(57)【要約】【課題】レーザ光源の発振を防止可能な光ディスク装置、レーザ光制御方法、及びプログラムを提供する。【解決手段】コントローラは、温度センサにて検出した温度が、ＲＯＭに予め設定された温度（例えば０℃）以下である場合、ＡＰＣ目標値を低温時用の値に設定する（ステップＳ８）。そして、ＡＰＣ回路は、コントローラにより設定されたＡＰＣ目標値に従って、後方光モニタ素子から出力される出射光量や、フォトダイオードにて検出されたＡＳ値に基づき、ドライバをコントロールして、ＡＳ値が所定の電圧範囲内に収まらないように、レーザ光源の出射光量を制御する（ステップＳ９）。【選択図】図４
2011081853.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、
前記レーザ光源によって前記レーザ光が照射された前記光ディスクからの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段と、
前記レーザ光源の温度を検出する温度検出手段と、
前記温度検出手段によって検出された温度が所定の温度以下か否かを判別する温度判別手段と、
前記温度判別手段によって検出された温度が前記所定の温度以下であると判別された場合、前記反射光量検出手段によって検出される前記反射光量が所定範囲内に収まらないように、前記レーザ光源から照射される前記レーザ光の出射光量を制御する出射光量制御手段と、
を備える光ディスク装置。
【請求項２】
前記所定の温度において、前記レーザ光源が発振を開始したときの前記レーザ光源への供給電圧である発振開始電圧と、前記反射光量検出手段によって検出された前記反射光量と、の関係を示す曲線を求め、前記発振開始電圧が最小となる該反射光量を中心とした予め定められた範囲を、前記所定範囲として設定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記所定の温度において、前記レーザ光源が発振を開始したときの前記レーザ光源への供給電圧である発振開始電圧と、前記反射光量検出手段によって検出された前記反射光量と、の関係を示す曲線を求め、該出射光量が前記発振開始電圧の最小値に予め定められた電圧を加算した電圧以下とならない該反射光量の範囲を、前記所定範囲として設定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記所定の温度において、前記レーザ光源が発振を開始したときの前記レーザ光源への供給電圧である発振開始電圧と、前記反射光量検出手段によって検出された前記反射光量と、の関係を示す曲線を求め、該曲線の接線の傾きが予め定められた範囲とならない該反射光量の範囲を、前記所定範囲として設定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記レーザ光源を複数備える場合、該レーザ光源毎に前記所定範囲を設定する、
ことを請求項２、３、又は４に記載の光ディスク装置
【請求項６】
光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源を備える光ディスク装置におけるレーザ光制御方法であって、
前記レーザ光源によって前記レーザ光が照射された前記光ディスクからの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出ステップと、
前記レーザ光源の温度を検出する温度検出ステップと、
前記温度検出ステップによって検出された温度が所定の温度以下か否かを判別する温度判別ステップと、
前記温度判別ステップによって検出された温度が前記所定の温度以下であると判別された場合、前記反射光量検出ステップによって検出される前記反射光量が所定範囲内に収まらないように、前記レーザ光源から照射される前記レーザ光の出射光量を制御する出射光量制御ステップと、
を備えることを特徴とするレーザ光制御方法。
【請求項７】
光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源を備える光ディスク装置のコンピュータに、
前記レーザ光源によって前記レーザ光が照射された前記光ディスクからの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手順と、
前記レーザ光源の温度を検出する温度検出手順と、
前記温度検出手順によって検出された温度が所定の温度以下か否かを判別する温度判別手順と、
前記温度判別手順によって検出された温度が前記所定の温度以下であると判別された場合、前記反射光量検出手順によって検出される前記反射光量が所定範囲内に収まらないように、前記レーザ光源から照射される前記レーザ光の出射光量を制御する出射光量制御手順と、
を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置、レーザ光制御方法、及びプログラムに関し、特に、レーザ光源の発振を防止可能な光ディスク装置、レーザ光制御方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置では、ディスクから安定してデータの読み出しを行なうため、レーザ光源の出射光量を一定に保つようにＡＰＣ（Auto Power Control）制御を行なっている（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−２５０３１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
低温環境下では、光ディスクからの反射光量の全加算信号であるＡＳ（All Sum）の値がある所定範囲内となった場合に、レーザ光源が異常発振に至ることがある。このようなレーザは、製造時のバラツキなどに起因して、光ディスク装置に用いられるものにも、実際多数存在している。このため、低温環境下では、正常に動作しない状況に陥る光ディスク装置が出荷されてしまうおそれがあった。
【０００５】
しかしながら、低温環境下においてレーザ光源の出射光量及び電流値について、発振に対する対策を行っている光ディスク装置は、現在存在していない。
【０００６】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、レーザ光源の発振を防止可能な光ディスク装置、レーザ光制御方法、及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明の第１の観点に係る光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、前記レーザ光源によって前記レーザ光が照射された前記光ディスクからの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段と、前記レーザ光源の温度を検出する温度検出手段と、前記温度検出手段によって検出された温度が所定の温度以下か否かを判別する温度判別手段と、前記温度判別手段によって検出された温度が前記所定の温度以下であると判別された場合、前記反射光量検出手段によって検出される前記反射光量が所定範囲内に収まらないように、前記レーザ光源から照射される前記レーザ光の出射光量を制御する出射光量制御手段と、を備える。
【０００８】
また、前記所定の温度において、前記レーザ光源が発振を開始したときの前記レーザ光源への供給電圧である発振開始電圧と、前記反射光量検出手段によって検出された前記反射光量と、の関係を示す曲線を求め、前記発振開始電圧が最小となる該反射光量を中心とした予め定められた範囲を、前記所定範囲として設定する、ようにしてもよい。
【０００９】
さらに、前記所定の温度において、前記レーザ光源が発振を開始したときの前記レーザ光源への供給電圧である発振開始電圧と、前記反射光量検出手段によって検出された前記反射光量と、の関係を示す曲線を求め、該出射光量が前記発振開始電圧の最小値に予め定められた電圧を加算した電圧以下とならない該反射光量の範囲を、前記所定範囲として設定する、ようにしてもよい。
【００１０】
加えて、前記所定の温度において、前記レーザ光源が発振を開始したときの前記レーザ光源への供給電圧である発振開始電圧と、前記反射光量検出手段によって検出された前記反射光量と、の関係を示す曲線を求め、該曲線の接線の傾きが予め定められた範囲とならない該反射光量の範囲を、前記所定範囲として設定する、ようにしてもよい。
【００１１】
そして、前記レーザ光源を複数備える場合、該レーザ光源毎に前記所定範囲を設定する、ようにしてもよい。
【００１２】
また、上記目的を達成するため、本発明の第２の観点に係るレーザ光制御方法は、光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源を備える光ディスク装置におけるレーザ光制御方法であって、前記レーザ光源によって前記レーザ光が照射された前記光ディスクからの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出ステップと、前記レーザ光源の温度を検出する温度検出ステップと、前記温度検出ステップによって検出された温度が所定の温度以下か否かを判別する温度判別ステップと、前記温度判別ステップによって検出された温度が前記所定の温度以下であると判別された場合、前記反射光量検出ステップによって検出される前記反射光量が所定範囲内に収まらないように、前記レーザ光源から照射される前記レーザ光の出射光量を制御する出射光量制御ステップと、を備えることを特徴とする。
【００１３】
さらに、上記目的を達成するため、本発明の第３の観点に係るプログラムは、光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源を備える光ディスク装置のコンピュータに、前記レーザ光源によって前記レーザ光が照射された前記光ディスクからの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手順と、前記レーザ光源の温度を検出する温度検出手順と、前記温度検出手順によって検出された温度が所定の温度以下か否かを判別する温度判別手順と、前記温度判別手順によって検出された温度が前記所定の温度以下であると判別された場合、前記反射光量検出手順によって検出される前記反射光量が所定範囲内に収まらないように、前記レーザ光源から照射される前記レーザ光の出射光量を制御する出射光量制御手順と、を実行させる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、レーザ光源の発振を防止可能な光ディスク装置、レーザ光制御方法、及びプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】光ディスク装置の構成例を示す外観図である。
【図２】光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【図３】ＡＳ値と発振開始電圧との関係を示すグラフ図である。
【図４】ＡＰＣ目標値設定処理の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明を実施するための形態について説明する。
【００１７】
まず、本実施形態に係る光ディスク装置の構成について、図面を参照しつつ説明する。
【００１８】
図１は、光ディスク装置の構成例を示す断面図である。光ディスク装置１は、図１に示すように、光ピックアップ１０と、コントローラ２０と、回路基板３０と、から概略構成されている。
【００１９】
光ピックアップ１０は、モータとしてのスピンドルモータ（図示せず）により回転駆動される光ディスク２に対して矢印で示す半径方向にシーク移動自在に構成され、レーザ光源部１１とドライバ１２とを搭載している。
【００２０】
コントローラ２０は、光ディスク装置１内に位置固定的に設けられた回路基板３０上に搭載され、フレキシブルケーブル４０により光ピックアップ１０と電気的に接続されている。
【００２１】
図２は、光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。光ディスク装置１は、図２に示すように、レーザ光源部１１と、ドライバ１２と、複数のフォトダイオード１３と、コントローラ２０と、から概略構成されている。
【００２２】
レーザ光源部１１は、レーザ光源１１１と、後方光モニタ素子１１２と、温度センサ１１３と、を備えている。
【００２３】
レーザ光源１１１は、例えばレーザダイオードなどから構成され、被観察物である光ディスク２に照射するレーザ光を前方に向けて出射する。
【００２４】
後方光モニタ素子１１２は、例えばフォトダイオードなどから構成され、レーザ光源１１１から後方に向けて出射されるレーザ光を受光してその光量（出射光量）をモニタ電流に変換して出力する。
【００２５】
温度センサ１１３は、例えばＰＮジャンクションの温度特性を利用したダイオードやトランジスタなどから構成され、レーザ光源部１１の温度を感知する。
【００２６】
ドライバ１２は、レーザ光源１１１を駆動するためのもので、光ディスク２の読取時には数百ＭＨｚの高周波電流を重畳させてレーザ光源１１１を点灯させ、光ディスク２への書込時にはレーザ光源１１１のオン・オフ（点灯／消灯）動作を高速で行う。
【００２７】
フォトダイオード１３は、Ｉ／Ｖアンプ（電流・電圧変換アンプ）を内蔵し、レーザ光源１１１によってレーザ光が照射された光ディスク２からの反射光を受光し、Ｉ／Ｖ変換を行って電圧信号に変換することなどにより、反射光量の全加算信号であるＡＳ（All Sum）を検出する。
【００２８】
コントローラ２０は、温度センサ１１３の出力に応じて、ドライバ１２を制御するためのもので、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）や、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などから構成されるとともに、ＡＰＣ（Automatic Power Control）回路２１を内蔵している。
【００２９】
ＣＰＵは、ＲＡＭをワークメモリとして用い、ＲＯＭに記憶されているＡＰＣ目標値設定プログラムなどの各種プログラムを実行することで、図４に示すＡＰＣ目標値設定処理などの各種処理を実行する。
【００３０】
ＲＯＭには、ＣＰＵが低温環境下であるか否かを判別する際に閾値となる温度（例えば０℃）が予め設定されている。また、ＲＡＭには、低温環境下であることを示す低温フラグが設けられている。
【００３１】
ＡＰＣ回路２１は、コントローラ２０により設定された目標値（ＡＰＣ目標値）に従って、後方光モニタ素子１１２から出力される出射光量や、フォトダイオード１３にて検出されたＡＳの値（ＡＳ値）に基づき、レーザ光源１１１の出射光量が一定になるように自動的にコントロールする。
【００３２】
コントローラ２０は、温度センサ１１３にて検出した温度が、例えばＲＯＭなどに予め設定された温度（例えば０℃）以下である場合、フォトダイオード１３にて検出されたＡＳの値（ＡＳ値）が所定の電圧範囲内に収まらないように、ＡＰＣ目標値をＡＰＣ回路２１に設定する。
【００３３】
このようなＡＰＣ目標値は、以下のようにして設定される。
【００３４】
同種のレーザ光源１１１でも個体毎に発振するＡＳ値がばらついているため、光ディスク装置１の製造ラインにおいて、レーザ光源１１１を個体毎に発振状況に至らせる。一般的に低温・高電圧になると、素子の動作が原理的に発振しやすくなるため、例えば光ディスク装置１の製造ラインにおいて、レーザ光源１１１を低温環境下にするとともに、レーザ光源１１１への供給電圧を上げることで、レーザ光源１１１の発振を加速再現させて発振状況に至らせればよい。続いて、低温環境下でのＡＳ値と、レーザ光源１１１が発振する発振開始電圧と、の関係を曲線近似するなどして求める。
【００３５】
図３は、ＡＳ値と発振開始電圧との関係を示すグラフ図である。
【００３６】
例えば−３０℃の低温環境下では、図３に示すように、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital Versatile Disc - Read Only Memory）、ＤＶＤ−Ｒ（Digital Versatile Disc - Recordable）、ＤＶＤ−ＲＷ（Digital Versatile Disc - Rewritable）などといったメディアの差違に関わらず、ＡＳ値が２５５０［ｍＶ］付近のときに、発振開始電圧が最小値（＝５．０２［Ｖ］）となる。そして、本実施形態では、ＡＳ値が、発振開始電圧が最小値となるＡＳ値を基準として±１５０［ｍＶ］の電圧範囲内、即ちａ（＝２４００）〜ｂ（＝２７００）［ｍＶ］の電圧範囲内に収まらないように、ＡＰＣ目標値を設定する。なお、ＡＳ値が、発振開始電圧の最小値（＝５．０２［Ｖ］）から＋０．０３Ｖ（＝５．０５［Ｖ］）程度以下を発振開始電圧とする電圧範囲内に収まらないように、ＡＰＣ目標値を設定してもよい。或いは、ＡＳ値が、図３に示す曲線の傾き（＝発振開始電圧［Ｖ］／ＡＳ値［Ｖ］）が約±０．１７以下とならない電圧範囲内に収まらないように、ＡＰＣ目標値を設定してもよい。
【００３７】
このようにＡＰＣ目標値を設定すれば、レーザ光源１１１の発振を防止して光ディスク装置１が動作しない状況を回避することが可能となる。
【００３８】
次に、上記構成を備える光ディスク装置の動作について図面を参照しつつ説明する。
【００３９】
コントローラ２０は、光ディスク装置１に光ディスク２が挿入されると、以下のＡＰＣ目標値設定処理を実行する。
【００４０】
図４は、ＡＰＣ目標値設定処理の詳細を示すフローチャートである。
【００４１】
ＡＰＣ目標値設定処理において、コントローラ２０は、図４に示すように、まず、温度センサ１１３により感知されたレーザ光源１１１の温度を検出する（ステップＳ１）。次に、コントローラ２０は、ステップＳ１の処理にて検出した温度が、例えばＲＯＭなどに予め設定された温度（例えば０℃）以下であるか否かを判別する（ステップＳ２）。
【００４２】
ステップＳ１の処理にて検出した温度が予め設定された温度を超えている場合には（ステップＳ２；Ｎｏ）、例えばＲＡＭに設けられた低温フラグがオンであるか否かを判別する（ステップＳ３）。
【００４３】
ここで、低温フラグがオンであれば（ステップＳ３；Ｙｅｓ）、コントローラ２０は、低温フラグをクリアしてオフ状態とするとともに（ステップＳ４）、ＡＰＣ目標値をデフォルト値（高温時用の値）に設定する（ステップＳ５）。これに対して、低温フラグがオフであれば（ステップＳ３；Ｎｏ）、コントローラ２０は、ステップＳ４及びステップＳ５の処理をスキップする。
【００４４】
一方、ステップＳ１の処理にて検出した温度が予め設定された温度以下である場合には（ステップＳ２；Ｙｅｓ）、例えばＲＡＭに設けられた低温フラグがオンであるか否かを判別する（ステップＳ６）。
【００４５】
ここで、低温フラグがオフであれば（ステップＳ６；Ｎｏ）、コントローラ２０は、低温フラグをオン状態にセットするとともに（ステップＳ７）、ＡＰＣ目標値を低温時用の値に設定する（ステップＳ８）。これに対して、低温フラグがオンであれば（ステップＳ６；Ｙｅｓ）、コントローラ２０は、ステップＳ７及びステップＳ８の処理をスキップする。
【００４６】
そして、ＡＰＣ回路２１は、コントローラ２０により設定されたＡＰＣ目標値に従って、後方光モニタ素子１１２から出力される出射光量や、フォトダイオード１３にて検出されたＡＳの値（ＡＳ値）に基づき、ドライバ１２をコントロールして、ＡＳ値が所定の電圧範囲内に収まらないように、レーザ光源１１１の出射光量を制御する（ステップＳ９）。
【００４７】
具体的には、ＡＰＣ目標値として低温時用の値が設定された場合には、ＡＳ値が２４００〜２７００［ｍＶ］の電圧範囲内に収まらないように、レーザ光源１１１の出射光量をコントロールする。
【００４８】
そして、コントローラ２０は、光ディスク２の再生が終了したか否かを判別し（ステップＳ１０）、終了していなければ（ステップＳ１０；Ｎｏ）、ステップＳ１の処理へとリターンする。これに対して、光ディスク２の再生が終了していれば（ステップＳ１０；Ｙｅｓ）、コントローラ２０は、ＡＰＣ目標値設定処理を終了する。
【００４９】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置１は、レーザ光源１１１の発振を誘発させる条件（低温・高電圧）を用い、レーザ光源１１１が発振するＡＳ値を予め検出しておくことで、メディアに関係なく、得られる信号レベル（ＡＳ値）を用いてレーザ光源１１１の発振回避を行うことができる。すなわち、光ディスク装置１によれば、低温環境下においてＡＰＣ目標値をデフォルト値から変更することで、得られる信号振幅（ＡＳ値）は上下するが、最悪の状況であるレーザ光源１１１の発振を回避することが可能となる。従って、光ディスク装置１が動作しないという状況が回避できようになる。
【００５０】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されず、種々の変形、応用が可能である。以下、本発明に適用可能な上記実施形態の変形態様について、説明する。
【００５１】
上記実施形態では、光ディスク装置１が単一のレーザ光源１１１を備えるものとして説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、光ディスク装置１は、複数のレーザ光源を備えるものであってもよい。この場合には、レーザ光源毎に、発振するＡＳ値の電圧範囲を検出し、ＡＳ値がその電圧範囲内に収まらないようにＡＰＣ目標値を設定すればよい。
【００５２】
上記実施形態では、図４に示すＡＰＣ目標値設定処理において、温度センサ１１３によって検出された温度が予め設定された温度（例えば０℃）以下であるか否かに応じて、ＡＰＣ目標値が二段階で設定されるものとして説明した。しかしながら、本発明はこれに限定されるものではなく、ＡＰＣ目標値が三段階以上で設定されるものであってもよい。製造ラインにおいて、複数の低温環境下でのＡＳ値と発振開始電圧との関係を調べれば、その分だけＡＰＣ目標値を細かく設定できる。
【００５３】
上記実施形態では、ＡＳ（All Sum）信号を用いるものとして説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、その他、光ディスク２からの反射信号、例えばＲＦ（Radio Frequency）信号・ＦＥ（Focusing Error）信号等、様々な信号を用いて検出することで、同様な処理を行うことが可能となる場合、これらの信号も本件の適用範囲となる。また、ＡＳ信号とＲＦ信号とのエンベロープ比を示す比の信号など、これらの信号を組み合わせたものを用いてもよいし、Ｈｏｌｄ値を用いてもよい。
【００５４】
上記実施形態において、コントローラ２０のＣＰＵが実行するプログラムは、予めＲＯＭなどに記憶されるものとして説明した。しかしながら、本発明は、これに限定されるものではなく、上述の処理を実行させるためのプログラムを、既存の汎用光ディスク装置のコンピュータに適用することで、上記実施形態に係るコントローラ２０として機能させてもよい。
【００５５】
また、このようなプログラムの提供方法は任意であり、例えばコンピュータが読取可能な記録媒体（例えばフレキシブルディスク（Flexible Disc；ＦＤ）や、ＭＯ（Magneto-Optical Disc）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリ、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital Versatile Disc Read Only Memory）、ＢＤ−ＲＯＭ（Blu-ray Disc Read Only Memory）など）に格納して配布してもよいし、インターネット等のネットワーク上のストレージにプログラムを格納しておき、これをダウンロードさせることにより提供してもよい。
【００５６】
さらに、上記の処理をＯＳ（Operating System）とアプリケーションプログラムとの分担、又はＯＳとアプリケーションプログラムとの協働によって実行する場合には、アプリケーションプログラムのみを記録媒体やストレージに格納してもよい。
【００５７】
加えて、搬送波にプログラムを重畳し、ネットワークを介して配信することも可能である。例えば、ネットワーク上の掲示板（Bulletin Board System；ＢＢＳ）に上記プログラムを掲示し、ネットワークを介してプログラムを配信してもよい。
【００５８】
そして、このプログラムを起動し、ＯＳの制御下で、他のアプリケーションプログラムと同様に実行することにより、上記の処理を実行できるように構成してもよい。
【符号の説明】
【００５９】
１  光ディスク装置
２  光ディスク
１０  光ピックアップ
１１  レーザ光源部
１２  ドライバ
１３  フォトダイオード
２０  コントローラ
２１  ＡＰＣ回路
３０  回路基板
４０  フレキシブルケーブル
１１１  レーザ光源
１１２  後方光モニタ素子
１１３  温度センサ
【図１】
2011081853.tif 000003
【図２】
2011081853.tif 000004
【図３】
2011081853.tif 000005
【図４】
2011081853.tif 000006