２Ａ、１２Ｂにそれぞれ接続された被監視装置２０の出力端子２２Ａ、２２Ｂは、それぞれ被監視装置２０の筐体２１内部に設けられた電磁リレ−２３の両端の接点タ−ミナル（接点につながっているタ−ミナル）に接続されている。電磁リレ−２３の接点の開閉は、被監視装置２０に設けられた被監視回路２４の制御によって、機械的に開閉される。以下に本発明の実施の形態１の被監視装置２０と接触抵抗回復装置１０の動作について説明する。
【００１５】
被監視装置２０は、例えばこの被監視装置２０が管理する装置に不具合が発生したときに、被監視回路２４が電磁リレ−２３（開閉装置）を閉じるものである。長期間電磁リレ−２３が動作しない場合、電磁リレ−２３の接点の表面に絶縁皮膜が形成され、その表面抵抗が著しく高くなる。このような状態で、電磁リレ−２３を閉じた場合、接触不良となり接触させた接点間に電流が流れない場合がある。このような現象は、電磁リレ−２３の両端の接点タ−ミナルに加える電圧値が１Ｖ以下の場合に発生しやすく、その加える電圧値が低くなればなるほど、より発生しやすくなる。ところが、接点タ−ミナルに加える電圧値が数Ｖ以上にすると発生しにくくなり、数１０Ｖでは殆んど発生しなくなる。
【００１６】
このような絶縁皮膜に関する現象は、電磁リレ−２３の各接点が金属であることを考慮すると、各接点間（各金属間）の絶縁皮膜がモット障壁として作用するためと推察される。言い換えると、接触させた接点間の絶縁皮膜の中を電子が通過するには、絶縁皮膜の形成するモット障壁より高い数Ｖ以上の電位差を前記接点間に加える必要があるためと示唆される。電磁リレ−２３の接点タ−ミナルに加える電圧値を数Ｖ以上にすることで、前記絶縁皮膜の中に電子が流れ始め、これがきっかけとなって絶縁皮膜を破壊するように作用し、いずれ接触抵抗が無くなったような状態に近づくものと考えられる。従って、電磁リレ−２３に流れ始めた電子の量を多くするほど、言い換えると電流値を高くするほど、高かった接触抵抗の低下速度（回復速度）も速くなり、その結果、実質的な接触抵抗は無視できるようになる。
【００１７】
接点の接触抵抗が無視できるレベルまで回復すると、接点タ−ミナルに加える電圧値を１００ｍＶ以下にしても接触不良は起こらず、電流を電磁リレ−２３に流し続けることができるようになる。さらに、電磁リレ−２３の接点を開き通電を止めた後、再び電磁リレ−２３を閉じても、１００ｍＶ以下の電位差の印加で、電磁リレ−２３の通電は確保される。接点表面に形成された絶縁皮膜が、通電によって実質的に無くなったことを裏付ける結果と考えられる。
【００１８】
接触抵抗回復装置１０は、被監視装置２０の電磁リレ−２３の接触抵抗を回復させるため、電磁リレ−２３の接点タ−ミナル間に数１０Ｖの電圧を印加するための装置である。実施の形態１ではその一例として、直流電源１５の電圧値を２４Ｖ、第１抵抗１３の抵抗値を１０ｋΩ、第２抵抗１６の抵抗値を２．５ｋΩとし、フォトカプラ１４、スイッチ１７の抵抗値は無視できる値として説明を進める。また、被監視装置２０の電磁リレ−２３が動作する前（接点は開状態）のバイパス経路Ｐ２のスイッチ１７は、閉状態であるとして説明する。このときの、入力端子１２Ａ、１２Ｂ間の抵抗値は、主経路Ｐ１の第１抵抗１３（１０ｋΩ）とバイパス経路Ｐ２の第２抵抗１６（２．５ｋΩ）から２ｋΩである。
【００１９】
被監視装置２０の電磁リレ−２３が被監視回路２４によって閉じられると、接点タ−ミナル間に電圧が印加される。このときの接点タ−ミナル間の電圧は、直流電源１５の電圧値２４Ｖを接点タ−ミナル間の接触抵抗Ｘと入力端子１２Ａ、１２Ｂ間の抵抗値２ｋΩの合計で割った値に、接触抵抗Ｘを掛けた値となる。ただし、接点に形成された絶縁皮膜の状態が刻々変化するため、接触抵抗Ｘは減少し、いずれ無視できる値にまで減少する。また、主経路Ｐ１に流れる信号電流Ｉｓおよびバイパス経路Ｐ２に流れるバイパス電流Ｉｂも刻々増加し、それぞれ２．４ｍＡ（２４Ｖ／１０ｋΩ）、９．６ｍＡ（２４Ｖ／２．５ｋΩ以下）になるまで増加する。
【００２０】
主経路Ｐ１に流れる信号電流Ｉｓは、フォトカプラ１４の発光ダイオ−ド１４Ａを発光させ、フォトトランジスタ１４Ｂによって、信号電流Ｉｓに依存した電流値の検出電流Ｉｄを主回路１８に供給する。主回路１８は、フォトカプラ１４から供給された検出電流Ｉｄの電流値を制御装置１９に知らせるため、制御装置１９は、主経路Ｐ１に流れる信号電流Ｉｓの変化を確認することができる。従って、検出電流Ｉｄから電磁リレ−２３の接触抵抗の回復状態を把握することができ、その結果、接触抵抗の回復完了の判断ができるようになる。例えば、検出電流Ｉｄの変化から信号電流Ｉｓが２．０ｍＡになったタイミングから、接触抵抗が無視できるレベルになったと判断したり、あるいは、検出電流Ｉｄの変化がほぼ無くなったタイミングから接触抵抗が無視できるレベルになったと判断したりすることで、回復完了の判断をすることができる。
【００２１】
また、接触抵抗の回復完了の判断のタイミングを信号電流Ｉｓが例えば１．２ｍＡとなった時点で判断するようにしたり、検出電流Ｉｄ（もしくは信号電流Ｉｓ）の変化率が予め定めた所定値以下になったタイミングで判断するようにしたりしても良い。すなわち、接触抵抗の回復完了の判断を接触抵抗が無視できるレベルになる前に行うようにしておいても良い。この理由は後で詳しく述べる。
【００２２】
制御装置１９によって回復完了の判断がなされると、接触抵抗の回復速度を速くするために用いていたバイパス電流Ｉｂは不要となる。制御装置１９は、回復完了の判断をすると同時に、バイパス経路Ｐ２のスイッチ１７を開いてバイパス電流Ｉｂの供給を止める。これにより、第２抵抗１６による不必要な電力消費が無くなり、その発熱も無くなる。その結果、接触抵抗回復装置１０の筐体内温度も、最小限に抑えられるようになる。
【００２３】
一方、バイパス電流Ｉｂの供給を止めても、信号電流Ｉｓは電磁リレ−２３に流れつづけている。そのため、接触抵抗の回復完了の判断を接触抵抗が無視できるレベルに達する前に行い、例えばバイパス電流Ｉｂの供給を止めた時点で、電磁リレ−２３の接触抵抗が、第１抵抗１３の抵抗値１０ｋΩと同程度に残っていても、その接触抵抗は信号電流Ｉｓによって回復され続ける。そして、最終的に電磁リレ−２３の接触抵抗は無視できるレベルになる。また、それに伴い信号電流Ｉｓの上昇も無くなり、２．４ｍＡに落ち着く。従って、制御装置１９ないし主回路１８は、検出電流Ｉｄから信号電流Ｉｓの変化を確認することができるので、電磁リレ−２３の接触抵抗が無視できるレベルまで回復したことを確認できるようになる。そのような状態で、被監視装置２０からの電気信号は、電磁リレ−２３の接触抵抗の影響を受ける事無く、接触抵抗回復装置１０の主回路１８に伝えられるようになる。
【００２４】
被監視装置２０の電磁リレ−２３が被監視回路２４によって開けられると、信号電流Ｉｓが流れなくなり、検出電流Ｉｄを介して制御装置１９ないし主回路１８は電磁リレ−２３が開けられたことを確認する。電磁リレ−２３が開けられたことを確認した制御装置１９は、スイッチ１７を閉じる。これによって、被監視装置２０の電磁リレ−２３が被監視回路２４によって再び閉じられる時に、バイパス電流Ｉｂの供給ができるようになる。
【００２５】
以上説明したように、被監視装置２０の電磁リレ−２３が被監視回路２４によって閉じられる度に、本発明の実施の形態１の接触抵抗回復装置１０は、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復を行うので、確実に被監視回路２４の出力端子２２Ａ、２２Ｂから電気信号を受け取ることができるようになる。そのため接触抵抗回復装置１０の主回路１８も出力端子２２からの電気信号の把握が可能となり、被監視装置２０の状態を判断できるようになる。また、上記接触抵抗回復装置１０を備えた監視装置３０は、接触抵抗の影響を受ける事無く、確実に被監視装置２０の状態を判断できるようになる。従って、例えば監視装置３０の主回路１８に備えられた無線ＬＡＮ等の外部通信回線１８Ａを用いて、他の装置に被監視装置２０の状態を知らせるようにすることも可能である。
【００２６】
なお、上記実施の形態１においては、被監視装置２０が管理する装置に不具合が発生したときに、被監視回路２４が電磁リレ−２３を閉じるものであったが、電磁リレ−２３を閉じたあと、被監視回路２４から出力される任意信号を出力端子２２Ａ、２２Ｂから出力するようにしておいても良い。
【００２７】
実施の形態２．
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態２について詳細に説明する。図２は、この発明の実施の形態２の接触抵抗回復装置に被監視装置を接続した構成図である。なお、図２中において、図１と同一部分ないし相当部分には、同一符号を付与している。
【００２８】
図２に示すように実施の形態２の接触抵抗回復装置は、実施の形態１の接触抵抗回復装置の制御回路１９にタイマ−１９ｃを取付けた以外は全く同じ装置である。ところで、実施の形態１で記したとおり、本発明の接触抵抗回復装置によって、電磁リレ−２３の接触抵抗が無くなった状態に接点が戻ると、電磁リレ−２３を開いた後であっても、再び電磁リレ−２３を閉じ、接点タ−ミナルに１００ｍＶ以下の電圧を加えるだけで、電磁リレ−２３に電流を流せれるようになる。すなわち、本発明の接触抵抗回復装置によって接点表面に形成された絶縁皮膜が実質的に無くなるため、再び絶縁皮膜が形成されるまでの間は、接触抵抗の回復は不要である。
【００２９】
実施の形態１の接触抵抗回復装置１０では、制御装置１９が、被監視装置２０の電磁リレ−２３の開状態を確認すると、スイッチ１７を直ちに閉じるようにしていた。実施の形態２の接触抵抗回復装置１０では、制御装置１９が、電磁リレ−２３の開状態を確認したあと、所定の時間経過した後に、スイッチ１７を閉じるようにするものである。以下に本発明の実施の形態２の被監視装置２０と接触抵抗回復装置１０の動作について説明する。なお、実施の形態１で記した同様の動作については省略する。
【００３０】
被監視装置２０の電磁リレ−２３が閉じられると、接触抵抗回復装置１０の制御装置１９は、主経路Ｐ１に流れる信号電流Ｉｓの変化を検出電流Ｉｄを介して確認し、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復完了を判断し、スイッチ１７を直ちに開くことで、バイパス電流Ｉｂの供給を停止させる。その後も、接触抵抗回復装置１０は、信号電流Ｉｓの変化を確認し、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復状態を確認する。
【００３１】
被監視装置２０の電磁リレ−２３が開けられると、信号電流Ｉｓが流れなくなるので、制御装置１９は、電磁リレ−２３が開けられたことを確認し、タイマ−１９Ｃを直ちに動作させる。制御装置１９は、タイマ−１９Ｃから予め定めた所定の時間の経過があったことを確認した後に、スイッチ１７を閉じる。なお、予め定めた所定の時間とは、接点表面に再び絶縁皮膜が形成されるのに必要な時間より、短い時間である。
【００３２】
予め定めた所定の時間の経過する前、すなわち、接触抵抗回復装置１０のスイッチ１７が開状態にあるときに被監視装置２０の電磁リレ−２３が閉じられると、接触抵抗回復装置１０の制御装置１９は、主経路Ｐ１に流れる信号電流Ｉｓの変化を確認し、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復状態を確認する。なお、このときスイッチ１７は開状態なので、バイパス電流Ｉｂは流れず、その結果、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復は、信号電流Ｉｓが電磁リレ−２３に流れることで行われる。電磁リレ−２３が開けられると、制御装置１９は、電磁リレ−２３が開けられたことを確認し、タイマ−１９Ｃを直ちに動作させ、タイマ−１９Ｃが所定の時間経過した後に、スイッチ１７を閉じる。
【００３３】
予め定めた所定の時間の経過した後、すなわち、接触抵抗回復装置１０のスイッチ１７が閉状態にあるときに、被監視装置２０の電磁リレ−２３を閉じられると、接触抵抗回復装置１０の制御装置１９は、主経路Ｐ１に流れる信号電流Ｉｓの変化を確認し、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復状態を確認する。なお、このときスイッチ１７は閉状態なので、バイパス電流Ｉｂが流れ、その結果、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復は、信号電流Ｉｓとバイパス電流Ｉｂが共に電磁リレ−２３に流れることで行われる。さらに制御装置１９は、信号電流Ｉｓの変化から電磁リレ−２３の接触抵抗の回復完了を判断すると、スイッチ１７を直ちに開くことで、バイパス電流Ｉｂの供給を停止させる。電磁リレ−２３が開けられると、制御装置１９は、電磁リレ−２３が開けられたことを確認し、タイマ−１９Ｃを直ちに動作させ、タイマ−１９Ｃが所定の時間経過した後に、スイッチ１７を閉じる。
【００３４】
本発明の実施の形態２の接触抵抗回復装置１０を用いることで、被監視装置２０の電磁リレ−２３の接点表面に実質的な絶縁皮膜が再形成されるまでの期間、バイパス電流Ｉｂを流さずにすむので、電力消費の少ない接触抵抗回復装置になる。
【００３５】
実施の形態３．
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態３について詳細に説明する。実施の形態３の接触抵抗回復装置は、実施の形態１の接触抵抗回復装置のスイッチ１７の制御方法を異なったタイミングで制御するものであり、それ以外は全く同じ装置である。具体的に要点を記すと、実施の形態１の接触抵抗回復装置のスイッチ１７は、被監視装置２０の電磁リレ−２３が開状態の時に閉じられていた。実施の形態３の接触抵抗回復装置のスイッチ１７は、被監視装置２０の電磁リレ−２３が開状態の時に開状態にあり、必要に応じて、スイッチ１７を開閉制御するようにした装置である。以下に本発明の実施の形態３の被監視装置２０と接触抵抗回復装置１０の動作について説明する。なお、実施の形態１で記した同様の動作については省略する。
【００３６】
被監視装置２０の電磁リレ−２３が閉じられると、接触抵抗回復装置１０の制御装置１９は、主経路Ｐ１に流れる信号電流Ｉｓの変化を確認し、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復状態を確認する。なお、このときスイッチ１７は開状態なので、バイパス電流Ｉｂは流れず、その結果、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復は、信号電流Ｉｓが電磁リレ−２３に流れることで行われる。ところで、電磁リレ−２３が閉じられた時に電磁リレ−２３に流れる電流は、信号電流Ｉｓのみであり、また、電磁リレ−２３の接触抵抗が高いため、その電流値は極めて低い。従って、接触抵抗の回復には長時間が必要になる。
【００３７】
制御装置１９は、主経路Ｐ１に流れる信号電流Ｉｓを検出してから、その検出値の増加が所定の値より低いと判断したときに、スイッチ１７を閉状態にする。なお、検出値の増加が所定の値より低いと判断する手段としては、例えば、制御装置１９が、電磁リレ−２３の閉状態を確認できる電流値より高い値であって、その値の増加率が予め定めた所定の増加率と比較することで、実施することができる。
【００３８】
スイッチ１７が閉じられると、バイパス電流Ｉｂが流れ、その結果、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復は、信号電流Ｉｓとバイパス電流Ｉｂが電磁リレ−２３に流れることで加速される。その後、制御装置１９は、信号電流Ｉｓの変化から電磁リレ−２３の接触抵抗の回復完了を判断し、スイッチ１７を直ちに開くことで、バイパス電流Ｉｂの供給を停止、電磁リレ−２３の接触抵抗の回復状態をさらに確認する。
【００３９】
本発明の実施の形態３の接触抵抗回復装置１０を用いることで、必要に応じて電磁リレ−２３の接触抵抗の回復速度を加速できるという格別の効果が得られるようになる。
【符号の説明】
【００４０】
１０    接触抵抗回復装置、      １３    第１抵抗、
１４    フォトカプラ、          １５    直流電源、
１６    第２抵抗、              １７    スイッチ、
１８    主回路、                １９    制御装置、
２０    被監視装置、            ２３    電磁リレ−（開閉装置）
【図１】
2011193224.tif 000003
【図２】
2011193224.tif 000004