(57)【要約】【課題】サンプル装置の平均値を算出する動作を検証する。【解決手段】トリガ毎に被測定信号の値を指定された平均化期間の間平均化して出力するサンプル装置における、平均化期間の長さを検出する検出装置であって、周期信号をサンプル装置に供給する周期信号供給部と、周期信号に対して位相が異なる複数のトリガをサンプル装置に供給するトリガ供給部と、複数のトリガに応じてサンプル装置が出力する周期信号の複数の平均値に基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定する判定部と、を備える検出装置、測定装置、および検出方法を提供する。【選択図】図１
2011196720.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
トリガ毎に被測定信号の値を指定された平均化期間の間平均化して出力するサンプル装置における、前記平均化期間の長さを検出する検出装置であって、
周期信号を前記サンプル装置に供給する周期信号供給部と、
前記周期信号に対して位相が異なる複数のトリガを前記サンプル装置に供給するトリガ供給部と、
前記複数のトリガに応じて前記サンプル装置が出力する前記周期信号の複数の平均値に基づいて、前記平均化期間が前記周期信号の周期であるか否かを判定する判定部と、
を備える検出装置。
【請求項２】
前記判定部は、前記複数の平均値が予め定められた基準範囲内である場合に、前記平均化期間が前記周期信号の周期であると判定する請求項１に記載の検出装置。
【請求項３】
前記判定部は、前記複数の平均値が実質的に同一である場合に、前記平均化期間が前記周期信号の周期であると判定する請求項１または２に記載の検出装置。
【請求項４】
前記判定部は、前記複数の平均値のうち最大値および最小値の差が基準以下の場合に、前記平均化期間が前記周期信号の周期であると判定する請求項１から３のいずれかに記載の検出装置。
【請求項５】
前記サンプル装置は、トリガ毎に被測定信号を複数回サンプリングして複数回分のサンプル値の平均値を出力するものであり、
前記周期信号供給部は、サンプル間隔の正整数倍の周期を有する周期信号を前記サンプル装置に供給し、
前記判定部は、前記複数の平均値に基づいて、平均されるサンプル値の個数が前記正整数であるか否かを判定する
請求項１から４のいずれかに記載の検出装置。
【請求項６】
前記周期信号供給部は、前記周期信号として、サイン波形を前記サンプル装置に供給する請求項１から５のいずれかに記載の検出装置。
【請求項７】
前記トリガ供給部は、サイン波形の前記周期信号に対して、位相が１／４周期異なる２つのトリガ信号を前記サンプル装置に供給し、
前記判定部は、前記２つのトリガ信号に応じて前記サンプル装置が出力する前記周期信号の２つの平均値に基づいて、前記平均化期間が前記周期信号の周期であるか否かを判定する
請求項６に記載の検出装置。
【請求項８】
前記周期信号の周期を順次小さくしていき、前記平均化期間がそれぞれの周期であるか否かを前記周期信号供給部、前記トリガ供給部、および前記判定部により判定させる周期設定部を更に備える請求項１から７のいずれかに記載の検出装置。
【請求項９】
前記サンプル装置は、被測定信号の値を、サンプル間隔の２のべき乗倍の長さの前記平均化期間の間平均化して出力するものであり、
前記周期設定部は、前記周期信号の周期を、サンプル間隔の２のべき乗倍の長さから、順次半分にしていく請求項８に記載の検出装置。
【請求項１０】
前記トリガ供給部は、トリガをアサートする期間によって前記平均化期間を指定する請求項１から９のいずれかに記載の検出装置。
【請求項１１】
入力した信号をサンプリングする測定装置であって、
トリガ毎に被測定信号の値を指定された平均化期間の間平均化して出力するサンプル装置と、
周期信号を前記サンプル装置に供給する周期信号供給部と、
前記周期信号に対して位相が異なる複数のトリガを前記サンプル装置に供給するトリガ供給部と、
前記複数のトリガに応じて前記サンプル装置が出力する前記周期信号の複数の平均値に基づいて、前記平均化期間が前記周期信号の周期であるか否かを判定する判定部と、
を備える測定装置。
【請求項１２】
トリガ毎に被測定信号の値を指定された平均化期間の間平均化して出力するサンプル装置における、前記平均化期間の長さを検出する検出方法であって、
周期信号を前記サンプル装置に供給する周期信号供給段階と、
前記周期信号に対して位相が異なる複数のトリガを前記サンプル装置に供給するトリガ供給段階と、
前記複数のトリガに応じて前記サンプル装置が出力する前記周期信号の複数の平均値に基づいて、前記平均化期間が前記周期信号の周期であるか否かを判定する判定段階と、
を備える検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検出装置、測定装置、および検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＡＤ変換回路に正弦波またはランプ波等のアナログ信号を入力して、アナログ信号の入力電位に対応して得られるＡＤ変換後のデジタルコードに基づき、ＡＤ変換器の直線性誤差を取得している（例えば、特許文献１参照）。また、直線性誤差を精度よく測定する目的で、同一のアナログ信号の入力電位に対して複数回サンプリングした複数のＡＤ変換結果を記録して、デジタルコードの平均値を算出することも行われている。
特許文献１  特開平１−１７４１１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、ＡＤ変換回路の平均値を算出する動作に異常が発生した場合、ＡＤ変換回路の特性に誤差が生じてしまう。例えば、測定装置または試験装置等は、高精度測定が求められることからも、平均値を算出する動作を検証する方法が求められる。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記課題を解決するために、本発明の第１の態様においては、トリガ毎に被測定信号の値を指定された平均化期間の間平均化して出力するサンプル装置における、平均化期間の長さを検出する検出装置であって、周期信号をサンプル装置に供給する周期信号供給部と、周期信号に対して位相が異なる複数のトリガをサンプル装置に供給するトリガ供給部と、複数のトリガに応じてサンプル装置が出力する周期信号の複数の平均値に基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定する判定部と、を備える検出装置を提供する。
【０００５】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本実施形態に係る検出装置１００の構成例をサンプル装置１０と共に示す。
【図２】本実施形態に係る検出装置１００のトリガとサンプリング結果の一例を示す。
【図３】本実施形態に係る検出装置１００の動作フローを示す。
【図４】本実施形態に係る検出装置１００の変形例をサンプル装置１０と共に示す。
【図５】本実施形態に係る測定装置５００の構成例を示す。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【０００８】
図１は、本実施形態に係る検出装置１００の構成例をサンプル装置１０と共に示す。検出装置１００は、トリガ毎に被測定信号の値を指定された平均化期間の間平均化して出力するサンプル装置１０における、平均化期間の長さを検出する。これによって検出装置１００は、サンプル装置１０の平均化処理が正常に動作するか否かを検証する。ここでサンプル装置１０は、入力されたアナログ信号を一定期間蓄積して連続的に取り込む装置でよい。検出装置１００は、トリガ信号によってアナログ信号の平均化期間の蓄積をサンプル装置１０に開始させて、サンプル装置１０が蓄積した電圧値に基づき、平均化期間の長さを検出してよい。
【０００９】
また、サンプル装置１０は、入力されたアナログ信号を一定のクロックでサンプリングしてデジタル信号に変換するＡＤ変換器等であってよい。検出装置１００は、トリガ信号によってアナログ信号の平均化期間のサンプリングをサンプル装置１０に開始させて、平均化期間の長さを検出してよい。検出装置１００は、周期信号供給部１１０と、トリガ供給部１２０と、判定部１３０とを備える。
【００１０】
周期信号供給部１１０は、サンプル装置１０の平均化期間を検査するために用いる周期信号をサンプル装置１０に供給する。周期信号供給部１１０は、予め定められた周波数の信号を出力する発信器回路でよく、これに代えて設定に応じて指定された周波数の信号を出力する発振周波数可変の発信器回路でよい。これに代えて周期信号供給部１１０は、指定された波形および周波数の信号を出力する任意波形発生器でよい。
【００１１】
周期信号供給部１１０は、周期信号の一例として、サイン波形をサンプル装置１０に供給する。これに代えて周期信号供給部１１０は、ランプ波形、三角波、矩形波、またはパルス波形等の、平均化期間が異なる場合に平均値が異なる値となる波形の周期信号を供給してよい。
【００１２】
トリガ供給部１２０は、周期信号に対して位相が異なる複数のトリガをサンプル装置１０に供給する。トリガ供給部１２０は、サンプル装置１０に応じて、Ｌｏ状態からＨｉ状態またはＨｉ状態からＬｏ状態に遷移するエッジトリガを供給してよく、これに代えて予め定められた出力値でＯＮ／ＯＦＦが切り替わるレベルトリガを供給してよい。また、トリガ供給部１２０は、レベルトリガとして、平均化期間に応じた時間幅のパルス波形を供給してもよい。
【００１３】
判定部１３０は、複数のトリガに応じてサンプル装置１０が出力する周期信号の複数の平均値に基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定する。判定部１３０は、サンプル装置１０が出力する周期信号の複数の平均値のうち、少なくとも１つが一定の値でない場合に、平均化期間が周期信号の周期ではないと判定してよい。また、判定部１３０は、サンプル装置１０が出力する周期信号の複数の平均値が全て一定の値の場合に、平均化期間が周期信号の周期ではあると判定してよい。
【００１４】
これに代えて、判定部１３０は、複数の平均値が予め定められた基準範囲内である場合に、平均化期間が周期信号の周期であると判定してもよい。これに代えて、判定部１３０は、複数の平均値が実質的に同一である場合に、平均化期間が周期信号の周期であると判定してもよい。これに代えて、判定部１３０は、複数の平均値のうち最大値および最小値の差が基準以下の場合に、平均化期間が周期信号の周期であると判定してもよい。
【００１５】
図２は、本実施形態に係る検出装置１００のトリガとサンプリング結果の一例を示す。本図においてサンプル装置１０は、トリガに応じてクロック毎に８回分サンプリングをして平均値を出力するように設定されているものとする。図中の横軸は時間軸であり、周期信号であるサイン波形をクロックｔ０〜ｔ１１のそれぞれでサンプリングすると振幅値ｘ０〜ｘ１１がそれぞれ得られることを示す。図中において、サイン波形の一周期は、クロック周期の８倍と一致するように設定されている。
【００１６】
このように、サイン波形のような周期信号の周期と平均化期間とを一致させると、一周期の間にサンプリングした値の平均値は一定の値になる。例えば、図中のｘ１〜ｘ８のサンプリング時間はオフセット電圧が０Ｖのサイン波形の１周期であり、サンプリング値ｘ１〜ｘ８の平均値は略零になる。サイン波形の周期とクロック周期の８倍が一致しているので、サンプル装置１０は、９番目以降のサンプリング結果として１番目からサンプリングした結果と同じ値を順に繰り返し出力する。したがってサンプル装置１０は、例えばｔ０〜ｔ７、ｔ２〜ｔ９といったいずれのタイミングからサンプリングを開始しても８個のサンプリング結果は、平均すると全て略零となる。
【００１７】
したがって、検出装置１００は、サンプル装置１０が出力する周期信号の平均値が略零またはオフセット電圧に一致する場合、平均化期間が周期信号の周期であると判別できる。また、検出装置１００は、複数の平均値が予め定められた基準範囲内である場合、平均化期間が周期信号の周期であると判別できる。このように基準範囲を定めることによって、検出装置１００は、周期信号またはオフセット電圧の基準範囲内の変動等を考慮することができる。
【００１８】
また、検出装置１００は、複数の平均値が実質的に同一である場合、平均化期間が周期信号の周期であると判別できる。検出装置１００は、オフセット電圧の予め定められた変動または変調等がある場合でも、複数の平均値が実質的に同一であることに基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるかを判別することができる。また、検出装置１００は、複数の平均値のうち最大値および最小値の差が基準以下の場合に、平均化期間が周期信号の周期であると判別できる。検出装置１００は、周期信号またはオフセット電圧の基準範囲内の変動等を考慮することができる。
【００１９】
図中のトリガａで示されたタイミングでトリガ供給部１２０がトリガをサンプル装置１０に供給した場合、サンプル装置１０は、ｔ１〜ｔ８の８回のサンプリングを実行して平均値を判定部１３０に出力する。判定部１３０は、平均値が略零であることに基づいて８回の平均化期間が周期信号の周期であると判定する。
【００２０】
ここで、検出装置１００は、トリガ供給部１２０が供給するトリガ出力のタイミングを変えて、複数の平均値が略零であるかどうかに基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるかどうかを判定してよい。例えば、トリガａとは異なる複数のタイミングのトリガをトリガ供給部１２０がサンプル装置１０に供給した場合、サンプル装置１０は、それぞれのタイミングに応じた８回のサンプリング値の平均値として、いずれも略零を出力する。
【００２１】
一方、サンプル装置１０は、８回のサンプリングの平均値を出力するように設定されているにも関わらず、平均値トリガｂのタイミングでトリガを受け取り、４回のサンプリング値の平均値を出力している場合でも略零を出力する。しかしながら、サンプル装置１０は、トリガｃのタイミングでトリガを受け取り、４回のサンプリング値の平均値を出力させると、零ではない値を出力する。したがって、検出装置１００は、トリガ供給部１２０が供給するトリガ出力のタイミングを変えることで、サンプル装置１０の設定された平均化処理が正常動作しているかどうかをより正確に判別することができる。
【００２２】
ここで、検出装置１００は、複数の平均化期間の複数の平均値に基づき、平均化期間が周期信号の周期であるかどうかを判別してよい。即ち、検出装置１００は、平均化期間が周期信号の周期に一致した場合は平均値が略零を検出して、かつ、一致しない場合は特定の周期で略零を検出する。これによって検出装置１００は、サンプル装置１０の平均化処理の動作について、より精密に検証することができる。
【００２３】
ここで検出装置１００は、複数の平均化期間のうち、より長い期間から検出を開始して、平均化期間が周期信号の周期であるかどうかを判別してよい。平均化期間が周期信号の周期と一致しない場合、かつ、平均化期間が周期よりも長い場合、より長い平均化期間の方が、サンプル装置１０は平均値を略零と出力する頻度が少ない。したがって検出装置１００は、平均化期間が周期信号の周期であるかどうかを高速に判別することができる。
【００２４】
図３は、本実施形態に係る検出装置１００の動作フローを示す。検出装置１００は、検出に関する初期設定を実行する（Ｓ３００）。検出装置１００は、周期信号の周期および波形、平均化期間、トリガ出力のタイミング、検出する回数等を初期設定として記憶してよい。検出装置１００は、周期信号供給部１１０より周期信号をサンプル装置１０に供給する（Ｓ３１０）。
【００２５】
サンプル装置１０は、トリガ信号に応じて、サンプリングを開始して指定された平均化期間のサンプリング値を平均化して出力する（Ｓ３２０）。ここでサンプル装置１０は、ステップ３００で予め設定された平均化期間を指定された平均化期間としてサンプリングしてよい。
【００２６】
判定部１３０は、サンプル装置１０が出力する周期信号の平均値に基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定する（Ｓ３３０）。例えば、判定部１３０は、周期信号の平均値が略零の場合に、平均化期間が周期信号の周期であると判定する。検出装置１００は、この判定方法を、ステップ３００で予め設定してよい。
【００２７】
検出装置１００は、複数のトリガ毎に、それぞれの平均化期間が周期信号の周期であるか否かをそれぞれ判定して、複数の判定結果から最終的な判定結果を出力してよい。検出装置１００は、指定された回数に至るまでステップ３２０からステップ３３０の判定を繰り返して（Ｓ３４０）、最終的な判定結果を出力する。ここで検出装置１００は、繰り返す回数をステップ１００で予め設定してよい。
【００２８】
また、検出装置１００は、複数のトリガを、周期信号に対する位相を変えた出力タイミングでそれぞれサンプル装置１０に供給してよい（Ｓ３５０）。検出装置１００は、どれだけのタイミングを変更するかを予めステップ１００で設定してよい。以上の本実施形態に係る検出装置１００の動作フローによれば、検出装置１００は、サンプル装置１０の平均化処理の動作を検証することができる。
【００２９】
以上の本実施形態に係る検出装置１００は、複数のトリガ毎に、それぞれの平均化期間が周期信号の周期であるか否かをそれぞれ判定する例を説明した。これに代えて、検出装置１００は、異なる位相のトリガとして周期信号に対し位相が１周期未満異なる２、またはそれ以上の位相のトリガを用いてもよい。
【００３０】
例えば、トリガ供給部１２０は、サイン波形の周期信号に対して、位相が１／４周期異なる２つのトリガ信号をサンプル装置１０に供給し、判定部１３０は、２つのトリガ信号に応じてサンプル装置１０が出力する周期信号の２つの平均値に基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定する。
【００３１】
図２の例にも示したとおり、サンプル装置１０が平均値として略零を出力しても、その平均化区間が周期信号の周期と一致しないこともある。このような平均化区間は、特定のサンプリングタイミングとトリガ位相によって発生するので、検出装置１００は、対応する平均値が全て略零とならない２つ以上のトリガ位相を設定する。例えば、図２において、ｘ０〜ｘ３の４つのサンプリング結果の平均値は略零であり、同様にトリガ位相が１／２周期異なるｘ４〜ｘ７も略零となる。
【００３２】
このようなトリガ位相の組み合わせを避けて、検出装置１００は、例えば位相が１／４周期異なる２つのトリガ信号をサンプル装置１０に供給する。図２の例からわかるとおり、位相が１／４周期異なる２つのトリガ信号に応じた２つの平均値は、周期信号の周期以外に両方とも略零とはならない。したがって検出装置１００は、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを２回の判定で決定することができる。
【００３３】
これに代えて、トリガ供給部１２０は、位相が１／３周期異なる２つのトリガ信号をサンプル装置１０に供給して、判定部１３０は、２つのトリガ信号に応じてサンプル装置１０が出力する周期信号の２つの平均値に基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定してよい。図２の例からわかるとおり、位相が１／３周期異なる２つのトリガ信号に応じた２つの平均値が略零となる平均化区間も、周期信号の周期以外にはないので、検出装置１００は、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定することができる。
【００３４】
これに代えて、トリガ供給部１２０は、位相を１クロック異なる２つのトリガ信号をサンプル装置１０に供給して、判定部１３０は、２つのトリガ信号に応じてサンプル装置１０が出力する周期信号の２つの平均値に基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定してよい。図２の例からわかるとおり、位相が１クロック異なる２つのトリガ信号に応じた２つの平均値が略零となる平均化区間も、周期信号の周期以外にはないので、検出装置１００は、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定することができる。
【００３５】
ここで、検出装置１００は、サンプル装置１０に対して１クロック多い平均化期間のサンプリングデータを出力させて、位相が１クロック異なるトリガ信号に応じた周期信号の２つの平均値を算出してもよい。例えば、検出装置１００は、サンプル装置１０に対してｔ１〜ｔ９までのサンプリングデータｘ１〜ｘ９を出力させる。判定部１３０は、出力結果より、ｘ１〜ｘ８までのデータとｘ２〜ｘ９までのデータの位相が１クロック異なるトリガ信号に応じた周期信号の２つの平均値を算出してから、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定する。これによって、検出装置１００は、より短い時間で平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定することができる。
【００３６】
以上の本実施例の検出装置１００は、周期信号の複数の平均値に基づいて平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定する例を説明した。これに代えて、検出装置１００は、サンプル値の個数に基づいて平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定してよい。サンプル装置１０は、トリガ毎に被測定信号を複数回サンプリングして複数回分のサンプル値の平均値を出力するものであり、周期信号供給部１１０は、サンプル間隔の正整数倍の周期を有する周期信号をサンプル装置１０に供給し、判定部１３０は、複数の平均値に基づいて、平均されるサンプル値の個数が正整数であるか否かを判定する。
【００３７】
例えば検出装置１００は、トリガ毎に複数回サンプリングして得られた複数回分のサンプル値の平均値から、最も零に近い平均値となるサンプル値の個数と、周期信号をサンプル間隔で割った整数値とが、一致するかどうかを判定する。これによって、検出装置１００は、整数値の比較で平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定することができる。
【００３８】
図４は、本実施形態に係る検出装置１００の変形例をサンプル装置１０と共に示す。本変形例の検出装置１００は、図１に示された本実施形態に係る検出装置１００の動作と略同一のものには同一の符号を付け、説明を省略する。検出装置１００は、周期設定部４１０を更に備える。
【００３９】
周期設定部４１０は、周期信号の周期を順次小さくしていき、平均化期間がそれぞれの周期であるか否かを周期信号供給部１１０、トリガ供給部１２０、および判定部１３０により判定させる。検出装置１００は、複数の周期信号の周期を用いてトリガ毎にサンプル装置１０に平均化させ、平均化期間と周期の判定を繰り返すことで、サンプル装置１０の平均化処理の動作検証をより精密に実行できる。
【００４０】
ここで例えば、サンプル装置１０は、被測定信号の値を、サンプル間隔の２のべき乗倍の長さの平均化期間の間平均化して出力するものであり、周期設定部４１０は、周期信号の周期を、サンプル間隔の２のべき乗倍の長さから、順次半分にしていく。これによって検出装置１００は、サンプル間隔の２のべき乗倍の長さの複数の周期信号の周期毎に、サンプル装置１０の平均化処理の動作検証を効率的に実行することができる。
【００４１】
以上の本実施形態に係る検出装置１００において、トリガ供給部１２０は、サンプル装置１０にトリガを供給する例を説明した。これに代えて、トリガ供給部１２０は、トリガの供給に加えて、トリガをアサートする期間によって平均化期間を指定する。例えば、複数のトリガ毎にサンプル装置１０が平均化処理する場合、検出装置１００は、平均化期間の間に次のトリガが発生しないように制御する。特に、トリガ供給部１２０が周期信号に対して位相が異なる複数のトリガをサンプル装置１０に供給する場合、および／または複数の周期信号の周期を用いてトリガをサンプル装置１０に供給する場合、検出装置１００は、平均化期間の間に次のトリガが発生しないように複雑な制御を実行する。
【００４２】
そこでトリガ供給部１２０は、トリガをアサートする期間に応じた平均化期間を指定してよい。トリガ供給部１２０は、トリガをアサートする期間を与えられてよく、これに代えて複数のトリガ発生の指示を記憶してトリガをアサートする期間を判別してもよい。トリガ供給部１２０は、トリガをアサートする期間に応じた平均化期間を指定することで、平均化期間の設定を容易に実行することができる。
【００４３】
図５は、本実施形態に係る測定装置５００の構成例を示す。測定装置５００は、入力される外部トリガ信号に応じて、入力信号をサンプリングする。測定装置５００は、指定に応じて、装置内部に備わるサンプル装置の平均化処理の動作検証を実行する。本実施形態に係る測定装置５００は、図４に示された本実施形態に係る検出装置１００の動作と略同一のものには同一の符号を付け、説明を省略する。測定装置５００は、装置内部にサンプル装置１０を備え、信号入力部５１０と、トリガ入力部５２０と、スイッチ部５３０と、測定部５４０とをさらに備える。
【００４４】
信号入力部５１０は、測定装置５００がサンプリングすべき入力信号を入力する。入力信号は、シングルエンド入力で入力されてよく、これに代えて差動入力で入力されてよい。トリガ入力部５２０は、信号入力部５１０から入力される信号をサンプリングするタイミングを指定するトリガ信号を入力する。
【００４５】
信号入力部５１０およびトリガ入力部５２０は、Ｎコネクタ、ＢＮＣコネクタ、ＳＭＡコネクタ、ＡＰＣ３．５コネクタ、Ｋコネクタ等の規格化されたコネクタを有してよい。これに代えて、信号入力部５１０およびトリガ入力部５２０は、コネクタを介さずに直接回路基板上の配線に半田付け等で固定されてそれぞれの信号が入力されてよい。
【００４６】
スイッチ部５３０は、サンプル装置１０が入力する信号および出力する信号を、指定に応じて適切な信号が入出力されるようにそれぞれの接続を切り換える。スイッチ部５３０は、ＦＥＴスイッチ、リレースイッチ、フォトカプラ、光ＭＯＳスイッチ、ＭＥＭＳスイッチといったスイッチでよい。
【００４７】
測定部５４０は、サンプル装置１０がサンプリングしたデータを受け取り、受け取ったデータを表示、記憶、および／または他の装置に送信してよい。本例において測定装置５００は、外部トリガ信号のタイミングで入力信号をサンプリングするが、これに代えて測定装置５００は、装置内部でトリガを生成して内部トリガで入力信号をサンプリングしてもよい。
【００４８】
測定装置５００が信号入力部５１０から入力された入力信号をサンプリングする場合、スイッチ部５３０ａは、信号入力部５１０とサンプル装置１０とを接続させ、スイッチ部５３０ｂは、トリガ入力部５２０とサンプル装置１０とを接続させ、スイッチ部５３０ｃは、サンプル装置１０と測定部５４０とを接続する。このように接続した測定装置５００は、トリガ入力部５２０から入力されたトリガ信号のタイミングでサンプル装置１０を用いて入力信号をサンプリングする。
【００４９】
また、測定装置５００がサンプル装置１０の平均化処理を検証する場合、スイッチ部５３０ａは、周期信号供給部１１０とサンプル装置１０とを接続させ、スイッチ部５３０ｂは、トリガ供給部１２０とサンプル装置１０とを接続させ、スイッチ部５３０ｃは、サンプル装置１０と判定部１３０とを接続する。このように接続した測定装置５００は、図４で説明した検出装置１００とほぼ同じ構成にすることができ、上記の説明と同様にしてサンプル装置１０の平均化処理の動作検証を実行することができる。測定装置５００は、電源を投入した場合、一定期間が経過した場合、および／またはユーザーの指定等に応じてサンプル装置１０の平均化処理を検証してよい。
【００５０】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００５１】
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【００５２】
１０  サンプル装置、１００  検出装置、１１０  周期信号供給部、１２０  トリガ供給部、１３０  判定部、４１０  周期設定部、５００  測定装置、５１０  信号入力部、５２０  トリガ入力部、５３０  スイッチ部、５４０  測定部
【図１】
2011196720.tif 000003
【図２】
2011196720.tif 000004
【図３】
2011196720.tif 000005
【図４】
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【図５】
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