(57)【要約】【課題】チップ部品を個片化せずに複数のチップ部品を搭載した基板状態で、装置構成を大幅に簡略化して、各チップ部品の電気的特性や光学特性を容易に測定して検査する。【解決手段】電子部品側面離間手段５としてのロール５１が、電子部品基板３を曲面または角部に沿わせて折り曲げて、前後に隣接するＬＥＤチップ２１間の側面を離間させる電子部品側面離間ステップと、端子接続手段６が、当該ＬＥＤチップ２１の所定端子に接続させる端子接続ステップと、電気的動作機能測定手段７が、端子接続手段６を介して接続した一または複数の電子部品を駆動させた状態で当該一または複数のＬＥＤチップ２１の電気的動作機能を測定する電気的動作機能測定ステップとを有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
裏面にシートが貼られた状態で個々に切断された複数の電子部品がマトリクス状に整列した複数個搭載の電子部品基板の状態で該電子部品の電気的動作機能を検査する電子部品動作機能測定装置であって、
該電子部品基板を曲面または角部に沿わせて折り曲げて、前後に隣接する電子部品間の側面を離間させる電子部品側面離間手段と、当該電子部品の所定端子に接続させる端子接続手段と、該端子接続手段を介して接続した一または複数の電子部品を駆動させた状態で当該一または複数の電子部品の電気的動作機能を測定する電気的動作機能測定手段とを有する電子部品動作機能測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の電子部品動作機能測定装置において、前記電子部品側面離間手段として、断面が円形または多角形のロールおよび断面多角形の回転軸のいずれかを、一または複数配置する電子部品動作機能測定装置。
【請求項３】
請求項１に記載の電子部品動作機能測定装置において、前記端子接続手段は、前記電子部品の裏面または側面の端子に対して電気的に接続可能とするプローブピンと、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している電子部品動作機能測定装置。
【請求項４】
請求項３に記載の電子部品動作機能測定装置において、前記電子部品の裏面に端子がある場合、前記端子接続手段は、検査時に、先端がニードル状の２本のプローブピンにより前記裏面シートを貫通して電子部品の端子に接続させる電子部品動作機能測定装置。
【請求項５】
請求項１に記載の電子部品動作機能測定装置において、前記電子部品が発光素子チップの場合に、前記電気的動作機能測定手段は、所定数の発光素子チップの周囲を覆い、該発光素子チップからの発光を外部に漏らさずに内面で反射させて所定方向に導く反射板と、該反射板からの光を光電変換して撮像信号を得る受光素子と、該受光素子からの撮像信号に基づいた該発光素子チップの発光とその閾値を比較して該発光素子チップの良否判定するチップ良否判定部とを有している電子部品動作機能測定装置。
【請求項６】
請求項１に記載の電子部品動作機能測定装置において、前記電子部品がＬＳＩチップまたは受光素子チップの場合に、前記電気的動作機能測定手段は、所定数のＬＳＩチップまたは受光素子チップの前記端子接続手段を介した入出力値と該入出力値の閾値とを比較して該電子部品を良否判定するチップ良否判定部を有する電子部品動作機能測定装置。
【請求項７】
請求項５または６に記載の電子部品動作機能測定装置において、前記チップ良否判定部が判定した前記電子部品の判定結果がＮＧである場合、該電子部品の座標位置をＮＧ情報として記憶部に記憶する電子部品動作機能測定装置。
【請求項８】
請求項３に記載の電子部品動作機能測定装置において、
前記端子接続手段は、前記電子部品毎に該電子部品の端子にプローブピンを接続して該電子部品の光学的特性を検査するための第１端子接続手段と、該光学的特性を検査する複数の電子部品とは別の一行の複数の電子部品全体の端子に同時にプローブピンを接続して該電子部品の電気的特性を検査するための第２端子接続手段とを有する電子部品動作機能測定装置。
【請求項９】
請求項１に記載の電子部品動作機能測定装置において、
前記端子接続手段は、電子部品の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンと、該プローブピンが上面に固定され、下面がテーパ面になっているコンタクトユニットと、該コンタクトユニットの下面直下で横方向に移動自在に構成され、該移動により該テーパ面を押し上げる楔状突起部が上面に設けられた長尺の移動軸と、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している電子部品動作機能測定装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の電子部品動作機能測定装置において、
前記端子接続手段は、電子部品の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンと、該プローブピンが上面に固定され、下面がエアープッシュの有無により縦方向に移動可能なように端面が開放されているコンタクトユニットと、該コンタクトユニットの端面開放口の下方位置で、横方向の長尺管で回転自在に構成され、該電子部品の配置間隔で角度を変えて、エアープッシュ用のエアー通気孔が所定間隔に複数形成された圧力エアー管と、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している電子部品動作機能測定装置。
【請求項１１】
請求項１に記載の電子部品動作機能測定装置において、
前記端子接続手段は、電子部品の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンと、該プローブピンが上面に固定され、下面角部にアールが付いて縦方向に移動可能なように構成されているコンタクトユニットと、該コンタクトユニットの下面位置で、左右方向の長尺円形軸で回転自在に構成され、該電子部品の配置間隔で角度を変えて該電子部品毎に突出ドラム部が所定数づつ所定間隔に形成され、回転によって突出ドラム部がコンタクトユニットの下面を押し上げる回転ドラムと、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している電子部品動作機能測定装置。
【請求項１２】
請求項５に記載の電子部品動作機能測定装置において、
前記端子接続手段は、前記反射板に対してその下の絶縁シートを介した直下位置で、該反射板と該絶縁シートと前記プローブピンとが一体化して、該反射板の先端が発光素子チップの表面に当接し、該プローブピンが該発光素子チップの側面端子に当接または離間するように構成されている電子部品動作機能測定装置。
【請求項１３】
請求項１に記載の電子部品動作機能測定装置において、
前記端子接続手段は、電子部品の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンと、回転シャフトと、該回転シャフトの断面円形の互いに反対側に連結されたクランク状の上下のコンタクトユニットであって、両端面にそれぞれプローブピンが固定され、上下の互いに反対側に設けられた各複数の電子部品の裏面端子に対して、該回転シャフトの回転により同時に該各複数の電子部品の裏面端子と該プローブピンのそれぞれとを接続させるコンタクトユニットと、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している電子部品動作機能測定装置。
【請求項１４】
裏面にシートが貼られた状態で個々に切断された複数の電子部品がマトリクス状に整列した複数個搭載の電子部品基板の状態で該電子部品の電気的動作機能を検査する電子部品動作機能測定方法であって、
電子部品側面離間手段が、該電子部品基板を曲面または角部に沿わせて折り曲げて、前後に隣接する電子部品間の側面を離間させる電子部品側面離間ステップと、端子接続手段が、当該電子部品の所定端子に接続させる端子接続ステップと、電気的動作機能測定手段が、該端子接続手段を介して接続した一または複数の電子部品を駆動させた状態で当該一または複数の電子部品の電気的動作機能を測定する電気的動作機能測定ステップとを有する電子部品動作機能測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光ダイオード（以下ＬＥＤ素子という）などの光学素子や受光素子の動作機能である発光や受光を検査したり、ＬＳＩチップの動作機能を検査する電子部品動作機能測定装置および電子部品動作機能測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、地球環境保護の観点から小型、長寿命、有害物質を含まないなど、省エネルギー用照明部品として、ＬＥＤの必要性が認識されてきている中、低価格ＬＥＤへの要求も非常に高まってきている。
【０００３】
従来のＬＥＤ素子の製造工程に関連する流動フローにおいて、基板上にアセンブリされた複数のＬＥＤチップは、相互に電気的に接続されている。複数のＬＥＤチップ個々の電気的特性や光学特性を測定して検査するためには、複数のＬＥＤチップを分断して個片化した後に、各ＬＥＤチップを光らせてその光量を従来の発光測定装置により測定するなど電気的特性や光学特性を測定してテストを行う必要がある。これを特許文献１、２に示している。
【０００４】
特許文献１のチップ部品搬送装置では、複数のチップ部品を整列させて搬送させるフィーダと、チップ部品が垂直配置されると共に１個づつ保持可能な搬送溝を外周面に複数備える第１テーブルと、第１テーブルに対して直交しかつ隣接配置されると共に外周側面にチップ部品を吸着保持可能な第２テーブルとを備えている。第１テーブルと第２テーブルとは交互に間欠回転しており、フィーダから第１テーブルに、第１テーブルから第２テーブルにチップ部品の受け渡しが行われる。このチップ部品のそれぞれの面に対して検査が行われる。
【０００５】
なお、矩形のチップ部品の搬送方向が前後逆方向になっても、画像認識装置によりチップ部品の搬送方向が逆方向であると認識して、プローブの＋−を自動的に逆転してチップ部品のＬＥＤ素子を光らせて光量検査などを行うことができる。
【０００６】
特許文献２のチップ部品供給装置では、バルクケースから矩形の長辺と平行に供給されるチップ部品を案内するレーンのピックアップポイントの手前に、レーンの中心角度が９０度の湾曲部が設けられ、複数のチップ部品が並んでこの湾曲部において角度９０度だけチップ部品が方向を転換された後に、ピックアップポイントにチップ部品が供給されるようになっている。
【０００７】
これによって、ＬＥＤ素子チップなどのチップ部品が互いに貼り付いている場合に、レーンの中心角度が９０度の湾曲部を用いて、チップ部品同士の貼り付きを解除することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００７−１５３５７８号公報
【特許文献２】特開平６−３２３５９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
特許文献１、２に開示されている上記従来の構成では、個々のチップ部品に個片化して電気的特性や光学特性の検査などを行っている。このため、チップ部品の個片化の課題として、個片化するための装置・人手・搬送と、テスト時にチップ部品を整列させる装置が必要となる。また、チップ部品の個片化によってキズ・カケ・汚れなどが発生する。さらに、複数のチップ部品が配列されたＬＥＤ基板から自動的に個片のチップ部品に分離する方法もあるが、高価で複雑なローダ機構制御やカメラによる認識装置が必要となる。
【００１０】
基板状態での流動課題としては、電気的配線パターンをチップ部品単位で分離形成する場合、配線パターンの生成に必要な電気的処理が複雑化する。また、チップ部品間距離を拡大する方法（テープ引伸）では、拡大装置が必要となるし、その位置精度も悪く、座標ずれによりプローブコンタクトが困難となる。さらに、絶縁物の嵌め込みによる絶縁法では、拡大装置・遮へい板の挿入が必要となる。
【００１１】
何れにせよ、上記のようなテスト手法では、いずれも平面上の測定であることから、ＤＣ測定時の発光が光学特性の測定に影響するため、同時テストができない。
【００１２】
本発明は、上記従来の問題を解決するもので、チップ部品を個片化せずに複数のチップ部品を搭載した基板状態で、装置構成を大幅に簡略化して、各チップ部品の電気的特性や光学特性を容易に測定して検査することができる電子部品動作機能測定装置および電子部品動作機能測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の電子部品動作機能測定装置は、裏面にシートが貼られた状態で個々に切断された複数の電子部品がマトリクス状に整列した複数個搭載の電子部品基板の状態で該電子部品の電気的動作機能を検査する電子部品動作機能測定装置であって、該電子部品基板を曲面または角部に沿わせて折り曲げて、前後に隣接する電子部品間の側面を離間させる電子部品側面離間手段と、当該電子部品の所定端子に接続させる端子接続手段と、該端子接続手段を介して接続した一または複数の電子部品を駆動させた状態で当該一または複数の電子部品の電気的動作機能を測定する電気的動作機能測定手段とを有するものであり、そのことにより上記目的が達成される。
【００１４】
また、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における電子部品側面離間手段は、断面が円形または多角形のロールおよび断面多角形の回転軸のいずれかである。さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における電子部品側面離間手段として、断面が円形または多角形のロールおよび断面多角形の回転軸のいずれかを、一または複数配置する。
【００１５】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における端子接続手段は、前記電子部品の裏面または側面の端子に対して電気的に接続可能とするプローブピンと、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している。
【００１６】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における電子部品の裏面に端子がある場合、前記端子接続手段は、検査時に、先端がニードル状の２本のプローブピンにより前記裏面シートを貫通して電子部品の端子に接続させる。
【００１７】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における電子部品が発光素子チップの場合に、前記電気的動作機能測定手段は、所定数の発光素子チップの周囲を覆い、該発光素子チップからの発光を外部に漏らさずに内面で反射させて所定方向に導く反射板と、該反射板からの光を光電変換して撮像信号を得る受光素子と、該受光素子からの撮像信号に基づいた該発光素子チップの発光とその閾値を比較して該発光素子チップの良否判定するチップ良否判定部とを有している。
【００１８】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における電子部品がＬＳＩチップまたは受光素子チップの場合に、前記電気的動作機能測定手段は、所定数のＬＳＩチップまたは受光素子チップの前記端子接続手段を介した入出力値と該入出力値の閾値とを比較して該電子部品を良否判定するチップ良否判定部を有する。
【００１９】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置におけるチップ良否判定部が判定した前記電子部品の判定結果がＮＧである場合、該電子部品の座標位置をＮＧ情報として記憶部に記憶する。
【００２０】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における端子接続手段は、前記電子部品毎に該電子部品の端子にプローブピンを接続して該電子部品の光学的特性を検査するための第１端子接続手段と、該光学的特性を検査する複数の電子部品とは別の一行の複数の電子部品全体の端子に同時にプローブピンを接続して該電子部品の電気的特性を検査するための第２端子接続手段とを有する。
【００２１】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における端子接続手段は、電子部品の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンと、該プローブピンが上面に固定され、下面がテーパ面になっているコンタクトユニットと、該コンタクトユニットの下面直下で横方向に移動自在に構成され、該移動により該テーパ面を押し上げる楔状突起部が上面に設けられた長尺の移動軸と、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している。
【００２２】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における端子接続手段は、電子部品の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンと、該プローブピンが上面に固定され、下面がエアープッシュの有無により縦方向に移動可能なように端面が開放されているコンタクトユニットと、該コンタクトユニットの端面開放口の下方位置で、横方向の長尺管で回転自在に構成され、該電子部品の配置間隔で角度を変えて、エアープッシュ用のエアー通気孔が所定間隔に複数形成された圧力エアー管と、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している。
【００２３】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における端子接続手段は、電子部品の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンと、該プローブピンが上面に固定され、下面角部にアールが付いて縦方向に移動可能なように構成されているコンタクトユニットと、該コンタクトユニットの下面位置で、左右方向の長尺円形軸で回転自在に構成され、該電子部品の配置間隔で角度を変えて該電子部品毎に突出ドラム部が所定数づつ所定間隔に形成され、回転によって突出ドラム部がコンタクトユニットの下面を押し上げる回転ドラムと、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している。
【００２４】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における端子接続手段は、前記反射板に対してその下の絶縁シート６１Ｂを介した直下位置で、該反射板と該絶縁シートと前記プローブピンとが一体化して、該反射板の先端が発光素子チップの表面に当接し、該プローブピンが該発光素子チップの側面端子に当接または離間するように構成されている。
【００２５】
さらに、好ましくは、本発明の電子部品動作機能測定装置における端子接続手段は、電子部品の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンと、回転シャフトと、該回転シャフトの断面円形の互いに反対側に連結されたクランク状の上下のコンタクトユニットであって、両端面にそれぞれプローブピンが固定され、上下の互いに反対側に設けられた各複数の電子部品の裏面端子に対して、該回転シャフトの回転により同時に該各複数の電子部品の裏面端子と該プローブピンのそれぞれとを接続させるコンタクトユニットと、該プローブピンに対して該電子部品を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段とを有している。
【００２６】
本発明の電子部品動作機能測定方法は、裏面にシートが貼られた状態で個々に切断された複数の電子部品がマトリクス状に整列した複数個搭載の電子部品基板の状態で該電子部品の電気的動作機能を検査する電子部品動作機能測定方法であって、電子部品側面離間手段が、該電子部品基板を曲面または角部に沿わせて折り曲げて、前後に隣接する電子部品間の側面を離間させる電子部品側面離間ステップと、端子接続手段が、当該電子部品の所定端子に接続させる端子接続ステップと、電気的動作機能測定手段が、該端子接続手段を介して接続した一または複数の電子部品を駆動させた状態で当該一または複数の電子部品の電気的動作機能を測定する電気的動作機能測定ステップとを有するものであり、そのことにより上記目的が達成される。
【００２７】
上記構成により、以下、本発明の作用を説明する。
【００２８】
本発明においては、電子部品基板を曲面または角部に沿わせて折り曲げて、前後に隣接する電子部品間の側面を離間させる電子部品側面離間手段と、当該電子部品の所定端子に接続させる端子接続手段と、端子接続手段を介して接続した一または複数の電子部品を駆動させた状態で当該一または複数の電子部品の電気的動作機能を測定する電気的動作機能測定手段とを有している。
【００２９】
これによって、チップ部品を個片化せずに複数のチップ部品を搭載した基板状態のままで、電子部品の電気的動作機能を測定するので、装置構成を大幅に簡略化して、各チップ部品の電気的特性や光学特性をより容易に測定して検査することが可能となる。
【発明の効果】
【００３０】
以上により、本発明によれば、チップ部品を個片化せずに複数のチップ部品を搭載した基板状態のままで、電子部品の電気的動作機能を測定するので、装置構成を大幅に簡略化して、各チップ部品の電気的特性や光学特性をより容易に測定して検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の実施形態１における電子部品動作機能測定装置の電子部品側面離間手段の要部構成例を模式的に示す斜視図である。
【図２】本発明の実施形態１における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段および電気的動作機能測定手段の要部構成例を模式的に示す短辺方向断面図である。
【図３】本発明の実施形態１における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段および電気的動作機能測定手段の要部構成例を模式的に示す長辺方向断面図である。
【図４】図２はおよび図３の反射板および電子部品としてのＬＥＤチップの平面図である。
【図５】本発明の実施形態２における電子部品動作機能測定装置の電子部品側面離間手段および端子接続手段の要部構成例を模式的に示す斜視図である。
【図６】本発明の実施形態３における電子部品動作機能測定装置の電子部品側面離間手段および電気的動作機能測定手段の要部構成例を模式的に示す構成図である。
【図７】本発明の実施形態３における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の要部構成例を模式的に示す構成図である。
【図８】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施形態４における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第１例を模式的に示す楔方式の構成図である。
【図９】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施形態５における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第２例を模式的に示すエアープッシュ方式の構成図である。
【図１０】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施形態６における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第３例を模式的に示す回転ドラム方式の構成図である。
【図１１】本発明の実施形態７における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第４例を模式的に示す反射板およびプローブ一体化方式の構成図である。
【図１２】本発明の実施形態８における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第５例を模式的に示すシャフト方式の構成図である。
【図１３】図１２の端子接続手段の縦断面図である。
【図１４】図５の電子部品動作機能測定装置の電子部品側面離間手段および端子接続手段の変形例を模式的に示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
以下に、本発明の電子部品動作機能測定装置および電子部品動作機能測定方法の実施形態１〜８について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図における構成部材のそれぞれの厚みや長さなどは図面作成上の観点から、図示する構成に限定されるものではない。
【００３３】
（実施形態１）
図１は、本発明の実施形態１における電子部品動作機能測定装置の電子部品側面離間手段の要部構成例を模式的に示す斜視図である。図２はおよび図３は、本発明の実施形態１における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段および電気的動作機能測定手段の要部構成例を模式的に示す断面図である。図４は、図２はおよび図３の反射板および電子部品の平面図である。
【００３４】
図１〜図４において、本実施形態１の電子部品動作機能測定装置１は、裏面に粘着シート（ＵＶシート）が貼られた状態で個々に切断された複数の電子部品２がマトリクス状に整列した複数個搭載の電子部品基板３を曲面に沿わせて折り曲げ、折り曲げ方向前後に隣接する電子部品２間の側面を開口部４として開口させて離間させる電子部品側面離間手段５と、この折り曲げ方向前後の両側面が離間した電子部品２の側面または裏面の所定端子に電子部品２毎に順次接続させる端子接続手段６と、端子接続手段６を介して一または複数の電子部品２を駆動させた状態で一または複数の電子部品２の電気的動作機能（発光量など光学特性および電気的特性）を検査する電気的動作機能測定手段７とを有している。
【００３５】
ここでは、本実施形態１の電子部品動作機能測定装置１を発光測定装置に適用して、電子部品２の動作機能としてＬＥＤチップ２１の光学特性（発光量や発光指向性など）および電気的特性（ＤＣ検査）などを測定する場合について説明する。
【００３６】
電子部品２は、ＬＳＩチップの他に、半導体発光チップとしてのＬＥＤチップや半導体受光チップとしての撮像チップおよび受光チップなどの光学素子などがあるが、ここではＬＥＤチップ２１について説明する。
【００３７】
電子部品基板３は、裏面に粘着シートが貼られた状態で縦方向および横方向に個々に切断された複数のＬＥＤチップ２１が列方向および行方向のマトリクス状に整列した複数個搭載されている。粘着シートは、多少の伸縮性があり、複数のＬＥＤチップ２１が整列した状態で保持可能である。ＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子は、側面にある場合と裏面に有る場合とがあるが、ここでは、ＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子が裏面に有る場合について説明する。ＬＥＤチップ２１の表面中央にはレンズ２２が設けられ、このレンズ２２を通してＬＥＤ発光を外部に出射させるようになっている。
【００３８】
電子部品側面離間手段５は、ここでは断面が円形の筒型ロール５１で構成されている。ロール５１のサイズは、直径が小さくなるほど、電子部品基板３の粘着シートをロール５１の曲面に沿わせて巻き付けた場合に、開口部４の開口が大きくなって、折り曲げ方向（列方向または縦方向）前後に隣接するＬＥＤチップ２１間の両側面をより離間させることができるが、基板上にアセンブリされた複数のＬＥＤチップ２１は相互に電気的に接続されているのを、電気的に互いに遮断して個々のＬＥＤチップ２１を発光させることができればよい。要するに、電子部品基板３をロール５１の曲面に沿わせて折り曲げることにより、ＬＥＤチップ２１間の電気的導通を遮断し、測定対象のＬＥＤチップ２１のみを発光制御することが可能となる。電子部品基板３をロール５１の曲面に沿わせると、ＬＥＤチップ２１の厚みによる内径と外径の差で隣接チップ間に離間距離が発生する。
【００３９】
端子接続手段６は、ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して、互いに絶縁された２本のニードル状のプローブピンが付いた台座を押し上げて、２本のニードル状のプローブピンが粘着シートを貫通して接続させるようになっている。この２本のニードルピンが付いた台座は、ＬＥＤチップ２１毎に、ロール５１に巻かれた電子部品基板３の所定方向１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１の直下にそれぞれ配置されている。よって、所定方向１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させる場合は、２本のニードルピンが付いた台座を順次押し上げて、２本のプローブピンをＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に電気的に接続させてＬＥＤチップ２１に２本のプローブピンから所定電源電圧を供給して順次発光させることができる。このとき、駆動電圧出力手段としての発光電圧出力源から２本のプローブピンに発光電圧を供給してＬＥＤチップ２１を発光駆動させる。
【００４０】
電気的動作機能測定手段７は、所定数（ここでは５個）のＬＥＤチップ２１の周囲を覆い、ＬＥＤチップ２１からの発光を外部に漏らさずに内面で反射させて所定方向に導く反射板７１と、反射板７１からの光を光電変換して撮像信号を得る受光素子７２（フォトダイオード）と、受光素子７２からの撮像信号に基づいたＬＥＤチップ２１の発光量と閾値を比較してＬＥＤチップ２１の良否判定するチップ良否判定部７３とを有し、端子接続手段６の２本のプローブピンを介して一または複数のＬＥＤチップ２１を発光させた状態で一または複数のＬＥＤチップ２１の発光量を検査する。
【００４１】
上記構成の電子部品動作機能測定装置１の発光測定方法について詳細に説明する。
【００４２】
まず、裏面に粘着シートが貼られた状態で縦方向および横方向に個々に切断された複数のＬＥＤチップ２１が列方向および行方向のマトリクス状に整列した複数個搭載された電子部品基板３を、その先端を固定して、電子部品側面離間手段５としての円筒状のロール５１に粘着シートが下になるように巻きつける。
【００４３】
次に、ロール５１を回転させて、電子部品基板３の複数のＬＥＤチップ２１の一行がロール頂上に来たときに、ロール５１の回転を停止させ、反射板７１を受光素子７２と共に下ろして所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。この場合、５個のＬＥＤチップ２１を空けて、次の反射板７１が順次複数用意されている。
【００４４】
続いて、筒状のロール５１内で２本のニードル状のプローブピンが付いた台座をＬＥＤチップ２１毎にＬＥＤチップ２１と共に順次押し上げて、２本のニードル状のプローブピンを各ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に順次接続して順次発光させる。順次発光させるときに、カウンタにて何番目のＬＥＤチップ２１が発光しているかをチップ良否判定部７３に知らせる。
【００４５】
このとき、受光素子７２からの撮像信号に基づいて、チップ良否判定部７３がＬＥＤチップ２１の発光量と閾値を比較してＬＥＤチップ２１の良否判定する。さらに、チップ良否判定部７３が判定した結果がＮＧ（不良）の場合は、その座標位置（アドレス情報）を記憶部（ＲＡＭ）に記憶させておく。この座標位置（アドレス情報）は、複数のＬＥＤチップ２１のマトリクス状の並びにおいて、行方向をＸとし、列方向をＹとして座標（Ｘ、Ｙ）でＬＥＤチップ２１の位置を特定する。この場合は、列方向Ｙが「１」として、行方向Ｘの位置番号が１〜５、１１〜１５、２１〜２５、・・の検査を実行し、座標（２１、１）がＮＧの場合にこれを記憶部（ＲＡＭ）に記憶させておく。
【００４６】
その後、複数の反射板７１を受光素子２２と共に一旦上げて、５個のＬＥＤチップ２１分だけシフトして再び、複数の反射板７１を受光素子２２と共に下ろして所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。
【００４７】
続いて、筒状のロール５１内で２本のプローブピンが付いた台座をＬＥＤチップ２１毎にＬＥＤチップ２１と共に順次押し上げて２本のプローブピンを各ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に順次接続して順次発光させる。順次発光させるときに、カウンタにて何番目のＬＥＤチップ２１が発光しているかをチップ良否判定部７３に知らせる。
【００４８】
このとき、受光素子７２からの撮像信号に基づいて、チップ良否判定部７３がＬＥＤチップ２１の発光量と閾値を比較してＬＥＤチップ２１の良否判定する。さらに、チップ良否判定部７３が判定した結果がＮＧ（不良）の場合は、その座標位置（アドレス情報）を記憶部（ＲＡＭ）に記憶させておく。この座標位置（アドレス情報）は、複数のＬＥＤチップ２１のマトリクス状の並びにおいて、行方向をＸとし、列方向をＹとして座標（Ｘ、Ｙ）でＬＥＤチップ２１の位置を特定する。この場合は、列方向Ｙが「１」として、行方向Ｘの位置番号が６〜１０、１６〜２０、２６〜３０、・・の検査を実行し、ＮＧがなければ記憶部（ＲＡＭ）へのＮＧ情報は記憶されない。
【００４９】
これによって、一行の複数のＬＥＤチップ２１の発光量の測定検査が終了する。次に、ロール５１をＬＥＤチップ２１の１個分だけ回転させて、電子部品基板３の複数のＬＥＤチップ２１の一行がロール頂上に来たときに、ロール５１の回転を停止させ、複数の反射板７１を受光素子２２と共に下ろして所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆い、次の一行の複数のＬＥＤチップ２１の発光量の測定検査を始める。これを繰り返して、所定列で所定行の複数のＬＥＤチップ２１の発光量の測定検査を実行することができる。
【００５０】
以上により、本実施形態１の電子部品動作機能測定方法は、電子部品側面離間手段５が、電子部品基板３を曲面または角部に沿わせて折り曲げて、前後に隣接するＬＥＤチップ２１間の側面を離間させる電子部品側面離間ステップと、端子接続手段６が、当該ＬＥＤチップ２１の所定端子に接続させる端子接続ステップと、電気的動作機能測定手段７が、端子接続手段６を介して接続した一または複数の電子部品を駆動させた状態で当該一または複数のＬＥＤチップ２１の電気的動作機能を測定する電気的動作機能測定ステップとを有する。
【００５１】
以上により、本実施形態１によれば、粘着シートが貼られた状態で分断された複数のＬＥＤチップ２１がマトリクス状に整列した複数個搭載の電子部品基板のままで、電子部品基板３から粘着シートを剥がした個片化時のＬＥＤチップ２１のダメージ（割れ、欠けおよび汚れ）も抑えられた状態で光学測定するため、個々のＬＥＤチップ２１自体の搬送方向の整列や部品搬送時の位置合わせ機構を不要（複雑で高価なパーツフィーダやソート機構などが不要）で装置サイズもコンパクトにすることができると共に、個々のＬＥＤチップ２１の光学測定時の位置決めをも不要とすることができて、個々のＬＥＤチップ２１の光学測定および複数個のＬＥＤチップ２１の同時光学測定も容易できて、個々のＬＥＤチップ２１の光学測定値を座標データとしても正確に記憶部に保持することができる。
【００５２】
なお、本実施形態１では、電子部品動作機能測定装置１において、電子部品側面離間手段５が断面が円形の円筒型のロール５１である場合について説明したが、これに限らず、電子部品動作機能測定装置１において、電子部品側面離間手段５が断面が四角形または５角形、さらには、一辺がＬＥＤチップ２１の幅に合わせた多角形の筒型のロールであってもよい。
【００５３】
（実施形態２）
上記実施形態１では、電子部品側面離間手段５の断面が円形または多角形の筒型ロール方式について説明したが、本実施形態２では、電子部品側面離間手段５が断面４角形の回転軸を用いて電子部品基板３を吊り下げる簾方式について説明する。
【００５４】
図５は、本発明の実施形態２における電子部品動作機能測定装置の電子部品側面離間手段および端子接続手段の要部構成例を模式的に示す斜視図である。なお、この場合、図２〜図４の電気的動作機能測定手段７を用い、図２および図３の端子接続手段６は用いず、端子接続手段６として、ＬＥＤチップ２１の側面の端子だけに対して電気的に接続可能とするプローブピンを用いる。
【００５５】
図２〜図５において、本実施形態２の電子部品動作機能測定装置１Ａは、裏面にシートが貼られた状態で個々に切断された複数の電子部品２がマトリクス状に整列した複数個搭載の電子部品基板３を断面４角形の角部に沿わせて折り曲げ、折り曲げ方向前後に隣接する電子部品２間の側面を開口部４として開口させて離間させる電子部品側面離間手段５Ａと、この折り曲げ方向前後の両側面が離間した電子部品２の側面の所定端子に接続させる端子接続手段６Ａと、端子接続手段６Ａを介して一または複数の電子部品２を駆動させた状態で一または複数の電子部品２の電気的動作機能を測定する電気的動作機能測定手段７とを有している。
【００５６】
ここでは、本実施形態２の電子部品動作機能測定装置１Ａを発光測定装置に適用して、電子部品２の動作機能としてＬＥＤチップ２１の光学特性（発光量や発光指向性など）および電気的特性（ＤＣ検査）などを測定する場合について説明する。
【００５７】
電子部品側面離間手段５Ａは、ここでは断面が４角形の回転軸５２で構成されている。基板上にアセンブリされた複数のＬＥＤチップ２１は相互に電気的に接続されているのを、電気的に互いに遮断して個々のＬＥＤチップ２１を発光させることができるように、電子部品基板３を回転軸５２の角部に沿わせて角度９０度折り曲げることにより、隣接したＬＥＤチップ２１間を大きく開口して電気的導通を遮断し、測定対象のＬＥＤチップ２１のみを発光制御することが可能となる。電子部品基板３を回転軸５２の角部に沿わせると、ＬＥＤチップ２１の厚みによる内径と外径の差で隣接チップ間に離間距離が大きく発生する。
【００５８】
端子接続手段６Ａは、ＬＥＤチップ２１の側面の＋端子と−端子に対して、互いに絶縁された２本のニードル状のプローブピン６１を押し当てて電気的に接続させるようになっている。この２本のニードルピン６１は、ＬＥＤチップ２１毎に、回転軸５２に巻かれた電子部品基板３の所定方向１行（横方向）の所定数のＬＥＤチップ２１の側面の端子にそれぞれ押し当てるように配置されている。よって、所定方向１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させる場合は、２本のニードルピン６１を順次、ＬＥＤチップ２１の側面の端子に押し当てて、ＬＥＤチップ２１に２本のプローブピン６１から所定電源電圧を供給して順次発光させることができる。このとき、駆動電圧出力手段としての発光電圧出力源から２本のプローブピン６１に発光電圧を供給してＬＥＤチップ２１を発光駆動させることができる。
【００５９】
上記構成の電子部品動作機能測定装置１Ａの発光測定方法について詳細に説明する。
【００６０】
まず、裏面に粘着シートが貼られた状態で縦方向および横方向に個々に切断された複数のＬＥＤチップ２１が列方向および行方向のマトリクス状に整列した複数個搭載の電子部品基板３を、その先端を固定して、電子部品側面離間手段５Ａとしての断面４角形の回転軸５２に粘着シート３１が下になるように巻き付ける。
【００６１】
次に、断面４角形の回転軸５２を回転させて、電子部品基板３の複数のＬＥＤチップ２１の一行が回転軸５２の上面位置に来たときに、回転軸５２の回転を停止させ、反射板７１を受光素子７２と共に下ろして所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。この場合、５個のＬＥＤチップ２１を空けて、次の反射板７１が順次複数用意されている。
【００６２】
続いて、断面４角形の回転軸５２の角部に巻き付けられて、隣接する前後のＬＥＤチップ２１間が角部に沿って大きく直角に開口して側面同士が大きく離間し、回転軸５２の上面に位置し、かつ上面が反射板７１で覆われたＬＥＤチップ２１の側面の＋端子と−端子に対して、２本のニードル状のプローブピン６１を押し当てて、２本のニードル状のプローブピン６１から所定電圧をＬＥＤチップ２１の側面の＋端子と−端子に供給して発光させる。順次発光させるときに、カウンタにて何番目のＬＥＤチップ２１が発光しているかをチップ良否判定部７３に知らせる。
【００６３】
このとき、受光素子７２からの撮像信号に基づいて、チップ良否判定部７３がＬＥＤチップ２１の発光量と閾値を比較してＬＥＤチップ２１の良否判定する。さらに、チップ良否判定部７３が判定した結果がＮＧ（不良）の場合は、その座標位置（アドレス情報）を記憶部（ＲＡＭ）に記憶させておく。この座標位置（アドレス情報）は、複数のＬＥＤチップ２１のマトリクス状の並びにおいて、行方向をＸとし、列方向をＹとして座標（Ｘ、Ｙ）でＬＥＤチップ２１の位置を特定する。この場合は、列方向Ｙが「１」として、行方向Ｘの位置番号が１〜５、１１〜１５、２１〜２５、・・の検査を実行し、座標（２１、１）がＮＧの場合にこれを記憶部（ＲＡＭ）に記憶させておく。これは上記実施形態１の場合と同様である。
【００６４】
その後、複数の反射板７１を受光素子２２と共に一旦上げて、５個のＬＥＤチップ２１分だけシフトして再び、複数の反射板７１を受光素子２２と共に下ろして所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。
【００６５】
続いて、回転軸５２の上面に位置し、かつ上面が反射板７１で覆われたＬＥＤチップ２１の側面の＋端子と−端子に対して、２本のニードル状のプローブピン６１を押し当てて、２本のニードル状のプローブピン６１から所定電圧をＬＥＤチップ２１の側面の＋端子と−端子に供給してＬＥＤチップ２１の発光を行う。順次発光させるときに、カウンタにて何番目のＬＥＤチップ２１が発光しているかをチップ良否判定部７３に知らせる。
【００６６】
このとき、受光素子７２からの撮像信号に基づいて、チップ良否判定部７３がＬＥＤチップ２１の発光量と閾値を比較してＬＥＤチップ２１の良否判定する。さらに、チップ良否判定部７３が判定した結果がＮＧ（不良）の場合は、その座標位置（アドレス情報）を記憶部（ＲＡＭ）に記憶させておく。この座標位置（アドレス情報）は、複数のＬＥＤチップ２１のマトリクス状の並びにおいて、行方向をＸとし、列方向をＹとして座標（Ｘ、Ｙ）でＬＥＤチップ２１の位置を特定する。この場合は、列方向Ｙが「１」として、行方向Ｘの位置番号が６〜１０、１６〜２０、２６〜３０、・・の検査を実行し、ＮＧがなければ記憶部（ＲＡＭ）へのＮＧ情報は記憶されない。これは上記実施形態１の場合と同様である。
【００６７】
これによって、一行の複数のＬＥＤチップ２１の発光量の測定検査が終了する。次に、断面４角形の回転軸５２をＬＥＤチップ２１の１個分だけ角度９０度だけ回転させて、電子部品基板３の次の複数のＬＥＤチップ２１の一行が回転軸５２の上面に来たときに、回転軸５２の回転を停止させ、複数の反射板７１を受光素子２２と共に下ろして所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆い、次の一行の複数のＬＥＤチップ２１の発光量の測定検査を始める。これを繰り返して、所定列で所定行の複数のＬＥＤチップ２１の発光量の測定検査を実行することができる。
【００６８】
本実施形態２の場合は、上記実施形態１の場合と比べて、隣接する前後のＬＥＤチップ２１間が角部に沿って大きく直角に開口して側面同士が大きく離間するため、上面が反射板７１で覆われたＬＥＤチップ２１の側面の＋端子と−端子に対して、２本のニードル状のプローブピン６１を押し当て易い。
【００６９】
以上により、本実施形態２によれば、断面４角形の回転軸５２（回転シャフト）に電子部品基板３を沿わせると、電子部品基板３の厚みによる内径と外径の差により、隣接する前後のＬＥＤチップ２１間が角部に沿って大きく直角に開口して側面同士が大きく離間するため、相互に導通状態にあるチップ間をより確実に絶縁することができて、この開口したＬＥＤチップ２１の側面の端子に、２本のニードル状のプローブピン６１を押し当て易く、この基板状態のままでテスト工程をより容易かつ確実に実施することができる。
【００７０】
なお、本実施形態２では、電子部品側面離間手段５Ａが断面４角形の回転軸５２を用いて電子部品基板３を吊り下げる簾方式とすることにより、プローブポイントが１つの回転軸上で数箇所設定できる場合について説明したが、これに限らず、図１４に示すように、電子部品側面離間手段５Ａとして、断面４角形の回転軸５２を上下に２つ配置し、下側の回転軸５２から上側の回転軸５２に電子部品基板３を巻きつけるように構成してもよい。この場合、端子接続手段６Ａとして、ＬＥＤチップ２１の側面の＋端子と−端子に対して、互いに絶縁された２本のニードル状のプローブピン６１を押し当てて電気的に接続させるが、これを２箇所で行うことになる。即ち、プローブピン６１のＬＥＤチップ２１への接続動作を回転軸５２毎に行うことになる。また同様に、断面円形のロール５１を上下に２つ配置し、下側のロール５１から上側のロール５１に電子部品基板３を巻きつけるようにして、電子部品側面離間手段５を構成するようにしてもよい。この場合、端子接続手段６として、ＬＥＤチップ２１の底面の＋端子と−端子に対して、互いに絶縁された２本のニードル状のプローブピン６１を押し当てて電気的に接続させるが、これをロール５１毎に行うことになる。これらの回転軸５２やロール５１の数は、３箇所に設けてもよいし、４箇所に設けてもよい。要するに、電子部品側面離間手段は、断面が円形または多角形のロールおよび断面多角形の回転軸のいずれかを、一または複数配置し、一または複数配置毎に端子接続手段を設ければよい。
【００７１】
これによって、電子部品側面離間手段５Ａが断面４角形の回転軸５２を用いて電子部品基板３を吊り下げる簾方式とすることにより、検査するプローブポイントが１つの回転軸上で数箇所設定できるが、回転軸５２を増やすことで検査するプローブポイントを更に増加させることができる。
【００７２】
なお、本実施形態２では、基板上にアセンブリされた複数のＬＥＤチップ２１は相互に電気的に接続されているのを、電気的に互いに遮断して個々のＬＥＤチップ２１を発光させることができるように、電子部品基板３を回転軸５２の角部に沿わせて角度９０度（断面４角形）折り曲げることにより、隣接したＬＥＤチップ２１間を大きく開口して電気的導通を遮断し、測定対象のＬＥＤチップ２１のみを発光制御することが可能となる場合について説明したが、開口角度が９０度に限らず、回転軸５２を例えば３箇所に増やした場合に、開口角度は角度９０度よりも減少するが、プローブコンタクトが可能な角度であれば問題がない。
【００７３】
（実施形態３）
上記実施形態１では、電子部品側面離間手段５の断面が円形または多角形の筒型ロール方式について説明したが、本実施形態３では、上記上記実施形態１の所定列で所定行の複数のＬＥＤチップ２１の発光量の測定検査に加えて、この１行の複数のＬＥＤチップ２１の発光量の測定検査の前後の１行の複数のＬＥＤチップ２１についてＤＣ検査などの電気的検査を行う場合について説明する。
【００７４】
図６は、本発明の実施形態３における電子部品動作機能測定装置の電子部品側面離間手段および電気的動作機能測定手段の要部構成例を模式的に示す構成図である。図７は、本発明の実施形態３における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の要部構成例を模式的に示す構成図である。
【００７５】
図６および図７において、本実施形態１の電子部品動作機能測定装置１Ｂは、裏面にシートが貼られた状態で個々に分断された複数のＬＥＤチップ２１がマトリクス状に整列した複数個搭載の電子部品基板３を曲面に沿わせて折り曲げ、折り曲げ方向前後に隣接するＬＥＤチップ２１間の側面を開口部４として開口させて離間させる電子部品側面離間手段５と、この折り曲げ方向前後の両側面が離間したＬＥＤチップ２１毎の裏面の所定端子に順次接続させる光学テスト用端子接続および、光学テストを行う１行の複数のＬＥＤチップ２１とは別の列の１行の複数のＬＥＤチップ２１に対して電気的テストを行うために、折り曲げ方向前後の両側面が離間した１行の全複数のＬＥＤチップ２１の裏面の所定端子に同時に接続させる電気的テスト用端子接続を行う端子接続手段６Ｂと、端子接続手段６Ｂを介して一または複数のＬＥＤチップ２１を駆動させた状態で一または複数の電子部品２の電気的動作機能（光学テストおよび電気的テスト）を検査する電気的動作機能測定手段７とを有している。
【００７６】
端子接続手段６Ｂは、ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して、互いに絶縁された２本のニードル状のプローブピンが付いた台座を押し上げて、２本のニードル状のプローブピンが粘着シートを貫通して接続させるようになっている。この２本のニードルピンが付いた台座は、光学テスト時には、ＬＥＤチップ２１毎に、ロール５１に巻かれた電子部品基板３の１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１の直下にそれぞれ配置されている。よって、１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させる光学テストの場合は、２本のニードルピンが付いた台座を順次押し上げて、２本のプローブピンをＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に電気的に接続させてＬＥＤチップ２１に２本のプローブピンから所定電源電圧を供給して順次発光させることができる。このとき、駆動電圧出力手段としての発光電圧出力源から２本のプローブピンに発光電圧を供給してＬＥＤチップ２１を発光駆動させる。
【００７７】
この２本のニードルピンが付いた台座は、所定入力電圧に対する出力電流または出力電圧がどの程度かをテストするＤＣテストなどの電気的テスト時には、１行の複数のＬＥＤチップ２１の直下にそれぞれ配置されており、２本のニードルピンが付いた台座を全て同時に押し上げて、２本のプローブピンをＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に全て電気的に接続させてＬＥＤチップ２１に２本のプローブピンから所定電源電圧を供給して、１行の複数のＬＥＤチップ２１の全てに所定入力電圧を供給してＬＥＤチップ２１毎の各出力電圧を同時に得ることができる。このＬＥＤチップ２１毎の各出力電圧に基づいて所定の閾値と比較してＬＥＤチップ２１の電気的特性の良否判定を行うことができる。
【００７８】
このように、本実施形態３によれば、ＬＥＤチップ２１の光学特性の良否判定と電気的特性の良否判定とを、電子部品側面離間手段５としての断面が円形の筒型ロール５３での測定位置を異ならせるだけで、同時に検査することができて検査時間の大幅な短縮になる。ここでは、光学特性の良否判定と電気的特性の良否判定とは、角度１８０度異なる位置で行うようにしたが、これに限らず、光学特性の良否判定と電気的特性の良否判定のいずれか一方位置に対してその前後角度９０度の位置で他方を行ってもよい。
【００７９】
したがって、端子接続手段６Ｂは、ＬＥＤチップ２１毎にＬＥＤチップ２１の端子にプローブピンを接続してＬＥＤチップ２１の光学的特性を検査するための第１端子接続手段６と、光学的特性を検査する複数のＬＥＤチップ２１とは別の一行の複数のＬＥＤチップ２１全体の端子に同時にプローブピンを接続してＬＥＤチップ２１の電気的特性を検査するための第２端子接続手段６２とを有している。
【００８０】
（実施形態４）
上記実施形態１では、光学テスト時に、ＬＥＤチップ２１毎に順次、２本のプローブピンをその台座と共に押し上げてＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に２本のプローブピンを電気的に接続させてＬＥＤチップ２１を順次発光させるように構成したが、本実施形態４では、この１行の複数のＬＥＤチップ２１を複数個（ここでは５個）のブロックでそれぞれ順次一つずつ発光させる楔方式の具体例について説明する。
【００８１】
図８（ａ）〜図８（ｃ）は、本発明の実施形態４における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第１例を模式的に示す楔方式の構成図である。
【００８２】
図８（ａ）〜図８（ｃ）に示すように、第１例の楔方式の端子接続手段６Ｂは、ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して電気的に接続可能であり、互いに絶縁された２本のニードル状プローブピンであるコンタクトピン６３と、上面に２本のコンタクトピン６３が所定間隔（＋端子と−端子の間隔と同間隔）で固定され、下面が上下（縦方向）動可能なように傾斜が付いたテーパ面となっているコンタクトユニット６４と、コンタクトユニット６４のテーパ面の下方位置で、長尺軸で左右方向（横方向）に移動自在に構成され、上面に長尺方向所定間隔に楔状突起部６５ａが配設された移動軸６５とを有している。
【００８３】
上面に２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６４は、ＬＥＤチップ２１の裏面毎に上下動自在に構成されている。即ち、コンタクトピン６３およびコンタクトユニット６４は、光学テスト時に、ＬＥＤチップ２１毎に、ロール５１に巻かれた電子部品基板３の１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１の直下にそれぞれ配置されている。
【００８４】
上記構成の端子接続手段６Ｂの動作について説明する。
【００８５】
まず、図８（ａ）から図８（ｂ）に示すように、光学テスト時に、反射板７１を受光素子７２と共に下ろして所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。この場合、５個のＬＥＤチップ２１を空けて、次の反射板７１が順次複数用意されている。
【００８６】
この状態で、移動軸６５が右側に移動して、移動軸６５の上面にある楔状突起部６５ａのテーパ面が、２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６４の下面のテーパ面を押し上げて、ここでは第１番目、第１１番目および第２１番目の各ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して、２本のニードル状のコンタクトピン６３が粘着シート３１（ＵＶシート）を貫通して電気的に接続する。このように、２本のコンタクトピン６３をＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に電気的に接続させてＬＥＤチップ２１に２本のコンタクトピン６３から所定電源電圧を供給して発光させる。第１番目、第１１番目および第２１番目の各発光したＬＥＤチップ２１に対して光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が行われる。要するに、楔状突起部６５ａを１チップ分移動させると、２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６４が持ち上がり、粘着シート３１（ＵＶシート）を２本のコンタクトピン６３が突き抜けてＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に接続する。
【００８７】
続いて、図８（ｂ）から図８（ｃ）に示すように、移動軸６５を更に右側に移動して、移動軸６５の上面にある楔状突起部６５ａのテーパ面が、２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６４の下面のテーパ面を押し上げて、ここでは第２番目、第７番目および第１２番目の各ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して、２本のニードル状のコンタクトピン６３が粘着シート３１（ＵＶシート）を貫通して電気的に接続する。このように、２本のコンタクトピン６３をＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に電気的に接続させてＬＥＤチップ２１に２本のコンタクトピン６３から所定電源電圧を供給してＬＥＤチップ２１を発光させる。第２番目、第１２番目および第２２番目の各発光したＬＥＤチップ２１に対して光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が行われる。要するに、楔状突起部６５ａを更に１チップ分移動させると、先ほどのコンタクトユニット６４は下がって元の位置に戻り、次のコンタクトユニット６４が２本のコンタクトピン６３と共に持ち上がり、粘着シート３１（ＵＶシート）を２本のコンタクトピン６３が突き抜けて次のＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に接続する。
【００８８】
この動作が繰り返されて、第１〜第５番目、第１１〜第１５番目および第２１〜２５番目の各５個の発光したＬＥＤチップ２１の光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が完了する。上記実施形態１の場合と同様に、ＮＧのＬＥＤチップ２１の座標情報を記憶部（ＲＡＭ）に記憶しおく。
【００８９】
次に、複数の反射板７１を受光素子２２と共に一旦上げて、光学テストが完了したＬＥＤチップ２１の５個分を超えて右側にシフトして再び、複数の反射板７１を受光素子２２と共に下ろして次の所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。
【００９０】
上記検査動作が繰り返されて、第６〜第１０番目、第１６〜第２０番目および第２６〜３０番目が各５個の順次発光したＬＥＤチップ２１の光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が完了する。上記実施形態１の場合と同様に、ＮＧのＬＥＤチップ２１の座標情報を記憶部（ＲＡＭ）に記憶しおく。
【００９１】
以上によって、１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させて光学テストを行うことができる。その後、ロール５４を所定距離だけ回転させて、次の１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させて光学テストを行うことになる。
【００９２】
（実施形態５）
上記実施形態１では、光学テスト時に、ＬＥＤチップ２１毎に順次、２本のプローブピンをその台座と共に押し上げてＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に２本のプローブピンを電気的に接続させてＬＥＤチップ２１を順次発光させるように構成したが、本実施形態５では、この１行の複数のＬＥＤチップ２１を複数個（ここでは５個）のブロックでそれぞれ順次一つずつ発光させるエアープッシュ方式の具体例について説明する。
【００９３】
図９（ａ）〜図９（ｃ）は、本発明の実施形態５における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第２例を模式的に示すエアープッシュ方式の構成図である。
【００９４】
図９（ａ）〜図９（ｃ）に示すように、第２例のエアープッシュ方式の端子接続手段６Ｃは、ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して電気的に接続可能であり、互いに絶縁された２本のニードル状プローブピンであるコンタクトピン６３と、上面に２本のコンタクトピン６３が所定間隔（＋端子と−端子の間隔と同間隔）で固定され、下面がエアープッシュの有無により上下（縦方向）動可能なように開放されているコンタクトユニット６６と、コンタクトユニット６６の開放口の下方位置で、左右方向の長尺管で回転自在に構成され、ＬＥＤチップ２１の配置間隔で角度を変えてエアー通気孔６７ａが所定数(ここでは５個)づつ所定間隔に形成された圧力エアー管６７とを有している。
【００９５】
上面に２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６６は、ＬＥＤチップ２１の裏面毎に上下動自在に構成されている。即ち、コンタクトピン６３およびコンタクトユニット６６は、光学テスト時に、ＬＥＤチップ２１毎に、ロール５１に巻かれた電子部品基板３の１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１の直下にそれぞれ同じ数だけ配置されている。
【００９６】
上記構成の端子接続手段６Ｃの動作について説明する。
【００９７】
まず、図９（ａ）から図９（ｂ）に示すように、光学テスト時に、反射板７１を受光素子７２と共に下ろして所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。この場合、５個のＬＥＤチップ２１を空けて、次の反射板７１が順次複数用意されている。
【００９８】
この状態で、長尺の圧力エアー管６７が所定角度だけ回転して、圧力エアー管６７のエアー通気孔６７ａが、２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６６の下面開放口の直下に来て、エアー通気孔６７ａからその下面開放口に向けてエアープッシュしてコンタクトユニット６６を２本のコンタクトピン６３と共に押し上げ、ここでは第１番目、第１１番目および第２１番目の各ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して、２本のニードル状のコンタクトピン６３が粘着シート３１（ＵＶシート）を貫通して電気的に接続する。このように、２本のコンタクトピン６３をＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に電気的に接続させてＬＥＤチップ２１に２本のコンタクトピン６３から所定電源電圧を供給して発光させる。第１番目、第１１番目および第２１番目の各発光したＬＥＤチップ２１に対して光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が行われる。要するに、圧力エアー管６７を角度３６０度／チップ数Ｎ（Ｎは５個）の角度分だけ回転させると、２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６６がエアープッシュされて持ち上がり、粘着シート３１（ＵＶシート）を２本のコンタクトピン６３が突き抜けてＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に接続する。
【００９９】
続いて、図９（ｂ）から図９（ｃ）に示すように、圧力エアー管６７を更に所定角度だけ回転させて、次のエアー通気孔６７ａが、２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６６の下面開放口の直下に来て、そのエアー通気孔６７ａからその下面開放口に向けてエアープッシュしてそのコンタクトユニット６６だけを２本のコンタクトピン６３と共に押し上げる。ここでは、第２番目、第１２番目および第２２番目の各ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して、２本のニードル状のコンタクトピン６３が粘着シート３１（ＵＶシート）を貫通して電気的に接続する。このように、２本のコンタクトピン６３をＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に電気的に接続させてＬＥＤチップ２１に２本のコンタクトピン６３から所定電源電圧を供給してＬＥＤチップ２１を発光させる。第２番目、第１２番目および第２２番目の各発光したＬＥＤチップ２１に対して光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が行われる。要するに、圧力エアー管６７を更に１チップ分の角度（角度３６０度／チップ数５）だけ回転させると、先ほどのコンタクトユニット６６はエアープッシュが無くなって下がって元の位置に戻り、次のコンタクトユニット６６が２本のコンタクトピン６３と共にエアープッシュにより持ち上がり、粘着シート３１（ＵＶシート）を２本のコンタクトピン６３が突き抜けて次のＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に接続する。
【０１００】
この動作が繰り返されて、第１〜第５番目、第１１〜第１５番目および第２１〜２５番目の各５個の順次発光したＬＥＤチップ２１の光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が完了する。上記実施形態１の場合と同様に、ＮＧのＬＥＤチップ２１の座標情報を記憶部（ＲＡＭ）に記憶しおく。
【０１０１】
次に、複数の反射板７１を受光素子２２と共に一旦上げて、光学テストが完了したＬＥＤチップ２１の５個分を超えて右側にシフトして再び、複数の反射板７１を受光素子２２と共に下ろして次の所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。
【０１０２】
上記検査動作が繰り返されて、第６〜第１０番目、第１６〜第２０番目および第２６〜３０番目が各５個の発光したＬＥＤチップ２１の光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が完了する。上記実施形態１の場合と同様に、ＮＧのＬＥＤチップ２１の座標情報を記憶部（ＲＡＭ）に記憶しおく。
【０１０３】
以上によって、１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させて光学テストを行うことができる。その後、ロール５４を所定距離だけ回転させて、次の１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させて光学テストを行うことになる。
【０１０４】
したがって、端子接続手段６Ｃは、ＬＥＤチップ２１の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンであるコンタクトピン６３と、該コンタクトピン６３が上面に固定され、下面がエアープッシュの有無により縦方向に移動可能なように端面が開放されているコンタクトユニット６６と、コンタクトユニット６６の端面開放口の下方位置で、横方向の長尺管で回転自在に構成され、ＬＥＤチップ２１の配置間隔で角度を変えて、エアープッシュ用のエアー通気孔６７ａが所定間隔に複数形成された圧力エアー管６７と、コンタクトピン６３に対してＬＥＤチップ２１を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段（図示せず）とを有している。
【０１０５】
（実施形態６）
上記実施形態１では、光学テスト時に、ＬＥＤチップ２１毎に順次、２本のプローブピンをその台座と共に押し上げてＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に２本のプローブピンを電気的に接続させてＬＥＤチップ２１を順次発光させるように構成したが、本実施形態６では、この１行の複数のＬＥＤチップ２１を複数個（ここでは５個）のブロックでそれぞれ順次一つずつ発光させる回転ドラム方式の具体例について説明する。
【０１０６】
図１０（ａ）〜図１０（ｃ）は、本発明の実施形態６における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第３例を模式的に示す回転ドラム方式の構成図である。
【０１０７】
図１０（ａ）〜図１０（ｃ）に示すように、第３例の回転ドラム方式の端子接続手段６Ｄは、ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して電気的に接続可能であり、互いに絶縁された２本のニードル状プローブピンであるコンタクトピン６３と、上面に２本のコンタクトピン６３が所定間隔（＋端子と−端子の間隔と同間隔）で固定され、下面角部にアールが付いて上下（縦方向）動可能なように構成されているコンタクトユニット６８と、コンタクトユニット６８の下面位置で、左右方向の長尺円形軸で回転自在に構成され、ＬＥＤチップ２１の配置間隔で角度を変えて突出ドラム部６９ａが所定数(ここでは５個)づつ所定間隔に形成された回転ドラム６９とを有している。
【０１０８】
上面に２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６８は、ＬＥＤチップ２１の裏面毎に上下動自在に構成されている。即ち、コンタクトピン６３およびコンタクトユニット６８は、光学テスト時に、ＬＥＤチップ２１毎に、ロール５１に巻かれた電子部品基板３の１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１の直下にそれぞれ同じ数だけ配置されている。
【０１０９】
上記構成の端子接続手段６Ｄの動作について説明する。
【０１１０】
まず、図１０（ａ）から図１０（ｂ）に示すように、光学テスト時に、反射板７１を受光素子７２と共に下ろして所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。この場合、５個のＬＥＤチップ２１を空けて、次の反射板７１が順次複数用意されている。
【０１１１】
この状態で、長尺の回転ドラム６９が所定角度だけ回転して、回転ドラム６９の突出ドラム部６９ａが、２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６８の下面の直下に移動して、コンタクトユニット６８を２本のコンタクトピン６３と共に押し上げ、ここでは第１番目、第１１番目および第２１番目の各ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して、２本のニードル状のコンタクトピン６３が粘着シート３１（ＵＶシート）を貫通して電気的に接続する。このように、２本のコンタクトピン６３をＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に電気的に接続させてＬＥＤチップ２１に２本のコンタクトピン６３から所定電源電圧を供給して発光させる。第１番目、第１１番目および第２１番目の各発光したＬＥＤチップ２１に対して光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が同時に行われる。要するに、回転ドラム６９を角度３６０度／チップ数Ｎ（Ｎは５個）の角度分だけ回転させると、２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６８が突出ドラム部６９ａにより持ち上がり、粘着シート３１（ＵＶシート）を２本のコンタクトピン６３が突き抜けてＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に接続する。
【０１１２】
続いて、図１０（ｂ）から図１０（ｃ）に示すように、回転ドラム６９を更に所定角度だけ回転させて、次の突出ドラム部６９ａが、２本のコンタクトピン６３が付いたコンタクトユニット６８の下面直下に来て、その突出ドラム部６９ａがコンタクトユニット６８の下面を２本のコンタクトピン６３と共に押し上げる。ここでは、第２番目、第１２番目および第２２番目の各ＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して、２本のニードル状のコンタクトピン６３が粘着シート３１（ＵＶシート）を貫通して電気的に接続する。このように、２本のコンタクトピン６３をＬＥＤチップ２１の＋端子と−端子に電気的に接続させてＬＥＤチップ２１に２本のコンタクトピン６３から所定電源電圧を供給してＬＥＤチップ２１を発光させる。第２番目、第１２番目および第２２番目の各発光したＬＥＤチップ２１に対して光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が行われる。要するに、回転ドラム６９を更に１チップ分の角度（角度３６０度／チップ数５）だけ回転させると、先ほどのコンタクトユニット６８は一番目の突出ドラム部６９ａから降りて下がって元の位置に戻り、次のコンタクトユニット６８が２本のコンタクトピン６３と共に２番目の突出ドラム部６９ａにより持ち上がり、粘着シート３１（ＵＶシート）を２本のコンタクトピン６３が突き抜けて次のＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に接続する。
【０１１３】
この動作が繰り返されて、第１〜第５番目、第１１〜第１５番目および第２１〜２５番目の各５個が順次発光したＬＥＤチップ２１の光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）が完了する。上記実施形態１の場合と同様に、ＮＧのＬＥＤチップ２１の座標情報を記憶部（ＲＡＭ）に記憶しおく。
【０１１４】
次に、複数の反射板７１を受光素子２２と共に一旦上げて、光学テストが完了したＬＥＤチップ２１の５個分を超えて右側にシフトして再び、複数の反射板７１を受光素子２２と共に下ろして次の未検査の所定数のＬＥＤチップ２１（ここでは５個）の周囲を反射板７１で覆う。
【０１１５】
上記検査動作が繰り返されて、第６〜第１０番目、第１６〜第２０番目および第２６〜３０番目の各５個が発光したＬＥＤチップ２１の光学テスト（光量が閾値以上かどうかの検査）を完了する。上記実施形態１の場合と同様に、ＮＧのＬＥＤチップ２１の座標情報を記憶部（ＲＡＭ）に記憶しおく。
【０１１６】
以上によって、１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させて光学テストを行うことができる。その後、ロール５４を所定距離だけ回転させて、次の１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させて光学テストを行うことになる。
【０１１７】
したがって、端子接続手段６Ｄは、ＬＥＤチップ２１の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンであるコンタクトピン６３と、コンタクトピン６３が上面に固定され、下面角部にアールが付いて縦方向に移動可能なように構成されているコンタクトユニット６８と、コンタクトユニット６８の下面位置で、横方向の長尺円形軸で回転自在に構成され、ＬＥＤチップ２１の配置間隔で角度を変えてＬＥＤチップ２１毎に突出ドラム部６９ａが所定数づつ所定間隔に形成され、回転によって突出ドラム部６９ａがコンタクトユニット６８の下面を押し上げる回転ドラム６９と、コンタクトピン６３に対してＬＥＤチップ２１を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段（図示せず）とを有している。
（実施形態７）
図１１は、本発明の実施形態７における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第４例を模式的に示す反射板およびプローブ一体化方式の構成図である。
【０１１８】
図１１に示すように、電子部品側面離間手段５としての断面多角形のロール５５に電子部品基板３が巻かれ、ＬＥＤチップ２１の表面および側面の端子に、反射板７１Ａと絶縁シート６１Ｂを介した直下で、反射板７１Ａと絶縁シート６１Ｂとプローブピン６１Ａとが一体化して各先端が当接（反射板７１Ａが表面に当接、プローブピン６１Ａが側面端子に当接）するように構成されている。ＥＤチップ２１の側面の＋端子と−端子に対して、互いに絶縁された２本のニードル状のプローブピン６１Ａを両側から押し当てて電気的に接続させるようになっている。この２本のプローブピン６１Ａは、ＬＥＤチップ２１毎に、断面多角形のロール５５に巻かれた電子部品基板３の所定方向１行（横方向）の所定数のＬＥＤチップ２１の側面の端子にそれぞれ押し当てるように配置されている。よって、所定方向１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を順次発光させる場合は、反射板７１Ａ直下の２本のニードル状のプローブピン６１Ａを反射板７１Ａの裏面に沿って順次、ＬＥＤチップ２１の側面上方の端子に押し当てて、ＬＥＤチップ２１に２本のプローブピン６１Ａから所定電源電圧を供給して順次発光させることができる。このとき、駆動電圧出力手段としての発光電圧出力源から２本のプローブピン６１Ａに発光電圧を供給してＬＥＤチップ２１を発光駆動させることができる。絶縁シート６１Ｂは、プローブピン６１Ａと反射板７１Ａとを電気的に絶縁するためのシート部材である。
【０１１９】
したがって、本実施形態７の端子接続手段は、反射板７１Ａに対してその下の絶縁シート６１Ｂを介した直下位置で、反射板７１Ａと絶縁シー６１Ｂトとプローブピン６１Ａとが一体化して、反射板７１Ａの先端がＬＥＤチップ２１の表面に当接し、プローブピン６１ＡがＬＥＤチップ２１の側面端子に当接または離間自在に構成されている。
（実施形態８）
図１２は、本発明の実施形態８における電子部品動作機能測定装置の端子接続手段の第５例を模式的に示すシャフト方式の構成図、図１３は図１２の端子接続手段の縦断面図である。
【０１２０】
図１２および図１３に示すように、本実施形態８の端子接続手段６Ｅは、電子部品側面離間手段５としての断面円形のロール５６に電子部品基板３が巻かれており、所定数（ここでは５個）のＬＥＤチップ２１の裏面に同時にコンタクトピン６３Ｅが当接すると共に、角度１８０度反対側の所定数（ここでは５個）のＬＥＤチップ２１の裏面にも同時にコンタクトピン６３Ｅを当接させることができる。中央部の回転シャフト６９Ｅが回転することにより上下に連結されたクランク状の各コンタクトユニット６８Ｅを介してその先端部設けられた複数のコンタクトピン６３Ｅが５個のＬＥＤチップ２１の裏面の＋端子と−端子に対して、互いに絶縁された２本のニードル状のコンタクトピン６３Ｅが５組同時に押し当てて電気的に接続させることができるようになっている。この２本のコンタクトピン６３Ｅの５組は、その角度１８０度反対側にも２本のコンタクトピン６３Ｅの５組が設けられており、ＬＥＤチップ２１毎に、断面円形のロール５６に巻かれた電子部品基板３の１行（横方向）の所定数のＬＥＤチップ２１の裏面の端子と、その反対側の電子部品基板３の１行（横方向）の所定数のＬＥＤチップ２１の裏面の端子とにそれぞれ同時に押し当てることができる。よって、１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１とその反対側の１行（横方向）の複数のＬＥＤチップ２１を同時に導通して検査することができる。この場合も、駆動電圧出力手段としての発光電圧出力源から２本のコンタクトピン６３Ｅに所定の発光電圧などの駆動電圧を供給して、ＬＥＤチップ２１を発光駆動させたり所定の出力電圧を得たりすることができる。
【０１２１】
したがって、端子接続手段６Ｅは、ＬＥＤチップ２１の裏面端子に対して電気的に接続するプローブピンであるコンタクトピン６３Ｅと、回転シャフト６９Ｅと、回転シャフト６９Ｅの断面円形の互いに反対側に連結されたクランク状の上下のコンタクトユニット６８Ｅであって、両端面にそれぞれコンタクトピン６３Ｅが固定され、上下の互いに反対側に設けられた各複数のＬＥＤチップ２１の裏面端子に対して、回転シャフト６９Ｅの回転により同時に各複数のＬＥＤチップ２１の裏面端子とコンタクトピン６３Ｅのそれぞれとを接続可能とするコンタクトユニット６８Ｅと、コンタクトピン６３Ｅに対してＬＥＤチップ２１を駆動させる駆動電圧を供給可能とする駆動電圧出力手段（図示せず）とを有している。
【０１２２】
なお、上記実施形態１〜８では、電子部品２が発光素子チップの場合に、電気的動作機能測定手段７は、所定数の発光素子チップとしてのＬＥＤチップ２１の周囲を覆い、ＬＥＤチップ２１からの発光を外部に漏らさずに内面で反射させて所定方向に導く反射板７１と、反射板７１からの光を光電変換して撮像信号を得る受光素子７２と、受光素子７２からの撮像信号に基づいたＬＥＤチップ２１の発光とその閾値を比較してＬＥＤチップ２１の良否判定するチップ良否判定部７３とを有する場合について説明したが、これに限らず、電子部品２がＬＳＩチップまたは受光素子チップの場合に、電気的動作機能測定手段７は、所定数のＬＳＩチップまたは受光素子チップの端子接続手段６を介した入出力値と入出力値の閾値とを比較して電子部品２を良否判定するチップ良否判定部を有する場合についても、本発明を適用することができて、本発明の目的を達成することができる。
【０１２３】
以上のように、本発明の好ましい実施形態１〜８を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態１〜８に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態１〜８の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【０１２４】
本発明は、発光ダイオード（以下ＬＥＤ素子という）などの光学素子や受光素子の動作機能である発光や受光を検査したり、ＬＳＩチップの動作機能を検査する電子部品動作機能測定装置および電子部品動作機能測定方法の分野において、チップ部品を個片化せずに複数のチップ部品を搭載した基板状態のままで、電子部品の電気的動作機能を測定するので、装置構成を大幅に簡略化して、各チップ部品の電気的特性や光学特性をより容易に測定して検査するができる。
【符号の説明】
【０１２５】
１、１Ａ，１Ｂ  電子部品動作機能測定装置
２  電子部品
２１  ＬＥＤチップ
２２  レンズ
３  電子部品基板
３１  粘着シート（ＵＶシート）
４  開口部
５、５Ａ  電子部品側面離間手段
５１、５３〜５６  ロール
５２  回転軸（回転シャフト）
６、６Ａ〜６Ｅ  端子接続手段
６１、６１Ａ、６２  プローブピン
６１Ｂ  絶縁シート
６３、６３Ｅ  コンタクトピン（プローブピン）
６４、６６、６８、６８Ｅ  コンタクトユニット
６５  移動軸
６５ａ  楔状突起部
６７  圧力エアー管
６７ａ  エアー通気孔
６９  回転ドラム
６９ａ  突出ドラム部
６９Ｅ  回転シャフト
７  電気的動作機能測定手段
７１  反射板
７２  受光素子
７３  チップ良否判定部
７１Ａ  反射板
【図１】
2011232262.tif 000003
【図２】
2011232262.tif 000004
【図３】
2011232262.tif 000005
【図４】
2011232262.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2011232262.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
2011232262.tif 000013
【図１２】
2011232262.tif 000014
【図１３】
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【図１４】
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