(57)【要約】【課題】ディスク記載の初期記録条件がドライブ最適値と大きく異なっていた場合にも、記録パラメータを最適化する記録制御方法を提供する。【解決手段】ディスク記載の初期ＷＳとドライブ最適ＷＳが大きく異なっている場合に、ＭＬＳＥでのＷＳ調整が完了しなかった場合（Ｓ２３でＮｏ）、ＭＬＳＥでのＷＳ調整に加えてβ値でのＷＳ調整を行う（Ｓ２４，Ｓ２２）ことで、ディスク記載の初期ＷＳとドライブ最適ＷＳが大きく異なっている場合でも、ＷＳ調整を完了し、装置毎に最適ＷＳを決定することができる。【選択図】図２
2011192357.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
再生指標であるＭＬＳＥを用いた記録条件の調整を行なうステップと、
前記ＭＬＳＥを用いた記録条件の調整が正常にできたか否かを判断するステップと、
前記判断ステップで正常にできていないと判断された場合、再生指標であるβ値を用いた記録条件の調整を行なうステップと、
前記β値を用いた調整で求められた記録条件を初期に使用して前記ＭＬＳＥを用いた記録条件の調整を再度行なうステップと
を備えた記録制御方法。
【請求項２】
前記記録条件の調整は、ＷＳの調整を含む、請求項１記載の記録制御方法。
【請求項３】
前記記録条件の調整対象マークが、最短マーク長であることを特徴とする請求項１記載の記録制御方法。
【請求項４】
前記最短マーク長とは、記録層１層あたりの記録容量が３３．４ＧＢまたは、３２．０ＧＢである光ディスクにおける最短マーク長であることを特徴とする請求項３記載の記録制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、特定領域に記録パルス初期条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから、前記記録パルス初期条件を読み出して、記録再生装置の記録パルス条件を設定し、データの記録再生をする光ディスクの記録パルス条件を求める方法および装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
可搬記録媒体に原デジタル情報を記録し、再生する記録再生装置では、同一形状の記録パルスを用いても、装置や記録媒体の個体差によって、媒体上に形成されるマークの形状がばらつき、再生される信号品質は大きくことなる場合がある。このようなばらつきによる信頼性の低下を防ぐために、記録媒体の脱着時などにテスト記録動作を行い、記録パルスの形状の最適化を行うことが一般的に行われており、特許文献１では、再生指標としてジッタを用いており、特許文献２では、再生指標としてＭＬＳＥ（Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ  Ｓｅｑｕｅｎｔｉａｌ  Ｅｒｒｏｒ）を用いる例が紹介されている。
【０００３】
近年光ディスク媒体の高密度化により、記録マークの最短マーク長が光学的な分解能の限界に近づき、符号間干渉の増大およびＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔｉｏ）の劣化がより顕著となり、信号処理方法として、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式等を用いることが一般的になりつつある。ＰＲＭＬ方式は、パーシャルレスポンス（ＰＲ）と最尤復号（ＭＬ）とを組み合わせた技術であり、既知の符号間干渉が起こることを前提に再生波形から最も確からしい信号系列を選択する方式で、従来のレベル判定方式よりも復号性能が向上することが知られている。信号処理方式がレベル判定方式からＰＲＭＬ方式へ移行することで、記録パルスの形状の最適化についてマークの位置ずれ（エッジずれ）を検出することができる新たな指標である上記ＭＬＳＥが提案されている（特許文献２を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【特許文献２】特開２００４−３３５０７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
光ディスク媒体の高密度化がさらに進むと、符号間干渉およびＳＮＲ劣化がさらに問題となってくる。例えば、１２ｃｍの光ディスク媒体の記録層１層当たりの記録容量が３３．４ＧＢの場合には、図３の例のように最短マーク長である２Ｔマークでは記録層１層当たりの記録容量が２５．０ＧＢと比較して約２５％程度長さが短くなり、記録マークの最短マーク長では光学分解能の限界を超えてしまう。また、最短マークの記録パルス幅を１Ｔ分の幅とすると、約１５ｎｍ短くなり、記録パルス形状が最適となる範囲は、記録層１層当たりの記録容量が２５．０ＧＢの場合と比較して狭くなる。
【０００６】
また、高密度化した光ディスク媒体において一般的に用いられている再生信号処理である最尤復号法が典型的には、再生信号波形から信号パターンを予め推定しておいて、再生信号波形と推定信号波形とを比較しながら、再生信号を最も確からしい信号パターンを有する信号に復号する方法である。そのため、記録条件がドライブ最適値と大きく異なる場合、調整するマークのパターンが別のパターンに誤検出され、記録パルスを調整できないという課題があった。特許文献２に記載されている検出方法で、記録条件がドライブ最適値と大きく異なる場合に、調整するマークのパターンが別のパターンに誤検出される課題について以下、具体的に説明する。
【０００７】
まず、最尤復号法を用いた場合の再生信号品質の評価方法について述べる。例として、記録符号として最小極性反転間隔が２の記録符号を用い、また、記録時および再生時の信号の周波数特性がＰＲ（１，２，２，１）等化となるように信号の波形が整形される場合の再生信号品質の評価方法について説明する。
【０００８】
記録符号をｂｋとし、１時刻前の記録符号をｂｋ−１とし、２時刻前の記録符号をｂｋ−２とし、３時刻前の記録符号をｂｋ−３とする。ＰＲ（１，２，２，１）等化の理想的な出力値Ｌｅｖｅｌｖは（式１）で表される。
【０００９】
Ｌｅｖｅｌｖ ＝ ｂｋ−３ ＋ ２ｂｋ−２ ＋ ２ｂｋ−１ ＋ ｂｋ    （式１）
ここでｋは時刻を表す整数であり、ｖは０〜６までの整数である。
【００１０】
時刻ｋでの状態をＳ（ｂｋ−２，ｂｋ−１，ｂｋ）とし、簡単のために、時刻ｋでの状態Ｓ（０，０，０）ｋをＳ０ｋ、状態Ｓ（０，０，１）ｋをＳ１ｋ、状態Ｓ（０，１，１）ｋをＳ２ｋ、状態Ｓ（１，１，１）ｋをＳ３ｋ、状態Ｓ（１，１，０）ｋをＳ４ｋ、状態Ｓ（１，０，０）ｋをＳ５ｋとすると、図４に示す状態遷移図が得られる。
【００１１】
図４に示す状態遷移図は、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表している。この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図５のトレリス線図が得られる。ここで、時刻ｋでの状態Ｓ１ｋと時刻ｋ−４の状態Ｓ２ｋ−４に注目する。図５では、状態Ｓ１ｋと状態Ｓ２ｋ−４との間でとりうる２つの状態遷移列を示している。１つのとりうる状態遷移列をパスＡとすると、パスＡは状態Ｓ２ｋ−４、Ｓ４ｋ−３、Ｓ５ｋ−２、Ｓ０ｋ−１、Ｓ１ｋを遷移する。もう１つの状態遷移列をパスＢとすると、パスＢは状態Ｓ２ｋ−４、Ｓ３ｋ−３、Ｓ４ｋ−２、Ｓ５ｋ−１、Ｓ１ｋを遷移する。時刻ｋ−６から時刻ｋまでの最尤復号結果を（Ｃｋ−６，Ｃｋ−５，Ｃｋ−４，Ｃｋ−３，Ｃｋ−２，Ｃｋ−１，Ｃｋ）とすると、（Ｃｋ−６，Ｃｋ−５，Ｃｋ−４，Ｃｋ−３，Ｃｋ−２，Ｃｋ−１，Ｃｋ）＝ （０，１，１，ｘ，０，０，１）となる復号結果（ｘは０または１の値）が得られた場合には、パスＡまたはパスＢの状態遷移列が最も確からしいと推定されたこととなる。パスＡおよびパスＢの両方とも、時刻ｋ−４における状態が状態Ｓ２ｋ−４であることの確からしさは同じであるから、時刻ｋ−３から時刻ｋまでの、再生信号ｙｋ−３から再生信号ｙｋまでの値と、パスＡおよびパスＢそれぞれの期待値との差を２乗した値の累積値を求めることよって、パスＡとパスＢのどちらかの状態遷移列が確からしいことが分かる。
【００１２】
時刻ｋ−３から時刻ｋまでの再生信号ｙｋ−３からｙｋまでの値とパスＡの期待値との差を２乗した値の累積値をＰａとするとＰａは（式２）で表される。時刻ｋ−３から時刻ｋまでの再生信号ｙｋ−３からｙｋまでの値とパスＢの期待値との差を２乗した値の累積値をＰｂとするとＰｂは（式３）で表される。
【００１３】
Ｐａ＝（ｙｋ−３−４）２＋（ｙｋ−２−３）２＋（ｙｋ−１−１）２＋（ｙｋ−１）２  （式２）
Ｐｂ＝（ｙｋ−３−５）２＋（ｙｋ−２−５）２＋（ｙｋ−１−３）２＋（ｙｋ−２）２  （式３）
ここで最尤復号結果の信頼性を示すＰａとＰｂとの差Ｐａ−Ｐｂの意味について述べる。
【００１４】
最尤復号部は、Ｐａ＜＜ＰｂであればパスＡを自信を持って選択し、Ｐａ＞＞ＰｂであればパスＢを自信を持って選択したといえる。またＰａ＝ＰｂであればパスＡ、パスＢのいずれを選択してもおかしくなく、復号結果が正しいかどうかは５分５分であるといえる。例として、入力信号のサンプル値（ｙｋ−３、ｙｋ−２、ｙｋ−１、ｙｋ）を（４．２、３．２、１．２、１．２）とし、（式２）および（式３）からパスＡと入力信号との距離Ｐａと、パスＢと入力信号との距離Ｐｂとは、（式４）および（式５）の様に求まる。
【００１５】
Ｐａ＝（４．２−４）２＋（３．２−３）２＋（１．２−１）２＋（１．２−１）２
＝０．１６ （式４）
Ｐｂ＝（４．２−５） ２＋（３．２−５）２＋（１．２−３）２＋（１．２−１）２
＝７．１６ （式５）
上記例では、Ｐａ＝０．１６、Ｐｂ＝７．１６となり、Ｐａ＜＜Ｐｂとなっており、パスＡを自信を持って選択したことがわかる。このようにして所定の時間あるいは所定の回数、復号結果からＰａ−Ｐｂを求めるとＰａ−Ｐｂの分布が得られる。Ｐａ−Ｐｂの分布の模式図を図６に示す。図６は再生信号にノイズが重畳された場合のＰａ−Ｐｂの分布の様子を示している。分布には２つのピークがあり、１つはＰａ＝０となるときに頻度が極大となり、もう１つはＰｂ＝０ となるときに頻度が極大となる。上記のように、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則の場合、状態が遷移するときに２つの状態遷移列をとり得るような組み合わせは、時刻ｋ−４から時刻ｋの範囲では８パターンあり、時刻ｋ−５から時刻ｋの範囲では８パターンあり、時刻ｋ−６から時刻ｋの範囲では８パターン存在する。さらに検出する範囲を拡大すると、２つの状態遷移列をとり得るような組み合わせは、信頼性Ｐａ−Ｐｂパターン存在する。ここで、信頼性Ｐａ−Ｐｂを再生信号品質の指標とすることにより、すべてのパターンを検出しなくても、誤る可能性（誤り率）が大のパターンのみを検出すれば、その検出結果を誤り率と相関のある指標とすることができる。ここで、誤る可能性が大のパターンとは、信頼性Ｐａ−Ｐｂの値が小となるパターンであり、Ｐａ−Ｐｂ＝±１０ となる８パターンである。この８パターンとＰａ−Ｐｂとについてまとめると、図７のようになる。
【００１６】
特許文献２の記録パルス形状最適化方法では、上記８パターンの検出を、後述する記録パターンごと（マーク長と直前のスペース長の組み合わせと、マーク長と直後のスペース長の組み合わせのパターンごと）に行い、記録信号の形状、特にエッジの始終端部分に着目し、記録信号のエッジの位置を最適化する記録パラメータを決定している。
【００１７】
図８（ａ）〜（ｈ）に、上記８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ１〜Ｐａｔｔｅｒｎ８）のサンプル値を示す。横軸は時間（１目盛りは１チャネルクロック周期（Ｔｃｌｋ）を表す）、縦軸は信号レベル（０〜６）を示し、点線、実線はそれぞれパスＡ、パスＢを示す。各サンプル値は、（式１）で説明した最尤復号における入力の期待値Ｌｅｖｅｌｖの０〜６に相当する。一般的に記録部分は、反射光が減るため信号レベルとしてはコンパレータ閾値より下側の波形として再生される。一方、未記録部分は、コンパレータ閾値より上側の波形として再生される。また、図８で示した８パターンは、すべて記録部（マーク）と未記録部（スペース）の境界部分（マークの始端エッジおよび終端エッジ）である再生波形に相当する。よって、図８における８パターンのうち、Ｐａｔｅｒｎ１、Ｐａｔｔｅｒｎ２、Ｐａｔｔｅｒｎ３、Ｐａｔｔｅｒｎ４は、マークの始端エッジ部分に相当し、Ｐａｔｔｅｒｎ５、Ｐａｔｔｅｒｎ６、Ｐａｔｔｅｒｎ７、Ｐａｔｔｅｒｎ８は、マークの終端エッジ部分に相当する。
【００１８】
ここで、記録パラメータと上記パターンとの関係について説明する。記録符号の最小極性反転間隔をｍ（特許文献２の例では、ｍ＝２）とする。情報記録媒体上に形成されるマークの始端位置は、そのマーク直前のスペースの幅とそのマーク自身の幅に依存する。例えば、直前のスペース幅が２Ｔから（２＋ｂ）Ｔである場合は、マークの始端位置は直前のスペース幅に依存する。直前のスペース幅が（２＋ｂ）Ｔより大きい場合は、マークの始端位置は直前のスペース幅に依存しない。自身のマーク幅が２Ｔから（２＋ａ）Ｔである場合は、マークの始端位置は自身のマーク幅に依存する。自身のマーク幅が（２＋ａ）Ｔより大きい場合は、マークの始端位置は自身のマーク幅に依存しない。
【００１９】
また情報記録媒体上に形成されるマークの終端位置は、マーク自身の幅と直後のスペースの幅に依存する。例えば、自身のマーク幅が２Ｔから（２＋ａ）Ｔである場合は、マークの終端位置は自身のマーク幅に依存する。自身のマーク幅が（２＋ａ）Ｔより大きい場合は、マークの終端位置は自身のマーク幅に依存しない。また、後続のスペース幅が２Ｔから（２＋ｂ）Ｔである場合は、マークの終端位置は後続のスペース幅に依存する。後続のスペース幅が（２＋ｂ）Ｔより大きい場合は、マークの終端位置は後続のスペース幅に依存しない。ただしａ、ｂは０以上の整数であり、記録符号の最大極性反転は、２＋ａ、２＋ｂよりも大きいとする。
【００２０】
上記のようなマークの始端位置および終端位置の依存性を考えると、始端パラメータＴｓｆｐの最適化は、幅が（２＋ｂ）Ｔ以下のスペースが隣接しているマークについて行う必要がある。また、終端パラメータＴｅｌｐの最適化は、幅が（２＋ａ）Ｔ以下のマークについて行う必要がある。簡単のために、ａ＝ｂ＝３ とすると、単純には図９に示す３２通りの記録パターンに対応するパラメータの最適化が必要となる。図９において、例えば２Ｔｓ２Ｔｍは、２Ｔマークの直前に２Ｔスペースが存在するパターンであることを意味する。図１０は、図９に示す各記録パターン（すなわちエッジパターン）を、上記８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ１〜Ｐａｔｔｅｒｎ８）のうち、各記録パターンをどのパターンで検出を行うかを示したものである。例えば、２Ｔｓ３Ｔｍは、Ｐ３Ａのパターンで、記録マークの始終端パターンに対応する信号のずれ量の検出を行うことを意味する。Ｐ３Ａは、Ｐａｔｔｅｒｎ３で、パスＡが正解の状態遷移パスであるパターンを意味する。また、３Ｔｓ３Ｔｍは、Ｐ１Ｂまたは、Ｐ４Ａのパターンでずれ量の検出を行うことを意味する。Ｐ１Ｂは、Ｐａｔｔｅｒｎ１で、パスＢが正解の状態遷移パスであるパターンを意味し、Ｐ４Ａは、Ｐａｔｔｅｒｎ４で、パスＡが正解の状態遷移パスであるパターンを意味する。上記のように、特許文献２の方法では、図１０における記録マークの始終端パターンが検出できることを前提として、それぞれに対応する信号のずれ量が、全て０に近づくように、記録パラメータを変化させることで、記録パルスの形状の最適化を行う。
【００２１】
ところが、上記の方法では、各パターンそれぞれに対応する記録パラメータを変化させて、各パターンごとに検出を行うため、例えば、Ｐａｔｔｅｒｎ３に着目し、２Ｔｍのディスクの記録条件がドライブ最適値よりも大きくなっていた場合、３Ｔｓ２Ｍのパターン検出が出来る前提で、２Ｔｍの記録パラメータを変化させて２Ｔｍの調整をしようとしているにもかかわらず、検出されたパターンが３Ｔｓ２Ｔｍではなく２Ｔｓ３Ｔｍと誤検出されると、２ＴｍのＭＬＳＥ変化が検出できないこととなり、２Ｔｍの調整が正しく行えないというケースが発生する。これは、図１１に示すように、ディスクの記録条件がドライブ最適値よりも大きくなっていた場合、記録が正しく行えていないため、３Ｔｓ２Ｔｍのパターンの分布が２Ｔｓ３Ｔｍ側に近づき、分布が２Ｔｓ３Ｔｍ側に入ってしまうためで、これにより３Ｔｓ２ＴｍのパターンのＭＬＳＥが正常に検出できなくなる。
【００２２】
以上から今後の課題として、記録層１層当たりの記録容量が３３．４ＧＢの場合には、記録層１層当たりの記録容量が２５．０ＧＢの場合と比較して、最短マーク長が短くなるため記録パルス形状を調整できる範囲が狭くなるため、さらに発生しやすくなると予想される。
【００２３】
本発明はこれらの課題に鑑み、ディスク記載の初期記録条件がドライブ最適値と大きく異なっていた場合にも、記録パラメータを最適化する記録制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
本発明は、再生指標であるＭＬＳＥを用いた記録条件の調整を行なうステップと、前記ＭＬＳＥを用いた記録条件の調整が正常にできたか否かを判断するステップと、前記判断ステップで正常にできていないと判断された場合、再生指標であるβ値を用いた記録条件の調整を行なうステップと、前記β値を用いた調整で求められた記録条件を初期に使用して前記ＭＬＳＥを用いた記録条件の調整を再度行なうステップとを備えた記録制御方法である。
【００２５】
また前記記録条件の調整は、ＷＳの調整を含み、前記記録条件の調整対象マークが、最短マーク長であることが望ましい。
【発明の効果】
【００２６】
本発明は、ディスク記載の初期ＷＳとドライブ最適ＷＳが大きく異なっている場合に、ＭＬＳＥでのＷＳ調整が完了しなかった場合、ＭＬＳＥでのＷＳ調整に加えてβ値でのＷＳ調整を行うことで、ディスク記載の初期ＷＳとドライブ最適ＷＳが大きく異なっている場合でも、ＷＳ調整を完了し装置毎に最適ＷＳを決定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本発明の実施例における記録再生装置の構成図
【図２】本発明の実施例における記録パルス形状最適化の手順を示すフローチャート
【図３】２５．０ＧＢと３３．４ＧＢとのマーク長、記録パルス長の差分を示す図
【図４】最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図
【図５】図４に示す状態遷移則に対応するトレリス図
【図６】最尤復号結果の信頼性を示すＰａ−Ｐｂの分布を示す図
【図７】Ｐａ−Ｐｂ＝±１０ となる８パターンについてのパターンとＰａ−Ｐｂの関係を示す図
【図８】特定８パターンの再生レベルを示す図
【図９】最適化が必要とされる記録パラメータの一覧を示す図
【図１０】最適化が必要とされる記録パラメータを特定８パターンうちのどれで検出するかを示す図
【図１１】従来技術の記録パルス形状最適化の手順を示すフローチャート
【図１２】特定パターンのうちのＰａｔｔｅｒｎ３のＰａ−Ｐｂの分布で、パスＢの３Ｔｓ２Ｔｍの分布がパスＡの２Ｔｓ3Ｔｍの分布に近づいていることを示す図
【図１３】本発明の実施例におけるＭＬＳＥでの記録パルス形状最適化の詳細手順を示すフローチャート
【図１４】特定パターンのうちのＰａｔｔｅｒｎ３のＰａ−Ｐｂの分布で、パスＢの３Ｔｓ２Ｔｍの分布が、ＷＳ条件によって変化していることを示す図
【図１５】特定パターンのうちのＰａｔｔｅｒｎ３のＰａ−Ｐｂの分布で、パスＢの３Ｔｓ２Ｔｍの分布が、パスＡの２Ｔｓ３Ｔｍの分布の方に近くなり、ＷＳ調整が正しく実施できないことを示す図
【図１６】本発明の実施例におけるβ値での記録パルス形状最適化の詳細手順を示すフローチャート
【図１７】ランダムデータでの各Ｔの出現頻度を示す図
【図１８】特定パターンのうちのＰａｔｔｅｒｎ３のＰａ−Ｐｂの分布で、パスＢの３Ｔｓ２Ｔｍの分布が、パスＡの２Ｔｓ３Ｔｍの分布の方に近くなった状態での、β値でのＷＳ調整例を示す図
【発明を実施するための形態】
【００２８】
（実施例１）
図１は本発明の実施例における記録再生装置１００の構成図である。以下にまずは図1を用いて記録再生装置の構成を説明する。
【００２９】
（記録再生装置１００の構成）
記録再生装置１００は、再生部１０１と、録再制御装置１０２と、記録部１０３と、調整部１０４とを備える。
【００３０】
記録再生装置１００には、情報記録媒体１が搭載される。情報記録媒体１は、光学的に情報の記録再生を行うための情報記録媒体であり、例えば光ディスクである。再生部１０１は、光ヘッド部２と、プリアンプ３と、ＡＧＣ４と、波形等化器５と、Ａ／Ｄ変換器６と、ＰＬＬ回路７とを備える。再生部１０１は、情報記録媒体１から再生された情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する。
【００３１】
録再制御装置１０２は、波形整形部８と、最尤復号部９と、信頼性検出部１０と、調整部１０４と、波形レベル検出部１４を備える。調整部１０４は、パターン検出回路１１と、ＭＬＳＥ検出回路１２と、情報記録媒体コントローラ１３を備える。録再制御装置１０２は例えば半導体チップとして製造される。波形整形部８は例えばデジタルフィルタであり、再生部１０１が生成したデジタル信号を受け取ってデジタル信号が所定の等化特性を有するようにデジタル信号の波形を整形する。最尤復号部９は例えばビタビ復号回路であり、波形整形部８から出力された波形が整形されたデジタル信号を最尤復号し、最尤復号の結果を示す２値化信号を生成する。
【００３２】
信頼性検出部１０は例えば差分メトリック検出回路であり、波形整形部８から出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号部９から出力された２値化信号とに基づいて最尤復号の結果の信頼性を計算する。本実施例では、信頼性計算部１０は、情報記録媒体１に形成された記録マークの始終端部に対応するデジタル信号および２値化信号に基づいて、最尤復号結果の信頼性を計算する。
【００３３】
波形レベル検出部１４は、アナログ信号のＰｅａkレベル、Ａｖｅｒａｇｅレベル、Ｂｏｔｔｏｍレベルを検出する。調整部１０４は、信頼性計算部１０が計算した信頼性に基づいて、情報記録媒体１に情報を記録するための記録信号の所定部分の形状を調整する（例えば記録信号のエッジの位置を調整する）。調整部１０４は、最尤復号の結果の信頼性が高くなるように記録信号の形状を調整する。情報記録媒体コントローラ１３は例えば光ディスクコントローラである。
【００３４】
記録部１０３は、パターン生成回路１５と、記録補償回路１６と、レーザ駆動回路１７と、光ヘッド部２とを備える。記録部１０３は、記録信号の形状の調整結果に基づいて情報記録媒体１に情報を記録する。
【００３５】
本実施例では、光ヘッド部２は、再生部１０１および記録部１０３に共有され、記録ヘッドおよび再生ヘッドの両方の機能を有する。なお記録ヘッドと再生ヘッドとが別々に設けられてもよい。以上までが本実施例の記録再生装置の構成の説明であるが、記録再生装置１００の動作を以下に詳細に説明する。
【００３６】
（記録再生装置１００の動作）
光学ヘッド部２は情報記録媒体１から読み出した情報を示すアナログ再生信号を生成する。アナログ再生信号は、プリアンプ３によって増幅されてＡＣカップリングされたのち、ＡＧＣ４に入力される。ＡＧＣ４では後段の波形等化器５の出力が一定振幅となるようゲインが調整される。ＡＧＣ４から出力されたアナログ再生信号は波形等化器５によって波形整形される。波形整形されたアナログ再生信号はＡ／Ｄ変換器６に出力される。Ａ／Ｄ変換器６はＰＬＬ回路７から出力された再生クロックに同期してアナログ再生信号をサンプリングする。ＰＬＬ回路７はＡ／Ｄ変換器６でサンプリングされたデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。Ａ／Ｄ変換器６のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号は波形整形部８に入力される。
【００３７】
波形整形部８は、記録時および再生時のデジタル再生信号の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（本実施例ではＰＲ（１，２，２，１）等化特性）となるようにデジタル再生信号の周波数を調整する（すなわちデジタル再生信号の波形を整形する）。最尤復号部９は、波形整形部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。信頼性計算部１０は、波形整形部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、２値化信号とを受け取る。信頼性計算部１０は、２値化信号から状態遷移を判別し、判別結果とブランチメトリックから復号結果の信頼性を示すＰａ−Ｐｂ（（式２、式３）参照）を求める。
【００３８】
パターン検出回路１１は、２値化信号に基づいて、上記８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ１〜Ｐａｔｔｅｒｎ８）を図９で示した記録マークの始終端エッジのパターンごとに割り当て、ＭＬＳＥ検出回路１２に出力する。ＭＬＳＥ検出回路１２は上記信頼性Ｐａ−Ｐｂをパターンごとに累積加算し、記録補償パラメータの最適値からのずれ（後述ではＭＬＳＥ）を求める。情報記録媒体コントローラ１３はパターンごとのＭＬＳＥ値から変更が必要と判断された記録パラメータ（記録パルス形状）を変更する。
【００３９】
波形レベル検出部１４は、アナログ信号のＰｅａkレベル、Ａｖｅｒａｇｅレベル、Ｂｏｔｔｏｍレベルを検出し、３つの値から、式６のようにβ値を計算し、アナログ信号のＤＣレベルのずれを求める。
【００４０】
β値 ＝ Ａｖｅｒａｇｅ／（Ｐｅａｋ− Ｂｏｔｔｏｍ）  （式６）
パターン発生回路１５は、記録補償学習用パターンを出力する。記録補償回路１６は情報記録媒体コントローラ１３からの記録パラメータをもとに、記録補償学習パターンに従ってレーザ発光波形パターンを生成する。生成されたレーザ発光波形パターンにしたがって、レーザ駆動回路１７は光学ヘッド部２のレーザ発光動作を制御する。
【００４１】
（従来技術の記録パルス形状の最適化方法）
まず本実施例との比較の為に従来技術の記録パルス形状の最適化方法を説明する。
【００４２】
図１１は従来技術の記録パルス形状の最適化方法の手順を示すフローチャートである。光ディスク上の記録パルスを決定するための試し書き領域へ光ピックアップが移動し（Ｓ１１０）、初期ＷＳを設定した後（Ｓ１１１）、最短マークである２ＴｍのＷＳ調整を、ＭＬＳＥを再生指標として行う（Ｓ１１２）。従来技術では、Ｓ１１２のＭＬＳＥでの２ＴｍのＷＳ調整が正常に終了しなかった場合、そこでＷＳ調整が終了することとなる。そのため、ユーザー記録を禁止するか、または、ディスク記載の初期ＷＳで記録するなど最適でないＷＳで記録を行うかのどちらかであった。
【００４３】
図１２にＭＬＳＥ検出でのパターンが正しく検出できない図を示す。パスＡの２Ｔｓ３ＴｍのパターンとパスＢの３Ｔｓ２Ｔｍのパターンに対して、図１２の例では、３Ｔｓ２Ｔｍのパターンが２Ｔｓ３Ｔｍ側に近づき、分布の半分以上が２Ｔｓ３Ｔｍに誤検出されてしまう。
【００４４】
（記録パルス形状の概略最適化方法）
次に本実施例による記録パルス形状の最適化方法の手順を説明する。
【００４５】
図２は、本実施例の記録パルス形状の最適化方法の手順を示すフローチャートである。
【００４６】
図２は、光ディスク媒体の記録層１層当たりの記録容量が３３．４ＧＢの場合における最短マークである２ＴｍのＷＳ（ライトストラテジ）調整について説明しているが、３Ｔ,４Ｔ,５ＴのＷＳ調整については、従来技術と同じく、図１１のＳ１１２における２ＴＷＳに代えて３Ｔ,４Ｔ,５Ｔの各ＷＳ調整を行なえばよい。なお、図２の方法は記録層１層当たりの記録容量が３２．０ＧＢである光ディスクにおける最短マーク長に対しても使用できる。
【００４７】
まず、図２のフローチャートの概略を説明する。
【００４８】
光ディスク上の記録パルスを決定するための試し書き領域へ光ピックアップ２が移動し（Ｓ２０）、初期ＷＳを設定する（Ｓ２１）。その後、最短マークである２ＴｍのＷＳ調整を、ＭＬＳＥを再生指標として行う（Ｓ２２）。２ＴｍのＷＳ調整終了後に、２ＴｍのＷＳ調整が正常に終了したかの判定を行う（Ｓ２３）。上記判定で正常に終了した場合は、記録パルス形状の最適化を終了する（Ｓ２３でＹｅｓのケース）。
【００４９】
本実施例では、ＭＬＳＥを再生指標とした２ＴｍのＷＳ調整が正常に終了しなかった場合（Ｓ２３でＮｏのケース）、β値を再生指標とした２ＴｍのＷＳ調整を行う（Ｓ２４）。これによりＰａ−Ｐｂの分布が図１２のようになり正しくパターン検出ができない状態でも、２ＴｍのＷＳの仮調整を行うことができる。その後、β値を再生指標として行った２ＴｍのＷＳ仮調整で調整したＷＳを設定し、再度２ＴｍのＷＳ調整をＭＬＳＥを再生指標として行う（Ｓ２２）。この再調整を行う際には、β値を再生指標とした２ＴｍのＷＳ仮調整により、ＭＬＳＥ検出でも２Ｔｍのパターンを正常に検出することができる。これにより、初期ＷＳがドライブ最適ＷＳ条件と差分が大きくても２ＴｍのＷＳ調整を行うことができる。次に各ステップの動作を以下に詳細に説明する。
【００５０】
（記録パルス形状の詳細な最適化方法）
図2において、情報記録媒体１のテスト記録を行う領域へ光ヘッド部２を移動させ（Ｓ２０）、ディスクにあらかじめ記載されている初期ＷＳを読み込み設定する（Ｓ２１）。記録パワーについては、この手順以前の段階で最適に調整されているとする。
【００５１】
次に、ＭＬＳＥでの２ＴｍのＷＳ調整を行う（Ｓ２２）。ここでは、例として図１３に３Ｔｓ２Ｔｍの調整の手順を示す。
【００５２】
（ＭＬＳＥでの２ＴｍのＷＳ調整：Ｓ２２の詳細）
図１３において、３Ｔｓ２ＴｍのＷＳ条件に、初期ＷＳ−１ｓｔｅｐ したＷＳ（条件Ａ）を設定し（Ｓ１３０）、そのＷＳ条件で記録を行う（Ｓ１３１）。記録した領域を再生し、ＭＬＳＥ測定を行う（Ｓ１３２）。次に、３Ｔｓ２ＴｍのＷＳ条件に、初期ＷＳ（条件Ｂ）を設定し（Ｓ１３３）、そのＷＳ条件で記録を行う（Ｓ１３４）．記録した領域を再生し、ＭＬＳＥ測定を行う（Ｓ１３５）。次に、３Ｔｓ２ＴｍのＷＳ条件に、初期ＷＳ＋１ｓｔｅｐしたＷＳ（条件Ｃ）を設定し（Ｓ１３６）、そのＷＳ条件で記録を行う（Ｓ１３７）。記録した領域を再生し、ＭＬＳＥ測定を行う（Ｓ１３８）。上記ＷＳ３条件でのＭＬＳＥ測定結果から、最適ＷＳ条件を決定する（Ｓ１３９）。
【００５３】
次に最適ＷＳ条件の決定について、図１４を用いて説明する。図１４は、特定パターンのうちのＰａｔｔｅｒｎ３のＰａ−Ｐｂの分布で、パスＢの３Ｔｓ２Ｔｍの分布が、ＷＳ条件によって変化していることを示す。
【００５４】
初期ＷＳ−１ｓｔｅｐ（条件Ａ）、初期ＷＳ（条件Ｂ）、初期ＷＳ＋１ｓｔｅｐ（条件Ｃ）の各条件での記録領域のＭＬＳＥ測定値は、記録条件を変更しているため、図１４（ａ）に示した図のように分布の平均値が少しずつずれるような測定値となる。前記各測定値を図１４（ｂ）のように、その調整対象パターンがとりうる理論値との差分を求め、この値が、最も０に近いＷＳ条件を選択することで、最も間違えにくいＷＳ条件を選択できることになる。図１４（ｂ）の例では、Ａ条件が最も０に近いＷＳ条件として選択される。上記のように、正常にＷＳ調整が終了した場合は、このパターンについての調整は正常終了したこととなる。
【００５５】
しかし、初期ＷＳとドライブでの最適ＷＳが大きく異なる場合、図１５（ａ）に示した図のように、３Ｔｓ２Ｔｍのパターンが正しく検出できず、２Ｔｓ３Ｔｍのパターンに誤検出され、ＷＳ条件決定時に求められる測定値が図１５（ｂ）に示した図のような測定値となった場合、正常にＷＳ調整を行うことができない。ＭＬＳＥ測定では、測定長内に存在する測定パターンのＰａ−Ｐｂを積算して求めるため、測定パターンの出現回数も同時に求めることができ、出現回数があるしきい値よりも少ない場合には、測定値の精度が疑わしいため、測定値が無効として扱われることが多い。図１５（ｂ）に示した図のような状態では、各ＷＳ条件ともに測定値が無効として扱われる可能性もある。本実施例では、図１５（ｂ）に示した図のような状態が発生した場合に、図２のフローチャートのＳ２４で示したβ値での２ＴｍＷＳ調整を実施する。以下ではβ値での２ＴｍＷＳ調整について、図１６を用いて説明を行う。
【００５６】
（β値での２ＴｍＷＳ調整：Ｓ２４の詳細）
図１６において、β値での２ＴｍＷＳ調整は、全スペースに対して２Ｔｍの始端、終端を変えて調整を行う。このとき、２Ｔｍの始端だけ、終端だけを変えて調整を行ってもよい。初期ＷＳ−１ｓｔｅｐしたＷＳ（条件Ａ）を設定し（Ｓ１６０）、そのＷＳ条件で記録を行う（Ｓ１６１）。記録した領域を再生し、β値の測定を行う（Ｓ１６２）。次に、ＷＳ条件に初期ＷＳ（条件Ｂ）を設定し（Ｓ１６３）、そのＷＳ条件で記録を行う（Ｓ１６４）．記録した領域を再生し、β値の測定を行う（Ｓ１６５）。次に、ＷＳ条件に初期ＷＳ＋１ｓｔｅｐしたＷＳ（条件Ｃ）を設定し（Ｓ１６６）、そのＷＳ条件で記録を行う（Ｓ１６７）．記録した領域を再生し、β値の測定を行う（Ｓ１６８）。上記ＷＳ３条件でのβ値測定結果から、β値が０に近くなるＷＳ条件を決定する（Ｓ１６９）。一連のβ値でのＷＳ調整終了後、β値が０を交差したかどうかの判定を行う（Ｓ１６１０）。β値が０を交差していれば、β値での２ＴｍＷＳ調整は完了、β値が０を交差していなければ、上記を繰り返し行い、β値が０を交差するＷＳ条件を決定する。
【００５７】
β値は、（式６）のようにアナログ信号を波形レベル検出部１４で検出し、Ａｖｅｒａｇｅレベルがアナログ信号の振幅（Ｐｅａｋレベル−Ｂｏｔｔｏｍレベル）に対してどのレベルにあるかを検出しており、つまり、アナログ信号のＤＣレベルが振幅のどのあたりにあるかを求めている。記録符号の最小極性反転間隔と最大極性反転間隔が定められた情報記録媒体に対する記録では、制約条件の中で決められたサイズのデジタル情報を記録するため、図１７のように最小極性反転間隔に近いパターンの頻度が多くなり、２ＴｍのＷＳ幅の変化によってβ値が変わりやすい。このように、通常のランダムパターンで記録を行っても２ＴｍＷＳ調整は可能であるし、または、より２ＴｍのＷＳ幅の変化によってβが変わりやすいようなパターン（例えば、２Ｔｓ２Ｔｍまたは、２Ｔｍ２Ｔｓの頻度を多くして、その他を３Ｔｍ３Ｔｓ以上にするパターン）としてもよい。
【００５８】
そのうえ、β値では、ＭＬＳＥ検出のようにパターン検出してそのパターンのＭＬＳＥを計算しているものではないため、初期ＷＳとドライブでの最適ＷＳが大きく異なり、ＭＬＳＥ検出で図１２に示したように３Ｔｓ２Ｔｍのパターンが２Ｔｓ３Ｔｍのパターンに誤検出されるような記録状態でも、図１８に示したＷＳ条件とβ値の関係図のように２ＴｍのＷＳ条件とβ値に相関関係があり、図１８のＷＳ条件ではドライブ最適ＷＳに対して、２ＴｍのＷＳが大きく、３Ｔｓ２Ｔｍのパターンの２Ｔｍが大きすぎて２Ｔｓ３Ｔｍに誤検出されているような状態となっているため、より２Ｔｓ３Ｔｍパターンに近いＡ条件のβ値が最も大きく、ＷＳ条件を２Ｔｍ側に小さくしていくことでβ値が小さくなっていっている。図2のＳ２４において上記β値による２ＴｍＷＳ調整を繰り返し実施し、β値が０を交差するＷＳを調整することで、３Ｔｓ２Ｔｍのパターンが２Ｔｓ３Ｔｍのパターンに誤検出されない記録条件にＷＳを仮調整することができる。
【００５９】
図2のＳ２２において上記β値による２ＴｍＷＳ調整により、誤検出されない記録条件にＷＳを仮調整した後、再度ＭＬＳEによる２ＴｍＷＳ調整を実施する。これにより、図１４に示した分布のように、３Ｔｓ２Ｔｍのパターン内で正常にＭＬＳE検出ができ、ＭＬＳＥによる２ＴｍＷＳ調整が実施できることとなる。
【００６０】
以上のように本実施例では、最尤復号法を用いた信号の復号時にエラーの発生する確率が最小となるように、最尤復号法に最適な記録パラメータを決定する際、ディスク記載の初期ＷＳとドライブ最適ＷＳが大きく異なっている場合、パターンごとの検出を行うＭＬＳEによるＷＳ調整に加えて、β値によるＷＳ調整を実施することで、ディスク記載の初期ＷＳとドライブ最適ＷＳが大きく異なっている場合でも、ＷＳ調整を完了し、装置毎に最適ＷＳを決定することができる。
【００６１】
なお、本発明は、ここで説明した実施例によって限定されるものではなく、同様の効果を得られるやり方はほかにも考えられる。
【産業上の利用可能性】
【００６２】
以上のように本発明では、ディスク記載の初期ＷＳとドライブ最適ＷＳが大きく異なっている場合でも、ＷＳ調整を完了し、装置毎に最適ＷＳを決定することができるので、本装置を組み込んだレコーダやＰＣ等の用途にも適用できる。
【符号の説明】
【００６３】
１    情報記録媒体
２    光学ヘッド部
３    プリアンプ
４    ＡＧＣ
５    波形等化器
６    Ａ／Ｄ変換器
７    ＰＬＬ回路
８    整形部
９    最尤復号部
１ ０    信頼性計算部
１ １    パターン検出回路
１ ２    ＭＬＳＥ検出回路
１ ３    情報記録媒体コントローラ
１ ４    パターン発生回路
１ ５    記録補償回路
１ ６    レーザー駆動回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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