(57)【要約】【課題】エラーレートの劣化が生じる位置を特定するのに要する時間を短縮化することが可能な磁気ディスク装置の製造方法を提供する。【解決手段】複数のトラックを含む範囲を直流磁界で消磁し（Ｓ２１）、範囲内の各位置から信号を読み出し（Ｓ２２）、範囲内の中央のトラックに磁気ヘッドで交流磁界を印加し（Ｓ２３）、範囲内の各位置から信号を読み出し（Ｓ２４）、信号強度が所定以上となる位置を特定する（Ｓ２５）。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のトラックを含む、直流磁界で消磁された範囲内の１つのトラックに、磁気ヘッドにより交流磁界を印加し、
前記範囲内のトラッキング方向の各位置から信号を読み出し、
前記範囲内のトラッキング方向の各位置の中から、信号強度が所定以上となる位置を特定する、
ことを特徴とする磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項２】
前記直流磁界で消磁された範囲内のトラッキング方向の各位置から信号を読み出し、
前記交流磁界を印加した後の信号強度と、前記交流磁界を印加する前の信号強度との差分が所定以上となる位置を特定する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項３】
前記磁気ヘッドを用いて、前記複数のトラックを含む範囲を直流磁界で消磁する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項４】
前記交流磁界が印加されたトラックと前記信号強度が所定以上となる位置との位置関係に基づく情報を、磁気ディスク装置の記憶部に格納する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項５】
磁気ディスクと、
前記磁気ディスクにデータを書き込む磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドを前記磁気ディスクに対して移動させるアクチュエータと、
を備える磁気ディスク装置であって、
前記磁気ディスクの１または複数のトラックを含む各記録領域にデータが書き込まれた回数を計数する書き込み計数部と、
前記各記録領域にデータが書き込まれた回数が所定数に達した場合に、所定のトラックのデータを書き直す処理を実行する書き直し処理部であって、複数のトラックを含む、直流磁界で消磁された範囲内の１つのトラックに、前記磁気ヘッドにより交流磁界を印加し、前記範囲内のトラッキング方向の各位置で信号を読み出すことによって得られる、前記交流磁界が印加されたトラックと前記信号強度が所定以上となる位置との位置関係に基づいて、データを書き直すトラックを決定する書き直し処理部と、
を備えることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項６】
前記書き直し処理部は、前記各記録領域でデータの書き込み回数が所定数に達した場合に、隣接トラックのデータを書き直す処理と、前記位置関係に基づいて決定されるトラックのデータを書き直す処理とを実行する、
請求項５に記載の磁気ディスク装置。
【請求項７】
前記位置関係に基づいて決定されるトラックと、前記データの書き込み回数が所定数に達した記録領域との間に、１または複数のトラックが介在する、
請求項５に記載の磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク装置およびその製造方法に関し、特には、エラーレートが劣化するトラックを特定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置では、データが繰り返し書き込まれたトラックと隣接するトラックでエラーレートが劣化することが知られている（特許文献１を参照。）。この現象は、ＡＴＩ（Adjacent Track Interference）と呼ばれる。
【０００３】
さらに、近年では、データが繰り返し書き込まれたトラックから離れたトラックでもエラーレートが劣化することが知られるようになった。この現象は、ＦＴＩ（Far Track Interference）と呼ばれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−２７４９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、ＦＴＩでは、エラーレートの劣化が生じる位置が個々の磁気ヘッドによって異なるため、磁気ディスク装置の製造時に、エラーレートの劣化が生じる位置を個々の磁気ヘッドで特定する必要がある。しかしながら、実際にエラーレートの劣化が顕著となるのは、書き込み回数が１０万回程度に達したときであるため、検査に多大な時間を要してしまう。
【０００６】
本発明は、上記実情に鑑みて為されたものであり、エラーレートの劣化が生じる位置を特定するのに要する時間を短縮化することが可能な磁気ディスク装置の製造方法を提供することを主な目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明の磁気ディスク装置の製造方法は、複数のトラックを含む、直流磁界で消磁された範囲内の１つのトラックに、磁気ヘッドにより交流磁界を印加し、前記範囲内のトラッキング方向の各位置から信号を読み出し、前記範囲内のトラッキング方向の各位置の中から、信号強度が所定以上となる位置を特定する、ことを特徴とする。
【０００８】
また、本発明の磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、前記磁気ディスクにデータを書き込む磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドを前記磁気ディスクに対して移動させるアクチュエータと、書き込み計数部と、書き直し処理部と、を備える。前記書き込み計数部は、前記磁気ディスクの１または複数のトラックを含む各記録領域にデータが書き込まれた回数を計数する。前記書き直し処理部は、前記各記録領域にデータが書き込まれた回数が所定数に達した場合に、所定のトラックのデータを書き直す処理を実行する。更に、前記書き直し処理部は、複数のトラックを含む、直流磁界で消磁された範囲内の１つのトラックに、前記磁気ヘッドにより交流磁界を印加し、前記範囲内のトラッキング方向の各位置で信号を読み出すことによって得られる、前記交流磁界が印加されたトラックと前記信号強度が所定以上となる位置との位置関係に基づいて、データを書き直すトラックを決定する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明者らが研究を重ねた結果、磁気ヘッドによりデータを繰り返し書き込んだときにエラーレートの劣化が生じる位置と、読み出した信号にノイズが多く含まれる位置との間には相関があるとの知見が得られた。さらに、読み出した信号に含まれるノイズが多くなるまでの書き込み回数は、エラーレートの劣化が生じるまでの書き込み回数よりも少ないとの知見も得られている。従って、本発明によれば、エラーレートの劣化が生じる位置を特定するのに要する時間を短縮化することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置の構成例を表すブロック図である。
【図２】上記磁気ディスク装置の動作例を表すフローチャートである。
【図３】図２のフローチャートのＳ１４の説明図である。
【図４】図２のフローチャートのＳ１５の説明図である。
【図５】本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置の製造方法の流れを表すフローチャートである。
【図６】上記磁気ディスク装置の製造方法の説明図である。
【図７】媒体ノイズ強度とトラッキング方向の位置との関係を表すグラフである。
【図８】エラーレート劣化量とトラッキング方向の位置との関係を表すグラフである。
【図９】媒体ノイズ増加量とエラーレート劣化量との関係を表すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明の磁気ディスク装置およびその製造方法の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
【００１２】
［磁気ディスク装置］
図１は、本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成例を表すブロック図である。磁気ディスク装置１の筐体９には、磁気ディスク２及びヘッドアッセンブリ６が収納されている。磁気ディスク２は、筐体９の底部に設けられたスピンドルモータ３に取り付けられている。磁気ディスク２には、同心円状に配列する複数のトラック２１が形成されている。
【００１３】
ヘッドアッセンブリ６は、磁気ディスク２の隣で旋回可能に支承されている。ヘッドアッセンブリ６の先端部には、磁気ヘッド４が支持されている。他方、ヘッドアッセンブリ６の後端部には、ボイスコイルモータ７が設けられている。ボイスコイルモータ７は、ヘッドアッセンブリ６を旋回駆動し、磁気ヘッド４を磁気ディスク２上で略半径方向に移動させる。
【００１４】
また、磁気ディスク装置１は、筐体９外の基板に、主制御回路１０と、リードライトチャネル（Ｒ／Ｗチャネル）１３と、モータドライバ１７とを有している。主制御回路１０は、マイクロプロセッシングユニット（ＭＰＵ）と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）と、メモリとを含んでいる。
【００１５】
データの書き込みは、次のように行われる。主制御回路１０は、ユーザデータを外部ホストから受信すると、受信したユーザデータをＲ／Ｗチャネル１３へ出力する。Ｒ／Ｗチャネル１３は、入力されたユーザデータを変調して、ヘッドアンプ１４へ出力する。ヘッドアンプ１４は、変調されたユーザデータを記録信号に変換して、磁気ヘッド４へ出力する。磁気ヘッド４は、記録信号に応じた記録磁界を磁気ディスク２に印加する。
【００１６】
データの読み出しは、次のように行われる。磁気ヘッド４は、磁気ディスク２から漏れ出る磁界から再生信号を読み出し、ヘッドアンプ１４へ出力する。ヘッドアンプ１４は、入力された再生信号を増幅して、Ｒ／Ｗチャネル１３へ出力する。Ｒ／Ｗチャネル１３は、増幅された再生信号をデジタルデータに変換し、復調して、主制御回路１０へ出力する。主制御回路１０は、復調されたユーザデータを外部ホストへ送信する。
【００１７】
また、Ｒ／Ｗチャネル１３は、再生信号から所定のサンプリング周期でサーボデータを抽出して、主制御回路１０へ出力する。主制御回路１０は、入力されるサーボデータに基づいて、磁気ヘッド４の位置制御を行う。
【００１８】
図２は、磁気ディスク装置１の動作例を表すフローチャートである。このフローチャートに表される処理は、上記主制御回路１０によって実行される。このうち、Ｓ１２の処理は書き込み計数部としての機能に基づくものであり、Ｓ１４及びＳ１５の処理は書き直し処理部としての機能に基づくものである。
【００１９】
Ｓ１１のステップでは、主制御回路１０は、外部ホストから指定されたトラックに外部ホストから受信したデータを磁気ヘッド４により書き込む、書き込み処理を実行する。
【００２０】
Ｓ１２のステップでは、主制御回路１０は、データが書き込まれた記録領域のライトカウンタを増加させる。主制御回路１０は、磁気ディスク２の各記録領域のデータ書き込み回数を記憶するライトカウンタを含んでいる。なお、記録領域は、トラック毎であってもよいし、連続する複数のトラックを含んだバンド毎であってもよい。
【００２１】
Ｓ１３のステップでは、主制御回路１０は、ライトカウンタに記憶されたデータ書き込み回数を読み出し、データ書き込み回数が閾値に達した記録領域が存在するか否かを判定する。データ書き込み回数が閾値に達した記録領域が存在する場合には（Ｓ１３：ＹＥＳ）、主制御回路１０は、次の２つのステップ（Ｓ１４，Ｓ１５）を実行する。
【００２２】
Ｓ１４のステップでは、主制御回路１０は、隣接トラックの書き直しを行う。このステップは、ＡＴＩ（Adjacent Track Interference）を防止するためのステップである。図３に示されるように、データ書き込み回数が閾値に達したトラック２１ｘの両側に隣接する隣接トラック２１ｙのデータが書き直される。具体的には、主制御回路１０は、上記磁気ヘッド４を隣接トラック２１ｙに位置決めし、磁気ヘッド４によって読み出されたデータをメモリに一時的に格納する。その後、主制御回路１０は、メモリに格納されたデータを磁気ヘッド４によって隣接トラック２１ｙに書き込む。
【００２３】
なお、隣接トラックの書き直しは、連続する複数のトラックを含んだバンド単位で行われてもよい。すなわち、バンド中の何れかのトラックのデータ書き込み回数が閾値に達した場合に、若しくは、バンドのデータ書き込み回数が閾値に達した場合に、当該バンドに含まれる全てのトラックのデータが書き直される。さらに、当該バンドに隣接するトラックのデータが書き直されてもよい。
【００２４】
Ｓ１５のステップでは、主制御回路１０は、離隔トラックの書き直しを行う。このステップは、ＦＴＩ（Far Track Interference）を防止するためのステップである。図４に示されるように、データ書き込み回数が閾値に達したトラック２１ｘから所定の方向に所定の距離だけ離れた離隔トラック２１ｚのデータが書き直される。こうした離隔トラック２１ｚを決定するための位置関係の情報は、後述する磁気ディスク装置の製造方法において求められ、主制御回路１０のメモリに格納されている。データ書き込み回数が閾値に達したトラック２１ｘと離隔トラック２１ｚとの間には、例えば複数本のトラック２１が介在する。更には、隣接トラック２１ｙと離隔トラック２１ｚとの間にも、例えば複数本のトラック２１が介在する。
【００２５】
なお、離隔トラックの書き直しも、連続する複数のトラックを含んだバンド単位で行われてもよい。すなわち、バンド中の何れかのトラックのデータ書き込み回数が閾値に達した場合に、若しくは、バンドのデータ書き込み回数が閾値に達した場合に、当該トラック若しくは当該バンドから所定の方向に所定の距離だけ離れたバンドに含まれる全てのトラックのデータが書き直される。
【００２６】
上記本実施形態では、離隔トラック２１ｚを決定するための位置関係の情報が、後述する磁気ディスク装置の製造方法において求められ、主制御回路１０のメモリに格納されている。このため、当該位置関係の情報に基づいて決定される離隔トラック２１ｚのデータを書き直すことによって、ＦＴＩの発生を抑制することが可能である。また、この処理によれば、ＦＴＩが発生すると疑われる全てのトラックのデータを書き直したり、検査したりする場合と比較して、ＦＴＩの発生を抑制するための処理に要する時間を短縮することが可能である。
【００２７】
また、上記実施形態では、データ書き込み回数が閾値に達している記録領域が存在する場合に、隣接トラックの書き直し（Ｓ１４）と、離隔トラックの書き直し（Ｓ１５）とが実行される。これによると、隣接トラックの書き直し（Ｓ１４）のための計数と、離隔トラックの書き直し（Ｓ１５）のための計数とが、共通のカウンタで行われるため、主制御回路１０の構成を簡易化することが可能である。
【００２８】
［磁気ディスク装置の製造方法］
図５は、本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置の製造方法の流れを表すフローチャートであり、図６は、その説明図である。このフローチャートに表される処理は、磁気ディスク装置１の検査工程内で、磁気ディスク装置１に接続される外部装置によって実行される。
【００２９】
Ｓ２１のステップでは、複数のトラック２１を含む範囲２３が磁気ヘッド４によってＤＣイレーズされる。ＤＣイレーズとは、直流磁界による消磁を意味する。範囲２３内には、複数のトラック２１がトラッキング方向ＴＲに並列している。トラッキング方向ＴＲは、トラック２１の幅方向であり、磁気ディスク２の半径方向である。範囲２３は、巨視的には、磁気ディスク２の中心を囲むドーナツ状となる。外部装置は、直流磁界を発する磁気ヘッド４を、範囲２３上でトラッキング方向に徐々に移動させる。
【００３０】
Ｓ２２のステップでは、範囲２３内のトラッキング方向ＴＲの各位置から磁気ヘッド４によって信号が読み出される。後述するＳ２５では、読み出された信号のうち、所定周波数の成分が用いられる。所定周波数は、例えば１００ＭＨｚであるが、これに限られない。外部装置は、磁気ヘッド４を範囲２３上でトラッキング方向に徐々に移動させ、読み出される信号から所定周波数の成分を抽出する。信号が読み出される各位置の間隔は、トラック２１単位であってもよいし、さらに短い間隔であってもよい。
【００３１】
Ｓ２３のステップでは、範囲２３内のトラッキング方向の中央に位置する１つのトラック２１ａに、磁気ヘッド４によって書き込みが繰り返される。磁気ヘッド４による書き込みで、トラック２１ａには交流磁界が印加される。この際、磁気ヘッド４には、例えば１と０が交互に現れる記録データを表すＮＲＺＩ信号が入力される。交流磁界の周波数は、高いほど好ましい。書き込みを繰り返す回数は、例えば１００〜１０００回であるが、これに限られない。外部装置は、トラック２１ａ上に磁気ヘッド４を位置決めし、磁気ヘッド４による交流磁界の印加を繰り返す。
【００３２】
Ｓ２４のステップでは、範囲２３内のトラッキング方向ＴＲの各位置から磁気ヘッド４によって信号が読み出される。後述するＳ２５では、読み出された信号のうち、上記Ｓ２２と同じ所定周波数の成分が用いられる。外部装置は、磁気ヘッド４を範囲２３上でトラッキング方向に徐々に移動させ、読み出される信号から所定周波数の成分を抽出する。信号が読み出される各位置の間隔は、トラック２１単位であってもよいし、さらに短い間隔であってもよい。
【００３３】
Ｓ２５のステップでは、上記Ｓ２４で読み出された信号に基づいて、範囲２３内のトラッキング方向の各位置の中から、信号強度が所定以上となる位置が特定される。具体的には、上記Ｓ２４で読み出された信号の所定周波数の成分の強度と、上記Ｓ２２で読み出された信号の所定周波数の成分の強度（すなわち、バックグラウンド強度）との差分が求められ、差分が所定以上となる位置が特定される。なお、信号強度が所定以上となる位置を特定する際、上記Ｓ２３で交流磁界が印加された中央のトラック２１ａは除外される。
【００３４】
図７は、媒体ノイズ強度とトラッキング方向の位置との関係を表すグラフである。横軸は、トラッキング方向の位置を表す。横軸の０は、範囲２３内の中央のトラック２１ａの位置に対応する。縦軸は、媒体ノイズ強度を表す。媒体ノイズ強度は、磁気ディスク２から読み出される信号の所定周波数の成分の強度である。本例では、所定周波数は１００ＭＨｚである。グラフ中の４種類の線の各々に付された回数は、範囲２３内の中央のトラック２１ａに交流磁界が印加された回数を表す。すなわち、０回の線は、上記Ｓ２２で読み出された媒体ノイズ強度に対応し、その他の線は、上記Ｓ２４で読み出された媒体ノイズ強度に対応する。
【００３５】
この図７のグラフから明らかなように、範囲２３内の中央のトラック２１ａに交流磁界を繰り返し印加した場合、中央のトラック２１ａからトラッキング方向に離れた或る位置で、媒体ノイズ強度が増加している。
【００３６】
図８は、エラーレート劣化量とトラッキング方向の位置との関係を表すグラフである。横軸は、トラッキング方向の位置を表す。横軸の０は、範囲２３内の中央のトラック２１ａの位置に対応する。横軸のスケールは、上記図７のグラフの横軸のスケールと同じである。縦軸は、エラーレートの劣化量を表す。本例では、範囲２３内の中央のトラック２１ａに交流磁界を１０万回印加したときの、エラーレートの劣化量を表している。
【００３７】
この図８のグラフから明らかなように、範囲２３内の中央のトラック２１ａに交流磁界を繰り返し印加した場合、中央のトラック２１ａからトラッキング方向に離れた或る位置で、エラーレートが劣化している。
【００３８】
そして、図７のグラフで媒体ノイズ強度が増加している位置と、図８のグラフでエラーレートが劣化している位置とは、ほぼ一致することから、これらの間には相関があると言うことができる。
【００３９】
図９は、媒体ノイズ増加量とエラーレート劣化量との関係を表すグラフである。横軸は、エラーレート劣化量を表し、縦軸は、媒体ノイズ増加量を表す。このグラフには、範囲２３内のトラッキング方向の各位置での媒体ノイズ増加量（図７を参照）とエラーレート劣化量（図８を参照）との関係がプロットされている。
【００４０】
この図９のグラフから明らかなように、エラーレート劣化量が増加するのに従って、媒体ノイズ増加量が増加しており、これらは概ね比例の関係にあることから、これらの間には相関があると言うことができる。
【００４１】
従って、上記Ｓ２５では、信号強度の差分（すなわち、媒体ノイズ増加量）が所定の閾値を上回る位置が、エラーレートの劣化が生じやすい位置として特定される。
【００４２】
Ｓ２６のステップでは、上記Ｓ２５で特定されたエラーレートの劣化が生じやすい位置と、交流磁界が繰り返し印加された、範囲２３内の中央のトラック２１ａの位置との位置関係が求められ、この位置関係の情報が磁気ディスク装置１のメモリに格納される。この位置関係は、例えば、エラーレートの劣化が生じやすい位置が、範囲２３内の中央のトラック２１ａを基準として、トラッキング方向のどちらにトラック何本分だけ離れているかということを表す。
【００４３】
こうして磁気ディスク装置１のメモリに格納された位置関係の情報は、上記図２のＳ１５において、離隔トラックの書き直しを行う際に読み出される。
【００４４】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形実施が当業者にとって可能であるのはもちろんである。
【符号の説明】
【００４５】
１  磁気ディスク装置、２  磁気ディスク、３  スピンドルモータ、４  磁気ヘッド、６  ヘッドアッセンブリ、７  ボイスコイルモータ、９  筐体、１０  主制御回路、１３  Ｒ／Ｗチャネル、１４  ヘッドアンプ、１７  モータドライバ、２１  トラック、２３  範囲。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2011123957.tif 000009
【図８】
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【図９】
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