(57)【要約】      （修正有）【課題】チルト量の検出にあたり、部品点数の削減により、製造コストの削減化や小型化を図る。【解決手段】共通の対物レンズを介してマーク記録／再生のための第１レーザ光と対物レンズの位置制御を行うための第２レーザ光（位置制御用光）とを照射する光学ドライブ装置において、チルトの発生に伴って、第２レーザ光の光記録媒体表面からの反射光のスポット位置ずれが生じる。そこで第２レーザ光の光記録媒体表面からの反射光のスポット位置ずれ量を、チルトに起因して生じる上記第１レーザ光の第２レーザ光に対するスポット位置ずれ量として検出する。【選択図】図４
2011090749.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対物レンズによって第１の光を光記録媒体が有する記録層内の所要位置に合焦させることによりマークの形成による情報記録又は記録情報の再生を行う光学ドライブ装置であって、
上記光記録媒体が有する位置案内子が形成された反射膜に対し、上記対物レンズを介して第２の光を集光し、当該反射膜に集光した第２の光の反射光に基づき上記第２の光のスポット位置が上記位置案内子に追従するようにして上記対物レンズの位置を制御する位置制御部と、
上記光記録媒体に対して上記第２の光が照射されることに応じて上記対物レンズを介して入射する上記第２の光の上記光記録媒体からの反射光を集光する第１の集光部と、
上記第１の集光部により集光される上記第２の光の反射光中に含まれている上記光記録媒体の表面からの反射光のスポットがその受光面上に形成されるようにして配置された第１の受光ユニットと、
上記第１の受光ユニットによる受光信号に基づき、上記表面からの反射光のスポットの上記受光面内における基準位置からのずれ量を検出する表面反射光ずれ量検出部と
を備える光学ドライブ装置。
【請求項２】
上記光記録媒体から上記対物レンズを介して入射した上記第２の光の反射光を分光する分光素子をさらに備え、
上記第１の集光部は、上記第１の分光素子により分光される少なくとも一方の光を集光可能な位置に配置されている
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項３】
上記分光素子は第１のホログラム素子で構成され、上記対物レンズを介して入射した上記第２の光の反射光を回折により分光するようにされており、
上記第１の集光部は、上記第１のホログラム素子としての上記分光素子により分光される０次光と１次光の双方を集光可能な位置に配置されており、
上記第１の受光ユニットは、
上記分光素子より出力された上記１次光側に含まれる上記表面からの反射光の上記第１の集光部によるスポットが上記受光面上に形成される位置に対して配置される
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項４】
上記表面反射光ずれ量検出部により検出された上記ずれ量の情報に基づき、上記第１の光の上記記録層内における合焦位置を補正する第１の合焦位置補正部をさらに備える
請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項５】
光源から出射された上記第２の光を上記対物レンズに対して導く光路より、上記第２の光の上記光記録媒体からの反射光を分光する分光点よりも上記光源側となる位置に対して挿入された第２のホログラム素子を有し、当該第２のホログラム素子より出力される１次光を上記対物レンズに入射させて、上記光記録媒体の上記表面と上記反射膜との間の距離の２倍の距離だけ上記反射膜より奥側となる位置に焦点を結ぶ検出用光を上記光記録媒体に照射する検出用光照射部と、
上記光記録媒体に対して上記検出用光が照射されることに応じて上記対物レンズを介して入射する上記検出用光の上記光記録媒体からの反射光を集光する第２の集光部と、
上記第２の集光部により集光される上記検出用光の反射光中に含まれている当該検出用光の上記反射膜からの反射光のスポットがその受光面上に形成されるようにして配置された第２の受光ユニットと、
上記第２の受光ユニットによる受光信号に基づき、上記検出用光の上記反射膜からの反射光のスポットの上記受光面内における基準位置からのずれ量を検出する検出用光ずれ量検出部と
をさらに備える請求項１に記載の光学ドライブ装置。
【請求項６】
上記第１の集光部と上記第２の集光部は同一の集光素子であり、当該同一の集光素子が、上記第２のホログラム素子より出力される上記第２の光の０次光成分の上記光記録媒体からの反射光と、上記検出用光の上記光記録媒体からの反射光とが入射される位置に対して配置されており、
上記同一の集光素子により集光される上記光記録媒体からの反射光が入射される第３のホログラム素子をさらに備えると共に、
上記第１の受光ユニットは、
上記第３のホログラム素子の１次光側に含まれている上記表面からの反射光の上記同一の集光素子によるスポットが上記受光面上に形成される位置に対して配置され、
上記第２の受光ユニットは、
上記第３のホログラム素子の１次光側に含まれている上記検出用光の上記反射膜からの反射光の上記同一の集光素子によるスポットが上記受光面上に形成される位置に対して配置される
請求項５に記載の光学ドライブ装置。
【請求項７】
上記表面反射光ずれ量検出部により検出された上記ずれ量の情報と、上記検出用光ずれ量検出部により検出された上記ずれ量の情報との双方に基づき、上記第１の光の上記記録層内における合焦位置を補正する第２の合焦位置補正部をさらに備える
請求項５に記載の光学ドライブ装置。
【請求項８】
上記第２の合焦位置補正部は、
上記表面反射光ずれ量検出部により検出された上記ずれ量の値をD_skew、上記検出用光ずれ量検出部により検出された上記ずれ量の値をD_bとしたとき、上記D_skewの値と、D_b−２・D_skewの値とに基づき上記第１の光の上記記録層内における合焦位置を補正する
請求項５に記載の光学ドライブ装置。
【請求項９】
上記第１又は第２の合焦位置補正部は、
上記第１の光を上記対物レンズに対して導く角度可変ミラーによって上記第１の光の光軸を調整することにより、上記第１の光の上記記録層内における合焦位置を補正する
請求項４又は請求項７に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１０】
上記光記録媒体はディスク状の記録媒体とされ、
上記第２のホログラム素子は、上記光記録媒体の周方向にずれた位置に回折光を出力するように構成されている
請求項５に記載の光学ドライブ装置。
【請求項１１】
対物レンズによって第１の光を光記録媒体が有する記録層内の所要位置に合焦させることによりマークの形成による情報記録又は記録情報の再生を行う光学ドライブ装置におけるチルト検出方法であって、
上記光記録媒体が有する位置案内子が形成された反射膜に対し、上記対物レンズを介して第２の光を集光し、当該反射膜に集光した第２の光の反射光に基づき上記第２の光のスポット位置が上記位置案内子に追従するようにして上記対物レンズの位置を制御する位置制御手順と、
上記光記録媒体に対して上記第２の光が照射されることに応じて上記対物レンズを介して入射する上記第２の光の上記光記録媒体からの反射光を集光する第１の集光部により集光される上記第２の光の反射光中に含まれている上記光記録媒体の表面からの反射光のスポットが、その受光面上に形成されるようにして配置された第１の受光ユニットによる受光信号に基づき、上記表面からの反射光のスポットの上記受光面内における基準位置からのずれ量を検出する表面反射光ずれ量検出手順と
を有するチルト検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、対物レンズによって第１の光を光記録媒体が有する記録層内の所要位置に合焦させることによりマークの形成による情報記録又は記録情報の再生を行う光学ドライブ装置に関するものであり、特に、上記光記録媒体が有する位置案内子が形成された反射膜に対し、上記対物レンズを介して第２の光を集光し、当該反射膜に集光した第２の光の反射光に基づき上記第２の光のスポット位置が上記位置案内子に追従するようにして上記対物レンズの位置を制御する光学ドライブ装置に関する。
また、このような光学ドライブ装置におけるチルト検出方法に関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−１３５１４４号公報
【特許文献２】特開２００８−１７６９０２号公報
【特許文献３】特開２００８−７１４３５号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。
【０００４】
これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなど現状において普及している光記録媒体の次世代を担うべき光記録媒体に関して、先に本出願人は、上記特許文献１や上記特許文献２に記載されるようないわゆるバルク記録型の光記録媒体を提案している。
【０００５】
ここで、バルク記録とは、例えば図２０に示すようにして少なくともカバー層１０１とバルク層（記録層）１０２とを有する光記録媒体（バルク型記録媒体１００）に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層１０２内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。
【０００６】
このようなバルク記録に関して、上記特許文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。
マイクロホログラム方式は、次の図２１に示されるようにして、ポジ型マイクロホログラム方式とネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
マイクロホログラム方式では、バルク層１０２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。
【０００７】
ポジ型マイクロホログラム方式は、図２１（ａ）に示すように、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
【０００８】
また、図２１（ｂ）に示すネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。
【０００９】
図２２は、ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である、
ネガ型マイクロホログラム方式では、記録動作を行う前に、図２２（ａ）に示されるようにして予めバルク層１０２に対して干渉縞を形成するための初期化処理を行うことになる。具体的には、図中に示すように平行光による光束Ｃ，Ｄを対向して照射し、それらの干渉縞をバルク層１０２の全体に形成しておく。
このように初期化処理により予め干渉縞を形成しておいた上で、図２２（ｂ）に示されるようにして消去マークの形成による情報記録を行う。具体的には、任意の層位置にフォーカスを合わせた状態で記録情報に応じたレーザ光照射を行うことで、消去マークによる情報記録を行うものである。
【００１０】
また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば特許文献２に開示されるようなボイド（空孔）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層１０２に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層１０２内に空孔（ボイド）を記録する手法である。特許文献２に記載されるように、このように形成された空孔部分は、バルク層１０２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空孔部分は記録マークとして機能し、これによって空孔マークの形成による情報記録が実現される。
【００１１】
このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないので、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、ポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、特許文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。
【００１２】
ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク記録型（単にバルク型とも称する）の光記録媒体であるが、このようなバルク型光記録媒体の記録層（バルク層）は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層１０２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていない。
従って、先の図２０に示したバルク型記録媒体１００の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができないことになる。
【００１３】
このため実際において、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２３に示すような案内溝を有する基準となる反射面（基準面）を設けるようにされている。
具体的には、カバー層１０１の下面側にピットやグルーブによる案内溝が形成され、そこに選択反射膜１０３が成膜される。そして、このように選択反射膜１０３が成膜されたカバー層１０２の下層側に対し、図中の中間層１０４としての、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料を介してバルク層１０２が積層される。
【００１４】
また、このような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２４に示されるようにしてマークの記録（又は再生）のためのレーザ光（第１レーザ光）とは別途に、位置制御用のレーザ光としての第２レーザ光を照射するようにされる。
図示するようにこれら第１レーザ光と第２レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１００に照射される。
【００１５】
このとき、仮に、上記第２レーザ光がバルク層１０２に到達してしまうと、当該バルク層１０２内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、上記第２レーザ光として、第１レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、案内溝形成面（基準面）に形成される反射膜としては、第２レーザ光は反射し、第１レーザ光は透過するという波長選択性を有する選択反射膜１０３を設けるものとしている。
【００１６】
以上の前提を踏まえた上で、図２４を参照し、マーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層１０２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層１０２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め設定しておくことになる。図中では、バルク層１０２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層：情報記録層とも呼ぶ）として、第１情報記録層Ｌ１〜第５情報記録層Ｌ５の計５つの情報記録層（マーク形成層）Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層Ｌ１の層位置は、案内溝が形成された選択反射膜１０３（基準面）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層Ｌ２の層位置、第３情報記録層Ｌ３の層位置、第４情報記録層Ｌ４の層位置、第５情報記録層Ｌ５の層位置は、それぞれ選択反射膜１０３から第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
【００１７】
マークが未だ形成されていない記録時においては、第１レーザ光の反射光に基づいてバルク層１０２内の各層位置を対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、位置制御用光としての第２レーザ光の反射光に基づき、当該第２レーザ光のスポット位置が選択反射膜１０３上において案内溝に追従するようにして行うことになる。
【００１８】
但し、マーク記録光である第１レーザ光は、上記選択反射膜１０３よりも下層側に形成されたバルク層１０２に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に第１レーザ光の合焦位置を独立して調整するための第１レーザ用フォーカス機構が設けられることになる。
このような第１レーザ用フォーカス機構としては、対物レンズに入射する第１レーザ光のコリメーションを変化させるエキスパンダなどで実現することができる。
【００１９】
記録時において、予め設定された各情報記録層Ｌのうちから所要の情報記録層Ｌを対象としたマーク記録を行うとしたときには、上記第１レーザ用フォーカス機構を制御して、第１レーザ光の合焦位置を、選択した情報記録層Ｌに対応するオフセットｏｆに応じた分だけ変化させる。図中では、記録対象とする情報記録層Ｌとして第３情報記録層Ｌ３が選択され、これに対応して第１レーザ光の合焦位置を、選択反射膜１０３上から第３オフセットｏｆ-L3分だけ変化させた場合を例示している。
【００２０】
上述もしたように対物レンズのフォーカスサーボ制御は、第２レーザ光の反射光に基づき、選択反射膜１０３上に追従するようにして行われる。従ってこのことで、第１レーザ光についての一応のフォーカスサーボ（面ブレなどへの追従）が実現されるようになっている。
【００２１】
また、記録時における第１レーザ光のトラッキングサーボに関しては、上述のように対物レンズのトラッキングサーボ制御が、第２レーザ光の反射光に基づいて案内溝に追従するようにして行われることで、自動的に行われるものとなる。具体的に第１レーザ光のスポット位置は、バルク層１０２内において案内溝の直下となる位置に制御される。
【００２２】
なお、図示による説明は省略するが、再生時には、バルク層１０２に対してマーク列が形成されているので、記録時のように対物レンズの位置を第２レーザ光の反射光に基づいて制御する必要はない。すなわち再生時においては、再生対象とする情報記録層Ｌに形成されたマーク列を対象として、第１レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行えばよい。
【００２３】
上記により説明したようにバルク記録方式においては、バルク型記録媒体１００に対し、マークの記録／再生光としての第１レーザ光と位置制御用光としての第２レーザ光とを、共通の対物レンズを介して（同一光軸上に合成して）照射するようにされている。その上で、第２レーザ光の反射光に基づき対物レンズの位置を案内溝に沿うように制御することで、バルク層１０２内に案内溝が形成されていなくとも、第１レーザ光のトラッキング方向のスポット位置が案内溝の直下となる位置に沿うようにしている。
【００２４】
しかしながら、上記特許文献３に開示されているように、いわゆるチルト（tilt）が生じた場合には、第２レーザ光のスポット位置に対し、第１レーザ光のスポット位置がずれてしまうことになる。
すなわち、チルトが生じた場合、第２レーザ光と第１レーザ光の共通の光軸に対して、バルク型記録媒体１００が直交する関係とはならないので、バルク層１０２内における第１レーザ光のスポット位置は、第２レーザ光のスポット位置が追従する案内溝の直下となる位置とはならず、両者の間にずれが生じてしまうものである。
【００２５】
特許文献３には、このようなチルトによる第１レーザ光の第２レーザ光に対するスポット位置のずれを補正する技術が開示されている。
従来においては、特許文献３における第２の実施の形態（図１７）として開示されているように、チルトセンサ１６５を用いたチルト（傾き角）検出を行ってスポット位置のずれを補正するようにされていた。
特許文献３に記載されるように、上記チルトセンサ１６５は、チルト検出用に設けたレーザダイオード（１６７）により光ディスク（２００）に対して所定角度を為すようにセンサ光ビームを照射する共に、それにより上記光ディスクから得られる反射光のスポット位置をフォトディテクタ（１６８）で検出した結果に基づき、傾き角を検出するように構成されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２６】
しかしながら、上記特許文献３に開示される上記従来の補正手法において、上記チルトセンサ１６５は、マークの記録／再生や位置制御のための光学系とは独立して設けられるものであり、光源を別途に要するものとなっている。すなわち、チルトセンサ１６５は、上述のように光ディスクに対して所定角度を為すようにセンサ光ビームを照射してその反射光を受光する必要があるので、記録／再生やサーボのための光学系とは別の光学系を組む必要がある。
またこのため、チルトセンサ１６５は、記録／再生や位置制御のための光学系外部にその実装スペースを確保する必要があり、装置の小型化を図る上で不利となる。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
上記のような問題点に鑑み、本発明では光学ドライブ装置として以下のように構成することとした。
すなわち、本発明の光学ドライブ装置は、対物レンズによって第１の光を光記録媒体が有する記録層内の所要位置に合焦させることによりマークの形成による情報記録又は記録情報の再生を行う光学ドライブ装置であって、上記光記録媒体が有する位置案内子が形成された反射膜に対し、上記対物レンズを介して第２の光を集光し、当該反射膜に集光した第２の光の反射光に基づき上記第２の光のスポット位置が上記位置案内子に追従するようにして上記対物レンズの位置を制御する位置制御部を備える。
また、上記光記録媒体に対して上記第２の光が照射されることに応じて上記対物レンズを介して入射する上記第２の光の上記光記録媒体からの反射光を集光する第１の集光部と、
上記第１の集光部により集光される上記第２の光の反射光中に含まれている上記光記録媒体の表面からの反射光のスポットがその受光面上に形成されるようにして配置された第１の受光ユニットを備える。
さらに、上記第１の受光ユニットによる受光信号に基づき、上記表面からの反射光のスポットの上記受光面内における基準位置からのずれ量を検出する表面反射光ずれ量検出部を備えるものである。
【００２８】
後に詳述するように、上記のようにして第２の光（位置制御用光）の光記録媒体の表面からの反射光を第１の受光ユニットで受光したとき、その受光位置の受光面内における基準位置からのずれ量は、チルト量に応じたものとなる。
従って上記本発明によれば、チルト量の検出、ひいてはチルトに起因して生じる第２の光のスポット位置に対する第１の光（記録／再生光）のずれ量についての検出を行うことができる。
そしてこのとき、上記本発明によれば、チルト量（チルト起因のスポットずれ量）の検出にあたっては、従来のチルトセンサのように別途の光源を設ける必要はなく、位置制御用光としての第２の光を用いて行うことができる。すなわち、この場合のチルト検出のための光学系は、マークの記録／再生や位置制御のための光学系の内部に組み込むことができる。
【発明の効果】
【００２９】
上記のようにして本発明によれば、チルト量の検出、ひいてはチルトに起因して生じる第２の光（位置制御用光）のスポット位置に対する第１の光（記録／再生光）のスポット位置のずれ量の検出は、上記第２の光の反射光を用いて行うことができ、チルト検出のための光学系はマークの記録／再生や位置制御のための光学系の内部に組み込むことができる。
これにより、従来のチルトセンサを用いる場合のようにマークの記録／再生や位置制御のための光源とは別途の光学系を設ける必要性は無いものとでき、マークの記録／再生や位置制御のための光学系外部にチルト検出用の光学系のスペースを確保する必要性も無いものできる。
この結果、本発明によれば、従来よりも部品点数の削減による装置製造コストの削減化や装置の小型化が図られる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】実施の形態で記録／再生対象とする光記録媒体の断面構造図である。
【図２】記録時のサーボ制御について説明するための図である。
【図３】再生時のサーボ制御について説明するための図である。
【図４】実施の形態としてのチルト検出手法について説明するための図である。
【図５】対物レンズのレンズシフトが生じた場合における焦点Ａの様子を示した図である。
【図６】焦点Ａのずれ量検出を実現するための第２レーザ光の光学系の構成例を示した図である。
【図７】検出光分離用ＨＯＥに設定されるホログラムのパターンを示した図である。
【図８】第１の実施の形態の光学ドライブ装置が備える第２レーザ用受光部の設置位置、及びその内部構成について説明するための図である。
【図９】位置制御用ＰＤ、チルト起因ずれ量検出用ＰＤの受光面上に照射される光の様子について説明するための図である。
【図１０】第１レーザ光のスポット位置の補正を行うための構成について説明するための図である。
【図１１】第１の実施の形態としての光学ドライブ装置の内部構成を示した図である。
【図１２】第１の実施の形態としての光学ドライブ装置が備える第２レーザ用受光信号処理部の内部構成を示した図である。
【図１３】レンズシフト起因のスポット位置ずれ量の検出を行うための検出用光を生成するための光学系の構成例を示した図である。
【図１４】照射光分離用ＨＯＥに設定されるホログラムのパターンを示した図である。
【図１５】チルトに対する焦点Ｂの振る舞い及びレンズシフトに対する焦点Ｂの振る舞いを示した図である。
【図１６】焦点Ｂのずれ量を検出するための具体的な構成について説明するための図である。
【図１７】第２の実施の形態の光学ドライブ装置が備える第２レーザ用受光部上に照射される光の様子について説明するための図である。
【図１８】第２の実施の形態の光学ドライブ装置の内部構成を示した図である。
【図１９】第２の実施の形態の光学ドライブ装置が備える第２レーザ用受光信号処理部の内部構成を示した図である。
【図２０】バルク記録方式について説明するための図である。
【図２１】マイクロホログラム方式について説明するための図である。
【図２２】ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である。
【図２３】基準面を備える実際のバルク型記録媒体の断面構造を例示した図である。
【図２４】バルク型記録媒体に対するマーク記録時の動作について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．記録／再生対象とする光記録媒体の例＞
＜２．記録／再生時のサーボ制御について＞
＜３．第１の実施の形態：チルト起因のスポットずれの検出・補正＞
[3-1．チルト起因のスポットずれ量の検出手法]
[3-2．ずれ量検出のための具体的な構成]
[3-3．第１の実施の形態の光学ドライブ装置の構成]
＜４．第２の実施の形態：レンズシフト起因分も含めたスポットずれの検出・補正＞
[4-1．レンズシフト起因のスポットずれ量の検出手法]
[4-2．ずれ量検出のための具体的な構成]
[4-3．第２の実施の形態の光学ドライブ装置の構成]
＜５．変形例＞
【００３２】
＜１．記録／再生対象とする光記録媒体の例＞
図１は、実施の形態で記録／再生対象とする光記録媒体の断面構造図を示している。
実施の形態で記録／再生対象とする光記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
バルク型記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされ、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対するレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）が行われる。また、記録情報の再生としても、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対してレーザ光を照射して行われる。
なお光記録媒体とは、光の照射により記録情報の再生が行われる記録媒体を指すものである。
【００３３】
図１に示されるように、バルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する実施の形態としての光学ドライブ装置（記録再生装置１０や記録再生装置６０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。
【００３４】
また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向と一致する方向（すなわち光学ドライブ装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。
【００３５】
バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録／再生位置を案内するための案内溝の形成に伴う凹凸の断面形状が与えられている。
上記案内溝としては、連続溝（グルーブ）、又はピット列で形成される。例えば案内溝がピット列で形成される場合、ピットとランドの長さの組み合わせにより位置情報（絶対位置情報：例えば回転角度情報や半径位置情報など）が記録される。或いは、案内溝がグルーブとされる場合、当該グルーブを周期的に蛇行（ウォブル）させて形成することで、該蛇行の周期情報により位置情報の記録が行われる。
カバー層２は、このような案内溝（凹凸形状）が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
【００３６】
また、上記案内溝が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
ここで、前述もした通り、バルク記録方式では、記録層としてのバルク層５に対してマーク記録を行うための記録光（第１レーザ光）とは別に、上記のような案内溝に基づきトラッキングやフォーカスのエラー信号を得るためのサーボ光（位置制御用光、第２レーザ光とも称する）を別途に照射するものとされている。
このとき、仮に、上記サーボ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、サーボ光は反射し、記録光は透過するという選択性を有する反射膜が必要とされている。
従来よりバルク記録方式では、記録光とサーボ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いるようにされており、これに対応すべく、上記選択反射膜３としては、サーボ光と同一の波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するという、波長選択性を有する選択反射膜が用いられる。
【００３７】
上記選択反射膜３の下層側には、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料で構成された中間層４を介して、記録層としてのバルク層５が積層（接着）されている。
バルク層５の材料（記録材料)としては、例えば先に説明したポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式、ボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
ここで、本発明の目的は、対物レンズによって第１の光を光記録媒体が有する記録層内の所要位置に合焦させることによりマークの形成による情報記録又は記録情報の再生を行う場合にあって、上記光記録媒体が有する位置案内子が形成された反射膜に対し、上記対物レンズを介して第２の光を集光し、当該反射膜に集光した第２の光の反射光に基づき上記第２の光のスポット位置が上記位置案内子に追従するようにして上記対物レンズの位置を制御する場合において、チルト（tilt）に伴い生じる上記位置制御用光と上記記録光とのスポット位置ずれを検出することにある。
この主旨からして、本発明で対象とする光記録媒体に対するマーク記録の方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。
【００３８】
上記のような構成を有するバルク型記録媒体１に関して、カバー層２の上層側の面は、バルク型記録媒体１の表面Ｓｕｒｆとなる。
また、カバー層２の下面側の案内溝に応じた凹凸形状を有するようにされた選択反射膜３は、後述もするように第２レーザ光に基づく第１レーザ光の位置制御を行うにあたっての基準となる反射面となる。この意味で、選択反射膜３が形成された面を以下、基準面Ｒｅｆと称する。
【００３９】
＜２．記録／再生時のサーボ制御について＞
続いて、バルク型記録媒体１を対象とした記録／再生時におけるサーボ制御について、図２、図３を参照して説明する。
図２は記録時におけるサーボ制御について説明するための図であり、図３は再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
【００４０】
先ず、図２において、前述もしたようにバルク型記録媒体１に対しては、記録マークを形成し且つ記録マークから情報再生を行うためのレーザ光（第１レーザ光）と共に、これとは波長帯の異なるサーボ光としてのレーザ光（第２レーザ光）を照射するものとされている。
図示するように、これら第１レーザ光と第２レーザ光は、共通の対物レンズ（図１１における対物レンズ２０）を介してバルク型記録媒体１に照射されることになる。
【００４１】
ここで、図１に示したように、バルク層５には、例えばＤＶＤ（Digital Versatile Disc）やＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などの現状の光ディスクについての多層ディスクとは異なり、記録対象とする各層位置にはピットやグルーブなどによる案内溝を有する反射面が形成されてはいない。このため、未だマークの形成されていない記録時においては、第１レーザ光についてのフォーカスサーボやトラッキングサーボは、第１レーザ光自身の反射光を用いて行うことはできないことになる。
この点より、バルク型記録媒体１に対する記録時において、第１レーザ光についてのトラッキングサーボ・フォーカスサーボは共に、サーボ光としての第２レーザ光の反射光を用いて行うことになる。
【００４２】
具体的に、記録時における第１レーザ光のフォーカスサーボに関しては、先ず、第１レーザ光の合焦位置のみを独立して変化させることのできる第１レーザ光用のフォーカス機構（図１１におけるレンズ１４,１５及びレンズ駆動部１６）を設けた上で、選択反射膜３（基準面Ｒｅｆ）を基準とした図のようなオフセットｏｆに基づき、上記第１レーザ光用フォーカス機構を制御することで行う。
ここで、上述のように第１レーザ光と第２レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１に照射される。そして、第２レーザ光のフォーカスサーボは、当該第２レーザ光の基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）からの反射光を用いて、上記対物レンズを制御することで行われる。
このように第１レーザ光と第２レーザ光とが共通の対物レンズを介して照射され、且つ第２レーザ光のフォーカスサーボが当該第２レーザ光の基準面Ｒｅｆからの反射光に基づき対物レンズを制御することで行われることより、第１レーザ光の合焦位置が、バルク型記録媒体１の面変動に追従できるようにされている。
その上で、上記のような第１レーザ光用フォーカス機構によって、第１レーザ光の合焦位置を上記オフセットｏｆの値の分だけオフセットさせる。これにより、バルク層５内の所要の深さ位置に第１レーザ光の合焦位置を追従させることができる。
【００４３】
図中では、バルク層５に５つのマーク形成層（情報記録層とも称する）Ｌを設定するとした場合に対応した各オフセットｏｆの例として、第１情報記録層Ｌ１の層位置に対応した第１オフセットｏｆ-L1、第２情報記録層Ｌ２の層位置に対応した第２オフセットｏｆ-L2、第３情報記録層Ｌ３の層位置に対応した第３オフセットｏｆ-L3、第４情報記録層Ｌ４の層位置に対応した第４オフセットｏｆ-L4、第５情報記録層Ｌ５の層位置に対応した第５オフセットｏｆ-L5が設定される場合を示している。これらのオフセットｏｆの値を用いて前述の第１レーザ用のフォーカス機構を駆動することで、深さ方向におけるマークの形成位置（記録位置）を第１情報記録層Ｌ１としての層位置、第２情報記録層Ｌ２としての層位置、第３情報記録層Ｌ３としての層位置、第４情報記録層Ｌ４としての層位置、第５情報記録層Ｌ５としての層位置のうちから適宜選択することができる。
【００４４】
また、記録時における第１レーザ光についてのトラッキングサーボに関しては、上述のように第１レーザ光と第２レーザ光とを共通の対物レンズを介して照射するという点を利用して、基準面Ｒｅｆからの第２レーザ光の反射光を用いた対物レンズのトラッキングサーボ制御を行うことで実現する。
【００４５】
続いて、図３に示す再生時のサーボ制御について説明する。
なおこの図３では再生時におけるバルク型記録媒体１の状態として、第１情報記録層Ｌ１〜第５情報記録層Ｌ５の全てにマーク列が記録済みとなった状態を例示している。
既にマーク列が形成されたバルク型記録媒体１についての再生時において、第１レーザ光についてのフォーカスサーボ制御は、記録済みのマーク列を対象として行うことができる。従って、再生時における第１レーザ光についてのフォーカスサーボ制御は、第１レーザ光の反射光に基づき前述の第１レーザ用フォーカス機構を制御することで、合焦位置が再生対象とするマーク列（情報記録層Ｌ）に追従するようにして行う。
【００４６】
また、第２レーザ光のフォーカスサーボ制御については、第２レーザ光による絶対位置情報の読み出しを可能とすべく、この場合も第２レーザ光の反射光に基づき基準面Ｒｅｆ上を追従させるようにして対物レンズのフォーカス方向の位置を制御することで行う。
【００４７】
また、再生時におけるトラッキングサーボ（対物レンズのトラッキング方向の制御）に関しては、再生開始位置へのアクセス完了前と完了後とで切り換えを行うことになる。すなわち、再生開始位置へのアクセス動作が完了するまでの間は、基準面Ｒｅｆに記録された絶対値位置情報の読み出しが可能とされている必要があるため、第２レーザ光のスポット位置は案内溝に追従させる必要がある。一方、アクセス動作が完了した後は、バルク層５内に記録された情報を第１レーザ光を用いて再生するために、当該第１レーザ光のスポット位置は対象とするマーク列に追従させる必要がある。
【００４８】
これらの点を踏まえ、再生時における対物レンズのトラッキング方向の位置制御は、アクセス完了前までは第２レーザ光の反射光に基づき基準面Ｒｅｆにおける案内溝に追従させるようにして行い、アクセス完了後には、第１レーザ光の反射光に基づき再生対象とするマーク列に追従させるようにして行うことになる。
【００４９】
以上をまとめるに、この場合における記録／再生時の第１レーザ光・第２レーザ光のサーボ制御は以下のようにして行うことになる。
〜記録時〜  
・第１レーザ光のフォーカスサーボは、第２レーザ光の反射光に基づく基準面Ｒｅｆを対象とした対物レンズのフォーカス方向位置の制御が行われる下で、第１レーザ用フォーカス機構により第１レーザ光の合焦位置を記録対象とする情報記録層Ｌに応じたオフセットｏｆ分だけ変化させて行う。
（記録時における第１レーザ光のトラッキングサーボは、第２レーザ光の反射光に基づく対物レンズのトラッキング方向の位置制御により自動的に行われる。）
・第２レーザ光のフォーカスサーボは、第２レーザ光の反射光に基づき、基準面Ｒｅｆに追従するように対物レンズのフォーカス方向位置を制御することで行う。
・第２レーザ光のトラッキングサーボは、第２レーザ光の反射光に基づき、基準面Ｒｅｆにおける案内溝に追従させるようにして対物レンズのトラッキング方向位置を制御することで行う。
〜再生時〜
・対物レンズのトラッキングサーボ制御に関しては、アクセス完了前までは、第２レーザ光の反射光に基づき当該第２レーザ光のスポットを基準面Ｒｅｆの案内溝に追従させるようにして行い、アクセス完了後には、第１レーザ光の反射光に基づき当該第１レーザ光のスポットを再生対象とするマーク列に追従させるようにして行う。
・フォーカスサーボに関しては、第１レーザ光については、第１レーザ光の反射光に基づき第１レーザ用フォーカス機構を制御して対象とするマーク列に追従させるように行い、第２レーザ光に関しては、第２レーザ光の反射光に基づき対物レンズのフォーカス方向位置を制御して基準面Ｒｅｆに追従させるように行う。
【００５０】
＜３．第１の実施の形態：チルト起因のスポットずれの検出・補正＞
[3-1．チルト起因のスポットずれ量の検出手法]
ここで、上記による説明からも理解されるように、本実施の形態では、バルク型記録媒体１に関して、対物レンズによって第１の光を光記録媒体が有する記録層内の所要位置に合焦させることによりマークの形成による情報記録又は記録情報の再生を行うと共に、上記光記録媒体が有する位置案内子が形成された反射膜に対し、上記対物レンズを介して第２の光を集光し、当該反射膜に集光した第２の光の反射光に基づき上記第２の光のスポット位置が上記位置案内子に追従するようにして上記対物レンズの位置を制御するようにされている。
前述もしたように、このような第２レーザ光の反射光に基づく共通の対物レンズのトラッキングサーボ制御によって第１レーザ光についてのトラッキングサーボ制御を実現する手法を採る場合には、チルトの発生に伴い、第２レーザ光と第１レーザ光の共通の光軸に対してバルク型記録媒体１が直交する関係とはならないことで、バルク層５内における第１レーザ光のスポット位置が、第２レーザ光のスポット位置が追従する案内溝の直下に位置しないものとなり、第１レーザ光のスポット位置と第２レーザ光のスポット位置とにずれが生じてしまうことになる。
【００５１】
このようなチルトによる第１レーザ光と第２レーザ光の相対的なスポット位置ずれを補正するための技術として、先に挙げた特許文献３には、チルトセンサ１６５を用いた技術が開示されているが、先に述べたようにこのチルトセンサ１６５は、マークの記録／再生やサーボのための光学系とは独立した光源を別途設ける必要性があり、その実装スペースを記録／再生やサーボのための光学系の外部に確保する必要があるため、装置の製造コストの削減や小型化を図る上で不利となる。
【００５２】
そこで本実施の形態では、以下で説明するような位置制御用光を利用したチルト検出の手法とすることで、別途の光源の追加を不要として装置製造コストの削減や小型化を図る。
【００５３】
図４は、実施の形態としてのチルト検出手法について説明するための図である。
図４において、図４（ａ）、図４（ｂ）は共に対物レンズを介して照射される第２レーザ光とバルク型記録媒体１の表面Ｓｕｒｆと基準面Ｒｅｆとの関係を示すものであり、図４（ａ）はチルトなしの状態、図４（ｂ）はチルトありの場合を示している。
【００５４】
図４において、本実施の形態では、図示するようにして対物レンズを介してバルク記録媒体１に対して照射する第２レーザ光の、表面Ｓｕｒｆからの反射光の焦点Ａのずれ量を検出することで、チルトの発生量、ひいてはチルトに起因した第１レーザ光と第２レーザ光のスポット位置ずれ量の検出を行う。
【００５５】
ここで、図４（ａ）に示すように、チルトが発生していない状態においては、第２レーザ光の光軸（中心）Ｃに対してバルク型記録媒体１が直交する（光軸Ｃと表面Ｓｕｒｆ、基準面Ｒｅｆとの為す角度が９０°となる）関係となっており、表面Ｓｕｒｆからの反射光の焦点Ａは、第２レーザ光の光軸Ｃ上に得られることになる。
【００５６】
これに対し、図４（ｂ）に示すようにバルク型記録媒体１が図４（ａ）に示す状態からθ°傾くようにしてチルトが生じた場合、焦点Ａは、第２レーザ光の光軸Ｃ上からずれた位置に得られることになる。
ここで、図示するようにバルク型記録媒体１の表面Ｓｕｒｆ〜基準面Ｒｅｆ間の距離をｔcとおくと、焦点Ａのチルトに伴う光軸Ｃからのずれ量δθ0は[式１]で表される。
δθ0＝２ｔc・θ  ・・・[式１]
【００５７】
ここで、図５は、対物レンズのレンズシフトが生じた場合における焦点Ａの様子を示している。
確認のために述べておくと、レンズシフトとは、トラッキングサーボ制御などに伴って対物レンズがトラッキング方向（バルク型記録媒体１の半径方向）に移動されることに伴って、当該対物レンズが、その中心が光学系を設計する上で設定された対物レンズの中心基準位置Ｃ−olからトラッキング方向にずれるようにしてシフトされることを意味する。
【００５８】
後の第２の実施の形態において言及するが、第１レーザ光と第２レーザ光のスポット位置のずれは、チルトのみでなく、対物レンズのレンズシフトによっても生じるものである。
しかしながら図５に示されるように、焦点Ａは、レンズシフトが生じたとしても、その位置は第２レーザ光の光軸Ｃ上となる。すなわち焦点Ａは、レンズシフトに対してはその検出位置が変化しないものである。
【００５９】
このことからも理解されるように、第２レーザ光の表面Ｓｕｒｆからの反射光の焦点Ａの光軸Ｃからのずれ量は、純粋にチルトの発生量（チルト起因のスポット位置ずれ量）のみを反映したものとなる。
【００６０】
[3-2．ずれ量検出のための具体的な構成]
図６〜図９を参照して、上記焦点Ａのずれ量を検出するための具体的な構成について説明する。
図６は、焦点Ａのずれ量検出を実現するための第２レーザ光の光学系の構成例を示している。
先ず、この場合の光学系においては、第２レーザ光の光源として、図中の第２レーザが設けられる。第２レーザを出射した第２レーザ光は、コリメーションレンズにより平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタを透過し、さらに１／４波長板を介して対物レンズに入射する。対物レンズに入射した第２レーザ光は、先に述べた第２レーザ光についてのフォーカスサーボ制御が行われることに伴い、図のようにバルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆ上に焦点を結ぶようにされる。
ここで、このように基準面Ｒｅｆ上に形成される第２レーザ光の焦点は、以下、焦点Ｒと呼ぶ。
【００６１】
バルク型記録媒体１からの反射光としては、上記基準面Ｒｅｆ上の焦点Ｒからの反射光と、表面Ｓｕｒｆからの反射光とが得られる。
これらバルク型記録媒体１からの第２レーザ光の反射光は、対物レンズ→１／４波長板を介した後、上述した偏光ビームスプリッタで反射されて、図中の検出光分離用ＨＯＥ（Holographic Optical Element：ホログラム素子）２８に入射する。
そして、当該検出光分離用ＨＯＥ２８を介した第２レーザ光の反射光は、集光レンズにより収束光に変換され、該収束光に変換された光はシリンドリカルレンズを介して第２レーザ用受光部３１の検出面上に集光する。
【００６２】
ここで、上記検出光分離用ＨＯＥ２８は、上記偏光ビームスプリッタから入射する第２レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を０次光として透過すると共に、図中に示すトラッキング方向にずれた位置に、回折光を生成・出力する。
【００６３】
図７は、上記のようにトラッキング方向にずれた位置に回折光を生成・出力する検出光分離用ＨＯＥ２８に設定されるホログラムのパターンを示している。
なおこの図７においても図６に示すトラッキング方向を示している。トラッキング方向と直交する方向は、線方向（バルク型記録媒体１の周方向）である。
この図７に示すように、検出光分離用ＨＯＥ２８には偏芯円状のホログラムパターンが形成され、各円の中心αがトラッキング方向における何れか一方の方向に偏った位置に設定されている。このようなパターンの設定により、トラッキング方向において中心αが偏っている方向（この場合は紙面の左方向）に対して回折光を出力することができる。
【００６４】
図６においては、第２レーザ光の０次光を太実線、上記検出光分離用ＨＯＥ２８より出力される第２レーザ光の回折光（１次光）を細実線により示している。
図示するように検出光分離用ＨＯＥ２８から出力され第２レーザ用受光部３１に集光する０次光の光軸（図中一点鎖線）は「ｏａｘ-0」とおく。また、検出光分離用ＨＯＥ２８から出力され第２レーザ用受光部３１の上記０次光の集光位置からトラッキング方向にずれた位置に集光する１次光の光軸（図中破線）は「ｏａｘ-1」とおく。
【００６５】
図８は、図６に示す第２レーザ用受光部３１の設置位置、及びその内部構成について説明するための図である。
図８において、図８（ａ）は第２レーザ用受光部３１の断面構造と共に、当該第２レーザ用受光部３１に照射される第２レーザ光の反射光の０次光（図中太線）と１次光の様子を示している。また、図８（ｂ）は第２レーザ用受光部３１の受光面（検出面）の平面図を示している。
なお図８においては、紙面の左右方向（横方向）が図６に示したトラッキング方向となる。
【００６６】
ここで確認のために述べておくと、図６を参照して分かるように、第２レーザ用受光部３１に照射される第２レーザ光の反射光（０次光、１次光共に）には、基準面Ｒｅｆからの反射光成分（焦点Ｒからの光）と、表面Ｓｕｒｆからの反射光成分（焦点Ａからの光）とが含まれている。
図８（ａ）においては、このように０次光、１次光の双方に含まれている基準面Ｒｅｆからの反射光成分、表面Ｓｕｒｆからの反射光成分に関して、基準面Ｒｅｆからの反射光成分は実線により示し、表面Ｓｕｒｆからの反射光成分は破線によりそれぞれ示している。
なお、図８（ａ）においては図６に示した０次光の光軸ｏａｘ-0、１次光の光軸ｏａｘ-1も併せて示している。
【００６７】
先ず、この図８に示されるように、第２レーザ用受光部３１は、位置制御用ＰＤ（Photo Detector）３１−Ｒと、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａとを備えている。
位置制御用ＰＤ３１−Ｒは、図６に示す焦点Ｒからの反射光（すなわちピット列やウォブリンググルーブの形成パターンを反映した光）に基づき、レーザ光の位置制御用の情報を検出するためのディテクタとなる。
またチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａは、図６に示すＡ点の光軸Ｃからのずれ量、すなわちチルト起因による第１レーザ光と第２レーザ光のスポット位置のずれ量を検出するためのディテクタである。
【００６８】
図８（ｂ）に示すようにこれら位置制御用ＰＤ３１−Ｒ、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａとしては、それぞれ４分割ディテクタを用いる。図示するように位置制御用ＰＤ３１−Ｒが備える４つの受光素子Ｅ，Ｆ，Ｈ，Ｇは、「Ｅ，Ｇ」の組、「Ｆ，Ｈ」の組がそれぞれトラッキング方向に隣り合うものとなっている。同様に、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａが備える４つの受光素子Ｅ１，Ｆ１，Ｈ１，Ｇ１についても、「Ｅ１，Ｇ１」の組、「Ｆ１，Ｈ１」の組がそれぞれトラッキング方向に隣り合うものとなっている。
【００６９】
ここで、図８（ａ）において太線で示される０次光に関して、実線による基準面Ｒｅｆからの反射光の集光レンズ（図６参照）による焦点を「ｒ-0」とおく。また、０次光における表面Ｓｕｒｆからの反射光（破線）の上記集光レンズによる焦点を「ａ-0」とおく。
図８（ａ）に示されているように、表面Ｓｕｒｆからの反射光の焦点ａ-0は、基準面Ｒｅｆからの反射光の焦点ｒ-0よりも奥側に形成されることになる。これは、図６に示されるように焦点Ａが基準面Ｒｅｆよりも対物レンズ寄りの位置に形成されることに起因する。
同様のことが１次光側でも生じる。すなわち図８（ａ）に細線で示す１次光に関して、実線で示す基準面Ｒｅｆからの反射光の集光レンズによる焦点を「ｒ-1」、破線で示す表面Ｓｕｒｆからの反射光の上記集光レンズによる焦点を「ａ-1」とおくと、上記表面Ｓｕｒｆからの反射光の焦点ａ-1は、上記基準面Ｒｅｆからの反射光の焦点ｒ-1よりも奥側に形成される。
【００７０】
これらの点を踏まえて、本実施の形態では第２レーザ用受光部３１内における位置制御用ＰＤ３１−Ｒ、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの配置位置を、以下のようにして設定するものとしている。
すなわち、位置制御用ＰＤ３１−Ｒについては、第２レーザ光の焦点Ｒが基準面Ｒｅｆに一致し且つチルト及びレンズシフトが生じていない状態において、その検出面上における中心位置が、上記０次光側に含まれる基準面Ｒｅｆからの反射光の焦点ｒ-0と一致する位置に配置する。
また、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａについては、同様に第２レーザ光の焦点Ｒが基準面Ｒｅｆに一致し且つチルト及びレンズシフトが生じていない状態（つまり表面Ｓｕｒｆからの反射光の焦点Ａが光軸Ｃ上に一致している状態）において、その検出面上における中心位置（ずれ量＝０の基準位置）が、上記１次光側に含まれる表面Ｓｕｒｆからの反射光の焦点ａ-1と一致する位置に配置する。
【００７１】
図９は、上記のような位置関係により配置された位置制御用ＰＤ３１−Ｒ、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの検出面上に照射される光の様子について説明するための図である。
先ず、図９（ａ）は、基準面Ｒｅｆからの反射光の様子を示している。図示するように上述した位置制御用ＰＤ３１−Ｒ、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの配置とすることにより、基準面Ｒｅｆからの反射光は、その０次光が、位置制御用ＰＤ３１−Ｒ上に集光スポットを形成するようにして照射されることになる。つまりこれにより、例えばフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等のレーザ光の位置制御のための情報を、基準面Ｒｅｆからの反射光の０次光に基づいて検出することができる。
また、基準面Ｒｅｆからの反射光の１次光は、その焦点ｒ-1がチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの検出面よりも奥側となる（図８（ａ）を参照）ことから、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの検出面上にスポットが形成されることはなく、図のようにぼやけた状態で照射されることになる。
【００７２】
また、図９（ｂ）は、表面Ｓｕｒｆからの反射光の様子を示している。
図示するように表面Ｓｕｒｆからの反射光は、上記基準面Ｒｅｆからの反射光とは逆に、その０次光は位置制御用ＰＤ３１−Ｒ上にぼやけた状態で照射され、１次光がチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの検出面上に集光スポットを形成するようにして照射される。
【００７３】
このようにして図８にて説明した各ＰＤの配置によれば、検出光分離用ＨＯＥ２８により出力される０次光、１次光を利用して、位置制御用ＰＤ３１−Ｒには基準面Ｒｅｆからの反射光の０次光の集光スポットのみが形成されるようにでき、またチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａには表面Ｓｕｒｆからの反射光の１次光の集光スポットのみが形成されるようにすることができる。
つまりこれにより、基準面Ｒｅｆからの反射光に基づくレーザ光の位置制御のための情報を検出と、表面Ｓｕｒｆからの反射光に基づくチルト検出（チルト起因のスポット位置ずれ量の検出）とをそれぞれ独立して行うことができる。
【００７４】
ここで、上記説明によれば、チルト量の検出は、表面Ｓｕｒｆからの反射光成分のうち検出光分離用ＨＯＥ２８による１次光成分をチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａにより受光し、その受光位置のずれ量を検出することで行うことになるが、具体的に、このような表面Ｓｕｒｆからの反射光の受光位置のずれ量は、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａにおける各受光素子Ｅ１，Ｆ１，Ｇ１，Ｈ１による受光信号に基づき、以下のような計算により求めることになる。
すなわち、トラッキング方向のスポット位置ずれ量、換言すればラジアル方向のチルト量をD_skew_radとおくと、
D_skew_rad＝Ｅ１＋Ｇ１−（Ｆ１＋Ｈ１）  ・・・[式２]
また、線方向のスポット位置ずれ量、すなわちタンジェンシャル方向のチルト量をD_skew_tanとおくと、
D_skew_tan＝Ｅ１＋Ｆ１−（Ｇ１＋Ｈ１）  ・・・[式３]
【００７５】
ここで、実際の記録時において特に問題となるのは、ラジアル方向チルトの発生によって第１レーザ光のスポット位置が第２レーザ光のスポット位置に対してトラッキング方向にずれた場合である。
この点に鑑み、本実施の形態では、タンジェンシャル方向のチルトに起因して生じるスポット位置ずれの補正は行うものとはせず、ラジアル方向のチルト検出、及びその検出結果に応じたトラッキング方向におけるスポット位置ずれの補正を行う。
【００７６】
本実施の形態において、第１レーザ光のスポット位置の補正は、例えば次の図１０に示すようなガルバノミラー１７を用いて行う。
ここで、図１０に示されるように、この場合の光学系においては、第１レーザ光と第２レーザ光とを合成して対物レンズに導くための構成として、ダイクロイックプリズムが設けられる。すなわち、この場合は第１レーザ光と第２レーザ光の波長帯が異なることに対応させて、第１レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長帯の光は透過する選択反射面を有するダイクロイックプリズムが用いられる。
当該ダイクロイックプリズムにより、第１レーザ光と第２レーザ光とが、互いの光軸が一致するようにして合成され、対物レンズを介してそれぞれバルク型記録媒体１に照射される。
【００７７】
図示するようにガルバノミラー１７は、上記ダイクロイックプリズムにより第２レーザ光と合成される前の第１レーザ光が入射する位置に対して設けられる。当該ガルバノミラー１７の反射面の角度を変化させることで、第１レーザ光の光軸のみを独立して調整することができ、それによってトラッキング方向における第２レーザ光のスポット位置に対する第１レーザ光のスポット位置のずれを補正することができる。
【００７８】
本実施の形態では、先の[式２]により検出したずれ量D_skew_radの値に基づき、上記ガルバノミラー１７の反射面の角度を変化させることで、第１レーザ光のスポット位置を、トラッキング方向において第２レーザ光のスポット位置に一致させるようにして補正を行う。
【００７９】
このとき、注意すべきであるのは、ずれ量D_skew_radの検出は第２レーザ光に基づき行うのに対し、当該ずれ量D_skew_radに基づく補正は、第１レーザ光のスポット位置の調整により行うという点である。すなわち、この場合は補正を行ったとしても、ずれ量D_skew_radの値にその補正分が反映されるということはなく、従ってこの場合の補正制御は、検出されたずれ量D_skew_radの値を「０」とするようなフィードバック制御にはなり得ないものである。
【００８０】
本実施の形態の場合において、検出したずれ量D_skew_radに基づく第１レーザ光のスポット位置の補正は、ずれ量D_skew_radの値ごとに必要な補正量（この場合はガルバノミラー１７の角度調整量）を予め実験等を行って割り出しておき、そのようなずれ量D_skew_radの値と補正量との関係を表す情報を用いて行うことになる。
例えば、ずれ量D_skew_radの値ごとに補正量の情報を対応づけたテーブル情報を作成しておき、補正は、このようなテーブル情報を用いることで、検出したずれ量D_skew_radの値を補正量の値に換算した上で行う。
或いは、検出したずれ量D_skew_radの値の補正量への換算は、ずれ量D_skew_radの値と必要な補正量との関係を表した関数を用いて行うこともできる。具体的には、上記関数に検出したずれ量D_skew_radの値を代入して必要な補正量の値を算出するというものである。
【００８１】
このような換算処理によって得られた補正量の値に基づき、ガルバノミラー１７を駆動制御してその反射面の角度を調整することで、第１レーザ光のスポット位置を、トラッキング方向において第２レーザ光のスポット位置に一致させるようにして補正を行うことができる。
【００８２】
[3-3．第１の実施の形態の光学ドライブ装置の構成]
続いて、上記により説明したチルト起因によるスポットずれ量の検出、及びスポット位置ずれの補正を実現するための、第１の実施の形態としての光学ドライブ装置の構成について説明する。
ここで、第１の実施の形態の光学ドライブ装置は、バルク型記録媒体１のバルク層５に記録される情報（つまりユーザデータとして記録される情報）に関して、その記録機能と共に再生機能も有する。この意味で以下、第１の実施の形態の光学ドライブ装置は記録再生装置１０と称する。
【００８３】
図１１は、第１の実施の形態としての記録再生装置１０の内部構成を示している。
先ず、記録再生装置１０に対して装填されたバルク型記録媒体１は、図示は省略したスピンドルモータによって回転駆動される。
そして、記録再生装置１０には、このように回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して第１レーザ光、第２レーザ光を照射するための光学ピックアップＯＰが設けられる。
【００８４】
光学ピックアップＯＰ内には、マークによる情報記録、及びマークにより記録された情報の再生を行うための第１レーザ光の光源である第１レーザ１１と、位置制御用光（サーボ光）としての第２レーザ光の光源である第２レーザ２４とが設けられる。
ここで、前述のように第１レーザ光と第２レーザ光とはそれぞれ波長が異なる。本例の場合、第１レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、第２レーザ光の波長はおよそ６５０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされる。
【００８５】
また、光学ピックアップＯＰ内には、第１レーザ光と第２レーザ光のバルク型記録媒体１への出力端となる対物レンズ２０が設けられる。  
さらには、上記第１レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための第１レーザ用受光部２３と、第２レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための第２レーザ用受光部３１（図６も参照）とが設けられる。
【００８６】
その上で光学ピックアップＯＰ内においては、上記第１レーザ１１より出射された第１レーザ光を上記対物レンズ２０に導くと共に、上記対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からの第１レーザ光の反射光を上記第１レーザ用受光部２３に導くための光学系が形成される。
具体的に、上記第１レーザ１１より出射された第１レーザ光は、コリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように第１レーザ１１側から入射した第１レーザ光については透過するように構成されている。
【００８７】
上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した第１レーザ光は、レンズ１４、レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、光源である第１レーザ１１に近い側の上記レンズ１４が固定レンズ、上記第１レーザ１１に遠い側の上記レンズ１５が可動レンズとされ、レンズ駆動部１６によって上記レンズ１５が第１レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、第１レーザ光について独立したフォーカス制御を行う。
後述もするように、当該エキスパンダ（上記レンズ駆動部１６）は、記録時にはコントローラ４０の指示に基づき第１レーザ光の合焦位置をオフセットさせ、再生時には第１レーザ用フォーカスサーボ回路３５からの出力信号に基づき第１レーザ光のフォーカス制御を行う。
【００８８】
上記エキスパンダを介した第１レーザ光は、ガルバノミラー１７の反射面に入射する。ガルバノミラー１７は、このように入射した第１レーザ光の光軸を略９０°に折り曲げることのできる位置に対して設置される。
ガルバノミラー１７は、後述する光軸補正ドライバ４２からの駆動信号に基づきその反射面の角度を変化させ、上記反射面を介して出力される第１レーザ光の光軸の角度を調整する。
【００８９】
上記ガルバノミラー１７にて反射された第１レーザ光は、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、第１レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した第１レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
【００９０】
上記ダイクロイックプリズム１９で反射された第１レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向）に変位可能に保持する２軸機構２１が設けられる。
当該２軸機構２１は、後述する第２レーザ用フォーカスサーボ回路３７、トラッキングサーボ回路３８からフォーカスコイル、トラッキングコイルにそれぞれ駆動電流が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００９１】
ここで、再生時においては、上記のようにしてバルク型記録媒体１に対して第１レーザ光が照射されることに応じて、バルク型記録媒体１（バルク層５内の再生対象の情報記録層Ｌに記録されたマーク列）より上記第１レーザ光の反射光が得られる。このようにして得られた第１レーザ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射された第１レーザ光の反射光は、１／４波長板１８→ガルバノミラー１７→エキスパンダ（レンズ１５、レンズ１４）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００９２】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する第１レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射の作用とにより、第１レーザ光１１側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した第１レーザ光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射した第１レーザ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。
【００９３】
このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射された第１レーザ光の反射光は、集光レンズ２２を介して第１レーザ用受光部２３の検出面上に集光する。
【００９４】
また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した第１レーザ光についての光学系の構成に加えて、第２レーザ２４より出射された第２レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からの第２レーザ光の反射光を第２レーザ用受光部３１に導くための光学系が形成される。
図示するように上記第２レーザ２４より出射された第２レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このように第２レーザ２４側から入射した第２レーザ光（往路光）は透過するように構成される。
【００９５】
上記偏光ビームスプリッタ２６を透過した第２レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、第１レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記第２レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。
【００９６】
また、このようにバルク型記録媒体１に第２レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該第２レーザ光の反射光（特にこの場合は基準面Ｒｅｆからの反射光と表面Ｓｕｒｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先の第１レーザ光の場合と同様にして、このようにバルク型記録媒体１側から入射した第２レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としての上記第２レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。
【００９７】
このようにして偏光ビームスプリッタ２６にて反射された第２レーザ光の反射光は、検出光分離用ＨＯＥ２８→集光レンズ２９→シリンドリカルレンズ３０を介して、第２レーザ用受光部３１の検出面上に集光する。
ここで、図１１では図示は省略しているが、上記検出光分離用ＨＯＥ２８は、先の図６に示したようにしてトラッキング方向にずれた位置に回折光（１次光）を出力する。
また、先の図８にて説明した通り、第２レーザ用受光部３１は、内部に備えられる位置制御用ＰＤ３１−Ｒ、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの配置位置が以下の条件を満たすように設定される。
すなわち、位置制御用ＰＤ３１−Ｒについては、第２レーザ光の焦点Ｒが基準面Ｒｅｆに一致し且つチルト及びレンズシフトが生じていない状態において、その検出面上における中心位置が、上記検出光分離用ＨＯＥ２８を透過した第２レーザ光の反射光の０次光中に含まれている基準面Ｒｅｆからの反射光の上記集光レンズ２９による焦点ｒ-0と一致するようにされる。
また、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａについては、同様に第２レーザ光の焦点Ｒが基準面Ｒｅｆに一致し且つチルト及びレンズシフトが生じていない状態において、その検出面上における中心位置（ずれ量＝０の基準位置）が、上記検出光分離用ＨＯＥ２８により出力される第２レーザ光の反射光の１次光中に含まれている表面Ｓｕｒｆからの反射光の上記集光レンズ２９による焦点ａ-1と一致するようにされる。
【００９８】
ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録再生装置１０には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。
【００９９】
また、記録再生装置１０には、上記により説明した光学ピックアップＯＰと共に、記録処理部３２、第１レーザ用受光信号処理部３３、再生処理部３４、第１レーザ用フォーカスサーボ回路３５、第２レーザ用受光信号処理部３６、第２レーザ用フォーカスサーボ回路３７、トラッキングサーボ回路３８、位置情報検出部３９、コントローラ４０、補正量換算部４１、及び光軸補正ドライバ４２が設けられる。
【０１００】
先ず、記録処理部３２には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３２は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
記録処理部３２は、コントローラ４０からの指示に応じて、このように生成した記録変調データ列に基づく第１レーザ１１の発光駆動を行う。
【０１０１】
第１レーザ用受光信号処理部３３は、第１レーザ用受光部２３としての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
具体的には、上述した記録変調データ列を再生した再生信号に相当する高周波信号（以降、再生信号ＲＦと称する）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-1、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-1を生成する。
【０１０２】
第１レーザ用受光信号処理部３３にて生成された上記再生信号ＲＦは、再生処理部３４に供給される。
また、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-1は、第１レーザ用フォーカスサーボ回路３５に供給され、上記トラッキングエラー信号ＴＥ-1はトラッキングサーボ回路３８に対して供給される。
【０１０３】
上記再生処理部３４は、上記再生信号ＲＦについて、２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
【０１０４】
また、第１レーザ用フォーカスサーボ回路３５は、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-1に基づくフォーカスサーボ信号を生成し、当該フォーカスサーボ信号に基づきレンズ駆動部１６を駆動制御することで、第１レーザ光についてのフォーカスサーボ制御を行う。
先の説明からも理解されるように、第１レーザ光の反射光に基づくレンズ駆動部１６の駆動による第１レーザ光のフォーカスサーボ制御は、再生時において行われるものである。
第１レーザ用フォーカスサーボ回路３５は、再生時に対応してコントローラ４０から為される指示に応じて、バルク型記録媒体１に形成された情報記録層Ｌ（マーク列）の間の層間ジャンプ動作や所要の情報記録面Ｌに対するフォーカスサーボの引き込みが行われるようにしてレンズ駆動部１６を駆動制御する。
【０１０５】
また、第２レーザ光側に関して、第２レーザ用受光信号処理部３６は、上述した第２レーザ用受光部３１における複数の受光素子（Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ、及びＥ１，Ｆ１，Ｇ１，Ｈ１）からの受光信号に基づき、必要な信号を生成する。
具体的に第２レーザ用受光信号処理部３６は、フォーカス／トラッキングの各サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-2、トラッキングエラー信号ＴＥ-2を生成する。
また、基準面Ｒｅｆにおいて記録された絶対位置情報の検出を行うための位置情報検出用信号ｆｐｄを生成する。
また特に本実施の形態の場合は、チルト起因によるずれ量D_skew_radを表すチルト起因誤差信号を生成する。なお、以下においては「チルト起因誤差信号D_skew_rad」とも表記する。
【０１０６】
図１２は、上記第２レーザ用受光信号処理部３６の内部構成について説明するための図である。
なおこの図１２においては第２レーザ用受光部３１の内部構成も併せて示している。
この図１２に示されるように、第２レーザ用受光信号処理部３６内には、位置情報検出用信号生成部５１、トラッキングエラー信号生成部５２、フォーカスエラー信号生成部５３、チルト起因ずれ量検出部５４が設けられる。
【０１０７】
位置情報検出用信号生成部５１は、第２レーザ用受光部３１内における位置制御用ＰＤ３１−Ｒの各受光素子Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈからの受光信号を入力し、基準面Ｒｅｆに記録された絶対位置情報の検出を行うための位置情報検出用信号ｆｐｄを生成する。
例えば絶対位置情報がピット列により形成される場合、位置情報検出用信号ｆｐｄとしては上記各受光素子Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈからの受光信号の和信号により生成する。或いは絶対位置情報がウォブリンググルーブによって記録される場合、位置情報検出用信号ｆｐｄとしてはプッシュプル信号により生成する。
【０１０８】
また、トラッキングエラー信号生成部５２は、位置制御用ＰＤ３１−Ｒの各受光素子Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈからの受光信号に基づきトラッキングエラー信号ＴＥ-2を生成し、またフォーカスエラー信号生成部５３は位置制御用ＰＤ３１−Ｒの各受光素子Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈからの受光信号に基づいてフォーカスエラー信号ＦＥ-2を生成する。
【０１０９】
また、チルト起因ずれ量検出部５４は、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａにおける各受光素子Ｅ１，Ｆ１，Ｇ１，Ｈ１からの受光信号を入力し、それらの受光信号に基づいて先の[式２]による演算を行うことで、チルト起因誤差信号（チルト起因ずれ量）D_skew_radを生成する。
【０１１０】
説明を図１１に戻す。
上記第２レーザ用受光信号処理部３６にて生成された位置情報検出用信号ｆｐｄは、図示するようにして位置情報検出部３９に供給される。位置情報検出部３９は上記位置情報検出用信号ｆｐｄに基づき基準面Ｒｅｆに記録された絶対位置情報を検出する。検出された絶対位置情報はコントローラ４０に対して供給される。
【０１１１】
また、上記第２レーザ用受光信号処理部３６にて生成されたフォーカスエラー信号ＦＥ-2は、第２レーザ用フォーカスサーボ回路３７に供給される。
また、トラッキングエラー信号ＴＥ-2はトラッキングサーボ回路３８に供給される。
また、チルト起因誤差信号D_skew_radは補正量換算部４１に対して供給される。
【０１１２】
第２レーザ用フォーカスサーボ回路３７は、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-2に基づくフォーカスサーボ信号を生成し、当該フォーカスサーボ信号に基づき２軸機構２１のフォーカスコイルを駆動することで、対物レンズ２０についてのフォーカスサーボ制御を行う。先に述べたように、対物レンズ２０のフォーカスサーボ制御は、記録時、再生時共に第２レーザ光の反射光に基づいて行われるものである。
第２レーザ用フォーカスサーボ回路３７は、コントローラ４０からの指示に応じて、バルク型記録媒体１に形成された選択反射膜３（基準面Ｒｅｆ）へのフォーカスサーボの引き込みが行われるようにして上記フォーカスコイルを駆動する。
【０１１３】
トラッキングサーボ回路３８は、コントローラ４０からの指示に基づき、第１レーザ用受光信号処理部３３からのトラッキングエラー信号ＴＥ-1、又は第２レーザ用受光信号処理部３６からのトラッキングエラー信号ＴＥ-2の何れか一方に基づく２軸機構２１のトラッキングコイルの駆動を行う。
先に述べたように、対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御は、記録時には第２レーザ光の反射光に基づいて行われることになる。また、再生時には、アクセス完了前までは第２レーザ光の反射光に基づき行われ、アクセス完了後には第１レーザ光の反射光に基づいて行われることになる。
トラッキングサーボ回路３８は、記録時には、コントローラ４０からの指示に応じて上記トラッキングエラー信号ＴＥ-2に基づくトラッキングサーボ信号を生成し、当該トラッキングサーボ信号に基づき２軸機構２１のトラッキングコイルを駆動する。また、再生時におけるアクセス完了前においては、コントローラ４０からの指示に応じて上記トラッキングエラー信号ＴＥ-2に基づくトラッキングサーボ信号を生成し、当該トラッキングサーボ信号に基づき２軸機構２１のトラッキングコイルを駆動し、アクセス完了後には、コントローラ４０からの指示に応じて上記トラッキングエラー信号ＴＥ-1に基づくトラッキングサーボ信号を生成し、当該トラッキングサーボ信号に基づき２軸機構２１のトラッキングコイルを駆動する。
またトラッキングサーボ回路３８は、コントローラ４０からの指示に応じて、トラッキングサーボの引き込み動作やトラックジャンプ動作も行う。
【０１１４】
コントローラ４０は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
具体的にコントローラ４０は、記録時においては、先の図２にて説明したようにして予め各層位置に対応して設定されたオフセットｏｆの値に基づいて、第１レーザ光の合焦位置の制御（深さ方向における記録位置の選択）を行う。具体的にコントローラ４０は、記録対象とする層位置に対応して設定されたオフセットｏｆの値に基づきレンズ駆動部１６を駆動することで、深さ方向における記録位置の選択を行う。
ここで先に述べたように、記録時におけるトラッキングサーボ制御は、第２レーザ光の反射光に基づき行われるべきものとなる。このためコントローラ４０は、記録時には、トラッキングサーボ回路３８に対してトラッキングエラー信号ＴＥ-2に基づくトラッキングサーボ制御を実行するように指示を行う。
【０１１５】
一方再生時において、コントローラ４０は、第１レーザ用フォーカスサーボ回路３５に対する指示を行って、第１レーザ光を再生すべきデータが記録された情報記録層Ｌ（マーク列の形成位置）に合焦させる。すなわち、第１レーザ光に関して、上記情報記録層Ｌを対象としたフォーカスサーボ制御を実行させる。
【０１１６】
また再生時において、コントローラ４０は、アクセス完了前／後に応じたトラッキングサーボ回路３８によるトラッキングサーボ制御の切り換え指示を行う。具体的に、アクセス完了前までは、トラッキングエラー信号ＴＥ-2に基づくトラッキングサーボ制御を実行させ、アクセス完了後には、トラッキングエラー信号ＴＥ-1に基づくトラッキングサーボ制御を実行させる。
【０１１７】
また、記録再生装置１０には、チルト起因によるスポットずれの補正を行うための構成として、補正量換算部４１、及び光軸補正ドライバ４２が設けられる。
上記補正量換算部４１は、第２レーザ用受光信号処理部３６にて生成されたチルト起因誤差信号D_skew_radの値（ずれ量D_skew_radの値）を、ガルバノミラー１７の補正量の値に換算する。具体的に、この補正量換算部４１は、先に説明したようなずれ量D_skew_radと補正量との関係を表すテーブル情報や関数の情報に基づき、ずれ量D_skew_radの値をガルバノミラー１７の補正量の値に換算する。
【０１１８】
光軸補正ドライバ４２は、上記補正量換算部４１により得られた補正量の値に基づき、ガルバノミラー１７を駆動制御する。これにより、第１レーザ光のスポット位置と第２レーザ光のスポット位置のトラッキング方向における位置が一致するようにして第１レーザ光のスポット位置の補正が行われる。
【０１１９】
ここで、先の図２、図３の説明からも理解されるように、第１レーザ光と第２レーザ光とのスポット位置ずれが問題となるのは、主に記録時である（再生時においては記録済みマーク列を対象として第１レーザ光のサーボ制御が行われるため）。つまり本実施の形態において、上記のようなガルバノミラー１７の駆動制御によるスポット位置ずれの補正動作は、記録時にのみ行うものである。
このことに対応し、コントローラ４０は、光軸補正ドライバ４２に対し記録時にのみ補正量の値に基づくガルバノミラー１７の駆動制御を実行させる指示を行う。
【０１２０】
或いは、スポット位置ずれの補正動作は、再生時においても行うことができる。
ここで、先の説明によると、再生時であってもアクセス完了までの期間には、対物レンズ２０のトラッキング方向の位置制御が第２レーザ光の反射光に基づき行われることになる。再生開始位置へのアクセスが完了したタイミングでは、再生対象とするマーク列を対象とした第１レーザ光のトラッキングサーボの引き込み動作を行うことになるが、このとき、第２レーザ光に対し第１レーザ光の位置がずれていると、引き込みをスムーズに行うことができなくなる虞がある。
この点を考慮し、再生時においても、再生開始位置へのアクセス完了までの期間（つまりアクセス動作中）には、ガルバノミラー１７による第１レーザ光のスポット位置ずれ補正を実行させるようにすることもできる。
その場合、コントローラ４０は、光軸補正ドライバ４２に対し記録時及び再生時のアクセス動作中においてガルバノミラー１７の補正量の値に基づく駆動制御を実行させる指示を行うことになる。
【０１２１】
上記により説明したようにして、第１の実施の形態によれば、位置制御用光としての第２レーザ光のバルク型記録媒体１の表面からの反射光を利用して、チルト量の検出、ひいてはチルトに起因して生じる位置制御用光（第２レーザ光）のスポット位置に対する記録／再生光（第１レーザ光）のスポット位置のずれ量の検出を行うことができる。
これにより、チルト量（チルト起因のスポット位置ずれ量）の検出にあたっては、従来のチルトセンサ（１６５）のように別途の光源を設ける必要は無いものとでき、チルト検出のための光学系はマークの記録／再生や位置制御のための光学系の内部に組み込むことができる。
つまりこのような第１の実施の形態によれば、従来のチルトセンサを用いる場合のように、マークの記録／再生や位置制御のための光学系外部にチルト検出用の光学系のスペースを確保する必要性も無いものとでき、結果、従来よりも部品点数の削減による装置製造コストの削減化や装置の小型化が図られる。
【０１２２】
また、第１の実施の形態では、基準面Ｒｅｆからの反射光と表面Ｓｕｒｆからの反射光とをそれぞれ独立して検出するにあたり、検出光分離用ＨＯＥ２８を用いるものとしている。この検出光分離用ＨＯＥを用いることで、本来は同一光軸上に集光する基準面Ｒｅｆからの反射光と表面Ｓｕｒｆからの反射光とを、それぞれ独立して検出することができる。
例えば、これら基準面Ｒｅｆからの反射光と表面Ｓｕｒｆからの反射光とを独立して検出するとした場合、バルク型記録媒体１からの反射光をハーフミラー等により分光して別光路で検出するという手法も採ることが考えられるが、その場合には、位置制御用ＰＤとチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａとを比較的離れた位置に配置しなければならい。
これに対し、検出光分離用ＨＯＥ２８を用いるものとすれば、先の図６を参照して分かるようにこれら位置制御用ＰＤとチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａとは非常に近接した位置に配置することができ、共通の受光部内に一体的に設けることができる。つまりその分、部品点数の削減化が図られる。
【０１２３】
＜４．第２の実施の形態：レンズシフト起因分も含めたスポットずれの検出・補正＞
[4-1．レンズシフト起因のスポットずれ量の検出手法]
続いて、第２の実施の形態について説明する。
第２の実施の形態は、チルトのみでなく、レンズシフト起因分も含めたスポット位置ずれの検出・補正を行うものである。
なお第２の実施の形態においても、スポット位置ずれ量の検出・補正についてはトラッキング方向のみを考える。
【０１２４】
ここで、下記の参考文献１においても記載されているように、対物レンズによって第１の光を光記録媒体が有する記録層内の所要位置に合焦させることによりマークの形成による情報記録又は記録情報の再生を行う場合にあって、上記光記録媒体が有する位置案内子が形成された反射膜に対し、上記対物レンズを介して第２の光を集光し、当該反射膜に集光した第２の光の反射光に基づき上記第２の光のスポット位置が上記位置案内子に追従するようにして上記対物レンズの位置を制御する場合においては、上記対物レンズのレンズシフト（トラッキング移動）が生じた場合に、上記第１の光のスポット位置が上記第２の光のスポット位置の直下に位置するものとならず、スポット位置ずれが生じることになる。
つまり、参考文献１（特に図５，図６）においても説明されるように、対物レンズの中心がその中心基準位置Ｃ−ol（先の図５を参照）からトラッキング方向にずれた場合には、記録／再生光の光軸と位置制御用光の光軸とが対物レンズによって屈折することになるが、このとき、記録／再生光と位置制御用光とはそれぞれ焦点位置（フォーカス方向におけるスポット位置）が異なる（記録／再生光＝バルク層５内、位置制御用光＝基準面Ｒｅｆ）ため、フォーカス方向に直交する方向においても、これら記録光と位置制御用光のスポット位置にずれが生じるものである。
参考文献１・・・特開２００８−３１０８４８号公報
【０１２５】
上記説明からも理解されるように、第２レーザ光のスポット位置に対する第１レーザ光のスポット位置のずれは、チルトのみでなくレンズシフトによっても生じることとなる。
そこで第２の実施の形態では、このようなレンズシフトに起因したスポット位置のずれについても補正する手法を提案する。
【０１２６】
先ず、レンズシフト起因のスポット位置ずれの補正を行うにあたっては、レンズシフト起因のスポット位置ずれ量の検出を行う。
第２の実施の形態において、レンズシフト起因のスポット位置ずれ量の検出は、以下のような手法により行う。
【０１２７】
図１３は、レンズシフト起因のスポット位置ずれ量の検出を行うための検出用光を生成するための光学系の構成例を示している。
なお図１３においては、先の図１１に示した第２レーザ光の光学系を構成する各部のうち同様となる部分については同一符号を付して示しているが、ここでは図１１に示したダイクロイックプリズム１９、及び集光レンズ２９、シリンドリカルレンズ３０の図示は省略している。
また、この図１３において注意すべきは、紙面の横方向がバルク型記録媒体１の線方向となっている点である。
【０１２８】
この図１３を参照して分かるように、第２の実施の形態では、第１の実施の形態の記録再生装置１０が備えていた第２レーザ光についての光学系において、新たに照射光分離用ＨＯＥ６１を挿入するものとしている。
この照射光分離用ＨＯＥ６１としては、少なくとも光源（第２レーザ２４）から出射された第２レーザ光を対物レンズ２０に対して導く光路から第２レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を分光する分光点（ここでは偏光ビームスプリッタ２６の選択反射面が該当）よりも上記光源側となる位置に対して挿入する。具体的に本例の場合は、図のようにコリメーションレンズ２５と偏光ビームスプリッタ２６との間に挿入している。
【０１２９】
上記照射光分離用ＨＯＥ６１は、第２レーザ２４からコリメーションレンズ２５を介して入射する第２レーザ光を０次光として透過すると共に、図示するように線方向にずれた位置に、回折光（１次光：図中の破線）を生成・出力する。このとき、当該照射光分離用ＨＯＥ６１より出力される回折光としては、第２レーザ光の焦点Ｒが基準面Ｒｅｆに一致した状態において、当該回折光の対物レンズ２０による焦点が、図のように基準面Ｒｅｆよりも距離２ｔcだけ奥側（下層側）となるようにする。換言すれば、上記回折光の焦点位置は、表面Ｓｕｒｆ〜基準面Ｒｅｆまでの間の距離の２倍の距離だけ上記基準面Ｒｅｆよりも奥側となる位置とする。
このような回折光の焦点位置の調整は、例えば照射光分離用ＨＯＥ６１と対物レンズ２０との間の距離（このときの対物レンズ２０の位置は第２レーザ光の焦点Ｒが基準面Ｒｅｆに一致した状態となる位置）や照射光分離用ＨＯＥ６１のホログラムパターンの設定等により行うことができる。
【０１３０】
図１４は、上記のように線方向にずれた位置に回折光を生成・出力する照射光分離用ＨＯＥ６１のホログラムパターンの例を示している。
この図１４に示されるように、照射光分離用ＨＯＥ６１としても、先の図７に示した検出光分離用ＨＯＥ２８と同様に、偏芯円状のホログラムパターンが形成される。但しこの場合、各円の中心αはトラッキング方向ではなく線方向における何れか一方の方向に偏った位置に設定される。このような構成により、線方向において中心αが偏っている方向（この場合は紙面の上方向）に対して回折光を出力することができる。
【０１３１】
説明を図１３に戻す。
上記のようにして基準面Ｒｅｆよりも距離２ｔcだけ奥側（下層側）となる位置に合焦する回折光（１次光）がバルク型記録媒体１に照射されたとき、当該回折光の基準面Ｒｅｆからの反射光は、図中のＢ点に焦点を結ぶ（以下、焦点Ｂと称する）。
このとき、焦点Ｂのフォーカス方向における位置は、第２レーザ光の０次光（図中の実線で示す光線）の表面Ｓｕｒｆからの反射光の焦点Ａと一致することになる。
【０１３２】
第２の実施の形態では、上記のようにして形成される第２レーザ光の照射光分離用ＨＯＥ６１による１次光の基準面Ｒｅｆからの反射光の焦点Ｂのずれ量を検出した結果に基づき、レンズシフト起因のずれ量の検出を行う。
【０１３３】
図１５は、チルトに対する上記焦点Ｂの振る舞い（図１５（ａ））、及びレンズシフトに対する上記焦点Ｂの振る舞い（図１５（ｂ））を示している。
なお、図１５（ａ）においては、ラジアル方向のチルトが生じた場合を示しているとする。
【０１３４】
図１５（ａ）に示されるように、焦点Ｂとしても、先の焦点Ａと同様に、チルトの発生に応じて光軸Ｃからのずれが生じる。
具体的に、レンズシフトに起因した焦点Ｂの光軸Ｃからのずれ量δθ1は、チルトが無い状態からθ°のチルトが生じたとき、
δθ1＝４ｔc・θ  ・・・[式４]
となる。
【０１３５】
また、図１５（ｂ）に示すように、焦点Ｂは、対物レンズのレンズシフトによっても光軸Ｃからのずれが生じる。
ちなみに、対物レンズが、その中心が中心基準軸ｃ-olと一致する状態からトラッキング方向に距離ｄだけ移動した場合における焦点Ｂの光軸Ｃからのずれ量δd1は、対物レンズの焦点距離をｆとしたとき、対物レンズ〜対物レンズの物点までの距離Ｓ1＝ｆ（ｆ＋２ｔc）／２ｔc、対物レンズ〜照射光分離用ＨＯＥ６１の１次光の焦点までの距離Ｓ2＝ｆ＋２ｔcであることより、
δd1＝２ｔc／ｆ・ｄ  ・・・[式５]
となる。
【０１３６】
このようにして焦点Ｂは、チルトとレンズシフトとの双方に応じて光軸Ｃからのずれが生じる。換言すれば、当該焦点Ｂのずれ量を検出したとき、その光軸Ｃからのずれ量の値は、チルト起因のずれ量とレンズシフト起因のずれ量の双方を反映するものとなる。
【０１３７】
上記のようにして焦点Ｂのずれ量を検出するものとすれば、チルトとレンズシフトの双方に応じて生じる第１レーザ光と第２レーザ光とのスポット位置ずれ量を反映した値を得ることができる。
従って、この場合の補正は、このような焦点Ｂのずれ量の検出結果のみを用いて行うということが考えられる。
【０１３８】
しかしながらここで問題となるのは、先に述べたように第１レーザ光のスポット位置の補正制御は、フィードバック制御で行われるものでないという点である。
すなわち、第２レーザ光の反射光に基づき検出したスポット位置ずれ量から第１レーザ光のスポット位置の補正を行う場合には、先の第１の実施の形態で説明したようにして、検出したずれ量の値とそのときに必要な第１レーザ光のスポット位置についての補正量との関係を予め実験などにより割り出しておく必要がある。
このように必要な補正量を予め割り出しておくことを前提とした場合においては、その割り出し作業の簡略化の観点より、チルトのみに起因したずれ量に対応する必要補正量の割り出しと、レンズシフトのみに起因したずれ量に対応する必要補正量の割り出しとを、それぞれ独立して行うことができるようにするのが望ましい。
換言すれば、上記のようにチルト起因のずれ量とレンズシフト起因のずれ量との双方を含むものとなる焦点Ｂのずれ量の値について、必要な補正量を割り出す作業は非常に複雑化するので、これは避けられるべきものとなる。
【０１３９】
このような観点から、第２の実施の形態では、チルト起因によるずれ量とレンズシフト起因によるずれ量とをそれぞれ個別に検出し、チルト起因分の補正量の情報とレンズシフト起因分の補正量の情報とを個別に得る。その上で、これらの補正量の情報に基づいて第１レーザ光のスポット位置の補正を行う。
【０１４０】
このとき考慮すべきは、どのようにしてレンズシフトのみに起因したずれ量を検出するかという点となるが、先の[式２]（図４（ｂ））を参照すると、第１の実施の形態で説明した焦点Ａのチルト起因のずれ量δθ0（＝２ｔc・θ）の値は、先の[式４]に示した焦点Ｂのチルト起因のずれ量δθ1（＝４ｔc・θ）の値に対して１／２の関係になっていることに気づく。
この関係性を利用すれば、先の第１の実施の形態で説明したチルト起因のずれ量（D_skew）の値を用いて、焦点Ｂのずれ量の値（チルトとレンズシフトの双方によるずれ量を反映する値）からレンズシフトのみに起因した分のずれ量の値を抽出することができる。
具体的には、焦点Ｂのずれ量（トラッキング方向のみを考える）を「D_b_rad」とおくと、レンズシフト起因のずれ量＝D_shift_radは、
D_shift_rad＝D_b_rad−２・D_skew_rad  ・・・[式６]
によって求めることができる。
【０１４１】
[4-2．ずれ量検出のための具体的な構成]
上記のようにして焦点Ｂのずれ量（D_b_rad）を検出するものとすれば、その値から第１の実施の形態で説明した焦点Ａのずれ量（チルトのみに起因したずれ量：D_skew_rad）の２倍の値を減算することで、レンズシフトのみに起因したずれ量D_shift_radの値を求めることができる。
【０１４２】
図１６、図１７を参照して、上記焦点Ｂのずれ量を検出するための具体的な構成について説明する。
図１６は、焦点Ｂのずれ量を検出するための具体的な構成について説明するための図であり、図１６（ａ）はバルク型記録媒体１の表面Ｓｕｒｆ、基準面Ｒｅｆと共に、第２レーザ光の反射光に基づくずれ量検出にあたっての要部となる構成のみを抽出して示しており、図１６（ｂ）は第２の実施の形態において備えられるべき第２レーザ用受光部６２の検出面の平面図を示している。
ここで図示もされているように、図１６においては、紙面の横方向が線方向である。
【０１４３】
先ず前提として、第２の実施の形態としても、第２レーザ光についての光学系としては、先の図１３に示した照射光分離用ＨＯＥ６１を追加する以外は、図１１に示した第１の実施の形態の記録再生装置１０の場合と同様の光学系を備えるようにする。
図１６（ａ）ではこのことを前提として、第２レーザ光の反射光についての検出光学系における、ずれ量検出にあたっての要部となる構成のみを抽出して示している。
先の図１３においても説明したように、焦点Ａと焦点Ｂとはフォーカス方向における位置が一致するものとなっており、また焦点Ａは線方向において光軸Ｃと一致し、焦点Ｂは線方向において光軸Ｃとはずれた位置となっている。
【０１４４】
この場合も焦点Ａから対物レンズ２０を介して入射する光（第２レーザ光の照射光分離用ＨＯＥ６１による０次光についての表面Ｓｕｒｆからの反射光）の振る舞いは第１の実施の形態の場合と同様となる。すなわち、第２レーザ光の焦点Ａから対物レンズ２０を介して入射した光は、検出光分離用ＨＯＥ２８により０次光とトラッキング方向にずれた１次光とに分けられ、これら０次光・１次光がそれぞれ集光レンズ２９により集光される。
図中では、このように集光レンズ２９により集光される焦点Ａから対物レンズ２０を介して入射した光のうち、上記検出光分離用ＨＯＥ２８による１次光成分の焦点ａ-1を示している。
【０１４５】
焦点Ｂから対物レンズ２０を介して入射する光線としても、上記検出光分離用ＨＯＥ２８によりその０次光と１次光とが生成される。
ここで、このように焦点Ｂから対物レンズ２０を介して入射する光については、以下、Ｂ光とも称する。
図中では、このようなＢ光の上記検出光分離用ＨＯＥ２８による１次光成分の集光レンズ２９により形成される焦点ｂ-1を示しているが、当該焦点ｂ-1は、前述のように焦点Ｂが焦点Ａに対して線方向にずれた位置とされているため、同様に焦点ａ-1に対して線方向にずれた位置に形成される。
【０１４６】
このことに対応させて、第２の実施の形態では、図１６（ｂ）に示すような第２レーザ用受光部６２を備えるものとしている。
先の図８（ｂ）などと対比して分かるように、第２の実施の形態における第２レーザ用受光部６２は、第１の実施の形態における第２レーザ用受光部３１に対し、新たにＢ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂが追加されたものとなっている。
このＢ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂは、受光素子Ｅ２，Ｆ２，Ｇ２，Ｈ２を備えて成り、図のように「Ｅ２，Ｇ２」の組、「Ｆ２，Ｈ２」の組がそれぞれトラッキング方向において隣り合う組となっている。そして当該Ｂ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂは、第２レーザ光の焦点Ｒが基準面Ｒｅｆに一致し且つチルト及びレンズシフトが生じていない状態において、図のようにその検出面の中心（ずれ量＝０の基準位置）が前述した焦点ｂ-1と一致するようにしてその配置位置が定められる。
なお確認のために述べておくと、この場合も位置制御用ＰＤ３１−Ｒ、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの配置位置は、第１の実施の形態の場合と同様となる。
【０１４７】
なお、図１６（ｂ）においては、Ｂ光の検出光分離用ＨＯＥ２８による０次光の焦点ｂ-0も示しているが、検出光分離用ＨＯＥ２８によってはトラッキング方向にずれた位置に１次光が出力されることから、図のように当該焦点ｂ-0と焦点ｂ-1とはトラッキング方向においてずれた位置となる。
【０１４８】
図１７は、上記第２レーザ用受光部６２上に照射される光の様子について説明するための図であり、図１７（ａ）は焦点Ｒからの反射光の様子を、図１７（ｂ）は焦点Ａからの光と焦点Ｂからの光の様子を示している。
図１７（ａ）に示されるように、この場合も焦点Ｒからの反射光は、先の図９（ａ）と同様に、その０次光が位置制御用ＰＤ３１−Ｒ上に集光スポットを形成するようにして照射され、１次光はチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａ付近にぼやけた状態で照射されることになる。
【０１４９】
また、図１７（ｂ）において、この場合も焦点Ａからの光は、先の図９（ｂ）の場合と同様に、その０次光は位置制御用ＰＤ３１−Ｒ上にぼやけた状態で照射され、１次光はチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの検出面上に集光スポットを形成するようにして照射される。
【０１５０】
また図１７（ｂ）において、焦点Ｂからの光は、その０次光は位置制御用ＰＤ３１−Ｒから線方向にずれた位置にぼやけた状態で照射され、１次光がＢ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂの検出面上に集光スポットを形成するようにして照射されることになる。
【０１５１】
この図１７を参照して分かるように、第２の実施の形態としても、検出光分離用ＨＯＥ２８により出力される０次光、１次光を利用して、位置制御用ＰＤ３１−Ｒには焦点Ｒからの反射光の０次光の集光スポットのみが形成されるようにでき、またチルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａには焦点Ａからの光の１次光の集光スポットのみが形成されるようにすることができる。
またこれと共に、Ｂ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂには焦点Ｂからの光の１次光の集光スポットのみが形成されるようにすることができる。
これにより、基準面Ｒｅｆからの反射光に基づくレーザ光の位置制御のための情報の検出と、焦点Ａからの光に基づくチルト検出（チルト起因のスポットずれ量の検出）と、さらに焦点Ｂからの光に基づくＢ光のずれ量（D_b_rad）の検出とを、それぞれ独立して行うことができる。
【０１５２】
ここで、Ｂ光のずれ量（焦点Ｂの光軸Ｃからのずれ量）D_b_radの検出は、上記Ｂ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂにおける各受光素子Ｅ２，Ｆ２，Ｇ２，Ｈ２による受光信号に基づき、以下のように計算することができる。
D_b_rad＝Ｅ２＋Ｇ２−（Ｆ２＋Ｈ２）  ・・・[式７]
ちなみに、線方向におけるＢ光のずれ量D_b_tanは、
D_b_tan＝Ｅ２＋Ｆ２−（Ｇ２＋Ｈ２）  ・・・[式８]
により計算できる。
【０１５３】
先の説明からも理解されるように、第２の実施の形態においては、上記[式７]により計算したＢ光のずれ量D_b_radの値と、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａの各受光素子Ｅ１，Ｆ１，Ｇ１，Ｈ１からの受光信号に基づき計算したチルト起因のずれ量D_skew_rad（[式２]）の値とを用いて、先の[式６]によりレンズシフト起因のずれ量D_shift_radを計算により求める。
そして、第２の実施の形態では、上記チルト起因のずれ量D_skew_radの値と、上記レンズシフト起因のずれ量D_shift_radの値とを用いて、チルトとレンズシフトとに起因して生じる第１レーザ光のスポット位置ずれを補正する。
【０１５４】
先の説明からも理解されるように、第２の実施の形態においては、チルトのみに起因したずれ量と必要補正量との関係を表す情報（チルト側補正量換算情報と称する）と、レンズシフトのみに起因したずれ量と必要補正量との関係を表す情報（シフト側補正量換算情報）とをそれぞれ個別に生成しておくことになる。
そして実際の補正にあたっては、上記チルト側補正量換算情報に基づき上記チルト起因のずれ量D_skew_radの値に応じた補正量の値を求め、また上記シフト側補正量換算情報に基づき上記レンズシフト起因のずれ量D_shift_radの値に応じた補正量の値を求めた上で、それらの補正量の値を加算することで、チルト及びレンズシフトに起因したスポット位置ずれを補正するための最終的な補正量の値を得る。
このようにして求めた最終的な補正量の値に基づき、ガルバノミラー１７を駆動制御して第１レーザ光の光軸を調整することで、第１レーザ光のスポット位置を、トラッキング方向において第２レーザ光のスポット位置に一致させるようにして補正することができる。
【０１５５】
[4-3．第２の実施の形態の光学ドライブ装置の構成]
図１８は、上記により説明したレンズシフト起因分も含めたスポットずれの検出・補正を実現するための、第２の実施の形態としての記録再生装置６０の内部構成を示している。
なおこの図１８において、既に図１１において説明した部分と同様となる部分については同一符号を付して説明を省略する。
【０１５６】
この図１８と先の図１１とを比較して分かるように、第２の実施の形態の記録再生装置６０は、第１の実施の形態の記録再生装置１０に対して、コリメーションレンズ２５と偏光ビームスプリッタ２６との間に先の図１３にて説明した照射光分離用ＨＯＥ６１が挿入される点と、第２レーザ用受光部３１に代えて先の図１６に示した第２レーザ用受光部６２が備えられる点とが異なる。
また、第２レーザ用受光信号処理部３６に代えて第２レーザ用受光信号処理部６３が備えられ、また補正量換算部４１に代えて補正量換算部６４が備えられる点が異なる。
さらには、シフト起因ずれ量計算部６５が新たに追加される点が異なる。
【０１５７】
図１９は、第２の実施の形態の記録再生装置６０が備える上記第２レーザ用受光信号処理部６３の内部構成について説明するための図である。
なおこの図１９では第２レーザ用受光部６２も併せて示している。
この図１９と先の図１２とを比較して分かるように、第２レーザ用受光信号処理部６３は、第１の実施の形態の場合の第２レーザ用受光信号処理部３６に対して、新たにＢ光ずれ量検出部７１が追加されたものとなっている。
このＢ光ずれ量検出部７１は、第２レーザ用受光部６２内におけるＢ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂの各受光素子Ｅ２，Ｆ２，Ｇ２，Ｈ２による受光信号に基づき、先の[式７]による演算を行ってＢ光のずれ量D_b_rad（以下、Ｂ光誤差信号D_b_radとも表記する）を生成する。
【０１５８】
説明を図１８に戻す。
図１８において、上記第２レーザ用受光信号処理部６３にて生成されたチルト起因ずれ量（チルト起因誤差信号）D_skew_radは、補正量換算部６４に供給されると共に、シフト起因ずれ量計算部６５に対しても供給される。
また第２レーザ用受光信号処理部６３にて生成された上記Ｂ光誤差信号D_b_radは、上記シフト起因ずれ量計算部６５に対して供給される。
【０１５９】
シフト起因ずれ量計算部６５は、上記のようにして供給されるチルト起因誤差信号D_skew_radとＢ光誤差信号D_b_radとに基づき、先の[式６]による演算を行ってレンズシフト起因のずれ量＝D_shift_radの値を計算する。
このようにしてシフト起因ずれ量計算部６５により計算されたレンズシフト起因のずれ量D_shift_radの値は、補正量換算部６４に対して供給される。
【０１６０】
補正量換算部６４には、先に説明したチルト側補正量換算情報とシフト側補正量換算情報とが設定される。
補正量換算部６４は、上記チルト側補正量換算情報に基づき上記チルト起因のずれ量D_skew_radの値に応じた補正量の値を求めると共に、上記シフト側補正量換算情報に基づき上記レンズシフト起因のずれ量D_shift_radの値に応じた補正量の値を求める。
その上で、これら求めた補正量の値を加算することで、チルト及びレンズシフトに起因したスポット位置ずれを補正するための最終的な補正量の値を得て、当該最終的な補正量の値を光軸補正ドライバ４２に対して供給する。
【０１６１】
このようにして補正量換算部６４で求められた最終的な補正量の値に基づき、上記光軸補正ドライバ４２がガルバノミラー１７を駆動制御して第１レーザ光の光軸を調整することで、第１レーザ光のスポット位置を、トラッキング方向において第２レーザ光のスポット位置に一致させるようにして補正することができる。
【０１６２】
上記のようにして第２の実施の形態によれば、位置制御用光としての第２レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を用いて、チルト起因のスポット位置ずれのみでなく、レンズシフト起因のスポット位置ずれについても検出・補正を行うことができる。
ここで、従来においては、チルトとレンズシフトの双方に起因して生じるスポット位置ずれを検出・補正するとした場合には、特許文献３に記載の技術と先の参考文献１に記載の技術とを組み合わせることになるが、その場合は、同一光源からの光を用いてチルト起因のずれ量とレンズシフト起因のずれ量とを個別に検出することはできない。
これに対し第２の実施の形態によれば、チルト起因のずれ量とレンズシフト起因のずれ量との検出は第２レーザ２４としての共通の光源を用いて行うことができるので、そのための構成は第２レーザ光の光学系内に組み込むことができ、その分、構成の簡素化や部品点数の削減、ひいては装置製造コストの削減や装置小型化を図ることができる。
【０１６３】
また、第２の実施の形態では、サーボ等の位置制御を行うための焦点Ｒからの反射光、及びチルト起因、レンズシフト起因のずれ量を検出するための焦点Ａ、焦点Ｂからの光のそれぞれを、検出光分離用ＨＯＥ２８に入射してそれらの検出を行うようにしたことで、位置制御用ＰＤ、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａ、Ｂ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂを、例えばそれぞれの光をハーフミラー等で分光して検出するようにした場合と比較して、近接した位置に配置することができる。このことで第２の実施の形態では、先の図１６（ｂ）などに示したように位置制御用ＰＤ、チルト起因ずれ量検出用ＰＤ３１−Ａ、Ｂ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂを共通の受光部内に一体的に設けることができ、各ＰＤを別体の受光部として分けて配置する必要性は無いものとできる。つまりその分、部品点数の削減が図られる。
【０１６４】
＜５．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、トラッキング方向におけるスポット位置ずれのみを補正をする場合を例示したが、線方向におけるスポット位置ずれについても、これまでで説明したトラッキング方向のスポット位置ずれの検出・補正と同様の手法によってその検出・補正を行うことができる。
【０１６５】
また、これまでの説明では、第１レーザ光のスポット位置ずれの補正をガルバノミラー１７を用いて第１レーザ光の光軸を調整することで行う場合を例示したが、第１レーザ光のスポット位置の補正は他の手段によって行うこともできる。
例えば、チルト起因によるスポット位置ずれのみを検出・補正する第１の実施の形態の場合には、第１レーザ光のスポット位置を補正するのではなく、バルク層型記録媒体１を傾ける、又は光学ピックアップＯＰ全体を傾けるなどして、チルト自体を補正するようにしてもよい。このようにチルト自体を補正すれば、ずれ量D_skew_radの値に補正を行った分が反映されるので、この場合の補正制御はフィードバック制御とすることができる。
なお、レンズシフト起因のスポット位置ずれについても検出・補正を行う第２の実施の形態では、レンズシフト起因のスポット位置ずれ量D_shiftを、「Ｂ点のずれ量D_b−チルト起因ずれ量D_skew×２」の計算により求めることになる。このとき、上記のようにチルト自体を補正してしまうと、チルト起因ずれ量D_skewの値を適切に検出することができず、これに伴って上記レンズシフト起因のスポット位置ずれ量D_shiftの検出が不能となってしまう。このため、レンズシフト起因のスポット位置ずれについても検出・補正を行う場合には、第１レーザ光のスポット位置を補正対象とすることになる。
【０１６６】
また、第２の実施の形態において、Ｂ光のずれ量を検出するにあたっては、当該Ｂ光の検出光分離用ＨＯＥ２８による１次光成分についての受光位置のずれを検出するものとしたが、Ｂ光は照射光分離用ＨＯＥ６１の作用により線方向にずれた位置に得られる光であるので、Ｂ光のずれ量の検出は、当該Ｂ光の検出光分離用ＨＯＥ２８による０次光成分を対象として行うこともできる。
その場合、Ｂ光ずれ量検出用ＰＤ６２−Ｂは、図１６（ｂ）に示す焦点ｂ-0にその中心（基準位置）が一致するようにして配置することになる。
【０１６７】
またこれまでの説明では、本発明が光記録媒体に対する記録及び再生を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光記録媒体に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる。或いは、再生のみが可能とされた再生専用装置（再生装置）にも好適に適用できる。
【符号の説明】
【０１６８】
１  バルク型記録媒体、２  カバー層、３  選択反射膜、４  中間層、５  バルク層、Ｌ  マーク形成層（情報記録層）、１０,６０  記録再生装置、１１  第１レーザ、１２,２５  コリメーションレンズ、１３,２６  偏光ビームスプリッタ、１４,１５  レンズ、１６  レンズ駆動部、１７  ガルバノミラー、１８,２７  １／４波長板、１９  ダイクロイックプリズム、２０  対物レンズ、２１  ２軸機構、２２,２９  集光レンズ、２３  第１レーザ用受光部、２４  第２レーザ、２８  検出光分離用ＨＯＥ、３０  シリンドリカルレンズ、３１,６２  第２レーザ用受光部、３１−Ｒ  位置制御用ＰＤ、３１−Ａ  チルト起因ずれ量検出用ＰＤ、６２−Ｂ  Ｂ光ずれ量検出用ＰＤ、３２  記録処理部、３３  第１レーザ用受光信号処理部、３４  再生処理部、３５  第１レーザ用フォーカスサーボ回路、３６,６３  第２レーザ用受光信号処理部、３７  第２レーザ用フォーカスサーボ回路、３８  トラッキングサーボ回路、３９  位置情報検出部、４０  コントローラ、４１,６４  補正量換算部、４２  光軸補正ドライバ、５４  チルト起因ずれ量検出部、６１  照射光分離用ＨＯＥ、６５  シフト起因ずれ量計算部、７１  Ｂ光ずれ量検出部
【図１】
2011090749.tif 000003
【図２】
2011090749.tif 000004
【図３】
2011090749.tif 000005
【図４】
2011090749.tif 000006
【図５】
2011090749.tif 000007
【図６】
2011090749.tif 000008
【図７】
2011090749.tif 000009
【図８】
2011090749.tif 000010
【図９】
2011090749.tif 000011
【図１０】
2011090749.tif 000012
【図１１】
2011090749.tif 000013
【図１２】
2011090749.tif 000014
【図１３】
2011090749.tif 000015
【図１４】
2011090749.tif 000016
【図１５】
2011090749.tif 000017
【図１６】
2011090749.tif 000018
【図１７】
2011090749.tif 000019
【図１８】
2011090749.tif 000020
【図１９】
2011090749.tif 000021
【図２０】
2011090749.tif 000022
【図２２】
2011090749.tif 000023
【図２３】
2011090749.tif 000024
【図２４】
2011090749.tif 000025
【図２１】
2011090749.tif 000026