(57)【要約】【課題】本発明は、タッチ装置に用いられる接触位置の検出方法を提供する。【解決手段】本発明に係るタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法は、第一導電層及び前記第一導電層の１つの側辺に互いに離間して設置される複数の探測電極を備えるタッチ装置を提供するステップと、前記第一導電層に第一電圧を印加するステップと、前記タッチ装置がタッチされた場合、前記第一導電層の接触箇所に対応する区域の前記第一電圧が変化して、接触位置を検出するステップと、前記複数の探測電極の電圧を測定して複数の電圧信号を生成するステップと、前記電圧信号及び位置推定モードによって第一探測位置を確定するステップと、前記第一探測位置及び第一曲線関係を有する修正モードによって前記接触位置に該当する第二探測位置を確定するステップと、を備える。【選択図】図２
2011018340.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第一導電層及び前記第一導電層の１つの側辺に互いに離間して設置される複数の探測電極を備えるタッチ装置を提供するステップと、
前記第一導電層に第一電圧を印加するステップと、
前記タッチ装置がタッチされた場合、前記第一導電層の接触箇所に対応する区域の前記第一電圧が変化して、接触位置を検出するステップと、
前記複数の探測電極の電圧を測定して複数の電圧信号を生成するステップと、
前記電圧信号及び位置推定モードによって第一探測位置を確定するステップと、
前記第一探測位置及び第一曲線関係を有する修正モードによって前記接触位置に該当する第二探測位置を確定するステップと、
を備えることを特徴とするタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項２】
前記第一曲線関係は、第一波形曲線関係であることを特徴とする請求項１に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項３】
前記位置推定モードによって確定した第一探測位置と前記接触位置とは、前記第一波形曲線関係に逆位相を呈する第二波形曲線関係を満足することを特徴とする請求項２に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項４】
前記探測電極は、第一探測電極と、第二探測電極と、第三探測電極と、を備え、
前記電圧信号は、前記第二探測電極から生成する極値電圧信号と、前記第一探測電極から生成する第一電圧信号と、前記第三探測電極から生成する第二電圧信号と、を備え、
前記第二探測電極は、前記第一探測電極と前記第三探測電極との間に位置する一方前記第一探測電極及び前記第三探測電極に隣接することを特徴とする請求項２に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項５】
前記第一波形曲線関係は、前記第二探測電極の位置を変曲点とすることを特徴とする請求項４に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項６】
前記位置推定モードの中の複数の計算パラメーターは、前記極値電圧信号と前記第一電圧信号との差値と、前記極値電圧信号と前記第二電圧信号との差値と、隣接している２個の探測電極の間に形成された間隔と、を備えることを特徴とする請求項４に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項７】
前記修正モードは、その中の複数のデータが前記第一波形曲線関係を呈する補正表を備えることを特徴とする請求項２に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項８】
前記補正表の中のデータは、前記接触位置と前記第一探測位置との差値であることを特徴とする請求項７に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項９】
前記第一導電層は、抵抗異方性を有することを特徴とする請求項１に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項１０】
前記タッチ装置は、前記第一導電層を重ねる第二導電層を備え、
前記タッチ装置に用いられる接触位置の検出方法は、前記第二導電層に前記第一電圧に異なる第二電圧を印加するステップをさらに備え、
前記タッチ装置をタッチするステップの中で、前記第一導電層の前記接触箇所に対応する区域を前記第二導電層の前記接触箇所対応する区域に接触させて前記第一電圧を変化させることを特徴とする請求項９に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項１１】
第一導電層及び前記第一導電層の第一側辺に互いに離間して設置される複数の探測電極を備えるタッチ装置を提供するステップと、
前記第一導電層に第一電圧を印加するステップと、
前記タッチ装置がタッチされた場合、前記第一導電層の接触箇所に対応する区域の前記第一電圧が変化して、接触位置を検出するステップと、
前記複数の探測電極の電圧を測定して複数の電圧信号を生成し、前記探測電極は、第一探測電極と、第二探測電極と、第三探測電極と、を備え、前記電圧信号は、前記第二探測電極から生成する極値電圧信号と、前記第一探測電極から生成する第一電圧信号と、前記第三探測電極から生成する第二電圧信号と、を備え、前記第二探測電極は、前記第一探測電極と前記第三探測電極との間に位置する一方前記第一探測電極及び前記第三探測電極に隣接するステップと、
電圧調整モードによって前記第二電圧信号を調整して修正電圧信号を生成するステップと、
前記第一電圧信号、前記極値電圧信号、前記修正電圧信号及び位置推定モードによって第一探測位置を確定するステップと、
前記第一探測位置及び第一曲線関係を有する修正モードによって前記接触位置に該当する第二探測位置を確定するステップと、
を備えることを特徴とするタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項１２】
前記第三探測電極は、前記第一導電層の探測電極における前記第一側辺に垂直する第二側辺に最も近い探測電極であり、
前記接触位置は、前記第一線と前記第二線との間に位置し、
前記第一線は、前記複数の探測電極の中で前記第二側辺に最も近い探測電極から延伸し且つ前記第二側辺に平行する線であり、
前記第二線は、前記複数の探測電極の中で前記第二側辺に第二番目に近い探測電極と前記第二側辺に第三番目に近い探測電極との間の中心から延伸し且つ前記第二側辺に平行する線であることを特徴とする請求項１１に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項１３】
前記タッチ装置は、前記第一導電層を重ねる第二導電層及び前記第二導電層の側辺に互いに離間して設置される複数の探測電極をさらに備え、
前記第二導電層における複数の探測電極が設置されている側辺は、前記第一導電層の第一側辺に隣接する第二側辺に対応することを特徴とする請求項１２に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項１４】
前記電圧調整モードは、前記第一電圧、第三電圧信号及び第四電圧信号によって確立した関連性を有し、
前記第一導電層の中間線を接触されて前記中間線の第一電圧が変化された場合、前記第三電圧信号が前記第三探測電極から生成し、前記第四電圧信号が前記第二探測電極から生成し、
前記中間線は、第一線と前記第二探測電極から延伸し且つ前記第二側辺に平行する第三線の中間に位置することを特徴とする請求項１２に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項１５】
前記電圧調整モードは、以下の方程式で表示することができることを特徴とする請求項１４に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
Ｖ４＝Ｖｒ−（Ｖｒ−Ｖ３）×（Ｖｒ−Ｖ２）／（Ｖｒ−Ｖ１）
（ただし、Ｖ１は、前記第三電圧信号であり、Ｖ２は、前記第四電圧信号であり、Ｖ３は、前記第二電圧信号であり、Ｖ４は、修正電圧信号であり、Ｖｒは、前記第一電圧である。）
【請求項１６】
前記中間線の第一電圧が変化された位置と前記第一側辺との間の距離は、前記接触箇所と前記第一側辺との間の距離と同じであることを特徴とする請求項１４に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項１７】
前記位置推定モードの中の複数の計算パラメーターは、前記極値電圧信号と前記第一電圧信号との差値と、前記極値電圧信号と前記第二電圧信号との差値と、隣接している２個の探測電極の間に形成された間隔と、を備えることを特徴とする請求項１１に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項１８】
前記第一曲線関係は、第一波形曲線関係であることを特徴とする請求項１１に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項１９】
前記第一波形曲線関係は、前記第二探測電極の位置を変曲点とすることを特徴とする請求項１８に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項２０】
前記修正モードは、その中の複数のデータが前記第一波形曲線関係を呈する補正表を備えることを特徴とする請求項１８に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項２１】
前記補正表の中のデータは、前記接触位置と前記第一探測位置との差値であることを特徴とする請求項２０に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【請求項２２】
前記第一導電層は、抵抗異方性を有することを特徴とする請求項１１に記載のタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチ装置に用いられる接触位置の検出方法に関し、特に抵抗式タッチ装置に用いられる接触位置の検出方法に関する。
【０００２】
図１は、従来の技術に係る抵抗式タッチ装置の断面図である。前記抵抗式タッチ装置１０は、主に第一導電層１２と、第二導電層１４と、複数のスペーサー（Ｓｐａｃｅｒ）１６と、を備える。これらのスペーサー１６を前記第一導電層１２と前記第二導電層１４との間に設置して前記第一導電層１２及び前記第二導電層１４を隔離することにより、タッチしない場合、短絡による誤作動の発生を免れる。前記第一導電層１２及び前記第二導電層１４は、それぞれ接触箇所の異なる軸方向の位置を検出することに用いられる。例えば、前記第一導電層１２は、Ｘ軸方向の位置を検出し、前記第二導電層１４は、Ｙ軸方向の位置を検出する。
【０００３】
操作中に、前記第一導電層１２及び前記第二導電層１４にそれぞれ異なる電圧を印加して、使用者が前記タッチ装置１０をタッチした場合、前記第一導電層１２の接触箇所に対応する領域と前記第二導電層１４の前記接触箇所に対応する領域とが接触して、前記第一導電層１２及び前記第二導電層１４にそれぞれ電圧変化を生じさせて、前記第一導電層１２の電圧変化を検出することによって接触箇所のＸ軸方向の位置を確定し、前記第二導電層１４の電圧変化を検出することによって接触箇所のＹ軸方向の位置を確定することができる。
【０００４】
理想状態下で、検出された接触箇所の位置と接触箇所の実際位置は同じであるべきだが、前記第一導電層１２の導電線路の間の間隔、前記第二導電層１４の導電線路の間の間隔及び使用されるデータ処理方法等に影響されて誤差が生じ、検出された接触箇所の位置と接触箇所の実際位置は異なる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
以上の問題点に鑑みて、本発明は、誤差の発生を効果的に免れることができるタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記問題を解決するために、本発明に係るタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法は、第一導電層及び前記第一導電層の１つの側辺に互いに離間して設置される複数の探測電極を備えるタッチ装置を提供するステップと、前記第一導電層に第一電圧を印加するステップと、前記タッチ装置がタッチされた場合、前記第一導電層の接触箇所に対応する区域の前記第一電圧が変化して、接触位置を検出するステップと、前記複数の探測電極の電圧を測定して複数の電圧信号を生成するステップと、前記電圧信号及び位置推定モードによって第一探測位置を確定するステップと、前記第一探測位置及び第一曲線関係を有する修正モードによって前記接触位置に該当する第二探測位置を確定するステップと、を備える。
【０００７】
また、本発明に係るタッチ装置に用いられる接触位置の検出方法は、第一導電層及び前記第一導電層の第一側辺に互いに離間して設置される複数の探測電極を備えるタッチ装置を提供するステップと、前記第一導電層に第一電圧を印加するステップと、前記タッチ装置がタッチされた場合、前記第一導電層の接触箇所に対応する区域の前記第一電圧が変化して、接触位置を検出するステップと、前記複数の探測電極の電圧を測定して複数の電圧信号を生成し、前記探測電極は、第一探測電極と、第二探測電極と、第三探測電極と、を備え、前記電圧信号は、前記第二探測電極から生成する極値電圧信号と、前記第一探測電極から生成する第一電圧信号と、前記第三探測電極から生成する第二電圧信号と、を備え、前記第二探測電極は、前記第一探測電極と前記第三探測電極との間に位置する一方前記第一探測電極及び前記第三探測電極に隣接するステップと、電圧調整モードによって前記第二電圧信号を調整して修正電圧信号を生成するステップと、前記第一電圧信号、前記極値電圧信号、前記修正電圧信号及び位置推定モードによって第一探測位置を確定するステップと、前記第一探測位置及び第一曲線関係を有する修正モードによって前記接触位置に該当する第二探測位置を確定するステップと、を備える。
【発明の効果】
【０００８】
従来の技術に比べて、本発明の実施形態に係るＸ軸方向接触位置の検出方法は、まず、前記位置推定モードによって前記第一Ｘ軸方向探測位置を生成する。次に、前記修正モードによって前記第一Ｘ軸方向探測位置を修正してから前記第二Ｘ軸方向探測位置を生成する。前記第二Ｘ軸方向探測位置は、前記Ｘ軸方向接触位置と同じである。従って、前記接触箇所のＸ値を確定することができる。同様的にＹ軸方向接触位置の検出方法によって前記接触箇所のＹ値を確定することもでき、接触箇所を検出して、誤差が生じる問題を解決した。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】従来の技術に係る抵抗式タッチ装置の断面図である。
【図２】本発明の実施形態に係るタッチ装置の断面図である。
【図３】図２に示すタッチ装置の第一導電層と第二導電層の相対位置を示す図である。
【図４】本発明の実施形態に係る接触位置の検出方法のフローチャートである。
【図５】第一Ｘ軸方向探測位置及びＸ軸方向接触位置の座標を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面に基づいて、本発明に係るタッチパネルについて詳細に説明する。
【００１１】
図２は、本発明の実施形態に係るタッチ装置の断面図である。前記タッチ装置２０は、第一基板２２と、前記第一基板２２に対向して設置される第二基板２４と、第一導電層２６と、第二導電層２８と、複数のスペーサー３０と、を備える。前記第一基板２２は、ポリエステル膜であり、前記第二基板２４はガラス基板である。前記第一導電層２６は、前記第一基板２２の前記第二基板２４に対面する表面に設置され、前記第二導電層２８は、前記第二基板２４の前記第一基板２２に対面する表面に設置される。前記第一導電層２６は、前記第二導電層２８に重ねられる。前記複数のスペーサー３０は、前記第一導電層２６と前記第二導電層２８の間に設置されて、絶縁及び支持作用を発揮し、前記タッチ装置２０がタッチされない状態下で前記第一導電層２６及び前記第二導電層２８を分離させて絶縁状態を保持する。
【００１２】
図３は、前記タッチ装置２０の第一導電層２６と第二導電層２８の相対位置を示す図である。前記タッチ装置２０は、前記第一導電層２６の第一側辺３２に互いに離間して設置される複数の探測電極３４及び前記第二導電層２８の側辺３６に互いに離間して設置される複数の探測電極３８をさらに備える。前記第二導電層２８における複数の探測電極３８が設置されている側辺３６は、前記第一導電層２６の第一側辺３２に隣接する第二側辺４０に対応する。前記第一導電層２６は、抵抗異方性を有し、その導電方向はＹ軸方向にほぼ平行する。前記第二導電層２８は、抵抗異方性を有し、その導電方向はＸ軸方向にほぼ平行する。例えば、前記第一導電層２６及び前記第二導電層２８は、抵抗異方性を有するカーボンナノチューブフィルムである。又、前記第一導電層２６は、その両側に位置する２つの辺縁区域４２及び前記２つの辺縁区域４２の間に中心区域４４を備える。前記辺縁区域４２は、第一線Ａと第二線Ｂとの間に位置する。前記第一線Ａは、前記複数の探測電極３４の中の前記第二側辺４０に最も近い探測電極３４（前記第二側辺４０から計算されれば第１番目の探測電極３４である）から延伸し且つ前記第二側辺４０に平行する線である。前記第二線Ｂは、前記複数の探測電極３４の中の前記第二側辺４０に第二番目に近い探測電極３４と前記第二側辺４０に第三番目に近い探測電極３４との間の中心から延伸し且つ前記第二側辺４０に平行する線である。前記第一導電層２６は、前記第二側辺４０に相対する第三側辺４５をさらに備える。前記第二導電層２８は、前記第一導電層２６と同じであり、辺縁区域４６及び中心区域４８を備える。
【００１３】
図４は、本発明に係る接触位置の検出方法のフローチャートである。本実施形態は、前記タッチ装置２０に用いられる接触位置の検出方法を掲示する。前記タッチ装置２０の接触箇所の位置は、ＸＹ平面座標システムで表示するため、前記接触箇所は、Ｘ軸方向の接触位置の座標及びＹ軸方向の接触位置の座標を有する。前記第一導電層２６の探測電極３４は、前記接触箇所のＸ軸方向の接触位置を検出することに用いられ、前記第二導電層２８の探測電極３８は、前記接触箇所のＹ軸方向の接触位置を検出することに用いられる。以下、先ず前記Ｘ軸方向の接触位置を検出する方法に対して説明する。前記Ｘ軸方向の接触位置を検出する方法は、以下のステップを備える。
【００１４】
ステップＳ１０：前記第一導電層２６の探測電極３４に第一電圧（例えば、０ボルト）を印加し、前記第二導電層２８の探測電極３８に前記第一電圧と異なる第二電圧（例えば、５ボルト）を印加する。
【００１５】
ステップＳ１５：前記タッチ装置２０をタッチして、前記第一導電層２６の前記接触箇所に対応する区域（即ち、押圧された区域である）を前記第二導電層２８の前記接触箇所に対応する区域（即ち、前記第一導電層２６の押圧された区域に接触する区域である）に接触させて、前記第一導電層２６の前記接触箇所に対応する区域の電圧を変化させる。
【００１６】
ステップＳ２０：前記第一導電層２６の上の複数の探測電極３４を順次に測定することによって複数の電圧信号を生成する。
【００１７】
ステップＳ２５：前記電圧信号及び位置推定モードによって第一Ｘ軸方向探測位置を確定する。
【００１８】
ステップＳ３０：前記第一Ｘ軸方向探測位置及び修正モードによって第二Ｘ軸方向探測位置を確定する。前記第二Ｘ軸方向探測位置は、前記Ｘ軸方向接触位置と同じである。前記修正モードは、第一波形曲線関係のような第一曲線関係を有する。
【００１９】
これらの電圧信号は、極値電圧信号と、第一電圧信号と、第二電圧信号と、を備える。前記極値電圧信号は、前記電圧信号の中の最大値である。前記探測電極３４は、第一探測電極と、第二探測電極と、第三探測電極と、を備える。前記第一電圧信号は、前記第一探測電極から生成する。前記極値電圧信号は、前記第二探測電極から生成する。前記第二電圧信号は、前記第三探測電極から生成する。前記第一探測電極、前記第二探測電極及び前記第三探測電極は、Ｘ軸方向に沿って配列され、且つ前記第二探測電極は前記第一探測電極と前記第三探測電極との間に位置する一方前記第一探測電極及び前記第三探測電極に隣接する。
【００２０】
前記位置推定モードの中の複数の計算パラメーターは、前記極値電圧信号と前記第一電圧信号との差値と、前記極値電圧信号と前記第二電圧信号との差値と、隣接している２個の探測電極３４の間に形成された間隔と、を備える。前記位置推定モードは、以下の三つの方程式を備える。
【００２１】
【数１】
2011018340.tif 000003
【００２２】
△１は、前記極値電圧信号と前記第一電圧信号との差値であり、△２は、前記極値電圧信号と前記第二電圧信号との差値であり、Ｐｘは、前記間隔であり、△Ｓは、前記第一Ｘ軸方向探測位置と前記第二探測電極のＸ軸方向の位置との差値である。
【００２３】
前記位置推定モードによって計算した前記第一Ｘ軸方向探測位置と実際のＸ軸方向の接触位置との間には誤差値が存在する。図５は、第一Ｘ軸方向探測位置及びＸ軸方向接触位置の座標を示す図である。図５において、座標は、区間Ｃ±０．５Ｐｘ（前記第二探測電極のＸ軸方向位置Ｃに０．５Ｐｘを加算してなる位置Ｅと前記第二探測電極のＸ軸方向位置Ｃから０．５Ｐｘを減算してなる位置Ｄとの間の区間、即ちＥ〜D区間）で、複数のＸ軸方向接触位置及び前記複数のＸ軸方向接触位置にそれぞれ対応する複数の前記第一Ｘ軸方向探測位置を統計してから獲得され、水平軸は、前記第一Ｘ軸方向探測位置を表示し、垂直軸は、Ｘ軸方向接触位置を表示する。図５に示すように、位置推定モードによって計算した前記第一Ｘ軸方向探測位置と前記Ｘ軸方向接触位置との間には、第二波形曲線関係Ｇが存在し、直線関係の傾斜度は１ではない。即ち、前記第一Ｘ軸方向探測位置は、前記Ｘ軸方向接触位置と同じではなく、その間には差値が存在するため、ステップＳ３０における修正モードを行うことを必要とする。前記修正モードの前記第一波形曲線関係は、Ｈで表示する。前記第一波形曲線関係Ｈと前記第二波形曲線関係Ｇは、逆位相であり、且つ前記第一波形曲線関係Ｈと前記第二波形曲線関係Ｇは、前記第二探測電極のＸ軸方向の位置Ｃを変曲点とする。
【００２４】
前記修正モードは、前記第一Ｘ軸方向探測位置と前記Ｘ軸方向接触位置によって確立した関連性を有する。例えば、前記第一波形曲線関係Ｈに示されるように、前記第一波形曲線関係Ｈによって前記第一Ｘ軸方向探測位置に対して修正して前記第二Ｘ軸方向探測位置を確定する。前記第二Ｘ軸方向探測位置は、接触箇所のＸ軸方向接触位置と同じである。従って、前記接触箇所のＸ軸方向接触位置を定位することができる。又、前記修正モードは、補正表を備える。前記補正表の中の複数のデータは、前記第一波形曲線関係Ｈを呈する。前記補正表の中のデータは、前記第二探測電極のＸ軸方向探測位置Ｃ±０．５Ｐｘ（Ｄ点或いはＣ点）の区間の中における各々の前記第一Ｘ軸方向接触位置とそれに対応する前記第一Ｘ軸方向探測位置との差値からなる。従って、前記補正表を検索することによって前記第一Ｘ軸方向探測位置に対して補正するべき差値を獲得し、前記第一Ｘ軸方向探測位置に前記差値を加えると前記第二Ｘ軸方向探測位置を確定する。前記第二Ｘ軸方向探測位置は、接触箇所のＸ軸方向接触位置と同じであるため、前記接触箇所のＸ軸方向接触位置を定位することができる。
【００２５】
以上のＸ軸方向接触位置の検出方法は、前記接触箇所が前記第一導電層２６の中心区域４４に位置する場合に適用される。前記接触箇所が前記第一導電層２６の辺縁区域４２に位置されれば、前記第二電圧信号が下記の電圧調整モードによって電圧を調整してから前記位置推定モードに導入する。
【００２６】
前記接触箇所が前記第一導電層２６の辺縁区域４２に位置する場合、前記Ｘ軸方向接触位置は、前記第一導電層２６の第一線Ａと第二線Ｂとの間に位置し、前記第三探測電極は、前記第一導電層２６の探測電極における前記第二側辺４０に最も近い探測電極である。前記電圧調整モードは、前記第一電圧、第三電圧信号及び第四電圧信号によって確立した関連性を有する。以下のような方式によって前記第三電圧信号及び前記第四電圧信号を生成する。前記第一導電層２６の中間線５０を接触されて前記中間線５０の第一電圧が変化された場合、前記第三電圧信号は前記第三探測電極から生成し、前記第四電圧信号は前記第二探測電極から生成する。前記中間線５０は、第一線Ａと第三線Ｊの中間に位置する。前記第三線Ｊは、前記第二探測電極から延伸し且つ前記第二側辺４０に平行する。前記中間線５０の第一電圧が変化された位置と前記第一側辺３２との間の距離は、前記接触箇所と前記第一側辺３２との間の距離と同じである。
【００２７】
前記電圧調整モードは、以下の方程式で表示することができる。
【００２８】
Ｖ４＝Ｖｒ−（Ｖｒ−Ｖ３）×（Ｖｒ−Ｖ２）／（Ｖｒ−Ｖ１）
【００２９】
ただし、Ｖ１は、前記第三電圧信号であり、Ｖ２は、前記第四電圧信号であり、Ｖ３は、前記第二電圧信号であり、Ｖ４は、修正電圧信号であり、Ｖｒは、前記第一電圧である。
【００３０】
前記Ｘ軸方向接触位置が前記第一導電層２６の辺縁区域４２に位置する場合、前記第三探測電極から生成する前記第二電圧信号は、前記電圧調整モードによって調整してから前記修正電圧信号を生成し、前記第一電圧信号、前記極値電圧信号及び前記修正電圧信号を前記位置推定モードに導入して第一Ｘ軸方向探測位置を確定する。この時、前記位置推定モードの三つの方程式の中の△２は、前記極値電圧信号と修正電圧信号との差値である。それから前記ステップＳ３０を行って第二Ｘ軸方向探測位置を確定し、前記第二Ｘ軸方向探測位置は、前記辺縁区域４２に位置するＸ軸方向接触位置と同じである。
【００３１】
Ｙ軸方向接触位置の検出方法の原理は、Ｘ軸方向接触位置の検出方法の原理と同じである。異なるのは、軸方向が異なり、タッチ装置２０をタッチして第一導電層２６及び第二導電層２８を接触させた場合、前記第一導電層２６の接触箇所に対応する区域の電圧が高くなり、前記第二導電層２８の接触箇所に対応する区域の電圧が低くなる。従って、Ｙ軸方向接触位置の検出方法に応用する極値電圧信号は、前記電圧信号の中の最小値である。
【００３２】
本発明の実施形態に係るＸ軸方向接触位置の検出方法は、まず、前記位置推定モードによって前記第一Ｘ軸方向探測位置を生成する。次に、前記修正モードによって前記第一Ｘ軸方向探測位置を修正してから前記第二Ｘ軸方向探測位置を生成する。前記第二Ｘ軸方向探測位置は、前記Ｘ軸方向接触位置と同じである。従って、前記接触箇所のＸ値を確定することができる。同様的にＹ軸方向接触位置の検出方法によって前記接触箇所のＹ値を確定することもでき、接触箇所を検出して、誤差が生じる問題を解決した。
【００３３】
以上、本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形又は修正が可能であり、該変形又は修正も又、本発明の特許請求の範囲内に含まれるものであることは、いうまでもない。
【符号の説明】
【００３４】
１２、２６  第一導電層
１４、２８  第二導電層
１６、３０  スペーサー
２０  タッチ装置
２２  第一基板
２４  第二基板
３２  第一側辺
３４、３８  探測電極
３６  側辺
４０  第二側辺
４２、４６  辺縁区域
４４、４８  中心区域
４５  第三側辺
５０  中間線
【図１】
2011018340.tif 000004
【図２】
2011018340.tif 000005
【図３】
2011018340.tif 000006
【図４】
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【図５】
2011018340.tif 000008