(57)【要約】【課題】ポスト取込みトリガ・イベントを検出し、少なくとも１つの波形の位置を調整して、ポスト取込みトリガ・イベントの時点と適合させる。【解決手段】アナログ・デジタル変換器１０８が入力端子１１０の被試験信号を受けてデジタル・サンプルを発生する。取込みメモリ１１５が被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録１１７として蓄積し、表示器１３５が被試験信号に関連する。第１トリガ回路１２０が第１トリガ条件に基づいて被試験信号内のライブ・イベントを検出して、ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように波形の自動調整を行う。第２トリガ回路１２５が第２トリガ条件に基づいてデータ記録から１つ以上のポスト取込みトリガ・イベントを検出する。表示器が１つ以上の設定可能なトリガ制御に応じて１つ以上のポスト取込みトリガ・イベントとデータ記録に関連した波形との表示を調整する。【選択図】図１
2011059107.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験信号を受ける入力端子と、
該入力端子に関連して上記被試験信号を受け、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する１個以上のアナログ・デジタル変換器と、
上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと、
上記被試験信号に関連した表示器と、
上記入力端子に結合した入力端を有し、第１トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・イベントを検出して、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記波形の自動調整を行う第１トリガ回路と、
第２トリガ条件に基づいて上記データ記録から１つ以上のポスト取込みトリガ・イベントを検出する第２トリガ回路とを具え、
上記表示器が１つ以上の設定可能なトリガ制御に応じて上記１つ以上のポスト取込みトリガ・イベントと上記データ記録に関連した波形との表示を調整することを特徴とする試験測定機器。
【請求項２】
被試験信号を受ける入力端子と、
上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと、
上記被試験信号に関連した複数の波形を描画する表示器と、
第１トリガ条件に基づいて上記被試験信号内の第１トリガ・イベントを検出し、ライブ・トリガ・モード期間中に複数の波形の少なくとも１つを調整して上記第１トリガ・イベントの時点に適合させる検出器と、
第２トリガ条件に基づいて上記データ記録内の第２トリガ・イベントを検出する第２検出器と、
上記第１トリガ条件又は上記第２トリガ条件を設定する第１トリガ制御器と、
上記第２トリガ・イベント又は波形のいずれを上記表示器に表示させるかを設定する第２トリガ制御器と
を具えた試験測定機器。
【請求項３】
被試験信号を受ける入力端子と、
該入力端子に関連し、上記被試験信号を受けて、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する１個以上のアナログ・デジタル変換器と、
上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと、
上記被試験信号に関連した１つ以上の波形を描画する表示器と、
上記入力端子に結合した入力端を有し、第１トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出し、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記１つ以上の波形を自動調整するアナログ・トリガ回路と、
上記取込みメモリからの上記デジタル・サンプルを受けて、変換されたアナログ信号を発生する１つ以上のデジタル・アナログ変換器とを具え、
上記アナログ・トリガ回路が上記変換されたアナログ信号を受け、第２トリガ条件に基づいて上記データ記録内のポスト取込みトリガ・イベントを検出し、上記１つ以上の波形を自動調整して上記ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合させることを特徴とする試験測定機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、試験測定機器に関し、特に、ポスト取込みトリガ制御と関連した波形の表示器での表示を行う試験測定機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近のデジタル・オシロスコープは、被試験電気信号を取込み、この取込みデータに対応するデジタル・データをデータ記録として蓄積できる。かかるオシロスコープを用いて、被試験電気信号を取込みながら、１つ以上の波形を表示できる。さらに、被試験電気信号の取込みが停止しても、データ記録からの前もって蓄積したデジタル・データを波形としてオシロスコープの表示器上で観察できる。従来のオシロスコープは、一般的に、表示できる時間に対応する比較的少ないデータ記録を取り込むが、メモリ速度、メモリ容量及びプロセッサ速度の領域での進歩により、この領域において最近のオシロスコープの機能が改善された。現在のほとんどのデジタル・オシロスコープは、理にかなって一度に表示できる時間以上の時間に対応する非常に長いデータ記録を蓄積できる点を考慮されたい。
【０００３】
大きなデータ記録の結果、追加の機能をユーザが利用できる。例えば、ほとんどのオシロスコープでは、ユーザが水平及び垂直の制御器を調整できるので、表示上の波形の位置を変化できる。さらに、いくつかのオシロスコープでは、ユーザは、特に、データ記録を取り込んだ後に、波形を「スクロール」できる。しかし、データ記録は、一度に表示できる時間よりも遙かに長い時間を表すので、関心のあるユーザの期間は、全部の取込み記録に比較して短く、全データ記録を通してのスクロールが非現実的である。これにより、関心のある期間を見つけて分析することが困難となる。さらに、全記録には、表示されている１つのイベントと異なるが関心のある他のイベントも含まれている。
【０００４】
あるオシロスコープには、データ記録内の関心のあるイベントにフラグを立てる検索機能がある。しかし、メモリ容量の迅速な進歩により、データ記録のサイズが広がり続けているが、これでは従来の検索技術では充分に機能しない、即ち、検索速度を低下させる。さらに、標準のトリガ制御器を用いてライブ・トリガ・モードをエミュレーションすることによりポスト（後）取込みトリガ・イベント（事象）を直感的に制御し且つ表示できるが、このポスト取込みトリガ・イベントに対する直接的な従来のアプローチがない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−３２９７０９号公報
【特許文献２】特開２００３−３２９７１０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、ポスト取込みトリガ・イベントを検出し、少なくとも１つのポスト取込みトリガ・イベントの時点と適合するように少なくとも１つの波形の位置を自動調整できる試験測定機器が望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
課題を解決するための本発明の態様は、次の通りである。
（１）被試験信号を受ける入力端子と；該入力端子に関連して上記被試験信号を受け、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する１個以上のアナログ・デジタル変換器と；上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと；上記被試験信号に関連した表示器と；上記入力端子に結合した入力端を有し、第１トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・イベントを検出して、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記波形の自動調整を行う第１トリガ回路と；第２トリガ条件に基づいて上記データ記録から１つ以上のポスト取込みトリガ・イベントを検出する第２トリガ回路とを具え；上記表示器が１つ以上の設定可能なトリガ制御に応じて上記１つ以上のポスト取込みトリガ・イベントと上記データ記録に関連した波形との表示を調整することを特徴とする試験測定機器。
（２）上記１個以上のトリガ制御器は、２つ以上のポスト取込みトリガ・イベント又は２つ以上の波形を同時に表示させる態様１の試験測定機器。
（３）上記２つ以上のポスト取込みトリガ・イベントの各々が上記波形の対応する１つに関連する態様２の試験測定機器。
（４）上記１つ以上のトリガ制御器により、上記データ記録に関連した全てのポスト取込みトリガ・イベントを同時に表示する態様１の試験測定機器。
（５）上記１個以上のトリガ制御器により、上記データ記録に関連したＮ個のポスト取込みトリガ・イベントを同時に表示する態様１の試験測定機器。
（６）上記１個以上のトリガ制御器が、上記データ記録に関連し同時に表示するポスト取込みトリガ・イベントの数のレンジを調整する態様１の試験測定機器。
（７）上記１個以上のトリガ制御器が、上記データ記録に関連し同時に表示する波形の数のレンジを調整する態様６の試験測定機器。
（８）単一の波形及び単一のポスト取込みトリガ・イベントが表示されるまで、上記１個以上のトリガ制御器が上記レンジを調整する態様７の試験測定機器。
（９）上記１個以上のトリガ制御器が、（ａ）上記データ記録に関連する次のポスト取込みトリガ・イベントを見つけて表示する、（ｂ）上記データ記録に関連する以前のポスト取込みトリガ・イベントを見つけて表示する、（ｃ）上記データ記録に関連する第１ポスト取込みトリガ・イベントを見つけて表示する、（ｄ）上記データ記録に関連する最後のポスト取込みトリガ・イベントを見つけて表示することの少なくとも１つを行う態様１の試験測定機器。
（１０）上記第２トリガ回路は、３つ以上のポスト取込みトリガ・イベントを蓄積するメモリを更に具える態様１の試験測定機器。
（１１）上記メモリが上記３つ以上のポスト取込みトリガ・イベントの各々の時点又は位置を蓄積する態様１０の試験測定機器。
（１２）上記第２トリガ回路がＮ個のポスト取込みトリガ・イベントを蓄積するメモリを更に具え、Ｎが上記データ記録に関連したポスト取込みトリガ・イベントの総数未満である態様１の試験測定機器。
（１３）上記第２トリガ回路が複数のメモリ位置を有するメモリを更に具え、上記メモリ位置の各々が上記表示器の対応する１列に関連し、上記対応する１列の時点又は位置にてポスト取込みトリガ・イベントが生じたかを示す情報を上記メモリの各々が蓄積する態様１の試験測定機器。
（１４）上記表示器がこの表示器の頂部領域方向の図形マーカにより上記ポスト取込みトリガ・イベントの各々をマークし、上記図形マーカが上記ポスト取込みトリガ・イベントのトリガ時点に対応する態様１の試験測定機器。
（１５）被試験信号を受ける入力端子と；上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと；上記被試験信号に関連した複数の波形を描画する表示器と；第１トリガ条件に基づいて上記被試験信号内の第１トリガ・イベントを検出し、ライブ・トリガ・モード期間中に複数の波形の少なくとも１つを調整して上記第１トリガ・イベントの時点に適合させる検出器と；第２トリガ条件に基づいて上記データ記録内の第２トリガ・イベントを検出する第２検出器と；上記第１トリガ条件又は上記第２トリガ条件を設定する第１トリガ制御器と；上記第２トリガ・イベント又は波形のいずれを上記表示器に表示させるかを設定する第２トリガ制御器とを具えた試験測定機器。
（１６）上記第１トリガ制御器が標準トリガ制御器を有する態様１５の試験測定機器。
（１７）上記第２トリガ制御器がポスト取込みモード特定トリガ制御器を有する態様１５の試験測定機器。
（１８）被試験信号を受ける入力端子と；該入力端子に関連し、上記被試験信号を受けて、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する１個以上のアナログ・デジタル変換器と；上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと；上記被試験信号に関連した１つ以上の波形を描画する表示器と；上記入力端子に結合した入力端を有し、第１トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出し、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記１つ以上の波形を自動調整するアナログ・トリガ回路と；上記取込みメモリからの上記デジタル・サンプルを受けて、変換されたアナログ信号を発生する１つ以上のデジタル・アナログ変換器とを具え；上記アナログ・トリガ回路が上記変換されたアナログ信号を受け、第２トリガ条件に基づいて上記データ記録内のポスト取込みトリガ・イベントを検出し、上記１つ以上の波形を自動調整して上記ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合させることを特徴とする試験測定機器。
（１９）上記ライブ・トリガ・イベントを検出するために上記第１トリガ条件を設定し、上記ポスト取込みトリガ・イベントを検出するために上記第２トリガ条件を設定する第１トリガ制御器を更に具えた態様１８の試験測定機器。
（２０）上記表示器に上記トリガ・イベント又は波形のいずれを表示するかを設定する第２トリガ制御器を更に具えた態様１９の試験測定機器。
【発明の効果】
【０００８】
よって、本発明は、ポスト取込みトリガ・イベントを検出し、少なくとも１つのポスト取込みトリガ・イベントの時点と適合するように少なくとも１つの波形を自動調整できる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施例により、取込み及びトリガ・ユニット、制御器、及び表示ユニットを含む試験測定機器のブロック図である。
【図２Ａ】図１の取込みユニット、制御器及び表示ユニットの追加例を示すブロック図である。
【図２Ｂ】図２Ａのトリガ制御器の追加例を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施例により、ライブ取込みモードにおいてサンプリングされた電気信号の例を示す波形図であり、あるトリガ関連概念に関係する波形を示す。
【図４】本発明の実施例により、ポスト取込みモードにてサンプリングした電気信号の例の波形図であり、図３を以前に取り込んだ波形として示す。
【図５】本発明の実施例により、ポスト取込みモードにてサンプリングした電気信号の例の波形図であり、図３を以前に取り込んだ波形として示す。
【図６】本発明の実施例により、ポスト取込みモードにてサンプリングした電気信号の例の波形図であり、以前に取り込んだ波形として示す。
【図７】ライブ取込みモードにてサンプリングした電気信号の例の波形図であり、ポスト取込みモード期間中に選択されたトリガ関連概念に関係した波形を示す。
【図８】図１のポスト取込みトリガ回路の追加例を示すブロック図である。
【図９】本発明の他の実施例によりサンプリングした電気信号の例の波形図であり、あるトリガ関連概念に関係したライブ取込みモードにおける１つ以上の波形を示す。
【図１０】本発明の実施例により、ポスト取込みモードにてサンプリングした電気信号の例の波形図であり、図９の１つ以上の以前の取込み波形を示す。
【図１１】本発明の実施例により、ポスト取込みモードにてサンプリングした電気信号の例の波形図であり、図９の１つ以上の以前の取込み波形を示す。
【図１２】本発明の実施例により、ポスト取込みモードにてサンプリングした電気信号の例の波形図であり、図９の１つ以上の以前の取込み波形を示す。
【図１３】本発明の実施例により、ライブ取込みモードにてサンプリングした電気信号の例の波形図であり、ポスト取込みモード期間中に選択されたトリガ関連概念に関係する１つ以上の波形を示す。
【図１４】図８のポスト取込みトリガ回路に含まれるメモリの構成例を示すブロック図である。
【図１５】図８のポスト取込みトリガ回路に含まれるメモリの他の構成例を示すブロック図である。
【図１６】図８のポスト取込みトリガ回路に含まれるメモリの更に他の構成と表示の列に関連する構成とを示すブロック図である。
【図１７】本発明の実施例により、ポスト取込みモードにてサンプリングされた電気信号の例の波形図であり、以前に取り込まれた波形と関係したトリガ関連概念とを示す。
【図１８】本発明の実施例により、ポスト取込みモードにてサンプリングされた電気信号の例の波形図であり、以前に取り込まれた波形と関係したトリガ関連概念とを示す。
【図１９】本発明の実施例により、取込みメモリ、アナログ・トリガ回路、種々のアナログ・デジタル変換器及びデジタル・アナログ変換器を有する試験測定機器のブロック図である。
【図２０】本発明の実施例により、ポスト取込みトリガ及び調整を示す流れ図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明は、試験測定機器により実現でき、例えば、被試験信号を受ける入力端子と、この入力端子に関連し、被試験信号を受けて、この被試験信号からデジタル・サンプルを発生する１個以上のアナログ・デジタル変換器と、被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリとを具えている。表示器は、被試験信号に関連した波形を描画する。入力端子に結合した入力を有する第１トリガ回路は、第１トリガ条件に基づいてライブ・トリガ・イベントを検出し、このライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように波形を自動調整する。ユーザは、入力制御器を用いて被試験信号の取込みを休止できる。第２トリガ回路は、第２トリガ条件に基づいてデータ記録内のポスト取込みトリガ・イベントを検出し、ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合するように波形を自動調整する。
【００１１】
本発明の方法では、試験測定機器にてポスト取込みトリガに関係する波形を表示する。この方法は、例えば、被試験信号からデータを取り込んでデータ記録として取込みメモリに蓄積し、データを取込みながら被試験信号に関係した波形を表示する。データ記録の取込みを休止した後に、標準トリガ制御器を調整して、トリガ条件を選択する。トリガ条件に基づいてデータ記録内でポスト取込みトリガ・イベントを検出し、波形の位置を自動的にシフトさせて、ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合させる。
【００１２】
また、本発明の試験測定機器は、例えば、被試験信号を受ける入力端子と、この入力端子に関係し、被試験信号を受けてこの被試験信号からデジタル・サンプルを発生する１個以上のアナログ・デジタル変換器と、被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリとを具えている。表示器は、被試験信号に関係した波形を描画する。アナログ・トリガ回路は、入力端子に結合された入力端を含み、第１トリガ条件に基づいて被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出し、波形の自動調整を行ってライブ・トリガ・イベントの時点に適合させる。この試験測定機器は、１個以上のデジタル・アナログ変換器も含んでおり、取込みメモリからデジタル・サンプルを受けて、変換されたアナログ信号を発生する。アナログ・トリガ回路は、変換されたアナログ信号を受けて、第２トリガ条件に基づいてデータ記録内のポスト取込みトリガ・イベントを検出し、波形を自動的に調整して、ポスト取込みトリガ・イベントの時点を適合させる。
【００１３】
さらに、本発明の試験測定機器では、被試験信号を受ける入力端子と、被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと、被試験信号に関係する複数の波形を描画する表示器と、第１トリガ条件に基づいて被試験信号内の第１トリガ・イベントを検出し、ライブ・トリガ・モード期間中に複数の波形の少なくとも１つを調整して第１トリガ・イベントの時点と適合させる検出器と、第２トリガ条件に基づいてデータ記録内の第２トリガ・イベントを検出する第２検出器とを具えている。この試験測定機器は、第１トリガ条件又は第２トリガ条件を設定する第１トリガ制御器と、第２トリガ・イベント又は波形のいずれかを表示器上に表示させるように設定する第２トリガ制御器とを含んでもよい。第１トリガ制御器は、標準トリガ制御器を具え、第２トリガ制御器は、ポスト取込みモードに特定のトリガ制御器を具えてもよい。
【実施例】
【００１４】
本発明の実施例は、例えば、ポスト取込み制御と、関連波形の表示器上での表示とを提供する試験測定機器及びその技術を含む。特に、本発明の実施例において、試験測定機器は、波形を自動調整して、ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合させるトリガ回路を含む。この試験測定機器は、トリガ制御器を含み、ライブ・イベントを検出するライブ・トリガ条件と、波形データの取込みを休止した後にポスト取込みトリガ・イベントを検出するポスト取込みトリガ条件とを設定する。ユーザは、ポスト取込みトリガ条件を調整でき、次のライブ波形取込みがどの様に現れるかをプレビューできる。ライブ波形の取込みが再開すると、ライブ・トリガ条件が以前のポスト取込みトリガ条件にほぼ一致する。
【００１５】
例えば、トリガ制御器は、トリガ・レベル制御器を含み、ライブ・トリガ・イベント及びポスト取込みトリガ・イベントに関係したトリガ・イベントを選択する。波形データの取込みが休止した後でのトリガ・レベル制御器の調整により、以前の取込みデータに関連した波形を自動調整して、ポスト取込みトリガ・イベントの時点を適合させることができる。データのライブ取込みの再開により、ポスト取込みモード期間中にプレビューしたように、新たに選択したトリガ条件にライブ波形を適合できる。
【００１６】
さらに、ポスト取込みモードの期間中、ユーザは、所定データ記録に関連した多数のトリガ・イベント又は波形を同時に観察し、また、レンジ制御器を用いて、表示されたトリガ・イベントの数及び／又は表示された波形の数を連続的に増加又は減少することにより、不要な波形を迅速に見つけることができる。これら及びその他の新規な特徴を詳細に後述する。
【００１７】
図１は、本発明の実施例による試験測定機器１００のブロック図である。この試験測定機器１００は、取込み及びトリガ・ユニット１０５、制御器１３０、表示ユニット１３５を含んでいる。試験測定機器１００は、説明を簡単にするため、例えば、デジタル・オシロスコープであるが、これに限定されるものではなく、以下、一般的に説明する。オシロスコープ１００は、ここで説明する種々の実施例での使用に適する複数のチャネル、即ち、入力を有する。図示のオシロスコープは、単一の入力端子１１０を有するが、本発明の要旨は、４入力又は任意の数の入力のオシロスコープに等しく適用できる。
【００１８】
オシロスコープ１００の取込み及びトリガ・ユニット１０５は、デジタル取込みメモリ１１５を含んでいる。取込みメモリ１１５を単一のメモリを表す単一のブロックとして示すが、この取込みメモリ１１５は、複数のディスクリート（個別）メモリを含むことが理解できよう。この場合、各ディスクリート・メモリは、種々の入力端子１１０に対して個別に又は交互に動作でき、これらディスクリート・メモリは、１個以上の入力端子１１０に対して集合的に動作できる。例えば、ある入力端子１１０を外すと、残りの選択された入力端子１１０に対するメモリの深さ（容量）を増加することができる。本発明の要旨は、フィルタ処理（ろ波）された、圧縮された、非フィルタ処理された、又は非圧縮された生データの任意の１つを考慮していることが理解できよう。さらに、１つのデータ記録１１７を示しているが、１つ以上のデータ記録１１７を取込みメモリ１１５に蓄積できることが理解できよう。
【００１９】
取込み及びトリガ・ユニット１０５は、１個以上のアナログ・デジタル変換器(ＡＤＣ)１０８とライブ・トリガ回路１２０とを含んでいる。ライブ・トリガ回路１２０は、ＡＤＣ１０８の後に、例えば、１個以上の入力端子１１０に結合された入力を有する。本発明の別の実施例は、ＡＤＣ１０８の前で、１個以上の入力端子１１０に結合されたライブ・トリガ回路１２０を含めることが理解できよう。１個以上の入力端子１１０にて、被試験信号電気信号を受ける。ライブ・トリガ回路１２０は、ユーザが選択した第１トリガ条件に基づいて被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出でき、波形を自動調整して、ライブ・トリガ・イベントの時点と適合できる。
【００２０】
取込み及びトリガ・ユニット１０５は、ポスト取込みトリガ回路１２５も含んでいる。トリガ回路１２０及び１２５は、ハードウェア、ソフトウェア、又はこれらの組合せにより実現できる。データの取込みが停止した後、ポスト取込みトリガ回路１２５は、ユーザが選択した第２トリガ条件に基づいて、データ記録１１７内のポスト取込みトリガ・イベントを検出できる。ポスト取込みトリガ回路１２５は、波形調整により、ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合できる。取込みメモリ及びトリガ回路のこれら及びその他の概念については、更に詳細に後述する。
【００２１】
２個の独立した回路として示すライブ・トリガ回路１２０及びポスト取込み回路１２５は、例えば、異なる時点にライブ・トリガ回路機能及びポスト取込み回路機能の両方として作用する１組のハードウェアにより実現できる。この代わりに、ライブ・トリガ回路１２０及びポスト取込み回路１２５を互いに分離させて、各々が他方と同様な回路を含んでもよい。
【００２２】
取込み及びトリガ回路１０５は、制御器１３０に機能的に結合されている。制御器１３０は、表示ユニット１３５に機能的に結合されており、表示ユニット１３５による表示をために、取込み及びトリガ・ユニット１０５が提供するサンプル（サンプリングされた）データ・ストリームを処理する。例えば、オシロスコープ１００の表示パラメータである所望の１目盛り当たりの時間及び１メモリ当たりのボルト（電圧）を与えると、制御器１３０は、取込みサンプル・データ・ストリームに関連した生のデータを変更して提供し、これら所望の１目盛り当たりの時間及び１目盛り当たりのボルトでの対応波形画像を発生する。
【００２３】
図２Ａは、図１の取込み及びトリガ・ユニット１０５、制御器１３０及び表示ユニット１３５の追加の要素例を示すブロック図である。プローブ２０５は、取込み及びトリガ・ユニット１０５の他の要素に機能的に関連する。プローブ２０５は、被試験回路(図示せず)からのアナログ電圧又は電流信号の如き１つ以上の電気信号を夫々検出するのに適する任意の従来の電圧プローブ又は電力プローブでもよい。例えば、プローブ２０５は、Ｐ１０７５型、ＴＣＰ１０５型などの本願出願人のテクトロニクス社製のプローブでもよく、実時間で電気信号情報を取り込む。プローブ２０５の出力信号は、アナログ・デジタル変換器(ＡＤＣ)２０８に供給されて、これらＡＤＣが電気信号をサンプリングしデジタル化する。その後、最終的には、これらデジタル・サンプルは、取込みメモリ１１５内にデータ記録１１７として蓄積される。
【００２４】
取込み及びトリガ・ユニット１０５は、制御器１３０に機能的に結合されている。制御器１３０は、例えば、プロセッサ２１０、サポート回路２２０、入力／出力（Ｉ／Ｏ）回路２１５、メモリ２２５、及びトリガ回路２３０を含んでいる。ここで説明する処理のいくつかは、プロセッサ２１０でのソフトウェア処理として実現でき、また、ここで説明する処理のいくつかは、例えば、種々の機能を実行するためにプロセッサ２１０と協働する回路の如くハードウェアにて実現できる。さらに、ここで説明する処理のいくつかは、ソフトウェア、ハードウェア、ファームウェア、又は、他の実行又は蓄積の手段の組合せを用いて実現できる。取込みメモリ１１５に蓄積された情報は、プロセッサ２１０又はポスト取込みトリガ回路１２５に伝送される。さらに、プロセッサ１２２は、制御情報を取り込みメモリ１５又はポスト取込みトリガ回路１２５に伝送する。
【００２５】
Ｉ／Ｏ回路２１５は、制御器１３０と通信する種々の要素の間のインタフェースを形成する。例えば、Ｉ／Ｏ回路２１５は、制御器１３０とのユーザ入力及び出力を提供するのに適合したキーパッド、ポインティング・デバイス、タッチ・スクリーン、外部ＰＣ、又はその他の周辺装置との相互接続を行う。制御器１３０は、かかるユーザ入力に応答して、取込み及びトリガ・ユニット１０５の動作を制御して、種々の機能、特に、フィルタ処理又は他の圧縮動作を実行するが、他の機能の中でも、データ取込みや処理などの動作を含んでもよい。
【００２６】
メモリ装置２２５は、プロセッサ２１０と機能的に関係している。取込みメモリ１１５及びメモリ装置２２５は、揮発性メモリの中でもＳＲＡＭ、ＤＲＡＭの如き揮発性メモリを含んでいる。これらメモリは、ディスク・ドライブ又はテープ機構などの不揮発性メモリ・デバイスや、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ又はフラッシュ・メモリなどのプログラマブル・メモリなどの可能なものでもよい。
【００２７】
本発明の実施例により種々の制御機能を実行するようにプログラムされた汎用コンピュータ又はマイクロプロセッサとして図２の制御器１３０を示すが、かかる実施例は、例えば、用途限定集積回路（ＡＳＩＣ）の如きハードウェアによって実現してもよい。ここで説明したように、制御器１３０は、ハードウェア、ソフトウェア、又はこれらの組合せで等価的に実行できるような広範なものである。
【００２８】
ここで説明する種々のインタフェースを可能にするために、信号バッファ回路、信号調整回路、表示ドライバなどの標準信号処理コンポーネント（図示せず）を用いることが当業者には理解できよう。例えば、ＡＤＣ２０８は、充分な高いレートで被試験電気信号をサンプリングして、制御器１３０又は表示ユニット１３５の処理回路２４０による適切な処理を可能にする。この点に関して、ＡＤＣ２０８は、内部サンプリング・クロック発生器（図示せず）が供給するサンプリング・クロックにより各入力電気信号をサンプリングできる。このサンプリング・クロック発生器は、例えば、サポート回路２２０の一部であってもよい。
【００２９】
制御器１３０は、波形データを表示ユニット１３５に提供する。表示ユニット１３５は、表示器２５０上に波形データのその後の表示を行う。処理回路２４０は、取り込んだデータ・ストリーム又は波形データをビデオ・イメージ又はビデオ信号に変換するのに適したデータ処理回路（例えば、ビデオ・フレーム・メモリ、表示フォーマット及びドライバ回路など）を含んでいる。これらビデオ・イメージ又はビデオ信号は、視覚的表示を提供するのに適している。処理回路２４０は、メモリ２４５とのインタフェースであり、表示ユニット１３５内に含まれ、メモリ・プレーンとして配置され、ビデオ・イメージを蓄積する。処理回路２４０及び／又はメモリ２４５は、表示器２５０が用いるのに適する出力信号を発生する。例えば、Ｉ／Ｏ回路２１５又はトリガ制御器２３０を介して受けたユーザ入力を用いて、自動校正機能を調整し、又は、処理回路２４０又は表示器２５０の他の動作パラメータに適応する。表示器２５０は、ビデオ・イメージを表示し、ポスト取込みモードにてトリガ・イベントに応答して波形をシフト、即ち調整する。この点については、詳細に後述する。
【００３０】
ライブ・トリガ回路１２０は、例えば、ＡＤＣ２０８の後で、プローブ２０５と関連した１個以上のラインに結合された入力端を有する。本発明の別の実施例では、ＡＤＣ２０８の前で、プローブ２０５に関連した１個以上のラインに結合されたライブ・トリガ回路１２０を含んでもよいことが理解できよう。ライブ・トリガ回路１２０は、トリガ制御器２３０を用いてユーザが選択した所定のトリガ条件に基づいて、被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出する。その結果、ライブ・トリガ回路１２０は、表示器２５０上の波形を自動調整して、ライブ・トリガ・イベントの時点に適合させる。
【００３１】
逆に言えば、ポスト取込みトリガ回路１２５は、取込みメモリ１１５に機能的に結合しており、ＡＤＣ２０８を用いて被試験電気信号を変換しデジタル化した後で、且つ取込み期間が停止した後に、データ記録１１７のデジタル・サンプルを受ける。ポスト取込みトリガ回路１２５は、トリガ制御器２３０を用いてユーザが選択した所定のトリガ条件に基づいて、データ記録内のポスト取込みトリガ・イベントを検出できる。その結果、ポスト取込みトリガ回路１２５は、表示器２５０上の波形を自動調整して、ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合する。
【００３２】
上述の如く、ライブ・トリガ回路１２０及びポスト取込み回路１２５は、２個の分離した回路として示すが、例えば、異なる時点に、ライブ・トリガ回路機能及びポスト取込み回路機能の両方として作用する１組のハードウェアと共に実現される。代わりに、ライブ・トリガ回路１２０及びポスト取込み回路１２５を互いに分離して、各々が他方と類似の回路を含んでもよい。
【００３３】
図２Ｂは、図２Ａのトリガ制御器２３０の追加例の要素を示すブロック図である。標準制御器２３２は、標準トリガ・レベル制御器２３５、標準スロープ制御器２３７、及び／又は他の標準制御器２３９を含んでいる。特定制御器２５２は、次の制御器２５５、最初の制御器２５７、表示全制御器２５９、前の制御器２６１、最後の制御器２６３、表示Ｎ制御器２６５、イベント・レーン制御器２６７、波形レンジ制御器２６８、及び／又は他の特定制御器２６９を含んでいる。
【００３４】
ここで用いる用語「標準」は、オシロスコープの熟練したユーザが一般的に詳しいトリガ・レベル制御器２３５又はスロープ制御器２３７の如き物理的制御の形式を示す。標準制御器２３２は、ノブ、スイッチ、アクチュエータ、又は任意の適切なインタフェースを含むが、用語「標準」は、制御器２３２が実行する任意の特定クラスの機能に必然的な影響を与えるものではない。すなわち、あるシナリオでは、「標準」制御器２３２を用いて、熟練したユーザに一般的に又は直ちに認識できる機能、又はここで更に説明する機能を実行する。また、「標準」制御器は、ポスト取込みトリガ・モードに関連した本発明の新たな実施や実施例に関連して用いる。
【００３５】
ここで用いる用語「特定」は、オシロスコープが所定モードで動作する際に特定的に用いる物理的制御器の形式をいう。例えば、特定制御器２５２は、トリガ・イベント又は波形が表示器２５０上にどのように表示されるかの細部を決めたり他の設定を行なったりする。特定制御器２５２は、ノブ、スイッチ、アクチュエータ、又は他の適当なインタフェースを含む。
【００３６】
図２Ｂに示す各制御の詳細な動作特徴については、例えば、図３〜１５に関連して詳細に後述する。
【００３７】
図３は、本発明の実施例により、あるトリガ関連概念に関係する波形３０６を表示するライブ取込みモードでサンプリングした電気信号の例を示す波形図３０１である。波形例３０１は、本発明の概念の１つを説明するためのパルス波形であるが、本発明の概念はこれのみに限定されるものではなく、多くの可能な波形形式と、同時に表示される多くの波形を含む。ライブ取込みモードにおいて、電気信号の取込み及びサンプリングが進行すると、波形３０６が連続的に描画される。波形３０６の各々は互いに類似しており、波形例３０１と一緒に描画するとき、ほぼ単一の波形３０６として現れる。別の実施例においては、デジタル・オシロスコープ１００の異なる入力端子１１０を介して取込まれ、同時に表示された波形（図示せず）の異なる多くの形式が存在できる。
【００３８】
波形３０６は、あるトリガ関連概念に関係する。たとえば、ライブ・トリガ条件をユーザが設定する。この波形例において、ライブ・トリガ条件がトリガ・ポイント３１１を含んでおり、その位置は、図形「Ｔ」又は適当な他のマーカを用いて表示上に示される。トリガ・ポイント３１１は、「時間ゼロ」図形マーカ３１２及び所定トリガ・レベル３１６に関係している。さらに、図３に示す波形３０６に関係したライブ・トリガ条件は、立ち上がりエッジ動作モードを含んでいるので、波形３０６の立ち上がりエッジにてトリガを行う。ライブ・トリガ条件によりトリガ・イベントが３１１にて生じ、波形３０６が少なくともトリガ・イベント３１１から時間的に前方に表示される。すなわち、波形３０６がライブで表示され、各波形３０６が表示上に描画されるので、トリガ・イベント３１１（ライブ・トリガ条件で決まる）がトリガ時点３１２に配置される。
【００３９】
ユーザは、標準トリガ制御器２３２（図２Ｂ）を用いて、ライブ・トリガ条件を設定する。例えば、トリガ・レベル制御器２３５を用いて、トリガ・レベル３１６を調整できる。ユーザがレベル３１６の如きトリガ・レベルを決定すると、トリガ・ポイント３１１が選択され、ユーザは、スロープ制御器２３７を用いて、例えば、立ち上がりエッジ動作モードを選択できる。この波形は、ライブ・トリガ条件に自動的に適合する。
【００４０】
図４は、本発明の実施例により、予め取り込んだ波形４０６を示し、ポスト取込みモードにおいてサンプリングされた電気信号の波形例４０１を示す。ライブ取込みモードを休止すると、表示４０１は、初め、描画されない新たな波形を除いて、ライブ取込みモードに関係する表示３０１とほぼ同じに見える。すなわち、ポスト取込みモードにおいて、ユーザは、例えば、オシロスコープ１００の入力／出力回路２１５（図２Ａ）の１個を用いて、データのライブ取込みを手動で停止する。波形例４０１は、本発明の１つの概念を説明するためのパルス波形を示すが、本発明は、これに限定されず、多くの可能性のある波形形式と、同時に表示される多くの波形を含むことができる。
【００４１】
ポスト取込みモードにおいて、電気信号の取込みが休止し、取込みメモリ１１５（図１及び図２Ａ）に蓄積されたデータ記録１１７からのデジタル・サンプルを用いて、波形４０６が発生され表示される。すなわち、波形４０６に関係したオシロスコープ１００の入力（又はチャネル）は、もはやライブ・モードではないが、むしろポスト取込みモードである。
【００４２】
図４に示すように、波形４０６は、データ記録１１７に蓄積されたデジタル・サンプルの小さな部分のみを表す。波形４０６に示される情報量は、例えば、水平又は垂直のスケール制御器（図示せず）を用いて調整できる。かかる調整により、波形４０６及びトリガ・ポイント４１１を「スクロール」又は他により表示４０１のレンジを超えて、又は表示４０１のエッジの向こうに移動できる。かかるスクロールは、トリガ条件自体を変更しない。本発明の実施例を示すために、水平又は垂直の位置制御器を用いて波形４０６を移動しないで、トリガ・ポイント４１１に関係したトリガ「時間ゼロ」４１２が表示４０１のほぼ中央頂部又は中心位置に維持される。
【００４３】
図５は、本発明の実施例により、以前に取り込んだ波形４０６及び５０６を示し、ポスト取込みモードにおいてサンプリングされた電気信号の波形例５０１を示す。データ取込みを休止するときや、この場合にユーザがトリガ・レベル制御器２３５（図２Ｂ）を調整してトリガ・レベル５１６がわずかに下方に調整したり、立ち上がりエッジ動作モードから立ち下がり動作モードにスロープ制御器２３７を調整したりして、標準トリガ制御器２３２を変更するときに、ポスト取込みトリガ条件に対応する新たなトリガ条件で最後に取り込んだ波形５０６が表示上で再描画される。
【００４４】
すなわち、ポスト取込みトリガ回路１２５（図１）は、以前のトリガ・ポイント４１１に最も近いポスト取込み立ち下がりトリガ・イベント５１１を検出し、最後に取り込んだ波形５０６を調整するので、選択された立ち下がりトリガ・イベント５１１が今度はトリガ時点４１２に表示される。例えば、ポスト取込みトリガ回路１２５は、ユーザが選択したポスト取込みトリガ条件に基づいてデータ記録１１７内のポスト取込み立ち下がりトリガ・イベント５１１を検出し、最後に取り込んだ波形５０６の自動調整（例えば、シフト）により、ポスト取込みトリガ・イベント５１１の時点に適合させる。任意の標準トリガ制御器２３２を用いて、ポスト取込みトリガ条件を調整できる。このような動作において、ポスト取込みトリガ回路１２５は、最後に取り込んだ波形５０６を調整して、データの取込みを休止した後に１個以上の標準トリガ制御器２３２を用いて、新たに選択されたトリガ条件にマッチできる。
【００４５】
さらに制御器に関連して、トリガ制御器２３０（図２Ａ及び２Ｂ）を用いて、ライブ・トリガ・イベント及びポスト取込みトリガ・イベントの両方のトリガ条件を設定する。トリガ制御器２３０は、上述の如き標準トリガ制御器を含むことができる。標準トリガ・レベル制御器２３５は、トリガ・イベントが発生するポイントでの波形上の電圧を変化させる。トリガ制御器２３０は、スロープ制御器２３７の如き他の制御器を含んでもよく、これにより、ユーザは、選択されたトリガ・レベルで立ち上がりエッジ動作モード又は立ち下がりエッジ動作モードを選択できる。
【００４６】
トリガ・レベル制御器２３５を用いて、ライブ・トリガ・イベント用の１個のトリガ・ポイントを選択し、ポスト取込みトリガ・イベント用の他のトリガ・ポイントを選択できる。ポスト取込みモードにおいて、ポスト取込みトリガ回路１２５は、標準トリガ・レベル制御器２３５及び標準スロープ制御器２３７の如きトリガ制御器２３０を用いるユーザにより選択された所定のトリガ条件に基づいて、データ記録内のポスト取込みトリガ・イベントを検出できる。この方法において、ユーザがトリガ制御器を用い、これにより、ユーザは、ライブ・トリガ・モード及びポスト取込みトリガ・モードの両方にて、即ち、データの取込みが停止した後に、トリガ動作の実行に最も精通する。
【００４７】
ユーザがポスト取込みモード期間中に制御を調整するときに、以前に取り込んだ波形４０６が好適には除去され、ポスト取込みトリガ条件に応じて最後に取り込まれた波形５０６が表示される。そうでなければ、別の実施例において、以前に取り込んだ波形４０６を表示５０１上に残し、他の理由の中でも、自動的に調整した最後の取込み波形５０６を比較又は基準とする。代わりに、以前に取り込んだ波形４０６を減光するか、又は、上述の如く、表示５０１から除去できる。さらに、波形５０６が「最後」に取り込んだ波形として参照されるが、「最後」に取り込んだ波形である必要はないが以前に取り込んだ任意の波形を自動的に又は手動で波形５０６として選択でき、ポスト取込みトリガ条件に基づいて自動的に調整できる。
【００４８】
図６は、本発明の実施例により、前もって取り込んだ波形５０６を示し、ポスト取込みモードにおいてサンプリングされた電気信号の波形例６０１である。ここでは、ユーザが選択しポスト取込みトリガ条件を適用した後に、以前に取り込んだ波形４０６を表示することなく、最後に取り込んだ波形５０６が表示される。ポスト取込みトリガ回路１２５は、以前のトリガ・ポイント４１１に最も近いポスト取込み立ち下がりエッジ・トリガ・イベント５１１を見つけ、ポスト取込み又は停止モードの間、最後に取り込んだ波形５０６を再描画するか又は再位置決めする。
【００４９】
図７は、ポスト取込みモード期間中に選択された如きトリガ関連概念に関係した波形７０６を示し、ライブ取込みモードにてサンプリングした電気信号用の波形例７０１を示す。特に、トリガ・ポイント５１１のようにポスト取込みモード期間中に選択されたトリガ条件を示し、ライブ取込みモードにて波形７０６に対して動作する。すなわち、ユーザは、波形７０６の如きライブ取込み波形に対するポスト取込みトリガ条件の効果をプレビューできる。
【００５０】
種々のライブ・トリガ条件及びポスト取込みトリガ条件と、これらをどのように相互に関係づけるかを更に明らかにするために、波形７０６で動作するライブ・トリガ条件の考察により、ポスト取込みモード期間中にユーザが選択且つプレビューしたポスト取込みトリガ条件に基本的にはマッチできる。さらに、ユーザは、同じトリガ制御器を用いて、ライブ・トリガ条件及びポスト取込みトリガ条件の両方を調整できる。ポスト取込みトリガ条件への調整は、ライブ取込みトリガ条件を自動的に変更する。同様に、ライブ取込みトリガ条件の調整は、ポスト取込みトリガ条件を自動的に変更できる。ライブ取込み及びポスト取込みのトリガ条件を調整するのに用いるトリガ制御器が同じ必要はないが、これは、デジタル・オシロスコープ１００の直感的に簡単な使用に対する好ましいアプローチである。
【００５１】
図８は、図１のポスト取込みトリガ回路１２５の追加した例の要素を示すブロック図である。例えば、ポスト取込みトリガ回路１２５は、第１メモリ７０５及び第２メモリ７１０を含む。例示目的に２個のメモリを示すが、ポスト取込みトリガ回路内に任意の数のメモリを含んでもよいことが理解されよう。図８に示す要素のいくつかは、図１を参照して上述した要素に対応するので、繰り返して説明しない。
【００５２】
第１メモリ７０５は、以前のトリガ・ポイントの直前のトリガ・ポイントを蓄積でき、第２メモリ７１０は、以前のトリガ・ポイントの直後のトリガ・ポイントを蓄積できる。比較器７１５は、以前のトリガ・ポイントの直前のトリガ・ポイントを以前のトリガ・ポイントと比較でき、また、以前のトリガ・ポイントの直後のトリガ・ポイントを以前のトリガ・ポイントと比較できる。図９〜１３を参照して、この技術を更に説明する。
【００５３】
図９は、本発明の他の実施例によるトリガ関連概念に関係するライブ取込みモードにおける１つ以上の波形８０５を示し、サンプリングされた電気信号の波形例８００である。この波形例８００は、本発明の１つの概念を説明するための正弦波であるが、本発明の概念は、これに限定されるものではなく、任意の多くの可能な波形形式や任意の多くの同時表示波形が含まれる。ライブ取込みモードにおいて、電気信号の取込み及びサンプリングの進行により、１つ以上の波形８０５が連続的に描画される。別の実施例において、デジタル・オシロスコープ１００の異なる入力端子１１０を介して取り込まれ、同時に表示された多数の異なる形式の波形（図示せず）が存在する。
【００５４】
１つ以上の波形８０５があるトリガ関連概念に関係する。例えば、ライブ・トリガ条件をユーザが設定できる。この波形例において、ライブ・トリガ条件は、トリガ・ポイント８１１を含んでおり、その位置は、図形「Ｔ」又は他の適当なマーカを用いて表示上に指示される。トリガ・ポイント８１１は、「時間ゼロ」マーカ８１２及び所定のトリガ・レベル８１５に関係する。さらに、図９に示す波形８０５に関連するライブ・トリガ条件は、立ち上がりエッジ動作モードを含んでいるので、１つ以上の波形８０５の立ち上がりエッジでトリガする。ライブ・トリガ条件により、８１１にトリガ・イベントが生じ、１つ以上の波形８０５がトリガ・イベント８１１から時間的に進んで表示される。すなわち、１つ以上の波形８０５がライブで表示され、１つ以上の波形８０５の各々が表示上に描画されて、トリガ・イベント８１１（ライブ・トリガ条件で決まる）がトリガ時点８１２に配置される。
【００５５】
ユーザは、トリガ制御器２３０（図２）を用いてライブ・トリガ条件を設定できる。例えば、トリガ・レベル制御器２３５を用いて、トリガ・レベル８１５を調整できる。ユーザがレベル８１５の如きトリガ・レベルについて決定すると、トリガ・ポイント８１１が選択され、ユーザは、スロープ制御器２３７を用いて、例えば、図示の如き立ち上がりエッジ動作モードを選択できる。この波形は、ライブ・トリガ条件に自動的に適合する。
【００５６】
図１０は、本発明の実施例により、予め取り込んだ１つ以上の波形８０５を示し、ポスト取込みモードにてサンプリングした電気信号の波形例１０００を示す。ライブ取込みモードが休止されると、表示１０００は、新たな波形が描画されないことを除いて、まず、ライブ取込みモードに関連した表示８００とほぼ同じようになる。すなわち、ポスト取込みモードにおいて、ユーザは、例えば、オシロスコープ１００の入力／出力回路２１５（図２）の１つを用いて、データのライブ取込みを手動で停止した。波形例１０００は、本発明の１つの概念を説明するために正弦波を示すが、本発明の概念は、これに限定されるものではなく、任意の数の可能な波形形式や、任意の数の同時の表示波形を含むことができる。
【００５７】
ポスト取込みモードにおいて、電気信号の取込みを休止し、取込みメモリ１１５（図１及び２）内に蓄積されたデータ記録１１７からのデジタル・サンプルを用いて、１つ以上の波形８０５を発生し表示する。すなわち、１つ以上の波形８０５に関連したオシロスコープ１００の入力（又はチャネル）は、もはやライブ・モードではなく、ポスト取込みモードである。
【００５８】
図１０に示す如く、１つ以上の波形８０５は、データ記録１１７内に蓄積されたデジタル・サンプルのわずかな部分のみ示す。ライン８２０及び８２５は、データ記録が、表示に一度に表示できる関心のある期間よりも非常に長いことを表す。１つ以上の波形８０５内に示される情報量は、例えば、水平又は垂直のスケール制御器（図示せず）を用いることにより調整できる。かかる調整を行うことにより、１つ以上の波形８０５及びトリガ・ポイント８１１を表示１０００のレンジにわたって、又は表示１０００のエッジの先にまで、「スクロール」即ち移動できる。かかるスクロールは、トリガ条件自体を変更しない。本発明の実施例を説明するために、１つ以上の波形８０５は、水平又は垂直の位置制御器を用いて移動させず、トリガ・ポイント８１１に関連したトリガ「時間ゼロ」８１２を表示１０００のほぼ頂部中央又は中心位置に維持する。
【００５９】
図１１は、本発明の実施例により、以前に取り込んだ１つ以上の波形８０５を示し、ポスト取込みモードにてサンプリングした電気信号の波形例１１００である。データの取込みを休止したときや、この場合トリガ・レベル制御器２３５（図２Ｂ）を調整するなどのトリガ制御器をユーザが変更して、トリガ・レベル９１５が下側に調整されたとき、ポスト取込みトリガ制御回路１２５及びポスト取込みトリガ回路は、次のポスト取込みトリガ・ポイントを自動的に決定できる。
【００６０】
例えば、以前のトリガ・イベント８１１は、ユーザが選択した以前のトリガ・ポイント８１１に関係している。ポスト取込みトリガ回路１２５の第１メモリ７０５（図７）は、以前のトリガ・ポイント８１１の直前のトリガ・ポイント８３０を蓄積できる。ポスト取込みトリガ回路１２５の第２メモリ７１０は、以前のトリガ・ポイント８１１の直後のトリガ・ポイント８３５を蓄積できる。ポスト取込みトリガ回路１２５の比較器７１５は、以前のトリガ・ポイント８１１の直前のトリガ・ポイント８３０を以前のトリガ・ポイント８１１と比較でき、以前のトリガ・ポイント８１１の直後のトリガ・ポイント８３５を以前のトリガ・ポイント８１１と比較できる。この方法において、比較器７１５は、この場合、トリガ・ポイント８３０である新たなトリガ・ポイントとして、以前のトリガ・ポイント８１１に最も近いトリガ・ポイントを選択できる。さらに明瞭にするために、ポイント８３０及びポイント８１１の間の距離がポイント８３５及び８１１の間の距離８４５よりも短いことを考慮する。したがって、トリガ・ポイント８３０を新たなトリガ・ポイントとして自動的に選択する。
【００６１】
図１２は、本発明の実施例により、以前に取り込んだ１つ以上の波形８０５を示し、ポスト取込みモードにてサンプリングした電気信号の波形例１２００である。データの取込みが休止した後、また、ユーザがこの場合はトリガ・レベル制御器２３５（図２Ｂ）を調整してトリガ制御器を変更した後、ポスト取込みトリガ条件に対応する新たなトリガ条件に応じて、表示上で１つ以上の波形８０５を再描画する。
【００６２】
すなわち、ポスト取込みトリガ回路１２５（図１）は、以前のトリガ・ポイント８１１に最も近いポスト取込み立ち上がりエッジ・トリガ・イベント８３０を検出し、１つ以上の波形８０５を調整するので、選択された立ち上がりトリガ・イベント９１１がトリガ時点８１２にて表示される。例えば、ポスト取込みトリガ回路１２５は、ユーザが選択したポスト取込みトリガ条件に基づいて第１メモリ７０５内に蓄積されたポスト取込み立ち上がりトリガ・イベント８３０を検出し、１つ以上の波形８０５の自動調整（例えば、シフト）を行って、ポスト取込みトリガ・イベント９１１の時点に適合させる。
【００６３】
より限定的には、矢印９０５で示すように、１つ以上の波形８０５をシフトさせて、ユーザが前もって選択したように、また、ポスト取込みトリガ回路１２５の比較器７１５を用いて自動的に適用したように、今度は、トリガ・イベント９１１がトリガ条件に対応する。任意の標準トリガ・レベル制御器２３５を用いて、ポスト取込みトリガ条件を調整できる。このようにする際に、データ取込みを休止した後で、１つ以上の標準トリガ制御器２３０を用いて、ポスト取込みトリガ回路１２５は、１つ以上の波形８０５を調整して、新たに選択されたトリガ条件にマッチさせる。
【００６４】
図１３は、ポスト取込みモード期間中に選択されたトリガ関連の概念に関係する１つ以上の波形８０５を示し、ライブ取込みモードにてサンプリングされた電気信号の波形例１３００である。特に、トリガ・ポイント９１１のように、ポスト取込みモード期間中に選択されたトリガ条件を、ライブ取込みモード内の１つ以上の波形８０５上の動作で示す。すなわち、１つ以上の波形８０５の如きライブ取込み波形でのポスト取込みトリガ条件の効果をユーザがプレビューできる。
【００６５】
種々のライブ・トリガ条件及びポスト取込みトリガ条件と、これらの相互関係がどの様なものかを更に明瞭にするために、１つ以上の波形８０５上で動作するライブ・トリガ条件がポスト取込みモード期間中にユーザが選択しプレビューしたポスト取込みトリガ条件と基本的にマッチすることを考察する。さらに、ユーザは、同じ制御器を用いて、ライブ・トリガ条件及びポスト取込みトリガ条件の両方を調整できる。ポスト取込みトリガ条件の調整は、ライブ取込みトリガ条件を自動的に変更する。同様に、ライブ取込みトリガ条件の調整は、ポスト取込みトリガ条件を自動的に変更できる。トリガ制御器を用いて同じである必要のないライブ取込み及びポスト取込みトリガ条件を調整するが、これは、デジタル・オシロスコープ１００を直感的に簡単に使用するには好ましいアプローチである。
【００６６】
図１４は、メモリ７５０の例としての構成を示すブロック図であり、図８のポスト取込みトリガ回路１２５に含まれる。メモリ７５０は、トリガ・イベント１、トリガ・イベント２、トリガ・イベント３〜トリガ・イベントＴの如く、前もって取り込んだデータ記録に関連した全てのポスト取込みトリガ・イベントＴに関する情報を蓄積できる。この情報は、ポスト取込みトリガ・イベントの各々の時点又は位置を含んでいる。
【００６７】
図１５は、図８のポスト取込みトリガ回路１２５に含まれるメモリ７５５の他の例の構成を示すブロック図である。メモリ空間を限定するために、いくつかの場合では、トリガ・イベントの部分のみを蓄積する。例えば、メモリ７５５は、トリガ・イベント１、トリガ・イベント３、トリガ・イベント５、トリガ・イベントＮの如きポスト取込みイベントの部分に関する情報を蓄積する。すなわち、メモリ７５５は、Ｎ個のポスト取込みトリガ・イベントに関する情報を蓄積する。ここで、Ｎは、データ記録に関係したポスト取込みトリガ・イベントＴの総数未満である。この情報は、ポスト取込みトリガ・イベントの各々の時点又は位置を含む。
【００６８】
図１６は、図８のポスト取込みトリガ回路１２５内に含まれるメモリ７６０の他の例の構成を示すブロック図であり、表示１６００の列に関連している。メモリ７６０は、表示１６００の各列に対し１個のメモリ位置を有する。メモリ位置１、メモリ位置２、メモリ位置３〜メモリ位置Ｃの如きメモリ位置の各々は、表示１６００の列１、列２、列３〜列Ｎ等の対応する１つに関連している。各列のメモリ位置は、トリガ・イベントが関連した列の時点又は位置に生じるかに関する情報を蓄積できる。この実施例において、メモリ７６０は、表示器２５０に関連した表示の幅位の大きさが必要である。すなわち、列に対するメモリ位置の１対１のマッピングがあると、Ｎの値は、Ｃの値に等しい。「列」の幅がピークよりも大きいか又は小さくできる。すなわち、列の幅は、単一ピクセルの幅よりも小さくできるし、又は、その代わりに、列の幅をピクセルの幅以上にできる。補間又は分数でのマッピングを用いて、１つ以上のメモリ位置を各列にマッピングするか、又は、１つ以上の列に単一のメモリ位置をマッピングする。
【００６９】
図１７及び１８は、本発明の実施例により、トリガ関連に関係し、前もって取り込んだ波形（例えば、１７１５、１７２０及び１７２５）を示し、ポスト取込みモードでサンプリングされた電気信号の波形例１７００及び１８００である。以下の説明は、図１７及び１８の両方を参照して行う。
【００７０】
ライン１７５０及び１７６０は、任意の波形の表示で１度表示された関心のある期間よりも長い期間をデータ記録が表すことを示している。波形例１７００及び１８００は、本発明の概念を説明するための正弦波を示すが、本発明の概念は、これらに限定されず、任意の数の可能な波形形式や任意の数の同時表示波形を含む。
【００７１】
図１のトリガ回路１２５の如きトリガ回路は、上述の如く、トリガ条件に基づいてデータ記録内の１つ以上のポスト取込みトリガ・イベントを検出できる。図２の表示器２５０の如き表示器は、図１７の表示１７００又は図１８の表示１８００の如き表示を出力する。この表示器は、図２Ｂを参照して説明した特定の制御器２５２又は標準制御器２３２の如き１個以上の設定変更可能なトリガ制御器に応答して、データ記録に関係した１個以上のポスト取込みトリガ・イベント及び波形の表示を調整できる。
【００７２】
トリガ制御器をユーザが設定して、波形１７１５、１７２０及び１７２５の如き同じデータ記録からの１つ以上の波形と共に同時に表示されるトリガ・イベント１７７０、１７７５又は１７８０の如き１つ以上のトリガ・イベントをユーザが設定できる。例えば、表示の全ての制御器２５９により、データ記録に関係した全てのポスト取込みトリガ・イベントを同時に表示できる。代わりに、表示Ｎ制御器２６５により、データ記録に関連したＮ個のポスト取込みトリガ・イベントを同時に表示できる。
【００７３】
表示器２５０は、１７７０、１７７５又は１７８０に示すように、表示器の頂部領域又は頂部中心領域及び／又は文字「Ｔ」又は他の適切なマーカの方向に、マーカ１７１０の如き図形マーカと共にポスト取込みトリガ・イベントの各々をマークできる。図形マーカ１７１０は、単数又は複数のポスト取込みトリガ・イベントのトリガ時点に対応する。ポスト取込みトリガ・イベントの１つ以上のトリガ時点に対応する１つ以上の図形マーカが存在し、これらの任意のものを同時に表示できる。
【００７４】
本発明の他の実施例において、同時に表示されるデータ記録に関連したポスト取込みトリガ・イベント（例えば、１７７０、１７７５及び１７８０）の数のレンジを漸次調整できるようにイベント・レンジ制御器２６７を設定できる。この代わりに、同時に表示されるデータ記録に関係した波形（例えば、１７１５、１７２０及び１７２５）の数の範囲を漸次調整できるように波形レンジ制御器２６８を設定できる。イベント・レンジ制御器２６７及び波形レンジ制御器２６８は、単一又は複数の同じレンジ制御器又は異なる制御器にできる。単一のトリガ・イベント１７８０に関連した単一の波形１７２５が図１８に示すように表示されるまで、これら制御器が単一又は複数のレンジを減少又は増加できる。
【００７５】
この方法において、同じデータ記録から多数の波形を同時に観察し、これら波形を関心にある単一の波形に縮めることにより、１７２５の如き異常な波形又はスパイク１７９０の如き波形の異常部分を迅速に見つけ観察できる。すなわち、図１８に示すように、異常波形１７２５を表示するまで、レンジを減らすことにより、ユーザは、異常波形１７２５を迅速に見つけることができる。
【００７６】
ここで用いる用語「異常」は、ユーザが変則と考える波形の任意部分か、そうでなければユーザにとって関心のある部分を言う。これらの例には、パルス幅、立ち下がり時間、アンダーシュート、スパイク、ラントにおける異常変化、又は任意の他の形式の異常波形がある。波形１７２５は、１つ以上の上述の異常概念の波形を単に表すことが理解できよう。
【００７７】
１７１５、１７２０及び１７２５の如き波形は、同じデータ記録からのものであり、同時に表示できる。調整可能なトリガ制御器を用いて、波形をどの様に表示するかを調整できる。例えば、次の世紀２５５（図２Ｂ）により、データ記録に関連する次のポスト取込みトリガ・イベント１７７２を見つけ表示することができる。例えば、次の制御器２５５により、１７１５の如き波形を自動的にシフトして、ポスト取込みトリガ・イベント１７７２を表示の中央列の方向に表示できる。代わりに、次の制御器２５５により、１７１５、１７２０及び１７２５の如き１つ以上の波形が次のポスト取込みイベントに自動的にシフトできる。
【００７８】
同様に、前の制御器２６１により、データ記録に関連する以前のポスト取込みトリガ・イベント１７７４を見つけ、表示する。例えば、前の制御器２６１により、１７１５の如き波形が自動的にシフトして、ポスト取込みトリガ・イベント１７７４が表示の中央列の方向に表示される。代わりに、前の制御器２６１により、１７１５、１７２０及び１７２５の如き１つ以上の波形が以前のポスト取込みトリガ・イベントに自動的にシフトされる。
【００７９】
追加の例として、第１制御器２５７及び最後の制御器２６３は、最初及びサイゴンポスト取込みトリガ・イベントを夫々見つけ表示できる。他の標準制御器２３９又は特定制御器２６９を用いて、トリガ・イベント又は波形をどのように表示するかを操作できる。
【００８０】
図１９は、本発明の実施例による試験測定機器１４００のブロック図であり、かかる試験測定機器１４００は、取込みメモリ１４１５、アナログ・トリガ回路１４２０、種々のアナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）２０８及びデジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）１５１２を含んでいる。取込み及びトリガ・ユニット１４０５、制御器１４３０及び表示ユニット１４３５のいくつかのコンポーネントは、上述のコンポーネントと類似なので、これらの詳細説明を省略する。取込みメモリ１４１５は、１つ以上のデジタル・データ・サンプルを取込み、これらを少なくとも１つのデータ記録１４１７として蓄積する。
【００８１】
１つ以上のＡＤＣ２０８が入力端子１１０に関連する。１つ以上のＡＤＣ２０８は、被試験信号を受けて、この被試験信号からデジタル・サンプルを発生して、このデジタル・サンプルを取込みメモリ１４１５に伝送する。アナログ・トリガ回路１４２０は、入力端子１１０に結合した入力端を有し、第１トリガ条件に基づいて被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出し、この波形の自動調整により、ライブ・トリガ・イベントの時点に適合させる。さらに、取込み及びトリガ・ユニット１４０５は、１個以上のＤＡＣ１４１２を含んで、取込みメモリ１４１７からのデジタル・サンプルを受けて、変換されたアナログ信号を発生する。このアナログ信号は、ポスト取込み処理のために、アナログ・トリガ回路１４２０に伝送される。
【００８２】
アナログ・トリガ回路１４２０は、第２トリガ条件に基づいて、変換済みアナログ信号を受けてデータ記録１４１７内のポスト取込みトリガ・イベントを検出し、自動調整により波形をポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合させる。この方法において、単一のトリガ回路を用いて、ライブ・トリガ・イベント及びポスト取込みトリガ・イベントを検出し処理する。
【００８３】
詳細に上述したように同様なトリガ制御器及びその動作を用いて、アナログ・トリガ回路１４２０を制御して同様な出力を達成できる。説明を簡略化するため、種々の制御器及び動作の詳細説明を省略する。
【００８４】
図２０は、本発明の実施例により、ポスト取込みトリガを設定し、対応波形を調整する技術を説明する流れ図である。この処理は、ステップ１０００にて被試験電気信号からデータを取り込むことから開始する。この処理は、ステップ１００５に進み、任意のライブ・トリガ・イベントを検出して、波形を調整して表示する。ステップ１０２０にて、データのライブ取込みを停止したかを判断する。この判断は、ユーザ入力に応答するか、又は自動的に判断される。ライブ取込みモードが停止されないと（ノーの場合）、処理は「Ｂ」を経由してステップ１０００に戻り、被試験電気信号からデータの取込みを持続する。
【００８５】
判断ステップ１０１０でイエスであると、オシロスコープは、ポスト取込みモードになり、流れ図は、ユーザ入力に基づいて、２つの処理１０１５及び１０２０の１つに進む。ステップ１０１５にて標準トリガ制御器がトリガ条件を選択するようにユーザが選択すると、処理はステップ１０３０に進み、ポスト取込みトリガ・イベントを検出したかを判断する。検出した場合（イエスの場合）、処理はステップ１０３５に進み、波形の位置を自動的にシフトして、ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合させる。その後、処理はステップ１０４０に進み、データのライブ取込みが再開したかを判断し、この判断に基づいて、経路「Ａ」（ノー）又は「Ｂ」（イエス）に進む。ノーの場合、処理は「Ａ」を介して戻り、ユーザからの入力を待つ。この点で、ステップ１０２０にて、ユーザが標準トリガ制御器を調整してデータ記録内のイベントを検索すると、処理がステップ１０４０に進み、データの再取込みが再開されたかについて同様な判断を行う。
【００８６】
本発明の実施例は、データ記録として取込みメモリ内へ蓄積するために被試験信号からデータを取り込んで、このデータを取込みながら被試験信号に関連する波形を表示する方を含んでいる。データ記録を取り込んだ後、ユーザは、標準トリガ制御器を調整してトリガ条件を選択できる。トリガ回路は、トリガ条件に基づいてデータ記録内のポスト取込みトリガ・イベントを検出し、波形の位置を自動的にシフトして、ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合させる。トリガ・レベル制御器を調整してデータを取込みながら第１トリガ・ポイントを選択し、更に、トリガ・レベル制御器を調整してデータ取込みの後に第２トリガ・ポイントを選択する。データ取込みの後にトリガ・レベル制御器を調整することには、ポスト取込みトリガ・イベント用に第２トリガ・ポイントを選択することを含む。データのライブ取込みが再開すると、前もって選択されたポスト取込みトリガ条件をライブ・トリガ条件に自動的に適用できる。
【００８７】
本発明の特定実施例について説明したが、本発明の要旨がこれら実施例に限定されないことが明らかであろう。例えば、上述のポスト取込みトリガ機能の他に、標準トリガ制御器を用いて、トリガ回路は、ポスト取込みモード期間中にデータ記録内に蓄積された波形の欠陥の如き他の形式のイベントを検索できる。これにより、ユーザは、最も精通した制御器を用いてデータ記録を検索できる。本発明の要旨を逸脱することなく変形変更が可能である。
【符号の説明】
【００８８】
１００  試験測定機器（オシロスコープ）
１０５  取込み及びトリガ・ユニット
１０８  アナログ・デジタル変換器
１１０  入力端子
１１５  取込みメモリ
１１７  データ記録
１２０  ライブ・トリガ回路
１２５  ポスト取込みトリガ回路
１３０  制御器
１３５  表示ユニット
２０５  プローブ
２０８  アナログ・デジタル変換器
２１０  プロセッサ
２１５  入力／出力回路
２２０  サポート回路
２２５  メモリ
２３０  トリガ制御器
２３２  標準制御器
２４０  処理回路
２４５  メモリ
２５０  表示器
２５２  特定制御器
７０５  第１メモリ
７１０  第２メモリ
７１５  比較器
７５０、７５５、７６０  トリガ・メモリ
１４００  試験測定機器
１４０５  トリガ・ユニット
１４１２  デジタル・アナログ変換器
１４１５  取込みメモリ
１４１７  データ記録
１４２０  アナログ・トリガ回路
１４３０  制御器
１４３５  表示ユニット
１６００  表示
【図１】
2011059107.tif 000003
【図２Ａ】
2011059107.tif 000004
【図２Ｂ】
2011059107.tif 000005
【図３】
2011059107.tif 000006
【図４】
2011059107.tif 000007
【図５】
2011059107.tif 000008
【図６】
2011059107.tif 000009
【図７】
2011059107.tif 000010
【図８】
2011059107.tif 000011
【図９】
2011059107.tif 000012
【図１０】
2011059107.tif 000013
【図１１】
2011059107.tif 000014
【図１２】
2011059107.tif 000015
【図１３】
2011059107.tif 000016
【図１４】
2011059107.tif 000017
【図１５】
2011059107.tif 000018
【図１６】
2011059107.tif 000019
【図１７】
2011059107.tif 000020
【図１８】
2011059107.tif 000021
【図１９】
2011059107.tif 000022
【図２０】
2011059107.tif 000023