(57)【要約】【課題】線路の活電状態を確認することができ、かつ容易に試験装置との接続を行えるテストプラグを提供する。【解決手段】プラグ部１８を前方に突出させた固定側プラグユニットと１０、固定側プラグユニットの背面に対して所定の移動軌跡に沿って往復移動可能に組み付けられた可動側プラグユニット４０と、保護継電器の活電状態を検知する検知回路と、を備え、可動側支持体４２が第一の位置にある時に第一及び第二の固定側接触子（２０、２２）と第一及び第二の可動側接触子とが非導通状態にあり、且つ第一及び第二の固定側接触子と第一及び第二の検知回路側接触子とが導通状態にあり、可動側支持体が第二の位置にある時に第一及び第二の固定側接触子と第一及び第二の可動側接触子とが導通状態にあり、且つ第一及び第二の固定側接触子と第一及び第二の検知回路側接触子とが非導通状態にあるように構成した。【選択図】図３
2011232229.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
保護継電器の電源側と導通した第一の導体、及び前記保護継電器の負荷側と導通した第二の導体を相毎に備えたテストプラグ挿入口に挿入されるプラグ部と、試験装置を接続させる試験端子と、を備えたテストプラグであって、
前記プラグ部を前方に突出させた固定側プラグユニットと、該固定側プラグユニットの背面に対して所定の移動軌跡に沿って往復移動可能に組み付けられた可動側プラグユニットと、前記保護継電器の活電状態を検知する検知回路と、を備え、
前記固定側プラグユニットは、絶縁材料から成る固定側支持体と、該固定側支持体の前面に相毎に突出形成され且つ前記第一の導体及び前記第二の導体と夫々接続される第一のプラグ導体及び第二のプラグ導体を備えた前記プラグ部と、前記固定側支持体の背面に露出配置されて前記第一のプラグ導体及び第二のプラグ導体と夫々相毎に電気的に接続された第一の固定側接触子及び第二の固定側接触子と、を備え、
前記可動側プラグユニットは、絶縁材料から成り前記固定側支持体の背面に対して往復移動自在に支持された可動側支持体と、該可動側支持体の前面に露出配置され該可動側支持体が往復移動する過程で前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と導通、非導通状態に切り替わる第一の可動側接触子及び第二の可動側接触子と、前記可動側支持体の前面の他の部位に露出配置され該可動側支持体が往復移動する過程で前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と導通、非導通状態に切り替わり且つ前記検知回路と接続された第一の検知回路側接触子、及び第二の検知回路側接触子と、ｗ前記可動側支持体の背面に露出配置されて第一の可動側接触子及び第二の可動側接触子と夫々電気的に接続された第一の試験用端子、及び第二の試験用端子から成る前記試験端子と、備え、
前記可動側支持体が第一の位置にある時に前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と前記第一の可動側接触子及び第二の可動側接触子とが非導通状態にあり、且つ前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と前記第一の検知回路側接触子、及び第二の検知回路側接触子とが導通状態にあり、
前記可動側支持体が第二の位置にある時に前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と前記第一の可動側接触子及び第二の可動側接触子とが導通状態にあり、且つ前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と前記第一の検知回路側接触子、及び第二の検知回路側接触子とが非導通状態にあるように構成したことを特徴とするテストプラグ。
【請求項２】
前記第一の位置と前記第二の位置との間の中間位置で、前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子が前記第一の検知回路側接触子及び前記第二の検知回路側接触子と前記第一の可動側接触子及び前記第二の可動側接触子と同時に接触していることを特徴とする請求項１記載のテストプラグ。
【請求項３】
前記固定側支持体に対して前記可動側支持体が回動移動するように構成されていることを特徴とする請求項１又は２記載のテストプラグ。
【請求項４】
前記固定側支持体に対して前記可動側支持体が直線移動するように構成されていることを特徴とする請求項１又は２記載のテストプラグ。
【請求項５】
前記可動側支持体の往復移動に応じて前記プラグ部から出没して前記プラグ部のテストプラグ挿入口への進入を阻止する誤挿入防止用突起を備え、該誤挿入防止用突起は、少なくとも前記可動側支持体が第二の位置にある時に前記プラグ部から突出することを特徴とする請求項１乃至４の何れか一項記載のテストプラグ。
【請求項６】
前記保護継電器が活電状態にあることを前記検知回路が検知したときに、前記固定側支持体と前記可動側支持体との間に跨って突出して、前記可動側支持体の移動を阻止する突出部材を備えたことを特徴とする請求項１乃至５の何れか一項記載のテストプラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電力系統を保護する保護継電器の動作試験等を行うために、配電盤の盤面に設置されて保護継電器の各端子と接続されたテストターミナルに挿入されるテストプラグに関し、特に電力系統の活電状況を確認しつつ、保護継電器に動作指示を与えることができるテストプラグに関する。
【背景技術】
【０００２】
電力系統には、短絡事故や地絡事故から電気機器を守るための保護継電器（リレー回路）が設けられている。図１７は、電力系統の保護システムを示す回路図である。
図１７は、３相３線式の交流電力系統を示しており、Ｂ相、Ｗ相、Ｒ相を有する線路３００（３００Ｂ、３００Ｗ、３００Ｒ）の各相に、変流器（ＣＴ）３０２（３０２Ｂ、３０２Ｗ、３０２Ｒ）が接続されており、変流器（ＣＴ）３０２により変流された電流により保護継電器３０４を駆動するように構成されている。なお、変流器３０２の一端部側は中性点Ｎである。保護継電器３０４は線路３００内の異常電流を閾値として動作するように設定され、電流が異常である場合には閾値を超えた電流により保護継電器３０４が動作して、その接点の信号Ｓを発し、線路３００の遮断制御を行っている。
【０００３】
変流器３０２と保護継電器３０４との間には、保護継電器３０４の動作試験をするためのテストターミナル３１０が配置されている。テストターミナル３１０は、保護継電器３０４の電源側と導通した第一の導体３１２（３１２Ｂ、３１２Ｗ、３１２Ｒ、３１２Ｎ）と、線路３００の負荷側と導通した第二の導体３１４（３１４Ｂ、３１４Ｗ、３１４Ｒ、３１４Ｎ）と、テストプラグ３２０を挿入するためのテストプラグ挿入口３１６と、を備え、常時において各第一の導体３１２は夫々各第二の導体３１４と導通している。
テストプラグ３２０は、各第一の導体３１２と夫々接続する第一のプラグ導体３２２（３２２Ｂ、３２２Ｗ、３２２Ｒ、３２２Ｎ）、各第二の導体３１４と夫々接続する第二のプラグ導体３２４（３２４Ｂ、３２４Ｗ、３２４Ｒ、３２４Ｎ）と、各第一のプラグ導体３２２、各第二のプラグ導体３２４から引き出された試験端子３２６と、を備えている。テストプラグ３２０をテストターミナル３１０に挿入すると、第一の導体３１２と第二の導体３１４との接点が開放されて、第一の導体３１２と第一のプラグ導体３２２が接続され、第二の導体３１４と第二のプラグ導体３２４が接続される。従って、テストプラグ３２０をテストターミナル３１０に挿入することにより、変流器３０２と保護継電器３０４との間の回路を切り離し、テストプラグ３２０に接続された他の回路を接続することができる。
【０００４】
例えば、保護継電器３０４の試験を行うには、試験端子３２６に試験装置３３０を接続して試験回路を形成した後、試験回路が正しく接続されているか否かを電流計等により確認する。試験回路が正しく接続されていることが確認できたら、テストプラグ３２０をテストターミナル３１０に挿入することにより、試験装置３３０を用いて保護継電器３０４が正常に動作するか否かの試験を行うことができる。
電力系統の保護システムは電流要素のみならず、電圧要素についても同様に設けられている。すなわち、電圧用の保護継電器は、変成器により線路３００よりも電圧を低くした電圧要素を取り込んでおり、電圧異常が発生したときに遮断器が線路３００を切断するように信号を発生する。変成器と保護継電器との間にも、試験装置接続用にテストターミナルが配置されている。
【０００５】
上述のテストターミナルは、線路及び電流・電圧要素毎に区分されて配電盤に複数配置されており、盤面には何れのテストターミナルであるかを表示する名板が設置されている。作業員は名板を確認した上でテストプラグを挿入するが、誤って挿入するべき箇所とは異なるテストターミナルにテストプラグを挿入する場合がある。誤ったテストターミナルにテストプラグを挿入すると、保護継電器が作動して線路を停電させてしまうといった事故が発生する。
このような事故を防止するため、特許文献１には、保護継電器が作動したときに発生する遮断器切断信号を遮断器に到達させないようにするトリップロック回路が記載されている。この回路は、保護継電器と遮断器とを連絡する信号線上に、信号線を機械的に開閉するテスト端子用短絡片を備えている。テスト端子用短絡片はテストターミナル挿入口上を跨って配置されており、テスト端子用短絡片を取り外さなければテストプラグを挿入することができない。従って、テストプラグ挿入時に保護継電器が作動しても遮断器が動作しないので、線路を停電させるといった事故を防止することができる。
しかしながら、特許文献１の発明においては、非活電状態にあるテストターミナルにテストプラグを挿入しようとして、誤って活電状態にあるテストターミナルにテストプラグを挿入したまま作業を継続した場合、保護継電器を破壊してしまったり、作業員が感電する事故を起こす可能性がある、といった問題がある。
【０００６】
上述の問題を解決するために、特許文献２には、プラグ導体の活電状態を表示することができるテストプラグが記載されている。この発明によれば、プラグ導体の活電状態がわかるので、テストプラグの誤挿入を防止することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開昭６０−１７０４１５号公報
【特許文献２】特開２００８−１９０９４９公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献２の発明においては、試験装置を接続したテストプラグをテストターミナルに挿入すると同時に、保護継電器が変流器から切り離されて試験回路に接続されるため、保護継電器が作動して線路を遮断したり、保護回路を焼損する虞がある。また、活電状態を確認するためにのみ使用する場合は、特許文献２のテストプラグと試験回路を構成したテストプラグとの挿抜を繰り返す必要があり、作業が繁雑になるという問題がある。
本発明は上述の事情に鑑みてなされたものであり、線路の活電状態を確認することができ、かつ容易に試験装置との接続を行えるテストプラグを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、保護継電器の電源側と導通した第一の導体及び前記保護継電器の負荷側と導通した第二の導体を相毎に備えたテストプラグ挿入口に挿入されるプラグ部と、試験装置を接続させる試験端子と、を備えたテストプラグであって、前記プラグ部を前方に突出させた固定側プラグユニットと、該固定側プラグユニットの背面に対して所定の移動軌跡に沿って往復移動可能に組み付けられた可動側プラグユニットと、前記保護継電器の活電状態を検知する検知回路と、を備え、前記固定側プラグユニットは、絶縁材料から成る固定側支持体と、該固定側支持体の前面に相毎に突出形成され且つ前記第一の導体及び前記第二の導体と夫々接続される第一のプラグ導体及び第二のプラグ導体を備えた前記プラグ部と、前記固定側支持体の背面に露出配置されて前記第一のプラグ導体及び第二のプラグ導体と夫々相毎に電気的に接続された第一の固定側接触子及び第二の固定側接触子と、を備え、前記可動側プラグユニットは、絶縁材料から成り前記固定側支持体の背面に対して往復移動自在に支持された可動側支持体と、該可動側支持体の前面に露出配置され該可動側支持体が往復移動する過程で前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と導通、非導通状態に切り替わる第一の可動側接触子及び第二の可動側接触子と、前記可動側支持体の前面の他の部位に露出配置され該可動側支持体が往復移動する過程で前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と導通、非導通状態に切り替わり且つ前記検知回路と接続された第一の検知回路側接触子、及び第二の検知回路側接触子と、前記可動側支持体の背面に露出配置されて第一の可動側接触子及び第二の可動側接触子と夫々電気的に接続された第一の試験用端子、及び第二の試験用端子から成る前記試験端子と、備え、前記可動側支持体が第一の位置にある時に前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と前記第一の可動側接触子及び第二の可動側接触子とが非導通状態にあり、且つ前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と前記第一の検知回路側接触子、及び第二の検知回路側接触子とが導通状態にあり、前記可動側支持体が第二の位置にある時に前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と前記第一の可動側接触子及び第二の可動側接触子とが導通状態にあり、且つ前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子と前記第一の検知回路側接触子、及び第二の検知回路側接触子とが非導通状態にあるように構成したテストプラグを特徴とする。
請求項１に記載の発明は、プラグ部をテストプラグ挿入口に挿入した状態にて、検知回路と試験端子に接続された試験装置の回路とを切り替えることができる。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、前記第一の位置と前記第二の位置との間の中間位置で、前記第一の固定側接触子及び前記第二の固定側接触子が前記第一の検知回路側接触子及び前記第二の検知回路側接触子と前記第一の可動側接触子及び前記第二の可動側接触子と同時に接触している請求項１記載のテストプラグを特徴とする。
請求項２に記載の発明は、固定側接触子が何れの接触子とも接触していない状態となることがなく、回路が開放されることがない。
請求項３に記載の発明は、前記固定側支持体に対して前記可動側支持体が回動移動するように構成されている請求項１又は２記載のテストプラグを特徴とする。
請求項３に記載の発明は、固定側支持体に対して可動側支持体を回動させるという簡単な操作で、検知回路と試験端子に接続された試験装置の回路とを切り替えることができる。
請求項４に記載の発明は、前記固定側支持体に対して前記可動側支持体が直線移動するように構成されている請求項１又は２記載のテストプラグを特徴とする。
請求項４に記載の発明は、固定側支持体に対して可動側支持体を直線的にさせるという簡単な操作で、検知回路と試験端子に接続された試験装置の回路とを切り替えることができる。
【００１１】
請求項５に記載の発明は、前記可動側支持体の往復移動に応じて前記プラグ部から出没して前記プラグ部のテストプラグ挿入口への進入を阻止する誤挿入防止用突起を備え、該誤挿入防止用突起は、少なくとも前記可動側支持体が第二の位置にある時に前記プラグ部から突出する請求項１乃至４の何れか一項記載のテストプラグを特徴とする。
請求項５に記載の発明は、可動側支持体が第二の位置にある時、すなわち固定側接触子と可動側接触子が導通し、固定側接触子と検知回路側接触子が導通していない場合には、テストプラグをプラグ挿入口に挿入することができないため、テストプラグを挿入すると同時に回路が開放されたり、試験装置の回路に接続されたりすることを防止する。
請求項６に記載の発明は、前記保護継電器が活電状態にあることを前記検知回路が検知したときに、前記固定側支持体と前記可動側支持体との間に跨って突出して、前記可動側支持体の移動を阻止する突出部材を備えた請求項１乃至５の何れか一項記載のテストプラグを特徴とする。
請求項６に記載の発明は、可動側支持体が第一の位置にあって保護継電器が活電状態にあることを検知回路が検知したときには、可動側支持体を第二の位置に移動させることができないので、保護継電器が活電状態にあるときに回路が開放されたり、試験装置の回路に接続されたりすることを防止する。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、線路の活電状態を確認してから試験回路と接続できるので、停電事故や感電事故といった不慮の事故を防止することができる。また、検知回路と導通した状態と試験端子と導通した状態とを、可動側支持体を回動させるだけで切り替えることができるので、作業効率を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の第一の実施形態に係るテストプラグ及びテストターミナルの斜視図である。
【図２】本発明の第一の実施形態に係るテストプラグをテストターミナルに挿入した状態を示した断面図である。
【図３】本発明の第一の実施形態に係るテストプラグの分解斜視図である。
【図４】接触子の配置を示す図であり、（ａ）は固定側支持体の背面を示す図であり、（ｂ）は可動側支持体の前面を示す図である。
【図５】（ａ）乃至（ｃ）は、可動側支持体の回動と各接触子との接触関係をテストプラグの背面側から観察した透視図である。
【図６】プラグ導体と検知回路との接続状態を説明するための模式的断面図であり、（ａ）は電流用検知回路を示し、（ｂ）は電圧用検知回路を示す図である。
【図７】誤挿入防止突起について説明するための断面図であり、（ａ）は誤挿入防止用突起が没入した状態を示し、（ｂ）は誤挿入防止用突起が突出した状態を示す図である。
【図８】本発明の第二の実施形態に係る接触子の配置を示す図であり、（ａ）は固定側支持体の背面を示す図であり、（ｂ）は可動側支持体の前面を示す図である。
【図９】（ａ）乃至（ｃ）は、本発明の第二の実施形態に係る可動側支持体の回動と各接触子との接触関係をテストプラグの背面側から観察した透視図である。
【図１０】本発明の第三の実施形態に係るテストプラグの斜視図である。
【図１１】本発明の第三の実施形態に係るテストプラグの分解斜視図である。
【図１２】本発明の第三の実施形態に係る接触子の配置を示す図であり、（ａ）は固定側支持体の背面を示す図であり、（ｂ）は可動側支持体の前面を示す図である。
【図１３】（ａ）乃至（ｃ）は、本発明の第三の実施形態に係る可動側支持体の往復移動と各接触子との接触関係をテストプラグの背面側から観察した透視図である。
【図１４】誤挿入防止機構を第二のプラグ導体側から見た透視図であり、（ａ）は誤挿入防止用突起の没入状態を示し、（ｂ）は突出状態を示し、（ｃ）はコイルバネの弾性変形により没入した状態を示す図である。
【図１５】本発明の第四の実施形態に係るテストプラグの模式的断面図である。
【図１６】（ａ）、（ｂ）は、本発明の第四の実施形態に係るテストプラグの一部を拡大して示した模式的断面図である。
【図１７】電力系統の保護システムを示す回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
〔第一の実施形態〕
本発明の第一の実施形態について図１乃至図３に基づいて説明する。図１は、本実施形態に係るテストプラグ及びテストターミナルの斜視図である。図２は、本実施形態に係るテストプラグをテストターミナルに挿入した状態を示す断面図である。図３は、本実施形態に係るテストプラグの分解斜視図である。
本実施形態に係るテストプラグ１は、プラグ導体（１４、１６）と導通した固定側接触子（２０、２２）と、固定側接触子と導通、非導通状態が切り替わる可動側接触子（４４、４６）と、固定側接触子と導通、非導通状態が切り替わる検知回路側接触子（４８、５０：図４参照）とを備えた点に特徴がある。なお、以下、電流用のテストプラグの例により説明するが、本実施形態は特に明記しない限り電圧用のテストプラグにも適用可能である。
【００１５】
最初に、本実施形態に係るテストプラグ１が挿入されるテストターミナル２００について説明する。テストターミナル２００は、テストプラグ１が挿入されるテストプラグ挿入口２０２を備え、配電盤２１０に固定されている。テストターミナル２００内には、保護継電器の電源側と導通した第一の導体２０４と、保護継電器の負荷側と導通した第二の導体２０６と、が露出した状態で対向配置されている。第一の導体２０４及び第二の導体２０６は、夫々可撓性を有する導電材料から構成され、テストプラグ挿入方向中間部には互いに他の導体に向けて突出する凸部２０４ａ、凸部２０６ａが形成されており、常時において凸部２０４ａと凸部２０６ａが互いの弾性力により接触し、導通している。第一の導体２０４及び第二の導体２０６の間にテストプラグ１のプラグ部１８が挿入されると、プラグ部１８に押圧されて凸部２０４ａと凸部２０６ａが離間し、第一の導体２０４と第二の導体２０６が非導通状態となる。そして、第一の導体２０４とプラグ部１８の第一のプラグ導体１４とが導通し、第二の導体２０６とプラグ部１８の第二のプラグ導体１６とが導通する。なお、第一の導体２０４と第二の導体２０６は、夫々Ｂ相、Ｗ相、Ｒ相、Ｎ相の相毎に図中紙面奥行き方向に並べて配置されている。
【００１６】
続いて、テストプラグ１について説明する。テストプラグ１は、プラグ部１８を前方に突出させた固定側プラグユニット１０と、固定側プラグユニット１０の背面に対して回動可能に組み付けられた可動側プラグユニット４０と、電力系統の活電状態を検知する検知回路（図６参照）と、を備えている。
固定側プラグユニット１０は、テストターミナル２００に挿入された状態において、テストターミナルに対して相対移動しない部位である。固定側プラグユニット１０は、絶縁材料から成る固定側支持体１２と、固定側支持体１２の前方にＢ相、Ｗ相、Ｒ相、Ｎ相の相毎に突出形成され且つ第一の導体２０４及び第二の導体２０６と夫々接続される第一のプラグ導体１４（１４Ｂ、１４Ｗ、１４Ｒ、１４Ｎ）及び第二のプラグ導体１６（１６Ｂ、１６Ｗ、１６Ｒ、１６Ｎ）を備えたプラグ部１８と、固定側支持体１２の背面に露出配置されて第一のプラグ導体１４及び第二のプラグ導体１６と夫々相毎に電気的に接続された第一の固定側接触子２０（２０Ｂ、２０Ｗ、２０Ｒ、２０Ｎ）及び第二の固定側接触子２２（２２Ｂ、２２Ｗ、２２Ｒ、２２Ｎ）と、背面側中央部から前方側に貫通形成されて可動側プラグユニット４０を回動自在に軸支する軸受２４と、軸受２４を中心とする扇状に形成されて可動側プラグユニット４０の回動角度を制限する回動角制限用凹所２６と、を備えている。
【００１７】
固定側支持体１２は略円柱形状の部材であり、円形状の背面を有している。
プラグ部１８は、テストプラグ挿入口２０２からテストターミナル２００内に挿入される部位であり、活線側導体である第一のプラグ導体１４と非活線側導体である第二のプラグ導体１６は略平板状の絶縁体２８を挟んで露出配置され、また、異なる相の導体は、絶縁体２８の幅方向に所定の間隔を空けて並べて配置されている。絶縁体２８の第二のプラグ導体１６側の先端部には、後述する誤挿入防止用突起９０が出没するための開口３０が形成されている。
可動側プラグユニット４０は、絶縁材料から成り固定側支持体１２の背面に対して所定の角度範囲を回動自在に軸支された可動側支持体４２と、可動側支持体４２の前面に露出配置され可動側支持体４２が回動する過程で第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２と導通、非導通状態に切り替わる第一の可動側接触子４４及び第二の可動側接触子４６と、可動側支持体４２の前面の他の部位に露出配置され可動側支持体４２が往復移動する過程で第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２と導通、非導通状態に切り替わり且つ検知回路（７０又は８０）と接続された第一の検知回路側接触子４８、及び第二の検知回路側接触子５０と、可動側支持体４２の背面に露出配置されて第一の可動側接触子４４及び第二の可動側接触子４６と夫々電気的に接続された第一の試験用端子５２、及び第二の試験用端子５４から成る試験端子５６と、備えている。
【００１８】
可動側支持体４２は略円柱形状の部材であり、円形状を有した前面が固定側支持体の背面と摺接する。可動側支持体４２は、その前面から固定側支持体１２に向けて突出する回動軸５８と回動制限用突起６０とを備えている。回動軸５８が軸受２４に軸支されることにより、可動側支持体４２は固定側支持体１２の背面に対して回動する。また、回動制限用突起６０は回動軸５８の基端部側に配置され、回動角制限用凹所２６内で移動することにより可動側支持体４２の回動角度を所定の範囲内に制限する。また、回動軸５８の先端部には、可動側支持体４２の回動に応じて誤挿入防止用突起９０を開口３０から出没させる楕円柱状のカム６２が形成されている。
固定側接触子、可動側接触子及び検知回路側接触子について図４及び図５に基づいて説明する。図４は、接触子の配置を示す図であり、（ａ）は固定側支持体の背面を示す図であり、（ｂ）は可動側支持体の前面を示す図である。図５（ａ）乃至（ｃ）は、可動側支持体の回動と各接触子との接触関係をテストプラグの背面側から観察した透視図である。
【００１９】
図４（ａ）に示すように、固定側支持体１２の背面には、導電体から成り、円弧状に形成された第一の固定側接触子２０と第二の固定側接触子２２が軸受２４を中心とする同心状に配置されている。軸受２４側には活線側の接触子である第一の固定側接触子２０が配置され、外周側には非活線側の接触子である第二の固定側接触子２２が配置されている。また、異なる相の接触子は、円周方向に等間隔にて配置されている。（ａ）においては、軸受２４を通り、互いに直交する２直線にて分割された４つの領域に各相が割り当てられている。図中、右上部分がＢ相、右下部分がＷ相、左下部分がＲ相、左上部分がＮ相の接触子が配置される領域となっている。言い換えれば、軸受２４を中心とする中心角９０度の扇形が各相の領域である。
図４（ｂ）に示すように、可動側支持体４２の前面には、導電体から成り、円弧状に形成された第一の可動側接触子４４、第二の可動側接触子４６、第一の検知回路側接触子４８及び第二の検知回路側接触子５０が配置されている。回動軸５８側には活線側の接触子である第一の可動側接触子４４と第一の検知回路側接触子４８が配置され、外周側には非活線側の接触子である第二の可動側接触子４６と第二の検知回路側接触子５０が配置されている。つまり、活線側の接触子と非活線側の接触子とは、回動軸５８を中心とする同心状に配置されている。
各接触子は、固定側支持体１２の背面に露出する各相の固定側接触子と対応する位置に配置されている。図中、左上部分がＢ相、左下部分がＷ相、右下部分がＲ相、右上部分がＮ相の接触子が配置される領域となっている。また、各相の領域内において、可動側接触子（４４、４６）と検知回路側接触子（４６、４８）とは、少なくとも固定側接触子の周方向長よりも短い間隔を空けて円周方向に配置されている。
【００２０】
図５（ａ）に示す状態は、可動側支持体４２が第一の位置にある状態を示しており、第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２と第一の検知回路側接触子４８及び第二の検知回路側接触子５０が接触して導通した状態にあり、第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２と第一の可動側接触子４４及び第二の可動側接触子４６とが非導通状態にある。
【００２１】
（ａ）の状態から可動側支持体４２を矢印Ａ１方向に回動させると、（ｂ）に示すように、第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２が、第一の検知回路側接触子４８及び第二の検知回路側接触子５０と第一の可動側接触子４４及び第二の可動側接触子４６に同時に接触した状態となる。固定側接触子が検知回路側接触子と可動側接触子の双方と導通した状態を設けるのは、ごく僅かでもテストプラグ１を経由した回路が開放することを防止するためである。
（ｂ）の状態からさらに可動側支持体４２を矢印Ａ１方向に回動させると、（ｃ）に示す状態となる。（ｃ）に示す状態は、可動側支持体４２が第二の位置にある状態を示しており、第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２と第一の可動側接触子４４及び第二の可動側接触子４６とが導通状態にあり、第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２と第一の検知回路側接触子４８及び第二の検知回路側接触子５０が非導通状態にある。
【００２２】
また、（ａ）の状態にあるとき回動制限用突起６０は、回動角制限用凹所２６の一方の端部と当接し、（ｃ）の状態にあるとき回動角制限用凹所２６の他方の端部と当接している。回動制限用突起６０は、回動角制限用凹所２６を超えて移動することができず、可動側支持体４２は、回動角制限用凹所２６と回動制限用突起６０との働きにより、所定の角度範囲内を往復移動するように制限されている。従って、異なる相の端子が導通することはない。
ここで、検知回路について図６に基づいて説明する。図６は、プラグ導体と検知回路との接続状態を説明するための模式的断面図であり、（ａ）は電流用検知回路を示し、（ｂ）は電圧用検知回路を示す図である。本図においては、第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２と、第一の検知回路側接触子４８及び第二の検知回路側接触子５０とが夫々導通した状態（第一の位置）を示している。なお、説明の便宜上、（ｂ）においては異なる相を１平面に示している。
可動側支持体４２内部において、第一の検知回路側接触子４８と第二の検知回路側接触子５０は、導線７２にて電気的に接続されている。また、可動側支持体４２内には、テストプラグ１がテストターミナル２００内に挿入されたときに、導線７２を介して電力系統の活電状態を検知する検知回路が内蔵されており、検知回路の検知した活電・非活電状態は、可動側支持体４２の背面に配置された報知手段としてのＬＥＤにて外部に報知される。なお、報知手段はＬＥＤ以外の視覚的な手段や、聴覚的な手段を用いてもよい。
【００２３】
（ａ）に示す電流用検知回路７０は、導線７２の中間部に巻き付けられた巻線７４により、導線７２に流れる電流を電流用検知回路７０内に取り込んで、この電流を利用してＬＥＤ７６を発光させる。ＬＥＤ７６は、電流が検知された場合に発光し、電流が検知されなかった場合には発光しない。このようにして、電力系統の活電・非活電状態を外部に報知できる。なお、電流用検知回路７０は相ごとに設けられる。
上述のようにプラグ部１８をテストターミナル２００内に挿入すると、プラグ部１８により第一の導体２０４及び第二の導体２０６が離間して、第一の導体２０４と第一のプラグ導体１４が導通し、第二の導体２０６と第二のプラグ導体１６とが導通した状態となるが（図２参照）、（ａ）に示すように電流用検知回路７０と第一のプラグ導体１４及び第二のプラグ導体１６とが導通した状態（第一の位置）にあっては、保護継電器の電源側と負荷側が導線７２にて接続された状態となっているので、テストプラグ１の挿入前後において保護回路の構成に実質的な変化はなく、テストターミナル２００を介して接続された保護継電器が作動することはない。従って、テストプラグ１の誤挿入による電力系統の停電事故を防止することができる。
【００２４】
一方、（ｂ）に示す電圧用検知回路８０が電流用検知回路７０と異なるのは、相間電圧を検知してＬＥＤ８２を発光させる点である。一例としてＢ相とＷ相を取り上げて説明するが、他の相間電圧の検知についても同様である。
電圧用検知回路８０においては、ＬＥＤ８２の一端子がＢ相の導線７２Ｂに電気的に接続され、他端子がＷ相の導線７２Ｗに電気的に接続されている。ＬＥＤ８２は、Ｂ相とＷ相の間に電位差がある場合に発光し、電位差がない場合には発光しない。このようにして、電力系統の活電・非活電状態を外部に報知できる。
また、電圧用検知回路８０と第一のプラグ導体１４及び第二のプラグ導体１６とが導通した状態（第一の位置）にあっては、保護継電器の電源側と負荷側が導線７２にて接続された状態となっているので、テストプラグ１の挿入前後において保護回路の構成に実質的な変化はなく、テストターミナル２００を介して接続された保護継電器が作動することはない。従って、テストプラグ１の誤挿入による電力系統の停電事故を防止することができる。
【００２５】
誤挿入防止用突起について図７に基づいて説明する。図７は、誤挿入防止突起について説明するための断面図であり、（ａ）は誤挿入防止用突起が没入した状態を示し、（ｂ）は誤挿入防止用突起が突出した状態を示す図である。（ａ）は可動側支持体４２が第一の位置にあるとき（図５（ａ）参照）に対応した図であり、（ｂ）は可動側支持体４２が第二の位置にあるとき（図５（ｃ）参照）に対応した図である。
誤挿入防止用突起９０は、回動軸５８の先端部に形成されたカム６２の外面と常時当接している。誤挿入防止用突起９０が当接するカム６２の部位と回動軸５８の回動中心との距離変化に応じて、誤挿入防止用突起９０が開口３０から突出量が変化する。（ａ）の状態から可動側支持体４２を矢印Ａ１方向に回動させると、その回動に応じてカム６２が誤挿入防止用突起９０を押圧し、（ｂ）に示すように誤挿入防止用突起９０が開口３０から突出する。
（ａ）の状態は、第一のプラグ導体１４及び第二のプラグ導体１６と検知回路とが導通している場合であり、プラグ部１８をテストターミナル２００内に挿入しても、感電事故や停電事故等を起こす虞はない。従って、誤挿入防止用突起９０が没入して、プラグ部１８がテストターミナル２００内へ進入することを許容する。
（ｂ）の状態は、第一のプラグ導体１４及び第二のプラグ導体１６と第一の可動側接触子４４及び第二の可動側接触子４６とが導通している場合であり、この状態にてプラグ部１８をテストターミナル２００内に挿入すると、試験端子への試験装置の接続状況によっては感電事故や停電事故等を起こす可能性がある。従って、誤挿入防止用突起９０を開口３０から突出させることにより、プラグ部１８がテストターミナル２００内へ進入することを阻止して、感電事故や停電事故等といった不慮の事故を防止する。
【００２６】
本実施形態に係るテストプラグの使用法について説明する。
まず試験端子５６に保護継電器を試験するための試験装置を接続する。次に、可動側支持体４２を第一の位置に調整し、第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２と第一の検知回路側接触子４８及び第二の検知回路側接触子５０とが導通した状態とする。このとき、誤挿入防止用突起９０は絶縁体２８内に没入した状態である。次に、プラグ部１８をテストプラグ挿入口２０２からテストターミナル２００に挿入する。
ＬＥＤ７６が点灯した場合には、電力系統が活電状態にあるので、状況に合わせて対応する。例えば、本来挿入するテストターミナル２００とは異なるテストターミナルにテストプラグ１を挿入していた場合には、一旦テストプラグ１を抜き、改めて正しいテストターミナル２００にテストプラグ１を挿入する措置をとることができる。また、そのまま継続して保護継電器の試験を行う場合には、可動側支持体４２を矢印Ａ１方向に回動させて第二の位置とし、試験装置と保護継電器との間で試験回路を形成して、保護継電器の試験を行う。
ＬＥＤ７６が消灯したままの場合には、可動側支持体４２を矢印Ａ１方向に回動させて第二の位置とし、試験装置と保護継電器との間で試験回路を形成して保護継電器の試験を行う。
保護継電器の試験が終了した後は、可動側支持体４２を矢印Ａ２方向に回動させて第一の位置とした後、テストプラグ１をテストターミナル２００から抜き出す。
【００２７】
以上のように本実施形態によれば、線路の活電状態を確認してから試験回路と接続できるので、停電事故や感電事故といった不慮の事故を防止することができる。また、プラグ導体が検知回路と導通した状態と試験端子と導通した状態とを、可動側支持体を回動させるだけで切り替えることができるので、作業効率を高めることができる。また、可動側支持体が第二の位置にあるときはテストプラグのテストターミナルへの進入が機械的に阻止されるので、ヒューマンエラーによる停電事故や感電事故といった不慮の事故を防止する効果を十分に得ることができる。
【００２８】
〔第二の実施形態〕
本発明の第二の実施形態について図８及び図９に基づいて説明する。図８は、本実施形態に係る接触子の配置を示す図であり、（ａ）は固定側支持体の背面を示す図であり、（ｂ）は可動側支持体の前面を示す図である。図９（ａ）乃至（ｃ）は、本実施形態に係る可動側支持体の回動と各接触子との接触関係をテストプラグの背面側から観察した透視図である。本実施形態においては、固定側支持体及び可動側支持体表面から露出した接触子の配置を変更することにより、第一の位置から第二の位置へ移行するときの可動側支持体の移動量を増大させた点に特徴がある。以下、第一の実施形態と同一の部材には同一の符号を付してその説明を省略する。
【００２９】
図８（ａ）に示す固定側支持体１００の背面には、円弧形状の第一の固定側接触子１０２と第二の固定側接触子１０４が軸受２４を中心とする同心状に配置されている。本実施形態においては、図中、軸受２４を中心として上下２分割した領域のうち、下部外周側がＢ相、軸受側がＷ相、上部軸受側がＲ相、外周側がＮ相の領域となっている。つまり、軸受２４を中心とする中心角１８０度の扇形をさらに径方向に２分割して各相の領域としている。各領域には、夫々の領域に対応した接触子が配置されている。各領域の軸受側には活線側の接触子が配置され、外周側には非活線側の接触子が配置されている。
また、図８（ｂ）に示すように、可動側支持体１１０の前面には、導電体から成り、円弧状に形成された第一の可動側接触子１１２、第二の可動側接触子１１４、第一の検知回路側接触子１１６及び第二の検知回路側接触子１１８が配置されている。可動側支持体１１０の前面における各相の配置と、活線側の接触子及び非活線側の接触子の配置関係は固定側支持体１００と同様である。また、各相の領域内において、可動側接触子（１１２、１１４）と検知回路側接触子（１１６、１１８）とは、少なくとも固定側接触子の周方向長よりも短い間隔をあけて円周方向に配置されている。
【００３０】
図９（ａ）は、可動側支持体１１０が第一の位置にある状態を示しており、第一の固定側接触子１０２及び第二の固定側接触子１０４と第一の検知回路側接触子１１６及び第二の検知回路側接触子１１８が接触して導通した状態にあり、第一の固定側接触子１０２及び第二の固定側接触子１０４と第一の可動側接触子１１２及び第二の可動側接触子１１４とが非導通状態にある。
（ａ）の状態から矢印Ｂ方向に回動させると、（ｂ）に示すように、第一の固定側接触子１０２及び第二の固定側接触子１０４が、第一の検知回路側接触子１１６及び第二の検知回路側接触子１１８と第一の可動側接触子１１２及び第二の可動側接触子１１４に同時に接触した状態となる。
（ｂ）の状態からさらに可動側支持体１１０を矢印Ｂ方向に回動させると、（ｃ）に示す状態、すなわち可動側支持体１１０が第二の位置となり、第一の固定側接触子１０２及び第二の固定側接触子１０４と第一の可動側接触子１１２及び第二の可動側接触子１１４とが導通状態となり、第一の固定側接触子１０２及び第二の固定側接触子１０４と第一の検知回路側接触子１１６及び第二の検知回路側接触子１１８が非導通状態となる。
本実施形態においては、異なる相の接触子を可動側支持体の移動方向と交差する方向に配置した。具体的には、可動側支持体が円弧状の軌跡を描いて移動するのに対して、異なる相の接触子を同心状に、つまり径方向に並べて配置したので、導通・非導通状態を切り替える際に可動側支持体の移動量（回動角度）を大きくとることができる。従って、第一の実施形態に比べて誤挿入防止用突起の突出量を増大させることができ（図７参照）、誤挿入防止効果を高めることができる。
【００３１】
〔第三の実施形態〕
本発明の第三の実施形態について図１０及び図１１に基づいて説明する。図１０は、本実施形態に係るテストプラグの斜視図である。図１１は、本実施形態に係るテストプラグの分解斜視図である。本実施形態においては、可動側支持体が固定側支持体に対して直線的に移動する点に特徴がある。以下、第一の実施形態と同一の部材には同一の符号を付してその説明を省略する。
テストプラグ２は、プラグ部１２４を前方に突出させた固定側プラグユニット１２０と、固定側プラグユニット１２０の背面に対して直線的に往復移動可能に組み付けられた可動側プラグユニット１４０と、を備えている。
固定側プラグユニット１２０は、絶縁材料から成る固定側支持体１２２と、第一のプラグ導体１４及び第二のプラグ導体１６とを備えたプラグ部１２４と、を備える。
固定側支持体１２２は略直方体形状の部材であり、矩形状の背面には、固定側支持体１２２の前方に向けて貫通形成されて、可動側プラグユニット１４０を幅方向（図中矢印Ｃ１、Ｃ２方向）に案内する案内部１２６と、第一のプラグ導体１４及び第二のプラグ導体１６と夫々相毎に電気的に接続された第一の固定側接触子１２８（１２８Ｂ、１２８Ｗ、１２８Ｒ、１２８Ｎ）及び第二の固定側接触子１３０（１３０Ｂ、１３０Ｗ、１３０Ｒ、１３０Ｎ）と、を備えている。また、第一のプラグ導体１４Ｎと第二のプラグ導体１６Ｎとを絶縁する絶縁体２８の先端側側面には、可動側プラグユニット１４０の往復移動に応じて誤挿入防止用突起１６６が出没する開口３１が形成されている。
【００３２】
可動側プラグユニット１４０は、絶縁材料から成り固定側支持体１２２の背面に対して直線的に幅方向に往復移動可能に構成された可動側支持体１４２と、可動側支持体１４２の前面に露出配置され可動側支持体１４２が往復移動する過程で第一の固定側接触子１２８及び第二の固定側接触子１３０と導通、非導通状態に切り替わる第一の可動側接触子１４４及び第二の可動側接触子１４６と、可動側支持体１４２の前面の他の部位に露出配置され可動側支持体１４２が往復移動する過程で第一の固定側接触子１２８及び第二の固定側接触子１３０と導通、非導通状態に切り替わり且つ電流用検知回路７０と接続された第一の検知回路側接触子１４８、及び第二の検知回路側接触子１５０と、可動側支持体の前面に突出形成されて案内部１２６に挿入されることにより、可動側支持体１４２を矢印Ｃ１、Ｃ２方向に往復移動させる突出片１５２と、を備えている。
固定側接触子、可動側接触子及び検知回路側接触子について図１２及び図１３に基づいて説明する。図１２は、接触子の配置を示す図であり、（ａ）は固定側支持体の背面を示す図であり、（ｂ）は可動側支持体の前面を示す図である。図１３（ａ）乃至（ｃ）は、可動側支持体の回動と各接触子との接触関係をテストプラグの背面側から観察した透視図である。
【００３３】
図１２（ａ）に示すように、固定側支持体１２２の背面において、長辺方向と短辺方向に夫々２分割された４つの各領域に各相が割り当てられている。図中右上部分がＢ相、右下部分がＷ相、左上部分がＲ相、左下部分がＮ相の領域となっており、各領域には夫々の領域に対応した接触子が配置されている。各領域には、導電体から成り、矩形状に形成された第一の固定側接触子１２８と第二の固定側接触子１３０が、可動側支持体１４２の移動方向と交差する方向に並べられている。各領域の図中下方には活線側の接触子である第一の固定側接触子１２８が配置され、各領域の図中上方には非活線側の接触子である第二の固定側接触子１３０が配置されている。
図１２（ｂ）に示すように、可動側支持体１４２の前面には、導電体から成り、矩形状に形成された第一の可動側接触子１４４、第二の可動側接触子１４６、第一の検知回路側接触子１４８及び第二の検知回路側接触子１５０が配置されている。可動側支持体１４２の前面における各相の配置と、活線側の接触子及び非活線側の接触子の配置関係は固定側支持体１２２と同様である。また、各相の領域内において可動側接触子（１４４、１４６）と検知回路側接触子（１４８、１５０）は、少なくとも固定側接触子の幅方向長よりも短い間隔を空けて直線的に配置されている。
【００３４】
図１３（ａ）は、可動側支持体１４２が第一の位置にある状態を示している。この状態においては、第一の固定側接触子１２８及び第二の固定側接触子１３０と第一の検知回路側接触子１４８及び第二の検知回路側接触子１５０が接触して導通した状態にあり、第一の固定側接触子１２８及び第二の固定側接触子１３０と第一の可動側接触子１４４及び第二の可動側接触子１４６とが非導通状態にある。
（ａ）の状態から可動側支持体１４２を矢印Ｃ１方向に移動させると、（ｂ）に示すように、第一の固定側接触子１２８及び第二の固定側接触子１３０が、第一の検知回路側接触子１４８及び第二の検知回路側接触子１５０と第一の可動側接触子１４４及び第二の可動側接触子１４６に同時に接触した状態となる。
（ｂ）の状態からさらに可動側支持体１１０を矢印Ｃ１方向に移動させると、（ｃ）に示す状態、すなわち可動側支持体１４２が第二の位置となり、第一の固定側接触子１２８及び第二の固定側接触子１３０と第一の可動側接触子１４４及び第二の可動側接触子１４６とが導通状態となり、第一の固定側接触子１２８及び第二の固定側接触子１３０と第一の検知回路側接触子１４８及び第二の検知回路側接触子１５０が非導通状態となる。
【００３５】
ここで、プラグ部のテストプラグ挿入口への進入を阻止する誤挿入防止機構について図１４に基づいて説明する。図１４は、誤挿入防止機構を第二のプラグ導体側から見た透視図であり、（ａ）は誤挿入防止用突起の没入状態を示し、（ｂ）は突出状態を示し、（ｃ）はコイルバネの弾性変形により没入した状態を示す図である。なお、図１４の（ａ）乃至（ｃ）は、夫々図１３（ａ）乃至（ｃ）と対応している。
誤挿入防止機構１６０は、一端部側１６２ａが突出片１５２に押圧されるリンク片１６２と、リンク片１６２の中間部を回動自在に軸支する回動軸１６４と、リンク片１６２の他端部側１６２ｂに押圧されて、開口３１から出没する誤挿入防止用突起１６６と、誤挿入防止用突起１６６とリンク片１６２の他端部側１６２ｂとの間に配置されて、絶縁体２８から外部に突出した誤挿入防止用突起１６６を弾性力により没入させるコイルバネ１６８とを備える。
誤挿入防止用突起１６６は、可動側支持体１４２の直線移動にしたがって、その移動方向と反対の方向に移動する。（ａ）に示す状態から可動側支持体１４２が矢印Ｃ１方向に移動すると、突出片１５２が一端部側１６２ａを押圧して、リンク片１６２が回動軸１６４を中心に矢印Ｄ１方向に回動し、他端部側１６２ｂがコイルバネ１６８を介して誤挿入防止用突起１６６を突出させる（図（ｂ）の状態）。この状態にあっては、プラグ部１２４のテストターミナル２００への進入が阻止される。
【００３６】
ここで、テストターミナル２００内部の幅方向には、誤挿入防止用突起１６６が突出可能な空間が少ないため、テストターミナル２００の内部にプラグ部１２４を挿入した状態では可動側支持体１４２を移動させることができなくなる虞がある。そこで、リンク片１６２の他端部側１６２ｂと誤挿入防止用突起１６６との間にコイルバネ１６８を配置し、誤挿入防止用突起１６６が没入する方向に所定の押圧力を受けた場合には、（ｃ）に示すように、コイルバネ１６８の弾性変形により誤挿入防止用突起１６６がプラグ部１２４内部に没入するようにしている。
以上のように本実施形態によれば、可動側支持体を直線的に移動させることによっても、第一の実施形態と同様の効果を得ることができる。
なお、本実施形態においては、可動側支持体をプラグ導体の相間方向（矢印Ｃ１、Ｃ２方向）に往復移動する構成としたが、活線側導体と非活線側導体方向（図１０中、上下方向）に往復移動するように構成してもよいし、プラグ導体の突出方向に往復移動するように構成してもよい。
【００３７】
〔第四の実施形態〕
本発明の第四の実施形態について図１５に基づいて説明する。図１５は、本実施形態に係るテストプラグの模式的断面図である。本実施形態においては、電力系統が活電状態にあるときに、可動側支持体の移動を阻止する移動阻止機構を備えた点に特徴がある。以下、第一の実施形態と同一の部材には同一の符号を付してその説明を省略する。
テストプラグ３の移動阻止機構１７０は、可動側支持体４２に内蔵され、第一の検知回路側接触子４８と第二の検知回路側接触子５０とを接続する導線７２内を流れる電流を検知する検知回路１７２と、常時においては固定側支持体１２内に没入し、検知回路１７２により検知された電流により固定側支持体１２から可動側支持体４２に跨った状態にて突出する突出部材１７８と、可動側支持体４２に形成されて突出した突出部材１７８を受け入れる凹所１７９と、可動側支持体４２側に突出した突出部材１７８を固定側支持体１２側に向けて押圧して突出部材１７８を没入させる解除手段１８０と、を備えている。
検知回路１７２は、導線７２内を流れる電流を回路内に取り込む巻線１７４と、取り込まれた電流によって一時的に磁力を発生させる電磁石１７６と、を備える。突出部材１７８は磁性体からなり、電磁石１７６の近傍、具体的には電磁石１７６の発生させた磁力を受けて可動側支持体４２側へ移動可能な位置に配置されている。
【００３８】
テストプラグ３の使用法について説明する。可動側支持体４２を第一の位置に調整し、第一の固定側接触子２０及び第二の固定側接触子２２と第一の検知回路側接触子４８及び第二の検知回路側接触子５０とが導通した状態でプラグ部１８をテストプラグ挿入口２０２からテストターミナル２００に挿入する。
電力系統が活電状態にあって導線７２内に電流が流れると、電流を検知回路１７２が取り込んで電磁石１７６が磁力を発生させる。突出部材１７８が電磁石１７６に引き寄せられて可動側支持体４２側に突出し、可動側支持体４２の移動が阻止される。
なお、電力系統が活電状態にある場合であっても、試験装置により保護継電器の検査をする場合がある。この場合には、可動側支持体４２の背面側から解除手段１８０を押圧して突出部材１７８を固定側支持体１２内に没入させてから可動側支持体４２を移動させればよい。
また、検知回路１７２に流れる電流を利用して突出部材１７８を移動させるのではなく、突出部材１７８を移動させる専用の電源を用意し、検知回路１７２に流れる電流を受けて、突出部材１７８を移動させるようにしてもよい。この場合、導線７２内を流れる電流が微弱であっても、確実に突出部材１７８を可動側支持体側に突出させることができる。
【００３９】
以上のように本実施形態によれば、電力系統が活電状態にあるときには、可動側支持体の移動が移動阻止機構により阻止されるので、試験端子に接続された試験回路に誤って接続することよる停電事故や感電事故を防止することができる。
なお、本実施形態は電流用の移動阻止機構の例により説明したが、第一の実施形態にて説明した電圧用検知回路８０（図６（ｂ）参照）のように、相間電位差を利用して突出部材を突出させる構成こともでき、電圧用の移動阻止機構を構成することができる。
また、第一の実施形態にて説明した報知手段と移動阻止機構との双方を備えたテストプラグとしてもよい。
【００４０】
〔第五の実施形態〕
本発明の第五の実施形態について図１６に基づいて説明する。図１６（ａ）、（ｂ）は、本実施形態に係るテストプラグの一部を拡大して示した模式的断面図である。本実施形態においては、電力系統が活電状態にあるときに、可動側支持体の移動を阻止する移動阻止機構を備えた点に特徴がある。以下、第一及び第四の実施形態と同一の部材には同一の符号を付してその説明を省略する。
可動側支持体の移動を阻止する突出部材は、固定側支持体１２から可動側支持体４２に跨って突出することにより可動側支持体４２の移動を阻止するため、可動側支持体４２の移動に対抗する強度を備えている必要がある。しかし、導線７２内に流れる電流が微弱である場合には、電磁石１７６が突出部材を突出させるだけの磁力を発生させることができない虞がある。
本実施形態に係る移動阻止機構１９０においては、検知回路１７２が導線７２に流れる電流を検知したときに、重力を利用して固定側支持体１２から可動側支持体４２に跨って斜め下方向に突出する突出部材１９２と、磁性体から成り常時において突出部材１９２の可動側支持体４２への突出を阻止するストッパ１９４と、可動側支持体４２側に突出した突出部材１９２を固定側支持体１２側に向けて押圧して突出部材１９２を没入させる解除手段１９６と、を備えている。
【００４１】
ストッパ１９４は、突出部材１９２が可動側支持体４２側へ突出することを阻止できればよいので、第四の実施形態に係る突出部材１７８に比べて軽量化することができる。従って、導線７２内に流れる少量の電流でストッパ１９４を動作させることかできる。また、突出部材１９２は、固定側支持体１２から可動側支持体４２に向かって斜め方向に落下移動するように構成されているので、ストッパ１９４が磁力により電磁石１７６側に引き寄せられたときに、重力により自然と可動側支持体４２側に突出する。
以上のように本実施形態によれば、電力系統が活電状態にあり、かつ導線内に流れる電流が微弱である場合にも、確実に突出部材を可動側支持体側へ突出させることができ、可動側支持体の移動が阻止されるので、試験端子に接続された試験回路に誤って接続することよる停電事故や感電事故を防止することができる。
【符号の説明】
【００４２】
１、２、３…テストプラグ、１０…固定側プラグユニット、１２…固定側支持体、１４…第一のプラグ導体、１６…第二のプラグ導体、１８…プラグ部、２０…第一の固定側接触子、２２…第二の固定側接触子、２４…軸受、２６…回動角制限用凹所、２８…絶縁体、３０、３１…開口、４０…可動側プラグユニット、４２…可動側支持体、４４…第一の可動側接触子、４６…第二の可動側接触子、４８…第一の検知回路側接触子、５０…第二の検知回路側接触子、５２…第一の試験用端子、５４…第二の試験用端子、５６…試験端子、５８…回動軸、６０…回動制限用突起、６２…カム、７０…電流用検知回路、７２、７２Ｂ、７２Ｗ…導線、７４…巻線、７６…ＬＥＤ、８０…電圧用検知回路、８２…ＬＥＤ、９０…誤挿入防止用突起、１００…固定側支持体、１０２…第一の固定側接触子、１０４…第二の固定側接触子、１１０…可動側支持体、１１２…第一の可動側接触子、１１４…第二の可動側接触子、１１６…第一の検知回路側接触子、１１８…第二の検知回路側接触子、１２０…固定側プラグユニット、１２２…固定側支持体、１２４…プラグ部、１２６…案内部、１２８…第一の固定側接触子、１３０…第二の固定側接触子、１４０…可動側プラグユニット、１４２…可動側支持体、１４４…第一の可動側接触子、１４６…第二の可動側接触子、１４８…第一の検知回路側接触子、１５０…第二の検知回路側接触子、１５２…突出片、１６０…誤挿入防止機構、１６２…リンク片、１６２ａ…一端部側、１６２ｂ…他端部側、１６４…回動軸、１６６…誤挿入防止用突起、１６８…コイルバネ、１７０…移動阻止機構、１７２…検知回路、１７４…巻線、１７６…電磁石、１７８…突出部材、１７９…凹所、１８０…解除手段、１９０…移動阻止機構、１９２…突出部材、１９４…ストッパ、１９６…解除手段、２００…テストターミナル、２０２…テストプラグ挿入口、２０４…第一の導体、２０４ａ…凸部、２０６…第二の導体、２０６ａ…凸部、２１０…配電盤、３００…線路、３０２…変流器、３０４…保護継電器、３０６…遮断器、３１０…テストターミナル、３１２…第一の導体、３１４…第二の導体、３１６…テストプラグ挿入口、３２０…テストプラグ、３２２…第一のプラグ導体、３２４…第二のプラグ導体、３２６…試験端子、３３０…試験装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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