(57)【要約】【課題】実時間オシロスコープで複数の測定を行なえるようにする。【解決手段】オシロスコープの必要な設定を行い、１０ＧＢＡＳＥ−Ｔ信号を取り込む（ステップ１０）。波形のスペクトラム分析を行うが、２つのトーン周波数のピーク値を見つけ、スペクトラム上で第３ピークを見つける（ステップ１２、１４）。低い振幅のトーンと第３ピークとの間のスペクトラム・レベルを測定して、ＳＦＤＲを測定する（ステップ１６）。次に、ステップ１８にて、識別したトーン周波数に基づいて到達した制限値と測定値とを比較して、合格か失格かを判定する（ステップ１８）。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
実時間オシロスコープで複数の測定を行う方法であって、
組み込みＦＦＴスペクトラム・アナライザ機能を有する実時間オシロスコープを設け、
被試験装置からの被試験信号を時間領域で受けるように、上記実時間オシロスコープを上記被試験装置に結合し、
時間領域で取り込んだ上記信号に対して時間領域及び周波数領域で測定を実行するオシロスコープ測定方法。
【請求項２】
実時間オシロスコープで複数の測定を行う方法であって、
組み込みＦＦＴスペクトラム・アナライザを有する実時間オシロスコープを構成し、
実時間で取り込んだ波形に対して時間領域の測定及び周波数領域の測定を行うオシロスコープ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、オシロスコープにより信号を試験測定する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
データ・レートが増すと、信号の精度を維持するために、伝送受信にて用いる装置と共に伝送媒体が種々のスタンダードに適合することが必要となる。よって、かかる測定をできるようにするのに必要な試験測定機器は、現在の最先端技術が課すこれらの厳しい条件を考慮しなければならない。
【０００３】
例えば、１０ＧＢＡＳＥ−Ｔは、４対の伝送線を用い、各対では２．５ＧＢ／ｓのレートで伝送することによって、全体で１０ＧＢ／ｓのデータ・レートで動作する。１０ＧＢＡＳＥ−Ｔの意味は、既存のケーブル・インフラストラクチャ上を１０ＧＢ／ｓの速度で動作することである。しかし、より広い帯域幅のために、隣接するチャネルから一層顕著なクロストークが生じる。よって、この点を考慮して、Ｃａｔ６ａ及びＣａｔ６ｅのケーブルで信号を伝送できるようにするのに充分なだけ信号を抑制する方法により、デジタル信号プロセッサを設計した。１０ＧＢＡＳＥ−Ｔは、各対にて１６−Ｌｅｖｅｌ＿ＰＡＭシグナリングを用いる。この信号は、伝送される前に、デジタル的に処理され、コード化され、各シンボルがＰＡＭの１６値の１つに変換される。
【０００４】
図１は、スプリアス周波数ダイナミック・レンジの概念を示す図である。スプリアス・フリー・ダイナミック・レンジ（ＳＦＤＲ）を測定することにより、１０ＢＡＳＥ−Ｔの直線性が求まる。ＳＦＤＲは、スペクトラムにおける最大歪成分のレベルに対する入力信号のレベルの比であり、また、図１に示すように、２つのトーン周波数を測定に用いるときには、最大介在生成物（largest intermediation product）である。なお、ＳＦＤＲには、入力信号レベル（キャリア）に対するＳＦＤＲ（ｄＢｃ）と、フル・スケールに対するＳＦＤＲ（ｄＢＦＳ）がある。
【０００５】
信号の歪成分から区別できる最小の信号レベルを直線性により求める。これは、元の信号に対するデジタル出力忠実度も含んでいる。スプリアス信号は、信号の非直線性の結果として生じるものであり、必ずしも入力信号の高調波によるものではない。よって、これは、最大スプリアス・ピークに対する基本波信号振幅の比として測定する。なお、最大スプリアス・ピークは、信号帯域幅又はナイキスト帯域幅内のスペクトラムに生じる。
【０００６】
ＳＦＤＲを一般的に測定するには、基本波信号をほぼフル・スケールで表示できるようにオシロスコープを設定するが、他の成分は、フル・スケール・レベルより数デシベル低い。オシロスコープのデータ取り込みチャネルのデジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）（図示せず）の非直線性により、スパー（spur：スプリアス）は、入力信号のダイレクトな高調波ではない。よって、ＳＦＤＲは、これらの原因に関係なく歪の全ての原因を考慮する。
【０００７】
１０ＧＢＡＳＥ−Ｔにおいて、被試験装置（ＤＵＴ）が発生する２つのトーン信号にて直線性を測定する。これら２つのトーンは、周波数が互いに比較的近いｆ１及びｆ２であり、２次及び３次の中間変調歪（ＩＭＤ: Inter-modulation Distortion）生成物が、関心のある周波数対域内に現れる。これは、小さな周波数成分として現れる。すなわち、ＩＭＤ生成物が偽信号であると、それがスプリアスをマスクする。よって、ＩＭＤがスプリアスをマスクしないように必要なサンプリング・レートを設定することが重要である。
【０００８】
スプリアス信号が基本波信号を歪ませる前に、スプリアス・フリー・ダイナミック・レンジ（ＳＦＤＲ）がＤＡＣの利用可能なダイナミック値に影響する。ＳＦＤＲは、直流からＤＡＣのフル・ナイキスト帯域幅までで、基本波と、最大の高調波又は非高調波で関連したスプリアスとの間の振幅の差の測定値である（ここでは、実験的設定として、クロック・レートが８００ＭＨｚであるので、ＳＦＤＲは１ＭＨｚから４００ＭＨｚまでの周波数レンジで測定する）。
【０００９】
かかる条件において、周波数スパンを４００ＭＨｚに設定して、チャネルの帯域幅をカバーする。被試験装置（ＤＵＴ）を動作させてＳＦＤＲを測定して、２つのトーン信号の異なる組合せを発生させる。スペクトラム・アナライザを用いてこの測定を行うが、ピーク検出機能を用いてスパン、ＲＢＷ（分解能帯域幅）を設定する。基本波及びスプリアスの両方は、３次ピークとして識別され、最初の２つのピークが２つのトーン基本波周波数を表し、第３ピークがスプリアスである。基本波ピーク及び第３ピークの間の差が図２に示すようなＳＦＤＲ値である。なお、このスペクトラム図の左端が混雑して見にくいが、最も左端のスペクトラムがカーソル３で示され、２つ目のスペクトラムがトーン信号の１つを表し、３つ目の線は２つのスペクトラムがほぼ重なっており、大きいスペクトラムが別のトーン信号でありカーソル１（グラフの上端での三角形）で示され、小さなスペクトラムがカーソル４で示され、４つ目のスペクトラムがカーソル２で示される。また、スペクトラム図の下の表が、基本波に対する各カーソルの周波数差（deltaF(Hz)）と比（Ration(dBc）を表す。
【００１０】
図２から理解できるように、基本波信号（１つ目のトーン信号）は０ｄＢに非常に近いが、カーソル３で示す第３ピーク（スプリアス）は基本波信号よりも約―６７ｄＢだけ下であり、ＳＦＤＲは２つのトーン信号に対して約６７ｄＢである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特表２００５−５３２５４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
上述のように、時間領域の測定の他にスペクトラムなどの周波数領域の測定も必要になっている。よって、本発明は、ユーザが実時間オシロスコープによりスペクトラム分析などの複数の測定を実行できるオシロスコープ測定方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の態様は、以下のようなものである。
（１）実時間オシロスコープで複数の測定を行う方法であって；組み込みＦＦＴスペクトラム・アナライザ機能を有する実時間オシロスコープを設け；被試験装置からの被試験信号を時間領域で受けるように、上記実時間オシロスコープを上記被試験装置に結合し；時間領域で取り込んだ上記信号に対して時間領域及び周波数領域で測定を実行するオシロスコープ測定方法。
（２）上記複数の測定は、以下に限定するものではないが、ドループ、ジッタ及びクロック周波数の時間領域測定と、直線性、ＰＳＤ（パワー・スペクトラム密度）及びパワー・レベルの周波数領域測定を含む態様１の方法。
（３）上記時間領域オシロスコープで平均化することにより、ダイナミック・レンジ、ノイズ・フロア及び測定精度を改良して、上記オシロスコープによる測定結果がスペクトラム・アナライザによる測定結果に匹敵する態様１の方法。
（４）ノイズ・フロアを改善するために、被測定信号のサンプリング・レートを１対のトーン周波数のいずれか一方の非倍数に設定して、周波数レンジに等しく分布するノイズをＦｓ／２まで広げる態様３の方法。
（５）上記平均化は、Ｎスペクトラムを等しい重みと組合せるスペクトラム領域での線形平均化である態様３の方法。
（６）上記スペクトラム波形からＳＦＤＲの測定を行う処理が；２つのトーン周波数のピーク値を見つけ；上記スペクトラムの第３ピークを見つけ；低い振幅のトーンと上記第３ピークとの間の上記スペクトラム・レベルを測定し；この測定した値を上記識別したトーン周波数に基づいて得た制限値と比較し；合格か不合格かを判断する態様１の方法。
（７）実時間オシロスコープで複数の測定を行う方法であって；組み込みＦＦＴスペクトラム・アナライザを有する実時間オシロスコープを構成し；実時間で取り込んだ波形に対して時間領域の測定及び周波数領域の測定を行うオシロスコープ測定方法。
（８）上記複数の測定は、以下に限定するものではないが、ドループ、ジッタ及びクロック周波数の時間領域測定と、直線性、ＰＳＤ（パワー・スペクトラム密度）及びパワー・レベルの周波数領域測定を含む態様７の方法。
（９）上記時間領域オシロスコープで平均化することにより、ダイナミック・レンジ、ノイズ・フロア及び測定精度を改良して、上記オシロスコープによる測定結果がスペクトラム・アナライザによる測定結果に匹敵する態様７の方法。
（１０）ノイズ・フロアを改善するために、被測定信号のサンプリング・レートを任意のトーン周波数の非倍数に維持して、周波数レンジに等しく分布するノイズをＦｓ／２まで広げる態様９の方法。
（１１）上記平均化は、Ｎスペクトラムを等しい重みと組合せるスペクトラム領域での線形平均化である態様９の方法。
（１２）上記スペクトラム波形からＳＦＤＲの測定を行う処理が；２つのトーン周波数のピーク値を見つけ；上記スペクトラムの第３ピークを見つけ；低い振幅のトーンと上記第３ピークとの間の上記スペクトラム・レベルを測定し；この測定した値を上記識別したトーン周波数に基づいて得た制限値と比較し；合格か不合格の状態をユーザに示すステップを更に具える態様７の方法。
【発明の効果】
【００１４】
よって、本発明の方法によれば、ユーザは、実時間オシロスコープで複数の測定を行うことができる。
【００１５】
本発明の一実施例では、実時間オシロスコープは、組み込みＦＦＴスペクトラム・アナライザを有する。時間領域で取り込んだ波形に対して周波数領域の測定を行うので、ユーザは、オシロスコープのみを用いてコンプライアンス測定をできる。時間領域オシロスコープにて平均化を行って、ダイナミック・レンジ、ノイズ・フロア及び測定精度を改善することにより、オシロスコープからの測定結果がスペクトラム・アナライザに匹敵するようにできる。
【００１６】
複数の測定には、以下に限定されるものではないが、ドループ、ジッタ及びクロック周波数の時間領域測定と、直線性、ＰＳＤ及びパワー・レベルの周波数領域測定とを含む。
【００１７】
ノイズ・フロアを改善するために、被測定信号のサンプリング・レートを任意のトーン周波数の非倍数に維持するので、周波数レンジの全域に等しく分布するノイズをＦｓ／２まで広げる。なお、Ｆｓは、サンプリング・レートである。
【００１８】
平均は、Ｎスペクトラムを等しい重みと組合せるスペクトラム領域での直線的な平均化を含む。
【００１９】
スペクトラム波形からＳＦＤＲの測定するアルゴリズムは；２つのトーン周波数のピーク値を見つけ；スペクトラムの第３ピークを見つけ；低い振幅のトーンと第３ピークとの間のスペクトラム・レベルを測定し；この測定した値と識別したトーン周波数に基づいて得た制限値とを比較し；合格か不合格の状態をユーザに示す。
【００２０】
本発明のその他の目的、特徴及び利点は、添付図を参照した以下の説明から明らかになろう。
【００２１】
添付図を参照して本発明の実施例を説明するが、これら図は、本発明の説明のためであり、特定のものに限定するものではない。これら実施例により本発明を説明するが、本発明の要旨がこれら特定の実施例に限定されるものではないことが理解できよう。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】スプリアス周波数ダイナミック・レンジの概念を示す図である。
【図２】スペクトラム・アナライザを用いたスプリアス周波数ダイナミック・レンジ測定を示す図である。
【図３】本発明の一実施例に用いた２つのトーン周波数測定の制限値を示す図である。
【図４】ＳＦＤＲにおける入力周波数に対するサンプリング・クロックの比の影響を示す図である。
【図５Ａ】本発明の一実施例により３．１３ＧＳ／ｓ（サンプル／秒）での測定ＳＦＤＲを示す図である。
【図５Ｂ】本発明の一実施例により２５ＧＳ／ｓでの測定ＳＦＤＲを示す図である。
【図６Ａ】本発明の一実施例による平均化の影響を示す図である。
【図６Ｂ】本発明の一実施例による平均化の影響を示す図である。
【図７】本発明に用いる窓（ウィンドウ）技法の必要性を示す図である。
【図８Ａ】本発明の一実施例による窓の影響を示す図である。
【図８Ｂ】本発明の一実施例による窓の影響を示す図である。
【図９】本発明の一実施例により組み込みＦＦＴスペクトラム分析を用いた時間領域取り込み波形で周波数領域測定を行う方法を示す流れ図である。
【図１０】本発明の一実施例により直線性測定プロットを示す図である。
【図１１】本発明を理解するために多くの周波数点にわたって広がるピーク値エネルギーを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
本発明の理解を容易にするため、以下に、本発明の特定実施例を説明する。しかし、当業者には、これら特定実施例でなくても本発明を実施できることが理解できよう。本発明は、種々の形式のデジタル・ストレージ・オシロスコープに適用できる。さらに、本発明は、ハードウェアでもソフトウェアでも実現できる。
【００２４】
組み込み型ＦＦＴスペクトラム分析を用いて時間領域で取り込んだ波形に対して周波数領域の測定を行う装置及び方法について説明する。本発明により、ユーザは、実時間デジタル・ストレージ・オシロスコープを用いて全ての測定を実行できる。本発明は、オシロスコープによるスペクトラム分析の制限を克服し、エラーを最小にし、測定結果がスペクトラム・アナライザを用いた測定結果に匹敵させるので、ユーザは、オシロスコープのみを用いてコンプライアンス測定を行える。
【００２５】
本発明は、時間領域オシロスコープで平均化して、ダイナミック・レンジ、フロア・ノイズ及び測定精度を改善する。
【００２６】
一般に、２つのトーン信号の振幅を約０．５ｄＢだけ異ならせることができ、この制限は、周波数値及びその振幅に基づく。図３は、測定の制限値を示す。これは、トーンが高いマグニチュード・レベルのどれであっても適用する必要がある。
【００２７】
本発明の実施例により、２つのトーン周波数測定に対する制限を図３に示す。
【００２８】
充分なダイナミック・レンジと必要なノイズ・フロアを具えることが重要であるので、良好なマージンで信号を測定できる。必要な最小ダイナミック・レンジは、この測定に対して約５５ｄＢである。都合の良いことに、本発明は、オシロスコープのノイズ・フロアを改善することにより、測定ダイナミック・レンジも改善する。
【００２９】
［ノイズ・フロアの改善］
量子化ノイズの分布は、測定可能な最小レベルを決定するのに重要な役目を果たす。サンプリング周波数が入力信号周波数の整数倍ならば、ノイズは、基本波周波数の高調波に集中する。この比が奇数ならば、量子化ノイズは、全ての周波数にわたって分布し、ダイナミック・レンジを改善する。
【００３０】
図４は、ＳＦＤＲでの入力周波数に対するサンプリング・クロックの比による影響を示す。サンプリング・レート及び基本波周波数の間の非コヒーレンス（non-coherence）がＳＦＤＲを１６ｄＢｃだけ改善することが図４からわかる。なお、ｄＢｃは、キャリア対スプリアス比の単位である。
【００３１】
この測定に関し、サンプリング・レートが任意のトーン周波数の倍数でないことが確実であった。信号周波数比に対してサンプリング・レートを選択することにより、量子化ノイズによるアーティファクトが最小になる。実際には、ノイズが整数倍ではないので、ノイズは、周波数レンジにわたってＦｓ／２まで等しく広がる。
【００３２】
さらに、８ビットのアナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）変換器を有するオシロスコープを用い、クリッピングを避けるために、信号を１０目盛りではなくフルで約８目盛りに設定した。よって、８目盛りに対するデジタル・レベルの数（Dls）は、次のようになる。
Dls=8×25=200レベル
ここで、２００レベルは、８ビットではなく７．６４５ビットに対応する。よって、ＳＮＲ（signal-noise ratio：ＳＮ比）は、次のようになる。
SNR=6.02×7+1.76=43.76dB
【００３３】
ＳＮＲが４８ｄＢであっても、ＦＦＴノイズ・フロアがＳＮＲではない。これは、Ｆｓ×Ｋ／ＲＬの帯域幅であるアナログ・スペクトラム・アナライザのようにＦＦＴが動作するためである。ここで、ＲＬは、ＦＦＴ用に考慮したデータ点の数であり、Ｋは、用いる窓関数に応じて決まる定数である。
【００３４】
理論的ノイズ・フロアは、ＦＦＴの処理利得（拡散されたベースバンドと元の信号との間の比率ｄＢ）による量子化オフセットよりも充分に下となる。
【００３５】
占有信号帯域幅よりも多い数で信号がオーバーサンプリングされると、処理利得がＳＮＲを増加させる。
【００３６】
【数１】
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【００３７】
この処理利得は、ＳＦＤＲの測定能力を大幅に改善する。このアプリケーションにおいて、選択したサンプリング周波数（ｆｓ）は、２５ＧＳ／ｓ（サンプル／秒）であり、帯域幅（ＢＷ）は、２０ＫＨｚである。
【００３８】
処理利得におけるこの結果は、次のようになる。
［処理利得］=10×log(25e9/20e3)=57dB
【００３９】
この実施例において、この測定に対して２．５Ｍ記録長を注意深く選択して、所望のノイズ・フロアを達成する。総合フロア・ノイズは、５７＋４３＝１００ｄＢであるが、図５Ａ及び図５Ｂに示すように、オシロスコープのノイズ・フロアは９０〜９５ｄＢに制限される。図５Ａ及び図５Ｂは、直線性測定を実行するための信号忠実度を示す。３．１３ＧＳ／ｓ及び２５ＧＳ／ｓで所定信号に対するダイナミック・レンジの測定を図５Ａ及び図５Ｂにみることができる。
【００４０】
理解できるように、フロア・ノイズは、２５ＧＳ／ｓに比較して３．１３ＧＳ／ｓで多く、これは１０ｄＢ以上の改善である。同様に、所定信号に対してスプリアス・レベルを検出する能力が５９ｄＢから６５ｄＢに（約６ｄＢ以上）改善され、サンプリング・レートを増やすことにより７ｄＢの改善があった。
【００４１】
［スペクトラムの平均化］
図６Ａ及び図６Ｂは、本発明の一実施例による平均化の効果を示す。多くの形式の平均化がある。例えば、ＲＭＳ、ベクトル、ピーク保持及び線形の平均化がある。この場合、線形平均化はＮスペクトラムを等しい重みで組合せるので、スペクトラム平均化には線形平均化を用いる。測定した信号が実際には繰り返さないので、時間領域ではなくスペクトラム領域で信号を平均化する。線形平均化が進行中のとき、波形が連続的に表示される。この平均化は、高ノイズ・フロアから低振幅のノイズ及び低振幅のスペクトラム内容を減らすのに役立つ。スペクトラム平均化は、ノイズ・フロアの変動を低下させ、また、この信号がスペクトラム成分を含んでいると、これはノイズ・フロアの出力を明瞭に際だたせる。
【００４２】
［窓］
図７は、本発明に用いる窓（Windowing）技術の必要性を示す図である。サンプリング周波数が測定周波数の倍数であるとき、スペクトラム漏れが生じる。本発明の一実施例によれば、この実施例において、サンプリング・レートを信号周波数の整数倍に故意に設定しない。これは、周波数レンジＦｓ／２を通じてランダムに量子化ノイズを分布させることを本発明が必要とするためである。よって、これは、直線性の測定に影響を与えない。データ窓の終わりにて生じる不連続性の結果、発生したサイド・ローブにより周波数領域にて漏れが生じる。このサイド・ローブを図７に示す。
【００４３】
窓関数を矩形窓ではなく適切に選択することにより、これらサイド・ローブを最小にする。ここで、データのエッジをゼロ値に持って行く窓関数と入力サンプルとを乗算する。本発明の実施例によれば、ガウシャン窓を用いて、矩形窓に匹敵するように、周波数成分を明瞭に分離する。これを図８Ａ及び図８Ｂに示す。
【００４４】
図９は、時間領域で取り込まれた波形の周波数領域測定を、組み込みＦＦＴスペクトラム分析を用いて行う方法の流れ図を示す。
【００４５】
本発明の一実施例に基づき、概略的に以下のステップを含む方法を説明する。まず、ステップ１０にて、オシロスコープの必要な設定を行い、１０ＧＢＡＳＥ−Ｔ信号を取り込む。次に、ステップ１２にて、波形のスペクトラム分析を行うが、２つのトーン周波数のピーク値を見つけ、スペクトラム上で第３ピークを見つける（ステップ１４）。ステップ１６にて、低い振幅のトーンと第３ピークとの間のスペクトラム・レベルを測定して、ＳＦＤＲを測定する。次に、ステップ１８にて、識別したトーン周波数に基づいて到達した制限値と測定値とを比較して、合格か失格かを判定する。
【００４６】
スペクトラム・ピークを見つける方法を以下に詳細に説明する。
【００４７】
スペクトラム波形は、サンプリング・レートに基づいた周波数インタフェースにより分離されたデータ点を有し、スペクトラム分析に対して記録長を考慮する。Ｌを時間領域におけるデータ点の数とする。
【００４８】
ＳＦＤＲを測定するために、３つのピーク、即ち、Ｐ１、Ｐ２及びＰ３を図１０に示すように識別する。
【００４９】
さらに、ヒストグラム方法を用いて、スペクトラム分析での最も一般的な値を識別する。時間領域の信号をｖ（ｎ）とする。なお、ｎは１からＬまで変化し、Ｌは、波形データ点の数である。
【００５０】
FFT(v(n))=V(x)
なお、ｘは、１からＬ／２まで変化する。
【００５１】
各記録点のＶ（ｘ）は、周波数サンプルのｋ倍でのスペクトラム値を表す。
【００５２】
周波数サンプル・インターバルRbw=Fs×K/L    式２
【００５３】
時間領域信号が周波数領域に変換されたとき、多数の周波数点にわたって信号レベルが広がる。周波数スペクトラム内の全てのデータ点に充分な振幅ではない。すなわち、トーン周波数、トーン周波数及びスプリアス周波数の倍数を除いて、振幅のほとんどが低い。そうでなければ、振幅は、フロア・ノイズとしてここで示す最も一般的な値をとる。
【００５４】
ソートにより、Ｐ１をスペクトラム・データの最大値として識別する。Ｖ（ｘ）は、スペクトラム波形を表す。配列ＳＶ（ｍ）は、蓄積されたＶ（ｘ）値である。ここでは「ｍ」の各値に対してｘのインデックスの追跡を持続する。
【００５５】
P1=SV(0)    式３
P2=SV(1)    式４
【００５６】
ここで、ＳＶ（０）、ＳＶ（１）がＶ（ｘ）波形上のｋ番目及びｍ番目のインデックスであることを識別する。この方法において、最も一般的な値に達するまで、Ｖ（ｘ）データをｋ番目及びｍ番目のインデックスから前後させて交差させる。
【００５７】
Ｚは、スペクトラム上の最も一般的な値である。また、Ｚは、フロア・ノイズにすぎず、スペクトラム・レベルに対して上述のように適用したヒストグラム方法を用いて求める。
【００５８】
Z=［Ｖ（ｘ）のヒストグラム］    式５
【００５９】
ピーク値の周囲の周波数点の全てが他のピーク周波数ではない。これは、ピーク値エネルギーが、図１１に示すように、多くの周波数点にわたって広がっているためである。ここで、ピーク値インデックスはｋであるが、スペクトラム上でインデックス点ｆ又はｏでのノイズ・フロアにこの周波数成分が戻る。よって、スペクトラム上の点ｆから点ｏが１つの周波数に対応する。
【００６０】
Ｖ（ｋ−ｆ）＝Ｚとし、Ｖ（ｋ＋ｏ）＝ｚとする。
【００６１】
次に、ｋ−ｆからｋ＋ｏ値までの全ての値に対して、Ｖ（ｘ）＝Ｚにする。
【００６２】
Ｐ２も同様に、ｍ−ｆからｍ＋ｏ値に対してＶ（ｘ）＝Ｚにする。
【００６３】
再び、Ｖ（ｘ）をソートする。蓄積された値は、ＳＶ（ｍ）となる。
【００６４】
P3-SV(0)
PFDR=Min(P1,P2)-P3
なお、Min(P1,P2)は、Ｐ１及びＰ２の内、小さい方である。
【００６５】
周波数サンプリング・インターバルをｊとすると、トーン周波数は、次のようになる。
【００６６】
T1=j×k
T2=j×m
【００６７】
測定したＳＦＤＲと適用可能な制限値とを比較する。ＳＦＤＲの値が制限値未満であると失格であり、そうでなければ合格である。
【００６８】
本発明の上述の説明は、本発明を明瞭にし、理解を助けるためのものである。本発明は、ここで開示した実施例そのものに限定されるものではない。
【符号の説明】
【００６９】
１０〜１８  本発明による方法の各ステップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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