(57)【要約】【課題】角ビレットの表面疵検査装置において、角ビレットにおける表面疵検査の作業性を向上することで生産性の向上を図る。【解決手段】角ビレットＳを長手方向に搬送可能な搬送装置１１と、角ビレットＳにおける搬送方向の左右方向から挟持して左右方向の位置決めを行う左右一対の第１支持ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ，７２，７３と、角ビレットＳにおける搬送方向の上下方向から挟持して上下方向の位置決めを行う上下一対の第２支持ローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂと、角ビレットＳを磁化させる磁化装置１２と、磁化された角ビレットＳの表面に録磁テープ８８を接触させて漏洩する磁束を疵信号として記録する疵記録装置１３と、角ビレットＳの搬送位置に応じて搬送装置１１による角ビレットＳの搬送速度を調節する制御装置３５とを設ける。【選択図】図１
2011209185.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
角ビレットを長手方向に搬送可能な搬送装置と、
前記角ビレットにおける搬送方向の左右方向から挟持して左右方向の位置決めを行う左右一対の第１支持ローラと、
前記角ビレットにおける搬送方向の上下方向から挟持して上下方向の位置決めを行う上下一対の第２支持ローラと、
前記角ビレットを磁化させる磁化装置と、
磁化された前記角ビレットの表面に磁性テープを接触させて漏洩する磁束を疵信号として記録する疵記録装置と、
前記角ビレットの搬送位置に応じて前記搬送装置による前記角ビレットの搬送速度を調節する搬送速度調節装置と、
を備えることを特徴とする角ビレットの表面疵検査装置。
【請求項２】
前記搬送速度調節装置は、前記角ビレットの先端部または後端部が前記第１支持ローラまたは前記第２支持ローラに到達する前に前記角ビレットの搬送速度を低下させることを特徴とする請求項１に記載の角ビレットの表面疵検査装置。
【請求項３】
前記搬送速度調節装置は、前記角ビレットの先端部または後端部が前記第１支持ローラまたは前記第２支持ローラを通過した後に前記角ビレットの搬送速度を上昇させることを特徴とする請求項２に記載の角ビレットの表面疵検査装置。
【請求項４】
前記磁性テープを走行させるテープ走行装置と、前記磁性テープを前記角ビレットの表面に押付けるテープ押付装置とが設けられ、前記搬送速度調節装置は、前記角ビレットの先端部または後端部が前記テープ押付装置による前記磁性テープの押付部に到達する前に前記角ビレットの搬送速度を低下させ、前記角ビレットの先端部または後端部が前記テープ押付装置による前記磁性テープの押付部を通過した後に前記角ビレットの搬送速度を上昇させることを特徴とする請求項１から３のいずれか一つに記載の角ビレットの表面疵検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、角ビレットの表面の疵の有無やその位置を検出する角ビレットの表面疵検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
角ビレットとは、所定の角断面形状をなし、所定の長さを有する細長い形状をした鋼材である。この角ビレットの表面の疵の有無やその位置を検出する場合、この角ビレットを搬送しながら、磁化させると同時に表面に磁性テープを接触させることで、漏洩する磁束を疵信号としてテープに記録させる。そして、この磁性テープに記録された疵信号は、専用のセンサによって電気信号の形で取り出すことで、これを疵信号処理装置に送出して疵の有無とその位置を把握している。
【０００３】
なお、このような従来の角ビレットの表面疵検査装置としては、下記特許文献１、２に記載されたものがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１１−３３７５２８号公報
【特許文献２】特開２００１−３２４４８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述した従来の角ビレットの表面疵検査装置にあっては、装置内に搬入される角ビレットに対して、水平方向の両側からガイドローラを押し当てることで、水平方向の位置決めを行うと共に、上下方向の両側からガイドローラを押し当てることで、上下方向の位置決めを行い、この位置決め状態で、角ビレットの表面に磁性テープを接触させて検査を行っている。
【０００６】
ところが、角ビレットは、製造時に所定の長さに切断されることから、長手方向における各端部が変形している。即ち、角ビレットは、搬送方向における先端部と後端部にせん断によるだれが発生している。そのため、装置内に角ビレットが搬入されるとき、先端部におけるせん断だれ部が通過した後に、各ガイドローラを押し当てて位置決めを行っている。また、装置内から角ビレットが搬出されるとき、後端部におけるせん断だれ部が通過する前に、各ガイドローラを退避させている。すると、角ビレットは、搬送方向における先端部の所定範囲と後端部の所定範囲に関しては、表面疵検査を行うことができず、表面疵の有無にかかわらず表面研削処理を行うこととなり、作業性がよくないという問題がある。
【０００７】
本発明は、上述した課題を解決するものであり、角ビレットにおける表面疵検査の作業性を向上することで生産性の向上を図る角ビレットの表面疵検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の目的を達成するための本発明の角ビレットの表面疵検査装置は、角ビレットを長手方向に搬送可能な搬送装置と、前記角ビレットにおける搬送方向の左右方向から挟持して左右方向の位置決めを行う左右一対の第１支持ローラと、前記角ビレットにおける搬送方向の上下方向から挟持して上下方向の位置決めを行う上下一対の第２支持ローラと、前
記角ビレットを磁化させる磁化装置と、磁化された前記角ビレットの表面に磁性テープを接触させて漏洩する磁束を疵信号として記録する疵記録装置と、前記角ビレットの搬送位置に応じて前記搬送装置による前記角ビレットの搬送速度を調節する搬送速度調節装置と、を備えることを特徴とするものである。
【０００９】
従って、第１支持ローラや第２支持ローラにより角ビレットを支持するときに、角ビレットの搬送速度を低下させることで、第１支持ローラや第２支持ローラは、角ビレットにおける適正位置を支持することができる。また、磁化装置により角ビレットを磁化させるとき、磁化された角ビレットの表面に磁性テープを接触させるとき、磁化装置や磁性テープを角ビレットにおける適正位置に接近、接触させることができる。そのため、角ビレットの先端部や後端部における変形範囲を避けた適正位置を支持、または、接近させることができる。また、各支持ローラ、磁化装置、磁性テープを角ビレットに接近させるときに、角ビレットが低速で搬送されることから、変形範囲の近傍を支持したり、磁化したり、磁性テープを接触させたりすることができる。その結果、表面疵検査を行うことができない範囲を減少することで、角ビレットにおける表面疵検査の作業性を向上して生産性の向上を図ることができる。
【００１０】
本発明の角ビレットの表面疵検査装置では、前記搬送速度調節装置は、前記角ビレットの先端部または後端部が前記第１支持ローラまたは前記第２支持ローラに到達する前に前記角ビレットの搬送速度を低下させることを特徴としている。
【００１１】
従って、各支持ローラは、角ビレットの変形範囲の近傍を支持することができ、表面疵検査を行うことができない範囲を減少することで、角ビレットにおける表面疵検査の作業性を向上することができる。
【００１２】
本発明の角ビレットの表面疵検査装置では、前記搬送速度調節装置は、前記角ビレットの先端部または後端部が前記第１支持ローラまたは前記第２支持ローラを通過した後に前記角ビレットの搬送速度を上昇させることを特徴としている。
【００１３】
従って、各支持ローラが角ビレットを支持した後は、角ビレットを高速で搬送することで、角ビレットにおける表面疵検査の作業性を向上することができる。
【００１４】
本発明の角ビレットの表面疵検査装置では、前記磁性テープを走行させるテープ走行装置と、前記磁性テープを前記角ビレットの表面に押付けるテープ押付装置とが設けられ、前記搬送速度調節装置は、前記角ビレットの先端部または後端部が前記テープ押付装置による前記磁性テープの押付部に到達する前に前記角ビレットの搬送速度を低下させ、前記角ビレットの先端部または後端部が前記テープ押付装置による前記磁性テープの押付部を通過した後に前記角ビレットの搬送速度を上昇させることを特徴としている。
【００１５】
従って、テープ押付装置は、角ビレットの変形範囲の近傍に磁性テープを押付けることができ、表面疵検査を行うことができない範囲を減少することができ、また、テープ押付装置が角ビレットに磁性テープを押付けた後は、角ビレットを高速で搬送することとなり、角ビレットにおける表面疵検査の作業性を向上することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の角ビレットの表面疵検査装置によれば、角ビレットの搬送位置に応じて搬送装置による角ビレットの搬送速度を調節する搬送速度調節装置を設けるので、表面疵検査を行うことができない範囲を減少することで、角ビレットにおける表面疵検査の作業性を向上することで生産性の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】図１は、本発明の一実施例に係る角ビレットの表面疵検査装置を表す概略構成図である。
【図２】図２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置を表す概略斜視図である。
【図３】図３は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の平面図である。
【図４】図４は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の正面図である。
【図５】図５は、本実施例の磁化装置における磁化コイル及び磁化ヨークを表す概略図である。
【図６】図６は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の平面図である。
【図７】図７は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の正面図である。
【図８】図８は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置による検査方法を表すタイムチャートである。
【図９−１】図９−１は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の作動を表す平面図である。
【図９−２】図９−２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の作動を表す正面図である。
【図１０−１】図１０−１は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の作動を表す平面図である。
【図１０−２】図１０−２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の作動を表す正面図である。
【図１１−１】図１１−１は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の作動を表す平面図である。
【図１１−２】図１１−２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の作動を表す正面図である。
【図１２−１】図１２−１は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す平面図である。
【図１２−２】図１２−２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す正面図である。
【図１３−１】図１３−１は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す平面図である。
【図１３−２】図１３−２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す正面図である。
【図１４−１】図１４−１は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す平面図である。
【図１４−２】図１４−２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す正面図である。
【図１４−３】図１４−３は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す側面図である。
【図１５−１】図１５−１は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す平面図である。
【図１５−２】図１５−２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下に添付図面を参照して、本発明に係る角ビレットの表面疵検査装置の好適な実施例
を詳細に説明する。なお、この実施例により本発明が限定されるものではない。
【実施例】
【００１９】
図１は、本発明の一実施例に係る角ビレットの表面疵検査装置を表す概略構成図、図２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置を表す概略斜視図、図３は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の平面図、図４は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の正面図、図５は、本実施例の磁化装置における磁化コイル及び磁化ヨークを表す概略図、図６は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の平面図、図７は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の正面図、図８は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置による検査方法を表すタイムチャート、図９−１〜図１１−２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における磁化装置の作動を表す平面図、正面図、図１２−１〜図１５−２は、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置における疵記録装置の作動を表す側面図、平面図または正面図である。
【００２０】
本実施例の角ビレットの表面疵検査装置は、図２に示すように、角ビレットＳをその長手方向に搬送する搬送装置１１と、搬送される角ビレットＳを磁化させる磁化装置１２と、磁化された角ビレットＳの表面に磁性テープを接触させて漏洩する磁束を疵信号として記録する疵記録装置１３とを有している。
【００２１】
搬送装置１１において、図１及び図２に示すように、装置の入側（図１にて、左側）にて、角ビレットＳの下方に配置される下部駆動ローラ２１と、角ビレットＳの上方に配置される上部駆動ローラ２２が設けられ、各駆動ローラ２１，２２は、それぞれ駆動モータ２３により同期駆動可能となっている。また、装置の出側（図１にて、右側）にて、角ビレットＳの下方に配置される下部駆動ローラ２４と、角ビレットＳの上方に配置される上部駆動ローラ２５が設けられ、各駆動ローラ２４，２５は、それぞれ駆動モータ２６により同期駆動可能となっている。また、上部駆動ローラ２２，２５は、押圧シリンダ２７，２８により角ビレットＳの上面に押圧可能となっている。
【００２２】
また、装置の入側にて、角ビレットＳの搬送経路の上方には、角ビレットＳを検出する光電センサ２９，３０が各ビレットＳの搬送方向に所定間隔をもって設けられている。この光電センサ２９，３０により角ビレットＳの先端部及び後端部を検出することができる。更に、装置の入側では、上部駆動ローラ２２より上流側に位置して測長ローラ３１が設けられ、押圧シリンダ３２により角ビレットＳの上面に押圧可能となっている。一方、装置の出側では、上部駆動ローラ２５より下流側に位置して測長ローラ３３が設けられ、押圧シリンダ３４により角ビレットＳの上面に押圧可能となっている。この測長ローラ３１，３３は、角ビレットＳの搬送に伴って同期して回転することで、この角ビレットＳの搬送量を検出することができる。
【００２３】
制御装置３５は、光電センサ２９，３０が検出した角ビレットＳの先端部及び後端部が入力されると共に、測長ローラ３１，３３が検出した角ビレットＳの搬送量が入力される。また、制御装置３５は、各駆動モータ２３，２６を駆動制御可能となっており、角ビレットＳの先端部及び後端部の位置や角ビレットＳの搬送量に応じて、各駆動ローラ２１，２２，２４，２５の回転速度を変更し、角ビレットＳの搬送速度を調節可能となっている。また、制御装置３５は、各押圧シリンダ２７，２８，３２，３４を駆動制御可能となっており、必要に応じて上部駆動ローラ２２，２５、測長ローラ３１，３３の押付け力を調整可能となっている。
【００２４】
磁化装置１２は、図２乃至図５に示すように、角ビレットＳの搬送経路の両側にほぼ対称をなすように配置されている。左右一対の架台４１ａ，４１ｂは、この角ビレットＳの
搬送経路の両側の床面上に所定距離を持って設置され、この架台４１ａ，４１ｂは、上部にスライド台４２ａ，４２ｂがガイドロッド４３ａ，４３ｂにより角ビレットＳの搬送経路に直交する水平方向に沿って移動自在に支持され、スライドシリンダ４４ａ，４４ｂによりスライド可能となっている。上下一対のリンク４５ａ，４５ｂ，４６ａ，４６ｂは、一端部がスライド台４２ａ，４２ｂの回動自在に連結され、他端部に支持台４７ａ，４７ｂが連結されている。そして、スイングシリンダ４８ａ，４８ｂは、スライド台４２ａ，４２ｂ上に装着され、駆動ロッドがリンク４５ａ，４６ａに連結されることで、リンク４５ａ，４５ｂ，４６ａ，４６ｂを介して支持台４７ａ，４７ｂを上下に移動することができる。
【００２５】
支持台４７ａ，４７ｂは、入側に支持アーム４９ａ，４９ｂが固定され、スイングアーム５０ａ，５０ｂは、基端部がこの支持アーム４９ａ，４９ｂに固定され、先端部に入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂが連結されている。この入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂは、角ビレットＳの搬送経路に直交する水平方向に沿った軸心を持って回転可能となっており、スイングシリンダ４８ａ，４８ｂが駆動し、リンク４５ａ，４５ｂ，４６ａ，４６ｂを介して支持台４７ａ，４７ｂと共にスイングアーム５０ａ，５０ｂが上下に移動することで、角ビレットＳの上下面に入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂを押付け、この角ビレットＳの上下方向の位置決めを行うことができる。
【００２６】
また、支持台４７ａ，４７ｂは、出側に支持アーム５２ａ，５２ｂが固定され、スイングアーム５３ａ，５３ｂは、基端部がこの支持アーム５２ａ，５２ｂに固定され、先端部に出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂが連結されている。スイングシリンダ５５ａ，５５ｂは、支持アーム５２ａ，５２ｂに装着され、駆動ロッドがスイングアーム５３ａ，５３ｂに連結されている。この出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂは、角ビレットＳの搬送経路に直交する鉛直方向に沿った軸心を持って回転可能となっており、スイングシリンダ５５ａ，５５ｂが駆動し、スイングアーム５３ａ，５３ｂが左右に回動することで、角ビレットＳの上下面に出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂを押付け、この角ビレットＳの上下方向の位置決めを行うことができる。
【００２７】
更に、支持台４７ａ，４７ｂは、その中央部に磁化コイル５６ａ，５６ｂ及び磁化ヨーク５７ａ，５７ｂが装着されている。この磁化コイル５６ａ，５６ｂ及び磁化ヨーク５７ａ，５７ｂは、搬送中の角ビレットＳに接近させると共に通電することで、角ビレットＳの表面に磁束を形成し、平面部の疵による漏洩磁束やコーナー部の疵による漏洩磁束を形成することができる。また、入側の支持アーム４９ａ，４９ｂは、角ビレットＳの搬送経路側に突出する支持ローラ５８ａ，５８ｂが取付けられている。また、出側の支持アーム５２ａ，５２ｂは、角ビレットＳの搬送経路側に回動する支持ローラ５９ａ，５９ｂが取付けられている。
【００２８】
この場合、図１に示すように、制御装置３５は、スライドシリンダ４４ａ，４４ｂ、スイングシリンダ４８ａ，４８ｂ、スイングシリンダ５５ａ，５５ｂを駆動制御可能であり、角ビレットＳの搬送位置に応じて、磁化コイル５６ａ，５６ｂ及び磁化ヨーク５７ａ，５７ｂ、入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂ、出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂを移動することができる。
【００２９】
疵記録装置１３は、図６及び図７に示すように、角ビレットＳの搬送経路の上方で、且つ、一方側（図６及び図７にて、左側）に配置されている。架台６１は、角ビレットＳの搬送経路の側方に設置され、この架台６１にスライドシリンダ６２が取付けられている。また、架台６１は、図１４−３に詳細に示すように、左右一対の支持台６３を有し、各支持台６３にガイドレール６４がそれぞれ固定されている。記録ヘッド６５は、周囲に平面視がコ字形状をなす支持部材６６が固定され、この支持部材６６に固定された両側部のリ
ニアガイド６７がガイドレール６４に移動自在に支持されると共に、スライドシリンダ６２の駆動ロッドが支持部材６６に連結されている。
【００３０】
また、記録ヘッド６５は、その両側に取付部材６８，６９が固定され、この各取付部材６８，６９にスイングアーム７０，７１が水平に回動自在に支持され、先端部に入側ガイドローラ７２、出側ガイドローラ７３がそれぞれ連結されている。また、スイングシリンダ７４，７５は、各取付部材６８，６９に支持され、駆動ロッドがスイングアーム７０，７１に連結されている。従って、スイングシリンダ７４，７５を駆動することで、スイングアーム７０，７１を介して入側ガイドローラ７２及び出側ガイドローラ７３を角ビレットＳ側に接近させることができ、この状態でスライドシリンダ６２を駆動することで、記録ヘッド６５を角ビレットＳの上方に移動し、各ガイドローラ７２，７３を角ビレットＳの側面に押圧することができる。
【００３１】
この記録ヘッド６５は、図１及び図２に示すように、磁化コイル５６ａ，５６ｂ及び磁化ヨーク５７ａ，５７ｂにより形成された表面疵による漏洩磁束を記録するものである。記録ヘッド６５は、テープ押付ローラ（テープ押付装置）８１、クリーニングブラシローラ８２、スキャニングロータ８３、速度計測ローラ８４、駆動ローラ（テープ走行装置）８５、消磁コイル８６、そして、複数のガイドローラ８７と、これらに巻き付けられる無端の録磁テープ（磁気テープ）８８とから構成されている。
【００３２】
テープ押付ローラ８１は、テープ押付シリンダ（テープ押付装置）８９により上下に移動可能であり、このテープ押付ローラ８１を介して録磁テープ８８を角ビレットＳの上面に押し付けることができる。クリーニングブラシローラ８２は、録磁テープ８８の表面及び裏面に付着したごみなどを除去するものである。スキャニングロータ８３は、録磁テープ８８が記録した漏洩磁束を読み取るものである。速度計測ローラ８４は、ロータリエンコーダ９０を内蔵しており、録磁テープ８８の走行速度を検出することができる。駆動ローラ８５は、駆動モータ９１により録磁テープ８８を所定の速度で走行させることができる。消磁コイル８６は、録磁テープ８８の記録内容を消し去るものである。録磁テープ８８は、角ビレットＳの表面疵から漏洩する磁場を欠陥信号として写し取るものである。
【００３３】
従って、駆動ローラ８５により角ビレットＳの搬送速度と同速度で録磁テープ８８を走行させると、この録磁テープ８８は、テープ押付ローラ８１により角ビレットＳの上面に押し付けられる位置で、角ビレットＳの疵から漏洩する磁場を欠陥信号として写し取る。そして、磁場を写し取った録磁テープ８８は、スキャニングロータ８３により欠陥信号が読み取られることで、この角ビレットＳに発生している疵などの欠陥を検出することができる。その後、録磁テープ８８上に録磁されてスキャニングロータ８３で検出された信号は、消磁コイル８６により消去され、録磁テープ８８は、再び、テープ押付ローラ８１により角ビレットＳの上面に接触し、欠陥信号を写し取って角ビレットＳの欠陥部データをスキャニングロータ８３に蓄積していく。
【００３４】
この場合、制御装置３５は、測長ローラ３１，３３が検出した角ビレットＳの搬送速度と、ロータリエンコーダ９０が検出した録磁テープ８８の走行速度に基づいて、駆動モータ２３，２６により駆動ローラ２１，２２，２４，２５の回転速度を制御すると共に、駆動モータ９１により駆動ローラ８５の回転速度を制御する。即ち、角ビレットＳと録磁テープ８８がスリップしないように、角ビレットＳの搬送と録磁テープ８８の走行を同期させている。
【００３５】
なお、上述の説明では、疵記録装置１３を角ビレットＳの搬送経路の上方で、且つ、一方側に配置したが、疵記録装置１３を角ビレットＳの搬送経路の下で、且つ、他方側に配置してもよく、図１に、テープ押付ローラ８１ａ、録磁テープ８８ａとして示すように、
角ビレットＳを上下から挟持するように配置してもよい。
【００３６】
このように構成された本実施例の角ビレットの表面疵検査装置にて、制御装置３５は、角ビレットＳの搬送位置に応じて搬送装置１１による角ビレットＳの搬送速度を調節することが可能であり、本発明の搬送速度調節装置としてこの制御装置３５が機能する。
【００３７】
また、角ビレットＳにおける搬送方向の左右方向から挟持して左右方向の位置決めを行う左右一対の第１支持ローラとして、支持ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ、入側ガイドローラ７２、出側ガイドローラ７３が機能する。角ビレットＳにおける搬送方向の上下方向から挟持して上下方向の位置決めを行う上下一対の第２支持ローラとして、入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂ、出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂが機能する。
【００３８】
具体的に、制御装置３５は、角ビレットＳの先端部または後端部が第１支持ローラまたは第２支持ローラに到達する前に角ビレットＳの搬送速度を低下させるようにしている。また、制御装置３５は、角ビレットＳの先端部または後端部が第１支持ローラまたは第２支持ローラを通過した後に角ビレットＳの搬送速度を上昇させるようにしている。更に、制御装置３５は、角ビレットＳの先端部または後端部がテープ押付ローラ８１による録磁テープ８８の押付部に到達する前に角ビレットＳの搬送速度を低下させ、角ビレットＳの先端部または後端部がテープ押付ローラ８１による録磁テープ８８の押付部を通過した後に角ビレットＳの搬送速度を上昇させるようにしている。
【００３９】
ここで、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置による表面疵検査方法について、詳細に説明する。
【００４０】
本実施例の角ビレットの表面疵検査装置において、図１に示すように、制御装置３５は、搬送装置１１を駆動制御することで、角ビレットＳを所定の高速度で搬送する。角ビレットＳは、先端部及び後端部が所定の長さにわたってせん断だれが形成されており、図９−１及び図１３−１に示すように、変形長さ範囲Ｌが設定されると共に、図４及び図７に示すように、変形外周範囲Ａが設定されている。各ローラはこの変形外周範囲Ａの外側の位置に退避している。そして、図３及び図６に示すように、光電センサ２９，３０が角ビレットＳの先端部をそれぞれ順に検出すると、制御装置３５は、測長ローラ３１，３３が検出した角ビレットＳの搬送速度に基づいて、角ビレットＳの先端部が入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂにより挟持される位置に到達する時間を算出すると共に、入側ガイドローラ７２により押圧される位置に到達する時間を算出する。
【００４１】
そして、制御装置３５は、図８の時間ｔ１にて、図１２−１及び図１２−２に示すように、スイングシリンダ７４を駆動してスイングアーム７０により入側ガイドローラ７２を角ビレットＳ側に回動させ、時間ｔ２にて、搬送装置１１による角ビレットＳの搬送速度を低下させる。そして、搬送装置１１による角ビレットＳの搬送速度が所定の低速度に変更された時間ｔ３にて、図９−１及び図９−２に示すように、制御装置３５は、スイングシリンダ４８ａ，４８ｂを駆動し、リンク４５ａ，４５ｂ，４６ａ，４６ｂを介して支持台４７ａ，４７ｂと共にスイングアーム５０ａ，５０ｂを上下に移動し、入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂを角ビレットＳの上下面に押付けることで、この角ビレットＳの上下方向の位置決めを行う。また、図１３−１及び図１３−２に示すように、スライドシリンダ６２を駆動し、記録ヘッド６５を角ビレットＳの上方に移動すると共に、入側ガイドローラ７２を移動して角ビレットＳの側面に押圧する。
【００４２】
この場合、角ビレットＳは、先端から後方側に向けて変形長さ範囲Ｌが設定されていることから、入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂ及び入側ガイドローラ７２は、図９−１及び図１３−１に示すように、角ビレットＳの先端から変形長さ範囲Ｌだけ後方に離間した位
置を支持する。制御装置３５は、角ビレットＳの先端部の検出と角ビレットＳの搬送速度に基づいて、角ビレットＳの先端部が入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂにより挟持される位置に到達する時間と、入側ガイドローラ７２により押圧される位置に到達する時間を算出している。そのため、入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂ及び入側ガイドローラ７２が角ビレットＳにおける適正位置を支持できるように、制御装置３５は、スイングシリンダ４８ａ，４８ｂ及びスライドシリンダ６２の駆動タイミング（時間ｔ３）を設定する。また、入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂ及び入側ガイドローラ７２が角ビレットＳにおける適正位置を支持する直前に、角ビレットＳの搬送速度が低速度となるように、制御装置３５は、搬送装置１１の制御タイミング（時間ｔ２）を設定する。
【００４３】
その後、図８の時間ｔ４にて、図１０−１及び図１０−２に示すように、スライドシリンダ４４ａ，４４ｂを駆動し、スライド台４２ａ，４２ｂ及び支持台４７ａ，４７ｂを介して磁化コイル５６ａ，５６ｂ及び磁化ヨーク５７ａ，５７ｂを前進することで、この磁化ヨーク５７ａ，５７ｂを角ビレットＳの側面に接近させる。すると、ここで、入側の支持アーム４９ａ，４９ｂに装着された支持ローラ５８ａ，５８ｂが前進し、この支持ローラ５８ａ，５８ｂを角ビレットＳの左右側面に押付けることで、この角ビレットＳの左右方向の位置決めを行う。
【００４４】
そして、図８の時間ｔ５にて、図１４−１乃至図１４−３に示すように、テープ押付シリンダ８９を駆動し、テープ押付ローラ８１を下降することで、走行している録磁テープ８８を角ビレットＳの上面に押し付ける。ここから角ビレットＳの上面における表面疵検査が開始される。即ち、磁化コイル５６ａ，５６ｂ及び磁化ヨーク５７ａ，５７ｂは、通電されることで角ビレットＳの表面に磁束を形成しており、この角ビレットＳの搬送速度と同速度で走行する録磁テープ８８は、テープ押付ローラ８１により角ビレットＳの上面に押し付けられる位置で、角ビレットＳの疵から漏洩する磁場を欠陥信号として写し取る。
【００４５】
角ビレットＳが更に搬送されると、図８の時間ｔ６にて、図１１−１及び図１１−２に示すように、スイングシリンダ５５ａ，５５ｂを駆動し、スイングアーム５３ａ，５３ｂを介して出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂを回動することで、この出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂを角ビレットＳの上下面に押付け、上下方向の位置決めを行う。また、このとき、出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂと共に支持ローラ５９ａ，５９ｂを回動することで、この支持ローラ５９ａ，５９ｂを角ビレットＳの左右側面に押付け、左右方向の位置決めを行う。
【００４６】
続いて、図８の時間ｔ７にて、図１５―１及び図１５−２に示すように、スイングシリンダ７５を駆動し、スイングアーム７１により出側ガイドローラ７３を角ビレットＳ側に回動させることで、この出側ガイドローラ７３を角ビレットＳの側面に押圧する。この作動の直後に、角ビレットＳの搬送速度を上昇し、図８の時間ｔ８にて、角ビレットＳの搬送速度が所定の高速度に変更されると、表面疵検査を継続して実行する。
【００４７】
なお、上述したように、角ビレットＳは、先端から後方側に向けた所定長さの変形長さ範囲Ｌが設定されていることから、支持ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ、出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂ、出側ガイドローラ７３、テープ押付ローラ８１は、角ビレットＳの先端から変形長さ範囲Ｌだけ後方に離間した位置を支持する。制御装置３５は、角ビレットＳの先端部の検出と角ビレットＳの搬送速度に基づいて、角ビレットＳの先端部が支持される位置に到達する時間を算出し、各シリンダの駆動タイミングを設定する。この場合、各シリンダの作動遅れ等も考慮する必要がある。
【００４８】
また、角ビレットＳが上方または下方にずれて搬送されている場合には、この角ビレッ
トＳの搬送位置に入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂ及び出側ガイドローラ５４ａ，５４ｂが追従することで、角ビレットＳの上下方向の位置決めがなされる。また、角ビレットＳが左方または右方にずれて搬送されている場合には、この角ビレットＳの搬送位置に入側ガイドローラ５８ａ，５８ｂ及び支持ガイドローラ５９ａ，５９ｂが追従することで、角ビレットＳの上下方向の位置決めがなされる。なお、スイングシリンダ４８ａ，４８ｂ，５５ａ，５５ｂ及びスライドシリンダ４４ａ，４４ｂをエアシリンダ（または、油圧シリンダ）とすることで、角ビレットＳのずれ量を吸収することができる。
【００４９】
従って、角ビレットＳが搬入されるときは、この角ビレットＳを高速で搬送し、各ローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂ，５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂによりこの角ビレットＳの表面を押圧して支持するとき、テープ押付ローラ８１により録磁テープ８８を角ビレットＳへの押付けるときは、角ビレットＳを低速で搬送し、この支持や押付けが完了したら、角ビレットＳを再び高速で搬送している。そのため、角ビレットＳの搬入時や搬入後の検査作業時には、角ビレットＳを高速で搬送することで、効率的な検査作業が行われる。また、ガイドローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂ，５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂにより角ビレットＳを支持するときや、テープ押付ローラ８１により録磁テープ８８を角ビレットＳへの押付けるときは、角ビレットＳを低速で搬送することで、効率的な角ビレットＳの支持作業が行われる。
【００５０】
例えば、角ビレットＳが搬送方向に向かって左方にずれて搬送されている場合、ガイドローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂが前進すると、まず、左側のガイドローラ５８ａ，５９ａが角ビレットＳの側面に接触し、遅れて、右側のガイドローラ５８ｂ，５９ｂが角ビレットＳの側面に接触する。このとき、角ビレットＳが高速で搬送されていると、左側のガイドローラ５８ａ，５９ａが角ビレットＳの表面に接触してから右側のガイドローラ５８ｂ，５９ｂが角ビレットＳの表面に接触するまでの間に、角ビレットＳが所定距離だけ搬送されてしまい、全てのガイドローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂによる角ビレットＳの支持位置が先端から変形長さ範囲Ｌを超えて大きく後方側にずれてしまう。
【００５１】
このことは、ガイドローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂによる角ビレットＳの支持動作、テープ押付ローラ８１による角ビレットＳへの録磁テープ８８の押付け動作についても同様である。
【００５２】
本実施例では、ガイドローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂ，５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂにより角ビレットＳを支持するとき、テープ押付ローラ８１により録磁テープ８８を角ビレットＳへの押付けるときは、角ビレットＳが低速で搬送される。そのため、角ビレットＳが上下や左右にずれており、支持や押付けに時間がかかっても、角ビレットＳの搬送距離が短くなることから、ガイドローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂ，５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂによる角ビレットＳの支持位置、テープ押付ローラ８１により録磁テープ８８を角ビレットＳへ押付ける位置が、先端から変形長さ範囲Ｌを超えて大きく後方側にずれることはない。
【００５３】
その結果、ガイドローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂ，５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂは、角ビレットＳにおける変形長さ範囲Ｌの近傍を支持することができ、また、テープ押付ローラ８１は、録磁テープ８８を角ビレットＳにおける変形長さ範囲Ｌの近傍に押付けることができる。その結果、角ビレットＳにおける変形長さ範囲Ｌの近傍から表面疵検査を行うことができる。
【００５４】
その後、光電センサ２９，３０が角ビレットＳの後端部をそれぞれ順に検出すると、制御装置３５は、測長ローラ３１，３３が検出した角ビレットＳの搬送速度に基づいて、角ビレットＳの後端部が入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂにより挟持される位置に到達する
時間を算出すると共に、入側ガイドローラ７２により押圧される位置に到達する時間を算出する。
【００５５】
そして、制御装置３５は、時間ｔ９にて、搬送装置１１による角ビレットＳの搬送速度を低下させる。そして、搬送装置１１による角ビレットＳの搬送速度が所定の低速度に変更された時間ｔ１０にて、制御装置３５は、スイングシリンダ７４を駆動してスイングアーム７０により入側ガイドローラ７２を角ビレットＳから離間するように回動させる。
【００５６】
その後、時間Ｔ１１にて、制御装置３５は、スイングシリンダ４８ａ，４８ｂを駆動し、リンク４５ａ，４５ｂ，４６ａ，４６ｂを介して支持台４７ａ，４７ｂと共にスイングアーム５０ａ，５０ｂを上下に移動し、入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂを角ビレットＳの上下面から離間させる。また、テープ押付シリンダ８９を駆動し、テープ押付ローラ８１を上昇することで、走行している録磁テープ８８を角ビレットＳの上面から離間させる。同時に、スライドシリンダ４４ａ，４４ｂを駆動し、スライド台４２ａ，４２ｂ及び支持台４７ａ，４７ｂを介して磁化コイル５６ａ，５６ｂ及び磁化ヨーク５７ａ，５７ｂを後退させることで、この磁化ヨーク５７ａ，５７ｂを角ビレットＳの側面から離間させる。このとき、支持ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂも後退し、角ビレットＳの左右側面から離間する。
【００５７】
その後、時間ｔ１２にて、スライドシリンダ６２を駆動し、記録ヘッド６５を角ビレットＳの上方から側方に退避させると共に、出側ガイドローラ７３角ビレットＳの側面から退避させる。また、スイングシリンダ７５を駆動し、スイングアーム７１により出側ガイドローラ７３を角ビレットＳから離間する。
【００５８】
このように本実施例の角ビレットの表面疵検査装置にあっては、角ビレットＳを長手方向に搬送可能な搬送装置１１と、角ビレットＳにおける搬送方向の左右方向から挟持して左右方向の位置決めを行う左右一対の第１支持ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ，７２，７３と、角ビレットＳにおける搬送方向の上下方向から挟持して上下方向の位置決めを行う上下一対の第２支持ローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂと、角ビレットＳを磁化させる磁化装置１２と、磁化された角ビレットＳの表面に録磁テープ８８を接触させて漏洩する磁束を疵信号として記録する疵記録装置１３と、角ビレットＳの搬送位置に応じて搬送装置１１による角ビレットＳの搬送速度を調節する制御装置３５とを設けている。
【００５９】
従って、第１支持ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ，７２，７３や第２支持ローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂにより角ビレットＳを支持するときに、角ビレットＳの搬送速度を低下させることで、角ビレットＳにおける適正位置を支持することができる。また、磁化された角ビレットＳの表面に録磁テープ８８を接触させるときには、この録磁テープ８８を角ビレットＳにおける適正位置に接触させることができる。そのため、角ビレットＳの先端部や後端部における変形長さ範囲Ｌを避けた適正位置を支持、または、接触させることができる。また、このとき、角ビレットＳが低速で搬送されることから、変形長さ範囲Ｌの近傍を支持したり、接触させたりすることができる。その結果、表面疵検査を行うことができない範囲を減少することで、角ビレットにおける表面疵検査の作業性を向上して生産性の向上を図ることができる。
【００６０】
具体的に、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置では、角ビレットＳの先端部または後端部が第１支持ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ，７２，７３や第２支持ローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂに到達する前に、角ビレットＳの搬送速度を低下させている。従って、各ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ，７２，７３，５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂは、角ビレットＳの変形長さ範囲Ｌの近傍を支持することができ、また、磁化装置１２の磁化ヨーク５７ａ，５７ｂは、角ビレットＳの変形長さ範囲Ｌの近傍に接近することができ、表面疵検査を行うことができない範囲を減少することで、角ビレットＳにおける表面疵検査の作業性を向上することができる。
【００６１】
また、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置では、角ビレットＳの先端部または後端部が第１支持ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ，７２，７３や第２支持ローラ５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂを通過した後に、角ビレットＳの搬送速度を上昇させている。従って、各ローラ５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ，７２，７３，５１ａ，５１ｂ，５４ａ，５４ｂが角ビレットＳを支持した後は、角ビレットＳを高速で搬送することで、角ビレットＳにおける表面疵検査の作業性を向上することができる。
【００６２】
また、本実施例の角ビレットの表面疵検査装置では、角ビレットＳの先端部または後端部が、録磁テープ８８の押付部に到達する前に角ビレットＳの搬送速度を低下させ、録磁テープ８８の押付部を通過した後に角ビレットＳの搬送速度を上昇させている。従って、テープ押付ローラ８１は、角ビレットＳの変形長さ範囲Ｌの近傍に録磁テープ８８を押付けることができ、表面疵検査を行うことができない範囲を減少することができ、また、テープ押付ローラ８１が角ビレットＳに録磁テープ８８を押付けた後は、角ビレットＳを高速で搬送することとなり、角ビレットＳにおける表面疵検査の作業性を向上することができる。
【００６３】
なお、上述した実施例では、入側ガイドローラ５１ａ，５１ｂが角ビレットＳの上下面を支持する前、また、入側ガイドローラ７２が角ビレットＳの側面を支持する前に、搬送装置１１により角ビレットＳの搬送速度が所定の低速度に変更されるようにしたが、この制御方法に限定されるものではない。各種支持ローラによる角ビレットＳの支持が遅れたとしても、テープ押付ローラ８１を下降して録磁テープ８８を角ビレットＳの上面に押し付ける位置が、角ビレットＳの変形長さ範囲Ｌの近傍であることが望ましく、例えば、テープ押付ローラ８１を下降して録磁テープ８８を角ビレットＳの上面に押し付ける前に、搬送装置１１により角ビレットＳの搬送速度が所定の低速度に変更されるように制御してもよい。この場合、疵記録装置１３が角ビレットＳの上下に配置されるとよい。
【００６４】
また、上述した実施例では、疵記録装置１３を角ビレットＳの上方、上方及び下方に配置した構成として説明したが、左方や右方に設けてもよい。また、角ビレットＳを搬送する駆動ローラを中央部が凹んだ逆クラウン形状とし、角ビレットＳを周方向に４５度程度傾けて搬送し、疵記録装置１３を斜め上方や斜め下方に配置してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００６５】
本発明に係る角ビレットの表面疵検査装置は、角ビレットの搬送位置に応じて角ビレットの搬送速度を調節することで、角ビレットにおける表面疵検査の作業性を向上することで生産性の向上を図るものであり、いずれの角ビレットの表面疵検査装置にも適用することができる。
【符号の説明】
【００６６】
１１  搬送装置
１２  磁化装置
１３  疵記録装置
２９，３０  光電センサ
３１，３３  測長ローラ
３５  制御装置（搬送速度調節装置）
５１ａ，５１ｂ  入側ガイドローラ（第２支持ローラ）
５４ａ，５４ｂ  出側ガイドローラ（第２支持ローラ）
５６ａ，５６ｂ  磁化コイル
５７ａ，５７ｂ  磁化ヨーク
５８ａ，５８ｂ，５９ａ，５９ｂ  支持ローラ（第１支持ローラ）
６５  記録ヘッド
７２  入側ガイドローラ（第１支持ローラ）
７３  出側ガイドローラ（第１支持ローラ）
８１  テープ押付ローラ（テープ押付装置）
８４  速度計測ローラ
８５  駆動ローラ（テープ走行装置）
８８  録磁テープ（磁気テープ）
８９  テープ押付シリンダ（テープ押付装置）
９０  ロータリエンコーダ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2011209185.tif 000007
【図６】
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【図７】
2011209185.tif 000009
【図８】
2011209185.tif 000010
【図９−１】
2011209185.tif 000011
【図９−２】
2011209185.tif 000012
【図１０−１】
2011209185.tif 000013
【図１０−２】
2011209185.tif 000014
【図１１−１】
2011209185.tif 000015
【図１１−２】
2011209185.tif 000016
【図１２−１】
2011209185.tif 000017
【図１２−２】
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【図１３−１】
2011209185.tif 000019
【図１３−２】
2011209185.tif 000020
【図１４−１】
2011209185.tif 000021
【図１４−２】
2011209185.tif 000022
【図１４−３】
2011209185.tif 000023
【図１５−１】
2011209185.tif 000024
【図１５−２】
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