(57)【要約】【課題】  鋳型の平面度を精度良く測定することが可能で、特に凹凸のある鋳型の平面度を高精度に測定する方法を得る。【解決手段】  鋳型の上方に配設したレーザ測長器から、レーザを鋳型の平面に反射させてレーザ測長器と鋳型表面の距離を測定する鋳型平面度の測定方法であって、凹凸のある鋳型の平面度を測定する場合には、鋳型の凹部の底面に、前記レーザ測長器へのレーザの反射光の検知が可能な高さのレーザ反射部材を載置して、前記レーザ測長器からのレーザを前記レーザ反射部材に照射させてレーザ測長器と反射部材の距離を測定して鋳型の平面度を測定する。【選択図】          図１
2011075466.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
鋳型の上方に配設したレーザ測長器から、レーザを鋳型の平面に反射させてレーザ測長器と鋳型表面の距離を測定する鋳型平面度の測定方法であって、凹凸のある鋳型の平面度を測定する場合には、鋳型の凹部の底面に、前記レーザ測長器へのレーザの反射光の検知が可能な高さのレーザ反射部材を載置して、前記レーザ測長器からのレーザを前記レーザ反射部材に照射させてレーザ測長器と反射部材の距離を測定することを特徴とする鋳型の平面度測定方法。
【請求項２】
前記レーザ反射部材は、測定の対象となる鋳型の見切り面から鋳型の凹部の底面までの深さに近似させた高さで、かつ凹部の底面に直立し得る小径のピンとすることを特徴とする請求項１に記載の鋳型の平面度測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、鋳型の平面度測定方法に関するもので、特に凹凸のある鋳型の平面度を測定する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
鋳物を鋳造するための生砂鋳型（以下「鋳型」という）は、造型機のテーブル上に模型を配設した定盤を取り付け、この定盤の上に鋳枠を載置した後、鋳物砂を投入し、造型機のスクイズヘッド等により鋳物砂を圧縮して型締めを行ない、その後模型を定盤と共に抜き取ることで、造型されている。
【０００３】
そして、水平割り鋳造ラインでは、上型および下型からなる一対の鋳型を造型した後、コンベヤあるいは台車にて搬送し、必要に応じて上型と下型間に中子を配置し、型合わせしてキャビティを形成し、このキャビティに溶融金属を注入、凝固させ、鋳物としている。
【０００４】
近年、鋳物は、寸法精度を上げると共に薄肉化、ニアネットシェイプ化が不可欠となっており、その実現のためには鋳型の高精度化を図らねばならない。すなわち、鋳型のキャビティの形状精度が悪いと、鋳物は、寸法精度も悪くなると共に、薄肉化、ニアネットシェイプ化ができず、また上型鋳型（以下、単に「上型」という）と下型鋳型（以下、単に「下型」という）との型合わせ面（見切り面）の平面度が悪いと、型合わせ面に隙間が生じて鋳バリが発生する。そこで、鋳型の平面度を測定し、ずれが管理値を外れたものについては、平面度が悪い要因を探すが、特にずれが許容範囲を超えて大きな場合には、模型の修正を実施する必要が生じる。なお、平面度とは、基準となる鋳型の見切り面の高さに対するずれの度合いを、ずれは鋳型の基準高さに対する測定の対象となる鋳型の高さとの差異を現す。
【０００５】
鋳型の測定方法に関して、例えば、特許文献１には、鋳型の上方に、鋳型表面にレーザビームを照射すると共に鋳型表面にできるレーザスポットを観測して鋳型表面までの距離を測定するレーザ測長器を配設し、キャビティの角部位置付近を連続的に測定、得られた測定値が示す角部の前後をそれぞれ直線的に近似し、その交点位置から、前記レーザ測長器の移動方向の補正値を加算することにより、角部位置を測定する方法が開示されている。この特許文献１によれば、キャビティの角部位置を正確に測定できるとしている。
【０００６】
また、特許文献２には、鋳型に形成された砂型のキャビティの搬送などによる変形を検査する方法が開示されている。特許文献２の砂型変形検査方法は、非接触距離センサーを用いて、砂型に形成された合せ面の所定部分を計測することにより実際の合せ面高度を求める現実合せ面高度と、鋳箱に設定された複数の基準点を計測することにより砂型変形が無い場合における基準合せ面の高度を求める基準合せ面高度とを計測し、現実合せ面高度と基準合せ面高度との差から砂型変形の程度を判定することで、砂型変形の検査を鋳型を傷つけることなく、高速で精度良く行なうことができるとしている。
【０００７】
本出願人も、特許文献３として、砂型合わせ面の平坦度（本発明の「平面度」に相当する）を検査する方法として、基準面となる鋳枠面高度計測用の非接触センサーを固定した計測バーの両端に配置し、実質合わせ面となる砂型面高度計測用の前記非接触センサーと異なる別の非接触センサー複数個を、前記鋳枠面用センサーの間隔に配置し、該計測バーを鋳枠の進行方向と直交する方向に設置する構成とし、所定のサンプルタイム毎に、両端の鋳枠面用センサーにて計測した高度で直線を引き、この直線を基準として、複数個の砂型面用センサーにて計測した高度を各々補正し、判定基準と比較を行い、警報、表示する型合わせ面の平面度検査方法を開示している。この特許文献３によれば、水平割り鋳造ラインで型合わせ面の平面度を測定することが可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開平７−１４６１１７号公報
【特許文献２】特開平２−１６５８４２号公報
【特許文献３】特開平４−１０５７４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで、鋳型は、鋳物製品の形状によってはキャビティの掘り込みや突起など凹凸が大きくなる場合がある。また、特に大型形状の鋳物や背の高い鋳物においては、鋳型の見切り面（上型と下型の分割面）の位置と、鋳枠の見切り面（上枠と下枠の分割面）とを、同一面とした鋳型とすると、模型が鋳枠内に納まらないことがある。そのため、このような場合、鋳型の見切り面の位置を鋳枠の見切り面に対して、上または下にオフセットした見切り面（以下、「オフセット見切り面」という）を有する鋳型（以下、「オフセット鋳型」という）とすることがある。
【００１０】
図３は、組み合わせ鋳型Ｍ（１２ａ、１２ｂ）の一例の縦断面図である。図３で、１１ａ、１１ｂは鋳枠、１２ａは下型、１２ｂは上型、１３ａは下枠となる鋳枠１１ａの見切り面と同一面とした下型１２ａの見切り面、１３ｂは上枠となる鋳枠１１ｂの見切り面と同一面とした上型１２ｂの見切り面、１４ａは下型１２ａのオフセット見切り面、１４ｂは上型１２ｂのオフセット見切り面、１５は中子、１６はキャビティである。組み合わせ鋳型Ｍは、下型１２ａ、上型１２ｂおよび中子１５で、キャビティ１６が形成されている。組み合わせ鋳型Ｍは、見切り面１４ａ、１４ｂの位置が、下型１２ａで見ると、鋳枠１１ａの見切り面に対して、下方にオフセット（Ｈ）されている。
【００１１】
通常、鋳型は、キャビティやオフセットを含む凹凸のある鋳型が一般的であるが、これらの鋳型において、凹凸部分の平面度が、問題になることがある。
【００１２】
しかしながら、特許文献１に記載の鋳型の測定方法は、キャビティの角部位置のみを測定するものであって、深い掘り込みや大きな突起などのキャビティを有する鋳型やオフセット鋳型など、凹凸のある鋳型の平面度を測定するものではない。
【００１３】
また、特許文献２に記載の鋳型変形検査方法は、凹凸のキャビティを有する鋳型を用いて平面度を測定しているが、第２図、第４図〜第６図及び実施例の記載によれば、凹凸がない部分での鋳型の見切り面の平面度を測定しており、キャビティ部の平面度を測定しているものではない。
【００１４】
特許文献３に記載の砂型合わせ面の平坦度検査方法は、特許文献２記載の鋳型変形検査方法と同様に凹凸のキャビティを有する鋳型を用いて平面度を測定しているが、実施例の記載にあるように、キャビティの部分は無視して、凹凸のない部分での鋳型の見切り面の平面度を測定しており、キャビティなど凹凸を含んだ鋳型の平面度を測定しているものではない。
【００１５】
ところで、鋳型の平面度を、レーザを用いて測定する場合、レーザ測長器から照射されたレーザは、測定対象物となる鋳物砂に反射させてレーザ測長器で受光する。しかし、凹凸のある鋳型において、堀り込みの深い凹部の平面度を測定する場合は、レーザ測長器の検出距離には限界があるために、レーザ測長器から照射されたレーザが検出できないことが生じる。
【００１６】
例えば、５０±５ｍｍの検出距離のレーザを用いて測定しようとすると、４５ｍｍ〜５５ｍｍの範囲の距離しか測定ができないために、５５ｍｍより深いキャビティ部分を有するキャビティ部分の鋳型の平面度を測定することは不可能となる。
【００１７】
鋳型を測定する場合に使用する現状で市販されているレーザの測定精度は、検出距離の短い（５０ｍｍ）レーザであれば、ビーム径が小さくなり（５０μｍ）、分解能（精度）が高いために、鋳型を想定する場合に、センサーへ反射して戻ってくる光量も十分であり、測定も可能だが、凹凸を測定する場合に、例えば、検出距離の長いレーザ測長器（例えば、３５０ｍｍ）を使用すると、ビーム径が大きくなり（２４０μｍ）、しかも距離が長くなることで、分解能（精度）が低くなるために、センサーへ戻ってくる光量も十分ではなく、測定ができないという問題が生じる。
【００１８】
したがって、本発明は、上記課題を解決するものであって、平面見切り鋳型だけではなく、キャビティを有する鋳型やオフセット鋳型など、凹凸のある鋳型の平面度を高精度に測定できる、鋳型の平面度測定方法を得ることにある。ここで、平面見切り鋳型とは、凹凸やオフセットがない水平面上で平坦な鋳型の上下型の合せ面を見切り面とした鋳型をいう。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明者らは、上記課題について鋭意研究した。その結果、鋳型の上方に配設したレーザ測長器からレーザを鋳型に照射することで、鋳型の平面度を測定する方法で、特にキャビティを有する鋳型やオフセット鋳型など、凹凸のある鋳型の平面度を測定する場合には、測定する鋳型面上に所定高さのレーザ反射部材を載置し、レーザ測長器からのレーザをレーザ反射部材に照射することで、上記課題が解決できるとの知見を得、本発明に想到した。
【００２０】
すなわち、本発明の鋳型の測定方法は、鋳型の上方に配設したレーザ測長器から、レーザを鋳型の平面に反射させてレーザ測長器と鋳型表面の距離を測定する鋳型平面度の測定方法であって、凹凸のある鋳型の平面度を測定する場合には、鋳型の凹部の底面に、前記レーザ測長器へのレーザの反射光の検知が可能な高さのレーザ反射部材を載置して、前記レーザ測長器からのレーザを前記レーザ反射部材に照射させてレーザ測長器と反射部材の距離を測定する鋳型の平面度測定方法である。
【００２１】
本発明の鋳型の平面度測定方法で、前記レーザ反射部材は、測定の対象となる鋳型の見切り面から鋳型の凹部の底面までの深さに近似させた高さで、かつ凹部の底面に直立し得る小径のピンとすることが好ましい。
【００２２】
レーザ測長器は、使用するレーザの仕様で、測定範囲内であれば、レーザ反射部材を載置することなくレーザスポットが直接、測定対象となる鋳物砂で反射してレーザ測長器で受光することで、レーザ測長器と対象となる砂型鋳物表面間の距離を精度良く測定することが可能である。
【００２３】
一方、掘り込みの深い凹部など、使用するレーザの仕様の測定範囲を超えて長い距離を測定する場合は、レーザ測長器へのレーザの反射光の検知が可能な高さのレーザ反射部材を凹部の底面に載置することで、レーザ測長器から照射されたレーザは、一定の高さのレーザ反射部材で反射してレーザ測長器で受光することにより、レーザ測長器とレーザ反射部材間の距離を精度良く測定することが可能となる。なお、測定したレーザ測長器とレーザ反射部材の距離にレーザ反射部材の高さ（長さ）を加えることで、レーザ測長器と対象となる砂型鋳物表面との距離が求められる。
【００２４】
レーザ反射部材は、測定の対象となる鋳型の見切り面から鋳型の凹部の底面までの深さ（長さ）に近似させた高さとすることで、測定の対象となる鋳型の見切り面の高さとの比較が容易となる。また、レーザ反射部材をキャビティ部もしくはオフセット見切り面の凹部の底面に直立し得る小径のピンとすることで、レーザ反射部材が鋳型に食い込まず、測定誤差の発生が少なくなる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明の鋳型の平面度測定方法は、上記構成とすることで、凹凸がない平面見切り鋳型に加え、大きな掘り込みや突起などのキャビティを有する鋳型やオフセット鋳型など、凹凸がある鋳型における平面度を高精度に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】実施の形態１の、鋳型の見切り面（１４ａ）を鋳枠の見切り面から下にオフセット（Ｈ１）した下型１２ａの、(ａ)は測定点を示す鋳型の平面図、(ｂ)は鋳型の平面測定方法に係る装置の縦断面図である。
【図２】実施の形態１の、鋳型の見切り面（１４ｂ）を鋳枠の見切り面から上にオフセット（Ｈ１）した上型１２ｂの鋳型の平面測定方法に係る装置の縦断面図である。
【図３】組み合わせ鋳型Ｍの一例の縦断面図である。
【図４】図１に示す鋳型の平面度を測定した結果を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
発明を実施するための形態を、図面に基づいて詳細に説明する。
【００２８】
（実施の形態１）
図１は、実施の形態１の、鋳型の見切り面を鋳枠の見切り面から下に１００ｍｍオフセット（Ｈ１）した、組み合わせ鋳型Ｍの下型１２ａの平面度測定方法に係る装置であり、測定点を示す鋳型の平面図（ａ）と、測定装置１０の縦断面図（ｂ）を示したものである。
【００２９】
図１で、測定装置１０は、下型１２ａの上方に配設したレーザ測長器１を備える。凹部となる鋳型のオフセット見切り面１４ａの平面度を測定する際は、該見切り面１４ａ上（凹部の底面上）にレーザ反射部材２を載置して、レーザ測長器１からのレーザビームをレーザ反射部材２に照射し、レーザ反射部材２からの反射光をレーザ測長器１で受光する構成としている。
【００３０】
また、凹部となるキャビティ１６ａを測定する場合は、同様にキャビティ平面部上（凹部の底面上）に前記レーザ反射部材２とは異なる高さのレーザ反射部材６ａを載置して、レーザ測長器１からのレーザビームをレーザ反射部材６ａに照射し、レーザ反射部材６ａからの反射光をレーザ測長器１で受光する構成としている。
【００３１】
レーザ反射部材２の高さ（ｈ１）は、レーザ測長器１へのレーザの反射光の検知が可能な高さ、即ちレーザ測長器１とレーザ反射部材２との間隔Ｚの距離がレーザ測長器１の測定可能な距離（例えば、５０ｍｍ±５ｍｍ）となるように調整している。なお、レーザ反射部材２の高さ（ｈ１）は、測定の対象となる鋳型の見切り面１３ａから鋳型の凹部の底面（オフセット見切り面１４ａ）までの深さに近似させた高さとすることが好ましい。
【００３２】
そして、レーザ測長器１は、レールとブロックの間に循環式ボールを用いた直動ガイド（詳細は図示せず）により、左右方向（記号Ｘで示す）は左右支持部材３で、前後方向（記号Ｙで示す）は前後支持部材４で、移動可能にしている。左右支持部材３上には、レーザ測長器１の測定値を表示するパネル５を配置している。
【００３３】
また、レーザ反射部材は、アルミニウム合金からなり、レーザ反射部材２は、外径２０ｍｍ、高さ（ｈ１）の加工精度±５μｍ、オフット見切り面１４ａ上に立設し得る小径のピンとし、レーザ反射部材６ａは、外径２０ｍｍ、高さ（ｈ２）の加工精度±５μｍ、凹部となるキャビティ１６ａ上に立設し得る小径のピンとする。どちらのレーザ反射部材２、６ａも、レーザが照射され、反射する部分は中心線平均粗さ（Ｒａ）で０．２μｍ以下に研磨加工している。なお、１７は鋳型の搬送装置としている。
【００３４】
平面度の算出は、以下のように行なう。まず、鋳枠近傍の鋳型の見切り面とレーザ測定装置との距離（高さ）を測定し、この高さを基準高さとする。
【００３５】
測定の対象となるオフセットやキャビティ部の高さの測定は、レーザ測長器へのレーザの反射光の検知が可能な一定の高さのレーザ反射部材を載置して、レーザ測定装置から、レーザ反射部材までの距離を求める。このようにして求めた基準高さと、基準高さ以外の複数の測定の対象となる鋳型の高さとの差異を求めることで、オフセット見切り面やキャビティ部の平面度を求めることができる。
【００３６】
下型の測定装置１０によるオフセット見切り面１４ａの測定は、以下の通り行なう。まず、測定装置１０を、鋳枠の見切り面に左右支持部材３と前後支持部材４と共に載置する。次に、基準となる鋳型の見切り面の高さの測定に関しては、レーザ測長器１からのレーザビームを砂型面に照射し、反射光をレーザ測長器１で受光し、パネル５でレーザ測長器から鋳型の見切り面までの距離（Ｚ）を読み取り基準高さとする。
【００３７】
次に、オフセット見切り面１４ａの平面度の測定に関しては、測定する箇所にレーザ反射部材２を載置する。次に、レーザ測長器１からのレーザビームをレーザ反射部材２に照射し、レーザ反射部材２からの反射光をレーザ測長器１で受光し、パネル５でオフセット見切り面の高さ（Ｚ）を読み取り、測定の対象となる鋳型の高さとする。
【００３８】
同様にして、複数箇所のオフセット見切り面１４ａについて必要に応じてレーザ反射部材２を載置し、レーザ測長器１からのレーザビームをレーザ反射部材２に照射し、レーザ反射部材２からの反射光をレーザ測長器１で受光し、パネル５でオフセット見切り面の高さ（Ｚ）を読み取り、基準高さ以外の複数の鋳型の高さを測定する。
【００３９】
また、凹部となるキャビティ部に関しては、測定する箇所に、測定の対象となる鋳型の見切り面１４ａから鋳型の凹部の底面となるキャビティ１６ａまでの深さ（Ｈ２）に近似させた高さ（ｈ２）のレーザ反射部材６ａを載置する。測定方法は、オフセット見切り面１４ａと同様に、レーザ測長器１からのレーザビームをレーザ反射部材６ａに照射し、レーザ反射部材６ａからの反射光をレーザ測長器１で受光し、パネル５で凹部となるキャビティ部の高さ（Ｚ）を読み取り、測定する。
【００４０】
同様にして、複数箇所のキャビティ部も、必要に応じてレーザ反射部材６ａを載置し、レーザ測長器１からのレーザビームをレーザ反射部材６ａに照射し、レーザ反射部材６ａからの反射光をレーザ測長器１で受光し、パネル５で凹部となるキャビティの高さ（Ｚ）を読み取り、測定する。上記した測定方法により、測定した基準高さとオフセット及びキャビティ上の高さとの差異を求めることで、平面度を算出する。
【００４１】
（実施の形態２）
図２は、実施の形態２の、鋳型の見切り面を鋳枠の見切り面から上に１００ｍｍオフセット（Ｈ１）した、組み合わせ鋳型Ｍの上型１２ｂの鋳型の平面度測定方法に係る測定装置１０の縦断面図である。上型の測定装置１０による平面度測定の対象となるオフセット見切り面１４ｂの測定は、以下のとおり行う。鋳型の見切り面が鋳枠の見切り面から上にオフセットされた場合には、図２に示すように測定装置１０を鋳枠の見切り面に左右支持部材３と前後支持部材４と共にオフセット（Ｈ１）に相当する一定高さの台座７の上に載置して測定する。
【００４２】
次に、基準高さを測定するために、鋳枠近傍の鋳型の見切り面に高さ（ｈ１）の反射部材２を載置し、レーザ測長器１からのレーザビームをレーザ反射部材２に照射し、レーザ反射部材２からの反射光をレーザ測長器１で受光し、パネル５でレーザ測長器から鋳型の見切り面までの距離（Ｚ）を読み取り基準高さとする。
【００４３】
オフセット見切り面１４ｂは、レーザ反射部材を用いずに、レーザ測長器１からのレーザビームを直接、鋳型に照射することで、オフセット見切り面の高さ（Ｚ）を読み取り、測定の対象となる鋳型の高さとする。
【００４４】
次に、凹部となるキャビティ１６ｂに関しては、測定する箇所に、測定の対象となる鋳型の見切り面１４ｂから鋳型の凹部の底面となるキャビティ１６ｂまでの深さ（Ｈ３）に近似させた高さ（ｈ３）のレーザ反射部材６ｂを載置する。次に、レーザ測長器１からのレーザビームをレーザ反射部材６ｂに照射し、レーザ反射部材６ｂからの反射光をレーザ測長器１で受光し、パネル５で凹部となるキャビティ部の高さ（Ｚ）を読み取り、測定する。次に、同様にして、複数箇所のキャビティ部も、必要に応じてレーザ反射部材６ｂを載置し、レーザ測長器１からのレーザビームをレーザ反射部材６ｂに照射し、レーザ反射部材６ｂからの反射光をレーザ測長器１で受光し、パネル５で凹部となるキャビティの高さ（Ｚ）を読み取り、測定する。上記した測定方法により、測定した基準高さとオフセット及びキャビティ上の高さとの差異を求めることで、平面度を算出する。
【実施例】
【００４５】
測定装置１０を用いて実施の形態１の測定方法に準じた本発明の測定方法により、キャビティやオフセット見切り面など凹凸のある図１に示す下型１２ａの鋳型の平面度を測定した。なお、レーザ測長器１は、オムロン製の形式（形ＺＳ−ＬＤ５０Ｓ）の拡散反射形の２次元ＣＭＯＳレーザータイプのものを用いた。このレーザ測長器１の仕様は、波長６５０ｎｍ、スポットビーム直径５０μｍ、測定中心距離５０ｍｍ±５ｍｍ、分解能０．８μｍ、精度±１０μｍである。
【００４６】
測定は、以下のようにして実施した。図１の平面図（ａ）において、左右（横）方向をＸ、前後（縦）方向をＹとした。まず、Ｙ１の位置にレーザ測定装置１０を載置し、Ｙ１上で、左から順番に平面度を測定した。その際の測定値をＸ１、Ｘ２として記録した。まず、鋳枠１１ａの両端で、鋳枠から１０ｍｍ離れた点で基準高さを測定した。鋳枠の見切り面と同一面とした鋳型の見切り面１３ａは、レーザ測長器１と、測定対象となる砂型鋳物表面との距離がレーザ測長器１の測定範囲であるために、鋳型面に直接レーザを当てて鋳型の高さ（Ｚ）を測定した。
【００４７】
しかし、オフセット見切り面１４ａ及び凹部となるキャビティ１６ａでは、凹部の深さがレーザ測長器１の測定範囲を超えるために、オフセット見切り面１４ａでは高さ（ｈ１）１００ｍｍの反射部材２を、凹部となるキャビティ部１６ａでは高さ（ｈ２）１５０ｍｍの反射部材６をそれぞれ載置し、レーザ反射部材からの反射により、鋳型の高さ（Ｚ）を測定した。
【００４８】
Ｙ１上で、Ｘ１〜Ｘｎの点における高さを測定した後は、レーザ測定装置をＹ２に移動、載置して、同様に、Ｙ２上で、Ｘ１〜Ｘｎの点で、高さを測定した。同様の方法で、Ｙ３、Ｙ４、・・・Ｙｎまでレーザ測定装置を移動・載置して、高さを測定した。
【００４９】
Ｙ１〜Ｙ５上の鋳型の基準高さと、それぞれのＸ点で、測定した鋳型の高さとの差異をずれとして算出して、その度合いを平面度として、横軸にＸ上の点、縦軸に平面度（ｍｍ）として纏めて整理した。その結果を図４に示した。なお、実施例の鋳型での平面度は、０．３ｍｍ以内がずれの管理値であるため、ずれは僅かであり、平面度は問題ないことを確認した。
【００５０】
また、同様の方法で、上型１２ｂのオフセット鋳型に関しても、実施の形態２の測定方法に準じて測定し、下型１２ａのオフセット鋳型と同様に平面度を求めることができることを確認した。
【００５１】
なお、本発明の鋳型の平面度測定方法によれば、用いる装置が簡単な構造なので、測定時に鋳枠に載置する前後支持部材の長さを調節することにより、異なる鋳枠サイズの鋳型でも測定できる。
【符号の説明】
【００５２】
１：レーザ測長器
２、６ａ、６ｂ：レーザ反射部材
３：左右支持部材
４：前後支持部材
５：レーザ測長器の測定値を表示するパネル
７：台座
１０：測定装置
１１ａ、１１ｂ：鋳枠
１２ａ：下型
１２ｂ：上型
１３ａ、１３ｂ：鋳枠の見切り面と同一面とした鋳型の見切り面
１４ａ、１４ｂ：オフセットした鋳型の見切り面（オフセット見切り面）
１５：中子
１６、１６ａ、１６ｂ：キャビティ
１７：搬送装置
Ｈ、Ｈ１：オフセット
Ｈ２、Ｈ３：キャビティのまでの深さ
ｈ１、ｈ２、ｈ３：レーザ反射部材の高さ
Ｍ：組み合わせ鋳型
Ｘ：左右方向
Ｙ：前後方向
Ｚ：レーザ測長器とレーザ反射部材との間隔
【図１】
2011075466.tif 000003
【図２】
2011075466.tif 000004
【図３】
2011075466.tif 000005
【図４】
2011075466.tif 000006