(57)【要約】【課題】検証済みの基準回路と被検証回路とに修正が加えられた場合に、回路全体を検証しつつ、設計時間の短縮化及び効率化を図り得る、検証装置、検証方法、及びプログラムを提供する。【解決手段】検証装置１０は、基準回路での論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前後の基準回路における論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、基準回路側ポイント抽出部２０と、被検証回路での論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前後の被検証回路における論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、被検証回路側ポイント抽出部３０と、基準回路側ポイント抽出部２０及び被検証回路側ポイント抽出部３０が抽出したポイントを用いて、検証スクリプト４１を生成する検証スクリプト生成部４０とを備えている。【選択図】図１
2011008620.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体設計工程において、基準回路と、前記基準回路から作成された被検証回路とに対して論理変更が実施された場合に、前記被検証回路を検証するための検証装置であって、
前記基準回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記基準回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、基準回路側ポイント抽出部と、
前記被検証回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記被検証回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、被検証回路側ポイント抽出部と、
前記基準回路側ポイント抽出部によって抽出されたポイントと、前記被検証回路側ポイント抽出部によって抽出されたポイントとを用いて、前記被検証回路を検証する検証スクリプトを生成する、検証スクリプト生成部とを、
備えていることを特徴とする検証装置。
【請求項２】
前記基準回路側ポイント抽出部が、
前記基準回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報として、
前記基準回路における前記論理変更によって変更された信号、前記基準回路から前記論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号、及び前記基準回路に前記論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号を特定する情報を取得し、
前記被検証回路側ポイント抽出部が、
前記被検証回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報として、
前記被検証回路における前記論理変更によって変更された信号、前記被検証回路から前記論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号、及び前記被検証回路に前記論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号を特定する情報を取得する、請求項１に記載の検証装置。
【請求項３】
前記基準回路側ポイント抽出部が、それが取得した情報によって特定される前記信号それぞれの経路に存在するレジスタ又は外部出力端子を特定し、
特定した前記レジスタ、又は特定した前記外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても前記基準回路に存在することを条件として、前記基準回路における前記ポイントとして抽出し、
前記被検証回路側ポイント抽出部が、それが取得した情報によって特定される前記信号それぞれの経路に存在するレジスタ又は外部出力端子を特定し、
特定した前記レジスタ、又は特定した前記外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても前記被検証回路に存在することを条件として、前記被検証回路における前記ポイントとして抽出する、請求項２に記載の検証装置。
【請求項４】
前記検証スクリプト生成部が、
前記基準回路に含まれるレジスタ及び外部出力端子と前記被検証回路に含まれるレジスタ及び外部出力端子との対応関係に基づいて、前記基準回路における前記ポイントと、前記被検証回路における前記ポイントとを対比し、
対比の結果、前記基準回路又は前記被検証回路における前記ポイントが、他方の回路における前記ポイントに対応していない場合は、対応するレジスタ又は外部出力端子を、他方の回路における前記ポイントとして追加し、
そして、前記基準回路における前記ポイントと、これに対応する前記被検証回路における前記ポイントとの等価性を評価する、前記検証スクリプトを生成する、請求項３に記載の検証装置。
【請求項５】
基準回路が、ハードウェア記述言語によって記述されたレジスタトランスファレベルで
の論理回路であり、被検証回路がネットリストである、請求項１〜４のいずれかに記載の検証装置。
【請求項６】
半導体設計工程において、基準回路と、前記基準回路から作成された被検証回路とに対して論理変更が実施された場合に、前記被検証回路を検証するための方法であって、
（ａ）前記基準回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記基準回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、ステップと、
（ｂ）前記被検証回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記被検証回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、ステップと、
（ｃ）前記（ａ）のステップによって抽出されたポイントと、前記（ｂ）のステップによって抽出されたポイントとを用いて、前記被検証回路を検証する検証スクリプトを生成する、ステップとを、有することを特徴とする検証方法。
【請求項７】
前記（ａ）のステップにおいて、
前記基準回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報として、
前記基準回路における前記論理変更によって変更された信号、前記基準回路から前記論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号、及び前記基準回路に前記論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号を特定する情報を取得し、
前記（ｂ）のステップにおいて、
前記被検証回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報として、
前記被検証回路における前記論理変更によって変更された信号、前記被検証回路から前記論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号、及び前記被検証回路に前記論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号を特定する情報を取得する、請求項６に記載の検証方法。
【請求項８】
前記（ａ）のステップにおいて、当該ステップで取得した情報によって特定される前記信号それぞれの経路に存在するレジスタ又は外部出力端子を特定し、
特定した前記レジスタ、又は特定した前記外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても前記基準回路に存在することを条件として、前記基準回路における前記ポイントとして抽出し、
前記（ｂ）のステップにおいて、当該ステップで取得した情報によって特定される前記信号それぞれの経路に存在するレジスタ又は外部出力端子を特定し、
特定した前記レジスタ、又は特定した前記外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても前記被検証回路に存在することを条件として、前記被検証回路における前記ポイントとして抽出する、請求項７に記載の検証方法。
【請求項９】
前記（ｃ）のステップにおいて、
前記基準回路に含まれるレジスタ及び外部出力端子と前記被検証回路に含まれるレジスタ及び外部出力端子との対応関係に基づいて、前記基準回路における前記ポイントと、前記被検証回路における前記ポイントとを対比し、
対比の結果、前記基準回路又は前記被検証回路における前記ポイントが、他方の回路における前記ポイントに対応していない場合は、対応するレジスタ又は外部出力端子を、他方の回路における前記ポイントとして追加し、
そして、前記基準回路における前記ポイントと、これに対応する前記被検証回路における前記ポイントとの等価性を評価する、前記検証スクリプトを生成する、請求項８に記載の検証方法。
【請求項１０】
基準回路が、ハードウェア記述言語によって記述されたレジスタトランスファレベルで
の論理回路であり、被検証回路がネットリストである、請求項６〜９のいずれかに記載の検証方法。
【請求項１１】
半導体設計工程において、基準回路と、前記基準回路から作成された被検証回路とに対して論理変更が実施された場合に、コンピュータによって、前記被検証回路を検証するためのプログラムであって、
前記コンピュータに、
（ａ）前記基準回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記基準回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、ステップと、
（ｂ）前記被検証回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記被検証回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、ステップと、
（ｃ）前記（ａ）のステップによって抽出されたポイントと、前記（ｂ）のステップによって抽出されたポイントとを用いて、前記被検証回路を検証する検証スクリプトを生成する、ステップとを、実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１２】
前記（ａ）のステップにおいて、
前記基準回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報として、
前記基準回路における前記論理変更によって変更された信号、前記基準回路から前記論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号、及び前記基準回路に前記論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号を特定する情報を取得し、
前記（ｂ）のステップにおいて、
前記被検証回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報として、
前記被検証回路における前記論理変更によって変更された信号、前記被検証回路から前記論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号、及び前記被検証回路に前記論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号を特定する情報を取得する、請求項１１に記載のプログラム。
【請求項１３】
前記（ａ）のステップにおいて、当該ステップで取得した情報によって特定される前記信号それぞれの経路に存在するレジスタ又は外部出力端子を特定し、
特定した前記レジスタ、又は特定した前記外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても前記基準回路に存在することを条件として、前記基準回路における前記ポイントとして抽出し、
前記（ｂ）のステップにおいて、当該ステップで取得した情報によって特定される前記信号それぞれの経路に存在するレジスタ又は外部出力端子を特定し、
特定した前記レジスタ、又は特定した前記外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても前記被検証回路に存在することを条件として、前記被検証回路における前記ポイントとして抽出する、請求項１２に記載のプログラム。
【請求項１４】
前記（ｃ）のステップにおいて、
前記基準回路に含まれるレジスタ及び外部出力端子と前記被検証回路に含まれるレジスタ及び外部出力端子との対応関係に基づいて、前記基準回路における前記ポイントと、前記被検証回路における前記ポイントとを対比し、
対比の結果、前記基準回路又は前記被検証回路における前記ポイントが、他方の回路における前記ポイントに対応していない場合は、対応するレジスタ又は外部出力端子を、他方の回路における前記ポイントとして追加し、
そして、前記基準回路における前記ポイントと、これに対応する前記被検証回路における前記ポイントとの等価性を評価する、前記検証スクリプトを生成する、請求項１３に記載のプログラム。
【請求項１５】
基準回路が、ハードウェア記述言語によって記述されたレジスタトランスファレベルでの論理回路であり、被検証回路がネットリストである、請求項１１〜１４のいずれかに記載のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基準回路と被検証回路とに修正が加えられた場合に、回路全体の検証を実行する、検証装置、検証方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体装置（例えばＬＳＩ）の設計工程（以下「半導体設計工程」という。）においては、回路の微細化に伴い、ＥＣＯ（Engineering Change Order：設計後の回路変更）の発生頻度が上昇し、ＥＣＯの重要性が高くなっている。ＥＣＯでは、例えば、ＲＴＬ（Register Transfer Level）で記述された論理回路とネットリストとの論理が合うように論理変更が行われ、それぞれに対して修正が行われる。
【０００３】
ところで、ＥＣＯにおいては、修正は手修正によって行われるため、設計者が、間違った修正を行う可能性が高く、そして、間違っているかどうかが判明するまでに時間がかかることがある。よって、間違いがあった場合は、修正間違いの修正も必要となるため、ＴＡＴ（Turn Around Time）が増加してしまう。
【０００４】
一方、特許文献１は、ＥＣＯの実行工程において、修正されたＨＤＬ記述における、修正前の論理回路との差分箇所を階層化し、更に、階層化された箇所を論理合成して新たな論理回路を作成し、これを修正前の論理回路の該当部分と取り換える技術を開示している。特許文献１に開示の技術によれば、差分箇所の階層化により、論理合成の実行単位を小さくすることができ、再論理合成及び再論理等価検証の実行時間及び確認時間が短縮される。その結果、ＴＡＴの増加が抑制される。
【０００５】
但し、特許文献１に開示の技術には、配線の遅延及び素子の配置上の制限等に起因してネットリストが手修正された場合に対応できないという問題（第１の問題）がある。また、従来からのＥＣＯにおいては、ネットリストに対して手修正が行われた場合は、修正前のネットリストと修正後のネットリストとの差分が数行であったとしても、チップ全体で検証を実行する必要がある。このため、設計に時間がかかり、効率化を図ることができないという問題（第２の問題）がある。
【０００６】
第２の問題に対しては、例えば、検証ツールを用いて検証ポイントを指定し、検証範囲を狭めることによって、解消が可能であるとも考えられる。しかしながら、このような手法を採用した場合は、ネットリストに、設計者が意識していない接続が存在しているときに、検証漏れが起きるという別の問題（第３の問題）が発生してしまう。
【０００７】
これら第１〜第３の問題を解消するため、例えば、特許文献２は、回路パラメータが変更された場合に、回路全体の中から、回路パラメータの変更によって影響を受ける部分を抽出し、抽出した部分についてのみ回路シミュレーションを実行する技術を開示している。
【０００８】
特許文献２に開示の技術によれば、ネットリストの手修正にも対応できるため、第１の問題は解消される。また、特許文献２に開示の技術では、特定された回路についてのみシミュレーションが行われるので、第２の問題も解消される。更に、回路パラメータの変更によって影響を受ける部分は自動的に抽出されるので、特許文献２に開示の技術では、第３の問題が発生する余地はない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２００７−３２８６４６号公報
【特許文献２】特開平９−５４７８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上記特許文献２に開示の技術では、抽出された部分についてのみ検証が行われ、修正後の回路全体についての検証は行われないため、回路全体の検証が必要な場合に対応できないという問題がある。このため、回路全体を検証しつつ、設計時間の短縮化及び効率化を図り得る技術の開発が求められている。
【００１１】
本発明の目的は、上記問題を解消し、検証済みの基準回路と被検証回路とに修正が加えられた場合に、回路全体を検証しつつ、設計時間の短縮化及び効率化を図り得る、検証装置、検証方法、及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するため、本発明における検証装置は、半導体設計工程において、基準回路と、前記基準回路から作成された被検証回路とに対して論理変更が実施された場合に、前記被検証回路を検証するための検証装置であって、
前記基準回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記基準回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、基準回路側ポイント抽出部と、
前記被検証回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記被検証回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、被検証回路側ポイント抽出部と、
前記基準回路側ポイント抽出部によって抽出されたポイントと、前記被検証回路側ポイント抽出部によって抽出されたポイントとを用いて、前記被検証回路を検証する検証スクリプトを生成する、検証スクリプト生成部とを、
備えていることを特徴とする。
【００１３】
また、上記目的を達成するため、本発明における検証方法は、半導体設計工程において、基準回路と、前記基準回路から作成された被検証回路とに対して論理変更が実施された場合に、前記被検証回路を検証するための方法であって、
（ａ）前記基準回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記基準回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、ステップと、
（ｂ）前記被検証回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記被検証回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、ステップと、
（ｃ）前記（ａ）のステップによって抽出されたポイントと、前記（ｂ）のステップによって抽出されたポイントとを用いて、前記被検証回路を検証する検証スクリプトを生成する、ステップとを、有することを特徴とする。
【００１４】
更に、上記目的を達成するため、本発明におけるプログラムは、半導体設計工程において、基準回路と、前記基準回路から作成された被検証回路とに対して論理変更が実施された場合に、コンピュータによって、前記被検証回路を検証するためのプログラムであって、
前記コンピュータに、
（ａ）前記基準回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記基準回路における、前記論理変更によって信号
の入力値が変化するポイントを抽出する、ステップと、
（ｂ）前記被検証回路での前記論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの前記被検証回路における、前記論理変更によって信号の入力値が変化するポイントを抽出する、ステップと、
（ｃ）前記（ａ）のステップによって抽出されたポイントと、前記（ｂ）のステップによって抽出されたポイントとを用いて、前記被検証回路を検証する検証スクリプトを生成する、ステップとを、実行させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
以上の特徴により、本発明における検証装置、検証方法、及びプログラムによれば、検証済みの基準回路と被検証回路とに修正が加えられた場合に、回路全体を検証しつつ、設計時間の短縮化及び効率化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】図１は、本発明の実施の形態における検証装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】図２（ａ）〜（ｃ）は、それぞれ本実施の形態で用いられる基準回路の一例を示す図である。
【図３】図３（ａ）〜（ｃ）は、それぞれ本実施の形態で用いられる被検証回路の一例を示す図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態における検証装置の全体の動作を示すフロー図である。
【図５】図５は、図２中のステップＳ２を具体的に示すフロー図である。
【図６】図６は、図２中のステップＳ３を具体的に示すフロー図である。
【図７】図７は、図５中のステップＡ７、Ａ９、図６中のステップＢ７、Ｂ９での判定処理を説明するための図であり、図７（ａ）は論理変更前の回路を示し、図７（ｂ）は論理変更後の回路を示している。
【図８】図８は、図５中のステップＡ７、Ａ９、図６中のステップＢ７、Ｂ９での判定処理を説明するための図であり、図８（ａ）は論理変更前の回路を示し、図８（ｂ）は論理変更後の回路を示している。
【図９】図９（ａ）はマッチング情報の一例を示す図である。図９（ｂ）は検証ポイントのリストの一例を示す図である。図９（ｃ）は検証ポイントのマージ結果の一例を示す図である。図９（ｄ）は検証スクリプトの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
（実施の形態）
以下、本発明の実施の形態における、検証装置、検証方法、及びプログラムについて、図１〜図１１を参照しながら説明する。最初に、本発明の実施の形態における検証装置の構成について図１を用いて説明する。図１は、本発明の実施の形態における検証装置の概略構成を示すブロック図である。
【００１８】
図１に示す本実施の形態における検証装置１０は、半導体設計工程（ＬＳＩ設計工程）において、検証済みの基準回路と、基準回路から作成された被検証回路とに対して論理変更が実施された場合に、被検証回路を検証するための装置である。本実施の形態において、基準回路としては、ハードウェア記述言語（ＨＤＬ：Hardware Description Language）によってレジスタトランスファレベル（ＲＴＬ）で記述された論理回路が挙げられる。また、被検証回路としては、ＨＤＬ記述の論理回路を論理合成して得られたネットリストが挙げられる。
【００１９】
図１に示すように、検証装置１０は、基準回路側ポイント抽出部２０と、被検出回路側
ポイント抽出部３０と、検証スクリプト生成部４０とを備えている。このうち、基準回路側ポイント抽出部２０は、基準回路での論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの基準回路における、論理変更によって信号の入力値が変化するポイント（検証ポイント）を抽出する。また、基準回路側ポイント抽出部２０は、抽出した検証ポイントのリスト２３を作成し、これを検証スクリプト生成部４０に入力する。
【００２０】
被検証回路側ポイント抽出部３０は、被検証回路での論理変更によって変更された信号に関する情報に基づいて、論理変更前及び論理変更後それぞれの被検証回路における、論理変更によって信号の入力値が変化するポイント（検証ポイント）を抽出する。また、被検証回路側ポイント抽出部３０は、抽出した検証ポイントのリスト３３を作成し、これを検証スクリプト生成部４０に入力する。
【００２１】
検証スクリプト生成部４０は、基準回路側ポイント抽出部２０によって抽出された検証ポイントと、被検証回路側ポイント抽出部３０によって抽出された検証ポイントとを用いて、被検証回路を検証する検証スクリプト４１を生成する。また、検証スクリプト生成部４０は、生成した検証スクリプト４１を、後述する検証実行部５０に入力する。
【００２２】
このように、検証装置１０では、検証済みの基準回路と被検証回路とに、論理変更による修正が加えられると、基準回路と被検証回路との両方から、論理変更によって信号の入力値が変化するポイント（検証ポイント）が抽出される。そして、抽出された検証ポイントにより、検証範囲が適切な範囲に設定された検証スクリプトが作成されるので、ＴＡＴの短縮が可能となる。また、各回路から抽出された検証ポイントは、論理変更によって変更された各回路の信号に関する情報に基づいて、回路全体から抽出されているので、生成された検証スクリプトの実行により、回路全体が検証される。従って、検証装置１０によれば、回路全体を検証しつつ、設計時間の短縮化及び効率化を図ることが可能となる。
【００２３】
ここで、本実施の形態における検証装置１０の構成について図２及び図３を用いて更に具体的に説明する。図２（ａ）〜（ｄ）は、それぞれ本実施の形態で用いられる基準回路の一例を示す図である。図３（ａ）〜（ｄ）は、それぞれ本実施の形態で用いられる被検証回路の一例を示す図である。
【００２４】
本実施の形態では、図１に示すように、基準回路側ポイント抽出部２０には、リスト７０〜７２が入力される。基準回路側ポイント抽出部２０は、論理変更前の基準回路での論理変更によって変更された信号に関する情報として、リスト７０〜７２を取得する。また、基準回路側ポイント抽出部２０には、論理変更前の基準回路７３と論理変更後の基準回路７４も入力される。
【００２５】
リスト７１は、基準回路における論理変更によって変更された信号のリストである。例えば、リスト７１に含まれる信号としては、図２（ａ）に示す「信号Ｙ」、図２（ｂ）に示す「信号Ｋ及びＴ」といった論理変更のあったインスタンスの信号が挙げられる。また、図２（ｃ）に示す「ｐｉｎ３」といった、接続先が変更された出力ピンの出力信号（出力ネット）も挙げられる。
【００２６】
また、リスト７０は、基準回路から論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号のリストである。リスト７０に含まれる信号としては、論理変更後に削除された論理式の出力信号や、削除された出力ピンの出力信号が挙げられる。具体的には、図２（ａ）示す「信号Ａ」、図２（ｂ）に示す「信号Ａ」、「信号Ｂ」、及び「信号Ｃ」、図２（ｃ）に示す「信号Ｂ」が挙げられる。
【００２７】
更に、リスト７２は、基準回路に論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号のリストである。リスト７２に含まれる信号としては、論理変更後に追加された論理式の出力信号や、追加された出力ピンの出力信号が挙げられる。具体的には、図２（ａ）示す「信号Ｂ」、図２（ｂ）に示した「信号Ａ」、「信号Ｂ」、及び「信号Ｃ」、図２（ｃ）に示した「信号Ｃ」が挙げられる。
【００２８】
また、本実施の形態では、図１に示すように、被検証回路側ポイント抽出部３０には、リスト７５〜７９が入力される。被検証回路側ポイント抽出部３０は、被検証回路での論理変更によって変更された信号に関する情報として、リスト７５〜７９を取得する。また、被検証回路側ポイント抽出部３０には、論理変更前の被検証回路７８と論理変更後の被検証回路７９も入力される。
【００２９】
リスト７６は、被検証回路における論理変更によって変更された信号のリストである。例えば、リスト７６に含まれる信号としては、図３（ａ）に示す「信号Ｙ」、図３（ｂ）に示す「信号Ｋ及びＴ」といった論理変更のあったインスタンスの信号が挙げられる。また、図３（ｃ）に示す「ｐｉｎ３」といった、接続先が変更された出力ピンの出力信号（出力ネット）も挙げられる。なお、図３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は、それぞれ、図２（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に対応している。
【００３０】
また、リスト７５は、被検証回路から論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号のリストであり、上述したリスト７０と同様のリストである。具体的には、図３（ａ）示す「信号Ａ」、図３（ｂ）に示す「信号Ａ」、「信号Ｂ」、及び「信号Ｃ」、図３（ｃ）に示す「信号Ｂ」が挙げられる。
【００３１】
更に、リスト７７は、被検証回路に論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号のリストであり、上述したリスト７２と同様のリストである。具体的には、図３（ａ）示す「信号Ｂ」、図３（ｂ）に示す「信号Ａ」、「信号Ｂ」、及び「信号Ｃ」、図３（ｃ）に示す「信号Ｃ」が挙げられる。
【００３２】
また、本実施の形態では、基準回路側ポイント抽出部２０は、変更前抽出部２１と、変更後抽出部２２とを備えている。変更前抽出部２１は、リスト７０及び７１を用いて、論理変更前の基準回路７３における検証ポイントを抽出する。
【００３３】
具体的には、変更前抽出部２１は、論理変更前の基準回路７３から、リスト７０及び７１に含まれる各信号の経路（ルート）を特定し、更に、特定したルートに存在するレジスタ又は外部出力端子を特定する。そして、変更前抽出部２１は、特定したレジスタ、又は特定した外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても基準回路に存在することを条件として、検証ポイントとして抽出する。なお、このようにして特定されたレジスタ及び外部出力端子は、以降の説明において「コンペアポイント」と称する場合もある。
【００３４】
また、変更後抽出部２２は、リスト７１及び７２を用いて、論理変更後の基準回路７４における検証ポイントを抽出する。具体的には、変更後抽出部２２は、論理変更後の基準回路７４から、リスト７１及び７２に含まれる各信号のルートを特定し、更に、特定したルートに存在するレジスタ又は外部出力端子（コンペアポイント）を特定する。そして、変更後抽出部２２は、特定したレジスタ、又は特定した外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても基準回路に存在することを条件として、検証ポイントとして抽出する。
【００３５】
変更前抽出部２１及び変更後抽出部２２による抽出処理が終了すると、基準回路側ポイ
ント抽出部２０は、変更前抽出部２１が抽出した検証ポイントと、変更後抽出部２２が抽出した検証ポイントとを検証スクリプト生成部４０に出力する。図１において、２３は、変更前抽出部２１が抽出した検証ポイントと、変更後抽出部２２が抽出した検証ポイントとを含むリストを示している。
【００３６】
更に、本実施の形態では、被検証回路側ポイント抽出部３０も、基準回路側ポイント抽出部２０と同様に、変更前抽出部３１と、変更後抽出部３２とを備えている。変更前抽出部３１は、リスト７５及び７６を用いて、論理変更前の被検証回路７８における検証ポイントを抽出する。このとき、変更前抽出部３１は、抽出対象として被検証回路を用いる以外は、上述した変更前抽出部２１と同様のプロセスによって抽出処理を実行する。
【００３７】
具体的には、変更前抽出部３１は、論理変更前の被検証回路７８から、リスト７５及び７６に含まれる各信号のルートを特定し、更に、特定したルートに存在するレジスタ又は外部出力端子（コンペアポイント）を特定する。そして、変更前抽出部３１は、特定したレジスタ、又は特定した外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても被検証回路に存在することを条件として、検証ポイントとして抽出する。
【００３８】
また、変更後抽出部３２は、リスト７６及び７７を用いて、論理変更後の被検証回路７９における検証ポイントを抽出する。このとき、変更後抽出部３２は、抽出対象として被検証回路を用いる以外は、上述した変更後抽出部２２と同様のプロセスによって抽出処理を実行する。
【００３９】
具体的には、変更後抽出部３２は、論理変更後の被検証回路７９から、リスト７６及び７７に含まれる各信号のルートを特定し、更に、特定したルートに存在するレジスタ又は外部出力端子（コンペアポイント）を特定する。そして、変更後抽出部３２は、特定したレジスタ、又は特定した外部出力端子を、論理変更前及び論理変更後のいずれにおいても被検証回路に存在することを条件として、検証ポイントとして抽出する。
【００４０】
変更前抽出部３１及び変更後抽出部３２による抽出処理が終了すると、被検証回路側ポイント抽出部３０は、変更前抽出部３１が抽出した検証ポイントと、変更後抽出部３２が抽出した検証ポイントとを検証スクリプト生成部４０に出力する。図１において、３３は、変更前抽出部３１が抽出した検証ポイントと、変更後抽出部３２が抽出した検証ポイントとを含むリストを示している。
【００４１】
また、本実施の形態では、検証装置１０は、基準回路側ポイント抽出部２０、被検証回路側ポイント抽出部３０、及び検証スクリプト生成部４０に加えて、検証実行部５０と、記憶部６０とを備えている。
【００４２】
記憶部６０は、マッチング情報を記憶している。マッチング情報は、基準回路に含まれるレジスタ及び外部出力端子と、被検証回路に含まれるレジスタ及び外部出力端子との対応関係を含む情報である。言い換えると、マッチング情報は、基準回路における検証ポイントとして検出される可能性のあるコンペアポイントと、被検証回路における検証ポイントとして検出される可能性のあるコンペアポイントとの対応関係を特定する。
【００４３】
検証スクリプト生成部４０は、本実施の形態では、マッチング情報によって特定される対応関係に基づいて、基準回路における検証ポイントと、被検証回路における検証ポイントとを対比する。なお、基準回路における検証ポイントは、リスト２３によって特定され、被検証回路における検証ポイントは、リスト３３によって特定される。
【００４４】
また、検証スクリプト生成部４０は、対比の結果、基準回路又は被検証回路における検
証ポイントが、他方の回路における検証ポイントに対応していない場合は、対応するレジスタ又は外部出力端子を、他方の回路における検証ポイントとして追加する。そして、検証スクリプト生成部４０は、基準回路における検証ポイント（追加された検証ポイントを含む）と、これに対応する被検証回路における検証ポイント（追加された検証ポイントを含む）との等価性を評価する検証スクリプトを生成する。
【００４５】
検証実行部５０は、生成された検証スクリプトを実行し、被検証回路を検証する。具体的には、検証スクリプトには、指定された二つの検証ポイントの等価性の判断を指示する命令が記述されている。検証実行部５０は、従来からの半導体設計で利用される検証ツールを利用可能に構成されており、検証スクリプトに記述されている命令を実行し、指定された二つの検証ポイントの等価性を判断する。
【００４６】
また、本実施の形態では、論理変更により、基準回路及び被検証回路に新たにレジスタ及び外部出力端子が追加されたときは、追加されたレジスタ及び外部出力端子を含むマッチング情報が、検証実行部５０に入力される。この場合、検証実行部５０は、記憶部６０に記憶されているマッチング情報を更新する。
【００４７】
次に、本発明の実施の形態における検証装置１０の動作について図４〜図９を用いて説明する。先ず、検証装置１０の全体の動作について説明する。図４は、本発明の実施の形態における検証装置の全体の動作を示すフロー図である。また、本実施の形態における検証方法は、検証装置１０を動作させることによって実施される。このため、本実施の形態における検証方法の説明は、以下の検証装置１０の動作の説明に代える。また、以下の説明においては適宜図１〜図３を参酌する。
【００４８】
図４に示すように、最初に、基準回路側ポイント抽出部２０に、リスト７０〜７２が入力され、被検証回路側ポイント抽出部３０に、リスト７５〜７７が入力される（ステップＳ１）。また、ステップＳ１において、基準回路側ポイント抽出部２０には、論理変更前の基準回路７３、及び論理変更後の基準回路７４も入力される。更に、被検証回路側ポイント抽出部３０には、論理変更前の被検証回路７８、及び論理変更後の被検証回路７９も入力される。
【００４９】
次に、基準回路側ポイント抽出部２０において、変更前抽出部２１が、リスト７０及び７１を用いて、論理変更前の基準回路７３における検証ポイントを抽出する（ステップＳ２）。また、変更後抽出部２２が、リスト７１及び７２を用いて、論理変更後の基準回路７４における検証ポイントを抽出する（ステップＳ３）。
【００５０】
次に、被検証回路側ポイント抽出部３０において、変更前抽出部３１は、リスト７５及び７６を用いて、論理変更前の被検証回路７８における検証ポイントを抽出する（ステップＳ４）。また、変更後抽出部３２は、リスト７６及び７７を用いて、論理変更後の被検証回路７９における検証ポイントを抽出する（ステップＳ５）。
【００５１】
また、ステップＳ２において変更前抽出部２１が抽出した検証ポイントと、ステップＳ３において変更後抽出部２２が抽出した検証ポイントとは、検証スクリプト生成部４０へと出力される。同様に、ステップＳ４において変更前抽出部３１が抽出した検証ポイントと、ステップＳ５において変更後抽出部３２が抽出した検証ポイントも、検証スクリプト生成部４０へと出力される。なお、ステップＳ２〜Ｓ５の実行順序は、限定されるものではない。また、ステップＳ２、Ｓ３、Ｓ４、及びＳ５は、同時に実行されていても良い。
【００５２】
次に、検証スクリプト生成部４０は、マッチング情報を参照し、ステップＳ２及びＳ３によって抽出された基準回路の検証ポイントと、ステップＳ４及びＳ５によって抽出され
た被検証回路の検証ポイントとを用いて、検証スクリプト４１を生成する（ステップＳ６）。
【００５３】
その後、検証実行部５０は、ステップＳ５によって作成された検証スクリプトを実行し、被検証回路を検証する（ステップＳ７）。具体的には、検証スクリプトには、指定された二つの検証ポイントの等価性の判断を指示する命令が記述されている。ステップＳ７においては、指定された二つの検証ポイントの等価性が判断される。ステップＳ７の結果が、外部に出力され、検証装置１０における処理は終了する。
【００５４】
ここで、上述したステップＳ２及びＳ３について、図５〜図８を用いて具体的に説明する。図５は、図２中のステップＳ２を具体的に示すフロー図である。図６は、図２中のステップＳ３を具体的に示すフロー図である。図７及び図８は、図５中のステップＡ７、Ａ９、図６中のステップＢ７、Ｂ９での判定処理を説明するための図であり、図７（ａ）及び図８（ａ）は論理変更前の回路を示し、図７（ｂ）及び図８（ｂ）は論理変更後の回路を示している。
【００５５】
まず、図５に基づきステップＳ２について説明する。最初に、変更前抽出部２１は、前提として、リスト７０及び７１に含まれる信号を特定し、検証ポイントを抽出（サーチ）するためにルートのリスト（ルートリスト）を作成する。そして、図５に示すように、変更前抽出部２１は、検証ポイントをサーチするためのルートリストから最初のルートを選択する（ステップＡ１）。
【００５６】
次に、変更前抽出部２１は、サーチ対象となるルートを設定し（ステップＡ２）、続いて、設定されたルートに含まれるルート（以下「子ルート」とする。）の中から、サーチ対象となる子ルートを設定する（ステップＡ３）。
【００５７】
次に、変更前抽出部２１は、設定された子ルートから始まる出力側のコーンを特定し、特定したコーンをレジスタ又は外部出力端子まで辿り、それに含まれるコンペアポイントを抽出する。そして、変更前抽出部２１は、特定したコーンに含まれるコンペアポイントの一つを、ステップＡ５〜Ａ８での判定の対象に設定する（ステップＡ４）。
【００５８】
次に、変更前抽出部２１は、ステップＡ４で設定されたコンペアポイントが、基準回路側の検証ポイントのリスト（検証リスト）２３に登録されているかどうかを判定する（ステップＡ５）。変更前抽出部２１は、登録されている場合は、ステップＡ１１を実行し、登録されていない場合は、ステップＡ４で設定されたコンペアポイントがレジスタ及び外部出力端子のいずれであるかを判定する（ステップＡ６）。
【００５９】
ステップＡ６の判定の結果、ステップＡ４で設定されたコンペアポイントが外部出力端子である場合は、変更前抽出部２１は、この外部出力端子が論理変更後の基準回路に存在するかどうかを判定する（ステップＡ７）。
【００６０】
ステップＡ７の判定の結果、図７（ａ）及び（ｂ）に示すように、外部出力端子が論理変更後の基準回路にも存在する場合は、変更前抽出部２１は、ステップＡ４で設定されたコンペアポイントを検証リスト２３に登録し（ステップＡ９）、その後、ステップＡ１１を実行する。
【００６１】
一方、ステップＡ７の判定の結果、図８（ａ）及び（ｂ）に示すように、外部出力端子が論理変更後の基準回路に存在しない場合（例えば、外部出力端子が図８（ａ）中の「ｏｕｔ２」である場合）は、変更前抽出部２１は、ステップＡ１１を実行する。この場合、ステップＡ４で設定されたコンペアポイントの検証リスト２３への登録は行われない。
【００６２】
また、ステップＡ６の判定の結果、ステップＡ４で設定されたコンペアポイントがレジスタである場合は、変更前抽出部２１は、このレジスタが論理変更後の基準回路に存在するかどうかを判定する（ステップＡ８）。
【００６３】
ステップＡ８の判定の結果、図７（ａ）及び（ｂ）に示すように、レジスタが論理変更後の基準回路にも存在する場合も、変更前抽出部２１は、ステップＡ９を実行して、ステップＡ４で設定されたコンペアポイントを検証リスト２３に登録する。
【００６４】
一方、ステップＡ８の判定の結果、図８（ａ）及び（ｂ）に示すように、レジスタが論理変更後の基準回路に存在しない場合（例えば、レジスタが図８（ａ）中の「ＤＦＦ２」である場合）は、変更前抽出部２１は、ステップＡ１０を実行する。
【００６５】
ステップＡ１０では、変更前抽出部２１は、ステップＡ４で設定されたコンペアポイントを、検証リスト２３に登録せず、代わりに、上述したルートリストとは別の次のサーチの対象となるルートリストに登録する。なお、「次のサーチの対象となるルートリスト」とは、ステップＡ１〜Ａ１４が実行される原因となった論理変更の後に行われる別の論理変更で用いられる、ルートリストをいう。
【００６６】
次に、ステップＡ１１では、変更前抽出部２１は、ステップＡ４において特定したコーンに含まれる全てのコンペアポイントについてステップＡ５〜Ａ１０が終了したかどうかを判定する。変更前抽出部２１は、判定の結果、終了していない場合は、再度、ステップＡ５〜Ａ１０を実行し、終了している場合は、ステップＡ１２を実行する。
【００６７】
次に、ステップＡ１２では、変更前抽出部２１は、ステップＡ２で設定されたルートに含まれる全ての子ルートについて、検証ポイントのサーチ（ステップＡ４〜Ａ１１）が終了したかどうかを判定する。変更前抽出部２１は、判定の結果、終了していない場合は、再度、ステップＡ４〜Ａ１１を実行し、終了している場合は、ステップＡ１３を実行する。
【００６８】
次に、ステップＡ１３では、変更前抽出部２１は、ルートリストに含まれる全てのルートについて、検証ポイントのサーチ（ステップＡ３〜Ａ１２）が終了したかどうかを判定する。変更前抽出部２１は、判定の結果、終了していない場合は、次のサーチ対象となるルートを選択し（ステップＡ１４）、その後、再度、ステップＡ３〜Ａ１２を実行する。一方、終了している場合は、変更前抽出部２１は、処理を終了する。これにより、図４に示すステップＳ２は終了する。
【００６９】
このように、ステップＡ１〜Ａ１４の実行により、変更前抽出部２１は、論理変更前の回路のコンペアポイントのうち、論理変更によって入力値が変わる可能性のあるコンペアポイントを特定し、特定したコンペアポイントを検証ポイントとして抽出する。
【００７０】
続いて、図６に基づきステップＳ３について説明する。最初に、変更後抽出部２２は、前提として、変更前抽出部２１と同様に、リスト７１及び７２に含まれる信号を特定し、検証ポイントを抽出（サーチ）するためにルートのリスト（ルートリスト）を作成する。そして、図６に示すように、変更後抽出部２２は、検証ポイントをサーチするためのリストから最初のルートを選択する（ステップＢ１）。
【００７１】
次に、変更後抽出部２２は、サーチ対象となるルートを設定し（ステップＢ２）、続いて、設定されたルートに含まれるルート（以下「子ルート」とする。）の中から、サーチ対象となる子ルートを設定する（ステップＢ３）。
【００７２】
次に、変更後抽出部２２は、設定された子ルートから始まる出力側のコーンを特定し、特定したコーンをレジスタ又は外部出力端子まで辿り、それに含まれるコンペアポイントを抽出する。そして、変更後抽出部２２は、特定したコーンに含まれるコンペアポイントの一つを、ステップＢ５〜Ｂ８での判定の対象に設定する（ステップＢ４）。
【００７３】
次に、変更後抽出部２２は、ステップＢ４で設定されたコンペアポイントが、基準回路側の検証ポイントのリスト（検証リスト）２３に登録されているかどうかを判定する（ステップＢ５）。変更後抽出部２２は、登録されている場合は、ステップＢ１１を実行し、登録されていない場合は、ステップＢ４で設定されたコンペアポイントがレジスタ及び外部出力端子のいずれであるかを判定する（ステップＢ６）。
【００７４】
ステップＢ６の判定の結果、ステップＢ４で設定されたコンペアポイントが外部出力端子である場合は、変更後抽出部２２は、この外部出力端子が論理変更後の基準回路に存在するかどうかを判定する（ステップＢ７）。
【００７５】
ステップＢ７の判定の結果、図７（ａ）及び（ｂ）に示すように、外部出力端子が論理変更前の基準回路にも存在する場合は、変更後抽出部２２は、ステップＢ４で設定されたコンペアポイントを検証リスト２３に登録し（ステップＢ９）、その後、ステップＢ１１を実行する。
【００７６】
一方、ステップＢ７の判定の結果、外部出力端子が論理変更前の基準回路に存在しない場合は、変更前抽出部２１は、ステップＢ１１を実行する。この場合、ステップＢ４で設定されたコンペアポイントの検証リスト２３への登録は行われない。
【００７７】
また、ステップＢ６の判定の結果、ステップＢ４で設定されたコンペアポイントがレジスタである場合は、変更後抽出部２２は、このレジスタが論理変更前の基準回路に存在するかどうかを判定する（ステップＢ８）。
【００７８】
ステップＢ８の判定の結果、図７（ａ）及び（ｂ）に示すように、レジスタが論理変更前の基準回路にも存在する場合も、変更前抽出部２１は、ステップＢ９を実行して、ステップＢ４で設定されたコンペアポイントを検証リスト２３に登録する。
【００７９】
一方、ステップＢ８の判定の結果、レジスタが論理変更前の基準回路に存在しない場合は、変更前抽出部２１は、ステップＢ１０を実行する。
【００８０】
ステップＢ１０では、変更後抽出部２２は、ステップＢ４で設定されたコンペアポイントを、検証リスト２３に登録せず、代わりに、上述したステップＡ１０と同様に、上述したルートリストとは別の次のサーチの対象となるルートリストに登録する。
【００８１】
次に、ステップＢ１１では、変更後抽出部２２は、ステップＢ４において特定したコーンに含まれる全てのコンペアポイントについてステップＢ５〜Ｂ１０が終了したかどうかを判定する。変更後抽出部２２は、判定の結果、終了していない場合は、再度、ステップＢ５〜Ｂ１０を実行し、終了している場合は、ステップＢ１２を実行する。
【００８２】
次に、ステップＢ１２では、変更後抽出部２２は、ステップＢ２で設定されたルートに含まれる全ての子ルートについて、検証ポイントのサーチ（ステップＢ４〜Ｂ１１）が終了したかどうかを判定する。変更後抽出部２２は、判定の結果、終了していない場合は、再度、ステップＢ４〜Ｂ１１を実行し、終了している場合は、ステップＢ１３を実行する。
【００８３】
次に、ステップＢ１３では、変更後抽出部２２は、ルートリストに含まれる全てのルートについて、検証ポイントのサーチ（ステップＢ３〜Ｂ１２）が終了したかどうかを判定する。変更後抽出部２２は、判定の結果、終了していない場合は、次のサーチ対象となるルートを選択し（ステップＢ１４）、その後、再度、ステップＢ３〜Ｂ１２を実行する。一方、終了している場合は、変更後抽出部２２は、処理を終了する。これにより、図４に示すステップＳ３は終了する。
【００８４】
このように、ステップＢ１〜Ｂ１４の実行により、変更後抽出部２２は、論理変更後の回路のコンペアポイントのうち、論理変更によって入力値が変化した可能性のあるコンペアポイントを特定し、特定したコンペアポイントを検証ポイントとして抽出する。
【００８５】
また、図４に示したステップＳ４では、被検出回路側ポイント抽出部３０の変更前抽出部３１は、図５に示されたステップＡ１〜Ａ１４に準じた処理を実行する。但し、この場合は、リスト７５及び７６からルートリストが作成される。更に、ステップＡ１〜Ａ１４に準じた処理は、論理変更前の被検証回路を対象として行われる。
【００８６】
更に、図４に示したステップＳ５では、被検証回路側ポイント抽出部３０の変更後抽出部３１は、図６に示されたステップＢ１〜Ｂ１４に準じた処理を実行する。但し、この場合は、リスト７６及び７７からルートリストが作成される。また、ステップＢ１〜Ｂ１４に準じた処理は、論理変更後の被検証回路を対象として行われる。
【００８７】
続いて、図９（ａ）〜図９（ｄ）に示す例に基づいて、ステップＳ６での処理を説明する。図９（ａ）はマッチング情報の一例を示す図である。図９（ｂ）は検証ポイントのリストの一例を示す図である。図９（ｃ）は検証ポイントのマージ結果の一例を示す図である。図９（ｄ）は検証スクリプトの一例を示す図である。
【００８８】
図９（ａ）に示すマッチング情報から分かるように、本例では、基準回路のコンペアポイントａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅそれぞれが、被検証回路のコンペアポイントａｙ、ｂｙ、ｃｙ、ｄｙ、ｅｙそれぞれに対応している。そして、本例では、図９（ｂ）に示すように、基準回路側ポイント抽出部２０が、検出ポイントとして、コンペアポイントａ及びｂを検出している。また、図９（ｂ）に示すように、被検証回路側ポイント抽出部３０が、検出ポイントとして、コンペアポイントａｙ及びｃｙを検出している。
【００８９】
検証スクリプト生成部４０は、図９（ａ）に示したマッチング情報を用いて、図９（ｂ）に示した検証ポイントのマージを行い、図９（ｄ）に示す検証スクリプトを生成する。具体的には、先ず、検証スクリプト生成部４０は、基準回路における検証ポイントと、被検証回路における検証ポイントとを対比する。この結果、図９（ｂ）の例では、検証スクリプト生成部４０は、基準回路における検証ポイントｂが、被検証回路における検証ポイントに対応しておらず、又、被検証回路における検証ポイントｃｙが、基準回路における検証ポイントに対応していないと判定する。
【００９０】
次に、検証スクリプト生成部４０は、基準回路の検証ポイントｂに対応するコンペアポイントｂｙを、被検証回路における検証ポイントとして追加し、更に、被検証回路の検証ポイントｃｙに対応するコンペアポイントｃを、基準回路における検証ポイントとして追加する。このマージ処理による結果は、図９（ｃ）に示す通りとなる。
【００９１】
次に、検証スクリプト生成部４０は、基準回路における検証ポイントａ、ｂ、ｃと、これに対応する被検証回路における検証ポイントａｙ、ｂｙ、ｃｙとの等価性を評価する、検証スクリプトを生成する。ここで、例えば、基準回路のコンペアポイント＄１と、被検
証回路のコンペアポイント＄２との等価性を評価するコマンドが「Verify Command $1 $2」であるとすると、検証スクリプトは、図９（ｄ）に示す通りとなる。
【００９２】
図９（ｄ）に示す検証スクリプトが、検証実行部５０によって実行されると、基準回路における検証ポイントａ、ｂ、ｃと、これに対応する被検証回路における検証ポイントａｙ、ｂｙ、ｃｙとの等価性が評価され、結果が検証実行部５０から出力される。
【００９３】
本実施の形態におけるプログラムは、コンピュータに、図４に示すステップＳ１〜Ｓ７、図５に示すステップＡ１〜Ａ１４、図６に示すステップＢ１〜Ｂ１４を実行させるプログラムであれば良い。また、このプログラムをコンピュータにインストールして実行することにより、本実施の形態における検証装置１０及び検証方法を実現することができる。
【００９４】
上記の場合、コンピュータのＣＰＵ（Central Processing Unit）は、基準回路側ポイント抽出部２０、被検出回路側ポイント抽出部３０、検証スクリプト生成部４０、及び検証実行部５０として機能し、処理を行なう。また、記憶部６０は、コンピュータに備えられたハードディスクやメモリ等の記憶装置によって実現される。
【００９５】
このように、本実施の形態における検証装置１０によれば、基準回路及び被検証回路それぞれの全体から検証ポイントが抽出される。そして、抽出された検証ポイントから生成された検証スクリプトによれば、検証ツールを用いて、論理変更による影響がある箇所のみを検証することができ、検証時間の短縮化を図ることが出来る。この結果、回路全体の検証と、設計時間の短縮化及び効率化とが、同時に達成される。
【産業上の利用可能性】
【００９６】
以上のように、本発明によれば、検証済みの基準回路と被検証回路とに修正が加えられた場合に、回路全体を検証しつつ、設計時間の短縮化及び効率化を図ることができる。本発明は、半導体設計（ＬＳＩ設計）に有用である。
【符号の説明】
【００９７】
１０  検証装置
２０  基準回路側ポイント抽出部
２１  変更前抽出部
２２  変更後抽出部
２３  基準回路側の検証ポイントのリスト
３０  被検証回路側ポイント抽出部
３１  変更前抽出部
３２  変更後抽出部
３３  被検証回路側の検証ポイントのリスト
４０  検証スクリプト生成部
４１  検証スクリプト
５０  検証実行部
６０  記憶部
７０  基準回路から論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号のリスト
７１  基準回路における論理変更によって変更された信号のリスト
７２  基準回路に論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号のリスト
７３  論理変更前の基準回路
７４  論理変更後の基準回路
７５  被検証回路から論理変更によって削除されたインスタンスに含まれる信号のリスト
７６  被検証回路における論理変更によって変更された信号のリスト
７７  被検証回路に論理変更によって追加されたインスタンスに含まれる信号のリスト
７８  論理変更前の被検証回路
７９  論理変更後の被検証回路
【図１】
2011008620.tif 000003
【図２】
2011008620.tif 000004
【図３】
2011008620.tif 000005
【図４】
2011008620.tif 000006
【図５】
2011008620.tif 000007
【図６】
2011008620.tif 000008
【図７】
2011008620.tif 000009
【図８】
2011008620.tif 000010
【図９】
2011008620.tif 000011