(57)【要約】【課題】光ディスク反りに対応した光ディスク再生装置を提供する。【解決手段】検出部6は光ディスク再生部2の周辺の温度を測定する。記憶部4は、光ディスク再生部2が再生している光ディスク上の異なる複数の位置それぞれで、温度が異なる複数の時点における温度と光ディスク再生部2におけるフォーカスドライブ電圧とを対応させた測定値を記憶する。再生制御部3は、記憶部4に記憶させた測定値を用いた近似式により光ディスク再生部2における光ディスクの再生制御を行う。【選択図】図１
2011076658.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを再生する光ディスク再生部と、
記憶部と、
前記光ディスク再生部が再生している前記光ディスク上の異なる複数の位置それぞれで、光ディスク再生部の周辺の温度を測定する検出部が測定した温度が異なる複数の時点における温度と前記光ディスク再生部におけるフォーカスドライブ電圧とを対応させた測定値を前記記憶部に記憶させる記憶制御部と、
前記記憶部に記憶させた測定値を用いた近似式により前記光ディスク再生部における前記光ディスクの再生制御を行う再生制御部と
を備えることを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項２】
前記光ディスク上の異なる複数の位置は光ディスクの中心からの距離が異なる位置であることを特徴とする
請求項１記載の光ディスク再生装置。
【請求項３】
光ディスクを再生する光ディスク再生部と、
記憶部と、
前記光ディスク再生部が再生している前記光ディスク上の異なる複数の位置それぞれで、光ディスク再生部の周辺の湿度を測定する検出部が測定した湿度が異なる複数の時点における湿度と前記光ディスク再生部におけるフォーカスドライブ電圧とを対応させた測定値を前記記憶部に記憶させる記憶制御部と、
前記記憶部に記憶させた測定値を用いた近似式により前記光ディスク再生部における前記光ディスクの再生制御を行う再生制御部と
を備えることを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項４】
光ディスク再生部が再生している光ディスク上の異なる複数の位置それぞれで、異なる複数の温度を測定するステップと、
前記異なる複数の温度に対応して、前記光ディスク再生部におけるフォーカスドライブ電圧を取得するステップと、
前記温度と前記フォーカスドライブ電圧とを対応させた測定値を記憶部に記憶させるステップと、
前記記憶部に記憶させた測定値を用いた近似式により前記光ディスク再生部における再生制御を行うステップと
を含むことを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項５】
コンピュータに、
光ディスク再生部の周辺の温度を検出部に測定させる測定ステップと、
前記光ディスク再生部が再生している光ディスク上の異なる複数の位置それぞれで、前記測定ステップにて測定した温度が異なる複数の時点における温度と前記光ディスク再生部におけるフォーカスドライブ電圧とを対応させた測定値を記憶部に記憶させる記憶ステップと、
前記記憶部に記憶させた測定値を用いた近似式を算出させ、前記近似式に基づき前記光ディスク再生部における前記光ディスクの再生を制御する制御ステップとを実行させることを特徴とする光ディスク再生プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクの反りに伴う再生処理動作の不都合をなくすことができる光ディスク再生装置、光ディスク再生方法、及び光ディスク再生プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
CDやDVDなどの光ディスクを再生する光ディスク再生装置では、再生時にピックアップのフォーカス制御やトラッキングサーボなどの制御を行う。しかし、光ディスクは光ディスクごとの素材の違いや再生時の温度や湿度などの環境の変化によってディスクが変形することがあり、再生動作の制御が良好に行われないことがあった。
【０００３】
特許文献1には、上記の問題点に着目して、光ディスクの素材と温度と湿度における反り量を考慮し、予め相殺する反りを与えた光ディスクが開示されている。
【０００４】
また、光ディスクの反り量の検出をディスクローディングの際（ディスク再生処理を行う前）にディスクの反り量を測定し、測定したデータを基に光ディスクの反り量としたり、または予め指定してある近似曲線を用いて反り量を予測したり、さらに測定した値と温度をもとに反り量を算出し各温度における反り量を算出し光ディスク再生装置の再生動作の制御を行っていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平８−３１０１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、実際には光ディスクの反りを改善していない光ディスクが再生装置に挿入され、また、ユーザが光ディスクの表面に印刷を行う場合や光ディスク表面にラベル等を貼る場合があり、印刷におけるインク成分やラベルの粘着成分が光ディスクの反り量に変化を与えることがあった。上記のような変化した反りには対応できない問題があった。
【０００７】
また、ディスク再生処理を行う前に反り量によって変化した制御電圧を計測し、予め与えたれた近似式を用いて制御電圧を予測する場合、予測した電圧値と実際の制御に必要な電圧値とが大きく異なる場合には再生動作できなくなり、ディスクを排出するなどの対策を講じるしかなかった。
【０００８】
本発明は光ディスクの素材やディスクの状態によって反り量が異なる場合にも安定した再生動作を行うことができる光ディスク再生装置、光ディスク再生方法、及び光ディスク再生プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、上述した従来の技術の課題を解決するため、光ディスクを再生する光ディスク再生部と、記憶部と、前記光ディスク再生部が再生している前記光ディスク上の異なる複数の位置それぞれで、光ディスク再生部の周辺の温度を測定する検出部が測定した温度が異なる複数の時点における温度と前記光ディスク再生部におけるフォーカスドライブ電圧とを対応させた測定値を前記記憶部に記憶させる記憶制御部と、前記記憶部に記憶させた測定値を用いた近似式により前記光ディスク再生部における前記光ディスクの再生制御を行う再生制御部とを備えることを特徴とする光ディスク再生装置を提供する。
【００１０】
上記の構成において、光ディスク上の異なる位置は光ディスクの中心からの距離が異なる位置であることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明は、上述した従来の技術の課題を解決するため、光ディスクを再生する光ディスク再生部と、前記光ディスク再生部が再生している前記光ディスク上の異なる複数の位置それぞれで、前記光ディスク再生部の周辺の湿度を測定する検出部が測定した湿度が異なる複数の時点における湿度と前記光ディスク再生部におけるフォーカスドライブ電圧とを対応させた測定値を前記記憶部に記憶させる記憶制御部と、前記記憶部に記憶させた測定値を用いた近似式により前記光ディスク再生部における前記光ディスクの再生制御を行う再生制御部とを備えることを特徴とする光ディスク再生装置を提供する。
【００１２】
さらに、本発明は、上述した従来の技術の課題を解決するため、光ディスク再生部が再生している光ディスク上の異なる複数の位置それぞれで、異なる複数の温度を測定するステップと、前記異なる複数の温度に対応して、前記光ディスク再生部におけるフォーカスドライブ電圧を取得するステップと、前記温度と前記フォーカスドライブ電圧とを対応させた測定値を記憶部に記憶させるステップと、前記記憶部に記憶させた測定値を用いた近似式により前記光ディスク再生部における再生制御を行うステップとを含むことを特徴とする光ディスク再生方法を提供する。
【００１３】
また、本発明は、上述した従来の技術の課題を解決するため、コンピュータに、光ディスク再生部の周辺の温度を検出部に測定させる測定ステップと、前記光ディスク再生部が再生している光ディスク上の異なる複数の位置それぞれで、前記測定ステップにて測定した温度が異なる複数の時点における温度と前記光ディスク再生部におけるフォーカスドライブ電圧とを対応させた測定値を記憶部に記憶させる記憶ステップと、前記記憶部に記憶させた測定値を用いた近似式を算出させ、前記近似式に基づき前記光ディスク再生部における前記光ディスクの再生を制御する制御ステップとを実行させることを特徴とする光ディスク再生プログラムを提供する。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれは、光ディスクの素材やディスクの状態によって反り量が異なる場合にも安定した再生動作を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の一実施形態を示すブロック図である。
【図２】ディスク再生部2内の光ディスクとピックアップを示す概略図である。
【図３】実施例１のフローチャートである。
【図４】実施例２のフローチャートである。
【図５】実施例３のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の構成について、添付図面の図１を参照して説明する。
光ディスク再生装置１は、光ディスク再生部2、再生制御部3、記憶部4、制御部5、検出部6、出力部7を備える。光ディスク再生部2は図2に示すピックアップ11や図示していないスピンドルモータ等を備えている。ピックアップ11は光ディスク10の記録面に光を照射し、反射した光を検出することで得られたデータより光ディスク10に記録された記録データを取得する。再生制御部3はピックアップ11を制御する制御信号を光ディスク再生部2に供給し、スピンドルモータの回転を測定して、スピンドルモータの回転数を制御する信号を光ディスク再生部2へ出力する。また、光ディスク再生部2のピックアップ11が得た光ディスク10の記録データを再生制御部3へ出力し、再生制制御部3は得られた記録データが音声データであるときは再生処理を行い出力部7に出力する。出力部7には図示しないスピーカ等が接続され、音声を出力する。
【００１７】
記憶部4は例えばメモリのような記憶装置であって、制御部5が得た再生制御部3からのデータや再生装置1の制御プログラム等を記憶している。検出部6は温度計や湿度計を有し、検出した温度や湿度を制御部5へ出力する。記憶部4は検出部6の温度計や湿度計が得た温度や湿度を記憶する。制御部5は記憶部4に対して各種のデータを記憶させる記憶制御部として機能している。
【００１８】
次に図２を用いて、本実施形態に用いるピックアップ11について説明する。図２のZ軸方向（矢印方向をプラスとする。以下同様）にピックアップ11を動かす方向をフォーカス方向、ピックアップ11をY軸方向（光ディスク10の径方向）に動かす方向をスレッド方向という。光ディスク10の中心から放射状に広がる方向が光ディスク10の外周方向であり、中心に近づく方向が内周方向である。ピックアップ11を光ディスク10のデータを読み取る際にはフォーカス方向に動かす。このときにピックアップ11の駆動に必要な電圧をフォーカスドライブ電圧（FoDrv）と呼ぶ。このときの値は再生時におけるフォーカス浮上電圧に相当する。
【００１９】
次に図3を用いて本実施形態における実施例１を説明する。
以下の処理は制御部5で行われる処理である。
ステップS1：カウンタNを０とする。
ステップS2：検出部6の温度計で温度T1を測定する。制御部5は測定したT1を記憶部４に記憶させる。
【００２０】
ステップS3：ディスク上の内周側の所定位置アドレスX1において、ピックアップ11にフォーカスサーボを掛ける。そのときのフォーカスドライブ電圧の値（FoDrv1値）Y1を制御部5に出力し、電圧値Y1を記憶部4に記憶させる。
【００２１】
ステップS4：ディスク上の所定位置アドレスX2（アドレスX1より外周側に位置）においてピックアップ11にフォーカスサーボを掛ける。そのときのフォーカスドライブ電圧の値（FoDrv2値）Y2を測定し、電圧値Y2を記憶部4に記憶させる。
【００２２】
ステップS5：ステップS3、S4で得られた値（X1、Y1、X2、Y2）より制御部５で近似式Pを算出する。
近似式Pは例えば、
P＝aX2＋bX＋c      ‥（1）
のような曲線近似を行うとステップS3、ステップS4から得られたX1、Y1、X2、Y2より係数ａ、bが求まる。係数ｃはフォーカスオン時のFoDrv浮上電圧に相当し、ディスクの出し入れが行われない限り変化しない値である。
【００２３】
ステップS6：カウンタNを+１とし、カウントアップする。
【００２４】
ステップS7：カウンタＮが２であるか判断する。ステップＳ7でNOの場合ステップS8へ移行する。ステップS7でYESの場合はステップS10へ移行する。
【００２５】
ステップS8：検出部6の温度計で温度を測定する（T2測定）。そして、温度T2を記憶部4に記憶させる。
【００２６】
ステップS9：制御部5で温度T1と温度T2の差がT度以上かT度より小さいかを判断する。
T1とT2の温度差がT以上であった場合（ステップS9でYES）ステップS3に移行する。T1とT2の温度差がTより小さい値であった場合（ステップS9でNO）ステップS8に移行する。
【００２７】
ステップS10：温度T1のときの近似式P1と温度T2のときの近似式P2の係数を比較して、温度依存による近似式Pの温度係数を制御部5で計算する。温度係数をK1、K2とすると、
K1＝a2／a1      ‥（2）
K2＝b2／b1      ‥（3）
となる。
【００２８】
ステップS11：検出部6の温度計で温度Tnを測定する。
【００２９】
ステップS12：ステップS10より得られた係数よりK1、K2よりPnを算出する。
近似式Pnは
Pn＝an・X2＋bn・X＋c
となり、an、bnはそれぞれ、
an＝K1×（ΔT／ΔT'）
bn＝K2×（ΔT／ΔT'）
となる。
【００３０】
ステップS13：ディスク上の位置XnにおけるFoDrvｎを算出し、ピックアップ11を算出したYｎ＝FoDrvｎに基づき制御し、ステップS14へ移行する。
Xnはディスク再生制御部3から指定された光ディスク10上のアドレスである。
【００３１】
ステップS14：光ディスク10が排出されたか否かを判断する。光ディスク10が排出されたと判断された場合（ステップS14でYES）、フローを終了する。ステップS14でNOの場合、ステップS11へ移行する。
【００３２】
以上のステップにより、少なくとも２つの異なる温度変化によって得られたデータをもとに近似式を算出することにより、精度のよいディスクの反り量に応じたフォーカスサーボが行えるようになる。また、温度変化によるディスクの反り量の増大によりフォーカスサーチが不能となり再生できなくなることを回避できる。
【００３３】
次に図4を用いて実施例２を説明する。実施例２を実現する構成は図1、図2と同様であり、実施例１と同じ記号を用いているものは実施例１と同様とし、説明を省略する。
ステップS22：カウンタNを０にする。
ステップS23：光ディスク再生装置1内の湿度H1を測定し、測定した湿度の値H1を記憶部4に記録する。
【００３４】
ステップS24：温度T1測定し、記憶部4に記録する。
ステップS25内周アドレスX1においてデータ読み出し動作を行い、電圧値Y1を測定する。
ステップS26：中周アドレスX2ｂにおいてデータ読み出し動作を行い、電圧値Y2を測定する。
【００３５】
ステップS27：近似式Pを算出する（上述の式（1））。
ステップS28：カウンタNをプラス１して、カウントアップする。
【００３６】
ステップS29：温度T2を測定する。
ステップS30：環境温度変化がｔ℃以上かどうか判断する。ｔ℃は任意に設定する。若しくは機器に設定されていてもよい。例えば、10℃程度である。ステップS30でYESの場合、ステップS22に移行する。ステップS30でNOの場合、ステップS31に移行する。
【００３７】
ステップS31：湿度を測りH2を測定する。湿度値H2を記憶部4に記録する。
ステップS32：測定した湿度値H２と湿度値H1の差が一定以上かどうか判断する。所定の湿度である場合（ステップS32でYES）、ステップS33に移行する。
湿度値H1とH2の差が所定以下である場合（ステップS32でNOの場合）、ステップS29へ移行する。
【００３８】
ステップS33：カウンタNが２以上かどうか判断する。ステップS33でNOの場合、ステップS25へ移行する。ステップS33でYESの場合ステップS34に移行する。
【００３９】
ステップS34：検出湿度H1のときの近似式P1と検出湿度H2のときの近似式P2の係数を比較して、湿度依存による近似式Pの湿度係数を制御部5で計算する。湿度係数をK´1、K´2とすると、
K´1＝a2／a1      ‥（4）
K´2＝b2／b1      ‥（5）
となる。
【００４０】
ステップS35：再生動作がおこなわれている場合には湿度Hnを測定する。
ステップS36：湿度Hnにおける近似式Pnを算出する。
ステップS37：ディスク位置XnにおけるYn（フォーカスドライブ電圧）を得る。
【００４１】
ステップS38：ディスクを排出したかどうかを判別する。ディスクが排出された（ステップS38でYESの）場合、ステップS39に移行してフローを終了する。ディスクが排出されていないと判断された場合は（S38でNO）の場合は、ステップS35に移行する。
【００４２】
本実施例では、湿度Hnの検出を適宜行うようにしたが、湿度センサーを利用し、湿度に変化が生じたときのみ、ステップS35以降のステップを実施してもよい。
【００４３】
次に図５を用いて実施例３を説明する。実施例２を実現する構成は図1、図2と同様であり、実施例１と同じ記号を用いているものは実施例１と同様とし、説明を省略する。
【００４４】
ステップS52：カウンタＮを０とする。
ステップS53：再生制御部3で再生速度設定Vnを測定する。
【００４５】
ステップS54：温度T１を測定する。
ステップS55：内周アドレスX1においてデータの読み出し動作を行い、電圧値Y1を測定する。
ステップS56：中周アドレスX2ｂにおいてデータの読み出し動作を行い、電圧値Y2を測定する。
【００４６】
ステップS57：（1）式を用いて近似式Pを算出する。
ステップS58：カウンタNをプラス１する。
ステップS59：再生速度設定Vが変わったか判断する。ステップS59でYESの場合、ステップS52へ移行する。ステップS59でNOの場合ステップS60へ移行する。
【００４７】
ステップS60：カウンタNが２であるか否かを判断する。ステップS60でYES（N=２）の時、ステップS63へ移行する。ステップS60でNOの時（N＝２ではない）時、ステップS61へ移行する。
【００４８】
ステップ61：温度T2を測定する。
ステップ62：T2とT1の温度差が所定値Tより大きいか否かを判断する。
T2とT1の差がTより大きい場合（ステップS62でNO）、ステップS55へ移行する。T２とT1の差がTより大きいもしくは等しい場合（ステップS62でYES）、ステップS63へ移行する。
【００４９】
ステップS64：温度Tnを検出する。
ステップS65：温度Tn、再生速度Vｎのときの近似式Pnを算出する。
ステップS66：ステップS65で求めたPnをもとに、位置XnにおけるYnを算出する。
ステップS67：ディスクが排出されたかどうかを判別する。ステップS67でNO（ディスクが再生装置から排出されたと検出されたと判断されないとき）、ステップS64へ移行する。ステップS67でYES（ディスクが再生装置から排出された判断されたとき）の場合フローを終了する。
【００５０】
実施例３により、ディスクの再生速度（回転速度）における遠心力と環境温度に伴うディスク熱変形との影響に対応することができる。
【００５１】
以上本発明の実施例１〜３では、少なくとも２つの異なる温度変化によって得られたデータをもとに近似式を算出することにより、精度のよいディスクの反り量に応じたフォーカスサーボが行えるようになる。
【００５２】
また、温度変化によるディスクの反り量によりフォーカスサーチが不可能になりことがなく再生できなくなることを回避できるとともに、ピックアップのアクチュエータ感度の温度特性（FoDｒv値・浮上電圧）、駆動回路系のゲイン（ドライバー部を含む）に関する温度特性、やフォーカスアクチュエータアップ／ダウン駆動時の周波数での感度におけるヒステリシス温度特性にも対応でき、各メディア素材（ディスクのポリカやディスクラベル自体やディスクラベルの接着剤等の構成素材）ごとの温度特性にも対応できる。
【００５３】
また、温度または湿度による反り量が検出（推定）できるため、再生できないと判断することが可能になり、そのときは「温度を下げてください」または「高温」「高湿度のため再生を一時中断します」等のメッセージをユーザに出すことが可能になる。
【００５４】
上述した実施例１〜３のフローはディスク再生処理動作する前もしくはディスク再生処理動作中に行ってもよく、またディスクデータ再生中のある時間例えば温度変化を検出したときに近似式Pnを求めるなど、本発明の意図を超えない範囲で変更が可能である。
【００５５】
また、ディスクごとに近似式を算出することでより精度の高い制御を行うことが可能となる。
【００５６】
上述した実施例１〜３では、ディスクの内周アドレスX1と外周アドレスX2で測定を行ったが、内周、中周、外周のうち２点でもよく、3点以上で行ってもよい。そのときの近似式Pは、2点での測定時と同様に式（1）のような曲線近似を行う。
【００５７】
上述した実施例１〜３では、温度によった反り量を算出したが、温度変化ではなく例えば、異なる湿度におけるディスクの反り量を測定し、近似式を算出、再生動作に利用してもよい。また温度と湿度を組み合わせたパラメータを利用してもよい。
【００５８】
上述した実施例１〜３では、温度や湿度を再生装置内の検出部で測定したが、温度や湿度のデータは再生装置内になくてもよく、データを取得できればよい。
【００５９】
近似式は実施例では二次曲線としたが、どのような曲線近似式を用いてもよい。
【符号の説明】
【００６０】
１  再生装置
２  光ディスク再生部
３  再生制御装置
４  記憶部
５  制御部
６  検出部
７  出力部
１０  光ディスク
１１  ピックアップ
【図１】
2011076658.tif 000003
【図２】
2011076658.tif 000004
【図３】
2011076658.tif 000005
【図４】
2011076658.tif 000006
【図５】
2011076658.tif 000007