(57)【要約】【課題】従来の二重トリガオシロスコープは、トリガ判定基準である複数のイベントの関係で固定され、自由度がなかった。【解決手段】入力端子１１０が信号を受け、取込み回路１１５が入力信号を取り込む。取り込まれた入力信号は、トリガ回路１２０に応じて、メモリ１２５に蓄積される。制御器１３５は、トリガ判定基準ダイナミックに変更して、トリガ回路１２０の設定を変える。新たなトリガ条件で入力信号をメモリ１２５に取り込む。トリガ判定基準には、繰り返し係数１４４も関係できる。【選択図】図１
2011141276.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号を受ける入力端子と、
トリガにより複数の取込みを行う取込み回路と、
トリガ判定基準に応じてトリガ・イベントを検出するトリガ回路と、
少なくとも２つの上記トリガによる取込みの間に、上記トリガ判定基準をダイナミックに再構成する制御器とを具えた試験測定機器。
【請求項２】
試験測定機器をダイナミックに測定する方法であって、
上記試験測定機器の入力端子で信号を受け、
トリガにより複数の取込みを行い、
トリガ判定基準に応答して上記試験測定機器をトリガし、
少なくとも２つのトリガによる取込みの間に、トリガ判定基準をダイナミックに再構成する試験測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、オシロスコープなどの試験測定機器及びそのダイナミックなトリガ方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
オシロスコープ及びその他の形式の測定機器が種々のアプリケーションで使用されている。例えば、かかる測定機器を用いて、高速メモリ素子、ネットワーク、ストレージ装置、その他の先進電子システム及び装置などと関連した電気信号及び波形を捕捉し分析する。
【０００３】
従来の二重トリガオシロスコープは、二重イベント・トリガ・システムのＡイベント及びＢイベントの定義で、また、これらのイベントの間の関係で固定される。すなわち、全てのトリガ取込み（トリガに応じた信号の取込み）に対して、特定時間経過後に、又は特定数のＢイベントが発生後に、特定のＢイベントに続いて特定のＡイベントが生じなければならない。全てのトリガ取込みは、Ａイベント及びＢイベントの固定定義と共に、Ａイベント及びＢイベントの間の固定関係に基づいて、波形の同様部分を意図的に取り込む。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−３２９９７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述の限定により、オシロスコープのユーザは、トリガ取込みに関連した波形の異なる複数部分を同時に分析することが妨げられる。連続するトリガ取込みの間の期間中にＡ及びＢのイベント定義を同時にアップデートすることが望ましい。連続したトリガ取込みの間のＡイベント及びＢイベントの間のシーケンス関係をダイナミックに変化させることが望ましい。規定した方法で波形の異なる部分を自動的に捕捉することが更に望ましい。
【０００６】
そこで、複数のトリガ取込みの間のトリガ判定基準をダイナミックに再構成し、波形の異なる部分を自動的に捕捉する方法及び装置が依然望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の概念は、次のようなものである。
（１）信号を受ける入力端子と；トリガにより複数の取込みを行う取込み回路と；トリガ判定基準に応じてトリガ・イベントを検出するトリガ回路と；少なくとも２つの上記トリガによる取込みの間に、上記トリガ判定基準をダイナミックに再構成する制御器とを具えた試験測定機器。
（２）上記トリガ判定基準は、第１設定のトリガ判定基準であり；上記制御器は、上記第１設定のトリガ判定基準から上記トリガ取込みの間のトリガ判定基準の引き続く設定にダイナミックに再構成し；上記トリガ回路は、上記トリガ判定基準の引き続く設定の各々でトリガを行う概念１の試験測定機器。
（３）上記制御器は、上記第１設定のトリガ判定基準に関連した波形と、上記引き続く設定のトリガ判定基準の１つに関連した複数の追加の波形とを同時に表示する概念２の試験測定機器。
（４）上記第１設定のトリガ判定基準は、Ａイベント及びＢイベントを含み；上記引き続くトリガ判定基準の各々は、Ｂｘイベントを含み；上記Ｘは、１から引き続く設定のトリガ判定基準の数まで進み、上記Ｘの変化が上記トリガ判定基準の設定のＡイベント及びＢイベントのコンポーネントの間のシーケンス関係におけるダイナミックな変化を表す概念２の試験測定機器。
（５）上記取込み回路を用いて取り込んだ第１トリガ取込みは、上記第１設定のトリガ判定基準に関係し；上記取込み回路が取り込んだ残りのトリガ取込みの各々は、上記引き続く設定のトリガ判定基準の１つに関係し；上記制御器は、上記第１トリガ取込みに関連した情報をスキャンし、上記スキャンした情報の特性に応じて上記引き続く設定のトリガ判定基準のＢイベント・コンポーネントを自動的に調整する概念４の試験測定機器。
（６）上記第１設定のトリガ判定基準に関連した波形は、概括的波形の第１部分であり；上記引き続く設定のトリガ判定基準に関連した複数の追加波形は、上記概括的波形の追加の異なる部分であり；上記概括的波形は、上記入力端子で受けた上記信号に対応し；上記制御器は、上記概括的波形の第１部分及び追加の異なる部分を同時に表示する概念３の試験測定機器。
（７）上記入力端子は、第１入力端子であり；上記信号は、第１信号であり；クロック信号である第２信号を受ける第２入力端子と；第３信号を受ける第３入力端子とを更に具え；上記第１設定のトリガ判定基準は、上記クロック信号に関連したＢイベントに連続する上記第１信号に関連するＡイベントを含み；上記引き続く設定のトリガ判定基準の各々は、上記第３信号に関連したＢｘイベントを含み；Ｘは、１から引き続く設定のトリガ判定基準の数まで進み、Ｘの変化が上記トリガ判定基準の設定のＡイベント・コンポーネント及びＢイベント・コンポーネントの間のシーケンス関係のダイナミックな変化を表す概念３の試験測定機器。
（８）上記第１設定のトリガ判定基準に関連した上記波形は、上記クロック信号の概括的波形の一部であり；上記引き続く設定のトリガ判定基準の各々に関連した波形は、上記第３信号の概括的波形の異なる部分であり；上記制御器は、上記クロック信号の概括的波形の部分と上記第３信号の概括的波形の異なる部分とを同時に表示する概念７の試験測定機器。
（９）上記制御器は、上記Ａイベント及び上記Ｂイベントの間と上記複数のトリガ取込みの少なくとも２つの間とのシーケンス関係をダイナミックに変化させる概念７の試験測定機器。
（１０）上記シーケンス関係は、増分、減分、ランダム、トグル、計算及びリスト法の少なくとも１つを含む概念９の試験測定機器。
（１１）ユーザにより構成され、トリガ判定基準の各設定に関連した個別の単一波形の数を調整する繰り返し係数を更に含み、選択された個別の単一波形の数が波形表示のレートを制御する概念３の試験測定機器。
（１２）試験測定機器をダイナミックに測定する方法であって；上記試験測定機器の入力端子で信号を受け；トリガにより複数の取込みを行い；トリガ判定基準に応答して上記試験測定機器をトリガし；少なくとも２つのトリガによる取込みの間に、トリガ判定基準をダイナミックに再構成する試験測定方法。
（１３）上記トリガ判定基準は第１設定のトリガ判定基準であり；更に、上記第１設定のトリガ判定基準から、上記トリガ取込み各々の間の引き続く設定のトリガ判定基準まで上記トリガ判定基準を再構成し；上記引き続く設定のトリガ判定基準の各々でトリガする概念１２の方法。
（１４）更に、上記第１設定のトリガ判定基準に関連した波形と、上記引き続く設定のトリガ判定基準の１つに各々が関連した複数の追加波形とを同時に表示する概念１３の方法。
（１５）更に、第１トリガ取込みを第１設定のトリガ判定基準に関連させ；上記第１トリガ取込みに関連した情報をスキャンし、上記スキャンした情報の特性に応じて上記引き続く設定のトリガ判定基準のＢイベント・コンポーネントを自動的に調整する概念１３の方法。
（１６）更に、上記複数のトリガ取込みの少なくとも２つの間でＡイベント及びＢイベントの間のシーケンス関係をダイナミックに変化させる概念１２の方法。
（１７）更に、繰り返し係数を調整して、トリガ判定基準の各設定に関連した個別の単一の波形の数を制御する概念１２の方法。
（１８）更に、上記トリガ取込みの１つに関連したデータを試験し；上記取込みで端」試験に基づいて上記トリガ取込みを保持又は放棄するかを決定し；上記取込みデータの試験に基づいて上記トリガ判定基準を再構成するかを判断する概念１２の方法。
（１９）概念１２のステップを実行させるための命令を記録し機械的に読み取り可能な記録媒体。
【発明の効果】
【０００８】
よって、本発明は、試験測定機器をダイナミックにトリガすることができる。本発明の方法は、例えば、試験測定機器の入力端子にて信号を受け、複数のトリガ取込み（トリガに応じた信号の取込み）を行い、トリガ判定基準に応答して試験測定機器をトリガし、少なくとも２つのトリガ取込みの間のトリガ判定基準をダイナミックに再構成することを含む。すなわち、最初の設定のトリガ判定基準から、トリガ取込みの各々の間の引き続く設定のトリガ判定基準まで、トリガ判定基準を再構成できる。トリガ判定基準は、例えば、Ａイベント及びＢイベント定義、ＡからＢへのイベント・シーケンス条件、リセット・イベント定義、及び／又は他の適切なトリガ判定基準の中でのトリガ配置のプログラム調整を含むことができる。
【０００９】
本発明の方法は、第１トリガ取込みに関連した情報をスキャン、即ち、試験して、スキャン情報の特性に応じて引き続きの設定のトリガ判定基準を自動的に調整できる。例えば、取込みデータの試験に基づいて、Ｂイベント・トリガ形式又は配置を調整できる。
【００１０】
本発明の方法は、更に、トリガ判定基準の各設定に関連した個別の単一波形の数を制御する繰り返し係数を調整し、この繰り返し係数に基づいて波形表示のレートを制御することも含むことができる。
【００１１】
また、本発明の試験測定機器は、被試験信号を受ける入力端子と、トリガ取込みを捕捉する取込み回路と、トリガ・イベントをトリガ判定基準に応答させるトリガ回路と、複数トリガ取込みの間のトリガ判定基準をダイナミックな再構成する制御器とを含んでいる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明による試験測定機器の一実施例の簡略化したブロック図であり、入力端子、取込み回路、トリガ回路、メモリ、ダイナミック・トリガ判定基準モジュールを有する制御器と、表示ユニットとを含んでいる。
【図２Ａ】本発明の実施例によりトリガ判定基準をダイナミックに調整する技術を示す流れ図である。
【図２Ｂ】本発明の実施例によりトリガ判定基準をダイナミックに調整する技術を示す流れ図である。
【図２Ｃ】本発明の実施例によりトリガ判定基準をダイナミックに調整する技術を示す流れ図である。
【図３】単一のクロック遷移波形に関する単一のデータ・アイ波形の表示ユニット上の表示例である。
【図４】本発明の実施例による多数のクロック遷移に関する多数のデータ・アイ波形の表示ユニット上の表示例である。
【図５】本発明の実施例によるＤＤＲ３メモリ・チップに関連する３つの異なる信号の間の関係の表示ユニット上の表示例である。
【図６】本発明の実施例により、無効と判断される領域域があるデータ信号の表示ユニット上の表示例である。
【図７】本発明の実施例により、１つ以上のダイナミック・トリガ設定を構成する付勢ボタン及び設定正ウィンドウの表示ユニット上の表示例である。
【図８】本発明の実施例により、ダイナミック・トリガ設定を構成する入力を含む試験測定機器を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本発明の試験測定機器を以下に説明する。この試験測定機器は、本発明の種々の実施例で実現でき、種々の方法で種々の異なるアプリケーションに適用できる。この試験測定機器は、例えば、高速メモリ、ストレージ・デバイス、ネットワークなどに関連した信号の測定及び分析を含むと共に、クロストーク又は他の電気的ノイズの如き以上を検出し分析する。さらに、この試験測定機器は、複数の引き続くトリガ取込みの間に期間中にＡイベント及びＢイベントの定義をダイナミックに更新するために使用できるので、指示した方法で波形の異なる部分をダイナミックに捕捉できる。
【００１４】
さらに、本発明の実施例は、引き続くトリガ取込みの間の期間中のＡイベント及びＢイベントの間のシーケンス関係をダイナミックに変化することも含む。取込みデータの特性に応じて、トリガ定義又は条件をダイナミックに変更できる。次のトリガ定義をダイナミックに変更する前に１つの特定のトリガ定義又は条件の設定合せでの任意の数の波形を捕捉できるので、各トリガ定義又は条件の設定合せで波形を明瞭に定義できる。
【００１５】
複数のトリガ取込みの間でトリガ判定基準をダイナミックに再構成できるので、波形の異なる部分を自動的に捕捉し、１つ以上の被試験電気信号に関連した捕捉波形を同時に表示及び分析できる。試験測定機器がＲＴ（実時間）デジタル・オシロスコープ又は他の適切な試験測定機器であることを意図している。限定されるものではないが簡潔さ及び一貫性のために、試験測定機器は、一般にオシロスコープである。
【実施例】
【００１６】
図１は、本発明による試験測定機器１０５の一実施例の簡略化したブロック図１００である。試験測定機器１０５は、一般にオシロスコープである。このオシロスコープ１０５は、本発明の実施例により、例えば、１つ以上の入力端子１１０と、取込み回路１１５と、トリガ回路１２０と、メモリ１２５と、ダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０を含む制御器１３５と、表示ユニット１５０とを具えている。
【００１７】
オシロスコープ１０５は、本明細書で説明する種々の実施例にて用いるのに適するように、１つ、２つ、４つ、又は任意の数のチャネル又は入力１１０を有してもよい。オシロスコープ１０５の複数のコンポーネントが互いに直接的に結合されているように示すが、オシロスコープ１０５は、種々の他の回路又はソフトウェア・コンポーネント、入力、出力、及び／又はインタフェースを含むことができ、これらは、図示されないが、オシロスコープ１０５の図示したコンポーネントに関連して、又はこれらの間に配置されることが、理解できよう。
【００１８】
入力端子１１０にて１つ以上の被試験電気信号を受ける。取込み回路１１５は、これら信号を取り込みデジタル化する。トリガ回路１２０は、信号及びトリガ判定基準に応じてオシロスコープ１０５をトリガする。デジタル化信号は、トリガ取り込み１３０の形式でメモリ１２５に蓄積される。各トリガ取込み結果１３０は、１つのトリガ定義又はトリガ判定基準の設定に対応できる。
【００１９】
制御器１３５は、トリガ回路１２０、メモリ１２５、及び表示ユニット１５０と機能的に結合される。制御器１３５は、被試験信号を処理し、対応する波形、トレース及び／又は測定結果を発生して、表示ユニット１５０に表示する。さらに特に、制御器１３５は、ダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０を含んでいる。制御器１３５及び／又はダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０の任意のコンポーネントは、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア又はこれらの設定合せにより実現できる。
【００２０】
一連のトリガ取込み結果１３０の各々の間の期間中に、制御器１３５のダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０は、トリガ判定基準１４２をダイナミックに更新できる。用語「トリガ判定基準」又は「トリガ判定基準の設定」は、トリガされるオシロスコープ１０５による条件を意味し、例えば、Ａイベント及び／又はＢイベント、Ａイベント及びＢイベントの間のシーケンス関係、リセット・イベント定義及び／又はプログラム条件のトリガ判定基準の如き種々の要素を含むことができる。例えば、トリガ判定基準１４２は、トリガ形式、シーケンス方法又はパラメータ値、タイマ・イベントの長さ、回路極性、トリガ・レベルの電圧又は等価なもの、他のトリガ定義及び／又は関係などでもよい。シーケンス関係は、例えば、時間による遅延、イベント・パラメータ値による遅延でもよい。リセット・イベント定義は、例えば、タイムアウト、遷移、及び／又はレベル・パラメータ値を含む。そして、Ｂイベントの前にリセットが生じると、トリガをＡイベントに戻すことができる。これらのいくつか又は全ては、ここでトリガ判定基準又はトリガ判定基準の設定として示すものである。
【００２１】
ダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０は、少なくとも２つのトリガ取込みの間のトリガ判定基準１４２を自動的且つダイナミックに再構成できる。例えば、トリガ判定基準１４２の第１設定を確立すると、トリガ回路１２０は、トリガ・イベントがトリガ判定基準１４２の第１設定に応答するようにし、表示ユニット１５０は、第１設定のトリガ判定基準を満足した対応トリガ・イベントに関連する波形を表示できる。ダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０は、トリガ判定基準１４２の第１設定から、トリガ取込み結果１３０の各々の間のトリガ判定基準１４２の引き続く設定まで、トリガ判定基準１４２を自動的に且つダイナミックに再構成できる。また、表示ユニット１５０は、引き続く設定のトリガ判定基準を満足した対応トリガ・イベントに関連した波形を同時に表示できる。すなわち、トリガ回路１２０は、トリガ判定基準の手動再構成を行うことなく、トリガ判定基準１４２の引き続く設定の各々で自動的且つダイナミックにトリガでき、対応波形の全てを分析用に同時に表示できる。
【００２２】
本発明のいくつかの実施例において、例えば、Ａイベント及びＢイベントの定義と、Ａイベント及びＢイベントの間のシーケンス関係を含むトリガ判定基準１４２の初期の設定を確立した後、ダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０は、トリガ・イベントの前後にて波形データ用の初期トリガ取込み結果１３０をスキャンでき、スキャン・データ又はスキャン・データの部分の特性又は内容に応じて、ダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０は、プログラムにより変化できる。例えば、Ｂイベント定義は、タイミングの位置又は形式の特徴により変化できる。例えば、トリガ判定基準１４２のＢイベント定義成分のトリガ位置の場所をスキャン・データに基づいてプログラムで変更できる。他の例として、トリガ判定基準１４２のＢイベント定義要素を、ウィンドウ・トリガ定義から、スキャン・データに基づく傾斜エッジ・トリガまでプログラムで変化できる。プログラムで定義した種々のトリガ形式又は位置に対応する異なる波形を、表示ユニット１５０を用いて同時に表示できる。いくつかの本発明の実施例において、異なる波形が表示上をプログラムで「シフト」されて、新たなトリガ位置又は形式に対応する。
【００２３】
本発明のいくつかの実施例において、トリガ発生後に取込みデータを試験でき、制御器は、現在のトリガ取込み結果１３０を維持するか廃棄するかを決定し、及び／又は、新たなトリガ取込みに対して新たなトリガ判定基準１４２を設定するかを決定する。よって、トリガ定義又は条件の結果である取込みデータの特性に応じて、トリガ判定基準１４２をダイナミックに変更できる。例えば、トリガ判定基準１４２の第１設定に応じて第１トリガ取込みを捕捉した後に、制御器は、第１トリガ取込みに関連した情報をスキャンでき、スキャン情報の特性に応じて、トリガ判定基準１４２の引き続く設定のＢイベント要素を自動的に調整できる。第１トリガ取込み結果１３０は、トリガ判定基準１４２の第１設定に関連し、残りのトリガ取込み結果１３０は、トリガ判定基準１４２の引き続く設定の１つに関連する。トリガ取込み結果１３０の任意の２つの間で、データをスキャンでき、次の又は任意の引き続くトリガ判定基準がスキャン・データに基づいて調整される。
【００２４】
本発明のいくつかの実施例において、トリガ判定基準１４２をダイナミックに再構成することは、トリガ判定基準１４２に関連した任意の要素を変更することを含む。例えば、Ａイベント及びＢイベントと、これらＡイベント及びＢイベントの間のシーケンス関係用の定義を含むトリガ判定基準１４２の初期設定を確立した後に、トリガ回路１２０は、条件１４２の初期設定に応じてオシロスコープ１０５をトリガする。手動再構成が介在することなく、次の又は任意の引き続くトリガ取込み結果１３０の前に、トリガ判定基準の任意の要素をダイナミックに再構成できる。トリガ回路１２０は、初期及び／又は引き続くトリガ判定基準１４２でトリガでき、トリガ・イベントに対応する１つ以上の波形を表示できる。
【００２５】
表示ユニット１５０は、トリガ判定基準１４２の第１設定に関連した波形と複数の追加波形とを同時に表示するが、各追加波形は、トリガ判定基準１４２の引き続く設定の１つに関連する。ここで用いる用語「波形」とは、「一般」波形又は概括的波形の一部から基本的に構成された個別の単一波形のグループを通常は指す。１つの特定のトリガ定義にて、又は、トリガ判定基準の１つの特定の設定に応じて、次のトリガ定義又は条件の設定にダイナミックに変更する前に、任意の数の個別に収集した単一の波形を集めることができるので、各トリガ定義又はトリガ判定基準の設定にて、概括的波形をより明瞭に定義する。
【００２６】
繰り返し係数１４４を用いて、捕捉する単一波形の数を決定でき、これは、ダイナミックに又は手動で構成できる。繰り返し係数１４４は、ダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０に機能的に関連する。繰り返し係数１４４を増加することにより、概括的波形を形作る個別の単一波形の数が増える。これは、概括的波形の特性を良好に定義し、より明瞭に示す。多数の異なる個別の単一波形を組合せて、トリガ取込み結果１３０の１つに対応する概括的波形を形成する。
【００２７】
さらに、個別の単一波形の追加的な収集により、トリガ判定基準の特定設定に関連したデータの全てを取込む時間が伸び、その結果、オシロスコープ１０５のユーザは、トリガ判定基準の発展した設定に応じて、表示ユニット１５０が表示する追加波形の増加する進行に気付く。この方法において、ユーザは、特定波形のどの瞬間又は部分が期待パターンとずれたかを視覚的に気付くことができる。更に、オシロスコープのユーザが繰り返し係数１４４を１００又は１０００に設定すると、トリガ判定基準のある設定からトリガ判定基準の次の設定までの進行が遅くなり、トリガ判定基準の各変化をユーザが視覚的に気付くことができる。これは、表示にて波形が徐々に追加されるためである。アイコン又はテキスト情報の如き指示を表示して、現在の繰り返し係数１４４をオシロスコープ１０５のユーザに知らせることができる。
【００２８】
同じ概括的波形の異なる複数の「部分」は、表示ユニット１５０に同時に表示できる。さらに、異なる概括的波形の異なる部分は、表示ユニット１５０に同時に表示できる。本発明のいくつかの実施例において、オシロスコープ１０５の多数のチャネルが多数の信号を受けると、任意の１つ以上の信号で発生するイベントをカバーするようにトリガ判定基準１４２を構成できるので、トリガ判定基準の第１及び引き続く設定を満足する波形の異なる部分を同時に観察することは、オシロスコープのユーザにとっては有用である。
【００２９】
本発明のいくつかの実施例において、引き続くトリガ取込みの間の期間中に、ダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０によりＡイベント及びＢイベントの間のシーケンス関係がダイナミックに変化する。例えば、適切なシーケンス関係の中でも増分、減分、ランダム、トグル、計算及び／又はリスト法を含む種々の方法を用いて、遅延時間又は遅延イベント計数のシーケンス関係を変化させてもよい。Ａイベント関係からＢイベント関係にダイナミックに変更することにより、概括的波形の異なる部分が規定された方法で捕捉される。
【００３０】
本発明のいくつかの実施例において、トリガ判定基準１４２の設定の任意の要素は、複数のトリガ取り込み１３０の間でダイナミックに変化する。例えば、トリガ判定基準の初期設定は、Ａイベント及びＢイベントの定義とこれらの特定シーケンス関係を含み、トリガ判定基準１４２の引き続く設定をＣｘで表すことができる。なお、Ｘは、トリガ判定基準１４２の特定の設定を表し、変化するか、又は、１から、引き続くトリガ判定基準１４２の数まで進むか増分する。Ｘの変化は、トリガ判定基準の任意の要素又は定義におけるダイナミックな変化を表す。すなわち、Ａイベント及びＢイベントの定義、これらイベントの間のシーケンス関係、リセット・イベント・データ、及び／又は、スキャン・データに基づくトリガ配置又は形式のプログラムでの変化の如く、任意の定義又は関係を変更できる。Ｘが各トリガ取込み結果１３０の間で変化すると、トリガ判定基準Ｃｘの新たな設定を適用できる。
【００３１】
本発明のいくつかの実施例において、トリガ判定基準１４２の設定のＡイベント及びＢイベントの要素の間のシーケンス関係は、複数のトリガ取込み結果１３０の間でダイナミックに変更される。例えば、トリガ判定基準１４２の初期設定は、Ａイベント及びＢイベントを含むが、トリガ判定基準１４２の引き続く設定は、Ｂｘイベントを含むことができる。Ｘは、トリガ判定基準１４２の設定の特定シーケンス関係要素を表し、変化するか、又は、１から、引き続くトリガ判定基準１４２の設定の数まで進むか増分する。Ｘの変化は、トリガ判定基準の設定のＡイベント及びＢイベントの要素の間のシーケンス関係におけるダイナミックな変化を表す。Ｘにおける変化が表すトリガ判定基準１４２の各新たな設定は、上述の如く、Ａイベント及びＢイベントの間のシーケンス関係におけるダイナミックな変化を含むことができる。
【００３２】
いくつかの実施例において、制御器１３５は、バス又はワイヤの如き導体を介して外部装置１４５からトリガ判定基準１４２を受けることができる。外部装置１４５は、例えば、可能性のあるものの中からオシロスコープ１０５又は外部メモリ装置から分離したコンピュータを含むことができる。代わりに、又は、追加として、制御器１３５は、トリガ取込み結果１３０に関する又は含まれる情報を外部装置１４５に転送できる。
【００３３】
図２Ａ〜２Ｃは、本発明の実施例によりトリガ判定基準をダイナミックに調整する技術を示す流れ図である。
【００３４】
図２Ａにおいて、処理は、ステップ２０５から開始する。このステップ２０５にて、オシロスコープの入力端子にて被試験信号を受ける。ステップ２１０にて、上述の任意の定義又は関係を含むことができるトリガ判定基準に応答してオシロスコープをトリガする。ステップ２１５にて、オシロスコープのトリガ回路及びメモリを用いて、トリガ取込みを捕捉する。つぎに、処理は、ステップ２２０に進み、上述のように、トリガ判定基準をダイナミックに再構成する。ステップ２３０にて、１つ以上の追加のトリガ取込みを行う。
【００３５】
図２Ｂにおいて、処理はステップ２３５にて開始し、オシロスコープの入力端子にて、被試験信号を受ける。ステップ２４０にて、上述の任意の定義又は関係を含むことができるトリガ判定基準に応答して、オシロスコープがトリガされる。ステップ２４５にて、オシロスコープのトリガ回路及びメモリを用いて、トリガ取込み結果を捕捉する。トリガ取込みに関連したデータは、トリガ・イベントの前後のデータを含むことができ、ステップ２５０にて、スキャン、即ち、試験される。ステップ２４４にて、スキャン・データに基づいて、トリガ判定基準をダイナミックに再構成できる。本発明のいくつかの実施例において、取込みデータを試験して、トリガ取込み結果を保持するか破棄するかを判断し、及び／又は、トリガ判定基準を再構成するか又どの様に再考するかを判断する。
【００３６】
図３Ｃにおいて、処理がステップ２６０で開始し、オシロスコープのトリガ回路及びメモリを用いて、トリガ取込みを行う。ステップ２６５にて、トリガ判定基準をダイナミックに再構成するかを判断する。ノーならば、流れはステップ２６０に戻り、他のトリガ取込みを行う。そうでなくイエスならば、処理は、１つ以上のステップ２７０、２７５、２８０及び２８５に進む。ステップ２７０にて、Ａイベント及び／又はＢイベントの定義を再構成する。ステップ２７５にて、ＡからＢのイベント・シーケンス関係を再構成する。ステップ２８０にて、リセット・イベント定義を再構成する。ステップ２８５にて、トリガ配置をプログラムで再構成する。手動再構成が介在することなく、トリガ取込み２６０及び２９０の間で、１つ以上のこれらの定義又は関係を自動的且つダイナミックに再構成できる。
【００３７】
図３は、単一のクロック遷移波形３０５に関する単一のデータ・アイ（目）波形３１０の例示のトレース３００を示す。単一のデータ・アイ３１０は、概括的波形３１０の部分３２０を示す。この概括的波形３１０は、個別に収集された複数の単一波形３１５から構成されているが、ここで説明するデータ・アイ３１０は、単一の概括的波形から得られたことが理解できよう。
【００３８】
図３に示す波形は、一般的にＤＤＲ３メモリ・デバイスに関係するが、単に図示のための例である。単一のデータ・アイ３１０を捕捉する第１、即ち、初期トリガ設定は、Ａイベント・ウィンドウ・トリガを用いて、オシロスコープ１０５のチャネルＣＨ１でのＤＱＳクロック信号に関連したＤＤＲ３書き込み及び／又は読み出しイベントを検出する。チャネルを一般的には、ＣＨと略す。オシロスコープのＣＨ１の如き各チャネルは、入力端子１１０の対応の１つに関係できる。
【００３９】
固定「Trig on nth Event」（ｎ番目でのトリガ）の値を２に特定することにより、Ａイベント・ウィンドウ・トリガの後に、ＣＨ１でのＤＱＳクロック信号でＢイベント「Either Slope Edge Trigger」（いずれかの傾斜エッジ・トリガ）が続き、図３に示すように、第２ＤＱＳクロック（ＣＨ１）を囲むＤＱＣＨ２データ・アイを捕捉する。よって、ＣＨ１を介して受けた信号に関連する単一のデータ・アイが、ＣＨ２を介して受けたクロック信号に関連した単一のクロック遷移の周囲で表示される。単一クロック遷移３０５の周囲の単一データ・アイ３１０を試験することは有用であるが、図４を参照して説明するように、多数のクロック遷移で多数の重なったデータ・アイを試験することは更に有用である。
【００４０】
図４は、本発明のいくつかの実施例により、多数のクロック遷移４０５に周囲での多数のデータ・アイ波形（例えば、４１０／４１２）のトレース４００の例を示す。ここで、Ｂイベントの数がダイナミックに変更されるだけではなく、これらＢイベントの回路極性も替わる。図３に示す如き第１トリガ状態（即ち、Ａイベント）の後に固定数のイベントを表示した単一波形データ・アイの代わりに、Ａイベントから遅延しダイナミックに変化する数のＢイベントにて、１組の重なった波形データ・アイ４１０／４１２を捕捉する。この方法において、多数のデータ・アイの特性を順番ではなく同時に試験できる。この例において、重なったデータ・アイが１対のＤＤＲ３信号内に見つかるが、ＣＨ１がＤＱＳクロック信号４０５に関連し、ＣＨ２がデータ信号に関連して、その結果が波形４１０／４１２となる。
【００４１】
オシロスコープ１０５のユーザは、例えば、複数のＣＨ２データ・アイが同じ量だけシフトされたかオープンされていないかを判断できる。これは、ＤＤＲ３メモリ・システムにて重要な設計考察事項である。例えば、クロックに侵入するデータ・アイをどの様に閉じるかをユーザが判断できる。ＤＱＳクロック信号の傾斜を替えてトリガしながら、引き続く取込みの間で１から８まで「Trig on nth Event」値をダイナミックに変化させて、重なったＤＱデータ・アイを達成できる。よって、図４は、要旨として、初期ＤＤＲ書き込み及び／又は読み出しイベントに続く８個のクロック遷移のバーストの周囲の８個のデータ・アイの全ての要約を示す。引き続くトリガ取込みの間のトリガ判定基準をダイナミックに変化させることにより、多数のデータ・アイ及びクロック波形を同時に表示できる。
【００４２】
比較的短期間に信号特性の総合的な要約を行うことにより、トリガ・ハードウェア速度にて、重なったデータ・アイを取り込むことができる。対応するトリガされた概括的波形を明瞭にし、繰り返し定義するために、トリガ判定基準の次の設定に進む前に、トリガ判定基準の各設定に応じて、多数の単一波形４１５を自動的に捕捉できる。
【００４３】
本発明のいくつかの実施例において、トリガ判定基準の第１設定に関連した波形４１０は、概括的波形４１０の第１部分を具えている。トリガ判定基準の引き続く設定に関連した追加波形（例えば４１２）の各々は、同じ概括的波形の追加の他の部分を具えている。概括的波形は、この場合、ＣＨ２を介して入力端子にて受けるデータ信号に対応する。表示ユニット１５０は、入力端子で受けた信号に関連した概括的データ波形の第１部分４１０と追加の異なる部分４１２とを同時に表示する。
【００４４】
図５は、本発明によるいくつかの実施例により、ＤＤＲ３メモリ・チップに関連した３つの異なる信号の関係のトレースの例５００を示す。この実施例において、ＤＤＲメモリ・チップの異なる「ランク」から分離したデータ・アイを捕捉し同時に表示できる。ランク及び／又はチップ選択（〜ＣＳ）、クロック（ＤＱＳ）及びデータ（ＤＱ）信号の間の主な関係を示すために、ウィンドウ・トリガを初期Ｂイベントとして用いることができる。ここでは、ランク及び／又はチップ選択（〜ＣＳ）を一般にランク選択とする。
【００４５】
ＤＤＲ３メモリ・システムのランク選択信号５０５は、クロック信号５１０に構成されたウィンドウ・トリガ定義に関連するので、１ランクからのイベントをトリガできるし、そうでなければ捕捉できる。ＣＨ３に関連するランク選択信号５０５での低方向のパルスをＡイベントがターゲットにでき、ＣＨ４に関連するクロック信号５１０の第１立ち上がり（又は立ち下がり）エッジをＢイベントがターゲットにできる。時間シーケンス関係による遅延をＡイベント及びＢイベントの間に構成できる。この方法において、特定のランク又はチップに関連する書き込み及び／又は読み出し動作のバーストを分析できる。Ｂイベント・トリガ形式がウィンドウ・トリガから「Either Slope」（いずれかの傾斜）エッジ・トリガにダイナミックに変化した後に、ＣＨ２に関連するデータ信号５１５は、ＣＨ４クロック遷移（例えば、Ｂ1、Ｂ2、Ｂ3、Ｂ4、Ｂ5、Ｂ6、Ｂ7、Ｂ8）の周囲のデータ・アイの所望重ね合わせ設定を形成するので、その結果、重ね合わせデータ・アイが図４に示すようになる。
【００４６】
第１又は初期トリガ判定基準は、Ａイベント負グリッチ及び／又はパルス幅トリガ判定基準要素を含み、ＡからＢへのイベント遅延時間の固定値により、ＣＨ２に関連したＢイベント正極性ウィンドウ・トリガ判定基準要素に続き、ＣＨ３に関連したランク選択信号５０５（〜ＣＳ）での低方向パルスを検出できる。よって、ＡからＢへのイベント遅延時間の値により、ＤＤＲ３メモリ・チップの特定のランクでのアクティビティを捕捉する。トリガ判定基準を満足し、トリガが生じた後、次の又は任意の引き続く立ち上がり（又は立ち下がり）エッジに対して、ＣＨ４に関連するクロック信号５１０をスキャンし、トリガ判定基準のＢイベント要素を再構成して、かかるエッジにＢイベント・トリガ要素を配置し、概括的データ波形５１５の次の部分を再び捕捉する。よって、図４に示すように、重なったデータ・アイの組合せを生じる。すなわち、図１のダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０を用いて、トリガ配置のためにトリガされた複数取り込みの間のトリガ判定基準のＢイベント要素をダイナミックに再構成することにより、Ｂイベント・ウィンドウ・トリガからＢイベント「Either Slope Edge Trigger」（いずれかの傾斜エッジ・トリガ）へのダイナミックな変化に効果的である。
【００４７】
本発明のいくつかの実施例において、トリガ判定基準のＢイベント・ウィンドウ・トリガ要素の後に、わずかな量の波形データ・スキャンを行う必要がある。わずかな量のデータをスキャンした後に、高及び低クロック信号５１０のバーストにおける異なるエッジにて、次の又は引き続くＢイベントはEither Slope Edge Trigger」を何処に配置するかをダイナミック・トリガ判定基準モジュール１４０が決定できる。計算量が多く低速になる大量の取り込んだデータの検索を必要としないことが理解できよう。むしろ、ＤＤＲ３メモリ・チップ・ランクの分離及びこれに関する情報は、ほぼトリガ・ハードウェア速度で達成できる。
【００４８】
本発明のいくつかの実施例において、多数の入力端子１１０が用いられ、オシロスコープ１０５の多数のチャネルに関連する。１つのチャネルが第１信号５０５を受け、他のチャネルがクロック信号５１０を受け、更に別のチャネルがデータ信号５１５を受ける。オシロスコープの各チャネルは、複数の入力端子１１０の１つに関連する。トリガ判定基準の第１即ち初期設定は、クロック信号５１０に関連したＢイベントに引き続く第１信号５０５に関連するＡイベントを含む。トリガ判定基準の引き続く設定の各々は、データ信号５１５に関連したＢｘイベントを含む。ここで、Ｘは、変化するか、又は１から、トリガ判定基準の引き続く設定の数まで進む即ち増分し、Ｘの変化は、トリガ判定基準の設定のＡイベント及びＢイベントの要素の間のシーケンス関係でのダイナミックな変化を表す。Ｘの変化が表すトリガ判定基準１４２の各新たな設定は、上述の如く、Ａイベント及びＢイベントの間のシーケンス関係におけるダイナミックな変化を含んでいる。
【００４９】
トリガ判定基準の第１設定に関連した波形は、クロック信号５１０の概括的波形５１０の部分４０５を有する。トリガ判定基準の引き続く設定の各々に関連する波形は、データ信号５１５の概括的波形異なる部分４１０／４１２を有する。クロック信号５１０の概括的波形の部分４０５と、データ信号５１５の概括的波形異なる部分４１０／４１２とを同時に表示するように表示ユニット１５０が構成されている。
【００５０】
上述のＤＤＲ３の例を参照し、トリガが生じた後に取込みデータが試験され、制御器は、現在のトリガ取込み結果を維持するか破棄するかを判断し、及び／又は、次のトリガ取込みのために新たなトリガ判定基準を設定するかを判断する。
【００５１】
図６は、データ信号６０５のトレースの例６００を示す。ここでは、本発明のいくつかの実施例に応じて、領域６１５が、無効であると判断される。ボックス６０５は、単一の設定における概括的な領域を線引きし、ＣＨ４に関連したクロック信号６１０の９番目及び１１番目のＤＱＳクロック・エッジの間でＤＱデータ信号６０５が有効ではない。９番目のＤＱＳ立ち上がりエッジで丁度トリガすることにより、オシロスコープは、ＣＨ１に関連したＤＱデータ信号６０５の取込みデータを試験して、低から高のしきい値への遷移時間が長すぎるか短すぎるかを判断できる。図６に示す例において、遷移時間は、この理由により無効と判断される。かかる情報により、オシロスコープのトリガ・ロジックは、この特定の取込みを維持するか破棄するかを判断し、及び／又は、ダイナミック・トリガ判定基準１４２のシーケンス・イベント番号要素を進めることを止めるかを判断できる。信号設定が９番目及び引き続くＤＱＳクロック・エッジでの有効ＤＱデータを含む次の領域を見つけるように、オシロスコープのトリガ回路が再活性される。この方法において、有効ＤＱデータのみを含むレンジにおける全てのＤＱＳクロック・エッジの周囲の重なったＤＱデータ・アイを得ることができる。
【００５２】
図７は、本発明のいくつかの実施例により、１つ以上のダイナミック・トリガ設定７１０を構成するための付勢ボタン及び設定制御ウィンドウ７００の一実施例を示す。制御ウィンドウ７００のこの実施例により、オシロスコープ１０５のユーザは、トリガ判定基準のＡイベント及びＢイベント要素を構成でき、トリガ取込みの間でトリガ判定基準がどの様にダイナミックに変化するかを特定できる。この例において、ＤＤＲ３重ね合わせアイ・ダイアグラム例をサポートするように、ＡからＢへのシーケンス・イベント計数を構成できる。また、Ｂイベント・スキャンを用いて、順次又はランダムに、若しくは複数Ｂエッジの間のトグルにて多数のＢエッジをスキャンできる。例えば、種々のＡイベント及び／又はＢイベントの定義、ＡからＢへのシーケンス関係、リセット・イベント定義、プログラム・トリガ配置などの組合せに基づいた上述のダイナミック・トリガ技術を用いて、ＡからＢへのシーケンス・トリガの数百の組合せ（図示せず）を実現できることが理解できよう。
【００５３】
図８は、本発明の実施例によるダイナミック・トリガ設定を構成するための入力８０５、８１０、８１５及び／又は８２０を含むオシロスコープ８００を示す。オシロスコープ８００は、表示器８２５を有する表示ユニット１５０を含む。入力８０５、８１０及び／又は８２０を用いて、初期トリガ判定基準を構成できる。例えば、入力８０５を用いてＡイベント及び／又はＢイベントの定義を構成でき、入力８１０を用いてＡイベントからＢイベントへのシーケンス関係を構成でき、入力８２０を用いてリセット・イベント定義又は任意の他のトリガ判定基準を構成できる。さらに、入力を用いて、ダイナミック・トリガ判定基準モジュールがトリガ判定基準のある設定からスキャン・データに基づく次にプログラムでどのように変化させるかのガイドラインを設定できる。
【００５４】
さらに、メニュー及び／又は制御８１５を用いて、ユーザから表示８２５を介して入力を受けることができる。例えば、「分析」メニュー・オプションは、「ＤＤＲ３」ダイナミック・トリガ判定基準の如き特定の予め定めたトリガ判定基準を有することができる。この方法において、ユーザは、ＤＤＲ３ダイナミック・トリガ・メニュー・オプション又は「実行」ボタンを選択することのみが必要であり、アプリケーションは、ＤＤＲ３メモリ用に特に設計されたガイドライン及び／又はトリガ判定基準の理想的な設定を選択する。「分析」メニュー・オプションにおける任意の入力は、特定アプリケーション用の所定の設定を有することができることが理解できよう。さらに、トリガ定義、シーケンス関係、リセット・イベント定義などの数百の組合せが可能なことが理解できよう。さらに、状態情報８２７を用いて、繰り返し係数、現在のトリガ判定基準及び／又は他の適切な状態情報の如くトリガ判定基準の関する情報をユーザに知らせることができる。
【００５５】
本発明の特定の実施例について説明したが、本発明の要旨は、これら実施例に限定されないことが明らかであろう。いくつかの実施例において、上述の本発明の方法のステップの命令は、フロッピ・ディスク、光ディスク、固定ディスク、揮発性メモリ、不揮発性メモリ、ランダム・アクセス・メモリ、リード・オンリ・メモリ又はフラッシュ・メモリなどの機械的アクセス可能な媒体に蓄積したものでもよい。これを試験測定機器で実行すると、本発明が実現できる。本発明の要旨を逸脱することなく、種々の変更変形が可能である。
【符号の説明】
【００５６】
１０５  オシロスコープ
１１０  入力端子
１１５  取込み回路
１２０  トリガ回路
１２５  メモリ
１３０  トリガ取込み結果
１３５  制御器
１４０  ダイナミック・トリガ判定基準モジュール
１４２  トリガ判定基準
１４４  繰り返し係数
１４５  外部装置
１５０  表示ユニット
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図２Ｃ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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