(57)【要約】【課題】従来、反射防止層を形成した後でなければ検出できなかった、偏光板が有するスジムラ等の欠陥を、反射防止層を形成する前に検出可能な偏光板の検査方法および該方法を利用した偏光板の製造方法を提供する。【解決手段】本発明にかかる偏光板の検査方法は、検査対象である検査偏光板の一方の面側に配置された第一偏光板を介して検査偏光板に光を照射しつつ、検査偏光板の他方の面側に配置された第二偏光板を介して検査偏光板を観察することによって検査偏光板の欠陥を検査する偏光板の検査方法であって、第一偏光板と検査偏光板とは、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度±５度となるように配置され、第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度±５度となるように配置される。【選択図】図１
2011149741.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象である検査偏光板の一方の面側に配置された第一偏光板を介して検査偏光板に光を照射しつつ、検査偏光板の他方の面側に配置された第二偏光板を介して検査偏光板を観察することによって検査偏光板の欠陥を検査する偏光板の検査方法であって、
第一偏光板と検査偏光板とは、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度±５度となるように配置され、
第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度±５度となるように配置されることを特徴とする偏光板の検査方法。
【請求項２】
第一偏光板と検査偏光板とは、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度となるように配置され、第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度となるように配置されることを特徴とする請求項１に記載の偏光板の検査方法。
【請求項３】
上記検査偏光板は、反射防止層が形成されていない偏光板であることを特徴とする請求項１または２に記載の偏光板の検査方法。
【請求項４】
請求項３に記載の検査方法によって検査偏光板の欠陥を検査する検査工程と、
上記検査工程において欠陥がないと判定された検査偏光板に反射防止層を形成する反射防止層形成工程と、を含むことを特徴とする偏光板の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は偏光板の検査方法および偏光板の製造方法に関する。より具体的には、従来、反射防止層を形成した後でなければ検出できなかった、偏光板が有するスジムラ等の欠陥を、反射防止層を形成する前に検出可能な偏光板の検査方法および該方法を利用した偏光板の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
偏光板は、液晶表示装置における偏光の供給素子として、また、偏光の検出素子として広く用いられている。かかる偏光板としては、従来、ポリビニルアルコール系樹脂からなる偏光フィルムにトリアセチルセルロースからなる保護膜を接着したものが使用されている。
【０００３】
偏光板が使用される機器として、近年屋外で使用する液晶表示装置を使用する電子機器、例えばパーソナルコンピュータ、携帯電話、液晶テレビが普及した。しかしながら液晶表示装置を屋外などで使用する場合、強い外光の影響を受けることによって表示が見難くなることがある。このことへの対策として、偏光板表面に、スパッタリングや蒸着などの方法によって反射防止層が形成された偏光板が採用されている。これまで、反射防止層を有する偏光板では、偏光板に存在するスジムラ等の欠陥の検査は、反射防止層が形成された後に行われている。
【０００４】
一方、これまでに、光学フィルムを検査対象として、該フィルムをクロスニコルに配置した偏光板間に配置し、該フィルムの位相差ムラや揮点欠陥等を検査する方法がいくつか知られている（特許文献１〜３）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−３２７９１５号公報（２００７年１２月２０日公開）
【特許文献２】特開２００７−３３４２９６号公報（２００７年１２月２７日公開）
【特許文献３】特開２００８−２９８５５７号公報（２００８年１２月１１日公開）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
これまで、反射防止層を有する偏光板の欠陥検査は、偏光板に反射防止層を形成した後で、目視または顕微鏡により偏光板を観察することによって行われていた。これは、反射防止層が形成されていない状態では、表面反射によりムラ、欠陥などが観察され難いが、反射防止層が形成されると、表面反射が大きく低減され、ムラ、欠陥などが見え易くなるためである。一方、反射防止層を形成するためのコストは高額であるため、反射防止層を形成したにもかかわらず、欠陥が検出されたために廃棄せざるを得ない偏光板が発生し、製造上好ましくない結果を招いていた。そこで、反射防止層を形成する前に偏光板の欠陥を検出可能な技術が切望されていた。
【０００７】
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、従来、反射防止層を形成した後でなければ検出できなかった、偏光板が有するスジムラ等の欠陥を、反射防止層を形成する前に検出可能な偏光板の検査方法および該方法を利用した偏光板の製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するために、本発明者は、種々の検査法を検討した結果、検査対象である偏光板（以下、検査偏光板と称する）の吸収軸に着目し、検査偏光板を二枚の偏光板間に配置して、検査偏光板の吸収軸と、二枚の偏光板の吸収軸とがなす角度を所定の角度とすることにより、反射防止層を形成しなくても偏光板の欠陥を検出できることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００９】
すなわち、本発明にかかる偏光板の検査方法は、検査対象である検査偏光板の一方の面側に配置された第一偏光板を介して検査偏光板に光を照射しつつ、検査偏光板の他方の面側に配置された第二偏光板を介して検査偏光板を観察することによって検査偏光板の欠陥を検査する偏光板の検査方法であって、第一偏光板と検査偏光板とは、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度±５度となるように配置され、第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度±５度となるように配置されることを特徴としている。
【００１０】
上記構成によれば、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とが略平行の位置関係にあることにより、第一偏光板および検査偏光板を通過した光は高い偏光特性を有し、第一偏光板および検査偏光板の吸収軸に対して第二偏光板の吸収軸が略直交の位置関係にあることにより、合計３枚の偏光板を通過した光がほとんど観察されない状態になると考えられる。そのため、このとき、検査偏光板に偏光を乱す要因（ムラ、欠陥など）が存在すると、その部分は光を容易に通過させることができると考えられる。それゆえ、検査対象が反射防止層を形成する前の偏光板であっても、簡便にかつ短時間で、欠陥を確実に検出することができるものと推定される。
【００１１】
本発明にかかる偏光板の検査方法は、第一偏光板と検査偏光板とは、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度となるように配置され、第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度となるように配置されることが好ましい。
【００１２】
第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸との位置関係は、互いに平行である位置関係から多少ずれていても検査偏光板の検査精度に与える影響は小さく、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸の位置関係も、互いに直交する位置関係から多少ずれていても検査精度に与える影響は小さいため、十分に欠陥の検査を行うことができる。しかしながら、上記構成、すなわち第二偏光板の吸収軸が検査偏光板および第一偏光板の吸収軸とクロスニコルに配置された構成であれば、上記位置関係が上述のようにずれている場合よりも、より高精度に欠陥の検出を行うことができる。
【００１３】
本発明にかかる偏光板の検査方法は、上記検査偏光板は、反射防止層が形成されていない偏光板であることが好ましい。既に反射防止層が形成されている偏光板であれば、目視で欠陥を検出できるため、特に本発明の検査方法に供する必要性はないが、上記構成によれば、従来、反射防止層を形成した後でなければ検出できなかった欠陥を上記形成を行う前に検出することができる。そのため、不良品発生を未然に防止することができ、偏光板の製造コストを大幅に削減することができる。
【００１４】
本発明にかかる偏光板の製造方法は、反射防止層が形成されていない偏光板を検査偏光板とし、本発明にかかる検査方法によって上記検査偏光板の欠陥を検査する検査工程と、上記検査工程において欠陥がないと判定された検査偏光板に反射防止層を形成する反射防止層形成工程と、を含むことを特徴としている。
【００１５】
上記構成によれば、検査偏光板の欠陥を検出した後に、良品に対してのみ反射防止層を形成するため、不良品発生頻度を著しく低下させることができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は、検査対象である検査偏光板の一方の面側に配置された第一偏光板を介して検査偏光板に光を照射しつつ、検査偏光板の他方の面側に配置された第二偏光板を介して検査偏光板を観察することによって検査偏光板の欠陥を検査する偏光板の検査方法であって、第一偏光板と検査偏光板とは、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度±５度となるように配置され、第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度±５度となるように配置されるという構成である。それゆえ、検査対象が反射防止層を形成する前の偏光板であっても、欠陥を確実に検出することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】検査偏光板、第一偏光板および第二偏光板の相対的な位置関係を示す模式図である。
【図２】第二偏光板を検査偏光板に対して移動させながら、第二偏光板を介して検査偏光板を観察する様子を示す図である。
【図３】本発明にかかる偏光板の検査方法の一実施形態として、第二偏光板をレンズとして有するゴーグルを用いて検査偏光板の欠陥を検査する方法を示すものである。
【図４】本発明にかかる検査方法によって、反射防止層が形成されていない検査偏光板に欠陥が存在することを検出した例を示すものである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
【００１９】
（１．偏光板の検査方法）
本発明にかかる偏光板の検査方法は、検査対象である検査偏光板の一方の面側に配置された第一偏光板を介して検査偏光板に光を照射しつつ、検査偏光板の他方の面側に配置された第二偏光板を介して検査偏光板を観察することによって検査偏光板の欠陥を検査する偏光板の検査方法であって、第一偏光板と検査偏光板とは、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度±５度となるように配置され、第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度±５度となるように配置される。
【００２０】
検査偏光板、第一偏光板、第二偏光板の種類としては、特に限定されるものではなく、従来公知の偏光板、例えばポリビニルアルコール（ＰＶＡ）系偏光フィルムの少なくとも片面に保護フィルムが接着されている偏光板を用いることができる。
【００２１】
ＰＶＡ系偏光フィルムとしては、例えば、ＰＶＡ系フィルムにヨウ素を吸着配向せしめたヨウ素系偏光フィルム、ＰＶＡ系フィルムに二色性染料を吸着配向せしめた染料系偏光フィルム、これらのフィルムを部分的に脱水処理したポリエン系偏光フィルム等を挙げることができる。ＰＶＡ系偏光フィルムの厚みは、例えば、約１０〜５０μｍ程度である。ＰＶＡ系フィルムとしては、ＰＶＡフィルム、ポリビニルブチラールフィルム、ポリビニルアセタールフィルム、ポリビニルホルマールフィルム、ポリ（エチレン−酢酸ビニル）共重合体ケン化フィルム等を挙げることができる。
【００２２】
ＰＶＡ系偏光フィルムは、従来公知の方法で作製することができる。例えば、ＰＶＡ系フィルムを空気あるいは不活性ガス中で一軸延伸後、膨潤処理、染色処理、ホウ酸処理および水洗処理の順に溶液処理し、最後に乾燥を行う方法（特開２００５−１７３２１７号公報）や、未延伸のＰＶＡ系フィルムを水溶液で膨潤処理、染色処理、ホウ酸処理および水洗処理の順に溶液処理し、ホウ酸処理工程および／またはその前の工程で湿式にて一軸延伸を行い、最後に乾燥を行う方法（特開２００５−１７３２１７号公報）等を挙げることができる。
【００２３】
保護フィルムとしては、特に限定されるものではないが、例えば、表面をケン化処理したトリアセチルセルロース（ＴＡＣ）、ジアセチルセルロース（ＤＡＣ）等の光学透明性に優れたアセチルセルロース系フィルムを挙げることができる。その厚みは例えば約１０〜２００μｍ程度である。
【００２４】
ＰＶＡ系偏光フィルムと保護フィルムとは、例えばＰＶＡ系接着剤を用いてＰＶＡ系偏光フィルムの少なくとも片面に保護フィルムを接着することによって、偏光板とすることができる。ＰＶＡ系接着剤は、例えばＰＶＡ系樹脂を水に溶解させた後、その水溶液に水溶性エポキシ化合物を溶解して調製することができる。
【００２５】
本明細書において「検査偏光板」とは、スジムラ等の欠陥を検査する対象となる偏光板のことをいう。検査偏光板としては、特に限定されるものではないが、反射防止層が形成されていない偏光板であることが好ましい。本発明にかかる方法によれば、従来、反射防止層を形成した後でなければ検出できなかった欠陥を上記形成を行う前に検出することができるからである。
【００２６】
本明細書では、上記「欠陥」とは、偏光を乱す要因となるものをいう。例えば、揮点となる欠陥や、位相差を有する欠陥などを挙げることができ、偏光板に反射防止層を形成することによって初めて検出される筋状の欠陥（いわゆるスジムラ）等も該当する。第一偏光板および第二偏光板は、検査偏光板の欠陥検出のために用いるものであるため、第一偏光板および第二偏光板としては、欠陥を有さない偏光板を用いることが必要である。本明細書において、第一偏光板とは、光源からの光が照射される偏光板であって、透過光が検査偏光板に照射される偏光板をいう。また、第二偏光板とは、検査偏光板を透過した光が照射される偏光板をいう。
【００２７】
本明細書において、検査偏光板の「一方の面」とは、光が入射される側の面をいい、検査偏光板の「他方の面」とは、検査偏光板に入射した光が透過する側の面をいう。上記「一方の面」と「他方の面」とは互いに向かい合っている。なお、本明細書において、検査偏光板の形状、大きさ、厚みは特に限定されるものではなく、用途に応じて適宜決定すればよい。
【００２８】
検査偏光板の一方の面側には第一偏光板が配置される。この「配置」とは、検査偏光板の「一方の面」の全部または一部と、第一偏光板の面の全部または一部とが向かい合うように配置することをいう。検査偏光板の他方の面側には第二偏光板が配置される。この「配置」とは、検査偏光板の「他方の面」の全部または一部と、第二偏光板の面の全部または一部とが向かい合うように配置することをいう。
【００２９】
さらに、本発明にかかる方法では、第一偏光板と検査偏光板とは、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度±５度となるように配置され、第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度±５度となるように配置される。本明細書において、「吸収軸」とは、偏光板が光を吸収する方向の軸のことをいう。偏光板を通過した光は直線偏光になるが、偏光板は吸収軸方向の光を吸収するため、直線偏光と吸収軸の方向とがなす角度は９０度となる。
【００３０】
図１は、検査偏光板、第一偏光板および第二偏光板の相対的な位置関係を示す模式図である。図１において、１は検査偏光板、２は第一偏光板、３は第二偏光板、４は光源を表し、ａ，ｂ，ｃはそれぞれ、検査偏光板、第一偏光板、第二偏光板の吸収軸を表しており、光源４から第一偏光板２を介して検査偏光板１に光を照射し、図中、「検査：視認側」と記載されている方向から、第二偏光板３を介して検査偏光板１を観察する態様が示されている。
【００３１】
図１において、それぞれの偏光板は互いに空間的に離れて配置されているが、これに限られるものではなく、例えば、検査偏光板１が第一偏光板２の上に載置され、検査偏光板１の上に第二偏光板３が載置されている態様や、検査偏光板１が第一偏光板２の上に載置され、検査偏光板１の上に第二偏光板３が空間的に離れて配置されている態様であってもよい。また、図１では、各偏光板および光源は上下方向に並んでいるが、これに限られるものではなく、例えば左右方向に並んでいてもよい。
【００３２】
「第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度±５度」とは、例えば図１に示すように、紙面に平行で、かつ検査偏光板１の吸収軸ａと平行な方向にｙ軸を、紙面に平行で、かつ検査偏光板１の吸収軸ａと垂直な方向にｘ軸を、紙面に垂直な方向にｚ軸を取り、ｚ軸の方向から第一偏光板２および検査偏光板１を観察した場合に、ｘ−ｙ断面において、第一偏光板２の吸収軸が検査偏光板１の吸収軸に対して０度±５度傾いていることを意味する。
【００３３】
また、「第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度±５度」とは、例えば図１に示すｚ軸の方向から第二偏光板および検査偏光板を観察した場合に、ｘ−ｙ断面において、第二偏光板３の吸収軸が検査偏光板１の吸収軸に対して９０度±５度傾いていることを意味する。つまり、第一偏光板２と第二偏光板３とは、クロスニコルまたは略クロスニコルに配置され、第二偏光板３と検査偏光板１とも、クロスニコルまたは略クロスニコルに配置される。
【００３４】
検査偏光板、第一偏光板および第二偏光板をこのように配置することによって、従来は反射防止層を形成後でなければ観察できなかった偏光板の欠陥を、反射防止層を形成する前に確認することができる。中でも、第一偏光板と検査偏光板とは、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度、すなわち、第一偏光板の吸収軸が検査偏光板の吸収軸と平行になるように配置され、第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度、すなわち、第二偏光板の吸収軸が検査偏光板の吸収軸と直交するように配置されることが好ましい。より精度の高い欠陥検出が可能だからである。
【００３５】
検査偏光板、第一偏光板および第二偏光板は、図１に示すように、ｙ−ｚ断面においてそれぞれが平行に配置されることが好ましいが、これに限定されるものではなく、ｙ−ｚ断面で見た場合に、第一偏光板および第二偏光板は、検査偏光板に対して０度±５度程度傾いていてもよい。
【００３６】
検査偏光板には、第一偏光板を介して光が照射される。光を照射するための光源としては特に限定されるものではなく、従来公知の光源を用いることができる。例えば面光源、ライン照明、全周拡散照明（例；直管蛍光灯）、ビーム照明、ハロゲンランプ、ナトリウムランプ、高周波蛍光灯等を用いることができる。中でも、第一偏光板の、光源と向かい合う領域全体を、光源および第一偏光板を走査せずに照射可能であるという観点から、面光源を用いることが好ましい。面光源とは、光を面状に発光させる光源のことであり、例えば、蛍光灯などの発光体の上面に光拡散板などを設置して面状に均一に発光させる構成の光源や、導光板のエッジにライトを設置し、導光を面発光に変換させる構成の光源等を挙げることができる。照射する光としては可視光であることが好ましい。
【００３７】
「第一偏光板を介して検査偏光板に光を照射する」とは、第一偏光板を透過した光が検査偏光板に照射されることを意味する。「第二偏光板を介して検査偏光板を観察する」とは、観察者と検査偏光板との間に配置された第二偏光板を通して、検査偏光板の「他方の面」のうち、第二偏光板の面と重なり合う部分を観察することをいう。
【００３８】
上述のように、検査偏光板の面の全部または一部は、第一偏光板および第二偏光板の面の全部または一部と向かい合うように配置される。例えば検査偏光板の面のうち、検査すべき領域（検査領域）が予め決まっているような場合は、検査領域のみが第一偏光板および第二偏光板の面の全部または一部と向かい合うように配置されていればよい。通常は、検査偏光板の「一方の面」の全部に、第一偏光板を透過した光を照射することが好ましい。
【００３９】
検査偏光板が第一偏光板および／または第二偏光板に対して相対的に大きい場合、第一偏光板および／または第二偏光板を検査偏光板に対して移動させ、検査を行うことができる。
【００４０】
図２は、第二偏光板を検査偏光板に対して移動させながら、第二偏光板を介して検査偏光板を観察する様子を示す図である。図２では、図示しないが、検査偏光板１の向こう側に検査偏光板１の「一方の面」と同じ面積の面を持つ第一偏光板が配置され、該第一偏光板を介して検査偏光板１の「一方の面」に光が照射されているものとする。図２において、第二偏光板３は検査偏光板１に対して相対的に小さいので、検査偏光板１の「他方の面」のうち、第二偏光板３の面と向かい合う部分を検査領域として欠陥を観察し、該検査領域の全域を検査した後に、図２に示すように第二偏光板３を移動させ、次の検査領域を検査すればよい。
【００４１】
光源から第一偏光板への光の照射角度は特に限定されるものではなく、検査偏光板の被検査領域に対し、第一偏光板を介して光を照射可能な角度であれば構わない。光の強度は特に限定されるものではないが、低いと光度不足により欠陥が視認しにくくなるため、５００カンデラ以上であることが好ましく、３０００カンデラ以上であることがより好ましく、５０００カンデラ以上であることが特に好ましい。光の強度は、高い分には欠陥の視認に影響を与えることはないので、好ましい上限は特に存在しない。
【００４２】
検査偏光板、第一偏光板および第二偏光板は、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度±５度となるように配置され、第二偏光板と検査偏光板とは、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度±５度となるように配置されていれば、それぞれ空間的に離れて配置されていてもよい。図３は、本発明にかかる偏光板の検査方法の一実施形態として、第二偏光板をレンズとして有するゴーグルを用いて検査偏光板の欠陥を検査する方法を示すものである。図３の左側は、上記ゴーグルを用いて検査偏光板を観察する様子を示しており、図３の右側は、図３の左側に対応しており、検査偏光板１、第一偏光板２、第二偏光板３および光源４の配置を、偏光板の厚み方向から見た図である。
【００４３】
図３では、第一偏光板２は光源４の上に載置され、検査偏光板１は第一偏光板２と吸収軸が平行になるように、つまり、第一偏光板２の吸収軸と検査偏光板１の吸収軸とがなす角が０度となるように、第一偏光板２の上に載置される。観察者は第二偏光板３をレンズとして有するゴーグルを装着し、第二偏光板３の吸収軸が検査偏光板１の吸収軸と直交するように、つまり、第二偏光板３の吸収軸と検査偏光板１の吸収軸とがなす角が９０度となるような位置に立ち、第二偏光板３を介して検査偏光板１を観察する。図３に示す例では、第二偏光板３と検査偏光板１とが空間的に離れている。第二偏光板３の吸収軸と検査偏光板１の吸収軸とがなす角が９０度±５度となるようにしさえすれば、観察者はゴーグルを装着して検査偏光板１を観察するだけで検査偏光板の欠陥を検査することができ、工場等での検査の簡便化を達成することができる。
【００４４】
検査偏光板の欠陥の有無を判定する方法としては、特に限定されるものではないが、例えば目視により判定することができる。本発明にかかる検査偏光板の検査方法によれば、従来は反射防止層形成後でなければ確認ができなかった欠陥であっても、目視によって、反射防止層形成前に、実用上問題となる欠陥を十分に確認可能である。さらに詳細な観察を要する場合には、例えば顕微鏡観察を行えばよい。また、第二偏光板を介して観察した検査偏光板を撮像し、得られた画像に対し、例えばエッジの強調、フィルタ処理、色成分の抽出、モノクロ化等の画像処理を行うことによって欠陥の有無を判定することもできる。
【００４５】
（２．偏光板の製造方法）
上述のように、本発明にかかる偏光板の検査方法によれば、反射防止層が形成されていない段階で偏光板の欠陥を検出できるため、検査終了後、欠陥がないと判定された偏光板に対してのみ、反射防止層を形成すれば足り、製造コストの大幅な低減を図ることができる。それゆえ、本発明にかかる偏光板の検査方法によって反射防止層が形成されていない検査偏光板の欠陥を検査する検査工程と、上記検査工程において欠陥がないと判定された検査偏光板に反射防止層を形成する反射防止層形成工程と、を含む偏光板の製造方法も、本発明に含まれる。
【００４６】
検査工程については、「偏光板の検査方法」の項で説明したとおりである。反射防止層形成工程において反射防止層を形成する方法としては特に限定されるものではなく、従来公知の方法を用いることができる。例えば、ドライ法やウエット法を挙げることができる。ドライ法としては、真空蒸着法、スパッタ法などがあり、ディスプレイ用途では表面物性の強い金属酸化物薄膜を形成することが多い。ウエット法としては、スピンコート、ディッピングなどのバッチ処理法、グラビアコートなどの連続処理可能な塗布法などを挙げることができる。
【００４７】
従来は、反射防止層を形成後でなければ偏光板の欠陥を検出することができなかったため、反射防止層を有する偏光板を製造後に欠陥の有無を検出し、不良品を除外する作業が必要であった。反射防止層の形成には高額な費用がかかるため、欠陥が検出された場合、製造上の損失は大きいものであった。
【００４８】
上記偏光板の製造方法は、本発明にかかる検査方法によって欠陥がないことが確認された偏光板に対してのみ反射防止層を形成するものである。そのため、不良品の除外作業は不要であり、製造上の損失を大幅に低減することができ、非常に有用である。
【実施例】
【００４９】
〔実施例１〕
（Ａ）偏光フィルムの作製
平均重合度約２４００、ケン化度９９．９モル％以上で厚さ７５μｍのポリビニルアルコールフィルムを、乾式で約５倍に一軸延伸し、さらに緊張状態に保ったまま、６０℃の純水に１分間浸漬した後、ヨウ素／ヨウ化カリウム／水の重量比が０．１／５／１００の水溶液に２８℃で６０秒間浸漬した。その後、ヨウ化カリウム／ホウ酸／水の重量比が１０．５／７．５／１００の水溶液に７２℃で３００秒間浸漬した。引き続き１０℃の純水で５秒間洗浄した後、９０℃で９０秒間乾燥して、ポリビニルアルコールにヨウ素が吸着配向された偏光フィルムを得た。
【００５０】
（Ｂ）接着剤の調製
別途、１００部の水に、完全ケン化ポリビニルアルコール（クラレポバール１１７Ｈ、（株）クラレ製）３部、アセトアセチル基変性ポリビニルアルコール（ゴーゼファイマーＺ−２００、日本合成化学工業（株）製）３部、塩化亜鉛（ナカライテスク（株）より販売）０．１８部、グリオキザール（ナカライテスク（株）より販売）１．４部を溶解させて、ポリビニルアルコール系樹脂接着剤を調製した。
【００５１】
（Ｃ）偏光板の作製
先に得られた偏光フィルムの両方の面に、ケン化処理が施されたトリアセチルセルロースからなる厚み８０μｍのフィルム（ＫＣ８ＵＸ２Ｍ、コニカミノルタオプト（株）製）を上記接着剤を介して、ニップロールにより貼合した。貼合物の張力を３２０Ｎ／ｍに保ちながら、８０℃で１５０秒間乾燥して、偏光板を得た。得られた偏光板のうち、本発明にかかる検査方法によって、予め欠陥がないことを確認した偏光板を第一偏光板、第二偏光板として用いた。
【００５２】
（Ｄ）欠陥の検査
第一偏光板を面光源（バックライト）上に載置し、第一偏光板上に、第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が０度となるように、つまり第一偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とが平行になるように、上記（Ｃ）で作製された、反射防止層が形成されていない検査偏光板を載置した。さらに、検査偏光板上に、第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とがなす角が９０度となるように、つまり第二偏光板の吸収軸と検査偏光板の吸収軸とが直交するように、第二偏光板を載置した。
【００５３】
次に、バックライトから、第一偏光板を介して検査偏光板に光を照射し、第二偏光板を介して検査偏光板を目視によって観察することにより、検査偏光板の欠陥の有無を検査した。
【００５４】
図４は、本発明にかかる検査方法によって、反射防止層が形成されていない検査偏光板に欠陥が存在することを検出した例を示すものである。図４に示すように、検査偏光板の左下から右上に向けて、約４５度の角度で直線的にスジムラが発生していることが分かる。このような欠陥は、従来は反射防止層を形成した後でなければ検出することができなかったものであるが、反射防止層形成前に欠陥が検出できるため、このような不良品を反射防止層形成工程に回すというリスクを回避することができる。
【００５５】
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
本発明は、偏光板の欠陥を反射防止層形成前に、簡便にかつ短時間で検出することができる。それゆえ、液晶表示装置を使用する電子機器、例えばパーソナルコンピュータ、携帯電話、液晶テレビ等の分野で好適に利用することができる。
【符号の説明】
【００５７】
１  ・・・検査偏光板
２  ・・・第一偏光板
３  ・・・第二偏光板
４  ・・・光源
ａ  ・・・検査偏光板の吸収軸
ｂ  ・・・第一偏光板の吸収軸
ｃ  ・・・第二偏光板の吸収軸
【図１】
2011149741.tif 000003
【図２】
2011149741.tif 000004
【図３】
2011149741.tif 000005
【図４】
2011149741.tif 000006