(57)【要約】【課題】プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料が分析対象物であっても、スパーク放電による発光分光分析法を適用して分析対象物中の元素を定量分析することを可能にする発光分光分析方法を提供する。【解決手段】電極３と分析対象物１の間にスパーク放電を生じさせ、分析対象物１中の元素が励起発光して得られた元素の発光スペクトルの強度から分析対象物１中の元素を定量分析する発光分光分析方法であって、分析対象物１が非導電性材料であり、分析対象物１を導電性材９上に固定手段によって固定して載置し、電極３と導電性材９の間に分析対象物１が介設されるように電極３を配置して、電極３と導電性材９の間にスパーク放電を生じさせ、得られた元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた導電性材９中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正し、分析対象物１中の元素を定量分析するようにした。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電極と分析対象物の間にスパーク放電を生じさせ、前記分析対象物中の元素が励起発光して得られた前記元素の発光スペクトルの強度から前記分析対象物中の元素を定量分析する発光分光分析方法であって、
前記分析対象物が非導電性材料であり、
前記分析対象物を導電性材上に固定手段によって固定して載置し、
前記電極と前記導電性材の間に前記分析対象物が介設されるように前記電極を配置して、前記電極と前記導電性材の間にスパーク放電を生じさせ、
得られた前記元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた前記導電性材中の前記元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正し、前記分析対象物中の前記元素を定量分析するようにしたことを特徴とする発光分光分析方法。
【請求項２】
請求項１記載の発光分光分析方法において、
前記固定手段が接着剤であり、
前記接着剤を前記分析対象物の下面と前記導電性材の上面の間に介装して、あるいは前記接着剤を前記分析対象物の側面と前記導電性材の上面に接着させて、前記分析対象物を前記導電性材上に固定し、前記電極と前記導電性材の間にスパーク放電を生じさせ、
得られた前記元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた前記導電性材中と前記接着剤中の前記元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正し、前記分析対象物中の前記元素を定量分析するようにしたことを特徴とする発光分光分析方法。
【請求項３】
請求項１記載の発光分光分析方法において、
前記固定手段が、前記導電性材の上面から該導電性材を上方に突出形成してなる固定針であり、
前記分析対象物を前記固定針に突き刺さして固定するようにしたことを特徴とする発光分光分析方法。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載の発光分光分析方法において、
前記導電性材が導電性有機材であることを特徴とする発光分光分析方法。
【請求項５】
電極と分析対象物の間にスパーク放電を生じさせ、前記分析対象物中の元素が励起発光して得られた前記元素の発光スペクトルの強度から前記分析対象物中の元素を定量分析する発光分光分析方法であって、
前記分析対象物が非導電性材料であり、
前記分析対象物を粉砕し、該粉砕した分析対象物を所定の混合比率で粉状の導電性材と混合するとともに圧縮成型して、ペレット状の分析試料を形成し、
前記電極と前記分析試料の間にスパーク放電を生じさせ、
得られた前記元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた前記導電性材中の前記元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正し、前記分析対象物中の前記元素を定量分析するようにしたことを特徴とする発光分光分析方法。
【請求項６】
請求項５記載の発光分光分析方法において、
前記粉砕した分析対象物と前記粉状の導電性材を混合するとともに接着剤を添加し、あるいは前記粉砕した分析対象物と、前記粉状の導電性材を添加した接着剤を混合し、圧縮成型してペレット状の前記分析試料を形成するようにしたことを特徴とする発光分光分析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電極と分析対象物の間にスパーク放電を生じさせ、分析対象物中の元素が励起発光して得られた元素の発光スペクトルの強度から分析対象物中の元素を定量分析する発光分光分析方法に関し、特に、プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料である分析対象物中の元素を定量分析するための発光分光分析方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、鉄鋼材を製造する際には、製鋼途中の溶鋼の組成を分析（検査）し、その結果をフィードバックして、最終製品の品質を確保するようにしている。また、鉄鋼材の組成（各種金属元素成分）を分析する際には、蛍光Ｘ線分析法などの他の分析法と比較し、多くの元素を同時に、且つ高精度で定量分析できることから、スパーク放電発光分光分析法が多用されている。
【０００３】
このスパーク放電発光分光分析法においては、図８に示すように、鉄鋼材などの分析対象物１に接触させてプローブ２を配置するとともに、分析対象物１との間に所定の隙間をあけて電極３を配置した段階で、高電圧を印加して電極３と分析対象物１の間にスパーク放電を生じさせ、分析対象物１中の金属元素を励起発光させる。そして、発光スペクトル（スペクトル線）を集光レンズ４で集光するとともに光ファイバ５で分光器６に導光し、この分光器６の回折格子で各金属元素の固有スペクトル線を分光するとともにフォトマルチプライヤなどの検出器７で各金属元素の発光スペクトルの強度を検出する。これにより、発光スペクトルの強度から分析対象物１中の各金属元素を定量分析することが可能になる（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
また、このスパーク放電発光分光分析法は、バッテリーを搭載することで分析装置８を可搬型にすることができるため、研究室レベルではなく、製造ラインなどの製造現場で製品を分析（検査）する際にも簡便に使用（適用）することが可能であるという大きな利点を有している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−１４０５６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上記従来のスパーク放電による発光分光分析方法においては、その測定原理から、鉄鋼材を代表とする各種導電性材料の分析が可能であるが、プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料（導電性が低い材料）の分析に対してはその適用が難しい。また、鉄鋼材と比較し、プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料はその比重が小さく、スパーク放電時の衝撃によって分析対象物が飛散してしまい、この点からも分析することが困難とされていた。
【０００７】
一方で、近年、欧州向けの製品は、製品中の有害物（環境負荷物質）に関する規制（ＲＥＡＣＨ規制など）に従って製造管理する必要があり、米国、中国、韓国等においてもこのような有害物に関する規制の法制化が進みつつある。このため、製造現場での迅速なスクリーニング分析が重要になっており、多くの元素を同時に、迅速に、高精度で定量分析することが可能なスパーク放電発光分光分析法を適用して、プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料中に含まれる例えばＣｒ（クロム）、Ｐｂ（鉛）、Ｃｄ（カドミウム）、Ｈｇ（水銀）、Ａｓ（砒素）、Ｚｎ（亜鉛）などの有害物（元素）を定量分析できるようにすることが強く求められていた。
【０００８】
本発明は、上記事情に鑑み、プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料が分析対象物であっても、スパーク放電による発光分光分析法を適用して分析対象物中の元素を定量分析することを可能にする発光分光分析方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の目的を達するために、この発明は以下の手段を提供している。
【００１０】
本発明の発光分光分析方法は、電極と分析対象物の間にスパーク放電を生じさせ、前記分析対象物中の元素が励起発光して得られた前記元素の発光スペクトルの強度から前記分析対象物中の元素を定量分析する発光分光分析方法であって、前記分析対象物が非導電性材料であり、前記分析対象物を導電性材上に固定手段によって固定して載置し、前記電極と前記導電性材の間に前記分析対象物が介設されるように前記電極を配置して、前記電極と前記導電性材の間にスパーク放電を生じさせ、得られた前記元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた前記導電性材中の前記元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正し、前記分析対象物中の前記元素を定量分析するようにしたことを特徴とする。
【００１１】
この発明においては、分析対象物がプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料である場合であっても、この分析対象物を導電性材上に固定手段によって固定して載置し、プローブを導電性材に接触させつつ電極を分析対象物と所定の間隔をあけて配置した状態で、電極と導電性材の間にスパーク放電を生じさせることにより、導電性材中の元素（金属元素）に加えて、電極と導電性材の間に介設した分析対象物（非導電性材料）中の元素（金属元素）を励起化することが可能になる。これにより、得られた元素の発光スペクトルの強度を、予め求めて既知とされた導電性材中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することで、分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。
【００１２】
また、このとき、分析対象物がプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料であっても、固定手段によって導電性材上に固定して載置されているため、スパーク放電によって分析対象物が飛散することが防止され、精度よく分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。
【００１３】
また、本発明の発光分光分析方法においては、前記固定手段が接着剤であり、前記接着剤を前記分析対象物の下面と前記導電性材の上面の間に介装して、あるいは前記接着剤を前記分析対象物の側面と前記導電性材の上面に接着させて、前記分析対象物を前記導電性材上に固定し、前記電極と前記導電性材の間にスパーク放電を生じさせ、得られた前記元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた前記導電性材中と前記接着剤中の前記元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正し、前記分析対象物中の前記元素を定量分析することが望ましい。
【００１４】
この発明においては、固定手段として接着剤を用いることにより、確実に導電性材上に固定して載置した分析対象物がスパーク放電によって飛散することを防止でき、また、得られた元素の発光スペクトルの強度を、予め求めて既知とされた導電性材中と接着剤中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することにより、精度よく分析対象物中の元素を定量分析することができる。
なお、分析対象物中の元素と同じ元素を含まない接着剤や、分析対象物中の元素と同じ元素を精度に影響することがない程度の微量しか含まない接着剤を用いれば、得られた元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた導電性材中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正するだけで、精度よく分析対象物中の元素を定量分析することが可能である。
【００１５】
さらに、本発明の発光分光分析方法においては、前記固定手段が、前記導電性材の上面から該導電性材を上方に突出形成してなる固定針であり、前記分析対象物を前記固定針に突き刺さして固定するようにしてもよい。
【００１６】
この発明においては、予め導電性材に形成された固定針に突き刺して分析対象物を固定することにより、接着剤を固定手段として用いる場合よりも簡便に且つ高精度で分析対象物中の元素の定量分析を行うことが可能になる。
【００１７】
また、本発明の発光分光分析方法においては、前記導電性材が導電性有機材であることがより望ましい。
【００１８】
この発明においては、導電性材として導電性有機材（導電性有機プレート）を用いることにより、導電性材として例えば鉄鋼材などを用いる場合と比較し、得られた元素の発光スペクトルの強度に対する導電性材中の元素の発光スペクトルの強度の割合（補正量）を小さくすることができる（あるいは補正を不要にすることができる）。すなわち、導電性有機材を用いることにより、鉄鋼材や金属粉による分光干渉などの影響を最小限に抑えることが可能になる。これにより、より迅速且つ高精度に分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。
【００１９】
本発明の発光分光分析方法は、電極と分析対象物の間にスパーク放電を生じさせ、前記分析対象物中の元素が励起発光して得られた前記元素の発光スペクトルの強度から前記分析対象物中の元素を定量分析する発光分光分析方法であって、前記分析対象物が非導電性材料であり、前記分析対象物を粉砕し、該粉砕した分析対象物を所定の混合比率で粉状の導電性材と混合するとともに圧縮成型してペレット状の分析試料を形成し、前記電極と前記分析試料の間にスパーク放電を生じさせ、得られた前記元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた前記導電性材中の前記元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正し、前記分析対象物中の前記元素を定量分析するようにしたことを特徴とする。
【００２０】
この発明においては、分析対象物がプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料である場合であっても、粉砕した分析対象物と所定の混合比率で粉状の導電性材を混合し圧縮成型したペレット状の分析試料として分析することにより、分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。すなわち、電極とペレット状の分析試料の間にスパーク放電を生じさせ、得られた元素の発光スペクトルの強度を、分析対象物との混合比率に応じ、予め求めて既知とされた導電性材中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することにより、分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。
【００２１】
また、このとき、プローブを分析試料に当接して（プローブで分析試料を押さえて）スパーク放電を生じさせることにより、鉄鋼材などの導電性材上に分析試料（分析対象物）を固定して載置することなく、分析試料を固定することができる。そして、このようにプローブで分析試料を押さえて固定し、スパーク放電を生じさせることにより、スパーク放電によって分析試料が飛散することを防止でき、迅速且つ高精度で分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。
【００２２】
また、本発明の発光分光分析方法においては、前記粉砕した分析対象物と前記粉状の導電性材を混合するとともに接着剤を添加し、あるいは前記粉砕した分析対象物と、前記粉状の導電性材を添加した接着剤を混合し、圧縮成型してペレット状の前記分析試料を形成することが望ましい。
【００２３】
この発明においては、接着剤を用いてペレット状の分析試料を形成することで、スパーク放電によって粉砕することのない強固な分析試料を形成することができ、精度よく分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。
【００２４】
また、分析試料が分析対象物とともに導電性材を含んで形成されるため、分析試料自体に導電性を付与することができる。このため、電極と鉄鋼材などの導電性材の間にスパーク放電を生じさせ、これとともに電極と分析対象物の間にスパーク放電を生じさせる場合と比較し、より確実にスパーク放電によって分析対象物中の元素を励起化することが可能になる。さらに、ＮｉやＦｅなどの単一成分の導電性材を用いて分析試料を形成することにより、鉄鋼材などの導電性材上に分析対象物を載置する場合と比較し、得られた元素の発光スペクトルの強度の補正が簡単になる。これにより、より迅速且つ高精度で分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。
【００２５】
なお、分析対象物中の元素と同じ元素を含まない接着剤や、分析対象物中及び導電性材中の元素と同じ元素を精度に影響することがない程度の微量しか含まない接着剤を用いれば、得られた元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた導電性材中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正するだけで、精度よく分析対象物中の元素を定量分析することが可能である。また、分析対象物中及び導電性材中の元素と同じ元素を含む接着剤を用いる場合であっても、接着剤の添加量に応じ、予め求めて既知とされた接着剤中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することで、分析対象物中の元素を定量分析することが可能である。
【発明の効果】
【００２６】
本発明の発光分光分析方法によれば、分析対象物がプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料である場合であっても、分析対象物（非導電性材料、分析試料）中の元素を励起化させ、得られた元素の発光スペクトルの強度を、予め求めて既知とされた導電性材中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正して、分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。
【００２７】
また、分析対象物がプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料であっても、固定手段（やプローブ）で分析対象物（分析試料）を固定することで、スパーク放電によって分析対象物が飛散することを防止でき、精度よく分析対象物中の元素を定量分析することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の第１実施形態に係る発光分光分析方法において、導電性材上に非導電性材料の分析対象物を載置するとともに、電極とプローブを所定位置に配置して、分析対象物中の元素の定量分析を行う状態を示す図である。
【図２】本発明の第１実施形態に係る発光分光分析方法において、固定手段の接着剤を用い、導電性材上に分析対象物を固定して載置した状態を示す図である。
【図３】本発明の第１実施形態に係る発光分光分析方法において、固定手段の接着剤を用い、導電性材上に分析対象物を固定して載置した状態を示す図である。
【図４】本発明の第１実施形態に係る発光分光分析方法において、導電性材に固定手段の固定針を形成し、この固定針に分析対象物を突き刺して固定した状態を示す図である。
【図５】本発明の第１実施形態に係る発光分光分析方法において、導電性材として導電性有機プレートを用いた状態を示す図である。
【図６】本発明の第２実施形態に係る発光分光分析方法において、分析対象物を含んで形成した分析試料を示す図である。
【図７】本発明の第２実施形態に係る発光分光分析方法において、分析試料に対して電極とプローブを所定位置に配置して、分析対象物中の元素の定量分析を行う状態を示す図である。
【図８】発光分光分析装置を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、図１から図３、及び図８を参照し、本発明の第１実施形態に係る発光分光分析方法について説明する。本実施形態は、電極と分析対象物の間にスパーク放電を生じさせて分析対象物中の元素（金属元素）を定量分析するスパーク放電発光分光分析方法に関し、特に、プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料（導電性が低い材料）である分析対象物中の元素を定量分析するためのスパーク放電発光分光分析方法に関するものである。
【００３０】
本実施形態の発光分光分析方法においては、図１に示すように、はじめに、分析対象物１であるプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料を切り出す。このとき、プローブ２の内径ｄ１よりも小さく、且つ少なくともその中央の厚さ寸法ｄ２が電極３に接触しない程度の大きさとなるように、非導電性材料を切り出して分析対象物１を形成する。
【００３１】
そして、予め、例えばＣｒ（クロム）、Ｐｂ（鉛）、Ｃｄ（カドミウム）、Ｈｇ（水銀）、Ａｓ（砒素）、Ｚｎ（亜鉛）などの有害物の組成（元素含有量）が既知とされた鉄鋼材などの導電性材９の上面９ａに、分析対象物１を載置する。
【００３２】
また、分析対象物１は、固定手段によって導電性材９上に固定して載置する。本実施形態では、固定手段として接着剤１０を用い、図２に示すように分析対象物１の下面と導電性材９の上面９ａの間に接着剤１０を介装したり、図３に示すように接着剤１０を分析対象物１の側面全体と導電性材９の上面９ａに接着させて、分析対象物１を導電性材９上に固定して載置する。なお、図３に示すように接着剤１０を用いて分析対象物１を固定する場合には、分析対象物１の上面の中央部を所定の面積以上で露出させる。また、図２及び図３に示すように導電性材９上に載置した状態で、接着剤１０を含む分析対象物１の最大幅（最大径ｄ３）が５ｍｍよりも小さく、最大厚さ（最大高さｄ４）が２ｍｍよりも小さくなるようにすることが望ましい。
【００３３】
そして、このように導電性材９上に固定して分析対象物１を載置した段階で、図１に示すように、プローブ２の中央孔に分析対象物１を非接触で挿通させつつプローブ２の先端を導電性材９の上面９ａに当接（接触）させてプローブ２を所定位置に配置する。また、これとともに、電極３と導電性材９の間に分析対象物１が介設されるように、プローブ２内の中心に設けられた電極３をその先端と分析対象物１との上下方向の間に所定の間隔をあけて配置する。
【００３４】
次に、電極３とプローブ２（ひいては導電性材９）の間に高電圧を印加し、電極３と導電性材９の間にスパーク放電を生じさせることで、電極３と導電性材９の間に介設される分析対象物１が放電により発生する高温の熱により蒸発し、分析対象物１中の元素（金属元素）が励起発光する。
【００３５】
また、このとき、分析対象物１がプラスチック、樹脂、セラミックスなどの比重が小さい非導電性材料であるため、スパーク放電の衝撃によって飛散するおそれがある。これに対し、本実施形態では、固定手段の接着剤１０によって分析対象物１が導電性材９上に固定して載置されているため、スパーク放電によって分析対象物１が飛散することが防止され、好適に分析対象物１中の元素が励起発光することになる。
【００３６】
このように導電性材、接着剤、分析対象物１中の元素が励起発光して得られた元素の発光スペクトル（発光スペクトル線）は、図８に示すように、集光レンズ４で集光され、光ファイバ５で分光器６に導光されるとともに、分光器６の回折格子で各元素（金属元素）の固有スペクトル線毎に分光される。また、検出器７で各元素の発光スペクトルの強度が検出される。
【００３７】
そして、検出器７で得られた各元素の発光スペクトルの強度を、予め求めて既知とされた導電性材９中の元素の発光スペクトルの強度と、予め求めて既知とされた接着剤１０中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することにより、分析対象物１中の元素を定量する。
【００３８】
なお、分析対象物１中の元素と同じ元素を含まない接着剤１０や、分析対象物１中の元素と同じ元素を精度に影響することがない程度の微量しか含まない接着剤１０を用いれば、得られた元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた導電性材９中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正するだけで、分析対象物１中の元素の定量分析が精度よく行える。また、分析対象物１中及び導電性材９中の元素と同じ元素を含む接着剤１０を用いる場合であっても、接着剤１０の添加量に応じ、予め求めて既知とされた接着剤１０中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することで、分析対象物１中の元素の定量分析がやはり精度よく行える。
【００３９】
したがって、本実施形態の発光分光分析方法においては、分析対象物１がプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料である場合であっても、この分析対象物１を導電性材９上に接着剤（固定手段）１０によって固定して載置し、プローブ２を導電性材９に接触させつつ電極３を分析対象物１と所定の間隔をあけて配置した状態で、電極３と導電性材９の間にスパーク放電を生じさせることにより、導電性材９中の元素に加えて、電極３と導電性材９の間に介設した分析対象物（非導電性材料）１中の元素を励起化することが可能になる。これにより、得られた元素の発光スペクトルの強度を、予め求めて既知とされた導電性材９中の元素の発光スペクトルの強度と、必要に応じて接着剤１０中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することで、分析対象物１中の元素を定量分析することが可能になる。
【００４０】
また、このとき、分析対象物１がプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料であっても、接着剤１０によって導電性材９上に固定して載置されているため、スパーク放電によって分析対象物１が飛散することが防止され、精度よく分析対象物１中の元素を定量分析することが可能になる。
【００４１】
よって、プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料中に含まれる例えばＣｒ、Ｐｂ、Ｃｄ、Ｈｇ、Ａｓ、Ｚｎなどの有害物（元素）を、スパーク放電発光分光分析法を適用して定量分析することが可能になる。そして、製品中の有害物に関する規制に従って製造管理するにあたり、スパーク放電発光分光分析法による分析装置８を用いて製造現場での迅速なスクリーニング分析を行うことができ、製品の品質の維持、向上を図ることが可能になる。
【００４２】
以上、本発明に係る発光分光分析方法の第１実施形態について説明したが、本発明は上記の第１実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。例えば、本実施形態では、分析対象物１を導電性材９上に固定するための固定手段が接着剤１０であるものとして説明を行ったが、例えば図４に示すように、固定手段が、導電性材９の上面９ａからこの導電性材９を上方に突出形成してなる固定針１１であってもよい。そして、この場合には、予め導電性材９に形成された固定針１１に突き刺して分析対象物１を固定することが可能になる。また、接着剤１０中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正する必要がなく、接着剤１０を固定手段として用いる場合よりも簡便に且つ高精度で分析対象物１中の元素の定量分析を行うことが可能になる。
なお、固定針１１を複数設け、複数の固定針１１を突き刺して分析対象物１を固定するようにしてもよい。また、固定針１１は、ネジ状に形成したり、複数に分岐して形成するなどして分析対象物１をより強固に固定できるようにしてもよく、図４に示す形状に限定する必要はない。
【００４３】
また、本実施形態では、分析対象物１を載置する導電性材９が鉄鋼材であるように説明を行ったが、本発明に係る導電性材は鉄鋼材に限定する必要はなく、例えば図５に示すように、導電性材を導電性有機プレート（導電性有機材）１２とし、この導電性有機プレート上に分析対象物１を固定して載置するようにしてもよい。そして、この場合には、導電性材として鉄鋼材などを用いる場合と比較し、得られた元素の発光スペクトルの強度に対する導電性材中の元素の発光スペクトルの強度の割合（補正量）を小さくすることができる（あるいは補正を不要にすることができる）。すなわち、導電性有機プレート１２を用いることにより、鉄鋼材や金属粉による分光干渉などの影響を最小限に抑えることが可能になる。これにより、より迅速且つ高精度に分析対象物１中の元素を定量分析することが可能になる。
【００４４】
次に、図６及び図７（図８）を参照し、本発明の第２実施形態に係る発光分光分析方法について説明する。本実施形態は、第１実施形態と同様、プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料（導電性が低い材料）である分析対象物１中の元素を定量分析するためのスパーク放電発光分光分析方法に関するものである。よって、第１実施形態と同様の構成に対し同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。
【００４５】
本実施形態の発光分光分析方法においては、図６に示すように、はじめに、分析対象物１であるプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料を１ｍｍ以下のチップ状あるいは粉末状に粉砕する。そして、この粉砕した分析対象物１を予め定めた所定の混合比率で、例えばＮｉ（ニッケル）、Ｆｅ（鉄）などの粉状の導電性材１３と混合する。また、本実施形態では、分析対象物１と導電性材１３を混合した混合物に接着剤（バインダー）１４を添加する。そして、圧縮成型してペレット状の分析試料１５を形成する。なお、接着剤１４として、導電性フィラー（導電性材１３）を添加した導電性接着剤を用い、粉砕した分析対象物１にこの導電性接着剤１４を直接添加して混合し、圧縮成型してペレット状の分析試料１５を形成するようにしてもよい。
【００４６】
そして、図７に示すように、所定位置に配置した分析試料１５の上面１５ａにプローブ２の先端を当接（接触）させてプローブ２を所定位置に配置するとともに、電極３をその先端と分析試料１５との上下方向の間に所定の間隔をあけて配置する。これにより、プローブ２で分析試料１５を押さえることができ、第１実施形態のように鉄鋼材などの導電性材９上に分析対象物１を固定手段１０で固定することが不要になる。
【００４７】
次に、電極３とプローブ２（ひいては分析試料１５）の間に高電圧を印加し、電極３と分析試料１５の間にスパーク放電を生じさせる。また、スパーク放電を生じさせると、電極３−分析試料１５（導電性材１３）−プローブ２間で電流が流れ、放電が発生する。この放電により、導電性材１３中の元素（金属元素）と、接着剤１４中の元素（金属元素）と、分析対象物１中の元素（金属元素）が励起発光する。
【００４８】
また、このとき、本実施形態では、プローブ２によって分析試料１５が押さえられているため、スパーク放電によって分析試料１５（分析対象物１）が飛散することが防止され、好適に分析対象物１中の元素が励起発光することになる。さらに、本実施形態では、接着剤１４を用いて強固な分析試料１５を形成することが可能であるため、スパーク放電によって分析試料１５が粉砕するようなこともない。
【００４９】
このようにして分析試料１５の導電性材１３、接着剤１４、分析対象物１中の元素が励起発光して得られた元素の発光スペクトル（発光スペクトル線）は、第１実施形態と同様に（図８に示すように）、分光器６の回折格子で各元素（金属元素）の固有スペクトル線毎に分光され、検出器７で各元素の発光スペクトルの強度が検出される。
【００５０】
そして、得られた元素の発光スペクトル強度を、分析対象物１との混合比率に応じ、予め求めて既知とされた導電性材１３中の元素の発光スペクトルの強度、接着剤１４中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することにより、分析対象物１中の元素の定量分析が行える。
【００５１】
なお、分析対象物１中の元素と同じ元素を含まない接着剤１４や、分析対象物１中及び導電性材１３中の元素と同じ元素を精度に影響することがない程度の微量しか含まない接着剤１４を用いれば、得られた元素の発光スペクトルの強度を、既知とされた導電性材１３中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正するだけで、精度よく分析対象物１中の元素の定量分析が行える。また、分析対象物１中及び導電性材１３中の元素と同じ元素を含む接着剤１４を用いる場合であっても、接着剤１４の添加量に応じ、予め求めて既知とされた接着剤１４中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することで、分析対象物１中の元素の定量分析が精度よく行える。
【００５２】
したがって、本実施形態の発光分光分析方法においては、分析対象物１がプラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料である場合であっても、粉砕した分析対象物１と所定の混合比率で粉状の導電性材１３を混合して圧縮成型したペレット状の分析試料１５を用いることにより、分析対象物１中の元素を定量分析することが可能になる。すなわち、電極３とペレット状の分析試料１５の間にスパーク放電を生じさせ、得られた元素の発光スペクトルの強度を、分析対象物１との混合比率に応じ、予め求めて既知とされた導電性材１３中の元素の発光スペクトルの強度に基づいて補正することにより、分析対象物１中の元素を定量分析することが可能になる。
【００５３】
また、このとき、プローブ２を分析試料１５に当接して（プローブ２で分析試料１５を押さえて）スパーク放電を生じさせることにより、鉄鋼材などの導電性材９上に分析試料１５（分析対象物１）を固定して載置することなく、分析試料１５を固定することができる。そして、このようにプローブ２で分析試料１５を押さえて固定し、スパーク放電を生じさせることにより、スパーク放電によって分析試料１５が飛散することを防止でき、迅速且つ高精度で分析対象物１中の元素を定量分析することが可能になる。
【００５４】
さらに、接着剤１４を用いてペレット状の分析試料１５を形成することで、スパーク放電によって粉砕することのない強固な分析試料１５を形成することができ、精度よく分析対象物１中の元素を定量分析することが可能になる。
【００５５】
また、分析試料１５が分析対象物１とともに導電性材１３を含んで形成されるため、分析試料１５自体に導電性を付与することができる。このため、第１実施形態のように電極３と鉄鋼材などの導電性材９の間にスパーク放電を生じさせ、これとともに電極３と分析対象物１の間にスパーク放電を生じさせる場合と比較し、より確実にスパーク放電によって分析対象物１中の元素を励起化することが可能になる。さらに、ＮｉやＦｅなどの単一成分の導電性材１３を用いて分析試料１５を形成することにより、第１実施形態のように鉄鋼材などの導電性材９を用いる場合と比較し、得られた元素の発光スペクトルの強度の補正が簡単になる。これにより、より迅速且つ高精度で分析対象物１中の元素を定量分析することが可能になる。
【００５６】
よって、プラスチック、樹脂、セラミックスなどの非導電性材料中に含まれる例えばＣｒ、Ｐｂ、Ｃｄ、Ｈｇ、Ａｓ、Ｚｎなどの有害物（元素）を、スパーク放電発光分光分析法を適用して定量分析することが可能になる。そして、製品中の有害物に関する規制に従って製造管理するにあたり、スパーク放電発光分光分析法による分析装置８を用いて製造現場での迅速なスクリーニング分析を行うことができ、製品の品質の維持、向上を図ることが可能になる。
【００５７】
以上、本発明に係る発光分光分析方法の第２実施形態について説明したが、本発明は上記の第２実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
【符号の説明】
【００５８】
１      分析対象物
２      プローブ
３      電極
４      集光レンズ
５      光ファイバ
６      分光器
７      検出器
８      分析装置
９      導電性材
９ａ    上面
１０    接着剤（固定手段）
１１    固定針（固定手段）
１２    導電性有機プレート（導電性有機材、導電性材）
１３    導電性材
１４    接着剤
１５    分析試料
１５ａ  上面
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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