(57)【要約】【課題】特定のパスにおける劣化箇所推定を、少ないステップ数で行う。【解決手段】劣化箇所推定装置１は、劣化箇所の推定対象となるパスを二分するルータ３（ノード）を１つ選択し、当該ノードに接続された、測定端末２に、推定対象のパスに接続された測定端末２のそれぞれとの間の通信を指示する通信指示を出力する。次に、劣化箇所推定装置１は、通信指示に従って実行された通信の結果情報に基づいて、当該通信を行ったパスにおける劣化値を算出し、当該算出した劣化値と劣化箇所の推定対象となるパスの劣化値とに基づいて劣化箇所の推定を行う。劣化箇所推定装置１は、全てのエレメントの劣化値を推定するまで繰り返し推定処理を実行する。【選択図】図１
2011087197.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ノードと前記ノード間を接続するリンクとを構成要素とするネットワーク内のパスにおける通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定装置であって、
前記ネットワークのノードを介して互いに接続され、通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末の組と当該劣化の度合いを示す劣化値とを検出する劣化検出部と、
前記劣化検出部が検出した測定端末の組を接続するパスを構成する構成要素の範囲を劣化箇所推定対象であるターゲット範囲として特定するパス特定部と、
前記ターゲット範囲内のノードの何れか１つを、前記ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードとして選択する分岐ノード選択部と、
前記分岐ノードに接続された前記測定端末の組の何れとも異なる測定端末を選択する測定端末選択部と、
前記測定端末選択部が選択した測定端末と前記測定端末の組のそれぞれとの間で通信を実行させ、各々の通信のパスの劣化値に基づいて、前記ターゲット範囲より通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定部と
を備えることを特徴とする劣化箇所推定装置。
【請求項２】
ノードと前記ノード間を接続するリンクとを構成要素とするネットワーク内のパスにおける通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定装置であって、
前記ネットワークのノードを介して互いに接続され、通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末の組と当該劣化の度合いを示す劣化値とを検出する劣化検出部と、
前記劣化検出部が検出した測定端末の組を接続するパスを構成するエレメントの範囲を劣化箇所推定対象であるターゲット範囲として特定するパス特定部と、
前記ターゲット範囲内のノードの何れか１つを、前記ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードとして選択する分岐ノード選択部と、
前記分岐ノードに接続された、前記測定端末の組の何れとも異なる測定端末を選択する測定端末選択部と、
前記測定端末選択部が選択した測定端末と前記測定端末の組のそれぞれとの間の通信を指示する通信指示を、前記測定端末選択部が選択した測定端末または前記測定端末の組の何れかに出力する通信指示部と、
前記通信指示に従って実行された通信の結果情報に基づいて、前記測定端末の組の一方の測定端末と前記測定端末選択部が選択した測定端末とを接続するパスである第１のテストパスの劣化値、及び前記測定端末の組の他方の測定端末と前記測定端末選択部が選択した測定端末とを接続するパスである第２のテストパスの劣化値を算出する劣化値算出部と、
前記劣化検出部が検出した劣化値と前記劣化値算出部が算出した第１のテストパス及び第２のテストパスの劣化値とに基づいて前記ターゲット範囲内の各構成要素の劣化値を算出する劣化箇所推定部と、
前記測定端末の組を接続するパスを構成する全ての構成要素に対して劣化値が算出されているか否かを判定し、劣化値が算出されていない構成要素が存在すると判定した場合に、前記ターゲット範囲を変更し、前記分岐ノード選択部、前記測定端末選択部、前記通信指示部、及び前記劣化箇所推定部による処理を繰り返し実行することを指示する繰り返し判定部と
を備えることを特徴とする劣化箇所推定装置。
【請求項３】
前記劣化箇所推定部が推定した劣化箇所が複数の構成要素を有する場合、
前記劣化箇所推定部は、前記第１のテストパスと前記ターゲット範囲との重複部分から前記分岐ノードを除いた部分である第１のターゲットテストパスの辺の劣化値、前記第２のテストパスと前記ターゲット範囲との重複部分から前記分岐ノードを除いた部分である第２のターゲットテストパスの辺の劣化値、及び前記分岐ノードの劣化値を、前記劣化検出部が検出した劣化値と前記劣化値算出部が算出した第１のテストパスの劣化値と前記劣化値算出部が算出した第２のテストパスの劣化値とに基づいて算出し、
前記繰り返し判定部は、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち劣化値が０でないものに変更する
ことを特徴とする請求項２に記載の劣化箇所推定装置。
【請求項４】
前記繰り返し判定部は、前記劣化箇所推定部が、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値の何れか一方のみが負値であると推定した場合、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち、劣化値が負でないものを前記ターゲット範囲として設定し、前記分岐ノード選択部、前記測定端末選択部、前記通信指示部、及び前記劣化箇所推定部による処理を実行させ、当該処理が完了した後、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち前記ターゲット範囲として設定しなかったものと、前記分岐ノードと、前記分岐ノードに隣接するエレメントとを含む範囲に変更し、
前記繰り返し判定部は、前記劣化箇所推定部が、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値の両方が負値であると推定した場合、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺の何れか一方を前記ターゲット範囲として設定し、前記分岐ノード選択部、前記測定端末選択部、前記通信指示部、及び前記劣化箇所推定部による処理を実行させ、当該処理が完了した後、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち前記ターゲット範囲として設定しなかったものと、前記分岐ノードと、前記分岐ノードに隣接するエレメントとを含む範囲に変更し、
前記分岐ノード選択部は、前記分岐ノードを新たな分岐ノードとして選択し、
前記劣化箇所推定部は、当該新たな分岐ノードに基づいて、新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値、新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値、及び前記新たな分岐ノードの劣化値を算出する
ことを特徴とする請求項３に記載の劣化箇所推定装置。
【請求項５】
前記劣化箇所推定部が算出した前記新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値の少なくとも何れか一方が負値である場合において、
前記新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値のうち値が小さいほうの絶対値が前記分岐ノードの劣化値の二分の一以下であるとき、
前記劣化箇所推定部は、前記新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値、前記新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値、前記新たな分岐ノードの劣化値、及び前記第１のテストパスと前記第２のテストパスとの重複部分から前記新たな分岐ノードを除いた部分であるテストパスの足の劣化値のうち、ゼロでないものの個数が最小となる劣化値を、それぞれの劣化値として推定し、
前記新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値のうち値が小さいほうの絶対値が前記新たな分岐ノードの劣化値の二分の一より大きいとき、
前記繰り返し判定部は、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち、前記ターゲット範囲として設定しなかったものに変更し、前記分岐ノード選択部、前記測定端末選択部、前記通信指示部、及び前記劣化箇所推定部による処理を実行させる
ことを特徴とする請求項４に記載の劣化箇所推定装置。
【請求項６】
ノードと前記ノード間を接続するリンクとを構成要素とするネットワーク内のパスにおける通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定装置を用いた劣化箇所推定方法であって、
劣化検出部は、前記ネットワークのノードを介して互いに接続された測定端末の組であって通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末の組と、当該劣化の度合いを示す劣化値とを検出し、
パス特定部は、前記劣化検出部が検出した測定端末の組を接続するパスを構成する構成要素の範囲を劣化箇所推定対象であるターゲット範囲として特定し、
分岐ノード選択部は、前記ターゲット範囲内のノードの何れか１つを、前記ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードとして選択し、
測定端末選択部は、前記分岐ノードに接続された前記測定端末の組の何れとも異なる測定端末を選択し、
劣化箇所推定部は、前記測定端末選択部が選択した測定端末と前記測定端末の組のそれぞれとの間で通信を実行させ、各々の通信のパスの劣化値に基づいて、前記ターゲット範囲より通信の劣化箇所を推定する
ことを特徴とする劣化箇所推定方法。
【請求項７】
ノードと前記ノード間を接続するリンクとを構成要素とするネットワーク内のパスにおける通信の劣化箇所をコンピュータに推定させるプログラムであって、
前記コンピュータを、
前記ネットワークのノードを介して互いに接続され、通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末の組と当該劣化の度合いを示す劣化値とを検出する劣化検出部、
前記劣化検出部が検出した測定端末の組を接続するパスを構成する構成要素の範囲を劣化箇所推定対象であるターゲット範囲として特定するパス特定部、
前記ターゲット範囲内のノードの何れか１つを、前記ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードとして選択する分岐ノード選択部、
前記分岐ノードに接続された前記測定端末の組の何れとも異なる測定端末を選択する測定端末選択部、
前記測定端末選択部が選択した測定端末と前記測定端末の組のそれぞれとの間で通信を実行させ、各々の通信のパスの劣化値に基づいて、前記ターゲット範囲より通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定部
として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数のノードと前記ノード間を接続するリンクとを備えるネットワーク内のパスにおける通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定装置及び劣化箇所推定方法並びにプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ネットワークの劣化箇所を推定する方法として、「パス単位でグルーピングし劣化箇所を推定する方法」および「リンク単位で閾値を基に劣化箇所を推定する方法」が存在する。特許文献１には、「パス単位でグルーピングし劣化箇所を推定する方法」として、ワーピングパスを利用してパスをグルーピングする方式が開示されている。また、特許文献２には、「リンク単位で閾値を基に劣化箇所を推定する方法」として、ターゲット区間毎に高相関度パスの個数を閾値として推定する方式が開示されており、また、特許文献３には、パスのスループットの分布状況に基づいてリンクにポイントを付与し閾値で推定する方式が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−０４２８７９号公報
【特許文献２】特開２００６−０７４４４７号公報
【特許文献３】特開２００３−０１８２１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上述した特許文献１から特許文献３に記載の各方式は、不規則に発生する通信を網羅的に計測することで、または網羅的に通信を発生させることでネットワーク全体に対する劣化箇所を推定する方式である。そのため、ある特定のパスに対する劣化箇所を推定したい場合にも、ネットワーク全体の通信情報から推定を行う必要がある。これにより、劣化箇所の推定に一定の時間がかかってしまうだけでなく、ネットワークへの通信負荷によるサービスへの悪影響が懸念される。更に、劣化箇所推定アルゴリズムの処理ステップ数がネットワークの規模に合わせて比例的に増加するため、ネットワークの規模が大きいほど劣化箇所の推定に時間がかかってしまうという問題がある。
【０００５】
上記の問題に鑑みて、この発明は、特定のパスにおける劣化箇所推定を、少ないステップ数で行う劣化箇所推定装置及び劣化箇所推定方法並びにそのプログラムを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、ノードと前記ノード間を接続するリンクとを構成要素とするネットワーク内のパスにおける通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定装置であって、前記ネットワークのノードを介して互いに接続され、通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末の組と当該劣化の度合いを示す劣化値とを検出する劣化検出部と、前記劣化検出部が検出した測定端末の組を接続するパスを構成する構成要素の範囲を劣化箇所推定対象であるターゲット範囲として特定するパス特定部と、前記ターゲット範囲内のノードの何れか１つを、前記ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードとして選択する分岐ノード選択部と、前記分岐ノードに接続された前記測定端末の組の何れとも異なる測定端末を選択する測定端末選択部と、前記測定端末選択部が選択した測定端末と前記測定端末の組のそれぞれとの間で通信を実行させ、各々の通信のパスの劣化値に基づいて、前記ターゲット範囲より通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定部とを備えることを特徴とする。
【０００７】
また、本発明は、ノードと前記ノード間を接続するリンクとを構成要素とするネットワーク内のパスにおける通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定装置であって、前記ネットワークのノードを介して互いに接続され、通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末の組と当該劣化の度合いを示す劣化値とを検出する劣化検出部と、前記劣化検出部が検出した測定端末の組を接続するパスを構成するエレメントの範囲を劣化箇所推定対象であるターゲット範囲として特定するパス特定部と、前記ターゲット範囲内のノードの何れか１つを、前記ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードとして選択する分岐ノード選択部と、前記分岐ノードに接続された、前記測定端末の組の何れとも異なる測定端末を選択する測定端末選択部と、前記測定端末選択部が選択した測定端末と前記測定端末の組のそれぞれとの間の通信を指示する通信指示を、前記測定端末選択部が選択した測定端末または前記測定端末の組の何れかに出力する通信指示部と、前記通信指示に従って実行された通信の結果情報に基づいて、前記測定端末の組の一方の測定端末と前記測定端末選択部が選択した測定端末とを接続するパスである第１のテストパスの劣化値、及び前記測定端末の組の他方の測定端末と前記測定端末選択部が選択した測定端末とを接続するパスである第２のテストパスの劣化値を算出する劣化値算出部と、前記劣化検出部が検出した劣化値と前記劣化値算出部が算出した第１のテストパス及び第２のテストパスの劣化値とに基づいて前記ターゲット範囲内の各構成要素の劣化値を算出する劣化箇所推定部と、前記測定端末の組を接続するパスを構成する全ての構成要素に対して劣化値が算出されているか否かを判定し、劣化値が算出されていない構成要素が存在すると判定した場合に、前記ターゲット範囲を変更し、前記分岐ノード選択部、前記測定端末選択部、前記通信指示部、及び前記劣化箇所推定部による処理を繰り返し実行することを指示する繰り返し判定部とを備えることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明において前記分岐ノード選択部は、前記ターゲット範囲の中央に位置するノードを選択することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明において、前記劣化箇所推定部が推定した劣化箇所が複数の構成要素を有する場合、前記劣化箇所推定部は、前記第１のテストパスと前記ターゲット範囲との重複部分から前記分岐ノードを除いた部分である第１のターゲットテストパスの辺の劣化値、前記第２のテストパスと前記ターゲット範囲との重複部分から前記分岐ノードを除いた部分である第２のターゲットテストパスの辺の劣化値、及び前記分岐ノードの劣化値を、前記劣化検出部が検出した劣化値と前記劣化値算出部が算出した第１のテストパスの劣化値と前記劣化値算出部が算出した第２のテストパスの劣化値とに基づいて算出し、前記繰り返し判定部は、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち劣化値が０でないものに変更することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明において、前記劣化箇所推定部は、前記劣化値算出部が算出した第１のテストパスの劣化値及び第２のテストパスの劣化値と前記劣化箇所推定部が既に算出したターゲット範囲以外の部分の劣化値とに基づいて、前記ターゲット範囲の端に位置する構成要素のうち前記測定端末の組の一方の測定端末側の構成要素から、前記測定端末選択部が選択した測定端末までのパスである第１のターゲットテストパスの劣化値と、前記ターゲット範囲の端に位置する構成要素のうち前記測定端末の組の他方の測定端末側の構成要素から、前記測定端末選択部が選択した測定端末までのパスである第２のターゲットテストパスの劣化値とを算出し、当該第１のターゲットテストパスの劣化値と当該第２のターゲットテストパスの劣化値と前記ターゲット範囲の劣化値とに基づいて、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値、前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値、及び前記分岐ノードの劣化値を算出することを特徴とする。
【００１１】
また、本発明において、前記劣化箇所推定部は、前記第１のターゲットテストパスの劣化値と前記第２のターゲットテストパスの劣化値とを加算した値が、前記ターゲット範囲の劣化値と等しくなる場合、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値が前記第１のターゲットテストパスの劣化値と等しく、前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値が前記第２のターゲットテストパスの劣化値と等しく、前記分岐ノードの劣化値がゼロであると推定し、前記第１のターゲットテストパスの劣化値と前記ターゲット範囲の劣化値とを加算した値が、前記第２のターゲットテストパスの劣化値と等しくなる場合、前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値が前記ターゲット範囲の劣化値と等しく、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値及び前記分岐ノードの劣化値がゼロであると推定し、前記第２のターゲットテストパスの劣化値と前記ターゲット範囲の劣化値とを加算した値が、前記第１のターゲットテストパスの劣化値と等しくなる場合、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値が前記ターゲット範囲の劣化値と等しく、前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値及び前記分岐ノードの劣化値がゼロであると推定することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明では、前記第１のターゲットテストパスの劣化値、前記第２のターゲットテストパスの劣化値、前記ターゲット範囲の劣化値の何れか２つの劣化値を加算した値が他方の劣化値と等しくなる場合において、前記繰り返し判定部が、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち劣化値が負値であるものに変更したとき、前記分岐ノード選択部は、前記繰り返し判定部が変更したターゲット範囲を構成するノードうち、前記分岐ノードに隣接するノードを新たな分岐ノードとして選択することを特徴とする。
【００１３】
また、本発明では、前記劣化箇所推定部は、前記第１のターゲットテストパスの劣化値、前記第２のターゲットテストパスの劣化値、及び前記ターゲット範囲の劣化値が全て等しい場合、前記分岐ノードの劣化値が前記ターゲット範囲の劣化値と等しいものと推定し、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値及び前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値がゼロであると推定することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明では、前記第１のターゲットテストパスの劣化値、前記第２のターゲットテストパスの劣化値、及び前記ターゲット範囲の劣化値が全て等しい場合、前記繰り返し判定部は、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺に変更し、前記分岐ノード選択部は、前記繰り返し判定部が変更したターゲット範囲内のノードうち、前記分岐ノードに隣接するノードを新たな分岐ノードとして選択することを特徴とする。
【００１５】
また、本発明では、前記劣化箇所推定部は、前記第１のターゲットテストパスの劣化値、前記第２のターゲットテストパスの劣化値、及び前記ターゲット範囲の劣化値の何れの２つの劣化値を加算した値も他方の劣化値と等しくならない場合、前記分岐ノードの劣化値を、前記第１のターゲットテストパスの劣化値と第２のターゲットテストパスの劣化値とを加算した値から前記ターゲット範囲の劣化値を減じた値であると推定し、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値を、前記第１のターゲットテストパスの劣化値から前記分岐ノードの劣化値を減じた値であると推定し、前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値を、前記第２のターゲットテストパスの劣化値から前記分岐ノードの劣化値を減じた値であると推定することを特徴とする。
【００１６】
また、本発明において、前記繰り返し判定部は、前記劣化箇所推定部が、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値の何れか一方のみが負値であると推定した場合、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち、劣化値が負でないものを前記ターゲット範囲として設定し、前記分岐ノード選択部、前記測定端末選択部、前記通信指示部、及び前記劣化箇所推定部による処理を実行させ、当該処理が完了した後、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち前記ターゲット範囲として設定しなかったものと、前記分岐ノードと、前記分岐ノードに隣接するエレメントとを含む範囲に変更し、前記繰り返し判定部は、前記劣化箇所推定部が、前記第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記第２のターゲットテストパスの辺の劣化値の両方が負値であると推定した場合、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺の何れか一方を前記ターゲット範囲として設定し、前記分岐ノード選択部、前記測定端末選択部、前記通信指示部、及び前記劣化箇所推定部による処理を実行させ、当該処理が完了した後、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち前記ターゲット範囲として設定しなかったものと、前記分岐ノードと、前記分岐ノードに隣接するエレメントとを含む範囲に変更し、前記分岐ノード選択部は、前記分岐ノードを新たな分岐ノードとして選択し、前記劣化箇所推定部は、当該新たな分岐ノードに基づいて、新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値、新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値、及び前記新たな分岐ノードの劣化値を算出することを特徴とする。
【００１７】
また、本発明では、前記劣化箇所推定部が算出した前記新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値の少なくとも何れか一方が負値である場合において、前記新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値のうち値が小さいほうの絶対値が前記分岐ノードの劣化値の二分の一以下であるとき、前記劣化箇所推定部は、前記新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値、前記新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値、前記新たな分岐ノードの劣化値、及び前記第１のテストパスと前記第２のテストパスとの重複部分から前記新たな分岐ノードを除いた部分であるテストパスの足の劣化値のうち、ゼロでないものの個数が最小となる劣化値を、それぞれの劣化値として推定し、前記新たな第１のターゲットテストパスの辺の劣化値または前記新たな第２のターゲットテストパスの辺の劣化値のうち値が小さいほうの絶対値が前記新たな分岐ノードの劣化値の二分の一より大きいとき、前記繰り返し判定部は、前記ターゲット範囲を、前記第１のターゲットテストパスの辺または前記第２のターゲットテストパスの辺のうち、前記ターゲット範囲として設定しなかったものに変更し、前記分岐ノード選択部、前記測定端末選択部、前記通信指示部、及び前記劣化箇所推定部による処理を実行させることを特徴とする。
【００１８】
また、本発明は、ノードと前記ノード間を接続するリンクとを構成要素とするネットワーク内のパスにおける通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定装置を用いた劣化箇所推定方法であって、劣化検出部は、前記ネットワークのノードを介して互いに接続された測定端末の組であって通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末の組と、当該劣化の度合いを示す劣化値とを検出し、パス特定部は、前記劣化検出部が検出した測定端末の組を接続するパスを構成する構成要素の範囲を劣化箇所推定対象であるターゲット範囲として特定し、分岐ノード選択部は、前記ターゲット範囲内のノードの何れか１つを、前記ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードとして選択し、測定端末選択部は、前記分岐ノードに接続された前記測定端末の組の何れとも異なる測定端末を選択し、劣化箇所推定部は、前記測定端末選択部が選択した測定端末と前記測定端末の組のそれぞれとの間で通信を実行させ、各々の通信のパスの劣化値に基づいて、前記ターゲット範囲より通信の劣化箇所を推定することを特徴とする。
【００１９】
また、本発明は、ノードと前記ノード間を接続するリンクとを構成要素とするネットワーク内のパスにおける通信の劣化箇所をコンピュータに推定させるプログラムであって、前記コンピュータを、前記ネットワークのノードを介して互いに接続され、通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末の組と当該劣化の度合いを示す劣化値とを検出する劣化検出部、前記劣化検出部が検出した測定端末の組を接続するパスを構成する構成要素の範囲を劣化箇所推定対象であるターゲット範囲として特定するパス特定部、前記ターゲット範囲内のノードの何れか１つを、前記ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードとして選択する分岐ノード選択部、前記分岐ノードに接続された前記測定端末の組の何れとも異なる測定端末を選択する測定端末選択部、前記測定端末選択部が選択した測定端末と前記測定端末の組のそれぞれとの間で通信を実行させ、各々の通信のパスの劣化値に基づいて、前記ターゲット範囲より通信の劣化箇所を推定する劣化箇所推定部として機能させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、分岐ノード選択部が、ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードを選択し、劣化箇所推定部が、当該分岐ノードを経由する第１のテストパス及び第２のテストパスの劣化値に基づいてターゲット範囲内における通信の劣化箇所を推定する。そして、パスを構成する全てのエレメントに対して劣化値が算出されるまで上述した処理を繰り返す。これにより、劣化箇所推定装置は、分割統治的に劣化箇所の推定を行うことができるため、劣化箇所推定アルゴリズムの処理ステップ数を少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の一実施形態による劣化箇所推定装置を有する劣化箇所推定システムの構成を示す概略ブロック図である。
【図２】劣化箇所推定装置の構成を示す概略ブロック図である。
【図３】推定劣化値テーブル生成部が生成する推定劣化値テーブルのデータ構成を示す図である。
【図４】用語の定義を示す図である。
【図５】実施例で用いる図に示す図形及び数値の定義を示す図である。
【図６】本実施形態による処理の流れの概略を示す図である。
【図７】本実施形態による劣化箇所推定装置の動作を示すフローチャートである。
【図８】ターゲット範囲の決定方法の例を示す図である。
【図９】ターゲット範囲内における左／右テストパスの劣化値の算出方法の例を示す図である。
【図１０】第１の処理例におけるネットワークの劣化箇所を示す図である。
【図１１】第１の処理例による処理の経過を示す第１の図である。
【図１２】劣化箇所推定装置によるエレメントの劣化値特定処理を示すフローチャートである。
【図１３】劣化箇所推定装置による辺値算出処理を示すフローチャートである。
【図１４】「和の性質」が成立することの具体例を示す図である。
【図１５】第１の処理例による処理の経過を示す第２の図である。
【図１６】和の性質が成立せず、かつそれぞれの劣化値が等しくない例を示す図である。
【図１７】劣化箇所推定装置による分析処理３の動作を示すフローチャートである。
【図１８】劣化箇所推定装置による辺処理２の動作を示すフローチャートである。
【図１９】劣化箇所推定装置による辺判定処理の動作を示すフローチャートである。
【図２０】第１の処理例による処理の経過を示す第３の図である。
【図２１】「和の性質」が成立する場合におけるターゲット範囲内の劣化値を示す第１の図である。
【図２２】「和の性質」が成立する場合におけるターゲット範囲内の劣化値を示す第２の図である。
【図２３】劣化箇所推定装置による分析処理１の動作を示すフローチャートである。
【図２４】劣化箇所推定装置による辺処理１の動作を示すフローチャートである。
【図２５】第１の処理例による処理の経過を示す第４の図である。
【図２６】和の性質が成立し、辺の劣化値が０である例を示す図である。
【図２７】第１の処理例による処理の経過を示す第５の図である。
【図２８】劣化箇所推定装置による分析処理２の動作を示すフローチャートである。
【図２９】ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が等しい場合における劣化箇所を示す図である。
【図３０】分析処理２において、ターゲット範囲内におけるテストパスの辺内にある分岐ノードと隣接するノードを新たな分岐ノードとする利点を示す図である。
【図３１】第１の処理例による処理の経過を示す第６の図である。
【図３２】第２の処理例におけるネットワークの劣化箇所を示す図である。
【図３３】第２の処理例による処理の経過を示す第１の図である。
【図３４】第２の処理例による処理の経過を示す第２の図である。
【図３５】第２の処理例による処理の経過を示す第３の図である。
【図３６】劣化箇所推定装置による再検証処理の動作を示す第１のフローチャートである。
【図３７】劣化箇所推定装置による再検証処理の動作を示す第２のフローチャートである。
【図３８】第２の処理例による処理の経過を示す第４の図である。
【図３９】第２の処理例による処理の経過を示す第５の図である。
【図４０】第２の処理例による処理の経過を示す第６の図である。
【図４１】劣化存在推定を行う理由を示す図である。
【図４２】劣化存在推定の処理方法を示す図である。
【図４３】劣化箇所の推定方法を説明するための図である。
【図４４】劣化箇所数が同じ個数となる場合の例を示す図である。
【図４５】第２の処理例による劣化箇所の推定処理を示す図である。
【図４６】第２の処理例による処理の経過を示す第７の図である。
【図４７】第３の処理例におけるネットワークの劣化箇所を示す図である。
【図４８】第３の処理例による処理の経過を示す第１の図である。
【図４９】第３の処理例による処理の経過を示す第２の図である。
【図５０】第３の処理例による処理の経過を示す第３の図である。
【図５１】第３の処理例による処理の経過を示す第４の図である。
【図５２】証明に用いる変数とパスとの関係を示す図である。
【図５３】テストパスの足の劣化値が取り得る範囲を示す図である。
【図５４】劣化箇所の推定を行うことができる他のネットワーク構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳しく説明する。
図１は、本発明の一実施形態による劣化箇所推定装置を有する劣化箇所推定システムの構成を示す概略ブロック図である。
劣化箇所推定システムは、劣化箇所推定装置１、ネットワークトポロジ情報記憶装置１０、測定端末２、ルータ３を備える。なお、当該劣化箇所推定システムのネットワークは、ルータ３を３つ以上備えているものとする。また、当該劣化箇所推定システムは、測定端末２を３つ以上備えているものとする。
劣化箇所推定装置１は、ネットワークの劣化箇所を推定する。
ネットワークトポロジ情報記憶装置１０は、ネットワーク内のエレメントそれぞれの接続関係を示すトポロジ情報（構成情報）を記憶する。ここで、エレメントとは、ネットワークを構成するノード（ルータ３）、ノード間の接続経路であるリンク、及びノード−測定端末２間のリンクの総称である。
測定端末２は、他の測定端末２との通信においてパケットを送受信した際の時刻情報及び送受信したパケットを識別する情報を、測定結果情報として当該劣化箇所推定装置１に送信する。例えば、測定端末２は、劣化箇所推定装置１に、送受信したパケットの送信元アドレス、送信先アドレス、シーケンス番号、及び送受信した時刻を示す情報を送信する。なお、各測定端末２の時刻は同期している。
ルータ３は、ネットワーク内を流れるパケットの通信経路を選択する。
【００２３】
図２は、劣化箇所推定装置の構成を示す概略ブロック図である。
劣化箇所推定装置１は、劣化検出部１１、推定劣化値テーブル生成部１２、推定劣化値テーブル記憶部１３、劣化値推定部１４（分岐ノード選択部、劣化箇所推定部）、パス特定部１５（パス特定部、測定端末選択部）、測定指示実行部１６（通信指示部）、ＩＰ品質算出部１７（劣化値算出部）、推定対象管理部１８（繰り返し判定部）、スタック部１９を備える。
劣化検出部１１は、ネットワークの少なくとも１つのノードを介して互いに接続され、通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末２の組と、当該測定端末２の組での通信で発生するＩＰ品質の劣化の度合いを示す劣化値とを検出する。ここで、劣化値とは、本実施形態においては、例えば測定端末２間における通信の遅延時間を示す。また、劣化値は、例えば管理者からの入力情報等により検出する。
推定劣化値テーブル生成部１２は、劣化検出部１１が検出した測定端末２の組を接続するネットワークのパスであるターゲットパスを特定し、当該ターゲットパスを構成する各エレメントの推定劣化値を格納する推定劣化値テーブルを生成し、推定劣化値テーブル記憶部１３に記録する。ここで、推定劣化値とは、劣化値推定部１４が推定したエレメント毎の劣化値を示す。
劣化値推定部１４は、ターゲットパスのうちＩＰ品質が劣化しているエレメントが含まれると推定される範囲をターゲット範囲として特定し、当該ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードを選択し、当該分岐ノードで二分されたターゲット範囲のそれぞれの劣化値を推定することで、ターゲット範囲内の各エレメントの劣化値を推定する。また、劣化値推定部１４は、得られた推定劣化値を推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルに記録する。
パス特定部１５は、ネットワークトポロジ情報記憶装置１０が記憶するトポロジ情報に基づいて、２つの測定端末２の間のパスを特定する。また、パス特定部１５は、あるノードに直接または１つ以上のノードを介して接続された測定端末２を特定する。
測定指示実行部１６は、パス特定部１５が特定した測定端末２に測定指示（通信指示）を送信する。
ＩＰ品質算出部１７は、測定端末２から受信した測定結果情報（通信の結果情報）から、当該測定端末２が通信を行ったパスの劣化値を算出する。
推定対象管理部１８は、劣化値推定部１４による処理の対象となる分岐ノードを示す推定対象情報をスタック部１９に追加し、またはスタック部１９から推定対象情報を取り出す。ここで、スタック部１９に情報を「追加する」とは、スタック部１９の末尾に情報を書き込むことを言い、スタック部１９から情報を「取り出す」とは、スタック部１９の末尾から情報を読み出し、当該情報をスタック部１９から削除することをいう。
【００２４】
図３は、推定劣化値テーブル生成部が生成する推定劣化値テーブルのデータ構成を示す図である。
推定劣化値テーブルは、エレメントＩＤと推定劣化値とを関連付けて格納するテーブルである。エレメントＩＤとは、各エレメントに付与された識別情報である。本実施形態では、エレメントＩＤとして数値を用いるが、エレメントを識別できる情報であれば他の値であっても良い。
また、推定劣化値テーブルには、左側測定端末と右側測定端末との接続関係を保持するようにエレメントＩＤが格納されている。
なお、図３に示す推定劣化値テーブルは、劣化検出部１１が検出した測定端末２の組が、エレメントＩＤが１〜１５のエレメント（以下、エレメント「１〜１５」と記載する）を介して接続されている場合の例である。
【００２５】
このような構成において、劣化箇所推定装置１の劣化検出部１１は、ネットワークの少なくとも１つのノードを介して互いに接続され、通信を行った際に通信の劣化が発生する測定端末２の組と当該劣化の度合いを示す劣化値とを検出する。次に、パス特定部１５は、エレメントそれぞれの接続関係を示すトポロジ情報と劣化検出部１１が検出した測定端末２の組とに基づいて、測定端末２の組を接続するパス全体を劣化箇所推定対象であるターゲット範囲として特定する。
【００２６】
そして、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内ノードの何れか１つを、前記ターゲット範囲を二分するノードである分岐ノードとして選択し、パス特定部１５は、分岐ノードに直接または１つ以上のノードを介して接続された、劣化検出部１１が検出した測定端末２の組の何れとも異なる測定端末２を１つ特定する。次に、測定指示実行部１６は、パス特定部１５が特定した測定端末２と劣化検出部１１が検出した測定端末２の組のそれぞれとの間の通信を指示する測定指示を、パス特定部１５が特定した測定端末２または劣化検出部１１が検出した測定端末２の組の何れかに出力する。
【００２７】
次に、ＩＰ品質算出部１７は、測定指示に従って実行された通信の結果情報である測定結果情報に基づいて、劣化検出部１１が検出した測定端末２の組の一方の測定端末２とパス特定部１５が特定した測定端末２とを接続するパスである第１のテストパスの劣化値を算出する。また、ＩＰ品質算出部１７は、同様に、劣化検出部１１が検出した測定端末２の組の他方の測定端末２とパス特定部１５が特定した測定端末２とを接続するパスである第２のテストパスの劣化値を算出する。
【００２８】
そして、劣化値推定部１４は、劣化検出部１１が検出した劣化値とＩＰ品質算出部１７が算出した第１のテストパス及び第２のテストパスの劣化値とに基づいてターゲット範囲内の各エレメントの劣化値を算出し、当該劣化値がゼロでないエレメントがターゲット範囲内における通信の劣化箇所であると推定する。また、推定対象管理部１８は、測定端末２の組を接続するパスを構成する全てのエレメントに対して劣化値が推定されたか否かを判定し、劣化値が推定されていないエレメントが存在すると判定した場合にターゲット範囲を変更し、劣化値推定部１４、パス特定部１５、測定指示実行部１６、及びＩＰ品質算出部１７による処理を繰り返し実行することを指示する。
これにより、特定のパスにおける劣化箇所推定を少ないステップ数で行うことができる。
【００２９】
次に、具体的な実施例を用いて本実施形態による劣化箇所推定装置１の処理を説明する。
最初に、以下の説明で用いる各用語の定義を述べる。
「左側測定端末」とは、劣化検出部１１が検出した測定端末２の組のうち一方の測定端末２を示す用語である。
「右側測定端末」とは、劣化検出部１１が検出した測定端末２の組のうち右側測定端末でない側の（他方の）測定端末２を示す用語である。
「左側のエレメント」とは、あるエレメントを基準として、左側測定端末に接続されている側のエレメントを示す用語である。
「右側のエレメント」とは、あるエレメントを基準として、右側測定端末に接続されている側のエレメントを示す用語である。
なお、本明細書中では、上述したように「左側」「右側」という文言を用いるが、これらは測定端末２の位置関係を限定するものではない。
【００３０】
「ターゲットパス」とは、上述したように、左側測定端末と右側測定端末とを接続するパスを示す用語である。
「ターゲット範囲」とは、上述したように、ターゲットパスのうちＩＰ品質が劣化しているエレメントが含まれると推定される範囲を示す用語であり、当該ターゲット範囲内のエレメントが、劣化値推定部１４による劣化箇所推定対象となる。
「分岐ノード」とは、上述したように、劣化値推定部１４が選択する、ターゲット範囲を二分するノードを示す用語である。
「分岐測定端末」とは、分岐ノードに直接または１つ以上のノードを介して接続された測定端末２を示す用語である。
【００３１】
図４は、用語の定義を示す図である。
「左テストパス（第１のテストパス）」とは、図４に示すように、分岐測定端末と左側測定端末とを接続するパスを示す用語である。
「右テストパス（第２のテストパス）」とは、図４に示すように、分岐測定端末と右側測定端末とを接続するパスを示す用語である。以下、左テストパス及び右テストパスを総称して「テストパス」と呼ぶ。
「左テストパスの辺」とは、図４に示すように、左テストパスとターゲットパスとの重複部分から分岐ノードを除いた部分を示す用語である。
「右テストパスの辺」とは、図４に示すように、右テストパスとターゲットパスとの重複部分から分岐ノードを除いた部分を示す用語である。
「左テストパスの足」とは、図４に示すように、左テストパスから左テストパスの辺及び分岐ノードを除いた部分を示す用語である。
「右テストパスの足」とは、図４に示すように、右テストパスから右テストパスの辺及び分岐ノードを除いた部分を示す用語である。なお、左テストパスの足及び右テストパスの足は同じ部分を示し、左テストパスと右テストパスとの重複部分から分岐ノードを除いた部分と同じである。
【００３２】
「ターゲット範囲の左テストパス（第１のターゲットテストパス）」とは、分岐測定端末からターゲット範囲の左側の端のエレメントまでのパスを示す用語である。
「ターゲット範囲の右テストパス（第２のターゲットテストパス）」とは、分岐測定端末からターゲット範囲の右側の端のエレメントまでのパスを示す用語である。
「ターゲット範囲の左テストパスの辺（第１のターゲットテストパスの辺）」とは、ターゲット範囲の左テストパスとターゲット範囲との重複部分から分岐ノードを除いた部分を示す用語である。
「ターゲット範囲の右テストパスの辺（第２のターゲットテストパスの辺）」とは、ターゲット範囲の右テストパスとターゲット範囲との重複部分から分岐ノードを除いた部分を示す用語である。
【００３３】
図５は、実施例で用いる図に示す図形及び数値の定義を示す図である。
以下の実施例では、図５（ａ）に示すような図を用いて説明を行う。なお、図５（ａ）は、ノード「１０」を分岐ノードとし、エレメント「９〜１１」をターゲット範囲としている状態を示している。また、リンク「１」に左側測定端末が接続され、リンク「１５」に右側測定端末が接続されているものとする。
ここで、以下の実施例で用いる図に示す図形及び数値の定義を説明する。
図５（ａ）に示す円は、ノードを表す図形である。なお、当該円内部に付された数値は、ノードのエレメントＩＤを示すものである。また、図５（ａ）でノード間を接続する線分は、リンクを表す図形である。なお、当該線分の下部に付された数値は、リンクのエレメントＩＤを示すものである。
【００３４】
次に、図５（ａ）でノード及びリンクを示す図の下方の線分に付される数値について説明する。
図５（ａ）において、当該線分の上部かつ分岐ノードを示す図形の下方に付された数値（ここでは２０）は、図５（ｂ）に示すように、ターゲット範囲の劣化値を示すものである。
また、図５（ａ）において、ノード「８」の下方に記載された矩形内に付された数値（ここでは２０）は、図５（ｂ）に示すように、ターゲット範囲の左側推定劣化合計値を示すものである。ここで、「左側推定劣化合計値」とは、ターゲットパスにおけるターゲット範囲より左側のエレメントの推定劣化値を合計した値を示す用語である。例えば、図５（ａ）では、ターゲット範囲がエレメント「９〜１１」であるため、左側推定劣化合計値は、エレメント「１〜８」の推定劣化値を合計した値となる。
また、図５（ａ）において、ノード及びリンクを示す図の下方の線分の下部、かつターゲット範囲の劣化値を示す値の左方、かつ記号「→」の左側に付された数値（ここでは２０）は、図５（ｂ）に示すように、左テストパスの劣化値の測定値を示すものである。
また、図５（ａ）において、ノード及びリンクを示す図の下方の線分の下部、かつターゲット範囲の劣化値を示す値の左方、かつ記号「→」の右側に付された数値（ここでは０）は、図５（ｂ）に示すように、ターゲット範囲内の左テストパスの劣化値の測定値を示すものである。
【００３５】
また、図５（ａ）において、ノード「１２」の下方に記載された矩形内に付された数値（ここでは１０）は、図５（ｂ）に示すように、ターゲット範囲の右側推定劣化合計値を示すものである。ここで、「右側推定劣化合計値」とは、ターゲットパスにおけるターゲット範囲より右側のエレメントの推定劣化値を合計した値を示す用語である。
また、図５（ａ）において、ノード及びリンクを示す図の下方の線分の下部、かつターゲット範囲の劣化値を示す値の右方、かつ記号「→」の左側に付された数値は、図５（ｂ）に示すように、右テストパスの劣化値の測定値を示すものである。
また、図５（ａ）において、ノード及びリンクを示す図の下方の線分の下部、かつターゲット範囲の劣化値を示す値の右方、かつ記号「→」の右側に付された数値は、図５（ｂ）に示すように、ターゲット範囲内の右テストパスの劣化値の測定値を示すものである。
【００３６】
なお、図５（ｃ）に示すように、ターゲット範囲内の左テストパスの劣化値Ｘ１は、左テストパスの劣化値Ｙ１からターゲット範囲の左側推定劣化合計値Ｚ１を減じた値と同値である。同様に、ターゲット範囲内の右テストパスの劣化値Ｘ２は、右テストパスの劣化値Ｙ２からターゲット範囲の右側推定劣化合計値Ｚ２を減じた値と同値である。
【００３７】
次に、本実施形態による処理の流れの概略を説明する。
図６は、本実施形態による処理の流れの概略を示す図である。
図７は、本実施形態による劣化箇所推定装置の動作を示すフローチャートである。
ここでは、図６（ａ）に示すように、左側測定端末と右側測定端末とを結ぶパスにおいて通信の劣化が発生し、当該パスがエレメント「１〜１５」で構成されている場合を例に、図７に示すフローチャートを用いて劣化箇所推定装置１の動作を説明する。
【００３８】
まず、劣化箇所推定装置１の劣化検出部１１は、通信の劣化が発生する測定端末２の組（左側測定端末及び右側測定端末）、及び当該左側測定端末と右側測定端末との間の通信における劣化値を検出する（ステップＳ１）。次に、パス特定部１５は、ネットワークトポロジ情報記憶装置１０からトポロジ情報を読み出し、当該トポロジ情報に基づいて、左側測定端末と右側測定端末との間のパスであるターゲットパスを特定する（ステップＳ２）。例えば、図６（ａ）に示す例の場合、パス特定部１５は、ターゲットパスとしてエレメント「１〜１５」を特定する。
【００３９】
パス特定部１５がターゲットパスを特定すると、推定劣化値テーブル生成部１２は、特定したターゲットパスを構成する各エレメントを要素とする推定劣化値テーブルを生成し、推定劣化値テーブル記憶部１３に記録する（ステップＳ３）。推定劣化値テーブル生成部１２が推定劣化値テーブルを生成すると、劣化値推定部１４は、分岐ノードをターゲットパスの中央に存在するノードに決定する（ステップＳ４）。つまり、図６（ａ）に示す例の場合、劣化値推定部１４は、ノード「８」を分岐ノードとして決定する。
【００４０】
次に、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルを参照し、決定した分岐ノードに個別に推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ５）。ここで、「推定劣化値を付与する」とは、エレメントの劣化値を推定し、推定した劣化値をエレメントに対応付けて推定劣化値テーブルに記録することを示す。なお、劣化値推定部１４は、複数のエレメントに跨った範囲における劣化値を推定した場合、複数のエレメントに包括して１つの推定劣化値を付与し、１つのエレメントの劣化値を推定した場合は、当該エレメントに個別に推定劣化値を付与する。
劣化値推定部１４が分岐ノードに個別に推定劣化値が付与されていないと判定した場合（ステップＳ５：ＮＯ）、パス特定部１５は、ネットワークトポロジ情報記憶装置１０が記憶するトポロジ情報に基づいて、ステップＳ４で決定した分岐ノードに接続する１つまたは複数の測定端末２から分岐測定端末を選択する（ステップＳ６）。
パス特定部１５が分岐測定端末を選択すると、測定指示実行部１６は、当該分岐測定端末に対して、左側測定端末及び右側測定端末との通信を行うことを指示する測定指示を送信する（ステップＳ７）。
【００４１】
分岐測定端末は、測定指示を受信すると、左側測定端末及び右側測定端末にパケットを送信し、左側測定端末へのパケットの送信時刻、及び右側測定端末へのパケットの送信時刻を含む測定結果情報を、劣化箇所推定装置１に送信する。また、左側測定端末及び右側測定端末は、分岐測定端末から送信されたパケットを受信し、当該パケットの受信時刻を含む測定結果情報をそれぞれ劣化箇所推定装置１に送信する。
【００４２】
分岐測定端末が測定結果情報を送信すると、ＩＰ品質算出部１７は、左側測定端末、右側測定端末、及び分岐測定端末から測定結果情報を受信する（ステップＳ８）。次に、ＩＰ品質算出部１７は、当該測定結果情報に基づいて左テストパス及び右テストパスの劣化値を算出する（ステップＳ９）。具体的には、ＩＰ品質算出部１７は、分岐測定端末から受信した測定結果情報及び左側測定端末から受信した測定結果情報のうち、当該測定結果情報に含まれる送信元アドレス、送信先アドレス、シーケンス番号が同じ測定結果情報の対を取得し、各測定結果情報に含まれるパケットの送受信時刻の差の時間によって、左テストパスの劣化値を算出する。同様に、ＩＰ品質算出部１７は、分岐測定端末から受信した測定結果情報及び右側測定端末から受信した測定結果情報のうち、送信元アドレス、送信先アドレス、シーケンス番号が同じ測定結果情報の対の送受信時刻の差の時間によって、右テストパスの劣化値を算出する。
【００４３】
ステップＳ５で劣化値推定部１４が分岐ノードに個別に推定劣化値が付与されていると判定した場合（ステップＳ５：ＹＥＳ）、またはステップＳ９でＩＰ品質算出部１７が左テストパス及び右テストパスの劣化値を算出した場合、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルを参照し、ターゲット範囲を決定する（ステップＳ１０）。
【００４４】
ターゲット範囲の決定は、以下のように行う。
まず、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて、分岐ノードより左側のノードであり、かつ個別に推定劣化値が付与されているノードのエレメントＩＤを検索する。該当するエレメントＩＤを検出した場合、当該エレメントＩＤが示すノードの１つ右側のエレメントをターゲット範囲の左端とする。検出しなかった場合、推定劣化値テーブルの左端のエレメントをターゲット範囲の左端とする。
同様に、劣化値推定部１４は、分岐ノードより右側のノードのエレメントＩＤを検索し、同様の方法により、ターゲット範囲の右端を決定する。
【００４５】
つまり、図６（ａ）に示す例において、分岐ノード「８」より左側のノードで、かつ個別に推定劣化値が付与されているノードのエレメントＩＤが「４」であり、また、分岐ノード「８」より右側のノードで、かつ個別に推定劣化値が付与されているノードのエレメントＩＤが「１０」であった場合、図６（ｂ）に示すように、劣化値推定部１４は、エレメント「５〜９」の範囲をターゲット範囲として決定する。
【００４６】
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０でターゲット範囲を決定すると、ステップＳ９で算出した左テストパス及び右テストパスの劣化値と、推定劣化値テーブル記憶部１３の推定劣化値テーブルに格納されている推定劣化値とに基づいて、ターゲット範囲の劣化値、左側推定劣化合計値、右側推定劣化合計値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値を算出する（ステップＳ１１）。
【００４７】
以下に、ターゲット範囲の劣化値、左側推定劣化合計値、右側推定劣化合計値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値の算出方法を説明する。
まず、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブルにおけるターゲット範囲内の推定劣化値の合計をターゲット範囲の劣化値として算出する。図６（ｂ）に示す例では、エレメント「５〜９」に付与された推定劣化値の合計をターゲット範囲の劣化値とする。なお、初期状態では、テーブル内に推定劣化値が記録されていないため、劣化検出部１１が検出した劣化値、すなわちターゲットパスの劣化値をターゲット範囲の劣化値とする。
【００４８】
次に、劣化値推定部１４は、左側推定劣化合計値と右側推定劣化合計値とを算出する。
劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブルにおいて、ターゲットパスにおけるターゲット範囲より左側のエレメントに付与された推定劣化値を合計した値を算出し、左側推定劣化合計値とする。図６（ｂ）に示す例では、エレメント「１〜４」の範囲に付与された推定劣化値の合計をターゲット範囲の左側推定劣化合計値とする。
同様に、ターゲットパスにおけるターゲット範囲より右側のエレメントに付与された推定劣化値を合計した値を算出し、右側推定劣化合計値とする。図６（ｂ）に示す例では、エレメント「１０〜１５」の範囲に付与された推定劣化値の合計をターゲット範囲の右側推定劣化合計値とする。
なお、ターゲット範囲の左端と推定劣化値テーブルの左端とが一致している場合、すなわち、個別に推定劣化値が付与されているノードが分岐ノードより左側に存在しない場合、左側推定劣化合計値を「０」とする。右側推定劣化合計値も同様に算出する。
【００４９】
以下に、ターゲット範囲の決定方法、並びに、ターゲット範囲内の推定劣化値、左側推定劣化合計値、及び右側推定劣化合計値の算出方法の具体例を示す。
図８は、ターゲット範囲の決定方法の例を示す図である。
まず、推定劣化値テーブルに、図８（ａ）に示すような推定劣化値が記録されている場合において、分岐ノードが「６」であるときを例に説明する。
図８（ａ）に示すように、分岐ノード「６」の右側において個別に推定劣化値が付与されているノードはノード「８」である。一方、左側はノード「４」である。つまり、図８（ｂ）に示すように、分岐ノードを「６」としたときのターゲット範囲は、エレメント「５〜７」の範囲であり、ターゲット範囲の劣化値は「２０」となる。
また、エレメント「５」より左側のエレメントに付与された推定劣化値の合計は「３０（＝１０＋０＋０＋２０）」であることから、左側推定劣化合計値は「３０」となる。また、同様に右側推定劣化合計値はエレメント「７」より右側のエレメントに付与された推定劣化値の合計「４０（＝０＋４０）」となる。
【００５０】
次に、分岐ノードが「１２」であるときを例に説明する。
図８（ｃ）に示すように、分岐ノード「１２」の右側において個別に推定劣化値が付与されているノードはない。一方、左側はノード「８」である。つまり、図８（ｃ）に示すように、分岐ノードを「１２」としたときのターゲット範囲は、エレメント「９〜１５」の範囲であり、ターゲット範囲の劣化値は「４０」となる。
また、エレメント「９」より左側のエレメントに付与された推定劣化値の合計は「５０（＝１０＋０＋０＋２０＋２０＋０）」であることから、左側推定劣化合計値は「５０」となる。また、ターゲット範囲の右端と推定劣化値テーブルの右端とが一致しているため、右側推定劣化合計値は「０」となる。
【００５１】
劣化値推定部１４は、上述した処理により、ターゲット範囲の劣化値、左側推定劣化合計値、及び右側推定劣化合計値を算出すると、ステップＳ９で算出した左テストパスの劣化値からターゲット範囲の左側推定劣化合計値を減算することで、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値を算出する。同様に、劣化値推定部１４は、測定結果情報から算出された右テストパスの劣化値からターゲット範囲の右側推定劣化合計値を減算することで、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値を算出する。
【００５２】
以下に、ターゲット範囲内における左／右テストパスの劣化値の算出方法の具体例を示す。
図９は、ターゲット範囲内における左／右テストパスの劣化値の算出方法の例を示す図である。
まず、推定劣化値テーブルに図９（ａ）に示すような推定劣化値が記録されている場合において、分岐ノードが「６」であるときを例に説明する。
この場合、図９（ｂ）のエレメント「１〜４」の上方の鎖線に付された数値に示すように左側推定劣化合計値は「４０」となり、エレメント「８〜１５」の上方の鎖線に付された数値に示すように右側推定劣化合計値は「４０」となる。このとき、測定結果情報から、エレメント「１〜６」の下方の鎖線に付された数値に示すように左テストパスの劣化値として「４０」が算出された場合、図９（ｃ）のエレメント「５、６」の下方の一点鎖線に付された数値に示すように、「左テストパスの劣化値「４０」−左側推定劣化合計値「４０」」の減算処理により得られた結果「０」がターゲット範囲内における左テストパスの劣化値となる。
同様に、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値は、図９（ｃ）のエレメント「６、７」の下方の鎖線に付された数値に示すように、「２０（＝右テストパスの劣化値（測定値）「６０」−右側推定劣化合計値「４０」）」となる。
【００５３】
上述した処理により、図７に示すフローチャートのステップＳ１１で、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲の劣化値、左側推定劣化合計値、右側推定劣化合計値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値を算出する。
次に、劣化値推定部１４は、内部メモリに記憶する逆側検証状態フラグが論理「ＯＮ」を示しているか否かを判定する（ステップＳ１２）。逆側検証状態フラグとは、分岐ノードの両側のリンクの劣化値を推定する処理を実行するか否かを示すフラグである。なお、劣化値推定部１４は、分岐ノードの両側のリンクの劣化値を推定することで、テストパスの足に劣化が存在しているか否かを検証する。
【００５４】
劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定した場合（ステップＳ１２：ＮＯ）、エレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。エレメントの劣化値特定の詳細については、後述する実施例で説明する。なお、当該エレメントの劣化値特定処理を実行することで、推定対象管理部１８は、スタック部１９に次の処理対象となる分岐ノードを示す推定対象情報を追加することとなる。つまり、スタック部１９に１つ以上の推定対象情報が記録されているということは、劣化値推定部１４によって劣化値が推定されていないエレメントが存在するということを示す。
【００５５】
他方、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＮ」であると判定した場合（ステップＳ１２：ＹＥＳ）、再検証処理を実行する（ステップＳ１４）。再検証処理の詳細については、後述する実施例で説明する。なお、再検証処理とは、分岐ノードの両側のリンクの劣化値を推定し、当該処理の実行結果に基づいて劣化値の推定を再度行い、劣化箇所及び劣化値を推定し直す処理のことである。
【００５６】
ステップＳ１３、またはステップＳ１４の処理を終了すると、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定した場合（ステップＳ１５：ＮＯ）、スタック部１９から次の処理対象となる分岐ノードを示す推定対象情報を取り出し（ステップＳ１６）、ステップＳ５以降の処理を繰り返す。
他方、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であると判定した場合（ステップＳ１５：ＹＥＳ）、処理を終了する。なお、このとき推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて「０」でない推定劣化値が付与されたエレメントが、劣化箇所として推定されたエレメントとなる。
【００５７】
〈第１の処理例〉
以下、図面を参照しながら本発明の第１の処理例について詳しく説明する。
図１０は、第１の処理例におけるネットワークの劣化箇所を示す図である。
図１１は、第１の処理例による処理の経過を示す第１の図である。
ここで、図１０に示される鉤括弧内の数値は、当該数値の下方の図形が示すエレメントの劣化値を示すものである。
第１の処理例では、ターゲットパスがノード「２、４、６、８、１０、１２、１４」とリンク「１、３、５、７、９、１１、１３、１５」とによって構成されている。そして、ノード「４」の劣化値は「１０」であり、ノード「８」の劣化値は「１０」であり、リンク「１１」の劣化値は「２０」であり、リンク「１５」の劣化値は「１０」である。つまり、左側測定端末と右側測定端末との間で通信を行った場合、図１１（ａ）に示すように、劣化値「５０」が検出される。
【００５８】
以下、図７に示すフローチャートを参照しながら、本発明の第１の処理例における動作を説明する。
［初回実行時］
まず、劣化箇所推定装置１は、管理者からの入力情報から、左側測定端末及び右側測定端末、及び当該左側測定端末と右側測定端末との間の通信における劣化値「５０」を検出する（ステップＳ１）。次に、パス特定部１５は、ネットワークトポロジ情報記憶装置１０からトポロジ情報を読み出し、当該トポロジ情報に基づいて、ターゲットパスとしてエレメント「１〜１５」を特定する（ステップＳ２）。
【００５９】
パス特定部１５がターゲットパスを特定すると、推定劣化値テーブル生成部１２は、特定したターゲットパスを構成する各エレメントを要素とする推定劣化値テーブルを生成し、推定劣化値テーブル記憶部１３に記録する（ステップＳ３）。推定劣化値テーブル生成部１２が推定劣化値テーブルを生成すると、劣化値推定部１４は、分岐ノードをターゲットパスの中央に存在するノード「８」に決定する（ステップＳ４）。
【００６０】
次に、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルを参照し、分岐ノード「８」に個別に推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ５）。分岐ノード「８」には推定劣化値が付与されていないため、劣化値推定部１４は分岐ノードに個別に推定劣化値が付与されていないと判定し（ステップＳ５：ＮＯ）、パス特定部１５は、ネットワークトポロジ情報記憶装置１０が記憶するトポロジ情報に基づいて、ステップＳ４で決定した分岐ノードに接続する１つまたは複数の測定端末２から分岐測定端末を選択する（ステップＳ６）。
パス特定部１５が分岐測定端末を選択すると、測定指示実行部１６は、当該分岐測定端末に対して、左側測定端末及び右側測定端末との通信を行うことを指示する測定指示を送信する（ステップＳ７）。
【００６１】
分岐測定端末と左側測定端末及び右側測定端末間での測定が完了すると、ＩＰ品質算出部１７は、左側測定端末、右側測定端末、及び分岐測定端末から測定結果情報を受信する（ステップＳ８）。次に、ＩＰ品質算出部１７は、図１１（ｂ）に示すように、当該測定結果情報に基づいて左テストパスの劣化値「２０」、及び右テストパスの劣化値「４０」を算出する（ステップＳ９）。
【００６２】
次に、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルを参照し、ターゲット範囲を決定する（ステップＳ１０）。推定劣化値テーブルには推定劣化値が付与されていないため、個別に推定劣化値が付与されているノードは検出されない。したがって、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブルの左端のエレメントであるリンク「１」をターゲット範囲の左端とする。同様に、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブルの右端のエレメントであるリンク「１５」をターゲット範囲の右端とする。つまり、ターゲット範囲はエレメント「１〜１５」の範囲となる。
【００６３】
次に、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲の劣化値、左側推定劣化合計値、右側推定劣化合計値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値を算出する（ステップＳ１１）。まず、推定劣化値テーブルは初期状態であるため、劣化値推定部１４は、劣化検出部１１が検出した劣化値「５０」をターゲット範囲の劣化値とする。また、ターゲット範囲の左端のエレメント「１」と推定劣化値テーブルの左端のエレメント「１」とが一致し、ターゲット範囲の右端のエレメント「１５」と推定劣化値テーブルの右端のエレメント「１５」とが一致しているため、図１１（ｃ）に示すように、ターゲット範囲の左側推定劣化合計値及び右側推定劣化合計値は「０」となる。
【００６４】
次に、劣化値推定部１４は、左テストパスの劣化値「２０」からターゲット範囲の左側推定劣化合計値「０」を減算することで、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「２０」を算出する。同様に、劣化値推定部１４は、測定結果情報から算出された右テストパスの劣化値「４０」からターゲット範囲の右側推定劣化合計値「０」を減算することで、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「４０」を算出する。
【００６５】
劣化値推定部１４は、ステップＳ１１によってターゲット範囲の劣化値、左側推定劣化合計値、右側推定劣化合計値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値を算出すると、内部メモリに記憶する逆側検証状態フラグが論理「ＯＮ」を示しているか否かを判定する（ステップＳ１２）。初期状態では逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、エレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
【００６６】
図１２は、劣化箇所推定装置によるエレメントの劣化値特定処理を示すフローチャートである。
劣化値推定部１４は、ステップＳ１２でエレメントの劣化値特定処理を開始すると、まず、辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）。「辺値算出処理」とは、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値を比較し、分岐ノードの劣化値、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の劣化値、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の劣化値を算出する処理である。
【００６７】
図１３は、劣化箇所推定装置による辺値算出処理を示すフローチャートである。
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０１で辺値算出処理を実行すると、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値において、「和の性質」が成立するか否かを判定する（ステップＳ２０１）。
「和の性質」が成立するとは、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値、ターゲット範囲の劣化値の何れか２つの劣化値を加算した値が他方の劣化値と等しくなることをいう。
【００６８】
図１４は、「和の性質」が成立することの具体例を示す図である。
図１４（ａ）、図１４（ｂ）に示すように、劣化値が「α」であるパス１（ターゲット範囲）、劣化値が「β」であるパス２（左テストパス）、劣化値が「γ」であるパス３（右テストパス）があった場合、「和の性質」が成立するとは、「α＝β＋γが成立する」または「β＝α＋γが成立する」または「γ＝α＋βが成立する」の何れか１つの条件を満たすことを指す。
【００６９】
第１の処理例では、ターゲット範囲の劣化値が「５０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「２０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「４０」であるため、「和の性質」が成立しない。劣化値推定部１４は、ステップＳ２０１で「和の性質」が成立しないと判定すると（ステップＳ２０１：ＮＯ）、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が全て等しいか否かを判定する（ステップＳ２０３）。
【００７０】
第１の処理例では、ターゲット範囲の劣化値が「５０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「２０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「４０」であるため、各劣化値は等しくない。劣化値推定部１４は、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が等しくないと判定すると（ステップＳ２０３：ＮＯ）、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値Ｘ、分岐ノードの推定劣化値Ｙ、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値Ｚを、式（１）〜式（３）を用いて算出する（ステップＳ２０４）。
【００７１】
【数１】
2011087197.tif 000003
【００７２】
【数２】
2011087197.tif 000004
【００７３】
【数３】
2011087197.tif 000005
【００７４】
但し、αはターゲット範囲の劣化値を示す。また、βはターゲット範囲内の左テストパスの劣化値を示す。また、γはターゲット範囲内の右テストパスの劣化値を示す。
【００７５】
図１５は、第１の処理例による処理の経過を示す第２の図である。
第１の処理例では、図１５（ａ）のエレメント「１〜１５」の上方の線分に付された数値に示すように、ターゲット範囲の劣化値α＝５０であり、エレメント「１〜８」の下方の線分に付された数値に示すように、ターゲット範囲内の左テストパスの劣化値β＝２０であり、エレメント「８〜１５」の下方の線分に付された数値に示すように、ターゲット範囲内の右テストパスの劣化値γ＝４０である。そのため、ステップＳ２０４で劣化値推定部１４は、式（１）〜式（３）から、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、すなわちエレメント「１〜７」の範囲の推定劣化値「１０」、分岐ノード「８」の推定劣化値「１０」、ターゲット範囲内における右テストパスの辺、すなわちエレメント「９〜１５」の範囲の推定劣化値「３０」を算出する。
そして、劣化値推定部１４は、図１５（ｂ）に示すように、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルに算出した推定劣化値を格納する。
【００７６】
ここで、和の性質が成立せず、かつそれぞれの劣化値が等しくない場合に式（１）〜式（３）を用いて推定劣化値を算出する理由を説明する。
図１６は、和の性質が成立せず、かつそれぞれの劣化値が等しくない例を示す図である。
図１６（ａ）に示すように、リンク「３」に劣化値「４０」、リンク「１１」に劣化値「１０」、ノード「８」の足に劣化値「３０」が存在する場合を例に説明する。
ここで、ノード「８」を分岐ノードとし、ターゲット範囲を「１〜１５」とした場合、ターゲット範囲の劣化値は「４０＋１０＝５０」、ターゲット範囲内の左テストパスの劣化値は「４０＋３０＝７０」、ターゲット範囲内の右テストパスの劣化値は「３０＋１０＝４０」となり、和の性質が成立せず、かつそれぞれの劣化値が等しくない状態となる。
このとき、図１６（ｂ）に示すようにターゲット範囲の劣化値をα、ターゲット範囲内の左テストパスの劣化値をβ、ターゲット範囲内の右テストパスの劣化値をγ、テストパスの足の劣化値をＬ２とおくと、分岐ノードの劣化値Ｎ、左テストパスの辺の劣化値Ｌ１、右テストパスの辺の劣化値Ｌ３は、式（４）〜式（６）から導出できる。
【００７７】
【数４】
2011087197.tif 000006
【００７８】
【数５】
2011087197.tif 000007
【００７９】
【数６】
2011087197.tif 000008
【００８０】
しかし、テストパスの足の劣化値Ｌ２を特定することができないため、式（４）〜式（６）を用いても劣化値を算出することができない。そのため、劣化値推定部１４は、テストパスの足の劣化値Ｌ２を「０」と仮定して左テストパスの辺の推定劣化値、分岐ノードの推定劣化値、右テストパスの辺の推定劣化値の算出を行う。したがって、左テストパスの辺の推定劣化値Ｘ、分岐ノードの推定劣化値Ｙ、右テストパスの辺の推定劣化値Ｚは、式（１）〜式（３）を用いて算出される。
【００８１】
したがって、図１６（ｂ）の例では、図１６（ｃ）に示すように分岐ノードの推定劣化値として「６０」、左テストパスの辺の推定劣化値として「１０」、右テストパスの辺の推定劣化値として「−２０」が算出される。
なお、左／右テストパスの辺の何れかの推定劣化値が負値となる場合は、テストパスの足に劣化が存在する。テストパスの足に存在する劣化の検証は、図７に示すメインルーチンのステップＳ１４による再検証処理で行われる。なお、再検証処理の詳細は後述する。
【００８２】
図１３に示す辺値算出処理のステップＳ２０４で劣化値推定部１４がターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値、分岐ノードの推定劣化値、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値を算出すると、劣化値推定部１４は、辺値算出処理を終了する。この際、劣化値推定部１４は、内部メモリに、辺値算出処理の結果を示す戻り値として、「状態３」という情報を記録しておく。
【００８３】
劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理におけるステップＳ１０１による辺値算出処理を終了すると、内部メモリに記録した辺値算出処理の戻り値が何を示すかを判定する（ステップＳ１０２）。ここでは、戻り値が「状態３」を示すため、劣化値推定部１４は、戻り値が「状態３」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態３）、分析処理３を実行する（ステップＳ１０５）。ここで、「分析処理３」とは、「和の性質」が成立せず、３つの劣化値が等しくない際のターゲット範囲内におけるテストパスの辺の分析方法を決定する処理である。
【００８４】
図１７は、劣化箇所推定装置による分析処理３の動作を示すフローチャートである。
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０５で分析処理３を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺の何れか一方を選択する（ステップＳ３０１）。ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の何れを選択するかは、以下の手順によって決定する。
ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値の何れか一方が正値である場合、劣化値推定部１４は、推定劣化値が正値となっている側の辺を選択する。但し、どちらも正値である場合は、ランダムにどちらかを選択する。
ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値が何れも正値でない場合において、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値の何れか一方が「０」である場合、劣化値推定部１４は、推定劣化値が「０」となっている側の辺を選択する。但し、どちらも「０」である場合は、ランダムにどちらかを選択する。
ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値が何れも負値である場合、劣化値推定部１４は、ランダムにどちらかを選択する。
【００８５】
第１の処理例では、図１５（ｂ）に示すように、ターゲット範囲内におけるテストパスの辺の推定劣化値がどちらも正数であるため、劣化値推定部１４は、ランダムに選択を行う。ここでは、ターゲット範囲内における左テストパスの辺を選択したものとする。
ステップＳ３０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、辺処理２を実行する（ステップＳ３０２）。「辺処理２」とは、「和の性質」が成立せず、３つの劣化値が等しくない際に、選択された辺に対して処理を行う処理である。
【００８６】
図１８は、劣化箇所推定装置による辺処理２の動作を示すフローチャートである。
劣化値推定部１４は、ステップＳ３０２で辺処理２を実行すると、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺の推定劣化値が、正数であるか、「０」であるか、負数であるかを判定する（ステップＳ４０１）。
第１の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺は「１０」であるため、劣化値推定部１４は、推定劣化値が正数であると判定する（ステップＳ４０１：＞０）。劣化値推定部１４は、推定劣化値が正数であると判定すると、辺判定処理を実行する（ステップＳ４０８）。「辺判定処理」とは、ターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの数を確認し、その辺の更なる分析が必要か否かを判定する処理である。
【００８７】
図１９は、劣化箇所推定装置による辺判定処理の動作を示すフローチャートである。
劣化値推定部１４は、ステップＳ４０８で辺判定処理を実行すると、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの数が１つであるか、２つ以上であるかを判定する（ステップＳ５０１）。
第１の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺はエレメント「１〜７」で構成されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの数が２つ以上であると判定する（ステップＳ５０１：２つ以上）。
【００８８】
劣化値推定部１４は、エレメントの数が２つ以上であると判定すると、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺の推定劣化値が「０」であるか否かを判定する（ステップＳ５０３）。
第１の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値は「１０」であるため、劣化値推定部１４は、推定劣化値が「０」でないと判定する（ステップＳ５０３：ＮＯ）。
劣化値推定部１４が、推定劣化値が「０」でないと判定すると、推定対象管理部１８は、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺の中央のノードを示す情報（ここではノード「４」）を、推定対象情報としてスタック部１９に追加する（ステップＳ５０５）。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「４」のみである。
推定対象管理部１８が、推定対象情報をスタック部１９に追加すると、劣化値推定部１４は、辺判定処理を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１８に示す辺処理２のステップＳ４０８による辺判定処理を終了すると、辺処理２を終了する。
【００８９】
なお、ステップＳ４０１で劣化値推定部１４が、推定劣化値が「０」であると判定した場合（ステップＳ４０１：＝０）、劣化値推定部１４は、選択されたターゲット範囲内におけるテストパスの辺に属するエレメントを抽出し、推定劣化値テーブルにおける該当箇所に「０」を付与し（ステップＳ４０２）、辺処理２を終了する。
【００９０】
劣化値推定部１４は、図１７に示す分析処理３のステップＳ３０２による辺処理２を終了すると、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ３０３）。
第１の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値として、包括して「３０」が付与されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定する（ステップＳ３０３：ＮＯ）。
【００９１】
劣化値推定部１４が、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定すると、当該選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択する（ステップＳ３０４）。そして、劣化値推定部１４は、辺処理２を実行する（ステップＳ３０５）。第１の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値が正数であるため、劣化値推定部１４は、ステップＳ３０２と同様の処理を実行し、推定対象管理部１８がスタック部１９にノード「１２」を追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１２」となる。
劣化値推定部１４は、図１７に示す分析処理３のステップＳ３０５による辺処理２を終了すると、分析処理３を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理のステップＳ１０５による分析処理３を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。
【００９２】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。スタック部１９は、追加した順番に、「４」「１２」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報を取り出す（ステップＳ１６）。第１の処理例では、推定対象管理部１８は、最後に追加した推定対象情報「１２」を取り出す。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「４」のみとなる。推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報を取り出すと、劣化箇所推定装置１は、当該取り出した推定対象情報を分岐ノードとし、ステップＳ５以降の処理を繰り返す。
【００９３】
［ループ１回目］
図２０は、第１の処理例による処理の経過を示す第３の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「１２」を取り出したため、図２０（ａ）に示すように、ノード「１２」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ９の処理を実行する。その結果、ＩＰ品質算出部１７は、図２０（ｂ）に示すように、左テストパスの劣化値「４０」、及び右テストパスの劣化値「１０」を算出する。
【００９４】
次に、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルを参照し、ターゲット範囲を決定する（ステップＳ１０）。このとき、分岐ノードより左側のノードであり、かつ個別に推定劣化値が付与されているノードは、ノード「８」である。他方、分岐ノードより右側のノードであり、かつ個別に推定劣化値が付与されているノードはない。したがって、ターゲット範囲はエレメント「９〜１５」の範囲となる。
【００９５】
次に、劣化値推定部１４は、図２０（ｃ）に示すように、ターゲット範囲の劣化値、左側推定劣化合計値、右側推定劣化合計値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値を算出する（ステップＳ１１）。つまり、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲の劣化値「３０」、左側推定劣化合計値「２０」、右側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「２０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「１０」を算出する。
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
【００９６】
エレメントの劣化値特定処理を実行すると、劣化値推定部１４は、図１３に示す辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）
ここでは、ターゲット範囲の劣化値が「３０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「２０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「１０」であるため、「和の性質」が成立する。劣化値推定部１４は、ステップＳ２０１で「和の性質」が成立すると判定すると（ステップＳ２０１：ＹＥＳ）、推定劣化値テーブルに対し、分岐ノードに「０」を、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値、及びターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値をそれぞれ付与する処理を行う（ステップＳ２０２）。
【００９７】
ここで、「和の性質」が成立する場合の推定劣化値の付与方法を説明する。
ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値とターゲット範囲内における右テストパスの劣化値とを加算した値がターゲット範囲の劣化値と等しくなる場合、劣化値推定部１４は、分岐ノードに推定劣化値「０」を付与し、ターゲット範囲内における左テストパスの辺にターゲット範囲内における左テストパスの劣化値と同じ値の推定劣化値を付与し、ターゲット範囲内における右テストパスの辺にターゲット範囲内における右テストパスの劣化値と同じ値の推定劣化値を付与する。
また、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値とターゲット範囲の劣化値とを加算した値が、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値と等しくなる場合、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における右テストパスの辺にターゲット範囲の劣化値と同じ値の推定劣化値を付与し、ターゲット範囲内における左テストパスの辺及び分岐ノードに劣化値「０」を付与する。
また、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値とターゲット範囲の劣化値とを加算した値が、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値と等しくなる場合、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左テストパスの辺にターゲット範囲の劣化値と同じ値の推定劣化値を付与し、ターゲット範囲内における右テストパスの辺及び分岐ノードに劣化値「０」を付与する。
【００９８】
以下に、上述したような推定劣化値の付与を行う理由を説明する。
図２１は、「和の性質」が成立する場合におけるターゲット範囲内の劣化値を示す第１の図である。
図２１（ａ）によると、分岐ノード「８」において、ターゲット範囲の劣化値が「１００」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値が「４０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値が「６０」となっている。このとき、「１００＝４０＋６０」と和の性質が成立する。
この場合は必ず、図２１（ｂ）に示すように、分岐ノードの劣化値が「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の劣化値が「４０」、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の劣化値が「６０」、テストパスの足の劣化値が「０」となる。
したがって、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値とターゲット範囲内における右テストパスの劣化値とを加算した値がターゲット範囲の劣化値と等しくなる場合、分岐ノードおよびテストパスの足には劣化が無いと判定できる。
そのため、図２１（ｃ）に示すように、推定劣化値「０」を分岐ノードに付与し、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「４０」をターゲット範囲内における左テストパスの辺に属するエレメントの範囲の推定劣化値として付与し、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「６０」をターゲット範囲内における右テストパスの辺に属するエレメントの範囲の推定劣化値として付与する。
【００９９】
図２２は、「和の性質」が成立する場合におけるターゲット範囲内の劣化値を示す第２の図である。
図２２（ａ）によると、分岐ノード「８」において、ターゲット範囲の劣化値が「６０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値が「４０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値が「１００」となっている。このとき、「１００＝４０＋６０」と和の性質が成立する。
この場合は必ず、図２２（ｂ）に示すように、分岐ノードの劣化値が「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の劣化値が「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の劣化値が「６０」、テストパスの足の劣化値が「４０」となる。
したがって、ターゲット範囲の劣化値とターゲット範囲内における左テストパスの劣化値とを加算した値がターゲット範囲内における右テストパスの劣化値と等しくなる場合、分岐ノードおよびターゲット範囲内における左テストパスには劣化が無いと判定できる。
そのため、図２２（ｃ）に示すように、推定劣化値「０」を分岐ノード及びターゲット範囲内における左テストパスの辺に属するエレメントの範囲に付与し、ターゲット範囲の劣化値「６０」をターゲット範囲内における右テストパスの辺に属するエレメントの範囲の推定劣化値として付与する。
【０１００】
同様に、ターゲット範囲の劣化値とターゲット範囲内における右テストパスの劣化値とを加算した値がターゲット範囲内における左テストパスの劣化値と等しくなる場合、分岐ノードおよびターゲット範囲内における右テストパスには劣化が無いと判定できる。
【０１０１】
第１の処理例では、ターゲット範囲の劣化値が「３０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「２０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「１０」であるため、図２０（ｄ）に示すように、劣化値推定部１４は、分岐ノード「１２」に推定劣化値「０」を、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、すなわちエレメント「９〜１１」の範囲に推定劣化値「２０」を、ターゲット範囲内における右テストパスの辺、すなわちエレメント「１３〜１５」の範囲に推定劣化値「１０」を付与する。
【０１０２】
図１３に示す辺値算出処理のステップＳ２０２で劣化値推定部１４がターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値、分岐ノードの推定劣化値、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値を付与すると、劣化値推定部１４は、辺値算出処理を終了する。この際、劣化値推定部１４は、内部メモリに、辺値算出処理の結果を示す戻り値として、「状態１」という情報を記録しておく。
【０１０３】
劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理におけるステップＳ１０１による辺値算出処理を終了すると、内部メモリに記録した辺値算出処理の戻り値が何を示すかを判定する（ステップＳ１０２）。ここでは、戻り値が「状態１」を示すため、劣化値推定部１４は、戻り値が「状態１」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態１）、分析処理１を実行する（ステップＳ１０３）。ここで、「分析処理１」とは、「和の性質」が成立する際のターゲット範囲内におけるテストパスの辺の分析方法を決定する処理である。
【０１０４】
図２３は、劣化箇所推定装置による分析処理１の動作を示すフローチャートである。
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０３で分析処理１を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺の何れか一方を選択する（ステップＳ６０１）。ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の何れを選択するかは、以下の手順によって決定する。
ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値の何れか一方が「０」である場合、劣化値推定部１４は、推定劣化値が「０」となっている側の辺を選択する。但し、どちらも「０」である場合は、ランダムにどちらかを選択する。
ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値が何れも「０」でない場合において、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値の何れか一方が正値である場合、劣化値推定部１４は、推定劣化値が正値となっている側の辺を選択する。但し、どちらも正値である場合は、ランダムにどちらかを選択する。
ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値が何れも負値である場合、劣化値推定部１４は、ランダムにどちらかを選択する。
【０１０５】
第１の処理例では、図２０（ｄ）に示すように、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値がどちらも正数であるため、劣化値推定部１４は、ランダムに選択を行う。ここでは、ターゲット範囲内における左テストパスの辺を選択したものとする。
ステップＳ６０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、辺処理１を実行する（ステップＳ６０２）。「辺処理１」とは、「和の性質」が成立する際に、選択された辺に対して行う処理である。
【０１０６】
図２４は、劣化箇所推定装置による辺処理１の動作を示すフローチャートである。
劣化値推定部１４は、ステップＳ６０２で辺処理１を実行すると、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺の推定劣化値が、正数であるか、「０」であるか、負数であるかを判定する（ステップＳ７０１）。
第１の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺は「２０」であるため、劣化値推定部１４は、推定劣化値が正数であると判定する（ステップＳ７０１：＞０）。劣化値推定部１４は、推定劣化値が正数であると判定すると、図１９に示す辺判定処理を実行する（ステップＳ７０３）。ここでは、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺のエレメントの数が２つ以上であり、推定劣化値が「０」でないため、［初回実行時］と同様に、推定対象管理部１８は、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺の中央のノード「１０」を、推定対象情報としてスタック部１９に追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１０」となる。
劣化値推定部１４は、ステップＳ７０３による辺判定処理を終了すると、辺処理１を終了する。
【０１０７】
劣化値推定部１４は、図２３に示す分析処理１のステップＳ６０２による辺処理１を終了すると、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて、ステップＳ６０１で選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ６０３）。
第１の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値として、包括して「１０」が付与されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定する（ステップＳ６０３：ＮＯ）。
【０１０８】
劣化値推定部１４が、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定すると、当該選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択する（ステップＳ６０４）。そして、劣化値推定部１４は、辺処理１を実行する（ステップＳ６０５）。第１の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値が正数であるため、劣化値推定部１４は、ステップＳ６０２と同様の処理により、推定対象管理部１８がスタック部１９にノード「１４」を追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１０」「１４」となる。
劣化値推定部１４は、ステップＳ６０５による辺処理１を終了すると、分析処理１を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理のステップＳ１０３による分析処理１を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。
【０１０９】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、追加した順番に、「４」「１０」「１４」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「１４」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１０」となる。
【０１１０】
［ループ２回目］
図２５は、第１の処理例による処理の経過を示す第４の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ１回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「１４」を取り出したため、ノード「１４」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図２５（ａ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１３〜１５」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「４０」、及び右テストパスの劣化値「１０」、ターゲット範囲の劣化値「１０」、左側推定劣化合計値「４０」、右側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「１０」を算出する。
【０１１１】
次に、劣化値推定部１４は、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
エレメントの劣化値特定処理を実行すると、劣化値推定部１４は、図１３に示す辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）。
第１の処理例では、図２５（ａ）に示すように、ターゲット範囲の劣化値が「１０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「１０」であるため、「和の性質」が成立する。劣化値推定部１４は、ステップＳ２０１で「和の性質」が成立すると判定すると（ステップＳ２０１：ＹＥＳ）、図２５（ｂ）に示すように、劣化値推定部１４は、エレメント「１３、１４」のそれぞれに推定劣化値「０」を、エレメント「１５」に推定劣化値「１０」を付与する（ステップＳ２０２）。そして、劣化値推定部１４は、内部メモリに、戻り値「状態１」を記録し、辺値算出処理を終了する。
【０１１２】
劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理におけるステップＳ１０１による辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、戻り値が「状態１」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態１）、図２３に示す分析処理１を実行する（ステップＳ１０３）。
【０１１３】
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０５で分析処理１を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺の何れか一方を選択する（ステップＳ６０１）。ここでは、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値が「０」であり、ターゲット範囲内における右テストパスの辺ターゲット範囲内におけるテストパスの辺の推定劣化値が「１０」であるため、劣化値推定部１４は、推定劣化値が「０」となっている側の辺であるターゲット範囲内における左テストパスの辺を選択する。
【０１１４】
ステップＳ６０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、図２４に示す辺処理１を実行する（ステップＳ６０２）。
劣化値推定部１４は、辺処理１を実行すると、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺の推定劣化値が、正数であるか、「０」であるか、負数であるかを判定する（ステップＳ７０１）。
第１の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺は「０」であるため、劣化値推定部１４は、推定劣化値が「０」であると判定する（ステップＳ７０１：＝０）。劣化値推定部１４は、推定劣化値が「０」であると判定すると、選択されたターゲット範囲内におけるテストパスの辺に属するエレメントを抽出し、推定劣化値テーブルにおける該当箇所に「０」を付与する（ステップＳ７０４）。すなわち、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左テストパスの辺に属するエレメント「１３」に、推定劣化値「０」を付与する。
劣化値推定部１４は、推定劣化値を付与すると、辺処理１を終了する。
【０１１５】
ここで、和の性質が成立し、辺の推定劣化値が０である場合の処理について説明する。
図２６は、和の性質が成立し、辺の推定劣化値が０である例を示す図である。
図２６（ａ）に示すように、ターゲット範囲の劣化値が「１００」、ターゲット範囲内の左テストパスの劣化値が「０」、ターゲット範囲内の右テストパスの劣化値が「１００」となっている場合を例に説明する。
図２６（ａ）は、和の性質が成立することから、上述した処理により、図２６（ｂ）に示すように推定劣化値テーブルが更新される。すなわち、ターゲット範囲内の左テストパスの辺に推定劣化値「０」が付与される。
この場合、その範囲に含まれるエレメントの劣化値全てが「０」であると仮定し、図２６（ｃ）に示すようにエレメント個々に対し推定劣化値「０」を付与する。これにより、劣化箇所推定処理のステップ数を減らすことができる。
【０１１６】
劣化値推定部１４は、図２３に示す分析処理１のステップＳ６０２の辺処理１を終了すると、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ６０３）。
第１の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺を構成するエレメント「１５」に個別に推定劣化値「１０」が付与されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていると判定する（ステップＳ６０３：ＹＥＳ）。
劣化値推定部１４が、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていると判定すると、分析処理１を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理のステップＳ１０３による分析処理１を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。
【０１１７】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、追加した順番に、「４」「１０」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「１０」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「４」のみとなる。
【０１１８】
［ループ３回目］
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ２回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「１０」を取り出したため、ノード「１０」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図２５（ｃ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「９〜１１」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「２０」、右テストパスの劣化値「３０」、ターゲット範囲の劣化値「２０」、左側推定劣化合計値「２０」、右側推定劣化合計値「１０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「２０」を算出する。
【０１１９】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。ここでは、「和の性質」が成立するので、［ループ２回目］と同様に、図２５（ｄ）に示すように、エレメント「９、１０」のそれぞれに推定劣化値「０」を、エレメント「１１」に推定劣化値「２０」を付与する。
【０１２０】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、「４」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「４」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９は空となる。
【０１２１】
［ループ４回目］
図２７は、第１の処理例による処理の経過を示す第５の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ３回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「４」を取り出したため、ノード「４」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図２７（ａ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１〜７」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「０」、右テストパスの劣化値「４０」、ターゲット範囲の劣化値「１０」、左側推定劣化合計値「１０」、右側推定劣化合計値「５０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「１０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「１０」を算出する。
【０１２２】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
エレメントの劣化値特定処理を実行すると、劣化値推定部１４は、図１３に示す辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）。
ここでは、ターゲット範囲の劣化値が「１０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「１０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「１０」であるため、「和の性質」が成立しない。劣化値推定部１４は、ステップＳ２０１で「和の性質」が成立しないと判定すると（ステップＳ２０１：ＮＯ）、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が全て等しいか否かを判定する（ステップＳ２０３）。
【０１２３】
第１の処理例では、ターゲット範囲の劣化値が「１０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「１０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「１０」であるため、各劣化値が等しい。劣化値推定部１４は、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が等しいと判定すると（ステップＳ２０３：ＹＥＳ）、分岐ノードにターゲット範囲の劣化値を付与する（ステップＳ２０５）。すなわち、劣化値推定部１４は、図２７（ｂ）に示すように、分岐ノード「４」に推定劣化値「１０」を付与する。
【０１２４】
次に、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の劣化値、及びターゲット範囲内における左テストパスの辺の劣化値を「０」とする（ステップＳ２０６）。すなわち、劣化値推定部１４は、図２７（ｂ）に示すように、エレメント「１〜３」の範囲及びエレメント「５〜７」の範囲に推定劣化値「０」を付与する。
そして、劣化値推定部１４は、内部メモリに、戻り値「状態２」を記録し、辺値算出処理を終了する。
【０１２５】
劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理におけるステップＳ１０１による辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、戻り値が「状態２」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態２）、分析処理２を実行する（ステップＳ１０４）。ここで、「分析処理２」とは、「和の性質」が成立せず、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が等しい際のターゲット範囲内におけるテストパスの辺の分析方法を決定する処理である。
【０１２６】
図２８は、劣化箇所推定装置による分析処理２の動作を示すフローチャートである。
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０４で分析処理２を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺のそれぞれに対して、後述するステップＳ８０２〜Ｓ８０４の処理を実施する（ステップＳ８０１）。なお、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺のうち、最初に処理を実施する辺は、劣化値推定部１４がランダムに選択する。ここでは、ターゲット範囲内における右テストパスの辺を選択する。
【０１２７】
ステップＳ８０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺が１つのエレメントで構成されているか否かを判定する（ステップＳ８０２）。ターゲット範囲内における右テストパスの辺は、エレメント「５〜７」によって構成されているため、劣化値推定部１４は、複数のエレメントで構成されていると判定する（ステップＳ８０２：ＮＯ）。
【０１２８】
劣化値推定部１４が複数のエレメントで構成されていると判定すると、推定対象管理部１８は、ターゲット範囲内におけるテストパスの辺内にある分岐ノードと隣接するノードを示す推定対象情報をスタック部１９に格納する（ステップＳ８０４）。第１の処理例では、推定対象管理部１８は、分岐ノード「４」に隣接するノード「６」を示す推定対象情報をスタック部１９に追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「６」のみである。
【０１２９】
ステップＳ８０４で推定対象管理部１８がノードの情報をスタック部１９に格納すると、劣化値推定部１４は、ステップＳ８０１に戻り、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択する。そして、ステップＳ８０２〜Ｓ８０４の処理を行い、分岐ノード「４」に隣接するノード「２」を示す推定対象情報をスタック部１９に追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「６」「２」となる。
劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺のそれぞれに対して、ステップＳ８０２〜Ｓ８０４の処理を実施すると、分析処理２を終了する。
【０１３０】
上述したように、分析処理２では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値として「０」が付与されていたとしても、分析処理１または分析処理３のようにエレメントそれぞれに対して推定劣化値「０」を付与しない。以下に、その理由を説明する。
【０１３１】
図２９は、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が等しい場合における劣化箇所を示す図である。
例えば、図２９（ａ）に示すように、分岐ノードに劣化値「２０」が存在する場合、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が全て劣化値「２０」となる。
【０１３２】
同様に、図２９（ｂ）に示すように、分岐ノードに劣化が存在せず、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、ターゲット範囲内における右テストパスの辺、及びテストパスの足にそれぞれ劣化値「１０」が存在する場合も、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が全て劣化値「２０」となる。
このように、異なる箇所に劣化が存在しても同じ劣化値として算出される場合があるため、分析処理２により、分岐ノードに劣化があるのか、他の箇所に劣化があるのかを検証している。
【０１３３】
図３０は、分析処理２において、ターゲット範囲内におけるテストパスの辺内にある分岐ノードと隣接するノードを新たな分岐ノードとする利点を示す図である。
分析処理２において、ターゲット範囲内におけるテストパスの辺内にある分岐ノードと隣接するノードを新たな分岐ノードとする理由を説明する。
分析処理２では、分岐ノードの劣化の有無を検証するために、新たな分岐ノードを設定してテストパスによる測定を行う。しかし、このとき、辺の中央に存在するノードを新たな分岐ノードとして測定を行った場合、分岐ノードの劣化の有無の検証に失敗することがある。
【０１３４】
具体的には、図２９（ｂ）に示す例において、辺の中央に存在するノードを新たな分岐ノードとして測定を行った場合、図３０（ａ）に示すように、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、ターゲット範囲内における右テストパスの辺、及びテストパスの足にそれぞれ劣化値「１０」が存在する場合も、ターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が全て劣化値「０」となり、分岐ノードの劣化の有無の検証に失敗する。
他方、ターゲット範囲内におけるテストパスの辺内にある分岐ノードと隣接するノードを新たな分岐ノードとして測定を行った場合、図３０（ｂ）に示すように、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が負値となり、ノード「８」の推定劣化値が「２０」でないということが判明し、次回の分析処理を効率的に実施することができる。
このように、最も早く分岐ノードに付与された推定劣化値の誤りを発見するために、ターゲット範囲内におけるテストパスの辺内にある分岐ノードと隣接するノードを新たな分岐ノードとしている。
【０１３５】
劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理のステップＳ１０４による分析処理２を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。また、劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、追加した順番に、「６」「２」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「２」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「６」のみとなる。
【０１３６】
［ループ５回目］
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ４回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「２」を取り出したため、ノード「２」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図２７（ｃ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１〜３」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「０」、右テストパスの劣化値「５０」、ターゲット範囲の劣化値「０」、左側推定劣化合計値「０」、右側推定劣化合計値「５０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「０」を算出する。
【０１３７】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。ここでは、「和の性質」が成立するので、［ループ２回目］と同様に、図２７（ｄ）に示すように、エレメント「１〜３」のそれぞれに推定劣化値「０」を付与する。
【０１３８】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、「６」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「６」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９は空となる。
【０１３９】
［ループ６回目］
図３１は、第１の処理例による処理の経過を示す第６の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ５回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「６」を取り出したため、ノード「６」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図３１（ａ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「５〜７」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「１０」、右テストパスの劣化値「４０」、ターゲット範囲の劣化値「０」、左側推定劣化合計値「１０」、右側推定劣化合計値「４０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「０」を算出する。
【０１４０】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。ここでは、「和の性質」が成立するので、［ループ２回目］と同様に、図３１（ｂ）に示すように、ノード「５〜７」のそれぞれに推定劣化値「０」を付与する。
【０１４１】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、推定対象情報を記憶していないため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であると判定する（ステップＳ１５：ＹＥＳ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であると判定すると、処理を終了する。なお、このとき推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて推定劣化値が「０」でないエレメント「４、８、１１、１５」が、劣化箇所として推定されたエレメントとなる。
図１０と比較すると、劣化箇所推定装置１により、正しく劣化箇所が推定できていることが分かる。
【０１４２】
〈第２の処理例〉
以下、図面を参照しながら本発明の第２の処理例について詳しく説明する。
図３２は、第２の処理例におけるネットワークの劣化箇所を示す図である。
図３３は、第２の処理例による処理の経過を示す第１の図である。
ここで、図３２に示される山括弧内の数値は、当該数値の上方の図形が示すノードを分岐ノードとした場合におけるテストパスの足の劣化値を示すものである。
第２の処理例では、ターゲットパスがノード「２、４、６、８、１０、１２、１４」とリンク「１、３、５、７、９、１１、１３、１５」とによって構成されている。そして、ノード「４」の劣化値は１０であり、リンク「９」の劣化値は３０であり、リンク「１５」の劣化値は１０である。また、ノード「４」を分岐ノードとしたときのテストパスの足の劣化値は１０であり、ノード「１２」を分岐ノードとしたときのテストパスの足の劣化値は２０である。つまり、左側測定端末と右側測定端末との間で通信を行った場合、図３３（ａ）に示すように、劣化値「５０」が検出される。
【０１４３】
以下、図７に示すフローチャートを参照しながら、本発明の第２の処理例における動作を説明する。
［初回実行時］
まず、劣化箇所推定装置１は、第１の処理例による［初回実行時］の処理と同様に、図７に示すステップＳ１〜Ｓ１１の処理を実行することで、図３３（ｂ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１〜１５」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「１０」、右テストパスの劣化値「４０」を算出する。そして、図３３（ｃ）に示すように、左側推定劣化合計値「０」、右側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「１０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「４０」を算出する。
【０１４４】
次に、初期状態では逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。ここでは、「和の性質」が成立することから、第１の処理例による［ループ１回目］と同様に、図３３（ｄ）に示すように、エレメント「１〜７」の範囲に推定劣化値「１０」を、エレメント「８」に推定劣化値「０」を、エレメント「９〜１５」の範囲に推定劣化値「４０」を付与する。また、推定対象管理部１８は、スタック部１９に、推定対象情報「４」「１２」を追加する。
【０１４５】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、追加した順番に、「４」「１２」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「１２」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、「４」のみとなる。
【０１４６】
［ループ１回目］
図３４は、第２の処理例による処理の経過を示す第２の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「１２」を取り出したため、図３４（ａ）に示すように、ノード「１２」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ９の処理を実行することで、図３４（ｂ）に示すように、左テストパスの劣化値「６０」、右テストパスの劣化値「３０」を算出する。また、ステップＳ１０〜Ｓ１１の処理を実行することで、図３４（ｃ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「９〜１５」の範囲に決定し、ターゲット範囲の劣化値「４０」、左側推定劣化合計値「１０」、右側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「５０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「３０」を算出する。
【０１４７】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
劣化値推定部１４は、ステップＳ１２でエレメントの劣化値特定処理を開始すると、まず、辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）。ここでは、「和の性質」が成立せず、かつそれぞれの劣化値が等しくないため、第１の処理例の［初回実行時］の処理と同様に、式（１）〜式（３）を用いて推定劣化値を算出する。これにより、図３４（ｄ）に示すようにエレメント「９〜１１」の範囲に推定劣化値「１０」を、エレメント「１２」に推定劣化値「４０」を、エレメント「１３〜１５」の範囲に推定劣化値「−１０」を付与する。また、劣化値推定部１４は、内部メモリに、戻り値「状態３」を記録する。
【０１４８】
次に、劣化値推定部１４は、戻り値が「状態３」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態３）、図１７に示す分析処理３を実行する（ステップＳ１０５）。
【０１４９】
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０５で分析処理３を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺の何れか一方を選択する（ステップＳ３０１）。ここでは、図３４（ｄ）に示すように、ターゲット範囲内における左テストパスの辺（エレメント「９〜１１」の範囲）の推定劣化値が正数であるため、劣化値推定部１４は、左テストパスの辺を選択する。
ステップＳ３０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、辺処理２を実行する（ステップＳ３０２）。ここでは、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値は正数であるため、第１の処理例の［初回実行時］による処理と同様に、推定対象管理部１８がスタック部１９に、推定対象情報「１０」を追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１０」となる。
【０１５０】
劣化値推定部１４は、ステップＳ３０２による辺処理２を終了すると、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ３０３）。
第２の処理例では、図３４（ｄ）に示すように、ターゲット範囲内における右テストパスの辺（エレメント「１３〜１５」の範囲）の推定劣化値として、包括して「−１０」が付与されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定する（ステップＳ３０３：ＮＯ）。
【０１５１】
劣化値推定部１４が、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定すると、当該選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択する（ステップＳ３０４）。そして、劣化値推定部１４は、図１８に示す辺処理２を実行する（ステップＳ３０５）。
【０１５２】
ここでは、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値は負数であるため、劣化値推定部１４は、推定劣化値が負数であると判定する（ステップＳ４０１：＜０）。劣化値推定部１４は、推定劣化値が負数であると判定すると、現在の分岐ノードを内部メモリに記録する（ステップＳ４０３）。
【０１５３】
次に、劣化値推定部１４は、選択された辺の逆側にノードが存在するか否かを判定する（ステップＳ４０４）。選択された辺の逆側とは、ターゲット範囲内における左テストパスの辺を選択した場合は、分岐ノードの右側を示し、ターゲット範囲内における右テストパスの辺を選択した場合は、分岐ノードの左側を示す。ここでは、ターゲット範囲内における右テストパスの辺を選択しており、また、分岐ノード「１２」の左側にはノードが存在するため、劣化値推定部１４は、選択された辺の逆側にノードが存在すると判定する。
【０１５４】
劣化値推定部１４が、選択された辺の逆側にノードが存在すると判定すると（ステップＳ４０４：ＹＥＳ）、劣化値推定部１４は、選択された辺と逆側にある分岐ノードと隣接するノードを新たな分岐ノードとしてスタック部１９に格納する（ステップＳ４０５）。つまり、第２の実施形態では、推定対象管理部１８は、ノード「１０」を示す推定対象情報をスタック部１９に追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１０」「１０」となる。
他方、ステップＳ４０４で劣化値推定部１４が、ノードが存在しないと判定した場合（ステップＳ４０４：ＮＯ）、劣化値推定部１４は、選択された辺側にある分岐ノードと隣接するノードを新たな分岐ノードとしてスタック部１９に格納する（ステップＳ４０６）。
【０１５５】
次に、劣化値推定部１４は、内部メモリに記憶する逆側検証状態フラグを論理「ＯＮ」に書き換え（ステップＳ４０７）、辺処理２を終了する。
劣化値推定部１４は、図１７に示す分析処理３のステップＳ３０５による辺処理２を終了すると、分析処理３を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理のステップＳ１０５による分析処理３を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。
【０１５６】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。スタック部１９は、追加した順番に、「４」「１０」「１０」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報を取り出す（ステップＳ１６）。第２の処理例では、推定対象管理部１８は、最後に追加した推定対象情報「１０」を取り出す。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１０」となる。
【０１５７】
［ループ２回目］
図３５は、第２の処理例による処理の経過を示す第３の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ１回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「１０」を取り出したため、図３５（ａ）に示すように、ノード「１０」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ９の処理を実行することで、図３５（ｂ）に示すように、左テストパスの劣化値「４０」、右テストパスの劣化値「１０」を算出する。また、ステップＳ１０〜Ｓ１１の処理を実行することで、図３５（ｃ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「９〜１１」の範囲に決定し、ターゲット範囲の劣化値「１０」、左側推定劣化合計値「１０」、右側推定劣化合計値「３０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「３０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「−２０」を算出する。次に、劣化値推定部１４は、［ループ１回目］の処理により逆側検証状態フラグが「ＯＮ」となっているため、逆側検証フラグが論理「ＯＮ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、再検証処理を実行する（ステップＳ１４）。
【０１５８】
図３６は、劣化箇所推定装置による再検証処理の動作を示す第１のフローチャートである。
図３７は、劣化箇所推定装置による再検証処理の動作を示す第２のフローチャートである。
劣化値推定部１４は、再検証処理を実行すると、まず図１３に示す辺値算出処理を実行する（ステップＳ９０１）。ここでは、和の性質が成立することから、劣化値推定部１４は、図３５（ｄ）に示すように、エレメント「９」に推定劣化値「３０」を、エレメント「１０」に推定劣化値「０」を、エレメント「１１」に推定劣化値「−２０」を付与する。
【０１５９】
図３８は、第２の処理例による処理の経過を示す第４の図である。
辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、内部メモリに格納する逆側検証フラグを論理「ＯＦＦ」にする（ステップＳ９０２）。次に、推定対象管理部１８は、内部メモリから前回の分岐ノードを読み出し、読み出したノードを新たな分岐ノードとし、ターゲット範囲内の劣化値、ターゲット範囲の左側推定劣化合計値、ターゲット範囲の右側推定劣化合計値を算出する（ステップＳ９０３）。つまり、第２の処理例では、まず、劣化値推定部１４は、内部メモリから前回の分岐ノード「１２」を読み出す。そして、劣化値推定部１４は、読み出したノード「１２」を新たな分岐ノードに決定する。次に、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲をエレメント「１１〜１５」の範囲に決定し、ターゲット範囲内の劣化値「１０」、ターゲット範囲の左側推定劣化合計値「４０」、ターゲット範囲の右側推定劣化合計値「０」を算出する。
【０１６０】
劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内の劣化値、ターゲット範囲の左側推定劣化合計値、ターゲット範囲の右側推定劣化合計値を算出すると、ステップＳ９で測定済みの左右のテストパスの劣化値を用いて、右テストパスの劣化値からターゲット範囲の右側推定劣化合計値を、左テストパスの劣化値からターゲット範囲の左側推定劣化合計値をそれぞれ減算し、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値、及びターゲット範囲内における左テストパスの劣化値を求める（ステップＳ９０４）。これにより、図３８（ｂ）に示すように、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における右テストパス（新たな第２のターゲットテストパス）の劣化値「３０」、ターゲット範囲内における左テストパス（新たな第１のターゲットテストパス）の劣化値「２０」を算出する。
【０１６１】
そして、劣化値推定部１４は、左右の推定劣化合計値を算出すると、図１３に示す辺値算出処理を再度実行する（ステップＳ９０５）。ここでは、和の性質が成立することから、劣化値推定部１４は、図３８（ｃ）に示すように、エレメント「１１、１２」のそれぞれに推定劣化値「０」を、エレメント「１３〜１５」の範囲に推定劣化値「１０」を付与する。また、劣化値推定部１４は、内部メモリに、戻り値「状態１」を記録する。
これにより、ノード「１２」の足に劣化値「２０」に相当する劣化が存在することが分かる。
【０１６２】
辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値として負値が存在するか否かを判定する（ステップＳ９０６）。第２の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺であるエレメント「１１」に付与された推定劣化値は「０」であり、右テストパスの辺であるエレメント「１３〜１５」の範囲に付与された推定劣化値は「１０」であるため、劣化値推定部１４は、負値が存在しないと判定する（ステップＳ９０６：ＮＯ）。
劣化値推定部１４は、負値が存在しないと判定すると、内部メモリに記録された戻り値に相当する分析処理を実行する（ステップＳ９０７）。ここでは、内部メモリに戻り値「状態１」が記録されているため、図２３に示す分析処理１を実行する。
【０１６３】
劣化値推定部１４は、ステップＳ９０７で分析処理１を実行すると、推定劣化値が「０」となっているターゲット範囲内における左テストパスの辺を選択する（ステップＳ６０１）。
劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、図２４に示す辺処理１を実行する（ステップＳ６０２）。ここでは、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値が「０」なので、推定劣化値テーブルのエレメント「１１」に推定劣化値「０」を付与する。
【０１６４】
劣化値推定部１４は、辺処理１を終了すると、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ６０３）。
第２の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値として、エレメント「１３〜１５」の範囲に包括して「１０」が付与されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定する（ステップＳ６０３：ＮＯ）。
【０１６５】
劣化値推定部１４が、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定すると、当該選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択する（ステップＳ６０４）。そして、劣化値推定部１４は、辺処理１を実行する（ステップＳ６０５）。
第２の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値が正数であるため、第１の処理例の［ループ１回目］と同様の処理により、推定対象管理部１８がスタック部１９にノード「１４」を示す推定対象情報を追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１０」「１４」となる。
劣化値推定部１４は、辺処理１を終了すると、分析処理１を終了する。また、劣化値推定部１４は、図３６に示す再検証処理のステップＳ９０７による分析処理を終了すると、再検証処理を終了する。
【０１６６】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１４による再検証処理を終了すると、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。スタック部１９は、追加した順番に、「４」「１０」「１４」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報を取り出す（ステップＳ１６）。第２の処理例では、推定対象管理部１８は、最後に追加した推定対象情報「１４」を取り出す。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１０」となる。
【０１６７】
［ループ３回目］
図３９は、第２の処理例による処理の経過を示す第５の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ２回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「１４」を取り出したため、ノード「１４」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図３９（ａ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１３〜１５」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「４０」、右テストパスの劣化値「１０」、ターゲット範囲の劣化値「１０」、左側推定劣化合計値「４０」、右側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「１０」を算出する。
【０１６８】
次に、劣化値推定部１４は、［ループ２回目］の処理で逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。ここでは、「和の性質」が成立するので、第１の処理例の［ループ２回目］と同様に、図３９（ｂ）に示すように、エレメント「１３、１４」のそれぞれに推定劣化値「０」を、エレメント「１５」に推定劣化値「１０」を付与する。
【０１６９】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、追加した順番に、「４」「１０」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「１０」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、「４」のみとなる。
【０１７０】
［ループ４回目］
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ３回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「１０」を取り出したため、ノード「１０」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
次に、劣化値推定部１４は、分岐ノード「１０」に推定劣化値「０」が付与されていると判定し（ステップＳ５：ＹＥＳ）、測定指示の送受信処理を実行せずにターゲット範囲をエレメント「９〜１１」の範囲に決定する（ステップＳ１０）。そして、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲の劣化値「３０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「３０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「０」を算出する。
【０１７１】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。ここでは、「和の性質」が成立するので、第１の処理例の［ループ２回目］と同様に、エレメント「９」に推定劣化値「３０」を、エレメント「１０、１１」のそれぞれに推定劣化値「０」を付与する。
【０１７２】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、「４」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「４」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９は空となる。
【０１７３】
［ループ５回目］
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ４回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「４」を取り出したため、ノード「４」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図３９（ｃ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１〜７」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「２０」、右テストパスの劣化値「６０」、ターゲット範囲の劣化値「１０」、左側推定劣化合計値「０」、右側推定劣化合計値「４０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「２０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「２０」を算出する。
【０１７４】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
劣化値推定部１４は、ステップＳ１２でエレメントの劣化値特定処理を開始すると、まず、辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）。ここでは、「和の性質」が成立せず、かつそれぞれの劣化値が等しくないため、第１の処理例の［初回実行時］の処理と同様に、式（１）〜式（３）を用いて推定劣化値を算出する。これにより、劣化値推定部１４は、図３９（ｄ）に示すようにエレメント「１〜３」の範囲に推定劣化値「−１０」を、エレメント「４」に推定劣化値「３０」を、エレメント「５〜７」の範囲に推定劣化値「−１０」を付与する。また、劣化値推定部１４は、内部メモリに、戻り値「状態３」を記録する。
【０１７５】
次に、劣化値推定部１４は、戻り値が「状態３」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態３）、図１７に示す分析処理３を実行する（ステップＳ１０５）。
【０１７６】
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０５で分析処理３を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺の何れか一方を選択する（ステップＳ３０１）。ここでは、図３９（ｄ）に示すように、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の推定劣化値がどちらも負数であるため、劣化値推定部１４は、ランダムにテストパスの辺を選択する。ここでは左テストパスの辺を選択したものとする。
【０１７７】
ステップＳ３０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、辺処理２を実行する（ステップＳ３０２）。これにより、［ループ１回目］と同様の処理により、推定対象管理部１８は、選択された辺と逆側にある分岐ノードと隣接するノード「６」を示す推定対象情報をスタック部１９に格納する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、「６」のみである。また、劣化値推定部１４は、内部メモリに現在の分岐ノード「４」を記録し、逆側検証状態フラグを論理「ＯＮ」に書き換える。
【０１７８】
劣化値推定部１４は、辺処理２を終了すると、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ３０３）。
第２の処理例では、図３９（ｄ）に示すように、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値として、エレメント「５〜７」の範囲に包括して「−１０」が付与されている。そのため、劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定する（ステップＳ３０３：ＮＯ）。
【０１７９】
劣化値推定部１４が、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定すると、当該選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択する（ステップＳ３０４）。そして、劣化値推定部１４は、図１８に示す辺処理２を実行する（ステップＳ３０５）。これにより、ステップＳ３０２と同様の処理により、推定対象管理部１８は、選択された辺と逆側にある分岐ノードと隣接するノード「２」をスタック部１９に格納する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「６」「２」となる。また、劣化値推定部１４は、内部メモリに現在の分岐ノード「４」を記録し、逆側検証状態フラグを論理「ＯＮ」に書き換える。但し、ここでは、ステップＳ３０２で同様の書き換えを行っているため、同じ値が上書きされる。
【０１８０】
劣化値推定部１４は、辺処理２を終了すると、分析処理３を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理の分析処理３を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。
【０１８１】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。スタック部１９は、追加した順番に、「６」「２」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報を取り出す（ステップＳ１６）。第２の処理例では、推定対象管理部１８は、最後に追加した推定対象情報「２」を取り出す。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「６」のみとなる。
【０１８２】
［ループ６回目］
図４０は、第２の処理例による処理の経過を示す第６の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ５回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「２」を取り出したため、ノード「２」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
次に、劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図４０（ａ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１〜３」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「０」、右テストパスの劣化値「５０」、ターゲット範囲の劣化値「−１０」、左側推定劣化合計値「０」、右側推定劣化合計値「６０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「−１０」を算出する。
【０１８３】
次に、［ループ５回目］の処理で逆側検証状態フラグが「ＯＮ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＮ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、再検証処理を実行する（ステップＳ１４）。
劣化値推定部１４は、再検証処理を実行すると、まず図１３に示す辺値算出処理を実行する（ステップＳ９０１）。ここでは、和の性質が成立することから、劣化値推定部１４は、図４０（ｂ）に示すように、エレメント「１、２」のそれぞれに推定劣化値「０」を、エレメント「３」に推定劣化値「−１０」を付与する。
【０１８４】
辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、内部メモリに格納する逆側検証フラグを論理「ＯＦＦ」にする（ステップＳ９０２）。次に、劣化値推定部１４は、内部メモリから前回の分岐ノード「４」を読み出す。そして、劣化値推定部１４は、読み出したノード「４」を新たな分岐ノードに決定する。次に、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲をエレメント「３〜７」の範囲に決定し、ターゲット範囲内の劣化値「１０」、ターゲット範囲の左側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲の右側推定劣化合計値「４０」を算出する（ステップＳ９０３）。
【０１８５】
劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内の劣化値、ターゲット範囲の左側推定劣化合計値、ターゲット範囲の右側推定劣化合計値を算出すると、ステップＳ９で測定済みの左右のテストパスの劣化値を用いて、図４０（ｃ）に示すように、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「２０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「２０」を算出する（ステップＳ９０４）。
【０１８６】
そして、劣化値推定部１４は、左右の推定劣化合計値を算出すると、図１３に示す辺値算出処理を再度実行する（ステップＳ９０５）。ここでは、和の性質が成立せず、各劣化値同士が等しくないことから、劣化値推定部１４は、式（１）〜式（３）を用いて推定劣化値を算出する。これにより、劣化値推定部１４は、図４０（ｄ）に示すように、エレメント「３」に推定劣化値「−１０」を、エレメント「４」に推定劣化値「３０」を、エレメント「５〜７」の範囲に推定劣化値「−１０」を付与する。
【０１８７】
辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の劣化値として負値が存在するか否かを判定する（ステップＳ９０６）。第２の処理例では、左／右テストパスの辺の劣化値が共に負値であるため、劣化値推定部１４は、負値が存在すると判定する（ステップＳ９０６：ＹＥＳ）。
劣化値推定部１４は、負値が存在すると判定すると、ターゲット範囲における劣化存在推定を実施する（ステップＳ９０８）。
【０１８８】
ここで、劣化存在推定の処理方法について説明する。
図４１は、劣化存在推定を行う理由を示す図である。
テストパスの足に劣化が存在していると、テストパスの辺の演算結果として負値が得られることになる。
具体的には、図４１（ａ）に示すように、ターゲット範囲の劣化値が「０」、テストパスの足の劣化値が「χ」であるモデルを考えたとき、式（１）〜式（３）による計算を行うと、分岐ノードの推定劣化値が「２χ」、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値が「−χ」、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値が「−χ」となる。よって、テストパスの辺に負値が得られたとき、必ずテストパスの足に劣化が含まれることが分かる。
【０１８９】
また、図４１（ａ）に示すようにテストパスの足のみに劣化が存在する場合以外に、図４１（ｂ）や図４１（ｃ）に示すように、テストパスの足以外にターゲット範囲内にも劣化が存在する場合がある。
このように、テストパスの足以外にターゲット範囲内に劣化が存在する場合、様々な演算結果が得られ、またその演算結果から一意に劣化箇所／劣化値を決定することができないことがある。そのため、ステップＳ９０８では、以下に説明する劣化存在推定を行っている。
【０１９０】
図４２は、劣化存在推定の処理方法を示す図である。
ここで、式（１）〜式（３）による計算により、図４２（ａ）に示すように、左テストパスの辺の推定劣化値Ｘ、分岐ノードの推定劣化値Ｙ、右テストパスの辺の推定劣化値Ｚが算出された場合を例に説明する。なお、このとき推定劣化値Ｘまたは推定劣化値Ｚの少なくとも何れか一方は負値となっているものとする。
このとき、テストパスの足に存在する劣化値は、図４２（ｂ）に示すように、ＭＡＸ（−Ｘ，−Ｚ）以上かつＹ／２以下となる。ここで、ＭＡＸ（）とは、丸括弧内の値の集合における最大値を示す関数である。
【０１９１】
つまり、図４２（ｃ）に示すように、左テストパスの辺の推定劣化値を「−１０」、分岐ノードの推定劣化値を「４０」、右テストパスの辺の推定劣化値を「−１０」と算出した場合、テストパスの足の劣化値は１０以上２０以下の値となる。
また、図４２（ｄ）に示すように、左テストパスの辺の推定劣化値を「−２０」、分岐ノードの推定劣化値を「６０」、右テストパスの辺の推定劣化値を「−１０」と算出した場合、テストパスの足の劣化値は２０以上３０以下の値となる。
つまり、図４２（ｂ）に示すテストパスの足の劣化値が取り得る範囲の下限値ＭＡＸ（−Ｘ，−Ｚ）及び上限値Ｙ／２を算出する。
第２の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値が「−１０」、分岐ノードの推定劣化値が「３０」、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値が「−１０」であるため、テストパスの足の劣化値Ｌ２が取り得る範囲は、「１０≦Ｌ２≦１５」となる。
【０１９２】
劣化値推定部１４は、ターゲット範囲における劣化存在推定を実施すると、テストパスの足の劣化値としての解が存在するか否かを判定する（ステップＳ９０９）。第２の処理例では、劣化存在推定により、劣化値推定部１４が、テストパスの足の劣化値Ｌ２が取り得る範囲として「１０≦Ｌ２≦１５」を算出しているため、劣化値推定部１４は、解が存在すると判定する（ステップＳ９０９：ＹＥＳ）。
【０１９３】
劣化値推定部１４は、解が存在すると判定すると、解の存在範囲の最大値を利用した際の劣化箇所、及び最小値を利用した際の劣化箇所をそれぞれ推定する（ステップＳ９１１）。なお、劣化箇所の推定方法については後述する。
劣化値推定部１４は、劣化箇所を推定すると、解の存在範囲の最大値を利用した際の劣化箇所数、及び最小値を利用した際の劣化箇所数に差異があるか否かを判定する（ステップＳ９１２）。
【０１９４】
劣化値推定部１４は、劣化箇所数に差異がないと判定した場合、どちらか一方を採用し、求めた劣化箇所に従って推定劣化値テーブルにおける該当箇所に推定値を付与する（ステップＳ９１３）。
他方、劣化値推定部１４は、劣化箇所数に差異があると判定した場合、劣化箇所数の少ない方の劣化箇所を採用し、求めた劣化箇所に従って推定劣化値テーブルにおける該当箇所に推定値を付与する（ステップＳ９１４）。
【０１９５】
図４３は、劣化箇所の推定方法を説明するための図である。
ここで、ステップＳ９１１による劣化箇所の推定方法について説明する。
まず、劣化値推定部１４は、テストパスの足の劣化値として、取り得る範囲内における最大値、および最小値の場合における、分岐ノード、ターゲット範囲内の左／右テストパスの辺、及びテストパスの足の劣化値を計算する。
図４３（ａ）に示すように、ターゲット範囲の劣化値をα、ターゲット範囲内の左テストパスの劣化値をβ、ターゲット範囲内の右テストパスの劣化値をγ、分岐ノードの劣化値Ｎ、左テストパスの辺の劣化値Ｌ１、テストパスの足の劣化値をＬ２、右テストパスの辺の劣化値Ｌ３とおいた場合、上述したように、式（４）〜式（６）が成立する。
劣化値推定部１４は、テストパスの足の劣化値Ｌ２に、取り得る範囲内における最大値および最小値を代入し、式（４）〜式（６）から分岐ノードの劣化値Ｎ、ターゲット範囲内の左／右テストパスの辺の劣化値Ｌ１、Ｌ３、及びテストパスの足の劣化値Ｌ２を算出する。なお、式（４）〜式（６）の計算は、例えばガウス・ジョルダン法を用いて算出すると良い。
【０１９６】
劣化値推定部１４は、分岐ノード、ターゲット範囲内の左／右テストパスの辺、及びテストパスの足の劣化値を算出すると、算出した劣化値のうち、正数となったものの個数を劣化箇所数として計数する。
図４３（ｂ）に示す例では、テストパスの足の劣化値は１０以上２０以下であるため、劣化値推定部１４は、テストパスの足の劣化値Ｌ２として１０を代入した場合と２０を代入した場合について、各劣化値を算出する。
そして、劣化値推定部１４は、Ｌ２＝１０の場合の劣化箇所数が２、Ｌ２＝２０の場合の劣化箇所数が３であると特定する。したがって、劣化値推定部１４は、ステップＳ９１４により、図４３（ｃ）に示すように推定劣化値を付与する。
実際のネットワークにおいて同時に複数箇所で劣化が発生する場合、同時劣化箇所数が多いほど確率は小さくなる。このことから、劣化箇所数が異なる場合、劣化値推定部１４は、劣化箇所数が少ない方の推定劣化値を用いて推定劣化値テーブルを更新する。
【０１９７】
図４４は、劣化箇所数が同じ個数となる場合の例を示す図である。
図４４に示すように、テストパスの足の劣化値として最小値を代入した場合、及び最大値を代入した場合の何れの場合も、劣化箇所数として等しい値が算出される場合がある。このときは、ステップＳ９１３により、過去の劣化箇所発生状況等に基づいてノードとリンクの劣化のどちらの劣化が発生しやすいかを特定し、何れかの場合の推定劣化値を用いて推定劣化値テーブルを更新することが望ましい。また、過去の劣化箇所発生状況の情報がない場合は、ランダムに決定しても良い。
【０１９８】
図４５は、第２の処理例による劣化箇所の推定処理を示す図である。
ステップＳ９０８で、テストパスの足の劣化値が取り得る範囲の最小値が１０、最大値が１５なので、劣化値推定部１４は、まず、テストパスの足の劣化値が「１０」であった場合の劣化箇所を推定する。
テストパスの足の劣化値が「１０」であった場合、図４５（ａ）に示すように、分岐ノード「４」の推定劣化値は「１０」、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値は「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値は「０」となり、劣化箇所数は分岐ノードとテストパスの足の２箇所となる。
【０１９９】
他方、テストパスの足の劣化値が「１５」であった場合、図４５（ｂ）に示すように、分岐ノード「４」の推定劣化値は「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値は「５」、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値は「５」となり、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺、劣化箇所数はテストパスの足の３箇所となる。
したがって、劣化値推定部１４は、劣化箇所の少ない方、すなわちテストパスの足の劣化値が「１０」であった場合の推定劣化値を用いて推定劣化値テーブルを更新する。
【０２００】
図４６は、第２の処理例による処理の経過を示す第７の図である。
劣化値推定部１４は、ステップＳ９１３またはステップＳ９１４で推定劣化値を付与すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺のそれぞれに対して、図１９に示す辺判定処理を実施する（ステップＳ９１５）。なお、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺のうち、最初に処理を実施する辺は、劣化値推定部１４がランダムに選択する。ここでは、ターゲット範囲内における左テストパスの辺を選択する。
【０２０１】
劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左テストパスの辺を選択したため、当該辺に対して図１９に示す辺判定処理を実行する（ステップＳ９１６）。
劣化値推定部１４は、辺判定処理を実行すると、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの数が１つであるか、２つ以上であるかを判定する（ステップＳ５０１）。第２の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺は図４６（ａ）に示すようにエレメント「３」のみであるため、劣化値推定部１４は、エレメントの数が１つであると判定する（ステップＳ５０１：１つ）。
【０２０２】
劣化値推定部１４は、エレメントの数が１つであると判定すると、選択されたターゲット範囲内におけるテストパスの辺に属するエレメントを抽出し、推定劣化値テーブルにおける該当箇所に、この辺の推定劣化値を付与する（ステップＳ５０２）。つまり、第２の処理例では、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブルのエレメント「３」に推定劣化値「０」を付与する。劣化値推定部１４は、ステップＳ５０２で推定劣化値を付与すると、辺判定処理を終了する。
【０２０３】
次に、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における右テストパスの辺を選択し、当該辺に対して図１９に示す辺判定処理を実行する（ステップＳ９１６）。
劣化値推定部１４は、辺判定処理を実行すると、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの数が１つであるか、２つ以上であるかを判定する（ステップＳ５０１）。第２の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺は図４６（ａ）に示すように、エレメント「５〜７」で構成されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの数が２つ以上であると判定する（ステップＳ５０１：２つ以上）。
【０２０４】
劣化値推定部１４は、エレメントの数が２つ以上であると判定すると、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺の推定劣化値が「０」であるか否かを判定する（ステップＳ５０３）。第２の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値は「０」であるため、劣化値推定部１４は、推定劣化値が「０」であると判定する（ステップＳ５０３：ＹＥＳ）。
【０２０５】
劣化値推定部１４は、テストパスの辺の推定劣化値が「０」であると判定すると、選択されたターゲット範囲内におけるテストパスの辺に属するエレメントを抽出し、推定劣化値テーブルにおける該当箇所に推定劣化値「０」を付与する（ステップＳ５０４）。つまり、第２の処理例では、劣化値推定部１４は、図４６（ｂ）に示すように、推定劣化値テーブルのエレメント「５〜７」のそれぞれに推定劣化値「０」を付与する。劣化値推定部１４は、ステップＳ５０４で推定劣化値を付与すると、辺判定処理を終了する。
【０２０６】
劣化値推定部１４は、図３７に示す再検証処理のステップＳ９１６による辺判定処理をターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺のそれぞれに対して実行すると、再検証処理を終了する。
【０２０７】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１４による再検証処理を終了すると、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。スタック部１９は、追加した順番に、「６」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報を取り出す（ステップＳ１６）。第２の処理例では、推定対象管理部１８は、最後に追加した推定対象情報「６」を取り出す。このときスタック部１９は空となる。
【０２０８】
［ループ７回目］
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ６回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「６」を取り出したため、ノード「６」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化値推定部１４は、分岐ノード「６」に推定劣化値「０」が付与されていると判定し（ステップＳ５：ＹＥＳ）、測定指示の送受信処理を実行せずにターゲット範囲をエレメント「５〜７」の範囲に決定する（ステップＳ１０）。そして、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲の劣化値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「０」を算出する。
【０２０９】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。ここでは、「和の性質」が成立するため、第１の処理例の［ループ２回目］と同様の処理により、エレメント「５〜７」のそれぞれに推定劣化値「０」を付与する。
【０２１０】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は空であるため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であると判定する（ステップＳ１５：ＹＥＳ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であると判定すると、処理を終了する。なお、このとき推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて推定劣化値が「０」でないエレメント「４、９、１５」が、劣化箇所として推定されたエレメントとなる。
図３２と比較すると、劣化箇所推定装置１により、正しく劣化箇所が推定できていることが分かる。
【０２１１】
〈第３の処理例〉
以下、図面を参照しながら本発明の第３の処理例について詳しく説明する。
図４７は、第３の処理例におけるネットワークの劣化箇所を示す図である。
図４８は、第３の処理例による処理の経過を示す第１の図である。
第３の処理例では、ターゲットパスがノード「２、４、６、８、１０、１２、１４」とリンク「１、３、５、７、９、１１、１３、１５」とによって構成されている。そして、リンク「３」の劣化値は１０であり、ノード「４」の劣化値は１０であり、リンク「９」の劣化値は１０であり、ノード「１４」の劣化値は１０である。また、ノード「８」を分岐ノードとしたときのテストパスの足の劣化値は１０であり、ノード「１０」を分岐ノードとしたときのテストパスの足の劣化値は１０である。つまり、左側測定端末と右側測定端末との間で通信を行った場合、図４８（ａ）に示すように、劣化値「４０」が検出される。
【０２１２】
以下、図７に示すフローチャートを参照しながら、本発明の第３の処理例における動作を説明する。
［初回実行時］
まず、劣化箇所推定装置１は、第１の処理例による［初回実行時］の処理と同様に、図７に示すステップＳ１〜Ｓ１１の処理を実行することで、図４８（ａ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１〜１５」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「３０」、右テストパスの劣化値「３０」、左側推定劣化合計値「０」、右側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「３０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「３０」を算出する。
【０２１３】
次に、初期状態では逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。これにより、劣化値推定部１４は、第１の処理例による［初回実行時］と同様に、図４８（ｂ）に示すように、エレメント「１〜７」の範囲に推定劣化値「１０」を、エレメント「８」に推定劣化値「２０」を、エレメント「９〜１５」の範囲に推定劣化値を付与する。また、推定対象管理部１８は、スタック部１９に、推定対象情報「４」「１２」を追加する。
【０２１４】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、追加した順番に、「４」「１２」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「１２」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、「４」のみとなる。
【０２１５】
［ループ１回目］
次に、劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「１２」を取り出したため、ノード「１２」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ９の処理を実行し、図４８（ｃ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「９〜１５」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「３０」、右テストパスの劣化値「１０」、左側推定劣化合計値「３０」、右側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「１０」、ターゲット範囲の劣化値「１０」を算出する。
【０２１６】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
【０２１７】
エレメントの劣化値特定処理を実行すると、劣化値推定部１４は、図１３に示す辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）
ここでは、ターゲット範囲の劣化値が「１０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「１０」であるため、「和の性質」が成立する。劣化値推定部１４は、ステップＳ２０１で「和の性質」が成立すると判定すると（ステップＳ２０１：ＹＥＳ）、推定劣化値テーブルに対し、図４８（ｄ）に示すように、エレメント「９〜１１」の範囲に推定劣化値「０」を、エレメント「１２」に推定劣化値「０」を、エレメント「１３〜１５」の範囲に推定劣化値「１０」を付与する（ステップＳ２０２）。
【０２１８】
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０１による辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、戻り値が「状態１」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態１）、図２３に示す分析処理１を実行する（ステップＳ１０３）。
【０２１９】
劣化値推定部１４は、分析処理１を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺の何れか一方を選択する（ステップＳ６０１）。第３の処理例では、図４８（ｄ）に示すように、ターゲット範囲内における左テストパスの辺（エレメント「９〜１１」の範囲）の推定劣化値が「０」であるため、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左テストパスの辺を選択する。
ステップＳ６０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、図２４に示す辺処理１を実行する（ステップＳ６０２）。第２の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの推定劣化値が「０」であるため、劣化値推定部１４は、図４８（ｅ）に示すように、エレメント「９〜１１」のそれぞれに推定劣化値「０」を付与する。
【０２２０】
次に、劣化値推定部１４は、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ６０３）。第３の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値として、エレメント「１３〜１５」の範囲に包括して「１０」が付与されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定する（ステップＳ６０３：ＮＯ）。
【０２２１】
劣化値推定部１４が、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定すると、当該選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択する（ステップＳ６０４）。そして、劣化値推定部１４は、図２４に示す辺処理１を実行する（ステップＳ６０５）。第３の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値が正数であるため、推定対象管理部１８は、スタック部１９にノード「１４」を示す推定対象情報を追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「４」「１４」となる。
劣化値推定部１４は、ステップＳ６０５による辺処理１を終了すると、分析処理１を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理のステップＳ１０３による分析処理１を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。
【０２２２】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、追加した順番に、「４」「１４」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「１４」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「４」のみとなる。
【０２２３】
［ループ２回目］
図４９は、第３の処理例による処理の経過を示す第２の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ１回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「１４」を取り出したため、ノード「１４」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図４９（ａ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１３〜１５」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「４０」、右テストパスの劣化値「１０」、ターゲット範囲の劣化値「１０」、左側推定劣化合計値「３０」、右側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「１０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「１０」を算出する。
【０２２４】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
エレメントの劣化値特定処理を実行すると、劣化値推定部１４は、図１３に示す辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）。第３の処理例では、ターゲット範囲の劣化値が「１０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「１０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「１０」であるため、「和の性質」が成立せず、かつターゲット範囲の劣化値、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値、及びターゲット範囲の右テストパスの劣化値が全て等しい。したがって、第１の実施形態の［ループ４回目］と同様の処理により、劣化値推定部１４は、図４９（ｂ）に示すように、分岐ノード「１４」に推定劣化値「１０」を付与し、エレメント「１３、１５」にそれぞれ推定劣化値「０」を付与する。また、劣化値推定部１４は、内部メモリに、戻り値「状態２」を記録する。
【０２２５】
劣化値推定部１４は、ステップＳ１０１による辺値算出処理を終了すると、戻り値が「状態２」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態２）、図２８に示す分析処理２を実行する（ステップＳ１０４）。
【０２２６】
劣化値推定部１４は、分析処理２を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺のそれぞれに対して、ステップＳ８０２〜Ｓ８０４の処理を実施する（ステップＳ８０１）。ここでは、最初に処理を実施する辺としてターゲット範囲内における右テストパスの辺を選択したものとする。
【０２２７】
ステップＳ８０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺が１つのエレメントで構成されているか否かを判定する（ステップＳ８０２）。ターゲット範囲内における右テストパスの辺は、エレメント「１５」のみによって構成されているため、劣化値推定部１４は、１つのエレメントで構成されていると判定する（ステップＳ８０２：ＹＥＳ）。
【０２２８】
劣化値推定部１４が１つのエレメントで構成されていると判定すると、推定対象管理部１８は、推定劣化値テーブルにおけるターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントに対し推定劣化値「０」を付与する（ステップＳ８０３）。つまり、第３の処理例では、劣化値推定部１４は、エレメント「１５」に推定劣化値「０」を付与する。
【０２２９】
ステップＳ８０３で劣化値推定部１４が推定劣化値「０」を付与すると、ステップＳ８０１に戻り、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択する。そして、ステップＳ８０２〜Ｓ８０４の処理を行い、エレメント「１３」に推定劣化値「０」を付与する。
劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺のそれぞれに対して、ステップＳ８０２〜Ｓ８０４の処理を実施すると、分析処理２を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理のステップＳ１０４による分析処理２を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。
【０２３０】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、「４」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「４」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９は空となる。
【０２３１】
［ループ３回目］
次に、劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図４９（ｃ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１〜７」に決定し、左テストパスの劣化値「２０」、右テストパスの劣化値「３０」、ターゲット範囲の劣化値「１０」、左側推定劣化合計値「０」、右側推定劣化合計値「３０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「２０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「０」を算出する。
【０２３２】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
劣化値推定部１４は、ステップＳ１２でエレメントの劣化値特定処理を開始すると、まず、辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）。ここでは、「和の性質」が成立せず、かつそれぞれの劣化値が等しくないため、第１の処理例の［初回実行時］の処理と同様に、式（１）〜式（３）を用いて推定劣化値を算出する。これにより、図４９（ｄ）に示すように、エレメント「１〜３」の範囲に推定劣化値「１０」を、エレメント「４」に推定劣化値「１０」を、エレメント「５〜７」の範囲に推定劣化値「−１０」を付与する。また、劣化値推定部１４は、内部メモリに、戻り値「状態３」を記録する。
次に、劣化値推定部１４は、戻り値が「状態３」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態３）、図１７に示す分析処理３を実行する（ステップＳ１０５）。
【０２３３】
劣化値推定部１４は、分析処理３を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺の何れか一方を選択する（ステップＳ３０１）。ここでは、図４９（ｄ）に示すように、ターゲット範囲内における右テストパスの辺の推定劣化値が負数であるため、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における右テストパスの辺を選択する。
【０２３４】
ステップＳ３０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、辺処理２を実行する（ステップＳ３０２）。これにより、第２の処理例における［ループ１回目］と同様の処理により、推定対象管理部１８は、選択された辺と逆側にある分岐ノードと隣接するノード「２」を示す推定対象情報をスタック部１９に格納する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「２」のみである。また、劣化値推定部１４は、内部メモリに現在の分岐ノード「４」を記録し、逆側検証状態フラグを論理「ＯＮ」に書き換える。
【０２３５】
劣化値推定部１４は、辺処理２を終了すると、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ３０３）。
第３の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値として、包括して「１０」が付与されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定する（ステップＳ３０３：ＮＯ）。
【０２３６】
劣化値推定部１４が、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定すると、当該選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択する（ステップＳ３０４）。そして、劣化値推定部１４は、図１８に示す辺処理２を実行する（ステップＳ３０５）。第３の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値が「１０」であるため、図１９に示す辺判定処理により、推定対象管理部１８が、ノード「２」を示す推定対象情報をスタック部１９に格納する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「２」「２」となる。
劣化値推定部１４は、ステップＳ３０５による辺処理２を終了すると、分析処理３を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理の分析処理３を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。
【０２３７】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。スタック部１９は、追加した順番に、「２」「２」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報を取り出す（ステップＳ１６）。第２の処理例では、推定対象管理部１８は、最後に追加した推定対象情報「２」を取り出す。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「２」のみとなる。
【０２３８】
［ループ４回目］
図５０は、第３の処理例による処理の経過を示す第３の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ３回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「２」を取り出したため、ノード「２」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
次に、劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図５０（ａ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「１〜３」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「０」、右テストパスの劣化値「４０」、ターゲット範囲の劣化値「１０」、左側推定劣化合計値「０」、右側推定劣化合計値「３０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「１０」を算出する。
【０２３９】
次に、［ループ３回目］の処理により逆側検証状態フラグが「ＯＮ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＮ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、再検証処理を実行する（ステップＳ１４）。
【０２４０】
劣化値推定部１４は、再検証処理を実行すると、まず図１３に示す辺値算出処理を実行する（ステップＳ９０１）。ここでは、和の性質が成立することから、劣化値推定部１４は、図５０（ｂ）に示すように、エレメント「１、２」のそれぞれに推定劣化値「０」を、エレメント「３」に推定劣化値「１０」を付与する。
【０２４１】
辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、内部メモリに格納する逆側検証フラグを論理「ＯＦＦ」にする（ステップＳ９０２）。次に、劣化値推定部１４は、内部メモリから前回の分岐ノード「４」を読み出す。そして、劣化値推定部１４は、読み出したノード「４」を新たな分岐ノードに決定する。次に、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲をエレメント「３〜７」の範囲に決定し、ターゲット範囲内の劣化値「１０」、ターゲット範囲の左側推定劣化合計値「０」、ターゲット範囲の右側推定劣化合計値「３０」を算出する（ステップＳ９０３）。
【０２４２】
劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内の劣化値、ターゲット範囲の左側推定劣化合計値、ターゲット範囲の右側推定劣化合計値を算出すると、ステップＳ９で測定済みの左右のテストパスの劣化値を用いて、図５０（ｃ）に示すように、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「２０」を算出する（ステップＳ９０４）。
【０２４３】
そして、劣化値推定部１４は、左右の推定劣化合計値を算出すると、図１３に示す辺値算出処理を再度実行する（ステップＳ９０５）。ここでは、和の性質が成立せず、各劣化値同士が等しくないことから、劣化値推定部１４は、式（１）〜式（３）を用いて推定劣化値を算出する。これにより、劣化値推定部１４は、図５０（ｄ）に示すように、エレメント「３、４」のそれぞれに推定劣化値「１０」を、エレメント「５〜７」の範囲に推定劣化値「−１０」を付与する。
【０２４４】
辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左／右テストパスの辺の劣化値として負値が存在するか否かを判定する（ステップＳ９０６）。第３の処理例では、右テストパスの辺の劣化値が負値であるため、劣化値推定部１４は、負値が存在すると判定する（ステップＳ９０６：ＹＥＳ）。
劣化値推定部１４は、負値が存在すると判定すると、ターゲット範囲における劣化存在推定を実施する（ステップＳ９０８）。第３の処理例では、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値が「１０」、分岐ノードの推定劣化値が「１０」、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値が「−１０」であるため、テストパスの足の劣化値Ｌ２が取り得る範囲は、「１０≦Ｌ２≦５」となる。
【０２４５】
劣化値推定部１４は、ターゲット範囲における劣化存在推定を実施すると、テストパスの足の劣化値としての解が存在するか否かを判定する（ステップＳ９０９）。第３の処理例では、劣化存在推定により、劣化値推定部１４が、テストパスの足の劣化値Ｌ２が取り得る範囲として「１０≦Ｌ２≦５」を算出しているため、劣化値推定部１４は、解が存在しないと判定する（ステップＳ９０９：ＮＯ）。
【０２４６】
劣化値推定部１４が、解が存在しないと判定すると、推定対象管理部１８は、現在の分岐ノードに隣接し、未選択のノードをスタック部１９に追加する（ステップＳ９１０）。つまり、推定対象管理部１８は、現在の分岐ノード「４」に隣接するノード「２、６」のうち、前回選択したノード「２」でないノード「６」を示す推定対象情報を、スタック部１９に追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「２」「６」となる。つまり、劣化値推定部１４は、テストパスの足の劣化値が取り得る劣化値が存在しない場合、現在の分岐ノードの足に劣化が存在せず、未選択のノードの側の推定劣化値に誤りがあると判定し、次回の処理で、当該未選択のノードの劣化値を再度推定する。
推定対象管理部１８がステップＳ９１０でスタック部１９への追加処理を行うと、劣化値推定部１４は、再検証処理を終了する。
【０２４７】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１４による再検証処理を終了すると、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。スタック部１９は、追加した順番に、「２」「６」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報を取り出す（ステップＳ１６）。第２の処理例では、推定対象管理部１８は、最後に追加した推定対象情報「６」を取り出す。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「２」のみとなる。
【０２４８】
［ループ５回目］
図５１は、第３の処理例による処理の経過を示す第４の図である。
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ４回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「６」を取り出したため、ノード「６」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化箇所推定装置１は、［初回実行時］の処理と同様に、ステップＳ５〜Ｓ１１の処理を実行することで、図５１（ａ）に示すように、ターゲット範囲をエレメント「５〜７」の範囲に決定し、左テストパスの劣化値「２０」、右テストパスの劣化値「２０」、ターゲット範囲の劣化値「−１０」、左側推定劣化合計値「２０」、右側推定劣化合計値「３０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「−１０」を算出する。
【０２４９】
次に、［ループ４回目］の処理で逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。
エレメントの劣化値特定処理を実行すると、劣化値推定部１４は、図１３に示す辺値算出処理を実行する（ステップＳ１０１）。
ここでは、ターゲット範囲の劣化値が「−１０」、ターゲット範囲の左テストパスの劣化値が「０」、ターゲット範囲の右テストパスの劣化値が「−１０」であるため、「和の性質」が成立する。劣化値推定部１４は、ステップＳ２０１で「和の性質」が成立すると判定すると（ステップＳ２０１：ＹＥＳ）、図５１（ｂ）に示すように、劣化値推定部１４は、エレメント「５、６」のそれぞれに推定劣化値「０」を、エレメント「７」に推定劣化値「−１０」を付与する（ステップＳ２０２）。そして、劣化値推定部１４は、内部メモリに、戻り値「状態１」を記録し、辺値算出処理を終了する。
【０２５０】
劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理におけるステップＳ１０１による辺値算出処理を終了すると、劣化値推定部１４は、戻り値が「状態１」を示すと判定し（ステップＳ１０２：状態１）、図２３に示す分析処理１を実行する（ステップＳ１０３）。
【０２５１】
劣化値推定部１４は、分析処理１を実行すると、ターゲット範囲内における左テストパスの辺、及びターゲット範囲内における右テストパスの辺の何れか一方を選択する（ステップＳ６０１）。ここでは、ターゲット範囲内における左テストパスの辺の推定劣化値が「０」であり、ターゲット範囲内における右テストパスの辺ターゲット範囲内におけるテストパスの辺の推定劣化値が「−１０」であるため、劣化値推定部１４は、推定劣化値が「０」となっている側の辺であるターゲット範囲内における左テストパスの辺を選択する。
【０２５２】
ステップＳ６０１で劣化値推定部１４がターゲット範囲内におけるテストパスの辺を選択すると、劣化値推定部１４は、図２４に示す辺処理１を実行する（ステップＳ６０２）。ここでは、ターゲット範囲内における左テストパスの辺は「０」であるため、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲内における左テストパスの辺に属するエレメント「５」に、推定劣化値「０」を付与する。
【０２５３】
劣化値推定部１４は、ステップＳ６０２の辺処理１を終了すると、推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて、選択しなかったターゲット範囲内におけるテストパスの辺を構成するエレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されているか否かを判定する（ステップＳ６０３）。
第３の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺を構成するエレメント「９」に個別に推定劣化値「−１０」が付与されているため、劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定する（ステップＳ６０３：ＮＯ）。劣化値推定部１４は、エレメントの個々に「０」以上の推定劣化値が付与されていないと判定すると、ターゲット範囲内における右テストパスの辺を選択し（ステップＳ６０４）、図２４に示す辺処理１を実行する（ステップＳ６０５）。
【０２５４】
劣化値推定部１４は、辺処理１を実行すると、選択したターゲット範囲内におけるテストパスの辺の推定劣化値が、正数であるか、「０」であるか、負数であるかを判定する（ステップＳ７０１）。第３の処理例では、ターゲット範囲内における右テストパスの辺は「−１０」であるため、劣化値推定部１４は、推定劣化値が負数であると判定する（ステップＳ７０１：＜０）。劣化値推定部１４は、推定劣化値が負数であると判定すると、推定対象管理部１８は、分岐ノードから見て選択された辺側に隣接するノードを示す推定対象情報を新たな分岐ノードとしてスタック部１９に追加する（ステップＳ７０２）。すなわち、推定対象管理部１８は、分岐ノード「６」の右側に隣接するノード「８」を示す推定対象情報をスタック部１９に追加する。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は、追加した順番に、「２」「８」となる。
推定対象管理部１８がスタック部１９に推定対象情報を追加すると、劣化値推定部１４は、辺処理１を終了する。
【０２５５】
劣化値推定部１４は、図２３に示す分析処理１のステップＳ６０５による辺処理１を終了すると、分析処理１を終了する。また、劣化値推定部１４は、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理のステップＳ１０３による分析処理１を終了すると、エレメントの劣化値特定処理を終了する。
【０２５６】
劣化値推定部１４が図７に示すメインルーチンのステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、追加した順番に、「２」「８」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「８」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９が記憶する推定対象情報は「２」のみとなる。
【０２５７】
［ループ６回目］
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ５回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「８」を取り出したため、ノード「８」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化値推定部１４は、分岐ノード「８」に推定劣化値「２０」が付与されていると判定し（ステップＳ５：ＹＥＳ）、測定指示の送受信処理を実行せずにターゲット範囲をエレメント「７〜９」の範囲に決定する（ステップＳ１０）。そして、劣化値推定部１４は、図５１（ｃ）に示すように、ターゲット範囲の劣化値「１０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「１０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「２０」を算出する。
【０２５８】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。このとき、「和の性質」が成立するため、第１の処理例の［ループ２回目］と同様の処理により、劣化値推定部１４は、図５１（ｄ）に示すように、エレメント「７、８」のそれぞれに推定劣化値「０」を、エレメント「９」に推定劣化値「１０」を付与する。
【０２５９】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は、「２」を示す推定対象情報を記憶しているため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定する（ステップＳ１５：ＮＯ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空でないと判定すると、スタック部１９から推定対象情報「２」を取り出す（ステップＳ１６）。このときスタック部１９は空となる。
【０２６０】
［ループ７回目］
次に、劣化箇所推定装置１は、［ループ６回目］のステップＳ１６で推定対象管理部１８がスタック部１９から推定対象情報「２」を取り出したため、ノード「２」を新たな分岐ノードとして処理を実行する。
劣化値推定部１４は、分岐ノード「２」に推定劣化値「０」が付与されていると判定し（ステップＳ５：ＹＥＳ）、測定指示の送受信処理を実行せずにターゲット範囲をエレメント「１〜３」の範囲に決定する（ステップＳ１０）。そして、劣化値推定部１４は、ターゲット範囲の劣化値「０」、ターゲット範囲内における左テストパスの劣化値「０」、ターゲット範囲内における右テストパスの劣化値「１０」を算出する。
【０２６１】
次に、逆側検証状態フラグが「ＯＦＦ」となっているため、劣化値推定部１４は、逆側検証フラグが論理「ＯＦＦ」であると判定し（ステップＳ１２：ＮＯ）、図１２に示すエレメントの劣化値特定処理を実行する（ステップＳ１３）。ここでは、「和の性質」が成立するため、第１の処理例の［ループ２回目］と同様に、エレメント「１、２」のそれぞれに推定劣化値「０」を、エレメント「３」に推定劣化値「１０」を付与する。
【０２６２】
劣化値推定部１４がステップＳ１３によるエレメントの劣化値特定処理を終了すると、スタック部１９は空であるため、推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であると判定する（ステップＳ１５：ＹＥＳ）。
推定対象管理部１８は、スタック部１９が空であると判定すると、処理を終了する。なお、このとき推定劣化値テーブル記憶部１３が記憶する推定劣化値テーブルにおいて推定劣化値が「０」でないエレメント「３、４、９、１４」が、劣化箇所として推定されたエレメントとなる。
図４７と比較すると、劣化箇所推定装置１により、正しく劣化箇所が推定できていることが分かる。
【０２６３】
このように、本実施形態によれば、劣化値推定部１４は、劣化検出部１１が検出した劣化値とＩＰ品質算出部１７が算出した第１のテストパス及び第２のテストパスの劣化値とに基づいてターゲット範囲内の各エレメントの劣化値を算出し、推定対象管理部１８が、個別のエレメントに対して劣化値が推定されていない辺の分岐ノードを示す推定対象情報をスタック部１９に追加する。
そして、劣化値推定部１４、パス特定部１５、測定指示実行部１６、及びＩＰ品質算出部１７は、スタック部１９が空になるまで処理を繰り返し実行する。
これにより、特定のパスにおける劣化箇所推定を少ないステップ数で行うことができる。
【０２６４】
図５２は、証明に用いる変数とパスとの関係を示す図である。
以下に、本実施形態による劣化箇所推定装置１が正しく劣化箇所の推定を行うことを証明する。
まず、図１３に示す辺値算出処理において、「和の性質」が成立した場合に、ステップＳ２０２の処理によって推定劣化値を算出する理由を説明する。
図５２に示すように、ターゲットパスＰａｔｈ１の劣化値をα、左テストパスＰａｔｈ２の劣化値をβ、右テストパスＰａｔｈ３の劣化値をγ、左テストパスの辺の劣化値をＬ１、テストパスの足の劣化値をＬ２、右テストパスの辺の劣化値をＬ３、分岐ノードの劣化値をＮと定義する。
この場合、上述したように式（７）〜式（９）が成立する。
【０２６５】
【数７】
2011087197.tif 000009
【０２６６】
【数８】
2011087197.tif 000010
【０２６７】
【数９】
2011087197.tif 000011
【０２６８】
また、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｎは劣化値であるため、０以上の数値であることから、式（１０）が成立する。
【０２６９】
【数１０】
2011087197.tif 000012
【０２７０】
ここで、「和の性質」が成立する場合、すなわち、劣化値αと劣化値βとを加算した値が劣化値γと等しい場合、「α＋β＝γ」が成立する。したがって、式（７）〜式（９）から、「Ｎ＝−２Ｌ１」が導出される。また、式（１０）より、「Ｎ＝Ｌ１＝０」が導出される。
よって、式（７）〜式（９）から、「α＝Ｌ３」、「β＝Ｌ２」、「γ＝Ｌ２＋Ｌ３」が成立することが証明される。また、「α＋γ＝β」の場合、「β＋γ＝α」の場合も対象性により、同様に成立することとなる。
したがって、辺値算出処理において、「和の性質」が成立した場合、ステップＳ２０２の処理によって推定劣化値を算出することで、正しく劣化箇所の推定を行うことができる。
【０２７１】
次に、図１３に示す辺値算出処理において、「和の性質」が成立せず、かつテストパスの辺の少なくとも何れか一方の推定劣化値が負値となった場合に、テストパスの足に必ず劣化値が存在することを証明する。
辺値算出処理のステップＳ２０４の処理により、足の劣化値を「０」と仮定して算出した右テストパスの推定劣化値が負値になった場合、式（１１）が成立する。
【０２７２】
【数１１】
2011087197.tif 000013
【０２７３】
また、式（７）〜式（９）から、「β＋γ−α＝Ｎ＋２Ｌ２」が導出される。
よって、式（９）、式（１１）及び上式より、「Ｌ３＜Ｌ２」が導出される。
ここで、テストパスの足の劣化値Ｌ２が０であると仮定すると、「Ｌ３＜０」となり、式（１０）と矛盾することとなる。
したがって、ここで、「和の性質」が成立しない場合において、テストパスの辺の少なくとも何れか一方の推定劣化値が負値となったときには、テストパスの足には必ず劣化値が存在することが分かる。
【０２７４】
次に、テストパスの足の劣化値が取り得る範囲が、Ｍａｘ（−Ｘ，−Ｚ）以上となる理由を説明する。
ここで、式（７）〜式（９）から、式（１２）〜式（１４）が導出される。
【０２７５】
【数１２】
2011087197.tif 000014
【０２７６】
【数１３】
2011087197.tif 000015
【０２７７】
【数１４】
2011087197.tif 000016
【０２７８】
また、式（１２）、式（１３）より式（１５）が、式（１３）、式（１４）より式（１６）が導出される。
【０２７９】
【数１５】
2011087197.tif 000017
【０２８０】
【数１６】
2011087197.tif 000018
【０２８１】
また、式（１０）より、式（１７）及び式（１８）が導出される。
【０２８２】
【数１７】
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【０２８３】
【数１８】
2011087197.tif 000020
【０２８４】
したがって、式（１７）、式（１８）より式（１９）が導出される。
【０２８５】
【数１９】
2011087197.tif 000021
【０２８６】
ここで、上述したように、辺値算出処理のステップＳ２０４では、式（１）、式（３）に基づいてＸ及びＺを算出するため、テストパスの足の劣化値が取り得る範囲は、Ｍａｘ（−Ｘ，−Ｚ）以上となることが分かる。
【０２８７】
次に、テストパスの辺の劣化値が負値となる条件、及び取り得る劣化値がＹ／２以下となることを証明する。
上述したように、辺値算出処理のステップＳ２０４で、式（１）〜式（３）を用いて、左テストパスの推定劣化値Ｘ、分岐ノードの推定劣化値Ｙ、右テストパスの推定劣化値Ｚを算出することから、式（１）〜式（３）及び式（７）〜式（９）から、式（２０）〜式（２２）が導出される。
【０２８８】
【数２０】
2011087197.tif 000022
【０２８９】
【数２１】
2011087197.tif 000023
【０２９０】
【数２２】
2011087197.tif 000024
【０２９１】
図５３は、テストパスの足の劣化値が取り得る範囲を示す図である。
よって、式（２０）及び式（２２）から、Ｌ１＜Ｌ２の場合に左テストパスの辺の劣化値が負値となり、Ｌ３＜Ｌ２の場合に右テストパスの辺の劣化値が負値となることがわかる。
また、式（２１）よりＮ＝Ｙ−２Ｌ２であることから、図５３に示すように、Ｘの取り得る範囲はＹ／２以下となることが分かる。
【０２９２】
以上、図面を参照してこの発明の一実施形態について詳しく説明してきたが、具体的な構成は上述のものに限られることはなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲内において様々な設計変更等をすることが可能である。
【０２９３】
図５４は、劣化箇所の推定を行うことができる他のネットワーク構成を示す図である。
例えば、本実施形態では、図１に示すように、劣化箇所推定装置１が、ツリー構造のネットワーク構成となるネットワークを対象として劣化値の推定を行う場合を説明したが、これに限られず、例えば、図５４に示すように、任意のある測定端末間を接続するパスを二分するノードが存在するネットワークであれば、ネットワークの構造を問わずに劣化値の推定を行うことができる。
【０２９４】
また、本実施形態では、劣化箇所推定装置１の推定対象管理部１８がスタック部１９に対して推定対象情報の追加・取り出し処理を行うことで、分岐ノードの変更及び推定処理の繰り返し実行を行う場合を説明したが、これに限られず、例えば再帰的処理により分岐ノードの変更及び推定処理の繰り返し実行を行っても良い。
【０２９５】
また、本実施形態では、劣化値として通信の遅延時間を用いる場合を説明したが、これに限られず、例えば、パケットロス率などを用いても良い。なお、本実施形態では、正常なエレメントの劣化値が「０」であることを前提に説明を行ったが、実際には正常なエレメントであっても多少の通信の遅延が生じることから、わずかな劣化値が存在する。そのため、本発明による劣化箇所推定装置１の実際の運用時には、例えば、得られた劣化値に対して丸め処理などを行うことにより、正常なエレメントに存在するわずかな劣化値を「０」に近似させることが望ましい。
【０２９６】
なお、本実施形態では、劣化箇所推定装置１が各処理部を備える場合を説明したが、これに限られず、各処理部を互いに接続された異なる装置に搭載しても良い。また、本実施形態では、劣化箇所推定装置１とネットワークトポロジ情報記憶装置１０とを別々に備える場合を説明したが、これに限られず、劣化箇所推定装置１が内部にネットワークトポロジ情報記憶装置１０を備えていても良い。
【０２９７】
なお、本実施形態では、測定指示実行部１６が分岐測定端末に対して左側測定端末及び右側測定端末との通信を行うことを指示する測定指示を送信し、ＩＰ品質算出部１７が左側測定端末、右側測定端末、及び分岐測定端末から受信した測定結果情報に基づいて左／右テストパスの劣化値を算出する場合を説明したが、これに限られず、例えば、測定指示実行部１６が左側測定端末及び右側測定端末に対して分岐測定端末との通信を行うことを指示する測定指示を送信し、ＩＰ品質算出部１７が左側測定端末、右側測定端末、及び分岐測定端末から受信した測定結果情報に基づいて左／右テストパスの劣化値を算出するなど、他の劣化値算出方法を用いても良い。
【０２９８】
なお、上述の劣化箇所推定装置１は内部に、コンピュータシステムを有している。そして、上述した各処理部の動作は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここでコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。
【０２９９】
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。
【符号の説明】
【０３００】
１…劣化箇所推定装置  ２…測定端末  ３…ルータ  １０…ネットワークトポロジ情報記憶装置  １１…劣化検出部  １２…推定劣化値テーブル生成部  １３…推定劣化値テーブル記憶部  １４…劣化値推定部  １５…パス特定部  １６…測定指示実行部  １７…ＩＰ品質算出部  １８…推定対象管理部  １９…スタック部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2011087197.tif 000032
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
2011087197.tif 000050
【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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【図４９】
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【図５０】
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【図５１】
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【図５２】
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【図５３】
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【図５４】
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