(57)【要約】【課題】製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、作込工程毎に評価することが可能なプログラムを得る。【解決手段】プログラム１０は、一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価するためのプログラムであって、処理部３を、前記一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する取得部２１と、前記特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する算出部２２と、として機能させる。【選択図】図２
2011248823.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価するためのプログラムであって、
コンピュータを、
前記一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する取得手段と、
前記特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する算出手段と、
として機能させるためのプログラム。
【請求項２】
前記特定の作込工程は複数であり、
前記取得手段は、複数の前記特定の作込工程の各々について、前記欠陥発生確率分布を取得し、
前記算出手段は、前記取得手段が取得した複数の前記欠陥発生確率分布に基づいて、複数の前記特定の作込工程の各々における前記目標達成確率、及び、前記開発プロジェクトにおける目標達成確率を算出する、請求項１に記載のプログラム。
【請求項３】
前記算出手段は、畳み込み演算によって、複数の前記欠陥発生確率分布に基づいて前記開発プロジェクトにおける前記目標達成確率を算出する、請求項２に記載のプログラム。
【請求項４】
前記取得手段は、前記特定の作込工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布を、大数の法則を用いて当該特定の作込工程の計画規模に応じて拡張することにより、当該特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布を取得する、請求項１〜３のいずれか一つに記載のプログラム。
【請求項５】
一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価する評価装置であって、
前記一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する取得手段と、
前記特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する算出手段と、
を備える、評価装置。
【請求項６】
一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価する評価システムであって、
前記一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する取得手段と、
前記特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する算出手段と、
を備える、評価システム。
【請求項７】
一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価する評価方法であって、
（Ａ）前記一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得するステップと、
（Ｂ）前記特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出するステップと、
を備える、評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ソフトウェア等の製品の開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価するためのプログラム、評価装置、評価システム、及び評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、ソフトウェアの開発プロジェクトにおいては、要件定義工程、基本設計工程、詳細設計工程、及びプログラム作成工程等の複数の製造工程が順に実行されることによって、ソフトウェアの開発が進められる。また、バグ等の欠陥を含む製品が出荷されることを未然に防止して出荷時の製品の品質を保証すべく、単体テスト工程及び結合テスト工程等のテスト工程が実行される。
【０００３】
下記特許文献１には、評価対象のソフトウェアに対してテスト工程を繰り返し実行することによって、ソフトウェアの品質を評価する品質評価方法が開示されている。当該品質評価方法では、各テスト工程においてバグを摘出する目標件数が、テスト回数が増えるに従って指数的に減少するように設定され、メモリに格納される。また、各テスト工程において実際に摘出されたバグの件数が、実績件数としてメモリに格納される。その後、メモリに格納された目標件数と実績件数との比較結果に基づいて、各テスト工程の実績評価が行われる。また、バグ摘出の実績件数と、テスト回数が増えるに従って小さい値に設定された品質推移評価算出係数との積として、各テスト工程の推移評価値が算出される。そして、各テスト工程間での推移評価値の推移状況に基づいて、ソフトウェアの品質評価が行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特公平６−２８０４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記特許文献１に開示された品質評価方法によると、最終製品としてのソフトウェアの品質評価を行うことはできるが、ソフトウェアに含まれる欠陥が複数の製造工程のどの工程で作り込まれたものかを特定できない。従って、製造工程毎の品質管理を行うことができないため、大量の欠陥を流出する製造工程に改善を促す等の措置をとることができないという問題がある。
【０００６】
本発明はかかる問題を解決するために成されたものであり、一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、作込工程毎に評価することが可能な、プログラム、評価装置、評価システム、及び評価方法を得ることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の第１の態様に係るプログラムは、一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価するためのプログラムであって、コンピュータを、前記一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する取得手段と、前記特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する算出手段と、として機能させることを特徴とするものである。
【０００８】
ここで、「欠陥」には、バグ等のソフトウェア上の不具合のみならず、レビューで指摘される問題点等、ソフトウェア開発の一連の工程で作り込まれる欠陥全般が含まれる。
【０００９】
第１の態様に係るプログラムによれば、取得手段は、一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する。また、算出手段は、特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する。このように、特定の作込工程に関して欠陥の目標残存数を設定し、当該目標残存数を達成できる確率である目標達成確率を計画検出数又は実績検出数に基づいて算出することにより、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、作込工程毎に評価することが可能となる。従って、計画検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程に関する計画検出数を見直す等の措置をとることができる。また、実績検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程内で追加の欠陥検出を行う等の措置をとることができる。その結果、特定の作込工程から目標を大幅に上回る欠陥が流出するという事態を抑制できるため、製品の品質を向上することが可能となる。
【００１０】
本発明の第２の態様に係るプログラムは、第１の態様に係るプログラムにおいて特に、前記特定の作込工程は複数であり、前記取得手段は、複数の前記特定の作込工程の各々について、前記欠陥発生確率分布を取得し、前記算出手段は、前記取得手段が取得した複数の前記欠陥発生確率分布に基づいて、複数の前記特定の作込工程の各々における前記目標達成確率、及び、前記開発プロジェクトにおける目標達成確率を算出することを特徴とするものである。
【００１１】
第２の態様に係るプログラムによれば、特定の作込工程が複数である場合に、算出手段は、取得手段が取得した複数の欠陥発生確率分布に基づいて、複数の特定の作込工程の各々における目標達成確率、及び、開発プロジェクトにおける目標達成確率を算出する。従って、個々の作込工程のみならず、開発プロジェクト全体に関しても、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価することが可能となる。
【００１２】
本発明の第３の態様に係るプログラムは、第２の態様に係るプログラムにおいて特に、前記算出手段は、畳み込み演算によって、複数の前記欠陥発生確率分布に基づいて前記開発プロジェクトにおける前記目標達成確率を算出することを特徴とするものである。
【００１３】
第３の態様に係るプログラムによれば、算出手段は、畳み込み演算によって、複数の欠陥発生確率分布に基づいて開発プロジェクトにおける目標達成確率を算出する。これにより、開発プロジェクト全体における目標達成確率を、複数の欠陥発生確率分布に基づいて正確に算出することが可能となる。その結果、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、正確に評価することが可能となる。
【００１４】
本発明の第４の態様に係るプログラムは、第１〜第３のいずれか一つの態様に係るプログラムにおいて特に、前記取得手段は、前記特定の作込工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布を、大数の法則を用いて当該特定の作込工程の計画規模に応じて拡張することにより、当該特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布を取得することを特徴とするものである。
【００１５】
第４の態様に係るプログラムによれば、取得手段は、特定の作込工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布を、大数の法則を用いて当該特定の作込工程の計画規模に応じて拡張することにより、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する。大数の法則を用いることにより、特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を、単位規模あたりの欠陥発生確率分布を高精度に反映して取得することができる。
【００１６】
本発明の第５の態様に係る評価装置は、一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価する評価装置であって、前記一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する取得手段と、前記特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する算出手段と、を備えることを特徴とするものである。
【００１７】
ここで、「欠陥」には、バグ等のソフトウェア上の不具合のみならず、レビューで指摘される問題点等、ソフトウェア開発の一連の工程で作り込まれる欠陥全般が含まれる。
【００１８】
第５の態様に係る評価装置によれば、取得手段は、一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する。また、算出手段は、特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する。このように、特定の作込工程に関して欠陥の目標残存数を設定し、当該目標残存数を達成できる確率である目標達成確率を計画検出数又は実績検出数に基づいて算出することにより、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、作込工程毎に評価することが可能となる。従って、計画検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程に関する計画検出数を見直す等の措置をとることができる。また、実績検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程内で追加の欠陥検出を行う等の措置をとることができる。その結果、特定の作込工程から目標を大幅に上回る欠陥が流出するという事態を抑制できるため、製品の品質を向上することが可能となる。
【００１９】
本発明の第６の態様に係る評価システムは、一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価する評価システムであって、前記一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する取得手段と、前記特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する算出手段と、を備えることを特徴とするものである。
【００２０】
ここで、「欠陥」には、バグ等のソフトウェア上の不具合のみならず、レビューで指摘される問題点等、ソフトウェア開発の一連の工程で作り込まれる欠陥全般が含まれる。
【００２１】
第６の態様に係る評価システムによれば、取得手段は、一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する。また、算出手段は、特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する。このように、特定の作込工程に関して欠陥の目標残存数を設定し、当該目標残存数を達成できる確率である目標達成確率を計画検出数又は実績検出数に基づいて算出することにより、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、作込工程毎に評価することが可能となる。従って、計画検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程に関する計画検出数を見直す等の措置をとることができる。また、実績検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程内で追加の欠陥検出を行う等の措置をとることができる。その結果、特定の作込工程から目標を大幅に上回る欠陥が流出するという事態を抑制できるため、製品の品質を向上することが可能となる。
【００２２】
本発明の第７の態様に係る評価方法は、一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトにおいて、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価する評価方法であって、（Ａ）前記一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得するステップと、（Ｂ）前記特定の作込工程に関する前記欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出するステップと、を備えることを特徴とするものである。
【００２３】
ここで、「欠陥」には、バグ等のソフトウェア上の不具合のみならず、レビューで指摘される問題点等、ソフトウェア開発の一連の工程で作り込まれる欠陥全般が含まれる。
【００２４】
第７の態様に係る評価方法によれば、ステップ（Ａ）では、一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布が取得される。また、ステップ（Ｂ）では、特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率が算出される。このように、特定の作込工程に関して欠陥の目標残存数を設定し、当該目標残存数を達成できる確率である目標達成確率を計画検出数又は実績検出数に基づいて算出することにより、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、作込工程毎に評価することが可能となる。従って、計画検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程に関する計画検出数を見直す等の措置をとることができる。また、実績検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程内で追加の欠陥検出を行う等の措置をとることができる。その結果、特定の作込工程から目標を大幅に上回る欠陥が流出するという事態を抑制できるため、製品の品質を向上することが可能となる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、作込工程毎に評価することが可能な、プログラム、評価装置、評価システム、及び評価方法を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の実施の形態に係る評価装置の構成を示すブロック図である。
【図２】プログラムを実行することによって処理部に実現される機能を示すブロック図である。
【図３】プログラムを実行することによって処理部に実現される機能を示すブロック図である。
【図４】単位規模あたりの欠陥発生確率分布の一例を示す図である。
【図５】ソフトウェア設計工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。
【図６】ソフトウェア開発工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。
【図７】ソフトウェア設計工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。
【図８】ソフトウェア開発工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。
【図９】畳み込み演算の擬似コードを示す図である。
【図１０】ソフトウェア設計工程に関する出来高規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。
【図１１】ソフトウェア開発工程に関する出来高規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。
【図１２】表示部に表示される情報の一例を示す図である。
【図１３】製品開発プロジェクトを遂行する上で必要となるコストの確率分布の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、異なる図面において同一の符号を付した要素は、同一又は相応する要素を示すものとする。
【００２８】
以下の例では説明の簡単化のため、ソフトウェア開発プロジェクトのうちソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の二つの製造工程と、開発プロジェクト全体とに関して、ソフトウェアの品質管理（欠陥管理）を行う例について説明する。この例の場合、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各々は欠陥の作込工程となり、各工程で作り込まれた欠陥は、自工程内での欠陥検出、及び、後の複数の欠陥検出工程（製造工程、テスト工程、テスト運用、及び本番運用等）において検出される。なお、作込工程は必ずしも複数である必要はなく、一以上であればよい。つまり、本発明は、一以上の作込工程と複数の欠陥検出工程とを備える製品開発プロジェクトを適用対象とする。また、ソフトウェア開発プロジェクトに含まれる全ての製造工程を作込工程として管理する必要はなく、例えば、欠陥の流出数が多い特定の一以上の製造工程を限定して、当該製造工程を作込工程として管理してもよい。また、「欠陥」には、バグ等のソフトウェア上の不具合のみならず、レビューで指摘される問題点等、ソフトウェア開発の一連の工程で作り込まれる欠陥全般が含まれる。
【００２９】
図１は、本発明の実施の形態に係る評価装置１の構成を示すブロック図である。図１の接続関係で示すように、評価装置１は、入力部２、ＣＰＵ等の処理部３、出力部４、液晶表示装置等の表示部５、及び半導体メモリ等の記憶部６を備えて構成されている。記憶部６には、処理部３を動作させるためのプログラム１０が格納されている。なお、図１では評価装置１が１台のコンピュータを用いて構成されている例を示したが、評価装置１は、複数台のコンピュータを用いた評価システムとして構成されていてもよい。例えば、後述する取得部２１及び算出部２２としての機能が、別々のコンピュータに搭載されていてもよい。
【００３０】
図２，３は、プログラム１０を実行することによって処理部３に実現される機能を示すブロック図である。図２，３に示すように、処理部３は、取得部２１（取得手段）及び算出部２２（算出手段）として機能する。換言すれば、プログラム１０は、評価装置１としてのコンピュータを、取得部２１及び算出部２２として機能させるためのプログラムである。
【００３１】
図４は、単位規模あたりの欠陥発生確率分布の一例を示す図である。この欠陥発生確率分布は、ある作込工程で作り込まれる単位規模あたりの欠陥数の確率分布を、過去の実績に基づいて予め作成したものである。単位規模は、例えば、仕様書であれば文字数又は行数等（例えば「１，０００行」）によって規定され、プログラムであればステートメント数等（例えば「１，０００Ｓｔｅｐｓ」）によって規定される。本実施の形態の例では、管理対象であるソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各々について、図４に示した欠陥発生確率分布が予め作成され、例えば図１に示した記憶部６に記憶される。
【００３２】
以下、本実施の形態に係る評価装置１の動作について説明する。
【００３３】
まず、ソフトウェア開発プロジェクトの計画段階での処理について説明する。
【００３４】
ソフトウェア開発プロジェクトの計画段階では、まず、製品としてのソフトウェアに含まれていることを許容する欠陥の残存数（目標残存数）が設定される。そして、開発プロジェクト全体の目標残存数が、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各々に割り振られる。以下の例では、開発プロジェクト全体の目標残存数が「４件以下」に設定され、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する目標残存数がいずれも「２件以下」に設定されたものとする。
【００３５】
図２を参照して、取得部２１には、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布が、それぞれデータＤ１Ａ，Ｄ１Ｂとして記憶部６から入力される。また、取得部２１には、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する計画規模が、それぞれデータＤ２Ａ，Ｄ２Ｂとして入力部２から入力される。ソフトウェア設計工程に関する計画規模は、仕様書の文字数又は行数等によって規定され、以下の例では「１１，３１７行」に設定されたものとする。また、ソフトウェア開発工程に関する計画規模は、プログラムのステートメント数等によって規定され、以下の例では「７，２８９Ｓｔｅｐｓ」に設定されたものとする。
【００３６】
取得部２１は、データＤ１Ａで与えられるソフトウェア設計工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布を、データＤ２Ａで与えられるソフトウェア設計工程に関する計画規模に応じて拡張することにより、ソフトウェア設計工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布を取得する。同様に、取得部２１は、データＤ１Ｂで与えられるソフトウェア開発工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布を、データＤ２Ｂで与えられるソフトウェア開発工程に関する計画規模に応じて拡張することにより、ソフトウェア開発工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布を取得する。ここで、確率分布の拡張にあたっては、大数の法則を用いることが望ましい。大数の法則を用いることにより、計画規模相当の欠陥発生確率分布を、単位規模あたりの欠陥発生確率分布を高精度に反映して取得することができる。取得部２１によって取得された、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布は、それぞれデータＤ３Ａ，Ｄ３Ｂとして算出部２２に入力される。ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布の一例を、それぞれ図５及び図６に示す。
【００３７】
算出部２２には、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する計画規模が、それぞれデータＤ２Ａ，Ｄ２Ｂとして入力部２から入力される。また、算出部２２には、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する目標残存数（この例ではいずれも「２件」）が、それぞれデータＤ４Ａ，Ｄ４Ｂとして入力部２から入力される。また、算出部２２には、その工程から流出する欠陥数を当該工程に設定された目標残存数以下に抑えるという目標をどの程度の確率で達成したいか、その確率を示す希望達成確率が入力される。以下の例では、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関して、いずれも「７５％」の希望達成確率が設定されたものとする。ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関して設定された希望達成確率は、それぞれデータＤ５Ａ，Ｄ５Ｂとして入力部２から入力される。
【００３８】
算出部２２は、データＤ２Ａで与えられる計画規模、データＤ４Ａで与えられる目標残存数、及びデータＤ５Ａで与えられる希望達成確率に基づき、ソフトウェア設計工程から流出する欠陥数を目標残存数以下に抑えるという目標を希望達成確率で達成するために必要な、ソフトウェア設計工程内で検出すべき欠陥数を示す必要検出数を算出する。同様に、算出部２２は、データＤ２Ｂで与えられる計画規模、データＤ４Ｂで与えられる目標残存数、及びデータＤ５Ｂで与えられる希望達成確率に基づき、ソフトウェア開発工程から流出する欠陥数を目標残存数以下に抑えるという目標を希望達成確率で達成するために必要な、ソフトウェア開発工程内で検出すべき欠陥数を示す必要検出数を算出する。ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する必要検出数は、それぞれデータＤ６Ａ，Ｄ６Ｂとして算出部２２から出力され、出力部４を介して表示部５に表示される。
【００３９】
また、算出部２２には、必要検出数に基づいて任意に設定された、その工程内での検出を予定する欠陥数を示す計画検出数が入力される。ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関して設定された計画検出数は、それぞれデータＤ７Ａ，Ｄ７Ｂとして入力部２から入力される。以下の例では、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する計画検出数は、それぞれ「１１７件」及び「７９件」に設定されたものとする。
【００４０】
算出部２２は、データＤ３Ａ，Ｄ３Ｂで与えられる計画規模相当の欠陥発生確率分布と、データＤ４Ａ，Ｄ４Ｂで与えられる目標残存数と、データＤ７Ａ，Ｄ７Ｂで与えられる計画検出数とに基づいて、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関して、計画検出数の欠陥をその工程で検出した場合に、その工程から流出する欠陥数を目標残存数以下に抑えるという目標をどの程度の確率で達成できるか、その確率を示す目標達成確率を算出する。
【００４１】
図７は、ソフトウェア設計工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。ソフトウェア設計工程に関しては、計画検出数が「１１７件」に設定され、目標残存数が「２件以下」に設定されている。従って、算出部２２は、欠陥数が「１２０件」以上となる領域（図中ハッチングを付した領域）の合計確率を、当該領域内における各欠陥数に対する確率の値の総和として算出し、その合計確率を「１」から減算することによって得られる確率として、ソフトウェア設計工程に関する目標達成確率を算出する。
【００４２】
図８は、ソフトウェア開発工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。ソフトウェア開発工程に関しては、計画検出数が「７９件」に設定され、目標残存数が「２件以下」に設定されている。従って、算出部２２は、欠陥数が「８２件」以上となる領域（図中ハッチングを付した領域）の合計確率を、当該領域内における各欠陥数に対する確率の値の総和として算出し、その合計確率を「１」から減算することによって得られる確率として、ソフトウェア開発工程に関する目標達成確率を算出する。
【００４３】
ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する目標達成確率は、それぞれデータＤ８Ａ，Ｄ８Ｂとして算出部２２から出力され、出力部４を介して表示部５に表示される。
【００４４】
また、算出部２２は、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する計画規模相当の欠陥発生確率分布に基づいて、ソフトウェア開発プロジェクト全体に関する目標達成確率を算出する。一般化して、管理対象の工程が、工程１から工程ｎまでのｎ個存在するものとする。算出部２２は、工程１から工程ｎまで通した残存欠陥数が全工程に関する目標残存数より小さくなる確率を、畳み込み演算によって算出する。残存欠陥数が目標残存数より大きくなる確率をＵとし、工程ｉにおける欠陥数ｘに対する確率をｆｉ（ｘ）とすると、畳み込み演算の擬似コードは図９で表される。そして、求めた確率Ｕを「１」から減算することによって得られる確率として、ソフトウェア開発プロジェクト全体に関する目標達成確率を算出する。ソフトウェア開発プロジェクト全体に関する目標達成確率は、データＤ９として算出部２２から出力され、出力部４を介して表示部５に表示される。
【００４５】
さて次に、ソフトウェア開発プロジェクトの実行段階での処理について説明する。
【００４６】
図３を参照して、取得部２１には、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布が、それぞれデータＤ１Ａ，Ｄ１Ｂとして記憶部６から入力される。また、取得部２１には、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する出来高規模が、それぞれデータＤ１０Ａ，Ｄ１０Ｂとして入力部２から入力される。ソフトウェア設計工程に関する出来高規模は、文字数又は行数等によって表され、以下の例では、計画規模に等しい「１１，３１７行」（進捗率１００％）であるものとする。また、ソフトウェア開発工程に関する出来高規模は、プログラムのステートメント数等によって表され、以下の例では、計画規模に等しい「７，２８９Ｓｔｅｐｓ」（進捗率１００％）であるものとする。
【００４７】
取得部２１は、データＤ１Ａで与えられるソフトウェア設計工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布を、データＤ１０Ａで与えられるソフトウェア設計工程に関する出来高規模に応じて拡張することにより、ソフトウェア設計工程に関する出来高規模相当の欠陥発生確率分布を取得する。同様に、取得部２１は、データＤ１Ｂで与えられるソフトウェア開発工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布を、データＤ１０Ｂで与えられるソフトウェア開発工程に関する出来高規模に応じて拡張することにより、ソフトウェア開発工程に関する出来高規模相当の欠陥発生確率分布を取得する。ここで、計画段階と同様に、大数の法則を用いて確率分布が拡張される。取得部２１によって取得された、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する出来高規模相当の欠陥発生確率分布は、それぞれデータＤ１１Ａ，Ｄ１１Ｂとして算出部２２に入力される。
【００４８】
算出部２２には、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する目標残存数（この例ではいずれも「２件」）が、それぞれデータＤ４Ａ，Ｄ４Ｂとして入力部２から入力される。また、算出部２２には、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程で実際に検出された欠陥数を示す実績検出数が、それぞれデータＤ１２Ａ，Ｄ１２Ｂとして入力部２から入力される。以下の例では、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する実績検出数は、それぞれ「１９９件」及び「１１０件」であったものとする。
【００４９】
算出部２２は、データＤ１１Ａ，Ｄ１１Ｂで与えられる出来高規模相当の欠陥発生確率分布と、データＤ４Ａ，Ｄ４Ｂで与えられる目標残存数と、データＤ１２Ａ，Ｄ１２Ｂで与えられる実績検出数とに基づいて、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関して、その工程から流出する欠陥数を目標残存数以下に抑えるという目標がどの程度の確率で達成されているか、その確率を示す目標達成確率を算出する。
【００５０】
図１０は、ソフトウェア設計工程に関する出来高規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。横軸は残存欠陥数である。ソフトウェア設計工程に関する実績検出数は「１９９件」であるため、計画規模相当の欠陥発生確率分布における横軸「１９９」の位置が、出来高規模相当の欠陥発生確率分布における横軸「０」の位置となっている。また、ソフトウェア設計工程に関しては、目標残存数が「２件以下」に設定されている。従って、算出部２２は、残存欠陥数が「３件」以上となる領域（図中ハッチングを付した領域）の合計確率を、当該領域内における各欠陥数に対する確率の値の総和として算出し、その合計確率を「１」から減算することによって得られる確率として、ソフトウェア設計工程に関する目標達成確率を算出する。
【００５１】
図１１は、ソフトウェア開発工程に関する出来高規模相当の欠陥発生確率分布の一例を示す図である。横軸は残存欠陥数である。ソフトウェア開発工程に関する実績検出数は「１１０件」であるため、計画規模相当の欠陥発生確率分布における横軸「１１０」の位置が、出来高規模相当の欠陥発生確率分布における横軸「０」の位置となっている。また、ソフトウェア開発工程に関しては、目標残存数が「２件以下」に設定されている。従って、算出部２２は、残存欠陥数が「３件」以上となる領域（図中ハッチングを付した領域）の合計確率を、当該領域内における各欠陥数に対する確率の値の総和として算出し、その合計確率を「１」から減算することによって得られる確率として、ソフトウェア開発工程に関する目標達成確率を算出する。
【００５２】
また、算出部２２は、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各工程に関する出来高規模相当の欠陥発生確率分布に基づいて、ソフトウェア開発プロジェクト全体に関する目標達成確率を算出する。計画段階と同様に、算出部２２は、畳み込み演算を行うことによって、ソフトウェア開発プロジェクト全体に関する目標達成確率を算出する。ソフトウェア開発プロジェクト全体に関する目標達成確率は、データＤ１４として算出部２２から出力され、出力部４を介して表示部５に表示される。
【００５３】
図１２は、表示部５に表示される情報の一例を示す図である。ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各々に関して、計画段階での計画規模、希望達成確率、必要検出数、及び計画検出数の各値が表示され、また、実行段階での出来高規模、進捗率、及び実績検出数の各値が表示されている。また、ソフトウェア設計工程及びソフトウェア開発工程の各々に関して、目標残存数、計画段階での目標達成確率、及び実行段階での目標達成確率の各値が表示されている。この例では、ソフトウェア設計工程に関しては、計画段階での目標達成確率は「４５．４％」となっており、実行段階での目標達成確率は「６８．７％」となっている。また、ソフトウェア開発工程に関しては、計画段階での目標達成確率は「５７．６％」となっており、実行段階での目標達成確率は「６９．９％」となっている。
【００５４】
また、ソフトウェア開発プロジェクト全体に関して、計画検出数の合計値（「１９６件」）、実績検出数の合計値（「３０９件」）、目標残存数（「４件以下」）、計画段階での目標達成確率、及び、実行段階での目標達成確率が表示されている。この例では、計画段階での目標達成確率は「６９．７％」となっており、実行段階での目標達成確率は「６９．９％」となっている。
【００５５】
なお、以上の説明では、本実施の形態に係る評価装置１がソフトウェアの品質評価（欠陥評価）に適用される例について述べたが、そのほかにも例えば製品開発プロジェクトのコスト評価に適用することも可能である。図１３は、製品開発プロジェクトを遂行する上で必要となるコスト（原価、単価）の確率分布の一例を示す図である。担当するエンジニアの経験や能力等によって生産性が異なるため、同一規模のプロジェクトを遂行する場合であっても、必要コストがばらつく。従って、あるプロジェクトを例えば１００万円で受注した場合に、必要コストが１００万円以上となる領域（図中ハッチングを付した領域）の合計確率を算出し、その合計確率を「１」から減算することによって得られる確率として、利益が出る確率を算出することができる。
【００５６】
このように本実施の形態に係る評価装置１（及び評価システム、評価方法、プログラム１０）によれば、取得部２１は、一以上の作込工程のうちの少なくとも一つの特定の作込工程について、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する。また、算出部２２は、特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布と、当該特定の作込工程に関して設定された欠陥の目標残存数と、当該特定の作込工程に関する欠陥の計画検出数又は実績検出数とに基づいて、当該特定の作込工程における目標達成確率を算出する。このように、特定の作込工程に関して欠陥の目標残存数を設定し、当該目標残存数を達成できる確率である目標達成確率を計画検出数又は実績検出数に基づいて算出することにより、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、作込工程毎に評価することが可能となる。従って、計画検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程に関する計画検出数を見直す等の措置をとることができる。また、実績検出数に基づいて算出された目標達成確率が既定値より低い場合には、当該作込工程内で追加の欠陥検出を行う等の措置をとることができる。その結果、特定の作込工程から目標を大幅に上回る欠陥が流出するという事態を抑制できるため、製品の品質を向上することが可能となる。
【００５７】
また、特定の作込工程が複数である場合に、算出部２２は、取得部２１が取得した複数の欠陥発生確率分布に基づいて、複数の特定の作込工程の各々における目標達成確率、及び、開発プロジェクトにおける目標達成確率を算出する。従って、個々の作込工程のみならず、開発プロジェクト全体に関しても、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を評価することが可能となる。
【００５８】
また、算出部２２は、畳み込み演算によって、複数の欠陥発生確率分布に基づいて開発プロジェクトにおける目標達成確率を算出する。これにより、開発プロジェクト全体における目標達成確率を、複数の欠陥発生確率分布に基づいて正確に算出することが可能となる。その結果、製品に含まれる欠陥の数を目標残存数以下に抑えるという目標の達成の可否を、正確に評価することが可能となる。
【００５９】
また、取得部２１は、特定の作込工程に関する単位規模あたりの欠陥発生確率分布を、大数の法則を用いて当該特定の作込工程の計画規模に応じて拡張することにより、当該特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を取得する。大数の法則を用いることにより、特定の作込工程に関する欠陥発生確率分布を、単位規模あたりの欠陥発生確率分布を高精度に反映して取得することができる。
【００６０】
なお、今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した意味ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【００６１】
１  評価装置
３  処理部
１０  プログラム
２１  取得部
２２  算出部
【図１】
2011248823.tif 000003
【図２】
2011248823.tif 000004
【図３】
2011248823.tif 000005
【図４】
2011248823.tif 000006
【図５】
2011248823.tif 000007
【図６】
2011248823.tif 000008
【図７】
2011248823.tif 000009
【図８】
2011248823.tif 000010
【図９】
2011248823.tif 000011
【図１０】
2011248823.tif 000012
【図１１】
2011248823.tif 000013
【図１２】
2011248823.tif 000014
【図１３】
2011248823.tif 000015