(57)【要約】【課題】電気装置の電圧試験ターミナルに抜き差ししても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる電圧試験プラグを提供することである。【解決手段】電圧試験プラグ２１の上部導体２２と外側端子２４との間にヒューズ２８を接続し、このヒューズ２８は、試験器２７から電気装置１２に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作せず、試験器２７の試験線を接続したまま電圧試験ターミナルに抜き差したときに発生する試験器２７を介した外部電源の相間短絡の短絡電流が流れた場合には、外部電源側の本体ヒューズより先に動作する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気装置と接続される電気装置接続端子と外部電源に接続される外部電源端子との間に第１接点及び第２接点を有しかつ前記外部電源との接続を切り離す第３接点を有した電圧試験ターミナルに挿入され、前記電気装置を試験するときには前記第３接点を開いて前記電気装置を前記外部電源から切り離し前記第１接点及び第２接点を通して試験器を前記電気装置に接続し、前記外部電源から前記電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには前記第３接点を開いた状態で前記第１接点及び第２接点を通して前記電気装置と前記外部電源とを接続するための電圧試験プラグにおいて、
前記電圧試験ターミナルに挿入されたとき前記第１接点を経由して前記第２接点に接続される下部導体と、
前記電圧試験ターミナルに挿入されて前記第１接点に当接したとき前記第３接点を閉じたまま前記下部導体及び前記第１接点にて前記第３接点との並列回路を形成し、さらに前記第１接点を経由して前記第２接点に当接されたとき前記第１接点との接続を保持しつつ前記第３接点を開く上部導体と、
前記下部導体に接続され前記電圧測定のときには前記上部導体と前記下部導体とを短絡するための接続片の一方端を接続するための内側端子と、
前記上部導体に接続され前記電圧測定のときには前記接続片の他方端を接続し前記電気装置を試験するときには前記試験器を接続するための外側端子と、
前記上部導体と前記外側端子との間に接続され、前記試験器から前記電気装置に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作せず、前記試験器の試験線を接続したまま前記電圧試験ターミナルに抜き差したときに発生する前記試験器を介した前記外部電源の相間短絡の短絡電流により前記外部電源側の本体ヒューズより先に動作するヒューズとを備えたことを特徴とする電圧試験プラグ。
【請求項２】
前記ヒューズの容量は、前記外部電源の相間短絡の短絡電流より小さく、通常の試験で印加される試験電圧より大きい電圧が印加された場合に前記電気装置に流れる電流で動作する容量であることを特徴とする請求項１記載の電圧試験プラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気装置の電圧試験ターミナルに挿入され電気装置の試験及び電圧測定に使用する電圧試験プラグに関する。
【背景技術】
【０００２】
電圧試験プラグは、変電所リレー盤や監視制御盤等の電気装置の点検・試験において、電気装置の電圧試験ターミナルに挿入して、電気装置を外部電源、例えば電力系統から切り離す装置として用いられている。そして、外部電源の代わりに試験器を電気装置に接続し、試験器から電気装置に試験入力を印加するために使用するものである。
【０００３】
現在、使用している電圧試験プラグは、試験器の試験線を接続したままの電圧試験プラグを抜き差しすると、内部抵抗が小さい試験器を介して相間短絡する。相間短絡すると、
外部電源である計器用変圧器（以下、変圧器という）の２次ヒューズ（以下、本体ヒューズという）が溶断したり、保護リレーの誤表示が発生したり、あるいは感電等の不具合を引き起こしてしまうことがある。そのため、試験器の試験線を接続したまま電圧試験プラグの「挿入・引抜き」については、行わないようにすることが安全上義務づけられている。
【０００４】
図４は従来の電圧試験ターミナル及び電圧試験プラグの構成図であり、図４（ａ）は電圧試験ターミナルの一例を示す構成図、図４（ｂ）は電圧試験プラグの一例を示す平面図である。図４（ａ）に示すように、電圧試験ターミナル１１は、電気装置１２と接続される電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃと、外部電源に接続される外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃとを有している。図４では外部電源として、電力系統１５から三相の変圧器１６で降圧された電源が供給される場合を示している。変圧器１６の２次側には本体ヒューズ１７ａ、１７ｂ、１７ｃがそれぞれ設けられ、電圧試験ターミナル１１の外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃに接続されている。
【０００５】
電圧試験ターミナル１１の各々のターミナル１１ａ、１１ｂ、１１ｃは、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃと、外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃとの間に第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを有し、さらに、外部電源との接続を切り離すための第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃを有している。
【０００６】
一方、電圧試験プラグ２１は、図４（ｂ）に示すように、電圧試験ターミナル１１の各々のターミナル１１ａ、１１ｂ、１１ｃに挿入されるプラグ２１ａ、２１ｂ、２１ｃを有している。電圧試験プラグ２１の各々のプラグ２１ａ、２１ｂ、２１ｃは、それぞれ上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃを有し、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃに接続される外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃに接続される内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとを有している。
【０００７】
電圧試験プラグ２１は、電気装置１２を試験するとき、あるいは、外部電源から電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには、電圧試験ターミナル１１に挿入される。電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１に挿入されていない状態では、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃは閉じている状態であるので、外部電源から外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃ及び電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃを通って電気装置１２に電源が供給される。
【０００８】
電気装置１２を試験するときには、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入した後に、試験器を外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃに接続する。例えば、試験器を外側端子２４ａ、２４ｂ間に接続し、ａ相とｂ相との間に試験電圧を印加する。一方、外部電源から電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには、外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片を接続した状態で、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入し、外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃに或いは接続された接続片に、電圧測定器を接続して電圧を測定する。例えば、電圧測定器を外側端子２４ａ、２４ｂ間に接続し、ａ相とｂ相との間の電圧を測定する。
【０００９】
図５は、電圧測定のときに従来の電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入したときの動作説明図であり、図５（ａ）は電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の途中まで挿入され第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接した場合の説明図、図５（ｂ）は電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後まで挿入され第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接した場合の説明図である。
【００１０】
電圧測定のときには、電圧試験プラグ２１の外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃを接続し、その状態で、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入する。図５（ａ）に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の途中の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接する。これにより、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃと外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃとの間に、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃを介した短絡回路が第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃと並列に形成される。
【００１１】
すなわち、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃ、接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃ、内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃ、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃ、外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃの短絡回路が形成される。従って、電気装置１２は、この短絡回路と第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃとの並列回路により変圧器１６（外部電源）に接続されることになる。
【００１２】
図５（ｂ）に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後の位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃは、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃの双方に当接する。電圧試験プラグ２１が第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接すると、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路を形成するとともに、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開く。もし、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路が形成されずに、先に第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開いたとしても、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃを介した短絡回路が既に形成されているので、電気装置１２には変圧器１６（外部電源）からの電源が瞬断することなく供給される。
【００１３】
このように、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを用意しているのは、電気装置１２を運転したままの状態を維持しつつ電圧測定する場合に、外部電源の瞬断を防止するためである。すなわち、電圧試験プラグ２１を第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入した段階で、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃを介した短絡回路を形成して、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが閉じている状態で、外部電源から電気装置１２に流れる回路を予め形成しておき、その後に、電圧試験プラグ２１が第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃの位置まで挿入された段階で、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路が形成するとともに第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃを開く。これにより、外部電源からの電源が瞬断することなく電気装置１２に供給される。
【００１４】
そして、図５（ｂ）の状態で、例えば、ａ相とｂ相との間の電圧を測定するには、電圧測定器を外側端子２４ａ、２４ｂ間に或いは接続された接続片２６ａ、２６ｂに、接続して、ａ相とｂ相との間の電圧を測定する。
【００１５】
次に、図６は、電気装置１２を試験するときに従来の電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入したときの動作説明図であり、図６（ａ）は電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の途中まで挿入され第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接した場合の説明図、図６（ｂ）は電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後まで挿入され第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接した場合の説明図である。
【００１６】
図５に示した電圧測定の場合と異なり、外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃを接続せずに、電圧試験プラグ２１の電圧試験ターミナル１１に挿入する。図６（ａ）に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の途中の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接する。この場合、図５に示された接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃが外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続されていないので、電気装置接続端子１３ａ、１３ｂ、１３ｃと外部電源端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃとの間に短絡回路は形成されない。この状態では、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃは閉じたままであり、変圧器１６（外部電源）から第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃを通して電気装置１２に電源が供給されている。
【００１７】
図６（ｂ）に示すように、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の最後の位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃは、第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃ及び第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃの双方に当接する。電圧試験プラグ２１が第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに当接すると、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開く。この場合、図５に示された接続片２６ａ、２６ｂ、２６ｃが外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃと内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続されていないので、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃを介した短絡回路も形成されない。従って、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開くことから、変圧器１６（外部電源）から電気装置１２への電源が遮断される。
【００１８】
この状態で、図７に示すように、電圧試験プラグ２１の外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃ間に試験器２７を接続し、試験器２７から電気装置１２に試験電源を供給する。図７では、ａ相とｂ相との間に試験電圧を印加して試験を行っている場合を示している。すなわち、図７中の矢印に示すように、試験電流が流れ電気装置１２を試験する。
【００１９】
図８は、電気装置１２を試験するときに試験器２７を接続したまま電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に挿入した場合の動作説明図である。図８に示すように、電圧試験プラグ２１の外側端子２４ａ、２４ｂ間に試験器２７を接続したまま電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、試験器２７を介して変圧器１６（外部電源）が相間短絡する。そのため、試験器２７の試験線を電圧試験プラグ２１に接続する場合は、図６及び図７に示すとおり、先ず電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナル１１に完全挿入した後、試験線を外側端子２４に接続することにしている。
【００２０】
仮に試験器２７の試験線が接続されたまま、電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接し、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが閉じたままである。従って、変圧器１６（外部電源）から、第３接点２０ａ、第１接点１８ａ、上部導体２２ａ、外側端子２４ａ、試験器２７、外側端子２４ｂ、上部導体２２ｂ、第１接点１８ｂ、第３接点２０ｂを通って、変圧器１６に戻る回路が形成される。試験器２７は電圧電源であることから内部抵抗が小さく、変圧器１６の相間短絡回路を形成することになる。
【００２１】
このように、従来の電圧試験プラグ２１は、電圧試験ターミナル１１に挿入されると、電圧試験ターミナル１１側の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃと第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃと順に接続され、第２接点１９ａ、１９ｂ、１９ｃに接続されると、さらに奥の第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが開放して電気的に切り離される構造となっている。
【００２２】
これは、電気装置１２の試験を行う場合に外部電源から試験器２７に接続を切り換える場合と、電気装置１２を使用したままで電圧測定をする場合との２つの異なる操作を同一の構造で行うためである。このことから、試験器２７を接続したままの電圧試験プラグ２１が挿入されると、構造上、挿入途中の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接したときに相間短絡となってしまう。
【００２３】
この相間短絡を防止するものとして、試験回路と電圧試験プラグとの間に閉回路が形成されているか否かを検出し、電圧試験端子へ挿入された電圧試験プラグの位置を検出し、閉回路が検出され、かつ、電圧試験プラグの位置が挿入前と検出されたとき、電圧試験プラグの挿入を阻止する一方、閉回路が検出され、かつ、電圧試験プラグが挿入されたとき電圧試験プラグの引き抜きを阻止し、電圧試験プラグに試験回路が接続されたまま抜き差しされることによる電気装置や外部の電圧回路の誤動作や損傷を防止できるようにしたものがある（例えば、特許文献１参照）。
【００２４】
また、電圧試験プラグが電圧試験端子へ挿入されたとき電気装置の端末に電気的に接続される第１の端子（内部接続端子）と、試験器の端末と電気的に接続される第２の端子（中心接続端子）と、第１の端子（内部接続端子）と第２の端子（中心接続端子）とを選択的に電気的に接続、非接続の状態に切り換えできるスイッチ手段（中心接続端子）を備え、必要に応じて電圧試験プラグのナットを操作するなどして中心接続端子を電圧試験プラグ筐体に対して摺動させることにより、電圧試験プラグを「非接続状態」から「接続状態」に、或は「接続状態」から「非接続状態」に切り換え、電圧試験の作業効率を向上させ、配線作業の結線ミスや操作ミスを防止するようにしたものがある（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２５】
【特許文献１】特開平７−１２８４４号公報
【特許文献２】特開２００９−３６５９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２６】
しかし、特許文献１のものでは、電圧試験プラグの挿入を阻止したり電圧試験プラグの引き抜きを阻止したりするものであるので、試験回路と外部電源との短絡は防止できるが、そのための機構部が必要となり構造が複雑となる。また、抜き差しが阻止されるので作業効率が悪い。
【００２７】
特許文献２のものは、中心接続端子を電圧試験プラグ筐体に対して摺動させることにより、電圧試験プラグを「非接続状態」から「接続状態」に、あるいは「接続状態」から「非接続状態」に切り換えるものであるので、そのための機構部が必要となり構造が複雑となり、「接続状態」から「非接続状態」に切り換えるための操作が必要となる。
【００２８】
本発明の目的は、電気装置の電圧試験ターミナルに抜き差ししても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる電圧試験プラグを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
請求項１の発明に係る電圧試験プラグは、電気装置と接続される電気装置接続端子と外部電源に接続される外部電源端子との間に第１接点及び第２接点を有しかつ前記外部電源との接続を切り離す第３接点を有した電圧試験ターミナルに挿入され、前記電気装置を試験するときには前記第３接点を開いて前記電気装置を前記外部電源から切り離し前記第１接点及び第２接点を通して試験器を前記電気装置に接続し、前記外部電源から前記電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには前記第３接点を開いた状態で前記第１接点及び第２接点を通して前記電気装置と前記外部電源とを接続するための電圧試験プラグにおいて、前記電圧試験ターミナルに挿入されたとき前記第１接点を経由して前記第２接点に接続される下部導体と、前記電圧試験ターミナルに挿入されて前記第１接点に当接したとき前記第３接点を閉じたまま前記下部導体及び前記第１接点にて前記第３接点との並列回路を形成し、さらに前記第１接点を経由して前記第２接点に当接されたとき前記第１接点との接続を保持しつつ前記第３接点を開く上部導体と、前記下部導体に接続され前記電圧測定のときには前記上部導体と前記下部導体とを短絡するための接続片の一方端を接続するための内側端子と、前記上部導体に接続され前記電圧測定のときには前記接続片の他方端を接続し前記電気装置を試験するときには前記試験器を接続するための外側端子と、前記上部導体と前記外側端子との間に接続され、前記試験器から前記電気装置に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作せず、前記試験器の試験線を接続したまま前記電圧試験ターミナルに抜き差したときに発生する前記試験器を介した前記外部電源の相間短絡の短絡電流により前記外部電源側の本体ヒューズより先に動作するヒューズとを備えたことを特徴とする電圧試験プラグ。
【００３０】
請求項２の発明に係る電圧試験プラグは、請求項１の発明において、前記ヒューズの容量は、前記外部電源の相間短絡の短絡電流より小さく、通常の試験で印加される試験電圧より大きい電圧が印加された場合に前記電気装置に流れる電流で動作する容量であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３１】
請求項１の発明によれば、上部導体と外側端子との間にヒューズを設け、このヒューズは、試験器から電気装置に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作せず、試験器の試験線を接続したまま電圧試験ターミナルに抜き差したときに発生する試験器を介した外部電源の相間短絡の短絡電流により外部電源側の本体ヒューズより先に動作するので、電気装置を試験するときには試験器を接続したままで電圧試験ターミナルに抜き差ししても、本体ヒューズを動作させることなく相間短絡を防止できる。
【００３２】
請求項２の発明によれば、ヒューズの容量は、外部電源の相間短絡の短絡電流より小さく、通常の試験で印加される試験電圧より大きい電圧が印加された場合に電気装置に流れる電流で動作する容量であるので、外部電源の相間短絡だけでなく、試験中において試験電圧として誤って過電圧を印加した場合であっても電気装置を保護できる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの側面概念図。
【図２】本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの構造図。
【図３】本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグに試験器の試験線を接続したままの状態で電圧試験ターミナルに挿入した場合の動作説明図。
【図４】従来の電圧試験ターミナル及び電圧試験プラグの構成図。
【図５】電圧測定のときに従来の電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入したときの動作説明図。
【図６】電気装置を試験するときに従来の電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入したときの動作説明図。
【図７】電気装置を試験するときの従来の電圧試験ターミナル及び電圧試験プラグの構成図。
【図８】電気装置を試験するときに試験器を接続したまま従来の電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入した場合の動作説明図。
【発明を実施するための形態】
【００３４】
以下、本発明の実施の形態を説明する。図１は本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの側面概念図である。図１では、電圧試験プラグ２１が３極プラグである場合を示しており、白相、赤相、黒相（Ｒ相、Ｓ相、Ｔ相）の３個のプラグ２１ａ、２１ｂ、２１ｃを有している。４極プラグの場合は緑相（中性相）を含む４個のプラグを有することになる。以下の説明では、３極プラグである場合について説明する。各々のプラグ２１ａ、２１ｂ、２１ｃは、それぞれ上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃを有し、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃは、端子台２９においてヒューズ２８ａ、２８ｂ、２８ｃを介して、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃは外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃに接続され、下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃは内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃにそれぞれ接続される。
【００３５】
外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃは軸上に固定されており、電圧試験の際には、可動の外側摘み３０ａ、３０ｂ、３０ｃと固定の外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃとの間に試験線を挟んで試験器を接続する。同様に、内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃも軸上に固定されており、電圧測定の際には、可動の内側摘み３１ａ、３１ｂ、３１ｃと固定の内側端子２５ａ、２５ｂ、２５ｃとの間に接続片の一方端を挟み、可動の外側摘み３０ａ、３０ｂ、３０ｃと固定の外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃとの間に接続片の他方端を挟み、これにより接続片を接続し、電圧測定器を外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃのいずれか２つの端子間、あるいは接続された接続片間に接続して各相間の電圧を測定する。
【００３６】
図２は本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの構造図であり、図２（ａ）は端子台２９のヒューズ２８ａ、２８ｂの取付位置で端子台２９の上面部及びヒューズ２８ａ、２８ｂを取り除いた平面図、図２（ｂ）は図２（ａ）のＸ−Ｘ線の矢視図である。
【００３７】
３個のプラグ２１ａ、２１ｂ、２１ｃのうちの２個のプラグ２１ａ、２１ｂの上部導体２２ａ、２２ｂと外側端子２４ａ、２４ｂとの間に接続されるヒューズ２８ａ、２８ｂは、端子台２９の上面部に配置され、残りのプラグ２１ｃのプラグ２１ｃの上部導体２２ｃと外側端子２４ｃとの間に接続されるヒューズ２８ｃは端子台２９の側面部に配置されている。これにより、ヒューズ２８ａ、２８ｂ、２８ｃの端子台２９への取り付けをコンパクトにして、電圧試験プラグ２１を電圧試験ターミナルに挿入したときに、ヒューズ２８ａ、２８ｂ、２８ｃがその挿入の邪魔にならないようにしている。また、外側摘み３０ａ、３０ｂ、３０ｃ及び内側摘み３１ａ、３１ｂ、３１ｃの取り付け面ではなく、端子台２９の上面部や端子台２９の側面部にヒューズ２８ａ、２８ｂ、２８ｃを取り付けているので、外側摘み３０ａ、３０ｂ、３０ｃ及び内側摘み３１ａ、３１ｂ、３１ｃの操作の邪魔になることもない。
【００３８】
次に、図３は、本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグに試験器の試験線を接続したままの状態で電圧試験ターミナルに挿入した場合の動作説明図である。いま、図３に示すように、電圧試験プラグ２１の外側端子２４ａ、２４ｂ間に試験器２７を接続したまま電圧試験プラグ２１が電圧試験ターミナル１１の第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃの位置まで挿入されたとする。そうすると、電圧試験プラグ２１の各々の上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃ及び下部導体２３ａ、２３ｂ、２３ｃが第１接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃに当接し、第３接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃが閉じたままであるので、矢印で示す短絡回路が形成される。すなわち、外部電源である変圧器１６、外部電源端子１４ａ、第３接点２０ａ、第１接点１８ａ、上部導体２２ａ、ヒューズ２８ａ、外側端子２４ａ、試験器２７、外側端子２４ｂ、ヒューズ２８ｂ、上部導体２２ｂ、第１接点１８ｂ、第３接点２０ｂ、外部電源端子１４ｂ、外部電源である変圧器１６に至る短絡回路が形成され、相間短絡が発生する。
【００３９】
本発明の実施の形態では、上部導体２２ａ、２２ｂ、２２ｃと外側端子２４ａ、２４ｂ、２４ｃとの間にヒューズ２８ａ、２８ｂ、２８ｃが設けられている。このヒューズ２８ａ、２８ｂ、２８ｃの容量は、試験器２７の試験線を接続したまま電圧試験ターミナル１１に抜き差したときに発生する相間短絡の短絡電流により、外部電源側の本体ヒューズ１７ａ、１７ｂ、１７ｃより先に動作する容量に設定されている。従って、相間短絡が発生してもヒューズ２８ａ、２８ｂが本体ヒューズ１７ａ、１７ｂより先に動作するので、本体ヒューズ１７ａ、１７ｂが溶断したり、電気装置１２の保護リレーの誤表示が発生したり、あるいは感電等の不具合を引き起こすことを防止できる。
【００４０】
上述したように、ヒューズ２８ａ、２８ｂ、２８ｃの容量は、外部電源の相間短絡の短絡電流が流れた場合には本体ヒューズ１７ａ、１７ｂ、１７ｃより先に動作する容量に設定されるが、試験器２７から電気装置１２に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作しない容量に設定される。また、通常の試験で印加される試験電圧より大きい電圧が印加された場合に電気装置１２に流れる電流で動作する容量に設定する。例えば、１Ａ容量のヒューズを用いる。これにより、外部電源の相間短絡だけでなく、試験中において試験電圧として誤って過電圧を印加した場合であっても電気装置１２を保護できる。
【００４１】
このように、本発明の実施の形態では、電圧試験プラグ２１に安全装置としてのヒューズ２８ａ、２８ｂ、２８ｃを付加し、ロック操作や作業時の取扱ミスにより計器用変圧器の二次回路が短絡しても、電圧試験プラグ２１のヒューズ２８ａ、２８ｂ、２８ｃが瞬時に動作し、計器用変圧器の本体ヒューズ１７ａ、１７ｂ、１７ｃが動作しないようにセーフティーロックを施す。これにより、本体ヒューズ１７ａ、１７ｂ、１７ｃの動作による断線を防止できるのでメンテナンスも容易となる。
【符号の説明】
【００４２】
１１…電圧試験ターミナル、１２…電気装置、１３…電気装置接続端子、１４…外部電源接続端子、１５…電力系統、１６…変圧器、１７…本体ヒューズ、１８…第１接点、１９…第２接点、２０…第３接点、２１…電圧試験プラグ、２２…上部導体、２３…下部導体、２４…外側端子、２５…内側端子、２６…接続片、２７…試験器、２８…ヒューズ、２９…端子台、３０…外側摘み、３１…内側摘み
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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