(57)【要約】【課題】従来、液晶ＴＶ等のバックライト光源として冷陰極管（ＣＣＦＬ）や、蛍光灯（ＨＣＦＬ）が採用されることが多かったが、最近では技術の発達に伴い発光ダイオード（ＬＥＤ）を採用する場合が多くなってきている。ＬＥＤには、発光による輝度の低下の課題があるが、近年ではＬＥＤの経年劣化によって輝度低下が起きる問題がわかっている。従来では、発光による輝度の低下を解決するための技術は発明されてきたが、ＬＥＤの経年劣化によって輝度が低下する問題については、あまり考えられてこなかった。【解決手段】そこでＬＥＤ発光回路とは独立したセンサを備え、センサが検出するＬＥＤ発光構造体の温度に応じて、ＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御することで温度制御を行うＬＥＤシステムを提供する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＬＥＤを発光させるための発光回路を含むＬＥＤ発光構造体と、
ＬＥＤ発光構造体の温度を発光回路とは独立のセンサによって検出する温度検出部と、
検出された温度と、信頼性を損なわないために定められ保持されている基準温度と、に基づきＬＥＤ発光構造体に対して供給される電流を制御する温度制御手段を有する制御部と、
を有するＬＥＤシステム。
【請求項２】
制御部は、
ＬＥＤの経時劣化により生じる輝度の劣化を補償するためにＬＥＤ発光構造体に対して供給される電流を制御する自動調光手段と、
自動調光手段による電流の増加制御により温度検出部にて検出される温度が前記基準温度を上回る場合には温度制御手段による電流の制御を優先するように処理する制御調整手段と、を有する請求項１に記載のＬＥＤシステム。
【請求項３】
制御部は、温度制御手段が、検出されたＬＥＤ発光構造体の温度を下方制御するために供給する電流を低下させる場合に利用する、一度に電流を低下させる幅をあらかじめ定めた低下幅ルールを保持する低下幅ルール保持手段を有する請求項１または２に記載のＬＥＤシステム。
【請求項４】
温度検出部は、ＬＥＤ発光構造体が駆動中には、常時温度の検出を行うように制御する常時検出手段を有する請求項１から３のいずれか一に記載のＬＥＤシステム。
【請求項５】
温度検出部のセンサは、ＬＥＤ発光構造体のドライバ回路近辺の温度を主に検出するように配置されている請求項１から４のいずれか一に記載のＬＥＤシステム。
【請求項６】
制御部での制御の履歴の全部または一部である制御履歴を保持する制御履歴保持部と、
制御履歴保持部に保持されている制御履歴に応じて前記保持されている基準温度を変更する基準温度変更部を有する請求項１から５のいずれか一に記載のＬＥＤシステム。
【請求項７】
制御部での制御の履歴の全部または一部である制御履歴を保持する制御履歴保持部と、
さらに制御履歴保持部に保持されている制御履歴に応じて低下幅ルール保持手段に保持されている低下幅ルールを変更する低下幅ルール変更部を有する請求項３または請求項３に従属する請求項４または６のいずれか一に記載のＬＥＤシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
液晶ＴＶにおけるＬＥＤバックライトの温度制御を行う技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、液晶ＴＶ等のバックライト光源として冷陰極管（ＣＣＦＬ）や、蛍光灯（ＨＣＦＬ）が採用されることが多かったが、最近では技術の発達に伴い発光ダイオード（ＬＥＤ）を採用する場合が多くなってきている。
【０００３】
自動調光機能を持つＬＥＤバックライトは図１に示すようにＬＥＤを発光させることに伴う周辺回路を含めた温度上昇によってＬＥＤの輝度が低下するという問題がある。この問題を補うために、ＬＥＤに供給する電流を増加させることで輝度の低下を補償する対応がとられている。つまり、温度上昇に伴い低下した輝度を補償するためにより多くの電流を供給するように制御する対策が採用されてきた。
【０００４】
しかしながら、ＬＥＤに供給する電流を増加させるということは同時に放出される熱量も増加することを意味する。したがって、放出される熱量が増えることで温度が上昇し、これが原因で周辺に配置されている部品などの故障が発生する可能性が高まり、ＬＥＤ自身に対しても熱の悪影響が及ぶという問題があり、悪循環となる。
【０００５】
そこで、特許文献１に記載のような技術が提供されている。具体的には、ＬＥＤの温度制御を行うことによってこれらの問題を解決しようとする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００７−１６５６３２号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、特許文献１に記載の技術は、ＬＥＤの温度上昇に伴う抵抗値の増加などを利用して制御をおこなうものであるため、ＬＥＤの経年劣化などによる抵抗値の変動を読み込む困難さが付きまとう。また、このような温度検知をせずに電流制御により間接的に温度制御することも考えられるが、同じような理由で制御が難しく、またテレビなどＬＥＤバックライトを利用する機器を配置する環境などによって同じ電流値でも環境温度がさまざまとなり、やはり電流値のみを指標として温度管理をすることは困難である。つまり、ＬＥＤ素子や、ＬＥＤドライバ回路などの周辺回路の経年劣化を織り込んで温度管理をすることは難しいという課題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
そこで、本発明は、従来からすべての機器において採用されているＬＥＤの輝度低下を補償するための電流値制御をおこないつつ、ＬＥＤ発光回路とは独立したセンサを備え、あらかじめ定められている温度上限値とセンサが検出するＬＥＤ発光構造体の温度と、を比較しつつ、場合によっては輝度低下を犠牲にしてでも温度管理を行うとの思想の下、ＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御することで温度問題を解決するＬＥＤシステムを提供する。具体的には以下のようなＬＥＤシステムである。
【０００９】
第１発明では、ＬＥＤを発光させるための発光回路を含むＬＥＤ発光構造体と、ＬＥＤ発光構造体の温度を発光回路とは独立のセンサによって検出する温度検出部と、検出された温度と、信頼性を損なわないために定められ保持されている基準温度と、に基づきＬＥＤ発光構造体に対して供給される電流を制御する温度制御手段を有する制御部と、を有するＬＥＤシステムを提供する。
【００１０】
第２発明では、第１発明を基本として制御部は、ＬＥＤの経時劣化により生じる輝度の劣化を補償するためにＬＥＤ発光構造体に対して供給される電流を制御する自動調光手段と、自動調光手段による電流の増加制御により温度検出部にて検出される温度が前記基準温度を上回る場合には温度制御手段による電流の制御を優先するように処理する制御調整手段と、を有するＬＥＤシステムを提供する。
【００１１】
第３発明では、第１発明又は第２発明を基本として、制御部は、温度制御手段が、検出されたＬＥＤ発光構造体の温度を下方制御するために供給する電流を低下させる場合に利用する、一度に電流を低下させる幅をあらかじめ定めた低下幅ルールを保持する低下幅ルール保持手段を有するＬＥＤシステムを提供する。
【００１２】
第４発明では、第１発明から第３発明のいずれか一を基本として温度検出部は、ＬＥＤ発光構造体が駆動中には、常時温度の検出を行うように制御する常時検出手段を有するＬＥＤシステムを提供する。
【００１３】
第５発明では、第１発明から第４発明のいずれか一を基本として、温度検出部のセンサは、ＬＥＤ発光構造体のドライバ回路近辺の温度を主に検出するように配置されているＬＥＤシステムを提供する。
【００１４】
第６発明では、第１発明から第５発明のいずれか一を基本として制御部での制御の履歴の全部または一部である制御履歴を保持する制御履歴保持部と、制御履歴保持部に保持されている制御履歴に応じて前記保持されている基準温度を変更する基準温度変更部を有するＬＥＤシステムを提供する。
【００１５】
第７発明では、第３発明又は、第３発明を基本とする第４発明又は第５発明を基本として制御部での制御の履歴の全部または一部である制御履歴を保持する制御履歴保持部と、さらに制御履歴保持部に保持されている制御履歴に応じて低下幅ルール保持手段に保持されている低下幅ルールを変更する低下幅ルール変更部を有するＬＥＤシステムを提供する。
【発明の効果】
【００１６】
以上のような構成を採る本発明によって、ＬＥＤ発光構造体の温度を制御することが可能となる。これにより、ＬＥＤを発光させることに伴う温度上昇によってＬＥＤの輝度が劣化することを防ぐことができると共に、経年劣化の課題を解決するために経年劣化によって劣化した輝度を補償するために供給する電流が増加することで温度が上昇することを要因とする部品などの故障を防ぐことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】ＬＥＤの温度と輝度低下の関係の一例を示した図
【図２】実施例１のＬＥＤシステムの概要を説明するための図
【図３】実施例１のＬＥＤシステムにおける機能的要件の一例を示した図
【図４】実施例１のＬＥＤシステムにおける制御部が、検出された温度と、保持されている基準温度を比較し、比較結果に応じてＬＥＤ発光構造体へ供給する電流を制御するためのプログラムの一例を示した図
【図５】実施例１のＬＥＤシステムにおける温度検出部が常時温度の検出を行う機能を有する場合における機能的要件の一例を示した図
【図６】実施例１のＬＥＤシステムにおけるハードウェア構成の一例を示した図
【図７】実施例１のＬＥＤシステムにおけるＬＥＤ発光構造体の温度を検出してからＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御するまでの流れの一例を表すフローチャート
【図８】実施例２のＬＥＤシステムにおける機能的要件の一例を示した図
【図９】実施例２のＬＥＤシステムにおける制御調整手段が、温度検出部で検出された温度が基準温度を上回る場合に自動調光手段から温度制御手段に制御を切換えるためのプログラムの一例を示した図
【図１０】実施例２のＬＥＤシステムにおけるハードウェア構成の一例を示した図
【図１１】実施例２のＬＥＤシステムにおいて輝度の劣化を補償するためにＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御（自動調光制御）するとともに、補償するための制御によって、ＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を超えた場合には、基準温度に下げるための制御（温度制御）を行うまでの流れの一例を表すフローチャート
【図１２】実施例２のＬＥＤシステムにおいて行われる制御の一例を説明するための図
【図１３】実施例３のＬＥＤシステムにおける機能的要件の一例を示した図
【図１４】実施例３のＬＥＤシステムにおける低下幅ルールの一例を示した図
【図１５】実施例３のＬＥＤシステムにおけるハードウェア構成の一例を示した図
【図１６】実施例３のＬＥＤシステムにおけるＬＥＤ発光構造体の温度を検出してから低下幅ルールを取得し、取得した低下幅ルールに基づいてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御するまでの流れの一例を表すフローチャート
【図１７】実施例４のＬＥＤシステムにおける機能的要件の一例を示した図
【図１８】実施例４のＬＥＤシステムにおける制御履歴保持部が保持する制御履歴の一例を示した図
【図１９】実施例４のＬＥＤシステムにおけるハードウェア構成の一例を示した図
【図２０】実施例４のＬＥＤシステムにおける制御部での制御履歴の全部または一部を記録・保持し、制御履歴に応じて基準温度の変更を行うまでの流れの一例を表すフローチャート
【図２１】実施例５のＬＥＤシステムにおける機能的要件の一例を示した図
【図２２】実施例５のＬＥＤシステムにおけるハードウェア構成の一例を示した図
【図２３】実施例５のＬＥＤシステムが低下幅ルールを利用して供給する電流の制御を行う場合に、低下幅ルールを制御履歴に応じて低下幅ルールを変更するまでの流れの一例を表すフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下に、図を用いて本発明の実施の形態を説明する。なお、本発明はこれら実施の形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施しうる。
【００１９】
なお、実施例１にて、主に請求項１、４、５について説明する。実施例２は、主に請求項２について説明する。実施例３は、主に請求項３について説明する。実施例４は主に請求項６について説明する。実施例５は、主に請求項７について説明する。
【００２０】
≪実施例１≫
【００２１】
<概要>
本実施例のＬＥＤシステムは、図２に示すようにＬＥＤ発光構造体の温度をＬＥＤ発光構造体とは独立したセンサによって検出し、検出された温度があらかじめ定められた基準温度を超えた場合にＬＥＤ発光構造体に対して供給される電流を制御することを特徴とするＬＥＤシステムである。
【００２２】
<機能的構成>
【００２３】
以下に記載する本実施例の機能ブロックは、ハードウェア、ソフトウェア、又はハードウェア及びソフトウェアの両方として実現され得る。具体的には、コンピュータを利用するものであれば、ＣＰＵや主メモリ、バスあるいは二次記憶装置（ハードディスクや不揮発性メモリ）、それらのハードウェアを制御するためのドライバプログラムやその他アプリケーションプログラムなどがあげられる。
【００２４】
またこれらのハードウェアやソフトウェアは、主メモリ上に展開したプログラムをＣＰＵで演算処理したり、メモリやハードディスク上に保持されているデータや、インターフェースを介して入力されたデータなどを加工、蓄積、出力処理したり、あるいは各ハードウェア構成部の制御を行ったりするために利用される。また、この発明は装置として実現できるのみでなく、方法としても実現可能である。また、このような発明の一部をソフトウェアとして構成することができる。さらに、そのようなソフトウェアをコンピュータに実行させるために用いるソフトウェア製品、及び同製品を固定した記録媒体も、当然この発明の技術的な範囲に含まれる。（本明細書の全体を通じて同様である）
【００２５】
図３は、本実施例のＬＥＤシステムにおける機能的構成の一例を示した図である。本実施例の「ＬＥＤシステム」（０３０１）は、「ＬＥＤ発光構造体」（０３０２）と、「温度検出部」（０３０３）と、「温度制御手段」（０３０５）を備える「制御部」（０３０４）とを有している。
【００２６】
「ＬＥＤ発光構造体」（０３０２）は、ＬＥＤを発光させるための発光回路を含む構造体である。具体的には、外部から電流の供給を受けることでＬＥＤを発光できるように構成（接続）されている発光回路やＬＥＤなどの回路を含む部品の集合体である。このＬＥＤ発光構造体に供給される電流は、後に詳述する制御部によって制御される。
【００２７】
「温度検出部」（０３０３）は、ＬＥＤ発光構造体の温度を発光回路とは独立のセンサによって検出する。具体的には、発光回路とは異なる独立したセンサを用いて前記「ＬＥＤ発光構造体」（０３０２）の温度を検出し、後に詳述する「制御部」（０３０４）（「温度制御手段」（０３０５））に検出した温度情報を引き渡す。
【００２８】
ここで温度検出部における「独立のセンサ」とは、発光回路などのＬＥＤ発光構造体とは独立して備えられる１次温度計や２次温度計である。具体的にはサーミスタ、放射温度計、測温抵抗体や、熱電対などの温度計である。このように、センサを独立させることによってＬＥＤ発光構造体の影響（例えば、物性等の変化による電流値や電圧値の変動など）を受けない特徴を持っている。したがって、ＬＥＤ発光構造体自身（若しくはＬＥＤ自身）に供給される電圧や電流をもって温度を検出（監視）するような構成とは異なる。また、発光回路の一部に直列や並列にセンサが組み込まれるような構成とも異なる。
【００２９】
なお、本実施例の温度検出部におけるセンサは、ＬＥＤ発光構造体のドライバ回路近辺に配置され、ドライバ回路近辺の温度を検出する構成であってもよい。ＬＥＤ発光構造体において特に放熱量の多いドライバ回路の温度を検出することによって、ＬＥＤ発光構造体のより正確な温度を検出することが可能となる。
【００３０】
「制御部」（０３０４）は、検出された温度と、信頼性を損なわないために定められ保持されている基準温度と、に基づきＬＥＤ発光構造体に対して供給される電流を制御する温度制御手段を有する。具体的には、前記「温度検出部」（０３０３）で検出された温度が、「制御部」（０３０４）が保持する基準温度を超えた場合に前記「ＬＥＤ発光構造体」（０３０２）に供給する電流の制御を行う。
【００３１】
ここで、本実施例の「基準温度」とは、その部品（及び周囲の部品）が通常発揮すべき性能が低下したり、その部品（及び周囲の部品）の動作に支障をきたす危険性が高まる温度である。具体的に本実施例では、８０℃（ＬＥＤ発光構造体の温度）を想定している。なお、「基準温度」の一例を上で述べたが実際にはそれだけに限定されず、基準となる温度であればその温度は限定されない。
【００３２】
なお、基準温度はあらかじめ定められた値であってもよいし、計算によって求められる値であってもよい。例えば、基準温度として温度の差分値を保持した状態におくことによって、電源投入時にＬＥＤ発光構造体の温度を検知し、この検知した温度に対して差分の値を足し合わせることで、これを基準温度とするなどである。この場合には、「温度検出部」が電源投入時の温度を検出するための「電源投入時検出手段」を備え、また「制御部」が差分の温度を保持するための「差分温度保持手段」と、基準温度を計算するための「基準温度計算手段」を備える構成が考えられる。
【００３３】
また、本実施例の制御部が通常の状態で供給する電流は、４０ｍＡ（ＬＥＤ部品の定格値から安全性を確保した上限値）を想定しており、最も供給を抑える場合の電流値は、１５ｍＡ（後に詳述する自動調光手段によって制御された輝度を１００とした時に輝度が７割程度となる電流値。すなわち経時劣化による輝度低下を加味しても輝度が５割を下回らない電流値）を想定している。
【００３４】
「温度制御手段」（０３０５）は、検出された温度と、信頼性を損なわないために定められ保持されている基準温度と、に基づきＬＥＤ発光構造体に対して供給される電流を制御する。具体的には、前記「温度検出部」（０３０３）が検出する前記「ＬＥＤ発光構造体」（０３０２）の温度が、基準温度を超えた場合に前記「ＬＥＤ発光構造体」（０３０２）に対して供給される電流を制御（温度制御）する。これにより、ＬＥＤ発光構造体の温度を基準温度以下に保つ制御を行うことが可能となる。
【００３５】
図４は、実際に本実施例の制御部が、検出された温度と、保持されている基準温度を比較し、比較結果に応じてＬＥＤ発光構造体へ供給する電流を制御するためのプログラムの一例を示したものである。なお、本図に記載のプログラムは重要な処理を簡易的に示したものであり、実際にはコーディングを行う際に使用する言語やプログラマの書き方によって異なる。また、基板（回路）として実現されていても何ら問題ない。以下に本図に記載のプログラム例について説明する。
【００３６】
まず、温度検出部がＬＥＤ発光構造体の温度を検出したことを検知したとする（図４Line30）。検知すると、温度検出部が検出した温度の取得を行う（図４Line60）。次に、基準温度の取得を行う（図４Line90）。そして、検出した温度と基準温度の比較を行う（図４Line110）。比較の結果、検出した温度が基準温度を上回っている場合、ＬＥＤ発光構造体に供給する電流を減らす処理（動作）を行う（図４Line120）。検出した温度が基準温度を下回っている場合には何も行わずに次の検知を待つ（図４Line150）。
【００３７】
≪温度検出のタイミング≫
【００３８】
本実施例の温度検出部は、ＬＥＤ発光構造体が駆動中には、常時温度の検出を行うように制御するように構成されていてもよい。この場合には、図５に示すように本実施例の「温度検出部」（０５０３）が、「常時検出手段」（０５０６）を備える構成が考えられる。以下にこの場合における新たに有することとなる構成について説明する。
【００３９】
「常時検出手段」（０５０６）は、ＬＥＤ発光構造体が駆動中には、常時温度の検出を行うように制御する。具体的には、温度検出部がＬＥＤ発光構造体の温度を常時検出する。これにより、ＬＥＤ発光構造体の温度をリアルタイムに把握することが可能となる。したがって、ＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を超えた場合に制御部が供給電流を減らす動作を素早く行うことが可能となる。
【００４０】
<ハードウェア的構成>
【００４１】
図６は、本実施例のＬＥＤシステムにおけるハードウェア構成の一例を表す概念図である。この図を利用して、本実施例のＬＥＤシステムにおけるそれぞれのハードウェア構成部の働きについて説明する。
【００４２】
この図にあるように、本実施例の「ＬＥＤシステム」（０６０１）は、電源部、電流制御回路、ＬＥＤなどで構成される「ＬＥＤ発光構造体」（０６０２）と、「ＬＥＤ発光構造体」（０６０２）の温度を検出するための独立した「センサ」（０６０３）と、「センサ」（０６０３）が検出する「ＬＥＤ発光構造体」（０６０２）の温度に応じてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する「温度フィードバック回路」（０６０４）などを備えている。また、「温度フィードバック回路」（０６０４）は、「基準温度情報」を記憶するメモリ領域を備えるとともに、「温度制御プログラム」（０６０５）などの各種プログラムが記憶されたチップ若しくはそれと同等の動作を行う回路が備えられている。
【００４３】
ここで、「ＬＥＤ発光構造体」（０６０２）は、外部より電流の供給をうけ、ＬＥＤを発光させている状態であると仮定する。そして、この状態で「センサ」（０６０３）が、「ＬＥＤ発光構造体」（０６０２）の温度を検出したとする。温度を検出すると「センサ」（０６０３）は、検出した温度情報を「温度フィードバック回路」（０６０４）に送信する。
【００４４】
「温度フィードバック回路」（０６０４）は、温度情報を受けると、「温度フィードバック回路」（０６０４）のメモリ領域に展開されている「温度制御プログラム」（０６０５）に引き渡す。「温度制御プログラム」（０６０５）は、温度情報を受け取ると、「温度フィードバック回路」（０６０４）のメモリ領域に記憶されている「基準温度情報」の取得行う。「基準温度情報」を取得すると、「温度制御プログラム」（０６０５）は、センサから受け取った温度情報の値と、メモリ領域から取得した「基準温度情報」を比較する。
【００４５】
「温度制御プログラム」（０６０５）による比較の結果、センサから受け取った温度情報の値が、「基準温度情報」の値を下回る場合には、本処理を終了する。比較の結果、センサから受け取った温度情報の値が「基準温度情報」の値を上回る場合には、「ＬＥＤ発光構造体」（０６０２）に供給する電流値を下げる処理（動作）を行う。
【００４６】
このように、本実施例のＬＥＤシステムは、センサを利用してＬＥＤ発光構造体の温度をその都度計測し、計測した温度が基準温度を上回る場合には、ＬＥＤ発光構造体に供給する電流値を下げるというサイクルを繰り返す。
【００４７】
なお、本実施例のＬＥＤシステムにおける「センサ」（０６０３）は、「ＬＥＤ発光構造体」（０６０２）の温度を任意のタイミングで検出する構成であってもよいし、リアルタイムで温度検出を行う構成であってもよい。
【００４８】
また、ここでは本実施例のＬＥＤシステムにおける「センサ」（０６０３）は、「ＬＥＤ発光構造体」（０６０２）自身の温度を検出する構成について説明したが、「センサ」（０６０３）は、ドライバ回路付近に備えられ、ドライバ回路付近の温度を主に検出するように構成されていてもよい。
【００４９】
<処理の流れ>
【００５０】
図７は、本実施例のＬＥＤシステムにおけるＬＥＤ発光構造体の温度を検出してからＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御するまでの流れの一例を表すフローチャートである。
【００５１】
ここで、センサがＬＥＤ発光構造体の温度を検出したとする（Ｓ０７０１）。温度を検出すると、基準温度を取得する（Ｓ０７０２）。基準温度を取得すると、検出した温度が基準温度を超えているかを判定する（Ｓ０７０３）。判定の結果、越えていない場合には次の温度検出が行われるまで待機する（Ｓ０７０１に戻る）。判定の結果、越えている場合には、温度制御に基づいてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する（Ｓ０７０４）。
【００５２】
<効果の簡単な説明>
【００５３】
本実施例のＬＥＤシステムによって、ＬＥＤ発光構造体の温度が一定値以上になることで、ＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する（低下させる）ことで、ＬＥＤ発光構造体の温度が一定値以上を超えないように制御することが可能となる。
【００５４】
≪実施例２≫
【００５５】
<概要>
本実施例のＬＥＤシステムは実施例１のＬＥＤシステムを基本として、ＬＥＤが経時劣化により生じる輝度の劣化を補償するために、ＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する輝度制御を行うとともに、補償するための制御などによって、ＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を超えた場合には、輝度制御に対して温度制御を優先的に行う機能を備えたＬＥＤシステムである。
【００５６】
<機能的構成>
【００５７】
図８は、本実施例のＬＥＤシステムにおける機能的構成の一例を示した図である。本実施例のＬＥＤシステムは、実施例１のＬＥＤシステムを基本として「制御部」（０８０４）が、「自動調光手段」（０８０７）と、「制御調整手段」（０８０８）とを備えている。
【００５８】
なお、本実施例では先の実施例にて説明した構成について詳細な説明は省略し、本実施例において特徴的な箇所についてのみ説明する。
【００５９】
「自動調光手段」（０８０７）は、ＬＥＤの経時劣化により生じる輝度の劣化を補償するためにＬＥＤ発光構造体に対して供給される電流を制御する機能を有する。具体的には、ＬＥＤ発光構造体が備える（に接続された）ＬＥＤ自身の経時劣化により生じる輝度の劣化を補償するために、ＬＥＤ発光構造体に対して供給する電流を増加させる制御（自動調光制御）を行う。
【００６０】
本手段（自動調光制御）によって、輝度の劣化後も劣化以前の輝度を保つことが可能となる。しかしながら、本制御では、供給する電流を増加することで輝度の劣化を補償するため、ＬＥＤ発光構造体が放出する熱量は増加することになる。そこで、基準温度を上回った場合に、後に詳述する「制御調整手段」（０８０８）によって、「自動調光手段」（自動調光制御）より「温度制御手段」（温度制御）を優先的に機能させることでＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を上回らないように制御を行う。この場合の処理の具体的内容としては、温度がある一定値を超えた場合には自動調光手段を機能停止するという手段もある。しかし、室温などの変化に伴い、ないしは、部屋の風通しなどの変化に伴い温度がその後低下傾向をたどる場合がある。その場合には、もはや基準温度を超過しない状態となるので、再び自動調光手段の機能を稼動するほうが視聴者にとってはありがたいはずである。そこで、自動調光手段は機能停止にせずに、制御の優先順位を温度制御手段の次に設定することで、ダイナミックに変動する可能性がある温度に対してもダイナミックに対応可能な装置とすることができる。
【００６１】
「制御調整手段」（０８０８）は、自動調光手段による電流の増加制御により温度検出部にて検出される温度が基準温度を上回る場合には温度制御手段による電流の制御を優先するように処理する機能を有する。具体的には、前記「自動調光手段」がＬＥＤ発光構造体への供給電流を制御している状態において、温度検出部が検出したＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を上回った場合に、前記「温度制御手段」による制御を優先的に行うように制御する。このように「制御調整手段」によって適切に制御の優先順位を設定することによってＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を上回らないように制御する。
【００６２】
図９は、実際に本実施例の制御調整手段が、温度検出部で検出された温度が基準温度を上回る場合に自動調光手段から温度制御手段に制御を切換えるためのプログラムの一例を示したものである。なお、本図に記載のプログラムは重要な処理を簡易的に示したものであり、実際にはコーディングを行う際に使用する言語やプログラマの書き方によって異なる。また、基板（回路）として実現されていても何ら問題ない。以下に本図に記載のプログラム例について説明する。
【００６３】
まず、制御調整手段が、温度検出部においてＬＥＤ発光構造体の温度を検出したことを検知したとする（図９Line30）。検知すると、検出した温度の取得を行う（図９Line60）。次に、基準温度の取得を行う（図９Line90）。そして、検出した温度と基準温度の比較を行う（図９Line110）。比較の結果、検出した温度が基準温度を上回っている場合、温度制御手段による制御を優先し、ＬＥＤ発光構造体に供給する電流を減らす処理を行う（図９Line120、130）。検出した温度が基準温度を下回っている場合には何も行わず（自動調光手段による制御を維持する）に次の検知を待つ（図９Line160）。
【００６４】
<ハードウェア的構成>
【００６５】
図１０は、本実施例のＬＥＤシステムのハードウェア構成の一例を示したものである。この図を利用して、本実施例のＬＥＤシステムにおけるそれぞれのハードウェア構成部の働きについて説明する。
【００６６】
この図にあるように、本実施例の「ＬＥＤシステム」（１００１）は、電源部、電流制御回路、ＬＥＤなどで構成される「ＬＥＤ発光構造体」（１００２）と、「ＬＥＤ発光構造体」（１００２）の温度を検出するための独立した「センサ」（１００３）と、「センサ」（１００３）が検出する「ＬＥＤ発光構造体」（１００２）の温度に応じてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する「温度フィードバック回路」（１００４）などをそなえている。また、「温度フィードバック回路」（１００４）は、「基準温度」を記憶する領域を備えるとともに、「温度制御プログラム」（１００５）や、「自動調光プログラム」（１００６）、「制御調整プログラム」（１００７）などの各種プログラムが記憶されたチップ若しくはそれと同等の動作を行う回路が備えられている。
【００６７】
ここで、「ＬＥＤ発光構造体」（１００２）は、「温度フィードバック回路」（１００４）のメモリ領域に展開されている「自動調光プログラム」（１００６）に基づいて制御されている電流の供給を受けて、ＬＥＤを発光させている状態であると仮定する。この状態で「センサ」（１００３）が、「ＬＥＤ発光構造体」（１００２）の温度を検出したとする。すると「センサ」（１００３）は、温度を検出すると検出した温度情報を「温度フィードバック回路」（１００４）に送信する。
【００６８】
「温度フィードバック回路」（１００４）は、温度情報を受けると、「温度フィードバック回路」（１００４）のメモリ領域に展開されている「制御調整プログラム」（１００７）に引き渡す。「制御調整プログラム」（１００７）は、温度情報を受け取ると、「温度フィードバック回路」（１００４）のメモリ領域に記憶されている「基準温度情報」の取得行う。「基準温度情報」を取得すると、「制御調整プログラム」（１００７）は、センサから受け取った温度情報の値と、メモリ領域から取得した「基準温度情報」を比較する。
【００６９】
「制御調整プログラム」（１００７）による比較の結果、センサから受け取った温度情報の値が、「基準温度情報」の値を下回る場合には、「自動調光プログラム」（１００６）による輝度の劣化を補償する制御をそのまま維持する。そして、センサから受け取った温度情報の値が「基準温度情報」の値を上回る場合には、「自動調光プログラム」（１００６）による制御から「温度制御プログラム」（１００５）による制御を優先させ、「ＬＥＤ発光構造体」（１００２）に供給する電流値を下げる処理（動作）を行う。
【００７０】
<処理の流れ>
【００７１】
図１１は、本実施例のＬＥＤシステムにおいて輝度の劣化を補償するためにＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御（自動調光制御）するとともに、補償するための制御によって、ＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を超えた場合には、基準温度に下げるための制御（温度制御）を行うまでの流れの一例を表すフローチャートである。
【００７２】
ここで、本実施例のＬＥＤ発光構造体が自動調光制御に基づいて供給する電流が制御されているとする（Ｓ１１０５）。この状態で、センサがＬＥＤ発光構造体の温度を検出したとする（Ｓ１１０１）。温度を検出したことを検知すると基準温度の取得を行う（Ｓ１１０２）。基準温度を取得すると、検出した温度が基準温度を超えているかを判定する（Ｓ１１０３）。判定の結果、越えていない場合には自動調光制御による制御を行う（維持する）（Ｓ１１０６）。越えている場合には、温度制御を優先させてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する（Ｓ１１０４）。
【００７３】
<効果の簡単な説明>
【００７４】
本実施例のＬＥＤシステムによって、輝度制御を行うことでＬＥＤの経年劣化による輝度劣化を補償することが可能となるとともに、ＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を超える場合には温度制御に切換えることで輝度の低下が起きたとしても基準温度を上回らないように制御することが可能となる。具体的には以下のような制御を行うことが可能となる。
【００７５】
図１２は、本実施例の構成を採ることによって行うことができる制御を説明するための図である。図１２（ａ）は、起動時からのＬＥＤ発光構造体の状態（温度、供給電流値、ＬＥＤの経年劣化後（９５％）の輝度、ＬＥＤの経年劣化前の輝度）を各段階で示す表であり、図１２（ｂ）は、図１２（ａ）の内容をグラフにしたものである。なお、本例では基準温度は８０℃に設定されているものとする。
【００７６】
ここで、ＬＥＤに対して自動調光制御によって制御される電流が供給され、ＬＥＤが発光したとする（フェーズ１：初期、温度：４０℃、供給電流：２０ｍＡ、輝度：６３．６５（ＬＥＤ経年劣化後））。ＬＥＤが発光すると熱が放出され時間が経過するにしたがって環境温度が上昇する。すると、ＬＥＤが環境温度によって輝度の低下が起きる飽和温度に達する（フェーズ２：温度飽和、温度：７０℃、供給電流：２０ｍＡ、輝度：５７（ＬＥＤ経年劣化後））。環境温度が飽和温度に達することで輝度の低下が起きると低下した輝度を補償するためにＬＥＤ発光構造体に供給する電流を増加させて輝度の補償を行う（フェーズ３：光度調整後、温度：１０５℃、供給電流：７０ｍＡ、輝度：６７（ＬＥＤ経年劣化後））。すると、ＬＥＤ発光構造体の温度が、基準温度（８０℃）を超えることとなる。
【００７７】
ＬＥＤ発光構造体の温度が、基準温度を超えると温度制御による制御を優先させ、ＬＥＤ発光構造体の温度を基準温度に下がるように供給する電流を下げる動作をする（フェーズ４：温度フィードバック後、温度：８０℃、供給電流：３０ｍＡ、輝度：５９．８５）。
【００７８】
このように、本構成によって輝度の低下を防ぐために供給する電流値を増やした結果、基準温度を超えてしまった場合に、輝度の維持よりもＬＥＤ発光構造体の温度を低下させることを優先に制御を行う。これにより、視聴者に対して輝度の低下による多少の不都合が起きたとしても、それ以上に過度の温度上昇によって発生する故障等を防ぐことが可能となる。
【００７９】
≪実施例３≫
【００８０】
<概要>
本実施例のＬＥＤシステムは実施例１または実施例２のＬＥＤシステムを基本として、ＬＥＤ発光構造体に供給する電流の低下幅をあらかじめ定めた情報を保持し、この情報に基づいて供給する電流を制御する機能を備えたＬＥＤシステムである。本実施例では、実施例１のＬＥＤシステムを基本とした本実施例のＬＥＤシステムについて説明する。
【００８１】
<機能的構成>
【００８２】
図１３は、本実施例のＬＥＤシステムにおける機能的構成の一例を示した図である。本実施例のＬＥＤシステムは、実施例１のＬＥＤシステムを基本として「制御部」（１３０４）が、「低下幅ルール保持手段」（１３０９）を備えている。
【００８３】
なお、本実施例では先の実施例にて説明した構成について詳細な説明は省略し、本実施例において特徴的な箇所についてのみ説明する。
【００８４】
「低下幅ルール保持手段」（１３０９）は、温度制御手段が、検出されたＬＥＤ発光構造体の温度を下方制御するために供給する電流を低下させる場合に利用する、一度に電流を低下させる幅をあらかじめ定めた低下幅ルールを保持する。具体的には、ＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を超えた場合に、低下させるべき電流値の幅や、関数などの一定の規則を定めた情報を保持する。これにより、制御部は、「低下幅ルール保持手段」に保持されている低下幅ルールを参照し、低下幅ルールに従って供給する電流値を特定する。
【００８５】
ここで「低下幅ルール」とは、一度に電流を低下させる幅や、低下幅等を示す関数など、あらかじめ定められたルールである。低下幅ルールは、例えば図１４（ａ）に示すように、あらかじめ制御が開始された時間からの経過時間に応じて段階的に供給する電流を段階的に下げることを示すテーブルであってもよいし、図１４（ｂ）に示すように間隔と低下幅を関連付けたデータであってもよい。さらには、図１４（ｃ）に示すように経過時間と低下幅の関係を示す関数であってもよい。なお、本例では３種類のルールを挙げたが、実際にはそれだけには限定されない。
【００８６】
<ハードウェア的構成>
【００８７】
図１５は、本実施例のＬＥＤシステムのハードウェア構成の一例を示したものである。この図を利用して、本実施例のＬＥＤシステムにおけるそれぞれのハードウェア構成部の働きについて説明する。
【００８８】
この図にあるように、本実施例の「ＬＥＤシステム」（１５０１）は、電源部、電流制御回路、ＬＥＤなどで構成される「ＬＥＤ発光構造体」（１５０２）と、「ＬＥＤ発光構造体」（１５０２）の温度を検出するための独立した「センサ」（１５０３）と、「センサ」（１５０３）が検出する「ＬＥＤ発光構造体」（１５０２）の温度に応じてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する「温度フィードバック回路」（１５０４）などを備えている。また、「温度フィードバック回路」（１５０４）は、「基準温度」や、供給する電流を低下させる場合に、その低下幅等をあらかじめ定めたルールである「低下幅ルール」を記憶する領域を備えるとともに、「温度制御プログラム」（１５０５）などの各種プログラムが記憶されたチップ若しくはそれと同等の動作を行う回路が備えられている。
【００８９】
ここで、「ＬＥＤ発光構造体」（１５０２）は、外部より電流の供給をうけ、ＬＥＤを発光させている状態であると仮定する。そして、この状態で「センサ」（１５０３）が、「ＬＥＤ発光構造体」（１５０２）の温度を検出したとする。すると「センサ」（１５０３）は、検出した温度情報を「温度フィードバック回路」（１５０４）に送信する。
【００９０】
「温度フィードバック回路」（１５０４）は、温度情報を受けると、「温度フィードバック回路」（１５０４）のメモリ領域に展開されている「温度制御プログラム」（１５０５）に引き渡す。「温度制御プログラム」（１５０５）は、温度情報を受け取ると、「温度フィードバック回路」（１５０４）のメモリ領域に記憶されている「基準温度情報」の取得行う。「基準温度情報」を取得すると、「温度制御プログラム」（１５０５）は、センサから受け取った温度情報の値と、メモリ領域から取得した「基準温度情報」を比較する。
【００９１】
「温度制御プログラム」（１５０５）は、比較の結果、センサから受け取った温度情報の値が、「基準温度情報」の値を下回る場合には、本処理を終了する。比較の結果、センサから受け取った温度情報の値が「基準温度情報」の値を上回る場合には、「温度フィードバック回路」（１５０４）のメモリ領域に記憶されている「低下幅ルール」を取得する。
【００９２】
「温度制御プログラム」（１５０５）は、「低下幅ルール」を取得すると、取得した「低下幅ルール」に基づいて「ＬＥＤ発光構造体」（１５０２）に供給する電流値を制御する処理（動作）を行う。
【００９３】
<処理の流れ>
【００９４】
図１６は、本実施例のＬＥＤシステムにおけるＬＥＤ発光構造体の温度を検出してから低下幅ルールを取得し、取得した低下幅ルールに基づいてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御するまでの流れの一例を表すフローチャートである。
【００９５】
ここで、センサがＬＥＤ発光構造体の温度を検出したとする（Ｓ１６０１）。温度を検出すると、基準温度を取得する（Ｓ１６０２）。基準温度を取得すると、検出した温度が基準温度を超えているかを判定する（Ｓ１６０３）。判定の結果、越えていない場合には次の温度検出が行われるまで待機する（Ｓ１６０１に戻る）。判定の結果、越えている場合には、低下幅ルールの取得を行う（Ｓ１６０７）。低下幅ルールの取得を行うと、取得した低下幅ルールに基づいてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する（Ｓ１６０８）。
【００９６】
<効果の簡単な説明>
【００９７】
本実施例のＬＥＤシステムによってＬＥＤ発光構造体に供給する電流の低下幅をあらかじめ定めた情報を保持し、ＬＥＤ発光構造体の温度が基準温度を上回る場合に、この情報に基づいて供給する電流を制御することが可能となる。
【００９８】
つまり、本実施例の低下幅ルールを利用することで、例えば図１２における温度を下げる場合（フェーズ４）に、段階的に電流値を下げることが可能となる。これにより、急激な輝度の低下を防ぎつつ、温度を基準温度に下げることができる。
【００９９】
≪実施例４≫
【０１００】
<概要>
本実施例のＬＥＤシステムは、実施例１から３のいずれか一を基本として、制御部での制御履歴の全部または一部を記録・保持し、制御履歴に応じて基準温度を変更可能な機能を備えるＬＥＤシステムである。本実施例では、実施例１を基本としたＬＥＤシステムについて説明する。
【０１０１】
<機能的構成>
【０１０２】
図１７は、本実施例のＬＥＤシステムにおける機能的構成の一例を示したものである。本実施例のＬＥＤシステムは、実施例１のＬＥＤシステムを基本として「制御履歴保持部」（１７１０）と、「基準温度変更部」（１７１１）を備えている。
【０１０３】
なお、本実施例では先の実施例にて説明した構成について詳細な説明は省略し、本実施例において特徴的な箇所についてのみ説明する。
【０１０４】
「制御履歴保持部」（１７１０）は、制御部での制御履歴の全部または一部である制御履歴を保持する。具体的には、供給される電流の制御値、制御方法の切換、制御部が供給する電流を低下させるために選択した低下幅ルールなどである。なお、制御履歴は先に挙げた例に限定されず、制御部がおこなった制御内容のすべてが保持対象となりうる。
【０１０５】
図１８は、実際に制御履歴保持部が保持する制御履歴の一例を示したものである。本例では、保持するデータをＸＭＬとして記載したものである。本データは、「制御履歴」に対して「番号」、「時間」、「内容」が関連付けられたデータとなっている。例えば、図１８（ａ）は、電流値の制御がおこわなれたことを示す（電流値を６０ｍＡに変更した）制御履歴の一例を示しており、図１８（ｂ）は、制御方法の切換行われたことを示す（制御が温度制御に切換えられた）制御履歴の一例を示しており、図１８（ｃ）は、低下幅ルールが選択された（１０秒ごとに１０ｍＡ低下させるルールを選択した）ことを示す制御履歴の一例を示している。
【０１０６】
「基準温度変更部」（１７１１）は、制御履歴保持部に保持されている制御履歴に応じて保持されている基準温度を変更する。具体的には、前記制御履歴保持部で保持される制御履歴を解析し、解析結果に応じて基準温度の変更を行う。
【０１０７】
基準温度の変更が行われる一例として、例えば前記自動調光手段がＬＥＤの経時劣化によって発生する輝度の劣化を補償するために増加させた場合に、この増加させた分の電流が発生させる熱によって上昇する温度を補正するために基準温度を上げるなどである。具体的には、電流の増加量に伴う発熱を考慮して８０℃から８５℃に基準温度を上げるという具合である。さらには、基準温度を超えることで供給する電流を低下させる動作を規定回数行った場合に、基準温度を上げることも考えられる。
【０１０８】
<ハードウェア的構成>
【０１０９】
図１９は、本実施例のＬＥＤシステムのハードウェア構成の一例を示したものである。この図を利用して、本実施例のＬＥＤシステムにおけるそれぞれのハードウェア構成部の働きについて説明する。
【０１１０】
この図にあるように、本実施例の「ＬＥＤシステム」（１９０１）は、電源部、電流制御回路、ＬＥＤなどで構成される「ＬＥＤ発光構造体」（１９０２）と、「ＬＥＤ発光構造体」（１９０２）の温度を検出するための独立した「センサ」（１９０３）と、「センサ」（１９０３）が検出する「ＬＥＤ発光構造体」（１９０２）の温度に応じてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する「温度フィードバック回路」（１９０４）などをそなえている。また、「温度フィードバック回路」（１９０４）は、「基準温度」や「制御履歴情報」を記憶する領域を備えるとともに、「温度制御プログラム」（１９０５）や、「基準温度変更プログラム」（１９０９）などの各種プログラムが記憶されたチップ若しくはそれと同等の動作を行う回路が備えられている。
【０１１１】
ここで、「温度フィードバック回路」（１９０４）のメモリ領域に展開されている「温度制御プログラム」（１９０５）が、「ＬＥＤ発光構造体」（１９０２）に供給する電流を低下させるなど、「温度フィードバック回路」（１９０４）が何らかの制御（動作）を行ったとする。
【０１１２】
「温度フィードバック回路」（１９０４）は、制御（動作）を行うと「温度フィードバック回路」（１９０４）に備えられたメモリ領域に記憶されている「制御履歴情報」に制御（動作）の内容を記録（追記）する。
【０１１３】
「制御履歴情報」に、制御（動作）の内容が記録（追記）されたことを検知すると、「温度フィードバック回路」（１９０４）のメモリ領域に展開されている「基準温度変更プログラム」（１９０９）の呼び出しを行う。
【０１１４】
呼び出された「基準温度変更プログラム」（１９０９）は、「制御履歴情報」を参照し、取得した履歴の内容（例えば、基準温度を一定回数超えた場合など）に応じて「基準温度情報」の変更を行う（例えば、基準温度８０℃から８５℃に変更する）。
【０１１５】
<処理の流れ>
【０１１６】
図２０は、本実施例のＬＥＤシステムにおける制御部での制御履歴の全部または一部を記録・保持し、制御履歴に応じて基準温度の変更を行うまでの流れの一例を表すフローチャートである。
【０１１７】
ここで、センサがＬＥＤ発光構造体の温度を検出し、検出した基準温度を超えたため温度制御が行われたとする（Ｓ２００１、Ｓ２００２、Ｓ２００３、Ｓ２００４）。温度制御が行われると、制御が行われた履歴を制御履歴に書き込む（Ｓ２００９）。制御履歴に書き込みを行うと、制御履歴を参照したうえで制御履歴の内容に基づいて基準温度の変更を行う（Ｓ２０１０）。
【０１１８】
<効果の簡単な説明>
【０１１９】
本実施例のＬＥＤシステムによって、制御部が行った制御履歴の内容に基づいて低基準温度を変更することが可能となる。
【０１２０】
≪実施例５≫
【０１２１】
<概要>
本実施例のＬＥＤシステムは、実施例３と実施例３を基本とする実施例４のいずれか一を基本として、保持されている低下幅ルールを制御履歴に応じて変更する機能を備えるＬＥＤシステムである。本実施例では、実施例３を基本としたＬＥＤシステムについて説明する。
<機能的構成>
【０１２２】
図２１は、本実施例のＬＥＤシステムにおける機能的構成の一例を示したものである。本実施例のＬＥＤシステムは、実施例３のＬＥＤシステムを基本として「制御履歴保持部」（２１０９）と、「低下幅ルール変更部」（２１１２）を備えている。
【０１２３】
なお、本実施例では先の実施例にて説明した構成について詳細な説明は省略し、本実施例において特徴的な箇所についてのみ説明する。
【０１２４】
「制御履歴保持部」（２１０９）は、制御部での制御履歴の全部または一部である制御履歴を保持する。具体的には、供給される電流の制御値、制御方法の切換、制御部が供給する電流を低下させるために選択した低下幅ルールなどである。なお、制御履歴は先に挙げた例に限定されず、制御部がおこなった制御内容のすべてが保持対象となりうる。
【０１２５】
「低下幅ルール変更部」（２１１２）は、制御履歴保持部に保持されている制御履歴に応じて低下幅ルール保持手段に保持されている低下幅ルールを変更する機能を有する。具体的には、前記制御履歴保持部で保持される制御履歴を解析し、解析結果に応じて低下幅ルールの変更を行う。
【０１２６】
低下幅ルールの変更が行われる一例として、例えば基準温度を規定回数超えた場合に低下幅をより増やしたルールに変更するなどである。具体的には、図１４（ａ）に示す低下幅ルールであれば、供給電流を１０ｍＡ減少させるなどが考えられる（１０秒：８０ｍＡ、２０秒：７０ｍＡ、３０秒：６０ｍＡ、４０秒：５０ｍＡ、５０秒：４０ｍＡに変更する）。また、図１４（ｂ）に示す低下幅ルールであれば、低下幅を１５ｍＡに変更するなどが考えられる。さらに図１４（ｃ）に示す低下幅ルールであれば、関数の傾きを変えることや（ｙ＝２．５ｘに変更する）、切片を加える（ｙ＝２ｘ＋２に変更する）などが考えられる。
【０１２７】
<ハードウェア構成>
【０１２８】
図２２は、本実施例のＬＥＤシステムのハードウェア構成の一例を示したものである。この図を利用して、本実施例のＬＥＤシステムにおけるそれぞれのハードウェア構成部の働きについて説明する。
【０１２９】
この図にあるように、本実施例の「ＬＥＤシステム」（２２０１）は、電源部、電流制御回路、ＬＥＤなどで構成される「ＬＥＤ発光構造体」（２２０２）と、「ＬＥＤ発光構造体」（２２０２）の温度を検出するための独立した「センサ」（２２０３）と、「センサ」（２２０３）が検出する「ＬＥＤ発光構造体」（２２０２）の温度に応じてＬＥＤ発光構造体に供給する電流を制御する「温度フィードバック回路」（２２０４）などを備えている。また、「温度フィードバック回路」（２２０４）は、「基準温度」や「制御履歴情報」、「低下幅ルール」を記憶する領域を備えるとともに、「温度制御プログラム」（２２０５）や、「低下幅ルール変更プログラム」（２２１０）などの各種プログラムが記憶されたチップ若しくはそれと同等の動作を行う回路が備えられている。
【０１３０】
ここで、「温度フィードバック回路」（２２０４）のメモリ領域に展開されている「温度制御プログラム」（２２０５）が、「低下幅ルール」を利用して「ＬＥＤ発光構造体」（２２０２）に供給する電流を低下させるなど、「温度フィードバック回路」（２２０４）が何らかの制御（動作）を行ったとする。
【０１３１】
「温度フィードバック回路」（２２０４）は、制御（動作）を行うと「温度フィードバック回路」（２２０４）に備えられたメモリ領域に記憶されている「制御履歴情報」に制御（動作）の内容を記録（追記）する。
【０１３２】
「制御履歴情報」に、制御（動作）の内容が記録（追記）されたことを検知すると、「温度フィードバック回路」（２２０４）のメモリ領域に展開されている「低下幅ルール変更プログラム」（２２１０）の呼び出しを行う。
【０１３３】
呼び出された「低下幅ルール変更プログラム」（２２１０）は、「制御履歴情報」を参照し、取得した履歴の内容（例えば、基準温度を一定回数超えた場合など）に応じて「基準温度情報」の変更を行う（例えば、図１４（ａ）に示す低下幅ルールであれば、供給電流を１０ｍＡ減少させるなどが考えられる（１０秒：８０ｍＡ、２０秒：７０ｍＡ、３０秒：６０ｍＡ、４０秒：５０ｍＡ、５０：４０ｍＡ）。また、図１４（ｂ）に示す低下幅ルールであれば、低下幅を１５ｍＡに変更するなどが考えられる。さらに図１４（ｃ）に示す低下幅ルールであれば、関数の傾きを変えることや（ｙ＝２．５ｘに変更する）、切片を加える（ｙ＝２ｘ＋２に変更する））。
【０１３４】
<処理の流れ>
【０１３５】
図２３は、本実施例のＬＥＤシステムが低下幅ルールを利用して供給する電流の制御を行う場合に、低下幅ルールを制御履歴に応じて低下幅ルールを変更するまでの流れの一例を表すフローチャートである。
【０１３６】
ここで、センサがＬＥＤ発光構造体の温度を検出し、検出した基準温度を超えたため、低下幅ルールを取得し低下幅ルールに基づいて制御が行われたとする（Ｓ２３０１、Ｓ２３０２、Ｓ２３０３、Ｓ２３０７、Ｓ２３０８）。低下幅ルールに基づいて制御が行われると、制御が行われた履歴を制御履歴に書き込む（Ｓ２３０９）。制御履歴を参照したうえで制御履歴の内容に基づいて低下幅ルールの変更を行う（Ｓ２３１１）。
【０１３７】
<効果の簡単な説明>
【０１３８】
本実施例のＬＥＤシステムによって、制御部が行った制御履歴の内容に基づいて低下幅ルールを変更することが可能となる。
【符号の説明】
【０１３９】
０３０１  ＬＥＤシステム
０３０２  ＬＥＤ発光構造体
０３０３  温度検出部
０３０４  制御部
０３０５  温度制御手段
０５０６  常時検出手段
０８０７  自動調光手段
０８０８  制御調整手段
１３０９  低下幅ルール保持手段
１７１０  制御履歴保持部
１７１１  基準温度変更部
２１１２  低下幅ルール変更部
【図１】
2011114249.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
2011114249.tif 000019
【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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