(57)【要約】【課題】従来、ダイオードの順方向電圧の温度依存性を用いて温度検出を行っていたが、温度検出を行うべく調整を行った場合、２点の温度定点を用いて繰り返し微調を行い、ある程度の所で打ち切っていたため、打ち切り誤差が生じ、精度的に問題が生じていた。【解決手段】電子ボリュームＥＶＲ１の分圧比をＹとしてセットした後、トリミング抵抗３０４、トリミング抵抗３０５の抵抗値を共に０Ωにする。そして、第１温度で温度センサー３０７の出力が反転するよう調整する。次に、第２温度で電子ボリュームＥＶＲ１の値を適当にセットして、トリミング抵抗３０４、トリミング抵抗３０５の抵抗値の比率をＹとして保つように校正する。分圧比Ｙと抵抗値の比率をＹを揃えることで、第１温度での分割比を保った状態で校正が行える。即ち、一次近似で誤差は原理的には０とすることができるよう温度校正することを可能とした。【選択図】図１
2011141151.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基準電位に対して一定の電位差を与える、定電圧を発生する第１電圧源と、
前記基準電位に対して温度依存性を有する電位を発生する第２電圧源と、
前記第１電圧源と電気的に接続された第１入力端子と、前記第２電圧源と電気的に接続された第２入力端子を備え、前記第１入力端子と前記第２入力端子とに入力された電位を比較する比較器と、
第１端子と、第２端子と、分圧部とを備え、前記第１端子は第１抵抗を介して前記第１電圧源と電気的に接続され、前記第２端子は第２抵抗を介して前記基準電位と電気的に接続され、前記分圧部は前記比較器の前記第１入力端子と電気的に接続されてなり、前記第１抵抗を短絡し、かつ前記第２抵抗を短絡した場合に、第１温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第１状態に前記分圧部が設定され、前記第１抵抗と前記第２抵抗との抵抗値の比率が、前記第１温度での前記分圧部と前記第１端子との間の第１抵抗値と、前記分圧部と前記第２端子との間の第２抵抗値とが備える分圧比と揃えた比率を備え、第２温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第２状態に前記分圧部が設定されてなる分圧器と、
前記分圧器の分圧比を変え、前記分圧比に対応する情報を出力する走査部と、
前記走査部からの前記情報と前記比較器の出力とを受け、前記比較器の出力が変化した時点での前記分圧比情報を出力する温度抽出部と、
を備えたことを特徴とする温度測定装置。
【請求項２】
基準電位に対して一定の電位差を与える、定電圧を発生する第１電圧源と、
前記基準電位に対して温度依存性を有する電位を発生する第２電圧源と、
前記第１電圧源と電気的に接続された第１入力端子と、前記第２電圧源と電気的に接続された第２入力端子を備え、前記第１入力端子と前記第２入力端子とに入力された電位を比較する比較器と、
第１端子と、第２端子と、分圧部とを備え、前記第１端子は第１抵抗を介して前記第１電圧源と電気的に接続され、前記第２端子は第２抵抗を介して前記基準電位と電気的に接続され、前記分圧部は前記比較器の前記第１入力端子と電気的に接続されてなり、前記第１抵抗を短絡し、かつ前記第２抵抗を短絡した場合に、第１温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第１状態に前記分圧部が設定され、前記第１抵抗と前記第２抵抗との抵抗値の比率が、前記第１温度での前記分圧部と前記第１端子との間の第１抵抗値と、前記分圧部と前記第２端子との間の第２抵抗値とが備える分圧比と揃えた比率を備え、第２温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第２状態に前記分圧部が設定されてなる分圧器と、
前記分圧器の分圧比を変え、前記分圧比に対応する情報を出力する走査部と、
前記走査部からの前記情報と前記比較器の出力とを受け、前記比較器の出力が変化した時点での前記分圧比情報を出力する温度抽出部と、
を備える温度測定装置の調整方法であって、
前記第２電圧源を第１温度に設定するステップ１と、
前記第１抵抗と前記第２抵抗との値を最小化（短絡）するステップ２と、
前記分圧器の分圧比を第１分圧比に設定するステップ３と、の前記ステップ１、前記ステップ２、前記ステップ３を順不同で行い、
前記第１温度の前後で前記比較器の出力が反転する状態に、前記第２電圧源の出力電圧を調整するステップ４と、
前記第２電圧源を第２温度に設定するステップ５と、
前記分圧器の分圧比を第２分圧比に設定するステップ６と、の前記ステップ５と前記ステップ６を順不同で行い、
前記第２温度の前後で前記比較器の出力が反転する状態に、前記第１分圧比と同じ比率を持って前記第１抵抗と前記第２抵抗を調整するステップ７と、
を備えることを特徴とする温度測定装置の調整方法。
【請求項３】
基準電位に対して一定の電位差を与える、定電圧を発生する第１電圧源と、
前記基準電位に対して温度依存性を有する電位を発生する第２電圧源と、
前記第１電圧源と電気的に接続された第１入力端子と、前記第２電圧源と電気的に接続された第２入力端子を備え、前記第１入力端子と前記第２入力端子とに入力された電位を比較する比較器と、
第１端子と、第２端子と、分圧部とを備え、前記第１端子は第１抵抗を介して前記第１電圧源と電気的に接続され、前記第２端子は第２抵抗を介して前記基準電位と電気的に接続され、前記分圧部は前記比較器の前記第１入力端子と電気的に接続されてなり、前記第１抵抗を短絡し、かつ前記第２抵抗を短絡した場合に、第１温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第１状態に前記分圧部が設定され、前記第１抵抗と前記第２抵抗との抵抗値の比率が、前記第１温度での前記分圧部と前記第１端子との間の第１抵抗値と、前記分圧部と前記第２端子との間の第２抵抗値とが備える分圧比と揃えた比率を備え、第２温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第２状態に前記分圧部が設定されてなる分圧器と、
前記分圧器の分圧比を変え、前記分圧比に対応する情報を出力する走査部と、
前記走査部からの前記情報と前記比較器の出力とを受け、前記比較器の出力が変化した時点での前記分圧比情報を出力する温度抽出部と、
を備えた温度測定装置を含む液晶装置であって、
前記温度抽出部からの出力を受けて、当該出力と対応した値と、ルックアップテーブルを参照し、制御信号を出力する論理演算装置と、
前記制御信号を受けて利得を調整する可変利得装置と、
前記可変利得装置に第１信号を入力する入力部と、
前記可変利得装置を介して前記第１信号の利得を調整した第２信号を出力する出力部と、
前記出力部の信号に応じた電圧を液晶層に印加する駆動回路と、
を備えることを特徴とする液晶装置。
【請求項４】
請求項１に記載の温度測定装置、または請求項２に記載の調整方法で調整された温度測
定装置、または請求項３に記載の液晶装置を備えたことを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、温度測定装置、温度測定装置の調整方法、液晶装置の温度補償方法、ならびに電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
温度により特性が変動する装置では、温度による特性変動を補償するための温度特性補償回路が必要となる。例えば、液晶装置では、低温側（例えば０℃）では液晶の粘度が高くなり、液晶分子の配向制御には高い電圧を掛ける必要がある。一方、高温側（例えば６０℃）では、液晶の粘度が低くなり、液晶分子の配向制御には低い電圧を掛ける必要がある。そのため、広い温度範囲で液晶装置の表示品位を保つためには、印加する電圧値を温度毎に調整することが望ましく、温度を精密に測定する温度測定装置が求められている。また、温度を精密に測定する手段としては、特許文献１に記載されているように、ＰＮ接合ダイオードに定電流を流し、ＰＮ接合ダイオードの電圧を参照して温度を測定する技術が公知である。
【０００３】
また、温度を精密に測定すべく行われる温度測定装置の調整方法として、以下に示すような調整方法が知られている。これは、例えばダイオードの順方向電圧が温度の上昇に対して約−２ｍＶ／Ｋ程度の温度特性を備えていることから、例えば水の氷点と沸点とを温度定点として、オフセット電圧分や温度係数分を調整する方法である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平５−２８３７４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に示される方法を用いる場合、ダイオード毎に生じるばらつきに対して対応していないため、測定誤差を定量的に見積もることができない。そのため、精度の高い温度測定を行うことが困難であるという課題がある。
【０００６】
また、水の氷点と沸点とを温度定点として、オフセット電圧や温度係数分を調整する場合、低温側で合わせた後、高温側で再度合わせるが、高温側で合わせると、今度は低温側でずれるという現象が発生する。そのため、ある程度妥協して調整終了とすることとなる。従って、精密な温度検出には適していない。また、誤差の値が不明確なため、精度保証することが困難であり、精密な温度補償を必要とする温度測定装置への適用が困難となる課題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり以下の形態または適用例として実現することが可能である。
【０００８】
［適用例１］本適用例にかかる温度測定装置は、基準電位に対して一定の電位差を与える、定電圧を発生する第１電圧源と、前記基準電位に対して温度依存性を有する電位を発生する第２電圧源と、前記第１電圧源と電気的に接続された第１入力端子と、前記第２電圧源と電気的に接続された第２入力端子を備え、前記第１入力端子と前記第２入力端子とに入力された電位を比較する比較器と、第１端子と、第２端子と、分圧部とを備え、前記第１端子は第１抵抗を介して前記第１電圧源と電気的に接続され、前記第２端子は第２抵抗を介して前記基準電位と電気的に接続され、前記分圧部は前記比較器の前記第１入力端子と電気的に接続されてなり、前記第１抵抗を短絡し、かつ前記第２抵抗を短絡した場合に、第１温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第１状態に前記分圧部が設定され、前記第１抵抗と前記第２抵抗との抵抗値の比率が、前記第１温度での前記分圧部と前記第１端子との間の第１抵抗値と、前記分圧部と前記第２端子との間の第２抵抗値とが備える分圧比と揃えた比率を備え、第２温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第２状態に前記分圧部が設定されてなる分圧器と、前記分圧器の分圧比を変え、前記分圧比に対応する情報を出力する走査部と、前記走査部からの前記情報と前記比較器の出力とを受け、前記比較器の出力が変化した時点での前記分圧比情報を出力する温度抽出部と、を備えたことを特徴とする。
【０００９】
これによれば、温度依存性を有する第２電圧源の温度係数を、第１温度と第２温度との２つの温度で校正された状態で得ることができる。即ち、一次近似で原理的には誤差が無い状態で校正されるため、温度校正を行わない場合と比べて高い精度で温度を測定できる温度測定装置を提供することが可能となる。なお、第１抵抗と第２抵抗は半固定抵抗であっても良い。
【００１０】
［適用例２］本適用例にかかる温度測定装置の調整方法は、基準電位に対して一定の電位差を与える、定電圧を発生する第１電圧源と、前記基準電位に対して温度依存性を有する電位を発生する第２電圧源と、前記第１電圧源と電気的に接続された第１入力端子と、前記第２電圧源と電気的に接続された第２入力端子を備え、前記第１入力端子と前記第２入力端子とに入力された電位を比較する比較器と、第１端子と、第２端子と、分圧部とを備え、前記第１端子は第１抵抗を介して前記第１電圧源と電気的に接続され、前記第２端子は第２抵抗を介して前記基準電位と電気的に接続され、前記分圧部は前記比較器の前記第１入力端子と電気的に接続されてなり、前記第１抵抗を短絡し、かつ前記第２抵抗を短絡した場合に、第１温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第１状態に前記分圧部が設定され、前記第１抵抗と前記第２抵抗との抵抗値の比率が、前記第１温度での前記分圧部と前記第１端子との間の第１抵抗値と、前記分圧部と前記第２端子との間の第２抵抗値とが備える分圧比と揃えた比率を備え、第２温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第２状態に前記分圧部が設定されてなる分圧器と、前記分圧器の分圧比を変え、前記分圧比に対応する情報を出力する走査部と、前記走査部からの前記情報と前記比較器の出力とを受け、前記比較器の出力が変化した時点での前記分圧比情報を出力する温度抽出部と、を備える温度測定装置の調整方法であって、前記第２電圧源を第１温度に設定するステップ１と、前記第１抵抗と前記第２抵抗との値を最小化（短絡）するステップ２と、前記分圧器の分圧比を第１分圧比に設定するステップ３と、の前記ステップ１、前記ステップ２、前記ステップ３を順不同で行い、前記第１温度の前後で前記比較器の出力が反転する状態に、前記第２電圧源の出力電圧を調整するステップ４と、前記第２電圧源を第２温度に設定するステップ５と、前記分圧器の分圧比を第２分圧比に設定するステップ６と、の前記ステップ５と前記ステップ６を順不同で行い、前記第２温度の前後で前記比較器の出力が反転する状態に、前記第１分圧比と同じ比率を持って前記第１抵抗と前記第２抵抗を調整するステップ７と、を備えることを特徴とする。
【００１１】
これによれば、２つの温度に対して、調整を繰り返すことなく、一度で調整を行うことが可能となる。そのため、調整を繰り返して誤差を減らしていく調整方法と異なり、誤差の値を明確に示せる温度測定装置の調整方法を提供することが可能となる。
【００１２】
［適用例３］本適用例にかかる液晶装置は、基準電位に対して一定の電位差を与える、定電圧を発生する第１電圧源と、前記基準電位に対して温度依存性を有する電位を発生する第２電圧源と、前記第１電圧源と電気的に接続された第１入力端子と、前記第２電圧源と電気的に接続された第２入力端子を備え、前記第１入力端子と前記第２入力端子とに入力された電位を比較する比較器と、第１端子と、第２端子と、分圧部とを備え、前記第１端子は第１抵抗を介して前記第１電圧源と電気的に接続され、前記第２端子は第２抵抗を介して前記基準電位と電気的に接続され、前記分圧部は前記比較器の前記第１入力端子と電気的に接続されてなり、前記第１抵抗を短絡し、かつ前記第２抵抗を短絡した場合に、第１温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第１状態に前記分圧部が設定され、前記第１抵抗と前記第２抵抗との抵抗値の比率が、前記第１温度での前記分圧部と前記第１端子との間の第１抵抗値と、前記分圧部と前記第２端子との間の第２抵抗値とが備える分圧比と揃えた比率を備え、第２温度の前後の温度で前記比較器の出力が反転する第２状態に前記分圧部が設定されてなる分圧器と、前記分圧器の分圧比を変え、前記分圧比に対応する情報を出力する走査部と、前記走査部からの前記情報と前記比較器の出力とを受け、前記比較器の出力が変化した時点での前記分圧比情報を出力する温度抽出部と、を備えた温度測定装置を含む液晶装置であって、前記温度抽出部からの出力を受けて、当該出力と対応した値と、ルックアップテーブルを参照し、制御信号を出力する論理演算装置と、前記制御信号を受けて利得を調整する可変利得装置と、前記可変利得装置に第１信号を入力する入力部と、前記可変利得装置を介して前記第１信号の利得を調整した第２信号を出力する出力部と、前記出力部の信号に応じた電圧を液晶層に印加する駆動回路と、を備えることを特徴とする。
【００１３】
これによれば、一次近似で原理的には誤差が０となる温度を元に補償を行うので、校正を行わない測温度手段を用いる場合と比べ、高い精度で温度補償を行うことが可能となる。そのため、使用温度が変化した場合においても、画質の乱れが少ない液晶装置を提供することが可能となる。なお、ここで「利得」とは減衰させる場合、すなわちデシベル表示で、利得が負の値を示す場合を含めている。
【００１４】
［適用例４］本適用例にかかる電子機器は、上記記載の温度測定装置、または上記記載の調整方法で調整された温度測定装置、または上記に記載の液晶装置を備えたことを特徴とする。
【００１５】
これによれば、一次近似で原理的には誤差が無い状態で校正された温度測定装置が提供される。そのため、温度変化に対して特性が安定した電子機器を提供することが可能となる。そのため、精度の高い温度情報の提供する電子機器や、画質の乱れが少ない液晶装置等を備えた電子機器を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】は、温度測定装置の構成を示すブロック図。
【図２】は、温度測定装置の調整を行う工程を示すフローチャート。
【図３】は、本発明を適用した液晶装置の電気的構成を示すブロック図。
【図４】は、温度特性補償回路の構成を示すブロック図。
【図５】は、（ａ）〜（ｃ）は液晶装置や温度測定装置を搭載した電子機器について説明するための概略図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
（第１の実施形態）
「温度測定装置」。
以下、第１の実施形態として、温度測定装置について説明する。図１は、温度測定装置の構成を示すブロック図である。ここで、基準電位を備える領域としては接地領域を用いるものとする。ここで、違う基準電位を備える領域を用いても良く、例えば別の定電圧源の出力電位を基準電位として用いても差し支えない。温度測定装置３００は、分圧器としての電子ボリュームＥＶＲ１、電子ボリュームＥＶＲ１が備える第１端子３０１、第２端子３０２、分圧部３０３と、第１抵抗としてのトリミング抵抗３０４、第２抵抗としてのトリミング抵抗３０５、第１電圧源としての定電圧源３０６、第２電圧源としての温度センサー３０７、比較器としてのコンパレーター３０８、走査部としての電子ボリューム駆動回路３０９、電子ボリューム駆動回路３０９の出力とコンパレーター３０８の出力を監視し、信号処理する温度抽出部３１０、温度とデジタル数を対応させるルックアップテーブル（以下ＬＵＴとも表記する）ＬＵＴ３１１と、を備える。
【００１８】
定電圧源３０６としては、バンドギャップリファレンスや、ＦＥＴの温度係数打消しポイント（Ｑポイントとも呼ばれる）、温度補償（例えば熱絶縁体中で温度を一定に保った電圧源）等を用いて、温度依存性が低い（好ましくは温度依存性０の）電源を用いることが好ましい。また、温度センサー３０７としては、例えばシリコンダイオードの順方向電圧の温度依存性を用いることができる。シリコンダイオードは、室温付近では凡そ−２ｍＶ／Ｋ程度の温度依存性を備えており、温度依存性の線形性も高いことから好適である。その他、サーミスタや、測温抵抗体（例えば白金抵抗体）等を用いることも好適である。本実施形態では、シリコンダイオードを用いた例について説明を行う。
【００１９】
ここで温度測定装置３００は、トリミング抵抗３０４、トリミング抵抗３０５を共に短絡させた場合に、温度センサー３０７の温度が第１温度（例えば２５℃）の場合では、電子ボリュームＥＶＲ１の設定値が、例えば１００の前後でコンパレーター３０８の出力が反転するよう設定されている。そして、この場合での電子ボリュームＥＶＲ１の分圧比を例えば１：２とする。そして、第２温度（例えば１００℃）では、トリミング抵抗３０４とトリミング抵抗３０５の抵抗比率が１：２の関係を保った状態で、電子ボリュームＥＶＲ１の設定値が１７５の前後でコンパレーター３０８の出力が反転するよう設定されている。なお、調整方法、調整原理等については後述する。
この場合、第１温度（例えば２５℃）と第２温度（例えば１００℃）で校正が取られているため、一次近似で、原理的には誤差が生じない。
【００２０】
引き続き、温度測定装置３００の構成について説明する。定電圧源３０６より出力された電圧は、トリミング抵抗３０４を通り、電子ボリュームＥＶＲ１の第１端子３０１に印加される。そして電子ボリュームＥＶＲ１の第２端子３０２を通ってトリミング抵抗３０５を介して接地電位に抜けていく。一方、分圧部３０３の電位は、電子ボリューム駆動回路３０９により走査される。そして、温度センサー３０７が出力する電位と分圧部３０３の電位とが交差し、コンパレーター３０８の出力が反転した場合に、当該時点での温度として温度抽出部３１０が例えば電子ボリュームＥＶＲ１に印加されたデジタル数を出力する。また、温度抽出部３１０の出力として、温度に換算しやすい値（例えば１デジタル数が１℃に対応する）を出力させても良い。
【００２１】
「温度測定装置の調整方法」
以下、上記した温度測定装置の調整方法について説明する。図２は、温度測定装置の調整を行う工程を示すフローチャートである。以下、図２のフローチャートに従って調整方法を説明する。調整用の回路ブロック図は、第１の実施形態で説明した構成を備えているものとして説明する。
【００２２】
まず、ステップ１として、温度センサー３０７の温度を第１温度（例えば２５℃）に調整する。
【００２３】
次に、ステップ２として、電子ボリュームＥＶＲ１の分圧部３０３を適当な第１デジタル数にセットする（例えば１００）。この際、電子ボリュームＥＶＲ１の分圧比をＡ：Ｂとして記憶しておく。なお、後述する式の説明上、電子ボリュームＥＶＲ１の第１端子３０１、第２端子３０２間の抵抗値をＲｅとする。また、分圧比Ａ：Ｂ＝第１端子３０１と分圧部３０３との間の抵抗値：第２端子３０２と分圧部３０３との間の抵抗値、と換言しても良い。
【００２４】
次に、ステップ３として、トリミング抵抗３０４、トリミング抵抗３０５の抵抗値を共に０Ωにする。ここで、ステップ１からステップ３の順序は、任意に交換可能である。
【００２５】
次に、ステップ４として、温度センサー３０７の出力電圧を調整し、電子ボリュームＥＶＲ１の分圧部３０３の電圧と、温度センサー３０７の出力電圧とが上記したデジタル数前後で交差する（コンパレーター３０８の出力が反転する）ように設定する。ここで、温度センサー３０７としてシリコンダイオードを用いた場合には、温度センサー３０７に流す電流値を調整することで対応可能である。
【００２６】
次に、ステップ５として、温度センサー３０７の温度を第２温度（例えば１００℃）に調整する。
【００２７】
次に、ステップ６として、電子ボリュームＥＶＲ１の分圧部３０３を別な第２デジタル数にセットする（例えば１７５）。ここで、ステップ５と６の順序は交換可能である。
【００２８】
次に、ステップ７として、トリミング抵抗３０４、トリミング抵抗３０５の抵抗値を、比率が分圧比Ａ：Ｂの関係を保つように連動して調整し、電子ボリュームＥＶＲ１の分圧部３０３の電圧と、温度センサー３０７の出力電圧とが上記したデジタル数前後で交差する（コンパレーター３０８の出力が反転する）ように設定する。
【００２９】
上記した調整方法を用いることで、繰り返し調整することなく、一度の調整で２つの温度定点（第１温度と第２温度）で温度測定装置３００の調整を行うことが可能となる。
【００３０】
続けて、一度の調整で２つの温度定点機構について合わせ込みを可能とする機構について説明する。第２温度（この場合は１００℃としている）での合わせ込みは上記したように明白（１００℃で調整している）であるため、特に第１温度での合わせ込みが第２温度での調整を行った後、ずれずに保持される機構について重点をおいた説明を行う。
【００３１】
第１温度での合わせ込み工程では、定電圧源３０６の電圧をＶｃとすると、コンパレーター３０８に出力される電圧は、Ｖｃ×｛ＢＲｅ／（ＡＲｅ＋ＢＲｅ）｝＝Ｖｃ×｛Ｂ／（Ａ＋Ｂ）｝で表される値を通過する際に出力される。次に、第２温度での合わせ込み工程では、トリミング抵抗３０４の抵抗値をＲ１、トリミング抵抗３０５の抵抗値をＲ２とした場合、第１デジタル数における電子ボリュームＥＶＲ１の分圧部３０３の電圧は、Ｖｃ×｛（Ｒ２＋Ｂ×Ｒｅ）／（Ａ×Ｒｅ＋Ｂ×Ｒｅ＋Ｒ１＋Ｒ２）｝で表される。ここで、Ｒ１：Ｒ２＝Ａ：Ｂであることから、値Ｒを用いてＲ１＝ＡＲ，Ｒ２＝ＢＲと変形することが可能である。この関係式を代入すると、Ｖｃ×｛（ＢＲ＋Ｂ×Ｒｅ）／（Ａ×Ｒｅ＋Ｂ×Ｒｅ＋ＡＲ＋ＢＲ）｝→Ｖｃ×｛（Ｂ×（Ｒ＋Ｒｅ）｝／｛Ａ×（Ｒ＋Ｒｅ）＋Ｂ×（Ｒ＋Ｒｅ）｝、ここで、分子分母を（Ｒ＋Ｒｅ）で割ると、Ｖｃ×｛Ｂ／（Ａ＋Ｂ）｝となる。即ち、このように調整することで、第２温度での合わせ込みを、第１温度での合わせ込み作業により調整した状態を保持して調整できる。また、不揮発性メモリーを含む構成を用い、トリミング抵抗３０４，３０５の値をソフト的に調整する形式を用いても良い。トリミング抵抗や、不揮発性メモリー等を用いて調整を行う場合、予め計算を済ませてから調整することが可能となるため、徐々に適正抵抗値に合わせる場合と異なり、一度の調整で一次の調整を済ませることが可能となる。そのため、一次近似で誤差は原理的には０とすることができる。なお、ここでは低温側を調整して後、高温側を調整する構成としているが、これは高温側を先に合わせても良い。
【００３２】
上記した、本実施形態の温度測定装置３００、当該温度測定装置の調整方法を用いることにより、以下に示す効果を得ることができる。
第１には、トリミング抵抗３０４，３０５の抵抗比率が上記した関係を満たすことで、第１温度（例えば２５℃）と第２温度（例えば１００℃）の２点で校正されている温度測定装置３００を提供することができる。２点で校正がなされていることから、原理的に一次の誤差を無くすことが可能となる。従って、高い精度を備える温度測定装置３００を提供することが可能となる。
また、シリコンダイオードを温度センサー３０７に用いた場合には、容易にシリコンプロセスに入れ込むことが可能である。また、シリコンダイオードの順方向電圧と温度との線形性は、例えば液晶装置の駆動電圧補正に用いることができる程度に高い。そのため、高い精度を備える温度測定装置３００を容易に得ることが可能となる。
また、温度抽出部３１０の出力として、温度に換算しやすい値（例えば第１温度として２５℃で１００、第２温度として１００℃で１７５）とすることで、温度出力の演算を容易なものとすることができる。例えばこの例では、１デジタル数あたり１℃と対応しており、かつ２５℃の場合には１００デジタル数を出力している。この場合デジタル数から７５を減算するようにＬＵＴ３１１を構成することで、直接アナログ温度として出力することが可能である。例えば、アナログ温度０℃は、デジタル数７５に対応する。この場合、減算回路のみでＤＡ変換できるため、規模が小さい回路でも対応可能となる。
また、従来技術のように徐々に適正抵抗値に合わせていく場合と異なり、上記したフローチャートに従い調整を行うことで、原理的に一次の誤差を無くすことが可能となる。そのため、従来のように低温側で合わせた後、高温側で再度合わせ、その際発生した低温側のずれを調整し、再度高温側で合わせる工程を繰り返し、ある程度の誤差範囲内に収めた状態で調整終了とする方法と比べ、再現性高く（誤差は原理的に０、この誤差のばらつきはないため、再現性に優れる）調整することが可能となる。また、トリミング抵抗や、不揮発性メモリー等を用いて調整を行う場合、予め計算を済ませてから繰り返すことなく一度で調整することが可能となり、校正を速やかに行うことが可能となる。
【００３３】
（第２の実施形態：液晶装置）
以下、第２の実施形態として液晶装置について、図面を参照して説明する。なお、本実施形態は、反射型の液晶装置および透過型の液晶装置のいずれにも適用することができるが、以下の説明では、反射型の液晶装置に本発明を適用した例を説明する。本発明は、ＴＮ（Ｔｗｉｓｔｅｄ  Ｎｅｍａｔｉｃ）方式、ＦＦＳ（Ｆｒｉｎｇｅ  Ｆｉｅｌｄ  Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ）方式、ＩＰＳ（Ｉｎ  Ｐｌａｎｅ  Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ）方式、ＥＣＢ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ  Ｂｉｒｅｆｒｉｎｇｅｎｃｅ）方式、あるいはＶＡＮ（Ｖｅｒｔｉｃａｌ  Ａｌｉｇｎｅｄ  Ｎｅｍａｔｉｃ）方式等、いずれの方式を採用した液晶装置にも適用できる。また、以下の説明で参照する図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならしめてある。さらに、ＴＦＴ（薄膜トランジスター）では、流れる電流の方向が反転する場合、ソースとドレインとが入れ替わるが、以下の説明では、便宜上、画素電極が接続されている側をドレインとし、データ線が接続されている側をソースとして説明する。
【００３４】
図３は、本発明を適用した液晶装置の電気的構成を示すブロック図である。図３に示すように、液晶装置１００は、その中央領域に複数の画素１００ａがマトリクス状に配列された画素領域１０ｂを備えている。液晶装置１００において、素子基板１０と、対向基板２０には、画素領域１０ｂの内側で複数本のデータ線６ａおよび複数本の走査線３ａが縦横に延びており、それらの交点に対応する位置に画素１００ａが構成されている。複数の画素１００ａの各々には、画素スイッチング素子として機能するＴＦＴ３０、および後述する画素電極９ａが形成されている。ＴＦＴ３０のソースにはデータ線６ａが電気的に接続され、ＴＦＴ３０のゲートには走査線３ａが電気的に接続され、ＴＦＴ３０のドレインには、画素電極９ａが電気的に接続されている。
【００３５】
素子基板１０において、画素領域１０ｂの外側領域には走査線駆動回路１０４およびデータ線駆動回路１０１が構成されている。データ線駆動回路１０１は各データ線６ａの一端に電気的に接続しており、画像処理回路から供給される画像信号を各データ線６ａに順次供給する。走査線駆動回路１０４は、各走査線３ａに電気的に接続しており、走査信号を各走査線３ａに順次供給する。そして、液晶装置１００は、データ線駆動回路１０１に温度補償したデータを供給する温度特性補償回路２００が備えられている。そして、温度特性補償回路２００と走査線駆動回路１０４と、に対して同期した信号を出力する同期回路２０１が備えられている。ここで、同期回路２０１には画像情報が入力される。同期回路２０１は温度特性補償回路２００で信号処理を行う際に発生した遅延時間等を補償するものである。温度特性補償回路２００での遅延時間が小さい場合には、同期回路２０１は省略可能である。
【００３６】
各画素１００ａにおいて、画素電極９ａは、例えば図示せぬ対向基板に形成された共通電極を液晶を介して対向させることで、画像情報に対応した電位を保持すべく液晶容量５０ａを構成している。また、各画素１００ａには、液晶容量５０ａで保持される画像信号の変動を防ぐために、液晶容量５０ａと並列に保持容量６０が付加されている。本形態では、保持容量６０を構成するために、複数の画素１００ａに跨って走査線３ａと並行して延びた容量線３ｂが形成されている。
以下、液晶装置の動作について図面に基づいて説明する。
【００３７】
図４は、温度特性補償回路の構成を示すブロック図である。温度特性補償回路２００が備える温度測定装置３００は、第１の実施形態で説明した構成を備え、一次近似で原理的には誤差０となるよう調整されている。温度測定装置３００は、図１に示す構成を備えている。
【００３８】
そして、温度特性補償回路２００は、電子ボリュームＥＶＲ２、温度測定装置３００、バッファーアンプ２１２、ＬＵＴ２１０、論理演算装置２１３、入力部２１４、出力部２１５、リニアライザー２１６を含んでいる。
【００３９】
論理演算装置２１３は、例えばゲートアレーにより構成される。論理演算装置２１３は温度測定装置３００からのデジタル数を受け、ＬＵＴ２１０を参照して電子ボリュームＥＶＲ２の減衰率を設定する。ここでは、２５℃（対応するデジタル数を例えば１００とする）の場合について例示する。ここで、温度特性補償回路２００は直接的には温度測定装置３００からの出力値（デジタル数）で動作しているため、ＬＵＴ２１０の温度は、実際には参照されていない（図１に示す温度測定装置３００内のＬＵＴ３１１で温度を参照している）が、高温側（液晶分子が動き易くなる側）では電子ボリュームＥＶＲ２の減衰率が大きくなり、低温側（液晶分子が動き難くなる側）では電子ボリュームＥＶＲ２の減衰率が小さくなるよう調整していることを説明すべく、ＬＵＴ２１０に加えている。
【００４０】
電子ボリュームＥＶＲ２は、第１信号としての駆動電圧を、駆動電圧と輝度との関係を線形に近づくよう補正（所謂ガンマ補正）するリニアライザー２１６からの信号を受けて、駆動電圧に与える利得（この場合（デジタル数１００）の場合には４８／１００）を調整する。そして、電子ボリュームＥＶＲ２の出力を安定した状態で液晶装置１００（図３参照）に送るため、インピーダンス変換を行うバッファーアンプ２１２を備えている。そしてこのバッファーアンプ２１２を介して液晶装置１００が備える負荷としてのデータ線駆動回路１０１に第２信号としての画像データ信号を送出する。
【００４１】
ここで、リニアライザー２１６は、温度特性補償回路２００とデータ線駆動回路１０１との間に設置しても良い。また、駆動電圧と輝度との線形性が保たれている場合には省略可能である。また、電子ボリュームＥＶＲ２の出力インピーダンスが低い場合には、バッファーアンプ２１２は省略可能である。また、論理演算装置２１３にヒステリシス特性を与えても良い。
【００４２】
上記した、本実施形態の液晶装置１００を用いることにより、以下に示す効果を得ることができる。
温度特性補償回路２００が、一次近似で原理的には誤差０となるよう調整された温度測定装置３００を備えていることで、液晶粘度の温度補正をより正確に行うことが可能となる。より具体的には、電子ボリュームＥＶＲ２の減衰率は、温度に対しＬＵＴ２１０を参照して設定されている。ここで、正確な温度が得られる場合、電子ボリュームＥＶＲ２を用いた減衰率を少ない温度誤差で調整することが可能となる。
また、論理演算装置２１３にヒステリシス特性を与えることで、ＬＵＴ２１０のデータ切り替え点近傍（データ切り替えにより発生するノイズレベル範囲内）でのハンチングを避けることが可能となる。
【００４３】
（第３の実施形態：電子機器）
以下、上記した温度測定装置や、液晶装置を搭載した電子機器について、図５を参照して説明する。図５（ａ）〜（ｃ）は液晶装置や温度測定装置を搭載した電子機器について説明するための概略図である。まず、図５（ａ）に、液晶装置１００を備えたモバイル型のパーソナルコンピューターの構成を示す。パーソナルコンピューター２０００は、液晶装置１００と本体部２０１０を備える。本体部２０１０には、電源スイッチ２００１及びキーボード２００２が設けられている。図５（ｂ）に、液晶装置１００を備えた携帯電話機の構成を示す。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１及びスクロールボタン３００２、並びに表示ユニットとしての液晶装置１００を備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、液晶装置１００に表示される画面がスクロールされる。図５（ｃ）は温度計の一例である。温度計４０００は、温度測定装置３００を備えている。
【００４４】
なお、液晶装置１００が搭載される電子機器としては、図５に示すものの他、デジタルスチールカメラ、液晶テレビ、ビューファインダー型、モニター直視型のブルーレイレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳、電卓、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた機器等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、液晶装置１００が適用可能である。また、液晶装置１００に代えて、有機ＥＬ装置、電子ペーパー、プロジェクター等に配置した後、電子機器へ搭載することも好適である。
【００４５】
本実施形態の電子機器では、以下に示す効果を得ることができる。
まず、温度計４０００として、温度測定装置３００を温度検出部に用いた場合、一次近似の範囲で誤差を原理的には０とすることができるため、１点の温度水準で校正したものや、２点の温度定点を用いて繰り返し調整し、残差を残して校正を行ったものと比べ、少ない誤差で調整できる。また、残差を残して校正した場合と異なり一次近似分の誤差を原理的に０とできるため、特に複数台の温度計を用いる場合、機器間の誤差分布を小さく設定できることから温度計間の特性を揃えることができる。そのため、複数台の温度計を用いて精密に温度分布を測定することが可能となる。
また、カーナビゲーション装置等、広い温度範囲で高い表示品質を必要とする場合、温度補償が必要となる。このような用途についても、２点校正された温度測定装置３００は高い精度を保って温度検出ができるため、この温度測定装置３００のデータを元にして温度補償された液晶装置１００を用いることで、広い温度範囲で高い表示品質を保つことが可能となる。
【符号の説明】
【００４６】
３ａ…走査線、３ｂ…容量線、６ａ…データ線、９ａ…画素電極、１０…素子基板、１０ｂ…画素領域、３０…ＴＦＴ、５０ａ…液晶容量、６０…保持容量、１００…液晶装置、１００ａ…画素、１０１…データ線駆動回路、１０４…走査線駆動回路、２００…温度特性補償回路、２０１…同期回路、２１０…ＬＵＴ、２１２…バッファーアンプ、２１３…論理演算装置、２１４…入力部、２１５…出力部、２１６…リニアライザー、３００…温度測定装置、３０１…第１端子、３０２…第２端子、３０３…分圧部、３０４…トリミング抵抗、３０５…トリミング抵抗、３０６…定電圧源、３０７…温度センサー、３０８…コンパレーター、３０９…電子ボリューム駆動回路、３１０…温度抽出部、３１１…ＬＵＴ、２０００…パーソナルコンピューター、２００１…電源スイッチ、２００２…キーボード、２０１０…本体部、３０００…携帯電話機、３００１…操作ボタン、３００２…スクロールボタン、４０００…温度計、ＥＶＲ１…電子ボリューム、ＥＶＲ２…電子ボリ
ューム。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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