(57)【要約】      （修正有）【課題】３層以上の記録層を有する光ディスクの層数を高速且つ確実に判別しうる。【解決手段】光ディスク装置１は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、取得した全ての信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにしたことにより、光ディスク１００に対してフォーカスサーボが掛かる前の時点で３層以上の記録層Ｙを有する光ディスク１００の層数を精度良く判別することができるので、高速且つ確実に３層以上の記録層Ｙを有する光ディスク１００の層数を判別することができる。【選択図】図１
2011096306.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の光源から発射される光ビームを集光して光ディスクに照射する対物レンズと、
上記対物レンズを上記光ビームの光軸方向に駆動して当該光ビームの焦点位置を移動させる駆動部と、
上記光ビームが上記光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光して、上記光ディスクにおける記録層付近に上記光ビームの焦点位置が達した際に所定の変化を示すような受光信号と、上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける対象の記録層以外の他の記録層により反射されてなる迷光の光量を示す迷光信号とを生成する信号生成部と、
上記駆動部により上記光ビームの焦点位置を移動させ、上記受光信号が上記所定の変化を示したときの上記迷光信号の信号レベルを取得する取得部と、
上記取得部により取得された全ての上記信号レベルに基づいて、上記光ディスクの層数を判別する判別部と
を具える光ディスク装置。
【請求項２】
上記信号生成部は、
上記受光信号として、上記光軸方向に関する上記光ビームの焦点と上記記録層とのずれ量を表すフォーカスエラー信号を生成し、
上記取得部は、
上記駆動部により上記光ビームの焦点位置を移動させ、上記所定の変化として、上記フォーカスエラー信号の波形がゼロクロスを示した時点の上記迷光信号の信号レベルを取得する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記信号生成部は、
上記受光信号として、上記光ディスクにおける対象の記録層からの反射光ビームの光量を示す和信号を生成し、
上記取得部は、
上記駆動部により上記光ビームの焦点位置を移動させ、上記所定の変化として、上記和信号が所定の閾値以上である区間の上記迷光信号の信号レベルを取得する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記判別部は、
上記取得部により取得された全ての信号レベルのうち、最も大きい信号レベルに基づいて上記光ディスクの層数を判別する
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記判別部は、
上記取得部により取得された全ての信号レベルに基づいて、上記区間ごとにおける上記迷光信号の信号レベルの最小値をそれぞれ検出し、検出した当該最小値のうち最も大きい値に基づいて上記光ディスクの層数を判別する
請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記信号生成部は、
上記受光信号として、上記光軸方向に関する上記光ビームの焦点と上記記録層とのずれ量を表すフォーカスエラー信号と、上記光ディスクにおける対象の記録層からの反射光ビームの光量を示す和信号とを生成し、
上記取得部は、
上記駆動部により上記光ビームの焦点位置を移動させ、上記和信号が所定の閾値以上であり且つ上記フォーカスエラー信号の波形がゼロクロスを示した時点の上記迷光信号の信号レベルを取得する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
上記取得部は、
上記駆動部により上記光ビームの焦点位置をカバー層側から上記光ディスクに接近させていき、上記フォーカスエラー信号の波形がゼロクロスを示した最初の時点よりも、振幅の大きいゼロクロスを示した時点の上記迷光信号の信号レベルを取得する
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
所定の光源から発射される光ビームを集光して光ディスクに照射する対物レンズを、駆動部により光ビームの光軸方向に駆動させて当該光ビームの焦点位置を移動させ、信号生成部により、当該光ビームが当該光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光して、当該光ディスクにおける記録層付近に当該光ビームの焦点位置が達した際に所定の変化を示すような受光信号と、当該光ビームの一部が上記光ディスクにおける対象の記録層以外の他の記録層により反射されてなる迷光の光量を示す迷光信号とを生成し、
上記受光信号が上記所定の変化を示したときの上記迷光信号の信号レベルを取得し、
取得した全ての上記信号レベルに基づいて、上記光ディスクの層数を判別する
ディスク層数判別方法。
【請求項９】
所定の光源から発射される光ビームを集光して光ディスクに照射する対物レンズを、駆動部により当該光ビームの光軸方向に駆動させて当該光ビームの焦点位置を移動させ、信号生成部により、当該光ビームが当該光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光して生成された当該光ディスクにおける記録層付近に当該光ビームの焦点位置が達した際に所定の変化を示すような受光信号が当該所定の変化を示したときの、当該光ビームの一部が当該光ディスクにおける対象の記録層以外の他の記録層により反射されてなる迷光の光量を示す迷光信号の信号レベルを取得する取得部と、
上記取得部により取得した全ての上記信号レベルに基づいて、上記光ディスクの層数を判別する判別部と
を具えるディスク層数判別装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置、ディスク層数判別方法及びディスク層数判別装置に関し、例えば複数の記録層を有する光ディスクに対応する光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、情報を蓄積する記録層を１層有する光ディスクや２層有する光ディスクが実用化されている。かかる光ディスクから情報を記録又は再生する場合、光ディスク装置は、所望の記録層に光ビームを合焦させるよう制御した上で、その反射光を検出するようになされている。
【０００３】
ところで、光ディスクは、記録層の層数によって反射特性が異なる。このため、光ディスク装置では、光ディスクから情報を記録又は再生する場合、当該光ディスクの層数が１層か２層かを判別し、この判別結果に応じて光ビームの出力や球面収差を適宜補正する必要がある。
【０００４】
そこで、光ビームを記録層に合焦させたときに当該記録層と異なる他の記録層において光ビームの一部が反射されてなる迷光を受光し、当該迷光の光量をもとに光ディスクの層数が１層か又は２層かを判別する光ディスク装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−１５５７９１公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、近年、光ディスクの記憶容量をさらに拡大するために、記録層を３層以上有する光ディスクが提案されており、このような記録層を３層以上有する光ディスクにおいて、高速且つ確実に光ディスクの層数を判別することが求められている。
【０００７】
しかしながら、上述した光ディスク装置では、あくまで光ディスクが１層か又は２層かを判別することしかできなかった。
【０００８】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、３層以上の記録層を有する光ディスクの層数を高速且つ確実に判別しうる光ディスク装置、ディスク層数判別方法及びディスク層数判別装置を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
かかる課題を解決するため本発明の光ディスク装置においては、所定の光源から発射される光ビームを集光して光ディスクに照射する対物レンズと、対物レンズを光ビームの光軸方向に駆動して当該光ビームの焦点位置を移動させる駆動部と、光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光して、光ディスクにおける記録層付近に光ビームの焦点位置が達した際に所定の変化を示すような受光信号と、光ビームの一部が光ディスクにおける対象の記録層以外の他の記録層により反射されてなる迷光の光量を示す迷光信号とを生成する信号生成部と、駆動部により光ビームの焦点位置を移動させ、受光信号が所定の変化を示したときの迷光信号の信号レベルを取得する取得部と、取得部により取得した全ての信号レベルに基づいて、光ディスクの層数を判別する判別部とを設けるようにした。
【００１０】
また本発明のディスク層数判別方法においては、所定の光源から発射される光ビームを集光して光ディスクに照射する対物レンズを、駆動部により光ビームの光軸方向に駆動させて当該光ビームの焦点位置を移動させ、信号生成部により、当該光ビームが当該光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光して、当該光ディスクにおける記録層付近に当該光ビームの焦点位置が達した際に所定の変化を示すような受光信号と、当該光ビームの一部が光ディスクにおける対象の記録層以外の他の記録層により反射されてなる迷光の光量を示す迷光信号とを生成し、受光信号が所定の変化を示したときの迷光信号の信号レベルを取得し、取得した全ての信号レベルに基づいて、光ディスクの層数を判別するようにした。
【００１１】
さらに本発明のディスク層数判別装置においては、所定の光源から発射される光ビームを集光して光ディスクに照射する対物レンズを、駆動部により当該光ビームの光軸方向に駆動させて当該光ビームの焦点位置を移動させ、信号生成部により、光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光して生成された光ディスクにおける記録層付近に光ビームの焦点位置が達した際に所定の変化を示すような受光信号が当該所定の変化を示したときの、光ビームの一部が光ディスクにおける対象の記録層以外の他の記録層により反射されてなる迷光の光量を示す迷光信号の信号レベルを取得する取得部と、取得部により取得した全ての信号レベルに基づいて、光ディスクの層数を判別する判別部とを設けるようにした。
【００１２】
これにより、光ディスクに対してフォーカスサーボが掛かる前の時点で、光ビームが記録層に合焦したときの迷光信号の信号レベルを取得することができる。したがって、光ビームが記録層に合焦したときの迷光の光量が光ディスクにおける記録層の層間隔が狭いほど大きくなることを利用して、３層以上の記録層を有する光ディスクの層数を高速に判別することができる。また、光ビームが記録層に合焦した全ての時点の迷光の光量に基づいて光ディスクの層数を判別することができるので、例えば光ビームが一つの記録層に合焦したときの迷光の光量のみに基づいて判別する場合よりも、精度良く判別することができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、光ディスクに対してフォーカスサーボが掛かる前の時点で、光ビームが記録層に合焦したときの迷光信号の信号レベルを取得することができる。したがって、光ビームが記録層に合焦したときの迷光の光量が光ディスクにおける記録層の層間隔が狭いほど大きくなることを利用して、３層以上の記録層を有する光ディスクの層数を高速に判別することができる。また、光ビームが記録層に合焦した全ての時点の迷光の光量に基づいて光ディスクの層数を判別することができるので、例えば光ビームが一つの記録層に合焦したときの迷光の光量のみに基づいて判別する場合よりも、精度良く判別することができる。かくして、３層以上の記録層を有する光ディスクの層数を高速且つ確実に判別しうる光ディスク装置、ディスク層数判別方法及びディスク層数判別装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】光ディスクにおける反射光ビーム及び迷光ビームの発生を示す略線図である。
【図３】ホログラム素子の構成を示す略線図である。
【図４】反射光ビームの分離の様子を示す略線図である。
【図５】光検出器の構成を示す略線図である。
【図６】迷光パターンの形成を示す略線図である。
【図７】フォーカスエラー信号及び迷光信号の波形を示す略線図である。
【図８】第１の実施の形態におけるディスク層数判別処理手順を示すフローチャートである。
【図９】和信号及び迷光信号の波形を示す略線図である。
【図１０】第２の実施の形態におけるディスク層数判別処理手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について、図面を用いて説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態
２．第２の実施の形態
３．他の実施の形態
【００１６】
＜１．第１の実施の形態＞
［１−１．光ディスク装置の構成］
図１において、１は、全体としてＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）対応の光ディスク装置を示す。光ディスク装置１は、図示しない外部装置から供給されるリード／ライトコマンドに応じて動作し、ＢＤでなる光ディスク１００に対して情報を記録し、また当該光ディスク１００から情報を再生し得るようになされている。
【００１７】
尚、この光ディスク装置１は、例えば、記録層を１層有する１層ディスク、記録層を２層有する２層ディスク、記録層を４層有する４層ディスクといった３種の光ディスク１００に対応しているとする。
【００１８】
因みに４層ディスクの場合、図２（Ａ）に断面図を示すように、例えば、カバー層の表面１００Ａから遠い順に４層の記録層Ｙ０、Ｙ１、Ｙ２及びＹ３（以下、これらをまとめて記録層Ｙと呼ぶ）を有する。各記録層Ｙは、螺旋状又は同心円状のトラック溝が形成されており、当該トラック溝に沿って情報が記録されるようになされている。
【００１９】
また光ディスク装置１（図１）は、マイクロコンピュータ２が不揮発性メモリ３に格納された各種プログラムにしたがって、光ピックアップ４や当該光ディスク装置１の全体を統括制御するようになされている。
【００２０】
マイクロコンピュータ２の統括制御部５は、光ディスク１００から情報を再生する場合、図示しないスピンドルモータを回転駆動させ、図示しないターンテーブルに載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させるようになされている。
【００２１】
また統括制御部５は、図示しないスレッドモータを駆動させることにより、光ピックアップ４を移動軸に沿ってトラッキング方向、すなわち光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向へ大きく移動させるようになされている。
【００２２】
光ピックアップ４は、マイクロコンピュータ２の光源制御部６の制御に基づいて、光ディスク１００へ光ビームを照射するようになされている。
【００２３】
因みに統括制御部５は、光ディスク１００に光ビームを照射する場合、記録層Ｙ０〜Ｙ３のうち情報を読み出す対象とする記録層Ｙ、すなわち光ビームの焦点を合わせるべき記録層Ｙを対象記録層ＹＴとして選定するようになされている。
【００２４】
また光ピックアップ４は、光ビームが光ディスク１００により反射されてなる反射光ビームを受光し、その受光結果に応じた受光信号を生成して迷光演算回路７へ供給するようになされている。
【００２５】
迷光演算回路７は、供給された受光信号を用いた所定の演算処理（後述する）を行うことにより、迷光の影響を除去した受光信号などを生成し、これらをマイクロコンピュータ２のアナログデジタル変換器（これをＡ／Ｄ変換器とも呼ぶ）８へ供給する。
【００２６】
Ａ／Ｄ変換器８は、供給された受光信号をアナログデジタル変換（Ａ／Ｄ変換）することでデジタルの受光信号を得、これをマイクロコンピュータ２のサーボエラー信号生成部９へ供給する。
【００２７】
サーボエラー信号生成部９は、供給されたデジタルの受光信号からフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などを生成し、これらを統括制御部５へ供給する。統括制御部５は、供給されたフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を、サーボ制御部１０へ供給する。
【００２８】
サーボ制御部１０は、供給されたフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をもとに、対物レンズ１３の駆動を制御するための駆動制御信号を生成し、これをデジタルアナログ変換器（Ｄ／Ａ変換器とも呼ぶ）１１へ供給する。
【００２９】
Ｄ／Ａ変換器１１は、供給された駆動制御信号をデジタルアナログ変換（Ｄ／Ａ変換）することでアナログの駆動制御信号を得、これをドライバ１２へ供給する。
【００３０】
ドライバ１２は、供給された駆動制御信号をもとに、対物レンズ１３を駆動するための駆動信号を生成し、これを光ピックアップ４の３軸アクチュエータ１４へ供給する。
【００３１】
３軸アクチュエータ１４は、この駆動信号に基づいて対物レンズ１３のフォーカス制御及びトラッキング制御を行い、当該対物レンズ１３により集光される光ビームの焦点位置を調整するようになされている。
【００３２】
また球面収差補正部１５は、統括制御部５から対象記録層ＹＴの通知を受け、当該対象記録層ＹＴに応じた球面収差補正信号を生成し、これをＤ／Ａ変換器１６へ供給する。
【００３３】
Ｄ／Ａ変換器１６は、供給された球面収差補正信号をＤ／Ａ変換することでアナログの球面収差補正信号を得、これをドライバ１７へ供給する。
【００３４】
ドライバ１７は、供給された球面収差補正信号をもとに、エキスパンダ１８を駆動するための駆動信号を生成し、これを光ピックアップ４のエキスパンダアクチュエータ１９へ供給する。
【００３５】
エキスパンダアクチュエータ１９は、この駆動信号に基づいてエキスパンダ１８の一部のレンズを駆動することにより、エキスパンダ１８による球面収差の補正量を調整するようになされている。
【００３６】
また光ピックアップ４は、光ディスク１００に光ビームＬを照射し、当該光ディスク１００により当該光ビームＬが反射されてなる反射光ビームＬＲを受光するようになされている。
【００３７】
レーザダイオード２０は、マイクロコンピュータ２の光源制御部６の制御のもとで、波長約４０５［ｎｍ］の青紫色レーザ光でなる光ビームＬを発散光として出射し得るようになされている。またレーザダイオード２０は、光ビームＬがＰ偏光となるようにその取付角度等が調整されている。
【００３８】
実際上統括制御部５は、光源制御部６を制御することにより、レーザダイオード２０から光ビームＬを発射させ、コリメータレンズ２１へ入射させる。コリメータレンズ２１は、光ビームＬを発散光から平行光に変換し、偏光ビームスプリッタ２２へ入射させる。
【００３９】
偏光ビームスプリッタ２２は、光ビームの偏光方向に応じて透過率が相違する反射透過面２２Ｓを有しており、Ｐ偏光の光ビームをほぼ全て透過すると共に、Ｓ偏光の光ビームをほぼ全て反射するようになされている。
【００４０】
実際上偏光ビームスプリッタ２２は、反射透過面２２Ｓにより光ビームＬをほぼ全て透過させ、エキスパンダ１８へ入射させる。
【００４１】
エキスパンダ１８は、光ビームＬの球面収差を変化させ、１／４波長板２３へ入射させる。尚エキスパンダ１８は、球面収差補正部１５により、光ビームＬの対象記録層ＹＴへの到達時における球面収差を補正し得るようになされている。
【００４２】
１／４波長板２３は、光ビームを直線偏光と円偏光との間で相互変換し得るようになされており、例えばＰ偏光でなる光ビームＬを左円偏光に変換し、対物レンズ１３へ入射させる。
【００４３】
対物レンズ１３は、光ビームＬを集光する。ここで統括制御部５は、サーボ制御部１０を介して、３軸アクチュエータ１４により対物レンズ１３のフォーカス方向に関する位置を調整している。このため対物レンズ１３は、光ビームＬの焦点Ｆを光ディスク１００の対象記録層ＹＴにおおよそ合わせるよう照射する。
【００４４】
このとき光ビームＬは、対象記録層ＹＴで反射されることにより、反射光ビームＬＲとなり、対物レンズ１３へ入射される。また反射光ビームＬＲは、円偏光における回転方向が反射時に反転されるため、右円偏光となる。
【００４５】
例えば記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴであった場合（図２（Ａ））、光ビームＬは、記録層Ｙ０において反射されることにより反射光ビームＬＲとなる。
【００４６】
この後反射光ビームＬＲは、対物レンズ１３により発散光から平行光に変換され、１／４波長板２３により右円偏光からＳ偏光（直線偏光）へ変換され、さらにエキスパンダ１８へ入射される。
【００４７】
エキスパンダ１８は、反射光ビームＬＲが対象記録層ＹＴにより反射されてから対物レンズ１３を通過するまでの間に生じた球面収差を補正し、当該反射光ビームＬＲを偏光ビームスプリッタ２２へ入射させる。
【００４８】
偏光ビームスプリッタ２２は、Ｓ偏光でなる反射光ビームＬＲを反射透過面２２Ｓにおいて反射し、集光レンズ２４へ入射させる。集光レンズ２４は、反射光ビームＬＲを収束光に変換し、ホログラム素子２５へ入射させる。
【００４９】
ホログラム素子２５は、回折素子としての性質により、反射光ビームＬＲを回折させて少なくとも０次光及び１次光に分離する。このときホログラム素子２５は、０次光でなる反射光ビームＬＲ０をほぼ直進させると共に、１次光でなる反射光ビームＬＲ１については０次光と異なる方向へ進行させ、シリンドリカルレンズ２６へ入射させる。
【００５０】
ところで反射光ビームＬＲには、光ビームＬの焦点が光ディスク１００における所望のトラックに対し内周側又は外周側へ変位した際に、当該トラックの溝構造による回折作用に起因して光量が変動する部分が存在する。この部分は、プッシュプル領域とも呼ばれ、この部分に相当する光量の成分は、プッシュプル成分とも呼ばれる。
【００５１】
このプッシュプル成分は、光ビームＬの焦点が所望のトラックから変位した際の変位量に応じて、その光量が変化することが知られている。そこで光ディスク装置１では、このプッシュプル成分を検出することにより、対物レンズ１３のトラッキング制御を行うようになされている。
【００５２】
かかるプッシュプル領域と対応するべく、ホログラム素子２５は、図３（Ａ）に示すように反射光ビームＬＲの通過部分が複数の領域２５Ｅ〜２５Ｊに分割されており、また図３（Ｂ）に示すように領域ごとに反射光ビームＬＲの回折方向が設定されている。
【００５３】
領域２５Ｅは、反射光ビームＬＲ１のうち、光ディスク１００におけるトラックの溝構造により回折された１次回折光（すなわち＋１次光又は−１次光）を多く含み、且つ当該光ディスク１００の内周側部分に相当する部分を反射光ビームＬＲ１Ｅとする。このとき領域２５Ｅは、反射光ビームＬＲ１Ｅをほぼトラックの走行方向に沿った方向（便宜上、以下この方向を縦方向と呼ぶ）から内周側（図の左側）へ傾いた方向へ回折させる。
【００５４】
領域２５Ｆは、反射光ビームＬＲ１のうち、光ディスク１００におけるトラックの溝構造により回折された１次回折光（すなわち−１次光又は＋１次光）を多く含み、且つ当該光ディスク１００の外周側部分に相当する部分を反射光ビームＬＲ１Ｆとする。このとき領域２５Ｆは、反射光ビームＬＲ１Ｆを縦方向から外周側（図の右側）へ傾いた方向へ回折させる。
【００５５】
ここで反射光ビームＬＲ１Ｆの進行方向は、縦方向と直交する横方向に関して反射光ビームＬＲ１Ｅの進行方向とほぼ対称となっている。これを換言すれば、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆは、縦方向に関しては互いにほぼ同一の方向へ、横方向に関しては互いに反対の方向へそれぞれ進行することになる。
【００５６】
領域２５Ｇ１及び２５Ｇ２は、反射光ビームＬＲ１における、光ディスク１００のトラックにより回折された１次回折光を殆ど含まず、且つ当該反射光ビームＬＲ１の中央部分を除いた領域のうち、当該光ディスク１００の内周側部分に相当する部分を反射光ビームＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２とする。このとき領域２５Ｇ１及び２５Ｇ２（以下、これらをまとめて領域２５Ｇと呼ぶ）は、反射光ビームＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２（以下、これらをまとめて反射光ビームＬＲ１Ｇと呼ぶ）をほぼ横方向の外周方向（図の右方向）へ回折させる。
【００５７】
領域２５Ｈ１及び２５Ｈ２は、反射光ビームＬＲ１における、光ディスク１００のトラックにより回折された１次回折光を殆ど含まず、且つ当該反射光ビームＬＲ１の中央部分を除いた領域のうち、当該光ディスク１００の外周側部分に相当する部分を反射光ビームＬＲ１Ｈ１およびＬＲ１Ｈ２とする。このとき領域２５Ｈ１及び２５Ｈ２（以下、これらをまとめて領域２５Ｈと呼ぶ）は、反射光ビームＬＲ１Ｈ１及びＬＲ１Ｈ２（以下、これらをまとめて反射光ビームＬＲ１Ｈと呼ぶ）をほぼ横方向の外周方向へ、且つ反射光ビームＬＲ１Ｇよりも僅かに大きく回折させる。
【００５８】
領域２５Ｊは、反射光ビームＬＲ１の中央部分を反射光ビームＬＲ１Ｊとする。このとき領域２５Ｊは、反射光ビームＬＲ１Ｊを縦方向及び横方向のほぼ中間となる斜め方向、すなわち図の右下方向へ回折させる。
【００５９】
かくしてホログラム素子２５は、１次光でなる反射光ビームＬＲ１のうち、プッシュプル成分を含む部分を反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆとし、これらを縦方向の内周側及び外周側へそれぞれ回折させる。
【００６０】
またホログラム素子２５は、反射光ビームＬＲ１のうち、プッシュプル成分を殆ど含まず、且つトラックの走行方向における前後部分を反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈとし、これらを横方向へそれぞれ回折させる。
【００６１】
因みにホログラム素子２５は、各領域２５Ｅ〜２５Ｊにいわゆるバイナリ型のホログラムが形成されているため、実際には回折作用によりそれぞれ＋１次光及び−１次光が生じる。しかしながら光ピックアップ４では、１次回折光としては、＋１次光又は−１次光のいずれか一方のみを利用するようになされており、他方は利用しないようになされている。
【００６２】
このようにホログラム素子２５は、反射光ビームＬＲ１を領域ごとに設定された方向へ回折させることにより、複数の反射光ビームＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊに分割し互いに分離させるようになされている。
【００６３】
シリンドリカルレンズ２６は、０次光でなる反射光ビームＬＲ０に非点収差を持たせ、光検出器２７へ照射する。
【００６４】
因みにシリンドリカルレンズ２６は、その光学的性質により、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｅ、ＬＲ１Ｆ、ＬＲ１Ｇ、ＬＲ１Ｈ及びＬＲ１Ｊについても同様に非点収差を持たせることになる。しかしながら反射光ビームＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊは、ホログラム素子２５に形成された回折格子により、予め当該非点収差を相殺するような収差が与えられ、これによりシリンドリカルレンズ２６から出射される時点で収差を殆ど持たないようになされている。
【００６５】
ここで、反射光ビームＬＲがホログラム素子２５により分割され光検出器２７に照射される様子を模式的に表すと、図４のようになる。
【００６６】
光検出器２７は、図５に示すように、複数の受光部ＤＡ、ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ、ＤＨ及びＤＪが形成され、さらに各受光部にそれぞれ複数の受光領域が形成されている。
【００６７】
受光部ＤＡは、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の光軸に対応する基準点Ｐ２を中心に、縦方向及び横方向にそれぞれ２分割された、すなわち格子状に４分割された受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤにより構成されている。因みに受光領域ＲＡ〜ＲＤは、いずれもほぼ同等の大きさでなる略正方形状に形成されている。
【００６８】
また受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤの横方向における両端部分は、それぞれ横方向に短い迷光受光領域ＲＡＮ、ＲＢＮ、ＲＣＮ及びＲＤＮとなっている。
【００６９】
すなわち受光部ＤＡには、中央に受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤが配置されている。これと共に、受光部ＤＡには、縦方向に関して当該受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤとほぼ同等の範囲に渡り当該受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤに隣接した迷光受光領域ＲＡＮ、ＲＢＮ、ＲＣＮ及びＲＤＮが配置されている。
【００７０】
受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤは、反射光ビームＬＲ０により形成されるスポットＴＡの一部をそれぞれ受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＡ、ＳＢ、ＳＣ及びＳＤをそれぞれ生成して迷光演算回路７（図１）へ送出するようになされている。
【００７１】
また迷光受光領域ＲＡＮ、ＲＢＮ、ＲＣＮ及びＲＤＮは、それぞれの受光量に応じた受光信号ＳＡＮ、ＳＢＮ、ＳＣＮ及びＳＤＮを生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。
【００７２】
受光部ＤＥは、全体として縦方向に長い長方形状に形成されると共に、縦方向に３分割されている。受光部ＤＥの中央部分は、略正方形状の受光領域ＲＥとなっており、その両端部分は、それぞれ縦方向に短い迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２となっている。
【００７３】
すなわち受光部ＤＥでは、中央に受光領域ＲＥが配置されると共に、横方向に関して当該受光領域ＲＥとほぼ同等の範囲に渡り当該受光領域ＲＥに隣接した迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２が配置されている。
【００７４】
受光領域ＲＥは、反射光ビームＬＲ１Ｅにより形成されるスポットＴＥを受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＥを生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。また迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２は、それぞれの受光量の加算値に相当する受光信号ＳＥＮを生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。
【００７５】
受光部ＤＦは、基準点Ｐ２を通り縦方向に延長された仮想的な直線Ｖ１を対称軸として、受光部ＤＥとほぼ対称な位置に設けられている。また受光部ＤＦは、受光部ＤＥと同様の形状になされており、受光領域ＲＥ並びに迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２とそれぞれ対応する受光領域ＲＦ並びに迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２により構成されている。
【００７６】
受光領域ＲＦは、反射光ビームＬＲ１Ｆにより形成されるスポットＴＦを受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＦを生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。また迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２は、それぞれの受光量の加算値に相当する受光信号ＳＦＮを生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。
【００７７】
受光部ＤＧは、基準点Ｐ２を通り横方向に延長された仮想的な直線Ｖ２上に配置されている。受光部ＤＧは、受光部ＤＥと同様、全体として縦方向に長い長方形状に形成されると共に、縦方向に３分割されている。受光部ＤＧの中央部分は、略正方形状の受光領域ＲＧとなっており、その両端部分は、それぞれ縦方向に短い迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２となっている。
【００７８】
すなわち受光部ＤＧでは、受光部ＤＥと同様、中央に受光領域ＲＧが配置されると共に、当該受光領域ＲＧに対して縦方向にそれぞれ隣接して迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２が配置されている。
【００７９】
受光領域ＲＧは、反射光ビームＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２により形成されるスポットＴＧ１及びＴＧ２を受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＧを生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。また迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２は、それぞれの受光量の加算値に相当する受光信号ＳＧＮを生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。
【００８０】
受光部ＤＨは、仮想的な直線Ｖ２上における、基準点Ｐ２から見て受光部ＤＧよりも遠方に、当該受光部ＤＧからやや離隔するよう配置されている。また受光部ＤＨは、受光部ＤＧと同様の形状になされており、受光領域ＲＧ並びに迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２とそれぞれ対応する受光領域ＲＨ並びに迷光受光領域ＲＨＮ１及びＲＨＮ２により構成されている。
【００８１】
受光領域ＲＨは、反射光ビームＬＲ１Ｈ１及びＬＲ１Ｈ２により形成されるスポットＴＨ１及びＴＨ２を受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＨを生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。また迷光受光領域ＲＨＮ１及びＲＨＮ２は、それぞれの受光量の加算値に相当する受光信号ＳＨＮを生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。
【００８２】
受光部ＤＪは、基準点Ｐ２から斜め方向（すなわち縦方向及び横方向のほぼ中間となる方向）における、当該基準点Ｐ２から離隔し、且つ受光部ＤＦからもやや離隔した箇所に配置されている。
【００８３】
受光部ＤＪは、格子状に４分割された受光領域ＲＪＡ、ＲＪＢ、ＲＪＣ及びＲＪＤにより反射光ビームＬＲ１Ｊを受光するようになされている。因みに受光部ＤＪにおける各受光領域の分割方向は、受光部ＤＡにおける分割方向と約４５度の角度をなすようになされている。また受光領域ＲＪＡ〜ＲＪＤは、いずれもほぼ同等の大きさでなる略正方形状に形成されている。
【００８４】
受光領域ＲＪＡ、ＲＪＢ、ＲＪＣ及びＲＪＤは、それぞれの受光量に応じた受光信号ＳＪＡ、ＳＪＢ、ＳＪＣ及びＳＪＤを生成し、これらを迷光演算回路７へ送出するようになされている。
【００８５】
このように光検出器２７は、受光部ＤＡ及びＤＥ〜ＤＪの各受光領域Ｒにより、それぞれの受光量に応じた受光信号Ｓをそれぞれ生成して迷光演算回路７へ送出するようになされている。
【００８６】
因みに光ピックアップ４では、集光レンズ２４及びホログラム素子２５の設計等により、反射光ビームＬＲ０、ＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊが光検出器２７の照射面付近においてそれぞれ焦点を結ぶようになされている。
【００８７】
［１−２．迷光の照射及び各種信号の生成］
ところで光ディスク１００（図２）は、記録層Ｙ１〜Ｙ３において常にそれぞれ所定の反射率で光ビームＬを反射すると共にその残りを透過し、記録層Ｙ１を透過した光ビームＬを記録層Ｙ０において反射するようになされている。
【００８８】
このため光ビームＬは、図２（Ａ）に示すように、光ディスク装置１により例えば記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴとして選定されていたとしても、常に他の記録層Ｙ１〜Ｙ３によってもそれぞれ反射されることになる。このように、他の記録層Ｙ１〜Ｙ３により光ビームＬの一部が反射されてなる光ビームを迷光ビームＬＮ（ＬＮ１〜ＬＮ３）と呼ぶ。
【００８９】
因みに、図２（Ｂ）に示すように、光ディスク装置１により例えば記録層Ｙ３が対象記録層ＹＴとして選定されていた場合には、他の記録層Ｙ０〜Ｙ２により光ビームＬの一部が反射されてなる光ビームが迷光ビームＬＮ（ＬＮ０〜ＬＮ２）となる。
【００９０】
迷光ビームＬＮは、反射光ビームＬＲと同様の光路を通り、ホログラム素子２５により回折された上で、最終的に光検出器２７に照射される。
【００９１】
しかしながら迷光ビームＬＮは、反射光ビームＬＲと比較して、対物レンズ１３から光ビームＬとして出射されてから再び対物レンズ１３へ入射されるまでの光路長が相違する。このため迷光ビームＬＮは、対物レンズ１３へ入射される際の収束状態（発散状態）が反射光ビームＬＲと相違する。
【００９２】
また光ピックアップ４では、反射光ビームＬＲについて、光検出器２７が対象記録層ＹＴの共焦点となるように各種光学部品の配置や光学特性等が定められている。
【００９３】
このため迷光ビームＬＮは、ホログラム素子２５により反射光ビームＬＲと同様の分割パターンに分割され、且つ焦点が外れた状態、いわゆるデフォーカスした状態で光検出器２７に照射される。
【００９４】
ここで、例えば光ディスク１００における記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴとして選定され、光ビームＬの焦点Ｆが当該記録層Ｙ０に合焦している場合の迷光ビームＬＮの照射パターン（以下これを迷光パターンＷと呼ぶ）を想定する。
【００９５】
この場合、例えば、記録層Ｙ０に近い記録層Ｙ１により光ビームＬが反射されてなる迷光ビームＬＮ１は、光検出器２７上において、図６に示すような迷光パターン群Ｗ１を形成する。
【００９６】
この迷光パターン群Ｗ１は、ホログラム素子２５により０次光の迷光パターンＷＡが形成される。また迷光パターン群Ｗ１は、ホログラム素子２５の領域２５Ｅ、２５Ｆ、２５Ｇ１、２５Ｇ２、２５Ｈ１、２５Ｈ２により１次光の迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１、ＷＨ２がそれぞれ形成される。
【００９７】
図６において迷光パターンＷＡは、受光部ＤＡにかかっている。このとき、受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤのそれぞれは、スポットＴＡ及び迷光パターンＷＡの双方が加算された光量のみを検出してしまい、スポットＴＡの光量のみを検出することができない。一方、スポットＴＡは、迷光受光領域ＲＡＮ、ＲＢＮ、ＲＣＮ及びＲＤＮにはかかっていない。このとき迷光受光領域ＲＡＮ、ＲＢＮ、ＲＣＮ及びＲＤＮのそれぞれは、迷光パターンＷＡの光量のみを検出する。
【００９８】
そこで光ディスク装置１は、迷光受光領域ＲＡＮ、ＲＢＮ、ＲＣＮ及びＲＤＮの光量を用いて、受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤに照射される迷光パターンＷＡの光量を相殺すれば、スポットＴＡの光量を算出することができる。
【００９９】
また光ディスク装置１は、受光領域ＲＥについても同様に、受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２の光量を用いて受光領域ＲＥに照射される迷光パターンＷＥの光量を相殺すれば、スポットＴＥの光量を算出することができる。
【０１００】
さらに光ディスク装置１は、受光領域ＲＦについても同様に、受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２の光量を用いて受光領域ＲＦに照射される迷光パターンＷＦの光量を相殺すれば、スポットＴＦの光量を算出することができる。
【０１０１】
さらに光ディスク装置１は、受光領域ＲＧについても同様に、受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２の光量を用いて受光領域ＲＦに照射される迷光パターンＷＧの光量を相殺すれば、スポットＴＧの光量を算出することができる。
【０１０２】
さらに光ディスク装置１は、受光領域ＲＨについても同様に、受光領域ＲＨＮ１及びＲＨＮ２の光量を用いて受光領域ＲＨに照射される迷光パターンＷＨの光量を相殺すれば、スポットＴＨの光量を算出することができる。
【０１０３】
このことをふまえ、光ディスク装置１の迷光演算回路７は、次式（１）〜（７）に従って演算することにより、迷光パターンの影響を排除した受光信号ＳＡｒ、ＳＢｒ、ＳＣｒ、ＳＤｒ、ＳＥｒ、ＳＦｒ、ＳＧｒ、ＳＨｒを算出するようになされている。
【０１０４】
ＳＡｒ＝ＳＡ−ＳＡＮ……（１）
【０１０５】
ＳＢｒ＝ＳＢ−ＳＢＮ……（２）
【０１０６】
ＳＣｒ＝ＳＣ−ＳＣＮ……（３）
【０１０７】
ＳＤｒ＝ＳＤ−ＳＤＮ……（４）
【０１０８】
ＳＥｒ＝ＳＥ−ＳＥＮ……（５）
【０１０９】
ＳＦｒ＝ＳＦ−ＳＦＮ……（６）
【０１１０】
ＳＧｒ＝ＳＧ−ＳＧＮ……（７）
【０１１１】
また迷光演算回路７は、次式（８）に従って演算することにより、迷光パターンの光量を示す迷光信号ＳＮを算出するようになされている。
【０１１２】
ＳＮ＝ＳＡＮ＋ＳＢＮ＋ＳＣＮ＋ＳＤＮ……（８）
【０１１３】
このように迷光演算回路７は、迷光の影響を除去した受光信号ＳＡｒ、ＳＢｒ、ＳＣｒ、ＳＤｒ、ＳＥｒ、ＳＦｒ、ＳＧｒ、ＳＨｒと、迷光信号ＳＮとを算出すると、これらをＡ／Ｄ変換器８を介して、サーボエラー信号生成部９へ供給するようになされている。
【０１１４】
サーボエラー信号生成部９は、供給された受光信号ＳＡｒ、ＳＢｒ、ＳＣｒ、ＳＤｒを用いて次式（９）に従った演算を行うことにより、非点収差法によるフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出し、これを統括制御部５へ供給する。
【０１１５】
ＳＦＥ＝（ＳＡｒ＋ＳＣｒ）−（ＳＢｒ＋ＳＤｒ）……（９）
【０１１６】
このフォーカスエラー信号ＳＦＥは、フォーカス方向（つまり光ビームＬの光軸方向）に関して、光ビームＬの焦点Ｆと対象記録層ＹＴとのずれ量を表すことになる。
【０１１７】
統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥをサーボ制御部１０に供給する。サーボ制御部１０は、供給されたフォーカスエラー信号ＳＦＥを基に、Ｄ／Ａ変換器１１、ドライバ１２を介して３軸アクチュエータ１４を制御する。３軸アクチュエータ１４は、サーボ制御部１０の制御のもと、対物レンズ１３をフォーカス方向へ駆動する、いわゆるフォーカス制御を行う。
【０１１８】
光ディスク装置１は、このフォーカス制御を繰り返し行う（すなわちフィードバック制御を行う）ことにより、光ビームＬの焦点Ｆと対象記録層ＹＴとのフォーカス方向に関するずれ量を任意の目標値に収束させていく。
【０１１９】
またサーボエラー信号生成部９は、光ビームＬの焦点Ｆと対象記録層ＹＴにおける所望のトラックとのずれ量を表すトラッキングエラー信号の生成については、１ビームプッシュプル法を用いるようになされている。この１ビームプッシュプル法では、基本的に、反射光ビームＬＲのうちプッシュプル成分の差分値を算出するようになされている。
【０１２０】
ところで光ディスク装置１では、対物レンズ１３により集光する光ビームＬの焦点Ｆを光ディスク１００における所望のトラックに追従させるようになされている。ここで当該トラックが偏心等している場合、光ディスク装置１は、焦点Ｆを当該トラックに追従させるべく、光ピックアップ４の対物レンズ１３を半径方向に移動させる、いわゆるレンズシフトを行う。
【０１２１】
このレンズシフトが生じた場合、スポットＴＥ及びＴＦ（図５）は、当該レンズシフトにより光量が変化することになる。
【０１２２】
サーボエラー信号生成部９は、このレンズシフトに対応すべく、次式（１１）に従った演算を行うことによりトラッキングエラー信号ＳＴＥを算出し、これを統括制御部５へ供給する。
【０１２３】
ＳＴＥ＝（ＳＥｒ−ＳＦｒ）−ｋ×（ＳＧｒ−ＳＨｒ）……（１１）
【０１２４】
この式（１１）において、前半の項にはプッシュプル成分及びレンズシフト成分が含まれており、後半の項にはレンズシフト成分のみが含まれる。係数Ｋは、光ピックアップ４においてレンズシフトが生じた際に、前半の項に含まれるレンズシフト成分を相殺し得るよう適宜定められた係数である。
【０１２５】
統括制御部５は、このトラッキングエラー信号ＳＴＥ２をサーボ制御部１０へ供給する。サーボ制御部１０は、トラッキングエラー信号ＳＴＥを基に、Ｄ／Ａ変換器１１、ドライバ１２を介して３軸アクチュエータ１４を制御する。３軸アクチュエータ１４は、サーボ制御部１０の制御のもと、対物レンズ１３をトラッキング方向へ駆動する、いわゆるトラッキング制御を行う。
【０１２６】
光ディスク装置１は、このトラッキング制御についても繰り返し行う（すなわちフィードバック制御を行う）ことにより、光ビームＬの焦点Ｆと対象記録層ＹＴにおける所望のトラックとのトラッキング方向に関するずれ量を任意の目標値に収束させていく。
【０１２７】
かくして光ディスク装置１は、フォーカス制御及びトラッキング制御を行うことにより、光ビームＬの焦点Ｆを対象記録層ＹＴにおける所望のトラックに合わせるようになされている。
【０１２８】
またサーボエラー信号生成部９は、供給された受光信号ＳＧｒ、ＳＨｒを用いて次式（１２）に従った演算を行うことによりレンズシフト信号ＳＬを算出し、これを統括制御部５へ供給するようになっている。
【０１２９】
ＳＬ＝ＳＧｒ−ＳＨｒ……（１２）
【０１３０】
またサーボエラー信号生成部９は、次式（１３）に従って受光信号ＳＡｒ〜ＳＤｒを加算することにより和信号ＳＲＦを算出し、これを統括制御部５へ供給するようになされている。
【０１３１】
ＳＲＦ＝ＳＡｒ＋ＳＢｒ＋ＳＣｒ＋ＳＤｒ……（１３）
【０１３２】
この和信号ＳＲＦは、０次光でなる反射光ビームＬＲ０全体の光量に相当すると共に、光ディスク１００に記録された信号を表している。統括制御部５は、和信号ＳＲＦに対し所定の復調処理や復号化処理等を施すことにより、光ディスク１００に記録されている情報を再生するようになされている。
【０１３３】
［１−３．ディスク層数判別処理］
ところで、光ディスク装置１では、当該光ディスク装置１に光ディスク１００が装填されると、当該光ディスク１００における記録層Ｙの層数を判別し、この判別結果に応じて光ビームＬの出力や球面収差の補正量を調整するようになっている。以下、光ディスク装置１における光ディスク１００の記録層Ｙの層数を判別する処理（これをディスク層数判別処理とも呼ぶ）について説明する。
【０１３４】
ここで図７に、光ディスク１００に対して対物レンズ１３をカバー層側から接近させたとき、すなわち光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から接近させたときにおけるフォーカスエラー信号ＳＦＥ及び迷光信号ＳＮの波形を示す。尚、この波形は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ及び迷光信号ＳＮの信号レベルの時間的な変化を示したものであり、縦軸が信号レベル、横軸が時間軸を表している。
【０１３５】
まず図７（Ａ）に、１層ディスクに対して球面収差を補正した状態で、当該１層ディスクに光ビームＬの焦点Ｆを接近させた場合を示す。
【０１３６】
この場合フォーカスエラー信号ＳＦＥは、記録層Ｙ０に対する合焦点と、表面１００Ａに対する合焦点とにおいてゼロクロスを有するＳ字波形を示している。一方、迷光信号ＳＮは、記録層Ｙ０に対する合焦点前後でピークを形成し、当該合焦点でゼロになる波形を示している。この記録層Ｙ０に対する合焦点前後のピークは、記録層Ｙ０に合焦していない状態における当該記録層Ｙ０からの反射、すなわち迷光によるものである。また１層ディスクでは記録層が１層であることより、記録層Ｙ０に合焦した状態では迷光が発生しないため、迷光信号ＳＮの信号レベルはゼロとなる。
【０１３７】
また図７（Ｂ）に、２層ディスクにおいて、記録層Ｙ０に対して球面収差を補正した状態で、当該２層ディスクに光ビームＬの焦点Ｆを接近させた場合を示す。
【０１３８】
この場合フォーカスエラー信号ＳＦＥは、記録層Ｙ０及びＹ１に対する合焦点と、表面１００Ａに対する合焦点とにおいてゼロクロスを有するＳ字波形を示している。一方、迷光信号ＳＮは、記録層Ｙ１から記録層Ｙ０にかけて連続した山を持ち、各記録層Ｙに対する合焦点で谷を持つ波形を有している。尚、各記録層Ｙの合焦点での谷において、迷光信号ＳＮの信号レベルはゼロとはなっていない。これは、記録層Ｙ０に合焦した状態における記録層Ｙ１からの迷光、及び記録層Ｙ１に合焦した状態における記録層Ｙ０からの迷光が光検出器２７の受光領域Ｒに入射しているためである。
【０１３９】
さらに図７（Ｃ）に、４層ディスクにおいて、記録層Ｙ０に対して球面収差を補正した状態で、当該４層ディスクに光ビームＬの焦点Ｆを接近させた場合を示す。
【０１４０】
この場合フォーカスエラー信号ＳＦＥは、記録層Ｙ０、Ｙ１、Ｙ２及びＹ３に対する合焦点と、表面１００Ａに対する合焦点とにおいてゼロクロスを有するＳ字波形を示している。一方、迷光信号ＳＮは、記録層Ｙ３から記録層Ｙ０にかけて連続した山を持ち、各記録層Ｙに対する合焦点で谷を持つ波形を有している。また迷光信号ＳＮは、２層ディスクに比べ、各記録層Ｙの合焦点での谷が浅くなっている。これは、４層ディスクが２層ディスクに比べて各記録層Ｙの層間隔が狭いために、各記録層Ｙの合焦点においても、２層ディスクと比べて多くの迷光が光検出器２７の受光領域Ｒに入射しているためである。
【０１４１】
このように光ディスク装置１では、記録層Ｙに対する合焦点においてフォーカスエラー信号ＳＦＥはゼロクロスを示すようになっている。また光ディスク装置１では、光ディスク１００の記録層Ｙの層数が多いほど、各記録層Ｙの層間隔が狭くなるために、各記録層Ｙの合焦点における迷光信号ＳＮの信号レベルが大きくなる。このことをふまえ、光ディスク装置１は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点での迷光信号ＳＮの信号レベルをもとに、光ディスク１００の層数を判別するようになされている。
【０１４２】
具体的に、光ディスク装置１の統括制御部５は、光ディスク１００が装填されたことを検出すると、球面収差補正部１５を制御して、球面収差の補正量を所定の初期値に設定する。
【０１４３】
この球面収差の補正量の初期値は、例えば、光ディスク１００の記録層Ｙ０（表面１００Ａに対して最も奥の記録層）の層間厚（すなわち表面１００Ａから記録層Ｙ０までの距離）である１００［μｍ］に応じた値となっている。これは、ＢＤにおいて、記録層の層数によらず、光ディスク１００の記録層Ｙ０の層間厚が１００［μｍ］と設計されているためである。
【０１４４】
またフォーカスエラー信号ＳＦＥは、球面収差の影響を受けて、記録層Ｙに対する合焦点におけるＳ字波形が鈍ってしまう場合がある。ゆえに光ディスク装置１では、記録層Ｙ０の層間厚に応じて球面収差を補正することにより、記録層の層数によらずどのディスクであっても、フォーカスエラー信号ＳＦＥ信号において、記録層Ｙ０に対する合焦点におけるＳ字波形を得ることができるようになっている。
【０１４５】
このようにして統括制御部５は、球面収差補正量を設定すると、対物レンズ１３を光ディスク１００から十分に遠ざけた後レーザダイオード２０を発光させ、対物レンズ１３を光ディスク１００のカバー層に接近させていくフォーカスサーチを行う。このとき統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥをモニタし、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点を検出する。
【０１４６】
尚、統括制御部５は、対物レンズ１３が光ディスク１００に接触することを防止するため、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した後、所定時間内にフォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示さなかった場合、対物レンズ１３の移動を終了する。
【０１４７】
そして統括制御部５は、検出したフォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点を光ビームＬが記録層Ｙに合焦した時点とし、この時点における迷光信号ＳＮの信号レベルを取得する。尚このとき、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した最初の時点は、記録層Ｙではなく光ディスク１００の表面１００Ａに光ビームＬが合焦した時点である。したがって統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した最初の時点は、光ビームＬが記録層Ｙに合焦した時点とせず、迷光信号ＳＮの信号レベルを取得しないようになっている。
【０１４８】
そして統括制御部５は、取得した迷光信号ＳＮの信号レベルの最大値を、光ディスク１００の層数を判別する際に用いる値（これを判別値とも呼ぶ）として設定する。
【０１４９】
尚、迷光信号ＳＮの信号レベルは、層間隔が狭くなるほど大きくなるため、３層以上の光ディスク１００の場合、迷光信号ＳＮの信号レベルの最大値は、当該光ディスク１００において隣り合った記録層Ｙとの層間隔が最も狭い記録層Ｙに対する合焦点での迷光信号ＳＮの信号レベルを示している。
【０１５０】
例えば図７（Ａ）に示す１層ディスクの場合、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点として、表面１００Ａ及び記録層Ｙ０に対して合焦した時点ｔ１及びｔ２が検出される。このうち、最初の時点である時点ｔ１を抜かすと、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点が時点ｔ２のみになるため、判別値は、時点ｔ２における迷光信号ＳＮのレベルＮ１となる。
【０１５１】
また例えば図７（Ｂ）に示す２層ディスクの場合、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点として、表面１００Ａ及び記録層Ｙ１、Ｙ０に対して合焦した時点ｔ３、ｔ４、ｔ５が検出される。このうち、最初の時点である時点ｔ３を抜かし、時点ｔ４及びｔ５を比較すると、時点ｔ４における迷光信号ＳＮのレベルの方が大きいので、判別値は、時点ｔ４における迷光信号ＳＮのレベルＮ２となる。
【０１５２】
また例えば図７（Ｃ）に示す４層ディスクの場合、統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点として、表面１００Ａ及び記録層Ｙ３、Ｙ２、Ｙ１、Ｙ０に対して合焦した時点ｔ６、ｔ７、ｔ８、ｔ９、ｔ１０を検出する。このうち最初の時点である時点ｔ６を抜かし、時点ｔ７、ｔ８、ｔ９、ｔ１０を比較すると、時点ｔ８における迷光信号ＳＮのレベルが最も大きいので、判別値は、時点ｔ８における迷光信号ＳＮのレベルＮ３となる。
【０１５３】
ここで、図７において、判別値は、Ｎ１＜Ｎ２＜Ｎ３となっている。すなわち判別値は、１層ディスクよりも２層ディスクの方が大きく、２層ディスクよりも４層ディスクの方が大きくなっている。ゆえに、Ｎ１よりも大きくＮ２よりも小さい閾値を設定しておけば、この閾値を用いて１層ディスクと２層ディスクとを区別することができる。また、Ｎ２よりも大きくＮ３よりも小さい閾値を設定しておけば、この閾値を用いて２層ディスクと４層ディスクとを区別することができる。
【０１５４】
このことをふまえ、光ディスク装置１では、１層ディスクと２層ディスクを区別するための第１の閾値ＴＨ１と、２層ディスクと４層ディスクとを区別するための第２の閾値ＴＨ２が設定され、不揮発性メモリ３に記憶されている。尚、第１の閾値ＴＨ１は、予め実験などによって求められた１層ディスクと２層ディスクを区別しうるような値であり、第２の閾値ＴＨ２は、予め実験などによって求められた２層ディスクと４層ディスクを区別しうるような値である。すなわち第１の閾値ＴＨ１よりも第２の閾値ＴＨ２は大きい値となっている。
【０１５５】
統括制御部５は、設定した判別値と第１の閾値ＴＨ１及び第２の閾値ＴＨ２とを比較する。そして統括制御部５は、判別値が第１の閾値ＴＨ１未満である場合、光ビームＬが記録層に合焦したときの迷光の光量が１層ディスクと判別しうる程度であると認識し、装填された光ディスク１００が１層ディスクであると判別する。
【０１５６】
また統括制御部５は、判別値が第１の閾値ＴＨ１以上第２の閾値ＴＨ２未満である場合、光ビームＬが記録層に合焦したときの迷光の光量が２層ディスクと判別しうる程度であると認識し、装填された光ディスク１００が２層ディスクであると判別する。
【０１５７】
また統括制御部５は、判別値が第２の閾値ＴＨ２以上である場合、光ビームＬが記録層に合焦したときの迷光の光量が４層ディスクと判別しうる程度であると認識し、装填された光ディスク１００が４層ディスクであると判別する。
【０１５８】
このように光ディスク装置１は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点での迷光信号ＳＮの信号レベルをもとに、装填された光ディスク１００が１層ディスク、２層ディスク、４層ディスクのいずれであるかを判別するようになっている。
【０１５９】
［１−４．ディスク層数判別処理手順］
次に、上述したディスク層数判別処理の動作処理手順（これをディスク層数判別処理手順とも呼ぶ）ＲＴ１について、図８に示すフローチャートを用いて説明する。
【０１６０】
因みにこのディスク層数判別処理手順ＲＴ１は、光ディスク装置１の統括制御部５が、不揮発性メモリ３に書き込まれているプログラムに従って実行する処理手順である。
【０１６１】
統括制御部５は、光ディスク１００が装填されたことを検出すると、ディスク層数判別処理手順ＲＴ１を開始して、ステップＳＰ１に移る。
【０１６２】
ステップＳＰ１において統括制御部５は、光源制御部６を介してレーザダイオード２０に所定電流を供給することにより光ビームＬを発射させ、次のステップＳＰ２に移る。
【０１６３】
ステップＳＰ２において統括制御部５は、サーボ制御部１０を介して３軸アクチュエータ１４を制御することにより、光ディスク１００に対して光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から接近させながら、フォーカスエラー信号ＳＦＥを取得する。そして統括制御部５は、次のステップＳＰ３に移る。
【０１６４】
ステップＳＰ３において統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点を記録層Ｙに光ビームＬが合焦した時点として検出して、次のステップＳＰ４に移る。
【０１６５】
ステップＳＰ４において統括制御部５は、検出した時点における迷光信号ＳＮの信号レベルを取得して、次のステップＳＰ５に移る。
【０１６６】
ステップＳＰ５において統括制御部５は、取得した迷光信号ＳＮの信号レベルの最大値を判別値として設定して、次のステップＳＰ６に移る。
【０１６７】
ステップＳＰ６において統括制御部５は、不揮発性メモリ３に記憶している第２の閾値ＴＨ２と判別値とを比較し、判別値が第２の閾値ＴＨ２以上か否かを判別する。
【０１６８】
このステップＳＰ６において肯定結果が得られると、このことは、判別値が第２の閾値ＴＨ２以上であることを意味しており、このとき統括制御部５は、次のステップＳＰ７に移る。
【０１６９】
ステップＳＰ７において統括制御部５は、装填された光ディスク１００が４層ディスクであると判別して、ディスク層数判別処理手順ＲＴ１を終了する。
【０１７０】
一方ステップＳＰ６において否定結果が得られると、このとき統括制御部５は、次のステップＳＰ８に移る。
【０１７１】
ステップＳＰ８において統括制御部５は、不揮発性メモリ３に記憶している第１の閾値ＴＨ１と判別値とを比較し、判別値が第１の閾値ＴＨ１以上か否かを判別する。
【０１７２】
このステップＳＰ８において肯定結果が得られると、このことは、判別値が第１の閾値ＴＨ１以上第２の閾値ＴＨ２未満であることを意味しており、このとき統括制御部５は、次のステップＳＰ９に移る。
【０１７３】
ステップＳＰ９において統括制御部５は、装填された光ディスク１００が２層ディスクであると判別して、ディスク層数判別処理手順ＲＴ１を終了する。
【０１７４】
一方ステップＳＰ８において否定結果が得られると、このことは、判別値が第１の閾値ＴＨ１未満であることを意味しており、このとき統括制御部５は、次のステップＳＰ１０に移る。
【０１７５】
ステップＳＰ１０において統括制御部５は、装填された光ディスク１００が１層ディスクであると判別して、ディスク層数判別処理手順ＲＴ１を終了する。
【０１７６】
このようなディスク層数判別処理手順ＲＴ１により、光ディスク装置１は、装填された光ディスク１００の層数を判別するようになされている。
【０１７７】
［１−５．動作及び効果］
以上の構成において光ディスク装置１は、光ディスク１００が装填されると、光ディスク１００に対して光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から接近させながら、反射光ビームＬＲ及び迷光ビームＬＮを受光して、フォーカスエラー信号ＳＦＥ及び迷光信号ＳＮを生成する。
【０１７８】
そして光ディスク装置１は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得するようにした。
【０１７９】
これにより光ディスク装置１は、フォーカスサーチ時に、光ビームＬが記録層Ｙに合焦したときの迷光信号の信号レベルを取得することができる。すなわち光ディスク装置１は、光ディスク１００に対してフォーカスサーボが掛かる前の時点で、光ビームＬが記録層Ｙに合焦したときの迷光信号の信号レベルを取得することができる。
【０１８０】
そして光ディスク装置１は、取得した迷光信号ＳＮの信号レベルのうち、最も大きい信号レベルを判別値として設定し、当該判別値に基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにした。
【０１８１】
これにより光ディスク装置１は、記録層Ｙの層間隔が狭いほど、すなわち層数が多いほど、光ビームＬが記録層に合焦したときの迷光の光量が大きくなることを利用して、３層以上の記録層Ｙを有する光ディスク１００の層数を高速に判別することができる。
【０１８２】
ところで、３層以上の記録層Ｙを有する光ディスク１００において、記録層Ｙの層間隔が等間隔ではない場合、層数が異なる光ディスク１００同士であっても、層間隔が同じ記録層Ｙが存在することがある。この場合、層数が異なる光ディスク１００同士であっても、当該記録層Ｙに合焦したときの迷光信号ＳＮの信号レベルがほぼ同じになってしまうことがある。
【０１８３】
ゆえにこのような場合、一つの記録層Ｙに合焦したときの迷光信号ＳＮの信号レベルのみに基づいて光ディスク１００の層数を判別してしまうと、光ディスク１００の層数を誤って判別してしまうことも考えられる。
【０１８４】
このことをふまえ本発明の光ディスク装置１は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、取得した全ての信号レベルのうち、最も大きい信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにした。
【０１８５】
これにより光ディスク装置１は、装填された光ディスク１００において、隣り合った記録層Ｙとの層間隔が最も狭い記録層Ｙに光ビームＬが合焦したときの迷光信号ＳＮの信号レベルに基づいて、光ディスク１００の層数を判別することができる。
【０１８６】
層数が異なる光ディスク１００同士であれば、光ディスク１００において最も狭い層間隔は必ず異なるため、隣り合った記録層Ｙとの層間隔が最も狭い記録層Ｙに光ビームＬが合焦したときの迷光信号ＳＮの信号レベルも異なることとなる。
【０１８７】
ゆえに光ディスク装置１は、例えば光ビームＬが一つの記録層に合焦したときの迷光信号ＳＮの信号レベルのみに基づいて光ディスク１００の層数を判別する場合よりも、光ディスク１００の層数を精度良く判別することができる。
【０１８８】
また光ディスク装置１は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した最初の時点は抜かして、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得するようにした。
【０１８９】
これにより光ディスク装置１は、光ディスク１００の表面１００Ａに合焦したときの迷光信号ＳＮの信号レベルを光ディスク１００の層数を判別する際に用いないようにできるので、一段と精度良く光ディスク１００の層数を判別することができる。
【０１９０】
以上の構成によれば、光ディスク装置１は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、取得した全ての信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにした。これにより光ディスク装置１は、光ディスク１００に対してフォーカスサーボが掛かる前の時点で３層以上の記録層Ｙを有する光ディスク１００の層数を精度良く判別することができる。また光ディスク装置１は、光ビームＬが記録層Ｙに合焦した全ての時点の迷光の光量に基づいて光ディスク１００の層数を判別することができるので、例えば光ビームＬが一つの記録層Ｙに合焦したときの迷光の光量のみに基づいて判別する場合よりも、精度良く判別することができる。かくして光ディスク装置１は、高速且つ確実に３層以上の記録層Ｙを有する光ディスク１００の層数を判別することができる。
【０１９１】
＜２．第２の実施の形態＞
次に第２の実施の形態について説明する。なお、光ディスク装置１（図１）の構成や各種信号の生成方法については、第１の実施の形態と同様であるためその説明は省略する。
【０１９２】
［２−１．ディスク層数判別処理］
以下、第２の実施の形態における光ディスク装置１のディスク層数判別処理について説明する。
【０１９３】
ここで図９に、光ディスク１００に対して対物レンズ１３をカバー層側から接近させたとき、すなわち光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から接近させたときにおける和信号ＳＲＦ及び迷光信号ＳＮの波形を示す。
【０１９４】
まず図９（Ａ）に、１層ディスクに対して球面収差を補正した状態で、当該１層ディスクに光ビームＬの焦点Ｆを接近させた場合を示す。
【０１９５】
この場合和信号ＳＲＦは、記録層Ｙ０に対する合焦点付近と、表面１００Ａに対する合焦点付近とにおいてピークを形成する波形を示している。一方、迷光信号ＳＮは、上述したように、記録層Ｙ０に対する合焦点前後でピークを形成し、当該合焦点でゼロになる波形を示している。
【０１９６】
また図９（Ｂ）に、２層ディスクにおいて、記録層Ｙ０に対して球面収差を補正した状態で、当該２層ディスクに光ビームＬの焦点Ｆを接近させた場合を示す。
【０１９７】
この場合和信号ＳＲＦは、記録層Ｙ０及びＹ１に対する合焦点付近と、表面１００Ａに対する合焦点付近とにおいてピークを形成する波形を示している。一方、迷光信号ＳＮは、上述したように、記録層Ｙ１から記録層Ｙ０にかけて連続した山を持ち、各記録層Ｙに対する合焦点でゼロとはならないが谷を持つ波形を有している。
【０１９８】
さらに図９（Ｃ）に、４層ディスクにおいて、記録層Ｙ０に対して球面収差を補正した状態で、当該４層ディスクに光ビームＬの焦点Ｆを接近させた場合を示す。
【０１９９】
この場合和信号ＳＲＦは、記録層Ｙ０、Ｙ１、Ｙ２及びＹ３に対する合焦点付近と、表面１００Ａに対する合焦点付近とにおいてそれぞれピークを形成し、各合焦点における山が重なり合っている波形を示している。一方、迷光信号ＳＮは、上述したように、記録層Ｙ３から記録層Ｙ０にかけて連続した山を持ち、各記録層Ｙに対する合焦点で谷を持つ波形を有している。また迷光信号ＳＮは、２層ディスクに比べ、各記録層Ｙの合焦点での谷が浅くなっている。
【０２００】
このように光ディスク装置１では、記録層Ｙにおける反射光ビームＬＲを基に情報を再生するといった光ディスク装置１の基本原理に従い、記録層Ｙに対する合焦点前後で和信号ＳＲＦの信号レベルが比較的大きくなる。このことをふまえ、第２の実施の形態における光ディスク装置１は、第１の実施の形態と異なり、和信号ＳＲＦが所定の閾値以上となった区間での迷光信号ＳＮの信号レベルをもとに、光ディスク１００の層数を判別するようになされている。
【０２０１】
具体的に、光ディスク装置１の統括制御部５は、光ディスク１００が装填されたことを検出すると、上述した第１の実施の形態と同様に、球面収差補正部１５を制御して、球面収差の補正量をそれぞれ所定の初期値に設定する。
【０２０２】
そして統括制御部５は、球面収差補正量を設定すると、対物レンズ１３を光ディスク１００から十分に遠ざけた後レーザダイオード２０を発光させ、対物レンズ１３を光ディスク１００のカバー層に接近させていくフォーカスサーチを行う。
【０２０３】
このとき統括制御部５は、和信号ＳＲＦをモニタし、和信号ＳＲＦの信号レベルが所定の閾値ＴＳ以上となった区間を、記録層Ｙに合焦した時点が含まれる区間として検出する。尚、この閾値ＴＳは、例えば、予め実験などにより求めた、記録層Ｙに合焦したときの和信号ＳＲＦの信号レベルを考慮して設定されている。またこの閾値ＴＳは、例えば光ディスク装置１に対応する光ディスク１００（この場合１層ディスク、２層ディスク、４層ディスク）において、最も記録層Ｙの反射率の低い光ディスク１００であっても、記録層Ｙに合焦したときの和信号ＳＲＦの信号レベルが閾値ＴＳとなるような値に設定されているとする。
【０２０４】
尚、統括制御部５は、対物レンズ１３が光ディスク１００に接触することを防止するため、和信号ＳＲＦが所定の閾値ＴＳ以上となった区間が終了した後、所定時間内に和信号ＳＲＦが所定の閾値ＴＳ以上とならない場合、対物レンズ１３の移動を終了する。
【０２０５】
そして統括制御部５は、検出した全ての区間における迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、各区間における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値を取得する。これは、各区間において、記録層Ｙに合焦した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルが最も小さくなると想定されるためである。
【０２０６】
そして統括制御部５は、各区間における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値のうち、最も大きい値を、判別値として設定する。
【０２０７】
例えば図９（Ａ）に示す１層ディスクの場合、和信号ＳＲＦの信号レベルが所定の閾値以上である区間として、区間ｋ１及びｋ２が検出される。この区間ｋ１及びｋ２には、表面１００Ａ又は記録層Ｙ０に対して合焦した時点が含まれている。そして区間ｋ１における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値Ｍ１と、区間ｋ２における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値Ｍ２とを比較すると、最小値Ｍ１の方が大きいので、判別値は、この最小値Ｍ１となる。
【０２０８】
また例えば図９（Ｂ）に示す２層ディスクの場合、和信号ＳＲＦの信号レベルが所定の閾値以上である区間として、区間ｋ３、ｋ４、ｋ５が検出される。この区間ｋ３、ｋ４、ｋ５には、表面１００Ａ又は記録層Ｙ０、Ｙ１に対して合焦した時点が含まれている。そして区間ｋ３における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値Ｍ３と、区間ｋ４における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値Ｍ４と、区間ｋ５における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値Ｍ５とを比較すると、最小値Ｍ４が最も大きいので、判別値は、最小値Ｍ４となる。
【０２０９】
また例えば図９（Ｃ）に示す４層ディスクの場合、和信号ＳＲＦの信号レベルが所定の閾値以上である区間として、区間ｋ６及びｋ７が検出される。この区間ｋ６及びｋ７には、表面１００Ａ又は記録層Ｙ０、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３に対して合焦した時点が含まれている。そして区間ｋ６における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値Ｍ６と、区間ｋ７における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値Ｍ７とを比較すると、最小値Ｍ７の方が大きいので、判別値は、最小値Ｍ７となる。
【０２１０】
ここで、図９において、判別値は、Ｍ１＜Ｍ４＜Ｍ７となっている。すなわち判別値は、１層ディスクよりも２層ディスクの方が大きく、２層ディスクよりも４層ディスクの方が大きくなっている。ゆえに、Ｍ１よりも大きくＭ４よりも小さい閾値を設定しておけば、この閾値を用いて１層ディスクと２層ディスクとを区別することができる。また、Ｍ４よりも大きくＭ７よりも小さい閾値を設定しておけば、この閾値を用いて２層ディスクと４層ディスクとを区別することができる。
【０２１１】
このことをふまえ、光ディスク装置１では、１層ディスクと２層ディスクを区別するための第１の閾値ＴＲ１と、２層ディスクと４層ディスクとを区別するための第２の閾値ＴＲ２が設定され、不揮発性メモリ３に記憶されている。尚、第１の閾値ＴＲ１は、予め実験などによって求められた１層ディスクと２層ディスクを区別しうるような値であり、第２の閾値ＴＲ２は、予め実験などによって求められた２層ディスクと４層ディスクを区別しうるような値である。すなわち第１の閾値ＴＲ１よりも第２の閾値ＴＲ２は大きい値となっている。
【０２１２】
統括制御部５は、設定した判別値と第１の閾値ＴＲ１及び第２の閾値ＴＲ２とを比較する。そして統括制御部５は、判別値が第１の閾値ＴＲ１未満である場合、装填された光ディスク１００が１層ディスクであると判別する。また統括制御部５は、判別値が第１の閾値ＴＲ１以上第２の閾値ＴＲ２未満である場合、装填された光ディスク１００が２層ディスクであると判別する。また統括制御部５は、判別値が第２の閾値ＴＲ２以上である場合、装填された光ディスク１００が４層ディスクであると判別する。
【０２１３】
このように光ディスク装置１は、和信号ＳＲＦの信号レベルが所定の閾値ＴＳ以上である区間での迷光信号ＳＮの信号レベルをもとに、装填された光ディスク１００が１層ディスク、２層ディスク、４層ディスクのいずれであるかを判別するようになっている。
【０２１４】
［２−２．ディスク層数判別処理手順］
次に、上述したディスク層数判別処理の動作処理手順であるディスク層数判別処理手順ＲＴ２について、図１０に示すフローチャートを用いて説明する。
【０２１５】
因みにこのディスク層数判別処理手順ＲＴ２は、光ディスク装置１の統括制御部５が、不揮発性メモリ３に書き込まれているプログラムに従って実行する処理手順である。
【０２１６】
統括制御部５は、光ディスク１００が装填されたことを検出すると、ディスク層数判別処理手順ＲＴ２を開始して、ステップＳＰ１１に移る。
【０２１７】
ステップＳＰ１１において統括制御部５は、光源制御部６を介してレーザダイオード２０に所定電流を供給することにより光ビームＬを発射させ、次のステップＳＰ１２に移る。
【０２１８】
ステップＳＰ１２において統括制御部５は、サーボ制御部１０を介して３軸アクチュエータ１４を制御することにより、光ディスク１００に対して光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から接近させながら、和信号ＳＲＦを取得する。そして統括制御部５は、次のステップＳＰ１３に移る。
【０２１９】
ステップＳＰ１３において統括制御部５は、和信号ＳＲＦの信号レベルが所定閾値以上である区間を記録層Ｙに光ビームＬが合焦した時点が含まれる区間として検出して、次のステップＳＰ１４に移る。
【０２２０】
ステップＳＰ１４において統括制御部５は、検出した全ての区間における迷光信号ＳＮの信号レベルを取得して、次のステップＳＰ１５に移る。
【０２２１】
ステップＳＰ１５において統括制御部５は、各区間における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値を取得して、次のステップＳＰ１６に移る。
【０２２２】
ステップＳＰ１６において統括制御部５は、取得した各区間における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値のうち、最も大きい値を判別値として設定して、次のステップＳＰ１７に移る。
【０２２３】
ステップＳＰ１７において統括制御部５は、不揮発性メモリ３に記憶している第２の閾値ＴＲ２と判別値とを比較し、判別値が第２の閾値ＴＲ２以上か否かを判別する。
【０２２４】
このステップＳＰ１７において肯定結果が得られると、このことは、判別値が第２の閾値ＴＲ２以上であることを意味しており、このとき統括制御部５は、次のステップＳＰ１８に移る。
【０２２５】
ステップＳＰ１８において統括制御部５は、装填された光ディスク１００が４層ディスクであると判別して、ディスク層数判別処理手順ＲＴ２を終了する。
【０２２６】
一方ステップＳＰ１７において否定結果が得られると、このとき統括制御部５は、次のステップＳＰ１９に移る。
【０２２７】
ステップＳＰ１９において統括制御部５は、不揮発性メモリ３に記憶している第１の閾値ＴＲ１と判別値とを比較し、判別値が第１の閾値ＴＲ１以上か否かを判別する。
【０２２８】
このステップＳＰ１９において肯定結果が得られると、このことは、判別値が第１の閾値ＴＲ１以上第２の閾値ＴＲ２未満であることを意味しており、このとき統括制御部５は、次のステップＳＰ２０に移る。
【０２２９】
ステップＳＰ２０において統括制御部５は、装填された光ディスク１００が２層ディスクであると判別して、ディスク層数判別処理手順ＲＴ２を終了する。
【０２３０】
一方ステップＳＰ２０において否定結果が得られると、このことは、判別値が第１の閾値ＴＲ１未満であることを意味しており、このとき統括制御部５は、次のステップＳＰ２１に移る。
【０２３１】
ステップＳＰ２１において統括制御部５は、装填された光ディスク１００が１層ディスクであると判別して、ディスク層数判別処理手順ＲＴ２を終了する。
【０２３２】
このようなディスク層数判別処理手順ＲＴ２により、光ディスク装置１は、装填された光ディスク１００の層数を判別するようになされている。
【０２３３】
［２−３．動作及び効果］
以上の構成において光ディスク装置１は、光ディスク１００が装填されると、光ディスク１００に対して光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から接近させながら、反射光ビームＬＲ及び迷光ビームＬＮを受光して、和信号ＳＲＦ及び迷光信号ＳＮを生成する。
【０２３４】
そして光ディスク装置１は、和信号ＳＲＦが所定の閾値ＴＳ以上となった全ての区間における迷光信号ＳＮの信号レベルを取得する。そして光ディスク装置１は、和信号ＳＲＦが所定の閾値ＴＳ以上となった区間ごとにおける、迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値をそれぞれ検出するようにした。
【０２３５】
これにより光ディスク装置１は、光ディスク１００に対してフォーカスサーボが掛かる前の時点で、光ビームＬが記録層Ｙに合焦したときの迷光信号ＤＮの信号レベルを取得することができる。
【０２３６】
そして光ディスク装置１は、検出した当該最小値のうち最も大きい値を判別値として設定し、当該判別値に基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにした。
【０２３７】
これにより光ディスク装置１は、記録層Ｙの層間隔が狭いほど、すなわち層数が多いほど、光ビームＬが記録層に合焦したときの迷光の光量が大きくなることを利用して、３層以上の記録層Ｙを有する光ディスク１００の層数を高速に判別することができる。
【０２３８】
また第１の実施の形態で用いたフォーカスエラー信号ＳＦＥは、表面１００Ａ又は記録層Ｙに対する合焦点以外でもノイズなどによりゼロクロスを示してしまうことがある。
【０２３９】
これに対して第２の実施の形態では、和信号ＳＲＦが所定の閾値ＴＳ以上となった区間の迷光信号ＳＮの信号レベルを用いることにより、第１の実施の形態と比して、ノイズなどによる影響を少なくでき、一段と精度良く光ディスク１００の層数を判別することができる。
【０２４０】
この他第２の実施の形態における光ディスク装置１は、第１の実施の形態における光ディスク装置１と同様の効果を奏しうる。
【０２４１】
＜３．他の実施の形態＞
［３−１．他の実施の形態１］
尚、上述した第１の実施の形態においては、統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、取得した全ての信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにした。
【０２４２】
これに限らず、統括制御部５は、例えば、和信号ＳＲＦが所定の閾値ＴＳ以上であり且つフォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、当該信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにしてもよい。
【０２４３】
この場合、統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点であっても、和信号ＳＲＦが所定の閾値ＴＳ以上でなければ、当該時点における迷光信号ＳＮの信号レベルを、光ディスク１００の層数を判別する際に用いない。
【０２４４】
これにより光ディスク装置１は、記録層Ｙに合焦していないにもかかわらず、ノイズなどによりフォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを光ディスク１００の層数を判別する際に用いないようにできる。ゆえに光ディスク装置１は、光ディスク１００の層数を誤って判別するのを防ぐことができる。
【０２４５】
またこれに限らず、統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した最初の時点よりも、振幅の大きいゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、当該信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別してもよい。尚この場合、光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から光ディスク１００に接近させて、フォーカスエラー信号ＳＦＥ及び迷光信号ＳＮを生成したとする。
【０２４６】
光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から光ディスク１００に接近させた際、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した最初の時点は、記録層Ｙではなく、光ディスク１００の表面１００Ａに光ビームＬが合焦した時点であると想定される。
【０２４７】
また記録層Ｙに合焦したときのフォーカスエラー信号ＳＦＥのゼロクロスは、表面１００Ａに光ビームＬが合焦したときのゼロクロスよりも振幅が大きいことが想定される。一方記録層Ｙに合焦していないにもかかわらず、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した際は、当該ゼロクロスの振幅は、表面１００Ａに光ビームＬが合焦したときのゼロクロスよりも振幅が小さいことが想定される。
【０２４８】
ゆえに光ディスク装置１は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した最初の時点よりも、振幅の大きいゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得することにより、記録層Ｙに合焦したときの迷光信号ＳＮの信号レベルのみを取得できる。
【０２４９】
換言すれば光ディスク装置１は、記録層Ｙに合焦していないにもかかわらず、ノイズなどによりフォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを光ディスク１００の層数を判別する際に用いないようにできる。ゆえに光ディスク装置１は、光ディスク１００の層数を誤って判別するのを防ぐことができる。
【０２５０】
またこれに限らず、統括制御部５は、光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から光ディスク１００に接近させ、和信号ＳＲＦが所定閾値ＴＳ以上である区間において、迷光信号ＳＮの信号レベルとフォーカスエラー信号ＳＦＥの振幅とを取得するようにしてもよい。
【０２５１】
この場合、統括制御部５は、最初の区間でのフォーカスエラー信号ＳＦＥの振幅の最大値よりも、当該振幅の最大値が大きい区間のみを検出し、当該区間における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値を取得する。そして統括制御部５は、当該最小値のうち最も大きい値を判別値として設定し、当該判別値に基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにすればよい。
【０２５２】
光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から光ディスク１００に接近させた際、和信号ＳＲＦが所定閾値ＴＳ以上となった最初の区間は、記録層Ｙではなく、光ディスク１００の表面１００Ａに光ビームＬが合焦した時点が含まれる区間であると想定される。
【０２５３】
ゆえに光ディスク装置１は、和信号ＳＲＦが所定閾値ＴＳ以上となった最初の区間よりも、フォーカスエラー信号ＳＦＥの振幅の最大値が大きい区間における迷光信号ＳＮの信号レベルの最小値を取得することにより、記録層Ｙに合焦したときの迷光信号ＳＮの信号レベルのみを取得できる。
【０２５４】
また上述した第１の実施の形態においては、統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した最初の時点を抜かし、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得して、光ディスク１００の層数を判別するようにした。
【０２５５】
これに限らず、統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した全ての時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得して、光ディスク１００の層数を判別するようにしてもよい。
【０２５６】
［３−２．他の実施の形態２］
また、上述した第１の実施の形態においては、光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から光ディスク１００に接近させていくフォーカスサーチを行って、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルＳＮを取得するようにした。
【０２５７】
これに限らず、統括制御部５は、フォーカスサーチ中の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得するのではなく、任意の記録層Ｙにフォーカスオンさせた状態で迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、光ディスク１００の層数を判別する際に用いるようにしてもよい。
【０２５８】
この場合、例えば最も奥の記録層Ｙ（例えばＹ０）や最も手前の記録層Ｙ（例えば４層ディスクの場合Ｙ３）などの比較的フォーカスオンが容易な記録層Ｙに対して光ビームＬをフォーカスオンさせるようにすればよい。
【０２５９】
またこの場合、統括制御部５は、任意の記録層Ｙに光ビームＬをフォーカスオンさせた状態で所定時間迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、取得した信号レベルの平均値を算出して、当該平均値に基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにしてもよい。
【０２６０】
これにより光ディスク装置１は、ノイズなどによる迷光信号ＳＮの信号レベルのばらつきを低減させることができる。
【０２６１】
［３−３．他の実施の形態３］
さらに上述した第１の実施の形態においては、統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した全ての時点（最初の時点は除く）の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、取得した信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにした。
【０２６２】
これに限らず統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した任意の時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、当該信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにしてもよい。
【０２６３】
この場合、統括制御部５は、例えば、対物レンズ１３をカバー層側から光ディスク１００に接近させ、全記録層Ｙを通過するのに十分な時間対物レンズ１３を光ディスク１００に近づけたのち、対物レンズ１３を光ディスク１００から遠ざける方向に移動させる。
【０２６４】
そして統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥが最初にゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、当該信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別する。
【０２６５】
このように光ディスク装置１は、対物レンズ１３を光ディスク１００に近づけたのち遠ざけた際に最初にフォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得する。
【０２６６】
これにより光ディスク装置１は、光ディスク１００の面ぶれが起こったとしても、光ビームＬが表面１００Ａに合焦した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得することなく、確実に光ビームＬが記録層Ｙに合焦した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得できる。ゆえに光ディスク装置１は、光ディスク１００の層数を精度良く判別することができる。
【０２６７】
［３−４．他の実施の形態４］
さらに上述した第１の実施の形態においては、迷光信号ＳＮの信号レベルを用いて、光ディスク１００が１層ディスクか、２層ディスクか、４層ディスクかを判別するようにした。
【０２６８】
これに限らず、統括制御部５は、対象記録層ＹＴに対して光ビームＬを合焦させようとする際に、迷光信号ＳＮの信号レベルを用いて、対象記録層ＹＴに光ビームＬが合焦しているか否かを判別するようにしてもよい。
【０２６９】
この場合統括制御部５は、例えば４層ディスクに対してフォーカスサーチを行い、対象記録層ＹＴ（例えばＹ２とする）に対して光ビームＬを合焦させたとする。しかしこのとき、対象記録層ＹＴではない他の記録層Ｙに光ビームＬが合焦してしまっている可能性がある。
【０２７０】
上述したように光ビームＬが記録層Ｙに合焦したとき、当該記録層Ｙと隣り合う記録層Ｙの層間隔が狭いほど迷光信号ＳＮの信号レベルが大きくなる。ゆえに、隣り合う記録層Ｙが１層しかない記録層（４層ディスクの場合、記録層Ｙ０及びＹ３）に比べ、両隣に記録層Ｙが存在する記録層（４層ディスクの場合、記録層Ｙ１及びＹ２）に光ビームＬを合焦させたときの方が、迷光信号ＳＮの信号レベルが大きくなる。
【０２７１】
このことをふまえ、統括制御部５は、対象記録層ＹＴに対して光ビームＬを合焦させたと判断した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルを取得し、当該信号レベルと所定の閾値とを比較する。尚、この所定の閾値は、隣り合う記録層Ｙが１層しかない記録層と、両隣に記録層Ｙが存在する記録層とを区別しうる値に設定されているとする。
【０２７２】
このとき統括制御部５は、信号レベルが所定の閾値よりも大きいと判別すると、対象記録層ＹＴ（ここではＹ２）に光ビームＬが合焦していると判別する。一方、信号レベルが所定の閾値よりも小さいと判別した場合、このことは、対象記録層ＹＴ（ここではＹ２）ではない記録層Ｙ（例えばＹ３）に光ビームＬが合焦していることを意味する。このとき統括制御部５は、対象記録層ＹＴに光ビームＬが合焦していないと判別し、再度対象記録層ＹＴに対して光ビームＬを合焦させるようフォーカスサーチを行う。
【０２７３】
尚、統括制御部５は、対象記録層ＹＴがＹ０又はＹ３の場合は、信号レベルが所定の閾値よりも小さいと判別すると、対象記録層ＹＴに光ビームＬが合焦していると判別する。
【０２７４】
［３−５．他の実施の形態５］
さらに上述した第１の実施の形態においては、３種の光ディスク１００（１層ディスク、２層ディスク、４層ディスク）に対応する光ディスク装置１に本発明を適用した場合について述べた。
【０２７５】
これに限らず、この他種々の層数を有する光ディスク１００に対応する光ディスク装置１に本発明を適用するようにしてもよい。
【０２７６】
例えば、１層ディスク、２層ディスク、４層ディスクに加え、記録層Ｙを３層有する３層ディスクに対応する光ディスク装置１に本発明を適用するようにしてもよい。
【０２７７】
この場合、光ディスク装置１には、予め、１層ディスクと２層ディスクとを区別する閾値、２層ディスクと３層ディスクとを区別する閾値、３層ディスクと４層ディスクとを区別する閾値の３つの閾値を設定しておくようにすればよい。そして統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルと、これらの閾値とを比較して、装填された光ディスク１００の層数を判別すればよい。
【０２７８】
すなわち、光ディスク１００の層数が増えるほど層間隔が狭くなり、光ビームＬが記録層Ｙに合焦したときの迷光の光量が大きくなることを利用して、対応する光ディスク１００の層数に応じて、閾値を設定するようにすればよい。
【０２７９】
［３−６．他の実施の形態６］
さらに上述した第１の実施の形態においては、光ディスク１００の層数を判別するための第１の閾値ＴＨ１及び第２の閾値ＴＨ２を予め設定し、不揮発性メモリ３に記憶させておくようにした。
【０２８０】
これに限らず、光ディスク装置１は、光ディスク１００の層数に応じて記録層Ｙの反射率が変化し和信号ＳＲＦや迷光信号ＳＮの信号レベルが変化することをふまえ、第１の閾値ＴＨ１及び第２の閾値ＴＨ２を動的に変化させるようにしてもよい。
【０２８１】
この場合、光ディスク装置１では、光ビームＬが記録層Ｙに合焦したときの和信号ＳＲＦにおける基準の信号レベルである基準レベルを予め設定し、不揮発性メモリ３に記憶させておく。
【０２８２】
また、光ビームＬが記録層Ｙに合焦したときの和信号ＳＲＦが基準レベルである際に、光ディスク１００の層数を判別するのに適した閾値である第１の基準閾値及び第２の基準閾値を予め設定し、不揮発性メモリ３に記憶させておく。
【０２８３】
統括制御部５は、光ビームＬの焦点Ｆをカバー層側から光ディスク１００に接近させ、フォーカスエラー信号ＳＦＥ及び和信号ＳＲＦをモニタする。そして統括制御部５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点を光ビームＬが記録層Ｙに合焦した時点として検出し、当該時点における和信号ＳＲＦの信号レベルを取得する。
【０２８４】
統括制御部５は、取得した和信号ＳＲＦの信号レベルと、予め設定された基準レベルとを比較し、比較結果に応じて光ディスク１００の層数を判別するための第１の閾値ＴＨ１及び第２の閾値ＴＨ２を設定する。
【０２８５】
例えば、統括制御部５は、取得した和信号ＳＲＦの信号レベルが基準レベルより５％大きい場合、第１の基準閾値及び第２の基準閾値を５％大きくしたものを第１の閾値ＴＨ１及び第２の閾値ＴＨ２として設定する。
【０２８６】
このように光ディスク装置１は、和信号ＳＲＦの信号レベルで第１の閾値ＴＨ１及び第２の閾値ＴＨ２を正規化することにより、光ディスク１００の反射率の違いを吸収することができる。これにより光ディスク装置１は、光ディスク１００の反射率の違いに影響されることなく、迷光信号ＳＮの信号レベルを用いて光ディスク１００の層数を判別することができる。
【０２８７】
［３−７．他の実施の形態７］
さらに上述した第１の実施の形態においては、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルのうち、最も大きい信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにした。
【０２８８】
これに限らず光ディスク装置１は、例えば、フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点の迷光信号ＳＮの信号レベルにおける平均値を算出し、当該平均値に基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにしてもよい。
【０２８９】
［３−８．他の実施の形態８］
さらに上述した第１の実施の形態においては、光ディスク装置１は、反射光ビームＬＲを受光してフォーカスエラー信号ＳＦＥを生成し、当該フォーカスエラー信号ＳＦＥがゼロクロスを示した時点を光ビームＬが記録層Ｙに合焦した時点として検出するようにした。そして光ディスク装置１は、当該時点の迷光信号の信号レベルを取得して、当該信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別するようにした。
【０２９０】
これに限らず光ディスク装置１は、光ディスク１００における記録層Ｙ付近に光ビームＬの焦点位置が達した際に所定の変化を示すような受光信号であれば、この他種々の受光信号を生成するようにしてもよい。そして光ディスク装置１は、当該受光信号が当該所定の変化を示したときの迷光信号の信号レベルを取得して、当該信号レベルに基づいて光ディスク１００の層数を判別すればよい。
【０２９１】
［３−９．他の実施の形態９］
さらに上述した実施の形態の場合、光ディスク装置１が、ＢＤ方式の光ディスク１００の層数を判別する場合に本発明を適用するようにした場合について述べた。これに限らず、この他種々の方式でなる光ディスク１００の層数を判別する場合に本発明を適用するようにしてもよい。
【０２９２】
［３−１０．他の実施の形態１０］
さらに上述した実施の形態においては、レーザダイオード２０から出射する光ビームＬの波長を４０５［ｎｍ］とする場合について述べた。本発明はこれに限らず、光ディスク１００に対応した任意の波長でなる光ビームを出射するようにしても良い。
【０２９３】
［３−１１．他の実施の形態１１］
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１が光ディスク１００に対し情報の記録処理及び再生処理の双方を行い得るようにした場合について述べた。
【０２９４】
しかしながら本発明はこれに限らず、例えば光ディスク１００の再生処理のみを行い得る光ディスク装置に本発明を適用するようにしても良い。
【０２９５】
［３−１２．他の実施の形態１２］
さらに上述した実施の形態においては、対物レンズとしての対物レンズ１３と、駆動部としての３軸アクチュエータ１４と、信号生成部としての光検出器２７及び迷光演算回路７及びサーボエラー信号生成部９と、取得部及び判別部としての統括制御部５とによって光ディスク装置としての光ディスク装置１を構成する場合について述べた。
【０２９６】
しかしながら本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる対物レンズと、駆動部と、信号生成部と、取得部と、判別部とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。
【０２９７】
例えば、上述した実施の形態においては、迷光演算回路７により迷光信号ＳＮなどを生成しているが、これに限らず、例えばマイクロコンピュータ２内のサーボエラー信号生成部９により迷光信号ＳＮなどを生成するようにしてもよい。
【０２９８】
［３−１３．他の実施の形態１３］
さらに本発明は、上述した第１及び第２の実施の形態と他の実施の形態とに限定されるものではない。すなわち本発明は、上述した第１及び第２の実施の形態と他の実施の形態の一部または全部を任意に組み合わせた形態、もしくは一部を抽出した形態にもその適用領域が及ぶものである。
【産業上の利用可能性】
【０２９９】
本発明は、映像や音声或いは種々のデータ等の情報を光ディスクに記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生する光ディスク装置でも利用できる。
【符号の説明】
【０３００】
１……光ディスク装置、２……マイクロコンピュータ、３……不揮発性メモリ、４……光ピックアップ、５……統括制御部、７……迷光演算回路、９……サーボエラー信号生成部、１３……対物レンズ、１４……３軸アクチュエータ、２０……レーザダイオード、２５……ホログラム素子、２７……光検出器、１００……光ディスク、Ｙ……記録層、ＹＴ……対象記録層。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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