(57)【要約】【課題】光ピックアップ装置自体のスキュー値や光ピックアップ装置に内蔵されたレンズの傾き角が比較的大きい場合でも出力信号の測定時間ができるだけ短縮され、測定効率の向上が図られた光ピックアップ装置の評価装置及びその評価方法を提供する。【解決手段】光ピックアップ装置２０の評価装置１は光ピックアップ装置２０を傾斜させる傾斜ステージ部１０と、出力信号を測定する測定部２と、制御部３と、を備え、制御部３が光ピックアップ装置２０を所定測定範囲内で傾斜させて出力信号を測定させ、３点の出力信号の２次曲線近似によりその極値を光ピックアップ装置２０の適正なスキュー値とする。また、制御部３は極値が得られなかったことを条件として、所定増分ずつ測定範囲を増加させながら１点ずつ繰り返し出力信号を追加測定させ、追加測定した出力信号を前記３点の出力信号に加えて演算した２次曲線近似により出力信号の極値を得る。【選択図】図３
2011248979.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップ装置自体または前記光ピックアップ装置に内蔵されたレンズを傾斜させる可動部と、
前記光ピックアップ装置が光ディスクから読み取って出力する出力信号を測定する測定部と、
前記可動部及び前記測定部の動作を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記可動部を制御して前記光ピックアップ装置または前記レンズを所定測定範囲内で傾斜させながら前記測定部に３点で前記出力信号を測定させ、前記３点の出力信号を用いて演算した２次曲線近似により前記出力信号の極値を前記光ピックアップ装置または前記レンズの適正な傾斜角として得るものであって、前記極値が得られなかったことを条件として、前記可動部の正側或いは負側のいずれか一方に所定増分ずつ測定範囲を増加させながら前記測定部に１点ずつ繰り返し前記出力信号を追加測定させ、追加測定を１点実行するたびに追加測定した前記出力信号を前記３点の出力信号に加えて演算した２次曲線近似により前記出力信号の極値を得ることを特徴とする光ピックアップ装置の評価装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記所定測定範囲内の正側及び負側及びこれらの中央部において前記３点の出力信号を前記測定部に測定させ、前記極値が得られなかったことを条件として、前記中央部より正側に極値が存在すると推定されるとき正側に測定範囲を増加させ、一方前記中央部より負側に極値が存在すると推定されるとき負側に測定範囲を増加させることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置の評価装置。
【請求項３】
光ピックアップ装置自体または前記光ピックアップ装置に内蔵されたレンズを所定測定範囲内で傾斜させながら前記光ピックアップ装置が光ディスクから読み取って出力する出力信号を３点測定する測定処理と、
前記３点の出力信号を用いて２次曲線近似を演算する２次曲線近似処理と、
前記光ピックアップ装置または前記レンズの適正な傾斜角として、前記２次曲線から前記出力信号の極値の有無を判定する極値判定処理と、
前記極値判定処理で前記極値が得られなかったことを条件として、正側或いは負側のいずれか一方に所定増分ずつ測定範囲を増加させながら１点ずつ前記出力信号を追加測定し、追加測定した前記出力信号を前記３点の出力信号に加えて２次曲線近似を演算する追加２次曲線近似処理、及び前記極値判定処理を、追加測定を１点実行するたびに繰り返す追加測定処理と、
を有することを特徴とする光ピックアップ装置の評価方法。
【請求項４】
前記測定処理では、前記所定測定範囲内の正側及び負側及びこれらの中央部において前記３点の出力信号を前記測定部に測定し、
前記追加測定処理では、前記極値が得られなかったことを条件として、前記中央部より正側に極値が存在すると推定されるとき正側に測定範囲を増加させ、一方前記中央部より負側に極値が存在すると推定されるとき負側に測定範囲を増加させる
ことを特徴とする請求項３に記載の光ピックアップ装置の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクから情報を読み取ったり、光ディスクに情報を書き込んだりする際に使用される光ピックアップ装置の性能に係る評価装置に関する。また、この光ピックアップ装置の評価装置で採用された光ピックアップ装置の評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ピックアップ装置は、従来ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）やＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）などの光ディスクから情報を読み取ったり、光ディスクに情報を書き込んだりする際に利用される。光ピックアップ装置は光源からの光を光ディスクに向かって照射し、光ディスクで反射した光を読み取って電気信号に変換、出力している。
【０００３】
光ピックアップ装置の評価装置は光ピックアップ装置が光ディスクから読み取って出力する出力信号を最も適正な値で得ることができるよう光ピックアップ装置を評価する装置である。光ピックアップ装置の出力信号の適正値を得るため、光ピックアップ装置の評価装置は光ピックアップ装置自体や光ピックアップ装置に内蔵されたレンズを変位させながら光ピックアップ装置の出力信号を測定する。このような光ピックアップ装置の評価装置、評価方法は特許文献１及び２に開示されている。
【０００４】
特許文献１に記載された光ピックアップ性能測定装置は光ピックアップの光学特性の測定方法、特にスキュー精度の測定方法に関して、光ピックアップで光ディスクを読み取る際のそのスキュー位置におけるジッタ値を算出している。スキュー位置とジッタ値との関係が２次曲線で示され、光ピックアップの最適なスキュー位置は２次曲線のジッタ値が最小となる点に設定されている。特許文献２に記載されたディスク記録及び／または再生装置及びそのチルト制御方法においても同様に、対物レンズを適正な傾き角に制御する方法について、２次近似を用いてジッタ値が最小、すなわち最良となる点を求めている。
【０００５】
なお、光ピックアップ装置の評価方法については、２次曲線で示されるジッタ値が最小となる点を求める方法のほかに、例えば光ディスクから読み取られる信号であるＲＦ信号を用いて、２次曲線で示されるＲＦ信号が最大となる点を求める方法などもある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−２０８１７５号公報
【特許文献２】特開２００６−１８５５６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
２次曲線近似によりジッタ値やＲＦ信号が最良となる極値を求める場合、光ピックアップ装置自体のスキュー値やレンズの傾き角の測定点が少なくとも３点必要になる。しかしながら、スキュー値や傾き角が大きくなるとそれらの測定範囲も大きく広げる必要があり、測定点が増加するとともに測定用ステージの移動量も増加することになる。その結果、測定時間が長期化し、測定効率が低下する可能性が高くなる。
【０００８】
本発明は上記の点に鑑みなされたものであり、光ピックアップ装置が光ディスクから読み取って出力する出力信号を最も適正な値で得ることができるよう光ピックアップ装置を評価するにあたって、光ピックアップ装置自体のスキュー値や光ピックアップ装置に内蔵されたレンズの傾き角が比較的大きい場合でも出力信号の測定時間ができるだけ短縮され、測定効率の向上が図られた光ピックアップ装置の評価装置及びその評価方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題を解決するため、本発明は光ピックアップ装置の評価装置において、光ピックアップ装置自体または前記光ピックアップ装置に内蔵されたレンズを傾斜させる可動部と、前記光ピックアップ装置が光ディスクから読み取って出力する出力信号を測定する測定部と、前記可動部及び前記測定部の動作を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記可動部を制御して前記光ピックアップ装置または前記レンズを所定測定範囲内で傾斜させながら前記測定部に３点で前記出力信号を測定させ、前記３点の出力信号を用いて演算した２次曲線近似により前記出力信号の極値を前記光ピックアップ装置または前記レンズの適正な傾斜角として得るものであって、前記極値が得られなかったことを条件として、前記可動部の正側或いは負側のいずれか一方に所定増分ずつ測定範囲を増加させながら前記測定部に１点ずつ繰り返し前記出力信号を追加測定させ、追加測定を１点実行するたびに追加測定した前記出力信号を前記３点の出力信号に加えて演算した２次曲線近似により前記出力信号の極値を得ることとした。
【００１０】
この構成によれば、最短で当初の３点の測定により出力信号の極値、すなわち光ピックアップ装置またはレンズの適正な傾斜角を得ることができる。さらに、３点の測定により出力信号の極値を得ることができなかった場合でも、追加測定を１点ずつ繰り返しながらその都度極値の有無を判定できる。
【００１１】
なお、上記「所定測定範囲」は予め設定した出力信号の任意の測定範囲であり、可動部を用いて光ピックアップ装置自体またはレンズを傾斜させる角度にして例えば４８分、３６分、０．８度、０．６度などといった角度として構わない。後述する実施形態では「所定測定範囲」を「４８分（±２４分）」と設定しているが、このような範囲に限定されるわけではない。同様に、上記「所定増分」は予め設定した任意の測定範囲の増分であり、角度にして例えば２４分、１２分、０．４度、０．２度などといった角度として構わない。後述する実施形態では「所定増分」を「（−）２４分」と設定しているが、このような増分に限定されるわけではない。
【００１２】
また、上記構成の光ピックアップ装置の評価装置において、前記制御部は、前記所定測定範囲内の正側及び負側及びこれらの中央部において前記３点の出力信号を前記測定部に測定させ、前記極値が得られなかったことを条件として、前記中央部より正側に極値が存在すると推定されるとき正側に測定範囲を増加させ、一方前記中央部より負側に極値が存在すると推定されるとき負側に測定範囲を増加させることとした。
【００１３】
この構成によれば、当初の３点の測定により出力信号の極値を得ることができなかった場合でも、測定範囲の正側或いは負側のいずれか一方でのみ極値の有無を判定できる。これにより、出力信号の極値の探査範囲を大幅に低減させることが可能である。
【００１４】
また、本発明は光ピックアップ装置の評価方法において、光ピックアップ装置自体または前記光ピックアップ装置に内蔵されたレンズを所定測定範囲内で傾斜させながら前記光ピックアップ装置が光ディスクから読み取って出力する出力信号を３点測定する測定処理と、前記３点の出力信号を用いて２次曲線近似を演算する２次曲線近似処理と、前記光ピックアップ装置または前記レンズの適正な傾斜角として、前記２次曲線から前記出力信号の極値の有無を判定する極値判定処理と、前記極値判定処理で前記極値が得られなかったことを条件として、正側或いは負側のいずれか一方に所定増分ずつ測定範囲を増加させながら１点ずつ前記出力信号を追加測定し、追加測定した前記出力信号を前記３点の出力信号に加えて２次曲線近似を演算する追加２次曲線近似処理、及び前記極値判定処理を、追加測定を１点実行するたびに繰り返す追加測定処理と、を有することとした。
【００１５】
この方法によれば、最短で当初の３点の測定により出力信号の極値、すなわち光ピックアップ装置またはレンズの適正な傾斜角を得ることができる。さらに、３点の測定により出力信号の極値を得ることができなかった場合でも、追加測定を１点ずつ繰り返しながらその都度極値の有無を判定できる。
【００１６】
また、上記構成の光ピックアップ装置の評価方法において、前記測定処理では、前記所定測定範囲内の正側及び負側及びこれらの中央部において前記３点の出力信号を前記測定部に測定し、前記追加測定処理では、前記極値が得られなかったことを条件として、前記中央部より正側に極値が存在すると推定されるとき正側に測定範囲を増加させ、一方前記中央部より負側に極値が存在すると推定されるとき負側に測定範囲を増加させることとした。
【００１７】
この方法によれば、当初の３点の測定により出力信号の極値を得ることができなかった場合でも、測定範囲の正側或いは負側のいずれか一方でのみ極値の有無を判定できる。これにより、出力信号の極値の探査範囲を大幅に低減させることが可能である。
【発明の効果】
【００１８】
本発明の構成によれば、光ピックアップ装置が光ディスクから読み取って出力する出力信号を最も適正な値で得ることができるよう光ピックアップ装置を評価するにあたって、光ピックアップ装置自体のスキュー値や光ピックアップ装置に内蔵されたレンズの傾き角の適正値が比較的大きい場合でも出力信号の測定時間ができるだけ短縮され、測定効率の向上が図られた光ピックアップ装置の評価装置及びその評価方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ピックアップ装置の評価装置を示す構成図である。
【図２】図１に示す光ピックアップ装置の評価装置の傾斜ステージ部の斜視図である。
【図３】図１に示す光ピックアップ装置のスキュー値の適正値算出に係る動作を示すフローチャートである。
【図４】スキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフの第１例である。
【図５】スキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフの第２例である。
【図６】スキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフの第３例である。
【図７】スキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフにして、図５の第２例の測定範囲を増加させた状態を示すものである。
【図８】スキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフにして、図６の第３例の測定範囲を増加させた状態を示すものである。
【図９】本発明の第２の実施形態に係る光ピックアップ装置の評価装置を示す構成図である。
【図１０】図９に示す光ピックアップ装置の対物レンズアクチュエータの斜視図である。
【図１１】図１０に示す対物レンズアクチュエータのコイル部の斜視図である。
【図１２】対物レンズの傾き角とジッタ値との関係を示すグラフの一例である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明の実施形態を図１〜図１２に基づき説明する。
【００２１】
最初に、本発明の第１の実施形態に係る光ピックアップ装置の評価装置について、図１及び図２を用いてその構造を説明する。図１は光ピックアップ装置の評価装置を示す構成図、図２は図１に示す光ピックアップ装置の評価装置の傾斜ステージ部の斜視図である。
【００２２】
光ピックアップ装置の評価装置１は光ディスクＤから情報を読み取ったり、光ディスクＤに情報を書き込んだりする際に使用される光ピックアップ装置２０の性能に係る評価装置であって、図１に示すように可動部である傾斜ステージ部１０と、測定部２と、制御部３と、メモリ４とを備えている。
【００２３】
傾斜ステージ部１０は、図１及び図２に示すように支持部１１、タンジェンシャル方向ゴニオステージ装置１２、及びラジアル方向ゴニオステージ装置１３を備えている。
【００２４】
支持部１１は傾斜ステージ部１０の最上部に配置されている。支持部１１は略水平方向に延びる２本の支軸１１ａを備えている。支軸１１ａは一端がフレーム１１ｂに固定された片持ち梁状にして構成されている。そして、支持部１１は光ピックアップ装置２０に略水平方向に延びる形で設けられた２箇所の貫通孔２１に各支軸１１ａを挿通させることにより光ピックアップ装置２０を支持している。
【００２５】
なお、光ピックアップ装置２０の評価に使用する光ディスクＤは図示しない搬送機構により、図１に示すように支持部１１に支持された光ピップアップ装置２０の上方に搬送される。光ピックアップ装置２０はこの光ディスクＤに対して光を照射する。
【００２６】
タンジェンシャル方向ゴニオステージ装置１２及びラジアル方向ゴニオステージ装置１３は支持部１１の下方に配置されている。
【００２７】
タンジェンシャル方向ゴニオステージ装置１２は支持部１１のすぐ下方に配置され、支持部１１を支持するとともに、その底部でラジアル方向ゴニオステージ装置１３によって支持されている。タンジェンシャル方向ゴニオステージ装置１２は傾斜ステージ１２ａ及び駆動モータ１２ｂを備えている。傾斜ステージ１２ａは駆動モータ１２ｂを用いて、図１の紙面に対して垂直に、すなわち支持部１１の支軸１１ａが延びる方向に沿って平行に延びる回転軸線を中心として支持部１１及び光ピックアップ装置２０の回転（傾斜）が可能である。タンジェンシャル方向ゴニオステージ装置１２による支持部１１及び光ピックアップ装置２０の傾斜方向を図２の矢印「Ｔａｎ」で示す。
【００２８】
一方、ラジアル方向ゴニオステージ装置１３はタンジェンシャル方向ゴニオステージ装置１２のすぐ下方に配置され、タンジェンシャル方向ゴニオステージ装置１２を支持するとともに、その底部が図示しない評価装置１のフレームに固定されている。ラジアル方向ゴニオステージ装置１３は傾斜ステージ１３ａ及び駆動モータ１３ｂを備えている。傾斜ステージ１３ａは駆動モータ１３ｂを用いて、図１の左右方向に水平に、すなわち支軸１１ａが延びる方向と直角をなす方向に水平に延びる回転軸線を中心として支持部１１及び光ピックアップ装置２０の回転（傾斜）が可能である。ラジアル方向ゴニオステージ装置１３による支持部１１及び光ピックアップ装置２０の傾斜方向を図２の矢印「Ｒａｄ」で示す。
【００２９】
測定部２は光ピックアップ装置２０が光ディスクＤから読み取って出力する出力信号を測定している。この出力信号は光ピックアップ装置２０の性能の評価に使用する信号であって、光ディスクＤから読み取られる信号であるＲＦ出力信号や、出力信号の変動幅であるジッタ値などである。測定部２は光ディスクＤから得られる出力信号に係る情報を制御部３に送信する。
【００３０】
制御部３は一般的なマイコンによって構成され、このマイコン内部やメモリ４などに記憶、入力されたプログラム、データに基づいて評価装置１の運転に係る一連の動作を制御するプロセッサとして機能するものである。すなわち制御部３は傾斜ステージ部１０の駆動モータ１２ｂ及び駆動モータ１３ｂや測定部２の動作に係る制御指令をそれらに送信し、制御している。
【００３１】
続いて、光ピックアップ装置２０の評価装置１を用いたその評価方法のひとつである、光ピップアップ装置２０自体の傾斜を表す「スキュー値」の適正値算出に係る動作について、図３に示すフローに沿って、図４〜図８を用いて説明する。図３は光ピックアップ装置２０のスキュー値の適正値算出に係る動作を示すフローチャート、図４はスキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフの第１例、図５はスキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフの第２例、図６はスキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフの第３例、図７はスキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフにして、図５の第２例の測定範囲を増加させた状態を示すもの、図８はスキュー値とＲＦ出力信号との関係を示すグラフにして、図６の第３例の測定範囲を増加させた状態を示すものである。
【００３２】
なお、この光ピックアップ装置２０の評価方法は光ピックアップ装置２０の適正なスキュー値を光ディスクＤから読み取られるＲＦ出力信号を用いて算出している。そのため、図４〜図８は横軸に光ピックアップ装置２０自体のスキュー値（ｍｉｎ）を、縦軸にＲＦ信号の出力を設定して、スキュー値に対するＲＦ出力信号の関係を２次曲線で近似して描画している。四角印が測定部２による信号の測定データを、丸印が２次曲線の極値を示している。
【００３３】
また、光ピックアップ装置２０の適正なスキュー値算出はタンジェンシャル方向及びラジアル方向の各々について実行されるが、評価方法は両方向とも同様であるので、以下方向を特に限定せず説明するものとする。
【００３４】
光ピックアップ装置２０の評価装置１の運転を開始させると（図３のスタート）、制御部３は傾斜ステージ部１０を制御して光ピックアップ装置２０を所定測定範囲内（±Ｗ分［ｍｉｎ］）で傾斜させながら測定部２に３点でＲＦ出力信号を測定させる（図３のステップ＃１０１）。この所定測定範囲（±Ｗ分［ｍｉｎ］）は、例えば±２４分［ｍｉｎ］といった測定範囲に設定され、制御部３の内部メモリやメモリ４などに予め記憶されている。そして、この所定測定範囲は適宜変更することが可能である。測定範囲を±２４分に設定した場合、＋２４分、−２４分、及びこれらの中央である０分の３点でＲＦ出力信号を測定する。
【００３５】
測定を終えると、制御部３は３点のＲＦ出力信号の測定データを用いて２次曲線近似を演算し、その２次曲線の極値を算出する（ステップ＃１０２）。そして、制御部３は２次曲線の極値が±（Ｗ／２）分の範囲内、すなわち±１２分の範囲内に存在するか否かを判定する（ステップ＃１０３）。なお、測定精度を高めるために測定範囲（±Ｗ分）の半分の範囲内で極値の有無を判定している。
【００３６】
ここで、測定の結果、例えば図４の第１例に示すように３点のＲＦ出力信号及び上に凸の２次曲線が得られたものとする。この結果の場合、極値は約−４分であるので、±１２分の範囲内に存在することになる。極値が±１２分の範囲内に存在する場合（ステップ＃１０３のＹｅｓ）、制御部３はこの極値のスキュー値をその適正値として設定し（ステップ＃１１９）、スキュー値の適正値算出に係る動作フローを終了する（図３のエンド）。
【００３７】
一方、測定の結果、例えば図５の第２例や図６の第３例に示すように３点のＲＦ出力信号及び２次曲線が得られた場合、極値が±１２分の範囲内に存在しないことになる（ステップ＃１０３のＮｏ）。次に、制御部３は極値が０より大きいか否かを判定する（ステップ＃１０４）。例えば図５の第２例の場合、極値が−１２分から−２４分の間に存在するので、制御部３は極値が０より小さいと判定する（ステップ＃１０４のＮｏ）。また、例えば図６の第３例の場合、２次曲線の形状から極値が−２４分よりさらに負側に存在すると推定されるので、制御部３は極値が０より小さいと判定する（ステップ＃１０４のＮｏ）。
【００３８】
極値が０より小さいと判定されると、制御部３は測定変数ｎ＝−２とし（ステップ＃１０５）、測定範囲をＷ（２４分）のｎ倍、すなわち所定増分を−２４分として−４８分にまで増加させる（ステップ＃１０６）。この所定増分である−２４分を得る（Ｗ×ｎ）の計算式は予め任意に設定され、制御部３の内部メモリやメモリ４などに記憶されている。
【００３９】
そして、制御部３はステップ＃１０６で増加させた測定範囲が評価装置１自体の測定限界、或いは予め設定した任意の測定限界に到達したか否かを判定する（ステップ＃１０７）。測定限界である場合（ステップ＃１０７のＹｅｓ）、制御部３は適正なスキュー値を得ることなく、スキュー値の適正値算出に係る動作フローを終了する（図３のエンド）。
【００４０】
ステップ＃１０６で増加させた測定範囲が測定限界ではない場合（ステップ＃１０７のＮｏ）、次に制御部３は増加させた測定範囲をＷのｎ倍、すなわち−４８分に、傾斜ステージ部１０を制御して光ピックアップ装置２０を傾斜させ、測定部２にＲＦ出力信号を測定させる（ステップ＃１０８）。
【００４１】
測定を終えると、制御部３は４点のＲＦ出力信号の測定データを用いて２次曲線近似を演算し、その２次曲線の極値を算出する（ステップ＃１０９）。ここで、例えば図５の第２例の場合、測定範囲を−４８分に増加させ、２次曲線近似及び極値算出を実行すると図７に示すとおりになる。そして、制御部３は２次曲線の極値が（Ｗ／２）分から０分までの範囲内、すなわち−２４分〜０分の範囲内に存在するか否かを判定する（ステップ＃１１０）。なお、ステップ＃１０３と同様に、測定精度を高めるために測定範囲（Ｗ分）の半分の範囲内で極値の有無を判定している。
【００４２】
例えば図７に示すような結果の場合、極値は約−１７分であるので、−２４分〜０分の範囲内に存在することになる。極値が−２４分〜０分の範囲内に存在する場合（ステップ＃１１０のＹｅｓ）、制御部３はこの極値のスキュー値をその適正値として設定し（ステップ＃１１９）、スキュー値の適正値算出に係る動作フローを終了する（図３のエンド）。
【００４３】
一方、図６の第３例の場合、測定範囲を−４８分に増加させ、２次曲線近似及び極値算出を実行すると図８に示すとおりになる。これにより、極値が−２４分〜０分の範囲内に存在しないことになるので（ステップ＃１１０のＮｏ）、制御部３はさらに測定範囲を増加させる準備として測定変数ｎをｎ−１にする（ステップ＃１１１）。
【００４４】
そして引き続き、制御部３は光ピックアップ装置２０自体の適正なスキュー値が得られるか、適正なスキュー値を得ることなく測定範囲が限界となるまで、ステップ＃１０６からステップ＃１１１までのフローを繰り返す。
【００４５】
なお、ステップ＃１０４において極値が０より大きいと判定された場合（ステップ＃１０４のＹｅｓ）、上記ステップ＃１０５からステップ＃１１１までのフローと同様にステップ＃１１２からステップ＃１１８までのフローを実行するので、詳細な説明は省略する。この場合、制御部３は傾斜ステージ部１０の正側に所定増分ずつ測定範囲を増加させながら測定部２に１点ずつ繰り返しＲＦ出力信号を追加測定させ、追加測定を１点実行するたびに追加測定したＲＦ出力信号を当初の３点のＲＦ出力信号に加えて演算した２次曲線近似によりＲＦ出力信号の極値を得る。
【００４６】
上記実施形態によれば、最短で当初の３点の測定によりＲＦ出力信号の極値、すなわち適正なスキュー値を得ることができる。さらに、これら３点の測定によりＲＦ出力信号の極値を得ることができなかった場合でも、追加測定を１点ずつ繰り返しながらその都度極値の有無を判定できる。また、測定範囲の正側或いは負側のいずれか一方でのみＲＦ出力信号の極値の有無を判定できるので、ＲＦ出力信号の極値の探査範囲を大幅に低減させることが可能である。したがって、光ピックアップ装置２０自体の適正なスキュー値が比較的大きい場合でもＲＦ出力信号の測定時間ができるだけ短縮され、測定効率の向上が図られた光ピックアップ装置２０の評価装置１及びその評価方法を提供することができる。
【００４７】
次に、本発明の第２の実施形態に係る光ピックアップ装置の評価装置について、図９〜図１１を用いてその構造を説明する。図９は光ピックアップ装置の評価装置を示す構成図、図１０は図９に示す光ピックアップ装置の対物レンズアクチュエータの斜視図、図１１は図１０に示す対物レンズアクチュエータのコイル部の斜視図である。
【００４８】
ここで、第２の実施形態に係る光ピックアップ装置の評価装置は、光ピックアップ装置に内蔵された対物レンズの適正な傾斜角を評価するものである。そして、図９に示すように、光ピックアップ装置３０は光源３１、回折素子３２、偏光ビームスプリッタ３３、１／４波長板３４、コリメートレンズ３５、立ち上げミラー３６、対物レンズ３７、シリンドリカルレンズ３８、及び光検出器３９を備えている。
【００４９】
光源３１は半導体レーザで構成され、光ピックアップ装置３０がブルーレイディスクに対応する場合に４０５ｎｍ帯のレーザ光を出射する。回折素子３２はレーザ光の進行方向に関して光源３１のすぐ下流に配置され、装置の制御上の必要性により光源３１から出射されたレーザ光を主光と２つの副光に分けるためのものである。
【００５０】
偏光ビームスプリッタ３３は回折素子３２の下流に配置され、その光ディスクＤ側に配置された１／４波長板３４と協働して光アイソレータの役割を果たす。すなわち、偏光ビームスプリッタ３３は光源３１から直接出射されたレーザ光を反射させて光ディスクＤ側に導き、光ディスクＤで反射された戻り光を透過させて光検出器３９側に導く。
【００５１】
コリメートレンズ３５は１／４波長板３４の光ディスクＤ側に配置され、入射するレーザ光を平行光に変換するレンズである。コリメートレンズ３５はコリメートレンズ位置調整機構４０を用いて光軸方向（図９の左右方向）に移動が可能である。コリメートレンズ３５を光軸方向に移動させることにより、対物レンズ３７に入射するレーザ光の収束状態或いは発散状態を調整して球面収差を抑制することができる。
【００５２】
立ち上げミラー３６はコリメートレンズ３５の光ディスクＤ側に配置され、コリメートレンズ３５に導かれたレーザ光を対物レンズ３７に向かって反射する。これにより、光源３１から出射されたレーザ光はその進行方向が変更され、光ディスクＤの情報記録面と直交する方向に進行する光となる。
【００５３】
対物レンズ３７は立ち上げミラー３６の光ディスクＤ側であって、光ディスクＤに近接して配置され、立ち上げミラー３６によって導かれたレーザ光を光ディスクＤの情報記録面に集光する。対物レンズ３７はその可動部である対物レンズアクチュエータ５０を用いて光ディスクＤに対して接近、離間する方向であるフォーカス方向（図９の上下方向）と、光ディスクＤの径方向と平行な方向であるトラック方向（図９の紙面に対して垂直をなす方向）とに移動が可能である。さらに、対物レンズアクチュエータ５０は対物レンズ３７をフォーカス方向及びトラック方向と直交する軸線周りに傾斜させることが可能となっている。
【００５４】
対物レンズアクチュエータ５０は、図１０に示すようにベース部材であるアクトベース５１上にレンズホルダ５２を備えている。レンズホルダ５２は直方体形状をなし、その上部に対物レンズ３７を保持している。また、アクトベース５１上にはレンズホルダ５２を側方から挟んで対向する形で一対の永久磁石５３が設けられている。
【００５５】
直方体形状をなすレンズホルダ５２の側面に関して、２個の永久磁石５３によって挟まれていない２箇所の側面には片側に３本ずつ、計６本のワイヤ５４が設けられている。レンズホルダ５２側面の片側３本のワイヤ５４は上下方向に並べて配置され、各ワイヤ５４の一端がレンズホルダ５２の側面に固定されている。各ワイヤ５４の他端はアクトベース５１上に設けられた回路基板５５に固定されている。これにより、レンズホルダ５２はワイヤ５４によって揺動可能に支持された状態となっている。
【００５６】
また、レンズホルダ５２の内部には、図１１に示すコイル部５６が設けられている。コイル部５６はレンズホルダ５２の内壁に沿って対物レンズ３７を通過する光軸を取り巻くように配置されたフォーカスコイル５６ｆと、２個の永久磁石５３と対向する形で各々２個ずつ配置されたトラックコイル５６ｔと、フォーカスコイル５６ｆの下方に一対の永久磁石５３が対向し合う方向と直角をなす方向に並べて配置された２個のチルトコイル５６ｒとを備えている。これら３つのコイルにはワイヤ５４を介して電力が供給されるようになっている。
【００５７】
フォーカスコイル５６ｆに電流が流れると、対物レンズ３７を擁するレンズホルダ５２は永久磁石５３の磁界との電磁気的な作用により電流の方向及び大きさに応じてフォーカス方向（図１０の矢印ｆ）に移動する。同様にトラックコイル５６ｔに電流が流れると、対物レンズ３７を擁するレンズホルダ５２は電流の方向及び大きさに応じてトラック方向（図１０の矢印ｔ）に移動する。
【００５８】
そして、チルトコイル５６ｒに電流が流れると、対物レンズ３７を擁するレンズホルダ５２は電流の方向及び大きさに応じてフォーカス方向及びトラック方向と直交する軸線（図１０の矢印ｒ）周りに回転する。この回転により、対物レンズ３７は傾斜する。
【００５９】
また、図９において、光ディスクＤの情報記録面で反射された戻り光は対物レンズ３７、立ち上げミラー３６、コリメートレンズ３５、１／４波長板３４、偏光ビームスプリッタ３４の順に通過してシリンドリカルレンズ３８に導かれる。シリンドリカルレンズ３８は装置の制御上の必要性により入射したレーザ光に非点収差を与える。
【００６０】
シリンドリカルレンズ３８によって非点収差を与えられたレーザ光は光検出器３９の受光領域に集光される。光検出器３９は受光したレーザ光を電気信号に変換して出力する。
【００６１】
一方、光ピックアップ装置３０の評価装置６０は、図９に示すように測定部６１と、制御部６２と、メモリ６３とを備えている。
【００６２】
測定部６１は光ピックアップ装置３０が光ディスクＤから読み取って出力する出力信号を測定している。この出力信号は光ピックアップ装置３０の性能の評価に使用する信号であって、光ディスクＤから読み取られる信号であるＲＦ出力信号や、出力信号の変動幅であるジッタ値などである。測定部６１は光ディスクＤから得られる出力信号を制御部６２に送信する。
【００６３】
制御部６２は一般的なマイコンによって構成され、このマイコン内部やメモリ６３などに記憶、入力されたプログラム、データに基づいて評価装置６０の運転に係る一連の動作を制御するプロセッサとして機能するものである。すなわち制御部６２は光ピックアップ装置３０のコリメートレンズ位置調整機構４０及び対物レンズアクチュエータ５０や測定部６１の動作に係る制御指令をそれらに送信し、制御している。
【００６４】
続いて、光ピックアップ装置３０の評価装置６０を用いたその評価方法のひとつである、光ピップアップ装置３０に内蔵された対物レンズ３７の傾き角の適正値算出に係る動作について、図１２を用いて説明する。図１２は対物レンズの傾き角とジッタ値との関係を示すグラフの一例である。
【００６５】
なお、この第２の実施形態における対物レンズ３７の傾き角の適正値算出に係る動作はその動作フローが前記第１の実施形態において用いた図３と基本的に同じであるので、フローの記載及びその詳細な説明を省略するものとし、図３を参照しながら図１２のグラフを用いて説明する。
【００６６】
また、この光ピックアップ装置３０の評価方法は対物レンズ３７の適正な傾き角を光ディスクＤから読み取られる出力信号のジッタ値を用いて算出している。そのため、図１２は横軸に対物レンズ３７の傾き角（ｍｉｎ）を、縦軸に出力信号のジッタ値を設定して、傾き角に対するジッタ値の関係を２次曲線で描画している。四角印が測定部６１による信号の測定データを、丸印が２次曲線の極値を示している。
【００６７】
光ピックアップ装置３０の評価装置６０の運転を開始させると（図３のスタート）、制御部６２は対物レンズアクチュエータ５０を制御して対物レンズ３７を所定測定範囲内（±Ｗ分［ｍｉｎ］）で傾斜させながら測定部６１に３点で出力信号のジッタ値を測定させる（図３のステップ＃１０１）。この所定測定範囲（±Ｗ分［ｍｉｎ］）は、例えば±２４分［ｍｉｎ］といった測定範囲に設定され、制御部６２の内部メモリやメモリ６３などに予め記憶されている。そして、この所定測定範囲は適宜変更することが可能である。測定範囲を±２４分に設定した場合、＋２４分、−２４分、及びこれらの中央である０分の３点でジッタ値を測定する。
【００６８】
測定を終えると、制御部６２は３点のジッタ値の測定データを用いて２次曲線近似を演算し、その２次曲線の極値を算出する（ステップ＃１０２）。そして、制御部６２は２次曲線の極値が±（Ｗ／２）分の範囲内、すなわち±１２分の範囲内に存在するか否かを判定する（ステップ＃１０３）。なお、測定精度を高めるために測定範囲（±Ｗ分）の半分の範囲内で極値の有無を判定している。
【００６９】
ここで、測定の結果、例えば図１２に示すように３点のジッタ値及び下に凸の２次曲線が得られたものとする。この結果の場合、極値は約４分であるので、±１２分の範囲内に存在することになる。極値が±１２分の範囲内に存在する場合（ステップ＃１０３のＹｅｓ）、制御部６２はこの極値の傾き角をその適正値として設定し（ステップ＃１１９）、傾き角の適正値算出に係る動作フローを終了する（図３のエンド）。
【００７０】
一方、ジッタ値の２次曲線の極値が±１２分の範囲内に存在しない場合（ステップ＃１０３のＮｏ）以下については第１の実施形態と同様であるので、ステップ＃１０４〜＃１１８の詳細な説明を省略する。
【００７１】
このようにして、光ピックアップ装置３０に内蔵された対物レンズ３７に関しても、最短で当初の３点の測定によりジッタ値の極値、すなわち適正な傾き角を得ることができる。さらに、これら３点の測定によりジッタ値の極値を得ることができなかった場合でも、追加測定を１点ずつ繰り返しながらその都度極値の有無を判定できる。また、測定範囲の正側或いは負側のいずれか一方でのみジッタ値の極値の有無を判定できるので、ジッタ値の極値の探査範囲を大幅に低減させることが可能である。したがって、光ピックアップ装置３０に内蔵された対物レンズ３７の適正な傾き角が比較的大きい場合でもジッタ値の測定時間ができるだけ短縮され、測定効率の向上が図られた光ピックアップ装置３０の評価装置６０及びその評価方法を提供することができる。
【００７２】
以上、本発明の実施形態につき説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実施することができる。
【００７３】
例えば、本発明の実施形態では、光ピックアップ装置に内蔵されたレンズの評価に関して、第２の実施形態において対物レンズ３７を一例として掲げて説明したが、評価対象となるレンズは対物レンズに限定されるわけではなく、他のレンズであっても構わない。
【産業上の利用可能性】
【００７４】
本発明は、光ピックアップ装置の評価装置及びその評価方法において利用可能である。
【符号の説明】
【００７５】
１、６０  評価装置
２、６１  測定部
３、６２  制御部
１０  傾斜ステージ部（可動部）
２０  光ピックアップ装置
３０  光ピックアップ装置
３７  対物レンズ（レンズ）
５０  対物レンズアクチュエータ（可動部）
Ｄ    光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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