(57)【要約】【課題】  光源からの偏向走査した後の光線が基盤に形成した前記開口部を通じて基盤の一面側から基盤の他面側に導かれている場合でも，基盤の強度を十分に確保することができる光走査装置を提供する。【解決手段】  基盤２の一面側において，光源１０，１１からの画像情報を一部に含む各光線は，光偏向器１５により２方向に振り分けて所定の角度範囲に偏向走査され，ｆθレンズ２０，２５を通過した後，第１折り返しミラー３０，３１により基盤２の他面側に反射され，基盤２に形成された第１走査方向孔４０，４５を通過して基盤２の他面側に導かれる。第１走査方向孔４０，４５は，画像情報を含む領域の光線が通過する長尺部分４１，４６と，走査開始位置検知領域の光線が通過する短尺部分４２，４７とが，基盤２の一部をなす分離壁２Ａ，２Ｂによって分離して形成されてなる。【選択図】      図２
2011197356.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基盤と，該基盤の一面側に配置され，画像情報を一部に含む光線を出射する光源と，前記基盤の光源を設けた側に設けられ，前記光源からの光線を所定の角度範囲に偏向走査する光偏向器と，前記光偏向器で偏向走査された光線を，前記基盤に形成された走査方向孔を通じて前記基盤の他面側に導く光学系と，前記基板の前記他面側に設けられ，前記偏向走査され，前記走査方向孔を経た光線の前記画像情報を含まない走査開始位置領域を検知する走査開始位置領域検知手段とを備えた光走査装置において，
前記走査方向孔の前記画像情報を含む領域の光線が通過する部分と，前記走査開始位置検知領域の光線が通過する部分とが，前記基板の一部をなす分離壁によって分離して形成されてなる光走査装置。
【請求項２】
前記光偏向器で偏向走査された光線の光路が，前記基盤の前記光源が配置された面側から前記走査方向孔の前記画像情報を含む領域の光線が通過する部分を経て前記光源が配置された面側とは反対側に折り返し，更に前記基盤の前記光源が配置された面側に折り返すように構成されている請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
請求項１あるいは２のいずれかに記載の光走査装置を備えた画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，複写機，プリンタ，ファクシミリ，或いはそれらの機能を有する複合機等の，電子写真技術を使用する画像形成装置に搭載される光走査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
そのような光走査装置として，小型化・低背化を実現するために，筐体内部に設けられた基盤の一面側に配置された例えば光源としての半導体レーザからの光線を光偏向器により偏向走査し，結像用レンズ等を経て折り返しミラーにより基盤の開口部（孔）を通過させて基盤の他面側（反対面側）に導くように構成したものがある。
そのように構成した装置として，基盤の一面側において，光源からの光線が光偏向器で偏向走査され，偏向走査された光線が第１の結像用レンズを通過し，更に第１折り返しミラーにより折り返されて基盤の開口部を通過し，基盤の他面側に導かれるように構成された光書込装置がある（例えば，特許文献１参照）。
【０００３】
上記光書込装置における基盤の開口部は，偏向走査された光線が通過する範囲に応じて開口するスリット（走査方向孔）であり，第１折り返しミラーの付近に該ミラーに沿って基盤に形成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−１４８５４２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記特許文献１に記載された発明のように，光線を基盤の一面側から他面側に導くために基盤に開口部を形成すると，基盤の強度が低下するため，内部応力あるいは外部から加わる力により基盤あるいは基板と一体の筐体が変形する場合がある。基盤が変形すると，基盤の一面側に配置された光偏向器，第１の結像用レンズ，第１折り返しミラー等で構成される光学系と，基盤の他面側に配置された第２の結像用レンズ，第２折り返しミラー等で構成される光学系との各光学系内での光路が狂ったり，或いは両光学系を結ぶ光路が狂う。また，基盤の強度が低下すると，基盤の剛性が低下し，基板が光偏向器のポリゴンミラーを回転駆動するポリゴンモータ等による振動により変形しやすくなる。それらの要因で，ジッタ画像の発生により画像品質が低下するという問題が生じることになる。
【０００６】
この発明は，そのような問題点に着目してなされたもので，光源からの偏向走査した後の光線が基盤に形成した前記開口部を通じて基盤の一面側から基盤の他面側に導かれている場合でも，基盤の強度を十分に確保することができる光走査装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために，本発明の光走査装置は，基盤と，該基盤の一面側に配置され，画像情報を一部に含む光線を出射する光源と，前記基盤の光源を設けた側に設けられ，前記光源からの光線を所定の角度範囲に偏向走査する光偏向器と，前記光偏向器で偏向走査された光線を，前記基盤に形成された走査方向孔を通じて前記基盤の他面側に導く光学系と，前記基板の前記他面側に設けられ，前記偏向走査され，前記走査方向孔を経た光線の前記画像情報を含まない走査開始位置領域を検知する走査開始位置領域検知手段とを備えた光走査装置において，前記走査方向孔の前記画像情報を含む領域の光線が通過する部分と，前記走査開始位置検知領域の光線が通過する部分とが，前記基板の一部をなす分離壁によって分離して形成されてなる光走査装置として構成されている。
【０００８】
本発明では，前記開口部に相当する走査方向孔が前記基板の一部をなす分離壁によって分離して形成されている。即ち，走査方向孔が途中で前記分離壁によってつながれているので，該分離壁が基板の強度を確保する。従って，走査方向孔を１つの連続孔とする場合に比べて，基盤の強度が十分に確保されることになる。
なお，この発明は，後述する実施形態のように，基板の一面側（実施形態では上側）に光源がある場合であっても，逆に基板の他面側（実施形態では下側）に光源がある場合であっても適用可能であることは言うまでもない。
さらに好ましい形態としては，前記光偏向器で偏向走査された光線の光路が，前記基盤の前記光源が配置された面側から前記走査方向孔の前記画像情報を含む領域の光線が通過する部分を経て前記光源が配置された面側とは反対側に折り返し，更に前記基盤の前記光源が配置された面側に折り返すように構成されている光走査装置が考えられる。
また，本発明において，画像形成装置は，電子写真技術を使用する複写機，プリンタ，ファクシミリ，或いはそれらの機能を有する複合機等を含むものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば，基盤の強度を十分に確保することができるので，基盤が外力や内部応力による変形に対して強くなるだけでなく，ポリゴンモータ等の振動発生源による振動に対しても強くなる。それにより，ジッタ画像の発生を防ぐことができ，延いては画像品質を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施形態に係る光走査装置の上カバーを外した状態での基盤上側を示す一角度からの外観斜視図である。
【図２】同光走査装置の上カバーを外した状態での基盤上側を示す別角度からの外観斜視図である。
【図３】図２のＡ−Ａ線における概略拡大断面図である。
【図４】同光走査装置の特徴部分を示す概略平面説明図である。
【図５】従来例に係る光走査装置の特徴部分を示す概略平面説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下，実施の形態により，この発明を更に詳細に説明する。
図１〜図３に示す光走査装置は，前記の通り，電子写真技術を使用する複写機，プリンタ，ファクシミリ，或いはそれらの機能を有する複合機等に搭載されるものである。
【００１２】
この光走査装置は，２つの光源（例えば半導体レーザ）からの各光線を光偏向器により対称な２方向に振り分けて偏向走査するものである。この光走査装置では，筐体１の内部に設けられた水平の基盤２が筐体１の内部空間を，基盤２の一面側及び他面側の２空間に仕切るように配置されている。なお，以下では便宜上，基盤２の一面側を上側，他面側を下側と称することにする。
２つの光源１０，１１は，筐体１の側壁近傍に取り付けられ，光源１０，１１からの各出射光線が，筐体１内部のほぼ中央で基盤２に取り付けられた光偏向器１５に向かうように，光源１０，１１の取付角度が調整されている。
光源１０，１１から出射される光線は，その一部に画像情報を含む。以下この光線中の画像情報を含む領域を画像領域と記す。また，この光走査装置を備えた画像形成装置では，上記光偏向器１５で偏向走査された光線中の上記画像領域を除く領域の一部の光線を検知して，光偏向器１５による走査開始位置を設定する。上記のような光走査位置に該当する光線の領域を，以下，走査開始位置検知領域と呼ぶことにする。
【００１３】
前記光偏向器１５は，光源１０，１１からの光線を，前記画像領域の光線及び前記走査開始位置検知領域の光線を含む光線として対称な２方向に振り分けて所定の角度範囲に偏向走査する正六角形のポリゴンミラー１６を有し，このポリゴンミラー１６はポリゴンモータ（図示せず）により回転駆動される。
２方向に偏向走査された光線の各光路には，第１レンズ２１及び第２レンズ２２よりなるｆθレンズ２０と，第１レンズ２６及び第２レンズ２７よりなるｆθレンズ２５が配置されている。第１レンズ２１，２６は光偏向器１５側に位置し，第２レンズ２２，２７は後記第１折り返しミラー３０，３１側に位置する。
【００１４】
上記第１折り返しミラー３０，３１は，第２レンズ２２，２７の外側で筐体１の側壁に沿って配置されている。この第１折り返しミラー３０，３１は，ｆθレンズ２０，２５を通過した光線を基盤２の下側に反射させるもので，そのため第１折り返しミラー３０，３１の下側には，第１走査方向孔４０，４５が形成されている。
第１走査方向孔４０，４５は，光偏向器１５で所定の角度範囲に偏向走査された光線のうち，それぞれ画像領域の光線が通過する長尺部分４１，４６と，走査開始位置検知領域の光線が通過する短尺部分４２，４７とが，基盤２の一部をなす分離壁２Ａ，２Ｂによって分離して形成されている。すなわち２つの部分４１，４２及び４６，４７がそれぞれ１つの孔として連続しているのではなく，２つの部分４１，４２間及び４６，４７間に基盤２と一体の分離壁２Ａ，２Ｂが存在することになる。但し，図面には分離壁２Ｂは現れていない。
【００１５】
上記光源１０，１１，光偏向器１５，ｆθレンズ２０，２５，第１折り返しミラー３０，３１は，基盤２の上側に配置されているが，基盤２の下側においては，図３に示すように，第１走査方向孔４１，４６の下側に第２折り返しミラー３２，３３が配置されている。この第２折り返しミラー３２，３３は，第１折り返しミラー３０，３１により基盤２の下側に反射されて第１走査方向孔４１，４６を通過した光線を基盤２の下面と平行方向に反射するものである。
【００１６】
更に，基盤２の下側には，第２折り返しミラー３２，３３により反射された光線を基盤２の上側に設けられた被走査体（例えば感光体ドラム，不図示）に向けて反射する第３折り返しミラー３４，３５が配置されている。これに対応して，基盤２には，光線を基盤２の上側に透過させるための第２走査方向孔５０，５１が第３折り返しミラー３４，３５の上側に形成されている。なお，第３折り返しミラー３４，３５で反射された光線が，それぞれ第２走査方向孔５０，５１を通過して上記被走査体に向かって同方向に進行するように，第３折り返しミラー３４，３５の角度が調節されている。
【００１７】
また，図面には示されていないが，第１走査方向孔４０，４５の短尺部分４２，４７を通過した走査開始位置検知領域の光線は，基盤２の下側に配置されて走査開始位置の光線を取り出すための走査開始位置検知用ミラー（不図示）により反射され，走査開始位置検知センサ６０（図４参照）で受光される。このセンサ６０による受光信号に基づいて，走査開始位置を基準にして光偏向器１５の回転を制御することで，第１走査方向孔４０，４５の長尺部分４１，４６を通過する画像領域の光線の位置ずれが補正される。
【００１８】
このように構成した光走査装置は，当該装置を小型化・低背化する目的で，上記より明らかなように２方向に振り分けられた各光線の光路を，第１，第２，第３折り返しミラー３０，３２，３４と３１，３３，３５とによりそれぞれ基盤２の上側から基盤２の下側に折り返し，更に基盤２の下側から基盤２の上側に折り返すことで，光路長を一定の範囲に収めるように構成されている。
但し，走査開始位置検知用ミラー（不図示）を基盤２の上側に配置し，走査開始位置検知領域の光線の光路を基盤２の下側に導かずに基盤２の表側のみに留めても良いが，ポリゴンミラー１６を小型化すると，画像領域の光線の光路と走査開始位置検知領域の光線の光路とが近接してしまう。このため，画像領域の光線の光路と走査開始位置検知領域の光線の光路とを分離するには，走査開始位置検知用ミラーはポリゴンミラー１６から或る程度の距離を置かなければ設置できない。従って，走査開始位置検知用ミラーは，基盤２の下側に配置することが好都合となる。
【００１９】
この光走査装置では，前記の通り，第１走査方向孔４０，４５が，画像領域の光線が通過する長尺部分４１，４６と，走査開始位置検知領域の光線が通過する短尺部分４２，４７とが，筐体１の一部である分離壁２Ａ，２Ｂによて２つの部分に分離されていること（第１走査方向孔４０のみ示す図４参照）が特徴である。
この２つの部分４１，４２及び４６，４７を分断する分離壁２Ａ，２Ｂがあり，この分離壁２Ａ，２Ｂが筐体１と一体（筐体の一部）であることにより，２つの部分４１，４２及び４６，４７を１つの連続孔とする場合（第１走査方向孔４０のみ示す図５参照）に比べて，基盤２の強度が十分に確保されることになる。
【００２０】
このように，基盤２の強度を十分に確保することができるので，基盤２が外力や内部応力による変形に対して強くなるだけでなく，ポリゴンモータ等の振動発生源による振動に対しても強くなる。それにより，ジッタ画像の発生を防ぐことができ，延いては画像品質を向上させることができる。
特に，この実施形態では，第１折り返しミラー３０，３１及び第２折り返しミラー３２，３３と第１走査方向孔４０，４５とが非常に接近している構造であるため，第１走査方向孔４０，４５が第１折り返しミラー３０，３１及び第２折り返しミラー３２，３３の支持部の強度に影響を与え易くなっている。このため，第１走査方向孔４０，４５の長尺部分４１，４６と短尺部分４２，４７との間が分離壁２Ａ，２Ｂでつながれていることによる強度増大の意義は大きい。
【符号の説明】
【００２１】
１            筐体
２            基盤
２Ａ，２Ｂ    分離壁
１０，１１    光源
１５          光偏向器
１６          ポリゴンミラー
２０，２５    ｆθレンズ
３０，３１    第１折り返しミラー
４０，４５    第１走査方向孔
４１，４６    長尺部分
４２，４７    短尺部分
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図１】
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