(57)【要約】【課題】本発明は、広帯域で動作する直流アンプを使用しないレーザパワー制御装置およびレーザパワー制御方法を提供することにある。更に、本発明は、光ディスク記録装置の製造コストを抑えることにある。【解決手段】レーザパワー制御装置（１）は、光ディスク（Ｄ）に照射すべきレーザ光の記録パワーを制御する際に、異なるレベルの記録パワーを交互に変化させる制御部（２）と、前記制御部によってレベルが交互に制御された記録パワーで前記光ディスクに記録されたデータを再生する再生部（４）と、前記再生部の再生信号を用いて、最適な記録パワーを算出する算出部（７）と、を有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに照射すべきレーザ光の記録パワーを制御する際に、異なるレベルの記録パワーを交互に変化させる制御部と、
前記制御部によってレベルが交互に制御された記録パワーで前記光ディスクに記録されたデータを再生する再生部と、
前記再生部の再生信号を用いて、最適な記録パワーを算出する算出部と、
を有するレーザパワー制御装置。
【請求項２】
前記制御部は、
複数のレベルを持つ記録パワーを、そのレベルの高低に応じて高レベル領域と低レベル領域とに二分し、前記高レベル領域に属する記録パワーと前記低レベル領域に属する記録パワーとを交互に変化させる
請求項１記載のレーザパワー制御装置。
【請求項３】
前記再生部は、
前記再生信号の平均再生信号レベルを取得する第１取得部と、
前記再生信号の再生信号振幅を取得する第２取得部と、
を有し、
前記算出部は、
前記第２取得部の第２ゲインに対する前記第１取得部の第１ゲインの比で表わされるゲイン比に前記再生信号振幅を乗じた乗算値と前記平均再生信号レベルとの加算値で表わされる前記光ディスクの未記録部分の反射率を算出し、当該算出した反射率を用いて、前記最適な記録パワーを算出し、
前記反射率の算出の際には、前記ゲイン比のとり得る範囲内で推定した推定ゲイン比を用いて前記反射率を算出する
請求項２記載のレーザパワー制御装置。
【請求項４】
前記算出部は、
前記推定ゲイン比を取得する際に、前記ゲイン比を複数設定し、当該設定した設定ゲイン比ごとの反射率を仮算出し、前記高レベル領域に属する記録パワーに対応する仮算出した各反射率の第１平均値と前記低レベル領域に属する記録パワーに対応する仮算出した各反射率の第２平均値との前記設定ゲイン比ごとの差分の絶対値が、最も小さくなる場合のゲイン比を前記推定ゲイン比とする
請求項３記載のレーザパワー制御装置。
【請求項５】
前記算出部は、
前記推定ゲイン比を取得する際に、前記ゲイン比を複数設定し、当該設定した設定ゲイン比ごとの反射率を仮算出し、前記高レベル領域に属する記録パワーに対応する仮算出した各反射率の第１平均値と前記低レベル領域に属する記録パワーに対応する仮算出した各反射率の第２平均値との前記設定ゲイン比ごとの差分と、前記設定した各ゲイン比とで表わされる１次関数を取得し、当該取得した１次関数を用いて、前記差分が０となる場合のゲイン比を前記推定ゲイン比とする
請求項３記載のレーザパワー制御装置。
【請求項６】
前記算出部は、
前記ゲイン比と前記再生信号振幅値と前記平均再生信号レベルとによって前記反射率の変化の比率を示す変調度を、前記推定ゲイン比を用いて算出し、当該算出した変調度から前記最適な記録パワーを算出する
請求項４または５記載のレーザパワー制御装置。
【請求項７】
光ディスクに照射すべきレーザ光の記録パワーを制御する際に、異なるレベルの記録パワーを交互に変化させる第１ステップと、
前記第１ステップでレベルを交互に制御した記録パワーで前記光ディスクに記録されたデータを再生する第２ステップと、
前記第２ステップでの再生信号を用いて、最適な記録パワーを算出する第３ステップと、
を有するレーザパワー制御方法。
【請求項８】
光ディスクに照射すべきレーザ光の記録パワーを制御して、最適な記録パワーを取得するレーザパワー制御装置と、
前記レーザパワー制御装置が取得した前記最適な記録パワーで前記光ディスクにデータを記録する記録系と、
を有し、
前記レーザパワー制御装置は、
前記光ディスクに照射すべきレーザ光の記録パワーを制御する際に、異なるレベルの記録パワーを交互に変化させる制御部と、
前記制御部によってレベルが交互に制御された記録パワーで前記光ディスクに記録されたデータを再生する再生部と、
前記再生部の再生信号を用いて、前記最適な記録パワーを算出する算出部と、
を有する光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、書き換え可能な光ディスクに照射すべきレーザのパワーを制御するレーザパワー制御装置に関する。本発明は、書き換え可能な光ディスクに照射すべきレーザのパワーを制御するレーザパワー制御方法に関する。更に、本発明は、レーザパワー制御装置を搭載した光ディスク記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ−ＲＷやＢＤ−ＲＥに代表される書き換え可能な光ディスクは、いわゆる「試し書き領域」と呼ばれるＰＣＡ（Power Calibration Area：パワーキャリブレーション領域）を有する。
なお、ＤＶＤ−ＲＷは、「Digital Versatile Disk - ReWritable」の略称である。ＢＤ−ＲＥは、「Blu-ray Disc（登録商標）- REwritable」の略称である。以下、「ＰＣＡ」を、一般的に用いられている呼称を用いて「試し書き領域」と言う。
【０００３】
上記の光ディスクに対応した光ディスク記録装置は、光ディスクにデータを記録する前に、実際にデータを記録する際の最適な記録パワーを取得する機能を有する。この機能をＯＰＣ（Optimum Power Control：最適パワーコントロール）と言う。
【０００４】
以下、特に断りがない限り、ＯＰＣを前提とした説明を行う。そのため、「光ディスク」とは、書き換え可能な光ディスクを指す。「記録パワー」とは、光ディスクにデータを記録する（書き込む）際に用いるレーザ光のパワーを指す。
光ディスクの試し書き領域にデータを記録することを、単に「記録」あるいは「試し書き」とも言う。光ディスクの試し書き領域のデータを読み出すことを、単に「再生」あるいは「読み出し」とも言う。
【０００５】
ＯＰＣを実行するレーザパワー制御装置は、記録パワーを段階的に増加させながらレーザ光を試し書き領域に照射させ、記録を行う。次に、レーザパワー制御装置は、その試し書き領域に記録されたデータを読み出して取得したＲＦ信号（再生信号）の変調度を測定し、記録パワーと変調度との関係から、最適な記録パワーを取得する。
【０００６】
ここで、ＲＦ信号の変調度を、図１９（Ａ）、（Ｂ）に関連づけて説明する。図１９（Ａ）は、光ディスクの反射率Ｒの変化を例示する図である。横軸は、試し書き領域のデータの再生時間Ｔを示し、縦軸は光ディスクの反射率Ｒを示す。ただし、同図には、ある一定の記録パワーで記録を行った際の光ディスクの反射率が例示されている。
【０００７】
図１９（Ｂ）は、試し書き領域のトラックＴＲＫの構成例を示す図である。トラックＴＲＫは、記録マークＭＫと、データの未記録部分Ｎとで構成されている。記録マークＭＫは、レーザ光が照射された部分であり、たとえば、デジタル値の「１」に対応する。未記録部分Ｎは、レーザ光が照射されていない部分であり、たとえば、デジタル値の「０」に対応する。
【０００８】
図１９（Ａ）、（Ｂ）に図示するように、記録マークＭＫの反射率ＲＢは、未記録部分Ｎの反射率ＲＡよりも低い。光ディスク記録装置は、この反射率Ｒの変化をＲＦ信号として読み取る。図１９（Ａ）の実線で示す反射率Ｒの振幅が、ＲＦ信号の振幅Ｖａｍｐに対応する。反射率Ｒが大きければ、振幅Ｖａｍｐも大きい。反射率ＲＡおよび反射率ＲＢを用いれば、ＲＦ信号の変調度ｍＲＦは、（１）式で定義される。
【０００９】
（数１）
ｍＲＦ＝（ＲＡ−ＲＢ）／ＲＡ×１００（％）                            …（１）
【００１０】
（１）式に示すように、変調度ｍＲＦは、反射率の変化量を表わす。変調度ｍＲＦは、図１９（Ａ）に図示するように、反射率ＲＡと反射率ＲＢとの差分に相当する。
【００１１】
一般的なレーザパワー制御装置は、変調度ｍＲＦの取得の際に、非常に広い周波数帯域（「広帯域」という）で動作する直流増幅器（「直流アンプ」という）を用いて、ＲＦ信号を増幅し、そのピーク（最大）とボトム（最小）とを保持（ピークホールド／ボトムホールド）する。そして、その装置は、ピークを未記録部分Ｎの反射率ＲＡに比例する信号として検出し、ボトムを記録マークＭＫの反射率ＲＢに比例する信号として検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００９−１５９８９号公報
【特許文献２】国際公開２００５／０２９４７９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
上述の検出方法では、広帯域で動作する直流アンプが必要である。この直流アンプは、回路の構成上、コストが掛るため、レーザパワー制御装置、延いては、光ディスク記録装置の製造コストも高くなるという、不利益があった。
【００１４】
そのため、広帯域で動作する直流アンプを使用しないレーザパワー制御装置およびレーザパワー制御が求められている。更に、光ディスク記録装置の製造コストをできるだけ抑えることが求められている。
【００１５】
本発明は、広帯域で動作する直流アンプを使用しないレーザパワー制御装置およびレーザパワー制御を提供することにある。更に、光ディスク記録装置の製造コストを抑えることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
本発明のレーザパワー制御装置は、光ディスクに照射すべきレーザ光の記録パワーを制御する際に、異なるレベルの記録パワーを交互に変化させる制御部と、前記制御部によってレベルが交互に制御された記録パワーで前記光ディスクに記録されたデータを再生する再生部と、前記再生部の再生信号を用いて、最適な記録パワーを算出する算出部と、を有する。
【００１７】
本発明のレーザパワー制御方法は、光ディスクに照射すべきレーザ光の記録パワーを制御する際に、異なるレベルの記録パワーを交互に変化させる第１ステップと、前記第１ステップでレベルを交互に制御した記録パワーで前記光ディスクに記録されたデータを再生する第２ステップと、前記第２ステップでの再生信号を用いて、最適な記録パワーを算出する第３ステップと、を有する。
【００１８】
本発明の光ディスク記録装置は、光ディスクに照射すべきレーザ光の記録パワーを制御して、最適な記録パワーを取得するレーザパワー制御装置と、前記レーザパワー制御装置が取得した前記最適な記録パワーで前記光ディスクにデータを記録する記録系と、を有し、前記レーザパワー制御装置は、前記光ディスクに照射すべきレーザ光の記録パワーを制御する際に、異なるレベルの記録パワーを交互に変化させる制御部と、前記制御部によってレベルが交互に制御された記録パワーで前記光ディスクに記録されたデータを再生する再生部と、前記再生部の再生信号を用いて、前記最適な記録パワーを算出する算出部と、を有する。
【００１９】
本発明のレーザパワー制御装置によれば、制御部が、異なるレベルの記録パワーを交互に変化させて、レーザ光を光ディスクに照射する。再生部は、光ディスクに記録されたデータを再生すると、算出部は、再生部の再生信号を用いて、最適な記録パワーを算出する。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、広帯域の直流アンプを使用しないレーザパワー制御装置およびレーザパワー制御を提供することができる。更に、光ディスク記録装置の製造コストを抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】図１は、本発明の第１実施形態に係るＯＰＣ装置１の構成例を示すブロック図である。
【図２】図２は、光ディスクＤの記録領域を示す概略図である。
【図３】図３は、試し書き領域Ｄ１のトラックＴＲＫの模式図である。
【図４】図４は、本発明の第１実施形態に係る記録処理における記録パワーＰｗの変化例を示す図である。
【図５】図５は、本発明の第１実施形態に係る記録処理を説明するための図である。
【図６】図６（Ａ）〜（Ｃ）は、本発明の第１実施形態に係る取得処理結果を例示する図である。
【図７】図７は、記録処理の実行前に、光ディスクＤにおける未記録部分の反射率ＲＡを測定した例を示す図である。
【図８】図８は、本発明の第１実施形態に係る演算処理によって得られた未記録部分の反射率ＲＡを示す図である。
【図９】図９は、本発明の第１実施形態に係る演算処理のゲインＲｇの推定を説明するための図である。
【図１０】図１０は、本発明の第１実施形態に係る記録パワーと未記録部分との対応関係を示す図である。
【図１１】図１１は、本発明の第１実施形態に係る演算処理における差分の絶対値｜ｘ｜を例示する図である。
【図１２】図１２は、本発明の第１実施形態に係る演算処理によって得られた、記録パワーＰ（ｌ）と変調度ｍＲＦとの関係を例示する図である。
【図１３】図１３は、本発明の第１実施形態に係るＯＰＣ装置１の動作例を示すフローチャートである。
【図１４】図１４は、記録パワーＰｗを段階的に単調に増加させて記録を行った場合の演算処理によって得られた未記録部分の反射率ＲＡを示す図である。
【図１５】図１５（Ａ）〜（Ｃ）は、記録パワーＰｗを段階的に単調に増加させて記録を行った場合の取得処理結果を例示する図である。
【図１６】図１６は、本発明の第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置１０の構成例を示すブロック図である。
【図１７】図１７は、本発明の変形例に係る演算処理におけるゲイン比Ｒｇの算出方法を説明するための図である。
【図１８】図１８は、本発明の他の変形例に係る記録処理における記録パワーＰｗの変化例を示す図である。
【図１９】図１９は、変調度ｍＲＦを説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明の実施形態を図面に関連付けて説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．第１実施形態（ＯＰＣ装置）
２．第２実施形態（光ディスク記録再生装置）
３．変形例（ＯＰＣ装置）
【００２３】
＜１．第１実施形態（ＯＰＣ装置）＞
［１．１．ＯＰＣ装置の構成例］
ＯＰＣ装置の構成例を図１に関連づけて説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係るＯＰＣ装置１の構成例を示すブロック図である。
図１に図示するＯＰＣ装置１は、駆動制御部（ＣＴＲＬ）２、光ピックアップ（ＰＩＣＵＰ）３、再生処理部（ＰＬＡＹ）４、ＡＤＣ（Analog to Digital Converter）５ａ、ＡＤＣ５ｂ、メモリ６および演算処理部（ＰＲＯ）７を有する。
【００２４】
ここで、本発明の構成要素と第１実施形態の構成要素との対応関係について説明する。
本発明のレーザパワー制御装置は、ＯＰＣ装置１に対応する。
本発明の再生部は、再生処理部４に対応する。
本発明の算出部は、演算処理部７に対応する。
本発明の第１取得部は、平均値取得部４１に対応する。
本発明の第２取得部は、振幅取得部４２に対応する。
【００２５】
ＯＰＣ装置１は、光ピックアップ３を制御し、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc - Recordable）、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ（Recordable）、ＢＤ−ＲＥなど、書き換え可能な種々の光ディスクＤに対してＯＰＣを実行する。
以下の説明では、光ディスクＤの一例にＢＤ−ＲＥを挙げ、ＯＰＣ装置１がＢＤ−ＲＥに対してＯＰＣを実行するものとする。
【００２６】
ここで、光ディスクＤについて説明する。図２は、光ディスクＤの記録領域を示す概略図である。
図２に図示するように、光ディスクＤには、その内周側から外周側へ向かって、ＰＩＣ（Permanent Information and Control data）領域Ｄ２、試し書き領域（ＰＣＡ）Ｄ１、およびデータ（ＤＡＴＡ）領域Ｄ３が設けられている。ただし、ＢＣＡ （Burst Cutting Area）領域、情報領域の図示は省略している。
【００２７】
試し書き領域Ｄ１は、光ディスクＤの半径方向に対して、ＰＩＣ領域Ｄ２とデータ領域Ｄ３との間に設けられている。ＰＩＣ領域Ｄ２には、最適な記録パワーを求めるための係数などが予め記録されている。試し書き領域Ｄ１およびＰＩＣ領域Ｄ２は、リードイン（Lead-In）領域と呼ばれる。データ領域Ｄ３は、ＯＰＣの実行後に最適な記録パワーで、ユーザーデータを記録するための領域である。
【００２８】
記録の際に、光ディスクＤの記録面（記録膜）にレーザ光が照射されると、レーザ光の照射部分は、結晶相からアモルファス相に相変化し、反射率が変化する。そのため、図１９（Ａ）に図示するように、レーザ光が照射された記録マークＭＫの反射率ＲＢは、レーザ光が照射されていない未記録部分Ｎの反射率ＲＡよりも低下する。
【００２９】
上述の記録領域を有する光ディスクＤは、駆動制御部２の制御により、トラッキングやフォーカスが制御されながら、線速度一定（ＣＬＶ：Constant Linear Velocity）または角速度一定（ＣＡＶ：Constant Angular Velocity）で回転する。
【００３０】
図３は、試し書き領域Ｄ１のトラックＴＲＫの模式図である。トラックＴＲＫは、外周側から内周側へと、たとえば、時計回りに、渦巻き状に設けられている。ＢＤ（Blu-ray Disc）では、データは１ＥＣＣブロック単位で処理され、データの記録は、セクタ（２０４８バイト）単位で行われる。なお、１ＥＣＣは、１６セクタで構成されている。図３には、１ＥＣＣブロック分の１６個のセクタｓｅｃ（ｋ）のみが例示されている。
変数ｋは、セクタ番号を示しており、たとえば、時計回りに、ｋ＝０，１，…，１５をとる。セクタには、レーザ光が照射させるため、本実施形態では、「セクタ」を、レーザ光を照射するための「区間」とも言う。
【００３１】
実際には、トラックＴＲＫは、ウォルブ（wobble）変調により、蛇行している。これにより、トラックＴＲＫ上の位置（アドレス）を識別することができる。ウォルブ変調は、ＭＳＫ（Minimum Shift Keying）変調とＳＴＷ（Saw Tooth Wobble）変調とを組み合わせたものである。
【００３２】
［１．２．記録処理の概要］
ＯＰＣ装置１は、記録処理、取得処理および演算処理を行う。先ず、記録処理の概要を図４および図５に関連づけて説明する。
図４は、本発明の第１実施形態に係る記録処理における記録パワーＰｗの変化例を示す図である。図５は、本発明の第１実施形態に係る記録処理を説明するための図である。各図において、横軸は区間（ｋ）示し、縦軸は記録パワーＰｗのレベルを示す。参考のため、図４の横軸には、後述の記録パワーＰ（ｌ）も記載されている。
【００３３】
ＯＰＣ装置１は、記録処理の際に、光ピックアップ３を制御し、記録パワーＰｗを変化させながら、光ディスクＤの試し書き領域Ｄ１にレーザ光を照射させる。その際に、ＯＰＣ装置１は、記録パワーＰｗを連続的に増加させるのではなく、図４に図示するように、異なるレベルの記録パワーＰｗを交互に変化させながら記録を行う。
【００３４】
詳細には、ＯＰＣ装置１は、図３に図示するトラックＴＲＫの区間ｓｅｃ（０）〜（１５）に対して、記録パワーＰｗを１６通りに変化させる。
本実施形態では、図５に図示するように、変化させるべき記録パワーＰｗをそのレベルの昇順に並べたとき、記録パワーＰｗをレベルの低い方から順に、「記録パワーＰ（０）、Ｐ（１）、…、Ｐ（１５）」と表記する。適宜、昇順に並べられた記録パワーＰｗの内、任意の記録パワーＰｗをＰ（ｌ）とも表記する。変数ｌは、ｌ＝０，１，…，１５をとり、その最大値は、セクタ（区間）の数と同じである。
記録パワーＰ（０）〜Ｐ（１５）は、各々異なるレベルをとり、図４に図示するように、たとえば、レベル０〜２０の範囲の値をとる。
【００３５】
本実施形態では、図５に図示するように、昇順に並べられた記録パワーＰ（０）〜Ｐ（１５）が、そのレベルの高低に応じて２つのレベル領域に分割される。低い方の記録パワーＰ（０）〜Ｐ（７）が属する領域を「低レベル領域ＬＰＷ」と言い、高い方の記録パワーＰ（８）〜Ｐ（１５）が属する領域を「高レベル領域ＨＰＷ」と言う。
【００３６】
ＯＰＣ装置１は、記録パワーＰｗを変化させる際に、区間ｓｅｃ（０）〜（１５）に対して、低レベル領域ＬＰＷに属する記録パワーＰ（０）〜Ｐ（７）と、高レベル領域ＨＰＷに属する記録パワーＰ（８）〜Ｐ（１５）とを交互に変化させる。具体的には、ＯＰＣ装置１は、図４に図示するように、記録パワーＰ（０）〜Ｐ（１５）を、下記の順序（Ａ）に従って変化させる。
【００３７】
Ｐ（０）→Ｐ（８）→Ｐ（１）→Ｐ（９）→Ｐ（２）→Ｐ（１０）→Ｐ（３）→Ｐ（１１）→Ｐ（４）→Ｐ（１２）→Ｐ（５）→Ｐ（１３）→Ｐ（６）→Ｐ（１４）→Ｐ（７）→Ｐ（１５）
…（Ａ）
【００３８】
その結果、区間ｓｅｃ（０）には、低レベル領域ＬＰＷの記録パワーＰ（０）を持つレーザ光が照射される。区間ｓｅｃ（１）には、高レベル領域ＨＰＷの記録パワーＰ（８）を持つレーザ光が照射される。他の区間ｓｅｃ（２）〜（１５）も同様に、低レベル領域ＬＰＷのレーザ光と、高レベル領域ＨＰＷのレーザ光とが交互に照射される。
このように、ＯＰＣ装置１は、隣り合う区間の記録パワー同士の差ができるだけ大きくなるように、記録パワーＰｗを変化させる。
【００３９】
以上の説明では、ｋ＝１６の区間に対して記録パワーを変化させる場合を例示したが、ｋ＝ｎの区間に対して記録パワーを変化させる場合は、変数ｎに応じて、記録パワーを下記の順序（Ｂ）または順序（Ｃ）に従って変化させることができる。ただし、変数ｎは、レーザ光を照射すべき区間（セクタ）の最大数を示し、３以上の正の整数をとる。
【００４０】
（ｎが奇数の場合；ただし、ｍ＝（ｎ−１）／２）
Ｐ（０）→Ｐ（ｍ＋１）→Ｐ（１）→Ｐ（ｍ＋２）→Ｐ（２）→Ｐ（ｍ＋３）→Ｐ（３）→，…，→Ｐ（ｍ＋（ｍ−１））→Ｐ（ｍ−１）→Ｐ（ｍ＋ｍ）→Ｐ（ｍ）→Ｐ（ｍ＋（ｍ＋１））
…（Ｂ）
【００４１】
（ｎが偶数の場合；ただし、ｍ＝ｎ／２）
Ｐ（０）→Ｐ（ｍ＋１）→Ｐ（１）→Ｐ（ｍ＋２）→Ｐ（２）→Ｐ（ｍ＋３）→Ｐ（３）→，…，→Ｐ（ｍ＋（ｍ−１））→Ｐ（ｍ−１）→Ｐ（ｍ＋ｍ）→Ｐ（ｍ）
…（Ｃ）
【００４２】
［１．３．取得処理／演算処理の概要］
次に、取得処理および演算処理の概要について説明する。最適な記録パワーを求めるためには、（１）式に示す変調度ｍＲＦを算出する必要がある。そのためには、未記録部分の反射率ＲＡと、記録マークの反射率ＲＢとを求める必要がある。両者は、下記の（２）式および（３）式を用いて、各々算出することができる。
【００４３】
（数２）
ＲＡ（ｋ）∝Ｖａｖｒ（ｋ）／Ｇａｖｒ＋Ｖａｍｐ（ｋ）／（Ｇａｍｐ×２）…（２）
【００４４】
（数３）
ＲＢ（ｋ）∝Ｖａｖｒ（ｋ）／Ｇａｖｒ−Ｖａｍｐ（ｋ）／（Ｇａｍｐ×２）…（３）
【００４５】
（２）式および（３）式において、反射率ＲＡ（ｋ）、ＲＢ（ｋ）は、区間ｓｅｃ（ｋ）における反射率である。
変数Ｖａｖｒ（ｋ）は、記録処理後の試し書き領域Ｄ１を再生して得られた、区間ｓｅｃ（ｋ）の記録パワーＰ（ｌ）に対するＲＦ信号の平均値を示す。ここで言う、「ＲＦ信号の平均値」とは、たとえば、ＲＦ信号の実効値を指す。図１９には、平均値Ｖａｖｒ（ｋ）の一例が図示されている。
変数Ｖａｍｐ（ｋ）は、上記ＲＦ信号の振幅を示す。ここで言う、「ＲＦ信号の振幅」は、区間ｓｅｃ（ｋ）におけるＲＦ信号の振幅の平均値を指す。
【００４６】
変数Ｇａｖｒは、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）を取得する際に用いたゲイン（平均値取得部４１のゲイン）を示し、全区間ｓｅｃ（０）〜（１５）で共通の値をとる。
変数Ｇａｍｐは、ＲＦ信号の振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を取得する際に用いたゲイン（振幅取得部４２のゲイン）を示し、全区間ｓｅｃ（０）〜（１５）で共通の値をとる。
【００４７】
上記（２）式および（３）式を用いると、区間ｓｅｃ（ｋ）における変調度ｍＲＦ（ｋ）は、（４）式で表される。
【００４８】
【数４】
2011154770.tif 000003
【００４９】
（４）式に示す変数Ｒｇを「ゲイン比」と言う。これは、平均値取得部４１のゲインＧａｍｐ（ｋ）に対する振幅取得部４２のゲインＧａｖｒ（ｋ）の比であり、（５）式で定義される。なお、ゲイン比Ｒｇは、全区間ｓｅｃ（０）〜（１５）で共通の値をとる。
【００５０】
（数５）
Ｒｇ＝Ｇａｖｒ／Ｇａｍｐ                                            …（５）
【００５１】
（４）式に示すように、変調度ｍＲＦ（ｋ）を算出するためには、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）の他、（５）式に示すゲイン比Ｒｇが必要である。しかしながら、実際に、ＯＰＣ装置１が取得可能な物理量（変数）は、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）のみである。なお、記録マークＭＫの反射率ＲＢ自体は、直接求める必要がない。
したがって、正確なゲイン比Ｒｇを得ることができなければ、変調度ｍＲＦ（ｋ）を算出することができない。正確なゲイン比Ｒｇ（ｋ）を得ようとすれば、それを取得するための専用の回路が別途必要となる。これは、ＯＰＣ装置１、延いては、ＯＰＣ装置１を搭載した光ディスク記録再生装置のコストの増加を招く要因となる。
【００５２】
仮に、光ディスクＤの記録層が完全に均一に形成されていれば、未記録部分の反射率ＲＡ（ｋ）は、記録パワーＰｗの高低に依らず一定である。最適な記録パワーを取得する際には、反射率の絶対的な変化で表される変調度ではなく、反射率の相対的な変化で表される変調度ｍＲＦ（ｋ）が用いられる。
そのため、上記の記録層が完全に均一であれば、変調度ｍＲＦ（ｋ）を用いずとも、ＲＦ信号の振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を用いるだけで、最適な記録パワーを取得することができる。しかしながら、記録層が完全に均一な理想的な光ディスクを製造することは極めて困難であり、この方法は実用的ではない。
【００５３】
そこで、ＯＰＣ装置１は、ゲイン比Ｒｇを、ゲインＧａｖｒおよびゲインＧａｍｐを用いて直接算出する代わりに、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を用いて、最も確かであると考えられるゲイン比Ｒｇを推定する。
【００５４】
具体的には、ＯＰＣ装置１は、光ディスクＤの試し書き領域Ｄ１を再生し、光ピックアップ３からＲＦ信号（Ｓ２）を入力すると、区間ｓｅｃ（ｋ）の記録パワーＰ（ｌ）に対するＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を取得する（取得処理）。
【００５５】
図６（Ａ）〜（Ｃ）は、本発明の第１実施形態に係る取得処理結果を例示する図である。図６（Ａ）は、区間ｓｅｃ（ｋ）に対する光ディスクＤの反射率Ｒの変化を例示する図である。図６（Ｂ）は、区間ｓｅｃ（ｋ）に対するＲＦ信号の振幅Ｖａｍｐの変化を例示する図である。図６（Ｃ）は、区間ｓｅｃ（ｋ）に対するＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒの変化を例示する図である。なお、各図には、区間ｓｅｃ（０）〜（３）における反射率Ｒ、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒおよび振幅Ｖａｍｐのみが例示されている。
【００５６】
図６（Ａ）に図示するように、記録パワーＰｗが大きい程、レーザ光が照射された部分の反射率ＲＢは低下する。ＯＰＣ装置１が、異なるレベルの記録パワーＰｗを交互に変化させながら記録を行ったので、区間ｓｅｃ（１）、（３）における反射率ＲＢは、区間ｓｅｃ（０）、（２）のものよりも低下する。
【００５７】
当然ながら、記録パワーＰｗが大きければ、ＲＦ信号の振幅も大きい。したがって、図６（Ｂ）に図示するように、区間ｓｅｃ（１）、（３）におけるＲＦ信号の振幅Ｖａｍｐ（１）、（３）は、区間ｓｅｃ（０）、（２）のものよりも大きい。上述したように、反射率ＲＢが低下するので、図６（Ｃ）に図示するように、区間ｓｅｃ（１）、（３）におけるＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒ（１）、（３）は、区間ｓｅｃ（０）、（２）のものよりも小さい。
【００５８】
取得処理の段階では、ゲイン比Ｒｇが未知であるが、ＯＰＣ装置１を構成する平均値取得部４１および振幅取得部４２の回路設計の段階で、ゲイン比Ｒｇが取り得る、およその範囲は把握可能である。本実施形態では、ゲイン比Ｒｇが、たとえば、０．８から１．２の範囲内にあるものとして説明を行う。
【００５９】
ＯＰＣ装置１は、その範囲内でゲイン比Ｒｇを推定し、そのゲイン比Ｒｇを用いて、記録パワーＰ（ｌ）に対する未記録部分の反射率ＲＡ（の相対値）を算出する。この算出の際に、ＯＰＣ装置１は、下記の（６）式を用いる。
【００６０】
【数６】
2011154770.tif 000004
【００６１】
（６）式は、（２）式に示す未記録部分の反射率ＲＡを、ゲイン比Ｒｇを用いて表したものである。（６）式に示すように、未記録部分の反射率ＲＡは、平均値Ｖａｖｒ（ｋ）と、振幅Ｖａｍｐ（ｋ）にゲイン比Ｒｇの１／２を乗じた乗算値（Ｖａｍｐ（ｋ）×Ｒｇ／２）とを加算した値に比例する。
【００６２】
光ディスクＤの未記録部分の反射率ＲＡは、光ディスクＤの一面で一定であることが望ましいが、上述したとおり、そのような光ディスクの製造が困難であるので、ある程度の未記録部分の反射率ＲＡのムラを避けることはできない。
【００６３】
ただし、このムラは、光ディスクＤの面内で緩やかに変化すると考えられる。図７は、記録処理の実行前に、光ディスクＤにおける未記録部分の反射率ＲＡを測定した例を示す図である。横軸は、区間ｓｅｃ（ｋ）を示す。縦軸は、未記録部分の反射率ＲＡ（％）を示す。
【００６４】
記録処理の実行前に、未記録部分の反射率ＲＡを実際に測定すると、光ディスクＤの製造に伴うムラは、断続的に変化するのではなく、図７に図示するように、緩やかに変化するという結果が得られた。理想的には、反射率ＲＡは、全区間（セクタ）において一定である。なお、この測定は、反射率ＲＡのムラを説明するために行われたのであり、本実施形態では実行されない。
また、先に述べたように、記録パワーＰｗが大きい程、ＲＦ信号の振幅Ｖａｍｐが大きくなり、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒは小さくなる。
【００６５】
したがって、仮にゲイン比Ｒｇを推定し、そのゲイン比Ｒｇが真のゲイン比ＲｇＴと同一、あるいは、それに限りなく近ければ、（６）式を用いて算出された未記録部分の反射率ＲＡを記録順に並べた場合、図７に図示するような、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができる。
逆に、推定したゲイン比Ｒｇと真のゲイン比ＲｇＴとの差が大きければ、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができない。
【００６６】
上記の点を図８に関連づけて説明する。図８は、本発明の第１実施形態に係る演算処理によって得られた未記録部分の反射率ＲＡを示す図である。横軸は、区間ｓｅｃ（ｋ）と、その区間に対応した記録パワーＰ（ｌ）とを示す。縦軸は、未記録部分の反射率ＲＡ（％）を示す。
【００６７】
以下、真のゲイン比ＲｇＴが、ＲｇＴ＝１．０であるとして説明する。ゲイン比ＲｇをＲｇ＝１．０と設定し、区間ｓｅｃ（ｋ）の記録パワーＰ（ｌ）に対する平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を用いて、（６）式の演算を行うと、図８のプロット「▲（黒三角）」で図示される演算結果が得られる。この場合、これらのプロットを繋ぐと、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができる。この反射率ＲＡは、図７に図示する反射率ＲＡと実質的に同一である。
【００６８】
これに対し、ゲイン比ＲｇをＲｇ＝０．８と設定した場合、たとえば、図８の記号「◆（黒菱形）」で図示されるプロットが得られる。この場合、これらのプロットを繋ぐと、ゲイン比Ｒｇ＝１．０の場合のように、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができない。
同様に、ゲイン比ＲｇをＲｇ＝１．２と設定した場合、たとえば、図８の記号「●（黒丸）」で図示されるプロットが得られる。この場合も、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができない。
【００６９】
一方、ゲイン比ＲｇをＲｇ＝０．９と設定した場合、たとえば、図８の記号「■（黒四角）」で図示されるプロットが得られる。この場合、ゲイン比Ｒｇ＝１．０の場合の曲線ほど、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができない。
また、ゲイン比ＲｇをＲｇ＝１．１と設定した場合、たとえば、図８の記号「×（乗算記号）」で図示されるプロットが得られる。この場合も、ゲイン比Ｒｇ＝１．０の場合の曲線ほど、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができない。
【００７０】
図８に図示するように、ゲイン比Ｒｇが真のゲイン比ＲｇＴに近い程、すなわち、両者の差が小さい程、隣り合う区間の反射率ＲＡ（ｋ）の高低差が小さく、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができる。逆に、両者の差が大きい程、隣り合う区間の反射率ＲＡ（ｋ）の高低差が大きく、実質的になめらかな曲線を得ることができない。
【００７１】
ＯＰＣ装置１は、ゲイン比Ｒｇが真のゲイン比ＲｇＴに近い程、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができるという特性を利用して、ゲイン比Ｒｇを次のように推定する。
【００７２】
先ず、ＯＰＣ装置１は、取得処理を行い、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を得る。そして、ＯＰＣ装置１は、ゲイン比Ｒｇを設定範囲内でΔＲｇ＝０．１刻みに変えながら、（６）式を用いて、未記録部分の反射率ＲＡ（ｋ）を算出する。
変数ΔＲｇは、ゲイン比Ｒｇの刻み幅を示し、ΔＲｇ＝０．２、０．４など、好適に設定可能である。上記の設定範囲は、平均値取得部４１および振幅取得部４２の回路設計の段階で得ることができるものであり、本実施形態では、一例として、０．８から１．２の範囲をとる。
【００７３】
図９は、本発明の第１実施形態に係る演算処理のゲインＲｇの推定を説明するための図である。図９（Ａ）〜（Ｃ）に図示するように、取得処理の結果、区間ｓｅｃ（ｋ）ごとに、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を得ることができる。
取得処理の段階では、ゲイン比Ｒｇは未知であるが、ゲイン比Ｒｇを複数設定すれば、設定したゲイン比Ｒｇごとに、図９（Ｄ）に図示するように、区間ｓｅｃ（ｋ）ごとの記録パワーＰ（ｌ）に対する未記録部分の反射率ＲＡ（ｋ）を算出することができる。
【００７４】
次に、ＯＰＣ装置１は、設定したゲイン比Ｒｇごとに、低レベル領域ＬＰＷの記録パワーＰ（０）〜Ｐ（７）に対応する８個の反射率ＲＡの平均値ＲＡＬと、高レベル領域ＨＰＷの記録パワーＰ（８）〜Ｐ（１５）に対応する８個の反射率ＲＡの平均値ＲＡＨとを算出する。
【００７５】
その算出の際に、ＯＰＣ装置１は、下記の（７）式および（８）式を用いる。両式の理解の促進を図るため、図１０には、低レベル領域ＬＰＷの記録パワーＰ（０）〜Ｐ（７）に対応する反射率ＲＡ（ｋ）と、高レベル領域ＨＰＷの記録パワーＰ（８）〜Ｐ（１５）に対応する反射率ＲＡ（ｋ）との関係が図示されている。
【００７６】
（数７）
ＲＡＬ＝｛ＲＡ（０）＋ＲＡ（２）＋ＲＡ（４）＋ＲＡ（６）＋ＲＡ（８）＋ＲＡ（１０）＋ＲＡ（１２）＋ＲＡ（１４）｝／８                                  …（７）
【００７７】
（数８）
ＲＡＨ＝｛ＲＡ（１）＋ＲＡ（３）＋ＲＡ（５）＋ＲＡ（７）＋ＲＡ（９）＋ＲＡ（１１）＋ＲＡ（１３）＋ＲＡ（１５）｝／８                                  …（８）
【００７８】
そして、ＯＰＣ装置１は、変化させたゲイン比Ｒｇごとに、（７）式に示す平均値ＲＡＬと（８）式に示す平均値ＲＡＨとの差分の絶対値｜ｘ｜＝｜ＲＡＬ−ＲＡＨ｜を算出する。
【００７９】
図１１は、本発明の第１実施形態に係る演算処理における差分の絶対値｜ｘ｜を例示する図である。横軸は、ゲイン比Ｒｇを示す。縦軸は、差分の絶対値｜ｘ｜を示す。
差分の絶対値｜ｘ｜は、変化させたゲイン比Ｒｇの数（個数）ｊだけ得ることができる。変数ｊは、２以上の正の整数である。
本実施形態では、０．８から１．２の設定範囲内で、ゲイン比ＲｇをΔＲｇ＝０．１刻みに変化させたので、図１１に図示するように、ｊ＝５個の差分の絶対値｜ｘ１｜、｜ｘ２｜、｜ｘ３｜、｜ｘ４｜、｜ｘ５｜を得ることができる。なお、｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜は、ゲイン比ＲｇをＲｇ＝０．８、０．９、１．０、１．１、１．２に各々設定した場合に得られた値を示す。
【００８０】
ＯＰＣ装置１は、ｊ個の差分の絶対値｜ｘ｜の内、最も小さい値をとる差分の絶対値｜ｘｍｉｎ｜を、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡが得られ、最も確からしいゲイン比Ｒｇと推定する。
【００８１】
本実施形態では、真のゲイン比ＲｇＴが、ＲｇＴ＝１．０であると仮定している。そのため、ゲイン比ＲｇをＲｇ＝１．０に設定した場合、差分の絶対値｜ｘ｜＝｜ＲＡＬ−ＲＡＨ｜が０または限りなく０に近くなり、図８のプロット「▲」で図示する、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができる。
【００８２】
そこで、ＯＰＣ装置１は、ｊ＝５個の差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜の内、最も小さい値をとる差分の絶対値｜ｘｍｉｎ｜＝｜ｘ３｜に対応するゲイン比Ｒｇを、最も確からしいゲイン比Ｒｇ＝１．０と推定する。
【００８３】
以上、ｋ＝１６の区間に対して記録パワーを変化させる場合を例示したが、ｋ＝ｎ（≧３）の区間に対して記録パワーを変化させる場合は、下記の（９）式または（１０）式を用いて、差分の絶対値｜ｘ｜を算出することができる。
【００８４】
【数９】
2011154770.tif 000005
【００８５】
【数１０】
2011154770.tif 000006
【００８６】
ただし、（９）式および（１０）式において、記録パワーＰ（０）〜Ｐ（ｎ）に対応する未記録部分の反射率ＲＡをＲＡ（０）〜ＲＡ（ｋ＝ｎ）と各々定義している。
【００８７】
図１２は、本発明の第１実施形態に係る演算処理によって得られた、記録パワーＰ（ｌ）と変調度ｍＲＦとの関係を例示する図である。横軸は、昇順に並べられた記録パワーＰ（ｌ）を示す。縦軸は、変調度ｍＲＦを示す。
【００８８】
ゲイン比Ｒｇの推定後、ＯＰＣ装置１は、そのゲイン比Ｒｇを用いて、（４）式に示す変調度ｍＲＦ（ｋ）を区間ｓｅｃ（ｋ）ごとに算出する。そして、ＯＰＣ装置１は、図１２に図示する、昇順に並べられた記録パワーＰ（ｌ）と変調度ｍＲＦとの関係からγ値を算出する。γ値は、下記の（１１）式で定義される。
【００８９】
（数１１）
γ＝（ｄｍＲＦ／ｄＰｗ）×（ｍＲＦ／Ｐｗ）                          …（１１）
【００９０】
（１１）式において、（ｄｍＲＦ／ｄＰｗ）は、変調度ｍＲＦを記録パワーＰｗで微分したものである。ＯＰＣ装置１は、係数ρと、γ値を得ることができるときの記録パワーＰｗｔとを乗算し、この乗算結果を最適な記録パワーＰｗｂ（＝ρ×Ｐｗｔ）とする。なお、係数ρは、光ディスクＤのＰＩＣ領域Ｄ２に予め記録されており、光ディスクＤの製造元で決定される。
【００９１】
［１．４．ＯＰＣ装置１の構成要素の詳細］
図１を参照しながら、ＯＰＣ装置１の構成要素を詳細に説明する。
【００９２】
駆動制御部２は、記録時および再生時に、光ピックアップ３を駆動制御する。具体的には、駆動制御部２は、光ヘッド（不図示）を光ディスクＤの試し書き領域Ｄ１へ移動させ、記録パワーＰｗのレベルを指示する制御信号Ｓ１をレーザドライバ３１に出力し、レーザドライバ３１の出力を制御する。
レーザドライバ３１の出力制御の際に、駆動制御部２は、順序（Ａ）に示す順序で記録パワーＰｗが変化するように、レーザドライバ３１を制御する。演算処理部７が最適な記録パワーＰｗを算出した後、駆動制御部２は、最適な記録パワーＰｗを持つレーザ光を光ディスクＤにするように、レーザドライバ３１を制御する。
【００９３】
光ピックアップ３は、レーザドライバ３１、フォトダイオードＩＣ（「ＰＤＩＣ」と言う）３２およびＩ−Ｖ変換部３３を有する。光ピックアップ３は、光ディスクＤに対向した位置に配置され、光ディスクＤの半径方向に移動可能である。
【００９４】
光ピックアップ３は、記録処理時に、電気信号を光信号に変換し、これをデータとして光ディスクＤに記録する。詳細には、光ピックアップ３は、駆動制御部２から入力された制御信号Ｓ１に従って、レーザ光の記録パワーＰｗの制御、レーザ光のパルス波形の制御等を行いながら、光信号としてのレーザ光を光ディスクＤの試し書き領域Ｄ１に照射する。
【００９５】
光ピックアップ３は、取得処理を行うべく、再生時に、光ディスクＤの試し書き領域Ｄ１に記録されたデータを電流信号（光信号）として読み出し、これを電圧信号に変換する。詳細には、光ピックアップ３は、フォーカス制御およびトラッキング制御を行いながら、レーザ光を光ディスクＤの試し書き領域Ｄ１に照射し、データを読み出す。
このとき、光ピックアップ３は、ＰＤＩＣ３２に入射した光（光ディスクＤからの反射光）の強度の変化を電流信号として読み取る。そして、光ピックアップ３は、この電流信号を電圧信号に変換し、これをＲＦ信号（再生信号）Ｓ２として再生処理部４に出力する。
【００９６】
レーザドライバ３１は、たとえば、波長４０５ｎｍ程度のレーザ光を、レンズ（不図示）を介して、光ディスクの試し書き領域Ｄ１に照射する。
取り分け、記録処理時には、レーザドライバ３１は、制御信号Ｓ１を受けると、異なるレベルの記録パワーＰｗを交互に変化させながら、レーザ光を光ディスクＤの試し書き領域Ｄ１に照射する。この照射の際に、レーザドライバ３１は、セクタ番号の順に、レーザ光を照射する。上述したように、記録パワーＰ（ｌ）の変化の順は、順序（Ａ）の通りである。
【００９７】
ＰＤＩＣ３２は、４個のフォトダイオードによって構成されている。ＰＤＩＣ３２は、光ディスクＤの試し書き領域Ｄ１からの反射光を、各々のフォトダイオードを用いて受光し、その強度の変化を電流信号として読み取ると、これをＩ−Ｖ変換部３３に出力する。
【００９８】
Ｉ−Ｖ変換部３３は、ＰＤＩＣ３２から電流信号が入力されると、電流信号を電圧信号に変換し、これをＲＦ信号Ｓ２として再生処理部４に出力する。
【００９９】
再生処理部４は、平均値取得部４１および振幅取得部４２を有する。平均値取得部４１は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）４１１および増幅器（ＡＭＰ）４１２を有する。振幅取得部４２は、ハイパスフィルタ４２１、検波器４２２および増幅器４２３を有する。
【０１００】
再生処理部４は、基本的には、光ディスクＤから読み出したデータを演算処理部７で処理できるように、ＲＦ信号Ｓ２を再生する処理部である。再生処理部４は、光ピックアップ３からＲＦ信号Ｓ２が入力されると、この平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を取得する。この取得処理を行うことにより、図６（Ｂ）、（Ｃ）に図示する、ＲＦ信号Ｓ２の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を得ることができる。
【０１０１】
平均値取得部４１は、ＲＦ信号Ｓ２の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）を取得（計測）する。その際に、平均値取得部４１は、ＲＦ信号Ｓ２をローパスフィルタ４１１に入力し、ＲＦ信号Ｓ２の高周波成分を除去する。
そして、平均値取得部４１は、ローパスフィルタ４１１を通過した低周波成分のＲＦ信号Ｓ２を、平均値Ｖａｖｒ（ｋ）を取得（計測）できる程度に、増幅器４１２を用いて増幅する。この増幅後のＲＦ信号Ｓ２が、取得すべき平均値Ｖａｖｒ（ｋ）である。平均値取得部４１は、その平均値Ｖａｖｒ（ｋ）をＡＤＣ５ａに出力する。
【０１０２】
振幅取得部４２は、ＲＦ信号Ｓ２の振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を取得（計測）する。その際に、振幅取得部４２は、ＲＦ信号Ｓ２をハイパスフィルタ４２１に入力し、ＲＦ信号Ｓ２の低周波成分を除去する。そして、振幅取得部４２は、ハイパスフィルタ４２１を通過した高周波成分のＲＦ信号Ｓ２を、検波器４２２を用いて検波する。
そして、振幅取得部４２は、検波後のＲＦ信号Ｓ２を、振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を取得（計測）できる程度に、増幅器４２３を用いて増幅する。この増幅後のＲＦ信号Ｓ２が、取得すべき振幅Ｖａｍｐ（ｋ）である。振幅取得部４２は、その振幅Ｖａｍｐ（ｋ）をＡＤＣ５ｂに出力する。
【０１０３】
平均値取得部４１が取得した平均値Ｖａｖｒ（ｋ）は、アナログ信号であるので、ＡＤＣ５ａは、平均値取得部４１から平均値Ｖａｖｒ（ｋ）が入力されると、これをアナログからデジタルに変換（Ａ／Ｄ変換）する。Ａ／Ｄ変換後、ＡＤＣ５ａは、デジタル信号に変換された平均値Ｖａｖｒ（ｋ）をメモリ６に出力する。
【０１０４】
平均値Ｖａｖｒ（ｋ）と同様に、振幅取得部４２が取得した振幅Ｖａｍｐ（ｋ）も、アナログ信号であるので、ＡＤＣ５ｂは、振幅取得部４２から振幅Ｖａｍｐ（ｋ）が入力されると、これをＡ／Ｄ変換する。Ａ／Ｄ変換後、ＡＤＣ５ｂは、デジタル信号に変換された振幅Ｖａｍｐ（ｋ）をメモリ６に出力する。
【０１０５】
メモリ６は、ＡＤＣ５ａから入力された平均値Ｖａｖｒ（ｋ）と、ＡＤＣ５ｂから入力された振幅Ｖａｍｐ（ｋ）とを格納する。ただし、メモリ６は、演算処理部７から読み出しの要求（アクセス）があるまで、全ての平均値Ｖａｖｒ（０）〜（１５）および全ての振幅Ｖａｍｐ（０）〜（１５）を格納しておく。メモリ６には、たとえば、図９（Ｂ）、（Ｃ）に図示するように、これら全てが格納される。
【０１０６】
演算処理部７は、メモリ６が、全ての平均値Ｖａｖｒ（０）〜（１５）および全ての振幅Ｖａｍｐ（０）〜（１５）を格納した後、メモリ６にアクセスし、これら全てを読み出す。そして、演算処理部７は、ゲイン比Ｒｇを設定範囲内でΔＲｇ＝０．１刻みに変えながら、（６）式を用いて、未記録部分の反射率ＲＡ（ｋ）を算出する。
【０１０７】
演算処理部７は、設定したゲイン比Ｒｇごとに、低レベル領域ＬＰＷの記録パワーＰ（０）〜Ｐ（７）に対応する反射率ＲＡ（ｋ）の平均値ＲＡＬと、高レベル領域ＨＰＷの記録パワーＰ（８）〜Ｐ（１５）に対応する反射率ＲＡ（ｋ）の平均値ＲＡＨとを算出する。この算出の際に、演算処理部７は、（７）式および（８）式を用いる。
【０１０８】
演算処理部７は、変化させたゲイン比Ｒｇごとに、（７）式に示す平均値ＲＡＬと（８）式に示す平均値ＲＡＨとの差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜を算出する。そして、演算処理部７は、差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜の内、最も小さい値をとる差分の絶対値｜ｘｍｉｎ｜＝｜ｘ３｜に対応するゲイン比Ｒｇを、最も確からしいゲイン比Ｒｇ＝１．０と推定する。
【０１０９】
ゲイン比Ｒｇの推定後、演算処理部７は、そのゲイン比Ｒｇを用いて、（４）式に示す変調度ｍＲＦ（ｋ）を区間ｓｅｃ（ｋ）ごとに算出する。そして、演算処理部７は、図１２に図示する、昇順に並べられた記録パワーＰ（ｌ）と変調度ｍＲＦとの関係からγ値を算出する。
そして、演算処理部７は、光ディスクＤのＰＩＣ領域Ｄ２に記録されている係数ρと、γ値を得ることができる記録パワーＰｗｔとを乗算し、この乗算結果を最適な記録パワーＰｗｂ（＝ρ×Ｐｗｔ）とする。
【０１１０】
［１．５．ＯＰＣ装置１の動作例］
ＯＰＣ装置１の動作例を図１３に関連づけて説明する。図１３は、本発明の第１実施形態に係るＯＰＣ装置１の動作例を示すフローチャートである。
【０１１１】
（ステップＳＴ１）
ＯＰＣ装置１は、記録処理を行う。この際に、駆動制御部２は、順序（Ａ）に示す順序で記録パワーＰｗが変化するように、レーザドライバ３１を制御する。レーザドライバ３１は、駆動制御部２から制御信号Ｓ１を受けると、レーザ光の記録パワーを順序（Ａ）に従って変化させながら、光ディスクの試し書き領域Ｄ１にレーザ光を照射する。
【０１１２】
（ステップＳＴ２）
ＯＰＣ装置１は、取得処理を行う。この際に、平均値取得部４１は、ローパスフィルタ４１１および増幅器４１２を用いて、アナログ信号の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）を取得し、これをＡＤＣ５ａに出力する。一方、振幅取得部４２は、ハイパスフィルタ４２１、検波器４２２および増幅器４２３を用いて、アナログ信号の振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を取得し、これをＡＤＣ５ｂに出力する。
【０１１３】
ＡＤＣ５ａは、平均値取得部４１から平均値Ｖａｖｒ（ｋ）が入力されると、これをＡ／Ｄ変換し、デジタル信号に変換された平均値Ｖａｖｒ（ｋ）をメモリ６に出力する。一方、ＡＤＣ５ｂは、振幅取得部４２から振幅Ｖａｍｐ（ｋ）が入力されると、これをＡ／Ｄ変換し、デジタル信号に変換された振幅Ｖａｍｐ（ｋ）をメモリ６に出力する。
【０１１４】
（ステップＳＴ３）
ＯＰＣ装置１は、ゲイン比Ｒｇを設定範囲内で設定する。詳細には、演算処理部７は、メモリ６が、全ての平均値Ｖａｖｒ（０）〜（１５）および全ての振幅Ｖａｍｐ（０）〜（１５）を格納した後、メモリ６にアクセスし、これら全てを読み出す。そして、演算処理部７は、ゲイン比ＲｇをＲｇ＝０．８に設定する。
【０１１５】
（ステップＳＴ４）
ＯＰＣ装置１は、設定したゲイン比Ｒｇ＝０．８を用いて、未記録部分の反射率ＲＡ（ｋ）を算出する。具体的には、演算処理部７は、設定したゲイン比Ｒｇ＝０．８と、（６）式とを用いて、未記録部分の反射率ＲＡ（ｋ）を算出する。
【０１１６】
（ステップＳＴ５）
ＯＰＣ装置１は、設定したゲイン比Ｒｇ＝０．８において、（７）式に示す平均値ＲＡＬと（８）式に示す平均値ＲＡＨとの差分の絶対値｜ｘ｜＝｜ＲＡＬ−ＲＡＨ｜を算出する。
詳細には、演算処理部７は、設定したゲイン比Ｒｇ＝０．８における、低レベル領域ＬＰＷの記録パワーＰ（０）〜Ｐ（７）に対応する反射率ＲＡ（ｋ）の平均値ＲＡＬと、高レベル領域ＨＰＷの記録パワーＰ（８）〜Ｐ（１５）に対応する反射率ＲＡ（ｋ）の平均値ＲＡＨとを算出する。そして、演算処理部７は、（７）式に示す平均値ＲＡＬと（８）式に示す平均値ＲＡＨとの差分の絶対値｜ｘ｜を算出する。この段階では、差分の絶対値｜ｘ１｜が算出される。
【０１１７】
（ステップＳＴ６）
本実施形態では、ＯＰＣ装置１は、０．８から１．２の設定範囲内で、ゲイン比ＲｇをΔＲｇ＝０．１刻みに、Ｒｇ＝０．８、０．９、１．０、１．１、１．２のように変化させる。したがって、ｊ＝５個の差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜を得ることができる。ステップＳＴ５の処理において、差分の絶対値｜ｘ１｜が算出されたが、残りの差分の絶対値｜ｘ２｜〜｜ｘ５｜も算出する必要がある。
【０１１８】
演算処理部７は、全てのゲイン比Ｒｇについて、全ての差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜が算出されたか否かを判断し、それら全てが算出されていないと判断した場合（ＮＯ）、全ての差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜が算出されるまで、ステップＳＴ３からＳＴ５の処理を繰り返す。
【０１１９】
全ての差分の絶対値が算出されていない場合（ＮＯ）、ステップＳＴ３の処理にて、演算処理部７は、ゲイン比ＲｇをＲｇ＝０．９、１．０、１．１、１．２の順に設定する。
このように、演算処理部７が、ステップＳＴ３〜ＳＴ５の処理を繰り返し行うことにより、差分の絶対値｜ｘ２｜〜｜ｘ５｜が算出される。全てのゲイン比Ｒｇについて、未記録部分の反射率ＲＡ（ｋ）を算出し、差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜を算出する処理は、言わば、ゲイン比Ｒｇを推定するための仮算出である。
【０１２０】
なお、全ての差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜を算出することができればよいため、たとえば、ゲイン比Ｒｇを、ゲイン比Ｒｇ＝１．２、１．１、１．０、０．９、０．８の順に設定することもできる。
【０１２１】
（ステップＳＴ７）
ＯＰＣ装置１は、最も確からしいゲイン比Ｒｇを推定する。詳細には、演算処理部７は、ステップＳＴ６の処理において、全ての差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜が算出されたと判断した場合（ＹＥＳ）、差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜の内、最も小さい値をとる差分の絶対値｜ｘｍｉｎ｜＝｜ｘ３｜に対応するゲイン比Ｒｇを、最も確からしいゲイン比Ｒｇ＝１．０と推定する。
【０１２２】
（ステップＳＴ８）
ＯＰＣ装置１は、変調度ｍＲＦを算出する。詳細には、演算処理部７は、推定したゲイン比Ｒｇ＝１．０を用いて、（４）式に示す変調度ｍＲＦ（ｋ）を区間ｓｅｃ（ｋ）ごとに算出する。
【０１２３】
（ステップＳＴ９）
ＯＰＣ装置１は、最適な記録パワーＰｗｂを取得する。詳細には、演算処理部７は、昇順に並べられた記録パワーＰ（ｌ）と変調度ｍＲＦとの関係からγ値を算出する。そして、演算処理部７は、光ディスクＤのＰＩＣ領域Ｄ２に記録されている係数ρと、γ値を得ることができる記録パワーＰｗｔとを乗算し、この乗算結果を最適な記録パワーＰｗｂ（＝ρ×Ｐｗｔ）とする。
【０１２４】
以上のステップＳＴ１〜ＳＴ９の処理を実行することにより、広帯域で動作する直流アンプを使用することなく、最適な記録パワーＰｗｂを求めることができる。したがって、広帯域で動作する直流アンプを使用せず、製造コストを抑えたＯＰＣ装置を提供することができる。
【０１２５】
ところで、本実施形態では、ＯＰＣ装置１は、図４に図示するように、記録パワーＰｗの高低を交互に変えながら、記録パワーＰｗを増加させつつ、記録を行う。仮に、図５に図示するように、記録パワーＰｗを段階的に単調に増加させて、記録を行った場合、以下の不利益がある。
【０１２６】
図１４は、記録パワーＰｗを段階的に単調に増加させて記録を行った場合の演算処理によって得られた未記録部分の反射率ＲＡを示す図である。横軸は、区間ｓｅｃ（ｋ）と、その区間に対応した記録パワーＰ（ｌ）とを示す。縦軸は、未記録部分の反射率ＲＡ（％）を示す。
【０１２７】
上述の場合、ゲイン比ＲｇをＲｇ＝１．０以外に設定すると、そのゲイン比Ｒｇが真のゲイン比ＲｇＴでないにもかかわらず、全てのゲイン比Ｒｇで、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡが各々得られる。この理由を図１５（Ａ）〜（Ｃ）に関連づけて説明する。
【０１２８】
図１５（Ａ）〜（Ｃ）は、記録パワーＰｗを段階的に単調に増加させて記録を行った場合の取得処理結果を例示する図である。図１５（Ａ）〜（Ｃ）は、図６（Ａ）〜（Ｃ）と同様に、光ディスクＤの反射率Ｒの変化、ＲＦ信号の振幅Ｖａｍｐの変化、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒの変化を各々例示する図である。各図には、区間ｓｅｃ（０）〜（３）における反射率Ｒ、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒおよび振幅Ｖａｍｐのみが例示されている。
【０１２９】
図１５（Ａ）に図示するように、記録パワーＰｗを段階的に単調に増加させた場合、反射率Ｒは、緩やかに変化する。したがって、図１５（Ｂ）、（Ｃ）に図示するように、ＲＦ信号の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）も緩やかに変化する。
（６）式によれば、未記録部分の反射率ＲＡは、平均値Ｖａｖｒ（ｋ）と、振幅Ｖａｍｐ（ｋ）にゲイン比Ｒｇの１／２を乗じた乗算値（Ｖａｍｐ（ｋ）×Ｒｇ／２）とを加算した値に比例する。
したがって、未記録部分の反射率ＲＡを、どのゲイン比Ｒｇを用いて算出しても、平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）の変化量が共に小さく、反射率Ｒ（ｋ）の変化量も小さい。その結果、全てのゲイン比Ｒｇにおいて、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡが得られる。
【０１３０】
すると、差分の絶対値｜ｘ１｜〜｜ｘ５｜が各々同程度の値をとり、最も小さい値をとる差分の絶対値｜ｘｍｉｎ｜、すなわち、最も確からしいゲイン比Ｒｇを選択することが困難となる。その結果、真のゲイン比Ｒｇではない、間違ったゲイン比Ｒｇを用いて、間違った反射率ＲＡが算出される恐れがあり、最適な記録パワーＰｗｂを得ることができない。
【０１３１】
そのため、ＯＰＣ装置１は、図４に図示するように、異なるレベルの記録パワーＰｗを交互に変化させながら記録を行う。そうすれば、図６（Ｂ）、（Ｃ）に図示するように、平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）の変化量が共に大きくなる。その結果、設定したゲイン比Ｒｇが真のゲイン比Ｒｇと同一または略同一の場合に、実質的になめらかな曲線を描く反射率ＲＡを得ることができ、最も確からしいゲイン比Ｒｇを選択することが可能となる。
【０１３２】
本実施形態では、（５）式を用いて、ゲイン比Ｒｇを直接求める必要がないため、正確なゲイン比Ｒｇを得るための専用の回路が不要であり、ＯＰＣ装置１の製造コストを抑えることができる。
【０１３３】
＜２．第２実施形態（光ディスク記録再生装置）＞
第２実施形態では、ＯＰＣ装置１を搭載した光ディスク記録再生装置を、図１６に関連づけて説明する。
【０１３４】
［２．１．光ディスク記録再生装置１０の構成例］
図１６は、本発明の第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置１０の構成例を示すブロック図である。
図１６に図示する光ディスク記録再生装置１０は、光ピックアップ３、信号処理部１１およびメモリ６を有する。本実施形態では、光ディスク記録再生装置１０が、ホスト機器１２を有するものとしてもよい。
【０１３５】
信号処理部１１は、ＤＳＰ回路（ＤＳＰ：Digital Signal Processing）１１１、ウォブル回路（ＷＯＢ）１１２、サーボ回路（ＳＶＯ）１１３、復調回路（ＤＣＤ）１１４、エラー訂正回路（ＥＣＣ）１１５、変調回路（ＤＥＣ）１１６、ライトストラテジ回路（ＷＳＴＲ）１１７およびホストＩ／Ｆ回路（Ｉ／Ｆ）１１８を有する。
なお、記録系は、エラー訂正回路１１５、変調回路１１６およびライトストラテジ回路１１７によって構成されている。
【０１３６】
図１に図示するＯＰＣ装置１の各構成要素は、次のように光ディスク記録再生装置１０に搭載されている。図１に図示する再生処理部４、ＡＤＣ５ａ、ＡＤＣ５ｂおよび演算処理部７は、ＤＳＰ回路１１１の一部として構成されている。図１に図示する駆動制御部２は、ウォブル回路１１２およびサーボ回路１１３によって構成されている。図１に図示するメモリ６は、不図示のバスによって、ＡＤＣ５ａ、ＡＤＣ５ｂおよび演算処理部７に接続されている。
【０１３７】
光ディスク記録再生装置１０の主な機能について説明する。光ディスク記録再生装置１０は、ＯＰＣ装置１を搭載し、ＯＰＣを実行する。光ディスク記録再生装置１０は、ＯＰＣ装置１によって得られた最適な記録パワーを用いて、光ディスクＤのデータ領域Ｄ３にユーザーデータを記録する機能と、光ディスクＤのデータ領域Ｄ３からユーザーデータを読み出して、これを再生する機能とを有する。
以下の説明では、光ディスク記録再生装置１０が、ＢＤ規格で定められた映像データおよび音声データを取り扱うことができるものとする。
【０１３８】
以下、光ディスク記録再生装置１０の各構成要素について説明する。
ＤＳＰ回路１１１は、主に、ユーザーデータの再生時の処理、ＯＰＣ装置１の動作の統括を行う。ＯＰＣの実行時に、ＤＳＰ回路１１１は、ＯＰＣ装置１に、記録処理、取得処理および演算処理を実行させる。
ユーザーデータの再生時に、ＤＳＰ回路１１１は、光ピックアップ３から入力されたＲＦ信号Ｓ２を増幅し、これをＡ／Ｄ変換する。そして、ＤＳＰ回路１１１は、デジタル化したＲＦ信号Ｓ２に、たとえば、ＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）のイコライジング処理を施して、「０」または「１」の２値で表現される２値データ（「データビット列」ともいう）を生成する。更に、ＤＳＰ回路１１１は、この２値データにウォブル回路１１２から入力されたアドレスデータＳ６を付加し、これを新たな２値データＳ８として復調回路１１４に出力する。
【０１３９】
ウォブル回路１１２は、光ピックアップ３から入力されたウォブル信号Ｓ３をＡ／Ｄ変換する。このウォブル信号Ｓ３は、ウォブル変調された信号であり、ウォブル回路１１２は、この信号をＭＳＫとＳＴＷと用いて復調する。そして、ウォブル回路１１２は、復調したウォブル信号を基に、光ディスクＤ上のアドレスに関するアドレスデータＳ６を生成し、これをＤＳＰ回路１１１に出力する。
更に、ウォブル回路１１２は、ウォブル信号Ｓ３を基に、ＰＬＬ（Phase Locked Loop、不図示）回路等を用いてクロック信号Ｓ７を生成し、これをサーボ回路１１３に出力する。クロック信号Ｓ７は、ウォブル信号Ｓ３が基準クロック信号に同期して、光ディスクＤを線速度一定または角速度一定で回転させるための信号である。
【０１４０】
サーボ回路１１３は、基本的には、光ピックアップ３の駆動制御および光ディスクＤの回転制御を行う。詳細には、サーボ回路１１３は、エラー信号Ｓ４およびクロック信号Ｓ７を基に制御信号Ｓ１を生成し、これを光ピックアップ３に出力する。
この他、サーボ回路１１３は、光ピックアップ３のフォーカス制御およびトラッキング制御も行う。たとえば、ホスト機器１２からの制御命令に基づいて、光ディスクＤを回転させるスピンドルモータ（不図示）に、その回転の開始あるいはその回転の停止を指示する信号を出力する。
【０１４１】
復調回路１１４は、たとえば、ビタビアルゴリズム（viterbi algorithm）を用いて、ＤＳＰ回路１１１から入力された２値データＳ８をビタビ復号し、これを再生データＳ９としてエラー訂正回路１１５に出力する。なお、この再生データＳ９は、映像データおよび音声データとしての２値データと、ウォブル回路１１２によるアドレスデータＳ６とを含む２値データである。
【０１４２】
エラー訂正回路１１５は、ユーザーデータの再生時に、復調回路１１４から入力された再生データＳ９をＥＣＣ復号化する。このとき、エラー訂正回路１１５は、再生データＳ９に付加されているパリティを用いた論理演算と、デインターリーブ処理とを行い、再生データＳ９に含まれるエラーを訂正する。その後、エラー訂正回路１１５は、エラー訂正された再生データＳ９をホストＩ／Ｆ回路１１８に出力する。なお、エラー訂正回路１１５が、エラー訂正された再生データＳ９をメモリ６に出力してもよい。
【０１４３】
エラー訂正回路１１５は、ユーザーデータの記録時に、光ディスクＤに記録すべきデータがホストＩ／Ｆ回路１１８またはメモリ６から入力されると、このデータのＥＣＣ符号化と、インターリーブ処理とを行う。その後、エラー訂正回路１１５は、ＥＣＣ符号化したデータを記録データＳ１０として変調回路１１６に出力する。
【０１４４】
変調回路１１６は、たとえば、エラー訂正回路１１５から入力された記録データＳ１０を１−７ＰＰ（Parity preserve/Prohibit repeated minimum transition length）変調し、これを変調信号Ｓ１１としてライトストラテジ回路１１７に出力する。
【０１４５】
ライトストラテジ回路１１７は、変調回路１１６から入力された変調信号Ｓ１１を光ディスクＤにデータとして記録するため、レーザ光Ｌの変調波形を調整する。
具体的には、ライトストラテジ回路１１７は、記録補償として、レーザ光Ｌの照射強度、レーザ光Ｌのパルス波形のデータを変調信号Ｓ１１に基づいて生成し、これをライトストラテジ信号Ｓ５として光ピックアップ３に出力する。
【０１４６】
メモリ６は、ＲＦ信号Ｓ２の平均値Ｖａｖｒ（ｋ）および振幅Ｖａｍｐ（ｋ）を不図示のバスを用いて格納すると共に、信号処理部１１の信号処理にて使用されるデータも内部バスＢＵＳを用いて格納する。
【０１４７】
ホスト機器１２は、たとえば、パーソナルコンピュータ（Personal Computer：「ＰＣ」という）やデジタルビデオカメラである。
たとえば、ＰＣがホストＩ／Ｆ回路１１８に接続された場合には、ＰＣから信号処理部１１に制御命令が与えられ、ＰＣにてエラー訂正された再生データＳ９に画像処理あるいは音声処理が施される。
【０１４８】
以上のように、光ディスク記録再生装置１０には、広帯域で動作する直流アンプを使用しないＯＰＣ装置１が搭載されているので、光ディスク記録再生装置１０の製造コストを抑えることができる。
【０１４９】
＜３．レーザパワー制御装置の変形例＞
第１実施形態では、ゲイン比Ｒｇを推定する際に、演算処理部７が、全ての差分の絶対値の内から最も小さい値をとる差分の絶対値に対応するゲイン比Ｒｇを、最も確からしいゲイン比Ｒｇであると推定した。
本変形例では、（７）式に示す平均値ＲＡＬと（８）式に示す平均値ＲＡＨとの差分ｘ（＝ＲＡＬ−ＲＡＨ）が、ゲイン比Ｒｇの１次関数で表わされることを利用して、最も確からしいゲイン比Ｒｇを推定する方法を説明する。
【０１５０】
図１７は、本発明の変形例に係る演算処理におけるゲイン比Ｒｇの推定方法を説明するための図である。横軸は、ゲイン比Ｒｇを示す。縦軸は、差分ｘを示す。
【０１５１】
（６）式に示すように、未記録部分の反射率ＲＡ（ｋ）は、ゲイン比Ｒｇを変数とする１次関数で表わされる。したがって、平均値ＲＡＬから平均値ＲＡＨを減算した両者の差分ｘ＝ＲＡＬ−ＲＡＨも、図１７に図示するように、ゲイン比Ｒｇを変数とする１次関数ｘ＝ａ×Ｒｇ＋ｂで表わされる。変数ａは、ゲイン比Ｒｇに対する差分ｘの傾きを示す。変数ｂは、１次関数と縦軸との交点（切片）を示す。
【０１５２】
演算処理部７は、図１３に図示するステップＳＴ５において、差分の絶対値｜ｘ｜＝｜ＲＡＬ−ＲＡＨ｜を算出する代わりに、差分ｘ＝ＲＡＬ−ＲＡＨを算出する。この算出により、ｊ＝５個の差分ｘ１〜ｘ５を得ることができる。
そして、演算処理部７は、図１３に図示するステップＳＴ７において、差分ｘ１〜ｘ５から１次関数ｘ＝ａ×Ｒｇ＋ｂを求め、これを用いて、差分ｘがｘ＝０となるＲｇ＝−ｂ／ａを、最も確からしいゲイン比Ｒｇとして算出する。
【０１５３】
本変形例によれば、少なくとも２個の差分ｘを得ることができれば、１次関数ｘ＝ａ×Ｒｇ＋ｂを求めることができる。したがって、図１３に図示するステップＳＴ３からＳＴ５の処理を少なくとも２回繰り返せばよく、高速かつ正確にゲイン比Ｒｇを推定することができる。
【０１５４】
他の変形例として、記録パワーＰｗを、図１８（Ａ）、（Ｂ）に図示するように変化させて記録を行うこともできる。図中の横軸は区間（ｋ）、記録パワーＰ（ｌ）示し、縦軸は記録パワーＰｗのレベルを示す。
図１８（Ａ）、（Ｂ）には、記録パワーＰｗを下記の順序（Ｄ）および順序（Ｅ）で各々変化させる場合が例示されている。
【０１５５】
Ｐ（０）→Ｐ（１）→Ｐ（８）→Ｐ（９）→Ｐ（２）→Ｐ（３）→Ｐ（１０）→Ｐ（１１）→Ｐ（４）→Ｐ（５）→Ｐ（１２）→Ｐ（１３）→Ｐ（６）→Ｐ（７）→Ｐ（１４）→Ｐ（１５）
…（Ｄ）
【０１５６】
Ｐ（１５）→Ｐ（７）→Ｐ（１４）→Ｐ（６）→Ｐ（１３）→Ｐ（５）→Ｐ（１２）→Ｐ（４）→Ｐ（１１）→Ｐ（３）→Ｐ（１０）→Ｐ（２）→Ｐ（９）→Ｐ（１）→Ｐ（８４）→Ｐ（０）
…（Ｅ）
【０１５７】
他に、隣り合う区間の記録パワー同士の差ができるだけ大きくなるように、記録パワーＰｗをランダムに変化させて記録を行うこともできる。
他に、たとえば、記録パワーＰｗを、そのレベルの高低により、高レベル領域、中レベル領域、低レベル領域の３つ、あるいは、それ以上に分割し、隣り合う区間の記録パワー同士の差ができるだけ大きくなるように、記録パワーＰｗを変化させることもできる。
【０１５８】
本発明の実施形態は、上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【０１５９】
１…ＯＰＣ装置、２…駆動制御部、３…光ピックアップ、３１…レーザドライバ、３２…ＰＤＩＣ、３３…Ｉ−Ｖ変換部、４…再生処理部、４１…平均値取得部、４２…振幅取得部、４１１…ローパスフィルタ、４１２…増幅器、４２１…ハイパスフィルタ、４２２…検波器、４２３…増幅器、５ａ、５ｂ…ＡＤＣ、６…メモリ、７…演算処理部、１０…光ディスク記録再生装置、１１…信号処理部、１２…ホスト機器、１１１…ＤＳＰ回路、１１２…ウォブル回路、１１３…サーボ回路、１１４…復調回路、１１５…エラー訂正回路、１１６…変調回路、１１７…ライトストラテジ回路、１１８…ホストＩ／Ｆ回路。
【図１】
2011154770.tif 000007
【図２】
2011154770.tif 000008
【図３】
2011154770.tif 000009
【図４】
2011154770.tif 000010
【図５】
2011154770.tif 000011
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
2011154770.tif 000015
【図１０】
2011154770.tif 000016
【図１１】
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【図１２】
2011154770.tif 000018
【図１３】
2011154770.tif 000019
【図１４】
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【図１５】
2011154770.tif 000021
【図１６】
2011154770.tif 000022
【図１７】
2011154770.tif 000023
【図１８】
2011154770.tif 000024
【図１９】
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