(57)【要約】【課題】  収差補正機能を持つ眼底撮影装置において、より鮮明な眼底像を取得する。【解決手段】  被検眼眼底からの反射光に基づいて被検眼の眼底を撮像する眼底撮像光学系と、被検眼の波面収差を検出するための波面センサを有し、被検眼眼底に測定光を投影し、その反射光を前記波面センサにて受光する収差検出光学系と、被検眼の収差を補正するために前記眼底撮像光学系に配置された収差補正手段と、前記眼底撮像光学系からの出力信号に基づいて眼底像を取得すると共に、前記波面センサから出力される検出信号に基づいて前記収差補正手段を制御する制御手段と、を備える眼底撮影装置において、前記制御手段は、前記波面センサのフレームレートを、前記眼底撮像光学系により前記眼底像を撮像する際のフレームレートより高速化した。【選択図】      図１
2011115301.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼眼底からの反射光に基づいて被検眼の眼底を撮像する眼底撮像光学系と、
被検眼の波面収差を検出するための波面センサを有し、被検眼眼底に測定光を投影し、その反射光を前記波面センサにて受光する収差検出光学系と、
被検眼の収差を補正するために前記眼底撮像光学系に配置された収差補正手段と、
前記眼底撮像光学系からの出力信号に基づいて眼底像を取得すると共に、前記波面センサから出力される検出信号に基づいて前記収差補正手段を制御する制御手段と、
を備える眼底撮影装置において、
前記制御手段は、前記波面センサのフレームレートを、前記眼底撮像光学系により前記眼底像を撮像する際のフレームレートより高速化したことを特徴とする眼底撮影装置。
【請求項２】
請求項１の眼底撮影装置において、
前記制御手段は、前記波面センサのフレームレートを、前記眼底撮像光学系を用いて前記眼底像を取得する際のフレームレートより２倍以上高速化し、１フレームの眼底像を取得する間に、前記収差補正手段による被検眼の収差補正を複数回行うことを特徴とする眼底撮影装置。
【請求項３】
請求項２の眼底撮影装置において、前記眼底撮像光学系による眼底像の撮像と前記波面センサによる波面収差の検出とを同期させることを特徴とする眼底撮影装置。
【請求項４】
請求項３の眼底撮影装置において、
前記収差補正手段は、被検眼の高次収差を補正するための液晶空間光変調器を有することを備えることを特徴とする眼底撮影装置。
【請求項５】
請求項４の眼底撮影装置において、
前記制御手段は、前記眼底像を取得する際のフレームレートの変更に合わせて、前記眼底像を取得する際のフレームレートを変更することを特徴とする眼底撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼の波面収差を補正した状態で被検眼の眼底像を撮影する眼底撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、被検眼の眼底像を撮影する眼底撮影装置において、ハルトマン−シャック波面センサを用いて被検眼の波面収差を検出し、その検出結果を用いて撮影光学系に配置された波面補償装置を動作させ、波面補償された状態での眼底画像を得る装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特表２００１−５０７２５８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、上記のような収差補正機能を持つ眼底撮影装置において、被検眼の固視微動等によって固視状態や眼の位置が微妙に変化する場合、波面補償装置による収差補正量と必要な収差量にずれが生じ、眼底像がぼけてしまう可能性がある。
【０００５】
本発明は、上記問題点を鑑み、収差補正機能を持つ眼底撮影装置において、より鮮明な眼底像を取得できる眼底撮影装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
（１）  被検眼眼底からの反射光に基づいて被検眼の眼底を撮像する眼底撮像光学系と、
被検眼の波面収差を検出するための波面センサを有し、被検眼眼底に測定光を投影し、その反射光を前記波面センサにて受光する収差検出光学系と、
被検眼の収差を補正するために前記眼底撮像光学系に配置された収差補正手段と、
前記眼底撮像光学系からの出力信号に基づいて眼底像を取得すると共に、前記波面センサから出力される検出信号に基づいて前記収差補正手段を制御する制御手段と、
を備える眼底撮影装置において、
前記制御手段は、前記波面センサのフレームレートを、前記眼底撮像光学系により前記眼底像を撮像する際のフレームレートより高速化したことを特徴とする。
（２）  （１）の眼底撮影装置において、前記制御手段は、前記波面センサのフレームレートを、前記眼底撮像光学系を用いて前記眼底像を取得する際のフレームレートより２倍以上高速化し、１フレームの眼底像を取得する間に、前記収差補正手段による被検眼の収差補正を複数回行うことを特徴とする。
（３）  （２）の眼底撮影装置において、前記眼底撮像光学系による眼底像の撮像と前記波面センサによる波面収差の検出とを同期させることを特徴とする。
（４）  （３）の眼底撮影装置において、前記収差補正手段は、被検眼の高次収差を補正するための液晶空間光変調器を有することを備えることを特徴とする。
（５）  （４）の眼底撮影装置において、前記制御手段は、前記眼底像を取得する際のフレームレートの変更に合わせて、前記眼底像を取得する際のフレームレートを変更することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、収差補正機能を持つ眼底撮影装置において、より鮮明な眼底像を取得できる。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。図１は、本実施形態の眼底撮影装置の光学系を示した模式図である。本実施形態の眼底撮影装置は、大別して、被検眼の眼底からの反射光に基づいて被検眼の眼底を撮像する眼底撮像光学系１００と、被検眼の波面収差を検出するための波面センサ７３を有し、被検眼眼底に測定光を投影し、その反射光を波面センサ７３にて受光する収差検出光学系１１０と、被検眼の収差を補正するために眼底撮像光学系１００に配置された収差補正ユニット１０，７２と、眼底撮像光学系１００で得られる眼底画像（以下、第１眼底画像と記す）の撮影位置を指定するための眼底の観察画像（以下、第２眼底画像と記す）を得るための第２撮影ユニット２００、撮影される被検眼Ｅの固視微動等による位置ずれの経時変化を検出し、移動位置情報を得るトラッキング用ユニット（位置検出部）３００、を備える。ここで、眼底撮像光学系１００は、被検眼Ｅの眼底を高解像度（高分解能）・高倍率で撮影する。また、収差補正ユニットは、被検眼の低次収差（視度：例えば、球面度数）を補正するための視度補正部１０と、被検眼の高次収差を補正するための高次収差補正部（波面補償デバイス）７２と、に大別される。
【００１０】
眼底撮像光学系１００は、被検眼Ｅに照明光（照明光束）を照射し眼底を２次元的に照明する第１照明光学系１００ａと、眼底に照射された照明光の反射光（反射光束）を受光して第１眼底画像を得るための第１撮影光学系１００ｂと、収差補正部７２と、を備える。眼底撮像光学系１００は、例えば、共焦点光学系を用いた走査型レーザ検眼鏡の構成とされる。
【００１１】
第１照明光学系１００ａは、眼底を照明するための照明光を出射する光源１（第１光源），照明光（スポット光）を眼底上で２次元的に走査する走査部２０を有する。光源１は、被検眼に視認されにくい近赤外域の照明光を出射する。本実施形態では光源１は、波長８４０ｎｍのＳＬＤ（Super Luminescent Diode）光源が用いられる。なお、光源としては、収束性の高い特性を持つスポット光を出射するものであればよく、例えば、半導体レーザ等であってもよい。
【００１２】
はじめに、第１照明光学系１００ａを説明する。光源１から眼底に到るまでの光路には、レンズ２、ビームスプリッタ３、偏光板４、レンズ５、ビームスプリッタ７１、レンズ６、波面補償デバイス７２、レンズ７、ビームスプリッタ７５が配置される。そしてさらに、レンズ８、走査部２０、レンズ９、２次元状に走査される照明光の走査位置を補正するための偏向部４００、２枚のプリズムからなる視度補正部１０、レンズ１１、第２撮影ユニット２００等の光路を第１照明光学系と略同軸にするビームスプリッタ９０が配置される。なお、ビームスプリッタ３は、本実施形態では、ハーフミラーとされている。
【００１３】
光源１から出射された照明光は、レンズ２により平行光とされた後、ビームスプリッタ３を介し、本実施形態では偏光板４によりＳ偏光成分のみの光束とされる。偏光板４を経た照明光は、レンズ５により一旦集光し、ビームスプリッタ７１を介してレンズ６により平行光束とされ、波面補償デバイス７２に入射する。波面補償デバイス７２にて反射した照明光は、レンズ７、レンズ８によりリレーされ、走査部２０に向かう。
【００１４】
走査部２０は、照明光を眼底上で２次元的に走査する構成とされ、ここでは、図示するように、眼底でＸＹ方向に照明光を走査する。本実施形態では、照明光を眼底にて水平方向（Ｘ方向）に偏向させ走査するための偏向部材となるレゾナントミラーと、水平方向の走査方向に対して垂直方向（Ｙ方向）に偏向させ走査するための偏向部材となるガルバノミラーと、各ミラーを駆動する駆動部を備える。走査部２０を経た照明光は、レンズ９にて再び集光される。偏向部４００は、走査部２０を経た照明光を水平方向及び垂直方向に対して所定量だけさらに偏向させる役目を持ち、本実施形態では２枚のガルバノミラーにより構成されている。偏向部４００を経た照明光は、視度補正部１０、レンズ１１、ビームスプリッタ９０を経て被検眼Ｅの眼底に集光し、走査部２０によって眼底上を２次元的に走査することとなる。なお、視度補正部１０は、駆動部１０ａを有し、一方のプリズムが図示する矢印方向に移動することにより、光路長を変えることができ、視度補正の役目を果たしている。なお、視度補正部１０は、駆動部と、駆動部の駆動によって光軸方向に移動可能なレンズからなる構成であってもよい。また、ビームスプリッタ９０は、本実施形態ではダイクロイックミラーであり、後述する第２撮影ユニット２００、及びトラッキング用ユニット３００からの光束を反射させ、光源１及び後述する光源７６からの光束を透過させる特性を持つ。なお、光源１及び光源７６の出射端と被検眼Ｅとは共役とされている。このようにして、照明光を眼底に２次元的に照射する第１照明光学系が形成される。
【００１５】
次に、第１撮影光学系１００ｂを説明する。第１撮影光学系は、第１照明光学系にて説明したビームスプリッタ９０からビームスプリッタ３までの光路を共通とし、さらにレンズ５１、眼底と共役な位置に置かれるピンホール板５２、集光レンズ５３、受光素子５４を含む。なお、本実施形態では、受光素子５４はＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）が用いられている。
【００１６】
光源１から出射された照明光における眼底からの反射光は、前述した第１照明光学系を逆に辿り、偏光板４にてＳ偏光の光だけ透過された後、ビームスプリッタ３により一部の光束が反射される。この反射光は、レンズ５１を介してピンホール板５２のピンホールに焦点を結ぶ。ピンホールにて焦点を結んだ反射光は、レンズ５３を経て受光素子５４に受光される。なお、照明光の一部は角膜上で反射されるが、ピンホール板５２により大部分が除去され、角膜反射の画像への悪影響が低減される。このため、受光素子５４は、角膜反射の影響を抑えて、眼底からの反射光を受光できる。なお、ビームスプリッタ３は、ホールミラーとされてもよい。この場合、ホールミラーのホールは、角膜反射光を第１撮影光学系に入射することを抑制する。
【００１７】
このようにして、第１撮影光学系１００ｂが形成される。第１撮影光学系１００ｂで受光された処理された画像が第１眼底画像となる。なお、第１撮影ユニット１００で取得する眼底画像（眼底像）の画角が所定の角度となるように走査部２０におけるミラーの振れ角（揺動角度）を定める。ここでは、眼底の所定の範囲を高倍率で観察、撮影する（ここでは、細胞レベルでの観察等をする）ために、画角を１度〜５度程度とする。本実施形態では、１．５度とする。被検眼の視度等にもよるが、第１眼底画像の撮影範囲は、５００μｍ角程度とされる。
【００１８】
次に、第２撮影ユニット２００を説明する。第２撮影ユニットは、第１撮影ユニットの画角よりも広画角の眼底画像（第２眼底画像）を取得するためのユニットであり、取得される第２眼底画像は、前述した狭画角の第１眼底画像を得るための位置指定、及び位置確認用の画像として用いられる。このような第２眼底画像を取得するための第２撮影ユニット２００は、被検眼Ｅの眼底画像を観察用として広画角（例えば２０度〜６０度程度）でリアルタイムに取得できればよい。したがって第２撮影ユニット２００は、既存の眼底カメラの観察・撮影光学系や走査型レーザー検眼鏡（Scanning Laser Ophthalmoscope：ＳＬＯ）の光学系、及び制御系を用いることができる。
【００１９】
次に、収差検出光学系１１０について説明する。前述のように、収差検出光学系１１０は、一部の光学素子を第１照明光学系１００ａの光路上に持ち、第１照明光学系１００ａと光路を一部共用している。収差検出光学系１１０は、波面センサ７３、偏光板７４、光源７６、レンズ７７、偏光板７８、レンズ７９、を含み、第１照明光学系の光路上に置かれるビームスプリッタ７１からビームスプリッタ９０までの光学部材を共用することにより構成されている。なお、波面センサ７３は、例えば、多数のマイクロレンズからなるマイクロレンズアレイと、マイクロレンズアレイを透過した光束を受光させるための２次元受光素子からなる。また、収差検出用光源（第３光源）である光源７６は、光源１と異なる赤外域の光を発する光源とされる。本実施形態では光源７６は波長７８０ｎｍのレーザ光を出射するレーザダイオードを用いている。光源７６から出射したレーザ光は、レンズ７７により平行光束とされ、偏光板７８により光源１からの照明光と直交する偏光方向（Ｐ偏光）とされ、ビームスプリッタ７５により第１照明光学系の光路に導かれる。なお、レンズ７、８の間に眼底共役位置があり、光源７６の出射端はこの眼底共役位置と共役な関係とされる。なお、ビームスプリッタ７５は、本実施形態ではハーフミラーとされている。偏光板７８は、眼底へと照射される第３光源の光を所定の偏光方向とする役割を持ち、波面補償部が備える第１偏光手段の役割を持つ。
【００２０】
ビームスプリッタ７５により反射したレーザ光は、第１照明光学系１００ａの光路を経て被検眼Ｅの眼底に集光される。眼底で反射されたレーザ光は、第１照明光学系１００ａの各光学部材を経て波面補償デバイス７２にて反射し、ビームスプリッタ７１により第１照明光学系１００ａの光路から外れ、レンズ７９、Ｓ偏光成分のみを通す偏光板７４を経て波面センサ７３へと導かれる。偏光板７４は、波面補償部に備えられた第２偏光手段であり、眼底へと照射される第３光源の光が持つ偏光方向（Ｐ偏光光）を遮断し、この偏光方向に直交する偏光方向（Ｓ偏光光）を透過し、波面センサ７３へと導光する役割を持つ。なお、ビームスプリッタ７１は、光源１の波長の光（８４０ｎｍ）を透過し、収差検出用の光源７６の波長の光（７８０ｎｍ）を反射する特性とされる。従って、波面センサ７３では、照射したレーザ光の眼底での散乱光のうちＳ偏光成分を持つ光が検出される。このようにして、角膜や光学素子で反射される光が波面センサ７２に検出されることを抑制している。また、走査部２０、波面補償デバイス７２の反射面、及び波面センサ７３のマイクロレンズアレイは、被検眼の瞳と略共役とされる。また、波面センサ７３の受光面は被検眼Ｅの眼底と略共役とされる。波面センサ７３には、低次収差及び高次収差を含む波面収差が検出できる素子、例えば、ハルトマンシャック検出器や光強度の変化を検出する波面曲率センサ等を用いる。
【００２１】
また、波面補償デバイス７２は、例えば、液晶空間光変調器とし、反射型のＬＣＯＳ（Liquid Crystal On Silicon）等を用いるものとしている。なお、波面補償デバイス７２は、光源１からの照明光（Ｓ偏光光）、照明光の眼底での反射光（Ｓ偏光光）、波面収差検出用光の反射光（Ｓ偏光成分）等の所定の直線偏光（Ｓ偏光）に対して収差を補償することが可能な向きに配置される。これにより、波面補償デバイス７２は、入射する光のＳ偏光成分を変調できる。また、波面補償デバイス７２は、その液晶層内の液晶分子の配列方向が入射する反射光の偏光面と略平行であり、さらに、液晶分子が液晶層への印加電圧の変化に応じて回転する所定の面が、波面補償デバイス７２に対する眼底からの反射光の入射光軸及び反射光軸と、波面補償デバイス７２が持つミラー層の法線と、を含む平面に対して略平行になるように、配置されている。
【００２２】
なお、本実施例においては、波面補償デバイス７２は、液晶変調素子とし、反射型のＬＣＯＳ（Liquid Crystal On Silicon）等を用いるものとしているが、これに限るものではない。反射型の波面補償デバイスであればよい。例えば、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）の一形態であるデフォーマブルミラーを用いてもよい。また、反射型の波面補償デバイスではなく、眼底からの反射光を透過させて波面収差を補償するような透過型の波面補償デバイスを用いることもできる。
【００２３】
なお、以上の説明では、収差検出用光源として、第１光源とは異なる波長の照明光を出射する光源を用いたが、第１光源を収差検出用光源として用いてもよい。
【００２４】
なお、以上説明した本実施形態では、波面センサ及び波面補償デバイスを被検眼の瞳共役としたが、被検眼の前眼部の所定部位と略共役な位置であればよく、例えば、角膜共役であってもよい。
【００２５】
次に、眼底撮影装置の制御系を説明する。図２は、本実施形態の眼底撮影装置の制御系を示したブロック図である。装置全体の制御を行う制御部８０には、光源１、走査部２０、受光素子５１、波面補償デバイス７２、波面センサ７３、光源７６、第２撮影ユニット２００、受光素子２５１、トラッキング用ユニット３００、偏向部４００、偏向部４１０、視度補正部１０が接続される。また、記憶部８１、コントロール部８２、画像処理部８３、モニタ８５、が接続される。画像処理部８３は受光素子５１、第２撮影ユニット２００にて受光した信号に基づきモニタ８５に画角の異なる被検眼眼底の画像、つまり、第１眼底画像及び第２眼底画像を形成する。記憶部８１には種々の設定情報や撮影画像が保存される。モニタ８５には、所定のフレームレートにて更新される眼底画像（第１眼底画像、及び第２眼底画像）が表示される。フレームレートとしては、例えば、１０〜１００Ｈｚとされる。このようにして、動画として眼底画像が表示される。本実施形態では、制御部８０は、モニタ８５の表示制御部、偏向部４００、４１０の駆動制御部、光源１、７６等の出射制御部の機能を兼ねる。
【００２６】
なお、波面補償デバイス７２を制御する場合、波面センサ７３で検出された波面収差に基づいて、波面補償デバイス７２が制御され、光源７６の反射光のＳ偏光成分と共に、光源１から出射される照明光とその反射光の高次収差が取り除かれる。このようにして、光源１から出射された照明光とその反射光が持つ収差が取り除かれる。言い換えると、被検眼Ｅの高次収差が取り除かれた（波面補償された）高解像度の第１眼底画像が得られることとなる。この場合、視度補正部１０によって低次収差が補正される。
【００２７】
以上のような構成の眼底撮影装置において、その動作について説明する。図３は、モニタ８５の表示を説明する模式図である。検者は図示なき固視灯を用いて被検眼Ｅを固視させ、被検眼Ｅに対して図示なきジョイスティック等を用いて装置をアライメントする。このとき、コントロール部８２の操作により視度補正部１０を駆動し、被検眼Ｅの視度補正を行う。アライメントでは、第２撮影ユニット２００による第２眼底画像５２０がモニタ８５の所定領域に表示されており、検者はモニタ８５の観察画面枠に表示される観察画像（第２眼底画像５２０）を見ながら、アライメントを完了させる。アライメント完了後、検者はコントロール部８２を用いてトラッキング用ユニット３００を動作させる指令信号の入力を行う。制御部８０は、この指令信号を受けてトラッキング用ユニット３００からレーザ光を出射させ、被検眼Ｅの眼底上にトラッキング指標を形成させる。またこのとき制御部８０は、眼底のトラッキング指標の形成位置に対応する第２眼底画像５２０上（観察画面枠内）の位置にトラッキング指標と同形状のレチクル６００を表示させる。検者は第２眼底画像５２０上に形成されたレチクル６００を見ながら、装置や固視灯を適宜動かし、観察画面枠に写っている被検眼Ｅの乳頭がレチクル６００に重なるように位置調整を行う。
【００２８】
観察画面枠に表示されているレチクル６００と第２眼底画像５２０の乳頭とが重なった状態で、検者はコントロール部８２を用いてトラッキング開始の指令信号を制御部８０に送る。制御部８０はトラッキング開始の指令信号を受けて、トラッキング用ユニット３００、偏向部４００，４１０を駆動させて被検眼Ｅのトラッキングを開始する。
【００２９】
図４及び図５は、本実施形態におけるトラッキングの方法を示した模式図である。図４（ａ）は、第２眼底画像５２０に表示されている乳頭にレチクル６００が重なった状態を説明するための模式図であり、眼底の乳頭にトラッキング指標Ｔが重なった状態を示している。同様に、図５（ａ）は、眼底の乳頭からトラッキング指標Ｔが外れた状態を示している。また、図４（ｂ）、図５（ｂ）では、それぞれの状態でのトラッキング指標Ｔの輝度分布を模式的に示した図である。
【００３０】
トラッキングを開始してから被検眼Ｅが動いていない状態を示す。また、被検眼Ｅが固視微動等により動いてしまうと、図５（ａ）に示すように乳頭とトラッキング指標Ｔとがずれることとなる。乳頭に完全に重なった状態でのトラッキング指標Ｔの反射光は、全体的に輝度が高い状態（図４（ｂ）参照）でトラッキング用ユニット３００の受光素子に受光される。一方、図５（ａ）に示すようにトラッキング指標Ｔの一部の領域が乳頭から外れていると、図５（ｂ）に示すように外れた一部の領域の輝度は低くなる。
【００３１】
トラッキング用ユニット３００では、トラッキング開始時に得られた受光結果を基準情報として制御部８０に送っておき、その後、１走査毎（走査によるリング形成毎）に得られる受光結果（受光情報）を逐次、制御部８０に送信する。制御部８０は基準情報に対してその後に得られた受光情報を比較し、基準情報と同じ受光情報が得られるように、言い換えればトラッキング指標全体を乳頭に重ねるための移動位置情報を演算により求める。制御部８０は求めた移動位置情報に基づいて偏向部４１０を駆動させる。また、偏向部４００も制御部８０により偏向部４１０と同期して駆動される。
【００３２】
このようなトラッキングを行うことにより、被検眼Ｅが微動してもその動きが相殺されるように偏向部４００，４１０の駆動が行われるため、モニタ８５に表示される眼底画像の動きは抑制されることとなる。
【００３３】
所定のトリガ信号が出力されると、制御部８０は、眼底撮像光学系１００からの出力信号に基づいて眼底像（第１の眼底画像）を取得すると共に、波面センサ７３から出力される検出信号に基づいて収差補正ユニット１０，７３を制御する。そして、制御部８０は、波面センサ７３のフレームレートを、眼底撮像光学系１００により眼底像を撮像する際のフレームレートより高速化する。
【００３４】
より好ましくは、波面センサ７３のフレームレートを、眼底撮像光学系１００を用いて眼底像を取得する際のフレームレートより２倍以上高速化し、１フレームの眼底像を取得する間に、収差補正ユニット７２，１０による被検眼の収差補正を複数回行う（図６参照）。また、制御部８０は、眼底撮像光学系１００による眼底像の撮像と波面センサ７３による波面収差の検出とを同期させるのが好ましい（図６参照）。
【００３５】
図６は第１眼底画像の取得タイミングと波面収差の検出／補償のタイミングの具体例を示すタイミングチャートである。図６（ａ）はガルバノミラーの駆動位置を示すチャートであり、図６（ｂ）は波面センサ７３に出力される検出開始信号のタイミングを示すチャートである。
【００３６】
制御部８０は、眼底像の取得開始信号が出力されると、撮影用フレームレート（例えば、１０Ｈｚ）にて眼底画像が得られるように、眼底撮像光学系１００の各部材を制御する。ここで、ガルバノミラーによる垂直走査が開始されると、制御部８０は、１回の垂直走査の間に、レゾナントミラーを用いた水平走査を所定回数（画像の解像度による）行う。このようにして、照明光が眼底上で二次元的に走査されると、１フレーム分の眼底画像が取得される。
【００３７】
眼底像の取得開始信号（第１、第２、第３・・・）は撮影用フレームレートにて逐次出力され、これに合わせて、眼底画像が逐次取得される。これにより、モニタ８５には、眼底画像の動画像がリアルタイムにて表示される。なお、撮影中において、上記トラッキング制御を行うことにより、被検眼Ｅが微動してもその動きが相殺されるように偏向部４００，４１０の駆動が行われるため、モニタ８５に表示される眼底画像の動きは抑制されることとなる。
【００３８】
一方、制御部８０は、波面収差の検出開始信号が出力されると、補償用フレームレート（例えば、２０Ｈｚ）にて波面収差が検出されるように、波面センサ７３を制御する。そして、次の検出開始信号が出力されると、制御部８０は、波面センサ７３から出力された検出信号に基づいて駆動部１０ａ及び波面補償デバイス７２を制御する。
【００３９】
より具体的には、図６（ｂ）に示すように、第一の検出開始信号が出力されると、制御部８０は、波面センサ７３の露光を開始させ、１フレーム分の第１の測定画像（例えば、シャックハルトマン像）を蓄積する。
【００４０】
次の第２の検出開始信号が出力されると、制御部８０は、第１の検出開始信号を基に蓄積された第１の測定画像を記憶部８１に転送させるとともに、第２の測定画像を得るための波面センサ７３の露光を開始させる。そして、制御部８０は、記憶部８１の第１の測定画像を波面解析し、その解析結果に基づいて駆動部１０ａによる視度補正量及び波面補償デバイス７２での収差補正量を算出する。そして、制御部８０は、その算出結果に基づいて駆動部１０ａ及び波面補償デバイス７２を制御して、眼Ｅの収差を補正する。なお、波面補償デバイス７２として液晶変調素子（ＬＣＯＳ）を用いていることで、可変形状鏡等と比較して応答速度を高速化できるため、第２の検出開始信号の出力から波面補償完了までの時間が短縮される。したがって、波面センサ７３のフレームレートを高速化させて収差補正を行う場合に有用である。
【００４１】
次の第３の測定開始信号が出力されると、制御部８０は、第２の測定画像を記憶部８１に転送させるとともに、第３の測定画像を得るための露光を開始させる。そして、制御部８０は、先と同様に、第２の測定画像に基づいて駆動部１０ａ及び波面補償デバイス７２を制御する。
【００４２】
この場合、まず、眼底像の取得開始信号と波面収差の検出開始信号とが同期される。よって、眼底画像１フレームの取得開始と同時に、波面センサ７３からの転送画像に基づいて、眼Ｅの収差が補正される。
【００４３】
また、次の取得開始信号が出力されるまでの間に、２回目の検出開始信号が出力される。例えば、第１の測定画像は、第２の検出開始信号の出力後に取得される眼底動画像に反映される。本実施形態では、上記のような制御によって、１フレームの眼底画像取得の間に検出開始信号を複数回出力し、これに基づいて、収差補正を複数回行う。
【００４４】
以上のような構成とすれば、波面センサ７３で取得された波面データをより早く画像に反映させることできるため、第１の眼底画像（波面補償画像）の動画像のぼけを減らすことができる。したがって、被検眼の固視状態や位置の変化によって、第１撮影ユニット１００に対する被検眼の収差状態が変化しても、鮮明な眼底像を得ることができる。
【００４５】
なお、以上の説明においては、１フレーム分の眼底画像を得る間に、収差検出及び波面補償制御をそれぞれ２回行うものとしたが、さらに、３回以上行うようにしてもよい。また、上記説明では、波面センサのフレームレートを２０Ｈｚとしたが、それ以外の周波数を用いてもかまわない。なお、高い周波数をとれば、より安定した画像を取得することができる。このときカメラの感度は、高い周波数を用いるほど、感度の高いものを用いるとよりよい。
【００４６】
また、収差検出用のフレームレートを眼底取得用のフレームレートより高速化させる手法について、光走査方式により眼底画像を得る際の撮影画角が比較的大きい場合においても、有用である。すなわち、撮影画角が大きい場合、眼底上の照明光の走査位置によって必要な収差補正量が異なる場合がある。そこで、上記のように照明光の走査位置に応じて被検眼の波面収差を検出し、その検出結果に基づいて収差補正を行うことにより、走査位置に応じて収差補正を行うことができる。また、往復走査方式（例えば、上から下、下から上の順で繰り返し画像を得る）にて各眼底画像を得る構成の方が、精度良く収差を補正できる。
【００４７】
また、以上の説明においては、低次収差（例えば、球面度数）及び高次収差を含む収差が一旦補正された後も、波面センサ７３からの出力信号を基に視度補正部１０と収差補償デバイス７２の両方を連続制御するものとしたが、これに限るものではない。すなわち、少なくともいずれか一方を連続制御させるようにしてもよい。例えば、撮影中における球面度数の変化が小さく、高次収差の変化が大きい場合、視度補正デバイス７２のみを制御する。
【００４８】
なお、上記の波面補償において、眼底画像を得るフレームレートを変更した場合、それに対応して波面検出用のフレームレートを変更してもよい。この場合、眼底像を得る際のフレームレートが増加させると、これに合わせて波面を検出する際のフレームレートを増加させ、眼底像を得る際のフレームレートが減少させると、これに合わせて波面を検出する際のフレームレートを減少させる。
【００４９】
なお、以上の説明においては、眼底撮像光学系１００として、被検眼眼底と略共役な位置に配置された共焦点開口を介して被検眼眼底で反射した光束を受光して被検眼眼底の共焦点正面画像を撮影する共焦点光学系（ＳＬＯ光学系）を用いるものとしたが、これに限るものではない（例えば、特表２００１−５０７２５８号公報参照）。
【００５０】
例えば、被検眼眼底で反射した光束を二次元撮像素子により受光して被検眼の眼底正面画像を撮影する眼底カメラ光学系であってもよい。また、被検眼眼底で反射した光束と参照光による干渉光を受光して被検眼の断層画像を撮影する光干渉光学系（ＯＣＴ光学系）であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本実施形態の眼底撮影装置の光学系を示した図である。
【図２】制御系を示したブロック図である。
【図３】モニタでの表示を説明する図である。
【図４】眼底の乳頭にトラッキング指標が重なった状態を示す模式図である。
【図５】眼底の乳頭からトラッキング指標が外れた状態を示す模式図である。
【図６】第１眼底画像の取得タイミングと波面収差の検出／補償のタイミングの具体例を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
【００５２】
１  第１光源
２０  走査部
５１  第１受光素子
７２  波面補償デバイス
７３  波面センサ
７６  光源
８０  制御部
８５  モニタ
２００  第２撮影ユニット
３００  トラッキング用ユニット
４００、４１０  偏向部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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