(57)【要約】【課題】プラズマディスプレイパネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させる。【解決手段】走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素が構成されたプラズマディスプレイパネルを、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動して階調表示するプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、プラズマディスプレイパネルの表示領域を複数の領域に分け、画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき領域毎の残像度数を算出するとともに、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する。【選択図】図６
2011081335.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素が構成されたプラズマディスプレイパネルを、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動して階調表示するプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、
前記プラズマディスプレイパネルの表示領域を複数の領域に分け、
画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出するとともに、前記領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、
前記画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項２】
現フィールドと前記現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、前記フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第１の計数値とし、
隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第２の計数値とし、
前記第１の計数値および前記第２の計数値にもとづき、前記領域毎の残像度数を算出することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項３】
前記第１の計数値が第１のしきい値以上であり、前記第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第１の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第１のしきい値未満かつ前記第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第２の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第３の設定値を加算し、
前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記領域毎の残像度数に第４の設定値を加算して、前記領域毎の残像度数を更新することを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項４】
前記第１の設定値は正の数値であり、前記第２の設定値は「０」であり、前記第３の設定値および前記第４の設定値は負の数値であることを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項５】
更新後の前記残像度数から所定の定数を減算することを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項６】
更新後の前記残像度数を所定の上限値以下に制限することを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項７】
それぞれの前記領域において、前記領域毎の残像度数を前記領域の中央に位置する中央画素の残像度数とし、
前記中央画素以外の画素に関しては、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の前記中央画素との距離、および前記中央画素の残像度数にもとづいて前記画素毎の残像度数を算出することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項８】
前記画素毎の残像度数を所定の基準値から減算し、その減算結果を前記基準値で除算した結果を各画素の輝度の階調値に乗算することで、各画素の輝度の階調値を変更することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項９】
各画素の輝度の階調値が、所定の高輝度しきい値以上になる画素においてのみ、残像度数にもとづく輝度の階調値の変更を行うことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１０】
画像信号の平均輝度レベルを検出し、前記平均輝度レベルが大きいときには、前記平均輝度レベルが小さいときよりも残像度数が小さくなるように、前記平均輝度レベルにもとづき前記画素毎の残像度数を変更することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１１】
サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを前記維持期間に発生するとともに、
前記輝度倍率が小さいときには、前記輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、前記輝度倍率にもとづき前記画素毎の残像度数を変更することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１２】
サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを前記維持期間に発生するとともに、
前記輝度倍率の大きさに応じて前記第１の設定値の大きさを変更することを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１３】
前記輝度倍率が第４のしきい値以上のときには前記第１の設定値を正の数値とし、
前記輝度倍率が第４のしきい値未満のときには前記第１の設定値を「０」とすることを特徴とする請求項１２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１４】
残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも輝度の階調値が平滑化されるように、前記画素毎の残像度数にもとづき各画素の輝度の階調値を平滑化することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１５】
画像信号にもとづき各画素に設定される彩度を前記画素毎の残像度数にもとづき変更し、残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも彩度を下げることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１６】
画素数が互いに等しくなるように、前記表示電極対が延伸する方向に複数の境界を設けるとともに前記データ電極が延伸する方向に複数の境界を設けて前記領域を設定することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１７】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて階調表示するプラズマディスプレイパネルと、
画像信号に応じて各画素に輝度および彩度の階調値を設定し、前記輝度および彩度の階調値の大きさに応じて、前記放電セルにおける前記サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路とを備え、
前記画像信号処理回路は、
前記プラズマディスプレイパネルの表示領域を複数の領域に分け、
画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出するとともに、前記領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、
前記画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、壁掛けテレビや大型モニターに用いられるプラズマディスプレイパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
プラズマディスプレイパネル（以下、「パネル」と略記する）として代表的な交流面放電型パネルは、対向配置された前面板と背面板との間に多数の放電セルが形成されている。前面板は、１対の走査電極と維持電極とからなる表示電極対が前面ガラス基板上に互いに平行に複数対形成されている。そして、それら表示電極対を覆うように誘電体層および保護層が形成されている。背面板は、背面ガラス基板上に複数の平行なデータ電極が形成され、それらデータ電極を覆うように誘電体層が形成され、さらにその上にデータ電極と平行に複数の隔壁が形成されている。そして、誘電体層の表面と隔壁の側面とに蛍光体層が形成されている。そして、表示電極対とデータ電極とが立体交差するように前面板と背面板とが対向配置されて密封されている。密封された内部の放電空間には、例えば分圧比で５％のキセノンを含む放電ガスが封入され、表示電極対とデータ電極とが対向する部分に放電セルが形成される。このような構成のパネルにおいて、各放電セル内でガス放電により紫外線を発生させ、この紫外線で赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）および青色（Ｂ）の各色の蛍光体を励起発光させてカラー表示を行っている。
【０００３】
パネルを駆動する方法としては一般にサブフィールド法が用いられている。サブフィールド法では、１フィールドを複数のサブフィールドに分割し、それぞれのサブフィールドで各放電セルを発光または非発光させることにより階調表示を行う。各サブフィールドは、初期化期間、書込み期間および維持期間を有する。
【０００４】
初期化期間では、各走査電極に初期化波形を印加し、各放電セルで初期化放電を発生させる。それにより、各放電セルにおいて、続く書込み動作のために必要な壁電荷を形成するとともに、書込み放電を安定して発生させるためのプライミング粒子（書込み放電を発生させるための励起粒子）を発生させる。
【０００５】
書込み期間では、走査電極に走査パルスを印加するとともに、データ電極には表示すべき画像信号にもとづき書込みパルスを印加して表示を行うべき放電セルに書込み放電を発生させ壁電荷を形成する（以下、この動作を「書込み」とも記す）。
【０００６】
維持期間では、サブフィールド毎に定められた数の維持パルスを走査電極と維持電極とからなる表示電極対に交互に印加する。それにより、書込み放電を起こした放電セルで維持放電を発生させ、その放電セルの蛍光体層を発光させる。これにより、各放電セルを、サブフィールド毎に定められた輝度重みに応じた輝度で発光させる。このようにしてパネルの各放電セルを画像信号の階調値に応じた輝度で発光させて画像表示を行う。
【０００７】
また、サブフィールド法の１つとして、緩やかに変化する電圧波形を用いて初期化放電を行い、さらに維持放電を行った放電セルに対して選択的に初期化放電を行うことで、階調表示に関係しない発光を極力減らしコントラスト比を向上させた駆動方法が開示されている。
【０００８】
具体的には、複数のサブフィールドのうち、１つのサブフィールドの初期化期間においては全ての放電セルに初期化放電を発生させる全セル初期化動作を行い、他のサブフィールドの初期化期間においては直前の維持期間で維持放電を行った放電セルにのみ初期化放電を発生させる選択初期化動作を行う。このように駆動することにより、画像の表示に関係のない発光によって変化する黒表示領域の輝度（以下、「黒輝度」と略記する）は全セル初期化動作における微弱発光だけとなり、コントラストの高い画像表示が可能となる（例えば、特許文献１参照）。
【０００９】
一方、近年のパネルの高精細化、大画面化にともない、パネルの発光効率を向上させ、輝度を向上させるための様々な取り組みがなされている。例えば、放電セル内に充填する放電ガスのキセノン分圧を高めて発光効率を高める検討が進められている。しかし、放電ガスのキセノン分圧を高めると放電の発生するタイミングのばらつきが大きくなり、放電セル毎の発光強度にばらつきを生じて表示輝度が不均一になることがあった。この輝度の不均一を改善するために、例えば複数回に１回の割合で立ち上がりの急峻な維持パルスを挿入して維持放電のタイミングを揃え、表示輝度を均一化する駆動方法が開示されている（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２０００−２４２２２４号公報
【特許文献２】特開２００５−３３８１２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、発光効率を高めるために放電ガスのキセノン分圧を高めると、静止画像を長時間表示させたときに、その静止画像が残像として認識される、いわゆる残像現象が発生しやすくなり、画像表示品質を損なうことがある。
【００１２】
本発明はこのような課題に鑑みなされたものであり、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることができるパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明のパネルの駆動方法は、走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素が構成されたパネルを、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動して階調表示するパネルの駆動方法であって、パネルの表示領域を複数の領域に分け、画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき領域毎の残像度数を算出するとともに、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することを特徴とする。
【００１４】
これにより、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することで、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることが可能となる。
【００１５】
また、このパネルの駆動方法においては、現フィールドと現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第１の計数値とし、隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第２の計数値とし、第１の計数値および第２の計数値にもとづき、領域毎の残像度数を算出する構成であってもよい。これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる画像、例えば、エッジの数が多く静止領域が継続して表示される画像にもとづき残像度数を算出することができる。
【００１６】
また、このパネルの駆動方法においては、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第１の設定値を加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を加算し、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を加算して、領域毎の残像度数を更新する構成としてもよい。これにより、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第１の設定値を累積加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を累積加算し、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を累積加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を累積加算することができる。したがって、領域毎の画像の特徴に応じて、領域毎の残像度数をフィールド毎に更新することができる。
【００１７】
また、このパネルの駆動方法においては、第１の設定値は正の数値であり、第２の設定値は「０」であり、第３の設定値および第４の設定値は負の数値であってもよい。これにより、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが増加した領域として、第１の設定値を正の数に設定して残像度数を増加させ、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域、および、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域は、残像現象の発生しやすさが減少した領域として、第３の設定値および第４の設定値を負の数に設定して残像度数を減少させ、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが維持された領域として、第２の設定値を「０」に設定して残像度数が維持されるようにすることができる。
【００１８】
また、このパネルの駆動方法においては、更新後の残像度数から所定の定数を減算してもよい。これにより、残像度数による輝度の階調値への補正を開始するタイミングを制御することが可能になる。
【００１９】
また、このパネルの駆動方法においては、更新後の残像度数を所定の上限値以下に制限してもよい。これにより、残像度数による輝度の階調値への過補正を防止することが可能になる。
【００２０】
また、このパネルの駆動方法においては、それぞれの領域において、領域毎の残像度数を領域の中央に位置する中央画素の残像度数とし、中央画素以外の画素に関しては、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離、および中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出する構成としてもよい。これにより、領域毎の残像度数にもとづく画素毎の残像度数の算出を適切に行うことが可能となる。
【００２１】
また、このパネルの駆動方法においては、画素毎の残像度数を所定の基準値から減算し、その減算結果をその基準値で除算した結果を各画素の輝度の階調値に乗算することで、各画素の輝度の階調値を変更する構成としてもよい。これにより、残像度数にもとづく輝度の階調値の補正を適切に行うことが可能となる。
【００２２】
また、このパネルの駆動方法においては、各画素の輝度の階調値が、所定の高輝度しきい値以上になる画素においてのみ、残像度数にもとづく輝度の階調値の変更を行う構成としてもよい。これにより、例えば、輝度の階調値が高く、隣接画素との輝度差が大きい画素において、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正することが可能となる。
【００２３】
また、このパネルの駆動方法においては、画像信号の平均輝度レベルを検出し、平均輝度レベルが大きいときには、平均輝度レベルが小さいときよりも残像度数が小さくなるように、平均輝度レベルにもとづき画素毎の残像度数を変更してもよい。これにより、検出した平均輝度レベルにもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することができる。したがって、残像現象が比較的発生しにくいと考えられる平均輝度レベルが高い画像では、平均輝度レベルが低い画像と比較して残像度数の大きさを小さくすることができ、例えば、平均輝度レベルが高い画像における表示画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【００２４】
また、このパネルの駆動方法においては、サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを維持期間に発生するとともに、輝度倍率が小さいときには、輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率にもとづき画素毎の残像度数を変更してもよい。これにより、輝度倍率にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することができる。したがって、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【００２５】
また、このパネルの駆動方法においては、サブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを維持期間に発生するとともに、輝度倍率の大きさに応じて第１の設定値の大きさを変更してもよい。これにより、輝度倍率にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することができる。
【００２６】
また、このパネルの駆動方法においては、輝度倍率が第４のしきい値以上のときには第１の設定値を正の数値とし、輝度倍率が第４のしきい値未満のときには第１の設定値を「０」としてもよい。これにより、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【００２７】
また、このパネルの駆動方法においては、画素数が互いに等しくなるように、表示電極対が延伸する方向に複数の境界を設けるとともにデータ電極が延伸する方向に複数の境界を設けて領域を設定してもよい。
【００２８】
また、本発明のプラズマディスプレイ装置は、走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて階調表示するパネルと、画像信号に応じて各画素に輝度および彩度の階調値を設定し、輝度および彩度の階調値の大きさに応じて、放電セルにおけるサブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路とを備え、画像信号処理回路は、パネルの表示領域を複数の領域に分け、画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき領域毎の残像度数を算出するとともに、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することを特徴とする。
【００２９】
これにより、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することで、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることが可能となる。
【発明の効果】
【００３０】
本発明によれば、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることができるパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の実施の形態１におけるパネルの構造を示す分解斜視図である。
【図２】同パネルの電極配列図である。
【図３】同パネルの各電極に印加する駆動電圧波形図である。
【図４】本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイ装置の回路ブロック図である。
【図５】本発明の実施の形態１におけるパネルの表示領域に設けた複数の領域の一例を概略的に示す図である。
【図６】本発明の実施の形態１における画像信号処理回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図７】本発明の実施の形態１における残像度数算出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図８】本発明の実施の形態１における残像度数補間回路において行う演算を概略的に示す図である。
【図９】本発明の実施の形態１における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１０】本発明の実施の形態２における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１１】本発明の実施の形態３における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１２】本発明の実施の形態４における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１３】本発明の実施の形態５における残像度数算出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１４】本発明の実施の形態６における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１５】本発明の実施の形態７における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
以下、本発明の実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置について、図面を用いて説明する。
【００３３】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の構造を示す分解斜視図である。ガラス製の前面板２１上には、走査電極２２と維持電極２３とからなる表示電極対２４が複数形成されている。そして走査電極２２と維持電極２３とを覆うように誘電体層２５が形成され、その誘電体層２５上に保護層２６が形成されている。また、保護層２６は、酸化マグネシウム（ＭｇＯ）を主成分とする材料から形成されている。
【００３４】
背面板３１上にはデータ電極３２が複数形成され、データ電極３２を覆うように誘電体層３３が形成され、さらにその上に井桁状の隔壁３４が形成されている。そして、隔壁３４の側面および誘電体層３３上には赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）および青色（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層３５が設けられている。
【００３５】
これら前面板２１と背面板３１とは、微小な放電空間を挟んで表示電極対２４とデータ電極３２とが交差するように対向配置されている。そして、その外周部はガラスフリット等の封着材によって封着されている。そして、内部の放電空間には、ネオンとキセノンの混合ガスが放電ガスとして封入されている。なお、本実施の形態では、発光効率を向上させるためにキセノン分圧を約１０％とした放電ガスを用いている。放電空間は隔壁３４によって複数の区画に仕切られており、表示電極対２４とデータ電極３２とが交差する部分に放電セルが形成されている。そしてこれらの放電セルが放電、発光することにより画像が表示される。
【００３６】
なお、パネル１０においては、表示電極対２４が延伸する方向に配列された連続する３つの放電セル、すなわち、赤色（Ｒ）に発光する放電セルと緑色（Ｇ）に発光する放電セルと青色（Ｂ）に発光する放電セルとの隣接する３つの放電セルで１つの画素が構成される。
【００３７】
なお、パネル１０の構造は上述したものに限られるわけではなく、例えばストライプ状の隔壁を備えたものであってもよい。また、放電ガスの混合比率も上述した数値に限られるわけではなく、その他の混合比率であってもよい。
【００３８】
図２は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の電極配列図である。パネル１０には、行方向に長いｎ本の走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ（図１の走査電極２２）およびｎ本の維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ（図１の維持電極２３）が配列され、列方向に長いｍ本のデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ（図１のデータ電極３２）が配列されている。そして、１対の走査電極ＳＣｉ（ｉ＝１〜ｎ）および維持電極ＳＵｉと１つのデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）とが交差した部分に放電セルが形成され、放電セルは放電空間内にｍ×ｎ個形成されている。そして、ｍ×ｎ個の放電セルが形成された領域がパネル１０の表示領域となる。例えば、画素数が１９２０×１０８０個のパネルでは、ｍ＝１９２０×３となり、ｎ＝１０８０となる。
【００３９】
次に、パネル１０を駆動するための駆動電圧波形とその動作の概要について説明する。なお、本実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置は、１フィールドを時間軸上で複数のサブフィールドに分割し、各サブフィールドにそれぞれ輝度重みを設定し、サブフィールド毎に各放電セルの発光・非発光を制御するサブフィールド法によって階調表示を行うものとする。
【００４０】
このサブフィールド法では、例えば、１フィールドを８つのサブフィールド（第１ＳＦ、第２ＳＦ、・・・、第８ＳＦ）で構成し、時間的に後のサブフィールドほど輝度重みが大きくなるように、各サブフィールドはそれぞれ（１、２、４、８、１６、３２、６４、１２８）の輝度重みを有する構成とすることができる。また、複数のサブフィールドのうち、１つのサブフィールドの初期化期間においては全ての放電セルに初期化放電を発生させる全セル初期化動作を行い（以下、全セル初期化動作を行うサブフィールドを「全セル初期化サブフィールド」と呼称する）、他のサブフィールドの初期化期間においては維持放電を行った放電セルに対して選択的に初期化放電を発生させる選択初期化動作を行う（以下、選択初期化動作を行うサブフィールドを「選択初期化サブフィールド」と呼称する）ことで、階調表示に関係しない発光を極力減らしコントラスト比を向上させることが可能である。
【００４１】
そして、本実施の形態では、第１ＳＦの初期化期間では全セル初期化動作を行い、第２ＳＦ〜第８ＳＦの初期化期間では選択初期化動作を行うものとする。これにより、画像の表示に関係のない発光は第１ＳＦにおける全セル初期化動作の放電にともなう発光のみとなる。したがって、維持放電を発生させない黒表示領域の輝度である黒輝度は全セル初期化動作における微弱発光だけとなって、コントラストの高い画像表示が可能となる。また、各サブフィールドの維持期間においては、それぞれのサブフィールドの輝度重みに所定の輝度倍率を乗じた数の維持パルスを表示電極対２４のそれぞれに印加する。例えば、上述したサブフィールド構成において、輝度倍率が２倍であれば、各サブフィールドの維持期間に発生する維持パルス数は、それぞれ（２、４、８、１６、３２、６４、１２８、２５６）となり、輝度倍率が３倍であれば、それぞれ（３、６、１２、２４、４８、９６、１９２、３８４）となる。
【００４２】
しかし、本実施の形態は、サブフィールド数や各サブフィールドの輝度重みが上記の値に限定されるものではなく、また、画像信号等にもとづいてサブフィールド構成を切換える構成であってもよい。
【００４３】
図３は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の各電極に印加する駆動電圧波形図である。図３には、書込み期間において最初に走査を行う走査電極ＳＣ１、書込み期間において最後に走査を行う走査電極ＳＣｎ（例えば、走査電極ＳＣ１０８０）、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ、およびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍの駆動波形を示す。
【００４４】
また、図３には、２つのサブフィールドの駆動電圧波形、すなわち全セル初期化サブフィールドである第１サブフィールド（第１ＳＦ）と、選択初期化サブフィールドである第２サブフィールド（第２ＳＦ）とを示す。なお、他のサブフィールドにおける駆動電圧波形は、維持期間における維持パルスの発生数が異なる以外は第２ＳＦの駆動電圧波形とほぼ同様である。また、以下における走査電極ＳＣｉ、維持電極ＳＵｉ、データ電極Ｄｋは、各電極の中から画像データ（サブフィールド毎の発光・非発光を示すデータ）にもとづき選択された電極を表す。
【００４５】
まず、全セル初期化サブフィールドである第１ＳＦについて説明する。
【００４６】
第１ＳＦの初期化期間前半部では、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎにはそれぞれ０（Ｖ）を印加し、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには、電圧Ｖｉ１を印加する。このとき、電圧Ｖｉ１は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧未満の電圧にする。さらに電圧Ｖｉ１から、電圧Ｖｉ２に向かって緩やかに（例えば、約１．３Ｖ／μｓｅｃの勾配で）上昇する傾斜電圧（以下、「上りランプ電圧」と呼称する）Ｌ１を印加する。このとき、電圧Ｖｉ２は維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧を超える電圧にする。
【００４７】
この上りランプ電圧Ｌ１が上昇する間に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとの間、および走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎとデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍとの間でそれぞれ微弱な初期化放電が持続して起こる。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上部に負の壁電圧が蓄積されるとともに、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ上部および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上部には正の壁電圧が蓄積される。この電極上部の壁電圧とは、電極を覆う誘電体層上、保護層上、蛍光体層上等に蓄積された壁電荷により生じる電圧を表す。
【００４８】
初期化期間後半部では、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには正の電圧Ｖｅ１を印加し、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍには０（Ｖ）を印加し、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧未満となる電圧Ｖｉ３から放電開始電圧を超える負の電圧Ｖｉ４に向かって緩やかに（例えば、約−２．５Ｖ／μｓｅｃの勾配で）下降する傾斜電圧（以下、「下りランプ電圧」と呼称する）Ｌ２を印加する。
【００４９】
この間に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとの間、および走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎとデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍとの間でそれぞれ微弱な初期化放電が起こる。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上部の負の壁電圧および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上部の正の壁電圧が弱められ、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ上部の正の壁電圧は書込み動作に適した値に調整される。以上により、全ての放電セルに対して初期化放電を行う全セル初期化動作が終了する。
【００５０】
続く書込み期間では、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに対しては順次走査パルス電圧Ｖａを印加し、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対しては発光させるべき放電セルに対応するデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）に正の書込みパルス電圧Ｖｄを印加して、各放電セルに選択的に書込み放電を発生させる。
【００５１】
具体的には、まず維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅ２を印加し、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに電圧Ｖｃ（電圧Ｖｃ＝電圧Ｖａ＋電圧Ｖｓｃ）を印加する。
【００５２】
そして、１行目の走査電極ＳＣ１に負の走査パルス電圧Ｖａを印加するとともに、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍのうち１行目に発光させるべき放電セルのデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）に正の書込みパルス電圧Ｖｄを印加する。このときデータ電極Ｄｋ上と走査電極ＳＣ１上との交差部の電圧差は、外部印加電圧の差（電圧Ｖｄ−電圧Ｖａ）にデータ電極Ｄｋ上の壁電圧と走査電極ＳＣ１上の壁電圧との差が加算されたものとなり放電開始電圧を超える。これにより、データ電極Ｄｋと走査電極ＳＣ１との間に放電が発生する。また、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅ２を印加しているため、維持電極ＳＵ１上と走査電極ＳＣ１上との電圧差は、外部印加電圧の差である（電圧Ｖｅ２−電圧Ｖａ）に維持電極ＳＵ１上の壁電圧と走査電極ＳＣ１上の壁電圧との差が加算されたものとなる。このとき、電圧Ｖｅ２を、放電開始電圧をやや下回る程度の電圧値に設定することで、維持電極ＳＵ１と走査電極ＳＣ１との間を、放電には至らないが放電が発生しやすい状態にすることができる。これにより、データ電極Ｄｋと走査電極ＳＣ１との間に発生する放電を引き金にして、データ電極Ｄｋと交差する領域にある維持電極ＳＵ１と走査電極ＳＣ１との間に放電を発生させることができる。こうして、発光させるべき放電セルに書込み放電が起こり、走査電極ＳＣ１上に正の壁電圧が蓄積され、維持電極ＳＵ１上に負の壁電圧が蓄積され、データ電極Ｄｋ上にも負の壁電圧が蓄積される。
【００５３】
このようにして、１行目に発光させるべき放電セルで書込み放電を起こして各電極上に壁電圧を蓄積する書込み動作が行われる。一方、書込みパルス電圧Ｖｄを印加しなかったデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍと走査電極ＳＣ１との交差部の電圧は放電開始電圧を超えないので、書込み放電は発生しない。以上の書込み動作をｎ行目の放電セルに至るまで順次行い、書込み期間が終了する。
【００５４】
続く維持期間では、輝度重みに所定の輝度倍率を乗じた数の維持パルスを表示電極対２４に交互に印加して、書込み放電を発生した放電セルで維持放電を発生させて発光させる。
【００５５】
この維持期間では、まず走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに正の維持パルス電圧Ｖｓを印加するとともに維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎにベース電位となる接地電位、すなわち０（Ｖ）を印加する。すると書込み放電を起こした放電セルでは、走査電極ＳＣｉ上と維持電極ＳＵｉ上との電圧差が維持パルス電圧Ｖｓに走査電極ＳＣｉ上の壁電圧と維持電極ＳＵｉ上の壁電圧との差が加算されたものとなり放電開始電圧を超える。
【００５６】
そして、走査電極ＳＣｉと維持電極ＳＵｉとの間に維持放電が起こり、このとき発生した紫外線により蛍光体層３５が発光する。そして走査電極ＳＣｉ上に負の壁電圧が蓄積され、維持電極ＳＵｉ上に正の壁電圧が蓄積される。さらにデータ電極Ｄｋ上にも正の壁電圧が蓄積される。書込み期間において書込み放電が起きなかった放電セルでは維持放電は発生せず、初期化期間の終了時における壁電圧が保たれる。
【００５７】
続いて、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎにはベース電位となる０（Ｖ）を、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには維持パルス電圧Ｖｓをそれぞれ印加する。すると、維持放電を起こした放電セルでは、維持電極ＳＵｉ上と走査電極ＳＣｉ上との電圧差が放電開始電圧を超えるので、再び維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間に維持放電が起こり、維持電極ＳＵｉ上に負の壁電圧が蓄積され、走査電極ＳＣｉ上に正の壁電圧が蓄積される。以降同様に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとに、輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを交互に印加することで、書込み期間において書込み放電を起こした放電セルで維持放電が継続して発生する。
【００５８】
そして、維持期間における維持パルスの発生後に、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍには０（Ｖ）を印加したまま、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに、０（Ｖ）から放電開始電圧を超える電圧Ｖｅｒｓに向かって緩やかに（例えば、約１０Ｖ／μｓｅｃ）上昇する傾斜電圧（以下、「消去ランプ電圧」と呼称する）Ｌ３を印加する。これにより、維持放電を起こした放電セルの維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間で、微弱な放電が発生する。この微弱な放電は、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎへの印加電圧が上昇する期間、持続して発生する。そして、上昇する電圧があらかじめ定めた電圧Ｖｅｒｓに到達したら、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する電圧をベース電位となる０（Ｖ）まで下降させる。
【００５９】
このとき、この微弱な放電で発生した荷電粒子は、維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間の電圧差を緩和するように、維持電極ＳＵｉ上および走査電極ＳＣｉ上に蓄積されていく。したがって、維持放電が発生した放電セルにおいて、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上と維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上との間の壁電圧は、走査電極ＳＣｉに印加した電圧と放電開始電圧の差、すなわち（電圧Ｖｅｒｓ−放電開始電圧）の程度まで弱められる。これにより、維持放電が発生した放電セルにおいて、データ電極Ｄｋ上の正の壁電荷を残したまま、走査電極ＳＣｉおよび維持電極ＳＵｉ上の、壁電圧の一部または全部が消去される。すなわち、消去ランプ電圧Ｌ３によって発生する放電は、維持放電が発生した放電セル内に蓄積された不要な壁電荷を消去する「消去放電」として働く（以下、消去ランプ電圧Ｌ３によって発生させる放電を「消去放電」と呼称する）。
【００６０】
その後、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを０（Ｖ）に戻し、維持期間における維持動作が終了する。
【００６１】
第２ＳＦの初期化期間では、第１ＳＦにおける初期化期間の前半部を省略した駆動電圧波形を各電極に印加する。すなわち、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅ１を、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに０（Ｖ）をそれぞれ印加し、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには放電開始電圧未満となる電圧（例えば、０（Ｖ））から放電開始電圧を超える負の電圧Ｖｉ４に向かって緩やかに（例えば、約−２．５Ｖ／μｓｅｃの勾配で）下降する下りランプ電圧Ｌ４を印加する。
【００６２】
これにより直前のサブフィールド（図３では、第１ＳＦ）の維持期間で維持放電を起こした放電セルでは微弱な初期化放電が発生し、走査電極ＳＣｉ上部および維持電極ＳＵｉ上部の壁電圧が弱められ、データ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）上部の壁電圧も書込み動作に適した値に調整される。一方、直前のサブフィールドの維持期間で維持放電を起こさなかった放電セルでは初期化放電は発生しない。このように第２ＳＦにおける初期化動作は、直前のサブフィールドの維持期間で維持動作を行った放電セルに対して初期化放電を行う選択初期化動作となる。
【００６３】
第２ＳＦの書込み期間では、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対して第１ＳＦの書込み期間と同様の駆動波形を印加する。第２ＳＦの維持期間では、第１ＳＦの維持期間と同様に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとにあらかじめ定められた数の維持パルスを交互に印加する。
【００６４】
また、第３ＳＦ以降のサブフィールドでは、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対して、維持期間における維持パルスの発生数が異なる以外は第２ＳＦと同様の駆動波形を印加する。
【００６５】
以上が、パネル１０の各電極に印加する駆動電圧波形の概要である。
【００６６】
次に、本実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置の構成について説明する。図４は、本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイ装置１の回路ブロック図である。プラズマディスプレイ装置１は、パネル１０、画像信号処理回路４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３、維持電極駆動回路４４、タイミング発生回路４５および各回路ブロックに必要な電源を供給する電源回路（図示せず）を備えている。
【００６７】
画像信号処理回路４１は、入力された画像信号ｓｉｇを放電セルにおけるサブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データに変換する。
【００６８】
例えば、入力された画像信号ｓｉｇが輝度信号（Ｙ信号）および彩度信号（Ｃ信号、またはＲ−Ｙ信号およびＢ−Ｙ信号、またはｕ信号およびｖ信号等）を含むときには、その輝度信号および彩度信号にもとづき、各画素に輝度の階調値および彩度の階調値を設定する。そして、各画素に設定した輝度および彩度の階調値から、各放電セルにＲ、Ｇ、Ｂの各階調値（１フィールドで表現される階調値）を割り当てる。
【００６９】
入力された画像信号ｓｉｇがＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号を含むときには、そのＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづき、各放電セルにＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を割り当てる。
【００７０】
そして、各放電セルに割り当てたＲ、Ｇ、Ｂの階調値を、サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データに変換する。
【００７１】
なお、本実施の形態では、画像信号処理回路４１において、画像信号ｓｉｇに応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる「残像度数」と呼称する数値を画素毎に算出する。そして、算出した画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する。この詳細については後述する。
【００７２】
そして、画像信号処理回路４１では、この変更を行ったあとの輝度の階調値にもとづき、各放電セルに割り当てるＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を算出するものとする。
【００７３】
なお、画像信号ｓｉｇがＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号を含むときには、そのＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづき、各画素の輝度の階調値を一旦算出し、その輝度の階調値にもとづき残像度数を算出するものとする。そして、算出した画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更し、変更を行ったあとの輝度の階調値にもとづき、各放電セルに割り当てるＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を算出するものとする。
【００７４】
タイミング発生回路４５は、水平同期信号Ｈおよび垂直同期信号Ｖにもとづき各回路ブロックの動作を制御する各種のタイミング信号を発生し、それぞれの回路ブロック（画像信号処理回路４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３および維持電極駆動回路４４）へ供給する。
【００７５】
データ電極駆動回路４２は、画像データを構成するサブフィールド毎のデータを各データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対応する信号に変換し、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて各データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍを駆動する。
【００７６】
走査電極駆動回路４３は、初期化期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する初期化波形を発生する初期化波形発生回路、維持期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する維持パルスを発生する維持パルス発生回路、複数の走査電極駆動ＩＣ（以下、「走査ＩＣ」と略記する）を備え書込み期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する走査パルスを発生する走査パルス発生回路を有する。そして、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて各走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎをそれぞれ駆動する。
【００７７】
維持電極駆動回路４４は、維持パルス発生回路および電圧Ｖｅ１、電圧Ｖｅ２を発生する回路（図示せず）を備え、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを駆動する。
【００７８】
なお、パネルにおける発光効率を高めるために、放電セル内に充填する放電ガスのキセノン分圧を高めたパネル１０では、静止画像を長時間表示させたときに、その静止画像が残像として認識される、いわゆる残像現象が発生しやすくなる。これは次のような理由によると思われる。
【００７９】
静止画が連続してパネル１０に表示されると、単位時間（例えば、１フィールド）あたりの点灯回数が比較的多い放電セル（点灯状態が連続する放電セル）と、単位時間あたりの点灯回数が比較的少ない放電セル（非点灯状態が連続する放電セル）とが生じやすい。それらの放電セル間には、放電ガスの成分濃度に偏り（例えば、水蒸気を含む不純ガス等の濃度の偏り）が生じて、放電開始電圧に差が生じる。また、点灯状態が連続する放電セルと非点灯状態が連続する放電セルとでは放電セル内の温度に差が生じ、この温度差も放電開始電圧に差を生じさせる一因となる。そして、放電開始電圧に差が生じることで放電の発生するタイミングに差が生じ、これにより、発光強度に差が生じ、点灯状態が連続する放電セルと非点灯状態が連続する放電セルとに輝度差が生じる。これが、残像現象が発生する理由と考えられる。
【００８０】
そこで、本実施の形態では、静止領域が多く、かつ隣接する画素間で輝度変化が大きい領域が多い画像かどうかを判定し、その結果にもとづき輝度の階調値を変更するものとする。具体的には、画像信号処理回路４１において、残像現象の発生の目安となる「残像度数」を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する構成とする。次に、この詳細について説明する。
【００８１】
まず、残像度数の検出について説明する。本実施の形態では、パネル１０の表示領域を複数の領域に分け、領域毎の残像度数を算出し、算出した領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出する構成としている。この領域の一例を、図５に示す。
【００８２】
図５は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の表示領域に設けた複数の領域の一例を概略的に示す図である。なお、図５では、各領域を「ブロック（ｘ，ｙ）」（ｘ、ｙは自然数）と記し、以下の説明では、領域を「ブロック」とも呼称する。また、図５において、パネル１０の表示領域内に示す線は、各領域を区別しやすいように補助的に示したものであり、この線が実際にパネル１０に表示されるわけではない。
【００８３】
本実施の形態では、図５に示すように、パネル１０の表示領域を、表示電極対２４が延伸する方向に複数の境界を設けるとともにデータ電極３２が延伸する方向に複数の境界を設け、画素数が互いに等しくなるように分割して、各領域を設定する。
【００８４】
図５には、パネル１０を、表示電極対２４が延伸する方向にＮ分割し、データ電極３２が延伸する方向にＭ分割（Ｎ、Ｍは自然数）して、各領域を設定する例を示す。この場合、パネル１０には、ブロック（１，１）からブロック（Ｍ，Ｎ）までのＭ×Ｎ個の領域が設定される。
【００８５】
例えば、パネル１０の画素数が１９２０×１０８０であり、１つの領域の画素数を６０×６０個に設定する構成では、Ｎは３２となり、Ｍは１８となる。
【００８６】
そして、本実施の形態では、ブロック（１，１）からブロック（Ｍ，Ｎ）までのＭ×Ｎ個の各領域について、領域毎に残像度数を算出する。そして、算出した領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出する。
【００８７】
図６は、本発明の実施の形態１における画像信号処理回路４１の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図６には、残像度数の算出および残像度数にもとづく輝度の階調値の変更に関する回路ブロックのみを示し、その他の回路ブロックは省略する。
【００８８】
画像信号処理回路４１は、１フィールド遅延回路７０、減算回路７１、比較回路７２、１画素遅延回路７３、減算回路７４、比較回路７５、ブロックタイミング発生回路７６、計数回路７７（１，１）〜計数回路７７（Ｍ，Ｎ）、計数回路７８（１，１）〜計数回路７８（Ｍ，Ｎ）、残像度数算出回路７９（１，１）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）、残像度数補間回路８０、遅延回路８１、補正回路８２を有する。
【００８９】
１フィールド遅延回路７０は、各画素に設定された輝度の階調値を１フィールドに相当する時間だけ遅延する。
【００９０】
減算回路７１は、各画素に設定された輝度の階調値と、１フィールド遅延回路７０から出力される１フィールド前の各画素の輝度の階調値との減算を行い、その減算結果の絶対値を「フィールド間輝度差」として出力する。すなわち、減算回路７１は、現フィールドと現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出する。
【００９１】
比較回路７２は、減算回路７１から出力されるフィールド間輝度差と、あらかじめ設定された輝度比較値とを比較し、フィールド間輝度差が輝度比較値よりも小さいときに「１」を出力し、フィールド間輝度差が輝度比較値以上のときに「０」を出力する。
【００９２】
計数回路７７は、各領域において、比較回路７２から出力される「１」の数を計数し、その計数結果を、それぞれの領域における「第１の計数値」として出力する。例えば、計数回路７７（１，１）は、比較回路７２から出力される「１」の数をブロック（１，１）において計数し、その計数結果をブロック（１，１）における第１の計数値として出力する。計数回路７７（Ｍ，Ｎ）は、比較回路７２から出力される「１」の数をブロック（Ｍ，Ｎ）において計数し、その計数結果をブロック（Ｍ，Ｎ）における第１の計数値として出力する。
【００９３】
すなわち、計数回路７７は、フィールド間輝度差が輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数し、その計数結果をそれぞれの領域における第１の計数値として出力する。
【００９４】
１画素遅延回路７３は、各画素に設定された輝度の階調値を１画素に相当する時間だけ遅延する。
【００９５】
減算回路７４は、各画素に設定された輝度の階調値と、１画素遅延回路７３から出力される１画素前の輝度の階調値との減算を行い、その減算結果の絶対値を「隣接画素間輝度差」として出力する。
【００９６】
比較回路７５は、減算回路７４から出力される隣接画素間輝度差と、あらかじめ設定されたエッジ比較値とを比較し、隣接画素間輝度差がエッジ比較値よりも大きいときに「１」を出力し、隣接画素間輝度差がエッジ比較値以下のときに「０」を出力する。
【００９７】
計数回路７８は、各領域において、比較回路７５から出力される「１」の数を計数し、その計数結果を、それぞれの領域における「第２の計数値」として出力する。例えば、計数回路７８（１，１）は、比較回路７５から出力される「１」の数をブロック（１，１）において計数し、その計数結果をブロック（１，１）における第２の計数値として出力する。計数回路７８（Ｍ，Ｎ）は、比較回路７５から出力される「１」の数をブロック（Ｍ，Ｎ）において計数し、その計数結果をブロック（Ｍ，Ｎ）における第２の計数値として出力する。
【００９８】
すなわち、計数回路７８は、隣接する画素間の輝度の階調値の差がエッジ比較値以上となる「エッジ」の数を領域毎に計数し、その計数結果をそれぞれの領域における第２の計数値として出力する。
【００９９】
ブロックタイミング発生回路７６は、タイミング発生回路４５から供給される水平同期信号Ｈおよび垂直同期信号Ｖにもとづき、各領域を識別するためのブロックタイミング信号を発生し、各計数回路７７、計数回路７８に供給する。例えば、計数回路７７（１，１）および計数回路７８（１，１）には、ブロック（１，１）の期間だけ「Ｈｉ」になるブロック（１，１）タイミング信号を供給し、計数回路７７（Ｍ，Ｎ）および計数回路７８（Ｎ，Ｎ）には、ブロック（Ｍ，Ｎ）の期間だけ「Ｈｉ」になるブロック（Ｍ，Ｎ）タイミング信号を供給する。
【０１００】
残像度数算出回路７９は、第１の計数値および第２の計数値にもとづき、領域毎の残像度数を算出する。例えば、残像度数算出回路７９（１，１）は、ブロック（１，１）における第１の計数値および第２の計数値にもとづきブロック（１，１）の残像度数を算出し、残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）は、ブロック（Ｍ，Ｎ）における第１の計数値および第２の計数値にもとづきブロック（Ｍ，Ｎ）の残像度数を算出する。この詳細は後述する。
【０１０１】
そして、本実施の形態では、領域毎の残像度数を、各領域における領域の中央に位置する画素（以下、「中央画素」と呼称する）の残像度数としている。「中央画素」を除く画素については、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出している。
【０１０２】
残像度数補間回路８０は、「中央画素」を除く画素について、画素毎の残像度数を算出する。具体的には、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離、および中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出する。この詳細は後述する。
【０１０３】
遅延回路８１は、各画素に設定された輝度の階調値を適切な時間（例えば、画素毎の残像度数を算出するのに要した時間）だけ遅延する。
【０１０４】
そして、補正回路８２は、遅延回路８１において適切に遅延された各画素の輝度の階調値を、残像度数補間回路８０において算出された画素毎の残像度数にもとづき、変更する。
【０１０５】
なお、上述した輝度比較値、エッジ比較値の具体的な数値としては、例えば、１つの領域の画素数の５０％に相当する数値を挙げることができる。例えば、１つの領域を６０×６０画素としたときには、１つの領域の画素数は３６００になるので、その５０％に相当する数値は１８００となる。しかし、本発明は何らこの数値に限定されるものではなく、各数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１０６】
図７は、本発明の実施の形態１における残像度数算出回路７９の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図７には、ブロック（１，１）の残像度数を算出する残像度数算出回路７９（１，１）を例に挙げて示しているが、その他のブロック（１，２）〜ブロック（Ｍ，Ｎ）における残像度数を算出する残像度数算出回路７９（１，２）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）も図７と同様の構成である。
【０１０７】
残像度数算出回路７９は、比較回路６３、比較回路６４、比較回路６５、セレクター６６、セレクター６７、セレクター６８、累積加算回路８９、減算回路９０、制限回路９１を有する。
【０１０８】
比較回路６３は、計数回路７７から出力される第１の計数値（図７に示す例では、計数回路７７（１，１）から出力されるブロック（１，１）の第１の計数値）と、あらかじめ設定された第１のしきい値とを比較し、第１の計数値が第１のしきい値以上のときには「１」を出力し、第１の計数値が第１のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１０９】
比較回路６４は、第１の計数値（図７に示す例では、ブロック（１，１）の第１の計数値）と、第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値とを比較し、第１の計数値が第２のしきい値以上のときには「１」を出力し、第１の計数値が第２のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１１０】
比較回路６５は、計数回路７８から出力される第２の計数値（図７に示す例では、計数回路７８（１，１）から出力されるブロック（１，１）の第２の計数値）と、あらかじめ設定された第３のしきい値とを比較し、第２の計数値が第３のしきい値以上のときには「１」を出力し、第２の計数値が第３のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１１１】
セレクター６６は、比較回路６３の出力が「１」のときには第１の設定値として、例えば「＋１」を、比較回路６３の出力が「０」のときには第２の設定値として、例えば「０」を、後段のセレクター６７に出力する。
【０１１２】
セレクター６７は、比較回路６４の出力が「１」のときにはセレクター６６の出力を、比較回路６４の出力が「０」のときには第３の設定値として、例えば「−４」を、後段のセレクター６８に出力する。
【０１１３】
セレクター６８は、比較回路６５の出力が「１」のときにはセレクター６７の出力を、比較回路６５の出力が「０」のときには第４の設定値として、例えば「−４」を後段の累積加算回路８９に出力する。
【０１１４】
累積加算回路８９は、セレクター６８から出力される数値を累積加算して出力する。
【０１１５】
例えば、あるフィールドにおいて、ブロック（１，１）における累積加算回路８９の累積加算結果が「１０」であれば、続くフィールドでは、その「１０」に対して、セレクター６８から出力される数値を累積加算する。
【０１１６】
すなわち、セレクター６６、セレクター６７、セレクター６８、累積加算回路８９は、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第１の設定値を累積加算する。また、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を累積加算する。また、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を累積加算する。そして、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を累積加算する。こうして、領域毎の残像度数をフィールド毎に更新する。
【０１１７】
なお、本実施の形態では、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが増加した領域として、第１の設定値を正の数（例えば、「＋１」）に設定し、残像度数を増加させている。また、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域、および、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域は、残像現象の発生しやすさが減少した領域として、第３の設定値および第４の設定値を負の数（例えば、「−４」）に設定し、残像度数を減少させている。また、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが維持された領域として、第２の設定値を「０」に設定し、残像度数が維持されるようにしている。
【０１１８】
減算回路９０は、累積加算回路８９から出力される累積加算結果、すなわち、セレクター６８から出力される数値が累積加算されて更新された残像度数から、所定の定数（例えば、「５０」）を減算する。これは、残像現象が発生しやすい画像が表示されても、すぐに残像が発生するわけではなく、残像現象が発生しやすい画像がある程度継続して表示されることで残像が発生しやすくなる、ということを考慮してのことである。
【０１１９】
制限回路９１は、減算回路９０から出力される累積加算結果、すなわち、セレクター６８から出力される数値が累積加算されて更新され、さらに所定の定数が減算された残像度数を、所定の上限値（例えば、「１００」）以下に制限する。これは、補正回路８２における輝度の階調値の過補正を防止するためである。
【０１２０】
なお、上述した具体的な各数値は、単なる一実施例を示したものに過ぎず、本発明は何らこれらの数値に限定されるものではない。各数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１２１】
こうして、残像度数算出回路７９から各領域の残像度数が出力される。図７に示す例では、残像度数算出回路７９（１，１）からブロック（１，１）の残像度数が出力される。
【０１２２】
図８は、本発明の実施の形態１における残像度数補間回路８０において行う演算を概略的に示す図である。図８には、パネル１０の一部を拡大して示しており、破線は各領域の境界を示し、白抜きの丸印は各領域における中央に位置する中央画素を示す。また、図８では、中央画素同士を結ぶ線を一点鎖線で示す。また、図８には、残像度数の算出対象となる画素として、画素Ａ１２と画素Ａ３４とを黒の丸印で示す。なお、図８に示す破線等は、各領域等を区別しやすいように補助的に示したものであり、この線が実際にパネル１０に表示されるわけではない。
【０１２３】
本実施の形態では、領域毎の残像度数は、各領域の中央に位置する中央画素の残像度数としている。例えば、残像度数算出回路７９（１，１）において算出されるブロック（１，１）の残像度数は、ブロック（１，１）の中央画素の残像度数とする。そして「中央画素」を除く画素毎の残像度数については、領域毎の残像度数、すなわち中央画素の残像度数にもとづき算出する。
【０１２４】
具体的には、次のような手順で領域毎の残像度数を算出する。
【０１２５】
まず、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離を算出する。例えば、残像度数の算出対象となる画素を画素Ａ３４とすると、画素Ａ３４の周囲の４つの中央画素と画素Ａ３４との距離を算出する。
【０１２６】
図８には、画素Ａ３４の周囲の中央画素を画素Ａ１、画素Ａ２、画素Ａ３、画素Ａ４とし、画素Ａ３４と画素Ａ１との距離をＬ１、画素Ａ３４と画素Ａ２との距離をＬ２、画素Ａ３４と画素Ａ３との距離をＬ３、画素Ａ３４と画素Ａ４との距離をＬ４として示す。
【０１２７】
そして、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離に応じた割合で、各中央画素の残像度数を加算する。
【０１２８】
例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ１の残像度数をａ１、画素Ａ２の残像度数をａ２、画素Ａ３の残像度数をａ３、画素Ａ４の残像度数をａ４としたときには、画素Ａ３４の残像度数ａ３４は以下の式で表される。
【０１２９】
ａ３４＝（ａ１×（Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ２×（Ｌ１＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ４）＋ａ４×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３）／（３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４））
なお、中央画素同士を結ぶ線上に位置する画素に関しては、その画素を挟む２つの中央画素にもとづき残像度数を算出する。例えば、残像度数の算出対象となる画素を画素Ａ１２が、画素Ａ１と画素Ａ２とを結ぶ線上にある画素であれば、画素Ａ１２の残像度数は、画素Ａ１および画素Ａ２の残像度数にもとづき算出する。
【０１３０】
例えば、画素Ａ１２と画素Ａ１との距離をＬ５、画素Ａ１２と画素Ａ２との距離をＬ６とし、画素Ａ１２の残像度数をａ１２とすると、画素Ａ１２の残像度数ａ１２は以下の式で表される。
【０１３１】
ａ１２＝（ａ１×Ｌ６＋ａ２×Ｌ５）／（Ｌ５＋Ｌ６）
これらの演算が残像度数補間回路８０において行われ、画素毎の残像度数が算出される。
【０１３２】
図９は、本発明の実施の形態１における補正回路８２の一構成例を示す回路ブロック図である。
【０１３３】
補正回路８２は、乗算計数算出回路９２と乗算回路９３とを有し、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を変更する。
【０１３４】
乗算計数算出回路９２は、画素毎の残像度数から、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。具体的には、画素毎の残像度数を所定の基準値（例えば、「２５５」）から減算し、その減算結果をその基準値（例えば、「２５５」）で除算した結果を輝度の階調値に乗算するための乗算計数とする。
【０１３５】
そして、乗算回路９３は、乗算計数算出回路９２において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１３６】
図８に示した画素Ａ３４を例に挙げて補正回路８２の動作を説明すると、例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ３４の輝度の階調値をＹ３４、所定の基準値を「２５５」としたとき、画素Ａ３４の補正後の輝度の階調値Ｙ３４’は以下の式で表される。
【０１３７】
Ｙ３４’＝（（２５５−ａ３４）／２５５）×Ｙ３４
これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる画素において、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正することができる。したがって、残像度数が大きい画素では、隣接画素との輝度差を小さくし、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１３８】
なお、上述した所定の基準値は、輝度の最大階調値「２５５」にもとづき設定した数値であるが、本発明は所定の基準値が何らこの数値に限定されるものではない。所定の基準値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１３９】
以上示したように、本実施の形態は、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる「残像度数」を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する構成とする。これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる画像、すなわち、エッジの数が多く静止領域が継続して表示される画像において、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正して隣接画素との輝度差を小さくし、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１４０】
（実施の形態２）
実施の形態１では、画素毎の残像度数に応じて輝度の階調値を変更する構成を説明したが、例えば、輝度の階調値が高い画素（所定の高輝度しきい値以上になる画素）だけに残像度数に応じた輝度の階調値の変更を行う構成としてもよい。
【０１４１】
図１０は、本発明の実施の形態２における補正回路８３の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８３についてのみ説明する。
【０１４２】
補正回路８３は、乗算計数算出回路９４と比較回路９５と乗算回路９３とを有し、輝度の階調値が高い画素に関してのみ、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を変更する。
【０１４３】
比較回路９５は、各画素の輝度の階調値とあらかじめ設定された高輝度しきい値（例えば、最大階調値に対して約６０％となる数値。最大階調値が「２５５」のときには、例えば「１５０」）とを比較し、その結果を乗算計数算出回路９４に出力する。
【０１４４】
乗算計数算出回路９４は、画素毎の残像度数および比較回路９５における比較結果にもとづき、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。具体的には、輝度の階調値が高輝度しきい値以下のときには、輝度の階調値に補正が加わらないように「１」を出力する。また、輝度の階調値が高輝度しきい値よりも大きいときには、輝度の階調値が高輝度しきい値を超えた分に対して、実施の形態１と同様に、画素毎の残像度数にもとづき輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。
【０１４５】
そして、乗算回路９３は、実施の形態１に示した乗算回路９３と同様に、乗算計数算出回路９４において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１４６】
図８に示した画素Ａ３４を例に挙げて補正回路８３の動作を説明すると、例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ３４の輝度の階調値をＹ３４、所定の基準値を「２５５」、高輝度しきい値を「１５０」としたとき、画素Ａ３４の補正後の輝度の階調値Ｙ３４’’は以下の式で表される。ただし、階調値Ｙ３４は高輝度しきい値よりも大きい数値であるものとする（階調値Ｙ３４が高輝度しきい値以下のときには、補正後の輝度の階調値Ｙ３４’’は階調値Ｙ３４に等しい）。
【０１４７】
Ｙ３４’’＝（（２５５−ａ３４）／２５５）×（Ｙ３４−１５０）＋１５０
これにより、例えば、輝度の階調値が高く、隣接画素との輝度差が大きい画素において、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正することができる。
【０１４８】
なお、上述した高輝度しきい値は、輝度の最大階調値「２５５」にもとづき設定した数値であるが、本発明は所定の基準値が何らこの数値に限定されるものではない。高輝度しきい値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１４９】
以上示したように、本実施の形態は、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数を画素毎に算出し、算出した残像度数および輝度の階調値の大きさにもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する構成とする。これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる画像、すなわち、エッジの数が多く静止領域が継続して表示される画像において、残像度数の大きさ、および輝度の階調値の大きさに応じて輝度の階調値を補正して隣接画素との輝度差を小さくし、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１５０】
（実施の形態３）
表示画像の平均輝度レベル（Ａｖｅｒａｇｅ  Ｐｉｃｔｕｒｅ  Ｌｅｖｅｌ、以下、「ＡＰＬ」と略記する）が高い画像は、全体的に輝度が高く、その分、隣接する画素間の輝度の変化が少なく、エッジの数も少なくなると考えられる。すなわち、ＡＰＬが低い画像と比較して残像現象が発生しにくいと考えられる。そこで、画像信号のＡＰＬを検出し、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるようにＡＰＬに応じて残像度数を変更する構成としてもよい。
【０１５１】
図１１は、本発明の実施の形態３における補正回路８４の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８４についてのみ説明する。
【０１５２】
補正回路８４は、ＡＰＬ検出回路９７と残像度数補正回路９６と乗算計数算出回路９２と乗算回路９３とを有し、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるようにＡＰＬの大きさに応じて残像度数を変更し、変更後の残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を変更する。
【０１５３】
ＡＰＬ検出回路９７は、全画素の輝度の階調値を加算する等の一般に知られた手法を用いることによってＡＰＬを検出する。
【０１５４】
残像度数補正回路９６は、ＡＰＬ検出回路９７において検出されたＡＰＬに応じ、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるように画素毎の残像度数を変更する。
【０１５５】
残像度数補正回路９６は、ＡＰＬ検出回路９７において検出されたＡＰＬの値をａｐｌとすると、例えば、１００％−（ａｐｌ−４０％）（ただし、ａｐｌ−４０％が０以下になったときはａｐｌ−４０％＝０とする）で得られる数値を残像度数に乗算して、残像度数を変更する。
【０１５６】
乗算計数算出回路９２は、実施の形態１に示した乗算計数算出回路９２と同様の動作を行い、残像度数補正回路９６において変更された残像度数にもとづき、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。
【０１５７】
そして、乗算回路９３は、実施の形態１に示した乗算回路９３と同様に、乗算計数算出回路９２において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１５８】
これにより、ＡＰＬに応じて残像度数を変更し、変更後の残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正することができる。
【０１５９】
なお、上述したＡＰＬから減算する「４０％」という数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。この数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１６０】
以上示したように、本実施の形態は、検出したＡＰＬにもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する構成とする。これにより、残像現象が比較的発生しにくいと考えられるＡＰＬが高い画像では、ＡＰＬが低い画像と比較して残像度数の大きさを小さくすることができ、例えば、ＡＰＬが高い画像における表示画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１６１】
（実施の形態４）
輝度倍率に応じて維持パルスの発生数は変化し、輝度倍率が下がるほど、維持パルスの発生数が減少して表示画像の輝度が下がり、コントラスト比も低くなる。すなわち、輝度倍率が小さいときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像現象が発生しにくいと考えられる。そこで、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率に応じて残像度数を変更する構成としてもよい。
【０１６２】
図１２は、本発明の実施の形態４における補正回路８７の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８７についてのみ説明する。
【０１６３】
補正回路８７は、残像度数補正回路１０１と乗算計数算出回路９２と乗算回路９３とを有する。
【０１６４】
残像度数補正回路１０１は、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率の大きさに応じて画素毎の残像度数を変更する。
【０１６５】
残像度数補正回路１０１は、例えば、輝度倍率が１倍のときには０．５を、輝度倍率が２倍のときには０．７を、輝度倍率が３倍のときには０．９を、輝度倍率が４倍のときには１．０を、といったように、輝度倍率が大きくなるにつれて増加する数値を残像度数に乗算して、残像度数を変更する。
【０１６６】
乗算計数算出回路９２は、実施の形態１に示した乗算計数算出回路９２と同様の動作を行い、残像度数補正回路１０１において変更された残像度数にもとづき、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。
【０１６７】
そして、乗算回路９３は、実施の形態１に示した乗算回路９３と同様に、乗算計数算出回路９２において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１６８】
これにより、輝度倍率に応じて残像度数を変更し、変更後の残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正することができる。
【０１６９】
なお、上述した輝度倍率に応じて変化する数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。この数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１７０】
以上示したように、本実施の形態は、輝度倍率にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する構成とする。これにより、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１７１】
（実施の形態５）
実施の形態４では、同じ図柄の画像であっても、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率の大きさに応じて残像度数を変更する実施例を説明した。そして、その具体的な一構成例として、補正回路８７に、残像度数補間回路８０で算出した各画素の残像度数に、輝度倍率の大きさに応じて変化する数値を乗算する残像度数補正回路１０１を設ける構成を示した。しかし、本発明は何らこの構成に限定されるものではなく、その他の構成を用いて同様の効果を得ることも可能である。
【０１７２】
図１３は、本発明の実施の形態５における残像度数算出回路１１０の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図１３には、ブロック（１，１）の残像度数を算出する残像度数算出回路１１０（１，１）を例に挙げて示しているが、その他のブロック（１，１）〜ブロック（Ｍ，Ｎ）における残像度数を算出する残像度数算出回路１１０（１，２）〜残像度数算出回路１１０（Ｍ，Ｎ）も図１３と同様の構成である。
【０１７３】
本実施の形態において、図１３に示す残像度数算出回路１１０が図７に示した残像度数算出回路７９と異なる点は、輝度倍率の大きさに応じて第１の設定値を変更できるように構成した点である。そのために、残像度数算出回路１１０は、図７に示した残像度数算出回路７９の構成に、さらにセレクター８８および比較回路６９を備えた構成としている。しかし、その他の回路構成および各回路ブロックの動作は残像度数算出回路７９に示したものと同様であるので、本実施の形態では、残像度数算出回路７９と同様の動作を行う回路ブロックには図７で示した符号と同じ符号を付与し、説明を省略する。
【０１７４】
比較回路６９は、輝度倍率と、あらかじめ設定された第４のしきい値とを比較し、輝度倍率が第４のしきい値以上のときには「１」を出力し、輝度倍率が第４のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１７５】
セレクター８８は、比較回路６９の出力が「１」のときには、正の数値、例えば「＋１」を出力し、比較回路６３の出力が「０」のときには、例えば「０」を出力する。
【０１７６】
この、セレクター８８から出力される数値が、第１の設定値として後段のセレクター６６に入力される。例えば、第４のしきい値が「３」であれば、輝度倍率が３倍以上のときには第１の設定値として「＋１」がセレクター６６に入力され、輝度倍率が３倍未満のときには第１の設定値として「０」がセレクター６６に入力される。
【０１７７】
このように、本実施の形態に示す残像度数算出回路１１０においては、第１の設定値の大きさを輝度倍率の大きさに応じて変更することができる。したがって、同じ図柄の画像であっても、輝度倍率が大きく発光輝度が比較的高いときと、輝度倍率が小さく発光輝度が比較的低いときとで、算出する残像度数を変更することが可能となる。
【０１７８】
これにより、残像度数算出回路１１０は、輝度倍率が第４のしきい値以上のときには図７に示した残像度数算出回路７９と同様に動作し、輝度倍率が第４のしきい値未満のときには表示画像の図柄にかかわらず残像度数が増加しないように動作させることが可能となる。
【０１７９】
なお、セレクター８８において選択される上述した数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。各数値は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。また、セレクター８８は何ら２入力１出力の選択回路に限定されるものではない。例えば、比較回路６９において２つ以上のしきい値と輝度倍率とを比較し、セレクター８８を３入力１出力、あるいはそれ以上の選択ができる選択回路とする構成としてもかまわない。
【０１８０】
以上示したように、本実施の形態は、輝度倍率と第４のしきい値との比較結果にもとづき第１の設定値を変更する構成とする。これにより、輝度倍率が第４のしきい値以上のとき、すなわち、発光輝度が比較的高く残像現象が比較的発生しやすいと考えられるときには、残像度数算出回路７９と同様の動作によって残像度数を算出し、輝度倍率が第４のしきい値よりも小さいとき、すなわち、発光輝度が比較的低く残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、残像度数が表示画像の図柄にかかわらず増加しないようにすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１８１】
（実施の形態６）
例えば、輝度信号を平滑化することで、隣接する画素間の輝度の変化を低減し、残像現象の発生をさらに低減することができる。そこで、本実施の形態では、補正後の輝度信号に対して残像度数に応じた平滑化をかける構成について説明する。
【０１８２】
図１４は、本発明の実施の形態６における補正回路８５の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８５についてのみ説明する。
【０１８３】
補正回路８５は、乗算計数算出回路９２と乗算回路９３と平滑化回路９８とを有し、補正後の輝度信号に対して残像度数に応じた平滑化をかける。
【０１８４】
乗算計数算出回路９２は、実施の形態１に示した乗算計数算出回路９２と同様の動作を行い、画素毎の残像度数にもとづき、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。
【０１８５】
そして、乗算回路９３は、実施の形態１に示した乗算回路９３と同様に、乗算計数算出回路９２において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１８６】
平滑化回路９８は、乗算回路９３から出力される輝度の階調値に対して、残像度数に応じた平滑化をかける。平滑化の手段としては、例えば、一般に知られたメディアンフィルタを挙げることができる。そして、残像度数が小さいときには平滑化を軽くし、残像度数が大きくなるにつれて平滑化を重くしていく。例えば、残像度数が小さいときにはメディアンフィルタの領域を１画素×１画素とし、残像度数が大きくなるにつれて、メディアンフィルタの領域を、２画素×２画素、３画素×３画素、４画素×４画素、５画素×５画素と広げていく。
【０１８７】
これにより、残像度数に応じた重さの平滑化を輝度信号にかけ、平滑化により隣接する画素間の輝度の変化を低減し、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。
【０１８８】
なお、平滑化回路９８における平滑化の手段は、何らメディアンフィルタに限定されるものではなく、一般に知られた他の画像用２次元フィルタ、例えば、移動平均フィルタ、ガウシアンフィルタ、平均値フィルタ等、残像度数の大きさに応じて平滑化の重さを変更できるフィルタであればどのようなものであってもよい。ただし、平滑化回路９８における平滑化の手段は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様、平滑化後の表示画像の品質等に応じて最適なものに設定することが望ましい。
【０１８９】
以上示したように、本実施の形態は、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更するとともに、補正後の輝度信号に対して残像度数に応じた平滑化をかける構成とする。これにより、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正するとともに、残像度数の大きさに応じて補正後の輝度信号を平滑化することができる。したがって、隣接する画素間の輝度の変化をさらに低減し、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。
【０１９０】
（実施の形態７）
実施の形態１〜実施の形態６では、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する構成を説明した。しかし、算出した残像度数にもとづき、彩度の階調値を変更することで、残像現象の発生を低減することもできる。そこで、本実施の形態では、算出した残像度数にもとづき、彩度の階調値を変更する構成について説明する。
【０１９１】
図１５は、本発明の実施の形態７における補正回路８６の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８６についてのみ説明する。
【０１９２】
補正回路８６は、実施の形態４に示した乗算計数算出回路９２、乗算回路９３、平滑化回路９８に加え、乗算計数算出回路９９および乗算回路１００を有し、輝度の階調値に加え、彩度の階調値（Ｃ信号、またはＲ−Ｙ信号およびＢ−Ｙ信号、またはｕ信号およびｖ信号等にもとづく階調値）にも残像度数の大きさに応じて補正を加える。
【０１９３】
乗算計数算出回路９２、乗算回路９３、平滑化回路９８は実施の形態６と同様の動作を行うので、説明を省略する。
【０１９４】
乗算計数算出回路９９は、画素毎の残像度数から、彩度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。なお、乗算計数算出回路９９は、乗算計数算出回路９２と同様の動作であってもよいが、乗算計数算出回路９２と同様の動作により算出した数値に、さらに所定の彩度用定数を乗算する構成であってもよい。
【０１９５】
乗算回路１００は、乗算計数算出回路９９において算出された乗算計数を彩度の階調値に乗算する。
【０１９６】
図８に示した画素Ａ３４を例に挙げて補正回路８６の動作を説明すると、例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ３４の彩度の階調値をＣ３４、所定の基準値を「２５５」、彩度用定数をＣａとしたとき、画素Ａ３４の補正後の彩度の階調値Ｃ３４’は以下の式で表される。
【０１９７】
Ｃ３４’＝（（２５５−ａ３４）／２５５）×Ｃａ×Ｃ３４
これにより、画素毎の残像度数の大きさに応じて彩度の階調値を補正することができる。彩度が高い画像、すなわち、色が濃い画像は、彩度が低く色が薄い画像と比較して、１画素を構成するＲＧＢの各放電セルの階調値の差が大きくなりやすい。したがって、残像度数の大きさに応じて彩度を下げることで、ＲＧＢの各放電セルの階調値の差を小さくし、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。
【０１９８】
なお、上述した彩度用定数Ｃａは、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様、補正後の表示画像の品質等に応じて最適なものに設定することが望ましい。
【０１９９】
また、本実施の形態に示す補正回路８６においては、残像度数の大きさに応じて、輝度の階調値の補正、輝度の階調値の平滑化、彩度の階調値の補正をそれぞれ同時に行う構成であってもよいが、例えば、残像度数が小さいときは輝度の階調値の平滑化だけを行い、残像度数が中くらいの大きさのときは彩度の階調値の補正だけを行い、残像度数が大きいときは輝度の階調値の補正だけを行う、というように、残像度数の大きさに応じて、上述のいずれかを選択的に行う構成としてもよい。あるいは、残像度数の大きさに応じて、上述のいずれか２つを組み合わせて行う構成としてもよい。
【０２００】
なお、本発明の実施の形態１から実施の形態７に示した各構成を組み合わせて用いる構成としてもよい。
【０２０１】
なお、本発明における実施の形態に示した各回路ブロックは、実施の形態に示した各動作を行う電気回路として構成されてもよく、あるいは、同様の動作をするようにプログラミングされたマイクロコンピュータ等を用いて構成されてもよい。
【０２０２】
なお、本発明の実施の形態１では、減算回路７４において、各画素に設定された輝度の階調値と、１画素遅延回路７３から出力される１画素前の輝度の階調値との減算を行って、表示電極対２４が延伸する方向に隣接する２つの画素（水平隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成を説明した。しかし、本発明は何らこの構成に限定されるものではない。例えば、各画素に設定された輝度の階調値と、１水平期間前の輝度の階調値との減算を行って、データ電極３２が延伸する方向に隣接する２つの画素（垂直隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、各画素に設定された輝度の階調値と、（１水平期間＋１画素）前の輝度の階調値との減算、および（１水平期間−１画素）前の輝度の階調値との減算を行って、パネル１０において斜め方向に隣接する２つの画素間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、水平隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、垂直隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、および斜め方向の隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差のうちの最大値を用いる構成であってもよい。
【０２０３】
なお、本発明の実施の形態１では、輝度比較値およびエッジ比較値を変更する構成については特に言及していないが、例えば、輝度比較値およびエッジ比較値のいずれか一方、または双方を、パネル１０の場所によって変更する構成としてもよい。一定時間静止して表示される図柄の代表的な例として、字幕による文字や現在時刻等があるが、それらは、一般的にはパネル１０の周辺部に表示されることが多い。そこで、輝度比較値、エッジ比較値の設定値をパネル１０の中央部よりも周辺部の方で小さくし、パネル１０の中央部よりも周辺部で残像度数が大きくなりやすくなるような構成としてもよい。
【０２０４】
なお、図３に示した駆動電圧波形は実施の形態における一例を示したものに過ぎず、本発明は、何らこれらの駆動電圧波形に限定されるものではない。
【０２０５】
また、本発明における実施の形態は、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを第１の走査電極群と第２の走査電極群とに分割し、書込み期間を、第１の走査電極群に属する走査電極のそれぞれに走査パルスを印加する第１の書込み期間と、第２の走査電極群に属する走査電極のそれぞれに走査パルスを印加する第２の書込み期間とで構成する、いわゆる２相駆動によるパネルの駆動方法にも適用させることができ、上述と同様の効果を得ることができる。
【０２０６】
なお、本発明における実施の形態は、走査電極と走査電極とが隣り合い、維持電極と維持電極とが隣り合う電極構造、すなわち前面板に設けられる電極の配列が、「・・・、走査電極、走査電極、維持電極、維持電極、走査電極、走査電極、・・・」となる電極構造のパネルにおいても有効である。
【０２０７】
なお、本発明における実施の形態において示した具体的な各数値は、表示電極対数１０８０の５０インチのパネルの特性にもとづき設定したものであって、単に実施の形態の一例を示したものに過ぎない。本発明はこれらの数値に何ら限定されるものではなく、パネルの特性やプラズマディスプレイ装置の仕様等に合わせて最適に設定することが望ましい。また、これらの各数値は、上述した効果を得られる範囲でのばらつきを許容するものとする。
【産業上の利用可能性】
【０２０８】
本発明は、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上させることができるので、パネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置として有用である。
【符号の説明】
【０２０９】
１    プラズマディスプレイ装置
１０    パネル
２１    （ガラス製の）前面板
２２    走査電極
２３    維持電極
２４    表示電極対
２５，３３    誘電体層
２６    保護層
３１    背面板
３２    データ電極
３４    隔壁
３５    蛍光体層
４１    画像信号処理回路
４２    データ電極駆動回路
４３    走査電極駆動回路
４４    維持電極駆動回路
４５    タイミング発生回路
６３，６４，６５，６９，７２，７５，９５    比較回路
６６，６７，６８，８８    セレクター
７０    １フィールド遅延回路
７１，７４，９０    減算回路
７３    １画素遅延回路
７６    ブロックタイミング発生回路
７７，７８    計数回路
７９，１１０    残像度数算出回路
８０    残像度数補間回路
８１    遅延回路
８２，８３，８４，８５，８６，８７    補正回路
８９    累積加算回路
９１    制限回路
９２，９４，９９    乗算計数算出回路
９３，１００    乗算回路
９６，１０１    残像度数補正回路
９７    ＡＰＬ検出回路
９８    平滑化回路
【図１】
2011081335.tif 000003
【図２】
2011081335.tif 000004
【図３】
2011081335.tif 000005
【図４】
2011081335.tif 000006
【図５】
2011081335.tif 000007
【図６】
2011081335.tif 000008
【図７】
2011081335.tif 000009
【図８】
2011081335.tif 000010
【図９】
2011081335.tif 000011
【図１０】
2011081335.tif 000012
【図１１】
2011081335.tif 000013
【図１２】
2011081335.tif 000014
【図１３】
2011081335.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
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