(57)【要約】      （修正有）【課題】タイミングの見落としに起因するＬＳＩの誤動作及びタイミング調整回路と消費電力の増加問題を解決する。【解決手段】タイミングライブラリ検査装置は、ＬＳＩのタイミング制約値を含むタイミングライブラリ入力部１２と、そのライブラリから、ＬＳＩのタイミング制約の基準となる基準端子毎のタイミング制約を受ける制約端子のタイミング制約値を含み、複数の基準端子と制約端子の波形鈍りを行方向及び列方向に持つルックアップテーブルで表されるタイミング制約データを抽出する抽出部１４ａと、抽出されたデータに対し、隣接する２つのタイミング制約値の差を算出し、その増加又は減少を示す増減データ作成部１４ｂと、１４ｂによって作成された増減データに増加及び減少が含まれているか否かを判定する判定部１４ｃと、含まれていると判定された場合に、タイミングライブラリに特異点が含まれることを報知する出力する出力部１８と、を備える。【選択図】図３
2011059767.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体集積回路のタイミング制約値を含むタイミングライブラリを受け付ける入力部と、
前記入力部によって受け付けられたタイミングライブラリから、前記半導体集積回路のタイミング制約の基準となる基準端子毎の前記タイミング制約を受ける制約端子のタイミング制約値を含み、複数の基準端子の波形鈍りと複数の制約端子の波形鈍りを持つルックアップテーブルで表されるタイミング制約データを抽出する抽出部と、
前記抽出部によって抽出されたタイミング制約データに対し、隣接する２つのタイミング制約値の差を算出し、前記算出された差から前記タイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成する増減データ作成部と、
前記増減データ作成部によって作成された増減データに増加及び減少が含まれているか否かを判定する判定部と、
前記判定部によって前記増減データに増加及び減少が含まれていると判定された場合に、前記タイミングライブラリに特異点が含まれることを報知する出力する出力部と、
を備えるタイミングライブラリ検査装置。
【請求項２】
前記増減データ作成部は、１つの基準端子について、隣接する２つの制約端子のタイミング制約値の差を算出し、前記算出された差から前記タイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成する請求項１記載のタイミングライブラリ検査装置。
【請求項３】
前記増減データ作成部は、１つの制約端子について、隣接する２つの基準端子のタイミング制約値の差を算出し、前記算出された差から前記タイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成する請求項１又は２記載のタイミングライブラリ検査装置。
【請求項４】
データを記憶可能に構成された記憶部をさらに備え、
前記増減データ作成部は、前記作成された増減データを前記記憶部に書き込む請求項１乃至３の何れか１項記載のタイミングライブラリ検査装置。
【請求項５】
前記出力部は、前記タイミングライブラリに特異点が含まれることを示すメッセージを出力する請求項１乃至４の何れか１項記載のタイミングライブラリ検査装置。
【請求項６】
前記出力部は、さらに、前記タイミング制約データを特定する特定情報を出力する請求項１乃至５の何れか１項記載のタイミングライブラリ検査装置。
【請求項７】
前記特定情報は、前記タイミング制約値に対応するセルのセル名、前記タイミング制約が設定された端子の端子名、及び前記タイミング制約が設定された端子と同一セルに存在する端子の設定状態のうち少なくとも１つを含む請求項６記載のタイミングライブラリ検査装置。
【請求項８】
前記出力部は、さらに、前記タイミング制約データを出力する請求項１乃至７の何れか１項記載のタイミングライブラリ検査装置。
【請求項９】
半導体集積回路のタイミング制約値を含むタイミングライブラリを受け付け、
前記受け付けられたタイミングライブラリから、前記半導体集積回路のタイミング制約の基準となる基準端子毎の前記タイミング制約を受ける制約端子のタイミング制約値を含み、複数の基準端子の波形鈍りと複数の制約端子の波形鈍りをそれぞれ行方向及び列方向に持つルックアップテーブルで表されるタイミング制約データを抽出し、
前記抽出されたタイミング制約データに対し、隣接する２つのタイミング制約値の差を算出し、
前記算出された差から前記タイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成し、
前記作成された増減データに増加及び減少が含まれているか否かを判定し、
前記増減データに増加及び減少が含まれていると判定された場合に、前記タイミングライブラリに特異点が含まれることを報知する
ことを備えるタイミングライブラリ検査方法。
【請求項１０】
半導体集積回路のタイミング制約値を含むタイミングライブラリを受け付ける入力命令と、
前記受け付けられたタイミングライブラリから、前記半導体集積回路のタイミング制約の基準となる基準端子毎の前記タイミング制約を受ける制約端子のタイミング制約値を含み、複数の基準端子の波形鈍りと複数の制約端子の波形鈍りをそれぞれ行方向及び列方向に持つルックアップテーブルで表されるタイミング制約データを抽出する抽出命令と、
前記抽出されたタイミング制約データに対し、隣接する２つのタイミング制約値の差を算出し、前記算出された差から前記タイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成する増減データ作成命令と、
前記作成された増減データに増加及び減少が含まれているか否かを判定する判定命令と、
前記増減データに増加及び減少が含まれていると判定された場合に、前記タイミングライブラリに特異点が含まれることを報知する出力命令と、
を備えるタイミングライブラリ検査プログラムを格納するコンピュータ読取可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タイミングライブラリ検査装置、タイミングライブラリ検査方法、及びタイミングライブラリ検査プログラムを格納する記憶媒体に関し、より詳しくは、半導体集積回路のタイミングライブラリの検証に用いられるタイミングライブラリ検査装置、タイミングライブラリ検査方法、及びタイミングライブラリ検査プログラムを格納する記憶媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的な半導体集積回路のタイミングライブラリ（例えば、順序回路の入力タイミング用タイミングライブラリ）の作成では、順序回路の入力タイミングは、動作が極めて不安定なメタステーブル領域の周辺で測定される。このメタステーブル領域では、安定した出力波形を得ることが難しく、その出力波形には、振動又はハザードを伴うなどの不十分な遷移が現れる傾向がある。特に、この傾向は、半導体集積回路の電源電圧の低電圧化によって顕著になる。
【０００３】
しかしながら、タイミングライブラリの作成に於いては、不十分な遷移が現れた出力波形であっても、論理閾値である判定基準電圧を超える場合には半導体集積回路が正常動作するものと判定される。この場合には、この出力波形を入力とする論理ゲートは正常に論理動作することができないので、出力波形が判定基準電圧を超えたとしても半導体集積回路が正常動作するものと判定されるべきではない。ところが、実際には、半導体集積回路が正常動作するものと判定され、その時点の入力波形のタイミングがホールドタイム又はセットアップタイムとしてタイミングライブラリに登録される。登録されたホールドタイム及びセットアップタイムは、半導体集積回路が正常動作するときとは異なる値であるため、タイミングライブラリにおいて特異点となる。その結果、ユーザは、特異点を含むタイミングライブラリから正確な入力タイミングを読み取ることができない。すなわち、一般的なタイミングライブラリの作成では、不完全なタイミングライブラリが作成されることがある。
【０００４】
さらに、タイミングライブラリが作成された後に、そのタイミングラリブラリが不完全であるか否か（すなわち、タイミングライブラリが特異点を含むか否か）について、ユーザの目視による検査が必要である。
【０００５】
しかしながら、タイミングライブラリに登録されるデータ量は膨大であるので、ユーザの目視による検査は極めて困難である。従って、ユーザは、黙視による検査で特異点を見落とすと、不完全なタイミングライブラリを利用して順序回路の入力タイミングを検証することになる。その結果、順序回路の入力タイミングに違反があるにもかかわらず、その違反が見落とされることに起因する半導体集積回路の誤動作、並びに半導体集積回路のセルの入力タイミングの制約（以下、「タイミング制約」という）を過剰に与えるために追加するタイミング調整用回路に起因する回路規模及び消費電力の増加という問題が生じる。
【０００６】
また、従来では、タイミングライブラリの作成における問題に対して様々な提案がなされているが（特許文献１を参照）、上記問題に対する解決方法は提案されていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平９−３０５６５０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の目的は、タイミングに違反があるにもかかわらず、その違反が見落とされることに起因する半導体集積回路の誤動作、並びにタイミング制約を過剰に与えるために追加するタイミング調整用回路に起因する回路規模及び消費電力の増加という問題を解決することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の第１態様によれば、
半導体集積回路のタイミング制約値を含むタイミングライブラリを受け付ける入力部と、
前記入力部によって受け付けられたタイミングライブラリから、前記半導体集積回路のタイミング制約の基準となる基準端子毎の前記タイミング制約を受ける制約端子のタイミング制約値を含み、複数の基準端子の波形鈍りと複数の制約端子の波形鈍りをそれぞれ行方向及び列方向に持つルックアップテーブルで表されるタイミング制約データを抽出する抽出部と、
前記抽出部によって抽出されたタイミング制約データに対し、隣接する２つのタイミング制約値の差を算出し、前記算出された差から前記タイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成する増減データ作成部と、
前記増減データ作成部によって作成された増減データに増加及び減少が含まれているか否かを判定する判定部と、
前記判定部によって前記増減データに増加及び減少が含まれていると判定された場合に、前記タイミングライブラリに特異点が含まれることを報知する出力する出力部と、
を備えるタイミングライブラリ検査装置が提供される。
【００１０】
本発明の第２態様によれば、
半導体集積回路のタイミング制約値を含むタイミングライブラリを受け付け、
前記受け付けられたタイミングライブラリから、前記半導体集積回路のタイミング制約の基準となる基準端子毎の前記タイミング制約を受ける制約端子のタイミング制約値を含み、複数の基準端子の波形鈍りと複数の制約端子の波形鈍りをそれぞれ行方向及び列方向に持つルックアップテーブルで表されるタイミング制約データを抽出し、
前記抽出されたタイミング制約データに対し、隣接する２つのタイミング制約値の差を算出し、
前記算出された差から前記タイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成し、
前記作成された増減データに増加及び減少が含まれているか否かを判定し、
前記増減データに増加及び減少が含まれていると判定された場合に、前記タイミングライブラリに特異点が含まれることを報知する
ことを備えるタイミングライブラリ検査方法が提供される。
【００１１】
本発明の第３態様によれば、
半導体集積回路のタイミング制約値を含むタイミングライブラリを受け付ける入力命令と、
前記受け付けられたタイミングライブラリから、前記半導体集積回路のタイミング制約の基準となる基準端子毎の前記タイミング制約を受ける制約端子のタイミング制約値を含み、複数の基準端子の波形鈍りと複数の制約端子の波形鈍りをそれぞれ行方向及び列方向に持つルックアップテーブルで表されるタイミング制約データを抽出する抽出命令と、
前記抽出されたタイミング制約データに対し、隣接する２つのタイミング制約値の差を算出し、前記算出された差から前記タイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成する増減データ作成命令と、
前記作成された増減データに増加及び減少が含まれているか否かを判定する判定命令と、
前記増減データに増加及び減少が含まれていると判定された場合に、前記タイミングライブラリに特異点が含まれることを報知する出力命令と、
を備えるタイミングライブラリ検査プログラムを格納するコンピュータ読取可能な記憶媒体が提供される。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、タイミングに違反があるにもかかわらず、その違反が見落とされることに起因する半導体集積回路の誤動作、並びにタイミング制約を過剰に与えるために追加するタイミング調整用回路に起因する回路規模及び消費電力の増加を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査装置１０の構成を示すブロック図である。
【図２】タイミングライブラリ及びタイミング制約データのデータ構造を示す概略図である。
【図３】図１のＣＰＵ１４によって実現される機能を示すブロック図である。
【図４】クロック波形鈍りに対するデータ波形鈍りの系列データを示す概略図である。
【図５】図３の増減データ作成部１４ｂの処理を示す概略図である。
【図６】データ波形鈍りの系列データに対する増減データのデータ構造を示す概略図である。
【図７】クロック波形鈍りの系列データに対する増減データのデータ構造を示す概略図である。
【図８】本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査処理の手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００１５】
本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査装置の構成について説明する。図１は、本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査装置１０の構成を示すブロック図である。図２は、タイミングライブラリ及びタイミング制約データのデータ構造を示す概略図である。図３は、図１のＣＰＵ１４によって実現される機能を示すブロック図である。図４は、クロック波形鈍りに対するデータ波形鈍りの系列データを示す概略図である。図５は、図３の増減データ作成部１４ｂの処理を示す概略図である。図６は、データ波形鈍りの系列データに対する増減データのデータ構造を示す概略図である。図７は、クロック波形鈍りの系列データに対する増減データのデータ構造を示す概略図である。
【００１６】
図１に示すように、本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査装置１０は、入力部１２と、プロセッサ（以下、「ＣＰＵ（Central Processing Unit）」という）１４と、記憶部１６と、出力部１８と、を備える。ＣＰＵ１４には、入力部１２と、記憶部１６と、出力部１８と、が接続される。
【００１７】
図１の入力部１２は、半導体集積回路のタイミング制約値を含むタイミングライブラリを受け付けるように構成される。例えば、入力部１２は、キーボード等の入力装置からユーザが入力したタイミングライブラリを受け付けるように構成される。図２（Ａ）に示すように、タイミングライブラリは、複数のタイミング制約データから構成される。図２（Ｂ）に示すように、各タイミング制約データは、Ｎ個のクロック波形鈍り時間及びＭ個のデータ波形鈍り時間をインデックスとするタイミング制約値を含むテーブルである。換言すると、各タイミング制約データは、半導体集積回路のタイミング制約の基準となる端子（以下、「基準端子」という）毎のタイミング制約を受ける端子（以下、「制約端子」という）のタイミング制約値を含み、複数の基準端子の波形鈍りと複数の制約端子の波形鈍りを持つルックアップテーブルで表される。タイミング制約値は、セルの入力タイミングの制約を示す情報である。具体的には、タイミング制約値は、クロック端子とデータ端子との間又は２つのデータ端子間で定義される同期動作のための時間的な制約（すなわち、セルの入力端子（クロック端子又はデータ端子）に到達した信号とデータ端子に到達した信号との間の時間差に課せられる制約）を示す情報である。
【００１８】
図１のＣＰＵ１４は、記憶部１６に記憶されたタイミングライブラリ検査プログラム１６ａを実行することによって、図３に示す抽出部１４ａと、増減データ作成部１４ｂと、判定部１４ｃと、を実現するように構成される。
【００１９】
図３の抽出部１４ａは、入力部１２によって受け付けられたタイミングライブラリから、図２（Ｂ）に示すタイミング制約データを抽出するように構成される。例えば、クロック端子が基準端子であり、データ端子を制約端子である場合には、抽出部１４ａは、図４のクロック波形鈍りに対するデータ波形鈍りの系列データ（Ｃ／ｎ）を抽出する。
【００２０】
図３の増減データ作成部１４ｂは、抽出部１４ａによって抽出されたタイミング制約データに対し、隣接する２つのタイミング制約値の差を算出し、算出された差からタイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成して、作成した増減データを記憶部１６に書き込むように構成される。なお、増減データ作成部１４ｂは、１つの基準端子について、隣接する２つの制約端子のタイミング制約値の差を算出し、算出された差からタイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成しても良い。また、増減データ作成部１４ｂは、１つの制約端子について、隣接する２つの基準端子のタイミング制約値の差を算出し、算出された差からタイミング制約値の増加又は減少を示す増減データを作成しても良い。例えば、図５（Ａ）に示すように、増減データ作成部１４ｂは、データ波形鈍りの系列データ（Ｃ／ｎ）に対し、データ波形鈍りのインデックスｎ（ｎ：１〜Ｎ）の昇順に、隣接する２点のタイミング制約値（ｔ（ｍ））（ｍ：１〜M）の差を算出し、全ての隣接する２点のタイミング制約値の大小関係を示す２ビットのデータ（１｜０）から構成される増減データ（図６を参照）を作成する。また、図５（Ｂ）に示すように、増減データ作成部１４ｂは、クロック波形鈍りの系列データ（Ｄ／ｍ）に対し、データ波形鈍りのインデックスｍの昇順に、隣接する２点のタイミング制約値（ｔ（ｎ））の差を算出し、全ての隣接する２点のタイミング制約値の大小関係を示す２ビットのデータから構成される増減データ（図７を参照）を作成する。図６では、増減データ（ｍ／ｍ−１）は、“ｔ（ｍ）−ｔ（ｍ−１）”の増減情報から構成される。図７では、増減データ（ｎ／ｎ−１）は、“ｔ（ｎ）−ｔ（ｎ−１）”の増減情報から構成される。増減データ作成部１４ｂは、クロック波形鈍りの全てのインデックス値に対応するデータ波形鈍りの系列データについて、増減データを作成する。図６及び図７では、“１”は算出結果が負である（すなわち、データ波形鈍りが増えるにつれてタイミング制約値が増加する）ことを示し、“０”は算出結果が０以上である（すなわち、データ波形鈍りが増えるにつれてタイミング制約値が一定である又は減少する）ことを示す。
【００２１】
図３の判定部１４ｃは、増減データ作成部１４ｂによって作成された増減データに増加及び減少が含まれているか否かを判定するように構成される。例えば、図６の増減データでは、増減データ（１／２）はタイミング制約値が増加することを示す“１”のみから構成され、増減データ（Ｍ−２／Ｍ−１）及び（Ｍ−１／Ｍ）はタイミング制約値が一定である又は減少することを示す“０”のみから構成され、増減データ（２／３）は増減データに“１”（増加）及び“０”（減少）が含まれる。この場合には、判定部１４ｃは、系列データ（Ｃ／２）と系列データ（Ｃ／３）との間に特異点が存在すると判定する。図７の増減データでは、増減データ（１／２）及び増減データ（Ｎ−１／Ｎ）はタイミング制約値が増加することを示す“１”のみから構成され、増減データ（Ｎ−２／Ｎ−１）はタイミング制約値が一定である又は減少することを示す“０”のみから構成され、増減データ（２／３）は増減データに“１”（増加）及び“０”（減少）が含まれる。この場合には、判定部１４ｃは、系列データ（Ｄ／２）と系列データ（Ｄ／３）との間に特異点があると判定する。すなわち、判定部１４ｃは、同一クロック波形鈍りデータ波形の系列データ及び同一データ波形鈍りのクロック波形の系列データに増減の方向が１つでも異なる増減データが存在する場合に、特異点があると判定する。なお、図６の増減データの判定及び図７の増減データの判定は順不同である。
【００２２】
図１の記憶部１６は、タイミングライブラリ検査処理に使用される様々なデータを記憶可能に構成される。また、記憶部１６は、図３に示す機能を実現するためのタイミングライブラリ検査プログラム１６ａを記憶する。タイミングライブラリ検査プログラム１６ａは、図１の入力部１２によって受け付けられた入力部を受け取るための入力命令と、図３の抽出部１４ａを実現するための抽出命令と、増減データ作成部１４ｂを実現するための増減データ作成命令と、判定部１４ｃを実現するための判定命令と、図１の出力部１８から出力データを出力するための出力命令と、を含む。例えば、記憶部１６は、ハードディスク装置等のコンピュータ読取可能な記憶媒体である。
【００２３】
図１の出力部１８は、判定部１４ｃによって増減データに増加及び減少が含まれていると判定された場合に、タイミングライブラリに特異点が含まれることを報知するように構成される。例えば、判定部１４ｃによって増減データに増加及び減少が含まれる（すなわち特異点がある）と判定された場合には、出力部１８は、タイミングライブラリに特異点が含まれることを示すメッセージ、特異点を含むタイミング制約データを特定する特定情報、及び特異点を含むタイミング制約データを出力する。特定情報は、タイミング制約値に対応するセルのセル名、タイミング制約が設定された端子の端子名、及びタイミング制約が設定された端子と同一セルに存在する端子の設定状態のうち少なくとも１つである。出力部１８は、出力したデータをディスプレイ若しくはプリンタに送信し、又はネットワークを介してサーバに送信する。すなわち、出力部１８は、判定部１４ｃによって特異点があると判定された場合に、タイミング制約データが不完全なものであることを示す情報を出力する。
【００２４】
本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査処理について説明する。図８は、本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査処理の手順を示すフローチャートである。
【００２５】
＜図８：入力工程（Ｓ８０１）＞  入力部１２が、ユーザによって入力されたタイミングライブラリ（図２（Ａ）を参照）を受け付ける。なお、タイミングライブラリが記憶部１６に予め記憶されている場合には、入力部１２は、記憶部１６に記憶されたタイミングライブラリを読み出す。
【００２６】
＜図８：抽出工程（Ｓ８０２）＞  抽出部１４ａが、入力工程（Ｓ８０１）において受け付けられたタイミングライブラリから、タイミング制約値を含むタイミング制約データ（図２（Ｂ）を参照）を抽出する。
【００２７】
＜図８：増減データ作成工程（Ｓ８０３）＞  増減データ作成部１４ｂが、抽出工程（Ｓ８０２）において抽出されたタイミング制約データに対し、増減データ（図６及び図７を参照）を作成して、作成した増減データを記憶部１６に書き込む。増減データ作成工程（Ｓ８０３）は、タイミング制約データに含まれる全ての系列データ（図４を参照）について行われる。
【００２８】
＜図８：判定工程（Ｓ８０４）＞  判定部１４ｃが、増減データ作成工程（Ｓ８０３）において作成された増減データに増加及び減少が含まれているか否か（すなわち増減データに特異点が含まれるか否か）を判定する。判定工程（Ｓ８０４）は、増減データに含まれる全ての系列データについて行われる。
【００２９】
＜図８：出力工程（Ｓ８０５）＞  出力部１８が、判定工程（Ｓ８０４）において増減データに増加及び減少が含まれる（すなわち増減データに特異点がある）と判定された場合に、タイミングライブラリに特異点が含まれることを報知する。
【００３０】
＜図８：Ｓ８０６＞  抽出工程（Ｓ８０２）乃至出力工程（Ｓ８０５）は、タイミングライブラリに含まれる全てのタイミング制約データについて繰り返し行われる（Ｓ８０６−ＮＯ）。抽出工程（Ｓ８０２）乃至出力工程（Ｓ８０５）がタイミングライブラリに含まれる全てのタイミング制約データについて完了した場合には（Ｓ８０６−ＹＥＳ）、本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査処理が終了する。
【００３１】
本発明の代替の実施形態では、増減データ作成部１４ｂは、図６の増減データ又は図７の増減データの何れか一方のみを作成しても良い。この場合には、判定部１４ｃは、図６の増減データ又は図７の増減データの何れか一方について判定工程（Ｓ８０４）を行う。
【００３２】
本発明の実施形態によれば、増減データに基づいてタイミングライブラリのタイミング制約データに特異点が含まれるか否かが判定され、特異点が含まれる場合に、その旨が報知される。従って、タイミングに違反があるにもかかわらず、その違反が見落とされることに起因する半導体集積回路の誤動作、並びにタイミング制約を過剰に与えるために追加するタイミング調整用回路に起因する回路規模及び消費電力の増加を防ぐことができる。
【００３３】
また、本発明の実施形態によれば、基準端子又は制約端子について、隣接する２つの制約端子又は基準端子のタイミング制約値の差を算出し、算出された差からタイミング制約値の増加又は減少を示す増減データが作成される。この場合には、抽象度が向上し、その結果、大容量データの処理速度を向上させることができる。
【００３４】
また、本発明の実施形態によれば、基準端子及び制約端子の両方について、タイミング制約データに特異点が含まれるか否かが判定される。この場合には、タイミングライブラリ検査処理の検査精度を向上させることができる。
【００３５】
また、本発明の実施形態によれば、増減データが記憶部１６に記憶される。この場合には、タイミングライブラリ検査処理の処理速度を向上させることができる。
【００３６】
また、本発明の実施形態によれば、増減データに増加及び減少が含まれていると判定された場合に、タイミングライブラリに特異点が含まれるメッセージが出力される。この場合には、ユーザは特異点の有無を容易に判断できる。
【００３７】
また、本発明の実施形態によれば、特異点を含むタイミング制約データを特定する特定情報（タイミング制約値に対応するセルのセル名、タイミング制約が設定された端子の端子名、及びタイミング制約が設定された端子と同一セルに存在する端子の設定状態のうち少なくとも１つ）が出力される。この場合には、ユーザは、特異点の発生箇所を容易に特定することができ、且つ、特異点の発生箇所について視覚的に解析することができる。
【００３８】
また、本発明の実施形態によれば、特異点を含むタイミング制約データが出力される。この場合には、ユーザは擬似エラーを容易に確認することができ、且つ、擬似エラーについて本質的エラーか否かを解析することによってタイミングライブラリの本質的エラーを容易に修正することができる。
【００３９】
本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査装置１０の少なくとも一部は、ハードウェアで構成しても良いし、ソフトウェアで構成しても良い。ソフトウェアで構成する場合には、タイミングライブラリ検査装置１０の少なくとも一部の機能を実現するプログラムをフレキシブルディスクやＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に収納し、コンピュータに読み込ませて実行させても良い。記録媒体は、磁気ディスクや光ディスク等の着脱可能なものに限定されず、ハードディスク装置やメモリなどの固定型の記録媒体でも良い。
【００４０】
また、本発明の実施形態に係るタイミングライブラリ検査装置１０の少なくとも一部の機能を実現するプログラムを、インターネット等の通信回線（無線通信も含む）を介して頒布しても良い。さらに、同プログラムを暗号化したり、変調をかけたり、圧縮した状態で、インターネット等の有線回線や無線回線を介して、あるいは記録媒体に収納して頒布しても良い。
【００４１】
上述した実施形態は、いずれも一例であって限定的なものではないと考えられるべきである。本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【００４２】
１０  タイミングライブラリ検査装置
１２  入力部
１４  ＣＰＵ
１４ａ  抽出部
１４ｂ  増減データ作成部
１４ｃ  判定部
１６  記憶部
１８  出力部
【図１】
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【図２】
2011059767.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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