(57)【要約】【課題】撮像素子の欠陥画素位置情報と欠陥画素補間方法とを電子透かし情報とする撮像画像信号を検証対象画像信号とすることで、撮像された画像の出自を付加情報や特別な回路や処理を有することなく検証する。【解決手段】補間値生成部１３は、検証対象画像１１を生成する際に用いた欠陥画素補間方法と同一の欠陥画素補間方法により、欠陥画素補間値を生成する。欠陥画素位置検出部１６は、読み出し制御部１４からの注目画素Ｐaの画素位置情報が欠陥画素位置であるか否かの判定フラグを出力する。画素比較部１７は、欠陥画素位置検出部１６から欠陥画素位置を示す判定フラグが入力された場合、シフトレジスタ１２ｂからのその注目画素Ｐaの画素値を、補間値生成部１３からの注目画素Ｐaの画素補間値Ｖp_aveと比較し、その比較結果が全ての欠陥画素について一致した場合は、“一致”の判定結果を出力する。【選択図】図１
2011250138.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子により撮像して得られた画像信号中の前記撮像素子の撮像面の欠陥画素の値を、その欠陥画素の近傍の画素の値を用いて所定の欠陥画素補間方法により補間して得た撮像画像信号を検証対象画像信号として取り込む第１のステップと、
前記検証対象画像信号の各画素毎に、前記所定の欠陥画素補間方法による画素補間を行って補間画素値を生成する第２のステップと、
前記撮像素子の撮像面の全ての欠陥画素位置をそれぞれ示す欠陥画素位置情報が予め記憶されている記憶手段から読み出した前記欠陥画素位置情報に基づいて、前記検証対象画像信号の前記第２のステップで前記補間画素値が生成されている画素が、前記欠陥画素位置情報が示す欠陥画素に一致するかどうかを判定する第３のステップと、
前記第３のステップにより前記欠陥画素であると判定されたときの前記検証対象画像信号の画素の値と、その時に前記第２のステップで生成された対応する画素の前記補間画素値とが一致するかどうか比較し、前記欠陥画素位置情報が示す全ての欠陥画素について前記検証対象画像信号の画素の値と、前記第２のステップで生成された対応する画素の前記補間画素値とが一致する比較結果が得られるかどうかにより、前記検証対象画像信号を検証する第４のステップと
を含むことを特徴とする画像検証方法。
【請求項２】
撮像素子により撮像して得られた画像信号中の前記撮像素子の撮像面の欠陥画素の値を、その欠陥画素の近傍の画素の値を用いて所定の欠陥画素補間方法により補間して得た撮像画像信号を検証対象画像信号として取り込む入力手段と、
前記検証対象画像信号の各画素毎に、前記所定の欠陥画素補間方法による画素補間を行って補間画素値を生成する補間画素値生成手段と、
前記撮像素子の撮像面の全ての欠陥画素位置をそれぞれ示す欠陥画素位置情報が予め記憶されている記憶手段と、
前記記憶手段から読み出した前記欠陥画素位置情報に基づいて、前記検証対象画像信号の前記補間画素値生成手段で前記補間画素値が生成されている画素が、前記欠陥画素位置情報が示す欠陥画素に一致するかどうかを判定する欠陥画素位置判定手段と、
前記欠陥画素位置判定手段により前記欠陥画素であると判定されたときの前記検証対象画像信号の画素の値と、その時に前記補間画素値生成手段で生成された対応する画素の前記補間画素値とが一致するかどうか比較し、前記欠陥画素位置情報が示す全ての欠陥画素について前記検証対象画像信号の画素の値と、前記補間画素値生成手段で生成された対応する画素の前記補間画素値とが一致する比較結果が得られるかどうかにより、前記検証対象画像信号を検証する比較手段と
を有することを特徴とする画像検証装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は画像検証方法及び画像検証装置に係り、特に欠陥画素のある撮像素子により撮像して得られた画像信号の出自、あるいはその画像信号の改変を検証する画像検証方法及び画像検証装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
インターネット及びパーソナルコンピュータの普及や、それらのデータ転送速度やデータ処理速度の高速化により、画像データの遣り取りが手軽に行えるようになってきた。しかし、その反面、画像データの違法なコピー等による著作権の侵害や、画像データの意図しない改変等の問題が深刻なものとなり、画像の出自や同一性の確認手法の必要性が増大している。
【０００３】
上記の画像の出自や同一性の確認手法として、画像に対して何らかの著作権者情報を埋め込む電子透かしと呼ばれる技術がある。従来は、この電子透かし技術を利用した画像の同一性確認が一般的になっている。しかし、電子透かし技術では、情報を画像に埋め込むための余計な回路が必要で、また処理が増大するという問題がある。
【０００４】
上記の問題を解決するための一つの方法として、固有著作権者情報として、撮像素子の欠陥画素情報を利用した方法が開示されている（例えば、特許文献１参照）。撮像素子の欠陥画素は、撮像画面上のその画素位置や画素数などが撮像素子固有のものであるので、この欠陥画素情報を利用すれば、ある画像が、どの撮像素子を使って撮影されたかを判別することができ、著作権者情報となり得る。
【０００５】
そこで、特許文献１記載の画像検証方法では、まず、上記の欠陥画素情報をＥｘｉｆフォーマットの付加情報として画像データに埋め込んで記録媒体に記録する。これにより、この特許文献１記載の画像検証方法では、記録媒体から再生した画像データが２つある場合、それぞれに埋め込まれた欠陥画素アドレスデータを比較し、両者が同じであれば２つの画像データは同じ撮像素子で撮像された画像データであり、異なれば２つの画像データは異なる撮像素子で撮像された画像データと確認することができる（つまり、画像データの出自が同一か否かを検証できる）。
【０００６】
この特許文献１記載の画像検証方法によれば、欠陥画素情報は、良好な画像を生成するには必須の情報であり、電子透かしのための特別な情報ではなく、また欠陥画素情報が記録媒体に記録されているため、記録媒体から再生された画像データの出自を確認するために余計な回路を必要とせず、また処理の増大を防ぐことができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００４−１９３７２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献１記載の画像検証方法のように、撮像して得られた画像データに対して、撮像素子の欠陥画素情報を固有著作権者情報として付加情報という形で埋め込む場合、固有著作権者情報が、欠陥画素情報そのものである必然性がなく、撮像素子に固有の番号を割振っておき、その番号を画像データに埋め込むのと本質的には違いがない。
【０００９】
従って、特許文献１記載の画像検証方法では、付加情報と画像データとが分離され、画像データ単体で遣り取りされると、以降、撮像して得られた画像データの出自情報がとれなくなるという問題がある。逆に、付加情報さえ改変しなければ、画像データを改変しても、上記の画像検証方法では同一性の確認ができない。
【００１０】
本発明は以上の点に鑑みなされたもので、撮像素子の欠陥画素情報を付加情報として画像データに埋め込むのではなく、撮像素子の欠陥画素位置情報と欠陥画素補間方法とを電子透かし情報とする撮像画像信号を検証対象画像信号とすることで、撮像された画像の出自を付加情報や特別な回路や処理を有することなく検証し得る画像検証方法及び画像検証装置を提供することを目的とする。
【００１１】
また、本発明の他の目的は、出自が判明している撮像された画像に対し、それが撮影時から改変されているか否かの同一性を検証し得る画像検証方法及び画像検証装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するため、本発明の画像検証方法は、撮像素子により撮像して得られた画像信号中の撮像素子の撮像面の欠陥画素の値を、その欠陥画素の近傍の画素の値を用いて所定の欠陥画素補間方法により補間して得た撮像画像信号を検証対象画像信号として取り込む第１のステップと、検証対象画像信号の各画素毎に、所定の欠陥画素補間方法による画素補間を行って補間画素値を生成する第２のステップと、撮像素子の撮像面の全ての欠陥画素位置をそれぞれ示す欠陥画素位置情報が予め記憶されている記憶手段から読み出した欠陥画素位置情報に基づいて、検証対象画像信号の第２のステップで補間画素値が生成されている画素が、欠陥画素位置情報が示す欠陥画素に一致するかどうかを判定する第３のステップと、第３のステップにより欠陥画素であると判定されたときの検証対象画像信号の画素の値と、その時に第２のステップで生成された対応する画素の補間画素値とが一致するかどうか比較し、欠陥画素位置情報が示す全ての欠陥画素について検証対象画像信号の画素の値と、第２のステップで生成された対応する画素の補間画素値とが一致する比較結果が得られるかどうかにより、検証対象画像信号を検証する第４のステップとを含むことを特徴とする。
【００１３】
また、上記の目的を達成するため、本発明の画像検証装置は、撮像素子により撮像して得られた画像信号中の撮像素子の撮像面の欠陥画素の値を、その欠陥画素の近傍の画素の値を用いて所定の欠陥画素補間方法により補間して得た撮像画像信号を検証対象画像信号として取り込む入力手段と、検証対象画像信号の各画素毎に、所定の欠陥画素補間方法による画素補間を行って補間画素値を生成する補間画素値生成手段と、撮像素子の撮像面の全ての欠陥画素位置をそれぞれ示す欠陥画素位置情報が予め記憶されている記憶手段と、記憶手段から読み出した欠陥画素位置情報に基づいて、検証対象画像信号の補間画素値生成手段で補間画素値が生成されている画素が、欠陥画素位置情報が示す欠陥画素に一致するかどうかを判定する欠陥画素位置判定手段と、欠陥画素位置判定手段により欠陥画素であると判定されたときの検証対象画像信号の画素の値と、その時に補間画素値生成手段で生成された対応する画素の補間画素値とが一致するかどうか比較し、欠陥画素位置情報が示す全ての欠陥画素について検証対象画像信号の画素の値と、補間画素値生成手段で生成された対応する画素の補間画素値とが一致する比較結果が得られるかどうかにより、検証対象画像信号を検証する比較手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、撮像素子の欠陥画素位置情報を、固有著作権者情報を示す電子透かし情報（付加情報）という形で画像信号に埋め込む場合の、付加情報が分離された後の画像信号の出自確認が不可となるという問題を、付加情報による情報量の増加無しで解決でき、また、付加情報を電子透かし技術を適用して埋め込むための特別な回路、処理も省略できる。
【００１５】
また、本発明によれば、出自が判明している画像に対し、それが撮影時から改変されているかの同一性を検証することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の画像検証装置の一実施の形態のブロック図である。
【図２】画素近傍の概念を示す図である。
【図３】欠陥画素の補間方法の一例の概念を示す図である。
【図４】本発明の検証対象画像を生成する装置の一例のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
次に、本発明の一実施の形態について図面を参照して説明する。
【００１８】
図１は、本発明になる画像検証装置の一実施の形態のブロック図を示す。同図に示すように、本実施形態の画像検証装置１０は、検証対象画像（以下、検証対象画像信号ともいう）１１を順次にシフトし、かつ、３画素同時に出力するシフトレジスタ１２ａ、１２ｂ及び１２ｃと、２つの画素Ｐa0及びＰa1から補間値Ｖp_aveを生成する補間値生成部１３と、読み出し制御部１４と、検証すべき画像を撮像する撮像素子の欠陥画素位置の位置情報が予め測定されて格納されている欠陥画素位置情報記憶部１５と、読み出し画素Ｐaが欠陥画素位置にある画素であるか否かを検出する欠陥画素位置検出部１６と、画像比較部１７とから構成される。
【００１９】
検証対象画像１１は、記録媒体に記録されている場合は再生装置から、撮像装置から直接に供給される場合は所定の入力部から画像検証装置１０に入力される。上記の再生装置や入力部は、本発明の検証対象画像を取り込む本発明の入力手段を構成する。また、シフトレジスタ１２ａ〜１２ｃ及び補間値生成部１３は、本発明の補間画素値生成手段を構成する。また、欠陥画素位置情報記憶部１５は本発明の記憶手段を構成する。また、シフトレジスタ１２ｂ、読み出し制御部１４及び欠陥画素位置検出部１６は、本発明の欠陥画素位置判定手段を構成しており、補間値生成手段で生成されている画素が、記憶手段に記憶されている欠陥画素位置の画素に一致するかどうかを判定する。また、画素比較部１７は、本発明の比較手段を構成しており、欠陥画素位置情報が示す全ての欠陥画素について検証対象画像信号の画素の値と、補間画素値生成手段で生成された対応する画素の補間画素値とが一致する比較結果が得られるかどうかにより、検証対象画像信号を検証する。
【００２０】
ここで、本実施形態の画像検証装置１０は、撮像面の欠陥画素位置が既知である撮像素子で撮像して得られた画像信号に対して、既知の欠陥画素補間方法により欠陥画素信号が補間された画像信号を検証対象画像１１とするものである。そこで、本実施形態の画像検証装置１０の動作について説明する前に、まず、前提となる欠陥画素補間方法及び検証対象画像生成装置について説明する。
【００２１】
欠陥画素補間処理は、欠陥画素の近傍の画素間の自然画における強い相関性を利用することが一般的である。更に、動画像における欠陥画素の近傍画素には、その欠陥画素の上下左右という空間的な周辺画素だけでなく、時間方向における欠陥画素と同一画素位置周辺の画素も近傍画素と考えることができる。
【００２２】
従って、以下の説明では、説明の簡略化のため、空間方向の周辺画素を近傍画素として説明するが、動画像における前後のフレームの同一画素位置周辺の画素を近傍画素として扱うことで、時間方向への拡張は容易であり、時間的に隣接した複数枚の画像を一括して出自確認、同一性確認も可能である。
【００２３】
また、本発明で利用する欠陥画素補間方法は、手順が画像検証時に再現可能であれば、その方法自体は任意である。但し、複雑な欠陥画素補間方法を用いることで、より改変、成りすまし等への耐性が高まる。ここでは、説明の単純化のため、欠陥画素補間方法は欠陥画素の空間方向近傍画素の単純平均を用いる方法とする。
【００２４】
ここで、ある注目画素Ｐの近傍画素は、その周辺のｎ個の画素Ｐ0〜Ｐn-1からなる画素群を基とする集合Ｖpにより定義するものとする。この集合Ｖpは次式で表される。
【００２５】
Ｖp＝｛Ｐ0,Ｐ1,・・・,Ｐn-1｝          （１）
例えば、ｎ＝８の場合、図２に示すように、注目画素Ｐの近傍画素は、注目画素Ｐの周辺の８個の画素Ｐ0、Ｐ1、・・・、Ｐ7からなる集合Ｖpであり、次式で表される。
【００２６】
Ｖp＝｛Ｐ0,Ｐ1,・・・,Ｐ7｝            （２）
ただし、図２では、注目画素Ｐの近傍画素を注目画素Ｐと同一空間の周辺８画素としているが、周辺のどの画素を近傍画素とするかは任意である。
【００２７】
本実施形態では、近傍画素による補間画素値として、注目画素Ｐの近傍画素の輝度平均Ｖp_aveを用いる。従って、近傍画素を図２のように注目画素Ｐの周辺８画素とした場合、補間画素値とされる輝度平均Ｖp_aveは次式で表される。
【００２８】
Ｖp_ave＝（Ｐ0＋Ｐ1＋・・・＋Ｐ7）／８      （３）
また、図３に示すように、撮像素子の撮像面上の欠陥画素ＤＰnnの画素位置は、水平方向の座標位置をｘn、垂直方向の座標位置をｙnとすると、ＤＰn(xn,yn)(０≦ｎ≦ｍ−１；ｍは欠陥画素総数)で表すことができる。なお、この欠陥画素ＤＰnnの画素位置は既に計測済みとする。これにより、この撮像素子で撮像し、補間処理した画像における欠陥画素ＤＰnの画素値は、次式で表される欠陥画素ＤＰnの周囲８個の画素の各画素値ＤＰn0、ＤＰn1、・・・、ＤＰn6、ＤＰn7の輝度平均値ＶDPn_aveとなる。
【００２９】
ＶDPn_ave＝（ＤＰn0＋ＤＰn1＋・・・＋ＤＰn6＋ＤＰn7）／８      （４）
本発明の画像検証方法及び画像検証装置では、上記のように欠陥画素位置が既知である所定の撮像素子により撮影され、かつ、上記のような欠陥画素補間方法により欠陥画素が補間された撮影画像信号を検証対象画像信号とし、その検証対象画像信号に対して検証画像信号生成時と同じ欠陥画素位置の情報と同じ欠陥画素補間方法を用いて、全ての欠陥画素位置の画素補間値を求め、その求めた画素補間値の全てが検証対象画像信号生成時の画素補間値の全てと一致するか否かを検証し、全て一致した場合、上記所定の撮像素子による画像と判定する。
【００３０】
次に、検証対象画像信号を生成する検証対象画像生成装置の構成及び動作について説明する。
【００３１】
図４は、検証対象画像生成装置の一例のブロック図を示す。同図において、検証対象画像生成装置２０は、撮像素子２１と、撮像素子２１から出力される撮像信号を順次にシフトし、かつ、３画素同時に出力するシフトレジスタ２２ａ、２２ｂ及び２２ｃと、２つの画素Ｐb0及びＰb1から補間値Ｖp_aveを生成する補間値生成部２３と、読み出し制御部２４と、撮像素子２１の欠陥画素の位置情報が予め測定されて格納されている欠陥画素位置情報記憶部２５と、読み出し画素Ｐbが欠陥画素位置にある画素であるか否かを検出する欠陥画素位置検出部２６と、セレクタ２７とから構成される撮像装置である。
【００３２】
撮像素子２１は、２次元マトリクス状に多数の画素が配置された撮像面に入射する被写体からの入射光を光電変換して撮像信号を出力する公知の撮像素子である。シフトレジスタ２２ａ、２２ｂ及び２２ｃは、撮像素子２１から出力された撮像信号の各画素信号を２２ａから２２ｃ方向へ順次にシフトする。また、シフトレジスタ２２ａは撮像素子２１から入力される画素信号をシフトレジスタ２２ｂへシフト出力すると同時に補間値生成部２３へ出力する。また、シフトレジスタ２２ｂはシフトレジスタ２２ａから入力される画素信号をシフトレジスタ２２ｃへシフト出力すると共に、１画素伝送期間遅延して補間値生成部２３へ出力する遅延機能を有する。同様に、シフトレジスタ２２ｃはシフトレジスタ２２ｂから入力される画素信号を１画素伝送期間遅延して補間値生成部２３へ出力する遅延機能を有する。
【００３３】
撮像素子２１は、同じライン上では左から右方向に各画素の画素信号を出力し、さらに１ライン単位で上から下の順で各画素の画素信号を出力するものとする。これにより、撮像素子２１において或る１ライン上で左から右方向へ図４に示すようにＰb0、Ｐb及びＰb1の順で３つの画素が隣接するものとすると、シフトレジスタ２２ａに画素Ｐb1の画素信号が入力された時点で、シフトレジスタ２２ｃ、２２ｂ、２２ａからこれら３画素Ｐb0、Ｐb及びＰb1の各画素信号が同時に出力される。
【００３４】
補間値生成部２３による欠陥画素補間方法は、図２及び図３と共に説明した注目画素の周辺８画素の輝度平均値を画素補間値とする方法などでもよいが、ここでは説明の簡略化のため、注目画素の左右２画素の輝度平均値を画素補間値として生成する画素補間方法であるものとする。従って、この場合、補間値生成部２３は、シフトレジスタ２２ａ及び２２ｃからそれぞれ出力された、注目画素Ｐbの左右の２画素Ｐb1及びＰb0の各画素信号を入力信号として受け、次式によりそれら画素信号の輝度平均値を画素補間値Ｖp_aveとして生成する。
【００３５】
Ｖp_ave＝（Ｐb0＋Ｐb1）／２      （５）
一方、読み出し制御部２４は、シフトレジスタ２２ｂから出力された注目画素Ｐbの画素信号が入力される毎にカウントし、入力された注目画素Ｐbの画素位置を示す画素位置情報を生成して欠陥画素位置検出部２６へ出力すると共に、欠陥画素位置情報記憶部２５に読み出しアドレスを供給して欠陥画素位置情報ＤＰn(xn,yn)(０≦ｎ≦ｍ−１；ｍは欠陥画素総数)を撮像素子２１の画素走査順に順次出力させる。すなわち、欠陥画素位置情報記憶部２５は、読み出しアドレスが入力される毎にまず撮像面において最も上側のライン上にあり、かつ、そのラインの最も左側に位置する欠陥画素の位置情報から出力し、以下画素走査順に従い、撮像面において最も下側のライン上にあり、かつ、そのラインの最も右側に位置する欠陥画素の位置情報までを出力する。
【００３６】
欠陥画素位置検出部２６は、読み出し制御部２４からの注目画素Ｐbの画素位置情報と、欠陥画素位置情報記憶部２５からの欠陥画素位置情報ＤＰn(xn,yn)とを比較し、欠陥画素位置情報ＤＰn(xn,yn)と注目画素Ｐbの画素位置とが一致するときのみ、所定論理値の判定フラグを出力する。この判定フラグは、読み出し制御部２４に供給されて欠陥画素位置情報記憶部２５の読み出しアドレスをインクリメントする一方、セレクタ２７に供給される。
【００３７】
セレクタ２７は、欠陥画素位置検出部２６から所定論理値の判定フラグが入力されたときには、注目画素Ｐbが予め測定された撮像素子２１の撮像面の欠陥画素であると判断して、補間値生成部２３から供給される（５）式の画素補間値Ｖp_aveを選択し、所定論理値の判定フラグが入力されないときには、シフトレジスタ２２ｂから出力された注目画素Ｐbの画素信号を選択する。セレクタ２７は、選択した画素信号又は画素補間値Ｖp_aveを検証対象画像信号として出力する。従って、この検証対象画像信号は、撮像素子２１の撮像面の欠陥画素位置情報が画素補間値Ｖp_aveとして撮像画像信号に電子的に埋め込まれた、良好な補間画像信号であるといえる。
【００３８】
なお、この検証対象画像信号は、撮像装置の出力画像信号として例えば図示しない出力手段により公知の記録再生に適した所定の変調方式で変調された後、記録媒体（メモリ、光ディスク、磁気テープなど）に記録され、あるいは記録されることなく外部端子を介してそのまま出力される。この検証対象画像信号（撮像装置の出力画像信号）は、撮像素子２１の撮像面の欠陥画素位置情報を用いて当該欠陥画素を補間して、画像としては欠陥の無い良好な画像に変換されている。このため、検証を行う必要が無い場合は、記録媒体から検証対象画像信号を再生してそのままモニタに供給し、あるいは記録されることなく撮像装置である検証対象画像生成装置２０の外部端子から直接にモニタに供給して正常に表示できる。
【００３９】
次に、図１に戻って、上記のようにして生成された検証対象画像信号の検証を行う本実施形態の画像検証装置１０の動作について詳細に説明する。
【００４０】
図１において、本実施形態の画像検証装置１０は、検証対象画像信号１１が図４に示した検証対象画像生成装置２０により撮像されて生成された画像信号であるかどうか、つまり画像の出自の検証を行う装置である。本実施形態の画像検証装置１０の基本構成は、画像生成時の補間値を再生成する手法のため、検証対象画像生成装置２０とほぼ同様の構成である。
【００４１】
シフトレジスタ１２ａ、１２ｂ及び１２ｃは、検証対象画像信号１１の各画素信号を１２ａから１２ｂを経由して１２ｃ方向へ順次にシフトする。また、シフトレジスタ１２ａは検証対象画像信号１１の各画素信号をシフトレジスタ１２ｂへシフト出力すると同時に補間値生成部１３へ出力する。また、シフトレジスタ１２ｂはシフトレジスタ１２ａから入力される画素信号をシフトレジスタ１２ｃへシフト出力すると共に、１画素伝送期間遅延して補間値生成部１３へ出力する遅延機能を有する。同様に、シフトレジスタ１２ｃはシフトレジスタ１２ｂから入力される画素信号を１画素伝送期間遅延して補間値生成部１３へ出力する遅延機能を有する。
【００４２】
検証対象画像信号１１は、同じライン上では左から右方向に各画素の画素信号を出力し、さらに１ライン単位で上から下の順で各画素の画素信号を出力する撮像装置からの撮像信号であるものとする。これにより、検証対象画像信号１１において或る１ライン上で左から右方向へ図１に示すようにＰa0、Ｐa及びＰa1の順で３つの画素が隣接するものとすると、シフトレジスタ１２ａに画素Ｐa1の画素信号が入力された時点で、シフトレジスタ１２ｃ、１２ｂ、１２ａからこれら３画素Ｐa0、Ｐa及びＰa1の各画素信号が同時に出力される。
【００４３】
補間値生成部１３は、検証対象画像１１の各画素毎に、図４に示した補間値生成部２３と同一の欠陥画素補間方法による画素補間を行って補間画素値を生成する。すなわち、補間値生成部１３は、シフトレジスタ１２ｂから画素が出力される毎に、その画素を注目画素Ｐaとしたときの、シフトレジスタ１２ａ及び１２ｃからそれぞれ出力される左右の２画素Ｐa1及びＰa0の各画素信号を入力信号として受け、（５）式と同様の次式により左右画素の画素信号の輝度平均値を注目画素Ｐaの画素補間値Ｖp_aveとして生成する。
【００４４】
Ｖp_ave＝（Ｐa0＋Ｐa1）／２      （６）
一方、読み出し制御部１４は、シフトレジスタ１２ｂから出力された注目画素Ｐaの画素信号が入力される毎にカウントし、入力された注目画素Ｐaの画素位置を示す画素位置情報を生成して欠陥画素位置検出部１６へ出力すると共に、欠陥画素位置情報記憶部１５に読み出しアドレスを供給する。
【００４５】
欠陥画素位置情報記憶部１５は、読み出し制御部１４から読み出しアドレスが入力される毎にまず撮像面において最も上側のライン上にあり、かつ、そのラインの最も左側に位置する欠陥画素の位置情報から出力し、以下画素走査順に従い、撮像面において最も下側のライン上にあり、かつ、そのラインの最も右側に位置する欠陥画素の位置情報までを出力する。すなわち、欠陥画素位置情報記憶部１５は、欠陥画素位置情報ＤＰn(xn,yn)(０≦ｎ≦ｍ−１；ｍは欠陥画素総数)を検証対象の撮像素子２１の画素走査順に順次出力する。
【００４６】
ここで、欠陥画素位置情報記憶部１５には、検証者にとって既知である検証対象の撮像素子２１の撮像面の欠陥画素位置が、撮像素子の画素出力順に予め格納されている。従って、この欠陥画素位置情報記憶部１５の記憶欠陥画素位置情報は、図４の欠陥画素位置情報記憶部２５の記憶欠陥画素位置情報と同一である。
【００４７】
欠陥画素位置検出部１６は、読み出し制御部１４からの注目画素Ｐaの画素位置情報と、欠陥画素位置情報記憶部１５からの欠陥画素位置情報ＤＰn(xn,yn)とを比較し、欠陥画素位置情報ＤＰn(xn,yn)と注目画素Ｐaの画素位置とが一致するときのみ、所定論理値の判定フラグを出力する。この判定フラグは、読み出し制御部１４に供給されて欠陥画素位置情報記憶部１５の読み出しアドレスをインクリメントする一方、画素比較部１７に供給される。
【００４８】
画素比較部１７は、欠陥画素位置検出部１６から注目画素Ｐaが欠陥画素であることを示す判定フラグが入力された場合、シフトレジスタ１２ｂからのその注目画素Ｐaの画素値を、補間値生成部１３からの注目画素Ｐaの画素補間値Ｖp_aveと比較する。画素比較部１７は、欠陥画素位置情報記憶部１５に記憶されている欠陥画素位置のすべての欠陥画素について得られる上記の比較結果が１画素でも一致しない場合は、“不一致”の判定結果を出力し、例えば処理を直ちに終了する。一方、画素比較部１７は、上記の比較結果が全ての欠陥画素について一致した場合は、“一致”の判定結果を出力する。
【００４９】
ここで、前述したように、欠陥画素位置情報記憶部１５には、測定された検証対象の撮像素子２１の撮像面の欠陥画素位置が、撮像素子の画素出力順に予め格納されており、また、補間値生成部１３による欠陥画素補間方法は、検証対象画像信号生成装置２０内の補間値生成部２３と同一の欠陥画素補間方法であるから、検証対象画像１１が撮像素子２１の撮像信号に基づいて検証対象画像信号生成装置２０により補間されて生成された画像信号であるときには、画素比較部１７は、全ての欠陥画素について一致したことを示す“一致”の判定結果を出力する。従って、画像比較部１７から“一致”の判定結果が出力されたときには、検証対象画像１１が撮像素子２１により撮像して得られた画像信号であると検証することができる（すなわち、画像の出自の検証ができる）。
【００５０】
このように、本実施形態の画像検証装置１０によれば、撮像素子の欠陥画素位置情報と欠陥画素補間方法とが電子透かし情報として埋め込まれた撮像画像信号を検証するようにしたため、欠陥画素位置を示す付加情報は検証対象の画像信号には存在せず、撮像された画像の出自が不明の場合に、付加情報が分離された後の撮像画像信号の出自確認が不可となるという問題を、付加情報による情報量の増加無しで解決でき、また、付加情報を電子透かし技術を適用して埋め込むための特別な回路、処理も省略できる。
【００５１】
また、本実施形態の画像検証装置１０によれば、検証対象画像１１の出自が判明しているときには、画像比較部１７から“不一致”の判定結果が出力されたときには、検証対象画像１１が改変されていることが分かる。すなわち、検証対象画像１１の出自が判明しているときには、画像比較部１７から“一致”の判定結果が出力されるはずであるが、検証対象画像１１が撮像素子２１により撮像して得られた画像信号とは異なる画像信号に改変されている場合は、撮像素子２１のいずれかの欠陥画素位置における改変された画像信号の画素値が、補間値生成部１３により生成される欠陥画素の補間値と異なる可能性が極めて高いからである。従って、本実施形態の画像検証装置１０によれば、画像の出自が判明している場合は、付加情報による情報量の増加無しで、画像の改変の有無を検証することができ、著作権の保護に寄与することができる。
【００５２】
なお、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、例えば、図１の画像比較部１７からの判定出力が“一致”の判定結果であるときにのみ、検証対象画像１１をモニタに表示し、判定出力が“不一致”の判定結果であるときには、検証対象画像１１のモニタへの表示を禁止する手段を設けた表示装置を構成することもできる。この場合は、出自が判明した画像や改変されていない画像のみをモニタに表示することができる。
【００５３】
また、本発明は、上記の図１の画像検証装置１０及び画像検証装置１０の時系列的な動作を示す本実施の形態の画像検証方法を、コンピュータにより実行させる画像検証プログラムも包含するものである。この画像検証プログラムは、記録されている記録媒体から再生されてコンピュータに取り込まれてもよいし、通信ネットワークを介して配信されてコンピュータに取り込まれてもよい。更には、画像検証プログラムは、ファームウェアとして装置に取り込まれていてもよい。
【図１】
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【図４】
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【図２】
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【図３】
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