(57)【要約】【課題】情報再生装置に設ける一時記憶部の容量を小さくすることにより、製造コストを低減する。【解決手段】情報記録媒体には、ユーザデータ領域全体に含まれる欠陥領域のアドレスと欠陥領域の代替となる交替領域のアドレスとを対応付けて示す情報が複数の欠陥リスト情報として分割して記録されているとともに、前記各欠陥リスト情報により示される欠陥領域のアドレスの範囲を示す欠陥リスト管理情報が記録されている。情報再生装置は、情報記録媒体のデータ再生時に、再生対象データに対し、欠陥リスト管理情報に基づいて、そのアドレスを欠陥領域のアドレスの範囲に含む欠陥リスト情報を特定する演算部と、演算部によって特定された欠陥リスト情報を格納する一時記憶部とを備え、一時記憶部に格納された欠陥リスト情報に、再生対象データのアドレスが欠陥領域のアドレスとして示されている場合、欠陥領域のアドレスに対応付けられた交替領域のアドレスのデータを再生する。【選択図】図１
2011018390.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体に記録されたデータを再生する情報再生装置であって、
前記情報記録媒体には、ユーザデータ領域全体に含まれる欠陥領域のアドレスと欠陥領域の代替となる交替領域のアドレスとを対応付けて示す情報が複数の欠陥リスト情報として分割して記録されているとともに、前記各欠陥リスト情報により示される欠陥領域のアドレスの範囲を示す欠陥リスト管理情報が記録されており、
該情報再生装置は、
前記情報記録媒体のデータ再生時に、再生対象データに対し、前記欠陥リスト管理情報に基づいて、そのアドレスを欠陥領域のアドレスの範囲に含む欠陥リスト情報を検索対象欠陥リスト情報として特定する演算部と、
前記演算部によって特定された検索対象欠陥リスト情報を格納する一時記憶部とを備え、
前記一時記憶部に格納された検索対象欠陥リスト情報に、再生対象データのアドレスが欠陥領域のアドレスとして示されている場合、当該欠陥領域のアドレスに対応付けられた交替領域のアドレスのデータを再生することを特徴とする情報再生装置。
【請求項２】
請求項１の情報再生装置において、
前記情報記録媒体に対してデータの記録を行うものであり、
前記欠陥リスト管理情報は、前記各欠陥リスト情報に新たな欠陥領域のアドレスの追加が可能か否かをさらに示すものであり、
前記演算部は、欠陥領域のアドレスの追加時に、前記欠陥リスト管理情報により新たな欠陥領域のアドレスの追加が可能であると示された欠陥リスト情報のいずれかをアドレス追加対象欠陥リスト情報として特定するものであり、
当該情報再生装置は、
前記情報記録媒体のデータ再生時に、前記演算部によって特定された検索対象欠陥リスト情報が一時記憶部に格納されていない場合に、前記一時記憶部に格納された欠陥リスト情報を読み出して前記情報記録媒体に書き込む書き込み動作を行うとともに、前記検索対象欠陥リスト情報を前記情報記録媒体から読み出して、前記一時記憶部における、前記書き込み動作の対象となった欠陥リスト情報が格納されていた領域に格納するとともに、
前記欠陥領域のアドレスの追加時に、前記演算部によって特定された追加対象欠陥リスト情報が一時記憶部に格納されていない場合に、前記一時記憶部に格納された欠陥リスト情報を読み出して前記情報記録媒体に書き込む書き込み動作を行うとともに、前記追加対象欠陥リスト情報を前記情報記録媒体から読み出して、前記一時記憶部における、前記書き込み動作の対象となった欠陥リスト情報が格納されていた領域に格納することを特徴とする情報再生装置。
【請求項３】
請求項２の情報再生装置において、
前記情報記録媒体は、複数の記録層を有し、
当該情報再生装置は、欠陥領域のアドレスの追加を、当該欠陥領域の属する記録層に記録された欠陥リスト情報に対して優先的に行い、
再生開始時又は記録開始時に、再生又は記録対象の記録層に記録された欠陥リスト情報を該記録層から読み出して前記一時記憶部に格納することを特徴とする情報再生装置。
【請求項４】
請求項２の情報再生装置において、
前記情報記録媒体は、複数の記録層を有し、
当該情報再生装置は、欠陥領域のアドレスの追加を、当該欠陥領域の属する記録層に記録された欠陥リスト情報に対して優先的に行い、
再生又は記録対象の記録層の変更時に、変更後の再生又は記録対象の記録層に記録された欠陥リスト情報を該記録層から読み出して前記一時記憶部に格納することを特徴とする情報再生装置。
【請求項５】
請求項２の情報再生装置において、
前記書き込み動作の対象となる欠陥リスト情報は、前記一時記憶部に格納された欠陥リスト情報のうち、最後に参照又は更新されてから最も時間が経過しているものであることを特徴とする情報再生装置。
【請求項６】
請求項２の情報再生装置において、
前記書き込み動作の対象となる欠陥リスト情報は、前記一時記憶部に格納された欠陥リスト情報のうち、参照及び更新の頻度の最も低いものであることを特徴とする情報再生装置。
【請求項７】
請求項２の情報再生装置において、
前記情報記録媒体は、複数の記録層を有し、
当該情報再生装置は、欠陥領域のアドレスの追加を、当該欠陥領域の属する記録層に記録された欠陥リスト情報に対して優先的に行い、
再生又は記録対象の記録層の変更時に前記書き込み動作を行う場合であって、かつ前記一時記憶部に変更前の再生又は記録対象の記録層に記録された欠陥リスト情報が格納されている場合、当該欠陥リスト情報を優先的に書き込み動作の対象とすることを特徴とする情報再生装置。
【請求項８】
請求項１の情報再生装置において、
前記情報記録媒体に対してデータの記録を行うものであり、
前記情報記録媒体が外部に取り出されるときに、前記一時記憶部に格納された欠陥リスト情報を読み出して前記情報記録媒体に書き込むことを特徴とする情報再生装置。
【請求項９】
請求項１の情報再生装置において、
前記情報記録媒体に対してデータの記録を行うものであり、
前記情報再生装置が休止状態になるときに、前記一時記憶部に格納された欠陥リスト情報を読み出して前記情報記録媒体に書き込むことを特徴とする情報再生装置。
【請求項１０】
ユーザデータ領域全体に含まれる欠陥領域のアドレスと欠陥領域の代替となる交替領域のアドレスとを対応付けて示す情報が複数の欠陥リスト情報として分割して記録されているとともに、前記各欠陥リスト情報により示される欠陥領域のアドレスの範囲を示す欠陥リスト管理情報が記録された情報記録媒体。
【請求項１１】
情報記録媒体に記録されたデータを再生する情報再生装置であって、
前記情報記録媒体には、ユーザデータ領域に含まれる欠陥領域の代替となる交替領域に使用されるスペア領域が設けられているとともに、当該スペア領域に含まれる各領域について、当該領域のアドレスと、当該領域が交替領域として使用されていないことを示すデータ、及び当該領域を交替領域とする欠陥領域のアドレスのうちいずれか一方とを示す組データが記録され、
当該情報再生装置は、
前記情報記録媒体に記録された組データのうち、交替領域として使用されている領域のもののみを一時記憶部に格納し、
前記一時記憶部に格納された組データに、再生対象データのアドレスが欠陥領域のアドレスとして示されている場合、当該欠陥領域のアドレスに対応付けられた交替領域のアドレスのデータを再生することを特徴とする情報再生装置。
【請求項１２】
請求項１１の情報再生装置において、
前記情報記録媒体には、交替領域として使用されている領域がスペア領域にいくつ含まれているかを示すディスク定義構造体情報が記録され、
当該情報再生装置は、
前記情報記録媒体のスペア領域における交替領域として使用されていない不使用領域のアドレスを前記ディスク定義構造体情報に基づいて算出する演算部を備え、
前記演算部により算出された不使用領域のアドレスと、該不使用領域が交替領域として使用されていないことを示すデータとを示す組データを前記一時記憶部に格納し、
前記一時記憶部に格納された組データを前記情報記録媒体に記録することを特徴とする情報再生装置。
【請求項１３】
請求項１１の情報再生装置において、
前記情報記録媒体が複数の記録層を有する場合、前記情報記録媒体に記録された組データのうち、交替領域として使用されている領域のもののみを一時記憶部に格納する際に、一時記憶部の未使用領域を記録層の個数分の分割領域に分割し、各分割領域に、対応する記録層のスペア領域における交替領域として使用されていない不使用領域のアドレスと、該不使用領域が交替領域として使用されていないことを示すデータとを示す組データを格納し、
欠陥領域の検出時に、当該欠陥領域を含む記録層に対応する分割領域に格納された組データのいずれか１つを、不使用領域のアドレスと検出した欠陥領域のアドレスとを示す組データに置換することを特徴とする情報再生装置。
【請求項１４】
情報記録媒体に記録されたデータを再生する情報再生方法であって、
前記情報記録媒体には、ユーザデータ領域全体に含まれる欠陥領域のアドレスと欠陥領域の代替となる交替領域のアドレスとを対応付けて示す情報が複数の欠陥リスト情報として分割して記録されているとともに、前記各欠陥リスト情報により示される欠陥領域のアドレスの範囲を示す欠陥リスト管理情報が記録されており、
該情報再生方法は、
前記情報記録媒体のデータ再生時に、再生対象データに対し、前記欠陥リスト管理情報に基づいて、そのアドレスを欠陥領域のアドレスの範囲に含む欠陥リスト情報を検索対象欠陥リスト情報として特定する演算ステップと、
前記演算部によって特定された検索対象欠陥リスト情報を一時記憶部に格納する格納ステップとを有し、
前記一時記憶部に格納された検索対象欠陥リスト情報に、再生対象データのアドレスが欠陥領域のアドレスとして示されている場合、当該欠陥領域のデータのアドレスに対応付けられた交替領域のアドレスのデータを再生することを特徴とする情報再生方法。
【請求項１５】
情報記録媒体に記録されたデータを再生する情報再生方法であって、
前記情報記録媒体には、ユーザデータ領域に含まれる欠陥領域の代替となる交替領域に使用されるスペア領域が設けられているとともに、当該スペア領域に含まれる各領域について、当該領域のアドレスと、当該領域が交替領域として使用されていないことを示すデータ、及び当該領域を交替領域とする欠陥領域のアドレスのうちいずれか一方とを示す組データが記録され、
当該情報再生方法は、
前記情報記録媒体に記録された組データのうち、交替領域として使用されている領域のもののみを一時記憶部に格納する格納ステップを有し、
前記一時記憶部に格納された組データに、再生対象データのアドレスが欠陥領域のアドレスとして示されている場合、当該欠陥領域のアドレスに対応付けられた交替領域のアドレスのデータを再生することを特徴とする情報再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報記録媒体、及び当該情報記録媒体のデータを再生する情報再生装置及び情報再生方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に開示された情報再生装置は、ユーザデータ領域全体に含まれる欠陥領域のアドレスと欠陥領域の代替となる交替領域のアドレスとを対応付けて示す欠陥リスト情報が記録された情報記録媒体を再生するものである。この情報再生装置は、情報記録媒体から欠陥リスト情報全体を読み出して一時記憶部（バッファ）に格納し、一時記憶部に格納した欠陥リスト情報に再生対象データのアドレスが欠陥領域のアドレスとして登録されている場合、前記欠陥リスト情報において欠陥領域のアドレスに対応付けられた交替領域のデータを再生する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−３２３７６９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記特許文献１の情報再生装置では、ユーザデータ領域全体分の欠陥リスト情報全体を一時記憶部に格納するので、一時記憶部の容量を大きくする必要があり、製造コストの増大を招いていた。特に、この問題は、光ディスクの記録層を増やした場合等、情報記録媒体の容量を大きくした場合に顕著である。例えば、容量が２５ＧＢｙｔｅの１層構造のＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃにおいては、前記欠陥リスト情報とスペア領域のサイズ等の各種管理情報とを含む欠陥管理情報のサイズが２５６ＫＢｙｔｅとなるのに対し、容量が５０ＧＢｙｔｅの２層構造のＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃにおいては、欠陥管理情報のサイズが倍の５１２ＫＢｙｔｅとなる。このように、２層構造のＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃを再生する場合、欠陥リスト情報全体を情報再生装置内の一時記憶部へ格納する従来の方法を用いると、最低５１２ＫＢｙｔｅの空き領域が必要となる。Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃを３層、４層…とした場合には、必要な一時記憶部の容量が７６８ＫＢｙｔｅ、１０２４ＫＢｙｔｅ…とさらに増える。
【０００５】
本発明は、上記の点に鑑み、情報再生装置に設ける一時記憶部の容量を小さくすることにより、製造コストを低減することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の課題を解決するため、請求項１〜１０、１４の発明は、情報記録媒体に記録されたデータを再生する情報再生処理であって、前記情報記録媒体には、ユーザデータ領域全体に含まれる欠陥領域のアドレスと欠陥領域の代替となる交替領域のアドレスとを対応付けて示す情報が複数の欠陥リスト情報として分割して記録されているとともに、前記各欠陥リスト情報により示される欠陥領域のアドレスの範囲を示す欠陥リスト管理情報が記録されており、該情報再生処理は、前記情報記録媒体のデータ再生時に、再生対象データに対し、前記欠陥リスト管理情報に基づいて、そのアドレスを欠陥領域のアドレスの範囲に含む欠陥リスト情報を検索対象欠陥リスト情報として特定する演算処理と、前記演算処理によって特定された検索対象欠陥リスト情報を一時記憶部に格納する格納処理とを有し、前記一時記憶部に格納された検索対象欠陥リスト情報に、再生対象データのアドレスが欠陥領域のアドレスとして示されている場合、当該欠陥領域のアドレスに対応付けられた交替領域のアドレスのデータを再生することを特徴とする。
【０００７】
これにより、演算部が再生対象データのアドレスを欠陥領域のアドレスの範囲に含む欠陥リスト情報を欠陥リスト管理情報に基づいて特定するので、演算部によって特定されていない欠陥リスト情報を情報記録媒体から読み出す必要がない。したがって、ユーザデータ領域全体に対応する欠陥リスト情報を情報記録媒体から読み出す場合に比べて再生にかかる時間を短縮できる。
【０００８】
また、必要とされる一時記憶部の容量が、演算部によって特定された欠陥リスト情報に相当する容量となるので、ユーザデータ領域全体に対応する欠陥リスト情報を一時記憶部に格納する従来の構成に比べ、一時記憶部の容量を小さくでき、その結果製造コストを低減できる。
【０００９】
また、請求項１１〜１３、１５の発明は、情報記録媒体に記録されたデータを再生する情報再生処理であって、前記情報記録媒体には、ユーザデータ領域に含まれる欠陥領域の代替となる交替領域に使用されるスペア領域が設けられているとともに、当該スペア領域に含まれる各領域について、当該領域のアドレスと、当該領域が交替領域として使用されていないことを示すデータ、及び当該領域を交替領域とする欠陥領域のアドレスのうちいずれか一方とを示す組データが記録され、当該情報再生処理は、前記情報記録媒体に記録された組データのうち、交替領域として使用されている領域のもののみを一時記憶部に格納する格納処理を有し、前記一時記憶部に格納された組データに、再生対象データのアドレスが欠陥領域のアドレスとして示されている場合、当該欠陥領域のアドレスに対応付けられた交替領域のアドレスのデータを再生することを特徴とする。
【００１０】
これにより、情報記録媒体に記録された組データのうち、交替領域として使用されている領域のもののみを一時記憶部に格納するので、情報記録媒体に記録された組データすべてを一時記憶部に格納する従来の構成に比べ、一時記憶部の使用領域が小さくなるので、一時記憶部の容量を小さくでき、その結果製造コストを低減できる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明により、情報再生装置の一時記憶部の容量を小さくでき、その結果製造コストを低減できる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の実施形態１に係る情報記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態１に係る光ディスクの構造を示す説明図である。
【図３】本発明の実施形態１に係る光ディスクの断面構造を示す説明図である。
【図４】パラレルトラックパス方式を説明する説明図である。
【図５】オポジットトラックパス方式を説明する説明図である。
【図６】光ディスクのフォーマットを示す説明図である。
【図７】本発明の実施形態１に係る第１〜第４欠陥リスト情報を示す説明図である。
【図８】本発明の実施形態１に係る欠陥リスト管理情報を示す説明図である。
【図９】本発明の実施形態１に係る一時記憶部の構成を示す説明図である。
【図１０】新たな欠陥リスト情報を一時記憶部に格納する処理の例を説明する説明図である。
【図１１】新たな欠陥リスト情報を一時記憶部に格納する処理の例を説明する説明図である。
【図１２】新たな欠陥リスト情報を一時記憶部に格納する処理の例を説明する説明図である。
【図１３】新たな欠陥リスト情報を一時記憶部に格納する処理の例を説明する説明図である。
【図１４】本発明の実施形態１に係る情報記録再生装置の欠陥セクタ検出時の動作を示すフローチャートである。
【図１５】本発明の実施形態１に係る情報記録再生装置の再生対象データのアドレス（ＰＳＮ）の検索動作を示すフローチャートである。
【図１６】本発明の実施形態１に係る情報記録再生装置の再生対象データのアドレス（ＰＳＮ）の検索動作を示すフローチャートである。
【図１７】本発明の実施形態１に係る情報記録再生装置の再生対象データのアドレス（ＰＳＮ）の検索動作を示すフローチャートである。
【図１８】本発明の実施形態１に係る情報記録再生装置の指定したセクタ以降に存在する欠陥セクタの検索動作を示すフローチャートである。
【図１９】本発明の実施形態１に係る情報記録再生装置の指定したセクタ以降に存在する欠陥セクタの検索動作を示すフローチャートである。
【図２０】本発明の実施形態２に係る情報記録再生装置の一時記憶部の構成を示す説明図である。
【図２１】本発明の実施形態２に係る光ディスクに記録された欠陥リスト情報の例を示す説明図である。
【図２２】本発明の実施形態２に係る光ディスクのユーザデータ領域と２箇所のスペア領域とを抽出して示す説明図である。
【図２３】図２２に示すスペア領域の使用状況に対応する欠陥リスト情報を示す説明図である。
【図２４】本発明の実施形態２に係る情報記録再生装置の欠陥リスト情報領域に最終的に格納される欠陥リスト情報の例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１４】
《実施形態１》
図１は、本発明の実施形態１に係る情報記録再生装置（情報再生装置）１００の構成を示す。この情報記録再生装置１００は、情報記録媒体としての光ディスク２００に対してデータの記録及び再生を行うものであり、ホストＰＣ（Personal Computer）３００に接続されている。
【００１５】
情報記録再生装置１００は、光ディスク２００を回転させるスピンドルモータ１０１、光ディスク２００に対してレーザー光Ｌを照射する光ピックアップ（ＰＵＨ：Pick Up Head）１０２、光ディスク２００におけるレーザー光Ｌの照射位置が目的の位置になるように光ピックアップ１０２を動かすアクチュエータ駆動部１０３、スピンドルモータ１０１及び光ピックアップ１０２の位置を制御するサーボ制御部１０４、記録用及び再生用のレーザー光Ｌを光ピックアップ１０２に発生させるレーザー駆動部１０５、光ピックアップ１０２により検出された信号に対して波形整形・デジタル化処理を行う信号処理部１０６、記録データの変調及び再生データの復調を行う変復調回路１０７、データに対して誤り訂正を実行するＥＣＣ回路１０８、ホストＰＣ３００との通信を行うＩ／Ｆ（Interface）１０９、記録・再生用データのバッファリングを行うとともに、欠陥管理情報等の各種管理情報を格納する一時記憶部１１０、及び各部の動作を管理するＣＰＵ（Central Processing Unit）１１３を備えている。前記光ピックアップ１０２には、対物レンズ１０２ａ（図３参照）が設けられている。
【００１６】
＜光ディスク２００の構成＞
光ディスク２００は円盤状であり、図２に示すように、光ディスク２００の表面上には、スパイラル状のトラック２０１が内周側から外周側へ形成されている。データの記録・再生は、セクタ２０２単位で行われる。
【００１７】
また、光ディスク２００は、図３に示すように２層構造になっており、基板２０７と、基板２０７上に積層された２つの記録層２０８，２０９とで構成されている。記録層２０８（Ｌ０層）が、記録層２０９（Ｌ１層）よりレーザー照射面に対して奥に位置する。記録層２０８（Ｌ０層）のトラックに対して記録・再生を行うためには、レーザー光Ｌの焦点が記録層２０８（Ｌ０層）表面に合うように対物レンズ１０２ａを動かす。同様に、記録層２０９（Ｌ１層）のトラックに対して記録・再生を行うためには、レーザー光Ｌの焦点が記録層２０９（Ｌ１層）表面に合うように対物レンズ１０２ａを動かす。
【００１８】
一般に、２層ディスクの追従方式には、パラレルトラックパス方式とオポジットトラックパス方式とがある。パラレルトラックパス方式は、図４に示すように、１層目の記録層２０８における追従方向Ｄ１と２層目の記録層２０９における追従方向Ｄ２との両方が内周側から外周側に向かうものである。オポジットトラックパス方式は、図５に示すように、１層目の記録層２０８における追従方向Ｄ３が内周側から外周側に向かうものであるのに対して２層目の記録層２０９における追従方向Ｄ４が外周側から内周側に向かうものである。
【００１９】
図６は、光ディスク２００のフォーマットを示す。
【００２０】
記録層２０８（Ｌ０層）は、主にディスク管理情報の記録に用いられるリードイン領域２０３を内周側に有し、当該リードイン領域２０３には、欠陥リスト管理領域２１６と第１欠陥リスト領域２１２とが配置されている。また、本実施形態の光ディスク２００には、オポジットトラックパス方式が採用され、記録層２０８は、外周側にミドル領域２１０を有する。また、リードイン領域２０３とミドル領域２１０との間には、ユーザデータ領域２０４と、当該ユーザデータ領域２０４を前後から挟む第１スペア領域２０５ａ及び第２スペア領域２０５ｂとが配置されている。記録層２０８（Ｌ０層）のミドル領域２１０には、第２欠陥リスト領域２１３が配置されている。
【００２１】
記録層２０９（Ｌ１層）は、内周側にリードアウト領域２０６を有するとともに、外周側にミドル領域２１１を有する。リードアウト領域２０６には、第３欠陥リスト領域２１４が配置されている。記録層２０９（Ｌ１層）のミドル領域２１１には、第４欠陥リスト領域２１５が配置されている。リードアウト領域２０６とミドル領域２１１との間には、ユーザデータ領域２０４と、当該ユーザデータ領域２０４を前後から挟む第３スペア領域２０５ｃ及び第４スペア領域２０５ｄとが配置されている。
【００２２】
ユーザデータ領域２０４は、各種データの記録に使用される。また、リードイン領域２０３とリードアウト領域２０６が存在することにより、第１スペア領域２０５ａ、第３スペア領域２０５ｃの端部分へアクセスする際に光ピックアップ１０２がオーバーランしたときでもレーザー光Ｌをトラック２０１に追従させることができる。また、ミドル領域２１０，２１１は、リードイン領域２０３、及びリードアウト領域２０６と同様に、管理情報の記録に用いられ、また、ミドル領域２１０，２１１が存在することにより、光ピックアップ１０２が外周側にオーバーランしたときでもレーザー光Ｌをトラック２０１に追従させることができる。
【００２３】
リードイン領域２０３、リードアウト領域２０６、ユーザデータ領域２０４、第１〜第４スペア領域２０５ａ〜２０５ｄ、ミドル領域２１０，２１１に含まれる各セクタには、図２に示すように、セクタを判別するために物理セクタ番号（以下、ＰＳＮ（Physical Sector Number）と略す）が付されている。また、ユーザデータ領域２０４に含まれる各セクタには、ユーザデータ領域２０４の先頭のセクタを０とする連続した論理セクタ番号（以下、ＬＳＮ(Logical Sector Number)と略す）が付されている。
【００２４】
また、光ディスク２００にオポジットトラックパス方式が採用され、記録層２０８のユーザデータ領域２０４の最終セクタと記録層２０９のユーザデータ領域２０４の先頭セクタとが近接しているために、２層に跨がるデータをほぼ連続的に記録・再生することができる。
【００２５】
光ディスク２００の第１〜第４欠陥リスト領域２１２〜２１５には、それぞれ、図７に示す第１〜第４欠陥リスト情報が記録されている。各欠陥リスト情報は、リスト形式の情報であり、第１〜第４スペア領域２０５ａ〜２０５ｄのうちの対応する１つの先頭セクタから最終セクタまでの交替セクタアドレス２１９と、各交替セクタアドレス２１９により示されるセクタが使用中であるか否かを示すフラグ２１７とを対応付けて示すとともに、前記フラグ２１７により使用中であると示される交替セクタアドレス２１９については、当該交替セクタアドレス２１９のセクタを交替領域として使用する欠陥セクタのアドレス（欠陥セクタアドレス２１８）を対応付けて示す一方、前記フラグにより未使用であると示される交替セクタアドレス２１９については、０の欠陥セクタアドレス２１８を対応付けて示す。つまり、各欠陥リスト情報は、ユーザデータ領域２０４に含まれる欠陥セクタのアドレスと欠陥セクタの代替となる交替セクタのアドレスとを対応付けて示すものである。
【００２６】
具体的には、第１欠陥リスト領域２１２には、第１スペア領域２０５ａの先頭セクタから最終セクタまでのＰＳＮが交替セクタアドレス２１９として格納されているとともに、欠陥領域（欠陥セクタ）のＰＳＮが欠陥セクタアドレス２１８として格納されている。また、第１欠陥リスト領域２１２には、各交替セクタアドレス２１９で示されるセクタが使用中であるか否かを示すフラグ２１７が格納されている。
【００２７】
同様に、第２欠陥リスト領域２１３には、第２スペア領域２０５ｂの先頭セクタから最終セクタまでのＰＳＮが交替セクタアドレス２１９として格納されているとともに、欠陥領域（欠陥セクタ）のＰＳＮが欠陥セクタアドレス２１８として格納されている。また、第２欠陥リスト領域２１３にも、各交替セクタアドレス２１９で示されるセクタが使用中であるか否かを示すフラグ２１７が格納されている。
【００２８】
また、第３欠陥リスト領域２１４には、第３スペア領域２０５ｃの先頭セクタから最終セクタまでのＰＳＮが交替セクタアドレス２１９として格納されているとともに、欠陥領域（欠陥セクタ）のＰＳＮが欠陥セクタアドレス２１８として格納されている。また、第３欠陥リスト領域２１４にも、各交替セクタアドレス２１９で示されるセクタが使用中であるか否かを示すフラグ２１７が格納されている。
【００２９】
さらに、第４欠陥リスト領域２１５には、第４スペア領域２０５ｄの先頭セクタから最終セクタまでのＰＳＮが交替セクタアドレス２１９として格納されているとともに、欠陥領域（欠陥セクタ）のＰＳＮが欠陥セクタアドレス２１８として格納されている。また、第４欠陥リスト領域２１５にも、各交替セクタアドレス２１９で示されるセクタが使用中であるか否かを示すフラグ２１７が格納されている。
【００３０】
また、欠陥リスト管理領域２１６には、図８に示す欠陥リスト管理情報が記録されている。この欠陥リスト管理情報は、各欠陥リスト情報により示される欠陥セクタアドレスの最小値２１６ａ及び最大値２１６ｂを示すとともに、各欠陥リスト情報の枯渇状況、すなわち各欠陥リスト情報に新たな欠陥領域のアドレスの追加が可能であるか否かをフラグ２１６ｃにより示すものである。
【００３１】
＜一時記憶部１１０の使用方法＞
一時記憶部１１０には、図９に示すように、転送バッファ１１１と欠陥管理情報領域１１２とが設けられている。欠陥管理情報領域１１２には、欠陥リスト管理情報を記憶する欠陥リスト管理情報領域１１４が１箇所に確保されているとともに、欠陥リスト情報を記憶する３つの欠陥リスト情報領域１１５ａ〜１１５ｃが確保されている。
【００３２】
＜起動時の動作＞
情報記録再生装置１００に光ディスク２００が挿入され、情報記録再生装置１００が起動して再生又は記録を開始する時、ＣＰＵ１１３の指示により、サーボ制御部１０４がスピンドルモータ１０１を制御して光ディスク２００を回転させる。その後、サーボ制御部１０４が、光ディスク２００のトラック２０１に光ピックアップ１０２によるレーザ光Ｌの照射位置を追従させる追従制御を開始する。この追従制御は、光ピックアップ１０２の検出信号に応じてアクチュエータ駆動部１０３を動作させることにより行う。
【００３３】
次に、ＣＰＵ１１３が、信号処理部１０６に指示を出すことにより、光ディスク２００からアドレス情報及び記録データを読み出す準備をする。なお、アドレス情報及び記録データは、信号処理部１０６の出力信号に対し、変復調回路１０７による復調処理、及びＥＣＣ回路１０８によるエラー訂正処理を施すことによって得られ、一時記憶部１１０の転送バッファ１１１に格納される。
【００３４】
そして、起動手順の最後に、情報記録再生装置１００は、光ディスク２００の欠陥リスト管理領域２１６から欠陥リスト管理情報を読み出し、一時記憶部１１０の欠陥リスト管理情報領域１１４に格納するとともに、第１〜第４欠陥リスト領域２１２〜２１５のうちこれから再生又は記録を行う記録層（再生又は記録対象の記録層）に記録されているものを読み出して、欠陥リスト情報領域１１５に格納する。例えば記録層２０８（Ｌ０層）の内周側から再生又は記録を開始する場合、情報記録再生装置１００は、記録層２０８（Ｌ０層）に記録されたすべての欠陥リスト情報、すなわち第１及び第２欠陥リスト領域２１２，２１３に記録された欠陥リスト情報を記録層２０８から読み出して欠陥リスト情報領域１１５に格納する。なお、記録層２０８（Ｌ０層）の内周側用の欠陥リスト情報、すなわち第１欠陥リスト領域２１２に記録された欠陥リスト情報だけを読み出して格納するようにしてもよい。
【００３５】
＜再生対象又は記録対象の記録層の変更時の動作＞
情報記録再生装置１００は、再生対象又は記録対象の記録層の変更時（切り替え時）、使用されるスペア領域が変更になるため、使用する欠陥リスト情報も変更する必要がある。
【００３６】
記録又は再生対象の記録層が記録層２０８（Ｌ０層）から記録層２０９（Ｌ１層）に切り替わる場合、情報記録再生装置１００は、まず、図１０に示すように、欠陥リスト情報領域１１５ａ，１１５ｂに格納して使用していたＬ０層内周側欠陥リスト情報とＬ０層外周側欠陥リスト情報とを欠陥リスト情報書き戻し処理Ｐ１において一旦光ディスク２００に書き込む（書き込み動作）。その後、欠陥リスト情報取得処理Ｐ２において、それまでＬ０層内周側欠陥リスト情報とＬ０層外周側欠陥リスト情報とが格納されていた欠陥リスト情報領域１１５ａ，１１５ｂに、これから再生又は記録を行う記録層２０９（Ｌ１層）（変更後の再生又は記録対象の記録層）に記録されているＬ１層内周側欠陥リスト情報とＬ１層外周側欠陥リスト情報とを格納する。
【００３７】
図１０の処理は、欠陥管理情報領域１１２に空きの欠陥リスト情報領域が無い場合に適用できる。なお、空きの欠陥リスト情報領域が存在する場合には、その領域を優先的に使用するようにしてもよい。これにより、光ディスク２００への欠陥リスト情報の書き戻し処理の回数、及び書き込むデータの量を削減できる。例えば、図１１に示すように、空きの欠陥リスト情報領域１１５ｃ、１１５ｄが存在する場合には、欠陥リスト情報書き戻し処理Ｐ１を実行することなく、これから再生又は記録を行おうとする記録層２０９（Ｌ１層）の欠陥リスト情報を格納できる。
【００３８】
図１０の処理では、欠陥リスト情報を光ディスク２００から取得するために、すでに欠陥リスト情報領域１１５ａ，１１５ｂに格納されている欠陥リスト情報を光ディスク２００へ書き込む処理が必要であった。一度書き込む（＝情報記録再生装置１００から該当ユーザデータ領域２０４の欠陥リスト情報が消失する）と、再び該当ユーザデータ領域２０４に対して記録・再生する場合、再び欠陥リスト情報を取得する必要が生じる。
【００３９】
そこで、欠陥リスト情報の取得回数削減のため、一時記憶部１１０に格納された欠陥リスト情報のうち、最後に参照又は更新されてから最も時間が経過しているものを光ディスク２００へ書き込むようにしてもよい。このようにする場合の処理の例を図１２に示す。図１２では、第４欠陥リスト情報を使用したいが欠陥リスト情報領域１１５ａ〜１１５ｃに空きがないので、欠陥リスト情報領域１１５ａ〜１１５ｃに格納された欠陥リスト情報のうち、最後に参照又は更新されてから最も時間が経過している第２欠陥リスト情報（欠陥リスト情報領域１１５ｂに格納されている）を欠陥リスト情報書き戻し処理Ｐ１により光ディスク２００へ書き込み、欠陥リスト情報取得処理Ｐ２により第４欠陥リスト情報を欠陥リスト情報領域１１５ｂに格納している。
【００４０】
また、一時記憶部１１０に格納された欠陥リスト情報のうち、参照及び更新の頻度の最も低いものを光ディスク２００へ書き込むようにしてもよい。このようにする場合の処理の例を図１３に示す。図１３では、第４欠陥リスト情報を使用したいが欠陥リスト情報領域１１５ａ〜１１５ｃに空きがないので、欠陥リスト情報領域１１５ａ〜１１５ｃに格納された欠陥リスト情報のうち、更新頻度が最も少ない第２欠陥リスト情報（欠陥リスト情報領域１１５ｂに格納されている）を欠陥リスト情報書き戻し処理Ｐ１により光ディスク２００へ書き込み、欠陥リスト情報取得処理Ｐ２により第４欠陥リスト情報を欠陥リスト情報領域１１５ｂに格納している。参照及び更新の頻度の最も低い欠陥リスト情報を書き込みの対象とすることにより、欠陥リスト情報の更新が記録・再生動作の性能に及ぼす影響を小さくできる。
【００４１】
また、一時記憶部１１０に格納された欠陥リスト情報のうち、再生又は記録対象の記録層の変更前における再生又は記録対象の記録層に記録されたものを優先的に光ディスク２００へ書き込むようにしてもよい。
【００４２】
＜再生時の動作＞
ここで、情報記録再生装置１００が光ディスク２００に記録されたデータを再生する動作について説明する。まず、ホストＰＣ３００が、ユーザデータ領域２０４上における再生対象データの位置のＬＳＮを示す再生位置情報を情報記録再生装置１００に転送することにより、再生対象データの再生指示を行う。転送された再生位置情報は、Ｉ／Ｆ１０９を介して一時記憶部１１０の転送バッファ１１１に送られ、一旦格納される。そして、情報記録再生装置１００が、一時記憶部１１０に格納された再生位置情報により示されるＬＳＮに基づいて、対応するＰＳＮ（希望再生位置のＰＳＮ）を算出する。そして、算出したＰＳＮに交替セクタが割り当てられているか否かを確認するために、光ディスク２００に記録された欠陥リスト情報から希望再生位置のＰＳＮを検索する。ここでの検索方法については後述する。光ディスク２００に記録された欠陥リスト情報に希望再生位置のＰＳＮが欠陥セクタアドレスとして示されている場合には、希望再生位置のデータに代えて、当該欠陥セクタアドレスに対応付けて示されている交替セクタアドレスのデータを再生する。詳しくは、交替セクタアドレスで示される光ディスク２００上の位置にレーザー光Ｌが照射されるよう、光ピックアップ１０２を移動させる。そして、光ピックアップ１０２の出力が、信号処理部１０６によりデジタルデータに変換され、このデジタルデータが、変復調回路１０７による復調処理及びＥＣＣ回路１０８によるエラー訂正処理を経て一時記憶部１１０内の転送バッファ１１１に格納される。転送バッファ１１１に格納されたデジタルデータは、Ｉ／Ｆ１０９を介してホストＰＣ３００へ転送される。
【００４３】
＜記録時の動作＞
光ディスク２００へのデータの記録を行うには、事前にレーザパワー調整処理を行う必要があるが、その処理の詳細については説明を省略する。記録時にはまず、ホストＰＣ３００が、ユーザデータ領域２０４における所定の記録位置のＬＳＮを示す記録位置情報とともに記録対象データを情報記録再生装置１００に転送する。転送された記録対象データ及び記録位置情報は、Ｉ／Ｆ１０９を介して一時記憶部１１０の転送バッファ１１１に送られ、一旦格納される。そして、情報記録再生装置１００が、一時記憶部１１０に格納された記録位置情報により示されるＬＳＮに基づいて、対応するＰＳＮ（希望記録位置のＰＳＮ）を算出する。そして、光ディスク２００に記録された欠陥リスト情報から希望記録位置のＰＳＮを検索することにより、算出したＰＳＮにより示されるセクタが使用可能であるか否か、すなわち希望記録位置のＰＳＮにより示されるセクタに欠陥が有るか否かを確認する。光ディスク２００に記録された欠陥リスト情報に希望記録位置のＰＳＮが欠陥セクタアドレスとして示されている場合には、記録対象データの記録位置のＰＳＮを、当該欠陥セクタアドレスに対応付けて示されている交替セクタアドレスに決定する。そして、ＣＰＵ１１３の指示により、サーボ制御部１０４が、決定した記録位置のＰＳＮにより示される位置にレーザー光Ｌの照射位置が移動するよう光ピックアップ１０２を制御する。レーザー光Ｌの照射位置が目的の位置へ到達すると、転送バッファ１１１に格納されていた記録対象データに対し、ＥＣＣ回路１０８による訂正符号の付加処理、及び変復調回路１０７による実際の記録データ列への変調処理が行われ、ＣＰＵ１１３がレーザー駆動部１０５を制御することにより記録データ列が光ディスク２００に記録される。
【００４４】
＜欠陥セクタ検出時の動作＞
次に、情報記録再生装置１００が光ディスク２００へのデータ記録時に欠陥セクタ（欠陥領域）を検出したとき、すなわち光ディスク２００上の傷等の要因で所定のセクタ（欠陥セクタ）への記録対象データの記録を失敗したときに、検出した欠陥セクタのアドレスを欠陥リスト情報に登録する手順について、図１４のフローチャートを参照して説明する。
【００４５】
まず、（Ｓ１００１）において、演算部としてのＣＰＵ１１３が、ユーザデータ領域２０４において検出された欠陥セクタのアドレスに基づいて、第１〜第４スペア領域２０５ａ〜２０５ｄのうち、使用するいずれか１つのスペア領域を管理する欠陥リスト情報を、判定対象欠陥リスト情報として特定する。使用するスペア領域の選択方法については後述する。そして、情報記録再生装置１００の処理が（Ｓ１００２）に進む。
【００４６】
（Ｓ１００２）では、ＣＰＵ１１３が、（Ｓ１００１）又は後述する（Ｓ１００４）において特定した判定対象欠陥リスト情報に新たな欠陥領域のアドレスの追加が可能か否か、すなわち使用予定のスペア領域に空きがあるか否かを、欠陥リスト管理領域２１６に格納されたフラグ２１６ｃに基づいて判定し、処理が（Ｓ１００３）に進む。
【００４７】
（Ｓ１００３）では、（Ｓ１００２）において判定対象欠陥リスト情報に新たな欠陥領域のアドレスの追加が不可能と判定された場合には処理が（Ｓ１００４）に進み、新たな欠陥領域のアドレスの追加が可能と判定された場合には処理が（Ｓ１００５）に進む。
【００４８】
（Ｓ１００４）では、ＣＰＵ１１３が、まだ判定対象欠陥リスト情報として特定していない欠陥リスト情報を新たな判定対象欠陥リスト情報として特定する。判定対象欠陥リスト情報は、後述するスペア領域の選択順序に対応する順序で特定される。そして処理が（Ｓ１００２）に戻る。
【００４９】
（Ｓ１００５）では、ＣＰＵ１１３が、そのときの判定対象欠陥リスト情報をアドレス追加対象欠陥リスト情報として特定する。そして、特定されたアドレス追加対象欠陥リスト情報が欠陥管理情報領域１１２に準備される。情報記録再生装置１００は、アドレス追加対象欠陥リスト情報がすでに欠陥管理情報領域１１２に格納されていれば、その欠陥リスト情報を使用する一方、格納されていなければ、再生対象又は記録対象の記録層の変更時と同様に欠陥リスト情報書き戻し処理Ｐ１及び欠陥リスト情報取得処理Ｐ２を行うことにより、光ディスク２００から読み出して欠陥管理情報領域１１２に格納する。そして、処理が（Ｓ１００６）に進む。
【００５０】
（Ｓ１００６）では、（Ｓ１００５）で特定されて欠陥管理情報領域１１２に格納されているアドレス追加対象欠陥リスト情報に含まれる未使用の交替セクタアドレスの１つを選択し、選択した交替セクタアドレスに対応付けて、検出した欠陥セクタのアドレス（ＰＳＮ）を登録するとともに、選択した交替セクタアドレスにより特定されるスペア領域のセクタに記録対象データを記録する。
【００５１】
このように、欠陥リスト情報に新たな欠陥セクタのアドレスの追加が可能であることをフラグ２１６ｃに基づいて判定してから欠陥リスト情報を光ディスク２００から取得するので、不要な欠陥リスト情報の取得処理を削減できる。
【００５２】
＜スペア領域の選択方法＞
ここで、（Ｓ１００１）におけるスペア領域の選択方法について説明する。スペア領域はユーザデータ領域２０４の欠陥領域の代替先として使用されるので、ユーザデータ領域２０４の欠陥領域に対して近接しているのが望ましい。本実施形態では、図６に示すように、ユーザデータ領域２０４がＬ０層内周側領域２０４ａ、Ｌ０層外周側領域２０４ｂ、Ｌ１層内周側領域２０４ｃ、及びＬ１層外周側領域２０４ｄに区分して管理される。そして、情報記録再生装置１００は、検出した欠陥セクタの代替となる交替領域に使用するスペア領域として、欠陥領域の属する記録層の近い側のスペア領域、欠陥領域の属する記録層の遠い側のスペア領域、欠陥領域の属する記録層の隣接層の近い側のスペア領域、欠陥領域の属する記録層の隣接層の遠い側のスペア領域、という順序で優先的に選択する。例えば、情報記録再生装置１００は、Ｌ０層内周側領域２０４ａで欠陥セクタを検出した場合、交替領域に第１スペア領域２０５ａを最も優先して使用する。このような優先順序でスペア領域を使用することにより、光ピックアップ１０２が記録層間を移動する時間よりも、光ディスク２００の端から端までを移動する時間の方が短い場合に、記録及び再生時間を効果的に短縮できる。
【００５３】
なお、光ピックアップ１０２が光ディスク２００の端から端までを移動する時間よりも、記録層間を移動する時間の方が短い場合には、スペア領域の使用優先順序を、欠陥領域の属する記録層の近い側のスペア領域、欠陥領域の属する記録層の隣接層の近い側のスペア領域、欠陥領域の属する記録層の遠い側のスペア領域、欠陥領域の属する記録層の隣接層の遠い側のスペア領域、という順序に設定することにより、記録及び再生時間を効果的に短縮できる。
【００５４】
このスペア領域の使用選択順序はあらかじめどちらかに固定される。
【００５５】
＜再生対象データのアドレス（ＰＳＮ）の検索動作＞
次に、情報記録再生装置１００が光ディスク２００のデータを再生する際に、ユーザデータ領域２０４の再生対象データのアドレス（ＰＳＮ）が欠陥リスト情報に登録されているか否かを判定する動作について、図１５〜図１７のフローチャートを参照して説明する。
【００５６】
まず、図１５に示すように、（Ｓ２００１）において、ＣＰＵ１１３が、ユーザデータ領域２０４の再生対象データのアドレスに基づいて、第１〜第４スペア領域２０５ａ〜２０５ｄのうち、使用するいずれか１つのスペア領域を管理する欠陥リスト情報を判定対象欠陥リスト情報として特定する。使用するスペア領域の選択方法については前述した通りである。そして、情報記録再生装置１００の処理が（Ｓ２００２）に進む。
【００５７】
（Ｓ２００２）において、ＣＰＵ１１３が、（Ｓ２００１）で特定した判定対象欠陥リスト情報に空きがあるか否かを、欠陥リスト管理領域２１６に格納されたフラグ２１６ｃに基づいて判定し、処理が（Ｓ２００３）に進む。
【００５８】
（Ｓ２００３）では、（Ｓ２００２）において判定対象欠陥リスト情報に空きがあると判定された場合には処理が（Ｓ２００４）に進み、判定対象欠陥リスト情報に空きがないと判定された場合には処理が（Ｓ２００９）に進む。
【００５９】
（Ｓ２００４）以降の動作を図１６に示す。
【００６０】
（Ｓ２００４）では、ＣＰＵ１１３が、特定されている判定対象欠陥リスト情報に登録された欠陥領域のアドレス範囲に再生対象データのアドレスが含まれているか否かを、欠陥リスト管理領域２１６に格納された欠陥セクタアドレスの最小値２１６ａ及び最大値２１６ｂに基づいて判定する。そして、処理が（Ｓ２００５）に進む。
【００６１】
（Ｓ２００５）では、判定対象欠陥リスト情報に登録された欠陥領域のアドレス範囲に再生対象データのアドレスが含まれていると（Ｓ２００４）において判定された場合には処理が（Ｓ２００６）に進む一方、判定対象欠陥リスト情報に登録された欠陥領域のアドレス範囲に再生対象データのアドレスが含まれていないと（Ｓ２００４）において判定された場合には処理が（Ｓ２００８）に進む。
【００６２】
（Ｓ２００６）では、ＣＰＵ１１３が、そのときの判定対象欠陥リスト情報を検索対象欠陥リスト情報として特定する。そして、特定された検索対象欠陥リスト情報が欠陥管理情報領域１１２に準備される。情報記録再生装置１００は、すでに検索対象欠陥リスト情報が欠陥管理情報領域１１２に格納されていれば、その欠陥リスト情報を使用する一方、格納されていなければ、再生対象又は記録対象の記録層の変更時と同様に欠陥リスト情報書き戻し処理Ｐ１及び欠陥リスト情報取得処理Ｐ２を行うことにより、光ディスク２００から読み出して欠陥管理情報領域１１２に格納する。そして、処理が（Ｓ２００７）に進む。
【００６３】
（Ｓ２００７）では、ＣＰＵ１１３が、（Ｓ２００６）において一時記憶部１１０に準備された検索対象欠陥リスト情報に対し、二分木検索を実行することにより再生対象データのアドレスが含まれているか否かを確認する。そして、当該検索対象欠陥リスト情報に、再生対象データのアドレスが欠陥セクタアドレスとして示されている場合、情報記録再生装置１００は、当該欠陥セクタアドレスに対応付けられた交替セクタアドレスのデータを再生する。
【００６４】
（Ｓ２００８）では、再生対象データのアドレスが欠陥リスト情報に登録されていないことが確定する。したがって、情報記録再生装置１００は、最初に特定された再生対象データのアドレスで示されるセクタを再生する。
【００６５】
図１７は、（Ｓ２００１）で特定した判定対象欠陥リスト情報に空きがないと判定された場合に実行される（Ｓ２００９）以降の動作を示す。この場合には、再生対象データのアドレスが他の欠陥リスト情報に含まれている可能性があるため、他の欠陥リスト情報を検索する必要がある。
【００６６】
まず、（Ｓ２００９）において、ＣＰＵ１１３が、特定されている判定対象欠陥リスト情報に登録された欠陥領域のアドレス範囲に再生対象データのアドレスが含まれているか否かを、欠陥リスト管理領域２１６に格納された欠陥セクタアドレスの最小値２１６ａ及び最大値２１６ｂに基づいて判定する。そして、処理が（Ｓ２０１０）に進む。
【００６７】
（Ｓ２０１０）では、判定対象欠陥リスト情報の欠陥領域のアドレス範囲に再生対象データのアドレスが含まれていると（Ｓ２００９）において判定された場合には処理が（Ｓ２０１１）に進む一方、判定対象欠陥リスト情報の欠陥領域のアドレス範囲に再生対象データのアドレスが含まれていないと（Ｓ２００９）において判定された場合には処理が（Ｓ２０１５）に進む。
【００６８】
（Ｓ２０１１）では、ＣＰＵ１１３が、そのときの判定対象欠陥リスト情報を検索対象欠陥リスト情報として特定する。そして、特定された検索対象欠陥リスト情報を欠陥管理情報領域１１２が準備される。情報記録再生装置１００は、検索対象欠陥リスト情報がすでに欠陥管理情報領域１１２に格納されていれば、その欠陥リスト情報を使用し、格納されていなければ、再生対象又は記録対象の記録層の変更時と同様に欠陥リスト情報書き戻し処理Ｐ１及び欠陥リスト情報取得処理Ｐ２を行うことにより、光ディスク２００から読み出して欠陥管理情報領域１１２に格納する。そして、処理が（Ｓ２０１２）に進む。
【００６９】
（Ｓ２０１２）では、ＣＰＵ１１３が、（Ｓ２０１１）において準備された検索対象欠陥リスト情報に対し、二分木検索を実行することにより再生対象データのアドレスが含まれているか否かを判定する。そして、処理が（Ｓ２０１３）に進む。
【００７０】
（Ｓ２０１３）において、再生対象データのアドレスが特定されている欠陥リスト情報に含まれていると（Ｓ２０１２）において判定された場合には処理が（Ｓ２０１４）に進む一方、再生対象データのアドレスが特定されている欠陥リスト情報に含まれていないと（Ｓ２０１２）において判定された場合には処理が（Ｓ２０１５）に進む。
【００７１】
（Ｓ２０１４）では、再生対象データのアドレスが検索対象欠陥リスト情報に登録されていることが確定する。そして、情報記録再生装置１００は、当該検索対象欠陥リスト情報において再生対象データのアドレスに対応付けられた交替セクタアドレスのデータを再生する。
【００７２】
（Ｓ２０１５）では、ＣＰＵ１１３が、すべての欠陥リスト情報に対して（Ｓ２００９）の判定の実施を完了したか否かを判定し、完了していると判定された場合には処理が（Ｓ２０１６）に進む一方、完了していないと判定された場合には処理が（Ｓ２０１７）に進む。
【００７３】
（Ｓ２０１６）では、再生対象データのアドレスがいずれの欠陥リスト情報にも登録されていないことが確定する。したがって、情報記録再生装置１００は、最初に特定された再生対象データのアドレスで示されるセクタを再生する。
【００７４】
（Ｓ２０１７）では、ＣＰＵ１１３が、次の欠陥リスト情報を判定対象欠陥リスト情報として特定し、処理が（Ｓ２００９）に戻る。
【００７５】
図１５〜図１７のフローチャートの処理において、（Ｓ２００６）、（Ｓ２０１１）における光ディスク２００からの欠陥リスト情報の取得処理が実行される回数は、再生対象データ（セクタ）に対応するスペア領域に空きがある場合には１回となる。
【００７６】
なお、光ディスク２００に記録された欠陥リスト情報に対して希望記録位置のＰＳＮの検索を行う場合にも、上記図１５〜図１７のフローチャートの手順が適用される。
【００７７】
＜指定したセクタ以降に存在する欠陥セクタの検索動作＞
次に、ユーザデータ領域２０４における指定したセクタ以降の領域から、欠陥リスト情報に登録済の欠陥セクタを検索する後方検索動作について、図１８及び図１９のフローチャートを参照して説明する。この動作は、ユーザデータ領域２０４における所定のセクタアドレスにより指定された位置から連続的に記録・再生可能なセクタ数を算出する場合等に実行される。
【００７８】
まず、（Ｓ３００１）では、ＣＰＵ１１３が、指定したセクタのセクタアドレス（以下、「指定セクタアドレス」と呼ぶ）に基づいて、判定対象欠陥リスト情報を特定する。判定対象欠陥リスト情報は、指定セクタアドレスに対応するスペア領域を管理する欠陥リスト情報であり、指定セクタアドレスに対応するスペア領域は、上述したスペア領域の選択方法により特定できる。そして、処理が（Ｓ３００２）に進む。
【００７９】
（Ｓ３００２）では、ＣＰＵ１１３が、（Ｓ３００１）又は後述する（Ｓ３００４）において特定されている判定対象欠陥リスト情報に、指定セクタアドレス以降のセクタアドレスが登録されているか否かを欠陥リスト管理領域２１６に格納された欠陥セクタアドレスの最小値２１６ａ及び最大値２１６ｂに基づいて判定する。そして、処理が（Ｓ３００３）に進む。
【００８０】
（Ｓ３００３）では、判定対象欠陥リスト情報に指定セクタアドレス以降のセクタアドレスが登録されていないと（Ｓ３００２）において判定された場合には処理が（Ｓ３００４）に進む一方、判定対象欠陥リスト情報に指定セクタアドレス以降のセクタアドレスが登録されていると（Ｓ３００２）において判定された場合には処理が（Ｓ３００７）に進む。
【００８１】
（Ｓ３００４）では、ＣＰＵ１１３が、現在特定されている判定対象欠陥リスト情報に対応するユーザデータ領域２０４に対してセクタアドレスが大きくなる側のユーザデータ領域２０４に対応する欠陥リスト情報を、新たな判定対象欠陥リスト情報として特定する。そして、処理が（Ｓ３００５）に進む。
【００８２】
（Ｓ３００５）では、ＣＰＵ１１３が、指定セクタアドレス以降のユーザデータ領域２０４に対応するすべての欠陥リスト情報に対して（Ｓ３００２）の処理を完了したか否かを判定する。完了していると判定された場合には処理が（Ｓ３００６）に進む一方、完了していないと判定された場合には処理が（Ｓ３００２）に進む。
【００８３】
（Ｓ３００６）では、指定セクタアドレス以降のアドレスが欠陥リスト情報に登録されていないことが確定する。
【００８４】
（Ｓ３００７）では、現在特定されている判定対象欠陥リスト情報が欠陥管理情報領域１１２に準備される。情報記録再生装置１００は、判定対象欠陥リスト情報がすでに欠陥管理情報領域１１２に格納されていれば、その欠陥リスト情報を使用し、格納されていなければ、再生対象又は記録対象の記録層の変更時と同様に、光ディスク２００から読み出して欠陥管理情報領域１１２に格納する。そして、処理が（Ｓ３００８）に進む。
【００８５】
（Ｓ３００８）では、ＣＰＵ１１３が、欠陥管理情報領域１１２に準備された判定対象欠陥リスト情報から、指定セクタアドレス以降のセクタアドレスを検索する。あらかじめ（Ｓ３００２）においてその存在が確認されているため、指定セクタアドレス以降のセクタアドレスは必ず見つかる。ここで、この検索により発見したセクタアドレスをＡとする。そして、処理が（Ｓ３００９）に進む。
【００８６】
（Ｓ３００９）以降の動作を図１９に示す。
【００８７】
（Ｓ３００９）では、ＣＰＵ１１３が、（Ｓ３００７）で準備された判定対象欠陥リスト情報に空きがあるか否かを、欠陥リスト管理領域２１６に格納されたフラグ２１６ｃに基づいて判定する。そして、処理が（Ｓ３０１０）に進む。
【００８８】
（Ｓ３０１０）では、判定対象欠陥リスト情報に空きがあると（Ｓ３００９）で判定された場合には処理が（Ｓ３０１１）に進み、判定対象欠陥リスト情報に空きがないと（Ｓ３００９）で判定した場合には処理が（Ｓ３０１２）に進む。
【００８９】
（Ｓ３０１１）では、指定セクタアドレス以降の欠陥リスト情報に登録済の欠陥セクタアドレスがＡであることが確定する。判定対象欠陥リスト情報に空きがあると判定されることにより、（Ｓ３００７）で準備した欠陥リスト情報と同じアドレス範囲の欠陥領域がに登録された欠陥リスト情報が他に存在しないことが確定するからである。
【００９０】
（Ｓ３０１２）では、ＣＰＵ１１３が、すでにすべての欠陥リスト情報を判定対象欠陥リスト情報として特定済みであるか否かを判定する。すでにすべての欠陥リスト情報を判定対象欠陥リスト情報として特定済みである場合には、処理が（Ｓ３０１１）に進む。まだ判定対象欠陥リスト情報として特定されていない欠陥リスト情報が残っている場合には、処理が（Ｓ３０１３）に進む。
【００９１】
（Ｓ３０１３）では、ＣＰＵ１１３が、他の欠陥リスト情報を、新たな判定対象欠陥リスト情報として特定する。特定順序は、上述したスペア領域の選択方法の優先順序と同じである。そして、処理が（Ｓ３０１４）に進む。
【００９２】
（Ｓ３０１４）では、ＣＰＵ１１３が、（Ｓ３０１３）で特定した判定対象欠陥リスト情報に登録された欠陥領域のアドレス範囲に、（Ｓ３００７）で準備された欠陥リスト情報の欠陥領域のアドレス範囲が含まれているか否かを、欠陥リスト管理領域２１６に格納された欠陥セクタアドレスの最小値２１６ａ及び最大値２１６ｂに基づいて判定する。そして、処理が（Ｓ３０１５）に進む。
【００９３】
（Ｓ３０１５）では、判定対象欠陥リスト情報に登録された欠陥領域のアドレス範囲に（Ｓ３００７）で準備された欠陥リスト情報の欠陥領域のアドレス範囲が含まれていないと（Ｓ３０１４）で判定された場合には処理が（Ｓ３０１６）に進む一方、判定対象欠陥リスト情報に登録された欠陥領域のアドレス範囲に（Ｓ３００７）で準備された欠陥リスト情報の欠陥領域のアドレス範囲が含まれていると（Ｓ３０１４）で判定された場合には処理が（Ｓ３０１８）に進む。
【００９４】
（Ｓ３０１６）では、ＣＰＵ１１３が、（Ｓ３０１３）で特定した判定対象欠陥リスト情報に空きがあるか否かを欠陥リスト管理情報のフラグ２１６ｃに基づいて判定し、処理が（Ｓ３０１７）に進む。
【００９５】
（Ｓ３０１７）では、判定対象欠陥リスト情報に空きがあると（Ｓ３０１６）で判定された場合には処理が（Ｓ３０１１）に進む一方、判定対象欠陥リスト情報に空きがないと（Ｓ３０１６）で判定された場合には処理が（Ｓ３０１２）に戻る。
【００９６】
（Ｓ３０１８）では、（Ｓ３０１３）で特定された判定対象欠陥リスト情報が欠陥管理情報領域１１２に準備される。情報記録再生装置１００は、すでに判定対象欠陥リスト情報が欠陥管理情報領域１１２に格納されていれば、その欠陥リスト情報を使用する一方、格納されていなければ、再生対象又は記録対象の記録層の変更時と同様に、光ディスク２００から読み出して欠陥管理情報領域１１２に格納する。そして、処理が（Ｓ３０１９）に進む。
【００９７】
（Ｓ３０１９）では、ＣＰＵ１１３が、欠陥管理情報領域１１２に準備された判定対象欠陥リスト情報から、指定セクタアドレス以降のセクタアドレスを検索する。あらかじめ（Ｓ３０１４）においてその存在が確認されているため、指定セクタアドレス以降のセクタアドレスは必ず見つかる。ここで、この検索により発見したセクタアドレスをＢとする。そして、処理が（Ｓ３０２０）に進む。
【００９８】
（Ｓ３０２０）では、ＣＰＵ１１３が、ＡとＢを比較し、ＡとＢとのうち指定セクタアドレスにより近い方をＡとする。
【００９９】
図１８及び図１９のフローチャートの処理において、（Ｓ３００７）、（Ｓ３０１８）における光ディスク２００からの欠陥リスト情報の取得処理が実行される回数は、再生対象データ（セクタ）に対応するスペア領域に空きがある場合には１回となる。
【０１００】
また、情報記録再生装置１００は、異常動作による欠陥管理情報の喪失を防ぐため、情報記録再生装置１００が休止状態になる場合等に、保持しているすべての欠陥管理情報、すなわち欠陥管理情報領域１１２に格納された欠陥リスト管理情報及び欠陥リスト情報等を読み出して光ディスク２００へ書き込む。また、光ディスク２００が外部に取り出されるとき（排出時）にも欠陥管理情報領域１１２に格納された欠陥リスト管理情報及び欠陥リスト情報を読み出して光ディスク２００へ書き込む。
【０１０１】
本実施形態によると、ＣＰＵ１１３が、再生対象データのアドレスをそのアドレスの範囲に含む欠陥リスト情報を欠陥リスト管理情報に基づいて特定するので、ＣＰＵ１１３によって特定されていない欠陥リスト情報を光ディスク２００から読み出す必要がない。したがって、ユーザデータ領域２０４全体に対応する欠陥リスト情報を光ディスク２００から読み出す場合に比べて再生にかかる時間を短縮できる。
【０１０２】
また、必要とされる一時記憶部１１０の容量が、ＣＰＵ１１３によって特定された欠陥リスト情報に相当する容量となるので、ユーザデータ領域２０４全体に対応する欠陥リスト情報を一時記憶部１１０に格納する従来の構成に比べ、一時記憶部１１０の容量を小さくでき、その結果製造コストを低減できる。
【０１０３】
《実施形態２》
実施形態２に係る情報記録再生装置１００は、図２０に示すように、一時記憶部１１０に、実施形態１の欠陥管理情報領域１１２に代えて、欠陥管理情報領域４００が設けられ、この欠陥管理情報領域４００は、１つのディスク定義構造体情報領域４０１と１つの欠陥リスト情報領域４０２とを有している。また、本実施形態に係る情報記録再生装置１００の再生及び記録の対象となる光ディスク２００は、欠陥リスト管理領域２１６を有していない従来の書き換え可能な光ディスクである。
【０１０４】
本実施形態の情報記録再生装置１００は、欠陥リスト情報のすべてではなく、フラグ２１７、欠陥セクタアドレス２１８、及び交替セクタアドレス２１９からそれぞれ構成される複数の組データのうち、フラグ２１７により使用中であると示された組データのみを、光ディスク２００から読み出して一時記憶部１１０の欠陥リスト情報領域４０２に格納する。したがって、登録された欠陥セクタが多いほど、つまり光ディスク２００上に傷や汚れが多いほど、欠陥リスト情報領域４０２の使用範囲が大きくなる。そして、一時記憶部１１０に格納された組データに、再生対象データのアドレスが欠陥セクタ（欠陥領域）のアドレスとして示されている場合、当該欠陥セクタのアドレスに対応付けられた欠陥セクタのアドレスのデータを再生する。
【０１０５】
図２１は、欠陥リスト情報が記録された欠陥リスト情報領域４０２の例を示す。図２１において、欠陥リスト情報領域４０２には、フラグ４０３によって使用中と示されている交替セクタアドレス４０５の組データ４０６のみが格納されている。また、欠陥リスト情報領域４０２は、未使用領域４０７を有している。
【０１０６】
また、本実施形態の情報記録再生装置１００では、欠陥リスト情報領域４０２に格納された欠陥リスト情報を光ディスク２００に書き込むために、一時記憶部１１０に、欠陥リスト情報領域４０２に格納された欠陥リスト情報を光ディスク２００の欠陥リスト情報の形式に変換した結果を格納する作業領域が設けられる。この領域の容量は、光ディスク２００に記録された欠陥リスト情報と同じ容量であることが望ましいが、確保が困難な場合には少なくとも光ディスク２００への１記録単位分の容量があればよい。ここで、１記録単位分とは、ＥＣＣ回路１０８において誤り訂正を行うのに必要な最小のデータ量である。ただし、光ディスク２００への書き込み動作回数を少なくするためには、光ディスク２００に記録された欠陥リスト情報により近い容量を確保したほうがよい。
【０１０７】
ここで、光ディスク２００に記録された欠陥リスト情報を情報記録再生装置１００の一時記憶部１１０へ格納する手順を説明する。
【０１０８】
図２２は、光ディスク２００のユーザデータ領域２０４と第１及び第２スペア領域２０５ａ，２０５ｂとを示す。第１スペア領域２０５ａには、Ｐ個の交替セクタが確保されており、交替セクタは先頭から使用される。また、第２スペア領域２０５ｂには、Ｑ個の交替セクタが確保されており、交替セクタは後方から使用される。
【０１０９】
また、第１スペア領域２０５ａでは、すでにＮ個の交替セクタが使用されているものとする。さらに、第２スペア領域２０５ｂでは、すでにＭ個の交替セクタが使用されているものとする。第１スペア領域２０５ａの先頭の光ディスク２００全体におけるアドレスはＡＤ１であり、第２スペア領域２０５ｂの最後尾の光ディスク２００全体におけるアドレスはＡＤ２である。
【０１１０】
図２３は、図２２に示す第１及び第２スペア領域２０５ａ，２０５ｂの使用状況に対応する欠陥リスト情報を示す。
【０１１１】
また、光ディスク２００には、欠陥管理情報として、交替セクタ（交替領域）として使用されているセクタが各スペア領域にいくつ含まれているかを示すディスク定義構造体情報と、欠陥リスト情報とが記録されている。情報記録再生装置１００は、ディスク定義構造体情報を、一時記憶部１１０内のディスク定義構造体情報領域４０１に格納する。情報記録再生装置１００は、リストの先頭から順に、フラグ２１７を参照して、使用中である交替セクタアドレスと該交替セクタアドレスに対応付けられた欠陥セクタアドレスとフラグとの組データ（使用中であるエントリ）のみを、一時記憶部１１０内の欠陥リスト情報領域４０２に格納する。欠陥リスト情報領域４０２に最終的に格納される欠陥リスト情報を図２４に示す。図２３に示す欠陥リスト情報と比較すると、リストの１行分のデータ、すなわち組データ（エントリ）の登録数がＭ＋Ｎ個となっており、未使用の交替セクタアドレスの組データがＰ＋Ｑ−Ｎ−Ｍ個分削除されている。欠陥リスト情報は、あらかじめ欠陥セクタアドレスで昇順にソートされているので、先頭部分をそのまま一時記憶部１１０に格納すると、一時記憶部１１０に欠陥リスト情報が欠陥セクタアドレスの昇順で格納される。さらに、情報記録再生装置１００は、ディスク定義構造体情報に基づいて、第１及び第２スペア領域２０５ａ，２０５ｂのそれぞれにおける使用セクタ数を取得する。図２２の例では、第１スペア領域２０５ａの使用セクタ数はＮ個、第２スペア領域２０５ｂの使用セクタ数はＭ個である。第１及び第２スペア領域２０５ａ，２０５ｂを先頭と後方のいずれから使用するか等、第１及び第２スペア領域２０５ａ，２０５ｂの使用方法は規格に応じて決まっているので、使用セクタ数を取得することにより次に使用すべき第１及び第２スペア領域２０５ａ，２０５ｂのセクタを決定できる。
【０１１２】
次に、一時記憶部１１０の欠陥リスト情報領域４０２に記録された欠陥リスト情報に新たな欠陥セクタアドレスを登録する手順について説明する。
【０１１３】
まず、ＣＰＵ１１３が、新たに検出された欠陥セクタのアドレスに基づいて、使用するスペア領域を選択する。選択方法として、例えば、欠陥セクタに近いスペア領域を優先的に選択する方法が考えられるが、選択方法はこれに限定されない。使用するスペア領域を選択した後、あらかじめ取得しておいたスペア領域の使用セクタ数に基づいて、使用可能なスペア領域のセクタアドレスを算出する。例えば、スペア領域を前方から使用する場合、スペア領域の先頭アドレスがＡＤ１、使用セクタ数がＮであるとすると、交替セクタアドレスＡＲは、ＡＲ＝ＡＤ１＋Ｎの式により算出できる。一方、スペア領域を後方から使用する場合には、スペア領域の最後尾のアドレスがＡＤ２、使用セクタ数がＭであるとすると、交替セクタアドレスＡＲは、ＡＲ＝ＡＤ２−Ｍの式により算出できる。そして、ＣＰＵ１１３は、算出された交替セクタアドレスと検出した欠陥セクタのアドレスとを互いに対応付けて、欠陥リスト情報領域４０２の欠陥リスト情報に追加する。この時、欠陥セクタアドレスが昇順に並ぶように既存の欠陥リスト情報に挿入する。また、スペア領域の使用セクタ数が増加するので、ディスク定義構造体情報領域４０１に格納されたディスク構造体情報を更新する。
【０１１４】
次に、欠陥リスト情報領域４０２に格納された欠陥リスト情報を光ディスク２００に書き込む手順について説明する。
【０１１５】
まず、情報記録再生装置１００は、欠陥リスト情報領域４０２に格納された欠陥リスト情報を作業領域に転送する。この時、作業領域が一杯になる毎に、作業領域に記録された欠陥リスト情報を光ディスク２００へ記録する。欠陥リスト情報領域４０２に格納された欠陥リスト情報全体の転送が完了すると、ＣＰＵ１１３が、未使用の交替セクタアドレスについてのデータ組を生成する。このようなデータ組を生成するには、まず、各スペア領域における交替セクタとして使用されていないセクタ（不使用領域）のアドレス（以下、「未使用の交替セクタアドレス」と呼ぶ）を、スペア領域のサイズと前記ディスク定義構造体情報により示されるセクタ使用数とに基づいて算出する。例えば、ＣＰＵ１１３は、第１スペア領域２０５ａの未使用の交替セクタアドレスを、（ＡＤ１＋Ｎ）〜（ＡＤ１＋Ｐ−１）と算出する。同様に第２スペア領域２０５ｂの未使用の交替セクタアドレスを、（ＡＤ２−（Ｑ−１））〜（ＡＤ２−Ｍ）と算出する。図２２の例のように、光ディスク２００に複数のスペア領域がある場合には、交替セクタアドレスが小さいスペア領域の交替セクタアドレスから順に作業領域へ転送する。
【０１１６】
情報記録再生装置１００は、ＣＰＵ１１３によって算出された未使用の交替セクタアドレスを、未使用のフラグ、及び０の欠陥セクタアドレスと対応付けて一旦一時記憶部１１０に格納し、欠陥リスト情報領域４０２に格納されていた欠陥リスト情報と同様に光ディスク２００に記録する。欠陥リスト情報領域４０２に格納された欠陥リスト情報は、最終的に図２３に示す構成の欠陥リスト情報に変換され、光ディスク２００に記録される。ただし、図２３に示す構成の欠陥リスト情報全体を格納する領域が一時記憶部１１０に設けられていない場合には、未使用の交替セクタアドレス、未使用のフラグ、及び０の欠陥セクタアドレスからなる組データの生成動作と並行して、生成した組データを複数回に分けて光ディスク２００に記録する。
【０１１７】
以上の手順を実施することで、一時記憶部１１０内で欠陥リスト情報の格納に使用される領域の容量が、光ディスク２００の登録済欠陥セクタの個数、すなわち傷・汚れの有る領域の広さ等の表面状態に応じたものとなる。したがって、情報記録再生装置１００で扱う光ディスク２００の品質に基づいて欠陥リスト情報領域４０２の適切なサイズを決定できる。
【０１１８】
実施形態２に係る情報記録再生装置１００の他の構成については、実施形態１の情報記録再生装置１００と同様であるので詳細な説明を省略する。
【０１１９】
本実施形態によると、光ディスク２００に記録された組データのうち、使用されている交替セクタのセクタアドレスに対応するもののみを一時記憶部１１０に格納するので、光ディスク２００に記録された組データすべてを一時記憶部１１０に格納する従来の構成に比べ、一時記憶部１１０の使用領域が小さくなるので、一時記憶部１１０の容量を小さくでき、その結果製造コストを低減できる。
【０１２０】
《実施形態２の変形例》
実施形態２の変形例に係る情報記録再生装置１００は、光ディスク２００が２層構造である場合、光ディスク２００に記録された欠陥リスト情報を一時記憶部１１０へ格納する際に、一時記憶部１１０の未使用領域４０７を記録層の個数分の分割領域、すなわち第１及び第２の分割領域に分割する。そして、各分割領域に、対応する記録層に含まれる未使用の交替セクタアドレス、未使用のフラグ、及び０の欠陥セクタアドレスからなる組データを格納する。つまり、１つ目の記録層のスペア領域における未使用の交替セクタアドレス、未使用のフラグ、及び０の欠陥セクタアドレスからなる組データを第１の分割領域に格納するとともに、２つ目の記録層に含まれる未使用の交替セクタアドレス、未使用のフラグ、及び０の欠陥セクタアドレスからなる組データを第２の分割領域に格納する。
【０１２１】
そして、光ディスク２００の欠陥セクタ（欠陥領域）を検出した場合に、当該欠陥セクタを含む記録層に対応する分割領域に格納された組データのいずれか１つに対して、当該欠陥セクタのアドレスの登録を行う。例えば、１つ目の記録層で欠陥セクタを検出した場合には、第１の分割領域に格納された組データのいずれか１つについて、欠陥セクタアドレスを、検出した欠陥セクタのアドレスに置換するとともに、フラグを使用中に設定する。また、２つ目の記録層で欠陥セクタを検出した場合には、第２の分割領域に格納された組データのいずれか１つについて、欠陥セクタアドレスを、検出した欠陥セクタのアドレスに置換するとともに、フラグを使用中に設定する。
【０１２２】
本変形例によると、欠陥セクタの検出時に、使用可能なスペア領域のセクタアドレスを算出する必要がないので、新たな欠陥セクタアドレスの登録にかかる時間が短縮され、その結果、データの記録にかかる時間を短縮できる。
【０１２３】
なお、上記実施形態１において、欠陥リスト管理情報は、各欠陥リスト情報により示される欠陥セクタアドレスの最小値２１６ａ及び最大値２１６ｂを示していたが、最小値２１６ａ及び最大値２１６ｂ以外の情報により、欠陥セクタアドレスの範囲を示すようにしてもよい。
【０１２４】
また、上記実施形態１では、ユーザデータ領域２０４に含まれる欠陥セクタのアドレスと欠陥セクタの代替となる交替セクタのアドレスとを対応付けて示す情報が、４つの欠陥リスト情報に分割して記録されていた。しかし、欠陥リスト情報の数は４つに限らず、複数であればよい。
【０１２５】
また、上記実施形態２及びその変形例において、光ディスク２００の欠陥リスト情報のデータ形式は、図２３等に示したデータ形式に限らない。例えば、フラグを設けず、使用されていない交替セクタアドレスが、必ず０の欠陥セクタアドレスに対応付けられるようにし、対応する欠陥セクタアドレスが０でない交替セクタアドレスについてのみ、当該交替セクタアドレスと欠陥セクタアドレスとからなるデータ組を一時記憶部１１０に格納するようにしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１２６】
本発明に係る情報再生装置、情報記録媒体、及び情報再生方法は、情報再生装置の一時記憶部の容量を小さくでき、その結果製造コストを低減できるという効果を有し、情報記録媒体、及び当該情報記録媒体のデータを再生する情報再生装置、及び情報再生方法として有用である。
【符号の説明】
【０１２７】
１００  情報記録再生装置（情報再生装置）
１１０  一時記憶部
１１３  ＣＰＵ（演算部）
２００  光ディスク
２０８，２０９  記録層
【図１】
2011018390.tif 000003
【図２】
2011018390.tif 000004
【図３】
2011018390.tif 000005
【図４】
2011018390.tif 000006
【図５】
2011018390.tif 000007
【図６】
2011018390.tif 000008
【図７】
2011018390.tif 000009
【図８】
2011018390.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
2011018390.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
2011018390.tif 000015
【図１４】
2011018390.tif 000016
【図１５】
2011018390.tif 000017
【図１６】
2011018390.tif 000018
【図１７】
2011018390.tif 000019
【図１８】
2011018390.tif 000020
【図１９】
2011018390.tif 000021
【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
2011018390.tif 000024
【図２３】
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【図２４】
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