(57)【要約】【課題】本発明は、複数対の上面電極層のそれぞれに電圧端子や電流端子における分岐された先端部をそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定する場合、製品としての抵抗値を常に正確に測定することができる低抵抗角形チップ抵抗器の抵抗値測定方法を提供することを目的とするものである。【解決手段】本発明の低抵抗角形チップ抵抗器の抵抗値測定方法は、複数対の上面電極層１３に電圧端子１９，２０の分岐された先端部と電流端子２１，２２の分岐された先端部をそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定する際、前記電圧端子１９，２０や電流端子２１，２２の分岐された先端部と上面電極層１３との接触抵抗２３ａ，２４ａ，２５ａ，２６ａの抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗２７ａ，２８ａ，２９ａ，３０ａをあらかじめ設けたもので製品としての抵抗値を測定するようにしたものである。【選択図】図３
2011142195.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
方形の絶縁基板と、この絶縁基板の長辺側に設けられた複数対の上面電極層と、この複数対の上面電極層間にそれぞれ電気的に接続された複数の抵抗体層と、前記複数対の上面電極層と相互に電気的に接続されるように前記絶縁基板の長辺側の端面に設けられた端面電極層とを備えた低抵抗角形チップ抵抗器において、前記複数対の上面電極層に電圧端子の分岐された先端部と電流端子の分岐された先端部をそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定する際、前記電圧端子や電流端子の分岐された先端部と上面電極層との接触抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗をあらかじめ設けたもので製品としての抵抗値を測定するようにした低抵抗角形チップ抵抗器の抵抗値測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種電子機器に使用される低抵抗角形チップ抵抗器、特に長辺電極を有する低抵抗角形チップ抵抗器の抵抗値測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
以下、従来の長辺角形チップ抵抗器について、図面を参照しながら説明する。
【０００３】
図４は従来の長辺角形チップ抵抗器の斜視図（保護膜は図示していない）を示したもので、１は純度９６％のアルミナからなる方形の絶縁基板、２は前記絶縁基板１の上面の長辺側に複数箇所にそれぞれ対向するように設けられたＡｇ系のグレーズからなる複数対の上面電極層、３は前記複数対の上面電極層２間にそれぞれ電気的に接続された酸化ルテニウム系グレーズからなる複数の抵抗体層、４は前記複数対の上面電極層２と相互に電気的に接続されるように前記絶縁基板１の長辺側の端面に設けられた端面電極層で、この端面電極層４はＡｇ系のグレーズからなり、前記複数の抵抗体層３を並列に接続するように形成されるものである。そして前記複数の抵抗体層３は、ホウケイ酸鉛系ガラスからなる保護膜層（図示せず）で覆われ、さらに、前記複数対の上面電極層２と端面電極層４はニッケルメッキ層および錫めっき層からなるめっき層（図示せず）で覆われて長辺角形チップ抵抗器を構成しているものである。
【０００４】
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献１が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平９−６３８０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記した従来の長辺角形チップ抵抗器においては、複数対の上面電極層２と相互に電気的に接続されるように絶縁基板１の長辺側の端面に端面電極層４を形成することにより、前記複数対の上面電極層２間にそれぞれ電気的に接続された複数（４つ）の抵抗体層３を並列接続しているため、例えば、製品としての抵抗値が０．２５Ωである低抵抗の長辺角形チップ抵抗器を得る場合は、前記複数（４つ）の抵抗体層３はそれぞれの抵抗値が１Ωになるように抵抗値修正を行えばよく、このように、並列接続された複数（４つ）の抵抗体層３を有する構成にすれば、前記複数（４つ）の抵抗体層３のそれぞれの抵抗値を１Ωにすることができるため、例えば、従来の抵抗体層が１つである製品の場合は、製品としての抵抗値が０．２５Ωである低抵抗の長辺角形チップ抵抗器を得るためには、抵抗体層の抵抗値は０．２５Ωにしなければならず、この場合、０．２５Ωの抵抗値精度は±５％程度が限界であったが、上記した従来の長辺角形チップ抵抗器においては、前記並列接続された複数（４つ）の抵抗体層３のそれぞれの抵抗値を１Ωにできるため、この１Ωの抵抗値精度として±１％を達成することができ、また、抵抗温度係数も従来は±６００ｐｐｍ／℃であったものが、＋１００ｐｐｍ／℃にすることができるものである。
【０００７】
また、上記した従来の長辺角形チップ抵抗器においては、製品としての抵抗値を測定する場合、複数対の上面電極層２のそれぞれに、電圧端子における分岐された先端部と電流端子における分岐された先端部をそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定するようにしていた。しかしながら、この抵抗値の測定においては、複数対の上面電極層２のそれぞれに、電圧端子における分岐された先端部と電流端子における分岐された先端部をそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定するようにしているため、例えば、電圧端子における分岐された先端部や電流端子における分岐された先端部が汚れていたり、あるいは上面電極層２との接触度合が弱かったりした場合、電圧端子や電流端子における分岐された先端部と複数対の上面電極層２との接触抵抗値は非常に大きくなるもので、この場合、先端部が汚れているものと、先端部が汚れていないものとの比較、あるいは接触度合が弱いものと、接触度合が強いものとの比較においては、接触抵抗値の差が大きくなるため、並列接続された複数（４つ）の抵抗体層３のそれぞれの抵抗値に先端部が汚れている場合の接触抵抗値、あるいは接触度合が弱い場合の接触抵抗値を加えたものと、先端部が汚れていない場合の接触抵抗値、あるいは接触度合が強い場合の接触抵抗値を加えたものとでは、並列接続された複数（４つ）の抵抗体層３の抵抗値に前記接触抵抗値を加えた抵抗値のそれぞれの比率において、大きなバラツキが生じることになり、その結果、製品としての抵抗値を正確に測定することができないという課題を有していた。
【０００８】
本発明は上記従来の課題を解決するもので、複数対の上面電極層のそれぞれに電圧端子や電流端子における分岐された先端部をそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定する場合、電圧端子や電流端子における分岐された先端部が汚れていたり、あるいは上面電極層との接触度合が弱くて接触抵抗値が大きくなったとしても、並列接続された複数の抵抗体層の抵抗値に前記接触抵抗値を加えた抵抗値のそれぞれの比率において、大きなバラツキが生じることはなく、製品としての抵抗値を常に正確に測定することができる低抵抗角形チップ抵抗器の抵抗値測定方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明は以下の構成を有するものである。
【００１０】
本発明の請求項１に記載の発明は、方形の絶縁基板と、この絶縁基板の長辺側に設けられた複数対の上面電極層と、この複数対の上面電極層間にそれぞれ電気的に接続された複数の抵抗体層と、前記複数対の上面電極層と相互に電気的に接続されるように前記絶縁基板の長辺側の端面に設けられた端面電極層とを備えた低抵抗角形チップ抵抗器において、前記複数対の上面電極層に電圧端子の分岐された先端部や電流端子の分岐された先端部をそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定する際、前記電圧端子や電流端子の分岐された先端部と上面電極層との接触抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗をあらかじめ設けたもので製品としての抵抗値を測定するようにしたもので、この抵抗値測定方法によれば、複数対の上面電極層に電圧端子の分岐された先端部や電流端子の分岐された先端部をそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定する際、前記電圧端子や電流端子の分岐された先端部と上面電極層との接触抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗をあらかじめ設けたもので製品としての抵抗値を測定するようにしているため、電圧端子や電流端子における分岐された先端部が汚れていたり、あるいは上面電極層との接触度合が弱いものと、電圧端子や電流端子における分岐された先端部が汚れていなかったり、あるいは上面電極層との接触度合が強いものとの比較において、接触抵抗値の差が大きくなったとしても、これらの接触抵抗値の差は、前記電圧端子や電流端子の分岐された先端部と上面電極層との接触抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗の存在によって、無視できる程度の誤差レベルになり、その結果、並列接続された複数の抵抗体層の抵抗値に前記接触抵抗値を加えた抵抗値のそれぞれの比率において、大きなバラツキが生じるということはなくなるため、製品としての抵抗値を常に正確に測定することができるという作用効果を有するものである。
【発明の効果】
【００１１】
以上のように本発明の低抵抗角形チップ抵抗器の抵抗値測定方法は、方形の絶縁基板と、この絶縁基板の長辺側に設けられた複数対の上面電極層と、この複数対の上面電極層間にそれぞれ電気的に接続された複数の抵抗体層と、前記複数対の上面電極層と相互に電気的に接続されるように前記絶縁基板の長辺側の端面に設けられた端面電極層とを備えた低抵抗角形チップ抵抗器において、前記複数対の上面電極層に電圧端子の分岐された先端部や電流端子の分岐された先端部をそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定する際、前記電圧端子や電流端子の分岐された先端部と上面電極層との接触抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗をあらかじめ設けたもので製品としての抵抗値を測定するようにしているため、電圧端子や電流端子における分岐された先端部が汚れていたり、あるいは上面電極層との接触度合が弱いものと、電圧端子や電流端子における分岐された先端部が汚れていなかったり、あるいは上面電極層との接触度合が強いものとの比較において、接触抵抗値の差が大きくなったとしても、これらの接触抵抗値の差は、前記電圧端子や電流端子の分岐された先端部と上面電極層との接触抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗の存在によって、無視できる程度の誤差レベルになり、その結果、並列接続された複数の抵抗体層の抵抗値に前記接触抵抗値を加えた抵抗値のそれぞれの比率において、大きなバラツキが生じるということはなくなるため、製品としての抵抗値を常に正確に測定することができるという優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】（ａ）本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器の上面図、（ｂ）（ａ）におけるＡ−Ａ線断面図、（ｃ）（ａ）におけるＢ−Ｂ線断面図
【図２】同低抵抗角形チップ抵抗器における電圧端子および電流端子の接触位置を示す上面図
【図３】同低抵抗角形チップ抵抗器の抵抗値測定方法を示す測定回路図
【図４】従来の長辺角形チップ抵抗器の斜視図
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器について、図面を参照しながら説明する。
【００１４】
図１は本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器を示したもので、（ａ）は低抵抗角形チップ抵抗器の上面図、（ｂ）は（ａ）におけるＡ−Ａ線断面図、（ｃ）は（ａ）におけるＢ−Ｂ線断面図である。
【００１５】
図１（ａ）（ｂ）（ｃ）において、１１は純度９６％のアルミナからなる方形の絶縁基板、１２は前記絶縁基板１１の裏面の長辺側に複数箇所にそれぞれ対向するように設けられたＡｇ，Ｐｄ系のグレーズからなる複数対の裏面電極層、１３は前記絶縁基板１１の上面の長辺側に複数箇所にそれぞれ対向するように設けられたＡｇ系のグレーズからなる複数対の上面電極層、１４は前記複数対の上面電極層１３間にそれぞれ電気的に接続された酸化ルテニウム系グレーズからなる複数の抵抗体層、１５は前記複数対の上面電極層１３および複数対の裏面電極層１２と相互に電気的に接続されるように前記絶縁基板１１の長辺側の端面に設けられた端面電極層で、この端面電極層１５は導電性樹脂からなり、前記複数の抵抗体層１４を並列に接続するように形成されるものである。そして前記複数の抵抗体層１４は、ホウケイ酸鉛系ガラスからなるプリコートガラス層１６で覆われ、さらに、このプリコートガラス層１６はエポキシ系樹脂からなる保護膜層１７で覆われているものである。そしてまた、前記複数対の上面電極層１３と裏面電極層１２および端面電極層１５はニッケルメッキ層および錫めっき層からなるめっき層１８で覆われて低抵抗角形チップ抵抗器を構成しているものである。
【００１６】
次に、上記本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器の製造方法について説明する。
【００１７】
まず、純度９６％のアルミナからなる方形の絶縁基板１１の裏面の長辺側にＡｇ，Ｐｄおよびこれらの合金粉からなる厚膜導電ペーストをスクリーン印刷し、その後、８５０℃〜９００℃で焼成することにより複数対の裏面電極層１２をそれぞれ対向するように形成する。
【００１８】
次に、前記方形の絶縁基板１１の上面の長辺側にＡｇ，Ｐｄおよびこれらの合金粉からなる厚膜導電ペーストをスクリーン印刷し、その後、８５０℃〜９００℃で焼成することにより複数対の上面電極層１３をそれぞれ対向するように形成する。
【００１９】
次に、前記複数対の上面電極層１３をまたぐように、すなわち、複数対の上面電極層１３に電気的に接続されるように、酸化ルテニウム系からなる厚膜抵抗ペーストをスクリーン印刷し、その後、８５０℃〜９００℃で焼成することにより複数の抵抗体層１４を形成する。
【００２０】
次に、前記複数の抵抗体層１４を覆うようにホウケイ酸鉛系ガラスからなるプリコートガラス層１６を形成し、その後、レーザートリミングで前記抵抗体層１４の抵抗値修正を行い、さらにその後、複数の抵抗体層１４を完全に覆うようにエポキシ系樹脂ペーストをスクリーン印刷し、その後、１８０℃〜２００℃で硬化することにより保護膜層１７を形成する。
【００２１】
次に、前記複数対の上面電極層１３および複数対の裏面電極層１２と交互に電気的に接続されるように、絶縁基板１１の長辺側の端面にＡｇ、樹脂等からなる導電性樹脂ペーストをローラー転写法により塗布し、その後、１８０℃〜２００℃で硬化することにより端面電極層１５を形成する。
【００２２】
最後に、露出している複数対の上面電極層１３と複数対の裏面電極層１２および端面電極層１５のはんだ付け時の電極食われの防止およびはんだ付け時の信頼性を確保するため、電気めっきによってニッケルめっき層および錫めっき層からなるめっき層１８を形成して低抵抗角形チップ抵抗器を製造しているものである。
【００２３】
なお、上記製造方法において、ニッケルめっき層を形成する前に、Ｃｕをめっきするようにすれば、電極部の抵抗値が更に下がるため、より電極部の影響を少なくできるものである。
【００２４】
図２は本発明の一実施の形態である低抵抗角形チップ抵抗器における電圧端子および電流端子の接触位置を示す上面図であり、また、図３は同低抵抗角形チップ抵抗器の抵抗値測定方法を示す測定回路図である。
【００２５】
上記した本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器においては、複数対の上面電極層１３および複数対の裏面電極層１２と相互に電気的に接続されるように絶縁基板１１の長辺側の端面に端面電極層１５を形成することにより、前記複数対の上面電極層１３間にそれぞれ電気的に接続された複数（３つ）の抵抗体層１４を並列接続しているため、例えば、製品としての抵抗値が０．０１Ωである低抵抗角形チップ抵抗器を得る場合は、前記複数（３つ）の抵抗体層１４はそれぞれの抵抗値が０．０３Ωになるように抵抗値修正を行えばよいものである。
【００２６】
また、上記した本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器において、製品としての抵抗値を測定する場合は、図２、図３に示すように、複数対の上面電極層１３の電圧端子接触位置１３ａおよび電流端子接触位置１３ｂのそれぞれに、図３に示す第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃと、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃおよび第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃと、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃをそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定しているものである。
【００２７】
このような抵抗値の測定においては、上記したように、複数対の上面電極層１３の電圧端子接触位置１３ａおよび電流端子接触位置１３ｂのそれぞれに、図３に示す第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃと、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃおよび第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃと、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃをそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定するようにしているため、例えば、第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃ、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃ、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃ、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃが汚れていたり、あるいは複数対の上面電極層１３との接触度合が弱かったりした場合、前記第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２３ａ，２３ｂ，２３ｃの抵抗値、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２４ａ，２４ｂ，２４ｃの抵抗値、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ａ，２５ｂ，２５ｃの抵抗値、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２６ａ，２６ｂ，２６ｃの抵抗値は非常に大きくなるもので、この場合、先端部が汚れているものと、先端部が汚れていないものとの比較、あるいは接触度合が弱いものと、接触度合が強いものとの比較においては、接触抵抗値の差が大きくなるため、並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４のそれぞれの抵抗値に先端部が汚れている場合の接触抵抗値、あるいは接触度合が弱い場合の接触抵抗値を加えたものと、先端部が汚れていない場合の接触抵抗値、あるいは接触度合が強い場合の接触抵抗値を加えたものとでは、並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値に前記接触抵抗値を加えた抵抗値のそれぞれの比率において、大きなバラツキが生じることになり、その結果、製品としての抵抗値を正確に測定することができないという課題を有しているものである。
【００２８】
そこで、本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器においては、上記のような課題を解決するために、図３に示すように、前記第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２３ａ，２３ｂ，２３ｃの抵抗値、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２４ａ，２４ｂ，２４ｃの抵抗値、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ａ，２５ｂ，２５ｃの抵抗値、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２６ａ，２６ｂ，２６ｃの抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗２７ａ，２７ｂ，２７ｃ、２８ａ，２８ｂ，２８ｃ、２９ａ，２９ｂ，２９ｃ、３０ａ，３０ｂ，３０ｃを、第１の電圧端子１９、第２の電圧端子２０、第１の電流端子２１、第２の電流端子２２の４端子による抵抗値測定方法における第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃ、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃ、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃ、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃより根元部側に回路構成としてあらかじめ設けたものである。そして、このような回路構成の測定端子を用いて、製品としての抵抗値を測定するようにしたものである。
【００２９】
上記した本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器においては、例えば、製品としての抵抗値が０．０１Ωである低抵抗角形チップ抵抗器を得るために、複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値はそれぞれ０．０３Ωになるように抵抗値修正を行っているもので、このような低抵抗角形チップ抵抗器において、第１の電圧端子１９、第２の電圧端子２０、第１の電流端子２１、第２の電流端子２２を用いた４端子により製品としての抵抗値を測定する場合は、図２、図３に示すように、複数対の上面電極層１３の電圧端子接触位置１３ａおよび電流端子接触位置１３ｂのそれぞれに、図３に示す第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃと、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃおよび第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃと、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃをそれぞれ接触させて製品としての抵抗値を測定しているものである。
【００３０】
次に、上記した本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器のように、複数の抵抗体層１４の抵抗値および第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２３ａ，２３ｂ，２３ｃの抵抗値、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２４ａ，２４ｂ，２４ｃの抵抗値、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ａ，２５ｂ，２５ｃの抵抗値、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２６ａ，２６ｂ，２６ｃの抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗２７ａ，２７ｂ，２７ｃ、２８ａ，２８ｂ，２８ｃ、２９ａ，２９ｂ，２９ｃ、３０ａ，３０ｂ，３０ｃを、第１の電圧端子１９、第２の電圧端子２０、第１の電流端子２１、第２の電流端子２２の４端子による抵抗値測定方法における第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃ、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃと、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃ、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃより根元部側に回路構成としてあらかじめ設けたものと、前記接触抵抗の抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗２７ａ，２７ｂ，２７ｃ、２８ａ，２８ｂ，２８ｃ、２９ａ，２９ｂ，２９ｃ、３０ａ，３０ｂ，３０ｃを設けていないものとの効果の差異について、具体的な数値を用いて説明する。
【００３１】
例えば、第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃ、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃ、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃ、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃの中で、一例として、例えば、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃのうち、先端部２１ｂ，２１ｃが汚れていたり、あるいはこの先端部２１ｂ，２１ｃと複数対の上面電極層１３との接触度合が弱かったりした場合は、前記第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ｂ，２１ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ｂ，２５ｃの抵抗値はそれぞれ１０Ω位となるもので、これに対し、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａについては汚れていないため、この第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ａの抵抗値はあまり大きくはなく、１Ω位となるものである。このような状態になった場合、並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値に接触抵抗の抵抗値を加えた合計抵抗値のそれぞれの比率は、接触抵抗値の差によって大きなバラツキが生じるものである。すなわち、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａにおいては、並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値である０．０３Ωに前記第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ａの抵抗値１Ωを加えた合計抵抗値１．０３Ωとなり、また、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ｂにおいては、前記並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値である０．０３Ωに前記第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ｂと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ｂの抵抗値１０Ωを加えた合計抵抗値１０．０３Ωとなり、そしてまた、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ｃにおいては、前記並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値である０．０３Ωに前記第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ｃの抵抗値１０Ωを加えた合計抵抗値１０．０３Ωとなるものであり、これらを比較すると、それぞれの比率は１：１０：１０という具合に、接触抵抗値の差によって、大きなバラツキが生じることになり、その結果、製品としての抵抗値を正確に測定することができないという課題を有していた。
【００３２】
これに対し、上記した本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器においては、複数の抵抗体層１４の抵抗値および第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２３ａ，２３ｂ，２３ｃの抵抗値、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２４ａ，２４ｂ，２４ｃの抵抗値、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ａ，２５ｂ，２５ｃの抵抗値、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２６ａ，２６ｂ，２６ｃの抵抗値より大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値を有する抵抗２７ａ，２７ｂ，２７ｃ、２８ａ，２８ｂ，２８ｃ、２９ａ，２９ｂ，２９ｃ、３０ａ，３０ｂ，３０ｃを、第１の電圧端子１９、第２の電圧端子２０、第１の電流端子２１、第２の電流端子２２の４端子による抵抗値測定方法における第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃ、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃと、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃ、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃより根元部側に回路構成としてあらかじめ設け、そして、前記抵抗２７ａ，２７ｂ，２７ｃ、２８ａ，２８ｂ，２８ｃ、２９ａ，２９ｂ，２９ｃ、３０ａ，３０ｂ，３０ｃの抵抗値を、前記一例としての接触抵抗値、例えば、１Ω、１０Ωより大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値である１０００Ωにそれぞれ設定しているため、並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値に接触抵抗の抵抗値および非常に大きな抵抗値を有する抵抗の抵抗値を加えた合計抵抗値のそれぞれの比率は、上記した接触抵抗の抵抗値の差を無視できる程度の誤差レベルにすることができるため、大きなバラツキが生じるということはなくなるものである。すなわち、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａにおいては、並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値である０．０３Ωに前記第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ａの抵抗値１Ωを加えるとともに、さらに抵抗２９ａの抵抗値１０００Ωを加えた抵抗値１００１．０３Ωとなり、また、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ｂにおいては、前記並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値である０．０３Ωに前記第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ｂと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ｂの抵抗値１０Ωを加え、さらに抵抗２９ｂの抵抗値１０００Ωを加えた合計抵抗値１０１０．０３Ωとなり、そしてまた、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ｃにおいては、前記並列接続された複数（３つ）の抵抗体層１４の抵抗値である０．０３Ωに前記第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ｃと複数対の上面電極層１３との接触抵抗２５ｃの抵抗値１０Ωを加えるとともに、さらに抵抗２９ｃの抵抗値１０００Ωを加えた合計抵抗値１０１０．０３Ωとなるものであり、これらを比較すると、それぞれの比率は１：１．０１：１．０１という具合に極めて小さくなって、上記した接触抵抗の抵抗値の差を無視できる程度の誤差レベルにすることができるため、大きなバラツキが生じるということはなくなり、その結果、製品としての抵抗値を常に正常に測定することができるものである。
【００３３】
なお、上記本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器においては、第１の電圧端子１９、第２の電圧端子２０、第１の電流端子２１、第２の電流端子２２の４端子による抵抗値測定方法における第１の電圧端子１９における分岐された先端部１９ａ，１９ｂ，１９ｃ、第２の電圧端子２０における分岐された先端部２０ａ，２０ｂ，２０ｃ、第１の電流端子２１における分岐された先端部２１ａ，２１ｂ，２１ｃ、第２の電流端子２２における分岐された先端部２２ａ，２２ｂ，２２ｃより根元部側に回路構成としてあらかじめ設けた抵抗２７ａ，２７ｂ，２７ｃ、２８ａ，２８ｂ，２８ｃ、２９ａ，２９ｂ，２９ｃ、３０ａ，３０ｂ，３０ｃの抵抗値を、上記した一例としての接触抵抗値、例えば、１Ω、１０Ωより大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値である１０００Ωにそれぞれ設定したものについて説明したが、この抵抗値に限定されるものではなく、例えば、前記抵抗２７ａ，２７ｂ，２７ｃ、２８ａ，２８ｂ，２８ｃ、２９ａ，２９ｂ，２９ｃ、３０ａ，３０ｂ，３０ｃの抵抗値を、上記した一例としての接触抵抗値、例えば、１Ω、１０Ωより大きくかけ離れた非常に大きい抵抗値である１０００Ωより１桁小さい１００Ωにそれぞれ設定したものでも、上記本発明の一実施の形態と同様の効果が得られるものである。すなわち、この場合においても、それぞれの比率は１：１．１：１．１という具合に極めて小さくなって、上記した接触抵抗の抵抗値の差を無視できる程度の誤差レベルにすることができるため、大きなバラツキが生じるということはなくなり、その結果、この製品としての抵抗値を常に正確に測定することができるものである。
【００３４】
また、上記本発明の一実施の形態における低抵抗角形チップ抵抗器においては、並列接続される複数の抵抗体層１４を３つで構成したものについて説明したが、これに限定されるものではなく、必要に応じて、並列接続される複数の抵抗体層１４は２つあるいは５つで構成してもよいものである。
【産業上の利用可能性】
【００３５】
本発明に係る低抵抗角形チップ抵抗器の抵抗値測定方法は、並列接続された複数の抵抗体層の抵抗値に接触抵抗の抵抗値を加えた抵抗値のそれぞれの比率において、大きなバラツキが生じることはなく、製品としての抵抗値を常に正確に測定することができるという効果を有するものであり、特に、各種電子機器に使用して有用となるものである。
【符号の説明】
【００３６】
１１  絶縁基板
１３  上面電極層
１４  抵抗体層
１５  端面電極層
１９  第１の電圧端子
１９ａ，１９ｂ，１９ｃ  先端部
２０  第２の電圧端子
２０ａ，２０ｂ，２０ｃ  先端部
２１  第１の電流端子
２１ａ，２１ｂ，２１ｃ  先端部
２２  第２の電流端子
２２ａ，２２ｂ，２２ｃ  先端部
２３ａ，２３ｂ，２３ｃ  接触抵抗
２４ａ，２４ｂ，２４ｃ  接触抵抗
２５ａ，２５ｂ，２５ｃ  接触抵抗
２６ａ，２６ｂ，２６ｃ  接触抵抗
２７ａ，２７ｂ，２７ｃ  抵抗
２８ａ，２８ｂ，２８ｃ  抵抗
２９ａ，２９ｂ，２９ｃ  抵抗
３０ａ，３０ｂ，３０ｃ  抵抗
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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