(57)【要約】【課題】複数の検出回路の劣化を抑制する。【解決手段】複数の検出回路Ｕの各々は、被検出物の有無に応じた検出信号Ｓを生成する。複数の検出回路Ｕは、複数の第１検出回路Ｕ1と複数の第２検出回路Ｕ2とに区分される。駆動回路２０は、複数の第１検出回路Ｕ1を各単位期間ＰUにて駆動することで検出信号Ｓを取得する第１検出動作と、複数の第２検出回路Ｕ2を前記各単位期間ＰUにて駆動することで検出信号Ｓを取得する第２検出動作とを選択的に実行する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検出物の有無に応じた検出信号を各々が生成する複数の検出回路と、
前記複数の検出回路のうちの複数の第１検出回路を各単位期間にて駆動して検出信号を取得する第１検出動作と、前記複数の検出回路のうち前記各第１検出回路とは異なる複数の第２検出回路を前記各単位期間にて駆動して検出信号を取得する第２検出動作とを選択的に実行する駆動回路と
を具備する検出装置。
【請求項２】
前記複数の検出回路の各々は、複数の選択線と複数の検出線との各交差に対応して配置されるとともに前記選択線の選択により前記検出信号を前記検出線に出力し、
前記複数の検出線は、２以上の前記第１検出回路が各々に接続された複数の第１検出線と、２以上の前記第２検出回路が各々に接続された複数の第２検出線とを含み、
前記複数の第１検出線の各々は、前記複数の第２検出線の各間隙内に位置し、
前記駆動回路は、
前記各単位期間にて前記複数の選択線の各々を順次に選択する選択回路と、
前記複数の第１検出線の各々に出力される検出信号を前記各単位期間にて取得する前記第１検出動作と、前記複数の第２検出線の各々に出力される検出信号を前記各単位期間にて取得する前記第２検出動作とを選択的に実行する出力回路とを含む
請求項１の検出装置。
【請求項３】
前記複数の検出回路の各々は、複数の選択線と複数の検出線との各交差に対応して配置されるとともに前記選択線の選択により前記検出信号を前記検出線に出力し、
前記複数の選択線は、２以上の前記第１検出回路が各々に接続された複数の第１選択線と、２以上の前記第２検出回路が各々に接続された複数の第２選択線とを含み、
前記複数の第１選択線の各々は、前記複数の第２選択線の各間隙内に位置し、
前記駆動回路は、
前記各単位期間にて前記複数の第１選択線の各々を順次に選択する前記第１検出動作と、前記各単位期間にて前記複数の第２選択線の各々を順次に選択する前記第２検出動作とを選択的に実行する選択回路と、
前記複数の検出線の各々に出力される検出信号を前記各単位期間にて取得する出力回路とを含む
請求項１の検出装置。
【請求項４】
前記第１検出動作または前記第２検出動作を選択する制御回路
を具備する請求項１から請求項３の何れかの検出装置。
【請求項５】
利用者が操作する操作部を具備し、
前記制御回路は、前記操作部に対する操作を契機として前記駆動回路による検出動作を前記第１検出動作および前記第２検出動作の一方から他方に変更する
請求項４の検出装置。
【請求項６】
前記制御回路は、所定の時間毎に前記駆動回路による検出動作を前記第１検出動作および前記第２検出動作の一方から他方に変更する
請求項４または請求項５の検出装置。
【請求項７】
前記制御回路は、当該検出装置の電源の投入毎に前記駆動回路による検出動作を前記第１検出動作および前記第２検出動作の一方から他方に変更する
請求項４から請求項６の何れかの検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検出物の有無（接近や接触）を検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
利用者の身体やペン型の指示部材（スタイラス）などの被検出物を検出する技術が従来から提案されている。例えば特許文献１には、受光素子を含む複数の検出回路が表示用の画素とともに行列状に配列された表示装置が開示されている。受光素子に対する照射光の照度（強度）に応じた検出信号が複数の検出回路の各々から外部装置に出力される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−３１８８１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、特許文献１の技術においては、常に全部の検出回路を駆動して検出信号を取得するため、各検出回路を構成する素子（例えば受光素子やスイッチ）が劣化し易いという問題がある。以上の事情を考慮して、本発明は、複数の検出回路の劣化を抑制することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
以上の課題を解決するために、本発明に係る検出装置は、被検出物の有無（接触や接近）に応じた検出信号を各々が生成する複数の検出回路と、複数の検出回路のうちの複数の第１検出回路を各単位期間にて駆動して検出信号を取得する第１検出動作と、複数の検出回路のうち各第１検出回路とは異なる複数の第２検出回路を各単位期間にて駆動して検出信号を取得する第２検出動作とを選択的に実行する駆動回路とを具備する。
【０００６】
以上の形態においては、第１検出回路の駆動で検出信号を取得する第１検出動作と、第２検出回路の駆動で検出信号を取得する第２検出動作とが選択的に実行されるから、常に全部の検出回路から検出信号を取得する構成と比較して、各検出回路を構成する要素の劣化を抑制することが可能である。
【０００７】
なお、「第１検出動作と第２検出動作とを選択的に実行する」とは、駆動回路が第１検出動作を実行する場合と駆動回路が第２検出動作を実行する場合とがあることを意味する。したがって、第１検出動作および第２検出動作に加えて他の検出動作が実行され得る構成も本発明の範囲に包含される。例えば、第１検出回路や第２検出回路とは異なる第３検出回路の駆動で検出信号を取得する第３検出動作を第１検出動作および第２検出動作のほかに駆動回路が実行し得る構成は、第１検出動作を実行する場合と第２検出動作を実行する場合とが存在する以上、「第１検出動作と第２検出動作とを選択的に実行する」という要件を当然に充足する。
【０００８】
本発明の好適な態様において、複数の検出回路の各々は、複数の選択線と複数の検出線との各交差に対応して配置されるとともに選択線の選択により検出信号を検出線に出力し、複数の検出線は、２以上の第１検出回路が各々に接続された複数の第１検出線と、２以上の第２検出回路が各々に接続された複数の第２検出線とを含み、複数の第１検出線の各々は、複数の第２検出線の各間隙内に位置し、駆動回路は、各単位期間にて複数の選択線の各々を順次に選択する選択回路と、複数の第１検出線の各々に出力される検出信号を各単位期間にて取得する第１検出動作と、複数の第２検出線の各々に出力される検出信号を各単位期間にて取得する第２検出動作とを選択的に実行する出力回路とを含む。以上の態様においては、２以上の第１検出回路の集合（第１検出線）と２以上の第２検出回路の集合（第２検出線）とが分散して配置されるから、複数の第１検出回路（または複数の第２検出回路）が特定の領域内のみに偏在する構成と比較して、被検出物の検出に利用できる面積を確保し易いという利点がある。なお、以上の態様の具体例は例えば第１実施形態として後述される。
【０００９】
本発明の好適な態様において、複数の検出回路の各々は、複数の選択線と複数の検出線との各交差に対応して配置されるとともに選択線の選択により検出信号を検出線に出力し、複数の選択線は、２以上の第１検出回路が各々に接続された複数の第１選択線と、２以上の第２検出回路が各々に接続された複数の第２選択線とを含み、複数の第１選択線の各々は、複数の第２選択線の各間隙内に位置し、駆動回路は、各単位期間にて複数の第１選択線の各々を順次に選択する第１検出動作と、各単位期間にて複数の第２選択線の各々を順次に選択する第２検出動作とを選択的に実行する選択回路と、複数の検出線の各々に出力される検出信号を各単位期間にて取得する出力回路とを含む。以上の態様においては、２以上の第１検出回路の集合（第１選択線）と２以上の第２検出回路の集合（第２選択線）とが分散して配置されるから、複数の第１検出回路（または複数の第２検出回路）が特定の領域内のみに偏在する構成と比較して、被検出物の検出に利用できる面積を確保し易いという利点がある。なお、以上の態様の具体例は例えば第２実施形態として後述される。
【００１０】
本発明の好適な態様に係る検出装置は、駆動回路による検出動作（第１検出動作または第２検出動作）を選択する制御回路を具備する。利用者が操作する操作部を具備する構成において、制御回路は、例えば、操作部に対する操作を契機として駆動回路による検出動作を第１検出動作および第２検出動作の一方から他方に変更する。また、制御回路が所定の時間毎に駆動回路による検出動作を第１検出動作および第２検出動作の一方から他方に変更する構成や、制御回路が当該検出装置の電源の投入毎に駆動回路による検出動作を第１検出動作および第２検出動作の一方から他方に変更する構成によれば、利用者による操作を契機とする場合と比較して、第１検出動作と第２検出動作との時間が均一化されるから、第１検出回路と第２検出回路とで劣化の程度を近づけることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１実施形態に係る検出装置のブロック図である。
【図２】第１実施形態に係る検出装置の検出回路の回路図である。
【図３】第１実施形態における第１検出回路と第２検出回路との関係を示す概念図である。
【図４】第１実施形態に係る検出装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図５】第１実施形態に係る検出装置の制御回路の動作のフローチャートである。
【図６】第２実施形態における第１検出回路と第２検出回路との関係を示す概念図である。
【図７】第２実施形態に係る検出装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図８】第３実施形態に係る検出装置の制御回路の動作のフローチャートである。
【図９】第４実施形態に係る検出装置の制御回路の動作のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る検出装置１００のブロック図である。検出装置１００は、物体（被検出物）の検出に利用される機器（例えば、利用者の身体の接触を検出するタッチパネル）である。図１に示すように、検出装置１００は、複数の検出回路Ｕが配列された検出部１０と、各検出回路Ｕを駆動する駆動回路２０と、駆動回路２０を制御する制御回路３０とを具備する。駆動回路２０は、選択回路２２Aと出力回路２４Aとを含んで構成される。駆動回路２０は、複数の集積回路（チップ）で構成され得る。利用者が操作する操作部３２が制御回路３０に接続される。
【００１３】
検出部１０には、Ｘ方向に延在するＭ本の選択線１２と、各選択線１２に対をなしてＸ方向に延在するＭ本の初期化線１４と、Ｘ方向に交差するＹ方向に延在する２Ｎ本の検出線１６とが形成される（Ｍ，Ｎは自然数）。複数の検出回路Ｕは、Ｍ本の選択線１２（初期化線１４）と２Ｎ本の検出線１６との各交差に対応して縦Ｍ行×横２Ｎ列の行列状に配列される。
【００１４】
図２は、各検出回路Ｕの回路図である。図２においては、第ｉ行（ｉ＝１〜Ｍ）の第ｊ列（ｊ＝１〜２Ｎ）に位置する１個の検出回路Ｕが代表的に図示されている。検出回路Ｕは、被検出物の有無（接近や接触）に応じた検出信号Ｓ（Ｓ[i,j]）を生成する回路であり、図２に示すように、受光素子Ｅと増幅トランジスタＴAMPと選択スイッチＴSELと初期化スイッチＴRSTとを含んで構成される。受光素子Ｅは、当該受光素子Ｅに対する照射光の照度（強度）に応じた電流値の光電流ＩPを生成する。例えばフォトダイオードが受光素子Ｅとして好適に採用される。受光素子Ｅに対する照射光の照度は、検出部１０の上方における被検出物の有無や遠近に応じて変化する。
【００１５】
増幅トランジスタＴAMPと選択スイッチＴSELと初期化スイッチＴRSTとは、例えば、基板の表面に受光素子Ｅとともに形成されたトランジスタ（例えば、半導体層が低温ポリシリコンで形成された薄膜トランジスタ）で構成される。なお、検出回路Ｕを構成する各トランジスタの導電型は任意である。
【００１６】
増幅トランジスタＴAMPは、自身のゲートの電位に応じた検出信号（光電流ＩPを増幅した電流信号）Ｓ[i,j]を生成する要素であり、給電線１８と第ｊ列の検出線１６との間に介在する。給電線１８には電源回路（図示略）から所定の電位ＶRSTが供給される。増幅トランジスタＴAMPのゲートは受光素子Ｅ（陰極）に接続される。
【００１７】
選択スイッチＴSELは、検出信号Ｓ[i,j]の経路上に配置され、検出線１６に対する検出信号Ｓ[i,j]の出力の許否を制御する。具体的には、第ｊ列の検出回路Ｕの選択スイッチＴSELは、給電線１８と第ｊ列の検出線１６とを結ぶ経路上に、増幅トランジスタＴAMPに対して直列に配置される。第ｉ行の各検出回路Ｕにおける選択スイッチＴSELのゲートは、第ｉ行の選択線１２に対して共通に接続される。
【００１８】
初期化スイッチＴRSTは、増幅トランジスタＴAMPのゲートと給電線１８（または他の配線）との間に介在して両者の電気的な接続（導通／非導通）を制御する。第ｉ行の各検出回路Ｕにおける初期化スイッチＴRSTのゲートは、第ｉ行の初期化線１４に対して共通に接続される。
【００１９】
図３に示すように、検出部１０内の複数の検出回路Ｕは、複数の第１検出回路Ｕ1と複数の第２検出回路Ｕ2とに区分される。第１検出回路Ｕ1は、奇数列（第(2n-1)列）に位置する検出回路Ｕであり、第２検出回路Ｕ2は、偶数列（第２ｎ列）に位置する検出回路Ｕである（ｎ＝１〜Ｎ）。すなわち、Ｙ方向に配列するＭ個の第１検出回路Ｕ1の集合（奇数列）と、Ｙ方向に配列するＭ個の第２検出回路Ｕ2の集合（偶数列）とが、検出部１０内にてＸ方向に沿って交互に配置される。したがって、Ｎ個の第１検出回路Ｕ1とＮ個の第２検出回路Ｕ2とが１行内に存在する。
【００２０】
また、２Ｎ本の検出線１６は、図３に示すように、Ｍ個の第１検出回路Ｕ1が各々に接続されたＮ本の第１検出線１６１と、Ｍ個の第２検出回路Ｕ2が各々に接続されたＮ本の第２検出線１６２とに区分される。第１検出線１６１は奇数列（第(2n-1)列）に位置し、第２検出線１６２は偶数列（第２ｎ列）に位置する。
【００２１】
図１の制御回路３０は、各第１検出回路Ｕ1の駆動で検出信号Ｓ[i,2n-1]を取得する第１検出動作と、各第２検出回路Ｕ2の駆動で検出信号Ｓ[i,2n]を取得する第２検出動作とを、駆動回路２０に選択的に実行させる。第１検出動作は、図４に示す各単位期間（垂直走査期間）ＰUにて複数の検出回路Ｕを行単位で順次に選択し、選択行（第ｉ行）の２Ｎ個の検出回路ＵのうちＮ個の第１検出回路Ｕ1の各々が生成した検出信号Ｓ[i,2n-1]（Ｓ[i,1]，Ｓ[i,3]，Ｓ[i,5]，……，Ｓ[i,2N-1]）を各第１検出線１６１から取得する動作である。他方、第２検出動作は、複数の検出回路Ｕを各単位期間ＰUにて行単位で順次に選択し、選択行（第ｉ行）の２Ｎ個の検出回路ＵのうちＮ個の第２検出回路Ｕ2の各々が生成した検出信号Ｓ[i,2n]（Ｓ[i,2]，Ｓ[i,4]，Ｓ[i,6]，……，Ｓ[i,2N]）を各第２検出線１６２から取得する動作である。
【００２２】
制御回路３０は、操作部３２に対する操作を契機として、駆動回路２０の動作を第１検出動作および第２検出動作の一方から他方に変更する。図５は、制御回路３０が駆動回路２０の動作（第１検出動作／第２検出動作）を選択する処理のフローチャートである。所定の時間毎に図５の処理が実行される。
【００２３】
図５の処理を開始すると、制御回路３０は、動作の変更を指示するための操作が操作部３２に付与されたか否かを判定し（ＳA1）、動作の変更が指示されていない場合には図５の処理を終了する。他方、動作の変更が指示されると（ＳA1：YES）、制御回路３０は、現在の動作（動作モード）が第１検出動作および第２検出動作の何れに該当するかを判定する（ＳA2）。制御回路３０は、現在の動作が第１検出動作である場合には第２検出動作を選択し（ＳA3）、現在の動作が第２検出動作である場合には第１検出動作を選択する（ＳA4）。すなわち、操作部３２が操作されるたびに駆動回路２０の動作が変更される。
【００２４】
図１の選択回路２２Aは、各選択線１２の選択／非選択を指定する選択信号ＧSEL[i]（ＧSEL[1]〜ＧSEL[M]）を生成して第ｉ行の選択線１２に出力し、初期化信号ＧRST[i]（ＧRST[1]〜ＧRST[M]）を生成して第ｉ行の初期化線１４に出力する（図２参照）。なお、選択信号ＧSEL[1]〜ＧSEL[M]を生成する回路と初期化信号ＧRST[1]〜ＧRST[M]を生成する回路とを別個に実装した構成も採用される。
【００２５】
図４に示すように、各単位期間ＰUはＭ個の選択期間ＰSEL[1]〜ＰSEL[M]を含む。選択信号ＧSEL[i]は、各単位期間ＰU内の選択期間ＰSEL[i]にてハイレベル（第ｉ行の選択を意味するアクティブレベル）に設定され、選択期間ＰSEL[i]以外ではローレベルに維持される。初期化信号ＧRST[i]は、選択期間ＰSEL[i]の開始前の所定の期間内にてハイレベル（アクティブ）に設定され、当該期間以外ではローレベルに維持される（図示略）。
【００２６】
初期化信号ＧRST[i]がハイレベルに設定されると、第ｉ行の２Ｎ個の検出回路Ｕ（Ｕ1，Ｕ2）の各々の初期化スイッチＴRSTがオン状態に遷移する。したがって、第ｉ行の各増幅トランジスタＴAMPのゲートの電位は給電線１８の電位ＶRSTに初期化される。そして、初期化信号ＧRST[i]がローレベルに変化することで第ｉ行の各初期化スイッチＴRSTがオフ状態に遷移すると、増幅トランジスタＴAMPのゲートは電気的なフローティング状態となる。したがって、増幅トランジスタＴAMPのゲートの電位は、受光素子Ｅの光電流ＩPに応じた電位に設定される。
【００２７】
図４に示すように、選択期間ＰSEL[i]では、選択信号ＧSEL[i]がハイレベルに設定されることで、第ｉ行の２Ｎ個の検出回路Ｕ（Ｕ1，Ｕ2）の各々の選択スイッチＴSELがオン状態に遷移する。したがって、第ｉ行の２Ｎ個の検出回路Ｕの各々においては、増幅トランジスタＴAMPに流れる電流を検出信号Ｓ[i,j]として第ｊ列の検出線１６に出力することが可能な状態となる。増幅トランジスタＴAMPのゲートの電位は光電流ＩPに応じて設定されるから、検出信号Ｓ[i,j]は、受光素子Ｅに対する照射光の照度に応じた電流値の電流信号となる。
【００２８】
図１の出力回路２４Aは、図３に示すように、Ｎ個のスイッチ４２[1]〜４２[N]と信号処理回路４４とを含んで構成される。スイッチ４２[n]は、相隣接する第(2n-1)列の第１検出線１６１（ａ端）と第２ｎ列の第２検出線１６２（ｂ端）とを選択的に信号処理回路４４に導通させる。制御回路３０は、制御信号ＧXの出力でスイッチ４２[1]〜４２[N]を制御する。
【００２９】
図５の処理で第１検出動作を選択した場合、制御回路３０は、図４に示すように、第１検出線１６１（ａ端）の選択を意味するハイレベルの制御信号ＧXをスイッチ４２[1]〜４２[N]に出力する。スイッチ４２[1]〜４２[N]は、制御信号ＧXに応じてＮ本の第１検出線１６１（第１検出回路Ｕ1）を信号処理回路４４に導通させる。したがって、各単位期間ＰU内の選択期間ＰSEL[1]〜ＰSEL[M]の各々では、図４に示すように、第ｉ行の２Ｎ個の検出回路ＵのうちＮ個の第１検出回路Ｕ1にて生成されたＮ系統の検出信号Ｓ[i,2n-1]（Ｓ[i,1]，Ｓ[i,3]，Ｓ[i,5]，……，Ｓ[i,2N-1]）が各第１検出線１６１を介して信号処理回路４４に並列に供給される。すなわち、駆動回路２０（出力回路２４A）は第１検出動作を実行する。他方、信号処理回路４４とＮ本の第２検出線１６２とは電気的に絶縁されるから、各第２検出回路Ｕ2の増幅トランジスタＴAMPに電流（検出信号Ｓ[i,2n]）は流れない。
【００３０】
図５の処理で第２検出動作を選択した場合、制御回路３０は、図４に示すように制御信号ＧXをローレベル（第２検出線１６２の選択を意味するレベル）に設定することで、Ｎ本の第２検出線１６２（第２検出回路Ｕ2）を信号処理回路４４に導通させる。したがって、各単位期間ＰU内の選択期間ＰSEL[i]では、図４に示すように、第ｉ行の２Ｎ個の検出回路ＵのうちＮ個の第２検出回路Ｕ2にて生成されたＮ系統の検出信号Ｓ[i,2n]（Ｓ[i,2]，Ｓ[i,4]，Ｓ[i,6]，……，Ｓ[i,2N]）が各第２検出線１６２を介して信号処理回路４４に並列に供給される。すなわち、駆動回路２０は第２検出動作を実行する。他方、信号処理回路４４とＮ本の第１検出線１６１とは電気的に絶縁されるから、各第１検出回路Ｕ1の増幅トランジスタＴAMPに電流（検出信号Ｓ[i,2n-1]）は流れない。
【００３１】
図３の信号処理回路４４は、検出部１０から並列に供給されるＮ系統の検出信号Ｓを選択期間ＰSEL[i]内にて順次に選択して１系統の検出信号ＳOUTを出力するＰ/Ｓ（parallel to serial）変換器である。検出信号ＳOUTは、制御回路３０を介して外部装置に供給されたうえで被検出物の有無の判定や被検出物の形状の特定に利用される。なお、制御回路３０が検出信号ＳOUTを利用して被検出物の有無や形状を判別する構成も採用される。
【００３２】
以上のように、駆動回路２０は、第１検出回路Ｕ1の駆動で検出信号Ｓ[i,2n-1]を取得する第１検出動作と、第２検出回路Ｕ2の駆動で検出信号Ｓ[i,2n]を取得する第２検出動作とを選択的に実行する。したがって、各単位期間ＰUにて常に全部の検出回路Ｕから検出信号Ｓ[i,j]を取得する（すなわち、全部の検出回路Ｕの増幅トランジスタＴAMPに電流が流れる）構成と比較して、各検出回路Ｕを構成する要素（例えば増幅トランジスタＴAMP）の劣化を抑制することが可能である。また、各単位期間ＰUでは第１検出回路Ｕ1および第２検出回路Ｕ2の一方の増幅トランジスタＴAMPのみに電流（検出信号Ｓ[i,j]）が流れるから、常に全部の検出回路Ｕから検出信号Ｓ[i,j]を取得する構成と比較して、検出部１０内で消費される電力が削減されるという利点もある。
【００３３】
さらに、検出部１０内では第１検出回路Ｕ1と第２検出回路Ｕ2とがＸ方向に分散して配置されるから、第１検出回路Ｕ1や第２検出回路Ｕ2が検出部１０内の特定の領域に偏在する構成と比較すると、検出部１０内の全体を被検出物の検出に利用する（検出可能な面積を充分に確保する）ことが可能である。
【００３４】
＜Ｂ：第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態について説明する。なお、以下の各形態において作用や機能が第１実施形態と同様である要素については、以上と同じ符号を付して各々の詳細な説明を適宜に省略する。
【００３５】
図６に示すように、検出部１０には、Ｘ方向に延在する２Ｍ本の選択線１２および初期化線１４（図示略）と、Ｙ方向に延在するＮ本の検出線１６とが形成される。したがって、複数の検出回路Ｕは、縦２Ｍ行×横Ｎ列の行列状に配列される。複数の検出回路Ｕは、奇数行に位置する第１検出回路Ｕ1と偶数行に位置する第２検出回路Ｕ2とに区分される。すなわち、Ｘ方向に配列するＮ個の第１検出回路Ｕ1の集合（奇数行）と、Ｘ方向に配列するＮ個の第２検出回路Ｕ2の集合（偶数行）とが、検出部１０内にてＹ方向に沿って交互に配置される。また、２Ｍ本の選択線１２は、Ｎ個の第１検出回路Ｕ1が各々に接続されたＭ本の第１選択線１２１と、Ｎ個の第２検出回路Ｕ2が各々に接続されたＭ本の第２選択線１２２とに区分される。
【００３６】
図６に示すように、第２実施形態の駆動回路２０は、選択回路２２Bと出力回路２４Bとを含んで構成される。出力回路２４Bは、第１実施形態の信号処理回路４４と同様に、検出部１０から並列に供給されるＮ系統の検出信号Ｓを順次に選択して１系統の検出信号ＳOUTを出力する。
【００３７】
図６に示すように、選択回路２２Bは、Ｍ個のスイッチ５２[1]〜５２[M]と信号生成回路５４とを含んで構成される。信号生成回路５４（例えばシフトレジスタ）は、図７に示すように、単位期間ＰU内の各選択期間ＰSEL[i]にて順次にハイレベル（アクティブ）に設定される制御信号Ｇ0[1]〜Ｇ0[M]を生成する。すなわち、制御信号Ｇ0[m]（ｍ＝１〜Ｍ）の波形は、第１実施形態の選択信号ＧSEL[m]と同様である。
【００３８】
図６のスイッチ５２[m]は、相隣接する第(2m-1)行の第１選択線１２１（ａ端）と第２ｍ行の第２選択線１２２（ｂ端）とを選択的に信号生成回路５４に接続する。スイッチ５２[1]〜５２[M]は、制御回路３０から供給される制御信号ＧXで制御される。制御回路３０は、図５の処理で選択した動作（第１検出動作／第２検出動作）に応じて制御信号ＧXのレベルを設定する。
【００３９】
第１検出回路Ｕ1から検出信号Ｓ[i,j]を取得する第１検出動作を選択した場合、制御回路３０は、図７に示すように、第１選択線１２１（ａ端）の選択を意味するハイレベルの制御信号ＧXをスイッチ５２[1]〜５２[M]に出力する。スイッチ５２[1]〜５２[M]は、制御信号ＧXに応じてＭ本の第１選択線１２１を信号生成回路５４に導通させる。したがって、信号生成回路５４が生成した制御信号Ｇ0[m]は、図７に示すように、選択信号ＧSEL[2m-1]（ＧSEL[1]，ＧSEL[3]，ＧSEL[5]，……，ＧSEL[2M-1]）として第(2m-1)行の第１選択線１２１に出力される。すなわち、選択回路２２Bは、Ｍ本の第１選択線１２１の各々を単位期間ＰU内の各選択期間ＰSEL[m]にて順次に選択する。
【００４０】
したがって、単位期間ＰU内の各選択期間ＰSEL[m]では、図７に示すように、第(2m-1)行のＮ個の第１検出回路Ｕ1にて生成されたＮ系統の検出信号Ｓ[2m-1,j]（Ｓ[2m-1,1]，Ｓ[2m-1,2]，Ｓ[2m-1,N]）が各検出線１６を介して出力回路２４Bに並列に供給される。すなわち、駆動回路２０（選択回路２２B）は第１検出動作を実行する。他方、信号生成回路５４とＭ本の第２選択線１２２とは電気的に絶縁されるから、各第２検出回路Ｕ2の増幅トランジスタＴAMPに電流は流れない。
【００４１】
他方、第２検出回路Ｕ2から検出信号Ｓ[i,j]を取得する第２検出動作を選択した場合、制御回路３０は、制御信号ＧXをローレベルに設定することで、Ｍ本の第２選択線１２２を信号生成回路５４に導通させる。したがって、信号生成回路５４が生成した制御信号Ｇ0[m]は、図７に示すように、選択信号ＧSEL[2m]（ＧSEL[2]，ＧSEL[4]，ＧSEL[6]，……，ＧSEL[2M]）として第２ｍ行の第２選択線１２２に出力される。すなわち、選択回路２２Bは、Ｍ本の第２選択線１２２の各々を単位期間ＰU内の各選択期間ＰSEL[m]にて順次に選択する。
【００４２】
したがって、各選択期間ＰSEL[m]では、第２ｍ行のＮ個の第２検出回路Ｕ2にて生成されたＮ系統の検出信号Ｓ[2m,j]（Ｓ[2m,1]，Ｓ[2m,2]，Ｓ[2m,N]）が各検出線１６を介して出力回路２４Bに並列に供給される。すなわち、駆動回路２０は第２検出動作を実行する。他方、信号生成回路５４とＭ本の第１選択線１２１とは電気的に絶縁されるから、各第１検出回路Ｕ1の増幅トランジスタＴAMPに電流は流れない。
【００４３】
以上のように、第１検出回路Ｕ1の駆動で検出信号Ｓ[2m-1,j]を取得する第１検出動作と、第２検出回路Ｕ2の駆動で検出信号Ｓ[2m,j]を取得する第２検出動作とが選択的に実行されるから、第２実施形態においても第１実施形態と同様の作用および効果が実現される。
【００４４】
＜Ｃ：第３実施形態＞
図８は、本発明の第３実施形態における制御回路３０が駆動回路２０の動作（第１検出動作／第２検出動作）を選択する処理のフローチャートである。検出装置１００の電源が投入されると、制御回路３０は、第１検出動作および第２検出動作の一方を選択したうえで、所定の時間毎に図８の処理を順次に実行する。
【００４５】
図８の処理を開始すると、制御回路３０は、変数Ｔに所定値Δを加算する（ＳB1）。変数Ｔは、第１検出動作および第２検出動作の一方が継続された時間を意味する。制御回路３０は、加算後の変数Ｔが所定の閾値Ｔ0を上回るか否かを判定し（ＳB2）、判定の結果が否定である場合には図８の処理を終了する。
【００４６】
他方、変数Ｔが閾値Ｔ0を上回る場合、制御回路３０は、図５のステップＳA2からステップＳA4と同様に、現在の検出動作を判定し（ＳB3）、第１検出動作の実行中であれば第２検出動作を選択し（ＳB4）、第２検出動作の実行中であれば第１検出動作を選択する（ＳB5）。そして、制御回路３０は、変数Ｔをゼロに初期化したうえで（ＳB6）図８の処理を終了する。駆動回路２０は、図８の処理で制御回路３０が選択した検出動作を実行する。駆動回路２０の構成としては第１実施形態や第２実施形態にて例示した構成が好適に採用される。
【００４７】
以上の構成においては、閾値Ｔ0に相当する時間が経過するたびに駆動回路２０の動作が第１検出動作および第２検出動作の一方から他方に変更されるから、利用者からの指示（操作）を必要とする第１実施形態と比較して、第１検出回路Ｕ1と第２検出回路Ｕ2とで劣化の度合を均一化することが可能である。
【００４８】
＜Ｄ：第４実施形態＞
図９は、本発明の第４実施形態における制御回路３０が駆動回路２０の動作（第１検出動作／第２検出動作）を選択する処理のフローチャートである。制御回路３０は、検出装置１００の電源が投入されるたびに図９の処理を実行する。
【００４９】
図９の処理を開始すると、制御回路３０は、前回の検出装置１００の動作時における駆動回路２０の動作が第１検出動作および第２検出動作の何れに該当するかを判定する（ＳC1）。そして、制御回路３０は、前回の動作が第１検出動作である場合には第２検出動作を選択し（ＳC2）、前回の動作が第２検出動作である場合には第１検出動作を選択する（ＳC3）。前回の動作の判別には、例えば記憶回路（図示略）に格納されたフラグが利用される。
【００５０】
以上の構成においては、検出装置１００の電源が投入されるたびに駆動回路２０の動作が第１検出動作および第２検出動作の一方から他方に変更されるから、第３実施形態と同様に、第１検出回路Ｕ1と第２検出回路Ｕ2とで劣化の度合を均一化することが可能である。
【００５１】
＜Ｅ：変形例＞
以上の形態には様々な変形が加えられる。具体的な変形の態様を以下に例示する。以下の例示から任意に選択された２以上の態様は併合され得る。
【００５２】
（１）変形例１  
以上の各形態においては複数の検出回路Ｕを２種類（第１検出回路Ｕ1，第２検出回路Ｕ2）に区分したが、複数の検出回路Ｕを３種類以上に区分した構成も採用され得る。例えば、複数の検出回路ＵがＫ種類（Ｋ≧３）に区分された場合を想定すると、第１実施形態においては、スイッチ４２[n]がＫ本の検出線１６の何れかを選択的に信号処理回路４４に導通させる構成が採用され、第２実施形態においては、スイッチ５２[m]がＫ本の選択線１２の何れかを選択的に信号生成回路５４に導通させる構成が採用される。
【００５３】
（２）変形例２  
駆動回路２０の検出動作を変更する契機（条件）は以上の例示（利用者からの指示，所定の時間の経過，検出装置１００の電源の投入）に限定されない。また、以上に例示した複数の契機を併用する構成も採用される。例えば、検出装置１００の電源の投入時に検出動作を変更し、かつ、検出装置１００の動作中に、所定の時間の経過や操作部３２に対する操作を契機として検出動作を変更する構成も好適である。また、以上の例示では複数の検出動作を循環的に選択したが（第１検出動作→第２検出動作→第１検出動作）、検出動作の循環的（可逆的）な選択は本発明において必須ではない。例えば、駆動回路２０による動作が第１検出動作から第２検出動作に１回だけ変更される構成も採用され得る。
【００５４】
（３）変形例３  
第１検出回路Ｕ1および第２検出回路Ｕ2の区分の仕方は任意である。例えば、第１検出回路Ｕ1と第２検出回路Ｕ2とがＸ方向およびＹ方向の双方に隣合うように複数の検出回路Ｕを配置した構成も採用される。また、第１検出回路Ｕ1と第２検出回路Ｕ2とを分散して配置した構成は本発明において必須ではない。例えば、検出部１０内に画定された境界線からみて一方の領域に複数の第１検出回路Ｕ1を分布させるとともに他方の領域に複数の第２検出回路Ｕ2を分布させた構成も採用される。
【００５５】
（４）変形例４  
被検出物を検出する方式は以上の例示（光検出式）に限定されない。例えば、被検出物の接触の有無に応じて容量値が変化する容量素子を受光素子Ｅの代わりに利用した静電容量方式の検出装置にも以上の各形態を同様に適用することが可能である。また、検出装置１００の用途はタッチパネルに限定されない。例えば、利用者の指紋を検出する指紋センサや、利用者の手の静脈を検出する静脈センサ、原稿からの反射光を検出する読取装置（スキャナ）にも以上の各形態に係る検出装置１００が利用され得る。
【符号の説明】
【００５６】
１００……検出装置、１０……検出部、Ｕ……検出回路、Ｕ1……第１検出回路、Ｕ2……第２検出回路、１２……選択線、１４……初期化線、１６……検出線、１８……給電線、２０……駆動回路、２２A，２２B……選択回路、２４A，２４B……出力回路、３０……制御回路、３２……操作部、４２[1]〜４２[N]……スイッチ、４４……信号処理回路、５２[1]〜５２[M]……スイッチ、５４……信号生成回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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