(57)【要約】【課題】低コストかつ、目的の端子に確実に接触でき、隣接する端子と接触を防止することができる電気信号測定用プローブを提供する。【解決手段】電気信号測定用プローブ１のプローブヘッド４の先端部に絶縁体で平板状に形成されプローブヘッド４から突出量ｌだけ突出したガイド部材５が設けられている。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性を有するとともに、被計測端子と接触して電気信号を検出する棒状のプローブヘッドを備えた電気信号計測用プローブにおいて、
前記プローブヘッドに、絶縁体で平板状に形成されたガイド部材が前記プローブヘッドと平行かつ該プローブヘッドの先端よりも突出して設けられていることを特徴とする電気信号測定用プローブ。
【請求項２】
前記ガイド部材の前記プローブヘッド先端からの突出量が、前記被計測端子の厚さ以上かつ前記被計測端子の基板からの高さ以下であることを特徴とする請求項１に記載の電気信号測定用プローブ。
【請求項３】
前記ガイド部材の厚さが、前記被計測端子と隣接する端子との間隔よりも小さくなっていることを特徴とする請求項１または２に記載の電気信号測定用プローブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子回路などにおける電気信号の測定に用いられる電気信号測定用プローブに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年電子回路を構成するＩＣ（Integrated Circuit）などの電子部品は、回路数の増大と部品の小型化により細かい端子が高密度で並ぶようになったため、それらの端子の電気信号を測定するために目視により電気信号測定用プローブを接触させることは隣接する端子に触れた場合にショートによる部品の破壊に繋がる可能性がある。そのため、測定を慎重に行う必要があるため測定時間がかかってしまうという問題があった。
【０００３】
また、測定点を別に設けることも考えられるが、その場合、余分なスペースが必要となり設計の手間が増え、さらに被計測端子から離れた場所で電気信号を補足するために実際に被計測端子から入出力する電気信号とは異なってしまう可能性がある。
【０００４】
このような問題に対して、特許文献１ないし３に記載されたプローブ等が提案されている。特許文献１に記載されたテスタープローブは、先端部に凹部を形成している。特許文献２に記載された計測用プローブは、導電性を有するとともに被計測端子と係合可能な先端部と先端部を覆うとともに先端部よりも前方に突出した絶縁性外筒部とを備えている。特許文献３に記載された照準付きプローブは、プローブヘッドの針と平行に不導体のバネ付きガイド棒が設けられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−５９５６号公報
【特許文献２】特開２００１−３３４８１号公報
【特許文献３】特開平５−１９６６３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に記載されたテスタープローブでは、プローブの先端部と被計測端子との接触が安定するだけであり、隣接する端子とのショートを防止することはできないという問題がある。
【０００７】
特許文献２に記載された計測用プローブでは、プローブの先端部がクリップ形状となっており素子や端子に合わせて先端部を取り替える必要がある。また、絶縁性外筒部が先端部の周囲にあるため、素子や端子が微小な場合に先端部の製造コストがかかってしまうという問題がある。
【０００８】
特許文献３に記載された照準付きプローブでは、ガイド棒にバネがあることにより必要以上の力でプローブを押し付けて被計測端子やプローブ自体を損傷する可能性がある。また、バネがあることにより製造コストがかかってしまうという問題がある。
【０００９】
そこで、本発明は、低コストかつ、目的の端子に確実に接触でき、隣接する端子と接触を防止することができる電気信号測定用プローブを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するためになされた請求項１に記載の発明は、導電性を有するとともに、被計測端子と接触して電気信号を検出する棒状のプローブヘッドを備えた電気信号計測用プローブにおいて、前記プローブヘッドに、絶縁体で平板状に形成されたガイド部材が前記プローブヘッドと平行かつ該プローブヘッドの先端よりも突出して設けられていることを特徴とする電気信号測定用プローブである。
【００１１】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記ガイド部材の前記プローブヘッド先端からの突出量が、前記被計測端子の厚さ以上かつ前記被計測端子の基板からの高さ以下であることを特徴とするものである。
【００１２】
請求項３に記載の発明は、請求項１または２に記載の発明において、前記ガイド部材の厚さが、前記被計測端子と隣接する端子との間隔よりも小さくなっていることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１３】
以上説明したように請求項１に記載の発明によれば、プローブヘッドに、絶縁体で平板状に形成されプローブヘッドの先端から突出したガイド部材が設けられているので、ガイド部材が端子間に入り込み端子の側面とも平面で接触して目的の端子に確実に接触でき、隣接する端子との接触を防止することができる。また、形状が単純なため低コストにガイド部材を製造することができる。
【００１４】
請求項２に記載の発明によれば、ガイド部材のプローブヘッドからの突出量が、被計測端子の厚さ以上かつ被計測端子の基板からの高さ以下であるので、プローブヘッドを目的の端子に確実にガイドして隣接する端子とのショートを防ぎつつ正確に端子に触れることができる。
【００１５】
請求項３に記載の発明によれば、ガイド部材の厚さが被計測端子と隣接する端子との間隔よりも小さくなっているので、ガイド部材が端子間に入り込みプローブヘッドを確実にガイドできる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態にかかる電気信号計測用プローブの全体図である。
【図２】図１に示された電気信号計測用プローブの先端部分の拡大図である。
【図３】図１に示された電気信号計測用プローブとＩＣの端子との接触状態を示した斜視図である。
【図４】図１に示された電気信号計測用プローブとＩＣの端子との接触状態を示した側面図である。
【図５】図１に示された電気信号計測用プローブとＩＣの端子との接触状態を示した正面図である。
【図６】本発明の他の実施形態にかかる電気信号計測用プローブの先端部分の拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
次に、本発明の一実施形態を図１ないし図５を参照して説明する。本発明の一実施形態にかかる電気信号測定用プローブ１は、図１に示したように胴体部２と、ケーブル３と、プローブヘッド４と、を備えている。
【００１８】
胴体部２は、例えば絶縁性の樹脂などで略筒状に形成され、一方の端部にプローブヘッド４が取り付けられ、他方の端部にケーブル３が取り付けられている。
【００１９】
ケーブル３は、一方の端部がプローブヘッド４と胴体部２内で電気的に接続され、他方の端部が図示しない測定機器等に接続されている。そして、プローブヘッド４が検出した電気信号を測定機器等に伝達している。
【００２０】
プローブヘッド４は、導電性の金属等で棒状かつ先端部分が鋭利な円錐形状（針状）となっており、その先端部の側面に絶縁性の樹脂等で略平板状に形成されプローブヘッド４と平行に取り付けられ、かつ、プローブヘッド４の先端よりも突出したガイド部材５を備えている。
【００２１】
図２にプローブヘッド４先端部分の拡大図を示す。ガイド部材５は、図２に示したようにプローブヘッド４の円錐形状の根元近傍の側面に接着剤等で取り付けられ、プローブヘッド４の先端よりも長さｌだけ突出するような長さの平板状に形成されている。また、ガイド部材５は、絶縁性に富み、加工しやすい材料であるＰＢＴ（ポリブチレンテレフタレート）やＰＰ（ポリプレピレン）などを用いるとよい。
【００２２】
このようにすることによって、図３に示したようにＩＣの端子間にガイド部材５が入り込むため、プローブヘッド４を目的の端子に接触できるようにガイドすることができる。図３は、ＩＣパッケージの側面に設けられた端子６１、６２、６３と並んでいる場合に、端子６２と接触させる際にはガイド部材５が端子６１と端子６２との間に入り込んでガイドするため、プローブヘッド４が端子６１、６２間や端子６２、６３間に入り込んで両端子間をショートすることを防止できることを示している。
【００２３】
また、ガイド部材５は、図４や図５に示したような条件を満たしている。つまり、端子の基板からの高さをｈ、端子の厚さをΔｓ、とすると、ガイド部材５のプローブヘッド４先端からの突出量（プローブヘッド４先端からガイド部材５先端までの長さ）ｌは、端子の厚さΔｓ以上かつ端子の基板からの高さｈ以下とする。また、ガイド部材５の厚さｄは、端子間の距離Ｄ未満とする。
【００２４】
また、ガイド部材５のプローブヘッド４先端からの突出量ｌを端子の基板からの高さｈと同じとした場合は、ガイド部材５の先端が基板に触れると同時にプローブヘッド４の先端も端子に触れることとなり端子への接触が安定するためより好ましい。
【００２５】
本実施形態によれば、電気信号測定用プローブ１のプローブヘッド４の先端部に絶縁体で平板状に形成されプローブヘッド４から突出量ｌだけ突出したガイド部材５が設けられているので、ガイド部材５が端子間に入り込み端子の側面とも平面で接触して目的の端子に確実に接触でき、隣接する端子と接触を防止して、検査時間も短縮できる。また、ガイド部材５は単純な形状なため低コストに製造することができる。
【００２６】
また、ガイド部材５の厚さｄが端子の間隔Ｄよりも小さくなっているので、確実に端子間に入り込みプローブヘッド４を確実にガイドできる。
【００２７】
また、細かい端子が高密度に並んだＩＣに対して電気信号測定用プローブ１を制御する検査装置などを用いなくとも目視で目的の端子に確実に接触させることができることから容易に電気信号を補足でき電気信号評価の精度が向上するとともに検査コストを削減できる。さらに、ＩＣの端子から直接電気信号を補足するので、測定点用に余分なスペースを設ける必要が無く測定点を設計する手間が削減でき、高密度実装が可能になって基板の小型化が可能となる。
【００２８】
また、ＩＣのパッケージによりリードピッチが決められているので、ガイド部材５のプローブヘッド４先端からの突出量ｌを調節することにより多種のＩＣに対応することができる。
【００２９】
なお、上述した実施形態では、ガイド部材５がガイドする端子とプローブヘッド４が接触する端子が同一であったが、端子が微細な場合は、図６に示したように、プローブヘッド４とガイド部材５との間隔Ｗを調整することによって１つ離れた端子をショートすることなく接触させることができる。
【００３０】
また、上述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施の形態に限定されるものではない。すなわち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
【符号の説明】
【００３１】
１     電気信号測定用プローブ
２     胴体部
３     ケーブル
４     プローブヘッド
５     ガイド部材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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