(57)【要約】【課題】  端子取付部の画像を撮影して端子圧着不良の検出を行うに当たって、画像の位置調整の処理を簡単化する。【解決手段】  端子付き電線４を移動させたまま端子部の画像データをカメラ２で撮影し、取得した画像データについて、所定の枠内において、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して各ライン毎に輝度の重心点を求め、各重心点に基づいて第１の座標軸を決定する。また、前記画像データ全体について、電線を横切る方向に、複数回平行に走査してライン毎に、隣接する画素間の輝度の差を積算して、積算値の変化パターンを生成し、該変化パターンを前記第１の座標軸方向に移動させながら、基準パターンと比較し、最も一致する位置に基づいて、前記第１の座標軸と直交する第２の座標軸を決定する。そして、両座標軸を基準として前記画像データの位置を調整し、端子圧着状態の良否判定を行う。【選択図】        図１
2011174719.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
端子付き電線の端部の画像データを取得する撮像手段と、
前記撮像手段で取得した画像データについて、所定の探索枠内において、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したラインの各画素毎に、輝度に応じた重み付けを行い、各ライン毎に輝度の重心点を求める重心点探索手段と、
該重心点探索手段で求めた各重心点に基づいて第１の座標軸を求める手段と、
前記撮像手段で取得した画像データ全体について、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したライン毎に、隣接する画素間の輝度の差を積算して、各ラインの積算値により形成される変化パターンを保持するパターン形成手段と、
該パターン形成手段で保持した変化パターンを基準パターンと比較し、両パターンが最も一致する位置に基づいて、前記第１の座標軸と直交する第２の座標軸を求める手段と、
前記第１及び第２の座標軸を基準として前記画像データ上に検査枠を設定し、端子圧着状態の良否判定を行う良否判定手段
とを備えたことを特徴とする端子圧着不良検出装置。
【請求項２】
端子付き電線の端部の画像データを取得する撮像手段と、
前記撮像手段で取得した画像データについて、所定の探索枠内において、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したラインの各画素毎に、輝度に応じた重み付けを行い、各ライン毎に輝度の重心点を求める重心点探索手段と、
該重心点探索手段で求めた各重心点に基づいて第１の座標軸を求める手段と、
前記撮像手段で取得した画像データ全体について、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したライン毎に、隣接する画素間の輝度の差を積算して、各ラインの積算値により形成される変化パターンを保持するパターン形成手段と、
該パターン形成手段で保持した変化パターンを基準パターンと比較し、両パターンが最も一致する位置に基づいて、前記第１の座標軸と直交する第２の座標軸を求める手段と、
前記第１の座標軸と第２の座標軸を基準とし、前記端子付き電線の端子部分の電線軸と平行な直線部を囲む探索枠を設定し、該探索枠内において、前記第２の座標軸の方向に、複数回平行に走査してエッジを探索し、得られた各エッジに基づいて第３の座標軸を求める手段と、
前記第１及び第２の座標軸を基準とし、前記端子付き電線の端子部分の電線軸と直角な直線部を囲む探索枠を設定し、該探索枠内において、前記第１の座標軸の方向に、走査して単一のエッジを探索し、該エッジ位置に基づいて、前記第３の座標軸と直交する第４の座標軸を求める手段と、
前記第３及び第４の座標軸を基準として前記画像データ上に検査枠を設定し、端子圧着状態の良否判定を行う良否判定手段
とを備えたことを特徴とする端子圧着不良検出装置。
【請求項３】
前記撮像手段は、前記端子付き電線を移動させながら画像データを取得することを特徴とする請求項１又は２に記載の端子圧着不良検出装置。
【請求項４】
前記画像データにおいて前記端子付き電線の芯線があるべき位置及び芯線があってはならない位置に検出枠を設定し、該検出枠内を前記第２の座標軸、又は、第４の座標軸の方向に走査して検出される輝度の山部と谷部の個数に基づいて、前記端子付き電線の芯線の有無を判定することを特徴とする請求項１，２又は３に記載の端子圧着不良検出装置。
【請求項５】
前記画像データにおいて前記端子付き電線の絶縁バレルを縦断する位置に検出枠を設定し、該検出枠内を前記第２の座標軸、又は、第４の座標軸の方向に前後から走査して、走査起点から所定幅を超える輝度の上昇があった位置、及び、輝度の山部から所定幅を超える輝度の低下があった位置を求め、前記輝度の上昇があった両位置間の間隔と、前記輝度の低下があった両位置間の間隔との比に基づいて、前記端子付き電線の絶縁バレルの良否を判定することを特徴とする請求項１，２，３又は４に記載の端子圧着不良検出装置。
【請求項６】
端部の絶縁被覆を剥離した絶縁電線を端子圧着装置に送る際に、前記撮像手段で剥離箇所の画像を取得し、取得した画像全体を、電線を横切る方向に走査して検出される輝度の山部と谷部の個数に基づいて絶縁被覆剥離の良否判定を行うことを特徴とする請求項１，２，３，４又は５に記載の端子圧着不良検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、絶縁電線の端部に端子を取り付けた端子付き電線の端子の取付状態を検査するための端子圧着不良検出装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図１２は、端子付き電線の端子取付部分を示す図である。図１２において、１０は絶縁電線、１１はその芯線、１２は絶縁被覆、２０は端子、２１は絶縁バレル、２２はワイヤバレル、２３は端子先端部である。
【０００３】
このような端子付き電線は、端子圧着装置により製造される。その際、絶縁電線１０を所定の長さに切断し、端部の絶縁被覆１２を一定長だけ剥離した後、所定形状の端子２０とともに端子圧着装置に送り込み、絶縁電線１０の端部に端子２０を装着して載置し、上から押し付けることにより端子２０の絶縁バレル２１とワイヤバレル２２の部分を所定の形状に圧縮して取り付ける。そのような動作を連続的に繰り返して、多量の端子付き電線を自動的に製造する。
【０００４】
そのような端子圧着装置においては、端子圧着時に、絶縁電線１０に対する端子２０の位置がずれて、絶縁被覆１２の上に圧着されるべき絶縁バレル２１が芯線１１の一部をも含めて圧着されたり、芯線１１に圧着されるべきワイヤバレル２２が絶縁被覆１２の一部をも含めて圧着されたり、芯線１１の一部がワイヤバレル２２からはみ出した状態で圧着されたりというような圧着不良が発生することがある。そして、そのような圧着不良が発生したら、それを検知して排除する必要がある。そこで、端子の圧着状態をカメラで撮影した画像を処理することにより端子の圧着状態を識別し、圧着不良を検知する技術が開発された。
【０００５】
例えば、特許文献１に示される端子圧着不良検出装置では、端子が取り付けられた絶縁電線を、撮影位置で位置決めし、それをカメラで撮影して静止画像を取得する。その画像について、良否判定のための各検査ウィンドウ毎に検査処理を実行し、端子圧着の良否判定を行うようにしている。
【０００６】
このようにすれば、圧着不良が発生したら、それを検知して排除することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平６−２１３８１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
このような端子圧着不良検出装置は、通常、端子圧着装置から端子圧着後の電線を搬送する途中で行われるが、上記従来の端子圧着不良検出装置では、カメラで静止画像を取得する際に、搬送を一旦止めて、いちいち端子付き電線を位置決めする必要があるため、検出作業に時間がかかり、端子圧着、搬送を含めた作業効率が非常に悪くなるという問題点があった。
【０００９】
その点については、電線を移動させたまま位置決めせずに撮影し、取得した静止画像に画像処理を行って位置を調整すれば、電線の搬送停止、及び位置決めが不要になって効率向上が図れる。しかしながら、従来の画像処理による位置調整は、基準となる画像に対して縦横２方向に画像をずらして、最も合致する位置を見つけ出さなければならず、画像処理部の負担が過大となって、時間もかかるという問題点がある。
【００１０】
また、搬送中の端子付き電線は、位置の変動だけでなく、ねじれや傾きが生じる可能性があるが、ねじれや傾きが生じた状態で撮影した画像は、基準画像との比較がより一層困難になる。
【００１１】
本発明は、そのような問題点に鑑み、画像の位置調整の処理を簡単化し、さらに、端子付き電線に多少のねじれや傾きがあっても問題なく検出できるようにすること、及び、それを利用して、端子付き電線を移動させたまま位置決めせずに静止画像を取得するようにして作業効率を向上させることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
前記課題を解決するため、本願の請求項１にかかる発明は、端子付き電線の端部の画像データを取得する撮像手段と、前記撮像手段で取得した画像データについて、所定の探索枠内において、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したラインの各画素毎に、輝度に応じた重み付けを行い、各ライン毎に輝度の重心点を求める重心点探索手段と、該重心点探索手段で求めた各重心点に基づいて第１の座標軸を求める手段と、前記撮像手段で取得した画像データ全体について、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したライン毎に、隣接する画素間の輝度の差を積算して、各ラインの積算値により形成される変化パターンを保持するパターン形成手段と、該パターン形成手段で保持した変化パターンを基準パターンと比較し、両パターンが最も一致する位置に基づいて、前記第１の座標軸と直交する第２の座標軸を求める手段と、前記第１及び第２の座標軸を基準として前記画像データ上に検査枠を設定し、端子圧着状態の良否判定を行う良否判定手段とを備えたことを特徴とする。
【００１３】
また、本願の請求項２にかかる発明は、端子付き電線の端部の画像データを取得する撮像手段と、前記撮像手段で取得した画像データについて、所定の探索枠内において、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したラインの各画素毎に、輝度に応じた重み付けを行い、各ライン毎に輝度の重心点を求める重心点探索手段と、該重心点探索手段で求めた各重心点に基づいて第１の座標軸を求める手段と、前記撮像手段で取得した画像データ全体について、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したライン毎に、隣接する画素間の輝度の差を積算して、各ラインの積算値により形成される変化パターンを保持するパターン形成手段と、該パターン形成手段で保持した変化パターンを基準パターンと比較し、両パターンが最も一致する位置に基づいて、前記第１の座標軸と直交する第２の座標軸を求める手段と、前記第１の座標軸と第２の座標軸を基準とし、前記端子付き電線の端子部分の電線軸と平行な直線部を囲む探索枠を設定し、該探索枠内において、前記第２の座標軸の方向に、複数回平行に走査してエッジを探索し、得られた各エッジに基づいて第３の座標軸を求める手段と、前記第１及び第２の座標軸を基準とし、前記端子付き電線の端子部分の電線軸と直角な直線部を囲む探索枠を設定し、該探索枠内において、前記第１の座標軸の方向に、走査して単一のエッジを探索し、該エッジ位置に基づいて、前記第３の座標軸と直交する第４の座標軸を求める手段と、前記第３及び第４の座標軸を基準として前記画像データ上に検査枠を設定し、端子圧着状態の良否判定を行う良否判定手段とを備えたことを特徴とする。
【００１４】
また、本願の請求項３にかかる発明は、請求項１又は２にかかる発明において、前記撮像手段は、前記端子付き電線を移動させながら画像データを取得することを特徴とする。
【００１５】
また、本願の請求項４にかかる発明は、請求項１，２又は３にかかる発明において、前記画像データにおいて前記端子付き電線の芯線があるべき位置及び芯線があってはならない位置に検出枠を設定し、該検出枠内を前記第２の座標軸、又は、第４の座標軸の方向に走査して検出される輝度の山部と谷部の個数に基づいて、前記端子付き電線の芯線の有無を判定することを特徴とする。
【００１６】
また、本願の請求項５にかかる発明は、請求項１，２，３又は４にかかる発明において、前記画像データにおいて前記端子付き電線の絶縁バレルを縦断する位置に検出枠を設定し、該検出枠内を前記第２の座標軸、又は、第４の座標軸の方向に前後から走査して、走査起点から所定幅を超える輝度の上昇があった位置、及び、輝度の山部から所定幅を超える輝度の低下があった位置を求め、前記輝度の上昇があった両位置間の間隔と、前記輝度の低下があった両位置間の間隔との比に基づいて、前記端子付き電線の絶縁バレルの良否を判定することを特徴とする。
【００１７】
また、本願の請求項６にかかる発明は、請求項１，２，３，４又は５にかかる発明において、端部の絶縁被覆を剥離した絶縁電線を、端子圧着装置に送る際に、前記撮像手段で剥離箇所の画像を取得し、取得した画像全体を、電線を横切る方向に走査して検出される輝度の山部と谷部の個数に基づいて絶縁被覆剥離の良否判定を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明は、次のような効果を奏する。
すなわち、請求項１にかかる発明においては、端子付き電線の端部の画像データを取得し、取得した画像データについて、所定の探索枠内において、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したラインの各画素毎に、輝度の重心点を求め、該各重心点に基づいて第１の座標軸を求め、取得した画像データ全体について、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したライン毎に、隣接する画素間の輝度の差を積算して、各ラインの積算値により形成される変化パターンを基準パターンと比較し、両パターンが最も一致する位置に基づいて、前記第１の座標軸と直交する第２の座標軸を求め、前記第１及び第２の座標軸を基準として前記画像データ上に検査枠を設定し、端子圧着状態の良否判定を行うようにした。その結果、画像の位置調整の処理が簡単化され、また、端子付き電線に多少の傾きがあっても問題なく位置調整できる。
【００１９】
また、請求項２にかかる発明においては、端子付き電線の端部の画像データを取得し、取得した画像データについて、所定の探索枠内において、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したラインの各画素毎に、輝度の重心点を求め、該各重心点に基づいて第１の座標軸を求め、取得した画像データ全体について、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して画素毎の輝度を取得し、走査したライン毎に、隣接する画素間の輝度の差を積算して、各ラインの積算値により形成される変化パターンを基準パターンと比較し、両パターンが最も一致する位置に基づいて、前記第１の座標軸と直交する第２の座標軸を求め、さらに、前記端子付き電線の端子部分の電線軸と平行な直線部を囲む探索枠を設定し、該探索枠内において、前記第２の座標軸の方向に、複数回平行に走査してエッジを探索し、得られた各エッジに基づいて第３の座標軸を求める手段と、前記第１及び第２の座標軸を基準とし、前記端子付き電線の端子部分の電線軸と直角な直線部を囲む探索枠を設定し、該探索枠内において、前記第１の座標軸の方向に、走査して単一のエッジを探索し、該エッジ位置に基づいて、前記第３の座標軸と直交する第４の座標軸を求める手段と、前記第３及び第４の座標軸を基準として前記画像データ上に検査枠を設定し、端子圧着状態の良否判定を行うようにした。その結果、画像の位置調整の処理が簡単化され、また、端子付き電線に多少の傾きがあっても問題なく位置調整できる上、位置調整の精度が高くなる。
【００２０】
また、請求項３にかかる発明においては、請求項１又は２にかかる端子圧着不良検出装置において、前記撮像手段は、前記端子付き電線を移動させながら画像データを取得するようにしたので、端子付き電線を移動させたまま位置決めせずに静止画像を取得することにより作業効率を向上させることができる。
【００２１】
また、請求項４にかかる発明においては、請求項１，２又は３にかかる端子圧着不良検出装置において、前記画像データにおいて前記端子付き電線の芯線があるべき位置及び芯線があってはならない位置に検出枠を設定し、該検出枠内を前記第２の座標軸、又は、第４の座標軸の方向に走査して検出される輝度の山部と谷部の個数に基づいて、前記端子付き電線の芯線の有無を判定するようにしたので、端子付き電線に多少のねじれがあって、輝度変化の山，谷の間隔が変動しても、浅打ちや深打ちを問題なく検出できる。
【００２２】
また、請求項５にかかる発明においては、請求項１，２，３又は４にかかる端子圧着不良検出装置において、前記画像データにおいて前記端子付き電線の絶縁バレルを縦断する位置に検出枠を設定し、該検出枠内を前記第２の座標軸、又は、第４の座標軸の方向に前後から走査して、走査起点から所定幅を超える輝度の上昇があった位置、及び、輝度の山部から所定幅を超える輝度の低下があった位置を求め、前記輝度の上昇があった両位置間の間隔と、前記輝度の低下があった両位置間の間隔との比に基づいて、前記端子付き電線の絶縁バレルの良否を判定するようにしたので、端子付き電線に多少のねじれがあって、輝度変化の山の間隔が変動しても、絶縁バレルの内折れや外折れを問題なく検出できる。
【００２３】
また、請求項６にかかる発明においては、請求項１，２，３，４又は５にかかる端子圧着不良検出装置において、端部の絶縁被覆を剥離した絶縁電線を、端子圧着装置に送る際に、前記撮像手段で剥離箇所の画像を取得し、取得した画像全体を、電線を横切る方向に走査して検出される輝度の山部と谷部の個数に基づいて絶縁被覆剥離の良否判定を行うようにしたので、絶縁電線のストリップミスも簡単に検出できる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の一実施例に係る端子圧着不良検出装置の概略構成図である。
【図２】第１ステージのＸ座標軸の決定方法を説明する図である。
【図３】第１ステージのＹ座標軸を決定する際のパターン作成方法を説明する図である。
【図４】パターン比較を説明する図である。
【図５】第２ステージの座標軸の決定方法を説明する図である。
【図６】圧着不良検出のための検出枠配置の一例を示す図である。
【図７】端子位置の良否を判定する際の輝度変化判定方法を説明する図である。
【図８】絶縁バレルの圧着状態判定方法を説明する図である。
【図９】端子の浅打ち及び深打ち状態を示す図である。
【図１０】絶縁バレルの内折れ及び外折れ状態を示す図である。
【図１１】芯線こぼれ状態を示す図である。
【図１２】端子付き電線の端子取付部分を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
【実施例１】
【００２６】
図１は、本発明の一実施例に係る端子圧着不良検出装置の概略構成図である。図１において、１は検出装置本体、２は端子部の静止画像を取得するためのカメラ、３はパーソナルコンピュータ、４は端子付き電線、５は端子付き電線４の搬送装置、６は端子付き電線４の通過を検知するための通過センサである。
【００２７】
搬送装置５により搬送中の端子付き電線４を、照明装置（図示せず）で照明しながらカメラ２で撮影し、その画像データを検出装置本体１に取り込む。検出装置本体１は、ＣＰＵ（中央演算装置）を備えていて、カメラ２から取り込んだ画像データの処理を実行する。また、検出装置本体１は、検査結果等を表示するためのディスプレイや各種操作用の操作ボタンを備えているとともに、パーソナルコンピュータ３を接続して、パーソナルコンピュータ３により各種設定ができるようになっている。
【００２８】
搬送装置５の先には端子圧着装置が配置され、端部の絶縁被覆を一定長だけ剥離した絶縁電線を、カメラ２の下を通して端子圧着装置に送り、端子圧着装置で電線端部に端子を圧着した後、搬送装置５で反対方向に送り返し、再びカメラ２の下を通過させる。その時、通過センサ６で端子付き電線４の通過を検知し、所定の遅延時間を与えて、端子付き電線４がカメラ２の下を通過するタイミングでカメラ２のシャッタを切る。その際、カメラ２は高速シャッタ（例えば１／８０００秒）で撮影するか、あるいはストロボ撮影することにより、端子付き電線４が高速で移動していても、ブレることなく精細に撮影できるようにする。
【００２９】
本発明の端子圧着不良検出装置では、このように、端子付き電線４が高速で移動している状態で撮影するため、画像中の端子付き電線４の位置は、必ずしも一定しない。そこで、画像処理装置の負担が少ない方法で、縦横で基準となる座標軸を設定し、それらを基準に位置決めして画像の判定を行うようにした。
【００３０】
図２は、第１ステージのＸ座標軸の決定方法を説明する図である。カメラ２で撮影した画像Ｐの所定位置に探索枠Ｆ−１を設定する。この探索枠Ｆ−１の設定は、パーソナルコンピュータ３によりユーザが行う。探索枠Ｆ−１内を複数回、縦方向（端子付き電線４を横切る方向）に走査して、輝度が所定値以上の画素について、各画素毎に輝度に応じた重み付けを行い、各ライン毎に輝度の重心点Ｃ１，Ｃ２，・・・，Ｃｎを求める。すなわち、該当する各画素の走査方向の位置座標をＹ１，Ｙ２，・・・，Ｙｍ、それら各画素の輝度をＢ１，Ｂ２，・・・，Ｂｍとすると、重心点の位置Ｃは、
Ｃ＝（Ｙ１・Ｂ１＋Ｙ２・Ｂ２＋・・・＋Ｙｍ・Ｂｍ）／（Ｂ１＋Ｂ２＋・・・＋Ｂｍ）
となる。
【００３１】
そのようにして得られた各重心点Ｃ１，Ｃ２，・・・，Ｃｎを最小２乗法により近似される直線を、第１ステージのＸ座標軸Ｘ１とする。このようにすれば、それぞれの撮影画像において、端子付き電線４の位置にバラツキがあったり、多少の傾きがあっても、この座標軸Ｘ１は、常に、端子付き電線４の中心軸を通る直線となる。
【００３２】
次に、座標軸Ｘ１と直交する第１ステージのＹ座標軸Ｙ１を決定する方法を説明する。図３（Ａ）に示すように、カメラ２で撮影した画像Ｐ全体を縦方向に走査して、各走査ラインにおいて隣接する画素の輝度の差を積算して、図３（Ｂ）に示すような変化パターンを得る。なお、輝度の差の積算値は、走査ライン方向の形状変化の度合いを示すので、該積算値の変化パターンは、端子付き電線４の長手方向の形状変化に対応したパターンになる。
【００３３】
一方、予め、基準となる端子付き電線を使って、同様な方法で作成した基準パターンを、特徴が顕著に表れる範囲だけ保持しておく。そして、図４に示すように、上記被検査端子付き電線のパターンと範囲Ｆ−２の基準パターンＰＳとの正規化相関をとって、両パターンが最も一致する位置を基準にして、座標軸Ｘ１と直交するＹ座標軸Ｙ１を決定する。例えば、両パターンが最も一致したときの範囲Ｆ−２の左端に対応する画像Ｐ上の位置を通って座標軸Ｘ１と直交する軸を第１ステージのＹ座標軸Ｙ１とする。
【００３４】
このようにして決定した第１ステージの座標軸Ｘ１，Ｙ１で十分な精度が得られる場合は、該座標軸Ｘ１，Ｙ１を基準にして、後述するような端子圧着不良の検出を行うことができる。しかしながら、第１ステージの座標軸Ｘ１，Ｙ１では十分な精度が得られない場合は、次のようにして、より精度の高い第２ステージの座標軸を設定する。
【００３５】
図５は、第２ステージの座標軸の決定方法を説明する図である。前記座標軸Ｘ１と座標軸Ｙ１を基準とし、端子付き電線４の端子部分の、電線軸と平行な直線部に、探索枠Ｆ−３を設定し、該枠内において、前記座標軸Ｙ１の方向に複数回平行に走査して、輝度が急激に変化するエッジＥ１〜Ｅ４を探索し、得られた各エッジＥ１〜Ｅ４を最小２乗法により近似される直線を第２ステージの座標軸Ｘ２とする。この座標軸Ｘ２は、第１ステージの座標軸Ｘ１との間に多少の傾きが残っていても、端子の直線部に合わせて修正される。
【００３６】
さらに、第１ステージの座標軸Ｘ１と座標軸Ｙ１を基準とし、端子付き電線４の端子部分の電線軸と直角な直線部、例えば、長方形の開口部２４の前縁に、探索枠Ｆ−４を設定し、該枠内において、座標軸Ｘ２の方向に、走査して単一のエッジＥ５を探索し、該エッジ位置に基づいて、座標軸Ｘ２と直交する直線を座標軸Ｙ２とする。
【００３７】
次に、端子圧着不良の検出方法について説明する。まず、上記のようにして求めた座標軸Ｘ２，Ｙ２（又は、第１ステージの座標軸Ｘ１，Ｙ１）を基準にして、圧着不良検出のための検出枠を設定する。図６は、圧着不良検出のための検出枠配置の一例を示す図である。検出枠ａ，ｂ，ｃ，ｄは、端子の位置の異常を検出するためのものである。これらの検出枠内を、座標軸Ｙ２の方向に走査して、輝度変化の度合いを検出し、それに基づいて端子の浅打ち及び深打ち状態を検出する。
【００３８】
また、検出枠ｅは、絶縁バレル２１の異常を検出するためのもので、この検出枠内を、座標軸Ｙ２の方向に走査して、絶縁バレル２１の内折れや外折れを検出する。そしてまた、検出枠ｆ，ｇ，ｈは、ワイヤバレル２２からの芯線こぼれを検出するためのもので、これらの検出枠内に一定輝度以上の画素が一つでも存在するか否かで芯線こぼれの有無を検出する。
【００３９】
次に、各部位の異常を検知する方法について説明する。
(1) 浅打ち
浅打ちは、図９（Ａ）に示すように、絶縁バレル２１が絶縁電線１０の絶縁被覆１２を把持する位置が浅すぎる状態をいい、検出枠ａ，ｃにより検出する。図６に示すように、正常な状態では、検出枠ａ内には、絶縁被覆１２があるため、検出枠ａ内は、電線を横切る方向に輝度変化の回数は少なくなる。また、検出枠ｃ内には、複数の細線を撚り合わせた芯線１１があるため、細線を横切る毎に輝度が変化するので、輝度変化の回数が多くなる。
【００４０】
それに対して、浅打ちの状態では、絶縁被覆１２が絶縁バレル２１の他端に露出せず、また、芯線１１の先端部がワイヤバレル２２の他端に露出しない。したがって、検出枠ａ内には、芯線１１があるため電線を横切る方向に輝度変化が多くなる。また、検出枠ｄ内には芯線１１がなくなるため電線を横切る方向に輝度変化が少なくなる。
【００４１】
そこで、検出枠ａ，ｃ内を座標軸Ｙ２の方向に走査して、図７に示すような、各位置毎の輝度を求め、輝度の谷部から所定幅ΔＢを超える上昇、及び、輝度の山部から所定幅ΔＢを超える低下があった回数をカウントし、そのカウント数が所定回数を超えたか否かで、良否を判定する。そして、検出枠ａで上記カウント数が所定回数を超えたときは、そこに芯線１１があるとみなして「不良」の判定を行う。また、検出枠ｃでは、上記カウント数が所定回数未満であるときは、そこに芯線１１が出ていないものとみなして「不良」の判定を行う。このように、輝度変化の回数を基準にして判定を行うようにしたので、端子付き電線４に多少のねじれがあって、輝度変化の山，谷の間隔が変動しても問題なく検出できる。
【００４２】
(2) 深打ち
深打ちは、図９（Ｂ）に示すように、絶縁バレル２１が絶縁電線１０の絶縁被覆１２を把持する位置が深すぎる状態をいい、検出枠ｂ，ｄによりそれを検出する。図６に示すように、正常な状態では、検出枠ｂ内には、多数の細線を束ねた芯線１１があるため、電線を横切る方向に輝度変化の回数が多くなる。また、検出枠ｄ内は端子２０の平板部が位置するため、電線を横切る方向に輝度変化が少なくなる。
【００４３】
それに対して、深打ちの状態では、絶縁被覆１２が絶縁バレル２１の他端に長く露出し、また、芯線１１の先端部もワイヤバレル２２の他端に長く露出する。したがって、検出枠ｂ内は、絶縁被覆１２のため電線を横切る方向に輝度変化が少なくなる。また、検出枠ｄ内には芯線１１があるため電線を横切る方向に輝度変化が多くなる。
【００４４】
そこで、上記と同様に、検出枠ｂ，ｄ内を座標軸Ｙ２の方向に走査して、各位置毎の輝度を求め、輝度の谷部から所定幅ΔＢを超える上昇、及び、輝度の山部から所定幅ΔＢを超える低下があった回数をカウントし、検出枠ｂで上記カウント数が所定回数未満であるときは、そこに絶縁被覆１２があるものとみなして「不良」の判定を行う。また、検出枠ｄでは、上記カウント数が所定回数を超えたときは、そこに芯線１１があるとみなして「不良」の判定を行う。この場合も、輝度変化の回数を基準にして判定を行うようにしたので、端子付き電線４に多少のねじれがあって、輝度変化の山，谷の間隔が変動しても問題なく検出できる。
【００４５】
(3) 絶縁バレルの内折れ、外折れ
絶縁バレルの内折れ、外折れは、図１０（Ａ）に内折れ、図１０（Ｂ）に外折れの状態をそれぞれ示すように、本来は絶縁被覆１２の上にあるべき絶縁バレル２１が、内側や外側に折れ曲がっている状態をいい、検出枠ｅによりそれを検出する。図６に示すように、正常な状態では、検出枠ｅ内には、両側から絶縁被覆１２を押さえつけるように絶縁バレル２１の二つの山があって、それらの頂上部分の輝度が高くなり、その部分の間隔は所定の範囲内に収まる。
【００４６】
それに対して、絶縁バレルの内折れ、外折れの状態では、絶縁バレル２１の山の位置が正常状態よりずれてしまう。そこで、上記と同様に、検出枠ｅ内を座標軸Ｙ２の方向に走査して、図８に示すような、各位置毎の輝度を求め、その波形を前後から探索して、それぞれ、起点から所定幅ΔＢを超える上昇があった位置、及び、輝度の山部から所定幅ΔＢを超える低下があった位置を求める。そして、二つの山の内側にある位置Ｓ２−Ｓ３の間隔Ｄ１と、外側にある位置Ｓ１−Ｓ４の間隔Ｄ２との比が所定の範囲からずれていたとき、「不良」の判定を行う。このように、間隔Ｄ１や間隔Ｄ２それ自体の大きさを基準にして判定を行うのではなく、両者の比を基準にして判定を行うようにしたので、端子付き電線４に多少のねじれがあって、輝度変化の山の間隔が変動しても問題なく検出できる。
【００４７】
なお、上記検出枠ａ〜ｅ内の走査は、ラインを変えて複数回行い、各位置毎に平均を取るようにすれば、より精度の高い検出ができる。
【００４８】
(4) 芯線こぼれ
芯線こぼれは、図１１に示すように、本来何もない部分に芯線１１の一部１３がはみ出している状態をいい、検出枠ｆ，ｇ，ｈによりそれを検出する。検出枠ｆ，ｇ，ｈの部分には、本来何もなく、黒一色になるはずであるが、芯線１１の一部がはみ出すと、そこに画像が現れる。そこで、検出枠ｆ，ｇ，ｈのいずれかに、一定輝度以上の画素が一つでもあったら、「不良」の判定を行う。
【００４９】
(5) ストリップミス
ストリップミスは、端子を圧着する前に、絶縁電線の端部絶縁被覆を剥離した際、剥離した長さが規格外になっている状態をいう。端部の絶縁被覆を剥離した絶縁電線を、カメラ２の下を通して端子圧着装置に送る際に、カメラ２で剥離箇所を撮影し、取得した画像全体を、電線を横切る方向に走査して、前記浅打ち，深打ちの検出の際に用いたのと同様な方法で、走査ライン毎に輝度変化の回数を求める。芯線が露出した部分は、輝度変化の回数が多くなるので、絶縁被覆を正常に剥離した電線では、所定以上の回数になったラインの割合が所定の範囲内にあるはずである。そこで、所定以上の回数になったラインがどれだけ存在するかを基準にして良否判定を行う。
【符号の説明】
【００５０】
１…検出装置本体
２…カメラ
３…パーソナルコンピュータ
４…端子付き電線
５…搬送装置
６…通過センサ
１０…絶縁電線
１１…芯線
１２…絶縁被覆
２０…端子
２１…絶縁バレル
２２…ワイヤバレル
２３…端子先端部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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