(57)【要約】【課題】  汎用性に富むコンタクトピンリングの構築方法と、それに用いるコンタクトピンリングを提供することを課題とする。【解決手段】  枠体と、前記枠体によって形成されるリング状の収容部と、前記収容部に着脱自在に取り付け可能な１又は複数のピンブロックと、前記ピンブロックに保持される１又は複数のコンタクトピンとを有するコンタクトピンリングを用い、前記収容部に取り付ける前記ピンブロックの数、その取付位置、又は種類を選択することにより、コンタクトピンリングに保持されるコンタクトピンの数又は配置を前記ピンブロック単位で設定してコンタクトピンリングを構築するコンタクトピンリングの構築方法、及びそれに用いるコンタクトピンリングを提供することによって解決する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスタのテスタヘッドとプローブカードとの間を電気的に接続する複数本のコンタクトピンを保持するコンタクトピンリングの構築方法であって、当該コンタクトピンリングは、枠体と、前記枠体によって形成されるリング状の収容部と、前記収容部に着脱自在に取り付け可能な１又は複数のピンブロックと、前記ピンブロックに保持される１又は複数のコンタクトピンとを有し、前記収容部に取り付ける前記ピンブロックの数、その取付位置、又は種類を選択することにより、コンタクトピンリングに保持されるコンタクトピンの数又は配置を前記ピンブロック単位で設定してコンタクトピンリングを構築することを特徴とするコンタクトピンリングの構築方法。
【請求項２】
前記ピンブロックが、前記ピンブロックをリングに垂直な方向に貫通する空間部を備えたハウジングと、前記空間部内に着脱自在に取り付け可能な１又は複数のピンホルダーと、前記ピンホルダーの各々に保持される１又は複数のコンタクトピンを有し、前記空間部内に取り付ける前記ピンホルダーの数、その取付位置、又は種類を選択することにより、前記ピンブロックに保持されるコンタクトピンの数又は配置を前記ピンホルダー単位で設定してコンタクトピンリングを構築することを特徴とする請求項１記載のコンタクトピンリングの構築方法。
【請求項３】
テスタのテスタヘッドとプローブカードとの間を電気的に接続する複数本のコンタクトピンを保持するコンタクトピンリングであって、当該コンタクトピンリングは、枠体と、前記枠体によって形成されるリング状の収容部と、前記収容部に着脱自在に取り付け可能な１又は複数のピンブロックを有していることを特徴とするコンタクトピンリング。
【請求項４】
前記ピンブロックを前記収容部に着脱自在に取り付けることができる取付位置の前記収容部周方向における間隔が、前記ピンブロックの前記収容部周方向における長さよりも短いことを特徴とする請求項３記載のコンタクトピンリング。
【請求項５】
前記ピンブロックは、前記ピンブロックをリングに垂直な方向に貫通する空間部を備えたハウジングと、当該ハウジング内に着脱自在に取り付け可能な１又は複数個のピンホルダーを有し、当該ピンホルダーはコンタクトピンをリングに垂直な方向に収容する１又は複数個の貫通孔を有していることを特徴とする請求項３又は４記載のコンタクトピンリング。
【請求項６】
前記ピンホルダーが、前記ピンブロックに対し、リングの放射状方向に取り付けられる請求項５記載のコンタクトピンリング。
【請求項７】
前記ピンホルダーが、前記ピンブロックに対し、リングの周方向に取り付けられる請求項５記載のコンタクトピンリング。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンタクトピンリングの構築方法とコンタクトピンリングに関し、詳細には、ＩＣなどの半導体チップの電気的特性の試験に用いるテスタのテスタヘッドとプローブカードとの間を電気的に接続するコンタクトピンリングの構築方法と、それに用いるコンタクトピンリングに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、ウエハ上に形成されたＩＣなどの半導体チップの電気的特性を試験する際には、テスタのテスタヘッドとプローブカードとの間を電気的に接続するために、コンタクトピンリングが用いられている（特許文献１〜２参照）。このコンタクトピンリングは、互いに電気的に接続された一対の接触子を有するコンタクトピン（一般にポゴピンとも呼ばれる）をリング状に多数保持しており、コンタクトピンの一方の接触子をテスタヘッドの接触端子に、他方の接触子をプローブカードの接触端子に接触させて、テスタヘッドの接触端子とプローブカードの接触端子とを電気的に接続するものである。
【０００３】
このため、従来のコンタクトピンリングは、それが保持する多数のコンタクトピンの数と配置を、対象とするテスタヘッドやプローブカードにおける接触端子の数や配置に合わせて、その都度設計して、製造されるものであった。それ故、従来のコンタクトピンリングは、汎用性に欠け、高価にならざるを得ないという欠点を有していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実開平５−１５４３１号公報
【特許文献２】特許第２７２０１４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、上記従来のコンタクトピンリングの欠点を解消するために為されたもので、汎用性に富むコンタクトピンリングの構築方法と、それに用いるコンタクトピンリングを提供することを課題とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の課題を解決すべく研究を重ねた結果、本発明者らは、コンタクトピンリングを複数のピンブロックに分け、各ピンブロックには１又は複数のコンタクトピンを保持させるとともに、各ピンブロックをコンタクトピンリングに対して着脱自在とすることによって、コンタクトピンリングに保持される多数のコンタクトピンの数と配置をピンブロック単位で変更することができること、そして、それによって、汎用性に富んだコンタクトピンリングを構築できることを見出した。また、本発明者らは、ピンブロックを複数のピンホルダーに分け、各ピンホルダーには１又は複数のコンタクトピンを保持させるとともに、各ピンホルダーをピンブロックに対して着脱自在とすることによって、コンタクトピンリングに保持される多数のコンタクトピンの数と配置をピンホルダー単位で変更することが可能となり、さらに汎用性に富んだコンタクトピンリングを構築できることを見出した。
【０００７】
すなわち、本発明は、テスタのテスタヘッドとプローブカードとの間を電気的に接続する複数本のコンタクトピンを保持するコンタクトピンリングの構築方法であって、当該コンタクトピンリングは、枠体と、前記枠体によって形成されるリング状の収容部と、前記収容部に着脱自在に取り付け可能な１又は複数のピンブロックと、前記ピンブロックに保持される１又は複数のコンタクトピンとを有し、前記収容部に取り付ける前記ピンブロックの数、その取付位置、又は種類を選択することにより、コンタクトピンリングに保持されるコンタクトピンの数又は配置を前記ピンブロック単位で設定してコンタクトピンリングを構築することを特徴とするコンタクトピンリングの構築方法を提供することによって上記の課題を解決するものである。
【０００８】
また、本発明は、前記ピンブロックが、前記ピンブロックをリングに垂直な方向に貫通する空間部を備えたハウジングと、前記空間部内に着脱自在に取り付け可能な１又は複数のピンホルダーと、前記ピンホルダーの各々に保持される１又は複数のコンタクトピンを有し、前記空間部内に取り付ける前記ピンホルダーの数、その取付位置、又は種類を選択することにより、前記ピンブロックに保持されるコンタクトピンの数又は配置を前記ピンホルダー単位で設定してコンタクトピンリングを構築することを特徴とするコンタクトピンリングの構築方法を提供することによって上記の課題を解決するものである。
【０００９】
さらに、本発明は、上記本発明の構築方法に用いられるコンタクトピンリングとして、枠体と、前記枠体によって形成されるリング状の収容部と、前記収容部に着脱自在に取り付け可能な１又は複数のピンブロックを有していることを特徴とするコンタクトピンリングを提供することによって上記の課題を解決するものである。このようなコンタクトピンリングによれば、コンタクトピンリングの前記収容部に取り付けるピンブロックの数と位置、さらにはその種類を適宜選択することによって、コンタクトピンリングに保持されるコンタクトピンの数又は配置をピンブロック単位で変更できるので、コンタクトピンリングの汎用性を高めることができる。
【００１０】
上記コンタクトピンリングにおいては、前記ピンブロックを前記収容部に着脱自在に取り付けることができる取付位置の前記収容部周方向における間隔が、前記ピンブロックの前記収容部周方向における長さよりも短いことが望ましい。収容部におけるピンブロックの取付位置の間隔が、ピンブロックの周方向の長さよりも短い場合には、ピンブロックの周方向の長さよりも短いピッチでピンブロックの取付位置を調整することができるので、構築されるコンタクトピンリングの汎用性をより高めることができるという利点が得られる。
【００１１】
また、本発明のコンタクトピンリングは、その好ましい一態様において、前記ピンブロックは、前記ピンブロックをリングに垂直な方向に貫通する空間部を備えたハウジングと、当該ハウジング内に着脱自在に取り付け可能な１又は複数個のピンホルダーを有し、当該ピンホルダーはコンタクトピンをリングに垂直な方向に収容する１又は複数個の貫通孔を有している。ピンブロックがピンブロックに着脱自在に取り付け可能な１又は複数のピンホルダーを有している場合には、前記ハウジング内に取り付けるピンホルダーの数と位置を適宜調整することによって、コンタクトピンリングに保持されるコンタクトピンの数と配置をピンホルダー単位で変更できるので、コンタクトピンリングの汎用性をより一層高めることができる。前記ピンホルダーは、前記ピンブロックに対し、リングの放射状方向に取り付け可能であるか、リングの周方向に取り付け可能であるのが好ましい。
【発明の効果】
【００１２】
本発明のコンタクトピンリングの構築方法によれば、コンタクトピンリングに保持されるコンタクトピンの数と配置を、ピンブロック単位、或いはピンホルダー単位で適宜決定、変更できるので、対象とするテスタヘッドやプローブカードが変更される場合であっても、コンタクトピンリングの枠体はそのままに、取り付けるピンブロックの数、配置、又は種類を、さらには、取り付けるピンホルダーの数、配置、又は種類を変更することによって、コンタクトピンの数と配置を新たなテスタヘッドやプローブカードにおける端子の数と配置に対応したものとすることが可能となり、コンタクトピンリングの汎用性が増すという利点が得られる。
【００１３】
また、本発明のコンタクトピンリングによれば、コンタクトピンリングに保持されるコンタクトピンの数と配置を、ピンブロック単位、或いはピンホルダー単位で適宜決定、変更することができるので、用いるテスタヘッドやプローブカードにおける端子の数や配置に対応したコンタクトピンリングを容易に構築することができるという利点が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明のコンタクトピンリングの一例を示す組立斜視図である。
【図２】コンタクトピンリングの枠体の一例を示す斜視図である。
【図３】ピンブロックの一例を示す斜視図である。
【図４】図３のピンブロックの分解図斜視図である。
【図５】ピンブロックをコンタクトピンリングの収容部に取り付けた状態の部分断面図である。
【図６】ピンブロックの他の一例を示す斜視図である。
【図７】図６のピンブロックの分解図斜視図である。
【図８】ピンブロックの更に他の一例を示す平面図である。
【図９】本発明のコンタクトピンリングを用いて構築されるコンタクトピンリングの例を示す平面模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図面を用いて本発明を詳細に説明するが、本発明が図示のものに限られないことは勿論である。
【００１６】
図１は、本発明のコンタクトピンリングの一例を示す組立斜視図である。図１において、１は本発明のコンタクトピンリングを示し、２は枠体である。枠体２は、外周リング３と内周リング４を有しており、外周リング３の内周面と内周リング４の外周面との間に収容部５が形成されている。６ａ〜６ｈは、収容部５に着脱自在に取り付け可能なピンブロックである。７は各ピンブロック６ａ〜６ｈに保持されるコンタクトピン、８は位置決めピン、９は連結金具、１０は連結用のネジ孔である。
【００１７】
図１の例において、ピンブロック６ａ〜６ｈは、収容部５をコンタクトピンリング１の中心を基点として放射状に１６等分した扇状の形状を有している。しかしこれは単なる一例であって、ピンブロックの形状や大きさには特段の制限はない。ピンブロックは、収容部５に着脱自在に取り付けることができる限り、どのような形状や大きさを有していても良く、例えば、収容部５を放射状に１２等分、８等分、或いはそれ以外の数で等分した扇形、台形、或いはそれ以外の形状であっても良く、大きさや形状の異なるピンブロックが混在していても良い。さらには、ピンブロック６ａ〜６ｈは、コンタクトピンリング１の中心を中心とする弧円で２個若しくはそれ以上に分割された形状を有していても良い。
【００１８】
なお、図１では、個々のピンブロックの形状を分かりやすくするために、６ａ〜６ｈの計８個のピンブロックを、それぞれの間にピンブロック１つ分の間隔をあけて収容部５に取り付けた状態を示しているが、ピンブロック６ａ〜６ｈと同形、同大の１個又は２個以上のピンブロックを、収容部５の残されている空間部分の１箇所又は２箇所以上に取り付けても良いことは勿論である。
【００１９】
図２は、図１に示したコンタクトピンリング１の枠体２のみを取り出して示す斜視図である。図２に示すとおり、枠体２は、外周リング３、内周リング４、及び外周リング３と内周リング４を接続する複数の連結棹１１ａ〜１１ｐから構成されている。本例においては、枠体２を構成する外周リング３及び内周リング４はいずれも円形であり、外周リング３と内周リング４とによって形成される収容部５はいわば完全なリング状である。ただし、外周リング３及び内周リング４は円形に限られず、例えば、１２角形や１６角形などの正多角形であっても良い。
【００２０】
１２、１２、１２・・・は外周リング３のフランジ部に設けられた取付用ネジ孔、１３、１３、１３・・・は内周リング４のフランジ部に設けられた取付用ネジ孔であり、これらの取付用ネジ孔１２、１３と図示しない止めネジと、ピンブロック６ａ〜６ｈの底部に設けられたネジ孔とによって、ピンブロック６ａ〜６ｈは枠体２の収容部５に着脱自在に取り付け可能である。すなわち、図示しない止めネジを取付用ネジ孔１２又は１３を通してピンブロック６ａ〜６ｈの底部に設けられたネジ孔に螺合させることにより、ピンブロック６ａ〜６ｈを収容部５に着脱自在に取り付けることができる。なお、ピンブロック６ａ〜６ｈを枠体２の収容部５に着脱自在に取り付ける取付手段としては、ピンブロック６ａ〜６ｈを枠体２の収容部５に着脱自在に取り付けることができる限り、どのような取付手段を用いても良いことはいうまでもない。
【００２１】
また、取付用ネジ孔１２及び１３の数を増やして、その周方向の間隔を短くすることにより、ピンブロック６ａ〜６ｈを収容部５に着脱自在に取り付けることができる取付位置の間隔を、ピンブロック６ａ〜６ｈの周方向における長さよりも短くすることができる。この場合には、ピンブロック６ａ〜６ｈを収容部５に取り付ける位置の調整を、より細かなピッチで行うことが可能になり、ピンブロック単位でのコンタクトピンの配置変更の自由度が増すという利点が得られる。なお、連結棹１１ａ〜１１ｐの存在が、ピンブロック６ａ〜６ｈの取り付け位置の調整に際して邪魔になる場合には、連結棹１１ａ〜１１ｐの数を減らして、例えば、９０度間隔４本若しくは１２０度間隔３本の連結棹によって、外周リング３と内周リング４とを接続するようにすれば良い。或いは、ピンブロック６ａ〜６ｈの、連結棹１１ａ〜１１ｐのいずれかとその下面が対向してしまう部分には、コンタクトピンを配置しないようにしても良い。
【００２２】
図３は、ピンブロック６ａだけを取り出して示した斜視図である。なお、以下の説明ではピンブロック６ａを例に説明するが、他のピンブロック６ｂ〜６ｈも同様である。図３において、１４はピンブロック６ａのハウジング、１５はピンホルダーである。ハウジング１４は、ピンブロック６ａをリングに垂直な方向に貫通する空間部を備えており、その空間部には、ピンホルダー１５が着脱自在に取り付けられている。図に示すとおり、各ピンホルダー１５には複数のコンタクトピン７が保持されている。１６はピンホルダー１５をハウジング１４に着脱自在に取り付ける止めネジである。ピンホルダー１５が着脱自在に取り付けられる空間部はピンブロック６ａをコンタクトピンリング１に垂直な方向に貫通しているので、ピンホルダー１５を前記空間部に取り付けると、図３に示すとおり、コンタクトピン７の上側の接触子はピンブロック６ａの上面よりも上側に突出し、下側の接触子はピンブロック６ａの下面よりも下側に突出する。
【００２３】
図４は、ピンブロック６ａの分解斜視図である。図に示すとおり、ハウジング１４の空間部は、その放射方向に複数の部分空間ａ〜ｋに仕切られており、各部分空間ａ〜ｋにピンホルダー１５が挿入される。したがって、ピンホルダー１５は、ピンブロック６ａに対し、コンタクトピンリング１の放射状方向に取り付けられることになる。部分空間ａ〜ｋに挿入されたピンホルダー１５は、ピンホルダー１５の両端部に設けられているネジ座１７、１７に止めネジ１６、１６を貫通させて、止めネジ１６、１６をハウジング１４内の図示しないネジ孔に螺合させることによって、ハウジング１４内に着脱自在に取り付けられる。各ピンホルダー１５にはコンタクトピン７をコンタクトピンリング１に垂直な方向に収容する複数の貫通孔が設けられており、この複数の貫通孔の各々にはコンタクトピン７が挿入され、ピンホルダー１５に保持されている。
【００２４】
なお、図３〜図４の例においては、ピンブロック６ａに設けられている部分空間ａ〜ｋの数は１１個であり、ピンブロック６ａに収容されるピンホルダー１５の数は１１個であるが、部分空間の数やピンブロック６ａに保持されるピンホルダー１５の数は１１個に限られない。例えば、部分空間部ａ〜ｋのうちのいずれかを空間のままに残すか、部分空間部ａ〜ｋの数を減らして、ハウジング１４に収容されるピンホルダー１５の数を１１個よりも少なくすることも可能であるし、部分空間部ａ〜ｋの数を増やして、ハウジング１４に収容されるピンホルダー１５の数を１２個以上とすることも可能である。さらには、部分空間部ａ〜ｋの間隔を不均等にして、ピンホルダー１５の配置に粗密を持たせるようにしても良い。
【００２５】
いずれにしても、ハウジング１４に収容されるピンホルダー１５の数や配置は、対象とするテスタヘッドやプローブカードにおける接触端子の数や配置に合わせて任意に変更可能であり、この変更によって、コンタクトピンリング１におけるコンタクトピン７の数と配置をピンブロック単位で変更、調整することが可能となる。
【００２６】
同様に、図３〜図４の例においては、各ピンホルダー１５に設けられている貫通孔の数は９個であり、保持されるコンタクトピン７の数は９本であるが、１つのピンホルダー１５に保持されるコンタクトピン７の数は９本に限られない。ピンホルダー１５にはコンタクトピン７が少なくとも１本保持されていれば良く、例えば、各ピンホルダー１５から１本若しくは２本以上のコンタクトピン７を抜き出すか、コンタクトピン７が挿入される貫通孔の数を減らして、ピンホルダー１５に保持されるコンタクトピン７の数を９本よりも少なくすることも可能であるし、ピンホルダー１５をリングに垂直な方向に貫通する貫通孔の数を増やして、ピンホルダー１５に保持されるコンタクトピン７の数を９本以上とすることも可能である。さらには、前記貫通孔の間隔を不均等にして、ピンホルダー１５におけるコンタクトピン７の配置に粗密を持たせるようにしても良い。
【００２７】
いずれにしても、ピンホルダー１５に保持されるコンタクトピン７の数や配置は、対象とするテスタヘッドやプローブカードにおける接触端子の数や配置に合わせて任意に変更可能であり、この変更によって、コンタクトピンリング１におけるコンタクトピン７の数と配置をピンホルダー単位で変更、調整することが可能となる。
【００２８】
図５は、ピンブロック６ａをコンタクトピンリング１の収容部５に取り付けた状態の部分断面図である。図に示すとおり、ピンホルダー１５は、止めネジ１６、１６を、ネジ座１７、１７を貫通させてハウジング１４に設けられたネジ孔に螺合させることによって、ピンブロック６ａのハウジング１４に着脱自在に取り付けられている。一方、ピンブロック６ａは、止めネジ１８、１８を、外周リング３のフランジ部に設けられた取付用ネジ孔１２、及び内周リング４のフランジ部に設けられた取付用ネジ孔１３を介して、ピンブロック６ａの底部に設けられたネジ孔に螺合させることによって、コンタクトピンリング１の収容部５に着脱自在に取り付けられている。
【００２９】
図６は、ピンブロック６ａの他の一例を示す斜視図である。先に示した例においては、ピンホルダー１５は、ピンブロック６ａに対し、コンタクトピンリング１の放射状方向に取り付けられていたが、本例においては、ピンホルダー１５は、ピンブロック６ａに対し、コンタクトピンリング１の周方向に取り付けられている。１６は止めネジである。
【００３０】
図７は、図６のピンブロック６ａの分解斜視図である。図７に示すとおり、本例のピンブロック６ａのハウジング１４には、ピンブロック６ａをコンタクトピンリング１に垂直な方向に貫通する１個の空間部Ａが備えられている。１９はハウジング１４の内側に設けられた段部であり、図７においては、ハウジング１４の向こう側の側壁の内側に設けられた段部１９しか表されていないが、ハウジング１４の手前側の側壁の内側にも同様の段部１９が設けられている。２０は、段部１９に設けられたネジ孔であり、図に示すように、このネジ孔２０にネジ座１７を貫通させて止めネジ１６を螺合させることによって、ピンホルダー１５はハウジング１４に着脱自在に取り付けられる。したがって、段部１９に設けるネジ孔２０の数や間隔を適宜調整することによって、ピンブロック６ａに保持されるピンホルダー１５の数及び配置を適宜変更することが可能である。また、先に示した例におけると同様に、ピンホルダー１５に保持されるコンタクトピン７の数やその配置も適宜変更可能である。
【００３１】
図８は、ピンブロック６ａの更に他の一例を示す平面図であり、ハウジング１４だけを示している。図に示すとおり、ピンブロック６ａにはピンブロック６ａをコンタクトピンリング１に垂直な方向に貫通する１個の空間部Ｂが備えられており、ハウジング１４の内側には、その内周の全域にわたって段部１９が設けられ、段部１９にはネジ孔２０が形成されている。したがって、本例のピンブロック６ａにおいては、ピンホルダー１５をコンタクトピンリング１の放射方向又は周方向のいずれの方向にも取り付けることが可能である。
【００３２】
図９は、本発明のコンタクトピンリング１を用いて構築されるコンタクトピンリングの幾つかの例を示す平面模式図である。図９（ａ）（ｂ）は、収容部５を放射状に１６等分して得られる大きさのピンブロックをそれぞれ９個（６ａ〜６ｉ）又は１１個（６ａ〜６ｋ）、収容部５に取り付けて構築したコンタクトピンリング１を示している。このピンブロックの数と配置、及び、図示してはいないけれども、各ピンブロックにおけるピンホルダーの数と配置が、対象とするテスタヘッドやプローブカードにおける接触端子の数と配置に対応したものとなっていることはいうまでもない。
【００３３】
図９（ｃ）は、収容部５を放射状に１６等分して得られる大きさのピンブロック６ａ、６ｂ、６ｃ、６ｄと、収容部５を放射状に８等分して得られる大きさのピンブロック２１ａ、２１ｂ、２１ｃを収容部５に取り付けて構築したコンタクトピンリング１を示しており、図９（ｄ）は、収容部５を放射状に８等分して得られる大きさのピンブロック２１ａ〜２１ｈを収容部５に取り付けて構築したコンタクトピンリング１を示している。これらのコンタクトピンリング１においても、ピンブロックの種類と数と配置、及び、図示してはいないけれども、各ピンブロックにおけるピンホルダーの数と配置が、対象とするテスタヘッドやプローブカードにおける接触端子の数と配置に対応したものとなっていることはいうまでもない。
【００３４】
以上のとおり、本発明のコンタクトピンリングの構築方法によれば、収容部に取り付けるピンブロックの数やその取付位置、さらには各ピンブロックの大きさや、各ピンブロックに保持されるコンタクトピンの数や配置といったピンブロックの種類を適宜選択することによって、コンタクトピンリングにおけるコンタクトピンの数や配置を、ピンブロックを単位として、任意に設定することが可能である。また、各ピンブロックに取り付けるピンホルダーの数やその取付位置、さらには各ピンホルダーの大きさや、各ピンホルダーに保持されるコンタクトピンの数や配置といったピンホルダーの種類を適宜選択することによって、コンタクトピンリングにおけるコンタクトピンの数や配置を、ピンホルダーを単位として、任意に設定することが可能である。
【産業上の利用可能性】
【００３５】
以上の述べたとおり、本発明のコンタクトピンリングの構築方法及びそれに用いるコンタクトピンリングによれば、コンタクトピンリングに保持されるコンタクトピンの数と配置を、ピンブロック又はピンホルダーを単位として設定、変更することができるので、コンタクトピンリングを標準化して、汎用性を持たせることが可能となる。本発明は、コンタクトピンリングの価格の低減化への道を拓くものであり、その産業上の利用可能性は多大である。
【符号の説明】
【００３６】
１            コンタクトピンリング
２            枠体
３            外周リング
４            内周リング
５            収容部
６ａ〜６ｋ、２１ａ〜２１ｈ    ピンブロック
７            コンタクトピン
８            位置決めピン
９            連結金具
１０            ネジ孔
１１ａ〜１１ｐ    連結棹
１２、１３    取付用ネジ孔
１４          ハウジング
１５          ピンホルダー
１６、１８    止めネジ
１７          ネジ座
１９          段部
２０          ネジ孔
【図１】
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【図２】
2011209154.tif 000004
【図３】
2011209154.tif 000005
【図４】
2011209154.tif 000006
【図５】
2011209154.tif 000007
【図６】
2011209154.tif 000008
【図７】
2011209154.tif 000009
【図８】
2011209154.tif 000010
【図９】
2011209154.tif 000011