(57)【要約】【課題】  エンタングル状態を用いて、光速を超える信号伝達速度を実現する通信方法を提供すること。【解決手段】  受信者は、偏光板と、光経路の一部に非線形光学材料を用いたサニャック干渉計を準備する。偏光方向がエンタングル状態にある２光子のうち、第１の光子を送信者に送付し、残りの第２の光子を受信者へ送付する。送信者は、送りたい情報に応じて垂直方向または４５度方向を選択し、時刻１に垂直偏光または４５度偏光を透過する偏光板を通過させた後で第１の光子の測定を行う。受信者は時刻１よりも後の時刻２に第２の光子を、上記偏光板を通過させた後で上記サニャック干渉計に入力し、非線形光学材料中で参照光と相互作用させる。受信者はサニャック干渉計から出力される信号光の位相変調量を測定して送信者の情報を判別する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
受信者は、垂直偏光を透過する偏光板と、光経路の一部に第１の非線形光学材料を用いたサニャック干渉計を準備し、
偏光方向がエンタングル状態にある２光子のうち、第１の光子を送信者に送付し、残りの第２の光子を受信者へ送付し、
時刻１に、送信者は第１信号を送信する場合は、垂直偏光を透過する偏光板を通過させた後で第１の光子の測定を行い、
また送信者は第２信号を送信する場合は、４５度偏光を透過する偏光板を通過させた後で第１の光子の測定を行い、
次に受信者は時刻１よりも後の時刻２に、垂直偏光を透過する偏光板または水平偏光を透過する偏光板を通過させた後で、第２の光子を上記サニャック干渉計に入力し、
更に受信者は参照光を上記サニャック干渉計へ入射させ、サニャック干渉計を互いに反対方向に伝播する参照光の２つの成分のうち一方を、上記第１の非線形光学材料中において第２の光子と相互作用させ、サニャック干渉計から出力される信号光に位相変調を生じさせ、
受信者は、信号光の位相変調量が０またはδの場合には第１信号と判別し、
また受信者は、信号光の位相変調量がδ／２の場合には第２信号と判別する、
以上の過程を含むことを特徴とした通信方法。
【請求項２】
請求項１において、
第１の光子と第２の光子は、レーザー光から２分岐された一方のポンプ光により、第２の非線形光学材料でのパラメトリックダウンコンバージョンにより生成されたエンタングル状態であり、
参照光はレーザー光から２分岐された残りの一方の光ビームであることを特徴とする通信方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、量子状態であるエンタングル状態を利用した通信方法に関し、特に非線形光学材料の非線形屈折率効果による交差位相変調を利用する通信方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在の通信技術は電気通信、電波通信または光ファイバー通信が広く実用化されている。この電気、電波または光を用いる通信では、信号伝達速度は光速以下となる。一方、基礎研究の分野では量子力学の原理を元にした、量子通信技術の研究が盛んに行われている。この量子通信技術の分野ではエンタングル状態（もつれた状態）を用いて、盗聴攻撃に強い量子暗号を開発する研究が行われている（例えば非特許文献１「工学系のための量子光学」、森北出版、第１０章、または特許文献１「特願平１１−７００号」参照）。また、エンタングル状態とベル測定と呼ばれる操作を用いて、コピー元の量子状態を別の系に再現させる量子テレポーテーションも研究されている（例えば非特許文献１「工学系のための量子光学」、森北出版、第１０章参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特願平１１−７００号
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】井上  恭著「工学系のための量子光学」、森北出版
【非特許文献２】尾崎義治、朝倉利光訳「基本光工学１」、森北出版
【非特許文献３】尾崎義治、朝倉利光訳「基本光工学２」、森北出版
【非特許文献４】Ｇ．Ｐ．アグラワール著「非線形ファイバー光学」、吉岡書店
【非特許文献５】Ｎ．Ｍａｔｓｕｄａ，Ｒ．Ｓｈｉｍｉｚｕ，Ｙ．Ｍｉｔｓｕｍｏｒｉ，Ｈ．Ｋｏｓａｋａ，ａｎｄ  Ｋ．Ｅｄａｍａｔｓｕ，Ｎａｔｕｒｅ．Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ  ３，９５（２００９）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、これらの量子暗号または量子テレポーテーションにおいても、実際に情報を伝達するには光速以下の速度での通信過程が必要とされており、信号伝達速度は光速以下となる。エンタングル状態に対する測定を行うと、波束の収縮（エンタングル状態の干渉性の消失）が瞬時に起こり、エンタングル状態の各部分系の測定結果に強い相関（１００％の相関）が生じる。しかし、エンタングル状態に対する個々の測定結果は全くランダムであり、測定結果を任意に選ぶことができないため、送信者が情報を送信することには利用できないと言われている（例えば非特許文献１「工学系のための量子光学」、森北出版、第９章参照）。
【０００６】
そこで本発明の目的は、エンタングル状態に対する測定結果のランダム性に起因した通信技術への応用の困難を克服して、光速を超える信号伝達速度を実現する通信方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の目的を達成するために、本発明の第１の側面によれば、受信者は、垂直偏光を透過する偏光板と非線形光学材料を用いたサニャック干渉計を準備する。上記サニャック干渉計には、光経路の一部に、上記非線形光学材料が配置されている。
【０００８】
送信者と受信者は偏光方向がエンタングル状態にある２光子を準備する。そして、上記エンタングル状態の２光子のうち、第１の光子を送信者に送付し、残りの第２の光子を受信者へ送付する。
【０００９】
時刻１に、送信者は「１」を送信する場合は、垂直偏光を透過する偏光板を通過させた後で第１の光子の測定（光子の検出）を行う。また送信者は「０」を送信する場合は、４５度偏光を透過する偏光板を通過させた後で第１の光子の測定を行う。
【００１０】
次に受信者は時刻１よりも後の時刻２に、垂直偏光を透過する偏光板６を通過させた後で、第２の光子を上記サニャック干渉計に入力する。更に参照光を上記サニャック干渉計へ入射し、サニャック干渉計を互いに反対方向に伝播する参照光の２つの成分のうち一方を、非線形光学材料中において（非線形屈折率効果によって）第２の光子と相互作用させる。
【００１１】
この参照光と第２の光子の（非線形屈折率効果による）相互作用の結果、サニャック干渉計から出力される信号光は位相変調を受ける。受信者は、上記信号光の位相変調量を測定して「信号光の位相変調量が０またはδの場合」には信号「１」と判別する。また受信者は、「信号光の位相変調量がδ／２の場合」には信号「０」と判別する。
【００１２】
上記の方法では、送信者が第１の光子の偏光状態を垂直方向で測定するか４５度方向で測定するかの２選択を通信に用いる。つまり、測定結果自体を送信に用いるわけではないため、エンタングル状態の測定結果自体はランダムであっても構わない。測定によるエンタングル状態の波束の収縮（干渉性の消失）は極短い時間に瞬間的に起こるとされている。そのため上記時刻１と上記時刻２は、送信者と受信者がどのような距離離れていても極短い時間に設定できる。したがって原理的に光速以上の信号伝達速度を達成しうる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、エンタングル状態の測定結果のランダム性に起因した通信技術への応用の困難を克服して、光速を超える信号伝達速度を実現する通信方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】実施例１において、偏光板が垂直の場合の構成図。
【図２】実施例１において、偏光板が４５度の場合の構成図。
【図３】実施例１の図１に対応する場合において、偏光ビームスプリッター１４、１５に代えて周波数依存のあるミラー２５、２６を用いた構成図。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図面にしたがって本発明の実施の形態について説明する。
【実施例】
【００１６】
図１から図２を用いて実施例１を説明する。図１においてレーザー光源１から放射されたレーザー光２１をビームスプリッター２２で２方向へ分割する。図１中、ビームスプリッター２２から上方へ伝播するポンプ光２３は、第２の非線形光学材料２４へ入射する。第２の非線形光学材料２４からは、ポンプ光２３からパラメトリックダウンコンバージョンにより発生する、偏光状態がエンタングルした（もつれた）第１の光子２と第２の光子３が放射される。図１中、第１の光子２と第２の光子３の伝播方向を実線矢印で図示した。光子の垂直方向の偏光状態を｜Ｖ＞、水平偏光状態を｜Ｈ＞とすると、上記エンタングル状態は以下の（式１）で表される。
【００１７】
【数１】
2011223149.tif 000003
ここで添え字Ａは第１測定器５へ向かう第１の光子２を表し、添え字Ｂは第２の光子３を表す。したがって上記の（式１）は、第１の光子２と第２の光子３がともに水平偏光である状態と、第１の光子２と第２の光子３がともに垂直偏光である状態がエンタングルして（もつれて）いることを示している。特にこの（式１）であらわされる状態は、垂直方向と水平方向に限らず、任意の角度の偏光状態とそれに直交する偏光状態の組み合わせを用いても同様に表すことが出来る（例えば非特許文献１「工学系のための量子光学」、森北出版、第９章参照）。
【００１８】
図１において、第１の光子２は垂直偏光を透過する偏光板４により垂直偏光成分のみが第１測定器５へ向かう。図中、偏光板４を通過した第１の光子２を点線矢印で図示した。また偏光板４を通過した第１の光子２が垂直偏光成分であることを縦方向の両側矢印で図示した。ここで第１測定器５にて第１の光子２が検出されると、第１の光子２が垂直偏光であることが確定する。また第１測定器５にて第１の光子２が検出されなかった場合は第１の光子２が水平偏光であることが確定する（例えば非特許文献１「工学系のための量子光学」、森北出版、第９章参照）。
【００１９】
図１において、第１の光子２に対する上記測定により波束の収縮（干渉性の消失）が起こり、第２の光子３も第１の光子２と同じ偏光状態に確定する。これは上記エンタングル状態の特性である（例えば非特許文献１「工学系のための量子光学」、森北出版、第９章参照）。
【００２０】
上記第１の光子２に対する測定の後、第２の光子３は垂直偏光を透過する偏光板６を通過する。このとき、第２の光子３が垂直偏光の場合には第２の光子３は偏光板６を通過し、第２の光子３が水平偏光の場合には第２の光子３は偏光板６を通過しない。図１中、偏光板６を通過した後の第２の光子３Ａを点線矢印で示した。
【００２１】
次に第２の光子３Ａは、ミラー７、ミラー８、ミラー９、偏光ビームスプリッター１０、偏光ビームスプリッター１４、偏光ビームスプリッター１５、第１の非線形光学材料１１、ファラデーユニット１２、ファラデーユニット１３から構成されるサニャック干渉計１８に入射する。第２の光子３Ａは偏光板６により垂直偏光状態になっているので、偏光ビームスプリッター１４からサニャック干渉計１８の中へ入射して、第１の非線形光学材料１１を通過し、偏光ビームスプリッター１５からサニャック干渉計１８の外へ出る。
【００２２】
また、ビームスプリッター２２で分割された（ポンプ光２３とは別の）もう一方の光ビームである参照光１６が、偏光ビームスプリッター１０からサニャック干渉計１８へ入射する。参照光１６は偏光方向を調整してサニャック干渉計１８へ入射する際に｜Ｈ＞＋｜Ｖ＞の状態であるようにしておく。図１中、参照光１６は偏光ビームスプリッター１０により、サニャック干渉計１８を時計まわりに伝播する参照光１６Ｈと、反時計まわりに伝播する参照光１６Ｖの２つの成分に分割される。ただし、ファラデーユニット１２またはファラデーユニット１３による偏光方向の変換により、ファラデーユニット１２から時計まわりにファラデーユニット１３へ至る区間では、参照光１６Ｈと参照光１６Ｖはともに水平偏光の状態で伝播するように設定できる。その他のファラデーユニット１２から偏光ビームスプリッター１０と、偏光ビームスプリッター１０からファラデーユニット１３の間の区間では、参照光１６Ｈと参照光１６Ｖはそれぞれ水平偏光と垂直偏光になっている。したがって参照光１６Ｈと参照光１６Ｖは、偏光ビームスプリッター１４と偏光ビームスプリッター１５を透過して、サニャック干渉計１８をそれぞれ反対方向に１周する。サニャック干渉計１８を１周した２つの参照光を、参照光１６ＨＡと参照光１６ＶＡとして図示した。参照光１６ＨＡと参照光１６ＶＡは偏光ビームスプリッター１０において合成されて信号光１７として出力される。上記のサニャック干渉計１８は非特許文献５に詳しく説明されている。（非特許文献５、Ｎａｔｕｒｅ．Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ  ３，９５（２００９）参照）
【００２３】
ここで上記第１の非線形光学材料１１の中では、第２の光子３Ａの光強度に比例して、参照光１６Ｖが感じる屈折率が変化する。これは第１の非線形光学材料１１の非線形屈折率効果によるもので、交差位相変調（ＸＰＭ）とよばれる。（非特許文献４、非線形ファイバー光学、第７章参照）一方、第２の光子３Ａと逆方向にサニャック干渉計１８を伝播する参照光１６Ｈは、ほとんど第２の光子３Ａと交差する時間がないため、第２の光子３Ａの影響を受けない。したがって参照光１６Ｖは参照光１６Ｈと比べて、第２の光子３Ａの強度に比例した位相変調を受ける。この位相変調の量は、第２の光子３が垂直偏光の場合は偏光板６を透過するため光子１個分の光強度による位相変調δとなり、第２の光子３が水平偏光の場合は偏光板６を透過しないため位相変調０となる。
【００２４】
次に図２に、第１の光子２が４５度偏光を透過する偏光板４を通った後で、第１測定器５において第１の光子２が測定される場合を示す。図２は偏光板４の角度が４５度であること以外は図１と同じ構成となっている。この場合、第１測定器５において第１の光子２が検出されると、第１の光子２と第２の光子３の偏光がともに４５度偏光に確定する。第１の光子２が検出されない場合は、第１の光子２と第２の光子３の偏光がともに−４５度偏光に確定する。これは、（式１）で表される上記エンタングル状態が、任意の角度の偏光状態とそれに直交する偏光状態の組み合わせを用いても同様に表すことが出来ることに起因している（例えば非特許文献１「工学系のための量子光学」、森北出版、第９章参照）。
【００２５】
そのため第２の光子３が偏光板６へ入射すると、５０％の確率（５０％の光強度）で透過する。図２中、偏光板６を通過した後の第２の光子３Ａは、偏光板６を通過する前の１／２の光強度となっている。そして、この偏光板６を通過した後の第２の光子３Ａがサニャック干渉計１８へ入射する。図１の場合と同様に参照光１６もサニャック干渉計１８へ入射する。
【００２６】
ここでも図１の場合と同様に第１の非線形光学材料１１の中で、参照光１６Ｖが第２の光子３Ａの光強度に比例した屈折率変化を受ける。しかし、この図２の場合では第２の光子３Ａの光強度は１光子の１／２の光強度であるため、屈折率変化による参照光１６Ｖの位相変調もδ／２となる。そして、サニャック干渉計１８を1周した参照光１６ＨＡと参照光１６ＶＡは偏光ビームスプリッター１０において合成されて信号光１７として出力される。
【００２７】
図１の場合において、サニャック干渉計１８から出力される信号光１７は｜Ｈ＞＋｜Ｖ＞または｜Ｈ＞＋ｅｘｐ（ｉδ）｜Ｖ＞で表される状態となる。これは上記のように、第２の光子３Ａの光強度に比例した屈折率変化による参照光１６Ｖの位相変調が０またはδであることによる。一方で図２の場合においては、サニャック干渉計１８から出力される信号光１７は｜Ｈ＞＋ｅｘｐ（ｉδ／２）｜Ｖ＞で表される状態となる。これは図２の場合においては、上記のように、第２の光子３Ａの光強度に比例した屈折率変化による参照光１６Ｖの位相変調がδ／２であることによる。この位相変調０またはδまたはδ／２は、非特許文献５に詳しく説明されているようにオプティカルブリッジテクニックと呼ばれる手法により、信号光１７の微少な偏光角度の違いとして検出できる。（非特許文献５、Ｎａｔｕｒｅ．Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ  ３，９５（２００９）参照）したがって信号光１７の位相変調量を検出することより、図１の場合（偏光板４が垂直）と図２の場合（偏光板４が４５度）を判別することができる。
【００２８】
ここで上記の構成を通信に用いる方法を説明する。受信者は、垂直偏光を透過する偏光板６と第１の非線形光学材料１１を用いたサニャック干渉計１８を準備する。上記サニャック干渉計１８には、光経路の一部に、上記第１の非線形光学材料１１が配置されている。
【００２９】
送信者と受信者は偏光方向がエンタングル状態にある２光子を準備する。そして、上記エンタングル状態の２光子のうち、第１の光子２を送信者に送付し、残りの第２の光子３を受信者へ送付する。
【００３０】
予め送信者と受信者間で決めておいた時刻１に、送信者は「１」を送信する場合は、垂直偏光を透過する偏光板４を通過させた後で第１の光子２の測定（光子の検出）を行う。また送信者は「０」を送信する場合は、４５度偏光を透過する偏光板４を通過させた後で第１の光子２の測定を行う。
【００３１】
次に受信者は時刻１よりも後の時刻２に、垂直偏光を透過する偏光板６を通過させた後で、第２の光子３Ａを上記サニャック干渉計１８に入力する。更に参照光１６を上記サニャック干渉計１８へ入射し、サニャック干渉計１８を互いに反対方向に伝播する２つの成分のうち一方を、第１の非線形光学材料１１において（非線形屈折率効果によって）第２の光子３Ａと相互作用させる。この参照光１６と第２の光子３Ａの（非線形屈折率効果による）相互作用の結果、サニャック干渉計１８から出力される信号光１７は位相変調を受ける。受信者は、上記信号光１７の位相変調量を測定して「信号光１７の位相変調量が０またはδの場合」には信号「１」と判別する。また受信者は、「信号光１７の位相変調量がδ／２の場合」には信号「０」と判別する。上記で説明したことから、この方法で第２の光子３の偏光状態を判別することが可能であることが分かる。
【００３２】
上記の方法では、送信者が第１の光子２の偏光状態を垂直方向で測定するか４５度方向で測定するかの２選択を通信に用いる。つまり、測定結果自体を送信に用いるわけではないため、エンタングル状態の測定結果自体はランダムであっても構わない。実際、送信者が第１の光子２の偏光状態を垂直方向で測定した場合には、測定結果は垂直偏光または水平偏光となる。また、送信者が第１の光子の偏光状態を４５度方向で測定した場合には、測定結果は±４５度偏光となる。このように測定結果自体はランダムである。しかし上記実施例１の方法によって受信者は、送信者が行った垂直方向または４５度方向の２選択を判別することができる。
【００３３】
また上記の方法では、第２の光子３Ａを非線形光学材料の中で参照光１６Ｖと相互作用させ、参照光１６Ｖに第２の光子３Ａの光強度に比例した位相変調を生じさせ、その位相変調量を測定することにより送信者の情報を判別することが本質的である。
【００３４】
測定によるエンタングル状態の波束の収縮（干渉性の消失）は極短い時間に瞬間的に起こるとされている。そのため時刻１と時刻２は送信者と受信者がどのような距離離れていても極短い時間に設定できる。したがって原理的に光速以上の信号伝達速度を達成しうる。
【００３５】
上記の実施例１では（式１）で表される偏光状態がエンタングルした（もつれた）２光子を用いたが、下記の（式２）または（式３）で表されるエンタングルした（もつれた）２光子を用いても良い。
【００３６】
【数２】
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（式２）のエンタングル状態は第１の光子２と第２の光子３の片方が垂直偏光、片方が水平偏光である２状態がエンタングルしたものになっている。（式３）は（式１）と第２項の符号のみが異なる（例えば非特許文献１「工学系のための量子光学」、森北出版、第９章参照）。（式２）または（式３）で表されるエンタングル状態でも、第１の光子２と第２の光子３が垂直偏光と水平偏光のどちらかであるか、または±４５度偏光のどちらかであるようにすることができる。これには上記実施例１と同様に、第１の光子２の偏光状態を垂直方向で測定するか４５度方向で測定するかの２選択を行えば良い。したがって、これらの場合にも上記実施例１と同じ通信方法を用いることが出来る。
【００３７】
また上記の実施例１では、図１と図２において第２の光子３Ａをサニャック干渉計１８に入射または取り出すために、偏光ビームスプリッター１４と偏光ビームスプリッター１５を用いた。第２の光子３Ａはポンプ光２３から第２の非線形光学材料２４でのパラメトリックダウンコンバージョンによって生成されるため、参照光１６とは周波数が異なる（第２の光子３Ａは参照光１６より周波数が小さい）。したがって上記の偏光ビームスプリッター１４、１５に代えて、参照光１６の周波数では光を透過し、第２の光子３Ａの周波数では光を反射する周波数依存をもつミラーを用いても良い。図１の場合に、偏光ビームスプリッター１４、１５に代えて、上記の周波数依存をもつミラーを用いた場合を図３に示した。
【００３８】
図３の中では、偏光ビームスプリッター１４、１５に代えて、周波数依存をもつミラー２５、２６が配置される。周波数依存をもつミラー２５、２６は第２の光子３Ａの周波数の光を反射するので、第２の光子３Ａをサニャック干渉計１８に入射または取り出すことが可能となる。一方で、周波数依存をもつミラー２５、２６は参照光１６の周波数の光は透過するため参照光１６の伝播には影響を与えない。この図３の例では偏光板６は水平偏光を透過する方向に設置される。したがってサニャック干渉計１８に入射する第２の光子３Ａは水平偏光となる。実施例１のようにサニャック干渉計１８のなかで第１の非線形光学材料１１を含む区間では参照光１６Ｖは水平偏光となっており、図３の場合では参照光１６Ｖは第１の非線形光学材料１１のなかで同じ水平偏光の第２の光子３Ａと相互作用する。非線形屈折率効果による非線形光学材料中の（光強度に比例した）屈折率変化は、２つの光が同じ偏光方向である場合のほうが、直交する偏光方向である場合よりも（２倍）屈折率変化が大きい。したがって図３の場合では図１の場合より大きな信号光１７の位相変調が生じるため、信号光１７の位相変調量の計測が容易になる。
【００３９】
上記の実施例１では、信号光１７の位相変調量が０またはδの場合（図１の場合）と、信号光１７の位相変調量がδ／２の場合（図２の場合）とをオプティカルブリッジテクニックによる測定で判別した。このオプティカルブリッジテクニックでは信号光１７を偏光ビームスプリッターで２分岐して、それぞれをフォトダイオードで光電流へ変換して差分を取ることで、信号光１７の位相変調量を検出している（非特許文献５、Ｎａｔｕｒｅ．Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ  ３，９５（２００９）参照）。したがって偏光ビームスプリッターの角度調整または電気回路上の処理により、信号光１７の位相変調量がδ／２の場合に生じる光電流差分が０となるように０点補正（オフセット補正）を行い、信号光１７の位相変調量がδまたは０のときに光電流差分が±αδとなるように設定することも可能である。このように設定した上で更に光電流差分を全波整流すると最終的な電気的出力は、信号光１７の位相変調量がδ／２の場合には出力０で、信号光１７の位相変調量がδまたは０のときには出力αδとなるように設定できる。
【００４０】
このように設定された場合には、上記実施例１の（第２の光子３Ａの）測定を連続して複数回測定し、出力値を積分することが可能となる。これにより微少な位相変調量の測定精度を向上させることもできる。
【符号の説明】
【００４１】
１  レーザー光源
２  第１の光子
３  第２の光子
３Ａ  偏光板６を通過した後の第２の光子
４  偏光板
５  第１測定器
６  偏光板
７  ミラー
８  ミラー
９  ミラー
１０  偏光ビームスプリッター
１１  第１の非線形光学材料
１２  ファラデーユニット
１３  ファラデーユニット
１４  偏光ビームスプリッター
１５  偏光ビームスプリッター
１６  参照光
１７  信号光
１８  サニャック干渉計
２１  レーザー光
２２  ビームスプリッター
２３  ポンプ光
２４  第２の非線形光学材料
２５  周波数依存のあるミラー
２６  周波数依存のあるミラー
【図１】
2011223149.tif 000005
【図２】
2011223149.tif 000006
【図３】
2011223149.tif 000007