(57)【要約】【課題】デジタルフィルタにおける乗算器に設定可能なタップ係数のビット幅を拡張することなく、タップ係数を拡張した場合と等価な効果が得られるようにする。【解決手段】上記乗算器に設定可能な設定可能タップ係数よりも下桁側の桁数の多い数値とされた目標タップ係数を設定しておく。その上で、当該目標タップ係数における、上記設定可能タップ係数の最小桁以上となる部分の数値である設定可能桁部分数値と、当該設定可能桁部分数値に対してその最小桁の値に１を加算した最小桁値加算数値とを、上記乗算器に対し、その時間軸上での設定比率が上記目標タップ係数における上記設定可能桁部分よりも下桁側となる部分の数値である設定可能最小桁未満数値に応じた設定比率となるようにして設定する。これによりタップ係数を拡張した場合と等価な効果が得られる。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
デジタルフィルタを備えて入力信号に対してフィルタ処理を施すフィルタ処理装置であって、
タップ係数が可変設定される乗算器と、
上記乗算器に設定可能な設定可能タップ係数よりも下桁側の桁数の多い数値とされた目標タップ係数を保持する目標タップ係数保持部と、
上記目標タップ係数における上記設定可能タップ係数の最小桁以上となる部分の数値である設定可能桁部分数値と、当該設定可能桁部分数値に対してその最小桁の値に１を加算した最小桁値加算数値とについて、それらのうちの一方を択一的に出力して上記乗算器に設定する係数択一設定部と、
上記乗算器に対する上記最小桁値加算数値と上記設定可能桁部分数値との時間軸上での設定比率を、上記目標タップ係数における上記設定可能桁部分よりも下桁側となる部分の数値である設定可能最小桁未満数値に応じた設定比率とするように上記係数択一設定部を制御する係数設定比率制御部と
を備えるフィルタ処理装置。
【請求項２】
上記係数設定比率制御部は、
上記目標タップ係数の値から上記設定可能桁部分数値を減算した値をＸとしたとき、上記最小桁値加算数値と上記設定可能桁部分数値との時間軸上での設定比率をＸ：１−Ｘとするように制御を行う
請求項１に記載のフィルタ処理装置。
【請求項３】
デジタルフィルタを備えて入力信号に対してフィルタ処理を施すフィルタ処理装置におけるフィルタ処理方法であって、
上記デジタルフィルタに備えられる乗算器に設定可能な設定可能タップ係数よりも下桁側の桁数の多い数値とされた目標タップ係数における、上記設定可能タップ係数の最小桁以上となる部分の数値である設定可能桁部分数値と、当該設定可能桁部分数値に対してその最小桁の値に１を加算した最小桁値加算数値とを、上記乗算器に対し、その時間軸上での設定比率が上記目標タップ係数における上記設定可能桁部分よりも下桁側となる部分の数値である設定可能最小桁未満数値に応じた設定比率となるようにして設定する
フィルタ処理方法。
【請求項４】
光記録媒体に対するレーザ光の照射及び反射光の受光を行って上記光記録媒体に記録された信号についての再生信号を得る光学ヘッド部と、
デジタルフィルタを備えて上記再生信号に対してフィルタ処理を施すフィルタ処理部であって、
タップ係数が可変設定される乗算器と、
上記乗算器に設定可能な設定可能タップ係数よりも下桁側の桁数の多い数値とされた目標タップ係数を保持する目標タップ係数保持部と、
上記目標タップ係数における上記設定可能タップ係数の最小桁以上となる部分の数値である設定可能桁部分数値と、当該設定可能桁部分数値に対してその最小桁の値に１を加算した最小桁値加算数値とについて、それらのうちの一方を択一的に出力して上記乗算器に設定する係数択一設定部と、
上記乗算器に対する上記最小桁値加算数値と上記設定可能桁部分数値との時間軸上での設定比率を、上記目標タップ係数における上記設定可能桁部分よりも下桁側となる部分の数値である設定可能最小桁未満数値に応じた設定比率とするように上記係数択一設定部を制御する係数設定比率制御部と
を備えるフィルタ処理部と、
上記フィルタ処理部によりフィルタ処理の施された上記再生信号に基づき、信号品質の評価指標となる品質評価値を単位時間あたりに複数回測定すると共に、上記複数回測定した品質評価値を少なくとも積分する評価部と
を備える光記録媒体駆動装置。
【請求項５】
上記評価部は、
上記品質評価値として、上記再生信号のエッジ位置の誤差を表す評価値を測定する
請求項４に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項６】
上記評価部は、
上記エッジ位置の誤差を表す評価値を少なくとも記録マーク長ごとに測定する
請求項５に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項７】
上記評価部は、
少なくとも上記記録マーク長ごとに測定した上記エッジ位置の誤差を表す評価値を、少なくとも上記記録マーク長ごとに平均化する
請求項６に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項８】
上記係数設定比率制御部は、
上記目標タップ係数の値から上記設定可能桁部分数値を減算した値をＸとしたとき、上記最小桁値加算数値と上記設定可能桁部分数値との時間軸上での設定比率をＸ：１−Ｘとするように制御を行う
請求項４に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項９】
光記録媒体に対するレーザ光の照射及び反射光の受光を行って上記光記録媒体に記録された信号についての再生信号を得る光学ヘッド部と、デジタルフィルタを備えて上記再生信号に対してフィルタ処理を施すフィルタ処理部とを備えた光記録媒体駆動装置における評価値測定方法であって、
上記デジタルフィルタに備えられる乗算器に設定可能な設定可能タップ係数よりも下桁側の桁数の多い数値とされた目標タップ係数における、上記設定可能タップ係数の最小桁以上となる部分の数値である設定可能桁部分数値と、当該設定可能桁部分数値に対してその最小桁の値に１を加算した最小桁値加算数値とを、上記乗算器に対し、その時間軸上での設定比率が上記目標タップ係数における上記設定可能桁部分よりも下桁側となる部分の数値である設定可能最小桁未満数値に応じた設定比率となるようにして設定するタップ係数設定手順と、
上記タップ係数設定手順によるタップ係数の設定が行われた上記フィルタ処理部によってフィルタ処理の施された上記再生信号に基づき、信号品質の評価指標となる品質評価値を単位時間あたりに複数回測定すると共に、上記複数回測定した品質評価値を少なくとも積分する評価手順と
を有する評価値測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタルフィルタを備えて入力信号についてのフィルタ処理を行うフィルタ処理装置とその方法に関する。
また、光記録媒体からの再生信号に基づき信号品質の評価指標となる品質評価値の測定を行う光記録媒体駆動装置とその評価値測定方法に関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−４７１８１号公報
【特許文献２】特開平５−５５８７５号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により記録信号の再生が行われる光ディスク記録媒体として、例えばＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる高記録密度ディスクが普及している。
このような高記録密度ディスクについては、その記録情報の再生にあたりＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）復号（パーシャルレスポンス最尤復号）が行われる場合がある。
【０００４】
周知のようにＰＲＭＬ復号方式は、再生信号との間のユークリッド距離が最小となるパーシャルレスポンス系列を検出する方式であり、パーシャルレスポンスという過程と最尤検出という過程とが組み合わされた技術となる。
パーシャルレスポンス系列は、ビット系列にターゲットレスポンスで定義される重み付け加算を施すことで得られる。光ディスクシステムにおいてはＰＲ（１，２，２，１）が良く用いられ、これはビット系列に１，２，２，１の重みを付けて加算した値をパーシャルレスポンス値として返すものである。
【０００５】
ＰＲＭＬ復号を行うにあたっては、再生信号に対して所定のＰＲ特性が与えられるべく、再生信号にイコライジング処理（ＰＲ等化処理）を施すようにされる。
ＰＲＭＬ復号では、上記最尤検出としてビタビ検出を行うが、このビタビ検出では、上記イコライジング処理によりパーシャルレスポンスの過程となるように調整された再生信号を入力し、当該再生信号と、想定され得るビット系列のパーシャルレスポンスとの間のユークリッド距離を調べ、その距離が最も近くなるビット系列を検出結果として得るものである。
【０００６】
また、一方で光ディスクシステムでは、記録時において、いわゆるＯＰＣ（Optimum Power Control）やライトストラテジ調整などの、記録波形調整パラメータに関するキャリブレーション動作が行われる。
【０００７】
これら波形調整パラメータに関するキャリブレーション動作のうち、特にライトストラテジ調整を行う際には、記録信号品質を評価するための評価値として、例えば上記特許文献１などに開示されているｄＳＡＭなど、再生信号のエッジ位置の誤差を表す評価値が用いられる。
【０００８】
図８は、例えばＢＤなどの高記録密度ディスクに対応してＰＲＭＬ復号を行う光ディスクシステムにおいて、上記ｄＳＡＭなどのエッジ位置の誤差を表す評価値を得るための従来例としての構成を示している。
先ず、上述したＰＲＭＬ復号を実現するための構成として、イコライザ１００、ビタビ復号器１０１が備えられる。
イコライザ１００は、デジタルサンプリングした再生信号（以下、再生信号ＤＳとする）を入力し、当該再生信号ＤＳに対し、ＦＩＲフィルタ１００ａ（ＦＩＲ：Finit Impulse Response）により所要の周波数特性を与えることで、上述したＰＲ等化処理を行う。
【０００９】
上記イコライザ１００による等化処理が施された上記再生信号ＤＳ（以下、等化信号ｙｋと称する）は、ビタビ復号器１０１に供給される。
ビタビ復号器１０１は上記等化信号ｙｋに基づくビタビ復号処理（最尤復号処理）を行って復号データＤＴを得る。
【００１０】
ここで、上記ビタビ復号器１０１により得られた復号データＤＴはイコライザ１００に対しても供給される。これは、上記イコライザ１００が、いわゆる適応等化処理を行うことによる。
すなわち後述もするが、この場合のイコライザ１００は、上記復号データＤＴ（ビット系列）に対して例えばＰＲ（１、２，２，１）などの所定のＰＲ特性に基づく重み付け加算を行って得た信号波形（パーシャルレスポンス系列）を目標波形とした等化処理を行うようにされている。
【００１１】
また、上記イコライザ１００により得られた等化信号ｙｋは、評価器１０２に対しても供給される。
評価器１０２は、上記等化信号ｙｋに基づき、上述したｄＳＡＭなどのエッジ位置の誤差を表す品質評価値を測定する。
具体的に、この場合の評価器１０２には、上記等化信号ｙｋと再生クロックＣＫ、及び復号データＤＴとに基づきマーク長ごとに上記品質評価値を測定するマーク長ごと評価値測定部１０２ａと、当該マーク長ごと評価値測定部１０２ａによりマーク長ごとに測定された評価値をマーク長ごとに平均化する平均化部１０２ｂとが設けられている。
なお確認のために述べておくと、測定した品質評価値を平均化するのは、評価値の精度・安定性を高めるためである。
また確認のために述べておくと、上記復号データＤＴは、マーク長ごと評価値測定部１０２ａが、入力される等化信号ｙｋのマーク長を識別するために用いられる。
【００１２】
ここで、上述のようにこの場合のイコライザ１００は適応等化処理を行うものとされているが、このような適応等化処理を行うことで、光ディスクの個体ごとの再生信号の周波数特性（及び位相特性）のばらつき等を効果的に吸収でき、再生信号品質の向上を図ることができる。
しかしながら、上述したライトストラテジ調整などのキャリブレーション動作を行う際には、このような適応等化処理が悪影響を与える虞がある。具体的に、ライトストラテジ調整では、例えば記録パルスエッジ位置など記録パラメータを変更しつつ光ディスク上の異なる位置で試し書きを行うなど、それぞれ異なる記録条件の設定下で試し書きを行い、それらの記録部分の評価値を得た結果に基づき、最適とされる記録条件を導出するようにされる。このような動作が行われる場合において、適応等化処理が行われてしまうと、記録条件の差が吸収されてしまう虞があり、その結果、適正な調整動作とすることができなくなってしまう虞がある。
【００１３】
このため、従来の光ディスクシステムでは、イコライザ１００による等化処理について、通常のデータ再生時にのみタップ係数を可変とする適応等化処理を実行させるものとし、キャリブレーション動作時には、固定のタップ係数を用いた等化処理（つまりタップ係数不変の等化処理）を行うようにしている。
【００１４】
このとき、キャリブレーション動作時に対応して設定する上記固定のタップ係数としては、例えば予め光ディスク上での適応等化処理のタップ係数収束結果を複数回且つ複数箇所で測定しておき、その結果を例外値排除（例えばソートして上下の値のいつくかを排除）及び平均化するなどして、所望のパーシャルレスポンス等化が為され、且つ記録条件の差が吸収されないようなタップ係数を求めておき、これを装置側に保持させておくことになる。
【００１５】
図９は、上記のようなタップ係数可変による適応等化処理と、固定タップ係数による等化処理のとの切り換えを行う場合に対応したイコライザ１００の内部構成を例示している。
なおこの図では図８に示したビタビ復号器１０１も併せて示している。
【００１６】
図示するようにイコライザ１００内において、再生信号ＤＳは、ＦＩＲフィルタ１００ａに対して入力される。ＦＩＲフィルタ１００ａには、遅延回路１０５、乗算器１０６、及び加算器１０７が備えられる。この場合のＦＩＲフィルタ１００ａとしては、図のように２つの遅延回路１０５Ａ、１０５Ｂ、３つの乗算器１０６-1、１０６-2、１０６-3が備えられ、タップ数＝３のＦＩＲフィルタとされる。
このＦＩＲフィルタ１００ａにおいては、図中の加算器１０７による加算結果が、等化信号ｙｋとしてビタビ復号器１０１に供給される。
また、上記加算器１０７より出力された等化信号ｙｋはタップ係数更新処理部１０８に対しても供給される。
【００１７】
タップ係数更新処理部１０８は、上記ビタビ復号器１０１から供給された復号データＤＴに対し例えば（１，２，２，１）などの所定のＰＲ特性に基づく係数を重み付け加算して得た信号波形（パーシャルレスポンス系列）を目標波形として、該目標波形と等化信号ｙｋの波形との誤差（つまり等化誤差）を計算し、該誤差を最小とするようなタップ係数を計算する。
このように計算されたタップ係数は、乗算器１０６-1、１０６-2、１０６-3のぞれぞれに対応して設けられたタップ係数設定部１０９-1、１０９-2、１０９-3に対して供給される。
【００１８】
タップ係数設定部１０９-1、１０９-2、１０９-3には、それぞれセレクタ１１１-1、１１１-2、１１１-3が備えられる。
これらのセレクタ１１１-1、１１１-2、１１１-3には、上記タップ係数更新処理部１０８からのタップ係数が入力されると共に、固定係数１１０-1、１１０-2、１１０-3が入力される。固定係数１１０-1、１１０-2、１１０-3は、上述のようにして予め求めておいた固定のタップ係数である。
【００１９】
各セレクタ１０９には、外部より再生／評価値測定識別信号が供給される。この再生／評価値測定識別信号は、通常再生状態であるかキャリブレーション動作に伴う評価値測定状態であるかの別を表す信号である。
各セレクタ１０９は、上記再生／評価値測定識別信号により通常再生状態である旨が示される場合は、タップ係数更新処理部１０８から供給されたタップ係数を選択出力する。
一方、上記再生／評価値測定識別信号により評価値測定状態である旨が示される場合は、固定係数１１０としてのタップ係数を選択出力する。
これにより、通常再生時に対応しては、再生信号品質の改善が図られれるべく適応等化処理を行うことができ、一方で評価値測定時には、予め定められた固定のタップ係数による等化処理が行われることで、所望のＰＲ等化が為され且つ記録条件の差が吸収されずに適正なキャリブレーション動作が行われるようにすることができる。
【００２０】
確認のため、図８、図９に示した従来例としての構成により実現されるキャリブレーション時に対応した動作について、図１０を参照して説明しておく。
この図１０では、キャリブレーションに伴い、記録条件１、及び記録条件２としての２つの異なる記録条件について試し書きが行われる場合を例示している。
上述のように従来例においては、キャリブレーション動作時には固定のタップ係数が設定されるので、図のように記録条件１、記録条件２の何れの設定下においてもタップ係数の設定状態としては固定係数設定状態が維持される。
【００２１】
また、図からも明らかなように、評価器１０２は、各記録条件の設定下において、マーク長ごとのエッジ位置誤差の測定、及び測定したエッジ位置誤差をマーク長ごとに平均化する動作を行う。これにより記録条件ごとに、マーク長ごとの評価値（平均評価値）を得ることができる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２２】
ところで、図９に示したイコライザ１００において、等化処理の目標特性への等化精度（周波数・位相特性の分解能）は、ＦＩＲフィルタ１００ａのタップ数や、タップ係数のビット数（ビット幅）によって決定されるものとなる。すなわち、タップ数やタップ係数のビット数がより多ければ、目標特性への等化精度は向上し、逆に少なければ等化精度は低下する。
【００２３】
一方で、特許文献１に開示されるｄＳＡＭなど、エッジ位置の誤差を表す評価値としては、ライトストラテジなどの記録パラメータの調整精度向上のために、場合によってはＴ／３２やＴ／６４（ここでＴはチャネルビットを表す）といった非常に高い誤差検出精度が要求される。
このように高い誤差検出精度を実現するにあたっては、イコライザ１００としては、ＰＲＭＬ復号によるデータ再生で要求される等化精度よりも高い等化精度が得られるようにされる必要があり、これに伴い、ＦＩＲフィルタ１００ａのタップ数やタップ係数のビット数をデータ再生時に必要な分より増やすことが要求される。
【００２４】
しかしながら、デジタルフィルタにおいて、タップ数やタップ係数のビット数の増加は、デバイスのコストアップを助長する。特に、タップ係数のビット数を増やした場合には、一般的に乗算器１０６としてのデジタル乗算回路の規模は入力ビット数の増加に対し２のべき乗で増加する点を考慮すると、大幅なコストアップを招いてしまうことになる。
【００２５】
本発明は上記のような問題点に鑑み為されたものであり、デジタルフィルタにおける乗算器に設定可能なタップ係数のビット幅を拡張することなく、タップ係数を拡張した場合と等価な効果が得られるようにすることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００２６】
上記課題の解決のために、本発明では、フィルタ処理装置として以下のように構成することとした。
すなわち、本発明のフィルタ処理装置は、デジタルフィルタを備えて入力信号に対してフィルタ処理を施すフィルタ処理装置であって、タップ係数が可変設定される乗算器を備える。
また、上記乗算器に設定可能な設定可能タップ係数よりも下桁側の桁数の多い数値とされた目標タップ係数を保持する目標タップ係数保持部を備える。
また、上記目標タップ係数における上記設定可能タップ係数の最小桁以上となる部分の数値である設定可能桁部分数値と、当該設定可能桁部分数値に対してその最小桁の値に１を加算した最小桁値加算数値とについて、それらのうちの一方を択一的に出力して上記乗算器に設定する係数択一設定部を備える。
その上で、上記乗算器に対する上記最小桁値加算数値と上記設定可能桁部分数値との時間軸上での設定比率を、上記目標タップ係数における上記設定可能桁部分よりも下桁側となる部分の数値である設定可能最小桁未満数値に応じた設定比率とするように上記係数択一設定部を制御する係数設定比率制御部を備えるものである。
【００２７】
上記のようにして本発明では、デジタルフィルタを構成する乗算器に設定可能な設定可能タップ係数よりも下桁側の桁数が多い数値とされた目標タップ係数を保持しておくようにしている。例えば、上記設定可能タップ係数が整数であるとすれば、小数点以下の数値も含む（よりビット数の多い）目標タップ係数を保持（設定）するものである。
そして、上記目標タップ係数としての数値における上記設定可能タップ係数の最小桁以上となる部分の数値である設定可能桁部分数値と、当該設定可能桁部分数値に対してその最小桁の値に１を加算した最小桁値加算数値とについて、それらのうちの一方を択一的に出力して上記乗算器に設定可能としている。これは、上記目標タップ係数の数値が例えば「１．４」であれば、「１」（設定可能桁部分数値）と「２」（最小桁値加算数値）とのうちの一方を乗算器に対し択一的に設定可能にするというものである。
その上で、上記乗算器に対する上記最小桁値加算数値（例えば「２」）と上記設定可能桁部分数値（例えば「１」）との時間軸上での設定比率を、上記目標タップ係数における上記設定可能桁部分よりも下桁側となる部分の数値である設定可能最小桁未満数値に応じた設定比率とするようにしている。例えば、上記目標タップ係数の値から上記設定可能桁部分数値を減算した値をＸとしたとき、上記最小桁値加算数値と上記設定可能桁部分数値との時間軸上での設定比率は「Ｘ：１−Ｘ」に設定する。このことによると、上記例では「２」と「１」との設定比率は４：６とされる。
詳しくは後述するが、このようなタップ係数の時間軸上での可変設定が行われることで、当該フィルタ処理装置の後段にて先に説明した測定評価値の平均化処理のように少なくとも積分を伴う処理が行われる場合には、上記乗算器に対して上記目標タップ係数が設定された場合と等価な効果を得ることができる。すなわち、タップ係数のビット幅を上記設定可能タップ係数のビット幅よりも拡張したことと等価な効果が得られるようにできる。
これにより、例えば乗算器には整数によるタップ係数しか設定できない場合であっても、上記目標タップ係数としての小数部も含むタップ係数（よりビット数の多いタップ係数）を設定したフィルタ処理を行った場合と同等の効果を得ることができる。
【発明の効果】
【００２８】
上記のようにして本発明のフィルタ処理装置（フィルタ処理方法）によれば、その後段にて従来行われていた測定評価値の平均化処理のような少なくとも積分を伴う処理が行われる場合において、上記乗算器に対して上記目標タップ係数が設定された場合と等価な効果を得ることができ、つまりは、タップ係数のビット幅を設定可能タップ係数のビット幅よりも拡張したことと等価な効果が得られるようにできる。換言すれば、乗算器に設定するタップ係数のビット幅を拡張せずとも、当該乗算器に設定するタップ係数のビット幅を拡張したことと等価な効果を得ることができるものである。
【００２９】
このようにして本発明のフィルタ処理装置によれば、フィルタ処理の精度向上が図られたことと等価な効果が得られるようにしつつ、デジタルフィルタのハードウエア規模の大幅な拡大、及びそれに伴う大幅なコストアップの防止を図ることができる。
【００３０】
また、本発明の光記録媒体駆動装置（評価値測定方法）は、光記録媒体からの再生信号に対し上記本発明としてのフィルタ処理を施し、該フィルタ処理の施された再生信号に基づき、信号品質の評価指標となる品質評価値を単位時間あたりに複数回測定し且つ上記複数回測定された評価値を少なくとも積分するものである。
このような本発明の光記録媒体駆動装置によれば、乗算器に設定するタップ係数のビット幅を拡張せずとも、当該乗算器に設定するタップ係数のビット幅を拡張した場合と同等の精度による評価値を得ることができる。
すなわち、このような本発明の光記録媒体駆動装置によれば、デジタルフィルタのハードウエア規模の大幅な拡大やそれに伴う大幅なコストアップの防止を図りつつ、評価値の測定精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】実施の形態としての光記録媒体駆動装置の内部構成を示した図である。
【図２】実施の形態としての光記録媒体駆動装置が備えるイコライザ（実施の形態としてのフィルタ処理装置）の内部構成を示した図である。
【図３】実施の形態としての評価値測定手法について説明するための図である。
【図４】実施の形態としてのタップ係数の可変設定動作によりエッジ位置誤差としての品質評価値の測定精度の向上が図られる点について説明するための図である。
【図５】タップ係数設定部の内部構成を示した図である。
【図６】タップ係数設定部の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図７】変形例としてのタップ係数設定部の内部構成を示した図である。
【図８】ＰＲＭＬ復号を行う光ディスクシステムにおいて再生信号のエッジ位置の誤差を表す評価値を得るための従来例としての構成を示した図である。
【図９】従来例としてのイコライザの内部構成を示した図である。
【図１０】従来例としてのイコライザが評価値測定時に対応して行う動作について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．装置構成＞
[1-1．ディスクドライブ装置の内部構成]
[1-2．イコライザの内部構成]
＜２．実施の形態としての評価値測定手法＞
[2-1．具体的な手法]
[2-2．タップ係数設定部の構成・動作]
[2-3．実施の形態のまとめ]
＜３．変形例＞
【００３３】
＜１．装置構成＞
[1-1．ディスクドライブ装置の内部構成]
図１は、本発明の光記録媒体駆動装置の一実施形態としての、ディスクドライブ装置１の内部構成を示している。
なおこの図１ではディスクドライブ装置１における主に記録／再生、評価値測定に係る構成を抽出して示しており、例えばトラッキング・フォーカスなどの各種のサーボ系など他の構成については図示を省略している。
【００３４】
図１において、光ディスクＤは、円盤状の光記録媒体である。光記録媒体は、光の照射により記録信号の再生が行われる記録媒体を指す。
光ディスクＤは、記録／再生時には図中のスピンドルモータ（ＳＰＭ）２によって回転される。
【００３５】
光学ヘッド３（光ピックアップ）は、レーザダイオードから出射したレーザ光を、所定の光学系により対物レンズを介して光ディスクＤに照射する。また光学ヘッド３は、光ディスクＤからの反射光を、所定の光学系を介してフォトディテクタに導き、反射光量に応じた電気信号を得る。また複数のフォトディテクタで検出された各光量信号に対して演算処理を行い、記録された情報の再生信号ｓＡ（再生ＲＦ信号）や、トラッキング、フォーカスなどの各種サーボエラー信号を生成する。
【００３６】
記録時には、記録信号発生部８から記録信号ＤＬが光学ヘッド３に供給される。記録信号ＤＬは、光学ヘッド３内のレーザダイオードの駆動信号であり、レーザダイオードは記録信号ＤＬに応じて発光駆動される。
記録時には、光ディスクＤに記録しようとする記録データが、記録データエンコーダ９で、例えばＲＬＬ（１，７）変調等のエンコード処理が施され、そのエンコード信号ＤＲが記録信号発生部８に供給される。記録信号発生部８では、エンコード信号ＤＲに応じたレーザ駆動信号としての記録信号ＤＬを生成する。
ここで、レーザ駆動信号としてのパルスレベルやパルス幅、パルスエッジタイミング等の、いわゆるライトストラテジ設定は、コントローラ１０から指示される。つまり記録信号発生部８は、レーザを発光させる強度を設定する機能と、発光時間／タイミングを設定する機能を有しており、レーザ駆動信号としての記録信号ＤＬを調整することで、光ディスクＤに対する記録条件を調整することが可能とされている。
【００３７】
再生時には、光学ヘッド３で読み出された再生信号ｓＡは再生クロック生成／サンプリング部４に供給される。再生クロック生成／サンプリング部４では、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路を用いて再生信号ｓＡに同期した再生クロックＣＫを生成し、また再生信号ｓＡのデジタルサンプリングを行ってサンプリング信号（デジタル再生信号）ＤＳを出力する。
上記再生クロックＣＫはイコライザ５、ビタビ復号器６、及び評価器１１での処理に用いられる。
また上記サンプリング信号ＤＳは、イコライザ５に対して供給される。
【００３８】
イコライザ５は、ＦＩＲ（Finit Impulse Response）フィルタ５ａを備え、上記再生信号ＤＳに対し所要の周波数特性を与えることで、ＰＲ（Partial Response）等化処理を行う。
本実施の形態のイコライザ５としても、先の従来例として説明したイコライザ１００と同様に、データ再生時に対応して適応等化処理を行うようにされる。このためイコライザ５には、図示するようにビタビ復号器６による復号データＤＴが入力される。
なお、イコライザ５の内部構成については後述する。
【００３９】
上記イコライザ５により等化処理が施された再生信号ＤＳ（以下、等化信号ｙｋと称する）は、ビタビ復号器６、及び評価器１１に対して供給される。
【００４０】
ビタビ復号器６は、いわゆるビタビ復号処理により再生信号の２値化処理を行う。すなわち  ビタビ復号器６は、上記イコライザ５での等化処理により再生信号ＤＳが所定のＰＲクラスに適合するように波形整形された等化信号ｙｋについて、該等化信号ｙｋと、想定され得るビット系列のパーシャルレスポンスとの間のユークリッド距離を調べ、その距離が最も近くなるビット系列を検出結果として出力する。
【００４１】
上記ビタビ復号器６による復号処理で得られた復号データ（２値データ列）ＤＴは、再生データデコーダ７に供給され、ＲＬＬ（１，７）変調等に対する復調処理やエラー訂正処理、デインターリーブなどの処理が施され、これによって復調された再生データが得られる。
【００４２】
また、ビタビ復号器６から出力された復号データＤＴは、評価器１１に対しても供給される。
評価器１１は、上述した等化信号ｙｋと、上記復号データＤＴと、再生クロックＣＫとに基づき、再生信号のエッジ位置の誤差を表す品質評価値を測定する。
具体的に、評価器１１には、上記等化信号ｙｋ、再生クロックＣＫ、復号データＤＴに基づきマーク長（記録マーク長）ごとに上記品質評価値を測定するマーク長ごと評価値測定部１１ａと、当該マーク長ごと評価値測定部１１ａによりマーク長ごとに測定された評価値をマーク長ごとに平均化する平均化部１１ｂとが設けられている。
【００４３】
この場合のマーク長ごと評価値測定部１１ａは、上記品質評価値を、上記等化信号ｙｋのゼロクロスタイミングと上記再生クロックＣＫのエッジタイミングとの誤差として測定する。
具体的に、マーク長ごと評価値測定部１１ａは、上記等化信号ｙｋのゼロクロス点ごとに、該ゼロクロス点のタイミングと上記再生クロックＣＫのエッジタイミングとの誤差を品質評価値として測定すると共に、上記復号データＤＴに基づき、測定した品質評価値をマーク長ごとに分けて格納する。
【００４４】
なお確認のために述べておくと、上記のように測定した品質評価値を復号データＤＴに基づきマーク長ごとに分けるためには、上記マーク長ごと評価値測定部１１ａに対する等化信号ｙｋと復号データＤＴとの入力タイミングを同期させることになる。このため実際には、マーク長ごと評価値測定部１１ａに対しては、上記等化信号ｙｋが所定時間分（ビタビ復号の処理時間分）遅延されて入力されるように構成する。
【００４５】
なお勿論、上記マーク長ごと評価値測定部１１ａとしては、上記エッジ位置の誤差を表す品質評価値として、先の特許文献１に記載されるようなｄＳＡＭを測定するように構成することもできる。
また特許文献１に記載されるように、評価値はマーク長のみではなくマーク長とスペース長との組み合わせごとに測定することもできる。
【００４６】
また評価器１１において、平均化部１１ｂは、上記のようにしてマーク長ごと評価値測定部１１ａによりマーク長ごとに測定された品質評価値を、マーク長ごとに平均化する。具体的には、上述のようにしてマーク長ごとに分けて格納された品質評価値をそれぞれ平均化する。
評価器１１により得られたマーク長ごとの品質評価値は、コントローラ１０に対して供給される。
【００４７】
コントローラ１０は、ＣＰＵ（Centeral Processing Unit）、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを有するマイクロコンピュータで構成される。コントローラ１０は、上記ＲＯＭ等に格納されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、ディスクドライブ装置１の全体制御を行う。
特に本実施の形態の場合、コントローラ１０は、上記評価器１１により得られた品質評価値に基づき再生信号品質を評価し、その評価結果に応じて記録条件設定処理（ライトストラテジ設定）を行う。
【００４８】
ここで、ライトストラテジの調整動作時には、コントローラ１０は、記録データエンコーダ９に対する試し書きデータ（テストパターンデータ）の出力指示や、記録信号発生部８に対する記録波形の調整パラメータの指示を行って、記録条件を逐次変えながらの試し書き動作を実行させる。
そして、このように試し書きを行った箇所についての再生を実行させ、これに伴い評価器１１にて測定（計算）される品質評価値を取得し、該取得した品質評価値に基づき記録条件ごとの再生信号品質評価を行い、その結果に基づき最適とされる記録条件の設定処理を行う。
【００４９】
また、コントローラ１０は、再生／評価値測定識別信号を生成・出力する。この再生／評価値測定識別信号は、通常のデータ再生が行われる状態にあるか、又は上記のようなライトストラテジの調整動作に伴い品質評価値の測定動作が行われる状態にあるかの別を表す信号となる。
図示するようにして再生／評価値測定識別信号は、イコライザ５に対して供給される。
【００５０】
[1-2．イコライザの内部構成]
図２は、図１に示したイコライザ５の内部構成を示している。
なお図２ではイコライザ５の内部構成と共に図１に示したビタビ復号器６も併せて示している。
先ず、イコライザ５には、ＦＩＲフィルタ５ａが備えられている。
ＦＩＲフィルタ５ａには、図示するようにして入力信号として再生信号ＤＳが与えられる。そしてＦＩＲフィルタ５ａには、上記再生信号ＤＳを入力するラインに対して遅延回路１５Ａ、及び遅延回路１５Ｂが挿入され、上記遅延回路１５Ａへの入力前の再生信号ＤＳを分岐出力するタップＴ１、及び上記遅延回路１５Ａを経た再生信号ＤＳを分岐出力するタップＴ２、さらに上記遅延回路１５Ｂを経た再生信号ＤＳを分岐出力するタップＴ３の計３つのタップが形成されている。
また、ＦＩＲフィルタ５ａには、上記タップＴ１、Ｔ２、Ｔ３に対してそれぞれ対応するタップ係数を与えるための乗算器１６-1、乗算器１６-2、乗算器１６-3が設けられている。
さらに、上記乗算器１６-1、１６-2、１６-3による乗算結果を加算して、ＦＩＲフィルタ５ａの出力信号である等化信号ｙｋを得る加算器１７が備えられる。
図示するようにして加算器１７にて得られた等化信号ｙｋは、ビタビ復号器６に対して供給される。
【００５１】
ここで、本実施の形態のＦＩＲフィルタ５ａにおいては、各乗算器１６に対し、整数によるタップ係数の設定のみが可能とされているとする。つまり各乗算器１６のハードウエア規模は、整数によるタップ係数の設定のみを許容する規模とされている。
【００５２】
また、イコライザ５には、タップ係数更新処理部１８と、当該タップ係数更新処理部１８により得られた適応等化用係数としてのタップ係数を上記乗算器１６-1、１６-2、１６-3に設定するためのタップ係数設定部１９-1、１９-2、１９-3が設けられている。
【００５３】
図示するように上記タップ係数更新処理部１８には、ＦＩＲフィルタ５ａからの等化信号ｙｋが入力されると共に、ビタビ復号器６による復号処理で得られた復号データＤＴが入力される。
タップ係数更新処理部１８は、先に説明した適応等化処理を実現するために各乗算器１６にそれぞれ設定されるべきタップ係数（適応等化用係数）を計算する。具体的にタップ係数更新処理部１８は、上記復号データＤＴに対し例えば（１，２，２，１）などの所定のＰＲ特性に基づく係数を重み付け加算して得た信号波形（パーシャルレスポンス系列）を目標波形として、該目標波形と等化信号ｙｋの波形との誤差（つまり等化誤差）を計算し、該誤差を最小とするタップ係数を計算する。
【００５４】
なお確認のために述べておくと、上記復号データＤＴに基づく上記等化誤差の計算が正しく行われるようにすべく、上記タップ係数更新処理部１８に対して入力する等化信号ｙｋについても、所定時間分（ビタビ復号の処理時間分）の遅延を与えるようにする。
【００５５】
上記のようにしてタップ係数更新処理部１８により計算されたタップ係数（乗算器１６ごとのタップ係数）は、適応等化用係数として、タップ係数設定部１９-1、１９-2、１９-3に対して供給される。確認のために述べておくと、乗算器１６-1に設定されるべき適応等化用係数はタップ係数設定部１９-1に、また乗算器１６-2に設定されるべき適応等化用係数はタップ係数設定部１９-2に、また乗算器１６-3に設定されるべき適応等化用係数はタップ係数設定部１９-3にそれぞれ供給される。
【００５６】
タップ係数設定部１９は、先に従来例として説明したタップ係数設定部１０９と同様に、再生／評価値測定識別信号が通常のデータ再生時である旨を示す場合には、タップ係数更新処理部１８から供給された適応等化用係数を対応する乗算器１６に対して出力する（設定する）。
つまり本実施の形態においても、通常のデータ再生時に対応しては適応等化処理が実行されるものであり、この点は従来例の場合と同様となる。
【００５７】
ここで、本実施の形態としてのタップ係数設定部１９の内部構成や、評価値測定時に対応して行われる動作については後述する。
【００５８】
＜２．実施の形態としての評価値測定手法＞
[2-1．具体的な手法]
前述もしたように、エッジ位置の誤差を表す評価値としては、場合によってはＴ／３２やＴ／６４（Ｔはチャネルビットを表す）といった非常に高い誤差検出精度が要求される。
このように高い誤差検出精度を実現するにあたっては、イコライザ５としては、ＰＲＭＬ復号によるデータ再生で要求される等化精度よりも高い精度が得られるようにされる必要がある。
このとき、イコライザ５による等化精度は、ＦＩＲフィルタ５ａのタップ数やタップ係数のビット数に依存して決まり、従って上記のような高い誤差検出精度を実現するにあたっては、これらタップ数やタップ係数のビット数を増やせばよい。
【００５９】
しかしながら前述の通り、タップ数やタップ係数のビット数を増加させた場合は、デバイスのコストアップが避けられないものとなる。特に、タップ係数のビット数を増やした場合には、一般的に乗算器１６としてのデジタル乗算回路の規模は入力ビット数の増加に対し２のべき乗で増加する点を考慮すると、大幅なコストアップを招いてしまうことになる。
【００６０】
また、高精度が要求されるのは評価値測定時のみであり、上記のようにタップ数やタップ係数のビット数を増加させてしまうと、通常のデータ再生時には等化処理がオーバースペックとなってしまい、その意味で無駄が生じると言える。
【００６１】
そこで本実施の形態では、評価値測定時に対応して以下で説明するようなタップ係数の可変設定を行うようにすることで、ＦＩＲフィルタ５ａのタップ係数のビット数を増加（ビット幅を拡張）させることなく、タップ係数のビット幅を拡張した場合と等価な効果が得られるようにする。
【００６２】
図３は、上記タップ係数の可変設定動作を含む本実施の形態としての評価値測定手法について説明するための図である。
先ず、ライトストラテジ調整を行うにあたっては、先に説明したようにしてそれぞれ異なる記録条件の設定下での試し書きを行い、それら異なる記録条件が設定された下で記録された信号についての評価値測定を行うことになる。
この図３に示されるように、ここでは、記録条件１と記録条件２の２つの異なる記録条件により試し書きが行われる場合を例示している。
【００６３】
ここで、先に説明した従来例においては、品質評価値の測定時には、タップ係数として予め定められた固定の係数を設定するものとしていた（図１０を参照）。
すなわち、上記固定のタップ係数として、例えば予め光ディスクＤ上での適応等化処理のタップ係数収束結果を複数回且つ複数箇所で測定しておき、その結果を例外値排除（例えばソートして上下の値のいつくかを排除）及び平均化するなどして、所望のパーシャルレスポンス等化が為され且つ記録条件の差が吸収されないような係数を求めておき、評価値測定時にはこのように求められた固定のタップ係数を設定するというものである。
前述した通り、評価値測定時に対応してこのように予め定められた固定タップ係数を設定した等化処理を行う（つまり適応等化処理を行わない）ことで、記録条件の差が吸収されて適正なキャリブレーション動作とすることができなくなってしまうといったことの防止が図られる。
【００６４】
本実施の形態においても、このように評価値測定時に対応して設定されるべき固定のタップ係数を予め求めておき、それを装置側に対して保持させておく点は従来例の場合と同様となる。
但し本実施の形態では、このように評価値測定時に対応して設定されるべき固定のタップ係数として、従来例の場合よりもさらに下桁側の数値を含むより詳細な値を装置に対して保持させておくものとする。
具体的に、例えば従来例においても乗算器（１０６）には整数によるタップ係数のみが設定可能とされていて、上記固定のタップ係数としてもその整数部の値のみを保持させていたと仮定すると、本実施の形態では、整数部の値と共に小数点以下の値も併せて保持させておくというものである。
【００６５】
図３においては、上述のようにしてタップ係数の収束結果を実測するなどして予め求めたタップ係数が、例えば「１．４」であった場合を例示している。
本実施の形態では、このようにして予め求められたタップ係数を、目標係数として装置側に保持させておく。
【００６６】
そして本実施の形態において、評価値測定時には、上記のようにして保持された目標係数をそのまま乗算器１６に対して設定するものとはせず、上記目標係数の値に応じたタップ係数の可変設定を行う。
具体的に、本例の場合は乗算器１６には整数によるタップ係数のみが設定可能とされているので、上記目標係数の数値に応じて、その整数部の値と、該整数部の値に対して「１」を加算した数値とを、時間軸上でのそれらの設定比率が上記目標係数の小数部の値に応じた設定比率となるようにして可変設定する。
【００６７】
より具体的に、目標係数が上記「１．４」であるとすると、その整数部の値は「１」で該整数部の値に「１」を加算した値は「２」となる。これらの値を、その時間軸上での設定比率が上記目標係数の小数部の値に応じた設定比率となるようにして可変設定する。
【００６８】
ここで、係数「２」と係数「１」とを時分割設定して等価的に「１．４」の係数が設定されたものとするためには、図示するようにして係数「２」と係数「１」との時間軸上での設定比率を４：６とすればよい。
本例においては、上記目標係数の整数部の値と該整数部の値に「１」を加算した値との時間軸上での設定比率を、次のように設定する。
すなわち、上記目標係数の整数部の値に「１」を加算した値をＡ、上記目標係数の整数部の値をＢ、上記目標係数の値からその整数部の値を減算した値（上記の例では「０．４」）をｘとしたとき、
Ａ：Ｂ＝ｘ：１−ｘ
に設定するものである。
【００６９】
このような設定比率による係数の可変設定は、図示するようにして記録条件ごとに独立して行うものである。つまりこの場合、１つの記録条件についての評価値測定期間を１つの単位期間として、該単位期間内における時間軸上の係数設定比率が上記の比率となるようにして上記Ａ、Ｂの各係数の可変設定を行うものである。
【００７０】
そして、このような係数Ａ、Ｂの可変設定が行われる一方で、各記録条件についてのそれぞれの評価値測定期間には、先に説明した評価器１１による品質評価値（エッジ位置誤差）の測定が行われる。具体的には、各記録条件についてのそれぞれの評価値測定期間において、マーク長ごとのエッジ位置誤差の測定、及び測定したエッジ位置誤差をマーク長ごとに平均化する動作が行われる。
【００７１】
上記のようなタップ係数の可変設定動作を含む本実施の形態としての評価値測定手法によれば、エッジ位置誤差としての品質評価値の測定精度は、タップ係数を上記目標係数に設定した場合と同等の精度とすることができる。
【００７２】
図４は、この点について説明するためのイメージ図であり、図４（ａ）はイコライザ５による等化処理の目標特性のイメージを示し、図４（ｂ）は上述した係数Ａ（目標係数整数部＋１の値）を設定した場合の等化処理後の波形イメージを示し、図４（ｃ）は上述した係数Ｂ（目標係数整数部の値）を設定した場合の等化処理後の波形イメージを示している。
【００７３】
ここで、目標係数が本来は小数点以下の数値を含むものであった場合、本例のように乗算器１６に整数によるタップ係数しか設定できないことによっては、タップ係数の量子化誤差に伴う等化誤差が生じる。
この点に鑑みると、例えば図４（ｂ）は、本来は「１．４」である目標係数に対してタップ係数「２」を設定した等化処理を行ったことにより等化誤差が生じた場合の波形イメージを示すものであるとも捉えることができる。同様にして図４（ｃ）は、本来は「１．４」である目標係数に対してタップ係数「１」を設定した等化処理を行ったことにより等化誤差が生じた場合の波形イメージを示しているものと捉えることができる。
【００７４】
そして、これら図４（ｂ）、図４（ｃ）と図４（ａ）とを対比して分かるように、上記のようなタップ係数量子化誤差に伴う等化誤差が生じる場合には、等化信号ｙｋのエッジ位置（ゼロクロス位置）にも相応の誤差が生じるものとなる。つまりこの誤差により、エッジ位置誤差としての品質評価値の測定精度が低下してしまうものである。
【００７５】
このことからも理解されるように、エッジ位置誤差としての品質評価値の測定精度を向上させるにあたっては、タップ係数の量子化誤差を低減する、すなわち等価的に上記目標係数を設定した等化処理が行われる状態を作り上げればよいということになる。
【００７６】
上述した本実施の形態としての手法によれば、係数Ａの設定下及び係数Ｂの設定下で測定されたエッジ位置誤差の値が平均化される。これは、図４（ｂ）の波形について測定されたエッジ位置誤差の値と図４（ｃ）の波形について測定されたエッジ位置誤差の値とが平均化されることに相当する。
このとき、本実施の形態では、係数Ａと係数Ｂの時間軸上での設定比率を等価的に目標係数が設定された場合と同等となるように設定しているので、上記のように係数Ａの設定下及び係数Ｂの設定下で測定されたエッジ位置誤差の値が平均化されることによっては、最終的に得られるエッジ位置誤差の値としては、目標係数を設定した場合と同等の数値とすることができる。つまりこれにより、エッジ位置誤差としての品質評価値の測定精度は、小数点以下の数値も含む目標係数を設定した場合と同等の精度とすることができる。
【００７７】
ところで、本実施の形態では、エッジ位置誤差としての品質評価値をマーク長ごとに測定するものとしている。
このとき、或る１つのマーク長について着眼してみると、仮に、そのマーク長の信号の出現頻度が係数Ａの設定下、係数Ｂの設定下で大幅に異なっていたとすると、係数Ａ、係数Ｂの何れか一方の係数設定時における測定結果が支配的となって、それにより評価値の測定精度を効果的に向上させることができなくなってしまう虞がある。
この点を考慮すると、１つの記録条件につき光ディスクＤに対して記録するテストパターンデータとしては、各マーク長の信号についての係数Ａの設定下での出現頻度と係数Ｂの設定下での出現頻度とが同等となるようにされていることが理想的となる。
このため本実施の形態では、ライトストラテジ調整のための試し書きデータとして用いられるテストパターンデータとして、各マーク長の信号がランダムに出現するようなランダムデータを採用するものとしている。これにより、エッジ位置誤差としての品質評価値の測定精度のより効果的な向上が図られる。
【００７８】
[2-2．タップ係数設定部の構成・動作]
上記により説明した本実施の形態としてのタップ係数可変設定動作は、先の図２に示したイコライザ５内のタップ係数設定部１９により実現される。
図５は、タップ係数設定部１９の内部構成を示している。
なお、この図５においては、図２に示した乗算器１６も併せて示している。
【００７９】
図５において、タップ係数設定部１９には、セレクタ２０が備えられる。
このセレクタ２０に対しては、先の図２に示したタップ係数更新処理部１８からの適応等化用係数が入力される。またセレクタ２０には、その切換制御信号として、図１に示したコントローラ１０からの再生／評価値測定識別信号が入力される。
当該セレクタ２０は、先の図９に示した従来例としてのタップ係数設定部１０９が備えるセレクタ１１１と同様に、再生／評価値測定識別信号に基づき、適応等化用係数の設定／非設定を切り換えるためのセレクタとして機能する。
【００８０】
また、本実施の形態のタップ係数設定部１９には、評価値測定時に対応して乗算器１６に設定されるべき係数を上記セレクタ２０に対して与えるための構成として、目標係数保持部２１、加算器２２、セレクタ２３、カウンタ２４、及びコンパレータ２５が備えられる。
先ず、目標係数保持部２１には、目標係数として、先に説明したようにして予めタップ係数収束結果を実測するなどして求めておいたタップ係数が設定される。
本例の場合、目標係数は整数部の値と小数部の値とを有するので、目標係数保持部２１には、これら目標係数の整数部の値と小数部の値とが保持されるものとなる。
【００８１】
なお確認のために述べておくと、この図５では、実際には乗算器１６-1〜１６-3の各乗算器１６ごとに対応して設けられるタップ係数設定部１９-1〜１９-3を、タップ係数設定部１９として１つにまとめて示しているが、上記のようにして予め求められる目標係数は、乗算器１６-1〜１６-3の個々の乗算器１６ごとに求められるものであり、従って上記目標係数保持部２１にはこれらの目標係数のうち対応する１つの係数が保持されるものである。
【００８２】
上記目標係数保持部２１により保持される目標係数の整数部の値は、セレクタ２３と加算器２２とに供給される。加算器２２は、上記目標係数の整数部の値に対して「１」を加算し、その加算結果をセレクタ２３に対して出力する。
【００８３】
一方、上記目標係数保持部２１に保持された目標係数の小数部の値は、コンパレータ２５に対して供給される。また、このコンパレータ２５には、カウンタ２４によるカウント値も供給される。カウンタ２４は、０〜ｎ−１（ｎは自然数）までのカウントを繰り返し行うフリーランカウンタとされる。
上記コンパレータ２５の出力信号は、上記セレクタ２３の切換制御信号として当該セレクタ２３に対して供給される。
【００８４】
上記セレクタ２３による出力は、セレクタ２０に対して供給される。
セレクタ２０は、上記再生／評価値測定識別信号に基づき、上記セレクタ２３による出力と上述した適応等化用係数とのうち何れか一方を乗算器１６に対して択一的に出力する（設定する）。
具体的に、上記再生／評価値測定識別信号により通常のデータ再生時である旨が示される場合は、上記適応等化用係数を選択出力する。また、上記再生／評価値測定識別信号により評価値測定時である旨が示される場合は、上記セレクタ２３による出力を選択出力する。
【００８５】
図６は、図５に示すタップ係数設定部１９の動作を説明するためのタイミングチャートであり、カウンタ２４のカウント値（図中カウンタ）、コンパレータ２５の出力（コンパレータ出力）、セレクタ２３の出力（セレクタ出力）のそれぞれの時間軸上での遷移を示している。
【００８６】
先ず、先に説明したようにカウンタ２４は、０〜ｎ−１までのカウントを繰り返し行う。図示するようにカウンタ２４は、０〜ｎ−１までのカウントを、１記録条件についての評価値測定期間内にて行うようにされている。換言すれば、カウンタ２４によるカウント周期は、１記録条件についての評価値測定期間をｎ等分した周期となるようにされているものである。
本例の場合、１記録条件についての評価値測定期間（つまり１記録条件につき行われる試し書きの記録長）は所定の長さに定められており、従って該期間長に基づき、例えば再生クロックＣＫを逓倍して上記評価値測定期間の１／ｎ周期のクロックを生成し、これをカウンタ２４の動作クロックとして与えるものとしている。これによりカウンタ２４は、１記録条件についての評価値測定期間において０〜ｎ−１までのカウントを行うようにされている。
【００８７】
ここで、本例においては、目標係数として小数点第１位までの数値の設定を許容する場合を例示している。このことに対応して、上記ｎの値としては「１０」を設定し、上記カウンタ２４には１記録条件についての評価値測定期間において０〜９までのカウントを行わせるものとしている。
【００８８】
図５に示したように、コンパレータ２５に対しては、カウンタ２４のカウント値と目標係数の小数部の値とが入力される。すなわち、上記のようにして１記録条件についての評価値測定期間内に０〜９の間で変化するカウント値と、例えば先に例示した目標係数＝「１．４」の場合にはその小数部の値である「４」とが入力されるものである。
このとき、上記目標係数の小数部の値を「ｉ」とおくと、コンパレータ２５は、上記カウント値が「ｉ」未満であるときと「ｉ」以上であるときとで出力信号のレベルをＨ／Ｌで切り換えるように動作する。すなわち、上記目標係数＝「１．４」の例で言えば、カウンタ２４のカウント値が「４」未満／以上の別に応じて出力信号のレベルをＨ／Ｌで切り換えるものである。
【００８９】
また一方で、先に説明したように上記コンパレータ２５による出力信号は、セレクタ２３の切換制御信号となるものであり、従ってセレクタ２３は、上記カウント値が「ｉ」未満であるときと「ｉ」以上であるときとで、目標係数の整数部＋１の値による係数（係数Ａ）の出力と、目標係数の整数部の値による係数（係数Ｂ）の出力とを切り換えることになる。
【００９０】
図６に例示されているように、本例の場合、上記コンパレータ２５は、カウンタ２４のカウント値が「ｉ」未満のときは出力信号をＨレベルとし、上記カウント値が「ｉ」以上であるときは出力信号をＬレベルとするように構成されている。
また上記セレクタ２３は、コンパレータ２５による出力信号がＨレベルのときは目標係数の整数部＋１の値による係数を選択出力し、上記出力信号がＬレベルのときは目標係数の整数部の値による係数を選択出力するように構成されている。
つまりこれにより、セレクタ２３からセレクタ２０に対しては、上記カウント値が「ｉ」未満のときは目標係数の整数部＋１の値としての係数Ａが与えられ、上記カウント値が「ｉ」以上のときは目標係数の整数部の値としての係数Ｂが与えられるようになっている。従って、評価値測定時において乗算器１６に対しては、上記カウント値が「ｉ」未満のときは係数Ａが、上記カウント値が「ｉ」以上のときは係数Ｂが設定されることになる。
【００９１】
このようにして図５に示したタップ係数設定部１９によれば、評価値測定時において、乗算器１６に対する係数Ａと係数Ｂとの時間軸上での設定比率を、目標係数の小数部の値に応じて設定できる。具体的に、目標係数の値からその整数部の値を減算した値をｘとしたとき、係数Ａ：係数Ｂによる比率を「ｘ：１−ｘ」に設定できる。
【００９２】
なお、上記の例では目標係数として小数点第１位の数値までの設定を許容するものとして、ｎ＝１０に設定する場合を例示したが、例えば小数点第２位の数値までの設定を許容するなど、目標係数の下桁側の桁数が増える場合には、それに応じてｎの桁数を増やすものとすればよい。例えば目標係数が「１．４５」である場合には、ｎ＝１００として１記録条件についての評価値測定期間に０〜９９のカウントが行われるようにする。このときｉ＝４５であることから、係数Ａ：係数Ｂの時間軸上での設定比率は４５：５５（ｘ：１−ｘ＝０．４５：０．５５）に設定されることになる。
【００９３】
[2-3．実施の形態のまとめ]
上記のようにして本実施の形態によれば、タップ係数のビット幅を拡張することなく、タップ係数のビット幅を拡張した場合と等価な効果を得ることができる。具体的には、タップ係数のビット幅を拡張することなく、エッジ位置誤差としての品質評価値の測定精度の向上を図ることができる。
つまり本実施の形態によれば、タップ係数のビット幅の拡張によるＦＩＲフィルタ５ａのハードウエア規模の大幅な拡大、及びそれに伴う大幅なコストアップの防止を図りつつ、等化処理精度の向上が図られたことと等価な効果、具体的にはエッジ位置の誤差としての品質評価値の測定精度の向上効果を得ることができる。
【００９４】
また、上記のように品質評価値の測定精度の向上が図られれば、当該品質評価値を利用して行われるライトストラテジなどの記録波形調整パラメータの調整動作の精度向上も図られる。
【００９５】
また、本実施の形態は、タップ係数のビット幅の拡張により評価値の測定精度の向上を図るものではないので、通常のデータ再生時における等化処理がオーバースペックとなってその点での無駄が生じてしまうといったことが無いようにできる。
【００９６】
＜３．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでに説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えば、タップ係数設定部１９の構成については、次の図７のように変更することもできる。
図７において、この場合のタップ係数設定部１９では、先の図５に示した加算器２２が省略される。またこの場合、図５に示した係数保持部２１に代えて、目標係数の整数部の値（係数Ｂ）を保持する係数保持部３０、目標係数の整数部＋１の値（係数Ａ）を保持する係数保持部３１、及び目標係数の小数部の値を保持する係数保持部３２が設けられる。
セレクタ２３に対しては、上記係数保持部３１が保持する係数Ａと上記係数保持部３０が保持する係数Ｂとが入力される。この場合のセレクタ２３は、コンパレータ２５の出力信号に基づき、上記係数Ａと係数Ｂのうちの何れか一方を択一的にセレクタ２０に対して出力する。
また、この場合のコンパレータ２５には、カウンタ２４のカウント値と共に上記係数保持部３２が保持する目標係数の小数部の値が入力される。この場合もカウンタ２４、コンパレータ２５の動作は、先の図６にて説明したものと同様となる。
【００９７】
また、これまでの説明において、先の図３では、１つの記録条件についての評価値測定期間内において、係数Ａを比率ｘに応じた期間連続して設定した後、残りの期間係数Ｂを連続して設定する場合を例示したが、本発明においては、係数Ａと係数Ｂの時間軸上での設定比率が結果的にｘ：ｘ−１（設定可能最小桁未満数値に応じた比率）となるようにされていればよく、係数Ａ、Ｂの設定の順序やそれらの切換タイミングについては特に限定されるべきものではない。
【００９８】
また、これまでの説明では、イコライザ５による等化処理にＦＩＲフィルタ５ａを用いる場合を例示したが、これに代えてＩＩＲフィルタを用いることもできる。
また、これまでの説明において例示したタップ数やタップ係数の桁数（ビット幅）などの数値はあくまで一例を挙げたものに過ぎず、それらに限定されるべきものではない。
【００９９】
また、これまでの説明では、等化信号ｙｋに基づいて測定した品質評価値を平均化する場合を例示したが、品質評価値の精度向上が図られるようにするにあたっては、測定した品質評価値を少なくとも積分するものとすればよい。
【０１００】
また、これまでの説明では、イコライザ５のフィルタ処理により得られた等化信号ｙｋに基づき、再生信号のエッジ位置の誤差を表す品質評価値を測定する場合を例示したが、本発明における評価部としては、上記イコライザ５などのフィルタ処理部によりフィルタ処理の施された再生信号に基づき、信号品質の評価指標となる品質評価値を単位時間あたりに複数回測定し、且つ複数回測定した評価値を少なくとも積分するものであればよい。
【０１０１】
また、これまでの説明では、本発明のフィルタ処理装置が、光記録媒体のドライブ装置に適用される場合を例示したが、本発明のフィルタ処理装置としては他の装置に対しても広く好適に適用することができる。
本発明のフィルタ処理装置によれば、当該フィルタ処理装置によるフィルタ処理後の信号についての上述のような単位時間あたりの複数回の評価値の測定、及びこのように複数回測定された評価値についての少なくとも積分が行われる場合に対応して、タップ係数のビット幅を拡張したことと等価な効果が得られるようにできる。
【符号の説明】
【０１０２】
１  ディスクドライブ装置、２  スピンドルモータ、３  光学ヘッド、４  再生クロック生成／サンプリング部、５  イコライザ、５ａ  ＦＩＲフィルタ、６  ビタビ復号器、７  再生データデコーダ、８  記録信号発生部、９  記録データエンコーダ、１０  コントローラ、１１  評価器、１１ａ  マーク長ごと評価値測定部、１１ｂ  平均化部、１５Ａ,１５Ｂ  遅延回路、１６-1〜１６-3  乗算器、１７,２２  加算器、１８  タップ係数更新処理部、１９-1〜１９-3  タップ係数設定部、２０,２３  セレクタ、２１  目標係数保持部、２４  カウンタ、２５  コンパレータ、３０,３１,３２  係数保持部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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