(57)【要約】【課題】回路全体のブリッジ故障を検出できる半導体集積回路を、回路規模を増大させることなく、安価にしかも短時間に製造する方法を提供する。【解決手段】本発明の半導体集積回路の配線方法は、プリセットパタンを所定のタイミングで停止させた状態でのネットレベル情報を読み込む工程と、予め定義された隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、ネットレベル情報に基づいて、配線ペアが異電位になるか、又は配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように配線を行う工程と、を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体集積回路の配線方法であって、
プリセットパタンを所定のタイミングで停止させた状態でのネットレベル情報を読み込む工程と、
予め定義された隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、前記ネットレベル情報に基づいて、前記配線ペアが異電位になるか、又は前記配線ペアが前記隣接条件に適合しなくなるように配線を行う工程と、
を備える半導体集積回路の配線方法。
【請求項２】
前記隣接条件である、隣接する配線の間隔又は隣接長を定義したブリッジ故障制約情報を読み込む工程を備え、
前記ブリッジ故障制約情報に基づいて、前記隣接条件に適合する配線ペアが存在するか否かを判定し、前記配線ペアが存在すると、前記ネットレベル情報に基づいて、前記配線ペアが異電位になるか、又は前記配線ペアが前記隣接条件に適合しなくなるように配線を行うことを特徴とする請求項１に記載の半導体集積回路の配線方法。
【請求項３】
タイミング制約情報を読み込む工程を備え、
前記ブリッジ故障制約情報に基づいて、前記隣接条件に適合する配線ペアが存在するか否かを判定し、前記配線ペアが存在すると、前記ネットレベル情報に基づいて、前記タイミング制約を満たし、且つ前記配線ペアが異電位になるか、又は前記配線ペアが前記隣接条件に適合しなくなるように配線を行うことを特徴とする請求項２に記載の半導体集積回路の配線方法。
【請求項４】
タイミング制約を満たす配線を行う工程を先に行い、
その後、読み込んだ前記隣接条件である、隣接する配線の間隔又は隣接長を定義したブリッジ故障制約情報に基づいて、前記隣接条件に適合する配線ペアが存在するか否かを判定し、前記配線ペアが存在すると、前記ネットレベル情報に基づいて、前記配線ペアが異電位になるか、又は前記配線ペアが前記隣接条件に適合しなくなるように配線を行うことを特徴とする請求項１に記載の半導体集積回路の配線方法。
【請求項５】
複数のタイミングで停止させた状態での、いずれかのネットレベル情報に基づいて、前記配線ペアが異電位になるか、又は前記配線ペアが前記隣接条件に適合しなくなるように配線を行うことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の半導体集積回路の配線方法。
【請求項６】
半導体集積回路の配線プログラムであって、
プリセットパタンを所定のタイミングで停止させた状態でのネットレベル情報を読み込ませる処理と、
予め定義された隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、前記ネットレベル情報に基づいて、前記配線ペアが異電位になるか、又は前記配線ペアが前記隣接条件に適合しなくなるように配線を行わせる処理と、
をコンピュータに実行させる半導体集積回路の配線プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体集積回路の故障形態として、ブリッジ故障がある。故障の程度によってロジック不良を引き起こすもの、ロジック不良にはならないが暗電流不良となるものがある。後者については、市場にてロジック不良になる可能性を持っている。近年の半導体製造プロセスの微細化に伴って、小さな異物でも隣り合う配線間のブリッジ故障を引き起こす可能性が高まっている。半導体集積回路は近年車載にも使用されるようになり、高信頼性が要求されるため、ブリッジ故障を防ぐことができる技術が要求されている。
【０００３】
例えば特許文献１には、ブリッジ故障の検出率向上を目的として、ネットのレベルを制御する技術が開示されている。具体的には、図９に示すように、１０５（ＩＮ）〜１０６（ＯＵＴ）につながるネットに対して、１０１〜１０４のトランジスタ回路、１０７〜１０９の制御信号を追加してネットを任意のレベルに固定し、ブリッジ故障の検出力向上を図っている。
【０００４】
また、特許文献２には、ブリッジ故障の検出率向上を目的として、レイアウト情報から隣り合う配線の情報を引き出し、隣り合う配線を異電位にするパタンを生成する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−１７０１２６号公報
【特許文献２】特開２００８−１０２０１６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１の技術は、専用の回路を挿入する必要がある。そのため、回路規模が増大する課題を有する。また挿入された回路の前段の配線のブリッジ故障は検出できない。
特許文献２の技術は、隣り合う配線が異電位になるまでパタンを生成するので、パタン生成の時間と作業コスト、及び検査コストが嵩む。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る半導体集積回路の配線方法は、半導体集積回路の配線方法であって、プリセットパタンを所定のタイミングで停止させた状態でのネットレベル情報を読み込む工程と、予め定義された隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、前記ネットレベル情報に基づいて、前記配線ペアが異電位になるか、又は前記配線ペアが前記隣接条件に適合しなくなるように配線を行う工程と、を備える。これにより、回路全体のブリッジ故障を検出できる半導体集積回路を設計することができる。また、従来のように専用の回路を挿入する必要がないので、回路規模の増大を抑制できる。しかも、最終的に隣接条件に適合する配線ペアが異電位となるように、プリセットパタンを作成し続けるのではないので、パタン生成の時間と作業コスト、及び検査コストの削減に寄与できる。
【０００８】
本発明に係る半導体集積回路の配線プログラムは、半導体集積回路の配線プログラムであって、プリセットパタンを所定のタイミングで停止させた状態でのネットレベル情報を読み込ませる処理と、予め定義された隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、前記ネットレベル情報に基づいて、前記配線ペアが異電位になるか、又は前記配線ペアが前記隣接条件に適合しなくなるように配線を行わせる処理と、をコンピュータに実行させる。これにより、回路全体のブリッジ故障を検出できる半導体集積回路を設計することができる。また、従来のように専用の回路を挿入する必要がないので、回路規模の増大を抑制できる。しかも、最終的に隣接条件に適合する配線ペアが異電位となるように、プリセットパタンを作成し続けるのではないので、パタン生成の時間と作業コスト、及び検査コストの削減に寄与できる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、回路全体のブリッジ故障を検出できる半導体集積回路を、回路規模を増大させることなく、安価にしかも短時間に製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明に係る第１の実施の形態の半導体集積回路の配線方法を示すフローチャート図である。
【図２】半導体集積回路の第２層配線領域を概略的に示す図である。
【図３】半導体集積回路の第３層配線領域を概略的に示す図である。
【図４】図２及び３の配線構造において、隣接配線が同電位にならないように配線を行った図である。
【図５】隣り合う配線が同電位になった状態を示す図である。
【図６】図５の配線構造において、隣り合う配線が同電位にならないように配線を行った図である。
【図７】本発明に係る第２の実施の形態の半導体集積回路の配線方法を示すフローチャート図である。
【図８】再配線工程を示すフローチャート図である。
【図９】従来のブリッジ故障の検出率向上を目的とした技術を示す回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明に係る半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムの実施の形態について説明する。但し、本発明が以下の実施の形態に限定される訳ではない。また、説明を明確にするため、以下の記載及び図面は、適宜、簡略化されている。
【００１２】
＜第１の実施の形態＞
本発明に係る半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムの第１の実施の形態を説明する。
【００１３】
半導体集積回路の配線プログラム（以下、単に配線プログラムと云う場合がある。）は、記憶部、演算処理部、表示部、操作部などを備える、典型的なコンピュータシステムによって実行される。
【００１４】
この配線プログラムは、本実施の形態に係る半導体集積回路の配線方法をコンピュータシステムに実行させるためのプログラムであり、予め記憶部に格納されている。配線プログラムは、演算処理部に読み出されて動作する。すなわち、配線プログラムは、図１に示す流れに沿って、演算処理部を動作させる。
【００１５】
演算処理部は、記憶部に格納されているネットリスト情報を読み込む（Ｓ１）。ここで、「ネットリスト情報」とは半導体集積回路の回路情報である。そして、演算処理部は、記憶部に格納されているタイミング制約情報を読み込む（Ｓ２）。ここで、「タイミング制約情報」とは半導体集積回路を構成する要素（セル）相互で予め設定されているタイミング情報である。例えばセル間の同期情報である。
【００１６】
次に、演算処理部は、プリセットパタンを特定のタイミングで停止させた状態でのネットレベル情報を読み込む（Ｓ３）。特定のタイミングは、任意のタイミングで良い。好ましくは、"１"状態のネットと"０"状態のネットの数、又は総延長が同程度になるタイミングが良い。演算処理部の配線動作の時間短縮や半導体集積回路の回路規模を小さくすることができるからである。ここで、「プリセットパタンを特定のタイミングで停止させた状態でのネットレベル情報」とは、プリセットパタンを回路シミュレーションにて実行し、特定のタイミングで停止させた状態（プリセット状態）の自動配線部の全ネットの"１"、"０"、"不定"の状態をリスト化することによって、あらかじめ準備したものである。また、「プリセットパタン」とは、ネットリスト情報に基づいて、回路のシミュレーション等を実行することによって作成されるパタンである。このように作成されるプリセットパタンのネットレベル情報は、記憶部に格納される。演算処理部は、プリセットパタンを停止させた状態でのネットレベル情報を記憶部から読み込む。
【００１７】
次に、演算処理部は、記憶部からブリッジ故障制約情報を読み込む（Ｓ４）。ここで、「ブリッジ故障制約情報」は配線ペアの隣接状態を定義するものであり、隣り合う配線の間隔（隣接距離）と隣り合う配線が並行する長さ（隣接長）の情報をもつ。つまり、ある隣り合う２本の配線の間に他の配線が存在せず、かつ、そのスペースが"隣接距離"以内で、かつ、並行する長さが"隣接長"以上であるときに、その２本の配線はブリッジ故障に着目した場合に隣接条件に適合するとみなされる。
【００１８】
次に、演算処理部は、ネットリスト情報及びタイミング制約情報に基づいて、半導体集積回路を構成するセルを仮想の基板上に配置する（Ｓ５）。
次に、演算処理部は、ネットリスト情報及びタイミング制約情報に基づいてセル同士を配線で接続する。その際にブリッジ故障制約情報に基づいて、隣接条件に適合する配線ペアが存在するか否かを判定し、隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、ネットレベル情報に基づいて、タイミング制約を満たし、且つ当該配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように配線を行う（Ｓ６）。Ｓ６の工程は、隣接条件に適合する全ての配線ペアが異電位になるか、又は隣接条件に適合しなくなるまで、繰り返し行われる（Ｓ７）。
【００１９】
すなわち、演算処理部は、隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、当該配線ペアの電位をネットレベル情報に基づいて判定する。さらに演算処理部は、当該配線ペアの電位が同電位であると、タイミング制約を満たし、且つ当該配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように配線を行う。
【００２０】
例えば、配線は以下のように行われる。一般的に半導体集積回路の配線は１層ごとに縦配線専用の層と横配線専用の層がある。第２層が横配線の半導体集積回路を例に取って説明する。図２に示すように、"０"状態信号が流れる配線領域（"０"状態信号配線領域）１と"１"状態信号が流れる配線領域（"１"状態信号配線領域）２に予め領域を分類しておく。この領域は、配線の最小線幅、最小間隔にあわせて繰り返されるのが望ましい。第３層についても同様に図３に示すように領域を分類しておく。自動配線時には、配線のプリセット状態のレベルが"０"であれば、"０"状態信号配線領域１に配線し、"１"であれば"１"状態信号配線領域２に配線する。図４は図２と図３を重ねたものである。ＡとＡ'を結ぶ配線３、及びＣとＣ'を結ぶ配線４は"１"状態信号なので"１"状態信号配線領域２に、ＢとＢ'を結ぶ配線５は"０"状態信号なので"０"状態信号配線領域１に配線する。これにより、同じ状態の信号が隣接して配線されるのを防ぐことができる。ちなみに、第２層配線と第３層配線とはビアを介して接続される。
【００２１】
なお、この例に従って配線が完了した後に、隣接配線が同じ電位になることがある。図５のような場合で、間に異電位の配線がないために、同電位の配線が１本分の配線スペースを挟んで隣り合った状態になっている。この配線ペアが隣接条件に適合する場合には、それらの配線の間には必ず異電位の配線を通すスペースがあるため、電源又はＧＮＤに直結した配線を通して、当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるようにすることができる。図６で説明すると、"１"状態信号が流れるＡとＡ'を結ぶ配線３と、ＣとＣ'を結ぶ配線４との間に"０"状態であるＧＮＤ配線６を通すことにより、"１"状態信号が流れるＡとＡ'を結ぶ配線３と、ＣとＣ'を結ぶ配線４とが隣接するのを回避する。ＡとＡ'を結ぶ配線３と、ＣとＣ'を結ぶ配線４との間隔が離れていて隣接条件に適合しない場合には、図６の回避策は特に実施する必要はない。不定の信号は"１"状態信号配線領域２と"０"状態信号配線領域１のどちらに配線してもよい。不定であるため、ブリッジ故障の対象外とするか、他のどの配線に対しても隣接条件に適合しなくなるように間隔をあけて配線するかを、設計者が操作部を操作して配線プログラムを設定すれば良い。
【００２２】
以上の流れで半導体集積回路の配線が終了する。このように、所定のタイミングでのプリセットパタンのネットレベル情報に基づいて、隣接条件に適合する配線ペアが異電位になるか、又は隣接条件に適合しなくなるように配線を行うので、回路全体のブリッジ故障を検出できる半導体集積回路を設計することができる。また、従来のように専用の回路を挿入する必要がないので、回路規模の増大を抑制できる。しかも、最終的に隣接条件に適合する配線ペアが異電位となるように、プリセットパタンを作成し続けるのではないので、パタン生成の時間と作業コスト、及び検査コストの削減に寄与できる。
【００２３】
ちなみに、所定のタイミングでのプリセットパタンのネットレベル情報として、リセット状態でのプリセットパタンのネットレベル状態を用いることもできる。この場合、半導体集積回路のブリッジ故障テストを行う時に、ユーザーがリセットスイッチを押した状態で電源電流を測定するだけで、簡単にブリッジ故障テストを行うことができる。そのため、半導体集積回路の検査精度を向上させることができる。
【００２４】
＜第２の実施の形態＞
本発明に係る半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムの第２の実施の形態を説明する。なお、第１の実施の形態の半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムと重複する説明は省略する。
【００２５】
第１の実施の形態では、隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、タイミング制約を満たし、且つ当該配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように配線を行っているが、本実施の形態では、図７に示すように、先にタイミング制約を満たすように配線を行う工程Ａの後に、さらに隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、当該配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように再配線を行う工程Ｂを実施する。
【００２６】
すなわち、タイミング制約を満たすように配線を行う工程Ａとして、演算処理部は、先ず記憶部に格納されているネットリスト情報を読み込み（Ｓ１１）、続いて記憶部に格納されているタイミング制約情報を読み込む（Ｓ１２）。さらに演算処理部は、ネットリスト情報及びタイミング制約情報に基づいて、半導体集積回路を構成するセルを仮想の基板上に配置する（Ｓ１３）。そして演算処理部は、当該タイミング制約を満たすように配線を行う（Ｓ１４）。当該配線は、隣接条件に適合する配線ペアが存在するか否か、当該配線ペアが異電位になっている否か、が考慮されていない。すなわち、単にタイミング制約を満たすように配線しているだけである。この配線情報は、記憶部に格納される。
【００２７】
その後に演算処理部は、隣接条件に適合する配線ペアが存在するか否かを判定し、隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、当該配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように再配線を行う。すなわち、演算処理部は、プリセットパタンを特定のタイミングで停止させた状態でのネットレベル情報を読み込む（Ｓ１５）。続いて演算処理部は、記憶部からブリッジ故障制約情報を読み込む（Ｓ１６）。さらに演算処理部は、記憶部から配線情報を読み込み、配線情報及びブリッジ故障制約情報に基づいて、隣接条件に適合する配線ペアが存在するか否かを判定し、隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、当該ネットレベル情報に基づいて、当該配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように再配線を行う（Ｓ１７）。Ｓ１６の工程は、隣接条件に適合する全ての配線ペアが異電位になるか、又は隣接条件に適合しなくなるまで、繰り返し行われる（Ｓ１８）。
【００２８】
当該再配線は、図８に示すアルゴリズムで行われる。
演算処理部は、先ずネットレベル情報や配線情報から１本目の配線を選択し（Ｓ１０１）、隣接条件に適合する同電位の配線ペアが存在するか否かを判定する（Ｓ１０２）。演算処理部は、隣接条件に適合する同電位の配線ペアが存在すると、当該ネットレベル情報に基づいて、他の異電位の配線と交換して当該配線ペアが異電位になるようにすることができるか否かを判定する（Ｓ１０３）。演算処理部は、他の異電位の配線と交換して当該配線ペアが異電位になるようにすることができると判定すると、選択した配線を他の異電位の配線と交換する（Ｓ１０４）。一方、演算処理部は、他の異電位の配線と交換して当該配線ペアが異電位になるようにすることができないと判定すると、隣接条件に適合しなくなるように、当該配線ペアの間隔を広げることができるか否かを判定する（Ｓ１０５）。演算処理部は、当該配線情報に基づいて、当該配線ペアの間隔を広げることができると判定すると、当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように間隔を広げる（Ｓ１０６）。一方、演算処理部は、当該配線ペアの間隔を広げることができないと判定すると、配線動作を中止する。
【００２９】
そして、演算処理部は、上述した工程が全ての配線で行われたか否かを判定し（Ｓ１０７）、全ての配線で行われていないと判定すると、次の配線を選択し（Ｓ１０８）、上述した工程を行う。一方、演算処理部は、上述した工程が全ての配線で行われていると判定すると、配線動作を終了する。
【００３０】
本実施の形態では、先にタイミング制約を満たすように配線を行う工程Ａの後に、さらに隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、当該配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように再配線を行う工程Ｂを実施する。つまり、工程Ａを行うプログラムと、工程Ｂを行うプログラムと、を分けることができ、工程Ａを行うプログラムとして従来の配線プログラム（ツール）を用いることができる。そのため、汎用性を高めることができる。
【００３１】
＜第３の実施の形態＞
本発明に係る半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムの第３の実施の形態を説明する。なお、本実施の形態の半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムは、第１の実施の形態の半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムと略同様であるため、重複する説明は省略する。
【００３２】
本実施の形態では、複数のネットレベル情報を用いて配線を行う。すなわち、演算処理部は、複数のタイミングで停止させた状態での、いずれかのネットレベル情報に基づいて、隣接条件に適合する配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように配線を行う。
【００３３】
例えば、以下に示すように、８種類のカテゴリに分類する。
カテゴリ０：（プリセットパタン１、プリセットパタン２、プリセットパタン３）＝（０，０，０）、カテゴリ１：（プリセットパタン１、プリセットパタン２、プリセットパタン３）＝（０，０，１）、カテゴリ２：（プリセットパタン１、プリセットパタン２、プリセットパタン３）＝（０，１，０）、カテゴリ３：（プリセットパタン１、プリセットパタン２、プリセットパタン３）＝（０，１，１）、カテゴリ４：（プリセットパタン１、プリセットパタン２、プリセットパタン３）＝（１，０，０）、カテゴリ５：（プリセットパタン１、プリセットパタン２、プリセットパタン３）＝（１，０，１）、カテゴリ６：（プリセットパタン１、プリセットパタン２、プリセットパタン３）＝（１，１，０）、カテゴリ７：（プリセットパタン１、プリセットパタン２、プリセットパタン３）＝（１，１，１）
【００３４】
ここで、カテゴリ０は、回路全体の配線中、プリセットパタン１乃至３の全てにおいて、"０"状態信号が流れる配線である。カテゴリ１は、回路全体の配線中、プリセットパタン３において、"１"状態信号が流れる配線である。カテゴリ２は、回路全体の配線中、プリセットパタン２において、"１"状態信号が流れる配線である。カテゴリ３は、回路全体の配線中、プリセットパタン２、３において、"１"状態信号が流れる配線である。カテゴリ４は、回路全体の配線中、プリセットパタン１において、"１"状態信号が流れる配線である。カテゴリ５は、回路全体の配線中、プリセットパタン１、３において、"１"状態信号が流れる配線である。カテゴリ６は、回路全体の配線中、プリセットパタン１、２において、"１"状態信号が流れる配線である。カテゴリ７は、回路全体の配線中、プリセットパタン１乃至３において、"１"状態信号が流れる配線である。この場合、カテゴリ０の配線と、他のカテゴリ１乃至７の配線とのペアはいずれかのプリセットパタンで異電位になる。すなわち、カテゴリ０の配線に他のカテゴリ１乃至７のいずれかの配線が隣接配線になっても、異電位にすることができる。
【００３５】
このように分類した８種類のカテゴリ０乃至７を２グループに分類する。例えば、本実施の形態では、グループＡとしてカテゴリ０、２、４、６、グループＢとしてカテゴリ１、３、５、７に分類した。このとき、グループＡとＢに含まれる配線の本数又は総延長が同程度になるようにグループ分けするのが望ましい。但し、グループ数等は適宜、変更することができる。
【００３６】
このように、グループＡ、Ｂに分類すると、例えばグループＡの配線領域を第１の実施の形態の"０"状態信号が流れる配線領域、グループＢの配線領域を第１の実施の形態の"１"状態信号が流れる配線領域と見立てて、第１の実施の形態と同様に配線することができる。
【００３７】
このように、一つのネットレベル情報に基づいて、隣接条件に適合する配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように配線を行う場合に比べて、複数のネットレベル情報を用いるので、隣接条件に適合する配線ペアが異電位になる可能性が高く、配線の自由度が高くなる。これにより、配線密度を高くすることができ、回路規模の小型化に寄与できる。また、配線動作の短縮や処理負担の軽減に寄与できる。
【００３８】
＜第４の実施の形態＞
本発明に係る半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムの第４の実施の形態を説明する。なお、本実施の形態の半導体集積回路の配線方法及び配線プログラムは、第２の実施の形態に第３の実施の形態を組み合わせたものであり、重複する説明は省略する。
【００３９】
すなわち、先にタイミング制約を満たすように配線を行う工程の後に、さらに隣接条件に適合する配線ペアが存在すると、当該配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように再配線を行う工程を実施する。この再配線を行う工程において、第３の実施の形態と略同様に、複数のタイミングで停止させた状態での、いずれかのネットレベル情報に基づいて、隣接条件に適合する配線ペアが異電位になるか、又は当該配線ペアが隣接条件に適合しなくなるように配線を行う。
これにより、汎用性を高めつつも、回路規模の小型化に寄与できる。また、配線動作の短縮や処理負担の軽減に寄与できる。
【００４０】
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。
【符号の説明】
【００４１】
１  "０"状態信号が流れる配線領域
２  "１"状態信号が流れる配線領域
３  ＡとＡ'を結ぶ配線
４  ＣとＣ'を結ぶ配線
５  ＢとＢ'を結ぶ配線
６  ＧＮＤ配線
【図１】
2011145940.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
2011145940.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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