(57)【要約】【課題】安定した温度条件下で試料の硬度を精度よく測定することができるとともに、計測子が損傷しない硬度測定装置を提供する。【解決手段】硬度測定装置は、上壁１ａに形成されて上側開口部５及び下側開口部６を有する貫通通路４と、計測子９ｅを有する硬度計９と、恒温槽１内部のテーブル１０と、試料Ｓを載置するアダプタ１１と、上側開口部５を遮蔽する第１の遮蔽手段と、リフター１３と、リフター１３を上昇させてアダプタ１１を持ち上げて、試料Ｓを貫通通路４に挿入して所定位置に供給する第１の駆動手段と、アダプタ１１に形成され、試料Ｓが所定位置に供給されたときに下側開口部６を遮蔽する第２の遮蔽手段と、下側開口部６の遮蔽と同時またはその後に第１の遮蔽手段を移動させて上側開口部５を開放する第２の駆動手段と、上側開口部５の開放後に硬度計９を下降させて計測子９ｅを試料Ｓの表面に押し付ける第３の駆動手段とを備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
恒温槽で保温された試料の硬度を測定する硬度測定装置であって、
前記恒温槽の上壁に形成され、上下方向にのび、上側開口部および下側開口部を有する貫通通路と、
前記上側開口部の上方に配置され、下向きの計測子を有する硬度計と、
前記恒温槽の内部に設けられたテーブルと、
前記下側開口部の下方に配置され、前記テーブルに支持され、前記試料を載置するアダプタと、
前記恒温槽の外部に設けられ、前記上側開口部を遮蔽する第１の遮蔽手段と、
前記恒温槽の内部に設けられたリフターと、
前記リフターを上昇させ、前記リフターで前記アダプタを持ち上げて、前記試料を前記貫通通路に挿入して所定位置に供給する第１の駆動手段と、
前記アダプタに形成され、前記試料が前記所定位置に供給されたときに前記下側開口部を遮蔽する第２の遮蔽手段と、
前記下側開口部の遮蔽と同時またはその後に、前記第１の遮蔽手段を移動させて、前記上側開口部を開放する第２の駆動手段と、
前記上側開口部の開放後に、前記硬度計を下降させて、前記計測子を前記試料の表面に押し付ける第３の駆動手段と、を備えたことを特徴とする硬度測定装置。
【請求項２】
前記第２の遮蔽手段は、前記下側開口部の周囲において前記上壁と密接するリング状部からなることを特徴とする請求項１に記載の硬度測定装置。
【請求項３】
前記リング状部は、フランジであることを特徴とする請求項２に記載の硬度測定装置。
【請求項４】
前記テーブルは、上下方向の垂直軸の周りに回転することによって前記アダプタを水平方向に送るターンテーブルからなることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の硬度測定装置。
【請求項５】
前記テーブルは、上下方向にのびる貫通孔を有し、前記貫通孔の周囲において前記アダプタを支持し、
前記リフターは、前記貫通孔の下方に配置されたロッドからなり、
前記第１の駆動手段は、前記ロッドを前記貫通孔に挿入させ、前記ロッドで前記試料を押し上げて前記所定位置に供給するように構成されることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の硬度測定装置。
【請求項６】
前記貫通通路は、円形断面のもので、互いに連通する第１の通路および第２の通路からなり、前記第１の通路は、前記第２の通路の上部に形成され、その内径は、前記第２の通路の内径よりも小さくなっており、前記第１および第２の通路は、同心に形成されており、前記上側開口部は、前記第１の通路の上端に形成され、前記下側開口部は、前記第１の通路の下端に形成されるように構成されることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の硬度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、硬度測定装置、特に、恒温槽で保温された試料の硬度を測定する硬度測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ゴム等の試料の硬度を測定する硬度測定装置が、例えば実開昭６３−１６１３４９号公報（特許文献１参照）に記載され、提案されている。
この公報に記載の硬度測定装置において、恒温槽の内部には、試料を載置したターンテーブル（回転台）が設けられている。試料は、ターンテーブルに設けられた固定具で固定されている。恒温槽の上部には、試料の上方にあたる位置に、蓋が設けられている。恒温槽の外部には、蓋の上方にあたる位置に、下向きの計測子（触子）を有する硬度計が設けられている。
【０００３】
この硬度測定装置は、試料が恒温槽で所定の温度に保温された後に、蓋を開放し、硬度計を降下させて恒温槽の内部に侵入させ、計測子を試料に押し付けることによって、当該試料の硬度を測定する。また、この硬度測定装置は、当該試料の硬度の測定データを取得した後、硬度計を上昇させて恒温槽外部の元の位置に戻し、蓋をすることによって、その測定を終了する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実開昭６３−１６１３４９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、この硬度測定装置では、硬度計を恒温槽の内部に侵入させて、試料の硬度を測定するとき、蓋が開放された状態となるため、外気によって恒温槽内部の温度が変化し、結果として恒温槽の温度条件が安定しないという問題があった。したがって、この硬度測定装置では、恒温槽の温度精度が悪化して、試料の硬度の測定精度が悪化する。
また、この硬度測定装置は硬度計全体ではなくその計測子だけを高温または低温の恒温槽の内部に挿入するように構成されているが、恒温槽の内部の温度によって計測子が損傷することもあると考えられる。
【０００６】
本発明の課題は、安定した温度条件下で試料の硬度を精度よく測定することができるとともに、計測子が損傷しない硬度測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明は、恒温槽で保温された試料の硬度を測定する硬度測定装置であって、前記恒温槽の上壁に形成され、上下方向にのび、上側開口部および下側開口部を有する貫通通路と、前記上側開口部の上方に配置され、下向きの計測子を有する硬度計と、前記恒温槽の内部に設けられたテーブルと、前記下側開口部の下方に配置され、前記テーブルに支持され、前記試料を載置するアダプタと、前記恒温槽の外部に設けられ、前記上側開口部を遮蔽する第１の遮蔽手段と、前記恒温槽の内部に設けられたリフターと、前記リフターを上昇させ、前記リフターで前記アダプタを持ち上げて、前記試料を前記貫通通路に挿入して所定位置に供給する第１の駆動手段と、前記アダプタに形成され、前記試料が前記所定位置に供給されたときに前記下側開口部を遮蔽する第２の遮蔽手段と、前記下側開口部の遮蔽と同時またはその後に、前記第１の遮蔽手段を移動させて、前記上側開口部を開放する第２の駆動手段と、前記上側開口部の開放後に、前記硬度計を下降させて、前記計測子を前記試料の表面に押し付ける第３の駆動手段と、を備えたことを特徴とする硬度測定装置としたものである。
【０００８】
上記構成において、前記第２の遮蔽手段は、前記下側開口部の周囲において前記上壁と密接するリング状部からなることが好ましい。ここで、前記リング状部を、フランジで構成することもできる。
【０００９】
また、上記構成において、前記テーブルは、上下方向の垂直軸の周りに回転することによって前記アダプタを水平方向に送るターンテーブルからなることが好ましい。
【００１０】
また、上記構成において、前記テーブルは、上下方向にのびる貫通孔を有し、前記貫通孔の周囲において前記アダプタを支持し、前記リフターは、前記貫通孔の下方に配置されたロッドからなり、前記第１の駆動手段は、前記ロッドを前記貫通孔に挿入させ、前記ロッドで前記試料を押し上げて前記所定位置に供給するように構成されることが好ましい。
【００１１】
さらに、上記構成において、前記貫通通路は、円形断面のもので、互いに連通する第１の通路および第２の通路からなり、前記第１の通路は、前記第２の通路の上部に形成され、その内径は、前記第２の通路の内径よりも小さくなっており、前記第１および第２の通路は、同心に形成されており、前記上側開口部は、前記第１の通路の上端に形成され、前記下側開口部は、前記第１の通路の下端に形成されるように構成されることが好ましい。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、第１の遮蔽手段によって貫通通路の上側開口部を遮蔽して、第１の駆動手段によってアダプタに載置された試料を貫通通路に挿入して所定位置に供給して、第２の遮蔽手段によって貫通通路の下側開口部を遮蔽すると同時またはその後に、第２の駆動手段によって上側開口部を開放して、第３の駆動手段によって硬度計の計測子を試料の表面に押し付けて、当該試料の硬度を測定するように、硬度測定装置を構成した。したがって、この硬度測定装置では、試料の硬度を測定するとき、貫通通路の上側開口部および下側開口部のうちのいずれかが必ず遮蔽された状態となるので、外気によって恒温槽内部の温度が変化せず、これを一定に保つことができる。故に、安定した温度条件下で試料の硬度を精度よく測定することができる。
また、この硬度測定装置は、第１の駆動手段によって試料を貫通通路に挿入して所定位置に供給した状態で、当該試料の硬度を測定するように構成されている。したがって、この硬度測定装置では、硬度計の計測子を高温または低温の恒温槽内部に挿入する必要がないため、結果として計測子が損傷することも防止できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の第１実施例に係る硬度測定装置の一部破断斜視図である。
【図２】図１の硬度測定装置の断面図であり、（Ａ）は、貫通通路の上側開口部が遮蔽された状態を示す断面図、（Ｂ）は、下側開口部が遮蔽された状態を示す断面図、（Ｃ）は図２（Ａ）の部分拡大断面図である。
【図３】図１の硬度測定装置の遮蔽蓋の動作状態を説明するための側面図であり、（Ａ）は、遮蔽蓋で貫通通路の上側開口部が遮蔽された状態を示す側面図、（Ｂ）は、遮蔽蓋を移動させることによって上側開口部が開放される途中の状態を示す側面図、（Ｃ）は、遮蔽蓋を移動させることによって上側開口部が開放されて、試料の硬度が測定されている状態を示す側面図である。
【図４】図１の硬度測定装置の、試料を載置したアダプタの構成を示す図であり、（Ａ）は断面図、（Ｂ）は斜視図である。
【図５】図１の硬度測定装置のターンテーブル上に配置された複数のアダプタを示す上面図である。
【図６】本発明の第２実施例に係る硬度測定装置の部分拡大断面図であり、（Ａ）は、貫通通路の上側開口部が遮蔽された状態を示す断面図、（Ｂ）は、下側開口部が遮蔽された状態を示す断面図である。
【図７】本発明の第３実施例に係る硬度測定装置の部分拡大断面図であり、（Ａ）は、貫通通路の上側開口部が遮蔽された状態を示す断面図、（Ｂ）は、下側開口部が遮蔽された状態を示す断面図である。
【図８】本発明の第４実施例に係る硬度測定装置において、試料を載置したアダプタをロッドで持ち上げている状態を示す部分拡大断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の好ましい実施例について図面を参照しながら説明する。
【００１５】
（第１実施例）
図１〜図５は本発明に係る硬度測定装置を示す。この硬度測定装置は、恒温槽１で保温された、例えばゴム等の試料Ｓの硬度を測定するためのものである。
【００１６】
この硬度測定装置は恒温槽１を備える。
図１および図２に示すように、恒温槽１の内部は上壁１ａ、周壁１ｂおよび下壁１ｃで囲まれている。上壁１ａ、周壁１ｂおよび下壁１ｃは、外気を遮断するための断熱材で構成されている。
【００１７】
図１に示すように、温度制御装置２がダクト３ａ、３ｂを介して恒温槽１に接続されている。温度制御装置２は、その内部に加熱および冷却装置を備える。加熱および冷却装置によって、加熱あるいは冷却された気体が、ダクト３ａ、３ｂを介して恒温槽１の内部に送られる。そして、この気体によって恒温槽１の内部が所定の温度に調整される。この実施例の場合には、恒温槽１で試料Ｓが例えば−２０℃から１５０℃の範囲の温度で保温される。
【００１８】
また、硬度測定装置は貫通通路４を備える。
図２（Ｃ）に示すように、貫通通路４は、恒温槽１の上壁１ａに形成され、上下方向にのびている。貫通通路４は、上側開口部５および下側開口部６を有する。
また、貫通通路４は、円形の横断面のものであって、第１の通路７および第２の通路８からなる。第１の通路７および第２の通路８は、互いに連通して同心に形成されている。第１の通路７は第２の通路８の上部に形成されている。第１の通路７の内径は第２の通路８の内径よりも小さくなっている。上側開口部５は、第１の通路７の上端に形成され、下側開口部６は、第１の通路７の下端に形成されている。
そして、第１の通路７と第２の通路８の間における上壁１ａの肩部１ｇには、シールリング１ｄが、下側開口部６の周囲を取り囲むように設けられている。さらに、上壁１ａの上面には、孔１ｅを有するプレート１ｆが水平に設けられている。孔１ｅおよび第１の通路７は、互いに連通して同心に形成されている。孔１ｅの径は、第１の通路７の径と同じ大きさあるいはそれ以上の大きさであることが好ましい。
【００１９】
硬度測定装置はさらに硬度計９を備える。硬度計９は上側開口部５の上方に配置されている。
硬度計９は、公知のものが使用され、例えば、図２（Ａ）および（Ｂ）に示すように、キャリッジ部９ａ、ジョイント部分９ｂ、本体部分９ｃ、加圧板部分（プレッシャーフット）９ｄおよび計測子（圧子）９ｅを有する。計測子９ｅは加圧板部分９ｄより下向きに出ている。
キャリッジ部９ａにはジョイント部分９ｂが接続されている。本体部分９ｃは、ジョイント部分９ｂの下側に取り付けられる。試料Ｓの硬度は、本体部分９ｃ、加圧板部分９ｄおよび計測子９ｅで検出される。計測子９ｅは、加圧板部分９ｄより突出していて、例えばＪＩＳ規格等で定められる所定の長さだけ下向きにのびている。
【００２０】
硬度測定装置はさらに恒温槽１の内部に設けられたテーブルを備える。
図１に示すように、テーブルは、円板状のターンテーブル（回転台）１０からなる。また、図２に示すように、ターンテーブル１０には、上下方向にのびる複数の貫通孔１０ａが設けられている。ターンテーブル１０は、貫通孔１０ａの周囲において後述するアダプタを支持する。ターンテーブル１０は、図示しない駆動手段（例えば、モータ機構等）によって、上下方向の垂直軸の周りに回転せしめられ、アダプタを水平方向に送るようになっている。
【００２１】
硬度測定装置はさらにアダプタ１１を備える。アダプタ１１は、試料Ｓを載置するためのものである。アダプタ１１は、下側開口部６の下方に配置され、テーブルに支持される。
図２（Ａ）および（Ｃ）に示すように、アダプタ１１は、貫通孔１０ａの周囲においてターンテーブル１０に支持される。また、アダプタ１１は、ターンテーブル１０が回転することにより、下側開口部６の下方に配置される。
【００２２】
硬度測定装置はさらに、恒温槽１の外部に設けられた第１の遮蔽手段を備える。第１の遮蔽手段は、上側開口部５を遮蔽するためのものである。
図２（Ｃ）に示すように、第１の遮蔽手段は遮蔽蓋１２からなる。
遮蔽蓋１２は、例えば次のような構造を有するものである。すなわち、遮蔽蓋１２の下面には、図示しないシールリングが設けられる。このシールリングがプレート１ｆと密接することにより、上側開口部５が遮蔽される。
【００２３】
硬度測定装置はさらにリフターおよび第１の駆動手段を備える。リフターは恒温槽１の内部に設けられる。また、第１の駆動手段は、リフターを上昇させ、リフターでアダプタ１１を持ち上げて、試料Ｓを貫通通路４に挿入して、当該試料Ｓを後述する所定位置に供給するように構成されたものである。
【００２４】
図２（Ａ）および（Ｂ）に示すように、リフターは、貫通孔１０ａの下方に配置されたロッド１３からなる。
図１に示すように、第１の駆動手段は、試料供給用シリンダー１４からなる。試料供給用シリンダー１４は、ロッド１３を貫通孔１０ａに挿入させ、ロッド１３で試料Ｓを押し上げて孔１ｅ内の所定位置に供給するように動作するように構成されたものである。
ここで、試料供給用シリンダー１４で孔１ｅ内の所定位置に供給された試料Ｓが孔１ｅから上側にはみ出て遮蔽蓋１２の下面に接触しないように、遮蔽蓋１２の下面におけるシールリング以外の領域の一部には、試料Ｓの少なくとも一部を収容可能な大きさの凹部が形成されている。しかしながら、この凹部が形成されていない遮蔽蓋１２を使用する場合には、試料Ｓを遮蔽蓋１２の下面に接触させることなく、当該試料Ｓを孔１ｅ内の所定位置に供給するように、試料供給用シリンダー１４を構成してもよい。
なお、試料Ｓは、試料供給用シリンダー１４によって孔１ｅ内に供給されるのが好ましいが、貫通通路４内の任意の位置に供給されてもよい。
【００２５】
硬度測定装置はさらに第２の遮蔽手段を備えている。第２の遮蔽手段は、アダプタ１１に形成されるものであって、試料Ｓが上記所定位置に供給されたときに下側開口部６を遮蔽するためのものである。
第２の遮蔽手段は、下側開口部６の周囲において上壁１ａと密接するリング状部からなるのが好ましく、本実施例では、例えば図４に示すようなフランジ１５からなっている。図２（Ｂ）および図３に示すように、フランジ１５は、試料供給用シリンダー１４によって試料Ｓが上記所定位置に供給されたときに、下側開口部６の周囲においてシールリング１ｄと密接する。これにより、下側開口部６が遮蔽される。
【００２６】
硬度測定装置はさらに第２の駆動手段を備える。第２の駆動手段は、下側開口部６の遮蔽と同時またはその後に、第１の遮蔽手段を移動させて、上側開口部５を開放するように構成されたものである。
図１および図３に示すように、第２の駆動手段は、遮蔽蓋開閉用シリンダー１６ａおよび伝動機構から構成される。伝動機構は、ロッド１６ｂ、第１のリンク１６ｃ、ピン１６ｄ、第２のリンク１６ｅ、回転軸１６ｆ、第１のブラケット１６ｇ、第２のブラケット１６ｈ、アーム１６ｉ、ピン１６ｊ、および、ピン１６ｋからなる。
遮蔽蓋開閉用シリンダー１６ａは、恒温槽１の外部の下方に設けられている。遮蔽蓋開閉用シリンダー１６ａには、当該遮蔽蓋開閉用シリンダー１６ａによって昇降されるロッド１６ｂが接続される。ロッド１６ｂには、第１のリンク１６ｃが接続されている。第１のリンク１６ｃには、第２のリンク１６ｅがピン１６ｄを介して接続されている。第２のリンク１６ｅには、第１のブラケット１６ｇが回転軸１６ｆを介して接続されている。第１のブラケット１６ｇは、プレート１ｆ上に設けられている。回転軸１６ｆの一端には、第２のブラケット１６ｈが接続されている。第２のブラケット１６ｈは、プレート１ｆ上に設けられている。４本のアーム１６ｉの一端は、それぞれピン１６ｊを介して第２のブラケット１６ｈに接続され、他端は、それぞれピン１６ｋを介して遮蔽蓋１２に接続されている。さらに、各アーム１６ｉは、同一の長さのものが使用され、互いに平行になっている。そして、各アーム１６ｉによって平行四辺形リンク機構が構成されている。
【００２７】
硬度測定装置はさらに第３の駆動手段を備える。第３の駆動手段は、上側開口部５の開放後に、硬度計９を下降させて、計測子９ｅを試料Ｓの表面に押し付けるように構成されたものである。
図１および図２（Ａ）、（Ｂ）に示すように、第３の駆動手段は、モータ部１７ａおよびガイド部１７ｂから構成される。モータ部１７ａの回転によって、キャリッジ部９ａがガイド部１７ｂの上下方向にのびたガイドに沿って移動し、硬度計９が上下方向に移動する。
【００２８】
次に、本発明に係る硬度測定装置の動作について簡単に説明する。
【００２９】
まず、図２（Ａ）に示すように、ターンテーブル１０に支持されたアダプタ１１に載置された試料Ｓが、恒温槽１で所定の温度に保温される。この間、上側開口部５は、遮蔽蓋１２によって遮蔽されている。
【００３０】
次に、図３（Ａ）に示すように、試料供給用シリンダー１４によって、ロッド１３が上昇して貫通孔１０ａに挿入され、アダプタ１１がロッド１３で押し上げられ、試料Ｓが貫通通路４に挿入されて孔１ｅ内の所定位置に供給される。このとき、フランジ１５がシールリング１ｄと密接することにより、下側開口部６が遮蔽される。
【００３１】
そして、図３（Ｂ）に示すように、下側開口部６の遮蔽と同時またはその後に、遮蔽蓋開閉用シリンダー１６ａおよび伝動機構１６ｂ〜１６ｋによって、遮蔽蓋１２が移動せしめられ、上側開口部５が開放される。
【００３２】
図２（Ｂ）および図３（Ｃ）に示すように、上側開口部５の開放後、モータ部１７ａおよびガイド部１７ｂによって、硬度計９が下降して、計測子９ｅが試料Ｓの表面に押し付けられて、試料Ｓの硬度が測定される。この際、測定データは、本体部分９ｃ、加圧板部分９ｄおよび計測子９ｅで取得され、パソコン等に送られ、記録および分析される。
【００３３】
試料Ｓの硬度の測定データの取得後、モータ部１７ａおよびガイド部１７ｂによって、硬度計９が上昇して元の位置に戻される。そして、遮蔽蓋開閉用シリンダー１６ａおよび伝動機構１６ｂ〜１６ｋによって、遮蔽蓋１２が移動せしめられ、上側開口部５が再び遮蔽される。
最後に、試料供給用シリンダー１４によって、ロッド１３が下降して、試料Ｓが孔１ｅ内の所定位置から、再びターンテーブル１０上の元の位置に戻される。このとき、フランジ１５がシールリング１ｄから離れることにより、下側開口部６が開放される。
【００３４】
本発明によれば、硬度測定装置が試料Ｓの硬度を測定するとき、貫通通路４の上側開口部５および下側開口部６のうちのいずれかが必ず遮蔽された状態となる。したがって、外気によって恒温槽１内部の温度が変化しないので、これを一定に保つことができる。故に、安定した温度条件下で試料Ｓの硬度を精度よく測定することができる。
また、硬度計９の計測子９ｅを高温または低温の恒温槽１内部に挿入する必要がないため、結果として計測子９ｅが損傷することも防止できる。
【００３５】
また、本発明によれば、第２の遮蔽手段がアダプタ１１に形成されているので、試料Ｓを所定位置に供給すると同時に当該第２の遮蔽手段によって下側開口部６を遮蔽でき、当該第２の遮蔽手段の構造は簡単であり、そのコストは低い。
【００３６】
さらに、この硬度測定装置では、図１および図５に示すように、複数のアダプタ１１がターンテーブル１０の回転軸を中心とする円上に、所定の角度間隔で配置されている。したがって、ターンテーブル１０を所定の角度だけ回転させることにより、各アダプタ１１を、順次、下側開口部６の下方に配置させることができる。このため、試料Ｓの硬度を効率よく測定することができる。
また、この硬度測定装置では、複数のアダプタ１１が、ターンテーブル１０の回転軸を中心として互いに半径の異なる２つの同心円上に、所定の角度間隔で２列に配列されている。そして、この硬度測定装置は、各同心円上の特定のアダプタ１１に対応する２つの位置に、それぞれ、貫通通路４、硬度計９、リフター、第１〜３の駆動手段、および、第１〜２の遮蔽手段を備えている。したがって、ターンテーブル１０を所定の角度だけ回転させることにより、各同心円上の特定のアダプタ１１を、順次、２つの位置の下側開口部６のそれぞれの下方に配置させることができる。これにより、一方の硬度計９によって、一方のアダプタ１１に載置された試料Ｓの硬度を測定でき、他方の硬度計９によって、他方のアダプタ１１に載置された試料Ｓの硬度を測定できる。あるいは、２つの硬度計９によって、２つの試料Ｓの硬度を同時に測定することもできる。このため、試料Ｓの硬度の測定効率をさらに向上させることができる。
【００３７】
（第２実施例）
第２実施例の硬度測定装置は、上壁１ａのシールリング１ｄがアダプタ１１に設けられている点、および、下側開口部６の遮蔽方法のみが、第１実施例の硬度測定装置と異なる。
図６（Ｂ）に示すように、この硬度測定装置は、試料供給用シリンダー１４によって試料Ｓが孔１ｅ内の所定位置に供給されたときに、アダプタ１１のシールリング１ｄが下側開口部６の周囲の上壁１ａと密接することにより、下側開口部６が遮蔽されるようになっている。
【００３８】
（第３実施例）
第３実施例の硬度測定装置は、貫通通路４が第１の通路７のみからなる点、上壁１ａのシールリング１ｄがアダプタ１１に設けられている点、アダプタ１１の高さが異なる点、および、下側開口部６の遮蔽方法のみが、第１実施例の硬度測定装置と異なる。
図７（Ｂ）に示すように、この硬度測定装置は、試料供給用シリンダー１４によって試料Ｓが孔１ｅ内の所定位置に供給されたときに、アダプタ１１のシールリング１ｄが下側開口部６の周囲の上壁１ａと密接することにより、下側開口部６が遮蔽されるようになっている。
【００３９】
（第４実施例）
第４実施例の硬度測定装置は、アダプタ１１およびロッド１３の構造、ならびに、真空排気機構を新たに備えている点が、第１実施例の硬度測定装置と異なる。
図８に示すように、アダプタ１１には吸引孔１８が上下方向に形成され、ロッド１３には吸引孔２０が上下方向に形成されている。吸引孔１８の一端は、試料Ｓがアダプタ１１に載置される際に試料Ｓの下面で閉じられるようになっており、その他端は、アダプタ１１に形成された凹部１９に連通している。また、吸引孔２０の一端は、アダプタ１１をロッド１３で持ち上げる際に凹部１９に連通するようになっており、その他端は、図示しない真空排気機構（例えば、真空ポンプあるいはブロア等）に接続されている。
この硬度測定装置では、試料Ｓを載置したアダプタ１１をロッド１３で持ち上げて、試料Ｓの硬度を測定する際に、この真空排気機構によって吸引孔２０内、凹部１９内、吸引孔１８内が順次真空排気されて、試料Ｓがアダプタ１１に吸着され、かつ、アダプタ１１がロッド１３に吸着される。これにより、試料Ｓがアダプタ１１に安定的に支持され、かつ、アダプタ１１がロッド１３に安定的に支持される。
【００４０】
以上、本発明の好ましい実施形態を説明したが、本発明の構成はこれらの実施形態に限定されるものではない。本願の特許請求の範囲に記載の構成の範囲内において、様々な変形例及びその改良例を創作することが可能である。
【００４１】
例えば、上述の実施例において、第１の遮蔽手段（遮蔽蓋１２）は、上側開口部５を遮蔽するものであれば、その構造は何ら限定されない。
【００４２】
また、第２の遮蔽手段は、フランジ１５に限定されるものではない。第２の遮蔽手段は、アダプタに形成されて下側開口部６を遮蔽するものであれば、その構造は何ら限定されない。
【００４３】
また、第１の駆動手段は、ロッド１３に限定されるものではない。第１の駆動手段は、試料Ｓを上記所定位置に供給するものであれば、その構造は何ら限定されない。
また、第２の駆動手段は、遮蔽蓋開閉用シリンダー１６ａおよび伝動機構１６ｂ〜１６ｋに限定されるものではない。第２の駆動手段は、遮蔽蓋１２を移動させるためのものであれば、その構成は何ら限定されない。
さらに、第３の駆動手段は、モータ部１７ａおよびガイド部１７ｂに限定されるものではない。第３の駆動手段は、硬度計９を上下方向に移動させるためのものであれば、その構成は何ら限定されない。
【００４４】
また、上述の実施例において、硬度測定装置は、プレート１ｆを不要とし、第１および第２のブラケット１６ｇ、１６ｈが恒温槽１の上壁１ａの上面に設けられるように構成されてもよい。この場合に、試料供給用シリンダー１４によって、試料Ｓが孔１ｅ内ではなく貫通通路４内の任意の所定位置に供給されるのは言うまでもない。
【符号の説明】
【００４５】
１  恒温槽
１ａ  上壁
１ｂ  周壁
１ｃ  下壁
１ｄ  シールリング
１ｅ  孔
１ｆ  プレート
１ｇ  肩部
２  温度制御装置
３ａ、３ｂ  ダクト
４  貫通通路
５  上側開口部
６  下側開口部
７  第１の通路
８  第２の通路
９  硬度計
９ａ  キャリッジ部分
９ｂ  ジョイント部分
９ｃ  本体部分
９ｄ  加圧板部分（プレッシャーフット）
９ｅ  計測子
１０  ターンテーブル（回転台）
１０ａ  貫通孔
１１  アダプタ
１２  遮蔽蓋
１３  ロッド
１４  試料供給用シリンダー
１５  フランジ
１６ａ  遮蔽蓋開閉用シリンダー
１６ｂ  ロッド
１６ｃ  第１のリンク
１６ｄ  ピン
１６ｅ  第２のリンク
１６ｆ  回転軸
１６ｇ  第１のブラケット
１６ｈ  第２のブラケット
１６ｉ  アーム
１６ｊ  ピン
１６ｋ  ピン
１７ａ  モータ部
１７ｂ  ガイド部
１８  吸引孔
１９  凹部
２０  吸引孔
Ｓ  試料
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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