(57)【要約】【課題】本発明は，真円状の丸棒治具を用いることにより，ワイヤ電極を鉛直状態及び任意の傾斜状態での下ガイドの水平座標軸上のワイヤ電極の位置を測定し，上下ガイド位置を測定する。【解決手段】本発明は，ワイヤ電極１をテーブル上面１１に対して鉛直状態及び傾斜状態で丸棒治具４の円周面５に点接触させ，下ガイド３の水平座標面１３でのワイヤ電極１のそれぞれの位置を測定する。それぞれの位置の測定時に，ワイヤ電極１，丸棒治具直径Ｒ，上ガイド２の水平座標軸１２，及び下ガイド３の水平座標軸１３で形成される傾斜状態の傾斜角θを持つ相似直角三角形を基にして，テーブル上面１１に鉛直方向な距離である上ガイド２と下ガイド３との間の距離ＤＢ，及びテーブル上面１１と下ガイド３までの距離ＤＡを測定することができる。【選択図】図２
2011110677.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
上ガイドと該上ガイドの下方に位置する下ガイドとにガイドして供給されるワイヤ電極とワーク取付用のテーブルに取り付けられた測定治具とを用いて，前記テーブルのテーブル上面と前記下ガイドとの間の距離及び前記上ガイドと前記下ガイドとの間の距離を測定することから成るワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法において，
前記テーブル上面に固定される前記測定治具として真円状の丸棒治具を使用し，
前記ワイヤ電極を前記テーブル上面に対して垂直状態及び予め決められた所定の傾斜角の傾斜状態で前記丸棒治具の円周上の周端面にそれぞれ接触させて前記下ガイドの水平座標軸での前記ワイヤ電極のそれぞれの位置を測定し，
前記位置のそれぞれの測定時に，前記ワイヤ電極，前記丸棒治具の直径と中点，前記上ガイドの水平座標軸，及び前記下ガイドの前記水平座標軸で形成される前記傾斜角を持つ相似直角三角形を基にした情報を演算して，前記テーブル上面に垂直方向である前記上ガイドと前記下ガイドとの間の距離，及び前記テーブル上面と前記下ガイドとの間の距離を演算測定することを特徴とするワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法。
【請求項２】
測定された前記下ガイドの前記水平座標軸上のそれぞれの前記情報は，前記テーブル上面に対して垂直に延びる前記ワイヤ電極を前記丸棒治具の円周上の対向した周端面にそれぞれ接触させて前記下ガイドの水平座標軸間の距離を演算して検出された前記丸棒治具の直径，前記ワイヤ電極を前記丸棒治具の断面が真円となる方向に前記傾斜角だけ傾斜させた状態で前記丸棒治具の円周上の対向した周端面にそれぞれ接触させて前記下ガイドの水平座標軸間の距離を演算して検出された丸棒治具直径投影距離，及び前記上下ガイドが前記テーブル上面に鉛直な状態から前記ワイヤ電極を傾斜させるために前記上ガイドを相対移動させた距離を測定して検出された前記上ガイドの水平座標軸上の傾斜分距離であることを特徴とする請求項１に記載のワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法。
【請求項３】
測定された前記情報は，前記丸棒治具直径の中心座標と前記丸棒治具直径投影距離の中点座標との２点間の距離を演算して検出された丸棒治具中心投影の距離であることを特徴とする請求項２に記載のワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法。
【請求項４】
測定された前記情報は，前記丸棒治具の直径と前記傾斜角とで傾斜状態の前記ワイヤ電極上の距離を演算して検出された距離，及び前記傾斜角の傾斜状態の前記ワイヤ電極と逆傾斜状態の前記ワイヤ電極との前記下ガイドの水平座標軸間の距離を演算して検出された距離であることを特徴とする請求項２に記載のワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法。
【請求項５】
前記丸棒治具の直径及び前記丸棒治具直径投影距離は，前記丸棒治具の直径を前記丸棒治具直径投影距離で除した定数でワイヤ電極直径を除した演算値を，前記下ガイドの前記水平座標軸間の前記距離から減じて補正されることを特徴とする請求項２〜４のいずれか１項に記載のワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法。
【請求項６】
前記ワイヤ電極の前記傾斜角に対応して前記丸棒治具の円周上の前記周端面と前記ワイヤ電極との接触状態を確保でき，前記ワイヤ電極の前記傾斜角に応じて測定値を補正することによって一定の測定精度を確保できることを特徴とする請求項２〜５のいずれか１項に記載のワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法。
【請求項７】
前記丸棒治具の直径は，前記テーブル上面に対して垂直に延びる前記ワイヤ電極を前記丸棒治具の円周上の前記周端面に接触させて前記下ガイドの前記水平座標軸間の距離からワイヤ電極直径分を減じて補正されることを特徴とする請求項２〜６のいずれか１項に記載のワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は，例えば，ワイヤ電極と測定治具とを用いて上ガイドと下ガイドとのテーブルに対する位置を測定することができるワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ところで，ワイヤ放電加工機において，ワイヤ電極を傾斜させてワークに対してテーパ加工を行うに当たり，ワイヤ電極が指定角度になるように上ガイドと下ガイドを相対移動させるため，加工すべきワークを取り付けるテーブルの上面を基準にした上下ワイヤ支持点位置を予め測定しなければならない。
【０００３】
従来，ワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法として，測定治具として図３に示すような予め高さＨが既知である直方体ブロックを用い，上下ガイド位置の測定を行っていた。該上下ガイド位置測定方法は，テーブル１０の上面１１と下ガイド３の水平座標軸１３との距離ＤＡ，及び上ガイド２の水平座標軸１２と下ガイド３の水平座標軸１３との距離ＤＢを測定するものである。図３（Ａ）では，テーブル１０の上面１１に高さＨの直方体ブロック２２を固定し，ワイヤ電極１を鉛直状態（又はテーブル上面１１の水平方向に垂直状態）で直方体ブロック２２の端面２３に接触させ，下ガイド３の水平座標軸１３における直方体ブロック２２の端面位置Ｐ１を検出する。図３（Ｂ）では，上ガイド２を下ガイド３に対して距離Ｕだけ相対移動させてワイヤ電極１を角度θだけ傾斜させ，ワイヤ電極１を直方体ブロック２２の下端角２７に接触させ，直方体ブロック２２の端面位置Ｐ１からの下ガイド３の移動距離Ｇ１を測定する。図３（Ｃ）では，上ガイド２を下ガイド３に対して距離Ｕだけ反対側に相対移動させてワイヤ電極１を角度θだけ逆方向に傾斜させ，ワイヤ電極１を直方体ブロック２２の上端角２７に接触させてワイヤ電極１を傾斜させ，直方体ブロック２２の端面位置Ｐ１からの直方体ブロック２２の上端面２６の移動距離Ｇ２を測定する。これらの位置Ｐ１，Ｇ１，Ｇ２を測定して，図３（Ｃ）の拡大図である図４では，上ガイド２の水平座標軸１２とワイヤ電極１と下ガイド３の位置とで形成される直角三角形であるΔＫＬＭ，直方体ブロック２２の上端面２６とワイヤ電極１と下ガイド３の位置とで形成される直角三角形であるΔＫＮＰ，及びテーブル１０のテーブル面１１とワイヤ電極１と下ガイド３の位置とで形成される直角三角形であるΔＫＱＲは，互いに相似形であり，ワイヤ電極１の傾斜角度θが同一であるので，次の式が成り立つことになる。
【０００４】
ここで，下ガイド３とテーブル上面１１との距離をＤＡとし，また，上ガイド２と下ガイド３との距離をＤＢとする。
距離ＤＡについて，演算すると次のとおりである。
相似形の直角三角形から，ＤＡ／Ｇ１＝（ＤＡ＋Ｈ）／Ｇ２  が成り立つ。
ＤＡ・Ｇ２＝Ｇ１（ＤＡ＋Ｈ）
ＤＡ（Ｇ２−Ｇ１）＝Ｈ・Ｇ１
従って，ＤＡ＝Ｈ・Ｇ１／（Ｇ２−Ｇ１）
また，距離ＤＢについて，演算すると次のとおりである。
相似形の直角三角形から，ＤＡ／Ｇ１＝ＤＢ／Ｕ  が成り立つ。
ＤＢ＝Ｕ・ＤＡ／Ｇ１
従って，ＤＢ＝Ｕ・Ｈ／（Ｇ２−Ｇ１）
それ故に，距離ＤＡと距離ＤＢは，測定値Ｇ１，Ｇ２及び既知の高さＨで演算できることになる。
【０００５】
従来，ワイヤ放電加工機におけるワイヤ直角出しおよび上下ワイヤガイド位置出し治具が知られている。該治具は，直交する二面のコーナ近傍上下にワイヤと同時には接触しない検知面を設けると共に，直交する面又は該面に直交する他の面の少なくとも一つに，ワイヤとは同時に接触しない検知面を上下に有する傾斜面を設けたものである（例えば，特許文献１参照）。
【０００６】
従来，ワイヤ放電加工機における電極ガイドの位置測定方法が知られている。該電極ガイドの位置測定方法は，載物台に載置された先端に接触部が形成された治具プレートと，上部電極ガイドと下部電極ガイドの位置に関する演算を行う演算部を備え，上部電極ガイドを任意の高さにセットし，走行状態のワイヤ電極を垂直にした状態のもとで，治具プレートに接触感知を行い，上部電極ガイドをＵ又はＶ軸方向へ移動せしめ，更にＺ軸方向へ移動せしめ，それぞれの移動停止状態のもとで治具プレートによるワイヤ電極に対する接触感知を行い，該接触感知に実施時におけるテーブルのＸ，Ｙ方向への移動距離と，上部電極ガイドのＵ，Ｖ方向への移動距離に基づいて，下部電極ガイドと載物台の上面との実加工装置上での等価垂直距離及び下部電極ガイドと予め用意されたＺ軸スケール上の基準位置に対して上部電極ガイドを保持する軸の原点を原点合せした際における上部電極ガイドとの実加工装置上での等価垂直距離を算出するものである（例えば，特許文献２参照）。
【０００７】
また，ワイヤ放電加工機の測定機器として，ワイヤ電極の上下の各支点の高さを測定するものが知られている。該ワイヤ放電加工機の測定機器は，上下の接触感知子と接触感知表示装置を有し，上下の接触感知子がそれぞれ上下に移動可能として被接触物であるワイヤ電極の上下の各支点の高さ位置を測定することを可能としたものである（例えば，特許文献３参照）。
【０００８】
また，従来，電食機の機械軸線に対してワイヤ電極の位置を測定し，調整する方法が知られている。該測定・調整方法は，ワイヤ電極が２つのワイヤガイド間に張り渡され，該ワイヤガイドが互いに他に対して位置決め可能であり，ワイヤガイドの少なくとも１つが機械軸線に平行な第１位置から第２位置へ移動され，任意の軸線に対してのワイヤ電極の傾斜の大きさが少なくとも１つの方向成分のために決定され，この測定値及び移動大きさに基づいて少なくとも１つの方向成分における機械軸線に対するワイヤ電極の空間的な方向を計算するものである（例えば，特許文献４参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平５−３３７７４５号公報
【特許文献２】特開昭６４−４０２１８号公報
【特許文献３】実開平４−５４６２９号公報
【特許文献４】特開平８−３２３５４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
従来のワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法では，測定治具として図３に示すような直方体ブロック２２を使用する例では，高さＨが既知であることが前提であり，直方体ブロック２２の高さＨを測定する手間が係ると共に，直方体ブロック２２は，上下端の角部に鋭いエッジが存在し，上下ガイド２，３の位置の測定時には，エッジにワイヤ電極１を接触させなければならないが，ワイヤ電極１が測定治具の直方体ブロック２２の上下端のエッジに接触した時にワイヤ表面が傷つき，その粉末が直方体ブロック２２等に堆積して位置検出の精度が悪化したり，また，ワイヤの上下端エッジへの接触時に，ワイヤ電極が断線して測定が中断されたりする場合があった。また，測定治具の上下端エッジが，図５（Ａ）や図５（Ｂ）に示すように，円弧面取り２４又は直線面取り２５が加工されたものでは，ワイヤ電極１の傾斜角度が４５°を境にして直方体ブロック２２の基準高さが異なってしまうという問題があった。
【００１１】
この発明の目的は，上記の問題を解決することであり，ワイヤ放電加工機における上下ガイド位置を測定するため，従来の直方体ブロックを用いることなく，サイズが未知である任意の直径を持つ真円状の丸棒治具を用いて測定するものであって，ワイヤ放電加工機の端面出し機能により，鉛直（又は下ガイドの水平座標軸に垂直）に延びるワイヤ電極を丸棒治具の直径方向の両端面即ち直径方向に対向する外周面に接触させてワイヤ電極の下ガイドの水平座標軸上の位置を測定し，丸棒治具の直径を測定し，ワイヤ電極を適度に所望な予め決められた傾斜角度に傾斜させた状態で丸棒治具の径方向の長さと位置を測定し，これらの測定情報を演算して上下ガイドの位置を測定することができるワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
この発明は，上ガイドと該上ガイドの下方に位置する下ガイドとにガイドして供給されるワイヤ電極とワーク取付用のテーブルに取り付けられた測定治具とを用いて，前記テーブルのテーブル上面と前記下ガイドとの間の距離及び前記上ガイドと前記下ガイドとの間の距離を測定することから成るワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法において，
前記テーブル上面に固定される前記測定治具として真円状の丸棒治具を使用し，
前記ワイヤ電極を前記テーブル上面に対して垂直状態及び予め決められた所定の傾斜角の傾斜状態で前記丸棒治具の円周上の周端面にそれぞれ接触させて前記下ガイドの水平座標軸での前記ワイヤ電極のそれぞれの位置を測定し，
前記位置のそれぞれの測定時に，前記ワイヤ電極，前記丸棒治具の直径と中心，前記上ガイドの水平座標軸，及び前記下ガイドの前記水平座標軸で形成される前記傾斜角を持つ相似直角三角形を基にした情報を演算して，前記テーブル上面に垂直方向である前記上ガイドと前記下ガイドとの間の距離，及び前記テーブル上面と前記下ガイドとの間の距離を演算測定することを特徴とするワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法に関する。
【００１３】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法において，測定された前記下ガイドの前記水平座標軸上のそれぞれの前記情報は，前記テーブル上面に対して垂直に延びる前記ワイヤ電極を前記丸棒治具の円周上の対向した周端面にそれぞれ接触させて前記下ガイドの水平座標軸間の距離を演算して検出された前記丸棒治具の直径，前記ワイヤ電極を前記丸棒治具の断面が真円となる方向に前記傾斜角だけ傾斜させた状態で前記丸棒治具の円周上の対向した周端面にそれぞれ接触させて前記下ガイドの水平座標軸間の距離を演算して検出された丸棒治具直径投影距離，及び前記上下ガイドが前記テーブル上面に鉛直な状態から前記ワイヤ電極を傾斜させるために前記上ガイドを相対移動させた距離を測定して検出された前記上ガイドの水平座標軸上の傾斜分距離である。
【００１４】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法において，測定された前記情報は，前記丸棒治具直径の中心座標と前記丸棒治具直径投影距離の中点座標との２点間の距離を演算して検出された丸棒治具中心投影の距離である。又は測定された前記情報は，前記丸棒治具の直径と前記傾斜角とで傾斜状態の前記ワイヤ電極上の距離を演算して検出された距離，及び前記傾斜角の傾斜状態の前記ワイヤ電極と逆傾斜状態の前記ワイヤ電極との前記下ガイドの水平座標軸間の距離を演算して検出された距離である。
【００１５】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法において，前記丸棒治具の直径及び前記丸棒治具直径投影距離は，前記丸棒治具の直径を前記丸棒治具直径投影距離で除した定数でワイヤ電極直径を除した演算値を，前記下ガイドの前記水平座標軸間の前記距離から減じて補正されるものである。
【００１６】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法において，前記ワイヤ電極の前記傾斜角に対応して前記丸棒治具の円周上の前記周端面と前記ワイヤ電極との接触状態を確保でき，前記ワイヤ電極の前記傾斜角に応じて測定値を補正することによって一定の測定精度を確保できるものである。
【００１７】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法において，前記丸棒治具の直径は，前記テーブル上面に対して垂直に延びる前記ワイヤ電極を前記丸棒治具の円周上の前記周端面に接触させて前記下ガイドの前記水平座標軸間の距離からワイヤ電極直径分を減じて補正されるものである。
【発明の効果】
【００１８】
この発明によるワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法は，上記のように構成されているので，測定治具として用いる丸棒治具が真円状に形成されており，その径方向の検出では接触点が常に同じ曲率の円弧であり，丸棒を研摩する等して表面粗さを滑らかにして丸棒治具を容易に作製して測定治具を作製することによって，ワイヤ電極と丸棒治具との接触摩擦を小さくすることができ，ワイヤ電極の損傷や断線を防止することができ，また，ワイヤ電極を垂直状態及び傾斜状態にし，ワイヤ電極を水平方向に移動させるだけで丸棒治具の直径を容易に測定でき，ワイヤ電極と丸棒治具との接触点が常に円弧の点接触の接点となり，ワイヤ電極の傾斜角に影響されずに，前記テーブルのテーブル上面と前記下ガイドとの間の距離と前記上ガイドと前記下ガイドとの間の距離との測定について同一の検出精度を確保でき，しかも丸棒治具の直径を測定できるので，測定治具のサイズを従来のように前もって測定しておく必要がなく，丸棒治具を容易に作製できるため，総合的に上下ガイドの位置測定の測定コストを安価にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】この発明によるワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法を構成する第１実施例を示す説明図であり，（Ａ）はワイヤ電極が丸棒治具の直径を測定する工程を示す説明図，（Ｂ）はワイヤ電極が傾斜した時のワイヤ電極の治具直径投影距離を計測する工程を示す説明図，及び（Ｃ）はワイヤ電極が垂直状態と傾斜状態との時のワイヤ電極，上ガイド面，下ガイド面，及び丸棒治具とで形成される相似直角三角形を示す説明図である。
【図２】図１における（Ｃ）に示す相似直角三角形の一実施例を示す拡大説明図である。
【図３】従来の測定治具として直方体ブロックを用いた時のワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法を示す説明図であり，（Ａ）はワイヤ電極が測定治具の端面位置を測定する工程を示す説明図，（Ｂ）はワイヤ電極を直方体ブロックの下端で接触させた状態で傾斜させて下ガイドの水平座標軸の位置を測定する工程を示す説明図，及び（Ｃ）はワイヤ電極を直方体ブロックの上端で接触させた状態で傾斜させて下ガイドの水平座標軸の位置を測定する工程を示す説明図である。
【図４】図３における（Ｃ）に示す相似直角三角形の一実施例を示す拡大説明図である。
【図５】図３に示す直方体ブロックの上端に形成された面取り状態であって，（Ａ）は円弧面取りを示し，（Ｂ）は直線面取りを示す説明図である。
【図６】この発明によるワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法を構成する第２実施例を説明するための別の３個の相似直角三角形を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下，図面を参照して，この発明によるワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法の実施例を説明する。このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法は，上ガイド２と上ガイド２の下方に位置する下ガイド３とにガイドされて供給されるワイヤ電極１と，ワーク取付用のテーブル１０のテーブル上面１１に取り付けられた測定治具とを用いて，主として，テーブル上面１１と下ガイド３との間の距離ＤＡ，及び上ガイド２と下ガイド３との間の距離ＤＢを測定することである。まず，測定治具を構成する真円状の丸棒治具４を，ワイヤ放電加工機におけるテーブル１０のテーブル上面１１に固定する。そこで，ワイヤ電極１をテーブル上面１１に対して垂直状態（ワイヤ電極１の鉛直状態）にして丸棒治具４の円周面５の対向した両周端面６，７に接触（詳しくは，点接触）させて下ガイド３の水平座標軸１３でのワイヤ電極１のそれぞれの位置Ｘ１とＸ２を測定すると共に，ワイヤ電極１をテーブル上面１１に対して任意の角度であって予め決められた傾斜角θの傾斜状態で丸棒治具４の円周面５の対向した両周端面８，９に接触（詳しくは，点接触）させて下ガイド３の水平座標軸１３でのワイヤ電極１のそれぞれの位置Ｘ３とＸ４を測定する。
【００２１】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法は，特に，各位置Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４のそれぞれの測定時に，ワイヤ電極１，丸棒治具４の直径Ｒと中点（直径の中心），上ガイド２の水平座標軸１２，及び下ガイド３の水平座標軸１３で形成される傾斜状態の傾斜角θを持つ複数（具体的には３個）の相似直角三角形を基にして，テーブル上面１１に鉛直方向な距離である上ガイド２と下ガイド３との間の距離ＤＢ，及びテーブル上面１１と下ガイド３との間の距離ＤＡを測定することを特徴とするものである。
【００２２】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法において，各位置Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４の測定で得ることができたそれぞれの位置情報は，テーブル上面１１に対して鉛直に延びるワイヤ電極１を丸棒治具４の円周両端６，７に接触させて下ガイド３の水平座標軸間，即ち測定された位置Ｘ１とＸ２との間の距離を演算して検出された丸棒治具直径Ｒ，ワイヤ電極１を丸棒治具断面が真円となる方向に傾斜角θだけ傾斜させた状態で丸棒治具４の円周方向の対向した両周端面８，９に接触（点接触）させて下ガイド３の水平座標軸間，即ち測定された位置Ｘ３とＸ４との間の距離を演算して検出された丸棒治具直径投影距離Ｑ，丸棒治具直径Ｒの中心座標と丸棒治具直径投影距離Ｑの中点座標との２点間の距離を演算して検出された丸棒治具中心投影の距離Ｗ，及び上下ガイド２，３がテーブル上面１１に鉛直な状態からワイヤ電極１を傾斜させるために上ガイド２を相対移動させた距離を測定して検出された上ガイド２の水平座標軸１２における傾斜長さ即ち傾斜分距離Ｕである。
【００２３】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法では，丸棒治具４の直径Ｒの測定値（Ｘ２−Ｘ１，及び丸棒治具直径投影距離Ｑの測定値（Ｘ４−Ｘ３）は，位置測定時にワイヤ電極１の直径ｒ分が加算されたものである。従って，丸棒治具４の直径Ｒ及び丸棒治具直径投影距離Ｑの各測定値は，ワイヤ電極１の直径ｒを考慮した増分を減じる補正がされる。即ち，丸棒治具の直径Ｒ及び丸棒治具直径投影距離Ｑは，下ガイド３の水平座標軸１３間の距離（Ｘ２−Ｘ１，Ｘ４−Ｘ３）から，丸棒治具の直径Ｒを丸棒治具直径投影距離Ｑで除した定数（Ｒ／Ｑ）でワイヤ電極直径ｒを除した演算値（ｒ／ｃｏｓθ）を，減じて補正されるものである。ここで，Ｒ／Ｑ＝ｃｏｓθである。
即ち，Ｒ＝Ｘ２−Ｘ１−ｒ／ｃｏｓθ，Ｑ＝Ｘ４−Ｘ３−ｒ／ｃｏｓθ
従って，丸棒治具直径Ｒは，角度θが０であって，テーブル上面１１に対して鉛直方向に延びるワイヤ電極１を丸棒治具４の円周上対向した両周端面６，７に点接触させて下ガイド３の水平座標軸間の距離からワイヤ電極１の直径ｒを除して補正されたものである。また，このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法は，ワイヤ電極１の傾斜角θを変化させても丸棒治具４の周端面６，７，８，９とワイヤ電極１との点接触状態が一定であり，ワイヤ電極１の傾斜角θに影響されずに測定精度が変化せず，一定の測定精度を確保できるものである。
【００２４】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法では，ワイヤ電極１と測定治具である丸棒治具４とでは，ワイヤ電極１の下ガイド３の水平座標軸１３上での位置Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４が計測される。これらの計測された位置の情報をコンピュータに入力してこれらの情報を基にして，後述するように，丸棒治具４の直径Ｒ，丸棒治具４の直径投影距離Ｑ，及び丸棒治具中心投影距離Ｗを演算することができる。また，ワイヤ電極１の上ガイド２上での相対移動距離である傾斜長さ即ち傾斜分距離Ｕは，上ガイド２の下ガイド３に対する相対移動距離を計測することによって検出することができる。
【００２５】
まず，丸棒治具４の幅である直径Ｒは，測定時に，ワイヤ電極１の傾斜状態でワイヤ電極１の直径の余弦分（ｃｏｓθ分）だけ加算されるので，余弦分（ｃｏｓθ分）だけ減算する。ここで，ワイヤ電極１の直径をｒとすると，次のようになる。
丸棒治具４の直径Ｒは，その測定値からｒ／ｃｏｓθだけ減算する。
但し，直角三角形ΔＡＢＣより，ｃｏｓθ＝Ｒ／Ｑである。
なお，ｔａｎθ＝Ｐ／Ｒ
それ故に，Ｒ＝Ｘ２−Ｘ１−ｒ／ｃｏｓθ
ワイヤ電極１が下ガイド３の水平座標軸１３に対して垂直状態では，ｃｏｓ０＝１であるので，Ｒ＝Ｘ２−Ｘ１−ｒとなる。
従って，丸棒治具４の直径Ｒは，既知の数値Ｘ１，Ｘ２，ｒから演算できる情報である。
【００２６】
丸棒治具４の直径投影距離Ｑは，次のようになる。
Ｑ＝Ｘ４−Ｘ３−ｒ／ｃｏｓθ
＝Ｘ４−Ｘ３−ｒ・Ｑ／Ｒ
Ｑ・Ｒ＝Ｒ（Ｘ４−Ｘ３）−ｒ・Ｑ                                                Ｑ（Ｒ＋ｒ）＝Ｒ（Ｘ４−Ｘ３）
それ故に，Ｑ＝Ｒ（Ｘ４−Ｘ３）／（Ｒ＋ｒ）                                      従って，丸棒治具４の直径投影距離Ｑは，既知の数値Ｘ３，Ｘ４，Ｒ，ｒから演算できる情報である。
【００２７】
丸棒治具４の中心の投影距離Ｗは，次のようになる。
まず，丸棒治具４の直径中点Ｃ１は，（Ｘ１＋Ｘ２）／２である。
また，丸棒治具４の直径投影中点Ｃ２は，（Ｘ３＋Ｘ４）／２である。
ここで，ＷはＣ２の位置からＣ１の位置を減算すれば，求まる数値である。
それ故に，Ｗ＝〔（Ｘ３＋Ｘ４）／２〕−〔（Ｘ１＋Ｘ２）／２〕
Ｗ＝（Ｘ３＋Ｘ４−Ｘ１−Ｘ２）／２
従って，丸棒治具４の中心投影距離Ｗは，既知の数値Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４から演算できる情報である。
【００２８】
図２に示されている直角三角形ΔＡＢＣにおけるＰは，次のようになる。
ピタゴラスの定理より，Ｑ2 ＝Ｒ2 ＋Ｐ2 が成り立つ。
それ故に，Ｐ＝（Ｑ2 −Ｒ2 ）1/2 
従って，直角三角形ΔＡＢＣにおける数値Ｐは，既知の数値Ｑ，Ｒから演算できる情報である。
【００２９】
図２を参照して，テーブル上面１１と下ガイド３との距離ＤＡ，及び上ガイド２と下ガイド３との間の距離ＤＢを演算する計算式は，次のとおりである。
１つの傾斜角である角度θをそれぞれ有している直角三角形ΔＡＢＣ，直角三角形ΔＤＥＦ，及び直角三角形ΔＧＨＩは，互いに相似直角三角形である。
直角三角形ΔＡＢＣにおけるそれぞれの辺の長さについて，ＡＢ＝Ｑ，ＡＣ＝Ｒ，及びＢＣ＝Ｐである。
直角三角形ΔＤＥＦにおけるそれぞれの辺の長さについて，ＤＦ＝ＤＡ＋Ｒ／２，及びＥＦ＝Ｗである。
直角三角形ΔＧＨＩにおけるそれぞれの辺の長さについて，ＨＩ＝Ｕ，及びＩＧ＝ＤＢである。
【００３０】
テーブル上面１１と下ガイド３との間の距離ＤＡは，次のような情報で測定できる。
直角三角形ΔＡＢＣとΔＤＥＦとが相似直角三角形であるので，次の式が成り立つ。
Ｒ／Ｐ＝（ＤＡ＋Ｒ／２）／Ｗ
ＤＡ＋Ｒ／２＝Ｒ・Ｗ／Ｐ
それ故に，ＤＡ＝〔Ｒ・Ｗ／Ｐ〕−Ｒ／２
従って，上ガイド２と下ガイド３との間の距離ＤＡは，既知の数値Ｒ，Ｗ，Ｐから演算できる情報であり，ワイヤ電極１と丸棒治具４とによって測定できることになる。
【００３１】
上ガイド２と下ガイド３との間の距離ＤＢは，次のような情報で測定できる。
直角三角形ΔＡＢＣとΔＧＨＩとが相似直角三角形であるので，次の式が成り立つ。
Ｒ／Ｐ＝ＤＢ／Ｕ
ＤＢ・Ｐ＝Ｒ・Ｕ
それ故に，ＤＢ＝Ｒ・Ｕ／Ｐ
従って，上ガイド２と下ガイド３との間の距離ＤＢは，測定演算した数値Ｒ，Ｕ，Ｐから演算できる情報であり，ワイヤ電極１と丸棒治具４とによって測定できることになる。  上記のとおりであり，ＤＡとＤＢは，測定値Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４，及びワイヤ電極１の直径ｒから演算できることになる。
【００３２】
このワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法は，ワイヤ電極１と真円状の丸棒治具４が有るだけで，上記のようにして各情報が得られるので，これらの情報の数値をコントローラ即ちコンピュータに入力し，演算することによって，テーブル上面１１と下ガイド３との間の距離ＤＡ，及び上ガイド２と下ガイド３との間の距離ＤＢを演算することができる。
即ち，各情報は，まとめると次のとおりである。
１．求める距離ＤＡは，テーブル上面１１と下ガイド３との間の距離。
２．求める距離ＤＢは，上ガイド２と下ガイド３との間の距離。
３．ワイヤ電極１の下ガイド水平座標軸における各位置Ｘ１，Ｘ２は，ワイヤ電極１を鉛直にして丸棒治具４の両周端面６，７の周面の位置を測定できる。
４．ワイヤ電極１の下ガイド水平座標軸における各位置Ｘ３，Ｘ４は，ワイヤ電極１を任意の予め決められた所定の傾斜角θにして丸棒治具４の両周端面８，９の周面の位置を測定できる。
５．丸棒治具直径中点Ｃ１は，（Ｘ１＋Ｘ２）／２で演算できる。
６．丸棒治具直径投影中点Ｃ２は，（Ｘ３＋Ｘ４）／２で演算できる。
７．丸棒治具４の直径Ｒは，テーブル上面１１に対して鉛直に延びるワイヤ電極１を丸棒治具４の円周上の周端面６，７に順次点接触させて下ガイド水平座標軸間の距離を測定して検出できる。この時，ｃｏｓθは傾斜角が０°であるので，ｃｏｓθ＝１，それ故に，Ｒ＝Ｘ２−Ｘ１−ｒ。従って，丸棒治具４の直径Ｒは，演算できる。
８．丸棒治具中心と下ガイド３との間の距離は，ＤＡ＋（Ｒ／２）である。
９．丸棒治具直径投影距離Ｑについては，ワイヤ電極１を丸棒治具断面が真円となる方向に角度θだけ傾斜させた状態で丸棒治具４の円周上の周両端８，９に点接触させて下ガイド座標間の距離を測定して検出される。この時，丸棒治具直径投影距離Ｑは，測定された距離からｒ／ｃｏｓθを減じて演算で測定できる。
１０．丸棒治具中心投影の距離Ｗは，丸棒治具直径Ｒの中心座標と丸棒治具直径投影距離Ｑの中点座標との２点間の距離を測定して検出される。
１１．ワイヤ電極１の傾斜分移動距離Ｕは，上下ガイド２，３がテーブル上面１１に鉛直な状態からワイヤ電極１を傾斜させるために上ガイド２を移動した距離を測定して検出された上ガイド２の水平座標軸１２における傾斜長さとなる。
【００３３】
この発明によるワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法は，上記第１実施例では図１及び図２に示す右傾斜のものを参照して説明したが，実施例１に限らず，図６に示すように第２実施例のように，左傾斜で，傾斜角度が異なり，更に相似直角三角形の選択が異なったものを選定しても良いものである。
【００３４】
図６を参照して，この発明によるワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法の第２実施例を簡単に説明する。
第２実施例は，第１実施例と同様に，ワイヤ電極１をテーブル上面１１に対して鉛直状態（下ガイド３の水平座標軸１３に垂直状態）にして丸棒治具４の円周面５の対向した両周端面６，７に接触（詳しくは，点接触）させて下ガイド３の水平座標軸１３でのワイヤ電極１のそれぞれの位置Ｘ１とＸ２を測定すると共に，ワイヤ電極１をテーブル上面１１に対して任意の角度であって予め決められた傾斜角θ2 の傾斜状態で丸棒治具４の円周面５の対向した両周端面８，９に接触（詳しくは，点接触）させて下ガイド３の水平座標軸１３でのワイヤ電極１のそれぞれの位置Ｘ３とＸ４を測定する。更に，ワイヤ電極１を反対方向に傾斜角θ２だけ傾斜させて下ガイド３の水平座標軸１３でのワイヤ電極１の位置Ｘ５を測定する。
【００３５】
ここで，３つの直角三角形ΔＪＫＬ，直角三角形ΔＭＮＳ，及び直角三角形ΔＴＶＺが形成され，これらの直角三角形は１つの傾斜角である角度θ2 をそれぞれ有している互いに相似直角三角形である。
直角三角形ΔＪＫＬにおけるそれぞれの辺の長さについて，ＪＫ＝Ｑ，ＪＬ＝Ｒ，及び，ＫＬ＝Ｐ2 である。
直角三角形ΔＭＮＳにおけるそれぞれの辺の長さについて，ＭＳ＝ＤＡ＋Ｒ／２，及びＮＳ＝Ｙ／２である。
直角三角形ΔＴＶＺにおけるそれぞれの辺の長さについて，ＶＺ＝Ｕ，及びＴＺ＝ＤＢである。
また，ΔＪＫＬよりｃｏｓθ2 ＝Ｒ／Ｑであり，図６よりａ＝ＤＡ＋Ｒ／２である。
なお，ｔａｎθ2 ＝Ｐ2 ／Ｒ
それ故に，Ｄ，Ｙ，Ｐ2 ，Ｒ，及びＱは，演算すると次のとおりになる。
Ｄ＝Ｘ１−Ｘ４
＝Ｘ５−Ｘ２
Ｙ＝Ｘ５−Ｘ３
＝Ｘ２＋Ｄ−Ｘ３
＝Ｘ２＋Ｘ１−Ｘ４−Ｘ３
Ｐ2 は，ピタゴラスの定理より次のようになる。
Ｐ2 2 ＝Ｑ2 ＋Ｒ2 
従って，Ｐ2 ＝（Ｑ2 ＋Ｒ2 ）1/2 
Ｒ＝Ｘ２−Ｘ１−ｒ（但し，ｒはワイヤ電極１の直径）
Ｑ＝Ｘ３−Ｘ４−ｒ／ｃｏｓθ2 
＝Ｘ３−Ｘ４−ｒ・Ｑ／Ｒ
従って，Ｑ＝Ｒ（Ｘ３−Ｘ４）／（Ｒ＋ｒ）
＝（Ｘ２−Ｘ１−ｒ）（Ｘ３−Ｘ４）／（Ｘ２−Ｘ１）
相似の直角三角形ΔＪＫＬと直角三角形ΔＭＮＳとから次の式が成り立つ。
ａ／（Ｙ／２）＝Ｒ／Ｐ2 
それ故に，ａ＝Ｒ・Ｙ／（２・Ｐ2 ）
また，上記式よりａ＝ＤＡ＋Ｒ／２
従って，ＤＡ＝ａ−Ｒ／２
＝Ｒ（Ｙ−Ｐ2 ）／（２・Ｐ2 ）
相似の直角三角形ΔＪＫＬと直角三角形ΔＴＶＺとから次の式が成り立つ。
ＤＢ／Ｕ＝Ｒ／Ｐ2 
従って，ＤＢ＝Ｒ・Ｕ／Ｐ2 
上記のとおりであり，ＤＡとＤＢは，測定値Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４，Ｘ５，及びワイヤ電極１の直径ｒから演算できることになる。
【産業上の利用可能性】
【００３６】
この発明によるワイヤ放電加工機における上下ガイド位置測定方法は，例えば，ワイヤ電極を傾斜させてワークに対してテーパ加工を行う場合に，上ガイドと下ガイドを予め決められた指定角度に移動させるために，必要なテーブル上面を基準にした上ガイドと下ガイドの設定された所定位置を測定する場合に容易に適用することができる。
【符号の説明】
【００３７】
１      ワイヤ電極
２      上ガイド
３      下ガイド
４      丸棒治具
５      円周面
６，７  垂直接触周端面
８，９  傾斜接触周端面
１０    テーブル
１１    テーブル上面
１２    上ガイドの水平座標軸
１３    下ガイドの水平座標軸
θ，θ2   ワイヤ電極の傾斜角
Ｘ１    丸棒治具の一端側でのワイヤ電極の垂直位置
Ｘ２    丸棒治具の他端側でのワイヤ電極の垂直位置
Ｘ３    丸棒治具の一端側でのワイヤ電極の投影位置
Ｘ４    丸棒治具の他端側でのワイヤ電極の投影位置
Ｘ５    丸棒治具の逆傾斜時の一端側でのワイヤ電極の投影位置
ＤＡ    テーブル上面と下ガイド面との間の距離
ＤＢ    上ガイド面と下ガイド面との間の距離
Ｑ      丸棒治具直径投影距離
Ｒ      丸棒治具直径
Ｕ      上ガイドの移動距離
Ｗ      丸棒治具中心投影距離
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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