(57)【要約】【課題】描画処理を高速に行える描画制御装置とそれを用いた波形測定装置を実現すること。【解決手段】内部に描画データを蓄積する超高速の描画データメモリと汎用的なＶＲＡＭが設けられたグラフィック表示制御部を用いた描画制御装置において、  前記描画データメモリから前記ＶＲＡＭに転送する描画波形データ量を制限するデータ転送量制限手段を設けたことを特徴とするもの。【選択図】                    図１
2011164378.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
内部に描画データを蓄積する超高速の描画データメモリと汎用的なＶＲＡＭが設けられたグラフィック表示制御部を用いた描画制御装置において、
前記描画データメモリから前記ＶＲＡＭに転送する描画波形データ量を制限するデータ転送量制限手段を設けたことを特徴とする描画制御装置。
【請求項２】
前記データ転送量制限手段は、前記描画データメモリのデータ描画領域を制限するクリッピング領域設定手段であることを特徴とする請求項１に記載の描画制御装置。
【請求項３】
前記描画データメモリは、測定波形データを格納する波形メモリであることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の描画制御装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載の描画制御装置を用いたことを特徴とする波形測定装置。
【請求項５】
前記波形測定装置はデジタルオシロスコープであることを特徴とする請求項４に記載の描画制御装置を用いた波形測定装置。
【請求項６】
前記波形測定装置は電力測定装置であることを特徴とする請求項４に記載の描画制御装置を用いた波形測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、描画制御装置とそれを用いた波形測定装置に関し、詳しくは、描画処理の高速化に関するものである。
【０００２】
波形測定装置であるデジタルオシロスコープの一種に、メニューやダイアログやヘルプシステムなどのＧＵＩ(Graphical User Interface)をＣＲＴ(Cathode Ray Tube)やＬＣＤ(Liquid Crystal Display)などの表示器に表示させるために、内部に描画波形データを蓄積する超高速の波形メモリ(Wave RAM：以下ＷＲＡＭという)と汎用的なＶＲＡＭ(Video RAM)が設けられたグラフィック表示制御部(Graphics Display Controller：以下ＧＤＣという)を用いたものがある。
【０００３】
図５は、このような波形測定装置の一例を示すブロック図である。図５において、ＭＰＵ(Micro Processing Unit)１はＧＤＣ２を制御するものであり、ＰＣＩバスや汎用バスなどのバスＢを介して接続されている。バスＢには測定データを逐次格納するアクイジションメモリ３が接続され、ＧＤＣ２には表示器４が接続されている。ＧＤＣ２には、前述のようにＷＲＡＭ２１とＶＲＡＭ２２が設けられている。
【０００４】
このような構成において、表示器４に画像を表示するのにあたっては、ＶＲＡＭ２２に直接描画波形データが書き込まれる。すなわち、測定波形を表示器４に表示するのにあたっては、ＧＤＣ２が備える波形描画命令を利用して、ＶＲＡＭ２２に直接測定波形の描画データが書き込まれる。
【０００５】
具体的には、測定波形を表示器４に表示するのにあたっては、ＭＰＵ１から受信した測定波形に関連した描画データを、ＧＤＣ２の内部に設けられているＶＲＡＭ２２の１画面に相当するＷＲＡＭ２１に展開格納する。その後、１画面分のＷＲＡＭ２１全域に格納されている描画データを、ＶＲＡＭ２２のデータフォーマットに合わせて、ＶＲＡＭ２２に転送する。
【０００６】
特許文献１には、グラフィックスディスプレイ上の任意領域のクリッピングを行うグラフィックス制御装置の構成が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平２−１４４７８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、図５の構成によれば、波形を表示するためには、ＷＲＡＭ２１から必ず「１画面全体」をＶＲＡＭ２２に転送しなければならず、描画処理の高速化は困難である。
【０００９】
本発明は、このような問題点を解決するものであり、その目的は、描画処理を高速に行える描画制御装置とそれを用いた波形測定装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために、本発明のうち請求項１に記載の発明は、
内部に描画データを蓄積する超高速の描画データメモリと汎用的なＶＲＡＭが設けられたグラフィック表示制御部を用いた描画制御装置において、
前記描画データメモリから前記ＶＲＡＭに転送する描画波形データ量を制限するデータ転送量制限手段を設けたことを特徴とする。
【００１１】
請求項２記載の発明は、請求項１に記載の描画制御装置において、
前記データ転送量制限手段は、前記描画データメモリのデータ描画領域を制限するクリッピング領域設定手段であることを特徴とする。
【００１２】
請求項３記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の描画制御装置において、
前記描画データメモリは、測定波形データを格納する波形メモリであることを特徴とする。
【００１３】
請求項４記載の発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載の描画制御装置を用いた波形測定装置であることを特徴とする。
【００１４】
請求項５記載の発明は、請求項４に記載の測定装置において、
前記波形測定装置はデジタルオシロスコープであることを特徴とする。
【００１５】
請求項６記載の発明は、請求項４に記載の測定装置において、
前記波形測定装置は電力測定装置であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
これらにより、高速描画処理が行える描画制御装置および高速に波形表示処理が行える波形測定装置が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施例を示す構成説明図である。
【図２】本発明における描画波形データの流れを示す説明図である。
【図３】本発明の各メモリにおける描画波形データのイメージを示す説明図である。
【図４】本発明における波形描画のクリッピング機能の説明図である。
【図５】従来の描画制御装置の一例を示す構成説明図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、図面を参照して、本発明を詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図であり、図５と共通する部分には同一の符号を付けている。
【００１９】
図１において、ＭＰＵ１のＲＡＭ１１には、描画波形データ格納部１１ａとクリッピングデータ格納部１１ｂが設けられている。そして、ＧＤＣ２には、図５のＷＲＡＭ２１とＶＲＡＭ２２の他に、波形描画部２３とビデオ合成部２４が設けられている。
【００２０】
ＭＰＵ１のＲＡＭ１１の描画波形データ格納部１１ａにはアクイジションメモリ３から作成された描画波形データが格納され、クリッピングデータ格納部１１ｂには表示部４の表示画面上における波形表示領域を任意に設定するためのクリッピング領域を設定するクリップ領域上端座標データとクリップ領域下端座標データが格納されている。
【００２１】
図２は、本発明における描画波形データの流れを示す説明図である。図２において、表示部４に波形を表示するには、ＭＰＵ１のＲＡＭ１１に設けられている描画波形データ格納部１１ａから、図１のＧＤＣ２に設けられている波形描画部２３を介して、１画面分の格納領域を有するＷＲＡＭ２１にビットマップデータを書き込む。
【００２２】
その後、描画波形数分の書き込みを繰り返すことにより最終波形データの書き込みが完了すると、描画波形データ格納部１１ａに格納された描画波形データに含まれているパレット情報に従って、波形描画部２３を介してＶＲＡＭ２２にビットマップデータが転送される。
【００２３】
図３は、本発明の各メモリにおける描画波形データのイメージを示す説明図である。図３において、ＧＤＣ２は、ＷＲＡＭ２１からＶＲＡＭ２２へ１画面分の描画波形データを転送するのにあたり、ＷＲＡＭ２１における転送範囲を任意に指定できるクリッピング機能を備えている。すなわち、クリッピング機能を用いて転送範囲を適切に設定することにより、必要最小限の描画制御処理で、従来よりも高速に描画することができる。
【００２４】
図４は、本発明における波形描画のクリッピング機能の説明図である。図４において、ＧＤＣ２の波形描画部２３は、ＭＰＵ１のＲＡＭ１１のクリッピングデータ格納部１１ｂに格納されているクリッピング領域を設定するクリップ領域上端座標データとクリップ領域下端座標データに基づき、ＷＲＡＭ２１からＶＲＡＭ２２へ１画面分の描画波形データを転送するときの転送範囲を設定する。
【００２５】
ＧＤＣ２のビデオ合成部２４は、ＶＲＡＭ２２に転送格納された１画面分の描画波形データを、図示しない文字記号情報や画像パターンなどを含む他の表示画像データと合成して、表示部４に表示する。ここで、ＷＲＡＭ２１からＶＲＡＭ２２に転送格納された１画面分の描画波形データは、実線で示すようにクリッピングデータ格納部１１ｂに格納されているクリッピング領域を設定するクリップ領域上端座標データとクリップ領域下端座標データに基づいて設定される表示部４の波形表示領域にのみ表示され、点線で示すようにクリップ領域外に波形が描画されることはない。
【００２６】
ＷＲＡＭ２１からＶＲＡＭ２２へ１画面分の描画波形データを転送するときの転送範囲の設定について説明する。
【００２７】
第１の方法は、描画対象になっている全波形データから描画すべき画素のそれぞれの位置を算出し、描画波形の水平方向の上限・下限を限定して設定する方法である。この方法は、確実に描画全データを探索するため、余分な転送領域が含まれない。ただし、描画対象になっている全波形データについて、上限・下限値の比較処理を行うため、処理負荷が高くなる。そのため、ハードウェアで実現するのが現実的である。
【００２８】
第２の方法は、クリッピングデータ格納部１１ｂに格納されているクリッピング領域を設定するクリップ領域上端座標データとクリップ領域下端座標データに基づきデータ転送範囲を算出する方法である。この方法は、クリッピング領域を越える波形は表示されない特徴に基づき、クリップ領域上端座標データとクリップ領域下端座標データを描画画素の上限値と下限値として想定する。
【００２９】
一般的な波形描画ではクリッピング領域を越えるような波形を描画しないこともあるため、余分な転送領域が含まれる可能性があるが、多数の波形を描画する場合には１波形につき１回の上限・下限値の比較で済むため、高速に処理することができる。そして、この方法は、ＭＰＵ１で実行するプログラムでも十分実現可能であるし、ＧＤＣ２の内部回路で実行すれば、さらに高速に処理することができる。
【００３０】
なお、以上に説明した装置全体の一連処理は、ＭＰＵ１で動作するプログラムで実施してもよいし、ＧＤＣ２内部の回路で実施してもよい。
【００３１】
また、上記実施例では、描画制御装置として波形測定装置において測定波形を描画する例について説明したが、これに限るものではなく、波形測定装置以外の各種の表示装置における描画にも有効である。
【００３２】
さらに、上記実施例では、波形測定装置としてデジタルオシロスコープの例を説明したが、本発明は、測定電力に関係する各種の信号波形を表示するように構成された電力測定装置や、各種のタイミング信号波形を表示するように構成されたタイミング信号測定装置などにも適用できるものである。
【００３３】
以上説明したように、本発明によれば、描画処理を高速に行える描画制御装置とそれを用いた波形測定装置を実現することができる。
【符号の説明】
【００３４】
１  ＭＰＵ
１１  ＲＡＭ
１１ａ  描画波形データ格納部
１１ｂ  クリッピングデータ格納部
２  ＧＤＣ
２１  ＷＲＡＭ
２２  ＶＲＡＭ
２３  波形描画部
２４  ビデオ合成部
３  アクイジションメモリ
４  表示部
【図１】
2011164378.tif 000003
【図２】
2011164378.tif 000004
【図５】
2011164378.tif 000005
【図３】
2011164378.tif 000006
【図４】
2011164378.tif 000007