(57)【要約】【課題】調整されたライトストラテジーが夫々の光ディスク装置に適用できるか否かの再生品質等の解析を不要とし且つ、光ディスク装置毎の最適化を不要とするライトストラテジーの調整に資する光ディスク装置を選定する。【解決手段】光ディスク装置（１０）に搭載され、光ディスク（１）に対するデータの書き込みと読み出しを制御するための半導体装置（４）は、光ディスクから読み出されたデータに基づいて再生品質を評価するための評価データを生成すると共に、他の複数の光ディスク装置に対応する前記評価データを入力する。そして、前記半導体装置は、入力した前記評価データに基づいて、目標とする評価品質から逸脱した光ディスク装置を判別し、判別結果に基づいてライトストラテジーを調整するための候補となる光ディスク装置を選定するための処理を実行する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク装置に搭載され、光ディスクに対するデータの書き込みと読み出しを制御するための半導体装置であって、
前記半導体装置は、前記制御のためのデータ処理を実行するデータ処理制御部と、
光ディスクから読み出されたデータに基づいて再生品質を示す情報とベータを測定し、再生品質を評価するための評価データを生成する測定部と、を有し、
前記データ処理制御部は、他の複数の光ディスク装置に対応する前記評価データを入力し、入力した前記評価データに基づいて、目標とする評価品質から逸脱した光ディスク装置を判別し、判別結果に基づいてライトストラテジーを調整するための候補となる光ディスク装置を選定するための処理を実行する、半導体装置。
【請求項２】
前記データ処理制御部は、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データに基づいて、ベータの平均値を算出し、算出されたベータの平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したベータである光ディスク装置を判別する、請求項１記載の半導体装置。
【請求項３】
前記再生品質を示す情報は、前記読み出されたデータに係る信号の位相のずれ幅を表わすジッタである、請求項２記載の半導体装置。
【請求項４】
前記データ処理制御部は、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データに基づいて、前記ジッタの平均値を算出し、算出された前記ジッタの平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱した前記ジッタである光ディスク装置を判別する、請求項３記載の半導体装置。
【請求項５】
前記データ処理制御部は、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データに基づいて、再生品質の目標とされるジッタ以下となるジッタを取り得るベータの範囲を表わす余裕度を算出し、前記余裕度が所定の閾値より小さい値である光ディスク装置を判別する、請求項３又は４記載の半導体装置。
【請求項６】
前記再生品質を示す情報は、前記読み出されたデータのＰＩエラーの値である、請求項２記載の半導体装置。
【請求項７】
前記データ処理制御部は、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データに基づいて、ＰＩエラーの値の平均値を算出し、算出されたＰＩエラーの値の平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したＰＩエラーの値である光ディスク装置を判別する、請求項６記載の半導体装置。
【請求項８】
前記データ処理制御部は、再生品質の目標とされるＰＩエラーの値以下となるＰＩエラーの値を取り得るベータの範囲を表わす余裕度を算出し、前記余裕度が所定の閾値より小さい値である光ディスク装置を判別する、請求項６又は７記載の半導体装置。
【請求項９】
前記データ処理制御部は、前記判別された光ディスク装置を前記候補から除外し、除外されなかった光ディスク装置のうち前記余裕度が小さい順に前記候補の光ディスク装置を選定する、請求項５又は８記載の半導体装置。
【請求項１０】
前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データは、記録速度毎に生成され、
前記データ処理制御部は、記録速度毎に前記判別を実行し、少なくとも一つの記録倍速において前記判別された光ディスク装置を除外対象とする、請求項９記載の半導体装置。
【請求項１１】
前記データ処理制御部は、前記除外されなかった光ディスク装置の全ての記録倍速における前記余裕度の平均値を算出し、算出された平均値の小さい順に前記候補の光ディスク装置を選定する、請求項１０記載の半導体装置。
【請求項１２】
前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データは、特定の記録倍速において生成されたデータである、請求項９記載の半導体装置。
【請求項１３】
複数の光ディスク装置の中からライトストラテジーを調整するための光ディスク装置を選定する光ディスク装置選定方法であって、
夫々の前記光ディスク装置が、光ディスク装置の再生品質を測定するためのデータがレーザパワーに応じて記録された評価用ディスクを再生し、再生品質を示す情報とベータを測定し、測定結果を含む評価データを生成する第１処理と、
前記複数の光ディスク装置のうち特定の光ディスク装置、又は特定のプログラム処理装置が、前記第１処理によって生成された夫々の評価データを入力し、入力した評価データに基づいてライトストラテジーを調整するための光ディスク装置を選定する第２処理と、を含み、
前記第２処理は、前記入力された評価データに基づいて、目標とする評価品質から逸脱した光ディスク装置を前記ライトストラテジーを調整するための光ディスク装置の候補から除外する第３処理と、
前記第３処理で除外されなかった光ディスク装置の中から前記ライトストラテジーを調整するための光ディスク装置を選択する第４処理と、を含む光ディスク装置選定方法。
【請求項１４】
前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて所定のレーザパワーにおけるベータの平均値を算出し、算出したベータの平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したベータである光ディスク装置を前記候補から除外する第５処理とを含む、請求項１３記載の光ディスク装置選定方法。
【請求項１５】
前記再生品質を示す情報は、前記読み出されたデータに係る信号の位相ずれを表わすジッタである、請求項１４記載の光ディスク装置選定方法。
【請求項１６】
前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて所定のレーザパワーにおけるジッタの平均値を算出し、算出したジッタの平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したジッタである光ディスク装置を前記候補から除外する第６処理と、を含む、請求項１５記載の光ディスク装置選定方法。
【請求項１７】
前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて再生品質の目標とされるジッタ以下となるジッタを取り得るベータの範囲を表わす余裕度を算出し、算出した前記余裕度が所定の閾値より小さい値である光ディスク装置を前記候補から除外する第７処理とを含む、請求項１５又は１６記載の光ディスク装置選定方法。
【請求項１８】
前記再生品質を示す情報は、読み出したデータに係るＰＩエラーの値である、請求項１４記載の光ディスク装置選定方法。
【請求項１９】
前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて所定のレーザパワーにおける前記ＰＩエラーの値の平均値を算出し、算出したＰＩエラーの値の平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したＰＩエラーの値である光ディスク装置を前記候補から除外する第６処理と、を含む、請求項１８記載の光ディスク装置選定方法。
【請求項２０】
前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて再生品質の目標とされる値以下となるＰＩエラーの値を取り得るベータの範囲を表わす余裕度を算出し、算出した余裕度が所定の閾値より小さい値である光ディスク装置を前記候補から除外する第７処理とを含む、請求項１８又は１９記載の光ディスク装置選定方法。
【請求項２１】
前記第４処理は、前記第３処理において除外されなかった光ディスク装置のうち、前記余裕度が小さい順に前記候補の光ディスク装置を選択する第８処理を含む、請求項１７又は２０記載の光ディスク装置選定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に関し、特に、光ディスク装置のライトストラテジーの調整のための技術に係り、例えば、光ディスク装置の選定を行うための半導体装置、及び光ディスク装置の選定方法に適用して有効な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在市販されているＤＶＤ−Ｒ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ−ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）等の書き込み又は書き換え可能な光ディスクは、ディスクの記録面の上にレーザ光が照射されることによって光記録媒体に熱変化が発生して情報が記録される。このとき、記録すべき情報に応じた時間幅を有する記録パルスによってレーザ光が変調され、記録すべき情報に応じた長さの記録マークが光ディスク上に形成される。当該記録マークを記録するためのレーザの変調波形の制御の方法はライトストラテジーと呼ばれ、光ディスク装置は、メディアの仕様や記録倍速に応じて最適なライトストラテジーを保持する。
【０００３】
各光ディスク装置におけるメディア毎の最適なライトストラテジーは例えば、特許文献１に記載された評価装置を用いて調整される。特許文献１では、パルス幅変調されたマークを記録する光ディスク記録ヘッドに、マーク長に相当する記録波形を出力する光ディスク記録波形発生装置において、書き込み系光ディスクの記録波形の作成、再生信号の測定、及び最適な記録波形の解析を自動で行える評価装置が開示されている。
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載の評価装置で調整したライトストラテジーをそのまま光ディスク装置に適用した場合、光ディスク装置の構成部品の組立て精度や温度等の使用環境によっては、前記光ディスク装置は品質の悪い記録を行い、再生不可能な記録マークを形成する可能性がある。これを解決する技術として、下記特許文献２乃至５に開示がある。
【０００５】
特許文献２に記載の技術は以下である。先ず、光ディスク装置が、装填された光ディスクに対する最初のデータ記録開始前に、光ディスク装置内のメモリに登録されているストラテジーデータを使用してＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を実行して適正記録パワーを求める。次に、光ディスク装置が、光ディスクに記録されている標準ストラテジーデータを使用してＯＰＣを実行して適正記録パワーを求める。そして、光ディスク装置が夫々の適正記録パワーよりもα％低いパワーで試し書きして再生ジッタを検出し、２つの検出再生ジッタを比較し、特性が良好な方のストラテジーを採用する。
【０００６】
特許文献３に記載の技術は以下である。光ディスク装置内のコントローラが、光ディスクのＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）にテストデータを記録し、テストデータの再生信号の立上ジッタ（ピットジッタ）と立下ジッタ（ランドジッタ）を算出する。算出した立上ジッタが立下ジッタよりも所定値以上大きい場合には、３Ｔパルスの照射エネルギが過剰であると判定して３Ｔパルスのパルス幅を小さくし、立下ジッタが立上ジッタよりも所定値以上大なる場合には、３Ｔパルスの照射エネルギが不足していると判定し、３Ｔパルスのパルス幅を増大させる。
【０００７】
特許文献４に記載の技術は以下である。光ディスク装置内のシステムコントローラが、光ディスクのテストエリアを使用して種々のライトストラテジーでテストデータの試し書きを実行して、テストデータの再生信号品質を評価することで最適なライトストラテジーを選択する。このとき前記システムコントローラは、ライトストラテジー毎のエラーレート最小値Ｅｂ、しきいエラーレートが得られる記録パワー範囲Ｗｅ、目標とするベータ（β）が得られる記録パワーＰｍｂ、及び最小エラーレートが得られる記録パワーＰｅｂに基づいて算出した評価値Ｈｓｔに応じて、最小の評価値Ｈｓｔが得られるライトストラテジーを最適ライトストラテジーとする。
【０００８】
特許文献５に記載の技術は以下である。光ディスク装置は、光ディスクの記録データから得られる再生信号のジッタを検出し、当該ジッタが所定の閾値を超えた場合に、ライトストラテジーのパラメータのうち、ジッタへの影響度の比較的小さいパラメータを調整することで、記録媒体への書き込みを行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２００２−２０８１３６号公報
【特許文献２】特開２００６−３３８７２４号公報
【特許文献３】特開２００３―２０８７１６号公報
【特許文献４】特開２００７−２８７２２９号公報
【特許文献５】特開２００８−２９９８９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明者は本発明に先立って、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）等の複数の規格の光ディスクの記録を可能とするマルチドライブ型光ディスク装置に搭載される信号処理用の大規模半導体集積回路（ＬＳＩ：Ｌａｒｇｅ  Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  ｃｉｒｃｕｉｔｓ）の研究・開発に従事した。この研究・開発の当初において、本発明者は上記特許文献１乃至５に記載された背景技術について検討を行った結果、下記の点で改良の余地があると考えた。
【００１１】
第１に、従来は、特定の光ディスク装置で調整されたライトストラテジーが夫々の光ディスク装置に適用できるか否かを再生品質等の解析を行うことで判断し、必要に応じてライトストラテジーの再調整等を行っていた。これを行うためには、上記特許文献１に記載されている評価装置等を用いる必要があり、作業の負担が大きく、ライトストラテジーの調整に時間を要する。
【００１２】
第２に、上記特許文献２乃至５の技術では、光ディスクへのデータの書き込みの際に、夫々の光ディスク装置が予め格納されているライトストラテジーの最適化を行う必要がある。このため、予め格納されているライトストラテジーによる品質評価のための測定等やライトストラテジーの調整に時間を要し、マウントしてからデータの書き込みを開始するまでの時間が増大する可能性がある。
【００１３】
本発明の目的は、調整されたライトストラテジーが夫々の光ディスク装置に適用できるか否かの再生品質等の解析を不要とし且つ、光ディスク装置毎の最適化を不要とするライトストラテジーの調整に資する光ディスク装置を選定することにある。
【００１４】
本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。
【００１６】
すなわち、光ディスク装置に搭載され、光ディスクに対するデータの書き込みと読み出しを制御するための半導体装置は、光ディスクから読み出されたデータに基づいて再生品質を評価するための評価データを生成すると共に、他の複数の光ディスク装置に対応する前記評価データを入力する。そして、前記半導体装置は、入力した前記評価データに基づいて、目標とする評価品質から逸脱した光ディスク装置を判別し、判別結果に基づいてライトストラテジーを調整するための候補となる光ディスク装置を選定するための処理を実行する。
【発明の効果】
【００１７】
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである。
【００１８】
すなわち、半導体装置は、調整されたライトストラテジーが夫々の光ディスク装置に適用できるか否かの再生品質等の解析を不要とし、且つ光ディスク装置毎の最適化を不要とするライトストラテジーの調整に資する光ディスク装置を選定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】図１は、実施の形態１に係る光ディスク装置１０の構成の一例を示すブロック図である。
【図２】図２は、光ディスク装置の品質評価を行うために作成された評価ディスクの記録内容の一例を示す説明図である。
【図３】図３は、実施の形態１に係る光ディスク装置１０のβマージンの一例を示す説明図である。
【図４】図４は、ライトストラテジー調整用の光ディスク装置の選定の説明図である。
【図５】図５は、実施の形態１に係るライトストラテジー調整用光ディスク装置の選定処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図６】図６は、評価ディスク４００の再生と測定結果の記録の方法の一例を表わす説明図である。
【図７】図７は、ステップ３１における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【図８】図８は、ステップ３２における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【図９】図９は、ステップ３３における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【図１０】図１０は、ステップ３４における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【図１１】図１１は、実施の形態２に係るライトストラテジー調整用の光ディスク装置の選定処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図１２】図１２は、実施の形態３に係るライトストラテジー調整用の光ディスク装置の選定処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図１３】図１３は、ステップ４１における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【図１４】図１４は、ステップ４２における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【図１５】図１５は、ステップ４３における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【図１６】図１６は、ステップ４４における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【図１７】図１７は、光ディスク装置１０による光ディスク１の再生動作の一例を示すフロー図である。
【図１８】図１８は、光ディスク装置１０による光ディスク１の記録動作の一例を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
１．実施の形態の概要
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面中の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
【００２１】
〔１〕（再生品質に基づいて、ライトストラテジーを調整するための光ディスク装置の選別を実行する光ディスク装置用の半導体装置）
本発明の代表的な実施の形態に係る半導体装置（４、４＿１〜４＿ｎ）は、光ディスク装置に搭載され、光ディスク（１）に対するデータの書き込みと読み出しを制御するための半導体装置である。前記半導体装置は、前記制御のためのデータ処理を実行するデータ処理制御部（４３）と、光ディスク（１、４００）から読み出されたデータに基づいて再生品質を示す情報とベータを測定し、再生品質を評価するための評価データを生成する測定部（４２）を有する。前記データ処理制御部は、他の複数の光ディスク装置に対応する前記評価データを入力し、入力した前記評価データに基づいて、目標とする評価品質から逸脱した光ディスク装置を判別し、判別結果に基づいてライトストラテジーを調整するための候補となる光ディスク装置を選定するための処理を実行する。
【００２２】
これによれば、前記半導体装置は、複数の光ディスク装置のうち目標とする評価品質から逸脱した光ディスク装置を判別することができるから、そのような光ディスク装置を、ライトストラテジーを調整する光ディスク装置の候補から除外することが可能となる。これにより、目標とする評価品質から逸脱していない光ディスク装置の中からライトストラテジーを調整する光ディスク装置を選定すればよい。そして、その選定した光ディスク装置によりライトストラテジーを調整することで、必要な精度を持ったライトストラテジーが得られるから、夫々の光ディスク装置に適用できるか否かの判断は不要となり、そのライトストラテジーを他の光ディスク装置にも適用することで、光ディスク装置毎の最適化も不要となり、ライトストラテジーの調整に要する時間の短縮に資する。また、前記半導体装置が前記選定を行うから、ライトストラテジーの調整の際に評価装置等を用いる必要がない。
【００２３】
〔２〕（ベータに基づく除外処理の詳細）
項１の半導体装置において、前記データ処理制御部は、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データに基づいて、ベータの平均値を算出し、算出されたベータの平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したベータである光ディスク装置を判別する。
【００２４】
このように前記複数の光ディスク装置のベータの平均値を算出することで、前記複数の光ディスク装置の平均的な再生品質を把握することができる。これにより、平均的な再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００２５】
〔３〕（再生品質を示す情報はジッタ）
項２の半導体装置において、前記再生品質を示す情報は、前記読み出されたデータに係る信号の位相のずれ幅を表わすジッタである。
【００２６】
〔４〕（ジッタに基づく除外処理の詳細）
項３の半導体装置において、前記データ処理制御部は、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データに基づいて、前記ジッタの平均値を算出し、算出された前記ジッタの平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱した前記ジッタである光ディスク装置を判別する。
【００２７】
このように前記複数の光ディスク装置の前記ジッタの平均値を算出することで、前記複数の光ディスク装置の平均的な再生品質を把握することができる。これにより、平均的な再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００２８】
〔５〕（ジッタに基づくβマージンに基づく除外処理の詳細）
項３又は項４の半導体装置において、前記データ処理制御部は、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データに基づいて、再生品質の目標とされるジッタ（Ｊｔ）以下となるジッタを取り得るベータの範囲を表わす余裕度（βマージン）を算出し、前記余裕度が所定の閾値より小さい値である光ディスク装置を判別する。
【００２９】
このように前記余裕度を用いることで、光ディスク装置の再生品質を定量的に表わすことができる。これにより、目標とされる再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００３０】
〔６〕（再生品質を示す情報はＰＩエラー）
項２の半導体装置において、前記再生品質を示す情報は、前記読み出されたデータのＰＩエラーの値である。
【００３１】
〔７〕（ＰＩエラーに基づく除外処理の詳細）
項６の半導体装置において、前記データ処理制御部は、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データに基づいて、ＰＩエラーの値の平均値を算出し、算出されたＰＩエラーの値の平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したＰＩエラーの値である光ディスク装置を判別する。
【００３２】
このように前記複数の光ディスク装置の前記ＰＩエラーの値の平均値を算出することで、前記複数の光ディスク装置の平均的な再生品質を把握することができる。これにより、平均的な再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００３３】
〔８〕（ＰＩエラーに基づくβマージンに基づく除外処理の詳細）
項６又は７の半導体装置において、前記データ処理制御部は、再生品質の目標とされるＰＩエラーの値以下となるＰＩエラーの値を取り得るベータの範囲を表わす余裕度を算出し、前記余裕度が所定の閾値より小さい値である光ディスク装置を判別する。
【００３４】
これによれば、項５と同様に、目標とされる再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００３５】
〔９〕（判別結果に基づく候補の選定処理の詳細）
項５又は８の半導体装置において、前記データ処理制御部は、前記判別された光ディスク装置を前記候補から除外し、除外されなかった光ディスク装置のうち前記余裕度が小さい順に前記候補の光ディスク装置を選定する。
【００３６】
このように、平均的な再生品質を有する光ディスク装置のうち前記余裕度が小さい光ディスク装置を選択することで、他の複数の光ディスク装置に適用可能なライトストラテジーを生成するのに適した光ディスクを選定することが可能となる。
【００３７】
〔１０〕（すべての記録倍速において判別）
項９の半導体装置において、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データは、記録速度毎に生成され、前記データ処理制御部は記録速度毎に前記判別を実行し、少なくとも一つの記録倍速において前記判別された光ディスク装置を除外対象とする。
【００３８】
このように、光ディスク装置の記録倍速毎に前記判別を行うことで、目標とされる再生品質から逸脱した光ディスク装置をより精度良く除外することが可能となる。
【００３９】
〔１１〕（すべての記録倍速において選定）
項１０の半導体装置において、前記データ処理制御部は、前記除外されなかった光ディスク装置の全ての記録倍速における前記余裕度の平均値を算出し、算出された平均値の小さい順に前記候補の光ディスク装置を選定する。
【００４０】
このように、光ディスク装置の記録倍速毎の前記余裕度の平均値を用いることで、ライトストラテジーを生成するのに適した光ディスクの選定をより精度良く行うことが可能となる。
【００４１】
〔１２〕（一つの記録倍速において判別）
項１乃至９の何れかの半導体装置において、前記複数の光ディスク装置に対応して生成された前記評価データは、特定の記録倍速において生成されたデータである。
【００４２】
このように、光ディスク装置の記録倍速毎の前記評価データを用いずに、特定の記録倍速における前記評価データを用いて前記判別を行うことで、前記光ディスク装置の選定に要する時間を大幅に短縮することが可能となる。
【００４３】
〔１３〕（ライトストラテジーを調整する光ディスク駆動装置の選別方法）
本発明の代表的な実施の形態に係る光ディスク装置選定方法は、複数の光ディスク装置の中からライトストラテジーを調整するための光ディスク装置を選定する光ディスク装置選定方法である。前記光ディスク装置選定方法は、夫々の前記光ディスク装置が、光ディスク装置の再生品質を測定するためのデータがレーザパワーに応じて記録された評価用ディスクを再生し、再生品質を示す情報とベータを測定し、測定結果を含む評価データを生成する第１処理（Ｓ３１、Ｓ４１）を含む。また、前記光ディスク装置選定方法は、前記複数の光ディスク装置のうち特定の光ディスク装置、又は特定のプログラム処理装置が、前記第１処理によって生成された夫々の評価データを入力し、入力した評価データに基づいてライトストラテジーを調整するための光ディスク装置を選定する第２処理（Ｓ３２〜Ｓ３５、Ｓ４２〜Ｓ４５）と、を含む。前記第２処理は、前記入力された評価データに基づいて、目標とする評価品質から逸脱した光ディスク装置を前記ライトストラテジーを調整するための光ディスク装置の候補から除外する第３処理（Ｓ３２〜Ｓ３４、Ｓ４２〜Ｓ４４）とを含む。更に前記第２処理は、前記第３処理で除外されなかった光ディスク装置の中から前記ライトストラテジーを調整するための光ディスク装置を選択する第４処理（Ｓ３５、Ｓ４５）を含む。
【００４４】
これによれば、種々の処理装置により、複数の光ディスク装置のうち目標とする評価品質から逸脱した光ディスク装置をライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補から除外する処理を行うことが可能となる。これにより、項１と同様に、目標とする評価品質から逸脱していない光ディスク装置の中から選定した光ディスク装置により調整したライトストラテジーを他の光ディスク装置にも適用することで、光ディスク装置毎の最適化が不要となり、ライトストラテジーの調整に要する時間の短縮に資する。
【００４５】
〔１４〕（ベータに基づく除外処理の詳細）
項１３の光ディスク装置選定方法において、前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて所定のレーザパワーにおけるベータの平均値を算出し、算出したベータの平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したベータである光ディスク装置を前記候補から除外する第５処理（Ｓ３３、Ｓ４３）を含む。
【００４６】
これによれば、項２と同様に、平均的な再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００４７】
〔１５〕（再生品質を示す情報はジッタ）
項１３の光ディスク装置選定方法において、前記再生品質を示す情報は、前記読み出されたデータに係る信号の位相ずれを表わすジッタである。
【００４８】
〔１６〕（ジッタに基づく除外処理の詳細）
項１５の光ディスク装置選定方法において、前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて所定のレーザパワーにおけるジッタの平均値を算出し、算出したジッタの平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したジッタである光ディスク装置を前記候補から除外する第６処理（Ｓ３２、Ｓ４２）を含む。
【００４９】
これによれば、項４と同様に、平均的な再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００５０】
〔１７〕（ジッタに基づくβマージンに基づく除外処理の詳細）
項１５又は１６の光ディスク装置選定方法において、前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて再生品質の目標とされるジッタ以下となるジッタを取り得るベータの範囲を表わす余裕度を算出し、算出した前記余裕度が所定の閾値より小さい値である光ディスク装置を前記候補から除外する第７処理（Ｓ３４、Ｓ４４）とを含む。
【００５１】
これによれば、項５と同様に、目標とされる再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００５２】
〔１８〕（再生品質を示す情報はＰＩエラー）
項１４の光ディスク装置選定方法において、前記再生品質を示す情報は、読み出したデータに係るＰＩエラーの値である。
【００５３】
〔１９〕（ＰＩエラーに基づく除外処理の詳細）
項１８の光ディスク装置選定方法において、前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて所定のレーザパワーにおける前記ＰＩエラーの値の平均値を算出し、算出したＰＩエラーの値の平均値を基準として決定された所定の範囲から逸脱したＰＩエラーの値である光ディスク装置を前記候補から除外する第６処理（Ｓ３２、Ｓ４２）を含む。
【００５４】
これによれば、項７と同様に、平均的な再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００５５】
〔２０〕（ＰＩエラーに基づくβマージンに基づく除外処理の詳細）
項１８又は１９の光ディスク装置選定方法において、前記第３処理は、前記入力された評価データに基づいて再生品質の目標とされる値以下となるＰＩエラーの値を取り得るベータの範囲を表わす余裕度を算出し、算出した余裕度が所定の閾値より小さい値である光ディスク装置を前記候補から除外する第７処理（Ｓ３４、Ｓ４４）を含む。
【００５６】
これによれば、項１７と同様に、目標とされる再生品質から逸脱した光ディスク装置を容易に判別することが可能となる。
【００５７】
〔２１〕（判別結果に基づく候補の選定処理の詳細）
項１７又は２０の光ディスク装置選定方法において、前記第４処理は、前記第３処理において除外されなかった光ディスク装置のうち、前記余裕度が小さい順に前記候補の光ディスク装置を選択する第８処理（Ｓ３５、Ｓ４５）を含む。
【００５８】
これによれば、項９と同様に、他の複数の光ディスク装置に適用可能なライトストラテジーを生成するのに適した光ディスクを選定することが可能となる。
【００５９】
２．実施の形態の詳細
実施の形態について更に詳述する。
【００６０】
≪実施の形態１≫
〈光ディスク装置の構成〉
図１は、実施の形態１に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。
【００６１】
図１に示される光ディスク装置１０は、着脱が可能な光ディスク１を回転駆動するスピンドルモータ２と、光ピックアップ３と、光ディスクに対するデータの書き込みと読み出しを制御し、信号処理を行う半導体装置（以下、「信号処理ＬＳＩ」とも称する。）４と、を有する。
【００６２】
前記光ディスク１は、前記光ディスク装置１０によって記録・再生される光ディスクであり、特に限定されないが、例えば、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ等の光ディスクである。
【００６３】
前記スピンドルモータ２は、前記信号処理ＬＳＩ４からのモータ制御信号１０１によりモータの回転が制御されることにより、所定の回転数で前記光ディスク１を回転させる。
【００６４】
前記光ピックアップ３は、前記信号処理ＬＳＩ４からの位置制御信号１０２により制御されることにより、前記光ディスク１の径方向への移動が可能とされ、記録・再生するために所定の位置に移動する。また、前記光ピックアップ３は半導体レーザを備え、前記半導体レーザからレーザパルスを出力する。レーザパルスは、前記信号処理ＬＳＩ４からのレーザパルス制御信号１０３により制御され、前記光ピックアップ３が、前記光ディスク１に対するデータの記録又は再生のためにレーザパルスを前記光ディスク１の表面に照射する。更に前記光ピックアップ３は、レーザパルスの反射光を受光する受光部を有する。前記受光部は、前記半導体レーザから照射されたレーザパルスが前記光ディスク１の表面で反射された反射光を受光し、電気信号１０４に変換して前記信号処理ＬＳＩ４に出力する。
【００６５】
前記信号処理ＬＳＩ４は、アナログフロントエンド回路（ＡＦＥ：Ａｎａｌｏｇ  Ｆｒｏｎｔ  Ｅｎｄ）４１、信号品質測定回路４２、マイクロコントローラ４３、メモリ部４４、位置制御回路４５、レーザパルス制御回路４６、及びモータ制御回路４７を有する。前記信号処理ＬＳＩ４は、特に制限されないが、公知のＣＭＯＳ集積回路の製造技術によって１個の単結晶シリコンのような半導体基板に形成されている。
【００６６】
前記メモリ部４４は、前記マイクロコントローラ４３により、データの読み出し、及び書き込みが実行される記憶領域を有する記憶装置である。前記メモリ部４４の記憶領域には、光ディスクの再生や記録を制御するためのプログラムや、後述するライトストラテジー調整用光ディスク装置の選定に係るプログラム等のソフトウェアが格納される。また、前記記憶領域には、前記マイクロコントローラ４３による演算結果や後述する評価ディスクを用いた再生品質に係る測定結果等のデータが格納される。前記メモリ部４４は、例えば、同期型ダイナミックメモリ（ＳＤＲＡＭ：Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等の揮発性メモリやフラッシュメモリ等の不揮発性メモリを備える。
【００６７】
前記マイクロコントローラ４３は、前記信号処理ＬＳＩ４内の各機能部の制御を行うことにより、前記光ディスク装置１０の統括的な動作の制御を実行する。前記マイクロコントローラ４３は、例えばＣＰＵ又はＣＰＵコアであり、前記メモリ部４４に格納されたプログラムに従って光ディスク装置１０の動作を制御する。
【００６８】
ここで、前記信号処理ＬＳＩ４における前記マイクロコンピュータ４３と各機能部の動作について、光ディスクの再生・記録を行う場合を一例として説明する。
【００６９】
〈光ディスクの再生〉
図１７は、前記光ディスク装置１０による前記光ディスク１の再生動作の一例を示すフロー図である。
【００７０】
ここでは、後述する、光ディスク装置の品質評価を行うために作成された評価ディスクを再生する場合を一例として説明する。
【００７１】
先ず、前記マイクロコントローラ４３が所定の再生速度となるようにモータ制御指示１０９を出力し、前記モータ制御回路４７が再生時のモータ回転数の制御を実行する（Ｓ１０１）。このとき前記モータ制御回路４７は、前記モータ制御指示１０９に基づいて、所定の再生速度となるように前記モータ制御信号１０１を出力し、前記スピンドルモータ２の回転数を制御する。前記スピンドルモータ２が所望の回転数となった後、前記マイクロコントローラ４３は、前記評価ディスクの信号品質評価を行うためのデータが記録された領域に前記光ピックアップ３を移動させるように、前記位置制御回路４５に対して位置制御指示１０７を出力し、光ピックアップ位置の制御を実行する（Ｓ１０２）。このとき、前記位置制御回路４５は、前記位置制御指示１０７に基づいて、前記所望の領域に前記光ピックアップ３が移動するように前記位置制御信号１０２を前記光ピックアップ３に対して出力する。
【００７２】
ステップＳ１０２における前記光ピックアップ３の位置制御の処理が完了すると、前記マイクロコントローラ４３は、前記評価ディスクの再生を実行する（Ｓ１０３）。具体的には、前記マイクロコントローラ４３は先ず、前記評価ディスクの前記領域からデータを読み出すように、前記レーザパルス制御回路４６に対してレーザパルス制御指示１０８を出力する。前記指示１０８を受け取った前記レーザパルス制御回路４６は、前記指示１０８によって指定されたレーザパワーに応じたレーザパルスを出力するように前記レーザパルス制御信号１０３を前記光ピックアップ３に出力する。前記光ピックアップ３は、前記レーザパルス制御信号１０３に応じたレーザを前記評価ディスクに照射し、反射した光を受光して電気信号１０４に変換し、前記ＡＦＥ４１に出力する。前記ＡＦＥ４１は受け取った電気信号１０４に対して増幅等のアナログ信号処理を実行して前記アナログ信号１０５を生成し、前記信号品質測定回路４２に対して出力する。前記アナログ信号１０５を受け取った前記信号品質測定回路４２は、ベータ（β）、エッジシフト量、及びジッタ等の光ディスク装置の再生品質を表わすパラメータを測定し、測定結果１０６を前記マイクロコントローラ４３に出力する。そして、前記マイクロコントローラ４３は、前記測定結果１０６を前記メモリ部４４に格納し、再生動作を終了する。
【００７３】
〈光ディスクの記録〉
図１８は、前記光ディスク装置１０による前記光ディスク１の記録動作の一例を示すフロー図である。
【００７４】
ここでは、前記評価ディスクに再生品質評価用のデータを記録する場合を一例として説明する。
【００７５】
前記マイクロコントローラ４３は先ず、ライトストラテジーを決定する（Ｓ２０１）。当該ライトストラテジーは、例えば、光ディスクの種類に応じて記録倍速毎に生成された標準のライトストラテジーであり、前記メモリ部４４に予め格納される。
【００７６】
ステップ２０１において、ライトストラテジーが決定された後、前記マイクロコントローラ４３が、所定の記録速度となるように前記モータ制御指示１０９を出力し、前記モータ制御回路４７が記録時のモータ回転数の制御を実行する（Ｓ２０２）。このとき前記モータ制御回路４７は、前記モータ制御指示１０９に基づいて、所定の記録速度となるように前記モータ制御信号１０１を出力し、前記スピンドルモータ２の回転数を制御する。前記スピンドルモータ２が所望の回転数となった後、前記マイクロコントローラ４３は、再生品質の評価のためのデータを記憶するため、所定の領域に前記光ピックアップ３が移動するように、前記マイクロコントローラ４３が前記位置制御回路４５に対して前記位置制御指示１０７を出力し、光ピックアップ位置の制御を実行する（Ｓ２０３）。このとき、前記位置制御回路４５は、前記位置制御指示１０７に基づいて、前記所望の領域に前記光ピックアップ３が移動するように前記位置制御信号１０２を前記光ピックアップ３に対して出力する。
【００７７】
ステップ２０３において、所望の位置への光ピックアップ３の移動が完了すると、前記マイクロコントローラ４３は、前記評価ディスクに評価データとしてのランダムデータの記録を実行する（Ｓ２０４）。具体的には、前記マイクロコントローラ４３は、ステップ２０１で決定したライトストラテジーに従ってデータの記録を実行するように、前記レーザパルス制御回路４６に対して前記レーザパルス制御指示１０８を出力する。前記レーザパルス制御回路４６は、前記指示１０８に応じた前記レーザパルス制御信号１０３を前記光ピックアップ３に出力する。前記光ピックアップ３は、前記レーザパルス制御信号１０３に応じたレーザを前記評価ディスクに照射し、前記評価ディスク上の所定のアドレス位置にて所定のサイズの記録が実行され、記録動作が終了する。
【００７８】
〈ライトストラテジー調整用の光ディスク装置の選定方法〉
前記マイクロコントローラ４３は更に、上述した光ディスクの再生及び記録の制御の他に、前記光ディスク装置１０の製造段階において、組立て精度や調整ばらつきを吸収可能なライトストラテジーを調整するための光ディスク装置を選定する処理を実行する。当該処理では、前述したベータやジッタ等の測定結果と、当該測定結果に基づいて算出される再生品質を表わすパラメータに基づいて、複数の光ディスク装置の中からライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補を選定する。当該選定処理についての具体的な方法を説明する前に、前記光ディスク装置１０のベータ等を測定するために用いる評価ディスクと、光ディスク装置の再生品質を定量化して表現するためのパラメータについて説明する。
【００７９】
（１）評価ディスク
図２は、光ディスク装置の品質評価を行うために作成された評価ディスクの記録内容の一例を示す説明図である。
【００８０】
前記評価ディスクは、光ディスク装置のレーザパワーを変化させたときの記録マークが形成された光ディスクであり、記録倍速毎に前記記録マークが形成される。前記評価ディスクは、記録する際のレーザパワーを指定可能な光ディスク装置と、所定のライトストラテジーと、光ディスクとを用いて作成される。ここで使用されるライトストラテジーは、一定の再生品質を表わす目標ジッタＪｔ以下となる記録マークを形成可能なライトストラテジーである。前記評価ディスクは、例えば図２に示すように、最もジッタが低くなる記録時のレーザパワー（以下、「最適レーザパワー」と称する。）を基準とした±２０％の範囲内において、均等な間隔で設定した１５点の記録レーザパワーにおいて記録マークを形成することによって作成される。この記録マークの形成は、ライトストラテジーを調整する全ての記録倍速において行われる。なお、記録レーザパワーの変化の範囲と記録点数はこれに限られない。
【００８１】
（２）βマージン
図３は、実施の形態１に係る光ディスク装置１０の再生品質を定量化して表現するためのパラメータの一例を示す説明図である。
【００８２】
図３に示される特性３００は、前記評価ディスクにおける一つの記録倍速におけるデータを再生して測定したベータ（β）とジッタの関係を示すものである。前記特性３００において、前述した目標ジッタＪｔ以下となるジッタを取り得るベータの範囲を表わすパラメータを余裕度（以下、「βマージン」と称する。）３０１とし、実施の形態１では、光ディスク装置の再生品質を定量的に示すパラメータの一つとして定義する。
【００８３】
〈ライトストラテジー調整用の光ディスク装置の選定方法〉
ライトストラテジー調整用光ディスク装置の選定方法について詳細に説明する。
【００８４】
図４は、ライトストラテジー調整用の光ディスク装置の選定方法の説明図である。
【００８５】
以下の説明では、図４に示されるようにｎ個（ｎは自然数）の光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎの中からライトストラテジー調整用の光ディスクを選定する場合を一例とする。
【００８６】
図５は、ライトストラテジー調整用光ディスク装置の候補の選定からライトストラテジーの調整までの処理の流れの一例を示すフロー図である。図５を用いて、ライトストラテジーの調整までの処理について説明する。なお、夫々の処理ステップにおける詳細な内容については後述する。
【００８７】
先ず、複数の光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎの夫々は、前記評価ディスクに記録された全てのデータを再生し、記録倍速毎にジッタとベータを測定し、測定結果を前記評価ディスクに記録する。このとき、前記評価ディスクを用いて前記測定を行う最後の光ディスク装置（以下、「評価用光ディスク装置」と称する。）は、自らの前記信号処理ＬＳＩ４の前記メモリ部４４に、前記評価ディスクに格納された全ての光ディスク装置１０の測定結果を格納する（Ｓ３１）。
【００８８】
次に、前記評価用光ディスク装置１０内の前記マイクロコントローラ４３が、前記メモリ部４４に格納した全ての測定結果に基づいて、母集団となる全ての光ディスク装置１０のジッタの平均的な特性から逸脱している光ディスク装置１０をライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補から除外する処理を実行する（Ｓ３２）。ステップ３２の処理の後、前記評価用光ディスク装置の前記マイクロコントローラ４３は、前記メモリ部４４に格納した全ての測定結果に基づいて、母集団となる全ての光ディスク装置のベータの平均的な特性から逸脱している光ディスク装置をライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補から除外する処理を実行する（Ｓ３３）。更に、前記評価用光ディスク装置のマイクロコントローラ４３は、前記メモリ部４４に格納した全ての測定結果に基づいて、母集団となる全ての光ディスク装置のβマージンを算出し、所定の値よりも小さいβマージンである光ディスク装置をライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補から除外する処理を実行する（Ｓ３４）。そして、前記評価用光ディスク装置のマイクロコントローラ４３は、ステップ３２〜３４の処理において除外対象とならなかった光ディスク装置について、βマージンの小さい順に光ディスク装置を選択し、ライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補として選定する（Ｓ３５）。最後に、前記候補として選定された光ディスク装置は、ライトストラテジーを調整する。そして、当該光ディスク装置と調整されたライトストラテジーに基づいて記録されたデータが所定の記録品質を満足している場合には、当該光ディスク装置がライトストラテジー調整用の光ディスク装置として決定される（Ｓ３６）。
【００８９】
以下、夫々の処理ステップについて詳細に説明する。
【００９０】
〈全記録データの再生と再生結果の読み出し（ステップ３１）〉
ステップ３１における処理について、図６及び図７を用いて説明する。
【００９１】
図６は、前記ステップ３１における評価ディスクの再生と測定結果の記録の方法の一例を表わす説明図である。
【００９２】
図５におけるステップ３１において、夫々の光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎは、例えば、図６の（Ａ）に示されるように光ディスク装置１０＿１から順番に、評価ディスク４００に記録されたデータを再生し、記録倍速毎にジッタとベータを測定し、測定結果を前記評価ディスク４００に記録する。そして、図６の（Ｂ）に示されるように、最後に前記評価ディスク４００の再生を行った光ディスク装置１０＿ｎが、前記評価ディスク４００に記録されている全ての光ディスク装置の測定結果を読み出し、内部に備える前記メモリ部４４に格納する。
【００９３】
図７は、ステップ３１における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【００９４】
先ず、１台の光ディスク装置に評価ディスクを装填する（Ｓ３１０１）。例えば、前述のように光ディスク装置１０＿１に前記評価ディスク４００を装填する。前記光ディスク装置１０＿１は、前記評価ディスク４００に記録倍速毎に記録されたデータを全て再生し、全てのデータのジッタとベータを測定する（Ｓ３１０２）。そして、前記光ディスク装置１０＿１は、当該測定結果を前記評価ディスク４００に記録する（Ｓ３１０３）。上記ステップ３１０１〜ステップ３１０３の処理は、全ての光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎが完了するまで実行する（Ｓ３１０４）。例えば、図６の（Ａ）に示されるように、前記光ディスク装置１０＿１においてステップ３１０１〜ステップ３１０３の処理が完了したら、次に光ディスク装置１０＿２において同様の処理を実行する。このように、前記光ディスク１０＿１〜１０＿ｎの全ての光ディスク装置が順番に前記評価ディスク４００の再生と測定結果の記録を実行する。そして、全ての光ディスク装置において上記のデータの再生とその測定結果の記録が完了したら、最後に前記評価ディスクを再生し測定した光ディスク装置１０＿ｎが評価用光ディスク装置とされ、前記評価ディスク４００に記録されている全ての光ディスク装置の測定結果を読み出し、前記メモリ部４４に記憶する（Ｓ３１０５）。
【００９５】
以上の処理によりステップ３１の処理が完了する。なお、上記の説明では、処理手順の効率化の観点から前記評価用光ディスク装置となる光ディスク装置を、最後に前記評価ディスクの再生評価を行った光ディスク装置１０＿ｎとしたが、これに限られず、他の光ディスク装置であってもよい。
【００９６】
〈ジッタによる光ディスク装置の除外の処理（ステップ３２）〉
図５のステップ３２について図８を用いて詳細に説明する。
【００９７】
図８は、ステップ３２における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【００９８】
ステップ３１において全ての光ディスク装置の測定結果を前記メモリ部４４に格納した評価用光ディスク装置１０＿ｎは、ジッタによる光ディスク装置の除外の処理を実行する。先ず、前記評価用光ディスク装置１０＿ｎの前記マイクロコントローラ４３は、前記メモリ部４４から全ての光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎの測定結果における所定の記録倍速におけるジッタの値を読み出す（Ｓ３２０１）。例えば、前記マイクロコントローラ４３は、全ての測定結果のうち１倍速の記録倍速におけるジッタの測定値を読み出す。そして、前記マイクロコントローラ４３は、読み出したジッタの値に基づいて、母集団となる全ての光ディスク装置のジッタの平均値を算出する（Ｓ３２０２）。具体的には、前記マイクロコントローラ４３は、所定のレーザパワーによる記録データに係るジッタの値を用いてジッタの平均値を求める。特に制限されないが、例えば、図２に示す前記最適レーザパワーで記録されたデータに係るジッタの測定値を用いて、全ての光ディスク装置のジッタの平均値を算出する。
【００９９】
次に、前記マイクロコントローラ４３は、算出したジッタの平均値を基準として決定される所定の範囲から逸脱した光ディスク装置を判別する（Ｓ３２０３）。前記ジッタの平均値を基準として決定される所定の範囲は、特に制限されないが、前記ジッタの平均値を中心として所定の割合だけ離れた範囲とする。ここでは、例えば、前記ジッタの平均値から±２％のジッタの範囲とする。なお、前記所定の割合は、上記の“±２％”に限られない。ステップ３２０３における具体的な処理は以下である。前記マイクロコントローラ４３は、前記所定の範囲外のジッタの値を持つ光ディスク装置のうち、最も大きく離れたジッタの特性を持つ光ディスク装置を除外する。ここでは、例えば、平均値から絶対値として２％以上離れた値のジッタの値を持つ光ディスク装置を除外対象とし、その除外対象の中で最も大きく離れたジッタの特性を持つ光ディスク装置が除外される。
【０１００】
ステップ３２０３の後、前記評価用光ディスク装置のマイクロコントローラ４３は、ステップ３２０３でジッタによる除外の処理により除外された光ディスク装置が存在するか否か判別する（Ｓ３２０４）。除外された光ディスク装置が存在する場合には、前記マイクロコントローラ４３は、除外された光ディスク装置を除いた残りの光ディスク装置の母集団の測定結果を用いて、前記ジッタの平均値を再度算出する（Ｓ３２０２）。そして、前記マイクロコントローラ４３は、前記残りの光ディスク装置の母集団において、算出したジッタの平均値から所定の値以上離れたジッタの値を持つ光ディスク装置のうち最も大きく離れたジッタの特性を持つ光ディスク装置を除外する（Ｓ３２０３）。そして、再度、除外された光ディスク装置の有無を判別する（Ｓ３２０４）。このように、光ディスク装置の平均的な再生品質から逸脱した光ディスク装置を１台ずつ除外する処理を繰り返し実行することで、複数の光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎのジッタの値に基づく平均的な再生品質を精度良く把握することができ、且つ、平均的な再生品質から逸脱した特性の光ディスク装置を効率よく除外することができる。
【０１０１】
ステップ３２０４において、除外対象となる光ディスク装置が存在せず、上記除外の処理を実行しなかった場合には、前記マイクロコントローラ４３は、全ての記録倍速において上記除外処理を実行したか否かを判断する（Ｓ３２０５）。全ての記録倍速で除外処理を実行していない場合には、ステップ３２０１に移行し、次の記録倍速におけるジッタの値を読み出して、前述の除外処理を実行する（Ｓ３２０１〜Ｓ３２０５）。全ての記録倍速で除外処理を実行した後、一連のジッタによる光ディスク装置の除外の処理が終了する。
【０１０２】
〈ベータによる光ディスク装置の除外の処理（ステップ３３）〉
図５のステップ３３について図９を用いて詳細に説明する。
【０１０３】
図９は、ステップ３３における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【０１０４】
前記マイクロコントローラ４３は、前記ステップ３２においてジッタによる光ディスク装置の除外の処理を実行した後、ベータによる光ディスク装置の除外の処理を実行する。
【０１０５】
先ず、前記メモリ部４４から全ての光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎの測定結果における所定の記録倍速におけるベータを読み出す（Ｓ３３０１）。例えば、前記マイクロコントローラ４３は、全ての測定結果のうち１倍速の記録倍速におけるベータの測定値を読み出す。そして、前記マイクロコントローラ４３は、読み出したベータに基づいて、母集団となる全ての光ディスク装置のベータの平均値を算出する（Ｓ３３０２）。具体的には、前記マイクロコントローラ４３は、所定のレーザパワーによる記録データに係るベータの値を用いてベータの平均値を求める。例えば、前述のジッタによる除外処理と同様に、図２に示す前記最適レーザパワーで記録したデータに係るベータを用いて、全ての光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎのベータの平均値を算出する。
【０１０６】
次に、前記マイクロコントローラ４３は、算出したベータの平均値を基準として決定される所定の範囲から逸脱から逸脱した光ディスク装置を判別する（Ｓ３３０３）。前記ベータの平均値を基準として決定される所定の範囲は、特に制限されないが、前記ベータの平均値を中心として絶対値として所定の割合だけ離れた範囲とする。ここでは、例えば、前記ジッタの平均値から±１％のベータの範囲とする。なお、前記所定の割合は、上記の“±１％”に限られない。ステップ３３０３における具体的な処理は以下である。前記マイクロコントローラ４３は、前記所定の範囲外のベータの値を持つ光ディスク装置のうち、最も大きく離れたベータの特性を持つ光ディスク装置を除外する。ここでは、例えば、平均値から絶対値として１％以上離れた値のベータの値を持つ光ディスク装置を除外対象とし、その除外対象の中で最も大きく離れたベータの特性を持つ光ディスク装置を除外する。以下、前記所定の割合の値（１％）をベータ閾値と称する。
【０１０７】
ステップ３３０３の後、前記評価用光ディスク装置のマイクロコントローラ４３は、ステップ３３０３でベータによる除外の処理により除外された光ディスク装置が存在したか否かを判別する（Ｓ３３０４）。除外された光ディスク装置が存在する場合には、前記マイクロコントローラ４３は、除外した光ディスク装置を除いた残りの光ディスク装置の母集団の測定結果から、ベータの平均値を再度算出する（Ｓ３３０２）。そして、前記マイクロコントローラ４３は、前記残りの光ディスク装置の母集団の中から、算出したベータの平均値から所定の値以上離れたベータの値を持つ光ディスク装置のうち最も大きく離れたベータの特性を持つ光ディスク装置を除外する（Ｓ３３０３）。そして、再度、除外された光ディスク装置の有無を判別する（Ｓ３３０４）。このように、光ディスク装置の平均的な再生品質から逸脱した光ディスク装置を１台ずつ除外する処理を繰り返し実行することで、複数の光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎのベータに基づく平均的な再生品質を精度良く把握することができ、且つ、平均的な再生品質から逸脱した特性の光ディスク装置を効率よく除外することができる。
【０１０８】
ステップ３３０４において、除外対象となる光ディスク装置が存在せず、上記除外の処理を実行しなかった場合には、前記マイクロコントローラ４３は、全ての記録倍速において上記除外処理を実行したか否かを判断する（Ｓ３３０５）。全ての記録倍速で除外処理を実行していない場合には、ステップ３３０１に移行し、次の記録倍速におけるベータの値を読み出して、前述の除外処理を実行する（Ｓ３３０１〜Ｓ３３０５）。全ての記録倍速で除外処理を実行した後、一連のベータによる光ディスク装置の除外の処理が終了する。
【０１０９】
〈βマージンによる光ディスク装置の除外の処理（ステップ３４）〉
図５のステップ３４について図１０を用いて詳細に説明する。
【０１１０】
図１０は、ステップ３４における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【０１１１】
前記マイクロコントローラ４３は、前記ステップ３３においてベータによる光ディスク装置の除外の処理を実行した後、前述のステップ３２とステップ３３の除外処理において除外対象とならなかった光ディスク装置について、βマージンによる光ディスク装置の除外の処理を実行する。
【０１１２】
先ず、前記評価用光ディスク装置１０＿ｎの前記マイクロコントローラ４３は、前述のステップ３２とステップ３３の除外処理において除外対象とならなかった光ディスク装置の中から、βマージンを算出する光ディスク装置のうち１台の光ディスク装置の測定結果を読み出す（Ｓ３４０１）。次に前記マイクロコントローラ４３は、読み出し測定結果に基づいて、記録倍速毎にβマージンを算出する（Ｓ３４０２）。そして、前記マイクロコントローラ４３は、何れかの記録倍速において所定の閾値以下となるβマージンが存在する場合には、その光ディスク装置をライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補から除外する（Ｓ３４０３）。前記βマージンの所定の閾値（以下、「βマージン閾値」とも称する。）は、ステップ３３で用いたベータ閾値の４倍以上の値に設定するとよい。ここでは、例えば、βマージン閾値を６％とし、いずれかの記録倍速においてβマージンが６％未満となる光ディスク装置を除外対象とする。
【０１１３】
次に、前記マイクロコントローラ４３は、ステップ３２とステップ３３において除外対象とならなかった光ディスク装置の全てについて、ステップ３４０３の除外処理を行ったか否かを判断する（Ｓ３４０４）。前記除外対象とならなかった光ディスク装置の全てについて、ステップ３４０３の除外処理を行っていない場合には、ステップ３４０１に移行し、βマージンによる光ディスク装置の除外処理を行っていない光ディスク装置について、ステップ３４０１〜３４０３の除外処理を実行する。一方、前記除外対象とならなかった光ディスク装置の全てについて、ステップ３４０３の除外処理を行った場合には、βマージンによる光ディスク装置の除外の処理を終了する。
【０１１４】
〈ライトストラテジー調整用光ディスク装置の候補の選定（ステップ３５）〉
前記マイクロコントローラ４３は、前述のステップ３４においてβマージンによる光ディスク装置の除外の処理を実行した後、残った光ディスク装置の中から、ライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補を選定する処理を実行する。具体的には、前記マイクロコントローラ４３は、ステップ３４において算出した全ての記録倍速についてのβマージンを用いて、光ディスク毎のβマージンの平均値を算出する。そして、前記マイクロコントローラ４３は、算出したβマージンの平均値の小さい順にライトストラテジー調整用の光ディスク装置を選定する。ここで、βマージンの平均値の大きい順ではなく、小さい順に光ディスク装置を選定するのは、他の光ディスク装置にも適用できるライトストラテジーを生成可能な光ディスク装置を選定する観点からである。このような基準で選定することで、ライトストラテジーを調整するのに適した光ディスク装置の選定をより精度良く行うことが可能となる。
【０１１５】
〈ライトストラテジー調整用光ディスク装置によるライトストラテジーの調整（ステップ３６）〉
前述のステップ３５においてライトストラテジー調整用の光ディスク装置として選定された光ディスク装置は、全ての記録倍速におけるライトストラテジーの調整を行う。当該ライトストラテジーの調整は、例えば、図１８に示した記録処理と同様の方法により所定の光ディスクに記録マークを形成した後、図１７に示した再生処理と同様の方法により前記形成した記録マークからデータを再生し、再生した信号の信号品質の測定結果に基づいてライトストラテジーの調整を実行する。そして、当該光ディスク装置による当該調整されたライトストラテジーを用いたデータの記録が、目標ジッタを下回るジッタとなる評価品質を満たしている場合には、その光ディスク装置をライトストラテジー調整用光ディスク装置として決定する。ここで、ライトストラテジーの調整を行う光ディスク装置は、前述のβマージンの平均値の最も小さい光ディスク装置１台でもよいし、βマージンの平均値の小さい順に必要な台数だけ光ディスク装置を選んで夫々がライトストラテジーを調整し、その中で最も評価品質が良い光ディスク装置をライトストラテジー調整用光ディスク装置として決定してもよい。
【０１１６】
以上実施の形態１によれば、複数の光ディスク装置の中から、その母集団において逸脱していない評価品質を有する光ディスク装置を選定し、その選定された光ディスク装置が必要な精度を持ったライトストラテジーの調整を実行する。これにより、その母集団における他の光ディスク装置にも適用することができるライトストラテジーを生成することができるので、光ディスク装置毎のライトストラテジーの最適化が不要となり、ライトストラテジーの調整に要する時間の短縮に資する。また、必要な精度を持ったライトストラテジーが得られるから、そのライトストラテジーを他の光ディスク装置にも適用することで、光ディスク装置毎の最適化が不要となり、ライトストラテジーの調整に要する時間の短縮に資する。また、前記半導体装置がライトストラテジー調整用の光ディスク装置の選定を行うから、ライトストラテジーの調整の際に評価装置等を用いる必要がなく、作業の負担を低減することができる。
【０１１７】
≪実施の形態２≫
図１１は、実施の形態２に係る、前記光ディスク装置１０によるライトストラテジー調整用の光ディスク装置の別の選定方法である。
【０１１８】
前述したように、βマージンはベータに対するジッタの特性を表わすものであるから、βマージンを算出することで光ディスク装置のジッタに係る評価品質を知ることができる。また、実施の形態１において、ジッタに基づく除外処理（図５のステップ３２）によって除外対象とされる光ディスク装置は、βマージンによる光ディスク装置の除外処理（図５のステップ３４）により除外対象となるか、又はライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補の選定処理（図５のステップ３５）により候補として選定されない可能性が高い。そこで、実施の形態２に係る選定方法では、ジッタに基づく除外処理（図５のステップ３２）を省略し、その他の処理を実施の形態１に係る処理と同様とする選定方法である。実施の形態２に係る選定方法によれば、実施の形態１と同程度の精度でライトストラテジー調整用の光ディスク装置の選定が可能となり、且つ選定処理に要する時間を短縮することが可能となる。
【０１１９】
≪実施の形態３≫
実施の形態１に係る光ディスク装置の選定方法では、前記評価ディスク用いて測定した全ての記録倍速における測定結果を利用して光ディスク装置の選定を行ったが、実施の形態３に係る選定方法では、特定の記録倍速における測定結果を用いて光ディスク装置の選定を行う。
【０１２０】
図１２は、実施の形態３に係る、前記光ディスク装置１０によるライトストラテジー調整用の光ディスク装置の選定方法である。図１２を用いて、ライトストラテジーの調整までの大きな流れについて説明する。なお、夫々の処理ステップにおける詳細な内容については後述する。
【０１２１】
先ず、実施の形態１と同様に、夫々の光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎが、前記評価ディスク４００を用いてジッタとベータを測定し、測定結果を前記評価ディスク４００に記録する。このとき、再生・測定する記録データは、特定の記録倍速における記録データである。特に制限されないが、前記特定の記録倍速は、例えば、光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎの仕様上の最大の記録倍速とする。そして、実施の形態１の場合と同様に、前記評価用光ディスク装置１０＿ｎが、自らの前記信号処理ＬＳＩ４の前記メモリ部４４に、前記評価ディスクに格納された全ての光ディスク装置１０の測定結果を格納する（Ｓ４１）。
【０１２２】
次に、前記評価用光ディスク装置１０＿ｎ内の前記マイクロコントローラ４３が、実施の形態１と同様に、前記メモリ部４４に格納した全ての測定結果に基づいて、前記ジッタによる除外処理、前記ベータによる除外処理、前記βマージンによる除外処理を実行する（Ｓ４２〜Ｓ４４）。そして、ステップ４２〜４４により除外されなかった光ディスク装置の中から、候補となる光ディスク装置が選定され（Ｓ４５）、実施の形態１と同様に、選定された光ディスク装置においてライトストラテジーが調整される（Ｓ３６）。
【０１２３】
以下、図１２における夫々の処理ステップについて詳細に説明する。
【０１２４】
〈１つの記録倍速における記録データの再生と再生結果の共有（ステップ４１）〉
図１３は、ステップ４１における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【０１２５】
図１３に示されるように、先ず、１台の光ディスク装置に評価ディスクを装填する（Ｓ３１０１）。例えば、実施の形態１と同様に、最初に光ディスク装置１０＿１に前記評価ディスク４００を装填する。前記光ディスク装置１０＿１は、装填された前記評価ディスクに記録された所定の記録倍速における記録データを再生し、ジッタとベータを測定し（Ｓ４１０２）、測定結果を前記評価ディスク４００に記録する（Ｓ３１０３）。そして、残りの光ディスク装置１０＿２〜１０＿ｎについても同様に測定を実行し、最後に測定を行った光ディスク装置１０＿ｎが、全ての光ディスク装置１０＿１〜１０＿ｎの測定結果を前記メモリ部４４に格納する（Ｓ３１０４〜Ｓ３１０５）。
【０１２６】
〈ジッタによる光ディスク装置の除外の処理（ステップ４２）〉
図１２のステップ４２について図１４を用いて詳細に説明する。
【０１２７】
図１４は、ステップ４２における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【０１２８】
ステップ４１において全ての光ディスク装置の所定の記録倍速における測定結果を格納した評価用光ディスク装置１０＿ｎは、実施の形態１と同様に、ジッタによる光ディスク装置の除外の処理を実行する。先ず、前記評価用光ディスク装置１０＿ｎの前記マイクロコントローラ４３は、前記メモリ部４４から全ての光ディスク装置の所定の記録倍速におけるジッタを読み出す（Ｓ４２０１）。例えば、前記マイクロコントローラ４３は、最大記録倍速における全ての光ディスク装置のジッタを読み出す。そして、前記マイクロコントローラ４３は、実施の形態１と同様の方法により、読み出したジッタに基づいて平均値を算出し、除外対象の光ディスク装置が存在しなくなるまでジッタによる除外処理を実行する（Ｓ３２０２〜Ｓ３２０４）。これにより、実施の形態１と同様に、ジッタに基づく平均的な再生品質から逸脱した特性の光ディスク装置を効率よく除外することができる。
【０１２９】
〈ベータによる光ディスク装置の除外の処理（ステップ４２）〉
図１２のステップ４３について図１５を用いて詳細に説明する。
【０１３０】
図１５は、ステップ４３における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【０１３１】
ステップ４２においてジッタによる除外処理を実行した評価用光ディスク装置１０＿ｎは、実施の形態１と同様に、ベータによる光ディスク装置の除外の処理を実行する。先ず、前記評価用光ディスク装置１０＿ｎの前記マイクロコントローラ４３は、前記メモリ部４４から全ての光ディスク装置の所定の記録倍速におけるベータを読み出す（Ｓ４３０１）。例えば、前記マイクロコントローラ４３は、最大記録倍速における全ての光ディスク装置のベータを読み出す。そして、前記マイクロコントローラ４３は、実施の形態１と同様の方法により、読み出したベータに基づいて平均値を算出し、除外対象の光ディスク装置が存在しなくなるまでベータによる除外処理を実行する（Ｓ３３０２〜Ｓ３２０４）。これにより、実施の形態１と同様に、ベータに基づく平均的な再生品質から逸脱した特性の光ディスク装置を効率よく除外することができる。
【０１３２】
〈βマージンによる光ディスク装置の除外の処理（ステップ４４）〉
図１２のステップ４４について図１６を用いて詳細に説明する。
【０１３３】
図１６は、ステップ４４における動作の流れの一例を示したフロー図である。
【０１３４】
前記マイクロコントローラ４３は、前記ステップ４３においてベータによる光ディスク装置の除外の処理を実行した後、前述のステップ４２とステップ４３の除外処理において除外対象とならなかった光ディスク装置について、βマージンによる光ディスク装置の除外の処理を実行する。
【０１３５】
先ず、前記評価用光ディスク装置１０＿ｎの前記マイクロコントローラ４３は、前述のステップ４２とステップ４３の除外処理において除外対象とならなかった光ディスク装置の中から、βマージンを算出する光ディスク装置のうち１台の光ディスク装置の測定結果を読み出す（Ｓ３４０１）。次に前記マイクロコントローラ４３は、読み出した測定結果に基づいてβマージンを算出する（Ｓ４４０２）。そして、前記マイクロコントローラ４３は、実施の形態１の同様の方法により、前記βマージン閾値以下となるβマージンである光ディスク装置をライトストラテジー調整用の光ディスク装置の候補から除外する処理を、ステップ４２とステップ４３の除外処理において除外対象とならなかった全ての光ディスク装置について実行する（Ｓ３４０３）。
【０１３６】
〈ライトストラテジー調整用光ディスク装置の選定（ステップ４５）〉
前記マイクロコントローラ４３は、前述のステップ４４においてβマージンによる光ディスク装置の除外の処理を実行した後、候補として残った光ディスク装置の中から、ライトストラテジー調整用の光ディスク装置を選定する処理を実行する。具体的には、前記マイクロコントローラ４３は、ステップ４４において算出した所定の記録倍速におけるβマージンの小さい順にライトストラテジー調整用の光ディスク装置を選定する。これにより、実施の形態１と同様に、ライトストラテジーを調整するのに適した光ディスク装置の選定をより精度良く行うことが可能となる。
【０１３７】
以上の処理により選定された光ディスク装置を用いて、実施の形態１と同様の方法によりライトストラテジーの調整を実行し、評価品質の確認をすることでライトストラテジー調整用光ディスク装置を決定することができる。
【０１３８】
以上実施の形態３によれば、実施の形態１と同様に、複数の光ディスク装置に適用可能なライトストラテジーを生成することができるので、光ディスク装置毎のライトストラテジーの最適化が不要となり、ライトストラテジーの調整に要する時間の短縮に資する。また、前記除外処理において一つの記録倍速の測定結果を用いることで、全ての記録倍速の測定結果を用いる実施の形態１に係る選定方法と比較して、選定の精度が大きく低下せず、選定に要する処理時間を大幅に短縮することが可能となる。
【０１３９】
≪実施の形態４≫
実施の形態１乃至３に係る光ディスク装置の選定方法では、光ディスク装置の評価品質を表わす指標の一つとしてジッタを用いたが、実施の形態４に係る選定方法では、ジッタの代わりにＰＩ（Ｐａｒｉｔｙ  Ｉｎｎｅｒ）エラーの値を用いて光ディスク装置の選定を行う。ＰＩエラーの値とは、例えば、１ＥＣＣブロック当たりの内部コードパリティのエラーの数である。
【０１４０】
具体的には、実施の形態４では、夫々の光ディスク装置が、ベータと共にＰＩエラーの値を測定結果として前記評価ディスクに記録する。記録されるＰＩエラーの値は、例えば、夫々の光ディスク装置における前記マイクロコントローラ４３により前記評価ディスクの再生結果に基づいて算出される。
【０１４１】
また、実施の形態４におけるβマージンは、図３に示したようにベータに対するジッタの特性から算出される値ではなく、ベータに対するＰＩエラーの値の特性から算出される。ベータに対するＰＩエラーの値の特性は、図３に示す特性３００と同じような特性カーブとなる。そこで、実施の形態４では、実施の形態１乃至３においてβマージンを算出する上で基準とされた前記目標ジッタＪｔの代わりに、目標ＰＩエラー値を基準として用いる。すなわち、実施の形態４に係る選定方法では、前記目標ＰＩエラー値以下となるＰＩエラーの値を取り得るベータの範囲をβマージンとして算出する。前記目標ＰＩエラー値は、例えば、ＰＩエラーの規格値である２８０以下の値とする。
【０１４２】
上記のようにジッタの代わりにＰＩエラーの値を用いて、実施の形態１乃至３と同様の方法によりライトストラテジー調整用光ディスク装置の選定を行うことで、複数の光ディスク装置に適用可能なライトストラテジーを生成することができ、実施の形態１乃至３と同様の効果を奏する。
【０１４３】
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
【０１４４】
例えば、前記信号処理ＬＳＩ４は１チップの半導体装置に限られず、前記ＡＦＥ４１や前記マイクロコントローラ４３等の夫々の回路が別個の半導体チップで構成され、これらの半導体チップを一つのパッケージに内蔵したＳＩＰ（Ｓｙｓｔｅｍ  ｉｎ  Ｐａｃｋａｇｅ）やＭＣＭ（Ｍｕｌｔｉ−ｃｈｉｐ  Ｍｏｄｕｌｅ）の形態で構成されたものでもよい。
【０１４５】
また、実施の形態１乃至４において、各光ディスク装置によるジッタやベータ等の測定結果を前記評価ディスク４００の未記録領域に記録する場合を一例として示したが、これに限られず、夫々の光ディスク装置をプログラム処理装置に接続し、そのプログラム処理装置の記憶装置に測定結果を保存してもよい。前記プログラム処理装置は、例えば、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）である。
【０１４６】
更に、実施の形態１乃至４において、前記信号処理ＬＳＩ４の代わりに前記プログラム処理装置が前記除外の処理と前記選定の処理を実行することで、ライトストラテジー調整用光ディスク装置の選定を行うことができる。例えば、図５において、ステップ３１で前記プログラム処理装置が各光ディスク装置の前記測定結果を取得し、その後、前記プログラム処理装置がステップ３２〜ステップ３５の処理を実行する。これによれば、前記信号処理ＬＳＩ４が行う場合と同様に、前記プログラム処理装置がライトストラテジー調整用光ディスク装置の選定を行うことができ、ライトストラテジーの調整に要する時間の短縮に資する。
【符号の説明】
【０１４７】
１０、１０＿１〜１０＿ｎ  光ディスク装置
１  光ディスク
２  スピンドルモータ
３  光ピックアップ
４、４＿１〜４＿ｎ  信号処理ＬＳＩ
４１  ＡＦＥ（アナログフロントエンド回路）
４２  信号品質測定回路
４３  マイクロコントローラ
４４  メモリ部
４５  位置制御回路
４６  レーザパルス制御回路
４７  モータ制御回路
１０１  モータ制御信号
１０２  位置制御信号
１０３  レーサパルス制御信号
１０４  電気信号
１０５  アナログ信号
１０６  測定結果
１０７  位置制御指示
１０８  レーザパルス制御指示
１０９  モータ制御指示
３００  ジッタ対ベータ特性
３０１  βマージン
４００  評価ディスク
【図１】
2011248983.tif 000003
【図２】
2011248983.tif 000004
【図３】
2011248983.tif 000005
【図４】
2011248983.tif 000006
【図５】
2011248983.tif 000007
【図６】
2011248983.tif 000008
【図７】
2011248983.tif 000009
【図８】
2011248983.tif 000010
【図９】
2011248983.tif 000011
【図１０】
2011248983.tif 000012
【図１１】
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【図１２】
2011248983.tif 000014
【図１３】
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【図１４】
2011248983.tif 000016
【図１５】
2011248983.tif 000017
【図１６】
2011248983.tif 000018
【図１７】
2011248983.tif 000019
【図１８】
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