(57)【要約】【課題】印刷物の欠陥検査において、欠陥検出信号に対するマーキング信号の出力制御を行い、印刷物欠陥装置とマーキング装置の距離を制限なく設置することを可能とし、更にメモリやレジスタのリソースの使用を抑制可能とする印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法を提供する。【解決手段】欠陥検出信号をライト制御信号の状態によって順番にＦＩＦＯメモリに書込み、また、欠陥検出信号をリード制御信号の状態によって順番にＦＩＦＯメモリから読出し、マーキング信号をマーキング装置に出力し、また、前記印刷物欠陥検査装置から前記マーキング信号を出力するマーキング装置までの待機距離を予め設定することによって、印刷物欠陥検査装置とマーキング装置の距離を可変とすることを特徴とする印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法。【選択図】図１
2011201027.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
印刷物欠陥検査装置によって検出された欠陥検出信号に応じて印刷物にマーキングを行う場合のマーキング信号制御方法であって、
欠陥検出信号をライト制御信号の状態によって順番にＦＩＦＯメモリに書込み、
また、欠陥検出信号をリード制御信号の状態によって順番にＦＩＦＯメモリから読出し、マーキング信号をマーキング装置に出力し、
また、前記印刷物欠陥検査装置から前記マーキング信号を出力するマーキング装置までの待機距離を予め設定することによって、印刷物欠陥検査装置とマーキング装置の距離を可変とすることを特徴とする印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法。
【請求項２】
先行する欠陥検出信号と次の欠陥検出信号の時間間隔が予め設定された入力禁止時間より短い場合は、上記次の欠陥検出信号は破棄されマーキング信号としないことを特徴とする請求項１に記載の印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法。
【請求項３】
前記ライト制御信号及び前記リード制御信号は、
印刷物の走行距離に応じて得られるライントリガ信号を分周して生成される分周信号によって同期し、
ＦＩＦＯメモリへの欠陥信号の書き込み、読み出しを行うことを特徴とする請求項１または２に記載の印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法。
【請求項４】
前記ライト制御信号は、
前記分周信号と、
ＦＩＦＯメモリが満杯かどうかを示すフラグ信号と、から生成され、
前記フラグ信号がＦＩＦＯメモリに空きがないことを示すメモリ満杯フラグ信号の場合には欠陥検出信号の書き込み禁止制御を行い、逆にＦＩＦＯメモリに空きがあることを示すメモリ空きフラグ信号の場合には欠陥検出信号の書き込み許可制御を行うことを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法。
【請求項５】
前記リード制御信号は、
前記分周信号と、
前記メモリ空きフラグ信号と、
ライントリガ信号のカウント値と予め設定された待機距離レジスタの値を比較し一致した場合にアクティブになるラッチ信号リードイネーブル信号と、から生成され、
前記リード制御信号がアクティブになった時のみＦＩＦＯメモリから順番に欠陥信号を読み出すことを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載の印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、印刷物の欠陥検査において、検出された欠陥に対するマーキング信号の出力制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
印刷物の欠陥検査において、欠陥が検出された場合、後から確認できるために欠陥がある場所にマーキング装置（ラベラ、インクジェットプリンタ、等）によるマーキングが行われる。マーキングする方法としては、特許文献１のように、欠陥検出信号が入力されてから、一定の距離を待機してから、マーキング装置にマーキング信号を出力する。一定距離待機に対する確認手段は、印刷周期信号をカウントするカウンタとライントリガ信号をカウントするカウンタを用いて行い、両方のカウント値が所定のカウント値になったらマーキング信号を出力する方法であった。
【０００３】
しかしながら、このような方法では、一定距離待機確認中（カウンタがカウント中）に更に新しい欠陥検出信号が入力されたら、カウンタがリセットされ、現在出力したいマーキング信号を出力できなくなる可能性がある。または、一定距離待機確認中に更に入力される欠陥検出信号の数を予測して、予測数分のカウンタ群（印刷周期信号のカウンタとライントリガ信号のカウンタ、両方）を用意し、個々の欠陥検出信号に対する一定距離待機確認を行わなければならない。マーキング装置は検査位置の下流側にあり、ラインの構成上検査位置の近くに設置できない場合、欠陥検出信号をもらってから、相当長い距離を待機してからマーキング信号を出力必要がある。このとき、どのくらい数のカウンタを用意すればいいか予測しにくくなる。予測できるとしても、一般１６ｂｉｔカウンタを大量用意するためにその分リソース（メモリやレジスタ）を消費されてしまう。しかも、一定距離待機確認中に更に新しい欠陥検出信号が入力されなかった場合においては、用意したリソースは無駄になるだけになる。場合によっては、リソースの使用制限上、マーキング装置を検査位置から離れる距離を明確に制限する印刷物欠陥検査装置もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−３５７５５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、印刷物の欠陥検査において、欠陥検出信号に対するマーキング信号の出力制御を行い、印刷物欠陥装置とマーキング装置の距離を制限なく設置することを可能とし、更にメモリやレジスタのリソースの使用を抑制可能とする印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の目的を達成するために本発明の請求項１においては、印刷物欠陥検査装置によって検出された欠陥検出信号に応じて印刷物にマーキングを行う場合のマーキング信号制御方法であって、
欠陥検出信号をライト制御信号の状態によって順番にＦＩＦＯメモリに書込み、
また、欠陥検出信号をリード制御信号の状態によって順番にＦＩＦＯメモリから読出し、マーキング信号をマーキング装置に出力し、
また、前記印刷物欠陥検査装置から前記マーキング信号を出力するマーキング装置まで
の待機距離を予め設定することによって、印刷物欠陥検査装置とマーキング装置の距離を可変とすることを特徴とする印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法である。
【０００７】
また本発明の請求項２においては、先行する欠陥検出信号と次の欠陥検出信号の時間間隔が予め設定された入力禁止時間より短い場合は、上記次の欠陥検出信号は破棄されマーキング信号としないことを特徴とする請求項１に記載の印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法である。
【０００８】
また本発明の請求項３においては、前記ライト制御信号及び前記リード制御信号は、印刷物の走行距離に応じて得られるライントリガ信号を分周して生成される分周信号によって同期し、ＦＩＦＯメモリへの欠陥信号の書き込み、読み出しを行うことを特徴とする請求項１または２に記載の印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法である。
【０００９】
また本発明の請求項４においては、前記ライト制御信号は、前記分周信号と、ＦＩＦＯメモリが満杯かどうかを示すフラグ信号と、から生成され、前記フラグ信号がＦＩＦＯメモリに空きがないことを示すメモリ満杯フラグ信号の場合には欠陥検出信号の書き込み禁止制御を行い、逆にＦＩＦＯメモリに空きがあることを示すメモリ空きフラグ信号の場合には欠陥検出信号の書き込み許可制御を行うことを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法である。
【００１０】
また本発明の請求項５においては、前記リード制御信号は、
前記分周信号と、
前記メモリ空きフラグ信号と、
ライントリガ信号のカウント値と予め設定された待機距離レジスタの値を比較し一致した場合にアクティブになるラッチ信号リードイネーブル信号と、から生成され、
前記リード制御信号がアクティブになった時のみＦＩＦＯメモリから順番に欠陥信号を読み出すことを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載の印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法である。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、印刷物の欠陥検査において、欠陥検出信号に対し、欠陥検出信号を得た印刷物欠陥検査装置から実際のマーキング信号を出力するマーキング装置までの距離に制限なくマーキングが可能となる。その結果、マーキング装置を検査位置の近くに設置できない場合や、欠陥検出信号を得てから相当長い距離を隔てた位置にマーキング装置を設置する必要がある場合であっても実用上問題なくマーキングすることが可能となる。且つ少量のリソース使用率でこれを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】欠陥検出信号に対するマーキング信号を制御する制御部ブロック構成図。
【図２】入力制限回路のおける信号のタイミングチャート。
【図３】ＦＩＦＯ回路への入力生成回路のセレクタ回路のおける信号のタイミングチャート。
【図４】ライト制御信号生成回路のタイミングチャート。
【図５】リード制御信号生成回路のタイミングチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、欠陥検出信号１０に対するマーキング信号１９の制御方法を図面に基づき詳細に説明する。図１は制御部１の回路ブロック構成を示したものである。
【００１４】
制御部１は主に、ＦＩＦＯ回路５とＦＩＦＯするためのライト制御信号生成回路３、リ
ード制御信号生成回路４、及びＦＩＦＯ回路への入力信号生成回路２により構成される。
【００１５】
ＦＩＦＯ回路５への入力信号生成回路２においては、上位から入力される欠陥検出信号１０と印刷物の走行距離に応じて得られるライントリガ信号１１によって、ＦＩＦＯ回路５への入力信号１２を生成する。印刷物の走行距離に応じて得られるライントリガ信号１１は、ロータリーエンコーダの回転軸にローラを備え、そのローラを走行する印刷物に接触させ、回転させることによって得られる信号である。まず、欠陥検出信号１０を入力制限回路２０１に入力する。入力制限回路２０１とは、マーキング装置６には応答性能や動作時間といった機械性能があるためにマーキング信号１９が入力されてから、１サイクルのマーキング動作を実施するのに一定時間がかかり、この間に入力されるマーキング信号１９には応答できないため、図２に示される入力禁止時間９９を有する回路である。つまり、１回の欠陥検出信号１０が入力されたら、使用するマーキング装置６により予め設定された入力禁止時間９９内には他の欠陥検出信号１０をＦＩＦＯ回路５に入力できないように入力イネーブル信号１５（図示せず）で制限する。即ち、先行する欠陥検出信号と次の欠陥検出信号の時間間隔が予め設定された入力禁止時間より短い場合は、上記次の欠陥検出信号は破棄されマーキング信号としない。入力制限回路２０１における信号のタイミングチャートを図２で示す。
【００１６】
次に、入力されるライントリガ信号１１を、マーキング精度の許容範囲を考慮して分周する。この分周された信号１７はＦＩＦＯ回路５へのライト制御信号１３及びリード制御信号１４に同期して制御するクロック信号としても使用する。このクロック信号を同期信号とすることによってＦＩＦＯ回路５への信号の書き込み、読み出しが自由に出来る。
【００１７】
最後に、入力制限後の欠陥検出信号１６とライントリガ信号１１を分周した分周信号１７をセレクタ２０３に入力し、ＦＩＦＯ回路５への入力信号１２を生成する。信号のタイミングチャートを図３で示す。
【００１８】
ライト制御信号生成回路３においては、前記ライントリガ信号１１より生成された分周信号１７とＦＩＦＯ回路内５のＦＵＬＬフラッグ生成回路５０５からのメモリ満杯フラグ信号２０により、ライト制御信号１３を生成する。ライト制御信号１３がアクティブになった時のみＦＩＦＯ回路５への入力信号１２を順番にＦＩＦＯ回路５内の内部メモリ５０１に書き込む。つまり、ＦＩＦＯメモリ５０１が満杯ではない時、分周信号１７のアクティブでライトする。ライト時のタイミングチャートを図４に示す。
【００１９】
リード制御信号生成回路４においては、前記ライントリガ信号１１より生成された分周信号１７とＦＩＦＯ回路５内のＥＭＰＴＹフラッグ生成回路５０６からのメモリ空っぽフラグ信号２１、及びリードイネーブル信号１８により、リード制御信号１４を生成する。リード制御信号１４がアクティブになった時のみＦＩＦＯ回路５内のメモリ５０１から順番に値を読み出す。つまり、ＦＩＦＯ回路５内メモリ５０１が空っぽではない時、更にリードイネーブル信号１８がアクティブになってから、分周信号１７のアクティブでリードする。ここで、リードイネーブル信号１８とは、ライントリガ信号カウンタ４０１のカウント値と予め設定された待機距離レジスタ４０２の値を比較し、一致したらアクティブになるラッチ信号のことである。リード時のタイミングチャートを図５に示す。
【００２０】
前記ＦＩＦＯ回路５への入力信号生成回路２、ライト制御信号生成回路３、及びリード制御信号生成回路４ではともにライントリガ信号１１を分周した分周信号１７を使用した。これに伴い、マーキングしたい欠陥位置に対しては最大で分周信号ピッチ分の誤差が生じる可能性がある。本来ライントリガ信号１１を分周せず、そのまま使うのことも可能であるが、その場合には欠陥検出信号１０に対する待機距離が相当長くなる時、あわせてＦＩＦＯメモリ５０１の容量も十分に用意しなければならない。
印刷物の生産現場では、多くの場合、欠陥位置に対するマーキング位置の精度要求に対して一定の許容範囲が許可されている（例えば±１００ｍｍ）。ライントリガ信号ピッチ（分解能）程度のマーキング精度を要求されるのはまれであり、マーキング装置６そのものの精度やマーキング手段（例えばラベルを貼り付ける）から考慮するとほぼ不可能である。
また、印刷物の欠陥検査で、何千ｍの印刷物の中、少量の欠陥しか発生していないとき、わざわざ印刷物を巻き戻して欠陥部分を修正することはなく、欠陥箇所をマーキングしてそのまま出荷し、客先にてマーキング位置を含まれている印刷周期部分を切り取って捨てるようにしている。決して、客先でも欠陥部分のみ切り取って捨てることもない。このように、実運用の観点からみてもライントリガ信号１１を分周して使ったほうが良い。実印刷物と各生産現場及び客先の要求からマーキング位置誤差の許容範囲を求め、それに合わせてライントリガ信号１１を分周すればよい。
【００２１】
ＦＩＦＯ回路５の機能そのものに関しては、周知のことでありここでは説明を省略する。
【００２２】
本発明により、印刷物の欠陥検査において、入力された欠陥検出信号１０に対し、欠陥検出信号１０の入力から実際のマーキング信号１９を出力するまでの待機距離の長さに制限なく、マーキング精度の許容範囲内でマーキングでき、且つ少量のリソース使用率で実現することができる。
【符号の説明】
【００２３】
１…制御部
２…ＦＩＦＯへの入力信号生成回路
３…ライト制御信号生成回路
４…リード制御信号生成回路
５…ＦＩＦＯ回路
６…マーキング装置
１０…制御部に入力される欠陥検出信号
１１…ライントリガ信号
１２…ＦＩＦＯ回路への入力信号
１３…ライト制御信号
１４…リード制御信号
１５…入力イネーブル信号
１６…入力制限後の欠陥検出信号
１７…ライントリガ信号を分周した分周信号
１８…リードイネーブル信号
１９…マーキング信号
２０…ＦＩＦＯ回路内のメモリ満杯フラグ信号
２１…ＦＩＦＯ回路内のメモリ空っぽフラグ信号
２０１…入力制限回路
２０２…分周回路
２０３…セレクタ
３０１…ＡＮＤ回路
４０１…ライントリガ信号カウンタ
４０２…待機距離設定レジスタ
４０３…ＡＮＤ回路
５０１…ＦＩＦＯメモリ
５０２…セレクタ
５０３…ライトポインタ制御回路
５０４…リードポインタ制御回路
５０５…ＦＵＬＬフラグ生成回路
５０６…ＥＭＰＴＹフラグ生成回路
【図１】
2011201027.tif 000003
【図２】
2011201027.tif 000004
【図３】
2011201027.tif 000005
【図４】
2011201027.tif 000006
【図５】
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